(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンタクトレス通信に対するデータキャリヤと共に使用されるように構成されていて、かつ集積部品、２つの転送手段端子に接続するための２つのモジュール端子を含むモジュールに、少なくとも一つの試験動作を実行するように構成されている試験装置であって、
それぞれを、試験されるモジュールのモジュール端子に接触させることができる、２つの試験端子と、
キャリア信号を生成させることができるキャリア信号発生器と、
前記キャリア信号発生器と少なくとも一つの試験端子との間にあってそれを介して、前記キャリア信号発生器により出力されるキャリア信号に対応する試験信号を、前記少なくとも一つの試験端子に与えることが出来る信号パスとを含み、
試験されるモジュールのモジュール端子が前記試験端子に接触しているとき、試験される前記モジュールの前記集積部品に含まれる負荷変調手段が、前記試験信号を負荷変調させることができる試験装置において、
前記信号パスは前記キャリア信号発生器を乗算器、増幅器およびインピーダンスを介して少なくとも１つのテスト端子に接続され、前記インピーダンスは前記少なくとも１つのテスト端子の直前に配置され、そして、
少なくとも一つの検出デバイスが、少なくとも一つの試験端子に接続されていて、その検出デバイスが、前記少なくとも一つの試験端子に与えることができる前記試験信号を使用して、そのモジュール端子により前記試験端子と接触している試験されるモジュールのアナログ特性値を決定するように構成されている、ことを特徴とする試験装置。
【請求項２】
検出デバイスが、試験されるモジュールの前記モジュール端子の間に存在する入力容量の値を決定するように構成されることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記検出デバイスの第１の入力が、試験端子から離れた、前記インピーダンスの第１のインピーダンス端子に接続され、
前記検出デバイスの第２の入力が、前記試験端子に接続された、前記インピーダンスの第２のインピーダンス端子に接続され、
これにより、前記検出デバイスは前記インピーダンスの前記第１及び第２のインピーダンス端子に現れる信号が供給され、
前記検出デバイスが、前記第１及び第２のインピーダンス端子に現れかつ前記検出デバイスに与えられる前記信号によって前記インピーダンスの前記入力容量の前記値を決定するように構成されていることを特徴とする請求項２に記載の試験装置。
【請求項４】
検出デバイスが、試験されるモジュールの前記負荷変調手段により生成されかつこのようなモジュールの前記モジュール端子の間に現れる変調指数値を、決定するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項５】
オーム性抵抗が、前記インピーダンスとして設けられていることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項６】
コンタクトレス通信に対するデータキャリヤと共に使用されるように構成されていて、かつ集積部品、２つの転送手段端子に接続するための２つのモジュール端子を含むモジュールの試験方法であって、前記モジュールに対し２つの試験端子を含む試験装置により試験動作を行うさいに、
前記モジュールの各モジュール端子を、前記試験装置の試験端子に接触させ、
キャリア信号を、前記試験装置のキャリア信号発生器により生成させ、
前記キャリア信号発生器により出力されるキャリア信号に対応する試験信号を、前記キャリア信号発生器と少なくとも１つの試験端子との間に位置する信号パスを介して、前記少なくとも一つの試験端子に与え、
試験されるモジュールのモジュール端子が前記試験端子に接触しているときに、試験される前記モジュールの前記集積部品に含まれる負荷変調手段により、前記試験信号を負荷変調させる、モジュールの試験方法において、
前記信号パスは前記キャリア信号発生器を乗算器、増幅器およびインピーダンスを介して少なくとも１つのテスト端子に接続され、前記インピーダンスは前記少なくとも１つのテスト端子の直前に配置され、そして、
前記少なくとも一つの試験端子に与えることができる前記試験信号を使用して、そのモジュール端子により前記試験端子と接触している試験されるモジュールのアナログ特性値を、少なくとも一つの試験端子に与えることが出来る前記試験信号を使用する間に、検出することを特徴とする試験方法。
【請求項７】
前記モジュールの前記モジュール端子の間に存在する入力容量の値が、検出デバイスによって決定されることを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記検出デバイスの第一入力端に、前記試験端子から離れている前記インピーダンスの第１のインピーダンス端子に現れる信号を供給し、
