(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段と、
ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段と、
この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段と、
この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段と、
を備えたことを特徴とする関数演算可能な電卓。
【請求項２】
請求項１に記載の電卓において、
前記機能制限情報記憶手段は、
使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を複数記憶し、
前記機能禁止手段は、
前記試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された複数の情報の内の任意の情報をユーザ操作により選択する選択手段を有し、
この選択手段によって選択された情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴とする関数演算可能な電卓。
【請求項３】
請求項１または２に記載の電卓において、
前記機能禁止手段による演算機能の使用禁止が開始された後、所定時間経過後に演算機能の使用禁止を解除する機能禁止解除手段を備えたことを特徴とする関数演算可能な電卓。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の電卓において、
外部からの信号を受信する受信手段を備え、
前記機能禁止手段は、前記受信手段によって、前記機能制限情報記憶手段に記憶された任意の情報を指定する信号を受信した際に、この情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴とする関数演算可能な電卓。
【請求項５】
電卓に用いられるコンピュータを、
使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段、
ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段、
この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段、
この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段、
として機能させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電卓に係り、詳細には、機能制限モード設定機能を有する関数演算可能な電卓及び記憶媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の関数演算計算機には、複数の機能が設定されており、各国別に個別に機能の変更を行っていた。
【０００３】
複数の機能が設定されている関数演算計算機の一例として、関数演算モードを複数有するグラフ関数計算機が挙げられる。近年、グラフ関数計算機は、各国の数学、物理等の理工系の試験で使用されるようになった。その試験で用いてはいけない機能、制限されている機能等は各国によって異なっており、各国の試験に合わせて機能を制限することが必要になった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のグラフ関数計算機は、所定の機能を制限することができないため、各国の試験に合わせて個別にグラフ関数計算機を設計する必要があった。さらに、各国の試験で制限される機能は、度々更新されるため、それに合わせて随時グラフ関数計算機を設計し直す必要があった。
一方、各国の試験における審査官は、試験において受験者が使用しているグラフ関数計算機が試験に対応して設計し直された製品であるかどうかを、いちいち確認する必要があった。すなわち、試験対応製品の製品名一覧表を見ながら、試験会場で受験者が使用している製品の製品名が、この一覧表に記載されているか否かを確認する必要があった。通常製品名は、製品の端の方に小さく印刷されていることが多いため、厳正な試験を行うには試験官の負担も大きかった。
【０００５】
本発明の課題は、機能制限モード設定機能を設けることによって、試験に対応した機能制限を行えるようにした関数演算可能な電卓、及び記憶媒体を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような課題を達成するために、次のような特徴を備えている。請求項１記載の電卓は、使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段と、ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段と、この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段と、この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段と、を備えたことを特徴としている。
【０００８】
また、請求項５記載の記憶媒体は、電卓に用いられるコンピュータを、使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段、ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段、この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段、この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段、として機能させるためのプログラムを格納したことを特徴としている。
【００１１】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の電卓において、前記機能制限情報記憶手段は、使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を複数記憶し、前記機能禁止手段は、前記試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された複数の情報の内の任意の情報をユーザ操作により選択する選択手段を有し、この選択手段によって選択された情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴としている。
【００１４】
また、請求項３記載の発明は、請求項１または２に記載の電卓において、前記機能禁止手段による演算機能の使用禁止が開始された後、所定時間経過後に演算機能の使用禁止を解除する機能禁止解除手段を備えたことを特徴としている。
【００１７】
