(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力する光分岐手段と、
前記光分岐手段からの第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力する第１の光電気変換手段と、
前記光分岐手段からの第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力する第２の光電気変換手段と、
前記第１の光電気変換手段からの第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力する第１の判定手段と、
前記第２の光電気変換手段からの第２の電気信号の電圧と該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力する第２の判定手段と、
前記第１の判定手段からの前記基準用のパルス信号と前記第２の判定手段からの前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するビットエラー検出手段と、
を具備し、
前記光分岐手段は、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、前記第１及び第２の光パルス信号の大きさをそれぞれｎ：ｍ（但し、ｎ＜ｍ）として出力することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置。
【請求項２】
前記ビットエラー検出手段からの前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定可能としたことを特徴とする請求項１に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置。
【請求項３】
パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力するステップと、
前記第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力するステップと、
前記第２の電気信号の電圧と、該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力するステップと、
前記基準用のパルス信号と前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するステップと、
を具備し、
前記光信号分岐ステップは、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、前記第１及び第２の光パルス信号の大きさをそれぞれｎ：ｍ（但し、ｎ＜ｍ）として出力することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法。
【請求項４】
前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定するステップとをさらに備えたことを特徴とする請求項３に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法。
【請求項５】
パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力する光分岐手段と、
前記光分岐手段からの第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力する第１の光電気変換手段と、
前記光分岐手段からの第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力する第２の光電気変換手段と、
前記第１の光電気変換手段からの第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力する第１の判定手段と、
前記第２の光電気変換手段からの第２の電気信号の電圧と該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力する第２の判定手段と、
前記第１の判定手段からの前記基準用のパルス信号と前記第２の判定手段からの前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するビットエラー検出手段と、
を具備する自己相関ビットエラー検出装置であって、
前記光分岐手段は、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、Ｎ（Ｎは３以上の整数）分岐して第１、第２、第３乃至第Ｎの光パルス信号として出力し、
前記自己相関ビットエラー検出装置は、
前記光分岐手段からの前記第３乃至第Ｎのパルス信号を第３乃至第Ｎの電気信号に変換して出力する第３乃至第Ｎの光電気変換手段と、
前記第３乃至第Ｎの光電気変換手段からの前記第３乃至第Ｎの電気信号の電圧と該第３乃至第Ｎの電気信号の振幅におけるほぼ中央の値から、それぞれ、マーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号を出力する第３乃至第Ｎの判定手段とをさらに備え、
前記ビットエラー検出手段は、
前記第１の判定手段からの前記基準用のパルス信号と前記第２乃至第Ｎの判定手段からの前記第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置。
【請求項６】
前記ビットエラー検出手段からの前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定可能としたことを特徴とする請求項５に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置。
【請求項７】
パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力するステップと、
前記第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力するステップと、
前記第２の電気信号の電圧と、該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力するステップと、
前記基準用のパルス信号と前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するステップと、
を具備する自己相関ビットエラー検出方法であって、
