(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
−  少なくとも一のアドレスラインと一のリードラインの交点に位置せしめられた複数の感光セルを具備し、セルはアドレスラインに接続されたスイッチ機能を持つ少なくとも一のダイオードとリードラインとに接続された感光ダイオードを具備し、該双方のダイオードは共通の点を有し、
−  少なくとも一のアドレスラインに接続されたアドレス指定手段と、
−  少なくとも一のリードラインに接続された電荷読取り手段と、
を具備し、
−  少なくとも一のアドレスラインを流れる電流を表わす情報を照射の間に測定可能な第１の測定手段を具備し、該アドレスラインは測定に関係するアドレスライン上に位置するセルにより受光される照射を定量化し得るように照射の間アイドル電位にされ、
−  少なくとも一のリードラインを流れる電流を表わす情報を照射の間に測定可能な第２の測定手段を具備し、該リードラインは測定に関係するリードライン上に位置するセルにより受光される照射を定量化し得るように照射の間特定の電位にされ、
−  第１の測定手段及び第２の測定手段が前記電荷読取り手段と別体である感光装置。
【請求項２】
第１の測定手段が、アイドル電位の供給源とアドレスラインとの間に設けられた少なくとも一の積分器型の測定回路を具備する、請求項１に記載の感光装置。
【請求項３】
第１測定手段は、前記供給源とアドレス指定手段との間に挿入されている、請求項２に記載の感光装置。
【請求項４】
第２の測定手段は、特定の電位の供給源に第１に接続され、少なくとも一のリードラインに第２に接続された積分器型測定回路と、前記特定の電位の供給源とリードラインとの間に挿入された少なくとも一のスイッチからなるスイッチ群とを具備する、請求項１に記載の感光装置。
【請求項５】
管理装置により管理される請求項１に記載の感光装置であって、第１の測定手段及び／又は第２の測定手段が該管理装置により管理される感光装置。
【請求項６】
第１の測定手段により測定された情報はアナログ・デジタル変換器により管理装置に送られる、請求項５に記載の感光装置。
【請求項７】
第２の測定手段により測定された情報はアナログ・デジタル変換器により管理装置に送られる、請求項５に記載の感光装置。
【請求項８】
アドレス指定手段は、それぞれが一又は複数のアドレスラインに接続された数個のアドレス指定回路を具備し、第１の測定手段はアドレス指定回路と同数の測定回路を具備する、請求項１に記載の感光装置。
【請求項９】
前記電荷読取り手段は、それぞれが一又は複数のリードラインに接続された数個の積分回路を具備しており、第２の測定手段が積分回路と同数の測定回路を具備する、請求項１に記載の感光装置。
【請求項１０】
感光セルがリードラインと一対のアドレスラインの交点に位置せしめられ、該セルはそれぞれが共通の点と上記対のアドレスラインの間に一つの同じ方向の伝導状態で直列接続された２つのスイッチダイオードを具備し、第１の測定手段は、第１のアイドル電位に保たれる該対の第１のアドレスラインを流れる電流を表わす情報と、第２のアイドル電位に保たれる該対の第２のアドレスラインを流れる電流を表わす情報とを測定可能であり、前記第１のアイドル電位及び前記第２のアイドル電位は区別されるものである、請求項１に記載の感光装置。
【請求項１１】
第１のアイドル電位は負かゼロであり第２のアイドル電位は正である、請求項１０に記載の感光装置。
【請求項１２】
第１の測定手段は少なくとも一対の測定回路を具備し、その一方は第１のアイドル電位の供給源と少なくとも一対の上記第１のアドレスラインとの間に設けられ、他方は第２のアイドル電位の供給源と上記対の上記第２のアドレスラインとの間に設けられた、請求項１０に記載の感光装置。
【請求項１３】
第１の測定手段は、第１及び第２のアイドル電位の供給源とアドレス指定手段との間に挿入されている、請求項１２に記載の感光装置。
【請求項１４】
第１の測定手段からの情報に第２の測定手段からの情報を加算する手段を具備する、請求項１１に記載の感光装置。
【請求項１５】
管理装置が上記加算をなすものである、請求項１４に記載の感光装置。
【請求項１６】
測定に関係するアドレスライン及び／又はリードラインの位置はオペレータにより前もって決定される、請求項１に記載の感光装置。
【請求項１７】
測定に関係するアドレスライン及び／又はリードラインの数はオペレータにより決定される、請求項１に記載の感光装置。
【請求項１８】
