(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の層と第２の層を有する記録型光ディスクに対して、前記第１の層に対して設定された第１の記録パワーと、前記第２の層に対して設定された第２の記録パワーのレーザ光によってデータを記録する記録部と、
前記記録パワーを変化させながらテストデータを前記第１の層と前記第２の層の夫々に記録し、記録した前記テストデータを再生して前記第１の層に対する第１の最適記録パワーと、前記第２の層に対する第２の最適記録パワーとを決定し、決定した前記第１、第２の最適記録パワーを前記記録部に設定する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記光ディスクの前記第１の層に対して与えられている第１の推奨値を中心にして所定の検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第１の層に対して前記テストデータを記録して前記第１の最適記録パワーを決定し、
前記第１の推奨値と決定された前記第１の最適記録パワーとに基づいて、前記光ディスクの前記第２の層に対して与えられている第２の推奨値を補正し、補正された前記第２の推奨値を中心にして前記検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第２の層に対して前記テストデータを記録して前記第２の最適記録パワーを決定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、
前記第１の推奨値に対する前記第１の最適記録パワーの比を求め、前記比を前記第２の推奨値に乗じて前記第２の推奨値を補正する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１の層は、前記光ディスクの最も入射側に近い記録層であり、前記第２の層は、前記第１の層以外の１つ又は複数の記録層である、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、
記録した前記テストデータを再生して再生データの非対称性を表すアシンメトリ値を算出し、前記検索幅内で、前記アシンメトリ値の絶対値が最小となるときの記録パワーを前記第１、第２の最適記録パワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
第１の層と第２の層を有する記録型光ディスクに対して、前記第１の層に対して設定された第１の記録パワーと、前記第２の層に対して設定された第２の記録パワーのレーザ光によってデータを記録する光ディスク記録再生方法において、
前記記録パワーを変化させながらテストデータを前記第１の層と前記第２の層の夫々に記録し、記録した前記テストデータを再生して前記第１の層に対する第１の最適記録パワーと、前記第２の層に対する第２の最適記録パワーとを決定し、
決定した前記第１、第２の最適記録パワーを設定する、
ステップを備え、
前記決定するステップでは、
前記光ディスクの前記第１の層に対して与えられている第１の推奨値を中心にして所定の検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第１の層に対して前記テストデータを記録して前記第１の最適記録パワーを決定し、
前記第１の推奨値と決定された前記第１の最適記録パワーとに基づいて、前記光ディスクの前記第２の層に対して与えられている第２の推奨値を補正し、補正された前記第２の推奨値を中心にして前記検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第２の層に対して前記テストデータを記録して前記第２の最適記録パワーを決定する、
ことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項６】
前記決定するステップでは、
前記第１の推奨値に対する前記第１の最適記録パワーの比を求め、前記比を前記第２の推奨値に乗じて前記第２の推奨値を補正する、
ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項７】
前記第１の層は、前記光ディスクの最も入射側に近い記録層であり、前記第２の層は、前記第１の層以外の１つ又は複数の記録層である、
ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項８】
前記決定するステップでは、
記録した前記テストデータを再生して再生データの非対称性を表すアシンメトリ値を算出し、前記検索幅内で、前記アシンメトリ値の絶対値が最小となるときの記録パワーを前記第１、第２の最適記録パワーとして決定する、
ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法に係り、特に、多層記録型の光ディスクに記録し再生する光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録型の光ディスクとして、例えば、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ブルーレイディスク（ＢＤ）等がある。これらの記録型の光ディスクでは、再生信号の品質が記録時のレーザパワー（記録パワー）等、に依存することが知られている。このため、光ディスクを光ディスク装置に挿入した直後等の一定期間にテスト期間を設け、このテスト期間中にディスク上に設けられている試し書き領域（ＰＣＡ：Power  Calibration  Area：とも呼ばれる）に試し書きを行って最適な記録パワーを求める処理が一般的に行われている。この処理はＯＰＣ（Optimal  Power  Calibration）と呼ばれている。
【０００３】
最適な記録パワーを求めるにあたって、何を評価指標とするかが重要であり、従来から種々の評価指標が提案されていが、所謂アシンメトリ値βが評価指標として広く用いられている。
【０００４】
最適な記録パワーは、光ディスクの種類によって異なる。このため、ある種の光ディスクには、所定の領域に予め推奨される記録パワーが記録されており、光ディスクが挿入された時にこの推奨記録パワーを光ディスク装置に読み込んでいる。
【０００５】
また、各種の光ディスクの推奨記録パワーを光ディスク装置の適宜のメモリに製造段階で保存しておき、挿入された光ディスクの種類に対応する推奨記録パワーをメモリから読み出す方法も広く用いられている。
【０００６】
最適な記録パワーは光ディスク装置の特性や温度等の環境によっても異なるため、光ディスクの推奨記録パワーだけからは定まらない。このため、光ディスク、或いは光ディスク装置のメモリから読み取った推奨記録パワーを中心として、所定の範囲で記録パワーを変化させながら試し書き領域にテストデータを記録する。そして、記録したテストデータを再生して評価指標が最適となる記録パワーを最適記録パワーとして決定している。
【０００７】
特許文献１には、２層の記録型光ディスクに対して、第１層（最も入射側に近い層）とその内側にある第２層の最適記録パワーを決定する技術が開示されている。第１層のアシンメトリ値βと第２層のアシンメトリ値βとの相関特性をβ特性として記憶しておく。第２層のＯＰＣを行なうエリアの物理的に前方層となる第１層のエリアの記録深さを均一にし、この第１層の記録深さに対応したパワー特性から第２層の記録パワーを取得し、得られた記録パワーでＯＰＣを行い、第２層の最適記録パワーを取得している。
【特許文献１】特開２００６−１６４４１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、温度等の環境の変化によって記録パルスのオーバーシュート量や光量分布、レーザビームのスポット形状等は変化する。このため、特許文献１が開示する技術では、前述した相関特性（β特性）が変化してしまう。第１層と第２層のβ特性から取得した第２層の記録パワーは、予め記憶されている第１層と第２層の相関が変化しているため、真の最適パワーから逸脱してしまう。この場合、試し書きを行う記録パワーの変化範囲をシフトしてＯＰＣを行なう（ＯＰＣのリトライを行う）ことになり、調整時間及びＰＣＡを余計に消費してしまうことになる。
【０００９】
また、一般に、アシンメトリ値βの記録パワーに対する感度（変化の大きさ）は、第１層よりも第２層の方が低い。このことは、温度等の変化によってアシンメトリ値対記録パワー特性が変化した場合、最適アシンメトリ値を維持するために変化させなければならない記録パワーの量は、第１層よりも第２層の方か大きくなることを意味している。
【００１０】
従って、推奨記録パワーを中心に記録パワーを所定の検索幅内で変化させてＯＰＣを行う場合、第１層では第１層に対する推奨記録パワーを中心として検索幅内で最適アシンメトリ値が得られたとしても、第２層では、第２層に対する推奨記録パワーを中心として同じ検索幅内で最適アシンメトリ値が得られない場合が発生しうる。
【００１１】
この場合にも検索範囲をシフトさせてＯＰＣのリトライを行う必要があり、調整時間が増加すると共に、ＰＣＡを余計に消費してしまうことになる。
【００１２】
追記型の光ディスクでは、通常データの記録エリアが残っていたとしても、所定のＰＣＡを使い切ってしまうとその時点でその光ディスクに対して新たな記録ができなくなる。このため、ＰＣＡの余計な消費は可能な限り避ける必要がある。
