(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
再生装置に設けられた調整手段により当該再生装置によるデイスク状記録媒体の再生精度を調整する再生精度調整方法であつて、
上記再生装置の上記調整手段が上記デイスク状記録媒体の上記再生精度を所定の第１の範囲内となるように出荷検査時に調整する第１のステツプと、
上記再生装置の上記調整手段が上記再生精度を上記第１の範囲を緩和した所定の第２の範囲内となるように上記出荷検査後に調整する第２のステツプと
を具え、
上記第１のステツプでは、
上記再生装置の上記調整手段が上記再生精度を表す上記デイスク状記録媒体から再生されて得られる再生信号の振幅を、上記再生装置が記憶している所定の第１のしきい値以下でなる上記第１の範囲内となるようにオペアンプのゲイン及びオフセツト量の少なくとも一方を調整し、
上記第２のステツプでは、
上記再生装置の上記調整手段が上記再生信号の振幅を上記第１のしきい値よりも大きい、上記再生装置が記憶している所定の第２のしきい値以下でなる上記第２の範囲内となるように上記オペアンプの上記ゲイン及び上記オフセツト量の少なくとも一方を調整し、
上記第２のしきい値は、
少なくとも上記デイスク状記録媒体のレーザ光の照射面における反射率のばらつきに応じて、上記第１のしきい値を10〜30〔％〕程度大きくしたような値でなる
ことを特徴とする再生装置による再生精度調整方法。
【請求項２】
上記第２のステツプでは、
上記再生装置の上記調整手段が上記オペアンプに上記第１のステツプにおいて得られた上記ゲインの調整値と、上記オフセツト量の調整値とを初期値として設定し、上記再生精度を上記第２の範囲内となるように上記オペアンプの上記ゲイン及び上記オフセツト量の少なくとも一方を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の再生装置による再生精度調整方法。
【請求項３】
デイスク状記録媒体の再生精度を出荷検査時には所定の第１の範囲内となるように調整し、出荷検査後には上記再生精度を上記第１の範囲を緩和した所定の第２の範囲内となるように調整する調整手段と、
上記出荷検査時に上記再生精度を調整するために用いる所定の第１のしきい値と、上記出荷検査後に上記再生精度を調整するために用いる、上記第１のしきい値よりも大きい所定の第２のしきい値とを記憶する記憶手段と
を具え、
上記調整手段は、
上記出荷検査時には上記再生精度を表す上記デイスク状記録媒体から再生されて得られる再生信号の振幅を上記第１のしきい値以下でなる上記第１の範囲内となるようにオペアンプのゲイン及びオフセツト量の少なくとも一方を調整し、上記出荷検査後には上記再生信号の振幅を上記第２のしきい値以下でなる上記第２の範囲内となるように上記オペアンプの上記ゲイン及び上記オフセツト量の少なくとも一方を調整し、
上記第２のしきい値は、
少なくとも上記デイスク状記録媒体のレーザ光の照射面における反射率のばらつきに応じて、上記第１のしきい値を10〜30〔％〕程度大きくしたような値でなる
ことを特徴とする再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【目次】
以下の順序で本発明を説明する。
【０００２】
発明の属する技術分野
従来の技術
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段（図１〜図７）
発明の実施の形態
（１）本実施の形態によるデイスク記録再生装置の構成（図１〜図６）
（２）ＲＦ（Radio Frequency ）信号の振幅の調整処理（図７）
（３）本実施の形態の動作及び効果（図１〜図７）
（４）他の実施の形態（図１〜図７）
発明の効果
【０００３】
【発明の属する技術分野】
本発明は再生装置による再生精度調整方法及び再生装置に関し、例えば5.25インチの光磁気デイスクにデータを記録再生するデイスク記録再生装置に適用して好適なものである。
【０００４】
【従来の技術】
従来、5.25インチの光磁気デイスクにおいては、データの記録密度が１倍密、２倍密、３倍密、４倍密及び８倍密のように複数種類の規格が設けられていると共に、データの記録方式についてもＭＯ（Magneto Optical ）、ＣＣＷ（Continuos Composite Write once）、ＷＯＲＭ（Write Once Read Many）及びＬｉｍ−ＤＯＷ（Light intensity modulation-Direct Over Write）のように複数種類の規格が設けられている。さらにデータのセクタ単位の記録フオーマツトについても２Ｋ、１Ｋ及び５１２のように規格化されており総計で30種類以上のメデイアタイプがある。
【０００５】
この場合これら各種メデイアタイプの光磁気デイスクでは、それぞれトラツクピツチ、トラツクのスパイラル方向、記録再生時のレーザ光の照射面（以下、これを単に照射面と呼ぶ）の反射率及び記録再生時のレーザ光の光強度等が異なることから、その最内周領域にこの光磁気デイスクのフオーマツト情報が記録されたＰＥＰ（Phase-Encoded Part of the control tracks）と呼ばれる領域（メデイアタイプに依らずにセンタホールから同じ距離及び幅でＰＥ（Phase-Encoded ）と呼ばれるフオーマツトで記録されている）が設けられている。
【０００６】
これによりこの種の光磁気デイスクにデータを記録再生するデイスク記録再生装置では、光磁気デイスクのＰＥＰに記録されているフオーマツト情報に基づいてこの光磁気デイスクがどのメデイアタイプのものかを判別し、この判別結果に応じてデータを記録再生するようになされている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところでこのようなデイスク記録再生装置においては、データの再生時、光磁気デイスクから再生して得られるアナログでなるＲＦ信号を、オペアンプ及びアナログデイジタル変換器を順次介して出力するものの、メデイアタイプによつて光磁気デイスクの照射面の反射率と、データの再生時にこの照射面に照射するレーザ光の光強度とが異なることから、当該メデイアタイプに応じてＲＦ信号の振幅の大きさが変わり、このままではＲＦ信号を正しくアナログデイジタル変換し難くなる。
