(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶表示パネルと、画像データ信号が印加される画像信号線、前記画像信号線に設けられたモニタ端子、前記画像信号線と前記液晶表示パネルの各画素との間に設けられたデータ信号線、前記データ信号線に設けられたアナログスイッチ、及び、前記アナログスイッチに制御信号を出力するシフトレジスタを備え、前記画像信号線に印加された前記画像データ信号を前記データ信号線及び前記アナログスイッチを介して前記液晶表示パネルの各画素に出力するデータドライバとを有する液晶表示装置において、
前記画像信号線に、前記画像データ信号とは異なる検査電圧を印加する処理と、
前記アナログスイッチを、前記シフトレジスタから出力された前記制御信号によりオン／オフさせる処理と、
前記モニタ端子にて、前記データ信号線に印加されている電圧を観測する処理と、
前記アナログスイッチがオフのときに前記モニタ端子で観測された電圧と、当該アナログスイッチがオンのときに前記モニタ端子で観測された電圧とに基づいて、前記アナログスイッチの欠陥を判定する処理と、
を含むことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
【請求項２】
前記アナログスイッチは、複数のトランジスタから構成され、
前記観測された電圧に基づいて、前記複数のトランジスタの欠陥を判定し、欠陥と判定された前記トランジスタを電気的に切り離す処理を含むことを特徴とする請求項１記載の液晶表示装置の検査方法。
【請求項３】
前記複数のトランジスタは、並列に接続されていることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置の検査方法。
【請求項４】
前記複数のトランジスタは、マトリクス状に接続されていることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置の検査方法。
【請求項５】
前記検査電圧は、一定の直流電圧であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の液晶表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置の検査方法に関し、特に、点順次駆動方式を採用し、かつ、ポリシリコンにより構成された液晶表示装置における欠陥検出に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータやテレビを始め、ハンディタイプのビデオセットやデジタルカメラ等、液晶表示装置を搭載した製品の普及が顕著となっている。
このような液晶表示装置における表示駆動方式には、大別して、線順次駆動方式及び点順次駆動方式とがある。
【０００３】
線順次駆動方式は、液晶画面の１列分の画像データを一括して出力し、表示するものであるため、アモルファスシリコンのようにキャリヤの移動度が低い液晶パネルに採用しても、比較的大型の液晶パネルで十分な画質が得られる、という特徴を有している反面、１列分の画像データを保持するためのラッチ等が必要となり、液晶パネルに付設される周辺回路の専有面積が増大する、という問題を有している。
【０００４】
一方、点順次駆動方式は、液晶画面の１画素分の画像データを順次出力し、表示するものであるため、画素数の多い大型の液晶表示装置パネルの駆動には不向きである、という問題を有している反面、画像データを１画素分ずつ出力するため、線順次駆動方式のように、１列分の画像データを保持するラッチ等を必要とせず、周辺回路を簡略化して、液晶表示装置を小型化することができる、という特徴を有している。
【０００５】
そのため、パソコンやテレビ等の比較的大型の液晶表示装置には、線順次駆動方法が採用され、ビデオセットやデジタルカメラ等の比較的小型の液晶表示装置には、点順次駆動方法が採用される傾向にある。
ところで、現在、液晶表示装置を構成する液晶パネルの主流は、アモルファスシリコンであるが、アモルファスシリコンに比較して、キャリヤの移動度が１〜２桁程度高いポリシリコン（多結晶シリコン）を用いて構成された液晶表示装置に、上述した点順次駆動方式を採用し、比較的大型の液晶表示装置を実現するための研究開発が進められている。
【０００６】
上述したようなポリシリコンにより液晶パネル（液晶表示部）及び周辺回路（駆動回路部）を構成した液晶表示装置の概略構成について、図６を参照して説明する。
