(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有し、前記光学記録媒体との間で近接場を形成して収束光を前記光学記録媒体に照射する光学系と、
前記光学記録媒体の記録面とは直交するフォーカス方向に前記光学系を移動させるアクチュエータと、
制御回路と
を有し、
前記光学記録媒体は導電性記録膜を有しており、
前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光学記録媒体との対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させるように形成されており、
前記制御回路は、
前記ソリッドイマージョンレンズの周辺部に形成された前記導電膜と前記光学記録媒体の導電性記録膜との間の静電容量に基づいて前記光学記録媒体と前記光学系との間の距離を求め、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域の外の位置から前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内の位置まで、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との距離に基づいて、前記光学系と前記光学記録媒体とが接触しないように、または、接触したときの衝撃を抑えるように、予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置まで前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させ、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内に前記光学系が位置したとき、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との前記距離に基づいて、前記光学系の位置を維持するように前記アクチュエータを制御する、
位置決め装置。
【請求項２】
前記制御回路は、前記予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置として、前記近接場が形成される領域外の初期設定値から中間目標値にして前記中間目標値または実質的に前記中間目標値に一旦維持し、当該中間目標値から前記近接場が形成される領域内の最終目標値に近づけるように前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させる、
請求項１に記載の位置決め装置。
【請求項３】
前記光学記録媒体は、光ディスクである、
請求項１に記載の位置決め装置。
【請求項４】
前記光学系の開口数は、１よりも大きく３以下であり、
前記近接場が形成される領域は、前記光学系と前記光学記録媒体とが非接触状態であって前記距離が５００ｎｍ以下の領域である
請求項１に記載の位置決め装置。
【請求項５】
光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有し、前記光学記録媒体との間で近接場を形成して収束光を前記光学記録媒体に照射する光学系と、前記光学記録媒体の記録面とは直交するフォーカス方向に前記光学系を移動させるアクチュエータとを有し、前記光学記録媒体は導電性記録膜を有しており、前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光学記録媒体との対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させるように形成されている、光学装置における前記光学系と前記光学記録媒体との距離を調整する、位置決め方法であって、
前記ソリッドイマージョンレンズの周辺部に形成された前記導電膜と前記光学記録媒体の導電性記録膜との間の静電容量に基づいて前記光学記録媒体と前記光学系との間の距離を求め、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域の外の位置から前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内の位置まで、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との距離に基づいて、前記光学系と前記光学記録媒体とが接触しないように、または、接触したときの衝撃を抑えるように、予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置まで前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させ、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内に前記光学系が位置したとき、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との前記距離に基づいて、前記光学系の位置を維持するように前記アクチュエータを制御する、
位置決め方法。
【請求項６】
前記予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置として、前記近接場が形成される領域外の初期設定値から中間目標値にして前記中間目標値または実質的に前記中間目標値に一旦維持し、当該中間目標値から前記近接場が形成される領域内の最終目標値に近づけるように前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させる、
請求項５に記載の位置決め方法。
【請求項７】
前記光学記録媒体は、光ディスクである、
請求項５に記載の位置決め方法。
【請求項８】
前記光学系の開口数は、１よりも大きく３以下であり、
前記近接場が形成される領域は、前記光学系と前記光学記録媒体とが非接触状態であって前記距離が５００ｎｍ以下の領域である
請求項５に記載の位置決め方法。
【請求項９】
光源と、
光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有し、前記光学記録媒体との間で近接場を形成して収束光を前記光学記録媒体に照射する光学系と、
前記光学記録媒体の記録面とは直交するフォーカス方向に前記光学系を移動させるアクチュエータと、
制御回路と、
情報を記録する場合および情報を再生する場合に、前記光学記録媒体を回転させるモータと、
情報を記録する場合に、記録する情報に応じて前記光源からの光の強度を変調させる強度変調回路と、
情報を再生する場合に、前記光学記録媒体で反射した反射光から記録情報を検出する検出回路と
を有し、
前記光学記録媒体は導電性記録膜を有しており、
前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光学記録媒体との対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させるように形成されており、
前記制御回路は、