前記検出デバイスの第二入力端に、前記試験端子に接続されている前記インピーダンスの第２のインピーダンス端子に現れる信号を供給し、そして、
前記入力容量の前記値が、前記インピーダンスの前記第１及び第２の２つのインピーダンス端子に現れかつ前記検出デバイスに与えられる前記信号が用いられる間に、前記検出デバイスによって決定されることを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記モジュールの前記負荷変調手段により生成されかつ前記モジュールの前記モジュール端子の間に現れる変調指数値が、検出デバイスによって決定されることを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
オーム性の抵抗の形のインピーダンスを含む信号パスを介して、前記キャリア信号に対応する前記試験信号が、前記少なくとも一つの試験端子に与えられることを特徴とする請求項６に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、コンタクトレス通信に対するデータキャリヤと共に使用されるように構成されていて、かつ集積部品、2つの転送手段端子に接続するための2つのモジュール端子を含むモジュールに、少なくとも一つの試験動作を実行するように構成されている試験装置であって、
それぞれを、試験されるモジュールのモジュール端子に接触させることができる、2つの試験端子と、
それによってキャリア信号を生成させることができるキャリア信号発生器と、
前記キャリア信号発生器と少なくとも一つの試験端子との間にあり、かつバイアを含むその前記キャリア信号発生器により出力されるキャリア信号に対応する試験信号を、前記少なくとも一つの試験端子に与えることが出来る信号パスとを含み、
試験されるモジュールのモジュール端子が前記試験端子に接触しているとき、試験される前記モジュールの前記集積部品に含まれる前記負荷変調手段が、前記試験信号を負荷変調させることが出来る、
試験装置に関する。
【０００２】
本発明は、請求項６のモジュールを試験する方法にも関する。
【０００３】
【従来の技術】
第一段落に記載される種類の試験装置は、本出願人により開発され、販売されているので、これは既知である。この既知の試験装置は、本質的に、キャリア信号発生器を含む試験ステーションと、その試験ステーションに導電的に接続されている第一転送コイルと、第一転送コイルに誘導的に結合されているが、導電的には接続されていない第二転送コイルとから成り、当該第二転送コイルのコイル端部が、相対的に長いリード線を介して試験装置の2つの試験端子に接続されている。このように、キャリア信号発生器と既知の試験装置の試験端子の間の単一信号パス内には、キャリア信号発生器によって生成されるキャリア信号に対応する試験信号を試験端子に加えるために、キャリア信号発生器と試験端子の間に導電接続が形成されないように誘導的にのみ結合されている2つの転送コイルが挿入されている。従って、この既知の試験装置は、モジュールのみのディジタル機能の試験、すなわち、モジュールからデジタルデータを試験装置に正しく転送することができるか否かを検査する場合にしか適していない。モジュールの他の重要なアナログ特性値が、このようなモジュールの正しい動作に必要な範囲の範囲内に存在しないにもかかわらず、この種類の試験は、肯定結果を与える場合がある。従って、このようなモジュールの組み込みの後の動作の間に、データキャリヤに障害が発生したり、正しい動作が得られないことが起こる。したがって、この既知の試験装置の試験の可能性は、限られている。
【０００４】
本発明の目的は、前述の制限と問題を改善しまたは除去し、かつかなり拡張された試験の可能性を提供する改良された試験装置を実現させることである。
本発明の別の目的は、改良された方法によって製造されるモジュールが不利な障害を含まないように、試験方法を改善することである。
この目的を達成するために、本発明は、コンタクトレス通信に対するデータキャリヤと共に使用されるように構成されていて、かつ集積部品、２つの転送手段端子に接続するための２つのモジュール端子を含むモジュールに、少なくとも一つの試験動作を実行するように構成されている試験装置であって、
それぞれを、試験されるモジュールのモジュール端子に接触させることができる、２つの試験端子と、
キャリア信号を生成させることができるキャリア信号発生器と、
前記キャリア信号発生器と少なくとも一つの試験端子との間にあってそれを介して、前記キャリア信号発生器により出力されるキャリア信号に対応する試験信号を、前記少なくとも一つの試験端子に与えることが出来る信号パスとを含み、
