(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を設定し、処理装置上でシミュレーションを実行し、その実行結果である設計値を出力表示装置を用いて出力するシミュレーションフレームワークにおける入力パラメータ設定支援方法であって、
入力パラメータ設定支援をする処理装置は、実行結果である各設計値と該各設計値に対応する複数種類の入力パラメータを入力し、
シミュレーションにより得られた設計値の内の、一つまたは複数の設計条件を満たす各設計値に対応する複数種類の入力パラメータについて、入力パラメータの種類毎にパラメータの入力値の分布における分布の集積度を求め、該分布の集積度の値を基に入力パラメータの種類毎に参照するパラメータの入力値を抽出し、
入力パラメータの種類毎に、該入力パラメータの種類と前記抽出した入力値と該抽出した入力値の個数を入力インターフェースにより表示し、
該表示を参照して利用者が入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を設定可能にすることを特徴とする入力パラメータ設定支援方法。
【請求項２】
請求項１記載の入力パラメータ設定支援方法において、
或る入力パラメータの種類において１つのパラメータの入力値に対する分布の集積度が他のパラメータの入力値に対する分布の集積度に比較して孤立して大きいと判定された場合、前記或る入力パラメータの種類におけるパラメータの入力値を前記１つのパラメータの入力値に固定し、該或る入力パラメータの種類に関する表示を前記入力インターフェースにおける表示から除外することを特徴とする入力パラメータ設定支援方法。
【請求項３】
請求項１記載の入力パラメータ設定支援方法において、
パラメータの入力値に対応したファイルのデレクトリーを作成し、デレクトリーの階層構造の下に各デレクトリーに対応したシミュレーションの実行結果の設計値および該設計値に対応する複数種類の入力パラメータを格納したファイルを生成することを特徴とする入力パラメータ設定支援方法。
【請求項４】
入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を複数組設定し、該各組に対するシミュレーションをネットワークで繋がった複数の処理装置のそれぞれにおいて並列に実行し、その実行結果である設計値を出力表示装置を用いて出力するシミュレーションフレームワークにおける入力パラメータ設定支援方法であって、
入力パラメータ設定支援をする処理装置は、実行結果である各設計値と該各設計値に対応する複数種類の入力パラメータを入力し、
シミュレーションにより得られた設計値の内の、一つまたは複数の設計条件を満たす各設計値に対応する複数種類の入力パラメータについて、入力パラメータの種類毎にパラメータの入力値の分布における分布の集積度を求め、該分布の集積度の値を基に入力パラメータの種類毎に参照するパラメータの入力値を抽出し、
入力パラメータの種類毎に、該入力パラメータの種類と前記抽出した入力値と該抽出した入力値の個数を入力インターフェースにより表示し、
該表示を参照して利用者が入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を設定可能にすることを特徴とする入力パラメータ設定支援方法。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のいずれかの請求項記載の入力パラメータ設定支援方法において、
前記シミュレーションにより得られた設計値および該設計値に対応する複数種類の入力パラメータと共に既存の測定結果として得られた設計値および該設計値に対応する複数種類の入力パラメータを用いることを特徴とする入力パラメータ設定支援方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子設計、集積回路設計、または、磁気記憶素子設計等のあらゆる科学技術分野の製品設計に活用されているシミュレータ又はＣＡＤシステム（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ａｉｄｅｄ  Ｄｅｓｉｇｎ）に係わり、特に、シミュレーションによるパラメータサーベイを実行し、製品の最適設計およびその設計期間の短縮を実現する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
製品設計において、設計の対象となるパラメータを設定し、実際にその製品のプロトタイプを試作し、その性能を評価するといった一連の作業を試行錯誤的に繰り返すことが多い。
図７に示すように、７０１において、今までの測定結果や経験を元に、パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、ーーーーー、Ｐｍ）の値を設定し、実際にそのパラメータに従って製品のプロトタイプを試作する。