測定に関係するアドレスライン及び／又はリードラインの数は予備位置決め照射操作に続いて管理装置により演算される、請求項５に記載の感光装置。
【請求項１９】
測定に関係するアドレスライン及び／又はリードラインの位置は予備位置決め照射操作に続いて管理装置により演算される、請求項５に記載の感光装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、感光装置、特に照射からイメージを造り出すことができるダイオードからなる感光セルがマトリックス又は線形アレイ形に配された感光装置に関する。該装置は放射線画像の検出に好適に（これに限らない）使用される。
【０００２】
この分野では、該装置にはシンチレータスクリーンから生じる可視光線又は近可視光線が照射される。このシンチレータスクリーンは、検査患者もしくは分析物体を透過したＸ線を、感光セルが感度を有する波長帯域に適した照射線に変換する役割を担っている。
患者又は分析物体への不必要で過剰な照射を避けるために、最適な線量に達すると直ぐに照射を遮断することが求められている。
【０００３】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
標準的な放射線結像システムにおいては、放射線フィルムが受光する照射線を分析するために患者もしくは物体と放射線フィルムとの間にイオン化室を配置する方法が知られている。これらイオン化室は、その陰影が検出イメージに重なってイメージを乱すので、ダイオードを用いた感光装置では使用できない。
【０００４】
放射線イメージ増強管を用いるイメージ検出器では、受光される照射線は光電陰極電流の測定により直接制御される。これはダイオードを用いた感光装置には応用できない。
【０００５】
半導体感光装置にあっては、受光する照射線の測定を行うために装置に光学センサーを付加することが提案されている。このセンサーは、正確な点における線量の局所的推定値をもたらすが、検査中の患者の形態には適合させられない。センサーの位置が比較的永久的なものであり、その面積が一定であるためである。
【０００６】
よって、本発明は、セルがダイオードにより構成された感光装置であって、該感光装置の予め決めたセルにより測定を行なうことができる照射線測定装置を備えた感光装置を提案する。この測定装置は、照射の間、照射線に関する情報をリアルタイムで直接抜き出す。
【０００７】
従って、測定の終わりに最適な線量に達すると、Ｘ線源をカットオフすることにより、照射を遮断することが容易になる。
測定に関係する場所は、検査のタイプ又は患者の形態の関数として容易に選択することができ、この選択は検査の前だけでなく２回のイメージ撮影操作間においてもなすことができる。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
より詳細には、本発明は、
−  少なくとも一本のアドレスラインと一本のリードラインの交点に位置せしめられた感光セルを具備し、セルはアドレスラインに接続されたスイッチ機能を持つ少なくとも一つのダイオードとリードラインとに接続された感光ダイオードを具備し、該ダイオードは共通の点を有し、
−  少なくとも一本のアドレスラインに接続されたアドレス指定手段と、
−  少なくとも一本のリードラインに接続された電荷読取り手段とを具備し、
−  少なくとも一本のアドレスラインを流れる電流を表わす情報を照射の間に測定可能な第１の測定手段を具備し、該導線は測定に関係する導線上に位置するセルにより受光される照射を定量化し得るように照射の間アイドル電位にされ、
−  少なくとも一つのリードラインを流れる電流を表わす情報を照射の間に測定可能な第２の測定手段を具備し、該リードラインは測定が関係する導線上に位置するセルにより受光される照射を定量化し得るように照射の間特定の電位にされた感光装置に関する。
【０００９】
アイドル電位の供給源とアドレスラインとの間に設けられた少なくとも一つの積分器型の測定回路を持つ第１の測定手段を得ることが可能である。
より詳細には、これらの第１測定手段は供給源とアドレス指定手段との間に挿入することができる。
【００１０】
この第２の測定手段は、特定の電位の供給源に第１に接続され、少なくとも一本のリードラインに第２に接続された積分器型測定回路と、供給源とリードラインとの間に挿入された少なくとも一つのスイッチ段を具備することができる。
一般に、感光源はその異なる操作段階を制御する管理装置により管理される。この管理装置は、可能ならば第１の測定手段及び／又は第２の測定手段をも制御する。
