(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
探針を含む探針ユニットと、前記探針による情報の書込み／読出しが可能とされた記録媒体を含む記録媒体ユニットとを有する記録装置であって、
前記探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知手段と、
前記探針ユニットを前記記録媒体ユニットにロックすると共に、前記探針を密封する前記探針ユニットのシャッタを開き、前記探針の前記記録媒体に対向させる位置への移動を可能とするスライドロック機構と
を備えていることを特徴とする記録装置。
【請求項２】
前記スライドロック機構は、前記ロックを解除すると、前記探針を前記探針ユニット内に移動させることを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
前記探針先端磨耗検知手段は、
前記探針から出力される信号を増幅するアンプと、
前記アンプの出力信号の高低レベル差又はパルス幅又は前記アンプの出力信号を重ね合わせたアイパターン形状から前記探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知回路と
を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の記録装置。
【請求項４】
前記探針先端磨耗検知手段は、
レーザ光を発生するレーザ光発生手段と、
前記レーザ光を内部において全反射面で全反射させるプリズムと、
前記探針の先端を前記全反射面に接触させた場合に前記全反射面から外部に放射されるエバネッセント散乱光又は前記全反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出器と
を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、先鋭な先端を有する探針を記録媒体に近接あるいは接触させて情報の記録を行う記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の記録装置として、探針を記録媒体に接触させて記録媒体の表面に微細な凹凸パターンを形成することで情報の記録を行う凹凸記録型の記録装置や、半導体基板上に形成した酸化膜、窒化膜の２層構造の薄膜内に電荷を捕獲することで情報の記録を行う電荷蓄積型の記録装置等が研究、開発されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
このような記録装置の寿命は、探針の先端の磨耗で決まるため、探針の素材を磨耗しにくいものとすることが必要であり、特に、凹凸記録型の記録装置では、探針の機械的共振周波数を上げ、探針が記録媒体の表面の微細な凹凸パターンに追随しやすくすることで探針の磨耗を低減するといった工夫がなされている。
【０００４】
しかしながら、探針の先端の磨耗に起因する記録装置の寿命は確実に存在しており、使用者の利便性のみならず、ビット容量×耐用年数で決まる記録コストの面で他の記録技術と差別化できないという問題点があった。
【０００５】
本発明は、かかる点に鑑み、先鋭な先端を有する探針を記録媒体に近接あるいは接触させて情報の記録を行う記録装置であって、探針の先端の磨耗を装置上で検知し、探針の交換時期を知ることができるようにして高利便性を得ることができるようにした記録装置、及び、探針を容易に交換可能とし、探針の磨耗による装置の寿命ということがないようにして高利便性を得ることができるようにした記録装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明中、第１の発明は、探針と、探針による情報の書込み／読出しが可能とされた記録媒体を備える記録装置であって、探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知手段を備えているというものである。
【０００７】
第１の発明によれば、探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知手段を備えているので、探針の先端の磨耗を装置上で検知し、探針の交換時期を知ることができる。
