(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザ発振器から出力されるレーザ光により像担持体上を走査露光することにより前記像担持体上に画像を形成する画像形成装置において、
前記半導体レーザ発振器の発光状態を検知する検知手段と、
画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の前端側において、前記半導体レーザ発振器に対し閾値電流Ｉｔｈを超えない所定の駆動電流Ｉｂｉａｓに一定の電流Ｉｏｓｔを加えた値の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において白地部分を形成する非画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定し、この駆動電流の設定終了後に前記一定の電流Ｉｏｓｔを引き、前記所定の駆動電流Ｉｂｉａｓを印加する第１の発光レベル安定化制御手段と、
この第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御を行なった後に動作を開始し、前記画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の後端側においてレーザ光を受光することにより、前記レーザ光の１走査ごとの同期をとるための同期信号を生成する同期信号センサから同期信号が得られた時点で動作を停止するもので、前記画像を形成しない非画像形成領域において、前記半導体レーザ発振器に対し前記閾値電流Ｉｔｈを超える所定の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において文字や画像部分を形成する画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定する第２の発光レベル安定化制御手段と、
を具備したことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御、および、前記第２の発光レベル安定化制御手段による画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御は、レーザ光の１走査に１度行なうことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御はレーザ光の複数走査に１度行ない、前記第２の発光レベル安定化制御手段による画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御はレーザ光の１走査に１度行なうことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御はレーザ光の１走査に１度行ない、前記第２の発光レベル安定化制御手段による画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御はレーザ光の複数走査に１度行なうことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項５】
半導体レーザ発振器から出力されるレーザ光を用いて光学系により像担持体上を走査露光することにより前記像担持体上に画像を形成する画像形成装置において、
前記半導体レーザ発振器の発光状態を検知する検知手段と、
この検知手段における検知効率のばらつきなどを調整するための第１の調整手段と、
画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の前端側において、前記半導体レーザ発振器に対し閾値電流Ｉｔｈを超えない所定の駆動電流Ｉｂｉａｓに一定の電流Ｉｏｓｔを加えた値の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において白地部分を形成する非画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定し、この駆動電流の設定終了後に前記一定の電流Ｉｏｓｔを引き、前記所定の駆動電流Ｉｂｉａｓを印加する第１の発光レベル安定化制御手段と、
この第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御を行なった後に動作を開始し、前記画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の後端側においてレーザ光を受光することにより、前記レーザ光の１走査ごとの同期をとるための同期信号を生成する同期信号センサから同期信号が得られた時点で動作を停止するもので、前記画像を形成しない非画像形成領域において、前記半導体レーザ発振器に対し前記閾値電流Ｉｔｈを超える所定の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において文字や画像部分を形成する画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定する第２の発光レベル安定化制御手段と、
この第２の発光レベル安定化制御手段において、前記光学系の光学効率による発光レベルのばらつきなどを補正するための第２の調整手段と、
を具備したことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、たとえば、半導体レーザ発振器から出力されるレーザ光により感光体ドラム上を走査露光することにより感光体ドラム上に静電潜像を形成し、その静電潜像に現像剤を塗布して画像を形成するデジタル複写機などの画像形成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、光源として半導体レーザ発振器を用いたデジタル複写機などの画像形成装置では、画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベルを、半導体レーザ発振器に内蔵されたフォトダイオードまたは外部に設けたフォトダイオードで検知し、そのフォトダイオードからの出力電流を用いて発光レベルの安定化制御（一般には、ＡＰＣ：Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌと呼ばれる制御で、以下、ＡＰＣと略称する）を行なえる構成を採用している。
【０００３】
上記ＡＰＣ処理は、画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベルに対し行なう方式が一般的で、非画像形成時は半導体レーザ発振器に電流を印加しないか、または、半導体レーザ発振器がＬＥＤ発光領域からレーザ発振領域に移行する変化点である閾値電流を超えない一定量の電流を印加する方式を用いていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
半導体レーザ発振器に電流を印加しない状態から急激に画像形成時の発光レベルに相当する電流、たとえば、矩形波状の電流を印加した場合、半導体レーザ発振器の光出力の立ち上がり部分に緩和振動と呼ばれるオーバーシュートが発生することは公知である。
【０００５】
また、材料にＡｌＧａＩｎＰを用いた赤色半導体レーザ発振器と呼ばれる発振波長が６３０〜６９０ｎｍ近辺の半導体レーザ発振器では、上記緩和振動に加え、半導体レーザ発振器を構成する材料の熱伝導率の関係で、矩形波状の駆動電流を印加しても、所望の光出力の強度レベルに達するまでに数μｓの時間を必要とすることが知られている。
【０００６】
このような状態で画像を形成すると、レーザ光走査方向の細線を形成した場合、細線の先端部が細ってしまったり、ソリッドの先端部分に掠れが生じるなどの不具合が生じる。
【０００７】
また、半導体レーザ発振器に電流を印加しない状態から画像信号に応じた高周波で５０ｍＡを超える駆動電流を制御するため、半導体レーザ発振器の駆動回路などが搭載された制御基板上の配線パターンやハーネスを介して外部にノイズを放射するという問題も生じやすい。
【０００８】