また、請求項４記載の発明は、請求項１から３のいずれかに記載の電卓において、外部からの信号を受信する受信手段を備え、前記機能禁止手段は、前記受信手段によって、前記機能制限情報記憶手段に記憶された任意の情報を指定する信号を受信した際に、この情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴としている。
【００２０】
【発明の実施の形態】
（第１の実施の形態）
以下、図１〜図４を参照して本発明の第１の実施の形態における電子機器１について詳細に説明する。
【００２１】
まず構成を説明する。
図１は、本発明の実施の形態としての電子機器の内部構成を示すブロック図である。
この図１に示すように、電子機器１は、ＣＰＵ２、表示駆動回路３、表示部４、位置検出回路５、タブレット６、入力部７、ＲＡＭ８、ＲＯＭ９、記憶装置１０、及び記憶媒体１１によって構成されている。
【００２２】
ＣＰＵ（Central Processing Unit)２は、入力部７を介して入力される指示に基づいて、ＲＯＭ９または記憶媒体１０から所定のプログラムを読み出してＲＡＭ８に一時格納し、当該プログラムに基づく各種処理を実行して電子機器１の各部を集中制御する。すなわち、ＣＰＵ２は、前記読み出した所定プログラムに基づいて各種処理を実行し、その処理結果をＲＡＭ８内のワークエリアに格納するとともに、表示部４に表示させる。
【００２３】
また、ＣＰＵ２は、試験モード設定処理（図３参照）において、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す複数の国名を表示部４に一覧表示させる。次いで、ＣＰＵ２は、一覧表示されている複数の国名の内から専用ペンによっていずれかの国名が指示選択された後、試験モード実行キーが入力されると、選択された試験モードに対応する関数キー情報をＲＯＭ９に格納されている試験モードテーブル９１から抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってoptionキーが入力されると、各関数キーの名称を表示部４に表示する。ここで、各関数キーの内、通常使用可能な関数キーの名称を通常表示し、使用禁止されている関数キーの名称を反転表示させて表示する。その後、選択された試験モードが設定されている状態において、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザの関数キー入力に従って処理を実行する。そして、ユーザによって関数キーが入力されると、ＣＰＵ２は、試験モードテーブル９１に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、通常使用可能な関数キーである場合は、関数キーを通常入力し、使用禁止されている関数キーである場合は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にする。
【００２４】
表示駆動回路３は、ＣＰＵ２により実行される各種処理に係るデータや処理結果の他、入力装置７から入力される入力データ等を表示信号として表示部４に出力して、表示部４の所定の表示位置に表示する。表示部４は、ＬＣＤ等から成り、表示駆動回路３から入力される表示信号に応じて、各種データを表示する。
【００２５】
タブレット５は、入力ペンなどの座標を指示する装置と指示した座標を感知する板状の装置を組み合わせた入力機器であり、位置検出回路６によって、電磁誘導方式、磁気歪式、感圧式等の座標読み取り原理で専用ペンによって指示された位置座標が検出される。このタブレット５は、表示部４と一体となっており、表示部４によって表示される試験モード等を専用ペンによって直接指示選択して入力操作を行うことができる。
【００２６】
入力部７は、上下左右移動キー、数字入力キー、関数キー、試験モード設定キー、試験モード実行キー、optionキー及び各種機能キー等を備えたキーボードで押下されたキーの押下信号をＣＰＵ２に出力する。
【００２７】
ＲＡＭ（Random Access Memory）８は、ＣＰＵ２により実行されるプログラムや各種アプリケーションプログラムを格納するプログラム格納エリアと、入力指示、入力データ及び処理結果等を一時格納するワークエリアを有する。
【００２８】
ＲＯＭ（Read Only Memory）９は、電子機器１に対応する基本プログラムを格納している。すなわち、電子機器１の電源がＯＮ状態にされた際に実行する初期表示メニュープログラム、各種関数演算プログラム、後述する試験モードテーブル９１、及び後述する試験モード設定処理プログラム等の書き換え不要な基本プログラムを格納している。
【００２９】
図２は、試験モードテーブル９１の構成を詳細に説明する図である。この図２において、試験モードテーブル９１は、「ＮＯＲＭＡＬ」，「ＪＡＰＡＮ」，「Ｕ．Ｓ．Ａ」，…等の試験モードの項目と、「ＬＩＳＴ」（統計データのリスト表示機能），「ＭＡＴ」（行列機能），「ＣＰＬＸ」（複素数機能），…等の各関数キー項目とが対応づけられている。つまり、試験モード毎に使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーの設定状況を示す関数キー情報が対応づけられている。使用禁止されている関数キーには「１」が、使用できる関数キーには「０」が格納される。
【００３０】
例えば、ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ「ＮＯＲＭＡＬ」に対応する全ての関数演算機能の項目には「０」が格納されているため、ユーザによってＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ「ＮＯＲＭＡＬ」が選択されて実行された場合は、全ての関数キーが使用可能となる。また、ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ「ＪＡＰＡＮ」に対応する各関数キーの項目をみると、「ＣＰＬＸ」の項目に「１」が格納され、その他の関数キーの項目には、「０」が格納されているため、ユーザによってＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ「ＪＡＰＡＮ」が選択されて実行された場合は、関数キー「ＣＰＬＸ」のみが使用禁止される。
【００３１】
このように、ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥの項目に示される国名を選択することで、電子機器１の機能をその国の試験に合わせて制限することができる。
【００３２】
記憶媒体１０は、プログラムやデータ等を記憶する記憶媒体１１を有しており、この記憶媒体１１は磁気的、光学的記憶媒体、若しくは半導体メモリで構成されている。この記憶媒体１１は記憶媒体１０に固定的に設けたもの、若しくは着脱自在に装着するものであり、この記憶媒体１１には当該電子機器１に対応する各種処理プログラムを記憶する。
【００３３】
次に動作を説明する。
図３は、本実施の形態における電子機器１の試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【００３４】
