(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光線路の片端から光パルスを入射するとともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光ファイバ損失測定方法において、
Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、また、ＡポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、ＤポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐することが可能であり、Ｃポートに測定対象の複数の光ファイバが各々接続される複数の光合分岐器と、
２×Ｎ光スイッチを用い、
前記光合分岐器のＣポートに測定対象の光ファイバの片側を接続し、前記２×Ｎ光スイッチのＮ心側に前記複数の光合分岐器のＡポートとＢポートを対にして接続し、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に前記測定対象の光ファイバとは別の第１光ファイバの片端を接続し、かつ、前記第１光ファイバのもう片端に前記光パルス試験器を接続すると共に、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に第１光反射器を接続することにより、１つの前記第１光反射器を測定対象の複数の光ファイバで共用できるように、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に前記光パルス試験器と前記第１光反射器とを対にして接続し、前記測定対象の光ファイバのもう片端に、前記測定対象の光ファイバの遠端のコネクタに内蔵した、通信光を透過し、試験光を反射する特性を持つ光反射器を用いることを特徴とする第２光反射器を接続し、前記光分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファイバとは別の第２光ファイバを接続し、
前記２×Ｎ光スイッチにより、前記光パルス試験器と前記第１光反射器を、全ての前記光合分岐に対して共用可能として、前記複数の光合分岐器から任意の１つの光合分岐器を選択し、
試験光の経路を前記２×Ｎ光スイッチから前記光合分岐器を経由して試験光が分岐され、一方は再度前記光スイッチに至り、その後に、前記第１光反射器、前記光合分岐器、前記２×Ｎ光スイッチ、前記光合分岐器により分岐された他方は前記光ファイバ、前記２×Ｎ光スイッチをそれぞれ経由して、前記光パルス試験器に到達するようにし、
その際に、
前記任意の１つの光合分岐器及び前記２×Ｎ光スイッチを通して前記第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ(dB)と、前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲB(dB)を測定し、
前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB)、前記任意の１つの光合分岐器のAポートとBポート間の損失がＣLossＡＢ（dB)、前記任意の１つの光合分岐器のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB)、前記任意の１つの光合分岐器と前記第１光反射器間の前記２×Ｎ光スイッチの接続損失がＷLoss（dB)であるとき、
前記測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損失ＦLossを、
ＦLoss＝（ＲLossＡ＋（ＲＡ／２）＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）−（ＲLossＢ＋（ＲＢ／２）＋ＣLossＡＣ＋ＷLoss）
の式から１度の測定で求めることを特徴とする光ファイバ損失測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光パルス試験器（ＯＴＤＲ）を用いて光ファイバ線路の光損失を測定する方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図１４〜図１９を参照して、従来の光ファイバ損失測定技術及びその問題点を説明する。
【０００３】
［第１従来例］
図１４に、光パルス試験器１を用いて測定対象の光ファイバ５の光損失を測定する測定系の第１従来例を示す。図１４において、光パルス試験器１を光ファイバ５の片端に接続し、光ファイバ５に光パルス（試験光）を入射する。光パルス試験器１は光ファイバ５から入射光パルスに対する応答光を受光し、受光した応答光波形から光ファイバ５の特性を測定する。光ファイバ５が複数本の光ファイバが接続されたものである場合は、途中に融着接続点７やコネクタ接続点８がある。１１は光ファイバ５の遠端ｅに備えたコネクタを表す。
【０００４】
図１５に、図１４の測定系にて光パルス試験器１で測定した応答光波形の例を示す。図１５において、縦軸は後方散乱光レベル、横軸は距離（近端から遠端方向への距離）である。この応答光波形より、光ファイバ５の近端ｓの後方散乱光レベルがＸ０（ｄＢ）、遠端ｅの後方散乱光レベルがＸ１（ｄＢ）である場合、光ファイバ５の近端ｓから遠端ｅまでの光損失ＦLoss（ｄＢ）は、次の式（１）で求められる。
ＦLoss＝Ｘ０−Ｘ１                ・・・式（１）
なお、光損失ＦLossには、途中の融着接続点７及びコネクタ接続点８による損失も含まれる。
【０００５】
［第２従来例］
次に、第２従来例として、図１６に、伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイバ５について、インサービス時にも通信に影響を与えることなく、光損失を測定する測定系を示す。図１６において、試験光を遮断し、通信光を透過する特性を具備する試験光遮断フィルタ２３及び試験光遮断フィルタ３３を、それぞれ伝送装置２０及び伝送装置２１の前に挿入する。また、通信光を遮断し、試験光を透過する特性を具備する通信光遮断フィルタ２５を、光パルス試験器１の前に挿入する。また、光ファイバ５の片端に光合分岐器２２を挿入する。光パルス試験器１は、それの通信光遮断フィルタ２５と光ファイバ３４と光合分岐器２２を介して、光ファイバ５に接続される。伝送装置２０は、それの試験光遮断フィルタ２３と光ファイバ２４と光合分岐器２２を介して、光ファイバ５に接続される。伝送装置２１は、それの試験光遮断フィルタ３３を介して光ファイバ５に接続される。図１６中、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、１１は光ファイバ５の遠端ｅのコネクタを表す。
【０００６】
図１６の測定系では、光パルス試験器１の試験光として、伝送装置２０、２１間に使われている通信波長（例えば１３１０ｎｍ）とは異なる試験波長（例えば１６５０ｎｍ）の光を使うことで、通信に対して影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失測定を実現することが可能である。
【０００７】
［第３従来例］
次に、第３従来例として、図１７に、１×Ｎ光スイッチ２８を使用して、１台の光パルス試験器１で複数の光ファイバの光損失を測定する構成例を示す。図１７の測定系は、図１６の光ファイバ３４の途中に１×Ｎ光スイッチ２８を挿入したものであり、１×Ｎ光スイッチ２８の１心側を光パルス試験器１に接続し、Ｎ心側を光合分岐器２２に接続する。図１７中、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、２０及び２１は伝送装置、２３及び３３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ、２５は通信光遮断フィルタ、２９は１×Ｎ光スイッチのヘッド（１心）を表す。
