(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
屈折率が異なる複数の材料を押し出して複合紡糸する光ファイバ用の紡糸口金であって、光ファイバ紡出孔に光を出射し芯材中に直接光を導入する光出射部を備え、光出射部の光出射端が光ファイバ紡出孔の中心軸上に配置され、かつ紡糸孔の中心軸に対して垂直な芯材流路壁面と同一平面上に形成されている紡糸口金。
【請求項２】
請求項１に記載の紡糸口金の光出射部に、光源ランプと、光源ランプからの光を遮断するための開閉可能なシャッターを備えたシャッター機構と、シャッターの開閉状態を示す機構とを備えた光源装置が接続されてなる光源装置付き紡糸口金。
【請求項３】
請求項１に記載の紡糸口金の光出射部に、光源ランプと特定波長光透過フィルターとが順次配置された光源装置が接続されてなる光源装置付き紡糸口金。
【請求項４】
光源装置が、２種類以上の特定波長光透過フィルターを有し、１種類の特定波長光透過フィルターを選択して光源ランプ前方に配置する切り替え機構と、光源ランプ前方に配置されている特定波長光透過フィルターの種類を示す機構とを備えた光源装置であることを特徴とする請求項３に記載の光源装置付き紡糸口金。
【請求項５】
請求項１〜４に記載の紡糸口金を用いて、光出射部から光ファイバの芯材中に直接光を導入しながら光ファイバを紡出し、光ファイバの側面から漏出する光を光検出器を用いて検出する光ファイバの検査方法。
【請求項６】
紡出した光ファイバを、加熱延伸処理した後、複数の光検出器の検出位置に光ファイバを通過させて光ファイバの側面から漏出する光の光量を検出し、各光検出器からの検出光量の差と光検出器の検出位置の間の距離から伝送損失を算出することを特徴とする請求項５に記載の光ファイバの検査方法。
【請求項７】
紡糸口金として請求項２に記載の紡糸口金を用い、光検出器がシャッターが開いていることを示している信号がシャッターの開閉状態を示す機構から出力されているときの光量と、シャッターが閉じていていることを示している信号が出力されているときの光量をそれぞれ検出し、その光量差に基づいて伝送損失を算出することを特徴とする請求項５に記載の光ファイバの検査方法。
【請求項８】
紡糸口金として請求項４に記載の紡糸口金を用い、光検出器は配置されている特定波長光透過フィルターの種類を示す機構からの特定波長光透過フィルターの種類を示す信号に応じて漏れ光の光量を別々に検出し、各特定波長光透過フィルターが透過する波長の光のそれぞれについて伝送損失を求めることを特徴とする請求項６に記載の光ファイバの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ファイバを連続的に製造する際にインラインで光ファイバの検査をする方法及びそれに好適な紡糸口金に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光ファイバを連続製造する際にインラインで伝送損失の測定等を行う方法としては、特開昭６１−６６０９号公報に開示されているように、賦形後の製造ライン中で光ファイバをある曲率以上に曲げて側面から光を照射することによって、光ファイバに検査光を入射する方法がある。
【０００３】
しかしこの方法は、光ファイバに対してある所定角度をもって入射する光（光ファイバ内を伝搬する光が曲げにより漏出する場合の光路を逆方向に通って入射する光）のうち鞘部で反射、吸収されずに芯部に到達した光成分、及び所定角度以外の角度から入射し芯部に到達した光のうち光ファイバ内部で散乱して伝搬が可能な角度に変化した光成分しか光ファイバ内に取り込むことはできず、検査光の入射効率が非常に悪いものであった。このように、光ファイバ中を伝搬する光の光量が少なくなると伝搬によって損失される光の絶対量が少くなるとともに、複数の箇所に配置した光検出器で検出された光ファイバ側面からの漏れ光の光量差によって光ファイバの伝送損失を測定しようとする場合、各光検出器間の光量差が小さくなり、伝送損失の測定誤差が大きくなる。そのため、特開昭６１−６６０９号公報の方法を用いて検査光を入射させ複数の箇所に配置した光検出器で検出された光の光量差によって光ファイバの伝送損失を測定する場合、伝送損失の測定誤差を小さくするためには、光検出器間の距離を長くとり光ファイバ内を伝搬している光の減衰を大きくさせることにより光検出器が検出する光の光量差を大きくする必要があった。また、この方法で多芯光ファイバ等の検査を行う場合は、全ての芯に均一に光を入射することが出来なかった。さらに、検査光を入射させるために光ファイバを小さな曲率で曲げるガイド等を必要とし、このガイドが光ファイバ表面に傷を付ける原因となる場合もあった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
