(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験紙を保持した試験紙ホルダーを等速で移動させながら、前記試験紙ホルダーに保持されている試験紙の光学特性を測定する試験紙測定方法において、
試験紙の移動開始時点から、前記試験紙の端を検出した時点までの時間を測定し、
前記時間と、前記試験紙の移動開始位置から前記試験紙の端までの距離と、この試験紙におけるテストラインがマークされた位置との関係に基づいて、この試験紙のテストラインが検出される時点又は位置を予測し、
当該予測される時点又は予測される位置で前記試験紙に現れたテストラインの光学特性を検出し、この光学特性と試験紙の地の光学特性との差又は比に基づいて、試験紙の定量測定又は定性判定をすることを特徴とする試験紙測定方法。
【請求項２】
当該予測される時点又は予測される位置にテストラインが現れなかった場合は、陰性判定をすることを特徴とする請求項１記載の試験紙測定方法。
【請求項３】
前記テストラインを特定するのに、当該部分の光学特性と、地の部分の光学特性との差をしきい値と比較し、当該しきい値よりも大きな場合にテストラインと特定することを特徴とする請求項１記載の試験紙測定方法。
【請求項４】
前記テストラインが複数あることを特徴とする請求項１記載の試験紙測定方法。
【請求項５】
定量測定の結果を、検量線を用いて単位換算することを特徴とする請求項１記載の試験紙測定方法。
【請求項６】
試験紙を保持した試験紙ホルダーを等速で移動させながら、前記試験紙ホルダーに保持されている試験紙の光学特性を測定する試験紙測定方法において、
試験紙の移動開始時点から、前記試験紙の端を検出した時点までの時間を測定し、
前記時間と、前記試験紙の移動開始位置から前記試験紙の端までの距離と、この試験紙におけるコントロールラインがマークされた位置との関係に基づいて、この試験紙のコントロールラインが検出される時点又は位置を予測し、
当該予測される時点又は予測される位置で前記試験紙に現れたコントロールラインの光学特性を検出し、
この光学特性と試験紙の地の光学特性との差又は比に基づいて、それを、試験紙の定量測定又は定性判定をするための参照値とすることを特徴とする試験紙測定方法。
【請求項７】
当該予測時点又は予測位置にコントロールラインが現れなかった場合は、試験紙の不良又は検査ミスと判定することを特徴とする請求項６記載の試験紙測定方法。
【請求項８】
コントロールラインが現れた後、この試験紙におけるテストラインの現れる時点又は位置を予測し、当該予測される時点又は予測される位置にテストラインが現れなかった場合は、陰性判定をすることを特徴とする請求項６記載の試験紙測定方法。
【請求項９】
前記コントロールラインを特定するのに、当該部分の光学特性と、地の部分の光学特性との差をしきい値と比較し、当該しきい値よりも大きな場合にコントロールラインと特定することを特徴とする請求項６記載の試験紙測定方法。
【請求項１０】
前記コントロールラインが複数あることを特徴とする請求項６記載の試験紙測定方法。
【請求項１１】
定量測定の結果を、検量線を用いて単位換算することを特徴とする請求項６記載の試験紙測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試験紙を移動させながら測定する試験紙測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
試験紙を尿、血液、唾液などに浸し、その呈色を測定して陽性、陰性などを自動的に判定する試験紙測定方法が知られている。
この種の試験紙測定方法には、試験紙を移動させながら、試験紙に現れたテストラインの光学特性Ｔ（例えば反射強度）を検出するものがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、試験紙の地の部分の光学特性が、試験紙ごとにばらついているので、試験紙に現れたテストラインの光学特性Ｔだけでは、正確な測定ができず、誤判定になってしまうおそれがある。