前記光信号分岐ステップは、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、Ｎ（Ｎは３以上の整数）分岐して第１、第２、第３乃至第Ｎの光パルス信号として出力し、
前記自己相関ビットエラー検出方法は、
前記光信号分岐ステップによる前記第３乃至第Ｎのパルス信号を第３乃至第Ｎの電気信号に変換して出力するステップと、
前記第３乃至第Ｎの電気信号の電圧と該第３乃至第Ｎの電気信号の振幅におけるほぼ中央の値から、それぞれ、マーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号を出力するステップとをさらに備え、
前記ビットエラー検出ステップは、
前記基準用のパルス信号と前記第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法。
【請求項８】
前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定するステップとをさらに備えたことを特徴とする請求項７に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
技術分野
本発明は、一般に、光ファイバを使用した高品質光伝送路のための品質評価手法に適用される光信号の自己相関ビットエラー検出装置に係り、特に、被測定用の光信号に対して光分岐方式によって自己相関ビットエラー検出を実行するようにした光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法に関する。
【０００２】
背景技術
近時、通信需要が増えるのに伴って、広帯域伝送路の拡張が急務となっている。
【０００３】
この一環として、長距離陸上及び海底通信回線には、これまでの、例えば、２．５Ｇｂｉｔ／ｓのＷＤＭ信号を対象とした光伝送路から、今後、主流になる、例えば、１０Ｇｂｉｔ／ｓ（将来は、４０Ｇｂｉｔ／ｓ）のＤＷＤＭ信号を対象とした高品質光伝送路が導入されている。
【０００４】
一般に、デジタル通信回線の評価のための測定方式として、ビットエラーレート（ＢＥＲ）が採用されている。
【０００５】
しかるに、上述したような通信回線に高品質化によって、既存のＢＥＲ測定方式では、品質の評価のための測定時間が余りにも長く（例えば、数１０時間以上にも及ぶ）かかり過ぎるという問題を有している。
【０００６】
また、従来のエラー測定方式では、被測定用の光信号のパターンと同じパターンを内部で生成しているので、それだけ構成が複雑化するばかりでなく、被測定用の光信号のパターンが既知（例えば、ＰＲＢＳ）である必要があるという問題を有している。
【０００７】
このため、従来のエラー測定方式にとって代わる有力な高品質光伝送路のための品質評価手法として、Ｑ−ｆａｃｔｏｒによる品質評価手法が提唱されている（ＩＥＥＥ  ＰＨＯＴＯＮＩＣＳ  ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＹ  ＶＯＬ５，ＮＯ．３，ＭＡＲＣＨ  １９９３  ｐｐ３０４−３０６）。
【０００８】
このＱ−ｆａｃｔｏｒによる品質評価手法は、アナログの分野で定義されているＳ／Ｎの概念をデジタル信号に応用したもので、ノイズが正規分布いわゆるガウス分布に基づいて発生していると仮定した評価方法である。
【０００９】
すなわち、図８に示すように、被測定用の光信号のいわゆるアイパターンにおいて、ＯＮレベルの平均値をμ1 としＯＮレベルの標準偏差をσ1 とし、ＯＦＦレベルの平均値をμ0 とし、ＯＦＦレベルの標準偏差をσ0 としたとき、Ｑ−ｆａｃｔｏｒは、
Ｑ＝｜μ1 −μ0 ｜／（σ1 ＋σ0 ）
で与えられる。
【００１０】
そして、このようなＱ−ｆａｃｔｏｒによる品質評価手法は、どんなに高品質の回線でも、数分オーダーの極めて短い時間でその品質評価を行うことができる。
【００１１】
インターナショナルテレコミュニケションユニオン（ＩＴＵ−Ｔ）勧告  Ｇ．９７６  （０４／９７）には、光ファイバ海底ケーブルシステム等に適用される試験方法について、上述したようなＱ−ｆａｃｔｏｒによる品質評価手法を採用した記述がなされている。
【００１２】
このＩＴＵ−Ｔ勧告  Ｇ．９７６のＦｉｇｕｒｅ３には、線形信号を分析することによって規定されるＱ−ｆａｃｔｏｒの測定のための測定装置の構成が示されている。
【００１３】
このＱ−ｆａｃｔｏｒ測定装置の構成の手段として、電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置が適用されている。
【００１４】
この電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置は、被測定用の光信号を電気信号に変換した後、電気的手法により電気信号を２分岐し、その一方を基準信号、もう一方をノイズ検出用信号として、互いの比較判定を行うことにより、ビットエラー測定を行うようにしている。
【００１５】
この自己相関ビットエラー検出装置の特徴として、基準信号とノイズ検出用信号とをそれぞれ被測定用の光信号より生成しているために、被測定用の光信号のパターンが既知  （例えば、ＰＲＢＳ）である必要がないので、被測定用の光信号のパターンと同じパターンを内部で生成する必要がなく、それだけ構成が簡易になるという利点を有している。
【００１６】
図５は、このような従来の電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置の構成例を示すブロック図である。
【００１７】
この従来の自己相関ビットエラー検出装置１は、まず、パルス信号によって変調された被測定用の光信号を光電気変換器（ＰＤ）２によって電気信号に変換している。
【００１８】
そして、この電気信号は、電気分岐器３によって第１の電気信号及び第２の電気信号に分岐される。
【００１９】
次に、この自己相関ビットエラー検出装置１では、分岐後の第１の電気信号の電圧と基準電圧ＶREF との大小関係をデシジョン回路４によって判定し、その判定結果を基準信号とする。
【００２０】
なお、このデシジョン回路４には、分岐後の第１の電気信号の振幅における中央の値を基準電圧ＶREF として設定している基準信号生成回路５が含まれている。
【００２１】
また、この自己相関ビットエラー検出装置１では、分岐後の第２の電気信号の電圧とノイズ検出用電圧ＶTHとの大小関係をデシジョン回路６によって判定し、その判定結果をノイズ検出用信号とする。
【００２２】
