(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示装置に設けられた記録媒体へ当該表示装置の製造番号データ、製造年週データ及び当該表示装置の品種を識別する仕様データを含む製造履歴データを書き込むための表示装置の製造方法において、
表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する前記仕様データが蓄積された第１のメモリ部と、前記製造番号を記憶する第２のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第１のメモリ部及び第２のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備する画像検査装置に前記表示装置を接続する工程と、
前記第１のメモリ部に蓄積された前記複数の画像テストデータの中から前記表示装置に適応した画像テストデータを選択するテストデータ選択工程と、
前記表示装置に付与された製造番号データを前記画像検査装置に入力し前記第２のメモリ部に記憶させる製造番号データ読み込み工程と、
前記第１のメモリ部に蓄積された前記仕様データのうち、前記テストデータ選択工程で選択された画像テストデータに対応する前記仕様データと、前記製造番号データ読み込み工程で前記第２のメモリ部に記憶された前記製造番号と、前記タイマが計測している現在の年週データとを前記インタフェース部を介して前記記録媒体に書き込む製造履歴データ書き込み工程と、
前記製造履歴データ書き込み工程に引き続き、前記テストデータ選択工程で選択された前記画像テストデータを前記インタフェース部を介して前記表示装置に送出し、前記表示装置の点灯検査を行う画像検査工程と、
を有することを特徴とする表示装置の製造方法。
【請求項２】
前記画像テストデータは前記製造履歴データの要否判別データを含み、前記テストデータ選択工程で選択された画像テストデータの要否判別データが製造履歴データ不要を示すデータである場合は、前記製造番号データ読み込み工程及び製造履歴データ書き込み工程を省略することを特徴とする請求項１記載の表示装置の製造方法。
【請求項３】
前記テストデータ選択工程の前に前記記録媒体上の前記製造履歴データの有無を検出する検出工程と、
前記検出工程で検出された製造履歴データを読み出し前記第２のメモリ部に記憶させる製造履歴データ読み出し工程と、
前記第２のメモリ部に記憶された製造履歴データに含まれる各仕様データを合計した合計値により当該製造履歴データの良否を判定する判定工程と、
前記製造履歴データが異常と判断された場合は引き続き前記書き込み工程を行い、前記製造履歴データが正常と判断された場合は前記書き込み工程と代替して当該表示装置の記憶媒体に前記タイマが計測している現在の製造年週を上書きすることを特徴とする請求項１記載の表示装置の製造方法。
【請求項４】
表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する表示サイズデータが蓄積された第１のメモリ部と、当該表示装置の製造番号を記憶する第２のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第１のメモリ部及び第２のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備することを特徴とする表示装置の製造装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、ＣＲＴなどの表示装置におけるＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むための製造方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ビデオ関連技術の標準化を進め、グラフィックス環境の標準の策定とサポートを行う、ビデオエレクトロニクス規格制定委員会（Video Electronics Standards Association； VESA）が存在する。
【０００３】
このＶＥＳＡが、コンピュータ・ディスプレイに関する４つの標準仕様を２０００年２月１日に新たに明らかにしている。
【０００４】
第１の標準仕様は、Enhanced Extended Identification Data（E-EDID）である。このＥ−ＥＤＩＤは、ディスプレイの機能やＩＤをホスト・コンピュータに伝えるためのデータ・フォーマットを規定するものであり、データは１２８バイトから構成されている。
【０００５】
第２の標準仕様は、Enhanced Display Data Channel（E-DDC）であり、このＥ−ＤＤＣは、ディスプレイとホスト・コンピュータ間の通信チャネルを定める仕様であり、データは双方向でやりとりする。そして、コンフィギュレーションの設定や制御を、このチャネルを使って行うものであり、大きなデータ量が扱えるように、既存のＤＤＣを拡張したものである。