また、試験紙を移動させる速度が、試験紙測定装置ごとにばらつき、テストラインを正確に特定できない場合がある。
【０００４】
そこで、本発明は、試験紙を移動させながら呈色測定する試験紙測定方法において、試験紙の地の部分の光学特性のばらつきを考慮した正確な定量測定又は定性判定をすることのできる試験紙測定方法を実現することを目的とする。
また、本発明は、試験紙を移動させる速度にばらつきがあっても、正確な定量測定又は定性判定をすることのできる試験紙測定方法を実現することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明の試験紙測定方法は、試験紙の移動開始時点から、前記試験紙の端を検出した時点までの時間を測定し、前記時間と、前記試験紙の移動開始位置から前記試験紙の端までの距離と、この試験紙におけるテストラインがマークされた位置との関係に基づいて、この試験紙のテストラインが検出される時点又は位置を予測し、当該予測される時点又は予測される位置で前記試験紙に現れたテストラインの光学特性を検出し、この光学特性と試験紙の地の光学特性との差又は比に基づいて、試験紙の定量測定又は定性判定をすることを特徴とする（請求項１）。
ここで、「光学特性」とは、反射強度、透過強度、蛍光強度などをいう。
この方法であれば、試験紙の地の部分の光学特性がばらついていても、そのばらつきを吸収することができるので、正確な定量測定又は定性判定を行うことができる。前記時間を基準とすれば、試験紙ホルダーの移動速度にばらつきがあっても、テストラインの現れる時間を正確に予測することができる。
【０００６】
試験紙移動開始後のテストラインの現れる時点又はテストラインの現れる位置を予測し、当該予測時点又は予測位置にテストラインが現れなかった場合は、陰性判定をすることとすれば（請求項２）、テストラインでないものをテストラインと誤検出するのを防止することができる。
【０００７】
前記テストラインを特定するのに、当該部分の光学特性と、地の部分の光学特性との差をしきい値と比較し、しきい値よりも大きな場合にテストラインと特定することができる（請求項３）。これにより、ノイズを誤ってテストラインと判定するのを防止することができる。
また、本発明の試験紙測定方法は、試験紙の移動開始時点から、前記試験紙の端を検出した時点までの時間を測定し、前記時間と、前記試験紙の移動開始位置から前記試験紙の端までの距離と、この試験紙におけるコントロールラインがマークされた位置との関係に基づいて、この試験紙のコントロールラインが検出される時点又は位置を予測し、当該予測される時点又は予測される位置で前記試験紙に現れたコントロールラインの光学特性を検出し、この光学特性と試験紙の地の光学特性との差又は比に基づいて、それを、試験紙の定量測定又は定性判定をするための参照値とすることにより、試験紙の定量測定又は定性判定をすることを特徴とする（請求項６）。
【０００８】
この方法は、コントロールラインが現れる試験紙を使用することを前提とする。この方法によれば、コントロールラインを測定することにより測定条件のばらつきを吸収でき、試験紙の地の光学特性Ｒを検出することにより、試験紙の地の部分の光学特性のばらつきを吸収することができる。したがって、より正確な試験紙の定量測定又は定性判定をすることができる。試験紙ホルダーの移動速度にばらつきがあっても、コントロールラインの現れる時間を正確に予測することができる。
試験紙の移動開始後コントロールラインの現れる時点又はコントロールラインの現れる位置を予測し、当該予測時点又は予測位置にコントロールラインが現れなかった場合は、試験紙の不良又は検査ミスと判定することができる（請求項７）。コントロールラインが現れた後、テストラインの現れる時点又は位置を予測し、当該予測時点又は予測位置にテストラインが現れなかった場合は、陰性判定をすることができる（請求項８）。いずれも、コントロールライン又はテストラインの誤検出を防止するためである。
