(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
視準目標から発せられるガイド光により測量機本体を前記視準目標に視準させる測量装置に於いて、測量機本体を水平方向に回転する水平回転機構と、該水平回転機構を制御する制御部と、水平の全方向からのガイド光を検出可能な粗方向検出装置と、受光センサと、該受光センサの水平方向の受光範囲を制限する受光制限手段と、該受光制限手段の位置に前記ガイド光を集光させる焦点を中心に湾曲したシリンダレンズと、前記測量機本体の望遠鏡の視準方向に設けられ、所定角度の範囲のみで前記ガイド光を検出する精密方向検出装置とを具備し、前記制御部は前記粗方向検出装置からの検出結果で前記測量機本体の向きを視準目標に合わせ、前記精密方向検出装置からの検出結果に基づき測量機本体を前記視準目標に視準させる様前記水平回転機構を制御する様構成したことを特徴とする測量装置。
【請求項２】
前記受光制限手段は受光センサの受光面に設けられたマスクである請求項１の測量装置。
【請求項３】
前記受光制限手段は前記シリンダレンズの焦点位置に設けられた絞り板である請求項１の測量装置。
【請求項４】
前記受光制限手段は前記精密方向検出装置内での反射光を遮断する前段絞りを更に有する請求項１の測量装置。
【請求項５】
前記前段絞りは受光面側に向かって段階的に小さくなるスリット孔を複数有する請求項４の測量装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は目標物に対して、目標物を探索し、自動で視準を行える測量装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
測量は、基準点に設置された測量機と測量機が視準する目標点に設置された視準目標（反射鏡、コーナキューブ等）を用いて行われる。
【０００３】
測量機も自動化が進み、ワンマン測量の作業形態が一般化している。
【０００４】
自動化された測量機は、通常視準方向を測定する角度検出器、視準目標迄の距離を測定する光波測量器を具備し、更にワンマン測量を可能とする為、視準目標を検知して追尾する追尾機能を有している。ワンマン測量に於いて作業者は視準目標側におり、視準目標は作業工程に応じて作業者によって移動される。作業者が視準目標を移動させた場合、測量機が視準目標を追尾し、自動的に視準目標を視準する様になっている。
【０００５】
測量機が一度視準目標を視準した後は、視準目標を自動追尾するが、視準可能な範囲は測量機の望遠鏡の視界の範囲に限られる。従って、視準目標を移動させる場合に、視準目標の移動速度が追尾可能な速度であった場合は、追尾は問題なく行われるが、移動速度が追尾可能な速度より大きかった場合、或は視準目標が望遠鏡の視界から外れた場合は、追尾することができなくなる。或は何等かの障害物により、視界が一時遮断された場合等は、測量機は視準目標を失い、追尾することができなくなる。追尾が不能となった場合は、測量機が測量の最初に視準目標を視準する場合と同様、略全周を回転して視準目標の探索を行う。
【０００６】
視準目標の探索は、測量機の全周回転の間に測量機からのレーザ光線が視準目標によって反射された反射光を、測量機が検出することで行う。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
測量機が視準目標の探索を行う場合、望遠鏡が視準目標からの反射光を検出する必要があるが、望遠鏡の視野は狭く、上下角を変化させながら、測量機本体を何回転も全周回転させる必要がある。測量の最初の視準は勿論、作業途中でも前述した理由で、視準目標の探索を行う場合が多々あり、現状では視準目標の探索に時間が掛かることから、視準目標の探索を短時間で能率的に行うことが、ワンマン測量の作業効率を上げる大きな要因となっている。
【０００８】
