(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
透明な絶縁基板と、前記基板上に縦に形成された多数のデータ線と、
前記基板上に横に形成された多数のゲート線と、前記多数のゲート線の一端と前記多数のデータ線の両端を横切る第１接地線と、
前記第１接地線に平行に配置されている第２接地線と、
前記第１接地線から前記データ線の一端に正方向に連結された第１ダイオードと、
前記第２接地線から前記データ線の一端に逆方向に連結された第２ダイオードと、
前記第１接地線から第２接地線に正方向に連結されて静電気の流れの通路を形成する第３ダイオードと、
前記第１接地線から第２接地線に逆方向に連結されて静電気の流れの通路を形成する第４ダイオードと、
前記多数のゲート線の一端と前記多数のデータ線の両端を横切る第３接地線と、
前記第３接地線に平行に配置されている第４接地線と、
前記第３接地線から前記データ線のうちの第１データ線に正方向に連結された第５ダイオードと、
前記第４接地線から前記第１データ線に逆方向に連結された第６ダイオードとを含み、
前記第１、２ダイオードは前記データ線のうちの前記第１データ線と異なる第２データ線に連結された液晶表示装置。
【請求項２】
前記第１、第２、第３、第４ダイオードは、それぞれ二つ以上のダイオードが直列に連結されている請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記第１データ線は偶数番目のデータ線であり、前記第２データ線は奇数番目のデータ線である請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記第１、２、３、４接地線の一端にそれぞれ第１、２、３、４パッドが設けられている請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項５】
前記第１接地線から前記ゲート線に正方向に連結された第７ダイオードと、
前記第２接地線から前記ゲート線に逆方向に連結された第８ダイオードと、
前記第３接地線から前記ゲート線に正方向に連結された第９ダイオードと、
前記第４接地線から前記ゲート線に逆方向に連結された第１０ダイオードとを含む請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項６】
前記第７ダイオードは、前記第１接地線から前記ゲート線中の第１ゲート線に正方向に連結され、
前記第８ダイオードは、前記第２接地線から前記ゲート線中の第１ゲート線に逆方向に連結され、
前記第９ダイオードは、前記第３接地線から前記ゲート線中の第２ゲート線に正方向に連結され、
前記第１０ダイオードは、前記第４接地線から前記ゲート線中の第２ゲート線に逆方向に連結されている、請求項５に記載の液晶表示装置。
【請求項７】
前記第１ゲート線は偶数番目のゲート線であり、前記第２ゲート線は奇数番目のゲート線である請求項８に記載の液晶表示装置。
【請求項８】
透明な絶縁基板と、前記基板上に縦に形成された多数のデータ線と、前記データ線の両端である第１及び第２端とに同時に重なる第１接地線及び第２接地線と、前記第１接地線と連結されて前記データ線の第１端付近で前記データ線と正方向に連結されている第１ダイオードと、前記第２接地線と連結されて前記データ線の第１端付近で前記データ線と逆方向に連結されている第２ダイオードと、前記第１、２接地線に平行に置かれた第３、４接地線と、前記第３接地線から前記第１、２接地線に連結された第１データ線に隣接する第２データ線に正方向に連結された第３ダイオードと、前記第４接地線から前記第２データ線に逆方向に連結された第４ダイオードとを含む液晶表示装置において、
前記第１、第２接地線と前記第３、４接地線とにそれぞれ異なる信号を入力する液晶表示装置の表示検査方法。
【請求項９】
前記第１、２接地線に入力する信号は、電位が異なる信号を入力することで前記第１ダイオードと前記第２ダイオードとの間に電位差を形成する請求項８に記載の液晶表示装置の表示検査方法。
【請求項１０】
前記第１データ線は奇数番目のデータ線であり、前記第２データ線は偶数番目のデータ線である請求項８に記載の液晶表示装置の表示検査方法。
【請求項１１】
