(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、
前記良否を判別する工程は、
前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における２点の時刻ｔ1 ，ｔ2 （ｔ1 ＜ｔ2 ）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 を求め、
前記傾きの差α1 −α2 を求め、
前記傾きの差α1 −α2 が設定値Ａ1 ，Ａ2 （Ａ1 ＞Ａ2 ）の間にあるか否かで前記被測定コンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法。
【請求項２】
被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、
前記良否を判別する工程は、
前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における３点以上の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・（ｔ1 ＜ｔ2 ＜ｔ3 ＜・・・）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，α3 ，・・・を求め、
隣接する時刻における傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 ，・・・を求め、
各傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 ，・・・が設定値Ａ1 ，Ａ2 、Ｂ1 ，Ｂ2 、・・・（Ａ1 ＞Ａ2 ，Ｂ1 ＞Ｂ2 ，・・・）の間にある場合に、前記被測定コンデンサが良品であると判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法。
【請求項３】
被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、
前記良否を判別する工程は、
前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における２点の時刻ｔ1 ，ｔ2 （ｔ1 ＜ｔ2 ）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 を求め、
前記傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 を求め、
傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 を設定値Ｋと比較することで前記被測定コンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法。
【請求項４】
被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、
前記良否を判別する工程は、
前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における３点以上の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・（ｔ1 ＜ｔ2 ＜ｔ3 ＜・・・）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，α3 ，・・・を求め、
隣接する時刻における傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 ，（α2 −α3 ）／α2 ，・・・を求め、
各傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 ，（α2 −α3 ）／α2 ，・・・を設定値Ｋ1 ，Ｋ2 ，・・・と比較することで前記被測定コンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はコンデンサの良否判別方法、特にコンデンサに直流電圧を印加した時の充電特性から、コンデンサの良否を判別する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、コンデンサの良否を判定するため、測定用の直流電圧をコンデンサに印加し、十分に充電された後のコンデンサの漏れ電流（充電電流）を測定することにより、コンデンサの絶縁抵抗を測定する方法が知られている。当然ながら、良品は漏れ電流が少ない。
【０００３】
従来、この種の充電電流測定方法としては、ＪＩＳ−Ｃ５１０２で規定された測定方式が知られている。この方式は、コンデンサに十分に充電された状態の電流値を測定する必要があるため、約６０秒の測定時間が必要であった。しかし、電子機器のコストダウン、信頼性向上の要求に伴い、コンデンサなどの電子部品もその生産能力向上と品質向上とが求められており、コンデンサ１個当たりこのような長い測定時間を要する従来の測定方法では、到底このような要求に応えることができない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
