(57)【要約】経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、受信される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度が、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して比較される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断する生成イオン強度の変化を記述する、少なくとも２つの異なるパターンが、同定される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンは、少なくとも２つの異なるパターンに従って、少なくとも２つの異なる群にグループ分けされる。各群からの生成イオンのピークは、組み合わせられ、各群からの生成イオンのピークのみを含む少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
2017530367.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
生成イオンを情報依存分析（ＩＤＡ）質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するためのシステムであって、前記システムは、
経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信することであって、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルは、分離デバイスを使用して、前記化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、前記分離する化合物のピークを横断して前記２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される、ことと、
前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較することと、
前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、前記生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定することと、
前記少なくとも２つの異なるパターンに従って、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けすることと、
前記少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせ、前記各群からの生成イオンのピークのみを含む前記少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生することと
を行うプロセッサを備える、システム。
【請求項２】
前記タンデム質量分析はさらに、前記ピークを横断して前記２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化する前に、フルスキャンイオン測量スキャンを行い、前記プロセッサはさらに、前記フルスキャンイオン測量スキャンからの情報を受信し、前記フルスキャンイオン測量スキャンからの情報から抽出される特徴に基づいて、少なくとも２つの異なるパターンを同定する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記特徴は、具体的前駆体イオン情報を備える、請求項２に記載のシステム。
【請求項４】
前記プロセッサは、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの特徴に基づいて、少なくとも２つの異なるパターンを同定する、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記特徴は、具体的生成イオン情報を備える、請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
前記プロセッサは、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルに基づいて、任意の具体的生成イオン情報を伴わずに、少なくとも２つの異なるパターンを同定する、請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
前記プロセッサは、前記生成イオンのピークを総和することによって、各群からの前記生成イオンのピークを組み合わせる、請求項１に記載のシステム。
【請求項８】
前記プロセッサはさらに、前記群毎に組み合わせられた生成イオンスペクトルと化合物データベースを比較し、前記化合物を同定する、請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
前記化合物は、タンパク質またはペプチドを備える、請求項１に記載のシステム。
【請求項１０】
前記タンデム質量分析はさらに、前記ピークプロファイルを横断して、前記２つまたはそれを上回る時間を離間させる、請求項１に記載のシステム。
【請求項１１】
前記タンデム質量分析はさらに、前記ピークプロファイルの幅未満の幅を有する除外窓を含めることによって、前記ピークプロファイルを横断して、前記２つまたはそれを上回る時間を離間させる、請求項１０に記載のシステム。
【請求項１２】
前記タンデム質量分析はさらに、数サイクル後と、再び、前記サイクル数の２倍後とに、あるパーセンテージの選択された前駆体イオンの再取得を自動的に強制することによって、前記ピークプロファイルを横断して、前記２つまたはそれを上回る時間を離間させ、サイクルは、フルスキャンイオン測量スキャンの完全サイクル後に、複数の前駆体イオン選択および断片化スキャンが続く、請求項１０に記載のシステム。
【請求項１３】
前記タンデム質量分析はさらに、単離窓内の２つまたはそれを上回る前駆体イオンを自動的に検出し、数サイクル後、前記単離窓に対して複数の前駆体イオン選択および断片化スキャンを強制することによって、前記ピークプロファイルを横断して、前記２つまたはそれを上回る時間を離間させ、サイクルは、フルスキャンイオン測量スキャンの完全サイクル後に、複数の前駆体イオン選択および断片化スキャンが続く、請求項１０に記載のシステム。
【請求項１４】
生成イオンを情報依存分析（ＩＤＡ）質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法であって、
