(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出する座標入力／検出装置であって、
前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出手段と、
前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出手段と、
前記座標検出手段により所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化手段と、
前記タッチ／デタッチ検出手段のデタッチ・再タッチが検出された場合に、前記座標ベクトル値に基づき、前記指示手段による指示線の途切れか否かを判断し、当該判断結果が肯定的である場合に、前記座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断手段と、
このかすれ判断手段により途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理手段とを備え、
前記かすれ判断手段は、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値との変位が所定の範囲内に収まる場合、前記指示線の途切れであると判断し、前記デタッチが検出された座標から前記再タッチが検出された座標への移動速度に基づいて算出される座標ベクトル長と、平均座標ベクトル長との差が所定値より小さい場合、前記途切れ部分がかすれ部分であると判断することを特徴とする座標入力／検出装置。
【請求項２】
前記かすれ補正処理手段は、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断手段と、前記かすれ部分が直線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理手段と、前記かすれ部分が曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理手段と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の座標入力／検出装置。
【請求項３】
前記直線／曲線判断手段は、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値につき、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長とを比較し、両者が類似している場合には、前記かすれ部分が直線状であると判断することを特徴とする請求項２に記載の座標入力／検出装置。
【請求項４】
平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出するためのプログラムを記憶してコンピュータで読取可能な情報記憶媒体であって、
前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出機能と、
前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能と、前記座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化機能と、
前記タッチ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッチが検出された場合に、前記座標ベクトル値に基づき、前記指示手段による指示線の途切れか否かを判断し、当該判断結果が肯定的である場合に、前記座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断機能と、
このかすれ判断機能により途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理機能とを前記コンピュータに実行させ、
前記かすれ判断機能においては、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値との変位が所定の範囲内に収まる場合、前記指示線の途切れであると判断し、前記デタッチが検出された座標から前記再タッチが検出された座標への移動速度に基づいて算出される座標ベクトル長と、平均座標ベクトル長との差が所定値より小さい場合、前記途切れ部分がかすれ部分であると判断することを特徴とする情報記憶媒体。
【請求項５】
前記かすれ補正処理機能は、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断機能と、前記かすれ部分が直線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理機能と、前記かすれ部分が曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理機能と、よりなることを特徴とする請求項４に記載の情報記憶媒体。
【請求項６】
前記直線／曲線判断機能においては、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値につき、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長とを比較し、両者が類似している場合には、前記かすれ部分が直線状であると判断することを特徴とする請求項５に記載の情報記憶媒体。
【請求項７】
平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出する座標入力／検出方法であって、前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出ステップと、前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出ステップと、前記座標検出ステップにより所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化ステップと、前記タッチ／デタッチ検出ステップによりデタッチ・再タッチが検出された場合に、前記指示手段による指示線の途切れか否かを判断し、当該判断結果が肯定的である場合に、前記座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断ステップと、このかすれ判断ステップにより途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理ステップとを備え、前記かすれ判断ステップでは、