(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技の進行に応じて遊技機全体の動作制御を行なうメイン制御手段と、このメイン制御手段からの制御指示に基づいて、周辺装置を動作制御するサブ制御手段と、を備えた遊技機において、
前記メイン制御手段は、前記周辺装置を制御するための各種指示データを記憶する記憶手段を備え、遊技の進行に応じて前記記憶手段に記憶されている指示データを前記サブ制御手段に対して出力し、
前記サブ制御手段は、前記周辺装置の動作制御のための各種プログラムを記憶するＲＯＭと、前記メイン制御手段から入力された前記指示データを一時記憶するバッファ領域及びフラグを格納可能なフラグ領域を有するＲＡＭとを備え、前記バッファ領域に記憶された指示データに対応するプログラムを前記ＲＯＭから読み出して実行し、
前記各種指示データのそれぞれは、指示の分類を識別するための識別子で１バイト長のデジタル情報であるモードと、実行する指示の内容を示す１バイト長のデジタル情報であるイベントとの組み合せを有して構成され、
前記記憶手段が記憶する前記各種指示データには、前記周辺装置の検査を指示することを示すモードと、検査すべき内容を示すイベントとの組み合せを有して構成される検査内容指示データが含まれ、
前記ＲＯＭが記憶する前記各種プログラムには、複数種類の機種間で共通の周辺装置検査用プログラムが含まれ、
検査用のモードが実行されると、
前記メイン制御手段は、前記検査用のモードに応じた前記検査内容指示データを前記サブ制御手段に対して出力し、
前記サブ制御手段は、
前記メイン制御手段から前記検査内容指示データを構成する前記モードが入力されると、入力されたモードを前記バッファ領域に記憶するとともに、前記フラグ領域に前記検査すべき内容を示すイベントの入力待ちを示すフラグを格納し、
前記メイン制御手段から前記検査内容指示データを構成する前記イベントが入力されると、前記フラグ領域に前記検査すべき内容を示すイベントの入力待ちを示すフラグが格納されている場合、前記バッファ領域に記憶している前記イベントを前記メイン制御手段から入力された前記イベントに入れ替えて記憶した後、前記フラグ領域に検査用データの入れ替え完了を示す特定フラグを格納し、該特定フラグを格納した後、前記バッファ領域に記憶した前記イベントに対応する前記周辺装置検査用プログラムを前記ＲＯＭから読み出して実行することにより、前記周辺装置の検査を行なうことを特徴とする遊技機。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、周辺装置の検査機能を備える遊技機の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
遊技機、とりわけパチンコ機にあっては、近年、遊技演出等を多彩に行なうために、その周辺装置の数が増加すると共に、その周辺装置の制御内容も複雑化の一途をたどっている。
【０００３】
このような遊技機を出荷する際等には、周辺装置を検査する必要があるため、そのための仕組みが工夫されてきた。図１４は、この種の従来技術を説明するための模式的な説明図である。図１４（ａ）に示すように、遊技機の進行に応じて遊技機全体の動作制御を行なう主制御部（図示せず）に対する主制御部側ＲＯＭ１には、通常の遊技用のプログラムである通常遊技用プログラムと、このプログラムが実行された際に必要となるデータである通常遊技用データと、周辺装置の検査のためのプログラムである検査用プログラムと、このプログラムが実行された際に必要となるデータである検査用データとが記憶されている。
【０００４】
一方、図１４（ｂ）に示すように、周辺装置を動作制御するサブ制御部（図示せず）に対する周辺装置側ＲＯＭ２においても、通常の遊技用のプログラムである通常遊技用プログラムと、このプログラムが実行された際に必要となるデータである通常遊技用データと、周辺装置の検査のためのプログラムである検査用プログラムと、このプログラムが実行された際に必要となるデータである検査用データとが記憶されている。
【０００５】
