(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第２の分光測定装置の分析情報との比較のために第１の分光測定装置の分析情報を変換するための方法において、
前記第１の分光測定装置のための分析プロフィルの第１の標準関数を選択するステップと、前記第２の分光測定装置のための分析プロフィルの第２の標準関数を選択するステップと、前記第１の標準関数を第２の標準関数に変換する変換係数をコンピュータ計算するステップと、第１の試料のための第１の分光測定装置により第１の分析情報を得るステップと、第２の試料のための第２の分光測定装置により第２の分析情報を得るステップと、変換された情報を生成するために前記第１の分析情報に前記変換係数を適用するステップと、前記変換された情報を前記第２の分析情報と比較するステップとを有し、
ここで、前記第１の標準関数は或るスペクトル線源に対する第１の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似する矩形関数であり、前記第２の標準関数は前記スペクトル線源に対する第２の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似するガウス関数である、
ことを特徴とする分析情報を変換するための方法。
【請求項２】
分光測定装置がクロマトグラフ装置であることを特徴とする請求項１に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項３】
１つの選択されたスペクトルレンジ内で第２の分光測定装置のスペクトル情報との比較のために第１の分光測定装置の分析情報を変換するための方法において、
前記第１の分光測定装置のためのスペクトル線形状のための第１の標準関数を選択するステップと、前記第２の分光測定装置のためのスペクトル線形状のための第２の標準関数を選択するステップと、前記第１の標準関数を前記第２の標準関数に変換する変換係数をコンピュータ計算するステップと、第１の試料のための前記第１の分光測定装置により第１のスペクトル情報を得るステップと、第２の試料のための前記第２の分光測定装置により第２のスペクトル情報を得るステップと、変換された情報を生成するために前記第１のスペクトル情報に前記変換係数を適用するステップと、前記変換された情報を前記第２のスペクトル情報と比較するステップとを有し、
ここで、前記第１の標準関数は或るスペクトル線源に対する第１の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似する矩形関数であり、前記第２の標準関数は前記スペクトル線源に対する第２の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似するガウス関数である、
ことを特徴とする分析情報を変換するための方法。
【請求項４】
それぞれの標準関数を、スペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを表すものとして選択することを特徴とする請求項３に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項５】
第１の分光測定装置が干渉ＦＴＩＲ装置から成り、第２の分光測定装置が分散形分光測定装置から成ることを特徴とする請求項３に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項６】
第１の標準関数が、アポダイゼーション係数によって変形された矩形関数であり、第２の標準関数がガウス関数であり、それぞれのこのような関数が、スペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを表すことを特徴とする請求項５に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項７】
第１の標準関数が波数に依存し、変換係数が、スペクトルレンジにわたり選択された波数増分において一連のサブ係数を含み、前記サブ係数が前記波数に依存することを特徴とする請求項６に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項８】
第２のスペクトル情報を、第２の標準関数により標準化することを特徴とする請求項３に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項９】
それぞれの標準関数を、スペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを表すものとして選択し、第２の分光測定装置が、スペクトル線に対する固有幅を有するスペクトル線形状の特徴的な固有プロフィルを有し、前記第２の分光測定装置が、前記固有幅より狭幅な関連する線幅を有する狭幅スペクトル線の線源を有し、
分析情報を変換するための方法が更に、プロフィルデータが前記固有プロフィルを表すように前記狭幅スペクトル線のためのプロフィルデータを生成するために前記線源で前記第２の分光測定装置を最初に操作するステップと前記プロフィルデータを第２の標準関数に変換するための変換フィルタをコンピュータ計算するステップとにより標準化された第２のスペクトル情報を生じさせることを含み、
第２のスペクトル情報を得るステップが、試料スペクトルを表す試料データを生成するために試料で前記第２の分光測定装置を通常に操作することと、前記第２のスペクトル情報を生成するために前記試料データに前記変換フィルタを適用することとを含むことを特徴とする請求項８に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項１０】
少なくとも１つの標準関数が波数に依存し、変換係数が、スペクトルレンジにわたり選択された波数増分において一連のサブ係数から成り、サブ係数が波数に依存することを特徴とする請求項９に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項１１】
第１の分光測定装置が干渉ＦＴＩＲ装置から成り、第２の分光測定装置が分散形分光測定装置から成り、第１の標準関数が、波数に依存する、アポダイゼーション係数によって変形された矩形関数であり、第２の標準関数がガウス関数であることを特徴とする請求項１０に記載の分析情報を変換するための方法。
【請求項１２】
比較のために分析情報を変換するための装置において、