次に、半導体レーザ発振器に前もって一定電流を印加しておき、その一定電流に画像を形成するか否かの信号に相当する電流を上乗せした場合を説明する。
【０００９】
半導体レーザ発振器は、ある一定電流を流すまでは自然発光を行ない、レーザ発振は行なわれず、上記一定電流を超えるとレーザ発振を行なう特性を有している。上記一定電流は閾値電流と呼ばれ、デバイスごと、または、製造ロットによっても異なることが知られている。また、この閾値電流は環境温度が上昇するほど高くなり、反対に環境温度が低下するほど低くなる特性を有している。
【００１０】
そのため、一定電流に画像を形成するか否かの信号に相当する電流を上乗せする処理を行なうと、環境温度によって半導体レーザ発振器の光出力波形が変化してしまう問題が生じる。具体的には、低温時には閾値電流が低下し、上記一定電流量が閾値電流を超えた場合、半導体レーザ発振器は上記一定電流によりレーザ発振を開始し、非画像形成時においてもレーザ発振を行ない、そのときの出力により画像を形成してしまう「カブリ」と呼ばれる現象が発生する。
【００１１】
反対に、高温時には閾値電流が上昇し、閾値電流が上記一定電流量よりも充分大きくなった場合、上記一定電流を付加する効果が低減し、光出力波形にオーバーシュートが発生したり、所望の発光レベルに達するまでに数μｓの時間が必要となるという問題が生じた。
【００１２】
また、ノイズに関しては低温時は輻射ノイズが小さく、高温になると輻射ノイズが大きくなるという現象が発生することは必須であった。
【００１３】
そこで、本発明は、周囲温度の変化に関わらず、常に安定した光出力強度を得ることができ、結果として濃度の安定した画像を形成することができる画像形成装置を提供することを目的とする。
【００１４】
また、本発明は、動作温度（雰囲気温度）が変化した場合でも、温度変化により輻射ノイズ量が変化せず、かつ、半導体レーザ発振器の応答時間が変化せず、よって高速性に優れ、常に安定した光出力波形を得ることができる画像形成装置を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明の画像形成装置は、半導体レーザ発振器から出力されるレーザ光により像担持体上を走査露光することにより前記像担持体上に画像を形成する画像形成装置において、前記半導体レーザ発振器の発光状態を検知する検知手段と、画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の前端側において、前記半導体レーザ発振器に対し閾値電流Ｉｔｈを超えない所定の駆動電流Ｉｂｉａｓに一定の電流Ｉｏｓｔを加えた値の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において白地部分を形成する非画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定し、この駆動電流の設定終了後に前記一定の電流Ｉｏｓｔを引き、前記所定の駆動電流Ｉｂｉａｓを印加する第１の発光レベル安定化制御手段と、この第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御を行なった後に動作を開始し、前記画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の後端側においてレーザ光を受光することにより、前記レーザ光の１走査ごとの同期をとるための同期信号を生成する同期信号センサから同期信号が得られた時点で動作を停止するもので、前記画像を形成しない非画像形成領域において、前記半導体レーザ発振器に対し前記閾値電流Ｉｔｈを超える所定の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において文字や画像部分を形成する画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定する第２の発光レベル安定化制御手段とを具備している。
【００１６】
また、本発明の画像形成装置は、半導体レーザ発振器から出力されるレーザ光を用いて光学系により像担持体上を走査露光することにより前記像担持体上に画像を形成する画像形成装置において、前記半導体レーザ発振器の発光状態を検知する検知手段と、この検知手段における検知効率のばらつきなどを調整するための第１の調整手段と、画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の前端側において、前記半導体レーザ発振器に対し閾値電流Ｉｔｈを超えない所定の駆動電流Ｉｂｉａｓに一定の電流Ｉｏｓｔを加えた値の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において白地部分を形成する非画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定し、この駆動電流の設定終了後に前記一定の電流Ｉｏｓｔを引き、前記所定の駆動電流Ｉｂｉａｓを印加する第１の発光レベル安定化制御手段と、この第１の発光レベル安定化制御手段による非画像形成時の半導体レーザ発振器の発光レベル安定化制御を行なった後に動作を開始し、前記画像を形成しない非画像形成領域のレーザ光走査方向の後端側においてレーザ光を受光することにより、前記レーザ光の１走査ごとの同期をとるための同期信号を生成する同期信号センサから同期信号が得られた時点で動作を停止するもので、前記画像を形成しない非画像形成領域において、前記半導体レーザ発振器に対し前記閾値電流Ｉｔｈを超える所定の駆動電流を印加することにより当該半導体レーザ発振器をレーザ発振領域で発光させ、その状態で、前記検知手段の検知結果に基づき、画像を形成する画像形成領域において文字や画像部分を形成する画像形成時の前記半導体レーザ発振器の発光レベルが所定値となるように当該半導体レーザ発振器に印加する駆動電流を設定する第２の発光レベル安定化制御手段と、この第２の発光レベル安定化制御手段において、前記光学系の光学効率による発光レベルのばらつきなどを補正するための第２の調整手段とを具備している。
【００２４】
本発明によれば、非画像形成時と画像形成時の両方の状態の半導体レーザ発振器の駆動電流を制御できるため、周囲温度の変化に関わらず常に安定した発光レベルを得ることができ、結果として常に濃度の安定した画像を形成することができる。
【００２５】
また、本発明によれば、動作温度（雰囲気温度）が変化した場合でも、半導体レーザ発振器の変調電流の振幅が変化しないため、温度変化により輻射ノイズ量が変化しない。
【００２６】
また、本発明によれば、動作温度（雰囲気温度）が変化した場合でも、半導体レーザ発振器の変調電流の振幅が変化しない、すなわち、半導体レーザ発振器の立上り／立下りに要する応答時間が変化しないため、高速性に優れ、常に安定した光出力波形を得ることができる。
【００２７】
また、本発明によれば、非画像形成時と画像形成時の両方の状態の半導体レーザ発振器の駆動電流を制御でき、かつ、非画像形成時の駆動電流は閾値電流を超えないため、非画像形成時はレーザ発振させずに周囲温度の変化に関わらず常に安定した光出力波形を得ることができ、結果として安定した画像を形成することができる。
【００２８】
さらに、本発明によれば、半導体レーザ発振器の発光状態を検知する検知手段の検知効率のばらつき、および、光学系の光学効率のばらつきなどを調整することができる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００３０】
図１は、本実施の形態に係る画像形成装置としてのデジタル複写機の構成を模式的に示すものである。このデジタル複写機は、たとえば、画像読取手段としてのスキャナ部１、および、画像形成手段としてのプリンタ部２から構成されている。
【００３１】
スキャナ部１は、図示矢印ａ方向に往復移動可能な第１キャリジ３と第２キャリジ４、集光レンズ５、および、ＣＣＤ形ラインセンサなどの光電変換素子６などから構成されている。
【００３２】
