(57)【要約】【解決手段】本発明は、Ｘ線断層撮影装置で分析されるサンプル(5) の寄生移動を測定するためのデバイスに関し、このデバイスは、支持体(13)によって支持されるサンプルを通過するＸ線ビーム(6) を検出器(3) に向けて放射する放射源(1) と、Ｘ線を通さない少なくとも３つの球状体(21)を支持する視認器(17)であって、検出器上で球状体の画像(25)がサンプルの画像(16)の周りにあるように支持体に取り付けられている視認器(17)とを備えており、支持体に対する球状体の位置が温度変化に無感応であるように、視認器の形状及び材料が選択されている。
2017510814.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線断層撮影装置で分析されるサンプル(5) の寄生移動を測定するためのデバイスであって、
支持体(13)によって支持されるサンプルと交差するＸ線ビーム(6) を検出器(3) に向けて放射する放射源(1) と、
Ｘ線を通さない少なくとも３つの球状体(21)を支持する視認器(17)であって、前記検出器上で前記球状体の画像(25)がサンプルの画像(16)の周りにあるように前記支持体に取り付けられている前記視認器(17)と
を備えており、
前記支持体に対する前記球状体の位置が温度変化に無感応であるように、前記視認器の形状及び材料が選択されていることを特徴とするデバイス。
【請求項２】
前記視認器(17)は、
第１の材料から形成された矩形状の枠(19)と、
前記第１の材料から形成された４本の棒(26)であって、前記枠の角部の内の１つに夫々強固に取り付けられ、前記枠の内部の方に夫々向いている前記棒(26)と、
前記枠の柱の中央部分に強固に取り付けられて、前記視認器を前記支持体に取り付けるアーム(23)と、
４つの球状体(21)と
を有しており、該球状体は夫々、熱膨張係数が前記第１の材料の熱膨張係数より大きい第２の材料から形成されたリング(27)を介して前記棒(26)の内の１つの端部に取り付けられていることを特徴とする請求項１に記載のデバイス。
【請求項３】
前記アーム(23)は、前記第１の材料から形成された支柱であることを特徴とする請求項２に記載のデバイス。
【請求項４】
前記アーム(23)は、同一の軸芯(29)に沿って並べられた、
前記中央部分に取り付けられた端部、及びその内壁が第１のねじ山付部分(30C) を有する別の端部を有する上部管(23C) と、
前記支持体(13)に取り付けられた端部、及びその外壁が第２のねじ山付部分(30A) を有する別の端部を有する下部管(23A) と、
前記第１のねじ山付部分(30C) に連結された外側のねじ山付壁部分、及び前記第２のねじ山付部分(30A) に連結された内側のねじ山付壁部分を有する中間管(23B) と
を有していることを特徴とする請求項２に記載のデバイス。
【請求項５】
前記上部管(23C) 及び前記下部管(23A) は前記第１の材料から形成されており、前記中間管(23B) は前記第２の材料から形成されていることを特徴とする請求項４に記載のデバイス。
【請求項６】
前記第１のねじ山付部分(30C) は、前記第２のねじ山付部分(30A) より前記視認器の枠(19)から離れていることを特徴とする請求項５に記載のデバイス。
【請求項７】
前記第１の材料はインバールであり、前記第２の材料はアルミニウムであり、前記球状体(21)は鋼から形成されていることを特徴とする請求項２乃至６のいずれか一項に記載のデバイス。
【請求項８】
前記視認器(17)は、サンプル(5) と前記検出器(3) との間に配置されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載のデバイス。
【請求項９】
前記球状体(21)の画像(25)に基づき、サンプル(5) の画像(16)を夫々修正するための処理デバイスを更に備えていることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか一項に記載のデバイス。
【請求項１０】
前記放射源(1) 及び前記検出器(3) は固定されており、サンプル(5) が、前記支持体(13)によって支持された回転プレート(11)に取り付けられることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか一項に記載のデバイス。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本出願は、Ｘ線断層撮影デバイスの分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線断層撮影は、サンプルの放射線写真からサンプルの三次元画像を再構築することを有する。サンプルの多くの放射線写真を夫々異なる視野角で撮影する。そのため、放射線写真のコンピュータ処理によって、サンプルの構造の三次元画像を構築することが可能になる。