この場合、第１の測定手段により測定された情報はアナログ・デジタル変換器により管理装置に送られる。同様に、第２の測定手段により測定された情報はアナログ・デジタル変換器により管理装置に送られる。
【００１１】
測定に関連するアドレスライン及び／又はリードラインの数は予備位置決め照射操作の終わりに管理装置により演算することができる。
測定に関連する導線の位置は予備位置決め照射操作に続いて管理装置により演算することができる。
同様にして、測定に関連するアドレスライン及び／又はリードラインの数はオペレータが決定することができる。
測定に関連する導線の位置はオペレータにより前もって決定されると想定される。
【００１２】
一般に、アドレス指定手段は、それぞれが一又は複数のアドレスラインに接続された数個のアドレス指定回路を具備しており、第１の測定手段はアドレス指定回路と同数の多くの測定回路を具備すべきとするのが好適で簡単である。同様に、第２の測定手段は積分回路と同数の多くの測定回路を具備する。
【００１３】
一つの変形例では、感光セルはリードラインと一対のアドレスラインの交点に位置せしめられ、それぞれが共通の点と該対のアドレスラインの間に一つの同じ方向の伝導状態で直列接続された２つのスイッチダイオードを具備する。この構成では、第１の測定手段は、第１のアイドル電位に保たれる該対の第１位のアドレスラインを流れる電流を表わす情報と、第２のアイドル電位に保たれる該対の第２のアドレスラインを流れる電流を表わす情報とを測定することができ、第１及び第２の電位は区別されるものである。
【００１４】
好ましくは、第１のアイドル電位は負かゼロであり第２のアイドル電位は正である。
この構成では、第１の測定手段は少なくとも一対の測定回路を具備し、その一方は第１のアイドル電位の供給源と少なくとも一対の上記第１のアドレスラインとの間に設けられ、他方は第２のアイドル電位の供給源と該対の上記第２のアドレスラインとの間に設けられる。
【００１５】
第１の測定手段は、第１及び第２のアイドル電位の供給源とアドレス指定手段との間に挿入することができる。
この構成では、第１の測定手段からの情報に第２の測定手段からの情報を加算する手段が設けられる。
管理装置はこの加算を実施することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
図１と図４には、単一セルＣ１のダイオードが明確に示されている。
図１は本発明に係る感光装置の例示的で非限定的な図である。この感光装置は、この例ではマトリックス１として配置された複数の感光セルＣ１からＣ３６を有する。各セルＣ１からＣ３６は２つのダイオードＤｐとＤｃにより形成されており、その一つのＤｐは感光性で、他のＤｃはスイッチ機能を有している。これらのダイオードは、共通の点Ａで反対の伝導方向にて直列接続されている。図面を過度に詳細に記載する負担を軽減する意味で、セルＣ１のダイオードのみを図示し、他のセルは破線で記号化した。
【００１７】
この装置は特にＸ線イメージを検出するために使用することができる。この用途では、感光装置と検査物体又は患者の間にシンチレータが介在せしめられる。シンチレータは物体又は患者を透過するＸ線を受光し、感光ダイオードが感度のある波長帯域における可視又は可視でない光線にこれを変換する。図１には、このシンチレータは示していない。
【００１８】
記載した非限定的な実施形態では、感光セルＣ１からＣ３６の数は、６ｘ６のアセンブリーで３６であるが、実際にはこの数は遥かに多く、例えば１０００ｘ１０００である。
感光マトリックス１は、交差するアドレスラインＬ１からＬ６とリードラインＦ１からＦ６を有し、各Ｃ１からＣ３６はアドレスラインとリードラインの交点に位置している。
【００１９】
記載した非限定的な実施形態では、セルＣ１からＣ３６のスイッチダイオードＤｃの陰極がアドレスラインＬ１からＬ６に接続されており、感光ダイオードＤｐは、またその陰極がリードラインＦ１からＦ６に接続されている。
【００２０】
アドレス指定手段２０はアドレスラインＬ１からＬ６に接続されている。これらは、これらアドレスラインに接続された感光セルＣ１からＣ３６の読取りの観点から各アドレスラインＬ１からＬ６の順次アドレス指定を可能にする。これらは、例えば論理けた送りレジスター型の一又は複数のアドレス指定回路２１、２２によって形成されている。図１は２つのアドレス指定回路２１、２２を示しており、各回路は３本のアドレスラインＬ１−Ｌ３及びＬ４−Ｌ６に接続されている。
