(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に画像を記録する記録手段と、
前記記録手段を主走査軸に沿って往復移動させる走査手段と、
前記記録手段によって記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記一対のテストパターンの濃度データの相関に基づいて、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有する画像記録装置において、
前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックは一対毎に異なるパターン要素で構成されており、
前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録することを特徴とする画像記録装置。
【請求項２】
記録媒体に画像を記録する記録手段と、
前記記録手段を主走査軸に沿って往復移動させる走査手段と、
前記記録手段によって記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記一対のテストパターンの濃度データの相関に基づいて、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有する画像記録装置において、
前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックの少なくとも一部の対が複数個のパターン要素で構成されており、
前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録することを特徴とする画像記録装置。
【請求項３】
記録媒体に画像を記録する記録手段と、
前記記録手段を主走査軸に沿って往復移動させる走査手段と、
前記記録手段によって記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記一対のテストパターンの濃度データの相関に基づいて、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有する画像記録装置において、
前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックは主走査軸に沿って異なる間隔をおいて並んでおり、
前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録することを特徴とする画像記録装置。
【請求項４】
記録媒体に画像を記録する記録手段と、
前記記録手段を主走査軸に沿って往復移動させる走査手段と、
前記記録手段によって記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記一対のテストパターンの濃度データの相関に基づいて、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有する画像記録装置において、
前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックの少なくとも一部の対のパターン要素が濃度の異なる複数の部分で構成され、
前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録することを特徴とする画像記録装置。
【請求項５】
記録媒体に画像を記録する記録手段と、
前記記録手段を主走査軸に沿って往復移動させる走査手段と、
前記記録手段によって記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記一対のテストパターンの濃度データの相関に基づいて、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有する画像記録装置において、
前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックの少なくとも一部の対は他の対のパターンブロックの少なくとも一部を間に挟んで配置され、
前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録することを特徴とする画像記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
記録媒体にインクを噴射して画像を形成するインクジェットタイプの画像形成装置が知られている。インクジェットタイプの画像形成装置は、例えば、一列に配列された多数の記録素子（インクジェットノズル）を有する記録ヘッドを備えている。この種の画像形成装置は、モノクロ印刷用のものは一つの記録ヘッドを備えており、カラー印刷用のものは複数の記録ヘッドを備えている。このような画像形成装置では、１つまたは複数の記録ヘッドを主走査軸に沿って往復移動させながら、その記録ヘッドから記録媒体上にインクを噴射することによって、画像の形成すなわち印刷が行われる。
【０００３】
一つの記録ヘッドあるいは複数の記録ヘッドの各々は、インクの噴射タイミングが往路と復路の間で適正に調整されている必要がある。インクの噴射タイミングが適正に調整されていない場合、往路で噴射されたインク滴の着弾位置と復路で噴射されたインク滴の着弾位置とにずれが発生する。このような着弾位置ずれがある状態で記録された画像は、モノクロでは副走査方向に白いスジが目立つものとなり、カラーでは色ずれが発生し、画質が劣化したものとなる。
【０００４】
このためインクの噴射タイミングを往路と復路の間で適正に調整する必要がある。従来、噴射タイミングの調整は、例えば、次のように行われている。
【０００５】
図４８に示されるように、記録素子の配列に沿って延びるドット列から成る一対のテストパターン９１２、９１４を用紙に異なる位置に記録する。一方のテストパターン９１２は例えば往路で記録し、他方のテストパターン９１４は復路で記録する。この際、往路と復路での記録の間に用紙の搬送は行わない。すなわち、記録ヘッドは往復で用紙の同一箇所を走査する。記録されたドット列を画像形成装置に搭載のＣＣＤで読み取り、読み取ったドット列のイメージから各ドットの重心位置を求める。求めた各ドットの重心位置をもとにドット列に対応する直線を求める。この処理をそれぞれ往路と復路で記録されたドット列に対して行い、それぞれの直線間距離を測定し、記録位置ずれ量を算出している。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
テストパターンがドット列で構成されているため、テストパターンの読み取り時に、ドット列の近傍にある汚れやゴミ等をドットと誤認識したり、その反対にノズルの噴射が弱いために形成された小径のドットをゴミと認識してしまうことがある。また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等によりイメージ欠損が生じることがある。これらの原因により、記録されたドット列に対応する直線が正確に得られず、その結果として、直線間隔が正確に求められないことがある。
【０００７】
また、各ドットを良好に認識するためには読み取り解像度を高くする必要があり、テストパターンの読み取りに多くの時間を要してしまう。加えて、各ドットの重心位置を求めるため、計算処理にも多くの時間を要してしまう。さらに、求める直線間隔の精度を高めるには、サンプル数（ドット列）を増やすことが必要であり、これは読み取り時間と計算処理時間を増加させてしまう。
【０００８】
これまで、一つの記録ヘッドに関して往路と復路での噴射タイミングの調整について説明してきたが、複数の記録ヘッドの間の噴射タイミングも適正に調整される必要がある。つまり、カラー印刷用の画像形成装置においては、色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間の噴射タイミングが適正に調整される必要がある。この噴射タイミングの調整も、上述した往路と復路の間の噴射タイミングの調整と同様に行われる。
【０００９】
また、インクジェットタイプの画像形成装置としては、上述した１つのノズル列を持つ記録ヘッドを備えている画像形成装置の他に、２列以上に配列された多数のインクジェットノズルを有する記録ヘッドを備えている画像形成装置、別の言い方をすれば、複数のノズル列を持つ記録ヘッドを備えている画像形成装置も知られている。複数のノズル列を持つ記録ヘッドとしては、例えば、複数のノズル列を有する１つのユニットで構成されているものや、１つのノズル列を有するユニットが複数組み合わされたものがある。
【００１０】
このような複数のノズル列を持つ記録ヘッドを有する画像形成装置においては、複数のノズル列の間の噴射タイミングが適正に調整される必要がある。この噴射タイミングの調整も、上述した往路と復路の間の噴射タイミングの調整と同様に行われる。勿論、カラー印刷用の複数の記録ヘッドを備えている画像形成装置では、色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間の噴射タイミングが適正に調整される必要がある。
【００１１】
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その主な目的は、インクの噴射タイミングの調整のために形成される一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成装置を提供することである。
【００１２】
本発明の更なる目的は、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を精度良く算出し得る画像形成装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、記録媒体に画像を記録する記録手段と、前記記録手段を主走査軸に沿って往復移動させる走査手段と、前記記録手段によって記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読み取り手段と、前記読み取り手段によって読み取られた一対のテストパターンの濃度データの相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有する画像記録装置に向けられている。
本発明のひとつの観点によると、前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックは一対毎に異なるパターン要素で構成されており、前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録する。
本発明の別の観点によると、前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックの少なくとも一部の対が複数個のパターン要素で構成されており、前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録する。
本発明のまた別の観点によると、前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックは主走査軸に沿って異なる間隔をおいて並んでおり、前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録する。
