(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
目標出力データ量を越えないように量子化の程度を選ぶための１以上の試行量子化器と、
量子化すべき現在のサブセットデータを選択するためのデータセレクタと、
上記サブセットデータを蓄積するためのデータ蓄積器と、
上記試行量子化器によって選択された量子化の程度及び１以上の粗い量子化を含む複数の程度の量子化でサブセットデータを順次量子化及び反量子化（デコンタイズ）するためのバックサーチ量子化器及び反量子化器と、
上記バックサーチ量子化器による量子化及び反量子化によってもたらされたエラーを検出するために、上記バックサーチ量子化器により量子化され反量子化されたデータと蓄積された上記サブセットデータとを比較するための比較器と、
現在のデータの圧縮に使うための最終程度量子化であって、量子化及び上記バックサーチ量子化器による上記サブセットデータの反量子化の間中に誤りが最小となるような上記比較器によって検出された最終程度量子化を選択するための量子化選択器と、を備え、
上記データセレクタによって順次受信される量子化すべきデータを所定のサイズの上記サブセットデータとして記憶し、上記サブセットデータの数が所定の繰り返し数によって割り算された上記データセレクタのブロックサイズの数に等しいかそれよりも少ない場合に、上記データセレクタ及び／又は上記データ蓄積器が上記サブセットデータ毎に１回ずつ繰り返して、上記バックサーチ量子化器及び反量子化器に上記サブセットデータを上記比較器に供給し、上記データ蓄積器から供給される上記サブセットデータを遅延させて上記比較器に供給するデータ圧縮装置。
【請求項２】
請求項１記載のデータ圧縮装置において、量子化すべきデータが１以上の画像を表すデータであるデータ圧縮装置。
【請求項３】
請求項１記載のデータ圧縮装置において、量子化すべきデータが周波数分離データであるデータ圧縮装置。
【請求項４】
請求項３に記載のデータ圧縮装置において、量子化すべきデータがＤＣＴデータであるデータ圧縮装置。
【請求項５】
請求項３に記載のデータ圧縮装置において、上記サブセットデータが予め定められた数の最低空間周波数係数のＤＣＴデータを含むデータ圧縮装置。
【請求項６】
請求項４に記載のデータ圧縮装置において、上記サブセットデータが予め定められた数の非ゼロ最低空間周波数係数のＤＣＴデータを含むデータ圧縮装置。
【請求項７】
請求項４に記載のデータ圧縮装置において、上記サブセットデータが予め定められた数の数値的に最大の空間周波数係数のＤＣＴデータを含むデータ圧縮装置。
【請求項８】
目標出力データ量を越えないように量子化の程度を選び、
量子化すべき現在のサブセットデータをデータセレクタによって選択し、
上記サブセットデータをデータ蓄積器に蓄積し、
選択された量子化の程度及び１以上の粗い量子化を含む複数の程度の量子化でサブセットデータをバックサーチ量子化器によって、順次量子化及び反量子化（デコンタイズ）し、
前記量子化及び反量子化によってもたらされたエラーを検出するために、量子化され反量子化されたデータと蓄積されたサブセットデータとを比較し、
現在のデータの圧縮に使うための最終程度量子化であって、サブセットデータの反量子化の間中に誤りが最小となるように検出された最終程度量子化を選択し、
上記データセレクタによって順次受信される量子化すべきデータを所定のサイズの上記サブセットデータとして記憶し、上記サブセットデータの数が所定の繰り返し数によって割り算された上記データセレクタのブロックサイズの数に等しいかそれよりも少ない場合に、上記データセレクタ及び／又は上記データ蓄積器が上記サブセットデータ毎に１回ずつ繰り返して、上記バックサーチ量子化器及び反量子化器に上記サブセットデータを上記比較器に供給し、上記データ蓄積器から供給される上記サブセットデータを遅延させて上記比較器に供給するデータ圧縮方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、データ圧縮に関する。
【０００２】
【従来の技術】
画像データ圧縮システム等のある種のデータ圧縮システムは、所望の出力ビットレイトを達成するために最も適切な量子化ファクタに到達しようと試みる試行圧縮を使う。
