(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対のテストパターン毎に異なるパターン要素で構成される複数対のテストパターンを記録媒体に記録する記録手段と、
前記記録手段によって記録された前記複数対のテストパターンの濃度を読み取るための読み取り手段と、
前記読み取り手段によって読み取られた前記複数対のテストパターンの濃度データに基づいて、前記濃度データ間の相互相関関数を計算し、その相互相関関数の最大値を持つ位置から、相対的な記録位置ずれ量を算出し、当該記録位置ずれ量をもとに、前記記録手段の角度ずれ量を算出する算出手段と、
を有することを特徴とする画像記録装置。
【請求項２】
前記複数対のテストパターンは、一対のテストパターン毎にパターン要素の幅が異なるように構成されることを特徴とする請求項１に記載の画像記録装置。
【請求項３】
前記一対のテストパターンは、互いに主走査方向に沿って前記記録媒体に記録されることを特徴とする請求項２に記載の画像記録装置。
【請求項４】
インクジェットヘッドを主走査方向に移動させている間に、当該インクジェットヘッドのノズル列の上半分で複数対のテストパターンにおける各対の一方のパターン要素を記録媒体に記録し、
前記ノズル列の半分に相当する距離だけ記録媒体を副走査方向に搬送し、
前記インクジェットヘッドを主走査方向に移動させている間に、当該インクジェットヘッドのノズル列の下半分で複数対のテストパターンにおける各対の他方のパターン要素を記録し、
前記インクジェットヘッドによって記録された前記複数対のテストパターンの濃度を読み取り、
読み取られた前記複数対のテストパターンの濃度データに基づいて、前記濃度データ間の相互相関関数を計算し、その相互相関関数の最大値を持つ位置から、相対的な記録位置ずれ量を算出し、当該記録位置ずれ量をもとに、前記記録手段の角度ずれ量を算出する、ことを特徴とする画像記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像記録装置における記録ヘッドの角度ずれ検出に関する。
【０００２】
【従来の技術】
記録媒体にインクを噴射して画像を形成するインクジェットタイプの画像記録装置が知られている。インクジェットタイプの画像記録装置は、例えば、一列に配列された多数の記録素子（インクジェットノズル）を有する記録ヘッドを備えている。この種の画像記録装置は、モノクロ印刷用のものは一つの記録ヘッドを備えており、カラー印刷用のものは複数の記録ヘッドを備えている。なお、ライン状に多数の前記記録素子が配列されている記録ヘッドを有している画像記録装置が、従来より知られている。このような画像記録装置では、１つまたは複数の記録ヘッドは、キャリッジに取り付けられている。このキャリッジは、前記記録ヘッドを往復駆動（走査）させ得る。この記録ヘッドの往復移動方向が、主走査軸である。前記記録ヘッドは、主走査軸に沿った走査に伴って、前記記録媒体にインクを噴射する。この噴射により、前記記録媒体上には、インクドットにより構成された主走査軸に沿った画像が、記録（形成）される。
【０００３】
また、前記記録媒体は、記録ヘッドの駆動方向（主走査軸）に対して直交する方向（副走査軸）に、間欠的に搬送される。この搬送により、前記記録ヘッドと前記記録媒体とは、相対的に移動する。なお、上記主走査軸に沿った画像の記録は、記録媒体が停止している間に行われる。そして、上記主走査軸に沿った画像の記録が完了すると、前記記録媒体は、副走査方向に所定量搬送され、停止する。これら搬送と記録とを繰り返すことにより、前記画像記録装置は、記録媒体全体に渡って画像を記録、即ち印刷する。
【０００４】
また、上記画像記録装置は、様々な印字方法で印字が行われる。この印字方法には、例えば、１パス片方向印字がある。この１パス片方向印字では、記録ヘッドを往路と復路とのどちらか一方のみに駆動させ、この一方の駆動を１度行う。この駆動中に、記録ヘッドは、前記主走査軸に沿った画像を形成する。前記画像が形成されると、前記記録媒体が搬送され、次の画像を形成する。
【０００５】
なお、一つの記録ヘッドあるいは複数の記録ヘッドの各々は、キャリッジに対する取り付け角度が適正に調整されている必要がある。例えば、記録ヘッドは、記録素子の列（ノズル列）が副走査軸に沿って配置されるように、前記キャリッジに取り付けられる。この場合、前記ノズル列は、前記取り付け角度が適正に調整されると、副走査軸に沿った方向に延びる。
【０００６】
以下に、この記録ヘッドの取り付け角度が適正に調整された画像記録装置が、１パス片方向印字によって画像を記録した場合について、図３４を参照して説明する。図３４は、上記画像記録装置が、任意の主走査軸に沿った位置において、副走査方向に沿って並ぶように、印字された２つのインクドット列を示す概略図である。
【０００７】
この画像記録装置は、１パス片方向印字で記録を行うため、２回の走査で２つのインクドット列を記録する。以下の説明では、最初の走査を第１の走査とし、続く走査を第２の走査とする。なお、図３４中に示されている矢印mdは、記録ヘッドの駆動方向を示しており、矢印tdは、記録媒体の搬送方向を示している。前記画像記録装置は、前記第１の走査で、インクドット列１０１０を記録する。続いて、前記画像記録装置は、記録媒体を前記ノズル列の長さであるノズル列長ｄｎ分だけ搬送する。この搬送後、前記画像記録装置は、第２の走査で、インクドット列１０２０を記録する。なお、前記記録ヘッドは、前記取り付け角度が調整されているため、インクドット列１０１０と、インクドット列１０２０とが、副走査方向に沿って直線的に並ぶ。即ち、記録されるインクドット列は、ノズル列の配列方向と略一致するように記録される。
【０００８】
なお、上記画像記録装置において、前記取り付け角度が適正に調整されていない場合、記録ヘッド１０３０は、例えば、図３５中に示されているように、副走査軸に対して傾斜角度θhaで傾斜してしまう。なお、本明細書中において、記録ヘッドが、所定の取り付け角度に対して傾斜することを「角度ずれ」と呼ぶ。従って、記録ヘッド１０３０は、所定の取り付け角度に対して、傾斜角度θhaの角度ずれがある。このため、ノズル列１０４０も同様に、副走査軸に対して傾斜してしまう。
【０００９】
この状態で画像記録装置が、上記と同様に画像記録を行った場合、図３６中に示されているように、インクドット列１０１０及びインクドット列１０２０は、ノズル列１０４０の傾斜角度θhaと略同様な傾斜角度で傾斜して印字されてしまう。なお、図３６中において、インクドット列１０２０は、自身の長手軸に沿った長さであるドット列長さを有している。このドット列長さは、実質的にノズル列長さｄｎと同一である。
【００１０】
このようにインクドット列が傾斜している場合、図３６中においてインクドット列１０１０の上端のインクドット１０１１と、下端のインクドット１０１２とは、主走査軸に沿った位置がずれてしまう。インクドット列１０２０の下端のインクドットは、インクドット１０１２と同様に、主走査軸に沿った位置がずれてしまう。このため、インクドット１０１１と、インクドット１０２２とが、主走査軸に沿って離間してしまう。即ち、記録ヘッド１０３０に角度ずれがある場合、インクドット列１０１０とインクドット列１０２０とは、副走査方向に沿って直線的に並ばない。このように、角度ずれのある記録ヘッドは、副走査軸に沿った直線を印字することができない。また、角度ずれのある記録ヘッドは、カラー印刷において色を重ねた際に、むらが発生してしまう。このような角度ずれは、記録される画像の画質の劣化の原因となる。
