(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＴＦＴアレイ基板上のゲート線方向に形成された保持容量形成のための共通容量線と、対向電極とを有し、前記共通容量線と前記対向電極とは、前記ＴＦＴアレイ基板上では電気的に分離されており、フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣで電気的に短絡されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に行う画像表示検査方法であって、
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法。
【請求項２】
ＴＦＴアレイ基板上のゲート線方向に形成された保持容量形成のための共通容量線と、前記共通容量線に電気的に接続された共通容量線実装端子と、対向電極と、前記対向電極に電気的に接続された対向電極実装端子とを有し、前記共通容量線と前記対向電極とは、前記ＴＦＴアレイ基板上では電気的に分離されており、前記共通容量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、前記ＴＦＴアレイ基板上に分離されて形成されており、前記共通容
量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣの内部配線によって接続され、その内部配線は、外部と接続するための共通端子に接続されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に行う画像表示検査方法であって、
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法。
【請求項３】
前記共通容量線を前記対向電極と互いに電気的に分離するように前記ＴＦＴアレイ基板上に形成し、
前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に、請求項１または請求項２に記載の画像表示検査方法を用いて画像表示検査を行い、
前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装後に、前記共通容量線と前記対向電極とを前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣで電気的に短絡する液晶表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、保持容量形成のための共通容量線を有し、フレキシブルプリント回路及び／またはＩＣをガラス基板上に実装する構成を有する液晶表示装置を製造する液晶表示装置製造方法、及び液晶表示装置の画像表示検査を行う画像表示検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の液晶表示装置では、保持容量形成のための共通線と対向電極とはフレキシブルプリント回路や、駆動ＩＣなどを実装する前のパネル状態でＴＦＴアレイ基板内で電気的に接続されている構成となっていた。
【０００３】
図３は、従来の液晶表示装置のパネル内回路図を示すものである。ゲート線１はゲート終端で検査用抵抗５を介して検査用ゲート信号端子３に一括接続しており、ソース線２は、ソース終端で検査用抵抗６を介して検査用ソース信号端子４に一括接続している。ＴＦＴアレイ基板上の共通容量線７と対向電極８とはアレイ基板上で電気的に接続され同電位となっている。アレイ基板上で接続された共通容量線７と対向電極８とは共通端子１７を介してフレキシブルプリント回路基板１８より外部回路に取り出される構成となっている。
【０００４】
次に、このような従来の液晶表示装置の動作を説明する。
【０００５】
工場で、液晶表示装置を製造する際、液晶表示装置にフレキシブルプリント回路１８や駆動ＩＣを実装する前のパネル状態で画像表示検査が行われる。そして、画像表示検査の結果異常なしと判定されたパネル状態の液晶表示装置には、フレキシブルプリント回路１８や駆動ＩＣなどが実装される。
【０００６】
このような画像表示装置の検査は、次のように行う。すなわち、検査用ゲート信号端子３、検査用ソース信号端子４、及び共通端子１７にそれぞれ検査用のゲート信号、検査用のソース信号、及び検査用の基準電圧を印加することにより、画像表示を行い、各画素が正常であるかどうかを検査する。
【０００７】
また、液晶表示装置が製品として出荷される際に、検査用ゲート信号端子３、検査用抵抗５、検査用ソース信号端子４、及び検査用抵抗６など上記の画像表示検査に使用された回路部分は、レーザーなどにより切断することにより液晶表示装置から取り除かれる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記の従来例の構成では、フレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前に検査用ゲート信号端子３、検査用ソース信号端子４、共通端子１７より信号を入力し、画像表示検査を行った際に、ＴＦＴアレイ基板上でのソース線２と共通容量線７とのショートが発生した箇所９において、ソース線方向の線欠陥位置は表示上見えやすいが、ゲート線方向の線欠陥位置は表示上特定できない。従って、画像表示検査を行っても、ショートした箇所９のアドレス特定が不可能であり、リペアできないという問題点を有していた。