本発明のさらに別の観点によると、前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックの少なくとも一部の対のパターン要素が濃度の異なる複数の部分で構成され、前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録する。
本発明のまたさらに別の観点によると、前記一対のテストパターンは複数対のパターンブロックで構成され、かつ当該複数対のパターンブロックの少なくとも一部の対は他の対のパターンブロックの少なくとも一部を間に挟んで配置され、前記記録手段は、前記走査手段による往路移動の間に前記複数対のパターンブロックの一方に含まれるパターンブロックを記録し、復路移動の間に前記複数対のパターンブロックの他方に含まれるパターンブロックを記録する。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。
【００２０】
第一実施形態
最初に、画像記録装置について図１を参照して説明する。図１に示されるように、画像記録装置１００は、互いに間隔を置いて対峙しているキャリッジ１１０と用紙保持機構１４０とを有している。キャリッジ１１０と用紙保持機構１４０の間には、記録媒体である用紙１９２が通される。用紙１９２は、搬送ローラ１５２とニップローラ１５４から成る搬送ローラ対と、排紙ローラ１６２とニップローラ１６４から成る排紙ローラ対とに挟まれ、これらのローラ対によって図の上から下へ搬送される。
【００２１】
用紙保持機構１４０は、多数の孔が形成されたプラテン１４２と、用紙保持機構１４０の内部空間（プラテンチャンバー）１４４を負圧に引くためのファン１４８とを有している。用紙１９２は、搬送される間、ファン１４８により発生される負圧によって、プラテン１４２に吸い付けられる。
【００２２】
キャリッジ１１０は、用紙１９２に画像を記録するための記録手段である記録部１２０と、用紙１９２に記録された画像を読み取るための読み取り手段であるＣＣＤユニット１３０とを備えている。キャリッジ１１０は、一対のガイド１１２によって、紙面に直交する主走査軸に沿って移動可能に支持されている。
【００２３】
画像記録装置１００は、さらに、キャリッジ１１０を制御するキャリッジ制御部１７０を有している。キャリッジ制御部１７０は、キャリッジ１１０を主走査軸に沿って移動させるための走査手段であるキャリッジ駆動機構１７２と、一対のテストパターンを含むテスト画像を用紙１９２に記録するように記録部を制御する制御手段である記録制御部１７４と、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段である画像ずれ算出部１７６とを有している。
【００２４】
キャリッジ駆動機構１７２によってキャリッジ１１０は主走査軸に沿って移動され得る。キャリッジ１１０が主走査軸に沿って移動される間、記録部１２０は、一対のテストパターンを含むテスト画像を用紙１９２に記録する。
【００２５】
一対のテストパターンは、一対のパターンブロックで構成されても、複数対のパターンブロックで構成されてよい。すなわち、一対のテストパターンの各々は、単一のパターンブロックで構成されても、複数のパターンブロックで構成されてよい。
【００２６】
記録部１２０は、モノクロ印刷用の画像形成装置においては、１つの記録ヘッドを備えており、カラー印刷用の画像形成装置においては、複数の記録ヘッドを備えている。例えば、ブラック、シアン、マゼンタ、ライトシアン、ライトマゼンタ、イエローの６色を扱うインクジェットプリンタでは、記録部１２０は、各色毎の６つの記録ヘッドを備えている。記録部１２０が有する記録ヘッドの数は、その画像形成装置に要求される画質等に応じて任意に決められる。
【００２７】
記録ヘッドの第一例
記録部１２０に含まれる１つの記録ヘッドの一例が図２に示される。記録ヘッド１２２は、図２に示されるように、副走査軸に沿って一列に一定のピッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）を有する単一のユニット２１０で構成されている。別の言い方をすれば、記録ヘッド１２２は、１つのノズル列２１２を有する単一のユニット２１０で構成されている。
【００２８】
このような記録ヘッド１２２を用いた画像形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿った移動により記録ヘッド１２２のノズル列２１２が横切る領域に対するインクドットの形成は、副走査軸に沿ってインクドットを隙間なく形成し得るように、往路でのインクドットの形成と復路でのインクドットの形成が組み合わされる。
【００２９】
例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直線を記録するには、往路において、所定の位置で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成し、用紙１９２をインクドットのピッチの半分相当の距離だけ副走査軸に沿って移動し、復路において、往路で形成したインクドットと同じ主走査方向位置で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿って隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線が記録される。
【００３０】
このような１つまたは複数の記録ヘッド１２２を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド１２２または複数の記録ヘッド１２２の各々は、インクの噴射タイミングが往路と復路の間で適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が往路で記録され、一対のテストパターンの他方が復路で記録される。
【００３１】
また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１２２を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が１つの記録ヘッド１２２によって記録され、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２２によって記録される。
【００３２】
記録ヘッドの第二例
記録部１２０に含まれる別の１つの記録ヘッドの一例が図３に示される。別の記録ヘッド１２４は、図３に示されるように、副走査軸に沿って二列に一定のピッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）を有する単一のユニット２２０で構成されている。別の言い方をすれば、記録ヘッド１２２は、一対のノズル列２２２と２２４を有する単一のユニット２２０で構成されている。
【００３３】
ノズル列２２２とノズル列２２４は、インクジェットノズルのピッチの半分相当の距離だけ副走査軸に沿ってずれている。
【００３４】
ユニット２２０が有するノズル列の数は２に限定されない。ユニット２２０は３以上の数のノズル列を有していてもよい。
【００３５】
このような記録ヘッド１２４を用いた画像形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿った移動により記録ヘッド１２４のノズル列２２２と２２４が横切る領域に対するインクドットの形成は、主走査軸に沿った一方向の移動の間に、すなわち往路または復路のいずれか一方で行われる。
【００３６】
例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直線を記録するには、主走査軸に関して特定の位置で、一方のノズル列（例えばノズル列２２２）の全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成し、続いて、前述の主走査軸に関する特定の位置すなわち主走査軸に関して同じ位置で、他方のノズル列（例えばノズル列２２４）の全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿って隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線が記録される。
【００３７】
このような１つまたは複数の記録ヘッド１２４を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド１２４または複数の記録ヘッド１２４の各々は、インクの噴射タイミングがノズル列２２２とノズル列２２４の相互間で適正に調整される必要がある。このため、主走査軸に沿った一方向の移動の間に、すなわち往路または復路のいずれか一方において、一対のテストパターンの一方が記録され、続いて一対のテストパターンの他方が記録される。
【００３８】
また、ノズル列２２２によるインクドットの形成とノズル列２２４によるインクドットの形成は、往路と復路のそれぞれで行われてもよい。例えば、往路ではノズル列２２２によってインクドットが形成され、復路ではノズル列２２４によってインクドットが形成されてもよい。この場合には、往路において一対のテストパターンの一方が記録され、復路において一対のテストパターンの他方が記録される。
【００３９】
また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１２４を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が１つの記録ヘッド１２４によって記録され、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２４によって記録される。
【００４０】
記録ヘッドの第三例
記録部１２０に含まれる更に別の１つの記録ヘッドの一例が図４に示される。記録ヘッド１２６は、図４に示されるように、主走査軸に沿って並べて配置された二つユニット２３０と２４０で構成されている。ユニット２３０と２４０の各々は、副走査軸に沿って一列に一定のピッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）を有している。別の言い方をすれば、記録ヘッド１２６は、その各々が一つののノズル列２３２、２４２を有している二つのユニット２３０、２４０で構成されている。
【００４１】
ユニット２３０とユニット２４０は、ノズル列２３２とノズル列２４２が互いにインクジェットノズルのピッチの半分相当の距離だけ副走査軸に沿ってずれるように配置されている。
【００４２】
記録ヘッド１２６を構成するユニットの数は２に限定されない。記録ヘッド１２６は３以上の数のユニットで構成されてもよい。
【００４３】
このような記録ヘッド１２４を用いた画像形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿った移動により記録ヘッド１２６（正確にはそのノズル列２３２とノズル列２４２）が横切る領域に対するインクドットの形成は、主走査軸に沿った一方向の移動の間に、すなわち往路または復路のいずれか一方で行われる。
【００４４】