【００２１】
これらアドレス指定手段２０は、特にいわゆる予備位置決め照射又は試行照射の後と本照射（有用な照射）の前、つまり患者又は物体の放射線画像を得るために有用な信号の前に予備位置決め電圧ＶＰ１を印加することを可能にする。この電圧はアイドル電圧ＶＲから得られたパルスＩＰの形を有している。本照射後には、これらアドレス指定手段により、アイドル電圧ＶＲから、これもパルスＩＬの形の読取り電圧ＶＰ２を印加することが可能になり、予備位置決めパルスＩＰの振幅は読取りパルスＩＬの振幅よりも小さい。アイドル電圧ＶＲはアース電位とすることができる。アイドル電圧は供給源ＳＶＲから供給される。
【００２２】
アドレスラインＬ１からＬ６は、読取りパルスＩＬを逐次受け取る一方、予備位置決めパルスＩＰを同時に又は非同時に受け取ることができる。読取りパルスＩＬ、予備位置決めパルスＩＰ及び照射の利用は、トムソン−シー・エス・エフによって出願された特許ＥＰ−Ｂ−０３６４３１４に記載されている。この予備位置決め照射及び予備位置決めパルスにより感光装置は非常に弱い本照射線を検出することができる。
【００２３】
各リードラインＦ１からＦ６は読取り手段３０に接続されている、これらの読取り手段３０は、記載された実施例では、一又は複数の積分回路３１、３２と獲得読取り回路３３を具備している。積分回路３１、３２は、それぞれ積分コンデンサＣＬ１からＣＬ６によって積分器として設けられた一又は複数の演算増幅器Ｇ１からＧ６を具備している。各リードラインＦ１からＦ６は、増幅器Ｇ１からＧ６のネガティブ入力「−」に接続されている。各積分コンデンサＣＬ１からＣＬ６は、増幅器Ｇ１からＧ６のネガティブ入力「−」と該増幅器の出力Ｓ１からＳ６との間に設けられている。各増幅器の第２の入力又はポジティブ入力「＋」は基準電位ＶＲ’に接続されている。この電位はアイドル電位ＶＲと同じでもよく、従って実質的にアース電位である。
【００２４】
増幅器Ｇ１からＧ６の出力Ｓ１からＳ６は、並列入力及び直列出力回路であるデータ獲得読取り回路３３に接続されている。この獲得読取り回路３３はメモリ素子Ｍ１からＭ６、スイッチ素子ＩＬ１からＩＬ６、内部バスラインＢ及び出力増幅器ＡＳを具備することができる。積分増幅器Ｇ１からＧ６の出力Ｓ１からＳ６はそれぞれメモリ素子Ｍ１からＭ６に接続されている。これらのメモリ素子Ｍ１からＭ６はスイッチ素子ＩＬ１からＩＬ６を介して内部バスラインＢに接続されている。内部バスラインＢは出力増幅器ＡＳに供給する。
【００２５】
照射の間、電荷は照射セルの共通の点Ａに集まる。例えば一つの同じアドレスラインＬ１に位置したセルの共通の点Ａに蓄積する電荷は、読取りパルスＩＬがこのアドレスラインＬ１に印加されたときにリードラインＦ１からＦ６に送られ、同時に増幅器Ｇ１からＧ６により積分され、メモリ素子Ｍ１からＭ６に記憶され、スイッチＩＬ１からＩＬ６が開放される。これらのセルの読取りパルスが終了すると、スイッチＩＬ１からＩＬ６が各々順に閉じられ、メモリ素子Ｍ１からＭ６に記憶された情報がバスラインＢを通って出力増幅器ＡＳに逐次伝送される一方、読取り増幅器Ｇ１からＧ６が他のアドレスラインに対応する電荷を並列に積分する。
【００２６】
アドレス指定手段２０と読取り手段３０は、操作段階に応じてアドレスラインへの適切な電圧の印加を制御する管理装置４００により管理される。
【００２７】
図２ａはアドレスラインＬ１に印加された電圧ＶＬ１とセルＣ１があるリードラインＦ１に印加された電圧ＶＦ１を示している。これらの電圧は照射線の測定をしない状態で印加されている。アドレスラインＬ１は、このアセンブリにおいてアイドル電位ＶＲと比較して負であるとされる振幅ＶＰ２を持つ読取りパルスＩＬを受け取る。もし２つのダイオードが逆に取付けられているならば、正となる。電圧ＶＦ１は一定で基準電圧ＶＲ１に等しい。
【００２８】
予備位置決めパルスＩＰは、読取りパルスＩＬの前にこのアドレスラインＬ１に供給される。これは読取りパルスＩＬと同じ極性を有しているがより小さい振幅を持つ。パルスがない場合は、アドレスラインＬ１はアイドル電圧ＶＲを受け取る。実質的に一定の電圧ＶＲ’がリードラインＦ１に印加される。この電圧ＶＲ’はアイドル電圧ＶＲに等しくすることができる。
【００２９】
図２ｂはセルＣ１が受光する予備位置決め照射ＥＰと本照射ＥＵを示す。予備位置決めパルスＩＰと読取りパルスＩＬは予備位置決め照射ＥＰと本照射ＥＵの後にそれぞれ供給される。
