(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも2値以上で記録されたディスク信号の解析評価に用いるディスク信号解析装置であって、少なくとも、信号波形を振幅方向に分離するＰＲ等化手段と、このＰＲ等化手段の出力データをビタビ復号するとともにパスメトリックを算出するビタビ復号手段と、このビタビ復号手段で算出された復号パスおよびパスメトリックからＳＡＭ（差メトリック）を算出するＳＡＭ値演算手段と、前記ＳＡＭの範囲を複数指定するＳＡＭウインドウメモリを備え、
前記ＳＡＭ値演算手段は、前記ビタビ復号手段の出力である復号パス、パスメトリック、ＳＡＭウインドウメモリの範囲から、各ウインドウ毎のヒストグラムを作成して統計値を算出することを特徴とするディスク信号解析装置。
【請求項２】
前記ＰＲ等化手段としてデジタルトランスバーサルフィルタを用いることを特徴とする請求項１記載のディスク信号解析装置。
【請求項３】
前記デジタルトランスバーサルフィルタのタップ係数を格納するメモリを設けたことを特徴とする請求項１または請求項２記載のディスク信号解析装置。
【請求項４】
前記ビタビ復号のためのアルゴリズムを決定するＰＲクラスを格納するＰＲクラスメモリを設けたことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のディスク信号解析装置。
【請求項５】
前記ビタビ復号時の最大パス長を格納するパスメモリ長メモリを設けたことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載のディスク信号解析装置。
【請求項６】
前記ＰＲ等化手段から出力される等化波形データを格納する等化波形メモリを設けたことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれかに記載のディスク信号解析装置。
【請求項７】
前記等化波形メモリに格納された等化波形データを正規化されたレベルに射影するための範囲を規定する最大値と最小値を格納する正規化レベルメモリを設けたことを特徴とする請求項６に記載のディスク信号解析装置。
【請求項８】
前記ディスク信号としてＲＦ信号とクロック信号を入力し、クロック信号の位相を調整する手段を設けたことを特徴とする請求項１に記載のディスク信号解析装置。
【請求項９】
前記ディスク信号としてＲＦ信号を入力し、このＲＦ信号からクロック信号を再生する手段を設けたことを特徴とする請求項１に記載のディスク信号解析装置。
【請求項１０】
レベル範囲を複数指定するレベルウインドウメモリと、このレベルウインドウメモリの範囲と前記ＰＲ等化手段の出力から、前記各ウインドウ毎のヒストグラムを作成して統計値を算出するレベルジッタ演算手段、とを備えたことを特徴とする請求項１に記載のディスク信号解析装置。
【請求項１１】
前記レベルジッタ演算手段は、算出された統計量に基づき、適応等化フィルタアルゴリズムを用いて前記タップ係数メモリを最適値に更新することを特徴とする請求項１０に記載のディスク信号解析装置。
【請求項１２】
前記レベルウインドウおよびＳＡＭウインドウのデータ抽出にあたり、復号状態遷移と復号パスパターンテーブルを参照することを特徴とする請求項１または請求項１１に記載のディスク信号解析装置。
【請求項１３】
解析したいレベルウインドウおよび解析したいＳＡＭウインドウを選択可能としてこれら解析したいウインドウのヒストグラムだけを取り出すことを特徴とする請求項１２に記載のディスク信号解析装置。
【請求項１４】
前記レベルウインドウおよびＳＡＭウインドウの情報をＰＲクラス毎に格納するメモリを設けたことを特徴とする請求項１または請求項１３に記載のディスク信号解析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はディスク信号解析装置に関し、詳しくは、ＤＶＤや次世代記録メディアなどのＰＲＭＬ(Partial  Response  Maximum  Ｌikelihood)信号処理機能が搭載された高密度光ディスク信号をはじめとする少なくとも2値以上で記録されたディスク信号の解析評価に用いるディスク信号解析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＰＲＭＬ信号処理は高密度化を図る再生信号処理方法の一つであって、符合間干渉を意図的に与える方法によって波形を整えるＰＲ方式と、データ間に相関をもたせて記録したデータの列から最も確からしいデータ列を検出するＭＬ方式を採用したデータチャンネル技術である。
【０００３】
磁気ディスクや光ディスクにおいて、ＭＲヘッドまたは光ピックアップで検知した信号だけではデータかノイズかの判断が困難である。そこで、この判断を的確に行うために、ＰＲＭＬ信号処理を使う。すなわち、記録された符号は、常に前に書き込まれた符号の影響を受ける。そこで、ＰＲＭＬ信号処理ではこの符号間干渉を利用し、データを再生する時に再生歪を修正する波形等化方式（ＰＲ方式）と、再生したデータの間に相互関係がある時に最も的確な符号を検出する方式（ＭＬ方式）とを組み合わせて用いる。磁気ディスク装置だけでなく、光ディスク装置や映像記録用のVTR等でも注目されている。
【０００４】
図１９は、従来のディスク信号解析装置の一例を示すブロック図である。このディスク信号解析装置１００は、光ディスクから入力されるＲＦ信号やCLOCK信号に対して種々の解析を行い、デコード信号や表示信号やエラー信号やパターン信号を出力する。
【０００５】
入力回路１０１は、アンプやアッテネータなどから構成されるものであり、図示しない光ディスクのＲＦ信号やCLOCK信号が入力される。
Ａ／Ｄ変換回路１０２は、入力回路１０１から出力されるＲＦ信号をCLOCK信号のタイミングでデジタル信号に変換する。
【０００６】
ＰＲ等化回路１０３は、Ａ／Ｄ変換回路１０２から出力されるデジタル信号波形を電圧振幅方向に分離整形するものであり、図２０に示すようなＮ次デジタルトランスバーサルフィルタで構成される。ここで、ＰＲは、Partial  Responseの頭文字を表わしている。なお、図２０において、ａｋは入力系列の信号、ｇ０〜ｇｎ−１はフィルタのタップ係数、ｃｋは出力系列の信号、Ｄは遅延素子、Ｘは重み係数乗算器、Σは加算器である。