【０００６】
第３の標準仕様は、VESA Generalized Timing Formula（GTF）であり、このＧＴＦは、ディスプレイのタイミングを生成する方式に関して定められたものであり、ディスプレイのリフレッシュレートを固定したり、予め設定する必要が無くなるものである。
【０００７】
第４の標準仕様は、Video Signal Standard（VSIS）であり、このＶＳＩＳは、アナログビデオ信号を標準化するものであり、ディスプレイやグラフィックスカードの進展に対応したものである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
最近、上記で説明したＥ−ＥＤＩＤ情報を液晶表示装置に書き込んで販売するメーカが現れてきている。その理由は、このＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むことにより、その液晶表示装置の履歴が判別することができるためである。
【０００９】
そして、このＥ−ＥＤＩＤ情報を液晶表示装置に記憶させるために、液晶表示装置の駆動回路にＲＯＭ  ＩＣを設けている。
【００１０】
この記憶させる方法としては、液晶表示装置が完成して、画像検査が合格となった製品に対し、このＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込んでいる。
【００１１】
しかしながら、このＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むためには、改めて書き込み装置を接続して、かつ、その液晶表示装置の種類などを改めて入力する工程が増えることとなり、作業工程が増加するという問題点がある。
【００１２】
そこで、本発明は上記問題点に鑑み、表示装置に製造履歴データを書き込む場合に作業工程を増加させることなく、書き込めることができる表示装置の製造方法を提供するものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、ＣＲＴなどの表示装置に設けられた記録媒体へ製造番号、製造年週及び表示装置の仕様データを含む製造履歴データを書き込むための表示装置の製造方法において、前記表示装置の画像検査を行うために、画像検査装置に記憶された前記表示装置に適応した画像テストデータを選択するテストデータ選択工程と、前記表示装置の製造番号を読み込む製造番号読み込み工程と、前記選択した画像テストデータに対応した表示装置に関する製造履歴データの内、前記仕様データを前記画像検査装置から呼び出し、この呼び出した仕様データと、前記読み込んだ製造番号と、前記画像検査装置のタイマが計測している現在の製造年週とを製造履歴データとして前記記録媒体に書き込む製造履歴データ書き込み工程と、前記選択した画像テストデータによって前記表示装置の画像検査を前記画像検査装置によって行う画像検査工程と、を有することを特徴とする表示装置の製造方法である。
【００１４】
請求項２の発明は、前記選択した画像テストデータに対応した表示装置の種類が、製造履歴データを書き込む種類の場合には前記読み込み工程を行い、製造履歴データを書き込まない種類の場合には、前記画像検査工程を行うことを特徴とする請求項１記載の表示装置の製造方法である。
【００１５】
請求項３の発明は、製造履歴データが前記記録媒体に既に書き込まれている場合には、前記記録媒体に記録されている製造履歴データを読み出す製造履歴データ読み出し工程と、前記読み出した製造履歴データが正常か異常かを判別する判別工程と、前記製造履歴データが正常の場合には、前記画像検査装置が計測している現在の製造年週を前記読み出した製造履歴データに上書きして前記画像検査工程と行い、前記製造履歴データが異常の場合には、前記製造履歴データ書き込み工程を行うことを特徴とする請求項１記載の表示装置の製造方法である。
【００１６】
請求項４の発明は、  表示装置の品種毎に対応する複数の画像テストデータ及び前記複数の画像テストデータの各々に対応する前記表示サイズデータが蓄積された第１のメモリ部と、前記製造番号を記憶する第２のメモリ部と、年週データを計測するタイマと、前記表示装置に接続されるインタフェース部と、前記第１のメモリ部及び第２のメモリ部に蓄積された各データ及び前記年週データを前記インタフェースに送出する制御部とを具備することを特徴とする表示装置の製造装置である。
【００１７】
本発明においては、製造履歴データの書き込みと画像検査を共通の画像検査装置を用いた一連のステップとして処理できるため、生産効率を飛躍的に向上させることができる。
【００１８】
