(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを光ディスクに照射する光ヘッドと、
前記光ヘッドを前記光ディスクの径方向に移動する光ヘッド移動手段と、
前記光ディスク上の前記光ビームの径方向のコマ収差を補正するコマ収差補正手段と、
前記光ディスクの径方向の傾きを検出するチルト検出手段と、
前記光ディスク上の前記光ビームの球面収差を補正する球面収差補正手段と
を備え、
前記コマ収差補正手段の補正量は、前記光ヘッドの位置によらず所定の値であり、
前記所定の値は、前記ヘッド移動手段によって前記光ヘッドを所定の移動範囲にわたって移動させ、前記所定の移動範囲内において前記チルト検出手段によって検出された傾きの最大値および最小値の中間値に基づいて決定され、
前記球面収差補正手段は、前記コマ収差補正手段によりコマ収差が補正された後に球面収差を補正する、光ディスク装置。
【請求項２】
前記所定の移動範囲は、前記光ディスクの略最内周位置と前記光ディスクの略最外周位置との間の範囲であり、前記所定の値は、前記光ディスクの略最内周位置で前記チルト検出手段によって検出された傾きと前記光ディスクの略最外周位置で前記チルト検出手段によって検出された傾きとの中間値に基づいて決定される、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクは、複数のデータ層を有しており、
前記コマ収差補正手段の補正量は、各データ層毎に、前記光ヘッドの位置によらず所定の値である、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ディスク装置を起動する時に、前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きが所定の角度を超える場合には、前記光ディスク装置の起動をやり直すように構成されている、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記光ディスク装置の起動のやり直しは、前記光ディスクの外周位置において前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きに基づいて行われる、請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ディスク装置を起動する時に、前記コマ収差補正手段の補正量が所定の値を超える場合には、前記光ディスク装置の起動をやり直すように構成されている、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記光ディスク装置の起動のやり直しの中で、前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きが所定の角度を再び超える場合には、前記光ディスク装置による記録動作を禁止するように構成されている、請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記光ディスク装置の起動のやり直しの中で、前記コマ収差補正手段の補正量が所定の値を再び超える場合には、前記光ディスク装置による記録動作を禁止するように構成されている、請求項６に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ等の光源を用いて光ディスク（再生専用、記録再生用などの各種の光ディスクを含む）上の信号を再生する光ディスク装置、特に光ビームの光ディスクの上における径方向のコマ収差を補正するコマ収差補正手段を有する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において、光ディスクに照射される光ビームの光軸に垂直な方向から、光ディスクのデータ面がずれる角度をチルト角と呼び、チルト角がゼロでない場合をチルトが発生するという。光ディスクの高密度化に伴い、光ディスクや光ディスク装置で発生するチルトによって、記録あるいは再生信号のジッタの劣化が顕著となり、性能の確保が困難となっている。
【０００３】
図７は、光ディスクのデータ面に投影される光ビームの強度分布がチルトの発生によってどのように変化するかを示した模式図である。また、図８は、発生するチルトとそのときの再生信号のジッタ及びエラー率を示す特性図である。図７及び図８からわかるように、チルトによってコマ収差が発生し、その結果、再生信号のジッタ悪化およびエラー率上昇を引き起こす。
【０００４】
チルトにより発生する収差が許容値を超えると、最適な状態での記録または再生が行えなくなり、データの信頼性が低下するという問題が生じる。さらにこのチルトに対する収差の許容幅は、光ディスクの記録密度が増大するにつれて狭くなり、装置の記録再生性能の確保が困難となる。
【０００５】
高密度光ディスクへの録再性能を確保するために、従来の光ディスク装置では、光学系および駆動系のメカニカルな位置合わせ調整だけでなく、装置動作中にチルトを検出し、その検出結果に応じて対物レンズを傾斜させるといったチルト制御を導入することで、コマ収差を補正し、最適な記録および再生を実現している（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
以下では従来の光ディスク装置の構成について説明する。
【０００７】
図９は、従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【０００８】
図９において、光ヘッド１００は、光源１０１と、コリメータレンズ１０２と、偏光ビームスプリッタ１０３と、１／４波長板１０４と、対物レンズ１０５と、集光レンズ１０７と、ディテクタ１０８と、フォーカスアクチュエータ１１７とを含む。
【０００９】
光源１０１は、光ディスク１０６のデータ面に対して光ビームを出射する。光源１０１は、例えば、半導体レーザ素子である。
【００１０】
コリメータレンズ１０２は、光源１０１から出射された光ビーム（発散光）を平行光に変換する。
【００１１】
偏光ビームスプリッタ１０３は、光源１０１から出射された光ビームの直線偏光を全反射し、光源１０１から出射された光ビームの直線偏光と直交する方向の直線偏光を全透過する光学素子である。
【００１２】
１／４波長板１０４は、透過する光の偏光を円偏光から直線偏光に、もしくは直線偏光から円偏光に変換する光学素子である。
【００１３】
対物レンズ１０５は、光ディスク１０６のデータ面に光ビームを集光する。
【００１４】
集光レンズ１０７は、偏光ビームスプリッタ１０３を透過した光ビームをディテクタ１０８に集光する。