なお、このデシジョン回路６には、分岐後の第２の電気信号の振幅における中央からマーク側（Ｈ側）又はスペース側（Ｌ側）にスライドした任意のレベルの電圧値をノイズ検出用電圧ＶTHとして設定しているノイズ検出用回路７が含まれている。
【００２３】
そして、この自己相関エラー検出装置１では、デシジョン回路４及び基準信号生成回路５によって得られる基準信号と、デシジョン回路６及びノイズ検出用回路７によって得られるノイズ検出用信号との一致、不一致をエラー比較回路８を含む検出器９によって比較判定している。
【００２４】
このエラー比較回路８を含む検出器９は、その比較判定結果が一致しない場合を、被測定用の光信号に自己相関ビットエラーが発生しているとして検出するようにしている。
【００２５】
図６は、このような従来の電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置１の自己相関ビットエラー検出状態を示す図である。
【００２６】
前述したように、基準電圧ＶREF は、デシジョン回路４に含まれている基準信号生成回路５によって、分岐後の第１の電気信号の振幅における中央の値に設定されるので、この図６においてマーク側（Ｌ）とスペース（Ｈ）のほぼ中央に設定されている。
【００２７】
これに対し、ノイズ検出用電圧ＶTHは、前述したように、デシジョン回路６に含まれているノイズ検出用回路７によって、分岐後の第２の電気信号の振幅における中央からマーク側（Ｈ）又はスペース側（Ｌ）にスライドした任意のレベルの電圧値に設定されるが、ここではマーク側（Ｈ）に設定されている場合を示している。
【００２８】
そして、図６では、例えば、分岐後の第１の電気信号の電圧が、基準電圧ＶREF よりも大きいが、ノイズ検出用電圧ＶTHよりも小さい場合に、自己相関ビットエラー検出装置１内の検出器９によって被測定用の光信号に自己相関ビットエラーが発生していたことが検出される場合を示している。
【００２９】
図９は、以上のような従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１によって実行されるＱ−ｆａｃｔｏｒの測定方式の原理を説明するための図である。
【００３０】
すなわち、前述したように、基準電圧ＶREF は、アイパターン（「Ｌ」と「Ｈ」）のほぼ中央に設定される。
【００３１】
そして、ノイズ検出用電圧ＶTHは、上記アイパターンのＯＮレベルの平均値μ1 に相当するＶTH1 と、ＯＦＦレベルの平均値μ0 に相当するＶTH0 との間で可変される。
【００３２】
このようにして、ＶTH1 ，ＶTH0 対ＢＥＲ測定を行うことにより、それらの測定結果を図９に示すようにプロット（Ｐａ１，Ｐａ２，Ｐａ３，Ｐａ４，Ｐａ５，Ｐａ６…，Ｐｂ１，Ｐｂ２，Ｐｂ３，Ｐｂ４，Ｐｂ５，Ｐｂ６…）する。
【００３３】
そして、その測定結果をもとに最適スレッショルド電圧Ｖｏｐｔを算出する。
【００３４】
続いて、最適スレッショルド電圧Ｖｏｐｔ時のＱ−ｆａｃｔｏｒ及びＢＥＲを算出する。
【００３５】
これは、ＶTH1 ，ＶTH0 を可変してビットエラー測定を行うことにより、図９でプロットした下側に破線で示すＶ字状の交点部分を含むビットエラー発生率が、例えば、１０-20 オーダーと極端に低いビットエラー部分を理論的に推定するものである。
【００３６】
このＱ−ｆａｃｔｏｒ及びＢＥＲとの関係は、上記ＩＴＵ−Ｔ勧告  Ｇ．９７６のＡＮＮＥＸ  Ａ  Ａ．１によると、  ＢＥＲ＝｛１／（２π）1/2 ｝×
｛Ｅｘｐ（−Ｑ2 ／２）／Ｑ｝
で与えられる。
【００３７】
ところで、上記図５に示すように、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１においては、光電気変換器（ＰＤ）２によって被測定用の光信号を電気信号に変換した後で、電気分岐器３によって第１及び第２の電気信号に分岐するようにしている。
【００３８】
図７は、光電気変換器（ＰＤ）２の変換特性を例示する図であり、入力する光のパワーを横軸とし、出力する電流を縦軸としたグラフである。
【００３９】
図７に示すように、光電気変換器（ＰＤ）２による光から電気への変換特性において、直線性が１ｄＢずれた箇所をコンプレッションポイントＰcompとしている。
【００４０】
すなわち、このコンプレッションポイントＰcompは、光電気変換器２の飽和領域を避けて直線領域で使用するための目安となっている。
【００４１】
これは、図５に示すような自己相関ビットエラー検出装置１において、光電気変換器２がその飽和領域で使用された場合には、被測定用の光信号に対して正確な自己相関ビットエラー検出を行うことができなくなるためである。
【００４２】
したがって、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１において、光電気変換器（ＰＤ）２の出力の直線性を確保した状態で被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するためには、コンプレッションポイントＰcompよりも小さいパワーの光信号を被測定用の光信号として入力する必要がある。
【００４３】
このため、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１においては、取り扱い可能な光信号のパワーレベルが所定レベル（例えば、０ｄＢ）以下に制限されるという問題がある。
【００４４】
また、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１では、光電気変換器
（ＰＤ）２の後段の電気分岐器３で電気信号が分岐されるため、光電気変換器（ＰＤ）２のコンプレッションポイントＰcompまでの出力電力がさらに分岐により低下されてデシジョン回路４、６に与えられることになる。
【００４５】
すなわち、電気分岐器３内における分岐用インピーダンスに基づく電力損失によってデシジョン回路４、６に与えられる電力が低くなるので、自己相関ビットエラー検出装置１全体としてのＳ／Ｎの劣化を招くという問題がある。
【００４６】
例えば、光電気変換器（ＰＤ）２の出力が１ｍＷであったとすると、電気分岐器３での電力損失が０．５ｍＷあるために、デシジョン回路４、６に与えられる入力は、それぞれ、０．２５ｍＷに低下している。
【００４７】
そして、このように低下された入力を増幅するために、デシジョン回路４、６内に電気増幅器を設けるようにしたとしても、電気増幅器は、その特性としてノイズが大（光増幅器と比較してＮＦで約３倍）であるばかりでなく、線形性が悪いとともに、その波形歪みによる応答性が悪いという問題を有している。
【００４８】
