(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光線路の特性試験を行う前に、当該光線路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により判定し、試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に特性試験を行うインサービス試験方法であって、
前記試験光遮断フィルタ有無判定装置は、
前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第１の試験波長および高反射率帯にある第２の試験波長による試験光を発生する処理と、
前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する処理と、
第１の試験波長の反射光強度が第２の試験波長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第１の試験波長の反射光強度と第２の試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィルタが無いと判定する処理と、を行い、
設備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録されており、かつ、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に、特性試験を行うことを特徴とするインサービス試験方法。
【請求項２】
前記試験光を発生する処理は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする請求項１記載のインサービス試験方法。
【請求項３】
前記反射強度を測定する処理の前に、通信光を遮断する処理を行うことを特徴とする請求項１又は２に記載のインサービス試験方法。
【請求項４】
光線路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否かを判定する試験光遮断フィルタ有無判定装置であって、
設備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録されている場合に、前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第１の試験波長および高反射率帯にある第２の試験波長による試験光を発生する発生手段と、
前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する測定手段と、
第１の試験波長の反射光強度が第２の試験波長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第１の試験波長の反射光強度と第２の試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィルタが無いと判定する判定手段と、
を有することを特徴とする試験光遮断フィルタ有無判定装置。
【請求項５】
前記発生手段は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする請求項４記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置。
【請求項６】
前記測定手段の前段に通信光を遮断する遮断手段を有することを特徴とする請求項４又は５に記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光線路の特性試験を行うときのインサービス試験方法およびこれに用いる試験光遮断フィルタ有無判定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
デジタル伝送の高速かつ高品質のサービスに対応すべく、光通信方式を用いたサービスの導入が拡大されている。この光通信方式を用いたサービスの提供では、安定性の高いサービスを提供する上で、光ファイバケーブル等で構成される光線路の特性試験を通信光を劣化させず、より確実に行うことのできる方法が必要となる。
【０００３】
図８は、通信中の光ファイバの特性試験を実施するための設備の概略構成を示すブロック図である。局内装置１と加入者端末７とは、光カプラ２及び光ファイバ３を介して接続されており、通信光１０が双方向に伝送される。
【０００４】
インサービス試験システム９は、同システムを制御する制御部２５、既設光線路の設備構成について少なくとも試験光遮断フィルタ８の設置の有無を記憶した設備記録データベース２２、特性試験の対象とする光ファイバを任意に選択できる光ファイバ選択部２４、パルス光により形成される試験光１１を用いて光ファイバ３の特性試験を実行する光パルス試験部２３を有する構成である。
【０００５】
加入者端末７の手前には試験光１１を反射するための波長依存型の試験光遮断フィルタ８が設置される。
【０００６】
加入者端末７は、受けた光を電気信号に光電変換する光受信機１２と、光電変換した電気信号のうち、通信光を光電変換した通信信号を通過させる帯域フィルタ１３と、帯域フィルタ１３を通過した電気信号を受信する受信機１４を有する構成である。
【０００７】
図９は、インサービス試験システム９を用いて光ファイバの特性試験を行うときの処理の一例を示すフローチャートである。
【０００８】
通信中の光ファイバについて特性試験を行う場合は、まず、光ファイバ選択部２４により、特性試験の対象となる光ファイバ３を指定する（ｓｔｅｐ２１）。そして、指定した光ファイバ３の遠端に試験光遮断フィルタ８が設置されているか否かを設備記録データベース２２に照合する（ｓｔｅｐ２２）。照合の結果、試験光遮断フィルタが有るということが記録されている場合は特性試験を実行し、この記録が無い場合は特性試験を中止する（ｓｔｅｐ２３）。
【０００９】
特性試験の実行は、光パルス試験部２３が試験光１１を光ファイバ選択部２４および光カプラ２を介して加入者端末７に伝送し、試験光遮断フィルタ８が試験光１１を反射したときの反射光の強度を光パルス試験部２３で測定することにより行われる。