【００１３】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、多層光ディスクの各層に対して最適な記録パワーを決定するＯＰＣにおいて、ＯＰＣのリトライの可能性を努めて排除し、ＯＰＣ処理時間の増加を防止すると共に試し書き領域の消費を低減することができる光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク装置は、請求項１に記載したように、第１の層と第２の層を有する記録型光ディスクに対して、前記第１の層に対して設定された第１の記録パワーと、前記第２の層に対して設定された第２の記録パワーのレーザ光によってデータを記録する記録部と、前記記録パワーを変化させながらテストデータを前記第１の層と前記第２の層の夫々に記録し、記録した前記テストデータを再生して前記第１の層に対する第１の最適記録パワーと、前記第２の層に対する第２の最適記録パワーとを決定し、決定した前記第１、第２の最適記録パワーを前記記録部に設定する制御部と、を備え、前記制御部は、前記光ディスクの前記第１の層に対して与えられている第１の推奨値を中心にして所定の検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第１の層に対して前記テストデータを記録して前記第１の最適記録パワーを決定し、前記第１の推奨値と決定された前記第１の最適記録パワーとに基づいて、前記光ディスクの前記第２の層に対して与えられている第２の推奨値を補正し、補正された前記第２の推奨値を中心にして前記検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第２の層に対して前記テストデータを記録して前記第２の最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。
【００１５】
また、上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク記録再生方法は、請求項５に記載したように、第１の層と第２の層を有する記録型光ディスクに対して、前記第１の層に対して設定された第１の記録パワーと、前記第２の層に対して設定された第２の記録パワーのレーザ光によってデータを記録する光ディスク記録再生方法において、前記記録パワーを変化させながらテストデータを前記第１の層と前記第２の層の夫々に記録し、記録した前記テストデータを再生して前記第１の層に対する第１の最適記録パワーと、前記第２の層に対する第２の最適記録パワーとを決定し、決定した前記第１、第２の最適記録パワーを設定する、ステップを備え、前記決定するステップでは、前記光ディスクの前記第１の層に対して与えられている第１の推奨値を中心にして所定の検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第１の層に対して前記テストデータを記録して前記第１の最適記録パワーを決定し、前記第１の推奨値と決定された前記第１の最適記録パワーとに基づいて、前記光ディスクの前記第２の層に対して与えられている第２の推奨値を補正し、補正された前記第２の推奨値を中心にして前記検索幅で前記記録パワーを変化させながら前記第２の層に対して前記テストデータを記録して前記第２の最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法によれば、多層光ディスクの各層に対して最適な記録パワーを決定するＯＰＣにおいて、ＯＰＣのリトライの可能性を努めて排除し、ＯＰＣ処理時間の増加を防止すると共に試し書き領域の消費を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明に係る光ディスク装置及び光ディスク記録再生方法の実施形態について添付図面を参照して説明する。
【００１８】
（１）光ディスク装置の構成と全般動作
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置１の構成例を示す図である。
【００１９】
光ディスク装置１は、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ブルーレイディスク（ＢＤ）等の記録型光ディスク１００に対して情報の記録及び再生を行うものである。光ディスク１００には、螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をグルーブ、凸部をランドと呼び、グループ又はランドの一周をトラックと呼ぶ。ユーザデータはこのトラック（グルーブのみ又はグルーブ及びランド）に沿って、強度変調されたレーザ光を照射してデータの符号長に対応するマークとスペースを形成することで記録される。
【００２０】
データ再生は、記録時より弱い再生パワーのレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にあるマーク及びスペースからの反射光の強度の変化を検出することにより行われる。
【００２１】
光ディスク１００はスピンドルモータ２によって回転駆動される。スピンドルモータ２に設けられたロータリエンコーダ２ａからは回転角信号が提供される。回転角信号はスピンドルモータ２が１回転すると、例えば５パルス発生する。この回転角信号からスピンドルモータ２の回転角度及び回転数を判断でき、スピンドルモータ制御回路６２では、これらの情報に基づいてスピンドルモータ２の回転駆動制御を行っている。
【００２２】
光ディスク１００に対する情報の記録、再生は、光ピックアップ３によって行われる。光ピックアップ３は、送りモータ４とギア４ｂ及びスクリューシャフト４ａを介して連結されており、この送りモータ４は送りモータ制御回路５により制御される。送りモータ４が送りモータ制御回路５からの送りモータ駆動電流により回転することにより、光ピックアップ３が光ディスク１００の半径方向に移動する。
