(57)【要約】  １つのベクトル信号生成器（ＶＳＧ）と、１つのベクトル信号分析器（ＶＳＡ）とを有するテスタ等の共有ＤＵＴテストリソースを用いて、データパケット信号送受信器等の被テストデバイスである複数の信号送受信デバイス器をテストする方法。ＤＵＴによるテスタリソースにアクセスする（例えば、信号を信号生成器から受信するか、又は信号を信号分析器に提供する）要求は、テスタの可用性及び要求側ＤＵＴが単独アクセスを要求するか、それともテスタへのアクセスを共有することができるかに基づいて優先度が付けられる。テスタが利用不可能な場合、ＤＵＴ要求は、各優先度に従ってキューに入れられ、テスタが利用可能になるのを待つ。その結果、共有テスタリソースへのアクセスは、複数のＤＵＴを同時にテストしながら、テスト時間を最小にするように動的に管理することができる。
2017512978.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
共有ＤＵＴテストリソースを用いて複数の被テストデバイスである信号送受信器をテストする方法であって、
共有テスタを複数のＤＵＴに結合することと、
前記共有テスタを使用して、前記複数のＤＵＴの少なくとも一部と通信する複数の要求を含む１つ以上のテストプロセスを実行することと、ここで、前記複数の要求の少なくとも一部のそれぞれには、前記共有テスタを使用して、前記複数のＤＵＴのそれぞれと通信する各テスタアクセス優先度が関連付けられ、
前記共有テスタが、前記複数のＤＵＴのうちの１つ以上との通信への使用に利用可能である場合、
前記共有テスタと、少なくとも１つの他のＤＵＴに関連付けられたテスタアクセス優先度を有する要求よりも高いテスタアクセス優先度を有する要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの１つとの間の信号通信をイネーブルすること、及び
前記共有テスタと、同様のテスタアクセス優先度を有する各要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの複数個との間の信号通信をイネーブルすること
により、前記共有テスタと前記複数のＤＵＴのうちの１つ以上との信号通信をイネーブルすることと、
前記共有テスタが、前記複数のＤＵＴのうちの１つ以上との通信への使用に利用不可能な場合、前記複数の要求の少なくとも一部をテスタアクセス優先度キューに入れることと
を含む、方法。
【請求項２】
前記共有テスタを複数のＤＵＴに結合することは、信号生成器と、信号分析器とを含むテスタを前記複数のＤＵＴに結合することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記共有テスタを使用して、前記複数のＤＵＴの少なくとも一部と通信する複数の要求を含む１つ以上のテストプロセスを実行することは、前記共有テスタを用いて、前記１つ以上のテストプロセスの少なくとも一部を実行することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記共有テスタを使用して、前記複数のＤＵＴの少なくとも一部と通信する複数の要求を含む１つ以上のテストプロセスを実行することは、前記複数のＤＵＴのそれぞれを用いて、前記１つ以上のテストプロセスの各部分を実行することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記共有テスタと、少なくとも１つの他のＤＵＴに関連付けられたテスタアクセス優先度を有する要求よりも高いテスタアクセス優先度を有する要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの１つとの間の信号通信をイネーブルすることは、前記共有テスタを用いて、前記複数のＤＵＴのうちの前記１つから１つ以上の信号を受信することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記共有テスタと、同様のテスタアクセス優先度を有する各要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの複数のＤＵＴとの間の信号通信をイネーブルすることは、前記共有テスタを用いて、前記複数のＤＵＴのうちの複数のＤＵＴに伝達される１つ以上の信号を提供することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記共有テスタを使用して、前記複数のＤＵＴの少なくとも一部と通信する複数の要求を含む１つ以上のテストプロセスを実行することは、前記共有テスタが続けて、前記複数のＤＵＴのうちの１つ以上との通信への使用に利用可能になる場合、
