(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＣＰＵによって実行されるプログラムのデバッグをイン・サーキット・エミュレータを用いておこなうためのデバッグ支援機能を備えたマイコンであって、
前記ＣＰＵを有し、かつ駆動電力の供給と停止とを任意に切り替え可能な被デバッグ回路と、
前記イン・サーキット・エミュレータに対するインターフェースモジュールを有し、かつ前記被デバッグ回路への電力供給が停止された状態において駆動電力が供給されることでデバッグに関する設定を保持するデバッグ回路と、
を具備することを特徴とするデバッグ支援機能付きマイコン。
【請求項２】
ＣＰＵによって実行されるプログラムのデバッグをイン・サーキット・エミュレータを用いておこなうためのデバッグ支援機能を備えたマイコンであって、
前記ＣＰＵを有する被デバッグ回路と、
前記イン・サーキット・エミュレータに対するインターフェースモジュールを有するデバッグ回路と、
前記被デバッグ回路に外部から駆動電力を供給するための第１の電源端子と、
前記デバッグ回路に外部から駆動電力を、前記被デバッグ回路への電力供給から独立して供給するための第２の電源端子と、
を具備することを特徴とするデバッグ支援機能付きマイコン。
【請求項３】
ＣＰＵによって実行されるプログラムのデバッグをイン・サーキット・エミュレータを用いておこなうためのデバッグ支援機能を備えたマイコンであって、
前記ＣＰＵを有する被デバッグ回路と、
前記イン・サーキット・エミュレータに対するインターフェースモジュールを有するデバッグ回路と、
前記デバッグ回路に外部から駆動電力を供給するための電源端子と、
前記電源端子を介して外部から供給された駆動電力の、前記被デバッグ回路への供給と停止とを切り替えるスイッチ素子と、
前記スイッチ素子の切り替えを制御するための制御信号が外部から供給されるスイッチ制御端子と、
を具備することを特徴とするデバッグ支援機能付きマイコン。
【請求項４】
前記被デバッグ回路への駆動電力の供給が停止したときに、前記被デバッグ回路から前記デバッグ回路への供給信号をクリップするクリップ回路をさらに具備することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載のデバッグ支援機能付きマイコン。
【請求項５】
前記クリップ回路の、前記被デバッグ回路の出力信号をそのまま前記デバッグ回路に供給するか、前記被デバッグ回路の出力信号をクリップするかを切り替えるための制御信号が外部から供給されるクリップ制御端子をさらに具備することを特徴とする請求項４に記載のデバッグ支援機能付きマイコン。
【請求項６】
前記クリップ回路は、前記被デバッグ回路に供給される駆動電力に応じて、前記被デバッグ回路の出力信号をそのまま前記デバッグ回路に供給するか、前記被デバッグ回路の出力信号をクリップするかを切り替えることを特徴とする請求項４に記載のデバッグ支援機能付きマイコン。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＰＵによって実行されるプログラムのデバッグをイン・サーキット・エミュレータを用いておこなうためのデバッグ支援機能付きマイコンに関する。
【０００２】
一般に、ＣＰＵコアを有するマイクロプロセッサまたはマイクロコントローラ（以下、両方を含めてマイコンと称する）には、種々の実際の製品等に実装されてプログラムを実行するいわゆる製品版としてのマイコンと、そのプログラム実行機能の他に、イン・サーキット・エミュレータを用いてプログラムのデバッグをおこなうための機能を有するデバッグ支援機能付きマイコンとがある。
【０００３】
【従来の技術】
図１３は、従来のデバッグ支援機能付きマイコンの概略構成を示すブロック図である。このデバッグ支援機能付きマイコン（以下、単にデバッグ用マイコンとする）１は、ＣＰＵ１１、デバッグ・サポート・ユニット（ＤＳＵ）１２、バス・コントローラ１３、および内蔵メモリや内蔵周辺回路１４を有する。また、デバッグ用マイコン１は、ＣＰＵ１１とデバッグ・サポート・ユニット１２とを接続する専用バス１５、ＣＰＵ１１とバス・コントローラ１３を接続する命令バス１６、およびＣＰＵ１１とバス・コントローラ１３と内蔵メモリや内蔵周辺回路１４とを接続するデータバス１７を有する。デバッグ・サポート・ユニット１２はツールバス１８を介してイン・サーキット・エミュレータ２に接続される。バス・コントローラ１３は外部バス１９の制御をおこなう。
