【手続補正書】
【提出日】平成20年2月1日(2008.2.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  集積回路であって、
組合わせ回路と、
複数のスキャンチャネルであって、
複数のスキャンチャネルの各々がある数のスキャンエレメントを含み、
一つのエレメントより多いある数のスキャンエレメントをそなえた複数のスキャンチャネルのいずれについても、スキャンチャネルはスキャンチャネルの最初のエレメントとスキャンチャネルの最後のエレメントとを含み、
一つのエレメントに等しい数のスキャンエレメントをそなえた複数のスキャンチャネルのいずれについても、前記一つのエレメントはスキャンチャネルの最初のエレメントと最後のエレメントの両方であり、
選択されたスキャンエレメントが組合わせ回路の動作に影響を及ぼすように結合される
複数のスキャンチャネルと、
複数のスキャンチャネルの各々の最初のエレメント内に所定のパターンを結合して入れるための回路と、
複数のスキャンチャネルの各々の最後のエレメント内の所定のパターンを検出するための回路と、
検出回路に応答して、複数のスキャンチャネルの中の最長のスキャンチャネル内のスキャンエレメントの数を判定するための回路と
を具備する集積回路。
【請求項２】  請求項１記載の集積回路であって、複数のスキャンチャネルの各々の最初のエレメントに所定のパターンを結合して入れるための回路の動作に先立って、複数のスキャンチャネルの各チャネルのすべてのエレメントのすべての値を所定の状態に設定するための回路をも含む、集積回路。
【請求項３】  請求項２記載の集積回路であって、
前記所定の状態が第一の２進状態を含み、そして
前記所定のパターンが第一の２進状態に対して相補な第二の２進状態を含む、
集積回路。
【請求項４】  請求項３記載の集積回路であって、
前記所定の状態が２進０を含み、そして
前記所定のパターンが２進１を含む、
集積回路。
【請求項５】  請求項４記載の集積回路であって、前記検出回路は、複数のスキャンチャネルの各チャネルの最後のスキャンエレメントが出力する値に対して論理ＡＮＤ動作を遂行するための回路を含む、集積回路。
【請求項６】  請求項５記載の集積回路であって、更に
あるビットパターンを発生するためのパターン発生器と、
スキャンチャネルの最後のエレメントの各々からビット状態を受けるために結合された応答分析回路と
を含む集積回路。
【請求項７】  請求項６記載の集積回路であって、
パターン発生器は擬似ランダムビットパターンを発生するための擬似ランダムパターン発生器を含み、
更に
擬似ランダムパターン発生器に結合されたゲート回路であって、擬似ランダムビットパターンの相関がなくなるようにすることにより出力テストビットセットを供給するためのゲート回路と、
テストモードの間、スキャンチャネルの最初のエレメントのそれぞれに出力テストビットセットを結合するための回路と
を含む集積回路。
【請求項８】  請求項７記載の集積回路であって、テストモードの間、スキャンチャネルの最初のエレメントのそれぞれに出力テストビットセットを結合するための前記回路が、複数のスキャンチャネルの中の最長スキャンチャネル内の定められた数のスキャンエレメントに応答する、集積回路。
【請求項９】  請求項６記載の集積回路であって、前記応答分析回路が多入力シグネチャレジスタを含む、集積回路。
【請求項１０】  請求項３記載の集積回路であって、更に
ビットパターンを発生するためのパターン発生器と、
スキャンチャネルの最後のエレメントの各々からビット状態を受けるように結合された応答分析回路と
を含む集積回路。
【請求項１１】  請求項１０記載の集積回路であって、
パターン発生器は擬似ランダムビットパターンを発生するための擬似ランダムパターン発生器を含み、
更に
擬似ランダムパターン発生器に結合されたゲート回路であって、擬似ランダムビットパターンの逆相関を求めることにより出力テストビットセットを供給するためのゲート回路と、
テストモードの間、スキャンチャネルの最初のエレメントのそれぞれに出力テストビットセットを結合するための回路と
を含む集積回路。
【請求項１２】  請求項１０記載の集積回路であって、前記応答分析回路が多入力シグネチャレジスタを含む、集積回路。
