(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、下記の式１を満足するＸ及びＹの条件下で、低エネルギの電子線を照射して、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面を殺菌することを特徴とするトマトの殺菌方法。
【式１】
0004097241.tif 000005
｛式１において、
Ｘ：照射した電子線によるトマト表面でのエネルギ量（ｋｅＶ）で、１０００未満
Ｙ：照射した電子線によるトマト表面での吸収線量（ｋＧｙ）で、７以下｝
【請求項２】
表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、下記の式２を満足するＸ及びＹの条件下で、低エネルギの電子線を照射して、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面を殺菌することを特徴とするトマトの殺菌方法。
【式２】
0004097241.tif 000006
｛式２において、
Ｘ：照射した電子線によるトマト表面でのエネルギ量（ｋｅＶ）で、１０００未満
Ｙ：照射した電子線によるトマト表面での吸収線量（ｋＧｙ）で、７以下｝
【請求項３】
トマトの表面に、該トマトを転動させながら、低エネルギの電子線を照射する請求項１又は２記載のトマトの殺菌方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はトマトの殺菌方法に関する。収穫したトマトの表面には各種の雑菌が付着している。収穫したトマトの保管、運搬、陳列等、その流通過程では、主にかかる雑菌に起因して、トマトが腐敗する。本発明は、トマトの日持ちを良くする、トマトの殺菌方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、トマトの殺菌方法として、低温オゾン水を用いる方法（特開平６−１６５６３７）、重金属イオンを溶解したオゾン水を用いる方法（特開平８−２２８６０３）、電解水を用いる方法（特開平１０−１５１４６０）等が提案されている。ところが、これらの従来法には、殺菌処理に長い時間がかかり、それでもなお実際には殺菌が不充分という問題があり、またいずれも水を用いる湿式の殺菌処理であるため、殺菌処理後のトマトの表面に水が付着残存し、そのままでは流通に供し難いという問題がある。従来法では、手間がかかる割には実際のところ殺菌が不充分で、したがって殺菌処理後のトマトの日持ちが悪く、また殺菌処理後のトマトをそのままでは流通に供し難いのである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする課題は、従来法では、手間がかかる割には実際のところ殺菌が不充分で、したがって殺菌処理後のトマトの日持ちが悪く、また殺菌処理後のトマトをそのままでは流通に供し難い点である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
しかして本発明者らは、上記の課題を解決するべく研究した結果、トマトの表面に、所定の条件下で、低エネルギの電子線を照射することが正しく好適であることを見出した。
【０００５】
すなわち本発明は、表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、下記の式１、好ましくは式２を満足するＸ及びＹの条件下で、低エネルギの電子線を照射して、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面を殺菌することを特徴とするトマトの殺菌方法に係る。
【０００６】
【式１】
９５０Ｘ-1.25≦Ｙ≦１２４２Ｘ-0.85
【式２】
２４２２０８１Ｘ-2.27≦Ｙ≦１２４２Ｘ-0.85
【０００７】
式１及び式２において、
Ｘ：照射した電子線によるトマト表面でのエネルギ量（ｋｅＶ）で、１０００未満
Ｙ：照射した電子線によるトマト表面での吸収線量（ｋＧｙ）で、７以下
【０００８】
本発明では、表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に低エネルギの電子線を照射する。電子線は式１、好ましくは式２を満足する条件下で照射する。式１のＹ＝９５０Ｘ-1.25は、収穫した表面が濡れていない状態（実質的に乾燥状態、以下同じ）にあるトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌するためのＸ及びＹの下限の条件を示している。詳しくは後述するが、トマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌すると、処理したトマトの全数を少なくとも２日間は日持ちさせることができる。また式２のＹ＝２４２２０８１Ｘ-2.27は、収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌するためのＸ及びＹの下限の条件を示している。詳しくは後述するが、トマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌すると、処理したトマトの全数を少なくとも７日間は日持ちさせることができる。更に式１及び式２のＹ＝１２４２Ｘ-0.85は、トマトの表面にき裂の生じないＸ及びＹの上限の条件を示している。詳しくは後述するが、トマト表面での吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）がエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）との関係で１２４２Ｘ-0.85を超えると、処理したトマトの表面に商品価値を損なうき裂が生じる。
【０００９】
トマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌するための条件である式１は、へたの付いていないトマトに適用できることはいうまでもないが、へたの付いているトマトにも適用できる。トマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌するための条件である式２は、へたの付いていないトマトにのみ適用できる。へたの付いているトマトの場合、低エネルギの電子線の照射により、その表面に付着していた雑菌の９０％以上は殺菌できるが、かかる雑菌を完全殺菌するのは実際のところ著しく難しい。
【００１０】
式１及び式２において、Ｘは照射した電子線によるトマト表面でのエネルギ量（ｋｅＶ）である。電子線発生装置の線源から発生させた電子線のエネルギ量は、その出口（照射口）に到るまでの間で、該装置を構成する主として窓箔（通常はチタン）により減衰され、また出口からトマト表面に到るまでの間で、双方の間の距離に応じた雰囲気により減衰される。Ｘは、用いる電子線発生装置の構成及びその出口からトマト表面に到るまでの間の距離に応じた雰囲気に基づいて計算できるのであり、かくして計算した値である。
【００１１】
例えば、電子線発生装置の線源から発生させた電子線のエネルギ量が１６０ｋｅＶであり、その窓箔が厚さ０．００５cmで比重４．５４ｇ／cm3のチタンの場合、チタンの電子線阻止能（減衰能）は２２８７ｋｅＶ・cm2／ｇであるから｛ＩＣＲＵ  Ｒｅｐｏｒｔ  ３７（１９８４）から引用、以下電子線阻止能の引用は同じ｝、出口における電子線のエネルギ量は、１６０−２２８７×０．００５×４．５４で計算される１０８．１ｋｅＶになる。そして出口からトマト表面に到るまでの距離が５cmで、雰囲気が比重１．２０×１０-3ｇ／cm3の空気の場合、空気の電子線阻止能は３６３７ｋｅＶ・cm2／ｇであるから、トマト表面に当たる時の電子線のエネルギ量Ｘは、１０８．１−３６３７×５×１．２０×１０-3で計算される８６．３ｋｅＶになる。