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値との変位が所定の範囲内に収まる場合、前記指示線の途切れであると判断し、前記デタッチが検出された座標から前記再タッチが検出された座標への移動速度に基づいて算出される座標ベクトル長と、平均座標ベクトル長との差が所定値より小さい場合、前記途切れ部分がかすれ部分であると判断することを特徴とする座標入力／検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、座標入力／検出装置に関し、特に、電子黒板や大型のディスプレイと共に一体化して利用され、或いは、パーソナルコンピュータ等において、情報の入力や選択をするためにペン等の指示部材や指等によって指示された座標位置を検出するタッチパネル方式の座標入力／検出装置、情報記憶媒体及び座標入力／検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の座標入力／検出装置としては、ペンで座標入力面を押さえた時、或いはペンが座標入力面に接近した時に、静電又は電磁誘導によって電気的な変化を検出するものがある。
【０００３】
また、他の方式として、特開昭６１−２３９３２２号公報等に示されるような超音波方式のタッチパネル座標入力／検出装置がある。これは簡単にいうと、パネル上に送出された表面弾性波をタッチパネルに触れることによりその表面弾性波を減衰させ、その位置を検出するものである。
【０００４】
さらには、特願平１０−１２７０３５号として本出願人が出願したものや、特開平５−１７３６９９号公報に開示されているもの、或いは、特開平９−３１９５０１号公報に開示されているもの、さらには先に本出願人が特願平１０−２３０９６０号として出願したもの等に代表される光学式タッチパネル型の座標入力／検出装置もある。特に、光学式タッチパネル型の座標入力／検出装置は、パーソナルコンピュータ等の普及に伴い、情報の入力や選択をするための有力なツールとして位置付けられている。これらの光学式タッチパネル型の座標入力／検出装置の場合、超音波方式等による場合と異なり、タッチパネル自体は座標検出機能を有さず、タッチパネル面から表面側に少し離れた空間位置に光学的な座標入力／検出領域が設定されている。
【０００５】
何れのタッチパネル方式にしても、使用者はペン、指先などの指示手段をタッチパネル面上で移動させることにより、所望の文字や図形、その他の描画を行うものである。
【０００６】
例えば、図１２を参照して超音波方式におけるディスプレイ付きの座標入力／検出装置の場合を例にとり、簡単に説明する。図１２において、タッチパネル１００は指などの指示手段１０１によりタッチした位置をタッチパネル１００と一体型のディスプレイ１０２の解像度（例えば、Ｘ軸方向のピクセル数１０２４、Ｙ軸方向のピクセル数７６８等）に対応したディスプレイ１０２上の２次元座標＝Ｘ，Ｙ座標を検出し、ＰＣ等の制御装置１０３に座標データとして送信する。また、タッチパネル１００と一体化されているディスプレイ１０２に画像メモリ１０４に展開されている画像を表示出力する。また、制御装置１０３中の座標入力部１０５はＲＳ２３２Ｃ、ＵＳＢ等の通信手段を用いてタッチパネル１００で検出された座標データを受信する。また、タッチパネル制御部１０５では、座標入力部１０５から指示された座標データを取り出し、前回の座標と取り出した今回の座標とを定められた太さ、色（太さや色は制御装置１０３が持つユーザインタフェースにより変更可能である）で画像メモリ１０４上に描画する。画像メモリ１０４上にはＲＧＢ画像データが展開されており、ビデオ出力手段によりディスプレイ１０２上に出力され、カラー画像として表示される。
【０００７】
ここに、タッチパネル１００は指などの指示手段１０１が触れている間（タッチ状態）は、周期的に座標データを送信し、指などの指示手段１０１がタッチパネル１００から離れた（デタッチ）ことが検出された場合、デタッチ情報が１回送信出力され、その後、再び、指などの指示手段１０１がタッチパネル１００に触れたこと（タッチ）が検出されたら、その時点から再びＸ，Ｙ座標データが送信出力される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、タッチパネル１００に触れている指先などの動きに追従するように文字や図形などを描く動作において、軽くタッチパネル１００に触れていたり、速く描画しようとすると指先などがタッチパネル１００面から浮いてしまい、描こうとしている文字や図形が途切れてしまい、ディスプレイ１０２による再現描画像において、その途切れ部分がかすれとなって現れてしまう。ここに、「かすれ」とは、タッチパネル１００に指先などが触れて動くことにより得られる指示位置を示す座標間を特定の色、太さにて描画、或いは連続線として得たいにも関わらず、指先などがわずかにタッチパネル１００から浮くことにより描画線が途切れる現象をいう。
【０００９】
特に、超音波方式のものでは、指先入力を前提としているため、タッチパネル１００上で吸収を伴うような材質（柔らかく弾力性を伴う材質）でペン入力を行わせ直線を描いた場合、押した時点では安定な減衰が得られるが、ペンを移動するとき十分な接触が得られず、直線が途切れてしまう。かといって、十分な接触を得るために、ペンを必要以上の力で押し付けてしまうと、ペンの移動に伴い、ペンの持つ弾力性のため応力を受け歪を生じ、移動中に復帰させる力が働く。そのため、一旦、ペン入力時に曲線を描こうとすると、ペンを押える力が弱くなり歪を元へ戻す力が優るため復帰して安定な減衰が得られず、入力が途切れたと判断されてしまう。もちろん、このような超音波方式に限らず、光学式等の場合であっても、タッチパネル方式であれば、このようなかすれ部分を生じてしまうことがある。
【００１０】
このようなかすれ部分が生じた場合は、そのままでは見にくいため、途切れによりかすれた部分を再度描画するとか全体を再度描画し直す必要があり、面倒である。
【００１１】
さらに面倒なことに、意図的に破線を描画する場合には、結果として、途切れ部分が生ずるため、上記のような意図しないかすれ部分とは区別する必要がある。
【００１２】
そこで、本発明は、タッチパネル面上での文字や図形等の描画中にかすれが生じたとしても、再描画等を要せず、それを自動的に検出してかすれ部分を連続部分として自動的に補正することができる座標入力／検出装置、情報記憶媒体及び座標入力／検出方法を提供することを目的とする。
【００１３】
