(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
基準レベルを表す信号を発生する基準レベル発生回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、増幅回路の利得を増大し、再度、光学系の掃引を行う利得増大用制御手段とを含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
判断手段は、
利得増大用制御手段の出力に応答し、利得増大用制御手段によって増幅回路の利得を、予め定める最大値まで増大しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
基準レベル発生回路は、基準レベルを可変とし、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、基準レベルを増大し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル増大用制御手段をさらに含むことを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
判断手段は、基準レベル増大用制御手段の出力に応答し、基準レベル増大用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最大値まで増大しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】
光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、基準レベルを増大し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル増大用制御手段を含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段をさらに含むことを特徴とする請求項４または５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段をさらに含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
判断手段は、
基準レベル減小用制御手段の出力に応答し、基準レベル減小用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする請求項６または７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生する基準レベル発生回路と、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とを含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断し、基準レベル減小用制御手段の出力に応答し、基準レベル減小用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする光ディスク装置
【請求項１３】
判断手段は、
利得減小用制御手段の出力に応答し、利得減小用制御手段によって増幅回路の利得を、予め定める最小値にまで減小しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする請求項９〜１２のうちの１つに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクおよび光磁気ディスクなどの記録媒体に対して、記録内容を光学的に取り扱う光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、コンパクトディスク（ＣＤ）、レーザディスク（ＬＤ）、およびデジタルビデオディスク（ＤＶＤ）などの光ディスクならびに、ミニディスク（ＭＤ）および磁気光学ディスク（ＭＯ）などの光磁気ディスクからの記録内容の読出し、さらには、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、およびＤＶＤ−ＲＡＭなどへの記録内容の書込みなどの取り扱いは、光ピックアップなどを備える光ディスク装置で、光学的に行われている。光ディスク装置では、光ディスクおよび光磁気ディスクをターンテーブルに装着させて回転させ、光ピックアップに対するフォーカスサーボやトラッキングサーボの制御を行いながら、記録内容の読出しや書込みを行う。したがって、光ディスク装置が光ディスクおよび光磁気ディスクなどのディスク状記録媒体を取り扱う際には、ターンテーブルへの光ディスクなどの装填の有無を検知しておく必要がある。上述の光ディスクおよび光磁気ディスクを総括的に、本件明細書では、光ディスクと言うことがある。
【０００３】
