(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＩＣ試験プログラムの各実行命令の実行時間を、当該実行命令に対応づけて記憶する記憶手段と、
前記ＩＣ試験プログラムを実行する実行手段と、
前記実行手段によって実行されるＩＣ試験プログラムの実行時間を実行開始から少なくとも前記ＩＣ試験プログラムの実行終了まで累積的にカウントする累計手段と、
前記実行手段が前記ＩＣ試験プログラムを実行中に、前記ＩＣ試験プログラムの実行命令毎に、前記累計手段によって累積的にカウントされた実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させる読出手段と、
各実行命令に対応して前記記憶手段に記憶された前記累積的にカウントされた実行時間から直前の実行命令に対応して記憶された前記累積的にカウントされた実行時間を減算することで各実行命令のみに係る実行時間を求める算出手段と、
を備えたことを特徴とするＩＣ試験装置。
【請求項２】
前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間を、実行命令毎にキャラクタで表示するキャラクタ表示手段を更に備えたことを特徴とする請求項１記載のＩＣ試験装置。
【請求項３】
前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間に基づいて、画像データを作成・表示する画像作成手段を更に備えたことを特徴とする請求項１または２記載のＩＣ試験装置。
【請求項４】
前記画像作成手段は、前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間に基づいて、前記画像データとして、棒グラフや折れ線グラフを作成・表示することを特徴とする請求項３記載のＩＣ試験装置。
【請求項５】
前記読出手段は、前記ＩＣ試験プログラム中に挿入された計測位置情報毎に、前記累計手段によって累積的にカウントされた実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項１〜４のいずれか記載のＩＣ試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣ試験プログラムの実行時間を表示するＩＣ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のＩＣ（Integrated Circuit：集積回路）試験装置に係るＩＣ試験プログラムの実行時間を測定・表示する方法の一例を、図６〜図７を参照して説明する。図６は、従来のＩＣ試験装置１００の機能ブロックを示す図である。ＩＣ試験装置１００は、ＩＣ試験装置本体２０と、入力装置１１と、表示装置１２とから構成されており、ＩＣ試験装置本体２０は、ＩＣ試験部３と、試験プログラム４と、試験時間カウント装置５と、表示制御装置６とから構成されている。また、試験時間カウント装置５は、試験時間カウント部５Ａと、試験時間カウント制御ソフトウェア（以下、「ソフトウェア」を適宜「ソフト」と略称する。）５Ｂとから構成されており、表示制御装置６は、表示制御ソフト６Ａから構成されている。
【０００３】
ここで、試験プログラム４と、試験時間カウント制御ソフト５Ｂと、表示制御ソフト６Ａはそれぞれが独立したソフトウェアであり、実際にはそれぞれのソフトウェアを動作実行するための実行部（例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等）が存在するが、各ソフトウェアにおける当該実行部の動作説明を容易にするため、以下、ソフトウェア自体が動作実行することとして説明する。
【０００４】
ＩＣ試験装置１００において、試験プログラム４の実行時間を測定・表示するために、まず、入力装置１１から試験プログラム４の試験時間カウント取得を実行する旨の指示入力が行われると、当該指示が試験時間カウント制御ソフト５Ｂに入力される。
【０００５】
次いで、試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験時間カウント部５Ａのカウント値を初期化して、試験時間カウント部５Ａにカウントを開始させる。そして、試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験プログラム４の実行開始を指示することにより、試験プログラム４によってＩＣ試験部３に保持されている被試料ＩＣの試験が開始される。