試験されるモジュールのモジュール端子が前記試験端子に接触しているとき、試験される前記モジュールの前記集積部品に含まれる負荷変調手段が、前記試験信号を負荷変調させることが出来る試験装置において、
前記信号パスは前記キャリア信号発生器を乗算器、増幅器およびインピーダンスを介して少なくとも１つのテスト端子に接続され、前記インピーダンスは前記少なくとも１つのテスト端子の直前に配置され、そして、
少なくとも一つの検出デバイスが、少なくとも一つの試験端子に接続されていて、その検出デバイスが、前記少なくとも一つの試験端子に与えることができる前記試験信号を使用して、そのモジュール端子により前記試験端子と接触している試験されるモジュールのアナログ特性値を決定するように構成されている、ことを特徴とする試験装置を提供する。
【０００５】
また、本発明は、コンタクトレス通信に対するデータキャリヤと共に使用されるように構成されていて、かつ集積部品、２つの転送手段端子に接続するための２つのモジュール端子を含むモジュールの試験方法であって、前記モジュールに対し２つの試験端子を含む試験装置により試験動作を行うさいに、
前記モジュールの各モジュール端子を、前記試験装置の試験端子に接触させ、
キャリア信号を、前記試験装置のキャリア信号発生器により生成させ、
前記キャリア信号発生器により出力されるキャリア信号に対応する試験信号を、前記キャリア信号発生器と少なくとも１つの試験端子との間に位置する信号パスを介して、前記少なくとも一つの試験端子に与え、
試験されるモジュールのモジュール端子が前記試験端子に接触しているときに、試験される前記モジュールの前記集積部品に含まれる負荷変調手段により、前記試験信号を負荷変調させる、モジュールの試験方法において、
前記信号パスは前記キャリア信号発生器を乗算器、増幅器およびインピーダンスを介して少なくとも１つのテスト端子に接続され、前記インピーダンスは前記少なくとも１つのテスト端子の直前に配置され、そして、
前記少なくとも一つの試験端子に与えることができる前記試験信号を使用して、そのモジュール端子により前記試験端子と接触している試験されるモジュールのアナログ特性値を、少なくとも一つの試験端子に与えることが出来る前記試験信号を使用する間に、検出することを特徴とする試験方法。
【０００６】
相対的に僅かな手段を付加するのみで、本発明のステップにより、確実に、モジュールのディジタル機能のみならず他の機能、すなわち、ロジックセクション、モジュールのディジタルセクションおよび記憶セクションの正しい動作、そしてモジュールの少なくとも一つの特に重要なアナログ特性値も試験することができる。否定試験結果の場合不良モジュールを排除し、その結果、不良品のデータキャリヤを避けることが出来るので、組み込む前またはデータキャリヤの使用前に、モジュールの機能が正常であることを知ることが、重要であると言う理由から、モジュールの機能試験は、非常に重要である。
【０００７】
本発明の試験装置および方法に対しては、それぞれ、請求項2および請求項6において開示されているステップも採用することが非常に有利であることが、判明している。モジュールの正しい機能の試験の間、モジュールの入力容量の試験が、特に重要なステップを構成する。その理由は、モジュールのデータキャリヤへの組み込み後、モジュールの入力容量が、例えば、データ搬送波の送信コイルと共に、並列共振回路を形成し、そして最適なデータ転送を確実にするために当該回路の共振周波数が、正確に定義された周波数範囲になければならないからである。
【０００８】
試験装置および方法の特に単純で信頼できる実施例は、それぞれ、請求項3および請求項8において開示される特性を有する。
【０００９】
加えて、請求項4および請求項9において開示されるステップが、それぞれ、本発明の試験装置および方法に採用される場合には、非常に有利であることが判明している。負荷変調の間、モジュールによって達成させることができる変調指数の試験は、モジュールが正しく機能するか否かの試験に対して非常に重要なステップを構成する。これは、変調指数が低すぎる時には、エラーのない完全なデータ転送が保証されず、一方、変調指数が高すぎる場合には、負荷変調手段によってデータキャリヤ内に過度の電力消費が生じてしまうからである。このような受動データキャリヤが、転送されるキャリア信号から必要なパワーをこのようなデータキャリヤに導出するので、いわゆる受動データキャリヤの場合、これは、特に重要なアスペクトとなる。
【００１０】
前述のそして他の本発明の態様は、以下に記載する実施例から明らかになるであろう。
【００１１】
