(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスプレイを駆動する駆動デバイスであって、
複数の出力ステージと、
前記複数の出力ステージに連結される複数のリードと、
複数のマルチプレックスデバイスであって、各マルチプレックスデバイスは前記複数の出力ステージの各々に備えられ、且つ、前記複数のリードの選択された１本を前記各々の出力ステージに接続させる複数の入力を有する、マルチプレックスデバイスと、
第１のスイッチング装置を介して前記複数のリードに連結された電圧発生器であって、テストモードにおいて、前記第１のスイッチング装置により前記電圧発生器から前記複数のリードへの供給電圧が中断される電圧発生器と、
前記複数のマルチプレックスデバイスの一つの出力と基準電位との間に連結され、前記テストモードにおいて、前記複数のリードのうちの第１のリードを前記基準電位に接続して、前記複数のリードのうちの第２のリードが連結される出力ステージを介して、前記第１のリードと前記第２のリードとの間の短絡を検出できるようにする第２のスイッチング装置とを備えた駆動デバイス。
【請求項２】
前記複数の出力ステージの各々は増幅器ユニットを備えることを特徴とする請求項１に記載の駆動デバイス。
【請求項３】
前記複数の出力ステージの各々が前記第２のスイッチング装置を備えることを特徴とする請求項２に記載の駆動デバイス。
【請求項４】
前記テストモードにおいて、前記電圧発生器は前記複数のリードに共通の電圧を供給することを特徴とする請求項１に記載の駆動デバイス。
【請求項５】
前記複数の出力ステージは、前記ディスプレイの複数の端子へ接続される、請求項１に記載の駆動デバイスを含むディスプレイ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は、ディスプレイを駆動する駆動デバイス及び駆動デバイスを含むディスプレイ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
今後、ディスプレイ技術は、情報と通信の分野において益々重要な役割を果たすであろう。人間とデジタルワールドとの間にインターフェイスであるディスプレイ装置は、現在の情報システムを受け入れるためにきわめて重要なものである。例えば、ノートブック、電話、デジタルカメラ及び携帯情報端末（ＰＤＡ）のような顕著にポータブルな装置は、フラットディスプレイを使用しなければ実現されることができない。
【０００３】
アクティブマトリックスディスプレイは、このようなディスプレイ装置が、例えばマウスのカーソルのディスプレイにおける高速な画像変化を可能とするために、特に重要なものである。このアクティブマトリックスＬＣＤ技術によれば、画像点又は画素は、アクティブに駆動される。最も高頻度に使用されるバージョンは、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ−ＬＣＤ）を利用する。シリコンで製造され且つ各画素中に直接的に集積されたトランジスタは、画素中に画像信号の記憶を可能とする。情報のディスプレイ中に異なるグレー値やカラーを実現するために、大きな電圧範囲において、夫々の異なる電圧でディスプレイ又はディスプレイ装置を駆動することが必要である。ドライバ回路は、このようなディスプレイ装置やディスプレイの駆動のために使用される。
【０００４】
アクティブマトリックスディスプレイ（ＴＦＴディスプレイ）は、一般に、延出し且つドライバ回路が接続される接続部を有するガラスからなる。このようなドライバ回路は、画像信号をディスプレイに表示されるために変換する。画像情報は、デジタル信号の形態でメモリに記憶される。このようなデジタル信号は、アナログ信号へ変換されることが必要であり、それによって対応する光強度がアナログ電圧によって表示される。この変換に必要なデジタル−アナログコンバータは、２０ｍＶ未満で１０ｍＶを越える値の範囲の電圧にデジタル信号を変換しなければならない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ディスプレイユニットは、アクティブマトリックスＴＦＴディスプレイとドライバ回路よりなるモジュールとして市販されている。この場合、ドライバＩＣの品質は、非常に重要である。このようなドライバ回路は、ディスプレイ装置の数百端子を駆動しなければならないので、このようなドライバ回路のテストは非常に複雑である。これらのドライバ回路用のテスト動作は、ディスプレイ装置の品質へ、それゆえに、最終製品の価格へ決定的な影響を及ぼす。従って、テスト時間はできるだけ短くするべきである。テスト動作用の込み入った精度測定装置の使用は、最終製品の価格へ悪影響を及ぼす。ディスプレイモジュールの高歩留まり、従って最終製品の低コストは、個々のドライバ回路の全てが非常に高い品質である場合のみ、達成され得る。