前記共有テスタと、前記テスタアクセス優先度キュー内の別のテスタアクセス優先度よりも高いテスタアクセス優先度を有する要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの１つとの間の信号通信をイネーブルすること、及び
前記共有テスタと、前記テスタアクセス優先度キュー内の同様のテスタアクセス優先度を有する各要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの複数のＤＵＴとの間の信号通信をイネーブルすること
により、前記共有テスタと前記複数のＤＵＴのうちの１つ以上との間の信号通信をイネーブルすることを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記共有テスタと、少なくとも１つの他のＤＵＴに関連付けられたテスタアクセス優先度を有する要求よりも高いテスタアクセス優先度を有する要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの１つとの間の信号通信をイネーブルすることは、
前記共有テスタと前記複数のＤＵＴのうちの前記１つとの間の信号通信をイネーブルすることと、
前記テスタアクセス優先度キュー内の少なくとも１つの他のＤＵＴに関連付けられたテスタアクセス優先度を有する前記要求をキューに入れることと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記共有テスタと、同様のテスタアクセス優先度を有する各要求が関連付けられた前記複数のＤＵＴのうちの複数個との間の信号通信をイネーブルすることは、前記共有テスタと、前記複数のＤＵＴのうちの前記１つ及び前記テスタアクセス優先度キュー内のテスタアクセス優先度を有する要求が関連付けられた少なくとも１つの他のＤＵＴとの間の信号通信をイネーブルすることを含む、請求項１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の信号送受信器のテストに関し、特に、共有テストリソースを使用して複数の被テストデバイスであるデータパケット信号送受信器を自動的にテストすることに関する。
【背景技術】
【０００２】
今日の電子デバイスの多くは、接続及び通信の両目的で無線信号技術を使用している。無線デバイスは、電磁エネルギーを送受信するため、並びに２台以上の無線デバイスが、信号周波数及び電力スペクトル密度により互いの動作に干渉するおそれがあるため、これらのデバイス及び無線信号技術は、様々な無線信号技術規格仕様に準拠しなければならない。
【０００３】
そのような無線デバイスを設計する場合、技術者は、そのようなデバイスが、含まれる無線信号技術に規定された規格に基づく仕様のそれぞれを満たすか、又は超えることを保証することに格別に注意を払う。さらに、これらのデバイスが後に、大量に製造される場合、デバイスはテストされて、製造欠陥が、含まれる無線信号技術の規格に基づく仕様への準拠を含め、不適切な動作を生じさせないことを保証する。
【０００４】
製造及び組み立て後にこれらのデバイスをテストするために、現在の無線デバイステストシステムは通常、テスト中の各デバイス（ＤＵＴ）にテスト信号を提供し、各ＤＵＴから受信される信号を分析するテストサブシステムを利用している。幾つかのサブシステム（「テスタ」と呼ばれることが多い）は、少なくとも、ＤＵＴに送信されるソース信号を提供するベクトル信号生成器（ＶＳＧ）及びＤＵＴによって生成される信号を分析するベクトル信号分析器（ＶＳＡ）を含む。ＶＳＧによるテスト信号の生成及びＶＳＡによって実行される信号分析は一般に、それぞれが、異なる周波数範囲、帯域幅、及び信号変調特性を有する様々な無線信号技術規格への準拠について様々なデバイスのテストに使用できるように、プログラム可能である（例えば、内部プログラマブルコントローラ又はパーソナルコンピュータ等の外部プログラマブルコントローラの使用を通して）。
【０００５】
無線通信デバイスの製造の一環として、製造コストの大きな一構成要素はこれらの製造テストに関連するコストである。通常、テストのコストと、テストの実行に必要なテスト機器の精緻さとの間には直接の相関がある。したがって、特に製造されテストされる大量のそのようなデバイスに鑑みて、機器コスト（例えば、必要なテスト機器又はテスタの精緻さの増大に起因するコスト上昇）を最小に抑えながらテスト精度を維持することができる革新が重要であり、大きなコスト節減を提供することができる。
【０００６】