【発明を実施するための形態】
本発明は、以下に、図面に示される実施例を基に、しかしながら、それらに制限されること無く、詳細に記述される。
【００１２】
図1は、本発明の試験装置1の第一実施例のブロック図を示す。試験装置1は、モジュール2に少なくとも1つの試験演算（この場合は2つの試験演算）を実行するように構成されている。
【００１３】
モジュール2は、コンタクトレス通信を目的とするデータキャリヤ（図示されていない）に使用されるように構成されている。このようなデータキャリヤは、モジュール2および加えて、書き込み／読取り局とコンタクトレス通信を行う転送手段を含む。この転送手段は、容量的に動作させることも出来るが、誘導的に動作する転送コイルによって構成するのが好ましい。このような転送コイルは、モジュール2の2つのモジュール端子に接続させる2つのコイル端子を有する。
【００１４】
図1のモジュール2は、集積部品（IC）4が接続されていて、かつ2つのモジュール端子、すなわち、第一モジュール端子5および第二モジュール端子6が設けられている基板3を含む。第一モジュール端子5は、第一導電接続7により、第一IC端子8に接続されていて、かつ第二モジュール端子6は、第二導電接続9により、第二IC端子10に接続されている。
【００１５】
集積部品4は、2つのモジュール端子5および6により集積部品4に加えられる非変調キャリア信号を負荷変調させることができる（図示しない）負荷変調手段を含む。このようなステップ自体は、既知である。この点については、例えば、特許文献US 5,345,231 AおよびEP 0 845 751 Alを参照されたい。これらの特許文献は、両者ともデータキャリヤの負荷変調手段（トランスポンダとも呼ばれる）を詳細に説明しているので、これらの手段についてはここでは詳しく述べない。
【００１６】
試験装置1は、例えば、マイクロコンピュータによって構成、または、例えば、アナログ電子制御回路によって実現することができる制御手段11を含む。制御手段11は、ここでは詳しく述べない一連のコントロールタスクを実行する。制御手段11は、試験装置1の2つの試験動作を起動させる機能も有する。この目的のために、制御手段11は、2つの試験動作起動信号SET1およびSET2を生成しかつ出力するように構成されている。第一試験動作起動信号SET1は、試験されるモジュール2の入力容量の値を決定する試験動作を起動させることができる。第二試験動作起動信号SET2は、試験装置1により出力される試験信号TSの負荷変調によって生じる変調指数を、試験されるモジュール2の負荷変調手段により決定し、かつ試験されるモジュール2からのおよび試験されるモジュール2への正しいデータ転送を決定することができる。
【００１７】
試験装置1は、2つの試験端子（すなわち、第一試験端子12および第二試験端子13）を含む。2つの試験端子12および13の各々は、図1に示されるように、試験されるモジュール2の各モジュール端子5および6に線図的に示された試験プローブによって接触させることができる。
【００１８】
試験装置1は、キャリア信号周波数f0を有する正弦波発振の形態のキャリア信号CSを発生させることができるキャリア信号発生器14も含む。このようなキャリア信号発生器14は、例えば、キャリア信号発生器14の動作周波数を安定化させかつ制御するために使用されるPLL回路を含み、これにより動作周波数に対応するキャリア信号CSのキャリア信号周波数f0を安定化させそして制御することができる。
【００１９】
試験装置1は、各”0”ビットを表す信号セグメントと各”1”ビットを表す信号セグメントとから成るデータ信号DSを発生させることが出来るデータ信号発生器15を含む。データ信号発生器15は、値V1の一定のDC電圧レベルを有するデータ信号DSを出力するようにも構成されている。データ信号発生器15は、2つの制御入力16および17を含む。制御手段11は、第一制御入力16に第一試験動作起動信号SET1を、第二制御信号入力端17に第二試験動作起動信号SET2を供給することができる。
【００２０】
試験装置1は、第一DC電圧発生器18および第二DC電圧発生器19も含む。第一データ電圧発生器18は、正規化変動範囲にあるDC電圧VHIを生成しそして出力する。第二DC電圧発生器19は、正規化変動範囲にあるDC電圧VLOを生成しそして出力するようにも構成されている。2つのDC電圧発生器18および19の後ろには、相対的に高いDC電圧VHIが、第一入力端21を介して供給され、そして相対的に低いDC電圧VLOが、第二入力端22を介して供給されるアナログスイッチ20が続く。アナログスイッチ20は、アナログスイッチ20にデータ信号DSを供給することができる制御入力端23も含む。アナログスイッチ20は、制御入力端23に与えられるデータ信号DSが高いレベルを有する場合、その第一入力端21に与えられる相対的に高いDC電圧VHIをその出力端24に送り、そして、制御入力端23に与えられるデータ信号DSが低レベルを有する場合、その第二入力端22に与えられる相対的に低いDC電圧VLOをその出力端24に送るような態様に構成されている。アナログスイッチ20は、その出力端24に制御信号SSを出力する。