【００２３】
光ピックアップ３には、図示しないワイヤ或いは板バネによって支持された対物レンズ３０が設けられている。対物レンズ３０は駆動コイル３１の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能である。また、駆動コイル３２の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００２４】
レーザ駆動回路（記録部）６は、変調部７２にてＥＴＭ（Eight  to  Twelve  Modulation）方式等で変調された記録データ基づいて、書き込み用の駆動電流をレーザダイオード（レーザ発光素子）３３に供給する。変調部７２には、パーソナルコンピュータ等のホスト装置２００からＩ／Ｆ部７１を介して記録用のデータが供給される。
【００２５】
一方、レーザ駆動回路６は情報読取り時には、書き込み用の駆動電流よりも小さな読み取り用の駆動電流をレーザダイオード３３に提供する。
【００２６】
フォトダイオード等により構成されるパワー検出部３４（フロントモニタ（ＦＭ）と呼ぶ場合もある）はレーザ発光素子３３が発生するレーザ光の一部をハーフミラー３５により一定比率だけ分岐し、光量、即ち発光パワーに比例した信号を受光信号として検出する。検出した受光信号はレーザ駆動回路６に供給される。レーザ駆動回路６はパワー検出部３４からの受光信号に基づいて、制御部７０の記録パワー７３等で決定及び設定された記録パワーで発光するように、レーザ発光素子３３を制御する。
【００２７】
レーザ発光素子３３はレーザ駆動回路６から供給される駆動電流に応じてレーザ光を発生する。レーザ発光素子３３から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ３６、ハーフプリズム３７、対物レンズ３０を介して光ディスク１００上に照射される。
【００２８】
一方、光ディスク１００からの反射光は、対物レンズ３０、ハーフプリズム３７、集光レンズ３８、およびシリンドリカルレンズ３９を介して、光検出器４０に導かれる。
【００２９】
光検出器４０は、例えば４分割の光検出セルから成り、これら光検出セルの検知信号はＲＦアンプ６４に出力される。ＲＦアンプ６４は光検知セルからの信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカスエラー信号ＦＥ、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキングエラー信号ＴＥ、及び光検知セル信号の全加算信号である再生信号を生成する。
【００３０】
フォーカスエラー信号ＦＥはフォーカス制御回路８に供給される。フォーカス制御回路８はフォーカスエラー信号ＦＥに応じてフォーカス駆動信号を生成する。フォーカス駆動信号はフォーカシング方向の駆動コイル３１に供給される。これにより、レーザ光が光ディスク１００の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボ制御が行われる。
【００３１】
一方、トラッキングエラー信号ＴＥはトラック制御回路９に供給される。トラック制御回路９はトラッキングエラー信号ＴＥに応じてトラック駆動信号を生成する。トラック制御回路９から出力されるトラック駆動信号は、トラッキング方向の駆動コイル３２に供給される。これによりレーザ光が光ディスク１００上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボ制御が行われる。
【００３２】
上記フォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御が行われることで、レーザ光の焦点は、光ディスク記録面のトラック上を精度良く追従することができる。この結果、光検出器４０の各光検出セルの出力信号の全加算信号ＲＦには、記録情報に対応して光ディスク１００のトラック上に形成されたマークやスペースからの反射光の変化が正確に反映され、品質の良い再生信号を得ることができる。
【００３３】
この再生信号（全加算信号ＲＦ）は、データ再生部６０に入力される。再生信号の一部はＰＬＬ制御回路６１に入力され、記録単位長の周期に同期した記録用或いは再生用のクロックが生成される。
【００３４】
また、データ再生部６０では、再生信号から２値化されたバイナリデータを抽出して復号データを得ている。
【００３５】
復号データはエラー訂正部７５に入力され、ここでエラー訂正処理が行われた後Ｉ／Ｆ部７１を介してホスト装置２００に出力される。
【００３６】
他方、データ再生部６０から再生信号の波高値の一部が取り出され、アシンメトリ算出部８２に入力される。アシンメトリ算出部８２では、最適記録パワーを決定するための評価指標として、アシンメトリ値βが算出される。
【００３７】
制御部７０の記録パワー決定部７３では、アシンメトリ算出部８２で算出されたアシンメトリ値βに基づいて最適記録パワーが決定され、決定された最適記録パラメータは記録部（レーザ駆動回路）６に設定される。