【０００６】
試験プログラム４の実行が終了すると、試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験時間カウント部５Ａにカウントの終了を指示する。そして、当該カウント値が表示制御ソフト６Ａに出力されると、表示制御ソフト６Ａは、当該カウント値をキャラクタデータに変換して、表示装置１２にキャラクタで表示出力する。
【０００７】
図７は、ＩＣ試験装置１００における表示装置１２に表示された試験時間の一例を示す図である。図７において、ＩＣ試験の試験プログラムの実行時間は、１２．１１１ｓｅｃであった旨表示されている。
【０００８】
このように、従来のＩＣ試験装置における試験プログラムの実行時間の表示は、当該試験プログラムの実行開始から実行終了までの時間のみが表示装置に表示されるものであった。
【０００９】
一方、試験プログラムには、様々なＩＣ試験を行うための一連の処理が記述されている。このため、試験プログラムの記述を見直すことによって、ＩＣ試験全体に係る試験時間を短縮させることが可能である。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のＩＣ試験装置は、上記の通り、試験プログラムの実行時間のみが表示されるため、試験プログラムの実行時間を実行命令毎に表示させることによって、実行命令毎の実行時間を解析し、試験プログラム記述の冗長性を発見・改善して、ＩＣ試験全体に係る試験時間の短縮化を図ることが困難であった。
【００１１】
また、実行命令毎に実行時間を表示させる場合であっても、実行時間のみがキャラクタで表示されることは、実行時間の確認は容易であるが、ＩＣ試験全体における各実行命令の割合が把握し難い。
【００１２】
さらに、試験プログラム記述の解析作業は、本格的なＩＣ試験を行う前に行われるのが通常であり、また、種々のＩＣ試験装置全てを改造するには多大なコストが必要であるため、従来のＩＣ試験装置自体への改造を行わずに、別途、試験プログラム記述の解析作業用の装置を追加・取り外しできることが理想である。
【００１３】
本発明の課題は、従来の試験時間カウント装置を用いて、ＩＣ試験を行うための試験プログラムの実行命令単位の実行時間を記録・出力できるＩＣ試験装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明のＩＣ試験装置は、ＩＣ試験プログラムの各実行命令の実行時間を、当該実行命令に対応づけて記憶する記憶手段（例えば、データ記録部８Ａ）と、前記ＩＣ試験プログラムを実行する実行手段（例えば、ＩＣ試験部３及び試験プログラム４）と、前記実行手段によって実行されるＩＣ試験プログラムの実行時間を実行開始から少なくとも前記ＩＣ試験プログラムの実行終了まで累積的にカウントする累計手段（例えば、試験時間カウント部５Ａ及び試験時間カウントソフトウェア５Ｂ）と、前記実行手段が前記ＩＣ試験プログラムを実行中に、前記ＩＣ試験プログラムの実行命令毎に、前記累計手段によって累積的にカウントされた実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させる読出手段（例えば、試験プログラム監視ソフトウェア８Ｂ及び統括制御ソフトウェア９Ｃ）と、  各実行命令に対応して前記記憶手段に記憶された前記累積的にカウントされた実行時間から直前の実行命令に対応して記憶された前記累積的にカウントされた実行時間を減算することで各実行命令のみに係る実行時間を求める算出手段と、を備えたことを特徴としている。
【００１５】
この請求項１記載の発明のＩＣ試験装置によれば、
記憶手段は、ＩＣ試験プログラムの各実行命令の実行時間を、当該実行命令に対応づけて記憶し、実行手段は、前記ＩＣ試験プログラムを実行し、累計手段は、前記実行手段によって実行されるＩＣ試験プログラムの実行時間を実行開始から累計し、読出手段は、前記実行手段が前記ＩＣ試験プログラムを実行中に、前記ＩＣ試験プログラムの実行命令毎に、前記累計手段によって累計された実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させる。
【００１６】
したがって、実行命令毎の実行時間を把握することができるため、試験プログラム記述の冗長性を発見・改善して、ＩＣ試験全体に係る試験時間の短縮化を図ることができる。
【００１７】
