(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被覆電線の芯線に電気的に接続された端子と、この端子が挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジングとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを導通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キャビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端子の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるとともに、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が嵌合することにより上記ハウジングに対し端子が所定の抜止位置で抜け止めされるように構成された上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニットであって、
上記カバーに装着される前のハウジングを導通検査可能に保持するハウジングホルダと、
このハウジングホルダに設けられ、当該ハウジングホルダに装着されるハウジングの上記連通溝に導入されることにより、ハウジング内の全キャビティに臨む導電性の異常検出子と、
上記ハウジングホルダと接離可能に配置され、保持された上記ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接続子を有して導通検査する導通検査部と、
この導通検査部と上記ハウジングホルダとを相対的に近接させてハウジングの上記各端子を接続子と接続させる検査ポジションと、ハウジングホルダと導通検査部とを相対的に離反させてハウジングを着脱可能にする着脱ポジションとの間で導通検査部とハウジングホルダとを相対的に変位させる変位手段と、
を備え、上記異常検出子は、上記変位手段による変位の状態にかかわらず、上記抜止位置まで挿入されている端子及び上記連通溝内に露出していない芯線に対しては非接触となり、かつ、上記抜止位置よりも浅い挿入位置にある端子及び上記連通溝内に露出した位置にある芯線に対しては接触するように、上記ハウジングの連通溝内に導入可能な形状を有することを特徴とする導通検査ユニット。
【請求項２】
請求項１記載の導通検査ユニットにおいて、
上記ハウジングホルダは、当該カバーに組み付けられる複数のハウジングを同時に保持可能に構成されていることを特徴とする導通検査ユニット。
【請求項３】
請求項１または２記載の導通検査ユニットを用いた導通検査装置において、
上記導通検査ユニットと、
この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続子と電気的に接続され、当該接続子を通して検査対象となる端子の接続状態を検査する導通検査回路と
を備え、上記導通検査回路には、当該導通検査ユニットの異常検出子が短絡の存否を判別可能に接続されていることを特徴とする導通検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は端子抜け及び端子同士の短絡検出機能を備えた導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置に関するものであり、特に、複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けたハウジング組付式のコネクタの端子抜け及び端子同士の短絡検出機能を備えた導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置である。
【０００２】
【従来の技術】