また、本発明は、かすれによる途切れと意図的な破線描画における途切れとを自動的に区別して各々に応じて処理でき、意図的な破線描画の場合に連続線と見做してしまうことのない座標入力／検出装置、情報記憶媒体及び座標入力／検出方法を提供することを目的とする。
【００１４】
さらに、本発明は、途切れ部分が曲線描画におけるかすれの場合であれば、それに応じた自然な曲線としてかすれ部分を補正することができる座標入力／検出装置、情報記憶媒体及び座標入力／検出方法を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明の座標入力／検出装置は、平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出する座標入力／検出装置であって、前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出手段と、前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出手段と、前記座標検出手段により所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化手段と、前記タッチ／デタッチ検出手段のデタッチ・再タッチが検出された場合に、前記座標ベクトル値に基づき、前記指示手段による指示線の途切れか否かを判断し、当該判断結果が肯定的である場合に、前記座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断手段と、このかすれ判断手段により途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理手段とを備え、前記かすれ判断手段は、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値との変位が所定の範囲内に収まる場合、前記指示線の途切れであると判断し、前記デタッチが検出された座標から前記再タッチが検出された座標への移動速度に基づいて算出される座標ベクトル長と、平均座標ベクトル長との差が所定値より小さい場合、前記途切れ部分がかすれ部分であると判断することを特徴とする。
【００１６】
従って、指示手段による指示位置に関して座標情報だけでなく、その変化の方向と長さとを示す座標ベクトル値としてベクトル化手段により逐次ベクトル座標化しておくことにより、タッチパネル上でのデタッチ・再タッチ検出が検出された場合に、座標ベクトル値を参照することにより、描画された指示線の途切れか否かを適正に判断することができる。また、意図した破線描画の場合に生ずる途切れと意図しないかすれにより生ずる途切れとではタッチパネル上での指先などの指示手段の移動速度が異なり、これをベクトルで表した場合に座標ベクトル値における長さ情報の違いとして現れ、意図した破線描画の場合にはベクトル長が順次短くなる点に着目し、途切れ種別判断手段により座標ベクトル値における描画速度の違いに基づきかすれであるか破線描画における途切れであるかを自動的に判断するので、かすれの場合には、かすれ補正処理手段によりその部分を連続させるように自動的に補正することができ、かすれによる途切れのない描画が可能となると共に、意図した破線描画の場合にはその途切れ部分を連続させてしまうような不具合を生ずることもない。
【００１７】
このような請求項１記載の発明の作用・効果は、請求項４及び請求項７記載の発明によっても実行される。即ち、請求項４記載の発明の情報記憶媒体は、平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出するためのプログラムを記憶してコンピュータで読取可能な情報記憶媒体であって、前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出機能と、前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能と、前記座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化機能と、前記タッチ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッチが検出された場合に、前記座標ベクトル値に基づき、前記指示手段による指示線の途切れか否かを判断し、当該判断結果が肯定的である場合に、前記座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断機能と、このかすれ判断機能により途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理機能と、を前記コンピュータに実行させ、前記かすれ判断機能においては、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値との変位が所定の範囲内に収まる場合、前記指示線の途切れであると判断し、前記デタッチが検出された座標から前記再タッチが検出された座標への移動速度に基づいて算出される座標ベクトル長と、平均座標ベクトル長との差が所定値より小さい場合、前記途切れ部分がかすれ部分であると判断することを特徴とする。
【００１８】
請求項７に記載の発明は、平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出する座標入力／検出方法であって、前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出ステップと、前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出ステップと、前記座標検出ステップにより所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化ステップと、前記タッチ／デタッチ検出ステップによりデタッチ・再タッチが検出された場合に、前記指示手段による指示線の途切れか否かを判断し、当該判断結果が肯定的である場合に、前記座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断ステップと、このかすれ判断ステップにより途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理ステップとを備え、前記かすれ判断ステップでは、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値との変位が所定の範囲内に収まる場合、前記指示線の途切れであると判断し、前記デタッチが検出された座標から前記再タッチが検出された座標への移動速度に基づいて算出される座標ベクトル長と、平均座標ベクトル長との差が所定値より小さい場合、前記途切れ部分がかすれ部分であると判断することを特徴とする。
