(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数種類の色透過フィルターが所定の配置でマトリクス状に設けられたカラーフィルターと、該カラーフィルターにおける前記各色透過フィルターにそれぞれ対応するように水平方向および垂直方向に沿って配置された画素とが設けられた固体撮像素子を有する撮像装置に設けられ、前記固定撮像装置の欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素を補正する固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置であって、
前記固体撮像素子から１水平走査期間に出力される水平方向に沿った第１ラインの全ての画素の出力信号と、前記１水平走査期間から少なくとも１水平走査期間遅れて前記固体撮像素子から出力される水平方向に沿った第２ラインの全ての画素の出力信号とがそれぞれ入力されて、前記第１ラインに含まれる注目画素の出力信号と、該第１ラインにおいて、前記注目画素に対応する色透過フィルターと同色の色透過フィルターに対応する画素から、該注目画素の両側で該注目画素に最も近接する一対の第１および第２画素と、該一対の第１および第２画素の両側で該第１および第２画素に最も近接する一対の第３および第４画素と、前記第２ラインにおいて前記注目画素と同じ水平方向位置であって該注目画素に対応する色透過フィルターと同色の色透過フィルターに対応する第５画素とをそれぞれ選択して、前記第１〜第５画素のそれぞれの出力信号である第１〜第５周辺画素信号に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるかを判定する欠陥検出手段と、
該欠陥検出手段により欠陥画素と判定された前記注目画素の出力信号レベルを補正する欠陥補正手段とを具備し、
前記欠陥検出手段は、前記注目画素の出力信号のレベルが、前記第１〜第５周辺画素信号の全てのレベルよりも大きい場合に、前記注目画素の出力信号と、前記第１〜第５周辺画素信号の最大値との差を欠陥画素検出値として算出し、算出された該欠陥画素検出値が、予め設定された第１の欠陥検出閾値より大きければ前記注目画素を欠陥画素と判定し、前記欠陥画素検出値が、前記第１の欠陥検出閾値よりも小さい場合に、前記第１〜第５周辺画素信号の最大値と最小値との差である周辺画素指数に所定の値を乗じて設定された第２の欠陥検出閾値よりも大きいと、前記注目画素を欠陥画素と判定することを特徴とする固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置。
【請求項２】
前記欠陥検出手段は、前記第１画素と第３画素とが前記注目画素に対して同じ側に位置して、前記第１周辺画素信号のレベルが前記第３周辺画素信号のレベルよりも小さい条件を満足しない場合、または、前記第２画素と第４画素とが前記注目画素に対して同じ側に位置して、前記第２周辺画素信号のレベルが前記第４周辺画素信号のレベルよりも小さい条件を満足しない場合には、前記注目画素を欠陥画素と判定しない、請求項１に記載の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置。
【請求項３】
前記欠陥検出手段は、前記第１画素と第３画素とが前記注目画素に対して同じ側に位置し、前記第１周辺画素信号のレベルが前記第３周辺画素信号のレベルよりも小さい条件を満足する場合、または、前記第２画素と第４画素とが前記注目画素に対して同じ側に位置し、前記第２周辺画素信号のレベルが前記第４周辺画素信号のレベルよりも小さい条件を満足する場合には、前記第３周辺画素信号のレベルと前記第１周辺画素信号のレベルとの差、または、前記第４周辺画素信号のレベルと前記第２周辺画素信号のレベルとの差が、予め設定された第３欠陥検出閾値よりも小さい場合に、前記注目画素を欠陥画素と判定し、
前記欠陥補正手段は、前記注目画素が欠陥画素と判定された場合に、前記注目画素の出力信号レベルが前記第１および第２周辺画素信号レベルの平均値になるように補正する、請求項２に記載の自動欠陥検出補正装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置を有する撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、固体撮像素子内に存在する欠陥画素の検出して、その欠陥画素の補正を行う固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
