(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御ループに重ね合わされた１つの同調信号を使用して該制御ループのゲインを自動的に設定する方法であって、
前記同調信号が入力される間に、前記制御ループにおける既存のゲインを測定し、
前記ゲインの測定値から、制御ループで実施すべきゲイン変更量を算出し、該ゲイン変更量を算出するために、測定されたゲインの逆数を使用して１に等しいゲインを規定し、ゲインを自動的に設定することを特徴とする方法。
【請求項２】
一定の振幅を有する同調周波数を同調信号として使用して、該同調周波数が入力される間に、前記既存のゲインを測定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
開制御ループのゲインの絶対値曲線がゼロｄＢ線と交差する周波数に等しい正弦雑音周波数であって一定の振幅を有する同調周波数を、同調信号として使用して、該同調周波数が入力される間に既存のゲインを測定することを特徴とする請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記同調信号を、加算器によって制御ループの制御量に加えることにより、制御ループに入力することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記既存のゲインを、制御量の振幅値と制御差の振幅値との商として測定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記既存のゲインを、制御量の振幅値と制御差の振幅値との商として測定し、該商の被除数を制御量の振幅値とし、該商の除数を制御差の振幅値とすることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項７】
制御量の振幅値及び制御差の振幅値をそれぞれ、帯域フィルタリング処理と、二乗処理と、低域フィルタリング処理と、平方根抽出処理とを施された該制御量及び該制御差の信号から取得し、前記既存のゲインを、該制御量の振幅値と該制御差の振幅値との商として測定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記制御ループ内の同調信号に対して１、すなわち０ｄＢであるゲインを、制御ループのゲインに、前記測定されたゲインの逆数を乗じることによって自動的に設定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記制御ループ内の同調信号に対して１、すなわち０ｄＢとは異なるゲインを、制御ループのゲインに、前記測定されたゲインの逆数を乗じ、さらに該０ｄＢとは異なるゲインを乗じることによって、自動的に設定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
第１の同調信号を入力しながら第１のゲインを測定し、かつ第２の同調信号を入力しながら第２のゲインを測定し、前記同調信号の周波数とは異なる周波数に対するゲインを設定するためのゲイン変更量を算出し、算出されたゲイン変更量を使用して該ゲインを自動的に設定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
制御ループに重ね合わされた１つの同調信号を使用して該制御ループのゲインを自動的に設定するゲイン自動設定装置であって、
−一定の振幅で選択可能な周波数を有する同調信号を生成する働きをする２端子再帰デジタル・フィルタを備えており、前記制御ループに入力される同調信号を生成する同調信号生成装置と、
−前記制御ループと接続可能であって、前記同調信号が入力される間に既存のゲインを測定する回路装置と、
−前記回路装置に接続されており、測定された既存のゲインからゲイン変更量を算出するプロセッサと、
−前記プロセッサに接続されており、ゲインを設定するゲイン設定手段と
