(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＩＣの電気的テストを行うために使用されるＩＣソケットを、操作手段によって操作するＩＣソケットの操作機構において、
Ａ．前記ＩＣソケットは、
（１）ソケット本体に複数取り付けられ、ＩＣの端子を支持して、前記ＩＣと外部電気的テスト回路とを電気的に接続するコンタクトピンと、
（２）前記ソケット本体に回動可能に取り付けられ、前記ＩＣの端子を前記コンタクトピン側へ押圧するＩＣ押圧位置から離間する方向へ解除バネで常時付勢されるＩＣ押圧レバーと、
（３）前記ソケット本体に回動可能に取り付けられ、前記ＩＣ押圧レバーの離間方向と反対方向にロックバネで常時回動付勢されて、前記ＩＣ押圧レバーを前記ＩＣ押圧位置でロックするロックレバーと、を備え、
Ｂ．前記操作手段は、
（１）前記ＩＣソケットに対して上下動可能な第１操作手段と、
（２）前記第１操作手段に取り付けられて、前記第１操作手段とは別に下降する第２操作手段と、を備え、
Ｃ．前記ＩＣ押圧レバーには第１のカムが形成される一方、前記ロックレバーには前記第１のカムの外周に摺接する第２のカムが形成され、
Ｄ．前記ＩＣ押圧レバーが前記第１操作手段によって押圧されることにより前記解除バネのばね力に抗して前記ＩＣ押圧位置まで回動させられると、前記第１のカムの段部と前記第２のカムの段部が前記解除バネと前記ロックバネのバネ力で噛み合い、前記ＩＣ押圧レバーが前記ロックレバーでロックされ、
Ｅ．前記ロックレバーが前記第２操作手段によって押圧されて前記ロックバネの付勢方向と反対の方向へ回動させられると、前記第１のカムの段部と前記第２のカムの段部の噛み合いが解除され、前記ＩＣ押圧レバーが前記解除バネで前記ＩＣ押圧位置から離間させられる、
ことを特徴とするＩＣソケットの操作機構。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＩＣのバーンインテスト等において使用され、ＩＣ（ＴＳＯＰ，ＱＦＰ等）と外部電気的テスト回路とを電気的に接続するＩＣソケットの操作機構に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、ＴＳＯＰやＱＦＰ等のＩＣの電気的テストを行うために使用されるＩＣソケットとして図１５に示すものが知られている。この図１５に示すＩＣソケット５０は、ソケット本体５１に回動可能に取り付けられたＩＣ押圧レバー５２を備えており、このＩＣ押圧レバー５２を図外のバネで図中Ｒ１方向へ常時付勢することにより、そのＩＣ押圧レバー５２の先端でＩＣ５３の端子５３ａをコンタクトピン５４側へ押圧するようになっている。この図１５の状態において、コンタクトピン５４の接続アーム５５に接続された図外の電気的テスト回路とＩＣ５３の端子５３ａとがコンタクトピン５４を介して電気的に接続されることになる。
【０００３】
図１５の状態において、ＩＣ５３の電気的テストが終了し、ＩＣ５３を交換する場合は、ＩＣ押圧レバー５２を図外のバネのバネ力に抗して図１６中Ｒ２方向へ回動させ、ＩＣ押圧レバー５２の先端をＩＣ５３の端子５３ａ上から退避させた後、ＩＣ５３をコンタクトピン５４上から取り除くようになっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このように、ＩＣ押圧レバー５２を付勢するバネのバネ力とコンタクトピン５４の弾性力（バネ力）との釣り合いでＩＣ５３の端子５３ａを挟持する構成では、ＩＣ５３の端子５３ａの支持位置がばらつき、ＩＣ５３の端子５３ａとコンタクトピン５４との接触圧が不安定になるという問題を有していた。
【０００５】