【０００８】
本発明中、第２の発明は、探針と、探針による情報の書込み／読出しが可能とされた記録媒体を備える記録装置であって、記録媒体ユニットと、記録媒体ユニットに交換可能に装着できるようにされた探針ユニットで構成されるというものである。
【０００９】
第２の発明によれば、記録媒体ユニットと、記録媒体ユニットに交換可能に装着できるようにされた探針ユニットで構成されるので、探針ユニットを交換することで、探針を容易に交換することができ、探針の磨耗による装置の寿命ということがないようにすることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図１〜図１７を参照して、本発明の第１実施形態〜第６実施形態について説明する。
【００１１】
第１実施形態・・図１〜図５
図１は本発明の第１実施形態の概念図であり、図１中、１は記録媒体ユニット、２は記録媒体ユニット１に交換可能に装着することができるように構成された探針ユニットである。
【００１２】
記録媒体ユニット１において、３はケース、４は探針により情報内容に対応した凹凸パターンを形成することができる記録媒体、５は記録媒体４を駆動する記録媒体駆動機構、６は外部回路との接続を図る外部インタフェース、７は信号コネクタである。
【００１３】
探針ユニット２において、８はケース、９は記録媒体４に情報内容に対応した凹凸パターンを形成することによる記録媒体４への情報の書込み及び記録媒体４の凹凸パターンを走査することによる記録媒体４からの情報の読出しを行う探針であり、探針９には歪みゲージ（図示せず）が設けられており、探針出力は歪みゲージにより生成される。
【００１４】
また、１０は探針９を駆動する探針駆動機構、１１は探針９から出力される信号を増幅する初段アンプ回路、１２は信号コネクタであり、本発明の第１実施形態においては、探針ユニット２は、信号コネクタ１２を記録媒体ユニット１の信号コネクタ７に締結させることにより記録媒体ユニット１に交換可能に装着される。
【００１５】
また、記録媒体ユニット１において、１３は初段アンプ回路１１の出力信号を処理する信号処理回路、１４は初段アンプ回路１１の出力信号から探針９の先端９Ａの磨耗を検知する探針先端磨耗検知回路、１５は外部インタフェース６を介して入力される制御信号により探針先端磨耗検知シークエンスを制御する制御回路である。
【００１６】
図２は初段アンプ回路１１の出力信号のレベルを示す図であり、図２Ａは探針９の先端９Ａに磨耗がない初期状態の場合、図２Ｂは探針９の先端９Ａの磨耗が進んだ場合である。このように、探針９の先端９Ａの磨耗が進むと、初段アンプ回路１１の出力信号のレベルは小さくなる。そこで、探針先端磨耗検知回路１４は、たとえば、初段アンプ回路１１の出力信号の高低レベル差から探針９の先端９Ａの磨耗を検知するように構成される。
【００１７】
図３は初段アンプ回路１１の出力信号のパルス幅を示す図であり、図３Ａは探針９の先端９Ａに磨耗がない初期状態の場合、図３Ｂは探針９の先端９Ａの磨耗が進んだ場合である。このように、探針９の先端９Ａの磨耗が進むと、初段アンプ回路１１の出力信号のパルス幅は大きくなる。そこで、探針先端磨耗検知回路１４は、初段アンプ回路１１の出力信号のパルス幅から探針９の先端９Ａの磨耗を検知するように構成することもできる。
【００１８】
図４はサーボ信号のアイパターンを示す図であり、図４Ａは探針９の先端９Ａに磨耗がない初期状態の場合、図４Ｂは探針９の先端９Ａの磨耗が進んだ場合である。このように、探針９の先端９Ａの磨耗が進むと、サーボ信号のアイパターンは閉じてくる。そこで、また、探針先端磨耗検知回路１４は、探針９で記録媒体４のサーボパターンを走査した場合の初段アンプ回路１１の出力信号を重ね合わせてアイパターンを形成し、このアイパターンの形状から探針９の先端９Ａの磨耗を検知するように構成することもできる。
【００１９】
図５は本発明の第１実施形態における探針先端磨耗検知シークエンスを示すフローチャートであり、本発明の第１実施形態においては、探針９を信号取得位置に移動し、探針出力を初段アンプ回路１１で増幅し、初段アンプ回路１１の出力信号を探針先端磨耗検知回路１４で受信することにより、探針９の先端９Ａの磨耗が検知される。
【００２０】