【０００９】
通常、ソース線２と共通端子間には３Ｖ程度の電圧が印加されており、ソース信号は約１０ｋ〜１００ｋΩの検査用抵抗６を介して入力され、ゲート方向の共通信号は共通容量線７の配線抵抗１ｋΩ以下を介して入力される。ショートした箇所９が発生した場合、ソース方向とゲート方向の抵抗比でソース信号とゲート方向の共通信号とが分圧され電圧降下が発生し表示上線欠陥として見えるが、抵抗比が数十倍以上になると抵抗値の小さいゲート方向の線欠陥が表示上見えなくなり、アドレス特定が不可能となる。
【００１０】
すなわち、従来の液晶表示装置では、フレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前に画像表示検査を行っても、ゲート方向の線欠陥を表示上見ることが出来ないので、ソース線と共通容量線との間でショートが発生した箇所を特定することが出来ないという課題がある。
【００１１】
本発明は、上記従来の課題を考慮し、ＴＦＴアレイ基板上の配線を工夫し、フレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前の画像表示検査でショートした箇所９のアドレス特定を可能とし、リペア可能になる液晶表示装置の製造方法、及び画像表示検査方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上述した課題を解決するために、第１の本発明は、
ＴＦＴアレイ基板上のゲート線方向に形成された保持容量形成のための共通容量線と、対向電極とを有し、前記共通容量線と前記対向電極とは、前記ＴＦＴアレイ基板上では電気的に分離されており、フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣで電気的に短絡されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に行う画像表示検査方法であって、
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法である。
また、第２の本発明は、
ＴＦＴアレイ基板上のゲート線方向に形成された保持容量形成のための共通容量線と、前記共通容量線に電気的に接続された共通容量線実装端子と、対向電極と、前記対向電極に電気的に接続された対向電極実装端子とを有し、前記共通容量線と前記対向電極とは、前記ＴＦＴアレイ基板上では電気的に分離されており、前記共通容量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、前記ＴＦＴアレイ基板上に分離されて形成されており、前記共通容量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣの内部配線によって接続され、その内部配線は、外部と接続するための共通端子に接続されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に行う画像表示検査方法であって、
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法である。
また、第３の本発明は、
前記共通容量線を前記対向電極と互いに電気的に分離するように前記ＴＦＴアレイ基板上に形成し、
前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に、第１または第２の本発明の画像表示検査方法を用いて画像表示検査を行い、
前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装後に、前記共通容量線と前記対向電極とを前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣで電気的に短絡する液晶表示装置の製造方法である。
【００１９】
例えば、上記目的を達成するために本発明の液晶表示装置の画像表示検査方法は、一例として、フレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前では、ＴＦＴアレイ基板上で共通容量線７と対向電極８を電気的に分離し、画像表示検査ではそれぞれ異電位の検査信号を入力することで、ゲート線方向の線欠陥位置も表示上見えやすくし、ショートした箇所９のアドレス特定を可能とした。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
【００２１】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１の液晶表示装置のパネル内回路図を示すものである。本実施の形態の液晶表示装置は、ゲート線１、ソース線２、ゲート一括検査線３、ソース一括検査線４、一括検査ゲート線入力抵抗５、一括検査ソース線入力抵抗６、共通容量線７、対向電極８、ソース線２と共通容量線７のショート箇所９、画素ＴＦＴ１０、保持容量１１、液晶容量１２、ゲート実装端子１３、ソース実装端子１４、共通容量線実装端子１５、対向電極実装端子１６、共通容量線と対向電極の共通線１７、フレキシブルプリント回路基板１８、及びフレキシブルプリント回路内配線１９から構成される。
【００２２】
ゲート線１は、図示していないゲートＩＣによって駆動され、画素ＴＦＴ１０をオン／オフさせるためのゲート信号を各画素ＴＦＴ１０に印加する線である。
【００２３】