図６は、ポリシリコンからなる薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴという）を液晶素子の駆動スイッチとして用いた液晶表示装置１００であって、液晶表示装置１００は、表示画面の１画素に相当するＴＦＴ１１と、ＴＦＴ１１のスイッチ動作により駆動される液晶素子が、マトリクス状に配列された表示領域（液晶パネル）１０と、所望の画像信号を１画素分づつ出力するデータドライバ２０と、表示領域１０の１列分のＴＦＴ１１をスイッチ制御するスキャンドライバ３０と、を有して構成されている。
【０００７】
なお、表示領域１０以外のデータドライバ２０及びスキャンドライバ３０も、ポリシリコンにより構成されている。
データドライバ２０は、シフトレジスタ２１と、アナログスイッチ２２と、画像信号線Ｇ１〜Ｇｎと、データバスＤ11〜Ｄmnとを有して構成され、シフトレジスタ２１は、基準クロックＣＬＫに基づいてアナログスイッチ２２の動作を制御する制御信号Ｑ１〜Ｑｍを生成、送出し、また、データドライバ２０の出力段としてのアナログスイッチ２２は、データバスＤ11〜Ｄmnの各々にＭＯＳトランジスタが設けられ、シフトレジスタ２１からの制御信号Ｑ１〜Ｑｍに応じて、ＯＮ／ＯＦＦ動作が制御される。
【０００８】
画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加された画像信号は、アナログスイッチ２２のＯＮ／ＯＦＦ状態に応じて、データバスＤ11〜Ｄmnを介して表示領域１０の液晶素子１２に出力される。
なお、図６に示すように、画像信号を出力するデータバスＤ11〜Ｄmnは、ｎ本毎のブロックＤ11〜Ｄ1n、Ｄ21〜Ｄ2n、・・・Ｄm1〜Ｄmnに分けられ、点順次駆動方式を採用することにより、１ブロック分のデータバスに画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加された画像信号を同時に出力し、他のブロックについても順次同様の動作を繰り返して、１水平期間に液晶画面の１ライン（列）分の画像情報が液晶素子に書き込まれる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
上述したような液晶表示装置１００において、アナログスイッチ２２を構成するＭＯＳトランジスタに、欠陥が発生した場合の問題点について図７を参照して説明する。
図７に示すように、アナログスイッチ２２を構成するＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、・・・のうち、例えばＭＯＳトランジスタＴｒ11において、ゲート−ドレイン間でショート欠陥２３が発生した場合について説明する。
【００１０】
図６に示したように、各ブロックＤ11〜Ｄ1n、Ｄ21〜Ｄ2n、・・・Ｄm1〜Ｄmnの1番目のデータバスＤ11、Ｄ21、・・・Ｄm1は画像信号線Ｇ１に共通に接続され、同様に、ｉ番目のデータバスＤ1i、Ｄ2i、・・・Ｄmiは画像信号線Ｇｉに共通に接続されているため、上述したようなショート欠陥２３が発生した場合、ＭＯＳトランジスタのゲート電極とドレイン電極とがショートすることとなり、ゲート電圧が画像信号線に回り込んで、画像信号の電位が所望の電位から変化して、他のブロックのデータバスＤ21、・・・Ｄm1を介して出力される画像信号にまで影響を及ぼすという問題を有していた。
【００１１】
このようなアナログスイッチのショート欠陥を検出する方法は、従来顕微鏡等を用いて目視検査を行うことが一般的であり、検査工程において、極めて煩雑で困難な作業を行わなければならないという問題を有していた。
そこで、本発明は、上記問題点を解決し、簡易な構成を追加するだけで、データドライバの出力段に設けられたアナログスイッチの欠陥状態を容易に検出、判定することができる液晶表示装置の検査方法を提供することを目的としている。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１記載の液晶表示装置の検査方法は、液晶表示パネルと、画像データ信号が印加される画像信号線、前記画像信号線に設けられたモニタ端子、前記画像信号線と前記液晶表示パネルの各画素との間に設けられたデータ信号線、前記データ信号線に設けられたアナログスイッチ、及び、前記アナログスイッチに制御信号を出力するシフトレジスタを備え、前記画像信号線に印加された前記画像データ信号を前記データ信号線及び前記アナログスイッチを介して前記液晶表示パネルの各画素に出力するデータドライバとを有する液晶表示装置において、前記画像信号線に、前記画像データ信号とは異なる検査電圧を印加する処理と、前記アナログスイッチを、前記シフトレジスタから出力された前記制御信号によりオン／オフさせる処理と、前記モニタ端子にて、前記データ信号線に印加されている電圧を観測する処理と、前記アナログスイッチがオフのときに前記モニタ端子で観測された電圧と、当該アナログスイッチがオンのときに前記モニタ端子で観測された電圧とに基づいて、前記アナログスイッチの欠陥を判定する処理と、を含むことを特徴としている。
