(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器類の動作を誤動作させる電波を検出する誤動作電波検出装置であって、
入力波形パターンを登録波形パターンと比較する比較手段と、
前記入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う波形判定手段とを備え、
前記比較手段による誤動作波形パターンの抽出、及び又は波形判定手段による誤動作電波の判定によって誤動作電波を検出することを特徴とする、誤動作電波検出装置。
【請求項２】
前記波形判定手段は、前記比較手段で抽出した入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行うことを特徴とする、請求項１記載の誤動作検出装置。
【請求項３】
前記比較手段は、登録波形パターンとして誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンを備え、前記誤動作波形パターンと一致あるいは類似する入力波形パターンを検出することによって誤動作波形パターンを抽出することを特徴とする、請求項１又は２記載の誤動作検出装置。
【請求項４】
前記比較手段は、登録波形パターンとして誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンを備え、前記登録波形パターンと一致しない入力波形パターンを検出し、
前記波形判定手段は、検出した入力波形パターンについて誤動作電波を判定することを特徴とする、請求項１又は２記載の誤動作検出装置。
【請求項５】
前記波形判定手段は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求めることを特徴とする、請求項１又は２記載の誤動作検出装置。
【請求項６】
前記波形判定手段は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求め、当該相関性から入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求めることを特徴とする、請求項５記載の誤動作検出装置。
【請求項７】
前記波形判定手段は、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の時間間隔から入力波形パターンと電子機器類の動作との同期性を求め、当該同期性から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求めることを特徴とする、請求項６記載の誤動作検出装置。
【請求項８】
前記波形判定手段は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性を求め、当該論理性から入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求めることを特徴とする、請求項５記載の誤動作検出装置。
【請求項９】
前記波形判定手段は、電子機器類の各動作間において、各動作の関連性及び又は動作順を論理テーブルとして備え、
前記入力波形パターンに対応する動作を前記論理テーブルを用いて判定し、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性を求めることを特徴とする、請求項８記載の誤動作検出装置。
【請求項１０】
前記波形判定手段の判定結果に基づいて入力波形パターンを登録波形パターンに記録することを特徴とする、請求項５乃至９のいずれか一つに記載の誤動作検出装置。
【請求項１１】
複数の誤作動電波検出装置はネットワークで接続され、前記登録波形パターンをネットワークを通して接続される他の誤作動電波検出装置に配信することを特徴とする、請求項１０記載の誤動作電波検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子機器類を誤動作させる誤作動電波を検出する誤作動電波検出装置に関する。さらに詳細には、パチンコ機やスロットマシン等に代表される遊技機、遊技媒体現金交換機、遊技媒体交換用の非接触ＩＣカード等、ホール等の遊技施設内に設けられる各種の電子機器類を誤動作させる誤作動電波を検出する誤作動電波検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
パチンコ機、ピンボールゲーム機、スマートボールゲーム機等の弾球ゲーム機や、スロットマシンなどの遊技機、あるいは遊戯媒体現金交換機、遊戯媒体交換用の非接触ＩＣカード、さらには、ホール等の遊戯施設内に設置されている電子機器は、ＩＣチップを使用した電子回路装置によって、遊戯動作や現金交換動作が制御されている。通常、これらの電子回路装置は総括的な演算処理を行う中央制御装置（ＣＰＵ）、データの読み書きが可能な記憶素子（ＲＡＭ）、データの読み取りが可能な記憶素子（ＲＡＭ）等の電子部品を備える。ＣＰＵは、これらＲＯＭの格納されたプログラムやデータを用いて、例えば弾球遊技機では入賞球の管理や役物の制御を行い、スロットマシンにおいてはリール等の動作の制御を行う。
【０００３】
上記電子回路に使用されるＩＣチップは、外部から発射される電波の影響を受け易いため、これらの電子回路の近傍で意図的に電波を発射して電子回路を破壊したり、あるいは誤動作を生じさせるさせることによって、遊技機の動作を不正操作し、大量の遊技媒体を不正に獲得する事態が生じている。
【０００４】
従来、このような不正操作を防止するために、電子回路全体を防磁部材でシールドする不正行為防止対策が試みられている。このようなシールドによる防止対策では、ハンディ無線機器等の小出力無線機から発射される電波には有効であるが、大出力無線機から発射される電波に対しては十分な効果を得難い場合があり、不正行為に対する対策は十分とはいえない。
【０００５】
また、これら大出力無線機器から発射される電波による不正操作を防止するため、モール等の遊技施設内に電波を感知する感知機等の設備を設ける試みも行なわれている。しかし、このような方法では、遊技施設内で用いられる店内放送用の無線機やアマチュア無線機、あるいは種々の電子機器から発射される電波に対して反応するため、誤動作電波との識別が困難である場合があるため実用的ではないという問題がある。