尚、図１７〜図１８に示すように、カバー６１の内側に揺動可能なＩＣ押圧部材６２を取り付けて、このＩＣ押圧部材６２でＩＣ５３の端子５３ａをコンタクトピン５４に押圧することにより、ＩＣ５３の端子５３ａの支持位置を一定化し、ＩＣ５３の端子５３ａとコンタクトピン５４の接触圧を安定化するＩＣソケット６０が知られている。しかし、これらの図に示すＩＣソケット６０は、ＩＣ押圧部材６２のカバー６１への取付構造やＩＣ５３の支持部構造が複雑で、図１５〜図１６に示す従来のＩＣソケット５０に比較して製造が困難であり、製品価格が高騰するという問題を有している。又、図１５に示す従来のＩＣソケット５０では、ＩＣ５３を交換する場合、その交換作業の間、ＩＣ押圧レバー５２を図１６中Ｒ２方向へ回動させた状態に保っていなければならず、交換作業が困難であり、操作性が良くないという問題を有している。
【０００６】
本発明は、ＩＣの端子の支持位置のばらつきを防止し、ＩＣの端子とコンタクトピンとの接触圧を安定化することができる構造が簡単で且つ安価なＩＣソケットの操作機構を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、ＩＣの電気的テストを行うために使用されるＩＣソケットを、操作手段によって操作するＩＣソケットの操作機構に関するものである。この発明において、前記ＩＣソケットは、（１）ソケット本体に複数取り付けられ、ＩＣの端子を支持して、前記ＩＣと外部電気的テスト回路とを電気的に接続するコンタクトピンと、（２）前記ソケット本体に回動可能に取り付けられ、前記ＩＣの端子を前記コンタクトピン側へ押圧するＩＣ押圧位置から離間する方向へ解除バネで常時付勢されるＩＣ押圧レバーと、（３）前記ソケット本体に回動可能に取り付けられ、前記ＩＣ押圧レバーの離間方向と反対方向にロックバネで常時回動付勢されて、前記ＩＣ押圧レバーを前記ＩＣ押圧位置でロックするロックレバーと、を備えている。また、前記操作手段は、（１）前記ＩＣソケットに対して上下動可能な第１操作手段と、（２）前記第１操作手段に取り付けられて、前記第１操作手段とは別に下降する第２操作手段と、を備えている。また、前記ＩＣ押圧レバーには第１のカムが形成される一方、前記ロックレバーには前記第１のカムの外周に摺接する第２のカムが形成されている。そして、前記ＩＣ押圧レバーが前記第１操作手段によって押圧されることにより前記解除バネのばね力に抗して前記ＩＣ押圧位置まで回動させられると、前記第１のカムの段部と前記第２のカムの段部が前記解除バネと前記ロックバネのバネ力で噛み合い、前記ＩＣ押圧レバーが前記ロックレバーでロックされるようになっている。また、前記ロックレバーが前記第２操作手段によって押圧されて前記ロックバネの付勢方向と反対の方向へ回動させられると、前記第１のカムの段部と前記第２のカムの段部の噛み合いが解除され、前記ＩＣ押圧レバーが前記解除バネで前記ＩＣ押圧位置から離間させられるようになっている、
【０００８】
このような構成の本発明によれば、ＩＣ押圧レバーの第１のカムの段部とロックレバーの第２のカムの段部を解除バネとロックバネのバネ力で噛み合わせ、ＩＣ押圧レバーを所定のＩＣ押圧位置でロックすることができるため、ＩＣの端子とコンタクトピンの接触位置が一定化し、ＩＣの端子とコンタクトピンの接触圧が安定化する。又、本発明によれば、ＩＣ押圧レバーの第１のカムの段部をロックレバーの第２のカムの段部に噛み合わせるだけで、ＩＣ押圧レバーをＩＣ押圧位置でロックすることができる一方、第１のカムの段部と第２のカムの段部２７の噛み合いを解除するだけで、ＩＣ押圧レバーをＩＣ押圧位置から離間させることができようになっているため、ＩＣソケットの全体構造が簡素化される。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳述する。
【００１５】
［第１の実施の形態］
図１〜図４は、本発明の第１の実施の形態に係るＩＣソケット１を示すものである。尚、本実施の形態は、左右対称のＩＣ（ＴＳＯＰ）２の電気的テストに使用されるＩＣソケット１を例に採って説明する。したがって、ＩＣソケット１は、図１〜図３に示すように、ＩＣ２の中心線ＣＬに対して左右対称である。