本発明において、製造履歴データは表示装置の製造番号データ、製造年週データ及び当該表示装置の品種を識別する仕様データを含む。製造番号データは、本発明の製造工程に先立ってバーコードシール等の形式により表示装置に付与されたシリアルナンバーである。但しこれに限らず表示装置のＲＯＭ−ＩＣにシリアルナンバーを記憶させておく手法を用いてもよい。
製造年週データは西暦の製造年データと製造週データ（１〜５３週、閏年は５４週）により構成され、本発明の製造履歴データ書き込み工程の時点で検査装置のタイマが計測している年週データが表示装置の記憶媒体に書き込まれる。
また仕様データは、表示装置の画面の縦横サイズのデータ、各種推奨タイミング（水平表示期間、水平ブランキング、垂直表示期間、垂直ブランキング等）のデータ等、種々の仕様データの中から当該表示装置の品種（表示装置メーカ−が管理する表示装置の型番）を識別可能なデータの組合せにより構成される。この仕様データの組合せは、ユーザーからの要求に応じて変更可能であるが、Ｅ−ＥＤＩＤ仕様等規格化された機種コードに準拠することが好ましい。尚このＥ−ＥＤＩＤ仕様は先に述べた通り一般に入手可能である。
【００１９】
また画像テストデータは、表示装置を駆動する各種タイミング信号、画像データ等で構成され、画面サイズや動作タイミング、駆動電圧等の異なる品種の各々に対応する複数種類のテストデータが検査装置に内蔵されるハードディスク等ドライブ等の第１のメモリ部に蓄積されている。検査装置のオペレータは検査対象の表示装置の品種（型番）を表示装置に貼り付けられたシール等で確認し、検査装置のモニタに表示されたテストデータのファイル名（型番と同じ形式のファイル名として表示される）の中から検査対象の型番と一致するファイル名を選択する。
【００２０】
このテストデータのファイル名が選択されると、同じく検査装置に内蔵されるハードディスクドライブ等の第１のメモリ部に蓄積されている仕様データの中から、当該選択されたテストデータのファイル名と一致するファイル名（即ち検査対象の表示装置の型番と一致するファイル名）の仕様データが自動的に選択されるようプログラミングされている。この選択された仕様データは、製造履歴書き込み工程において、既に検査装置に内蔵されるＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）等の記憶装置により構成される第２のメモリ部に取り込まれている製造番号データ及びタイマが計測する年週データと合せてインタフェース部に送出され、表示装置の記憶媒体に取り込まれる。尚テストデータと仕様データは、それぞれ検査装置に内蔵される別個のハードディスク装置に蓄積されるようにしてもよい。
【００２１】
そして画像検査工程においては、選択されたテストデータによって表示装置が駆動され、その点灯状態を目視あるいはカメラ等を用いて観察することにより、表示欠陥の有無が検査される。テストデータに含まれる画像データは、検査に用いる画像パターン（全面点灯、市松模様表示等）の種類や表示の順番に応じて、任意の画像データとすることができる。また検査装置システムを構成する個々のハードウェア自体（制御装置、記憶装置、インタフェース部）は、それぞれ当業者に周知の構成を用いることができ、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の構成をとることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施例の画像検査装置１０を用いて、液晶表示装置１２の画像検査及び製造履歴データを書き込む工程について、図１から図５に基づいて説明する。尚本実施例においては、Ｅ−ＥＤＩＤ仕様に準拠して製造履歴データを構成する。
【００２３】
（１）液晶表示装置１２の構成
図１は、画像検査装置１０及び液晶表示装置１２の関係を示すブロック図である。
【００２４】
本実施例において、検査対象の表示装置１２は周知のＴＦＴ液晶モジュールにより構成される。即ち図１に示すように、ＴＦＴアレイを含む２枚のガラス基板の間に液晶を封入した液晶セル１３の裏面側に設けられている駆動回路基板１４には、ＴＦＴアレイを駆動する走査線駆動回路及び信号線駆動回路により構成される周辺駆動回路ＩＣに向けて外部から入力される画像データやその他のクロック信号などの制御信号を配分する図示しないコントローラＩＣが搭載され、さらにＥ−ＥＤＩＤ情報を記憶するためのＲＯＭ１８も搭載されている。そしてコントローラＩＣ外部からの制御信号を入力し、ＲＯＭ１８にＥ−ＥＤＩＤ情報を入力するための複数の端子を有するコネクタ１６が設けられている。さらに液晶表示装置の裏面側にはこの液晶表示装置１２の製造番号を表すバーコードシール２０が貼り付けられている。
【００２５】
（２）画像検査装置１０の構成