これらの欠点を解消するものとして、特公平８−１２１２９号公報には光ファイバの押出成形加工に際して、芯材用樹脂の流れの中に光源と連結された光伝送素子を直接挿入し、光ファイバの芯部内に直接光を入射させる方法が提案されている。
【０００５】
ところが、この方法は光伝送素子が芯材用樹脂の流路中に突出して形成されているので、光伝送素子が破損したり、光伝送素子周囲で芯材用樹脂が滞留劣化するので、押出機ヘッドを長期間にわたって使用することが困難であり、押出機ヘッドの交換清掃作業のために光ファイバの生産性の低下を招くものであった。
即ち、本発明の目的はインラインで光ファイバの光学特性検査を行うにあたって、光ファイバの生産性を低下させることなく、光ファイバ中に光を効率的に入射させ精度の高い伝送損失などの測定を行うことができる紡糸口金及び光ファイバの検査方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の要旨は、屈折率が異なる複数の材料を押し出して複合紡糸する光ファイバ用の紡糸口金であって、光ファイバ紡出孔に光を出射し芯材中に直接光を導入する光出射部を備え、光出射部の光出射端が光ファイバ紡出孔の流路壁面上に形成されている紡糸口金にある。
【０００７】
また、本発明の要旨は、前記紡糸口金を用いて、光出射部から光ファイバの芯材中に直接光を導入しながら光ファイバを紡出し、光ファイバの側面から漏出する光を光検出器を用いて検出する光ファイバの検査方法にある。
【０００８】
【発明の実施の形態】
まず、本発明の光ファイバの検査方法について説明する。図２にその一実施形態の模式図を示す。
【０００９】
押出機４０から溶融された屈折率が異なる複数の材料がギヤポンプ４２で計量され、後述する紡糸口金４３に供給され複合紡糸される。材料としては透明樹脂が好ましく用いられるが、複合紡糸可能な材料であれば透明な無機材料なども使用可能である。透明樹脂としてはポリメチルメタクリレート（ＰＭＭＡ）など公知の重合体が使用可能である。複合紡糸の際、光源装置４１から出射された光は、紡糸口金内に導かれ直接芯材に導入され、検査光として光ファイバ中を伝搬する。一方、紡糸された光ファイバは、延伸炉４６に導入され熱風や蒸気等を用いて加熱される。その際、延伸炉後のニップロール４５の回転速度は延伸炉前のニップロール４４の回転速度よりも速くなっているので、光ファイバが延伸される。延伸倍率は特に限定されないが、通常１．５倍〜３．０倍程度である。加熱延伸された光ファイバは所定距離（本実施形態では２０ｍ）隔てて配置された二つの光検出器４７、４８の検出位置を通過し側面からの漏れ光が検出されて巻き取り装置４９によって巻き取られる。このように本発明においては光ファイバを連続的に製造しながら検査を行うことができる。なお、光検出器間において、光ファイバを直線状に走行させることも可能であり、ファイバを傷つけない大きな曲率のガイド等により屈曲した状態で走行させることも可能である。屈曲した状態で走行させる場合の光検出器間の距離は、光検出器間の光ファイバの走行距離となる。
【００１０】
光ファイバ側面からの漏れ光は、光検出器４７、４８により検出される。光検出器は、光ファイバの側面から様々な方向に出射される漏れ光の強度を平均化する積分球、積分球内の漏れ光を取り出し伝送するライトガイド、ライトガイドにより伝送された光を受光し電気信号として出力するセンサ、及びセンサ出力を増幅する増幅器から構成されている。なお、光検出器のファイバ入出口においては外部からの光が積分球内に入射しないように光を遮る遮光部が配置されている。光検出器はこれに限定されず、公知のものが使用可能である。
【００１１】
光検出器４７、４８により検出された漏れ光の光量に基づき、伝送損失算出装置５０により伝送損失を算出する。本実施形態においては、光検出器４７で検出された漏れ光と光検出器４８で検出された漏れ光の光量差が２０ｍの光ファイバの伝送損失に相当する。