を備えていることを特徴とする装置。
【請求項１２】
前記同調信号が入力される間に既存のゲインを測定する前記回路装置が、順次、直列に接続された、
−帯域フィルタと、
−絶対値生成装置と、
−低域フィルタと
を備えていることを特徴とする請求項１１に記載の装置。
【請求項１３】
測定された既存のゲインからゲイン変更量を算出する前記プロセッサが、制御量の振幅値と制御差の振幅値との商の逆数を形成するプロセッサであることを特徴とする請求項１１に記載の装置。
【請求項１４】
前記ゲイン設定手段が、前記制御ループに付加されたマルチプライヤであることを特徴とする請求項１１に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、走査光線または記録光線あるいは走査レーザ光線または記録レーザ光線を光学記録媒体に合焦させ、または情報トラックに追従するために、たとえばＣＤプレーヤやＤＶＤプレーヤで使用される制御ループのゲインを自動的に設定する方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
制御ループのゲインを設定するために、基準変数に正弦信号を重ね合わせ、制御量と制御差を互いに比較し、この比較から、制御ゲインを設定するための基準を得ることがすでに知られている（ＤＥ−Ａ３６３５８５９参照）。これを行うには、制御量の振幅と制御差の振幅を互いに比較することが好ましい。位相余裕を測定し、この測定値を使用して、制御ゲインを設定するための基準を得ることも提案されている。振幅を比較する際に、同期整流器を使用して、周波数が入力周波数と等しい、制御差の発振成分と制御量の発振成分が除去される。次いで、制御量の除去済み発振成分と制御差の除去済み発振成分の大きさが等しくなったことを比較器が示すまで、制御ユニットを使用してコントローラのゲインが変更される。したがって、既知の方法は、この段階的な同調のために時間のかかる、あるいは低速な対話型方法である。位相情報の評価は、極めて複雑である必要があり、やはり段階的な同調のために低速である。比較ステップの数を減らすと必然的に精度が下がる。制御量の振幅と制御差の振幅を比較するときは、発振成分の位相が制御量の入力周波数および制御差の位相と同じではないので、制御ゲインを厳密には設定しないように注意すべきである。さらに、臨界周波数とは異なる周波数を使用する場合は、この周波数でのループ・ゲインが既知である必要がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、迅速であるにもかかわらず信頼できる設定および／または同調手順を特徴とする、制御ループのゲインを自動的に設定する方法および装置を提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
この目的は、メイン・クレームに明示された特徴によって達成される。有利な設計および構成はサブクレームに明示されている。
【０００５】
本発明の一態様は、ゲインを自動的に設定する際に同調手順の速度を増すことである。この場合、最終的な同調値は、１回の測定とその後に続く計算によって設定される。同調値を連続的に近似することはもはや必要とされず、このことは同調がかなり高速になることを意味する。１つの方法ステップのみで、既存のゲイン係数が測定され、同時に同調信号が入力される。所望の値を得るために実施すべき変更が算出され、ゲインの所望の値が設定される。使用される同調信号または同調周波数は好ましくは正弦雑音周波数であり、この周波数は、開ループのゲインの絶対値曲線が０−ｄＢ線と交差する周波数に等しい。正弦雑音周波数はたとえば、制御ループの制御量に加えられる。形成される既存のゲインの値、または形成される既存のゲイン係数はたとえば、制御量の振幅と制御差の振幅の商である。