例えば、パラメータ１（Ｐａ１、Ｐｂ１、ーーーーー、Ｐｍ１），パラメータ２（Ｐａ１、Ｐｂ１、ーーーーー、Ｐｍ３），……，パラメータ４（Ｐａ４、Ｐｂ１、ーーーーー、Ｐｍ１），……………  に従って製品のプロトタイプを試作する。
次に、７０２において、各パラメータに従って作成された試作品の性能を測定し、７０３の測定結果（Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、ーーーーー）を得る。ここで、Ｄ１はパラメータ１に従った製品の測定結果けっかを示す。Ｄ２以下についても同様である。
その測定結果７０３から設計条件７０４を満たす測定結果を選択し、選択した測定結果を設計値とする。
７０５において、設計値Ｄ２（Ｐａ１、Ｐｂ１、ーーーーー、Ｐｍ３）とＤ４（Ｐａ４、Ｐｂ１、ーーーーー、Ｐｍ１）を得る。
もし、設計条件を満たす測定結果が得られない場合は、新規に設計の対象となるパラメータの値を設定し直し、再度試作し測定を行い、設計条件を満たす設計値が得られるまで繰り返す。
この単純な設計フローでは、設計の対象となるパラメータの種類や数が無数に存在するため、膨大な時間と労力を必要とすると共に高いコストが発生する。
【０００３】
試作の反復回数を減らす方法として、統計処理の手法を用いた田口メソッド（ＮＩＫＫＥＩ  ＭＥＣＨＡＮＩＣＡＬ  １９９６．２．１９  ｎｏ．４７４  ｐ．２２）等が提案されている。
田口メソッドでは、パラメータの種類として、実際にパラメータの制御や設計が可能な制御パラメータおよび制御が不可能な誤差パラメータに分離する。
制御パラメータでは、統計処理の手法で利用される直交表を用いて最小のパラメータの組を設定する。
例えば、18組の直交表が推奨されており、パラメータの数を削減することができる。
次に、直交表に従った最小のパラメータの組に対し実際に試作し、試作品の特性としてSN比および感度を測定する。
パラメータの値の設定の手順は、SN比の高いパラメータの組から選択し、次に感度の高いパラメータの組を選択し、高安定な製品を設計する。
しかし、誤差パラメータに対しては、そのパラメータの種類と値の数だけの組み合わせが発生する。
その数だけの試作および測定を繰り返さなければならないため、試作の回数の更なる低減により高コストの問題を克服しなければならない。
【０００４】
そこで、並列機やワークステーションクラスタの数値演算装置上でシミュレーションを実行し、各プロセッサ上で設計の対象となる複数のパラメータの値を複数同時的に計算する並列パラメータサーベイの方法（特願平10-145414号：シミュレーションジョブおよびデータ管理方法）が提案された。
ユーザは、マウスやキーボードおよびディスプレイ等からなる入力表示装置から、材料や構造モデリング、物理モデリング、数値計算手法の数値実験モデリング等におけるパラメータの値を設定する。
この入力パラメータの値に基づき、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）やメモリ及びネットワークから構成された数値演算装置上でシミュレーションプログラムに基づいて演算処理を実行する。
シミュレーションの実行結果は、データまたはグラフィックカルな形でディスプレイ等の出力表示装置に出力されユーザの製品設計を支援する。
【０００５】
ここで、図８に示すように、８０１において、設計対象となる複数の入力パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、ーーーーー、Ｐｍ）の値を設定し、シミュレーションをシーケンシャルに実行する代わりに、８０２において、ネットワークに繋がった並列機やワークステーションクラスタの各プロセッサ上で各入力パラメータの値を複数同時的に並列実行し、プロセッサの数だけ高速に８０３のシミュレーションの結果（Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、ーーーーー、Ｄｋ）を得ようとする方法である。
シミュレーションの実行結果８０３が、設計条件８０４を満たさない場合は、再び８０１においてパラメータを設定し直して、設計条件８０４を満たす７０５の設計値Ｄ１（Ｐａ１、Ｐｂ３、ーーーーー、Ｐｍ４）とＤ３（Ｐａ４、Ｐｂ２、ーーーーー、Ｐｍ２）を得るまで、８０２で並列パラメータサーベイを繰り返し実行する。
この並列パラメータサーベイの方法は、実際の試作の反復回数を大幅に削減し、高コストの問題を解決し、プロセッサの数だけシミュレーションの計算所要時間を短縮することが可能である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