【０００３】
Ｘ線断層撮影装置が、分析されるサンプルと交差するＸ線ビームを固定された検出画面に向かって放射する固定された放射源を備えている場合を、ここでは検討する。サンプルは、夫々の露出の間に回転するプレートに取り付けられる。
【０００４】
図１は、Ｘ線断層撮影装置の例を概略的に示す斜視図である。Ｘ線断層撮影装置は、Ｘ線源1 と、Ｘ線に感応する画素アレイから形成された検出画面3 とを備えている。分析されるサンプル5 は、Ｘ線源によって放射されるＸ線ビーム6 によって完全に照射されるべく、すなわち、Ｘ線断層撮影装置の測定領域にあるべく、Ｘ線源と検出器との間に配置されている。Ｘ線源1 、サンプル5 及び検出器3 は軸芯7 に沿って並んでいる。サンプルはサンプルホルダ9 に置かれ、サンプルホルダ9 自体は、固定された支持体13に取り付けられた回転プレート11の中心に配置されている。回転プレート11、サンプルホルダ9 及びサンプル5 は軸芯7 に直交する同一の軸芯15を中心とし、軸芯15は回転プレート11の回転軸である。
【０００５】
動作中、Ｘ線源1 は軸芯7 のＸ線ビームを放射する。Ｘ線ビームが、感光性の検出器3 に達する前にサンプル5 と交差するため、サンプルの画像16を有する放射線写真が得られる。２回の連続的な露出の間に、軸芯15の回転が回転プレート11に適用されて、放射線写真の取得角度を変更する。このようにして、サンプルが自軸回りに完全に回転するまで、現在では1,000 を超えるかなりの数の放射線写真が得られる。その後、サンプルの三次元画像をコンピュータ処理によって構築する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第2005／119174号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
実際には、サンプルの全ての放射線写真を得る時間が、数時間程度と長い。この時間の間、サンプルは、連続的な放射線写真におけるサンプルの画像の移動、拡大、縮小及び他の変形を引き起こす寄生移動を受ける場合がある。このような寄生移動は、断層撮影装置が配置された環境の温度変化に起因する場合がある。サンプルの放射線写真のコンピュータ処理中、寄生移動に起因する変形は考慮されないため、三次元画像の質に影響を及ぼす。
【０００８】
最初の露出と最後の露出との間に、サンプルは自軸回りに完全に回転する。従って、最後の露出は、最初の露出と同一の画像を与えるはずである。２つの画像間の差異は、対応する露出間のサンプルの寄生移動を特徴付ける。構築された画像の質を高めるために、サンプルの寄生移動は線形であるとみなされ、各放射線写真は対応する増分によって修正される。その後、三次元画像の構築が、この修正を考慮に入れて行われる。
【０００９】
このような修正法は、断層撮影装置によって与えられる三次元画像の質を僅かに向上させているだけであり、寄生移動の線形近似が正しくないことを示している。
【００１０】
従って、Ｘ線断層撮影では、デバイスが、分析中にサンプルの寄生移動を正確に測定して修正することが必要である。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
従って、実施形態は、Ｘ線断層撮影装置で分析されるサンプルの寄生移動を測定するためのデバイスであって、
支持体によって支持されるサンプルと交差するＸ線ビームを検出器に向けて放射する放射源と、
Ｘ線を通さない少なくとも３つの球状体を支持する視認器であって、前記検出器上で前記球状体の画像がサンプルの画像の周りにあるように前記支持体に取り付けられている前記視認器と
を備えており、
前記支持体に対する前記球状体の位置が温度変化に無感応であるように、前記視認器の形状及び材料が選択されていることを特徴とするデバイスを提供する。
【００１２】
実施形態によれば、前記視認器は、
第１の材料から形成された矩形状の枠と、
前記第１の材料から形成された４本の棒であって、前記枠の角部の内の１つに夫々強固に取り付けられ、前記枠の内部の方に夫々向いている前記棒と、
前記枠の柱の中央部分に強固に取り付けられて、前記視認器を前記支持体に取り付けるアームと、
４つの球状体と
を有しており、該球状体は夫々、熱膨張係数が前記第１の材料の熱膨張係数より大きい第２の材料から形成されたリングを介して前記棒の内の１つの端部に取り付けられている。