分析プロフィルのための選択された第１の標準関数を有する第１の分光測定装置と、分析プロフィルのための選択された第２の標準関数を有する第２の分光測定装置と、第１の標準関数を前記第２の標準関数に変換する変換係数をコンピュータ計算する手段と、第１の試料のための第１の分光測定装置により第１の分析情報を得る手段と、第２の試料のための第２の分光測定装置により第２の分析情報を得る手段と、変換された情報を生成するために前記第１の分析情報に前記変換係数を適用する手段と、前記変換された情報を前記第２の分析情報と比較する手段とを有し、
ここで、前記第１の標準関数は或るスペクトル線源に対する第１の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似する矩形関数であり、前記第２の標準関数は前記スペクトル線源に対する第２の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似するガウス関数である、
ことを特徴とする分析情報を変換するための装置。
【請求項１３】
分光測定装置がクロマトグラフ装置であることを特徴とする請求項１２に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項１４】
選択されたスペクトルレンジ内で比較のために分析情報を変換する装置において、
スペクトル線形状のための選択された第１の標準関数を有する第１の分光測定装置と、スペクトル線形状のための選択された第２の標準関数を有する第２の分光測定装置と、前記第１の標準関数を前記第２の標準関数に変換する変換係数をコンピュータ計算する手段と、第１の試料のための前記第１の分光測定装置により第１のスペクトル情報を得る手段と、第２の試料のための前記第２の分光測定装置により第２のスペクトル情報を得る手段と、変換された情報を生成するために前記第１のスペクトル情報に前記変換係数を適用する手段と、前記変換された情報を前記第２のスペクトル情報と比較する手段とを有し、
ここで、前記第１の標準関数は或るスペクトル線源に対する第１の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似する矩形関数であり、前記第２の標準関数は前記スペクトル線源に対する第２の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似するガウス関数である、
ことを特徴とする分析情報を変換するための装置。
【請求項１５】
それぞれの標準関数が、スペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを表すことを特徴とする請求項１４に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項１６】
第１の分光測定装置が干渉ＦＴＩＲ装置から成り、第２の分光測定装置が分散形分光測定装置から成ることを特徴とする請求項１４に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項１７】
第１の標準関数が、アポダイゼーション係数によって変形された矩形関数であり、第２の標準関数がガウス関数であり、それぞれのこのような関数が、スペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを表すことを特徴とする請求項１６に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項１８】
第１の標準関数が波数に依存し、変換関数が、スペクトルレンジにわたり選択された波数増分において一連のサブ増分から成り、前記サブ係数は前記波長に依存することを特徴とする請求項１７に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項１９】
第２のスペクトル情報を第２の標準関数により標準化することを特徴とする請求項１４に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項２０】
それぞれの標準関数が、スペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを表し、第２の分光測定装置が、スペクトル線のための固有幅を有するスペクトル線形状の特徴的固有プロフィルを有し、第２の分光測定装置が、前記固有幅に比して狭幅な関連する線幅を有する狭幅スペクトル線の線源を有し、
分析情報を変換するための装置が更に、標準化された第２のスペクトル情報を生成する手段を有し、前記生成手段が、プロフィルデータが前記固有プロフィルを表すように前記狭幅スペクトル線のためのプロフィルデータを生成するために前記線源で前記第２の分光測定装置を最初に操作する手段と、前記プロフィルデータを前記第２の標準関数に変換する変換フィルタをコンピュータ計算する手段とを有し、
第２のスペクトル情報を得る手段が、試料スペクトルを表す試料データを生成するために試料で前記第２の分光測定装置を通常に操作する手段と、前記第２のスペクトル情報を生成するために前記試料データに前記変換フィルタを適用する手段とを有することを特徴とする請求項１９に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項２１】
少なくとも１つの標準関数が波数に依存し、変換係数が、スペクトルレンジにわたり選択された波数増分において一連のサブ係数から成り、前記サブ係数は前記波数に依存することを特徴とする請求項２０に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項２２】
第１の分光測定装置が干渉ＦＴＩＲ装置から成り、第２の分光測定装置が分散形分光測定装置から成り、第１の標準関数が、波数に依存する、アポダイゼーション係数によって変形された矩形関数であり、第２の標準関数がガウス関数であることを特徴とする請求項２１に記載の分析情報を変換するための装置。
【請求項２３】
分析プロフィルのための選択された第１の標準関数を有する第１の分光測定装置により得られた第１のスペクトル情報と、分析プロフィルのための選択された第２の標準関数を有する第２の分光測定装置により得られた第２の分析情報との間の比較のためのスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体において、
前記記憶媒体が、変換を実現するコンピュータ計算手段において利用可能であり、前記記憶媒体は、前記コンピュータ計算手段により読取り可能なようにデータコード及びプログラムコードを格納して有し、前記データコードは、前記第１の標準関数を前記第２の標準関数に変換する変換係数から成り、前記プログラムコードは、比較のために変換された情報を生成するために第１の分析情報に前記変換係数を適用する手段を有し、