【請求項１３】  請求項１記載の集積回路であって、
複数のスキャンチャネルの各々の最初のエレメントに所定のパターンを結合して入れるための回路の動作に先立って、複数のスキャンチャネルの各チャネルのすべてのエレメントのすべての値を所定の状態に設定するための回路をも含み、
前記複数のスキャンチャネルの中の最長スキャンチャネル内のスキャンエレメント数がスキャンエレメントの推定された整数Ｍで構成され、
すべての値を設定するための前記回路が相次ぐ整数Ｘ回スキャンチャネルの最初のエレメントに所定の状態をスキャンインするための回路を含み、
ＸがＭを超える、
集積回路。
【請求項１４】  請求項１３記載の集積回路であって、
前記所定の状態が２進０を含み、そして
前記所定のパターンが２進１を含む、
集積回路。
【請求項１５】  請求項１４記載の集積回路であって、前記検出回路は、複数のスキャンチャネルの各チャネルの最後のスキャンエレメントが出力する値に対して論理ＡＮＤ動作を遂行するための回路を含む、集積回路。
【請求項１６】  請求項１５記載の集積回路であって、更に
あるビットパターンを発生するためのパターン発生器と、
スキャンチャネルの最後のエレメントの各々からビット状態を受けるために結合された応答分析回路と
を含む集積回路。
【請求項１７】  請求項１６記載の集積回路であって、
パターン発生器は擬似ランダムビットパターンを発生するための擬似ランダムパターン発生器を含み、
更に
擬似ランダムパターン発生器に結合されたゲート回路であって、擬似ランダムビットパターンの逆相関を求めることにより出力テストビットセットを供給するためのゲート回路と、
テストモードの間、スキャンチャネルの最初のエレメントのそれぞれに出力テストビットセットを結合するための回路と
を含む集積回路。
【請求項１８】  請求項１６記載の集積回路であって、前記応答分析回路が多入力シグネチャレジスタを含む、集積回路。
【請求項１９】  請求項１記載の集積回路であって、組合わせ回路の他に回路の動作に影響を及ぼすように、スキャンエレメントの中の選択されたスキャンエレメントが結合される、集積回路。
【請求項２０】  各々がある数のスキャンエレメントを含む複数のスキャンチャネルをそなえる集積回路を動作させるための方法であって、
複数のスキャンチャネルの各々の最初のエレメント内に所定のパターンを結合して入れるステップであって、
一つのエレメントより多いある数のスキャンエレメントをそなえた複数のスキャンチャネルのいずれについても、スキャンチャネルはスキャンチャネルの最初のエレメントとスキャンチャネルの最後のエレメントとを含み、
一つのエレメントに等しい数のスキャンエレメントをそなえた複数のスキャンチャネルのいずれについても、前記一つのエレメントはスキャンチャネルの最初のエレメントと最後のエレメントの両方である、
所定のパターンを結合して入れるステップと、
複数のスキャンチャネルの各々の最後のエレメント内の所定のパターンを検出するステップと、
検出ステップに応答して、複数のスキャンチャネルの中の最長のスキャンチャネル内のスキャンエレメントの数を判定するステップと
を含む集積回路の動作方法。
【請求項２１】  請求項２０記載の集積回路の動作方法であって、複数のスキャンチャネルの各々の最初のエレメントに所定のパターンを結合して入れるステップに先立って、複数のスキャンチャネルの各チャネルの最初のエレメントのすべての値を所定の状態に設定するステップをも含む集積回路の動作方法。
【請求項２２】  請求項２１記載の集積回路の動作方法であって、複数のスキャンチャネルの中の最長のスキャンチャネル内のスキャンエレメントの所定の数に応答して、テストモードの間、スキャンチャネルの最初のエレメントのそれぞれに出力テストビットセットを結合するステップをも含む集積回路の動作方法。
【請求項２３】  請求項２２記載の集積回路の動作方法であって、複数のスキャンチャネルの中の最長のスキャンチャネル内のスキャンエレメントの所定の数が整数Ｎに等しいことに応答して、スキャンモードの間、スキャンチャネルの最初のエレメントのそれぞれに出力テストビットセットをＮ回結合するステップをも含む集積回路の動作方法。