【００１９】
請求項２記載の発明は、請求項１に記載の座標入力／検出装置であって、前記かすれ補正処理手段は、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断手段と、前記かすれ部分が直線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理手段と、前記かすれ部分が曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理手段と、を備える。
【００２０】
従って、直線描画中だけでなく、曲線描画中においてかすれを生ずることもあるが、何れの状態でのかすれであるかは座標ベクトル値の類似性の有無により判断できるので、曲線部分でかすれが生じたと判断した場合には、直線近似していびつな連続線としてしまうことなく、かすれ部分前後の座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させることにより適正に補正することができる。
【００２１】
このような請求項２記載の発明の作用・効果は、請求項５記載の発明によっても実行される。即ち、請求項５記載の発明の情報記憶媒体は、請求項４記載の情報記憶媒体であって、前記かすれ補正処理機能は、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断機能と、前記かすれ部分が直線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理機能と、前記かすれ部分が曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理機能と、よりなる。
【００２２】
請求項３記載の発明は、請求項２に記載の座標入力／検出装置であって、前記直線／曲線判断手段は、前記かすれ部分前後の前記座標ベクトル値につき、前記デタッチが検出された座標及び再タッチが検出された座標間の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長と、前記デタッチが検出された座標及び前記デタッチの直前に検出された座標間の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長とを比較し、両者が類似している場合には、前記かすれ部分が直線状であると判断することを特徴とする。
【００２３】
この発明によれば、かすれ部分が直線状であるか否かをより適正に判断することができる。
【００２４】
このような請求項３記載の発明の作用・効果は、請求項６記載の発明によっても実行される。
【００２５】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態を図１ないし図１１に基づいて説明する。
本実施の形態は、いわゆる再帰光遮断方式のタッチパネル型座標入力／検出装置１に適用されており、その原理について正面概略構成を示す図１を参照して説明する。四角形状の筐体構造の座標入力／検出部材２の内部空間である座標入力／検出領域（タッチパネル）３は平面（若しくは、ほぼ平面）をなす２次元形状をなし、電子的に画像を表示するディスプレイ表面やマーカー等のペンで書き込むホワイトボードなどが考えられる。この座標入力／検出領域３上を光学的に不透明な材質からなる操作者の手指やペン、指示棒など光遮断手段として機能する指示手段４で触った場合を考える。このときの指示手段４の座標を検出することがこのような光学式の座標入力／検出装置１の目的である。
【００２６】
座標入力／検出領域３の上方両端に受発光手段５が装着されている。受発光手段５からは座標入力／検出領域３に向けて、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，…，Ｌｎの光ビームの束（プローブ光）が照射されている。実際には点光源６から広がる座標入力面に平行な面に沿って進行する扇形板状の光波である。
【００２７】
座標入力／検出領域３の周辺部分には、再帰性反射部材７が再帰反射面を座標入力装置３の中央に向けて装着されている。
【００２８】
再帰性反射部材７は入射した光を、入射角度に依らずに同じ方向に反射する特性をもった部材である。例えば、受発光手段５から発した扇形板状の光波のうちある一つのビーム８に注目すると、ビーム８は再帰性反射部材７によって反射されて再び同じ光路を再帰反射光９として受発光手段５に向かって戻るように進行する。受発光手段５には、後述する受光手段が設置されており、プローブ光Ｌ１〜Ｌｎの各々に対して、その再帰光が受光手段に再帰したかどうかを判断することができる。
【００２９】
いま、操作者が指（指示手段４）で位置Ｐを触った場合を考える。このときプローブ光１０は位置Ｐで指に遮られて再帰性反射部材７には到達しない。従って、プローブ光１０の再帰光は受発光手段５には到達せず、プローブ光１０に対応する再帰光が受光されないことを検出することによって、プローブ光１０の延長線（直線Ｌ）上に指示物体が挿入されたことを検出することができる。同様に、図１の右上方に設置された受発光手段５からもプローブ光１１を照射し、プローブ光１１に対応する再帰光が受光されないことを検出することによって、プローブ光１１の延長線（直線Ｒ）上に指示物体が挿入されたことを検出することができる。直線Ｌ及び直線Ｒを求めることができれば、このＰ点の交点座標を演算により算出することにより、指示手段２が挿入された座標を得ることができる。
【００３０】
次に、受発光手段５の構成とプローブ光Ｌ１からＬｎのうち、どのプローブ光が遮断されたかを検出する機構について説明する。受発光手段５の内部の構造の概略を図２に示す。図２は図１の座標入力面に取り付けられた受発光手段５を、座標入力／検出領域３に垂直な方向から見た図である。ここでは、簡単のため、座標入力／検出領域３に平行な２次元平面で説明を行う。
【００３１】
概略構成としては、点光源６、集光レンズ１２及び受光素子１３から構成される。点光源６は光源（図示せず）から見て受光素子１３と反対の方向に扇形に光を射出するものとする。点光源６から射出された扇形の光は矢印１４，１５、その他の方向に進行するビームの集合であると考える。矢印１４方向に進行したビームは再帰性反射部材７で矢印１６方向に反射されて、集光レンズ１２を通り、受光素子１３上の位置１７に到達する。また、矢印１５方向に進行したビームは再帰性反射部材７で矢印１８方向に反射されて、集光レンズ１２を通り、受光素子１３上の位置１９に到達する。このように点光源６から発し、再帰性反射部材７で反射され同じ経路を戻ってきた光は、集光レンズ１２の作用によって、各々受光素子１３上の各々異なる位置に到達する。従って、座標入力／検出領域３中の或る位置に指示手段４が挿入されあるビームが遮断されると、そのビームに対応する受光素子１３上の点に光が到達しなくなる。よって、受光素子１３上の光強度分布を調べることによって、どのビームが遮られたかを知ることができる。