前記ソリッドイマージョンレンズの周辺部に形成された前記導電膜と前記光学記録媒体の導電性記録膜との間の静電容量に基づいて前記光学記録媒体と前記光学系との間の距離を求め、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域の外の位置から前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内の位置まで、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との距離に基づいて、前記光学系と前記光学記録媒体とが接触しないように、または、接触したときの衝撃を抑えるように、予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置まで前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させ、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内に前記光学系が位置したとき、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との前記距離に基づいて、前記光学系の位置を維持するように前記アクチュエータを制御する、
記録再生装置。
【請求項１０】
前記制御回路は、前記予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置として、前記近接場が形成される領域外の初期設定値から中間目標値にして前記中間目標値または実質的に前記中間目標値に一旦維持し、当該中間目標値から前記近接場が形成される領域内の最終目標値に近づけるように前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させる、
請求項９に記載の記録再生装置。
【請求項１１】
前記光学記録媒体は、光ディスクである、
請求項９に記載の記録再生装置。
【請求項１２】
前記制御回路は、前記モータを、前記距離が前記領域内に維持されてから前記光学記録媒体を回転させる
請求項９記載の記録再生装置。
【請求項１３】
前記光学系の開口数は、１よりも大きく３以下であり、
前記近接場が形成される領域は、前記光学系と前記光学記録媒体とが非接触状態であって前記距離が５００ｎｍ以下の領域である
請求項９に記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学記録媒体に収束光を照射する光学系の位置決め装置と位置決め方法、ならびに、収束光を光学記録媒体に照射して情報の記録または再生を行う記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光学装置としては、例えば、光ディスク等の光学記録媒体を用いて情報の記録または再生を行う記録再生装置、光学顕微鏡等がある。
光学装置におけるカットオフ空間周波数ｆc は、対物レンズの開口数（Numerical Aperture）ＮＡと光源の出力光の波長λとを用いて、一般に次式▲１▼で表される。
【０００３】
【数１】
ｆc ＝２ＮＡ／λ  …▲１▼
【０００４】
光源からの光の波長λが短いほど、また、対物レンズの開口数ＮＡが大きいほど、その分解能は高くなり、記録再生装置では高密度の記録ができ、光学顕微鏡では詳細な観察が可能となる。
対物レンズの開口数ＮＡを大きくする手法として、ソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ：Solid Immersion Lens）を用いた近接場 (Near-field) 光学系が知られており、この手法により、開口数が１を越える光学系が実現されている。
【０００５】
近接場光学系およびソリッドイマージョンレンズに関する参考文献としては、例えば、 S. M. Mansfield, W. R. Studenmund, G. S. Kino, and K. Osato, "High-numerical-aperture lens system for optical storage," Opt. Lett. 18, pp.305-307 (1993) （以下、「参考文献１」という。）がある。
また、他の参考文献として、例えば、 H. J. Mamin, B. D. Terris, and D. Rugar, "Near-field optical data storage," Appl. Phys. Lett. 68, pp.141-143 (1996)（以下、「参考文献２」という。）がある。
【０００６】
なお、ＵＳＰ４１８３０６０とＵＳＰ４３００２２６には、光ディスクと電極との距離を静電容量センサにより検出することが開示されているが、近接場光学系およびソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ）についての記載はない。
特開平８−２１２５７９号公報には、光ヘッドおよび光学記録媒体の発明が開示されている。この公報には、対物レンズを第１のレンズホルダで保持し、ソリッドイマージョンレンズを第２のレンズホルダで保持し、第２のレンズホルダに導電性の素材を用いて第２のレンズホルダ・光ディスク間の静電容量に基づいてソリッドイマージョンレンズの位置制御を行うことが開示されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
近接場光学系では、光を効率良く光学記録媒体に照射するため、光学系と光学記録媒体との距離（エアギャップ：Air Gap ）を、近接場が形成される領域（近接場の領域）内に保つ必要がある。
特に、開口数が１を越える場合では、エアギャップが前記領域よりも大きくなると、光学系・光学記録媒体間の光の多重反射および干渉により光学記録媒体での光強度がかなり低下するので、エアギャップを前記領域内に保つことが重要になる。
【０００８】
しかしながら、近接場が形成されるエアギャップ、例えば５００ｎｍ以下のエアギャップ（好ましくは１００ｎｍ以下のエアギャップ）を実現するために、前記領域外の初期設定値から領域内の最終目標値へと光学系を光学記録媒体に一挙に近づける（引き込む）と、オーバーシュートにより光学系と光学記録媒体とが接触するおそれがあり、この接触により光学系および光学記録媒体の双方が衝撃を受ける可能性がある。
【０００９】
本発明の第１の目的は、光学系と光学記録媒体との距離を短くして近接場を形成するときに、光学系と光学記録媒体との接触を防止可能な光学系の位置決め装置と位置決め方法とを提供することにある。
【００１０】
本発明の第２の目的は、光源からの光を光学系を介して光学記録媒体に照射して情報の記録または再生を行う記録再生装置であって、光学系と光学記録媒体との距離を短くして近接場を形成するときに、光学系と光学記録媒体との接触を防止可能な記録再生装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有し、前記光学記録媒体との間で近接場を形成して収束光を前記光学記録媒体に照射する光学系と、前記光学記録媒体の記録面とは直交するフォーカス方向に前記光学系を移動させるアクチュエータと、制御回路とを有し、
前記光学記録媒体は導電性記録膜を有しており、
前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光学記録媒体との対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させるように形成されており、
前記制御回路は、