【００１６】
これらの図に示すように、ソケット本体３には、ＩＣ２の端子２ａに対応するように、複数のコンタクトピン４が取り付けられている。そして、ソケット本体３の上部には、ＩＣガイド５が４個配置されている。これらＩＣガイド５は、ＩＣパッケージ２ｂのコーナー部に係合し、ＩＣパッケージ２ｂをコンタクトピン４上の所定位置に案内する。その結果、ＩＣ２の端子２ａとコンタクトピン４が確実に接触する。
【００１７】
又、ソケット本体３の上部には、レバー取付板６が所定の間隔で対向するように２対形成されている。そして、この対向するレバー取付板６，６間にはＩＣ押圧レバー７が収容され、このＩＣ押圧レバー７が軸８を介してレバー取付板６に回動可能に支持されている。
【００１８】
このＩＣ押圧レバー７は、図５にその詳細を示すように、軸支持部７ａから一方へ延びてＩＣ２の端子２ａを押圧するＩＣ押圧部７ｂと、軸支持部７ａから他方へ延びる操作部７ｃとを備えており、これらＩＣ押圧部７ｂと操作部７ｃとが鈍角で交差するようになっている。又、このＩＣ押圧レバー７の軸支持部７ａには、軸穴１０が形成されており、この軸穴１０に軸８が嵌合されている（図４参照）。尚、操作部７ｃは、作業者によって操作できる大きさに形成されている。
【００１９】
又、ＩＣ押圧レバー７は、図５に詳細を示すように、両端の軸支持部７ａ，７ａ間に切り欠き部７ｄが形成されている。そして、ＩＣ押圧レバー７の切り欠き部７ｄには解除バネ収容溝１１が形成されており、この解除バネ収容溝１１内には軸８に嵌合された解除バネ１２が収容されている（図４参照）。この解除バネ１２は、図４に示すように、一端がソケット本体３のバネ係合溝１３に係合され、他端がＩＣ押圧レバー７の切り欠き部７ｄに当接しており、ＩＣ押圧レバー７を図４中時計回り（Ｆ１）方向へ常時付勢するようになっている。即ち、ＩＣ押圧レバー７は、ＩＣ２の端子２ａを押圧する位置（ＩＣ押圧位置）から離間する方向へ解除バネ１２によって常時回動付勢されることになる。
【００２０】
又、このＩＣ押圧レバー７は、図５に示すように、その回動中心（軸穴１０）の周囲に略円弧状の第１のカム１４が形成されており、この第１のカム１４の一端に段部１５が形成されている。そして、このＩＣ押圧レバー７の前記操作部７ｃは、図３及び図４に示すように、ロックレバー（レバーロック手段）１６に係合されている。
【００２１】
ロックレバー１６は、その一端側（図中下端側）がソケット本体３のレバー取付板６に軸１７を介して回動できるように取り付けられている。このロックレバーは、図６に詳細を示すように、一対のアーム１８，１８と、これらアーム１８の一端側を連結する第１の横梁部２０と、これらアーム１８の他端側を連結する第２の横梁部２１と、を有している。そして、これらアーム１８，第１の横梁部２０及び第２の横梁部２１で囲まれた空間部２２にＩＣ押圧レバー７の操作部７ｃが収容されるようになっている。尚、アーム１８，１８には、軸１７を収容する軸穴１９が形成されている。
【００２２】
ロックレバー１６の第１の横梁部２０は、図６に示すように、ロックバネ収容溝２３が形成されている。そして、このロックバネ収容溝２３内には、軸１７に嵌合されたロックバネ２４が収容されている（図４参照）。このロックバネ２４は、図４に示すように、一端側がソケット本体３のバネ支持部２５に係合され、他端側が第１の横梁部２０に当接しており、ロックレバー１６を図中反時計回り（Ｆ２）方向へ常時付勢している。即ち、ロックバネ２４は、ＩＣ押圧レバー７が解除バネ１２で回動付勢される方向と反対の方向へロックレバー１６を回動付勢するようになっている。
【００２３】