又、測量機に入射するガイド光は視準目標から直接入射するガイド光だけでなく、測量機に入射し光学系で反射されたガイド光、更にガイド光以外の光も含まれる。光学系で反射されたものはノイズとなって、Ｓ／Ｎ比を低減させる。Ｓ／Ｎ比が低い場合、或はＳ／Ｎ比が受光状態により変化する場合は、受光素子からの受光信号の増幅率を最適となる様に変える必要があり、視準目標の探索に時間が掛かるという問題があった。
【０００９】
本発明は斯かる実情に鑑み、測量機本体を全周回転することなく、直ちに視準目標を検出し、又受光反射光のＳ／Ｎを改善し、最短時間で視準目標を視準できる測量装置を提供するものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、視準目標から発せられるガイド光により測量機本体を前記視準目標に視準させる測量装置に於いて、測量機本体を水平方向に回転する水平回転機構と、該水平回転機構を制御する制御部と、水平の全方向からのガイド光を検出可能な粗方向検出装置と、前記測量機本体の望遠鏡の視準方向に設けられ、所定角度の範囲のみで前記ガイド光を検出する精密方向検出装置とを具備し、前記制御部は前記粗方向検出装置からの検出結果で前記測量機本体の向きを視準目標に合わせ、前記精密方向検出装置からの検出結果に基づき測量機本体を前記視準目標に視準させる様前記水平回転機構を制御する様構成した測量装置に係り、又前記精密方向検出装置は受光センサと、該受光センサの水平方向の受光範囲を制限する受光制限手段と、該受光制限手段の位置にガイド光を集光させる光学手段を有する測量装置に係り、又前記光学手段がシリンダレンズである測量装置に係り、又前記光学手段が焦点を中心に湾曲したシリンダレンズである測量装置に係り、又前記受光制限手段は受光センサの受光面に設けられたマスクである測量装置に係り、又前記受光制限手段は光学手段の焦点位置に設けられた絞り板である測量装置に係り、又前記受光制限手段は前記精密方向検出装置内での反射光を遮断する前段絞りを更に有する測量装置に係り、更に又前記前段絞りは受光面側に向かって段階的に小さくなるスリット孔を複数有する測量装置に係るものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態を説明する。
【００１２】
図１に於いて、既知点Ａに三脚１を介して測量機２が設置され、目標点Ｂにはポール４が立設され、該ポール４に視準目標３が取付けられている。
【００１３】
図２、図４に示す様に、前記測量機２は前記三脚１に取付けられた基板部６と、該基板部６に鉛直軸心を中心に回転可能に設けられた測量機本体７とを具備し、該測量機本体７は更に托架部８と該托架部８に水平軸心を中心に回転可能に支持された望遠鏡９を具備している。
【００１４】
前記托架部８の内部には前記測量機本体７を鉛直軸心の回りに回転（水平回転）させる水平回転機構３８が設けられている。
【００１５】
前記基板部６に設けられた軸受部５５に水平回転軸５６が回転自在に支持され、該水平回転軸５６に前記托架部８の筐体５７が回転自在に取付けられている。前記軸受部５５には水平回転ギア５８が固着され、該水平回転ギア５８には水平回転駆動ギア５９が噛合している。前記筐体５７内部には水平回転モータ６０が設けられ、該水平回転モータ６０の出力軸に前記水平回転駆動ギア５９が嵌着されている。又、前記水平回転軸５６に対して前記水平回転検出器３９が設けられている。該水平回転検出器３９、前記水平回転モータ６０は後述する制御部３７に接続されている。
【００１６】
又、前記托架部８内部には鉛直回転機構６１が設けられている。
【００１７】
前記望遠鏡９は鉛直回転軸６２を介して前記筐体５７に回転自在に支持され、前記鉛直回転軸６２には鉛直回転ギア６３が嵌着され、該鉛直回転ギア６３に鉛直回転駆動ギア６４が噛合している。前記筐体５７内部に設けられた鉛直回転モータ６５の出力軸に前記鉛直回転駆動ギア６４が嵌着されている。又、前記鉛直回転軸６２に対して傾動角検出器６６が設けられ、該傾動角検出器６６及び前記鉛直回転モータ６５は前記制御部３７に接続されている。