【０００４】
デバッグ作業をおこなう際には、デバッグ・サポート・ユニット１２をイン・サーキット・エミュレータ２に接続し、デバッグ用マイコン１の電源を投入する。それから、デバッグ・サポート・ユニット１２内の各種デバッグ設定をイン・サーキット・エミュレータ２から初期化し、ＣＰＵ１１により実際のユーザプログラムを実行する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図１３に示す構成の従来のデバッグ用マイコン１では、デバッグ・サポート・ユニット１２およびＣＰＵ１１に外部の共通の電源から駆動電力が供給されている。したがって、電源投入直後のＣＰＵ１１の挙動をトレースしたり、初期化ルーチンの先頭でプログラムをブレークさせようとしても、電源を切ることによって各種デバッグ設定情報が消えてしまうため、デバッグをおこなうことができないという問題点がある。
【０００６】
また、デバッグ用マイコン１を含むターゲットシステムの電源投入時の動作を疑似的に再現させることによってデバッグをおこなう方法がある。これは、デバッグ用マイコン１と、デバッグ対象となるターゲットシステムとの間にアダプターを挿入して電源を分離し、デバッグ用マイコン１を電源を入れたまま外部からのリセット入力で停止させておき、ターゲットシステムの電源の再投入に同期させてリセット入力を解除するという方法である。しかし、この方法では電源投入直後の過渡期におけるＣＰＵ１１の動作を再現することができないため、完全なデバッグをおこなえるわけではない。
【０００７】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、イン・サーキット・エミュレータを接続して、電源投入時のデバッグを完全におこなうことが可能なデバッグ用マイコンを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明にかかるデバッグ用マイコンは、デバッグ対象となる被デバッグ回路と、イン・サーキット・エミュレータに対するインターフェースモジュールを有するデバッグ回路とを具備し、それら被デバッグ回路とデバッグ回路とに独立して駆動電力を供給することを特徴とする。この発明によれば、被デバッグ回路とデバッグ回路とに駆動電力が独立して供給されるため、デバッグ回路に駆動電力を供給してデバッグ回路を動作させた状態のまま、被デバッグ回路への駆動電力の供給を停止することができる。
【０００９】
この発明において、被デバッグ回路からデバッグ回路への供給信号をクリップするクリップ回路をさらに設け、被デバッグ回路への駆動電力の供給が停止しているときに、被デバッグ回路からデバッグ回路への供給信号をクリップする構成としてもよい。この発明によれば、被デバッグ回路への駆動電力の供給が停止しているときに、被デバッグ回路からデバッグ回路に供給される信号がクリップ回路によりクリップされるので、電位レベルが不定となった信号が、被デバッグ回路からデバッグ回路に供給されるのを防ぐことができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。まず、実施の形態の概要について説明する。図１は、本発明にかかるデバッグ用マイコンの全体の概略構成を示すブロック図である。このデバッグ用マイコン３は、デバッグ対象である被デバッグ回路４、デバッグ回路５、および被デバッグ回路４とデバッグ回路５とを接続する専用バス３１を有する。専用バス３１は、トレース用データやイン・サーキット・エミュレータ２からのブレーク要求信号等の送受信に供される。被デバッグ回路４には外部バス３４が接続される。デバッグ回路５は、ツールバス３５を介してイン・サーキット・エミュレータ２に接続される。
【００１１】
また、デバッグ用マイコン３は、被デバッグ回路４に外部から駆動電力を供給するための第１の電源端子３２、およびデバッグ回路５に外部から駆動電力を供給するための第２の電源端子３３を有する。これら第１の電源端子３２および第２の電源端子３３にはたとえば別々の電源が接続され、それぞれの電源から互いに独立して駆動電力が供給される。したがって、デバッグ回路５に駆動電力を供給した状態で、被デバッグ回路４への駆動電力の供給を停止させることができる。
【００１２】
