(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線発生手段と、このＸ線の曝射により形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するＸ線検出手段とを架台に対向配置し、前記寝台或いは架台を回転軸方向に相対的に移動制御すると共に、架台を回転させながらＸ線の曝射を行うことにより被検体の所望の部位の撮影を行うＸ線ＣＴ装置において、
所望の画像再構成範囲を入力するための再構成範囲入力手段と、
前記再構成範囲入力手段により入力された画像再構成範囲前段及び後段に対して、スライス方向に対して設定されたフィルタの幅の略半分に相当する幅と、前記架台が一回転する間の前記寝台或いは前記架台の回転軸方向への移動分の幅を加えた範囲に基づいて、撮影開始位置、及び／又は、撮影終了位置を決定して撮影制御を行う制御手段とを備え、
前記制御手段は、ヘリカルスキャン後に、前記画像再構成範囲前後の前記設定されたフィルタの幅の略半分に相当する範囲の画像の再構成を指定された際に、前記設定されたフィルタよりも薄い幅のフィルタに基づいて再構成画像を形成することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被検体の体軸方向に沿って螺旋状にスキャンを行い、これにより形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するマルチスライス用のＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、被検体に対してＸ線を曝射するＸ線ビーム発生源と、このＸ線ビーム発生源に対して対向配置されＸ線の曝射により形成されたＸ線像を検出するＸ線検出器とを回転させながら寝台を被検体の体軸方向に移動させることにより被検体の断層像を得るヘリカルスキャンによるＸ線ＣＴ装置が種々提案されている。このようなヘリカルスキャンでは、Ｘ線ビーム発生源と検出器との中心点を回転中心として回転させながら、寝台を被検体の体軸方向に移動させる。このため、被検体を基準にすると、Ｘ線ビーム発生源と検出器とは螺線軌道を取ることになる。
【０００３】
ヘリカルスキャンによるＸ線ＣＴ装置では、シングルスライス（ファンビーム）ＣＴ装置と、マルチスライス（コーンビーム）ＣＴ装置が開発されている。シングルスライスＣＴ装置は、ファン状のＸ線ビームを曝射するＸ線ビーム発生源と、扇状に複数チャンネル、例えば１０００チャンネルを１列に並べた検出器とを有する。シングルスライスＣＴでは、このＸ線ビーム発生源と検出器を被検体の周囲に回転させ、１回転で例えば１０００データ分を収集し（１回のデータ収集を１ビューと称する）、そのデータを基に３６０°補間法或いは対向ビーム補間法による補間処理により画像を再構成する。
【０００４】
また、マルチスライスＣＴ装置は、円錐状のＸ線ビームを曝射するＸ線ビーム発生源と、Ｍチャンネルを円弧状に配列した検出器列をＺ軸方向に並べた（Ｍチャンネル×Ｎ列）２次元検出器とを有する。マルチスライスＣＴ装置では、このＸ線ビーム発生源と検出器を被検体の周囲に回転させ、１回転でＭ×Ｎデータ分を収集し、そのデータを基に隣接補間法により画像を再構成する。臨床では、ヘリカルピッチ（１回転当たりの寝台送り量）は、通常、スライス厚と同じとしている（これを基本ピッチと称する）。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、従来のシングルスライスＣＴ装置では、図１４に示すように断層像と共に、被検者の名前（Ｎａｍｅ）、撮影ポジション（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）、撮影の日付、管電圧及び１秒間の管電流（ＫＶ／ｍＡｓ）、スキャン時間（例えば１．０ｓ）、スキャン回数、再構成関数及びＦＯＶサイズ等が表示され、これらの各パラメータに基づいて再スキャンを行い同じ断層像を得ることができるのであるが、マルチスライスＣＴ装置では、オーバーサンプリングの考慮が必要なうえ、スライス方向のフィルタ処理のフィルタ幅及び基本スライス厚の考慮が必要なことから、シングルスライスＣＴ装置と同じ前記各パラメータを表示しただけでは同じ画像を再スキャンして得ることができない問題がある。
【０００６】
すなわち、シングルスライスＣＴ装置における断層像のスライス厚は、Ｘ線ビームのスライス方向の厚さにより一義的に決まるのであるが、マルチスライスＣＴ装置のスライス厚は、Ｘ線検出器自体のスライス幅と再構成に使用する検出器列の列数で決まり、さらにヘリカルスキャンを行う場合には、これらに加えヘリカルピッチ及び再構成に用いるフィルタ幅の各パラメータの組み合わせによって決まる。
【０００７】
このため、表示画像として１０ｍｍスライス厚の断層像が表示されている場合でも、この断層像の取り込みを行った際のＸ線検出器のスライス幅が２ｍｍである場合もあれば１０ｍｍである場合もある。また、同様に、再構成する人体のスライス部位に照射されるＸ線のＸ線照射量（ｍＡｓ）は、スキャン時間（ｓｅｃ）と管電流（ｍＡ）との積を演算して表示するのであるが、スキャンモードによっては、所定の断面をオーバーラップしてスキャンする場合がある。そして、この場合、実際に表示される断層像に対応するＸ線照射量（ｍＡｓ）は、前記オーバーラップの度合いによって変化するようになっている。
【０００８】
このようなことから、従来のマルチスライスＣＴ装置は、シングルスライスＣＴと同様のパラメータを表示しただけでは、同じ画像を再スキャンして得ることができない問題があった。
【０００９】
また、従来のマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行う際に、基本スライス厚、ピッチ、スキャン時間、スキャン回数等の「スキャンパラメータ」、ヘリカル補間方法、フィルタ幅、フィルタ形状等の「再構成パラメータ」、及び再構成関数、管電圧、管電流、ＦＯＶサイズ等の「その他のパラメータ」の入力が必要なのであるが、これらの各パラメータを全て手動で入力するのは大変面倒である。マルチスライスＣＴ装置に全てのパラメータを自動設定させることも可能であるが、医師等が真に所望する断層像が得られるようにするには、例えば医師等が所望するパラメータの入力を行えば、他のパラメータが自動的に設定されるようなシステムとすることが好ましく、また、このようなＸ線ＣＴ装置の開発が望まれている。
【００１０】
また、従来のマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行う際に、被検体が載置された寝台を、「ヘッド・トゥ・フット」又は「フット・トゥ・ヘッド」の各スキャン方向に移動させながら断層像の撮影を行うのであるが、補間に用いる補間データや重み付けデータは各スキャン方向毎にそれぞれ異なる。このため、各スキャン方向に対応するためには、各スキャン方向に対応した２種類のハードウェア及びソフトウェアが必要となり、コスト的に高くなるうえ、構成的にも複雑となる問題があった。
【００１１】
さらに、従来のマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行うと、断層像の再構成に用いることのない収集データに係る余計なＸ線の曝射を行うこととなり、被検体に対する余分な被曝量がシングルスライスＣＴ装置に比べて大きくなる問題がある。
