(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
通信デバイスを試験する試験方法であって、
基準クロックを発生する基準クロック発生段階と、
前記基準クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成段階と、
前記試験信号生成段階において生成された前記試験信号を送信部が送信する送信段階と、
前記送信段階において前記送信部が送信した前記試験信号を受信部が受信する受信段階と、
前記受信段階において前記受信部が受信すべき前記試験信号の期待値を前記基準クロックに基づいて発生する期待値発生段階と、
前記受信段階において前記受信部が受信した前記試験信号を前記基準クロックに対して遅延させる遅延段階と、
前記遅延段階において遅延された前記試験信号を、前記期待値発生段階において発生された前記期待値と比較し、一致するか否かを示す比較結果を出力する比較段階と、
前記遅延段階において前記試験信号が遅延された遅延時間に対応づけて、前記比較段階における前記比較結果を格納する比較結果格納段階と、
前記遅延段階における前記試験信号の遅延の前記遅延時間を変化させながら、前記遅延段階、前記比較段階、及び前記比較結果格納段階を繰り返し行い、前記遅延時間毎に前記比較結果を格納する反復段階と、
前記反復段階において格納した前記遅延時間毎の前記比較結果に基づいて、前記遅延段階において遅延された前記試験信号と前記期待値発生段階において発生された前記期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出する検出段階と、
前記検出段階において検出された前記遅延時間の範囲に基づいて、前記受信部又は前記送信部の良否判定を行う判定段階と
を備える試験方法。
【請求項２】
前記反復段階は、所定時間毎に前記遅延段階における前記試験信号の遅延の前記遅延時間を変化させる段階を有し、
前記比較段階は、前記所定時間内において前記試験信号が含む複数のデータユニットを前記期待値と順次比較する段階を有し、
前記比較結果格納段階は、前記複数のデータユニットの少なくとも１つが前記期待値と不一致であった場合に、前記受信段階において前記受信部が受信した前記試験信号が前記期待値と不一致であることを示す前記比較結果を格納する段階を含む請求項１に記載の試験方法。
【請求項３】
前記反復段階は、前記遅延段階における前記遅延の前記遅延時間を、前記試験信号生成段階において生成される前記試験信号が含むデータユニットの周期以上の範囲で変化させる段階を有する請求項１に記載の試験方法。
【請求項４】
前記判定段階は、前記検出段階において検出された前記遅延時間の範囲が、予め定められた規定値以上であるか否かに基づいて、前記受信部又は前記送信部の良否判定を行う段階を有する請求項１に記載の試験方法。
【請求項５】
前記通信デバイスは、複数の前記受信部又は複数の前記送信部を備え、
前記検出段階は、前記複数の受信部又は前記複数の送信部についての前記遅延時間毎の前記比較結果に基づいて、前記複数の受信部又は前記複数の送信部のすべてにおいて、前記遅延段階において遅延された前記試験信号と前記期待値発生段階において発生された前記期待値とが一致する前記遅延時間の範囲を検出する段階を有する請求項１に記載の試験方法。
【請求項６】
通信デバイスを試験する試験方法であって、
基準クロックを発生する基準クロック発生段階と、
前記基準クロックを遅延させて遅延クロックを生成する遅延クロック生成段階と、
前記遅延クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成段階と、
前記試験信号生成段階において生成された前記試験信号を送信部が送信する送信段階と、
前記送信段階において前記送信部が送信した前記試験信号を受信部が受信する受信段階と、
前記受信段階において前記受信部が受信すべき前記試験信号の期待値を前記基準クロックに基づいて発生する期待値発生段階と、
前記受信段階において前記受信部が受信した前記試験信号を、前記期待値発生段階において発生された前記期待値と比較し、一致するか否かを示す比較結果を出力する比較段階と、
前記遅延クロック生成段階において前記基準クロックが遅延された遅延時間に対応づけて、前記比較段階における前記比較結果を格納する比較結果格納段階と、
前記遅延クロック生成段階における前記基準クロックの遅延の前記遅延時間を変化させながら、前記試験信号生成段階、前記送信段階、前記受信段階、前記比較段階、及び前記比較結果格納段階を繰り返し行い、前記遅延時間毎に前記比較結果を格納する反復段階と、
前記反復段階において格納した前記遅延時間毎の前記比較結果に基づいて、前記受信段階において前記受信部が受信した前記試験信号と前記期待値発生段階において発生された前記期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出する検出段階と、
前記検出段階において検出された前記遅延時間の範囲に基づいて、前記受信部又は前記送信部の良否判定を行う判定段階と
を備える試験方法。
【請求項７】
通信デバイスであって、
基準クロックに基づいて生成された試験信号を受信する受信部と、
遅延時間を順次変化させながら、前記基準クロックを遅延させて遅延クロックを発生する可変遅延部と、
前記可変遅延部が発生した前記遅延クロックに基づいて、前記受信部が受信した前記試験信号を遅延させる試験信号遅延部と、
前記受信部が受信すべき前記試験信号の期待値を前記基準クロックに基づいて発生する期待値発生部と、
前記試験信号遅延部が遅延させた前記試験信号を、前記期待値発生部が発生した前記期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を順次出力する期待値比較部と
を備える通信デバイス。
【請求項８】
前記可変遅延部による前記基準クロックの前記遅延時間を所定時間毎に変化させる可変遅延制御部と、
前記期待値比較部が順次出力する前記比較結果を前記所定時間毎に保持し、当該所定時間内において前記試験信号が前記期待値と不一致であることを示す前記比較結果を前記期待値比較部が少なくとも１つ出力した場合に、前記試験信号が前記期待値と不一致であることを示す前記比較結果を出力する比較結果保持部と