【００２１】
試験装置1は、第一入力端26を介して、キャリア信号発生器14によるキャリア信号CS出力が、そして第二入力端27を介して、アナログスイッチ20により出力される制御信号SSが、供給される乗算器25も含む。乗算器25は、受信信号を乗算しそして乗算器信号MSをその出力端に出力する。乗算器信号MSは、乗算器信号MSを増幅しそしてその出力端29に増幅器信号ASを出力することができる増幅器28の入力端に与えることができる。
【００２２】
オーム直列抵抗31の第一抵抗端子30が、増幅器28の出力端29に接続されていて、その第二抵抗端子32は、試験装置1の第一試験端子12に接続されている。増幅器信号ASに対応する、試験信号TSは、直列抵抗31を介して第一試験端子12に与えることができる。
【００２３】
試験装置1は、このように、キャリア信号発生器14と第一試験端子12の間に延在し、乗算器25、増幅器28そして直列抵抗31を含み、そしてキャリア信号発生器14によって出力されるキャリア信号CSに対応する試験信号TSを第一試験端子12に与えることが出来る信号パス33、を含む。試験端子12と13がモジュール2のモジュール端子5と6に接触している場合、試験されるモジュール2の集積部品に含まれる負荷変調手段は、試験信号TSを負荷変調させることができる。
【００２４】
図に示されているように、図1の試験装置1において、信号パス33は、導電状態となるように構成されていて、そして直列抵抗31が、第一試験端子12の直前に接続されているインピーダンスとして信号パス33に含まれている。インピーダンスとしてオーム直列抵抗31を用いることは、実際問題として最も魅力的なそして経済的な解決法であることが判明した。しかしながら、キャパシタをインピーダンスとして使用した実際の試験によっても、適切な結果が得られていることに注目すべきである。キャパシタに加えて、コイル（インダクタンス）も、インピーダンスとして用いることができる。
【００２５】
試験装置1の場合、試験端子、すなわち、第一試験端子12には、2つの検出デバイス34および35も接続されていることが好ましい。これらの検出デバイスは、第一試験端子12に与えることができる試験信号TSを利用する間、モジュール端子5および6が試験端子12および13と接触している、試験されるモジュール2の各アナログ特性値Cまたはmを決定するように構成されている。試験装置1には、第一試験端子12に接続されていて、かつ第一試験端子12に与えることができる試験信号TSを利用する間、そのモジュール端子5および6により、試験端子12および13に接触している試験されるモジュール2の正しいディジタル機能を、検出するように構成されている第三検出デバイス36も設けられている。
【００２６】
第一検出デバイス34は、試験されるモジュール2のモジュール端子5および6の間に存在する入力容量の値Cを決定するように構成されている。第一検出デバイス34は、第一信号入力端37、第二信号入力端38および制御入力端39を含む。制御手段11は、第一試験動作の実行に応じて、第一検出デバイス34を起動させる第一試験動作起動信号SET1を制御入力端39に供給することができる。
【００２７】
第一検出デバイス34の第一信号入力端37は、第一試験端子12から離れている直列抵抗31の第一抵抗端子30に接続されている。第一検出デバイス34の第二信号入力端38は、第一試験端子12に接続されている、直列抵抗31の第二抵抗端子32に接続されている。このようにして、直列抵抗31の2つの抵抗端子30および32の各々に発生する信号ASおよびTSを、検出デバイス34に与えることが、達成出来る。
【００２８】
