(57)【要約】  測定間隔、再ゼロ校正頻度、個別のゼロ校正可否判定について自己適応して調整することが可能な、プロトコル適応型でコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器。
2017509876.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器は透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率測定を行い、各々の測定にひとつの検知期間を用い、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値に基づいて以後の対象分析物の透過率測定の検知期間の長さを調整するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項２】
適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器が（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、（‐）透過試験期間を通して所定の頻度で定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、（‐）前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を超えた場合、予定されている再ゼロ校正を回避するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項３】
適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器が（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、（‐）前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値に基づいて、対象分析物センサーの以後の再ゼロ校正頻度を調整するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項４】
適応型分析器であって、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を備えており、この透過試験器が（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、（‐）確定した対象分析物の試験フィルムに対する透過率が所定の閾値を下回る場合、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーについて個別のゼロ校正を行うようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項５】
請求項１の適応型分析器であって、コンピュータ制御される透過試験器がさらに（‐）透過試験期間を通して所定の頻度で定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、（‐）前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を超える場合、予定されている再ゼロ校正を回避するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項６】
請求項１の適応型分析器であって、このコンピュータ制御される透過試験器がさらに（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、（‐）前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値に基づいて、対象分析物センサーの以後の再ゼロ校正頻度を調整するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項７】
請求項１の適応型分析器であって、コンピュータ制御される透過試験器がさらに、最終の対象分析物の透過率測定値が所定の閾値を下回る場合に、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーに対して個別のゼロ校正を実施するようにプログラムされていることを特徴とする分析器。
【請求項８】
請求項１の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
【請求項９】
請求項１の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
【請求項１０】
請求項１の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
【請求項１１】
請求項１の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を越える場合、以後の検知期間の長さが長く設定され、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を下回る場合、以後の検知期間の長さは短く設定されることを特徴とする分析器。