【００１０】
ところが、試験光遮断フィルタ８が実際には光ファイバ３の遠端に設置されていないにもかかわらず、誤って特性試験が実行された場合には、試験光１１と通信光１０は同時に加入者端末７の光受信機１２で受光され、試験光１１は通信光１０と共に電気信号に変換されてしまう。
【００１１】
図１０は、このような場合に通信光１０および試験光１１を光電変換した後の通信信号および試験信号のスペクトルの一例を示す模式図である。同図が示すように、帯域フィルタ１３によって試験信号はある程度遮断されるものの、周波数領域では通信信号と試験信号とで重畳が生じるため、この重畳された周波数成分が雑音となり通信信号に影響を与えてしまう。このことを詳細に説明すると次のようになる。
【００１２】
パルス光が、通信光と比較して十分に低速（例えば６２２Ｍｂｐｓのデータレートに対して１μｓのパルス幅）でパルス変調されていると仮定する。この時、パルス光が加入者端末７に入射した場合の符号誤り率（ＢＥＲ）は以下の式で与えられる。
【００１３】
【数１】
0004072368.tif 000002
ここで、Ｄはパルス光のデューティ、ＳDは通信光の等価入力信号電流、σ02は通信光のみが加入者端末に入射しているときの加入者端末での等価入力雑音電流の全分散、ＳOTDRはパルス光の等価入力雑音電流、σ12は通信光とパルス光が同時に加入者端末に入射しているときの加入者端末での等価入力雑音電流である。ｅｒｆｃ（ｘ）は補誤差関数であり、次式で与えられる。
【００１４】
【数２】
0004072368.tif 000003
また、通信光の受光平均パワをＰs、パルス光のピーク受光パワをＰOTDR、加入者端末までの通信光の変換効率をρs、パルス光の変換効率をρOTDRとすると、通信光と心線対照光の等価入力電流はそれぞれ、
【数３】
0004072368.tif 000004
【数４】
0004072368.tif 000005
で与えられる。さらに等価入力雑音電流は、
【数５】
0004072368.tif 000006
で与えられる。ここでρ2shot_OTDRはパルス光によるショット雑音を示す。
【００１５】
式（１）を用いてパルス光の受光パワに依存したＢＥＲ劣化の見積りをした結果を図１１に示す。参考文献（ITU-T.Recommendation G.983.1,“Broadband optical access systems based on Passive Optical Networks (PON),”1988）に従い、ＳD2／σ02＝２２ｄＢ、Ｐs＝−３３ｄＢｍとした。６２２Ｍｂｐｓ伝送においてＢＥＲ＜１０-9を満足しようとした場合、Ｄ＝０．１５％のパルス光１１の平均受光パワＰOTDRは−６８ｄＢｍ以下とする必要があることが分かる。
【００１６】
例えば、加入者端末の入力部分においてパルス光平均パワが−３８ｄＢｍの場合、３０ｄＢ以上の遮断量を有する試験光遮断フィルタ８を挿入する必要がある。つまり、サービス品質に影響を与えることなく現用光線路の特性試験を実施するためには、このような試験光遮断フィルタ８が必須であり、その特性試験前に試験光遮断フィルタ８の有無を確認する必要がある。
【００１７】
従来、この確認の手法としては、加入者端末７の設置時に作成した設備の構成を把握するための情報を設備記録データベース２２に記憶しておき、このデータベースを用いて試験光遮断フィルタ８の有無を確認する方法と、実際に現地調査を行って試験光遮断フィルタ８の有無を目視により確認する方法がある。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前者の手法では、設備記録データベース２２による情報保存の信頼性を長期に渡って確保しなければならない。これが困難であるのは、例えば、試験光遮断フィルタ８が撤去された場合や新たに設置された場合に、そのことが設備記録データベース２２に反映されないおそれがあるからである。さらに、近年の波長多重技術の進展に伴って通信光の波長が複数となる場合もあり、同一ネットワーク内に、異なる遮断波長を有する試験光遮断フィルタが複数種設置される可能性がある。この場合、設置された試験光遮断フィルタ８の種類について誤って設備記録データベース２２に入力しまうおそれがある。一方、後者の方法では、現場調査のために調査員が実際に現地へ向かわなければならない。
【００１９】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実施されてしまうことを防止し得るインサービス試験方法およびこれに用いる試験光遮断フィルタ有無判定装置を提供することにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、第１の本発明に係るインサービス試験方法は、光線路の特性試験を行う前に、当該光線路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により判定し、試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に特性試験を行うことを特徴とする。
【００２１】
本発明にあっては、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置により、試験光遮断フィルタの有無を判定するようにしたことで、たとえ設備記録データベースに試験光遮断フィルタ設置の有無について誤って記録されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができる。
【００２２】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置は、前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第１の試験波長および高反射率帯にある第２の試験波長による試験光を発生する処理と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する処理と、測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を判定する処理と、を行うことを特徴とする。