光ディスクの有無の検知には、光ピックアップを用いることができる。たとえば特開平４−７９０３２や特開平６−２０３４６７には、レンズを移動して光ピックアップのフォーカスを変化させながら、ディテクタの受光量に光ディスクの検出に対応する変化が有るか否かを調べ、変化が有れば光ディスクが装填されていると判断する先行技術が開示されている。これらの先行技術では、上述のように光学系の入射光量であるディテクタの受光量を基準レベルと比較してレベル弁別しており、このようなレベル弁別が確実に達成される必要がある。
【０００４】
たとえば温度変化などで、ディテクタやその出力を増幅する増幅器などのＤＣオフセットが大きくなる可能性がある。信号レベル中のＤＣオフセット成分が大きくなって、基準レベルとの相対的な関係が変化すると、常にトータル信号のレベルの方が基準レベルよりも大きくなってしまうおそれがある。このような状態では、光ディスクが装填されていなくても装填されているように検出してしまうことになる。実際に光ディスクが装填されていないにもかかわらず、装填されていると判断されてしまうので、光ディスク装置が誤動作を起こすおそれが生じる。さらに上述のトータル信号に大きなノイズ成分が含まれているとき、誤動作を起こすおそれが生じる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、誤動作を起こすおそれが無い光ディスク装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
基準レベルを表す信号を発生する基準レベル発生回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、増幅回路の利得を増大し、再度、光学系の掃引を行う利得増大用制御手段とを含むことを特徴とする光ディスク装置である。
【０００７】
本発明に従えば、光学系のたとえばレーザ光などの光が光ディスクの記録面に照射され、その反射光を受光し、この反射光の入射光量を表す入射光量信号レベルと、比較回路において、基準レベル発生回路からの基準レベルと比較する。光学系の掃引中には、対物レンズのみを、または対物レンズ、レーザ光などの光を発生する光源および受光素子であるディテクタなどを含むピックアップである光学系全体を変位して、光ディスクに近づく方向に、または遠去かる方向に変位する。この入射光量は、光学系の合焦点位置で後述のように最大となる。光学系を、合焦点位置よりも光ディスクに近い位置から遠去かる方向に変位して掃引するとき、または合焦点位置よりも光ディスクから遠去かった位置から近づくように変位するとき、入射光量信号のレベルが変化する。第１検出手段は、入射光量が基準レベル未満から基準レベル以上に変化したことを検出し、その後、第２検出手段は、入射光量が基準レベル以上から基準レベル未満に変化したことを検出し、これによって判断手段は、光ディスクが装填されていると判断する。これによって光学系のたとえばディテクタおよびその出力を増幅する増幅回路などのＤＣ（直流）オフセットがたとえ大きくても、またその入射光量信号に大きな振幅を有するノイズが含まれていても、判断手段は、光ディスクの有無を、正確に検出することができ、誤検出を回避することができる。
【０００９】
また、図６のステップａ６，ａ７に関連して後述されるように、第１検出手段によって、入射光量が基準レベル未満から基準レベル以上に変化したことが検出されないとき、光学系のディテクタからの入射光量信号を増幅する増幅回路の利得を増大し、再度、光学系の掃引を行う。これによって光学系の受光素子であるディテクタの出力レベルが低いとき、レーザ光などの光源の出力が小さいときなどにおいても、光ディスクの有無を、確実に検出することができる。
【００１０】
また本発明は、判断手段は、
利得増大用制御手段の出力に応答し、利得増大用制御手段によって増幅回路の利得を、予め定める最大値まで増大しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする。
【００１１】
本発明に従えば、増幅回路の利得が、予め定める最大値になっても、第１検出手段の出力が得られなければ、判断手段は、光ディスクが装填されていないと判断する。これによって光ディスクの有無を正確に検出することができるようになる。
【００１２】
また本発明は、基準レベル発生回路は、基準レベルを可変とし、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、基準レベルを増大し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル増大用制御手段をさらに含むことを特徴とする。
【００１３】
本発明に従えば、図６のステップａ９，ａ１０に関連して後述されるように、光学系の入射光量が、基準レベル以上から基準レベル未満に第２検出手段によって検出されないとき、基準レベル発生回路の基準レベルを増大した後、再度、光学系の掃引を行う。こうして受光素子であるディテクタからの入射光量信号のレベルが大きいとき、またはレーザ光の光源の出力が大きいときなどにおいても、光ディスクの有無を正確に検出することができるようになる。