例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直線を記録するには、主走査軸に関して特定の位置で、一方のユニット（例えばユニット２３０）のノズル列（例えばノズル列２３２）の全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成し、続いて、前述の主走査軸に関する特定の位置すなわち主走査軸に関して同じ位置で、他方のユニット（例えばユニット２４０）のノズル列（例えばノズル列２４２）の全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿って隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線が記録される。
【００４５】
このような１つまたは複数の記録ヘッド１２６を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド１２６または複数の記録ヘッド１２６の各々は、インクの噴射タイミングがユニット２３０のノズル列２３２とユニット２４０のノズル列２４２との相互間で適正に調整される必要がある。このため、主走査軸に沿った一方向の移動の間に、すなわち往路または復路のいずれか一方において、一対のテストパターンの一方が記録され、続いて一対のテストパターンの他方が記録される。
【００４６】
また、ユニット２３０のノズル列２３２によるインクドットの形成とユニット２４０のノズル列２４２によるインクドットの形成は、往路と復路のそれぞれで行われてもよい。例えば、往路ではユニット２３０のノズル列２３２によってインクドットが形成され、復路ではユニット２４０のノズル列２４２によってインクドットが形成されてもよい。この場合には、往路において一対のテストパターンの一方が記録され、復路において一対のテストパターンの他方が記録される。
【００４７】
また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１２６を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が１つの記録ヘッド１２６によって記録され、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２６によって記録される。
【００４８】
記録ヘッドの第四例
記録部１２０に含まれるまた別の１つの記録ヘッドの一例が図５に示される。記録ヘッド１２８は、図５に示されるように、副走査軸に沿ってずらして配置された二つのユニット２５０と２６０で構成されている。ユニット２５０と２６０の各々は、副走査軸に沿って一列に一定のピッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）を有している。別の言い方をすれば、記録ヘッド１２８は、その各々が一つのノズル列２５２、２６２を有している二つのユニット２５０、２６０で構成されている。
【００４９】
ユニット２５０、２６０は、副走査軸に沿った位置に関してノズル列２５２、２６２が連続的となるように、言い換えれば、ノズル列２５２、２６２のインクジェットノズルの副走査軸に関する位置が一定のピッチとなるように位置している。このような複数のユニットの複合は、副走査軸に沿った寸法の大きい記録ヘッドを作製する際に良く用いられる手法である。
【００５０】
記録ヘッド１２８を構成するユニットの数は２に限定されない。記録ヘッド１２８は３以上の数のユニットで構成されてもよい。
【００５１】
このような記録ヘッド１２８を用いた画像形成装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿った移動により記録ヘッド１２８（正確にはユニット２５０、２６０のノズル列２５２、２６２）が横切る領域に対するインクドットの形成は、副走査軸に沿ってインクドットを隙間なく形成し得るように、往路でのインクドットの形成と復路でのインクドットの形成が組み合わされる。
【００５２】
例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直線を記録するには、往路において、所定の位置で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成し、用紙１９２をインクドットのピッチの半分相当の距離だけ副走査軸に沿って移動し、復路において、往路で形成したインクドットと同じ主走査方向位置で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿って隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線が記録される。
【００５３】
このような１つまたは複数の記録ヘッド１２８を備えている画像形成装置では、１つの記録ヘッド１２８または複数の記録ヘッド１２８の各々は、インクの噴射タイミングが往路と復路の間で適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が往路で記録され、一対のテストパターンの他方が復路で記録される。
【００５４】
また、カラー印刷用の複数の記録ヘッド１２８を備えている画像形成装置では、インクの噴射タイミングが色の異なる任意の二つの記録ヘッドの間で適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が１つの記録ヘッド１２８によって記録され、一対のテストパターンの他方が別の記録ヘッド１２８によって記録される。
【００５５】
これまでに述べたように、インクの噴射タイミングの調整は、一つの記録ヘッドに関して往路と復路の間での噴射タイミングの調整と、複数の記録ヘッドに関して任意の二つの記録ヘッドの間での噴射タイミングの調整と、複数のノズル列を有する一つの記録ヘッドに関して任意の二つのノズル列の間での噴射タイミングの調整とがあるが、これらの調整はいずれも同じ手法によって行われる。
【００５６】
従って、以下では代表的に、１つのブラック用記録ヘッドに関する往路と復路の間での噴射タイミングの調整について説明する。以下の説明において、ブラック用記録ヘッドは４９６個のインクジェットノズルを有し、インクジェットノズルは３６０ｄｐｉのノズルピッチで並んでいるものとする。
【００５７】
テスト画像の記録（印刷）
テスト画像は、例えば、図６に示されるように、一対のテストパターン３１２、３１４と、後述する黒レベル調整のためのブラックパターン３１６とを含んでいる。テストパターンの記録は、１パス双方向印刷で行う。すなわち、図６において、テストパターン３１２を例えば往路で記録し、テストパターン３１４を復路で記録する。
【００５８】
テストパターン３１２、３１４は共に単一のパターンブロックで構成されている。好ましい一対のテストパターン３１２、３１４は高い相関性を有している。このためパターンブロックは、同じパターン要素、例えば、５ドットの幅を持つ矩形のパターン要素で構成される。テストパターン３１２、３１４は、互いに重ならないように、主走査軸に沿って例えば６４ドットずらして記録される。テストパターンのずらし量は、６４ドットに限定されるものではなく、記録するテストパターンの幅等に応じて任意に設定される。
【００５９】
テストパターンの記録の際、往路記録と復路記録の間で用紙搬送は行われない。これは、用紙搬送時に用紙の斜行等により用紙が正確に搬送されなかった場合に、復路で記録されるテストパターンが本来記録されるべき位置からずれた位置に記録されてしまい、その結果として最終的に求めた往復タイミングのずれ量が用紙搬送に起因する誤差を含むのを避けるためである。
【００６０】
テストパターンの読み取り
続く説明中ではＣＣＤユニット１３０は１４４０ｄｐｉの読み取り解像度を有しているものとする。
【００６１】
図７に示されるように、用紙１９２を用紙搬送方向の下流側に搬送して、テストパターン３１２、３１４とブラックパターン３１６とを含むテスト画像をキャリッジ１１０内のＣＣＤユニット１３０よりも下側に配置する。続いて、キャリッジ１１０を移動して、ＣＣＤユニット１３０をブラックパターン３１６の上方に配置する。
【００６２】
この位置（図７に示される位置）において、ＣＣＤユニット１３０の焦点調整を行う。焦点調整の終了後、その位置において、用紙の白地部分を利用してＣＣＤユニット１３０の白レベル調整を行う。この輝度調整は公知の方法によって行う。
【００６３】
白レベル調整の終了後、ＣＣＤユニット１３０の位置を固定したまま、ＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６を検出するまで、用紙１９２を用紙搬送方向の上流側に搬送する。この用紙１９２の搬送に従って、ＣＣＤユニット１３０の撮像領域は、用紙１９２の白地からブラックパターン３１６の黒地へと変化し、これに応じてＣＣＤユニット１３０の出力信号も変化する。プリンタ制御部（図示せず）は、ＣＣＤユニット１３０の出力信号に基づいて、図８に示されるようにＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６と対面していることを認識し、その認識に応じて用紙１９２の搬送を停止させる。
【００６４】
ＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６と対面している位置でＣＣＤユニット１３０の黒レベル調整を行う。この輝度調整は公知の方法で行われる。
【００６５】
黒レベル調整の終了後、テストパターンを読み込むため、さらに用紙１９２を用紙搬送方向上流側に搬送して、ＣＣＤユニット１３０をテストパターン３１２、３１４の上端の直前に配置する。
【００６６】
その後は、微小の搬送量ずつ、例えば搬送モータの駆動パルスを２０パルスに設定したときの搬送量（理想では１ドットラインに相当する距離）ずつ、用紙１９２を搬送する。微小搬送の度にＣＣＤユニット１３０はテストパターン３１２、３１４（正確にはその光学像の輝度）を読み取る。ＣＣＤユニット１３０で読み取られたデータは、一回の微小搬送ごとにメモリに格納される。ＣＣＤユニット１３０がテストパターンを読み終えるまで、用紙搬送・画像読取・データ格納のこれら一連の動作を続ける。
【００６７】
一対のテストパターンの記録位置ずれ量の算出
次に、一対のテストパターン３１２、３１４の主走査軸に沿った相対的な記録位置ずれ量の算出について説明をする。本実施形態では、相互相関関数を用いて、ずれ量を算出する。
【００６８】
ある二つの信号ｒ１（ｘ）、ｒ２（ｘ）に対して、これらの相互相関関数Φ１２（τ）は次式（１）で表される。
【００６９】
Φ１２（τ）＝∫ｒ１（ｘ）ｒ２（ｘ一τ）ｄｘ・・・（１）
ここにτは二つの信号の距離を示している。Φ１２（τ）は、信号ｒ１（ｘ）と信号ｒ２（ｘ）が一致するときに最大値をとる。
【００７０】
実際の処理では、図９に示されるように、ＣＣＤユニット１３０で読み取られるテストパターン３１２、３１４の光学像３１２ｉ、３１４ｉを、往路で記録されたテストパターン３１２の光学像３１２ｉと復路で記録されたテストパターン３１４の光学像３１４ｉとに分ける。記録時の解像度が３６０ｄｐｉであるのに対してＣＣＤ解像度が１４４０ｄｐｉであるので、光学像分割幅は次式（２）のようになる。
【００７１】
光学像分割幅＝６４ドット（記録時のずらし量）×（１４４０ｄｐｉ÷３６０ｄｐｉ）・・・（２）