【００１５】
ディテクタ１０８は、受光した光を電気信号に変換する素子であり、複数の領域を有している。
【００１６】
プリアンプ１０９は、ディテクタ１０８の各領域からの出力電流を電圧に変換する電気素子である。
【００１７】
ＦＥ信号生成部１１０は、プリアンプ１０９の複数の出力信号から、光ディスク１０６のデータ面上における光ビームの収束状態に対応するフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成する電気回路である。フォーカス制御部１１１は、ＦＥ信号生成部９１０からの信号に基づき、フォーカス制御信号を出力する回路である。フォーカス駆動部１１２は、フォーカス制御信号に基づいてフォーカスアクチュエータ駆動信号を出力する回路である。フォーカスアクチュエータ１１３は、対物レンズ１０５を光ディスク１０６のデータ面に対して垂直方向（以下この方向をフォーカス方向と称す）に移動させる要素である。チルトセンサ９００は、光源９０１と、ディテクタ９０２とを含む。
【００１８】
光源９０１は、光ディスク１０６のデータ面に対して光ビームを出射する。光源９０１は、例えば、発光ダイオードである。
【００１９】
ディテクタ９０２は、光源９０１から出射され光ディスク１０６のデータ面で反射した光ビームを受光し、電気信号に変換する素子であり、複数の領域を有している。
【００２０】
チルト信号生成部９０３は、ディテクタ９０２からの出力信号に基づき、光ディスク１０６のデータ面と光軸との傾きに対応するチルト信号を生成する電気回路である。
【００２１】
チルト制御部９０４は、チルト信号に基づき、チルト制御信号を出力する回路である。
【００２２】
チルト駆動部９０５は、チルト制御部９０４から出力される信号に基づいてチルトアクチュエータ駆動信号を出力する回路である。
【００２３】
チルトアクチュエータ９０６は、光ヘッド１００を傾けることで光ディスク１０６に照射される光ビームの光軸を傾ける要素である。
【００２４】
以上のように構成された従来の光ディスク装置のフォーカス制御動作およびチルト制御動作について、図９を用いて説明する。
【００２５】
光源１０１から出射された光ビームの直線偏光は、コリメータレンズ１０２に入射され、コリメータレンズ１０２によって平行光にされる。コリメータレンズ１０２によって平行光にされた光ビームは、偏光ビームスプリッタ１０３に入射される。偏光ビームスプリッタ１０３を反射した光ビームは、１／４波長板１０４で円偏光にされる。１／４波長板１０４で円偏光にされた光ビームは、対物レンズ１０５に入射され、光ディスク１０６上に収束される。光ディスク１０６で反射した光ビームは、偏光ビームスプリッタ１０３を透過し、集光レンズ１０７に入射される。集光レンズ１０７に入射された光ビームは、デ
ィテクタ９０８に入射される。ディテクタ９０８に入射された光ビームは各領域で電気信号に変換される。ディテクタ９０８の各領域で変換された電気信号は、プリアンプ９０９で電圧に変換される。プリアンプ９０９の複数の出力信号は、ＦＥ生成部９１０でＦＥ信号に演算される。ＦＥ生成部９１０からの出力信号であるＦＥ信号は、フォーカス制御部１１１に入力され、例えばディジタルシグナルプロセッサ（以降、ＤＳＰと称する）によるディジタルフィルタで構成された位相補償回路、低域補償回路を通過して、フォーカス駆動信号となる。フォーカス制御部１１１からのフォーカス駆動信号は、フォーカス駆動部１１２に入力、増幅されてフォーカスアクチュエータ１１３に出力される。以上の動作によって、光ディスク１０６のデータ面上における光ビームの収束状態を常に所定の収束状態になるように制御するフォーカス制御が実現される。
【００２６】
次にチルト制御動作について説明する。
【００２７】
光源９０１から光ディスク１０６に出射された光ビームは、光ディスク１０６で反射され、ディテクタ９０２に入射される。ディテクタ９０２に入射された光ビームは各領域で電気信号に変換される。ディテクタ９０２からの複数の出力信号は、チルト信号生成部９０３でチルト信号に演算される。チルト信号生成部９０３からの出力信号であるチルト信号は、チルト制御部９０４に入力され、フォーカス制御系と同様にＤＳＰによるディジタルフィルタで構成された位相補償回路、低域補償回路を通過して、チルト駆動信号となる。チルト制御部９０４からのチルト駆動信号は、チルト駆動部９０５に入力、増幅されてチルトアクチュエータ９０６に出力される。以上の動作によって、光ディスク１０６のデータ面に光ビームが常に直交して照射されるように制御するチルト制御が実現される。
【特許文献１】特開平２−１２２４３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２８】
従来のチルト制御においては、以下に示す課題があった。
【００２９】
チルトセンサ９００を用いたチルト検出では、チルトセンサ９００による検出位置と光ディスク１０６のデータ面に照射された光ビームの位置とを一致させることが空間的な配置上困難である。なぜなら、光ビームのデータ面上の照射位置の垂直下方には光ヘッド（特に対物レンズ１０５）が常に存在するからである。このため、チルトセンサ９００は、光ビーム位置から多少距離を置いた位置における光ディスク１０６の傾きを検出することとなる。その結果、光ディスク１０６のデータ面が曲面形状になっている場合、チルトセンサ９００は、光ビーム位置におけるチルトを正確に検出できず、正確なチルト制御をおこなうことができないという問題が生じる。
【００３０】
また、チルトセンサ９００の個々の特性ばらつきと、チルトセンサ９００と光ヘッド１００や光ディスク１０６を回転させる駆動機構との間に生じる組み立て時の配置誤差等によって、チルトセンサ９００で検出したチルトと実際のチルトとの間にずれ（ゼロ点オフセット）が発生する。このゼロ点オフセットを所定値以下にするために、装置の組立工程において各光ディスク装置ごとに精密な調整が必要となる。その結果、光ディスク装置の生産コストが上昇するという問題が生じる。
【００３１】
さらに、装置の組立工程においてゼロ点オフセットが調整されていても、チルトセンサ９００の経時変化や温度特性によって誤差が発生し得る。このような組み立て後の誤差によって、チルトセンサ９００では正確なチルト制御ができないという問題も生じる。
【００３２】
近年市販される情報機器は、外形が小さいということが強く求められることが多い。しかし、上述の従来の光ディスク装置では、チルトセンサの取り付けスペースを確保するた