近年、ユーザのニーズの多様化が進み、製品の開発サイクルの短縮および早期の市場への投入が高い利益率の確保のために必須になっている。
そのために、シミュレーションによる製品設計において、設計の対象となる入力パラメータの種類と数を削減することが不可欠である。
例えば、図８に示すように、８０２において、入力パラメータの種類が４つ存在し、各入力パラメータに対し各々４つの推奨されるパラメータの値が存在する場合、４の４乗で２５６個のパラメータの組が発生し、並列パラメータサーベイの方法を用いても非常に膨大なシミュレーションの計算所要時間が必要となる。
また、入力パラメータの種類とパラメータの入力値が増えるにつれ、入力パラメータの値の設定を手作業で繰り返さなければならないため、人為的なミスによるパラメータの入力値を間違える可能性が高くなる。
また、ユーザや顧客にとって、従来慣れ親しんできた試作による製品設計からパラメータサーベイを用いたシミュレーションによる製品設計に移行することは、非常に大きなバリヤが存在する。
今までの測定結果や解析結果を如何にシミュレーションの実行結果と組み合わせ、設計条件を満たすパラメータの値を探索すべきかをガイダンスする必要がある。
シミュレーションによる製品設計を迅速且つスムーズに移行するための立ち上げを支援しなければならない。
【０００７】
従って、シミュレーションによる製品設計において、設計対象となる入力パラメータの種類と数を大幅に削減し、手作業によるパラメータの入力値の人為的なミスを防ぎ、従来の測定結果とシミュレーションの結果を併用しつつ、実際の試作に代わり低コスト且つ高速に最適設計が可能なシミュレーションを用いた製品設計のフレームワークを提供することが重要となる。
このシミュレーションフレームワークの急速立ち上げにより、入力パラメータの値とシミュレーションの結果をデータベース化した仮想設計データベースを作成し、製品の最適設計を大幅に加速することが望まれる。
例えば、プロセスのマージンに対する動作マージンの感度や相関係数を算出し、製品の歩留まりの急速立ち上げや不良対策設計期間の短縮が可能な品質向上設計のためのシミュレーションフレームワークの実現が期待される。
本発明の目的は、シミュレーションによる製品設計において、設計対象となる入力パラメータの種類と数を大幅に削減することにあり、また、これにより手作業によるパラメータの入力値の人為的なミスを防ぐことにある。
本発明の他の目的は、従来の実際の試作に代わり、低コスト且つ高速に製品の最適設計を可能にすることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、
入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を設定し、処理装置上でシミュレーションを実行し、その実行結果である設計値を出力表示装置を用いて出力するシミュレーションフレームワークにおける入力パラメータ設定支援方法であり、
入力パラメータ設定支援をする処理装置は、実行結果である各設計値と該各設計値に対応する複数種類の入力パラメータを入力し、
シミュレーションにより得られた設計値の内の、一つまたは複数の設計条件を満たす各設計値に対応する複数種類の入力パラメータについて、入力パラメータの種類毎にパラメータの入力値の分布における分布の集積度を求め、該分布の集積度の値を基に入力パラメータの種類毎に参照するパラメータの入力値を抽出し、
入力パラメータの種類毎に、該入力パラメータの種類と前記抽出した入力値と該抽出した入力値の個数を入力インターフェースにより表示し、
該表示を参照して利用者が入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を設定可能にするようにしている。
【０００９】
また、或る入力パラメータの種類において１つのパラメータの入力値に対する分布の集積度が他のパラメータの入力値に対する分布の集積度に比較して孤立して大きいと判定された場合、前記或る入力パラメータの種類におけるパラメータの入力値を前記１つのパラメータの入力値に固定し、該或る入力パラメータの種類に関する表示を前記入力インターフェースにおける表示から除外するようにしている。
【００１０】
また、パラメータの入力値に対応したファイルのデレクトリーを作成し、デレクトリーの階層構造の下に各デレクトリーに対応したシミュレーションの実行結果の設計値および該設計値に対応する複数種類の入力パラメータを格納したファイルを生成するようにしている。
【００１１】
また、入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を複数組設定し、該各組に対するシミュレーションをネットワークで繋がった複数の処理装置のそれぞれにおいて並列に実行し、その実行結果である設計値を出力表示装置を用いて出力するシミュレーションフレームワークにおける入力パラメータ設定支援方法であり、