前記第３接地線から第１ゲート線に正方向に連結された第５ダイオードと、前記第４接地線から第１ゲート線に逆方向に連結された第６ダイオードと、前記第１接地線から第２ゲート線に正方向に連結された第７ダイオードと、前記第２接地線から第２ゲート線に逆方向に連結された第８ダイオードとをさらに含む液晶表示装置において、
前記第１、２接地線と前記第３、４接地線とにそれぞれ異なる信号を入力する請求項８に記載の液晶表示装置の表示検査方法。
【請求項１２】
前記第１、２接地線にクロックパルスを印加し、前記第３、４接地線に反転したクロックパルスを印加する請求項８または１１に記載の液晶表示装置の表示検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は液晶表示装置に係り、特に静電気保護回路を有する液晶表示装置と液晶表示装置の表示品質を試験する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
平板表示装置の一種である液晶表示装置は、電圧によって光の透過度が変化する液晶の特性を利用したものであって、低い電圧で駆動することができ、電力の使用量が少ないため、広く利用されている。
このような液晶表示装置の製作工程の大部分はガラス基板上で遂行される。ガラス基板は不導体であるので瞬間的に発生する電荷が基板下に分散されないため、静電気に極めて弱い。従って、ガラス基板に形成された絶縁膜や素子などが静電気によって損傷する可能性が高くなり、結局液晶表示装置の不良を起こしてしまうこととなる。
【０００３】
前記のような静電気による問題点を解決するために、ガラス基板上のすべての金属配線をショート・バー（short bar ）を形成して結ぶ方法と、非線形素子を利用した静電気防止回路を利用する方法とが広く使用されている。
ショート・バーを形成する方法は、スクライビング工程以降にメタルがガラス周縁にそのまま現われる問題点がある。これを解決するためには、ガラス周縁に非伝導性の接着剤を薄く塗るという追加的工程が必要で、接着剤の均一性の制御が難しいという問題点も依然として残っている。
【０００４】
静電気防止回路を利用する方法について、図１および図２を参照して説明する。図１は、従来の液晶表示基板の配線図であって、ショート・バーの構造を示す。図１に示したように、静電気を防止するために、基板１０上にゲート線２０とデータ線３０とが横及び縦方向に多数個形成されており、これらは基板１０の一側縁でショート・バー４０、４１によってすべて連結されている。この時、データ線３０を連結するショート・バー４０とゲート線２０を連結するショート・バー４１とを連結線４２によって連結することもある。ショート・バー４０の端には検査信号印加のための検査用パッド６０が連結されている。
【０００５】
液晶表示基板の製造過程では、ショート・バー４０を接地させてデータ線３０またはゲート線２０から発生した静電気をショート・バー４０を通して分散させることにより、静電気による被害を減らす。
このようなショート・バー４０は、液晶表示基板内の表示の欠陥などを検査するのにも使用され得る。
【０００６】
すなわち、ショート・バー４０、４１に一定の信号を印加すると、すべての画素が同時にオンの状態となるが、データ線３０、ゲート線２０または薄膜トランジスタに欠陥のある画素には信号が伝達されないため、画素が黒く現われる。
一方、静電気を効果的に放電するために、静電気保護用ダイオード５０をデータ線３０またはゲート線２０の一端または両端に追加的に接続し得る。
【０００７】
図２は、図１に形成されている静電気保護用ダイオードを示した回路図であって、静電気保護用ダイオードの接地線と連結された状態が詳細に示されている。図１及び図２に示したように、それぞれのデータ線３０及びゲート線２０に対して正方向と逆方向とにダイオードＤ１、Ｄ２が連結されており、かかるダイオード５０は同一の接地線５１に連結されている。従って、ダイオードＤ１、Ｄ２のみならずデータショート・バー４０及びゲートショート・バー４１が互いに連結される。
【０００８】