ここで、前記第１の標準関数は或るスペクトル線源に対する第１の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似する矩形関数であり、前記第２の標準関数は前記スペクトル線源に対する第２の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似するガウス関数である、
ことを特徴とするスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項２４】
分光測定装置がクロマトグラフ装置であることを特徴とする請求項２３に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項２５】
選択されたスペクトルレンジ内での比較のためにスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体において、
前記比較を、スペクトル線形状のための選択された第１の標準関数を有する第１の分光測定装置により得られた第１のスペクトル情報と、スペクトル線形状のための選択された第２の標準関数を有する第２の分光測定装置により得られた第２のスペクトル情報との間で行い、前記記憶媒体は、前記変換を実現するコンピュータ手段において利用可能であり、前記記憶媒体は、コンピュータ計算手段により読取り可能なようにデータコード及びプログラムコードを格納しており、前記データコードは、前記第１の標準関数を前記第２の標準関数に変換する変換係数を有し、前記プログラムコードは、比較のために変換された情報を生成するために前記第１の情報に前記変換係数を適用する手段を有し、
ここで、前記第１の標準関数は或るスペクトル線源に対する第１の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似する矩形関数であり、前記第２の標準関数は前記スペクトル線源に対する第２の分光装置固有のプロフィルを表すスペクトル情報を近似するガウス関数である、
ことを特徴とするスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項２６】
プログラムコードが更に、変換された情報を第２のスペクトル情報と比較する手段を有することを特徴とする請求項２５に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項２７】
それぞれの標準関数が、スペクトル線形状のための相応する固有の装置プロフィルを表すことを特徴とする請求項２５に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項２８】
第１の分光測定装置が、干渉ＦＴＩＲ装置から成り、第２の分光測定装置が分散形分光測定装置から成ることを特徴とする請求項２５に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項２９】
第１の標準関数が、アポダイゼーション係数によって変形された矩形関数であり、第２の標準関数がガウス関数であり、それぞれのこのような関数が、スペクトル線形状のための相応する固有の装置プロフィルを表すことを特徴とする請求項２８に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項３０】
第１の標準関数が波数に依存し、変換係数が、スペクトルレンジにわたり選択された波数増分における一連のサブ係数から成り、前記サブ係数は前記波数に依存することを特徴とする請求項２９に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【請求項３１】
第２のスペクトル情報を第２の標準関数により標準化することを特徴とする請求項２５に記載のスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は、分光測定装置のような分析装置および分析情報を変換するための方法および装置ならびにそのような分光測定装置間でのスペクトル情報の変換において利用するためのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
分析装置は、材料の分析に一般的に関連する種々の用途に使用される。１つのクラスのこのような装置は分光測定装置から成り、分光測定装置においてスペクトルが、試料に特徴的であり光検出器に入射するスペクトルビームを生成するために、試料材料との相互作用において生成される。最近の装置は、材料に相応するスペクトル情報を生成及び比較するために検出器からのスペクトルデータを受取るコンピュータを含む。１つのタイプの分光測定装置においてはスペクトルはプリズム又はホログラフィ格子等の分散素子により生成され、分散素子は、試料を通過したか又は放射された光、又は試料材料を含むプラズマ又はその他の励起源から受光した光をスペクトル分散する。別のタイプは、時間変化する光学干渉システムを内蔵し、このシステムにおいて光の干渉パターンが生成され、光はパターンを変形する試料材料を通過する。フーリエ変換コンピュータ計算が、変形された光パターンをスペクトルデータに変換するために検出器信号に適用される。フーリエ変換装置は、赤外線領域内で一般的に操作され、”ＦＴＩＲ”装置として知られている。
【０００３】
光学装置、検出器及びコンピュータ化における改善と共に、非常に正確な測定を行うための能力が発展した。例は、吸収スペクトロメータ、ポリクロメータ又はガソリンにおけるオクタン価を測定するために化学測定材料分析を使用するＦＴＩＲ装置である。オクタン価における差は、近赤外線（ＩＲ）吸収スペクトルにおける微妙な差に対応する。スペクトル特性における非常に小さい変化を、実際の上で人員により直接的に検出することは不可能であり、コンピュータ化された自動化が必要である。このようなスペクトル測定が、通常は吸収分光光度計により連続的にオンラインで実現されることが望ましく、これに対してＦＴＩＲ装置はしばしば実験室装置と見なされる。このようにして、分析化学のためと、より特定的には１つのタイプの装置からの情報と別のタイプの装置からの情報との正確な比較のためとに進歩した分光測定法を利用することに対する関心が存在する。
【０００４】
比較の１つの態様は、装置が、スペクトルプロフィルに関連する固有特性を有することにある。このような特性はそれぞれの装置に固有であり、時間と共に変換することもある。装置の固有特性はデータを歪ませ、比較を不正確にする。分散格子を有するポリクロメータのような装置において固有特性は、非常に狭幅であり鮮鋭なスペクトル線を表すスペクトルデータのプロフィルを典型的に有する。このようなプロフィルは、装置の中の光学装置及び（より低い程度で）電子装置における基本的光学デザイン及び回折効果及びその他の不完全性に起因して固有形状と、実際の線に比してより広い線幅とを有する。実際の固有プロフィルは対称ではないこともある。ポリクロメータ及び類似の装置において狭幅線源からの装置プロフィルはガウスプロフィルに類似である。ＦＴＩＲのようなその他の装置において干渉計分解能のリミットにおける固有プロフィルはより矩形状である。