【００３８】
本実施形態に係る光ディスク装置１は、多層の記録型光ディスク１００に対して最適記録パワーを決定するＯＰＣ処理に特徴があり、以下このＯＰＣ処理について２層の記録型光ディスクを例にとって説明する。
【００３９】
（２）ＯＰＣ処理
図２は、２層の光ディスク１００の構造を模式的に示す断面図である。第１の層はレーザビームの入力側に最も近い層であり、第２の層は第１の層の内側に位置する層である。
【００４０】
図２に示したように、第１の層に対して記録・再生を行うときは、レーザビームの焦点が第１の層の記録面に位置するように対物レンズ３０の位置をフォーカス方向に制御する一方、第２の層に対して記録・再生を行うときは、レーザビームの焦点が第２の層の記録面に位置するように対物レンズ３０の位置をフォーカス方向に制御している。
【００４１】
図３は、従来からおこなわれている２層の光ディスクに対するＯＰＣ処理の一例を示す図である。図３（ａ）が第１の層に対するＯＰＣ処理を、また図３（ｂ）が第２の層に対するＯＰＣ処理を説明する図である。いずれの図も、横軸は記録パワーを示しており、ＯＰＣ処理により、記録パワーを変化させながら異なるテスト記録アリア（ＰＣＡ）にテストデータを記録している様子を示している。
【００４２】
ＯＰＣ範囲、即ち記録パワーを変化させる範囲（最適な評価指標（アシンメトリ値β）を得るための記録パワーの検索範囲）は、各層毎の推奨記録パワーＰｃ１、Ｐｃ２を中心とした所定の検索幅である。図３に示した例では、推奨記録パワーＰｃ１、Ｐｃ２を中心に前後に７段階、合計１５段階で記録パワーを変化させている。
【００４３】
第１の層に対する推奨記録パワーＰｃ１と第２の層に対する推奨記録パワーＰｃ２とは実際には値が異なる（図４参照）が、図３では、説明の便宜上、Ｐｃ１とＰｃ２とを同じ位置に図示している。
【００４４】
テストデータを記録した後、それぞれのテスト記録エリアを再生し、再生信号の波形から評価指標としてのアシンメトリ値βを算出する。
【００４５】
具体的には、再生波形のＤＣレベルを基準にピーク検波及びボトム検波を行い、ピーク値ＶＨとボトム値ＶＬを得る。次に、ピーク値ＶＨとボトム値ＶＬとから、再生波形の非対称性を示すアシンメトリ値βを次式で求める。  
［数１］
β＝（ＶＨ＋ＶＬ）／（ＶＨ−ＶＬ）                  （式１）
アシンメトリ値βが小さい（ゼロに近い）程、波形の対称性が高く良好な波形であることを表している。
【００４６】
そこで、最もゼロに近いアシンメトリ値βに対応する記録パワーを最適記録パワー（第１の層に対する最適記録パワーＰopt１と、第２の層に対する最適記録パワーＰopt２）として決定している。
【００４７】
このように、従来の方法では、第１の層と第２の層のいずれの層に対しても、ＯＰＣ範囲の中心値として推奨記録パワーＰｃ１、Ｐｃ２そのものを用いている。
【００４８】
なお、前述したように、推奨記録パワーＰｃ１、Ｐｃ２は、光ディスク自体に記録されている場合や、光ディスク装置１のメモリに光ディスクの種類と関連付けて保存されている場合がある。
【００４９】
図４は、前述した従来の方法で発生しうる問題点を説明する図である。図４は、アシンメトリ値対記録パワー特性の特徴を示す図である。図４の横軸は記録パワーであり、縦軸はアシンメトリ値βである。一般に、アシンメトリ値βの記録パワーに対する感度（変化の大きさ）は、図４に示したように、第１層よりも第２層の方が低い。
【００５０】
図４では、第１の層に対する基準特性及び“実際の特性”、並びに第２の層に対する基準特性及び“実際の特性”を併せて示している。
【００５１】
ここで基準特性とは、各層を推奨記録パワーＰｃ１、Ｐｃ２で記録したときに最適なアシンメトリ値β（即ち、β＝０）が得られる特性であり、標準的な光ディスク装置の特性や標準的な温度等の環境を前提としたものである。
【００５２】
一方、“実際の特性”は、光ディスクが挿入される個々の光ディスク装置１の特性（主に光ピックアップ３の電気的、光学的特性）や温度等の環境変化の影響が含まれる特性である。ＯＰＣ処理は、“実際の特性”が基準特性と異なるため、光ディスクに記録を行うたびに行う処理であり、“実際の特性”に対して最適なアシンメトリ値βが得られる記録パワーを決定する処理である。
【００５３】
通常、基準特性に対する“実際の特性”のずれの程度（特性の傾きの変化の程度）は、第１の層と第２の層とではそれ程大きな差はない。同じ光ピックアップ３が同じ使用環境で用いられるからである。
【００５４】
しかしながら、アシンメトリ値βの記録パワーに対する感度は第１層よりも第２層の方が低い。このため、図４に示したように、基準特性から“実際の特性”に変化したときに、最適アシンメトリ値を維持するために変化させなければならない記録パワーの量は、第１層よりも第２層の方が大きくなる。
【００５５】
従って、推奨記録パワーを中心に記録パワーを所定のＯＰＣ範囲で変化させてＯＰＣを行う場合、第１層ではそのＯＰＣ範囲内で最適アシンメトリ値が得られたとしても、第２層では同じＯＰＣ範囲内では最適アシンメトリ値が得られない場合が発生しうる。