入力パラメータ設定支援をする処理装置は、実行結果である各設計値と該各設計値に対応する複数種類の入力パラメータを入力し、
シミュレーションにより得られた設計値の内の、一つまたは複数の設計条件を満たす各設計値に対応する複数種類の入力パラメータについて、入力パラメータの種類毎にパラメータの入力値の分布における分布の集積度を求め、該分布の集積度の値を基に入力パラメータの種類毎に参照するパラメータの入力値を抽出し、
入力パラメータの種類毎に、該入力パラメータの種類と前記抽出した入力値と該抽出した入力値の個数を入力インターフェースにより表示し、
該表示を参照して利用者が入力表示装置から複数種類の入力パラメータの値を設定可能にするようにしている。
【００１２】
また、前記シミュレーションにより得られた設計値および該設計値に対応する複数種類の入力パラメータと共に既存の測定結果として得られた設計値および該設計値に対応する複数種類の入力パラメータを用いるようにしている。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施例を図面により詳細に説明する。
図６は、パラメータサーベイによるシミュレーションフレームワークを用いた製品設計の実行環境である。
インサーネット６０１に繋げられたワークステーション６０２のクラスタ６０３、又は、内部通信バス６０５に繋げられた多数のＲＩＳＣプロセッサで構成された超並列コンピュータ６０４等、ネットワーク環境下のハードウェア上にインプリメントされたシミュレーションを実行する並列分散実行する環境を示している。
【００１４】
図１は、本発明に係わる構成の第１の実施例を示すブロック図である。
１０１において、設計対象となる入力パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、ーーーーー、Ｐｍ）の値を複数個設定し、シミュレーションをシーケンシャルに実行する代わりに、１０２において、ネットワークに繋がった並列機やワークステーションクラスタの各プロセッサ上で各入力パラメータの値に対し複数同時的に並列実行し、プロセッサの数だけ高速に１０３のシミュレーションの結果（Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、ーーーーー、Ｄｋ）を得る。
【００１５】
本発明のパラメータ設定制御部１０６では、シミュレーションを実行した計算結果１０３の設計値と設計条件１０４を比較し、その設計条件１０４を満たす設計値１０５を得る。この場合、シミュレーションを実行した計算結果１０３でなく、試作により得られた測定結果の設計値であってもよい。
パラメータの入力値の分布を集計する１０８の部位を図２に詳細に示す。
入力パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ、ーーーーー、Ｐｍ）の値、
（Ｐａ２、Ｐｂ２、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）に対する設計値Ｄ１、
（Ｐａ１、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）に対する設計値Ｄ２、
（Ｐａ３、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）に対する設計値Ｄ３、
（Ｐａ４、Ｐｂ１、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）に対する設計値Ｄ４を示している。
今仮に、設計値Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、ーーーーーの中で設計条件を設計値Ｄ２、Ｄ４、ーーーーーが満たすと仮定する。
【００１６】
ここで、入力パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ、ーーーーー、Ｐｍ）に対し、設計条件を満たすパラメータの入力値を横軸に、パラメータの入力値の分布における分布の集積度を縦軸に取り、パラメータの入力値の分布の状況を探索する。
ここで、分布の集積度とは、複数の設計値におけるパラメータの入力値の分布において同じパラメータの入力値が何回現れるかを示す値である。例えば、ｎ個の設計値においてＰｂ１というパラメータの入力値がｘ回現れれば、分布の集積度はｘ（またはαｘ、αは係数）となる。
ここでは、パラメータの入力値はＰｋ１、Ｐｋ２、Ｐｋ３、ーーーーーに横軸に並ぶものと仮定して説明する。
パラメータＰａに対しては、設計条件を満たすパラメータの入力値はＰａ１、Ｐａ４、ーーーーーと広範囲な入力値にほぼ均等に分散している。
