(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法であって、前記方法は
ａ）第１の方向で前記媒体を照射して前記媒体からの放射が感知装置に当たるようにし、前記感知装置が前記媒体の外観の第１のディジタル表現を発生するようにするステップと、
ｂ）前記第１の方向と異なる第２の方向から前記媒体を照射して、それにより前記媒体の欠陥からの放射の輝度が、前記媒体の他の部分からの放射と比較して高められ、かつ前記感知装置に前記放射が当たるようにして前記媒体の外観の第２のディジタル表現を発生するようにするステップと、
ｃ）前記第１のディジタル表現を変形して前記第２のディジタル表現を基準にして前記欠陥による影響を取除いて、前記画像のディジタル表現を発生するようにするステップとを含み、
前記ステップｃ）が、内挿または複製方法によって欠陥に対応する各ピクセルに対して前記第１のディジタル表現に値を発生するステップを含む、方法。
【請求項２】
前記ステップｃ）が、前記第２ディジタル表現が先のステップで加重された後に必要であれば前記第１のディジタル表現に前記第２のディジタル表現を加えるステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記ステップｃ）が、前記第２のディジタル表現からマスクを作成し、かつ前記マスクを基準にして前記第１のディジタル表現を変形するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記マスクが、ストアされた各ピクセル値と予め定められたしきい値とを比較することによって作成される、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記ステップａ）において前記媒体が垂直に照射され、前記ステップｂ）において前記媒体が垂直ではない方向から照射される、請求項１から４のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
前記放射が可視光を含む、請求項１から５のいずれかに記載の方法。
【請求項７】
前記ステップａおよびｂがシーケンシャルに行なわれる、請求項１から６のいずれかに記載の方法。
【請求項８】
前記媒体が透過的であり、かつ一方の側から照射され、前記感知装置
が他方の側から出される放射を検出するよう位置づけられる、請求項１から７のいずれかに記載の方法。
【請求項９】
前記記録媒体が透明体またはフォトグラフィックネガを含む、請求項１から８のいずれかに記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の分野】
この発明は、分析スキャナに取付けられた記録媒体に含まれる画像（イメージ）の欠陥による影響を検出および／または低減するための装置および方法に関する。
【０００２】
【先行技術の説明】
画像の電子表現を発生するための典型的な分析スキャナにおいて、記録媒体上の画像はさまざまな方法によって透明ドラムまたはフラットベッドなどの記録媒体支持表面に取付けられる。これらの各々の方法においては、走査される画像の区域に異物、スクラッチまたは油の泡が確実に存在しないようにしなければならない。以前は、取付が有効であるかどうかは取付けられた画像を目視検査することによって判断されたが、通常の照射ではこのような欠陥を識別することは困難である。
【０００３】
欠陥が識別されると、異物など簡単に取除くことができるものもあるが、このような解決策によっては十分に完全な画像が得られなかったり、欠陥に対処するために自動工程が好ましかったりする用途が多い。一例を挙げると、記録媒体に記録される画像はその後の処理、記憶および出力などのためにディジタル化される必要がある。これは従来、記録媒体を走査し、記録媒体から放射されて画像レンズに当たる光を感知し、その後、受取られた光をピクセルごとにディジタル化することによって達成されてきた。スクラッチなどの欠陥があれば、欠陥に当たる光は画像レンズから散乱し、この結果画像には暗い縞模様が生ずる。これらの暗い縞模様はディジタル化された画像内に永久に記録される。これは以前は、エアブラシ技術を用いるか、または拡散源を用いて透明体をすべての方向から照射することのいずれかによって対処されてきた。第１の試みの問題としては、時間がかかることおよびスクラッチを認識しそれに対処できるオペレータの技術が必要であることが挙げられ、第２の試みは光の効率が非常に悪い。
【０００４】
プレート物体の表面状態を判断するための１つの試みがＵＳ−Ａ−４９８９９７３に記載されている。プレート物体の方に光が方向づけられ、プレート物体から拡散反射した光に応答して光路外に置かれたセンサが電気信号を発生する。プレート物体の表面状態は拡散反射を基準として判断される。実際は拡散光を正確に感知することは困難である。
【０００５】
ＵＳ−Ａ−３９２０３１１は顕微鏡対物レンズの視野内で物体を簡単に観察できるようにする顕微鏡照明器を記載している。これは欠陥の検出にはかかわらない。
【０００６】
ＵＳ−Ａ−５０５８９８２は反射によって不透明物体を検査するためのシステムを記載している。
【０００７】
ＥＰ−Ａ−０６７８９１０は半球形カバーに収められた半導体ディスクの表面を照射するための照射装置を記載している。これは十分に自動化した品質管理を可能にする。
【０００８】