制御量と制御差との間の位相余裕のために生じる欠点を回避するために、制御量の振幅と制御差の振幅はそれぞれ、帯域フィルタリング、二乗処理、低域フィルタリング、平方根抽出を受けた制御量および制御差の信号で形成される。帯域フィルタを使用して、制御信号または制御差信号から同調周波数が除去される。符号に依存しない信号を生成するために信号が二乗され、低域フィルタを使用して、二乗された同調周波数の平均が形成され、この平均から、乗算および根関数計算によって振幅が求められる。このようにたとえば、制御量と制御差で形成された振幅信号は、制御量の振幅と制御差の振幅の商として示される既存のゲイン係数を表わす。測定されたゲイン係数の反数を使用して、たとえば、１ｄＢまたは０ｄＢに等しい所望のゲインが設定される。この場合、たとえばマルチプライヤで形成されたゲイン設定手段が制御ループに設けられる。ゲイン設定手段は、ゲインを１つの方法ステップのみで所望の値に設定するために使用される。ゲインの絶対値曲線は、同調周波数の範囲でほぼ直線状であるので、値１とは異なるゲイン係数を高精度に設定することもできる。この理由は、ゲインの周波数依存増加が制御量の振幅と制御差の振幅の商から求められることである。このゲインは測定済みの既存のゲインであるので、この同調手順は、たとえばモデルを用いて決定される表を使用してゲインを変更する解決策と比べて高い信頼度を有する。
【０００６】
しかし、制御量および制御差を使用してゲインを測定する上記の実施形態だけでなく、制御ループ内の他の接続点を使用してゲインを測定する他の実施形態を実施することも可能である。この場合、ゲイン測定のための接続点を選択するために生じる特定の特徴を考慮することも必要である。たとえば、入力雑音信号および制御差を使用してゲインを測定する場合、そのような測定値は、オフセットが６ｄＢになるが、基本的に、本明細書に示す解決策と同じである。この場合、６ｄＢのオフセットは、測定されたゲイン値を評価する際に考慮すべきである。このため、制御ループのゲインを自動的に設定する本発明の方法は、ゲイン測定のための接続点の選択にはそれほど依存しない。
【０００７】
既存のゲイン係数が確実に、ゲイン特性曲線の直線範囲で求められた係数となるように、制御量の振幅と制御差の振幅の商の値が１未満になるかどうかを判定する追加の検査が行われる。１未満にならない場合、本発明の他の態様では、場合によっては測定が行われる前に、係数１未満、好ましくは０．７５を使用して、ゲインがより低い値に設定される。
【０００８】
図面および例示的な実施形態を用いて本発明を以下に詳しく説明する。
【０００９】
【発明の実施の形態】
各図では、参照符号が共通的に使用されている。図１は、１つの方法ステップのみでのゲインの自動設定に関する概略図を示す。制御増幅器ＣＴと被制御システムＲＳとを備える制御ループにおいて、同調信号生成装置Ｇを使用して制御ループに同調信号ｄが入力され、同調信号ｄが入力されるのと同時に、あるいはこの信号が入力された後に、ゲイン設定手段ＧＡを使用して、１つの方法ステップのみで自動的にゲインが設定される。図１に示した例示的な実施形態では、同調信号ｄの入力は、被制御信号ＲＳの出力と制御増幅器ＣＴの入力との間で行われる。言い換えれば、制御量ｘが供給され、その出力が制御差ｘｄを与える加算点に、同調信号ｄが入力される。しかし、基本的に、同調信号ｄは制御ループ内の任意の点に入力することができる。しかし、ゲイン設定手段ＧＡを使用して設定されるゲイン係数を算出するときには、同調信号ｄが入力される点を考慮しなければならない。同調信号ｄを制御差ｘｄと比較することによって既存のゲイン係数を求める際には、たとえばオフセット６ｄＢを考慮すべきである。ゲイン設定手段ＧＡを使用して、制御ループの既存のゲイン係数が測定され、実施すべきゲインの変更が算出され、次いでこの値を使用して制御ループのゲインが自動的に設定される。一般に、ゲインまたはゲイン係数は、基準信号と測定信号の比として指定することができる。