(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源手段と、前記光源手段から出射された光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された光束を被走査面上に結像させる複数の結像光学素子と、前記複数の結像光学素子の間の光路中に配置されたミラーと、を備えた走査光学装置の組立方法であって
前記偏向面と前記ミラーとの間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置し、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置せず、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に調整用光学素子を配置し、前記調整用光学素子を通過した光束が結像する位置に検出手段を配置した状態において、前記被走査面上における走査線の高さの誤差を前記検出手段により検出し、前記検出手段にて検出された信号に基いて前記ミラーを前記ミラーの長手方向と平行な軸を回転軸として回転させることで、前記被走査面上における走査線の高さを調整し、その後、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子を前記走査光学装置に取り付けることを特徴とする走査光学装置の組立方法。
【請求項２】
光源手段と、前記光源手段から出射された光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された光束を被走査面上に結像させる複数の結像光学素子と、前記複数の結像光学素子の間の光路中に配置されたミラーと、を備えた走査光学装置の組立方法であって
前記偏向面と前記ミラーとの間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置し、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置せず、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に調整用光学素子を配置し、前記調整用光学素子を通過した光束が結像する位置に検出手段を配置した状態において、前記被走査面上における走査線の傾きの誤差を前記検出手段により検出し、前記検出手段にて検出された信号に基いて前記ミラーを前記ミラーの短手方向と平行な軸を回転軸として回転させることで、前記被走査面上における走査線の傾きを調整し、その後、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子を前記走査光学装置に取り付けることを特徴とする走査光学装置の組立方法。
【請求項３】
前記光源手段は、複数の光束を出射しており、前記光源手段から出射した複数の光束にて前記被走査面上に同時に複数の走査線を形成していることを特徴とする請求項１又は２に記載の走査光学装置の組立方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は走査光学装置の組立方法に関し、特に被走査面（像担持体面）上における走査線の高さ（副走査方向の走査線の位置）又は／及び傾きを偏向手段と被走査面との間に配した折り返しミラーにより調整するようにした、例えば電子写真プロセスを有するレーザービームプリンターやデジタル複写機等の装置に好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来よりレーザービームプリンター（ＬＢＰ）やデジタル複写機等に用いられる走査光学装置においては画像信号に応じて光源手段から光変調され出射した光束を、例えば回転多面鏡（ポリゴンミラー）より光偏向器により周期的に偏向させ、ｆθ特性を有する走査光学手段（結像素子）によって感光性の記録媒体（感光ドラム）面上にスポット状に集束させ、その面上を光走査して画像記録を行っている。
【０００３】
図１０はこの種の従来の走査光学装置に要部概略図である。
【０００４】
同図において光源手段としての半導体レーザー９１から出射した発散光束はコリメーターレンズ９２により略平行光束とされ、絞り９４によって該光束（光量）を制限して副走査方向にのみ所定の屈折力を有するシリンドリカルレンズ９３に入射している。シリンドリカル９３に入射した略平行光束のうち主走査断面内においてはそのまま略平行光束の状態で射出する。また副走査断面内においては集束して回転多面鏡（ポリゴンミラー）から成る光偏向器９５の偏向面（反射面）９５ａにほぼ線像として結像している。
