(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号を伝達する同軸ケーブルユニットであって、
グランド層及び前記グランド層に囲まれた信号線を備え、少なくとも１つの終端部を有する同軸ケーブルと、
前記同軸ケーブルの前記終端部において前記グランド層の外周を囲む囲部と、前記囲部に電気的に接続されており前記信号線から所望の距離を隔てて前記同軸ケーブルの軸方向に伸びる取付部と、前記囲部に接続されており前記囲部から前記同軸ケーブルの半径方向に伸びる肩部とを有するケーブルターミナルと
を備え、
前記グランド層は、前記ケーブルターミナルの外側に折り返されて前記ケーブルターミナルに半田付けされるグランド引き出し線を有し、
前記取付部は、前記肩部に接続されており前記肩部から前記軸方向に伸びており、
前記ケーブルターミナルは、前記囲部における軸方向の前記取り付け部側に設けられ、前記グランド引き出し線の折り曲げ部分が前記囲部から飛び出すのを防ぐ切り欠きをさらに有することを特徴とする同軸ケーブルユニット。
【請求項２】
前記取付部の最大幅と前記信号線の直径とが異なることを特徴とする請求項１に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項３】
前記囲部が、前記同軸ケーブルの外周の３／４周以上１周未満を囲むことを特徴とする請求項１に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項４】
前記取付部の先端の前記軸方向における位置が、前記信号線の先端の前記軸方向における位置と概ね等しいことを特徴とする請求項１に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項５】
前記同軸ケーブルが２つの終端部を有し、
前記ケーブルターミナルが、前記２つの終端部のそれぞれに設けられていることを特徴とする請求項１に記載の同軸ケーブルユニット。
【請求項６】
グランド層と前記グランド層に囲まれた信号線とを有する同軸ケーブルの終端部を回路基板に取り付けるケーブルターミナルであって、
前記グランド層の外周を囲むことのできる長さを有する囲部と、
前記囲部に電気的に接続されており、前記囲部によって前記グランド層の外周を囲んだ場合に、前記信号線から所望の距離を隔てて、前記同軸ケーブルの軸方向に伸びることのできる取付部と、前記囲部に接続されており前記囲部から前記同軸ケーブルの半径方向に伸びる肩部と
を備え、
前記グランド層は、前記ケーブルターミナルの外側に折り返されて前記ケーブルターミナルに半田付けされるグランド引き出し線を有し、
前記取付部は、前記肩部に接続されており前記肩部から前記軸方向に伸びており、
前記囲部における軸方向の前記取り付け部側に設けられ、前記グランド引き出し線の折り曲げ部分が前記囲部から飛び出すのを防ぐ切り欠きをさらに備えたことを特徴とするケーブルターミナル。
【請求項７】
前記取付部の最大幅と前記信号線の直径とが異なることを特徴とする請求項６に記載のケーブルターミナル。
【請求項８】
前記囲部における、前記同軸ケーブルの円周方向長さが、前記グランド層の外周を一周できる長さよりやや短いことを特徴とする請求項６に記載のケーブルターミナル。
【請求項９】
半導体デバイスのソケットが取り付けられるソケットボードと、前記半導体デバイスを試験する試験装置に取り付けられるパフォーマンスボードと、前記ソケットボード及び前記パフォーマンスボードを接続する複数の同軸ケーブルユニットとを有するハイフィックスであって、
前記同軸ケーブルユニットが、
グランド層、前記グランド層に囲まれた信号線、及び少なくとも１つの終端部を有する同軸ケーブルと、
前記同軸ケーブルの前記終端部において前記グランド層の外周を囲む囲部、及び前記囲部に電気的に接続されており前記信号線から所望の距離を隔てて前記同軸ケーブルの軸方向に伸びる取付部と、前記囲部に接続されており前記囲部から前記同軸ケーブルの半径方向に伸びる肩部とを有するケーブルターミナルと
を備え、
前記グランド層は、前記ケーブルターミナルの外側に折り返されて前記ケーブルターミナルに半田付けされるグランド引き出し線を有し、
前記取付部は、前記肩部に接続されており前記肩部から前記軸方向に伸びており、
前記ケーブルターミナルは、前記囲部における軸方向の前記取り付け部側に設けられ、前記グランド引き出し線の折り曲げ部分が前記囲部から飛び出すのを防ぐ切り欠きをさらに有することを特徴とするハイフィックス。
【請求項１０】
前記取付部の最大幅と前記信号線の直径とが異なることを特徴とする請求項９に記載のハイフィックス。
【請求項１１】
前記囲部が、前記同軸ケーブルの外周の３／４周以上１周未満を囲むことを特徴とする請求項９に記載のハイフィックス。
【請求項１２】