をさらに備える請求項７に記載の通信デバイス。
【請求項９】
前記比較結果保持部が出力した前記遅延時間毎の比較結果に基づいて、前記試験信号遅延部が遅延させた前記試験信号と前記期待値発生部が発生した前記期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出するアイ開口度検出部と、
前記アイ開口度検出部が検出した前記遅延時間の範囲に基づいて、当該通信デバイスの良否判定を行う良否判定部と
をさらに備える請求項８に記載の通信デバイス。
【請求項１０】
前記可変遅延部は、前記受信部が受信する前記試験信号が含むデータユニットの周期以上の可変レンジを有する請求項７に記載の通信デバイス。
【請求項１１】
前記基準クロックを発生する基準クロック発生部と、
前記基準クロック発生部が発生した前記基準クロックに基づいて前記試験信号を生成する試験信号生成部と、
前記受信部に電気的に接続され、前記試験信号生成部が生成した前記試験信号を前記受信部に対して送信する送信部と
をさらに備える請求項７に記載の通信デバイス。
【請求項１２】
通信デバイスであって、
遅延時間を順次変化させながら、基準クロックを遅延させて遅延クロックを発生する可変遅延部と、
前記遅延クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成部と、
前記試験信号生成部が生成した前記試験信号を送信する送信部と、
前記送信部に電気的に接続され、前記送信部が送信した前記試験信号を受信する受信部と、
前記受信部が受信すべき前記試験信号の期待値を前記基準クロックに基づいて発生する期待値発生部と、
前記受信部が受信した前記試験信号を、前記期待値発生部が発生した前記期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を順次出力する期待値比較部と
を備える通信デバイス。
【請求項１３】
基準クロックに基づいて生成された試験信号を送信する送信ユニットを試験する試験システムであって、
前記送信ユニットが送信した前記試験信号を受信する受信部と、
遅延時間を順次変化させながら、前記基準クロックを遅延させて遅延クロックを発生する可変遅延部と、
前記可変遅延部が発生した前記遅延クロックに基づいて、前記受信部が受信した前記試験信号を遅延させる試験信号遅延部と、
前記受信部が受信すべき前記試験信号の期待値を前記基準クロックに基づいて発生する期待値発生部と、
前記試験信号遅延部が遅延させた前記試験信号を、前記期待値発生部が発生した前記期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を順次出力する期待値比較部と、
前記可変遅延部による前記基準クロックの前記遅延時間を所定時間毎に変化させる可変遅延制御部と、
前記期待値比較部が順次出力する前記比較結果を前記所定時間毎に保持し、当該所定時間内において前記試験信号が前記期待値と不一致であることを示す前記比較結果を前記期待値比較部が少なくとも１つ出力した場合に、前記試験信号が前記期待値と不一致であることを示す前記比較結果を出力する比較結果保持部と、
前記比較結果保持部が出力した前記遅延時間毎の比較結果に基づいて、前記試験信号遅延部が遅延させた前記試験信号と前記期待値発生部が発生した前記期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出するアイ開口度検出部と、
前記アイ開口度検出部が検出した前記遅延時間の範囲に基づいて、前記送信ユニットの良否判定を行う良否判定部と
を備える試験システム。
【請求項１４】
前記受信部、前記期待値比較部、及び前記比較結果保持部を有する受信ユニットをさらに備え、
前記受信ユニットは、当該試験システムに対して着脱可能に設けられる
請求項１３に記載の試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、試験方法、通信デバイス、及び試験システムに関する。特に本発明は、実動作周波数で通信デバイスを試験する試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】  従来、通信デバイスに内蔵された試験信号生成器及び期待値比較器を用いて信号伝送におけるビットエラーを検出し、通信デバイスの良否を判定する試験方法が知られている。この試験方法において、送信側の通信デバイスは、試験信号を生成して受信側の通信デバイスに送信し、受信側の通信デバイスは、送信側の通信デバイスから送信された試験信号を期待値と比較し、送信側又は受信側の通信デバイスの良否判定を行っている。現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】  従来の試験方法において、受信側の通信デバイスは、送信側の通信デバイスから送信された試験信号を、試験信号のデータユニットの周期であるユニットインターバルの略中央において期待値と比較し、その比較結果からビットエラーを検出する。そのため、ビットエラーの判定基準にジッタ特性の要素が考慮されない。したがって、わずかな外乱要素によりビットエラーが発生するような通信デバイスにおいて正確にビットエラーを検出することができず、精度の高い試験を行うことが困難であった。【０００４】  そこで本発明は、上記の課題を解決することができる試験方法、通信デバイス、及び試験システムを提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】  本発明の第１の形態によると、通信デバイスを試験する試験方法であって、基準クロックを発生する基準クロック発生段階と、基準クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成段階と、試験信号生成段階において生成された試験信号を送信部が送信する送信段階と、送信段階において送信部が送信した試験信号を受信部が受信する受信段階と、受信段階において受信部が受信すべき試験信号の期待値を基準クロックに基づいて発生する期待値発生段階と、受信段階において受信部が受信した試験信号を基準クロックに対して遅延させる遅延段階と、遅延段階において遅延された試験信号を、期待値発生段階において発生された期待値と比較し、一致するか否かを示す比較結果を出力する比較段階と、遅延段階において試験信号が遅延された遅延時間に対応づけて、比較段階における比較結果を格納する比較結果格納段階と、遅延段階における試験信号の遅延の遅延時間を変化させながら、遅延段階、比較段階、及び比較結果格納段階を繰り返し行い、遅延時間毎に比較結果を格納する反復段階と、反復段階において格納した遅延時間毎の比較結果に基づいて、遅延段階において遅延された試験信号と期待値発生段階において発生された期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出する検出段階と、検出段階において検出された遅延時間の範囲に基づいて、受信部又は送信部の良否判定を行う判定段階とを備える。