【０００５】
本譲受人所有の米国特許第５３０３１６５号明細書（Ｇａｎｚ等）は、選択されたスペクトルレンジ内の仮定的に細いスペクトル線のためのスペクトル線形状の特徴的固有プロフィルを有する分光測定装置を標準化するための方法及び装置を開示している。標準化されたデータは、任意の類似の装置により同一の試料材料から得られたデータ及びある時間にわたり同一の装置により繰返し得られたデータと実質的に同一である。
【０００６】
従来のＦＴＩＲ装置はＰ．Ｒ．Ｇｒｉｆｆｉｔｈｓ及びＪ．Ａ．ｄｅ  Ｈａｓｅｔｈ著”フーリエ変換赤外線分光測定法”等の教科書に教示されている。これらの装置においては光の干渉パターンは、白色光を２つのビームに分割する部分リフレクタであるビームスプリッタを含むマイケルソン又は類似の干渉計により生成される。これらのビームは反射されて戻されてビームスプリッタで再結合される。ビームのうちの１つのビームの光路長は、時間変化される干渉パターンを生成するために時間と共に変化される。この光パターンは、パターンを変形する試料材料を通過してガイドされる。フーリエ変換コンピュータ計算は、変形されたパターンを、強度対波数を表すスペクトルデータに変換する。
【０００７】
別のクラスの分析装置はクロマトグラフのためのものであり、クロマトグラフには２つの通常のクラスが存在する、すなわちガスクロマトグラフ（ＧＣ）と液体クロマトグラフ（ＬＣ）である。例えば米国特許第５５４５２５２号明細書及び米国仮特許出願第６０／００６０１７号明細書に説明されているようなガスクロマトグラフは本質的に分離の物理的方法であり、この場合、キャリアガスの中のテスト試料の成分がコラムの中の定常相材料により吸着及び脱着される。試料のパルスがキャリアガスの定常流の中に噴射される。コラムの端で個々の成分が時間により種々の程度で分離される。熱伝導性等のガス特性の検出は、時間スケール化されたパターンを提供し、このパターンは、校正及び既知の試料との比較によりテスト試料の成分を質的及び量的に示す。このようなシステムの主構成要素はコラム、試料をキャリアガスの中に導入するための混合室を有するインジェクタ、コラムの外側端部におけるガス特性検出器、ガス制御器、検出器の出力を処理及び表示するコンピュータである。異なるタイプのコラム又は異なるタイプの操作条件を有するＧＣ装置の間の比較が重要である。
【０００８】
液体クロマトグラフは例えば米国特許第４８８６３５６号明細書（Ｐａｒａｄｉｓ）及び特許第５１７３７４２号明細書（Ｙｏｕｎｇ）に説明されているものに類似である。試料のパルスは、キャリア液体の定常流の中に噴射され、キャリア液体はコラムを通過し、次いでウィンドウを有する１つのセル（又は２つのセル）を通過する。光ビームはそれぞれのセルを通過して光検出器に達し、光検出器は、コンピュータへ供給される出力信号を生成する。この信号は試料成分に従って時間と共に変化する。ガスクロマトグラフの場合のようにコンピュータ処理及び校正又は既知試料との比較によりテスト試料の成分を示すことが可能である。異なるタイプのコラム又は異なる操作条件を有するＬＣ装置の間の比較が重要である。
【０００９】
【発明の概要】
前述及びその他の目的は、第２の分光測定装置のスペクトル情報との比較のために第１の分光測定装置のスペクトル情報を変換する方法及び代替的に装置により少なくとも部分的に達成される。いずれの場合にも第１の標準関数が、第１の分光測定装置のためのスペクトル線形状のために選択され、スペクトル線形状のための第２の標準関数が第２の分光測定装置のために選択される。有利にはそれぞれの標準関数は、仮定的に細いスペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを一般的に表すものとして選択される。変換係数は、第１の標準関数を第２の標準関数に変換するためにコンピュータ計算される。
【００１０】
通常の操作において第１のスペクトル情報は、第１の試料のための第１の分光測定装置により得られ、第２のスペクトル情報は、（第１の試料と同一であるか又は類似であることもある）第２の試料のための第２の分光測定装置により得られる。変換係数が、変換された情報を生成するために第１のスペクトル情報に適用され、変換された情報が第２のスペクトル情報と比較される。
【００１１】
１つの有利な態様では第１の分光測定装置は干渉ＦＴＩＲ装置から成り、第２の分光測定装置は分散形分光測定装置から成る。このような状態では第１の標準関数は、変形された矩形関数でなければならず、第２の標準関数はガウス関数でなければならず、それぞれのこのような関数は、仮定的に細いスペクトル線源のための相応する固有の装置プロフィルを一般的に表す。ＦＴＩＲのような装置において第１の標準関数は波数に依存することもあり、この場合、変換係数は、スペクトルレンジにわたり選択された増分における一連のサブ係数から成るべきであり、サブ係数は波数に依存している。
【００１２】
目的はより広くは、第２の分析装置の分析情報との比較のために第１の分析装置の分析情報を変換する方法又は装置により達成される。このような装置は（前述のように）分光測定装置、（ガス又は液体）クロマトグラフ装置、又は分析プロフィルを生成するその他のこのような装置であることもある。分析プロフィルの第１の標準関数が第１の装置のために選択され、分析プロフィルの第２の標準関数が第２の装置のために選択され、変換係数が、第１の標準関数を第２の標準関数に変換するためにコンピュータ計算される。第１の分析情報は第１の試料のための第１の分光測定装置により得られ、第２の分析情報は第２の試料のための第２の分光測定装置により得られる。変換係数が、変換された情報を生成するために第１の分析情報に適用され、変換された情報は第２の分析情報と比較される。
【００１３】
目的は、本明細書に説明されている変換を実現するために既存装置のコンピュータにおいての使用のための適切なデータコード及びプログラムコードを有する（例えばディスク等の）コンピュータ読取り可能な記憶媒体によっても達成される。
【００１４】
【実施の形態】