【００１２】
電子線発生装置の線源から発生させた電子線のエネルギ量すなわち照射した電子線のエネルギ量から以上のように計算されるトマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）は、１０００未満とする。原子力基本法によれば、エネルギ量が１０００ｋｅＶ以上の電子線は放射線と定義されており、食品衛生法によれば、食品への放射線の照射は禁止されているからである。トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）は、操作上、通常１００〜９００とするが、２００〜７００とするのが好ましい。
【００１３】
式１及び式２において、Ｙは照射した電子線によるトマト表面での吸収線量（ｋＧｙ）である。前述したように、トマト表面に所定エネルギ量の電子線を当てるが、これによりトマト表面に吸収される吸収線量を測定するのである。トマト表面での吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）は、ラジオクロミックフィルム線量計で測定できる。かかるトマト表面での吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）は、７以下とする。トマト表面での吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）が７を超えると、処理したトマトの表面に商品価値を損なう火傷が生じる。トマト表面での吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）は、操作上、通常１〜６とするが、２〜５とするのが好ましい。
【００１４】
へたの有無を問わず、収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、式１を満足する条件下で、低エネルギの電子線を照射することにより初めて、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌でき、かくして電子線を照射したトマトの全数を少なくとも２日間は日持ちさせることができる。またへたの付いていないトマトの場合には、収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、式２を満足する条件下で、低エネルギの電子線を照射することにより初めて、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌でき、かくして電子線を照射したトマトの全数を少なくとも７日間は日持ちさせることができる。
【００１５】
図１は、収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、低エネルギの電子線を照射し、トマト表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌するための、或はトマト表面に付着している雑菌を完全殺菌するための、トマト表面におけるエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）と吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）との関係を示すグラフである。図１において、１はＹ＝９５０Ｘ-1.25を示す曲線であり、２はＹ＝２４２２０８１Ｘ-2.27を示す曲線であって、３はＹ＝１２４２Ｘ-0.85を示す曲線である。
【００１６】
図１中、曲線１、曲線３及びＹ＝７の点線で囲まれる斜線部が、トマトの表面にき裂や火傷を生じることなく、トマト表面に付着していた雑菌の９０％以上を殺菌し、殺菌処理したトマトの全数を少なくとも２日間は日持ちさせることができる領域を示している。この領域は、前述したように、へたの付いていないトマトはいうまでもなく、へたの付いているトマトにも適用できる。また図１中、曲線２、曲線３及びＹ＝７の点線で囲まれる点付部が、トマトの表面にき裂や火傷を生じることなく、トマト表面に付着していた雑菌を完全殺菌し、殺菌処理したトマトの全数を少なくとも７日間は日持ちさせることができる領域を示している。この領域は、前述したように、へたの付いていないトマトにのみ適用できる。
【００１７】
収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に、式１、好ましくは式２を満足する条件下で低エネルギの電子線を照射するに際しては、トマトを転動させるのが有利である。トマトを振動網或は回転ローラ上に載置し、転動させながら、その表面に電子線を照射すると、トマトの全表面に万遍なく電子線が当たり、その表面に付着していた雑菌を効率的に殺菌できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態としては、下記の１）〜８）が挙げられる。
下記の１）〜８）はいずれも、式１を満足するトマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）の条件下で、収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に低エネルギの電子線を照射する場合であり、これらのうちで５）〜８）は、式２を満足するトマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）の条件下で、収穫した表面が濡れていない状態にあるトマトの表面に低エネルギの電子線を照射する場合である。
【００１９】
１）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマト或はへたのついているトマトを間欠的に反転する回転ローラ上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝２２４及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝３の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌する方法。
【００２０】
２）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマト或はへたのついているトマトを間欠的に反転する回転ローラ上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝２２４及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝５の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌する方法。
【００２１】
３）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマト或はへたのついているトマトを振動網上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝３３２及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝２の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌する方法。