そこで、たとえば、探針先端磨耗検知回路１４から出力される探針先端磨耗検知結果を外部回路に転送し、探針先端磨耗検知結果を記録保存すると共に、探針９の先端９Ａの磨耗が進んでおり、探針９を交換すべきときは、コンピュータのディスプレイ面に交換促進メッセージを表示し、ユーザに探針９の交換を促すようにする。なお、本発明の第１実施形態をコンピュータの外部周辺機器として使用する場合には、記録媒体ユニット１に交換促進ランプを設け、探針９を交換すべきときは、交換促進ランプを点灯させるようにしても良い。
【００２１】
このように、本発明の第１実施形態によれば、本体を記録媒体ユニット１と探針ユニット２で構成すると共に、探針先端磨耗検知回路１４を設けているので、探針９の先端９Ａの磨耗を装置上で検知することができ、探針９の先端９Ａの磨耗が進んだときは、探針ユニット２を交換することで、探針９を容易に交換することができる。したがって、探針９の磨耗による装置の寿命ということがないようにし、凹凸記録型の記録装置について高利便性を得ることができる。
【００２２】
なお、本発明の第１実施形態においては、探針先端磨耗検知回路１４を凹凸記録型の記録装置に設けるようにした場合について説明したが、電荷蓄積型の記録装置に設けるようにすることもできる。
【００２３】
第２実施形態・・図６、図７
図６は本発明の第２実施形態の概念図であり、本発明の第２実施形態は、探針ユニット２の探針退避領域に探針先端磨耗検知用凹凸パターン形成領域１７を設けており、探針先端磨耗検知用凹凸パターン形成領域１７には、図７Ａに示すような探針先端磨耗検知用凹凸パターンが形成されている。
【００２４】
この結果、探針９で探針先端磨耗検知用凹凸パターンを走査した場合に得られる初段アンプ回路１１の出力信号のプロファイルは、探針９の先端９Ａに磨耗がない初期状態の場合には、図７Ｂに示すようになり、探針９の先端９Ａの磨耗が進むと、図７Ｃに示すようになる。そこで、探針先端磨耗検知回路１４は、初段アンプ回路１１の出力信号のプロファイルから探針９の先端９Ａの磨耗を検知するように構成される。その他については、本発明の第１実施形態と同様に構成されている。
【００２５】
本発明の第２実施形態においては、探針９で探針先端磨耗検知用凹凸パターン形成領域１７の探針先端磨耗検知用凹凸パターンを走査し、探針出力を初段アンプ回路１１で増幅し、初段アンプ回路１１の出力信号を探針先端磨耗検知回路１４で受信することにより、探針９の先端９Ａの磨耗を検知することができる。
【００２６】
そこで、たとえば、探針先端磨耗検知回路１４から出力される探針先端磨耗検知結果を外部回路に転送し、探針先端磨耗検知結果を記録保存すると共に、探針９の先端９Ａの磨耗が進んでおり、探針９を交換すべきときは、コンピュータのディスプレイ面に交換促進メッセージを表示し、ユーザに探針９の交換を促すようにする。なお、本発明の第２実施形態をコンピュータの外部周辺機器として使用する場合には、記録媒体ユニット１に交換促進ランプを設け、探針９を交換すべきときは、交換促進ランプを点灯させるようにしても良い。
【００２７】
このように、本発明の第２実施形態によれば、本体を記録媒体ユニット１と探針ユニット２で構成すると共に、探針先端磨耗検知回路１４を設けているので、探針９の先端９Ａの磨耗を装置上で検知することができ、探針９の先端９Ａの磨耗が進んだときは、探針ユニット２を交換することで、探針９を容易に交換することができる。したがって、探針９の磨耗による装置の寿命ということがないようにし、凹凸記録型の記録装置について高利便性を得ることができる。
【００２８】
なお、本発明の第２実施形態においては、探針退避領域に設けた探針先端磨耗検知用凹凸パターン形成領域１７に探針先端磨耗検知用凹凸パターンを形成した場合について説明したが、記録媒体４に探針先端磨耗検知用凹凸パターンを形成するようにしても良い。
【００２９】
第３実施形態・・図８〜図１２
図８は本発明の第３実施形態の概念図であり、本発明の第３実施形態は、記録媒体ユニット１内に探針先端磨耗検知回路１４を設ける代わりに、探針ユニット２内に探針先端磨耗検知手段１９を設け、探針先端磨耗検知手段１９により得られる探針先端磨耗検知結果を信号コネクタ１２、７及び外部インタフェース６を介して外部回路に出力するようにし、その他については、本発明の第１実施形態と同様に構成したものである。