画像検査装置１０は、液晶表示装置１２へ画像検査を行なうための画像データを含むテストデータを出力しまた、画像検査に先立ち、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の書き込み、読み出し、これらの確認を行なう機能を有し、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の処理と連続して画像検査を行うものである。画像検査装置１０は、コンピュータを主体に構成され、具体的には、制御装置であるＣＰＵ２５と、現在の年月日及び時刻及び週を計測するタイマ２２とを有している。
【００２６】
また、各種類の液晶表示装置１２に対応した画像検査を行うためのテストデータがハードディスクより構成される第1のハードディスクドライブ２６に記憶され、また、このテストデータに１対１に対応したＥ−ＥＤＩＤ情報が第２のハードディスクドライブ２８に記録されている。このＥ−ＥＤＩＤ情報は、所定の形式（例えば、エクセル（登録商標））のファイル形式で記録されている。
また画像検査装置は、液晶表示装置１２のコネクタ１６に接続されるコネクタケーブルに向けて記憶部に蓄積された検査用の各種データやＥ−ＥＤＩＤ情報を出力するための図示しないインタフェース部が設けられている。このインタフェース部は、コンピュータのハードウェア構成として周知のものを用いることができる。
【００２７】
そして、テストデータを選択すると、その選択されたテストデータに対応するＥ−ＥＤＩＤ情報が呼び出されてくる。また、各テストデータには、Ｅ−ＥＤＩＤ情報を必要としている種類か、必要としていない種類かを判別するためのＥ−ＥＤＩＤフラッグが設けられている。このＥ−ＥＤＩＤフラッグがＯＮの場合には、第２のハードディスクドライブ２８からＥ−ＥＤＩＤ情報を呼び出してくる。
これは、ユーザーによってＥ−ＥＤＩＤ情報を表示装置に記憶させる要求がある場合と無い場合があり、双方に対処するためテストデータを入力した時点でＥ−ＥＤＩＤの書き込みが必要か不要かを確定させるためである。従ってフラッグがＯＦＦの表示装置には、後述するようにＥ−ＥＤＩＤ情報の書き込みは行われず直接検査工程を実施することにより、工程を短縮し生産効率を向上させることができる。
【００２８】
さらに、検査員が操作するためのオペレーションＢＯＸ２４が接続され、また、バーコードリーダ３０が接続されている。オペレーションＢＯＸ２４には、液晶ディスプレイを用いたタッチパネルが設置されており、表示装置の型番（例：△××××（△はアルファベット、×は０〜９までの整数））と同じ形式で表示されるテストデータ名の中から、検査対象となる表示装置の型番と一致する名前のファイルを選択する。
【００２９】
（３）Ｅ−ＥＤＩＤ情報の内容
次に、Ｅ−ＥＤＩＤ仕様で定められている製造履歴データについて図４乃至図７に基づいて説明する。
【００３０】
Ｅ−ＥＤＩＤ情報は、アドレスが００から１２７までの１２８バイトのデータから構成され、各アドレスにその液晶表示装置１２に関する製造履歴データが記録されている。
【００３１】
例えば、アドレス１６には、製造週が記録され、アドレス１７には製造年が記録され、アドレス２１及びアドレス２２には、最大水平表示サイズと最大垂直表示サイズが記録されている。アドレス１２７には、アドレス００から１２６にある全てのデータを加算してなるCheck  Sumが記録されている。
【００３２】
このCheck  Sumは、このＥ−ＥＤＩＤ情報が正常か異常かを判断するためのものであり、Ｅ−ＥＤＩＤ仕様として規格化されたものである。アドレス００から１２６にある全てのデータを加算してなるCheck  Sumデータの下２桁が００であれば正常であり、００以外の数字であれば異常であることを示している。
【００３３】
（４）画像検査及びＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込む工程
以下、図２及び図３のフローチャートに基づいて、液晶表示装置１２において画像検査及びＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込む工程について説明する。
【００３４】
この工程は、液晶表示装置１２の最終工程に位置するものであり、液晶表示装置１２は全て組み立てられた状態で行う工程である。最初に、液晶表示装置１２のコネクタ１６に検査装置１０のコネクタケーブルを接続する。
【００３５】
まず画像検査に先立ち、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の確認を行う。
【００３６】