【００１２】
また、光ファイバ側面からの漏れ光量は、光ファイバの直径変動や側面の傷（以下これらを単に「欠陥」という）によっても変化するため、漏れ光量の変化を検出すれば光ファイバの欠陥の検査も同時に行うことができる。
【００１３】
この場合、光ファイバは光検出器内を短時間で通過するため、直径変動、側面の傷に起因する短時間の光量変化を検出することが可能な応答速度の速い光センサを用いることが好ましい。
【００１４】
さらに、光検出器内の積分球では、光ファイバの全側面からの漏れ光が平均化されているため、積分球内を通過する光ファイバの一部に欠陥が存在していても、検出される光量は、正常部及び欠陥の双方から漏れた光の光量の平均値であるのでその変動は小さい。このため、欠陥によって生じる微弱な光量の変化を感度良く検出するためには、積分球内部の光ファイバの外周の総面積と欠陥が存在する部分の面積との差が小さくなるように、積分球内部の光ファイバの総面積を狭くすることが好ましい。すなわち、小さな積分球を備えた光検出器を用いることが好ましい。
【００１５】
光ファイバの欠陥の検査を行うための積分球の寸法は、検出しようとする直径変動の周期、側面の傷の大きさにより適宜選択されるが、積分球内部の光ファイバの長さが光ファイバの直径の１０倍以下となるような寸法とすることが好ましい。
【００１６】
本実施形態においては光検出器を二つ設け、それらの検出光量から光ファイバの伝送損失を測定しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば一つの光検出器を用いて光ファイバの輝点を検出することにより、光ファイバ内の異物や構造不整などを検出することもできる。
【００１７】
また、光源装置に出射光の強度を検出するセンサとそのセンサの出力に応じて出射光の強度を設定値に保つ調光装置を設けることにより、光源ランプの劣化等による光検出器で検出される漏れ光の光量の低下を防ぐこともできる。
【００１８】
以下各部についてより詳細に説明する。
図１に本発明の紡糸口金の一例を示す。図１において紡糸口金は左右対称構造となっており、２本の芯−鞘構造の光ファイバ２０が紡糸される。溶融された芯材は芯材流路１４を流れ、鞘材流路１５から供給される溶融された鞘材が芯材の外周に被覆されて光ファイバとして吐出される。
【００１９】
光出射部は、多数の光ファイバが束ねられてなるライトガイド１０、ライトガイドに接続固定されているライトガイドロッド１１及び導光部材１３から構成されており、ライトガイドロッド１１は、円筒形状の導光部材押さえ１２を貫通して導光部材１３の上部に保持されている。図中導光部材１３の下端が光出射部の光出射端１９であり、この光出射端１９は、芯材流路１４の壁面上に形成されている。光出射端１９は、光ファイバ中に光をより効率的に入射させるために、光ファイバ紡出孔１６の中心軸１７に対して垂直な芯材流路壁面１８と同一平面上に形成することが好ましい。
【００２０】
導光部材押さえ１２の外周部には、雄ねじ状の溝が設けられており、紡糸口金の導光部材押さえ１２の外周部に接する部分にはこの雄ネジに対応する雌ねじ状の溝が設けられているので、導光部押さえ１２を回転させることにより導光部押さえ１２は上下に移動する。
【００２１】
導光部材１３は下半分がテーパー形状をしており、この形状に一致した紡糸口金の導光部材挿入孔に挿入され、上部より耐熱性の弾力のある円筒状のテフロン樹脂、あるいは金属スプリング製のスペーサー２１を介して導光部材押さえで紡糸口金に押さえつけられている。そのため、紡糸口金と導光部材１３の熱膨張係数の違いによる膨張差が生じた場合であってもスペーサー２１の弾力により導光部材１３が導光部材挿入孔内でスライドするので、導光部材１３の圧縮による破損を防止することができ、紡糸口金と導光部材１３との隙間の発生による樹脂の漏洩や滞留部形成を防止することができる。光出射部はこれに限定されるものではなく、他の構成とすることも可能である。
【００２２】
また、ライトガイドロッド１１は、紡糸装置への紡糸口金の取り付け、取り外しが容易なように導光部材１３と容易に分離できる構造とすることが好ましい。
【００２３】