【００１１】
このため記録ヘッドは、キャリッジへの取り付け角度を適正に調整する必要がある。従来、前記角度ずれの調整は、例えば、次のように行われている。
【００１２】
上記角度ずれ調整を行うためには、まず記録ヘッドの角度ずれを求める。なお、ノズル列並びにインクドット列の傾斜角度は、記録ヘッドの傾斜角度θhaと実質的に同様である。このため、インクドット列の傾斜角度θdaを求めることで、ノズル列１０４０の傾斜角度θhaを求める。例えば、記録ヘッドがノズル列を副走査軸に沿うように取り付けられることが意図された場合、前記インクドット列の傾斜角度θdaは、前記ドット列長さと、距離ｔｈとにより、次式（１０）により求められる。なお、次式（１０）において、前記ドット列長さｄｎは、ノズル列長さｄｎと同一であるため、ノズル列長さに置き換えられている。距離ｔｈは、前記副走査軸に沿っていると共にインクドット列の一方の端部のインクドットを通る直線ｔｂと、他方の端部のインクドットとの距離である。また、傾斜角度θdaと、ノズル列長さｄｎと、距離ｔｈと、の関係は、図３７中に示される。
θda  ＝  arcsin(th/dn)・・・（１０）
このようにして、傾斜角度θdaを求める際、ノズル列長さｄｎは、ノズル列の全長であるため予め分かっている。距離ｔｈは、記録されたインクドット列より測定される。この距離ｔｈを測定するために、まず、前記図３６と同様な２つのインクドット列１０１０，１０２０をテストパターンとして記録する。続いて、記録されたインクドット列１０１０，１０２０を画像記録装置に搭載のＣＣＤで読み取り、読み取った夫々のインクドット列１０１０，１０２０のイメージから各インクドットの重心位置を求める。求めた各インクドットの重心位置をもとに各インクドット列１０１０，１０２０に対応する直線を求める。そして、これらの直線間の距離である直線間距離ｄ１を測定する。
【００１３】
これにより、インクドット１０１１とインクドット１０２２との距離が求まる。インクドット１０２２は、インクドット列１０１０の一方の端部のインクドットであるインクドット１０１２と、主走査軸に沿った位置が略同一である。また、一般的に、直線間距離ｄ１は、ドット列長さｄｎに対して非常に小さい。このため、インクドット１０２２は、インクドット列１０１０の他方の端部のインクドットであるインクドット１０１１に対して、副走査方向と略直交するように位置されていると言える。
【００１４】
これらにより、直線間距離ｄ１は、実質的に距離ｔｈとみなすことが出来る。従って、記録ヘッド１０３０は、直線間距離ｄ１と、インクドット列１０１０のドット列長さであるノズル列長ｄｎと、前記式（１０）とを用いて、傾斜角度θｈｄと実質的に同一な傾斜角度θhaが求められる。
この記録ヘッド１０３０は、この傾斜角度θhaを元に、角度調整がなされる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
上述のように距離ｔｈを求める際に、テストパターンが記録される。このテストパターンがドット列で構成されているため、テストパターンの読み取り時に、ドット列の近傍にある汚れやゴミ等をドットと誤認識したり、その反対にノズルの噴射が弱いために形成された小径のドットをゴミと認識してしまうことがある。また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等によりイメージ欠損が生じることがある。これらの原因により、記録されたドット列に対応する直線が正確に得られず、その結果として、傾斜角度θhaが正確に求められないことがある。
【００１６】
また、各ドットを良好に認識するためには読み取り解像度を高くする必要があり、テストパターンの読み取りに多くの時間を要してしまう。加えて、各ドットの重心位置を求めるため、計算処理にも多くの時間を要してしまう。さらに、求める直線間隔の精度を高めるには、サンプル数（ドット列）を増やすことが必要であり、これは読み取り時間と計算処理時間を増加させてしまう。
【００１７】
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その主な目的は、テストパターン上の汚れやゴミ、また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等の欠陥が生じても、正確に記録ヘッドの角度ずれ量を相互の関係をもとに算出できる画像記録装置を提供することである。本発明の更なる目的は、記録ヘッドの角度ずれを短時間で算出し得る画像記録装置を提供することである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明の画像記録装置は、以下の構成を有している。
本発明の一態様の画像記録装置は、一対のテストパターン毎に異なるパターン要素で構成される複数対のテストパターンを記録媒体に記録する記録手段と、前記記録手段によって記録された前記複数対のテストパターンの濃度を読み取るための読み取り手段と、前記読み取り手段によって読み取られた前記複数対のテストパターンの濃度データに基づいて、前記濃度データ間の相互相関関数を計算し、その相互相関関数の最大値を持つ位置から、相対的な記録位置ずれ量を算出し、当該記録位置ずれ量をもとに、前記記録手段の角度ずれ量を算出する算出手段と、を有する。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。
（第１実施形態）
最初に、画像記録装置について図１を参照して説明する。図１に示されるように、画像記録装置１００は、互いに間隔を置いて対峙しているキャリッジ１１０と用紙保持機構１４０とを有している。キャリッジ１１０と用紙保持機構１４０の間には、記録媒体である用紙１９２が通される。用紙１９２は、搬送ローラ１５２とニップローラ１５４から成る搬送ローラ対と、排紙ローラ１６２とニップローラ１６４から成る排紙ローラ対とに挟まれ、これらのローラ対によって図の上から下へ搬送される。
【００２０】
用紙保持機構１４０は、多数の孔が形成されたプラテン１４２と、用紙保持機構１４０の内部空間（プラテンチャンバー）１４４を負圧に引くためのファン１４８とを有している。用紙１９２は、搬送される間、ファン１４８により発生される負圧によって、プラテン１４２に吸い付けられる。
【００２１】
キャリッジ１１０は、用紙１９２に画像を記録するための記録手段である記録部１２０と、用紙１９２に記録された画像を読み取るための読み取り手段であるＣＣＤユニット１３０とを備えている。キャリッジ１１０は、一対のガイド１１２によって、紙面に直交する主走査軸に沿って移動可能に支持されている。
【００２２】
画像記録装置１００は、さらに、キャリッジ１１０を制御するキャリッジ制御部１７０を有している。キャリッジ制御部１７０は、キャリッジ１１０を主走査軸に沿って移動させるための走査手段であるキャリッジ駆動機構１７２と、一対のテストパターンを含むテスト画像を用紙１９２に記録するように記録部を制御する制御手段である記録制御部１７４と、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出し、前記記録位置ずれ量に基づいて記録ヘッドの角度ずれ量を算出する算出手段である角度ずれ算出部１７６とを有している。
【００２３】