以前に提案された或システムにおいては、試行量子化は、量子化値の可能な全域にわたって広がっている可能な１０個の量子化値で実行される。所望の値のどちらか一方の側に当てはまる或出力ビットレイトを提供する２つの試行量子化値が照合され、これら２つの値の間の狭められた領域内で更に詳細な試行が実行される。これによって、そのシステムの目標ビット・レイトに応じた最小粗さのデータ量子化に対応する量子化値を確認できる。
【０００３】
しかしながら、或クラスのデータ、例えば、画像データ及び／又は以前に圧縮され非圧縮化（デコンプレス）されたデータに対しては、この配列は必ずしも最善の量子化値を提供するとは限らないことが解っている。ある時には、この問題を緩和する「バック・サーチ」と言われる処理が行われた。このバック・サーチ処理は、上記に参照された試行量子化によって確認された量子化値で開始し、その後、その値と多数の隣接値をテストして順次粗くなるような量子化を行う。
【０００４】
用いられたテストは、テストする値の各々を使う入力データに対して反量子化（dequantisation）にすぐ続く量子化を適用することであり、各場合に、結果のデータを入力データを遅延させたデータ（即ち、量子化されていないもの）と比較することである。（それらのテストされた）量子化値は誤りが最も少ないものであり、量子化の最終出力段用に選ばれている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、データ圧縮の多くの観点によるように、この追加テストは、並列に並んだ数個の量子化値の所で入力データにテスト量子化及び反量子化を適用するために多量の高速処理回路を要求する。ＡＳＩＣ（応用が特定された集積回路）等の集積回路でこの圧縮回路が実施される時には、このことが特に問題になる。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は、下記の手段を備えたデータ圧縮装置を提供する。即ち、目標出力データ量を越えないように量子化の程度を選ぶための１以上の試行量子化器と、
量子化すべき現在のサブセットデータを選択するためのデータセレクタと、
サブセットデータを蓄積するためのデータ蓄積器と、
試行量子化器によって選択された量子化の程度及び１以上の粗い量子化を含む複数の程度の量子化でサブセットデータを量子化及び反量子化するためのバックサーチ量子化器及び反量子化器と、
バックサーチ量子化器による量子化及び反量子化によってもたらされたエラーを検出するために、バックサーチ量子化器により量子化され反量子化されたデータと蓄積されたサブセットデータとを比較するための比較器と、
現在のデータの圧縮に使うための最終程度量子化であって、量子化及びバックサーチ量子化器によるサブセットデータの反量子化の間中に誤りが最小となるような比較器によって検出された最終程度量子化を選択するための量子化選択器とを備え、データセレクタによって順次受信される量子化すべきデータを所定のサイズのサブセットデータとして記憶し、サブセットデータの数が所定の繰り返し数によって割り算されたデータセレクタのブロックサイズの数に等しいかそれよりも少ない場合に、データセレクタ及び／又はデータ蓄積器がサブセットデータ毎に１回ずつ繰り返して、バックサーチ量子化器及び反量子化器にサブセットデータを比較器に供給し、データ蓄積器から供給されるサブセットデータを遅延させて比較器に供給するデータ圧縮装置を提供する。
さらに、本発明は、下記のデータ圧縮方法を提供する。
即ち、目標出力データ量を越えないように量子化の程度を選び、
量子化すべき現在のサブセットデータを選択し、
サブセットデータを蓄積し、
選択された量子化の程度及び１以上の粗い量子化を含む複数の程度の量子化でサブセットデータを順次量子化及び反量子化（デコンタイズ）し、
前記量子化及び反量子化によってもたらされたエラーを検出するために、量子化され反量子化されたデータと蓄積されたサブセットデータとを比較し、
現在のデータの圧縮に使うための最終程度量子化であって、サブセットデータの反量子化の間中に誤りが最小となるように検出された最終程度量子化を選択し、データセレクタによって順次受信される量子化すべきデータを所定のサイズのサブセットデータとして記憶し、サブセットデータの数が所定の繰り返し数によって割り算されたデータセレクタのブロックサイズの数に等しいかそれよりも少ない場合に、データセレクタ及び／又はデータ蓄積器がサブセットデータ毎に１回ずつ繰り返して、バックサーチ量子化器及び反量子化器にサブセットデータを比較器に供給し、データ蓄積器から供給されるサブセットデータを遅延させて比較器に供給するデータ圧縮方法を提供する。