【００１４】
また本発明は、判断手段は、基準レベル増大用制御手段の出力に応答し、基準レベル増大用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最大値まで増大しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする。
【００１５】
本発明に従えば、図６のステップａ９に関連して後述されるように、基準レベル発生回路によって発生される基準レベルが、予め定める最大値まで増大しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断する。こうして光ディスクの有無の誤検出を回避し、正確な検出が可能になる。
【００１６】
また本発明は、光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、基準レベルを増大し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル増大用制御手段を含むことを特徴とする光ディスク装置である。
また本発明は、第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段をさらに含むことを特徴とする。
【００１７】
本発明に従えば、前述の請求項２の構成に代えて、図７のステップａ１２，ａ１３に関連して後述されるように、第１検出手段の出力が得られないとき、すなわち入射光量が基準レベル未満から基準レベル以上に変化しないとき、前述の請求項２において増幅回路の利得を増大した構成に代えて、請求項６では、基準レベルを減小する。これによって光ディスクの有無の誤検出を防ぐことができ、光ディスクの有無を正確に検出することができる。
【００１８】
また本発明は、光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段をさらに含むことを特徴とする光ディスク装置である。
また本発明は、判断手段は、
基準レベル減小用制御手段の出力に応答し、基準レベル減小用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする。
【００１９】
本発明に従えば、図７のステップａ１２に関連して後述されるように、基準レベルが予め定める最小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断し、これによって光ディスクの有無を正確に検出することができる。
【００２０】
また本発明は、第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする。
【００２１】
本発明に従えば、請求項４に関連して前述したのと同様に、または図８のステップａ１４，ａ１５に関連して後述されるように、請求項４における基準レベルを増大する構成に代えて、増幅回路の利得を減小して再度、掃引を行い、第２検出手段による検出を行う。こうして光ディスクの有無の検出を正確に行うことができるようになる。
【００２２】
また本発明は、光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生する基準レベル発生回路と、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とを含むことを特徴とする光ディスク装置である。
また本発明は、光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする光ディスク装置である。
また本発明は、光学系を光軸に沿って掃引する際に、光学系の入射光量を表す入射光量信号のレベルと基準レベルとを比較して、光ディスクの有無を判断する光ディスク装置において、
基準レベルを表す信号を発生し、この基準レベルを可変とする基準レベル発生回路と、
入射光量信号を、利得可変に、増幅する増幅回路と、
増幅回路からの出力のレベルと基準レベル発生回路から発生される基準レベルとを比較し、比較結果を表す信号を導出する比較回路と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル未満から以上に変化したことを検出する第１検出手段と、
比較回路の出力に応答し、入射光量信号が表す入射光量が、基準レベル以上から未満に変化したことを検出する第２検出手段と、
第１および第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中、入射光量信号が表す入射光量が、一旦、基準レベル以上になった後、基準レベル未満になったとき、光ディスクが装填されていると判断し、基準レベル減小用制御手段の出力に応答し、基準レベル減小用制御手段によって比較回路の基準レベルを、予め定める最小値まで減小しても、第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断する判断手段と、