図２は、被デバッグ回路４の概略構成を示すブロック図である。被デバッグ回路４は、ＣＰＵ４１とバス・コントローラ４２とが命令バス４３およびデータバス４４により相互に接続された構成となっている。データバス４４には内蔵メモリや内蔵周辺回路４５が接続されている。ＣＰＵ４１には専用バス３１が接続されている。バス・コントローラ４２には外部バス３４が接続される。
【００１３】
図３は、デバッグ回路５の概略構成を示すブロック図である。デバッグ回路５は、イン・サーキット・エミュレータ２に対するインターフェースモジュールとしての機能を有するデバッグ・サポート・ユニット５１、および専用バス３１を介してＣＰＵ４１から供給されたトレース情報等を書き込むためのトレースメモリ５２を有する。デバッグ・サポート・ユニット５１には専用バス３１およびツールバス３５が接続される。
【００１４】
デバッグ用マイコン３は、ユーザプログラムを実行し、そのトレース情報をイン・サーキット・エミュレータ２に対して出力するトレースモードを有する。トレースモードでは、被デバッグ回路４はユーザプログラムを実行し、そのときのバス動作情報などを専用バス３１を介してデバッグ回路５に供給する。デバッグ回路５は、被デバッグ回路４から供給されたバス動作情報などをトレースデータに加工する。そのトレースデータはツールバス３５を介してイン・サーキット・エミュレータ２に送られる。あるいは、トレースデータはデバッグ回路５内のトレースメモリ５２に記憶される。
【００１５】
また、デバッグ用マイコン３は、イン・サーキット・エミュレータ２がユーザプログラムに対してブレークポイントを設定したり、ユーザプログラムのトレースに必要な情報をデバッグ回路５に設定するためのエミュレータモードを有する。エミュレータモードでは、デバッグ回路５はイン・サーキット・エミュレータ２からエミュレータプログラムを読み込んできて、それに基づいて、専用バス３１を介して被デバッグ回路４内の各種レジスタやメモリ内容を読み出したり、初期化したりする。
【００１６】
上述した構成のデバッグ用マイコン３を用いてデバッグ作業をおこなう際の手順は以下のとおりである。まず、イン・サーキット・エミュレータ２を接続し、システム起動時には、被デバッグ回路４に駆動電力を供給する図示しない電源と、デバッグ回路５に駆動電力を供給する図示しない電源とを同時にオンにする。それによって、イン・サーキット・エミュレータ２によりデバッグ回路５内のデバッグ関係の設定がおこなわれる。ついで、デバッグ回路５に駆動電力を供給する電源をオンにしたまま、被デバッグ回路４に駆動電力を供給する電源をオフにする。ここまでで、電源投入時のデバッグの準備が完了する。この状態で、被デバッグ回路４に駆動電力を供給する電源を再度オンにする。それによって、被デバッグ回路４のＣＰＵ４１がユーザプログラムの初期化ルーチンなどを実行する。そして、デバッグ回路５のデバッグ・サポート・ユニット５１が予め設定しておいたデバッグ設定により、プログラム実行のトレースリストを取得したり、初期化ルーチンの内部に設定したブレークポイントでプログラムを中断させることが可能となる。
【００１７】
ところで、上述したように被デバッグ回路４とデバッグ回路５とを独立した電源で駆動する構成の代わりに、図４に示すデバッグ用マイコン６のように、被デバッグ回路４およびデバッグ回路５に共通の電源端子６１を設け、被デバッグ回路４とデバッグ回路５とを共通の電源により駆動する構成としてもよい。この場合には、デバッグ用マイコン６にスイッチ素子６２とスイッチ制御端子６３を新たに設ける。
【００１８】
図４に示す構成では、電源端子６１に供給された駆動電力はスイッチ素子６２を介して被デバッグ回路４に供給される。スイッチ素子６２は、スイッチ制御端子６３を介して外部から供給される制御信号に基づいてオン／オフする。つまり、このスイッチ素子６２の切り替え動作によって、被デバッグ回路４に対する駆動電力の供給と停止とが切り替えられる。一方、電源端子６１に供給された駆動電力はデバッグ回路５にそのまま供給される。したがって、このような構成でも、デバッグ回路５に駆動電力を供給した状態のまま、被デバッグ回路４への駆動電力の供給を停止させることができる。
【００１９】
また、図４に示す構成によれば、デバッグ用マイコン６の全電源端子をチップ内の全回路で共通に使用することができる。したがって、被デバッグ回路４とデバッグ回路５の回路規模の比率を考慮して、チップに設けられた全電源端子を被デバッグ回路用の電源端子とデバッグ回路用の電源端子とに割り振る必要がなくなる。