パラメータＰｂに対しては、設計条件を満たすパラメータの入力値はＰｂ１、Ｐｂ１、ーーーーーと特定のパラメータの値に集中している。図の分布ではＰｂ１の分布の集積度が大きくなっている。
パラメータＰｃとＰｍに対しては、設計条件を満たすパラメータの入力値は、各々Ｐｃ１、Ｐｃ２、ーーーーーおよびＰｍ１、Ｐｍ３、ーーーーーと限定された複数のパラメータの値に散らばっており、各入力パラメータに対しそのパラメータの入力値の分布の集積度を得ることができる。
複数の設計条件を満たさなければならないときは、設計条件を満たすパラメータの入力値を横軸に、複数の設計項目をもう一方の横軸にし、その二次元平面上でパラメータの入力値の分布を縦軸に取り、パラメータの入力値の分布を集計し、その集積度を求めることができる。
パラメータの入力値の分布の集積度に応じて、特定のパラメータの値に集中する場合、限定された複数の入力値に散らばる場合、または、広範囲な入力値にほぼ均等に分散する場合に入力パラメータを分離する。
【００１７】
次に、図１のパラメータ設定制御部１０６では、パラメータの入力値の分布に応じて、入力パラメータの種類とパラメータの入力値の個数および入力パラメータの参照値を設定する部位１０９が存在する。
パラメータＰａでは、設計条件を満たすパラメータの入力値はＰａ１、Ｐａ４、ーーーーーと広範囲にほぼ均等に分散するため、パラメータの入力値の個数を任意にし、現パラメータの入力値Ｐａ１、Ｐａ２、ーーーーー、ＰａＮを参照値の一覧として設定する。
パラメータＰｂでは、設計条件を満たすパラメータの入力値はＰｂ１、Ｐｂ１、ーーーーーと特定のパラメータの値に集中し、パラメータの入力を不可またはその入力値の個数を１つに限定し、入力値Ｐｂ１を参照値として設定する。
パラメータＰｃとＰｍでは、設計条件を満たすパラメータの入力値は各々Ｐｃ１、Ｐｃ２、ーーーーーおよびＰｍ１、Ｐｍ３、ーーーーーと限定された複数のパラメータの値に散らばり、パラメータの入力値の個数を複数個に制限し、各々複数の入力値Ｐｃ１、Ｐｃ２およびＰｍ１、Ｐｍ３を参照値として設定する。
【００１８】
このようにして、パラメータ設定制御部では、シミュレーションの実行結果、または、試作により得られた測定結果の設計値が、一つまたは複数の設計条件を満たすときのパラメータの入力値の分布の集積度を求め、その分布に応じた入力パラメータの種類とパラメータの入力値の個数を制御し、更に、入力パラメータの参照値を設定する。
シミュレーションによる製品設計において、設計対象となる入力パラメータの種類と数を大幅に削減することができる。
【００１９】
これら設定された結果は、図３に示すように、入力インターフェースを通して表示画面等に提示する。
パラメータＰｂに対しては、一つの入力値Ｐｂ１を参照値として示し、パラメータの入力を省いたり、または、その入力値の個数を１つに制限する。
パラメータＰｃとＰｍに対しては、複数のパラメータの入力値Ｐｃ１、Ｐｃ２およびＰｍ１、Ｐｍ３を参照値として示し、パラメータの入力値の個数を複数個にする。
パラメータＰａに対しては、現パラメータの入力値Ｐａ１、Ｐａ２、ーーーーー、ＰａＮを参照値の一覧として示し、パラメータの入力値の個数を任意にする。
入力インターフェースに従ってパラメータの入力を進めることで、手作業によるパラメータの入力値の人為的なミスを防ぐことが可能となる。
【００２０】
パラメータの入力値とシミュレーションの実行結果の設計値を格納する方法として、図１の１０７において、パラメータの入力値に対応したファイルのデレクトリーを作成し、デレクトリーの階層構造の下に各デレクトリーに対応したパラメータの入力値およびシミュレーションの実行結果の設計値を格納したファイルを自動的に生成する。
デレクトリーファイル／Ｐｂ２／Ｐｃ１／Ｐｍ１／ーーーーー／Ｐａ２には、そのパラメータの入力値（Ｐａ２、Ｐｂ２、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）と設計値Ｄ１を格納する。
デレクトリーファイル／Ｐｂ１／Ｐｃ２／Ｐｍ３／ーーーーー／Ｐａ１には、そのパラメータの入力値（Ｐａ１、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）と設計値Ｄ２を格納する。
デレクトリーファイル／Ｐｂ１／Ｐｃ２／Ｐｍ３／ーーーーー／Ｐａ３には、そのパラメータの入力値（Ｐａ３、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）と設計値Ｄ３を格納する。
デレクトリーファイル／Ｐｂ１／Ｐｃ１／Ｐｍ１／ーーーーー／Ｐａ４には、そのパラメータの入力値（Ｐａ４、Ｐｂ１、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）と設計値Ｄ４を格納する。