１つの実施の形態では本発明は、同一の選択されたスペクトルレンジ内で操作される２つの分光測定装置のスペクトル出力情報の比較に関する。１つのこのような分光測定装置（図１）は例えば、引用により本明細書に参照されている米国特許第５３０３１６５号明細書の中に開示されているタイプの分散形分光測定装置である。このような分光測定装置１０は光検出器１１を有し、光検出器１１のために標準化及び波長校正が行われる。このような分光測定装置は例えば、ガソリンのオクタン価を測定するために近赤外線における高い感度及び安定性を必要とするオンラインケモメトリックスペクトログラフィックポリクロメータであることもある。安定しているがその他の点では通常の白熱光源１２は光１３を放射し、光１３はリレーレンズ１４を通過する。リレーレンズ１４は、光ファイバー１６の入力端にフォーカシングされている。ファイバーは光をプローブアセンブリ１８へガイドし、プローブアセンブリ１８は、テストされるガソリン等の液体の中に浸漬されている。ストレートスループローブとして示されているけれども、このプローブの代りに、光を戻りファイバーに戻すために反射素子を有する折返し光学装置を用いることも可能である。
【００１５】
プローブの中に液体のための試料空間２０が設けられ、これにより光２２は液体を通過し、この個所で光の一部は選択的にフィルタリングされる。フィルタリングされた光は第２の光ファイバー２４に入射される。オプチカルスイッチ２８を有するバイパスファイバー２６が設けられ、バイパスファイバー２６は、ファイバーを通過する光に液体をバイパスさせ、これによりフィルタリングされた光を比較する標準が形成される。第２のファイバー２４は、凹ホログラフィ格子３３を利用してスペクトロメータ３２に光をガイドし、凹ホログラフィ格子３３は光３５を検出器１１に分散する。スペクトルを表す検出器からの信号はコンピュータ３７に供給されて、ディスク又はその他のメモリに記憶され、処理される。
【００１６】
コリメーションゾーン４４が、いくつかの開口を有するディスク４３を挿入するために複数のファイバーのうちの１つのファイバーの中に設けられている。対応する対のレンズ４５（１つが図示）は、コリメートされた光を、ファイバー端部とファイバー端部との間の選択された開口を通過させる。１つの開口４７は、試料又はバックグラウンドを測定するために分光測定装置の通常の操作のためにフィルタリングされない光を通過させるために空のままにされている。その他の開口は、校正及び標準化に使用される光学フィルタ素子４６，４８，５０を収容する。ディスクは、選択された開口又はフィルタに対して線５３を介して（例えば再校正のための選択されたインターバルで）手動で又はコンピュータ３４により自動的にモータ５２により位置決め可能である。
【００１７】
本発明で利用される他方の分光測定装置は通常は第１の分光測定装置とは異なるタイプである。１つの有利な実施の形態（図２）では第２の分光測定装置は従来の干渉ＦＴＩＲである。この分光測定装置１１０においてオプチカルトレーン１１２により干渉縞パターンが従来のマイケルソン干渉計１１４により生成される。マイケルソン干渉計１１４は、干渉ビームと干渉ビームとの間の光路差を振動することにより時間と共に縞パターンを変化する。縞パターンビーム１１６はレンズ及びアパーチュア１２２を通過し、次いで、試料１１８を通過することによりビーム１２０に変形されて検出器に到達し、検出器は、対応するスペクトルデータを生成する。フーリエ変換コンピュータ計算がコンピュータ１２８によりデータに適用され、これにより、強度対波数を表すスペクトル情報が生成され、スペクトル情報は試料を表す。（ＦＴＩＲにおいて通常使用される波数は波長の逆数であり周波数に比例する。）
前述の分光測定装置のそれぞれにおいて使用されるコンピュータは例えばＤｉｇｉｔａｌ  ｍｏｄｅｌ  ＤＥＣ  ＰＣ  ５９０等の従来のコンピュータでよく、通常はそのメーカにより分光測定装置の中に組込まれる。例えばＦＴＩＲのコンピュータ１２８等のコンピュータは通常は、線１２６で検出器１２４から信号を受取るＡ／Ｄ変換器１３２を有する中央演算装置（ＣＰＵ）１３０を含む。コンピュータメモリ１３４のセクションは通常は内部ハードディスクと、例えばフロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、及び／又は適切なコードが埋込まれているテープとを含む。キーボード１３６が通常はオペレータ入力のために設けられている。スペクトル情報は、モニター１３３に表示される及び／又はプリントされる。コンピュータは、干渉計１１４を制御するためにＤ／Ａ変換器１３８を介して信号を供給することもある。１つ以上の付加的な専用チップ処理ユニットがある特定のステップのために利用されることもある。例えばＦＴＩＲにおいて１つの別個のチップがフーリエ変換コンピュータ計算のために使用され、別の１つのチップはアライメント等の制御のために使用される。本発明は有利には、本発明を実施するためのステップ及び手段を表すデータ及びプログラムコードを利用して、少なくとも第１の分光測定装置に対応する１つのコンピュータ又は双方の分光測定装置と共働するコンピュータの主ＣＰＵにより実施される。このようなコードは有利には、例えばコンピュータのハードディスク又はその他の点では従来の分光測定装置のコンピュータにおいて利用することが可能であるフロッピーディスク等のコンピュータ読取り可能な記憶媒体の中に格納されている。
【００１８】
プログラミングは、通常は従来の操作のためにコンピュータ又は分光測定装置のメーカによりコンピュータの中に組込まれれている”Ｃ＋＋”等の従来のものである。本明細書のフローチャートからのプログラミング及び記述は従来のものであり、当業者により容易に実行できる。このようなプログラミングの詳細は本発明に重要でない。コンピュータ計算は大量のデータを処理し、従って長時間かかるので、少なくとも１００ＭＨｚのＩｎｔｅｌ  ＰｅｎｔｉｕｍTM等の高性能プロセスが推奨されるが、しかし４８６プロセッサで充分である。
【００１９】
前述の分光測定装置のそれぞれは、不完全であるスペクトル情報を生成する。非常に狭幅の線を生成するスペクトル源においてスペクトル情報は、有限幅を有するプロフィルに広げられた線である。分散素子の場合にはプロフィルは、分光測定装置分解能を表す半値全幅（ＦＷＨＭ：ｆｕｌｌ  ｗｉｄｔｈ  ａｔ  ｈａｌｆ  ｔｈｅ  ｍａｘｉｍｕｍ  ｐｅａｋ  ｈｅｉｇｈｔ）を有するガウス関数に近似できる。
【００２０】
ＦＴＩＲ分光測定装置の場合には狭幅線源からのスペクトル情報を、分解能を表す幅δσを有する変形された矩形に近似させることが可能である。矩形幅を例えば次式１により理論的に（従来のように）近似させることにより求められる。
【００２１】
δσ＝β2σ／８      式１
ただしβ＝ｓｉｎ-1（ｄ／ｆ）であり、ｄは干渉計と試料との間にあるアパーチュアの直径であり、ｆは、アパーチュア１２２を試料に結像するレンズ１２３の焦点距離である（例えばｄ＝４．２ｍｍ及びｆ＝１２０ｍｍ）。
【００２２】