【００２０】
また、図５に示すデバッグ用マイコン７のように、被デバッグ回路４からデバッグ回路５に供給される信号をクリップするためのクリップ回路７１を備えた構成としてもよい。クリップ回路７１は、被デバッグ回路４への駆動電力の供給が停止しているときに、被デバッグ回路４の出力信号をクリップする。一方、クリップ回路７１は、被デバッグ回路４に駆動電力が供給されているときには、被デバッグ回路４の出力信号をそのままデバッグ回路５に供給する。クリップ回路７１のクリップ動作の切り替えは、たとえば図５に示す構成のように、デバッグ用マイコン７に設けられたクリップ制御端子７２を介して外部から供給されるクリップ制御信号に基づいておこなわれる。
【００２１】
クリップ制御信号としては、特に図示しないが、たとえばデバッグ用マイコン７の外部に、被デバッグ回路４に駆動電力を供給するための電源を監視する電源監視ＩＣを設置し、この電源監視ＩＣの異常電圧検出信号出力を用いることができる。あるいは、クリップ回路７１に外部からクリップ制御信号を供給する構成に代えて、図６に示すデバッグ用マイコン８のように、マイコン内部にて、被デバッグ回路４に供給される駆動電力をクリップ制御信号として用いるようにしてもよい。図６に示す構成によれば、外部に電源監視ＩＣを設置する必要がない。
【００２２】
図７は、クリップ回路７１の概略構成を示す回路図である。クリップ回路７１は、デバッグ回路５から被デバッグ回路４に供給される信号をバッファリングする出力バッファ７３を有する。また、クリップ回路７１は、被デバッグ回路４から出力されてデバッグ回路５で受信する信号をクリップするためのアンドゲートよりなるクリップセル７４を有する。出力バッファ７３およびクリップセル７４は、それぞれ専用バス３１に必要な本数分が設けられている。
【００２３】
図７において、符号３１１で示す信号は、デバッグ回路５と被デバッグ回路４を結ぶ専用バス３１のうち、デバッグ回路５が出力する各種信号３１０を出力バッファ７３でバッファリングした後の信号である。また、符号３１３で示す信号は、専用バス３１のうち、デバッグ回路５が受信する各種信号３１２をクリップセル７４に通した後の信号である。また、符号７５で示す信号はクリップ制御信号である。
【００２４】
つぎに、本発明にかかるデバッグ用マイコンをターゲットシステムに適用した構成について説明する。図８は、本発明にかかるデバッグ用マイコンをターゲットシステムに適用した構成の一例を示すブロック図である。図８において、符号９は、被デバッグ回路４およびデバッグ回路５にそれぞれ独立した駆動電力が供給されるデバッグ用マイコンであり、符号１００は、デバッグ用マイコン９によって制御されるターゲットシステムである。このターゲットシステム１００は、電源監視ＩＣ１０４を有するアダプターボード１０５を介して、デバッグ用マイコン９に接続される。ターゲットシステム１００は、外部バス３４に接続される外部メモリ等１０１を有する。ターゲットシステム１００は、電源１０２により供給される駆動電力によって動作する。また、この電源１０２の出力電力は、第１の電源端子３２を介してデバッグ用マイコン９内の被デバッグ回路４に供給される。すなわち、被デバッグ回路４は、ターゲットシステム１００の電源１０２から供給される駆動電力によって動作する。
【００２５】
また、電源１０２の出力電力は電源監視ＩＣ１０４により監視されている。電源監視ＩＣ１０４による監視結果は、クリップ制御端子７２を介して、クリップ制御信号７５としてクリップ回路９１に供給される。一方、デバッグ回路５は、第２の電源端子３３を介してイン・サーキット・エミュレータ２から供給される駆動電力により動作する。また、電源監視ＩＣ１０４の駆動電力もイン・サーキット・エミュレータ２により供給される。したがって、このシステムは、ターゲットシステム１００の電源１０２がオフであっても、デバッグ回路５のレジスタ設定等を保持したまま、再度電源１０２が投入されるまで待機することができる。
【００２６】
図８に示す例では、被デバッグ回路４とデバッグ回路５とを結ぶ専用バス３１は、被デバッグ回路４のリセット信号３１４、クロック信号３１５、被デバッグ回路４内のＣＰＵ動作をトレースするためのトレースデータバス３１６、エミュレータプログラムをＣＰＵ４１に実行させるときに使用する命令バス３１７、データバス３１８、および命令ブレークなどのブレーク要求信号３１９である。これら各種信号等はクリップ回路９１に接続される。