そのため、従来では簡易な良否判別方法として、コンデンサに電圧を印加した後、数秒後の電流値を測定し、その測定電流値を所定のしきい値と比較することにより、コンデンサの良否を判定していた。しかしながら、このような良否判別方法でも良品と不良品との明瞭な差が現れるまで、少なくとも数秒程度の時間を必要とするので、必ずし効果的な時間短縮にはならない。また、従来の方法は所定時刻におけるしきい値より上か下かで判別するポイントデータ比較であるため、精度の高い判別方法とは言えなかった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、コンデンサの良否を短時間に、かつ正確に判別できるコンデンサの良否判別方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、前記良否を判別する工程は、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における２点の時刻ｔ1 ，ｔ2 （ｔ1 ＜ｔ2 ）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 を求め、前記傾きの差α1 −α2 を求め、前記傾きの差α1 −α2 が設定値Ａ1 ，Ａ2 （Ａ1 ＞Ａ2 ）の間にあるか否かで前記被測定コンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法を提供する。
請求項２に記載の発明は、被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、前記良否を判別する工程は、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における３点以上の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・（ｔ1 ＜ｔ2 ＜ｔ3 ＜・・・）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，α3 ，・・・を求め、隣接する時刻における傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 ，・・・を求め、各傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 ，・・・が設定値Ａ1 ，Ａ2 、Ｂ1 ，Ｂ2 、・・・（Ａ1 ＞Ａ2 ，Ｂ1 ＞Ｂ2 ，・・・）の間にある場合に、前記被測定コンデンサが良品であると判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法である。
請求項３に記載の発明は、被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、前記良否を判別する工程は、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における２点の時刻ｔ1 ，ｔ2 （ｔ1 ＜ｔ2 ）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 を求め、前記傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 を求め、傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 を設定値Ｋと比較することで前記被測定コンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法である。
請求項４に記載の発明は、被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における複数の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，・・・を求め、傾きα1 ，α2 ，・・・を相互に比較することにより、前記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有し、前記良否を判別する工程は、前記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における３点以上の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・（ｔ1 ＜ｔ2 ＜ｔ3 ＜・・・）において、充電電流特性の傾きα1 ，α2 ，α3 ，・・・を求め、隣接する時刻における傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 ，（α2 −α3 ）／α2 ，・・・を求め、各傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 ，（α2 −α3 ）／α2 ，・・・を設定値Ｋ1 ，Ｋ2 ，・・・と比較することで前記被測定コンデンサの良否を判別することを特徴とするコンデンサの良否判別方法である。
【０００７】
ここで、本発明を完成するに至った経緯を説明する。