め、光ヘッドを小型化することが難しくなる。さらに、チルトアクチュエータ９０６が光ヘッド１００を傾ける機構となっていることから、光ディスク装置を小型化することが困難になる。また、チルトセンサ自体が光ディスク装置のコストを上昇させる要因にもなる。
【００３３】
本発明は上記課題の少なくとも１つを解決するためになされたものでフォーカス駆動信号を用いたチルト検出手段およびレンズ１０６を傾けることでチルト補正を行うチルト補正手段を含む光ディスク装置を提供するものである。
【００３４】
本光ディスク装置のチルト検出手段およびチルト補正手段を用いることで、適切なチルト制御が可能となるため、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性が向上する。
【００３５】
さらに本光ディスク装置のチルト検出手段およびチルト補正手段を用いることで、光ディスク装置の小型化と生産コストの抑制が可能となる。
【課題を解決するための手段】
【００３６】
本発明の光ディスク装置は、光ビームを光ディスクに照射する光ヘッドと、前記光ヘッドを前記光ディスクの径方向に移動する光ヘッド移動手段と、前記光ディスク上の前記光ビームの径方向のコマ収差を補正するコマ収差補正手段と、前記光ディスクの径方向の傾きを検出するチルト検出手段と、前記光ディスク上の前記光ビームの球面収差を補正する球面収差補正手段とを備え、前記コマ収差補正手段の補正量は、前記光ヘッドの位置によらず所定の値であり、前記所定の値は、前記ヘッド移動手段によって前記光ヘッドを所定の移動範囲にわたって移動させ、前記所定の移動範囲内において前記チルト検出手段によって検出された傾きの最大値および最小値の中間値に基づいて決定され、前記球面収差補正手段は、前記コマ収差補正手段によりコマ収差が補正された後に球面収差を補正する。
【００３７】
前記所定の移動範囲は、前記光ディスクの略最内周位置と前記光ディスクの略最外周位置との間の範囲であり、前記所定の値は、前記光ディスクの略最内周位置で前記チルト検出手段によって検出された傾きと前記光ディスクの略最外周位置で前記チルト検出手段によって検出された傾きとの中間値に基づいて決定されてもよい。
【００３８】
前記光ディスクは、複数のデータ層を有しており、前記コマ収差補正手段の補正量は、各データ層毎に、前記光ヘッドの位置によらず所定の値であってもよい。
【００４１】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置を起動する時に、前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きが所定の角度を超える場合には、前記光ディスク装置の起動をやり直すように構成されていてもよい。
【００４２】
前記光ディスク装置の起動のやり直しは、前記光ディスクの外周位置において前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きに基づいて行われてもよい。
【００４３】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置を起動する時に、前記コマ収差補正手段の補正量が所定の値を超える場合には、前記光ディスク装置の起動をやり直すように構成されていてもよい。
【００４４】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置の起動のやり直しの中で、前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きが所定の角度を再び超える場合には、前記光ディスク装置による記録動作を禁止するように構成されていてもよい。
【００４５】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置の起動のやり直しの中で、前記コマ収差補正手段の補正量が所定の値を再び超える場合には、前記光ディスク装置による記録動作を禁止するように構成されていてもよい。
【発明の効果】
【００４６】
本発明の光ディスク装置は、光ビームを光ディスクに照射する光ヘッドと、前記光ヘッドを光ディスクの径方向に移動する光ヘッド移動手段と、前記光ディスク上の前記光ビームの径方向のコマ収差を補正するコマ収差補正手段と、光ディスクの径方向の傾きを検出するチルト検出手段とを備え、前記コマ収差補正手段の補正量は前記光ヘッド移動手段による前記光ヘッドの位置によらず所定の値である。これにより、前記光ヘッドの位置の変化に応じて前記コマ収差補正手段の補正量を変えることがない。その結果、前記光ヘッドのアクセス時間を短縮し、光ディスク装置の性能を向上させることが可能になる。
【００４７】
さらに、前記所定の値は、前記光ヘッド移動手段によって前記光ヘッドを所定の移動範囲にわたって移動させ、前記所定の移動範囲内において前記チルト検出手段によって検出された傾きの最大値および最小値の中間値に基づいて決定される。これにより、光ディスク装置としてチルトマージンが最も広くなり、光ディスクの全周に渡って常に光学的に良好な光スポットを実現することができる。その結果、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性を向上させることが可能になる。
【００４８】
前記所定の移動範囲は、前記光ディスクの略最内周位置と前記光ディスクの略最外周位置との間の範囲であってもよい。この場合には、前記所定の値は、前記光ディスクの略最内周位置において前記チルト検出手段で検出された光ディスクの傾きと前記光ディスクの略最外周位置において前記チルト検出手段で検出された光ディスクの傾きとの中間値に基づいて決定される。これにより、チルト検出時間を短縮し、光ディスク装置の起動時間を短縮することが可能にある。その結果、光ディスク装置の性能を向上させることが可能になる。
【００４９】
前記光ディスクは、複数のデータ層を有していてもよい。この場合には、前記コマ収差補正手段の補正量は、各データ層毎に、前記光ヘッドの位置によらず所定の値である。
【００５０】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク上の前記光ビームの径方向のコマ収差以外の収差を補正する収差補正手段をさらに備え、前記コマ収差補正手段によってコマ収差を補正した後に、前記収差補正手段によってコマ収差以外の収差を補正するように構成されている。これにより、光ディスク装置としてチルトマージンが広くなり、かつ、コマ収差補正により発生するコマ収差以外の収差も補正することが可能となる。その結果、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性を向上させることが可能になる。
