(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
温度によって抵抗値が変化する素子であって、電源から電力が供給されて発光し、光ディスクに光を照射する光源の使用温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段によって測定された前記光源の使用温度に基づいて、前記電源から前記光源へ供給される駆動電流の制限値を変更する駆動電流制限値変更手段と、
駆動電流制限値変更手段の出力が入力されるとともに前記光源へ流れる電流を制御する駆動電流制御素子と、
前記電源と前記駆動電流制御素子との間に接続される第１抵抗と、
前記温度検出手段と直列に接続されるとともに、電源からの電流が、前記電源と前記第１抵抗との間の分岐点から流れる第２抵抗と、を含み、
前記駆動電流制限値変更手段は、前記第２抵抗と前記温度検出手段との間の分岐点からの入力と、前記第１抵抗と前記駆動電流制御素子との間の分岐点からの入力とにより、前記温度検出手段の抵抗値の変化に基づいて前記光源へ供給される駆動電流の制限値を変更することを特徴とする光源保護装置。
【請求項２】
前記駆動電流の制限値は、前記光源の最高使用温度に基づいて決定される、前記光源の最高駆動電流値以下であることを特徴とする請求項１に記載の光源保護装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の光源保護装置は、
前記電源と、前記光源の光出力を一定に制御する光出力一定制御手段との間に設けられることを特徴とする光源保護装置。
【請求項４】
ディスクを回転させるディスク駆動手段と、
前記ディスクに光を照射するための光源と、
請求項１〜３のいずれか１項に記載の光源保護装置と、
を含むことを特徴とするディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの読み取り等に用いられる光源の保護に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク等の再生や光ディスク等に記録・再生するためのディスク装置では、情報の読み取り光あるいは情報の記録光に用いる光源として、半導体レーザーダイオード（以下レーザーダイオード）が用いられる。レーザーダイオードは、電源とレーザーダイオードとの間に、レーザーダイオードの光出力を一定とする回路（ＡＰＣ：Automatic  Power  Controller）を設けて、一定の光出力を発生するように制御される（特許文献１）。また、レーザーダイオードの熱暴走による駆動電流の増加や、電源からのサージ電流によってレーザーダイオードが劣化するのを抑制する目的で、電源とＡＰＣとの間に電流制限用抵抗を接続する（特許文献１）。【０００３】
【特許文献１】特開平０５−９５１４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
レーザーダイオードは、動作可能な温度範囲を拡大するため、規定の寿命を保証できる範囲で最も高い使用温度（最高使用温度）における駆動電流を、レーザーダイオードの駆動電流の制限値とする。この駆動電流の制限値となるように、電流制限用抵抗の抵抗値は定められる。このため、レーザーダイオードが最高使用温度よりも低い温度（例えば常温）で使用される場合、前記制限値と常温におけるレーザーダイオードの必要駆動電流値との差分の電流値は、前記制限値と最高使用温度における必要駆動電流値との差分の電流値よりも増加する。すなわち、前記制限値と必要駆動電流値との差分の電流値は、レーザーダイオードの使用温度が低下するほど、大きくなる。【０００５】
特許文献１に開示されたレーザーダイオード駆動回路の場合、電流制限用抵抗の抵抗値から定められるレーザーダイオードの駆動電流の制限値は一定であるため、レーザーダイオードの使用温度が低い場合、その使用温度における必要駆動電流値を超えた駆動電流がレーザーダイオードに流れる場合がある。かかる場合、レーザーダイオードからは過剰に発光し、レーザーダイオードの劣化を招いてしまう。【０００６】
そこで、本発明は、上述した課題をその一例として解決するものであって、光源であるレーザーダイオードの過剰発光を抑制できる光源保護装置及びディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の発明は、電源から電力が供給されて発光し、光ディスクに光を照射する光源の使用温度を検出する温度検出手段と、前記温度検出手段によって測定された前記光源の使用温度に基づいて、前記電源から前記光源へ供給される駆動電流の制限値を変更する駆動電流制限値変更手段と、を含むことを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、この実施形態に係るディスク装置を示す平面図である。