【００３０】
図９は探針先端磨耗検知手段１９の第１構成例の概念図であり、図９中、２０はレーザ光発生手段、２１はレーザ光発生手段２０から出力されるレーザ光、２２はレーザ光２１を内部で全反射させるガラスプリズム、２３はガラスプリズム２２の全反射面２２Ａで反射された反射レーザ光である。
【００３１】
また、２４はガラスプリズム２２の全反射面２２Ａに探針９の先端９Ａを接触させた場合に全反射面２２Ａから外部に放射されるエバネッセント散乱光、２５は全反射面２２Ａから外部に放射されたエバネッセント散乱光２４を集光する集光レンズ、２６は集光レンズ２５で集光されたエバネッセント散乱光２４を受光する光検出器である。
【００３２】
図１０は探針９の先端９Ａをガラスプリズム２２の全反射面２２Ａに接触させた場合の探針９の先端９Ａの接触面積とエバネッセント散乱光２４の強度との関係を示す図であり、探針９の先端９Ａの接触面積が大きくなるほど、エバネッセント散乱光２４の強度が大きくなることが分かる。したがって、光検出器２６の出力信号を探針先端磨耗検知結果として得ることができる。
【００３３】
図１１は探針先端磨耗検知手段１９の第２構成例を示す図であり、探針先端磨耗検知手段１９の第２構成例は、集光レンズ２５を設けず、光検出器２６は、ガラスプリズム２２の全反射面２２Ａで反射された反射レーザ光２３を受光できるように配置される。
【００３４】
図１２は探針９の先端９Ａをガラスプリズム２２の全反射面２２Ａに接触させた場合の探針９の先端９Ａの接触面積と反射レーザ光２３の強度との関係を示す図であり、探針９の先端９Ａの接触面積が大きくなるほど、反射レーザ光２３の強度が小さくなることが分かる。したがって、この場合にも、光検出器２６の出力信号を探針先端磨耗検知結果として得ることができる。
【００３５】
そこで、本発明の第３実施形態においては、探針９の先端９Ａをガラスプリズム２２の全反射面２２Ａに接触させ、レーザ光２１をガラスプリズム２２に入射することにより、光検出器２６の出力信号を探針先端磨耗検知結果として得ることができる。そこで、光検出器２６の出力信号を外部回路に転送し、探針先端磨耗検知結果を保存すると共に、探針９の先端９Ａの磨耗が進んでおり、探針９を交換すべきときは、ディスプレイ面に交換促進メッセージを表示し、ユーザに探針９の交換を促すようにする。
【００３６】
このように、本発明の第３実施形態によれば、本体を記録媒体ユニット１と探針ユニット２で構成すると共に、探針先端磨耗検知手段１９を設けているので、探針９の先端９Ａの磨耗を装置上で検知することができ、探針９の先端９Ａの磨耗が進んだときは、探針ユニット２を交換することで、探針９を容易に交換することができる。したがって、探針９の磨耗による装置の寿命ということがないようにし、凹凸記録型の記録装置について高利便性を得ることができる。
【００３７】
なお、本発明の第３実施形態においては、探針先端磨耗検知手段１９を凹凸記録型の記録装置に設ける場合について説明したが、電荷蓄積型の記録装置に設けることもできる。また、本発明の第３実施形態をコンピュータの外部周辺機器として使用する場合には、探針ユニット２に交換促進ランプを設け、探針９を交換すべきときは、交換促進ランプを点灯させるようにしても良い。
【００３８】
第４実施形態・・図１３、図１４
図１３は本発明の第４実施形態の概念図であり、図１３中、２７は記録媒体ユニット、２８は記録媒体ユニット２７に交換可能に装着することができるように構成された探針ユニットである。
【００３９】
記録媒体ユニット２７において、２９はケース、３０は半導体基板上に形成した酸化膜、窒化膜の２層構造の薄膜内に電荷を捕獲することで情報の記録を行う電荷蓄積型の記録媒体、３１は記録媒体３０を駆動する記録媒体駆動機構、３２は外部回路との接続を図る外部インタフェース、３３は信号コネクタである。
【００４０】
探針ユニット２８において、３４はケース、３５は記録媒体３０への情報の書込み及び記録媒体３０からの情報の読出しを行う探針、３６は探針３５を駆動する探針駆動機構、３７は探針３５から出力される信号を増幅する初段アンプ回路、３８は信号コネクタであり、本発明の第４実施形態においては、探針ユニット２８は、信号コネクタ３８を記録媒体ユニット２７の信号コネクタ３３に締結させることにより記録媒体ユニット２７に交換可能に装着される。