半導体基板上に形成されたＣＭＯＳイメージセンサーおよびＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）等の固体撮像素子において、半導体基板上の局所的な結晶欠陥等により欠陥画素が発生することがある。このような欠陥画素は、その欠陥画素から出力される信号出力レベルの大きさが、入射される光の量に依存しない特異な信号出力レベルを示すために、欠陥画素から出力される信号により、撮像して得られた画像の画質が劣化するという問題がある。
【０００３】
従来のビデオカメラおよびデジタルカメラの撮像装置では、固体撮像素子内に存在する欠陥画素を検出し、その欠陥画素に関するアドレスデータ等を不揮発性メモリー等の記憶装置に記憶させ、撮影時に、この不揮発性メモリーに記憶されている欠陥画素のアドレスデータ等に基づいて、欠陥画素から出力される信号を補正している。
【０００４】
例えば、ＣＭＯＳイメージセンサーを搭載した撮像装置の場合、製造段階において撮像装置のレンズを遮光し、ＣＭＯＳイメージセンサーに光が入射されない状態で、ＣＭＯＳイメージセンサーの各画素から出力される信号と被検査画素の周辺画素から出力される信号とを比較し、それらの信号出力レベルの値の差が所定の閾値を越えると、この特異な信号出力レベルを出力した画素を欠陥画素として検出する。そして、この欠陥画素のアドレスデータが不揮発性メモリーに記憶される。欠陥画素の検出が終了すると、ＣＭＯＳイメージセンサーと欠陥画素のアドレステータが記憶された不揮発性メモリーとが一対となり撮像装置に内蔵されて出荷される。そして、ユーザーがこの撮像装置を用いて撮像する場合には、不揮発性メモリーに記憶されているＣＭＯＳイメージセンサーの欠陥画素のアドレスデータに基づいて、ＣＭＯＳイメージセンサーから出力される映像信号における欠陥画素に対応する信号が欠陥画素の近傍の画素の信号によって補正される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、前述のように、固体撮像素子の欠陥画素の補正では、製造段階において撮像装置のレンズを遮光して、ＣＭＯＳイメージセンサー等に光が入射しない状態で欠陥画素の検出を行い、欠陥画素のアドレスデータ等をメモリーに記憶しなければならない。このため、製造段階での工数が増加するという問題がある。また、工場からＣＭＯＳイメージセンサーを搭載した撮像装置の製品の出荷後に、静電破壊等によって生じるＣＭＯＳイメージセンサーの欠陥画素については補正が出来ないという問題もある。
【０００６】
このような、問題に対して特開平６−６６８５号公報では、撮像装置の電源投入時に、撮像装置に搭載されているレンズの絞りを閉じて遮光状態とし、固体撮像素子の撮像出力信号によって欠陥画素の検出を行い、この欠陥画素からの検出信号に基づいて欠陥データを記録し保持して、撮影時にこの最新の欠陥データを用いて欠陥画素の補正を行う欠陥補正装置が開示されている。
【０００７】
しかしながら、特開平６−６６８５号公報に開示されている欠陥補正装置では欠陥画素のアドレスデータ等をメモリーに記憶するため、撮像装置に欠陥画素のアドレスデータを記憶するためのメモリー等の記憶装置を搭載する必要がある。また、補正できる欠陥画素の数は、欠陥画素のアドレスデータの記憶を行う不揮発性メモリー等の記憶装置の記憶容量に依存するという問題もある。
【０００８】
本発明は、このような課題を解決するものであり、その目的は、生産時において工数を増やすことなく、また、出荷後に生じた欠陥画素についても、欠陥画素のアドレスデータ等を記憶するメモリー等の記憶装置を搭載することなく検出して、補正を行うことができる固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置は、固体撮像素子内の欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素を補正する固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置であって、所定の画素と該所定の画素の周囲の複数の画素との信号出力レベルの差を、欠陥画素検出値として算出し、算出された該欠陥画素検出値が、予め設定された高レベルの第１の欠陥検出閾値より大きければ該所定の画素を欠陥画素と判定するとともに、算出された該欠陥画素検出値が、第１の欠陥検出閾値よりも小さく予め設定された中レベルの第２の欠陥検出閾値より大きければ該所定の画素を欠陥画素と判定する欠陥検出手段と、該欠陥検出手段により検出された欠陥画素からの信号出力レベルを補正する欠陥補正手段と、を具備することを特徴とする。