【０００８】
このためこのデイスク記録再生装置では、このデイスク記録再生装置を製造する製造所の出荷検査において、実際にオペアンプのゲインを調整するようにしてＲＦ信号の振幅を予め設定されたしきい値（以下、これを第１の振幅用しきい値と呼ぶ）よりも小さい値となるように調整すると共に、当該オペアンプの有する電気的なオフセツト量を予め設定されたしきい値（以下、これを第１のオフセツト用しきい値と呼ぶ）よりも小さい値となるように調整するようになされていることから、市場でもデータの再生時、光磁気デイスクがセツトされる毎に、この出荷検査によるオペアンプの調整処理に用いられた第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いるようにしてオペアンプのゲイン及びオフセツト量を調整することによりＲＦ信号の振幅を、正しくアナログデイジタル変換し得るように調整している。
【０００９】
この場合出荷検査では、比較的高精度に製造された光磁気デイスクを用い、温度、塵埃及び電源電圧の変動等が厳しく管理された環境のもとでオペアンプのゲイン及びオフセツト量を調整するようにし、この調整結果のばらつきに基づいてオペアンプ及びアナログデイジタル変換器が一体に形成されてなるＬＳＩ（Large Scale Integration ）素子が仕様どおりの品質であるかどうかを検査することから、第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値が比較的小さい値に設定されている。
【００１０】
ところがこれに対して市場では、メデイアタイプが同じ場合でも製造メーカが異なると光磁気デイスクの照射面における反射率にばらつきが生じると共に、温度や塵埃により不安定な環境のなかでデータの再生を行うことから、第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いたオペアンプの調整処理では精度が厳しすぎてＲＦ信号の振幅を、正しくアナログデイジタル変換し得るように調整し難くなる場合があり、このような場合には光磁気デイスクに対して再生エラーが生じる問題があつた。
【００１１】
かかる課題を解決する方法として、出荷検査によるオペアンプの調整処理において、第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値よりも大きな値でなるしきい値を用いるようにして、このしきい値を市場におけるオペアンプの調整処理にも用いることが考えられている。
【００１２】
しかしながらこの方法では、出荷検査において第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値よりも大きな値でなるしきい値を用いると、これに応じてＬＳＩ素子の検査基準がゆるくなり、この結果規格ぎりぎりのＬＳＩ素子が搭載されたデイスク記録再生装置が市場に出荷されることから、市場において温度等の環境が劣悪な場合にはこのＬＳＩ素子が誤動作し、かくして光磁気デイスクに対して再生エラーが生じる問題があつた。
【００１３】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、デイスク状記録媒体に対する再生エラーの発生を大幅に低減し得る再生装置による再生精度調整方法及び再生装置を提案しようとするものである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため本発明においては、再生装置に設けられた調整手段により当該再生装置によるデイスク状記録媒体の再生精度を調整する再生精度調整方法において、 再生装置の調整手段がデイスク状記録媒体の再生精度を所定の第１の範囲内となるように出荷検査時に調整する第１のステツプと、再生装置の調整手段が再生精度を第１の範囲を緩和した所定の第２の範囲内となるように出荷検査後に調整する第２のステツプとを設け、第１のステツプでは、再生装置の調整手段が再生精度を表すデイスク状記録媒体から再生されて得られる再生信号の振幅を、再生装置が記憶している所定の第１のしきい値以下でなる第１の範囲内となるようにオペアンプのゲイン及びオフセツト量の少なくとも一方を調整し、第２のステツプでは、再生装置の調整手段が再生信号の振幅を第１のしきい値よりも大きい、再生装置が記憶している所定の第２のしきい値以下でなる第２の範囲内となるようにオペアンプのゲイン及びオフセツト量の少なくとも一方を調整し、第２のしきい値が、少なくともデイスク状記録媒体のレーザ光の照射面における反射率のばらつきに応じて、第１のしきい値を10〜30〔％〕程度大きくしたような値となるようにした。
【００１５】
この結果、再生装置の出荷検査時の検査基準を下げずに、この出荷検査後にデイスク状記録媒体のレーザ光の照射面における反射率にばらつきがある場合でも再生精度を調整することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１７】
（１）本実施の形態によるデイスク記録再生装置の構成
図１において、１は全体として本発明によるデイスク記録再生装置を示し、コントローラ２は、記録モード時、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）３に記録制御信号Ｓ１を送出することにより、当該ＤＳＰ３によつてスピンドルドライバ４を介してスピンドルモータ５を駆動制御させ、かくしてターンテーブル６にセツトされた光磁気デイスク７を所定回転数で回転させる。