【請求項１２】
請求項１の適応型分析器であって、検知期間の長さが最初の長さに設定され、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を越える場合、その最初の長さを長くすることを特徴とする分析器。
【請求項１３】
請求項１の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が、直前の測定値であることを特徴とする分析器。
【請求項１４】
請求項１の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が、複数の直前の測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
【請求項１５】
請求項２の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
【請求項１６】
請求項２の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
【請求項１７】
請求項２の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
【請求項１８】
請求項２の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が直前の測定値であることを特徴とする分析器。
【請求項１９】
請求項２の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が複数の直前の測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
【請求項２０】
請求項３の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
【請求項２１】
請求項３の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
【請求項２２】
請求項３の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
【請求項２３】
請求項３の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を上回った場合、以後の再ゼロ校正頻度を下げて設定され、先行の対象分析物の透過率測定値のうち少なくとも１つの値が所定の閾値を下回った場合、以後の再ゼロ校正頻度を上げて設定されることを特徴とする分析器。
【請求項２４】
請求項３の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を上回る場合、以後の再ゼロ校正頻度が最初の頻度に設定されることを特徴とする分析器。
【請求項２５】
請求項３の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が直前の測定値であることを特徴とする分析器。
【請求項２６】
請求項３の適応型分析器であって、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が複数の直前の測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
【請求項２７】
請求項４の適応型分析器であって、対象分析物が酸素であることを特徴とする分析器。
【請求項２８】
請求項４の適応型分析器であって、対象分析物が二酸化炭素であることを特徴とする分析器。
【請求項２９】
請求項４の適応型分析器であって、対象分析物が水蒸気であることを特徴とする分析器。
【請求項３０】
請求項４の適応型分析器であって、試験フィルムに対する対象分析物の透過率が確定し、その透過率が最終測定の値であることを特徴とする分析器。
【請求項３１】
請求項４の適応型分析器であって、試験フィルムに対する対象分析物の透過率が確定し、その確定した透過率が透過試験期間の締めくくりに行われる複数の連続した測定値の平均値または中央値であることを特徴とする分析器。
【請求項３２】
試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
（ａ）請求項１のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
（ｂ）試験フィルムを入手するステップと、
（ｃ）ユーザーによる入力または検知期間の長さの選定をすることなく、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使って試験フィルムの対象分析物に対する透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
【請求項３３】
試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
（ａ）請求項２のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
（ｂ）試験フィルムを入手するステップと、