【０００７】
図２１および図２２を用い、図２０に示したＮ次デジタルトランスバーサルフィルタの動作について説明する。なお説明を簡単にするためにＰＲクラス１と呼ばれるＰＲ(1,1)を用いるものとする。
【０００８】
図２１はＰＲ(1,1)の符号化器のブロック図であり、Ｄは遅延素子、＋は加算器である。
【０００９】
図２２はＰＲ(1,1)の状態遷移図である。S0は図２１の遅延素子Ｄの状態が０の場合を示し、S1は１の場合を示す。矢印は遷移方向を示し、矢印横のａ／ｂは入力／出力を意味する。ただし、出力レベルは−1〜1の範囲に正規化してある。
【００１０】
再び図１９において、ビタビ復号回路１０４は、ＰＲ等化回路１０３から出力される等化デジタル波形信号から、公知のビタビアルゴリズムを用いてビタビ復号を行う。
【００１１】
クロック発生回路１０５は、デジタルパターンを出力するパターン出力回路１０６に対してクロックを出力する。
【００１２】
パターン出力回路１０６は、入力されたCLOCK信号のタイミングで、あらかじめ定義されたデジタルパターンを出力する。
【００１３】
比較回路１０７は、ビタビ復号回路１０４の出力データとパターン出力回路１０６の出力データとをCLOCK信号のタイミングでラッチしてビット比較し、エラービットとして出力する。
【００１４】
復調回路１０８は、ビタビ復号回路１０４の出力データに対して、ディスク固有の変調方式に合わせた復調やエラー訂正を行い、デコード出力する。
【００１５】
エラーレートカウンタ１０９は、CLOCK信号と比較回路１０６のエラー出力に基づきエラーレートを算出する。
【００１６】
このように構成された図１９の動作について、図２３のタイミングチャートを用いて説明する。
【００１７】
Ｓ１は入力回路１０１に入力される光ディスクヘッドからのＲＦ信号、Ｓ２は入力回路１０１に入力される光ディスクヘッドからのCLOCK信号である。これらＲＦ信号Ｓ１およびCLOCK信号Ｓ２は入力回路１０１で所望の電圧軸方向のレベル処理が施され、ＲＦ信号Ｓ３およびCLOCK信号Ｓ４として各部に出力される。
【００１８】
Ｓ５は入力回路１０１から出力されるＲＦ信号Ｓ３をＡ／Ｄ変換回路１０２で変換したデジタル信号、Ｓ６はＡ／Ｄ変換回路１０２のデジタル信号Ｓ５をＰＲ等化回路１０３で波形等化したデジタル等化出力信号である。X軸に平行な３本の線はそれぞれ正規化された−1、0、1のレベルに対応するものであり、サンプリング点横の数値は−1〜1のレベルに正規化されたレベル値である。
【００１９】
Ｓ７はＰＲ等化回路１０３の出力信号Ｓ６をビタビ復号回路１０４で復号した出力信号、Ｓ８はCLOCK信号Ｓ７のタイミングでパターン出力回路１０６から出力されるパターン出力信号、Ｓ９は比較回路１０７で復号信号Ｓ７とパターン出力信号Ｓ８を比較した結果として異なるビット部がハイレベルとして出力されるエラー出力信号である。
【００２０】
図２４はビタビ復号のトレリス線図である。図２４において、矢印は状態遷移を示し、矢印横の数値は入力値と理想値との距離の２乗値（以後ブランチメトリックという）である。○印はデータのビット位置を示し、ビット位置上下の２段の数値は各パスのブランチメトリックの積算値である。S0において、上段がS0→S0、下段がS1→S0となり、S1において、上段がS0→S1、下段がS1→S1となる。取消線がついている数値はビタビ復号の過程で消されたパスを示し、ビタビアルゴリズムにおいては生き残ったパス（太線矢印）を復号パスとして採択する。ビタビアルゴリズムについては一般的であるので、詳細な説明は省略する。
【００２１】
図２５は図１９の装置の動作の流れを示すフローチャートである。図１９の装置の各構成要素は全てハードウエアで実現されているため、CLOCK信号Ｓ４に同期してリアルタイムで処理が実行される。なお、このフローチャートでは、回路構成の上流に位置する入力回路１０１から下流に位置するエラーレートカウンタ１０９までの流れが分かるように（Ａ）〜（Ｊ）の時系列ステップで表している。以下、各ステップ（Ａ）〜（Ｊ）について説明する。
【００２２】
（Ａ）図示しない光ディスクヘッドから、ＲＦ信号Ｓ１およびCLOCK信号Ｓ２が入力回路１０１に入力される。
【００２３】
（Ｂ）アンプ、アッテネータ、フィルタなどで構成される入力回路１０１によって、ＲＦ信号Ｓ１およびCLOCK信号Ｓ２は所望のレベル方向の信号処理が施される。
【００２４】
（Ｃ）入力回路１０１によって所望のレベル方向に信号処理されたＲＦ信号Ｓ３は、CLOCK信号Ｓ４のタイミングでＡ／Ｄ変換される。Ａ／Ｄ変換後の信号Ｓ５は、図２３に示すような離散信号となる。
【００２５】
（Ｄ）Ａ／Ｄ変換回路１０２から変換出力されるデジタル信号Ｓ５は、ＰＲ等化回路１０３によって等化処理された信号Ｓ６として出力される。例えばＰＲ(1,1)の等化器を用いる場合には、−1、0、1の３値レベルに分離する等化処理が行われる。この等化処理を実現するため、ＰＲ等化回路１０３は前述のように図９に示すようなＮ次のデジタルトランスバーサルフィルタで構成される。このデジタルトランスバーサルフィルタはハードウエアで実現されるため、タップ数、タップ係数は、ＰＲＭＬのシステムに応じてあらかじめ決められた値となるのが通常である。
【００２６】
（Ｅ）ＰＲ等化回路１０３の出力信号Ｓ６はビタビ復号回路１０４に入力されて復号処理が行われ、ビタビ復号信号Ｓ７が出力される。復号に際しては図２２の状態遷移図を用いて、図２４のトレリス線図に示すようなメトリック演算とパス採択処理が繰り返し行われる。この例においては、１，１，１，０，０，０，０，０，０，０，０，１，１，１，１，０…の信号に復号される。ビタビ復号回路１０４においてもハードウエアで高速処理するために、決まったＰＲクラス、決まったパスメモリ（探索パスの最大長）となるのが通常である。
【００２７】
（Ｆ）パターン出力回路１０６は、入力回路１０１で信号処理されたCLOCK信号Ｓ４のタイミングであらかじめ定義されたデジタルパターン信号Ｓ８を出力する。なお、エラーレートを測定するための特有のパターンが定義されていることから、通常入力信号とビット比較のためのSYNC信号などで同期をとる必要がある。この例においては、１，１，１，０，０，０，０，０，０，０，１，１，１，１，０，０…が発生される。クロック発生回路１０５はディスクへの書き込み信号を出力するためのクロック源として使われるものであり、図１９においては使われない。