【００１８】
またコントローラ２は、外部から与えられる記録データＤ１に対して光磁気デイスク７のメデイアタイプに応じた方式による変換（１−７変換又は２−７変換）等の所定の信号処理を施した後、これをライトデータＤ２としてレーザパワーコントローラ（ＬＰＣ）８に送出する。
【００１９】
レーザパワーコントローラ８は、ＤＳＰ３から供給される駆動制御信号Ｓ４に基づいて駆動し、コントローラ２から与えられるライトデータＤ２に基づく制御信号Ｓ５を生成し、これを光学ブロツク９に送出することにより当該光学ブロツク９内のレーザ光源（図示せず）から発射されるレーザ光Ｌ１をライトデータＤ２に応じて点滅させる。
【００２０】
この場合レーザ光Ｌ１の延長線上には磁界印加部１０が配置されており、ＤＳＰ３は、マグネツトドライバ１１を介して磁界印加部１０を駆動制御することにより光磁気デイスク７においてレーザ光Ｌ１の照射位置に所定方向の磁界を印加して着磁させる。
【００２１】
かくしてこのデイスク記録再生装置１では、光学ブロツク９のレーザ光源から発射されるレーザ光Ｌ１に基づいて光磁気デイスク７にライトデータＤ２を記録し得るようになされている。
【００２２】
このとき光学ブロツク９は、レーザ光Ｌ１の光磁気デイスク７における反射光Ｌ２をフオトデイテクタ（図示せず）によつて受光すると共に、当該フオトデイテクタの受光出力に基づいてフオーカスエラー信号Ｓ８及びトラツキングエラー信号Ｓ９を生成し、これらをＤＳＰ３に送出する。
【００２３】
また光学ブロツク９は、中点センサ（図示せず）によつて対物レンズ（図示せず）のトラツク方向のセンタ位置からのずれを検出し、これをスライドエラー信号Ｓ１０としてＤＳＰ３に送出する。
【００２４】
ＤＳＰ３は、フオーカスエラー信号Ｓ８に基づくフオーカス制御信号Ｓ１１をフオーカスドライバ１２に送出すると共に、当該フオーカスドライバ１２はフオーカス制御信号Ｓ１１に基づく駆動信号Ｓ１２を光学ブロツク９内に配設されたフオーカス用アクチユエータ（図示せず）に送出することによりこれを必要に応じて駆動させる。
【００２５】
またＤＳＰ３は、トラツキングエラー信号Ｓ９に基づくトラツキング制御信号Ｓ１３をトラツキングドライバ１３に送出すると共に、当該トラツキングドライバ１３はトラツキング制御信号Ｓ１３に基づく駆動信号Ｓ１４を光学ブロツク９内に配設されたトラツキング用アクチユエータ（図示せず）に送出することによりこれを必要に応じて駆動させる。
【００２６】
さらにＤＳＰ３は、スライドエラー信号Ｓ１０に基づくスライド制御信号Ｓ１５をスライドドライバ１４に送出すると共に、当該スライドドライバ１４はスライド制御信号Ｓ１５に基づく駆動信号Ｓ１６を光学ブロツク９内に配設されたスライダ１５に送出することにより必要に応じて光学ブロツク９を径方向に移動させる。
【００２７】
このようにしてこのデイスク記録再生装置１では、光学ブロツク９から出力されるフオーカスエラー信号Ｓ８、トラツキングエラー信号Ｓ９及びスライドエラー信号Ｓ１０に基づいて、フオーカス制御、トラツキング制御及びスライド制御を行うようになされている。
【００２８】
一方再生モード時、コントローラ２はＤＳＰ３に再生制御信号Ｓ１７を送出することにより、当該ＤＳＰ３により上述の記録モード時と同様にしてターンテーブル６にセツトされた光磁気デイスク７を所定の回転数で回転させると共に、レーザパワーコントローラ８を介して光学ブロツク９内のレーザ光源を駆動させることにより所定の光強度のレーザ光Ｌ１を光磁気デイスク７に照射させる。
【００２９】
このレーザ光Ｌ１の光磁気デイスク７における反射光Ｌ２は、光学ブロツク９内のフオトデイテクタによつて光電変換され、かくして得られたＲＦ信号Ｓ１８はＬＳＩ素子構成でなるリードチヤネル１６においてデイジタル変換された後、コントローラ２において所定の再生処理が施され、この後再生データＤ３として外部に出力される。
【００３０】
このときＤＳＰ３は、上述の記録モード時と同様にして光学ブロツク９からフオーカスエラー信号Ｓ８、トラツキングエラー信号Ｓ９及びスライドエラー信号Ｓ１０が供給され、これによりこれらフオーカスエラー信号Ｓ８、トラツキングエラー信号Ｓ９及びスライドエラー信号Ｓ１０に基づいて上述と同様にしてフオーカス制御、トラツキング制御及びスライド制御を行うようになされている。
【００３１】
因みにコントローラ２は、記録モード時及び再生モード時、ターンテーブル６に光磁気デイスク７がセツトされると、上述と同様にこの光磁気デイスク７を回転させた後、記録制御信号Ｓ１及び再生制御信号Ｓ１７に先立つてシーク命令信号Ｓ２０をＤＳＰ３に送出することにより、当該ＤＳＰ３によりスライドドライバ１４を介して光学ブロツク９内のスライダ１５を駆動制御させ、かくして光学ブロツク９を光磁気デイスク７の内周方向に移動させる。
【００３２】
この場合光学ブロツク９のスライダ１５の可動体（図示せず）には、リニアスケール（図示せず）が固定配置されていると共に、光磁気デイスク７の最内周領域に設けられたＰＥＰ近傍の所定位置には反射型のエンコーダでなるリニアエンコーダ１７が固定配置されており、当該リニアエンコーダ１７は、このリニアエンコーダ１７に対するリニアスケールの位置に基づいて光学ブロツク９の移動距離及び移動方向を検出し、この検出結果を移動検出信号Ｓ２１としてＤＳＰ３に送出する。
【００３３】
ＤＳＰ３は、移動検出信号Ｓ２１に基づいて得られる光学ブロツク９の移動距離及び移動方向に応じてスライドドライバ１４を介してスライダ１５を駆動制御することにより、光学ブロツク９を一旦光磁気デイスク７の最内周領域に位置するミラー領域（鏡面状の領域）と対向する所定位置まで移動させる。
【００３４】