【０００５】
そして光偏向器９５の偏向面９５ａで偏向反射された光束はｆθ特性を有する走査光学手段９６により折り返しミラー９８を介して被走査面としての感光ドラム面９７上に導光し、該光偏向器９５を矢印Ａ方向に回転させることによって、該感光ドラム面９７上を矢印Ｂ方向（主走査方向）に光走査している。これにより記録媒体である感光ドラム面９７上に画像記録を行なっている。
【０００６】
同図においては走査光学手段９６の後方に折り返しミラー９８を配置し、該走査光学手段９６からの光束を該感光ドラム面９７側へ光路を折り曲げて、装置全体のコンパクト化を図っている。
【０００７】
尚、本明細書において主走査方向とは偏向走査方向に平行な方向、副走査方向とは偏向走査方向に垂直な方向であり、以後同様とする。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
この種の走査光学装置において構成上の必要性から、走査光学手段を複数の光学素子より構成し、該複数の光学素子の間の光路内に折り返しミラーを配置する場合がある。このような場合、折り返しミラーの下流側（折り返しミラーの配置位置を基準としたとき感光ドラム側）の光学素子に光束が入射するときに、該折り返しミラーの組み付け誤差があると、該光束は光学素子の光軸をはずれた位置に入射することになる。その結果、被走査面上における走査線の高さが所望の位置からずれてしまったり、走査線に傾きを生じさせてしまうといった弊害が生じる。また光学素子の光軸をはずれて光束が入射することにより、被走査面上における結像スポットが回転してしまい、良好なる画像を得ることができなくなるなどの影響も起こる。
【０００９】
さらに仮に折り返しミラーが所望の位置に組み付けられた場合でも、該折り返しミラーの上流側（折り返しミラーの配置位置を基準としたとき半導体レーザー側）の光学部品の単品精度及び組み付け誤差等により、該折り返しミラーの下流側の光学素子に光束が入射するときに該光束は光学素子の光軸をはずれた位置に入射することになり、上記と同様に被走査面上における走査線の高さが所望の位置からずれてしまったり、走査線に傾きを生じさせてしまうといった弊害が生じる。
【００１０】
通常は折り返しミラーの組み付け誤差と、折り返しミラーの上流側の光学部品の単品精度及び組み付け誤差等が同時に起こり得るので、さらに走査線高さ誤差及び傾き誤差を助長させてしまう。
【００１１】
近年、特にカラー複写機やカラーレーザービームプリンタ等においては、装置の高速化の要求から、複数の走査光学装置を用いて画像を形成するカラー画像形成装置が種々提案されている。
【００１２】
しかしながら、例えば上記のような走査線の傾き等が生じている走査光学装置を複数用いた場合、それぞれの傾き方向及び傾き量が一致していれば、各走査線も一致して良好なる画像を得ることができるが、通常はランダムに傾き誤差等が発生するため、各走査線が一致せずに画像における色ずれの要因となる。
【００１３】
また、例えば上記のような走査線の高さ誤差が生じている走査光学装置を複数用いた場合、ランダムに発生している各走査線の高さ誤差に対応して、各走査光学装置の書き込みタイミングを調整することにより、画像形成時に走査線を一致させることは可能であるが、走査線の高さ誤差により感光ドラム面（像担持体面）に対する光束の入射角度がそれぞれ異なることになる。
【００１４】
更なる高速化の要求から複数の光束を発生させるマルチビーム光源を用いたマルチビーム走査光学装置の場合、図１１に示すように感光ドラム面に対する光束の入射角度が大きくなるにつれ、各光束の感光ドラム面に書き込む走査幅Ｌ１，Ｌ２が互いに異なってくる。
【００１５】
また図１２に示すように感光ドラム面に対する光束の入射角がθの時、該光束の延長線と感光ドラム面の中心部との距離（横ずれ量）をｄとすると、入射角θが大きくなるにつれ、横ずれ量ｄも大きくなっていく。
【００１６】
図１３は解像度６００ｄｐｉにおける２ビーム間の入射角度による走査幅の差分の変化量を示す数値例であり、横軸を横ずれ量ｄ、縦軸を片側の走査幅の差分としてのジッタ（Jitter）量としている。同図に示すように横ずれ量に比例して、ジッタ量が増大することが分かる。つまり、この２ビーム間の走査幅の差異に起因して主走査方向におけるジッタが発生し、これが画像に悪影響を及ぼす。そのため、各走査光学装置の走査線の高さ誤差のバラツキにより感光ドラム面に対する入射角度もばらつき、その結果ばらついた主走査方向のジッタが発生するため、画像における色ずれの要因となる。