【００５１】
本発明の光ディスク装置は、前記収差補正手段が球面収差を補正する球面収差補正手段を含むように構成されている。これにより、光ディスク装置としてチルトマージンが広くなり、かつ、コマ収差補正により発生する球面収差も補正することが可能となる。その結果、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性を向上させることが可能になる。
【００５２】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置を起動する時に、前記チルト検出手段
によって検出された前記光ディスクの傾きが所定の角度を超える場合には、前記光ディスク装置の起動をやり直すように構成されている。これにより、熱衝撃チルトによる影響を避けた光ディスク装置の起動が可能となる。その結果、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性を向上させることが可能になる。
【００５３】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスクの外周位置において前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きに基づいて前記光ディスク装置の起動のやり直しを行うように構成されている。これにより、熱衝撃チルトによる影響を避けた光ディスク装置の起動が可能となる。その結果、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性を向上させることが可能になる。
【００５４】
本発明の光ディスク装置は、前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きに基づいて前記コマ収差補正手段の補正量を決定する補正量決定手段をさらに備え、前記光ディスク装置を起動する時に、前記補正量決定手段によって決定された補正量が所定の値を超える場合には、前記光ディスク装置の起動をやり直すように構成されている。これにより、熱衝撃チルトによる影響を避けた光ディスク装置の起動が可能となる。その結果、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性を向上させることが可能になる。
【００５５】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置の起動のやり直しの中で、前記チルト検出手段によって検出された前記光ディスクの傾きが所定の角度を再び超える場合には、光ディスク装置による記録動作を禁止する。これにより、光源の過大発光を防ぐことが可能となる。その結果、光ディスク装置の性能を向上させることが可能になる。
【００５６】
本発明の光ディスク装置は、前記光ディスク装置の起動のやり直しの中で、前記補正量決定手段によって決定された補正量が所定の値を再び超える場合には、光ディスク装置による記録動作を禁止する。これにより、光源の過大発光を防ぐことが可能となる。その結果、光ディスク装置の性能を向上させることが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５７】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明する。
【００５８】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、従来の光ディスク装置と同様の部分には同じ番号を付し、説明を省略する。
【００５９】
図１において、加算器１１４は、フォーカス駆動信号とマイクロコンピュータ１１６（以降、マイコンと称す）からの出力を加算する電気回路である。減算器１１５は、フォーカス駆動信号とマイクロコンピュータ１１６（以降、マイコンと称す）からの出力を減算する電気回路である。第１のフォーカス駆動部１１２ａは、加算器１１４からの出力信号に基づいてフォーカスアクチュエータ駆動信号を出力する回路である。第２のフォーカス駆動部１１２ｂは、減算器１１５からの出力信号に基づいてフォーカスアクチュエータ駆動信号を出力する回路である。第１のフォーカスアクチュエータ１１３ａおよび第２のフォーカスアクチュエータ１１３ｂは、対物レンズ１０５を挟んで光ディスク１０６の径方向に対称に取り付けられており、第１のフォーカスアクチュエータは対物レンズ１０５の外周側をフォーカス方向に移動させる要素であり、第２のフォーカスアクチュエータは対物レンズ１０５の内周側をフォーカス方向に移動させる要素である。メモリ１１７は、データを格納する記憶回路である。コリメータレンズ移送モータ駆動部１１８は、マイコン１１６から出力されるコリメータレンズ移送モータ駆動信号を増幅し出力する回路である。コリメータレンズ移送モータ１１９は、光ビームの方向に対して平行にコリメータレンズ１０２を移動させる要素である。移送モータ駆動部１２０は、マイコン１１６から出力
される移送モータ駆動信号を増幅し出力する回路である。移送モータ１２１は、光ヘッド１００を光ディスク１０６の径方向に移動させる要素である。
【００６０】
以上のように、光ヘッド１００は、光源１０１と、コリメータレンズ１０２と、偏光ビームスプリッタ１０３と、１／４波長板１０４と、対物レンズ１０５と、集光レンズ１０７と、ディテクタ１０８と、フォーカスアクチュエータ１１３ａ、１１３ｂと、コリメータレンズ移送モータ１１９とを含む。また、光ヘッド移動手段は、マイコン１１６と移送モータ駆動部１２０と移送モータ１２１とによって構成されている。また、コマ収差補正手段は、マイコン１１６と加算器１１４と減算器１１５とフォーカス駆動部１１２ａ、１１２ｂとフォーカスアクチュエータ１１３ａ、１１３ｂと対物レンズ１０５とによって構成されている。また、チルト検出手段は、光ヘッド１００とプリアンプ１０９とＦＥ生成部１１０とフォーカス制御部１１１とマイコン１１６とメモリ１１７と加算器１１４と減算器１１５とフォーカス駆動部１１２ａ、１１２ｂと光ヘッド移動手段とによって構成されている。また、収差補正手段は、マイコン１１６とコリメータレンズ移送モータ駆動部１１８とコリメータレンズ移送モータ１１９とコリメータレンズ１０２とによって構成されている。
【００６１】
以上のように構成された光ディスク装置のフォーカス制御動作について説明する。
【００６２】