キャリッジ駆動機構１７２によってキャリッジ１１０は主走査軸に沿って移動され得る。キャリッジ１１０が主走査軸に沿って移動される間、記録部１２０は、一対のテストパターンを含むテスト画像を用紙１９２に記録する。
【００２４】
一対のテストパターンは、一対のテストパターンで構成されても、複数対のテストパターンで構成されてよい。すなわち、一対のテストパターンの各々は、単一のテストパターンで構成されても、複数のテストパターンで構成されてよい。
【００２５】
記録部１２０は、モノクロ印刷用の画像記録装置においては、１つの記録ヘッドを備えており、カラー印刷用の画像記録装置においては、複数の記録ヘッドを備えている。例えば、ブラック、シアン、マゼンタ、ライトシアン、ライトマゼンタ、イエローの６色を扱うインクジェットプリンタでは、記録部１２０は、各色毎の６つの記録ヘッドを備えている。記録部１２０が有する記録ヘッドの数は、その画像記録装置に要求される画質等に応じて任意に決められる。
【００２６】
記録部１２０に含まれる１つの記録ヘッドが図２に示される。記録ヘッド１２２は、図２に示されるように、副走査軸に沿って一列に一定のピッチで並んだ多数の記録素子（インクジェットノズル）を有する単一のユニット２１０で構成されている。別の言い方をすれば、記録ヘッド１２２は、１つのノズル列２１２を有する単一のユニット２１０で構成されている。
【００２７】
このような記録ヘッド１２２を用いた画像記録装置では、通常、キャリッジ１１０の主走査軸に沿った移動により記録ヘッド１２２のノズル列２１２が横切る領域に対するインクドットの形成される。
【００２８】
例えば、副走査軸に沿って延びる一本の直線を記録するには、往路において、所定の位置で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成し、用紙１９２をインクドットのピッチの半分相当の距離だけ副走査軸に沿って移動し、復路において、往路で形成したインクドットと同じ主走査方向位置で、全てのインクジェットノズルからインクを噴射してインクドットを形成する。これにより、副走査軸に沿って隙間なく並んだ多数のインクドットの列すなわち直線が記録される。
【００２９】
このような１つまたは複数の記録ヘッド１２２を備えている画像記録装置では、１つの記録ヘッド１２２または複数の記録ヘッド１２２の各々は、記録ヘッドの角度が適正に調整される必要がある。このため、一対のテストパターンの一方が第１の走査で記録され、一対のテストパターンの他方が第２の走査によって記録される。
【００３０】
次に記録ヘッドの角度調整のための角度ずれ検出方法について説明する。以下では代表的に、１つのブラック用記録ヘッドに関して説明する。以下の説明において、ブラック用記録ヘッドは４９６個のインクジェットノズルを有し、インクジェットノズルは３６０ｄｐｉのノズルピッチで並んでいるものとする。なお、本実施の形態において、ノズル列２１２は、副走査軸に沿って配置されている。このため、この角度ずれ検出方法においては、記録ヘッドの副走査軸に対する角度ずれを検出する。なお、角度ずれ検出は、副走査軸に対する角度ずれ以外の任意の軸に対する角度ずれを検出し得る。
【００３１】
上記角度ずれ検出方法では、テスト画像の記録、テストパターンの読み込み、角度ずれ量の算出が行われる。
【００３２】
・テスト画像の記録（印刷）
テスト画像は、例えば、図３に示されるように、一対のテストパターン３１２、３１４と、後述する黒レベル調整のためのブラックパターン３１６とを含んでいる。テストパターンの記録は、１パス片方向印刷で行う。なお、図３中には、キャリッジの駆動方向ｍｄと、用紙の用紙搬送方向ｔｄとが示されており、駆動方向ｍｄと用紙搬送方向ｔｄとが直交している。なお、駆動方向ｍｄは、主走査軸に沿っており、用紙搬送方向ｔｄは、副走査軸に沿っている。
【００３３】
上記テストパターンの記録が、図４中に模式的に示されている。このテストパターンの記録では図４中に示すように、第１の走査で記録ヘッド８０２（１st）を、駆動方向ｍｄ（図中右側）に移動させながらノズル列の下半分を使用してブラックパターン３１６を記録し、ノズル列の上半分を使用してテストパターン３１２を記録する。なおノズル列の長手方向の全長は、ノズル列長ｄｎである。
【００３４】
前記ブラックパターン３１６並びにテストパターン３１２の記録後、用紙が、ノズル列長ｄｎの半分に相当する距離ｄｎ／２搬送される。この搬送後、第２の走査で、記録ヘッド８０２（２ｎｄ）をノズル列の下半分を用いてテストパターン３１４を記録する。
【００３５】
テストパターン３１２、３１４は共に単一のテストパターンで構成されている。好ましい一対のテストパターン３１２、３１４は高い相関性を有している。このためテストパターンは、同じパターン要素、例えば、５ドットの幅を持つ矩形のパターン要素で構成される。テストパターン３１２、３１４は、互いに重ならないように、主走査軸に沿って例えば６４ドットずらして記録される。テストパターンのずらし量は、６４ドットに限定されるものではなく、記録するテストパターンの幅等に応じて任意に設定される。
なお、テストパターン３１２，３１４は、実際は記録ヘッドの傾斜により、図３中に示すように、副走査軸に沿って延びず、図５中に示されるように傾斜する。
【００３６】
・テストパターンの読み取り
続く説明中ではＣＣＤユニット１３０は１４４０ｄｐｉの読み取り解像度を有しているものとする。
【００３７】
図６に示されるように、用紙１９２を用紙搬送方向の上流側に搬送する。この搬送により、テストパターン３１２、３１４とブラックパターン３１６とを含むテスト画像が、キャリッジ１１０内のＣＣＤユニット１３０よりも上側に配置される。続いて、キャリッジ１１０を移動して、ＣＣＤユニット１３０をブラックパターン３１６の下方に配置する。
【００３８】
この位置（図６に示される位置）において、ＣＣＤユニット１３０の焦点調整を行う。焦点調整の終了後、その位置において、用紙の白地部分を利用してＣＣＤユニット１３０の白レベル調整を行う。この輝度調整は公知の方法によって行う。
【００３９】
白レベル調整の終了後、ＣＣＤユニット１３０の位置を固定したまま、ＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６を検出するまで、用紙１９２を用紙搬送方向の下流側に搬送する。この用紙１９２の搬送に従って、ＣＣＤユニット１３０の撮像領域は、用紙１９２の白地からブラックパターン３１６の黒地へと変化し、これに応じてＣＣＤユニット１３０の出力信号も変化する。プリンタ制御部（図示せず）は、ＣＣＤユニット１３０の出力信号に基づいて、図７に示されるようにＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６と対面していることを認識し、その認識に応じて用紙１９２の搬送を停止させる。
【００４０】
ＣＣＤユニット１３０がブラックパターン３１６と対面している位置でＣＣＤユニット１３０の黒レベル調整を行う。この輝度調整は公知の方法で行われる。
黒レベル調整の終了後、テストパターンを読み込むため、さらに用紙１９２を用紙搬送方向上流側に搬送して、ＣＣＤユニット１３０をテストパターン３１２、３１４の下端の直前に配置する。
【００４１】