【００２７】
図９は、クリップ回路９１の構成を示す回路図である。クリップ回路９１は、図７に示すクリップ回路７１と同様に、デバッグ回路５の出力信号をバッファリングする出力バッファ９３、およびデバッグ回路５の入力信号をクリップするクリップセル９４を、それぞれ専用バス３１に必要な本数分有する。図９において、符号９１１で示す信号は、デバッグ回路５の各種出力信号９１０を出力バッファ９３でバッファリングした後の信号である。また、符号９１３で示す信号は、デバッグ回路５の各種受信信号９１２をクリップセル９４に通した後の信号、すなわちクリップ回路９１の出力信号である。
【００２８】
クリップセル９４は、デバッグ回路５の各種受信信号９１２とクリップ制御信号７５と被デバッグ回路４のリセット信号３１４を入力とする。つまり、クリップセル９４は、クリップ制御信号７５および被デバッグ回路４のリセット信号３１４の両方に基づいて、デバッグ回路５の各種受信信号９１２をそのまま通過させるか、あるいはローレベルにクリップするかの制御をおこなう。
【００２９】
つぎに、上述したデバッグ用マイコン９を含むターゲットシステム１００の電源投入時の動作について、デバッグ回路５内のデバッグ設定が全て完了した時点から説明する。まず、デバッグ設定が完了したら電源１０２をオフにする。このとき、電源監視ＩＣ１０４は、電源１０２がオフになりつつあることを検出してクリップ制御信号７５をアサートする。それによって、クリップ回路９１は、被デバッグ回路４から出力される信号レベルの確定しない信号がデバッグ回路５に入力されるのを防ぐ。この状態で、電源１０２をオンにし、被デバッグ回路４を含む全回路の動作を開始させる。図１０は、このときのシーケンスを示す図である。
【００３０】
図１０に示すように、電源１０２をオンにしたことによって、電源１０２の出力電圧が時定数により徐々に高くなる。その出力電圧が一定レベルに達すると、電源監視ＩＣ１０４が出力するクリップ制御信号７５がネゲートされる。しかし、この段階では被デバッグ回路４のクロック供給はまだ安定していないので、クロック供給が安定するまで外部からリセットを掛けておくか、内部にカウンタを備えていてクロックが安定するであろう時間までリセット状態を続けるようになっている。リセット状態中はリセット信号３１４によりクリップ回路９１は有効になったままであるが、リセット中に被デバッグ回路４内のＣＰＵ４１が動作を開始することはないので、何ら問題はない。
【００３１】
被デバッグ回路４のクロック供給が安定すると、被デバッグ回路４のリセットが解除される。それと同期してリセット信号３１４がネゲートされ、入力クリップ回路９１でのクリップが解除される。それによって、リセット解除で動作を開始した被デバッグ回路４内のＣＰＵ４１のトレースリストを取得することや、ＣＰＵ４１のリセットベクタフェッチや初期化ルーチンの先頭命令のフェッチに対してデバッグ回路５からブレークをかけることが可能となる。
【００３２】
図１１および図１２は、図８に示すシステム構成の全体を模式的に示す外観図である。図１１に示す構成は、トレース専用端子付きデバイスと外部トレースメモリを組み合わせて使用する例であり、図１１において符号１０５１はトレース専用端子であり、符号１０５２は外部トレースメモリである。また、図１１においてエバチップ、ユーザターゲットボードおよびＤＳＵインターフェースはそれぞれ図８のデバッグ用マイコン９、ターゲットシステム１００およびツールバス３５に相当する。外部トレースメモリ１０５２はトレース専用端子１０５１を介してエバチップ、すなわちデバッグ用マイコン９に接続される。
【００３３】
また、アダプターボード１０５は、アダプターボード１０５から伸びる外部バス３４を介してアダプターボード１０５に接続されたＭＰＵ部１０５３を、ユーザターゲットボード、すなわちターゲットシステム１００のＭＰＵ部ソケット１００１に差し込むことにより、ユーザターゲットボードに接続される。なお、ユーザターゲットボードには、ユーザターゲットボード上の外部バス３４を介して、たとえばＡＳＩＣ１００２やＲＯＭ１００３やＲＡＭ１００４などが実装されている。
【００３４】
図１２に示す構成は、トレース専用端子がないデバイスを使用する例であり、この例ではデバッグ用マイコン９内のトレースメモリを用いる。その他の構成は図１１に示す例と同じである。なお、図１１および図１２のいずれにおいても、アダプターボード１０５に実装されている電源監視ＩＣについては省略している。