【００１０】
前記欠陥画素検出値は、所定の画素の信号出力レベルと周囲の複数の画素の信号出力レベルの最大値との差である。
【００１１】
前記第２の欠陥検出閾値は、周囲の複数の画素の信号出力レベルの最大値と最小値との差である周辺画素指数に所定の値を乗じた値である。
【００１２】
前記欠陥補正手段は、欠陥画素からの信号出力レベルを、該欠陥画素の近傍の画素からの信号出力レベルの平均値に置換する。
【００１３】
本発明の撮像装置は、請求項１〜４のいずれかに記載の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置を有する。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。
【００１５】
図１は、本発明の実施形態を示す固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置が搭載された撮像装置の概略ブロック図である。図１に示すの撮像装置は、被写体を結像させるレンズ１および固体撮像素子であるＣＭＯＳイメージセンサー２を有し、ＣＭＯＳイメージセンサー２の出力が自動欠陥検出補正装置１２に入力されている。自動欠陥検出補正装置１２は、ＣＭＯＳイメージセンサー２の出力が直接入力される欠陥検出回路４を有しており、この欠陥検出回路４には、ＣＭＯＳイメージセンサー２の出力が水平走査期間の走査を遅延させる２Ｈライン遅延器３を介して入力されている。欠陥画素を検出する欠陥検出回路４の出力は、欠陥画素を補正する欠陥補正回路５に与えられており、欠陥補正回路５の出力がディジタル信号処理回路６に与えられている。ディジタル信号処理回路６は、入力された信号に種々の信号処理を行い、ＹＵＶディジタル信号として出力する。
【００１６】
被写体から得られた入射光は、レンズ１を介して、ＣＭＯＳイメージセンサー２に入力される。この入射光は、ＣＭＯＳイメージセンサー２において光電変換されて電気信号となり、その電気信号は、相関２重サンプリング処理（ＣＤＳ：Ｃｏｒｒｅｌａｔｅｄ Ｄｏｕｂｌｅ Ｓａｍｐｌｉｎｇ）、オートゲインコントロール（ＡＧＣ：自動利得制御）、Ａ／Ｄ変換等の処理が行われる回路（図示せず）を経てディジタル信号として出力される。このディジタル信号には、ＣＭＯＳイメージセンサー２に欠陥画素が存在する場合に、その欠陥画素からの信号も含まれている。欠陥画素が存在するラインをＡとすると、この信号Ａは、ディジタル処理を施された状態で欠陥検出回路４に与えられるとともに、２Ｈライン遅延器３を経て欠陥画素が存在するラインから２水平期間遅延された信号Ｂとされて、欠陥検出回路４に与えられている。
【００１７】
欠陥検出回路４では、欠陥画素から出力される信号レベルと周囲の画素から出力される信号レベルとの差を求めることによって、欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素から出力される信号は、欠陥補正回路５に入力されて、欠陥画素に近接する画素から出力される信号に基づいて補正が行われて、ディジタル信号処理回路６を経てＹＵＶディジタル信号として出力される。
【００１８】
図２は、本発明の実施形態の自動欠陥検出補正装置にて使用するＣＭＯＳイメージセンサー２の色フィルターの構成図である。Ｒは、赤色透過のフィルター７、Ｂは、青色透過のフィルター８、Ｇは、緑色透過のフィルター９を示し、赤色透過のフィルター７と緑色透過のフィルター９とを水平方向（ｘ方向）に交互に繰り返す第１フィルター列１０と、緑色透過のフィルター９と青色透過のフィルター８とを水平方向に交互に繰り返す第２フィルター列１１とが垂直方向（ｙ方向）にも交互に繰り返し配置されている。第１フィルター列１０のＧと第２フィルター列１１のＧとは、垂直方向に重ならないように配置されている。このフィルター配列は、一般にベイヤー配列として用いられている。