その後は、微小の搬送量ずつ、例えば搬送モータの駆動パルスを２０パルスに設定したときの搬送量（理想では１ドットラインに相当する距離）ずつ、用紙１９２を搬送する。微小搬送の度にＣＣＤユニット１３０はテストパターン３１２、３１４（正確にはその光学像の輝度）を読み取る。ＣＣＤユニット１３０で読み取られたデータは、一回の微小搬送ごとにメモリに格納される。ＣＣＤユニット１３０がテストパターンを読み終えるまで、用紙搬送・画像読取・データ格納のこれら一連の動作を続ける。
【００４２】
・角度ずれ量の算出
ここで、本実施の形態の記録ヘッド１２２の角度ずれ量θhaの算出の原理を説明する。先に、図４を用いて説明したように、テストパターン３１２が、第１の走査においてノズル列上半分を使用して記録される。用紙がノズル列長ｄｎの半分に相当する距離搬送された後、第２の走査で、テストパターン３１４が、ノズル列の下半分を用いて記録される。
【００４３】
記録ヘッド１２２に角度ずれがない場合、図３中に示されたように、テストパターン３１２、３１４は、副走査軸に平行になる。また、これらテストパターン３１２、３１４は、重ならないように主走査軸に沿って６４ドット分互いに離間されている。しかし、記録ヘッド１２２に角度ずれがある場合、テストパターン３１２、３１４は、図５中に示されたように、副走査軸に対して傾斜する。図５中には例として、ノズル列の重心を軸として時計回りに角度ずれをおこした記録ヘッドにより記録されたテストパターン３１２，３１４が示されている。なお、図８は、角度ずれがある場合と無い場合とのテストパターン３１２、３１４を比較するために、図５中のテストパターン３１２、３１４に、角度ずれの無い場合に記録された領域を共に示す図である。図８中において、実線８２２は、前記角度ずれがある場合において、テストパターン３１２とともに上半分のノズル列も画像を記録した場合の記録領域を示している。この記録領域中には、テストパターン３１２が含まれている。実線８２４は、前記角度ずれがある場合において、テストパターン３１４とともに下半分のノズル列も画像を記録した場合の記録領域を示している。この記録領域中には、テストパターン３１４が含まれている。破線８３２は、前記角度ずれがない場合において、テストパターン３１２とともに上半分のノズル列も画像を記録した場合の記録領域を示している。破線８３４は、前記角度ずれがない場合において、テストパターン３１４とともに下半分のノズル列も画像を記録した場合の記録領域を示している。このため、これらの記録領域は、ノズル列長ｄｎと同じ長手方向の寸法を有している。
【００４４】
図８中に示すように、角度ずれがない場合、破線８３２，８３４で示される記録領域は、長手方向に沿った中央部と端部とが主走査軸に沿って同一の位置に位置している。このことより、図３中に示されたテストパターン３１２の下端と、テストパターン３１４の下端とが、所定の離間距離である６４ドットを保ち得ることが分かる。
【００４５】
しかし、角度ずれがある場合、実線８２２，８２４で示される記録領域は、長手方向に沿った中央部と端部とが主走査軸に沿って異なる位置に位置している。この角度ずれは、記録ヘッドがノズル列の重心の位置を回転中心として、時計回り回転しているために生じている。このため、上記実線８２２，８２４で示される記録領域の中央部は、角度ずれが無い場合の前記記憶領域の中央部の位置と、略主走査軸に沿った位置が略同一である。しかしながら、上記実線８２２，８２４で示される記録領域の端部は、角度ずれが無い場合の前記記憶領域の端部の位置に対して、略主走査軸に沿った位置がずれる。すなわち、角度ずれが無い場合の前記記憶領域の端部に対する上記実線８２２，８２４で示される記録領域の端部の記録位置ずれ量γtmは、上記所定の離間距離である６４ドットに対する増減により求められる。具体的には、この記録位置ずれ量γtmは、上記所定の離間距離である６４ドットに対する、実線８２２で示される記録領域の中央部と、実線８２４で示される記録領域の端部との間隔の増減により求められる。
【００４６】
なお、前記角度ずれが反時計回りの場合、実線８２２で示される記録領域の中央部と、実線８２４で示される記録領域の下端部とは、間隔が広くなる。逆に、角度ずれが時計回りの場合、実線８２２で示される記録領域の中央部と、実線８２４で示されるで示される記録領域の下端部とは、間隔が狭くなる。
【００４７】
なお、本実施の形態において、実線８２２で示される記録領域の中央部は、テストパターン３１２の下端部である。そして、実線８２４で示される記録領域の下端部は、テストパターン３１４の下端部である。このため、テストパターン３１２とテストパターン３１４との主走査軸に沿った離間距離から、上記所定の離間距離である６４ドットを引いた値が、記録位置ずれ量γtmとなる。即ち、一対のテストパターンの主走査軸に沿った相対的な位置ずれ量が、記録位置ずれ量γtmである。なお、テストパターン３１２とテストパターン３１４との主走査軸に沿った離間距離の算出の仕方は、後で詳しく説明する。
【００４８】
前記記録位置ずれ量γtmは、上述のように、前記記録領域の中央から端部までの主走査軸に沿った距離である。また、前記記録領域の中央からの端部までの距離は、ノズル列長ｄｎの半分であるため、ｄｎ／２である。なお、前記記録領域の傾斜角度は、記録ヘッドの角度ずれによる傾斜角度（角度ずれ量θha）と略同一である。このため、角度ずれ量haは、次式（９）により表すことが出来る。
θha  =  arcsin（γtm／（ｄｎ／２））・・・（９）
一対のテストパターンの記録位置ずれ量の算出時に、一対のテストパターン３１２、３１４の主走査軸に沿った相対的な記録位置ずれ量の算出について説明をする。本実施形態では、相互相関関数を用いて、ずれ量を算出する。
【００４９】
ある二つの信号ｒ１（ｘ）、ｒ２（ｘ）に対して、これらの相互相関関数Φ１２（τ）は次式（１）で表される。
Φ１２（τ）＝∫ｒ１（ｘ）ｒ２（ｘ一τ）ｄｘ・・・（１）
ここにτは二つの信号の距離を示している。Φ１２（τ）は、信号ｒ１（ｘ）と信号ｒ２（ｘ）が一致するときに最大値をとる。
【００５０】
実際の処理では、図９に示されるように、ＣＣＤユニット１３０で読み取られるテストパターン３１２、３１４の光学像３１２ｉ、３１４ｉを、第１の走査で記録されたテストパターン３１２の光学像３１２ｉと第２の走査で記録されたテストパターン３１４の光学像３１４ｉとに分ける。記録時の解像度が３６０ｄｐｉであるのに対してＣＣＤ解像度が１４４０ｄｐｉであるので、光学像分割幅は、テストパターン記録時におけるテストパターン３１２とテストパターン３１４とのずらし量が６４ドットの場合、次式（２）のようになる。
光学像分割幅＝６４ドット×（１４４０ｄｐｉ÷３６０ｄｐｉ）・・・（２）
次に、それぞれの光学像３１２ｉ、３１４ｉのデータを副走査方向（ＣＣＤユニット１３０の読み取り方向）に関して和を取り、光学像３１２ｉの加算濃度データ（図１０）と、光学像３１４ｉの加算濃度データ（図１１）を求める。
【００５１】
続いて、光学像３１２ｉの副走査方向の加算濃度データをｒ１（ｘ）、光学像３１４ｉの副走査方向の加算データをｒ２（ｘ）として相互相関関数を求め、さらに、この相互相関関数が最大値を示す位置を算出する。
【００５２】
具体的には、前記相互相関関数によりテストパターンの相互相関を以下のようにして調べる。図１２は、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対の光学像３１２ｉ，３１４ｉのそれぞれの加算濃度データ７１２，７１４と、その相対位置関係を示している。そして、この２つの加算濃度データ７１２と加算濃度データ７１４との相互相関関数Φ１２（τ）を算出し、それを示したものが、図１３である。
