(57)【要約】  被試験アンテナ（ＡＵＴ）から近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられ、ボード出力を有する、一体型測定プローブの走査器ボードアレイからの近傍界データまたは遠方界データを較正または訂正する方法は、較正プローブを測定プローブのうちの１つに結合するステップと、測定プローブおよび較正プローブを通じて電力を測定し、較正プローブの効果を取り除くことによって、測定プローブからボード出力へのＲＦ経路の効果を分離するステップと、各測定プローブについて繰り返すステップと、を含む。ＡＵＴに対する散乱効果および負荷影響に関して訂正するための方法も開示される。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＡＵＴから近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられ、ボード出力を有する、一体型測定プローブの走査器ボードアレイを備えた走査器を較正する方法であって、
（ａ）較正プローブを前記測定プローブのうちの１つに結合するステップと、
（ｂ）前記測定プローブおよび前記較正プローブを通じて電力を測定し、前記較正プローブの効果を取り除くことによって、前記測定プローブから前記ボード出力へのＲＦ経路の効果を分離するステップと、
（ｃ）各測定プローブについてステップ（ａ）および（ｂ）を繰り返すステップと、
（ｄ）各測定プローブのＲＦ経路に関する訂正を含む、前記アレイのための較正ファイルを作成するステップと、を含む、方法。
【請求項２】
前記測定プローブが、ＲＦ振幅出力を有するＨ野半ループプローブを備え、各ループの内側のＨ野の強度が、前記ループと前記ループに結合された前記較正プローブとを通る前記電力をベクトルネットワークアナライザによって測定することによって、前記走査器ボードの伝導されたＲＦ振幅出力から推定される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記較正プローブが、前記測定プローブと同一である、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
ＡＵＴから近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられる一体型測定プローブの走査器ボードアレイを備える走査器の出力を、前記走査器の散乱効果を説明するために、訂正する方法であって、前記訂正が、前記走査器から実際に取得されたＨ野分布測定値をソフトウェアシミュレーションから取得された結果と比較することによって計算される、方法。
【請求項５】
近傍界から遠方界への変換を無響チャンバ内における標準的な測定において実際に測定された値に対して使用することによって推定される全放射電力（ＴＲＰ）を訂正する更なるステップを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
請求項１に記載の前記較正の各ステップを更に含む、請求項４または５に記載の方法。
【請求項７】
ＡＵＴから近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられる一体型測定プローブの走査器ボードアレイを備える走査器の出力を、測定プローブの前記ＡＵＴに対する負荷影響を説明するために、訂正する方法であって、前記訂正が、前記走査器から実際に取得された測定値を無響チャンバ内における経験的な試験から取得された結果と比較することによって計算される、方法。
【請求項８】
請求項１に記載の前記較正の各ステップを更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
請求項５または６に記載の前記訂正の各ステップを更に含む、請求項７または８に記載の方法。
【請求項１０】