プロセッサを使用して、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信するステップであって、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルは、分離デバイスを使用して、前記化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、前記分離する化合物のピークを横断して前記２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される、ステップと、
前記プロセッサを使用して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較するステップと、
前記プロセッサを使用して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、前記生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定するステップと、
前記プロセッサを使用して、前記少なくとも２つの異なるパターンに従って、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けするステップと、
前記プロセッサを使用して、前記少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせ、前記各群からの生成イオンのピークのみを含む前記少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生するステップと、
を含む、方法。
【請求項１５】
コンピュータプログラム製品であって、そのコンテンツが、生成イオンを情報依存分析（ＩＤＡ）質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む、非一過性および有形コンピュータ可読記憶媒体を備え、前記方法は、
システムを提供するステップであって、前記システムは、１つまたはそれを上回る固有のソフトウェアモジュールを備え、前記固有のソフトウェアモジュールは、入力モジュールおよび分析モジュールを備える、ステップと、
前記入力モジュールを使用して、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信するステップであって、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルは、分離デバイスを使用して、前記化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、前記分離する化合物のピークを横断して前記２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される、ステップと、
前記分析モジュールを使用して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較するステップと、
前記分析モジュールを使用して、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、前記生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定するステップと、
前記分析モジュールを使用して、前記少なくとも２つの異なるパターンに従って、前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けするステップと、
前記分析モジュールを使用して、前記少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの前記２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせ、前記各群からの生成イオンのピークのみを含む前記少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生するステップと、
を含む、コンピュータプログラム製品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
（関連出願の相互参照）
本願は、２０１４年１０月８日に出願された米国仮特許出願第６２／０６１，４９２号および２０１５年５月２８日に出願された米国仮特許出願第６２／１６８，６４２号の利益を主張するものであり、これらの内容の全体は、参照により本明細書中に援用される。
【背景技術】
【０００２】
情報依存分析（ＩＤＡ）は、柔軟性のあるタンデム質量分析方法であって、ユーザは、クロマトグラフィ実行の間の生成イオンスペクトルを産生するための基準を規定することができる。例えば、ＩＤＡ方法では、前駆体または質量分析（ＭＳ）測量スキャンが、前駆体イオンピークリストを生成するために行われる。ユーザは、ピークリスト上の前駆体イオンのサブセットに関するピークリストをフィルタ処理するための基準を選択することができる。前駆体イオンのサブセットは、次いで、断片化され、生成イオンスペクトルが、クロマトグラフィ実行の間、繰り返し得られる。
【０００３】
ＩＤＡは、ペプチド断片からタンパク質またはペプチドを同定するための有用な技法である。典型的には、ＩＤＡは、タンパク質またはペプチド混合物上で行われ、産生されるペプチド断片に関する複数の生成イオンスペクトルを産生する。複数の生成イオンスペクトルの各スペクトルは、次いで、混合物中のタンパク質またはペプチドを同定するために、タンパク質またはペプチドデータベースと比較される。
【０００４】
しかしながら、残念なことに、タンパク質またはペプチド同定は、混合または畳み込まれた生成イオンスペクトルによって悪影響を受け得る。言い換えると、ＩＤＡ方法からの生成イオンスペクトルのいくつかは、１つを上回る前駆体イオンからの生成イオンを含み得る。その結果、混合または畳み込まれた生成イオンスペクトルが、タンパク質またはペプチドデータベースと比較されると、合致が見出されない場合がある。
【０００５】
タンパク質同定を改良することを目標として、混合または畳み込まれた生成イオンスペクトルの本問題に対処するために、いくつかの試みが成されている。ある試みでは、測量スキャンにおける複数の前駆体イオンの証拠が、使用された。例えば、複数の前駆体イオンの測量スキャン証拠に基づいて、ＩＤＡ方法は、選択されたオリジナル前駆体イオンの２〜３ａｍｕ内の任意の前駆体イオンの断片化および異なる前駆体イオンからの生成イオンスペクトルの収集を含めた。別の試みでは、微分移動度分離（ＤＭＳ）デバイスが、質量分析の真空への進入に先立って、ガス相内の前駆体イオンを分離するために使用された。
【０００６】
しかしながら、残念なことに、スペクトル畳み込み問題に対処するためのこれらの試みのいずれも、大部分のＩＤＡ方法に含まれるために十分に有用であると証明されていない。その結果、大部分のタンパク質またはペプチド同定方法は、ＩＤＡ方法から「現状のまま」生成イオンスペクトルの比較を継続している。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００７】