第１検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル未満から以上に変化しないとき、基準レベルを減小し、再度、光学系の掃引を行う基準レベル減小用制御手段と、
第２検出手段の出力に応答し、光学系の掃引中に、入射光量が基準レベル以上から未満に変化しないとき、増幅回路の利得を減小し、再度、光学系の掃引を行う利得減小用制御手段とをさらに含むことを特徴とする光ディスク装置である。
また本発明は、判断手段は、
利得減小用制御手段の出力に応答し、利得減小用制御手段によって増幅回路の利得を、予め定める最小値にまで減小しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断することを特徴とする。
【００２３】
本発明に従えば、図８のステップａ１４に関連して後述されるように、増幅回路の利得を予め定める最小値にまで減小しても、第２検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないと判断する。こうして光ディスクの有無を正確に検出することができるようになる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の実施の第１形態としての光ディスク装置１０の概略的な電気的構成を示す。受光面１１へ結像する入射光１２は、レーザ光源１３から発生されるレーザ光を、ビームスプリッタであるハーフミラー１４を経て、対物レンズ１５を通して光ディスク１７に照射され、その反射光は、ハーフミラー１４から、シリンドリカルレンズを経て、受光素子であるディテクタの受光面１１に受光され、非点収差を用いてフォーカシングが行われる。光学系を構成する光ピックアップ１６は、レーザ光源１３、ハーフミラー１４、対物レンズ１５、ディテクタなどを含む。光ピックアップ１６には、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボのための機構が設けられている。
【００２５】
光ピックアップ１６によって、情報の光学的な再生や記録を行う対象となる光ディスク１７は、ターンテーブル１８に装填され、モータ１９で回転駆動される。光ディスク１７は、ＣＤなどのように、記録媒体が直接ターンテーブル１８上に装着される場合ばかりではなく、ＭＤなどのように、ジャケットケースに入った状態で装着される場合もあるけれども、光ピックアップ１６に対してはジャケットに設けられるシャッタが開くので、実質的には同等の状態となる。
【００２６】
本実施形態としての光ディスク１７の有無検出や各種サーボ制御は、制御回路２０によって行われる。制御回路２０は、マイクロコンピュータなどを含み、予め設定されているプログラムに従って制御動作を行う。
【００２７】
光ディスク１７が装填されるときの反射による入射光１２が受光面１１上に結像するときの検出光量に対応する信号は、受光領域Ａ，Ｂに分けて増幅回路２１，２２でそれぞれ増幅される。ディテクタの受光面１１は、フォトダイオードで構成され、検出光量に対応する電流値が増幅回路２１，２２で電圧値に変換されて増幅される。
【００２８】
図２は、光ピックアップ１６のディテクタの受光面１１を概略的に示す。受光面１１は、４分割され、相互に対角位置にあるＡとＢとの２組の領域に分かれている。レンズ１５を通って入射する光ディスク１７からの入射光１２は、光ディスク１７の反射面、レンズ１５および受光面１１の位置関係に従って、図２（ａ）、図２（ｂ）および図２（ｃ）に示すように形状が変化して受光面１１上に結像する。光学系の焦点が合っている状態が図２（ｂ）であり、図２（ａ）は合焦点位置よりも光ピックアップ１６のレンズ１５が光ディスク１７に近づいているときの状態を示し、図２（ｃ）はレンズ１５が光ディスク１７から合焦点位置よりも遠去かっているときの状態を示す。受光面１１の受光領域Ａ，Ｂは、それぞれ２つずつ対向して配置される。参照符Ａ，Ｂは、受光領域を示すとともに、それらの受光領域の入射光量を表すことがある。
【００２９】
図３は、フォーカスの変化に伴う受光面１１の受光領域ＡおよびＢにそれぞれ入射する反射光量に対応するディテクタ出力信号のレベル変化と、Ａ＋Ｂの反射光量和であるトータル信号Ｆ１のレベル変化とを示す。図３（ａ）の状態では受光領域Ａの信号レベルが大きく、図３（ｃ）の状態では受光領域Ｂの信号レベルが大きい。図３（ｂ）では信号レベルがＡ＝Ｂとなり、Ａ＋Ｂのトータル信号レベルも最大となる。したがって、トータル信号のレベルがピークを示すような変化を行うか否かで、光ディスクの有無を判断することができる。増幅回路２１，２２の増幅利得は、制御回路２０によって制御可能である。増幅回路２１，２２でＩ−Ｖ（電流−電圧）変換されて増幅された信号は、加算回路２３で加算されて、Ａ＋Ｂの入射光量を表すトータル信号が導出される。トータル信号の電圧レベルは、比較回路２４で基準レベル発生回路２５から発生される基準レベルＦＯＫＬＥＶの電圧と比較され、比較結果を表す／ＦＯＫ信号が制御回路２０に入力される。光ピックアップ１６のサーボ制御のために、制御回路２０からの出力信号は、駆動回路２６で電力増幅されて光ピックアップ１６のアクチュエータを駆動する。
