(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
事象に関する電気信号をセンスして、その電気的特性を示すセンス信号を提供する工程と、
前記センス信号をある基準に対して定量化して、定量化データを提供する工程と、
ある基準曲線を示す基準データに対する前記定量化データの関係と、前記基準曲線を四分割領域に分割する交線を含む格子データとを確定する工程と、
前記関係に基づいて前記事象を識別する工程と
を備えることを特徴とする高度な処理能力をもつ電子装置での事象分析方法。
【請求項２】
前記事象の固有性を示す事象信号を生成する工程をさらに備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項３】
前記事象に関する電気信号をセンスする工程は、前記電気信号から事象に基づく波形を取り込む工程を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項４】
前記基準は公称電気レベルを備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項５】
前記センス信号を定量化する工程は、持続期間と前記公称電気レベルに対するパーセント電気レベルの変化に基づいて前記センス信号を定量化する工程を備えることを特徴とする請求項４の方法。
【請求項６】
前記パーセント電気レベルはパーセント電圧レベルを備え、また、前記公称電気レベルは公称電圧レベルを備えることを特徴とする請求項５の方法。
【請求項７】
前記基準データに対する前記定量化データの関係を確定する工程は、前記基準データに対して前記定量化データの写像をとり、前記基準データに対する前記定量化データの相対的位置関係を確定する工程を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項８】
前記基準曲線は、情報技術工業（ＩＴＩ）規格の曲線を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項９】
前記関係を確定する工程は、前記基準データに対する前記定量化データと格子データの関係を確定する工程を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１０】
前記格子データは、前記基準データによって示される前記基準曲線上を覆う格子であることを特徴とする請求項９の方法。
【請求項１１】
前記関係に基づいて前記事象を識別する工程は、安全事象と不安全事象のうちの１つとして前記事象を識別する工程を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１２】
前記関係に基づいて前記事象を識別する工程は、過渡、増加、サグ、遮断のうちの１つとして前記事象を識別する工程を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１３】
前記安全事象と前記不安全事象は、複数の種類をさらに備えることを特徴とする請求項１１の方法。
【請求項１４】
前記電気特性は電流を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１５】
前記電気特性は電圧を備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１６】
前記基準もしくは前記基準データを遠隔から設定する工程をさらに備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１７】
前記高度な処理能力をもつ電子装置は、電子遮断装置もしくは保護用リレーを備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１８】
前記事象を示す情報を表示する工程をさらに備えることを特徴とする請求項１の方法。
【請求項１９】
事象に関する電気信号をセンスして、その電気的特性を示すセンス信号を提供するセンサと、
前記センス信号をある基準に対して定量化して定量化データを提供する工程と、ある基準曲線を示す基準データに対する前記定量化データの関係と、前記基準曲線を四分割領域に分割する交線を含む格子データとを確定する工程と、前記関係に基づいて前記事象を識別する工程とを実行可能なプログラムを規定するプログラム信号を含む信号を格納するメモリを備え、また、前記センス信号に応答する信号プロセッサとを備えることを特徴とする高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２０】