【０００６】  反復段階は、所定時間毎に遅延段階における試験信号の遅延の遅延時間を変化させる段階を有し、比較段階は、所定時間内において試験信号が含む複数のデータユニットを期待値と順次比較する段階を有し、比較結果格納段階は、複数のデータユニットの少なくとも１つが期待値と不一致であった場合に、受信段階において受信部が受信した試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を格納する段階を含んでもよい。反復段階は、遅延段階における遅延の遅延時間を、試験信号生成段階において生成される試験信号が含むデータユニットの周期以上の範囲で変化させる段階を有してもよい。判定段階は、検出段階において検出された遅延時間の範囲が、予め定められた規定値以上であるか否かに基づいて、受信部又は送信部の良否判定を行う段階を有してもよい。通信デバイスは、複数の受信部又は複数の送信部を備え、検出段階は、複数の受信部又は複数の送信部についての遅延時間毎の比較結果に基づいて、複数の受信部又は複数の送信部のすべてにおいて、遅延段階において遅延された試験信号と期待値発生段階において発生された期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出する段階を有してもよい。【０００７】  本発明の第２の形態によると、通信デバイスを試験する試験方法であって、基準クロックを発生する基準クロック発生段階と、基準クロックを遅延させて遅延クロックを生成する遅延クロック生成段階と、遅延クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成段階と、試験信号生成段階において生成された試験信号を送信部が送信する送信段階と、送信段階において送信部が送信した試験信号を受信部が受信する受信段階と、受信段階において受信部が受信すべき試験信号の期待値を基準クロックに基づいて発生する期待値発生段階と、受信段階において受信部が受信した試験信号を、期待値発生段階において発生された期待値と比較し、一致するか否かを示す比較結果を出力する比較段階と、遅延クロック生成段階において基準クロックが遅延された遅延時間に対応づけて、比較段階における比較結果を格納する比較結果格納段階と、遅延クロック生成段階における基準クロックの遅延の遅延時間を変化させながら、試験信号生成段階、送信段階、受信段階、比較段階、及び比較結果格納段階を繰り返し行い、遅延時間毎に比較結果を格納する反復段階と、反復段階において格納した遅延時間毎の比較結果に基づいて、受信段階において受信部が受信した試験信号と期待値発生段階において発生された期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出する検出段階と、検出段階において検出された遅延時間の範囲に基づいて、受信部又は送信部の良否判定を行う判定段階とを備える。【０００８】  本発明の第３の形態によると、通信デバイスであって、基準クロックに基づいて生成された試験信号を受信する受信部と、遅延時間を順次変化させながら、基準クロックを遅延させて遅延クロックを発生する可変遅延部と、可変遅延部が発生した遅延クロックに基づいて、受信部が受信した試験信号を遅延させる試験信号遅延部と、受信部が受信すべき試験信号の期待値を基準クロックに基づいて発生する期待値発生部と、試験信号遅延部が遅延させた試験信号を、期待値発生部が発生した期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を順次出力する期待値比較部とを備える。【０００９】  可変遅延部による基準クロックの遅延時間を所定時間毎に変化させる可変遅延制御部と、期待値比較部が順次出力する比較結果を所定時間毎に保持し、当該所定時間内において試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を期待値比較部が少なくとも１つ出力した場合に、試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を出力する比較結果保持部とをさらに備えてもよい。【００１０】  比較結果保持部が出力した遅延時間毎の比較結果に基づいて、試験信号遅延部が遅延させた試験信号と期待値発生部が発生した期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出するアイ開口度検出部と、アイ開口度検出部が検出した遅延時間の範囲に基づいて、当該通信デバイスの良否判定を行う良否判定部とをさらに備えてもよい。【００１１】  可変遅延部は、受信部が受信する試験信号が含むデータユニットの周期以上の可変レンジを有してもよい。基準クロックを発生する基準クロック発生部と、基準クロック発生部が発生した基準クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成部と受信部に電気的に接続され、試験信号生成部が生成した試験信号を受信部に対して送信する送信部とをさらに備えてもよい。