【００３０】
なお、「／」は、図面上では文字または文字列の上に引かれるバー記号を示し、負論理の信号、すなわち、ローレベルが真を表す論理値であることを示す。ただし、ハイレベルが真を表す正論理を用いることも同様に可能であり、これらの選択は設計に応じて行われる。
【００３１】
図４は、図１の光ピックアップ１６の光学系であるレンズ１５を光ディスク１７に対して光軸に沿って移動させるレンズの掃引と、トータル信号Ｆ１のレベルと、ピーク検出を表すＦＯＫ信号との関係を、図４（ａ）、図４（ｂ）および図４（ｃ）でそれぞれ示す。レンズの掃引によるフォーカスの変化で、フォーカスが合う合焦点の位置で、トータル信号Ｆ１のレベルが最大となり、基準レベルであるＦＯＫＬＥＶを超えて、／ＦＯＫ信号がローレベルに変化する。制御回路２０は、／ＦＯＫ信号がハイレベルからローレベルに遷移すること、すなわち入射光量が基準レベルＦＯＫＬＥＶ未満から基準レベルＦＯＫＬＥＶ以上に変化したとき、およびその逆に、／ＦＯＫ信号がローレベルからハイレベルに遷移すること、すなわち入射光量が基準レベルＦＯＫＬＥＶ以上から基準レベルＦＯＫＬＥＶ未満に変位したことをそれぞれ検出して、光ディスク１７が装填されていると判断することができる。
【００３２】
図５は、トータル信号Ｆ１に対する基準レベルを表すＦＯＫＬＥＶ信号が上昇する状態と、／ＦＯＫ信号の変化との関係を示す。図５（ａ）に実線２８で示すレンズの掃引前のトータル信号に対して、一点鎖線で示すようにＦＯＫＬＥＶ信号のレベルが低ければ、図５（ｂ）に示すように／ＦＯＫ信号はローレベル３１となる。掃引開始前に／ＦＯＫ信号がローレベルになっているので、ローレベルへの変化でトータル信号のピークを検知することができない。図５（ａ）に二点鎖線３０で示すようにＦＯＫＬＥＶ信号のレベルがトータル信号よりも高くなれば、／ＦＯＫ信号はハイレベル３２になり、ローレベルへの変化でトータル信号のピークを検知することが可能になる。
【００３３】
図６は、制御回路２０による光ディスク１７の有無の判断動作を示すフローチャートである。ステップａ１から動作を開始する。動作の開始にあたり、増幅回路２１，２２の増幅の利得は、利得増大または利得減小の余地を残すように設定され、また基準レベル発生回路２５における基準レベルを増大または減小することができる余地を残すように設定される。ステップａ２において、光ピックアップ１６のレンズ１５を掃引する。この掃引にあたっては、図４（ａ）に示されるように、初期点３３から、先ず、光ディスク１７に最も近接した上限位置３４に移動する。基準レベルＦＯＫＬＥＶとの比較を行うトータル信号Ｆ１は、上限位置３４から、合焦点位置３５を経て光ディスク１７から最も遠去かった下限位置３６に掃引する移動中において、行われる。
【００３４】
ステップａ３では、レンズ１５の掃引中、比較回路２４の比較結果を表す／ＦＯＫ信号のレベルが、図４（ｃ）で示されるように時刻ｔ１においてハイレベルＨからローレベルＬに立下がったかどうかが判断され、これによってディテクタからの入射光量信号であるトータル信号Ｆ１が表す入射光量が、基準レベルＦＯＫＬＥＶ未満から以上に変化したかが判断される。／ＦＯＫ信号が、時刻ｔ１において立下がったことが検出されたとき、次のステップａ４では、その掃引中、／ＦＯＫ信号が立上がったかどうか、すなわちトータル信号Ｆ１が表す入射光量が、基準レベルＦＯＫＬＥＶ以上から未満に変化したかが判断される。／ＦＯＫ信号が立上がったことが時刻ｔ２において判断されると、ステップａ５では、光ディスク１７が装填されているものと判断する。
【００３５】
ステップａ３において、／ＦＯＫ信号が立下がったことが検出されないとき、次のステップａ６に移り、増幅回路２１の利得が予め定める最大値であるかどうかが判断され、最大値でなければ、次のステップａ７に移る。ステップａ７では、増幅回路２１，２２の利得を、予め定める値だけ、増大し、ステップａ２に移る。こうして増幅回路２１，２２の利得を、予め定める値ずつ段階的に上昇し、上限位置３４から下限位置３６へのレンズ１５の掃引を、ステップａ２において繰返す。増幅回路２１，２２は、受光領域Ａ，Ｂの電流信号を、電圧信号に変換する働きをし、しかも利得を、上述のように変化することができる。
【００３６】
