(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子保持部と、前記端子保持部に保持される複数の端子とを含む測定装置を用いて、前記端子を電子部品の電極に接触させることにより前記電子部品の特性を測定する電子部品の測定方法において、
前記測定装置の前記端子保持部を加熱することにより前記端子保持部に吸着した水分を除去して前記端子間の絶縁抵抗の低下を防止することを特徴とする、電子部品の測定方法。
【請求項２】
前記端子保持部に密着した発熱体を発熱させることによって、前記端子保持部を加熱することを特徴とする、請求項１に記載の電子部品の測定方法。
【請求項３】
前記端子保持部に温風を当てることによって、前記端子保持部を加熱することを特徴とする、請求項１に記載の電子部品の測定方法。
【請求項４】
前記端子を加熱することによって、前記端子を介して前記端子保持部を加熱することを特徴とする、請求項１に記載の電子部品の測定方法。
【請求項５】
前記端子保持部は、４０〜６０℃に加熱される、請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の電子部品の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、電子部品の測定方法に関し、特に、たとえば電極間距離の小さい電子部品の電極に端子を接触させて特性を測定するための電子部品の測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図６は、従来の電子部品の測定装置の一例を示す斜視図である。測定装置１は、絶縁材料で形成された端子保持部２を含む。端子保持部２には、たとえば２つの端子３が間隔を隔てて形成される。これらの端子３は測定回路に接続され、その先端部を電子部品の外部電極に接触させることにより、絶縁抵抗やインピーダンスなどの特性が測定される。
【０００３】
ところが、電子部品の小型化やアレイ化によって、電子部品の電極３間の距離が０．４ｍｍ程度と狭くなってきており、必然的に測定装置１の端子間距離も狭くなってきている。端子３間の距離が狭くなると、特に絶縁抵抗やインピーダンスなどの測定において、周囲環境（特に湿度）が測定精度に悪影響を及ぼす。具体的には、湿度の影響で端子保持部２に水分が吸着／吸水し、この水分が端子間抵抗を３００ＭΩ程度まで劣化させてしまう。このような端子間抵抗が劣化した測定装置１を用いると、電子部品が本来もっている絶縁抵抗（１ＧΩ以上）より小さい値が測定結果となり、良品となるべきものが不良品と誤判断されて、製造工程の歩留まりを悪化させる原因となっている。
【０００４】
このような端子間の絶縁抵抗を劣化させない方法として、図７に示すように、端子３間にガード電極４を形成する方法が考えられる。また、図８に示すように、端子３の間において端子保持部２に切り込み部５を形成し、端子３の間の沿面距離を大きくすることが考えられる。さらに、図９に示すように、先端付近まで同軸構造の端子３を用いることが考えられる。また、図１０に示すように、端子３を斜めに形成して、端子３の間の沿面距離を大きくすることが考えられる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これらの測定装置を作製すると大型になってしまい、小型の電子部品の特性を測定するのは困難である。また、小型の測定装置のままで、これらの構造の測定装置を作製するためには、端子間距離の小さい端子保持部に加工を施す必要があり、高度な加工技術が必要となってコストアップとなってしまう。さらに、端子を細くして端子間距離を広げることも考えられるが、端子の磨耗や折損などの可能性が大きくなる。
【０００６】
それゆえに、この発明の主たる目的は、簡単な構造の測定装置を用いて、小型の電子部品の特性を正確に測定することができる電子部品の測定方法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
この発明は、端子保持部と、端子保持部に保持される複数の端子とを含む測定装置を用いて、端子を電子部品の電極に接触させることにより電子部品の特性を測定する電子部品の測定方法において、測定装置の端子保持部を加熱することにより端子保持部に吸着した水分を除去して端子間の絶縁抵抗の低下を防止することを特徴とする、電子部品の測定方法である。
このような電子部品の測定方法において、端子保持部に密着した発熱体を発熱させることによって、端子保持部を加熱することができる。
また、端子保持部に温風を当てることによって、端子保持部を加熱してもよい。
さらに、端子を加熱することによって、端子を介して端子保持部を加熱してもよい。
これらの場合、端子保持部は、４０〜６０℃に加熱されることが好ましい。
【０００８】
加熱手段によって測定装置の端子保持部を加熱することにより、端子保持部に吸着された水分が除去され、水分による端子間の絶縁抵抗の劣化を防止することができる。
端子保持部を加熱する方法としては、たとえば端子保持部に取り付けられる発熱体を発熱させたり、端子保持部に温風を当てたり、端子自体を加熱することにより端子を介して端子保持部を加熱することができる。
このとき、端子保持部が４０〜６０℃に加熱されることにより、端子や配線に特別な耐熱処理を施すことなく、効率よく水分を除去することができる。
【０００９】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明の実施の形態の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【００１０】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明の電子部品の測定装置の一例を示す斜視図である。測定装置１０は、たとえばエコノール樹脂などの絶縁材料で形成された直方体状の端子保持部１２を含む。端子保持部１２には、間隔を隔てて、２つの端子１４，１６が形成される。具体例としては、端子１４，１６は０．３ｍｍの直径を有し、０．４ｍｍの間隔を隔てて、端子保持部１２を貫通するように形成される。さらに、端子保持部１２の両端部には、セメント抵抗などの発熱体１８が形成される。