【００１３】
実施形態によれば、前記アームは、前記第１の材料から形成された支柱である。
【００１４】
実施形態によれば、前記アームは、同一の軸芯に沿って並べられた、
前記中央部分に取り付けられた端部、及びその内壁が第１のねじ山付部分を有する別の端部を有する上部管と、
前記支持体に取り付けられた端部、及びその外壁が第２のねじ山付部分を有する別の端部を有する下部管と、
前記第１のねじ山付部分に連結された外側のねじ山付壁部分、及び前記第２のねじ山付部分に連結された内側のねじ山付壁部分を有する中間管と
を有している。
【００１５】
実施形態によれば、前記上部管及び前記下部管は前記第１の材料から形成されており、前記中間管は前記第２の材料から形成されている。
【００１６】
実施形態によれば、前記第１のねじ山付部分は、前記第２のねじ山付部分より前記視認器の枠から離れている。
【００１７】
実施形態によれば、前記第１の材料はインバールであり、前記第２の材料はアルミニウムであり、前記球状体は鋼から形成されている。
【００１８】
実施形態によれば、前記視認器は、サンプルと前記検出器との間に配置されている。
【００１９】
実施形態によれば、測定するための前記デバイスは、前記球状体の画像に基づき、サンプルの画像を夫々修正するための処理デバイスを更に備えている。
【００２０】
実施形態によれば、前記放射源及び前記検出器は固定されており、サンプルが、前記支持体によって支持された回転プレートに取り付けられる。
【００２１】
前述及び他の特徴及び利点を、添付図面を参照して本発明を限定するものではない特定の実施形態について以下に詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】Ｘ線断層撮影装置の例を示す簡略化された斜視図である。
【図２】サンプルの寄生移動を測定することができる断層撮影装置の実施形態を示す簡略化された斜視図である。
【図３Ａ】図２の断層撮影装置の視認器の実施形態を示す簡略図である。
【図３Ｂ】図３Ａの視認器の一部を概略的に示す分解斜視図である。
【図４Ａ】視認器を固定するためのアームの代替的な実施形態を示す簡略図である。
【図４Ｂ】アームの一部を示す断面斜視図である。
【図５Ａ】視認器の２枚の重ね合わされた放射線写真を概略的に示す図である。
【図５Ｂ】視認器の２枚の重ね合わされた放射線写真を概略的に示す図である。
【図６】視認器の２枚の重ね合わされた放射線写真を概略的に示す図である。
【図７】視認器の２枚の重ね合わされた放射線写真を概略的に示す図である。
【図８Ａ】視認器の２枚の重ね合わされた放射線写真を概略的に示す図である。
【図８Ｂ】視認器の２枚の重ね合わされた放射線写真を概略的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
明瞭化のために、同一の要素は様々な図面において同一の参照番号で示されており、様々な図面は正しい縮尺で示されていない。
【００２４】
本発明者らは、図１に示されている断層撮影装置のような断層撮影装置では、サンプルの寄生移動が主として支持体13の寄生的な動きによるものであり、サンプルホルダ9 、回転プレート11及び支持体13に対するサンプル5 の寄生移動は無視できることを示した。本発明者らは、支持体、ひいてはサンプルの寄生移動が、ほとんどの場合、断層撮影装置が設置されている部屋の温度変化に起因するものであることを更に示した。
【００２５】
図２は、サンプルの寄生移動を測定することができる断層撮影装置の実施形態を概略的に示す斜視図である。断層撮影装置は、図１に関して記載された要素と同一の要素を備えており、同一の要素は同一の参照番号で示されている。断層撮影装置は、視認する要素、つまり視認器17を更に備えている。視認器17は矩形状の枠19を有しており、枠19は、Ｘ線を通さない球状体21を枠の角部の各々の付近に支持している。動作中、球状体がＸ線ビーム6 の経路上にあるように、視認器17は、枠19に取り付けられたアーム23を介して支持体13に取り付けられている。従って、検出器3 の画面に、サンプルの画像16を有して、サンプルの画像の周りに球状体21の画像25を更に有する放射線写真が得られる。
【００２６】