生成イオンを情報依存分析（ＩＤＡ）質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するためのシステムが、開示される。本システムは、プロセッサを含む。
【０００８】
プロセッサは、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信する。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、分離デバイスを使用して、化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、分離する化合物のピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される。プロセッサは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較する。プロセッサは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定する。プロセッサは、少なくとも２つの異なるパターンに従って、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けする。プロセッサは、少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせ、各群からの生成イオンのピークのみを含む少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
【０００９】
生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法が、開示される。経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、プロセッサを使用して受信される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、分離デバイスを使用して、化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、分離する化合物のピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度が、プロセッサを使用して、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して比較される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、生成イオン強度の変化を記述する、少なくとも２つの異なるパターンが、プロセッサを使用して、同定される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンが、プロセッサを使用して、少なくとも２つの異なるパターンに従って、少なくとも２つの異なる群にグループ分けされる。少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークが、プロセッサを使用して、組み合わせられ、各群からの生成イオンのピークのみを含む少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
【００１０】
非一過性の有形コンピュータ可読記憶媒体を含む、コンピュータプログラム製品が開示され、そのコンテンツは、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法を実施するように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む。本方法は、システムを提供するステップを含み、本システムは、１つまたはそれを上回る個別のソフトウェアモジュールを備え、個別のソフトウェアモジュールは、入力モジュールおよび分析モジュールを備える。
【００１１】
入力モジュールは、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信する。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、分離デバイスを使用して、化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、分離する化合物のピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される。分析モジュールは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較する。分析モジュールは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定する。分析モジュールは、少なくとも２つの異なるパターンに従って、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けする。分析モジュールは、少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせ、各群からの生成イオンのピークのみを含む少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
【００１２】
本出願者の教示のこれらおよび他の特徴が、本明細書に記載される。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
当業者は、後述の図面が、例証目的にすぎないことを理解するであろう。図面は、本教示の範囲をいかようにも制限することを意図するものではない。
【００１４】
【図１】図１は、本教示の実施形態が実装され得るコンピュータシステムを図示するブロック図である。
【００１５】
【図２】図２は、種々の実施形態による、ＩＤＡ方法から産生された２つの共溶出等圧ペプチドの前駆体質量と関連付けられた抽出されたイオン電流（ＸＩＣ）の例示的プロットである。
【００１６】
【図３】図３は、種々の実施形態による、図２に示される点に関して収集された一連の生成イオンスペクトルである。
【００１７】
【図４】図４は、種々の実施形態における、図３の生成イオンスペクトルからの生成イオンの第１の群の第１のパターンである。
【００１８】
【図５】図５は、種々の実施形態における、図３の生成イオンスペクトルからの生成イオンの第２の群の第２のパターンである。
【００１９】
【図６】図６は、種々の実施形態による、図２に示される３つの点を横断して観察されるいくつかの生成イオンの強度比の例示的プロットである。
【００２０】