第一検出デバイス34は、直列抵抗31の2つの抵抗端子30および32に発生し、かつ第一検出デバイス34に与えられる2つの信号ASおよびTSによる入力容量の値Cを決定するように構成されている。この目的のために、第一検出デバイス34は、第一信号入力端37に続く第一演算増幅器40と、第二信号入力端38に続く第二演算増幅器41を含む。2つの演算増幅器40および41は、2つの信号ASおよびTSのレベルをバッファする機能を有する。第一演算増幅器40の後には、第一ピーク値整流素子42が続く。第二演算増幅器41の後には、第二ピーク値整流素子43が続く。2つのピーク値整流素子42および43は、2つの演算増幅器40および41による信号出力を整流する。第一ピーク値整流素子42は、第一DC電圧DC1を出力する。第二ピーク値整流素子43は、第二DC電圧DC2を出力する。第一DC電圧DC1は第一アナログデジタル変換器44に与えることができ、第二DC電圧DC2は第二アナログデジタル変換器45に与えることができる。2つのアナログデジタル変換器44および45は、DC電圧DC1およびDC2をAD変換し、そして各デジタル量DV1およびDV2を、それぞれ、第一検出デバイス34の演算装置46に出力する。演算ユニット46は、受信されたデジタル量DV1およびDV2を基に入力容量Cを計算するように構成されている。決定された入力容量Cの値を示すことができる第一表示手段47は、第一検出デバイス34の演算ユニット46に接続されている。演算ユニット46には、他の手段、例えば、入力容量Cの値が所定範囲外にあることの検出に応じて警告信号を出力する信号発生手段、または試験結果が否定的な場合、試験されたモジュール2を確実に拒絶するモジュール拒絶手段を接続しても良い。
【００２９】
第二検出デバイス35は、負荷復調手段により生じ、かつこのようなモジュールのモジュール端子5および6の間に発生する試験されるモジュール2の変調指数の値mを決定するように構成されている。第二検出デバイス35は、信号入力端48および制御入力端49を含む。制御手段11は、第二検出デバイス35に第二試験動作を起動させるために制御入力端49に第二試験動作起動信号SET2を供給することができる。
【００３０】
第二検出デバイス35の信号入力端48は、第一試験端子12から、試験されるモジュール2の負荷変調手段によって負荷変調される試験信号TSBを受信することができる。負荷変調に対応して、負荷変調された試験信号TSBは、2つの異なった信号レベルを有する。以下に詳細に述べられるように、第二検出デバイス35は、負荷変調試験信号TSB内に発生するこれらの2つの信号レベルに基づいて、変調指数mを決定するように構成されている。
【００３１】
決定された変調指数の値mを示すように構成されている第二表示手段50が、第二検出デバイス35に接続されている。第二表示手段50に加えて、他の手段、例えば、警告信号生成手段およびモジュール拒絶手段を、第二検出デバイス35に接続することも出来る。
【００３２】
第三検出デバイス36は、試験されるモジュール2の正しいディジタル動作を決定するように構成されている。換言すれば、第三検出デバイス36は、試験されるモジュール2が、それに与えられるデータを正しく認識出来るか否か、およびこのような受信データの認識の後、データを正しく出力出来るか否かを決定することができる。
【００３３】
第三検出デバイス36は、信号入力端51および制御入力端52を含む。制御手段11は、第二検出デバイス35に加えて、第三検出デバイス36にも第二試験動作を起動させるために制御入力端52に第二試験動作起動信号SET2を供給することができる。第三検出デバイス36の信号入力端51は、第二検出デバイス35の信号入力端48と同様に、負荷変調試験信号TSBを受信することができる。
【００３４】
第三検出デバイス36は、第三検出デバイス36の信号入力端51に与えられ、かつマンチェスター符号に準拠して負荷変調される試験信号TSBを供給することができる、負荷変調試験信号TSBを復調させる復調手段53を含む。この復調手段53は、復調されたデータ信号DDSを出力端54に出力することができる。この信号は、第三検出デバイス36の試験手段56の入力端55に与えることができる。試験手段56は、それに与えられる復調されたデータ信号DDSを試験するように構成されている。
【００３５】
試験手段56には、所定のリクエストデータ信号DS、すなわち、所定のビットパターンを有し、かつ試験されるモジュール2の所定の応答データ信号を出力することが出来るデータブロックを、例えば、データ信号発生器15によって、供給することができる。このリクエストデータ信号により、試験信号TSの負荷変調が、当該所定の応答データ信号に準拠して行われ、そして試験されるモジュール2のディジタル動作が正しい場合、所定の負荷変調パターンを示す負荷変調試験信号TSBが、第三検出デバイス36に与えられ、復調手段53によるその復調の後、当該負荷変調キャリア信号により、所定の復調化されたデータ信号DDSが発生する。試験手段56は、次いで、復調されたデータ信号DDSが、データ信号発生器15により試験手段に与えられるリクエストデータ信号DSに対応する期待される参照データ信号に対応するか否かを試験する。
【００３６】