【００１２】
具体的には、被検体の目的領域の撮影を行う場合は、目的領域の前段から寝台を助走させると共にガントリに設けられたＸ線管及びＸ線検出器を回転させて寝台の移動速度が安定したタイミングでＸ線の曝射を開始し、目的領域にＸ線が曝射されその撮影が行われるように制御される。このとき、再構成を行う部位の外側のデータ収集を「助走期間」と称する。このような助走期間は、シングルスライスＣＴ装置、被検体の体軸方向に広がりを有するＸ線ビームでＸ線像の撮影を行うコーンビームＣＴ装置やマルチスライスＣＴ装置が共に必要とするのであるが、シングルスライスＣＴ装置の場合は、図１５（ａ）に示すように再構成に用いられない収集データに係るＸ線の曝射範囲は無いのに対して、コーンビームＣＴ装置やマルチスライスＣＴ装置の場合は、同図（ｂ）に示すように複数列の検出器列に対してＸ線を曝射することとなるため、前記助走期間における再構成に用いられない収集データに係るＸ線の曝射範囲が発生してしまう。このようなことから、従来のコーンビームＣＴ装置やマルチスライスＣＴ装置は、ヘリカルスキャンを行うと、被検体に対する余分な被曝量がシングルスライスＣＴ装置に比べて大きくなる問題があった。
【００１３】
また、Ｘ線の曝射は、被検体の再構成を行う部位にのみ行われればよいのであるが、ヘリカルスキャンは、再構成を行う部位（スライス面）の前後のデータ補間することが必要なので、図１５（ｂ）に示すように全回転角度において前記補間のためのデータ収集が終了するまでスキャン（Ｘ線の曝射）が継続されることとなる。前述のように、コーンビームＣＴ装置の場合は、Ｘ線ビームが被検体の体軸方向に広がりを持ち、また、マルチスライスＣＴ装置の場合は、複数列の検出器列に対してＸ線を曝射することとなるため、スキャン終了時において、被検体の再構成を行う部位以外の部位に対するＸ線の曝射範囲がシングルスライスＣＴ装置の場合と比べて広くなり、被検体を余計に被曝させる問題があった。
【００１４】
本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、過去の撮影と同じ条件の断層像を簡単に再撮影することができ、所望する一部のパラメータを入力しただけで他のパラメータが自動的に設定されて撮影を行うことができ、「ヘッド・トゥ・フット」又は「フット・トゥ・ヘッド」の各スキャンに１種類のハードウェア及びソフトウェアで対応することができ、再構成に用いることのない収集データに係る余計なＸ線の曝射を低減して被検体の被曝量を低減することができるようなＸ線ＣＴ装置の提供を目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線発生手段と、このＸ線の曝射により形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するＸ線検出手段とを架台に対向配置し、前記寝台或いは架台を回転軸方向に相対的に移動制御すると共に、架台を回転させながらＸ線の曝射を行うことにより被検体の所望の部位の撮影を行う、いわゆるマルチスライス方式のヘリカルスキャンのＸ線ＣＴ装置である。なお、前記ヘリカルスキャンにより撮像した複数の断層像に基づいて３次元再構成を行うＸ線ＣＴ装置も含む概念である。
【００１６】
そして、上述の課題を解決するために、所望の画像再構成範囲を入力するための再構成範囲入力手段と、前記再構成範囲入力手段により入力された画像再構成範囲前段及び後段に対して、スライス方向に対して設定されたフィルタの幅の略半分に相当する幅と、前記架台が一回転する間の前記寝台或いは前記架台の回転軸方向への移動分の幅を加えた範囲に基づいて、撮影開始位置、及び／又は、撮影終了位置を決定して撮影制御を行う制御手段とを備え、前記制御手段は、ヘリカルスキャン後に、前記画像再構成範囲前後の前記設定されたフィルタの幅の略半分に相当する範囲の画像の再構成を指定された際に、前記設定されたフィルタよりも薄い幅のフィルタに基づいて再構成画像を形成することを特徴としている。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の好ましい実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２６】
まず、本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、寝台に載置された被検体の体軸方向に沿って螺旋状にスキャンを行い、これにより形成されたＸ線像を複数の検出器列で検出するマルチスライス用のＸ線ＣＴ装置（マルチスライスＣＴ装置）である。
【００２７】
図１に、当該技術的思想を適用した第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置を示す。この第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、被検体が載置される寝台１と、架台２の内周に回転自在かつ相対向するように設けられたＸ線管３及びＸ線検出器４と、Ｘ線管３から曝射されるＸ線の線量等を制御するＸ線制御部５及び高電圧発生部６と、寝台１をＸ線管３及びＸ線検出器４の回転軸方向に沿って移動制御する架台・寝台制御部７及び寝台移動部８とを有している。
【００２８】
また、当該マルチスライスＣＴ装置は、Ｘ線検出器４で収集された収集データの取り込みを行うデータ収集部９と、データ収集部９で収集された収集データに対して所定の補間処理を施す補間処理部１０と、補間処理部により補間処理が施された収集データに基づいて、Ｘ線像を再構成する画像再構成部１１と、画像再構成部１１により再構成されたＸ線像を表示する表示部１２と、例えばスライス厚、回転速度等のヘリカルスキャン条件の入力等を行うための操作部１３と、当該マルチスライスＣＴ装置全体のシステム制御を行うシステム制御部１４とを有している。
【００２９】
Ｘ線検出器４は、複数（例えば１０００チャンネル）のＸ線検出素子を前記回転軸方向に対して直交する方向（スライス方向）に沿って並設してなる検出器列を、前記回転軸方向に沿って例えば４列分並設して構成された、マルチスライス用のＸ線検出器となっている。
【００３０】
次に、このような構成を有する当該第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の動作説明をする。
【００３１】
まず、操作者は、当該マルチスライスＣＴ装置を用いてヘリカルスキャンによるＸ線像の撮影を行う前に、この撮影範囲を決めるために操作部１３を操作してスキャノグラム像の撮影の指定を行う。
【００３２】
システム制御部１４は、このスキャノグラム像の撮影が指定されると、寝台１に載置された被検体の上面から、静止した状態で（回転することなく）少ない線量のＸ線が連続的に曝射されるように、Ｘ線制御部５及び高電圧発生部６を介してＸ線管３を曝射制御すると共に、前記回転軸に沿って寝台１が移動するように架台・寝台制御部７及び寝台移動部８を介して寝台１を移動制御する。これにより、寝台の移動に応じて前記Ｘ線の曝射により形成されたＸ線像がＸ線検出器４で検出される。データ収集部９は、このＸ線検出器４で検出された各Ｘ線像の取り込みを行い、これらを補間処理部１０を介して画像再構成部１１に供給する。画像再構成部１１は、各Ｘ線像を撮影順に並べることにより１枚の２次元的な透視画像であるスキャノグラム像を形成し、これを表示部１２に供給する。これにより、表示部１２にスキャノグラム像を表示することができる。