（ｃ）ユーザーによる入力または再ゼロ校正頻度の選定をすることなく、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使い、試験フィルムの対象分析物に対する透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
【請求項３４】
試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
（ａ）請求項３のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
（ｂ）試験フィルムを入手するステップと、
（ｃ）ユーザーによる入力または再ゼロ校正頻度の選定をすることなく、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使って試験フィルムの対象分析物に対する透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
【請求項３５】
試験フィルムに対する対象分析物の透過率を測定する方法であって、
（ａ）請求項４のコンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を入手するステップと、
（ｂ）試験フィルムを入手するステップと、
（ｃ）個別のゼロ校正を行うかどうかを決定するユーザー入力なしに、コンピュータ制御される対象分析物の透過試験器を使って試験フィルムに対する対象分析物の透過率を確定するステップを備えることを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
膜やフィルム、包装材、瓶、パッケージ、容器等の様々な試料（以降、便宜的にまとめて「試験フィルム」と呼ぶ）を透過する酸素、二酸化炭素、水蒸気などの対象分析物の透過率を測定するのには透過機器が用いられる。典型的な試験フィルムは低密度ポリエチレン（ＬＤＰＥ）、高密度ポリエチレン（ＨＤＰＥ）、配向ポリプロピレン（ＯＰＰ）、ポリエチレンテレフタラート（ＰＥＴ）、ポリ塩化ビニリデン（ＰＶＴＤＣ）、多層高分子フィルムなどから構成される高分子包装フィルムである。通常、試験にかけるフィルムは試験室を第１室と第２室に密閉分離するように試験室内に配置される。第１室（一般に駆動室または分析物室と呼ぶ）は既知濃度の対象分析物を含む気体（一般に駆動気体と呼ぶ）で満たされる。第２室（一般に検知室と呼ぶ）にはセルから対象分析物を除去するように不活性気体（一般にキャリア気体と呼ぶ）が流される。対象分析物用のセンサーは、駆動室から試験フィルムを透過して検知室へと移動した対象分析物の存在を検出する検知室と流体連通して配置される。酸素（Ｏ２）、二酸化炭素（ＣＯ２）、水蒸気（Ｈ２Ｏ）を試験フィルムに通して透過率を測定する代表的な透過機器としてはモコン社（Ｍｏｃｏｎ，Ｉｎｃ．、ミネソタ州ミネアポリス）からそれぞれＯＸＴＲＡＮ、ＰＥＲＭＡＴＲＡＮ−Ｃ、ＰＥＲＭＡＴＲＡＮ−Ｗの名称で市販されている。
【０００２】
一般的に透過機器はフロースルー法か集積法のどちらかの方法を用いて検知室内の対象分析物の存在を検知する。簡単に言えば、フロースルー法では検知室に不活性キャリア気体を連続的に流し、検知室に流入した対象分析物があればこれを移動させて離れた位置にある対象分析物センサーに送る。集積法では、不活性キャリア気体を断続的に検知室に流し、検知室に流入した対象分析物があればこれを移動させて、離れた位置にある対象分析物センサーへと送り、検知から検知までの間の集積期間に対象分析物を検知室内に集積させる。
【０００３】
透過機器は概して精密な試験プロトコルを用いており、このプロトコルは透過試験の期間を通して検知室内に到達した対象分析物の濃度を定期的に検知することに加え、透過試験期間を通して定期的に再ゼロ校正を行ったり、一回の試験の締めくくりに個別のゼロ校正を行ったりすることを含む。このような追加の測定を行うことにより試験期間は著しく長くなってしまうが、特に試験フィルムが優れた対象分析物障壁であり、かつ検知室に到達する対象分析物の濃度が低いとき、測定結果の正確性を確保するにはこのような追加の測定が決定的に重要となる場合がある。
【０００４】
そこで、正確性を損なわずに試験期間を短縮することのできる透過率測定器が大いに必要となる。
【発明の概要】
【０００５】
本発明はプロトコル適応型でコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器である。
【０００６】
本発明の第一態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、各回の測定にひとつの検知期間を用い、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値に基づいて以後の対象分析物の透過率の検知期間の長さを調整しながら、ある透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定するようにプログラムされている。これ以後、この本発明の第一態様を便宜的に「検知期間に関する適応型機器」と呼ぶ。
【０００７】