図２ＣはセルＣ１の２つのダイオードＤｃとＤｐの間の共通の点Ａにおける電圧ＶＡの変動を示す。
【００３０】
読取りパルスＩＬの後端である時間ｔ０では、もしｔ０が作動の開始点であればＶＲからＶＡ１に変わる共通の点Ａの電圧ＶＡは減少する。
時間ｔ０と時間ｔ１の間では、感光ダイオードＤｐが逆バイアスでコンダクタを形成しているので、ダイオードＤｃは順方向にバイアスされ、Ａの電圧は、ＶＡ２になりＶＰ２に向かう傾向にある。
【００３１】
読取りパルスＩＬの先端である時間ｔ１では、ダイオードＤｃは閉じて逆バイアスになり、電圧ＶＡはＶＡ３まで増加する。
時間ｔ２では、時間ｔ３まで至る予備位置決め照射ＥＰが始まる。
時間ｔ２とｔ３の間では、予備位置決め照射ＥＰにより発生せしめられた電荷の影響で、電圧ＶＡはＶＡ５の値まで上昇し、基準電圧ＶＲと比較して振幅ＶＰ１を持つ予備位置決めパルスＩＰを開始する時間ｔ４まで一定のままであり、ここでＶＰ１はＶＰ２より小さい。この予備位置決めパルスＩＰにより、光導電体ダイオードＤｃを逆バイアスに置き、Ａ点に存在する電荷を消去することができる。
【００３２】
振幅ＶＰ１を持つ予備位置決めパルスＩＰの開始の時間ｔ４では電圧ＶＡがＶＡ６まで降下する。スイッチダイオードＤｃは直接伝導の状態でリセットされる。光ダイオードＤｐは逆バイアスされ、そのキャパシタンスはスイッチダイオードＤｃによりチャージされる。ｔ４の後、電圧ＶＡは継続して減少し、予備位置決めパルスＩＰが止まる時間ｔ５には、振幅ＶＰ１マイナススイッチダイオードＤｃの曲線の曲点の電圧値に相当する値に達する。
時間ｔ５の後は、電圧ＶＡは電圧ＶＡ５よりも小さい値ＶＡ７である。この値ＶＡ７は、時間ｔ７まで続く本照射ＥＵが開始される時間ｔ６まで維持される。電圧ＶＡは、Ａ点の電荷の蓄積により即発されて増加する。
【００３３】
次に、電圧ＶＡは第２の読取りパルスＩＬが始まる時間ｔ８まで保たれる値ＶＡ８をとる。時間ｔ８と第２の読取りパルスＩＬの終端である時間ｔ９の間では、電圧ＶＡは先ず急速に減少し、ついでよりゆっくりと減少する。
感光装置の作動の間、リードラインＦ１からＦ６は、実施例ではアドレスラインのアイドル電位に等しい基準電位ＶＲ’にされる。
【００３４】
例えばスイッチダイオードＤｃの非無限インピーダンスのためにセルＣ１のレベルでの本照射段階中に、照射により励起された光電流の部分Ｉdoseは、第１に光ダイオードＤｐの陰極のリードラインＦ１を読取り手段３０まで流れ、第２にアドレス指定手段２０のアドレスラインＬ１をスイッチダイオードＤｃの陰極まで流れる。この光電流部分Ｉdoseは、およそ、
Ｉdose＝Ｉｐｈｘ（Ｚｐｈ／Ｚｄｃ）
に等しく、ここで、ＺｄｃはスイッチダイオードＤｃのインピーダンス、Ｚｐｈは光ダイオードＤｐのインピーダンスである。
【００３５】
この電流Ｉdoseは、たとえ小さい値をとろうとも、測定することができ、セルにより受光される照射線を表わし、よって感光装置が放射線画像の検出に用いられる場合には患者又は物体により受光される照射線量Ｘを表わす。
しかし、Ｚｐｈ／Ｚｄｃなる比は、ダイオードの接合容量の値だけでなく逆バイアスダイオードの各漏れ電流にも依存する複雑な関数であり、従ってこの比は温度、予備位置決め電圧ＶＰ１等々のようなパラメータの関数として変動せしめられることは忘れるべきではない。
【００３６】
図３は、セルＣ１のスイッチダイオードＤｃと光ダイオードＤｐが接続されているアドレスラインＬ１とリードラインＦ１を流れる電流Ｉdoseを示す、セルＣ１に等価な電気回路を示す。
【００３７】
本発明によれば、感光装置１は、照射の間アドレスラインＬ１からＬ６を流れる電流を表わす情報を測定することができる少なくとも一つのアドレスラインＬ１からＬ６を持つ第１の測定手段２００と、照射の間のリードラインＦ１の電流を表わす情報を測定することができる少なくとも一つのリードラインＦ１からＦ６を持つ第２の測定手段３００を具備する。
【００３８】
これら第１の測定手段２００は、照射がなされている時間間隔の間に関連したアドレスライン又は導線群を流れる電流の積分値を実際に測定する例えば積分器型の一又は複数の測定回路２０１により形成される。各測定回路２０１はアイドル電位ＶＲの供給源ＳＶＲに第１に接続され、一又は複数のアドレスラインＬ１からＬ６に第２に接続される。図１の例では、各測定回路２０１は、アドレス指定回路２１、２２を介して３本のアドレスラインＬ１−Ｌ３、Ｌ４−Ｌ６に接続されている。
【００３９】
測定は照射を通じてなされ、このときアイドル電圧ＶＲの測定に関連するアドレスライン又は導線群に供給される。