【００３３】
次に、操作者は、操作部１３を操作して以下に説明するスキャンパラメータ、再構成パラメータ及び管電圧、管電流、視野サイズ等の入力を行う。
【００３４】
スキャンパラメータとしては、例えば０．５ｍｍ、１．０ｍｍ、２．０ｍｍ、３．０ｍｍ、５．０ｍｍ、１０．０ｍｍ等の「基本スライス幅（Ｔｍｍ）」、２．５、３．５、４．０、４．５等の「ピッチ（Ｐ）」、１０秒、２０秒等の任意の「スキャン時間（ｔ）」、所望の撮影範囲に対してヘリカルスキャンを繰り返す回数である「スキャン回数」等の入力を行う。
【００３５】
再構成パラメータとしては、０、０．５、１．０、２．０、４．０等の「フィルタ幅（前記基本スライス幅Ｔで正規化したフィルタ幅Ｆｎ）」、フィルタの選択等の入力を行う。
【００３６】
前記フィルタとしては、図２（ａ）に示すようにフィルタ幅Ｆｎが０〜＋Ｆｎ／２まで、及び０〜−Ｆｎ／２までは所定の重み値を維持し、フィルタ幅Ｆｎが＋Ｆｎ／２或いは−Ｆｎ／２となったときに重み値が０まで急峻に立ち下がるフィルタ特性を有する第１のフィルタ（ＺＦＣ１）と、同図（ｂ）に示すようにフィルタ幅Ｆｎが０のときに最大の重み値を有し、フィルタ幅Ｆｎが０〜＋Ｆｎ／２及び０〜−Ｆｎ／２にそれぞれ移行するに連れてなだらかな放物線を描くように重み値が立ち下がるフィルタ特性を有する第２のフィルタ（ＺＦＣ２）とが設けられている。
【００３７】
また、前記フィルタとしては、図２（ｃ）に示すようにフィルタ幅Ｆｎが０のときに最大の重み値を有し、フィルタ幅Ｆｎが０〜略＋Ｆｎ／４及び０〜略−Ｆｎ／４にそれぞれ移行するに連れて所定のマイナス値まで重み値がリニアに立ち下がり、略＋Ｆｎ／４〜＋３Ｆｎ／８及び略−Ｆｎ／４〜−３Ｆｎ／８にそれぞれ移行するに連れて所定のプラス値まで重み値がリニアに立ち下がり、＋３Ｆｎ／８〜＋Ｆｎ／２及び−３Ｆｎ／８〜−Ｆｎ／２にそれぞれ移行するに連れてなだらかな放物線を描くように重み値が立ち下がるフィルタ特性を有する第３のフィルタ（ＺＦＣ３）と、同図（ｄ）に示すようにこの第３のフィルタ（ＺＦＣ３）の重み値の立ち上がり量及び立ち下がり量を少なくしたフィルタ特性を有する第４のフィルタ（ＺＦＣ４）とが設けられている。
【００３８】
操作者は、再構成パラメータとして前記「フィルタ幅」と共に、これら第１〜第４のフィルタ（ＺＦＣ１〜ＺＦＣ４）の中から所望のフィルタを選択して入力を行う。
【００３９】
ここで、当該マルチスライスＣＴ装置では、このスキャンパラメータ及び再構成パラメータ等の入力に対して、以下に説明する第１〜第３の３つの入力方法が設けられている。
【００４０】
まず、第１の入力方法は、操作者が操作部１３を操作して前記各パラメータを全て手動で入力する方法である。システム制御部１４は、手動で入力された各パラメータに基づいてスキャン時間やフィルタ幅等の設定を行うのであるが、この場合、全てのパラメータを操作者が所望する値に設定することができるため、操作者が所望する撮影画像を得ることができる利点がある。
【００４１】
なお、この場合操作者は、一部のパラメータの入力の省略が可能となっている。システム制御部１４は、そのパラメータの入力が省略された場合は、これをデフォルト値に自動設定する。これにより、全てのパラメータの手動入力に掛かる手間を軽減することができる。
【００４２】
次に、第２の入力方法は、操作者が操作部１３を操作して検査目的や、目的とする画像の特徴等を入力する方法である。この場合、操作者は、第１の条件として例えば０．５ｍｍ、１．０ｍｍ、２．０ｍｍ、３．０ｍｍ、１０．０ｍｍ等の再構成画像の実効スライス厚ＩＴ（ｍｍ）の入力を行うと共に、第２の条件として以下の第１〜第３のモードの中から所望のモードを選択する。なお、前記実効スライス厚ＩＴの入力は、操作者が所望する値を入力してもよいが、幾つかの実効スライス厚を表示し、この中から操作者が選択するようにしてもよい。
【００４３】
前記第２の条件として入力される各モードのうち、第１のモードは、部分容積効果によるアーチファクトが抑制された画像を得ることができる「パーシャルフリーモード」となっている。システム制御部１４は、第２の条件としてこのパーシャルフリーモードが設定されると、基本スライス幅Ｔを再構成画像の実効スライス厚ＩＴの略半分以下となるように自動設定する。この場合、スキャン時間ｔが多少長くなる場合がある。
【００４４】
第２のモードは、スキャン時間ｔを優先する「高速スキャンモード」となっている。システム制御部１４は、第２の条件としてこの高速スキャンモードが設定されると、基本スライス幅Ｔを実効スライス厚ＩＴの８０％となるように自動設定する。この場合、部分容積効果が残る場合がある。
【００４５】
第３のモードは、前記パーシャルフリーモード及び高速スキャンモードの中間のモードである「標準スキャンモード」となっている。システム制御部１４は、第２の条件としてこの標準スキャンモードが設定されると、スキャン時間ｔを１５秒前後に、基本スライス幅Ｔを再構成画像の実効スライス厚ＩＴの８０％以下に自動設定する。
【００４６】
システム制御部１４は、このような第１、第２の条件が選択されると、この選択された各条件に基づいて、スキャンパラメータ及び再構成パラメータを自動的に設定する。
【００４７】
具体的には、例えば前述の第１のモード（パーシャルフリーモード）を選択した場合を一例として操作手順の説明をすると、この場合まず操作者は、再構成画像の実効スライス厚ＩＴの入力を行う。システム制御部１４には、図４（ａ）に示すようにこの第１のモードにおいて入力された実効スライス厚ＩＴに対応する基本スライス幅ＬＴを演算するための計算式或いはテーブルが予め記憶されている。このため、システム制御部１４は、実効スライス厚ＩＴが入力されると、この実効スライス厚を「ＩＴ」、基本スライス幅を「Ｔ」として「ＩＴ／５≦Ｔ≦ＩＴ／２」の条件を満たすような基本スライス幅「ＬＴ」を検出する。
【００４８】
なお、この第１のモードにおいては、実効スライス厚ＩＴは、その値が小さい程好ましい。また、この実効スライス厚ＩＴが入力されなかった場合には、システム制御部１４は、例えば「ＩＴ／２」をそのデフォルト値として自動的に設定するようになっている。
【００４９】
次に、操作者は、ヘリカルピッチＰ（ピッチＰ）の入力を行う。このヘリカルピッチＰは、例えば２．５、３．５、４．５・・・の中から選択或いは所望の値の入力を行う。システム制御部１４には、図４（ｂ）に示すようにこの第１のモードにおいて入力される各ヘリカルピッチＰを基本スライス幅Ｔで正規化した値である「ヘリカルピッチＬＰ」を演算するための計算式或いはテーブルが予め記憶されている。このため、システム制御部１４は、ヘリカルピッチＰが入力されると前記計算式或いはテーブルに基づいて前記ヘリカルピッチＬＰを検出する。
【００５０】
なお、この第１のモードにおいては、ピッチＰの値は小さい程好ましいものとなっている。また、この第１のモードにおいて、ヘリカルピッチＰが入力されなかった場合は、システム制御部１４は、例えば「２．５」をデフォルト値として自動的に設定するようになっている。
【００５１】