ＡＵＴの付近の近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられる一体型プローブのアレイを備えるアンテナ測定デバイスであって、遠方界変換方法を使用して近傍界データを遠方界に変換し、請求項１〜１０のうちのいずれか一項に記載の前記較正の各ステップまたは前記訂正の各ステップを実装するように適応されたプロセッサを備えている、デバイス。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アンテナ上のプローブシステムの様々な効果を除去する方法を含む、アンテナ性能を特徴付けるためのリアクティブ近傍界測定または超近傍界測定のシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近傍界測定システムは、遠方界または小型の距離測定システムでは高価になりすぎ、いくつかの場合には使用するのが非実用的になる、大型アンテナおよび／または低周波アンテナの特徴付けのために広く使用されている。これらの近傍界測定システムのサイズの小ささは、平面状、円状、および他のアレイ構成への測定プローブの一体化を可能にする。測定がセンサアレイによってなされる場合、被試験アンテナ（ＡＵＴ：ａｎｔｅｎｎａ−ｕｎｄｅｒ−ｔｅｓｔ）または被試験デバイス（ＤＵＴ：ｄｅｖｉｃｅ−ｕｎｄｅｒ−ｔｅｓｔ）の機械的運動は低減または排除され、それゆえ測定時間が低減される。平面状の近傍界測定の場合、近傍界から遠方界への変換アルゴリズムの単純性は、アレイベースの手法と共に、半球におけるＡＵＴのほぼリアルタイムな遠方界特徴付けをもたらす。測定システムのサイズの更なる低減は、近傍界のリアクティブ領域内で測定が行われる場合に達成され得るが、これは、反射およびアンテナとの結合の可能性のために従来から避けられている。
【０００３】
このリアクティブ領域における測定は、超近傍界測定と呼ばれることがある。このような平面状の超近傍界アンテナ測定システムの一例が、４５×４５ｃｍのプリント回路基板（ＰＣＢ：ｐｒｉｎｔｅｄ  ｃｉｒｃｕｉｔ  ｂｏａｒｄ）上に印刷された１６００個の急速切り替え可能なプローブのアレイを備えるＲＦｘｐｅｒｔ（登録商標）製品（ＥＭＳＣＡＮ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ、カナダ）である。プローブによって測定された直交Ｈ野成分（振幅および位相）は、平面波スペクトル（ＰＷＳ：ｐｌａｎｅ―ｗａｖｅ―ｓｐｅｃｔｒｕｍ）拡張を使用して、半球における遠方界パターンに変換される。プローブ間の極めて高速な電子切り替えの恩恵にもかかわらず（チャンバ内におけるＡＵＴの機械的運動ではなく）、アンテナの超近傍界領域内における印刷されたプローブのアレイの存在は、相互結合効果を引き起こし、これは、アンテナ周辺の場を少なくとも２つの方法で変容させる。第一に、走査器ＰＣＢはベタグランドプレーン上に半ループプローブのアレイを有するため、グランドプレーン効果が発生し、これは、媒体に不連続性を導入することによって近傍界を乱し、新たな境界条件を課す。第二に、走査器ＰＣＢおよび個々の測定プローブがＡＵＴに負荷を加え、その放射性能を変容させ、例えばその入力インピーダンスを変容させるため、相互結合効果が発生する。相互結合効果は、ＡＵＴに依存し、補償することが困難である。超近傍界領域で測定する際、特に例えば１ＧＨｚ未満等の低周波数において走査器ＰＣＢのＡＵＴに対する負荷影響を無視することは望ましくない。
【０００４】
したがって、当技術分野には、得られる遠方界の結果の精度を改善するための取り組みとして、超近傍界測定またはリアクティブ近傍界測定からこれらの効果を軽減または除去するためのシステムおよび方法の必要性が存在する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、被試験アンテナ（ＡＵＴ）の超近傍界走査器を使用して行われる測定を較正および／または訂正する走査器システムおよび方法に関する。走査器は、ＡＵＴの付近の超近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられる一体型プローブのアレイを使用し、近傍界データを遠方界データに変換するデバイスを備え得る。このような測定デバイスは、Ｈ野プローブを使用してリアクティブ近傍界において２つの直交する方向における磁場（Ｈ野）の位相および振幅を測定し、平面開口分布から角スペクトル変換または平面波スペクトル（ＰＷＳ）変換等の遠方界変換方法を使用して、このデータを遠方界に投射し得る。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一態様では、本発明は、ＡＵＴから近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられ、各々がプローブからボード出力までのＲＦ経路を有する、一体型測定プローブの走査器ボードアレイを備えた走査器を較正する方法であって、
（ａ）較正プローブを測定プローブのうちの１つに結合し、測定プローブの内側に既知の強度の磁場を作るステップと、