同調信号の振幅または位相と測定信号の振幅または位相を互いに比較し、指定された振幅比または位相比が達成されるまで制御ループのゲインを変更することはすでに知られている。既知の方法によれば、このように所望の比に近づけるために制御ループのゲインが段階的に変更されていた。したがって、制御ループのゲインを自動的に設定するには、いくつかの方法ステップが必要であった。ゲインを１つの方法ステップのみで設定することは、既存のゲイン係数を測定し、所望のゲイン値を達成するために実施すべき変更を算出することによって可能になる。この場合、算出された値は、ゲインを設定するために使用される値を表わす。使用される測定信号は、制御ループから得られる信号であり、既存のゲイン係数を表す。既存のゲイン係数を表わす信号は好ましくは、同調信号ｄが入力されたときの測定信号の振幅である。既存のゲイン係数を算出するために、まだ同調されていない制御ループに同調信号ｄが入力されたときのゲイン係数を表わす測定信号が、基準信号との比に変換される。その既知のパラメータのために既知である同調信号ｄで基準信号が形成される。この場合、測定信号と基準信号で形成される商は、既存のゲイン係数を表す。既存のゲイン係数を表わす商は好ましくは、ゲイン設定手段ＧＡに設けられたマイクロプロセッサを使用して形成される。与えられる同調信号ｄはたとえば、正弦雑音周波数、すなわち、開ループのゲインの絶対値曲線が０−ｄＢ線と交差する周波数で形成された同調周波数であるので、制御ループで実施すべきゲイン変更では、既存のゲイン係数を考慮しなければならない。たとえば、ゲイン１を設定するには、制御ループのゲインに、既存のゲイン係数を表わす商の反数を乗じる。したがって、制御ループのゲインの自動設定は１つの方法ステップのみを使用して達成される。ゲイン１を設定するために実施すべき制御ループのゲインの変更が判明したので、値１とは異なるゲイン値を設定することもできる。これは特に、同調周波数領域内のゲインの絶対値曲線がほぼ直線状であるために可能になる。最終的な同調値は、１回の測定とその後に続く計算によって求められる。連続的な近似は必要とされず、このことは同調がかなり高速であることを意味する。
【００１０】
図１に示した実施形態では、同調信号ｄがほぼ一定であるものと仮定されている。この要件の下では、同調信号ｄを既知の信号として仮定することができ、開ループのゲインの絶対値曲線が０−ｄＢ線と交差する周波数に等しいか、あるいはそれに近い正弦雑音周波数が同調信号ｄであるので、１つの測定信号のみを使用して既存のゲイン係数が求められる。
【００１１】
しかし、図２に示したように、基準信号として使用される同調信号ｄを測定手順に含めることも可能である。図１に示した被制御システムＲＳは図２のアクチュエータＡＣＴおよび検出器ＤＥＴで形成される。ゲイン設定手段ＧＡに設けられたマイクロプロセッサは、同調信号ｄを制御ループに入力する瞬間を決定する。この場合、同調信号生成装置Ｇはゲイン設定手段ＧＡに接続される。走査光線または走査レーザ光線をディスク表面上に合焦させ情報トラックに追従するために、たとえばＣＤプレーヤまたはＤＶＤプレーヤで使用される制御ループでは、アクチュエータＡＣＴおよび検出器ＤＥＴはピックアップで形成される。光線を追跡または合焦させる手段は、対物レンズを含むアクチュエータと、記録媒体から反射された光を評価するために使用されるフォトダイオードは検出器ＤＥＴを形成する。さらに、検出器ＤＥＴは通常、前置増幅器を有する。アクチュエータＡＣＴと検出器ＤＥＴの両方の生産時の製造公差と、走査される記録媒体のそれぞれの異なる特性のために、制御ループ・パラメータは製造理由に応じて異なるものと仮定すべきである。このことは、同調信号ｄのパラメータは既知であるが、もはや同調周波数ｄのゲインを事前に求めることも、あるいは既知の値とみなすこともできないことを意味する。それにもかかわらず、基準信号として使用される同調信号ｄを測定手順に含めると、１つの方法ステップでゲインを自動的に設定することが可能になる。この種の実施形態の原則を図３に示す。この実施形態の基本的な態様は、ゲイン設定手段ＧＡが、同調信号ｄが入力される点の上流側および下流側で測定信号を測定することである。図３に示した概略図はすでに、この後に続く例示的な実施形態に対応するが、本発明は、同調信号ｄが入力される点のすぐ上流側および下流側で取り込まれる測定信号に限らない。