【図２】図２は、この実施形態に係るディスク装置が備えるピックアップの光学系を示す斜視図である。
【図３】図３は、ＬＤの駆動電流と、使用温度との関係を示す説明図である。
【図４】図４は、この実施形態に係る光源保護装置を示す説明図である。
【図５】図５は、この実施形態の第１変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。
【図６】図６は、この実施形態の第２変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。
【図７】図７は、この実施形態の第３変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。
【図８】図８は、この実施形態の第３変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。
【図９】図９は、従来例に係る光源を駆動する回路を示す回路図である。
【符号の説明】
【０００９】
１  ディスク装置
２  ピックアップ
２Ｌ  光学系
２０  レーザーダイオード（ＬＤ）
２１  温度センサ
２１ａ  サーミスタ
２２  ＡＰＣ
２３  フォトダイオード
３０  抵抗可変装置
３１  第１抵抗
３２  第２抵抗
３３  オペアンプ
３４  トランジスタ
３５  マイクロコンピュータ
４０、４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄ  光源保護装置
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、この発明につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この発明を実施するための最良の形態（以下実施形態という）によりこの発明が限定されるものではない。また、以下の実施形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。【００１１】
この実施形態に係る発明は、光ディスクに光を照射するレーザーダイオードの使用温度を検出する温度検出手段と、この温度検出手段によって測定されたレーザーダイオードの使用温度に基づいて、レーザーダイオードに供給する駆動電流の制限値を変化させる駆動電流制限値変更手段とを含む点に特徴がある。特に、この実施形態に係る発明は、レーザーダイオードを光ディスクの情報読み取り光等の光源として用いる場合において、レーザーダイオードの過剰発光による劣化を抑制することに適している。【００１２】
図１は、この実施形態に係るディスク装置を示す平面図である。この図は、ディスク取り付け側とは反対側からディスク装置を見た状態を示している。図２は、この実施形態に係るディスク装置が備えるピックアップの光学系を示す斜視図である。このディスク装置１は、ＣＤ（Compact  Disc）やＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）等の光ディスク（以下ディスク）に記録された情報を再生する。なお、この実施形態に係るディスク装置は、ディスクへ情報を記録する機能をさらに有していてもよい。【００１３】
ディスク装置１は、通常は筺体の内部に格納される。ディスク装置１は、ディスク駆動手段や、ディスクに記録された情報を読み出す情報読み取り手段等を備えている。ディスク装置１が備える枠体１８には、ディスク駆動手段、情報読み取り手段、情報読み取り手段支持体、情報読み取り手段駆動手段等の機器が取り付けられる。【００１４】
ディスク駆動手段である電気モータ８は、枠体１８に取り付けられており、ディスクを回転させる。ピックアップ２は、ディスクに記録された情報を読み取るための光学系２Ｌを備る。そして、情報読み取り手段であるピックアップ２は、ディスクの回転中にディスクの径方向（矢印Ｓ方向）に移動して、ディスクに記録された情報を読み取る。なお、ディスク装置１がディスクへ情報を記録する機能を有している場合には、ディスクの径方向に移動する過程でディスクへ情報を記録する。【００１５】