【００１５】
また、請求項２記載の発明は、請求項１に記載の液晶表示装置の検査方法において、前記アナログスイッチは、複数のトランジスタから構成され、前記観測された電圧に基づいて、前記複数のトランジスタの欠陥を判定し、欠陥と判定された前記トランジスタを電気的に切り離す処理を含むことを特徴としている。請求項３記載の発明は、請求項２に記載の液晶表示装置の検査方法において、前記複数のトランジスタは、並列に接続されていることを特徴としている。請求項４記載の発明は、請求項２に記載の液晶表示装置の検査方法において、前記複数のトランジスタは、マトリクス状に接続されていることを特徴としている。
さらに、請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の液晶表示装置の検査方法において、前記検査電圧は、一定の直流電圧であることを特徴としている。
【００１６】
すなわち、本発明は、画像信号線の全てにモニタ端子を接続し、アナログスイッチの欠陥に伴う信号電圧の変化を観測し、欠陥判定を行うことを特徴としている。
特に、検査電圧として、画像信号線に一定の直流電圧を印加するとともに、シフトレジスタによりアナログスイッチを構成するＭＯＳトランジスタの駆動タイミングをずらすことによって、ゲート−ドレイン間のショート欠陥が存在するＭＯＳトランジスタを介してゲート電圧が画像信号線に回り込み、前記直流電圧を変化させる状態をモニタ端子により観測することができるため、いずれのＭＯＳトランジスタ（アナログスイッチ）に欠陥が発生しているかを特定することができる。
【００１７】
また、１本のデータバスに設けられるアナログスイッチを複数のＭＯＳトランジスタの並列、あるいはマトリクス接続とすることにより、欠陥が検出されたＭＯＳトランジスタを電気的に切り離して、正常なトランジスタのみで出力段としての機能動作をさせることができるため、液晶表示装置の歩留まりを向上させることができる。
【００１８】
【実施例】
次に、本発明に係る液晶表示装置の第１の実施例について、図１を参照して説明する。なお、従来の技術において説明したものと同等の構成については、同一の符号を付して、その説明を省略する。
図１に示すように、本実施例の液晶表示装置１００は、表示領域１０と、データドライバ２０と、スキャンドライバ３０とを有して構成されている。
【００１９】
そして、データドライバ２０は、上述したように、表示領域１０の各画素（ＴＦＴ及び液晶素子）にデータバスＤ11〜Ｄmnを介して所望の画像信号を出力するものであって、画像信号が印加される画像信号線Ｇ１〜Ｇｎの各々には、画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加された信号電圧を観測するモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭｎが接続されている。
【００２０】
なお、図示を省略したが、画像信号線Ｇ１〜Ｇｎには、検査電圧、例えば所定の直流電圧を印加するための検査電圧印加部が接続されている。
次に、本実施例に適用される液晶表示装置の検査方法について、図２及び図３を参照して説明する。なお、以下の説明においては、１ブロックで１６本のデータバスに書き込みを行う場合を例について説明する。そのため、画像信号が入力される画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６にモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６が設けられているものとする。
【００２１】
まず、画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６に所定の検査信号、例えば、ＤＣ８Ｖを印加する（Ｓ１）。