【０００８】
図１７の測定系では、１×Ｎ光スイッチ２８により光パルス試験器１を所望の光合分岐器２２に接続することにより、１台の光パルス試験器１で複数の光ファイバの光損失を測定することが可能である。また、測定毎に、人手で光合分岐器２２と光パルス試験器１、通信光遮断フィルタ２５を取り付ける必要もない。
【０００９】
図１７の測定系は、例えば「なーるほど光アクセス網とπシステム（電気通信協会、１９９９年発行）」のp.111 からp.114 までに、「光試験システム」の名称で紹介されている。
【００１０】
［第４従来例］
しかし、実際の測定系では、図１８に示すように、光パルス試験器１と測定対象の光ファイバ５とは、コネクタ９を介して接続されている。また、光ファイバ５においては、途中のコネクタ１０の接続点と、遠端のコネクタ１１の接続点が近接している場合がある。図１８に示す測定系は、近端のコネクタ９と遠端に接近したコネクタ１０が図１４の測定系に加わったものである。
【００１１】
図１９に、図１８の測定系にて光パルス試験器１で測定した応答光波形の例を示す。図１９中、縦軸が後方散乱光レベル、横軸が距離である。この応答光波形から分かるように、近端のコネクタ９により発生するフレネル反射３５によって、近端での後方散乱光レベルを正確に求めることができない。また、遠端に接近したコネクタ１０により発生するフレネル反射３６によって、遠端での後方散乱光レベルを正確に求めることができない。
【００１２】
従って、光ファイバ５の光損失を正確に測定することができない。これは、図１６や図１７に示した測定系においても同様に発生する問題である。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、光パルス試験器を用いて正確に光ファイバの光損失を測定する手段を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
第１発明は、更に別の光ファイバ損失測定方法であり、光線路の片端から光パルスを入射するとともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光ファイバ損失測定方法において、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、また、ＡポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、ＤポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐することが可能であり、Ｃポートに測定対象の複数の光ファイバが各々接続される複数の光合分岐器と、２×Ｎ光スイッチを用い、前記光合分岐器のＣポートに測定対象の光ファイバの片側を接続し、前記２×Ｎ光スイッチのＮ心側に前記複数の光合分岐器のＡポートとＢポートを対にして接続し、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に前記測定対象の光ファイバとは別の第１光ファイバの片端を接続し、かつ、前記第１光ファイバのもう片端に前記光パルス試験器を接続すると共に、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に第１光反射器を接続することにより、１つの前記第１光反射器を測定対象の複数の光ファイバで共用できるように、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に前記光パルス試験器と前記第１光反射器とを対にして接続し、前記測定対象の光ファイバのもう片端に第２光反射器を接続し、前記光合分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファイバとは別の第２光ファイバを接続し、前記２×Ｎ光スイッチにより、前記光パルス試験器と前記第１光反射器を、全ての前記光合分岐器に対して共用可能として、前記複数の光合分岐器から任意の１つの光合分岐器を選択し、前記任意の１つの光合分岐器及び前記２×Ｎ光スイッチを通して前記第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ（dB) を測定し、前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記任意の１つの光合分岐器のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、前記任意の１つの光合分岐器のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB)、前記任意の１つの光合分岐器と前記第１光反射器間の前記２×Ｎ光スイッチの接続損失がＷLoss（dB) であるとき、前記測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損失ＦLossを、ＦLoss＝（ＲLossＡ＋（ＲＡ／２）＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）−（ＲLossＢ＋（ＲＢ／２）＋ＣLossＡＣ）
の式から１度の測定で求めることを特徴とする。
【００１８】
第２発明は、第１発明の光ファイバ損失測定方法において、前記第２光反射器として、前記測定対象の光ファイバの遠端のコネクタに内蔵した、通信光を透過し、試験光を反射する特性を持つ光反射器を用いることを特徴とする。
【００２２】
第３発明は、更に別の光ファイバ損失測定装置であり、光線路の片端から光パルスを入射するとともに、前記光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から前記光線路の特性を測定する光パルス試験器を用いた光ファイバ損失測定装置において、前記光パルス試験器と、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、また、ＡポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐し、かつ、ＤポートからＢポートへ、また、ＤポートからＣポートへいずれかにも光が合分岐することが可能であり、Ｃポートに測定対象の複数の光ファイバが各々接続される複数の光合分岐器と、Ｎ心側に、前記複数の光合分岐器のＡポートとＢポートが対になって接続される２×Ｎ光スイッチと、前記光パルス試験器と前記２×Ｎ光スイッチの２心側を接続する、前記測定対象の光ファイバとは別の光ファイバと、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に接続される第１光反射器と、前記測定対象の光ファイバのもう片端に接続される第２光反射器とを備え、１つの前記第１光反射器を測定対象の複数の光ファイバで共用できるように、前記光パルス試験器と前記第１光反射器とが、前記２×Ｎ光スイッチの２心側に、対になって接続され、前記２×Ｎ光スイッチは、前記複数の光合分岐器から任意の１つの光合分岐器を選択することにより、前記光パルス試験器と前記第１光反射器を、全ての前記光合分岐器に対して共用するものであり、前記光パルス試験器は、前記２×Ｎ光スイッチが、前記複数の光合分岐器から任意の１つの光合分岐器を選択した際、前記第１光反射器の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、前記第２光反射器の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、前記任意の１つの光合分岐器のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、前記任意の１つの光合分岐器のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、前記任意の１つの光合分岐器と前記第１光反射器間の前記２×Ｎ光スイッチの接続損失がＷLoss（dB) であるとき、前記任意の１つの光合分岐器のＤポートに前記測定対象の光ファイバとは別の第２光ファイバが接続された状態で、前記任意の１つの光合分岐器を通して測定した前記第１光反射器からのフレネル反射のレベルＲＡ（dB) と、前記任意の１つの光合分岐器を通して測定した前記第２光反射器からのフレネル反射のレベルＲＢ（dB) とから、前記測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損失ＦLossを、ＦLoss＝（ＲLossＡ＋（ＲＡ／２）＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）−（ＲLossＢ＋（ＲＢ／２）＋ＣLossＡＣ）