【００１８】
前記水平回転機構３８により、前記測量機本体７を水平回転させると共に前記水平回転検出器３９により水平方向の角度が検出される様になっており、前記鉛直回転機構６１により前記望遠鏡９を鉛直回転（傾動）させると共に前記傾動角検出器６６により、傾動角が検出される様になっている。
【００１９】
前記水平回転検出器３９、前記傾動角検出器６６の検出結果は、前記制御部３７に入力され、前記水平回転機構３８、鉛直回転機構６１は制御部３７により駆動が制御される。
【００２０】
前記測量機本体７からは前記視準目標３に向け、測距光束１１が発せられる。該測距光束１１は視準目標３に設けられた反射部（コーナキューブ１２）によって反射される。前記測量機本体７はコーナキューブ１２からの反射光束を受光し、前記既知点Ａと目標点Ｂ迄の距離を測定する。
【００２１】
前記視準目標３は前記測量機２に向け、追尾用のガイド光１５を発する投光装置１４を具備している。
【００２２】
該投光装置１４について、図５により説明する。
【００２３】
該投光装置１４は、前記視準目標３の背面に設けられた操作部１６と、投光制御１７とを主な構成とし、該投光制御１７は更に発光を制御するＣＰＵ１８、該ＣＰＵ１８と前記操作部１６とを接続するインタフェース１９、前記ＣＰＵ１８に接続される変調回路２３、該変調回路２３からの信号に基づき発光素子２１を駆動発光させるドライブ回路２０、前記発光素子２１から射出されるレーザ光線を集光させ、前記ガイド光１５として射出する投光レンズ２２によって構成されている。
【００２４】
前記測量機本体７は後述する視準目標探索手段を具備しており、該視準目標探索手段は前記投光装置１４から発せられる前記ガイド光１５を検出し、該ガイド光１５が発せられている位置に、即ち視準目標に測量機本体７を視準させるものである。
【００２５】
前記視準目標探索手段は、粗方向検出装置２４と精密方向検出装置２５とから構成される。
【００２６】
先ず、前記粗方向検出装置２４について図２、図３、図６を参照して説明する。
【００２７】
前記托架部８の上面、底面を除く４面に、受光検出部２６，２７，２８，２９を設ける。受光検出部２６，２７，２８，２９は同一の構成であるので、以下は受光検出部２６について説明し、受光検出部２７，２８，２９についての説明は省略する。
【００２８】
前記受光検出部２６は、概略受光窓３１、受光素子３２、電気フィルタ回路３３、復調回路３４、Ａ／Ｄ変換回路３５とから構成されている。
【００２９】
前記受光検出部２６，２７，２８，２９からの信号は、方向検出演算部３６に入力され、該方向検出演算部３６は前記受光検出部２６，２７，２８，２９からの信号の強弱により、大まかな方向を検出し、検出結果を制御部３７に入力する。該制御部３７は前記基板部６に内蔵される水平回転機構３８を駆動し、前記望遠鏡９の光軸を前記視準目標３の方向に向ける。
【００３０】
前記精密方向検出装置２５について、図２、図３、図６、図７、図８を参照して説明する。
【００３１】
前記望遠鏡９の対物レンズが設けられている面と同方向の托架部８の面に精密受光検出部４０が設けられている。該精密受光検出部４０は受光窓を兼ねるシリンダレンズ４１、前記ガイド光１５の波長帯を透過するバンドパスフィルタ４２、前記シリンダレンズ４１の焦点位置に設けられた受光素子４３、該受光素子４３にスリット受光面４４を形成する様設けられたマスク４５、電気フィルタ回路４６、復調回路４７、Ａ／Ｄ変換回路４８から主に構成されている。前記シリンダレンズ４１の凸曲面の軸心は鉛直方向に延び、入射する前記ガイド光１５を水平方向に集光させる。尚、電気フイルタ回路４６、復調回路４７、Ａ／Ｄ変換回路４８については、前述した前記電気フイルタ回路３３、復調回路３４、Ａ／Ｄ変換回路３５と同様である。