前記ソリッドイマージョンレンズの周辺部に形成された前記導電膜と前記光学記録媒体の導電性記録膜との間の静電容量に基づいて前記光学記録媒体と前記光学系との間の距離を求め、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域の外の位置から前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内の位置まで、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との距離に基づいて、前記光学系と前記光学記録媒体とが接触しないように、または、接触したときの衝撃を抑えるように、予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置まで前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させ、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内に前記光学系が位置したとき、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との前記距離に基づいて、前記光学系の位置を維持するように前記アクチュエータを制御する、
位置決め装置が提供される。
【００１２】
本発明に係る光学系の位置決め装置では、好適には、前記制御回路は、前記距離を、前記領域外の初期設定値から中間目標値にして前記中間目標値または実質的に前記中間目標値に一旦維持し、当該中間目標値から前記領域内の最終目標値に近づけるように前記アクチュエータを制御する。
【００１３】
本発明に係る光学系の位置決め装置では、好適には、前記光学系は、光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて前記光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有する。
【００１４】
本発明に係る光学系の位置決め装置では、より好適には、前記光学記録媒体は、光ディスクであり、前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光ディスクとの対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させ、前記制御回路は、前記導電膜と前記光ディスクとの間の静電容量に基づいて前記アクチュエータを制御して前記距離を調節する。
【００１５】
本発明に係る光学系の位置決め装置では、例えば、前記光学系の開口数は、１よりも大きく３以下であり、前記近接場が形成される領域は、前記光学系と前記光学記録媒体とが非接触状態であって前記距離が５００ｎｍ以下の領域である構成としてもよい。
【００１６】
また本発明によれば、光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有し、前記光学記録媒体との間で近接場を形成して収束光を前記光学記録媒体に照射する光学系と、前記光学記録媒体の記録面とは直交するフォーカス方向に前記光学系を移動させるアクチュエータとを有し、前記光学記録媒体は導電性記録膜を有しており、前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光学記録媒体との対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させるように形成されている、光学装置における前記光学系と前記光学記録媒体との距離を調整する、位置決め方法であって、
前記ソリッドイマージョンレンズの周辺部に形成された前記導電膜と前記光学記録媒体の導電性記録膜との間の静電容量に基づいて前記光学記録媒体と前記光学系との間の距離を求め、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域の外の位置から前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内の位置まで、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との距離に基づいて、前記光学系と前記光学記録媒体とが接触しないように、または、接触したときの衝撃を抑えるように、予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置まで前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させ、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内に前記光学系が位置したとき、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との前記距離に基づいて、前記光学系の位置を維持するように前記アクチュエータを制御する、
位置決め方法が提供される。
【００１７】
好ましくは、前記予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置として、前記近接場が形成される領域外の初期設定値から中間目標値にして前記中間目標値または実質的に前記中間目標値に一旦維持し、当該中間目標値から前記近接場が形成される領域内の最終目標値に近づけるように前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させる。
【００１８】
本発明に係る光学系の位置決め方法では、例えば、前記光学系の開口数は、１よりも大きく３以下であり、前記近接場が形成される領域は、前記光学系と前記光学記録媒体とが非接触状態であって前記距離が５００ｎｍ以下の領域である構成としてもよい。
【００１９】
さらに本発明によれば、光源と、光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有し、前記光学記録媒体との間で近接場を形成して収束光を前記光学記録媒体に照射する光学系と、前記光学記録媒体の記録面とは直交するフォーカス方向に前記光学系を移動させるアクチュエータと、制御回路と、情報を記録する場合および情報を再生する場合に、前記光学記録媒体を回転させるモータと、情報を記録する場合に、記録する情報に応じて前記光源からの光の強度を変調させる強度変調回路と、情報を再生する場合に、前記光学記録媒体で反射した反射光から記録情報を検出する検出回路とを有し、
前記光学記録媒体は導電性記録膜を有しており、
前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光学記録媒体との対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させるように形成されており、
前記制御回路は、
前記ソリッドイマージョンレンズの周辺部に形成された前記導電膜と前記光学記録媒体の導電性記録膜との間の静電容量に基づいて前記光学記録媒体と前記光学系との間の距離を求め、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域の外の位置から前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内の位置まで、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との距離に基づいて、前記光学系と前記光学記録媒体とが接触しないように、または、接触したときの衝撃を抑えるように、予め段階的に定めた前記光学系の移動目標位置まで前記アクチュエータを制御して前記光学系を移動させ、