そして、周辺装置を検査するために検査モードが指示されると、図示しない主制御部は、検査用プログラムを実行し、検査用データを考慮して検査指示等を示すコマンドを図示しないサブ制御手段に送信する。これを受信したサブ制御手段（図示せず）は、検査用プログラムを実行し、検査用データを所定の出力ポートに出力する等して周辺装置の検査を行なっていた。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、近年、周辺装置の制御内容の豊富さから、周辺装置側ＲＯＭ２側の通常遊技用プログラムや通常遊技用データの容量が増えており、これらを記憶するエリアを十分にとった状態で、プログラミングをすることができないため、開発工数の増加や開発効率の低下等が問題となっていた。
【０００６】
しかも、遊技機の種類に対応させて周辺装置の仕様が若干変更されるたびに、周辺装置側ＲＯＭ２の検査用データや検査用プログラムを変更しなければならず、そのための開発工数もかなりのものであった。
【０００７】
本発明は、かかる従来の課題を解決するためになされたもので、遊技機の種類に対応させて周辺装置の検査プログラムを変更することを不要としたり、従来よりも周辺装置側の通常遊技用プログラムのプログラミングを余裕をもって行なえるようにした遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１に係る発明は、遊技の進行に応じて遊技機全体の動作制御を行なうメイン制御手段と、このメイン制御手段からの制御指示に基づいて、周辺装置を動作制御するサブ制御手段と、を備えた遊技機において、前記メイン制御手段は、前記周辺装置を制御するための各種指示データを記憶する記憶手段を備え、遊技の進行に応じて前記記憶手段に記憶されている指示データを前記サブ制御手段に対して出力し、前記サブ制御手段は、前記周辺装置の動作制御のための各種プログラムを記憶するＲＯＭと、前記メイン制御手段から入力された前記指示データを一時記憶するバッファ領域及びフラグを格納可能なフラグ領域を有するＲＡＭとを備え、前記バッファ領域に記憶された指示データに対応するプログラムを前記ＲＯＭから読み出して実行し、前記各種指示データのそれぞれは、指示の分類を識別するための識別子で１バイト長のデジタル情報であるモードと、実行する指示の内容を示す１バイト長のデジタル情報であるイベントとの組み合せを有して構成され、前記記憶手段が記憶する前記各種指示データには、前記周辺装置の検査を指示することを示すモードと、検査すべき内容を示すイベントとの組み合せを有して構成される検査内容指示データが含まれ、前記ＲＯＭが記憶する前記各種プログラムには、複数種類の機種間で共通の周辺装置検査用プログラムが含まれ、検査用のモードが実行されると、前記メイン制御手段は、前記検査用のモードに応じた前記検査内容指示データを前記サブ制御手段に対して出力し、前記サブ制御手段は、前記メイン制御手段から前記検査内容指示データを構成する前記モードが入力されると、入力されたモードを前記バッファ領域に記憶するとともに、前記フラグ領域に前記検査すべき内容を示すイベントの入力待ちを示すフラグを格納し、前記メイン制御手段から前記検査内容指示データを構成する前記イベントが入力されると、前記フラグ領域に前記検査すべき内容を示すイベントの入力待ちを示すフラグが格納されている場合、前記バッファ領域に記憶している前記イベントを前記メイン制御手段から入力された前記イベントに入れ替えて記憶した後、前記フラグ領域に検査用データの入れ替え完了を示す特定フラグを格納し、該特定フラグを格納した後、前記バッファ領域に記憶した前記イベントに対応する前記周辺装置検査用プログラムを前記ＲＯＭから読み出して実行することにより、前記周辺装置の検査を行なうことを特徴とするようにした。
【０００８】
この発明によれば、周辺装置検査用プログラムが汎用性を持つようになるので、同じ検査用プログラムで複数種類の機種の検査を行なえ、機種毎に周辺装置のプログラムを変更することは不要となる。
【００１５】
さらに、特別図柄始動口１０４の下方には、大入賞口１０６、普通図柄表示装置１０８、アウト口１１４がこの順で配設されており、さらに、特別図柄始動口１０４の両斜め上方にはランプ表示装置１１０、１１０が配設されていると共に、遊技盤１０の両側端部近傍にもランプ表示装置（より具体的にはＬＥＤ）１１２、１１２が配設されている。
【００１６】