【００２３】
本発明にあっては、第１の試験波長および第２の試験波長のそれぞれの反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができる。
【００２４】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタの有無を判定する処理は、第１の試験波長の反射光強度が第２の試験波長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第１の試験波長の反射光強度と第２の試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィルタが無いと判定することを特徴とする。
【００２５】
本発明にあっては、試験光遮断フィルタが設置されている場合には高反射率帯にある試験波長λ２の方が低反射率帯にある試験波長λ１よりも反射光強度が大きくなり、試験光遮断フィルタがない場合には試験波長λ２も試験波長λ１も反射光強度はほとんど変わらないことから、各反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定するようにしている。
【００２６】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置は、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応した試験波長による試験光を発生する処理と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する処理と、測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する処理と、を行うことを特徴とする。
【００２７】
本発明にあっては、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応する試験波長の反射強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定するようにしたことで、たとえ試験光遮断フィルタの有無が未知であって、複数種の試験光遮断フィルタが設置されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができる。
【００２８】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する処理は、第１遮断波長に対応する第１試験波長の反射減衰量が第１遮断波長について予め規定されている反射減衰量よりも小さい場合には、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、当該試験光遮断フィルタがないと判定された場合で、第２遮断波長に対応する第２試験波長の反射減衰量が第１試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、そうでない場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置されていないと判定することを特徴とする。
【００２９】
本発明にあっては、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが設置されている場合には、第１試験波長の反射減衰量が予め規定されている反射減衰量よりも小さくなり、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが設置されている場合には、第２試験波長の反射減衰量が第１試験波長の反射減衰量よりも小さくなるという特徴を利用して、各反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを種別を含めて判定するようにしている。
【００３０】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、設備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録されており、かつ、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に、特性試験を行うことを特徴とする。
【００３１】
本発明にあっては、試験光遮断フィルタの有無について、設備記録データベースの記録を照合するとともに、試験光遮断フィルタ有無判定装置で判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無をより正確に判定することができる。
【００３２】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光を発生する処理は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする。
【００３３】
本発明にあっては、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重するようにしたことで、仮に試験光反射フィルタが設置されておらず通信光と共に試験光が加入者端末に入射した場合であっても、加入者端末の帯域フィルタにより試験信号を完全に遮断でき、通信信号の劣化を防止することができる。
【００３４】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記反射光強度を測定する処理の前に、通信光を遮断する処理を行うことを特徴とする。
【００３５】
本発明にあっては、反射光強度を測定する前に通信光を遮断するようにしたことで、試験光の反射光強度だけを抽出することができるので、試験光遮断フィルタの有無をより正確に判定することができる。
【００３６】