本発明者は、セラミックコンデンサについて、充電時における電流値の変化を正確に測定し、その電流値と時間とを対数電流−対数時間の座標にプロットしたところ、図１に実線で示すような特性があることを発見した。つまり、充電初期の微小期間▲１▼はほぼ一定の大きな電流が流れるが、それに続く遷移期間▲２▼で急激に電流値が低下し、その後、ある傾きを持った線形の充電特性▲３▼で電流が低下した。この線形の充電特性▲３▼は、充電開始から１分〜２分後まで持続していた。
【０００８】
上記特性についてさらに検討してみると、次のような事実が判明した。すなわち、コンデンサの等価回路は、図２のように容量Ｃ0 、内部抵抗ｒ、絶縁抵抗Ｒ0 および誘電分極成分Ｄで構成されるが、初期の充電特性▲１▼は容量Ｃ0 の充電領域であるのに対し、線形の充電特性▲３▼は誘電分極成分Ｄの充電領域であるという事実である。
【０００９】
良品のコンデンサの場合には、当然ながら充電特性が図１の線形の充電特性▲３▼にほぼ沿った特性を有する。これに対し、不良品のコンデンサの場合には、図１に破線で示すように充電初期には線形の充電特性▲３▼にほぼ沿っているが、時間経過とともに電流値の低下速度が小さくなる。一般に、良品と不良品の差異が明確に現れるのは、電圧印加して数秒を経過した後である。しかし、その予兆は電圧印加から数十ｍ秒の時点で既に現れている。すなわち、不良品の実測電流値と良品の実測電流値との差を取ると、時間経過とともに徐々に正の方向に拡大する傾向を示す。
【００１０】
そこで、本発明は、良品と不良品の充電特性の傾きの違いに着目して、コンデンサの良否を判別するものである。
図１から明らかなように、良品および不良品ともに時刻ｔ1 における傾きα1 は同じであるが、所定時間後の時刻ｔ2 では、両者の傾きα2 とα2 ’との間には明確な差が生じている。そこで、本発明では、例えば時刻ｔ1 とｔ2 における傾きα1 ，α2 を比較することで、良否を判別している。このようにすれば、比較的短時間に、かつ正確に良否を判別できる。
【００１１】
傾きの測定を行なう回数は、２回であってもよいし、３回以上であってもよいが、短時間に良否を判別するためには、電圧印加直後（例えば１ｍｓｅｃ〜１００ｍｓｅｃ）の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，・・・での傾きα1 ，α2 ，・・・を求めるのが望ましい。
【００１２】
例えば時刻ｔ1 とｔ2 の２回の測定を行なった場合、請求項１のように、傾きの差α1 −α2 が設定値Ａ1 ，Ａ2 （Ａ1 ＞Ａ2 ）の間にあるか否かでコンデンサの良否を判別するのが簡単である。このように幅を持たせて比較するのは、ノイズ等の影響を軽減するためである。
Ａ1 ＞α1 −α2 ＞Ａ2
この場合、各傾きα1 ，α2 ，・・・は共に負の値であるが、その差は充電特性によって正の場合もあれば、負の場合もある。したがって、設定値Ａ1 ，Ａ2 は正，負いずれでもよい。
【００１３】
また、３回以上の測定を行なった場合、請求項２のように、隣接する時刻における傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 ，・・・を求め、各傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 ，・・・が設定値Ａ1 ，Ａ2 、Ｂ1 ，Ｂ2 、・・・（Ａ1 ＞Ａ2 ，Ｂ1 ＞Ｂ2 ，・・・）の間にあるか否かでコンデンサの良否を判別するのが望ましい。すなわち、
Ａ1 ＞α1 −α2 ＞Ａ2
かつ  Ｂ1 ＞α2 −α3 ＞Ｂ2
の場合には、複数の条件をすべて満足した場合のみ良品と判定されるので、精度の高い良否判定が可能である。
なお、３回以上の測定を行なう場合、必ずしも隣接する時刻における傾きの差によって良否を判別する必要はない。
【００１４】
請求項１および請求項２では、傾きα1 ，α2 ，・・・の差を設定値と比較したが、請求項３，４に記載のように、傾きの変化率（α1 −α2 ）／α1 を設定値Ｋと比較することで、コンデンサの良否を判別してもよい。
【００１５】
好ましくは、コンデンサの誘電分極成分の充電領域における時刻ｔ0 において、基準となる充電電流特性の傾きα0 を予め求める工程と、被測定コンデンサに直流電圧を印加する工程と、上記被測定コンデンサの誘電分極成分の充電領域における上記時刻ｔ0 において、充電電流特性の傾きα0 ’を求める工程と、α0 とα0 ’とを比較することにより、上記被測定コンデンサの良否を判別する工程と、を有するものでもよい。
すなわち、請求項１〜４の発明では、被測定コンデンサの充電電流特性の中の複数の時刻における傾きの変化によって良否を判定したが、ここでは、所定の時刻における基準となる傾きを予め求めておき、この傾きと被測定コンデンサの同時刻における傾きとを比較することにより、良否を判定するものである。
【００１６】
時刻ｔ0 とは、誘電分極成分の充電領域中の時刻のことであり、良品と不良品とを区別できる時刻のことである。また、基準となる充電電流特性の傾きα0 を求める方法としては、例えば良品の充電特性を持つ複数個のサンプルコンデンサを準備し、時刻ｔ0 における個々の傾きを求め、その平均値から傾きα0 を決定してもよい。
【００１７】