前記取付部の先端の前記軸方向における位置が、前記信号線の先端の前記軸方向における位置と概ね等しいことを特徴とする請求項９に記載のハイフィックス。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ケーブルターミナル、当該ケーブルターミナルを用いた同軸ケーブルユニット、及び当該同軸ケーブルを用いたハイフィックスに関する。特に本発明は、入力された信号を正確に伝達することのできるケーブルターミナル、同軸ケーブル、及びハイフィックスに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の同軸ケーブルは、グランド部分と信号線部分のそれぞれを回路基板の配線パターンに半田付けすることにより、回路基板に取り付けられていた。また他の方法においては、グランド部分と信号線部分のそれぞれをねじ止めする治具を回路基板に設け、ねじ止めによって同軸ケーブルを回路基板に固定していた。
【０００３】
しかしながら半田付けによる従来の方法においては、同軸ケーブルと回路基板との接続強度が小さく、同軸ケーブルを引っ張った場合に、同軸ケーブルが容易に回路基板から離脱するという課題を有する。また治具を用いる方法においては、治具の費用及び同軸ケーブルをねじ止めする費用が必要となるので、当該同軸ケーブルを用いた製品の価格が高くなるという問題を有する。
【０００４】
更に、例えば半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置においては、高速な信号を極めて高い精度で伝送する必要がある。そこで信号を伝送する同軸ケーブルは、外部からノイズが混入せず、線路インピーダンスが常に一定であり、また線路上の浮遊容量が小さいことが好ましい。しかしながら従来の方法においては、同軸ケーブルを回路基板に取り付ける取付部分の面積が大きくなるので、浮遊容量が大きくなりやすい。また取付部分において信号線がむき出しになるので、外部からのノイズが混入しやすい。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできるケーブルターミナル、同軸ケーブルユニット及びハイフィックスを提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の第１の形態においては、半導体デバイスのソケットが取り付けられるソケットボードと、半導体デバイスを試験する試験装置に取り付けられるパフォーマンスボードと、ソケットボード及びパフォーマンスボードを接続する複数の同軸ケーブルユニットとを有するハイフィックスであって、同軸ケーブルユニットが、グランド層、グランド層に囲まれた信号線、及び少なくとも１つの終端部を有する同軸ケーブルと、同軸ケーブルの終端部においてグランド層の外周を囲む囲部、及び囲部に電気的に接続されており信号線から所望の距離を隔てて同軸ケーブルの軸方向に伸びる取付部を有するケーブルターミナルとを備えた。同軸ケーブルが２つの終端部を有する場合には、２つの終端部のそれぞれにケーブルターミナルを設けても良い。
【０００７】
本発明の第２の形態においては、ケーブルターミナルが、囲部に接続されており囲部から同軸ケーブルの半径方向に伸びる肩部を更に備え、取付部は、肩部に接続されており肩部から軸方向に伸びている。ここで取付部の最大幅は、信号線の直径と異なることが好ましい。また囲部は、同軸ケーブルの外周の３／４周以上１周未満を囲むことが好ましい。取付部の先端の軸方向における位置は、信号線の先端の軸方向における位置と概ね等しいことが好ましい。
【０００８】
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかかる発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１０】
図１は、本発明の一実施形態に係るハイフィックスの正面図である。本ハイフィックスは、半導体デバイス９０のソケット７０が取り付けられるソケットボード１０と、半導体デバイス９０を試験する試験装置本体８０に取り付けられるパフォーマンスボード３０と、ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０を接続する複数の同軸ケーブルユニット２０とを有する。
【００１１】
ソケットボード１０には、同軸ケーブルユニット２０の信号線を挿入して半田付けするためのスルーホール１４と、同軸ケーブル２０のグランド線に接続されるスルーホール１６が設けられている。パフォーマンスボード３０には、同軸ケーブルユニット２０の信号線を挿入して半田付けするためのスルーホール３４と、同軸ケーブルユニット２０のグランド線に接続されるスルーホール３６が設けられている。ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０のスルーホール３６は、それぞれソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０の内層に設けられたグランドパターンに接続されている。
【００１２】