又、ロックレバー１６は、図４及び図６に示すように、ＩＣ押圧レバー７の第１のカム１４の外周に摺接する第２のカム２６が形成されており、この第２のカム２６の上端部に段部２７が形成されている。そして、この第２のカム２６の段部２７は、ＩＣ押圧レバー７がＩＣ押圧位置まで回動すると、ＩＣ押圧レバー７の第１のカム１４の段部１５に係合し、ＩＣ押圧レバー７の図中時計回り方向への回動を阻止し、ＩＣ押圧レバー７をロックするようになっている。この際、ＩＣ押圧レバー７の段部１５とロックレバー１６の段部２７は、解除バネ１２とロックバネ２４のバネ力で係合状態が保持されている。
【００２４】
このように構成されたＩＣソケット１は、図１において、ＩＣ２がソケット本体３のＩＣガイド５に沿ってコンタクトピン４上に置かれた後、ＩＣ押圧レバー７の操作部７ｃが作業者によって図中Ｆ３，Ｆ４方向に回動させられ、ＩＣ押圧レバー７のＩＣ押圧部７ｂがＩＣ２をコンタクトピン４側へ押圧する図２及び図４の位置まで移動すると、ＩＣ押圧レバー７の第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７が係合する。この際、ＩＣ押圧レバー７は解除バネ１２のバネ力で図４中時計回り（Ｆ１）方向へ付勢される一方、ロックレバー１６はロックバネ２４のバネ力で図４中反時計回り（Ｆ２）方向へ付勢される。その結果、ＩＣ押圧レバー７とロックレバー１６とが解除バネ１２とロックバネ２４のバネ力でロックされることになる。
【００２５】
この状態において、ＩＣ２と図示しない外部電気的テスト回路とがコンタクトピン４を介して電気的に接続され、ＩＣ２のバーンインテスト等の電気的テストが行われる。この際、ＩＣ押圧レバー７は、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７の係合により所定位置でロックされるため、ＩＣ押圧レバー７とＩＣ２の端子２ａとの接触位置（ＩＣ押圧位置）のばらつきが防止され、ＩＣ２の端子２ａとコンタクトピン４との接触圧が一定化する。したがって、ＩＣ２の電気的テストが正確に行われる。
【００２６】
次いで、図４の状態において、作業者がロックレバー１６の第２の横梁部２１をロックバネ２４のバネ力に抗して図中時計回り（Ｆ２と反対）方向へ回動させ、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７との係合状態を解除すると、ＩＣ押圧レバー７が解除バネ１２のバネ力で図４中時計回り（Ｆ１）方向へ付勢され、第１のカム１４の外周が第２のカム２６に摺接しながら図４中時計回り方向へ回動する。そして、ＩＣ押圧レバー７の操作部７ｃがソケット本体３のレバー支持面２８に当接すると、ＩＣ押圧レバー７の図４中時計回り（Ｆ１）方向への回動が停止し、図１の状態になる。この際、ＩＣ押圧レバー７のＩＣ押圧部７ｂがＩＣ２の端子２ａ上から完全に離間するため、コンタクトピン４上からＩＣ２を取り出し、新たなＩＣ２と交換することが可能になる。
【００２７】
以上のように、本実施の形態のＩＣソケット１は、ＩＣ押圧レバー７の第１のカム１４の段部１５とロックレバー１６の第２のカム２６の段部２７を解除バネ１２とロックバネ２４のバネ力で噛み合わせ、ＩＣ押圧レバー７を所定のＩＣ押圧位置でロックすることができるため、ＩＣ２の端子２ａとコンタクトピン４の接触位置が一定化し、ＩＣ２の端子２ａとコンタクトピン４の接触圧が安定化する。その結果、本実施の形態のＩＣソケット１によれば、ＩＣ２の電気的テストを正確に行うことができる。
【００２８】
又、本実施の形態のＩＣソケット１は、ＩＣ押圧レバー７の第１のカム１４の段部１５をロックレバー１６の第２のカム２６の段部２７に噛み合わせるだけで、ＩＣ押圧レバー７をＩＣ押圧位置でロックすることができる一方、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７の噛み合いを解除するだけで、ＩＣ押圧レバー７をＩＣ押圧位置から離間させることができようになっているため、カバーの内側にＩＣ押圧部材を揺動可能に取り付けた従来例に比較して、構造を簡素化することができ、製造を容易化することができる。その結果、本実施の形態によれば、ＩＣソケット１の価格の低廉化を図ることが可能になる。