したがって、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１では、被測定用の光信号に対する自己相関方式によるビットエラー測定の性能向上を実現することが困難であるので、上述したようなＱ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことができないという問題を有している。
【００４９】
発明の開示
本発明の目的は、以上のような実情に鑑みてなされたもので、被測定用の光信号に対する自己相関方式によるビットエラー測定の性能向上を実現することにより、Ｑ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことができるようにした光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法を提供することにある。
【００５０】
本発明の第１の態様によると、
パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力する光分岐手段（１１）と、
前記光分岐手段からの第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力する第１の光電気変換手段（２ｂ）と、
前記光分岐手段からの第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力する第２の光電気変換手段（２ａ）と、
前記第１の光電気変換手段からの第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力する第１の判定手段（４）と、
前記第２の光電気変換手段からの第２の電気信号の電圧と該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力する第２の判定手段（６）と、
前記第１の判定手段からの前記基準用のパルス信号と前記第２の判定手段からの前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するビットエラー検出手段（９）と、
を具備し、
前記光分岐手段（１１）は、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、前記第１及び第２の光パルス信号の大きさをそれぞれｎ：ｍ（但し、ｎ＜ｍ）として出力することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置が提供される。
【００５１】
また、本発明の第２の態様によると、前記ビットエラー検出手段（９）からの前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定可能としたことを特徴とする第１の態様に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置が提供される。
【００５２】
また、本発明の第３の態様によると、パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力するステップと、
前記第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力するステップと、
前記第２の電気信号の電圧と、該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力するステップと、
前記基準用のパルス信号と前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するステップと、
を具備し、
前記光信号分岐ステップは、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、前記第１及び第２の光パルス信号の大きさをそれぞれｎ：ｍ（但し、ｎ＜ｍ）として出力することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法が提供される。
【００５３】
本発明の第４の態様によると、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定するステップとをさらに備えたことを特徴とする第３の態様に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法が提供される。
【００５４】
本発明の第５の態様によると、パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力する光分岐手段（１１）と、
前記光分岐手段からの第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力する第１の光電気変換手段（２ｂ）と、
前記光分岐手段からの第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力する第２の光電気変換手段（２ａ）と、
前記第１の光電気変換手段からの第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力する第１の判定手段（４）と、
前記第２の光電気変換手段からの第２の電気信号の電圧と該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力する第２の判定手段（６）と、
前記第１の判定手段からの前記基準用のパルス信号と前記第２の判定手段からの前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するビットエラー検出手段（９）と、
を具備する自己相関ビットエラー検出装置であって、
前記光分岐手段（１１）は、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、Ｎ（Ｎは３以上の整数）分岐して第１、第２、第３乃至第Ｎの光パルス信号として出力し、
前記自己相関ビットエラー検出装置は、
前記光分岐手段からの前記第３乃至第Ｎのパルス信号を第３乃至第Ｎの電気信号に変換して出力する第３乃至第Ｎの光電気変換手段（２ａ２，…，２ａＮ−１）と、
前記第３乃至第Ｎの光電気変換手段からの前記第３乃至第Ｎの電気信号の電圧と該第３乃至第Ｎの電気信号の振幅におけるほぼ中央の値から、それぞれ、マーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号を出力する第３乃至第Ｎの判定手段（６）とをさらに備え、
前記ビットエラー検出手段（９）は、