【００３２】
図３で前述の動作を詳しく説明する。図３で受光素子１３は集光レンズ１２の焦点面（焦点距離ｆ）に設置されているものとする。点光源６から図３の右側に向けて発した光は再帰性反射部材７によって反射され同じ経路を戻ってくる。従って、点光源６の位置に再び集光する。集光レンズ１２中心は点光源位置と一致するように設置する。再帰性反射部材７から戻った再帰光は集光レンズ１２の中心を通るので、レンズ後方（受光素子側）に対称の経路で進行する。
【００３３】
このとき受光素子１３上の光強度分布を考える。指示手段４が挿入されていなければ、受光素子１３上の光強度分布はほぼ一定であるが、図３に示すように位置Ｐに光を遮る指示手段４が挿入された場合、ここを通過するビームは遮られ、受光素子１３上では位置Ｄｎの位置に、光強度が弱い領域が生じる（暗点）。この位置Ｄｎは遮られたビームの出射／入射角θｎと対応しており、Ｄｎを検出することによりθｎを知ることができる。即ち、θｎはＤｎの関数として
θｎ＝arctan (Ｄｎ／ｆ)      ………………………………（１）
と表すことができる。ここで、図１左上方の受発光手段５におけるθｎをθｎＬ、ＤｎをＤｎＬと置き換える。
【００３４】
さらに、図４において、受発光手段５と座標入力／検出領域３との幾何学的な相対位置関係の変換係数ｇにより、指示手段４と座標入力／検出領域３とのなす角θＬは、(１)式で求められるＤｎＬの関数として、
θＬ＝ｇ(θｎＬ)      ………………………………（２）
ただし、θｎＬ＝arctan(ＤｎＬ／ｆ)
と表すことができる。
【００３５】
同様に、図１右上方の受発光手段５についても、上述の（１）（２）式中の記号Ｌを記号Ｒに置き換えて、右側の受発光手段５と座標入力／検出領域３との幾何学的な相対位置関係の変換係数ｈにより、
θＲ＝ｈ(θｎＲ)      ………………………………（３）
ただし、θｎＲ＝arctan(ＤｎＲ／ｆ)
と表すことができる。
【００３６】
ここで、座標入力／検出領域３上の受発光手段５の取付間隔を図４に示すｗとし、原点座標を図４に示すようにとれば、座標入力／検出領域３上の指示手段４で指示した点Ｐの２次元座標（ｘ，ｙ）は、
ｘ＝ｗ・tanθｎＲ／（tanθｎＬ＋tanθｎＲ）  ………………（４）
ｙ＝ｗ・tanθｎＬ・tanθｎＲ／（tanθＬ＋tanθｎＲ） ……（５）
このように、ｘ，ｙは、ＤｎＬ，ＤｎＲの関数として表すことができる。即ち、左右の受発光手段５上の受光素子１３上の暗点の位置ＤｎＬ，ＤｎＲを検出し、受発光手段５の幾何学的配置を考慮することにより、指示手段４で指示した点Ｐの２次元座標を検出することができる。
【００３７】
次に座標入力／検出領域３、例えば、ディスプレイの表面などに前で説明した光学系を設置する例を示す。図５は、図１、図２で述べた左右の受発光手段５のうち一方を、ディスプレイ表面へ設置した場合の例である。
【００３８】
図５中の２０はディスプレイ面（タッチパネル面）の断面を示しており、図２で示したｙ軸の負から正に向かう方向に見たものである。即ち、図５はｘ−ｚ方向を主体に示しているが、二点鎖線で囲んだ部分は同一物を別方向（ｘ−ｙ方向、ｙ−ｚ方向）から見た構成を併せて示している。
【００３９】
受発光手段５のうち発光手段について説明する。発光手段である光源２１としてレーザーダイオード、ピンポイントＬＥＤなどスポットをある程度絞ることが可能な光源を用いる。
【００４０】
光源２１からディスプレイ面２０に垂直に発した光はシリンドリカルレンズ２２によってｘ方向にのみコリメートされる。このコリメートは、後でハーフミラー２３で折り返された後、ディスプレイ面２０と垂直な方向には平行光として配光するためである。シリンドリカルレンズ２２を出た後、このシリンドリカルレンズ２２とは曲率の分布が直交する２枚のシリンドリカルレンズ２４，２５で同図ｙ方向に対して集光される。
【００４１】
これらのシリンドリカルレンズ群（レンズ２１，２４，２５）の作用により、線状に集光した領域がシリンドリカルレンズ２５の後方に形成される。ここに、ｙ方向に狭くｘ方向に細長いスリット２６を挿入する。即ち、スリット位置に線状の二次光源６を形成する。二次光源６から発した光はハーフミラー２３で折り返され、ディスプレイ面２０の垂直方向には広がらず平行光で、ディスプレイ面２０と平行方向には二次光源６を中心に扇形状に広がりながら、ディスプレイ面２０に沿って進行する。進行した光はディスプレイ周辺端に設置してある再帰性反射部材７で反射されて、同様の経路でハーフミラー２３方向（矢印Ｃ）に戻る。ハーフミラー２３を透過した光は、ディスプレイ面２０に平行に進みシリンドリカルレンズ１２を通り受光素子１３に入射する。
【００４２】
このとき、二次光源６とシリンドリカルレンズ１２はハーフミラー２３に対して共に距離Ｄの位置に配設され共役な位置関係にある。従って、二次光源６は図３の点光源６に対応し、シリンドリカルレンズ１２は図３のレンズ１２に対応する。
【００４３】
図６に、光源（ＬＤ）２１及び受光素子（ＰＤ）１３の制御回路の構成ブロック図を示す。この制御回路はＬＤ２１の発光制御と、ＰＤ１３からの出力の演算を行うものである。同図に示すように、制御回路は、ＣＰＵ３１を中心として、プログラム及びデータを記憶するＲＯＭ３２、ＲＡＭ３３、インタフェースドライバ３４、Ａ／Ｄコンバータ３５及びＬＥＤドライバ３６がバス接続された構成からなる。ここに、ＣＰＵ３１、ＲＯＭ３２及びＲＡＭ３３によりコンピュータとしてのマイクロコンピュータが構成されている。このようなマイクロコンピュータには、ＦＤ３７が装填されるＦＤＤ（ＦＤドライバ）３８、ＣＤ−ＲＯＭ３９が装填されるＣＤ−ＲＯＭドライバ４０等が接続されている。
【００４４】
ＰＤ１３からの出力を演算する回路として、ＰＤ１３の出力端子に、アンプ４１、アナログ演算回路４２等が図のように接続される。ＰＤ１３からの出力（光強度分布信号）はアンプ４１に入力され、増幅される。増幅された信号は、アナログ演算回路４２で処理がされ、さらにＡ／Ｄコンバータ３５によってデジタル信号に変換されてＣＰＵ３１に渡される。この後、ＣＰＵ３１によってＰＤ１３の受光角度及び指示手段４の２次元座標の演算が行われる。