（ｂ）前記測定プローブおよび前記較正プローブを通じて電力を測定し、前記較正プローブの効果を取り除くことによって、前記測定プローブから前記ボード出力へのＲＦ経路の効果を分離するステップと、
（ｃ）各測定プローブについてステップ（ａ）および（ｂ）を繰り返すステップと、
（ｄ）各測定プローブのＲＦ経路に関する訂正を含む、アレイのための較正ファイルを作成するステップと、を含む、方法を含み得る。
【０００７】
測定プローブの各々は、伝導されたＲＦ振幅出力を有するＨ野半ループプローブを備え得る。各ループの内側のＨ野の強度は、該ループと該ループに結合された較正プローブとを通る電力をベクトルネットワークアナライザによって測定することによって、走査器ボードの伝導されたＲＦ振幅出力から推定され得る。
【０００８】
別の態様では、本発明は、走査器の散乱効果を説明するために測定値を訂正する方法であって、該訂正が、走査器から実際に取得された測定値をソフトウェアシミュレーションから取得された結果と比較することによって計算される、方法、を含み得る。
【０００９】
別の態様では、本発明は、走査器のＡＵＴに対する負荷影響を説明するために測定値を訂正する方法を含み得、訂正は、走査器から実際に取得された測定値を経験的な試験から取得された結果と比較することによって計算される。
【００１０】
別の態様では、本発明は、ＡＵＴの付近の近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられる一体型プローブのアレイを備えるＡＵＴ測定デバイスであって、遠方界変換方法を使用して近傍界データを遠方界に変換し、本明細書で記載または請求される較正ステップまたは訂正ステップのうちのいずれか１つまたは全てを実装するように適応されたプロセッサを備えている、デバイス、を備え得る。
【００１１】
図面において、類似の要素には、類似の参照番号が割り当てられている。図面は、必ずしも縮尺が一定ではなく、重点はむしろ本発明の原理に置かれている。なお、描かれている実施形態の各々は、本発明の基本的な概念を利用するいくつかの可能な配置のうちの１つに過ぎない。以下において、図面を簡潔に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】較正方法の一実施形態の概略的なフローチャートである。
【図２】走査器ボード内の単一の測定プローブと、結合された二次ループアンテナとの概略図を示す。
【図３】２つのカスケード接続されたサブシステムと、図２に示される結合によって作られたそれらに関連付けられたＳ行列の概略図を示す。
【図４】２ｍｍ間隔で置かれた２つのプローブの応答をシミュレートするために使用されたモデルの概略図を示す。
【図５】２ｍｍ隔てられた２つのプローブの測定された応答とシミュレートされた応答とを示す。
【図６】較正方法の別の実施形態の概略的なフローチャートである。
【図７】較正方法の別の実施形態の概略的なフローチャートである。
【図８】予測される遠方界パターンが正確である場合の立体角を示す。
【図９】アンテナ測定デバイスと異なる帯域におけるチャンバエラーの分布を示すグラフを示す。
【図１０】本発明のシステムの処理エンジンの一実施形態の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明は、電子的に切り替えられる一体型プローブのアレイを使用するアンテナ測定デバイスと共に動作することを意図する。例示的なデバイスとしては、米国特許第８，５０２，５４６号に記載のものが挙げられ、その全体の内容は、許容される限り全ての目的のために参照により本明細書に組み込まれる。本明細書に添付される請求項の範囲は、本明細書または実施例に述べられる特定の実施形態によって限定されるべきではなく、むしろ全体としての本明細書に合致する最も広い解釈が与えられるべきである。
【００１４】
本発明は、ＡＵＴの付近の近傍界データを取り込むように電子的に切り替えられ、それらを遠方界データに変換する一体型プローブのアレイを使用するアンテナ測定デバイスを備え得る。このような測定デバイスは、Ｈ野プローブを使用してリアクティブ近傍界において２つの直交する方向における磁場（Ｈ野）の位相および振幅を測定し、平面開口分布から角スペクトル変換または平面波スペクトル（ＰＷＳ）変換等の遠方界変換方法を使用して、このデータを遠方界に投射する。
【００１５】