【図７】図７は、種々の実施形態による、図２に示される３つの点を横断して観察されるいくつかの生成イオンの正規化された強度比の例示的プロットである。
【００２１】
【図８】図８は、種々の実施形態による、図６および７の生成イオンを含む、生成イオンスペクトルの例示的一連のプロットである。
【００２２】
【図９】図９は、種々の実施形態による、図８に示される一連のプロットに基づいて組み合わせられた生成イオンスペクトルの例示的一連のプロットである。
【００２３】
【図１０】図１０は、種々の実施形態による、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法を示す、フロー図である。
【００２４】
【図１１】図１１は、種々の実施形態による、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法を行う、１つまたはそれを上回る個別のソフトウェアモジュールを含む、システムの概略図である。
【００２５】
本教示の１つまたはそれを上回る実施形態が詳細に説明される前に、当業者は、以下の発明を行うための形態に記載される、または図面に図示される構造、構成要素の配列、および段階化の配列の詳細に制限されないことを理解するであろう。また、本明細書で使用される表現および専門用語は、説明の目的のためであって、制限として見なされるべきではないことを理解されたい。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
（コンピュータ実装システム）
図１は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム１００を図示するブロック図である。コンピュータシステム１００は、情報を通信するためのバス１０２または他の通信機構と、情報を処理するためにバス１０２と結合されたプロセッサ１０４とを含む。コンピュータシステム１００は、プロセッサ１０４によって実行される命令を記憶するために、バス１０２に結合されるランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）または他の動的記憶デバイスであり得るメモリ１０６も含む。メモリ１０６は、プロセッサ１０４によって実行される命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するためにも使用され得る。コンピュータシステム１００は、プロセッサ１０４のための静的情報および命令を記憶するために、バス１０２に結合された読取専用メモリ（ＲＯＭ）１０８または他の静的記憶デバイスをさらに含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス１１０は、情報および命令を記憶するために提供され、バス１０２に結合される。
【００２７】
コンピュータシステム１００は、情報をコンピュータユーザに表示するために、バス１０２を介して、ブラウン管（ＣＲＴ）または液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）等のディスプレイ１１２に結合され得る。英数字および他のキーを含む入力デバイス１１４は、情報およびコマンド選択をプロセッサ１０４に通信するために、バス１０２に結合される。別のタイプのユーザ入力デバイスは、方向情報およびコマンド選択をプロセッサ１０４に通信し、ディスプレイ１１２上のカーソル移動を制御するためのマウス、トラックボール、またはカーソル方向キー等のカーソル制御１１６である。本入力デバイスは、典型的には、デバイスが平面において位置を指定することを可能にする２つの軸、すなわち、第１の軸（すなわち、ｘ）および第２の軸（すなわち、ｙ）において、２自由度を有する。
【００２８】
コンピュータシステム１００は、本教示を行うことができる。本教示のある実装によると、結果は、メモリ１０６内に含まれる１つまたはそれを上回る命令の１つまたはそれを上回るシーケンスをプロセッサ１０４が実行することに応答して、コンピュータシステム１００によって提供される。そのような命令は、記憶デバイス１１０等の別のコンピュータ可読媒体から、メモリ１０６内に読み込まれ得る。メモリ１０６内に含まれる命令のシーケンスの実行は、プロセッサ１０４に、本明細書に説明されるプロセスを行わせる。代替として、有線回路が、本教示を実装するためのソフトウェア命令の代わりに、またはそれと組み合わせて、使用され得る。したがって、本教示の実装は、ハードウェア回路およびソフトウェアの任意の具体的組み合わせに制限されない。
【００２９】
種々の実施形態では、コンピュータシステム１００は、ネットワークシステムを形成するために、ネットワークを横断して、コンピュータシステム１００等の１つまたはそれを上回る他のコンピュータシステムに接続されることができる。ネットワークは、インターネット等のプライベートネットワークまたはパブリックネットワークを含むことができる。ネットワークシステムでは、１つまたはそれを上回るコンピュータシステムは、データを記憶し、それを他のコンピュータシステムに提供することができる。データを記憶かつ提供する、１つまたはそれを上回るコンピュータシステムは、クラウド算出シナリオにおいて、サーバまたはクラウドと称されることができる。１つまたはそれを上回るコンピュータシステムは、例えば、１つまたはそれを上回るウェブサーバを含むことができる。サーバまたはクラウドに、かつそれからデータを送信かつ受信する、他のコンピュータシステムは、例えば、クライアントまたはクラウドデバイスと称されることができる。
【００３０】
用語「コンピュータ可読媒体」は、本明細書で使用される場合、実行のために、命令をプロセッサ１０４に提供する際に関与する任意の媒体を指す。そのような媒体は、不揮発性媒体、揮発性媒体、および伝送媒体を含むが、それらに制限されない、多くの形態をとり得る。不揮発性媒体は、例えば、記憶デバイス１１０等の光学または磁気ディスクを含む。揮発性媒体は、メモリ１０６等の動的メモリを含む。伝送媒体は、バス１０２を備えている配線を含む、同軸ケーブル、銅線、および光ファイバを含む。
【００３１】
コンピュータ可読媒体またはコンピュータプログラム製品の一般的形態として、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、または任意の他の磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭ、デジタルビデオディスク（ＤＶＤ）、ブルーレイディスク、任意の他の光学媒体、サムドライブ、メモリカード、ＲＡＭ、ＰＲＯＭ、およびＥＰＲＯＭ、フラッシュ−ＥＰＲＯＭ、任意の他のメモリチップまたはカートリッジ、あるいはコンピュータが読み取ることができる、任意の他の有形媒体が挙げられる。
【００３２】