【００１０】
コントロールラインを特定するのに、当該部分の光学特性と、地の部分の光学特性との差をしきい値と比較し、しきい値よりも大きな場合にコントロールラインと特定することとすれば（請求項１０）、ノイズを誤ってコントロールラインと判定するのを防止することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図１は、試験紙測定装置の概略斜視図であり、試験紙測定装置は、試験紙測定装置本体１と、測定ごとに取り替える試験紙ホルダー２とからなる。
試験紙測定装置本体１は、往復移動可能に設定された試験紙保持テーブル３、測定結果である陽性、陰性などを表示する表示部６，電源スイッチ５などを有している。試験紙保持テーブル３には、試験紙ホルダー２が設置される凹部３ａが設けられている。
【００１２】
試験紙ホルダー２は、試験紙４を一体に保持するものであり、測定が終われば、試験紙４とともに使い捨てとなる。
図２は、試験紙測定方法の上カバー１ａと、それに固定される回路基板とを取り外して見た平面図である。
試験紙測定装置本体１には、試験紙保持テーブル３を導入する区画を設けるとともにピン１３を取り付けた仕切板１１が設置されている。ピン１３は仕切板１１の下方（図２の紙面の裏側）に突出して設けられている。
【００１３】
また、この仕切板１１には、試験紙４を光学測定するための窓１１ａが開けられている。試験紙保持テーブル３は、この仕切板１１の下部に挿入される。
図３は、仕切板１１を取り外した状態を示す平面図である（なお、ピン１３は仕切板１１に固定されているので取り外されて見えないが、図３、図６では仮想的に描いてある）。長方形の試験紙保持テーブル３は、試験紙測定装置本体１に挿入可能に設けられており、その片側には、ラック１６が形成されている。そしてこのラック１６と噛み合うアイドルギヤ１５及びアイドルギヤ１５と噛み合う駆動ギヤ１４が、試験紙測定装置本体１に設けられている。
【００１４】
アイドルギヤ１５は、粘性ダンパ（図示せず）を装着している。粘性ダンパは、例えばアイドルギヤ１５と同伴して回転する羽根車をグリスなどの粘性体の中に配置したものである。
駆動ギヤ１４は、ねじりコイルバネにより一回転方向に弾性的に付勢されているものである。その付勢方向は、試験紙保持テーブル３が試験紙測定装置本体１から飛び出す方向に相当する。
【００１５】
試験紙保持テーブル３には、さらに試験紙保持テーブル３を最後まで押し込んだときに、試験紙保持テーブル３を試験紙測定装置本体１にロックし、所定の操作によりそのロックを解除するためのロック部材３ｂが形成されている。この部材３ｂ、前述したピン１３とともに、ロック／ロック解除手段を構成する。
図４は、試験紙保持テーブル３に装着されたロック部材３ｂを示す斜視図である。ロック部材３ｂは、滑りやすい樹脂などで形成され、試験紙保持テーブル３に設けられた凹部３ｃに、試験紙保持テーブル３の挿入方向Ｂに対して垂直の方向Ａに移動自在に装着される。ロック部材３ｂは、図４に示すように、ピン１３を導入する溝３２，３３，３４、段部３５及びピン１３と係合する突起３１を有している。
【００１６】
試験紙保持テーブル３を挿入すると、ロック部材３ｂの溝３２が、ピン１３の位置まで移動する。以下、ピン１３を基準にして説明する。試験紙保持テーブル３をさらに挿入すると、溝３２は、徐々に盛り上がり、それから垂直に落ちて溝３３につながっている。溝３３は、横向きに落ちて、さらに低い溝３４につながっている。溝３４は、試験紙保持テーブル３を引き出すに連れて、突起３１を取り巻くようにカーブしながら盛り上がり、垂直に落ちて、溝３２につながる。
【００１７】
ロック部材３ｂの中央部の、溝３２，３４に取り囲まれる位置には、突起３１が配置されている。突起３１は、ピン１３と係合するための凹部３１ａを有し、この凹部３１ａの下にピン１３を導くための段部３５が設けられている。