の式から１度の測定で求めることを特徴とする。
【００２３】
第４発明は、第３発明の光ファイバ損失測定装置において、前記第２光反射器が通信光を透過し、試験光を反射する特性を持ち、前記測定対象の光ファイバの遠端のコネクタに内蔵されていることを特徴とする。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
【００２５】
［第１実施例：１×２光スイッチを使用した例］
本発明の第１実施例を図１、図２を用いて説明する。
【００２６】
まず、本第１実施例の測定系を説明する。図１中、１は光パルス試験器、２は１×２光スイッチ（１×２構成の光スイッチ）、３は光ファイバ、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、６は光反射器（第２光反射器）を表す。また、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端ｓのコネクタ、１０は遠端ｅに接近したコネクタ、１１は遠端ｅのコネクタを表す。
【００２７】
光パルス試験器１は、光線路の片端から光パルスを入射するとともに、光線路で発生する後方散乱光及びフレネル反射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から光線路の特性を測定する装置である。
【００２８】
１×２光スイッチ２は、Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、光経路をＡポートからＢポートへ、もしくはＡポートからＣポートへのいずれかに切り換えることが可能な光スイッチである。
【００２９】
このような１×２光スイッチ２のＡポートに光ファイバ３の片端が接続され、光ファイバ３のもう片端に光パルス試験器１が接続される。また、１×２光スイッチ２のＢポートには光反射器４が接続され、１×２光スイッチ２のＣポートには測定対象である光ファイバ５が接続される。更に、光ファイバ５の反対側に、光反射器６が着脱可能に接続される。
【００３０】
１×２光スイッチ２のＣポートと光ファイバ５とはコネクタ９を介して接続するようにしている。
【００３１】
これにより、１×２光スイッチ２は光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入する機能と、光反射器４からの反射光を測定する機能を備える。なお、本第１実施例では、光反射器６は、測定毎に、人手でコネクタ１１に取り付け、測定後に取り外すようにしている。
【００３２】
次に、本第１実施例での測定方法を説明する。
【００３３】
(1) まず、１×２光スイッチ２をＡポートからＢポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【００３４】
(2) 次に、１×２光スイッチ２をＡポートからＣポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、光反射器６からのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【００３５】
但し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、光反射器６からのフレネル反射光のレベルの上記測定順序は１例であり、これに限定されず、逆の順序で測定しても良い。
【００３６】
図２に、上記方法で測定した応答光波形例を示す。図２において、縦軸が後方散乱光レベル、横軸が距離である。本来であれば、光反射器４からのフレネル反射１２と光反射器６からのフレネル反射１３は一度では測定できないため、光パルス試験器１の同一画面上には現れないが、ここでは、説明を簡単にするため、同一画面上で説明する。
【００３７】
そして、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＢポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６の反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端ｓから遠端ｅまでの光損失をＦLossとすると、次の式（２）にて光損失ＦLossを求めることで測定を行う。
ＦLoss＝（ＲLossＡ＋（ＲＡ／２）＋ＳLossＡＢ）
−（ＲLossＢ＋（ＲＢ／２）＋ＳLossＡＣ） ・・・式（２）
【００３８】
光損失ＦLossには、途中の融着接続点７、コネクタ接続点８、コネクタ９の接続点、コネクタ１０の接続点及びコネクタ１１の接続点による各損失も含まれる。
【００３９】
本第１実施例によれば、フレネル反射による光ファイバ５の両端における後方散乱光レベルへの影響による光損失ＦLossの測定精度の低下を回避することが可能となる。つまり、光損失ＦLossを精度良く測定することができる。
【００４０】
光反射器４の反射減衰量ＲLossＡ、光反射器６の反射減衰量ＲLossＢ、１×２光スイッチ２の各ポートの損失ＳLossＡＢ、ＳLossＡＣは、予め測定しておく。つまり、これらを既知の損失として、式（２）の演算が行われる。
【００４１】
ここで、光反射器４及び光反射器６の反射は、他のコネクタ、例えば光ファイバ５の近端ｓにあるコネクタ９や光ファイバ５の遠端ｅにあるコネクタ１１で発生するフレネル反射量よりも十分大きい必要がある。従って、光反射器４の反射減衰量及び光反射器６の反射減衰量は、０〜１ｄＢ等と完全反射に近い方が精度良く光損失ＦLossを測定することができる。
【００４２】
式（２）により光損失ＦLossを求める演算は、光パルス試験器１で行っている。この演算を光パルス試験器１とは別の演算手段で行っても良いが、光パルス試験器１による演算と等価である。
【００４３】
［第２実施例：光合分岐器を使用した例］
次に、本発明の第２実施例を図３、図４を用いて説明する。本第２実施例は第１実施例で用いられている１×２光スイッチ２を光合分岐器１４に置き換えたものであり、他の構成は同様なので、第１実施例と同じ部材には同じ符号を付し、また、説明の重複を省く。
【００４４】
まず、本第２実施例の測定系を説明する。図２中、１は光パルス試験器、１４は３つの光入出力ポートを備えた光合分岐器、３は光ファイバ、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、６は光反射器（第２光反射器）を表す。また、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端に近接したコネクタ、１１は遠端のコネクタを表す。
【００４５】
光合分岐器１４は、Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、ＡポートからＢポートへ、もしくはＡポートからＣポートへのいずれかにも光が合分岐する光合分波器である。
【００４６】