前記第１の判定手段からの前記基準用のパルス信号と前記第２乃至第Ｎの判定手段からの前記第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置が提供される。
【００５５】
本発明の第６の態様によると、前記ビットエラー検出手段（９）からの前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定可能としたことを特徴とする第５の態様に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置が提供される。
本発明の第７の態様によると、パルス信号によって変調された被測定用の光信号を分岐して第１及び第２の光パルス信号として出力するステップと、
前記第１のパルス信号を第１の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第２のパルス信号を第２の電気信号に変換して出力するステップと、
前記第１の電気信号の電圧と該第１の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値に設定される基準信号生成用電圧との比較判定結果に基づいて、基準用のパルス信号を出力するステップと、
前記第２の電気信号の電圧と、該第２の電気信号の振幅におけるほぼ中央の値からマーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、測定用のパルス信号を出力するステップと、
前記基準用のパルス信号と前記測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出するステップと、
を具備する自己相関ビットエラー検出方法であって、
前記光信号分岐ステップは、
前記被測定用の光信号を分岐する際に、Ｎ（Ｎは３以上の整数）分岐して第１、第２、第３乃至第Ｎの光パルス信号として出力し、
前記自己相関ビットエラー検出方法は、
前記光信号分岐ステップによる前記第３乃至第Ｎのパルス信号を第３乃至第Ｎの電気信号に変換して出力するステップと、
前記第３乃至第Ｎの電気信号の電圧と該第３乃至第Ｎの電気信号の振幅におけるほぼ中央の値から、それぞれ、マーク側又はスペース側にスライドした任意のレベルに設定されるノイズ検出用電圧との比較判定結果に基づいて、第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号を出力するステップとをさらに備え、
前記ビットエラー検出ステップは、
前記基準用のパルス信号と前記第２乃至第Ｎの測定用のパルス信号との比較判定結果に基づいて、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出することを特徴とする光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法が提供される。
本発明の第８の態様によると、前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーの計数値と、クロック信号の計数値とに基づいて前記被測定用の光信号の自己相関ビットエラーレートを測定するステップとをさらに備えたことを特徴とする第７の態様に記載の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出方法が提供される。
本発明の光分岐方式による自己相関エラー検出装置では、先に、被測定用の光信号を分岐していることにより、後述するように、例えば、光分岐手段での分岐後に、光電気変換手段（ＰＤ）の出力の直線性を確保するために必要とされる光信号が０ｄＢｍとなるまで光分岐手段に入力される光信号のパワーを＋３ｄＢｍ（従来の電気分岐方式による自己相関エラー検出装置と比べて、入力光のパワーを２倍）に上げることができるので、取り扱い可能な光信号のパワーレベルを、例えば、従来、０ｄＢｍまでに制限されていたのに対し、＋３ｄＢｍ（２ｍＷ）までに拡張することができる。
【００５６】
このような光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置によれば、先に、被測定用の光信号を分岐した後で電気信号に変換して判定処理することにより、従来技術のように先に被測定用の光信号を電気信号に変換した後で分岐して判定処理する場合よりも、判定手段に与える電圧を高くすることができ、Ｓ／Ｎの劣化を防止することができる。
【００５７】
また、光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置によれば、自己相関ビットエラー検出装置に入る光の入力レベルが同一の場合には、判定手段に与える電圧も同一になる。
【００５８】
以下、電気分岐方式による歪みについて説明する。
【００５９】
従来技術のように、先に、被測定用の光信号を電気信号に変換した後で、その電気信号を分岐して判定処理をする場合、電気信号を分岐する電気分岐器で信号の歪みが生じる。
【００６０】
それに対して、本発明のように、光分岐方式による方法を用いると、その光分岐部による歪みが光信号には殆ど生じない。
【００６１】
この理由として、電気分岐方式の場合、その分岐部である電気分岐器に用いる分岐用の抵抗値のミスマッチが生じていると、分岐される電気信号の反射などを発生させ、それが歪みとなって後段に影響を与える。
【００６２】
しかるに、本発明のように、光分岐方式として、光で分岐する場合、光分岐部で反射は生じないために、光分岐部による歪みが発生しないからである。
【００６３】
そして、電気分岐方式の場合に生じる歪みは、被測定信号の伝送周波数が高ければ高いほど大きくなるが、本発明のように、光分岐方式の場合には周波数特性が電気分岐方式に比べ圧倒的に優れているために、後段に与える歪みの影響が全くない。
【００６４】
そのため、本発明によれば、従来技術のような電気分岐方式から光分岐方式に変えることによって、分岐部の波形歪みの影響を低減させることができるという顕著な効果が得られる。
【００６５】
また、光増幅器は、電気増幅器に比べて、ローノイズで線形性がよいという効果があり、光レベルを増加させても線形性を維持することができるという効果がある。
【００６６】
けだし、電気増幅器では抵抗を介しているのでインピーダンスが乱れると反射が発生し、歪みが生じるが、光増幅器では、光ファイバを用いているので、反射が少なく歪みが発生しないからである。
【００６７】