コンピュータ可読媒体の種々の形態は、実行のために、１つまたはそれを上回る命令の１つまたはそれを上回るシーケンスをプロセッサ１０４に搬送することに関わり得る。例えば、命令は、最初は、遠隔コンピュータの磁気ディスク上で搬送され得る。遠隔コンピュータは、命令をその動的メモリ内にロードし、モデムを使用して、電話回線を介して、命令を送信することができる。コンピュータシステム１００にローカルのモデムは、データを電話回線上で受信し、赤外線送信機を使用して、データを赤外線信号に変換することができる。バス１０２に結合された赤外線検出器は、赤外線信号で搬送されるデータを受信し、データをバス１０２上に配置することができる。バス１０２は、データをメモリ１０６に搬送し、そこから、プロセッサ１０４は、命令を読み出し、実行する。メモリ１０６によって受信された命令は、随意に、プロセッサ１０４による実行の前後に、記憶デバイス１１０上に記憶され得る。
【００３３】
種々の実施形態によると、方法を行うためにプロセッサによって実行されるように構成される命令は、コンピュータ可読媒体上に記憶される。コンピュータ可読媒体は、デジタル情報を記憶するデバイスであることができる。例えば、コンピュータ可読媒体は、ソフトウェアを記憶するために、当技術分野において周知のように、コンパクトディスク読取専用メモリ（ＣＤ−ＲＯＭ）を含む。コンピュータ可読媒体は、実行されるように構成される命令を実行するために好適なプロセッサによってアクセスされる。
【００３４】
本教示の種々の実装の以下の説明は、例証および説明の目的のために提示されている。これは、包括的でもなく、本教示を開示される精密な形態に制限するものでもない。修正および変形例が、前述の教示に照らして可能である、または本教示の実践から取得され得る。加えて、説明される実装は、ソフトウェアを含むが、本教示は、ハードウェアおよびソフトウェアの組み合わせとして、またはハードウェア単独において、実装され得る。本教示は、オブジェクト指向および非オブジェクト指向両方のプログラミングシステムによって実装され得る。
【００３５】
（スペクトルを改良するためのシステムおよび方法）
前述のように、ＩＤＡは、ペプチド断片からタンパク質またはペプチドを同定するために有用な技法である。しかしながら、タンパク質またはペプチド同定は、混合または畳み込まれた生成イオンスペクトルによって悪影響を受け得る。本問題に対処するために、いくつかの試みが成されている。しかしながら、残念なことに、スペクトル畳み込み問題に対処するためのこれらの試みのいずれも、大部分のＩＤＡ方法に含まれるために十分に有用であると証明されていない。
【００３６】
種々の実施形態では、ある取得後方法が、ＩＤＡにおけるスペクトル畳み込み問題に対処するために使用される。本方法では、生成イオンスペクトルが、フルスキャンイオン測量スキャンのピークリストから選択された前駆体イオンのクロマトグラフィピークプロファイルを横断して行われる、２つまたはそれを上回る断片化から収集される。これらの２つまたはそれを上回る断片化時間の間の生成イオンスペクトルが、次いで、比較される。比較は、２つまたはそれを上回る断片化時間のそれぞれにおける各生成イオンピーク強度の挙動の分析を伴う。生成イオンは、次いで、２つまたはそれを上回る断片化時間にわたって同一パターンを伴って変動するピーク強度を有する、生成イオンとともにグループ分けされる。新しいスペクトルが、次いで、群毎に生成され、その群内の生成イオンのピークのみを含む。群に関する新しいスペクトルが、次いで、タンパク質またはペプチドデータベースを検索するために使用される。
【００３７】
飛行時間（ＴＯＦ）ベースのタンデム質量分析システムの主な利点は、取得速度である。本特徴は、異なる前駆体イオンに関する多くの生成イオンまたは質量分析／質量分析（ＭＳＭＳ）スペクトルが、液体クロマトグラフィ（ＬＣ）時間スケールで取得され得るため、発売時、ＡＢＳｃｉｅｘの５６００シリーズシステムの重要な利点と見なされた。タンパク質同定では、器具は、典型的には、サイクルあたり５０もの多くの生成イオンスペクトルを収集するように設定される。しかしながら、これは、動的除外条件下、潜在的候補の急減につながり得、ひいては、多くの場合、アンダーサンプリング（５０候補未満）を頻繁にもたらすであろう。
【００３８】
種々の実施形態のシステムおよび方法は、そのような器具の速度を利用し、ＬＣ溶出プロファイルの間、少なくとも２〜３回、同一候補上での生成イオンデータ収集の反復を強制する。取得後、同一プロファイルを呈する生成イオンがともにグループ分けされ、新しい生成スペクトルとして記憶される。種々の実施形態の重要な側面は、スペクトル情報が、信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）を改良するために、ある場合には、畳み込まれた情報を除去することによって、生成イオンスペクトルの選択性を改良するために、組み合わせられ得ることである。
【００３９】
例示的ＩＤＡ方法が、２つの共溶出等圧ペプチドを含む、ペプチド混合物上で行われた。共溶出等圧ペプチドは、同一質量および電荷状態を有していた。しかしながら、共溶出等圧ペプチドの一方は、他方を約２〜３倍上回る強度を有していた。図２−９は、種々の実施形態による、本ＩＤＡ方法から収集されたデータ上で行われる取得後処理を説明する。
【００４０】
図２は、種々の実施形態による、ＩＤＡ方法から産生される２つの共溶出等圧ペプチドの前駆体質量と関連付けられた抽出されたイオン電流（ＸＩＣ）の例示的プロット２００である。前駆体イオン質量は、例えば、５０３．２６である。プロット２００はまた、種々の実施形態による、生成イオンデータが収集されたＸＩＣまたはピークプロファイルに沿って、３つの点２０１、２０２、および２０３を含む。３つの選択された点２０１、２０２、および２０３は、取得の間に収集された生成イオンスペクトルの３つの異なる滞留時間である。
【００４１】
種々の実施形態では、生成イオンスペクトルが収集された点または時間は、ＬＣピークプロファイルにわたって離間される、独立断片化イベントである。これらの断片化イベントは、グループ分けの際により良好な信頼性を提供し得るため（特に、２つのみの複製タンデム質量分析イベントを取り扱うとき）、例えば、全て、連続して取得されない。
【００４２】
種々の実施形態では、ＬＣピークを横断する同一前駆体イオンに関する複数のタンデム質量分析または質量分析／質量分析（ＭＳＭＳ）イベントを確実にするための取得アプローチは、ＬＣピークより短い時間周期の間、動的除外を行うことである。良好な開始点は、例えば、除外窓≦ＬＣピーク半値全幅（ＦＷＨＨ）である。
【００４３】
種々の代替実施形態では、別の取得アプローチは、自動再取得である。例えば、再取得は、少なくともＸサイクル後と、再び、２＊Ｘサイクル（Ｘ＞１）後とに、選択された前駆体の３０％を上回らないものに対して自動的に強制される。サイクルは、少なくとも１回の測量スキャン（典型的には、前駆体イオンスキャン）および対応する従属スキャン（タンデム質量分析イベント）の完全サイクルとして定義される。３０％の値は、より小さくもあり得、複合サンプルに対して良好であるべきであることに留意されたい。より大きくすることは、実験のデューティサイクルに負の影響を及ぼし得、特に、複合サンプル中において、多くの前駆体質量が照会されないことにつながり得る。