試験装置本体８０から、半導体デバイス９０を試験するための高速な試験信号がパフォーマンスボード３０に伝送される。試験装置本体８０からパフォーマンスボード３０へ伝送された試験信号は、同軸ケーブルユニット２０及びソケットボード１０を経て、ソケットボード上に設けられたソケット用配線パターン１２に提供され、更にソケット７０を経由して半導体デバイス９０に与えられる。同様に、半導体デバイス９０を試験したときに半導体デバイス９０から出力される出力信号は、ソケット７０、ソケットボード１０、同軸ケーブルユニット２０、及びパフォーマンスボード３０を経て試験装置本体８０へ与えられる。
【００１３】
半導体デバイス９０を正確にテストするためには、試験信号に外部から混入するノイズは極めて小さいことが望ましい。また、試験信号の反射やエッジのなまりを防ぐためには、試験信号の伝送線路上における特性インピーダンスが常に一定で、かつ伝送路上の浮遊容量が可能な限り小さいことが望ましい。
【００１４】
図２は、図１に示した同軸ケーブルユニット２０の詳細な構成を示す三面図である。同軸ケーブルユニット２０は、同軸ケーブル６０とケーブルターミナル４０とを有する。同軸ケーブル６０は、グランド層６６と、グランド層６６から引き出されたグランド引き出し線６４と、グランド層６６に囲まれた信号線６２と、少なくとも１つの終端部６８とを有する。
【００１５】
ケーブルターミナル４０は、同軸ケーブル６０の終端部６８において、同軸ケーブル６０のグランド層６６に半田付けされている。またグランド引き出し線６４は、ケーブルターミナル４０の外側に折り返されてケーブルターミナル４０に半田付けされている。図２では、同軸ケーブル６０の２つの終端部６８のそれぞれに、ケーブルターミナル４０を設けているが、他の実施形態としては、一方の終端部６８みにケーブルターミナル４０を設けても良い。
【００１６】
図３は、図２に示したケーブルターミナル４０の詳細な構成を示す三面図である。ケーブルターミナル４０は、同軸ケーブル６０のグランド層６６の外周を囲む囲部４２、及び囲部４２に電気的に接続されており同軸ケーブル６０の信号線６２から所望の距離を隔てて、同軸ケーブル６０の軸方向に伸びる取付部４６を有する。ソケットボード１０には、信号線６２を挿入して半田付けするためのスルーホール１４、及び取付部４６を挿入して半田付けするためのスルーホール１６が設けられている。パフォーマンスボード３０には、信号線６２を挿入して半田付けするためのスルーホール３４、及び取付部４６を挿入して半田付けするためのスルーホール３６が設けられている。
【００１７】
囲部４２は同軸ケーブル６０の外周の３／４周以上を囲んでいるので、同軸ケーブル６０とケーブルターミナル４０とは、電気的に確実に接触し、接合部におけるインピーダンスの変化を非常に小さく抑えることができる。囲部４２の円周方向長さは、グランド層６６の全周を囲むことができる長さより短いので、囲部４２の両端の間には隙間５２が生じる。このため、隙間５２から容易に半田を流し込むことができ、ケーブルターミナル４０を確実に同軸ケーブル６０に半田付けすることができる。
【００１８】
これにより、ケーブルターミナル４０と同軸ケーブル６０との電気的接触が確実になるのみでなく、機械的強度を高めることができる。ケーブルターミナル４０には、囲部４２に接続されており囲部４２から同軸ケーブル６０の半径方向に伸びる肩部４４が備えられている。取付部４６は、肩部４４に接続されており肩部４４から軸方向に伸びているので、取付部４６と信号線６２との間には、所望の距離が担保される。これにより、信号線６２が誤って取付部４６に接触することを防ぐことができる。
【００１９】
また、囲部４２における軸方向の取付部４６側には切り欠き４８が設けられているので、グランド引き出し線６４を囲み部４２の内側から外側へ折り曲げた場合においても、折り曲げ部分が囲み部４８の先に飛び出すことを防ぐことができる。これにより、ケーブルターミナル４０とソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０とを接触させることができ、ひいてはケーブルターミナル４０とソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０との接触強度を高め、更に接続部のインピーダンスを小さくすることができる。
【００２０】
ケーブルターミナル４０が他のケーブルにショートすることを防ぐと共にケーブルターミナル４０のケーブル６０に対する取付強度を強めるためには、ケーブルターミナル４０及び同軸ケーブル６０の終端部６８を不図示のすみチューブで覆うことが好ましい。囲部４２の軸方向における取付部４６と反対側の端部には、小さな凸部５０が設けられているので、ケーブルターミナル４０及び同軸ケーブル６０の終端部６８を覆ったすみチューブが移動することを防ぐことができる。これにより、ケーブルターミナル４０が露出することを防ぐことができる。
【００２１】