【００１７】
本発明は走査光学装置における光学部品の単品精度及び組み付け誤差等に起因する被走査面（像担持体面）上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出手段で検出し、該検出された信号に基づいて偏向手段と被走査面との間に配した折り返しミラーの姿勢を調整手段により調整することにより、該走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を抑え、高精細な画像を得ることができる走査光学装置の組立方法の提供を目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明の走査光学装置の組立方法は、光源手段と、前記光源手段から出射された光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された光束を被走査面上に結像させる複数の結像光学素子と、前記複数の結像光学素子の間の光路中に配置されたミラーと、を備えた走査光学装置の組立方法であって
前記偏向面と前記ミラーとの間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置し、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置せず、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に調整用光学素子を配置し、前記調整用光学素子を通過した光束が結像する位置に検出手段を配置した状態において、前記被走査面上における走査線の高さの誤差を前記検出手段により検出し、前記検出手段にて検出された信号に基いて前記ミラーを前記ミラーの長手方向と平行な軸を回転軸として回転させることで、前記被走査面上における走査線の高さを調整し、その後、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子を前記走査光学装置に取り付けることを特徴としている。
【００１９】
請求項２の発明の走査光学装置の組立方法は、光源手段と、前記光源手段から出射された光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された光束を被走査面上に結像させる複数の結像光学素子と、前記複数の結像光学素子の間の光路中に配置されたミラーと、を備えた走査光学装置の組立方法であって
前記偏向面と前記ミラーとの間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置し、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子は光路中に配置せず、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に調整用光学素子を配置し、前記調整用光学素子を通過した光束が結像する位置に検出手段を配置した状態において、前記被走査面上における走査線の傾きの誤差を前記検出手段により検出し、前記検出手段にて検出された信号に基いて前記ミラーを前記ミラーの短手方向と平行な軸を回転軸として回転させることで、前記被走査面上における走査線の傾きを調整し、その後、前記ミラーと前記被走査面との間の光路中に配置される結像光学素子を前記走査光学装置に取り付けることを特徴としている。
請求項３の発明は請求項１又は２の発明において、前記光源手段は、複数の光束を出射しており、前記光源手段から出射した複数の光束にて前記被走査面上に同時に複数の走査線を形成していることを特徴としている。
【００３０】
【発明の実施の形態】
［実施形態１］
図１は本発明の実施形態１の要部斜視図、図２は本発明の実施形態１の副走査方向の要部断面図（副走査断面図）である。
【００３１】
図中、１は光源手段であり、例えば半導体レーザーより成っている。２はコリメーターレンズであり、光源手段１から出射された発散光束（光ビーム）を略平行光束に変換している。４は開口絞りであり、通過光束（光量）を制限している。この開口絞り４の開口部は楕円形状をしており、主走査方向及び副走査方向ともに光束幅が規制され、被走査面７（像但持体面）上におけるスポット形状が所望の大きさになるように、該開口部の大きさが設定されている。３はシリンドリカルレンズ（シリンダーレンズ）であり、副走査方向にのみ所定のパワーを有しており、開口絞り４を通過した光束を副走査断面内で後述する光偏向器５の偏向面５ａにほぼ線像として結像させている。
【００３２】