従って、光合分岐器１４では、Ａポートから入射した光はＢポートとＣポートの両方に出射される。逆に、Ｂポートから入射した光も、Ｃポートから入射した光も、Ａポートに出射される。
【００４７】
このような光合分岐器１４のＡポートに光ファイバ３の片端が接続され、光ファイバ３のもう片端に光パルス試験器１が接続される。また、光合分岐器１４のＢポートには光反射器４が接続され、Ｃポートには測定対象である光ファイバ５が接続される。更に、光ファイバ５の反対側に、光反射器６が着脱可能に接続される。
【００４８】
光合分岐器１４のＣポートと光ファイバ５とは、第１実施例と同様、コネクタ９を介して接続するようにしている。
【００４９】
これにより、光合分岐器１４は光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入する機能と、光反射器４からの反射光を測定する機能を備える。なお、光反射器６は、測定毎に、人手で遠端のコネクタ１１に取り付け、測定後に取り外すようにしている。
【００５０】
次に、本第２実施例での測定方法を説明する。
【００５１】
本第２実施例では、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合分岐器１４に光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、光反射器６からのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【００５２】
図４に、上記方法で測定した応答光波形例を示す。図４において、縦軸が後方散乱光レベル、横軸が距離であり、１２は光反射器４からのフレネル反射、１３は光反射器６からのフレネル反射である。
【００５３】
そして、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６の反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６の反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失ＦLossを、次の式（３）にて求めることで測定を行う。
ＦLoss＝（ＲLossＡ＋（ＲＡ／２）＋ＣLossＡＢ）
−（ＲLossＢ＋（ＲＢ／２）＋ＣLossＡＣ） ・・・式（３）
【００５４】
本第２実施例によれば、第１実施例と同様、フレネル反射による光ファイバ５の両端における後方散乱光レベルへの影響による光損失ＦLossの測定精度の低下を回避することが可能となる。つまり、光損失ＦLossを精度良く測定することができる。また、光合分岐器１４を光ファイバ５に接続した場合は、１度の測定で、光ファイバ５の光損失を測定することができる。
【００５５】
第１実施例と同様、光反射器４の反射減衰量ＲLossＡ、光反射器６の反射減衰量ＲLossＢ、光合分岐器１４の各ポートの損失ＣLossＡＢ、ＣLossＡＣは、予め測定しておく。
【００５６】
また、第１実施例と同様、光反射器４の反射及び光反射器６の反射は、他のコネクタ、例えば光ファイバ５の近端にあるコネクタ９や遠端にあるコネクタ１１で発生するフレネル反射量より十分大きい必要がある。従って、光反射器４及び光反射器６の反射減衰量は、０〜１ｄＢ等と完全反射に近い方が精度良く光損失ＦLossを測定することができる。
【００５７】
更に、式（３）により光損失ＦLossを求める演算は、光パルス試験器１が行っている。この演算を光パルス試験器１とは別の演算手段で行っても良いが、光パルス試験器１による演算と等価である。
【００５８】
［第３実施例］
次に、本発明の第３実施例を図５〜図１１を用いて説明する。
【００５９】
［第３実施例その１：反射器付きコネクタ］
本第３実施例では、第２光反射器として、図５に示すように、光通信に影響を与えないように、通信光１５は透過し、試験光１６は反射する特性を持つ光反射器６ａを用いる。この光反射器６ａは遠端のコネクタに内蔵される。以下、光反射器６ａを内蔵する遠端のコネクタを反射器付きコネクタ１１ａと呼ぶ。
【００６０】
図６及び図７に、反射器付きコネクタ１１ａの具体的な構成例を示す。図６に示す反射器付きコネクタ１１ａは、ＳＣコネクタフェルール１７内に、誘電体多層膜フィルタ１８を埋め込んだものである。図７に示す反射器付きコネクタ１１ａは、ＳＣコネクタフェルール１７内に、ファイバグレーティングフィルタ１９を埋め込んだものである。
【００６１】
前述した第１実施例及び第２実施例では、光反射器６を測定毎に遠端のコネクタ１１に取り付ける必要があったが、本第３実施例では、反射器付きコネクタ１１ａが光反射器６ａを予め内蔵したものであるから、この反射器付きコネクタ１１ａを遠端のコネクタとして光ファイバ５の端末に予め取り付けておくことで、測定毎に人手で光反射器６をコネクタ１１に取り付けるといった作業が必要なくなる。
【００６２】
なお、前述した第１実施例及び第２実施例において、コネクタ１１に内蔵されない光反射器６自体が、通信光は透過し試験光は反射する特性を持つ光通信に影響を与えない光反射器であっても良い。
【００６３】
［第３実施例その２：１×２光スイッチと反射器付きコネクタを使用した例］
次に、図８により、第１実施例（図１）の構成で、反射器付きコネクタ１１ａを使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシステム構成を説明する。従って、第１実施例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省略く。
【００６４】
図８中、１は光パルス試験器、２は１×２光スイッチ、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端に近接したコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ（光反射器６ａ内蔵）、２０は伝送装置、２１は伝送装置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバを表す。
【００６５】
反射器付きコネクタ１１ａは、図５〜図７（第３実施例その１）で説明したように、通信光は透過し、試験光は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを内蔵したコネクタであり、予め、光ファイバ５の端末に取り付けられている。
【００６６】
光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装置２０との接続用光ファイバ２４と、１×２光スイッチ２との接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐接続するための光合分岐器であり、光ファイバ５とはコネクタ９により接続される。
【００６７】
試験光遮断フィルタ２３は、試験光を遮断し、通信光を透過する特性を具備するフィルタである。通信光遮断フィルタ２５は、通信光を遮断し、試験光を透過する特性を具備するフィルタである。
【００６８】
伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイバ５の光損失を測定する前に、光合分岐器２２が光ファイバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入される。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１の前に挿入される。
【００６９】
これら光合分岐器２２、試験光遮断フィルタ２３、反射器付きコネクタ１１ａ及び通信光遮断フィルタ２５の挿入は、通常、常時挿入しておくと良い。
【００７０】