次に、操作者は、スキャン時間ｔの入力を行う。システム制御部１４には、図４（ｃ）に示すようにこの第１のモードにおいて入力される各スキャン時間ｔを正規化した値である「スキャン時間Ｌｔ」を演算するための計算式或いはテーブルが予め記憶されている。このため、システム制御部１４は、スキャン時間ｔが入力されると前記計算式或いはテーブルに基づいて前記スキャン時間Ｌｔを検出する。なお、この第１のモードにおけるスキャン時間ｔは、例えば「１５秒」程度に設定することが好ましいものとなっている。このため、このスキャン時間ｔが入力されなかった場合には、システム制御部１４は、例えば「１５秒」をこのスキャン時間ｔのデフォルト値として自動的に設定するようになっている。
【００５２】
次に、操作者は、所望のスキャン回数の入力を行う。このスキャン回数は、操作者の所望の回数を入力するようになっている。この入力が省略された場合、システム制御部１４は、例えば「１回」を、このスキャン回数のデフォルト値として自動的に設定するようになっている。
【００５３】
次に、このようにして基本スライス幅Ｔ、実効スライス厚ＩＴ及びヘリカルピッチＰが入力されると、システム制御部１４は、図５（ａ）又は同図（ｂ）に示すように基本スライス幅Ｔ、実効スライス厚ＩＴ及びヘリカルピッチＰに基づいて予め形成されたテーブル又は演算式からフィルタ幅Ｆｎを求める。
【００５４】
次に、操作者は、図２（ａ）〜（ｄ）を用いて前述した第１のフィルタＺＦＣ１〜第４のフィルタＺＦＣ４の中から所望のフィルタ形状のフィルタを選択し、その入力を行う。なお、この第１のモードにおいて、フィルタ形状の入力が省略された場合、システム制御部１４は、例えば「第１のフィルタＺＦＣ１」を自動的に選択して処理するようになっている。
【００５５】
次に、システム制御部１４は、図４（ａ）〜（ｃ）に示すように基本スライス幅ＬＴ、ヘリカルピッチＬＰ及びスキャン時間Ｌｔを検出すると、以下の式に基づいて、Ｃ（Ｔ、Ｐ、ｔ）が最大になる条件を検出する。なお、以下の式中「ｗＴ、ｗｐ、ｗｔ」は、基本スライス幅、ヘリカルピッチ及びスキャン時間の各条件の所定の重み付け値を示し、各条件はその重要度に応じて重み付けされるようになっている。
【００５６】
Ｃ（Ｔ、Ｐ、ｔ）＝ｗＴ×Ｌｔ＋ｗｐ×Ｌｐ＋ｗｔ×Ｌｔ
システム制御部１４は、Ｃ（Ｔ、Ｐ、ｔ）が最大になる条件を検出し、この条件に基づいて撮影画像の撮影を行うように各部を制御する。
【００５７】
次に、スキャンパラメータ及び再構成パラメータの第３の入力方法は、いわば前述の第１、第２の入力方法の中間の入力方法であり、操作者が固定したいパラメータだけを手動で入力或いは選択する入力方法である。
【００５８】
この第３の入力方法で各パラメータの入力を行う場合、操作者は、図１に示す操作部１３を操作して、例えばスキャン時間ｔを１０秒に、スキャン回数を３回に、実効スライス厚ＩＴを５ｍｍのスライス画像等のように所望のパラメータを入力する。システム制御部１４は、このように操作者が所望するパラメータの入力が行われると、この入力された各パラメータ以外のパラメータを、前述の第２の入力方法と同様に自動的に設定し、この設定した条件に基づいて撮影画像の撮影を行うように各部を制御する。なお、前記第１〜第３のモード（パーシャルフリーモード〜標準スキャンモード）のうち所望のモードが設定されない場合には、システム制御部１４は、第３のモード（標準スキャンモード）を自動的に選択するようになっている。
【００５９】
次に、操作者は、このようなスキャンパラメータ及び再構成パラメータ（及び管電圧、管電流、視野サイズ）の各パラメータの入力が終了すると、再構成範囲の指定を行う。この再構成範囲の指定は、いわゆるスキャノグラム像に基づいて行うようになっており、具体的には、操作者は、例えば図３に示すようなスキャノグラム像の取り込みを行い、このスキャノグラム像に基づいて操作部１３を操作し、同図中太線で示すように画像再構成を行う範囲（再構成範囲）の指定を行う。
【００６０】
当該マルチスライスＣＴ装置には、前記各スキャンモードに応じて、指定された再構成範囲と、これに対応して実際に設定されるスキャン範囲との関係が定式化されて記憶されている。具体的には、システム制御部１４は、この再構成範囲の指定がなされると、図３に示すように指定された再構成範囲の前段及び後段に前記選択されたフィルタのフィルタ幅の略半分の幅に相当するスキャン範囲を加えると共に、架台２の１回転分のスキャン範囲を加え、これを全体で実際のスキャン範囲であるデータ収集範囲とする。システム制御部１４は、このようにしてデータ収集範囲を決定すると、操作者により撮影の開始が指定されるまで待機状態となる。
【００６１】
なお、前記スキャン範囲の前段及び後段に付加される前記選択されたフィルタのフィルタ幅の略半分の幅に相当するスキャン範囲や、架台２の１回転分のスキャン範囲は、例えば５ｍｍ、１０ｍｍ等の少範囲であるが、図３においては理解を容易とするために、これらの各範囲を広めに図示している。また、システム制御部１４は、スキャン開始位置よりも前段で架台２の回転速度や寝台１の移動速度が一定速度となっていること等が必要な場合には、図３に点線で示すように前記データ収集範囲にこのための助走範囲も計算して付加するようになっている。
【００６２】
次に、操作者は、このようにして再構成範囲を指定した後に、操作部１３を操作して撮影の開始を指定する。システム制御部１４は、この撮影の開始が指定されると、図１に示す架台・寝台制御部７を介して架台２を所定の速度で回転制御し、寝台移動部８を介して被検体の載置された寝台１を架台２の回転軸方向に沿って被検体の頭側から足側にかけて移動制御（ヘッド・トゥ・フット）、或いは被検体の足側から頭側にかけて移動制御（フット・トゥ・ヘッド）すると共に、Ｘ線制御部５及び高電圧発生部６を介してＸ線管３を曝射制御する。これにより、いわゆるヘリカルスキャンにより、Ｘ線検出器４により被検体のＸ線像が螺旋状に取り込まれデータ収集部９に供給されることとなる。
【００６３】
具体的には、図６（ａ）、（ｂ）にヘリカルピッチＰが２．５ピッチ、３．５ピッチの場合におけるヘリカルスキャンの軌跡を、図７（ａ）、（ｂ）にヘリカルピッチＰが４．０ピッチ、４．５ピッチの場合におけるヘリカルスキャンの軌跡をそれぞれ示す。なお、この図６（ａ）、（ｂ）及び図７（ａ）、（ｂ）は、フィルタ幅Ｆ＝基本スライス幅の場合を示し、また、Ｘ線検出器４の数字（１〜４）は、第１〜第４の検出器列を示すようになっている。
【００６４】
この図６（ａ）において、ヘリカルピッチが２．５ピッチの場合は、まず、１回転目で、図中細線の矢印で示すように前述のように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン開始位置から２．５ピッチ分離れた位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、スキャン開始位置を２．５ピッチずつずらしながら収集データの収集が行われる。この場合、前のスキャン位置の後半１．５ピッチ分が次のスキャン時にオーバースキャンされることとなる。
【００６５】
また、図６（ｂ）において、ヘリカルピッチが３．５ピッチの場合は、まず、１回転目で、図中細線の矢印で示すように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン開始位置から３．５ピッチ分離れた位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、スキャン開始位置を３．５ピッチずつずらしながら収集データの収集が行われる。この場合、前のスキャン位置の後半０．５ピッチ分が次のスキャン時にオーバースキャンされることとなる。
【００６６】