【００４４】
種々の代替実施形態では、別の取得アプローチは、単離窓内の複数の前駆体の自動化された検出である。単離窓内の複数の前駆体の自動化された検出は、例えば、Ｘサイクル（Ｘ＞１）後、タンデム質量分析モードで再分析を強制する。
【００４５】
図３は、種々の実施形態による、図２に示される点に関して収集された一連の生成イオンスペクトル３００である。一連のスペクトル３００は、図２における点２０１に関して収集された生成イオンスペクトル３１０と、図２における点２０２に関して収集された生成イオンスペクトル３２０と、図２における点２０３に関して収集された生成イオンスペクトル３３０とを含む。生成イオンスペクトル３１０、３２０、および３３０は、同一質量の多くに対して非常に類似して見える。これは、両共溶出等圧ペプチドが正確に同一質量および電荷状態であるために予期される。
【００４６】
しかしながら、生成イオンスペクトル３１０、３２０、および３３０内の生成イオンのより精密な検査は、全ての生成イオンが、図２の点または時間２０１、２０２、および２０３を横断して同様に変動するわけではないことを露見させる。生成イオンスペクトル３１０、３２０、および３３０に共通のイオンに焦点を当てると、生成イオンは、溶出時間の３つの点にわたるその観察されるパターンに基づいて、ともにグループ分けされる。強度は、例えば、図２の時間２０１における強度に対して正規化されることができる。群に関する強度パターンが、見出される。
【００４７】
観察されるパターンは、いくつかの方法で判定されることができる。種々の実施形態では、パターンは、検出が、断片化および生成イオン質量分析に先立った前駆体単離のものより高い分解能で行われる場合、フルスキャンイオン測量スキャンから抽出される特徴に基づいて判定される。例えば、測量スキャンは、ＴＯＦモードでは、＞２５Ｋ分解能で得られ、前駆体単離は、１またはより広い分解能で行われる。言い換えると、２つの前駆体が、対応する前駆体イオンデータの単離窓内で検出されることができ、異なるクロマトグラフィプロファイルを有する場合、これらのプロファイルは、抽出すべき特徴を判定するために使用されることができる。
【００４８】
種々の実施形態では、パターンはまた、直接、生成イオン特徴から判定されることができる。例えば、インモニウムイオンは、トリプシンペプチドからのＫまたはＲ残基の典型を含む。Ｒインモニウムイオンは、三角形パターンを有する一方、Ｋ残基は、平坦パターンを有する。着目化合物に特定の任意のシグネチャイオンが、使用されることができる。
【００４９】
種々の実施形態では、パターンはまた、具体的イオン情報を伴わずに、生成イオンスペクトルから判定されることができる。例えば、主成分分析（ＰＣＡ）が、全イオンに行われることができ、主成分変数グループ分け（ＰＣＶＧ）が、パターンの上位ｎ群を判定するために使用されることができる。
【００５０】
図４は、種々の実施形態における、図３の生成イオンスペクトルからの生成イオンの第１の群の第１のパターン４００である。パターン４００は、例えば、図２に示される溶出時間の３つの点２０１、２０２、および２０３にわたって平坦パターンである。例えば、図４における強度４１０は、図２の点２０１における生成イオンの第１の群の強度に対応する。図４における強度４２０は、図２の点２０２における生成イオンの第１の群の強度に対応し、図４における強度４３０は、図２の点２０３における生成イオンの第１の群の強度に対応する。図２に示される溶出時間の３つの点にわたって、図４における第１の群の強度４１０は、強度４２０まで上昇し、次いで、強度４３０まで平坦である。
【００５１】
図５は、種々の実施形態における、図３の生成イオンスペクトルからの生成イオンの第２の群の第２のパターン５００である。パターン５００は、例えば、図２に示される溶出時間の３つの点２０１、２０２、および２０３にわたって三角形パターンである。例えば、図５における強度５１０は、図２の点２０１における生成イオンの第１の群の強度に対応する。図５における強度５２０は、図２の点２０２における生成イオンの第１の群の強度に対応し、図５における強度５３０は、図２の点２０３における生成イオンの第１の群の強度に対応する。図２に示される溶出時間の３つの点にわたって、図５における第１の群の強度５１０は、強度５２０まで上昇し、次いで、再び、強度５３０まで降下する。
【００５２】
図６は、種々の実施形態による、図２に示される３つの点を横断して観察されるいくつかの生成イオンの強度比の例示的プロット６００である。プロット６００では、一般に観察される生成イオン質量６１０に関する強度比が、図２の点または時間２０１、２０２、および２０３に対応する点１、２、および３を横断してプロットされる。強度比は、点１、２、および３における強度を点１における強度で除算することによって計算される（１における比は、Ｉ１／Ｉ１であって、２における比は、Ｉ２／Ｉ１であって、３における比は、Ｉ３／Ｉ１である）。プロット６００は、生成イオン質量６２０が全て、図４の平坦パターンを呈することを示す。他の生成イオン質量は全て、図５のより三角形のパターンを呈する。これは、図７により明白に示される。
【００５３】
図７は、種々の実施形態による、図２に示される３つの点を横断して観察されるいくつかの生成イオンの正規化された強度比の例示的プロット７００である。プロット７００では、一般に観察される生成イオン質量７１０に関する正規化された強度比が、図２の点または時間２０１、２０２、および２０３に対応する点１、２、および３を横断してプロットされる。正規化された強度比は、最初に、強度比を計算することによって計算される。強度比は、点１、２、および３における強度を点１における強度で除算することによって計算される（１における比は、Ｉ１／Ｉ１であって、２における比は、Ｉ２／Ｉ１であって、３における比は、Ｉ３／Ｉ１である）。これらの強度比は、次いで、点２における強度で除算することによって正規化される。プロット７００は、生成イオン質量７２０が全て、図４の平坦パターンを呈することを示す。他の生成イオン質量は全て、図５のより三角形のパターンを呈する。
【００５４】
図８は、種々の実施形態による、図６および７の生成イオンを含む、生成イオンスペクトルの例示的一連のプロット８００である。プロット８１０は、図２の点または時間２０１において収集された図６および７の生成イオンに関する生成イオンスペクトルである。図８のプロット８２０は、図２の点または時間２０２において収集された図６および７の生成イオンに関する生成イオンスペクトルである。図８のプロット８３０は、図２の点または時間２０３において収集された図６および７の生成イオンに関する生成イオンスペクトルである。