【００２８】
（Ｇ）比較回路１０７にはビタビ復号信号Ｓ７およびパターン出力波形Ｓ８が入力され、入力回路１０１で信号処理されたCLOCK信号Ｓ４のタイミングで信号がラッチされ比較される。
【００２９】
（Ｈ）比較回路１０７はXOR回路などで構成され、２信号の異なるビットをハイレベルにしてエラー出力信号Ｓ９を出力する。この例においては、０，０，０，０，０，０，０，０，０，０，１，０，０，０，１，０…が出力される。
【００３０】
（Ｉ〜Ｊ）エラーレートカウンタ１０９は、CLOCK信号Ｓ４と比較回路１０７から出力されるエラー出力Ｓ９を計数し、エラーレート（＝エラービット数／計数総ビット数）を算出する。ユーザーが設定した計数ビット数または固定のビット数に達したときに、液晶パネル、ＬＥＤなどの表示手段にエラーレート（例えば2，0e−5など）を送出する。通常、10の6乗〜7乗のビット数が計数される。
以上のＡ〜Ｊのシーケンスが、CLOCK信号Ｓ４のタイミングでリアルタイムで繰り返して実行される。
【００３１】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、このような従来のディスク信号解析装置には、以下のような問題がある。
【００３２】
エラーレート測定のためには通常10の6乗〜7乗オーダーのビット数が必要となることからエラーを解析するのに時間を要し、特に検査工程などで生産性を低下させることになる。
【００３３】
また、エラーレート測定のためには必ずビット比較するためのパターン出力回路が必要になることから回路規模が大きくなり、コストも高くなる。
【００３４】
また、特有のパターンで検査するためには、その都度ユーザーがパターンを定義しなければならず、作業工数が増加する。
【００３５】
また、装置はほとんどがハードウエアで構成されているので、フィルタの設定や対応するＰＲクラスの自由度がなく、決まったシステムにしか適応できないケースが多い。
【００３６】
また、仮にＰＲ等化データ（図１０  Ｓ６）を電圧軸方向にヒストグラム化して、その分布のばらつきを解析するような機能を導入した時、エラーが大きくてレベル毎のの隣接ヒストグラムの裾が重なり合う場合には、レベル該当データを抽出できなくなって正規分布に近い形状のヒストグラムでのジッタ解析が困難になるとともに、関心のあるヒストグラムのみの形状を確認できないという問題もある。ここでいうジッタとは、時間方向のゆらぎの意味ではなく、ヒストグラム分布のばらつき具合を表わすもので、統計量の分散、Ｐ−Ｐ（Peak-Peak）、標準偏差など全て含む広義のものとする。以降の説明中のジッタも同義である。
【００３７】
本発明は、これらの問題を解決するものであり、その目的は、少なくとも2値以上で記録されたディスク信号の評価にあたり、解析時間が速くできて回路規模が小さく、様々なＰＲＭＬシステムにも適応が可能で自由度が高く、エラーが大きい場合にもヒストグラム解析が適切に行えるディスク信号解析装置を提供することにある。
【００３８】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成する請求項１の発明は、少なくとも2値以上で記録されたディスク信号の解析評価に用いるディスク信号解析装置であって、少なくとも、信号波形を振幅方向に分離するＰＲ等化手段と、このＰＲ等化手段の出力データをビタビ復号するとともにパスメトリックを算出するビタビ復号手段と、このビタビ復号手段で算出された復号パスおよびパスメトリックからＳＡＭ（差メトリック）を算出するＳＡＭ値演算手段と、前記ＳＡＭの範囲を複数指定するＳＡＭウインドウメモリを備え、
前記ＳＡＭ値演算手段は、前記ビタビ復号手段の出力である復号パス、パスメトリック、ＳＡＭウインドウメモリの範囲から、各ウインドウ毎のヒストグラムを作成して統計値を算出することを特徴とする。
【００３９】
請求項２の発明は、請求項１記載のディスク信号解析装置において、前記ＰＲ等化手段としてデジタルトランスバーサルフィルタを用いることを特徴とする。
【００４０】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２記載のディスク信号解析装置において、前記デジタルトランスバーサルフィルタのタップ係数を格納するメモリを設けたことを特徴とする。
【００４１】
請求項４の発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載のディスク信号解析装置において、前記ビタビ復号のためのアルゴリズムを決定するＰＲクラスを格納するＰＲクラスメモリを設けたことを特徴とする。
【００４３】
請求項５の発明は、請求項１から請求項４のいずれかに記載のディスク信号解析装置において、前記ビタビ復号時の最大パス長を格納するパスメモリ長メモリを設けたことを特徴とする。
【００４４】
請求項６の発明は、請求項１から請求項５のいずれかに記載のディスク信号解析装置において、前記ＰＲ等化手段から出力される等化波形データを格納する等化波形メモリを設けたことを特徴とする。
【００４５】
請求項７の発明は、請求項６に記載のディスク信号解析装置において、前記等化波形メモリに格納された等化波形データを正規化されたレベルに射影するための範囲を規定する最大値と最小値を格納する正規化レベルメモリを設けたことを特徴とする。
【００４６】
請求項８の発明は、請求項１に記載のディスク信号解析装置において、前記ディスク信号としてＲＦ信号とクロック信号を入力し、クロック信号の位相を調整する手段を設けたことを特徴とする。
【００４７】
これらにより、従来のエラーレート測定方法で必要とされるサンプリング点よりもはるかに少ないサンプリング点数でディスク信号解析が行える。
そして、評価検査時間を飛躍的に短縮でき、フィルタ処理や演算処理をソフトウエアで実現できるので、様々なＰＲＭＬシステムに適応できる。
【００４８】