前記プログラム信号は、前記事象の固有性を示す事象信号を生成する工程を実行可能なプログラムをさらに規定することを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２１】
前記センサは事象に基づく波形取り込みシステムを備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２２】
前記基準は公称電気レベルを備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２３】
前記センス信号を定量化する工程は、持続期間と前記公称電気レベルに対するパーセント電気レベルの変化に基づいて前記センス信号を定量化する工程を備えることを特徴とする請求項２２の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２４】
前記パーセント電気レベルはパーセント電圧レベルを備え、また、前記公称電気レベルは公称電圧レベルを備えることを特徴とする請求項２３の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２５】
前記基準データに対する前記定量化データの関係を確定する工程は、前記基準データに対して前記定量化データの写像をとり、前記基準データに対する前記定量化データの相対的位置関係を確定する工程を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２６】
前記基準曲線は、情報技術工業（ＩＴＩ）規格の曲線を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２７】
前記関係を確定する工程は、前記基準データに対する前記定量化データと格子データの関係を確定する工程を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２８】
前記格子データは、前記基準データによって示される前記基準曲線上を覆う格子であることを特徴とする請求項２７の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項２９】
前記関係に基づいて前記事象を識別する工程は、安全事象と不安全事象のうちの１つとして前記事象を識別する工程を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３０】
前記関係に基づいて前記事象を識別する工程は、過渡、増加、サグ、遮断のうちの１つとして前記事象を識別する工程を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３１】
前記安全事象と前記不安全事象は、複数の種類をさらに備えることを特徴とする請求項２９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３２】
前記電気特性は電流を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３３】
前記電気特性は電圧を備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３４】
前記基準もしくは前記基準データを遠隔から設定する工程をさらに備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３５】
前記高度な処理能力をもつ電子装置は、電子遮断装置もしくは保護用リレーを備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【請求項３６】
前記遮断寸前事象の検出を示す情報を表示するために、前記遮断寸前事象信号に応答する表示部をさらに備えることを特徴とする請求項１９の高度な処理能力を有する電子装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般的に、例えば、電子的遮断装置や保護用リレー等の高度な処理能力をもつ電子装置に関する。具体的には、本発明は、電子的遮断装置や保護リレー、即ち、高度な処理能力をもつ電子装置の電気分配システムでの事象分析方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
電子的遮断装置は周知のものである。例えば、電子的遮断装置（高度な処理能力をもつ電子装置のうちの１つ）は、典型的には、電源ラインの信号を示すアナログ信号を出力する電圧／電流センサーを備える。このアナログ信号は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器によって、マイクロプロセッサで処理されるデジタル信号に変換される。この遮断装置は、さらに、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）、ＥＥＰＲＯＭ（電子的消去可能／プログラマブル読み出し専用メモリ）を備え、これら全部はマイクロプロセッサとインターフェイスされている。ＲＯＭは、初期化パラメータと起動コードを含む主機能ファームウエア等の遮断装置のアプリケーション・コードを備える。ＥＥＰＲＯＭは、アプリケーション・コードのための実行パラメータを備える。