導光部材１３は、光ファイバの賦形温度に耐え、光を透過可能な物質により構成することが好ましく、例えば多成分ガラス、石英ガラス、サファイア、ダイヤモンド等があげられる。ライトガイド１０も耐熱性が高いものが好ましく、例えばガラス製の光ファイバ束、ガラスロッド等を用いることができる。ライトガイドロッド１１も耐熱性の高いものが好ましく、例えばガラス製の大口径光ファイバや、その外周が金属管で保護されているものなどが使用可能である。
【００２４】
ライトガイド１０の一端は図示しない光源装置に接続されており、他端は導光部材１３に接続されているので、光源装置からの光はライトガイド１０、ライトガイドロッド１１及び導光部材１３を通じて芯材内に導入される。一つの検査光光源に複数本のライトガイド１０を接続することによって複数の紡糸口金、または１つの紡糸口金内の複数の光出射部へ検査光を供給することも可能である。
【００２５】
ライトガイド１０の先端部及び導光部材１３はその中心軸が光ファイバ紡出孔の中心軸と一致するように配置されているので、光はほぼ光ファイバの中心軸方向に向かって入射され、光は光ファイバに効率的に導入される。そのため、検査光の光量を容易に増加させることができ、特に所定距離を隔てて配置された複数の光検出器を用いて伝送損失を測定する場合において、光検出器間の距離を短縮することが可能となり、さらに光検出器の出力の増幅率を低くすることができるので増幅誤差を小さくすることが可能となる。
【００２６】
なお、ここでは芯−鞘構造の光ファイバ用の紡糸口金についてのみ説明したが、本発明は他の構造の光ファイバ用の紡糸口金に適用することも可能である。例えば、屈折率が異なる３種類以上の材料を同心円状に積層して複合紡糸する紡糸口金を用いて、屈折率が中心から外周に向かって連続的に変化する光ファイバや段階的に変化する光ファイバを製造する場合が挙げられる。３種類以上の材料を用いて光ファイバを製造する場合には、中心層を構成する材料の流路壁面に光出射端を設けることが好ましい。又、多数の島部が海部により互いに隔てられた状態で一体化されてなる海島型光ファイバを製造する場合には、島部が一層である場合は島部を構成する材料の流路壁面に、島部が多層の場合はその中心層を構成する材料の流路壁面に光出射端を設けることが好ましい。
【００２７】
溶融された芯材内での光散乱損失や芯材流路壁面における吸収損失による検査光の減衰を小さくするため、光出射端から鞘が被覆されるまでの距離を可能な限り短縮させることが望ましい。芯材流路壁面にコーティング等を施し、芯材内に導入された検査光をコーティング材で反射、拡散させ伝搬させることも可能である。
【００２８】
光源装置は、ランプからの光を光出射部に入射可能なものであれば特に限定されない。光源装置に用いるランプとしては公知のものが使用可能であり、例えばＬＥＤ等も使用可能であるが、高圧、超高圧水銀ランプやタングステンランプ、キセノンランプのような高光度なランプほど光ファイバ内に入射できる光量が増え望ましい。例えば、直径０．７５ｍｍの光ファイバを検査する場合、最末端に位置する光検出器の検出位置において光ファイバを切断し、その端面から出射される光量が１ｍｗ程度となる検査光が光ファイバ内に入射されていれば、製造ラインの室内照明等が光ファイバ内に入射して伝搬する外乱光は無視できるレベルとなる。そのため、検査を行うに際して外乱光を遮光したり、外乱光と検査光を識別するために特別な機構を設ける必要がなくなり、また高感度高精度の光検出器を使用する必要もなく簡易で安価な光検出器を使用できるため、検査コストの低減化が可能となる。
【００２９】
光源装置としては例えば図３（ａ）に示すものを用いることができる。光源装置６０において、光源ランプ６１から出射した光は直接又は反射鏡６２により反射され、レンズ６３により集光され、レンズ６７によりほぼ平行光に変換されてライトガイド１０に導入される。レンズ６３とレンズ６７の間には、モータ−６５により回転可能な円盤６４が設置されている。レンズ６３を通過した光は円盤６４の外周部に集まるようになっている。図３（ｂ）はこの円盤６４の拡大図である。この円盤６４を光源ランプ６１からの光を透過、遮断させるシャッターとして用いるには、レンズ６３を通過した光が集まる円盤外周部の位置に円周方向に等間隔で開口部６８を設ける。光源装置６０から出射される光の波長を切り替える場合には、光源装置としては、図４（ａ）及びその光源装置６０の円盤６４の拡大図である図４（ｂ）に示すように、円盤６４に設けられた開口部６８に種類の異なる複数の特定波長光透過フィルタ６９をそれぞれ取り付ける。
