【手続補正書】
【提出日】平成20年8月13日(2008.8.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  マルチスライス型コンピュータ断層イメージング・システム（１０）を用いて被検体（２２２）の画像を作成するための方法であって、
投影データを収集するために、マルチスライス型コンピュータ断層イメージング・システムにより被検体をヘリカルスキャンするステップと、
並列な投影の組を定式化している前記投影データの共役サンプルの組を決定するステップと、
前記共役サンプルを用いて被検体の画像の組を再構成するステップと、
を含む方法。
【請求項２】  共役サンプルを用いて被検体（２２）の画像の組を再構成する前記ステップが、共役サンプルを用いて前記並列な投影に重み付けするステップと、前記重み付けした並列投影を用いて画像の組を再構成するステップとを含み、
前記マルチスライス型コンピュータ断層イメージング・システム（１０）が、投影データを収集するように構成した検出器素子（２０）からなる複数の並列な横列を有する検出器（１８）と、スキャン対象の被検体（２２）を透過して検出器に向かう等分線束（５０）を含むＸ線ビーム（１６）を投射するように構成したＸ線源（１４）と、を備えており、
並列な投影の組を定式化するために投影データの共役サンプルの組を決定する前記ステップが、βk−γ（ここで、βkは検出器横列ｋが再構成面と交差する投影角度）により定式化される領域境界を設定するステップを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項３】  並列な投影の組から被検体の画像の組を再構成する前記ステップが、前記領域境界により規定される領域対を補間し再構成面（ＰＯＲ）における投影を生成させるステップを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】  投影データを収集するためにマルチスライス型コンピュータ断層イメージング・システム（１０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記ステップが、４枚の画像スライスを表す投影データを収集するようにコンピュータ断層イメージング・システムを動作させるステップを含んでおり、
投影角度βの連続した関数として決定される重み付け関数を再構成しようとする各画像スライスごとに再構成面における投影に対して適用する前記ステップが、
ｗi（β，γ）は検出器横列ｉに適用する投影重み付け関数である、
γは検出器角度である、
βiは検出器横列ｉの等分線束（５０）が再構成面と交差する投影角度である、
β’i＝βi−γは、当該サンプルの投影角度βiに対応した並列な線束サンプルの角度である、並びに、
β’i+＝β’i＋π及びβ’i-＝β’i−πである、として、
ｗ1（β，γ）＝
（β−β’4-）／（β’1−β’4-）        （β’4-≦β＜β’1の場合）
（β−β’2）／（β’1−β’2）          （β’1≦β＜β’2の場合）
０                                        （上記以外の場合）
ｗ2（β，γ）＝
（β−β’1）／（β’2−β’1）          （β’1≦β＜β’2の場合）
（β−β’3）／（β’2−β’3）          （β’2≦β＜β’3の場合）
０                                        （上記以外の場合）
ｗ3（β，γ）＝
（β−β’2）／（β’3−β’2）          （β’2≦β＜β’3の場合）
（β−β’4）／（β’3−β’4）          （β’3≦β＜β’4の場合）
０                                        （上記以外の場合）
ｗ4（β，γ）＝
（β−β’3）／（β’4−β’3）          （β’3≦β＜β’4の場合）
（β−β’1+）／（β’4−β’1+）        （β’4≦β＜β’1+の場合）
０                                        （上記以外の場合）
で表される重み付け関数を適用するステップを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
投影データを収集するために被検体（２２）をヘリカルスキャンすること、
並列な投影の組を定式化している前記投影データの共役サンプルの組を決定すること、
前記共役サンプルを用いて被検体の画像の組を再構成すること、
を行うように構成されているマルチスライス型コンピュータ断層システム（１０）。
【請求項６】  共役サンプルを用いて被検体（２２）の画像の組を再構成するために、共役サンプルを用いて前記並列な投影に重み付けすること、並びに該重み付けした並列投影を用いて画像の組を再構成すること、を行うように構成されている請求項５に記載のシステム（１０）。
【請求項７】  投影データを収集するように構成した検出器素子（２０）からなる複数の並列な横列を有する検出器（１８）と、スキャン対象の被検体（２２）を透過して検出器に向かう等分線束（５０）を含むＸ線ビーム（１６）を投射するように構成したＸ線源（１４）と、を備えると共に、
並列な投影の組を定式化している前記投影データの共役サンプルの組を決定するために、βk−γ（ここで、βkは検出器横列ｋが再構成面と交差する投影角度）により定式化される領域境界の組を決定するように構成されている、
請求項６に記載のシステム（１０）。
【請求項８】  並列な投影の組から被検体（２２）の画像の組を再構成するために、前記領域境界により規定される領域対を補間して再構成面（ＰＯＲ）における投影を生成するように構成されている、請求項７に記載のシステム（１０）。
【請求項９】  並列な投影の組から被検体（２２）の画像の組を再構成するために、投影角度βの連続した関数として決定される重み付け関数を、再構成しようとする各画像スライスごとに再構成面における投影に対して適用するように構成されている、請求項７に記載のシステム（１０）。
【請求項１０】  前記システムを被検体（２２）のヘリカルスキャンをするように構成させることが、前記システムを４枚の画像スライスを表す投影データを収集するように構成させることを含むと共に、
前記システムを、投影角度βの連続した関数として決定される重み付け関数を、再構成しようとする各画像スライスごとに再構成面における投影に対して適用するように構成させることが、前記システムを、
ｗi（β，γ）は検出器横列ｉに適用する投影重み付け関数である、
γは検出器角度である、
βiは検出器横列ｉの等分線束（５０）が再構成面と交差する投影角度である、
β’i＝βi−γは、当該サンプルの投影角度βiに対応した並列な線束サンプルの角度である、並びに、
β’i+＝β’i＋π及びβ’i-＝β’i−πである、として、
ｗ1（β，γ）＝
（β−β’4-）／（β’1−β’4-）        （β’4-≦β＜β’1の場合）
（β−β’2）／（β’1−β’2）          （β’1≦β＜β’2の場合）
０                                        （上記以外の場合）
ｗ2（β，γ）＝
（β−β’1）／（β’2−β’1）          （β’1≦β＜β’2の場合）
（β−β’3）／（β’2−β’3）          （β’2≦β＜β’3の場合）
０                                        （上記以外の場合）
ｗ3（β，γ）＝
（β−β’2）／（β’3−β’2）          （β’2≦β＜β’3の場合）
（β−β’4）／（β’3−β’4）          （β’3≦β＜β’4の場合）
０                                        （上記以外の場合）
ｗ4（β，γ）＝
（β−β’3）／（β’4−β’3）          （β’3≦β＜β’4の場合）
（β−β’1+）／（β’4−β’1+）        （β’4≦β＜β’1+の場合）
０                                        （上記以外の場合）
で表される重み付け関数を適用するように構成させることを含む、請求項９に記載のシステム（１０）。