図3A及び3Bは夫々、図２に示されている視認器17の実施形態の簡略化された正面図、及び視認器17の一部を示す分解斜視図である。視認器17は、矩形状の枠19及び４本の棒26を有しており、各棒は、枠の角部の内の１つに強固に取り付けられており、枠の内部の方に向いている。Ｘ線を通さない材料、例えば鋼から形成された球状体21が、リング27を介して各棒26の端部に取り付けられている。視認器17は、視認器17を支持体に取りつけるために、枠の柱の内の１つの中央部分に強固に取り付けられたアーム23、例えば支柱を更に有しており、アーム23は軸芯15と平行である。図3Bは、棒26、リング27及び球状体21の組立体を更に詳細に示す。棒26、リング27及び球状体21は軸芯28に沿って並んでおり、リング27は球状体21を部分的に取り囲み、球状体21を所定の位置に保持する。
【００２７】
アーム23、棒26及び枠19は、熱膨張係数が低い材料、例えばインバールから形成されている。リング27は、熱膨張係数がアーム23、棒26及び枠19の材料の熱膨張係数より高い材料、例えばアルミニウムから形成されている。
【００２８】
視認器17のアーム23は、図２に関して記載されているように支持体13に固定されているとみなされている。温度が上昇すると、視認器17の材料は膨張する。
【００２９】
上側の２個の球状体を検討すると、アーム23の膨張は、球状体を上方に移動させる傾向があり、すなわち、球状体を軸芯15に沿って支持体から離れる方向に移動させる傾向がある。枠19の膨張は、球状体を上方に且つ互いから離れる方向に移動させる傾向がある。棒及びリングの膨張は、球状体を下方に且つ互いに近づく方向に移動させる傾向がある。膨張に関連する上側の球状体の動きが互いに補われるように、上側の球状体と関連付けられている視認器17の要素の材料、大きさ及び組立が選択されている。そのため、支持体13に対する上側の球状体21の位置は、温度上昇、より一般的には温度変化に無感応である。
【００３０】
下側の球状体を検討すると、上側の球状体に関する組立方法と同一の組立方法を選択することにより、膨張に関連する下側の球状体の動きの補償が、少なくとも垂直方向の動きに関して正しくないことが理解されるべきである。しかしながら、支持体13に対する下側の球状体21の位置は、温度変化にほとんど無感応のままである。
【００３１】
図4A及び4Bは、上側の球状体及び下側の球状体の温度が何度であっても一定の位置を確保することが可能な視認器17の代替的な実施形態を概略的に示す。図4Aは、視認器17及びアーム23を示す正面図であり、図4Bは、アーム23の中央部分を示す断面斜視図である。
【００３２】
視認器17は、図3A及び3Bにおける要素と同一の要素を有しており、すなわち、矩形状の枠19と、枠の各角部に組み立てられた棒26、リング27及び球状体21の組立体とを有しており、棒は、枠の中心ポイントＣの方に向いている。この変形例では、アーム23は下部管23A を有しており、下部管23A は中間管23B にねじ込められ、中間管23B 自体は上部管23C にねじ込められており、下部管23A 、中間管23B 及び上部管23C は、軸芯15と平行な同一の軸芯29に沿って並んでいる。上部管23C の一端部が、視認器17の下側の柱に取り付けられている。下部管23A は固定ポイントＺで支持体13（不図示）に取り付けられており、固定ポイントＺ及び中心ポイントＣは、軸芯29に沿って距離Ｈ分、離れている。
【００３３】
下部管23A の外壁は、下部管23A の端部に配置されたねじ山付部分30A を固定ポイントＺの反対側に有している。同様に、上部管23C の内壁は、上部管23C の端部に配置されたねじ山付部分30C を視認器の下側の柱の反対側に有している。中間管23B の外壁及び内壁はねじ山付である。ねじ山付部分30A が中間管23B の内側のねじ山付壁部分に連結されて、ねじ山付部分30C が中間管23B の外側のねじ山付部分に連結されるように、下部管23A 、中間管23B 及び上部管23C の各々の直径及び厚さが選択されている。ねじ山付部分30A 及びねじ山付部分30C は、軸芯29に沿って距離ｈ分、離れており、下部管23A のねじ山付部分30A は、上部管23C のねじ山付部分30C より視認器に近い。
【００３４】
中間管23B は、熱膨張係数が枠19、上部管23C 及び下部管23A の材料、例えばインバールの熱膨張係数より高い材料、例えばアルミニウムから形成されている。
【００３５】
温度が上昇すると、視認器17及びアーム23の材料は膨張する。枠19、下部管23A 及び上部管23C の膨張は、固定ポイントＺと枠の中心ポイントＣとの距離Ｈを増大させる傾向がある。中間管23B の膨張は、ねじ山付部分30A とねじ山付部分30C との距離ｈを増大させる傾向があるため、アーム23が短くなる。h=(K1/K2)×H （ここで、K1は中間管23B の材料の熱膨張係数であり、K2は枠19、下部管23A 及び上部管23C の材料の熱膨張係数である）を選択することにより、距離Ｈの増加が、アーム23の短縮によって完全に補われる。そのため、固定ポイントＺに対する中心ポイントＣの位置、ひいては支持体13に対する中心ポイントＣの位置が、温度が何度であっても一定である。