基準となる充電電流特性の傾きα0 を求める工程は、被測定コンデンサの時刻ｔ0 における傾きα0 ’を求める工程とは別に、前準備工程として行なわれる。したがって、基準の傾きα0 を決定した後は、時刻ｔ0 における被測定コンデンサの傾きα0 ’の測定と、傾きα0 とα0 ’との比較を繰り返し行なえばよい。良否判別方法としては、請求項１〜４に記載の発明と同様に、傾きα0 とα0’との差、あるいはその比が所定範囲内であるか否かによって判別してもよいし、α0 とα0 ’の絶対値の大小関係によって判別してもよい。
【００１８】
好ましくは、基準となる充電電流特性の傾きα0 ，・・・を複数の時刻ｔ0 ，・・・において予め求めておき、各傾きα0 ，・・・を被測定コンデンサの充電電流特性の各時刻ｔ0 ，・・・における傾きα0 ’と比較することにより、被測定コンデンサの良否を判別してもよい。この場合、各比較条件を全て満足した場合に良品と判定するようにすれば、極めて精度の高い良否判別が可能である。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図３は本発明方法を実施するための電流測定装置の一例を示す。この測定装置は、本願出願人が特開平９−１１３５４５号公報で提案したものである。
この測定装置は、直流測定電源１０、スイッチ１１、被測定物であるコンデンサ１２、制限抵抗１３、対数増幅器１４、計測用アンプ１５、Ａ／Ｄ変換器１６，１８、演算処理回路（ＣＰＵ）１７を備えている。充電初期は計測用アンプ１５で電流値を計測し、所定の閾値で対数増幅器１４に切り換え、それ以後は対数増幅器１４で電流値を計測する。この測定装置は、コンデンサ１２の充電電流が幅広いレンジで変化しても正確に測定することができるので、従来の測定装置では計測困難であった充電初期から充電終期までの電流値を連続的に計測できるという特徴がある。
なお、本発明方法は図３に示された測定装置を用いることに限定されるものではなく、コンデンサの誘電分極成分の充電電流特性を正確に測定できるものであれば、他の測定装置を用いてもよい。
【００２０】
ここで、本発明にかかる良否判別方法の第１実施例を図４にしたがって説明する。
まず、スイッチ１１をＯＮし、被測定コンデンサ１２に直流電圧を印加する（ステップＳ１）。
次に、時刻ｔ1 における傾きα1 とその所定時間後の時刻ｔ2 における傾きα2 とを、例えばＣＰＵ１７の微分処理により求める（ステップＳ２）。
次に、傾きの差α1 −α2 が設定値Ａ1 ，Ａ2 （Ａ1 ＞Ａ2 ）の間にあるか否かを判定する（ステップＳ３）。すなわち、
Ａ1 ＞α1 −α2 ＞Ａ2 
である場合には、良品であると判定し（ステップＳ４）、上記不等式に適合しない場合には、不良品であると判定する（ステップＳ５）。
【００２１】
例えば、時刻ｔ1 ＝０．０１ｓｅｃのときの傾きα1 ＝−０．９８５（単位はｌｏｇアンペア／ｌｏｇ秒、以下同じ）、時刻ｔ2 ＝０．１ｓｅｃのときの傾きα2 ＝−０．９８２とすると、両者の差α1 −α2 ＝−０．００３であり、０に非常に近いので、良品と判定する。
一方、時刻ｔ1 ＝０．０１ｓｅｃのときの傾きα1 ＝−０．９８５、時刻ｔ2 ＝０．１ｓｅｃのときの傾きα2 ＝−０．８７８とすると、両者の差α1 −α2 ＝−０．１０７は０から大きくかけ離れているので、不良品と判定する。
良品と不良品との判定基準、つまりＡ1 とＡ2 の値は、コンデンサの種類によって異なる。図１のように線型の充電電流特性を有する場合には、Ａ1 は−０．０００１程度、Ａ2 は−０．０１程度が望ましい。
なお、傾きの単位は、ｌｏｇ電流（アンペア）／ｌｏｇ時間（秒）に限らず、電流／時間でもよい。
【００２２】
良否の判定方法として、上記のように傾きの差α1 −α2 を所定値と比較する方法のほか、傾きの変化率を設定値と比較してもよい。
例えば、（α1 −α2 ）／α1 を求め、これと設定値Ｋ（例えば、０．０１）との大小を比較すればよい。上記の具体例の値を用いれば、良品の場合には（α1 −α2 ）／α1 ＝０．００３であるのに対し、不良品の場合には（α1 −α2 ）／α1 ＝０．１０９であるので、簡単に良否を判定できる。
【００２３】
図５は本発明にかかる良否判別方法の第２実施例を示す。
まず、被測定コンデンサ１２に直流電圧を印加する（ステップＳ１０）。
次に、３点の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 （ｔ1 ＜ｔ2 ＜ｔ3 ）における傾きα1 ，α2 ，α3 をそれぞれ求める（ステップＳ１１）。
次に、傾きの差α1 −α2 ，α2 −α3 が設定値Ａ1 ，Ａ2 （Ａ1 ＞Ａ2 ）、Ｂ1 ，Ｂ2 （Ｂ1 ＞Ｂ2 ）の間にあるか否かを判定する（ステップＳ１２）。すなわち、
Ａ1 ＞α1 −α2 ＞Ａ2 
かつ  Ｂ1 ＞α2 −α3 ＞Ｂ2 
である場合には、良品であると判定し（ステップＳ１３）、上記不等式のいずれか一方でも適合しない場合には、不良品であると判定する（ステップＳ１４）。
この判定方法の場合、３つの時刻における傾きの変化を求めているので、図４の方法に比べてより精度の高い良否判定が可能である。
なお、３点の時刻ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 に限るものではなく、４点以上の時刻における傾きを求めて、判定してもよいことは勿論である。
【００２４】
この場合も、良否の判定方法として、傾きの差に代えて傾きの変化率を用いてもよい。