【００１１】
この測定装置１０を用いて電子部品の絶縁抵抗やインピーダンスなどの特性を測定する場合、図２に示すように、端子１４，１６の先端部が電子部品２０の外部電極に接触させられる。そして、端子１４，１６に接続された測定器２２によって、電子部品の特性が測定される。このとき、発熱体１８に電源２４が接続され、発熱体１８に通電することにより端子保持部１２が加熱される。
【００１２】
このように、端子保持部１２を加熱することにより、端子保持部１２に吸着された水分が蒸発して除去されるため、水分による端子１４，１６間の絶縁抵抗の劣化を防止することができる。そのため、電子部品２０の特性を正確に測定することができる。なお、端子保持部１２の加熱温度としては、たとえば室温２５℃、湿度５０％の条件において、４０〜６０℃とすることが好ましい。端子保持部１２の加熱温度が低すぎると、加熱開始から端子１４，１６間の絶縁抵抗が被測定物の特性を精度よく測定できるレベルに達するまでに時間がかかりすぎる。また、端子保持部１２の加熱温度が高すぎると、端子１４，１６や、端子１４，１６に接続される配線に耐熱処理を施したものを使用する必要があり、さらに端子保持部１２の熱で被測定物の電気特性が変化しないような処置を施す必要がある。
【００１３】
実験として、室温２５℃、湿度５０％の条件において、１ＧΩの抵抗を測定し、その結果を図３に示した。実験では、電子部品２０の外部電極に測定装置１０の端子１４，１６を接触させ、発熱体１８に通電して絶縁抵抗値を測定した。そして、発熱体１８への通電開始からの経過時間（加熱時間）と、端子保持部１２の温度と、電子部品２０の絶縁抵抗測定精度（測定値の真の抵抗値からのずれ）とを図３に示した。端子保持部１２の最終的な温度は４５℃となるようにした。図３において、加熱時間０は、端子保持部１２を加熱しない場合（本発明の範囲外）を示す。
【００１４】
図３からわかるように、端子保持部１２を加熱しない場合の測定値は３００ＭΩとなっており、被測定物の真の抵抗値１ＧΩからは９７％ずれた値となっており、精度よく測定しているとは言い難い。しかしながら、端子保持部１２の加熱を開始してから１５分後の測定値は９１０ＭΩとなっており、真の抵抗値からのずれは９％になっている。さらに、端子保持部１２の加熱開始から３０分後には、測定値が９８０ＭΩとなっており、真の抵抗値からのずれは２％となり、ほぼ正確に１ＧΩの抵抗値を測定できるようになっている。この実験から、端子保持部１２を加熱することにより、端子保持部１２に吸着された水分が除去され、端子１４，１６間の絶縁抵抗が向上し、被測定物の絶縁抵抗を精度よく測定できる状態になっていることが確認できる。
【００１５】
端子保持部１２を加熱する方法としては、たとえば図４に示すように、温風噴出装置２６を用いてもよい。このように、温風噴出装置２６を用いることにより、端子保持部１２に発熱体を取り付けるスペースがない場合でも、端子保持部１２の温度を上げて、水分による端子１４，１６間の絶縁抵抗の劣化を防止することができる。
【００１６】
また、図５に示すように、端子１４，１６に端子加熱装置２８を取り付けてもよい。端子加熱装置２８としては、たとえば通電することによって発熱する加熱用コイルなどを用いることができる。このように、端子加熱装置２６によって端子１４，１６を加熱し、それによって端子１４，１６周辺の端子保持部１２を加熱して、水分を蒸発させてもよい。このように、端子１４，１６を加熱して端子保持部１２を加熱することによっても、水分による端子１４，１６間の絶縁抵抗の劣化を防止することができる。このような端子加熱装置２８を用いることにより、端子保持部１２周辺に加熱手段を設けるスペースがない場合においても、精度よく電子部品２０の特性を測定することができる。
【００１７】
【発明の効果】
この発明によれば、端子保持部を加熱することにより、水分による端子間の絶縁抵抗の劣化を防止することができるため、電子部品の絶縁抵抗やインピーダンスなどの特性を精度よく測定することができる。また、端子間の狭い部分において端子保持部に加工を施す必要がないため、安価に測定装置を作製することができる。さらに、水分による端子間の絶縁抵抗の劣化を防ぐことができるため、必要以上に端子を細くする必要がなく、端子の磨耗や折損などを防止することができる。また、端子保持部の加熱温度を４０〜６０℃の範囲にすることにより、端子や配線材料に耐熱処理を施したものを使用することなく、安価に高精度で電気特性の測定を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の電子部品の測定方法に用いられる電子部品の測定装置の一例を示す斜視図である。
【図２】  図１に示す測定装置を用いて電子部品の特性を測定する場合を示す図解図である。
【図３】  測定装置を加熱していない状態から加熱を開始して電子部品の絶縁抵抗値を測定したときの加熱時間と、抵抗測定値と、真の抵抗値からの測定値のずれとを示すグラフである。
【図４】  この発明の電子部品の測定方法に用いられる電子部品の測定装置の他の例を示す図解図である。
【図５】  この発明の電子部品の測定方法に用いられる電子部品の測定装置のさらに他の例を示す図解図である。
【図６】  従来の電子部品の測定装置の一例を示す斜視図である。
【図７】  図６に示す測定装置の従来の改善例を示す斜視図である。
【図８】  図６に示す測定装置の従来の他の改善例を示す斜視図である。
【図９】  図６に示す測定装置の従来のさらに他の改善例を示す斜視図である。
【図１０】  図６に示す測定装置の従来の別の改善例を示す斜視図である。
【符号の説明】
１０  測定装置
１２  端子保持部
１４，１６  端子
１８  発熱体
２０  電子部品
２２  測定器
２６  温風噴出装置
２８  端子加熱装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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