【００１２】  本発明の第４の形態によると、通信デバイスであって、遅延時間を順次変化させながら、基準クロックを遅延させて遅延クロックを発生する可変遅延部と、遅延クロックに基づいて試験信号を生成する試験信号生成部と、試験信号生成部が生成した試験信号を送信する送信部と、送信部に電気的に接続され、送信部が送信した試験信号を受信する受信部と、受信部が受信すべき試験信号の期待値を基準クロックに基づいて発生する期待値発生部と、受信部が受��した試験信号を、期待値発生部が発生した期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を順次出力する期待値比較部とを備える。【００１３】  本発明の第５の形態によると、基準クロックに基づいて生成された試験信号を送信する送信ユニットを試験する試験システムであって、送信ユニットが送信した試験信号を受信する受信部と、遅延時間を順次変化させながら、基準クロックを遅延させて遅延クロックを発生する可変遅延部と、可変遅延部が発生した遅延クロックに基づいて、受信部が受信した試験信号を遅延させる試験信号遅延部と、受信部が受信すべき試験信号の期待値を基準クロックに基づいて発生する期待値発生部と、試験信号遅延部が遅延させた試験信号を、期待値発生部が発生した期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を順次出力する期待値比較部と、可変遅延部による基準クロックの遅延時間を所定時間毎に変化させる可変遅延制御部と、期待値比較部が順次出力する比較結果を所定時間毎に保持し、当該所定時間内において試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を期待値比較部が少なくとも１つ出力した場合に、試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を出力する比較結果保持部と、比較結果保持部が出力した遅延時間毎の比較結果に基づいて、試験信号遅延部が遅延させた試験信号と期待値発生部が発生した期待値とが一致する遅延時間の範囲を検出するアイ開口度検出部と、アイ開口度検出部が検出した遅延時間の範囲に基づいて、送信ユニットの良否判定を行う良否判定部とを備える。【００１４】  受信部、期待値比較部、期待値発生部、及び比較結果保持部を有する受信ユニットをさらに備え、受信ユニットは、当該試験システムに対して着脱可能に設けられてもよい。【００１５】  なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
【発明の効果】
【００１６】  本発明の試験方法によれば、試験信号の遅延時間を変化させながら、試験信号と期待値との比較を行うことにより、ジッタ特性の影響が考慮されたアイ開口度を検出することができ、通信デバイスの良否判定をアイ開口度に基づいて精度よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】試験システム１０の構成の一例を示す図である。
【図２】アイ開口度の検出方法の一例を示す図である。
【図３】試験システム１０による通信デバイスの試験方法の一例を示す図である。
【図４】受信ユニット４０を複数有する通信デバイスの構成の一例を示す図である。
【図５】比較結果格納部２２０の構成の一例を示す図である。
【図６】試験システム６０の構成の一例を示す図である。
【図７】試験システム７０の構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００１８】１０  試験システム
２０  試験制御装置
３０  送信ユニット
４０  受信ユニット
６０  試験システム
６２  送信ユニット
６４  受信ユニット
６６  試験制御装置
７０  試験システム
７２  送信ユニット
７４  受信ユニット
７６  試験制御装置
２００  基準クロック発生部
２１０  制御信号送信部
２２０  比較結果格納部
２３０  アイ開口度検出部
２４０  良否判定部
２５０  可変遅延制御部
２６０  可変遅延部
３００  試験信号生成部
３１０  論理積回路
３２０  論理和回路
３３０  ドライバ
３４０  可変遅延制御部
３５０  可変遅延部
４００  レシーバ
４１０  可変遅延制御部
４２０  可変遅延部
４３０  試験信号遅延部
４４０  期待値発生部
４５０  期待値比較部
４６０  比較結果保持部
５００  ユニットインターバル
５２０  アイ開口度
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】  以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。【００２０】  図１は、本発明の第１実施形態に係る試験システム１０の構成の一例を示す。本実施形態に係る試験システム１０は、送信ユニット３０及び／又は受信ユニット４０を含む通信デバイスに対して実動作周波数での信号伝送試験を行うことにより、通信デバイスの実動作周波数でのアイ開口度を擬似的に検出し、通信デバイスの良否判定を行うことを目的とする。【００２１】  試験システム１０は、試験信号を生成して送信する送信ユニット３０と、送信ユニット３０が送信した試験信号を受信して期待値と比較する受信ユニット４０と、送信ユニット３０及び受信ユニット４０による試験動作を制御する試験制御装置２０とを備える。送信ユニット３０及び受信ユニット４０は、１つの通信デバイス上に設けられ、いわゆるループ・バック接続により電気的に接続されてもよいし、異なる通信デバイスにそれぞれ設けられ、通信デバイス間で電気的に接続されてもよい。【００２２】  試験制御装置２０は、基準クロック発生部２００及び制御信号送信部２１０を有する。基準クロック発生部２００は、基準クロックを発生し、送信ユニット３０及び受信ユニット４０に供給する。例えば、基準クロック発生部２００は、送信ユニット３０及び受信ユニット４０の実動作周波数の基準クロックを発生する。基準クロック発生部２００は、例えば、パフォーマンスボード上に用意された水晶発振器やシグナルジェネレータや、試験システム１０内部に組み込まれた発振回路である。また、基準クロック発生部２００は、送信ユニット３０及び／又は受信ユニット４０が設けられた通信デバイス上に設けられてもよく、試験制御装置２０は、通信デバイス上に設けられた基準クロック発生部２００が発生する基準クロックの周波数等の制御を行ってもよい。制御信号送信部２１０は、送信ユニット３０に試験信号の送信を指示するべく、制御信号を生成して送信ユニット３０に送信する。