(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
単位液晶表示パネルの長辺に対応して単位液晶表示パネルの研磨された縁に沿って不良を検査し、長辺間距離を測定する第１、第２検査バーと、前記単位液晶表示パネルの短辺に対応して単位液晶表示パネルの研磨された縁に沿って不良を検査し、短辺間距離を測定する第３、第４検査バーとを包含して構成され、ここで、前記第１乃至第４検査バーが同時に駆動される際に、第１、第２検査バーと第３、第４検査バーとが衝突することを防止するように、前記第４検査バーが単位液晶表示パネルの大きさが最も小さいモデルの短辺に対応する長さを有することを特徴とする液晶表示パネルの検査装置。
【請求項２】
前記第１乃至第４検査バーには、ゲージが内在していることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
【請求項３】
前記第１、第２検査バーは、単位液晶表示パネルの大きさが最も大きいモデルの長辺に対応する長さを有し、前記第３検査バーは、単位液晶表示パネルの大きさが最も大きいモデルの短辺に対応する長さを有することを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
【請求項４】
前記第１、第３検査バーは、階段状の段差を有することを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
【請求項５】
前記第１、第３検査バーの階段状の段差は、単位液晶表示パネルの長辺及び短辺の少なくとも一つと噛み合うことを特徴とする請求項４記載の液晶表示パネルの検査装置。
【請求項６】
前記単位液晶表示パネルは、薄膜トランジスタアレイ基板上にカラーフィルター基板が積層されたことを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
【請求項７】
単位液晶表示パネルを第１乃至第４検査バーが備えられた第１テーブルに装着する段階と、
前記第１、第２検査バーを駆動して単位液晶表示パネルの長辺に接触させ、前記単位液晶表示パネルの長辺間距離を測定し、前記第３、第４検査バーを駆動して単位液晶表示パネルの短辺に接触させ、前記単位液晶表示パネルの短辺間距離を測定する検査段階とを行い、  ここで、前記第１乃至第４検査バーは単位液晶表示パネルの研磨された縁に沿って不良を検査するために駆動し、および前記第１乃至第４検査バーが同時に駆動される際に、第１、第２検査バーと第３、第４検査バーとが衝突することを防止するように、前記第４検査バーが単位液晶表示パネルの大きさが最も小さいモデルの短辺に対応する長さを有することを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
【請求項８】
前記単位液晶表示パネルを装着する前に複数の液晶表示パネルを各単位液晶表示パネルに切断する段階が追加して包含されることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項９】
前記第１、第３検査バーは、階段状の段差を有することを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項１０】
前記第１、第３検査バーの階段状の段差は、単位液晶表示パネルの長辺及び短辺の少なくとも一つと噛み合うことを特徴とする請求項９記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項１１】
前記単位液晶表示パネルの長辺間距離及び短辺間距離を測定する段階は、ゲージを使用して遂行されることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項１２】
前記単位液晶表示パネルには、薄膜トランジスタアレイ基板上にカラーフィルター基板が積層されていることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの検査装置及びその方法に係るもので、詳しくは、大面積ガラス基板上に製作された液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、単位液晶表示パネルの大きさ及び切断面の状態を検査するための液晶表示パネルの検査装置及び検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、液晶表示装置は、マトリックス（ｍａｔｒｉｘ）状に配列された各液晶セルに画像情報に係るデータ信号を個別的に供給し、それら液晶セルの液晶分子を通して光透過率を調節することで、所望の画像を表示し得る表示装置である。
【０００３】
前記液晶表示装置は、大面積の母基板に各薄膜トランジスタアレイ基板を形成し、別途の母基板に各カラーフィルター基板を形成した後、二つの母基板を合着することで、複数の液晶表示パネルを同時に形成して収率の向上を図っているため、単位液晶表示パネルに切断する工程が要求される。