【０００６】
ドライバ回路は、多数のデジタル−アナログコンバータを備えるので、このような装置の品質は、デジタル−アナログコンバータが厳格にテストされる場合のみ保障され得る。デジタル画像信号のデジタル−アナログ変換のために、デジタル論理用の標準のテスト方法は、このドライバ回路に対して使用されることができない。広範囲に亘る非常に多くの異なる電圧値を保障し且つテストすることが必要があるので、ドライバ回路のテストは、非常に込み入ったものとなる。
【０００７】
ドライバ回路は、一般に、複数のアナログ電圧が供給され、そこで選択ユニットがデジタル画像信号に応じて電圧を選択し、引き続いて、その選択された電圧がドライバ回路の対応する出力へ印加されて増幅される。例えば、ドライバ回路は、アナログ電圧を供給する６４本のリードと４００個の出力ステージを備え、従って、少なくとも２５，６００個の別々のアナログ電圧値がテストされなければならない。
【０００８】
個々のアナログ電圧値の全てのテストは、各個別の値がプログラムされ且つ直接にテストされなければならなために非常に時間がかかる。全ての選択可能アナログ電圧は、ドライバ回路の各出力でテストされなければならない。このようなドライバ回路の多数の出力では、４００個もの多くの、可能であればそれ以上のアナログ出力の同時並列測定が必要である。全体の電圧範囲の０．２％の精度での多数のアナログ出力の測定では、非常に高価なテスト装置の使用が必要である。このような機能テストは、非常に高いテスト費用と長い時間が必要となってくる。上述の機能テストは、ウェーハーの製造で発生し、且つ検出できない或いは確実には検出できない故障を含み得る。例えば、アナログ電圧を供給するリードと出力リード間の漏れ電流は、Ｍリードに対する一つのデジタル−アナログコンバータが出力リード上の電圧から非常に顕著に逸れる電圧を供給する場合にのみ、検出され得る。知られているように、所謂機能テストは、欠陥検出指向テストを行なうテスト方法とテストデバイスほど決定的なものではない。
【０００９】
従って、本発明の目的は、最短可能時間内で且つ非常に広範な故障の保障範囲でテストされ得るドライバ回路を提供することである。
【００１０】
この目的は、ディスプレイを駆動する駆動デバイスであって、複数の出力ステージと、前記複数の出力ステージに連結される複数のリードと、複数のマルチプレックスデバイスであって、各マルチプレックスデバイスは前記複数の出力ステージの各々に備えられ、且つ、前記複数のリードの選択された１本を前記各々の出力ステージに接続させる複数の入力を有する、マルチプレックスデバイスと、第１のスイッチング装置を介して前記複数のリードに連結された電圧発生器であって、テストモードにおいて、前記第１のスイッチング装置により前記電圧発生器から前記複数のリードへの供給電圧が中断される電圧発生器と、前記複数のマルチプレックスデバイスの一つの出力と基準電位との間に連結され、前記テストモードにおいて、前記複数のリードのうちの第１のリードを前記基準電位に接続して、前記複数のリードのうちの第２のリードが連結される出力ステージを介して、前記第１のリードと前記第２のリードとの間の短絡を検出できるようにする第２のスイッチング装置とを備えた駆動デバイスによって達成される。
【００１１】
本発明に従うデバイスの基本アイデアは、欠陥検出指向テスト及びこの目的に適する方法を提供することである。駆動デバイス即ちドライバ回路へ追加される追加のテストハードウエアの使用によって、多くの個別のアナログ測定の必要性が除去されるが、故障エラー保障範囲が等しく高いままか或いはそれにも関わらず一層向上される。
【００１２】
この結果、第１のスイッチング装置がＭ本のリード中に挿入される。この第１のスイッチング装置は、電圧供給を中断し、それによって、すでに存在している電圧が最早駆動されず、且つ漏れ電流や寄生容量が放電を起こすまで保持される。Ｍ本のリード上のアナログ電圧は、マルチプレックスデバイスを介して選択することができる。これらのマルチプレックスデバイスは、デジタル信号によって駆動される。これらのデジタル信号は、表示されるべき画像情報を含み、Ｍ本のリード上の選択された電圧が出力Ｎに印加されるように、理想的なスイッチとして働くマルチプレックスデバイスに対して影響を及ぼす。
【００１３】