次に、それぞれの光学像３１２ｉ、３１４ｉのデータを副走査方向（ＣＣＤユニット１３０の読み取り方向）に関して和を取り、光学像３１２ｉの加算濃度データ（図１０）と、光学像３１４ｉの加算濃度データ（図１１）を求める。
【００７２】
続いて、光学像３１２ｉの副走査方向の加算濃度データをｒ１（ｘ）、光学像３１４ｉの副走査方向の加算データをｒ２（ｘ）として相互相関関数を求め、さらに、この相互相関関数が最大値を示す位置を算出する。このように算出される位置の値は、一対のテストパターン３１２、３１４の光学像３１２ｉ、３１４ｉの記録位置ずれ量γｔｐ１４４０を表している。
【００７３】
このように算出される記録位置ずれ量γｔｐ１４４０は、１４４０ｄｐｉの解像度で読み取られた光学像３１２ｉ、３１４ｉに対するものであり、従って、３６０ｄｐｉの解像度で記録された実際のテストパターン３１２、３１４の記録位置ずれ量γｔｐ３６０は、次式（３）で表される。
【００７４】
γｔｐ３６０＝γｔｐ１４４０÷（１４４０ｄｐｉ÷３６０ｄｐｉ）・・・（３）
記録位置ずれ量γｔｐ３６０は、テストパターン３１２、３１４の記録時に相互の重なりを避けるために与えたずらし量を含んでいる。従って、求めるべき記録位置ずれ量γｔｍは、先に求めた記録位置ずれ量γｔｐ３６０から記録時のずらし量６４ドットを引いた値になる。すなわち、求めるべき記録位置ずれ量γｔｍは、次式（４）で表される。
【００７５】
γｔｍ＝γｔｐ３６０−６４・・・（４）
本実施形態では、インクの噴射タイミングの調整のために記録した一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を、一対のテストパターンの濃度データの相互相関関数を用いて求めているので、記録位置ずれ量を短時間で、しかも高い精度で算出し得る。
【００７６】
テストパターンの第一変形例
前述したように一対のテストパターンは、一対のパターンブロックで構成されたものに限定されない。一対のテストパターンは、複数対のパターンブロックで構成されてもよい。
【００７７】
本変形例では、図１２に示されるように、一対のテストパターンは、一対のパターンブロック３３２、３３４と、別の一対のパターンブロック３３６、３３８と、更に別の一対のパターンブロック３４０、３４２とを含んでいる。一対のテストパターンの一方に含まれるパターンブロック３３２、３３６、３４０は例えば往路で記録され、一対のテストパターンの他方に含まれるパターンブロック３３４、３３８、３４２は復路で記録される。
【００７８】
パターンブロック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２は互いに重ならないように主走査軸に沿って例えば６４ドットずらして記録される。言い換えれば、パターンブロック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。
【００７９】
パターンブロック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２はいずれも同じパターン要素、例えば、５ドット幅の矩形のパターン要素で構成されている。パターンブロック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２はその全てがＣＣＤユニット１３０の読み取り幅に収まるように記録されるとよい。
【００８０】
パターンブロックの矩形パターン要素の幅は５ドットに限定されない。また、パターンブロックの数も６に限定されない。さらに、パターンブロックのずらし量は６４ドットに限定されない。矩形パターン要素の幅やパターンブロックの数６やパターンブロックのずらし量は、パターンブロックが互いに重ならない条件下で、好ましくはさらに全てのパターンブロックがＣＣＤユニット１３０の読み取り幅に収まる条件下で、任意に変更されてよい。
【００８１】
図１３に示されるように、ＣＣＤユニット１３０で読み取られたデータは、一対のテストパターンの一方を構成している往路で記録されたパターンブロック３３２、３３６、３４０の光学像３３２ｉ、３３６ｉ、３４０ｉと一対のテストパターンの他方を構成している復路で記録されたパターンブロック３３４、３３８、３４２の光学像３３４ｉ、３３８ｉ、３４２ｉとに分けられる。
【００８２】
一対のテストパターンの記録位置ずれ量は、例えば、複数対のパターンブロックの各々に対して、前述した手法により、相互相関関数を用いて、それら一対のパターンブロックの間の記録位置ずれ量を算出し、算出された複数の記録位置ずれ量を平均して求められる。
【００８３】
あるいは、一対のテストパターンの記録位置ずれ量は、往路で記録されたパターンブロック群と復路で記録されたパターンブロック群に対して、前述した手法により、相互相関関数を用いて求められてもよい。
【００８４】
本変形例によれば、サンプル数が多いため、求められる記録位置ずれ量の精度向上に有効である。
【００８５】
テストパターンの第二変形例
複数のパターンブロックはいずれも同一のパターン要素で構成されている必要はない。複数のパターンブロックは、一対のパターンブロック毎に、異なるパターン要素で構成されてもよい。
【００８６】
本変形例では、図１７に示されるように、一対のテストパターンは、５ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された一対のパターンブロック３６２、３６４と、１０ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された別の一対のパターンブロック３６６、３６８と、４ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された更に別の一対のパターンブロック３７０、３７２とを含んでいる。これら６つのパターンブロック３６２、３６４、３６６、３６８、３７０、３７２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。
【００８７】
本変形例は、第一変形例と比較して、次のような利点を有している。
【００８８】
第一変形例において、例えば、図１４に示されるように、６つのパターンブロック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２のうちの１つのパターンブロック３４２が欠損してしまった場合を考える。この場合、図１５に示されるように、パターンブロック３３２、３３４、３３６、３３８、３４０の加算濃度データ３３２ｎ、３３４ｎ、３３６ｎ、３３８ｎ、３４０ｎは得られるが、欠損したパターンブロック３４２の加算濃度データ３４２ｎ（破線で示される）は得られない。図１５には、往路で記録されたパターンブロック３３２、３３６、３４０に対応する加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎ、３４０ｎが上側に、復路で記録されたパターンブロック３３４、３３８に対応する加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎが下側に示されている。
【００８９】
図１５に示される加算濃度データに対して得られる相互相関関数が図１６に示される。この相互相関関数は、図１６に示されるように、同じ最大値を示す一対のピーク３５２、３５４を有している。これは、図１５において、上側の加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎ、３４０ｎに対して、下側の加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎが主走査軸に沿って左側に６４ドットずれることによる加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎと加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎとの相関と、加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎが主走査軸に沿って右側に６４ドットずれることによる加算濃度データ３３６ｎ、３４０ｎと加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎとの相関とが等しいためである。
【００９０】
このように、第一変形例において、複数の同じパターンブロックの一部が欠損した場合には、相互相関関数が同じ最大値を示す一対のピーク３５２、３５４を持つため、本来の記録位置ずれ量を表すピークを見分けるのが困難である。
【００９１】
これに対して第二変形例では、図１７に示されるように、一対のパターンブロック３６２、３６４は共に５ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成され、別の一対のパターンブロック３６６、３６８は共に１０ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成され、更に別の一対のパターンブロック３７０、３７２は共に４ドットの幅を持つ矩形パターンで構成されている。
【００９２】
このように一対のパターンブロック毎にパターン要素の幅が異なっているので、異なる対のパターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパターンブロックの相関に比べて低いものとなる。従って、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなり、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【００９３】
パターンブロックの数やその矩形パターンの幅は、上述した値に限定されるものではなく、任意に変更されてよい。
【００９４】
テストパターンの第三変形例
複数のパターンブロックの全てが単一のパターン要素で構成されている必要はない。複数のパターンブロックはその一部あるいは全部が複数のパターン要素で構成されてもよい。
【００９５】
本変形例では、図１８に示されるように、一対のテストパターンは、二つの矩形パターン要素３８２ａ、３８２ｂ、３８４ａ、３８４ｂで構成された一対のパターンブロック３８２、３８４と、三つの矩形パターン要素３８６ａ、３８６ｂ、３８６ｃ、３８８ａ、３８８ｂ、３８８ｃで構成された別の一対のパターンブロック３８６、３８８と、一つの矩形パターン要素で構成された更に別の一対のパターンブロック３９０、３９２とを含んでいる。これら６つのパターンブロック３８２、３８４、３８６、３８８、３９０、３９２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。
【００９６】
このようなパターンブロックに対して、ＣＣＤユニット１３０で読み取った光学像を副走査方向に加算して得られる加算濃度データが図１９に示される。図１９から容易に想像できるように、第二変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つパターンブロックの相関に比べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【００９７】
テストパターンの第四変形例