【０００４】
通常、前記単位パネルの切断は、ガラスに比べて硬度の高いホイールにより母基板の表面に切断予定線を形成し、該切断予定線に沿ってクラックを伝播する工程により実施される。以下、従来の単位パネルの切断工程について、図面を用いて説明する。
【０００５】
図５は、液晶表示装置の薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルター基板とが対向して合着された単位液晶表示パネルの概略的な平面構造を示した例示図である。
【０００６】
液晶パネル１０は、図５に示したように、各液晶セルがマトリックス状に配列された画像表示部１３と、該画像表示部１３の各ゲート配線と接続されるゲートパッド部１４及び各データ配線と接続されるデータパッド部１５と、を包含して構成されていた。この時、ゲートパッド部１４及びデータパッド部１５は、カラーフィルター基板２と重畳されない薄膜トランジスタアレイ基板１の縁領域に形成され、前記ゲートパッド部１４は、ゲートドライバー集積回路から供給される走査信号を画像表示部１３の各ゲート配線に供給し、前記データパッド部１５は、データドライバー集積回路から供給される画像情報を画像表示部１３の各データ配線に供給する。
【０００７】
この時、図面上には詳細に図示していないが、画像表示部１３の薄膜トランジスタアレイ基板１には、画像情報が印加される各データ配線と走査信号が印加される各ゲート配線とが相互垂直交差して配置され、該交差部に液晶セルをスイッチングするための薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタに接続されて液晶セルを駆動する画素電極と、それら電極及び薄膜トランジスタを保護するために全面に形成された保護膜と、を包含して構成される。
【０００８】
前記画像表示部１３のカラーフィルター基板２には、ブラックマトリックスによりセル領域別に分離されて塗布された各カラーフィルターと、前記薄膜トランジスタアレイ基板１に形成された画素電極の相対電極の共通透明電極が備えられる。
【０００９】
上記のように構成された薄膜トランジスタアレイ基板１とカラーフィルター基板２とは、対向して所定の間隔を空けるようにセル−ギャップ（ｃｅｌｌ−ｇａｐ）が備えられ、画像表示部１３の外郭に形成されたシーリング部（図示されず）により合着され、薄膜トランジスタアレイ基板１とカラーフィルター基板２との間の空間に液晶層（図示されず）が形成される。
【００１０】
図６は、上記のような各薄膜トランジスタアレイ基板１が形成された第１母基板と各カラーフィルター基板２が形成された第２母基板とが合着されて複数の液晶表示パネルを成す断面構造を示した例示図である。
【００１１】
図６に示したように、各単位液晶表示パネルは、各薄膜トランジスタアレイ基板１の一方が各カラーフィルター基板２に比べて突出されるように形成される。これは、前記図５を用いて説明したように、各薄膜トランジスタアレイ基板１の各カラーフィルター基板２と重畳されない縁にゲートパッド部１４及びデータパッド部１５が形成されるからである。
【００１２】
従って、第２母基板３０上に形成された各カラーフィルター基板２は、第１母基板２０上に形成された各薄膜トランジスタアレイ基板１が突出される面積に相当する第１ダミー領域（ｄｕｍｍｙ  ｒｅｇｉｏｎ）３１だけ間隔を置いて形成される。
【００１３】
各単位液晶表示パネルは、第１、第２母基板２０、３０を最大限利用し得るように適切に配置され、モデル（ｍｏｄｅｌ）によって異なるが、一般に各単位液晶表示パネルは、第２ダミー領域３２だけ間隔を置いて形成される。
【００１４】
前記各薄膜トランジスタアレイ基板１が形成された第１母基板２０と各カラーフィルター基板２が形成された第２母基板３０とが合着された後に、液晶表示パネルを個別的に切断するが、この時、第２母基板３０の各カラーフィルター基板２が離隔された領域に形成された第１ダミー領域３１と単位液晶表示パネルを離隔させる第２ダミー領域３２とが同時に除去される。
【００１５】
従来の単位液晶表示パネルの検査装置を示した例示図である図７Ａに示したように、単位液晶表示パネル１００の長辺（即ち、データパッド部が形成された辺及び該辺と対向する辺）に対応して切断された状態を検査する第１、第２検査バー１０１、１０２と、単位液晶表示パネル１００の短辺（即ち、ゲートパッド部が形成された辺及び該辺と対向する辺）に対応して切断された状態を検査する第３、第４検査バー１０３、１０４と、が備えられる。
【００１６】
前記第１、第２検査バー１０１、１０２は、タッチ（ｔｏｕｃｈ）方式により切断された単位液晶表示パネル１００の長辺に“ばり”または“ぎざぎざ”（ｂｕｒｒ）（以下、単に“ばり”と言う）が残留しているか否かを検査し、前記各第３、第４検査バー１０３、１０４は、第１、第２検査バー１０１、１０２と同様に切断された単位液晶表示パネル１００の短辺にばりが残留しているかを検査する。