１×２光スイッチ２のＡポートには、第１実施例に準じて、光ファイバ３の片端が接続されている。また、この光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２５を介して、光パルス試験器１が接続されている。また、１×２光スイッチ２のＢポートには、光反射器４が接続されている。
【００７１】
１×２光スイッチ２のＣポートには、コネクタ２６で光ファイバ２７を介して光合分岐器２２を接続することで、測定対象の光ファイバ５が接続される。
【００７２】
これにより、光合分岐器２２は光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入する機能を持つ。また、１×２光スイッチ２は光反射器４からの反射光を測定する機能と、光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光合分岐器２２を介して光ファイバ５に挿入する機能を備える。
【００７３】
本例での測定方法は第１実施例と同様であり、例えば、
(1) １×２光スイッチ２をＡポートからＢポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
(2) 次に、１×２光スイッチ２をＡポートからＣポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【００７４】
そして、第１実施例と同様、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＢポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失ＦLossを、前記式（２）にて求めることで測定を行う。
【００７５】
従って、光パルス試験器１からの試験光波長と、伝送装置２０、２１間に使われている通信光波長とを異ならせることで、伝送装置２０、２１間の通信中にも、通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失ＦLossを精度良く測定することができる。つまり、光反射器６ａを光ファイバ５の遠端のコネクタ１１ａに予め内蔵したことにより、現用の光ファイバ５の光通信時の通信に影響を与えることがない。
【００７６】
ここで、光反射器４の反射及び光反射器６ａの反射は、他のコネクタ、例えば光ファイバ５の近端にあるコネクタ９や遠端にあるコネクタ１１ａで発生するフレネル反射量より十分大きい必要がある。従って、光反射器４の反射減衰量及びコネクタ１１ａ内蔵の光反射器６ａの反射減衰量は、０〜１ｄＢ等と完全反射に近い方が精度良く光損失ＦLossを測定することができる。
【００７７】
なお、本例では、光合分岐器２２にコネクタ２６を用いて１×２光スイッチ２を接続することで、光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３、１×２光スイッチ２及び光反射器４を光ファイバ５に取り付けるようにしている。しかし、常時、光合分岐器２２に１×２光スイッチ２を接続しておいても良い。
【００７８】
［第３実施例その３：１×２光スイッチと反射器付きコネクタと１×Ｎ光スイッチを使用した例］
次に、図９により、第１実施例（図１）の構成で、反射器付きコネクタ１１ａと１×Ｎ光スイッチ２８を使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシステム構成を説明する。本例は、図８の例（第３実施例その２）と比較すると、１×２光スイッチ２と光合分岐器２２との間に、１×Ｎ光スイッチ２８を挿入した点が異なり、他の構成は同様なので、図８の例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。
【００７９】
図９中、１は光パルス試験器、２は１×２光スイッチ、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端に接近したコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバ、２８は１×Ｎ光スイッチ（１×Ｎ構成の光スイッチ）、２９は１心のヘッドを表す。
【００８０】
光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装置２０との接続用光ファイバ２４と１×２光スイッチ２との接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐接続するための光合分岐器であり、光ファイバ５とは近端のコネクタ９で接続される。
【００８１】
図９では光ファイバ５と光合分岐器２２を１組だけ示しているが、伝送装置２０、２１とその間の光ファイバ５からなる通信系が複数存在する場合は、光ファイバ５毎に図９と同様に光合分波器２２が接続される。
【００８２】
１×Ｎ光スイッチ２８のＮ心側には、予め、複数の光合分岐器２２がそれぞれ光ファイバ２７を介して接続されている。１×Ｎ光スイッチ２８の１心側には、予め、１×２光スイッチ２のＣポートのコネクタ２６が接続されている。
【００８３】
従って、１×２光スイッチ２のＣポートには、１×Ｎ光スイッチ２８のヘッド２９の動作に応じて、所望の光合分岐器２２が選択されて接続され、その結果、所望の光ファイバ５が測定対象として接続される。
【００８４】
１×２光スイッチ２のＡポートには、図８の例と同様、光ファイバ３の片端が接続されている。この光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２５を介して、光パルス試験器１が接続されている。１×２光スイッチ２のＢポートには、光反射器４が接続されている。
【００８５】
次に、本例での測定方法を説明する。
【００８６】
(1) 例えば、１×２光スイッチ２をＡポートからＢポートに接続し、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して１×２光スイッチ２に光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【００８７】
(2) 次に、１×２光スイッチ２をＡポートからＣポートに接続し、また、１×Ｎ光スイッチ２８で所望の光合分岐器２２を選択し、光パルス試験器１から光ファイバ３、１×２光スイッチ２、１×Ｎ光スイッチ２８及び光合分岐器２２を介して所望の光ファイバ５に光パルスを出射し、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。但し、試験光波長は通信光波長と異ならせる。
【００８８】
そして、図８の例と同様、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＢポート間の損失がＳLossＡＢ（dB) 、１×２光スイッチ２のＡポートとＣポート間の損失がＳLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失をＦLossとすると、前記式（２）にて光損失ＦLossを求めることで測定を行う。
【００８９】
本例では、１×Ｎ光スイッチ２８を備えていることから、この１×Ｎ光スイッチ２８、１×２光スイッチ２及び光パルス試験器１を遠隔自動で制御することにより、図８の例とは異なり光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３、１×２光スイッチ２及び光反射器４を光ファイバ５に取り付ける必要がなくなる。
【００９０】
また、本例では、１×Ｎ光スイッチ２８を用いることで、１つの光反射器４を複数の光ファイバ５の光損失測定に共用することができ、経済的かつ高密度に光損失を測定するシステムを構築することができる。
【００９１】
［第３実施例その４：光合分岐器と反射器付きコネクタを使用した測定］