【００２２】
４）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマト或はへたのついているトマトを振動網上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝３３２及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝３の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌する方法。
【００２３】
５）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマトを間欠的に反転する回転ローラ上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝４３６及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝３の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌する方法。
【００２４】
６）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマトを間欠的に反転する回転ローラ上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝４３６及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝５の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌する方法。
【００２５】
７）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマトを振動網上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝６３９及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝２の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌する方法。
【００２６】
８）収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマトを振動網上に載置し、転動させながらその表面に、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝６３９及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝４の条件下で、低エネルギの電子線を照射し、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌する方法。
【００２７】
【実施例】
実施例１
収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いているトマト２０個を、間欠的に反転する回転ローラ上に載置し、転動させながらその表面に、バンデグラーフ型電子加速器を線源とする電子線発生装置を用いて、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝１０７及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝６の条件下で、低エネルギの電子線を照射した。
【００２８】
実施例２〜１３及び比較例２〜７
トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）を表１記載のように変え、その他は実施例１と同様にして、へたの付いているトマトの表面に低エネルギの電子線を照射した。
【００２９】
実施例１４
収穫した表面が濡れていない状態にあるへたの付いていないトマト２０個を、振動網上に載置し、転動させながらその表面に、バンデグラーフ型電子加速器を線源とする電子線発生装置を用いて、トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）＝１０７及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）＝６の条件下で、低エネルギの電子線を照射した。
【００３０】
実施例１５〜２６及び比較例９〜１４
トマト表面でのエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）及び吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）を表１記載のように変え、その他は実施例１と同様にして、へたの付いていないトマトの表面に低エネルギの電子線を照射した。
【００３１】
殺菌についての評価
各例のトマトの表面から、１個当たり１００mlの０．１重量％ペプトン水を用いて雑菌を回収し、回収液或はその希釈液０．５mlを普通寒天培地上に塗布して、３０℃で９６時間培養した後、培地上に生成したコロニー数を計数した。希釈液を塗布した場合にはその希釈倍率を換算した。比較例１はへたの付いているトマトについてのブランクであり、低エネルギの電子線を照射しない場合であるが、この場合のコロニー数を１００としたときの、実施例１〜１３及び比較例２〜７のコロニー数の割合（％）を表１に示した。また比較例８はへたの付いていないトマトについてのブランクであり、低エネルギの電子線を照射しない場合であるが、この場合のコロニー数を１００としたときの、実施例１４〜２６及び比較例９〜１４のコロニー数の割合（％）を表１に示した。
【００３２】
【表１】
0004097241.tif 000002
【００３３】
日持ちについての評価
各例のトマトを２５℃の恒温室内に設定したプラスチック容器内に７日間保存し、その間に腐敗が認められたトマトの個数割合（％）を経日的に求めて表２及び表３に示した。
【００３４】
【表２】
0004097241.tif 000003
【００３５】
表２において、
＊１：腐敗は認められなかったが、全数の１０％に火傷が生じた
＊２：全数の５％に腐敗が認められ、全数の７０％に火傷が生じた
＊３：全数の５％に腐敗が認められ、すべてに火傷が生じた
＊４：全数の６０％以上にき裂が生じた
【００３６】
【表３】
0004097241.tif 000004
【００３７】
表３において、
＊５：腐敗は認められなかったが、全数の８０％に火傷が生じた
＊６：腐敗は認められなかったが、すべてに火傷が生じた
＊７：全数の６０％以上にき裂が生じた
【００３８】
【発明の効果】
既に明らかなように、以上説明した本発明には、乾式の簡便な殺菌処理により、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌を充分に殺菌でき、したがってそれだけ殺菌処理後のトマトの日持ちを良くでき、また殺菌処理後のトマトをそのまま流通に供することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明において、表面にき裂や火傷が生じないようトマトの表面に付着している雑菌の９０％以上を殺菌するための、或はトマトの表面に付着している雑菌を完全殺菌するための、トマト表面におけるエネルギ量Ｘ（ｋｅＶ）と吸収線量Ｙ（ｋＧｙ）との関係を示すグラフ。
【図１】
0004097241.tif 000007