【００１７】
前記単位液晶表示パネル１００は、モデルによって大きさが異なるため、前記各第１、第２検査バー１０１、１０２と第３、第４検査バー１０３、１０４を、単位液晶表示パネル１００の大きさが最も大きいモデルの長辺及び短辺と同様な長さに製作して単位液晶表示パネル１００の全てのモデルに対して長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査し得るようにする。
【００１８】
前記単位液晶表示パネル１００は、薄膜トランジスタアレイ基板１１０上にカラーフィルター基板１２０が合着され、薄膜トランジスタアレイ基板１１０の一方がカラーフィルター基板１２０に比べて突出されるように形成される。これは、前記図１を用いて説明したように、薄膜トランジスタアレイ基板１１０のカラーフィルター基板１２０と重畳されない縁にゲートパッド部及びデータパッド部が形成されるからである。
【００１９】
従って、前記単位液晶表示パネル１００の長辺及び短辺の一方は、階段状の段差を有するようになり、このような単位液晶表示パネル１００の長辺を検査するためには、データパッド部が形成された単位液晶表示パネル１００の長辺に対応する第１検査バー１０１を階段状の段差を有する単位液晶表示パネル１００の長辺と噛み合うように形成し、ゲートパッド部が形成された単位液晶表示パネル１００の短辺に対応する第３検査バー１０３を階段状の段差を有する単位液晶表示パネル１００の短辺と噛み合うように形成する。
【００２０】
前記第１乃至第４検査バー１０１〜１０４は、単位液晶パネル１００の長辺及び短辺をタッチする方式により単位液晶パネル１００の長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査する。
【００２１】
前記単位液晶パネル１００の長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査して良否判定をした後には、所定周期に良品判定を受けた単位液晶パネル１００を生産ラインで抽出して別途に備えられた測定装備により単位液晶パネル１００の切断された大きさが適切であるかを検査する。
【００２２】
即ち、図７Ｂに示したように、単位液晶パネル１００の長辺及び短辺のばりの残留を検査するテスト装備１３０と単位液晶パネル１００の切断された大きさを測定する測定装備１４０とが離隔されているため、単位液晶パネル１００のばり残留検査が完了した後、切断された大きさ検査のために単位液晶パネル１００を移送及び返送するべきである。
【００２３】
以下、上記のような検査装置を利用した単位液晶表示パネルの検査方法について、図８Ａ乃至Ｃの逐次的な例示図を用いて詳細に説明する。
【００２４】
図８Ａに示したように、第１乃至第４検査バー１０１〜１０４が備えられた第１テーブル１３０に単位液晶表示パネル１００を装着する。この時、単位液晶表示パネル１００は、薄膜トランジスタアレイ基板１１０上にカラーフィルター基板１２０が合着されてローディングされ、上記のように、ゲートパッド部及びデータパッド部により薄膜トランジスタアレイ基板１１０の一方がカラーフィルター基板１２０に比べて突出されるように形成され、第１検査バー１０１及び第３検査バー１０３は、データパッド部及びゲートパッド部によって階段状の段差を有する単位液晶表示パネル１００の長辺及び短辺に噛み合うように形成されている。
【００２５】
図８Ｂに示したように、前記第１、第２検査バー１０１、１０２がタッチ方式により単位液晶表示パネル１００の長辺にばりが残留しているか否かを検査する。
【００２６】
図８Ｃに示したように、前記第３、第４検査バー１０３、１０４がタッチ方式により単位液晶表示パネル１００の短辺にばりが残留しているか否かを検査する。
【００２７】
上記のように、第１乃至第４検査バー１０１〜１０４を利用してタッチ方式により単位液晶表示パネル１００の長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査して良否の判定を行った後、作業者は、所定周期に良品判定を受けた単位液晶表示パネル１００を生産ラインで抽出して別途に備えられた測定装備により単位液晶表示パネル１００の切断された大きさが適切であるかを検査する。
【００２８】
【発明が解決しようとする課題】
上記のような従来の液晶表示パネルの検査装置及び検査方法においては、単位液晶表示パネルの残留ばりの有無を検査した後、所定周期に良品の単位液晶表示パネルを生産ラインで抽出して別途の測定装備により切断された単位液晶表示パネルの大きさが適切であるかを検査する。
【００２９】
従って、切断された単位液晶表示パネルの大きさ検査のため、作業者が単位液晶表示パネルを生産ラインから測定装備に移送し、該測定装備で大きさ検査を遂行する作業が煩雑で不便であり、切断された単位液晶表示パネルの大きさ検査の所要時間が長引くことで、生産性が低下するという不都合な点があった。