正確な近傍界予測および遠方界予測のためにシステムを較正することは、少なくとも以下の３つの理由から困難である。第一に、ループ内のＨ野から走査器ボードのＲＦ出力へのプローブ応答（経路損失）は、プローブによって著しく異なる。第二に、走査器ボード自体の存在が、ＡＵＴを取り囲む場を乱し、プローブの示度および遠方界の予測に影響を与え得る。第三に、走査器プローブおよびそのシステム自体が、ＡＵＴに負荷を加え、それゆえその放射性能を変容させ得る。
【００１６】
本発明の態様は、個々の測定プローブのばらつきおよび測定プローブのアレイの予想可能な結合効果を説明するために、近傍界データおよび得られる遠方界の予測値を較正および／または訂正するこのようなデバイスおよび方法に対する改変を含む。
【００１７】
一実施形態では、較正方法は、除去する方法を伴い、プローブの各々においてリンクされたＨ野を取り込むために逐次ＯＮに切り替えられる、印刷されたＨ野測定プローブのアレイ（半ループ）を備える走査器に関連して実装される。較正プロセスにおける第１のステップは、走査器ボードの出力において、伝導されたＲＦ振幅から、各ループの内側のＨ野の強度を推定することである。走査器ボード上の異なるループからＲＦ出力（経路損失）までのＲＦ経路は、著しく異なり、製造許容公差に対して非常に敏感であるため、この較正は、必要である。ループ内で既知のＨ野を生成することは困難であり、Ｈ野とＲＦ振幅との間の比率を測定するための一般に利用可能な機器は存在しないため、この較正は、更に困難になる。
【００１８】
本発明は、走査器ボード（５）と、Ｈ野半ループ測定プローブアンテナ（１０）および二次ループアンテナ（１２）を備えた較正プローブとの組み合わせによって電力を測定することと、二次ループアンテナ（１２）の効果を取り除くことによって経路損失を除去することと、によって較正を提供する。アルゴリズムを図１に示す。この概念は、図２に概略的に図示されている。二次ループアンテナ（１２）を走査器プローブ（１０）に結合することによって、上位集合の２つのポート「ａ」（１４）および「ｃ」（１６）（走査器ボードと二次ループアンテナとの組み合わせ）が、ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）を使用した測定において利用できるようになる。プローブの供給ポイント「ｂ」（１８）からボードの出力「ａ」（１４）までのＲＦ経路の効果は、図３に概略的に示される２つの代替的なサブシステムを考慮することによって抜き出され得る。単純性のため、一実施形態では、二次ループアンテナ（１２）は、Ｈ野プローブ（１０）と同一になるように選択される。図３のサブシステム２は、全てのプローブ位置についてほぼ同一である。同一ではない場合、走査器ループプローブの応答におけるいかなるばらつきも、唯一の走査器の経路損失に帰することができるため、全てのプローブは、同一として扱われ得る。したがって、サブシステム１のネットワークパラメータは、図３に図示されるサブシステムのカスケード接続を考慮することによって、図２のシステムのネットワークパラメータから導出され得る。
【数１】
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【００１９】
式（１）のＴ行列は、図１および２の２ポートシステムの伝達行列であり、Ｓパラメータ行列から導出され得る。Ｔ’によって表示されるシステムは、図３に描かれているようなポイント「ｂ」と「ｃ」の間の２つの結合ループを表す。ひとたびＶＮＡを使用してＴ”の値が測定されると、ＲＦ経路（Ｔ）は容易に計算される。Ｔ’は、よく知られている市販のシミュレーションソフトウェアを使用してシミュレーションから推測される。図４は、図４の２アンテナリンクにおける測定された結合およびシミュレートされた結合を示す。見て分かるように、約±１ｄＢ以下のリンクロス推定が達成され得る。
【００２０】
自動較正プロセスでは、必要なＴ行列を蓄積するために、ＸＹＺ位置決めシステムを使用して、走査器ボード（５）上の個々のプローブ（１０）の各々の上方に二次ループアンテナ（１２）を正確に位置決めする。最後に、図１のポイント「ｂ」（１８）におけるループ内のＡ／ｍのＶに対する比率（ＡＦすなわちアンテナ係数）は、シミュレーションから取得され得る式２において与えられる。
【数２】
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【００２１】
ループが同様に５０Ωの伝送路内にフィードされる場合、伝送路の始まりにおけるＲＦ振幅の知識は、ループ内のＨ野の知識を提供し得る。推定された行列Ｔは、ＡＦと共に、図３の走査器システムを完全に特性付けるものであり、これは次いで走査器ボード上で各プローブの出力を較正するために使用され得る。