【００５５】
図９は、種々の実施形態による、図８に示される一連のプロット８００に基づいて組み合わせられた生成イオンスペクトルの例示的一連のプロット９００である。プロット９５０は、図８００の図８１０、８２０、および８３０における生成イオンピークの全ての組み合わせられた生成イオンスペクトルである。図９のプロット９６０は、図４の平坦パターンを呈する、図８００の図８１０、８２０、および８３０における生成イオンピークの群に関して組み合わせられた生成イオンスペクトルである。生成イオンピークの群は、例えば、総和される。しかしながら、ピークを組み合わせる任意の方法が、使用されることができる。図９のプロット９７０は、図５の三角形パターンを呈する、図８００の図８１０、８２０、および８３０における生成イオンピークの群に関して組み合わせられた生成イオンスペクトルである。本生成イオンピークの群もまた、例えば、総和される。しかしながら、ピークを組み合わせる任意の方法が、使用されることができる。
【００５６】
図９のプロット９６０および９７０は、ペプチドまたはタンパク質同定のために使用されることができる。プロット９６０および９７０はもはや、複数の前駆体イオンからの断片を含まないため、これらのプロットは、タンパク質およびペプチドデータベースと比較されるとき、より良好な結果を提供する可能性がより高い。
【００５７】
（生成イオンを分離するためのシステム）
種々の実施形態は、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するためのシステムを含む。本システムは、取得後、タンデム質量分析データを処理するように構成される、プロセッサを含む。プロセッサは、限定ではないが、コンピュータ、マイクロプロセッサ、図１のコンピュータシステム、またはデータを処理し、データを送受信可能な任意のデバイスであることができる。
【００５８】
プロセッサは、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信する。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、分離デバイスを使用して、化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、分離する化合物のピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される。分離デバイスは、限定ではないが、液体クロマトグラフィ、ガスクロマトグラフィ、キャピラリ電気泳動、またはイオン移動度を含む、分離技法を行うことができる。タンデム質量分析器は、２つまたはそれを上回る質量分析を行う、１つまたはそれを上回る物理的質量分析器を含むことができる。タンデム質量分析器の質量分析器は、限定ではないが、ＴＯＦ、四重極、イオントラップ、線形イオントラップ、オービトラップ、またはフーリエ変換質量分析器を含むことができる。
【００５９】
プロセッサは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較する。プロセッサは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定する。プロセッサは、少なくとも２つの異なるパターンに従って、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けする。最後に、プロセッサは、少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせる。これは、各群からの生成イオンのピークのみを含む、少なくとも２つの異なる群の群毎の組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
【００６０】
プロセッサは、いくつかの異なる方法で少なくとも２つの異なるパターンを同定することができる。種々の実施形態では、タンデム質量分析はさらに、ピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化する前に、フルスキャンイオン測量スキャンを行う。プロセッサはさらに、次いで、フルスキャンイオン測量スキャンからの情報を受信し、フルスキャンイオン測量スキャンからの情報から抽出される特徴に基づいて、少なくとも２つの異なるパターンを同定する。フルスキャンイオン測量からの情報から抽出される特徴は、例えば、前駆体イオン単離窓内の２つまたはそれを上回る前駆体イオン等の具体的前駆体イオン情報を含むことができる。
【００６１】
種々の実施形態では、プロセッサは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの特徴に基づいて、少なくとも２つの異なるパターンを同定する。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの特徴は、例えば、特定のイオンの既知の残基等の具体的生成イオン情報を含む。
【００６２】
種々の実施形態では、プロセッサは、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルに基づいて、任意の具体的生成イオン情報を伴わずに、少なくとも２つの異なるパターンを同定する。例えば、プロセッサは、全生成イオンにＰＣＡ分析を行い、ＰＶＣＧを使用して、群を判定することができる。
【００６３】
種々の実施形態では、プロセッサは、生成イオンのピークを総和することによって、各群からの生成イオンのピークを組み合わせる。種々の代替実施形態では、各群からの生成イオンのピークは、平均、中央値を計算することによって、またはデータ点の群を組み合わせる任意の他の数学的方法によって組み合わせられることができる。
【００６４】
種々の実施形態では、プロセッサはさらに、群毎に組み合わせられた生成イオンスペクトルと化合物データベースを比較し、化合物を同定する。化合物は、例えば、タンパク質またはペプチドを含むことができ、化合物データベースは、タンパク質またはペプチドデータベースであることができる。
【００６５】
種々の実施形態では、化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、化合物のピークプロファイルにわたって離間される。タンデム質量分析は、いくつかの方法で本離間を提供することができる。種々の実施形態では、タンデム質量分析はさらに、ピークプロファイルの幅未満の幅を有する除外窓を含めることによって、ピークプロファイルを横断して、２つまたはそれを上回る時間を離間させる。
【００６６】