前記光学記録媒体と前記光学系との間で近接場が形成される領域内に前記光学系が位置したとき、前記求めた前記光学系と前記光学記録媒体との前記距離に基づいて、前記光学系の位置を維持するように前記アクチュエータを制御する、
記録再生装置が提供される。
【００２０】
本発明に係る記録再生装置では、好適には、前記制御回路は、前記距離を、前記領域外の初期設定値から中間目標値にして前記中間目標値または実質的に前記中間目標値に一旦維持し、前記中間目標値から前記領域内の最終目標値に近づけるように前記アクチュエータを制御する。
【００２１】
本発明に係る記録再生装置では、好適には、前記光学系は、前記光源からの光を収束させる対物レンズとこの対物レンズの通過光を収束させて前記光学記録媒体に照射するソリッドイマージョンレンズとを備えた第１の光学系、または、前記対物レンズと前記ソリッドイマージョンレンズとを一体化した第２の光学系を有する。
【００２２】
本発明に係る記録再生装置では、より好適には、前記光学記録媒体は、光ディスクであり、前記ソリッドイマージョンレンズは、前記光ディスクとの対向面のうち中央部が突起していると共にその周辺部が平坦であって当該周辺部には導電膜が形成され、前記対物レンズの通過光を収束させて前記中央部を通過させ、前記制御回路は、前記導電膜と前記光ディスクとの間の静電容量に基づいて前記アクチュエータを制御して前記距離を調節する構成としてもよい。
【００２３】
本発明に係る記録再生装置では、より好適には、前記モータは、前記距離が前記領域内に維持されてから前記光学記録媒体を回転させる。
【００２４】
本発明に係る記録再生装置では、例えば、前記光学系の開口数は、１よりも大きく３以下であり、前記近接場が形成される領域は、前記光学系と前記光学記録媒体とが非接触状態であって前記距離が５００ｎｍ以下の領域である構成としてもよい。
【００２５】
制御回路は、光学系と光学記録媒体との距離（エアギャップ）が、近接場が形成される領域の外の距離から近接場が形成される領域内の距離となっていくように、複数回のステップを経て当該距離を徐々に短くなるようにアクチュエータを制御するので、光学系と光学記録媒体との距離を徐々に短くすることができ、接触を防止することが可能である。
制御回路は、前記距離を、前記領域外の初期設定値から中間目標値にして一旦維持し、中間目標値から前記領域内の最終目標値に近づけるようにアクチュエータを制御することで、前記距離を複数回のステップを経て徐々に短くすることができると共に、オーバーシュートが生じた場合にこのオーバーシュートの量を小さくすることができ、万一接触した場合に接触時の衝撃を小さく抑えることが可能である。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照して説明する。
本発明に係る光学系の位置決め装置として、光ディスク駆動装置を例にとって説明する。
【００２７】
光ヘッド
図１は、光ヘッドの構成例を示す図である。
この光ヘッド１は、前記光ディスク駆動装置の光ピックアップに取り付けてある。
光ヘッド１は、対物レンズ２と、ソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ）３と、レンズホルダ４と、電磁アクチュエータ５とを有する。
【００２８】
対物レンズ２は、前記光ピックアップ内の光源である半導体レーザからレーザビームＬＢが供給され、このレーザビームＬＢを収束させてソリッドイマージョンレンズ３に供給する。
【００２９】
ソリッドイマージョンレンズ３は、対物レンズ２を通過したレーザビームＬＢを収束させて光ディスク５１に供給する。
このソリッドイマージョンレンズ３は、球形レンズの一部を切り取った形状をしており、一般的に、「Super Sphere SIL」または「Hyper Sphere SIL」と呼ばれる。
ソリッドイマージョンレンズ３は、球面が対物レンズ３と対向し、球面とは反対側の面（底面）が光ディスク５１と対向するように配置されている。
【００３０】
レンズホルダ４は、対物レンズ２およびソリッドイマージョンレンズ３を所定の位置関係で一体に保持する。
ソリッドイマージョンレンズ３は、光軸と平行なレーザビームＬＢが対物レンズ２に入射された場合に、当該対物レンズ２からのレーザビームＬＢを収束させてソリッドイマージョンレンズ３の底面の中央部を通過させ、通過したレーザビームＬＢを光ディスク５１に照射するようになっている。
なお、対物レンズ２およびソリッドイマージョンレンズ３は光軸が一致するように配置され、この光軸上に前記中央部が位置している。
【００３１】
レンズホルダ４は導電性の部材を有しており、ソリッドイマージョンレンズ３の底面には後述するように導電膜が形成されており、前記底面の導電膜とレンズホルダ４の前記導電性の部材は半田７を介して電気的に接続されている。
【００３２】
電磁アクチュエータ５は、レンズホルダ４を移動させる。
この電磁アクチュエータ５は、不図示のフォーカシング・アクチュエータおよびトラッキング・アクチュエータを有する。
前記フォーカシング・アクチュエータは、光ディスク５１の記録面とは直交するフォーカス方向にレンズホルダ４を移動させ、ソリッドイマージョンレンズ３と光ディスク５１とを所定の距離に保持する。
前記トラッキング・アクチュエータは、レンズホルダ４を光ディスク５１の半径方向（またはトラッキング方向）に移動させ、ソリッドイマージョンレンズ３を通過したレーザビームＬＢを光ディスク５１のトラックの中心に保持する。
【００３３】
なお、ソリッドイマージョンレンズ３は、レーザビームＬＢを無収差に収束するように設計されており、Stigmatic Focusingの条件を満たすようになっている。このソリッドイマージョンレンズ３は、光ディスク５１の記録面に焦点が結ばれるように、対物レンズ２からのレーザビームＬＢを集光する。
光軸方向のソリッドイマージョンレンズ３の厚さｔは、前記球形レンズの半径ｒと屈折率ｎとを用いて、次式▲２▼で表される。
【００３４】
【数２】
ｔ＝ｒ×（１＋１／ｎ）  …▲２▼
【００３５】
また、前記参考文献２によれば、対物レンズ２およびソリッドイマージョンレンズ３からなる光学系１０の開口数ＮＡeff は、対物レンズ２の開口数ＮＡobj と、ソリッドイマージョンレンズ３の屈折率ｎとを用いて、次式▲３▼で表される。
【００３６】
【数３】
ＮＡeff ＝ｎ2 ×ＮＡobj   …▲３▼
【００３７】
本実施の形態では、一例として、対物レンズ２の開口数ＮＡobj ＝０．４５とし、ソリッドイマージョンレンズ３の屈折率ｎ＝１．８３とする。
この場合、上式▲３▼により、光学系１０の開口数ＮＡeff ≒１．５となる。
また、レーザビームＬＢの波長λは一例としてλ＝６４０ｎｍとし、近接場を形成するためにエアギャップＡを一例として０＜Ａ≦１００ｎｍとし、好ましくはＡ≒５０ｎｍに維持する。
【００３８】
ソリッドイマージョンレンズ
図２は、ソリッドイマージョンレンズの構成例を示す図である。
ソリッドイマージョンレンズ３が光ディスク５１と対向する対向面（底面）は、直径Ｄ＝１．５ｍｍであり、中央部３ａが突起していると共に、その周辺部３ｂは平坦になっている。
中央部３ａの突起は、高さが約２μｍであり、直径φ≒４０μｍである。