【００１２】
測定信号形成に関する好ましい実施形態を図４に示す。図４に示したように、同調信号ｄは、通常は基準変数に対応する制御ループ内の点に入力される。同調信号ｄに基準変数（図示せず）を重ね合わせることも可能である。しかし、この制御ループでは、基準変数は一般に０になるように選択される。図４に示した測定信号形成に関する該略図に示すように、制御量ｘおよび制御差ｘｄの信号はそれぞれ、帯域フィルタＢＰＦ１、ＢＰＦ２に加えられる。帯域フィルタＢＰＦ１、ＢＰＦ２はそれぞれ、二乗要素Ｑ１、Ｑ２に接続され、二乗要素の下流側には、低域フィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２が接続される。制限雑音周波数で形成され、開ループの絶対値曲線が０−ｄＢ線と交差する周波数に等しい同調信号ｄを制御信号ｘおよび制御差ｘｄから除去するために、帯域フィルタＢＰＦ１、ＢＰＦ２が使用される。二乗要素のＱ１およびＱ２は、符号に依存しない信号を生成し、その後に続く積分器または低域フィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２は二乗雑音周波数の平均を形成する。第１の低域フィルタＬＰＦ１からの出力信号Ａ１および第２の低域フィルタＬＰＦ２からの出力信号Ａ２がマイクロプロセッサに供給され、マイクロプロセッサは制御信号の振幅絶対値および制御差信号の振幅絶対値を算出する。この場合、マイクロプロセッサは各出力信号Ａ１、Ａ２を二乗し、次いで根関数を算出する。この場合、制御量ｘの振幅と制御差ｘｄの振幅の商は、制御ループの既存のゲイン値を表わす。この商または制御ループの既存のゲインが１とは異なる場合、このことは、この制御ループの場合、同調周波数または正弦雑音周波数が既存のゲイン値に応じて現在の設定で増幅または減衰されることを意味する。選択された同調周波数は、開ループの絶対値曲線が０−ｄＢ線に交差する周波数に等しい正弦雑音周波数であるので、一般に、ゲイン値１ｄＢまたは０ｄＢに同調させることが望ましい。ゲイン設定手段ＧＡを使用して、制御ループの既存のゲインに、制御量ｘの振幅と制御差ｘｄの振幅の商の反数が乗じられるので、この所望のゲインは自動的に設定される。この場合、制御ループ内の制御増幅器ＣＴは好ましくは、既存のゲインとして測定される値の反数に設定されるマルチプライヤを有する。このことは、単一の方法ステップだけで制御ループのゲインを自動的に設定できることを意味する。設定すべきゲイン値、または制御量ｘの振幅と制御差ｘｄの振幅の商から得られる既存のゲイン値を求めることができるのは、同調周波数の領域内のゲインの絶対値曲線がほぼ直線状であるためである。
【００１３】
上記の原則を考慮に入れ、ゲイン１とは異なるゲイン値を自動的に設定するときにこの方法が同様に使用される。１とは異なる既存のゲイン値を用いた場合、制御量ｘの振幅と制御差ｘｄの振幅の商に、この商の反数だけでなく所望のゲイン値が乗じられる。
【００１４】
制御ループのゲインの増加が既知の値である場合、使用される同調信号ｄは、開ループのゲインの絶対値曲線が０−ｄＢ線と交差する周波数以外の正弦雑音周波数でもよい。この場合、帯域フィルタＢＰＦ１、ＢＰＦ２と、必要に応じて低域フィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２をこの周波数に応じて構成すべきである。次いで、本発明によって測定された既存のゲイン値と、このゲイン値が求められた周波数と、既知の値であるものと仮定されるゲインの増加を使用して、ゲインが値１を有するか、あるいは０−ｄＢ線と交差する周波数が求められる。