【００５３】
図１３において、相互相関関数の最大値を与えるｄ１が、光学像３１２ｉ、３１４ｉの離間距離を示している。即ち、このように算出される位置の値は、一対のテストパターン３１２，３１４の光学像３１２ｉ，３１４ｉの記録位置ずれ量γtp1440を表している。
【００５４】
このように算出される記録位置ずれ量γtp1440は、１４４０ｄｐｉの解像度で読み取られた光学像３１２ｉ、３１４ｉに対するものであり、従って、３６０ｄｐｉの解像度で記録された実際のテストパターン３１２、３１４の記録位置ずれ量γtp360は、次式（３）で表される。
γtp360＝γｔｐ１４４０÷（１４４０ｄｐｉ÷３６０ｄｐｉ）・・・（３）
記録位置ずれ量γtp360は、テストパターン３１２、３１４の記録時に相互の重なりを避けるために与えたずらし量を含んでいる。従って、求めるべき記録位置ずれ量γtmは、先に求めた記録位置ずれ量γtp360から記録時のずらし量６４ドットを引いた値になる。すなわち、求めるべき記録位置ずれ量γtmは、次式（４）で表される。
γtm＝γtp360−６４・・・（４）
本実施形態では、インクの噴射タイミングの調整のために記録した一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を、一対のテストパターンの濃度データの相互相関関数を用いて求めているので、記録位置ずれ量を短時間で、しかも高い精度で算出し得る。
【００５５】
（第２実施形態）
以下、第２実施形態の画像記録装置について説明する。本実施形態は、テストパターンの形状、数のみ第１実施形態と相違しており、装置構成等は第１実施形態と同様である。
【００５６】
前述したように一対のテストパターンは、一対のテストパターンで構成されたものに限定されない。一対のテストパターンは、複数対のテストパターンで構成されてもよい。
【００５７】
具体的には、本実施の形態において（１）テストパターンの数を増やす、（２）互いに幅の異なる複数のテストパターンを用いる（３）副走査方向にテストパターンを追加するのいずれかの手法を使用したテストパターンを用いる。
【００５８】
（１）テストパターンの数を増やす。
（１）の手法のテストパターンは、図１５に示されるように、一対のテストパターン３３２、３３４と、別の一対のテストパターン３３６、３３８と、更に別の一対のテストパターン３４０、３４２とを含んでいる。一対のテストパターンの一方に含まれるテストパターン３３２、３３６、３４０は例えば第１の走査で記録され、一対のテストパターンの他方に含まれるテストパターン３３４、３３８、３４２は第２の走査で記録される。
【００５９】
テストパターン３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２は互いに重ならないように主走査軸に沿って例えば６４ドットずらして記録される。言い換えれば、テストパターン３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。
【００６０】
テストパターン３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２はいずれも同じパターン要素、例えば、５ドット幅の矩形のパターン要素で構成されている。テストパターン３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２はその全てがＣＣＤユニット１３０の読み取り幅に収まるように記録されるとよい。
【００６１】
テストパターンの矩形パターン要素の幅は５ドットに限定されない。また、テストパターンの数も６に限定されない。さらに、テストパターンのずらし量は６４ドットに限定されない。矩形パターン要素の幅やテストパターンの数６やテストパターンのずらし量は、テストパターンが互いに重ならない条件下で、好ましくはさらに全てのテストパターンがＣＣＤユニット１３０の読み取り幅に収まる条件下で、任意に変更されてよい。
【００６２】
図１６に示されるように、ＣＣＤユニット１３０で読み取られたデータは、一対のテストパターンの一方を構成している往路で記録されたテストパターン３３２、３３６、３４０の光学像３３２ｉ、３３６ｉ、３４０ｉと一対のテストパターンの他方を構成している復路で記録されたテストパターン３３４、３３８、３４２の光学像３３４ｉ、３３８ｉ、３４２ｉとに分けられる。
【００６３】
一対のテストパターンの記録位置ずれ量は、例えば、複数対のテストパターンの各々に対して、前述した手法により、相互相関関数を用いて、それら一対のテストパターンの間の記録位置ずれ量を算出し、算出された複数の記録位置ずれ量を平均し、その値をもとに角度ずれ量が求められる。
【００６４】
あるいは、一対のテストパターンの記録位置ずれ量は、第１の走査で記録されたテストパターン群と第２の走査で記録されたテストパターン群に対して、前述した手法により、相互相関関数を用いて求められてもよい。
本変実施の形態によれば、サンプル数が多いため、求められる記録位置ずれ量の精度向上に有効である。
【００６５】
（２）互いに幅の異なる複数のテストパターンを用いる。
複数のテストパターンはいずれも同一のパターン要素で構成されている必要はない。複数のテストパターンは、一対のテストパターン毎に、異なるパターン要素で構成されてもよい。
【００６６】
（２）の手法では、図１９に示されるように、一対のテストパターンは、５ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された一対のテストパターン３６２、３６４と、１０ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された別の一対のテストパターン３６６、３６８と、４ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成された更に別の一対のテストパターン３７０、３７２とを含んでいる。これら６つのテストパターン３６２、３６４、３６６、３６８、３７０、３７２は主走査軸に沿って６４ドットのピッチで並んでいる。
【００６７】
本手法では、（１）の手法のテストパターンと比較して、次のような利点を有している。
【００６８】
（１）の手法のテストパターンにおいて、例えば、図１６に示されるように、６つのテストパターン３３２、３３４、３３６、３３８、３４０、３４２のうちの１つのテストパターン３４２が欠損してしまった場合を考える。この場合、図１７に示されるように、テストパターン３３２、３３４、３３６、３３８、３４０の加算濃度データ３３２ｎ、３３４ｎ、３３６ｎ、３３８ｎ、３４０ｎは得られるが、欠損したテストパターン３４２の加算濃度データ３４２ｎ（破線で示される）は得られない。図１７には、第１の走査で記録されたテストパターン３３２、３３６、３４０に対応する加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎ、３４０ｎが上側に、第２の走査で記録されたテストパターン３３４、３３８に対応する加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎが下側に示されている。
【００６９】