また、高価な測定装備が別途に要求されることで、生産ラインの設備費用及び維持補修費用が増加して製品の原価が上昇するという不都合な点があった。
【００３０】
さらに、所定周期に単位液晶表示パネルをサンプリングして大きさ検査を遂行することで、検査の信頼性が低下し、不良と判定される場合に作業を中断し、以前にサンプリングされた単位液晶表示パネルから以後にサンプリングする単位液晶表示パネルまでの全ての単位液晶表示パネルを検査し、良否判定をすることで後続工程が進行された単位液晶表示パネルが廃棄されることとなり、材料浪費及び時間所要が極めて大きいという不都合な点があった。
【００３１】
本発明は、このような従来技術の問題点に鑑みてなされたものであって、大面積ガラス基板上に製作された液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、単位液晶表示パネルの大きさ及び切断面の状態検査を単純化し得る液晶表示パネルの検査装置及びその方法を提供することを目的とする。
【００３２】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の第１実施形態においては、単位液晶表示パネルの長辺に対応して単位液晶表示パネルの研磨された縁に沿って不良を検査し、長辺間距離を測定する第１、第２検査バーと、前記単位液晶表示パネルの短辺に対応して単位液晶表示パネルの研磨された縁に沿って不良を検査し、短辺間距離を測定する第３、第４検査バーと、を包含して構成されることを特徴とする。
【００３３】
また、本発明に係る液晶表示パネルの検査方法の第１実施形態においては、単位液晶表示パネルを第１乃至第４検査バーが備えられた第１テーブルに装着する装着段階と、前記第１、第２検査バーが駆動される間に単位液晶表示パネルの長辺間距離を測定し、前記第３、第４検査バーが駆動される間に単位液晶表示パネルの短辺間距離を測定する検査段階と、を行うことを特徴とする。
【００３４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の第１実施形態においては、図１に示したように、単位液晶表示パネル２００の長辺（即ち、データパッド部が形成された辺及び該辺と対向する辺）に対応して切断された状態を検査し、前記単位液晶表示パネル２００の長辺間距離Ｄ１を測定する第１、第２検査バー２０１、２０２と、前記単位液晶表示パネル２００の短辺（即ち、データパッド部が形成された辺及び該辺と対向する辺）に対応して切断された状態を検査し、前記単位液晶表示パネル２００の短辺間距離Ｄ２を測定する第３、第４検査バー２０３、２０４と、を包含して構成されている。
【００３５】
前記第１、第２検査バー２０１、２０２は、タッチ方式により単位液晶表示パネル２００の長辺にばりが残留しているか否かを検査し、前記単位液晶表示パネル２００の長辺間距離Ｄ１を測定し、前記第３、第４検査バー２０３、２０４は、第１、第２検査バー２０１、２０２と同様に切断された単位液晶表示パネル２００の短辺にばりが残留しているか否かを検査し、前記単位液晶表示パネル２００の短辺間距離Ｄ２を測定する。
【００３６】
一方、前記単位液晶表示パネル２００は、モデルによって大きさが異なるため、前記第１、第２検査バー２０１、２０２及び第３、第４検査バー２０３、２０４を単位液晶表示パネル２００の大きさが最も大きいモデルの長辺及び短辺に対応する長さに製作して単位液晶表示パネル２００の全てのモデルに対して適用し得るようにすることが好ましく、前記第１乃至第４検査バー２０１〜２０４は、内在するゲージ（ｇｏｕｇｅ）により単位液晶表示パネル２００の長辺間距離Ｄ１及び短辺間距離Ｄ２を測定し得るようにすることが好ましい。
【００３７】
前記単位液晶表示パネル２００は、薄膜トランジスタアレイ基板２１０上にカラーフィルター基板２２０が合着され、前記薄膜トランジスタアレイ基板２１０の一方がカラーフィルター基板２２０に比べて突出されるように形成される。これは、前記図５を用いて説明したように、薄膜トランジスタアレイ基板２１０のカラーフィルター基板２２０と重畳されない縁にゲートパッド部及びデータパッド部が形成されるからである。
【００３８】
従って、前記単位液晶表示パネル２００の長辺及び短辺の一方は、階段状の段差を有するようになり、このような単位液晶表示パネル２００の長辺を検査するためには、データパッド部が形成された単位液晶表示パネル２００の長辺に対応する第１検査バー２０１を階段状の段差を有する単位液晶表示パネル２００の長辺と噛み合うように形成し、ゲートパッド部が形成された単位液晶表示パネル２００の短辺に対応する第３検査バー２０３を階段状の段差を有する単位液晶表示パネル２００の短辺と噛み合うように形成される。
【００３９】