次に、図１０により、第２実施例（図３）の構成で、反射器付きコネクタ１１ａを使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシステム構成を説明する。言い換えれば、本例は、図８の例（第３実施例その２）と比べると、１×２光スイッチ２に代えて光合分岐器１４を用いた点が異なり、他の構成は同様なので、図８の例あるいは第２実施例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。
【００９２】
図１０中、１は光パルス試験器、１４は光合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端近くのコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバを表す。
【００９３】
反射器付きコネクタ１１ａは、図５で説明したように、通信光は透過し、試験光は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを内蔵したコネクタであり、光ファイバ５の端末に取り付けられる。
【００９４】
光合分岐器１４は、Ａポート、Ｂポート、Ｃポートと３つの光入出力ポートを備え、光経路をＡポートからＢポートへ、もしくはＡポートからＣポートへのいずれかにも光が合分岐する光合分岐器である。
【００９５】
光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装置２０側の接続用光ファイバ２４と光合分岐器１４側の接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐接続するための光合分岐器であり、光ファイバ５とはコネクタ９により接続される。光ファイバ２７は光合分岐器１４のＣポートに、コネクタ２６により接続される。
【００９６】
伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイバ５の光損失を測定する前に、光合分岐器２２が光ファイバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入される。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１の前に挿入される。
【００９７】
光合分岐器１４のＡポートには、第２実施例に準じて、光ファイバ３の片端が接続されている。この光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２５を介して、光パルス試験器１が接続されている。また、光合分岐器１４のＢポートには、光反射器４が接続されている。
【００９８】
光合分岐器１４のＣポートは、コネクタ２６及び光ファイバ２７を介して、光合分岐器２２に接続される。これにより、光合分岐器１４のＣポートに測定対象の光ファイバ５が接続されることになる。
【００９９】
これにより、光合分岐器２２は光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入する機能を持つ。また、光合分岐器１４は光反射器４からの反射光を測定する機能と、光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光合分岐器２２を介して光ファイバ５に挿入する機能を備える。
【０１００】
本例での測定方法は、第２実施例と同様であり、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合分岐器１４に光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【０１０１】
そして、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端ｓから遠端ｅまでの光損失をＦLossとすると、前記式（３）にて光損失ＦLossを求めることで測定を行う。
【０１０２】
従って、光パルス試験器１からの試験光波長と、伝送装置２０、２１間に使われている通信波長とを異ならせることで、伝送装置２０、２１間の通信中にも、通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失ＦLossを精度良く測定することができる。
【０１０３】
なお、本例では、光合分岐器２２にコネクタ２６を用いて光合分岐器１４を接続することで、光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３、光合分岐器１４及び光反射器４を光ファイバ５に取り付けるようにしている。しかし、常時、光合分岐器２２に光合分岐器１４を接続しておいても良い。
【０１０４】
［第３実施例その５：光合分岐器と反射器付きコネクタと１×Ｎ光スイッチを使用した測定］
次に、図１１により、第２実施例（図３）の構成で、反射器付きコネクタ１１ａと１×Ｎ光スイッチ２８を使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシステム構成を説明する。言い換えれば、本例は、図１０の例（第３実施例その４）と比べると、光合分岐器１４と光合分岐器２２の間に、１×Ｎ光スイッチ２８が挿入されている点が異なり、他の構成は同様なので、図１０の例あるいは第２実施例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。
【０１０５】
図１１中、１は光パルス試験器、１４は光合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端近くのコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装置、２２は光合分岐器、２３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フィルタ、２６はコネクタ、２７は光ファイバ、２８は１×Ｎ光スイッチ、２９は１心のヘッドを表す。
【０１０６】
光合分岐器２２は光ファイバ５を、伝送装置２０側の接続用光ファイバ２４と光合分岐器１４側の接続用光ファイバ２７にそれぞれ合分岐するための光合分岐器であり、光ファイバ５とは近端のコネクタ９で接続される。
【０１０７】
図１１では光ファイバ５と光合分岐器２２の１組を示しているが、伝送装置２０、２１とその間の光ファイバ５からなる伝送系が複数存在する場合は、光ファイバ５毎に図９と同様に光合分波器２２が接続される。
【０１０８】
１×Ｎ光スイッチ２８のＮ心側には、予め、複数の光合分岐器２２がそれぞれ光ファイバ２７を介して接続されている。１×Ｎ光スイッチ２８の１心側には、予め、光合分岐器１４のＣポートのコネクタ２６が接続されている。
【０１０９】
従って、光合分岐器１４のＣポートには、１×Ｎ光スイッチ２８のヘッド２９の動作に応じて、所望の光合分岐器２２が選択されて接続され、その結果、所望の光ファイバ５が測定対象として接続される。
【０１１０】
光合分岐器１４のＡポートには、図１０の例と同様、光ファイバ３の片端が接続されている。この光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２５を介して、光パルス試験器１が接続されている。光合分岐器１４のＢポートには、光反射器４が接続されている。
【０１１１】
次に、本例での測定方法を説明する。本例では、１×Ｎ光スイッチ２８で所望の光合分岐器２２を選択した後、図１０の例と同様、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合分岐器１４に光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。試験光波長は通信光波長と異なる。
【０１１２】
そして、図１０の例と同様、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、光合分岐器１４のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失をＦLossとすると、前記式（３）にて光損失ＦLossを求めることで測定を行う。