ピックアップ２は、情報読み取り手段支持体である主軸３、副軸４によって支持される。なお、主軸３、副軸４は、枠体１８に取り付けられている。ここで、主軸３は、ピックアップ２の移動方向と傾きとを規制する軸である。ピックアップ２には、ピックアップ側支持部である第１軸受部１０1及び第２軸受部１０2が形成されており、主軸３がこれらの内部を貫通している。また、ピックアップ２には、副軸４と係合する副軸受部１１が形成されている。このような構成によって、ピックアップ２は、第１軸受部１０1、第２軸受部１０2及び副軸受部１１の３点で主軸３及び副軸４に支持されて、ディスクの径方向へ移動する。【００１６】
第１軸受部１０1、第２軸受部１０2は、主軸３に嵌合して摺動する。このため、第１軸受部１０1及び第２軸受部１０2の内部へそれぞれジャーナル軸受を備えて、主軸３との摩擦を低減する。ピックアップ２は、情報読み取り手段駆動手段である送りモータ６によってディスクの径方向へ移動する。送りモータ６の出力軸には送りねじ５が取り付けられており、ピックアップ２に設けられる爪７が、前記送りねじ５の外周に形成されるねじ溝と系合する。これによって、送りモータ６を駆動すると、ピックアップ２がディスクの径方向外側又は内側へ移動する。【００１７】
ピックアップ２を支持する主軸３及び副軸４は、枠体１８に固定支持される。主軸３は、第１支持端部３ｔ1及び第２支持端部３ｔ2が、第１固定ねじ９1及び第２固定ねじ９2によって枠体１８に固定されることによって取り付けられる。また、主軸３には油等の潤滑剤が塗布されており、第１軸受部１０1及び第２軸受部１０2の内部へ設けられるジャーナル軸受との摩擦を低減する。【００１８】
図２に示すように、前記光学系２Ｌは、光学系ケース２Ｃ内に格納されている。光学系は、立ち上げミラー１２、合成プリズム１３、ハーフミラー１４、対物レンズ１５、第１集光レンズ１６ａ、第２集光レンズ１６ｂ、読み取り手段である受光素子１７、光源である半導体レーザーダイオード（以下ＬＤという）２０ａ、２０ｂとを含んでいる。また、ＬＤ２０ａ、２０ｂの周囲温度を測定する温度センサ２１が光学系ケース２Ｃ内に備えられる。【００１９】
２個のＬＤ２０ａ、２０ｂから出射したレーザー光は、合成プリズム１３で合成された後、ハーフミラー１４で反射される。そして、第１集光レンズ１６ａを通って立ち上げミラー１２で反射されてから、立ち上げミラー１２と対向する位置に配置される対物レンズ１５で集光されてディスクの記録面へ照射される。このレーザー光はディスクの記録面で反射され、対物レンズ１５、立ち上げミラー１２、第１集光レンズ１６ａ、ハーフミラー１４、第２集光レンズ１６ｂ通って受光素子１７に導かれる。以下の説明においては、ＬＤ２０ａ、ＬＤ２０ｂを特に区別することなく、ＬＤ２０と表記する。【００２０】
図３は、ＬＤの駆動電流と、使用温度との関係を示す説明図である。図９は、従来例に係る光源を駆動する回路を示す回路図である。ディスク装置のピックアップが備える光学系の光源として用いられるＬＤは、使用温度Ｔａの上昇にともなって損失電流が増加するため、ＬＤの駆動に必要な電流値（以下、必要駆動電流値）Ｉｏｐｄは、ＬＤの使用温度Ｔａの上昇にともなって増加する（図３参照）。ここで、ＬＤの使用温度Ｔａは、ＬＤが動作しているときにおけるＬＤの温度をいう。【００２１】
ＬＤは、使用温度Ｔａが高くなるほど劣化する。一方、ＬＤは、動作可能な温度範囲をできるだけ大きくしたいので、規定の寿命を保証できる範囲で最も高い使用温度（最高使用温度）Ｔａｌを設定する。そして、ＬＤの使用温度が最高使用温度Ｔａｌを超えると、ＬＤの保護動作（例えば動作停止）を実行する制御が一般に行われる。したがって、ＬＤには、最高使用温度Ｔａｌにおける必要駆動電流値を超えた駆動電流は印加されない。【００２２】
ここで、実際のＬＤは、製造ばらつきや動作ばらつきがあるため、例えば図９に示す、従来における光源を駆動する回路では、最高使用温度Ｔａｌにおける必要駆動電流値に、ＬＤ１２０の製造ばらつき等を考慮したマージン電流値Ｉｍを加算した電流値を、ＬＤ１２０の最高駆動電流値Ｉｌとして設定していた。すなわち、ＬＤ１２０の使用温度範囲（最高使用温度Ｔａｌ以下）において、ＬＤ１２０には最高駆動電流値Ｉｌを超える電流は印加されない。【００２３】