また、図７（ａ）において、ヘリカルピッチが４．０ピッチの場合は、まず、１回転目で、図中細線の矢印で示すように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン終了位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、前のスキャン位置と今回のスキャン位置とがオーバースキャンされることなく収集データの収集が行われる。
【００６７】
また、図７（ｂ）において、ヘリカルピッチが４．５ピッチの場合は、まず、１回転目で、図中細線の矢印で示すように決定されたスキャン範囲の開始位置から３６０°分の収集データが収集され、次に２回転目で、図中太線の矢印で示すように１回転目のスキャン終了位置から０．５ピッチ分離れた位置から３６０°分の収集データが収集され、以後同様に前記決定されたスキャン範囲の終了位置までに、前のスキャン終了位置から０．５ピッチずつずらしながら収集データの収集が行われる。
【００６８】
データ収集部９は、Ｘ線検出器４により取り込まれたＸ線像を収集し、これを収集データとして補間処理部１０に供給する。
【００６９】
前述のようにＸ線検出器４は、例えば４列分の検出器列を有しており、操作者は、撮影を行う前に前記４列分の検出器列の中から、再構成に用いる収集データに対応するＸ線像の取り込みを行う検出器列を指定するようになっている。このため、システム制御部１４は、補間処理部１０に供給された各検出器列に対応する収集データのうち、操作者により指定された検出器列の収集データのみ所定の補間処理を施して出力するように補間処理部１０を制御する。
【００７０】
補間処理部１０は、例えばいわゆるフィルタ補間法（或いは３６０°補間法、対向ビーム補間法等）により所定の補間処理を前記収集データに施し、これを画像再構成部１１に供給する。画像再構成部１１は、前記スキャン範囲から得られた複数回転分の収集データに基づいて、操作者により指定された再構成範囲の断層像を形成（再構成）し、これを表示部１２に供給する。これにより、表示部１２に、ヘリカルスキャンにより撮影した被検体の所望の部位の断層像を表示することができる。
【００７１】
マルチスライスＣＴ装置では、画像の撮影を行う際に、オーバーサンプリングの考慮、スライス方向のフィルタ処理のフィルタ幅の考慮及び基本スライス厚の考慮等が必要となるのであるが、当該第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、操作者により指定された再構成範囲と実際のスキャン範囲との相互関係が定式化されており、これをスキャンモード毎に検出するようになっている。このため、必要十分な被曝量及び撮影時間により画像の撮影を行うことができる。
【００７２】
ここで、システム制御部１４は、断層像と共に、その断層像を撮影した際の再構成パラメータ及びスキャンパラメータを表示部１２に表示制御するようになっている。
【００７３】
具体的には、図８に示すように被検者の名前（Ｎａｍｅ）、撮影ポジション（Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）、撮影の日付、管電圧及び１秒間の管電流（ＫＶ／ｍＡｓ）、ヘリカルピッチ（Ｐ）、実効管電流及び管電流（ｍＡｓｅ／ｍＡ）、実効スライス厚及び基本スライス厚（Ｔｅ／Ｔ）、フィルタ形状及びフィルタ幅（ＦＳ／ＦＷ）、スキャン時間（例えば１．０ｓ）、スキャン回数、再構成関数及びＦＯＶサイズ等が表示される。
【００７４】
このように表示される各パラメータのうち、ヘリカルピッチ（Ｐ）、実効管電流及び管電流（ｍＡｓｅ／ｍＡ）、実効スライス厚及び基本スライス厚（Ｔｅ／Ｔ）、フィルタ形状及びフィルタ幅（ＦＳ／ＦＷ）がマルチスライスＣＴ装置特有のパラメータとなっている。
【００７５】
なお、前述のようにＸ線検出器４は、４列の検出器列を有する。このため、システム制御部１４は、実効管電流（ｍＡｓｅ）を表示する際に、ヘリカルピッチを「Ｐ」、管電流を「ｍＡ」、回転速度を「ｓ」として「ｍＡｓｅ＝４／Ｐ×ｍＡ×ｓ」の演算式を用いて実効管電流を算出して表示するようになっている。
【００７６】
マルチスライスＣＴ装置は、スキャンモードによっては、ある断面をオーバーラップしてスキャンする場合があり、実際の画像の実効管電流はオーバーラップの度合いに応じて変化する。このため、同じ撮影画像を再スキャンにより得ることは困難なのであるが、このように、撮影画像と共にその撮影画像のパラメータを表示することにより、再構成した画像を観察しながら画像の収集条件を知ることができ、他の画像との対応付けを容易とすることができると共に、観察中の画像と同じ条件での再スキャンを行うことを可能とすることができる。
【００７７】
次に、最初に指定した再構成範囲外の撮影画像を得たい場合がある。この場合、操作者は、操作部１３を操作してその旨の指示を行う。この操作者の指示により指定された範囲が、最初に指定した再構成範囲外で、かつ、この最初に指定した再構成範囲にフィルタ幅の半分の幅を加えた範囲内であった場合、システム制御部１４は、初期に指示された範囲外である旨のメッセージを表示部１２に表示制御すると共に、フィルタ幅を薄くして再構成を行うか否かのメッセージを表示部１２に表示制御する。
【００７８】
操作者は、フィルタ幅を薄くして再構成を行ってよい場合は、操作部１３を操作して実行を指示する。システム制御部１４は、操作者より実行の指示がなされると、フィルタ幅を薄くして前記再構成範囲外の画像の撮影を実行制御する。そして、これにより得られた補間データに基づいて画像を再構成し表示部１２に表示制御すると共に、この画像はフィルタ幅が薄い旨を示すメッセージを表示部１２に表示制御する（図６（ａ）、（ｂ）、図７（ａ）、（ｂ）参照）。
【００７９】
また、この操作者の指示により指定された範囲が、最初に指定した再構成範囲にフィルタ幅の半分の幅を加えた範囲外で、かつ、この範囲の前後に架台２の１回転分の範囲を加えた範囲内であった場合、システム制御部１４は、初期に指示された範囲の大幅に外側である旨のメッセージを表示部１２に表示制御すると共に、粗いピッチの収集データで再構成を行うか否かのメッセージを表示部１２に表示制御する。
【００８０】
操作者は、粗いピッチの収集データで再構成を行ってよい場合は、操作部１３を操作して実行を指示する。システム制御部１４は、操作者より実行の指示がなされると、この近傍のデータを内挿或いは外挿で補間して補間データを得、これに基づいて画像を再構成し表示部１２に表示制御すると共に、この画像は粗いピッチのデータで再構成した旨のメッセージを表示部１２に表示制御する（図６（ａ）、（ｂ）、図７（ａ）、（ｂ）参照）。
【００８１】
これにより、予め設定した再構成範囲の外側や厚いフィルタ幅の場合でも最良の撮影画像を再構成することができる。
【００８２】
次に、本発明の第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の説明をする。
【００８３】
図１２（ｂ）を用いて説明したように、ヘリカルスキャンを行うと、スキャン開始時点と終了時点とで再構成に使うことができないデータを収集する余計な被曝があり、マルチスライスＣＴ装置やコーンビームＣＴ装置の場合、これがシングルスライスＣＴ装置に比べ大きくなる。当該第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、この余計な被曝の低減を図ったものである。