【００１９】
図２において、第１フィルター列１０の中央部に配置されている赤色透過のフィルター７に対応した画素に注目し、注目画素をＸおよび信号出力レベルをＰとする。注目画素Ｘを含む第１フィルター列１０において、画素の両側に位置する色透過のフィルター７の部分を画素２および画素３、それぞれの信号出力レベルをそれぞれＰ２およびＰ３、さらに、それらの画素２および画素３の両側に位置する赤色透過フィルター７部分の画素を画素１および画素４、それぞれの信号出力レベルをそれぞれＰ１およびＰ４とする。また、注目画素Ｘを有する第１フィルター列１０の上方に第２フィルター列１１を挟んで配置された第１フィルター列１０において注目画素Ｘの上方に配置されている赤色透過のフィルター７の画素を画素５、その信号出力レベルをＰ５とする。
【００２０】
ここで、図２を参照して、画素遅延について説明する。ＣＭＯＳイメージセンサー２から出力され、欠陥画素として検出を行う画素を含んでいる信号Ａは、画素１、画素２、画素３、画素４および画素Ｘを含む第１フィルター列１０であるＬ１ラインの信号であり、Ｌ１ラインの信号である欠陥画素が存在する信号Ａから２水平期間遅延された信号Ｂが２Ｈライン遅延器３から出力される。信号Ｂは、画素５を有する水平方向のフィルター列であるＬ２のラインの信号である。
【００２１】
欠陥画素の検出は、欠陥検出回路５において行われる。図３は、欠陥検出処理の手順を示すフローチャートである。図３を参照して、図２に示されたＣＭＯＳイメージセンサー２の色フィルターの配置図の中に存在する注目画素Ｘについて欠陥の検出処理を行う場合について説明する。
【００２２】
まず、ステップＳ１において、注目している画素Ｘと周辺の画素１〜５との信号出力レベルの大きさを比較し、画素Ｘの信号出力レベルＰが周辺の画素１〜５のいずれか１つの信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）よりも小さい場合は、画素Ｘは正常画素であると判断され検出処理が終了する。
【００２３】
一方、画素Ｘの信号出力レベルＰが、周辺の画素１〜５の全ての信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）よりも大きければ、ステップＳ２において、画素１〜５の各信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）の最大値と最小値との差である周辺画素指数ＦＬＡＴと、画素Ｘの信号出力レベルＰと周辺の画素１〜５の信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）の最大値との差である欠陥画素検出値ＤＩＦＦを算出する。
【００２４】
そして、ステップＳ３において、注目画素Ｘが欠陥画素であるかの検出を行う。この場合、注目画素Ｘとその周辺の画素１〜５との信号出力レベルが図４（ａ）〜（ｃ）に示す関係があるとする。図４（ａ）は、画素Ｘの位置に対して水平方向（ｘ方向）に配置されている画素１〜４と画素Ｘとの信号出力レベルの比較を示すグラフであり、図４（ｂ）は、画素Ｘの位置に対して垂直方向（ｙ方向）に配置されている画素５と画素Ｘとの信号出力レベルの比較を示すグラフである。図４（ａ）および（ｂ）より、画素１〜５の信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）の最大値が画素３のＰ３であり、欠陥画素検出値ＤＩＦＦは、画素Ｘと画素３との信号出力レベルの差（Ｐ−Ｐ３）で表される。図４（ｃ）は、各画素１〜５のそれぞれの信号出力レベルを示すグラフであり、このグラフより、画素１〜５の各信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）の最大値と最小値は、最大値が画素３のＰ３、最小値が画素２のＰ２となり、周辺画素指数ＦＬＡＴは、画素３と画素２との信号出力レベルの差（Ｐ３−Ｐ２）で表される。
【００２５】
次に、注目画素Ｘからの信号出力レベルが高レベルである場合の第１の欠陥検出処理について説明する。注目している画素Ｘの信号出力レベルＰと周辺の画素１〜５の信号出力レベル（Ｐ１〜Ｐ５）の最大値との差である欠陥画素検出値ＤＩＦＦ（Ｐ−Ｐ３：図４（ａ）参照）がユーザーの要求に応じて決定される第１の欠陥検出閾値ＵＳＥＲ＿ＴＨＲより大きい場合には、注目している画素Ｘを欠陥画素であると判定する。第１の欠陥検出閾値ＵＳＥＲ＿ＴＨＲの値を所定値以上に設定することによって、信号出力レベルが高レベルである欠陥画素を確実に検出できる。