図３において、まず、ＣＰＵ２は、試験モード設定処理を開始し、ユーザによって入力部７の試験モード設定キーが入力されると（ステップＳ１）、試験モードを示す複数の国名を表示部４に一覧表示させる（図４（ａ）参照）（ステップＳ２）。ここで、各国名は試験モードテーブル９１のＥＸＡＭ  ＭＯＤＥの項目に格納されているものである（図２）。次いで、ＣＰＵ２は、表示部４に一覧表示されている複数の試験モード（国名）の内から専用ペンによっていずれかの試験モードが指示選択され（ステップＳ３）、更に、試験モード実行キーが入力されると（ステップＳ４）、選択された試験モードがセットされたことを示すセット表示「ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ  ＳＥＴ！］を表示部４に表示する。数秒経過後に表示の最上段に「Ｕ.Ｓ.Ａ. ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ」と、定常的にセットされた試験モードを表示する（ステップＳ５）。
そして、ＣＰＵ２は、ＲＯＭ９に格納されている試験モードテーブル９１から、選択された試験モードに対応する関数キー情報を検索して抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う（ステップＳ６）。すなわち、試験モードテーブル９１に各試験モード毎に設定された関数キー情報に基づいて、当該試験モードにおいて使用可能な関数キー、使用禁止されている関数キーをそれぞれ設定する。ここで、指示選択された試験モードの設定が完了し、キー入力待ち状態となる。この後、当該試験モードにおいて、ＣＰＵ２は、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行するが、本フローチャートにおいては、optionキー入力に対応する処理、及び各種関数キー入力に対応する関数演算処理に関する内容について説明することとする。
【００３５】
ステップＳ６において選択された試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力されたキーがoptionキーであるか否かを判別し（ステップＳ７）、optionキーでない場合は（ステップＳ７；ＮＯ）、他の処理に移行し、optionキーである場合は（ステップＳ７；ＹＥＳ）、ステップＳ６において抽出した関数キー情報に含まれる各関数キーの名称を表示部４に表示する（ステップＳ８）。ここで、各関数キーの内、「０」が格納されている関数キーの名称を機能表示領域４ａに通常表示し、「１」が格納されている関数キーの名称を反転表示させてキー入力待ち状態になる。
【００３６】
以後は、ユーザのキー入力に従った動作を行う。
以下のフローでは、関数キー入力が行われた場合の処理を示す。
一般に、グラフ関数電卓等では、キートップに関数が印刷されている固定の関数キーと、F1〜F6に対応して、キー機能が表示部に表示される関数キーがある。以下では、後者の関数キーが押された場合の処理である。
【００３７】
選択された試験モードが設定されている状態において、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力部７の関数キーが入力されたか否かを判別し（ステップＳ９）、入力されなかった場合は（ステップＳ９；ＮＯ）、他の処理に移行し、入力された場合は（ステップＳ９；ＹＥＳ）、試験モードテーブル９１に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別する（ステップＳ１０）。使用禁止されていない関数キーである場合は（ステップＳ１０；ＮＯ）、ＣＰＵ２は、関数キーを通常入力し（ステップＳ１１）、該関数キーに対応する表示画面を表示部４に通常表示する（ステップＳ１２）。使用禁止されている関数キーである場合は（ステップＳ１０；ＹＥＳ）、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にして（ステップＳ１３）、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する（ステップＳ１４）。
【００３８】
その後、ＣＰＵ２は、ユーザによって再び関数キーが入力されたか否かを判別する（ステップＳ１５）。再び関数キーが入力された場合は（ステップＳ１５；ＹＥＳ）、ＣＰＵ２は、ステップＳ９に戻り、関数キーが入力されなかった場合は（ステップＳ１５；ＮＯ）、一連の試験モード設定処理を終了する。
【００３９】
図４は、上述の試験モード設定処理における表示部４の表示画面の一例を示す図である。
（ａ）は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、（ｂ）は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、（ｃ）は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示する表示を示し、（ｄ）は選択された試験モードにおいて使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを表示した様子を示している。
【００４０】
同図（ａ）に示すように、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す国名が複数一覧表示される。ここで、ユーザによって専用ペンにより指示選択された国名が反転表示される。同図（ａ）においては国名「Ｕ．Ｓ．Ａ  ＥＸＡＭ」が指示選択されて反転表示されている。
【００４１】
その後、ユーザによって試験モード実行キーが入力されると、同図（ｂ）に示すように、選択された試験モードがセットされたことを示すセット表示、例えば、「ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ  ＳＥＴ」が表示部４に表示される。数秒経過後、表示の最上段に選択された試験モードを示す表示「Ｕ.Ｓ.Ａ. ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ」が定常的に表示される（同図（ｃ））。
【００４２】
さらに、ユーザによってoptionキーが入力されると、同図（ｄ）に示すように、機能表示領域４ａに、使用可能な関数キーの名称「ＬＩＳＴ」，「ＭＡＴ」，及び「ＴＡＢＬ」が通常表示され、使用禁止されている関数キーの名称「ＣＰＬＸ」，「ＲＥＣＲ」，及び「ＥＱＵＡ」が反転表示されて表示される。なお、機能表示領域４ａに表示された各関数キーの名称は、同図（ｄ）に示すように、入力部７のF1〜F6に対応している。また、機能制限中は、同図（ｃ）及び（ｄ）に示すように、表示部４の最上部に選択された試験モードを示す表示、ここでは、「Ｕ．Ｓ．Ａ  ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ」が常に表示される。
【００４３】