【０１１３】
本例では、１×Ｎ光スイッチ２８を備えることから、１×Ｎ光スイッチ２８及び光パルス試験器１を遠隔自動で制御することにより、図１０の例とは異なり光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３、光合分岐器１４及び光反射器４を光ファイバ５に取り付ける必要がなくなる。
【０１１４】
［第４実施例：２つの光合分岐器を１つに統合した光合分岐器と反射器付きコネクタを使用した測定］
次に、図１２により、図１０の例（第３実施例その４）中の２つの光合分岐器１４と光合分岐器２２を１つに統合して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシステム構成を説明する。言い換えれば、本第４実施例は、図１０の例と比べると、２つの光合分岐器１４と光合分岐器２２に代えて、１つの光合分岐器３０を用いた点が異なり、他の構成は同様なので、図１０の例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。
【０１１５】
図１２中、１は光パルス試験器、３０は４つの光入出力ポートを備える光合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端近くのコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装置、２３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フィルタを表す。
【０１１６】
光合分岐器３０は、Ａポート、Ｂポート、Ｃポート、Ｄポートと４つの光入出力ポートを備え、Ａポートから入射した光はＢポートとＣポートの両方に、Ｄポートから入射した光もＢポートとＣポートの両方に出射する光部品である。逆に、Ｂポートから入射した光はＡポートとＤポートの両方に、Ｃポートから入射した光もＡポートとＤポートの両方に出射する。
【０１１７】
反射器付きコネクタ１１ａは光ファイバ５の端末に取り付けられており、通信光は透過し、試験光は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを内蔵する。
【０１１８】
伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイバ５の光損失を測定する前に、光合分岐器３０が光ファイバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入される。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１の前に挿入される。
【０１１９】
光合分岐器３０のＡポートには、光ファイバ３の片端が接続されている。この光ファイバ３のもう片端には、通信光遮断フィルタ２５を介して、光パルス試験器１が接続されている。また、光合分岐器１４のＢポートには、光反射器４が接続されている。
【０１２０】
更に、光合分岐器３０のＣポートには、コネクタ９を介して測定対象の光ファイバ５が接続される。また、光合分岐器３０のＤポートには、伝送装置２０に接続されている光ファイバ２４が接続される。
【０１２１】
これにより、光合分岐器３０は光パルス試験器１からの光パルス（試験光）を光ファイバ５に挿入する機能と、光反射器４からの反射光を測定する機能を統合して備える。
【０１２２】
本第４実施例での測定方法は、図１０の例（第３実施例その４）と同様であり、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合分岐器３０のＡポートに光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。
【０１２３】
そして、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、光合分岐器３０のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、光合分岐器３０のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失をＦLossとすると、前記式（３）にて光損失ＦLossを求めることで測定を行う。
【０１２４】
従って、図１０の例（第３実施例その４）中の２つの光合分岐器１４と光合分岐器２２に代えて、これらを統合した１つの光合分岐器３０を用いることにより、光パルス試験器１からの試験光波長と、伝送装置２０、２１間に使われている通信波長とを異ならせることで、伝送装置２０、２１間の通信中にも、通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失ＦLossを精度良く測定することができる。
【０１２５】
ここで、伝送装置２０、２１間の通信方式が伝送路の反射への影響が弱い方式を採用している場合、光反射器４は、試験光波長（例えば１６５０ｎｍ）に対しては反射するが、通信光波長（例えば１３１０ｎｍ）に対しては反射を押さえるように工夫した光反射器を使用する。
【０１２６】
［第５実施例：２つの光合分岐器を１つに統合した光合分岐器と、反射器付きコネクタと、２×Ｎ光スイッチを使用した測定］
次に、図１３により、第４実施例（図１２）の構成で、２×Ｎ光スイッチ３１を使用して、実際に伝送装置２０と伝送装置２１間の通信に影響を与えることなく、光ファイバ５の光損失を測定するシステム構成を説明する。即ち、本第５実施例は、第４実施例と比べると、光合分岐器３０のＡポートと光ファイバ３との間、並びに、Ｂポートと光反射器４との間に、２×Ｎ光スイッチ３１が挿入されている点が異なり、他の構成は同様なので、第４実施例と同じ部材には同じ符号を付し、説明の重複を省く。
【０１２７】
図１３中、１は光パルス試験器、３０は光合分岐器、３は光ファイバ（別の光ファイバまたは第１光ファイバ）、４は光反射器（第１光反射器）、５は光ファイバ（測定対象）、７は融着接続点、８はコネクタ接続点、９は近端のコネクタ、１０は遠端近くのコネクタ、１１ａは遠端の反射器付きコネクタ、２０は伝送装置、２１は伝送装置、２３は試験光遮断フィルタ、２４は光ファイバ（第２光ファイバ）、２５は通信光遮断フィルタ、３１は２×Ｎ光スイッチ（２×Ｎ構成の光スイッチ）、３２は２心のヘッドを表す。
【０１２８】
図１３では光ファイバ５と光合分岐器３０の１組を示しているが、伝送装置２０、２１とその間の光ファイバ５からなる通信系が複数存在する場合は、光ファイバ５毎に図１３と同様に光合分波器３０が接続される。
【０１２９】
２×Ｎ光スイッチ３０のＮ心側には、予め、複数の光合分岐器３０のＡポートとＢポートがそれぞれ対になって光ファイバを介して接続されている。２×Ｎ光スイッチ３１の２心側には、予め、光ファイバ３及び光反射器４がそれぞれ接続されている。光ファイバ３は光合分岐器３０のＡポートに対応し、光反射器４はＢポートに対応している。
【０１３０】
従って、２×Ｎ光スイッチ３１のヘッド３２の動作に応じて、所望の光合分岐器３０が選択される。そして、選択された光合分岐器３０のＡポートには２×Ｎ光スイッチ３１と光ファイバ３を介して光パルス試験器１が接続され、Ｂポートに２×Ｎ光スイッチ３１を介して光反射器４が接続される。選択された光合分岐器３０のＣポートにコネクタ９を介して接続されている光ファイバ５が測定対象となる。
【０１３１】
反射器付きコネクタ１１ａは光ファイバ５の端末に取り付けられており、通信光は透過し、試験光は反射する光反射器（第２光反射器）６ａを内蔵する。
【０１３２】