しかし、このような設定では、ＬＤ１２０が最高使用温度Ｔａｌ以下で駆動される場合に問題が生ずる場合がある。例えば、ＬＤ１２０が、使用温度Ｔａ１（Ｔａ１＜Ｔａ）で駆動される場合、ＬＤ１２０の必要駆動電流値はＩｏｐｌ1である（図３）。このとき、図３に示すように、ＬＤ１２０の最高駆動電流値はＩｌなので、使用温度Ｔａ１においては、必要駆動電流値Ｉｏｐｌ1を超えた過剰電流がＬＤ１２０に印加されるおそれがある。例えば、図９に示す光出力一定制御回路（以下ＡＰＣ：Automatic  Power  Controller）１２２のはんだ付け不良やＡＰＣ１２２自体の劣化に起因する動作不良によってＡＰＣ１２２の光出力制御機能が働かなくなった場合に、ＬＤ１２０には、必要駆動電流値Ｉｏｐｌ1を超えた過剰電流が印加されるおそれがある。かかる場合、ＬＤ１２０からは過剰に発光し、ＬＤ１２０の劣化を招いてしまう。【００２４】
図４は、この実施形態に係る光源保護装置を示す説明図である。この実施形態に係る光源保護装置４０は、ＬＤの過剰発光によるＬＤの劣化を抑制するため、ＬＤの使用温度Ｔａに応じて、ＬＤ２０の駆動電流Ｉｏｐの制限値（以下、駆動電流制限値）Ｉｏｐｌを変更する。ここで、ＬＤ２０の駆動電流は、ＬＤ２０を駆動するため、電源ＶｃｃからＬＤ２０に印加される電流をいう。【００２５】
この実施形態においては、図４に示すように、ＬＤ２０の電源Ｖｃｃと、光出力一定制御手段であるＡＰＣ２２との間に光源保護装置４０を設けて、ＬＤ２０の使用温度Ｔａに応じて、駆動電流制限値Ｉｏｐｌを変化させる。具体的には、図３の実線に示すように、ＬＤ２０の使用温度Ｔａが上昇するにしたがって、駆動電流制限値Ｉｏｐｌを大きくする。【００２６】
ただし、駆動電流制限値Ｉｏｐｌは、ＬＤ２０の最高使用温度Ｔａｌに基づいて決定されるＬＤ２０の最高駆動電流値Ｉｌを超えないように設定される。すなわち、駆動電流制限値Ｉｏｐｌは、最高駆動電流値Ｉｌ以下とする。これによって、ＬＤ２０へ過剰な駆動電流Ｉｏｐが印加されることを防ぐとともに、ＬＤ２０の最高使用温度Ｔａｌまで、ＬＤ２０を確実に動作させることができる。次に、この実施形態に係る光源保護装置４０の構成について説明する。【００２７】
この実施形態に係る光源保護装置４０は、光源であるＬＤ２０の周囲温度を検出する温度検出手段としての温度センサ２１と、温度センサ２１によって測定されたＬＤ２０の周囲温度に基づいて、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを変更する駆動電流制限値変更手段としての抵抗可変装置３０とを含む。なお、この実施形態において、ＬＤ２０の使用温度Ｔａは、ＬＤ２０の周囲温度で代表させる。【００２８】
この実施形態において、光源保護装置４０は、ＬＤ２０の電源ＶｃｃとＡＰＣ２２との間に設けられる。ここで、光源保護装置４０は、ＡＰＣ２２とＬＤ２０との間に設けてもよい。しかし、この場合、サージ印加時等にＡＰＣ２２へ過大な電流が流れるおそれがある。この実施例のように、光源保護装置４０をＬＤ２０の電源ＶｃｃとＡＰＣ２２との間に設けることにより、光源保護装置４０によってＡＰＣ２２へ流れる過大な電流を抑制できる。【００２９】
抵抗可変装置３０は、ＬＤ２０の電源ＶｃｃとＡＰＣ２２との間に、直列に接続される。また、ＬＤ２０は、ＡＰＣ２２と直列に接続されて、ＡＰＣ２２によって駆動される。ＬＤ２０の近傍には、ＬＤ２０の光量を検出する光検出手段として、フォトダイオード２３が設けられる。ＡＰＣ２２は、フォトダイオード２３の端子電圧を取得し、その変化によってＬＤ２０の発光量を算出する。ＡＰＣ２２は、その算出結果に基づき、ＬＤ２０が一定の出力の光を発光するように、ＬＤ駆動電流Ｉｏｐを制御する。これによって、ＬＤ２０は、一定の出力の光を発光する。【００３０】
光源保護装置４０が備える抵抗可変装置３０は、温度センサ２１によって検出されたＬＤ２０の周囲温度に基づき抵抗値を変化させて、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを図３の実線に示すように変更する。これによって、万一、ＡＰＣ２２の光出力制御機能が働かなくなった場合であっても、ＬＤ２０に印加されるＬＤ駆動電流Ｉｏｐは、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを超えることはない。その結果、ＬＤ２０の過剰な発光を抑制してＬＤ２０の劣化を抑えることができる。【００３１】