矩形の変形は、アポダイゼーション係数のフーリエ変換に関連する。干渉計からの干渉ビームにおける任意の１つの波長に対応する強度は、変化する光路長を表す時間に依存する正弦波の形を有する。正弦波の端部は、干渉計の中の光路変化のリミットすなわちリフレクタ回転によりカットされる。コンピュータ処理は波形を無限長として扱うので歪が端部カットにより導入される。良好に解釈できるようにするために、現在のＦＴＩＲ分光測定装置におけるデータは、データベクトルに、”アポダイゼーション”係数Ａとして知られるマトリクス補正係数を乗算している。この係数は、数学的関数として理論的考慮により予選択され、干渉計鏡のサイクルリミットから既知である、正弦波の端部のカットオフに対応する計算された幅を有する。波数空間において、変形され矩形関数Ｔは次式により表される。
【００２３】
Ｔ＝Ｒ＊Ａ      式２
ただしＲは、幅δσ（式２）を有する矩形関数であり、矩形関数は例えばｓｉｎｃ関数Ａ＝ｓｉｎ（２πσＬm）／（２πσＬm）等のアポダイゼーション係数と乗算され、ただしＬmは干渉計における分割された干渉ビームの光路長における最大差である。この変形された関数は、消失した正弦状尾部を有する中央ピークの形を有する。
【００２４】
（本明細書及び請求の範囲の中で使用されるようにマトリクス演算における”乗算”の表現及びそれに対応する記号”＊”は、直接的な乗算を意味するか、又は畳込み等の関連するプロシージャを意味する。同様にマトリクス演算における”除算”、”比”との表現及びそれらの対応する記号”／”は、直接的な除算を意味するか、又は例えば逆畳込み等の関連するプロシージャを意味する。）
狭幅線源の有限幅に加えて、それぞれの分光測定装置のためのスペクトル情報において固有の歪が存在する。歪は、仮定的に細いスペクトル線源のためのスペクトル線形状の特徴的な固有プロフィルの中に表されている。前述の米国特許第５３０３１６５号明細書に開示されているように分光測定装置又はそのデータを、仮定的に鮮鋭なスペクトル線のために選択されたターゲットプロフィルの選択によりこの歪から標準化することが可能である。分光測定装置は、固有歪を表すプロフィルデータを生成するために狭幅線源で操作される。変換フィルタが、プロフィルデータをターゲットプロフィルに変換するためにコンピュータ計算される。次いで分光測定装置は、試料スペクトルを表す試料データを生成するために試料源で通常に操作され、変換フィルタは、スペクトル情報を生成するために試料データに適用され、スペクトル情報はこれにより、同一のタイプの任意の分光測定装置からの類似の標準化された情報との比較のために標準化される。
【００２５】
ＦＴＩＲにおいても固有歪が存在する。そのスペクトル情報は、例えば本譲受人所有の（弁理士事件整理番号ＩＤ−４４４０）同時係属米国特許出願明細書に開示されているような標準化により変形することが可能である。しかしこのスペクトル情報のこのような標準化は、本発明に鑑みて不要であり、情報をフーリエ変換から直接的に利用することが可能である。
【００２６】
図３は、前述の分光測定装置において本発明を適用するための方法及び手段を示す。テスト試料２０４での第１の分光測定装置の通常の操作２０２（例えばＦＴＩＲ）は、測定されたスペクトルデータＤm1の集合２０６を生成する。同様に、同一の又は別の（通常は類似の）テスト試料２１０での第２の分光測定装置の通常の操作（例えば分散）は、スペクトルデータＤm2の別の集合２１１を生成する。有利には第２の分光測定装置のデータＤm2は、要約して前述したように前述の米国特許第５３０３１６５号明細書に記載のように、スペクトル情報Ｐmの集合２１２に標準化される２１４。第１の分光測定装置のための対応するデータ２０６を標準化することが可能であるが、しかし（図示のように）必要不可欠ではない。
【００２７】
通常は分光測定装置のこれらの操作の前に第１の標準関数Ｔが、第１の分光測定装置のためのスペクトル線形状のために選択される２１６。これは例えばＦＴＩＲのための前述の変形された矩形関数等の理想化されたプロフィルでなければならない。プロフィルは、一般的に、仮定的に細いスペクトル線源のための相応する固有プロフィルを表す。（本明細書の中での”一般的に表す”との表現は、関数は有利には数学的に適切な関数を使用して固有のプロフィルに近似するだけでよいことを意味する。）第１の分光測定装置のデータが標準化されている場合には標準化の理想関数又はターゲットプロフィルが有利には選択される。データが標準化されていない場合には式２の関数が、ＦＴＩＲが第１の分光測定装置である本ケースの場合には適切である。
【００２８】
第２の標準関数Ｇも、第２の分光測定装置のためのスペクトル線形状のために選択される２１８。これも、例えば分散形分光測定装置のためのガウス関数等の理想化されたプロフィルでなければならない。これも有利には、一般的に、仮定的に細いスペクトル線源のための相応する固有歪プロフィルを表す。有利には標準関数Ｇは、第２の分光測定スペクトル情報Ｐmの標準化２１４において利用されるターゲットプロフィルのために選択される標準関数と同一である。
【００２９】
変換係数Ｆが、次式３を使用して第１の標準関数を第２の標準関数に変換するためにコンピュータ計算される２２０。
【００３０】
Ｇ＝Ｔ＊Ｆ      式３
ただしＦは、コンピュータ計算された変換係数であり、Ｔは第１の標準関数（例えば変形された矩形）であり、Ｇは第２の標準関数（例えばガウス関数）である。コンピュータ演算のために標準関数及びスペクトル情報は、選択されたスペクトルレンジにわたり選択されたインターバルに対して記憶されたデータにより定まるベクトルとして表される。このようにして変換係数Ｆは１つのマトリクス（又は以下に説明されるように一連のマトリクス）の形を有し、マトリクスのデータは、スペクトル情報での常套的使用のためにディスクに恒久的に記憶される２２２。
【００３１】
単位の変換が、変換Ｆを定められる式において必要であるので含まれなければならない。このようにして係数Ｆは有利には、第２の分光測定装置の単位への変換を含む。例えば、ＦＴＩＲデータは通常は波数（ｃｍ-1）であり、分散形分光測定装置データは波長である場合には波数は波長に変換されなければならない。標準関数もそれぞれ、単位領域に対して正規化されなければならない。本明細書及び請求の範囲に記載のように、式３により表される式はこのような変形を単位変換及び正規化として含む。
【００３２】
測定されたスペクトル情報Ｄm1が第１の分光測定装置（例えばＦＴＩＲ）のために得られ、測定され標準化された第２のスペクトル情報Ｐmが第２の分光測定装置（例えば分散形分光測定装置）のために得られる。次式４から変換された情報Ｐcをコンピュータ計算するために、変換係数Ｆが第１のスペクトル情報Ｄm1に乗算される２２４。
【００３３】
Ｐc＝Ｄm1＊Ｆ      式４