【００１５】
図４に示した測定信号形成に関する概略図を見ればわかるように、対応するモジュールを使用して出力信号Ａ１、Ａ２が形成される。したがって、測定信号を形成する回路装置の実施形態は、図５に示した概略図に示したように設けられる。図５に示したように、検出器ＤＥＴによって与えられる制御量ｘと、制御増幅器ＣＴの上流側で発生する制御差ｘｄは順次、ゲイン設定手段ＧＡに供給される。ゲイン設定手段ＧＡは有利には、帯域フィルタと、二乗要素と、低域フィルタだけを有する。この場合、同調信号生成装置Ｇを使用して生成される同調信号ｄが制御ループに入力され、同時に制御量ｘの振幅が測定されると共に、制御差ｘｄの振幅が測定される。同調信号生成装置Ｇは好ましくは、選択可能な周波数と一定の振幅とを有する発振器である。
【００１６】
図６は、同調信号生成装置Ｇの例示的な実施形態を示す。これは、第１のレジスタＲ１および第１のマルチプライヤＣ１が接続されたトリガＴを備えるデジタル実施形態である。第１のレジスタＲ１は、第２のマルチプライヤＣ２の上流側に接続され、第２のマルチプライヤＣ２の出力は加算器Ａ１に接続され、加算器Ａ１は第１のマルチプライヤＣ１からの出力信号も受け取る。単一の第２の加算器Ａ２の一方の入力は第１の加算器Ａ１の出力に接続され、第２の加算器Ａ２の出力は第２のレジスタＲ２の入力に接続される。第２のレジスタＲ２は、第３のマルチプライヤＣ３に接続された第１の出力を有し、第２のレジスタの第２の出力は第３のレジスタＲ３に接続される。第３のレジスタＲ３の出力はマルチプライヤＣ４に接続され、マルチプライヤＣ４の出力は第３の加算器Ａ３の一方の入力に接続される。これに対して、加算器Ａ３の他方の入力には、二乗要素Ｘ２を介して第３のマルチプライヤＣ３の出力が接続される。加算器Ａ３の出力は加算器Ａ２の一方の入力に接続され、加算器Ａ２と第２のレジスタＲ２の共通の接続点は、第５のマルチプライヤに接続される。第５のマルチプライヤの出力は周波数信号Ｆを形成し、周波数信号Ｆは、マルチプライヤのパラメータを設定することによってその周波数を選択することができ、かつ一定の振幅を有する。
【００１７】
使用される帯域フィルタは好ましくは、図７に示した構造であり、帯域フィルタの入力ＥＢＰＦが第４のレジスタＲ４および第６のマルチプライヤＣ６に接続される。第６のマルチプライヤＣ６の出力は第４の加算器Ａ４に接続され、加算器Ａ４の他方の入力は第７のマルチプライヤの出力に接続され、第７のマルチプライヤは第４のレジスタＲ４に接続される。第４の加算器の出力は、第８のマルチプライヤＣ８を介して第５の加算器Ａ５の一方の入力に接続される。第５の加算器Ａ５の出力は、帯域フィルタの出力ＡＢＰＦを形成すると共に、第５の加算器Ａ５の入力に接続された第９のマルチプライヤＣ９と第５のレジスタＲ５とで形成されたフィードバック経路の接続点を形成する。
【００１８】
デジタル低域フィルタの構造を図８に示す。低域フィルタの入力ＥＴＰＦは第１０のマルチプライヤＣ１０で形成され、第１０のマルチプライヤＣ１０の出力は第６の加算器Ａ６に接続される。第６の加算器Ａ６の出力は第６のレジスタＲ６および第１１のマルチプライヤＣ１１を介して加算器Ａ６の第２の入力にフィードバックされ、第６の加算器の出力は第１２のマルチプライヤＣ１２を介して低域フィルタの出力ＡＴＰＦを形成する。帯域フィルタおよび低域フィルタの特性は適切な係数を使用して設定される。この係数は、マルチプライヤの対応する設定値である。
【００１９】
図９から図１３は、振幅信号形成を示す適切な振幅／時間グラフを示す。
【００２０】
図９は、同調信号ｄとして使用され、好ましくは、開ループのゲインの絶対値曲線が０−ｄＢ線と交差する周波数に等しい正弦雑音周波数を示す。同調信号ｄを制御ループに入力すると、たとえば、図１０に示した曲線を有する制御差ｘｄが得られる。
