(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続する複数の信号分離器を有し、前記被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する前記複数の信号分離器の少なくとも一つを迂回する迂回経路を設けたことを特徴とするＳパラメータテストセット。
【請求項２】
請求項１において、
前記迂回経路は、スイッチと信号線によって構成されており、このスイッチを切り替えることにより、前記信号分離器を介すことなく前記受信回路と前記信号源の少なくとも一方と前記被測定デバイスとの間をつなぐ前記信号線を前記迂回経路として用いることを特徴とするＳパラメータテストセット。
【請求項３】
請求項１または２において、
前記信号分離器は、損失が小さなスルーポートと損失が大きなカップリングポートを有しており、伝送係数を測定する際に前記カップリングポートを介して信号が伝送される前記信号分離器の代わりに前記迂回経路を用いた信号の伝送を行うことを特徴とするＳパラメータテストセット。
【請求項４】
被測定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続する信号分離器において、
前記被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する高損失経路を迂回する低損失経路を設けたことを特徴とする信号分離器。
【請求項５】
請求項４において、
複数の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路であって、前記スイッチを切り替えることにより、対向する２つの前記抵抗の抵抗値の大小関係を反転させて、前記高損失経路と前記低損失経路との切り替えを行うことを特徴とする信号分離器。
【請求項６】
請求項４において、
複数の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路であって、前記スイッチを切り替えることにより、前記抵抗を介さずに信号の伝送を行う短絡経路としての前記低損失経路と前記高損失経路との切り替えを行うことを特徴とする信号分離器。
【請求項７】
請求項４において、
互いに部分的に接近させた複数の伝送用導体とスイッチとを有するカップラであって、前記スイッチを切り替えることにより、前記複数の伝送用導体の接近部分を含んで形成される前記高損失経路と前記スイッチによって形成される短絡経路としての前記低損失経路との切り替えを行うことを特徴とする信号分離器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ネットワークアナライザ等を用いてＳパラメータ測定を行う場合に用いられるＳパラメータテストセットおよび信号分離器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、所定の正弦波信号を入力して線形回路網の各種のパラメータ測定を行う計測器としてネットワークアナライザが用いられている。実際に各種のパラメータを測定する場合には、測定するパラメータに適したテストセットが用意され、これをネットワークアナライザに取り付けることにより、被測定デバイスとネットワークアナライザとの間で信号の入出力が行われ、これにより各種パラメータの測定が可能になる。測定可能な項目としては、例えば、Ｓパラメータ、位相特性、電圧定在波比（ＶＳＷＲ）等があげられる。なお、上述したテストセットがネットワークアナライザに内蔵されている場合もあるが、本明細書においては、ネットワークアナライザとは別にテストセットが用意されているものとする。
【０００３】
上述したネットワークアナライザを用いて被測定デバイスのＳパラメータを測定する場合には、Ｓパラメータ測定用に用意されたＳパラメータテストセットが用いられる。図９は、従来のＳパラメータテストセットの構成を示す図であり、Ｓパラメータテストセットに含まれる各構成部とネットワークアナライザおよび被測定デバイスとの間の接続状態が示されている。
【０００４】
ネットワークアナライザ９０は、１つの信号源９２と３つの受信回路９４、９６、９８を含んで構成されており、これらと被測定デバイス（ＤＵＴ）１００との接続状態をＳパラメータテストセット８０によって切り替えることにより、被測定デバイス１００に関する２つの伝送係数Ｓ21、Ｓ12と２つの反射係数Ｓ11、Ｓ22の測定が行われる。
【０００５】