【００８４】
なお、当該第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、この点のみが第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と異なるため、以下、この差異のみ説明し重複説明を省略することとする。
【００８５】
すなわち、この第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、図９に示すようにＸ線管３から曝射されたＸ線を所定分遮蔽するプリコリメータ２０を有している。このプリコリメータ２０は、架台２の回転軸方向に開幅する第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂを有しており、各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂは、それぞれ独立に開幅制御されるようになっている。
【００８６】
このようなＸ線ＣＴ装置は、非スキャン時にはシステム制御部１４により前記各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂが、図９（ａ）に示すようになっている。
【００８７】
スキャンが開始時されると、システム制御部１４は、図９（ａ）に示すように架台２の１回転目の回転角が０°のときには、Ｘ線検出器４の第１の検出器列４ａでのみＸ線像が取り込まれるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを開幅制御する。また、システム制御部１４は、架台２の１回転目の回転角が９０°のときは、図９（ｂ）に示すようにＸ線検出器４の第１、第２の検出器列４ａ、４ｂでＸ線像が取り込まれるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを開幅制御する。また、システム制御部１４は、架台２の１回転目の回転角が１８０°のときは、図９（ｃ）に示すようにＸ線検出器４の第１〜第３の検出器列４ａ〜４ｃでＸ線像が取り込まれるように、第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂを開幅制御する。そして、システム制御部１４は、架台２の１回転目の回転角２７０°以降は、図９（ｄ）に示すようにＸ線検出器４の第１〜第４の検出器列４ａ〜４ｄでＸ線像が取り込まれるように、第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂを開幅制御する。以後、Ｘ線検出器４の第１〜第３の検出器列４ａ〜４ｃでＸ線像が取り込まれるように、第１、第２のプリコリメータ片２０ａ、２０ｂが開幅制御された状態で、画像再構成を行う部位のスキャンが行われる。
【００８８】
一方、システム制御部１４は、スキャンが終了時における最後の回転時となると、図１０（ａ）に示すようにそれまで全開に開幅制御していた各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを、架台２の最終回転目の回転角が１８０°のときには、Ｘ線検出器４の第１の検出器列４ａに曝射されるＸ線が遮蔽されるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。また、システム制御部１４は、架台２の最終回転目の回転角が２７０°のときは、図１０（ｂ）に示すようにＸ線検出器４の第１、第２の検出器列４ａ、４ｂに曝射されるＸ線が遮蔽されるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。また、システム制御部１４は、架台２の最終回転目の回転角が３６０°（０°）のときは、図１０（ｃ）に示すようにＸ線検出器４の第１〜第３の検出器列４ａ〜４ｃに曝射されるＸ線が遮蔽されるように、第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。
【００８９】
このように、当該第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、システム制御部１４が、スキャン開始時においては、架台２の１回転目の回転角に応じて、被検体に対するＸ線の曝射範囲を徐々に広げるように各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを開幅制御し、スキャン終了時においては、架台２の最終回転目の回転角に応じて、被検体に対するＸ線の曝射範囲を徐々に狭めるように各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを閉幅制御する。これにより、図１５（ｂ）に示すスキャン開始時の助走期間及びスキャン終了時における被検体の無駄な被曝を低減することができる他、上述の第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と同じ効果を得ることができる。
【００９０】
なお、図１５（ｂ）に示す無駄な被曝の領域は、スキャンパラメータ及び再構成パラメータに基づいてシステム制御部１４が決定するようになっている。また、前述の粗いサンプリングによる補間を行わない場合には、操作者により指定された再構成範囲外のデータを全てカットするようにしてもよい。
【００９１】
次に、以上は、マルチスライスＣＴ装置における余計なＸ線の遮蔽制御の説明であったが、このような遮蔽制御は、体軸方向（Ｚ方向）に広がりを持ったＸ線の曝射を行うコーンビームＣＴ装置においても同様に行うことができる。
【００９２】
この場合、システム制御部１４は、図１１に示すように１回転目〜４回転目におけるスキャンで被検体の画像再構成を行う部位の撮影を行うものとすると、最初の１回転目のスキャン時に、画像再構成に寄与しない部位に対するＸ線の曝射を第１のプリコリメータ片２０ａで遮蔽し、２回転目及び３回転目のスキャンでは各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを全開に開幅制御し、最終の４回転目のスキャン時に、画像再構成に寄与しない部位に対するＸ線の曝射を第２のプリコリメータ片２０ｂで遮蔽するように該各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂを開閉制御する。なお、図１１中、点ＰはＸ線管の焦点を示す。
【００９３】
図１２（ａ）〜（ｄ）は、１回転目〜４回転目における各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂの位置関係を示している。この図からわかるように、システム制御部１４は、１回転目には第１のプリコリメータ片２０ａを閉幅制御して第２のプリコリメータ片２０ｂを開幅制御する。また、２回転目及び３回転目には各プリコリメータ片２０ａ、２０ｂをそれぞれ開幅制御し、４回転目には第２のプリコリメータ片２０ｂを閉幅制御する。これにより、コーンビームＣＴ装置においても、上述と同様にスキャン開始時の助走期間及びスキャン終了時における被検体の無駄な被曝を低減することができる。
【００９４】
次に、本発明の第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の説明をする。
【００９５】