【００２２】
上述のように、走査器ボード（１０）を媒体内に挿入することは、新しい境界条件を課することによって、近傍界を混乱させる。極端な例として、絶縁体が空気によって置き換えられる場合、測定プローブの効果は無視され、ボードは非常に大きいと推測され、走査器は無限に大きいグランドプレーンによって近似され得る。このようなグランドプレーンの存在は、電場の接線成分を低減させ、その表面に接するＨ野を折り曲げる。一実施形態では、走査器ボードの実際の効果を除去するために、２つのレベルの調整のうちの少なくとも１つ、好ましくは両方が遂行される。第一に、図６に示されるように、多数の非揮発性の基準アンテナ（３００ＭＨｚ〜６ＧＨｚの周波数範囲全体をカバーする）について、測定デバイスを使用して測定されたＨ野分布を、よく知られている市販のシミュレーションソフトウェアを使用して取得されたシミュレーション結果と比較し、適宜調整する。大きなグランドプレーン効果のため、磁場の分布は、自由空間における分布に似ており、大きさのみが著しい影響を受ける。第二に、図７に示されるように、各周波数ポイントにおいて、近傍界から遠方界への変換を使用して推定される全放射電力（ＴＲＰ：ｔｏｔａｌ  ｒａｄｉａｔｅｄ  ｐｏｗｅｒ）は、信頼できる無響チャンバを使用する標準的な測定において実際に測定された値に訂正され得る。これは、近傍界分布調整において対処されていないいかなる効果も取り込む。
【００２３】
なお、測定プローブ自体および関連ハードウェアのＡＵＴの近傍界領域における存在は、その負荷を加えることによって、アンテナの放射性能を潜在的に変容させ得る。このような負荷影響の最も明らかな例は、ＡＵＴの入力インピーダンスの変化である。他の効果とは異なり、この負荷影響は、ＡＵＴ依存であり、したがって除去するのが非常に困難である。ＡＵＴと走査器ボードとの間の分離を増大させれば、この効果を最小化し得る。しかしながら、それは、遠方界結果が正確である場合に、立体角を低減させるであろう。これは、図８に描かれるように、この立体角（θ０）を超えるｚ軸からのアンテナ放射が、走査器によって取り込まれないことに主に由来する。
【数３】
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【００２４】
一実施形態では、この望ましからざる負荷影響を打ち消すために、経験的な手法が行われてもよい。測定プローブアンテナは、無響チャンバで経験的に試験されてもよく、試験結果は、走査器から取得された測定結果を訂正するために使用されてもよい。例えば、一例では、多様な市販ソースからの４７個のアンテナを、無響チャンバにおいて標準的な測定プロセスによって特性付けた。モノポール、ダイポール、板状逆Ｆ型、パッチ等の様々なアンテナトポロジーが調査には含まれていた。アンテナは、ＥＭＳＣＡＮ  ＲＦｘｐｅｒｔ（登録商標）ユニットでも測定され、走査器ボードのＡＵＴに対する負荷影響を説明するために、このデータを使用して、全放射電力（ＴＲＰ）の約１０００個の測定ポイントからの訂正係数を入力した。この経験的データを実際の走査器の結果と比較し、特定の測定プローブについて、任意の所与の周波数における平均訂正係数を計算した。次いで、これらの訂正係数は、測定アンテナを使用する後続の測定において使用されてもよい。
【００２５】
一実施形態では、本明細書で説明される異なるレベルの訂正および較正のうちの少なくとも１つ、好ましくは各々が、測定デバイスから実際に取得された近傍界測定結果に適用される。図９は、無響チャンバにおける試験から取得された対照データと比較した、測定された効率性のエラー分布を描いている。図９のエラーをプロットするに当たり、３００ＭＨｚ〜６ＧＨｚの帯域は３つの別々の帯域に分割され、各帯域における測定エラーのヒストグラムが示されている。表Ｉは、エラーの統計的特性を要約している。表Ｉは、１ＧＨｚ未満の低周波数に関しては、エラーは０ｄＢの前後に分布し、標準偏差は約１．５ｄＢであると示唆している。１ＧＨｚ超では、エラーは同様に０ｄＢの前後に分布するが、１ｄＢ未満という、より低い標準偏差を有する。
表Ｉ．異なる帯域におけるエラー統計
【表１】
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σは、測定エラーの標準偏差である。
Ｎは、帯域における測定試料の数である。
【００２６】