Ｓパラメータテストセット８０は、信号源９２の接続先を切り替えるスイッチ８２と、２つのポート１０２、１０４のそれぞれを介して入出力される信号を分離する２つの信号分離器８４、８６とを含んで構成されている。例えば、伝送係数Ｓ21を測定する場合には、スイッチ８２を接点ａ側に切り替えて、信号源９２から出力された信号を被測定デバイス１００のポート１に入力するとともにポート２から出力される信号を受信回路９４で受信して検波する。信号源９２から出力される信号は、常に受信回路９８に入力されて検波されており、これら２つの受信回路９４、９８によって検出された信号の電力の比を求めることにより、伝送係数Ｓ21の測定が行われる。同様に、伝送係数Ｓ12を測定する場合には、スイッチ８２を接点ｂ側に切り替えて、信号源９２から出力された信号を被測定デバイス１００のポート２に入力するとともにポート１から出力される信号を受信回路９６で受信して検波する。そして、この受信回路９６で検出された信号の電力と信号源９２に接続された受信回路９８によって検出された信号の電力との比を求めることにより、伝送係数Ｓ12の測定が行われる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述したように従来のＳパラメータテストセット８０を用いて被測定デバイス１００の２つの伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する場合に、信号源９２から出力される信号の伝送経路に２つの信号分離器８４、８６が含まれており、損失が生じるため、その分だけダイナミックレンジが狭くなるという問題があった。例えば、一方の信号分離器８４は、信号源９２と被測定デバイス１００との間の接続を行う経路の損失が小さくなるように設定されているとともに、被測定デバイス１００と受信回路９６との間の経路の損失が大きくなるように設定されているものとする。また、他方の信号分離器８６は、信号源９２と被測定デバイス１００との間の接続を行う経路の損失が小さくなるように設定されているとともに、被測定デバイス１００と受信回路９４との間の経路の損失が大きくなるように設定されているものとする。このような２つの信号分離器８４、８６を用いて伝送係数Ｓ21を測定する場合には、被測定デバイス１００のポート２から出力された信号を受信回路９４側に導く際に、信号分離器８６で大きな減衰が生じるため、受信回路９４に入力される信号のレベルが小さくなってダイナミックレンジが悪化する。同様に、伝送係数Ｓ12を測定する場合には、被測定デバイス１００のポート１から出力された信号を受信回路９６に導く際に、信号分離器８４で大きな減衰が生じるため、受信回路９６に入力される信号のレベルが小さくなってダイナミックレンジが悪化する。
【０００７】
本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、伝送係数を測定する際のダイナミックレンジを広げることができるＳパラメータテストセットおよび信号分離器を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、本発明のＳパラメータテストセットは、被測定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続する複数の信号分離器を有するとともに、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する複数の信号分離器の少なくとも一つを迂回する迂回経路が設けられている。したがって、伝送される信号の損失が大きい信号分離器を介さずに信号を伝送することができ、伝送係数測定の際のダイナミックレンジを広く設定することができる。
【０００９】
また、上述した迂回経路は、スイッチと信号線によって構成し、スイッチを切り替えることにより、信号分離器を介すことなく受信回路と信号源の少なくとも一方と被測定デバイスとの間をつなぐ信号線を迂回経路として用いることが望ましい。スイッチを操作するだけで信号分離器を介さない迂回経路を設定することができるため、迂回経路の切り替え制御が容易となる。
【００１０】
また、上述した信号分離器は、損失が小さなスルーポートと損失が大きなカップリングポートを有しており、伝送係数を測定する際にカップリングポートを介して信号が伝送される信号分離器の代わりに迂回経路を用いた信号の伝送を行うことが望ましい。カップリングポートを介して信号の伝送を行う場合に大きな損失が生じるため、このような場合に迂回経路を用いるようにすれば、伝送される信号の損失を低減することができ、広いダイナミックレンジを確保することができる。