ソース線２は、図示していないソースＩＣによって駆動され、選択されたＴＦＴ１０がオン状態になっている画素の液晶容量１２及び保持容量１１にソース信号を印加する線である。
【００２４】
ゲート一括検査線３及びソース一括検査線４は、フレキシブルプリント回路基板１８を実装する前に画像表示検査を行う場合にそれぞれゲート線１に一括して検査用のゲート信号を印加し、ソース線２に一括して検査用のソース信号を印加するための線であり、製品として出荷されるまでにレーザなどで焼き切ることにより取り除かれるものである。
【００２５】
対向電極８は、各画素に形成された画素電極（図示せず）とで液晶層に信号電圧を印加するための電極である。
【００２６】
画素ＴＦＴ１０は、画素毎に形成されており、ゲート線１から印加されるゲート信号によってソース線２と画素電極との間をオン／オフさせるスイッチング素子である。
【００２７】
保持容量１１は、次の走査期間までの間に液晶層に継続して信号電圧を印加出来るように、液晶容量１２を補助する容量である。
【００２８】
液晶容量１２は、画素電極と対向電極８との間に形成される容量である。
【００２９】
ゲート実装端子１３は、ゲートＩＣと接続され、ゲートＩＣからゲート信号を供給する端子である。
【００３０】
ソース実装端子１４は、ソースＩＣと接続され、ソースＩＣからソース信号を供給する端子である。
【００３１】
ゲート線１はゲート終端で検査用抵抗５を介して検査用ゲート信号端子３に一括接続しており、ソース線２はソース終端で検査用抵抗６を介して検査用ソース信号端子４に一括接続している。
【００３２】
ＴＦＴアレイ基板上の共通容量線７と対向電極８はアレイ基板上で電気的に分離され異電位となっている。共通容量線実装端子１５、対向電極実装端子１６は分離された状態でアレイ基板上に有している。フレキシブルプリント回路基板１８の内部配線１９にて共通容量線実装端子１５と対向電極実装端子１６とは接続され外部回路には１本の共通端子１７で取り出される構成となっている。
【００３３】
従って、共通容量線７と対向電極８とは、フレキシブルプリント回路基板１８が実装される前には電気的に分離されており、フレキシブルプリント回路基板１８が実装された後には共通容量線７と対向電極８とは、電気的に短絡するような構造を有する。
【００３４】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【００３５】
なお、本実施の形態の液晶表示装置は、発明者が行った実験結果に基づいている。従って、まず、発明者が行った実験について説明し、その後、本実施の形態の液晶表示装置について説明する。
【００３６】
まず、発明者は、図１の液晶表示装置のうちフレキシブルプリント基板１８以外の部分を製作した。すなわち、図１に示すように対向電極８と共通容量線７とは分離して形成されている。さらに、レーザを照射することにより、ソース線２と共通容量線７との間をショートさせ、ショートした箇所９を形成した。
【００３７】
次に、このような液晶表示装置に表示動作を行わせた。すなわち、対向電極実装端子１６に０Ｖ電圧を印加し、ソース実装端子１４に２Ｖの電圧を印加し、共通容量線実装端子１５に２０Ｖの電圧を印加し、さらにゲート実装端子１３に１５Ｖの電圧を印加してみた。
【００３８】
そうすると、液晶表示装置は表示状態になり、ショートした箇所９を通りソース線方向と平行である線欠陥が表示されるとともに、ショートした箇所９を通りゲート線方向と平行である線欠陥が表示された。
【００３９】
このように、液晶表示装置の各端子に上記のような電圧を印加した場合、ショートした箇所９が存在する場合には、ショートした箇所９を通る横方向の線欠陥と縦方向の線欠陥とが表示された。
【００４０】
ショートした箇所９を通りソース線方向の線欠陥が表示されることは、従来の液晶表示装置でも確認出来ているが、ショートした箇所９を通りゲート線方向の線欠陥が表示されることは従来の液晶表示装置では確認出来ていないものである。
【００４１】
このようなゲート方向の線欠陥が表示される理由は、以下のように推測することが出来る。すなわち、各共通容量線７はそれぞれ１ＫΩ程度の抵抗を持っているため、ショートした箇所９に接続している共通容量線７の電圧降下の程度は、他の共通容量線７の電圧降下の程度より大きくなる。このことによってゲート線方向の線欠陥が表示されるものと推測することが出来る。
【００４２】
ところが、ショートした箇所９に接続している共通容量線７と接続する画素のうち、ショートした箇所９に対応する画素以外の画素に着目した場合、共通容量線７は、対向電極８とは絶縁状態にあり、また画素電極とも電気的に接続していないので、共通容量線７に電圧降下が発生しても、画素電極と対向電極との間の電圧に変化が生じず、従ってゲート線方向の線欠陥が表示されることはあり得ないように思われる。
【００４３】
しかしながら、実際は、対向電極実装端子１６、ソース実装端子１４、共通容量線実装端子１５、及びゲート実装端子１３に電圧を印加するタイミングや、画素電極と対向電極８と共通容量線７などの構造的な位置関係による電荷の移動などの複雑な要因によりこのような現象が発生するものと推測することが出来る。
【００４４】
次に、以上の事実に基づく画像表示検査について説明する。
【００４５】