本発明の実施形態は、上記の効果のうちの１つまたは全部の効果を除去する方法に関する。測定結果とシミュレートされた結果の組み合わせを使用して、プローブ応答およびＲＦ経路損失を推定する。次いで、帯域にわたっての基準アンテナの測定値を、シミュレーションと比較し、測定デバイスの近傍界示度を訂正する。無響チャンバ内で取得された対照データに調和させるために、第２の層の訂正が、これらの基準アンテナの予測された遠方界の全放射電力（ＴＲＰ）値に適用される。最後に、走査器ボードのＡＵＴに対する負荷影響が、エラーを最小化するための経験的な手法を通じて最小化される。一実施形態では、効率性測定エラーの標準偏差は、１．５ｄＢ未満に低下され得る。
【００２７】
本発明の態様を、コンピュータプログラム命令によって実装され得るステップまたは方法を参照して説明する。これらのコンピュータプログラム命令は、コンピュータまたは他のプログラマブルなデータ処理装置のプロセッサを介して実行される命令が明記された機能／動作を実装するための手段を作成するように、汎用コンピュータ、特殊目的用コンピュータ、またはマシンを生産するための他のプログラマブルなデータ処理装置のプロセッサに提供され得る。一実施形態では、走査器（１０１）およびグラフィカルユーザーインターフェースＧＵＩおよび表示器（１０２）に動作可能に接続されたコントローラ（１００）を備える処理エンジンが図１０に概略的に示される。走査器ボードからの出力は、チャネルセレクタおよびサンプラーモジュール（１０４）に行き、次いで、振幅および位相訂正モジュール（１０６）に行き、ここで、グランドプレーンの散乱効果を説明するための近傍界データの訂正に沿って、経路損失の訂正が行われ得る。データ変換および補間モジュール（１０８）は、平面波スペクトル変換モジュール（１１０）に通じており、これは、放射パターンおよび放射電力の測定値（１１２）をもたらす。次いで、ＡＵＴに対する負荷に関する遠方界の訂正が、散乱効果に関する遠方界の訂正と共に、モジュール（１１４）において行われる。
【００２８】
本発明の態様を、本発明の実施形態による方法、装置（システム）、およびコンピュータプログラム製品のフローチャート図および／またはブロック図を参照して説明する。フローチャート図および／またはブロック図の各ブロック、ならびにフローチャート図および／またはブロック図内のブロックの組み合わせは、コンピュータプログラム命令によって実装され得ることが理解されるであろう。これらのコンピュータプログラム命令は、コンピュータまたは他のプログラマブルなデータ処理装置のプロセッサを介して実行される命令がフローチャートおよび／またはブロック図のブロック（複数可）に明記された機能／動作を実装するための手段を作成するように、汎用コンピュータ、特殊目的用コンピュータ、またはマシンを生産するための他のプログラマブルなデータ処理装置のプロセッサに提供され得る。
【００２９】
図中のフローチャートおよびブロック図は、本発明の様々な実施形態によるシステム、方法、およびコンピュータプログラム製品の可能な実装のアーキテクチャ、機能、および動作を図示している。この点について、フローチャートまたはブロック図内の各ブロックは、明記された論理機能（複数可）を実装するための１つまたは２つ以上の実行可能な命令を含むモジュール、セグメント、またはコード部分を表し得る。また、いくつかの代替的な実装では、ブロック内に記載された機能は、図に記載された順序とは異なる順序で行われ得ることに留意されたい。例えば、関係する機能に応じて、連続的に示されている２つのブロックは、実際は、実質的に同時に実行されてもよく、またはブロックは、時には逆の順序で実行されてもよい。また、ブロック図および／またはフローチャート図の各ブロック、ならびにブロック図および／またはフローチャート図内のブロックの組み合わせは、明記された機能もしくは動作、または特殊目的用ハードウェアの命令と特殊目的用コンピュータの命令との組み合わせ、を遂行する特殊目的用ハードウェアに基づくシステムによって実装され得ることにも留意されたい。
【００３０】
本明細書に添付される請求項における対応する構造、材料、動作、ならびに全てのミーンズ・プラス・ファンクション要素またはステップ・プラス・ファンクション要素との等価物は、具体的に請求されている他の請求対象の要素との組み合わせにおいて当該機能を遂行するための任意の構造、材料、または動作を含むことを意図する。
【００３１】