したがって、本発明の光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置によれば、上述したようなＱ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことが可能となる。
【００６８】
発明を実施するための最良の形態
以下、本発明の各実施の形態を図面を用いて説明する。
【００６９】
（第１の実施の形態）
本実施の形態においては、まず、被測定用の光信号を分岐し、次に、分岐後の光信号を電気信号に変換する光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法について説明する。
【００７０】
図１は、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置の構成を例示するブロック図である。
【００７１】
なお、図１において、図５と同一の部分については同一の符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ詳しく説明するものとする。
【００７２】
この光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置１０では、まず、入力される被測定用の光信号が光ファイバスプリッタ等のようないわゆる３ｄＢｍカップラでなる光分岐器１１で２分岐される。
【００７３】
そして、分岐後の２つの光信号は、それぞれ光電気変換器（ＰＤ）２ｂ、２ａにより電気信号に変換される。
【００７４】
この後、２つの電気信号は、それぞれデシジョン回路４、６及び検出器９によって、先に、図５の説明で述べた動作と同様の処理が行われることにより、被測定用の光信号に対する自己相関ビットエラー検出が行われる。
【００７５】
すなわち、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置１０では、光電気変換器（ＰＤ）２ｂによる光電気変後の第１の電気信号の電圧と基準電圧ＶREF （図５参照）との大小関係をデシジョン回路４によって判定し、その判定結果を基準信号とする。
【００７６】
なお、デシジョン回路４には、光電気変換器（ＰＤ）２ｂによる光電変換後の第１の電気信号の振幅における中央の値を基準電圧ＶREF として設定している基準信号生成回路５（図５参照）が含まれている。
【００７７】
また、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置１０では、光電気変換器（ＰＤ）２ａによる光電変換後の第２の電気信号の電圧とノイズ検出用電圧ＶTH（図５参照）との大小関係をデシジョン回路６によって判定し、その判定結果をノイズ検出用信号とする。
【００７８】
なお、デシジョン回路６には、光電気変換器（ＰＤ）２ａによる光電変換後の第２の電気信号の振幅における中央からマーク側（Ｈ側）又はスペース側（Ｌ側）にスライドした任意のレベルの電圧値をノイズ検出用電圧ＶTHとして設定しているノイズ検出用回路７  （図５参照）が含まれている。
【００７９】
また、検出器９は、デシジョン回路４及び基準信号生成回路５によって得られる基準信号と、デシジョン回路６及び基準信号生成回路７によって得られるノイズ検出用信号との一致、不一致を比較判定するエラー比較回路８（図５参照）が含まれている。
【００８０】
図２Ａ，Ｂは、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１０と、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１とを適用した場合の比較例を示すブロック図である。
【００８１】
図２Ａは、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１０を適用した場合の例である。
【００８２】
例えば、本実施の形態に用いられる光電気変換器（ＰＤ）２ａ，２ｂは、それぞれ、コンプレッションポイントＰcompが０ｄＢｍであり、電流変換効率が１（Ａ／Ｗ）の場合であるとする。
【００８３】
このような光電気変換器（ＰＤ）２ａ，２ｂを用いて、その出力に直線性を確保しつつ被測定用の光信号に対する自己相関ビットエラー測定を実行する場合には、この光電気変換器（ＰＤ）２ａ，２ｂに入力する光を０ｄＢｍ以下に抑制する必要がある。
【００８４】
ここで、＋３ｄＢｍ（２ｍＷ）の光信号が、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関エラー検出装置１０に被測定用の光信号として入力されたとする。
【００８５】
そして、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関エラー検出装置１０では、まず、入力された被測定用の光信号が３ｄＢｍカップラでなる光分岐器１１で２分岐されることにより、分岐後の第１及び第２の光信号はそれぞれ＋０ｄＢｍ（１ｍＷ）となる。
【００８６】
このため、後段の光電気変換器（ＰＤ）２ａ，２ｂの出力に直線性を確保しつつ被測定用の光信号を電気信号に変換することができる。
【００８７】
これにより、光電気変換器（ＰＤ）２ａ，２ｂからは、光電変換後の第１及び第２の電気信号として、それぞれ１ｍＡの電流信号が出力される。
【００８８】
一方、図２Ｂは、前述したような従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１を適用した場合の例である。
【００８９】
この電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１では、光信号がそのまま光電気変換器（ＰＤ）２に入力されるため、光電気変換器（ＰＤ）２の出力に直線性を確保するには、そのコンプレッションポイント０ｄＢｍを超えない光信号を入力する必要がある。
【００９０】
この条件を満たす０ｄＢｍ（１ｍＷ）の被測定用の光信号が入力されると、この光信号は、光電気変換器（ＰＤ）２によって１ｍＡの電気信号に変換される。
【００９１】
さらに、この電気信号は、電気分岐器３で分岐されて、それぞれ０．５ｍＡの出力電流信号Ｉすなわち電圧Ｖに換算して、Ｖ＝ＩＲ（但し、Ｒは、デシジョン回路４、６の入力インピーダンスで、この場合５０Ω）＝０．５ｍＡ×５０Ω＝２５ｍＶが出力されることになる。
【００９２】
一方、図２Ａに示した本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１０では、上述したように、光分岐器１１での分岐後に０ｄＢｍとなるまで光分岐器１１に入力される被測定用の光信号のパワーを＋３ｄＢｍに上昇させることができる。
【００９３】