【００４１】
また、記録媒体ユニット２７において、３９は探針駆動機構３６を介して探針３５に書込み用電圧を供給する書込み用電圧供給回路、４０は初段アンプ回路３７の出力信号を処理する信号処理回路、４１は初段アンプ回路３７の出力信号から探針３５の先端３５Ａの磨耗を検知する探針先端磨耗検知回路、４２は外部インタフェース３２を介して入力される制御信号により探針先端磨耗検知シークエンスを制御する制御回路である。
【００４２】
本発明の第４実施形態においては、あらかじめ記録媒体３０に探針先端磨耗検知用パターンとして所定のビットパターン、たとえば、［１０１０１・・・］を記録しておく。このようにすると、探針３５で探針先端磨耗検知用パターンを走査した場合、初段アンプ回路３７の出力信号は、探針３５の先端３５Ａに磨耗がない初期状態の場合には、図１４Ａに示すようになり、探針３５の先端３５Ａの磨耗が進むと、図１４Ｂに示すようになる。そこで、探針先端磨耗検知回路４１は、初段アンプ回路３７の出力信号のプロファイルから探針３５の先端３５Ａの磨耗を検知するように構成される。
【００４３】
そこで、本発明の第４実施形態においては、探針３５で探針先端磨耗検知用パターンを走査し、探針出力を初段アンプ回路３７で増幅し、初段アンプ回路３７の出力信号を探針先端磨耗検知回路４１で受信することにより、探針３５の先端３５Ａの磨耗を検知することができる。なお、探針先端磨耗検知用パターンを記録せず、サーボ信号を利用することもできる。
【００４４】
そこで、たとえば、探針先端磨耗検知回路４１から出力される探針先端磨耗検知結果を外部回路に転送し、探針先端磨耗検知結果を保存すると共に、探針３５の先端３５Ａの磨耗が進んでおり、探針３５を交換すべきときは、コンピュータのディスプレイ面に交換促進メッセージを表示し、ユーザに探針３５の交換を促すようにする。なお、本発明の第４実施形態をコンピュータの外部周辺機器として使用する場合には、記録媒体ユニット２７に交換促進ランプを設け、探針３５を交換すべきときは、交換促進ランプを点灯させるようにしても良い。
【００４５】
このように、本発明の第４実施形態によれば、本体を記録媒体ユニット２７と探針ユニット２８で構成すると共に、探針先端磨耗検知回路１４を設けているので、探針３５の先端３５Ａの磨耗を装置上で検知することができ、探針３５の先端３５Ａの磨耗が進んだときは、探針ユニット２８を交換することで、探針３５を容易に交換することができる。したがって、探針３５の磨耗による装置の寿命ということがないようにし、電荷蓄積型の記録装置について高利便性を得ることができる。
【００４６】
なお、本発明の第４実施形態においては、本発明を電荷蓄積型の記録装置に適用した場合について説明したが、他の記録方式を採用する記録装置においても、同様の手段により探針磨耗検知が可能であることは明白である。
【００４７】
第５実施形態・・図１５
図１５は本発明の第５実施形態の概念図であり、本発明の第５実施形態は、探針ユニット２を記録媒体ユニット１にロックするロック機構４４Ａ、４４Ｂを設け、その他については、本発明の第１実施形態と同様に構成したものである。
【００４８】
本発明の第５実施形態によれば、本発明の第１実施形態と同様の作用効果を得ることができると共に、探針ユニット２の記録媒体ユニット１の装着を強固なものとすることができる。なお、本発明の第２実施形態〜第４実施形態にも同様のロック機構を設けることができる。
【００４９】
第６実施形態・・図１６、図１７
図１６は本発明の第６実施形態の概念図であり、本発明の第６実施形態は、探針ユニット２を記録媒体ユニット１にロックするロック機構として、メカニカルスライドロック機構４６Ａ、４６Ｂを設け、メカニカルスライドロック機構４６Ａのスライド部材をスライドさせると、探針ユニット２を密封するシャッタ４７が開き、探針９の記録媒体４に対向させる位置への移動が行われるようにし、その他については、本発明の第１実施形態と同様に構成したものである。
【００５０】