テストコストでの別の重要な要因は、テスト時間、より詳細にはデバイス毎のテスト時間であり、これは、テストの完全性を損なうことなく最小に抑えられなければならない。全体のテスト時間は、実際のＤＵＴテスト作業（例えば、基本となるシステム及びＤＵＴ規格に従ってＤＵＴ性能をテストすること）、ＤＵＴ取り扱い作業（例えば、ＤＵＴの接続、切断、移動）、及びテスト準備作業（例えば、テストシステムを用いてのＤＵＴの初期化及び／又は同期）によって決められる。１つのデバイスのテスト時間が最適に低減されると、テスト時間及びコストの低減における次の進歩は、複数のＤＵＴをパイプライン（例えば、分散テストの重複シーケンス）又は並列（例えば、複数のＤＵＴの同時テストといった）テストでテストすることを含む。これは、受信（ＲＸ）信号をＤＵＴに提供するため及びＤＵＴによって生成された送信（ＴＸ）信号を受信し分析するために必要に応じて、追加の信号ルーティング回路（例えば、信号分割器、結合器、スイッチ、マルチプレクサ等）を用いて１つ以上のテスタを組み立て、接続することを含み得る。
【０００７】
テスタリソースを共有しながら複数のＤＵＴがテストされる場合、ＤＵＴ間で競合がないことを保証するようにそれらのリソースを共有するよう、テスタをプログラムするとき、時間並列の最悪事例推定が通常、使用される。幾つかのＤＵＴは、他のＤＵＴよりも早くテストステップを完了した場合、テスタリソースへのプログラムされたアクセスを待つ間、アイドル状態となる。テスト時間に関して、これは無駄な時間であり、テスト時間及びコストを増大させる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
したがって、テスタリソースへのアクセスが、複数のＤＵＴのリアルタイム状態と、現在のテスト環境の分散テスト又は並列テスト優先度とに基づいて最適化されるという動的アクセス制御を有することが望ましい。アクセスが全体的な最適化によって決定されるテスタリソースの動的管理では、同じ全体時間間隔中に複数のデバイスをテストすることができ、それにより、時間及びコストが低減され、テスタリソースの使用が最適化される。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明によれば、１つのベクトル信号生成器（ＶＳＧ）と、１つのベクトル信号分析器（ＶＳＡ）とを有するテスタといった共有ＤＵＴテストリソースを用いて、データパケット信号送受信器といった複数の被テストデバイスである信号送受信器をテストする方法が提供される。テスタリソースにアクセスする（例えば、信号を信号生成器から受信するため、又は信号を信号分析器に提供するため）ＤＵＴによる要求は、テスタの可用性、及び要求側ＤＵＴが単独アクセスを要求するのか、それともテスタへのアクセスを共有することができるのかということに基づいて優先度が付けられる。テスタが利用不可能な場合、ＤＵＴの要求は、各優先度に従ってキューに入れられ、テスタが利用可能になるのを待つ。その結果、共有テスタリソースへのアクセスは、複数のＤＵＴを同時にテストしながら、テスト時間を最小にするように、動的に管理することができる。
【００１０】
本発明の一実施形態によれば、共有ＤＵＴテストリソースを用いて被テストデバイス（ＤＵＴ）である複数の信号送受信器をテストする方法は、
共有テスタを複数のＤＵＴに結合することと、
共有テスタを使用して、複数のＤＵＴの少なくとも一部と通信する複数の要求を含む１つ以上のテストプロセスを実行することと（複数の要求の少なくとも一部のそれぞれには、共有テスタを使用して、複数のＤＵＴのそれぞれと通信する各テスタアクセス優先度が関連付けられる）、
共有テスタが、複数のＤＵＴのうちの１つ以上との通信への使用に利用可能である場合、
共有テスタと、少なくとも１つの他のＤＵＴに関連付けられたテスタアクセス優先度を有する要求よりも高いテスタアクセス優先度を有する要求が関連付けられた複数のＤＵＴのうちの１つとの間の信号通信をイネーブルすること、及び
共有テスタと、同様のテスタアクセス優先度を有する各要求が関連付けられた複数のＤＵＴのうちの複数個との間の信号通信をイネーブルすることと、
共有テスタが、複数のＤＵＴのうちの１つ以上との通信への使用に利用不可能な場合、複数の要求の少なくとも一部をテスタアクセス優先度キューに入れることと
を含む。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、本発明の例示的な実施形態により複数のＤＵＴをテストするテスト環境のブロック図を示す。
【図２】図２は、複数のテストプロセスを非同期で実行中の複数のＤＵＴに、テスタリソースへの優先アクセスを付与して、同期並列テストを可能にすることができる動的優先度トークン管理技術の例示的な実施形態を示す。