【００３０】
即ち、レンズ６３からの光は円盤上に配置された開口部６８を通過したものがレンズ６７に到達し光源装置６０から出射するようになっており、レンズ６３からレンズ６７に至る光路上に開口部６８を配置するか否か、また開口部６８に取り付けられている２種類以上の特定波長光透過フィルタ６９のいずれを光路上に配置するかをモーター６５で円盤６４を回転させることにより選択することができる。つまり、この光源装置６０においては、モーター６５を回転させて光路上に開口部６８を配置することにより光源装置６０から光を出射することができ、その開口部６８に特定波長光透過フィルタ６９が取り付けられていれば、特定波長光透過フィルタ６９が光源ランプ６１の前方に配置されるので、光源装置６０から出射する光の色をそのフィルタ６９が透過する波長の光の色に変更することができる。又、信号検出器６６が円盤６４に設けられたレンズ６３からレンズ６７に至る光路上に開口部が配置されているか、また特定波長光透過フィルタ６９のいずれが配置されているかを検出できるように、円盤上にマークが付与されていることが好ましい。本実施形態においては、信号検出器として透過型光センサを用いているので、円盤上の光センサの検出位置に検出孔７０が設けられている。検出孔７０の数や位置はフィルタ６９の種類によって変えてあるので、信号検出器は検出孔７０の数や位置によって信号を出力できるようになっている。なお特定波長光透過フィルタとしては公知の色フィルタなどが使用可能である。
【００３１】
本発明の方法において、図３の光源装置を用い、一定間隔で検査光を点減させ、光源装置から光ファイバへ検査光が入射されている時に光検出器で検出された漏れ光の光量から、光ファイバへ検査光が入射されていない時に光検出器で検出された漏れ光の光量、即ち照明等の外乱光のみにより生じている漏れ光の光量を引くことによって、光源装置から入射した検査光により生じている漏れ光の光量を知ることができるため、検査の精度はより向上する。
【００３２】
また、ライティング用途など可視光域の全波長を使用する光ファイバは、ある波長の伝送損失だけが変化しても出射光の色味が変化するため、このような光ファイバの検査を行う場合には、複数の波長の光を用いて検査を行うことが好ましい。図４の光源装置６０においては回転可能な円盤６４の開口部６８に２種類以上の特定波長光透過フィルター６９が取り付けられているので、円盤６４を回転させることにより所定間隔で検査光の波長を切り替えることができる。そして、光源装置の信号検出器から出力される信号に基づいて光源装置から出射されている光の波長を判断し、各波長の光についてそれぞれ光量を検出することより、各波長毎の伝送損失を算出することができる。このような検査方法に用いる光源装置としては、図４に示される光源装置が好ましいが、２種類以上の波長の異なるランプを使用し、ライトガイドに光を導入するランプを切り替えるものも使用可能である。
【００３３】
なお、円盤６４に開口部６８が設けられている図３に示す光源装置はシャッター機構のみを備えており、円盤の開口部６８に特定波長光透過フィルタ６９が順に取り付けられている図４に示す光源装置は、特定波長光透過フィルタ６９の切り替え機構及びシャッター機構の両者を備えている。検査目的によっては切り替え機構のみを備えた光源装置を構成することも可能である。
【００３４】
【実施例】
以下、本発明を実施例を挙げて説明する。
（実施例１）
芯材としてＰＭＭＡ、鞘材としてフッ化ビニリデン／テトラフルオロエチレンが８０／２０（ｍｏｌ％）の共重合体を、それぞれ押出機で溶融し、ギヤポンプで計量しながら図１に示すような紡糸口金に供給した。ライトガイド１０としては石英製光ファイバの複数を集束してなるバンドルファイバ、ライトガイドロッドとしては大口径のガラス製光ファイバの外周に金属管が配置されてなるもの、導光部材１３としては石英製の導光ロッドを用いた。光源装置のランプとして５００Ｗのハロゲンランプを用いた。紡糸口金より紡出された直径１．０６ｍｍの光ファイバを熱延伸処理によって直径を０．７５ｍｍとして、延伸炉下流のニップロールから２０ｍ離れた地点で光ファイバを切断し、その端面から出射されている光量を測定したところ測定値は約１０００μｗであった。