【００３２】
前記精密受光検出部４０の受光信号は前記方向検出演算部３６に入力される。該方向検出演算部３６は前記精密受光検出部４０からの受光信号が入力されると該受光信号より前記視準目標３の方向を演算する。前記制御部３７は前記精密受光検出部４０からの信号が入力されると共に前記水平回転検出器３９からの信号が入力され、前記精密受光検出部４０からの信号と前記水平回転検出器３９からの信号に基づき、前記視準目標３の方向を決定し、前記水平回転機構３８を駆動して望遠鏡９の視準方向を最終的に前記視準目標３に合致させる。
【００３３】
以下、作動について説明する。
【００３４】
測量開始時、或は測量途中で追尾不能となった場合、測量機２の動作モードが探索モードとなる。
【００３５】
探索モードは、粗方向探索モードと精密方向探索モードの２態様があり、先ず粗方向探索モードでの視準目標３の探索が行われる。粗方向探索モードでは前記方向検出演算部３６が前記粗方向検出装置２４からの受光信号を取込み可能とし、前記精密受光検出部４０からの受光信号はブロックされる。
【００３６】
前記粗方向検出装置２４の受光検出部２６が前記精密受光検出部４０と同じ面に設けられている他、他の受光検出部２７，２８，２９が異なる３面にそれぞれ設けられているので、前記投光装置１４からのガイド光１５は前記受光検出部２６，２７，２８，２９の少なくとも１つにより受光されている。前記ガイド光１５を受光しているのが、前記受光検出部２６，２７，２８，２９の内１つだけの場合は、受光している位置に応じて前記方向検出演算部３６が回転方向を決定し、前記水平回転機構３８を介して前記測量機本体７を回転し、受光信号が前記受光検出部２６からの信号のみとなる位置で測量機本体７の向きを決定する。回転方向は、例えば前記受光検出部２７が受光している場合は、前記測量機本体７を反時計方向に回転し、前記受光検出部２９が受光している場合は、時計方向に回転する。要は、最短距離で前記受光検出部２６のみが前記ガイド光１５を受光する様にする。
【００３７】
前記受光検出部２６，２７，２８，２９の内、２つが前記ガイド光１５を受光している場合は、前記方向検出演算部３６に於いて受光強度を比較演算する。例えば、前記受光検出部２６と前記受光検出部２７からの受光信号があった場合、両受光部２６，２７からの受光信号を比較し、どちらの受光部の受光信号が大きいかを判断する。受光信号の大小の判断を基に前記方向検出演算部３６が水平回転機構３８の回転方向を決定する。例えば、前記精密受光検出部４０が設けられている面と同じ面に設けられている受光検出部２６からの受光信号が大きいとすると、前記方向検出演算部３６は水平回転機構３８を駆動し、前記受光検出部２６からの受光信号がより大きくなる方向、図３中反時計方向に測量機本体７を回転する。この場合も、最短距離で前記受光検出部２６のみが前記ガイド光１５を受光する様にする。
【００３８】
尚、動作シーケンスを簡略化する為、探索モードでの水平回転機構３８による測量機本体７の回転方向は一方向に決めておいてもよい。この場合、水平回転機構３８により測量機本体７を所定方向に回転し、前記粗方向検出装置２４からの信号が前記受光検出部２６のみの信号となった場合に、粗方向探索モードを終了する。
【００３９】
粗方向探索モードが完了した状態では、前記受光検出部２６以外の受光検出部２７，２８，２９からの受光信号が無視できる程度に、前記受光検出部２６が前記視準目標３に向合っている状態となっている。従って、前記測量機本体７の向きは正しく視準された状態に対し、少なくとも±４５°の範囲に入っている。
【００４０】
粗方向探索モードが完了すると、精密方向探索モードとなる。
【００４１】