１０００ｘ１０００セルのマトリックスでは、およそ１００のアドレスラインに対して一つのアドレス指定回路があり、１００のリードラインに対して一つの積分回路がある。実際には、この感光マトリックスのサイズとしては、アドレス指定回路と同じだけ多い測定回路を設けることができる。測定された情報は、一つの同じアドレス指定回路２１に接続されたアドレスラインの帯域Ｂ１を流れる電流の合計を表わす。この帯域Ｂ１は水平に示されている。この情報はこの帯域Ｂ１に位置するセルにより受光された照射を表わし、従って帯域Ｂ１に位置するセルに対応する照射範囲における患者または物体により受光された線量を表わす。測定に関連するアドレスラインの数の選択は、得ようとする解像度に依存する。これらをより少なくあるいはより多く設けることも勿論可能である。最良の解像度はアドレスライン当り一つの測定回路のときに得られる。多くの数の測定回路を設け、それらをグループ化して用いて、患者の形態及び行っている検査の種類に適した空間精度を得ることができる。
【００４０】
これらの第１の測定手段２０１により集められる情報は感光装置の管理装置４００に送られる。この伝送は、アナログ・デジタル変換器２１０を介してなされる。
【００４１】
感光装置の管理装置４００は、本照射が開始するときに第１の測定手段２００の開始を制御することができ、本照射に関する情報をリアルタイムで受け取ることができる。測定がなされるアドレスラインの数は検査の前にオペレータにより前もって選択することができる。また、測定に関与するアドレスラインの数を、患者又は分析物体にとって少量のＸ線の照射に相当する予備位置決め照射の間に管理装置４００によって演算することもできる。同じようにして、測定に関連する導線の位置はオペレータにより選ばれるか管理装置により演算される。
【００４２】
予め決められた照射範囲において患者が受けた線量のリアルタイムでの推定値が利用できるようになると、管理装置４００は最適線量に達したときに照射を遮ることができる。これにより不必要な過剰照射を避けることができる。
【００４３】
ここに記載した読取り手段３０は、読取りを上記に記載したように２段階で行うことができるので、各リードラインを流れる電流を表わす情報のリアルタイムの測定とは直接両立しない。
【００４４】
このリアルタイムの測定に到達するには、少なくとも一つのリードラインＦ１からＦ６を伴う第２の測定手段３００が第１の測定手段２００とは僅かに異なる。第２の測定手段は、一又は複数の測定回路３０１（例えば積分器型のもの）を具備し、これら測定回路３０１は、一方では特定の電位ＶＤＲＮに維持され、他方では一又は複数のリードラインＦ１からＦ６に接続される。スイッチ段Ｉ１からＩ６が特定の電位ＶＤＲＮの供給源ＳＶＤＲＮとリードラインＦ１からＦ６の間に設計される。特定の電位ＶＤＲＮは好ましくはアース電位に近い。実際には、積分増幅器Ｇ１からＧ６が完全ではないので、特定の電位ＶＤＲＮは、僅かに負である。例えば、これは−０．５ボルトに等しい。実際には、
ＶＤＲＮ＝ＶＲ'−０．５＝−０．５ボルト
である。
【００４５】
この種の増幅器は、より負の電圧、例えばそれ自身のアイドル電圧ＶＲ’より約−０．５ボルトだけより負である電圧により初期化されるとき、良好に再生する。
【００４６】
図１は、積分回路３１、３２と同じだけ多い測定回路３０１を示しており、各測定回路３０１はスイッチ段Ｉ１からＩ６を介して３本のリードラインＦ１−Ｆ３及びＦ４−Ｆ６に接続されている。該スイッチ段はリードラインＦ１からＦ６と同じだけ多くのスイッチＩ１からＩ６を具備している。他の構成では、このスイッチ段は特定の電位ＶＤＲＮの供給源ＳＶＤＲＮと測定回路３０１の間に位置せしめられることが可能で、測定回路３０１と同じだけ多くのスイッチ素子がある。
【００４７】
第２の測定手段３００は照射の最初における測定を開始するために設計されている。アドレスライン上で行われる測定の場合と同様に、測定された情報はアナログ・デジタル変換器３１０でデジタル情報に変換され、ついで感光装置の管理装置４００に送られる。
【００４８】