従来の光ディスク装置の動作説明で述べたように、光源１０１から出射された光ビームは、コリメータレンズ１０２、偏光ビームスプリッタ１０３、１／４波長板１０４を経て対物レンズ１０５に入射され、光ディスク１０６上に収束される。光ディスク１０６で反射した光ビームは、偏光ビームスプリッタ１０３、集光レンズ１０７を経てディテクタ１０８に入射される。ディテクタ１０８に入射された光ビームは各領域で電気信号に変換される。ディテクタ１０８の各領域で変換された電気信号は、プリアンプ１０９で電圧に変換される。プリアンプ１０９の複数の出力信号は、ＦＥ生成部１１０でＦＥ信号に演算される。ＦＥ生成部１１０からの出力信号であるＦＥ信号は、フォーカス制御部１１１に入力され、位相補償回路、低域補償回路を通過して、フォーカス駆動信号となる。
【００６３】
フォーカス制御部１１１からのフォーカス駆動信号とマイコン１１６からの出力信号とは、加算器１１４で加算される。加算器１１４からの出力信号は第１のフォーカス駆動部１１２ａに入力、増幅されて第１のフォーカスアクチュエータ１１３ａに出力される。また、フォーカス制御部１１１からのフォーカス駆動信号は減算器１１５の正の端子へ入力され、マイコン１１６からの出力信号は、減算器１１５の負の端子へ入力され、減算された結果が出力される。減算器１１５からの出力信号は第２のフォーカス駆動部１１２ｂに入力、増幅されて第２のフォーカスアクチュエータ１１３ｂに出力される。
【００６４】
以上の動作によって、光ディスク１０６のデータ面上における光ビームの収束状態を常に所定の収束状態になるように制御するフォーカス制御が実現される。
【００６５】
次に本発明におけるフォーカス駆動信号を用いたチルト検出原理について図２を用いて説明する。
【００６６】
光ディスクのデータ面に対する光ビームの軸の傾きは、光ディスクの半径方向および光ディスクの周方向の各成分に分けることができる。このうち周方向成分のチルトによる影響は、一般に信号処理によって除去するように再生信号処理回路は構成される。本発明では、光ディスクの半径方向のチルトを取り扱う。以下では、光ディスクの半径方向のチルト（ラジアル方向のチルト）を単にチルトと呼ぶ。
【００６７】
図２（ａ）は、光ディスク１０６にチルトが存在した場合の対物レンズ１０５と光ディ
スク１０６のデータ面との相対位置を示した模式図である。また図２（ｂ）は、光ディスクの径方向に対する光ヘッドの位置（以降、半径位置と称する）とその半径位置におけるフォーカス駆動信号値との関係を示した模式図である。
【００６８】
前記したように光ディスク装置では、光ディスク１０６のデータ面上において光ビームが常に所定の収束状態になるようフォーカスアクチュエータを駆動させることにより、フォーカス制御動作を行っている。したがって、フォーカス制御が行われている間、光ディスク１０６のデータ面と対物レンズ１０５との距離は半径位置に関わらず一定（Ｌ）となる。光ディスク１０６が傾いている場合、それに対応して対物レンズ１０５の位置は変化するため、半径位置ｄ１およびｄ２における対物レンズ１０５の位置の差はＺｒとなる。
【００６９】
このＺｒは光ディスク１０６の半径位置ｄ１およびｄ２におけるデータ面の高さの差Ｚｄに等しくなる。ディスクの水平面に対する傾きθｄと、半径位置ｄ１およびｄ２における対物レンズ１０５の位置を結ぶ線と水平面とがなす角θｒは等しいため、Ｚｒと半径位置ｄ１およびｄ２の差Ｒとから光ディスク１０６のデータ面の傾きを次式（１）により求めることができる。
【００７０】
θｄ＝θｒ＝ｔａｎ−１（Ｚｒ／Ｒ）      （１）
また、フォーカスアクチュエータ１１３ａ、ｂを制御するための駆動入力であるフォーカス駆動信号値と、対物レンズ１０５の変位との関係はあらかじめ分かっているため、対物レンズ１０５のフォーカス方向の位置はフォーカス駆動信号値から求めることができる。ここで、フォーカス駆動信号値と対物レンズ１０５のフォーカス方向の変位量との関係をＫｆ、半径位置ｄ１およびｄ２におけるフォーカス駆動信号値の差がＶｆとすると、式（１）より、θｄは次式（２）で表される。
【００７１】
θｄ＝ｔａｎ−１（Ｋｆ×Ｖｆ／Ｒ）      （２）
ここで、例えば、ＣＤあるいはＤＶＤといった光ディスク１０６において生じる傾きは１度程度であるため、θｄを次式（３）のように近似しても誤差はほとんどない。
【００７２】
θｄ≒Ｋｆ×Ｖｆ／Ｒ      （３）
以上のように、半径位置に対するフォーカス駆動信号値の変化は、半径方向に対するデータ面の反り量の変化とほぼ等価となる。したがって、この関係を利用し、所定の半径位置ごとのフォーカス駆動信号値を検出することで、チルトを検出することができる。
【００７３】
次に本実施の形態における対物レンズ１０５によるコマ収差補正動作について図３を用いて説明する。
【００７４】
図３（ａ）に示すように、第１のフォーカスアクチュエータ１１３ａおよび第２のフォーカスアクチュエータ１１３ｂは、対物レンズ１０５を挟んで光ディスク１０６の径方向に対称に取り付けられている。また、第１のフォーカスアクチュエータ１１３ａは対物レンズ１０５の外周側、第２のフォーカスアクチュエータ１１３ｂは対物レンズ１０５の内周側に取り付けられている。
【００７５】
第１のフォーカス駆動部１１２ａおよび第２のフォーカス駆動部１１２ｂに等しい電圧が入力された場合、図３（ｂ）に示すように、対物レンズ１０５の両端はフォーカス方向（図の上下方向）に同一量Ｆ０だけ変位する。
【００７６】
一方、第１のフォーカス駆動部１１２ａおよび第２のフォーカス駆動部１１２ｂに入力される電圧に差がある場合、図３（ｃ）に示すように、対物レンズ１０５の両端におけるフォーカス方向の変位量はそれぞれＦｉｎ、ＦｏｕｔとなりＦｉｎとＦｏｕｔの間には差
が発生する。この変位量の差は入力される電圧差に対応しており、その結果、対物レンズ１０５は光ディスク１０６の半径方向θに傾く。
【００７７】
本実施の形態では、フォーカス制御部１１１から第１のフォーカス駆動部１１２ａおよび第２のフォーカス駆動部１１２ｂへ入力される信号に対し、加算器１１４および減算器１１５を介してマイコン１１６からの出力信号（以降、レンズチルト駆動信号と称する）を加算もしくは減算する構成とすることで、対物レンズ１０５の傾き（以降、レンズチルトと称す）を操作することが可能である。
【００７８】
また、光ビームの光軸に対して対物レンズ１０５の光軸が光ディスク１０６の半径方向に傾くと、半径方向にコマ収差が発生する。さらに、光ディスク１０６が光ビームの光軸に対して半径方向に傾いた場合も半径方向にコマ収差が発生する。
【００７９】