本発明の第二態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、この機器は再ゼロ校正の頻度を調整するようにプログラムされている。第一実施例として、この機器は（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、（‐）透過試験期間を通して所定の頻度で定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、（‐）前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値が所定の閾値を越えたとき、予定されている再ゼロ校正を回避するようにプログラムされている。第二実施例として、この機器は（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物センサーを再ゼロ校正し、（‐）前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値に基づいて、以後の対象分析物センサーの再ゼロ校正の頻度を調整するようにプログラムされている。これ以後、この本発明の第二態様を便宜的に「再ゼロ校正頻度に関する適応型機器」と呼ぶ。
【０００８】
本発明の第三態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、この機器は（‐）透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、（‐）試験フィルムに対する対象分析物の透過率を確定し、この透過率が所定の閾値を下回った場合、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーを個別にゼロ校正するようにプログラムされている。これ以後、この本発明の第三態様を便宜的に「個別のゼロ校正の可否判定に関する適応型機器」と呼ぶ。
【０００９】
本発明の望ましい実施例としては、少なくとも２つ、望ましくは３つ全ての発明の態様に従ってプログラムされたコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器である。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１Ａ】図１Ａは本発明の検知期間について適応性のある態様の第一実施例のフローチャートである。
【図１Ｂ】図１Ｂは本発明の検知期間について適応性のある態様の第二実施例のフローチャートである。
【図２Ａ】図２Ａは本発明の再ゼロ校正頻度について適応性のある態様の第一実施例のフローチャートである。
【図２Ｂ】図２Ｂは本発明の再ゼロ校正頻度について適応性のある態様の第二実施例のフローチャートである。
【図３】図３は本発明の個別のゼロ校正可否判定について適応性のある一実施例のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
特許請求の範囲を含め本願でいう「再ゼロ校正（rezero）」という用語は、試験期間中に対象分析物の静的透過性セル試験器のキャリア気体に含まれる残りの対象分析物を測定する方法のことであって、この方法には試験セルを回避してキャリア気体中の対象分析物濃度を直接測定するステップを含み、後でこの濃度は各試料に関して測定した対象分析物濃度の透過率から差し引かれる。
【００１２】
特許請求の範囲を含め本願でいう「個別のゼロ校正」という用語は、一回の試験の締めくくりに対象分析物の静的透過性セル試験器の外部への漏出量を測定する方法のことであって、この方法には対象分析物の駆動力（Driving force）を無くしてキャリア気体中の対象分析物濃度を測定するステップを含んでおり、後でこの濃度は各試料について測定した対象分析物濃度の透過率から差し引かれる。
【００１３】
請求の範囲を含め本願でいう「検知期間」という用語は、対象分析物センサーによりセンサーを通る対象分析物を所与の流体試料中で継続して検知する期間のことであって、この検知期間から対象分析物の透過率が算出される。
【００１４】
説明
コンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器は、例えば酸素、二酸化炭素、または水蒸気などの対象分析物をフィルムに通して透過率を測定するものがよく知られ、広く利用されている。通常、試験されるフィルムは試験室を第一室と第二室に分離して密閉するように配置される。第一室(一般に駆動室または分析物室と称される)には既知濃度の対象分析物を含む気体(一般に駆動気体という)が充填される。第二室(一般に検知室と称される)にはセルから対象分析物を流し去るように不活性気体(一般にキャリア気体という)が流される。対象分析物用のセンサーは検知室と流体連通して配置され、駆動室から試験フィルムを透過して検知室に移動してきた対象分析物の存在を検出する。本発明の様々な態様では、対象分析物の透過試験器で用いられる試験プロトコルをコンピュータ制御で適応させることにより、測定の正確性や信頼性を犠牲にせずに効率的な試験プロトコルを確実に選択できるようになる。
【００１５】
検知期間適応機器