信号線６２は、ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０に設けられたスルーホール１４、３４に挿入されるので、信号線６２が外部に露出する部分は非常に小さい。このため、外部のノイズが信号線６２に混入することを防ぐことができる。また同軸ケーブル６０のグランド層６６は、信号線６２の近傍でソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０のグランド層に短絡されている。このため、ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０と同軸ケーブル６０との接続部における信号線路のインピーダンスを小さく抑えることができ、ひいては、接続部において信号が反射することを抑えることができる。
【００２２】
またケーブルターミナル４０を、ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０と同軸ケーブル６０と同軸ケーブル６０との双方に半田付けすることができるので、ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０と同軸ケーブル６０との接続強度を高めることができる。更に、スルーホールを用いて信号線６２及びグランド層６６の双方を基板に半田付けしたことにより、基板の表面に半田付けした場合と比較して半田強度を高めると共に、半田面積を小さくし、ひいては線路の浮遊容量を小さくすることができる。
【００２３】
取付部４６の最大幅が信号線６２の直径と概ね等しい場合には、ソケットボード１０及びパフォーマンスボード３０における、信号線６２用のスルーホール１４、３４、及び取付部４６用のスルーホール１６、３６はほぼ同じ大きさとすることが好ましい。但し、信号線６２用のスルーホール１４、３４、及び取付部４６用のスルーホール１６、３６の大きさをほぼ同じとした場合には、それぞれのスルーホールに、信号線６２と取付部４６とを誤って挿入するおそれがある。
【００２４】
これを防ぐためには、信号線６２の直径と取付部４６の幅を異ならせると共に、信号線６２用のスルーホール１４、３４の内径と、取付部４６用のスルーホール１６、３６の内径とを異ならせることが好ましい。これにより、信号線６２用のスルーホール１４、３４に誤って取付部４６を挿入すること、または取付部４６用のスルーホール１６、３６に信号線６２を誤って挿入することを防ぐことができる。
【００２５】
ソケットボード１０又はパフォーマンスボード３０に挿入された取付部４６及び信号線６２は、ソケットボード１０又はパフォーマンスボード３０の裏面に飛び出す。この飛び出した取付部４６及び信号線６２が相互に接触することを防ぐためには、裏面に飛び出した部分の長さは短いことが望ましい。従って、取付部４６の先端の、同軸ケーブル６０の軸方向における位置は、予め信号線６２の先端の軸方向における位置と概ね等しくしておくことが好ましい。
【００２６】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることができることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００２７】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本実施形態によれば、同軸ケーブルと回路基板との接続強度が大きく、回路基板へ接続するために治具やねじ止めを必要としないケーブルターミナル、同軸ケーブルユニット、及び前記ケーブルユニットを用いたハイフィックスを提供することができる。また本実施形態によれば、外部からノイズが混入しにくく、同軸ケーブルと回路基板との接続部におけるインピーダンス及び線路上の浮遊容量が小さい同軸ケーブルユニット及びハイフィックスを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一実施形態に係るハイフィックスの正面図である。
【図２】  図１に示した同軸ケーブルユニット２０の詳細な構成を示す三面図である。
【図３】  図２に示したケーブルターミナル４０の詳細な構成を示す三面図である。
【符号の説明】
１０  ソケットボード
１２  ソケット用配線パターン
１４  スルーホール
１６  スルーホール
２０  同軸ケーブルユニット
３０  パフォーマンスボード
３４  スルーホール
３６  スルーホール
４０  ケーブルターミナル
４２  囲部
４４  肩部
４６  取付部
４８  切り欠き
５０  凸部
５２  隙間
６０  同軸ケーブル
６２  信号線
６４  グランド引き出し線
６６  グランド層
６８  終端部
７０  ソケット
８０  試験装置本体
９０  半導体デバイス
【図１】
0004279929.tif 000002
【図２】
0004279929.tif 000003
【図３】
0004279929.tif 000004