第２の本発明に係る試験光遮断フィルタ有無判定装置は、光線路の遠端に波長依存型の試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定する試験光遮断フィルタ有無判定装置であって、遮断波長の異なる複数の試験光遮断フィルタの各遮断波長に対応した試験波長による試験光を発生する発生手段と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する測定手段と、測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する判定手段と、を有することを特徴とする。
【００３７】
本発明は、上記の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記判定手段は、第１遮断波長に対応した第１試験波長の反射減衰量が第１遮断波長について予め規定されている反射減衰量より小さい場合、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、当該試験光遮断フィルタがないと判定された場合で、第２遮断波長に対応した第２試験波長の反射減衰量が第１試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、そうでない場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置されていないと判定することを特徴とする。
【００３８】
本発明は、上記の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記発生手段は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする。
【００３９】
本発明は、上記の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記測定手段の前段に通信光を遮断する遮断手段を有することを特徴とする。
【００４０】
【発明の実施の形態】
［第１の実施の形態］
図１は、第１の実施の形態におけるインサービス試験方法に用いるシステムの概略構成を示すブロック図である。同図のシステムは、図８に示したインサービス試験システム９に試験光遮断フィルタ有無判定装置３１が接続された構成である。試験光遮断フィルタ有無判定装置３１は、信号発生器３２と、多波長光源３３と、光分岐回路３４と、受光部３５と、帯域フィルタ３６と、マルチメータ３７と、判定回路３８と、を有する構成である。なお、その他、図８と同一物には同一の符号を付すものとし、ここでは詳細な説明は省略する。
【００４１】
信号発生器３２は、試験光反射フィルタ８の有無を判定するための試験信号を発生する。
【００４２】
多波長光源３３は、試験光遮断フィルタ８の低反射率帯域および高反射率帯域に対応する光源をそれぞれ少なくとも１ずつ有する。低反射率帯域には第１の試験波長λ１、高反射率帯域には第２の試験波長λ２がそれぞれ用意される。この試験波長λ１と試験波長λ２の出力強度はほぼ一致したものとする。
【００４３】
光分岐回路３４は、多波長光源３３が発生した試験光１１をインサービス試験システム９へ出力し、光カプラ２を介して光ファイバ３へ伝送する。また、試験光１１が試験光遮断フィルタ８で反射したとき、あるいは試験光遮断フィルタ８がなく加入者端末７で反射したときの反射光をインサービス試験システム９から受光し、これを受光部３５へ出力する。
【００４４】
受光部３５は、受光した光を電気信号に光電変換する。
【００４５】
帯域フィルタ３６は、試験波長λ１の反射光および試験波長λ２の反射光による試験信号だけを通過させる周波数帯域特性を有し、通信信号については遮断する。
【００４６】
マルチメータ３７は、試験波長λ１の反射光および試験波長λ２の反射光についてそれぞれ強度を測定する。
【００４７】
判定回路３８は、マルチメータ１７による測定結果に基づいて、後述する手法で試験光反射フィルタの有無を判定する。
【００４８】
図２は、本実施の形態におけるインサービス試験方法による処理の概略を示すフローチャートである。
【００４９】
ｓｔｅｐ１で、まず、光ファイバ選択部２４により、現在運用されている現用光ファイバの中から特性試験の対象となる光ファイバ３を指定する（ｓｔｅｐ１）。
【００５０】
ｓｔｅｐ２で、制御部２５は、指定された光ファイバ３の遠端に試験光遮断フィルタ８が設置されているか否かを設備記録データベース２２と照合する。
【００５１】
ｓｔｅｐ３で、照合の結果、設備記録データベース２２に試験光遮断フィルタが有ることが記録されている場合には次ステップへ進み、この記録がない場合には特性試験を中止する。
【００５２】
ｓｔｅｐ４で、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。この判定処理の詳細については後述する。
【００５３】
ｓｔｅｐ５で、判定の結果、試験光遮断フィルタ８が有ると判定された場合には特性試験を実行し、無いと判定された場合には特性試験を中止する。
【００５４】
特性試験の実行は、光パルス試験部２３が試験光１１を光ファイバ選択部２４および光カプラ２を介して加入者端末７に伝送し、試験光遮断フィルタ８が試験光１１を反射したときの反射光の強度を光パルス試験部２３で測定することにより行われる。
【００５５】
このように、本実施の形態では、特性試験を実行する前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１を用いて試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。以下、ステップ４における試験光遮断フィルタ有無判定装置３１による判定処理について詳細に説明する。
【００５６】
試験光遮断フィルタの有無を判定する処理は、試験光遮断フィルタが実際に配置されていない場合にも実施される可能性があるため、通信光１０に影響を与えないようにする必要がある。そこで、信号発生器３２は、図３に示すように試験信号の周波数が通信信号の周波数の帯域外となるように周波数配置する。