上述の第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、その収集データを収集した検出器列で定義することとしたが、この第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、その収集データを収集したときのビュー角度、焦点角度、レイ角度、検出器チャンネル番号、検出器列のＺ座標で定義するようにしたものである。
【００９６】
すなわち、検出器列を列番号ではなくＺ座標で定義するようにしたものであり、Ｚ座標に基づいた論理によって補間するデータを選択し、その重みを決定するようになっている。
【００９７】
なお、当該第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、この点のみが第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と異なるため、以下、この差異のみ説明し重複説明を省略することとする。
【００９８】
具体的には、当該第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のシステム制御部１４は、検出器列番号を「ｋ」、正規化したヘリカルピッチを「Ｐ」、基本スライス幅を「Ｔ」、ビュー角度を「φ」として以下の演算式に基づいてＺ座標（ｋ、φ）を検出する。
【００９９】
Ｚ（ｋ、φ）＝Ｐ×Ｔ×φ÷３６０＋Ｚ（ｋ、０）
さらに具体的には、このＺ座標の演算プログラムは、一例として以下のようになっており、ビュー角度毎及びレイ角度毎に実行するようになっている。
【０１００】
Ｚ０：再構成面のＺ座標
Ｚ（ｋ、φ）：データＤｉのＺ座標
ｄｏｉ＝１、ｎ
ｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）≧Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）≦Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｕｐｐｅｒ＝Ｄｉｅｌｓｅｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）＜Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（ｋ、φ）＞Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｌｏｗｅｒ＝Ｄｉｅｎｄｉｆ
ｅｎｄ ｄｏ
或いは、当該第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のシステム制御部１４は、ビュー角φのときの第Ｎ番目のデータのＺ座標を「Ｚ（Ｎ、φ）」、ビュー角φのときの第ｍ番目の焦点のＺ座標を「Ｚｓ（ｍ、φ）」、第ｍ回転を「ｍ」、検出器列番号を「ｋ」、正規化したヘリカルピッチを「Ｐ」、基本スライス幅を「Ｔ」、ビュー角度を「φ」として以下の演算式に基づいてＺ座標（Ｎ、φ）を検出する。
【０１０１】
Ｚ（Ｎ、φ）＝Ｚ（ｋ−１）×ｍ＋ｊ、φ）
＝Ｐ×Ｔ×φ÷３６０＋Ｚｓ（ｍ、φ）＋「ｊ−（ｋ＋１）／２」×Ｔ
（最大値は、検出器列数×スキャン回転数）
このＺ座標の演算プログラムは、一例として以下のようになっており、ビュー角度毎及びレイ角度毎に実行するようになっている。
【０１０２】
Ｚ０：再構成面のＺ座標
Ｚ（Ｎ、φ）：第Ｎ番目のデータＤｉのＺ座標
ｄｏｉ＝１、ｎ
ｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）≧Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）≦Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｕｐｐｅｒ＝Ｄｉｅｌｓｅｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）＜Ｚ０）
ｉｆ（Ｚ（Ｎ、φ）＞Ｔｈｅ−ｏｔｈｅｒ−ｄａｔａ）Ｌｏｗｅｒ＝Ｄｉｅｎｄｉｆ
ｅｎｄ ｄｏ
このようにシステム制御部１４は、データをデータ収集時のビュー角度（焦点角度）、レイ角度（検出器チャンネル番号）及びＺ座標で定義する。そして、ファンビーム再構成のための補間では、この３条件に加えてデータの選択と補間の重み決定を行う。
【０１０３】
また、コーンビーム再構成（３次元再構成）を行う場合には、データの定義にＺ座標を加え、「データを収集したときのビュー角度或いは焦点角度、レイ角度或いは検出器チャンネル番号、（検出器列のＺ座標と焦点のＺ座標）或いは（焦点のＺ座標と検出器列の相対的Ｚ座標）」で定義し、前述と同様に補間に用いるデータを選択し、重みを決定する。
【０１０４】
当該マルチスライスＣＴ装置では、被検体の頭側から足側にかけて寝台１を移動制御して撮影を行うモード（ヘッド・トゥ・フット）と、被検体の足側から頭側にかけて寝台１を移動制御して撮影を行うモード（フット・トゥ・ヘッド）との２つの撮影モードを有するのであるが、このようにデータを、データ収集時のビュー角度（焦点角度）、レイ角度（検出器チャンネル番号）及びＺ座標で定義することにより、前記各撮影モード毎の２種類のソフトウェア及びハードウェアを必要とすることなく、各撮影モード共１種類のソフトウェア及びハードウェアで対応することができ、寝台１の送り方向に拘わらず適切なデータ選択等を行うことができる他、上述の各実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と同じ効果を得ることができる。
【０１０５】
次に、本発明の第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の説明をする。
【０１０６】
上述の第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、その収集データを収集した検出器列で定義することとしたが、この第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、スキャン開始側から何列目の検出器で収集データであるかでその収集データを定義するようにしたものである。すなわち、検出器列を絶対番号ではなく相対番号で番号付けしたものである。
【０１０７】
なお、当該第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、この点のみが第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置と異なるため、以下、この差異のみ説明し重複説明を省略することとする。
【０１０８】
ヘリカルスキャン時に前述のヘッド・トゥ・フットにより寝台１を移動制御した場合、図１３（ａ）に示すようにスキャン開始位置から当該移動方向に並設されたＸ線検出器４の第１〜第４の検出器列４ａ〜４ｄにより順にデータの収集が行われるのであるが、フット・トゥ・ヘッドにより寝台１を移動制御した場合は、この逆に、同図（ｂ）に示すようにスキャン開始位置から当該移動方向と反対の方向に並設されたＸ線検出器４の第４〜第１の検出器列４ｄ〜４ａにより順にデータの収集が行われるようになる。このため、そのデータを、収集した検出器列の絶対番号で定義すると、その処理のために２種類のソフトウェア及びハードウェアが必要となる。
【０１０９】