例えば、制御信号送信部２１０は、試験動作時は論理値１の制御信号を送信し、通常動作を行う非試験動作時は論理値０の制御信号を送信する。【００２３】  送信ユニット３０は、試験信号生成部３００、論理積回路３１０、論理和回路３２０、及びドライバ３３０を有する。試験信号生成部３００は、基準クロック発生部２００が発生した基準クロックに基づいて試験信号を生成し、論理積回路３１０に出力する。例えば、試験信号生成部３００は、ＬＦＳＲ（Ｌｉｎｅａｒ  Ｆｅｅｄｂａｃｋ  Ｓｈｉｆｔ  Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）のようなＰＲＢＳ（Ｐｓｅｕｄｏ  Ｒａｎｄｏｍ  Ｂｉｔ  Ｓｔｒｅａｍ  ｏｒ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅｓ）発生器等のパターン生成多項式回路である。【００２４】  論理積回路３１０は、制御信号送信部２１０から送信された制御信号と、試験信号生成部３００が生成した試験信号との論理積演算を行い、論理和回路３２０に出力する。即ち、制御信号が論理値１である試験動作時において、論理積回路３１０は、試験信号生成部３００が生成した試験信号を論理和回��３２０に出力する。一方、制御信号が論理値０である非試験動作時において、論理積回路３１０は、常に論理値０を論理和回路３２０に出力する。そして、論理和回路３２０は、非試験動作時において送信ユニット３０内部で生成された伝送信号と、論理積回路３１０の出力との論理和演算を行い、ドライバ３３０に出力する。即ち、試験動作時において、論理和回路３２０は、論理積回路３１０から出力された試験信号をドライバ３３０に出力する。一方、非試験動作時において、論理和回路３２０は、送信ユニット３０内部で生成された伝送信号をドライバ３３０に出力する。ドライバ３３０は、本発明の送信部の一例であり、論理和回路３２０から受け取った伝送信号又は試験信号を、受信ユニット４０に送信する。【００２５】  受信ユニット４０は、レシーバ４００、可変遅延制御部４１０、可変遅延部４２０、試験信号遅延部４３０、期待値発生部４４０、期待値比較部４５０、及び比較結果保持部４６０を有する。レシーバ４００は、本発明の受信部の一例であり、ドライバ３３０が送信した伝送信号又は試験信号を受信する。可変遅延制御部４１０は、可変遅延部４２０による基準クロックの遅延時間を制御する。可変遅延制御部４１０は、試験制御装置２０の指示がある度に、又は予め定められた所定時間毎に遅延時間を変更して設定してもよい。可変遅延部４２０は、例えば可変遅延回路であり、基準クロック発生部２００から受信した基準クロックを可変遅延制御部４１０の制御に基づいて遅延させて遅延クロックを生成する。なお、可変遅延部４２０は、試験信号が含むデータユニットの周期であるユニットインターバル以上の可変レンジを有することが望ましい。【００２６】  試験信号遅延部４３０は、例えばフリップフロップ回路であり、可変遅延部４２０が生成した遅延クロックに基づいて、レシーバ４００が受信した試験信号を遅延させ、期待値比較部４５０に出力する。期待値発生部４４０は、レシーバ４００が受信すべき試験信号の期待値を、基準クロック発生部２００が発生した基準クロックに基づいて発生し、期待値比較部４５０に出力する。期待値比較部４５０は、試験信号遅延部４３０が出力した試験信号を、期待値発生部４４０が発生した期待値と順次比較し、一致するか否かを示す比較結果を比較結果保持部４６０に順次出力する。例えば、期待値比較部４５０は、試験信号と期待値との排他的論理和を出力する排他的論理和回路である。比較結果保持部４６０は、期待値比較部４５０が順次出力する、試験信号と期待値との比較結果を所定時間毎に保持し、所定時間内において試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を期待値比較部４５０が少なくとも１つ出力した場合に、試験信号が期待値と不一致であることを示す比較結果を出力し、比較結果格納部２２０に供給する。【００２７】  また、試験制御装置２０は、比較結果格納部２２０、アイ開口度検出部２３０、及び良否判定部２４０をさらに有する。比較結果格納部２２０は、期待値比較部４５０による試験信号と期待値との比較結果を、当該試験信号が遅延された遅延時間に対応付けて格納する。アイ開口度検出部２３０は、比較結果格納部２２０が格納する遅延時間毎の遅延された試験信号と期待値��の比較結果に基づいて、遅延された試験信号と期待値とが一致する遅延時間の範囲をアイ開口度として検出する。複数のアイ開口度が検出された場合には、アイ開口度検出部２３０は、複数のアイ開口度のうち最も狭いアイ開口度を検出結果としてもよい。良否判定部２４０は、アイ開口度検出部２３０が検出したアイ開口度に基づいて、送信ユニット３０又は受信ユニット４０の少なくとも一方の良否判定を行う。具体的には、良否判定部２４０は、アイ開口度が予め定められた規定値以上であるか否かに基づいて、良否判定を行う。【００２８】  なお、図１において可変遅延部４２０は遅延クロックを試験信号遅延部４３０に供給するが、他の例においては、可変遅延部４２０は遅延クロックを期待値発生部４４０に供給し、期待値発生部４４０が遅延クロックに基づいて期待値を発生してもよい。また、期待値発生部４４０と期待値比較部４５０との間にフリップフロップ回路を配置し、可変遅延部４２０は遅延クロックをフリップフロップ回路に供給し、期待値発生部４４０が発生した期待値をフリップフロップ回路が遅延クロックに基づいて遅延させて期待値比較部４５０に供給してもよい。また、送信ユニット３０又は受信ユニット４０を有する通信デバイスは、試験制御装置２０が有する各構成要素を備え、自己診断（ＢＩＳＴ）機能を有してもよい。【００２９】  本実施形態の試験システム１０によれば、試験信号の遅延時間を変化させながら、試験信号と期待値との比較を行うことにより、ジッタ特性の影響が考慮されたアイ開口度を検出することができる。このように、ジッタ特性を考慮した試験を行うことができるので、わずかな外乱要素によりビットエラーが発生する通信デバイスを不良として検出するというような、より精度の高い試験結果を得ることができる。