【手続補正書】
【提出日】平成20年9月25日(2008.9.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源手段と、前記光源手段から出射した光束を他の状態の光束に変換する変換光学系と、前記変換光学系を通過した光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段で偏向走査された光束を被走査面上に結像させる結像光学系と、を具備する走査光学装置において、
前記光源手段は、複数の発光点を有する面発光型のレーザ光源であり、
前記変換光学系の光源手段側の主走査方向のＦナンバーと副走査方向のＦナンバーを各々Fnoｍ、Fnoｓ、前記光源手段から出射された光束の主走査方向のファーフィールドパターンの半値角と副走査方向のファーフィールドパターンの半値角を各々θｍ、θｓ、前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓに対して環境温度がｄT変化したときの前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓの変動を各々ｄθｍ/ｄT、ｄθｓ/ｄTとするとき、
3≦Fnoｓ＜Fnoｍ≦15  かつ  ｄθｓ/ｄT＜ｄθｍ/ｄT
もしくは、
3≦Fnoｍ＜Fnoｓ≦15  かつ  ｄθｍ/ｄT＜ｄθｓ/ｄT
なる条件を満足することを特徴とする走査光学装置。
【請求項２】
前記変換光学系からの光束を規制する絞り部材を備え。
前記絞り部材を通過する光束の瞳中心の強度に対する瞳端部の強度の比率をηとするとき、
0.35＜η＜1
なる条件を満足することを特徴とする請求項１に記載の走査光学装置。
【請求項３】
前記絞り部材を通過する光束の瞳中心の強度に対する瞳端部の強度の比率をηとするとき、
0.50＜η＜1
なる条件を満足することを特徴とする請求項１に記載の走査光学装置。
【請求項４】
前記変換光学系の光源手段側の主走査方向のＦナンバーFnoｍと副走査方向のＦナンバーFnoｓのうち小さい方のＦナンバーをFno、前記小さい方のＦナンバーの方向の光源手段から出射される光束の前記ファーフィールドパターンの半値角をθとするとき、
182°/(Fno+5.5)−7.9°＜θ
なる条件を満足することを特徴とする請求項１に記載の走査光学装置。
【請求項５】
412°/(Fno+9.9)−15.6°＜θ
なる条件を満足することを特徴とする請求項４に記載の走査光学装置。
【請求項６】
光源手段と、前記光源手段から出射した光束を他の状態の光束に変換する変換光学系と、前記変換光学系を通過した光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面で偏向走査された光束を被走査面上に結像させる樹脂製の光学素子を備えた結像光学系と、を具備する走査光学装置において、
環境温度が変化したときの前記被走査面上における副走査方向のピントの変動が環境温度が変化したときの前記被走査面上における主走査方向のピントの変動より大きく、かつ、前記光源手段から出射された光束の主走査方向のファーフィールドパターンの半値角と副走査方向のファーフィールドパターンの半値角を各々θｍ、θｓ、前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓに対して環境温度がｄT変化したときの前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓの変動を各々ｄθｍ/ｄT、ｄθｓ/ｄTとし、環境温度がｄT変化したときのファーフィールドパターンの半値角の変動による前記被走査面上におけるスポット径の変動をｄSpot＿FFP/ｄT、環境温度がｄT変化したときの前記被走査面上におけるピントの変動によるスポット径の変動をｄSpot＿pint/ｄTとするとき、
ｄθｍ/ｄT＜ｄθｓ/ｄT
ｄSpot＿FFP/ｄT×ｄSpot＿pint/ｄT＜０
なる条件を満足することを特徴とする走査光学装置。
【請求項７】
請求項１乃至６の何れか１項に記載の走査光学装置と、前記被走査面に配置された感光体と、前記走査光学装置で走査された光束によって前記感光体の上に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写手段と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項８】
請求項１乃至６の何れか１項に記載の走査光学装置と、外部機器から入力したコードデータを画像信号に変換して前記走査光学装置に入力せしめるプリンタコントローラとを有していることを特徴とする画像形成装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５０】