図５は、ロック部材３ｂとピン１３との係合を説明する図である。図５(a)は試験紙保持テーブル３を挿入している様子、(b)は係合位置、(c)(d)はロックを解除した後の様子を示す。なお、９９は、ロック部材３ｂと凹部３ｃとの隙間を示す。
【００１８】
試験紙保持テーブル３を挿入すると、ピン１３は、溝３２に導入される（図５(a)）。試験紙保持テーブル３をさらに挿入していくと、ピン１３は、溝３３に落ちる。このとき、試験紙保持テーブル３を離せば、溝３２，３３の境界が斜めに区切られているため、ロック部材３ｂは紙面上向きの力を受けて上に動き、ピン１３は、段部３５を経由してロック部材３ｂの凹部３１ａにはまりこむ（図５(b)）。これで試験紙保持テーブル３はロックされる。
【００１９】
次に、試験紙保持テーブル３を少し押し込むと、ピン１３は、段部３５から溝３４に落ちる。このまま手を離すと、試験紙保持テーブル３は、駆動ギヤ１４により紙面左向きの力を受けているので動き出すが、このとき、段部３５と溝３４の境界が斜めに区切られているため、ロック部材３ｂは紙面上向きの力を受けて上に動く。したがって、ピン１３は、凹部３１ａに戻らないで、溝３４に落ちる（図５(c)）。
【００２０】
そして、試験紙保持テーブル３がさらに動くと、ピン１３は、溝３４に沿って上がっていき、溝３２に落ちて、その後ロック部材３ｂから離れる。
以上のようにして、試験紙保持テーブル３が最奥まで押し込んだときに試験紙保持テーブル３を試験紙測定装置本体１にロックすることができるとともに、試験紙保持テーブル３をもう一度押すことによりそのロックを解除することができる。
【００２１】
図６は、試験紙保持テーブル３を最奥まで押し込んでロックさせた状態を示す平面図である。ピン１３がロック部材３ｂの突起３１に係合することによりロックが達成されている。
図７は、ロック状態を示す図６をＸ−Ｘで切った断面図である。上カバー１ａと、それに固定される回路基板２３も描いている。ピン１３は、前述したロック部材３ｂの段部３５に載って、凹部３１ａに係合されている。
【００２２】
回路基板２３には、ＬＥＤを有する投光部２１と、フォトダイオードを有する受光部２２と、試験紙保持テーブル３の位置を検出するスイッチ４１が設置されている。投光部２１の先端にはレンズ２１ａが配置され、これにより、試験紙４の表面に焦点が合わせられている。ＬＥＤの発光波長は、試験紙４に現れるマークに吸収される光の波長にしている（例えば試験紙４に現れるマークが赤色であれば、ＬＥＤは緑色の光を発光する）。前記スイッチ４１は、回動可能なアーム４１ａを備えており、このアーム４１ａの位置を感知することにより、試験紙保持テーブル３の挿入／解除を検出する。
【００２３】
以上のような構成により、試験紙保持テーブル３をロック状態から解除すると、試験紙保持テーブル３は、ほぼ等速で飛び出す（以下「自走」という）とともに、前記スイッチ４１が働き、この間に試験紙からの反射強度を経時的に測定することができる。
次に、試験紙測定方法を説明する。この試験紙測定方法は、試験紙保持テーブル３に設置された試験紙４を、試験紙保持テーブル３の自走中に連続測定する方法である。
【００２４】
−第１の試験紙測定方法−
図８は、試験紙４に現れたマークの位置を示す図である。図の中の矢印Ｄは試験紙保持テーブル３の自走方向を示す。試験紙４には、通常、コントロールライン４ａと、テストライン４ｂの２つの着色ラインが現れる。本発明では、コントロールライン４ａを、テストライン４ｂの反射強度を判断するための参照値を得るために用いる。
【００２５】
以後、テストライン４ｂの反射強度をＴで表し、コントロールライン４ａの反射強度をＣで表し、試験紙４の地の反射強度をＲで表す。