変換された情報Ｐcは格納され２２６、測定されたスペクトル情報Ｐmと比較される２２８。このような比較は、可視的に又は例えばそれぞれの波長増分に対して差Ｐm−Ｐcを計算し表示する２３０コンピュータにより行うことが可能である。
【００３４】
式１に示されているようにＦＴＩＲの特徴は、アパーチュアに帰することが可能である分解能δσのリミット（最小線幅）がスペクトル波数の関数であり、特に、より大きい波数においてより広い線幅を有する波数に比例する。これにより第１の標準関数Ｆは波数に依存する。（第２の標準関数、すなわちガウス関数は波数に依存することもあるが、しかし必要不可欠ではない。）このような依存性は、スペクトルレンジにわたりそれぞれの選択された波数増分ｉにおいて標準サブ関数Ｔiを選択することにより扱われる。増分は、第２の分光測定装置のために使用される増分に相応するように選択される。例えば８００〜１１００ｎｍの波長レンジ内では０．５ｎｍインターバルで６０１ポイントが存在する。関数レンジは、実際のレンジに対するコンピュータ計算を取扱うために例えばそれぞれの端部において５ｎｍだけ延長されなければならない。図４は一連のサブ関数Ｔiを示し、それぞれのサブ関数Ｔiは波長増分に対する波数の関数である。このようにして第１の標準関数Ｔの選択は、一連のサブ関数Ｔiの選択を含む。
【００３５】
係数Ｆのコンピュータ計算を実現するためにサブ係数Ｆiが、（この実施の形態では波長と無関係である）第２の関数Ｇを使用して式３からのＧ＝Ｔi＊Ｆiによりそれぞれのサブ関数Ｔiに対して計算され、これにより、変換係数を定める一連のサブ係数Ｆiが得られる。サブ係数の集合が図５に示されている。（順次の波長のための波数軸線は、グラフの中のサブ係数をより明瞭に示すためにシフトされている。実際には、順次のサブ係数は図４のサブ関数に比してより大きくオフセットされている。）この一連のコンピュータ計算は長時間かかり、例えばＧａｔｅｗａｙTM４８６−５０コンピュータで２．５時間かかる。しかしこれはただ一度行うだけでよく、それぞれの対の分光測定装置タイプに対して記憶される。この記憶されたデータは個々の分光測定装置にセンシティブでなく、従って汎用的に利用できる。波数増分は、例えば望ましくは１つの分解能あたり２つのポイント、例えば１．０ｃｍ-1の分解能に対して０．５ｃｍ-1である分散形分光測定装置のための選択された増分に対応しなければならない。
【００３６】
サブ係数マトリクスＦiが、変換されたスペクトル情報を生成するために第１の（ＦＴＩＲ）分光測定装置の通常の操作から得られる通常のスペクトル情報に適用される。これを行うためにそれぞれのマトリクスＦiが、相応する波数ｉの回りのスペクトルデータと乗算される。サブ係数はそれぞれの波数増分の回りのいくつかのポイント、例えばそれぞれの波数増分の回りの＋／−５ポイント（全部で１１ポイント）に適用されなければならない。サブ係数は比較的簡単であり、変換畳込みコンピュータ計算は迅速に例えば１〜２秒で通常の疎行列法によりＧａｔｅｗａｙTM４８６−５０を使用して行うことが可能である。
【００３７】
第１の（ＦＴＩＲ）分光測定装置の正確な波数校正が、第２の分光測定装置の標準化されたスペクトル情報との精度比較のために実現されなければならない。これは通常は標準試料により行われ、使用中の分光測定装置において定期的に（例えば毎週又は毎月）行われなければならない。
【００３８】
前述の説明は特に、分散形スペクトロメータの標準化されたスペクトル情報との比較のための干渉ＦＴＩＲ形スペクトロメータの変換する未標準化スペクトル情報に関して行われた。一般的にこれらの分光測定装置の使用は、低い分解能データとの比較のための高い分解能データの変換を行うことであり、標準化されていない分光測定装置から標準化された分光測定装置への変換を行うことである。これらのタイプの変換は双方共に有利である。
【００３９】
ＦＴＩＲは、生産において使用されるオンライン分散形スペクトロメータと比較される実験室装置として使用可能である。この対の分光測定装置の選択は特に、本発明の適用に有利である。しかし本発明の適用においてこのような制限は存在しない。例えば前述のようにＦＴＩＲスペクトル情報は標準化可能であるか、又はいずれの分光測定装置も標準化を有しないものでもよい。本例のスペクトロメータは赤外線領域内で動作するが、しかし可視光線及び紫外線のその他のスペクトルレンジも適用可能である。本発明を利用することが可能であるその他のスペクトロメータは、例えば誘導プラズマタイプ等の原子放射分光光度計、原子吸光スペクトロメータ、蛍光装置、ラーマン装置及び光学フィルタ装置を含む。これらのうちの任意の装置又はその他の所望の分光測定装置が本発明により使用され、対として用いることが可能である。本例ではＦＴＩＲ分光測定装置のための分解能及び変換は波数に依存する。しかしより一般的に分光測定装置のうちの一方又は双方が波数に依存することも、双方共に依存しないこともある。
【００４０】
本発明は、第１のタイプ及び第２のタイプの分光測定装置が実質的に同一である、例えば双方共にＦＴＩＲであるか双方共に格子タイプである環境の中で変換するために利用されることもある。これの１つの利点は、第１の分光測定装置が実際にはそれぞれ異なる装置であり、従って選択された関数がその都度異なる場合に第２の分光測定装置を標準として選択することにある。別の利点は、ＦＴＩＲ（又はその他の）分光測定装置に固有であり、すなわち、分解能が波長と共に変化し（例えば波長に比例し）、従って変換されたデータが、波長に依存する分解能を有することが可能であることにある。別の１つの態様では第２の分光測定装置は仮定的であり、いかなる特定の分光測定装置にも特に関連しないか、又はいずれの任意のタイプの分光測定装置にさえも関連しない。この場合には１つ以上のタイプの第１の分光測定装置が、一般的比較のための共通のデータタイプに変換される。
【００４１】
別の１つの実施の形態では、例えばフロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭ又はテープ等のコンピュータ読取り可能記憶媒体により図３に示されているように前述の変換を実現するために分光測定装置ユーザのための手段を提供するために有益である。記憶媒体はデータコード及びプログラムコードを格納し、従ってコンピュータ計算手段により読取り可能である。データコードは、予選択されたタイプの分光測定装置の第１の標準関数２１６及び第２の標準関数２１８から予コンピュータ計算された変換係数２２２を含む。プログラムコードは、比較のための変換された情報２２６を生成するために変換係数を第１のスペクトル情報２０６に適用する２２４手段を含む。プログラムコードにより単に、比較のための変換された情報が表示されることもあり、又はプログラムコードは更に、変換された情報２２６を第２のスペクトル情報２１２と比較する２１８手段を含むこともある。この実施の形態のより詳細な態様は前述の通りである。