静電気保護用ダイオード５０がさらに設けられているこのような液晶表示基板において、任意の一つのデータ線３０から静電気が発生する場合、データ線３０に連結されたダイオードＤ１がターンオンされながら電荷が接地線５１の側に移動し、接地線５１に沿って移動した電荷は隣接データ線３０のダイオードＤ２をターンオンして隣接データ線３０に沿って移動する。局部的に発生した電荷はこのような方式で他のところに移動しながら次第に消滅する。
【０００９】
基板上の表示検査は、前述と同一の方式でなされる。
液晶表示監査を終えた後、基板１０の周縁に形成されているショート? バー４０、４１は切断線Ｃ／Ｌに沿ってグラインディング（grinding）で除去する。しかし、集積回路（integrated circuit:IC ）が基板１０上に形成されるＣＯＧ（chip on glass ）方式の場合、ショート・バー４０、４１が集積回路の反対側に形成されるため、ショート・バー４０、４１をグラインディングではなくカッティング工程で除去しなければならないので工程が増加する。
【００１０】
また、このような静電気防止回路を利用する方法は、すべてのデータ線に同一の電圧が印加されるため、データ線とデータ線とが短絡する場合に検出ができなくなる問題点がある。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
このように検出力が落ちるため、実際にパネルを駆動して不良を検出する工程を経ることとなり、これによって工程に大きな時間と労働力が投入されて費用が上昇するという問題点がある。
本発明は、前記に鑑みてなされたもので、その目的は、液晶表示装置の静電気保護能力を高め、表示品質試験の検出力を高めることにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、透明な絶縁基板と、前記基板上に縦に形成された多数のデータ線と、前記基板上に横に形成された多数のゲート線と、前記多数のゲート線の一端と前記多数のデータ線の両端を横切る第１接地線と、前記第１接地線に平行に配置されている第２接地線と、前記第１接地線から前記データ線の一端に正逆方向に連結された第１ダイオードと、前記第２接地線から前記データ線の一端に逆正方向に連結された第２ダイオードと、前記第１接地線から第２接地線に正方向に連結されて静電気の流れの通路を形成する第３ダイオードと、前記第１接地線から第２接地線に逆方向に連結されて静電気の流れの通路を形成する第４ダイオードと、前記多数のゲート線の一端と前記多数のデータ線の両端を横切る第３接地線と、前記第３接地線に平行に配置されている第４接地線と、前記第３接地線から前記データ線のうちの第１データ線に正方向に連結された第５ダイオードと、前記第４接地線から前記第１データ線に逆方向に連結された第６ダイオードとを含み、前記第１、２ダイオードは前記データ線のうちの前記第１データ線と異なる第２データ線に連結されたを含む液晶表示装置を提供する。
また、本発明は、データ線の両端と重なる接地線と第２接地線とを有し、ダイオードはデータ線の一端から第１接地線に正方向に、第２接地線には逆方向に連結されている。正方向のダイオードと逆方向のダイオードが互いに並列に連結されており、二つの接地線間に挿入されているダイオード回路をさらに含むことができる。
【００１３】
また、偶数番目及び奇数番目のデータ線が異なる接地線に連結されるようにすることも可能である。
ゲート線の一端が第１接地線に逆方向に、第２接地線に正方向に連結されることが好ましい。また、偶数番目及び奇数番目のゲート線が異なる接地線に連結されるようにすることも可能である。
【００１４】
このような配線構造及び静電気保護回路を有する液晶表示装置の表示品質検査方法においては、接地線に検査電圧を印加してデータ線に沿って一側方向のみに選択的に信号を印加する。
二つの接地線にそれぞれ高電圧と低電圧を印加してダイオード間に電位差を形成することも可能である。
【００１５】
隣接した画素間の配線短絡を検査するためには、偶数番目、奇数番目のデータ線に対してそれぞれ異なる接地線に異なる電圧を印加することで、隣接したデータ線に異なる検査電圧が印加されるようにすることが好ましい。このような検査電圧としては一定の大きさのクロックパルスを印加することができ、奇数番目及び偶数番目のゲート線と、奇数番目及び偶数番目のデータ線にそれぞれ反転したクロックパルスを印加することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例について図面に基づいて詳細に説明する。