【００３５】
上述した実施の形態によれば、デバッグ用マイコン３，６，７，８，９の被デバッグ回路４とデバッグ回路５とに駆動電力が独立して供給されるため、デバッグ回路５への駆動電力を供給した状態のまま、被デバッグ回路４への駆動電力の供給を停止することができる。つまり、被デバッグ回路４とデバッグ回路５の両方に駆動電力を供給してイン・サーキット・エミュレータ２によりトレース機能やブレーク機能等の各種デバッグ情報の設定をおこなった後、被デバッグ回路４への駆動電力のみを停止しても、各種デバッグ情報がデバッグ回路５に保持される。したがって、被デバッグ回路４への駆動電力の供給を再開すれば、デバッグ回路５に保持されているデバッグ情報に基づいて電源投入直後のデバッグをおこなうことができる。
【００３６】
また、上述した実施の形態によれば、各種デバッグ情報の設定をおこなった後、被デバッグ回路４への駆動電力の供給が停止しているときに、被デバッグ回路４からデバッグ回路５に供給される信号がクリップ回路７１，９１によりクリップされるので、電位レベルが不定となった信号が、被デバッグ回路４からデバッグ回路５に供給されるのを防ぐことができる。したがって、被デバッグ回路４への駆動電力の供給が停止しているときに、被デバッグ回路４から出力される電位レベルが不定の信号により、デバッグ回路５が誤動作するのを防ぐことができる。
【００３７】
以上において本発明は、上述した実施の形態に限らず、種々の変更可能である。
【００３８】
【発明の効果】
本発明によれば、デバッグ用マイコンの被デバッグ回路とデバッグ回路とに駆動電力が独立して供給されるため、デバッグ回路で各種デバッグ情報を保持したまま、被デバッグ回路への駆動電力の供給を一旦停止した後、被デバッグ回路への駆動電力の供給を再開すれば、デバッグ回路に保持されているデバッグ情報に基づいて電源投入直後のデバッグをおこなうことができる。
【００３９】
また、本発明によれば、被デバッグ回路への駆動電力の供給が停止しているときに、被デバッグ回路からデバッグ回路に供給される電位レベルが不定の信号がクリップ回路によりクリップされるので、被デバッグ回路への駆動電力の供給が停止しているときに、デバッグ回路が誤動作するのを防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかるデバッグ用マイコンの概略構成を示すブロック図である。
【図２】本発明にかかるデバッグ用マイコンの被デバッグ回路の概略構成を示すブロック図である。
【図３】本発明にかかるデバッグ用マイコンのデバッグ回路の概略構成を示すブロック図である。
【図４】本発明にかかるデバッグ用マイコンの他の例を示すブロック図である。
【図５】本発明にかかるデバッグ用マイコンの他の例を示すブロック図である。
【図６】本発明にかかるデバッグ用マイコンの他の例を示すブロック図である。
【図７】本発明にかかるデバッグ用マイコンのクリップ回路の概略構成を示す回路図である。
【図８】本発明にかかるデバッグ用マイコンをターゲットシステムに適用した構成の一例を示すブロック図である。
【図９】図８に示すデバッグ用マイコンのクリップ回路の構成を示す回路図である。
【図１０】図８に示すターゲットシステムの電源投入時の動作のシーケンスを示す図である。
【図１１】図８に示すシステム構成の全体を模式的に示す外観図である。
【図１２】図８に示すシステム構成の全体を模式的に示す外観図である。
【図１３】従来のデバッグ用マイコンの概略構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
２    イン・サーキット・エミュレータ
３，６〜９    デバッグ用マイコン（デバッグ支援機能付きマイコン）
４    被デバッグ回路
５    デバッグ回路
３２    第１の電源端子
３３    第２の電源端子
４１    ＣＰＵ
５１    デバッグ・サポート・ユニット（インターフェースモジュール）
６１    電源端子
６２    スイッチ素子
６３    スイッチ制御端子
７１，９１    クリップ回路
７２    クリップ制御端子
７５    クリップ制御信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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