【図３】図３は、テストプロセスを非同期で実行中の複数の非管理ＤＵＴに、テスタリソースへの優先アクセスを付与して、テスタリソースの使用及びテスト時間について最適化された分散同期テストを可能にする動的優先度トークン管理技術の例示的な実施形態を示す。
【図４】図４は、ＤＵＴテストプロセスの実行中、テスタリソースへの要求に従って優先度を割り当てることによってトークン要求が処理される例示的な実施形態のテストフローを示す。
【図５】図５は、トークン要求キューの例示的な実施形態を示す。
【図６】図６は、異なるＤＵＴトークン割り当てが、テスタアクセス要求優先度に基づいて行われるテスト時間間隔を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下の詳細な説明は、添付図面を参照した、本発明の実施形態例の説明である。そのような説明は、例示であることが意図され、本発明の範囲に関して限定しない。そのような実施形態は、当業者が本発明を実施できるようにするのに十分に詳細に説明され、本発明の思想又は範囲から逸脱せずに、幾つかの変形を有する他の実施形態も実施可能なことが理解されよう。
【００１３】
本開示全体を通して、文脈から逆のことが明確に示されない限り、説明される個々の回路要素が単数又は複数であり得ることが理解されよう。例えば、「回路」及び「電気回路」という用語は、１つの構成要素又は複数の構成要素を含むことができるもので、構成要素は、能動及び／又は受動であり、一緒に接続又は他の方法で結合されて（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）、記載される機能を提供する。さらに、「１つの」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指し得る。図面内で、同様又は関連する要素は、同様又は関連する英字、数字、又は英数字指示を有する。さらに、本発明は、離散した電子回路（好ましくは、１つ以上の集積回路チップの形態）を使用して実施する文脈の中で考察されたが、そのような回路の任意の部分の機能は代替的に、処理される信号周波数又はデータレートに応じて、１つ以上の適宜プログラムされたプロセッサを使用して実施してもよい。さらに、図が様々な実施形態の機能ブロックの図を示す限り、機能ブロックは、必ずしもハードウェア回路の分割を示すわけではない。
【００１４】
セル電話、スマートフォン、タブレット等の無線デバイスは、ＩＥＥＥ８０２．１１ａ／ｂ／ｇ／ｎ／ａｃ、３ＧＰＰ  ＬＴＥ、及びＢｌｕｅｔｏｏｔｈ等の標準ベースの技術を利用する。これらの技術の基礎となる標準は、確実な無線接続性及び／又は通信を提供するように設計されている。標準は、一般にエネルギー効率的であり、無線スペクトルに隣接するか、又は無線スペクトルを共有する同じ又は他の技術を使用するデバイス間での干渉を最小にするように設計された物理的仕様及びより上位レベルの仕様を規定している。
【００１５】
これらの標準によって規定されたテストは、そのようなデバイスが標準規定の仕様に準拠するように設計されること及び製造されたデバイスがそれらの規定された仕様に引き続き準拠することの保証を意味する。大半のデバイスは、少なくとも１つ以上の受信器及び送信器を含む送受信器である。したがって、テストは、受信器及び送信器が両方とも準拠するか否かを確認することを目的とする。ＤＵＴの１つ以上の受信器のテスト（ＲＸテスト）は通常、テストシステム（テスタ）がテストパケットを受信器に送信することと、ＤＵＴ受信器がそれらのテストパケットにいかに応答するかを判断する何らかの方法とを含む。ＤＵＴの送信器は、送信器にパケットをテストシステムに送信させることによってテストされ、次に、テストシステムは、ＤＵＴによって送信された信号の物理的特性を評価する。
【００１６】
より詳細は後述するが、本発明の例示的な実施形態によれば、同時にテストされている複数のＤＵＴによって共有されるテスタリソースへのアクセスを動的に管理する方法が提供される。その結果、テスト環境は、テストされるＤＵＴの数よりも少数のテスト波形生成及び信号分析サブシステムを有するテスタリソースを必要とし、その理由は、テスタリソースが複数のＤＵＴで共有されるためである。優先度付きリソースアクセストークン技術は、ＤＵＴをテストするために要求されたアクセスに、現在の分散又は並列テスト最適化環境に鑑みて、テストステップ完了の現在の状態に基づいてキュー優先度が与えられるように、テストプログラムと併せて使用することができる。したがって、複数のＤＵＴは、他のＤＵＴのテスト完了の各状態を認識する必要はなく、テストシステムは、リソースアクセスシーケンス及びタイミングの静的又は最悪事例から導出される時系列でテストリソースアクセスを適用する必要がない。