また、本実施形態の試験システム１０によれば、送信ユニット３０及び受信ユニット４０の論理回路を実動作周波数で動作させることができるので、既存のＩＣテスタを使用して、いわゆるアットスピード試験を実現することができる。【００３０】  また、本実施形態の試験システム１０において、送信ユニット３０及び受信ユニット４０を有する通信デバイスは被試験デバイスであり、試験制御装置２０を含む試験装置のテストヘッドに対して着脱可能に設けられる。即ち、高速に動作することが必要である試験信号遅延部４３０、期待値比較部４５０、及び比較結果保持部４６０を有する受信ユニット４０は、試験システム１０に対して着脱可能に設けられる。そのため、試験制御装置２０は、比較的低速で動作することができれば所望の機能を発揮できるので、試験制御装置２０を安価に製造して提供することができる。【００３１】  図２は、本実施形態に係るアイ開口度の検出方法の一例を示す。図２（ａ）は、レシーバ４００が受信した試験信号を複数重ね合わせたアイ・ダイアグラムの一例を示す。レシーバ４００は、送信ユニット３０において試験信号生成部３００が生成してドライバ３３０が送信した試験信号に、様々な外乱要素を原因とするジッタ成分が重畳されたものを受信する。【００３２】  図２（ｂ）は、可変遅延部４２０が生成する遅延クロックのクロックスイープの様子の一例を示す。試験信号遅延部４���０は、可変遅延部４２０が遅延時間を変化させながら順次生成した遅延クロックに基づいて、レシーバ４００が受信した試験信号を遅延させて期待値比較部４５０に供給する。遅延時間を変化させながら期待値比較部４５０に試験信号を供給することで、疑似的に試験信号が含む複数のデータユニットにおける複数の異なるタイミングにおいて、試験信号と期待値とを比較させる。例えば、可変遅延部４２０は、ユニットインターバル５００を数十等分した分解能を有し、１つのユニットインターバル５００において試験信号と期待値との比較を数十回行わせる。具体的には、ユニットインターバル５００が５００ｐｓである場合、可変遅延部４２０は、１０ｐｓ程度の分解能を有することが望ましい。【００３３】  図２（ｃ）は、可変遅延部設定遅延時間と期待値比較部４５０の比較結果との関係の一例を示す。比較結果格納部２２０は、可変遅延部４２０による遅延時間である可変遅延部設定遅延時間に対応づけて、期待値比較部４５０の比較結果を格納する。ここでは、試験信号が含む複数のデータユニットにおける複数の異なるタイミングのうち、試験信号と期待値とが一致しないタイミングの期待値比較部４５０による比較結果をＥＲＲＯＲとし、試験信号と期待値とが一致するタイミングの期待値比較部４５０による比較結果をＮＯ  ＥＲＲＯＲと表す。アイ開口度検出部２３０は、比較結果格納部２２０が格納する遅延時間毎の比較結果に基づいて、試験信号と期待値とが一致（ＮＯ  ＥＲＲＯＲ）する遅延時間の範囲、即ちジッタ成分が試験信号の伝送に影響しない遅延時間の範囲をアイ開口度５２０として検出する。【００３４】  本実施形態の試験システム１０によれば、可変遅延部４２０による基準クロックの遅延時間を変化させることにより、疑似的に試験信号を含むデータユニットにおける複数の異なるタイミングにおいて試験信号と期待値との比較できるので、試験信号のアイ開口度５２０を正確に特定することができる。さらに、アイ開口度５２０に基づいて送信ユニット３０又は受信ユニット４０を含む通信デバイスの良否判定を行うことにより、わずかな外乱要素によりビットエラーが発生する通信デバイスの不良を精度よく検出することができる。【００３５】  図３は、本実施形態に係る試験システム１０による通信デバイスの試験方法の一例を示す。まず、試験制御装置２０において、制御信号送信部２１０は、送信ユニット３０から試験信号を送信させるべく、送信ユニット３０に制御信号を送信する（Ｓ３００）。また、基準クロック発生部２００は、基準クロックを発生し、送信ユニット３０及び受信ユニット４０に供給する（Ｓ３０５）。また、試験制御装置２０は、受信ユニット４０が有する可変遅延制御部４１０に遅延時間を設定する（Ｓ３１０）。【００３６】  また、送信ユニット３０において、試験信号生成部３００は、基準クロック発生部２００から基準クロックを受け取ると、基準クロックに基づいて試験信号を生成する（Ｓ３１５）。そして、ドライバ３３０は、Ｓ３１５において試験信号生成部３００によって生成された試験信号を受信ユニット４０に送信する（Ｓ３２０）。【００３７】  また、受信ユニット４０において、期待値発生部４４０は、基準クロ��ク発生部２００から基準クロックを受け取ると、Ｓ３３５においてレシーバ４００が受信すべき試験信号の期待値を基準クロックに基づいて発生する（Ｓ３２５）。また、可変遅延制御部４１０は、試験制御装置２０によって設定された遅延時間に基づいて、可変遅延部４２０を制御し、可変遅延部４２０は、基準クロックを遅延させた遅延クロックを生成する（Ｓ３３０）。そして、レシーバ４００は、Ｓ３２０においてドライバ３３０が送信した試験信号を受信する（Ｓ３３５）。そして、試験信号遅延部４３０は、可変遅延部４２０が生成した遅延クロックに基づいて、Ｓ３３５においてレシーバ４００が受信した試験信号を基準クロックに対して遅延させる（Ｓ３４０）。そして、期待値比較部４５０は、Ｓ３４０において遅延された試験信号を、Ｓ３２５において発生された期待値と比較し、一致するか否かを示す比較結果を出力する（Ｓ３４５）。そして、比較結果保持部４６０は、期待値比較部４５０による比較結果を保持する（Ｓ３５０）。【００３８】  次に、試験制御装置２０が可変遅延制御部４１０に設定した遅延時間により遅延された試験信号と期待値との比較を開始してから、所定の時間が経過したかどうかを判断する（Ｓ３５５）。そして、所定の時間が経過していないと判断した場合（Ｓ３５５−ＮＯ）、可変遅延部４２０による遅延時間を維持したまま、Ｓ３４５及びＳ３５０を繰り返し行う。即ち、所定の時間内においてレシーバ４００が受信した試験信号が含む複数のデータユニットを、ユニットインターバル５００内の同一のタイミングで期待値と順次比較して比較結果を保持する。