【０００３】
多くの電子的遮断装置（その他の高度な処理能力をもつ電子装置と同様に）は、事象に基づく波形の取り込みを支援する。即ち、周期的サンプリング・バッファは、実時間でデジタイズされた各相の電流／電圧データを常に格納する。ユーザ定義の事象誘発条件、即ち、前もって定義された事象条件に基づいて、そのバッファは１つの事象の発生前後の数サイクルの代表値を保存するように「凍結」される。バッファ中のデータにより、後続の事象分析を実行することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ユーザはこのデータをどう解釈するかについてしばしば困惑する。電圧／電流変動は様々な異なる原因、例えば、落雷、大負荷のシステムへの追加／除去、故障発生やシステムからの故障の排除等の原因から発生することがある。分析用に取り込んだ波形の生データだけを使って、その原因やその変動による潜在的影響を確定することは難しい。さらに、電気システムから電力供給される装置の性能やその無傷の状態が、その変動の頻度、持続期間、大きさによって影響を受けるかどうかを生データから確定することは難しい。厳しい変動により、接続された負荷に損害を与えることがある。
【０００５】
ビジネス機器製造協会(CBEMA = Computer Business Equipment Manufacturers Association)が前身である情報技術工業委員会(ITI = Information Technology Industry Council)は、ＩＴＩ（ＣＢＥＭＡ）曲線をガイドライン、即ち、規格として規定した。この曲線はほとんどの情報技術機器(ITE = Information Technology Equipment)、例えば、コンピュータ制御製造機器、コンピュータ、プリンタ、複写機、ファクシミリ等で受け入れ可能な交流電圧の入力限界を記述するものである。この曲線は、安定状態と一時的状態の両方向けである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
従って、ある基準に関して電気分配システムの特性を分析することが望ましいと考えられる。これは高度な処理能力をもつ電子装置でなされる。簡潔に言えば、本発明に係る一実施形態によれば、観測された電圧データに対する基準としてＩＴＩ曲線を使って、電気分配システムの動作特性を評価し、電力機器にとって動作状態が安全であるかどうかを確定し、それに基づいて電力異常を特徴づける。
【０００７】
高度な処理能力をもつ電子装置（例えば、電子遮断装置もしくは保護用リレー）の電気分配システムの事象分析方法が提供される。ここでは、電子遮断装置は好適な実施形態によって説明されているが、本発明をその他の高度な処理能力をもつ電子装置にも適用することができる。電子遮断装置は、電力ライン信号を示すアナログ信号を出力する電圧／電流センサを備える。Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器はアナログ信号を、マイクロプロセッサによって処理されるデジタル信号に変換する。さらに、遮断装置は、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）、ＥＥＰＲＯＭ（電子的消去／プログラマブル読み出し専用メモリ）をさらに備え、マイクロプロセッサはそれらの全てと通信する。ＲＯＭは、遮断装置のアプリケーション・コード、例えば、初期化パラメータと起動コードを含む主機能ファームウエアを備える。アプリケーション・コードは、本発明の事象分析アルゴリズムのコードを含む。ＥＥＰＲＯＭは、実行パラメータ、例えば、アプリケーション・コードに対してＩＴＩ曲線パラメータを設定するためのコードを備える。工場でこれらのパラメータを遮断装置に格納してもよいが、基準値の更新や変更を行うために遠隔からダウンロードしてもよい。
【０００８】
本発明に係る好適な実施形態の高度な処理能力をもつ電子装置の事象分析アルゴリズムでは、ある事象を示すデータをセンスし、定量化する。そして、本アルゴリズムでは、基準曲線を示す基準データに対する定量化データの関係を確定し、この曲線との関係に基づいて前記事象を識別する。
【０００９】