本発明の第一態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、透過試験期間を通して定期的に対象分析物を測定し、前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値に基づいて、以後の対象分析物の透過率測定の検知期間を調整するようにプログラムされている。従来は何らかの中間値に検知期間を設定する初期設定(すなわち１０分)がなされ、検知期間が短すぎて透過率測定値の正確性に潜在的に悪影響を与えようが、検知期間が長すぎて検知容量を不必要に独占したり消耗品を使い果たしたりしようが構わないものであったが、本発明のこの態様ではこのような従来の初期設定を除外している。
【００１６】
概して図１Ａによれば、検知期間適応機器の第一実施例のためのプログラミングには、試験を開始するステップ１０１と、検知期間ｔを最初の期間ｔ０に設定するステップ１０２と、検知期間ｔの間に対象分析物の透過率(ＴＡＴＲ)測定を行うステップ１０３といった、従来通りの最初のステップを含む。
【００１７】
ステップ１０３における少なくともいくつかの、望ましくはすべてのＴＡＴＲ測定の後、ステップ１０４でそのＴＡＴＲ測定値を所定の閾値と比較する。この所定の閾値は、対象分析物に対する透過性が高いことで検知室内を流れるキャリア気体中の対象分析物の濃度が高くなり、より短い期間でも正確に濃度を測定することが可能となるような試験フィルムに対応する値となるように選定する。一般的に、閾値としては酸素に関して約０．０００２５〜０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素に関して０．０２５〜２．５（ｃｃ／日）、水蒸気に関して０．００００２５〜０．００２５（ｇ／日）が通常適している。ステップ１０３におけるＴＡＴＲ測定値が閾値を超える場合、より短い検知期間で正確に測定できると予想して検知期間ｔをｔ０からより短い検知期間ｔ１に再設定し（ステップ１０５）、サイクルを繰り返す。ステップ１０３におけるＴＡＴＲ測定値が閾値未満の場合、検知期間ｔはそのままにするかリセットしてｔ０にし、サイクルを繰り返す。
【００１８】
概して図１Ｂによれば、第一実施例と同様、検知期間適応機器の別の実施例のためのプログラミングには、試験を開始するステップ１０１と、検知期間ｔを最初の期間ｔ０に設定するステップ１０２と、対象分析物の透過率（ＴＡＴＲ）の測定を行うステップ１０３といった、従来通りの最初のステップを含む。この実施例では検知期間ｔを最初の期間ｔ０に設定するステップ１０２を踏むかどうかは任意であるが、高い閾値と低い閾値が同じ値に設定されていない場合、ステップ１０２を踏むのが概して望ましく必要である。
【００１９】
ステップ１０３における少なくともいくつかのＴＡＴＲ測定、望ましくはすべてのＴＡＴＲ測定の後、第一実施例と同様に、ステップ１０４１においてそのＴＡＴＲ測定値を所定の高い閾値と比較する。この所定の高い閾値は、対象分析物に対する透過性が高いことで検知室内を流れるキャリア気体中の対象分析物の濃度が高くなり、より短い期間で正確に濃度を測定することが可能となるような試験フィルムに対応した値となるように選定する。ステップ１０３でＴＡＴＲ測定値が高い閾値を超える場合、より短い検知期間でも正確に測定できると予想して検知期間ｔをより短い検知期間ｔ1に設定し（ステップ１０５1）、サイクルを繰り返す。
【００２０】
ステップ１０３におけるＴＡＴＲ測定値が高い閾値未満の場合、ステップ１０４２においてＴＡＴＲ測定値を既定の低い閾値と比較する。この所定の低い閾値は、対象分析物に対する透過性が最小限であって検知室内を流れるキャリア気体中の対象分析物が低濃度となり、正確な測定にはより長い期間が必要となるような試験フィルム（すなわち優れた対象分析物障壁）に対応した値となるように選定する。ステップ１０３におけるＴＡＴＲ測定値が低い閾値未満である場合、正確に測定するためにはより長い検知期間が必要であると予想して検知期間ｔをより長い検知期間ｔ２に設定し（ステップ１０５２）、サイクルを繰り返す。ステップ１０３におけるこのＴＡＴＲ測定値が低い閾値よりも大きい場合、検知期間ｔはそのままにするかｔ０にリセットし、サイクルを繰り返す。
【００２１】
一般的に、高い閾値としては酸素について約０．０００２５から０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素について約０．０２５から２．５（ｃｃ／日）、水蒸気について約０．００００２５から０．００２５（ｇ／日）、そして低い閾値としては酸素について約０．０００２５から０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素について約０．０２５から２．５（ｃｃ／日）、水蒸気について約０．００００２５から０．００２５（ｇ／日）が通常適している。高い閾値と低い閾値との間に隔たりがある場合（すなわちこれらの閾値が同じでない場合）、ステップ１０２で初期値の期間ｔ０を決めることによって、ステップ１０３におけるＴＡＴＲ測定値がその隔たり内（すなわち高い閾値未満で低い閾値よりも大きい範囲）に入った場合でも検知期間ｔの値が存在する（すなわちｔ０）ようにしなければならない。