本発明に従って、第２のスイッチング装置が提供され、それによってマルチプレックスデバイスによって選択される電圧が選択可能なテスト基準電位へスイッチングされ得る。この選択可能又は定義可能なテスト基準電位は、接地電位であることが好ましい。この第２のスイッチング装置は、マルチプレックスデバイスによってスイッチングされる電圧を選択可能なテスト基準電位へ接続する。この第２のスイッチング装置は、第１のスイッチング装置の開放後に最早駆動されないＭ本のリードがマルチプレックスデバイスの制御によって第２のスイッチング装置へスイッチングされることを可能とし、次にこの第２のスイッチング装置は、このように選択されたリードＭを固定電位へスイッチングする。通常の場合、この電位は、選択されたリード上で調節され、そして単純且つ容易にモニターされ得る。この固定電位が選択されたリード上に存在しない場合、故障のドライバ回路が含まれていると仮定すべきである。これによって、ドライバ回路の機能性の簡単なテストが可能となる。異なるＭ本のリード間の漏れ電流は、簡単に検出される。理由は、特別のリードＭＩが選択され、第２のスイッチング装置へスイッチングされた時、存在する漏れ電流が第２のリードを介して消散されることができ、それによって必要なレベルは、故障状態において出力Ｎ又は選択されたリードＭＩ及びそれへ接続される更なるリードをモニターしている間には検出されない。
【００１４】
本発明に従うドライバ回路の好適な実施の形態において、Ｍ本のリードは、ＡＮ個の出力ステージへ連結される。出力ステージＡＮは、マルチプレックスデバイスのみならず増幅器ユニットを含む。この増幅器は、可変ゲインを有すると共にその入力側で高抵抗に構成され、それによって、対応する出力が対応する値で駆動され得る。第２のスイッチング装置は、少なくとも一つの出力ステージに配置されることが好ましい。従って、このマルチプレックスデバイスが効果的に使用されることが達成される。
【００１５】
本発明の好適な実施の形態におけるスイッチング装置は、Ｍ本のリードの個別の中断が可能であるように構成される。このように、更なる自由度がそのテストのために生成される。
【００１６】
本発明のドライバ回路によって、Ｍ本のリードの個別のリード間の漏れ電流の検出が可能となる。例えば、リードＭ１が選択されるべきにも関わらず、Ｍ２が選択されたとしても、マルチプレックスデバイスの誤まった選択が検出され得る。
【００１７】
マルチプレックスデバイスにおけるスイッチの過剰に高い順方向抵抗の場合、リードＭの電圧が遅延を介して又はその後にのみスイッチングされないことが検出することができる。更に、Ｍリードと出力Ｎとの間の漏れ電流を、検出することが可能である。次に、対応するマルチプレックスデバイスが対応するＭリードを選択した時のみに漏れ電流が発生する限りにおいて、テストが困難であることが判明する。このテストの保障範囲は、この追加のテストによって増加され得る。
【００１８】
本発明に従って、Ｍ本のリードは、例えば、デジタル信号１を表す電圧で駆動される。Ｍ本のリードは、トリステート（ｔｒｉｓｔａｔｅ）条件に設定されるように第１のスイッチング装置によって供給電圧から分離される。
【００１９】
出力ステージの内の少なくとも幾つかへの第２のスイッチング装置の挿入の結果として、全てのＭ本のリードは、連続的にテスト基準電位へスイッチングされ得る。第１のスイッチング装置の開路の後に、Ｍ本のリードは、内部寄生容量が放電を開始するまで、所与の時間の間それらの電圧値を保持する。その結果、この期間の間、リードＭ上の電圧と同じ電圧値を出力Ｎ上で測定することができる。続いて全ての第２のスイッチング装置が閉じ、Ｍ本のリードの内の少なくとも幾つかはテスト基準電位へスイッチングされ、そしてＭ本のリードの内の何れがゼロへスイッチングされたか否かについてＭ本のリードをチェックできる。テスト基準電位へスイッチングされるリードと非駆動リードＭとの間に漏れ電流が存在する場合、非駆動リードＭがテスト基準電位へスイッチングされる。
【００２０】
このようなドライバ回路のテストのための好適な構成では、Ｍ本のリードは、共通で等しい電圧で駆動されるように、テストモードにおいて全て互いに接続される。これらのリード上での電圧の発生後に、第１のスイッチング装置が開路され、全てのリードが同じ電圧を供給する。第２のスイッチング装置が設けられていない出力ステージにおいて、Ｍ本のリード上で調節される電圧を、出力Ｎ上でテストすることができる。第２のスイッチング装置が設けられ且つ第２のスイッチング装置が閉路される出力ステージの出力Ｎにおいて、出力がテスト基準電位へ接続されるか否かについてテストされ得る。同時に、第２のスイッチング装置を備えていない他の出力ステージは、これらの出力ステージの出力がテスト基準電位へ接続されているか否かについてテストされ得る。この事から、対応して選択されたリードＭ同士間が短絡していることが推定される。