尚、光源手段１、コリメーターレンズ２、開口絞り４、そしてシリンドリカルレンズ３等の各要素は入射光学手段１１の一要素を構成している。
【００３３】
５は偏向手段としての、例えばポリゴンミラー（回転多面鏡）より成る光偏向器であり、モータ等の駆動手段（不図示）により図中矢印Ａ方向に一定速度で回転している。
【００３４】
６はｆθ特性を有する走査光学手段であり、所定のパワーを有する第１、第２の走査レンズ（ｆθレンズ）（結像光学素子）６ａ，６ｂを有しており、副走査断面内において光偏向器５の偏向面５ａと被走査面７との間を共役関係にすることにより、倒れ補正機能を有している。
【００３５】
８は折り返しミラーであり、第１の走査レンズ６ａと第２の走査レンズ６ｂとの間の光路内に配置されており、入射光束を被走査面７側へ折り曲げている。本実施形態においてはこの折り返しミラー８を用いて後述する検出手段で得られる信号に基づいて被走査面７上における走査線の高さ（副走査方向の走査線の位置）又は／及び傾きを調整手段により調整するようにしている。
【００３６】
７は被走査面としての感光ドラム面（像担持体面）である。
【００３７】
本実施形態において半導体レーザー１から出射した発散光束はコリメーターレンズ２により略平行光束に変換され、開口絞り４によって該光束（光量）を制限してシリンドリカルレンズ３に入射している。シリンドリカルレンズ３に入射した略平行光束のうち主走査断面においてはそのままの状態で射出する。また副走査断面内においては収束して光偏向器５の偏向面５ａにほぼ線像（主走査方向に長手の線像）として結像している。そして光偏向器５の偏向面５ａで反射偏向された光束は第１の走査レンズ６ａ、折り返しミラー８、そして第２の走査レンズ６ｂを介して感光ドラム７面上にスポット状に結像され、該光偏向器５を矢印Ａ方向に回転させることによって、該感光ドラム７面上を矢印Ｂ方向（主走査方向）に等速度で光走査している。
【００３８】
次に本実施形態の被走査面上における走査線の高さ又は／及び傾きの調整方法について図３、図４を用いて説明する。図３は本実施形態の調整時における主要部分の副走査断面図、図４は本実施形態の調整時における光学系の要部概略図である。図３、図４において前記図１、図２に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【００３９】
図中、４１は検出手段であり、１対の検出ユニット（４１ａ，４１ｂ）を有し、該検出ユニット（４１ａ，４１ｂ）により被走査面７上における走査範囲のうち走査中心に対して両側（上下最大画角）の各点（２像高）において該被走査面７上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出している。
【００４０】
検出ユニット（４１ａ，４１ｂ）は各々第２の走査レンズ６ｂに略相当する調整用光学素子（９ａ，９ｂ）と該調整用光学素子（９ａ，９ｂ）によるピント位置、もしくはその近傍に設けた検出素子（センサー）（１０ａ，１０ｂ）とを有している。
【００４１】
本実施形態において被走査面上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出手段４１で検出し、該検出された信号に基づいて、該被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを折り返しミラー８を用いて調整し、次いで該折り返しミラー８の下流側（折り返しミラーの配置位置を基準としたとき感光ドラム側）に第２の走査レンズ６ｂを装置本体に組み付けている。
【００４２】
折り返しミラー８には該折り返しミラー８の長手方向及び短手方向に平行な軸を中心に回転可能になるような調整手段（不図示）が取り付けられている。この調整手段は図５に示すように折り返しミラー８を長手方向に平行な軸８ａを回転軸として回転させることにより、走査線の高さを調整することができる。また調整手段は図６に示すように折り返しミラー８を短手方向に平行な軸８ｂを回転軸として回転させることにより、走査線の傾きを調整することができる。
【００４３】
本実施形態では各検出ユニット（４１ａ，４１ｂ）を調整時のみ配置し、調整用光学素子（９ａ，９ｂ）により光束がセンサー（１０ａ，１０ｂ）面上に結像するように、該センサー（１０ａ，１０ｂ）からの信号に基づいて調整手段により折り返しミラー８の姿勢を調整することによって、被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整している。
【００４４】