【０００７】
本発明のデータ圧縮装置は、上記バックサーチ処理が遂行でき、量子化すべきデータのサブセットのみを使って有用な結果が得られることが認められる。これによって、この機能を実施するのに必要なハードウエアの量を著しく減少することができる。
好ましい実施形態においては、並列に実行される代わりに、上記バックサーチ処理は、１セットの量子化器と反量子化器だけを使って時分割多重様式で遂行できる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
添付図面を参照して、本発明の一実施形態について例示的に説明する。図面中同様な部分については同様な参照符号が付されている。
図１は、テープ記録再生システムを示し、ビット・レイト削減エンコーダ（符号化器）１０、テープチャネル２０、テープ記録再生装置３０及び対応するデータ・デコーダ（復号器）４０を含む。
【０００９】
エンコーダ１０は、入力高品位ビデオ信号を受信し、それを符号化して、テープ媒体上に記録するためのビット・レイト削減（ＢＲＲ）信号を形成する。同様にして、デコーダ４０は、テープ媒体から再生したＢＲＲ信号を受信し、それを復号して出力高品位ビデオ信号を形成する。
記録用の誤り訂正符号化及び対応する再生（図示せず）用のデコーディングの段を用いても良い。
【００１０】
次に図２を参照して、入力ビデオ信号及びビデオ・クロックがフィールド／フレーム・アダプタ回路１００、位相ロックループ１１０、ビデオ・シャフル回路１２０、及びシステム・コントローラ１３０に供給される。
このフィールド／フレーム・アダプタ回路１００は、フレーム基準モードの動作とフィールド基準モードの動作の間のエンコーダの切換を制御するために使われる。この切換は、シーンが変わった時に起こるので、或シーン変化のあったフレームに対してフィールド基準モードの動作が使われる。
【００１１】
入力ビデオ信号におけるシーン変化を検出するために、フィールド／フレーム・アダプタ回路１００は、各入力フィールドを１６ブロックに分割し、各々が３００ピクセル×１３５ラインとする。各フィールドに対する各ブロックのこのＤＣレベル及び変化は下記のようにして計算される。
【００１２】
ｄｃ＝Σ（Pixel value)
variance＝Σ（Pixel value)2 
これらのブロックの変化は下記のように正規化される。
正規化された変化＝Σ（Pixel value)2 ／Σ（Pixel value)
【００１３】
単一フレームを含む２フィールドの各ブロックに対するＤＣレベル及び変化は、これら２つのフィールドが類似と考えられるか否かを決めるために（或ブロックとそれに対応するブロックを基準にして）比較される。下記の関係はこの検出を行うために使われる。
【００１４】
0004236757.tif 000002
従って、dcfld1はdcfld0と類似であると考えられる。
0004236757.tif 000003
従って、varfld1はvarfld0に類似であると考えられる。
【００１５】
２つのフィールドの間で類似したｄｃ及び変化ブロックの数は別々の閾値と比較される。
if number similardc blocks ＞dc block threshold
and number similarvar blocks＞var block threshold
従って、２つのフィールドは、同じビデオ・シーンの一部であると考えられる。
【００１６】
この検出の結果は、フィールド／フレーム・アダプタ回路１００からの制御出力１０２上に供給される。
ＰＬＬ１１０は、エンコーダに供給される４６．４ＭＨｚクロックを受信し、そのクロック信号からエンコーダ装置によって要求される他のクロック信号を導き出す。
システム・コントローラ１３０は上記の仕方で動作するように装置を制御する。
ビデオ・シャフル回路１２０は、入力ビデオ信号のピクセルを受信し、それを一時的に外部シャッフルＲＡＭ１４０に蓄積する。
【００１７】
ビデオ・シャフル回路は、予め定められたシャフル・パターンに従って外部シャフルＲＡＭから複数ブロックのピクセルを読み出すが、画像中の隣接したピクセルのブロックがそのシャフル・パターンにおける隣接位置で読み出されることはない。