そして、特別図柄始動口１０４に遊技玉が入賞されて乱数抽選が行われ、この抽選された乱数が大当り値である時には、各表示エリアにおいて少なくとも１つの識別情報の変動表示が開始されその後、所定パターン（例えば「７、７、７」）の表示が特別図柄表示装置１００によって行われ、大入賞口１０６が所定パターンで開閉制御されて遊技者にとって有利な大当り遊技状態となる。
【００１７】
また、普通図柄作動ゲート１０２が遊技玉の通過を検出すると、乱数抽選が行われこの抽選された乱数が小当り値である時には、普通図柄表示装置１０８の表示部を所定パターン（例えば「７」や「３」）に表示させ、その後に、開閉部材１２０が開状態となって遊技玉が特別図柄始動口１０４に入賞した場合にも、同様に乱数抽選が行われこの抽選された乱数が大当り値である時には、各表示エリアにおける変動表示が開始されその後、所定表示パターン（例えば「７、７、７」）の表示が特別図柄表示装置１００によって行われ、大入賞口１０６が所定パターンで開閉制御されて遊技者にとって有利な大当り状態となる。一方、入賞されない打玉はアウト口１１４を介して排出される。
【００１８】
図２は、このような遊技の進行状況に応じた遊技機制御が行われる遊技機の主要部のみを示した制御ブロック図である。
主制御部２００は、ＣＰＵを内蔵したマイクロプロセッサを搭載していて、後に説明する、周辺装置を制御するための各種のコマンドや検査用コマンド等を少なくとも含む多種多様な制御コマンドを格納するコマンドデータテーブル領域２０２および一連の遊技機制御手順を記述した制御プログラムや制御データ、さらには、周辺装置検査用プログラムや周辺装置検査用データ等を格納するＲＯＭ２０１とワークエリアが形成されるＲＡＭ２０３とが設けられていて、一体型のワンチップマイコンとなっている。また、主制御部２００には、その外部に検査用端子２０４が設けられていて、これに適切な電圧が印加されると周辺装置検査用プログラムが実行されるようになっている。
【００１９】
主制御部２００には、入力ポート２１０を介して、特別図柄始動口１０４内部に設けられ遊技玉の特別図柄始動口１０４への入賞を検出する特別図柄始動スイッチ３０４、普通図柄作動ゲート１０２の内部に設けられ遊技玉のゲート通過を検出する普通図柄作動スイッチ３０６、および、大入賞口１０６の内部に設けられ遊技玉の大入賞口１０６への入賞を検出する大入賞口スイッチ３０８が接続されていて、主制御部２００は各検出信号を受信可能となっている。
【００２０】
また、主制御部２００には、出力ポート２１５を介して、各種の周辺装置が接続されている。より具体的には、主制御部２００には、特別図柄やキャラクタを表示する表示部を３つ有して夫々を独立して可変表示可能でＬＣＤ等で実現される特別図柄表示装置１００、ランプ、ＬＥＤを点灯制御するランプ表示装置１１０、１１２、効果音を発生する効果音発生装置１１６、例えば７セグメント表示デバイスで実現される普通図柄表示装置１０８、始動口の開閉部材１２０を開閉制御するための始動口作動ソレノイド３００、および、大入賞口１０６の幅広な開閉部材を開閉制御するための大入賞口作動ソレノイド３０２等の周辺装置が接続され、主制御部２００は各装置を制御するための制御信号を送信可能となっている。そして、主制御部２００は、特別図柄表示装置１００、ランプ表示装置１００（１１２）、効果音発生装置１１６等に対しては所定数個の制御用コマンドを所定のタイミングで送信可能となっていて、これらの周辺装置は、受け取ったコマンドに基づいて、主制御部２００に頼らずに自身内のＣＰＵが細かな制御を行うようになっている。
【００２１】
また、主制御部２００には、電源供給を行うための電源回路２１２と所定時間毎にリセット信号を出力するリセット回路２１３とが接続されていて、さらに、リセット回路２１３には、主制御部２００から周期的タイマカウンタによって生成されたパルス信号が入力されると共に、電源回路２１２からの電流供給状況を監視するためのモニタ信号が入力される。
【００２２】
さて、図３に示すように、主制御部２００から、特別図柄表示装置１００、ランプ表示装置１１０（１１２）、効果音発生装置１１６等の周辺装置に送られる制御用コマンドは、コマンドの分類を識別するための識別子で１バイト長のデジタル情報であるモード（ＭＯＤＥ）と、実行されるコマンドの内容（機能）を示す１バイト長のデジタル情報であるイベント（ＥＶＥＮＴ）とでなっており、図５乃至図８は、ＲＯＭ２０１に格納されたコマンドデータテーブル領域２０２上の表示制御用コマンドデータ、図９は効果音制御用データ、図１０はＬＥＤ、ランプ装置の点灯制御用データを示している。