【００３６】
アーム23の全長は、例えば、アーム23の下部管23A が支持体13に取り付けられるポイントの位置を変更して距離Ｈを変更することにより、サンプル5 及びサンプルホルダ9 の大きさに適合されてもよい。アームの熱膨張は、下部管23A 及び上部管23C を中間管23B に対してねじ込むか、又はねじって緩めることにより距離ｈを調整して補われる。
【００３７】
球状体を互いから離れる方向に引っ張る傾向がある枠19の熱膨張が棒及びリングの熱膨張によって完全に補われるように、棒26及びリング27の大きさ、材料及び組立が選択されている。そのため、中心ポイントＣに対する球状体の位置、ひいては支持体13に対する球状体の位置が、温度が何度であっても一定である。２枚の異なる放射線写真の取得間で、温度変化が、放射線写真の材料の膨張又は収縮を引き起こし、支持体13、ひいてはサンプル5 の寄生移動を引き起こす。視認器17が支持体13に強固に取り付けられて、支持体に対する球状体21の位置が温度変化に無感応であるため、放射源1 及び検出器3 に対する各球状体の移動が、支持体、ひいてはサンプル5 の寄生移動にのみ関連付けられる。放射源及び検出器に対する球状体の移動が、得られた放射線写真における球状体の画像の位置のオフセットを引き起こし、このようなオフセットは、支持体、ひいてはサンプルの寄生移動にのみ関連付けられる。２つの露出間のサンプルの寄生移動は、露出に対応する放射線写真における球状体の画像の位置のオフセットの測定結果に基づいて決定される。
【００３８】
２枚の異なる放射線写真における同一の球状体の画像の位置のオフセットを正確に測定するために、この画像の中心のオフセットを測定する。放射線写真の球状体の画像が円盤状であるため、画像の中心が容易に識別可能であり、オフセットが正確に測定される。従って、このオフセットに相当する寄生移動が正確に決定される。
【００３９】
図5A、図5B、図６、図７、図8A及び図8Bは夫々、第１及び第２の放射線写真における検出器3 上の球状体の画像の位置を概略的に示す。これらの図面の各々では、ポイント32、ポイント34、ポイント36及びポイント38は、第１の放射線写真における球状体の画像の位置に相当し、これらの位置は矩形39を画定する。
【００４０】
図5Aでは、２つの露出間で、視認器及び支持体の組立体は検出器3 に向かって軸芯7 に沿ってずれている。第１の放射線写真における位置32、位置34、位置36及び位置38での球状体の画像は夫々、現在の放射線写真における位置42、位置44、位置46及び位置48に向かってオフセットされる。位置42、位置44、位置46及び位置48は矩形39より小さい矩形49を画定する。
【００４１】
図5Bでは、２つの露出間で、視認器及び支持体の組立体は放射源1 に向かって軸芯7 に沿ってずれている。第１の放射線写真における位置32、位置34、位置36及び位置38での球状体の画像は夫々、現在の放射線写真における位置52、位置54、位置56及び位置58に向かってオフセットされる。位置52、位置54、位置56及び位置58は矩形39より大きい矩形59を画定する。
【００４２】
図６では、２つの露出間で、視認器及び支持体の組立体は軸芯７に直交する方向にずれている。第１の放射線写真における位置32、位置34、位置36及び位置38での球状体の画像は夫々、現在の放射線写真における位置62、位置64、位置66及び位置68に向かってオフセットされる。位置62、位置64、位置66及び位置68は矩形69を画定する。矩形39と比較すると、矩形69は、支持体によるずれの方向と同一の方向にオフセットされる。
【００４３】
図７では、２つの露出間で、視認器及び支持体の組立体は軸芯７と平行な軸芯回りで回転している。第１の放射線写真における位置32、位置34、位置36及び位置38での球状体の画像は夫々、現在の放射線写真における位置72、位置74、位置76及び位置78に向かってオフセットされる。位置72、位置74、位置76及び位置78は矩形79を画定し、この矩形79は、支持体に適用された回転と同一の回転によって矩形39から得られた画像である。
【００４４】
図8Aでは、２つの露出間で、視認器及び支持体の組立体は軸芯15と平行な軸芯回りで回転している。第１の放射線写真における位置32、位置34、位置36及び位置38での球状体の画像は夫々、現在の放射線写真における位置82、位置84、位置86及び位置88に向かってオフセットされる。位置82、位置84、位置86及び位置88は、底辺が矩形39の長辺と平行な台形89を画定する。