【００５７】
このように周波数配置された試験信号について、多波長光源３３により第１の試験波長λ１および第２の試験波長λ２よりなる試験光１１を発生する。
【００５８】
光分岐回路３４は、多波長光源３３が発生した試験光１１をインサービス試験システム９へ出力する。インサービス試験システム９は、試験光１１を光カプラ２を介して光ファイバ３へ伝送する。また、光カプラ２およびインサービス試験システム９を介して送られてくる遠端からの反射光を受光部３５へ出力する。
【００５９】
受光部３５は、この反射光を光電変換する。電気変換により生成された反射信号は、試験信号のみを通過させる帯域フィルタ３６を介しマルチメータ３７で受信され、その強度が測定される。判定回路２１は、測定された反射光強度の大小関係に基づいて、次のように試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。
【００６０】
低反射率帯域の波長がλ１、高反射率帯域の波長がλ２の試験光遮断フィルタ８が設置されている場合は、試験光１１の試験波長λ１の成分は大部分が試験光遮断フィルタ８を通過し、試験波長λ２の成分は大部分が試験光遮断フィルタ８で遮断、すなわち反射される。よって各試験波長における反射光の強度の大小関係は、
【数６】
0004072368.tif 000007
で与えられる。
【００６１】
一方、試験光遮断フィルタ８が無い場合には、波長の相違によっては試験光１１の反射率はほとんど変わらないことから、測定される各試験波長における反射光の強度の大小関係は、
【数７】
0004072368.tif 000008
で与えられる。
【００６２】
そこで、判定回路３８では、試験波長λ１の反射光強度と試験波長λ２の反射光強度とを比較し、式（６）の関係が得られたときは試験光遮断フィルタ８が有ると判定し、式（７）の関係が得られたときは試験光遮断フィルタ８が無いと判定する。
【００６３】
したがって、本実施の形態によれば、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定するようにしたことで、たとえ設備記録データベース２２に試験光遮断フィルタ設置の有無について誤って記録されていたとしても、試験光遮断フィルタ８の有無について正確に判定することができ、試験光遮断フィルタ８が実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実行されてしまうことを防止することができる。これによって、より確実な光線路の特性試験を実現でき、設備記録データベースの維持管理のためのメンテナンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を不要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができる。
【００６４】
また、本実施の形態によれば、試験光遮断フィルタ８が設置されている場合には高反射率帯にある試験波長λ２の方が低反射率帯にある試験波長λ１よりも反射光強度が大きくなり、試験光遮断フィルタ８がない場合には試験波長λ２も試験波長λ１も反射光強度はほとんど変わらないことから、各試験波長による反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタ８が設置されているか否かを判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタ８の有無について正確に判定することができる。
【００６５】
また、本実施の形態によれば、試験光遮断フィルタ８の有無について、設備記録データベース２２の記録を照合するとともに、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１で判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタ８の有無をより正確に判定することができる。
【００６６】
また、本実施の形態によれば、信号発生器３２により試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重するようにしたことで、仮に加入者端末７の前方に試験光反射フィルタ８が設置されておらず通信光１０とともに試験光１１が加入者端末７の光受信機１２で受信された場合であっても、加入者端末７の帯域フィルタ１３により試験光１１による試験信号を完全に遮断することができるので、受信機１４で受信する通信信号の劣化を防止することができる。更に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１の帯域フィルタ３６により、反射光についても通信信号を遮断して試験信号のみを抽出でき、判定回路３８において、試験光遮断フィルタ８の有無をより正確に判定することができる。
【００６７】
以下、周波数多重による効果について詳細に説明する。試験光１１が通信光１０と比較して十分高速に正弦波変調（例えば６２２Ｍｂｐｓのデータレートに対して１２４４ＭＨｚ）されていると仮定する。この時、試験光１１が加入者端末７に入射した場合の符号誤り率ＢＥＲは以下の式で与えられる。
【００６８】
【数８】
0004072368.tif 000009
ここで、σ22は通信光１０と試験光１１が同時に加入者端末７に入射したときの等価雑音電流の全分散であり、σ22は以下の式で与えられる。
【００６９】
【数９】
0004072368.tif 000010
ここで、σshot_test2は試験光１１によるショット雑音電流、Ｋは加入者端末７の帯域フィルタ１３の試験光変調周波数における通過率、ＯＭＩは通信光１０の光変調度、ρtestは試験光１１の変換効率を示す。
【００７０】
式（９）を用い、Ｋ＝１０-3、ＯＭＩ＝３５％のときのＢＥＲ特性を図４に実線で示す。同図の破線は、図１１に示したＢＥＲ特性である。図４が示すように、試験光１１の変調周波数を通信信号帯域外に周波数配置することにより、許容受光パワが約３０ｄＢ増加することが分かる。これにより、例えば、許容受光パワの増加に相当する分だけ強いパワで試験光１１を出力することができるようになる。