【０００６】
このような問題を解決するものとして、遊技施設内に検出機を設置し、ＩＣチップを破壊するおそれが高い所要周波数の電波を検出し、該電波の電界強度が所定値以上であるときのみ警報を発生させ、不正操作が行なわれていることを報知する不正賞球防止装置が開発されている（特開平３―２１２８４号公報）。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記検出器では、検出できる電波は、不正操作に用いられることが既に知られている電波であって、その特定の周波数で、かつ、所定の電界強度以上の電波である。そのため、新たに開発された電子部品を有する新規の遊技機を誤動作を生じさせる新手の誤動作電波に対しては誤動作電波の検出が困難であり、不正行為を見逃すおそれがある。
【０００８】
そこで、本発明は、上記の課題を解決して、電子機器類を誤動作させる電波に対して、広帯域で種々の周波数に対応することができる誤動作電波検出装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の誤作動電波検出装置は、既知の波形パターンとの波形比較、及び未知の波形パターンについて誤動作を生じさせるものであるか否かの波形判定によって、誤動作電波を検出するものであり、特定の周波数に限定されることなく電子機器類を誤動作させる電波を検出することができる。
【００１０】
本発明の誤動作検出装置は、電子機器類の動作を誤動作させる電波を検出する誤動作電波検出装置であって、入力波形パターンを登録波形パターンと比較する比較手段と、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う波形判定手段とを備える構成とし、比較手段によって誤動作波形パターンの抽出したり、波形判定手段によって誤動作電波の判定を行うことによって誤動作電波を検出する。
【００１１】
図１は本発明による誤動作検出処理を説明するための概略図である。遊技施設内に設置した検出手段によって電波を検出し（ａ）、検出した電波中から誤動作電波を検出する対象信号となる入力波形パターンを抽出する（ｂ）。入力波形パターンを抽出は、検出電波中に含まれる繰り返し信号を検出することで行うことができる。通常、電子機器類を誤動作させることを目的として放射される誤動作電波は、所定のパターンを繰り返す波形で形成され、また、当該波形パターンを繰り返すことによって誤動作の発生確立がある程度高まる。そのため、電波中から繰り返し信号を検出することで、誤動作電波の可能性のある信号を検出することができる。
【００１２】
抽出した入力波形パターン中には、誤動作を生じさせる誤動作電波と、通常のノイズ等の誤動作を生じさせない非誤動作電波が含まれている。そこで、誤動作電波検出処理によって、誤動作電波とを非誤動作電波とを識別する（ｃ）。誤動作電波検出処理は、既知の波形パターンと比較する比較処理（ｃ―１）と、誤動作電波と判定する波形判定処理（ｃ−２）とを備える。比較処理（ｃ―１）及び波形判定処理（ｃ−２）は各処理結果を通知する（ｄ−１，ｄ−２）他、波形判定処理（ｃ−２）で判定した誤動作波形パターンを記録する（ｅ）し、以後の誤動作電波検出に利用する。
【００１３】
比較手段は、誤動作電波の波形パターンや非誤動作電波の波形パターンを登録波形パターンとして予め登録しておき、この登録波形パターンを入力波形パターンと比較することで、入力した波形パターンを持つ電波が電子機器を誤動作させる誤動作電波であるのか、あるいは電子機器の誤動作に影響がない非誤動作電波であるのかを判定する。
また、判定手段は予め登録した登録波形パターンを用いることなく、当該入力波形パターンを持つ電波が電子機器を誤動作させる誤動作電波であるのか、あるいは電子機器の誤動作に影響がない非誤動作電波であるのかを判定する手段である。
【００１４】
比較手段と判定手段は、それぞれ単独で誤動作電波の判定を行うことも、あるいは組み合わせによって誤動作電波の判定を行うことができる。比較手段と判定手段の組み合わせによって誤動作電波の判定を行う場合には、比較手段によって登録波形パターンに含まれない波形パターンを抽出し、判定手段によって抽出した波形パターンの中に含まれる誤動作波形パターンを取り出す。
【００１５】
本発明が備える比較手段の第１の態様は、登録波形パターンとして誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンを備えた構成とし、比較手段によって誤動作波形パターンと一致あるいは類似する入力波形パターンを検出することによって誤動作波形パターンを抽出する。
【００１６】
また、本発明が備える比較手段の第２の態様は、登録波形パターンとして誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンを備え、前記誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンのいずれにも一致しない入力波形パターンを検出する。この、誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンのいずれの登録波形パターンにも一致しない入力波形パターン中には、未知の誤動作波形パターン及び未知の非誤動作波形パターンが含まれている。そこで、本発明の誤動作検出装置は、この比較手段で検出した未知の誤動作波形パターン及び又は未知の非誤動作波形パターンを含む入力波形パターンから、波形判定手段によって誤動作電波を判定する。
【００１７】
本発明が備える判定手段は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求める。入力波形パターン及び電子機器の動作は時間に依存した信号であり、入力波形パターンが電子機器の誤動作の要因となる場合には、入力波形パターンの時間変化と動作の時間変化との間には、各電子機器に応じた所定の関係が存在し、この所定関係は入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性をあらわしている。そこで、本発明の判定手段は、この入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化に基づいて、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求める。