次いで、データドライバ２０の出力端のアナログスイッチ２２を制御するシフトレジスタ２１にクロック信号ＣＬＫを入力し、０〜１６Ｖの電圧範囲を有し、出力タイミングを相互に１パルスずつずらしたシフトパルスを生成し、制御信号Ｑ１〜Ｑｍとして出力する（Ｓ２）。
【００２２】
次いで、シフトレジスタ２１から出力される制御信号Ｑ１〜Ｑｍをアナログスイッチ（ＭＯＳトランジスタのゲート）２２に印加し、ＯＮ／ＯＦＦ動作を制御して、その際にモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６に現れる信号電圧を観測する（Ｓ３）。
次いで、モニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６を介して観測された信号電圧の変化に基づいて、アナログスイッチの欠陥の有無が判定され、欠陥が存在するアナログスイッチ２２が特定される（Ｓ４）。なお、詳細は後述する。
【００２３】
次いで、上記欠陥の判定結果に基づいて、特定されたＭＯＳトランジスタをレーザー等により電気的に切り離し、正常なＭＯＳトランジスタのみでアナログスイッチ２２を構成する（Ｓ５）。なお、具体的な構成は、第２及び第３の実施例において説明する。
次に、上述した検査方法における、シフトレジスタ２１及びアナログスイッチ２２の動作、モニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６により観測される信号電圧について、図３を参照して説明する。
【００２４】
図３に示すように、上述した処理Ｓ２において、シフトレジスタ２１は入力された所定のクロック信号ＣＬＫに基づいて、アナログスイッチ２２を駆動制御する制御信号Ｑ１〜Ｑｍを出力する。
制御信号Ｑ１〜Ｑｍは、１パルスづつずれたシフトパルスであって、この制御信号Ｑ１〜Ｑｍによりアナログスイッチ２２を構成するＭＯＳトランジスタがＯＮ／ＯＦＦ動作することにより、画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６に現れる信号電圧の変化をそれぞれモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６により観測する。
【００２５】
例えば、３番目のブロックの４番目のデータバスＤ34に接続されているアナログスイッチ２２のＭＯＳトランジスタにゲート−ドレイン間のショート欠陥が存在する場合、モニタ端子ＧＭ４の信号電圧は、制御信号Ｑ３がＯＦＦの期間は、検査電圧として印加されたＤＣ８Ｖに対して、４Ｖに変化し、制御信号Ｑ３がONになるタイミングの期間だけ、１２Ｖに変化することになる。
【００２６】
すなわち、ＭＯＳトランジスタのゲート電極に印加される制御信号Ｑ３がＯＦＦ（Ｑ３＝０Ｖ）の場合には、モニタ端子ＧＭ３が接続された画像信号線Ｇ３には、ショート欠陥により制御信号線Ｑ３の０Ｖがゲート電極からドレイン電極、画像信号線Ｇ３に回り込んで、モニタ端子ＧＭ３により観測される信号電圧は、検査電圧の８Ｖと制御信号の０Ｖとの平均値である４Ｖ［＝（８＋０）／２］となる。
【００２７】
一方、トランジスタのゲート電極に印加される制御信号Ｑ３がＯＮ（Ｑ３＝１６Ｖ）の場合には、モニタ端子ＧＭ３が接続された画像信号線Ｇ３には、ショート欠陥により制御信号線Ｑ３の１６Ｖがゲート電極からドレイン電極、画像信号線Ｇ３に回り込んで、モニタ端子ＧＭ３により観測される信号電圧は、検査電圧の８Ｖと制御信号の１６Ｖとの平均値である１２Ｖ［＝（１６＋８）／２］となる。
【００２８】
このように、モニタ端子により観測される信号電圧と、その信号電圧が変化するタイミングにより欠陥が存在するアナログスイッチを特定することができる。この場合、アナログスイッチ２２のＯＮ／ＯＦＦ動作がシフトレジスタ２１からのシフトパルスにより制御されているため、複数の箇所に欠陥が存在する場合であっても、容易に欠陥個所の特定を行うことができる。
【００２９】
一方、欠陥が存在しない正常なトランジスタの場合（上記ＧＭ４が接続されるＭＯＳトランジスタ以外）には、ゲート電極に印加される制御信号Ｑ３がＯＮ（Ｑ３＝１６Ｖ）の場合であっても、ＯＦＦ（Ｑ３＝０Ｖ）の場合であっても、モニタ端子ＧＭ３が接続された画像信号線Ｇ３には、検査電圧の８Ｖのみが印加されるため、モニタ端子ＧＭ３により観測される信号電圧は、８Ｖとなる。
【００３０】
