【手続補正書】
【提出日】平成20年3月24日(2008.3.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなり、被帯電体に当接させ、直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電ローラであり、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする帯電ローラ。
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣを印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
各印加ＤＣバイアスにおける帯電ローラのローラ抵抗：Ｒｉは
Ｒｉ＝（帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ＝Ｅ−Ｖｒ）／（電流値：Ｉｉ）
によって求められる。
そして横軸に帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ、縦軸にローラ抵抗：Ｒｉをプロットして、Ｖ−Ｒ特性を得る。
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【請求項２】  前記帯電ローラのローラ抵抗平均値：Ｒａが、
６．７×１０５（Ω）≦Ｒａ≦２．５×１０６（Ω）
であることを特徴とする請求項１に記載の帯電ローラ。
【請求項３】  芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置において、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする帯電装置。
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手段
と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
各印加ＤＣバイアスにおける帯電ローラのローラ抵抗：Ｒｉは
Ｒｉ＝（帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ＝Ｅ−Ｖｒ）／（電流値：Ｉｉ）
によって求められる。
そして横軸に帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ、縦軸にローラ抵抗：Ｒｉをプロットして、Ｖ−Ｒ特性を得る。
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【請求項４】  前記帯電ローラのローラ抵抗平均値：Ｒａが、
６．７×１０５（Ω）≦Ｒａ≦２．５×１０６（Ω）
であることを特徴とする請求項３に記載の帯電装置。
【請求項５】  被帯電体に帯電工程を含む作像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置において、
前記被帯電体の帯電工程手段は、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置であり、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする画像形成装置。
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
各印加ＤＣバイアスにおける帯電ローラのローラ抵抗：Ｒｉは
Ｒｉ＝（帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ＝Ｅ−Ｖｒ）／（電流値：Ｉｉ）
によって求められる。
そして横軸に帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ、縦軸にローラ抵抗：Ｒｉをプロットして、Ｖ−Ｒ特性を得る。
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【請求項６】  芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加し、前記帯電ローラが前記被帯電体に当接部を形成し被帯電体を帯電する帯電装置、帯電した像担持体に静電潜像を形成する潜像形成装置、前記被帯電体に近接または接触して配設され前記静電潜像を現像しトナー像を形成する現像装置、前記被帯電体に形成されたトナー像を転写材に転写する手段を有する画像形成装置において、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする画像形成装置。
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は電流増幅率がかつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
各印加ＤＣバイアスにおける帯電ローラのローラ抵抗：Ｒｉは
Ｒｉ＝（帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ＝Ｅ−Ｖｒ）／（電流値：Ｉｉ）
によって求められる。
そして横軸に帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ、縦軸にローラ抵抗：Ｒｉをプロットして、Ｖ−Ｒ特性を得る。
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【請求項７】  前記帯電ローラのローラ抵抗平均値：Ｒａが、
６．７×１０５（Ω）≦Ｒａ≦２．５×１０６（Ω）
であることを特徴とする請求項５または６に記載の画像形成装置。
【請求項８】  前記被帯電体は、導電性基材上に電荷発生層及び電荷輸送層を順次に積層してなる有機光感光体であり、前記電荷輸送層の１ｃｍ２当たりの静電容量が１．５ｐＦ以上６．０ｐＦ以下であることを特徴とする請求項５から７の何れか一項に記載の画像形成装置。
【請求項９】  前記帯電ローラに印加される電圧は−１５００〜−１０００Ｖであることを特徴とする請求項５から８の何れか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】  少なくとも、被帯電体と、該被帯電体に当接し、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなり、被帯電体との帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電ローラを包含しており、画像形成装置本体に対して着脱可能なプロセスカートリッジにおいて、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とするプロセスカートリッジ。
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
各印加ＤＣバイアスにおける帯電ローラのローラ抵抗：Ｒｉは
Ｒｉ＝（帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ＝Ｅ−Ｖｒ）／（電流値：Ｉｉ）
によって求められる。
そして横軸に帯電ローラへの分圧分：Ｖｉ、縦軸にローラ抵抗：Ｒｉをプロットして、Ｖ−Ｒ特性を得る。
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【請求項１１】  前記帯電ローラのローラ抵抗平均値：Ｒａが、
６．７×１０５（Ω）≦Ｒａ≦２．５×１０６（Ω）
であることを特徴とする請求項１０に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項１２】  前記被帯電体は、導電性基材上に電荷発生層及び電荷輸送層を順次に積層してなる有機光感光体であり、前記電荷輸送層の１ｃｍ２当たりの静電容量が１．５ｐＦ以上６．０ｐＦ以下であることを特徴とする請求項１０または１１に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項１３】  前記帯電ローラに印加される電圧は−１５００〜−１０００Ｖであることを特徴とする請求項１０から１２の何れか一項に記載のプロセスカートリッジ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣを印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
（３）芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置において、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶDC＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする帯電装置。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手段
と、
を有する。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２７】
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
（５）被帯電体に帯電工程を含む作像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置において、
前記被帯電体の帯電工程手段は、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置であり、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする画像形成装置。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
（６）芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加し、前記帯電ローラが前記被帯電体に当接部を形成し被帯電体を帯電する帯電装置、帯電した像担持体に静電潜像を形成する潜像形成装置、前記被帯電体に近接または接触して配設され前記静電潜像を現像しトナー像を形成する現像装置、前記被帯電体に形成されたトナー像を転写材に転写する手段を有する画像形成装置において、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とする画像形成装置。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は電流増幅率がかつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４６】
（１０）少なくとも、被帯電体と、該被帯電体に当接し、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなり、被帯電体との帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電ローラを包含しており、画像形成装置本体に対して着脱可能なプロセスカートリッジにおいて、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜〜｜３００｜（Ｖ）を定電圧にて印加したとき、Ｖ−Ｒ特性の変異係数が０．７以下であることを特徴とするプロセスカートリッジ。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４７】
（帯電ローラのＶ−Ｒ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアース側とを接続させたＲ（Ω）
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４８】
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上を有する。
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４９】
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって電圧Ｅを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記Ｒ（Ω）の抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積Ｓ（ｍｍ２）あたりの電流値である。
【手続補正２５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５２】
（Ｄ）さらに、印加電圧の範囲におけるローラ抵抗値の標準偏差：Ｚと、ローラ抵抗平均値：Ｒａから
変異係数：Ｓ＝（ローラ抵抗値の標準偏差：Ｚ）／（ローラ抵抗平均値：Ｒａ）
を求める。