この関連性は、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性あるいは論理性から求めることができる。
【００１８】
本発明が備える判定手段の第１の態様は、関連性を相関性から求めるものであり、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求め、当該相関性から入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求め。入力波形パターンが電子機器類の誤動作の要因である場合には、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化には所定の時間関係があると推定される。したがって、この時間関係を求めることによって、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求めることができる。
【００１９】
この相関性は、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化において、両者の同期性から求めることができる。本発明の波形判定手段は、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の時間間隔から入力波形パターンと電子機器類の動作との同期性を求め、当該同期性から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の相関性を求める。
【００２０】
本発明が備える判定手段の第２の態様は、関連性を論理性から求めるものであり、入力波形パターンの時間変化と電子機器類の動作の時間変化から入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性を求め、当該論理性から入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性を求める。
入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性としては、例えば電子機器類の各動作間における各動作の関連性や動作順を用いることができる。
【００２１】
電子機器類の各動作の関連性は関連する動作の組み合わせで定めることができ、例えばある動作Ａが発生するとき動作Ｂが必ず発生する場合には、動作Ａと動作Ｂとの間には関連性があり、これら動作Ａあるいは動作Ｂに一方のみ発生したときには誤動作であると判定し、この動作（動作Ａあるいは動作Ｂ）に対応する入力波形パターンを誤動作電波と判定する。また、動作Ａと動作Ｂとの動作順を組み合わせるた論理性について判定することもできる。
【００２２】
なお、動作の組み合わせ、及び動作順は電子機器類及び当該電子機器類を構成する電子回路の構成に応じて定めることができる。
論理性から求める波形判定手段の一構成は、電子機器類の各動作間において、各動作の関連性及び又は動作順を論理テーブルとして備え、入力波形パターンに対応する動作を前記論理テーブルを用いて判定し、入力波形パターンと電子機器類の動作との間の論理性を求める。
また、本発明の誤動作電波検出装置は、波形判定手段の判定結果に基づいて入力波形パターンを登録波形パターンに記録することができ、これによって、比較手段で用いる登録波形パターンを蓄積することができる。
また、複数の誤作動電波検出装置をネットワークで接続し、前記登録波形パターンをネットワークを通して接続される他の誤作動電波検出装置に配信すること構成とすることができる。この構成によって、ネットワークで接続された全誤動作電波検出装置の検出性能を向上させることができる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図を参照しながら詳細に説明する。図２は本発明の誤作動電波検出装置の概略を説明する図である。図２において、本発明の誤作動電波検出装置１は、遊技施設内に存在する種々の電波を検出する電波検出手段６、検出した電波から繰り返し信号を検出して、誤動作電波を含む入力波形パターンを抽出する入力波形パターン抽出手段７、及び抽出した入力波形パターンから誤動作電波を検出する誤動作電波検出手段２を備える。なお、誤動作電波検出手段２は、検出した誤動作電波を通知する通知手段８を備えることができる。通知手段８は、誤動作電波の検出の表示、検出した誤動作電波の波形パターンの記憶等の処理操作を含むことができる。
【００２４】
誤動作電波検出手段２は、比較手段３、波形判定手段４、及びデータベース５で構成することができる。比較手段３は、データベース５から登録波形パターンを読み出し、入力波形パターンと比較する。登録波形パターンは、誤動作を生じさせない非誤動作波形パターンと、誤動作を生じさせる誤動作波形パターンを含む。比較手段３は、入力波形パターンと非誤動作波形パターンとを比較し、両パターンが一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類を誤動作を生じさせないものであることを判定する。一方、比較手段３は、入力波形パターンと誤動作波形パターンとを比較し、両パターンが一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類を誤動作させるものであることを判定する。
【００２５】