請求項９の発明は、請求項１に記載のディスク信号解析装置において、前記ディスク信号としてＲＦ信号を入力し、このＲＦ信号からクロック信号を再生する手段を設けたことを特徴とする。
【００４９】
これにより、入力信号系統を簡略化できる。
【００５０】
請求項１０の発明は、請求項１に記載のディスク信号解析装置において、レベル範囲を複数指定するレベルウインドウメモリと、このレベルウインドウメモリの範囲と前記ＰＲ等化手段の出力から、前記各ウインドウ毎のヒストグラムを作成して統計値を算出するレベルジッタ演算手段、とを備えたことを特徴とする。
【００５１】
請求項１１の発明は、請求項１０に記載のディスク信号解析装置において、前記レベルジッタ演算手段は、算出された統計量に基づき、適応等化フィルタアルゴリズムを用いて前記タップ係数メモリを最適値に更新することを特徴とする。
【００５３】
これらにより、レベル方向の信号品質を評価することができ、ディスク信号のエラーに対するマージン解析を視覚的に行うことができる。
【００５４】
請求項１２の発明は、請求項１または請求項１１に記載のディスク信号解析装置において、前記レベルウインドウおよびＳＡＭウインドウのデータ抽出にあたり、復号状態遷移と復号パスパターンテーブルを参照することを特徴とする。
【００５５】
これにより、ウインドウの隣接ヒストグラムの裾が重なり合うくらいエラーが大きな場合でも、確実にウインドウ該当データを抽出でき、より正規分布に近い形状のヒストグラムでジッタ解析が可能になる。
【００５６】
請求項１３の発明は、請求項１２に記載のディスク信号解析装置において、解析したいレベルウインドウおよび解析したいＳＡＭウインドウを選択可能としてこれら解析したいしたいウインドウのヒストグラムだけを取り出すことを特徴とする。
【００５７】
これにより、解析したいウインドウのヒストグラムだけを取り出すことができ、等化波形レベル毎のヒストグラムやＳＡＭ値毎のヒストグラムの形状解析が可能になる。
【００５８】
請求項１４の発明は、請求項１または請求項１３に記載のディスク信号解析装置において、前記レベルウインドウおよびＳＡＭウインドウの情報をＰＲクラス毎に格納するメモリを設けたことを特徴とする。
【００５９】
これにより、ユーザーはウインドウ定義が不要になり操作性が向上する。
【００６０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明の実施の形態例を示すブロック図である。図１において、８００は本発明に基づくディスク信号解析装置である。
【００６１】
遅延時間メモリ８０１は入力されるCLOCK信号の位相調整量を保持するものであり、その値はユーザーによって設定される。
【００６２】
入力回路８０２はアンプやアッテネータや設定された遅延時間だけCLOCK信号を遅延させるプログラマブルディレイラインなどで構成されるもので、図示しない光ディスクのＲＦ信号やCLOCK信号が入力される。
【００６３】
Ａ／Ｄ変換回路８０３は、入力回路８０２から出力されるＲＦ信号をCLOCK信号のタイミングでデジタル信号に変換する。
【００６４】
波形メモリ８０４は、Ａ／Ｄ変換回路８０３から変換出力されるデジタル波形データを保持する。
【００６５】
タップ係数メモリ８０５は、ユーザーによって設定されるデジタルトランスバーサルフィルタのタップ係数を保持する。
【００６６】
ＰＲ等化手段８０６はＡ／Ｄ変換回路８０３から出力されるデジタル信号波形を波形メモリ８０４から抽出して電圧振幅方向に分離整形するもので、タップ係数メモリ８０５の係数を用いてフィルタ処理を行う。ＰＲ等化手段８０６は、例えばソフトウェアで実現する。
【００６７】
等化波形メモリ８０７は、ＰＲ等化手段８０６でフィルタ処理された等化波形データを保持する。
【００６８】
レベルウインドウメモリ８０８は等化レベルに合わせたレベル範囲が格納されるものであり、ユーザーによって設定される。ＰＲ1（３値）を用いるとすると、３種類のウインドウが定義される。
【００６９】
レベルジッタ演算手段８０９は、ＰＲ等化手段８０６でフィルタ処理された等化波形データを等化波形メモリ８０７から抽出してレベルウインドウメモリ８０８内のウインドウ範囲からウインドウ毎の統計値を算出するものであり、例えばソフトウエアで実現する。
【００７０】
ＰＲクラスメモリ８１０はビタビ復号のためのアルゴリズムを規定するものであり、この実施例ではＰＲ1が格納される。
【００７１】
パスメモリ長メモリ８１１はビタビ復号時の最大パス長データを格納するものであり、この実施例では３０が格納される。
【００７２】
正規化レベルメモリ８１２は、等化波形メモリ８０７内の等化波形データを−1〜1の正規化空間に射影するためのものである。この実施例では最大値＝2V(=1に正規化)、最小値＝−2V(−1に正規化)が格納されている。
【００７３】
ビタビ復号手段８１３は、ＰＲ等化手段８０６で波形等化された等化波形メモリ８０７のデータをビタビ復号するものである。具体的には、ＰＲクラスメモリ８１０に格納されたＰＲクラス、パスメモリ長メモリ８１１に格納されたパスメモリ長および正規化レベルメモリ８１２に格納された正規化レベルに基づきビタビ復号処理を行う。ビタビ復号手段８１３も例えばソフトウエアで実現する。
【００７４】
パスメトリックメモリ８１４にはビタビ復号手段８１３で演算されたパスメトリック結果が格納される。
【００７５】
ＳＡＭウインドウメモリ８１５にはＳＡＭ値レベルに合わせてユーザーによって設定される範囲が格納される。
【００７６】
ＳＡＭ値演算手段８１６は、ビタビ復号手段８１３によって演算されたパスメトリックをパスメトリックメモリ８１４から抽出し、ＳＡＭウインドウメモリ８１５内のウインドウ範囲からウインドウ毎の統計値を算出する。このＳＡＭ値演算手段８１６も例えばソフトウエアで実現する。
【００７７】
図２は、図１の動作を説明するタイミングチャートである。
Ｓ１０は入力回路８０２に入力される光ディスクヘッドからのＲＦ信号、Ｓ１１は入力回路８０２に入力される光ディスクヘッドからのCLOCK信号である。これらＲＦ信号Ｓ１０およびCLOCK信号Ｓ１１は入力回路８０２で所望の電圧軸方向のレベル処理が施され、ＲＦ信号Ｓ１２およびCLOCK信号Ｓ１３としてＡ／Ｄ変換回路８０３に出力される。
【００７８】
