(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁基板と，該絶縁基板に設けた複数の導体パターンと，上記絶縁基板と上記導体パターンとを被覆する絶縁性樹脂被膜とよりなるプリント配線板において，
上記絶縁性樹脂被膜は上記複数の導体パターンを横切るように形成された導通検査用の連通開口部を有しており，
該連通開口部は，上記隣り合う複数の導体パターンにわたってそれらの上面の一部を上記絶縁性樹脂被膜に被覆させず連続的に露出させてなり，かつ上記導体パターンの上記露出された部分の間に存在する上記絶縁性樹脂被膜の上面を上記導体パターンの上面と同じ高さかそれよりも低く形成してなることを特徴とするプリント配線板。
【請求項２】
請求項１において，上記連通開口部は，円形状開口部を連ねて形成されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項３】
請求項１又は２において，上記連通開口部は，多角形状開口部を連ねて形成されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項において，上記連通開口部の最小幅は，上記複数の導体パターンの上面に連続的に接触する導通検査体の幅よりも大きいことを特徴とするプリント配線板。
【請求項５】
請求項４において，上記導通検査体は異方性導電ゴムからなることを特徴とするプリント配線板。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【技術分野】
本発明は，絶縁性樹脂被膜，特にソルダーレジストに導通検査用の連通開口部を設けたプリント配線板に関する。
【０００２】
【従来技術】
図５に示すごとく，従来のプリント配線板９は，絶縁基板２と，該絶縁基板２に設けた複数の導体パターン３と，上記絶縁基板２と上記導体パターン３とを被覆する絶縁性樹脂被膜としてのソルダーレジスト９４とよりなる。
上記ソルダーレジスト９４は，各導体パターン３の位置に対応した導体検査用の開口部９５を複数有し，各開口部９５において導体パターン３の上面の一部３１を個別に露出させている。なお，開口部９５同士はそれぞれ独立しており，隣り合う開口部９５，９５間には各導体パターン３の上面の一部３１を隔離する残壁部分９４８が介在する。
【０００３】
また，上記ソルダーレジスト９４は，上記開口部９５以外の部分において，その上面９４１を上記導体パターン３の上面よりも高い位置に配設してある。これは上記残壁部分９４８においても同様である。
【０００４】
導体パターンの導通検査を行う場合には，上記複数の導体パターン３に対して，個別に対応したコンタクトピンを接触，押圧して検査を行う場合がある。しかし，この場合には，コンタクトピンの細径化に限度があり，プリント配線板における導体パターンの高密度化（ファイン化）に対応することが困難である。
そこで，隣接する複数の導体パターンに対して，一の導通検査体７（実施形態例１参照）を接触，押圧して導通検査を行うことが考えられる。
【０００５】
【解決しようとする課題】
しかしながら，上記ソルダーレジスト９４の残壁部分９４８が上記導体パターン３への上記導通検査体７の接触を妨げ，正確な導通検査を妨げることがある。
即ち，各導体パターン３は，ソルダーレジスト９４に設けた各開口部９５において，その上面の一部３１を個別に露出している。また，各導体パターン３の上面の一部３１は，上記ソルダーレジスト９４の残壁部分９４８よりも低い位置にある。
【０００６】
そのため，複数の導体パターン３に対して，例えば上記導通検査体７を接触させて導通検査等を行う場合，上記残壁部分９４８が両者の均一な面接触を妨げる。それ故，均一な押圧力が接触面にかからず，導通不良が生じやすいので，正確な導通検査を行うことは困難である。
また，図５（Ｂ）に示すごとく，上記残壁部分９４８が，上記導体パターン３の上面の一部３１と上記導通検査体７との間に微細な間隙Ｑを生じさせて，接触不良による検査ミスを起こすことも考えられる。
【０００７】
本発明は，かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので，複数の導体パターンに対して，導通検査体を確実かつ均一に接触させることができるプリント配線板を提供しようとするものである。
【０００８】
【課題の解決手段】
請求項１に記載の発明は，絶縁基板と，該絶縁基板に設けた複数の導体パターンと，上記絶縁基板と上記導体パターンとを被覆する絶縁性樹脂被膜とよりなるプリント配線板において，
上記絶縁性樹脂被膜は上記複数の導体パターンを横切るように形成された導通検査用の連通開口部を有しており，