【００２９】
尚、本実施の形態は、ＩＣ押圧レバー７を解除バネ１２で図４中時計回り方向へ付勢する態様を示したが、ＩＣ押圧レバー７が常時時計回り方向への回転モーメントを生じるように、ＩＣ押圧レバー７の重量配分を考慮すれば、解除バネ１２を省略しても、ＩＣ押圧レバー７を本実施の形態と同様に作動させることができ、より一層構造を簡単化することが可能になり、より一層製品価格の低廉化を図ることが可能になる。
【００３０】
又、本実施の形態は、ロックレバー７の第２のカム２６の段部２７をＩＣ押圧レバー７の第１のカム１４の段部１５に噛み合わせることにより、ＩＣ押圧レバー７を所定位置（ＩＣ押圧位置）でロックするようになっているが、これに限られず、ソケット本体３に回動可能に取り付けられた図示しないフック（レバーロック手段）を解除バネ１２や重力で付勢されたＩＣ押圧レバー７に引っかけて、ＩＣ押圧レバー７を所定位置でロックするようにしてもよい。
【００３１】
［第２の実施の形態］
図７〜図１０は、本発明の第２の実施の形態に係るＩＣソケット３０を示すものである。尚、本実施の形態は、前記第１の実施の形態の構成を基本とするものであり、前記第１の実施の形態と同一の構成に同一符号を付して、重複する説明を省略する。
【００３２】
本実施の形態のＩＣソケット３０において、ＩＣ押圧レバー３１のＩＣ押圧部３１ａには、ＩＣ２の端子２ａを押圧するＩＣ押圧突起３２が形成されると共に、このＩＣ押圧突起３２と反対方向へ突出する断面略半円形状の操作用突起（第１の操作部）３３が形成されている（図１１参照）。そして、このＩＣ押圧レバー３１は、図７に示すロック解除位置から図８に示すロック位置（ＩＣ押圧位置）まで、操作用突起３３が第１の押圧手段３４によって押圧されることにより、軸８を中心として回動するようになっている。ここで、第１の押圧手段３４は、上下動可能なＩＣ搬送用のロボットアームやハンドラー治具又はソケット本体３に上下動可能に取り付けられたソケットカバー等である。
【００３３】
ロックレバー（レバーロック手段）３５は、上記第１の押圧手段３４側（図４中上側）に向かって延びる第２の操作部３６を備えている。この第２の操作部３６は、図１０に示すＩＣ押圧レバー３１のロック状態において、第１の押圧手段３４と別に下降する第２の押圧手段３７で押圧されるカム面３８が形成されており、軸１７を回動中心として図１０中時計回り方向へ回動し、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７の噛み合いを解除するようになっている。ここで、第２の押圧手段３７は、ＩＣ搬送用のロボットアームに取り付けられたプッシュロッドや、ソケットカバーに上下動可能に組み付けられたカム等である。
【００３４】
尚、ロックレバー３５は、図１２にその詳細を示すように、軸支持部３５ａを部分的に切り欠くようにしてロックバネ収容部４０が形成されており、このロックバネ収容部４０にロックバネ２４を収容するようになっている（図１０参照）。ここで、図１０に示すように、ロックバネ２４は、軸１７に嵌合されており、その一端側がソケット本体３のバネ支持部２５に係合され、他端側がロックバネ収容部４０の平面４０ａに当接しており、ロックレバー３５を図中反時計回り方向へ常時付勢している。
【００３５】
このように構成された本実施の形態は、図７に示すＩＣ押圧レバー３１のロック解除状態において、第１の押圧手段３４が下降してＩＣ押圧レバー３１の操作用突起３３を押圧すると、図中右側のＩＣ押圧レバー３１が解除バネ１２のバネ力に抗して反時計回り方向へ回動し、図中左側のＩＣ押圧レバー３１が解除バネ１２のバネ力に抗して時計回り方向へ回動する。
【００３６】