本発明の別の実施形態では、ＩＴＩ曲線に関して４つの四分割領域(quadrants)が定義され、これらの四分割領域は本明細書で定義されるサグ、サージ、遮断、過渡に対応する事象を実質的に代表するる。そして、各事象（取り込まれた波形からのデータ）は、４つの四分割領域の各々内の安全領域か不安全領域に属するものとして特徴づけられる。このように事象の分析を行う。
【００１０】
本発明によれば、取り込んだ波形からデータを解釈する際の混乱と時間をかなり削減する。そして、変動の場所、周波数、持続期間、大きさから、電流／電圧変動の原因に関する情報を得ることができる。
【００１１】
さらに、高度な処理能力をもつ電子装置自体で本発明の事象分析アルゴリズムを実行する。分析されプロットされた情報を、高度な処理能力をもつ電子装置に局所的に取り付けられたかディスプレイ上か、または、遠隔の中央監視部のいずれか一方に読み出すことができる。１つの電圧変動からの影響を同時に受ける可能性があり、また、事象に基づく波形を取り込める高度な処理能力をもつ多くの電子装置を含む大きな設備にとって、これは大きなメリットである。中央監視部が受信して処理する必要のある全データ量は大幅に削減される。このことは、データ送信時間、処理時間、コンピュータ処理能力、オペレータの手動による分析について大きな節約を意味する。
【００１２】
【発明の実施の形態】
遮断装置３０の一般的概要を図１に示す。本発明は電子的遮断装置に限定されることはなく、一般的なＩＥＤ向けであることが正しく理解されるべきである。遮断装置３０は、信号ライン３４上の電圧測定値を示すアナログ信号を出力する電圧センサ３２と、信号ライン３８上の電流測定値を示すアナログ信号を出力する電流センサ３６とを備える。ライン３４、３８上のアナログ信号はＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器４０に与えられて、これらのアナログ信号はデジタル信号に変換される。デジタル信号は、バス４２を介して、例えば、日立電子コンポーネント・グループから商業的に入手可能なマイクロプロセッサ（信号プロセッサ）４４（日立製Ｈ８／３００ファミリ・マイクロプロセッサ）に送られる。遮断装置３０は、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）４６、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）４８、ＥＥＰＲＯＭ（電子的消去／プログラマブル読み出し専用メモリ）５０をさらに備え、マイクロプロセッサ４４は制御バス５２を介してそれらの全てと通信する。Ａ／Ｄ変換器４０、ＲＯＭ４８、ＲＡＭ４６、または、それらの組み合わせは周知のマイクロプロセッサ４４に内臓してもよい。ＥＥＰＲＯＭ５０は不揮発性であるため、電源遮断、即ち、停電中でもシステム情報とプログラミングが失われることはない。マイクロプロセッサ４４から制御バス５２を介して受信した表示信号に応答して、データ、典型的には回路ブレーカの状態がディスプレイ５４に表示される。マイクロプロセッサ４４から制御バス５２を介して受信した制御信号に応答して、出力制御デバイス５６は、ライン６０を介して遮断モジュール５８を制御する。校正、テスト、プログラミング、その他の処理は、制御バス５２を介してマイクロプロセッサ４４と通信する通信Ｉ／Ｏポート６２を介して実行される。公共の電力源から電力供給される電源６３は、ライン６４を介して遮断装置３０の構成要素に適切な電力を供給する。ＲＯＭ４８は、遮断装置のアプリケーション・コード、例えば、初期化パラメータと起動コードを含む主機能ファームウエアを備える。アプリケーション・コードは、本発明の故障予知アルゴリズムのコードを含む。
【００１３】
ＥＥＰＲＯＭ５０は、実行パラメータ・コード、例えば、ＩＴＩ曲線パラメータ用コードを備える。工場でこれらのパラメータを遮断装置に格納してもよいが、以下で述べられるように、遠隔からダウンロードしてもよい。事象分析アルゴリズムは実時間で実行されるが、スタートアップ時に起動コードから処理を開始するのが好ましい。本発明の模範的実施形態では、ここで定義されるサグ、サージ、遮断、過渡に対応する事象を実質的に代表するＩＴＩ曲線に関して複数の領域が定義される。そして、各事象（取り込まれた波形データ）は、各領域での安全／非安全区域に属するものとして特徴づけられる。このようにして事象の分析を行う。
【００１４】