【００２３】
また、コマンドデータテーブル領域２０２には、図１６に示すうような検査指示および検査内容を示すデータを記述した検査用データテーブル１２１０も格納されていて、このモードデータの上位４ビットが「１１１１」の場合には検査指示が与えられたことを示し、下位４ビットで、検査内容を特定する。
【００２４】
また、図４は、コマンド送受信タイミングを示したタイミングチャートである。前述したように、コマンドは１バイト長のモード（ＭＯＤＥ）と、同じく１バイト長のイベント（ＥＶＥＮＴ）からなっていて、この例では、主制御部２００は、コマンド変化時に自身が生成するストローブ信号（ＤＵＳＴＢ）の１つ目の立ち上がりを契機として、モード（ＭＯＤＥ）情報を送信し、次いでストローブ信号（ＤＵＳＴＢ）の２つ目の立ち上がりを契機として、イベント（ＥＶＥＮＴ）情報を送信する。すると、これに対応して、特別図柄表示装置１００、ランプ表示装置１１０（１１２）、効果音発生装置１１６等の周辺装置のＣＰＵは、ストローブ信号（ＤＵＳＴＢ）が送信されてくると割り込みを発生させ、この割り込み処理によってコマンドを受信してバッファに格納する。
【００２５】
次に、まず、主制御部２００が行う通常の制御動作を図１０（遊技制御のゼネラルフローチャート）や図１１を参照して説明し、その後、本発明の特徴的な検査動作について説明して本発明の理解の容易化に努める。
なお、図１１に示す一連の処理は主制御部２００が実行するが、リセット回路２１３から所定時間（例えば４ｍｓｅｃ）毎に供給されるリセット信号をトリガとして先頭のステップから実行する。
【００２６】
まず、図示しない電源スイッチによって電源回路２１２を起動状態とすると主制御部２００が起動状態となるが、この電源投入が行われてから初めての処理が実行されたか否かを判定する（ステップＳ１１０）。電源投入後、初めての処理の場合には（Ｙｅｓ）ステップＳ２００に移行する一方、これ以外の場合には（Ｎｏ）ステップＳ１２０に移行する。
【００２７】
ステップＳ２００では、ＲＡＭ２０３の初期化処理として記憶エリアのクリア処理を実行し、次いで、ステップＳ２１０では、初期制御処理を行うためのデータをＲＡＭ２０３の所定の領域にセットする。一方、ステップＳ１２０では、ＲＡＭ２０３内に形成される図示しない、大当り判定用、小当り判定用等の各種の乱数生成用ループカウンタのカウント値をインクリメントし、ステップＳ１３０では、遊技機制御に用いる各種のタイマのタイマ値を更新する。
【００２８】
次に、ステップＳ１４０において、特別図柄始動スイッチ３０４、普通図柄作動スイッチ３０６、大入賞口スイッチ３０８が出力した検出信号を入力ポート２０３を介して図示しない自身内のレジスタに読み込み格納する入力ポート処理を実行し、次いで、ステップＳ１５０に移行してポート入力処理で読み込み格納したデータを把握するためのスイッチチェック処理を実行する。
【００２９】
次に、ステップＳ１６０にて各スイッチ３０４、３０６、３０８等の断線や短絡の有無のチェックを行い、これらの障害が発生している場合には（Ｙｅｓ）ステップＳ２２０に移行する一方、これ以外の場合には（Ｎｏ）ステップＳ１８０に移行する（ステップＳ１７０）。
【００３０】
そして、ステップＳ１８０において、普通図柄表示装置１０７の表示制御に必要なデータをＲＡＭ２０３の所定領域に格納すると共に、特別図柄表示装置１００の表示制御に必要なコマンド（先に図５乃至図８にて説明したコマンドを含む）をＲＡＭ２０３の所定領域に格納して、前記各種のタイマのタイマ値を減じる（ステップＳ１９０）。なお、ステップＳ１８０において、主制御部２００は、遊技制御に応じて必要なモード、イベントのコマンドをコマンドデータテーブル領域２０２を参照して決定し、決定したモード、イベントを示すデジタル情報をＲＡＭ２０３の所定エリアに格納する。
【００３１】