【００２６】
しかし、注目している画素Ｘの周辺の画素の信号出力レベルが凹凸のない均一な場合では、欠陥画素検出値ＤＩＦＦが第１の欠陥検出閾値ＵＳＥＲ＿ＴＨＲよりも小さい値でも、目視において非常に目立つ欠陥画素が存在する。このような欠陥画素を検出するためには、第１の欠陥検出閾値ＵＳＥＲ＿ＴＨＲをさらに小さくすればよい。ところが第１の欠陥検出閾値ＵＳＥＲ＿ＴＨＲを小さい値に設定すると、画素からの信号出力レベルが凹凸のある複雑なパターンを持った被写体においては、正常な画素の信号出力レベルと周辺の画素の信号出力レベルの最大値との差である欠陥画素検出値ＤＩＦＦが、第１の欠陥検出閾値ＵＳＥＲ＿ＴＨＲよりも大きくなる可能性が生じ、正常な画素までも欠陥画素と誤判定することになる。
【００２７】
このような、注目画素Ｘからの信号出力レベルが中レベルである場合の欠陥画素の検出が第２の検出処理として行われる。第２の検出処理では、欠陥画素を検出するために第２の欠陥検出閾値ＴＨＲを用いる。第２の欠陥検出閾値ＴＨＲは、（１）式で与えられる。
【００２８】
ＴＨＲ＝ＦＬＡＴ×ＲＥＦ＿ＵＳＲ・・・（１）
ここで、ＦＬＡＴは、前述した周辺画素指数、ＲＥＦ＿ＵＳＲは、ユーザーの要求により任意に設定できる係数である。注目画素Ｘの信号出力レベルと周辺の画素の信号出力レベルの最大値との差である欠陥画素検出値ＤＩＦＦが、第２の欠陥検出閾値ＴＨＲより大きい場合では、注目画素Ｘを欠陥画素として検出する。周辺画素指数ＦＬＡＴの値が０（ゼロ）の場合は、注目画素Ｘの周辺の画素の画像は、被写体表面が信号出力レベルの凹凸のない均一な画像であると考えられる。また、周辺画素指数ＦＬＡＴが０から大きくなるにつれて、注目画素Ｘの周辺は、被写体表面が信号出力レベルの凹凸のある複雑なパターンをもつ映像であると推定できる。注目している画素Ｘの周辺が、凹凸のない均一な画像の場合は、より多くの欠陥画素の検出を行うためには、第２の欠陥検出閾値ＴＨＲをより小さい値にすれば良く、注目画素Ｘの周辺が信号出力レベルの凹凸のある複雑なパターンの場合は、欠陥画素の誤判定を防ぐためには第２の欠陥検出閾値ＴＨＲをより大きい値にすれば良い。
【００２９】
このため、ステップＳ４では、欠陥画素の検出量である（１）式に示す第２の欠陥検出閾値ＴＨＲにおいてユーザーの要求により任意に設定できる係数ＲＥＦ＿ＵＳＲの値を設定し、第２の欠陥検出値閾値ＴＨＲの値を算出する。そして、ステップＳ５において、欠陥画素検出値ＤＩＦＦが第２の欠陥検出閾値ＴＨＲより小さい場合には、画素Ｘは、正常画素であると判断され欠陥検出処理を終了する。
【００３０】
一方、欠陥画素検出値ＤＩＦＦが第２の欠陥検出閾値ＴＨＲより大きい場合には、ステップＳ６にて、注目している画素Ｘが点光源のような被写体の中心でないかを判定する。被写体が点光源のようなものである場合には、画素Ｘと周辺の画素１〜４との信号出力レベルは、図５に示すように、画素Ｘからの信号出力レベルが最も大きくなり、画素Ｘから離れるにつれて信号出力レベルは、小さくなると考えられる。これより、周辺の画素１および画素２の信号出力レベルは、Ｐ１＜Ｐ２の不等式を満足し、周辺の画素３および画素４の信号出力レベルは、Ｐ４＜Ｐ３の不等式を満足する。したがって、Ｐｌ＞Ｐ２またはＰ３＜Ｐ４の条件を満足しない場合は、画素Ｘは、点光源のような被写体の中心であり正常画素であると判断され、検出処理が終了する。
【００３１】
次に、Ｐ１＞Ｐ２またはＰ３＜Ｐ４のいずれかを満足する場合には、ステップＳ７において、画素２と画素１との信号出力レベルの差（Ｐ１−Ｐ２）、または、画素３と画素４との信号出力レベルの差（Ｐ４−Ｐ３）が、ユーザーの要求に対応して決定される第３の欠陥検出閾値ＬＩＧＨＴよりも小さい場合は、画素Ｘの周辺が信号出力レベルの凹凸のない均一なパターンであるにも関わらず、画素Ｘの信号出力レベルが周囲の画素１〜４の信号出力レベルより突出していると考えられるので、画素Ｘが欠陥画素であると判断される。そして、画素２と画素１との信号出力レベルの差（Ｐ１−Ｐ２）、または、画素３と画素４との信号出力レベルの差（Ｐ４−Ｐ３）が第３の欠陥検出閾値ＬＩＧＨＴよりも大きい場合は、画素Ｘは、正常画素であると判断され欠陥検出処理を終了する。