すなわち、スキャナ部１では、原稿Ｏが原稿台ガラス７上に下向きに置かれ、原稿Ｏは開閉自在に設けられた原稿固定用のカバー８を閉めることで、原稿台ガラス７上に押さえ付けられる。
【００３３】
原稿Ｏは光源９によって照明され、原稿Ｏからの反射光はミラー１０，１１，１２、および、集光レンズ５を介して光電変換素子６の受光面上に結像される。この場合、原稿Ｏは、光源９およびミラー１０を搭載した第１キャリジ３と、ミラー１１，１２を搭載した第２キャリジ４が図示しないキャリジ駆動用モータで右から左方向に移動されることで、原稿Ｏ上を光源９からの照射光が走査することとなる。
【００３４】
なお、第１キャリジ３の移動速度は第２キャリジ４の移動速度の２倍に設定することで、原稿Ｏから光電変換素子６までの光路長が一定になるように制御されていることは言うまでもない。
【００３５】
このようにして、原稿台ガラス７上に置かれた原稿Ｏは１ラインごとに順次読取られ、光電変換素子６により原稿Ｏからの反射光である光信号の強度に応じたアナログ電気信号に変換される。その後、変換されたアナログ電気信号は、光電変換素子６関連の制御信号などを扱う回路が搭載された制御基板１３において画像の濃淡を表わすデジタル信号に変換され、かつ、集光レンズ５による低周波歪や、光電変換素子６の感度ばらつきにより生じる高周波歪を補正するシェーディング（歪）補正などのデジタル信号処理が施され、さらに、画像処理回路が搭載された画像処理基板１４でディザやスムージングなどの各種画像処理が行なわれ、その後、半導体レーザ発振器の発光制御に関する信号に変換され、レーザ光学系ユニット１５に出力される。
【００３６】
プリンタ部２は、光学系ユニット１５、および、被画像形成媒体である用紙Ｐ上に画像形成が可能な電子写真方式を組合わせた画像形成部１６から構成されている。ここで、図２を用いて、光学系ユニット１５の説明を含めて、プリンタ部２の説明を行なう。
【００３７】
半導体レーザ発振器１５１の発光状態を制御するレーザ制御回路１５０（図示しないレーザ制御基板に搭載されている）から、半導体レーザ発振器１５１内の発光素子であるレーザダイオード１５１ａに電流を流し、そのときレーザダイオード１５１ａから出力されるモニタ光（バックビーム光）を、その近傍に配置した検知手段としての受光素子であるフォトダイオード１５１ｂで受光し、フォトダイオード１５１ｂで光信号をその発光量に応じた電気信号に変換し、その電気信号をレーザ制御回路１５０に入力することで、電気的にレーザダイオード１５１ａの発光状態を検知することができる。
【００３８】
なお、レーザダイオード１５１ａおよびフォトダイオード１５１ｂは、本実施の形態では同一デバイス内に物理的に配置されて一体化され、その状態を半導体レーザ発振器１５１と定義しているが、レーザダイオード１５１ａとフォトダイオード１５１ｂが別のデバイス内に物理的に配置されて、それらが別々の位置に配置されても、機能として同様であれば問題ない。その場合、レーザダイオード１５１ａが半導体レーザ発振器１５１となり、フォトダイオード１５１ｂが発光状態を検知するための検知手段となる。
【００３９】
画像形成時における光出力強度と、非画像形成時における光出力強度のそれぞれは、図示しない外部に設けられたＤ／Ａ変換器を図示しないＣＰＵなどの処理回路を用いて制御することで、画像形成時と非画像形成時のそれぞれの光出力強度を外部回路で制御することができる。
【００４０】
レーザダイオード１５１ａからのレーザ光（フロントビーム光）は、集光レンズ１５２を介して多面回転ミラーであるポリゴンミラー１５３で反射する。ポリゴンミラー１５３は、図示しないポリゴンモータドライバで駆動されるポリゴンモータによって一定速度で回転している。ポリゴンミラー１５３からの反射光は、ｆ−θレンズ１５４を介して第１の折り返しミラー１５５で反射し、その後、像担持体としての感光体ドラム１７の露光位置Ｘに照射され、感光体ドラム１７上に静電潜像を形成する。
【００４１】
また、ｆ−θレンズ１５４を介した光信号の一部は、第２の折り返しミラー１５６で反射して同期信号センサ１５７に入力されることにより、１走査ごとの同期をとるための同期信号ＨＳＹＮＣが生成される。
【００４２】
次に、図１を用いて画像形成部１６の説明を行なう。画像を形成する像担持体である感光体ドラム１７の周辺には、その表面を帯電する帯電器１８、現像器１９、転写チャージャ２０、剥離チャージャ２１、および、クリーナ２２が順次配置されている。感光体ドラム１７は、図示しない駆動モータにより所定の外周速度で回転駆動され、その表面に対向して設けられている帯電器１８によって帯電される。帯電された感光体ドラム１７上の露光位置×の地点にレーザダイオード１５１ａからの光出力（レーザ光）がスポット結像される。
【００４３】
帯電した感光体ドラム１７上の露光位置×に光が照射されると、その部分の電位が低下し、低下した電位が像を形成、すなわち、静電潜像が形成される。そして、現像器１９からの現像剤であるトナーが感光体ドラム１７にて現像される。現像により感光体ドラム１７上にはトナー像が形成され、このトナー像は、転写位置の地点で給紙系からタイミングを取って供給される用紙Ｐ上に転写チャージャ２０により転写される。
【００４４】
上記給紙系は、本装置の底部に設けられた図示しない給紙カセット内の用紙Ｐを、図示しない給紙ローラと分離ローラとにより１枚ずつ分離して供給する。その後、用紙Ｐは、図示しないレジストローラまで送られ、所定のタイミングで転写位置まで供給される。転写チャージャ２０の下流側には、用紙搬送機構２３、定着器２４、画像形成済みの用紙Ｐを排出する排出ローラ２５が配設されている。これにより、トナー像が転写された用紙Ｐは、定着器２４においてトナー像が用紙Ｐに定着され、その後、排出ローラ２５を経て外部の排紙トレイ２６に排出される。
【００４５】
また、用紙Ｐへの転写が終了した感光体ドラム１７は、その表面の残留トナーがクリーナ２２によって取り除かれて初期状態に復帰し、次の画像形成の待機状態となる。
【００４６】
以上のプロセス動作を繰り返すことにより、画像形成動作が連続して行なわれる。
【００４７】
次に、図３を用いて半導体レーザ発振器１５１内に配置されたレーザダイオード１５１ａの基本特性を説明する。
【００４８】
図３（ａ）は、横軸にレーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流を、縦軸に光出力強度を示す。図からも明らかなように、駆動電流を半導体レーザ発振器の発光開始動作点である閾値電流（Ｉｔｈ）を超えない範囲で設定した場合、半導体レーザ発振器は自然発光（ＬＥＤ発光）を行ない、駆動電流を増加しても光出力強度は僅かしか増加しない不安定な状態となる。
【００４９】
一方、閾値電流（Ｉｔｈ）を超えた部分に駆動電流を設定した場合は、半導体レーザ発振器はレーザ発振を行ない、駆動電流に応じた光出力強度が得られるようになる。このレーザ発振領域での駆動電流量に対する光出力量をスロープ効率（η）と呼び、発光効率の目安となる。
【００５０】
図３（ｂ）は、駆動電流の形状による半導体レーザ発振器の光出力波形を示す。
【００５１】
（Ａ）に、半導体レーザ発振器に電流を印加しない状態、または、閾値電流よりも充分に小さい電流を印加した状態からレーザ発振状態に相当する電流を印加した場合の駆動電流波形と光出力波形との関係を示す。半導体レーザ発振器の光出力の立ち上がり部分に緩和振動と呼ばれるオーバーシュートが現れることは公知である。このオーバーシュート部分は通信関連の分野に利用されている。
【００５２】
（Ｂ）に、閾値電流を超えない範囲で、かつ、閾値電流に充分近い電流を印加した状態からレーザ発振状態に相当する電流を印加した場合の関係を示す。この場合、光出力のローレベルは図３（ａ）で説明した自然発光レベルで、非常に微弱な発光を行ない、波形としては駆動電流波形と同様の波形が得られる。
【００５３】
（Ｃ）に、閾値電流を超えた部分に初期駆動電流を設定し、その初期駆動電流を超えた部分に光出力のハイレベルに相当する駆動電流を印加した場合の関係を示す。この場合、光出力のローレベル、ハイレベルともにレーザ発振領域にあり、光出力波形としては最も駆動電流に忠実となる。光ディスク関係では、この状態で半導体レーザ発振器の制御を行なっている。