伝送装置２０と伝送装置２１間の光ファイバ５の光損失を測定する前に、光合分岐器３０が光ファイバ５と光ファイバ２４間に挿入される。また、試験光遮断フィルタ２３が伝送装置２１の前に、反射器付きコネクタ１１ａが伝送装置２１の前にそれぞれ挿入される。更に、通信光遮断フィルタ２５が光パルス試験器１の前に挿入される。
【０１３３】
次に、本第５実施例での測定方法を説明する。
【０１３４】
本第５実施例では、２×Ｎ光スイッチ３０で所望の光合分岐器３０を選択した後、第４実施例と同様、光パルス試験器１から光ファイバ３を介して光合分岐器３０のＡポートに光パルスを出射し、光反射器４からのフレネル反射光のレベルと、反射器付きコネクタ１１ａの光反射器６ａからのフレネル反射光のレベルを光パルス試験器１で測定する。試験光波長は通信光波長と異なる。
【０１３５】
本第５実施例では、光合分岐器３０と光反射器４との間の２×Ｎ光スイッチ３０の接続損失ＷLossを考慮して、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失ＦLossを求める。
【０１３６】
つまり、光反射器４の反射減衰量がＲLossＡ（dB) 、光反射器６ａの反射減衰量がＲLossＢ（dB) 、光合分岐器３０のＡポートとＢポート間の損失がＣLossＡＢ（dB) 、光合分岐器３０のＡポートとＣポート間の損失がＣLossＡＣ（dB) 、光合分岐器３０と光反射器４との間の２×Ｎ光スイッチ３０の接続損失がＷLoss（dB) 、光パルス試験器１で測定した光反射器４の反射レベルがＲＡ（dB) 、光パルス試験器１で測定した反射器６ａの反射レベルがＲＢ（dB) である場合、光ファイバ５の近端から遠端までの光損失ＦLossを、次の式（４）にて求めることで測定する。
ＦLoss＝（ＲLossＡ＋（ＲＡ／２）＋ＣLossＡＢ＋ＷLoss）
−（ＲLossＢ＋（ＲＢ／２）＋ＣLossＡＣ） ・・・式（４）
【０１３７】
式（４）中の損失ＷLossは、ＲLossＡ、ＲLossＢ、ＣLossＡＢ及びＣLossＡＣと同様、予め測定しておく。
【０１３８】
本第５実施例では、２×Ｎ光スイッチ２８を備えることから、１つの光反射器４を複数の光ファイバ５の光損失測定に共用することができ、より経済的かつ高密度に光損失を測定するシステムを構築することができる。
【０１３９】
また、本第５実施例では、２×Ｎ光スイッチ２８を備えることから、２×Ｎ光スイッチ２８及び光パルス試験器１を遠隔自動で制御することにより、図１２の例とは異なり光損失の測定毎に、光パルス試験器１、光ファイバ３及び光反射器４を光ファイバ５に取り付ける必要がなくなる。
【０１４０】
【発明の効果】
以上の説明から判るように、本発明によれば、光パルス試験器を用いて光ファイバ線路の光損失を測定する場合、測定対象の光ファイバに光合分岐器を接続した上で、測定対象の光ファイバ線路の両端における反射レベル、第１及び第２光反射器の反射減衰量、並びに、光合分岐器のポート間の損失値に基づいて光損失値を算出する。従って、フレネル反射による測定対象の光ファイバの両端における後方散乱光レベルへの影響による光損失の測定精度の低下を回避することが可能となる。つまり、測定対象の光ファイバの近端から遠端までの光損失を精度良く測定することができる。
【０１４１】
特に、光合分岐器を用いた場合は、１度の測定で、測定対象の光ファイバの光損失を測定することができる。
【０１４２】
また、第２光反射器を測定対象の光ファイバの遠端のコネクタに予め内蔵する場合は、測定毎に現地で、測定対象の光ファイバに人手で第２光反射器を接続する必要がなくなる。
【０１４３】
また、第２光反射器を測定対象の光ファイバの遠端のコネクタに予め内蔵した場合は、現用の光ファイバ回線の光通信時の通信に影響を与えることなく、光損失を精度良く測定することが可能となる。
【０１４４】
更に、１つの光合分岐器で、試験光を測定対象の光ファイバに挿入する機能と、第１光反射器からの反射光を測定する機能とを統合するは、経済的かつ高密度に光損失を測定するシステムを構築することができる。この場合、２×Ｎ光スイッチを用いることで、１つの第１光反射器を複数の測定対象の光ファイバに共用することができ、更に経済的かつ高密度に光損失を測定するシステムを構築することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例の測定系を示す図。
【図２】第１実施例における応答光波形例を示す図。
【図３】本発明の第２実施例の測定系を示す図。
【図４】第２実施例における応答波光形例を示す図。
【図５】本発明の第３実施例その１（反射器付きコネクタ）を示す図。
【図６】反射器付きコネクタの具体的構成例を示す図。
【図７】反射器付きコネクタの別の具体的構成例を示す図。
【図８】本発明の第３実施例その２の測定系を示す図。
【図９】本発明の第３実施例その３の測定系を示す図。
【図１０】本発明の第３実施例その４の測定系を示す図。
【図１１】本発明の第３実施例その５の測定系を示す図。
【図１２】本発明の第４実施例の測定系を示す図。
【図１３】本発明の第５実施例の測定系を示す図。
【図１４】第１従来例の測定系を示す図。
【図１５】第１従来例における応答波光形例を示す図。
【図１６】第２従来例の測定系を示す図。
【図１７】第３従来例の測定系を示す図。
【図１８】第４従来例の測定系を示す図。
【図１９】第４従来例における応答波光形例を示す図。
【符号の説明】
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ  光入出力ポート
ｅ  遠端
ｓ  近端
１  光パルス試験器
２  １×２光スイッチ
３  光ファイバ（別の光ファイバまたは第１光ファイバ）
４  光反射器（第１光反射器）
５  光ファイバ（測定対象）
６  光反射器（第２光反射器）
６ａ  通信光を透過し、試験光を反射する光反射器（第２光反射器）
７  融着接続点
８  コネクタ接続点
９  近端のコネクタ
１０  遠端に接近したコネクタ
１１  遠端のコネクタ
１１ａ  反射器付きコネクタ（光反射器６ａを内蔵した遠端のコネクタ）
１２  第１反射器からのフレネル反射
１３  第２反射器からのフレネル反射
１４  ３つの光入出力ポートを備えた光合分岐器
１５  通信光
１６  試験光
１７  コネクタフェルール
１８  誘電体多層膜フィルタ
１９  ファイバグレーティングフィルタ
２０、２１  伝送装置
２２  光合分岐器
２３  試験光遮断フィルタ
２４  光ファイバ（第２光ファイバ）
２５  通信光遮断フィルタ
２６  コネクタ
２７  光ファイバ
２８  １×Ｎ光スイッチ
２９  ヘッド（１心）
３０  ４つの光入出力ポートを備えた光合分岐器
３１  ２×Ｎ光スイッチ
３２  ヘッド（２心）
３３  試験光遮断フィルタ
３４  光ファイバ
３５、３６  フレネル反射
【図１】
0004173967.tif 000002
【図２】
0004173967.tif 000003
【図３】
0004173967.tif 000004
【図４】
0004173967.tif 000005
【図５】
0004173967.tif 000006
【図６】
0004173967.tif 000007
【図７】
0004173967.tif 000008
【図８】
0004173967.tif 000009
【図９】
0004173967.tif 000010
【図１０】
0004173967.tif 000011
【図１１】
0004173967.tif 000012
【図１２】
0004173967.tif 000013
【図１３】
0004173967.tif 000014
【図１４】
0004173967.tif 000015
【図１５】
0004173967.tif 000016
【図１６】
0004173967.tif 000017
【図１７】
0004173967.tif 000018
【図１８】
0004173967.tif 000019
【図１９】
0004173967.tif 000020