また、請求項２記載の発明は、
請求項１記載のＩＣ試験装置において、
前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間を、実行命令毎にキャラクタで表示するキャラクタ表示手段（例えば、表示制御ソフトウェア８Ｃ）を更に備えたことを特徴としている。
【００１８】
この請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の発明の効果に加えて、従来のＩＣ試験装置において利用されていたキャラクタ表示の表示装置を用いて、実行命令毎の実行時間を表示させることができるため、本発明を適用するためのコストを低減させることが可能となる。
【００１９】
また、請求項３記載の発明は、
請求項１または２記載のＩＣ試験装置において、
前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間に基づいて、画像データを作成・表示する画像作成手段（例えば、画像制御ソフトウェア９Ｂ）を更に備えたことを特徴としている。
【００２０】
この請求項３記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明の効果に加えて、実行命令と実行時間が画像データとして表示されるため、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を容易に把握することができる。
【００２１】
また、請求項４記載の発明のように、
請求項３記載のＩＣ試験装置において、
前記画像作成手段は、前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間に基づいて、前記画像データとして、棒グラフや折れ線グラフを作成・表示することとしてもよい。
【００２２】
この請求項４記載の発明によれば、請求項３記載の発明の効果に加えて、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を、より分かり易く表示させることができる。
【００２３】
また、請求項５記載の発明のように、請求項１〜４のいずれか記載のＩＣ試験装置において、前記読出手段は、前記ＩＣ試験プログラム中に挿入された計測位置情報（例えば、計測命令コード）毎に、前記累計手段によって累積的にカウントされた実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させることとしてもよい。
【００２４】
この請求項５記載の発明によれば、請求項１〜４記載の発明の効果に加えて、試験プログラムに膨大な数の実行命令が含まれている場合にも、所望の数に分割された試験プログラムの実行時間を得ることができるとともに、試験プログラム中の、冗長性があると思われる記述の前後に、適宜計測位置情報を埋め込むことによって、試験プログラムの解析作業を更に効率的に行うことが可能である。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、図１〜図５を参照して本発明を適用したＩＣ試験装置１の実施の形態を詳細に説明する。
【００２６】
本発明を適用したＩＣ試験装置１は、従来のＩＣ試験装置１００（図６参照）に、試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９を更に備えた構成であり、試験プログラム４内の実行命令毎の実行時間が試験時間カウント装置５によってカウント（計測）されるとともに、試験時間記録・出力装置８に記録されて、最終的に、画像制御装置９によって画像データとして各実行命令毎の実行時間が表示装置１２に表示される装置である。
【００２７】
まず構成を説明する。
図１は、本実施の形態におけるＩＣ試験装置１の機能ブロック図である。本実施の形態のＩＣ試験装置１では、従来の図６に示したＩＣ試験装置１００と同一の部分には同一符号を付している。
【００２８】
図１において、ＩＣ試験装置１は、ＩＣ試験装置本体１０と、入力装置１１と、表示装置１２とから構成されており、ＩＣ試験装置本体１０は、ＩＣ試験部３と、試験プログラム４と、試験時間カウント装置５と、試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９とから構成されている。
【００２９】