一対のテストパターンを構成する複数のパターンブロックは一定のピッチで並んでいる必要はない。複数のパターンブロックは、主走査軸に沿って異なる間隔を置いて並んでいてもよい。別の言い方をすれば、ＣＣＤユニット１３０による読み取り範囲の主走査軸に沿って均等に分割された領域に対して、一対のパターンブロック毎にパターンブロックが異なる位置に来るように、パターンブロックが記録されてもよい。
【００９８】
本変形例では、図２０に示されるように、一対のテストパターンは、読み取り範囲の６つに均等に分割された領域に対して、左寄りに位置する一対のパターンブロック４１２、４１４と、右寄りに位置する別の一対のパターンブロック４１６、４１８と、ほぼ中央に位置する更に別の一対のパターンブロック４２０、４２２とを含んでいる。言い換えれば、６つのパターンブロック４１２、４１４、４１６、４１８、４２０、４２２は主走査軸に沿って一定のピッチで並んではいない。
【００９９】
このようなパターンブロックに対して得られる副走査方向の加算濃度データが図２１に示される。図２１から容易に想像できるように、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパターンブロックの相関に比べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【０１００】
テストパターンの第五変形例
パターンブロックを構成する１つあるいは複数のパターン要素の各々は矩形パターン要素に限定されない。パターンブロックを構成する１つあるいは複数のパターン要素の各々は、一対のパターンブロック毎に、任意の形状のパターン要素、例えば正方形や円形や三角形等のパターン要素や更には文字や記号等のパターン要素に変更されてもよい。
【０１０１】
本変形例では、図２２に示されるように、一対のテストパターンは、三角形のパターン要素で構成された一対のパターンブロック４３２、４３４と、円形のパターン要素で構成された別の一対のパターンブロック４３６、４３８と、花の絵柄のパターン要素で構成された更に別の一対のパターンブロック４４０、４４２とを含んでいる。
【０１０２】
このような複数のパターンブロックにおいては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つパターンブロックの相関に比べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【０１０３】
テストパターンの第六変形例
１つのパターンブロックが均一の濃度を有している必要はない。１つのパターンブロックを構成する１つのパターン要素が、濃度の異なる複数の部分、例えば白データの部分やハーフトーンデータの部分を含んでいてもよい。また、１つのパターンブロックを構成する複数のパターン要素が、異なる濃度を有していてもよい。
【０１０４】
本変形例では、図２３に示されるように、一対のテストパターンは、全体にわたり均一の濃度を有している一対のパターンブロック４５２、４５４と、濃度の低い部分４６４を含んでいる別の一対のパターンブロック４５６、４５８と、濃度の低い部分４６６を含んでいる更に別の一対のパターンブロック４６０、４６２とを含んでいる。
【０１０５】
このような複数のパターンブロックにおいては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパターンブロックの相関に比べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【０１０６】
テストパターンの第七変形例
複数のパターンブロックは同じ幅を有している必要はない。複数のパターンブロックは、一対のパターンブロック毎に異なる幅を有していてもよい。別の言い方をすれば、ＣＣＤユニット１３０による読み取り範囲は、パターンブロックの幅に応じて主走査軸に沿って不均等に分割されてもよい。
【０１０７】
本変形例では、図２４に示されるように、一対のテストパターンは、矩形パターン要素で構成された一対のパターンブロック４７２、４７４と、円形パターン要素で構成された別の一対のパターンブロック４７６、４７８と、３つの矩形パターン要素４８６ａ、４８６ｂ、４８６ｃ、４８８ａ、４８８ｂ、４８８ｃで構成された更に別の一対のパターンブロック４８０、４８２とを含んでいる。
【０１０８】
このため、３種類の画像対を構成している６つのパターンブロックのうち、パターンブロック４７２、４７４は最も狭い幅を有し、パターンブロック４８０、４８２は最も広い幅を有している。これに伴い、最も狭い幅を有するパターンブロック４７２、４７４を受け持つ読み取り範囲の分割領域は最も狭い３００ドットの幅を有し、最も広いパターンブロック４８０、４８２を受け持つ読み取り範囲の分割領域は最も広い５００ドットの幅を有し、中間的な幅を有するパターンブロック４７６、４７８を受け持つ読み取り範囲の分割領域は４００ドットの幅を有している。つまり、読み取り範囲はパターンブロックの幅に応じて不均等に分割されている。
【０１０９】
読み取り範囲の分割幅は、上述した値に限定されるものではなく、パターンブロックの幅に応じて任意に変更されてよい。
【０１１０】
テストパターンの第八変形例
一対のパターンブロックは主走査軸に沿って隣り合って並んでいる必要はない。一対のパターンブロックは、主走査軸に沿って互いに離して、つまり他のパターンブロックを間に挟んで記録されてもよい。
【０１１１】
本変形例では、図２５に示されるように、一対のテストパターンは、一対のパターンブロック５１２、５１４と、別の一対のパターンブロック５１６、５１８と、更に別の一対のパターンブロック５２０、５２２とを含んでおり、これら６つのパターンブロック５１２、５１６、５２０、５１４、５１８、５２２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで順に並んでいる。パターンブロック５１２、５１６、５２０は例えば往路で記録され、パターンブロック５１４、５１８、５２２は復路で記録される。一対のパターンブロックは、主走査軸に沿って６４×３＝１９２ドットずらして記録されている。
【０１１２】
一対のパターンブロック５１２、５１４はそれぞれ一対の矩形パターン５１２ａと５１２ｂ、５１４ａと５１４ｂで構成されており、パターンブロック５１６とパターンブロック５２０を間に挟んで位置している。別の一対のパターンブロック５１６、５１８は共に相対的に狭い幅の矩形パターンであり、パターンブロック５２０とパターンブロック５１４を間に挟んで位置している。更に別の一対のパターンブロック５２０、５２２は共に相対的に広い幅の矩形パターンであり、パターンブロック５１４とパターンブロック５１８を間に挟んで位置している。
【０１１３】
このような複数のパターンブロックにおいては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパターンブロックの相関に比べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【０１１４】
テストパターンの第九変形例
複数対のパターンブロックの各々が主走査軸に沿って離して記録される必要はない。つまり、複数対のパターンブロックは、主走査軸に沿って離して記録された少なくとも一対のパターンブロックと、主走査軸に沿って隣り合わせに記録された少なくとも一対のパターンブロックとを含んでいてもよい。
【０１１５】
本変形例では、図２６に示されるように、一対のテストパターンは、一対のパターンブロック５３２、５３４と、別の一対のパターンブロック５３６、５３８と、更に別の一対のパターンブロック５４０、５４２とを含んでおり、これら６つのパターンブロック５３２、５３６、５３４、５３８、５４０、５４２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで順に並んでいる。パターンブロック５３２、５３６、５４０は例えば往路で記録され、パターンブロック５３４、５３８、５４２は復路で記録される。
【０１１６】
一対のパターンブロック５３２、５３４は共に相対的に広い幅の矩形パターンであり、パターンブロック５３６を間に挟んで位置している。別の一対のパターンブロック５３６、５３８はそれぞれ一対の矩形パターン５３６ａと５３６ｂ、５３８ａと５３８ｂで構成されており、パターンブロック５３４を間に挟んで位置している。更に別の一対のパターンブロック５４０、５４２は共に相対的に狭い幅の矩形パターンであり、隣り合って位置している。
【０１１７】
すなわち、一対のパターンブロック５３２、５３４は主走査軸に沿って６４×２＝１２８ドットずらして記録されており、一対のパターンブロック５３６、５３８も同様に主走査軸に沿って６４×２＝１２８ドットずらして記録されており、一対のパターンブロック５４０、５４２は主走査軸に沿って６４ドットずらして記録される。言い換えれば、パターンブロック５３２、５３４とパターンブロック５３６、５３８は共に主走査軸に沿って１２８ドットのピッチで並んでおり、パターンブロック５４０、５４２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。
【０１１８】
求めるべき一対のテストパターンの記録位置ずれ量は、例えば、複数のパターンブロック対の各々に対して相互相関関数を用いてそれらの間の記録位置ずれ量を算出し、算出された複数の記録位置ずれ量を平均して求められる。
【０１１９】
あるいは、求めるべき一対のテストパターンの記録位置ずれ量は、往路で記録されたパターンブロック群と復路で記録されたパターンブロック群に対して相互相関関数を用いて求められてもよい。
【０１２０】
このような複数のパターンブロックにおいては、第二変形例や第三変形例と同様に、異なる対のパターンブロックに含まれる二つのパターンブロックの相関は、同じ対のパターンブロックを構成する二つのパターンブロック対の相関に比べて低いものとなる。このため、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなる。従って、複数のパターンブロックの一部が欠損した場合であっても、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
【０１２１】
記録方法の変形例（テストパターンの第十変形例）
テストパターンの記録方法は、往路での記録と復路での記録の間に用紙の搬送を行わないものに限定されない。つまり、テストパターンの記録の際、往路での記録と復路での記録の間に用紙の搬送を行ってもよい。
【０１２２】
本変形例では、テスト画像は、図２７に示されるように、一対の基準パターン５５２と、一対のテストパターンとを有しており、一対のテストパターンは、パターンブロック５６２、５６４と、別の一対のパターンブロック５６６、５６８と、更に別の一対のパターンブロック５７０、５７２とを含んでいる。基準パターン５５２と３つのパターンブロック５６２、５６６、５７０とが主走査軸に沿って順に並んでおり、それらの下に基準パターン５５４と３つのパターンブロック５６４、５６８、５７２とが主走査軸に沿って順に並んでいる。さらに、基準パターン５５２、５５４とパターンブロック５６２、５６４とパターンブロック５６６、５６８とパターンブロック５７０、５７２は副走査軸に沿って並んでいる。すなわち、基準パターン５５２、５５４とパターンブロック５６２、５６６、５７０、５６４、５６８、５７２は主走査軸と副走査軸とに沿って格子状に整列している。