ＷＯ  ９３−１３４０６は、光カードなどの光記録媒体の表面上の欠陥を識別するための装置を記載している。このシステムは反射によって機能する。
【０００９】
【発明の概要】
この発明の第１の局面に従って、記録媒体支持部の表面またはその上に取付けられる記録媒体にある欠陥を検出するための方法が提供され、この方法は支持表面を源からの放射ビームで照射するステップを含み、この支持部は放射に対して透過的であり、さらにこの方法は放射源からずれて配置された放射吸収表面に対して支持表面を観察するステップを含み、観察方向は照射ビームが支持表面に当たる方向からずれた角度をなす方向であり、放射ビームは支持部を通過しており、さらにこの方法は高輝度の領域を検出することにより欠陥の存在を決定するステップを含む。
【００１０】
取付けられた記録媒体、記録媒体支持表面自体または媒体と媒体支持表面との間にある欠陥を観察するための新しい方法が考案された。この方法は、表面が観察される方向からずれた角度で支持表面を照射することにかかわる。欠陥のないスキャナ表面の領域が観察方向に沿って観察されると、この方法は放射源からの直接光線が確実に観察者の視線からずれるようにし、かつ領域が確実に実質的に暗くなるようにする。しかしながら、媒体、媒体支持表面またはそれらの間に欠陥があれぱ、光線は観察者の視線の中に散乱することとなる。この結果、欠陥に対応する高輝度区域によって観察領域は実質的に暗くなることとなる。
【００１１】
このような方法はさまざまな異なった方法で実施され得ることを認識されたい。たとえばこの工程は支持部が裸眼で観察されるよう手動で行なわれてもよく、これに代えてこの方法は自動化されてもよく、この場合、観察手段はある形の走査システムであってもよい。
【００１２】
いずれの場合にも、典型的には放射は表面に対する法線からずれた角度で記録媒体支持表面に当り、表面は法線に沿って観察されるが、法線からずれた角度で支持表面を観察しかつ法線照射をもたらすことは可能であると考えられる。これにより表面の配向および観察が簡単になる。
【００１３】
放射吸収表面はさまざまな形であってもよいが、好ましくは、ビーム源が発生する実質的にすべての波長を吸収する形のものである。可視波長の場合、放射吸収表面は好ましくは黒であるか、または暗い青である。
【００１４】
さらに、この発明の第２の局面に従った装置を用いることもできるが、さまざまな放射源を用いることが可能である。この発明の第２の局面においては、照射装置であって、走査される記録媒体がその上に位置づけられて用いられる分析スキャナの記録媒体支持表面を隣接して位置づけるためのものが提供され、この装置は、少なくとも部分的にその長さに沿って延びるスロットを備えたハウジングと、ハウジング内に支持され、それにより放射ビームがスロットを通過する、少なくとも１つの放射源と、放射吸収表面とを含み、この放射吸収表面は放射源からずれて配置されて、ビーム方向からずれた方向に媒体支持表面を通してスロットを観察するときに背景を形成するようにする。
【００１５】
照射するための放射源は発光ダイオード、光バルブまたは半導体レーザのいずれであってもよいが、好ましくは、蛍光チューブである。蛍光チューブには長い照射源をもたらすという利点がある。したがって、単一チューブは画像支持表面に対して配置されると、多数の源の使用を必要とせず、支持表面の長さに沿って光線をもたらすことができる。
【００１６】
湾曲ミラーまたはレンズなどの焦点合わせ手段を用いて放射ビームを発生することもできるが、典型的には、装置は放射をビームにする放射シールドをさらに含むこととなる。焦点合わせ手段を用いるよりもシールドを用いると構成が遙に簡単になる。
【００１７】
欠陥の観察を助けるために、放射シールドには好ましくは放射吸収表面が組込まれる。シールドとスクリーンとが切離されている場合よりも、構成が簡単になる。
【００１８】
放射シールドはハウジング内であればどこに置かれてもよいが、好ましくは背景表面がスロットと対面するようスロットと向かい合ってハウジング内に配置される。これにより、それに対してスキャナ表面または記録媒体が観察される背景がもたらされる。
【００１９】
画像支持表面はフラットベッドスキャナにおけるように平らな表面であるか、または分析シリンダスキャナにおけるようにシリンダドラムであってもよい。
【００２０】
ハウジングは所望の形であればいかなるものであってもよいが、典型的にはチューブである。これにより、平らな取付表面の下またはシリンダドラムの中のいずれかに容易に挿入できるようになる。
【００２１】
照射は単一源によってもたらされてもよいが、典型的には装置は少なくとも２つの放射源を含み、これらの少なくとも２つの放射源は、スロットの中心およびチューブの軸を通る面のまわりで左右対称に支持される。左右対称に取付けられた２つの源を用いると、２つの異なった方向からの光線は欠陥への入射光線になる。これには、より多くの放射が散乱するため、観察時に欠陥が明るく見えるようになり、かつ欠陥を確実に均一に照射するという利点がある。
【００２２】
この装置は、この発明の第１の局面による方法を実施するようにする照射をもたらす。欠陥が検出されると、異物などそれらのうちいくらかは手で取除くことができる。それでもなおいくらかの欠陥は残り、これらはさらなる自動工程を実施することにより対処され得る。これに代えて、場合によっては手動方法よりも自動方法の方が好ましいこともあり、たとえば多数の画像が短い時間で取扱われなければならない場合には自動方法の方が好ましい。