このため、当該マルチスライスＣＴ装置は、ヘッド・トゥ・フット或いはフット・トゥ・ヘッドのいずれの場合でも、システム制御部１４が、スキャン開始位置の検出器列を第１の検出器列として相対番号で位置付けして処理を行う。
【０１１０】
すなわち、図１３（ｃ）は、当該マルチスライスＣＴ装置のフット・トゥ・ヘッドの場合を示しているのであるが、この場合、同図（ｂ）と比較してわかるように、システム制御部１４は、スキャン開始位置の第４の検出器列を第１の検出器列としてそのデータの処理を行う。
【０１１１】
具体的には、システム制御部１４は、図１に示す補間処理部１０での補間の際に、そのデータに対してアクセスするためのデータアドレスとして、スライス位置に対応した相対番号を割り付ける。すなわち、再構成データは、図示しないハードディスク等の記憶手段に記憶されるのであるが、この記憶の際は、各検出器列４ａ〜４ｄ順に記憶し、この読み出しの際に各データの相対番号でデータ処理を行う。
【０１１２】
或いは、そのデータの収集位置とデータアドレスとを対応付ける変換テーブルを設け、補間プログラムは、収集位置に基づいて所望のデータを要求し、前記変換テーブルが該所望のデータのデータアドレスを発生し、これを記憶手段から読み込むようにしてもよい。
【０１１３】
また、ヘッド・トゥ・フット又はフット・トゥ・ヘッドの寝台送り方向に応じた２種類の補間プログラムを設け、ヘリカルスキャン時の送り方向に対応した方の補間プログラムを選択して補間処理するようにしてもよい。
【０１１４】
これにより、画像再構成部１１のアドレス発生操作のみで、ヘッド・トゥ・フットによるデータ収集或いはフット・トゥ・ヘッドによるデータ収集のいずれにも１種類のソフトウェア及びハードウェアで対応することができると共に、データの高速処理を可能とすることができる。
【０１１５】
次に、本発明の第５の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置の説明をする。
【０１１６】
上述の第４の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置では、各検出器列の絶対番号のかたちで記憶手段に一旦記憶した再構成データを、読み出しの際に各検出器列の相対番号でデータ処理を行うものであったが、この第５の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、再構成データを記憶手段に記憶する段階で各検出器列の相対番号のかたちで記憶するようにしたものである。
【０１１７】
すなわち、この第５の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置は、システム制御部１４が、データの記憶時にスキャン開始側からスキャン終了側の検出器列で収集したデータの順番（アドレス）で該各データを記憶するように記憶手段を記憶制御する。
【０１１８】
そして、この記憶手段に記憶されたデータを、スキャン開始側からスキャン終了側の検出器列で収集したデータの順番で出力する。
【０１１９】
これにより、記憶手段へのデータ記憶時のアドレス発生操作のみで、ヘッド・トゥ・フットによるデータ収集或いはフット・トゥ・ヘッドによるデータ収集のいずれにも１種類のソフトウェア及びハードウェアで対応することができると共に、データの高速処理を可能とすることができる。
【０１２０】
最後に、上述の各実施の形態は本発明のほんの一例である。このため、本発明は、上述の各実施の形態に限定されることはなく、例えばヘリカルスキャンを行う際に固定された架台２に対して寝台１が移動することとしたが、これは、固定された寝台１に対して架台２が移動するようにしてもよく、この他、本発明に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。
【０１２２】
【発明の効果】
本発明に係るＸ線ＣＴ装置は、所望する一部のパラメータを入力しただけで他のパラメータを自動的に設定して撮影を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＸ線ＣＴ装置を適用した第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のブロック図である。
【図２】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で選択可能なフィルタ形状を示す図である。
【図３】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で操作者により指定される再構成範囲と実際のスキャン範囲との関係を示す図である。
【図４】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で設定される各パラメータを示す図である。
【図５】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置で設定される各パラメータを示す図である。
【図６】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のヘリカルピッチが２．５及び３．５の場合のスキャン状態を示す図である。
【図７】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置のヘリカルピッチが４．０及び３．５の場合のスキャン状態を示す図である。
【図８】前記第１の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置において、表示部に表示されるマルチスライスＣＴ装置特有のパラメータを示す図である。
【図９】本発明に係るＸ線ＣＴ装置を適用した第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置のスキャン開始時（助走期間）における被曝低減動作を説明するための図である。
【図１０】前記第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置のスキャン終了時における被曝低減動作を説明するための図である。
【図１１】コーンビームＣＴ装置のスキャン開始時（助走期間）及びスキャン終了時における被曝低減動作を説明するための図である。
【図１２】前記コーンビームＣＴ装置の被曝低減動作における第１、第２のプリコリメータの位置関係を説明するための図である。
【図１３】本発明に係るＸ線ＣＴ装置を適用した第３の実施の形態のマルチスライスＣＴ装置における収集データの検出器列の相対番号でのデータ処理を説明するための図である。
【図１４】シングルスライスＣＴ装置の断層像と共に表示される各パラメータを示す図である。
【図１５】シングルスライスＣＴ装置とマルチスライスＣＴ装置におけるヘリカルスキャン開始時の余計な被曝量の差を説明するための図である。
【符号の説明】
１…寝台、２…架台、３…Ｘ線管、４…マルチスライス用のＸ線検出器
５…Ｘ線制御部、６…高電圧発生部、７…架台・寝台制御部、８…寝台移動部
９…データ収集部、１０…補間処置部、１１…画像再構成部、１２…表示部
１３…操作部、１４…システム制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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