前述のステップａ６において、増幅回路２１，２２の利得が最大値になったとき、ステップａ８では、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。つまり、増幅回路２１，２２の利得が予め定める最大値になっても、／ＦＯＫ信号の立下がりが検出されなければ、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。
【００３７】
ステップａ３において、／ＦＯＫ信号が立下がったことが判断されたとき、ステップａ４に移り、この／ＦＯＫ信号が、掃引中、立上がったかが判断される。ステップａ４において、掃引中に、／ＦＯＫ信号の立上がりが検出されないとき、次のステップａ９では、基準レベル発生回路２５における基準レベルＦＯＫＬＥＶが予め定める最大値であるかどうかが判断される。基準レベルＦＯＫＬＥＶが最大値でないとき、次のステップａ１０では、基準レベルＦＯＫＬＥＶを、予め定める値だけ増大し、ステップａ２に移る。このようにしてレンズ１５が上限位置３４から下限位置３６に移動して掃引する期間において、／ＦＯＫ信号の立下がりが得られないとき、基準レベルＦＯＫＬＥＶを、予め定める値ずつ段階的に増大して掃引を繰返す。
【００３８】
ステップａ９において、基準レベルＦＯＫＬＥＶが最大値になったとき、ステップａ１１では、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。つまり、基準レベルＦＯＫＬＥＶが予め定める最大値になっても、レンズ１５の掃引中に／ＦＯＫ信号が立下がった後、立上がらなければ、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。
【００３９】
図７は、本発明の実施の他の形態における制御回路２０の動作を説明するためのフローチャートである。この図７に示される本発明の実施の形態は、前述の図１〜図６に示される実施の形態に類似し、対応する部分には同一の参照符を付す。注目すべきはこの実施の形態では、前述の図６におけるステップａ６，ａ７に代えて、図７におけるステップａ１２，ａ１３が等価的に置換えられて実行する。図７におけるステップａ３においてレンズ１５の掃引中、／ＦＯＫ信号の立下がりが検出されないとき、ステップａ１２では基準レベル発生回路２５における基準レベルＦＯＫＬＥＶが予め定める最小値であるかどうかが判断され、最小値でなければ、次のステップａ１３に移る。ステップａ１３では、基準レベルＦＯＫＬＥＶを予め定める値だけ減小し、ステップａ２に移る。ステップａ２では、レンズ１５が、再び、上限位置３４から下限位置３６に掃引され、このような動作が繰返され、／ＦＯＫ信号が立下がったことが検出されないかぎり、基準レベルＦＯＫＬＥＶが、予め定める値ずつ、段階的に減小される。基準レベルＦＯＫＬＥＶが、予め定める最小値になっても、／ＦＯＫ信号の立下がりが検出されなければ、ステップａ８では、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。そのほかの動作は、前述の実施の形態と同様である。
【００４０】
図８は、本発明の実施のさらに他の形態の制御回路２０の動作を説明するためのフローチャートである。この図８に示される実施の形態は、前述の図１〜図７に示される実施の各形態に類似し、対応する部分には同一の参照符を付す。この実施の形態では、図６におけるステップａ９，ａ１０が、図８のステップａ１４，ａ１５に置換えられる。ステップａ４において、レンズ１５の掃引中、／ＦＯＫ信号の立上がりが検出されないとき、ステップａ１４に移り、増幅回路２１，２２の利得が最小値であるかどうかが判断され、最小値でなければ、次のステップａ１５に移り、増幅回路２１，２２の利得を、予め定める値だけ減小し、ステップａ２に戻る。こうしてレンズ１５の掃引中、／ＦＯＫ信号が立下がった後、立上がらなければ、増幅回路２１，２２の利得を、予め定める値ずつ減小して掃引を繰返す。増幅回路２１，２２の利得が最小値になったことがステップａ１４で判断されたとき、ステップａ１１では、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。つまり、増幅回路２１，２２の利得が予め定める最小値になっても、レンズ１５の掃引中に／ＦＯＫ信号が立下がった後、立上がらなければ、光ディスク１７が装填されていないものと判断する。
【００４１】
本発明の実施の他の形態では、図７のステップａ９，ａ１０を、図８のステップａ１４，ａ１５に置換えてもよい。
【００４２】
上述の実施の形態では、レンズ１５は、上限位置３４から下限位置３６に向けて移動して掃引されたけれども、本発明の実施の他の形態では、これとは逆に、下限位置３６から上限位置３４に向けて変位してもよく、さらにまた上限位置３４と下限位置３６とに代えて、合焦点位置３５の図４（ａ）における上および下の各位置の範囲で、掃引するようにしてもよく、さらにレンズ１５を掃引する代わりに、光ピックアップ１６全体を掃引するようにしてもよい。
【００４３】
【発明の効果】