【００３９】
周辺部３ｂの平坦面には、アルミニウム等の導電膜６が蒸着等により形成されて覆われており、この導電膜の膜厚は、前記突起の高さ（約２μｍ）よりも薄い。
この導電膜６と光ディスク５１のアルミニウム等の反射膜（記録膜）は、ソリッドイマージョンレンズ３の平坦面と光ディスク５１との間隔ｈに応じた静電容量Ｃg を形成する。
【００４０】
この静電容量Ｃg は、周辺部３ｂと光ディスク５１との対向面積Ｓと間隔ｈとを用いて、次式▲４▼で表される。なお、前記導電膜の膜厚は、間隔ｈに比べて無視できる程度に小さいものとする。
【００４１】
【数４】
Ｃg ＝ε0 ×εr ×Ｓ／ｈ  …▲４▼
【００４２】
但し、ε0 は真空の誘電率であり、その値は、８．８５４×１０-12 Ｆ／ｍである。εr は比誘電率であり、その値は空気中ではほぼ１である。
【００４３】
対向面積Ｓは、前記底面の直径Ｄ＝１．５ｍｍであるので、Ｓ＝π×（Ｄ／２）2 ≒１．７６７×１０-6ｍ2 となる。
間隔ｈは、中央部３ａの突起が光ディスク５１に接触するとき、すなわち光学系１０と光ディスク５１との距離（エアギャップ）Ａが０ｎｍのときに最小値２μｍとなる。
間隔ｈは、エアギャップＡが５０ｎｍ，１００ｎｍ，２００ｎｍの場合に、それぞれ２．０５μｍ，２．１０μｍ，２．２０μｍとなる。
【００４４】
したがって、エアギャップＡが０ｎｍ，５０ｎｍ，１００ｎｍ，２００ｎｍの場合の静電容量Ｃg は、上式▲４▼から、それぞれ約７．８２ｐＦ，約７．６３ｐＦ，約７．４５ｐＦ，約７．１１ｐＦとなる。
このように、エアギャップＡに応じて静電容量Ｃg が変化するので、この静電容量Ｃg を用いてエアギャップＡを検出することができ、静電容量Ｃg を用いて電磁アクチュエータ５のサーボ制御を行うことでエアギャップＡを近接場の領域内とすることが可能である。
【００４５】
また、ソリッドイマージョンレンズ３の対向面の中央部３ａを突起させ、その周辺部３ｂに突起の高さよりも薄く導電膜６を形成しているので、導電膜６が中央部３ａよりも光ディスク５１に近づいて光ディスク５１に接触することを防止することができる。
また、図１に示したように、導電膜６と導電性のレンズホルダ４とを半田７で電気的に接続しているので、導電膜６に対する配線接続をレンズホルダ４を介して容易に行うことができる。
【００４６】
光ディスク駆動装置
図３は、本発明に係る光学系の位置決め装置の一例である光ディスク駆動装置を示す概略的なブロック構成図である。この光ディスク駆動装置１００には、図１の光ヘッド１を光ピックアップに取り付けてある。
光ディスク駆動装置１００は、一例として、半導体レーザからのレーザ光を光学系を介して光ディスク５１に照射して情報の記録または再生を行う記録再生装置に設置される。
【００４７】
光ディスク駆動装置１００は、光ヘッド１と、光ピックアップ１２と、スピンドルモータ１１と、電圧制御発振器（ＶＣＯ）１３と、参照用の電圧制御発振器（ＲＶＣＯ）１４と、比較回路１５と、位相補償回路１６，２０と、増幅回路１７，１８，２１と、トラッキングマトリクス回路１９と、中央処理装置（ＣＰＵ）２２と、半導体レーザ駆動回路２５と、モータ駆動回路２６と、検出回路２７とを有する。
半導体レーザ駆動回路２５は、自動パワーコントロール（ＡＰＣ）回路２３および強度変調回路２４を有する。
【００４８】
光ディスク駆動装置１００は、光ヘッド１および光ピックアップ１２を用いて波長６４０ｎｍのレーザ光を光ディスク５１に照射し、情報の記録または再生を行う。
光ディスク駆動装置１００に装着された光ディスク５１は、スピンドルモータ１１により一定の回転速度で回転する。この光ディスク５１は、一例としてＣＡＶ（Constant Angular Velocity ：角速度一定記録）方式により情報が記録される。
【００４９】
フォーカスサーボ用の信号処理系は、以下のように構成されている。
ＶＣＯ（ Voltage Controlled Oscillator）１３は、内部にインダクタを備えて外部にキャパシタを備えたＬＣ発振回路を有する。
前記外部のキャパシタの一方の電極は、光ヘッド１のソリッドイマージョンレンズ３の平坦面に形成された導電膜６であり、他方の電極は、光ディスク５１の反射膜または記録膜であり、このキャパシタは、前記平坦面と光ディスク５１との間隔ｈに応じた静電容量Ｃg を有する。
このＶＣＯ１３の発振周波数ｆは、前記外部のキャパシタの静電容量Ｃg と、回路の浮遊容量Ｃf と、前記内部のインダクタのインダクタンスＬとを用いて、次式▲５▼で表される。
【００５０】
【数５】
ｆ＝１／〔２π×｛Ｌ×（Ｃg ＋Ｃf ）｝1/2 〕  …▲５▼
【００５１】
エアギャップＡと、間隔ｈと、静電容量Ｃg と、発振周波数ｆとの対応を、図４に示す。ここでは、一例としてインダクタンスＬ＝１００μＨとし、浮遊容量Ｃf ＝５ｐＦとした。
すなわち、エアギャップＡが０ｎｍ，５０ｎｍ，１００ｎｍ，２００ｎｍ，１０μｍの場合に、発振周波数ｆは上式▲５▼から、それぞれ約４．４５ＭＨｚ，約４．４８ＭＨｚ，約４．５１ＭＨｚ，約４．５７ＭＨｚ，約６．３４ＭＨｚとなる。
【００５２】
電圧制御発振器（ＲＶＣＯ：Reference Voltage Controlled Oscillator ）１４は、参照信号を生成する。
参照信号の周波数ｆr は、例えば４．４８ＭＨｚであり、この周波数はエアギャップＡ＝５０ｎｍの場合のＶＣＯ１３の発振周波数と等しい。
なお、ＲＶＣＯ１４は例えばバラクタ・ダイオードを有し、このバラクタ・ダイオードの印加電圧をＣＰＵ２２から制御することにより、参照信号の周波数ｆr を設定可能となっている。
【００５３】
比較回路１５は、ＶＣＯ１３からの周波数ｆの出力信号と、ＲＶＣＯ１４からの周波数ｆr の出力信号とが供給される。
この比較回路１５は、ＶＣＯ１３の出力信号の周波数および位相と、ＲＶＣＯ１４の出力信号の周波数および位相とを比較し、両者の周波数および位相の差に応じた信号（誤差信号）を生成する。
【００５４】
位相補償回路１６は、比較回路１５の出力信号が供給され、この比較回路１５の出力信号を補償（位相補償および／または周波数補償）した補償信号を生成して増幅回路１７に供給する。
増幅回路１７は、前記補償信号を増幅し、エアギャップＡを調整する制御信号として電磁アクチュエータ５のフォーカシング・アクチュエータに供給する。
【００５５】
前記フォーカシング・アクチュエータは、増幅回路１７からの制御信号に基づいてレンズホルダ４をフォーカス方向に移動させ、エアギャップＡを近接場が形成される領域の外から領域内とし、更にエアギャップＡを前記領域内に保つ。
このようにして、エアギャップＡは０＜Ａ≦１００ｎｍに維持されると共にＡ≒５０ｎｍに調節され、前記間隔ｈは２．０５μｍに調節され、フォーカスサーボが実現される。
【００５６】
中央処理装置（ＣＰＵ：Central Processing Unit ）２２は、光ディスク駆動装置１００の全体の制御を司るコントローラであり、例えば１チップマイクロコンピュータ（１チップマイコン）で構成する。
このＣＰＵ２２は、比較回路１５の出力信号が供給され、この比較回路１５の出力信号に基づき、エアギャップＡが近接場の領域（近接場が形成される領域）内に維持されていることを検出して開始信号ＳＴを生成し、この開始信号ＳＴをモータ駆動回路２６に供給する。
また、ＣＰＵ２２は、スピンドルモータ１１または光ディスク５１の回転数もしくは回転速度を示す信号が供給されるようになっている。