以上説明したように、本実施の形態における電子機器１によれば、試験モード設定処理において、ＣＰＵ２は、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す国名を複数表示部４に一覧表示させる。次いで、ＣＰＵ２は、一覧表示されている複数の試験モード（国名）の内から専用ペンによっていずれかの試験モードが指示選択された後、試験モード実行キーが入力されると、選択された試験モードに対応する関数キー情報をＲＯＭ９に格納されている試験モードテーブル９１から抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行って指示選択された試験モードが表示の上段に常に表示する処理を行う。その後、ユーザによって関数キーが入力されると、ＣＰＵ２は、試験モードテーブル９１に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、通常使用可能な関数キーである場合は、関数キーを通常入力し、使用禁止されている関数キーである場合は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にする。
【００４４】
したがって、選択手段により、複数の機能制限モードの内の任意の機能制限モードを選択することによって、選択された機能制限モードに対応する機能の使用を禁止することができ、１台で機能の使用禁止状態を複数実現できるため、例えば、１台で各国の試験に対応することができ、各国の試験に合わせて関数演算機能を受験者全員で統一することができる。また、機能制限状態表示手段により、どの国の試験に使用可能であるかを容易に表示できるので、試験官が試験中に受験者が指定の試験に対応した電子機器を使用しているかどうかを容易に確認できる。
【００４５】
なお、本発明は上記第１の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において細部については適宜変更可能であり、例えば、上記第１の実施の形態においては、図２に示すように、ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥとして各国の名称と、各種演算機能とを対応づけて記憶しているが、数学、化学、及び物理等の科目名と、各種演算機能とを対応づけて記憶し、ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥとして科目名を表示部４に一覧表示する形態としてもよい。
【００４６】
（第２の実施の形態）
次に、図５〜図６を参照して本発明の第２の実施の形態における電子機器１について詳細に説明する。
【００４７】
第２の実施の形態における電子機器１の構成は上記第１の実施の形態における電子機器１と同様の構成であるので同一符号を付してその図示及び説明を省略するものとし、以下、上記第１の実施の形態における電子機器１との相異点について説明する。
【００４８】
第２の実施の形態において、ＣＰＵ２は、後述する表示形式変更処理（図５参照）において、まず、上述した試験モード設定処理（図３参照）のステップＳ１〜ステップＳ６の処理を行い、ユーザによって選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってCatalogキーが入力されると、抽出した関数キー情報の内からいずれか１つの関数キーを順次呼び出し、使用禁止されていない関数キーである場合は、関数キーの名称を表示部４の表示画面に通常表示するとともに、使用禁止された関数キーである場合は、関数キーの名称を表示形式を変更して表示させて、全ての関数キーの名称を一覧表示させる。
【００４９】
入力部７は、上下左右移動キー、数字入力キー、関数キー、試験モード設定キー、試験モード実行キー、optionキー、Catalagキー、及び各種機能キー等を備えたキーボードで押下されたキーの押下信号をＣＰＵ２に出力する。
【００５０】
次に動作を説明する。
図５は、本発明の第２の実施の形態における電子機器１の表示形式変更処理について説明するフローチャートである。
【００５１】
図５において、ＣＰＵ２は、まず、上述した試験モード設定処理（図３参照）のステップＳ１〜ステップＳ６と同様の処理を行い、ユーザによって選択された試験モードの設定を行う。すなわち、試験モードテーブル９１に各試験モード毎に設定された関数キー情報に基づいて、当該試験モードにおいて使用可能な関数キー、使用禁止されている関数キーをそれぞれ設定する。ここで、選択された試験モードの設定が完了し、キー入力待ち状態となる。この後、当該試験モードにおいて、ＣＰＵ２は、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行するが、本フローチャートにおいては、Catalogキー入力に対応する処理に関する内容について説明することとする。
ユーザによって選択された試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力されたキーがCatalogキーであるか否かを判別し（ステップＳ１６）、Catalogキーでない場合は（ステップＳ１６；ＮＯ）、他の処理に移行し、Catalogキーである場合は（ステップＳ１６；ＹＥＳ）、抽出した関数キー情報の内からいずれか１つの関数キーを順次呼び出し（ステップＳ１７）、使用禁止された関数キーか否かを判別する（ステップＳ１８）。使用禁止されていない関数キーである場合は（ステップＳ１８；ＮＯ）、ＣＰＵ２は、関数キーの名称を表示部４の表示画面に通常表示する（ステップＳ１９）。使用禁止された関数キーである場合は（ステップＳ１８；ＹＥＳ）、ＣＰＵ２は、関数キーの名称を表示形式を変更して（ステップＳ２０）、表示させて（ステップＳ２１）、全ての関数キーを一覧表示させる。
【００５２】
ステップＳ１９の処理の終了後、またはステップＳ２１の処理の終了後、ＣＰＵ２は、全ての関数キーの名称を一覧表示させ終えたか否かを判別する（ステップＳ２２）。一覧表示させ終えていない場合は（ステップＳ２２；ＮＯ）、ＣＰＵ２は、ステップＳ１７に戻り、一覧表示させ終えた場合は（ステップＳ２２；ＹＥＳ）、一連の表示形式変更処理を終了する。
【００５３】
なお、ステップＳ２０，Ｓ２１において、使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して、表示部４の表示画面に一覧表示させているが、表示形式の変形例としては、例えば、表示色の変更、反転表示、及び網掛け表示等が挙げられる。
【００５４】
図６は、上述の表示形式変更処理における表示部４の表示画面の一例を示す図である。
（ａ）は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、（ｂ）は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、（ｃ）は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示される表示を示し、（ｄ）は使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して表示した様子を示している。