【０１２３】
例えば、基準パターン５５２と３つのパターンブロック５６２、５６６、５７０は第１バンド内に往路走査によって記録される。また、基準パターン５５４は第２バンド内に、基準パターン記録時と同じ走査方向、即ち往路走査によって記録される。さらに３つのパターンブロック５６４、５６８、５７２は第２バンド内に、基準パターン記録時とは反対方向、即ち復路走査によって記録される。第１バンドのパターン記録から第２バンドのパターン記録の間に、第１バンドの副走査軸に沿った幅に相当する距離だけ用紙が搬送される。
【０１２４】
一対の基準パターン５５２、５５４は共に矩形パターン要素で構成され、一対のパターンブロック５６２、５６４は共に相対的に狭い幅の矩形パターン要素で構成され、一対のパターンブロック５６６、５６８はそれぞれ一対の矩形パターン５６６ａと５６６ｂ、５６８ａと５６８ｂで構成され、一対のパターンブロック５７０、５７２は共に相対的に広い幅の矩形パターンで構成されている。
【０１２５】
このような格子状に整列した複数のパターンブロックは、副走査軸に沿った１回の走査で狭いエリアしか読み込めないＣＣＤユニットを有するキャリッジに特に有効である。
【０１２６】
記録途中に用紙搬送を行うため、用紙搬送によるスキュー（斜行）等による主走査軸に沿った記録誤差が生じることが考えられる。用紙搬送による主走査軸に沿ったずれ量δskewは、基準パターン５５２と基準パターン５５４に対して相互相関関数を用いて求められる。従って、スキュー等による記録誤差は、求めたずれ量δskewに基づいて補正されるとよい。また、ずれ量δskewから、用紙搬送の異常を同時に検出することもできる。
【０１２７】
実際のずれ量は、往路で記録されたパターンブロック５６２、５６６、５７０と復路で記録されたパターンブロック５６４、５６８、５７２に対して、前述した手法により、相互相関関数を用いて求められる。
【０１２８】
図２７に示される複数の画像では、主走査軸に沿って並んだ基準パターンと複数のパターンブロックの行が副走査軸に沿って２つ記録されているが、ずれ量の精度を高めるため、主走査軸に沿って並んだ基準パターンと複数のパターンブロックの行が副走査軸に沿って更に追加されてもよい。
【０１２９】
ＣＣＤユニットの変形例（第十変形例のテストパターンの有益な別な利用例）画像記録装置は、主走査軸に沿って読み込むタイプのＣＣＤユニットを有していてもよい。このような画像記録装置に対して、前述の図２７に示されるテスト画像は有効に適用可能である。
【０１３０】
本変形例では、図２８に示されるように、画像記録装置は、主走査軸に沿って移動されるＣＣＤユニット１３４を有している。ＣＣＤユニット１３４は、例えば、キャリッジに取り付けられており、キャリッジの移動によって主走査軸に沿って移動される。あるいは、ＣＣＤユニット１３４は、単独で画像記録装置に設けられており、ＣＣＤユニット１３４それ自体が主走査軸に沿って移動されてもよい。
【０１３１】
本変形例では、基準パターン５５２と基準パターン５５４に対して相互相関関数を求めることにより、用紙搬送のスキューとＣＣＤユニット１３４の取り付けの傾きを同時に補正できる。
【０１３２】
まず、用紙搬送のスキューはないものとして、ＣＣＤユニット１３４の取り付けの傾きの補正について説明する。ここでは、ＣＣＤユニット１３４を、図２９に示されるように、第１バンドデータの読み取り部１３４ａと第２バンドデータの読み取り部１３４ｂとに機能的に分解して考える。
【０１３３】
図２８に示されるように、ＣＣＤユニット１３４が副走査軸に対して傾きを有していない場合には、ＣＣＤユニット１３４の上側の第１バンドデータ読み取り部１３４ａと下側の第２バンドデータ読み取り部１３４ｂはそれぞれ基準パターン５５２と基準パターン５５４を同時に読み取り始める。その結果、図３０に示されるように、ＣＣＤ移動方向に関して同期した基準パターン５５２と基準パターン５５４の読み取り光学像が得られる。
【０１３４】
これに対して、図３１に示されるように、ＣＣＤユニット１３４が副走査軸に対して傾きを有している場合には、図３２に示されるように、ＣＣＤユニット１３４の上側の第１バンドデータ読み取り部１３４ａが先に基準パターン５５２を上端側から読み取り始め、これに遅れてＣＣＤユニット１３４の下側の第２バンドデータ読み取り部１３４ｂが基準パターン５５４を上端側から読み取り始める。
【０１３５】
その結果、図３３に示されるように、ＣＣＤ移動方向に関してずれを有する基準パターン５５２と基準パターン５５４の読み取り光学像が得られる。ＣＣＤユニット１３４の傾きによるずれ量δinclinationは、基準パターン５５２と基準パターン５５４の読み取り光学像に対して、前述した手法により、相互相関関数を用いることにより求められる。
【０１３６】
このように求められるずれ量δinclinationは、用紙搬送による用紙のスキューがある場合には、用紙のスキューによるずれ量を含んでいる。従って、最終的に求めるべき記録位置ずれ量は、ずれ量δinclinationを、往路で記録されたパターンブロック５６２、５６６、５７０と復路で記録されたパターンブロック５６４、５６８、５７２に対して相互相関関数を用いて算出された記録位置ずれ量から引くことにより求められる。
【０１３７】
第二実施形態
以下、第二実施形態の画像形成装置について説明する。本実施形態は、記録位置ずれ量の算出の仕方においてのみ第一実施形態と相違しており、装置構成等は第一実施形態と同様である。また、第一実施形態で説明した画像の変形例等は、そのまま本実施形態にも適用され得る。
【０１３８】
本実施形態では、一対のテストパターンの濃度データの位置を相対的に変化させながら、互いの濃度データの相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算出し、その積分値がピークとなる位置から、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１３９】
具体的には、（１）二値化された濃度データ同士の論理積の積分値、（２）二値化された濃度データ同士の論理和の積分値、（３）多値の濃度データ同士の比較最小値群の積分値、（４）多値の濃度データ同士の比較最大値群の積分値、（５）多値の濃度データ同士の差の積分値、（６）多値の濃度データ同士の積の積分値のいずれかを求め、得られたピーク値から記録位置ずれ量を算出する。
【０１４０】
（１）二値化された濃度データ同士の論理積の積分値に基づく算出
まず、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データを求め、これを二値化して、図３４に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４を求める。二値化とは、濃度データを所定の閾値と比較し、閾値以上の濃度データは１に、閾値未満の濃度データは０に変換する操作である。
【０１４１】
一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対して、任意のｘの値において、それらの論理積（ＡＮＤ）をとり、図３５が示されるように、二値化された濃度データ同士の論理積６２２を求め、さらに、その論理積６２２の面積を求める（すなわち積分値を求める）。この操作を任意のｄ1に対して行う。すなわち、図３４において、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図３６に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４のずれとそれらの論理積６２２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【０１４２】
二値化された濃度データ同士の論理積の積分値は、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４の重なりが増加するにつれて値が大きくなり、重なりが減少するにつれて値が小さくなる。すなわち、一対の二値化された濃度データの論理積の積分値は、一対の二値化された濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。
【０１４３】
図３６において、最大の面積を与えるｄ1の値が、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図３６のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【０１４４】
（２）二値化された濃度データ同士の論理和の積分値に基づく算出
まず、前述の論理積に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、一対のテストパターンの加算濃度データを求め、これを二値化して、図３４に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４を求める。
【０１４５】
一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対して、任意のｘの値において、それらの論理和（ＯＲ）をとり、図３７が示されるように、二値化された濃度データ同士の論理和６３２を求め、さらに、その論理和６３２の面積を求める（すなわち積分値を求める）。この操作を任意のｄ1に対して行う。すなわち、図３４において、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図３８に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４のずれとそれらの論理和６３２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【０１４６】
二値化された濃度データ同士の論理和の積分値は、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４の重なりが増加するにつれて小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくなる。すなわち、一対の二値化された濃度データの論理和の積分値は、一対の二値化された濃度データ同士が最も多く重なるときに最小値をとる。
【０１４７】
図３８において、最小の面積を与えるｄ1の値が、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図３８のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【０１４８】
（３）多値の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく算出
まず、図３９に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【０１４９】