ここで、試験プログラム４の他、後述する試験時間カウント制御ソフトウェア（以下、「ソフトウェア」を適宜「ソフト」と略称する。）５Ｂ、試験プログラム監視ソフト８Ｂ、表示制御ソフト８Ｃ、画像制御ソフト９Ｂ、統括制御ソフト９Ｃは、それぞれが独立したソフトウェアであり、実際にはそれぞれのソフトウェアを動作実行するための実行部（例えば、ＣＰＵ等）が存在するが、各ソフトウェアにおける当該実行部の動作説明を容易にするため、以下、ソフトウェア自体が動作実行することとして説明する。
【００３０】
また、図１において、ＩＣ試験部３は、試験プログラム４に従って、実際に被測定ＩＣの試験を行う試験部であり、試験プログラム４には、種々のＩＣ試験を行うための試験手順として、ＩＣ試験部３内の各部の動作手順等が記述されている。
【００３１】
試験時間カウント装置５は、従来のＩＣ試験装置１００と同様、試験プログラム４の試験実行時間をカウント（計測）する試験時間カウント部５Ａと、試験時間カウント部５Ａを制御する試験時間カウント制御ソフト５Ｂとから構成されている。試験時間カウント部５Ａの出力は、通常は、従来のＩＣ試験装置１００の構成と同様に、表示制御装置６（図６参照）に設定されているが、実行命令単位の試験実行時間の計測を行う場合には、統括制御ソフト９Ｃによって、データ記録部８Ａに設定されて、計測したカウント値を実行命令単位毎にデータ記録部８Ａに出力する。
【００３２】
試験時間記録・出力装置８は、データ記録部８Ａと、試験プログラム監視ソフト８Ｂと、表示制御ソフト８Ｃとから構成されており、試験プログラム監視ソフト８Ｂは、各実行命令の試験プログラム４における位置を監視して、データ記録部８Ａに出力し、データ記録部８Ａは、試験時間カウント部５Ａから出力されるカウント値と、試験プログラム監視ソフト８Ｂから出力される各実行命令の命令位置を記録する。また、表示制御ソフト８Ｃは、データ記録部８Ａによって記録されたカウント値と命令位置を、従来のＩＣ試験装置１００の表示制御ソフト６Ａと同様に、キャラクタデータに変換して表示出力するものであるが、出力先は、仮想的な表示装置として機能する仮想端末９Ａである。
【００３３】
画像制御装置９は、仮想端末９Ａと、画像制御ソフト９Ｂと、統括制御ソフト９Ｃとから構成されており、仮想端末９Ａは、実際には表示しない、仮想的な表示装置として機能する端末であり、表示制御ソフト８Ｃから入力されるキャラクタデータに変換された各実行命令のカウント値と命令位置を、画像制御ソフト９Ｂに出力する。画像制御ソフト９Ｂは、仮想端末９Ａから入力された各実行命令のカウント値と命令位置に基づいて、グラフ表示するための画像データを作成して、表示装置１２に表示させる。
【００３４】
統括制御ソフト９Ｃは、実行命令単位の試験実行時間の計測を行うため、試験時間カウント制御ソフト５Ｂ、試験プログラム監視ソフト８Ｂ、表示制御ソフト８Ｃ等を統括的に制御するものであり、試験時間カウント制御ソフト５Ｂに対して試験時間を取得する旨の指示信号を出力し、試験時間カウント部５Ａの出力をデータ記録部８Ａに記録する旨の指示信号を出力するとともに、表示制御ソフト８Ｃの出力を仮想端末９Ａに設定する。
【００３５】
入力装置１１は、試験プログラム４を実行して、試験プログラム４における各実行命令毎の試験実行時間の計測を開始する旨の指示入力が行われる装置であり、当該指示入力は、統括制御ソフト９Ｃに出力される。
【００３６】
次に動作を説明する。
図２は、ＩＣ試験装置１が、試験プログラム４の各実行命令毎の試験実行時間を画像表示するまでの動作を示すフローチャートである。
【００３７】
まず、ステップＳ１において、入力装置１１から試験プログラム４の各実行命令毎の試験実行時間の画像表示を行う旨の指示入力がなされると、当該指示が統括制御ソフト９Ｃに入力される。そして、統括制御ソフト９Ｃは、試験時間カウント制御ソフト５Ｂと、試験プログラム監視ソフト８Ｂと、表示制御ソフト８Ｃに実行開始の指示信号を出力する。実行開始の指示信号を入力した試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験時間カウント部５Ａのカウント値の出力をデータ記録部８Ａに設定して、試験時間カウント部５Ａにカウント開始を指示するとともに、試験プログラム４にＩＣ試験の実行開始の指示信号を出力する。
【００３８】