そしてＤＳＰ３は、レーザパワーコントローラ８を介して光学ブロツク９内のレーザ光源を駆動制御すると共に、フオーカスドライバ１２を介して光学ブロツク９内のフオーカス用アクチユエータを駆動制御するようにして当該レーザ光源から発射された所定の光強度のレーザ光Ｌ１をフオーカスを制御しながら光磁気デイスク７に照射させる。
【００３５】
この状態においてＤＳＰ３は、移動検出信号Ｓ２１に基づいてスライドドライバ１４を介してスライダ１５を駆動制御することにより光学ブロツク９を光磁気デイスク７のＰＥＰ（図示せず）と対向する位置まで移動させるようにしてこのＰＥＰに所定時間レーザ光Ｌ１を照射させる。
【００３６】
このようにしてレーザ光Ｌ１の光磁気デイスク７のＰＥＰにおける反射光Ｌ２は、光学ブロツク９内のフオトデイテクタによつて光電変換され、得られたＲＦ信号Ｓ１８がリードチヤネル１６においてデイジタル変換された後フオーマツトデータＤ４としてＤＳＰ３に送出される。
【００３７】
かくしてＤＳＰ３は、リードチヤネル１６から与えられるフオーマツトデータＤ４をデコードし、この結果得られるフオーマツト情報に基づいて光磁気デイスク７のメデイアタイプを判別することにより、この判別結果に応じて光学ブロツク９のレーザ光源から発射されるレーザ光Ｌ１の光強度や、コントローラ２による記録データＤ１の変換方式等を必要に応じて切り換える。
【００３８】
ところでこのデイスク記録再生装置１においては、製造所の出荷検査により、比較的高精度に製造された例えば８倍密でなる光磁気デイスクを用い、かつ温度、塵埃及び電源電圧の変動等が厳しく管理された環境のもとで、必要に応じてリードチヤネル１６を交換するようにしてＲＦ信号の振幅を第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値に基づく所定の第１の範囲内におさえるように当該リードチヤネル１６内のオペアンプのゲイン及びオフセツト量を第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いて調整する。
【００３９】
そしてこのデイスク記録再生装置１では、このオペアンプの調整処理によつて得られた８倍密のメデイアタイプに応じたゲインの調整値と、オフセツト量の調整値とがＤＳＰ３の内部に設けられたメモリ（図示せず）に記憶されると共に、当該８倍密のメデイアタイプに応じたゲインの調整値と、オフセツト量の調整値とから所定の換算式に基づいてそれぞれ得られる１倍密、２倍密、３倍密及び４倍密のメデイアタイプに応じたゲインの調整値と、オフセツト量の調整値とがＤＳＰ３内部のメモリに記憶される。
【００４０】
またこのＤＳＰ３内部のメモリには、光磁気デイスク７の照射面おける反射率の（製造メーカによる）ばらつきに応じて第１の振幅用しきい値を10〜30〔％〕程度大きくするようにして設定された市場での振幅の調整用でなる第２の振幅用しきい値と、第１のオフセツト用しきい値を同様に10〜30〔％〕程度大きくするようにして設定された市場でのオフセツト量の調整用でなる第２のオフセツト用しきい値とが記憶される。
【００４１】
そしてこの場合ＤＳＰ３は、図２に示すように、再生モード時、光磁気デイスク７のメデイアタイプを判別すると、内部のメモリ（図示せず）からこの判別結果に応じたゲインの調整値とオフセツト量の調整値とを読み出し、このゲインの調整値に基づくゲイン制御信号Ｓ２５と、オフセツト量の調整値に基づくオフセツト量制御信号Ｓ２６とをシリアルバス２０を介してインナーレジスタ２１に与える。
【００４２】
インナーレジスタ２１は、ＤＳＰ３から与えられたゲイン制御信号Ｓ２５に基づいてオペアンプ２２のゲインを出荷検査のオペアンプの調整処理によつて設定されたゲインと同じ値に設定すると共に、オフセツト量制御信号Ｓ２６に基づいてこのオペアンプ２２のオフセツト量を出荷検査のオペアンプの調整処理によつて設定されたオフセツト量と同じ値に設定する。
【００４３】
これによりオペアンプ２２は、光学ブロツク９から与えられるＲＦ信号Ｓ１８を増幅した後、アナログデイジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）２３を介してコントローラ２に送出すると共に、この増幅したＲＦ信号Ｓ１８の振幅に応じた電圧値を所定のタイミングで検出してこれを振幅信号Ｓ２７とし、かつオフセツト量に応じた電圧値を同様のタイミングで検出してこれをオフセツト信号Ｓ２８として、これらを順次インナーレジスタ２１に与えて記憶させる。
【００４４】
この場合ＤＳＰ３は、このインナーレジスタ２２に記憶された振幅信号Ｓ２７とオフセツト信号Ｓ２８とをシリアルバス２０を介して順次読み出すと共に、メモリから第２の振幅用しきい値と、第２のオフセツト用しきい値とを読み出し、この振幅信号Ｓ２７と第２の振幅用しきい値とに基づく振幅制御信号Ｓ２５をインナーレジスタ２１に与えることによりオペアンプ２２のゲインを調整すると共に、オフセツト信号Ｓ２８と第２のオフセツト用しきい値とに基づくオフセツト制御信号Ｓ２６をインナーレジスタ２１に与えることによりオペアンプ２２のオフセツト量を調整する。
【００４５】
このようにしてＤＳＰ３は、オペアンプ２２のゲイン及びオフセツト量をそれぞれ対応する第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値以下の値となるように調整し、かくして光磁気デイスク７から再生して得られるＲＦ信号Ｓ１８の振幅をこの第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値に基づく、第１の範囲よりも広い第２の範囲内におさえるように調整するようになされている。
【００４６】