また、比較手段３は、非誤動作波形パターン及び動作波形パターンのいずれにも一致あるいは類似しない場合には、入力波形パターンは登録波形パターンに含まれない非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンであると判定する。そこで、波形判定手段４は、この比較手段３において、登録波形パターンに含まれない非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンであると判定された入力波形パターンが、非誤動作波形パターンであるのか、あるいは誤動作波形パターンであるのかを判定する。波形判定手段４は、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う。判定結果は、通知手段８に通知する他、非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンをデータベース５に格納する。データベース５に格納された非誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンは、比較手段３において登録波形パターンとして使用することができる。
【００２６】
以下、本発明の誤動作検出装置の動作について、図３から図２０を用いて説明する。
図３は本発明の誤動作検出装置の動作概略を説明するためのフローチャートである。誤動作検出装置は、はじめに比較処理によって、入力波形パターンを登録された波形パターンと比較して既知の誤動作波形パターン、非誤動作波形パターンを抽出した後（ステップＳ１）、登録されていない入力波形パターンを判定して電子機器類に誤動作を生じさせる誤動作波形パターンであるか、あるいは電子機器類に誤動作を生じさせない非誤動作波形パターンであるかを判定し（ステップＳ２）、非誤動作波形パターンについては非誤動作波形データベースに記録し（ステップＳ３）、誤動作波形パターンについては誤動作波形データベースに記録し（ステップＳ４）、通知を行う（ステップＳ５）。したがって、本発明の誤動作検出装置は、ステップＳ１の比較処理とステップＳ２の波形判定処理の二つの誤動作検出処理によって、入力波形パターンから誤動作波形あるいは非誤動作波形を抽出し、判定する。
【００２７】
ステップＳ１の比較処理においては、はじめに入力波形パターンを既知の非誤動作波形パターンと比較し、非誤動作波形パターンと一致あるいは類似する波形であるかを判定する。入力波形パターンが非誤動作波形パターンと一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類に誤動作を生じさせない波形であると判断することができる。一方、入力波形パターンが非誤動作波形パターンと一致あるいは類似しない場合には、当該入力波形パターンは電子機器類に誤動作を生じさせるおそれがある波形であると判断することができる（ステップＳ１ａ）。
【００２８】
次に、ステップＳ１ａにおいて、非誤動作波形パターンと一致あるいは類似しない入力波形パターンについて既知の誤動作波形パターンと比較し、誤動作波形パターンと一致あるいは類似する波形であるかを判定する。入力波形パターンが誤動作波形パターンと一致あるいは類似する場合には、当該入力波形パターンは電子機器類に誤動作を生じさせる波形であると判断することができる。この場合には、通知を行う（ステップＳ５）。一方、入力波形パターンが誤動作波形パターンと一致あるいは類似しない場合には、当該入力波形パターンには登録されていない未知の誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンが含まれている。ステップＳ２の波形判定処理は、ステップＳ１後の入力波形パターンから未登録の誤動作波形パターンあるいは誤動作波形パターンを抽出する処理であり、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う。
【００２９】
図４は、ステップＳ１の比較処理で用いる誤動作波形パターンあるいは非誤動作波形パターンのデータベースの一例を示している。図４（ａ）は、誤動作波形パターンのデータベース例を示している。このデータベース例では、各波形パターン毎にパターン番号で識別するパターンデータを記録し、また、該パターンデータが検出されたログ情報も記録している。ログ情報としては、例えば検出日時、検出した遊技施設の店舗、機器番号、検出した際の状況等が記録される。また、図４（ｂ）は、非誤動作波形パターンのデータベース例を示している。このデータベース例では、各波形パターン毎にパターン番号で識別するパターンデータを記録し、また、該パターンデータが検出されたログ情報も記録している。ログ情報としては、例えば検出日時、検出した遊技施設の店舗、検出した際の状況等が記録される。
【００３０】
次に、前記ステップＳ２で示される波形判定処理について、図５から図２０を用いて説明する。ステップＳ２の波形判定処理は、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う処理であり、入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理、あるいは入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理によって行うことができる。
【００３１】
以下、図５から図１２を用いて入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理を説明し、図１３から図２０を用いて入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理を説明する。
はじめに、入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理について説明する。なお、図５は誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンの応答時間のばらつきを説明する概略図であり、図６は入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートであり、図７は入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのフローチャートであり、図８，９は図７のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図であり、図１０，１１は図７のフローチャートの一工程を説明するためのフローチャートある。また、図１２は入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのフローチャートである。