本発明の第１実施例について説明する。
図３は本発明の第１実施例による液晶表示装置の静電気保護回路を示した配線図であり、図４は図３の静電気保護回路を詳細に示した回路図である。図３及び図４に示したように、基板１０上にゲート線２０とデータ線とが横及び縦方向に多数個形成されており、ゲート線２０とデータ線３０とにゲート信号及びデータ信号を印加する駆動素子７０がＣＯＧ実装方式で形成されてゲート線２０とデータ線３０とにそれぞれ連結されている。
【００１７】
静電気から素子を保護するために、ゲート線２０とデータ線３０には静電気保護用ダイオードｄ１、ｄ２がそれぞれ正方向及び逆方向に連結されているが、それぞれのゲート線２０またはデータ線３０に連結されている静電気保護用ダイオードは一つ以上が直列に連結されていることもある。
ゲート線２０及びデータ線３０に正方向及び逆方向に連結されたダイオードｄ１、ｄ２は、それぞれ別途の接地線５２、５３に結ばれており、接地線５２、５３の端にパッド２２０、２３０が形成されている。
【００１８】
図４のように、正方向のダイオードｄ３，ｄ４と逆方向のダイオードｄ５，ｄ６とを並列に連結し、接地線５２、５３間に挿入することもできる。
このように、接地線５２、５３間に双方向に並列連結されたダイオードｄ３，ｄ４，ｄ５，ｄ６を接続することにより、二つの接地線５２、５３が互いに連結されて静電気防止性能が増加する。すなわち、任意の一つのデータ線３０に静電気が発生すると、データ線３０に正方向に結ばれている正方向ダイオードｄ１を経て接地線５２に電荷が移動した後、接地線５２、５３間に並列に連結されたダイオードのうちの正方向に結ばれたダイオードを通して他の接地線５３に移動し、この接地線５３と連結されているダイオードｄ２を通してすべてのデータ線３０に広がって、消滅する。
【００１９】
静電気は瞬間的な電位は高いが電荷量は小さい特性があって、電荷が移動できる経路が充分に長くなるため、前記のような経路を経る間に静電気の電位が低くなり、中間経路の抵抗などの成分によって静電気が移動しながら消滅するようになる。かかる過程によって従来のショート・バーの構造がなくても静電気を効果的に防止することができる。
【００２０】
本実施例の液晶表示装置の表示品質は、次の通り行える。
接地線５２、５３のパッド２２０、２３０に異なる信号を印加することで、別途のショート・バーなしで液晶表示装置のモジュールの組立前に液晶パネルの表示検査を行うことができる。すなわち、接地線５２、５３間に一定の電位を形成してデータ線３０に検査信号を印加し、液晶パネルの表示状態を検査して液晶パネルの不良の有無を判断することができる。
【００２１】
次に、本発明の第２実施例について説明する。
図５は本発明の第２実施例による液晶表示装置の配線図であって、静電気保護用ダイオードが基板の上、下部に二重に設けられいる。
このように、ダイオード５０が基板１０の上、下部に設けられている場合には、静電気が速く消滅し得るので、静電気防止機能が強化される。
【００２２】
但し、上、下部ダイオードを通してデータ線３０の上下から信号が印加されるので、データ線３０の断線の欠陥がなかなか見出せない。
図６は、このような問題を解決するために、接地線に対して上側及び下側でのダイオードの方向が異なるように連結した構造の回路図であって、接地線に信号を印加してデータ線の断線の欠陥を検出する原理を示す。
【００２３】
図６に示したように、下側の静電気保護用ダイオードｄ７、ｄ８はデータ線３０の一端にそれぞれ正方向及び逆方向に連結されており、正方向に連結されているダイオードｄ７は０V が印加される接地線５３に結ばれており、逆方向に連結されたダイオードｄ８は１０V が印加される接地線５２に結ばれている。また、上側の静電気防止用ダイオードｄ９、ｄ１０はデータ線３０の他端にそれぞれ正方向及び逆方向に連結されており、正方向に連結されているダイオードｄ９は１０V が印加される接地線５２に、逆方向に連結されているダイオードｄ１０は０V が印加される接地線５３に連結されている。
【００２４】