【００４２】
異なるタイプの分光測定装置のスペクトルデータの比較のために以上説明したにもかかわらず本発明は、例えば分散形タイプか又はＦＴＩＲ形タイプ等の同一のタイプの分光測定装置のスペクトルデータを比較するために適用可能であり、この場合、分光測定装置は、操作条件において異なるか又は異なるモデルにより異なる。例えばＦＴＩＲでは１つの分光測定装置は４つの波数分解能又は８つの波数分解能を有することもある。
【００４３】
本発明は例えばガスクロマトグラフ（ＧＣ）等のその他のクラスの分析装置にも適用可能であり、この場合、これらの装置はスタイル、コラム特性及び／又は操作条件において異なる。異なるスタイルの装置の例は前述の米国特許第５５４５２５２号明細書及び仮特許出願第６０／００６０１７号明細書（Ｈｉｎｓｈａｗ）に開示され、これらの装置はキャリアガス流制御及び試料トランスファ方法において異なり、このような装置及びそれらの操作の説明は引用文献を参照することとし、本明細書での詳細な説明は省略する。”ジェネリック”ＧＣが図６に概略的に示されている。キャリアガスはその源３０２からインジェクタ３０４に供給され、このガスの一部及び大部分は（図示されていない選択された背圧により）インジェクタのポート３０６から排出される。試料３０８は瞬時にインジェクタの中に導入され、そこで試料３０８はキャリアガスの中に混入される。結果の混合ガスの少なくとも一部はインジェクタから流出してコラム３１０を貫流し、コラム３１０は異なるレートで試料の成分を吸着及び溶離する。コラムから流出するキャリアガス混合気は検出器３１２を通過する。検出器３１２は例えば熱伝導率等のガスの物理特性における時間変化を測定する。検出器信号は分析情報の出力パターンの解析のために線３１４を介してＣＰＵ３１８及びプログラム３２０並びにメモリ３２２を有するコンピュータ３１６に供給される。分析情報の出力パターンをモニター３２４に表示することも可能である。
【００４４】
（２つのＨｉｎｓｈａｗ特許に開示されているような又は異なるコラム又は操作条件を有する）２つの異なるＧＣ装置からの分析情報が、図３に関連して説明したように比較される。ＧＣの場合には、標準関数Ｔ及びＧへ導く線形状又はプロフィルが溶離プロフィルである。有利にはこれらの関数のそれぞれが通常は、（スペクトロメータのための仮定的に細いスペクトル線に類似に）試料の仮定的な瞬時の簡潔な導入のための相応する固有の装置溶離プロフィルを表す。このようなプロフィルは、Ｄ．Ｈ．Ｂｕｒｎｓ，Ｊ．Ｂ．Ｃａｌｌｉｓ及びＧ．Ｄ．Ｃｈｒｉｓｔｉａｎ著の論文”２次元（クロマトグラフィック／スペクトル）データ集合の定性分析のためのロバストな方法”（Ａｎａｌ．Ｃｈｅｍ．誌５８，１４７５−１４２０（１９８６））に開示されているような指数関数的に変形されたガウス関数により定められる。スペクトロメータに関しては、適切なデータ及びプログラムコードを、存在するクロマトグラフ装置のコンピュータにおいての使用のためのディスク又はその他のコンピュータ読取り可能な媒体に記憶することが可能である。
【００４５】
本発明は同様に、異なる液体クロマトグラフ装置の間の比較のために適用され、これらの装置は、異なるコラム又は操作条件を有する同一の装置であり、このような装置は例えば、前述の米国特許第４８８６３５６号明細書（Ｐａｒａｄｉｓ）及び特許第５１７３７４２号明細書（Ｙｏｕｎｇ）に開示され、これらの明細書は本明細書に引用により取込まれている。コラム特性はこの場合にも、次元及び吸着剤を含み、操作条件はキャリアガスのタイプ及び流速、及び入口圧力及び出口圧力を含む。”ジェネリック”ＬＣが図７に概略的に示されている。液体キャリアがポンプ３２６からコラム３２８へ供給される。試料はインジェクタ３３０から、ポンプとコラムとの間のパイプの中に瞬時に導入され、この個所で試料は液体キャリアの中に混入される。結果の混合液はコラムを通過し、コラムは、異なるレートで試料の成分を吸着及び溶離する。コラムから流出する混合液は、ウィンドウ３３４を有するセル３３２を通過する。光源３３８からの光ビーム３３６はレンズ３４０又はその他の適切な光学装置によりコリメートされ、セルの中の液体３４１を通過して検出器３４０に達する。検出器３４０は、光吸収において現れる時間変化を測定する。検出器信号は線３４２を介して、ＣＰＵ３４６及び記憶されているプログラム３４８及びメモリ３５０を有するコンピュータ３４４に出力パターンへの解析のため供給される。出力パターンは、モニター３５２に表示可能である。ＧＣの場合と同様に比較は、標準関数に対して指数関数的に変形されたガウス関数を使用して図３に関連して説明されたように行うことも可能である。
【００４６】
本発明に適切なその他のクラスの装置は質量スペクトロメータ、Ｘ線分析装置、及び物質の分析において分析的プロフィルを生成するその他の分析装置である。
【００４７】
本明細書及び請求の範囲において使用されるように”分析プロフィル”との用語は、スペクトル線形状と、クロマトグラフ又は、波長及び時間等の関数のようなプロフィルを生成するその他の分析装置により生ずるプロフィルを含む。同様に”分析情報”はスペクトル情報と、クロマトグラフ及びこのようなその他の分析装置に関連する類似の情報とを含む。
【００４８】
本発明を特定の実施の形態を参照して詳細に説明したが、本発明の精神及び添付の請求の範囲を逸脱することなく種々の変化及び変更は当業者には自明である。従って本発明は添付請求の範囲及びそれらの等価のみにより制限される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明において利用される１つのタイプの分光測定装置の１つの例としての分散形スペクトロメータの概略図である。
【図２】本発明において利用される別の１つのタイプの分光測定装置の１つの例としてのＦＴＩＲ形スペクトロメータの概略図である。
【図３】図１及び２の装置のような２つの装置に関連して本発明の適用を示すフローチャートである。
【図４】図３のフローチャートを参照してコンピュータ計算された一連のサブ関数を示す略線図である。
【図５】図４のサブ関数からコンピュータ計算された一連のサブ係数を示す略線図である。
【図６】本発明において利用される１つのタイプの分析装置の１つの例としてのガスクロマトグラフの概略図である。
【図７】本発明において利用される別の１つのタイプの分析装置の１つの例としての液体クロマトグラフの概略図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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