Ｓ１４は入力回路８０２から出力されるＲＦ信号Ｓ１２をＡ／Ｄ変換回路８０３で変換したデジタル信号である。
【００７９】
図３は図１の装置の動作の流れを示すフローチャートである。なお図１の装置では入力回路８０２とＡ／Ｄ変換回路８０３がハードウエアで実現されているので、ステップ（ｄ）〜（ｆ）はCLOCK信号Ｓ１１，Ｓ１３に同期してリアルタイムで処理が実行される。以下、各ステップ（ａ）〜（ｋ）について説明する。
【００８０】
（ａ）信号入力に先立ち、入力ＲＦ信号Ｓ１２に対するCLOCK信号１３の遅延時間（例えば17ns）を図４に示す装置内部のメモリ状態図の遅延時間メモリ８０１に設定し、ＰＲ等化手段８０６に使用するデジタルトランスバーサルフィルタのタップ係数（例えばα、β、γ…）をタップ係数メモリ８０５に設定する。
【００８１】
ここで、図４のメモリ状態図について説明する。
遅延時間メモリ８０１には、ユーザーにより設定されるCLOCK信号の位相調整量を保持するための遅延時間が格納される。
【００８２】
波形メモリ８０４には、Ａ／Ｄ変換回路８０３から変換出力されるデジタル波形データが格納される。
【００８３】
タップ係数メモリ８０５にはユーザーにより設定されるデジタルトランスバーサルフィルタのタップ係数が格納されるが、タップ数・係数の値自体は重要でないので具体値を使わずにα、β、γ…としている。
【００８４】
等化波形メモリ８０７にはＰＲ等化手段８０６でフィルタ処理された等化波形データが格納される。ここでは図１２の従来例と同じ等化結果データが得られるものとする。
【００８５】
レベルウインドウメモリ８０８にはユーザーによって設定されるレベルウインドウデータが格納される。
【００８６】
ＰＲクラスメモリ８１０にはビタビ復号のためのアルゴリズムを規定するＰＲクラスが格納される。
【００８７】
パスメモリ長メモリ８１１にはビタビ復号時の最大パス長が格納される。
【００８８】
正規化レベルメモリ８１２には等化波形メモリ８０７内の等化波形データを−1〜1の正規化空間に射影するための正規化レベルデータが格納される。
【００８９】
パスメトリックメモリ８１４にはビタビ復号手段８１３で演算されたパスメトリック結果が格納される。
【００９０】
ＳＡＭウインドウメモリ８１５にはユーザーによって設定されるＳＡＭウインドウデータが格納される。
【００９１】
図３に戻って説明する。
（ｂ）ビタビ復号手段８１３で使用するＰＲクラス（例えば(1,1)）をＰＲクラスメモリ８１０に設定し、パスメモリ長メモリ８１１にパスメモリ長（例えば３０）を設定し、正規化レベルメモリ８１２に正規化レベル(例えば2.0V=1.0,0.0V=0.0,−2.0V=−1.0)を設定する。
【００９２】
（ｃ）レベルジッタ演算のためのレベルウインドウをレベルウインドウメモリ８０８に設定する。ＰＲ(1,1)では３値レベルとなるのでウインドウ数は３つ定義される。通常それぞれの中心値(center)は、−1〜1空間に正規化される電圧値を等分割した値となる。入力ＲＦ信号にアシンメトリがあるような場合は等分割でなく設定する場合もある。
【００９３】
（ｄ）光ディスクヘッドからＲＦ信号Ｓ１０およびCLOCK信号Ｓ１１が入力回路８０２に入力される。
【００９４】
（ｅ）ＲＦ信号Ｓ１０、CLOCK信号Ｓ１１は、アンプ、アッテネータ、フィルタなどで構成される入力回路８０２によって所望のレベル方向の信号処理が施される。そしてCLOCK信号Ｓ１１は、内蔵された遅延回路によって、遅延時間メモリ８０１に格納された時間17ns分の遅延を受ける。
【００９５】
（ｆ）入力回路８０２によって入力信号処理されたＲＦ信号Ｓ１２は位相調整（遅延）処理されたCLOCK信号Ｓ１３のタイミングでＡ／Ｄ変換され、変換出力されるデジタル波形データは波形メモリ８０４に格納される。変換後の信号は図２のＳ１４のような離散信号となる。
【００９６】
（ｇ）ＰＲ等化手段８０６は波形メモリ８０４から波形データを読み出し、タップ係数メモリ８０５に格納された係数からデジタルフィルタ処理を行い、等化波形メモリ８０７に等化波形データを格納する。
【００９７】
（ｈ）レベルジッタ演算手段８０９は等化波形メモリ８０７から等化波形データを読み出し、レベルウインドウメモリ８０８で定義された領域内データを抽出して電圧軸方向のデータ列としてレベルジッタを算出する。同時に図５に示すような振幅ヒストグラム、振幅ジッタ値を表示出力する。
【００９８】
ここで、図５について説明する。
図５の振幅ヒストグラムは、図４の等化波形メモリ８０７の等化波形データを電圧軸方向から見たヒストグラムとなる。ここで、ＰＲ(1,1)を用いていることから3値(2.0V,0.0V,−2.0V)を中心とするウインドウが定義されている。なおヒストグラム上の点線はウインドウ範囲を示すカーソルである。
等化波形右上には、それぞれウインドウ内の振幅ジッタ値が示されている。このヒストグラムと振幅ジッタ結果は、ディスク信号解析装置に搭載されたCRTや液晶ディスプレイなどに表示出力される。
【００９９】
図３に戻って説明する。
（ｉ）ビタビ復号手段８１３は等化波形メモリ８０７に格納された等化波形データを読み出し、ＰＲクラスメモリ８１０で定義されたＰＲ(1,1)とパスメモリ長メモリ８１１で定義されたパスメモリ長=30および正規化レベルメモリ８１２で定義された正規化レベルに基づいてビタビ復号を実行する。
ビタビ復号のアルゴリズムやメトリック演算などは図６のトレリス線図のように行われる。なおシーケンスは従来例と同様である。そしてビタビ復号手段８１３は、図４に示すように、復号パスの状態遷移、採択パスメトリック（採択したパスのパスメトリック）、次点パスメトリック（合流点において採択されなかったパスメトリック）および復号結果をパスメトリックメモリ８１４に格納する。
【０１００】
ここで、図６のトレリス線図について説明する。図の記号などの意味は全て従来例と同様であるが、図下段に復号結果、採択パスメトリック、次点パスメトリック、ＳＡＭ値( 差メトリック= 次点パスメトリック−採択パスメトリック)を示している。
【０１０１】
図３に戻って説明する。