温度センサ２１は、例えば熱伝対やサーミスタ等の温度検出素子を使用することができる。また、抵抗可変装置３０には、例えば、いわゆる可変抵抗器を用いることができる。そして、温度センサ２１によって検出されたＬＤ２０の周囲温度に基づき、アクチュエータによって前記可変抵抗器を制御するようにしてもよい。また、抵抗可変装置３０は、いわゆるＩＣ（Integrated  Circuit）による電子可変抵抗を用いて、温度センサ２１からの電気的な信号を機械的な運動に変換しないで、温度センサ２１からの出力によって、直接抵抗可変装置３０を制御してもよい。【００３２】
ここで、ＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌは、ＬＤの必要駆動電流値Ｉｏｐｄとしてもよいが、この実施形態においては、ＬＤの必要駆動電流値Ｉｏｐｄにマージン電流値Ｉｍを加算した値（Ｉｏｐｄ＋Ｉｍ）としている。これは、ＬＤの動作ばらつきや製造ばらつき等によって、同じ光出力を得るために必要とされる必要駆動電流値Ｉｏｐｄにばらつきがあるため、このようなばらつきが存在したとしても、確実にＬＤを発光させることができるようにするためである。【００３３】
また、ＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌは、同じ光出力を得るために必要な必要駆動電流値Ｉｏｐｄが最も小さいＬＤに合わせて設定してもよい。このようにすれば、同じ光出力を得るために必要な必要駆動電流値Ｉｏｐｄが小さいＬＤに対して、過剰な電流が印加されるおそれが小さくなる。その結果、ＬＤの製造ばらつきや駆動ばらつきが存在する場合において、ＬＤの劣化をより確実に抑制できる。ＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌは、ディスク装置１の仕様等に応じて、上記設定手法から適切なものを選択して設定することができる。【００３４】
（変形例１）
図５は、この実施形態の第１変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。この光源保護装置は、温度検出手段にサーミスタを用い、ＬＤの周囲温度が変化することによるサーミスタの抵抗値変化に基づき、駆動電流制限値変更手段として用いるオペアンプに入力する入力電圧を変更することによって、ＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌを変更するものである。【００３５】
この光源保護装置４０ａは、温度検出手段であるサーミスタ２１ａと、駆動電流制限値変更手段であるオペアンプ３３とを含み、さらに、第１抵抗３１、第２抵抗３２、及びＬＤの駆動電流制御素子であるトランジスタ３４を備える。この変形例に係る光源保護装置４０ａは、電源Ｖｃｃと、ＡＰＣ２２との間に設けられる。第１抵抗３１は、電源Ｖｃｃとトランジスタ３４のエミッタとの間に接続される。トランジスタ３４のコレクタは、ＡＰＣ２２に接続される。【００３６】
電源Ｖｃｃから流れる電流は、分岐点Ａで第２抵抗３２に分岐して、これと直列に接続されるサーミスタ２１ａへ流れる。第２抵抗３２を流れる電流は、分岐点Ｂで分岐して、一方がサーミスタ２１ａへ入力され、一方がオペアンプ３３に入力される。また、オペアンプ３３には、分岐点Ｃで分岐した第１抵抗３１の出力が入力される。オペアンプ３３の出力は、トランジスタ３４のベースに入力される。これによって、オペアンプ３３の出力によってトランジスタ３４のベースに対する入力を制御して、ＡＰＣ２２へ流れる電流Ｉｔの大きさを制御できる。【００３７】
この実施形態に係る光源保護装置４０ａにおいて、分岐点Ａ−分岐点Ｂ間の電圧をＶ2、第１抵抗３１の抵抗値をＲ1とすると、トランジスタ３４のエミッタ−コレクタ間を流れてＡＰＣ２２に流れる電流Ｉｔは、式（１）で求めることができる。
Ｉｔ＝Ｖ2／Ｒ1・・・（１）【００３８】
サーミスタ２１ａは、温度が上昇すると抵抗値Ｒtが小さくなる。サーミスタ２１ａによって検出するＬＤ２０の周囲温度が上昇すると、サーミスタ２１ａの抵抗値Ｒtが小さくなるので、分岐点Ｂ−グランド間の電圧Ｖtは小さくなる。分岐点Ａ−グランド間の電圧は一定なので、前記Ｖtが小さくなると、分岐点Ａ−分岐点Ｂ間の電圧Ｖ2は大きくなる。すると式（１）から、Ｉｔは増加する。【００３９】
式（１）によって定まる電流Ｉｔは、この変形例に係る光源保護装置４０ａから出力されて、ＡＰＣ２２へ入力される電流である。この電流は、ＬＤ２０の周囲温度、すなわちＬＤ２０の使用温度Ｔａの上昇とともに、図３の実線のように変化する。したがって、ＩｔをＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌとすれば、ＬＤ２０の使用温度Ｔａが上昇するにしたがって、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを大きくすることができる。【００４０】