【００２２】
前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値とは、直前の測定値であったり、複数の直前の測定値の平均値または中央値であったり、あるいは、例えば高い値と低い値を切り捨てた後に残った７つの測定値の平均値など、これらのいくつかの変種であってもよい。
【００２３】
再ゼロ校正頻度適応機器
本発明の第二態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であり、この機器は再ゼロ校正の頻度を調整するようにプログラムされている。本発明のこの態様では、従来採用していた初期設定、すなわち必要か否かに関わらず頻繁に（すなわち透過率測定を実施する毎に一度の）再ゼロ校正を行う設定を除外している。
【００２４】
概して図２Ａによれば、再ゼロ校正頻度適応機器の第一実施例のためのプログラミングには試験開始のステップ２０１、再ゼロ校正頻度をｆ０に設定するステップ２０２、再ゼロ校正実施のステップ２０３、対象分析物の透過率（ＴＡＴＲ）測定を行うステップ２０４といった、従来通りの最初のステップを含む。一般に再ゼロ校正測定の頻度は、ＴＡＴＲ測定の実施回数（例えばＴＡＴＲ測定を実施する毎に一度）に基づくが、時間に基づいてもよい。
【００２５】
設定された再ゼロ校正の頻度ｆ０に基づいて再ゼロ校正（ステップ２０５）が予定されていない場合、この機器はＴＡＴＲ測定の予定に従って再ゼロ校正を行わずに、次のＴＡＴＲ測定に移る。設定された再ゼロ校正の頻度ｆ０に基づいて再ゼロ校正（ステップ２０５）が予定されている場合、ステップ２０６においてそのＴＡＴＲ測定値と所定の閾値とを比較する。この所定の閾値は、再ゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値より少なくとも２桁、望ましくは３桁大きく、仮に最終ＴＡＴＲ値に対して再ゼロ校正で調整を行っても統計的に有意な差が出ないような値となるように選定する。一般的に、適正な品質・完全性の対象分析物の透過試験器と不活性キャリア気体源に対して通常適する閾値としては、酸素に関して約０．０００２５から０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素に関しては約０．０２５から２．５（ｃｃ／日）、水蒸気に関して０．００００２５から０．００２５（ｇ／日）である。ステップ２０４におけるＴＡＴＲ測定値が閾値よりも大きい場合、ＴＡＴＲ測定の予定に従って機器は再ゼロ校正を実施せず、次のＴＡＴＲ測定に移る。ステップ２０４におけるＴＡＴＲ測定値が閾値よりも小さい場合、ステップ２０４で次のＴＡＴＲ測定が実施される前にステップ２０３で再ゼロ校正を実施し、サイクルを繰り返す。
【００２６】
概して図２Ｂによると、再ゼロ校正頻度適応機器のもう一つの実施例のためのプログラミングには、第一実施例と同様に、試験開始のステップ２０１、再ゼロ校正頻度ｆを最初の間隔ｆ０に設定するステップ２０２、再ゼロ校正を実施するステップ２０３、対象分析物の透過率(ＴＡＴＲ)を測定するステップ２０４といった従来通りの最初のステップを含む。改めて述べると、通常は再ゼロ校正測定の頻度はＴＡＴＲ測定の実施回数（例えばＴＡＴＲ測定を実施する毎に一度）に基づくが、時間に基づいてもよい。本実施例において再ゼロ校正頻度ｆを最初の間隔ｆ０に設定するステップ２０２を踏むかどうかは任意であるが、高い閾値と低い閾値が同じ値に設定されていない場合、ステップ２０２を踏むのが概して望ましく必要である。
【００２７】
設定された再ゼロ校正の頻度ｆに基づく再ゼロ校正（ステップ２０５）が予定されてないとき、この機器はＴＡＴＲ測定の予定に従い、再ゼロ校正を行わずに次のＴＡＴＲ測定へと進む。設定された再ゼロ校正の頻度ｆに基づく再ゼロ校正（ステップ２０５）が予定されている場合、ステップ２０６１でそのＴＡＴＲ測定値と所定の高い閾値とを比較する。この所定の閾値は、再ゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値より少なくとも２桁、望ましくは３桁大きく、仮に最終ＴＡＴＲ値に対して再ゼロ校正で調整を行っても統計的に有意な差が出ないような値となるように選定する。ステップ２０４におけるＴＡＴＲ測定値が高い閾値よりも大きい場合、再ゼロ校正値の緩やかな調節により、正確性に重大な影響を与えることなく透過試験期間を短縮できるであろうと見込んで、頻度ｆをより低い頻度ｆ１に再設定する（ステップ２０７１）。
【００２８】
ステップ２０５におけるＴＡＴＲ測定値が高い閾値未満である場合、ステップ２０６２でこのＴＡＴＲ測定値と所定の低い閾値を比較する。この所定の低い閾値は、再ゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値よりも少なくとも２桁小さいか同程度であって、仮に最終ＴＡＴＲ値に対して再ゼロ校正で調整を行うとおそらく統計的に有意な差が出るような値となるように選定する。ステップ２０４におけるＴＡＴＲ測定値が低い閾値未満である場合、透過試験期間は長期化するものの、正確性を確保するには再ゼロ校正値の厳重な管理が必要かつ適切であると見込んで、頻度ｆをより高い頻度ｆ２に再設定する（ステップ２０７２）。