【００４５】
なお、この制御回路は、一方の受発光手段５と同一筺体に組み込んでもよく、また、別筺体として座標入力／検出領域３の一部分に組み込んでもよい。また、インタフェースドライバ３４を介してパソコン等に演算された座標データを出力するために出力端子を設けることが好ましい。
【００４６】
このような再帰光遮断方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置１を用いた本実施の形態の特徴的構成例について図７を参照して説明する。図７はこのような特徴的構成例による座標入力／検出装置１を機能的に示すブロック図である。図において、タッチパネルは座標入力／検出領域３に相当し、その表面近傍に指などの指示手段４が挿入されたときに（タッチされたときに）、指示手段４のタッチパネル３上での２次元座標を検出する座標検出部（座標検出手段）５１と、タッチ／デタッチ検出部（タッチ／デタッチ検出手段）５２とを備えている。座標検出部５１は前述したように、タッチパネル３の表面近傍に指などの指示手段４が挿入されたときに、指示手段４のタッチパネル３上での２次元座標をサンプリング信号に伴う所定の時間間隔で時系列的に検出する。また、タッチ／デタッチ検出部５２は指先などの指示手段４が実際にタッチパネル３面に接しているか否かに関係なく受光素子１３等により検出光に干渉する位置に指示手段４があるか否かを検出するものであればよい。
【００４７】
座標検出部５１の後段にはベクトル化部（ベクトル化手段）５３が設けられている。このベクトル化部５３は、指示手段４の挿入状態（タッチ検出状態）下で座標検出部５１により時系列的に順次得られる２次元座標間の変化する方向とその変化分を示す長さを予めベクトルテーブル５４に設定格納されているベクトルデータを用いてベクトル座標化してＲＡＭ３３等のメモリに記憶させる処理を行う。
【００４８】
ここで、座標ベクトル値の算出方法について図８を参照して説明する。図８において、前回検出された２次元座標を（Ｘ１，Ｙ１）、今回得られた２次元座標を（Ｘ２，Ｙ２）とする。Ｘ座標方向の変化量ΔＸ＝Ｘ２−Ｘ１、Ｙ座標方向の変化量ΔＹ＝Ｙ２−Ｙ１から、座標ベクトル値をΔＹ／ΔＸにより算出する。この場合の座標ベクトル値は表１に示すようにＸ軸方向から１０度間隔で数値化されて予めベクトルテーブル１５４に格納されているが、この間隔（１０度）は任意に設定すれぱよい。また、座標ベクトル値は、算出結果の近似値を用いるものとする。例えば、−ΔＹ，−ΔＸでΔＹ／ΔＸ＝０．９００の場合であれば、座標ベクトル値＝２４となる。
【００４９】
【表１】
0004080647.tif 000002
【００５０】
また、図８において、各サンプリングにおける座標間の座標ベクトル値は上述のように算出され、各座標間のベクトル長Ｌは、例えば、座標（Ｘ１，Ｙ１），（Ｘ２，Ｙ２）間のベクトル長Ｌ１であれば、
Ｌ１＝√｛（Ｙ２−Ｙ１）2＋（Ｘ２−Ｘ１）2｝
により算出される。このようにして、サンプリングされた２次元座標毎にその座標ベクトル値とその長さ情報とが算出され、ベクトルデータ記憶部５５においてＲＡＭ３３等のメモリに記憶される。
【００５１】
ベクトル化部５３の後段にはタッチ／デタッチ検出部５２による検出信号に応じて動作するかすれ判断手段５６が設けられている。このかすれ判断手段５６は、途切れ判断部５７とかすれ／破線判断部（途切れ種別判断手段）５８とよりなる。途切れ判断部５７はタッチ／デタッチ判断部５２によりタッチパネル３に対する指示手段４のデタッチ・再タッチが検出された場合にベクトルデータ記憶部５５よりメモリに格納されているデタッチ・再タッチ前後の座標ベクトル値を参照することにより途切れが生じているか否かを判断する。デタッチ・再タッチが検出されてもその前後の座標ベクトル値が極端に異なる場合（極端に離れている場合や極端に方向が異なる場合）にはデタッチ・再タッチ間には筆記の連続性がなく、途切れ部分ではないと判断され、通常処理部５９による通常の座標入力／検出処理に供される。それ以外の場合には、デタッチ・再タッチ間には筆記の連続性があり、途切れ部分であると判断され、かすれ／破線判断部５８による判断に供される。
【００５２】
かすれ／破線判断部５８では、デタッチ・再タッチが検出された場合にベクトルデータ記憶部５５によりメモリに格納されている座標ベクトル値情報を利用することで、デタッチ時点の座標ベクトル長と平均座標ベクトル長とを比較し、デタッチ時点の座標ベクトル長が極端に短くなっている場合には、デタッチ・再タッチ間の途切れは意図した破線描画における途切れと判断して通常処理部５９に出力することにより、途切れ部分に対して特に補正処理を行わせない。即ち、破線描画の場合には、途切れ部分がそのまま再現される。
【００５３】
このような判断は、意図した破線描画の場合に生ずる途切れと意図しないかすれにより生ずる途切れとではタッチパネル３上での指先などの指示手段４の描画速度（移動速度）が異なる点に着目したものである。この点を図９を参照して説明する。図９（ａ）は意図しないかすれＡによる途切れが生ずる場合のタッチパネル３上での指先などの動きの様子を誇張して示し、図９（ｂ）は破線描画において意図した途切れＢが生ずる場合のタッチパネル３上での指先などの動きの様子を誇張して示している。意図しないかすれＡの場合にはタッチパネル３面から意図せずにわずかに離れるだけであるので、そのデタッチ・再タッチ前後の指先の動きには図９（ａ）中に破線で示すように連続性、即ち、描画速度に殆ど変化がないのに対して、破線描画の場合には意図的に途切れ部分を形成するために指先などの動きも図９（ｂ）中に破線で示すようにデタッチ位置で一旦動きが止まってタッチパネル３面から離れた後に再びタッチパネル３面にタッチする如く、描画速度が低下する過程を経るため、かすれＡの場合とは描画速度に大きな違いがある。このような描画速度の違いは、同一のサンプリング間隔による座標値をベクトルで表した場合には座標ベクトル値における長さ情報の違いとして現れ、意図した破線描画の場合には一旦止まる過程でベクトル長が極端に短くなることから、上記の如く、平均ベクトル長と比較することにより、かすれＡによる途切れか破線描画における途切れＢかを区別できる。
【００５４】
かすれ／破線判断部５８によりかすれによる途切れと判断された場合には、直線／曲線判断部（直線／曲線判断手段）６０による判断に供される。かすれ／破線判断部５８は、かすれ部分前後の座標ベクトル値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを判別する。ここに、この判別方法について説明する。デタッチ・再タッチが検出された場合にデタッチ検出時点のデタッチ座標と、再タッチ時点の再タッチ座標とを用いて、デタッチ・再タッチ間座標ベクトル値とともに座標ベクトル長を算出する。座標ベクトル長は、