【００５４】
デジタル複写機では、（Ａ）の状態では微小パルスが生成できないため細線が再現できない。また、立ち上がり部分のオーバーシュートで不必要な画像を生成してしまう不具合が生じる。（Ｃ）の状態では非画像形成時でもレーザダイオード１５１ａが発光してしまう。（Ｂ）の状態においてもローレベルの微小発光は存在するが、前記光学ユニット１５内の集光レンズ１５２の透過率や、ポリゴンミラー１５３の反射率、ｆ−θレンズ１５４の透過率、および、第１の折り返しミラー１５５の反射率で光出力レベルが減衰するため、感光体ドラム１７に照射する光量は小さくなる。
【００５５】
次に、半導体レーザ発振器の環境変化に対する駆動電流と光出力強度との関係を図４に示す。半導体レーザ発振器は、一般的に周囲温度、すなわち、半導体レーザ発振器のケース温度が低温になると発光動作開始点である閾値電流が下がり、ケース温度が高温になると閾値電流が上昇する特性を持っている。環境温度が０℃のときの閾値電流をＩｔｈ１、２５℃のときの閾値電流をＩｔｈ２、５０℃のときの閾値電流をＩｔｈ３とすると、図４に示す通りＩｔｈ１＜Ｉｔｈ２＜Ｉｔｈ３の関係が成立する。
【００５６】
したがって、図４に示す通り、半導体レーザ発振器を同一強度で発光させる場合でも、環境温度により印加する駆動電流の振幅が変化することになる。
【００５７】
このような温度変化に対し光出力（発光レベル）の安定を図ることが、本発明の第１の実施の形態で、その概念図を図５に示す。図５によれば、非画像形成時の発光レベルである光出力のローレベルと、画像形成時の発光レベルである光出力のハイレベルの両方に対し、それぞれＡＰＣ処理を行なうことで、温度に影響を受けないで安定した光出力を得ることができる。
【００５８】
デジタル複写機の分野では、現像のプロセス条件によっては一概に断定できないが、一般的には非画像形成時は半導体レーザ発振器を発光せず、画像形成時のみ半導体レーザ発振器を発光させ、その光出力が感光体ドラムに照射されることで、感光体ドラム上に静電潜像を形成する方式を取っている。
【００５９】
そのため、第１の実施の形態をデジタル複写機に適応する場合は、非画像形成時のレーザダイオード１５１ａの駆動電流は閾値電流を超えず、かつ、閾値電流に充分近いことが望まれる。
【００６０】
このような要望を満足するようにしたのが第２の実施の形態であり、以下、第２の実施の形態について図６を用いて具体的に説明する。
【００６１】
なお、非画像形成時にレーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流を制御する処理を第１のＡＰＣ処理、画像形成時にレーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流を制御する処理を第２のＡＰＣ処理とする。
【００６２】
ＡＰＣ処理としては、半導体レーザ発振器１５１内のレーザダイオード１５１ａが発光し、そのときのバックビーム光を同じく半導体レーザ発振器１５１内のフォトダイオード１５１ｂが受光し、そのときのフォトダイオード１５１ｂからの出力であるモニタ電流を一定に保つ処理を必要とするが、デジタル複写機としては、非画像形成時は感光体ドラム１７に光を照射したくないことから、第１のＡＰＣ処理である非画像形成時のレーザダイオード１５１ａの駆動電流は電流未満との矛盾が生じる。
【００６３】
そこで、第１のＡＰＣ処理を行なう時間のみレーザダイオード１５１ａにレーザ発振領域で発光するよう電流（Ｉｂｉａｓ＋Ｉｏｓｔ）を印加し、そのときの発光レベルＰ１に対しＡＰＣ処理を行なう。このＡＰＣ処理が終了したら一定の電流（Ｉｏｓｔ）を引き、閾値電流Ｉｔｈを超えない電流（Ｉｂｉａｓ）を印加する方式を採ることによって、非画像形成時の発光量を抑え、かつ、ＡＰＣ時にはレーザ発光を得ることができる。
【００６４】
ただし、閾値電流Ｉｔｈ未満の電流を印加した場合でも、レーザダイオード１５１ａは自然発光と呼ばれる発光を行なうが、閾値電流Ｉｔｈを超えた部分のレーザ発振時の発光に比べ非常に小さいものである。
【００６５】
次に、画像形成時の発光レベルＰ２に対する第２のＡＰＣ処理を行なう。発光レベルＰ２のときのＡＰＣ処理により、レーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流Ｉｗｒｉｔｅが決定する。
【００６６】
したがって、非画像形成時にはレーザダイオード１５１ａに駆動電流Ｉｂｉａｓを印加し、画像形成時には駆動電流Ｉｗｒｉｔｅを印加するように駆動電流を切換えることで、温度変化に依存しない安定した光出力を得ることができる。
【００６７】
上記制御を一例として図７を用いて具体的に説明する。
【００６８】
図７は、第２の実施の形態を実現するためのレーザ制御回路１５０（図２参照）の要部構成例を示している。この回路は、第１のＡＰＣ処理を行なうための比較器１６１、第１のＡＰＣ処理期間のみ導通するスイッチ１６２、第１のＡＰＣ処理期間に充放電を行なうコンデンサ１６３、コンデンサ１６３が入力端に接続された電流アンプ１６４、第２のＡＰＣ処理を行なうための比較器１６５、第２のＡＰＣ処理期間のみ導通するスイッチ１６６、第２のＡＰＣ処理期間に充放電を行なうコンデンサ１６７、コンデンサ１６７が入力端に接続された電流アンプ１６８、画像信号により開閉制御され、電流アンプ１６４あるいは電流アンプ１６８の出力を切換える切換スイッチ１６９、第１のＡＰＣ処理時の加算電流部として加算電流を制御するスイッチ１７０、スイッチ１７０が入力端に接続された電流アンプ１７１、切換スイッチ１６９の出力と電流アンプ１７１の出力とを加算してレーザダイオード１５１ａに供給する電流加算器１７２、フォトダイオード１５１ｂの出力電流を処理する電流増幅器１７３、および、第１の調整手段としての第１の調整機構１７４で増幅率が調整され、電流増幅器１７３の出力が供給されるゲインアンプ１７５から構成されている。ゲインアンプ１７５の出力は、比較信号として比較器１６１，１６５にそれぞれ供給されている。
【００６９】
次に、図８および図９を参照して図７の回路の動作時の信号の流れについて説明する。
【００７０】
図８は、第１のＡＰＣ処理時の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、第１のＡＰＣ処理を行なう際のレーザ発光強度Ｐ１に相当する予備（ＢＩＡＳ）発光強度設定電圧として所定の電圧を比較器１６１に入力する。スイッチ１６２は、第１のＡＰＣ信号により開閉制御され、第１のＡＰＣ処理期間は閉じた状態となり、導通状態となる。したがって、比較器１６１の出力はコンデンサ１６３に接続された状態となる。
【００７１】
電流アンプ１６４は、コンデンサ１６３に蓄積された電荷量に比例した電流をレーザダイオード１５１ａから引き込む。このとき、画像信号により切換制御される切換スイッチ１６９は電流アンプ１６４側に閉じた状態となり、レーザダイオード１５１ａと電流アンプ１６４とが導通状態となっている。
【００７２】
また、第１のＡＰＣ処理の際は、オフセット（ＯＦＦＳＥＴ）電流設定信号により一定の電圧を印加しておき、オフセット（ＯＦＦＳＥＴ）制御信号によりスイッチ１７０を閉じることで、電流アンプ１７１を通して一定電流をレーザダイオード１５１ａの駆動電流に加算した状態としておく。
【００７３】
この状態で、レーザダイオード１５１ａからの光出力に応じた電流がフォトダイオード１５１ｂから出力される。この出力電流は、一定の増幅率を持つ電流増幅器１７３を通り、第１の調整機構１７４で増幅率を調整されたゲインアンプ１７５で電圧変換された後、比較器１６１に入力される。
【００７４】
ここで、光出力が所望の強度に達しない場合は、予備発光強度設定電圧よりも比較器１６１からの出力電圧が低くなり、コンデンサ１６３に電荷が充電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が増加し、光出力強度が増加するように働く。
【００７５】