精密方向探索モードでは、前記水平回転機構３８は±４５°の範囲で往復回転される。又、前記方向検出演算部３６は前記精密受光検出部４０からの信号を取込み、前記粗方向検出装置２４からの信号をブロックする。前記測量機本体７が回転することで、回転途中で前記シリンダレンズ４１を透して前記ガイド光１５が入射する。
【００４２】
前記シリンダレンズ４１は前記ガイド光１５を水平方向に集光させ、前記受光素子４３の受光面上に線光として投影する。又、前記バンドパスフィルタ４２は前記ガイド光１５の波長帯を透過し、他の外乱光を遮断するので、前記受光素子４３はＳ／Ｎ比の高いガイド光１５を受光することができる。
【００４３】
前記受光素子４３の受光面は前記マスク４５によりスリット受光面４４を残して覆われているので、前記受光素子４３は投影されたガイド光１５の線光が前記スリット受光面４４を通過する時にのみ受光信号を発する。図９は外乱光を除去したとする受光素子４３からの受光信号を示しているが、受光範囲は±１°となる様、前記スリット受光面４４の幅が設定されている。即ち、±１°の範囲で前記ガイド光１５を受光可能となっている。
【００４４】
前記方向検出演算部３６は前記精密受光検出部４０からの受光信号のピーク値を演算し、或は受光信号全体の重心位置を演算する。受光信号のピーク値、重心位置が前記望遠鏡９の光軸方向と視準目標３のガイド光１５の光軸方向とが合致した状態である。前記制御部３７は前記受光信号のピーク値、重心位置での前記水平回転検出器３９の角度信号を取込み、前記望遠鏡９が前記視準目標３を正確に視準する水平角を決定する。水平角が決定されると、前記制御部３７は前記水平回転機構３８を駆動して、前記水平回転検出器３９の検出角度が前記決定した角度となる様前記測量機本体７を回転させる。
【００４５】
視準が完了すると、測量機２の動作モードが追尾モードとなる。
【００４６】
上述した様に、前記受光素子４３は望遠鏡９の水平角±１°で前記ガイド光１５を受光可能であるので、前記視準目標３が水平角±１°から外れない範囲で移動する場合、測量機本体７は視準目標３を追尾し、直ちに視準が完了する。
【００４７】
尚、望遠鏡９の鉛直方向の視準については特に説明していないが、前記受光素子４３のスリット受光面４４を中心を境に上下２分割し、分割した受光面からそれぞれ受光信号が得られる様にし、水平方向の視準が完了した後、分割した２つの受光面からの受光信号比が１となる様、鉛直回転機構６１を駆動して望遠鏡９の光軸が前記スリット受光面４４の中心に一致する様にする。
【００４８】
上記した様に、視準目標３の探索を行うのに、先ず粗方向探索モードにより、測量機本体７の向きを視準目標３方向に合致させるが、測量機本体７の４面に設けた受光検出部２６，２７，２８，２９でガイド光１５を検知する様にしているので、受光検出部２６，２７，２８，２９の検出結果で前記視準目標３の方向が直ちに解り、何回転もすることなく、最大１８０°の回転で、短時間の内に測量機本体７の方向を視準目標３に向けることができる。
【００４９】
更に、精密方向探索モードに於いて、前述した様にガイド光１５を受光するスリット受光面４４は上下方向に長い。従って、望遠鏡９の上下角が視準目標３に対して多少ずれていても前記精密受光検出部４０はガイド光１５を確実に検出することができ、前記測量機本体７の視準目標３の探索は水平方向に±４５°の往復回転を一度行えば良い。前記受光素子４３によりガイド光１５を検知することで、正確な視準方向を決定でき、又望遠鏡９の視準方向を視準目標３に正確に合致させることが迅速に行えることは前述した通りである。
【００５０】
尚、上記実施の形態に於いて、シリンダレンズ４１を通常の凸レンズとしても良いことは勿論である。
【００５１】
図１０、図１１は第２の他の実施の形態を示している。
【００５２】
該第２の実施の形態では精密受光検出部４０が前記ガイド光１５を検出できる上下角度を更に拡大したものである。尚、図１０、図１１中、図７、図８で示したものと同一のものには同符号を付し、その説明を省略する。
【００５３】