【００１１】
また、本発明の信号分離器は、被測定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続するとともに、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する高損失経路を迂回する低損失経路が設けられている。したがって、この信号分離器を介して信号を伝送する際に内部に形成された低損失経路を用いることにより、伝送係数測定の際のダイナミックレンジを広く設定することができる。
【００１２】
また、複数の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路によって信号分離器を構成し、このスイッチを切り替えることにより、対向する２つの抵抗の抵抗値の大小関係を反転させて、高損失経路と低損失経路との切り替えを行うことが望ましい。あるいは、複数の抵抗と複数のスイッチとを有するブリッジ回路によって信号分離器を構成し、このスイッチを切り替えることにより、抵抗を介さずに信号の伝送を行う短絡経路としての低損失経路と高損失経路との切り替えを行うことが望ましい。スイッチを操作するだけで低損失経路を介した信号の伝送が可能となり、低損失経路と高損失経路との切り替え制御が容易となる。
【００１３】
また、互いに部分的に接近させた複数の伝送用導体とスイッチとを有するカップラによって信号分離器を構成し、このスイッチを切り替えることにより、複数の伝送用導体の接近部分を含んで形成される高損失経路とスイッチによって形成される短絡経路としての低損失経路との切り替えを行うようにしてもよい。この場合も、ブリッジ回路を用いて信号分離器を構成した場合と同様に、カップラ内に形成された低損失経路としての短絡経路と高損失経路との間の切り替え制御が容易となる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を適用した一実施形態のＳパラメータテストセットおよび信号分離器について、図面を参照しながら説明する。例えば、本発明が適用される一実施形態の計測器として、２ポートデバイスのＳパラメータ測定を行うネットワークアナライザを考えるものとする。
【００１５】
〔第１の実施形態〕
図１は、第１の実施形態の計測器の構成を示す図であり、ネットワークアナライザに２ポートデバイス用のＳパラメータテストセットが接続された状態が示されている。
【００１６】
図１に示す計測器は、信号源と複数の受信回路を含んでＳパラメータの測定を行うネットワークアナライザ１０と、ネットワークアナライザ１０に対する被測定デバイス（ＤＵＴ）４０の接続状態を切り替えるＳパラメータテストセット２０とを含んで構成されている。
【００１７】
ネットワークアナライザ１０は、信号源１２、３つの受信回路１４、１６、１８を含んで構成されている。信号源１２は、所定周波数の正弦波信号を発生する。受信回路１４、１６、１８は、Ｓパラメータテストセット２０を介して送られてくる正弦波信号に対してベクトル検波を行う。例えば、各受信回路１４等は、高周波の入力信号に対して所定の局部発振信号を混合することにより、その差成分である低周波信号への変換を行い、この低周波信号を所定の抵抗値（例えば５０Ω）を有する抵抗を通すことにより電圧に変換する。
【００１８】
また、Ｓパラメータテストセット２０は、５つの切替スイッチ２１、２２、２３、２４、２５、３つの信号分離器２６、２７、２８、２つのテストポート３０、３２を含んで構成されている。２つのテストポート３０、３２は、２ポートデバイスとしての被測定デバイス４０がケーブルを介して接続される接続端子である。切替スイッチ２１は、ネットワークアナライザ１０内の信号源１２で発生した信号の出力先を２つのテストポート３０、３２のいずれかに切り替えるためのものである。また、２つの切替スイッチ２２、２３は、信号分離器２６をバイパスするためのものであり、それぞれを接点ｂ側に切り替えることにより、損失がほどんどない信号線３４が信号分離器２６の迂回経路として設定される。同様に、２つの切替スイッチ２４、２５は、信号分離器２７をバイパスするためのものであり、それぞれを接点ｂ側に切り替えることにより、損失がほとんどない信号線３６が信号分離器２７の迂回経路として設定される。
【００１９】