図１７は探針ユニット２の着脱動作シークエンスを示すフローチャートであり、図１７Ａは装着時の場合、図１７Ｂは取り外し時の場合である。すなわち、探針ユニット２の記録媒体ユニット１への装着は、信号コネクタ１２を信号コネクタ７に締結させ、更に、メカニカルスライドロック機構４６Ａ、４６Ｂのスライド部材をスライドして探針ユニット２を記録媒体ユニット１にロックすることにより行われる。
【００５１】
ここに、信号コネクタ７、１２を締結すると、探針駆動機構１０への通電が行われ、更に、メカニカルスライドロック機構４６Ａのスライド部材をスライドすると、探針ユニット２のシャッタ４７が開き、探針９の記録媒体４に対向させる位置への移動が行われる。
【００５２】
これに対して、探針ユニット２の記録媒体ユニット１からの取り外しは、メカニカルスライドロック機構４６Ａ、４６Ｂによるロックを解除し、信号コネクタ７、１２の締結を解除することにより行われる。ここに、信号コネクタ７、１２の締結を解除すると、バネ機構（図示せず）により探針９は初期位置に復帰させられる。
【００５３】
本発明の第６実施形態によれば、本発明の第１実施形態と同様の作用効果を得ることができると共に、探針ユニット２の記録媒体ユニット１の装着を強固なものとすることができ、更に、探針ユニット２を記録媒体１に装着するまでの探針の保護を図ることができる。
【００５４】
ここで、本発明の内容を整理すると、本発明には、少なくとも、以下の記録装置が含まれる。
【００５５】
［１］  探針と、該探針による情報の書込み／読出しが可能とされた記録媒体を備える記録装置であって、前記探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知手段を備えていることを特徴とする記録装置。
【００５６】
［２］  前記［１］に記載の記録装置において、前記探針先端磨耗検知手段は、前記探針で前記記録媒体を走査した場合に得られる信号の高低レベル差から前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００５７】
［３］  前記［１］に記載の記録装置において、前記探針先端磨耗検知手段は、前記探針で前記記録媒体を走査した場合に得られる信号のパルス幅から前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００５８】
［４］  前記［１］に記載の記録装置において、前記探針先端磨耗検知手段は、前記探針で前記記録媒体のサーボパターンを走査した場合に得られる信号からアイパターンを形成し、該アイパターンの形状から前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００５９】
［５］  前記［１］に記載の記録装置において、前記探針先端磨耗検知手段は、探針退避領域又は前記記録媒体に形成された探針先端磨耗検知用凹凸パターンを前記探針で走査した場合に得られる信号のプロファイルから前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００６０】
［６］  前記［１］に記載の記録装置において、前記探針先端磨耗検知手段は、レーザ光を内部で全反射する透明体の全反射面に前記探針の先端を近接させたときに得られるエバネッセント散乱光の強度から前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００６１】
［７］  前記［１］に記載の記録装置において、前記探針先端磨耗検知手段は、レーザ光を内部で全反射する透明体の全反射面に前記探針の先端を近接ないし接触させたときの反射レーザ光の強度から前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００６２】
［８］  前記［１］に記載の記録装置において、前記記録媒体は、電荷の蓄積を利用して情報の記録を行うものであり、前記探針先端磨耗検知手段は、前記記録媒体に探針先端磨耗検知用パターンを形成し、前記探針で前記探針先端磨耗検知用パターンを走査した場合に得られるる信号のプロファイルから前記探針の先端の磨耗を検知するものであることを特徴とする記録装置。
【００６３】
［９］  探針と、該探針による情報の書込み／読出しが可能とされた記録媒体を備える記録装置であって、記録媒体ユニットと、該記録媒体ユニットに交換可能に装着できるようにされた探針ユニットで構成されることを特徴とする記録装置。