（ｊ）ＳＡＭ値演算手段８１６はパスメトリックメモリ８１４に格納されたメトリックデータを読み出し、ＳＡＭ値（差メトリック＝次点パスメトリック−採択パスメトリック）をビット毎に算出する（図６のＳＡＭ値）。さらにＳＡＭ値のヒストグラムを作成すると同時に、ＳＡＭウインドウメモリ８１５に格納されたＳＡＭウインドウの範囲に入るＳＡＭ値を統計演算し図７に示すような表示出力を行う。−1〜1に正規化されたＰＲ(1,1)において、ＳＡＭ値は理想値=2。0を中心に分布する。ＳＡＭ値は大きいほど（採択パスと次点パス間の累積誤差量の差が大きいほど）復号パスの信頼性が高く、0に近づくほど（採択パスと次点パスで選択される確率が５０％に近い）エラーが発生しやすいといわれている。そこで、ＳＡＭのヒストグラム形状及びジッタ値などを解析することによって、少ないデータ点数でディスク信号のエラーに対するマージンがどの程度あるかを知ることが可能となる。
【０１０２】
（ｋ〜ｅ）同様の解析を繰り返す場合は再測定を行う。
【０１０３】
（ｋ〜ａ）CLOCK信号の調整が必要な場合や、異なったＰＲクラスを使用してディスク信号との相性を解析したい場合、フィルタの係数を変更して最適な応答を解析したい場合などは、それぞれの設定を変更して再度実行する。本実施例においては、ハードウエアによるリアルタイム処理ではないので、既に測定したデータを使って解析することも可能であり、その場合は（ａ〜ｄ）→（ｇ）のシーケンスとなる。
【０１０４】
図７について説明する。トレンド表示はＳＡＭ値を1bit単位で時系列表示したもので、ＳＡＭヒストグラムはそのトレンドをY軸方向から見たヒストグラムとして表現している。これらの表示はディスク信号解析装置に搭載されたCRTや液晶ディスプレイなどに表示出力される。
【０１０５】
このように構成することにより、再生にＰＲＭＬ信号処理を用いたディスクの評価パラメータにＳＡＭ（差メトリック）を用いているので、従来のエラーレート測定方法で必要とされる10の6乗〜７乗のサンプリング点よりもはるかに少ないサンプリング点数でディスク信号解析が行えるため、評価検査時間を飛躍的に短縮できる。
【０１０６】
また、従来のエラーレート測定で必要だった元データパターンの定義や出力回路が不要になり、回路規模を小型化できるとともに部品コストも低減できる。
【０１０７】
また、従来のエラーレート測定と比較して測定点数が少なくてよいため、フィルタ処理や演算処理をソフトウエアで実現でき、様々なＰＲＭＬシステムに適応可能な自由度の高いディスク信号解析装置が提供できる。
【０１０８】
また、レベル方向のヒストグラム解析機能およびＳＡＭヒストグラム解析機能を設けているので、振幅ジッタなどレベル方向の信号品質を評価することができ、ディスク信号のエラーに対するマージン解析を視覚的に行うことができる。これはＰＲＭＬシステムに限らず、少なくとも2値以上で記録されたディスクのレベル方向の信号評価に有用となる。
【０１０９】
なお、実施例ではディスク信号としてＲＦ信号とCLOCK信号を入力する構成を説明したが、入力されたＲＦ信号からクロックを再生するPLL(Phase Lock Loop)回路を内蔵する構成にすることもできる。これにより、信号入力系統を簡略にできる。
【０１１０】
また、実施例ではタップ係数をユーザーが設定する形としたが、レベルジッタ値またはＳＡＭ値を利用して最適なタップ数となるように、内部で自動で設定する形（適応等化）にすることも可能である。
【０１１１】
さらに、実施例では入力回路とＡ／Ｄ変換回路を除く全てのデータ処理をソフトウエアで実現する構成としたが、ＰＲ等化手段、ビタビ復号手段をDSPやFPGAなどの比較的自由度のあるハードウエアで実現する構成としてもよい。
【０１１２】
ところで、図１の構成で測定した場合、図８に示すようにレベルジッタが大きくなったり、図９に示すようにＳＡＭジッタが大きくなってウインドウの隣接ヒストグラムの裾が重なり合うようになると、重複した部分も含めてジッタ演算を行っていることから、図１０に示すような正規分布に近似する評価パラメータとして扱えなくなってしまう。
【０１１３】
また、ウインドウの隣接ヒストグラムの裾が重なり合う場合、関心のあるヒストグラムのみの形状を確認することができない。
【０１１４】
さらに、ＰＲクラスや符号方式などを変更した場合には、ユーザーはそれに合わせてウインドウ設定をやり直さなければならない。
【０１１５】
これらの問題は、図１１のような構成とすることで解決できる。
図１１において、一点破線で囲まれた部分は図１と重複する部分であり、それらの説明を省略する。
レベルウインドウ選択手段１１１０はレベルジッタ演算を行う対象のウインドウを選択するものであり、キーやマウスなどを用いる。このレベルウインドウ選択手段１１１０で選択されたレベルウインドウＰＲクラス毎のレベルウインドウ情報やウインドウ状態は、レベルウインドウメモリ１１１１に保持される。
【０１１６】
レベルジッタ演算手段１１１２は、等化波形メモリ１１０６の等化波形、復号パスメモリ１１０９の復号パスおよびレベルウインドウメモリ１１１１のウインドウ情報から、対象ウインドウのレベルジッタを演算する。
【０１１７】
ＳＡＭウインドウ選択手段１１１３はＳＡＭジッタ演算手段を行う対象のウインドウを選択するものであり、キーやマウスなどを用いる。このＳＡＭウインドウ選択手段１１１３で選択されたＰＲクラス毎のＳＡＭウインドウ情報やウインドウ状態は、ＳＡＭウインドウメモリ１１１４に保持される。
【０１１８】
パスパターンテーブルメモリ１１１５には、ＰＲクラス毎のＳＡＭ値に応じた採択パスや次点パスのパターンが登録されている。
【０１１９】
ＳＡＭジッタ演算手段１１１６は、復号パスメモリ１１０９のパスメトリックおよび復号状態遷移、ＳＡＭウインドウメモリ１１１４のウインドウ情報、パスパターンテーブルメモリ１１１５のパスパターンから、対象ウインドウのＳＡＭジッタを演算する。
【０１２０】
図１２は図１１の各メモリの状態図、図１３はPR(1,1)の状態遷移図、図１４はビタビ復号のトレリス線図である。