次に、ステップＳ１９５において、大入賞口１０６と特別図柄始動口１０４の開閉部材１２０とを所定パターンで開閉制御するために、始動口作動ソレノイド３００と大入賞口作動ソレノイド３０２とを駆動制御し、次いで、ステップＳ２２０において、図示しない賞球払出装置に払出し動作を行わせるための制御情報を出力するための賞球セット処理を実行し、さらにステップＳ２３０、２４０、２５０において、図示しない遊技機管理装置に各種の遊技データを出力する外部情報処理、図１０に示したような、ランプ表示装置１１０、１１２を遊技状態に対応させて点灯制御するためのコマンドをＲＡＭ２０３の所定エリアに格納する表示灯制御処理、図９に示したような、効果音発生装置１１６を遊技状態に対応させて効果音発生制御するためのコマンドをＲＡＭ２０３の所定エリアに格納する効果音処理を実行する。
【００３２】
次に、ステップＳ２６０では、各処理でＲＡＭ２０３に格納したデータを出力ポート２１５を介して対応する装置に出力し（ポート出力処理）、これを受け取った周辺装置側はこれに基づいた制御動作を行う。具体的には、周辺装置に対して、まず、ストローブ信号を出力し、ＲＡＭ２０３に格納されたモード、イベントのデータを先に図４に示したようにして送信する。これによって、周辺装置には、例えば図５乃至図１０にて示したコマンドが主制御部２００から送信され、受信することになる。
【００３３】
ステップＳ２７０では、リセット回路２１３からリセット信号が入力されるまでリセット待機処理を実行すると共に、リセット信号が入力された場合にはステップＳ１１０に移行して遊技機制御を継続する。なお、このリセット待機処理としては、先に述べた各種の乱数生成用のカウンタの更新等が挙げられる。
【００３４】
以下に、周辺装置の一例としてランプ表示装置１１０（１１２）を例にとりその検査動作を説明する。なお、ランプ表示装置１１０（１１２）は、図１２に示すように、ＲＡＭ１１００と、ＲＯＭ１２００と、ＣＰＵ１０００とを有して構成されていて、ＲＡＭ１１００には、フラグ１エリア１１１１、フラグ２エリア１１２、バッファ１（１１１３）、バッファ２（１１１４）とが設けられている。さらに、ＣＰＵの出力ポートＡの端子Ａ１〜Ａ５にはＬＥＤ１００１〜１００５が接続され、出力ポートＢの端子Ｂ１、Ｂ２にはランプ１００６、１００７が接続されている。これらの端子からの出力がハイレベル信号「１」の時にはＬＥＤやランプが点灯し、一方、これらの端子からの出力がローレベル信号「０」の時にはＬＥＤやランプが消灯するようになっている。
【００３５】
また、図１３には他の機種のランプ表示装置１１０（１１２）の構成が示されており、図１２に示すものとの違いは、ＬＥＤ１００５、ランプ１００７が接続されていない点にある。本発明においては、これら両者に対して共通の検査用プログラムで検査が行なえる点に特徴がある。なお、図１５には、従来と比較容易とするために、主制御部２００のＲＯＭ２０１と周辺装置（この場合ランプ表示装置１００（１１２））のＲＯＭ１２００の記憶内容を示している。この実施の形態では、周辺装置側のＲＯＭ１２００からは検査用データが削除され、通常遊技用データや通常遊技用プログラムの作成が余裕を持って行なえることが分かる。なお、図１６にて示した検査用データテーブル１２１０は、ＲＯＭ２０１の検査用データのエリアに格納されている。
【００３６】
さて、図１８は、ランプ表示装置１１０（１１２）がモード、イベントのデータをバッファ１（１１１３）、バッファ２（１１１４）に記憶するための処理フローチャートである。検査用端子２０４に所定の電圧を印加して検査用モードとすると、ＣＰＵ１０００は、主制御部２００からのＤＵＳＴＢ信号を入力し、次いで、コマンド（モードまたはイベント）を入力する（ステップＳ１８００、１８１０）。次いで、フラグ１エリア１１１１の記憶内容が＄５Ａであるか否かを判断し、＄５Ａの場合（Ｙｅｓ）にはステップＳ１８８０に移行し、これ以外の場合にはステップＳ１８３０に移行する。そして、ステップＳ１８３０では、検査モードか否かを判断する。つまり、バッファ１（１１１３）に格納されたデータの上位４ビットが「１１１１」である場合、検査モードと判断して（Ｙｅｓ）ステップＳ１８５０に移行し、これ以外の場合にはステップＳ１８４０に移行して、バッファ１（１１１３）、バッファ２（１１１４）に格納されているモード、イベントに対応した通常の制御動作を行なう。
【００３７】