請求項１の本発明によれば、第１および第２検出手段の働きによって、光学系の掃引中、光学系の入射光量が、基準レベル未満から基準レベル以上に、一旦、変化し、その後、基準レベル以上から基準レベル未満に変化することによって、光ディスクが装填され、したがって光ディスクの再生が可能であると判断される。したがって光学系の受光素子であるフォトディテクタのＤＣオフセットが大きくても、またその光学系の出力に大きな振幅を有するノイズが含まれていても、光ディスクが装填されていることを、誤検出することなく、正確に検出することができるようになる。
【００４４】
また、第１検出手段の出力が得られないとき、光学系の入射光量信号を増幅する増幅回路の利得を増大して、再度、掃引を行うので、これによって光ディスクの有無をさらに正確に検出することができる。
【００４５】
請求項２の本発明によれば、第１検出手段の出力が得られないとき、増幅回路の利得を増大してゆき、その利得が予め定める最大値まで増大しても、依然として第１検出手段の出力が得られないとき、光ディスクが装填されていないものと判断し、こうして光ディスクの有無を正確に検出することができるようになる。
【００４６】
請求項３の本発明によれば、第２検出手段の出力が得られないとき、基準レベル発生回路の基準レベルを増大して、再度、掃引を行うので、これによって光ディスクが装填されているかどうかを正確に検出することができる。
【００４７】
請求項４，５の本発明によれば、第２検出手段の出力が得られず、これによって基準レベルを予め定める最大値まで増大しても、依然として第２検出手段の出力が得られなければ、光ディスクが装填されていないと判断し、こうして光ディスクの有無を正確に検出することができる。
【００４８】
請求項６，７の本発明によれば、第１検出手段の出力が得られないとき増幅回路の利得を増大する代わりに、基準レベル発生回路の基準レベルを減小し、これによって光ディスクの有無を正確に検出することができる。
【００４９】
請求項８の本発明によれば、第１検出手段の出力が得られないとき、基準レベルを減小し、予め定める最小値まで減小しても、依然として第１検出手段の出力が得られなければ、光ディスクが装填されていないと判断し、こうして光ディスクの有無を誤検出することなく、正確に検出することができる。
【００５０】
請求項９，１０，１１，１２の本発明によれば、第２検出手段の出力が得られないとき、基準レベルを増大する構成に代えて、増幅回路の利得を減小して、再度、掃引を行い、これによって光ディスクの有無を正確に検出することができる。
【００５１】
請求項１３の本発明によれば、第２検出手段の出力が得られないとき、増幅回路の利得を減小してゆき、その利得が予め定める最小値まで減小しても、依然として第２検出手段の出力が得られなければ、光ディスクが装填されていないと判断し、こうして光ディスクの有無を、誤検出することなく、正確に検出することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の第１形態としての光ディスク装置１０の概略的な電気的構成を示す図である。
【図２】光ピックアップ１６のディテクタの受光面１１を概略的に示す図である。
【図３】フォーカスの変化に伴う受光面１１の受光領域ＡおよびＢにそれぞれ入射する反射光量に対応するディテクタ出力信号のレベル変化と、Ａ＋Ｂの反射光量和であるトータル信号のレベル変化とを示す図である。
【図４】図１の光ピックアップ１６の光学系であるレンズ１５を光ディスク１７に対して光軸に沿って移動させるレンズの掃引と、トータル信号Ｆ１のレベルと、ピーク検出を表すＦＯＫ信号との関係を示す図である。
【図５】トータル信号Ｆ１に対する基準レベルを表すＦＯＫＬＥＶ信号が上昇する状態と、／ＦＯＫ信号の変化との関係を示す図である。
【図６】制御回路２０による光ディスク１７の有無の判断動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施の他の形態における制御回路２０の動作を説明するためのフローチャートである。
【図８】本発明の実施のさらに他の形態の制御回路２０の動作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１０  光ディスク装置
１１  受光面
１２  入射光
１５  レンズ
１６  光ピックアップ
１７  光ディスク
２０  制御回路
２１，２２  増幅回路
２３  加算回路
２４  比較回路
２５  基準レベル発生回路
２６  駆動回路
【図１】
0004044234.tif 000002
【図２】
0004044234.tif 000003
【図３】
0004044234.tif 000004
【図４】
0004044234.tif 000005
【図５】
0004044234.tif 000006
【図６】
0004044234.tif 000007
【図７】
0004044234.tif 000008
【図８】
0004044234.tif 000009