レベルウインドウメモリ１１０７には、ＰＲクラス毎の等化波形の理想ウインドウ情報、ユーザーによって設定される選択レベルウインドウ状態が格納されている。図１２では０Ｖ〜２Ｖに等化されるPR(1,1)、PR(1,2,1)、PR(1,2,2,1)でｄ制約が１の時についてのみ示す。選択レベルウインドウ状態はPR(1,1)のWindow2が選択されている。なお、ｄ制約とは、変調（符号化）の際の連続する０の個数（Run Length）による、ビタビ復号時の制約のことである。例えば、(1,7)RLL符号の場合は最小のRunLengthは１なので、ｄ制約＝１とすると図１３において復号パターンとして１→０→１、０→１→０はあり得ず、つまりＳ１→Ｓ０→Ｓ１、Ｓ０→Ｓ１→Ｓ０の遷移は除外してビタビ復号が行われる。
【０１２１】
ＳＡＭウインドウ１１１２には、(1,7)RLL符号の信号にｄ制約（＝１）をつけてビタビ復号した際に現われる理想のＳＡＭ値のウインドウ情報、ユーザーによって設定される選択ＳＡＭウインドウが格納されている。ＰＲクラスは畳み込みのビット数（拘束長）が長くなるとウインドウ数が膨れ上がってくるので、PR(1,1)、PR(1,2,1)、PR(1,2,2,1)のWindow10までを示す。選択ＳＡＭウインドウ状態はPR(1,1)のWindow1が選択されている。
【０１２２】
パスパターンテーブルメモリ１１１５には、ＰＲクラス毎の理想ＳＡＭ値に応じた採択パス、次点パスのパターン（復号状態遷移）が登録されている。ＰＲの拘束長が長くなると状態数が増えるため図１２ではPR(1,1)の場合についてのみ示している。
【０１２３】
S0→S0→S1のパスが採択された時、S0→S1→S1が次点パスとなる。図１３のPR(1,1)の状態から、出力がそれぞれ1→2、0→1になるとパスメトリックの差は(12+12)=2となり、このパスパターンが存在した場合はパスの終点はSAM=2のウインドウに属することを意味している。同様S0→S1→S1→S0が採択されS0→S0→S0→S0が次点となるとき、パスメトリックの差は(12+22+11)=6となり、終点はSAM=6のウインドウに属する。S0→S0→S0→S0が採択される場合、ｄ制約から次点パスは存在しないためパスメトリックの差は∞となり、終点はどのウインドウにも属さないデータとなることを意味している。
【０１２４】
図１５のフローチャートに基づき、動作を説明する。なお、実際の装置はハードウェア実現部とソフトウェア実現部が混在するため、一連の動作はリアルタイム、マルチタスクで実行処理されるが、図１５のフローチャートでは説明のため時系列で示している。
（ａ）波形等化のためのタップ係数（＝α、β、γ…）をタップ係数メモリ１１０４に設定し、ビタビ復号のためのＰＲクラス（＝PR(1,1)）をＰＲクラスメモリ１１０７に設定する。
【０１２５】
（ｂ）レベルウインドウ選択手段１１１０で解析したいレベルウインドウ(例えばWindow2：Center=1.00V  Span=1.00V)を選択してレベルウインドウメモリ１１１１に保持し、ＳＡＭウインドウ選択手段１１１３で解析したいＳＡＭウインドウ(例えばWindow1：SAM=2)を選択してＳＡＭウインドウメモリ１１１４に保持する。
【０１２６】
（ｃ）光ディスクヘッドからRF信号が入力回路１１０１に入力される。
【０１２７】
（ｄ）アンプ、アッテネータ、アナログフィルタ、ＰＬＬなどで構成される入力回路１１０１によってRF信号は所望のレベル方向の信号処理が施されるとともに、サンプリングのためのCLOCK信号が内部のＰＬＬによって再生され出力される。
【０１２８】
（ｅ）入力回路１１０１によって信号処理されたRF信号はCLOCK信号のタイミングでＡ／Ｄ変換回路１１０２によりＡ／Ｄ変換され、波形メモリ１１０３にデジタル波形データが格納される。
【０１２９】
（ｆ）ＰＲ等化手段１１０５は、波形メモリ１１０３に格納された波形データを波形等化処理して等化波形メモリ１１０６に格納する。
【０１３０】
（ｇ）ビタビ復号手段１１０８は、等化波形メモリ１１０６に格納された等化波形データを抽出し、PR(1,1)のアルゴリズムでビタビ復号して、復号パスメモリ１１０９に復号状態遷移、各パスの採択パスメトリック、次点パスメトリックおよび復号データを格納する。
【０１３１】
（ｈ）レベルジッタ演算手段１１１２は、等化波形メモリ１１０６に格納された等化波形データを抽出し、復号パスメモリ１１０９の復号状態遷移からレベルヒストグラムを生成すると同時に、レベルウインドウメモリ１１０７に定義されたウインドウ内のデータを抽出して対象ウインドウのジッタを演算する。図１６はその表示出力である。
【０１３２】
ＰＲ１の場合、０Ｖ、１Ｖ、２Ｖを中心に３値にヒストグラムが分布するが、選択レベルウインドウはWindow2なので、理想レベル中心値=1.0Vのデータのみを抽出する。図１３の状態遷移図、図１４のトレリス線図から、1を出力するのはS0→S1またはS1→S0に遷移する場合なので0.94、1.05、1.09、0.89のデータが順次抽出される。このようにして復号状態遷移を利用してデータを抽出することによって、エラーが大きい信号の場合でも図１６に示すようなWindow2だけのヒストグラムを作成しジッタを演算することができる。
【０１３３】
（ｉ）ＳＡＭジッタ演算手段１１１６は、復号パスメモリ１１０９に格納されたパスメトリックの差からＳＡＭを演算し、パスパターンテーブルメモリ１１１５のパスパターンを検索してＳＡＭヒストグラムを生成すると同時に、ＳＡＭウインドウメモリ１１１４に定義されたウインドウ内のＳＡＭ値を抽出して対象ウインドウのジッタを演算する。図１７はその表示出力である。
【０１３４】
(1,7)RLL符号をｄ制約条件をつけてPR(1,1)でビタビ復号すると、ＳＡＭ＝２、６を中心にヒストグラムが２個分布するが、選択ＳＡＭウインドウはWindow1なので、理想ＳＡＭ中心値＝2.0のデータのみを抽出する。図１４のトレリス線図および図１２のパスパターンメモリ１１１３(SAM=2のパスパターン)から、1.78、2.33、2.34、1.80、1.68、2.11、2.34が順次抽出される。このようにして理想SAMに応じたパスパターンを利用してデータを抽出することによって、エラーが大きい信号の場合でも図１７に示すようなWindow1だけのヒストグラムを作成しジッタを演算することができる。
【０１３５】