【００１８】
この測定を行う理由は、デコーダ装置によって再構築された絵の上の（例えば、テープ・ドロップアウト等の）データ・ロスの影響を緩和しようと試みるためである。画像において隣接するピクセル・ブロックは、結果として得られるビット・ストリームにおいてはお互いに離ればなれになっている（何故ならば、それらはビデオ・シャフル回路１２０でシャフルされている）から、短い期間のデータ・ロスでも多くのピクセル・ブロックに影響を与えるかもしれないが、画像中のすぐ隣には影響を及ぼさない。これによって、失われたブロックを再構築するためにデータ隠蔽が使えるようになる。
【００１９】
現在のフレームは外部ＲＡＭに書き込まれるが、前回のフレームは、シャフルの仕方で、外部ＲＡＭから読まれる。
ビデオ・シャフル回路１２０からのシャフルされたデータは、デスクリート・コサイン変換器（ＤＣＴユニット）１５０、活性度計算器１６０及びビット・アロケータ（割当器）１７０に供給される。
【００２０】
ＤＣＴユニット１５０は、ビデオ・シャフト回路１２０から供給される各ピクセル・ブロックを公知の方法で対応するブロックのＤＣＴ係数に変換する。これらの係数は、ビット・アロケータ１７０に供給される。
活性度計算器１６０は、いわゆる「アクティビティ・コード」と、各ブロックのデータに対する量子化インデックスに適用すべき対応するオフセットを発生する。
（ｉ）（例えばブロック内ピクセル値の変化により測定される）更に詳細を含むブロックはあまり詳細に示されていないブロックよりも高度の活性度を持つ。
（ii）肌の色合いに関連する色を主として含むブロックは、そのような色を主として含まないブロックよりもきめ細かに量子化される（即ち、概念的動作がより少なく与えられる）。
(iii）非常に低いか非常に高い平均輝度レベルを有するブロックは、中間レンジの平均輝度レベルを有するブロックよりも粗く量子化される（即ち、より高い概念的動作が与えられる）（ウエーバの法則）。例えば、或ブロックの平均輝度レベルが（８ビットシステムにおいて）２２４より高いか３２よりも低いならば、そのブロックの活性度（アクティビティ）の計算に一定値が加えられる。もし、そのブロックの平均輝度レベルが３２と２２４の間にあれば活性度計算は変更されない。
【００２１】
一般に、アクティビティ・コードは、符号化器の後の動作を制御するために使われるので、高度の活性を有するピクセル・ブロックは、より粗い圧縮にさせられる。何故ならば、そのブロックが後で復元（デコンプレス）される時に、そのブロックの中にビューアは圧縮の影響（ａｒｔｉｆａｃｔ）を見つけるであろうからである。低い活性を有するブロックは、例えば、比較的滑らかな表面は、比較的暗いエリア又は皮膚の色調に対応する色を有し、細かく圧縮される。何故ならば、ユーザはこれらのエリアで圧縮された影響を見つける可能性が更に多くあるからである。
【００２２】
量子化インデックス・オフセットは、ビット・ストリームの中に埋め込まれるが、アクティビティ・コードは（復号の際に使われる量子化オフセットを特定するのに必要であり）可能な最適化のために別々に供給される。（下記参照）。
【００２３】
ビット割当器１７０は、ＤＣＴ符号化器１５０からＤＣＴデータを受信し、活性度計算器１６０から活性データを受信する。このビット割当器１７０はＤＣＴデータの試行量子化を遂行し、それにエントロピー符号化プロセスが続く。
これらの技術を使って、このビット割当器は、活性度計算によって計算される各ブロックの量子化インデックス・オフセットに従わされた１０個の量子化「基準」７，１３，１９，２５，３１，３７，４３，４９，５５及び６１の１つで各ＤＣＴブロックを符号化するために要求されるビットの数を計算する。究極的には、各ブロックに対する量子化レベルは、（上に与えられたスケールを使って）解像度１に選ばれるが、ビット割当器１７０の目的のためには、この量子化基準値はそのスケール上の最も近い６個に割り当てられる。
【００２４】
従って、ビット割当器の出力の所では、上記に与えられた選択から最も近い適正な量子化基準レベルから導き出された数値が、ビデオ・データの遅延したものと一緒に、さらに他のＤＣＴユニット１８０、バイナリー・サーチ・ユニット１９０、及びバック・サーチ・ユニット２００に送られる。このプロセスについては下記に更に説明するが、簡単に言うと、要求されるビット・レイトをちょっと越える量子化値よりも大きい値２がビット割当器によって送られる。