【００３２】
通常、誤動作電波の発射と該誤動作電波による電子機器類の誤動作との間において、誤動作電波の発射時から電子機器類の誤動作時までの応答時間は、電子機器類に使用される電子回路等の構成特性に応じて定まり、同一の対象部位ではほぼ同様の応答時間となると考えられる。図５に示す応答時間のばらつきを示す概略図において、横軸に応答時間ｔをとり縦軸に事象の発生回数をとると、誤動作電波が発射された場合の応答時間のばらつきは、例えば平均応答時間ｔｍをピークとする所定の分布曲線を示し（図５（ａ）に示す）、ノイズ等の非誤動作電波が発射された場合の応答時間のばらつきは、一様の分布曲線を示す（図５（ｂ）に示す）と想定される。
したがって、この応答時間のばらつきを判定することによって、入力波形パターンと動作状態との相関性を判定することができる。図６のフローチャートに示す入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理は、この応答時間のばらつきを用いた判定処理例である。
【００３３】
図６のフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出した後（ステップＳ１１）、入力波形パターンに対応する電子機器類の動作を検出する（ステップＳ１２）。入力した入力波形パターンの発生から電子機器類が動作するまでの間の応答時間ｔを各入力波形パターン及び動作毎に求め（ステップＳ１３）、これらの応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める（ステップＳ１４）。応答時間ｔの分布状態（ばらつき）から、入力波形パターンと動作状態の相関性を求める（ステップＳ１５）。
【００３４】
この相関性において、例えば図５（ａ）に示すように、応答時間ｔの分布状態（ばらつき）に所定の関係が認められる場合には、入力波形パターンと電子機器類の動作との間に相関性があると判定することができる。これに対して、図５（ｂ）に示すように、応答時間ｔの分布状態（ばらつき）に所定の関係が認められない場合には、入力波形パターンと電子機器類の動作との間に相関性はないと判定することができる（ステップＳ１６）。
【００３５】
図７は相関性に基づく判定処理のフローチャート例であり、所定個数（Ｎ個）の応答時間ｔから応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める例である。この例では、ｎ＝０を初期値とし（ステップＳ２１）、順にｎの個数を増やして（ステップＳ２６）、該ｎの値が標本数Ｎ個となるまで検出処理を繰り返す（ステップＳ２５）。
応答時間ｔを求める検出処理は、入力波形パターンを検出し、この入力波形パターンに対応する動作を検出するサーチ範囲を求め（ステップＳ２２）、このサーチ範囲内において電子機器類の動作を検出し（ステップＳ２３）、入力波形パターンが発生してから電子機器類が動作するまでの応答時間ｔを計算するものである（ステップＳ２４）。上記工程によってＮ個の応答時間ｔが得られる。
【００３６】
求めたＮ個の応答時間ｔについて、入力波形パターンと検出動作との相関性を判定し（ステップＳ２７）、相関性が認められない場合（ステップＳ２８）には入力した電波は非誤動作電波であると判定し（ステップＳ２９）、相関性が認められる場合（ステップＳ２８）には入力した電波は誤動作電波であると判定する（ステップＳ３０）。
なお、入力波形パターンと検出動作との相関性の判定は、応答時間ｔの分布状態（ばらつき）に有意性があるか否かを周知の統計処理を用いて判定することで行うことができる。例えば、応答時間ｔの標準偏差を求め、該標準偏差に所定の係数を乗じて得られる応答時間の範囲と比較することで行うことができる。
【００３７】
次に、ステップＳ２２に示す電子機器類の動作を検出するサーチ範囲について、図８及び図１０を用いて説明する。
誤動作電波によって電子機器類が誤動作する場合には、通常、誤動作電波は入射されてから、電子機器類の各動作部位に応じた所定時間後に誤動作が発生する。そこで、入力波形パターンに発生してから所定時間Ｔ１と、入力波形パターンが終了してから所定時間Ｔ２との間の時間範囲をサーチ範囲とし（図８（ａ））、このサーチ範囲内に存在する動作信号（例えば電子機器類が遊技機である場合の払い出し信号）を検出する（図８（ｂ））。図８（ｂ）において、サーチ範囲外に存在する動作信号は電子機器類が正常に動作している場合に発生する正常な信号であり、サーチ範囲内に存在する動作信号は誤動作電波による誤動作信号であると判断することができる。
【００３８】
入力波形パターンが発生してから誤動作信号が発生するまでの応答時間ｔは、入力波形パターンの発生時刻ｔ０と誤動作信号の発生時刻ｔａとの時間差（ｔａ―ｔ０）で求めることができる。入力波形パターンが時間幅を有する信号である場合には、どの信号で誤動作が生じたかが不明であるため、入力波形パターンの発生時刻ｔ０は入力波形パターンの平均の時刻で代表する。
【００３９】
サーチ範囲は、入力波形パターンの継続時間に応じて変化することになる。そこで、図１０のフローチャートにしたがってサーチ範囲を定める。図１０のサーチ範囲を定めるフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出すると（ステップＳ２２ａ）、当該入力波形パターンを記録すると共に（ステップＳ２２ｂ）、入力波形パターンの最初の信号からＴ１後をサーチ範囲の開始時点として動作信号のサーチを開始する（ステップＳ２２ｃ）。
【００４０】
入力波形パターンの各信号から所定時間Ｔ０内に次の信号があるか否かを判定し、前の信号から所定時間Ｔ０を過ぎても次の信号が検出されない場合には、入力波形パターンが終了したものとして、この時点から所定時間Ｔ２後をサーチ範囲の終了時点とする。動作信号の検出は、この入力波形パターンの最初の信号からＴ１後を開始時点とし、入力波形パターンの最後の信号からＴ２後を終了時点とするサーチ範囲内で行う。したがって、サーチ範囲は、入力波形パターンの継続時間に応じて変化することになる（ステップＳ２２ｅ）。
【００４１】
次に、ステップＳ２３に示すサーチ範囲内での動作信号の検出について、図９及び図１１を用いて説明する。