ＩＣ押圧レバー３１が図８及び図１０に示すＩＣ押圧位置まで移動すると、ＩＣ押圧レバー３１の第１のカム１４の段部１５にロックレバー３５の第２のカム２６の段部２７が噛み合う。この場合、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７は、解除バネ１２のバネ力とロックバネ２４のバネ力とによってその噛み合い状態が保持される。
【００３７】
このＩＣ押圧レバー３１がロックレバー３５によってロックされた図８及び図１０の状態において、ＩＣ２の端子２ａは所望の接触圧でＩＣ押圧レバー３１のＩＣ押圧突起３２とコンタクトピン４との間に挟持される。そして、図示しない外部電気的テスト回路とＩＣ２とがコンタクトピン４を介して電気的に接続され、ＩＣ２の電気的テストが行われる。
【００３８】
次いで、図８及び図１０において、第１の押圧手段３４に組み付けられた第２の押圧手段３７が下降してロックレバー３５の第２の操作部３６を押圧すると、ロックレバー３５がロックバネ２４のバネ力に抗して図１０中時計回り方向へ回動し、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７の噛み合いが解除される。即ち、ＩＣ押圧レバー３１のロック状態が解除される。
【００３９】
第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７の噛み合いが解除されると、ＩＣ押圧レバー３１は、解除バネ１２のバネ力で図１０中時計回り方向へ回動し、ＩＣ押圧レバー３１のストッパ部４１がソケット本体３の位置決め部４２に当接する位置で停止する（図７参照）。この際、ＩＣ押圧レバー３１のＩＣ押圧突起３２は、ＩＣ２の端子２ａ上から離間しており、ＩＣ２をコンタクトピン４上から取り出すことができる位置まで退避している。この状態において、ＩＣ２の交換が行われる。
【００４０】
以上のような本実施の形態は、ＩＣ搬送用のロボットアームやこのロボットアームに取り付けたプッシュロッド等で直接ＩＣ押圧レバー３１やロックレバー３５を操作することにより、人手によらないでＩＣ２をＩＣソケット３に脱着することが可能になる。又、ソケット本体３に第１の押圧手段３４としてのソケットカバーを取り付け、このソケットカバーに第２の押圧手段３７としてのカムを取り付ける構成を採用した場合でも、ソケットカバーやカムをロボットアーム等で自動的に操作することにより、ＩＣ２をＩＣソケット３に自動的に脱着することが可能になる。即ち、本実施の形態によれば、ＩＣソケットの電気的テストを効率的に行うことができる。
【００４１】
尚、本実施の形態において、第１の押圧手段３４は平板状の部材を図示しているが（図７参照）、これに限られず、ＩＣ押圧レバー３１を図７の位置から図８のＩＣ押圧位置まで移動させることができるものであればよい。又、第２の押圧手段３７は、第１の押圧手段３４に取り付けられ、第１の押圧手段３４とは別途上下動するカムを例示したが、これに限られず、ロックレバー３５を操作することができ、第１のカム１４の段部１５と第２のカム２６の段部２７の噛み合いを解除できるものであればよい。
【００４２】
［応用例］
以上の各実施の形態は、ＩＣパッケージ２ｂの２辺に対称に端子２ａが形成されるＴＳＯＰ用のＩＣソケット１，３０を例に採って説明したが、ＩＣパッケージ２ｂの４辺に端子２ａが形成されるＱＦＰ用のＩＣソケットに本発明を適用することができる。
【００４３】
この場合、図４及び図１０に示すＩＣ押圧レバー７，３１の軸８とロックレバー１６，３５の軸１７が嵌合される軸穴１０，１９は、図１３〜図１４に示すように形成される。
【００４４】
即ち、軸８が嵌合される軸穴１０を例に採って説明すれば、ソケット本体４５には、半円形の溝４３が上型によって形成されると共に、先端が半円形の長溝４４が上記溝４３に隣接する位置に下型で形成されるようになっている。その結果、溝４３と長溝４４の境界部分が円形の軸穴１０として貫通する。
【００４５】