一般にワイヤハーネスは、複数の電線をコネクタで接続し、所定の回路網を形成した電気配線システムである。このワイヤハーネスに採用されるコネクタは、樹脂製のハウジングにキャビティを設け、このキャビティに金属製の端子を挿入したものである。キャビティに挿入した端子をハウジングに固定するために、端子とハウジングの一方にはランスと呼称される弾性突起を片持ち状に設け、他方に設けた係止凹部にこの弾性突起を嵌合させるようにしている。また、一般的なコネクタにおいては、端子とハウジングとのロック状態をより堅固なものにするため、リテーナと呼称される係止部材をハウジングに組み付ける二重係止形式を採用している。
【０００３】
上記ワイヤハーネスを製造する際には、各コネクタの電気接続状態（配線の良否や接続状態の良否）を検査するために導通検査が行われる（特開平０７−６５９２３号公報）。
【０００４】
この種の検査装置は、ハウジング内に端子が収容されているコネクタが装着されるコネクタホルダと、このコネクタホルダに接離可能に配置され、上記端子の導通を検査する検査部と、コネクタホルダと検査部とを相対的に接近させる検査姿勢と、コネクタホルダと検査部とを相対的に離間させる姿勢との間でコネクタホルダと検査部とを相対的に変位させる変位手段とを備えている。検査のときには、コネクタをコネクタホルダに装着し、その状態で変位手段を操作し、検査部をコネクタホルダに接近させる。すると、各検出子が各端子と接触して導通状態が検査される。
【０００５】
この際、リテーナが採用されているコネクタにおいては、検査部に設けた検出子に強い付勢力を持たせたいわゆる２プローブピンを採用し、嵌合不良を来している端子については、ハウジングの外側に不良を来した端子が押し出されるようにしている。
【０００６】
ところで、最近では、複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けたハウジング組付式のコネクタがワイヤハーネスに採用される場合がある。このようなハウジング組付式のコネクタの導通を検査するためには、各ハウジングがカバーに組み付けられる前に各ハウジングの導通を検査し（以下、この導通検査を「一次検査」という）、さらにハウジングがカバーに組みつけられた状態で全体の導通を検査する（以下、この導通検査を「二次検査」という）ことが必要である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上記ハウジング組付式のコネクタの各ハウジングは、カバーに組み付けるための要請から、内部の全キャビティと連通する連通溝が外側壁に形成されて、カバーに設けたリブを組付時にこの連通溝に嵌合させることにより、リテーナとして機能させる仕様になっている。したがってこのハウジングの一次検査の段階においては、ハウジングにリテーナがない状態であり、上述のような２プローブ形式の検出子を使用することができない。そのため、端子の嵌合不良を一次検査の段階で検出することができないという問題があった。
【０００８】
また、上記連通溝から端子に接続された電線の芯線部分がはみ出している場合には、カバーに組み付ける際に、電線同士が短絡するおそれもあり、その状態を二次検査で検出していたのでは、手戻りが大きくなるという問題があった。
【０００９】
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、一次検査で可及的にコネクタの不具合を検出することのできる導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置を提供することを課題としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、
被覆電線の芯線に電気的に接続された端子と、この端子が挿入されるキャビティが多数形成された複数のハウジングとを有し、この複数のハウジングをひとつのカバーに組み付けるハウジング組付式コネクタのハウジングを導通検査するために設けられ、上記ハウジングには全キャビティをハウジング外部とを連通する連通溝が当該端子の挿入方向に対し直交方向に沿って形成されるとともに、この連通溝に対しカバーに形成されたリテーナ部が嵌合することにより上記ハウジングに対し端子が所定の抜止位置で抜け止めされるように構成された上記ハウジング組付式コネクタの導通検査ユニットであって、
上記カバーに装着される前のハウジングを導通検査可能に保持するハウジングホルダと、