第２の実施の形態で示されるシリンダレンズ５０は、図７、図８で示した実施の形態中のシリンダレンズ４１を該シリンダレンズ４１の焦点を中心に円弧状に湾曲させたものである。即ち、シリンダレンズ５０の凸曲面はシリンダレンズ４１の焦点を中心とした回転曲面の一部であり、シリンダレンズ５０のバンドパスフィルタ４２側の面はシリンダレンズ４１の焦点を中心とした円筒面の一部である。
【００５４】
上述した様に、前記シリンダレンズ５０全体が焦点を中心として円弧状に湾曲していることから、上下方向のどの様な角度から前記ガイド光１５が前記シリンダレンズ５０に入射しても、光束の上下に関してはシリンダレンズ５０の屈折作用が及ぼさないことになる。従って、前記ガイド光１５の上下方向の入射角に拘らず、前記受光素子４３上にガイド光１５が線光として投影される。従って、前記ガイド光１５の上下方向の入射角により、検出精度が左右されない。
【００５５】
而して、本実施の形態は、視準目標３が測量機２に対し高低差のある位置に設けられた場合に有用である。
【００５６】
図１２〜図１４は第３の実施の形態を示している。
【００５７】
該第３の実施の形態は精密受光検出部４０の変更例を示しており、第２の実施の形態中のマスク４５を絞り板５１に代えたものであり、該絞り板５１には前記スリット受光面４４と同形状のスリット孔５２が穿設されている。前記絞り板５１は前記シリンダレンズ５０の焦点位置に設けられており、受光素子４３は前記絞り板５１に近接した反シリンダレンズ５０側に配設されている。
【００５８】
前記絞り板５１により、前記精密受光検出部４０は前記ガイド光１５を±１°の範囲で検出する。
【００５９】
図１５、図１６は第４の実施の形態を示している。
【００６０】
該第４の実施の形態は精密受光検出部４０の他の変更例を示しており、第２の実施の形態、第３の実施の形態に第１前段絞り５３ａ、第２前段絞り５３ｂを追加したものである。シリンダレンズ５０、バンドパスフィルタ４２、絞り板５１の作用については前述した実施の形態と同様である。
【００６１】
前記シリンダレンズ５０を保持する鏡筒４９の中間位置内面に第１前段絞り５３ａが設けられ、前記鏡筒４９の反シリンダレンズ５０側端部に第２前段絞り５３ｂが設けられる。前記絞り板５１は前記シリンダレンズ５０の焦点位置に設けられており、受光素子４３は前記絞り板５１に近接した反シリンダレンズ５０側に配設され、バンドパスフィルタ４２は前記第２前段絞り５３ｂと絞り板５１との間に配設される。
【００６２】
前記第１前段絞り５３ａは前記マスク４５で形成されるスリット受光面４４、スリット孔５２と同軸上にあり、同方向に延びるスリット孔５４ａを有し、前記第２前段絞り５３ｂは同様にスリット孔５４ｂを有している。前記スリット孔５４ａ，５４ｂは、前記精密受光検出部４０が視準目標３に正対した状態で該視準目標３からのガイド光の光束を遮らない様なスリット幅、長さを有している。
【００６３】
前述した様に水平方向の受光範囲は±１°となる様、前記スリット受光面４４の幅が設定されているので、前記受光範囲の±１°を越えた範囲から精密受光検出部４０に入射し、前記鏡筒４９の内面で反射する等、精密受光検出部４０内部の反射で反射した光が、前記受光素子４３で受光された場合は外乱光となってＳ／Ｎ比を低下させる。
【００６４】
±１°の受光範囲を越え前記精密受光検出部４０に入射し、前記鏡筒４９内面で反射した外乱光３０は前記前段絞り５３ａ，５３ｂで遮断される。この為、前記受光素子４３には前記外乱光３０は到達せず、前記受光素子４３はガイド光１５のみを受光し、Ｓ／Ｎ比が大きくなる。
【００６５】
前記前段絞り５３ａ，５３ｂを設けることで、前記受光素子４３には前記ガイド光１５のみが入射する様になり、Ｓ／Ｎ比が増大し、検出精度が向上する。更に、前記受光素子４３からの受光信号の増幅率は前記ガイド光１５の受光強度に対して設定すればよいので、設定が容易であると共に設定を複数回やり直すという面倒が避けられる。