以下、上記のような検査装置を利用した単位液晶表示パネルの検査方法について、図２Ａ乃至Ｃの逐次的な例示図を用いて詳細に説明する。
【００４０】
先ず、図２Ａに示したように、第１乃至第４検査バー２０１〜２０４が備えられた第１テーブル２３０に単位液晶表示パネル２００を装着する。この時、前記単位液晶表示パネル２００は、薄膜トランジスタアレイ基板２１０上にカラーフィルター基板２２０が合着されてローディングされ、上記のように、ゲートパッド部及びデータパッド部により薄膜トランジスタアレイ基板２１０の一方がカラーフィルター基板２２０に比べて突出されるように形成されていて、第１検査バー２０１及び第３検査バー２０３は、データパッド部及びゲートパッドによって階段状の段差を有する単位液晶表示パネル２００の長辺及び短辺に噛み合うように形成されている。
【００４１】
又、図２Ｂに示したように、前記第１、第２検査バー２０１、２０２がタッチ方式により単位液晶表示パネル２００の長辺にばりが残留しているかを検査し、単位液晶表示パネル２００の長辺間距離Ｄ１を測定する。
又、図２Ｃに示したように、前記第３、第４検査バー２０３、２０４がタッチ方式により単位液晶表示パネル２００の短辺にばりが残留しているか否かを検査し、単位液晶表示パネル２００の短辺間距離Ｄ２を測定する。
【００４２】
上記のように、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の第１実施形態は、第１乃至第４検査バー２０１〜２０４を利用してタッチ方式により単位液晶表示パネル２００の長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査し、単位液晶表示パネル２００の長辺間距離Ｄ１及び短辺間距離Ｄ２を測定することで、従来のように別途の測定装備無しに、全ての単位液晶表示パネル２００の大きさを測定して良否判定を行うことができる。
【００４３】
又、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の他の実施形態においては、図３に図示したように、単位液晶表示パネル３００の長辺（即ち、データパッド部が形成された辺及び該辺と対向する辺）に対応して切断された状態を検査し、前記単位液晶表示パネル３００の長辺間距離Ｄ１を測定する第１、第２検査バー３０１、３０２と、前記単位液晶表示パネル３００の短辺（即ち、データパッド部が形成された辺及び該辺と対向する辺）に対応して切断された状態を検査し、前記単位液晶表示パネル３００の短辺間距離Ｄ２を測定する第３、第４検査バー３０３、３０４と、を包含して構成されている。この時、第４検査バー３０４は、本発明の第１実施形態とは異なって、単位液晶表示パネル３００の大きさが最も小さいモデルの短辺に対応する長さに製作されている。
一方、前記第１乃至第４検査バー３０１〜３０４は、内在されたゲージにより単位液晶表示パネル３００の長辺間距離Ｄ１及び短辺間距離Ｄ２を測定する。
【００４４】
以下、上記のように構成される本発明に係る検査装置の他の実施形態を利用した単位液晶表示パネルの検査方法に対し、図４Ａ及びＢの例示図を用いて詳細に説明する。
【００４５】
先ず、図４Ａに示したように、第１乃至第４検査バー３０１〜３０４が備えられた第１テーブル３３０に単位液晶表示パネル３００を装着する。この時、単位液晶表示パネル３００は、薄膜トランジスタアレイ基板３１０上にカラーフィルター基板３２０が合着されてローディングされ、上記のように、ゲートパッド部及びデータパッド部により薄膜トランジスタアレイ基板３１０の一方がカラーフィルター基板３２０に比べて突出されるように形成されていて、第１検査バー３０１及び第３検査バー３０３は、データパッド部及びゲートパッドによって階段状の段差を有する単位液晶表示パネル３００の長辺及び短辺に噛み合うように形成されている。
【００４６】
又、図４Ｂに示したように、前記第１乃至第４検査バー３０１〜３０４がタッチ方式により単位液晶表示パネル３００の長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査し、単位液晶表示パネル３００の長辺間距離Ｄ１及び短辺間距離Ｄ２を測定する。
【００４７】
上記のように、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の他の実施形態は、前記本発明の第１実施形態と異なって、第１乃至第４検査バー３０１〜３０４が同時に駆動されて単位液晶表示パネル３００の長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査し、単位液晶表示パネル３００の長辺間距離Ｄ１及び短辺間距離Ｄ２を測定することで、本発明の第１実施形態と同様に、第１乃至第４検査バー３０１〜３０４を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も大きいモデルの長辺及び短辺に対応する長さに製作する場合には、第１、第２検査バー３０１、３０２と第３、第４検査バー３０３、３０４との衝突を避けることができない。