次に、図４０に示されるように、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の比較最小値群７２２をとる。ここにおいて、比較最小値とは、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度データを比較し、小さい方の濃度データ値（最小値）を取得することを意味する。そして、この比較最小値をｘ方向に亘って取得していき、その最小値群７２２の積分値をとる。従って、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の比較最小値群７２２の積分値をとるとは、一対の多値の濃度データ７１２、７１４を重ね合わせ、重なり合った部分の面積を求めることに相当する。
【０１５０】
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図４１に示されるように、一対の濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの比較最小値群７２２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【０１５１】
濃度データ同士の比較最小値群の積分値は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて大きくなり、重なりが減少するにつれて小さくなる。すなわち、一対の濃度データの比較最小値群の積分値は、濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。
【０１５２】
図４１において、最大の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図４１のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【０１５３】
（４）多値の濃度データ同士の比較最大値群の積分値に基づく算出
まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図３９に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【０１５４】
次に、図４２に示されるように、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の比較最大値群７３２をとる。ここにおいて、比較最大値とは、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度データを比較し、大きい方の濃度データ値（最大値）を取得することを意味する。そして、この比較最大値をｘ方向に亘って取得していき、その最大値群７３２の積分値をとる。従って、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の比較最大値群７３２の積分値をとるとは、一対の多値の濃度データ７１２、７１４を重ね合わせ、その輪郭の面積を求めることに相当する。
【０１５５】
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図４３に示されるように、一対の濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの比較最大値群７３２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【０１５６】
濃度データ同士の比較最大値群の積分値は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくなる。すなわち、一対の濃度データの比較最大値群の積分値は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最小値をとる。
【０１５７】
図４３において、最小の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図４３のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【０１５８】
（５）多値の濃度データ同士の差の積分値に基づく算出
まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図３９に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【０１５９】
次に、図４４に示されるように、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度の差の絶対値７４２をとる。さらに、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の差の絶対値７４２の積分値をとる。
【０１６０】
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図４５に示されるように、一対の濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの差の絶対値７４２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【０１６１】
濃度データ同士の差の絶対値７４２の積分値は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくなる。すなわち、一対の濃度データの差の絶対値の積分値は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最小値をとる。
【０１６２】
図４５において、最小の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図４５のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【０１６３】
（６）多値の濃度データ同士の積の積分値に基づく算出
まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図３９に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【０１６４】
次に、図４６に示されるように、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度の積７５２をとる。さらに、一対の多値の濃度データ７１２、７１４の積７５２の積分値をとる。
【０１６５】
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図３９において、多値の濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図４７に示されるように、一対の濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの積７５２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【０１６６】
濃度データ同士の積７５２の積分値は、濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて大きくなり、重なりが減少するにつれて小さくなる。すなわち、一対の濃度データの積の積分値は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。
【０１６７】
図４７において、最大の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図４７のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【０１６８】
以上で求められた記録位置ずれ量は図３４や図３９におけるずれ量であり、最終的に求めるべき記録位置ずれ量は、ここで求められた記録位置ずれ量からテストパターン記録時に与えたずらし量を引いて求められる。
【０１６９】
本実施形態では、インクの噴射タイミングの調整のために記録した一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関を用いて求めているので、記録位置ずれ量が短時間でしかも高い精度で算出され得る。
【０１７０】
これまで、いくつかの実施の形態について図面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。
【０１７１】
本発明は、以下の各項に述べられている画像記録装置と画像の記録位置ずれ検出方法を含んでいる。
【０１７２】
１．  画像記録装置は、
記録媒体に画像を記録するための記録手段と、
前記記録手段を主走査軸に沿って移動させるための走査手段とを有し、記録手段は走査手段によって主走査軸に沿って移動される間に記録媒体に一対のテストパターンを含むテスト画像を記録し、さらに、
前記記録手段によって記録媒体に記録された前記一対のテストパターンを読み取るための読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出手段とを有している。
【０１７３】
２．  第１項の画像記録装置において、前記算出手段は、前記一対のテストパターンの濃度データの相互相関関数を求め、その相互相関関数が最大値をとる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１７４】
３．  第１項の画像記録装置において、前記算出手段は、前記一対のテストパターンの濃度データの位置を相対的に変化させながら、互いの濃度データの相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算出し、その積分値がピークとなる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１７５】
４．  第３項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データの和から積分値を算出する。
【０１７６】
５．  第４項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データの論理積から積分値を算出し、その積分値が最大となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１７７】
６．  第４項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データの論理和から積分値を算出し、その積分値が最小となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１７８】
７．  第４項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データが重複した部分における濃度データの積分値を算出し、その積分値が最大となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１７９】
８．  第４項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データを比較し、濃度データが小さい方の値に基づきその積分値を算出し、その積分値が最大となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１８０】