【００２１】
図１０を見ればわかるように、図９に示した同調信号ｄの振幅および位相角は制御ループの影響を受ける。このことは、制御差ｘｄと制御量ｘの両方に当てはまる。既存のゲインまたは制御ループの既存の特性の影響を受ける同調信号ｄは、制御信号ｘまたは制御差ｘｄから同調信号ｄの周波数を除去するために帯域フィルタリングを受ける。
【００２２】
帯域フィルタの出力は、図１１に示した信号を形成し、この信号の振幅は一様であり、同調信号ｄの周波数を有する。制御ループの既存のゲイン値が１とは異なる場合、図１１に示した信号の位相は、同調信号ｄに対してシフトされる。次いで、すでに一様になっている図１１に示した信号が二乗され、それによって、図１２に示したように、二乗要素の出力で、符号に依存しない信号が形成される。この信号は、二乗されているので、図１１に示した信号の周波数の２倍の周波数を有する。
【００２３】
図１２に示した信号の低域フィルタは、制御量ｘの振幅と制御差ｘｄの振幅に対応する図１３に示した振幅信号を生成する。このように形成された制御信号の振幅信号と制御差信号の振幅信号との商は、入力同調信号ｄの制御ループの既存のゲインに対応する。前述のように、この場合、１つの方法ステップだけを使用して制御ループ内に所望のゲイン値が自動的に設定される。
【００２４】
本発明は、制御信号および制御差信号を使用して制御ループの既存のゲインが測定された、上記に示した例示的な実施形態に限らない。制御ループの既存のゲインを求めるために例示的な実施形態とは異なる接続点を選択するときは、接続点の測定されるゲイン係数に対する影響に適切な注意を払うべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】ゲインの自動設定に関する概略図である。
【図２】同調信号測定を使用するゲインの自動設定に関する概略図である。
【図３】制御ループ信号測定を使用するゲインの自動設定に関する概略図である。
【図４】測定信号形成に関する概略図である。
【図５】測定信号形成に関する実施形態の概略図である。
【図６】雑音信号生成装置のブロック図である。
【図７】帯域フィルタのブロック図である。
【図８】低域フィルタのブロック図である。
【図９】雑音周波数の振幅／時間グラフである。
【図１０】重ね合わされた制御差を含む雑音周波数の振幅／時間グラフである。
【図１１】帯域フィルタリングをかけた、重ね合わされた制御差を有する雑音周波数の振幅／時間グラフである。
【図１２】帯域フィルタリングおよび二乗処理をかけた雑音周波数の振幅／時間グラフである。
【図１３】帯域フィルタリング、二乗処理、低域フィルタリングをかけた雑音周波数の振幅／時間グラフである。
【符号の説明】
ＣＴ  制御増幅器
ＲＳ  被制御システム
Ｇ  同調信号生成装置
ｄ  同調信号
ＧＡ  ゲイン設定手段
ｘ  制御量
ｘｄ  制御差
ＤＥＴ  検出器
ＡＣＴ  アクチュエータ
ＢＰＦ１、ＢＰＦ２  帯域フィルタ
Ｑ１、Ｑ２  二乗要素
ＬＰＦ１、ＬＰＦ２  低域フィルタ
Ａ１、Ａ２  出力信号、加算器
Ｒ１  第１のレジスタ
Ｃ１  第１のマルチプライヤ
Ｃ２  第２のマルチプライヤ
Ｒ２  第２のレジスタ
Ｃ３  第３のマルチプライヤ
Ｒ３  第３のレジスタ
Ｃ４  マルチプライヤ
Ａ３  第３の加算器
ｘ２  二乗要素
Ｆ  周波数信号
ＥＢＰＦ  入力
Ｃ６  第６のマルチプライヤ
Ａ４  第４の加算器
Ｒ４  第４のレジスタ
Ａ５  第５の加算器
ＡＢＰＦ  出力
Ｒ５  第５のレジスタ
Ｃ９  第９のレジスタ
ＥＴＰＦ  入力
Ａ６  第６の加算器
Ｒ６  第６のレジスタ
ＡＴＰＦ  出力
Ｃ１２  第１２のマルチプライヤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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