なおこの実施の形態の場合、ＤＳＰ３は、所定の極性でなる信号をスピンドルドライバ４に送出することによりスピンドルモータ５を回転させ、このときこのスピンドルドライバ４からスピンドルモータ５が１回転する毎に４種類の矩形波でなる回転数検出信号が与えられると、この回転数検出信号に基づいて得られる４種類の矩形波の時間幅を検出し、当該検出結果に基づいてスピンドルモータ５の回転数をモニタする。そしてＤＳＰ３は、スピンドルモータ５の回転数がデータの記録及び又は再生のために予め設定された所定回転数になると、回転数ロツク信号をスピンドルドライバ４に送出することによりスピンドルモータ５の回転数を一定に保持させると共に、４種類の矩形波の時間幅が予め設定されたしきい値よりも大きくなると回転開始時とは極性の反転してなる信号をスピンドルドライバ４に送出することによりスピンドルモータ５の回転を停止させる。
【００４７】
またこの実施の形態の場合、光学ブロツク９内のフオトデイテクタは、記録モード時及び再生モード時に反射光Ｌ２を受光するとその光量に応じたプルイン信号をＤＳＰ３に与え、これによりＤＳＰ３はこのプルイン信号に基づいてフオトデイテクタ全体が十分な光量の反射光Ｌ２を受光しているかどうかを検出する。
【００４８】
さらにこの実施の形態の場合、図３に示すように、記録モード時に実際にデータを消去するには、磁界印加部１０の光磁気デイスク７の上面と対向する側を例えばＮ極に設定すると共に、光学ブロツク９からデータ消去用の所定の光強度でなるレーザ光Ｌ１を連続発射させ、この状態において光磁気デイスク７を所定方向Ｂに回転させながらレーザ光Ｌ１を例えば連続するデータ消去対象位置７Ａの磁性膜７Ｂに順次照射することにより各データ消去対象位置７Ａの磁性膜７ＢにＮ極の磁界を着磁させ、かくしてデータを消去することができる。
【００４９】
これに対して図４に示すように、記録モード時に実際にデータを記録するには、磁界印加部１０の光磁気デイスク７の上面と対向する側を例えばＳ極に設定すると共に、光学ブロツク９からデータ記録用の所定の光強度でなるレーザ光Ｌ１を点滅させるように発射させ、この状態において光磁気デイスク７を所定方向Ｂに回転させながら消去時とは異なる極性（Ｓ極）の磁界を着磁させたい記録対象領域７Ｃの磁性膜７Ｂにレーザ光Ｌ１を照射することによりこの記録対象領域７Ｃの磁性膜７ＢにＳ極の磁界を着磁させ、かくしてデータを記録することができる。
【００５０】
さらにこの実施の形態の場合、図５〜図６（Ｂ）に示すように、再生モード時には、カー効果を用いて実際にデータを再生するようになされており、光磁気デイスク７の磁性膜７Ｂにレーザ光Ｌ１（直線偏向）を照射すると、当該磁性膜７Ｂからこれに着磁させた磁界（Ｎ極又はＳ極）に応じて偏向方向が＋θｋ又は−θｋに回転する反射光Ｌ２が得られることから（図５）、この反射光Ｌ２（図６（Ａ））を検光子３０を通すことにより偏向方向の回転に応じた光強度の強弱を生じさせて（図６（Ｂ））フオトデイテクタに受光させ、かくしてこの受光結果の強弱に応じてデータを再生することができる。
【００５１】
（２）ＲＦ信号の振幅の調整処理
ここで実際上このデイスク記録再生装置１では、図７に示す以下の手順によつてＲＦ信号Ｓ１８の振幅を調整することができる。
【００５２】
すなわち、ＤＳＰ３は、再生モード時、光磁気デイスク７のメデイアタイプを判別すると、図７に示すＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１をステツプＳＰ１において開始した後、続くステツプＳＰ２においてメモリからこのメデイアタイプの判別結果に応じたゲインの調整値と、オフセツト量の調整値とを読み出し、当該読み出したゲインの調整値と、オフセツト量の調整値とをそれぞれゲイン制御信号Ｓ２５及びオフセツト量制御信号Ｓ２６としてインナーレジスタ２１に与えることにより、オペアンプ２２のゲインをゲイン制御信号Ｓ２５に応じて設定すると共に、当該オペアンプ２２のオフセツト量をオフセツト量制御信号Ｓ２６に応じて設定する。
【００５３】
次いでＤＳＰ３は、ステツプＳＰ３に進んでインナーレジスタ２１から振幅信号Ｓ２７を読み出し、この振幅信号Ｓ２７に基づいてＲＦ信号Ｓ１８の振幅を検出する。
【００５４】
続いてこのＤＳＰ３は、ステツプＳＰ４に進んでメモリから第２の振幅用しきい値ＴＨ１を読み出すと共に、この第２の振幅用しきい値ＴＨ１と、予め設定された振幅の基準値及び実際に検出したＲＦ信号Ｓ１８の振幅の差分の絶対値とを比較し、この差分の絶対値が第２の振幅用しきい値ＴＨ１以下であるかどうかを判断する。
【００５５】
この場合このステツプＳＰ４において肯定結果を得ることは、ＲＦ信号Ｓ１８の振幅の大きさが最適な大きさに調整されていることを表し、このときＤＳＰ３は、続くステツプＳＰ５に進み、インナーレジスタ２１からオフセツト信号Ｓ２８を読み出し、このオフセツト信号Ｓ２８に基づいてオペアンプ２２のオフセツト量を検出する。
【００５６】
次いでこのＤＳＰ３は、ステツプＳＰ６に進んでメモリから第２のオフセツト用しきい値ＴＨ２を読み出すと共に、この第２のオフセツト用しきい値ＴＨ２と、予め設定されたオフセツト量の基準値及び実際に検出したオペアンプ２２のオフセツト量の差分の絶対値とを比較し、この差分の絶対値が第２のオフセツト用しきい値ＴＨ２以下であるかどうかを判断する。
【００５７】
この場合このステツプＳＰ６において肯定結果を得ることは、オペアンプ２２のオフセツト量がＲＦ信号Ｓ１８を増幅するために最適な値に調整されていることを表し、このときＤＳＰ３は、続くステツプＳＰ７に進んでこのＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００５８】
これに対してこのステツプＳＰ６において否定結果を得ることは、オペアンプ２２のオフセツト量がＲＦ信号Ｓ１８を増幅するために最適な値まで調整しきれていないことを表し、このときＤＳＰ３は、ステツプＳＰ８に進み、ステツプＳＰ６の判断結果に基づいてオフセツト量制御信号Ｓ２６を生成し、これをインナーレジスタ２１に与えることにより、オペアンプ２２のオフセツト量を調整し、この後ステツプＳＰ５に戻る。