ステップ１において、対象となる液晶表示装置１２にＥ−ＥＤＩＤ情報を変更してよいか否かを判断する。すなわち、液晶表示装置１２にＥ−ＥＤＩＤ情報が書き込まれていない場合には新しくＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むこととなり、既にＥ−ＥＤＩＤ情報が書き込まれている場合には上書きしてＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込んでよいか否かを判断する。Ｅ−ＥＤＩＤ情報が既に書き込まれている状態としては、画像検査工程を一度行って不合格となり調整されて再び画像検査を行う場合の液晶表示装置１２が該当する。
【００３７】
そして、Ｅ−ＥＤＩＤ情報を変更してよい場合はステップ２に進み、変更が禁止される場合にはステップ３に進む。
【００３８】
ステップ２において、Ｅ−ＥＤＩＤ情報を変更してよいため、液晶表示装置１２の種類に応じた画像検査をするためのテストデータを選択しステップ４に進む。
【００３９】
ステップ３においては、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の変更が禁止されているため、その液晶表示装置１２に関してユーティリティーメニューでリードチェックモード（READCHKモード）に設定する。このリードチェックモードとは、既に書き込まれているＥ−ＥＤＩＤ情報が正常か異常かを判断するためのモードであり、この後のステップで行うものである。
【００４０】
ステップ４において、画像検査装置１０から呼び出された画像検査に関するテストデータにおいてＥ−ＥＤＩＤフラッグがＯＮかＯＦＦかを判断する。すなわち、Ｅ−ＥＤＩＤフラッグがＯＦＦのときはＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むことなく検査工程を行う。一方、Ｅ−ＥＤＩＤフラッグがＯＮになっている場合にはステップ５に進む。
【００４１】
ステップ５において、テストデータに対応したＥ−ＥＤＩＤ情報が第２のハードディスクドライブ２８にあるか否かを判断する。このＥ−ＥＤＩＤ情報は、テストデータと同じく表示装置の型番（例：△××××（△はアルファベット、×は０〜９までの整数））と同じ形式のファイル名で保存されており、テストデータとＥ−ＥＤＩＤ情報とは互いに異なる識別子（．ｅｄｉ等）により識別される。検査装置は、テストデータのファイル名と一致するファイル名のＥ−ＥＤＩＤ情報を検索するようプログラミングされている。そして、第２のハードディスクドライブ２８にＥ−ＥＤＩＤ情報が記憶されていなければオペレーションＢＯＸ２４においてエラー表示を行い終了する。Ｅ−ＥＤＩＤ情報がある場合にはステップ６に進む。
【００４２】
ステップ６において、画像検査装置１０の第1のハードディスクドライブ２６からテストデータを読み込み、画像検査の準備を行う。そして、バーコードリーダ３０によって製造番号が読み込めるようにする。
【００４３】
ステップ７において、バーコードリーダ３０によって、液晶表示装置１０の裏面側にあるバーコード２０を読取、製造番号を画像検査装置１０に入力し、この画像検査装置１０に内蔵されたＲＡＭ等の記憶装置により構成される第２の記憶部（不図示）に記憶させる。
【００４４】
ステップ８において、読み込んだ製造番号の下５桁が数字であるか否かを判断し数字でなければステップ６に戻り、製造番号の読み取りを再度指示する。この判断を行うのは、液晶表示装置１０の裏面側には、製造番号以外の情報を入力したバーコードが複数貼り付けられているため、誤ってその他の情報を入力した場合には、再度読み込みを指示するためのものである。製造番号である下５桁が数字である場合にはステップ９に進む。
【００４５】
ステップ９において、過去１日以内に読んだ製造番号であるか否かを判断する。同じ製造番号である場合には、ステップ１０に進む。そして、異なる製造番号の場合にはステップ１２に進む。
【００４６】
ステップ１０においては、過去１日以内に読んだ製造番号と同じであるため、オペレーションＢＯＸ２４のランプを点滅させて検査員に注意を促し、ステップ１１において検査員がそれを了承した場合にはオペレーションＢＯＸ２４のカーソルキーが押されステップ１２に進み，カーソルキーが押されない場合にはステップ６に戻って再度製造番号を読み込む工程を行う。
【００４７】
ステップ１２において、画像検査を開始するためのオペレーションＢＯＸ２４のテスト開始キーが入力される。
【００４８】
ステップ１３において、リードチェックモードであるか否かを判断する。リードチェックモードであれば、液晶表示装置１２のＲＯＭ１８に書き込まれているＥ−ＥＤＩＤ情報が正常であるか否かを判断する必要があるため，ステップ１４に進み，リードチェックモードでなければステップ１６に進む。
【００４９】
ステップ１４において、液晶表示装置１２のＲＯＭ１８から書き込まれているＥ−ＥＤＩＤ情報を読み込み、ステップ１５においてその読み込んだＥ−ＥＤＩＤ情報のCheck  Sumが０であるか（すなわち正常であるか）否かを判断する。製造であれば、ステップ１９に進む。また異常であればもう一度Ｅ−ＥＤＩＤ情報を書き込む必要があるためステップ１６に進む。