ステップＳ１８５０に処理が移行された場合には、入力コマンドをバッファ１（１１１３）に格納し（ステップＳ１８５０）、フラグ１エリア１１１１に、バッファ２用データの入力待ちを示す値＄５Ａを格納して（ステップＳ１８６０）、フラグ２をクリアする（ステップＳ１８７０）。また、ステップＳ１８８０に処理が移行された場合には、入力コマンドをバッファ２（１１１４）に格納し（ステップＳ１８８０）、フラグ２エリア１１１２に、検査用データ完了の旨を示す値＄５Ａを格納して（ステップＳ１８９０）、フラグ１をクリアする（ステップＳ１８９５）。このような処理によって、バッファ１（１１１３）、バッファ２（１１１４）にはモード、イベントのデータが格納される。
【００３８】
次に、図１９に示す検査動作用のフローチャートで検査動作を説明すると、まず、ステップＳ１９００にて、バッファ１（１１１３）の上位４ビットをロードし、ステップＳ１９１０にて、バッファ１（１１１３）に格納されたモードの上位４ビットが「１１１１」か否かを判定し、「１１１１」でない場合（Ｎｏ）には検査モードでないとして処理を終了する。一方、「１１１１」の場合（Ｙｅｓ）には、検査モードであるとして、バッファ１の下位４ビットをロードし（ステップＳ１９２０）、この下位４ビットに対応した検査を行なう（ステップＳ１９３０）。また、バッファ２（１１１４）に格納されたイベントのデータに基づいて、出力ポートＡや出力ポートＢの選定をする。具体的には、図１６に示すように、下位４ビットが「００００」の時には、ＬＥＤ１００１を所定点灯制御パターンで点灯駆動制御させ所望の点灯動作が行なわれるかを検査し、…、「０１１０」の時にはランプ１００７を所定点灯制御パターンで点灯駆動制御させ所望の点灯動作が行なわれるかを検査する。
【００３９】
そして、図１２の周辺装置に対しては、下位４ビットが「００００」〜「０１１０」までのデータを送ることによって各ＬＥＤ、ランプの検査を行なうことができる。一方、図１３の周辺装置に対する検査の場合には、下位４ビットが「００００」〜「００１１」までのデータ、および「０１０１」なるデータを送ることによって各ＬＥＤ、ランプの検査を行なうことができる。
【００４０】
以上説明してきた実施の形態によれば、ランプ表示装置１１０（１１２）のＲＯＭ１２００に、複数種類の機種間で共通の検査用プログラムを記憶しておき、ＣＰＵ１０００は、主制御部２００から送信される検査指示に基づいてこの機種間共通の検査用プログラムを実行して、ランプ表示装置１００（１１２）の検査を行なう。したがって、ＲＯＭ１２００に記憶された検査用プログラムが汎用性を持つようになるので、同じ検査用プログラムで複数種類の機種の検査を行なえ、機種毎に周辺装置のプログラムを変更することは不要となる。
【００４１】
この発明によれば、主制御部２００から送信される、図１６で示されるような検査内容指示データで特定された検査内容の検査を行なうようになるので、従来、ランプ表示装置１１０（１１２）側にあった検査内容特定のためのデータ等の検査用データを周辺装置に持たせなくて済み、周辺装置用の通常遊技用プログラムや通常遊技用データを余裕をもって作成することができる。
【００４２】
なお、以上の説明では、周辺装置の一例として特にランプ表示装置１１０（１１２）の検査を例にとって説明してきたが、特別図柄表示装置１００、効果音発生装置１１６等や図２では図示しない賞球払出装置等他の周辺装置に対しても同様な検査を行なうことができることは言うまでもない。もちろん、普通図柄表示装置１０８、始動口作動ソレノイド３００、大入賞口作動ソレノイド３０２対しても、これらをコマンドを受け取って制御動作を行なうように構成すれば同様にして検査が行なえる。
【００４３】
また、図１７に示すように、例えば、主制御部２００の外部に設ける検査用端子の数を複数として、これらに印加するデジタル信号のパターンによって、検査用データテーブル１２１０で示される検査内容のデータが、主制御部２００からランプ装置１１０（１１２）側に送られて検査が行なわれるようにしても良い。例えば、２０４ａ、２０４ｂ、２０４ｃのデジタル信号の印加パターンは、８通りであるため、図１６の７通りの検査内容のいずれかを特定することができる。具体的には、例えば２０４ａ、２０４ｂ、２０４ｃに「１１１」を印加した時にはＬＥＤ１００１の検査が特定される、…、２０４ａ、２０４ｂ、２０４ｃに「１１０」を印加した時にはランプ１００７の検査が特定される等としておけばよい。このように外部の検査用端子によって、複数種類の検査内容のうちのいずれかを指示することができるので、検査内容の切換が容易に行なえる。