【００２１】
本発明に従う構成の利点は、ディスプレイ装置用のドライバ回路を完全にデジタルでテストすることができ、それによってテスト時間が大きく減少する事である。同時に、アナログ測定に比較して、より一層簡単なテストと測定装置がデジタルテストにとって必要である。デジタルテスト信号のために、多くのテスト方法が非常に広範な故障保障範囲が達成されるように実現され得る。テスト方法のデジタルの特性のために、全体のテスト構成が電磁波による妨害に対して非常に頑強である。
【００２２】
また、本発明の目的は、ドライバ回路のＮ本の出力がディスプレイ装置のＮ本の端子へ接続されるドライバ回路を含むディスプレイ装置によって達成される。
【００２３】
更に、本発明の目的は、ドライバ回路のテスト方法によって達成され、この方法では、ドライバ回路は、Ｍ本のリードにおいて少なくとも一つの電圧が供給され、ここで、Ｍ本のリードは、第１のスイッチング装置に連結されると共にＭ本のリードへの電圧の供給は、第１のスイッチング装置によって中断され、Ｍ本のリードの内の一つがＭ本のリードへ連結される少なくとも１つのマルチプレックスデバイスによって選択され、且つ選択されたリード上の電圧は第２のスイッチング装置によってテスト基準電位へスイッチングされる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
【００２５】
図１は、電圧バスであると理解され得るＭ本のリードを示す。Ｍ本のリードは、通常、６ビットＤ／Ａコンバータの場合、６４本の個別のリードを有する。Ｍ本のリードは、第１のスイッチング装置２に連結される。第１のスイッチング装置２によって、Ｍ本のリードへの電圧供給の中断が可能となる。Ｎ個の出力ステージＡＮは、前記Ｍ本のリードへ接続され、各出力ステージＡＮは、Ｍ本のリードの少なくとも一部へ接続される。しかしながら、一般的に言えば、Ｍ本のリードの全てが各出力ステージＡＮへ接続される。その理由は、ディスプレイ装置の各端子は、対応するディスプレイエリアで画像情報を再生するように各電圧が供給されなければならないからである。夫々のマルチプレックスデバイス４が出力ステージＡＮに設けられる。マルチプレックスデバイス４は、Ｍ本のリードを介して供給される電圧の内の一つを選択するように配置される。マルチプレックスデバイス４は、選択された電圧を出力Ｎへ導く増幅器５へ連結される。第２のスイッチング装置３が少なくとも一つの出力ステージＡＮに設けられる。第２のスイッチング装置３は、出力ステージＡＮへ印加される電位をテスト基準電位へスイッチングするように配置される。また、第２のスイッチング装置３を、全ての出力ステージＡＮに設けてもよい。また、出力ステージＡＮにおける第２のスイッチング装置３を異なるテスト基準電位へスイッチするようにしてもよい。また、第２のスイッチング装置を、出力ステージの外側に設けてもよい。マルチプレックスデバイス４を、出力ステージの外側に配置してもよい。
【００２６】
図２は、ここで記述された回路構成のより詳細な図である。リードＭ１乃至Ｍｉは、電圧発生器７によって一つ又はそれ以上の電圧が供給される。リードＭ１乃至Ｍｉは、全ての出力ステージＡ１乃至ＡＮへ導通される。出力ステージにおいて、リードＭ１乃至Ｍｉは、マルチプレックスデバイス４へ接続される。マルチプレックスデバイス４は、デジタル信号Ｅ１乃至ＥＮに応じた電圧を出力ステージＡＮへ伝える。第１のスイッチング装置２は、別々にリードＭ１乃至Ｍｉを切断できる。また、リードＭ１乃至Ｍｉを相互接続することが可能であり、従って、電圧を全てのリードＭ１乃至Ｍｉへ印加可能とする。
【００２７】
図３は、一般的に、延出される端子１３を有するディスプレイガラス１０よりなるアクティブマトリックスＴＦＴディスプレイを示す。ソースドライバ１１とゲートドライバ１２が端子１３を駆動する。ソースドライバ１１は、一般的に数百の出力を有し、これによってアナログ電圧値がディスプレイ１０の端子１３上で調節される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のドライバ回路の回路図である。
【図２】本発明のドライバ回路の回路構成の詳細図である。
【図３】ディスプレイ装置を駆動するためのデバイスの図である。
【図１】
0004290370.tif 000002
【図２】
0004290370.tif 000003
【図３】
0004290370.tif 000004