該連通開口部は，上記隣り合う複数の導体パターンにわたってそれらの上面の一部を上記絶縁性樹脂被膜に被覆させず連続的に露出させてなり，かつ上記導体パターンの上記露出された部分の間に存在する上記絶縁性樹脂被膜の上面を上記導体パターンの上面と同じ高さかそれよりも低く形成してなることを特徴とするプリント配線板にある。
【０００９】
本発明において最も注目すべきことは，絶縁性樹脂被膜は導通検査用の上記連通開口部を有しており，この導通検査用の連通開口部において複数の導体パターンの上面の一部を連続的に露出させていることである。
【００１０】
次に，本発明の作用につき説明する。
本発明のプリント配線板においては，複数の導体パターンの上面の一部が，上記絶縁性樹脂被膜に設けた上記連通開口部において，連続的に露出している。
また，各導体パターンの上面は，上記導体パターンの上記露出された部分の間に存在する上記絶縁性樹脂被膜の上面と略等しい位置又はそれよりも高い位置にある。即ち，検査対象となる複数の導体パターンの間には，従来例に示した残壁部分は存在していない。
【００１１】
そのため，複数の導体パターンに対して，例えば導通検査体を接触させて導通検査等を行う場合，上記残壁部分に接触を妨げられることなく，上記複数の導体パターンに対して上記導通検査体を確実かつ均一に面接触させることができる。それ故，均一な押圧力が接触面にかかり，導通を確保できるので，正確な導通検査を行うことができる。
上記連通開口部は，複数の導体パターン（例えば，線状の導体パターン）が密集して設けられている部分に設けることにより，正確な導通検査ができるという点で特に効果がある。
【００１２】
従って，上記プリント配線板は，例えば導通検査等を行う場合において，導通不良及び接触不良による検査ミスを確実に防止することができる。
【００１３】
次に，請求項２に記載の発明のように，上記連通開口部は，円形状開口部を連ねて形成されていることが好ましい。
また，請求項３に記載の発明のように，上記連通開口部は，多角形状開口部を連ねて形成されていることが好ましい。
これらの場合には，例えば上記絶縁性樹脂被膜にレーザを照射することによって，上記連通開口部を容易に形成することができる。
また，上記多角形状開口部の場合，上記導体パターンの露出部の幅が，導体パターンの間に介在する絶縁基板表面部よりも，大きく開口していることが好ましい。これにより，導通検査体を確実に面接触させることができる。
【００１４】
次に，請求項４に記載の発明のように，上記連通開口部の最小幅は，上記複数の導体パターンの上面に連続的に接触する導通検査体の幅よりも大きいことが好ましい。
この場合には，上記導通検査体を上記連通開口部内に挿入し，上記複数の導体パターンの上面に確実に接触させて，正確な導通検査を行うことができる。
また，請求項５に記載の発明のように，上記導通検査体は異方性導電ゴムからなることが好ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
実施形態例１
本発明の実施形態例にかかるプリント配線板につき，図１〜図３を用いて説明する。
本例のプリント配線板１は，図１〜図３に示すごとく，絶縁基板２と，該絶縁基板２に設けた複数の導体パターン３と，上記絶縁基板２と上記導体パターン３とを被覆する絶縁性樹脂被膜としてのソルダーレジスト４とよりなる。
【００１６】
上記ソルダーレジスト４は，上記複数の導体パターン３にわたって，その上面の一部３１を連続的に露出させた連通開口部５を有している。
この連通開口部５は，上記隣り合う複数の導体パターン３の上面の一部３１が上記ソルダーレジスト４に被覆されず露出されるように形成されている。また，上記連通開口部５は，上記導体パターン３の露出された部分（上面の一部３１，３１）の間に存在するソルダーレジスト４の上面が，上記導体パターン３の上面よりも若干低くなるように形成されている。
【００１７】
以下，上記プリント配線板１の製造方法に従って説明する。
まず，ガラスエポキシ基板等からなる絶縁基板に銅箔を張り付けた銅張積層板に対して，エッチング等を施すことによって，上記絶縁基板２上に導体パターン３を複数個形成する。次いで，上記導体パターン３を形成した絶縁基板２の表面全体に，ソルダーレジスト４を塗布する。
次いで，上記ソルダーレジスト４に対して，上記複数の導体パターン３を横切るようにレーザを連続的に照射する。これにより，上記ソルダーレジスト４に，円形状開口部５０を連ねただんご状の連通開口部５を形成する。
【００１８】
上記連通開口部５の最小幅Ｗは，図１に示すごとく，後述する導通検査体７の幅よりも大きい。また，上記連通開口部５の底面５８は，隣り合う導体パターンの上面の一部３１，３１の間に存在するソルダーレジスト４の上面の高さに合わせて，上記導体パターン３の上面よりも若干低い位置にある。また，上記連通開口部５は，図１，図２に示すごとく，上記複数の導体パターン３を横切って開口している。
【００１９】