データ線３０の断線の欠陥を検査するために、一つの接地線５２には１０V の電圧を印加し、残りの接地線５３には０V の電圧を印加すると、データ線３０に対して正方向及び逆方向に連結されている下部のダイオードｄ７、ｄ８がターンオンされ、ダイオードｄ７、ｄ８間に５Ｖの電位差が発生する。従って、５Ｖによる電流がそれぞれデータ線の一端から印加される。但し、上部のダイオードｄ９、ｄ１０は下部のダイオードｄ７、ｄ８が接地線に連結された方向と違う方向に連結されていてターンオンされないため、データ線３０の反対側の端からは電圧が印加されない。
【００２５】
すなわち、検査のための信号電圧がデータ線３０の一側方向からのみ印加されるので、データ線３０の断線発生地点Ｐの向い側には信号が伝達されず、容易にデータ線３０の断線の欠陥を検出することができる。
次に、第３実施例について説明する。
図７は、第３実施例の液晶表示装置を示したものである。データ線の奇数番目の線と偶数番目の線とに分けてダイオードを連結した構造を示す。図７に示したように、四つの接地線５２、５３、５４、５５がデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４及びゲート線２０の端付近で重なるように形成されており、図３乃至図６で述べられていた方式でダイオードがデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に連結されている。但し、偶数番目のデータ線Ｄ２、Ｄ４は第１及び第２接地線５２、５３に連結されており、奇数番目のデータ線Ｄ１、Ｄ３は第３及び第４接地線５４、５５に連結されている。
【００２６】
本実施例における静電気の発生の際の保護動作は次の通りである。
データ線Ｄ１に静電気が発生すると、静電気はデータ線Ｄ１と接地線５５との間に正方向に連結されたダイオードｄ１１を通して流れ、次いで接地線５５から接地線５４に正方向に連結されたダイオードｄ１９、ｄ２０を通して接地線５４に流れ、次いで接地線５４からデータ線Ｄ１、Ｄ３に正方向に連結されたダイオードｄ１２、ｄ１６を通して流れる。このような経路を通して静電気が流れる間に静電気の電位は低くなりつつ消滅する。このような動作によって、静電気が発生しても液晶表示装置を保護することができる。
【００２７】
このような構造では、隣接したデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に検査信号電圧を異なるように印加することができ、隣接画素間の短絡などの欠陥を検出することができる。すなわち、接地線５２、５３、５４、５５に連結されたパッド２４０、２５０とパッド２６０、２７０とに互いに相違する電位を印加すると、隣接するデータ線の電位は相違する。従って、隣接するデータ線が短絡している場合には画素上に白色の欠陥（ｗｈｉｔｅｄｅｆｅｃｔ）が現われて隣接する画素間の欠陥の有無を検出することができる。
【００２８】
次に、本発明の第４実施例について説明する。
図８は、本実施例の静電気保護回路が含まれた液晶表示装置を示したものである。図９には、ゲート線とデータ線とをそれぞれ４つ連結した静電気保護回路３００を詳細に示した。
図８及び図９に示したように、本発明の実施例は絶縁基板１００、ＣＯＧＩＣ２００、パッド４１０、４２０、４３０、４４０、接地線４５０、４６０、４７０、４８０、多数のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎ、多数のデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、．．．Ｄｍ、静電気保護回路３００から構成されている。
【００２９】
本実施例は絶縁基板１００の上に多数のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎが横に置かれており、ゲート線に垂直に多数のデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、．．．Ｄｍが絶縁基板上に縦に置かれており、多数のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎとデータ線Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、．．．ＤｍはＣＯＧＩＣ２００に連結され、接地線４５０、４６０、４７０、４８０が多数のゲート線Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、．．．Ｇｎと多数のＤ１、Ｄ２、Ｄ３、．．．Ｄｍとを横切って置かれており、接地線の端にパッド４１０、４２０、４３０、４４０が連結される。