【００４８】
従って、本発明の他の実施形態においては、第４検査バー３０４を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も小さいモデルの短辺に対応する長さに製作することで、第１乃至第４検査バー３０１〜３０４が同時に駆動されて第１、第２検査バー３０１、３０２と第３、第４検査バー３０３、３０４とが衝突することを防止する。
【００４９】
前記図４Ａ及び図４Ｂと異なって、前記単位液晶表示パネル３００の短辺を検査する第３検査バー３０３を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も小さいモデルの短辺に対応する長さに製作し、第１検査バー３０１、第２検査バー３０２及び第４検査バー３０４を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も大きいモデルの長辺及び短辺に対応する長さに製作することができる。
【００５０】
図４Ｃに示したように、単位液晶表示パネル３００の長辺を検査する第２検査バー３０２を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も小さいモデルの長辺に対応する長さに製作し、第１検査バー３０１、第３検査バー３０３及び第４検査バー３０４を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も大きいモデルの長辺及び短辺に対応する長さに製作することができる。
【００５１】
前記図４Ｃと異なって、単位液晶表示パネル３００の長辺を検査する第１検査バー３０１を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も小さいモデルの長辺に対応する長さに製作し、第２〜第４検査バー３０２〜３０４を単位液晶表示パネル３００の大きさが最も大きいモデルの長辺及び短辺に対応する長さに製作することができる。
【００５２】
前述した単位液晶表示パネルの上面を横切る長辺間距離Ｄ１及び短辺間距離Ｄ２の測定は、階段状の段差を有する一つの検査バーの上段及び単位液晶表示パネルの相対面を検査する検査バーに対応されるように備えられた各測定センサー及び各ゲージから成ることができる。この時、前記単位液晶表示パネルの相対面を検査する検査バーは、階段状の段差を有さないこともできる。
従って、前記単位液晶表示パネルの相対面を検査する検査バーは、前記単位液晶表示パネルの上面に比べて高く形成されなければならない。
前記各測定センサー及び各ゲージには、光測定素子を適用することができる。又、一つの検査バーに対応する単位液晶表示パネルの縁の長さは、該縁と接触する検査バーに備えられた各センサーにより測定することができる。
【００５３】
例えば、図３に示したように、第２検査バー３０２は、第１検査バー３０１、第３検査バー３０３及び第４検査バー３０４の位置に関係なく、液晶表示パネル３００の長辺間距離Ｄ１を測定し得るようになる。
同様に、図３に示したように、第３検査バー３０３は、第１検査バー３０１、第２検査バー３０２及び第４検査バー３０４の位置に関係なく、液晶表示パネル３００の短辺間距離Ｄ２を測定し得るようになる。
【００５４】
上記のような本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の他の実施形態は、本発明の第１実施形態に比べて第４検査バー３０４に対応する単位液晶表示パネル３００の短辺の一部のみに対して残留ばりの有無を検査し得るという短所があるが、単位液晶表示パネル３００の残留ばりの有無の検査、長辺間距離Ｄ１測定及び短辺間距離Ｄ２測定を本発明の第１実施形態に比べて高速に実施し得るようになる。
【００５５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置及びその方法の第１実施形態においては、第１乃至第４検査バーを利用してタッチ方式により単位液晶表示パネルの長辺及び短辺にばりが残留しているかを検査し、第１乃至第４検査バーに内在されたゲージを利用して単位液晶表示パネルの長辺間距離及び短辺間距離を測定する。
【００５６】
従って、従来のように、単位液晶表示パネルの大きさ検査のために生産ラインで単位液晶表示パネルを抽出して別途に備えられた測定装備に移送しなければならない作業の煩雑及び不便を解消し、単位液晶表示パネルの大きさ検査に所要される時間を低減し得ることで、生産性を向上し得るし、別途の測定装備が要求されないため、生産ラインの設備費用及び維持補修費用を低減し得るという効果がある。
【００５７】