【００５５】
同図（ａ）に示すように、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す国名が複数一覧表示される。ここで、ユーザによって専用ペンにより指示選択された国名が反転表示される。同図（ａ）においては国名「Ｕ．Ｓ．Ａ  ＥＸＡＭ」が指示選択されて反転表示されている。
【００５６】
その後、ユーザによって試験モード実行キーが入力されると、同図（ｂ）に示すように、選択された試験モードがセットされたことを示す表示、例えば、「ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ  ＳＥＴ」が表示部４に表示される。数秒経過後、表示の最上段に選択された試験モードを示す表示「Ｕ.Ｓ.Ａ. ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ」が定常的に表示される（同図（ｃ））。
【００５７】
さらに、ユーザによってCatalogキーが入力されると、同図（ｄ）に示すように、使用禁止関数キー領域４ｂに使用禁止されている関数キーの名称「Arg」，「Algebra」，「Binary」が点線表示され、通常使用可能な関数キーの名称「Abs」，「Cls」，「Clear」は通常表示される。なお、機能制限中は、同図（ｃ）及び（ｄ）に示すように、表示部４の最上部に選択された試験モードを示す表示、ここでは、「Ｕ．Ｓ．Ａ  ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ」が常に表示される。
【００５８】
以上説明したように、本実施の形態における電子機器１によれば、表示形式変更処理において、ＣＰＵ２は、まず、上述した試験モード設定処理（図３参照）のステップＳ１〜ステップＳ６の処理を行い、ユーザによって選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってCatalogキーが入力されると、抽出した関数キー情報の内からいずれか１つの関数キーを順次呼び出し、使用禁止されていない関数キーである場合は、関数キーの名称を表示部４の表示画面に通常表示するとともに、使用禁止された関数キーである場合は、関数キーの名称を表示形式を変更して表示させて、全ての関数キーの名称を一覧表示させる。
【００５９】
したがって、ユーザによって指示選択された各国別の試験対応の機能制限モードにおいて、通常使用可能な関数キーの名称を表示部４の表示画面に通常表示するとともに、使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して表示させて、全ての関数キーの名称を一覧表示させることができる。このため、試験において所定の試験対応の機能制限モードが設定されたとき、各受験者は使用が禁止されている関数キーを視覚的に確認することができ、使えない機能を使おうとするミスを無くすことができる。
【００６０】
なお、本発明は上記第２の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において細部については適宜変更可能であり、例えば、上記第２の実施の形態においては、図６（ｄ）に示すように、使用禁止されている関数キーの名称を点線表示させて使用禁止関数キー領域４ｂに表示して、通常使用可能な関数キーの名称を通常表示して全ての関数キーの名称を一覧表示させているが、使用禁止されている関数キーの名称のみを表示部４に一覧表示する形態としてもよい。
【００６１】
（第３の実施の形態）
次に、図７〜図９を参照して本発明の第３の実施の形態における電子機器１００について詳細に説明する。
【００６２】
第３の実施の形態における電子機器１００の構成は、図７に示すように、計時部１２を更に備える他、上記第１の実施の形態における電子機器１と同様の構成であるので同一符号を付して説明を省略するものとし、以下、上記第１の実施の形態における電子機器１との相異点について説明する。
【００６３】
第３の実施の形態において、ＣＰＵ２は、後述する時間制限試験モード設定処理（図８参照）において、まず、上述した試験モード設定処理（図３参照）のステップＳ１〜ステップＳ４と同様の処理を行い、試験モード実行キーが入力されると、試験モード設定用コンデンサのスイッチをＯＮするとともに、試験モードテーブル９１から選択された試験モードに対応する関数キー情報を抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってCatalogキーが入力されると、当該関数キー情報に含まれる関数キーの名称を表示部４に表示する。その際、使用禁止されている関数キーを反転表示させて表示する（図９（ａ）参照）。その後、選択された試験モードが設定されている状態において、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザの関数キー入力に従って処理を実行する。ユーザによって関数キーが入力されると、ＣＰＵ２は、試験モードテーブル９１に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、使用禁止されている関数キーである場合は、入力された関数キーの入力を無効にして、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。
【００６４】
その後、ＣＰＵ２は、再び、試験モード設定キーが再び入力されたか否かを判別し、試験モード設定キーが入力された場合は、試験モード設定用コンデンサの電荷を検出し、検出した電荷量が所定のしきい値を超えている場合は、ユーザによって再び入力された試験モード設定キーの入力を無効にして、試験モード設定キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。
【００６５】
計時部１２は、試験モード設定用コンデンサを備え、この試験モード設定用コンデンサは、絶縁物を介して２枚の金属板を対応させたもので、２枚の金属板に電圧を加えることにより電荷を蓄える。また、蓄えられた電荷は、試験モード設定用コンデンサのスイッチがＯＮされると同時に、所定の時間をかけて放電されて、所定のしきい値以下の電荷量となるように設定されている。なお、電荷を放電し終えた後、ユーザによって試験モード設定用コンデンサのスイッチがＯＦＦされると充電が開始されて再び電荷が蓄えられる。
【００６６】
次に動作を説明する。
図８は、本発明の第３の実施の形態における電子機器１００の時間制限試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【００６７】
図８において、ＣＰＵ２は、まず、上述した試験モード設定処理（図３参照）のステップＳ１〜ステップＳ４と同様の処理を行う。