図１では、測定された情報は一つの同じ積分回路に接続されたリードラインＦ１からＦ３の帯域Ｂ２を流れる電流の合計を表わす。この帯域Ｂ２は垂直である。測定の間、スイッチ素子Ｉ１からＩ３は閉じられる。この情報は、この帯域Ｂ２に位置するセルにより受光される照射を表わし、よって帯域Ｂ２に位置するセルに対応する照射範囲において患者又は物体により受光された線量を表わす。測定装置４００はついで測定に関連した一又は複数のリードラインＦ１からＦ３により形成された帯域Ｂ２の照射で利用できるリアルタイムの情報を有する。測定に関連するリードラインの数の選択は得られる解像度に依存する。測定に関連するリードラインの数と位置の選択はオペレータが照射の前に決定することができ、あるいは予備位置決め段階の終わりに管理装置４００によって演算することができる。
【００４９】
測定回路３０１とリードラインＦ１、Ｆ２、Ｆ３の間のスイッチ素子Ｉ１、Ｉ２、Ｌ３の存在により、単一の導線か数本の導線かを選択して測定をなすことが可能になり、この解像度の選択に大なるフレキシビリティがもたらされる。
実際には、アドレスラインの場合と同様にして、一つの同じ積分回路３１、３２に接続されている全てのリードラインに対して測定回路３０１を使用することができ、線量の分布を正確に特定することが求められている空間精度に依存して幾つかの測定回路３０１から生じる情報を一まとめにすることが計画される。
【００５０】
なされた測定値の使用の際においては、照射がない状態で測定を実施することによって評価することができるアドレス指定及びリードラインを流れる不可避の漏れ電流を考慮することが望ましい。
【００５１】
記載した線量測定の原理は、そのセルＣ１からＣ３６が感光ダイオードＤｐとスイッチ機能を持つ２つのダイオードＤｃ１、Ｄｃ２により形成された図４のもののような感光装置にも応用できる。
【００５２】
この構造では、感光セルＣ１からＣ３６はリードラインＦ１からＦ６と一対のアドレスラインＬ１ａ、Ｌ１ｂからＬ６ａ、Ｌ６ｂの交点に位置している。
スイッチ機能を持つ２つのダイオードＤｃ１、Ｄｃ２は、一つの同じ伝導方向にて直列接続されている。
【００５３】
図４では、第１のダイオードＤｃ１の陽極が該対の第１のアドレスラインＬ１ａに接続されている。その陰極は第２のダイオードＤｃ２の陽極に接続されて共通の点Ａを形成している。第２のダイオードＤｃ２の陰極は該対の第２の導線Ｌ１ｂに接続されている。
【００５４】
感光ダイオードＤｐは２つのダイオードＤｃ１、Ｄｃ２間の共通の点Ａに接続されたその陰極と、リードラインＦ１に接続されたその陽極を有している。図４では、セルＣ１のダイオードのみが示されている。
この種の構造では、一対のアドレスラインＬ１ａ、Ｌ１ｂに印加された読取りパルスＩＬａ、Ｉｌｂは位相が逆転した状態にある。図５ａは、図２ａと同様に、セルＣ１のアドレスラインＬ１ａ、Ｌ１ｂの対とリードラインＦ１に印加される電圧を示している。図５ｂはそれが受ける照射を示しており、図５ｃは共通の点Ａにおける電位ＶＡの変動を示している。
【００５５】
該対の第１のアドレスラインに印加される第１の読取りパルスＩＬａ（破線で示す）は、第１のアイドル電位ＶＲ１に戻る前に第１のアイドル電位ＶＲ１から第１の励起電位ＶＲ２まで通過する一方、第１のパルスＩＬａに同期して第２のアドレスラインのＬ１ｂに印加された、第２の読取りパルスＩＬａ（実線で示す）は、第２のアイドル電位に戻る前に第２のアイドル電位から第２の励起電位まで達する。
【００５６】
第１と第２のアイドル電位ＶＲ１、ＶＲ２は区別される。好ましくは、第１のアイドル電位ＶＲ１は実質的にゼロか負であり、第２のアイドル電位ＶＲ２は正である。図示した例では、第１のアイドル電位ＶＲ１は約０Ｖであり、第２のアイドル電位ＶＲ２は約＋５Ｖである。
【００５７】
これらの読取りパルスＩＬa、ＩＬｂの印加の間、スイッチ機能を持つダイオードＤｃ１、Ｄｃ２は順方向へのバイアス状態にあり、これらのダイオードの各々は、その端子で、読取りパルスの先後端にほぼ対応する過渡期間の終わりに約２．５Ｖの電位差を感知する。通常のようにして、リードラインＦ１からＦ６は第１アイドル電位ＶＲ１に等しいか近い基準電位ＶＲ’を受ける。読取りパルスＩＬａ、ＩＬｂの印加の間、ダイオードＤｐは逆バイアスをかけられる。共通の点Ａでの電圧ＶＡは実質的に一定で（ＶＲ１＋ＶＲ２）／２に等しい。読取りパルスＩＬａ、ＩＬｂの終わりには、スイッチ機能を持つダイオードＤｃ１、Ｄｃ２は丁度光ダイオードＤｐのように逆バイアスをかけられる。照射段階が始まることができる。照射ＥＵは共通の点Ａの電圧ＶＡにΔＶＳの電圧降下を生じせしめ、この電圧降下が照射影響下の共通の点Ａでの電荷の蓄積に関係する。
【００５８】
この種のアセンブリの利点は、スイッチダイオードがその電流とインピーダンスレベルがあまりに低い非常に小さいバイアスレベルに落ちてしまうことを防ぐために予備位置決め照射を消去することができることである。これは、不完全な読取り動作を誘発することが知られている。