このハウジングホルダに設けられ、当該ハウジングホルダに装着されるハウジングの上記連通溝に導入されることにより、ハウジング内の全キャビティに臨む導電性の異常検出子と、
上記ハウジングホルダと接離可能に配置され、保持された上記ハウジングの上記各端子と電気的に接続される接続子を有して導通検査する導通検査部と、
この導通検査部と上記ハウジングホルダとを相対的に近接させてハウジングの上記各端子を接続子と接続させる検査ポジションと、ハウジングホルダと導通検査部とを相対的に離反させてハウジングを着脱可能にする着脱ポジションとの間で導通検査部とハウジングホルダとを相対的に変位させる変位手段と、
を備え、上記異常検出子は、上記変位手段による変位の状態にかかわらず、上記抜止位置まで挿入されている端子及び上記連通溝内に露出していない芯線に対しては非接触となり、かつ、上記抜止位置よりも浅い挿入位置にある端子及び上記連通溝内に露出した位置にある芯線に対しては接触するように、上記ハウジングの連通溝内に導入可能な形状を有することを特徴とする導通検査ユニットである。
【００１１】
この発明では、上記カバーに装着される前のハウジングを着脱ポジションにあるハウジングホルダにセットする。この際、異常検出子がハウジングの連通溝に導入される。次に、変位手段を用いて導通検査部とハウジングホルダとを相対的に近接することで、導通検査装置は検査ポジションとなる。ここで本発明の対象となるハウジング組付式コネクタのハウジングにおいては、カバーに形成されたリテーナ部が嵌合する連通溝に異常検出子が導入されるので、この連通溝に電線がはみ出している場合や、端子が位置ずれを来している場合には、導電性の異常検出子と接触することにより、電気的にこれらを検出することが可能になる。
【００１２】
好ましい態様において、
上記ハウジングホルダは、当該カバーに組み付けられる複数のハウジングを同時に保持可能に構成されている。
【００１３】
この態様では、カバーに組み付けられる前の各ハウジングの導通検査をカバーに組み付けた状態を想定して検査することができる。
【００１４】
本発明の別の態様は、
上記導通検査ユニットと、
この導通検査ユニットの導通検査部に設けた接続子と電気的に接続され、当該接続子を通して検査対象となる端子の接続状態を検査する導通検査回路と
を備え、上記導通検査回路には、当該導通検査ユニットの異常検出子が短絡の存否を判別可能に接続されていることを特徴とする導通検査装置である。
【００１５】
この態様では、導通検査回路に接続された導通検査ユニットの各接続子によって各端子の接続状態（接続の良否や接続されている極の良否）を検査することができるとともに、導通検査回路に異常検出子が短絡の存否を判別可能に接続されることにより、導通検査回路によって異常検出子が何れの極の端子と短絡しているかを識別することも可能になる。このため、導通検査ユニットを検査ポジションに変位し、導通検査部によってハウジング内の各端子の導通検査が行なうに当たり、この導通検査とともに、異常検出子によって、短絡や抜けを来した端子を特定することも可能になる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら本発明の好ましい実施形態について詳述する。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態に係るハウジング組付式コネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図であり、図２は同コネクタに採用されているハウジングの斜視図である。
【００１８】
図１及び図２を参照して、このコネクタは、合成樹脂の成型品であるハウジング１と、このハウジング１に挿入される金属製の端子２と、二つのハウジング１を収容可能なカバー３から構成される。
【００１９】
図２を参照して、ハウジング１は、端子２が挿入されるキャビティ１ａと、端子２を相手側のコネクタへ電気的に接続する連絡孔１ｂと、端子２をハウジング１に係止する係止孔１ｃと、連通溝１ｄとを含んでいる。係止溝１ｄは、上面Ｌ字型に形成され、コネクタ側面において各キャビティとハウジング１外部とを連通している。
【００２０】