【００２５】
この更に他のＤＣＴユニット１８０は再びＤＣＴ係数を計算するが、今度はビデオ・データの遅延させたものに基づいている。
バイナリー・サーチ・ユニット１９０は、基準量子化レベルよりも一寸上または一寸下の量子化レベルで試行量子化を実行するが、再び各ブロックと関連する量子化インデックス・オフセットによって修飾され、ビット割当器からの基準量子化レベルに関係する−３〜＋４のレンジ内の１つの値を選ぶ。
【００２６】
バイナリー・サーチ・ユニット１９０によって選択された量子化レベルをテストするバック・サーチ・ユニットによって、更に他の試行量子化が実行され、同じまたは少ない量子化誤りを得ながら、より高い量子化レベルが使えるかどうか評価する。
【００２７】
最後に、選択された量子化レベル、及び更に他のＤＣＴ符号化器１８０からのＤＣＴブロックは、量子化器２１０に供給され、そこで、選択された量子化レベルに従って量子化される。この量子化されたデータは、標準原理のエントロピー符号化に従う可変長出力を生成するエントロピー符号化器２２０に送られるので、その量子化されたデータ中にもっと普通に起こるデータ・パターンはもっと短いコード・ワードを使って符号化される。
【００２８】
このエントロピー符号化器によって発生されたデータは、データ・パッカー２３０によってテープ上に記録するために「コード・ブロック」にパックされる（詰め込まれる）。このコード・ブロックは、ヘッダー・データ、多数のＤＣＴブロックからのエントロピー符号化されたデータ、それらのブロックと関連するアクティビティ・コード、及びそれらのブロックに使われる量子化レベルの表示を含む。誤り訂正コードは、そのコード・ブロックがテープから再生された時に、誤り訂正を行うように適用される。１つのコード・ブロックは５つの同期ブロックを含み、１つの同期ブロックは、このシステムにおいてテープ上に記録される最小の別個に再生できるデータ項目である。
【００２９】
図５は、前回提案されたバック・サーチ・ユニットの１要素を図解したものである。バック・サーチは、バイナリー・サーチによって選ばれた量子化インデックス値をテストするためのプロセスである。上記のとおり、バイナリー・サーチによって、ビット・レイト・ターゲットよりも少ないビットを作る最低量子化インデックスを発生する。それから、バック・サーチは、それら６つの選択から使用すべき最善値がどれであるかを検出するために６つの隣接する高い方の量子化インデックスをテストする。
【００３０】
図５において、バック・サーチ・ユニットの要素はテスト量子化器６００、その量子化器６００と同じ量子化インデックスを使う逆量子化器６１０、減算器６２０、及び遅延素子６３０を含む。そこで、ＤＣＴデータは、量子化及び相補逆量子化プロセスにあてられ、元のＤＣＴデータの遅延したものから減算される。全データ・ストリーム上で実行され、この比較が減算器６２０の出力に誤り信号を作る。
【００３１】
図６を参照すると、フル・バック・サーチ・ユニットは図５に示すタイプの６個のエレメント６４０を含む。これらのエレメント６４０の各々は異なった量子化インデックスで動作する。即ち、
ＱＩ（ｏｕｔ）
ＱＩ（ｏｕｔ）＋１
・・・・
ＱＩ（ｏｕｔ）＋５
【００３２】
エレメント６４０の各々によって作られるエラー信号は、量子化され逆量子化されたＤＣＴデータと元のＤＣＴデータの間の差異を表しており、同期ブロック全体にわたって合計され、合計及び比較ユニット６５０によって比較される。この合計及び比較ユニット６５０は、ＤＣＴデータを符号化するために最終量子化段において使われる６つのエレメント６４０によってテストされる可能な量子化インデックスの１つを選ぶ。ＱＩ（ｆｉｎａｌ）は同期ブロック全体にわたり合計された最低エラー・レイトを与える。
【００３３】
図７は、本発明の一実施形態のバック・サーチ・ユニットのブロック図である。図７のバック・サーチ・ユニットは、データ・プリプロセッサ７００、それに続く量子化器７１０、逆量子化器７２０、減算器７３０、及び図６のそれらに類似の遅延回路７４０を含む。減算器７３０は合計及び比較ユニット７５０に接続されている。
【００３４】
以前に説明されたバック・サーチ・ユニットと対照的に、図７は、バック・サーチ・ユニットの全てを図解している。即ち、パート７１０，７２０，７３０，及び７４０は図６においては６回繰り返されてはいない。