本実施形態では上述の如く第２の走査レンズ６ｂに略相当する調整用光学素子（９ａ，９ｂ）を被走査面７上における走査範囲のうち走査中心に対して両側の各点に対応して設けることにより、折り返しミラー８の走査線調整における敏感度を実際の光学系に近づけることができる。また上述の如く調整用光学素子（９ａ，９ｂ）によるピント位置、もしくはその近傍にセンサー（１０ａ，１０ｂ）を配置することにより、２つのセンサー１０ａ，１０ｂで被走査面７上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出することができる。
【００４５】
また本実施形態においては上述の如く第２の走査レンズ６ｂを装置本体に組み付ける以前に走査線の調整を行い、該調整後に第２の走査レンズ６ｂを組み付ける手順を踏んでいる。したがって本実施形態では折り返しミラー８及びその上流側（折り返しミラーの配置位置を基準としたとき半導体レーザー側）の光学部品による単品精度及び組み付け誤差で発生する走査線の高さ誤差及び傾き誤差は調整されることになり、最終的に残る走査線の高さ誤差及び傾き誤差は該折り返しミラー８の下流側の光学部品による単品精度及び組み付け誤差により発生されるもののみとなる。
【００４６】
このように本実施形態において上述の如く走査光学装置における光学部品の単品精度及び組み付け誤差等に起因する被走査面７上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出手段４１で検出し、該検出された信号に基づいて走査光学手段６内に設けた折り返しミラー８の姿勢を調整手段により調整することによって、該走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を抑えることができ、これにより高精細な画像を得ている。
【００４７】
尚、本実施形態では検出手段として１対の検出ユニットを設けたが、それ以上設けても良い。また本実施形態では第１、第２の走査レンズの間に折り返しミラーを設けたが、該第１、第２の走査レンズの前後に設けても本発明は前述の実施形態１と同様に適用することができる。例えば第１、第２の走査レンズの下流側に設けた場合には被走査面上の主走査方向における複数の位置に検出素子を各々設け、該検出素子で検出された信号に基づいて折り返しミラーの姿勢を調整手段により調整して被走査面上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整すれば良い。また本実施形態では単一の光束（シングルビーム）を出射する半導体レーザーを用いた走査光学装置について述べたが、これに限らず、例えば複数の光束（マルチビーム）を出射するマルチビーム半導体レーザーを用いたマルチビーム走査光学装置においても本発明は前述の実施形態１と同様な効果を得ることができる。
【００４８】
［カラー画像形成装置］
図７はこのように調整された走査光学装置を４台同時に使用し、それぞれ異なる感光ドラム面（像担持体面）上に各色毎の画像情報を記録し、カラー画像を形成する例えばカラー複写機やカラーレーザービームプリンター等に用いられるタンデムタイプのカラー画像形成装置の要部概略図である。
【００４９】
同図において１１，１２，１３，１４は各々走査光学装置、２１，２２，２３，２４は各々像担持体としての感光ドラム、３１は搬送ベルトである。
【００５０】
本実施形態におけるカラー画像形成装置は上述の如く４つの走査光学装置１１，１２，１３，１４により各々の変調信号に基づいた光束を用いて潜像を各々対応する感光ドラム２１，２２，２３，２４面上に形成している。例えばＣ（シアン）、Ｍ（マゼンタ）、Ｙ（イエロー）、Ｂ（ブラック）の潜像を対応する感光ドラム２１，２２，２３，２４面上に形成し、その後、記録材に多重転写して１枚のフルカラー画像を形成している。
【００５１】
同図において４台の相対的な走査線の傾き誤差は、各々の折り返しミラー８（８ａ〜８ｄ）の下流側の光学部品による単品精度及び組み付け誤差のみに起因するため、色ずれ許容量に十分に収まり、これにより良好なるカラー画像を形成することができる。また走査線の高さ誤差に関しても同様であり、該走査線の高さ誤差があることによって生じる感光ドラム面に対する入射角度誤差も小さいため、例えばマルチビームを用いたときのビーム間による主走査方向におけるジッタが許容量に十分収まることになる。
【００５２】
このように本実施形態においては上述の如く折り返しミラー８を用いて被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整することにより、例えばこの走査光学装置をカラー画像形成装置に用いたときには色ずれの少ない良好なる画像を得ることができる。