試験モード実行キーが入力されると、ＣＰＵ２は、試験モード設定用コンデンサ（図示省略）のスイッチをＯＮするとともに（ステップＳ６１）、ＲＯＭ９に格納されている試験モードテーブル９１から選択された試験モードに対応する関数キー情報を抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う（ステップＳ６２）。すなわち、試験モードテーブル９１に各試験モード毎に設定された関数キー情報に基づいて、当該試験モードにおいて使用可能な関数キー、使用禁止されている関数キーをそれぞれ設定する。ここで、選択された試験モードの設定が完了し、キー入力待ち状態となる。この後、当該試験モードにおいて、ＣＰＵ２は、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行するが、本フローチャートにおいては、optionキー入力に対応する処理、及び各種関数キー入力に対応する関数演算処理に関する内容について説明することとする。
【００６８】
ステップＳ６２において選択された試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力されたキーがoptionキーであるか否かを判別し（ステップＳ６３）、optionキーでない場合は（ステップＳ６３；ＮＯ）、他の処理に移行し、optionキーである場合は（ステップＳ６３；ＹＥＳ）、ステップＳ６２において抽出した関数キー情報に含まれる各関数キーの名称を表示部４に表示する（ステップＳ６４）。ここで、各関数キーの内、「０」が格納されている関数キーの名称を機能表示領域４ａに通常表示し、「１」が格納されている関数キーの名称を反転表示させてキー入力待ち状態になる。
【００６９】
以後は、ユーザのキー入力に従った動作を行う。
以下のフローでは、関数キー入力が行われた場合の処理を示す。
一般に、グラフ関数電卓等では、キートップに関数が印刷されている固定の関数キーと、F1〜F6に対応して、キー機能が表示部に表示される関数キーがある。以下では、後者の関数キーが押された場合の処理である。
【００７０】
選択された試験モードが設定されている状態において、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力部７の関数キーが入力されたか否かを判別し（ステップＳ６５）、入力されなかった場合は（ステップＳ６５；ＮＯ）、他の処理に移行し、入力された場合は（ステップＳ６５；ＹＥＳ）、試験モードテーブル９１に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別する（ステップＳ６６）。使用禁止されていない関数キーである場合は（ステップＳ６６；ＮＯ）、ＣＰＵ２は、関数キーを通常入力し（ステップＳ６７）、該関数キーに対応する表示画面を表示部４に通常表示する（ステップＳ６８）。使用禁止されている関数キーである場合は（ステップＳ６６；ＹＥＳ）、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にして（ステップＳ６９）、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する（ステップＳ７０）。
【００７１】
その後、ＣＰＵ２は、ユーザによって再び関数キーが入力されたか否かを判別する（ステップＳ７１）。再び関数キーが入力された場合は（ステップＳ７１；ＹＥＳ）、ＣＰＵ２は、ステップＳ６５に戻り、関数キーが入力されなかった場合は（ステップＳ７１；ＮＯ）、再び、試験モード設定キーが入力されたか否かを判別する（ステップＳ７２）。試験モード設定キーが入力されなかった場合は、ＣＰＵ２は、入力された関数キーに対応する関数演算機能等の処理を実行し、試験モード設定キーが入力された場合は、試験モード設定用コンデンサの電荷を検出し（ステップＳ７３）、検出した電荷量が所定のしきい値を超えているか否かを判別する（ステップＳ７４）。超えている場合は、ＣＰＵ２は、ユーザによって入力された試験モード設定キー入力を無効にして（ステップＳ７６）、試験モード設定キーが入力される前の表示画面を保持して表示した後（ステップＳ７７）、ステップＳ６５に戻る。
【００７２】
ステップＳ７４において、検出した電荷量が所定のしきい値を超えていない場合は（ステップＳ７４；ＮＯ）、ＣＰＵ２は、ＲＡＭ８のワークエリアに格納されている処理結果等をクリアし（ステップＳ７５）、一連の時間制限試験モード設定処理を終了する。
【００７３】
図９は、上述の時間制限試験モード設定処理における表示部４の表示画面の一例を示す図である。
（ａ）は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過していない場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示し、（ｂ）は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過した場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示している。
【００７４】
初めの試験モード実行キー入力後、電子機器１００の表示部４の表示画面には、同図（ａ）に示すように、各関数演算機能に対応する関数キーが表示され、使用禁止されている関数キー「ＣＰＬＸ」，「ＲＥＣＲ」，「ＥＱＵＡ」が反転表示されている。ここで、一定時間経過する前にユーザによって再び試験モード実行キーが入力されても、試験モード設定処理は実行されず、表示画面は同図（ａ）のまま保持される。
【００７５】
また、一定時間経過した後にユーザによって再び試験モード実行キーが入力されると、即時に試験モード設定処理が実行されて、同図（ｂ）に示すように、選択された試験モードがセットされたことを示す表示、例えば、「ＥＸＡＭ  ＭＯＤＥ  ＳＥＴ」が表示部４に表示される。その後、新たに選択された試験モードに基づいて、使用禁止されている関数キーの入力が無効となる。
【００７６】
以上説明したように、本実施の形態における電子機器１００によれば、時間制限試験モード設定処理において、ＣＰＵ２は、まず、上述した試験モード設定処理（図３参照）のステップＳ１〜ステップＳ４と同様の処理を行い、試験モード実行キーが入力されると、試験モード設定用コンデンサのスイッチをＯＮするとともに、試験モードテーブル９１から選択された試験モードに対応する関数キー情報を抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってoptionキーが入力されると、当該関数キー情報に含まれる関数キーの名称を表示部４に表示する。その際、使用禁止されている関数キーを反転表示させて表示する（図９（ａ）参照）。その後、選択された試験モードが設定されている状態において、ＣＰＵ２は、キー入力待ち状態となり、ユーザの関数キー入力に従って処理を実行する。ユーザによって関数キーが入力されると、ＣＰＵ２は、試験モードテーブル９１に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、使用禁止されている関数キーである場合は、入力された関数キーの入力を無効にして、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。その後、ＣＰＵ２は、再び、試験モード設定キーが再び入力されたか否かを判別し、試験モード設定キーが入力された場合は、試験モード設定用コンデンサの電荷を検出し、検出した電荷量が所定のしきい値を超えている場合は、ユーザによって再び入力された試験モード設定キーの入力を無効にして、試験モード設定キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。