【００５９】
そしてＤＳＰ３は、この後オペアンプ２２のオフセツト量がＲＦ信号Ｓ１８を増幅するための最適な値となるまでこのステツプＳＰ６−ＳＰ８−ＳＰ５−ＳＰ６のループを順次繰り返す。ただしＤＳＰ３は、最大で例えば20回に亘つてこのステツプＳＰ６−ＳＰ８−ＳＰ５−ＳＰ６のループを繰り返してもオペアンプ２２のオフセツト量を調整しきれない場合は、このときターンテーブル６にセツトされている光磁気デイスク７がデータの再生し難いエラーの生じた光磁気デイスク７であると判断し、ステツプＳＰ７に進んでこのＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１を終了すると共に、この光磁気デイスク７にエラーが生じていることを例えばモニタ又はスピーカ等を介してユーザに知らせる。
【００６０】
また上述したステツプＳＰ４において否定結果を得ることは、ＲＦ信号Ｓ１８の振幅の大きさが最適な大きさに調整されていないことを表し、このときＤＳＰ３はステツプＳＰ９に進み、ステツプＳＰ３において得られた判断結果に基づいてゲイン制御信号Ｓ２５を生成し、これをインナーレジスタ２１に与えることにより、オペアンプ２２のゲインを制御する。
【００６１】
この後ＤＳＰ３は、ステツプＳＰ１０に進んで再びインナーレジスタ２１からオフセツト信号Ｓ２８を読み出し、このオフセツト信号Ｓ２８に基づいてオペアンプ２２のオフセツト量を検出する。
【００６２】
次いでこのＤＳＰ３は、ステツプＳＰ１１に進み、オフセツト量の基準値と、ステツプＳＰ１０において検出したオフセツト量との差分の絶対値を求めると共に、この差分の絶対値と第２のオフセツト用しきい値ＴＨ２とを比較することによりこの差分の絶対値が第２のオフセツト用しきい値ＴＨ２以下であるかどうかを判断する。
【００６３】
そしてＤＳＰ３は、このステツプＳＰ１１において肯定結果を得ると、ステツプＳＰ３に戻ると共に、これに対してこのステツプＳＰ１１において否定結果を得るとステツプＳＰ１２に進んで、上述したステツプＳＰ８と同様にしてオペアンプ２２のオフセツト量を調整し、この後ステツプＳＰ１０に戻るようにしてステツプＳＰ１１−ＳＰ１２−ＳＰ１０−ＳＰ１１のループを繰り返す。
【００６４】
ただしＤＳＰ３は、このステツプＳＰ１１−ＳＰ１２−ＳＰ１０−ＳＰ１１のループを上述したステツプＳＰ６−ＳＰ８−ＳＰ５−ＳＰ６のループと同様に最大で例えば20回に亘つて繰り返してもオペアンプ２２のオフセツト量を調整しきれない場合は、このときターンテーブル６にセツトされている光磁気デイスク７がデータの再生し難いエラーの生じた光磁気デイスク７であると判断し、ステツプＳＰ７に進んで（図示せず）このＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１を終了すると共に、この光磁気デイスク７にエラーが生じていることを例えばモニタ又はスピーカ等を介してユーザに知らせる。
【００６５】
またこのＤＳＰ３は、ステツプＳＰ４において否定結果を得たことからステツプＳＰ９に進み、この後ステツプＳＰ４−ＳＰ９−ＳＰ１０−ＳＰ１１−ＳＰ３−ＳＰ４のループを繰り返した場合、このループを最大で例えば20回に亘つて繰り返してもＲＦ信号Ｓ１８の振幅の大きさがアナログデイジタル変換するための最適な大きさに調整しきれない場合には、このときターンテーブル６にセツトされている光磁気デイスク７がデータの再生し難いエラーの生じた光磁気デイスク７であると判断し、ステツプＳＰ７に進んで（図示せず）このＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１を終了すると共に、この光磁気デイスク７にエラーが生じていることを例えばモニタ又はスピーカ等を介してユーザに知らせる。
【００６６】
因みにこのデイスク記録再生装置１では、出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時、上述した図７に示すＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１のステツプＳＰ２に代えてオペアンプ２２のゲインをその規格に応じて予め設定されたゲインの初期値に設定し、かつ当該オペアンプ２２のオフセツト量をその規格に応じて予め設定されたオフセツト量の初期値に設定すると共に、第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値に代えて第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いることを除いてこのＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１と同様に処理するようにして、ＲＦ信号Ｓ１８の振幅を調整する。
【００６７】
（３）本実施の形態の動作及び効果
以上の構成において、このデイスク記録再生装置１では、出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時、比較的高精度に製造された光磁気デイスクを用いるようにして温度、塵埃及び電源電圧の変動等が厳しく管理された環境のもとで、第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いて実際にオペアンプのゲイン及びオフセツト量を調整する。
【００６８】
そしてこのとき得られたメデイアタイプ毎のゲインの調整値及びオフセツト量の調整値と、市場でのオペアンプ２２の調整処理に合わせて第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を10〜30〔％〕程度大きくするようにして生成した第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値とをＤＳＰ３内部のメモリに記憶する。