次に、ステップＳ２において、統括制御ソフト９Ｃから実行開始の指示信号を入力した試験プログラム監視ソフト８Ｂは、試験プログラム４の実行を監視して、実行している命令のプログラム上の位置を読み込み、データ記録部８Ａに当該命令位置を出力するとともに、試験時間カウント部５Ａから出力された当該命令位置に対応する当該命令のカウント値を、当該命令位置と併せて記録させる。そして、試験プログラム監視ソフト８Ｂは、試験プログラム４の実行命令毎に、プログラム上の位置とカウント値をデータ記録部８Ａに記録させる処理を、試験プログラム４が終了するまで繰り返し実行する。
【００３９】
次いで、ステップＳ３において、表示制御ソフト８Ｃは、データ記録部８Ａに記録されている試験プログラム４の実行命令毎のプログラム上の実行位置とカウント値を順次入力し、キャラクタデータに変換して、表示データとして仮想端末９Ａに出力する。
【００４０】
ここで、キャラクタデータに変換されたデータは、試験プログラム４の実行命令毎のプログラム上の位置と、実行命令毎の実行時間である。実行時間は、求める位置のカウント値から直前のカウント値の差を求めることにより算出される。
【００４１】
ステップＳ４において、仮想端末９Ａが、表示制御ソフト８Ｃから出力されたデータを画像制御ソフト９Ｂに出力すると、画像制御ソフト９Ｂは、当該データに基づいて、グラフ表示するための画像データを作成する。
【００４２】
次いで、ステップＳ５において、画像制御ソフト９Ｂによって作成された画像データが表示装置１２へ出力され、表示装置１２に画像として表示される。
【００４３】
ここで、図３に、一例として、データ記録部８Ａが記録した、試験時間カウント部５Ａから出力されたカウント値と、試験プログラム監視ソフト８Ｂから出力された試験プログラム４の実行命令位置とのデータイメージを示す。図３において、カウント値は、試験プログラム４の実行開始からカウントされた値であるため、累積されている。
【００４４】
また、図４に、一例として、表示制御ソフト８Ｃが仮想端末９Ａに出力するデータのイメージ図を示す。図４において、ＬＩＮＥとは、試験プログラム４における実行命令毎のプログラム上の位置を表し、ＴＩＭＥとは、その命令の実行時間を表している。また、ＴＩＭＥの各値は、図３における累積されたカウント値から求まる、当該命令のみに係る実行時間である。
【００４５】
また、図５に、表示装置１２に表示された画像データの一例を示す。図５において、画像データに表示されたグラフは、横軸が試験プログラム４における各実行命令のプログラム上の位置を表しており、縦軸が実行時間を表している。また、棒グラフは各命令毎の実行時間を表しており、折れ線グラフが試験プログラム４の実行開始から実行終了までの累計時間を表す２次元グラフである。
【００４６】
以上のように、本発明を適用したＩＣ試験装置１は、従来のＩＣ試験装置１００に、試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９を更に備えた構成であり、試験プログラム４内の実行命令毎の実行時間が試験時間カウント装置５によってカウントされるとともに、試験時間記録・出力装置８に記録されて、最終的に、画像制御装置９によって画像データとして各実行命令毎の実行時間が表示装置１２に表示される。
【００４７】
したがって、試験プログラムの試験時間が画像データとして、実行命令毎に表示されるため、試験時間全体における各実行命令の割合を容易に把握することができる。このため、試験プログラムの解析効率を向上させて、試験プログラムの冗長な記述を改善することが可能であり、ＩＣ試験に係る試験時間の短縮／高効率化が求められている今日において、その目的を達成することが可能である。
【００４８】
また，ＩＣ試験装置１は、従来のＩＣ試験装置に試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９を更に備えた構成であるため、従来のＩＣ試験装置の資源を変更・改造する必要がない。即ち、試験時間記録・出力装置８及び画像制御装置９を開発するだけで本発明の適用が可能であるため、開発効率に優れ、また、１台の試験時間記録・出力装置８及び画像制御装置９を開発するだけで、複数の従来のＩＣ試験装置へ適用することが可能である。
【００４９】
なお、本発明は、上記実施の形態の内容に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能であり、例えば、試験プログラム４中の所望位置に計測命令コードを埋め込んで、当該計測命令コード毎に試験時間を計測するような構成としてもよい。その場合には、試験プログラム４に膨大な数の実行命令が含まれている場合にも、最終的なグラフ表示として、所望の数に分割された試験プログラム４の実行時間が表示されるため、分かり易い表示を得ることが可能である。また、試験プログラム４中の、冗長性があると思われる記述の前後に、適宜計測命令コードを埋め込むことによって、試験プログラム４の解析作業を更に効率的に行うことが可能である。