（座標ベクトル長）
＝（デタッチ・再タッチ間長）×｛（座標入力周期）／（デタッチ・再タッチ間時間）｝として算出する。そして、デタッチ・再タッチ間座標ベクトル値及びその座標ベクトル長と、デタッチ直前の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長を比較し、両者が類似している場合には、直線状のかすれ部分であると判断し、かすれ処理手段６１中の直線かすれ補正処理部（直線かすれ補正処理手段）６２による補正処理に供する。例えば、直線描画中にかすれが生じてもその座標ベクトル値にはデタッチ・再タッチ前後で大きな変化がなく、類似性を有しているため、これを判別できる。直線かすれ補正処理部６２では、直線状のかすれと判断された場合に、そのかすれ部分をデタッチ・再タッチ間（デタッチ・再タッチ間座標ベクトル値及びその座標ベクトル長分）を定められた色、太さで直線的に連続させて描画されるように処理する。
【００５５】
一方、デタッチ・再タッチ間座標ベクトル値及びその座標ベクトル長と、デタッチ直前の座標ベクトル値及びその座標ベクトル長を比較し、両者が類似していない場合には、デタッチ位置までの座標ベクトル値及び再タッチ後の座標ベクトル値を算出する（サンプリング数は実験的に得た最適値とする）。これらの座標ベクトル値の変化量を算出し、その変化量に類似性がある場合には、曲線状のかすれ部分であると判断し、かすれ処理手段６１中の曲線かすれ補正処理部（曲線かすれ補正処理手段）６３による補正処理に供する。この曲線かすれ補正処理部６３でデタッチ・再タッチ間を曲線近似させて曲線的に連続させて描画されるように処理する。
【００５６】
ここで、この曲線かすれ補正処理部６３による曲線補完方法について図１０及び図１１を参照して説明する。まず、図１０に示すベクトル図において、▲１▼から曲線描画が始まる場合、▲２▼の座標入力時に▲１▼から▲２▼への座標ベクトル値及び座標ベクトル長を算出し、メモリに保存する。同様に、▲３▼の座標入力時に▲２▼から▲３▼への座標ベクトル値及び座標ベクトル長を算出し、メモリに保存する。以下、同様に、新たな座標入力の度に座標ベクトル値及び座標ベクトル長を算出し、メモリに保存する（サンプリング数は実験的に得た最適値とする）。このような過程において、例えば、▲４▼▲５▼の座標が入力されなかった場合、▲３▼の座標入力までの座標ベクトル値の変化量（▲３▼の座標ベクトル値−▲２▼の座標ベクトル値）、座標ベクトル長の平均値を算出する。ついで、▲３▼においては▲２▼▲３▼間の座標ベクトル値に変化量を加算（或いは減算）することで、補完座標ベクトル値を得、表１を参照して座標ベクトル角度を得る。そして、平均座標ベクトル長、座標ベクトル角度から▲４▼に相当する座標（Ｘ４，Ｙ４）を、Ｘ４＝cos（座標ベクトル角度）×（平均座標ベクトル長）＋（又は−）Ｘ３Ｙ４＝sin（座標ベクトル角度）×（平均座標ベクトル長）＋（又は−）Ｙ３なる式により求め（図１１に示すベクトル図を参照）、座標(Ｘ３，Ｙ３)，(Ｘ４，Ｙ４)間を定められた色、太さで描画させるように処理する。このような曲線補完処理を再タッチ座標（図１０の場合であれば、▲６▼の位置）まで同様に繰り返す。ただし、補完された座標から再タッチ位置の座標までの長さが平均座標ベクトル長に満たない場合には、補完された座標から再タッチ位置の座標までを直線的に連続させて描画させるように処理する。
【００５７】
このように、曲線部分でかすれが生じた場合には、そのデタッチ・再タッチ間を図１０における直線Ａのように直線近似して全体から見ていびつな連続線として結んでしまうことなく、かすれ部分前後の座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて▲４▼▲５▼で示す如く曲線的に連続させることにより適正に補正することができる。
【００５８】
なお、本実施の形態の作用に関しては、ＦＤ、ＣＤ−ＲＯＭ等に予め記憶させたプログラムをコンピュータに読取らせることによっても実行させることができる。図６に示した例を参照すると、予め記憶されたソフトウエア（プログラム）をコンピュータ、特にＣＰＵ３１に提供できる情報記憶媒体として、ＲＯＭ３２、ＲＡＭ３３等の他に、ＦＤ３７、ＣＤ−ＲＯＭ３９等を有しており、ＣＰＵ３１に各種の処理動作、特にこの特徴的構成例に示した作用に対応する処理機能を実行させるための制御プログラムがソフトウエアとして予め設定されており、このような制御プログラムは例えばＣＤ−ＲＯＭ３９に予め格納されている。そして、このようなソフトウエアはＲＯＭ３２等に予めインストールされており、ＣＰＵ３１の起動時にＲＡＭ３３に複写されて動作時にＣＰＵ３１に読取られる。このようにＣＰＵ３１が各種のプログラムを読取って対応する処理を実行することにより、各種の処理機能が実現されるので、当該コンピュータが前述したような座標入力／検出処理を実行することになる。
【００５９】
ここに、本実施の形態の場合には、ＣＤ−ＲＯＭ３９等の情報記憶媒体に対して、指示手段４のタッチパネル３面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出機能と、タッチパネル３面に対する指示手段４のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能と、座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出される２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化機能と、タッチ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッチ検出により指示手段による指示線の途切れが検出された場合に座標ベクトル値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断機能と、このかすれ判断機能により途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理機能と、をコンピュータに実行させるためのプログラムが記憶されていればよい。