トラッキングサーボおよびフォーカスサーボは、ＣＰＵ２２の制御下で行われる。
【００５７】
ＣＰＵ２２と、ＶＣＯ１３と、ＲＶＣＯ１４と、比較回路１５と、位相補償回路１６と、増幅回路１７とにより、制御回路２８が形成されている。
この制御回路２８は、エアギャップＡが近接場の領域内（例えば０＜Ａ≦５００ｎｍ、好ましくは０＜Ａ≦２００ｎｍ、より好ましくは０＜Ａ≦１００ｎｍ）となるように電磁アクチュエータ５を制御する機能を有する。
エアギャップＡを近接場の領域内とすることで、光ディスク５１の記録面におけるビームスポット中心のビーム強度をエアギャップＡ＝０ｎｍの場合に対して例えば５０％以上（好適には６０％以上）に保つことが可能であり、一例としてエアギャップＡを５０ｎｍ程度に制御することで８０％程度のビーム強度を得ることが可能である。
【００５８】
モータ駆動回路２６は、スピンドルモータ１１に電源を供給して一定の回転速度で回転させる。例えば、ＰＷＭ（Pulse Width Modulation）制御等により、回転制御を行ってもよい。
このモータ駆動回路２６は、ＣＰＵ２２から開始信号ＳＴが供給された場合に、スピンドルモータ１１の回転を開始させる。
スピンドルモータ１１の回転軸上には不図示のターンテーブルが取り付けてあり、スピンドルモータ１１の回転に伴ってターンテーブル上の光ディスク５１が回転する。
【００５９】
図５は、光ピックアップ１２の構成例を示す図である。
光ピックアップ１２は、半導体レーザ３１と、コリメータレンズ３２と、回折格子３３と、１／２波長板３４と、偏光ビームスプリッタ３５と、１／４波長板３６と、集光レンズ３７，３９と、光検出器３８，４０と、対物レンズ２と、ソリッドイマージョンレンズ３とを有する。
この光ピックアップ１２には光ヘッド１が取り付けてあり、この光ヘッド１は、対物レンズ２およびソリッドイマージョンレンズ３からなる光学系１０を有する。
【００６０】
半導体レーザ３１は、コヒーレント光を放射する光源および発光素子の一例である。半導体レーザ３１は、波長６４０ｎｍの直線偏光のレーザビームＬＢを生成し、このレーザビームＬＢをコリメータレンズ３２に供給する。
コリメータレンズ３２は、半導体レーザ３１からのレーザビームＬＢを平行光にして回折格子３３に供給する。
【００６１】
回折格子３３は、コリメータレンズ３２からのレーザビームＬＢを主ビーム（第０次回折光）と副ビーム（第１次回折光）とに分離し、主ビームおよび副ビームを１／２波長板３４に供給する。
１／２波長板３４は、回折格子３３からの主ビームおよび副ビームの偏光面を回転させて偏光ビームスプリッタ３５に供給する。
【００６２】
偏光ビームスプリッタ３５は、１／２波長板３４からの入射レーザビームの大部分を通過させて１／４波長板３６に供給し、前記入射レーザビームの一部分を反射して集光レンズ３９に供給する。
【００６３】
集光レンズ３９は、偏光ビームスプリッタ３５からの反射レーザビームを収束して光検出器４０に供給する。
光検出器４０は、集光レンズ３９からのレーザビームを光電変換し、レーザビームの強度に対応する信号ＳＰを生成する。この光検出器４０は、半導体レーザ３１の発光強度のモニタ用または光ディスク５１の記録面（記録膜）上におけるビーム強度のモニタ用に利用される。
なお、光検出器４０への入射レーザビームの光量は、１／２波長板３４を回転させることで、調整可能となっている。
【００６４】
１／４波長板３６は、偏光ビームスプリッタ３５の通過レーザビームの偏光面を回転させて円偏光にし、この円偏光のレーザビームを光ヘッド１の対物レンズ２に供給する。
対物レンズ２は、１／４波長板３６からのレーザビームを収束させてソリッドイマージョンレンズ３に供給する。
ソリッドイマージョンレンズ３は、対物レンズ３からのレーザビームを収束させて前記中央部３ａを通過させ、この通過レーザビームを光ディスク５１の信号記録面に供給する。
【００６５】
光ディスク５１の信号記録面（記録膜）で反射したレーザビームは、ソリッドイマージョンレンズ３および対物レンズ２を経て、１／４波長板３６に供給される。
１／４波長板３６は、対物レンズ２からのレーザビームの偏光面を回転させて直線偏光にし、この直線偏光のレーザビームを偏光ビームスプリッタ３５に供給する。
なお、偏光ビームスプリッタ３５から１／４波長板３６に供給される入射レーザビームの偏光面と、１／４波長板３６から偏光ビームスプリッタ３５に供給される反射レーザビームの偏光面は、直交するようになっている。
【００６６】
偏光ビームスプリッタ３５は、１／４波長板３６からのレーザビームを反射して集光レンズ３７に供給する。
集光レンズ３７は、偏光ビームスプリッタ３５からの反射レーザビームを収束させて光検出器３８に供給する。
光検出器３８は、集光レンズ３７からのレーザビームを光電変換して信号ＳＡ〜ＳＨを生成する。この光検出器３８は、トラッキングエラー信号ＴＥおよび再生ＲＦ信号の検出用に利用される。
【００６７】
光検出器３８は、図６に示すように、中央部に主ビーム受光用の第１の受光部３８１が配置されており、この第１の受光部３８１の両側に、副ビーム受光用の第２の受光部３８２および第３の受光部３８３が配置されている。
第１の受光部３８１は、４個の受光部３８Ａ〜３８Ｄに等分割されている。
第２の受光部３８２は、２個の受光部３８Ｅ，３８Ｆに等分割されている。
第３の受光部３８３は、２個の受光部３８Ｇ，３８Ｈに等分割されている。
この光検出器３８は、受光部を８分割した受光素子で形成してもよい。
【００６８】
光検出器３８の各受光部３８Ａ〜３８Ｈの出力信号ＳＡ〜ＳＨは、図３中の増幅回路（ヘッドアンプ）１８で増幅されてトラッキングマトリクス回路（トラッキング誤差検出回路）１９および検出回路２７に供給される。
トラッキングマトリクス回路１９は、増幅された前記出力信号ＳＡ〜ＳＨに基づいて次式▲６▼の演算を行い、差動プッシュプル法を用いてトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。なお、式中のｋは定数である。
【００６９】
【数６】
ＴＥ＝（ＳＡ＋ＳＤ）−（ＳＢ＋ＳＣ）＋ｋ×｛（ＳＥ−ＳＦ）＋（ＳＧ−ＳＨ）｝  …▲６▼
【００７０】
位相補償回路２０は、前記トラッキングエラー信号ＴＥが供給され、このトラッキングエラー信号ＴＥを位相補償した補償信号を生成して増幅回路２１に供給する。
増幅回路２１は、前記補償信号を増幅し、制御信号として電磁アクチュエータ５のトラッキング・アクチュエータに供給する。
前記トラッキング・アクチュエータは、増幅回路２１からの制御信号に基づいてレンズホルダ４を光ディスク５１の半径方向（またはトラッキング方向）に移動させ、その結果、トラッキングサーボが実現される。
【００７１】
検出回路（情報検出回路）２７は、増幅回路（ヘッドアンプ）１８で増幅された前記出力信号ＳＡ〜ＳＤに基づき、次式▲７▼の演算を行って再生ＲＦ信号ＲＦを生成する。そして、この再生ＲＦ信号に基づいて復調等を行って光ディスク５１の記録情報Ｓｏを再生する。
【００７２】
【数７】
ＲＦ＝ＳＡ＋ＳＢ＋ＳＣ＋ＳＤ  …▲７▼
【００７３】
半導体レーザ駆動回路２５は、強度変調回路２４とＡＰＣ回路２３とを有し、光ピックアップ１２内の半導体レーザ３１を駆動する。
強度変調回路２４は、光ディスク５１に記録する情報Ｓｉがメモリまたは外部装置等から供給され、この入力情報Ｓｉに応じて変調制御信号ＳＭを生成する。
【００７４】