２つの信号分離器２６、２７のそれぞれは、対応するテストポート３０、３２を介して入出力される信号を分離するためのものである。例えば、ブリッジ方式やカップラ方式の信号分離器が用いられる。信号分離器２６は、テストポート３０と信号源１２とを接続する側の経路が損失の小さなスルーポートに対応し、テストポート３０と受信回路１６とを接続する側の経路が損失の大きなカップラポートに対応する。同様に、信号分離器２７は、テストポート３２と信号源１２とを接続する側の経路が損失の小さなスルーポートに対応し、テストポート３０と受信回路１４とを接続する側の経路が損失の大きなカップラポートに対応する。また、信号分離器２８は、信号源１２から延びた伝送線路を介して伝送される信号の一部を受信回路１８に送る。
【００２０】
本実施形態のＳパラメータテストセット２０はこのような構成を有しており、次にその動作を説明する。図２は、Ｓパラメータ測定時のスイッチ（ＳＷ）２１〜２５の接続状態を示す図である。図２に示すように、伝送係数Ｓ21および反射係数Ｓ11を測定する場合には、３つのスイッチ２１〜２３のそれぞれの接続状態が接点ａ側に設定され、残りの２つのスイッチ２４、２５のそれぞれの接続状態が接点ｂ側に設定される。したがって、信号源１２から出力された信号は、信号分離器２６およびテストポート３０を介して被測定デバイス４０の一方のポート１に入力される。そして、この一方のポート１から反射される信号が再び信号分離器２６を通って切替スイッチ２３を介して受信回路１６に導かれ、検波されて反射係数Ｓ11の測定が行われる。また、被測定デバイス４０の他方のポート２から出力される信号が切替スイッチ２４、信号線３６、切替スイッチ２５を介して受信回路１４に導かれ、検波されて伝送係数Ｓ21の測定が行われる。
【００２１】
また、伝送係数Ｓ12および反射係数Ｓ22を測定する場合には、３つのスイッチ２１〜２３のそれぞれの接続状態が接点ｂ側に設定され、残りの２つのスイッチ２４、２５のそれぞれの接続状態が接点ａ側に設定される。したがって、信号源１２から出力された信号は、信号分離器２７およびテストポート３２を介して被測定デバイス４０の他方のポート２に入力される。そして、この他方のポート２から反射される信号が再び信号分離器２７を通って切替スイッチ２５を介して受信回路１４に導かれ、検波されて反射係数Ｓ22の測定が行われる。また、被測定デバイス４０の一方のポート１から出力される信号が切替スイッチ２２、信号線３４、切替スイッチ２３を介して受信回路１６に導かれ、検波されて伝送係数Ｓ12の測定が行われる。
【００２２】
このように、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する場合には、被測定デバイス４０から出力される信号を受信回路１４、１６に導く際に、信号分離器２７、２６を介さずに迂回経路としての信号線３６、３４が使用される。したがって、損失が大きな各信号分離器２７、２６のカップリングポートを介した信号の伝送が行われずに、代わりに損失が小さな信号線３６、３４を介した信号の伝送が行われる。このため、受信回路１４、１６に入力される信号のレベルを大きくなって、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する際のダイナミックレンジを広げることができる。
【００２３】
〔第２の実施形態〕
ところで、上述した第１の実施形態では、伝送係数を測定する際に、信号の大きな損失が生じる信号分離器を通さずに、代わりに迂回経路を介した信号の伝送を行うようにしたが、この迂回経路を必要に応じて切り替える機能を信号分離器に内蔵するようにしてもよい。
【００２４】
図３は、第２の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す図である。また、図４は図３に示す信号分離器５０の各ポートの対応関係を示す図である。図３に示すように、信号分離器５０はブリッジ回路によって実現されており、５つの抵抗５１〜５５と４つの切替スイッチ５６〜５９とを含んで構成されている。
【００２５】
２つの切替スイッチ５６、５７に挟まれた２つの抵抗５２、５４が択一的に選択される。例えば、スイッチ５６、５７のそれぞれを接点ａ側に切り替えることにより抵抗値Ｒ1 を有する抵抗５２が選択され、反対に接点ｂ側に切り替えることにより抵抗値Ｒ1 ′を有する抵抗５４が選択される。
【００２６】
同様に、２つの切替スイッチ５８、５９に挟まれた２つの抵抗５３、５５が択一的に選択される。例えば、スイッチ５８、５９のそれぞれを接点ａ側に切り替えることにより抵抗値Ｒ2 を有する抵抗５３が選択され、反対に接点ｂ側に切り替えることにより抵抗値Ｒ2 ′を有する抵抗５５が選択される。
【００２７】