或いは、指示手段４のタッチパネル３面に対する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出機能と、タッチパネル３面に対する指示手段４のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能と、座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出される２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化機能と、タッチ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッチ検出により指示手段４による指示線の途切れが検出された場合に座標ベクトル値における描画速度の違いに基づきかすれであるか破線描画における途切れであるかを判断する途切れ種別判断機能と、この途切れ種別判断機能により途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理機能とをコンピュータに実行させるためのプログラムが記憶されていればよい。これらの場合、かすれ補正処理機能は、かすれ部分前後の座標ベクトル値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断機能と、かすれ部分が直線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理機能と、かすれ部分が曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分をかすれ部分前後の座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理機能とよりなる。
【００６０】
また、本実施の形態は、いわゆる再帰光遮断方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置１への適用例として説明したが、タッチパネル型の座標入力／検出装置であれば、その方式を問わず同様に適用できる。例えば、図１２に示したような超音波方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置（特開昭６１−２３９３２２号公報等参照）はもちろん、画像入力手段を利用したカメラ撮像方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置、レーザスキャンを利用した回転走査＋反射板装着ペン方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置、ＬＥＤアレイ方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置（特開平５−１７３６９９号公報等参照）等であってもよい。
【００６１】
【発明の効果】
請求項１、４及び７記載の発明によれば、指示手段による指示位置に関して座標情報だけでなく、その変化の方向と長さとを示す座標ベクトル値としてベクトル化手段により逐次ベクトル座標化しておくことにより、タッチパネル上でのデタッチ・再タッチ検出が検出された場合に、座標ベクトル値を参照することにより、描画された指示線の途切れか否かを適正に判断することができる。また、意図した破線描画の場合に生ずる途切れと意図しないかすれにより生ずる途切れとではタッチパネル上での指先などの指示手段の移動速度が異なり、これをベクトルで表した場合に座標ベクトル値における長さ情報の違いとして現れ、意図した破線描画の場合にはベクトル長が順次短くなる点に着目し、途切れ種別判断手段により座標ベクトル値における描画速度の違いに基づきかすれであるか破線描画における途切れであるかを自動的に判断するので、かすれの場合には、かすれ補正処理手段によりその部分を連続させるように自動的に補正することができ、かすれによる途切れのない描画が可能となると共に、意図した破線描画の場合にはその途切れ部分を連続させてしまうような不具合を生ずることもない。
【００６２】
請求項２及び５記載の発明よれば、直線描画中だけでなく、曲線描画中においてかすれを生ずることもあるが、何れの状態でのかすれであるかは座標ベクトル値の類似性の有無により判断できるので、曲線部分でかすれが生じたと判断した場合には、直線近似していびつな連続線としてしまうことなく、かすれ部分前後の座標ベクトル値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させることにより適正に補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一実施の形態の前提的構成例を原理的に示す概略正面図である。
【図２】  その受発光手段の内部構造の構成例を示す概略正面図である。
【図３】  その検出動作を説明するための概略正面図である。
【図４】  受発光手段の取付間隔等を示す概略正面図である。
【図５】  ディスプレイ前面等への設置例を示す断面図である。
【図６】  その制御系の構成例を示すブロック図である。
【図７】  本実施の特徴的構成例を機能的に示すブロック図である。
【図８】  座標ベクトル値算出方法を説明するためのベクトル図である。
【図９】  かすれが生ずる場合と破線描画の場合との指先の動きを誇張して示す模式図である。
【図１０】  曲線描画時にかすれが生じた場合の曲線補完方法を説明するベクトル図である。
【図１１】  ベクトル図である。
【図１２】  超音波方式の座標入力／検出装置の構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
３      タッチパネル
４      指示手段
５１      座標検出手段
５２      タッチ／デタッチ検出手段
５３      ベクトル化手段
５６      かすれ判断手段
５８      途切れ種別判断手段
６０      直線／曲線判断手段
６１      かすれ補正処理手段
６２      直線かすれ補正処理手段
６３      曲線かすれ補正処理手段
【図１】
0004080647.tif 000003
【図２】
0004080647.tif 000004
【図３】
0004080647.tif 000005
【図４】
0004080647.tif 000006
【図５】
0004080647.tif 000007
【図６】
0004080647.tif 000008
【図７】
0004080647.tif 000009
【図８】
0004080647.tif 000010
【図９】
0004080647.tif 000011
【図１０】
0004080647.tif 000012
【図１１】
0004080647.tif 000013
【図１２】
0004080647.tif 000014