【００６４】
［１０］  前記［９］に記載の記録装置において、前記探針ユニットを前記記録媒体ユニットにロックするロック機構を有していることを特徴とする記録装置。
【００６５】
［１１］  前記［９］に記載の記録装置において、前記探針ユニットを前記記録媒体ユニットにロックすると共に、前記探針ユニットを密閉するシャッタを開き、前記探針の前記記録媒体に対する位置決めを可能とするスライドロック機構を備えていることを特徴とする記録装置。
【００６６】
［１２］  探針と、該探針による情報の書込み／読出しが可能とされた記録媒体を備える記録装置であって、記録媒体ユニットと、該記録媒体ユニットに交換可能に装着できるようにされた探針ユニットで構成されると共に、前記探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知手段を備えていることを特徴とする記録装置。
【００６７】
【発明の効果】
本発明中、第１の発明によれば、探針の先端の磨耗を検知する探針先端磨耗検知手段を備えるとしたことにより、探針の先端の磨耗を装置上で検知し、探針の交換時期を知ることができるので、高利便性を得ることができる。
【００６８】
本発明中、第２の発明によれば、記録媒体ユニットと、記録媒体ユニットに交換可能に装着することができる探針ユニットで構成するとしたことにより、探針ユニットを交換することで、探針を容易に交換することができ、探針の磨耗による装置の寿命ということがないようにすることができるので、利便性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態の概念図である。
【図２】本発明の第１実施形態が備える初段アンプ回路の出力信号のレベルを示す図である。
【図３】本発明の第１実施形態が備える初段アンプ回路の出力信号のパルス幅を示す図である。
【図４】本発明の第１実施形態の記録媒体から得られるサーボ信号のアイパターンを示す図である。
【図５】本発明の第１実施形態における探針先端磨耗検知シークエンスを示すフローチャートである。
【図６】本発明の第２実施形態の概念図である。
【図７】本発明の２実施形態を説明するための図である。
【図８】本発明の第３実施形態の概念図である。
【図９】本発明の第３実施形態が備える探針先端磨耗検知手段の第１構成例を示す図である。
【図１０】探針の先端をガラスプリズムの全反射面に接触させた場合の探針の先端の接触面積とエバネッセント散乱光の強度との関係を示す図
【図１１】本発明の第３実施形態が備える探針先端磨耗検知手段の第２構成例を示す図である。
【図１２】探針の先端をガラスプリズムの全反射面に接触させた場合の探針の先端の接触面積と反射レーザ光の強度との関係を示す図
【図１３】本発明の第４実施形態の概念図である。
【図１４】本発明の第４実施形態を説明するための図である。
【図１５】本発明の第５実施形態の概念図である。
【図１６】本発明の第６実施形態の概念図である。
【図１７】本発明の第６実施形態における探針ユニットの着脱動作シークエンスを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１  記録媒体ユニット（図１、図６、図８、図１５、図１６）
２  探針ユニット（図１、図６、図８、図１５、図１６）
４  記録媒体（図１、図６、図８、図１５、図１６）
９  探針（図１、図６、図８、図１５、図１６）
１４  探針先端磨耗検知回路（図１、図６、図１５、図１６）
１７  探針先端磨耗検知用凹凸パターン形成領域（図６）
１９  探針先端磨耗検知手段（図８）
２７  記録媒体ユニット（図１３）
２８  探針ユニット（図１３）
３０  記録媒体（図１３）
３５  探針（図１３）
４１  探針先端磨耗検知回路（図１３）
４４Ａ、４４Ｂ  ロック機構（図１５）
４６Ａ、４４Ｂ  メカニカルスライドロック機構（図１６）
４７  シャッタ（図１６）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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