尚、上記各実施の形態に係るＩＣソケットは、ＴＳＯＰやＱＦＰに限られず、ＩＣパッケージの下面周縁部に端子又は回路パターンが配置されているＩＣに広く適用することができる。
【００４６】
【発明の効果】
以上のように、本発明は、ＩＣ押圧レバーの第１のカムの段部とロックレバーの第２のカムの段部を解除バネとロックバネのバネ力で噛み合わせ、ＩＣ押圧レバーを所定のＩＣ押圧位置でロックすることができるため、ＩＣ押圧レバー，ＩＣの端子及びコンタクトピン相互の接触位置が一定化し、ＩＣの端子とコンタクトピンの接触圧が安定化する。その結果、本発明のＩＣソケットの操作機構によれば、ＩＣの電気的テストを正確に行うことができる。
【００４７】
又、本発明のＩＣソケットの操作機構は、ＩＣ押圧レバーの第１のカムの段部をロックレバーの第２のカムの段部に噛み合わせるだけで、ＩＣ押圧レバーをＩＣ押圧位置でロックすることができる一方、第１のカムの段部と第２のカムの段部の噛み合いを解除するだけで、ＩＣ押圧レバーをＩＣ押圧位置から離間させることができようになっているため、カバーの内側にＩＣ押圧部材を揺動可能に取り付けた従来例に比較して、全体構造を簡素化することができ、ＩＣソケットの製造を容易化することができる。その結果、本発明によれば、廉価で測定性能が良好なＩＣソケットを提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るＩＣソケットを部分的に切り欠いて示す正面図である。
【図２】同ＩＣソケットの作動状態図である。
【図３】同ＩＣソケットの平面図である。
【図４】同ＩＣソケットの要部拡大断面図である。
【図５】同ＩＣソケットに使用されるＩＣ押圧レバーを示す図である。図５（ａ）はＩＣ押圧レバーの正面図、図５（ｂ）は図５（ａ）の右側面図、図５（ｃ）は図５（ａ）の下面図である。
【図６】同ＩＣソケットに使用されるロックレバーを示す図である。図６（ａ）はロックレバーの正面図、図６（ｂ）は図６（ａ）の右側面図、図６（ｃ）は図６（ａ）の下面図である。
【図７】本発明の第２の実施の形態に係るＩＣソケットを部分的に切り欠いて示す正面図である。
【図８】同ＩＣソケットの作動状態図である。
【図９】同ＩＣソケットの平面図である。
【図１０】同ＩＣソケットの要部拡大断面図である。
【図１１】同ＩＣソケットに使用されるＩＣ押圧レバーを示す図である。図１１（ａ）はＩＣ押圧レバーの正面図、図１１（ｂ）は図１１（ａ）の右側面図、図１１（ｃ）は図１１（ａ）の下面図である。
【図１２】同ＩＣソケットに使用されるロックレバーを示す図である。図１２（ａ）はロックレバーの正面図、図１２（ｂ）は図１２（ａ）の右側面図、図１２（ｃ）は図１２（ａ）の下面図である。
【図１３】本発明の応用例を示すＩＣソケットの要部斜視図である。
【図１４】軸嵌合穴の形状図である。図１４（ａ）は図１４（ｂ）の左側面図（Ｙ１方向矢視図）、図１４（ｂ）は軸嵌合穴の形成部分の正面側断面図、図１４（ｃ）は図１４（ｂ）の右側面図（Ｙ２方向矢視図）である。
【図１５】従来のＩＣソケットの要部拡大断面図である。
【図１６】同ＩＣソケットの作動状態図である。
【図１７】他の従来例を示すＩＣソケットのカバーオープン時における断面図である。
【図１８】同ＩＣソケットのカバークローズ時における断面図である。
【符号の説明】
１，３０……ＩＣソケット、２……ＩＣ，２ａ……端子、３……ソケット本体、４……コンタクトピン、７，３１……ＩＣ押圧レバー、１２……解除バネ、１４……第１のカム、１５，２７……段部、１６，３５……ロックレバー（レバーロック手段）、２４……ロックバネ、２６……第２のカム、３３……操作用突起（第１の操作部）、３４……第１の押圧手段、３６……第２の操作部、３７……第２の押圧手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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