【００５０】
ステップ１６において、Ｅ−ＥＤＩＤ情報を検査装置のインタフェース部から送出し、液晶表示装置１２のＲＯＭ１８にＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込む。この書き込まれるＥ−ＥＤＩＤ情報は、テストデータに対応したＥ−ＥＤＩＤ情報であって、製造番号は、バーコードリーダ３０から読み込んだ製造番号を書き込み、製造年週は、画像検査装置１０のタイマ２２が計測している現在の年週をリアルタイムに書き込む。
【００５１】
ステップ１７において、画像検査装置１０は書き込んだＥ−ＥＤＩＤ情報を再び読み取り、ステップ１８で、その読み込んだＥ−ＥＤＩＤ情報が正常かまたは異常であるかを検査する。そのために読み出したCheck  Sumが書き込んだCheck  Sumと等しいか否か、または、Check  Sumが０であるか否かを判断する。Check  Sumが等しい時または０である時は正常にＥ−ＥＤＩＤ情報が書き込まれたと判断してステップ１９に進む。それ以外であれば、エラー表示をして検査を終了する。
【００５２】
ステップ１９においては、オペレーションＢＯＸ２４に今読み取ったＥ−ＥＤＩＤ情報における製造年週を表示し、ステップ２０において通常の画像検査を行う。即ち、テストデータ選択ステップ２で選択されたテストデータを検査装置のインタフェース部から液晶表示装置１２に送出し、液晶表示装置を点灯させて表示欠陥の有無を目視やカメラを用いて確認する。
【００５３】
こうして、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の書き込みと画像検査とを同一装置を用いて連続して行うため，作業工程を簡略化することができる。
【００５４】
また、Ｅ−ＥＤＩＤ情報を書き込み、正常に書き込まれていることが確認されないと次のステップに進むことができないようになっているため、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の書き込み忘れ防止機能、チェック機能をプログラム制御により付与することができた。
【００５５】
また、製造番号をバーコードリーダ３０で入力してからＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込み、また確認機能があるため、誤った製造番号等が入力されることがない。
【００５６】
さらに、Ｅ−ＥＤＩＤ情報の上書きが禁止された液晶表示装置１２であっても、リードチェックモードにおいて書き込まれているＥ−ＥＤＩＤ情報が正常か異常かを判断することができる。
【００５７】
上記実施例では、液晶表示装置において説明したが、これに代えて有機ＥＬ表示装置やブラウン管のＣＲＴの表示装置であっても、同様に画像検査工程と連続してＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むことができる。
また画像検査装置を構成する各種ハードウェアは、コンピュータシステムとして周知のものを用いることができ、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば第１のメモリ部と第２のメモリ部とを単一のハードディスクドライブ装置で構成してもよい。またハードディスクドライブ装置とＲＡＭ等機能の異なる記憶装置を適宜組み合わせて用いることもできる。
【００５８】
【発明の効果】
以上により、本発明によれば表示装置に画像検査と連続してＥ−ＥＤＩＤ情報を書き込むことができ、作業工程を簡略化することができると共に、その書き込み工程においてミスを制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示す画像検査装置と液晶表示装置のブロック図である。
【図２】画像検査及び書き込み工程の第１のフローチャートである。
【図３】同じく第２のフローチャートである。
【図４】Ｅ−ＥＤＩＤ情報の表を示す図である。
【図５】図４の表の続きの図である。
【図６】図５の表の続きの図である。
【図７】図６の表の続きの図である。
【符号の説明】
１０  画像検査装置
１２  液晶表示装置
１４  駆動回路基板
１６  コネクタ
１８  ＲＯＭ
２０  バーコード
２２  タイマ
２４  オペレーションＢＯＸ
２６  第1のハードディスクドライブ
２８  第２のハードディスクドライブ
３０  バーコードリーダ
【図１】
0004286530.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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