試験手段56が、試験されるモジュール2の正しく復調されたデータ信号DDS、従って正しいディジタル機能を検出したときには、この肯定試験結果を試験手段56に接続されている第三表示手段57により示すことができる。2つの試験動作の実行中の試験装置1の動作を、以下に詳細に述べる。
【００３７】
試験されるモジュール2の入力容量の値Cを決定する第一試験動作を開始するために、試験装置1が、例えば、手動でまたは自動的に起動される。続いて、制御手段11は、第一試験動作起動信号SET1を、データ信号発生器15と第一検出デバイス34に出力する。これによって、以下に後述されるように図2A-2Gに示される試験装置1の信号波形が生じる。
【００３８】
第一試験動作起動信号SET 1の受信の後、データ信号発生器15は、値V1のDC電圧により形成される図2Aに示されるデータ信号DSを出力する。このデータ信号DSは、アナログスイッチ20に与えられ、その結果、アナログスイッチ20は、より高いDC電圧VHIにより形成される図2Bに示さる制御信号SSを出力する。図2Bに示される制御信号SSは、キャリア信号発生器14により出力されるキャリア信号CSを受信する乗算器25に与えられ、その結果、この乗算器は、その出力端に図2Cの乗算器信号MSを出力する。この乗算器信号MSは、値V2のピーク間振幅を有する。図2Dに示される増幅器信号ASが、増幅器28の出力端29、従って直列抵抗31の第一抵抗端子30で、値V3のピーク間振幅を有するように、乗算器信号MSは、増幅器28により増幅される。図2Dに示される増幅器信号ASは、直列抵抗31と試験されるモジュール2の入力容量により形成される抵抗性/容量性の電圧分圧器によって、電圧分割され、その結果、値V4のピーク間振幅を有しているこの電圧分割により得られた試験信号TSが、直列抵抗31の第二抵抗端子32に発生する。
【００３９】
第一抵抗端子30に現れる増幅器信号ASは、第一試験動作起動信号SET1により起動される第一検出デバイス34の第一信号入力端37に与えられる。第二抵抗端子32に現れる試験信号TSは、第一検出デバイス34の第二信号入力端38に与えられる。従って、図2Fに示されるDC電圧DC1が、第一ピーク値整流素子42の出力端に現れ、そして図2Dに示されるDC電圧DC2が、第二ピーク値整流素子43の出力端に現れる。DC電圧DC1は、このとき、増幅器信号ASのピーク間振幅V3に対応する値V5を有する。DC電圧DC2は、この時、試験信号TSのピーク間振幅V4に対応する値V6を有する。続いて、2つの値V5およびV6はAD変換され、その後、このようにして得られたデジタル量DV1とDV2は、演算ユニット46に与えられ、演算ユニット46が入力容量Cの値を算出し、その後、この値Cは、第一表示手段47によって表示される。
【００４０】
第二試験動作を始めるために、制御手段11は、第二試験動作起動信号SET2をデータ信号発生器15、第二検出デバイス35および第三検出デバイス36に出力する。これに対答して、図3A-3Fに示される信号が、以下に詳細に述べられるように、試験装置1内に発生する。第二試験動作起動信号SET2の受信の後、データ信号発生器15は、時点T0から開始し、そしてこの場合"1"ビットと"0"ビットの不変の遷移から成る、図3Aの左側に示されるデータ信号DSを出力する。データ信号DSは、試験されるモジュール2が、非常に良く定義された応答データ信号を出力することを要求される、リクエストデータ信号を構成する。リクエストデータ信号は、アナログスイッチ20の制御入力端23に与えられ、その結果、アナログスイッチ20の出力端24が、図3Bの左側に示されかつその振幅値がVHIとVLOの間を交互に変化する制御信号SSを出力する。制御信号SSは、キャリア信号CSも受信する乗算器25に与えられ、その結果、乗算器25の出力端は、図3Cの左側に示される乗算器信号MSを出力する。乗算器信号MSの結果として、図3Dの左側に示される増幅器信号ASが、直列抵抗31の第一抵抗端子30に現れ、そして図3Eの左側に示される試験信号TSが、直列抵抗31の第二抵抗端子32に現れる。乗算器信号MSに関して、この信号が、ピーク間振幅V2とV7の間を交互に変化することも注目される。増幅器信号ASは、ピーク間振幅V3とV8の間で交互に変化する。試験信号TSは、ピーク間振幅V4とV9の間で交互に変化する。
【００４１】
図3Eの左側に示される試験信号TSは、試験されるモジュール2に与えられ、そして所定の応答データ信号、つまり所定のデータシーケンスまたは所定のデータブロックに対応する応答データ信号をモジュール2に出力させる。試験されるモジュール2またはその集積部品4は、次いで、そこに含まれる負荷変調手段を使用して、所定の応答データ信号に準拠してそのモジュール端子5および6に与えられる試験信号の負荷変調を実行する。