これにより、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１０は、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１と比べて、例えば、２分岐方式であれば、被測定用の入力光のパワーを２倍に上げることができる。
【００９４】
すなわち、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１０では、被測定用の入力光のパワーを２分岐方式であれば、２倍に上げることができるので、取り扱い可能な光信号のパワーレベルを、例えば、従来、０ｄＢｍに制限されていたのに対し、＋３ｄＢｍ（２ｍＷ）までに拡張し得るという利点がある。
【００９５】
また、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１０は、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１と比べて、電気分岐器３での電力損失がなくなるので、例えば、２分岐方式であれば、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１と比べて２倍の出力電圧Ｖ（＝ＩＲ＝１ｍＡ×５０Ω＝５０ｍＶ）をデシジョン回路４、６に与えることができるため、従来の電気分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１のように電圧低下によるＳ／Ｎの悪化を防止することができる。
【００９６】
したがって、本実施の形態によれば、被測定用の光信号に対する自己相関方式によるビットエラー測定の性能向上を実現することにより、Ｑ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことができるようにした光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置を提供することが可能になる。
【００９７】
（第２の実施の形態）
本実施の形態においては、上記第１の実施の形態に係る光分岐方式による自己相関エラー検出装置と、その基本的な構成は同様であるが、光分岐器が光のパワーを均等でない状態で分岐するようにした場合の自己相関エラー検出装置について説明する。
【００９８】
図４は、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関エラー検出装置の構成を例示するブロック図である。
【００９９】
図４において、図１と同一の部分については同一の符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ詳しく説明する。
【０１００】
この自己相関エラー検出装置１０は、被測定用の光信号をｍ：ｎ（但し、ｍ＞ｎ）に光分岐器１１１で分岐する。
【０１０１】
これは、光分岐器１１１で分岐後の光信号については、ノイズを検出する側には、波形のリニアリティが求められるが、基準側には波形のリニアリティが必ずしも求められない（０か１の判定ができればよい）ということによっている。
【０１０２】
したがって、例えば、１．１ｍＷの被測定用入力光をｍ：ｎ（但し、ｍ＞ｎ）に分岐し、ノイズ側を１．０ｍＶ、基準側を０．１ｍＶに分岐しても、基準側の電気信号を増幅器で増幅して基準信号として利用してもよい。
【０１０３】
以上詳記したように、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置では、入力された光信号を先に分岐し、その後で電気信号に変換して自己相関方式のビットエラー測定を行うようにしている。
【０１０４】
これにより、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置では、高パワーの光信号を取り扱い可能となり、Ｓ／Ｎ比の悪化を防止することができる。
【０１０５】
これによって、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置は、自己相関方式によるビットエラー測定の性能を向上させることができる。
【０１０６】
また、本実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置は、電気信号よりも周波数特性に優れた光信号の段階で分岐しているため、波形歪みを低減することができる。
【０１０７】
したがって、本実施の形態によれば、被測定用の光信号に対する自己相関方式によるビットエラー測定の性能向上を実現することにより、Ｑ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことができるようにした光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法を提供することが可能になる。
【０１０８】
（第３の実施の形態）
本実施の形態においては、被測定用の光信号を３以上に分岐する自己相関ビットエラー検出装置について説明する。
【０１０９】
図３は、本実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置の構成を例示するブロック図である。
【０１１０】
図３において、図１及び図５と同一の部分については同一の符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ詳しく説明する。
【０１１１】
この第３の実施の形態に係る光分岐方式による自己相関ビットエラー検出装置１２は、まず、入力される被測定用の光信号を光分岐器１３によってＮ分岐する（Ｎは３以上の自然数）。
【０１１２】
そして、光分岐器１３によって分岐された後の光信号Ｎ個のうちのいずれか一つは、光電気変換器（ＰＤ）２ｂにより電気信号に変換されてデシジョン回路４に入力される。
【０１１３】
また、光分岐器１３によって分岐された後の他の分岐後の光信号は、それぞれ光電気変換器（ＰＤ）２ａ１，…，２ａＮ−１により電気信号に変換されてデシジョン回路６１，…，６Ｎ−１に入力される。
【０１１４】
デシジョン回路６１，…，６Ｎ−１は、それぞれ独自のノイズ検出用電圧ＶTH1 ，…，ＶTHN-1 が設定されたノイズ検出用回路７１，…，７Ｎ−１を含み、それぞれがノイズ検出用信号を出力する。
【０１１５】
検出器１４は、基準信号と各デシジョン回路６１，…，６Ｎ−１からのノイズ検出用信号とを比較し、被測定用の光信号の自己相関ビットエラーを検出する。
【０１１６】