【００７１】
［第２の実施の形態］
本実施の形態では、複数の試験光遮断フィルタが設置され得る場合に、試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行うようにしたインサービス試験方法について説明する。本インサービス試験方法に用いるシステムの基本的な構成は、図１と同様であるので、ここでは重複する部分については説明を省略する。
【００７２】
図５は、遮断波長が異なる２種類の試験光遮断フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図である。ここでは、第１遮断波長が１．５５μｍの試験光遮断フィルタ（以下「１．５５μｍ遮断フィルタ」という）と、第２遮断波長が１．６５μｍの試験光遮断フィルタ（以下「１．６５μｍ遮断フィルタ」という）の２つを想定する。
【００７３】
同図において、Ｒ1.55（f0），Ｒ1.55（f1），Ｒ1.55（f2）は、測定波長１．５５μｍについて予め規定されている反射減衰量である。Ｒ1.55（f0），Ｒ1.55（f1），Ｒ1.55（f2）を用いることによって、既設光線路において測定される反射減衰量をＲ1.55で表すとすると、Ｒ1.55＞Ｒ1.55（f0）の場合には、１．５５μｍ遮断フィルタは無い、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（f1）の場合には、１．５５μｍ遮断フィルタが有る、Ｒ1.55＞Ｒ1.55（f2）の場合には、いずれの試験光遮断フィルタも無いと判断することができる。
【００７４】
また、Ｒ1.65（f0），Ｒ1.65（f2）は、測定波長１．６５μｍについて予め規定されている反射減衰量である。Ｒ1.65（f0），Ｒ1.65（f2）を用いることによって、既設光線路において測定される反射減衰量をＲ1.65で表すとすると、Ｒ1.65＞Ｒ1.65（f0）の場合には、いずれの試験光遮断フィルタも無い、Ｒ1.65＜Ｒ1.65（f2）の場合には、１．６５μｍ遮断フィルタが有ると判断することができる。
【００７５】
なお、反射減衰量は、マルチメータ３７により測定された反射光強度を用いて一意的に求めることができる。反射光強度が大きいほど反射減衰量は小さくなり、反射光強度が小さいほど反射減衰量は大きくなる。
【００７６】
図６は、図５に示した波長依存性に基づいて試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行う処理を示すフローチャートである。同図のフローチャートについて説明する前に、この処理を裏付けるために行った変調周波数成分に対する反射光強度の測定実験の結果について図７を用いて説明する。
【００７７】
図７（ａ）は、第１遮断波長に対応する第１試験波長として１．５５μｍを用いたときの反射光強度の測定値を示すグラフであり、１．５５μｍ遮断フィルタが設置されている場合、１．６５μｍ遮断フィルタが設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタもない場合の３種類について示してある。同図（ｂ）は、第１試験波長に１．５５μｍ、第２遮断波長に対応する第２試験波長に１．６５μｍを用いたときの反射光強度の測定値を示すグラフであり、１．６５μｍ遮断フィルタが設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタもない場合の２種類について示してある。
【００７８】
図７（ａ）において、１．５５μｍ遮断フィルタが有る場合は、第１試験波長１．５５μｍの反射光強度が、Ｒ1.55（ｆ０）に対応する反射光強度よりも大きいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比較すると、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（ｆ０）の関係が成り立つ。一方、１．６５μｍ遮断フィルタが有る場合や、いずれの試験光遮断フィルタもない場合には、この関係は成り立たない。
【００７９】
同図（ｂ）において、１．６５μｍ遮断フィルタが有る場合は、第１試験波長１．５５μｍの反射光強度は、第２試験波長１．６５μｍの反射光強度よりも小さいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比較すると、Ｒ1.55＞Ｒ1.65の関係が成り立つ。一方、１．６５μｍ遮断フィルタがない場合には、この関係は成り立たない。
【００８０】
続いて、図６に示したフローチャートによる処理について説明する。まず、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１は、本処理に入る前に、試験波長が１．５５μｍと１．６５μｍよりなる試験光を生成し、加入者端末７へ向けて伝送する。
【００８１】
ステップ１１で、帯域フィルタ３６による帯域設定で、反射光の測定波長に１．５５μｍを選択する。
【００８２】
ステップ１２で、帯域フィルタ３６を通過した第１試験波長１．５５μｍの反射光について、マルチメータ３７により反射光強度を測定し、その反射減衰量Ｒ1.55を求める。
【００８３】
ステップ１３で、判定回路３８は、Ｒ1.55とＲ1.55（ｆ０）の大小関係を比較し、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（ｆ０）の関係が成立する場合には１．５５μｍ遮断フィルタが有ると判定し、本処理を終了する。一方、この関係が成立しない場合には、次ステップへ進む。
【００８４】
ステップ１４で、帯域フィルタ３６による帯域設定で、反射光の測定波長に１．６５μｍを選択する。
【００８５】
ステップ１５で、帯域フィルタ３６を通過した第２試験波長１．６５μｍの反射光について、マルチメータ３７により反射光強度を測定し、その反射減衰量Ｒ1.65を求める。
【００８６】