（ｊ）同じ条件を繰り返す場合はそのまま連続的に（ｄ）〜（ｉ）を繰り返す。タップ係数、ＰＲクラス、解析レベルウインドウ、解析ＳＡＭウインドウなど設定を変更すると、それに応じたレベルウインドウ情報、ＳＡＭウインドウ情報、パスパターン情報がテーブル参照され、選択されたWindowのみのヒストグラム解析が引き続き行われる（ａ〜ｉ）。
【０１３６】
エラーが大きく、ウインドウをはみ出てしまうような場合、図１８に示すように各ウインドウのヒストグラムの裾が重なり合うが、本実施態様においては復号状態遷移、復号パスパターンテーブルを用いてデータ抽出を行っているため、塗りつぶし部分のヒストグラムからジッタが算出される。
【０１３７】
図１１の実施態様例によれば、レベルウインドウやＳＡＭウインドウのデータ抽出に復号状態遷移と復号パスパターンテーブルを参照する方法を用いているために、ウインドウの隣接ヒストグラムの裾が重なり合うくらいエラーが大きな場合でも、確実にウインドウ該当データを抽出でき、より正規分布に近い形状のヒストグラムでジッタ解析が可能になる。
【０１３８】
そして、解析レベルウインドウと解析ＳＡＭウインドウを選択可能にしているために、解析したいウインドウのヒストグラムだけを取り出すことができ、等化波形レベルごとのヒストグラム、ＳＡＭ値毎のヒストグラムの形状解析が可能になる。
【０１３９】
さらに、レベルウインドウとＳＡＭウインドウの情報をＰＲクラス毎にメモリに格納しておくことによって、ユーザーはウインドウの定義が不要になり、操作性が向上する。
【０１４０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、少なくとも2値以上で記録されたディスク信号の評価にあたり、解析時間が速くできて回路規模が小さく、様々なＰＲＭＬシステムにも適応が可能で自由度が高く、エラーが大きい場合にもヒストグラム解析が適切に行えるディスク信号解析装置が実現でき、各種のディスク信号解析に好適である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態例を示すブロック図である。
【図２】図１の動作を説明するタイミングチャートである。
【図３】図１の装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図４】図１の装置内部のメモリ状態図である。
【図５】図１における振幅ヒストグラムと振幅ジッタ例である。
【図６】図１におけるビタビ復号のトレリス線図である。
【図７】図１におけるＳＡＭのトレンドおよびヒストグラムの表示画面例である。
【図８】レベルヒストグラムとレベルジッタの表示画面例である。
【図９】ＳＡＭヒストグラムとＳＡＭジッタの表示画面例である。
【図１０】図１の構成におけるジッタ演算対象ヒストグラムの説明図である。
【図１１】本発明の実施の他の形態例を示すブロック図である。
【図１２】図１１の各メモリの状態図である。
【図１３】ＰＲ(1,1)の状態遷移図である。
【図１４】図１１におけるビタビ復号のトレリス線図である。
【図１５】図１１の動作の流れを説明するフローチャートである。
【図１６】図１１の装置でのレベルヒストグラムとレベルジッタの表示画面例である。
【図１７】図１１の装置でのＳＡＭヒストグラムとＳＡＭジッタの表示画面例である。
【図１８】図１１の構成におけるジッタ演算対象ヒストグラムの説明図である。
【図１９】従来のディスク信号解析装置の一例を示すブロック図である。
【図２０】Ｎ次デジタルトランスバーサルフィルタの構成例図である。
【図２１】ＰＲ(1,1)の符号化器のブロック図である。
【図２２】ＰＲ(1,1)の状態遷移図である。
【図２３】図１９の動作を説明するタイミングチャートである。
【図２４】図１９におけるビタビ復号のトレリス線図である。
【図２５】図１９の装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
８０１    遅延時間メモリ
８０２，１１０１    入力回路
８０３，１１０２    Ａ／Ｄ変換回路
８０４，１１０３    波形メモリ
８０５，１１０４    タップ係数メモリ
８０６，１１０５    ＰＲ等化手段
８０７，１１０６    等化波形メモリ
８０８，１１１１    レベルウインドウメモリ
８０９，１１１２    レベルジッタ演算手段
８１０，１１０７    ＰＲクラスメモリ
８１１    パスメモリ長メモリ
８１２    正規化レベルメモリ
８１３，１１０８    ビタビ復号手段
８１４    パスメトリックメモリ
８１５，１１１４    ＳＡＭウインドウメモリ
８１６    ＳＡＭ値演算手段
１１１０    レベルウインドウ選択手段
１１１３    ＳＡＭウインドウ選択手段
１１１５    パスパターンテーブルメモリ
【図１】
0004106703.tif 000002
【図２】
0004106703.tif 000003
【図３】
0004106703.tif 000004
【図４】
0004106703.tif 000005
【図５】
0004106703.tif 000006
【図６】
0004106703.tif 000007
【図７】
0004106703.tif 000008
【図８】
0004106703.tif 000009
【図９】
0004106703.tif 000010
【図１０】
0004106703.tif 000011
【図１１】
0004106703.tif 000012
【図１２】
0004106703.tif 000013
【図１３】
0004106703.tif 000014
【図１４】
0004106703.tif 000015
【図１５】
0004106703.tif 000016
【図１６】
0004106703.tif 000017
【図１７】
0004106703.tif 000018
【図１８】
0004106703.tif 000019
【図１９】
0004106703.tif 000020
【図２０】
0004106703.tif 000021
【図２１】
0004106703.tif 000022
【図２２】
0004106703.tif 000023
【図２３】
0004106703.tif 000024
【図２４】
0004106703.tif 000025
【図２５】
0004106703.tif 000026