ＡＰＣ（Automatic Power Control ）回路２３は、光ピックアップ１２内のモニター用の光検出器４０の出力信号ＳＰと、前記変調制御信号ＳＭとが供給される。
このＡＰＣ回路２３は、情報記録時には、変調制御信号ＳＭに基づいて半導体レーザ３１の駆動電圧または駆動電流を変化させてレーザビームＬＢを強度変調し、また、光検出器４０の出力信号ＳＰに基づいて半導体レーザ３１の発光強度を第１の設定範囲Ｒ１内に保ち、半導体レーザ３１のレーザ光出力を調節する。
一方、ＡＰＣ回路２３は、情報再生時には、光検出器４０の出力信号ＳＰに基づいて半導体レーザ３１の発光強度を第２の設定範囲Ｒ２（＜Ｒ１）内に保ち、半導体レーザ３１のレーザ光出力を調節する。
【００７５】
光ディスク駆動装置の動作例
図７と図８は、光ディスク駆動装置１００の動作を示す概略的なフローチャートである。
先ず、ステップＳ１では、ＣＰＵ２２は、フォーカスサーボの開始命令を検出する。例えば、光ディスク駆動装置１００を備えた記録再生装置に対し、操作者が記録または再生のスイッチ操作を行うことで、前記開始命令がＣＰＵ２２に供給される。なお、このときのエアギャップＡは、近接場の領域外の初期設定値となっている。
【００７６】
次に、ステップＳ２では、ＣＰＵ２２は、ＲＶＣＯ１４の発振周波数ｆr を約６．３４ＭＨｚに設定し、エアギャップＡの目標値を中間目標値である１０μｍに設定する。そして、電磁アクチュエータ５の駆動を開始し、ソリッドイマージョンレンズ３（ひいては光学系１０）の引込み（フォーカス引込み）を開始する。
発振周波数ｆr ＝６．３４ＭＨｚは、前記図４に示すように、エアギャップＡ＝１０μｍのときのＶＣＯ１３の発振周波数ｆに等しい。
【００７７】
ステップＳ３では、ＣＰＵ２２は、エアギャップＡを１０μｍまたは実質的に１０μｍにする引込み動作が完了したか否かを、比較回路１５の出力信号に基づいて判定する。
引込みが終了していない場合は、終了するまで待つ。
引込みが終了した場合は、エアギャップＡは中間目標値（１０μｍ）または実質的に中間目標値に維持されており、ステップＳ４に進む。
【００７８】
ステップＳ４では、ＣＰＵ２２は、ＲＶＣＯ１４の発振周波数ｆr を４．４８ＭＨｚに設定し、エアギャップＡの目標値を最終目標値である５０ｎｍに設定する。そして、電磁アクチュエータ５によるソリッドイマージョンレンズ３（ひいては光学系１０）の更なる引込み（フォーカス引込み）を行う。
発振周波数ｆr ＝４．４８ＭＨｚは、前記図４に示すように、エアギャップＡ＝５０ｎｍのときのＶＣＯ１３の発振周波数ｆに等しい。
なお、６．３４ＭＨｚから４．４８ＭＨｚまでを複数段階に分けて発振周波数ｆr を段階的に徐々に低下させてＶＣＯ１３の発振周波数ｆを追従させてもよく、これによりエアギャップＡを徐々に小さくすることができる。
【００７９】
ステップＳ５では、ＣＰＵ２２は、エアギャップＡを５０ｎｍまたは実質的に５０ｎｍにする引込み動作（フォーカス引込み動作）が完了したか否かを、比較回路１５の出力信号に基づいて判定する。
引込みが終了していない場合は、終了するまで待つ。
引込みが終了した場合は、ステップＳ６に進む。このとき、エアギャップＡは、最終目標値（５０ｎｍ）または実質的に最終目標値に維持されており、また近接場の領域内に維持されている。
【００８０】
ステップＳ６では、ＣＰＵ２２は、開始信号ＳＴを生成してモータ駆動回路２６に供給する。
ステップＳ７では、モータ駆動回路２６は、開始信号ＳＴに基づいてスピンドルモータ１１に電源供給を開始し、光ディスク５１の回転を開始させる。
【００８１】
ステップＳ８では、ＣＰＵ２２は、光ディスク５１の回転速度（ディスク回転速度）Ｖが予め決められた一定の回転速度Ｖc （＞０）であるか否かを判定する。
ディスク回転速度Ｖが一定回転速度Ｖc でない場合は、ＣＰＵ２２はモータ駆動回路２６を介してスピンドルモータ１１の回転制御を行い、一定回転速度Ｖc にする。
ディスク回転速度Ｖが一定回転速度Ｖc である場合は、ステップＳ９に進む。
【００８２】
ステップＳ９では、ＣＰＵ２２は、半導体レーザ駆動回路２５内のＡＰＣ回路２３にパワーオン信号を供給する。ＡＰＣ回路２３は、パワーオン信号に基づいて半導体レーザ３１を点灯させてレーザビームＬＢを出力させる。
【００８３】
光ディスク５１の停止中に半導体レーザ３１を点灯させた場合は、ソリッドイマージョンレンズ３の引込み時（フォーカス引込み時）に光ディスク５１の特定箇所にレーザビームが長時間照射されて照射箇所が高温となるおそれがあり、前記照射箇所の特性が変化する可能性がある。
一方、本実施の形態に示すように、光ディスク５１の回転後に半導体レーザ３１を点灯させることで、ソリッドイマージョンレンズ３の引込み時に光ディスク５１の特定箇所にレーザビームが長時間照射されて照射箇所が高温となることを防止することができる。
【００８４】
以上に説明したように、この光ディスク駆動装置１００によれば、ソリッドイマージョンレンズ３を用いることで１を越える開口数を得ることができ、またエアギャップＡを近接場の領域内の所定値（例えば約５０ｎｍ）にする制御を、静電容量Ｃg に基づいて高精度に行うことができる。なお、光学系１０の開口数は、例えば、１よりも大きく３以下としてもよく、１よりも大きく２．５以下としてもよい。
ソリッドイマージョンレンズ３の底面に導電膜６を形成したので、導電膜６と光ディスク５１との間隙を小さくして静電容量Ｃg を大きくすることができ、フォーカスサーボをいっそう高精度に行うことが可能である。
【００８５】
また、制御回路２８は、エアギャップＡ（光学系と光学記録媒体との距離）が、近接場が形成される領域の外の距離から近接場が形成される領域内の距離となっていくように、複数回のステップを経て当該距離を徐々に短くなるように電磁アクチュエータ５を制御するので、エアギャップＡを徐々に短くして光学系１０と光ディスク５１との接触を防止することが可能であり、万一接触した場合にその衝撃を小さく抑えることが可能である。
【００８６】
この制御回路２８は、エアギャップＡを、近接場の領域外の初期設定値から中間目標値にして一旦維持し、中間目標値から近接場の領域内の最終目標値に近づけるように電気アクチュエータ５を制御することで、エアギャップＡを複数回のステップを経て徐々に短くすることができると共に、オーバーシュートが生じた場合にこのオーバーシュートの量を小さくすることができ、万一接触した場合にその衝撃を小さく抑えることが可能である。
なお、近接場の領域外の初期設定値から近接場の領域内の最終目標値までの間に複数の中間目標値を設定し、前記複数の中間目標値を順次経由することで、エアギャップＡを最終目標値に徐々に近づけてもよい。例えば、静電容量Ｃｇが実質的に形成される範囲内（一例として約１０μｍ〜約１００μｍ）に、前記中間目標値を複数設定してもよい。
【００８７】
また、光ディスク駆動装置１００によれば、光学系１０を近接場の領域内の至近距離に引き込む時に、光ディスク５１を停止した状態とすることができる。
これにより、光学系１０と光ディスク５１とが万一接触した場合に、接触面積および衝撃を、光ディスク５１が回転している場合に比べて小さくすることができる。
【００８８】
上記実施の形態では、対物レンズ２とソリッドイマージョンレンズ３とにより光学系１０を形成し、開口数が約１．５であるこの光学系１０を光ヘッド１に設けている。
しかしながら、対物レンズ２とソリッドイマージョンレンズ３とを一体化した単一の光学素子からなる光学系を光ヘッド１に設けてもよい。