ところで、上述した信号分離器５０において、４つの切替スイッチ５６〜５９のそれぞれを接点ａ側に切り替えたときに選択される２つの抵抗５２、５３の各抵抗値Ｒ1 、Ｒ2 の間には、Ｒ1 ＜Ｒ2 の関係がある。このような接続状態においては、端子Ｂ、Ｂ′によって構成されるポートＢ−Ｂ′から端子Ａ、Ａ′によって構成されるポートＡ−Ａ′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が小さくなるとともに、ポートＢ−Ｂ′から端子Ｃ、Ｃ′によって構成されるポートＣ−Ｃ′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が大きくなる。したがって、ポートＢ−Ｂ′に対してポートＡ−Ａ′がスルーポートとして機能し、ポートＢ−Ｂ′に対してポートＣ−Ｃ′がカップリングポートとして機能する。
【００２８】
また、上述した信号分離器５０において、４つの切替スイッチ５６〜５９のそれぞれを接点ｂ側に切り替えたときに選択される２つの抵抗５４、５５の各抵抗値Ｒ1 ′、Ｒ2 ′の間には、Ｒ1 ′＞Ｒ2 ′の関係がある。このような接続状態においては、ポートＢ−Ｂ′からポートＡ−Ａ′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が大きく、ポートＢ−Ｂ′からポートＣ−Ｃ′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が小さくなる。したがって、ポートＢ−Ｂ′に対してポートＡ−Ａ′がカップリングポートとして機能し、ポートＢ−Ｂ′に対してポートＣ−Ｃ′がスルーポートとして機能する。
【００２９】
図５は、図３および図４に示した信号分離器５０を用いて構成されたＳパラメータテストセットの構成を示す図であり、ナットワークアナライザおよび被試験デバイス（ＤＵＴ）との間の接続状態が示されている。図５に示すＳパラメータテストセット２０Ａは、切替スイッチ２１と３つの信号分離器５０、５０Ａを含んで構成されている。信号分離器５０、５０Ａのそれぞれは、図３に示した詳細構成を有している。
【００３０】
本実施形態の信号分離器５０、５０Ａおよびこれを用いたＳパラメータテストセット２０Ａはこのような構成を有しており、次にその動作を説明する。図６は、Ｓパラメータ測定時のスイッチ２１、５６〜５９の接続状態を示す図である。
【００３１】
図６に示すように、伝送係数Ｓ21および反射係数Ｓ11を測定する場合には、Ｓパラメータテストセット２０Ａに含まれる切替スイッチ２１および信号分離器５０に含まれる４つの切替スイッチ５６〜５９の各接続状態が接点ａ側に設定され、信号分離器５０Ａに含まれる４つの切替スイッチ５６〜５９の各接続状態が接点ｂ側に設定される。したがって、信号源１２から出力された信号は、低損失に設定された信号分離器５０のポートＡ−Ａ′とポートＢ−Ｂ′とをつなぐ経路を通った後にテストポート３０を介して被測定デバイス４０の一方のポート１に入力される。そして、この一方のポート１から反射される信号が再び信号分離器５０を通って受信回路１６に導かれ、検波されて反射係数Ｓ11の測定が行われる。また、被測定デバイス４０の他方のポート２から出力される信号は、テストポート３２を介して、低損失に設定された信号分離器５０ＡのポートＢ−Ｂ′とポートＣ−Ｃ′とをつなぐ経路を通った後に受信回路１４に導かれ、検波されて伝送係数Ｓ21の測定が行われる。
【００３２】
また、伝送係数Ｓ12および反射係数Ｓ22を測定する場合には、Ｓパラメータテストセット２０Ａに含まれる切替スイッチ２１および信号分離器５０に含まれる４つの切替スイッチ５６〜５９の各接続状態が接点ｂ側に設定され、信号分離器５０Ａに含まれる４つの切替スイッチ５６〜５９の各接続状態が接点ａ側に設定される。したがって、信号源１２から出力された信号は、低損失に設定された信号分離器５０ＡのポートＡ−Ａ′とポートＢ−Ｂ′とをつなぐ経路を通った後にテストポート３２を介して被測定デバイス４０の他方のポート２に入力される。そして、この他方のポート２から反射される信号が再び信号分離器５０Ａを通って受信回路１４に導かれ、検波されて反射係数Ｓ22の測定が行われる。また、被測定デバイス４０の一方のポート１から出力される信号は、テストポート３０を介して、低損失に設定された信号分離器５０のポートＢ−Ｂ′とポートＣ−Ｃ′とをつなぐ経路を通った後に受信回路１６に導かれ、検波されて伝送係数Ｓ12の測定が行われる。
【００３３】