すなわち、（α1 −α2 ）／α1 ，（α2 −α3 ）／α2 を求め、これと設定値Ｋ1 ，Ｋ2 との大小を比較すればよい。
【００２５】
図６は本発明にかかる良否判別方法の第３実施例を示す。
図４，図５の実施例では、被測定コンデンサ１２の充電電流特性の中の複数の時刻における傾きの変化によって良否を判定したが、この実施例では、予め基準となるコンデンサの充電電流特性の所定の時刻における傾きを求めておき、この傾きと被測定コンデンサの同時刻における傾きとを比較することにより、良否を判定するものである。
【００２６】
まず、前準備工程としてステップＳ２０とステップＳ２１とを実行する。すなわち、予め良品であることが知られたサンプルコンデンサに直流電圧を印加し（ステップＳ２０）、所定時刻ｔ0 における充電電流特性の傾きα0 を求める（ステップＳ２１）。具体的には、複数のサンプルコンデンサから時刻ｔ0 の傾きを求め、これらの平均値よりもやや小さい値を傾きα0 として設定するのがよい。上記時刻ｔ0 と傾きα0 はメモリーに記憶しておけばよい。
前準備工程が終了した後、計測・判別工程へ移る。まず、被測定コンデンサに直流電圧を印加する（ステップＳ２２）。この電圧は、当然ながらサンプルコンデンサに印加した電圧と同一とする。
次に、時刻ｔ0 における被測定コンデンサの充電電流特性の傾きα0 ’を求める（ステップＳ２３）。
次に、基準となる傾きα0 と被測定コンデンサの傾きα0 ’とを比較する（ステップＳ２４）。例えば、｜α0 ｜と｜α0 ’｜の大小を比較すればよい。
そして、｜α0 ｜≦｜α0 ’｜の場合は良品と判定し（ステップＳ２５）、｜α0 ｜＞｜α0 ’｜の場合は不良品と判定する（ステップＳ２６）。
以後、計測・判別工程（ステップＳ２２〜ステップＳ２６）を繰り返すことで、被測定コンデンサの良否を判定する。
【００２７】
図６の方法の場合、被測定コンデンサの充電電流特性が線型の特性を有する場合（傾きがほぼ一定）であっても、その傾き自体が小さい場合に、不良品であることを明確に判定できる。
【００２８】
図７は本発明にかかる良否判別方法の第４実施例を示す。この実施例は、図６の方法の変形例である。
まず、前準備工程として、予め良品であることが知られたサンプルコンデンサに直流電圧を印加し（ステップＳ３０）、複数の時刻ｔ0 ，・・・における充電電流特性の傾きα0 ，・・・を求めておく（ステップＳ３１）。各傾きα0 ，・・・の設定方法は図６の実施例と同様である。
次に、被測定コンデンサに直流電圧を印加する（ステップＳ３２）。
次に、上記複数の時刻ｔ0 ，・・・における被測定コンデンサの充電電流特性の傾きα0 ’，・・・を求める（ステップＳ３３）。
次に、基準となる傾き｜α0 ｜，・・・と被測定コンデンサの傾き｜α0 ’｜，・・・とをそれぞれ比較する（ステップＳ３４）。
そして、基準となる傾き｜α0 ｜，・・・に比べて被測定コンデンサの傾き｜α0 ’｜，・・・が大きい場合には、良品と判定し（ステップＳ３５）、１つでも基準となる傾きが大きい場合には、不良品と判定する（ステップＳ３６）。
この方法では、図６に比べて一層精度の高い良否判定が可能となる。
【００２９】
なお、本発明はセラミックコンデンサに限らず、電解コンデンサやフィルムコンデンサなど、誘電分極成分を有するコンデンサであれば、如何なるコンデンサであっても適用可能である。
【００３０】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、被測定コンデンサの誘電分極成分の複数の時刻における充電電流特性の傾きを求め、これら傾きを相互に比較することにより、被測定コンデンサの良否を判別するようにしたので、従来のようなしきい値との比較に比べて充電電流特性の傾向を正確に知ることができ、精度の高い良否判定を行なうことができる。
また、誘電分極成分の初期の傾きによって良否を判定できるので、電圧印加から数秒待たずに、１秒以内の非常に短い期間で良否判別ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】良品コンデンサと不良品コンデンサにおける充電電流の変化を示す図である。
【図２】コンデンサの等価回路を示す回路図である。
【図３】電流測定装置の一例の回路図である。
【図４】本発明にかかる良否判別方法の第１実施例のフローチャート図である。
【図５】本発明にかかる良否判別方法の第２実施例のフローチャート図である。
【図６】本発明にかかる良否判別方法の第３実施例のフローチャート図である。
【図７】本発明にかかる良否判別方法の第４実施例のフローチャート図である。
【符号の説明】
１０        直流測定電源
１２        被測定コンデンサ
１３        抵抗
１４        対数増幅器
１５        計測用アンプ
１６，１８  Ａ／Ｄ変換器
１７        ＣＰＵ
【図１】
0004062764.tif 000002
【図２】
0004062764.tif 000003
【図３】
0004062764.tif 000004
【図４】
0004062764.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
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