ステップ１６で、判定回路３８は、Ｒ1.55とＲ1.65の大小関係を比較し、Ｒ1.55＞Ｒ1.65の関係が成立する場合には１．６５μｍ遮断フィルタが有ると判定し、この関係が成立しない場合には、いずれの試験光遮断フィルタも設置されていないと判定して本処理を終了する。
【００８７】
本実施の形態では、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１を用いた有無判定を、光線路の特性試験を実行する前に行い、試験光遮断フィルタが有ることが確認された場合にのみ特性試験を実施する。この手順を踏むことによって、通信信号の品質劣化を招かないインサービス試験方法が実現される。
【００８８】
したがって、本実施の形態によれば、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応する試験波長の反射強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定するようにしたことで、たとえ試験光遮断フィルタの有無が未知であって、複数種の試験光遮断フィルタが設置されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができ、試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実行されてしまうことを防止することができる。これによって、より確実な光線路の特性試験を実現でき、設備記録データベースの維持管理のためのメンテナンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を不要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができる。
【００８９】
なお、本実施の形態においても、試験光遮断フィルタの有無について試験光遮断フィルタ有無判定装置３１により判定するとともに、第１の実施の形態で示したように、設備記録データベース２２の記録を照合するようにしてもよい。これにより、試験光遮断フィルタの有無をより正確に判定することができる。
【００９０】
また、本実施の形態においても、信号発生器３２により試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域外に配置するようにしてもよい。更に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１の帯域フィルタ３６により、反射光についても通信信号を遮断して試験信号のみを抽出するようにしてもよい。
【００９１】
【発明の効果】
以上、説明したように、本発明に係るインサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置によれば、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタの有無を判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実行されてしまうことを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施の形態におけるインサービス試験方法に用いるシステムの全体構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施の形態におけるインサービス試験方法による処理の概略を示すフローチャートである。
【図３】第１の実施の形態において周波数多重した場合の通信信号と試験信号のスペクトルの一例を示す模式図である。
【図４】第１の実施の形態において周波数多重した場合の試験光の加入者端末における平均受光パワとＢＥＲとの関係の一例を示すグラフである。
【図５】第２の実施の形態において２種類の試験光遮断フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図である。
【図６】第２の実施の形態において試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行う処理を示すフローチャートである。
【図７】変調周波数成分に対する反射光強度の測定値を示す図であり、同図（ａ）は試験波長が１．５５μｍのとき、同図（ｂ）は試験波長が１．６５μのときのものをそれぞれ示す。
【図８】従来の光線路の特性試験を実施するための設備の概略構成を示すブロック図である。
【図９】従来の光線路の特性試験を行うときの処理の一例を示すフローチャートである。
【図１０】従来の通信信号と試験信号のスペクトルの一例を示す模式図である。
【図１１】従来の試験光の加入者端末における平均受光パワとＢＥＲとの関係の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
１  局内装置
２  光カプラ
３  光ファイバ
７  加入者端末
８  試験光遮断フィルタ
９  インサービス試験システム
１０  通信光
１１  試験光
１２  光受信機
１３  帯域フィルタ
１４  受信機
２２  設備記録データベース
２３  光パルス試験部
２４  光ファイバ選択部
２５  制御部
３１  試験光遮断フィルタ有無判定装置
３２  信号発生器
３３  多波長光源
３４  光分岐回路
３５  受光部
３６  帯域フィルタ
３７  マルチメータ
３８  判定回路
【図１】
0004072368.tif 000011
【図２】
0004072368.tif 000012
【図３】
0004072368.tif 000013
【図４】
0004072368.tif 000014
【図５】
0004072368.tif 000015
【図６】
0004072368.tif 000016
【図７】
0004072368.tif 000017
【図８】
0004072368.tif 000018
【図９】
0004072368.tif 000019
【図１０】
0004072368.tif 000020
【図１１】
0004072368.tif 000021