逆に、光出力強度が所望のレベルを超えている場合は、予備発光強度設定電圧よりも比較器１６１からの出力電圧が高くなり、コンデンサ１６３から電荷が放電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が減少し、光出力強度は低下する。
【００７６】
光出力強度が所望のレベルと一致している場合は、予備発光強度設定電圧と比較器１６１の出力電圧とが一致しているため、コンデンサ１６３の電荷は保持され、その結果、光出力強度も保持される。
【００７７】
なお、オフセット制御信号を制御してスイッチ１７０を開放状態とすることで、第１の実施の形態を実現することもできる。
【００７８】
図９は、第２のＡＰＣ処理時の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、第２のＡＰＣ処理を行なう際のレーザ発光強度Ｐ２に相当する書込（ＷＲＩＴＥ）発光強度設定電圧として所定の電圧を比較器１６５に入力する。スイッチ１６６は、第２のＡＰＣ信号により開閉制御され、第２のＡＰＣ処理期間は閉じた状態となり、導通状態となる。したがって、比較器１６５の出力はコンデンサ１６７に接続された状態となる。
【００７９】
電流アンプ１６８は、コンデンサ１６７に蓄積された電荷量に比例した電流をレーザダイオード１５１ａから引き込む。このとき、画像信号により切換制御される切換スイッチ１６９は電流アンプ１６８側に閉じた状態となり、レーザダイオード１５１ａと電流アンプ１６８とが導通状態となっている。
【００８０】
この状態で、レーザダイオード１５１ａからの光出力に応じた電流がフォトダイオード１５１ｂから出力される。この出力電流は、一定の増幅率を持つ電流増幅器１７３を通り、第１の調整機構１７４で増幅率を調整されたゲインアンプ１７５で電圧変換された後、比較器１６５に入力される。
【００８１】
ここで、光出力が所望の強度に達しない場合は、書込発光強度設定電圧よりも比較器１６５からの出力電圧が低くなり、コンデンサ１６７に電荷が充電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が増加し、光出力強度が増加するように働く。
【００８２】
逆に、光出力強度が所望のレベルを超えている場合は、書込発光強度設定電圧よりも比較器１６５からの出力電圧が高くなり、コンデンサ１６７から電荷が放電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が減少し、光出力強度は低下する。
【００８３】
光出力強度が所望のレベルと一致している場合は、書込発光強度設定電圧と比較器１６５の出力電圧とが一致しているため、コンデンサ１６７の電荷は保持され、その結果、光出力強度も保持される。
【００８４】
次に、図１０および図１１を参照して図７の回路の実際の動作時の信号の流れについて説明する。
【００８５】
図１０は、実際の画像形成時の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、画像形成時は、コンデンサ１６７に蓄積した電荷のみで電流アンプ１６８の入力端の電圧値が決まり、画像信号により切換スイッチ１６９が電流アンプ１６８側に閉じ、そのときに、電流アンプ１６８の入力端の電圧に相当した駆動電流がレーザダイオード１５１ａに流れる。
【００８６】
図１１は、非画像形成時、すなわち、白地の部分の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、非画像形成時は、コンデンサ１６３に蓄積した電荷のみで電流アンプ１６４の入力端の電圧値が決まり、画像信号により切換スイッチ１６９が電流アンプ１６４側に閉じ、そのときに、電流アンプ１６４の入力端の電圧に相当した駆動電流がレーザダイオード１５１ａに流れる。
【００８７】
さらに、この場合は、ＡＰＣ処理期間ではなく、画像形成時であり、オフセット制御信号によりスイッチ１７０が開放状態であるために、電流アンプ１７１への電流の引き込みは行なわれない。
【００８８】
次に、第３の実施の形態について図１２を用いて説明する。
【００８９】
なお、第２の実施の形態の場合と同様に、非画像形成時にレーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流を制御する処理を第１のＡＰＣ処理、画像形成時にレーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流を制御する処理を第２のＡＰＣ処理とする。
【００９０】
ＡＰＣ処理としては、半導体レーザ発振器１５１内のレーザダイオード１５１ａが発光し、そのときのバックビーム光を同じく半導体レーザ発振器１５１内のフォトダイオード１５１ｂが受光し、そのときのフォトダイオード１５１ｂからの出力であるモニタ電流を一定に保つ処理を必要とするが、デジタル複写機としては、非画像形成時は感光体ドラム１７に光を照射したくないことから、第１のＡＰＣ処理である非画像形成時のレーザダイオード１５１ａの駆動電流は電流未満との矛盾が生じる。
【００９１】
そこで、第１のＡＰＣ処理を行なう時間のみレーザダイオード１５１ａにレーザ発振領域で発光するよう電流（Ｉｂｉａｓ＋Ｉｏｓｔ）を印加し、そのときの発光レベルＰ１に対しＡＰＣ処理を行なう。このＡＰＣ処理が終了したら一定の電流（Ｉｏｓｔ）を引き、閾値電流Ｉｔｈを超えない電流（Ｉｂｉａｓ）を印加する方式を採ることによって、非画像形成時の発光量を抑え、かつ、ＡＰＣ時にはレーザ発光を得ることができる。
【００９２】
ただし、閾値電流Ｉｔｈ未満の電流を印加した場合でも、レーザダイオード１５１ａは自然発光と呼ばれる発光を行なうが、閾値電流Ｉｔｈを超えた部分のレーザ発振時の発光に比べ非常に小さいものである。
【００９３】
次に、画像形成時の発光レベルＰ２に対する第２のＡＰＣ処理を行なう。この場合は、レーザダイオード１５１ａに閾値電流Ｉｔｈを超えない電流（Ｉｂｉａｓ）を流した状態で、発光レベルＰ２のときのＡＰＣ処理によりレーザダイオード１５１ａに印加する駆動電流を決定する。この場合、前記電流（Ｉｂｉａｓ）に変調電流（Ｉｓｗ）を加算した結果が発光レベルＰ２に対する駆動電流となる。
【００９４】
上記制御を一例として図１３を用いて具体的に説明する。
【００９５】
図１３は、第３の実施の形態を実現するためのレーザ制御回路１５０（図２参照）の要部構成例を示している。この回路は、基本的には図７の回路と同様であるが、切換スイッチ１６９がスイッチ１６２などと同様な単なる開閉スイッチ１７６となって、電流アンプ１６８の出力と電流加算器１７２との間に接続された点と、電流アンプ１６４の出力をレーザダイオード１５１ａの駆動電流に加算する電流加算器１７７が追加された点が図７の回路と異なっており、その他は図７の回路と同様であるので同一符号を付して説明は省略する。
【００９６】
次に、図１４および図１５を参照して図１３の回路の動作時の信号の流れについて説明する。
【００９７】
図１４は、第１のＡＰＣ処理時の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、第１のＡＰＣ処理を行なう際のレーザ発光強度Ｐ１に相当する予備（ＢＩＡＳ）発光強度設定電圧として所定の電圧を比較器１６１に入力する。スイッチ１６２は、第１のＡＰＣ信号により開閉制御され、第１のＡＰＣ処理期間は閉じた状態となり、導通状態となる。したがって、比較器１６１の出力はコンデンサ１６３に接続された状態となる。電流アンプ１６４は、コンデンサ１６３に蓄積された電荷量に比例した電流をレーザダイオード１５１ａから引き込む。
【００９８】
また、第１のＡＰＣ処理の際は、オフセット（ＯＦＦＳＥＴ）電流設定信号により一定の電圧を印加しておき、オフセット（ＯＦＦＳＥＴ）制御信号によりスイッチ１７０を閉じることで、電流アンプ１７１を通して一定電流をレーザダイオード１５１ａの駆動電流に加算した状態としておく。
【００９９】
この状態で、レーザダイオード１５１ａからの光出力に応じた電流がフォトダイオード１５１ｂから出力される。この出力電流は、一定の増幅率を持つ電流増幅器１７３を通り、第１の調整機構１７４で増幅率を調整されたゲインアンプ１７５で電圧変換された後、比較器１６１に入力される。