【００４４】
以上説明してきたように、本発明の実施形態によれば、周辺装置検査用プログラムが汎用性を持つようになるので、同じ検査用プログラムで複数種類の機種の検査を行なえ、機種毎に周辺装置のプログラムを変更することは不要となる。また、開発工数に組込まれていた、テストパターンを検討する開発日程管理も不要となる。さらに、ランプ表示装置１１０（１１２）側のＲＯＭ容量に余裕ができるため、通常遊技用プログラムの開発に際してその残り容量を気にせずにプログラミングを行なうことができるようになると共にランプ表示装置１１０（１１２）のブラックボックス化が進み、主制御部２００用のプログラミングに専念できる。
【００４５】
なお、以上の説明では、遊技機としてパチンコ機を例にとり説明してきたが、パチスロ機はもちろんのこと、遊技の進行に応じて遊技機全体の動作制御を行なう主制御部と、この主制御部からの制御指示に基づいて、周辺装置側のＣＰＵが周辺装置を動作制御するように構成された他の遊技機に対しても適用可能であることはいうまでもない。
【発明の効果】
以上説明してきたように、請求項１に係る発明によれば、周辺装置検査用プログラムが汎用性を持つようになるので、同じ検査用プログラムで複数種類の機種の検査を行なえ、機種毎に周辺装置のプログラムを変更することは不要となるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】遊技盤１０の模式的な説明図である。
【図２】遊技機の制御ブロック図である。
【図３】コマンドのデータ構造の説明図である。
【図４】コマンド送受信のタイミングを示すタイミングチャートである。
【図５】コマンドデータテーブル領域２０２に格納されるコマンドの説明図である。
【図６】コマンドデータテーブル領域２０２に格納されるコマンドの説明図である。
【図７】コマンドデータテーブル領域２０２に格納されるコマンドの説明図である。
【図８】コマンドデータテーブル領域２０２に格納されるコマンドの説明図である。
【図９】コマンドデータテーブル領域２０２に格納されるコマンドの説明図である。
【図１０】コマンドデータテーブル領域２０２に格納されるコマンドの説明図である。
【図１１】遊技機の遊技制御動作を説明するためのゼネラルフローチャートである。
【図１２】ランプ表示装置１１０（１１２）のブロック構成図である。
【図１３】別の機種のランプ表示装置１１０（１１２）のブロック構成図である。
【図１４】従来技術の説明図である。
【図１５】本発明の実施の形態のＲＯＭ２０１、１２００のデータ記憶状態の説明図である。
【図１６】検査用データテーブルの説明図である。
【図１７】検査用端子の説明図。
【図１８】ＣＰＵ１０００のコマンド格納動作を説明するためのフローチャートである。
【図１９】ＣＰＵ１０００の検査動作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１０  遊技盤
１００  特別図柄表示装置
１０２  普通図柄作動ゲート
１０４  特別図柄始動口
１０６  大入賞口
１０８  普通図柄表示装置
１１０  ランプ表示装置
１１２  ランプ表示装置
１１４  アウト口
１１６  効果音発生装置
１２０  開閉部材
２００  主制御部
２０１  ＲＯＭ
２０２  コマンドデータテーブル領域
２０３  ＲＡＭ
２０４  検査用端子
２１０  入力ポート
２１３  リセット回路
２１２  電源回路
２１５  出力ポート
３００  始動口作動ソレノイド
３０２  大入賞口作動ソレノイド
３０４  特別図柄始動スイッチ
３０６  普通図柄作動スイッチ
３０８  大入賞口スイッチ
１０００  ＣＰＵ
１００１、１００２、１００３、１００４、１００５  ＬＥＤ
１００６、１００７  ランプ
１１００  ＲＡＭ
１１１１  フラグエリア１
１１１２  フラグエリア２
１１１３  バッファ１
１１１４  バッファ２
１２００  ＲＯＭ
１２１０  検査用データテーブル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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