図２には、ＩＴＩ曲線（１９９６年改訂）のプロットが６９で示されている。ＩＴＩ曲線６９を示すデータは遮断装置３０のＥＥＰＲＯＭ５０に格納されている。この曲線は幾つかの型の事象をアドレス付けする。ＲＭＳ電圧が非常にゆっくりと変化するか、または、一定であるかのいずれか一方である安定状態の範囲によって、安定状態の許容範囲を規定する。それに含まれる範囲は公称電圧から＋／−１０％である。”公称電圧”という用語は、例えば、１２０ＶＲＭＳ、６０Ｈｚ等の理想状態を暗に意味する。この範囲の電圧は、不定の期間存在してもよく、また、分配システムでの正規の負荷と損失の関数である。線間電圧増加（サージ、即ち、過電圧）事象は、０．５秒までの持続期間、ＲＭＳ公称電圧の１２０％までのＲＭＳ振幅をもつ電圧増加領域として定義される。大きな負荷がシステムから除去されたときや、電圧が電気事業所以外の供給源から供給されるときに、この過渡が発生することがある。低周波減衰リング波過渡事象は、力率補正コンデンサを交流分配システムに接続することにより発生する領域として定義される。この過渡の周波数は、交流分配システムの共鳴周波数に依存する２００Ｈｚから５００Ｈｚまでの範囲でよい。過渡の絶対値は、６０Ｈｚでの最大公称電圧（即ち、ＲＭＳ値ではない）に対するパーセンテージで表される。半サイクル内の公称電圧波形の最大値近傍で発生するか、もしくは、発生すると見られる過渡は、そのサイクルの終わりまでに完全に減衰すると見なされる。過渡の振幅は２００Ｈｚのリング波での１４０％から、５ＫＨｚのリング波での２００％まで変化し、結果として、周波数の増加に伴い振幅が線形増加する。高周波インパルスとリング波過渡事象は、落雷の結果として代表的な過渡が発生する領域として定義される。この過渡と一般的テスト条件に適用できる波形については、（援用文献となる）ＡＮＳＩ／ＩＥＥＥ Ｃ６２．４１−１９９１で説明されている。本曲線のこの領域は、ＲＭＳ振幅ではなく振幅と持続期間（エネルギー）の両方に関係する。これは、８０ジュールの最小過渡に免疫性をもたらすことを意図する。２つの異なるＲＭＳ電圧サグ（不足電圧）事象領域が定義されている。一般的に、これらの過渡は、故障の場合だけでなく、交流分配システムの様々な位置に大きな負荷が与えられた場合に起こる。公称値の８０％まで（２０％の最大偏差）のサグは１０秒までの典型的な持続期間をもつものと見なされ、また、公称値の７０％（最大偏差の３０％）までのサグは、０．５秒までの持続期間をもつものと見なされる。電圧ドロップアウト（遮断）事象には、公称電圧供給再開直前の厳しいＲＭＳ電圧サグと供給電圧の完全遮断の両方が含まれる。遮断は２０ミリ秒まで続くこともある。この過渡は、典型的には、交流分配システムでの故障発生とその後の解決によって発生する。サグとドロップアウトを含む事象が上述したものより厳しい領域と、連続的に供給される電圧が安定状態の許容範囲の下限より低い領域は、無損害領域として定義される。これらの条件下では、一般的に、ＩＥＤは正常動作状態にならないが、ＩＥＤに損傷を与えることはない。禁止領域は、サージ、即ち、境界の上限を超える増加領域として定義され��。もし、ＩＥＤがその状態になるとＩＥＤは損傷を受けることがある。
【００１５】
本発明の好適な実施形態では、格納されたＩＴＩ曲線６９は、交わる２つの線７８（公称電圧で）と８０（２０ｍｓで）、即ち、格子によって四分割領域に分割される。さらに、ＩＴＩ６９自体によって、四分割領域はＢＡＤ（危険）領域とＳＡＦＥ領域に分割される。また、これらのＢＡＤ１乃至ＢＡＤ３領域とＳＡＦＥ１乃至ＳＡＦＥ４領域を表すデータが遮断装置３０のＥＥＰＲＯＭ５０に格納される。各ＢＡＤ領域とＳＡＦＥ領域は、ＩＴＩ曲線６９と交線７８、８０によって規定される。
【００１６】
高度な処理能力を有する電子装置が事象に基づいて波形の取り込みを行うことは周知のことである。周知の事象に基づく波形の取り込みの際、周期的サンプリング・バッファには実時間で常時、各相の電流と電圧のデジタイズされたデータが格納される。さらに、ユーザ定義の事象誘発(trigger)条件、即ち、予め定義された事象条件に基づいてこのバッファは凍結され、事象発生前後の数サイクル分の代表値を保存する。事象に基づく波形の取り込みは周知のことであり、本発明はバッファに格納されたデータ（即ち、事象発生前後の数サイクルの各相の電流と電圧をデジタイズしたデータ）の分析に関する。データは、持続期間と公称電圧（ＲＭＳあるいは最大値と等価な値）に対するパーセント電圧振幅によって定量化される。次に、この定量化されたデータの位置をＩＴＩ曲線６９に関して探し出して、どの四分割領域に、具体的には、ＳＡＦＥ領域あるいはＢＡＤ領域のどちらにデータが入るのかを確定する。さらに、このデータは、電圧サグ領域、線間電圧増加領域、遮断領域、あるいは複数の過渡領域のうちの１箇所に存在するものとしてその位置を求めることができる。
【００１７】
