【手続補正書】
【提出日】平成20年4月10日(2008.4.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号に対してパーシャルレスポンス等化処理及びビタビ検出処理を行ってビット検出するビット検出手段と、
上記ビット検出手段における生き残りパスの差動メトリックを計算する差動メトリック計算手段と、
上記差動メトリックを、上記ビット検出手段で検出されたビット系列のパタンごとに分類する差動メトリック分類手段と、
上記差動メトリック分類手段で分類された差動メトリックについて、それぞれの低域周波数成分の補正を行う差動メトリック補正手段と、
上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックを用いて所定の処理を行う処理手段と、
を備えるＰＲＭＬ復号装置。
【請求項２】
上記処理手段は、上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックとユークリッド距離を比較した結果により、上記ビット検出手段で検出された検出ビット値を修正する請求項１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項３】
上記処理手段は、上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックが、上記ユークリッド距離を越える場合に、上記ビット検出手段で検出された検出ビットのビット系列パタンの所定のビット値を反転させる請求項２に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項４】
上記処理手段は、上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックの標準偏差を計算することで、上記ビット検出手段で検出された検出ビット値についての評価値を生成する請求項１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項５】
上記差動メトリック分類手段は、上記ビット検出手段で検出されたビット系列としてのビットパタンと、所定の規則に従う分類用ビットパタンを照合し、ビットパタンが合致するパタンテーブルに、上記差動メトリック計算手段から供給される差動メトリックを分類する請求項１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項６】
上記差動メトリック補正手段は、上記パタンテーブル毎に分類された差動メトリックについて、それぞれの有する低周波成分を補正する請求項５に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項７】
上記分類用ビットパタンとは、上記ビット検出手段で検出されるビット系列としてのビットパタンのうち、１ビットだけ異なるビットパタンが存在するビットパタンである請求項５に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項８】
上記ビット検出手段が、ｄ１規則に従う信号についてのビタビ検出処理を行う場合、
上記各パタンテーブルに対応する各分類用ビットパタンは、それぞれが５ビット以上のビットパタンであるとともに、複数の分類用ビットパタンとして、１１０００を含むビットパタン、１１１００を含むビットパタン、０００１１を含むビットパタン、００１１１を含むビットパタンが設定されている請求項７に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項９】
上記差動メトリック計算手段で計算する上記生き残りパスの差動メトリックは、
上記ビット検出手段で検出されたビット系列に対応するパスメトリックと、上記検出されたビット系列と１ビットだけ異なるビット系列に対応するパスメトリックとの間の差分である請求項７に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１０】
上記処理手段は、上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックとユークリッド距離を比較した結果により、上記ビット検出手段で検出された検出ビット値を修正する処理手段であって、
上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックの値が、１ビットだけ異なる２つのビット系列がなす２つのパーシャルレスポンス系列の間のユークリッド距離を越える場合に、上記ビット検出手段で検出された検出ビットのビット系列パタンの所定のビット値を反転させる請求項７に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１１】
上記分類用ビットパタンとは、上記ビット検出手段で検出されるビット系列としてのビットパタンのうち、最短ランレングスのランを一つだけ含み、上記最短ランレングスのランを１ビットシフトさせたビットパタンが存在するパタンである請求項５に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１２】
上記ビット検出手段が、ｄ１規則に従う信号についてのビタビ検出処理を行う場合、
上記各パタンテーブルに対応する各分類用ビットパタンは、それぞれが７ビット以上のビットパタンであるとともに、複数の分類用ビットパタンとして、００１１０００を含むビットパタン、０００１１００を含むビットパタン、１１１００１１を含むビットパタン、１１００１１１を含むビットパタンが設定されている請求項１１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１３】
上記差動メトリック計算手段で計算する上記生き残りパスの差動メトリックは、
上記ビット検出手段で検出されたビット系列に対応するパスメトリックと、上記検出されたビット系列に含まれる最短ランレングスのランを１ビットだけシフトさせたビット系列に対応するパスメトリックとの間の差分である請求項１１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１４】
上記処理手段は、上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックとユークリッド距離を比較した結果により、上記ビット検出手段で検出された検出ビット値を修正する処理手段であって、
上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックの値が、最短ランレングスのランを１ビットシフトさせた関係にある２つのビット系列がなす２つのパーシャルレスポンス系列の間のユークリッド距離を越える場合に、上記ビット検出手段で検出された検出ビットのビット系列パタンの所定のビット値を反転させる請求項１１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１５】
上記分類用ビットパタンとは、上記ビット検出手段で検出されるビット系列としてのビットパタンのうち、最短ランレングスのランが２つ以上連続する箇所を含み、上記連続する２つ以上の最短ランレングスのランを１ビットシフトさせたビットパタンが存在するパタンである請求項５に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１６】
上記差動メトリック計算手段で計算する上記生き残りパスの差動メトリックは、
上記ビット検出手段で検出されたビット系列に対応するパスメトリックと、上記検出されたビット系列に対応するパスメトリックと、上記検出されたビット系列に含まれる２つ以上の連続した最短ランレングスのランを１ビットだけシフトさせたビット系列に対応するパスメトリックとの間の差分である請求項１５に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１７】
上記処理手段は、上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックとユークリッド距離を比較した結果により、上記ビット検出手段で検出された検出ビット値を修正する処理手段であって、
上記差動メトリック補正手段で補正された差動メトリックの値が、２つ以上の連続する最短ランレングスのランを１ビットシフトさせた関係にある２つのビット系列がなす２つのパーシャルレスポンス系列の間のユークリッド距離を越える場合に、上記ビット検出手段で検出された検出ビットのビット系列パタンの所定のビット値を反転させる請求項１１に記載のＰＲＭＬ復号装置。
【請求項１８】
入力信号に対してパーシャルレスポンス等化処理及びビタビ検出処理を行ってビット検出するビット検出ステップと、
上記ビット検出ステップにおける生き残りパスの差動メトリックを計算する差動メトリック計算ステップと、
上記差動メトリックを、上記ビット検出ステップで検出されたビット系列のパタンごとに分類する差動メトリック分類ステップと、
上記差動メトリック分類ステップで分類された差動メトリックについて、それぞれの低域周波数成分の補正を行う差動メトリック補正ステップと、
上記差動メトリック補正ステップで補正された差動メトリックを用いて所定の処理を行う処理ステップと、
を備えたＰＲＭＬ復号方法。
【請求項１９】
上記処理ステップでは、上記差動メトリック補正ステップで補正された差動メトリックとユークリッド距離を比較した結果により、上記ビット検出ステップで検出された検出ビット値を修正する請求項１８に記載のＰＲＭＬ復号方法。
【請求項２０】
上記処理ステップでは、上記差動メトリック補正ステップで補正された差動メトリックの標準偏差を計算することで、上記ビット検出ステップで検出された検出ビット値についての評価値を生成する請求項１８に記載のＰＲＭＬ復号方法。