すなわち、上記のような構成でフレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前に画像表示検査を行う際に、ソース信号は対向電位に対し２Ｖ程度の液晶駆動電圧を印加し、共通容量線は、ソースに対し数１０Ｖの電圧を印加する。そうすることで、ソース線と共通容量線との間に、対向−ソース間電圧の１０数倍の電圧を印加し表示することが可能となり、ＴＦＴアレイ基板上でのソース線２と共通容量線７がショートした箇所９において欠陥の発生ラインの他のラインに対する電圧降下はゲート線方向、ソース線方向ともに従来の液晶表示装置に対し十数倍の値が得られ欠陥アドレスを表示にて特定できリペアが可能となる。
【００４６】
また、フレキシブルプリント回路基板実装後に共通容量線実装端子１５と対向電極実装端子１６とを接続し１本の共通端子１７として外部回路に出力することで外部回路のコスト的負担も増加しない。
【００４７】
以上のように、本発明では、外部回路にコスト的負担を与えずに、フレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前の画像表示検査でソース−共通容量線ショート箇所を検出できる優れた液晶表示装置の画像表示検査方法を実現できる。
【００４８】
なお、本発明の液晶表示装置は、本実施の形態のフレキシブルプリント回路基板が実装される前の液晶表示装置であってもよいし、フレキシブルプリント回路基板が実装された後の液晶表示装置であってもよい。
【００４９】
さらに、本実施の形態のフレキシブルプリント回路基板は本発明のフレキシブルプリント回路の例である。
【００５０】
（実施の形態２）
図２は、本発明の実施の形態２の液晶表示装置のパネル内回路図を示すもので、実施の形態１では、フレキシブルプリント回路基板１８の内部配線１９にて共通容量線実装端子１５と対向電極実装端子１６は接続され外部回路には１本の共通端子１７で取り出される構成となっていたが、このかわりにソースＩＣ２０の内部配線２１によってソースＩＣ実装後に共通容量線実装端子１５と対向電極実装端子１６を接続し共通端子１７として外部に出力することで発明の実施の形態１と同様の効果が得られる。
【００５１】
また、ソースＩＣの代わりにゲートＩＣの内部配線で、ゲートＩＣ実装後に共通容量線実装端子１５と対向電極実装端子１６を接続することも可能である。
【００５２】
なお、本発明の液晶表示装置を製造する液晶表示装置製造方法であって、前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装前に、前記共通容量線と前記対向電極とを互いに電気的に分離するように形成し、前記フレキシブルプリント回路またはソースＩＣまたはゲートＩＣ実装後に、前記共通容量線と前記対向電極とを電気的に短絡する液晶表示装置の製造方法も本発明に属する。
【００５３】
さらに、情報を処理する情報処理手段と、処理された前記情報または処理される前記情報を表示する表示手段とを備え、前記表示手段には本発明の液晶表示装置が用いられている情報処理装置は本発明に関連する発明である。なお、本発明に関連する発明の情報処理装置とは、パーソナルコンピュータ、ＰＤＡなどを含む。要するに本発明に関連する発明の情報処理装置とは、ディスプレイに情報を表示する装置であって、そのディスプレイに本発明の液晶表示装置が用いられていさえすればよい。
【００５４】
さらに、放送波を受信して復調した信号を出力する受信手段と、復調された前記信号を表示する表示手段とを備え、前記表示手段には本発明の液晶表示装置が用いられているテレビ受信装置も本発明に関連する発明である。
【００５５】
さらに、無線通信を行う通信手段と、前記無線通信手段を制御するためのＧＵＩを表示する表示手段とを備え、前記表示手段には本発明の液晶表示装置が用いられている無線通信装置も本発明に関連する発明である。なお、本発明に関連する発明の無線通信装置とは、携帯電話端末、ＰＨＳ端末、自動車電話端末などの無線で通信する装置を含む。
【００５６】
【発明の効果】
以上のように本発明は、液晶表示装置の製造コストを増やすことなく、ソース線と保持容量形成のための共通容量線の交差部の、行程中の不良によるショート箇所をフレキシブルプリント回路基板や駆動用ＩＣ実装前の画像表示検査でアドレス特定しリペアできる優れた液晶表示装置の製造方法、及び画像表示検査方法を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１における液晶表示装置のパネル内回路図
【図２】本発明の実施の形態２における液晶表示装置のパネル内回路図
【図３】従来の液晶表示装置における液晶表示装置のパネル内回路図
【符号の説明】
１    ゲート線
２    ソース線
３    ゲート一括検査線
４    ソース一括検査線
５    一括検査ゲート線入力抵抗
６    一括検査ソース線入力抵抗
７    共通容量線
８    対向電極
９    ソース線と共通容量線のショート箇所
１０    画素ＴＦＴ
１１    保持容量
１２    液晶容量
１３    ゲート実装端子
１４    ソース実装端子
１５    共通容量線実装端子
１６    対向電極実装端子
１７    共通容量線と対向電極の共通線
１８    フレキシブルプリント回路基板
１９    フレキシブルプリント回路内配線
２０    ソースＩＣ
２１    ソースＩＣ内配線
【図１】
0004225713.tif 000002
【図２】
0004225713.tif 000003
【図３】
0004225713.tif 000004