したがって、レンズチルト駆動信号によって第１のフォーカス駆動部１１２ａおよび第２フォーカス駆動部１１２ｂへの入力信号に差を与えて半径方向にレンズチルトを発生させることで、光ディスク１０６が持つ半径方向のチルトで発生するコマ収差を相殺させることができる。
【００８０】
ここで、レンズチルト駆動信号値Ｖｌとレンズチルト量θｌとの関係はあらかじめ分かっているため、その関係をＫｌとおくと次式（４）で表される。
【００８１】
θｌ＝Ｋｌ×Ｖｌ      （４）
また、ディスクのチルトθｄとθｌが等しい場合にコマ収差が相殺できるとすれば、Ｖｌは式（３）、（４）を用いて次式（５）で表される。
【００８２】
Ｖｌ＝Ｋｆ／Ｋｌ×Ｖｆ／Ｒ      （５）
すなわち、光ディスク１０６に径方向のチルトが存在する場合、そのチルトを検出した結果であるフォーカス駆動値の差Ｖｆを用いてレンズチルト駆動値Ｖｌを決定すればコマ収差を低減することが可能となる。
【００８３】
ところで、一般に光ビームの光軸に対して対物レンズ１０５を傾けるとコマ収差以外にも別の収差が発生する。
【００８４】
光ディスクの高密度化に伴い、レンズチルトにより発生するコマ収差以外の収差により、記録再生の性能確保が困難になることがあり、これはレンズチルトによるコマ収差補正の課題となる。
【００８５】
例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃにおいては、光源１０１に波長４０５ｎｍの青紫色レーザを用い、対物レンズ１０５の開口数（ＮＡ）を０．８５とすることで光ディスクの高密度化を実現している。このとき対物レンズ１０５を単レンズで実現すると、０．８５という高ＮＡを実現するために、レンズの厚みは大きくならざるを得ない。
【００８６】
このような光学系においては、光ビームの光軸に対して対物レンズ１０５を傾けると、コマ収差だけでなく球面収差も同時に発生する。
【００８７】
また、前述したチルト検出は、その性質上常時検出ができない。そのため、光ディスク１０６と光ディスク装置内に温度差がある場合、光ディスクを装置に挿入すると短時間で急激にチルトが変化するいわゆる熱衝撃チルトが発生し、チルト制御の誤差が大きくなるという課題がある。したがって、これらの課題のために、装置の性能を確保することが困難になる。
【００８８】
これらの課題を解決するために、本実施の形態のチルト制御は装置起動中に以下の手順で行われる。図４は装置起動中の一連の手順を示したフローチャートである。以下ではフローチャートの説明をする。
【００８９】
まず、装置起動開始からチルト検出までの動作を行う（Ｓ０）。内周および外周でフォーカス駆動値によるチルト検出を行う（Ｓ１）。次に、検出結果からコマ収差補正のためのレンズチルト駆動値を計算する（Ｓ２）。次に、熱衝撃チルトが発生しているか否かの判定を行う（Ｓ３）。熱衝撃チルトが発生していないと判定された場合はマイコン１１６がレンズチルト駆動値を出力する（Ｓ４）。レンズチルトにより発生した収差を補正して（Ｓ５）、一連の手順は終了する。その後、装置の起動を最後まで行う（Ｓ６）。
【００９０】
またステップＳ３で熱衝撃チルトと判定された場合は、熱衝撃チルトと判定されたことがはじめてであるかどうか判定する（Ｓ７）。はじめてである場合は、装置の起動を中断し一定時間のウエイトをする（Ｓ８）。その後、ステップＳ０からやり直す。またステップＳ７で２回目であると判定された場合は、以降、記録動作を禁止するモードに設定する（Ｓ９）。その後、ステップＳ４〜Ｓ６を実行する。
【００９１】
以下では各ステップについて詳細に説明するが、本実施の形態ではレンズチルトによって球面収差が発生する系を考えるものとしている。
【００９２】
まず、ステップＳ１について図５を用いて説明する。
【００９３】
図５（ａ）はチルト検出の対象とするディスク形状と検出のためのフォーカス駆動値の検出半径位置の設定を示した模式図である。マイコン１１６は光ヘッド１００を光ヘッド移動手段により検出半径位置Ａ〜Ｄに順次移動させ、各半径位置におけるフォーカス駆動値を検出し、メモリ１１７に保存する。フォーカス駆動値検出結果は図５（ｂ）となる。マイコン１１６はメモリ１１７に保存されたフォーカス駆動値の検出結果から、略最内周および略最外周におけるチルトを式（３）を用いて算出し、メモリ１１７に保存する。チルト検出結果は図５（ｃ）となる。
【００９４】
次にステップＳ２について図５（ｄ）を用いて説明する。
【００９５】
マイコン１１６はステップＳ１でのチルト検出結果から、略最内周および略最外周のチルトの中間値を算出する。さらに算出されたチルトの中間値と式（５）から、レンズチルト駆動値を算出する。
【００９６】
次にステップＳ３について説明する。
【００９７】
熱衝撃チルトは図６に示すような時間特性を持っており、外周におけるチルト変化が非常に大きくなることが分かる。したがって、（判定１）ステップＳ１で検出された略最外周のチルトの絶対値が所定値より大きい、（判定２）ステップＳ２で算出されたレンズチルト駆動値の絶対値が所定値より大きい、のうちのいずれか１つの判定を満たす場合に熱衝撃チルトと判定される。
【００９８】
次にステップＳ５について説明する。
【００９９】
マイコン１１６は光ヘッド移動手段により、ヘッドをテストゾーンへ移動させる。テストゾーンに信号が記録されていない場合は記録を行う。マイコン１１６から信号コリメータレンズ移送モータ駆動部１１８に出力し、コリメータレンズ移送モータ駆動部１１８に
よって増幅された信号がコリメータ移送モータ１１９を駆動し、コリメータレンズ１０２の位置を変える。コリメータレンズ１０２と光源１０１の距離が変わると、コリメータレンズ１０２から出射される光が平行光から発散光および収束光に変化するため、対物レンズ１０５から光ディスク１０６に収束された光ビームのデータ面上における球面収差が変化することになる。したがって、マイコン１１６によりコリメータレンズ１０２の位置を変えて記録された信号を再生し、その再生信号のジッタを検出する（図示しない）ことで、再生ジッタが最も良くなるように球面収差を調整することができる。
【０１００】
最後にステップＳ７〜Ｓ９について説明する。
【０１０１】
熱衝撃チルトの回避手段として、ディスク１０６の温度が光ディスク装置内の温度になじむまで待つ必要がある。そのため、熱衝撃チルトであると判断された場合は、温度がなじむために一定時間のウエイトをして再起動を行う構成としている。さらに、ウエイト後の再起動においても熱衝撃チルトと判定された場合は、熱衝撃チルトではなくディスクチルトが非常に大きいディスクであると判断できる。チルトが大きいディスクに対してもレンズチルトによるコマ収差補正は可能であるが、この場合、以下に挙げる問題が発生する。