端子２は、金属製の端子本体２ａを有している。この接続部２ａの前部端面はハウジング１の上記連絡孔１ｂに臨み、後部端面２ｂには芯線バレル２ｃが設けられる。芯線バレル２ｃは、被覆電線Ｗの芯線に圧着される。また、端子本体２ａの側面には、ハウジング１に対する挿入位置決め用のスタビライザ２ｄが長手方向に沿って延設される。さらに端子本体２ａの側面略中央部において係止爪２ｅが設けられる。
【００２１】
端子２がハウジング１のキャビティ１ａに挿入されると、当該端子２の係止爪２ｅはハウジング１の連通溝１ｄを通過し、係止孔１ｃに係止する。この係止によって、ハウジング１に端子２がロックされる。
【００２２】
図１を参照して、カバー３は、合成樹脂製の成型品であり、コネクタ収容部３ａと、係止リブ３ｂと、端子連絡孔３ｃから構成される。コネクタ収容部３ａは、カバー３に並設されるとともに、二つのコネクタを同方向に収容する。係止リブ３ｂは、コネクタ収容部３ａ内に突設され、挿入されるコネクタの連通溝１ｄに嵌入される。端子連絡孔３ｃは、挿入されるコネクタの連絡孔１ｂに対応する位置でコネクタ収容部３ａとカバー３の外部とを連通させる。
【００２３】
図３は、図１のコネクタにおけるハウジング１と端子２とカバー３との関係を示す断面拡大略図である。以下図３を参照して説明する。
【００２４】
各ハウジング１がカバー３に収容されると、連通溝１ｄと係止リブ３ｂが係合される。この係合によって、ハウジング１と端子２は二重係止構造をとることで強固に固定される。すなわち、係止リブ３ｂの基端が端子２の後部端面２ｂを支持するため、端子２はハウジング１から抜けることはない。また、連通溝１ｄと係止リブ３ｂとの係合によって、ハウジング１とカバー３も固定される。したがって、カバー３に収容された各ハウジング１は、あたかも一つのコネクタとして取り扱うことができる。
【００２５】
このように構成されるコネクタを採用したワイヤーハーネスを製造するには、以下の検査をする必要がある。その検査とは、各ハウジング１がカバー３に組み付けられる前に各ハウジング１の導通を検査する一次検査と、各ハウジング１がカバー３に組み付けられた状態における全体の導通を検査する二次検査である。
【００２６】
図４は、本発明の実施形態に係る導通検査ユニット１０と、これを含む導通検査装置１００との関係を示す概念図である。以下図４を参照して説明する。
【００２７】
本実施形態に係る導通検査装置１００は、電気配線システムとしてのワイヤーハーネスＷＨの検査装置として、当該ワイヤーハーネスＷＨの導通を検査するために具体化されたものである。ワイヤーハーネスＷＨは所定の回路網を形成した電気配線システムであり、その基端にはコネクタＣ１〜Ｃ６が設けられている。なお、コネクタＣ１〜Ｃ６は、ワイヤーハーネスＷＨの仕様に応じて様々なものが採用されており、本実施形態においては、Ｃ１が対象となるコネクタ（図１〜図３）であるものとして以下説明する。
【００２８】
図示の例において、導通検査装置１００は、検査図板１０１の上に配設され、検査対象となるワイヤーハーネスＷＨに設けられた複数のコネクタＣ１〜Ｃ６毎に設けられた導通検査ユニット１０ａ〜１０ｆと、各導通検査ユニット１０と通信可能に接続された検査装置６０とを備えている。
【００２９】
図５は、図４における導通検査ユニット１０ａの外観斜視図であり、図６は導通検査ユニット１０ａの分解斜視図である。以下図５及び図６を参照して説明する。
【００３０】
導通検査ユニット１０ａは、略長方形で板状の合成樹脂からなるベース２０を備えている。ベース２０の上には、その一端部に固定され、二つのハウジング１を収納可能なハウジングホルダ３０と、このハウジングホルダ３０と隣接してベース２０と相対的に可動な状態で設置される検査部４０と、この検査部４０をハウジングホルダ３０に対して相対的に変位させるトグル機構５０とが設けられている。なお、以下の説明ではベース２０の長手方向において、このハウジングホルダ３０が固定されている側を仮に前方とし、ベース２０の厚み方向において、ハウジングホルダ３０が固定されている側を上方としている。
【００３１】
図６を参照して、上記ハウジングホルダ３０は、ホルダ後端部３１と、ホルダ中央部３２と、ホルダ前方部３３とをボルト３４の螺合によって一体に形成されている。このとき、ボルト３４は、導線３５を介してハウジングホルダ３０に組み付けられる。