【００６９】
この状態においてデイスク記録再生装置１では、実際に市場に出荷され、光磁気デイスク７からデータを再生するために当該光磁気デイスク７がターンテーブル５にセツトされると、この市場におけるオペアンプ２２の調整処理を開始し、第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を用いてオペアンプ２２のゲイン及びオフセツト値を調整する。
【００７０】
従つてこのデイスク記録再生装置１では、このように出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時に比較的値の小さい第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いると共に、市場におけるオペアンプ２２の調整処理時に第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値よりも値の大きい第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を用いることから、製造所においてオペアンプの形成されたＬＳＩ素子の検査基準を下げることなく、市場におけるオペアンプ２２の調整処理において光磁気デイスク７の照射面における反射率のばらつきに応じてゲイン及びオフセツト量を的確に調整するようにして、当該光磁気デイスク７から再生して得られるＲＦ信号Ｓ１８の振幅を正しくアナログデイジタル変換し得るように調整することができる。
【００７１】
またこのデイスク記録再生装置１では、市場におけるオペアンプ２２の調整処理時、製造所におけるオペアンプ２２の調整処理時に得られたゲインの調整値及びオフセツト量の調整値をオペアンプ２２のゲイン及びオフセツト量の初期設定値として設定することから、製造所におけるオペアンプ２２の調整処理時に、オペアンプ２２にその規格に応じて予め設定されたゲイン及びオフセツト量の初期値を設定するよりもこの市場におけるオペアンプ２２の調整処理に必要となる時間を大幅に短縮することができ、デイスク記録再生装置１の再生モードにおける立上げ時間を（例えば 100〔ms〕程度）短縮することができる。
【００７２】
これに加えてこのデイスク記録再生装置１では、光学ブロツク９の移動距離及び移動方向をリニアスケール及びリニアエンコーダ１７によつて検出しながら当該光学ブロツク９の移動量を制御することから、例えばデータの記録密度として１倍密から４倍密までの光磁気デイスク７のみを再生するものの光学ブロツク９の移動距離及び移動方向を検出するようには構成されていない従来のデイスク記録再生装置（図示せず）に比べて、光磁気デイスク７のＰＥＰからフオーマツト情報を短時間で容易に、かつ的確に読み出すことができ、これによりこのデイスク記録再生装置１の再生モード時の立ち上げ時間をさらに（例えば全体で 500〔ms〕程度）短縮することができる。
【００７３】
以上の構成によれば、製造所では、比較的小さい値でなる工場用の第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値を用いてオペアンプ２２の調整処理を行うと共に、市場では、光磁気デイスク７の照射面の反射率のばらつきに応じて第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値よりも大きい値に設定した第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を用いてオペアンプ２２の調整処理を行うようにしたことにより、製造所においてオペアンプの形成されたＬＳＩ素子の検査基準を下げることなく、市場において光磁気デイスク７の照射面における反射率のばらつきがある場合でもオペアンプ２２のゲイン及びオフセツト量を的確に調整するようにして、当該光磁気デイスク７から再生して得られるＲＦ信号Ｓ１８の振幅を、正しくアナログデイジタル変換し得るように調整することができ、かくして市場における光磁気デイスクに対する再生エラーの発生を大幅に低減し得る調整方法を実現することができる。
【００７４】
（４）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、光磁気デイスク７の照射面における反射率のばらつきに応じて第１の振幅用しきい値及び第１のオフセツト用しきい値をそれぞれ10〜30〔％〕程度大きな値にした第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を設定するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、この光磁気デイスク７の照射面における反射率のばらつきに加えて、温度及び又は塵埃等の環境条件も加えて第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を設定するようにしても良い。
【００７５】
また上述の実施の形態においては、製造所におけるオペアンプ２２の調整処理を上述した図７に示すＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１とほぼ同様にして行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、製造所におけるオペアンプ２２の調整処理では、このＲＦ信号調整処理手順ＲＴ１に準ずるものの各ループを繰り返した場合、このループの最大の繰り返し回数を市場におけるオペアンプ２２の調整処理よりも多い数又は少ない数に設定するようにしても良い。
【００７６】
さらに上述の実施の形態においては、本発明を5.25インチの光磁気デイスク７にデータを記録再生するデイスク記録再生装置１に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば 3.5インチの光デイスクのようなデイスク状記録媒体からデータを再生するデイスク再生装置等のように、この他種々の再生装置に適用するようにしても良い。