図９（ａ），（ｂ）は、入力波形パターンと、動作信号の関係を示しており、前記処理で定められるサーチ範囲内に存在する動作信号を検出する。この動作信号には、誤動作信号と正常な動作信号が混在しているため、誤動作信号を検出する必要がある。
【００４２】
入力波形パターンと誤動作信号との間の各応答時間ｔｓ１，ｔｓ２，ｔｓ３，ｔｓ４，…についてこれらの平均応答時間ｔｍを求めると、この平均応答時間ｔｍは誤動作信号の平均時間と正常信号の平均時間とを平均したものであり、正常信号はほぼ均等にばらついていると想定されるため、平均応答時間ｔｍは誤動作信号の平均時間に正常信号によるバイアス分が加わったものと考えることができる。そこで、この平均応答時間ｔｍの近傍にある動作信号を検出することで、誤動作信号を正常信号と識別することができる。
【００４３】
図９（ｃ）は、動作信号（図９（ｂ））の内でサーチ範囲に存在する検出信号を示しており、この検出信号の中から平均応答時間ｔｍの近傍にある動作信号を検出することで、誤動作信号や非誤動作信号かを判定することができる。図９（ｄ）は誤動作信号と判定した判定信号であり、図９（ｅ）は非誤動作信号と判定した判定信号である。
【００４４】
図１１のサーチ範囲内において動作を検出するフローチャートにおいて、前記ステップＳ２２ｃのサーチ開始の工程に応じてサーチを開始し（ステップＳ２３ａ）、動作信号の検出を行う（ステップＳ２３ｂ）。動作信号が検出された場合には（ステップＳ２３ｂ）、動作信号の発生時刻ｔａを記録し（ステップＳ２３ｃ）、平均応答時間ｔｍと動作信号の発生時刻ｔａとの時間差ｔｓを求める（ステップＳ２３ｄ）。また、動作信号の検出は前記ステップＳ２２ｅのサーチ終了まで行う（ステップＳ２３ｂ，２３ｅ）。
上記各処理を、図７に示すフローチャートにおけるステップＳ２２及びステップＳ２３の工程で行うことで、ステップＳ２４の応答時間ｔを求めることができる。
【００４５】
図７に示した相関性に基づく判定処理のフローチャート例では、所定個数（Ｎ個）の応答時間ｔから応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める例であるのに対して、図１２に示す相関性に基づく判定処理のフローチャート例は、所定時間Ｔ内に発生する動作の応答時間ｔから応答時間ｔの分布状態（ばらつき）を求める例である。
この例では、時間ｔｔ＝０を初期値とし（ステップＳ３１）、時間ｔｔが所定時間Ｔとなるまで検出処理を繰り返す（ステップＳ３５）。
【００４６】
応答時間ｔを求める検出処理は、入力波形パターンを検出し、この入力波形パターンに対応する動作を検出するサーチ範囲を求め（ステップＳ３２）、このサーチ範囲内において電子機器類の動作を検出し（ステップＳ３３）、入力波形パターンが発生してから電子機器類が動作するまでの応答時間ｔを計算するものである（ステップＳ３４）。上記工程によって所定時間Ｔ内の発生する入力波形パターン行う動作信号の応答時間ｔが得られる。なお、ステップＳ３２，ステップＳ３３の工程は、前記ステップＳ２２，ステップＳ２３の工程と同様である。また、所定時間Ｔは、判定処理に十分なサンプル数が得られるに十分な時間間隔に設定する。
【００４７】
求めた複数の応答時間ｔについて、入力波形パターンと検出動作との相関性を判定し（ステップＳ３６）、相関性が認められない場合（ステップＳ３７）には入力した電波は非誤動作電波であると判定し（ステップＳ３８）、相関性が認められる場合（ステップＳ３７）には入力した電波は誤動作電波であると判定する（ステップＳ２９）。
前記したように、ステップＳ２の波形判定処理は、入力波形パターンの発生状態と電子機器類の動作状態との関連性に基づいて誤動作電波の判定を行う処理であり、前記の図５から図１２を用いて説明した、入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理による他、入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理によって行うことができる。
【００４８】
次に、図１３から図２０を用いて入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理を説明する。なお、図１３，１４は入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートであり、図１５，１６は入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのシーケンス図及びフローチャートであり、図１７は図１６のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。また、図１８，１９は入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのシーケンス図及びフローチャートであり、図２０は図１９のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【００４９】
通常、電子機器類の各動作には、所定の手順からなるシーケンスを備えている場合がある。このような場合には、所定手順中の関連する動作間には、動作及び非動作の組み合わせや動作順にある定められた関係が存在する。このような関連性を備える場合には、動作間の関係において所定の論理性を見ることによって、各動作が正常に行なわれたものであるか否かを判定することが可能となる。
したがって、この動作間の論理性を判定することで、入力波形パターンと動作状態との論理性を判定することができる。図１３のフローチャートに示す入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理例である。
【００５０】
図１３のフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出した後（ステップＳ４１）、入力波形パターン検出後に発生する動作信号を検出する。当該動作信号を検出した場合には、この動作信号と関連性を備える動作を読み出し、読み出した動作をチェック項目とする。このため、予め関連性を備える動作を関連付けてデータベースに格納しておく（ステップＳ４２）。