このＮ分岐の光分岐方式による自己相関エラー検出装置１２においては、Ｎ分岐の電気分岐方式の自己相関エラー検出装置よりもＮ倍の電圧をデシジョン回路４、６１，…，６Ｎ−１に与えることができ、上述した第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【０１１７】
また、このＮ分岐の光分岐方式による自己相関エラー検出装置１２においては、同時に複数の電圧ＶTH1 ，…，ＶTHN-1 のエラーを検出することができるので、測定時間を短縮することができる。
【０１１８】
したがって、本実施の形態によれば、被測定用の光信号に対する自己相関方式によるビットエラー測定の性能向上を実現することにより、Ｑ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことができるようにした光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法を提供することが可能になる。
【０１１９】
（第４の実施の形態）
本実施の形態においては、光信号を分岐し、この分岐後の光信号を電気信号に変換する光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法を光信号のビットエラーレート測定装置に適用した場合について説明する。
【０１２０】
図１０は、本発明の第４の実施の形態として、光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置１０を光信号のビットエラーレート測定装置に適用した場合の構成を説明するために示すブロック図である。
【０１２１】
なお、図１０において、図１及び図５と同一の部分については同一の符号を付してその説明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ詳しく説明するものとする。
【０１２２】
すなわち、光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置１０では、まず、入力される被測定用の光信号が光ファイバスプリッタ等のようないわゆる３ｄＢｍカップラでなる光分岐器１１で２分岐される。
【０１２３】
そして、分岐後の２つの光信号は、それぞれ光電気変換器（ＰＤ）２ｂ、２ａにより電気信号に変換される。
【０１２４】
この後、２つの電気信号は、それぞれデシジョン回路４、６及び検出器９によって、先に、図１及び図５の説明で述べた動作と同様の処理が行われることにより、被測定用の光信号に対する自己相関ビットエラー検出が行われる。
【０１２５】
この実施の形態におけるデシジョン回路４、６は、それぞれ、比較器とＤ形フリッブフロップ（Ｄ−ＦＦ）とで構成されているものとする。
【０１２６】
そして、クロック再生回路（図示せず）からのクロック信号は、遅延回路（図示せず）を介して所定のタイミングでデシジョン回路４、６内のＤ−ＦＦを遷移させるとともに、カウンタ２０に供給される。
【０１２７】
一方、自己相関ビットエラー検出装置１０内の検出器９によって検出された自己相関ビットエラーは、カウンタ２１に供給される。
【０１２８】
これらのカウンタ２０，２１の各出力は、ビットエラーレート演算器２２に供給される。
【０１２９】
すなわち、ビットエラーレート演算器２２は、カウンタ２０からのクロック信号の計数値と、カウンタ２１からの自己相関ビットエラーの計数値とに基づいて、所定の単位時間当たりの自己相関ビットエラーの発生率であるビットエラーレート（ＢＥＲ）の測定を行う。
【０１３０】
したがって、本実施の形態によれば、被測定用の光信号に対する自己相関方式によるビットエラー測定の性能向上を実現することにより、Ｑ−ｆａｃｔｏｒによる高品質回線の品質評価手法の利点を生かすことができるようにした光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置を適用した光信号のビットエラーレート測定装置を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  図１は、本発明の第１の実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置の構成を説明するために示すブロック図である。
【図２】  図２Ａ，Ｂは、本発明の第１の実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置と、従来の電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置とを適用した場合の比較例を説明するために示すブロック図である。
【図３】  図３は、本発明の第３の実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置の構成を説明するために示すブロック図である。
【図４】  図４は、本発明の第２の実施の形態に係る光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置の構成を説明するために示すブロック図である。
【図５】  図５は、従来の電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置の構成を説明するために示すブロック図である。
【図６】  図６は、従来の電気分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置のエラー検出状態を説明するために示す図である。
【図７】  図７は、従来の光電気変換器の変換特性を説明するために示す図である。
【図８】  図８は、光信号の自己相関ビットエラー検出装置に用いられるＱ−ｆａｃｔｏｒによる高品質光伝送回線の品質評価手法を説明するために示す図である。
【図９】  図９は、光信号の自己相関ビットエラー検出装置に用いられるＱ−ｆａｃｔｏｒの測定方式の原理を説明するために示す図である。
【図１０】  図１０は、本発明の第４の実施の形態として、光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置を光信号のビットエラーレート測定装置に適用した場合の構成を説明するために示すブロック図である。
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
0004283477.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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