【手続補正書】
【提出日】平成20年4月16日(2008.4.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  基体、及び該基体表面に形成された樹脂被覆層を有し、該樹脂被覆層は、少なくとも結着樹脂、導電性微粉末、及び該樹脂被覆層の表面に凹凸を形成するための粒子を含有し、
該粒子は、体積平均粒径が３．０〜１５μｍであり、且つ体積基準の累積値で２０μｍ以上の粒子が１０％以下であり、
該樹脂被覆層の表面の十点平均粗さＲｚと該粒子の体積平均粒径Ｄｒの関係が、下記式（７）を満足し、
式（７）
２μｍ＜十点平均粗さＲｚ≦Ｄｒ
且つ、該樹脂被覆層表面のユニバーサル硬さ値と該粒子のユニバーサル硬さ値の関係が、下記式（８）を満足することを特徴とする現像剤担持体：
式（８）
該樹脂被覆層表面のユニバーサル硬さ値≦該粒子のユニバーサル硬さ値。
【請求項２】  前記粒子が球状であり、且つ真密度が３ｇ／ｃｍ3以下であることを特徴とする請求項１に記載の現像剤担持体。
【請求項３】  前記粒子が樹脂粒子であることを特徴とする請求項１又は２に記載の現像剤担持体。
【請求項４】  前記粒子が導電性の粒子であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の現像剤担持体。
【請求項５】  前記樹脂被覆層は、固体潤滑剤を更に含有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の現像剤担持体。
【請求項６】  現像剤担持体表面に担持搬送された現像剤を、現像剤層厚規制部材により薄層に形成された現像剤層として、該現像剤担持体により静電潜像担持体に対向する現像領域へと担持搬送し、搬送された現像剤により該静電潜像担持体に形成されている静電潜像を現像して可視像化する現像方法において、
該現像剤担持体が、請求項１乃至５のいずれかに記載の現像剤担持体であり、
該現像剤は、少なくとも結着樹脂、着色剤を含有し、該現像剤の重量平均粒径が５．０〜１２．０μｍであり、且つ該現像剤の３μｍ以上の粒子において、下記式（１）より求められる円形度ａが０．９００以上の粒子を個数基準の累積値で９０％以上含有し、
式（１）
円形度ａ＝Ｌ0／Ｌ
［式中、Ｌ0は粒子像と同じ投影面積を持つ円の周囲長を示し、Ｌは粒子像の周囲長を示す。］
且つ、下記ａ）或いはｂ）の条件を満たすものであることを特徴とする現像方法：
ａ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（２）を満足し、
式（２）
カット率Ｚ≦５．３×Ｘ
［但し、カット率Ｚは、東亜医用電子製フロー式粒子像分析装置ＦＰＩＡ−１０００で測定される全測定粒子の粒子濃度Ａ（個数／μｌ）、円相当径３μｍ以上の測定粒子濃度Ｂ（個数／μｌ）としたとき、次の式（３）で表される。Ｚ＝（１−Ｂ／Ａ）×１００（３）］
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（４）を満足する、
式（４）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．５１×Ｘ-0.645
［但し、現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］；
ｂ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（５）を満足し、
式（５）
カット率Ｚ＞５．３×Ｘ
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（６）を満足する、
式（６）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．３７×Ｘ-0.545
［但し、現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］。
【請求項７】  現像剤と、現像剤容器と、該現像剤容器に収容された該現像剤を担持搬送するための現像剤担持体と、該現像剤担持体上に現像剤の薄層を形成するための現像剤層厚規制部材とを有し、該現像剤担持体によって該現像剤を静電潜像保持体と対向する現像領域へと搬送し、該静電潜像保持体に形成された静電潜像を該現像剤により現像して可視像化する現像装置において、
該現像剤担持体が、請求項１乃至５のいずれかに記載の現像剤担持体であり、
該現像剤は、少なくとも結着樹脂、着色剤を含有し、該現像剤の重量平均粒径が５．０〜１２．０μｍであり、かつ該現像剤の３μｍ以上の粒子において、下記式（１）より求められる円形度ａが０．９００以上の粒子を個数基準の累積値で９０％以上含有し、
式（１）
円形度ａ＝Ｌ0／Ｌ
［式中、Ｌ0は粒子像と同じ投影面積を持つ円の周囲長を示し、Ｌは粒子像の周囲長を示す。］
且つ、下記ａ）或いはｂ）の条件を満たすものであることを特徴とする現像装置：
ａ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（２）を満足し、
式（２）
カット率Ｚ≦５．３×Ｘ
［但し、カット率Ｚは、東亜医用電子製フロー式粒子像分析装置ＦＰＩＡ−１０００で測定される全測定粒子の粒子濃度Ａ（個数／μｌ）、円相当径３μｍ以上の測定粒子濃度Ｂ（個数／μｌ）としたとき、次の式（３）で表される。Ｚ＝（１−Ｂ／Ａ）×１００（３）］
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（４）を満足する、
式（４）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．５１×Ｘ-0.645
［但し、該現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］；
ｂ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（５）を満足し、
式（５）
カット率Ｚ＞５．３×Ｘ
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（６）を満足する、
式（６）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．３７×Ｘ-0.545