図１７に示される加算濃度データに対して得られる相互相関関数が図１９に示される。この相互相関関数は、図１８に示されるように、同じ最大値を示す一対のピーク３５２、３５４を有している。これは、図１７において、上側の加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎ、３４０ｎに対して、下側の加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎが主走査軸に沿って左側に６４ドットずれることによる加算濃度データ３３２ｎ、３３６ｎと加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎとの相関と、加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎが主走査軸に沿って右側に２５６ドット（テストパターン記録時の解像度としては６４ドット（図１８参照））ずれることによる加算濃度データ３３６ｎ、３４０ｎと加算濃度データ３３４ｎ、３３８ｎとの相関とが等しいためである。
【００７０】
このように、図１５中に示される（１）の手法のテストパターンにおいて、複数の同じテストパターンの一部が欠損した場合には、相互相関関数が同じ最大値を示す一対のピーク３５２、３５４を持つため、本来の記録位置ずれ量を表すピークを見分けるのが困難である。
【００７１】
これに対して本手法を用いたテストパターンは、図１９に示されるように、一対のテストパターン３６２、３６４は共に５ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成され、別の一対のテストパターン３６６、３６８は共に１０ドットの幅を持つ矩形パターン要素で構成され、更に別の一対のテストパターン３７０、３７２は共に４ドットの幅を持つ矩形パターンで構成されている。
【００７２】
このように一対のテストパターン毎にパターン要素の幅が異なっているので、異なる対のテストパターンに含まれる二つのテストパターンの相関は、同じ対のテストパターンを構成する二つのテストパターンの相関に比べて低いものとなる。従って、得られる相互相関関数は、最大値を示すピークを１つだけ有するものとなり、記録位置ずれ量の算出が安定に容易に行える。
テストパターンの数やその矩形パターンの幅は、上述した値に限定されるものではなく、任意に変更されてよい。
【００７３】
（３）副走査方向にテストパターンを追加する。
本手法を使用したテストパターンは、図２０に示されるように、第１の走査においてノズル列の上半分で記録されるテストパターン４１２が記録される。こととともに、第２の走査において、テストパターン４１４、４１６が記録される。テストパターン４１４は、テストパターン４１２と重ならないように、主走査軸に沿って、６４ドットずらされている。テストパターン４１６は、テストパターン４１２と主走査軸に沿った同じ位置に記録されている。
【００７４】
（３）の手法は、（１）及び（２）の手法と比較して、次ような利点を有している。（１）乃至（３）の手法を用いたテストパターンは、いずれも第１走査と第２走査との間に、用紙搬送が行われる。用紙搬送方向において斜行が生じた場合、前記斜行によりテストパターンの記録位置がずれる。（１）及び（２）の手法により記録されたテストパターンを記録位置ずれ量の算出に用いると、上記記録位置のずれが、そのまま測定の誤差になってしまう。しかしながら、（３）の手法では、図２１中に示されるテストパターン４１２，４１６の光学像４１２ｎ、４１６ｎの主走査方向に沿った位置ずれ量の算出が行える。このため、上記第１の実施の形態で説明された式（９）を用いることで、用紙の斜行量が求められる。このため、前記斜行量を補正した後に、テストパターン４１２、４１４の位置ずれ量を算出し得る。このため、（３）の手法は、用紙搬送が斜行した場合においても、精度良く記録位置ずれ量を算出し得る。従って、この（３）の手法のテストパターンは、記録ヘッドの角度ずれ量の算出の精度向上に役立つ。
【００７５】
（第３実施形態）
以下、第３実施形態の画像記録装置について説明する。本実施形態は、記録位置ずれ量の算出の仕方においてのみ第１実施形態と相違しており、装置構成等は第一実施形態と同様である。また、第２実施形態で説明したテストパターンの変形例等は、そのまま本実施形態にも適用され得る。
【００７６】
本実施形態では、一対のテストパターンの濃度データの位置を相対的に変化させながら、互いの濃度データの相関に基づいて濃度データの積分値を逐次算出し、その積分値がピークとなる位置から、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出する。
具体的には、（１）二値化された濃度データ同士の論理積の積分値、（２）二値化された濃度データ同士の論理和の積分値、（３）多値の濃度データ同士の比較最小値群の積分値、（４）多値の濃度データ同士の差の積分値、（５）多値の濃度データ同士の積の積分値のいずれかを求め、得られたピーク値から記録位置ずれ量を算出する。
【００７７】
（１）二値化された濃度データ同士の論理積の積分値に基づく算出。
まず、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データを求め、これを二値化して、図２３に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４を求める。二値化とは、濃度データを所定の閾値と比較し、閾値以上の濃度データは１に、閾値未満の濃度データは０に変換する操作である。
【００７８】
一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対して、任意のｘの値において、それらの論理積（ＡＮＤ）をとり、図２４が示されるように、二値化された濃度データ同士の論理積６２２を求め、さらに、その論理積６２２の面積を求める（すなわち積分値を求める）。この操作を任意のｄ1に対して行う。すなわち、図２３において、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図２５に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４のずれとそれらの論理積６２２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【００７９】
二値化された濃度データ同士の論理積の積分値は、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４の重なりが増加するにつれて値が大きくなり、重なりが減少するにつれて値が小さくなる。すなわち、一対の二値化された濃度データの論理積の積分値は、一対の二値化された濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。
図２５において、最大の面積を与えるｄ1の値が、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図２５のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【００８０】
（２）二値化された濃度データ同士の論理和の積分値に基づく算出。
まず、前述の論理積に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、一対のテストパターンの加算濃度データを求め、これを二値化して、図２３に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４を求める。