【００３２】
ホルダ後端部３１は、上方へ向けて開口部をもった前面視Ｅ字型の合成樹脂からなる板状部材である。
【００３３】
ホルダ中央部３２は、上方へ向けて開口部をもった前面視Ｅ字型の導電性金属からなる板状部材である。また、ホルダ中央部３２の後方基端部には、検出子（異常検出子）３２ａが設けられる。ハウジング１がハウジングホルダ３０に装着されると、この検出子３２ａは、ハウジング１の連通溝１ｄに嵌入される。
【００３４】
ホルダ前方部３３は、上方へ向けて開口部をもった前面視Ｅ字型の合成樹脂からなる板状部材である。
【００３５】
ボルト３４は、導電性金属からなり、上記螺合の際にホルダ中央部３２と電気的に接続される。
【００３６】
導線３５は、その一端がボルト３４と電気的に接続され、他端が検査装置６０（図４）と接続され、端子２同士の短絡や、端子抜けの状態を検査できるように構成されている。
【００３７】
また、ハウジングホルダ３０には、スライドピン３６が圧入される。このスライドピン３６は、圧縮ばね３７が外挿されるとともに、その後端部が検査部４０に対して摺動可能に挿入される。このように、圧縮ばね３７は、ハウジングホルダ３０と検査部４０の間で縮設される結果、検査部４０を後方に付勢する。
【００３８】
ハウジングホルダ３０は、ベース２０に設けられたねじ孔２１を介して、図略のボルトによってベース２０に固定される。
【００３９】
同図を参照して、検査部４０は、合成樹脂成型品又は切削品であるブロック体４１を含んでいる。このブロック体４１は、略立方体形状で、前方に開くプローブ室Ｓを有している。このプローブ室Ｓには、ハウジングホルダ３０に装着されるハウジング１に対応する位置にプローブ４２が設けられる。このプローブ４２の後端部は導線４３を介してアダプタ４４へ接続される。このアダプタ４４は、導通検査装置６０（図４）と接続され、各端子２の電気的な導通状態を検査できるように構成されている。
【００４０】
また、検査部４０の下端部は、ベース２０の前後方向に設けられた鉤状のレール２２と摺動可能に嵌合されている。したがって、検査部４０は、ベース２０に対して前後方向に移動できるとともに、ベース２０から上方へ離脱することがない。
【００４１】
導通検査ユニット１０ａに採用されている変位手段の一例としてのトグル機構５０は、ベース２０の後端部に立設された一対の支持部５１を含んでいる。この支持部５１には、ハンドル５２が軸Ａ１によって回動可能に支持されている。ハンドル５２は、軸Ａ１の近傍で検査部４０の後部端面に当設するカム状の加圧部５３と、手動操作用の把手部５４とを備えている。上記加圧部５３の周面には、加圧面５３ａが形成されている。この加圧面５３ａには、上記検査部４０のブロック体４１が上記圧縮ばね３７の付勢力によって常時押圧されている。
【００４２】
図７は、本発明の実施形態に係る導通検査ユニット１０ａと検査装置６０の回路構成図であり、以下図７を参照して説明する。
【００４３】
図７は、本発明の実施形態に係る導通検査ユニット１０ａと検査装置６０の回路構成図であり、以下図７を参照して説明する。
【００４４】
同図に示すように、本実施形態に係る検査装置６０は、各導通検査ユニット１０ａ〜１０ｆに接続される検査回路６１と、この検査回路６１を制御する制御部６２とを有している。
【００４５】
検査回路６１は、周知の導通検査機と同様の構成であり、本実施形態のＣ１を検査する導通検査ユニット１０ａの各プローブ４２は、他の導通検査ユニット１０ｂ〜１０ｆのプローブ１４２（図７にのみ図示）と同様に、この検査回路６１に電気的に接続されている。これにより検査回路６１は、制御部６２の制御に基づいて検査信号をワイヤーハーネスＷＨに流して、ワイヤーハーネスＷＨの導通状態を検査することができるようになっている。さらに、この検査回路６１には、導通検査ユニット１０ａに設けた検出子３２ａが回路３５によって電気的に接続されている。
【００４６】
制御部６２は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）６２ａと、このＣＰＵ６２ａと接続されるメモリ６２ｂと、処理内容及び処理結果を表示する表示部６２ｃとを有している。