デレクトリー名とパラメータの入力値およびその設計値は１対１の対応関係になる。
【００２１】
図４には、設計条件を満たす設計値Ｄ２とＤ４のデレクトリー構造を示した。
ここで、パラメータの入力値の分布を集計するには、全てのデレクトリーに格納した設計値Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、ーーーーーと設計条件を比較し、その設計条件を満たす設計値のデレクトリーファイル／Ｐｂ１／Ｐｃ２／Ｐｍ３ーーーーー／Ｐａ１に格納したパラメータの入力値（Ｐａ１、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）、および、
デレクトリーファイル／Ｐｂ１／Ｐｃ１／Ｐｍ１ーーーーー／Ｐａ４に格納したパラメータの入力値（Ｐａ４、Ｐｂ１、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）を取り出すことが容易になり、入力パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ、ーーーーー、Ｐｍ）の入力値の分布を集計することが可能である。
【００２２】
次に、以上説明したことを、さらに具体例を用いて説明する。
プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）における発光効率の設計を例に取り説明する。
図９にＰＤＰの三次元構造図を、図１０に二次元断面図を示す。
設計対象となる入力パラメータには、放電ギャップ表 Ｌg、x,y電極幅 Ｗxy、前面板誘電体厚 Ｌfd、螢光体膜厚 Ｌp、背面板誘電体厚 Ｌbd等がある。
並列パラメータサーベィの結果を図１１に示す。
以下に、パラメータ設定制御部１０６の具体的な処理の流れを示す。
設計条件１０４を効率６０％以上に設定するとし、設計条件を満足する設計値１０５に対応するパラメータセットとして図１１の５、７、８を得る。
パラメータの入力値の分布における分布の集計度を求める１０８では、図１２に示す入力値の分布を得る。
入力パラメータの種類とパラメータの入力値の個数および入力パラメータの参照値を設定する部位１０９では、Ｌgに対しては２つのパラメータ値に集中しているのでその値を参照値として選択する。
Ｗxyに対しては、１つのパラメータ値に対し、完全に集中しているので、その値を参照値とする。
Ｌfd，Ｌp，Ｌbdでは、パラメータ値は均等に分散しているので、参照値としては現パラメータ値、入力個数は任意に設定する。
図１３には、そのＧＵＩ画面を示している。
Ｗxyはユーザの選択により表示をなくすことができる。
このようにして、パラメータ設定制御部は、入力パラメータの種類とパラメータの入力値の個数を制御する。
【００２３】
次に、ユーザや顧客にシミュレーションフレームワークを提供し、シミュレーションによる製品設計を立ち上げる方法、および、このシミュレーションフレームワークを用いて設計条件を満たす入力パラメータの値とシミュレーションの実行結果の設計値をデータベース化し、仮想設計データベースを作成する方法について述べる。
【００２４】
図５は、シミュレーションフレームワークの立ち上げ方法および仮想設計データベースの作成方法を説明するための図である。
図５に示すように、ユーザや顧客の既存の測定結果とシミュレーション結果５０５から、設計値のデレクトリーファイルを作成する部位５０７において、パラメータの入力値に対応したファイルのデレクトリーを作成し、デレクトリーの階層構造の下に各デレクトリーに対応したパラメータの入力値およびシミュレーションの実行結果の設計値を格納したファイルを自動的に生成する。
設計値Ｄ１とそのパラメータの入力値（Ｐａ２、Ｐｂ２、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）はデレクトリーファイル／Ｐａ２／Ｐｂ２／Ｐｃ１／ーーーーー／Ｐｍ１に格納する。
設計値Ｄ２とそのパラメータの入力値（Ｐａ１、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）はデレクトリーファイル／Ｐａ１／Ｐｂ１／Ｐｃ２／ーーーーー／Ｐｍ３に格納する。
設計値Ｄ３とそのパラメータの入力値（Ｐａ３、Ｐｂ１、Ｐｃ２、ーーーーー、Ｐｍ３）はデレクトリーファイル／Ｐａ３／Ｐｂ１／Ｐｃ２／ーーーーー／Ｐｍ３に格納する。
設計値Ｄ４とパラメータの入力値（Ｐａ４、Ｐｂ１、Ｐｃ１、ーーーーー、Ｐｍ１）はデレクトリーファイル／Ｐａ４／Ｐｂ１／Ｐｃ１／ーーーーー／Ｐｍ１に格納する。
【００２５】