一方、所定の時間が経過していると判断した場合（Ｓ３５５−ＹＥＳ）、比較結果保持部４６０は、繰り返し行われた試験信号と期待値との比較結果のうち、複数のデータユニットの少なくとも１つが不一致であることを示す場合には試験信号と期待値とが不一致であることを示す比較結果を出力し、すべての比較結果が一致を示す場合には試験信号と期待値とが一致することを示す比較結果を出力する（Ｓ３６０）。【００３９】  次に、試験制御装置２０において、比較結果格納部２２０は、Ｓ３４０において試験信号が遅延された遅延時間に対応づけて、Ｓ３６０において比較結果保持部４６０が出力した比較結果を格納する（Ｓ３７０）。そして、試験制御装置２０は、可変遅延制御部４１０に設定する遅延時間の所定の範囲内での変化が完了したか否かを判断する（Ｓ３７５）。遅延時間の所定の範囲内での変化が完了していない場合（Ｓ３７５−ＮＯ）、試験制御装置２０は、可変遅延制御部４１０に新たな遅延時間を設定し、可変遅延部４２０による試験信号の遅延時間を変更し、Ｓ３１０〜Ｓ３７０の再度行わせる。そして、遅延時間の所定の範囲内での変化が完了するまで、即ちユニットインターバル５００以上の範囲まで遅延時間を変化させながら、Ｓ３１０〜Ｓ３７０を繰り返し行い、比較結果格納部２２０は、遅延時間毎に比較結果を格納する。一方、遅延時間の所定の範囲内での変化が完了している場合（Ｓ３７５−ＹＥＳ）、アイ開口度検出部２３０は、比較結果格納部２２０が格納した遅延時間毎の比較結果に基づいて、Ｓ３４０において遅延された試験信号と、Ｓ３２５にお���て発生された期待値とが一致する遅延時間の範囲をアイ開口度として検出する（Ｓ３８０）。そして、良否判定部２４０は、Ｓ３８０において検出されたアイ開口度が予め定められた規定値以上であるか否かに基づいて、ドライバ３３０又はレシーバ４００を含む通信デバイスの良否判定を行う（Ｓ３８５）。【００４０】  本実施形態の試験方法によれば、試験信号の遅延時間を一定にしたまま試験信号と期待値とを複数回比較し、さらに遅延時間を変化させてから一定にしたまま試験信号と期待値とを複数回比較することを繰り返すことにより、ジッタ成分によるビットエラーを正確に測定できるので、ジッタ特性の影響が考慮されたアイ開口度を精度よく検出できる。【００４１】  図４は、本実施形態に係る受信ユニット４０を複数有する通信デバイスの構成の一例を示す。図５は、本実施形態に係る比較結果格納部２２０の構成の一例を示す。試験システム１０は、複数の送信ユニット３０又は複数の受信ユニット４０を備えてもよい。即ち、試験システム１０は、複数の送信ユニット３０又は複数の受信ユニット４０を有する通信デバイスを試験してもよい。複数の送信ユニット３０及び複数の受信ユニット４０のそれぞれは、図１〜図３に示した送信ユニット３０及び受信ユニット４０と同一の構成及び機能を有するので説明を省略する。【００４２】  Ｓ３７０において、比較結果格納部２２０は、試験信号を遅延させる遅延時間に対応づけて、複数の受信ユニット４０がそれぞれ有する複数の比較結果保持部４６０のそれぞれから出力された試験信号と期待値との比較結果を格納する。そして、Ｓ３８０において、アイ開口度検出部２３０は、複数の送信ユニット３０がそれぞれ有する複数のドライバ３３０、又は複数の受信ユニット４０がそれぞれ有する複数のレシーバ４００についての遅延時間毎の比較結果に基づいて、複数のドライバ３３０又は複数のレシーバ４００のすべてのおいて、Ｓ３４０において遅延された試験信号と期待値とが一致する遅延時間の範囲をアイ開口度として検出する。そして、Ｓ３８５において、良否判定部２４０は、アイ開口度検出部２３０が検出したアイ開口度が、予め定められた規定値以上であるか否かに基づいて、複数の送信ユニット３０又は複数の受信ユニット４０を有する通信デバイスの良否判定を行う。【００４３】  具体的には、図５に示すように、比較結果格納部２２０は、複数のドライバ３３０又は複数のレシーバ４００のそれぞれのチャネルについて、試験信号遅延部４３０による遅延時間毎の、試験信号と期待値との比較結果を格納する。本例では、可変遅延制御部４１０は、Ｏｐｓから１０ｐｓ毎に遅延時間を設定し、Ｓ３１０〜Ｓ３７０を繰り返し行っている。１チャネルでは遅延時間０〜８０ｐｓまでの範囲で比較結果が不一致であることを示し、２チャネルでは遅延時間０〜２０ｐｓまでの範囲で比較結果が不一致であることを示し、３チャネルでは遅延時間０〜４０ｐｓまでの範囲で比較結果が不一致であることを示す。したがって、アイ開口度検出部２３０は、比較結果格納部２２０が格納する比較結果に基づいて、すべてのチャネルにおいて比較結果が一致を示す最小の遅延時間である９０ｐｓをアイ開口度５２０の一端として検出する。��００４４】  以上のように、本実施形態に係る試験方法によれば、複数の送信ユニット３０又は複数の受信ユニット４０を備える通信デバイスの試験において、複数のチャネルのすべてにおいて正常に動作し得るアイ開口度５２０を的確に検出することができる。そのため、複数の送信ユニット３０又は複数の受信ユニット４０を備える通信デバイスの良否判定を精度よく行うことができる。【００４５】  図６は、本発明の第２実施形態に係る試験システム６０の構成の一例を示す。第１実施形態の試験システム１０では、送信ユニット３０において基準クロックに基づいて生成された試験信号を、受信ユニット４０において遅延クロックに基づいて遅延させ、基準クロックに基づいて発生された期待値と比較することにより、試験信号のアイ開口度を検出したが、第２実施形態の試験システム６０では、送信ユニット６２において遅延クロックに基づいて試験信号を生成された試験信号を、受信ユニット６４において基準クロックに基づいて発生された期待値と比較することにより、試験信号のアイ開口度を検出する。なお、以下に説明する部分を除き、第２実施形態の試験システム６０は、第１実施形態の試験システム１０と同一の構成及び機能を有するので説明を省略する。【００４６】  送信ユニット６２は、第１実施形態の送信ユニット３０の構成に加え、可変遅延制御部３４０及び可変遅延部３５０を有する。可変遅延制御部３４０は、可変遅延部３５０による基準クロックの遅延時間を制御する。可変遅延制御部３４０は、試験制御装置２０の指示がある度に、又は予め定められた所定時間毎に遅延時間を変更して設定してもよい。可変遅延部３５０は、例えば可変遅延回路であり、基準クロック発生部２００から受信した基準クロックを可変遅延制御部３４０の制御に基づいて遅延させて遅延クロックを生成する。