このような単一の光学素子として、例えば、Chul Woo Lee, Kun Ho Cho, Chong Sam Chung, Jang Hoon Yoo, Yong Hoon Lee, "Feasibility study on near field optical memory using a catadioptric optical system," Digest of Optical Data Storage, pp.137-139, Aspen, CO. (1998)に開示されている反射型集光素子を用いてもよい。
また、対物レンズ２の機能を持つ光学素子とソリッドイマージョンレンズの機能を持つ光学素子として、３個以上の光学素子を光ヘッド１に設けてもよく、ホログラム素子を光ヘッド１に設けてもよい。
【００８９】
本実施の形態では、光学記録媒体の一例として相変化型の光ディスク５１を用いているが、光磁気ディスクを用いてもよい。
更に、浮上スライダを用いた受動的な光ヘッドを用いる場合においても、静電容量Ｃg から、エアギャップＡに相当する浮上量の検出、及び、浮上量の最適化を行うことが可能である。
【００９０】
なお、導電膜６が形成されるソリッドイマージョンレンズ３（または光学系１０）の対向面の半径は、光ディスク５１の記録面の内側の縁から最内周のトラックまでの幅よりも小さい正の値とし、また、光ディスク５１の記録面の外側の縁から最外周のトラックまでの幅よりも小さい正の値とすることが好ましい。
このようにすることで、最内周のトラックにレーザビームＬＢを集光する場合、および最外周のトラックにレーザビームＬＢを集光する場合に、ソリッドイマージョンレンズ３の底面全域と記録面とを対向させることができ、集光位置による静電容量Ｃg の変動を小さくすることが可能である。
【００９１】
本実施の形態では、光学系の位置決め装置の一例として、光ディスク駆動装置１００について説明した。
本実施の形態に係る光学系の位置決め装置は、光源の可干渉性（Coherence ）が高く、光学系（または対物レンズ）の動作距離（Working Distance）が小さい条件下、すなわち干渉縞が生じ易い光学装置において、有用である。
このような光学装置では、光学干渉による強度分布のために光学的な手法による焦点制御に誤差が生じ易く、上記光ディスク駆動装置１００ではＬＣ発振回路の出力信号（電気信号）を用いた焦点制御により誤差を小さくすることが可能である。
【００９２】
上記光ディスク駆動装置１００を、記録再生装置の他に、光を照射する種々の光照射装置に適用してもよく、例えば加工装置、露光装置、検査装置等に適用してもよい。
例えば、光学検査装置を用いて金属、半導体ウェハ等の試料の検査を行う場合に、光学系１０と試料との間の静電容量に基づいて焦点制御を行うことが可能である。もちろん、光学記録媒体を試料としてもよい。
半導体ウェハの検査装置のように、試料の全領域を速やかに検査する必要がある場合、光学系１０と試料との間の静電容量に基づいて焦点制御を行うことで、可動ステージや試料の傾きに応じて光学系の位置補正を行うことが可能であり、検査の所要時間を短縮することが可能である。
【００９３】
なお、上記実施の形態は本発明の例示であり、本発明は上記実施の形態に限定されない。
【００９４】
【発明の効果】
本発明に係る光学系の位置決め装置および位置決め方法では、エアギャップを近接場が形成される領域の外のエアギャップから近接場が形成される領域内のエアギャップとなっていくように、複数回のステップを経て当該エアギャップを徐々に短くするので、光学系と光学記録媒体との接触を防止可能であり、光学系および光学記録媒体の信頼性および耐久性を向上することが可能である。
【００９５】
例えば、エアギャップを、近接場の領域外の初期設定値から中間目標値にして一旦維持し、中間目標値から近接場の領域内の最終目標値に近づけることで、エアギャップを複数回のステップを経て徐々に短くすることができると共に、オーバーシュートが生じた場合にこのオーバーシュートの量を小さくすることができ、万一接触した場合にその衝撃を小さく抑えることが可能である。
【００９６】
本発明に係る記録再生装置では、エアギャップを近接場が形成される領域の外のエアギャップから近接場が形成される領域内のエアギャップとなっていくように、複数回のステップを経て当該エアギャップを徐々に短くするので、光学系と光学記録媒体との接触を防止可能であり、光学系および光学記録媒体の信頼性および耐久性と、記録情報および再生情報の信頼性とを向上することが可能である。
【００９７】
例えば、エアギャップを、近接場の領域外の初期設定値から中間目標値にして一旦維持し、中間目標値から近接場の領域内の最終目標値に近づけることで、エアギャップを複数回のステップを経て徐々に短くすることができると共に、オーバーシュートが生じた場合にこのオーバーシュートの量を小さくすることができ、万一接触した場合にその衝撃を小さく抑えることが可能であり、光学系および光学記録媒体の信頼性および耐久性と、記録情報および再生情報の信頼性とを向上することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】光ヘッドの構成例を示す図である。
【図２】ソリッドイマージョンレンズの構成例を示す図である。
【図３】本発明に係る光学系の位置決め装置の一例である光ディスク駆動装置を示す概略的なブロック構成図である。
【図４】エアギャップＡと、間隔ｈと、静電容量Ｃg と、発振周波数ｆとの対応を例示する図である。
【図５】光ピックアップの構成例を示す図である。
【図６】光検出器３８の受光部の配置例を示す図である。
【図７】本発明に係る光学系の位置決め装置の一例である光ディスク駆動装置の動作を示す概略的なフローチャートである。
【図８】図７に続いて、本発明に係る光学系の位置決め装置の一例である光ディスク駆動装置の動作を示す概略的なフローチャートである。
【符号の説明】
１…光ヘッド、２…対物レンズ、３…ソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ）、３ａ…中央部、３ｂ…周辺部、４…レンズホルダ、５…電磁アクチュエータ（アクチュエータ）、６…導電膜、７…半田、１０…光学系、１１…スピンドルモータ（モータ）、１２…光ピックアップ、１３…電圧制御発振器（ＶＣＯ）、１４…電圧制御発振器（ＲＶＣＯ）、１５…比較回路、１６，２０…位相補償回路、１７，２１…増幅回路、１８…増幅回路（ヘッドアンプ）、１９…トラッキングマトリクス回路、２２…中央処理装置（ＣＰＵ）、２３…自動パワーコントロール回路（ＡＰＣ回路）、２４…強度変調回路、２５…半導体レーザ駆動回路、２６…モータ駆動回路、２７…検出回路、２８…制御回路、３１…半導体レーザ（光源）、３２…コリメータレンズ、３３…回折格子、３４…１／２波長板、３５…偏光ビームスプリッタ、３６…１／４波長板、３７，３９…集光レンズ、３８，４０…光検出器、３８Ａ〜３８Ｈ…受光部、５１…光ディスク（光学記録媒体）、１００…光ディスク駆動装置（光学系の位置決め装置）、３８１〜３８３…第１〜第３の受光部、Ｄ，φ…直径、ｈ…間隔、ＬＢ…レーザビーム（レーザ光）、ｒ…半径。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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