【００３２】
この後、欠陥補正回路６では、欠陥検出回路５において注目画素Ｘが欠陥画素と判定された場合、リアルタイムで注目している画素Ｘの周辺にある同色フィルターの画素２と画素３の信号出力レベルの平均値Ｐoaveが（２）式のより得られる。
【００３３】
Ｐoave＝（Ｐ２十Ｐ３）／２・・・・（２）
そして、欠陥画素から出力される信号出力レベルＰを、（２）式により得られた平均値の信号出力レベルＰoaveに置き換えることによって、欠陥画素の補正が実施される。そして、ＣＭＯＳイメージセンサー２の有効画素のすべてについて、第１の検出処理、第２の検出処理の２つの検出処理を実施することにより、高レベルの信号出力レベルを持つ欠陥画素、中レベルの信号出力レベルを持つ欠陥画素を、自動的に精度良く検出でき、しかも欠陥画素の補正を行うことができる。
【００３４】
したがって、本発明の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置では、欠陥画素のアドレスデータ等を記憶するための記憶装置を用いずに、欠陥検出回路によって欠陥画素の検出し、その後、連続して欠陥補正回路によって欠陥画素の信号出力レベルを補正することが簡便に精度良く実施できる。
【００３５】
また、本発明の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置を搭載した撮像装置では、メモリー等の記憶装置が搭載されていないために、記憶容量による補正できる欠陥画素数の制約が無く、さらに、製造出荷後の経時変化によって生じる欠陥画素についても補正が可能となり、利便性が向上する。
【００３６】
【発明の効果】
本発明の固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置は、所定の画素と所定の画素の周囲の複数の画素との信号出力レベルの差を、欠陥画素検出値として算出し、算出された欠陥画素検出値が、予め設定された高レベルの第１の欠陥検出閾値より大きければ所定の画素を欠陥画素と判定するとともに、算出された欠陥画素検出値が、第１の欠陥検出閾値よりも小さく予め設定された中レベルの第２の欠陥検出閾値より大きければ所定の画素を欠陥画素と判定する欠陥検出手段と、欠陥検出手段により検出された欠陥画素からの信号出力レベルを補正する欠陥補正手段と、を具備することによって、メモリー等の記憶装置を搭載することなく、製造出荷後に生じた欠陥画素についても、その欠陥画素を検出し、その後、連続して欠陥画素の補正を行うことができる。
【００３７】
また、本発明の撮像装置は、記憶容量による補正できる欠陥画素の数の制約が無くなり、製造出荷後の経時変化によって生じる欠陥画素についても補正が可能となり利便性の向上する。
【００３８】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態である固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置の概略ブロック図である。
【図２】その自動欠陥検出補正装置に使用するＣＭＯＳイメージセンサーの色フィルターの配置図である。
【図３】本発明の欠陥画素の欠陥検出処理手順の説明するフローチャートである。
【図４】（ａ）、（ｂ）は、画素Ｘと画素Ｘの周囲の画素１〜５との信号出力レベルの比較を示すグラフである。（ｃ）は、画素１〜５の信号出力レベルの比較を示すグラフである。
【図５】被写体が点光源の場合の画素Ｘと画素１〜４との信号出力レベルの比較を示すグラフである。
【符号の説明】
１    レンズ
２    ＣＭＯＳイメージセンサー
３    ２Ｈライン遅延器
４    欠陥画素検出回路
５    欠陥画素補正回路
６    ディジタル信号処理回路
７    赤色透過フィルター
８    青色透過フィルター
９    緑色透過フィルター
１０  第１のフィルター列
１１  第２のフィルター列
１２  自動欠陥検出補正装置
【図１】
0004108278.tif 000002
【図２】
0004108278.tif 000003
【図３】
0004108278.tif 000004
【図４】
0004108278.tif 000005
【図５】
0004108278.tif 000006