次に、設計条件５０４を満たすパラメータの入力値を集計する部位５０８では、入力パラメータ（Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ、ーーーーー、Ｐｍ）に対し、設計条件５０４を満たす設計値Ｄ２、Ｄ４、ーーーーーのパラメータの入力値を横軸に、パラメータの入力値の分布を縦軸に取り、パラメータの入力値の分布を探索する。
パラメータＰａに対しては、設計条件を満たすパラメータの入力値はＰａ１、Ｐａ４、ーーーーーと広範囲の入力値にほぼ均等に分散し、パラメータＰｂに対しては、Ｐｂ１、Ｐｂ１、ーーーーーと特定のパラメータの値に集中し、パラメータＰｃとＰｍに対しては、各々Ｐｃ１、Ｐｃ２、ーーーーーおよびＰｍ１、Ｐｍ３、ーーーーーと限定された複数のパラメータの値に散らばり、各入力パラメータに対しそのパラメータの入力値の分布の集積度を探索する。
【００２６】
入力パラメータの種類とパラメータの入力値の個数およびそのパラメータの参照値を設定する部位５０９では、これら入力値の分布の集積度に応じて、パラメータＰａに対しては、パラメータの入力値の個数を任意にし、現パラメータの入力値Ｐａ１、Ｐａ２、ーーーーー、ＰａＮを参照値の一覧として設定する。
入力インターフェースでは、この設定に対応し、現パラメータの入力値Ｐａ１、Ｐａ２、ーーーーー、ＰａＮを参照値として示し、パラメータの入力値の個数を任意に設定することができる。
パラメータＰｂに対しては、パラメータの入力を不可またはその入力値の個数を１つに限定し、入力値Ｐｂ１を参照値として設定する。
入力インターフェースでは、一つの入力値Ｐｂ１を参照値として示し、パラメータの入力を省いたり、または、その入力値の個数を１つに制限する。
パラメータＰｃとＰｍに対しては、パラメータの入力値の個数を複数個に制限し、複数の入力値Ｐｃ１、Ｐｃ２およびＰｍ１、Ｐｍ３を参照値として設定する。
ユーザインターフェースでは、各々の複数のパラメータの入力値Ｐｃ１、Ｐｃ２およびＰｍ１、Ｐｍ３を参照値として示し、パラメータの入力値の個数を複数個にすることができる。
このようにして、入力パラメータの種類とパラメータの入力値の個数を削減し、入力インターフェースに従ってパラメータの入力を進めることで、手作業によるパラメータの入力値の人為的なミスを防ぐことができ、ユーザや顧客の測定結果やシミュレーション結果を元に、容易にシミュレーションフレームワークの急速立ち上げが可能である。
【００２７】
図５において、シミュレーションの実行結果５０３の設計値が設計条件５０４を満たさない場合は、パラメータの設定制御部５０６を用いて、再び５０１においてパラメータを設定し、設計条件５０４を満たす設計値を得るまで並列パラメータサーベイ５０２を繰り返し実行する。
この過程で、各デレクトリーの階層構造に対応したパラメータの入力値およびシミュレーションの実行結果の設計値を格納したファイル一式５０７は、設計条件５０４を満たす入力パラメータの値とシミュレーションの結果の仮想設計データベースである。
【００２８】
【発明の効果】
本発明によれば、パラメータの設定制御部により、従来の並列パラメータサーベイを用いたシミュレーションによる製品設計において課題であった、設計対象となる入力パラメータの種類と数を大幅に削減し、手作業によるパラメータの入力値の人為的なミスを防ぐことができる。
また、従来の実際の試作に代わり、低コスト且つ高速に製品の最適設計が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係わる構成の第１の実施例を示すブロック図である。
【図２】パラメータの入力値の分布の集計を説明するための図である。
【図３】パラメータの入力インターフェースを示す図である。
【図４】パラメータの入力値と設計値を格納したデレクトリーファイルの構造を示す図である。
【図５】シミュレーションフレームワークの立ち上げ方法および仮想設計データベースの作成方法を説明するための図である。
【図６】シミュレーションフレームワークの実行環境を示す図である。
【図７】従来の試作による製品設計を説明するための図である。
【図８】従来のシミュレーションによる製品設計を説明するための図である。
【図９】プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）の三次元構造図である。
【図１０】プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）の二次元断面図である。
【図１１】並列パラメータサーベィの結果を示す図である。
【図１２】パラメータの入力値の分布を示す図である。
【図１３】入力パラメータに関するＧＵＩ画面を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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