【００５３】
［参考例１］
図８は本発明の参考例１の調整時における副走査方向の要部断面図（副走査断面図）である。同図において前記図３に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【００５４】
本参考例において前述の実施形態１と異なる点は、装置を構成する全ての光学素子を装置本体に組み付けた後に折り返しミラー８によって被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾き調整を行なったことと、該折り返しミラー８の下流側の第２の走査レンズ６ｂ位置、もしくはその近傍に検出手段４１としての２個のセンサー１０ａ，１０ｂを設け、該２個のセンサー１０ａ，１０ｂにより、被走査面７上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出したことである。
【００５５】
即ち、本参考例では光束位置を検出するセンサー１０（１０ａ，１０ｂ）を折り返しミラー８の下流側の第２の走査レンズ６ｂ位置、もしくはその近傍に調整時のみ配置し、副走査断面内において第２の走査レンズ６ｂの略光軸上を光束が通過するように該センサー１０（１０ａ，１０ｂ）からの信号に基づいて折り返しミラー８の姿勢を調整手段により調整することによって、被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整している。
【００５６】
したがって本参考例では折り返しミラー８及びその上流側の光学部品による単品精度及び組み付け誤差で発生する走査線の高さ誤差及び傾き誤差は第２の走査レンズ６ｂ面上で調整されることになる。その結果、被走査面７上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差は該第２の走査レンズ６ｂの組み付け成分のみになることにより、これは十分許容量内に収まり、例えば本装置をカラー画像形成装置に用いたときには色ずれの低減を図ることができる。
【００５７】
またもし調整が行なわれない場合には第２の走査レンズ６ｂの光軸から離れた位置を光束が通過するため被走査面７上におけるスポット形状の乱れ、回転等が発生してしまう。これに対し本参考例では第２の走査レンズ６ｂの略光軸上に光束が通過することにより、スポット形状の乱れ回転等が低減され、被走査面７において良好なるスポットが得られ、高精細な画像を形成することができる。
【００５８】
ただし本参考例における調整方法では、もし第２の走査レンズ６ｂが高さ方向に大きな誤差を持って組み付けられると、該第２の走査レンズ６ｂの略光軸上に光束が入るように調整するために、該第２の走査レンズ６ｂの通過後の光束が被走査面７上において所望の高さ位置よりも大きくずれた位置に入射することになる。このとき被走査面７に対する入射角が大きくなる方向にずれが生じると、マルチビームを用いたときのビーム間における主走査方向におけるジッタが大きくなる。そのため本参考例はシングルビームを用いた走査光学装置及びそれを用いたカラー画像形成装置において好適な調整方法である。
【００５９】
このように本参考例においては上述の如く折り返しミラー８を用いて被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整することにより、例えば本装置をカラー画像形成装置に用いたときには色ずれの少ない良好なる画像を得ることができる。
【００６０】
尚、本参考例では第２の走査レンズ６ｂ近傍に２個のセンサー１０ａ，１０ｂを設けたが、それ以上設けても良い。
【００６１】
［参考例２］
図９は本発明の参考例２の調整時における副走査方向の要部断面図（副走査断面図）である。同図において前記図３に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【００６２】
本参考例において前述の実施形態１と異なる点は、装置を構成する全ての光学素子を装置本体に組み付けた後に折り返しミラー８によって被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾き調整を行なったことと、被走査面７上の主走査方向に検出手段４１としての２個のセンサー１０ａ，１０ｂを設け、該２個のセンサー１０ａ，１０ｂにより、被走査面７上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出したことである。その他の構成及び光学的作用は実施形態１と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【００６３】