【００５６】
図４は、第２の層では、推奨記録パワーＰｃ２を中心にしたＯＰＣ範囲ではアシンメトリ値βの最適値が得られない例を示している。この場合、ＯＰＣ範囲の中心値をシフトさせて再度ＯＰＣを行う（ＯＰＣのリトライ）ことになる。この結果、ＯＰＣ処理に要する時間が増加し、また、テスト記録エリア（ＰＣＡ）も余計に消費してしまうことになる。
【００５７】
ＯＰＣのリトライを回避するため、第２の層に対してはＯＰＣ範囲を広げる方法も考えられるが、この方法でもＯＰＣ処理に時間がかかることと、テスト記録エリアを多く消費することに変わりはない。
【００５８】
このような問題を解消するため、本実施形態に係る光ディスク装置１では、第１の層に対して行われたＯＰＣ処理の結果を利用することで、第２の層に対するＯＰＣ処理を効率よく行う方法を実現している。
【００５９】
図５は、本実施形態に係る光ディスク装置１のＯＰＣ処理の一例を示すフローチャートであり、図６はその説明図である。
【００６０】
まず、図５のフローチャートのステップＳＴ１において、第１の層の推奨記録パワーＰｃ１を中心に所定の検索幅を持つＯＰＣ範囲で、記録パワーを変化させながらテストデータを記録していく（図６（ａ）も参照）。
【００６１】
次に、第１の層に記録したテストデータを再生し、アシンメトリ値βを求め、最適なアシンメトリ値βが得られる記録パワーを第１の層の最適記録パワーＰopt１として決定する(ステップＳＴ２)。
【００６２】
次に、第１の層の推奨記録パワーＰｃ１と最適記録パワーＰopt１の比（ｒ）を次の（式２）から算出する(ステップＳＴ３)。  
［数２］
ｒ＝Ｐopt１／Ｐｃ１                                （式２）
【００６３】
次に、第２の層の推奨記録パワーＰｃ２を、算出した比（ｒ）を用いて補正し、推奨記録パワーＰｃ２の補正値Ｐ’ｃ２を求める（ステップＳＴ４）。このときの補正は次の（式３）による。  
［数３］
Ｐ’ｃ２＝ｒ＊Ｐｃ２                                （式３）
【００６４】
そして、補正後の第２の推奨記録パワーＰ’ｃ２を中心としたＯＰＣ範囲（検索幅は、第１の層に対する検索幅と同じ）で記録パワーを変化させながら第２の層に対してテストデータを記録していく（ステップＳＴ５）。
【００６５】
図６（ｂ）は、第２の層に対するＯＰＣ処理を示す図であり、図中、破線は補正をしなかった場合のＯＰＣ処理、実線は補正をしたときのＯＰＣ処理を示している。
【００６６】
上記における比（ｒ）は、基準特性に対する“実際の特性”のずれの程度（特性の傾きの変化の程度）を表す指標であり、前述したように、第１の層と第２の層とではそれ程大きな差はないと考えられる。そこで、本実施形態では、第１の層に対するＯＰＣ処理の結果から得られた比（ｒ）を用いて、第２の層に対するＯＰＣ範囲をシフトさせるようにＯＰＣ範囲の中心値を補正している。
【００６７】
この結果、第２の層の推奨記録パワーＰｃ２と、第２の層に対する最適記録パワーＰopt２との差が大きな場合であっても、ＯＰＣ処理のリトライをすることなく、或いはＯＰＣ範囲を広げることなく、第１の層と同じ検索幅のなかで最適記録パワーＰopt２を見つけ出すことが可能となる。
【００６８】
この結果、ＯＰＣ処理時間の増加を防止すると共に試し書き領域の消費を低減することができる。
【００６９】
なお、本発明は上記の各実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の実施形態の発明を形成できる。例えば、各実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示す図。
【図２】２層の記録型光ディスクにデータを記録し、再生するときのレーザビームと各層の位置関係を説明する図。
【図３】２層の記録型光ディスクに対するＯＰＣ処理の従来の方法を説明する図。
【図４】従来のＯＰＣ処理方法の問題点を説明する図。
【図５】本発明の実施形態に係る光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の一例を示すフローチャート。
【図６】本発明の実施形態に係る光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の説明図。
【符号の説明】
【００７１】
１  光ディスク装置
３  光ピックアップ
６  記録部（レーザ駆動回路）
６０  データ再生部
８２  アシンメトリ値算出部
７０  制御部
７３  記録パワー決定部
【図１】
0004381456.tif 000002
【図２】
0004381456.tif 000003
【図３】
0004381456.tif 000004
【図４】
0004381456.tif 000005
【図５】
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【図６】
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