【００１７】
図１に示されているように、例示的な実施形態によれば、テスト環境１０は、通常、外部コントローラ１８（例えば、パーソナルコンピュータ）からの少なくとも幾らかの制御下にある複数のＤＵＴ１６をテストするテスタ１２を含む。そのようなコントローラ１８は、テスタ制御信号インターフェース１９ｔを介してテスタ１２と通信する（例えば、コマンド及びデータ）とともに、ＤＵＴ制御信号インターフェース１９ｄを介してＤＵＴ１６と通信する。（これらの制御信号インターフェース１９ｔ、１９ｄは、直接又はネットワーク化された信号接続によって提供することができる）。さらに、信号ルーティング回路１４が提供されて、テスタ１２と各ＤＵＴ１６との間で信号を多重化及び分割／スプリットする能力を提供する。この信号ルーティング回路１４も、制御信号インターフェース１９ｍを介してコントローラ１８によって制御することができる。
【００１８】
テスタ１２は、無線周波数（ＲＦ）信号源１２ｇ（例えば、テストデータパケット信号のＶＳＧ）、ＲＦ信号分析器１２ａ（例えば、ＤＵＴからのデータパケット信号を受信し分析するＶＳＡ）、及び制御回路１２ｃを含む。制御回路１２ｃは一般に、ＤＵＴ１６のテスト中、信号源１２ｇ及び信号分析器１２ａを制御するテストプロセスがプログラムされるファームウェア１２ｆも含む。そのような制御は、制御信号インターフェース１３ｇ、１３ａによって行われる。さらに、制御信号インターフェース１３ｃが、信号ルーティング回路１４の制御回路１２ｃによる制御を提供する。
【００１９】
信号源１２ｇ、信号分析器１２ａと信号ルーティング回路１４との間にＲＦ信号接続（例えば、周知のＲＦ信号原理に従って制御されるインピーダンスを有する導電信号路）の形態の追加の信号接続１５ｇ、１５ａがある。（代替の実施形態によれば、信号ルーティング回路１４もテスタ１２の一部として含めることができる）。
【００２０】
追加のＲＦ信号インターフェース１７が提供されて、信号をＤＵＴ１６と信号ルーティング回路１４との間で伝達させる。各ＤＵＴ１６ａ、１６ｂ、・・・、１６ｎは、ホストＤＵＴ１６ａ、１６ｂ、・・・、１６ｎのテスト動作の開始及び／又は制御に使用されるプログラムされたコマンド及びデータを記憶するファームウェア１８ａ、１８ｂ、・・・、１８ｎを含むこともできる。
【００２１】
図２に示されているように、複数のＤＵＴをテストするテストシナリオには、テスト優先度が同期並列テストに基づく場合、最適なことがある。例えば、ＤＵＴ受信器のテスト中、テスタ信号源１２ｇを使用して、ルーティング回路１４を介して同じテストデータパケット信号を全てのＤＵＴ１６に送信することができる。そのようなテストに向けてＤＵＴ１６を準備するために、例示的な実施形態によれば、各ＤＵＴ１６のそのままでは非同期のテストプロセス２２に、同様のアクセス優先度を有するリソースアクセストークンが割り振られて、複数のＤＵＴ１６に同様の状態のテストステップ完了を達成させ、それにより、同期テストプロセス２４を使用してＤＵＴ１６をテストできるようにする。（一般に、各トークン要求優先度は、その他のトークン要求優先度のうちの１つ以上よりも高い、低い、又は等しい優先度である。しかし、本考察では、「同様の」トークン要求優先度は、あらゆる方法で等しいトークン要求優先度、例えば、全く同じテスタリソースへのアクセスを要求しているトークン要求優先度及び少なくとも部分的に「等しい」トークン要求優先度、例えば、少なくとも幾つかの時間間隔で同じテスタリソースのうちの１つ以上へのアクセスを要求しているトークン要求優先度を含むことが意図される）。
【００２２】
図３に示されているよう、分散（例えば、順次）テストを使用して他のテストシナリオを最適化し得る。例えば、ＤＵＴ１６の送信器をテストする場合、ＤＵＴ１６は、一連のテストデータパケット信号をテスタ信号分析器１２ａに送信する。ＤＵＴ１６が１つの信号分析器１２ａを共有するシナリオ例では、これらのテストデータパケット信号は、同時に受信され分析されることはできず、個々に順次受信されなければならない。しかし、各ＤＵＴ１６ａ、１６ｂ、・・・、１６ｎのテストプロセスステップの幾つかは多くの場合、信号周波数又は電力レベルが遷移状態であり、信号が能動的に送信されていない時間間隔を含む。したがって、信号送信間隔が非送信間隔と共に埋め込まれるようにＤＵＴテストをパイプライン化することにより、送信信号の順次テストを他のＤＵＴによって実行されている他の非信号テストステップと同時に最適化することができる。例示的な実施形態によれば、そのままでは非管理の非同期テストプロセス２６を実行中の複数のＤＵＴ１６は、これらのテストプロセスを最適化して、そのようなテストプロセスの最大非同期分散２８を達成し、略連続したアクセス及びテストリソースの略連続した使用を達成し、ひいては最小のテスト時間を達成するように管理することができる。