明細書における「一実施形態（ｏｎｅ  ｅｍｂｏｄｉｍｅｎｔ）」、「ある実施形態（ａｎ  ｅｍｂｏｄｉｍｅｎｔ）」等への言及は、記載されている実施形態が、特定の態様、特徴、構造、または特性を含み得るものの、全ての実施形態が必ずしもその態様、特徴、構造、または特性を含むわけではないことを示す。その上、このような文言は、本明細書の別の部分で言及されている実施形態と同じ実施形態に言及していることがあり得るが、必ずしもそうであるわけではない。更に、特定の態様、特徴、構造、または特性がある実施形態に関連して説明される場合、明示的に記載されているか否かにかかわらず、そのようなモジュール、態様、特徴、構造、または特性を他の実施形態に影響させるか、または関連付けることは、当業者の知識の範囲内にある。言い換えれば、自明もしくは本質的な両立不能性が存在しない限り、またはそれが具体的に排除されていない限り、いかなるモジュール、要素、または特徴も、異なる実施形態内の任意の他の要素または特徴と組み合わせることができる。
【００３２】
更に、請求項はいかなる任意追加的な要素も排除して作成することができることに留意されたい。それゆえ、この陳述は、請求対象要素の列挙または「否定的」限定の使用に関連して、「専ら（ｓｏｌｅｌｙ）」「のみ（ｏｎｌｙ）」等の排他的な用語の使用に関する先行記述として機能することを意図する。「好ましくは（ｐｒｅｆｅｒａｂｌｙ）」、「好ましい（ｐｒｅｆｅｒｒｅｄ）」、「好む（ｐｒｅｆｅｒ）」、「任意追加的に（ｏｐｔｉｏｎａｌｌｙ）」、「し得る（ｍａｙ）」という語句および類似の語句は、ある言及されている項目、条件、またはステップが、本発明の任意追加的な（必須ではない）特徴であることを示すために使用される。
【００３３】
単数形の「ａ」、「ａｎ」、および「ｔｈｅ」は、文脈により明らかに別段の必要がある場合を除き、複数形の言及を含む。「および／または（ａｎｄ／ｏｒ）」という用語は、この用語が関連付けられている項目のうちの任意の１つ、当該の項目の任意の組み合わせ、または当該の項目の全てを意味する。「１つまたは２つ以上（ｏｎｅ  ｏｒ  ｍｏｒｅ）」という文言は、特にその使用されている文脈において読まれるとき、当業者によって容易に理解される。
【００３４】
以下の引用文献は、許容される場合はあたかもその全体が複写されているかのように、参照により本明細書に組み込まれる。
［１］Ｒ．Ｃ．Ｊｏｈｎｓｏｎ，Ｈ．Ａ．Ｅｃｋｅｒ，ａｎｄ  Ｊ．Ｓ．Ｈｏｌｌｉｓ，「Ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｆａｒ−ｆｉｅｌｄ  ａｎｔｅｎｎａ  ｐａｔｔｅｒｎｓ  ｆｒｏｍ  ｎｅａｒ−ｆｉｅｌｄ  ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ」、Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ  ｏｆ  ｔｈｅ  ＩＥＥＥ，ｖｏｌ．６１，ｎｏ．１２，ｐｐ．１６６８−１６９４，Ｄｅｃ．１９７３．
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［３］Ｅｍｓｃａｎ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ  −  Ｒｆｘｐｅｒｔ  Ｂｒｏｃｈｕｒｅ  ａｎｄ  Ｄａｔａｓｈｅｅｔ（ＲＦＸ２−Ｄａｔａｓｈｅｅｔ−ｖ１．ｐｄｆ）
［４］ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｓａｔｉｍｏ．ｃｏｍ／ｓｉｔｅｓ／ｗｗｗ．ｓａｔｉｍｏ．ｃｏｍ／ｆｉｌｅｓ／ＳｔａｒＬａｂ＿２０１４＿ｂｄ＿０．ｐｄｆ
［５］Ｊ．Ｊ．Ｈ．Ｗａｎｇ，「Ａｎ  ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｔｈｅ  ｔｈｅｏｒｙ  ａｎｄ  ｐｒａｃｔｉｃｅｓ  ｏｆ  ｐｌａｎａｒ  ｎｅａｒ−ｆｉｅｌｄ  ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」、ＩＥＥＥ  Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ  ｏｎ  Ａｎｔｅｎｎａｓ  ａｎｄ  Ｐｒｏｐａｇａｔｉｏｎ，ｖｏｌ．３６，ｎｏ．６，ｐｐ．７４６，７５３，Ｊｕｎ  １９８８．
［６］米国特許第７６７２６４０号
［７］米国特許第８５０２５４６号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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