【０１０２】
すなわち、レンズチルトにより発生する収差はレンズチルトに対して２次かそれ以上の次数の関数の特性で増加するのが一般的である。そのため、本実施の形態のように球面収差を補正したとしても、その他の収差が発生し、光スポットは光学的に劣化した状態となる。この状態で適切な記録を行おうとした場合、収差による劣化分を記録パワーの上昇で補うことになるが、光源となる半導体レーザの発光パワーの上昇には当然限界がある。したがって、光源保護のために光ディスク装置としてレンズチルトが所定の角度以上になる場合は、記録動作を行わないようにする必要がある。
【０１０３】
以上のような構成にすることで、光ディスク装置として常にチルトマージンが広くなり、かつ、コマ収差補正により発生する球面収差も補正することが可能となる。
【０１０４】
したがって、光ディスクの全周に渡って常に光学的に良好な光スポットが実現できるため、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性が向上する。
【０１０５】
また、コマ収差補正のためのレンズチルトを半径位置によって変化しない構成にしており、光ヘッド１００の位置が大きく変化する検索動作において、レンズチルトの変化に対応して球面収差の補正を行う必要がないため、検索動作実行時間の短縮につながり、光ディスク装置の性能が向上する。
【０１０６】
また、チルト検出を略最内周と略最外周のみで行っているため、チルト検出時間の短縮、すなわち光ディスク装置の起動時間の短縮につながり、光ディスク装置の性能が向上する。
【０１０７】
また、装置起動時に熱衝撃チルトの判定を行い、熱衝撃チルトが発生していると判定される場合はそれが収まるまで待つ構成となっているため、熱衝撃チルトによる影響を避けた起動が可能となり、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性が向上する。
【０１０８】
さらに、熱衝撃チルトによる影響を避けてもディスクチルトまたはコマ収差補正のためのレンズチルトが大きい場合、装置起動後に記録動作を禁止するような構成にしたので、光源保護が可能となり、光ディスク装置の性能が向上する。
【０１０９】
なお、以上では一例として装置起動時の動作手順での説明をしたが、本発明はその一連
の動作を実行するタイミングで限定を受けるものではない。例えば、チルトの時間的変化に追従するために、起動後に再びチルト検出を行い、その結果に従ってレンズチルトを変更しようとする場合にも前述した一連の動作を行えば、課題解決のための同様の効果が得られる。
【０１１０】
また、レンズチルト駆動値の算出を略最内周と略最外周で検出されたチルトの中間値から求めるものとしたが、径方向に渡るチルトの最大値と最小値の中間値から求めるものとしてもよい。なぜなら、光ディスクは薄い円盤状であり、一般的に径方向の断面形状はいわゆる御椀状の反りまたはたれ形状となる。この場合、チルトは単調増加もしくは単調減少であり、最内周と最外周におけるチルトが径方向のチルトの最小値と最大値（もしくは最大値と最小値）と等しいためである。
【０１１１】
この場合、光ディスク装置としてのチルトマージンが最も広くなるため、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性が向上につながる。
【０１１２】
さらに、本実施の形態では、図４のＳ５における球面収差の補正をコリメータレンズ１０２の位置変化とテストゾーンにおける信号再生ジッタ変化の関係を見るという方式で行っているが、その方式により限定を受けるものではない。
【０１１３】
（実施の形態２）
図１０は、実施の形態２における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、実施の形態１および従来の光ディスク装置と同様の部分には同じ番号を付し、説明を省略する。
【０１１４】
光ディスク２０６は、２つ以上の複数のデータ層を有する光ディスク（多層光ディスク）である。ここでは、光ディスク２０６は、２つのデータ層を有する２層光ディスクであるものとする。図１０の光ディスク装置は、２層光ディスクへの記録再生動作を行うことができる。
【０１１５】
また、本実施の形態の光ディスク装置は、実施の形態１と同様に、対物レンズ１０５を用いたコマ収差補正を行うことにより、２層光ディスクに対する記録再生性能の信頼性を向上させることができる。
【０１１６】
一般に、チルトによって発生するコマ収差は基材厚に比例することが知られているため、多層光ディスクにおいては、例えば、ディスクの反りや垂れといったディスクチルトによって各データ層で発生するコマ収差はデータ層間で異なる。
【０１１７】
光ディスクの高密度化に伴い、各データ層間で発生するコマ収差の差により記録再生の性能を確保することが困難になることがあり、これはレンズチルトによるコマ収差補正の課題となる。
【０１１８】
例えば、２層ＤＶＤ−ＲＯＭディスクにおいては、図１１（ａ）に示すように各層の基材厚は０．５７３ｍｍ（Ｌ０層）および０．６２８ｍｍ（Ｌ１層）であり、チルトによって発生するコマ収差は前記したように基材厚に比例するため、Ｌ０層で発生するコマ収差に対してＬ１層で発生するコマ収差の比は０．６２８／０．５７３となる。
【０１１９】
例えば、２層ＤＶＤ−ＲＯＭに対して、Ｌ０層でのコマ収差補正を行った場合、そのままの状態でＬ１層に移動したとすると、層間でのコマ収差補正の誤差は約１０％であることになる。
【０１２０】
一方、例えば、ＤＶＤ−ＲＯＭディスクよりも高密度化された２層Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃにおいては、図１１（ｂ）に示すように各層の基材厚は０．１ｍｍ（Ｌ０層）および０．０７５ｍｍ（Ｌ１層）であり、Ｌ０層で発生するコマ収差に対してＬ１層で発生するコマ収差の比は０．０７５／０．１となる。
【０１２１】
したがってこの場合、層間でのコマ収差補正の誤差は約３０％となり、高密度化した光ディスクに対する記録再生においてこの誤差量は無視できない量となり得る。
【０１２２】
この課題を解決するために、本実施の形態では２層の各層（Ｌ０層、Ｌ１層）におけるレンズチルト駆動量の決定を以下のように行う。
【０１２３】
実施の形態１と同様に、例えば、Ｌ０層において検出されたチルトθｄとレンズチルト量θＬ０が等しい場合にコマ収差が相殺できるとすればθＬ０は次式（６）で表される。
【０１２４】
θＬ０＝θｄ      （６）