図９のグラフは、試験紙ホルダー２を保持した試験紙保持テーブル３の自走中の連続測定結果を示す。縦軸は反射強度（単位は任意であるが、ここでは電圧で表している）、横軸は前記スイッチ４１がオンからオフに変わった後の自走経過時間（単位msec）である。縦軸の値が大きいほど反射が強いことを示す。
【００２６】
このグラフによれば、４つの谷ａ，ｂ，ｃ，ｄ、中間部ｅ、山ｆが現れている。最初に現れる谷ａは、試験紙ホルダー２の試験紙露出窓のエッジ３６を表している。次の谷ｂはコントロールライン４ａを表し、その次の谷ｃはテストライン４ｂを表し、次の谷ｄは試験紙ホルダー２の試験紙露出窓のエッジ３７を表す。山ｆは試験紙ホルダー２の試験紙露出窓のエッジ３８を表す。また谷ａと谷ｂとの間、谷ｂと谷ｃとの間、谷ｃと谷ｄとの間は、試験紙４の地の部分を表す。
【００２７】
回路基板２３に搭載されているマイクロコンピュータの行う試験紙測定方法を説明する。
図９の反射強度のグラフを微分したデータに基づいて、谷又は山の位置を判定する。例えば、反射強度のグラフが図１０(a)のような谷を含むものであれば、それを微分したデータは図１０(b)のようになるので、負から正になるゼロクロス点を谷の位置とし、正から負になるゼロクロス点を山の位置とする。
【００２８】
自走中、現れる谷ａとそれに続く山部との差（図９Ｖ１参照）を求め、それが初めて第１のしきい値（例えば３２ｍＶ）を越えれば、試験紙露出窓のエッジ３６とみなす。第１のしきい値と比較するのは、ノイズにより現れる小さな谷を排除するためである。
続いて現れる谷ｂと続く山部との差（図９Ｖ２参照）を求め、それが第２のしきい値（例えば６４ｍＶ）以上であれば、コントロールライン４ａとみなす。この第２のしきい値と比較するのは、ノイズにより現れる小さな谷を排除するためである。
【００２９】
続いて現れる谷ｃと続く山部との差（図９Ｖ３参照）を求め、それが第３のしきい値（例えば２６ｍＶ）以上、かつ第４のしきい値（例えば１０００ｍＶ）未満であれば、テストライン４ｂとみなす。この第３のしきい値と比較するのは、ノイズにより現れる小さな谷を排除するためである。
ただし陰性の場合は、図１１に示すように、谷ｃは存在せず、続いて現れる谷ｄを谷ｃと認識するため、続く山ｆとの差（図１１Ｖ４参照）が第４のしきい値以上であれば、谷ｃは存在しなかった、つまりテストライン４ｂは検出されなかったとみなし、陰性と判定する。この第４のしきい値は、エッジ３７，３８を検出するためのしきい値となる。
【００３０】
以上の判定により、コントロールライン４ａに基づく谷ｂと、テストライン４ｂに基づく谷ｃと、各山部とを特定できたことになる。
そこで、谷ｂでのコントロールライン４ａの反射強度をＣで表し、谷ｃでのテストライン４ｂの反射強度をＴで表し、試験紙４の地の反射強度をＲで表す。ここで、反射強度Ｒは、(1)谷ｂと谷ｃの間の山部のピーク値をとって反射強度Ｒとしてもよく、さらに、(2)各山部ごとに検出したピーク値の、中央値若しくは平均値をとって反射強度Ｒとしてもよい。
【００３１】
マイクロコンピュータは、次のように測定値ＤＥＴを求める。
ＤＥＴ＝（Ｒ−Ｔ）／（Ｒ−Ｃ）
この式によれば、テストライン４ｂの反射強度Ｔと地の反射強度Ｒとの差をとり、コントロールライン４ａの反射強度Ｃと地の反射強度Ｒとの差をとることにより、地の影響を除いている。また、地の影響を除いたテストライン４ｂの反射強度（Ｒ−Ｔ）を、地の影響を除いたコントロールライン４ａの反射強度（Ｒ−Ｃ）（この（Ｒ−Ｃ）が「参照値」となる）で割ることにより、試験条件（例えばサンプル間差、試験紙間差）の影響を除いている。
【００３２】
なお、前記測定値ＤＥＴを求めるのに、次のような式を採用してもよい。
ＤＥＴ＝（Ｒ／Ｔ）−（Ｒ／Ｃ）
この式によれば、テストライン４ｂの反射強度Ｔと地の反射強度Ｒとの比をとり、コントロールライン４ａの反射強度Ｃと地の反射強度Ｒとの比をとることにより、地の影響を除いている。また、地の影響を除いたテストライン４ｂの反射強度（Ｒ／Ｔ）から、地の影響を除いたコントロールライン４ａの反射強度（Ｒ／Ｃ）（この（Ｒ／Ｃ）が「参照値」となる）を引くことにより、試験条件の影響を除いている。