請求項１の発明の走査光学装置は、
光源手段と、前記光源手段から出射した光束を他の状態の光束に変換する変換光学系と、前記変換光学系を通過した光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段で偏向走査された光束を被走査面上に結像させる結像光学系と、を具備する走査光学装置において、
前記光源手段は、複数の発光点を有する面発光型のレーザ光源であり、
前記変換光学系の光源手段側の主走査方向のＦナンバーと副走査方向のＦナンバーを各々Fnoｍ、Fnoｓ、前記光源手段から出射された光束の主走査方向のファーフィールドパターンの半値角と副走査方向のファーフィールドパターンの半値角を各々θｍ、θｓ、前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓに対して環境温度がｄT変化したときの前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓの変動を各々ｄθｍ/ｄT、ｄθｓ/ｄTとするとき、
3≦Fnoｓ＜Fnoｍ≦15  かつ  ｄθｓ/ｄT＜ｄθｍ/ｄT
もしくは、
3≦Fnoｍ＜Fnoｓ≦15  かつ  ｄθｍ/ｄT＜ｄθｓ/ｄT
なる条件を満足することを特徴としている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５６】
請求項６の発明の走査光学装置は、
光源手段と、前記光源手段から出射した光束を他の状態の光束に変換する変換光学系と、前記変換光学系を通過した光束を偏向走査する偏向手段と、前記偏向手段の偏向面で偏向走査された光束を被走査面上に結像させる樹脂製の光学素子を備えた結像光学系と、を具備する走査光学装置において、
環境温度が変化したときの前記被走査面上における副走査方向のピントの変動が環境温度が変化したときの前記被走査面上における主走査方向のピントの変動より大きく、かつ、前記光源手段から出射された光束の主走査方向のファーフィールドパターンの半値角と副走査方向のファーフィールドパターンの半値角を各々θｍ、θｓ、前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓに対して環境温度がｄT変化したときの前記ファーフィールドパターンの半値角θｍ、θｓの変動を各々ｄθｍ/ｄT、ｄθｓ/ｄTとし、環境温度がｄT変化したときのファーフィールドパターンの半値角の変動による前記被走査面上におけるスポット径の変動をｄSpot＿FFP/ｄT、環境温度がｄT変化したときの前記被走査面上におけるピントの変動によるスポット径の変動をｄSpot＿pint/ｄTとするとき、
ｄθｍ/ｄT＜ｄθｓ/ｄT
ｄSpot＿FFP/ｄT×ｄSpot＿pint/ｄT＜０
なる条件を満足することを特徴としている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６７】
２は第１光学系としての光束変換素子(コリメータレンズ)（変換光学系）であり、光源手段１から放射された光束を平行光束に変換している。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６８】
３は開口絞り（絞り部材）であり、通過光束を制限（規制）してビーム形状を整形（光軸に対する断面が楕円形状）している。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９６】
一方、上記表１によればコリメータレンズ（第１光学系）２の面発光レーザ１側（光源手段側）の主走査方向のＦナンバーをFnoｍ、副走査方向のＦナンバーをFnoｓとするとき、主走査方向のＦナンバーFnoｍは副走査方向のＦナンバーFnoｓに対して
3≦Fnoｍ＜Fnoｓ≦15
である。主副のFナンバが3を下回ると球面収差の影響が大きくなり、スポット径の微細化が困難になる。また15を上回ると光量の伝達効率が悪くなる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１０１】
上記表１からコリメータレンズの面発光レーザ１側の主走査方向のＦナンバーFnoｍと副走査方向のＦナンバーFnoｓは、各々
Fnoｍ＝6.2
Fnoｓ＝11.1
である。
また図２から本実施例の面発光レーザ１の低駆動電流（１mA）でのFFP半値角は、
θｍ＝θ２≒θｓ＝θ１≒12°、
高駆動電流（４mA）でのファーフィールドパターンの半値角は、
θｍ＝θ２≒17°、
θｓ＝θ１＝21°
である。このとき図３で矢印aに示す如く主走査方向の瞳端部の光強度比（強度の比率）ηは
η＝0.65→0.80、
矢印ｂに示す如く副走査方向の瞳端部の光強度比ηは
η＝0.86→0.94
に変化している。