【００５０】
また、データ記録部８Ａに記録された各実行命令のカウント値と命令位置を画像制御ソフト９Ｂに直接出力し、画像制御ソフト９Ｂがグラフ表示するための画像データを作成することとしてもよい。
【００５１】
また、表示制御ソフト８Ｃによってキャラクタデータに変換されたカウント値と命令位置を、表示装置１２へ出力し、キャラクタデータとして表示することとしてもよい。
【００５２】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、実行命令毎の実行時間を把握することができるため、試験プログラム記述の冗長性を発見・改善して、ＩＣ試験全体に係る試験時間の短縮化を図ることができる。
【００５３】
請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の発明の効果に加えて、従来のＩＣ試験装置において利用されていたキャラクタ表示の表示装置を用いて、実行命令毎の実行時間を表示させることができるため、本発明を適用するためのコストを低減させることが可能となる。
【００５４】
請求項３記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明の効果に加えて、実行命令と実行時間が画像データとして表示されるため、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を容易に把握することができる。
【００５５】
請求項４記載の発明によれば、請求項３記載の発明の効果に加えて、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を、より分かり易く表示させることができる。
【００５６】
請求項５記載の発明によれば、請求項１〜４記載の発明の効果に加えて、試験プログラムに膨大な数の実行命令が含まれている場合にも、所望の数に分割された試験プログラムの実行時間を得ることができるとともに、試験プログラム中の、冗長性があると思われる記述の前後に、適宜計測位置情報を埋め込むことによって、試験プログラムの解析作業を更に効率的に行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用したＩＣ試験装置１の機能ブロックを示す図。
【図２】図１のＩＣ試験装置１が、試験プログラム４の各実行命令毎の試験実行時間を画像表示するまでの動作を示すフローチャート。
【図３】図１のデータ記録部８Ａが記録した、試験時間カウント部５Ａから出力されたカウント値と、試験プログラム監視ソフト８Ｂから出力された試験プログラム４の実行命令位置とのデータイメージを示す図。
【図４】図１の表示制御ソフト８Ｃが仮想端末９Ａに出力するデータのイメージを示す図。
【図５】図１の表示装置１２に表示された画像データの一例を示す図。
【図６】従来のＩＣ試験装置１００の機能ブロックを示す図。
【図７】従来のＩＣ試験装置１００における表示装置１２に表示された試験時間の一例を示す図。
【符号の説明】
１、１００    ＩＣ試験装置
３    ＩＣ試験部
４    試験プログラム
５    試験時間カウント装置
５Ａ    試験時間カウント部
５Ｂ    試験時間カウント制御ソフトウェア
６    表示制御装置
６Ａ    表示制御ソフトウェア
８    試験時間記録・出力装置
８Ａ    データ記録部
８Ｂ    試験プログラム監視ソフトウェア
８Ｃ    表示制御ソフトウェア
９    画像制御装置
９Ａ    仮想端末
９Ｂ    画像制御ソフトウェア
９Ｃ    統括制御ソフトウェア
１１    入力装置
１２    表示装置
【図１】
0004211132.tif 000002
【図２】
0004211132.tif 000003
【図３】
0004211132.tif 000004
【図４】
0004211132.tif 000005
【図５】
0004211132.tif 000006
【図６】
0004211132.tif 000007
【図７】
0004211132.tif 000008