図３では、ＩＴＩ曲線（１９９６年以前）のプロットが８２で示されている。本発明の別の好適な実施形態では、ＩＴＩ曲線８２を示すデータが遮断装置３０のＥＥＰＲＯＭ５０に格納されている。この曲線によって複数の型の事象のアドレスが指定される。電圧が非常にゆっくり変化するのか、または、一定であるかのいずれか一方の安定状態の範囲によって、安定状態の許容範囲を定義する。”公称電圧”という用語は、例えば、１２０ＶＲＭＳ、６０Ｈｚの理想状態を含意する。この範囲内の電圧は不定の期間存在してもよく、分配システムの公称負荷と損失の関数となる。線間電圧増加（サージ、即ち、過電圧）事象は、２０００μ秒より長い期間、ＲＭＳ公称電圧１０６％までのＲＭＳ振幅をもつ電圧増加領域として定義される。大負荷がシステムから除去されたり、電圧が電気事業所以外の供給源から供給されるときにこの過渡が発生することがある。過渡事象は、急激なサブサイクルじょう乱(disturbance)の発生領域として定義される。この過渡の周波数は、５ＫＨｚより低いところから５ＫＨｚまでの範囲にあってもよい。電圧サグ（不足電圧）事象領域は、２０００μ秒を越える持続期間をもつ、ＲＭＳ公称電圧の８７％未満のＲＭＳ振幅として定義される。一般的に、これらの過渡は、故障状態はもとより、交流分配システムの様々な地点に重い負荷が与えられると発生する。電圧ドロップアウト（遮断）事象は、１サイクルを越える期間、供給された電圧が完全損失することである。非損傷領域は、サグとドロップアウトを含む事象が上述の状態より厳しい領域と、連続的に供給された電圧が安定状態の許容範囲の下限未満である領域として定義される。これらの領域では、ＩＥＤの正常動作は通常期待できないが、ＩＥＤの損傷はない。禁止領域は、サージ、即ち、境界の上限を越える増加領域として定義される。もし、ＩＥＤがその領域に入ると、ＩＥＤは損傷することがある。
【００１８】
本実施形態では、（公称電圧の）交線８４と（２０ｍｓの）交線８６、即ち、格子によって、格納されたＩＴＩ曲線（１９９６年以前）８２は複数の四分割領域に分割される。さらに、ＩＴＩ曲線（１９９６年以前）自体によって、複数の四分割領域はＢＡＤ（非安全）領域とＳＡＦＥ領域に分割される。また、これらのＢＡＤ１−４領域とＳＡＦＥ１−４領域を示すデータは、遮断装置３０のＥＥＰＲＯＭ５０に格納される。このＢＡＤ領域とＳＡＦＥ領域の各々は、ＩＴＩ曲線（１９９６年以前）８２と交線８４、８６によって定義される。事象に基づく波形の取り込みは前述したように電子的遮断装置３０内で行われ、また、持続期間と公称電圧（ＲＭＳあるいは最大値と等価な値）に対するパーセント電圧振幅によって定量化されたデータを求める。次に、この定量化されたデータのＩＴＩ曲線８２に対する位置を求めて、どの四分割領域に入るか、具体的には、データがどのＳＡＦＥ領域あるいはＢＡＤ領域に入るかを確定する。
【００１９】
遮断装置３０でデータを局所的に処理（分析）するので、中央監視部が受信して処理する必要のあるデータの全体量は大きく削減される。さらに、本発明で使うことができるその他の基準（曲線）も本発明の範囲内にある。
【００２０】
遮断装置３０や中央のコンピュータ（不図示）で、本発明での分析結果を表示することができる。事象の型（電圧サグ、線間電圧増加、遮断、又は、過渡の内の１つ）に基づいて、ＳＡＦＥ事象やＢＡＤ事象の種類でこれを簡単に表示することができる、即ち、そこに位置する定量化されたデータと共にＩＴＩ曲線を表示する、即ち、プロットすることができる。
【００２１】
好適には、上述の曲線パラメータとその他の設定値の全てがＥＥＰＲＯＭ５０に格納され、それらは通信Ｉ／Ｏポート６２を介して所望のパラメータをダウンロードすることによって変更できる。これには、その装置がシステム・コンピュータ（不図示）に直接、あるいは、電話回線で、もしくは、その他の適切な接続方法で接続されている場合、上述のデータを遠隔からダウンロードすることも含まれる。また、ＥＥＰＲＯＭ５０は、上述のデータをフラッシュすることができる周知のフラッシュメモリを備えることが望ましい。
【００２２】
好適な実施形態が示され、また、説明されたが、本発明の精神と範囲から外れることなしにそれらに対して様々な変形や代替えを行うことが可能である。従って、本発明は図示されて説明されたが、それに限定されるものではないことを理解すべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】  図１は、高度な処理能力を有する典型的な電子装置の模式的ブロック図である。
【図２】  図2は、本発明の一実施形態に係る、複数の四分割領域に分割されたＩＴＩ曲線（１９９６年以前）のグラフである。
【図３】  図３は、本発明の別の実施形態に係る、複数の四分割領域に分割されたＩＴＩ曲線（１９９６年以前）のグラフである。
【図１】
0004374142.tif 000002
【図２】
0004374142.tif 000003
【図３】
0004374142.tif 000004