【００４７】
メモリ６２ｂには、ＣＰＵ６２ａが導通検査処理を行なうための導通検査プログラムが記憶されている。また、メモリ６２ｂは、ＣＰＵ６２ａの作業領域として使用される。さらにメモリ６２ｂは、検査対象となるワイヤーハーネスＷＨに形成されるべき回路網の接点の導通情報を基準データとして記憶するとともに、読み取り情報を検査データとして記憶するように設定されている。
【００４８】
上記検査プログラムにおいて、上記回路３５は、通常、端子２と非接触状態（あるいは挿入されていない状態）にあるのが正常となるように設定されている。
【００４９】
したがって、上記導通検査プログラムに基づき、検査回路６１がワイヤーハーネスＷＨの接続状態を検査すると、通常の導通検査と同様に、ワイヤーハーネスＷＨは、Ａ端側の端子２とＢ端側の端子２との導通が検査される（即ちＡ１とＢ１、Ａ２とＢ２、Ａ３とＢ３、・・・ＡｎとＢｎ）とともに他回路との短絡有無が検出される。さらにコネクタＣ１において、端子抜けや芯線はみ出しが発生すると、コネクタＣ１内の何れかの端子２が検出子３２ａと接触することになるので、回路３５が該当する端子の回路と短絡し、異常と判定されることになる。
【００５０】
図８は、図４における導通検査ユニット１０ａの側面断面図を示したものである。（イ）はハウジングホルダ３０と検査部４０が離反した状態（以下着脱ポジションと示す）、（ロ）はハウジングホルダ３０と検査部４０が近接した状態（以下検査ポジションと示す）を示している。
【００５１】
図９は、本発明の実施形態に係るコネクタＣ１のハウジング１と端子２と検出子３２ａの関係を示す断面拡大略図である。（イ）は正常の状態、（ロ）は端子抜けによる不良状態、（ハ）は導線Ｗの圧着不良の状態をそれぞれ示している。
【００５２】
図７、図８及び図９を参照して以下説明する。
【００５３】
図８の（イ）状態で導通検査ユニット１０ａは、ハウジングホルダ３０と検査部４０が離反した状態にあるため、作業者は検査対象であるコネクタＣ１を装着することができる。この状態でハンドル５２を上記軸Ａ１を中心にして時計回りに回動することにより、ブロック体４１が前方に押動されるとともに、所定量回動させることにより、軸Ａ１と協働してブロック体４１がトグル状にロックされ、導通検査ユニット１０ａは図８の（ロ）に示す検査ポジションとなる。
【００５４】
検査ポジションとなった導通検査ユニット１０ａの各プローブ４１は、コネクタＣ１の対応する端子２に当接し、端子２の導通検査を行なう。また、この導通検査と同時に上記検出子３２ａに接続された導線３５によって、端子同士の短絡及び、端子抜けの検出が行なわれる。
【００５５】
すなわち、図９の（イ）の状態では、検出子３２ａは端子２の後部端面２ｂと干渉していないため、検出子３２ａと各端子２とは電気的に接続されていない。そして、図７の検査装置６０のメモリ６２ｂには、検出子３２ａと各端子２が非接触状態である回路構成が良品であると記憶されているため、図９の（イ）の状態は良品であると表示部６２ｃに表示される。
【００５６】
また、図９の（ロ）の状態では、端子２の係止爪２ｃがハウジング１の係止孔１ｃと係合していない状態、すなわち端子抜けの状態となっている。この状態では、端子２の後部端面２ｂと検出子３２ａが当接しているため、端子２と検出子３２ａは電気的に接続している。この回路構成は、検査装置６０のメモリ６２ｂに記憶された良品回路構成と相違する。そのため、図９の（ロ）の状態では、端子抜けを生じた端子２が特定され、検査対象のコネクタＣ１が不良品であると表示部６２ｃに表示される。
【００５７】
さらに、図９の（ハ）の状態では、端子２と導線Ｗの圧着不良によって、被覆電線Ｗの芯線Ｗ１が連通溝１ｄ内に露出している。この状態では、図９の（ロ）と同様に端子２と検出子３２ａが電気的に接続するため、検査対象のコネクタＣ１が不良品であると表示部６２ｃに表示される。なお、芯線Ｗ１は、検出子３２ａが装着されることによって隣接する別の端子２へと導かれ、双方の端子２同士が短絡する場合がある。この場合には、短絡する双方の端子２が特定され、検査対象のコネクタＣ１が不良品であると表示部６２ｃに表示される。
【００５８】