【００３３】
マイクロコンピュータは、定性判定のためのしきい値Ｔ１，Ｔ２（０＜Ｔ１＜Ｔ２＜１）を記憶しており、求めた測定値ＤＥＴをしきい値Ｔ１，Ｔ２と比較することにより、陰性、擬陽性、陽性の判定を行う。すなわち、０＜ＤＥＴ＜Ｔ１であれば陰性、Ｔ１＜ＤＥＴ＜Ｔ２であれば擬陽性、Ｔ２＜ＤＥＴ＜１であれば陽性とする。しきい値Ｔ１，Ｔ２は、多数の検体について試験を行い、各患者の定性を最も正確に再現できるような値に選ぶとよい。
【００３４】
マイクロコンピュータは、以上のようにして求めた測定値ＤＥＴの数値、及び陰性、擬陽性、陽性などの判定結果を表示部６に表示させる。
−第２の試験紙測定方法−
次に、試験紙４に現れたコントロールラインやテストラインを特定する方法に、改良を加えた第２の試験紙測定方法を説明する。
第１の試験紙測定方法では、谷と山の反射強度の差を、しきい値と比較して、谷の位置特定を行っていた。
【００３５】
第２の試験紙測定方法では、山や谷の反射強度だけでなく、谷が出現する時間をも考慮する。これにより、谷の位置の誤検出率をさらに低下させ、正確な谷の位置特定ができる。
この方法では、試験紙ホルダー２の形状を滑らかにして、試験紙露出窓のエッジが測定強度に現れないようにしている。したがって、ノイズでなければ、試験中最初に現れる谷は、コントロールライン４ａであり、次に現れる谷は、テストライン４ｂである。
【００３６】
図１２及び図１３は、試験紙ホルダー２を保持した試験紙保持テーブル３の自走中の連続測定結果を示すグラフである。縦軸は反射強度（単位は任意であるが、ここでは電圧で表している）、横軸はラインスキャン経過時間（単位msec）を表す。図１２と図１３との違いは、ダンパの粘性抵抗やコイルバネの硬さの違いに基づき、試験紙保持テーブル３の自走速度が異なることである。自走速度が異なっても、以下の処理の内容はまったく同じである。
【００３７】
これらのグラフによれば、２つの谷ｉ，ｋが現れている。最初に現れる谷ｉはコントロールライン４ａを表し、その次の谷ｋはテストライン４ｂを表す。谷ｉの前に来る山ｈと、谷ｉと谷ｋとの間の山ｊとは、試験紙４の地の部分を表す。
図１４は、マイクロコンピュータの行う試験紙測定方法を説明するためのフローチャートである。
前記スイッチ４１がオンからオフに変わった時点（測定開始時点）になると、タイムカウントを開始する(ステップＳ１，２)。試験紙保持テーブル３の自走に連れて、試験紙４の端を検出すると、受光部２２の出力電圧が上昇する。出力電圧がしきい値（３Ｖ）を上回った時点で(ステップＳ３)、タイムカウント値Ｔ１を登録する(ステップＳ４)。このタイムカウント値Ｔ１は、試験紙保持テーブル３の自走直後、スイッチ４１がオンからオフに変わる時点での受光部２２の検出位置から、試験紙４の端までの距離Ｌ１を示すものである。
【００３８】
その後、タイムカウントを開始し(ステップＳ５，６)、谷を検出したかどうか(ステップＳ７)、検出したものがノイズでないかを判断する(ステップＳ８)。この谷の判断は、図１０を用いて説明したような微分する方法により行えばよい。ノイズかどうかの判断は、すでに説明したように、谷に続いて現れる山部と谷との差をしきい値と比較して行えばよい。
ノイズでない谷を検出した場合、その検出時点のタイムカウント値ｔをＴ２とおき(ステップＳ９)、Ｔ２がｋ１・Ｔ１より小さいかどうかを判定する(ステップＳ１０)。
【００３９】
Ｔ２＜ｋ１・Ｔ１
このｋ１という係数は、試験紙４の端からコントロールラインまでの距離Ｌ２と、前記距離Ｌ１との比、又はそれを少し上回る値に設定される。したがってｋ１は、試験紙保持テーブル３の自走速度に関係のない定数である。
マイクロコンピュータは、Ｔ２＜ｋ１・Ｔ１であれば、当該谷をコントロールラインとみなす(ステップＳ１１)。Ｔ２≧ｋ１・Ｔ１であれば、コントロールラインのあるべき位置にコントロールラインを検出できなかったことになり、試験紙の不良又は検査ミスと判定する(ステップＳ１３)。