【０１００】
ここで、光出力が所望の強度に達しない場合は、予備発光強度設定電圧よりも比較器１６１からの出力電圧が低くなり、コンデンサ１６３に電荷が充電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が増加し、光出力強度が増加するように働く。
【０１０１】
逆に、光出力強度が所望のレベルを超えている場合は、予備発光強度設定電圧よりも比較器１６１からの出力電圧が高くなり、コンデンサ１６３から電荷が放電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が減少し、光出力強度は低下する。
【０１０２】
光出力強度が所望のレベルと一致している場合は、予備発光強度設定電圧と比較器１６１の出力電圧とが一致しているため、コンデンサ１６３の電荷は保持され、その結果、光出力強度も保持される。
【０１０３】
図１５は、第２のＡＰＣ処理時の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。第２のＡＰＣ処理を行なう場合は、コンデンサ１６３に蓄積された電荷に相当する電圧を電流アンプ１６４に入力し、その際の電流アンプ１６４への引き込み電流（Ｉｂｉａｓに相当）が常に流れている状態で行なう。
【０１０４】
第２のＡＰＣ処理を行なう際のレーザ発光強度Ｐ２に相当する書込（ＷＲＩＴＥ）発光強度設定電圧として所定の電圧を比較器１６５に入力する。スイッチ１６６は、第２のＡＰＣ信号により開閉制御され、第２のＡＰＣ処理期間は閉じた状態となり、導通状態となる。したがって、比較器１６５の出力はコンデンサ１６７に接続された状態となる。
【０１０５】
電流アンプ１６８は、コンデンサ１６７に蓄積された電荷量に比例した電流をレーザダイオード１５１ａから引き込む。したがって、レーザダイオード１５１ａには、電流アンプ１６４の引き込み電流と電流アンプ１６８の引き込み電流とを加算した電流量が駆動電流として印加される。
【０１０６】
この状態で、レーザダイオード１５１ａからの光出力に応じた電流がフォトダイオード１５１ｂから出力される。この出力電流は、一定の増幅率を持つ電流増幅器１７３を通り、第１の調整機構１７４で増幅率を調整されたゲインアンプ１７５で電圧変換された後、比較器１６５に入力される。
【０１０７】
ここで、光出力が所望の強度に達しない場合は、書込発光強度設定電圧よりも比較器１６５からの出力電圧が低くなり、コンデンサ１６７に電荷が充電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が増加し、光出力強度が増加するように働く。
【０１０８】
逆に、光出力強度が所望のレベルを超えている場合は、書込発光強度設定電圧よりも比較器１６５からの出力電圧が高くなり、コンデンサ１６７から電荷が放電される。このことにより、レーザダイオード１５１ａの駆動電流が減少し、光出力強度は低下する。
【０１０９】
光出力強度が所望のレベルと一致している場合は、書込発光強度設定電圧と比較器１６５の出力電圧とが一致しているため、コンデンサ１６７の電荷は保持され、その結果、光出力強度も保持される。
【０１１０】
次に、図１６および図１７を参照して図１３の回路の実際の動作時の信号の流れについて説明する。
【０１１１】
図１６は、実際の画像形成時の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、画像形成時は、画像信号によりスイッチ１７６が閉じ、コンデンサ１６３に蓄積した電荷に応じた電流アンプ１６４の引き込み電流量（Ｉｂｉａｓ）と、コンデンサ１６７に蓄積した電荷に応じた電流アンプ１６８の引き込み電流量（Ｉｓｗ）が加算された電流がレーザダイオード１５１ａに流れる。
【０１１２】
図１７は、非画像形成時、すなわち、白地の部分の信号の流れを示しており、図中の太線部分が対応部分である。すなわち、非画像形成時は、コンデンサ１６３に蓄積した電荷のみで電流アンプ１６４の入力端の電圧値が決まり、その電圧に相当した電流を電流アンプ１６８が引き込み、その電流量がレーザダイオード１５１ａに流れる駆動電流となる。
【０１１３】
さらに、この場合は、ＡＰＣ処理期間ではなく、画像形成時であり、オフセット制御信号によりスイッチ１７０が開放状態であるために、電流アンプ１７１への電流の引き込みは行なわれない。
【０１１４】
このように、第３の実施の形態は、第１のＡＰＣ処理の結果、閾値電流を超えない制御信号（Ｉｂｉａｓ）を設定した後に変調電流（Ｉｓｗ）のための第２のＡＰＣ処理を行なうことで、画像形成時はレーザダイオード１５１ａを発光させ、非画像形成時はレーザダイオード１５１ａを発光させず、かつ、レーザダイオード１５１ａへの駆動電流は閾値電流を超えず、かつ、充分、閾値電流に近い部分に設定することができる。
【０１１５】
なお、図７および図１３に示した回路構成で、最終段の電流アンプ１６４，１６８，１７１の動作を、電流を引き込むタイプとするか、電流を吐き出すタイプとするかで用いる半導体レーザ発振器が異なる。それについて、図１８および図１９を用いて具体的に説明する。
【０１１６】
図１８に、図７と図１３に示した電流引き込みタイプの電流アンプを用いた例を示す。図１８では、説明のため、電流アンプ１６８のみとし、その他の電流アンプ１６４，１７１は図示しないで省略してある。このタイプでは、電流アンプ１６８に電流が流れ込むため、電流アンプ１６８の出力端にレーザダイオード１５１ａのカソード端子を接続する必要がある。したがって、用いる半導体レーザ発振器１５１は、図１８に示すように、レーザダイオード１５１ａのアノード端子とフォトダイオード１５１ｂのカソード端子とが接続されているタイプを使用することになる。
【０１１７】
図１９に、電流吐き出しタイプの電流アンプを用いた例を示す。図１９では、説明のため、電流アンプ１６８のみとし、その他の電流アンプ１６４，１７１は図示しないで省略してある。このタイプでは、電流アンプ１６８から電流が吐き出される方向に流れるため、電流アンプ１６８の出力端にレーザダイオード１５１ａのカソード端子を接続する必要がある。したがって、用いる半導体レーザ発振器１５１は、図１９に示すように、レーザダイオード１５１ａのカソード端子とフォトダイオード１５１ｂのアノード端子とが接続されているタイプを使用することになる。
【０１１８】
次に、ＡＰＣ処理を行なう具体的なタイミングについて、図７および図２０を用いて説明する。
【０１１９】
レーザダイオード１５１ａが発光し、その光出力であるレーザ光がポリゴンミラー１５３で反射し、ｆ−θレンズ１５４を透過し、第１の折り返しミラー１５５で反射して、感光体ドラム１７上を走査し、また、第２の折り返しミラー１５６で反射したレーザ光が同期信号センサ１５７上を走査することは、前述した通りである。それらの動作をレーザ光の走査の視点で時系列に示したタイミングが図２０となる。
【０１２０】
ここで、感光体ドラム１７上の実際に画像を形成する部分を画像形成領域、画像形成領域以外を非画像形成領域とする。また、本実施の形態で画像形成時とは、第２のＡＰＣ処理後のコンデンサ１６３、または、コンデンサ１６３と１６７との組合わせに蓄積された電荷でレーザダイオード１５１ａが発光し、実際に画像を形成する状態であり、最終的には出力画像にトナーが付着する文字、または、画像部分を形成することに相当し、非画像形成時とは、第１のＡＰＣ処理後のコンデンサ１６３に蓄積された電荷に相当する駆動電流がレーザダイオード１５１ａに印加された状態で、レーザダイオード１５１ａとしては自然発光状態で微弱な発光状態にあり、最終的には出力画像の白地の部分を形成する状態である。このように、画像形成時／非画像形成時と、画像形成領域／非画像形成領域は区別するものとする。
【０１２１】
電子写真方式を用いたデジタル複写機の特性上、画像を形成する場合以外は感光体ドラム１７上にレーザ光を照射しないため、レーザダイオード１５１ａを発光させないと処理が行なえない第１のＡＰＣ処理、第２のＡＰＣ処理は、それぞれ非画像形成領域で行なうことになる。具体的なタイミングを以下に説明する。