９．  第４項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データを比較し、濃度データが大きい方の値に基づきその積分値を算出し、その積分値が最小となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１８１】
１０．  第３項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データの差の絶対値から積分値を算出し、その積分値が最小となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１８２】
１１．  第３項の画像記録装置において、前記算出手段は、互いの濃度データの積から積分値を算出し、その積分値が最大となる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
【０１８３】
１２．  第１項の画像記録装置において、前記記録手段は、一対のノズル列を有する１つのインクジェットヘッドで構成されており、前記一対のテストパターンはそれぞれ前記一対のノズル列によって記録される。
【０１８４】
１３．  第１項の画像記録装置において、前記記録手段は、それぞれ１つのノズル列を有する一対のインクジェットヘッドであり、前記一対のテストパターンはそれぞれ前記一対のインクジェットヘッドによって記録される。
【０１８５】
１４．  第１項の画像記録装置において、前記一対のテストパターンは互いに同一のパターンである。
【０１８６】
１５．  第１項の画像記録装置において、前記記録手段は、前記走査手段によって主走査軸に沿って往復移動され、往路移動の間に前記一対のテストパターンの一方を記録し、復路移動の間に前記一対のテストパターンの他方を記録する。
【０１８７】
１６．  第１２項または第１３項の画像記録装置において、前記記録手段は、前記走査手段によって主走査軸に沿って一方向に移動される間に前記一対のテストパターンを記録する。
【０１８８】
１７．  第１５項または第１６項の画像記録装置において、前記一対のテストパターンは、前記主走査軸に沿ってずらして記録される。
【０１８９】
１８．  第１５項または第１６項の画像記録装置において、前記一対のテストパターンは、前記主走査軸に直交する副走査軸に沿ってずらして記録される。
【０１９０】
１９．  第１５項または第１６項の画像記録装置において、前記一対のテストパターンは、複数対のパターンブロックを有している。
【０１９１】
２０．  第１９項の画像記録装置において、異なる対のパターンブロックを構成する二つのテストパターンは異なるパターン要素で構成されている。
【０１９２】
２１．  第１９項の画像記録装置において、複数のパターンブロックは不均一なピッチで並んでいる。
【０１９３】
２２．  第１９項の画像記録装置において、一対のパターンブロックは、別の一対のパターンブロックに含まれるパターンブロックを間に挟んで位置している。
【０１９４】
２３．  第１９項の画像記録装置において、少なくとも一対のパターンブロックの各々は、複数のパターン要素で構成されている。
【０１９５】
２４．  請求項１において、前記算出手段によって算出された相対的な記録位置ずれ量に基づいて、前記記録手段の記録動作を制御する制御手段を有する。
【０１９６】
２５．  画像の記録位置ずれ検出方法は、
一対のテストパターンを含むテスト画像を記録媒体に記録する記録ステップと、
前記記録媒体に記録された一対のテストパターンを読み取る読取ステップと、
読み取られた一対のテストパターンの画像データ間の相互の相関に基づいて、それら一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する算出ステップとを有している。
【０１９７】
２６．  第２５項に記載の画像の位置ずれ検出方法において、前記算出ステップは、前記一対のテストパターンの濃度データ間の相互相関関数を計算し、その相互相関関数の最大値を持つ位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれを算出する。
【０１９８】
２７．  第２５項に記載の画像の位置ずれ検出方法において、前記算出ステップは、前記一対のテストパターンの濃度データの位置を相対的に変化させるステップと、各位置毎での互いの濃度データの相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算出するステップと、その積分値がピークとなる位置を算出するステップと、積分値がピークとなる位置から、前記一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出するステップとを有している。
【０１９９】
【発明の効果】
本発明によれば、インクの噴射タイミングの調整のために形成される一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成装置が提供される。くわえて、この画像形成装置では、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいてそれらの相対的な記録位置ずれ量を求めているので、画像の記録位置ずれ量が高い精度で求められる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による画像記録装置を示している。
【図２】図１に示される記録部に含まれる１つの記録ヘッドの一例を示している。
【図３】図１に示される記録部に含まれる別の１つの記録ヘッドの一例を示している。
【図４】図１に示される記録部に含まれる更に別の１つの記録ヘッドの一例を示している。
【図５】図１に示される記録部に含まれるまた別の１つの記録ヘッドの一例を示している。
【図６】一対のテストパターンとブラックパターンとを含むテスト画像を示している。
【図７】焦点調整と白レベル調整時における、図６に示される画像に対するＣＣＤユニットの位置関係を示している。
【図８】黒レベル調整時における、図６に示される画像に対するＣＣＤユニットの位置関係を示している。
【図９】ＣＣＤユニットで読み取られた図６に示される一対のテストパターンの光学像を示している。
【図１０】図６に示される左側のテストパターンの光学像の加算濃度データを示している。
【図１１】図６に示される右側のテストパターンの光学像の加算濃度データを示している。
【図１２】テストパターンの第一変形例を示している。
【図１３】ＣＣＤユニットで読み取られた図１２に示される６つのパターンブロックの光学像を示している。
【図１４】図１２に示される６つのパターンブロックのうちの１つが欠損した様子を示している。
【図１５】図１４に示されるパターンブロックに対して得られる加算濃度データを示している。
【図１６】図１５に示される加算濃度データに対して得られる相互相関関数を示している。
【図１７】テストパターンの第二変形例を示している。
【図１８】テストパターンの第三変形例を示している。
【図１９】図１８に示されるパターンブロックに対して得られる加算濃度データを示している。
【図２０】テストパターンの第四変形例を示している。
【図２１】図２０に示されるパターンブロックに対して得られる加算濃度データを示している。
【図２２】テストパターンの第五変形例を示している。
【図２３】テストパターンの第六変形例を示している。
【図２４】テストパターンの第七変形例を示している。
【図２５】テストパターンの第八変形例を示している。
【図２６】テストパターンの第九変形例を示している。
【図２７】記録方法の変形例によって記録されるテストパターンの第十変形例を示している。
【図２８】図２７に示されるテストパターンと、副走査軸に対して傾きを有していないＣＣＤユニットとを示している。
【図２９】図２８に示されるＣＣＤユニットの仮想的に分割して得られる第１バンドデータの読み取り部と第２バンドデータの読み取り部とを示している。
【図３０】副走査軸に対して傾きを有していないＣＣＤユニットによって読み取られた一対の基準パターンの濃度データを示している。
【図３１】図２７に示される基準パターンと、副走査軸に対して傾きを有しているＣＣＤユニットとを示している。
【図３２】図３１に示されるＣＣＤユニットが基準パターンを読み取る様子を示している。
【図３３】副走査軸に対して傾きを有しているＣＣＤユニットによって読み取られた一対の基準パターンの濃度データを示している。
【図３４】記録位置ずれ量を求めるべき一対のテストパターンの二値化された濃度データを示している。
【図３５】図３４に示される一対の二値化された濃度データの論理積（ＡＮＤ）を示している。
【図３６】図３４に示される一対の二値化された濃度データのずらし量とそれらの論理積の積分値との関係を示すグラフである。
【図３７】図３４に示される一対の二値化された濃度データの論理和（ＯＲ）を示している。
【図３８】図３４に示される一対の二値化された濃度データのずらし量とそれらの論理和の積分値との関係を示すグラフである。
【図３９】記録位置ずれ量を求めるべき一対のテストパターンの加算濃度データを示している。
【図４０】図３９に示される一対の多値の濃度データの比較最小値群を示している。
【図４１】図３９に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの比較最小値群の積分値との関係を示すグラフである。
【図４２】図３９に示される一対の多値の濃度データの比較最大値群を示している。
【図４３】図３９に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの比較最大値群の積分値との関係を示すグラフである。
【図４４】図３９に示される一対の多値の濃度データの差の絶対値を示している。
【図４５】図３９に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの差の絶対値の積分値との関係を示すグラフである。
【図４６】図３９に示される一対の多値の濃度データの積を示している。
【図４７】図３９に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの積の積分値との関係を示すグラフである。
【図４８】従来例において記録媒体に記録されるドット列から成る一対のテストパターンを示している。
【符号の説明】
１００  画像記録装置
１１０  キャリッジ
１１２  ガイド
１２０  記録部
１３０  ＣＣＤユニット
１４０  用紙保持機構
１７０  キャリッジ制御部
１７２  キャリッジ駆動機構
１７４  記録制御部
１７６  算出部
１９２  用紙
【図１】
0004270780.tif 000002
【図２】
0004270780.tif 000003
【図３】
0004270780.tif 000004
【図４】
0004270780.tif 000005
【図５】
0004270780.tif 000006
【図６】
0004270780.tif 000007
【図７】
0004270780.tif 000008
【図８】
0004270780.tif 000009
【図９】
0004270780.tif 000010
【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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