【００２９】
一般的に、適正な品質・完全性の対象分析物の透過試験器と不活性キャリア気体源に対して通常適する高い閾値としては、酸素について約０．０００２５から０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素について約０．０２５から２．５（ｃｃ／日）、水蒸気について約０．００００２５から０．００２５（ｇ／日）、そして低い閾値としては酸素について約０．０００２５から０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素について約０．０２５から２．５（ｃｃ／日）、水蒸気について約０．００００２５から０．００２５（ｇ／日）である。高い閾値と低い閾値の間に隔たりがあるとき（すなわちこれら２つの閾値が同じでないとき）、ステップ２０２で初期の頻度ｆ０を決めておくことによって、ステップ２０４におけるＴＡＴＲ測定値がその隔たり内（すなわち高い閾値未満で低い閾値よりも大きい範囲）に入った場合でも頻度ｆの値が存在する（すなわちｆ０）ようにしなければならない。
【００３０】
前に測定した対象分析物の透過率の少なくとも１つの値とは、直前の測定値であったり、複数の直前の測定値の平均値または中央値であったり、あるいは、例えば高い値と低い値を切り捨てた後に残った７つの測定値の平均値など、これらのいくつかの変種であってもよい。
【００３１】
個別のゼロ校正の可否判定に関して適応する機器
本発明の第三態様はコンピュータにより制御される対象分析物の透過試験器であって、透過試験期間を通して定期的に対象分析物の透過率を測定し、試験フィルムに対する対象分析物の透過率を確定し、この確定した透過率が所定の閾値を下回るとき、透過試験期間の締めくくりに対象分析物センサーの個別のゼロ校正を行うようにプログラムされる。本発明のこの態様では、必要性とは関係なく個別のゼロ校正を行っていた従来の初期設定を除外している。
【００３２】
概して図３によると、個別のゼロ校正可否判定に関する適応型機器の第一実施例としてのプログラミングには、試験開始のステップ３０１、試験完了のステップ３０２、試験データから対象分析物の透過率（ＴＡＴＲ）を決定するステップ３０３といった、従来通りの最初のステップを含む。
【００３３】
試験を完了（ステップ３０２）し、試験フィルムに対する対象分析物の透過率（ＴＡＴＲ）を決定（ステップ３０３）した後、ステップ３０４においてその決定したＴＡＴＲ値と所定の閾値を比較する。この所定の閾値は、個別のゼロ校正測定から得られるであろう任意の測定値より少なくとも３桁、望ましくは４桁大きく、仮に決定したＴＡＴＲ値に対して個別のゼロ校正で調整を行っても統計的に有意な差が出ないような値となるように選定する。一般的に、適正な品質・完全性の対象分析物の透過試験器と不活性キャリア気体源に対して通常適する閾値としては、酸素について約０．０００２５から０．０２５（ｃｃ／日）、二酸化炭素について約０．０２５から２．５（ｃｃ／日）、水蒸気について約０．００００２５から０．００２５（ｇ／日）である。ステップ３０３で決定したＴＡＴＲ値が閾値を越える場合、個別のゼロ校正を一度も行わずに試験期間を終了する（ステップ３０６）。ステップ３０３で決定したＴＡＴＲ値が閾値未満である場合、試験期間の終了（ステップ３０６）の前に個別のゼロ校正を実施する（ステップ３０５）。
【００３４】
試験フィルムに対する対象分析物の透過率の確定値としては、最終測定値であったり、透過試験期間の締めくくりに行われる複数の連続した測定値の平均値または中央値であったり、あるいは例えば高い値と低い値を切り捨てた後の最後に残る７つの測定の平均値など、これらのいくつかの変種であってもよい。
【００３５】
試験手順
試験したいフィルムをいずれかのセルの試験室内に「装着」して試験室を駆動室と検知室に密閉分離し、フィルムの既知面積の部位が両室に露出した状態とする。その後、第一遮断弁を開いて不活性キャリア気体を検知室に流し、対象分析物があれば検知室から流れ去るようにする。次に第二遮断弁を開いて既知濃度の対象分析物を含む駆動気体が駆動室に流れるようにする。すると、検知室内の対象分析物の存在が対象分析物センサーによって検出・記録される。分析物が検知室内に入ることのできる経路をフィルムの「露出」領域を通る経路のみとすることにより、定常状態に達したときの対象分析物センサーによる対象分析物の検出率がフィルムの「露出」した既知面積の部位に対する対象分析物の透過率に等しいと考えることができる。
【００３６】
再ゼロ校正は、不活性キャリア気体の検知室内への流れを一時的に封じ、不活性キャリア気体を対象分析物センサーに直接流して実施される。
【００３７】
対象分析物の透過率測定の頻度、再ゼロ校正の頻度、そして個別のゼロ校正を実施するかどうかの最適な選択は、ユーザーによる入力なしにコンピュータ制御によって自立的になされる。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【国際調査報告】
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