【０１２２】
レーザダイオード１５１ａの光出力が前のラインの感光体ドラム１７の走査が終了し、非画像形成領域になってから第１のＡＰＣ処理を行なうため、第１のＡＰＣ信号をハイレベルとし、図７のスイッチ１６２を閉じる。そのとき、オフセット制御信号も同時にハイレベルとする。これにより、オフセット電流設定に応じた一定電流を電流アンプ１７１に引き込んだ状態で第１のＡＰＣ処理を行なうことができる。
【０１２３】
このとき、切換スイッチ１６９は、レーザダイオード１５１ａのカソード端子と電流アンプ１６４の出力端とが導通する状態とする。この状態で、レーザダイオード１５１ａの発光強度が所望の強度よりも低い場合は、コンデンサ１６３に電荷を充電し、逆に、発光強度が所望の強度よりも高い場合は、コンデンサ１６３の電荷を放電するように働く。
【０１２４】
なお、電源投入時や回路初期化後など、コンデンサ１６３に電荷が充電されていない場合は、図２０に示した第１のＡＰＣ信号およびオフセット制御信号のパルスを繰り返し印加する。すなわち、数ラインレーザ光により走査を繰り返すことで、コンデンサ１６３に所望の電荷が蓄積できる。複写動作を行なっている場合は、レーザダイオード１５１ａの発熱によるドループと、コンデンサ１６３の漏れ電流による電荷放電もしくは電荷充電により、光出力強度のずれ分のみを補正するため、１回の動作で所望の光出力強度が得られる。
【０１２５】
第１のＡＰＣ信号およびオフセット制御信号をローレベルにすることで、第１のＡＰＣが終了となる。その後、第１のＡＰＣ信号とおよびオフセット制御信号がローレベルになった後に第２のＡＰＣ信号をハイレベルに設定し、スイッチ１６６を閉じることで、第２のＡＰＣ処理を開始する。
【０１２６】
この際、切換スイッチ１６９をレーザダイオード１５１ａのカソード端子と電流アンプ１６８の出力端とが導通する状態とする。この状態で、レーザダイオード１５１ａの発光強度が所望の強度よりも低い場合は、コンデンサ１６７に電荷を充電し、逆に、発光強度が所望の強度よりも高い場合は、コンデンサ１６７の電荷を放電するように働く。
【０１２７】
なお、電源投入時や回路初期化後など、コンデンサ１６７に電荷が充電されていない場合は、図２０に示した第２のＡＰＣ信号のパルスを繰り返し印加する。すなわち、数ラインレーザ光により走査を繰り返すことで、コンデンサ１６７に所望の電荷が蓄積できる。複写動作を行なっている場合は、レーザダイオード１５１ａの発熱によるドループと、コンデンサ１６７の漏れ電流による電荷放電もしくは電荷充電により、光出力強度のずれ分のみを補正するため、１回の動作で所望の光出力強度が得られる。
【０１２８】
また、第２のＡＰＣ処理時のレーザダイオード１５１ａの光出力を、フォトダイオードなどの光信号を電気信号に変換する光検出素子で構成した同期信号センサ１５７に照射することで、同期信号の生成を行なう。同期信号が生成できた場合、その同期信号により第２のＡＰＣ信号をローレベルとすることで、第２のＡＰＣ処理を終了する。
【０１２９】
その後、回路状態としては、スイッチ１６２がオフ、スイッチ１６６がオフ、スイッチ１７０がオフで、切換スイッチ１６９が電流アンプ１６４側に閉じている状態となり、レーザダイオード１５１ａはコンデンサ１６３の電荷に応じた駆動電流が印加された状態で発光し、レーザ光による走査は画像形成領域に入る。画像形成領域では、白地の画像の場合は、スイッチ１６２がオフ、スイッチ１６６がオフ、スイッチ１７０がオフで、切換スイッチ１６９が電流アンプ１６４側に閉じている状態でレーザダイオード１５１ａには閾値電流に充分近い電流を印加し、文字や画像の形成時は、スイッチ１６２がオフ、スイッチ１６６がオフ、スイッチ１７０がオフで、切換スイッチ１６９が電流アンプ１６８側に閉じている状態でレーザダイオード１５１ａには書込みに必要な発光強度に応じた電流を印加する。
【０１３０】
走査により再び非画像形成領域に入ると、第１のＡＰＣ処理を行ない、第１のＡＰＣ処理終了後に、第２のＡＰＣ処理を開始し、同期信号を生成したら第２のＡＰＣ処理を終了する、という動作を繰り返す。
【０１３１】
また、同期信号センサ１５７と感光体ドラム１７とが離れている場合は、第１のＡＰＣ処理時のレーザ光で同期信号を生成し、レーザ光が同期信号センサ１５７を越え、感光体ドラム１７に達するまでの時間を利用して第２のＡＰＣ処理を行なうことは可能である。
【０１３２】
次に、ＡＰＣ処理を行なう別のタイミングについて図２１を用いて説明する。図２１は、第１のＡＰＣ処理を毎走査で行なわないタイミング例であり、以下、それについて説明する。
【０１３３】
コンデンサ１６３の容量を最適化することで、レーザダイオード１５１ａの発熱によるドループと、コンデンサ１６７の漏れ電流による電荷放電もしくは電荷充電により出力強度がずれても、数ライン走査して影響のない範囲であれば、１ラインごとに第１のＡＰＣ処理を行なう必要がなくなるため、図２１に示すように、たとえば、隔ライン周期で行なうことが可能となる。この場合、隔ライン以上間隔を空けてもコンデンサ容量の変更で対応できる。しかし、同期信号センサ１５７による同期信号生成のため、第２のＡＰＣ処理による発光は毎ライン必要である。
【０１３４】
また、先に示したように、同期信号センサ１５７と感光体ドラム１７との物理的位置が離れていて、第１のＡＰＣ処理動作時に同期信号の生成を行なう場合は、第１のＡＰＣ処理を毎ライン実行し、第２のＡＰＣ処理を隔ライン、もしくは、それ以上間隔を空けて実行することも可能である。
【０１３５】
次に、第４の実施の形態について説明する。
【０１３６】
レーザダイオード１５１ａの光出力の強度を検出するフォトダイオード１５１ｂの検出効率はデバイスにより異なる。第１のＡＰＣ処理も第２のＡＰＣ処理も、光出力を一定にするためにフォトダイオード１５１ｂの出力であるモニタ電流を利用しているため、デバイスによる光出力強度の検出効率が異なると、ＡＰＣ処理による光出力の強度設定が異なってしまう。
【０１３７】
ここで、図７および図２２を利用して一例を用いて説明すると、第１のＡＰＣ処理実行時、光出力Ｐｏ時にＩｍ１のモニタ電流が出力され、そのとき比較器１６１の反転入力端子の電圧（ゲインアンプ１７５の出力）がＶ１で、非反転入力端子の予備発光強度設定電圧と釣り合っていた場合、コンデンサ１６３は安定状態にあり、その結果、光出力強度は安定する。
【０１３８】
しかし、光出力の検出効率が悪い場合、たとえば、光出力強度Ｐｏ時にモニタ電流Ｉｍ２のデバイスを上記環境で使用すると、第１のＡＰＣ処理としては比較器１６１の反転入力端子の電圧Ｖ２が（Ｖ１＞Ｖ２）となり、非反転入力端子との電位差がなくなるようにコンデンサ１６３に電荷を充電する。その結果、非反転入力端子の電圧がＶ１となり、そのときのモニタ電流はＩｍ２となり、光出力強度としてはＰｏを大きく超えた発光状態となる。
【０１３９】
このようなばらつきをなくすため、たとえば、光出力強度が１ｍＷ（ミリワット）のときは、モニタ電流から作成する比較器１６１の非反転入力端子の電圧が１Ｖ（ボルト）となるように、第１の調整機構１７４で調整する必要がある。
【０１４０】
また、この調整は、図７のようなレーザ制御回路とレーザダイオード１５１ａのフィードバックループ系のみで成立し、デバイスのばらつきを持つフォトダイオード１５１ｂの強度検出効率を正規化することである。なお、図１３のレーザ制御回路でも同様であることは言うまでもない。
【０１４１】
デジタル複写機の場合、図２に示したレーザ光学系ユニット１５からも明らかなように、光学系はレンズとミラーとの組合わせにより効率がばらつく。この例を図２３に示す。
【０１４２】
ここで、図７および図２３を利用して一例を用いて説明すると、感光体ドラム１７上（像面）での光出力がＰ１であっても、レーザダイオード単体としての光出力強度は光学効率のばらつきのため、Ｐ０１であったりＰ０２であったりと、ばらばらになっていると考えられる。これは、比較器１６１にある電圧を入力し、第２のＡＰＣ処理を行なった場合、第１の調整機構１７４により調整することで、レーザダイオード単体としては所望の光出力強度が得られるが、感光体ドラム１７上での光出力強度はレーザ光学系ユニット１５により異なってしまう。