これに対して、この種のアセンブリの欠点は、各セルの設計が複雑で、小さな光学的透孔が必要であり、結線が非常に困難で、アドレス指定回路と該アドレス指定回路に関与する測定回路が非常に複雑であることにある。
【００５９】
さて、光電流のアドレス指定及びリードラインを流れる部分は：
Ｉdose≒（ｌｐｈｘＺｐｈ）／（Ｚｄｃ１／Ｚｄｃ２）
ここで、Ｚｄｃ１は逆バイアスにおける第１のスイッチダイオードＤｃ１のインピーダンス、Ｚｄｃ２は逆バイアスにおける第２のスイッチダイオードＤｃ２のインピーダンス、そしてｌｐｈは照射により励起される光電流である。
照射の間にセルＣ１のレベルに現れる光電流Ｉdose部分は、読みとり導線Ｆ１を流れる。アドレスライン側では、セルＣ１が位置している２本の基本アドレスラインＬ１ａ、Ｌ１ｂに分布する。図６は、導体Ｌ１ａを流れる電流Ｉdose１と導体Ｌ１ｂを流れる電流Ｉdose２が、
Ｉdose≒Ｉdose１＋Ｉdose２
であることを示している。
【００６０】
読みとり手段３０と少なくとも１つのリードラインを流れる電流を表わす情報を測定する第２の測定手段３００のレベルでは、図１に示す構造において記載したものと比較して変わるところはない。
第１の測定手段２００のレベルでは、図１に示したものに対して２、３の変更点がある。第１の測定手段２００は、第１のアイドル電圧ＶＲ１に維持される該対の第１のアドレスラインＬ１ａを流れる電流を表わす情報と、第２のアイドル電位ＶＲ２に維持される該対の第２のアドレスラインＬ１ｂを流れる電流を表わす情報との照射の間の測定に対して設計されている。
【００６１】
さて、第１の測定手段２００は、少なくとも一対の測定回路２０１１、２０１２を具備する。第１の対２０１１は第１のアイドル電圧ＶＲ１の供給源ＳＶＲ１と少なくとも一対の第１のアドレスラインＬ１ａの間に設けられており、第２の対２０１２は、第２のアイドル電位ＶＲ２の供給源と該対の第２のアドレスラインＬ１ｂの間に設けられている。
より詳細には、第１の測定回路２０１１は、第１のアイドル電位の供給源ＳＶＲ１とアドレス指定手段２０の間に挿入される一方、第２の測定回路２０１２は第２のアイドル電圧ＶＲ２を供給源ＳＶＲ２とアドレス指定手段２０の間に挿入されている。
【００６２】
一対のアドレスラインＬ１ａ、Ｌ１ｂ上に位置せしめられたセルにより受光される照射の知識を得るために、２つの測定回路２０１１、２０１２により測定された情報を加算するための手段４１０が設けられる。この手段は管理装置４００中に一体化できる。図１に示すように、アナログ・デジタル変換器２１０が見られる。
アドレスラインＬ１ａ、Ｌ１ｂ、・・・、Ｌ６ａ、Ｌ６ｂは、システムが置かれている作動段階に依存して電圧ＶＲ１、ＶＲ２以外は何もかけられない。
【図面の簡単な説明】
【図１】  感光セルが２つのダイオードを具備する本発明に係る感光装置の実施態様を示す。
【図２】  （ａ）、（ｂ）、（ｃ）は図１の感光装置のセルのアドレスラインに印加された電圧とリードラインに印加された電圧、セルを照射する照射線、２つのダイオード管の共通の点Ａでの電圧の変動をそれぞれ示すタイミング図である。
【図３】  照射された場合の図１の装置のセルの等価図を示す。
【図４】  セルが３つのダイオードを具備する本発明に係る感光装置の変形例を示す。
【図５】  （ａ）、（ｂ）、（ｃ）は図４の感光装置のセルのアドレスラインに印加された電圧とリードラインに印加された電圧、セルを照射する照射線、２つのダイオード管の共通の点Ａでの電圧の変動をそれぞれ示すタイミング図である。
【図６】  照射された場合の図４の装置のセルの等価図を示す。
【符号の説明】
Ｃ１−Ｃ３６            感光セル
Ｌ１−Ｌ６              アドレスライン
Ｆ１−Ｆ６              リードライン
Ａ                      共通の点
２０                    アドレス指定手段
３０                    電荷読取り手段
２００                  第１の測定手段
３００                  第２の測定手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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