なお、可変遅延部３５０は、試験信号が含むデータユニットのユニットインターバル以上の可変レンジを有することが望ましい。そして、試験信号生成部３００は、可変遅延部３５０が出力した遅延クロックに基づいて試験信号を生成する。このように、可変遅延部３５０による基準クロックの遅延時間を変化させながら、試験信号の生成、試験信号の送信、試験信号の受信、試験信号と期待値との比較、及び比較結果の格納を繰り返し行うことにより、試験制御装置６６は、第１実施形態の試験制御装置２０と同様にジッタ特性の影響が考慮されたアイ開口度を検出することができる。【００４７】  なお、図６において試験信号生成部３００は可変遅延部３５０が生成した遅延クロックに基づいて試験信号を生成するが、他の例においては、試験信号生成部３００とドライバ３３０との間にフリップフロップ回路を配置し、フリップフロップ回路に可変遅延部３５０が生成した遅延クロックを供給し、試験信号生成部３００が基準クロックに基づいて生成した試験信号をフリップフロップ回路が遅延クロックに基づいて遅延させてドライバ３３０に供給してもよい。【００４８】  また、本実施形態の試験システム６０において、送信ユニット６２及び受信ユニット６４を有する通信デバイスは被試験デバイスであり、試験制御装置６６を含む試験装置のテストヘッドに対して着脱可能に設けられる���即ち、高速に動作することが必要である期待値比較部４５０及び比較結果保持部４６０を有する受信ユニット６４は、試験システム６０に対して着脱可能に設けられる。そのため、試験制御装置６６は、比較的低速で動作することができれば所望の機能を発揮できるので、試験制御装置６６を安価に製造して提供することができる。【００４９】  図７は、本発明の第３実施形態に係る試験システム７０の構成の一例を示す。第１実施形態の試験システム１０では、受信ユニット４０が可変遅延制御部４１０及び可変遅延部４２０を有し、基準クロック発生部２００が発生した基準クロックを可変遅延部４２０が遅延させて遅延クロックを生成して試験信号遅延部４３０に供給したが、第３実施形態の試験システム７０では、試験制御装置７６が可変遅延制御部２５０及び可変遅延部２６０を有し、基準クロック発生部２００が発生した基準クロックを可変遅延部２６０が遅延させて遅延クロックを生成して受信ユニット７４が有する試験信号遅延部４３０に供給する。なお、以下に説明する部分を除き、第３実施形態の試験システム７０は、第１実施形態の試験システム１０と同一の構成及び機能を有するので説明を省略する。【００５０】  試験制御装置７６は、第１実施形態の試験制御装置２０の構成に加え、可変遅延制御部２５０及び可変遅延部２６０を有する。可変遅延制御部２５０は、可変遅延部２６０による基準クロックの遅延時間を制御する。可変遅延制御部２５０は、予め定められた所定時間毎に遅延時間を変更して設定してもよい。可変遅延部２６０は、例えば可変遅延回路であり、基準クロック発生部２００から受信した基準クロックを可変遅延制御部２５０の制御に基づいて遅延させて遅延クロックを生成する。なお、可変遅延部２６０は、試験信号が含むデータユニットのユニットインターバル以上の可変レンジを有することが望ましい。そして、試験信号遅延部４３０は、可変遅延部２６０が生成した遅延クロックに基づいて、受信ユニット７４が有するレシーバ４００が受信した試験信号を遅延させ、期待値比較部４５０に出力する。このように、試験制御装置７６が可変遅延制御部２５０及び可変遅延部２６０を有し、基準クロックの遅延時間を変化させながら遅延クロックを生成することにより、試験制御装置７６は、可変遅延制御部及び可変遅延部を有しない通信デバイスについて、第１実施形態の試験制御装置２０と同様にジッタ特性の影響が考慮されたアイ開口度を検出することができる。【００５１】  なお、図７において可変遅延部２６０は遅延クロックを試験信号遅延部４３０に供給するが、他の例においては、可変遅延部２６０は遅延クロックを期待値発生部４４０に供給し、期待値発生部４４０が遅延クロックに基づいて期待値を発生してもよい。また、期待値発生部４４０と期待値比較部４５０との間にフリップフロップ回路を配置し、可変遅延部４２０は遅延クロックをフリップフロップ回路に供給し、期待値発生部４４０が発生した期待値をフリップフロップ回路が遅延クロックに基づいて遅延させて期待値比較部４５０に供給してもよい。また、可変遅延部２６０は遅延クロックを試験信号生成部３００に供給し、試験信号生成部３００が遅延クロックに基づいて試験信���を生成してもよい。また、試験信号生成部３００とドライバ３３０との間にフリップフロップ回路を配置し、フリップフロップ回路に可変遅延部２６０が生成した遅延クロックを供給し、試験信号生成部３００が基準クロックに基づいて生成した試験信号を遅延クロックに基づいてフリップフロップ回路が遅延させてドライバ３３０に供給してもよい。【００５２】  また、本実施形態の試験システム７０において、送信ユニット７２及び受信ユニット７４を有する通信デバイスは被試験デバイスであり、試験制御装置７６を含む試験装置のテストヘッドに対して着脱可能に設けられる。即ち、高速に動作することが必要である試験信号遅延部４３０、期待値比較部４５０、及び比較結果保持部４６０を有する受信ユニット７４は、試験システム７０に対して着脱可能に設けられる。そのため、試験制御装置７６は、比較的低速で動作することができれば所望の機能を発揮できるので、試験制御装置７６を安価に製造して提供することができる。【００５３】  以上、実施形態を用いて本発明を説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
【産業上の利用可能性】
【００５４】  上記説明から明らかなように、試験信号の遅延時間を変化させながら、試験信号と期待値との比較を行うことにより、ジッタ特性の影響が考慮されたアイ開口度を検出することができ、通信デバイスの良否判定をアイ開口度に基づいて精度よく行うことができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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