【０１４３】
そこで、本実施の形態では、図７の回路の場合、図４に示すように、比較器１６５の非反転入力端子の前段に第２の調整機構１７８を設けたものである。このようにすることで、第１の調整機構１７４でフォトダイオード１５１ｂの強度検出効率の正規化を図り、別の調整機構として第２の調整機構１７８により、第１の調整機構１７４に関係なく、レーザ光学系ユニット１５の光学効率のばらつきを補正することができる。
【０１４４】
また、図１３の回路の場合、図２５に示すように、比較器１６５の非反転入力端子の前段に第２の調整機構１７８を設けることも可能で、図２４の説明と同様の効果が得られることは言うまでもない。
【０１４５】
ここで、第１の調整機構１７４および第２の調整機構１７８の具体的な回路例を説明する。
【０１４６】
図２６は、第１の調整機構１７４の一例を示しており、以下、それについて説明する。レーザダイオード１５１ａの光出力を受光し、フォトダイオード１５１ｂから出力されるモニタ電流は、電流増幅器１７３により電流Ｉｍ′としてゲインアンプ１７５の反転入力端子部に入力される。ゲインアンプ１７５の非反転入力端子には基準電圧（Ｖｒｅｆ）が入力されている。これにより、可変抵抗器１７４ａ（抵抗値ＶＲ１）と固定抵抗器１７４ｂ（抵抗値ｒ）とから構成される第１の調整機構１７４により、ゲインアンプ１７５の出力端には、
Ｉｍ′×（ＶＲ１＋ｒ）＋Ｖｒｅｆ
の電圧が発生する。
【０１４７】
ただし、回路から明らかなように、固定抵抗器１７４ｂの抵抗値ｒを０Ωに設定し、かつ、可変抵抗器１７４ａの抵抗値ＶＲ１を０Ωに設定すると、
Ｉｍ′×（ＶＲ１−ｒ）＝Ｖｒｅｆ
となってしまい、調整ができなくなるため、固定抵抗器１７４ｂの抵抗値ｒは０Ωに設定しないようにする。
【０１４８】
このような結果、ゲインアンプ１７５の出力端に現れる電圧が比較器１６１，１６５の各反転入力端子に印加され、外部から入力される電圧、たとえば、第１のＡＰＣ処理時には予備発光強度設定電圧と比較され、また、第２のＡＰＣ処理時には書込発光強度設定電圧と比較される。
【０１４９】
図２７は、第２の調整機構１７８の一例を示しており、以下、それについて説明する。書込発光強度設定電圧は、図示しない外部のＤ／Ａコンバータなどで生成される電圧が印加される。この電圧をＶｗｉｎとすると、可変抵抗器１７８ａとボルテージフォロワ回路１７８ｂとから構成される第２の調整機構１７８により、Ｖｗｉｎ×α（α：０〜１）の電圧を比較器１６５の非反転入力端子に入力する構成としている。
【０１５０】
なお、ボルテージフォロワ回路１７８ｂは、出力信号のインピーダンスを極力抑える目的で挿入しているが、比較器１６５の非反転入力端子のインピーダンスが可変抵抗器１７８ａの抵抗値ＶＲ２に比べ非常に高い場合は、ボルテージフォロワ回路１７８ｂを削除しても、同様の機能は実現することができる。
【０１５１】
以上説明したように、上記実施の形態によれば、非画像形成時と画像形成時の両方の状態の半導体レーザ発振器の駆動電流を制御できるため、周囲温度の変化に関わらず、常に安定した光出力強度を得ることができ、結果として濃度の安定した画像を形成することができる。
【０１５２】
また、動作温度（雰囲気温度）が変化した場合でも、半導体レーザ発振器の変調電流の振幅が変化しないため、温度変化により輻射ノイズ量が変化しない。
【０１５３】
また、動作温度（雰囲気温度）が変化した場合でも、半導体レーザ発振器の変調電流の振幅が変化しない、すなわち、半導体レーザ発振器の立上り／立下りに要する応答時間が変化しないため、高速性に優れ、常に安定した光出力波形を得ることができる。
【０１５４】
また、非画像形成時と画像形成時の両方の状態の半導体レーザ発振器の駆動電流を制御でき、かつ、非画像形成時の駆動電流は閾値電流を超えないため、非画像形成時はレーザ発振させずに周囲温度の変化に関わらず、常に安定した光出力波形を得ることができ、結果として安定した画像を形成することができる。
【０１５５】
また、フォトダイオードのモニタ（光出力強度検出）効率ばらつきと光学系の光学効率ばらつきを調整することができる。
【０１５６】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、周囲温度の変化に関わらず、常に安定した光出力強度を得ることができ、結果として濃度の安定した画像を形成することができる画像形成装置を提供できる。
【０１５７】
また、本発明によれば、動作温度（雰囲気温度）が変化した場合でも、温度変化により輻射ノイズ量が変化せず、かつ、半導体レーザ発振器の応答時間が変化せず、よって高速性に優れ、常に安定した光出力波形を得ることができる画像形成装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係るデジタル複写機の構成を模式的に示す側面図。
【図２】レーザ光学系ユニットの構成を模式的に示す構成図。
【図３】半導体レーザ発振器の基本特性を説明するための図。
【図４】半導体レーザ発振器の温度変化に対する駆動電流と光出力波形の関係を説明するための図。
【図５】第１の実施の形態に係るＡＰＣ処理の概念を説明するための図。
【図６】第２の実施の形態に係るＡＰＣ処理の概念を説明するための図。
【図７】第２の実施の形態を実現するためのレーザ制御回路の要部構成例を示すブロック図。
【図８】図７における第１のＡＰＣ処理の具体的動作を説明するための図。
【図９】図７における第２のＡＰＣ処理の具体的動作を説明するための図。
【図１０】図７における実際の画像形成時の具体的動作を説明するための図。
【図１１】図７における非画像形成時の具体的動作を説明するための図。
【図１２】第３の実施の形態に係るＡＰＣ処理の概念を説明するための図。
【図１３】第３の実施の形態を実現するためのレーザ制御回路の要部構成例を示すブロック図。
【図１４】図１３における第１のＡＰＣ処理の具体的動作を説明するための図。
【図１５】図１３における第２のＡＰＣ処理の具体的動作を説明するための図。
【図１６】図１３における実際の画像形成時の具体的動作を説明するための図。
【図１７】図１３における非画像形成時の具体的動作を説明するための図。
【図１８】図７、図１３の最終段の電流アンプの特性と接続する半導体レーザ発振器の関係を説明するための図。
【図１９】図７、図１３の最終段の電流アンプの特性と接続する半導体レーザ発振器の関係を説明するための図。
【図２０】ＡＰＣ処理を行なう具体的なタイミングを説明するための図。
【図２１】ＡＰＣ処理を行なう別の具体的なタイミングを説明するための図。
【図２２】第４の実施の形態に係る第１の調整機構の概念を説明するための図。
【図２３】第４の実施の形態に係る第２の調整機構の概念を説明するための図。
【図２４】図７の回路に対して第４の実施の形態を実現するためのレーザ制御回路の要部構成例を示すブロック図。
【図２５】図１３の回路に対して第４の実施の形態を実現するためのレーザ制御回路の要部構成例を示すブロック図。
【図２６】第１の調整機構を具体的に説明するための回路図。
【図２７】第２の調整機構を具体的に説明するための回路図。
【符号の説明】
１……スキャナ部
２……プリンタ部
６……光電変換素子
９……光源
１３……制御基板
１４……画像処理基板
１５……レーザ光学系ユニット
１６……画像形成部
１７……感光体ドラム（像担持体）
１５０……レーザ制御回路
１５１……半導体レーザ発振器
１５１ａ……レーザダイオード（発光素子）
１５１ｂ……フォトダイオード（受光素子）
１５２……集光レンズ
１５３……ポリゴンミラー
１５４……ｆ−θレンズ
１５５，１５６……折り返しミラー
１５７……同期信号センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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