【００７７】
したがって、初めの試験モード設定キー入力後、一定時間にわたって２度目の試験モード設定キーの入力を無効にし、一定時間経過後、即時に試験モード設定キーの入力を受け付けることができるため、試験開始直前に使用禁止する関数演算機能を全ての試験受験者で統一した後、試験時間中に試験受験者が再び試験モード設定処理を実行し、使用禁止されている関数演算機能を勝手に復旧してしまうことを防ぐことができる。
【００７８】
（第４の実施の形態）
次に、図１０〜図１３を参照して本発明の第４の実施の形態における通信システム５０について詳細に説明する。
【００７９】
まず構成を説明する。
図１０は、本発明の第４の実施の形態としての通信システム５０の全体構成を示す図である。
この図１０に示すように、通信システム５０は、親機電子機器２０及び子機電子機器３０，…によって構成され、親機電子機器２０と、子機電子機器３０，…とはデータ通信用ケーブル１５によって接続されている。
【００８０】
親機電子機器２０と、子機電子機器３０，…とを接続するデータ通信用ケーブル１５は、親機電子機器２０から子機電子機器３０，…への使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを示す関数キー情報等の送信等のデータ通信のために使用されている。なお、本実施の形態においては、データ通信用ケーブル１５を使用した有線接続によるデータ通信を行っているが、赤外線、及び無線を使用して無線データ通信を行う形態としてもよい。
【００８１】
第４の実施の形態における親機電子機器２０及び子機電子機器３０，…の構成は、図１１に示すように、通信駆動部１３及び通信部１４を更に備える他、上記第１の実施の形態における電子機器１と同様の構成であるので同一符号を付してその説明を省略するものとし、以下、上記第１の実施の形態における電子機器１との相異点について説明する。
【００８２】
通信駆動部１３は、所定のデータ通信方式に基づきデータ通信プロトコルを制御するデータ通信制御機能を有し、ＣＰＵ２から入力されるデータ通信コマンドや関数キー情報等を通信信号として通信部１４に出力して、データ通信用ケーブル１５を介して外部の電子機器に送信するとともに、外部の電子機器からデータ通信用ケーブル１５を介して送信される通信信号を通信部１４により受信して、通信部１４から入力される通信信号としてのデータ通信コマンドや関数キー情報等をＣＰＵ２に出力する。通信部１４は、通信駆動部１３から入力される通信信号をデータ通信用ケーブル１５を介して外部の電子機器に送信し、また、外部の電子機器からデータ通信用ケーブル１５を介して受信した通信信号を通信駆動部１３に出力する。
【００８３】
第４の実施の形態において、親機電子機器２０のＣＰＵ２は、後述する機能制限通信処理（図１２参照）において、まず、親機電子機器２０と子機電子機器３０，…とがデータ通信用ケーブル１５によって接続されているか確認した後、接続されている子機電子機器３０，…の機種を確認し、さらに、子機電子機器３０，…が通信可能な状態であるか確認する。そして、親機電子機器２０のＣＰＵ２は、確認した受信側の子機電子機器３０，…が通信可能な機種と違っているか否かを判別し、機種が違っている場合は、表示部４に機種ＥＲＲＯＲ表示を表示し、機種が違っていない場合は、関数キー情報をデータ通信用ケーブル１５を介して受信側の子機電子機器３０，…に送信し、関数キー情報の送信が終了した後、通信終了を示す表示を表示部４に表示する。
【００８４】
子機電子機器３０のＣＰＵ２は、関数キー情報を親機電子機器２０から受信し、使用禁止されている関数キーの入力を無効にする。
【００８５】
次に動作を説明する。
図１２は、本発明の第４の実施の形態における親機電子機器２０及び子機電子機器３０の機能制限通信処理について説明するフローチャートである。
【００８６】
図１２において、親機電子機器２０は、まず、機能制限通信処理を開始し（ステップＳ５１）、親機電子機器２０と子機電子機器３０，…とがデータ通信用ケーブル１５によって接続されているか確認する（ステップＳ５２）。次いで、親機電子機器２０は、子機電子機器３０，…の機種を確認し（ステップＳ５３）、子機電子機器３０，…が通信可能な状態であるか確認する（ステップＳ５４）。
【００８７】
そして、親機電子機器２０は、確認した受信側の子機電子機器３０，…が機種違いか否かを判別する（ステップＳ５５）。機種が違っている場合は（ステップＳ５５；ＹＥＳ）、親機電子機器２０は、表示部４に機種ＥＲＲＯＲ表示を行い（ステップＳ５６）、ステップＳ５３に戻る。機種が違っていない場合は（ステップＳ５５；ＮＯ）、親機電子機器２０は、使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを示す関数キー情報をデータ通信用ケーブル１５を介して受信側の子機電子機器３０，…に送信する（ステップＳ５７）。子機電子機器３０，…は、通信駆動部１３及び通信部１４を介して関数キー情報を受信し、使用禁止されている関数キーの入力を無効にする。親機電子機器２０は、関数キー情報の送信が終了した後、通信終了を示す表示を表示部４に表示する（ステップＳ５８）。
【００８８】
図１３は、上述の機能制限通信処理における親機電子機器２０及び子機電子機器３０の表示画面の一例を示す図である。
（ａ）は機能制限通信処理が実行される前の親機電子機器２０及び子機電子機器３０の表示画面を示し、（ｂ）は機能制限通信処理が実行された後の親機電子機器２０及び子機電子機器３０の表示画面を示している。
【００８９】
同図（ａ）に示すように、親機電子機器２０は、Ｕ．Ｓ．Ａ試験モードがセットされているため、当該試験モードに対応して使用禁止されている関数キー「ＣＰＬＸ」，「ＲＥＣＲ」，「ＥＱＵＡ」は親機電子機器２０の表示部４に反転表示される。子機電子機器３０の表示部４の表示画面にも同様に各関数キーが表示されているが、使用禁止されている関数キーはなく、いずれの関数キーも反転表示されていない。
【００９０】
ここで、ユーザによって機能制限通信処理が実行されると、同図（ｂ）に示すように、子機電子機器３０の表示画面に表示されている各関数キーの内、親機電子機器２０において使用禁止されている関数キーと同一の関数キーが反転表示され、親機側と子機側の電子機器が同一のＵ．Ｓ．Ａ試験モードがセットされた状態となる。
【００９１】