【００５１】
前記チェック項目に関するチェック信号を電子機器類の各部位から取り込む。なお、このチェック信号は電子機器類の各部位に設けたセンサによって検出したり、あるいは、各部位における制御信号や動作信号を用いることができる（ステップＳ４３）。取り込んだチェック信号について動作信号との論理性を調べ、入力波形パターンの波形判定を行う。チェック信号と動作信号との間で設定された論理性が満足される場合には、当該動作信号と関連して検出された入力波形パターンは非誤動作信号であると判定し、一方、チェック信号と動作信号との間で設定された論理性が満足されない場合には、当該動作信号と関連して検出された入力波形パターンは誤動作信号であると判定する（ステップＳ４４）。
【００５２】
より詳細には、図１４に示すフローチャートにおいて、入力波形パターンを検出してサーチ範囲を求め、このサーチ範囲内で発生する動作信号を検出する。なお、サーチ範囲は前記した例と同様とすることができる（ステップＳ５１）。サーチを開始した後（ステップＳ５２）、電子機器類内の各部位における動作信号を検出し、動作信号が検出された場合には（ステップＳ５３）、当該動作信号に対応するチェック項目をデータベースから読み出す。データベースには、各動作信号毎に、関連性がある各部位、及びその関連性をチェック項目として記録しておく（ステップＳ５４）。
【００５３】
読み出したチェック項目について、各部分のチェック信号を取り込み（ステップＳ５５）、同じくチェック項目として記憶しておいた論理性を設定した論理テーブルを用いて、動作信号とチェック信号との論理性を判定する（ステップＳ５６）。論理性が満たされない場合には（ステップＳ５７）、当該動作は誤動作であると判定し（ステップＳ５８）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ５９）。一方、論理性が満たさた場合には（ステップＳ５７）、サーチが終了するまでステップＳ５５からステップＳ５７を繰り返した後（ステップＳ６０）、当該動作は非誤動作であると判定し（ステップＳ６１）、この動作に対応する入力波形パターンを非誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ６２）。
【００５４】
図１５は、シーケンス例を示す概略図である。シーケンスは、二つの動作が従属接続された関係にあり、それぞれスイッチＳＷｎとスイッチＳＷｎ+１によって動作状態を検出することができる。このシーケンスでは、スイッチＳＷｎからのＳＷｎ信号とスイッチＳＷｎ＋１からのＳＷｎ＋１信号には関連性があり、ＳＷｎ信号が検出された後、所定の時間間隔を経てＳＷｎ＋１信号が検出されることを論理性を満足する条件となる。したがって、図１５（ａ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、所定の時間内にＳＷｎ＋１信号が検出される場合には、ＳＷｎ信号は正常な信号であると判定され、一方、図１５（ｂ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、所定の時間内にＳＷｎ＋１信号が検出されない場合には、ＳＷｎ信号は誤動作信号であると判定され、このとき、スイッチＳＷｎの近傍で電波が検出された場合には、この電波の入力波形パターンが誤動作を生じさせる誤動作電波として判定される。
【００５５】
図１６，１７は、図１５のシーケンスにおける論理性を判定するためのフローチャート及び信号状態図である。
電子機器類に設置されたスイッチから検出された信号や、部位における動作信号をＳＷ信号として検出し、このＳＷ信号を用いてサーチ範囲を求める（図１７（ｂ））。サーチ範囲は前記した例と同様とすることができる。このサーチ範囲内で発生する動作信号を検出する（ステップＳ７１）。サーチを開始した後（ステップＳ７２）、電子機器類内の各部位におけるＳＷｎ信号を検出し、当該ＳＷｎ信号に対応するチェック項目（ＳＷｎ＋１信号）をデータベースから読み出す（ステップＳ７３）。
【００５６】
読み出したチェック項目に基づいて、ＳＷｎ＋１信号を取り込む（図１７（ｃ））（ステップＳ７４）。この論理テーブルを用いて、ＳＷｎ信号とＳＷｎ＋１信号との論理性を判定する。このとき、チェック項目の論理テーブルにＳＷｎ＋１信号の存在のみが設定されているとすると、ＳＷｎ＋１信号の有無のみで論理性を判定することができる（ステップＳ７５）。
【００５７】
ＳＷｎ＋１信号が検出されない場合には、論理性が満たされないとして（ステップＳ７５）、当該動作は誤動作であると判定し（図１７（ｄ））（ステップＳ７６）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ７７）。一方、ＳＷｎ＋１信号が検出されている場合には、論理性が満たされたとして（ステップＳ７５）、サーチが終了するまでステップＳ７４，７５を繰り返した後（ステップＳ７８）、当該動作は非誤動作であると判定し（図１７（ｅ））（ステップＳ７９）、この動作に対応する入力波形パターンを非誤動作波形パターンとして記録する（図１７（ａ））（ステップＳ８０）。
【００５８】
図１８は、他のシーケンス例を示す概略図である。シーケンスは、一つの動作に対して並列接続された二つの動作が従属接続された関係にあり、それぞれスイッチＳＷｎ，スイッチＳＷｎ+１，及びスイッチＳＷｎ+２によって動作状態を検出することができる。このシーケンスでは、スイッチＳＷｎからのＳＷｎ信号とスイッチＳＷｎ＋１からのＳＷｎ＋１信号とスイッチＳＷｎ＋２からのＳＷｎ＋２信号には関連性があり、ＳＷｎ信号が検出された後にＳＷｎ＋１信号及びＳＷｎ＋２信号が発生し、ＳＷｎ＋１信号とＳＷｎ＋２信号との間には時間差ｔｎ+Δｔ（Δｔが誤差分）が存在することが論理性を満足する条件となる。
【００５９】
したがって、図１８（ａ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、ＳＷｎ＋１信号及びＳＷｎ＋２信号が検出され、さらにｔｎ＋Δｔ以内の時間差内でＳＷｎ＋１信号とＳＷｎ＋２信号が検出される場合には、ＳＷｎ信号は正常な信号であると判定され、一方、図１８（ｂ）に示すように、ＳＷｎ信号が検出された後、例えばＳＷｎ＋１信号が検出されるが、ｔｎ＋Δｔ以内の時間差内でＳＷｎ＋２信号が検出される場合には、ＳＷｎ信号は誤動作信号であると判定され、このとき、スイッチＳＷｎあるいはスイッチＳＷｎ＋１の近傍で電波が検出された場合には、この電波の入力波形パターンが誤動作を生じさせる誤動作電波として判定される。