さらに、全ての単位液晶表示パネルに対して大きさ検査を簡便に実施し得るため、従来のように所定周期に単位液晶表示パネルを抽出して大きさ検査を遂行するサンプリング方式に比べて検査の信頼性を向上し得るという効果がある。
さらにまた、従来には、不良に判定される場合に作業を中断し、以前にサンプリングされた単位液晶表示パネルから以後にサンプリングされる単位液晶表示パネルまでの全ての単位液晶表示パネルを検査し、良否判定をすることで、後続工程が進行された各単位液晶表示パネルが廃棄されることで、材料及び時間所要が極めて大きい問題点があったが、本発明に適用される全数検査によってこれを防止し得るという効果がある。
【００５８】
また、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置及びその方法の他の実施形態においては、第４検査バーを単位液晶表示パネルの大きさが最も小さいモデルの短辺に対応する長さに製作することで、第１乃至第４検査バーを同時に駆動し得ることで、単位液晶表示パネルの長辺及び短辺にばりが残留しているか否かを検査し、単位液晶表示パネルの長辺間距離及び短辺間距離を測定し得るようにする。
【００５９】
従って、本発明に係る液晶表示パネルの検査装置及びその方法の他の実施形態においては、本発明の第１実施形態に比べて第４検査バーに対応する単位液晶表示パネルの短辺の一部のみに対して残留ばりの有無を検査するという短所があるが、単位液晶表示パネルの残留ばりの有無の検査、長辺間距離測定及び短辺間距離測定を本発明の第１実施形態に比べて高速に実施して一層生産性を向上し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の第１実施形態を示した例示図である。
【図２Ａ】図１の検査装置を利用して本発明に係る単位液晶表示パネルの第１実施形態の検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図２Ｂ】図１の検査装置を利用して本発明に係る単位液晶表示パネルの第１実施形態の検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図２Ｃ】図１の検査装置を利用して本発明に係る単位液晶表示パネルの第１実施形態の検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図３】本発明に係る液晶表示パネルの検査装置の他の実施形態を示した例示図である。
【図４Ａ】図３の検査装置を利用して本発明に係る単位液晶表示パネルの他の実施形態の検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図４Ｂ】図３の検査装置を利用して本発明に係る単位液晶表示パネルの他の実施形態の検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図４Ｃ】本発明に係る単位液晶表示パネルのさらに別の実施形態の検査方法を示した例示図である。
【図５】液晶表示装置の薄膜トランジスタアレイ基板とカラーフィルター基板とが対向して合着された単位液晶表示パネルの概略的な平面構造を示した例示図である。
【図６】図５において、各薄膜トランジスタアレイ基板が形成された第１母基板と各カラーフィルター基板が形成された第２母基板とが合着されて複数の液晶表示パネルを成す断面構造を示した例示図である。
【図７Ａ】従来の単位液晶表示パネルの検査装置を示した例示図である。
【図７Ｂ】従来の単位液晶表示パネルの長辺及び短辺の残留ばりの有無を検査する装置及び単位液晶表示パネルの切断された大きさを検査する装置を示した例示図である。
【図８Ａ】図７Ａの検査装置を利用する従来の単位液晶表示パネルの検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図８Ｂ】図７Ａの検査装置を利用する従来の単位液晶表示パネルの検査方法を逐次的に示した例示図である。
【図８Ｃ】図７Ａの検査装置を利用する従来の単位液晶表示パネルの検査方法を逐次的に示した例示図である。
【符号の説明】
２００：単位液晶表示パネル
２０１：第１検査バー
２０２：第２検査バー
２０３：第３検査バー
２０４：第４検査バー
２１０：薄膜トランジスタアレイ基板
２２０：カラーフィルター基板
Ｄ１：長辺間距離
Ｄ２：短辺間距離
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図２Ｃ】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図４Ｃ】
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【図５】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図８Ｃ】
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