このように、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する場合には、被測定デバイス４０から出力される信号を受信回路１４、１６に導く際に、信号分離器５０、５０Ａ内の伝送経路が低損失に設定される。したがって、受信回路１４、１６に入力される信号のレベルが大きくなって、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する際のダイナミックレンジを広げることができる。
【００３４】
〔第３の実施形態〕
上述した第２の実施形態では、信号分離器５０、５０Ａ内の２つの信号伝送経路の損失量を適宜切り替えることにより、伝送係数Ｓ21、Ｓ12測定時のダイナミックレンジを広くしたが、透過信号が入力される側の信号分離器に着目すると、受信回路が接続された側の伝送経路しか使用されていないため、この伝送経路の損失をさらに少なくしてポートＢ−Ｂ′とポートＣ−Ｃ′とを直結するようにしてもよい。
【００３５】
図７は、第３の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す図である。図７に示すように、信号分離器６０はブリッジ回路によって実現されており、３つの抵抗６１、６２、６３と２つのスイッチ６４、６５とを含んで構成されている。
【００３６】
信号分離器６０を通常のブリッジ回路として使用する場合には、抵抗６２に直列接続された一方のスイッチ６４をオン状態にするとともに、抵抗６３に並列接続された他方のスイッチ６５をオフ状態にする。また、抵抗６２の抵抗値Ｒ3 と抵抗６３の抵抗値Ｒ4 との間にはＲ3 ＜Ｒ4 の関係がある。したがって、ポートＢ−Ｂ′からポートＡ−Ａ′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が小さく、ポートＢ−Ｂ′からポートＣ−Ｃ′に至る経路を通ったときに生じる信号の損失が大きくなる。このため、ポートＢ−Ｂ′に対してポートＡ−Ａ′がスルーポートとして機能し、ポートＢ−Ｂ′に対してポートＣ−Ｃ′がカップリングポートとして機能する。
【００３７】
また、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する際に、透過信号を受信回路に導くためにこの信号分離器６０を使用する場合には、抵抗６２に直列接続された一方のスイッチ６４をオフ状態にするとともに、抵抗６３に並列接続された他方のスイッチ６５をオン状態にする。したがって、ポートＢ−Ｂ′からポートＣ−Ｃ′に至る経路が遮断されるとともに、ポートＢ−Ｂ′とポートＣ−Ｃ′とが直結されるため、ポートＣ−Ｃ′を介して受信回路１４、１６に入力される信号は、信号分離器６０内でほとんど減衰しない。このため、受信回路１４、１６に入力される信号のレベルを大きくすることができ、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する際のダイナミックレンジを広げることができる。
【００３８】
〔第４の実施形態〕
上述した第２および第３の実施形態では、信号分離器５０等をブリッジ回路によって実現したが、カップラによって実現するようにしてもよい。図８は、第４の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す図である。図８に示した信号分離器７０は、マイクロストリップラインを用いたカップラによって実現されており、誘電体基板７１と、その表面に形成された５つの伝送用導体としての導体７２−１、７２−２、７４、７７−１、７７−２と、３つのポートＡ−Ａ′、Ｂ−Ｂ′、Ｃ−Ｃ′の相互の接続状態を切り替える４つのスイッチ７３、７５、７６、７８とを含んで構成されている。各スイッチ７３等は、例えばマイクロリレースイッチを用いる場合や、ｐｉｎダイオード等の半導体スイッチを用いる場合などが考えられる。なお、誘電体基板７１の裏面の全面には接地用の導体が形成されており、４つ目のポートＤ−Ｄ′には信号の反射が生じないように所定の抵抗値を有する終端抵抗７９が接続されている。
【００３９】
ポートＢ−Ｂ′とポートＡ−Ａ′との間に形成された導体７２−１、７２−２との間にはスイッチ７３が接続されており、このスイッチ７３をオン状態にすることにより、これら２つのポートをつなぐ伝送経路が形成される。また、ポートＣ−Ｃ′に接続された導体７７−１は、ポートＡ−Ａ′に接続された導体７２−１に対して部分的に接近した所定位置に形成されており、導体７２−１を介して信号が伝送される際に、その一部が導体７７−１側に漏れるようになっている。したがって、ポートＢ−Ｂ′に信号が入力された場合を考えると、その一部が導体７２−２、７２−１を介してポートＡ−Ａ′から出力されるとともに、残りが導体７７−１を介してポートＣ−Ｃ′から出力される。通常は、導体７２−１、７２−２を介してポートＢ−Ｂ′に直結されたポートＡ−Ａ′から出力される信号の方がポートＣ−Ｃ′から出力される信号よりも大きくなるため、ポートＡ−Ａ′側がスルーポートに、ポートＣ−Ｃ′側がカップリングポートになる。