【００８１】
一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対して、任意のｘの値において、それらの論理和（ＯＲ）をとり、図２６が示されるように、二値化された濃度データ同士の論理和６３２を求め、さらに、その論理和６３２の面積を求める（すなわち積分値を求める）。この操作を任意のｄ1に対して行う。すなわち、図２３において、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図２７に示されるように、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４のずれとそれらの論理和６３２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【００８２】
二値化された濃度データ同士の論理和の積分値は、二値化された濃度データ６１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４の重なりが増加するにつれて小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくなる。すなわち、一対の二値化された濃度データの論理和の積分値は、一対の二値化された濃度データ同士が最も多く重なるときに最小値をとる。
【００８３】
図２７において、最小の面積を与えるｄ1の値が、一対の二値化された濃度データ６１２、６１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図２７のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【００８４】
（３）多値の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく算出。
まず、図２８に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【００８５】
次に、図２９に示されるように、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の比較最小値群７２２をとる。ここにおいて、比較最小値とは、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度データを比較し、小さい方の濃度データ値（最小値）を取得することを意味する。そして、この比較最小値をｘ方向に亘って取得していき、その最小値群７２２の積分値をとる。従って、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の比較最小値群７２２の積分値をとるとは、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４を重ね合わせ、重なり合った部分の面積を求めることに相当する。
【００８６】
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図２８において、多値の加算濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図３０に示されるように、一対の加算濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの比較最小値群７２２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【００８７】
濃度データ同士の比較最小値群の積分値は、加算濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の加算濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて大きくなり、重なりが減少するにつれて小さくなる。すなわち、一対の濃度データの比較最小値群の積分値は、濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。
【００８８】
図３０において、最大の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図３０のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【００８９】
（４）多値の濃度データ同士の差の積分値に基づく算出。
まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図２８に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【００９０】
次に、図３１に示されるように、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度の差の絶対値７４２をとる。さらに、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の差の絶対値７４２の積分値をとる。
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図２８において、多値の加算濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図３２に示されるように、一対の加算濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの差の絶対値７４２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【００９１】
濃度データ同士の差の絶対値７４２の積分値は、加算濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の加算濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて小さくなり、重なりが減少するにつれて大きくなる。すなわち、一対の濃度データの差の絶対値の積分値は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最小値をとる。
【００９２】
図３２において、最小の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図３２のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【００９３】
（５）多値の濃度データ同士の積の積分値に基づく算出。
まず、前述の濃度データ同士の比較最小値群の積分値に基づく記録位置ずれ量の算出と同様に、図２８に示されるように、求めるべき記録位置ずれ量の対象である一対のテストパターンの加算濃度データ７１２、７１４を求める。加算濃度データ７１２、７１４は多値の濃度データである。
【００９４】
次に、図３３に示されるように、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の任意のｘでの濃度の積７５２をとる。さらに、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４の積７５２の積分値をとる。