【００３０】
図９に示したように、静電気保護回路３００は、ダイオードｄ４１、ｄ４５、ｄ５９、ｄ６３がそれぞれ接地線４５０からデータ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４とに正方向に連結され、ダイオードｄ４２、ｄ４６、ｄ６０、ｄ６４が接地線４６０からデータ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４とに逆方向に連結される。また、ダイオードｄ４３、ｄ４７、ｄ５７、ｄ６１は接地線４７０からデータ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線Ｇ１、Ｇ３とに正方向に連結され、ダイオードｄ４４、ｄ４８、ｄ５８、ｄ６２は接地線４８０からデータ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線Ｇ１、Ｇ３とに逆方向に連結される。そして、ダイオードｄ４９、ｄ５０は接地線４６０から接地線４５０に正方向に直列に連結され、ダイオードｄ５１、ｄ５２は接地線４６０から接地線４５０に逆方向に直列に連結され、ダイオードｄ５３、ｄ５４は接地線４７０から接地線４８０に逆方向に直列に連結され、ダイオードｄ５５、ｄ５６は接地線４７０から接地線４８０に正方向に直列に連結される。
【００３１】
以下、上記のような構造からなる静電気保護回路が含まれた液晶表示装置の静電気保護回路の動作について図１０を参照して説明する。
データ線Ｄ１に静電気が発生した場合を例に挙げて静電気保護回路の動作について説明する。データ線Ｄ１に静電気が発生すると、データ線Ｄ１に連結された電流の流れの通路のうち、ダイオードｄ４２を通して図５の経路  に沿って流れるようになる。なぜならば、ダイオードｄ４１はデータ線から接地線に逆方向に連結されているため電流が流れることができず、ダイオードｄ４２はデータ線Ｄ１から接地線４６０に正方向に連結されているため接地線４６０に静電気が流れるからである。
【００３２】
経路▲１▼を通して流れる静電気は、ダイオードｄ４６、ｄ６０、ｄ６４は接地線４６０に対して逆方向に連結されているため、ダイオードｄ４６、ｄ６０、ｄ６４を通しては流れることができず、直列に連結されたダイオードｄ４９、ｄ５０は接地線に対して正方向に連結されているため、経路▲２▼に沿って流れる。
経路▲２▼を通して流れた静電気は、正方向に連結されたダイオードｄ５９、ｄ６３に経路▲３▼を通して接地線４５０から流れる。
【００３３】
経路▲３▼を通して流れた静電気は、ゲート線Ｇ２、Ｇ４を通して流れ、ゲート線Ｇ２、Ｇ４から接地線４６０に正方向に連結されたダイオードｄ６０、ｄ６４を通して経路▲４▼に沿って流れる。
経路▲４▼を通して流れた静電気は、接地線４６０から接地線４５０に正方向に連結されたダイオードｄ４９、ｄ５０を通して経路▲５▼に沿って流れる。
【００３４】
経路▲５▼に沿って流れた静電気は、接地線４５０からデータ線Ｄ１に正方向に連結されたダイオードｄ４１を通して経路▲６▼に沿ってデータ線Ｄ１に流れる。
データ線Ｄ１から発生した静電気は、前記で説明した経路を通してデータ線Ｄ１に戻る。
静電気は電荷量は小さいが瞬間的な電位が高い特性を有しており、上記の経路を通して流れる間に電荷量が消耗して電位が低くなる。従って、静電気が局部的に発生してもパネル内部に流入して素子を破壊することを防止するようになる。
【００３５】
以下、本実施例を利用した液晶表示装置の表示品質検査方法について図面を参照して説明する。また、以下では、画素４つの動作を説明することによって全体液晶表示装置の検査動作を説明する。
本実施例の液晶表示装置は、表示品質検査用として使用され、この時、図８及び図９に示したパッド４１０、４２０、４３０、４４０には一定の信号を入力する。