種々の実施形態では、タンデム質量分析はさらに、数サイクル後と、再び、サイクル数の２倍後とに、あるパーセンテージの選択された前駆体イオンの再取得を自動的に強制することによって、ピークプロファイルを横断して、２つまたはそれを上回る時間を離間させる。サイクルは、例えば、フルスキャンイオン測量スキャンの完全サイクル後に、複数の前駆体イオン選択および断片化スキャンが続く。
【００６７】
種々の実施形態では、タンデム質量分析はさらに、単離窓内の２つまたはそれを上回る前駆体イオンを自動的に検出し、数サイクル後、単離窓に対して複数の前駆体イオン選択および断片化スキャンを強制することによって、ピークプロファイルを横断して、２つまたはそれを上回る時間を離間させる。
【００６８】
（生成イオンを分離するための方法）
図１０は、種々の実施形態による、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法１０００を示す、フロー図である。
【００６９】
方法１０００のステップ１０１０では、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、プロセッサを使用して、受信される。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、分離デバイスを使用して、化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、分離する化合物のピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される。
【００７０】
ステップ１０２０では、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度が、プロセッサを使用して、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して比較される。
【００７１】
ステップ１０３０では、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断する生成イオン強度の変化を記述する、少なくとも２つの異なるパターンが、プロセッサを使用して、同定される。
【００７２】
ステップ１０４０では、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンが、プロセッサを使用して、少なくとも２つの異なるパターンに従って、少なくとも２つの異なる群にグループ分けされる。
【００７３】
ステップ１０５０では、少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークが、プロセッサを使用して、組み合わせられる。これは、各群からの生成イオンのピークのみを含む少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
【００７４】
（生成イオンを分離するためのコンピュータプログラム製品）
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、有形コンピュータ可読記憶媒体を含み、そのコンテンツは、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法を実施するよう、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む。本方法は、１つまたはそれを上回る個別のソフトウェアモジュールを含むシステムによって行われる。
【００７５】
図１１は、種々の実施形態による、生成イオンをＩＤＡ質量分析実験から収集された生成イオンスペクトル内の畳み込まれた前駆体イオンから分離するための方法を行う、１つまたはそれを上回る個別のソフトウェアモジュールを含む、システム１１００の概略図である。システム１１００は、入力モジュール１１１０および分析モジュール１１２０を含む。
【００７６】
入力モジュール１１１０は、経時的に分離する化合物のピークプロファイルを横断して２つまたはそれを上回る時間で収集された２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを受信する。２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルが、分離デバイスを使用して、化合物をサンプルから経時的に分離し、タンデム質量分析を使用して、分離する化合物のピークを横断して２つまたはそれを上回る時間で前駆体イオンを選択および断片化することによって産生される。
【００７７】
分析モジュール１１２０は、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンの強度を比較する。分析モジュール１１２０は、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルを横断して、生成イオン強度の変化を記述する少なくとも２つの異なるパターンを同定する。分析モジュール１１２０は、少なくとも２つの異なるパターンに従って、２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトルの各スペクトル内に存在する生成イオンを少なくとも２つの異なる群にグループ分けする。最後に、分析モジュール１１２０は、少なくとも２つの異なる群の各群からの生成イオンの２つまたはそれを上回る生成イオンスペクトル内のピークを組み合わせる。これは、各群からの生成イオンのピークのみを含む少なくとも２つの異なる群の群毎に、組み合わせられた生成イオンスペクトルを産生する。
【００７８】
本教示は、種々の実施形態と併せて説明されるが、本教示が、そのような実施形態に制限されることを意図するものではない。対照的に、本教示は、当業者によって理解されるように、種々の代替、修正、および均等物を包含する。
【００７９】
さらに、種々の実施形態の説明において、本明細書は、段階化の特定のシーケンスとして、方法および／またはプロセスを提示し得る。しかしながら、方法またはプロセスが本明細書に記載される段階化の特定の順序に依拠しない程度において、方法またはプロセスは、説明される段階化の特定のシーケンスに制限されるべきではない。当業者が理解するであろうように、段階化の他のシーケンスも可能であり得る。したがって、本明細書に記載される段階化の特定の順序は、請求項に関する制限として解釈されるべきではない。加えて、方法および／またはプロセスを対象とする請求項は、その段階化の実施を書かれた順序に制限されるべきではなく、当業者は、シーケンスが、変動され得、依然として、種々の実施形態の精神および範囲内にあることを容易に理解することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【国際調査報告】
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2017530367.tif 000015