【００３５】
さらにこの紡糸口金を用い、図２に示すようにして、光ファイバの伝送損失を測定した。導入する検査光の光量を外光の影響を無視できる程度まで高めることにより、光ファイバが外光にさらされた状態でも光ファイバの伝送損失を精度よく検出することが可能であった。又、この紡糸口金は長期間にわたって使用可能であった。
【００３６】
（実施例２）
光源装置として、ランプから出射される光を遮断可能なシャッター機構とシャッターの開閉状態を示す機構を備えた図３に示すものを用い、光ファイバの漏れ光を検出する光検出器として、光源装置からのシャッター開閉状態を示す出力信号に応じてシャッターの開いている時と閉じている時の光ファイバからの漏れ光の光量差を算出する機構を備えたものを用い、光源装置の光源ランプとして２５０Ｗのハロゲンランプを用いた以外は実施例１と同様にして、光ファイバの伝送損失を測定した。
光ファイバへの入射光量が小さく、光ファイバが外光にさらされた状態でも実施例１と同様に光ファイバの伝送損失を精度よく検出することが可能であった。
【００３７】
（実施例３）
光源装置として、それぞれ６５０ｎｍ、５７０ｎｍの光を透過する２種類の特定波長光透過フィルタを用い、出射される光の遮断及び出射される光の波長を６５０ｎｍ、５７０ｎｍに切り替えが可能なシャッター機構及び切り替え機構と、シャッターの開閉状態及び出射光の波長を示す機構とを備えた図４に示すものを用い、ファイバの漏れ光を検出する光検出器として光源装置からのシャッター開閉状態と出射光の波長を示す出力信号に応じてシャッターの開閉時のファイバからの漏れ光の光量差を波長別に算出する機構を備えたものを用いた以外は実施例２と同様にして、２波長での光ファイバの伝送損失を測定した。
光ファイバが外光にさらされた状態でも２波長での光ファイバの伝送損失を精度よく検出することが可能であった。
【００３８】
（比較例１）
紡糸口金から検査光を導入せず、紡糸口金より紡出された直径１．０６ｍｍの光ファイバを熱延伸処理によって直径を０．７５ｍｍとして、延伸炉後のニップロールの下流において曲率３０ｍｍで曲げられた状態で光ファイバを保持し、光ファイバの側面から５００Ｗの超高圧水銀燈で光を照射し、照射部から２０ｍ離れた地点で光ファイバを切断、その端面から出射されている光量を測定したところ測定値は約１μｗであった。
さらに検査光を上述した方法で入射した以外は実施例１と同様にして、光ファイバの伝送損失を測定した。しかし、ファイバからの漏れ光の光量が少なく、光ファイバが外光にさらされた状態では外光の影響で光ファイバの伝送損失の測定精度が悪かった。
【００３９】
【発明の効果】
本発明の紡糸口金は、光ファイバ中に光を効率的に入射させることができ、長期間にわたって使用可能である。又、本発明の検査方法は光ファイバの生産性を低下させずにインラインで光ファイバの検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の紡糸口金の一例を示す図である。
【図２】本発明の検査方法の一実施態様を示す図である。
【図３】シャッター機構を有した光源装置の一例を示す図である。
【図４】シャッター、フィルター波長切り替え機構を有した光源装置の一例を示す図である。
【符号の説明】
１０  ライトガイド
１１  ライトガイドロッド
１２  導光部材押さえ
１３  導光部材
１４  芯材流路
１５  鞘材流路
１６  紡出孔
１７  紡出孔中心軸
１８  芯材流路壁面
１９  光出射端
２０  光ファイバ
４０  押出機
４１  光源装置
４２  ギヤポンプ
４３  紡糸口金
４４  ニップロール
４５  ニップロール
４６  延伸炉
４７  光検出器
４８  光検出器
４９  巻き取り装置
５０  伝送損失算出装置
６０  検査光光源装置
６１  ランプ
６２  反射鏡
６３  レンズ
６４  円盤
６５  モーター
６６  信号検出器
６７  レンズ
６８  開口部
６９  特定波長光透過フィルタ
７０  検出孔
【図１】
0004209979.tif 000002
【図２】
0004209979.tif 000003
【図３】
0004209979.tif 000004
【図４】
0004209979.tif 000005