【００４０】
また、タイムリミット以内に、谷を検出しなかった場合(ステップＳ１２)、検出したものがすべてノイズであった場合、試験紙の不良又は検査ミスと判定する(ステップＳ１３)。このタイムリミットは、前記の時間ｋ１・Ｔ１と同じ値にしてもよい。
図１５は、マイクロコンピュータの行う試験紙測定方法を説明するためのフローチャート（続き）である。
【００４１】
タイムカウントを開始し(ステップＳ１５，１６)、谷を検出したかどうか(ステップＳ１７)、検出したものがノイズでないかを判断する(ステップＳ１８)。
ノイズでない谷を検出した場合、その検出時点のタイムカウント値ｔをＴ３とおき(ステップＳ１９)、Ｔ３がｋ２・Ｔ２より小さいかどうかを判定する(ステップＳ２０)。
Ｔ３＜ｋ２・Ｔ２
この係数ｋ２は、試験紙４のコントロールラインからテストラインまでの距離Ｌ３と、前記距離Ｌ２との比、又はそれを少し上回る値に設定される。したがってｋ２も、試験紙保持テーブル３の自走速度に関係のない定数である。
【００４２】
なお、前記の式に変えて次の式を用いてもよい。
Ｔ３＜ｋ３（Ｔ１＋Ｔ２）
この係数ｋ２は、試験紙４のコントロールラインからテストラインまでの距離Ｌ３と、前記距離（Ｌ１＋Ｌ２）との比、又はそれを少し上回る値に設定される。したがってｋ３も、試験紙保持テーブル３の自走速度に関係のない定数である。
【００４３】
ステップＳ２０の式が満たされれば、当該谷をテストラインとみなし(ステップＳ２１)、定量測定をする(ステップＳ２２)。この定量測定の内容は、コントロールラインの反射強度Ｃ、テストラインの反射強度Ｔ、試験紙４の地の反射強度Ｒを算出し、例えば次のような測定値ＤＥＴを求めることである。
ＤＥＴ＝（Ｒ−Ｔ）／（Ｒ−Ｃ）
マイクロコンピュータは、この測定値ＤＥＴを出力する。
【００４４】
さらに、前述したように定性判定のためのしきい値Ｔ１，Ｔ２を記憶し、求めた測定値ＤＥＴをしきい値Ｔ１，Ｔ２と比較することにより、陰性、擬陽性、陽性の判定を行う。
マイクロコンピュータは、以上のようにして求めた測定値ＤＥＴの数値、及び陰性、擬陽性、陽性などの判定結果を表示部６に表示させる。
ステップＳ２０の式が成立しなければ、テストラインのあるべき位置にテストラインを検出できなかったことになり、陰性と判定する(ステップＳ２４)。
【００４５】
また、タイムリミット以内に谷を検出しなかった場合(ステップＳ２３)、又は検出したものがすべてノイズであった場合、陰性と判定する(ステップＳ２４)。このタイムリミットは、前記の時間ｋ２・Ｔ２又はｋ３（Ｔ１＋Ｔ２）と同じ値にしてもよい。
前記図１４及び図１５の処理では、マイクロコンピュータは、試験紙の移動位置を知るために時間のカウントを行っていたが、時間のカウントに代えて、センサを設け、試験紙保持テーブル３又は試験紙ホルダー２に直線目盛を形成し、センサによりこの目盛を読み取ることとしてもよい。
【００４６】
なお、定量測定した数値を、当業界で慣用されている単位に換算することができる。このためには、同じ試験紙を、本試験紙測定装置と、慣用されている他の測定装置で別々に測定することにより、検量線を作成する。図１６は、測定結果の一例を表すグラフである。横軸は、ＣＣＤカメラの画像データに基づいて試験紙測定をする測定装置（ＡＴＴＯ株式会社  デンシトグラフＡＥ−６９２０）で測定した測定値、縦軸は、本試験紙測定装置で測定した測定値を表す。本試験紙測定装置と、前記他の測定装置との測定結果を比較すると、相関係数は約０．９８１となり、高い相関が得られた。
【００４７】
このグラフに示された直線が、最小自乗法などを用いて作成された検量線である。この検量線を一度求めておけば、本試験紙測定装置で測定した測定値を、自動的に換算して表示させることができる。