即ち、本参考例では光束位置を検出するセンサー１０（１０ａ，１０ｂ）を被走査面７近傍の主走査方向に調整時のみ配置し、光束が被走査面７の略所定の位置を照射するように、該センサー１０（１０ａ，１０ｂ）からの信号に基づいて折り返しミラー８の姿勢を調整手段により調整することによって、該被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整している。
【００６４】
したがって本参考例では光学系全系による光学部品による単品精度、組み付け誤差で発生する走査線の高さ誤差、そして傾き誤差は被走査面７上で調整されることになる。その結果、被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きは、略設計通りの位置に調整されることにより、例えば本装置をカラー画像形成装置に用いたときには色ずれの少ない高精細な画像を形成することができる。また被走査面７に対する入射角のずれも小さいため、マルチビームを用いたときのビーム間における主走査方向におけるジッタも低減され良好に調整される。
【００６５】
ただし本参考例における調整方法では、特に折り返しミラー８の下流側の第２の走査レンズ６ｂを光束が通過する際、該光束は副走査断面において光軸から離れた位置を通る可能性が大きくなる。この第２の走査レンズ６ｂの光軸から離れた位置を光束が通過すると、被走査面７上におけるスポット形状の乱れ、回転等が発生してしまう。したがって本参考例は折り返しミラー８の上流側の光学素子による走査線ずれに対する敏感度の低い系、あるいは厳しい公差が許容される系において好適な調整方法である。
【００６６】
このように本参考例においては上述の如く折り返しミラー８を用いて被走査面７上における走査線の高さ又は／及び傾きを調整することにより、例えば本装置をカラー画像形成装置に用いたときには色ずれの少ない良好なる画像を得ることができる。
【００６７】
尚、本参考例では被走査面７上の主走査方向に２個のセンサー１０ａ，１０ｂを設けたが、それ以上設けても良い。
【００６８】
【発明の効果】
本発明によれば前述の如く走査光学装置における光学部品の単品精度及び組み付け誤差等に起因する被走査面（像担持体面）上における走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を検出手段で検出し、該検出された信号に基づいて偏向手段と被走査面との間に配した折り返しミラーの姿勢を調整手段により調整することにより、該走査線の高さ誤差又は／及び傾き誤差を抑えることができ、これにより高精細な画像を得ることができる走査光学装置を達成することができる。
【００６９】
また本発明によれば上記の走査光学装置を複数用いてカラー画像形成装置を構成することにより、色ズレの少ない良好なるカラー画像を得ることができるカラー画像形成装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施形態１の要部斜視図
【図２】 本発明の実施形態１の副走査断面図
【図３】 本発明の実施形態１の調整時の副走査断面図
【図４】 本発明の実施形態１の調整時の斜視図
【図５】 本発明の実施形態１の走査線の高さ調整を示す図
【図６】 本発明の実施形態１の走査線の傾き調整を示す図
【図７】 本発明の実施形態１のタンデムタイプのカラー画像形成装置の要部概略図
【図８】 本発明の参考例１の調整時の副走査断面図
【図９】 本発明の参考例２の調整時の副走査断面図
【図１０】 従来の走査光学装置の要部概略図
【図１１】 主走査方向におけるジッタの斜視図
【図１２】 像但持体への光束入射の副走査断面図
【図１３】 横ずれ量（入射角）とジッタ量との関係を示す図
【符号の説明】
１ 光源手段（半導体レーザー）
２ コリメーターレンズ
３ シリンドリカルレンズ
４ 開口絞り
５ 偏向手段（回転多面鏡）
５ａ 偏向面
６ 走査光学手段
６ａ 第１の走査レンズ
６ｂ 第２の走査レンズ
７ 被走査面（像但持体面）
８ 折り返しミラー
９（９ａ，９ｂ） 調整用光学素子
１０（１０ａ，１０ｂ） 検出素子（センサー）
１１ 入射光学手段
４１ 検出手段
４１ａ，４１ｂ 検出ユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図４】
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