以上説明したように、本実施の形態における通信システム５０によれば、機能制限通信処理において、親機電子機器２０は、まず、親機電子機器２０と子機電子機器３０，…とがデータ通信用ケーブル１５によって接続されているか確認した後、接続されている子機電子機器３０，…の機種を確認し、さらに、子機電子機器３０，…が通信可能な状態であるか確認する。そして、親機電子機器２０は、確認した受信側の子機電子機器３０，…の機種が通信可能な機種である場合に、関数キー情報を受信側の子機電子機器３０，…に送信する。子機電子機器３０，…は、関数キー情報を受信し、使用禁止されている関数キーの入力を無効にする。
【００９２】
したがって、親機電子機器２０は、親機側において使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを示す関数キー情報をデータ通信用ケーブル１５を介して受信側の子機電子機器３０，…に送信し、子機電子機器３０，…は、親機電子機器２０から関数キー情報を受信し、親機側において使用禁止されている関数キーと同一の関数キーの入力を無効にすることができるため、試験開始前に、全ての試験受験者に同一の試験モードを選択させて試験モード設定処理を実行させて電子機器の機能を統一させる手間を省くことができる。
【００９３】
【発明の効果】
請求項１及び５記載の発明によれば、試験モード設定手段によって試験モードが設定されることによって、機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止することができる。また、機能制限状態表示手段により、機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示すことができるため、試験官が試験中に受験者が指定の試験に対応した電卓を使用しているかどうかを容易に確認できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態としての電子機器１の内部構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示すＲＯＭ９に格納された試験モードテーブル９１の構成を詳細に説明する図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態における電子機器１の試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【図４】図３に示す試験モード設定処理における表示部４の表示画面の一例を示す図であり、（ａ）は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、（ｂ）は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、（ｃ）は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示する表示を示し、（ｄ）は選択された試験モードにおいて使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを表示した様子を示している。
【図５】本発明の第２の実施の形態における電子機器１の表示形式変更処理について説明するフローチャートである。
【図６】図５に示す表示形式変更処理における表示部４の表示画面の一例を示す図であり、（ａ）は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、（ｂ）は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、（ｃ）は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示される表示を示し、（ｄ）は使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して表示した様子を示している。
【図７】本発明の第３の実施の形態としての電子機器１００の内部構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の第３の実施の形態における電子機器１００の時間制限試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【図９】図８に示す時間制限試験モード設定処理における表示部４の表示画面の一例を示す図であり、（ａ）は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過していない場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示し、（ｂ）は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過した場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示している。
【図１０】本発明の第４の実施の形態としての通信システム５０の全体構成を示す図である。
【図１１】本発明の第４の実施の形態における親機電子機器２０及び子機電子機器３０の内部構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明の第４の実施の形態における親機電子機器２０及び子機電子機器３０の機能制限通信処理について説明するフローチャートである。
【図１３】図１２に示す機能制限通信処理における親機電子機器２０及び子機電子機器３０の表示画面の一例を示す図であり、（ａ）は機能制限通信処理が実行される前の親機電子機器２０及び子機電子機器３０の表示画面を示し、（ｂ）は機能制限通信処理が実行された後の親機電子機器２０及び子機電子機器３０の表示画面を示している。
【符号の説明】
１    電子機器
２    ＣＰＵ
３    表示駆動回路
４    表示部
５    タブレット
６    位置検出回路
７    入力部
８    ＲＡＭ
９    ＲＯＭ
１０    記憶装置
１１    記憶媒体
１２    計時部
１３    通信駆動部
１４    通信部
１５    データ通信用ケーブル
２０    親機電子機器
３０    子機電子機器
５０    通信システム
１００    電子機器
【図１】
0004134416.tif 000002
【図２】
0004134416.tif 000003
【図３】
0004134416.tif 000004
【図４】
0004134416.tif 000005
【図５】
0004134416.tif 000006
【図６】
0004134416.tif 000007
【図７】
0004134416.tif 000008
【図８】
0004134416.tif 000009
【図９】
0004134416.tif 000010
【図１０】
0004134416.tif 000011
【図１１】
0004134416.tif 000012
【図１２】
0004134416.tif 000013
【図１３】
0004134416.tif 000014