レンズチルト駆動信号値ＶＬ０とレンズチルト量θＬ０との関係は実施の形態１と同様にあらかじめ分かっているため、その関係をＫｌとおくとＶＬ０は次式（７）で表される。
【０１２５】
ＶＬ０＝θｄ／Ｋｌ      （７）
また前記したように、チルトθｄで発生するコマ収差は基材厚に比例し、ディスクの基材厚は規格により決められた既知の値であるため、Ｌ０層の基材厚とＬ１層の基材厚とをそれぞれｔＬ０、ｔＬ１とすると、Ｌ１層においてチルトθｄで発生したコマ収差を相殺するレンズチルト量θＬ１は次式（８）で表される。
【０１２６】
θＬ１＝θＬ０×ｔＬ１／ｔＬ０      （８）
従って、Ｌ１層におけるレンズチルト駆動信号ＶＬ１は次式（９）で表される。
【０１２７】
ＶＬ１＝θｄ×ｔＬ１／ｔＬ０／Ｋｌ      （９）
すなわち、光ディスク２０６に径方向のチルトが存在する場合、そのチルトを検出した結果であるθｄと基材厚比ｔＬ１／ｔＬ０を用いてレンズチルト駆動信号ＶＬ０、ＶＬ１を決定すれば、Ｌ０層、Ｌ１層の各層においてコマ収差を低減することが可能となる。
【０１２８】
すなわち、マイコン１１６からの出力信号であるレンズチルト駆動信号を、Ｌ０層の場合にはＶＬ０にし、Ｌ１層の場合にはＬＶ１にすることで各層において最適なコマ収差補正動作を行うことができる。
【０１２９】
以上のような構成にすることで、多層光ディスク装置として各層で常に光学的に良好な光スポットが実現できるため、光ディスク装置の記録再生動作の信頼性が向上する。
【０１３０】
なお、本実施の形態では、データ層がＬ０層、Ｌ１層の２つである光ディスクとしたが、その層数に限定を受けるものではない。つまり、３つ以上の層を持つ場合でも、Ｌ０層のレンズチルト駆動信号ＶＬ０とＬ０層および他層の基材厚からの基材厚比とを用いて各層毎のレンズチルト駆動信号を決定し、コマ収差補正動作を行うことにより、課題解決のための同様の効果が得られる。
【０１３１】
さらに、本実施の形態では、Ｌ０層のレンズチルト駆動信号ＶＬ０を基準とし、Ｌ０層に対する他層の基材厚比を用いて各層毎のレンズチルト駆動信号を決定したが、その基準の決定方法に限定を受けるものではない。複数のデータ層のうち少なくとも１つの層におけるレンズチルト駆動信号を基準として、その層と他層の基材厚から求められる基材厚比
を用いて各層毎のレンズチルト駆動信号を決定し、コマ収差補正動作を行うことにより、課題解決のための同様の効果が得られる。
【０１３２】
また、本実施の形態では、各層の基材厚を既知の値として基材厚比を算出し、その基材厚比を用いて各層毎のレンズチルト駆動信号を決定したが、基材厚比の算出方法に限定を受けるものではない。例えば、光ディスク装置が各層の基材厚を検出する基材厚検出部を有している場合には、その検出結果から基材厚を算出するようにしてもよい。この場合においても、その基材厚を用いて各層毎のレンズチルト駆動信号を決定し、コマ収差補正動作を行うことにより、課題解決のための同様の効果が得られる。
【産業上の利用可能性】
【０１３３】
本発明の光ディスク装置は、ラジアルチルトを持つ光ディスクに対して、常にラジアルチルトマージンが広く、かつ、他の収差を補正する効果を有し、光ディスクを記録再生する装置の信頼性を上げる方法として有用である。
【０１３４】
さらに、本発明の光ディスク装置は、起動時の調整時間の短縮が可能となる効果を有し、光ディスクを再生記録する装置の性能を向上する方法として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１３５】
【図１】図１は本発明の実施の形態１の光ディスク装置のブロック図
【図２】図２は本発明の実施の形態１における、チルトを持つ光ディスク１０６のデータ面と対物レンズ１０５との相対位置および、光ヘッドの位置とフォーカス駆動信号の関係を示した模式図
【図３】図３は本発明の実施の形態１における、対物レンズ１０５によるコマ収差補正動作を示した模式図
【図４】図４は本発明の実施の形態１における、コマ収差および球面収差の補正を含んだ装置の起動手順を示すフローチャート
【図５】図５は本発明の実施の形態１における、起動時のチルト検出動作からコマ収差補正のためのレンズチルト駆動値を算出するまでの手順を説明するための模式図
【図６】図６は本発明の実施の形態１における、熱衝撃チルトの時間特性を示した特性図
【図７】図７は従来の技術を説明するための、チルトが発生した場合の光ディスク上の光ビームの強度分布変化を示す模式図
【図８】図８は従来の技術を説明するための、チルトが発生した場合のディスクチルト量とそのときの再生信号のジッタ及びエラー率を示す特性図
【図９】図９は従来の技術の光ディスク装置のブロック図
【図１０】図１０は本発明の実施の形態２の光ディスク装置のブロック図
【図１１】図１１は本発明の実施の形態２における、２層ＤＶＤ−ＲＯＭディスクの基材厚と２層Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃの基材厚を示した模式図
【符号の説明】
【０１３６】
１００  光ヘッド
１０１  光源
１０２  コリメータレンズ
１０３  偏光ビームスプリッタ
１０４  １／４波長板
１０５  対物レンズ
１０６  光ディスク
１０７  集光レンズ
１０８  ディテクタ
１０９  プリアンプ
１１０  フォーカスエラー（ＦＥ）信号生成部
１１１  フォーカス制御部
１１２  フォーカス駆動部
１１３  フォーカスアクチュエータ
１１４  加算器
１１５  減算器
１１６  マイクロコンピュータ（マイコン）
１１７  メモリ
１１８  コリメータレンズ移送モータ駆動部
１１９  コリメータレンズ移送モータ
１２０  移送モータ駆動部
１２１  移送モータ
９００  チルトセンサ
９０１  光源
９０２  ディテクタ
９０３  チルト信号生成部
９０４  チルト制御部
９０５  チルト駆動部
９０６  チルトアクチュエータ
【図１】
0004330629.tif 000002
【図２】
0004330629.tif 000003
【図３】
0004330629.tif 000004
【図４】
0004330629.tif 000005
【図５】
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【図６】
0004330629.tif 000007
【図７】
0004330629.tif 000008
【図８】
0004330629.tif 000009
【図９】
0004330629.tif 000010
【図１０】
0004330629.tif 000011
【図１１】
0004330629.tif 000012