【００７７】
さらに上述の実施の形態においては、市場におけるオペアンプ２２の調整処理時、ＤＳＰ３がインナーレジスタ２１から読み出す振幅信号Ｓ２７及びオフセツト信号Ｓ２８に基づいてＲＦ信号Ｓ１８の振幅及びオペアンプ２２のオフセツト量を検出するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＤＳＰ３がオペアンプ２２から増幅されたＲＦ信号Ｓ１８を取り込み、この取り込んだＲＦ信号Ｓ１８に基づいてその振幅及びオペアンプ２２のオフセツト量を検出するようにしても良い。
【００７８】
さらに上述の実施の形態においては、出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時、オペアンプ２２のゲイン及びオフセツト量を調整するために必要に応じてリードチヤネル１６を交換するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時、ＲＦ信号Ｓ１８の振幅を第１の振幅用しきい値以下にし、かつオフセツト量を第１のオフセツト用しきい値以下にするようにオペアンプ２２のゲイン及びオフセツト量を調整し難い場合には、ＤＳＰ３等のリードチヤネル１６を除く回路を交換したり、又はデイスク記録再生装置１を出荷停止にするようにしても良い。
【００７９】
さらに上述の実施の形態においては、出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時、実際には８倍密でなる光磁気デイスク７を用いてゲインの調整値及びオフセツト量の調整値を検出し、１倍密から４倍密までの光磁気デイスク７におけるオペアンプ２２のゲインの調整値及びオフセツト量の調整値を所定の換算式に基づいて求めるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、出荷検査におけるオペアンプ２２の調整処理時、実際に１倍密から８倍密までの全ての光磁気デイスク７を用いて、それぞれゲインの調整値及びオフセツト量の調整値を実際に検出するようにしても良い。
【００８０】
さらに上述の実施の形態においては、第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を用いるオペアンプ２２の調整処理を市場において行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、出荷検査が終了していれば、市場や製造所に係わらずにデイスク記録再生装置１によつて光磁気デイスク７からデータを再生する際に、第２の振幅用しきい値及び第２のオフセツト用しきい値を用いるオペアンプ２２の調整処理を行うようにしても良い。
【００８１】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、再生装置に設けられた調整手段により当該再生装置によるデイスク状記録媒体の再生精度を調整する再生精度調整方法において、再生装置の調整手段がデイスク状記録媒体の再生精度を所定の第１の範囲内となるように出荷検査時に調整する第１のステツプと、再生装置の調整手段が再生精度を第１の範囲を緩和した所定の第２の範囲内となるように出荷検査後に調整する第２のステツプとを設け、第１のステツプでは、再生装置の調整手段が再生精度を表すデイスク状記録媒体から再生されて得られる再生信号の振幅を、再生装置が記憶している所定の第１のしきい値以下でなる第１の範囲内となるようにオペアンプのゲイン及びオフセツト量の少なくとも一方を調整し、第２のステツプでは、再生装置の調整手段が再生信号の振幅を第１のしきい値よりも大きい、再生装置が記憶している所定の第２のしきい値以下でなる第２の範囲内となるようにオペアンプのゲイン及びオフセツト量の少なくとも一方を調整し、第２のしきい値が、少なくともデイスク状記録媒体のレーザ光の照射面における反射率のばらつきに応じて、第１のしきい値を10〜30〔％〕程度大きくしたような値となるようにしたことにより、再生装置の出荷検査時の検査基準を下げずに、この出荷検査後にデイスク状記録媒体のレーザ光の照射面における反射率にばらつきがある場合でも、再生信号の再生精度を調整することができ、かくしてデイスク状記録媒体に対する再生エラーの発生を大幅に低減し得る再生装置による再生精度調整方法及び再生装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるデイスク記録再生装置の構成の一実施の形態を示すブロツク図である。
【図２】ＲＦ信号の振幅の調整処理の説明に供するブロツク図である。
【図３】光磁気デイスクに記録されているデータの消去の説明に供する略線的概念図である。
【図４】光磁気デイスクへのデータの記録の説明に供する略線的概念図である。
【図５】光磁気デイスクに記録されているデータの再生の説明に供する略線的概念図である。
【図６】検光子前後の反射光の光強度の説明に供する波形図である。
【図７】ＲＦ信号調整処理手順を示すフローチヤートである。
【符号の説明】
１……デイスク記録再生装置、２……コントローラ、３……ＤＳＰ、７……光磁気デイスク、１６……リードチヤネル、２１……インナーレジスタ、２２……オペアンプ、２３……アナログデイジタル変換器、ＲＴ１……ＲＦ信号調整処理手順、Ｓ１８……ＲＦ信号、Ｓ２５……ゲイン制御信号、Ｓ２６……オフセツト量制御信号、Ｓ２７……振幅信号、Ｓ２８……オフセツト信号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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