導体パターンの電気導通の有無を検査する装置としては，導通検査体７を導体パターン３に押圧して検査を行う導通検査装置７０がある。
上記導通検査体７は，上下方向（厚み方向）に密集して並べられた複数の導電性粒子７１を内包した異方性導電ゴム７２である。
【００２０】
また，上記導通検査体７は，図３（Ａ）に示すごとく，自由状態のときには，上記導電性粒子７１が互いに離れた状態となり，導電性を失っている。一方，図３（Ｂ）に示すごとく，上下方向に押圧されたときには，上記導電性粒子７１が互いに密着した状態となり，上記導通検査体７は上記導電性粒子７１によって上下方向に導電性を得る。
【００２１】
そして，導体パターンの電気導通の検査にあたっては，プリント配線板１の上方向から上記導通検査装置７０を下降させ，上記導通検査体７を上記連通開口部５内に向かって挿入し，上記複数の導体パターン３の上面の一部３１に連続的に接触するように載置する。
次いで，図３（Ｂ）に示すごとく，上記複数の導体パターン３に対して上記導通検査体７を上方向から押圧し，上記導体パターン３と上記導通検査装置２との間の電気的導通を確実にする。このとき，導体パターン３に断線又はショートが生じていない場合には，正常な電気導通が得られる。これにより，各導体パターン３の良否が判定できる。
【００２２】
また，検査後は上記導通検査装置７０をプリント配線板１から遠ざける。これにより，上記導通検査体７は，図３（Ａ）に示すごとく，元の状態に復元する。
【００２３】
次に，本例の作用につき説明する。
本例のプリント配線板１においては，複数の導体パターン３の上面の一部３１が，上記ソルダーレジスト４に設けた上記連通開口部５において，連続的に露出している。また，各導体パターン３の上面は，隣り合う導体パターンの上面の一部３１，３１の間に存在するソルダーレジスト４の上面（上記連通開口部５の底面５８）よりも若干高い位置にある。即ち，検査対象となる複数の導体パターン３の間には，従来例に示した残壁部分９４８（図５）は存在していない。
【００２４】
そのため，複数の導体パターン３に対して，上記導通検査体７を接触させて導通検査を行う場合，上記残壁部分に接触を妨げられることなく，上記複数の導体パターン３に対して上記導通検査体７を確実かつ均一に面接触させることができる。それ故，均一な押圧力が接触面にかかり，導通を確保できるので，正確な導通検査を行うことができる。
従って，上記プリント配線板１は，導通検査を行う場合において，導通不良及び接触不良による検査ミスを確実に防止することができる。
【００２５】
また，上記連通開口部５の最小幅Ｗは上記導通検査体７の幅よりも大きいので，上記導通検査体７を上記連通開口部５内に容易に挿入し，上記複数の導体パターン３の上面の一部３１に確実に接触させて，正確な導通検査を行うことができる。
また，上記のごとく，上記円形状開口部５０を連ねた連通開口部５は，上記ソルダーレジスト４にレーザを広いピッチで連続的に照射することによって，容易に形成することができる。
【００２６】
実施形態例２
本例は，図４に示すごとく，ソルダーレジスト４に対して，複数の導体パターン３を横切るようにレーザを狭いピッチで連続的に照射して，上記円筒状開口部５０を連ねた帯状の連通開口部５２を形成したものである。その他は，実施形態例１と同様である。本例においても，実施形態例１と同様の作用効果を有する。
なお，この連通開口部５２は，例えば四角形等の多角形状開口部（図示略）を連ねて形成することもできる。また，レーザを横方向にスライド照射して形成することもできる。
【００２７】
【発明の効果】
上述のごとく，本発明によれば，複数の導体パターンに対して，導通検査体を確実かつ均一に接触させることができるプリント配線板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態例１における，（Ａ）プリント配線板の連通開口部を説明する平面図，（Ｂ）Ｂ−Ｂ線矢視断面図。
【図２】実施形態例１における，プリント配線板の平面図。
【図３】実施形態例１における，導通検査体の縦断面図。
【図４】実施形態例２における，（Ａ）プリント配線板の連通開口部を説明する平面図，（Ｂ）Ｃ−Ｃ線矢視断面図。
【図５】従来例における，（Ａ）プリント配線板の開口部を説明する平面図，（Ｂ）Ａ−Ａ線矢視断面図。
【符号の説明】
１．．．プリント配線板，
２．．．絶縁基板，
３．．．導体パターン，
４．．．ソルダーレジスト（絶縁性樹脂被膜），
５．．．連通開口部，
５０．．．円形状開口部，
【図１】
0004032506.tif 000002
【図２】
0004032506.tif 000003
【図３】
0004032506.tif 000004
【図４】
0004032506.tif 000005
【図５】
0004032506.tif 000006