なお、上述した実施例においては、画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６に印加する検査電圧を８Ｖ、シフトレジスタから出力される制御信号（シフトパルス）の電圧変化を０〜１６Ｖとした例を示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、表示領域１０のＴＦＴの特性や駆動条件等によって適宜設定することができることはいうまでもない。
【００３１】
次に、本発明に係る液晶表示装置の第２の実施例について、図４を参照して説明する。なお、図４にはデータドライバの出力段部分の要部構成のみを示し、他の構成については図示を省略した。
図４に示すように、データドライバ２０の出力段を構成するアナログスイッチＳＷ１は、画像信号線Ｇ１に対して、例えば３個のＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13が並列に接続されている。
【００３２】
具体的には、３個のＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13が、画像信号線Ｇ１とデータバスＤ11間に並列に配置され、各々のＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13のドレイン電極に画像信号線Ｇ１が共通に接続され、各々のソース電極にデータバスＤ１１が共通に接続されている。また、各々のゲート電極はシフトレジスタに共通に接続され、シフトレジスタからの制御信号Ｑ１により、ＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13が同時にＯＮ／ＯＦＦ動作する。ここで、ＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13は、ポリシリコン層２４を用いて形成されている。
【００３３】
このようなアナログスイッチＳＷ１において、ＭＯＳトランジスタＴｒ11のゲート−ドレイン電極間にショート欠陥２３が存在する場合、上述した第１の実施例において説明した検査方法と同様に、画像信号線Ｇ１に検査電圧を印加するとともに、シフトレジスタ２１からシフトパルスとして出力される制御信号Ｑ１により各ＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13を同時にＯＮ／ＯＦＦ動作させ、モニタ端子ＧＭ１に現れる信号電圧を観測することにより、アナログスイッチＳＷ１の欠陥を判定する。
【００３４】
ここで、上述した検査方法に示したように画像信号線に検査電圧８Ｖを印加し、シフトレジスタから出力される制御信号Ｑ１を０〜１６Ｖとした場合、図３に示したように、モニタ端子ＧＭ１において信号電圧の変化が観測される。
次いで、欠陥と判定されたアナログスイッチＳＷ１、すなわちＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13について、顕微鏡等による再検査を行い、欠陥が存在（発生）しているＭＯＳトランジスタＴｒ11を特定する。
【００３５】
そして、特定されたＭＯＳトランジスタＴｒ11について、アナログスイッチＳＷ１の構成から電気的に切り離すため、ゲート電極線ＧＬ及びドレイン電極線ＤＬをレーザ等により切断する（図中ＬＣは切断箇所を示す）。
このように、アナログスイッチを複数のＭＯＳトランジスタの並列接続により構成することにより、出力段の駆動能力を複数のＭＯＳトランジスタにより分担することができるため、上述したように、仮に複数のＭＯＳＦＥＴトランジスタのうちいずれかに欠陥が発生したとしても、他の正常なＭＯＳトランジスタにより動作に支障が生じない程度にアナログスイッチの駆動能力を保持することができるため、液晶表示装置の歩留まりの向上を図ることができる。
【００３６】
次に、本発明に係る液晶表示装置の第３の実施例について、図５を参照して説明する。なお、図５にはデータドライバの出力段部分の要部構成のみを示し、他の構成については図示を省略した。
図５に示すように、データドライバ２０の出力段を構成するアナログスイッチＳＷは、図４に示したものと同等のＭＯＳトランジスタ１１が、例えば、５４個、６×９のマトリクス状に配置、接続されている。
【００３７】
具体的には、図面左右方向に９個のＭＯＳトランジスタ群が同一のポリシリコン層を利用して構成され、このようなＭＯＳトランジスタ群が、図面上下方向に６列配置されている。