【００６６】
図１７は第５の実施の形態を示している。
【００６７】
該第５の実施の形態では前記鏡筒４９の内面に幅、長さを段階的に減少させたスリット孔５４を有する前段絞り５３を設けたものであり、前記スリット孔５４のスリット幅、スリット長さはガイド光１５の収束状態に対応し、該ガイド光を遮らない形状となっている。
【００６８】
該第５の実施の形態では第４の実施の形態で示された前段絞り５３ａ，５３ｂの数を増やして多数枚としたと同様な効果があり、精密受光検出部４０内部での反射光を更に効果的に遮断し、Ｓ／Ｎ比が大きくなる。
【００６９】
【発明の効果】
以上述べた如く本発明によれば、ガイド光を基に測量機本体の視準を行う場合に、視準目標を確認し、測量機本体を視準目標に向けることが迅速に行え、更に前段絞りを設けることで、ガイド光の受光Ｓ／Ｎ比が向上し、機器調整が容易になり、測量機本体の視準作業が短時間に行うことができる。又測量機本体を最終的に視準する場合も、精密方向検出装置の単一の受光センサの受光結果のみで正確に行えるので、回路が簡単となり、更に方向検出装置のガイド光を検出可能な上下角について大きな幅があるので、測量機本体と視準目標とで高低差がある場合にも使用が可能である等の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態を示す全体概略図である。
【図２】該実施の形態での測量機本体の斜視図である。
【図３】該測量機本体の平面図である。
【図４】該測量機本体の立断面図である。
【図５】測量機に対して設けられる視準目標が具備する投光装置のブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態の要部を示すブロック図である。
【図７】本発明の実施の形態の精密受光検出部の要部斜視図である。
【図８】該精密受光検出部の要部平面図である。
【図９】該精密受光検出部からの受光信号を示す線図である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態の精密受光検出部の要部斜視図である。
【図１１】該第２の実施の形態の精密受光検出部の要部側面図である。
【図１２】本発明の第３の実施の形態の精密受光検出部の要部斜視図である。
【図１３】該第３の実施の形態の精密受光検出部の要部平面図である。
【図１４】該第３の実施の形態の精密受光検出部の要部側面図である。
【図１５】本発明の第４の実施の形態の精密受光検出部の要部平面図である。
【図１６】該第４の実施の形態の精密受光検出部の要部側面図である。
【図１７】本発明の第５の実施の形態の精密受光検出部の要部側面図である。
【符号の説明】
２          測量機
３          視準目標
７          測量機本体
９          望遠鏡
１２        コーナキューブ
１５        ガイド光
２４        粗方向検出装置
２５        精密方向検出装置
２６        受光検出部
２７        受光検出部
２８        受光検出部
２９        受光検出部
３６        方向検出演算部
３７        制御部
３８        水平回転機構
３９        水平回転検出器
４０        精密受光検出部
４１        シリンダレンズ
４３        受光素子
４５        マスク
５０        シリンダレンズ
５１        絞り板
５３        前段絞り
５４        スリット孔
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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