【００４２】
この目的のために、データ信号発生器15は、第二試験動作の間、図3Aの右側に示されていてかつここでも値V1のDC電圧から成るデータ信号DSを時点T1から出力する。この結果、アナログスイッチ20の出力端24は、図3Bの右側に示されいてかつ定数値VHIを有する制御信号SSを出力する。この結果、乗算器25の出力端は、図3Cの右側に示されていてかつピーク間振幅V2を有する乗算器信号MSを出力する。増幅器信号ASおよび試験信号TSが再度得られるように、乗算器信号MSは、増幅器手段28によって増幅される。
【００４３】
図3Dおよび図3Eの右側に示されるように、増幅器信号ASおよび試験信号TSは、もはや非変調のままでは無く、試験されるモジュールの負荷変調手段による負荷変調により負荷変調されるので、第一抵抗端子30に現れる増幅器信号は、負荷変調増幅器信号ASBとなり、かつ第二抵抗端子32に現れる試験信号は、負荷変調試験信号TSBとなる。負荷変調のため、負荷変調増幅器信号ASBのピーク間振幅は、値V3と値V10の間で交互に変化し、かつ負荷変調試験信号TSBの振幅は、値V4と値V11の間で交互に変化する。
【００４４】
図3Eの右側に示される負荷変調試験信号TSBは、試験装置1の第三検出デバイス36と第二検出デバイス35に与えられる。
【００４５】
2つのピーク‐ピーク値V4およびV11に基づいて、第二検出デバイス35は、変調指数を決定し、その後、変調指数の値mは第二表示手段50によって表示される。
【００４６】
第三検出デバイス36の場合、受信された負荷変調試験信号TSBは、復調手段53によって復調され、その後、図3Fに示される復調されたデータ信号DDSが得られる。復調されたデータ信号DDSは、試験手段56に与えられて、正当性が試験される。試験手段56が正しく復調されたデータ信号DDSを検出すると、肯定試験結果が第三表示手段57によって表示される。
【００４７】
図3Aを参照した上述の場合、データ信号発生器15は、"1"ビットが、所定の信号持続時間と高振幅を有する第一信号セグメントにより表され、"0"ビットが、同じ信号持続時間を有するがより低い振幅を有する第二信号セグメントにより表されていて、そこの第一および第二の信号セグメントが、互いに直接連続している、データ信号DSを出力する。しかしながら、これに代えて、データ信号発生器15が、"1"ビットが、所定の第一信号持続時間および所定の振幅の第一信号セグメントにより表され、"0"ビットが、異なった、例えば、第一信号持続時間と比較するとより短い持続時間と同じ振幅を有する第二信号セグメントにより表され、かつ第一および第二信号セグメントが定数長のポーズセグメントにより互いに分離されているデータ信号DSを出力することも、可能である。
【００４８】
ここで記述した試験装置の場合、試験されるモジュール2の2つの重要なアナログ特性値、すなわち、このようなモジュール2の入力容量の値Cおよびこのようなモジュール2の変調指数の値mを、決定することが容易に達成できる。加えて、このようなモジュール2のディジタル機能も、また、試験装置1によって容易に確認することができる。本発明は、ここで記述された実施例に制限されない。試験装置を、また、他のコンポーネントによって構成しても良い。さらに、試験装置が、また、別の検出デバイスを含んでいても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の試験装置の一実施例のこのコンテックス内の重要な部分のブロックダイアグラムを示す。
【図２】図2G〜2Aは、試験されるモジュールの入力容量の値を決定する試験動作の実行中に、図1の試験装置において発生する信号の波形を示す。
【図３】図3F〜3Aは、試験装置により出力される試験信号の負荷変調によって生成される変調指数を、試験されるモジュールの負荷変調手段により決定し、かつ試験されるモジュールへのおよびそれからの正しいデータ転送を決定する試験の実行中に、図1の試験装置に発生する信号波形を示す。
【符号の説明】
1  試験装置
2  モジュール
11  制御手段
14  キャリア信号発生器
15  データ信号発生器
18  第一DC電圧発生器
19  第二DC電圧発生器
23  アナログスイッチ
26  乗算器
28  増幅器
34  第一検出デバイス
35  第二検出デバイス
36  第三検出デバイス
【図１】
0004306966.tif 000002
【図２】
0004306966.tif 000003
【図３】
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