【手続補正書】
【提出日】平成20年3月24日(2008.3.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなり、被帯電体に当接させ、直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電ローラであり、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする帯電ローラ。
（帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアースとを接続させた１０ｋΩ
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、２４時間以上放置されたものである。
（Ｄ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって複数の電圧Ｅｉを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積２３０ｍｍ２あたりの電流値である。横軸に帯電ローラへの分圧分Ｖｉ＝Ｅｉ−Ｖｒｉ、縦軸に電流Ｉｉをプロットして、Ｖ−Ｉ特性を得る。
［相関係数Ｒの算出方法］
Ｖｉ、Ｉｉの平均値をそれぞれＶ′、Ｉ′として、電圧と電流との相関係数Ｒは下式で求められる。
【数１】
2002296873.tif 000001
【請求項２】  前記帯電ローラのＶ−Ｉ特性の１次近似直線の傾きｋが、０．４×１０−６以上１．５×１０−６（Ａ／Ｖ）であることを特徴とする請求項１に記載の帯電ローラ。
【請求項３】  芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置において、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする帯電装置。
（帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアースとを接続させた１０ｋΩ
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、２４時間以上放置されたものである。
（Ｄ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって複数の電圧Ｅｉを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積２３０ｍｍ２あたりの電流値である。横軸に帯電ローラへの分圧分Ｖｉ＝Ｅｉ−Ｖｒｉ、縦軸に電流Ｉｉをプロットして、Ｖ−Ｉ特性を得る。
［相関係数Ｒの算出方法］
Ｖｉ、Ｉｉの平均値をそれぞれＶ′、Ｉ′として、電圧と電流との相関係数Ｒは下式で求められる。
【数２】
2002296873.tif 000002
【請求項４】  前記帯電ローラのＶ−Ｉ特性の１次近似直線の傾きｋが、０．４×１０−６以上１．５×１０−６（Ａ／Ｖ）であることを特徴とする請求項３に記載の帯電装置。
【請求項５】  被帯電体に帯電工程を含む作像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置において、
前記被帯電体の帯電工程手段は、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置であり、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする画像形成装置。
（帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアースとを接続させた１０ｋΩ
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、２４時間以上放置されたものである。
（Ｄ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって複数の電圧Ｅｉを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積２３０ｍｍ２あたりの電流値である。横軸に帯電ローラへの分圧分Ｖｉ＝Ｅｉ−Ｖｒｉ、縦軸に電流Ｉｉをプロットして、Ｖ−Ｉ特性を得る。
［相関係数Ｒの算出方法］
Ｖｉ、Ｉｉの平均値をそれぞれＶ′、Ｉ′として、電圧と電流との相関係数Ｒは下式で求められる。
【数３】
2002296873.tif 000003
【請求項６】  帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加し、前記帯電ローラが前記被帯電体に当接部を形成し被帯電体を帯電する帯電装置、帯電した像担持体に静電潜像を形成する潜像形成装置、前記被帯電体に近接または接触して配設され前記静電潜像を現像しトナー像を形成する現像装置、前記被帯電体に形成されたトナー像を転写材に転写する手段を有する画像形成装置において、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする画像形成装置。
（帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアースとを接続させた１０ｋΩ
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、２４時間以上放置されたものである。
（Ｄ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって複数の電圧Ｅｉを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積２３０ｍｍ２あたりの電流値である。横軸に帯電ローラへの分圧分Ｖｉ＝Ｅｉ−Ｖｒｉ、縦軸に電流Ｉｉをプロットして、Ｖ−Ｉ特性を得る。
［相関係数Ｒの算出方法］
Ｖｉ、Ｉｉの平均値をそれぞれＶ′、Ｉ′として、電圧と電流との相関係数Ｒは下式で求められる。
【数４】
2002296873.tif 000004
【請求項７】  前記帯電ローラのＶ−Ｉ特性の１次近似直線の傾きｋが、０．４×１０−６以上１．５×１０−６（Ａ／Ｖ）であることを特徴とする請求項５または６に記載の画像形成装置。
【請求項８】  前記被帯電体は、導電性基材上に電荷発生層及び電荷輸送層を順次に積層してなる有機光感光体であり、前記電荷輸送層の１ｃｍ２当たりの静電容量が１．５ｐＦ以上６．０ｐＦ以下であることを特徴とする請求項５から７の何れか一項に記載の画像形成装置。
【請求項９】  前記帯電ローラに印加される電圧は−１５００〜−１０００Ｖであることを特徴とする請求項５から８の何れか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】  少なくとも、被帯電体と、該被帯電体に当接し、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなり、被帯電体との帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電ローラを包含しており、画像形成装置本体に対して着脱可能なプロセスカートリッジにおいて、
前記帯電ローラは、以下に記載した帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とするプロセスカートリッジ。
（帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアースとを接続させた１０ｋΩ
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上有する。
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、２４時間以上放置されたものである。
（Ｄ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって複数の電圧Ｅｉを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積２３０ｍｍ２あたりの電流値である。横軸に帯電ローラへの分圧分Ｖｉ＝Ｅｉ−Ｖｒｉ、縦軸に電流Ｉｉをプロットして、Ｖ−Ｉ特性を得る。
［相関係数Ｒの算出方法］
Ｖｉ、Ｉｉの平均値をそれぞれＶ′、Ｉ′として、電圧と電流との相関係数Ｒは下式で求められる。
【数５】
2002296873.tif 000005
【請求項１１】  前記帯電ローラのＶ−Ｉ特性の１次近似直線の傾きｋが、０．４×１０−６以上１．５×１０−６（Ａ／Ｖ）であることを特徴とする請求項１０に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項１２】  前記被帯電体は、導電性基材上に電荷発生層及び電荷輸送層を順次に積層してなる有機光感光体であり、前記電荷輸送層の１ｃｍ２当たりの静電容量が１．５ｐＦ以上６．０ｐＦ以下であることを特徴とする請求項１０または１１に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項１３】  前記帯電ローラに印加される電圧は−１５００〜−１０００Ｖであることを特徴とする請求項１０から１２の何れか一項に記載のプロセスカートリッジ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
（帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法）
（Ａ）測定装置は、
ａ）可動の導電体と、
ｂ）前記帯電ローラを前記可動の導電体に対し一定に押圧する手段と、
ｃ）前記可動の導電体を回転駆動して帯電ローラを従動回転させる手段と、
ｄ）前記可動の導電体と、ＤＣ定電圧を印加する手段のアースとを接続させた１０ｋΩ
の抵抗器と、
ｅ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段のアースと前記帯電ローラの芯金に前記ＤＣ定電圧
を印加する手段と、前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧を測定する電圧測定手
段と、
を有する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
（Ｂ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段は、電流増幅率が２０μＡ／Ｖ、かつスルーレートが２０Ｖ／μｓｅｃ以上有する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
（Ｃ）被測定体である帯電ローラは、温度１２〜１７℃、湿度５〜１５％の環境下において、２４時間以上放置されたものである。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
（Ｄ）前記ＤＣ定電圧を印加する手段によって複数の電圧Ｅｉを印加し、前記電圧測定手段によって測定された前記１０ｋΩの抵抗器に分圧される電圧Ｖｒから、オームの法則によって系を流れる電流Ｉｉを得る。この電流値は帯電ローラと前記導電体の接触面積２３０ｍｍ２あたりの電流値である。横軸に帯電ローラへの分圧分Ｖｉ＝Ｅｉ−Ｖｒｉ、縦軸に電流Ｉｉをプロットして、Ｖ−Ｉ特性を得る。
［相関係数Ｒの算出方法］
Ｖｉ、Ｉｉの平均値をそれぞれＶ′、Ｉ′として、電圧と電流との相関係数Ｒは下式で求められる。
【数６】
2002296873.tif 000006
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
（３）芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置において、前記帯電ローラは前記した＜帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法＞において、ＶＤＣ＝１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする帯電装置。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
（５）被帯電体に帯電工程を含む作像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置において、前記被帯電体の帯電工程手段は、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなる帯電ローラを被帯電体に当接させ、帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電装置であり、前記帯電ローラは前記した＜帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法＞において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする画像形成装置。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
（６）帯電ローラに帯電ローラと被帯電体の帯電開始電圧以上の直流電圧を印加し、前記帯電ローラが前記被帯電体に当接部を形成し被帯電体を帯電する帯電装置、帯電した像担持体に静電潜像を形成する潜像形成装置、前記被帯電体に近接または接触して配設され前記静電潜像を現像しトナー像を形成する現像装置、前記被帯電体に形成されたトナー像を転写材に転写する手段を有する画像形成装置において、前記帯電ローラは前記した＜帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法＞において、ＶＤＣ＝｜１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とする画像形成装置。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
（１０）少なくとも、被帯電体と、該被帯電体に当接し、芯金の周囲に少なくとも弾性体を被覆してなり、被帯電体との帯電開始電圧以上の直流電圧を印加して被帯電体面を帯電する帯電ローラを包含しており、画像形成装置本体に対して着脱可能なプロセスカートリッジにおいて、前記帯電ローラは前記の＜帯電ローラのＶ−Ｉ特性測定方法＞において、ＶＤＣ＝１０｜Ｖ以上｜３００｜Ｖ以下を印加したとき測定されたＶ−Ｉ特性の相関係数Ｒが０．９５以上、１以下であることを特徴とするプロセスカートリッジ。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
（１３）前記帯電ローラに印加される電圧は−１５００〜−１０００Ｖである
ことを特徴とする（１０）から（１２）の何れか一項に記載のプロセスカートリ
ッジ。