【００３６】
図１２には本実施例の表示品質検査用の入力信号と画素の出力電圧とを示した。図１２に示したように、パッド４１０、４２０とパッド４３０、４４０とにはそれぞれ同一の検査用信号を入力する。図１２に示したように、パッド４１０、４２０に同一の信号が入力されるため、データ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４には同時に同一の信号が入力され、パッド４３０、４４０には同一の信号が入力されるため、データ線Ｄ２、Ｄ４とゲートＧ１、Ｇ３には同一の信号が入力される。
【００３７】
パッド４１０、４２０に入力される信号は、図１２に示したように、１０Ｖと−１０Ｖとをスイッチングするクロックパルスを印加する。パッド４３０、４４０に入力される信号は、図１２に示したように、パッド４１０、４２０の入力信号が反転した信号である。このようにパッド４１０、４２０とパッド４３０、４４０とに入力信号が互いに反転した信号を入力する方法でパッドにインバータを連結することができ、これを図１１に示した。
【００３８】
ここで、１０Ｖと−１０ＶはＶｃｏｍ電圧によって変更することができる。本実施例はＶｃｏｍを０Ｖと仮定した場合である。
データ線Ｄ１、Ｄ３とゲート線Ｇ２、Ｇ４に入力される信号は、図１２に示したように、パッド４１０、４２０に入力される信号と同一形態のパルス信号であり、データ線Ｄ２、Ｄ４とゲート線Ｇ１、Ｇ３に入力される信号は、パッド４３０、４４０に入力される信号と同一形態のパルス信号である。
【００３９】
このような検査用信号がパッドに入力される時、画素の出力電圧Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄは下記の通りである。
画素ａの出力電圧Ｖａは次の通りである。画素ａのゲート線Ｇ１の電圧が１０Ｖの時には画素ａのデータＤ１の電圧は−１０Ｖであり、画素ａのゲートＧ１の電圧が−１０Ｖの時には画素ａのデータＤ１の電圧は１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ａのＴＦＴはターンオンされるが、データ入力電圧が−１０Ｖであるので、図１２に示したように画素ａの電圧Ｖａは−１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ａのＴＦＴがターンオフされるので、画素ａの電圧Ｖａは画素ａのキャパシタＣａに維持されていた電荷が放電されながら−１０Ｖより高い電圧に変化する。前記のような動作が繰返されながら画素ａの電圧Ｖａは図１２に示したようになる。
【００４０】
画素ｂの出力電圧Ｖｂは次の通りである。画素ｂのゲートＧ２の電圧が１０Ｖの時には画素ｂのデータＤ１の電圧は１０Ｖであり、画素ｂのゲートＧ２の電圧が−１０Ｖの時には画素ｂのデータＤ１の電圧は−１０Ｖとなる。従って、前者の場合は画素ｂのＴＦＴはターンオンされ、データ入力電圧が１０Ｖであるので、図１２に示したように画素ｂの電圧Ｖｂが１０Ｖ程度を維持し、後者の場合画素ｂのＴＦＴがターンオフされるので、画素ｂの電圧Ｖｂは画素ｂのキャパシタＣｂに維持されていた電荷が放電されながら１０Ｖより低い電圧に変化する。前記のような動作が繰返されながら画素ｂの電圧Ｖｂは、図１２に示したようになる。
【００４１】
画素ｃの出力電圧Ｖｃは次の通りである。画素ｃのゲートＧ１の電圧が１０Ｖの時には画素ｃのデータＤ２の電圧は１０Ｖであり、画素ｃのゲートＧ１の電圧が−１０Ｖの時には画素ｃのデータＤ２の電圧は−１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ｃのＴＦＴはターンオンされ、データＤ２の入力電圧が１０Ｖであるので、図１２に示したように画素ｃの電圧Ｖｃは１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ｃのＴＦＴがターンオフされるので、画素ｃの電圧Ｖｃは画素ｃのキャパシタＣｃに維持されていた電荷が放電されながら１０Ｖより低い電圧に変化する。前記のような動作が繰返されながら画素ｃの電圧Ｖｃは、図１２に示したようになる。
【００４２】