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、以上に限られるものではなく、本発明の範囲内で種々の変更を施すことが可能である。例えば、コントロールラインやテストラインが複数ある試験紙でも、図１４、図１５のアルゴリズムをそれぞれのラインに適用することにより、試験紙の定量測定又は定性判定をすることができる。
【００４８】
また、コントロールラインの現れない試験紙であれば、テストラインの反射強度Ｔと試験紙の地の反射強度Ｒとの差Ｒ−Ｔ又は比Ｒ／Ｔをとることにより、試験紙の地の影響を除くことができる。この場合、
ＤＥＴを求める式は、
ＤＥＴ＝Ｒ−Ｔ
又は
ＤＥＴ＝Ｒ／Ｔ
となる。また、前記実施形態では地の反射強度Ｒは(1) 谷ｂと谷ｃの間の山部のピーク値をとる、(2)各山部の反射強度の、中央値若しくは平均値をとる、などとして決めていたが、このような処理をせず、テストライン４ｂの直ぐ近くの地の反射強度をＲ１とし、コントロールライン４ａの直ぐ近くの地の反射強度をＲ２とし、（Ｒ−Ｔ）に変えて（Ｒ１−Ｔ）を採用し、（Ｒ−Ｃ）に変えて（Ｒ２−Ｃ）を採用してもよい。こうすれば、試験紙に反射率の場所的な分布むらがあるときでも、正確な判定ができる。
【００４９】
また、以上の試験紙測定方法では、試験紙からの反射強度を調べていたが、透過強度を調べてもよい。また、試験紙が蛍光を発するものであれば、蛍光強度を調べてもよい。
【００５０】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、試験紙の地の部分の光学特性のばらつきを吸収した、試験紙の正確な定性判定、又は定量測定をすることができる。
また、測定装置ごとに試験紙を移動させる速度がばらついていても、コントロールライン、又はテストラインを確実に特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】試験紙測定方法の概略斜視図である。
【図２】試験紙測定方法を、上カバー１ａとそれに固定される回路基板とを取り外して見た平面図である。
【図３】仕切板１１を取り外した状態を示す平面図である。
【図４】試験紙保持テーブル３に装着されたロック部材３ｂを示す斜視図である。
【図５】ロック部材３ｂとピン１３との関係を説明する図であり、(a)は試験紙保持テーブル３を挿入しているとき、(b)は係合位置、(c)(d)はロックを解除した後の様子を示す。
【図６】試験紙保持テーブル３を最奥まで押し込んでロックさせた状態を示す平面図である。
【図７】ロック状態を示す図６をＸ−Ｘで切った断面図である。
【図８】試験紙４に現れたマークの位置を示す図である。
【図９】試験紙保持テーブル３の自走中の連続測定結果（陽性の場合）を示すグラフである。
【図１０】  (a)は典型的な反射強度のグラフ、(b)はそれを微分したグラフである。
【図１１】試験紙保持テーブル３の自走中の連続測定結果（陰性の場合）を示すグラフである。
【図１２】試験紙ホルダー２を保持した試験紙保持テーブル３の自走中の連続測定結果を示すグラフである。
【図１３】試験紙ホルダー２を保持した試験紙保持テーブル３の自走中の連続測定結果を示すグラフである。
【図１４】マイクロコンピュータの行う試験紙測定方法を説明するためのフローチャートである。
【図１５】マイクロコンピュータの行う試験紙測定方法を説明するためのフローチャート（続き）である。
【図１６】同じ試験紙を、本試験紙測定装置と、慣用されている他の測定装置で別々に測定した結果を示すグラフである。
【符号の説明】
１  試験紙測定装置本体
２  試験紙ホルダー
３  試験紙保持テーブル
４  試験紙
４ａ  コントロールライン
４ｂ  テストライン
５  電源スイッチ
６  表示部
２１  投光部
２２  受光部
４１  スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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