【手続補正書】
【提出日】平成20年7月24日(2008.7.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  ＴＯＦ質量分析計イオン源用の抽出レンズであって、前記レンズは、開口を有する要素を含み、前記開口は、使用時にイオンが、貫通チャネルを通り抜けることによって前記要素の一方側から他方側へ通り抜けることができるような、前記貫通チャネルを形成するように前記要素を通って延びており、前記貫通チャネルが、前記開口の直径の８／１０以上の長さを持っていることを特徴とする抽出レンズ。
【請求項２】  前記貫通チャネルが、前記開口を囲む突き出たフランジの形をした、前記要素の表面から直立する中空で細長い部材を含んでおり、前記中空で細長い部材を含む前記貫通チャネルの長さは、前記開口の直径以上である、請求項１に記載の抽出レンズ。
【請求項３】  要素が平面状の要素である、請求項１または２に記載の抽出レンズ。
【請求項４】  前記貫通チャネルの軸が、前記要素の平面に実質的に垂直である、請求項３に記載の抽出レンズ。
【請求項５】  前記貫通チャネルが、実質的に均一な横断面を有する、請求項１から４のいずれか一項に記載の抽出レンズ。
【請求項６】  前記貫通チャネルが、実質的に円形の横断面を有する、請求項１から５のいずれか一項に記載の抽出レンズ。
【請求項７】  イオン源とドリフト領域とを有するＴＯＦ質量分析計であって、
前記イオン源は、
反発プレートからイオンを反発するように電圧が印加できる反発プレートと、
前記ドリフト領域に向かってイオンを加速するために電圧が印加できる、請求項１から６のいずれか一項に記載の少なくとも一つの抽出レンズと
を含むＴＯＦ質量分析計。
【請求項８】  前記質量分析計が、Ｍａｌｄｉ  ＴＯＦ質量分析計であり、反発プレートが、イオン化に先立ってサンプルが置かれるサンプルプレートである、請求項７に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項９】  抽出レンズと接地プレートとの間の前記質量分析計の加速領域を、前記接地プレートのもう一方の側のドリフト領域から分離する、接地プレートを含む、請求項７または８に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１０】  接地プレートが、抽出レンズの開口よりも大きな直径の開口を有する、請求項９に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１１】  抽出レンズの貫通チャネルの軸が、反発プレートの平面に対して実質的に垂直であり、分光計のイオン光軸とは実質的に一直線上にある、請求項７から１０のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１２】  抽出レンズの開口が、抽出レンズと反発プレートとの間の距離の０．５倍から２倍である、請求項７から１１のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１３】  抽出レンズの開口が、反発プレートと抽出レンズの中空で長い部材の端部との間の距離の０．５倍から２倍である、請求項２または、請求項２に従属するときの請求項３から６のいずれか一項に記載の抽出レンズを有する、請求項７から１２のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１４】  質量分析計のドリフト領域に配置された静電レンズを更に含む、請求項７から１３のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１５】  静電レンズが、使用時に反発プレートから反発されたイオンが、抽出レンズを通り抜けるときに、イオンに対する抽出レンズの焦点合わせ作用が、続く静電レンズによるイオンの焦点合わせによって無効にされることがないように、抽出レンズから十分に遠く離れて配置される、請求項１４に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１６】  イオン軌道が、抽出レンズと静電レンズとの間のある点で、質量分析計のイオン光軸と交差する、請求項１５に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１７】  抽出レンズが、イオンの空間分布を焦点合わせし、それに対して静電レンズは、イオンの角度分布を焦点合わせする、請求項１４から１６のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１８】  静電レンズが、質量分析計のドリフト領域内で、抽出レンズから５０ｍｍから９００ｍｍの距離に配置される、請求項１４から１７のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項１９】  静電レンズが、質量分析計のドリフト領域内で、抽出レンズから１００ｍｍから３００ｍｍの距離に配置される、請求項１４から１８のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計。
【請求項２０】  サンプルプレートを有するイオン源と、
ドリフト領域と、
開口を有する支持要素と少なくとも一つの反射要素とを含む光反射システムと、
光を反射要素に向けるための光源とを有する、飛行時間質量分析計であって、
質量分析計が、使用時に、イオン源からのイオンが、支持要素の開口を通り抜け、光源から反射要素に入射する光が、サンプルプレートと支持要素の開口の軸とに向かう経路に沿って反射されるように構成されており、
反射要素が、前記支持要素に解放可能に、また着脱可能に接続されることを特徴とする、飛行時間質量分析計。
【請求項２１】  支持要素が平面状の要素である、請求項２０に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２２】  反射要素がプリズムである、請求項２０に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２３】  反射要素がガラス製である、請求項２０から２２のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２４】  反射要素が、導電性材料で形成されているか、または導電性材料で被覆されている、請求項２０から２３のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２５】  前記支持要素が、複数の反射要素を持っている、請求項２０から２４のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２６】  支持要素の開口が、支持要素の表面から直立する中空で細長い部材を形成する突き出たフランジによって囲まれている、請求項２０から２５のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２７】  一つまたは複数の反射要素が、反射要素の側面の一つが、中空で細長い部材に接触し、および該部材によって支持されている、請求項２６に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２８】  中空で細長い部材が、接地された導電性管であることを特徴とする、請求項７、８、９のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項２９】  支持要素が導電性であって、接地されている、請求項２０から２８のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３０】  光反射システムが、少なくとも一つの反射要素への入射光が、開口の軸がサンプルプレートと交差する点で、サンプルプレートに当たるように構成されている、請求項２０から２９のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３１】  反射要素への入射光の経路が、３０度以下の角度で、反発プレートの開口の軸と交差する、請求項３０に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３２】  反射要素への入射光の経路が、４度から５度の角度で、反発プレートの開口の軸と交差する、請求項３１に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３３】  光源がレーザーである、請求項２０から３２のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３４】  光源が、サンプルが散乱光の検出によって観察できるように、反射要素を介してサンプルプレート上のサンプルに、光を向けるためのものである、請求項２０から３２のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３５】  請求項１から１９のいずれか一項に記載のイオン源を有する、請求項２０から３４のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３６】  反射システムが、質量分析計のドリフト領域内に配置されている、請求項２０から３５のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３７】  質量分析計が、ドリフト領域内に配置された静電レンズを更に含む、請求項２０から３６のいずれか一項に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３８】  静電レンズが、サンプルプレートと反射システムとの間に配置されている、請求項３６または３７に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項３９】  反射システムが、サンプルプレートと静電レンズとの間に配置されている、請求項３８に記載の飛行時間質量分析計。
【請求項４０】  請求項２０から３９のいずれか一項に記載のＴＯＦ質量分析計で使用するための光反射システムであって、支持要素と、前記支持要素に解放可能に、また着脱可能に接続された少なくとも一つの反射要素とを含む光反射システム。