そして、各々のＭＯＳトランジスタは、シフトレジスタに接続され、制御信号Ｑが印加される共通のゲート電極線ＧＬと、画像信号線Ｇに接続された共通のドレイン電極線ＤＬと、データバスＤに接続された共通のソース電極線ＳＬとを有して構成されている。ここで、ゲート電極線ＧＬは、格子状に配線され、各格子点が相互に接続されている。
【００３８】
また、各々のＭＯＳトランジスタは、シフトレジスタ２０からゲート電極線ＧＬに共通に印加される制御信号Ｑにより、全てのＭＯＳトランジスタが同時にＯＮ／ＯＦＦ動作する。
このようなアナログスイッチＳＷを用いた場合の液晶表示装置の検査方法は、上述したものと同等であるが、複数のＭＯＳトランジスタがマトリクス状に集積されているため、より多くのＭＯＳトランジスタによりアナログスイッチの駆動能力を分担させることができる。
【００３９】
したがって、上記検査方法によりアナログスイッチＳＷが欠陥と判定され、さらに、顕微鏡等による再検査によって、欠陥が存在するＭＯＳトランジスタ１１ａを特定し、レーザー切断によりゲート電極線ＧＬの所定の箇所（図中ＬＣ１、ＬＣ２）を電気的に切り離したとしても、制御信号Ｑの印加により、他の各ＭＯＳは独立かつ同時にＯＮ／ＯＦＦ動作する。
【００４０】
このとき、各ＭＯＳトランジスタが分担する駆動能力は小さく設定されているため、アナログスイッチＳＷ全体としての駆動能力に与える影響を極力小さくすることができ、液晶表示装置の歩留まりを向上させることができる。
ここで、本実施例においては、アナログスイッチを６×９個のＭＯＳトランジスタによるマトリクス構成として示したが、適用するＭＯＳトランジスタの個数は、信号供給源の特定やアナログスイッチの専有面積等により適宜設定されることはいうまでもない。
【００４１】
なお、上述した第１から第３の実施例においては、アナログスイッチを構成するＭＯＳトランジスタとして、ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタを用いた場合を示して説明をしたが、ｐチャネル型ＭＯＳトランジス、あるいはｎ＋ｐ（トランスファ）構造のトランジスタを適用してもよい。要するに、上述したようなゲート−ドレイン間のショート欠陥が発生したときに、ゲート電極に印加された制御信号の信号電圧が欠陥部、ドレインを介して画像信号線において観測される信号電圧に変化を与えるものであれば、上述した構成に限定されるものではない。
【００４２】
また、本発明に係る液晶表示装置の検査方法においては、画像信号線に印加する検査電圧（直流電圧）は、液晶表示装置パネルの液晶素子に表示電圧を与えるものではないため、少なくとも製造プロセス上のデータドライバの回路構成が完成した段階、例えば液晶を封入する前のＴＦＴ基板の段階等において、検査を実行するができる。
【００４３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の液晶表示装置の検査方法によれば、データドライバの出力端に設けられるアナログスイッチに存在する欠陥を、画像信号線に設けられたモニタ端子の電圧変化により、容易に検出、特定することができ、その特定された箇所を電気的に切り離すことにより、液晶表示装置を回路機能を正常化して歩留まりの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る液晶表示装置の第１の実施例を示す概略構成図である。
【図２】本発明に係る液晶表示装置の検査方法を示すフローチャートである。
【図３】モニタ端子において観測された信号波形を示す図である。
【図４】本発明に係る液晶表示装置の第２の実施例の要部構成図である。
【図５】本発明に係る液晶表示装置の第３の実施例の要部構成図である。
【図６】従来技術における液晶表示装置を示す概略構成図である。
【図７】従来技術における問題点を説明する図である。
１０        表示領域
１１        ＴＦＴ
１２        液晶素子
２０        データドライバ
２１        シフトレジスタ
２２        アナログスイッチ
２３        ショート欠陥
２４        ポリシリコン層
３０        スキャンドライバ
１００      液晶表示装置
【図１】
0004080057.tif 000002
【図２】
0004080057.tif 000003
【図３】
0004080057.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
0004080057.tif 000007
【図７】
0004080057.tif 000008