下記に説明するとおり、データ・プリプロセッサ７００の使用及び動作に由来して、このパートの繰り返しは避けられている。
【００３５】
データ・プリプロセッサ７００は、そのバック・サーチ・ユニットに供給されるデータ・ストリームのサブセットを選択して蓄積する。それは、そのデータ・ストリームのサブセットを時分割多重で量子化器７１０に繰り返し供給する。各繰り返しにおいて、量子化器７１０はそのサブセットを異なった量子化ファクタで量子化し、レンジＱＩ（ｏｕｔ）・・・ＱＩ（ｏｕｔ）＋５を通して巡回する。
【００３６】
最初のデータ・サブセットが処理される、例えば、量子化ファクタＱＩ（ｏｕｔ）が処理されると、減算器７３０から出るその結果のエラー量は合計及び比較ユニット７５０によって蓄積される。次のサブセットが処理されると、量子化ファクタＱＩ（ｏｕｔ）＋１で、結果のエラー量が同様に蓄積される。このプロセスは、繰り返されるから、合計及び比較ユニット７５０は、１つの同期ブロックを処理する過程にわたって、６つの可能な量子化ファクタＱＩ（ｏｕｔ）・・・ＱＩ（ｏｕｔ）＋５の各々に対して１つずつの、６つの累積蓄積エラー値を作り上げる。１つの同期ブロックを処理する終りの点で、その同期ブロックの最後の量子化のために、最低累積エラー値を与える６つの可能な値からなる量子化ファクタが選ばれる。
【００３７】
図８は、データ・プロセッサによって発生されたデータ・ストリームの線図である。
各同期ブロックは、多数の連続する６４バイトＤＣＧブロック８００と１バイトの制御情報８１０で形成されている。データ・プリプロセッサ７００はＤＣＴブロック８００の１０バイト・サブセット８２０を選択し蓄積し、そのサブセットを６回出力する。サブセット８２０は元のＤＣＴブロックの長さの１／６を越えないようにして、元のＤＣＴブロック８００の伝送に正規に割り当てられた時間にサブセット８２０の６回の繰り返しを行うことができる。
【００３８】
それゆえ、バック・サーチ処理に要求されるこの６回の試行量子化及び反量子化は単一セットの装置７１０，７２０，７３０，７４０を並列に繋いで並列に行うのではなくて直列に遂行される。図８の下の部分に示すように、サブセット８１０の６回の繰り返しの後、元のＤＣＴブロック８００として或量のデータを作るために、５バイトのパッディング・データが加えられる。
データ・プリプロセッサによって選択されたサブセット８１０は、例えば、データ・ストリーム（例えば、最初の１０係数）内にある予め定められた位置から選ばれた１０個のＤＣＴ係数、１０個のゼロでない係数（例えば最初の１０個の非ゼロ係数又は１０個の最大係数）、又は他の予め定められた又は疑似ランダムに選ばれたパターンとすることができる。
【００３９】
【発明の効果】
本発明は、試行量子化のための追加テストのために、多量の高速処理回路を必要としない。
【図面の簡単な説明】
【図１】磁気テープチャネルに使うビットレイト削減エンコーダ及びそれに対応するデコーダの回路ブロック図である。
【図２】図１の回路のビットレイト削減エンコーダの回路ブロック図である。
【図３】図１の回路のビットレイト削減エンコーダの回路ブロック図である。
【図４】図１の回路のビットレイト削減エンコーダの回路ブロック図である。
【図５】以前に提案されたバックサーチ・ユニットの１エレメントを示す回路ブロック図である。
【図６】以前に提案されたバックサーチ・ユニットの１エレメントを示す回路ブロック図である。
【図７】本発明のバックサーチ・ユニットの１エレメントを示す回路ブロック図である。
【図８】本発明のデータプリプロセッサにより発生されるデータストリームの線図である。
【符号の説明】
１００‥‥フィールド／フレーム・アダプタ回路、１１０‥‥ＰＬＬ回路、１２０‥‥ビデオ・シャフル回路、１３０‥‥システムコントローラ、１４０‥‥外部シャフルＲＡＭ、１５０‥‥ディスクリート・コサイン変換器、１６０‥‥活性度計算器
【図１】
0004236757.tif 000004
【図２】
0004236757.tif 000005
【図３】
0004236757.tif 000006
【図４】
0004236757.tif 000007
【図５】
0004236757.tif 000008
【図６】
0004236757.tif 000009
【図７】
0004236757.tif 000010
【図８】
0004236757.tif 000011