【００６０】
図１９，２０は、図１８のシーケンスにおける論理性を判定するためのフローチャート及び信号状態図である。
電子機器類に設置されたスイッチから検出された信号や、部位における動作信号をＳＷ信号として検出し、このＳＷ信号を用いてサーチ範囲を求める（図２０（ｂ））。サーチ範囲は前記した例と同様とすることができる。このサーチ範囲内で発生する動作信号を検出する（ステップＳ８１）。サーチを開始した後（ステップＳ８２）、電子機器類内のＳＷｎ信号を検出し、当該ＳＷｎ信号に対応するチェック項目（ＳＷｎ＋１信号、ＳＷｎ＋２信号、及び許容時間差ｔ+Δｔ）をデータベースから読み出す（ステップＳ８３）。
【００６１】
読み出したチェック項目に基づいて、ＳＷｎ＋１信号，ＳＷｎ＋２信号を取り込む（図１７（ｃ），（ｄ））（ステップＳ８４）。ＳＷｎ＋１信号とＳＷｎ＋２信号の時間差ｔｄを求め（ステップＳ８５）、この時間差ｔｄを許容時間差ｔ+Δｔと比較し、論理性を判定する（ステップＳ８６）。
時間差ｔｄが許容時間差ｔ+Δｔよりも大きい場合には（ステップＳ８６）、当該動作は誤動作であると判定し（図２０（ｅ））（ステップＳ８７）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ８８）。一方、時間差ｔｄが許容時間差ｔ+Δｔよりも小さい場合には（ステップＳ８６）、サーチが終了するまでステップＳ８４，８５，８６を繰り返した後（ステップＳ８９）、当該動作は非誤動作であると判定し（図２０（ｆ））（ステップＳ９０）、この動作に対応する入力波形パターンを誤動作波形パターンとして記録する（ステップＳ９１）。
なお、上記した論理性は一例であり、電子機器類が備えるシーケンスや各部位の関係に応じて定めることができる。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の誤作動電波検出装置によれば、電子機器類を誤動作させる電波に対して、広帯域で種々の周波数に対応することができる誤動作電波を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による誤動作検出処理を説明するための概略図である。
【図２】本発明の誤作動電波検出装置の概略を説明する図である。
【図３】本発明の誤動作検出装置の動作概略を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明の誤動作波形パターンあるいは非誤動作波形パターンのデータベースの一例である。
【図５】誤動作波形パターン及び非誤動作波形パターンの応答時間のばらつきを説明する概略図である。
【図６】本発明の入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートである。
【図７】本発明の入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのフローチャートである。
【図８】図７に示すフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【図９】図７に示すフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【図１０】図７に示すフローチャートの一工程を説明するためのフローチャートある。
【図１１】図７に示すフローチャートの一工程を説明するためのフローチャートある。
【図１２】入力波形パターンと動作状態の相関性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートである。
【図１４】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の概略を説明するためのフローチャートである。
【図１５】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのシーケンス図である。
【図１６】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の一処理例を説明するためのフローチャートである。
【図１７】図１６のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【図１８】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのシーケンス図である。
【図１９】本発明の入力波形パターンと動作状態の論理性に基づく判定処理の他の処理例を説明するためのフローチャートである。
【図２０】図１９のフローチャートによる信号状態を説明するための信号状態図である。
【符号の説明】
１  誤動作電波検出装置
２  誤動作電波検出手段
３  比較手段
４  波形判定手段
５  データベース
６  電波検出手段
７  波形パターン抽出手段
８  通知手段
【図１】
0004034938.tif 000002
【図２】
0004034938.tif 000003
【図３】
0004034938.tif 000004
【図４】
0004034938.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
0004034938.tif 000008
【図８】
0004034938.tif 000009
【図９】
0004034938.tif 000010
【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
0004034938.tif 000017
【図１７】
0004034938.tif 000018
【図１８】
0004034938.tif 000019
【図１９】
0004034938.tif 000020
【図２０】
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