［但し、該現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］。
【請求項８】  請求項７に記載の現像装置を用いて静電潜像保持体上に形成されている静電潜像を現像する工程を有することを特徴とする画像形成方法。
【請求項９】  請求項７に記載の現像装置を具備していることを特徴とする画像形成装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、基体、及び該基体表面に形成された樹脂被覆層を有し、該樹脂被覆層は、少なくとも結着樹脂、導電性微粉末、及び該樹脂被覆層の表面に凹凸を形成するための粒子を含有し、
該粒子は、体積平均粒径が３．０〜１５μｍであり、且つ体積基準の累積値で２０μｍ以上の粒子が１０％以下であり、
該樹脂被覆層の表面の十点平均粗さＲｚと該粒子の体積平均粒径Ｄｒの関係が、下記式（７）を満足し、
式（７）
２μｍ＜十点平均粗さＲｚ≦Ｄｒ
且つ、該樹脂被覆層表面のユニバーサル硬さ値と該粒子のユニバーサル硬さ値の関係が、下記式（８）を満足することを特徴とする現像剤担持体に関する。
式（８）
該樹脂被覆層表面のユニバーサル硬さ値≦該粒子のユニバーサル硬さ値
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
また本発明は、現像剤担持体表面に担持搬送された現像剤を、現像剤層厚規制部材により薄層に形成された現像剤層として、該現像剤担持体により静電潜像担持体に対向する現像領域へと担持搬送し、搬送された現像剤により該静電潜像担持体に形成されている静電潜像を現像して可視増加する現像方法において、
該現像剤担持体が、上記構成の現像剤担持体であり、
該現像剤は、少なくとも結着樹脂、着色剤を含有し、該現像剤の重量平均粒径が５．０〜１２．０μｍであり、且つ該現像剤の３μｍ以上の粒子において、下記式（１）より求められる円形度ａが０．９００以上の粒子を個数基準の累積値で９０％以上含有し、
式（１）
円形度ａ＝Ｌ0／Ｌ
［式中、Ｌ0は粒子像と同じ投影面積を持つ円の周囲長を示し、Ｌは粒子像の周囲長を示す。］
且つ、下記ａ）或いはｂ）の条件を満たすものであることを特徴とする現像方法に関する。
ａ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（２）を満足し、
式（２）
カット率Ｚ≦５．３×Ｘ
［但し、カット率Ｚは、東亜医用電子製フロー式粒子像分析装置ＦＰＩＡ−１０００で測定される全測定粒子の粒子濃度Ａ（個数／μｌ）、円相当径３μｍ以上の測定粒子濃度Ｂ（個数／μｌ）としたとき、次の式（３）で表される。Ｚ＝（１−Ｂ／Ａ）×１００（３）］
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（４）を満足する、
式（４）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．５１×Ｘ-0.645
［但し、現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］；
ｂ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（５）を満足し、
式（５）
カット率Ｚ＞５．３×Ｘ
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（６）を満足する、
式（６）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．３７×Ｘ-0.545
［但し、現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
更に本発明は、現像剤と、現像剤容器と、該現像剤容器に収容された該現像剤を担持搬送するための現像剤担持体と、該現像剤担持体上に現像剤の薄層を形成するための現像剤層厚規制部材とを有し、該現像剤担持体によって該現像剤を静電潜像保持体と対向する現像領域へと搬送し、該静電潜像保持体に形成された静電潜像を該現像剤により現像して可視像化する現像装置において、
該現像剤担持体が、上記構成の現像剤担持体であり、
該現像剤は、少なくとも結着樹脂、着色剤を含有し、該現像剤の重量平均粒径が５．０〜１２．０μｍであり、かつ該現像剤の３μｍ以上の粒子において、下記式（１）より求められる円形度ａが０．９００以上の粒子を個数基準の累積値で９０％以上含有し、
式（１）
円形度ａ＝Ｌ0／Ｌ
［式中、Ｌ0は粒子像と同じ投影面積を持つ円の周囲長を示し、Ｌは粒子像の周囲長を示す。］
且つ、下記ａ）或いはｂ）の条件を満たすものであることを特徴とする現像装置に関する。
ａ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（２）を満足し、
式（２）
カット率Ｚ≦５．３×Ｘ
［但し、カット率Ｚは、東亜医用電子製フロー式粒子像分析装置ＦＰＩＡ−１０００で測定される全測定粒子の粒子濃度Ａ（個数／μｌ）、円相当径３μｍ以上の測定粒子濃度Ｂ（個数／μｌ）としたとき、次の式（３）で表される。Ｚ＝（１−Ｂ／Ａ）×１００（３）］
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（４）を満足する、
式（４）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．５１×Ｘ-0.645
［但し、該現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］；
ｂ）カット率Ｚと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（５）を満足し、
式（５）
カット率Ｚ＞５．３×Ｘ
且つ、円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙと該現像剤の重量平均粒子径Ｘの関係が、下記式（６）を満足する、
式（６）
円形度ａが０．９５０以上の粒子の個数基準累積値Ｙ≧ｅｘｐ５．３７×Ｘ-0.545
［但し、該現像剤の重量平均粒子径Ｘ：５．０〜１２．０μｍ］