【００４０】
なお、このような状態で使用する場合には、導体７７−１と導体７７−２との間に接続されたスイッチ７８がオン状態に設定されており、不要な反射が生じないようになっている。また、導体７２−２と導体７４の間に設けられたスイッチ７５や、導体７７−２と導体７４との間に設けられたスイッチ７６は、オフ状態に設定されている。
【００４１】
また、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する際に、透過信号を受信回路に導くためにこの信号分離器７０を使用する場合には、導体７２−１、７２−２の間に形成されたスイッチ７３をオフ状態に設定するとともに、他の３つのスイッチ７５、７６、７８をオン状態に設定する。したがって、ポートＢ−Ｂ′に接続された導体７２−２とポートＣ−Ｃ′に接続された導体７７−１とが導体７４および３つのスイッチ７５、７６、７８を介して短絡され、この伝送経路の損失が小さくなる。このため、ポートＣ−Ｃ′を介して受信回路１４、１６に入力される信号のレベルが大きくなって、伝送係数Ｓ21、Ｓ12を測定する際のダイナミックレンジを広げることができる。
【００４２】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。例えば、上述した実施形態では、ポート用のＳパラメータテストセットおよびこれに含まれる信号分離器について説明したが、ポート数の異なる（例えば３ポート用）Ｓパラメータテストセットおよびこれに用いる信号分離器に本発明を適用することができる。
【００４３】
【発明の効果】
上述したように、本発明によれば、被測定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続する複数の信号分離器を有するＳパラメータテストセットにおいて、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する複数の信号分離器の少なくとも一つを迂回する迂回経路が設けられている。したがって、伝送される信号の損失が大きい信号分離器を介さずに信号を伝送することができ、伝送係数測定の際のダイナミックレンジを広く設定することができる。
【００４４】
また、本発明によれば、被測定デバイスの各ポートと信号源および受信回路とを接続する信号分離器において、被測定デバイスの伝送係数を測定する際に信号の伝送経路上に存在する高損失経路を迂回する低損失経路が設けられている。したがって、この信号分離器を介して信号を伝送する際に内部に形成された低損失経路を用いることにより、伝送係数測定の際のダイナミックレンジを広く設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態の計測器の構成を示す図である。
【図２】Ｓパラメータ測定時の各スイッチの接続状態を示す図である。
【図３】第２の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す図である。
【図４】図３に示す信号分離器の各ポートの対応関係を示す図である。
【図５】図３および図４に示した信号分離器を用いて構成されたＳパラメータテストセットの構成を示す図である。
【図６】Ｓパラメータ測定時の各スイッチの接続状態を示す図である。
【図７】第３の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す図である。
【図８】第４の実施形態の信号分離器の詳細構成を示す図である。
【図９】従来のＳパラメータテストセットの構成を示す図である。
【符号の説明】
１０  ネットワークアナライザ
１２  信号源
１４、１６、１８  受信回路
２０  Ｓパラメータテストセット
２１、２２、２３、２４、２５  切替スイッチ
２６、２７、２８、５０、５０Ａ、６０、７０  信号分離器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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