これによって、万一、ＡＰＣ２２の光出力制御機能が働かなくなった場合であっても、ＬＤ２０に印加されるＬＤ駆動電流Ｉｏｐは、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを超えることはない。その結果、ＬＤ２０の過剰な発光を抑制してＬＤ２０の劣化を抑えることができる。【００４１】
（変形例２）
図６は、この実施形態の第２変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。この光源保護装置４０ｂは、上記第１変形例に係る光源保護装置４０ａと略同様の構成であるが、トランジスタ３４のベースは、第３抵抗３３を介して分岐点Ｂと接続されている。このような構成によっても、サーミスタ２１ａの抵抗値変化に基づいてトランジスタ３４のベースに対する入力を変化させることができる。そして、図３の実線に示すように、ＬＤ２０の使用温度Ｔａが上昇するにしたがって、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを大きくすることができる。【００４２】
これによって、万一、ＡＰＣ２２の光出力制御機能が働かなくなった場合であっても、ＬＤ２０に印加されるＬＤ駆動電流Ｉｏｐは、ＬＤ２０の駆動電流制限値Ｉｏｐｌを超えることはない。その結果、ＬＤ２０の過剰な発光を抑制してＬＤ２０の劣化を抑えることができる。【００４３】
（変形例３）
図７、図８は、この実施形態の第３変形例に係る光源保護装置を示す説明図である。図７に示す光源保護装置４０ｃは、この実施形態の第１変形例に係る光源保護装置４０ａと略同様の構成であるが、マイクロコンピュータ３５によりサーミスタ２１ａの温度を直接求め、その温度を電圧に変換してオペアンプ３３に入力する点が異なる。図８に示す光源保護装置４０ｄは、この実施形態の第２変形例に係る光源保護装置４０ｂと略同様の構成であるが、マイクロコンピュータ３５によりサーミスタ２１ａの温度を直接求め、その温度を電圧に変換してオペアンプ３３に入力する点が異なる。このマイクロコンピュータ３５は、ディスク装置１が、ＬＤ２０の動作等を制御するために備えるマイクロコンピュータを利用することができるので、新たに温度検出のための回路を設ける必要がない点で有利である。【００４４】
この実施形態の第１変形例〜第３変形例においては、サーミスタによってＬＤの周囲温度を検出したが、例えば、熱伝対によってＬＤの周囲温度を検出し、その熱起電力によってＬＤの駆動電流制御素子であるトランジスタ３４（図５、図６等）を制御し、これによってＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌを制御してもよい。【００４５】
以上、この実施形態およびその変形例に係る光源保護装置は、電源から電力が供給されて発光し、光ディスクに光を照射する光源（ＬＤ）の周囲温度を検出する温度検出手段（温度センサ、サーミスタ等）と、前記温度検出手段によって測定された前記光源の周囲温度に基づいて、前記電源から前記光源へ供給される駆動電流の制限値（駆動電流制限値Ｉｏｐｌ）を変更する駆動電流制限値変更手段（抵抗可変装置、オペアンプ等）とを含む。これにより、万一、ＡＰＣの光出力制御機能が働かなくなった場合であっても、ＬＤに印加される駆動電流Ｉｏｐは、ＬＤの駆動電流制限値Ｉｏｐｌを超えることはない。その結果、ＬＤの過剰な発光を抑制してＬＤの劣化を抑えることができる。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
以上のように、本発明に係る光源保護装置及びディスク装置は、光ディスク装置等に用いられる光源の保護に有用であり、特に、光源の過剰発光を抑制することに適している。
【図１】
0004377431.tif 000002
【図２】
0004377431.tif 000003
【図３】
0004377431.tif 000004
【図４】
0004377431.tif 000005
【図５】
0004377431.tif 000006
【図６】
0004377431.tif 000007
【図７】
0004377431.tif 000008
【図８】
0004377431.tif 000009
【図９】
0004377431.tif 000010