ところで、ハウジングホルダ３０には、ハウジング１の形状が同じで内部回路構成がそれぞれ異なる二つのコネクタＣ１が装着されることがある。すなわち、カバー３には内部回路構成の異なる二つのハウジング１が嵌入されることがある（図１参照）。このような場合には、予めメモリ６２ｂに二つの異なる回路構成を記憶させておくことで、ハウジングホルダ３０へ装着されるハウジング１の種類違いが検出される。
【００５９】
そして、導通検査が終了すると、作業者がハンドル５２を反時計回りに回動すると、上述した圧縮ばね３７の付勢力によって検査部４０が後方へ押動し、導通検査ユニット１０ａは図８の（イ）に示す着脱ポジションへ復元する。この状態で作業者は、検査済みのコネクタＣ１をハウジングホルダ３０から取り出す。
【００６０】
このように構成された導通検査装置１００は、ハウジング１の連通溝１ｄに嵌入される検出子３２ａをハウジングホルダ３０に備えている。そして、検出子３２ａは、電気的に検査装置６０へ接続されている。そのため、カバー３に嵌入される前のハウジング１に対する導通検査（一次検査）においてハウジング１への端子２の嵌合不良や、端子２同士の短絡を電気的に検出することができる。
【００６１】
また、上記構成の検査装置６０では、個々の端子２の接続状態や短絡状態を特定することができるので、単にカバー３へ嵌入されるハウジング１の種類違いを未然に防止することができるばかりでなく、いずれの端子２が不具合を来たしているかを特定することができるので、手直しも容易になる。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ハウジングホルダに設けられた異常検出子によって、カバーにハウジングを組み付ける前の工程において各端子の導通検査と端子同士の短絡及び端子抜けの検出を行なうことができるので、端子の手直しが容易であるとともに、端子抜けを確実に防止することができる。したがって、従来、カバーにハウジングを組み付けた後でしか検出することのできなかった端子同士の短絡や、従来検出困難であった端子抜けをそれぞれ組付前に検出することができる。そのため、不良が発生した場合の手戻りが小さくなり、従来の検査と比較して作業性が向上される。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の実施形態に係るハウジング組付式コネクタの概略構成を示す一部切り欠き斜視図である。
【図２】  図１のコネクタに採用されているハウジングの斜視図である。
【図３】  図１のコネクタにおけるハウジングと端子とカバーとの関係を示す断面拡大略図である。
【図４】  本発明の実施形態に係る導通検査ユニットと、これを含む導通検査装置との関係を示す概念図である。
【図５】  図４における導通検査ユニットの外観斜視図である。
【図６】  図４における導通検査ユニットの分解斜視図である。
【図７】  本発明の実施形態に係る導通検査ユニットと検査装置の回路構成図である。
【図８】  図４における導通検査ユニットの側面断面図を示したものである。（イ）はハウジングホルダと検査部が離反した状態、（ロ）はハウジングホルダと検査部が近接した状態をそれぞれ示している。
【図９】  本発明の実施形態に係るコネクタのハウジングと端子と検出子の関係を示す断面拡大略図である。
【符号の説明】
１      ハウジング
１ｄ    連通溝
２      端子
３      カバー
１０    検査ユニット
３０    ハウジングホルダ
３２ａ  検出子（異常検出子）
４０    検査部
４１    プローブ
５０    トグル手段
６０    検査装置
１００  導通検査装置
【図１】
0004058952.tif 000002
【図２】
0004058952.tif 000003
【図３】
0004058952.tif 000004
【図４】
0004058952.tif 000005
【図５】
0004058952.tif 000006
【図６】
0004058952.tif 000007
【図７】
0004058952.tif 000008
【図８】
0004058952.tif 000009
【図９】
0004058952.tif 000010