画素ｄの出力電圧Ｖｄは次の通りである。画素ｄのゲートＧ２の電圧が１０Ｖの時には画素ｄのデータＤ２の電圧は−１０Ｖであり、画素ｄのゲートＧ２の電圧が−１０Ｖの時には画素ｄのデータＤ２の電圧は１０Ｖとなる。従って、前者の場合には画素ｄのＴＦＴはターンオンされるが、データＤ２の入力電圧が−１０Ｖであるので、図１２に示したように画素ｄの電圧Ｖｄは−１０Ｖ程度を維持し、後者の場合には画素ｄのＴＦＴがターンオフされるので、画素ｄの電圧Ｖｄは画素ｄのキャパシタに維持されていた電荷が放電されながら−１０Ｖより高い電圧に変化する。前記のような動作が繰返されながら画素ｄの電圧Ｖｄは、図１２に示したようになる。
【００４３】
パッドに入力された電圧が図１２のようになると、画素電圧の出力電圧Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃ、Ｖｄは図１２に示したようになる。すなわち、画素ａの出力電圧Ｖａは−１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｂの出力電圧Ｖｂは１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｃの出力電圧Ｖｃは１０Ｖ程度を維持し続け、画素ｄの出力電圧Ｖｄは−１０Ｖ程度を維持し続けるようになる。従って、隣接画素の出力電圧は反転した値となる。すなわち、画素ａとｂ、画素ｂとｃ、画素ｃとｄはそれぞれ反転した出力電圧を示す。
【００４４】
従って、画素間の隣接ラインが正常であれば、Ｖｃｏｍ電圧が０Ｖである場合、画素ａとｃ、画素ｂとｄは同色を現す。しかし、もし隣接画素のライン（データ線またはゲート線）が短絡したら、画素の出力電圧は０Ｖに近い電圧を有するようになり、画素の出力電圧とＶｃｏｍ電圧との差が殆どなくなって白色の欠陥が現われる。
【００４５】
従って、画素間のデータ線とゲート線の短絡の有無が容易にわかる。
本発明の実施例は接地線が四つの場合を表しているが、これに限られるわけではない。また、本発明のダイオードの個数も多様に変化することができる。
【００４６】
【発明の効果】
本発明によれば、液晶表示装置の静電気保護能力を高め、表示品質試験の検出力を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のショート・バーを利用した液晶表示装置の基板を示した図である。
【図２】図１の静電気保護ダイオードを示した図である。
【図３】本発明の第１実施例による液晶表示装置を示した図である。
【図４】図３の静電気保護回路の詳細図である。
【図５】本発明の第２実施例による液晶表示装置を示した図である。
【図６】図５の静電気保護回路の連結状態を示した回路図である。
【図７】本発明の第３実施例による静電気保護回路を示した回路図である。
【図８】本発明の第４実施例による液晶表示装置を示した図である。
【図９】図８の静電気保護回路の詳細図である。
【図１０】第４実施例の静電気の流れの経路を示した図である。
【図１１】第４実施例のパッド形成方法を変化させた液晶表示装置の静電気保護回路である。
【図１２】第４実施例の検査用入力クロックパルスと画素の出力電圧を示した図である。
【符号の説明】
３００    静電気保護回路
ｄ４１〜ｄ６４    ダイオード
４５０、４６０、４７０、４８０    接地線
Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４    データ線
Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４    ゲート線
５０    静電気保護用ダイオード
【図１】
0004260250.tif 000002
【図２】
0004260250.tif 000003
【図３】
0004260250.tif 000004
【図４】
0004260250.tif 000005
【図５】
0004260250.tif 000006
【図６】
0004260250.tif 000007
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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