この操作を任意のｄ2に対して行う。すなわち、図２８において、多値の加算濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらしながら、上述した一連の計算を行っていく。これにより、図３４に示されるように、一対の加算濃度データ７１２、７１４のずらし量とそれらの積７５２の積分値との関係を示すグラフが得られる。
【００９５】
濃度データ同士の積７５２の積分値は、加算濃度データ７１２を＋ｘ方向にずらすあいだ、一対の加算濃度データ７１２、７１４の重なりが増加するにつれて大きくなり、重なりが減少するにつれて小さくなる。すなわち、一対の濃度データの積の積分値は、一対の濃度データ同士が最も多く重なるときに最大値をとる。
【００９６】
図３４において、最大の面積を与えるｄ2の値が、一対の多値の加算濃度データ７１２、７１４に対応する一対のテストパターンの記録位置ずれ量を示している。従って、図３４のグラフに基づいて、一対のテストパターンの記録位置ずれ量が求められる。
【００９７】
以上で求められた記録位置ずれ量は図２３や図２８におけるずれ量であり、最終的に求めるべき記録位置ずれ量は、ここで求められた記録位置ずれ量からテストパターン記録時に与えたずらし量を引いて求められる。
【００９８】
本実施形態では、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関を用いて求めているので、記録位置ずれ量が短時間でしかも高い精度で算出され得る。
これまで、いくつかの実施の形態について図面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。
【００９９】
また、本実施形態によれば、テストパターン上の汚れやゴミ、また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等の欠陥が生じても、正確に記録ヘッドの角度ずれ量を相互の関係をもとに算出し得る画像の角度ずれ検出を提供する。さらに、記録ヘッドの角度ずれを短時間で算出し得る画像の位置ずれ検出を提供する。
【０１００】
【発明の効果】
本発明によれば、テストパターン上の汚れやゴミ、また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等の欠陥が生じても、正確に記録ヘッドの角度ずれ量を相互の関係をもとに算出できる画像記録装置を提供し得る。さらに、本発明は、記録ヘッドの角度ずれを短時間で算出し得る画像記録装置を提供し得る。
【図面の簡単な説明】
【図１】  図１は、本発明による画像記録装置を示す概略的な断面図である。
【図２】  図２は、図１に示される記録部に含まれる１つの記録ヘッドを示す正面図である。
【図３】  図３は、一対のテストパターンとブラックパターンとを含むテスト画像を示す図である。
【図４】  図４は、図３のテストパターンの形成過程を示す概略図である。
【図５】  図５は、角度ずれがあるテストパターンを示す図である。
【図６】  図６は、焦点調整と白レベル調整時における、図５に示される画像に対するＣＣＤユニットの位置関係を示す図である。
【図７】  図７は、黒レベル調整時における、図５に示される画像に対するＣＣＤユニットの位置関係を示す図である。
【図８】  図８は、角度ずれがあるテストパターンとないテストパターンとを比較するための図である。
【図９】  図９は、ＣＣＤユニットで読み取られた図６に示される一対のテストパターンの光学像を示す図である。
【図１０】  図１０は、図６に示される左側のテストパターンの光学像の加算濃度データを示す図である。
【図１１】  図１１は、図６に示される右側のテストパターンの光学像の加算濃度データを示す図である。
【図１２】  図１２は、図９に示される光学像に対して得られる加算濃度データを示す図である。
【図１３】  図１３は、相互相関関数により、図１２に示される一対の多値の加算濃度データの相互相関を示すグラフである。
【図１４】  図１４は、（１）の手法を用いたテストパターンを示す図である。
【図１５】  図１５は、ＣＣＤユニットで読み取られた図１４に示される６つのパターンブロックの光学像を示す図である。
【図１６】  図１６は、図１４に示される６つのパターンブロックのうちの１つが欠損した様子を示す図である。
【図１７】  図１７は、図１６に示されるパターンブロックに対して得られる加算濃度データを示す図である。
【図１８】  図１８は、図１７に示される加算濃度データに対して得られる相互相関関数を示す図である。
【図１９】  図１９は、（２）の手法を用いたテストパターンを示す図である。
【図２０】  図２０は、（３）の手法を用いたテストパターンを示す図である。
【図２１】  図２１は、図２１のテストパターンの加算濃度データを示す図である。
【図２２】  図２２は、記録位置ずれ量を求めるべき一対のテストパターンの二値化された濃度データを示している。
【図２３】  図２３は、図２２に示される一対の二値化された濃度データの論理積（ＡＮＤ）を示している。
【図２４】  図２４は、図２２に示される一対の二値化された濃度データのずらし量とそれらの論理積の積分値との関係を示すグラフである。
【図２５】  図２５は、図２２に示される一対の二値化された濃度データの論理和（ＯＲ）を示している。
【図２６】  図２６は、図２２に示される一対の二値化された濃度データのずらし量とそれらの論理和の積分値との関係を示すグラフである。
【図２７】  図２７は、記録位置ずれ量を求めるべき一対のテストパターンの加算濃度データを示している。
【図２８】  図２８は、図２７に示される一対の多値の濃度データの比較最小値群を示している。
【図２９】  図２９は、図２７に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの比較最小値群の積分値との関係を示すグラフである。
【図３０】  図３０は、図２７に示される一対の多値の濃度データの差の絶対値を示す図である。
【図３１】  図３１は、図２７に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの差の絶対値の積分値との関係を示すグラフである。
【図３２】  図３２は、図２７に示される一対の多値の濃度データの積を示す図である。
【図３３】  図３３は、図２７に示される一対の多値の濃度データのずらし量とそれらの積の積分値との関係を示すグラフである。
【図３４】  図３４は、上記画像記録装置が、任意の主走査軸に沿った位置において、副走査方向に沿って並ぶように、印字された２つのインクドット列を示す概略図である。
【図３５】  図３５は、角度ずれのある記録ヘッドを示す図で正面図である。
【図３６】  図３６は、角度ずれのある記録ヘッドにより記録されたインクドット列を示す図である。
【図３７】  図３７は、傾斜角度と、ノズル列長さとの関係を示す図である。
【符号の説明】
１００  画像記録装置
１１０  キャリッジ
１１２  ガイド
１２０  記録部
１３０  ＣＣＤユニット
１４０  用紙保持機構
１７０  キャリッジ制御部
１７２  キャリッジ駆動機構
１７４  記録制御部
１７６  算出部
１９２  用紙
【図１】
0004270799.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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