【００４５】
図8Bでは、２つの露出間で、視認器及び支持体の組立体は軸芯７及び軸芯15に直交する軸芯回りで回転している。第１の放射線写真における位置32、位置34、位置36及び位置38での球状体の画像は夫々、現在の放射線写真における位置92、位置94、位置96及び位置98に向かってオフセットされる。位置92、位置94、位置96及び位置98は、底辺が矩形39の短辺と平行な台形99を画定する。
【００４６】
２つの露出間のサンプルの寄生移動は、図5A、図5B、図６、図７、図8A及び図8Bの各々に関して記載された単一の寄生移動（回転、ずれ）の組合せであってもよい。この場合、球状体の画像のオフセットは、単一の寄生移動の各々に相当するオフセットの組合せである。
【００４７】
図２の断層撮影装置は、例えば第１の放射線写真のような基準放射線写真に対する夫々の放射線写真における球状体の画像のオフセットを検出する。このように測定されたオフセットは夫々、放射線写真のサンプルの画像の変形を引き起こすサンプルの寄生移動に相当する。例えば検出器と関連付けられた処理デバイスが、各放射線写真におけるサンプルの画像を修正して、サンプルの寄生移動によって引き起こされる変形を補う。この修正は、サンプルの支持体に対する球状体の相対位置が温度変化に無感応であるという事実を考慮に入れて行われる。
【００４８】
従って、このように修正される放射線写真に基づいて図２の断層撮影装置によって構築されるサンプルの三次元画像の質は、サンプルの寄生移動による影響を受けない。
【００４９】
ビームによって交差するサンプルの厚さが回転によって変更されるので、図8A及び8Bに関連して記載された回転に対応するサンプルの画像の変形が直接修正され得ないことを理解すべきである。しかしながら、このような寄生回転の検出によって、構築された三次元画像の質に関する情報が与えられる。この情報に応じて、ユーザは、放射線写真の取得周期をリセットしてもよく、又は所与の画像再構成ソフトウェアで利用可能な適切な修正オプションを実施してもよい。
【００５０】
具体的な実施形態が述べられている。様々な変更及び調整が当業者に想起される。特に、視認器の実施形態が図3A及び3Bに示されており、この視認器の代替的な実施形態が図4A及び4Bに示されているが、支持体13に対する球状体の位置が温度変化に無感応のままであって、放射線写真における球状体の画像がサンプルの画像の周りにある限り、視認器の形状及び材料が変更されてもよい。
【００５１】
４個の球状体を有する視認器が述べられているが、サンプルの寄生移動が、３個の球状体のみを有する視認器によって完全に決定されてもよい。４個以上の球状体を有する視認器では、サンプルの寄生移動の計算上の誤りを最小限度に抑えるために、追加の球状体を主として使用する。
【００５２】
図２の断層撮影装置では、視認器がサンプルと検出器との間に配置されているが、視認器が放射源とサンプルとの間に配置されているように、視認器が支持体に取り付けられてもよい。
【００５３】
上記の記載では、温度変化によって引き起こされるサンプルの寄生移動が検討されている。図２に関連して記載されているように断層撮影装置に取り付けられた視認器によって、温度変化のような他の現象によって引き起こされるサンプルの寄生移動が更に決定され得る。
【００５４】
本特許出願は、参照によって本明細書に組み込まれる仏国特許出願第14／53091 号明細書の優先権を主張している。
【図１】
2017510814.tif 000003
【図２】
2017510814.tif 000004
【図３Ａ】
2017510814.tif 000005
【図３Ｂ】
2017510814.tif 000006
【図４Ａ】
2017510814.tif 000007
【図４Ｂ】
2017510814.tif 000008
【図５Ａ】
2017510814.tif 000009
【図５Ｂ】
2017510814.tif 000010
【図６】
2017510814.tif 000011
【図７】
2017510814.tif 000012
【図８Ａ】
2017510814.tif 000013
【図８Ｂ】
2017510814.tif 000014
【国際調査報告】
2017510814.tif 000015
2017510814.tif 000016
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