【００２３】
図４に示されているように、例示的な実施形態によれば、テスタリソース競合が生じる場合１００ａ及び複数のプロセスがテスタリソースを求めて争う場合１００ｂを含む、テストフロー１００を実行するアルゴリズムは、示されるように実行することができる。まず、テストプロセスプログラムは、テスト優先度を有する関連付けられたＤＵＴのトークンを要求する（１０２）。トークンが利用可能な場合（１０４）、すなわち、テスタ１２のリソースが、ＤＵＴのテストに利用可能な場合、トークンは、他のＤＵＴを除外してそのＤＵＴに割り当てられ（１０６）、それにより、関連付けられたＤＵＴとテスタとの通信を可能にする。そのＤＵＴへのテスタ１２のこの割り当ては、実行中のテストプロセスがまだ完了しない限り（１０８）維持される。そのテストプロセスの終了に続き、トークンが解放され（１１０）、それにより、他のＤＵＴがテスタリソースを使用できるようにする。次に、このプロセスは次のステップ１１２に続く。
【００２４】
しかし、トークンが利用可能ではない場合（１０４）、すなわち、テスタ１２のリソースが現在、１つ以上の他のＤＵＴとの併用に割り当てられている場合、優先度要求はキューに配置される（１２２）。次に、再割り当てへのトークンの利用可能性がモニタされる（１２４）。トークンが続けて利用可能になると、テスタリソースへの要求が、そのような要求に関連付けられたＤＵＴへの割り当てを保証するのに十分に高い（例えば、キュー内で現在最高の）優先度を有するか否かが判断される。有さない場合、要求はキューに留まる（１２２）。しかし、要求優先度が十分に高い場合、テスタリソースは関連付けられた要求側ＤＵＴに割り当てられ（１２８）、そのようなＤＵＴのテストが開始される。前と同様に、要求側ＤＵＴへのテスタリソースのこの割り当ては、要求側テストプロセスが完了する（１３０）まで維持される。そのようなテストプロセスの完了に続き、トークンは解放され、それにより、１つ以上の他のＤＵＴでのテストに使用するために、テスタリソースを解放する。これに続き、プロセスは次のステップ１３４に続く。
【００２５】
図５に示されているように、上述したように、優先度キュー３０は、テストリソースへの競合する要求３２、３４、３６を保持する。これらの要求３２、３４、３６は、各優先度に従ってキュー３０内に維持される。例えば、１つの要求３２は、別の要求３４ａ（これは、後述するように、同様の要求のグループ３４の１つであり得る）よりも高い優先度を有することができ、この場合、テスタリソースが利用可能になるとき、テスタリソースはより高い／最高優先度を有する要求３２に割り当てられる。
【００２６】
代替的には、同様の優先度レベルを有する複数の要求があり得る。例えば、複数の要求３４ａ、３４ｂ、３４ｃが同様の優先度レベル（例えば、テスタリソースを使用して、ＤＵＴ受信回路の並列テストを実行するための）を有する１組の要求３４があり得る。この場合、テスタリソースが利用可能になる場合、テスタリソースは、より高い／最高優先度を有する１組の要求３２に割り当てられる。
【００２７】
図６に示されているように、上記考察によれば、共有テスタリソースにアクセスする要求の優先度が、少なくとも３つの基本テストシナリオが生じ得ることが理解されよう。例えば、１つの時間間隔Ｔ１中、第１のＤＵＴ１６ａは最高の要求優先度を有することができ、テスタアクセストークンが割り当てられる。続けて、時間間隔Ｔ２中、別のＤＵＴ１６ｃは最高要求優先度を有することができ、テスタリソースアクセストークンが割り当てられる。代替的には、別の時間間隔Ｔ３中、複数のＤＵＴ１６ｂ、１６ｄが同様の要求優先度（例えば、他のＤＵＴ要求よりも高い）を有することができ、テスタアクセストークンを共有して、テスタリソースの同時使用する。
【００２８】
本発明の構造及び動作方法での他の様々な変更及び代替が、本発明の範囲及び思想から逸脱せずに、当業者に明らかになろう。本発明は特定の好ましい実施形態に関連して説明されたが、特許請求される本発明がそのような特定の実施形態に極度に限定されるべきではないことを理解されたい。以下の特許請求の範囲が、本発明の範囲を定義し、これらの特許請求の範囲及びそれらの均等物内の構造及び方法が本発明の範囲に包含されることが意図される。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
2017512978.tif 000009
2017512978.tif 000010
2017512978.tif 000011