【００２３】
欠陥が自動的に取扱われるようにするために、この発明の第３の局面に従って、記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法が提供され、この方法は、
ａ）  第１の態様で媒体を照射して媒体からの放射が感知装置に当たるようにし、この感知装置が媒体の外観の第１のディジタル表現を発生するステップと、
ｂ）  第２の態様で媒体を照射し、それにより媒体上の欠陥からの放射の輝度が媒体の他の部分からの放射と比較して高められるようにし、かつ感知装置に放射が当たるようにして媒体の外観の第１のディジタル表現を発生するようにするステップと、
ｃ）  第１のディジタル表現を変形して、第２のディジタル表現を基準とすることにより欠陥による影響をなくして画像のディジタル表現を発生するステップとを含む。
【００２４】
この発明の第４の局面に従って、記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための装置が提供され、この装置は上に記録媒体が配置され得る記録媒体支持部と、支持部上の媒体を放射で照射するための手段と、支持部上の媒体からの放射を感知し、かつ照射されている媒体の外観のディジタル表現を発生するための感知装置と、感知装置に接続された処理手段とを含み、装置はこの発明の第１の局面による方法を実施するようにされている。
【００２５】
さらに、この発明の第１または第２の局面のうちいずれかに関連または独立して、記録媒体上の欠陥を自動的に取扱うための新しい方法および装置が考案された。このプロセスは第１に媒体が全体的に均等に照射され、第２に欠陥が強調されるよう、２つの異なった態様で媒体を本質的に照射することにより達成される。これらの２つの照射態様は、別個の光源を用いるか、または１つの位置から別の位置に移動された単一源を用いることにより達成することができる。特に、照射の第２の態様は、欠陥のみによって散乱した光が画像レンズに受取られるように光源をずらしておくか、またはこの発明の第２の局面による照射装置を用いることにより、達成することができる。
【００２６】
ステップｃ）はさまざまな方法で実施することができる。非常に簡単な試みでは、できれば適切な加重修正の後に、第２のディジタル表現が第１のディジタル表現に加えられ得る。
【００２７】
より高度な試みでは、第２のディジタル表現は欠陥の位置を識別するマスクを形成するよう処理され、第１のディジタル表現は欠陥による影響をなくするようマスクの制御のもとで修正される。この修正は内挿または複製技術であるか、またはガイドとしてマスクを用いてもとの欠陥部分を強調する、電子エアブラシ技術などの技術的な方法であってもよい。
【００２８】
マスクの作成はしきい値技術を用いて行なうことができる。たとえば、予め定められたしきい値と記憶された各ピクセル値とを比較するか、画像区域にわたる変数であり得るしきい値を自動的に計算するか、または背景から欠陥を選択するよう設計されたある他のアルゴリズムを用いることにより行なわれる。
【００２９】
第２の試みは第１の試みよりも好ましい。なぜなら、ステップｂ）の間、感知装置によって画像の部分が依然として感知されるおそれがあり、これをなくす必要がある。たとえば、透明体の場合には、透明体の乳剤が光をさらに散乱させ、それにより透明体上に画像の、付加的な微かな複製を発生することとなる。
【００３０】
ステップ（ａ）および（ｂ）はこれに代えて単一走査の間に２つの照射源から瞬間的に光を発することにより、いかなる順番で、または同時に行なわれてもよい。
【００３１】
第３および第４の局面は不透明な記録媒体によって実現することができるが、好ましくは媒体は透明であり、一方の側から照射され、感知装置は他方の側から出された放射を検出するよう位置付けられる。
【００３２】
処理手段は別個のハードウェアコンポーネント、適切にプログラムされたコンピュータまたはこれらの２つの組合せの形であってもよい。
【００３３】
記録媒体はポジまたはネガを含んでもよく、これらは好ましくは、透過光によって第１の態様で走査されることとなる。透過光または反射光のいずれかを用いると第２の態様で記録媒体を走査することができる。
【００３４】
照射源は典型的には可視波長範囲の光を発生することとなるが、場合によっては可視波長範囲外の波長で動作することもある。
【００３５】
典型的には、２つの源が設けられるが、場合によっては、記録媒体を迅速に十分に走査できるようにするために２つより多い源が用いられてもよく、または単一の移動可能な源が用いられてもよい。一般に放射は可視光を含むが、可視範囲外の波長、たとえばＵＶまたは赤外線を含んでもよい。
【００３６】
発明による装置および方法のいくつかの例は添付の図面を参照して説明される。
【００３７】
【詳細な説明】
図１から３に示される装置は不透明チューブ１を含み、この不透明チューブ１は、長さが約８００ｍｍであり、直径が約８５ｍｍであり、スロット２を有し、このスロット２の長さは約４５０ｍｍであり、幅は約３０ｍｍであり、チューブの長さに沿って延びる。チューブ１の内部にはチューブの軸に平行に、横方向に間隔をあけて配置された２つの蛍光チューブ３および４がある。これらはほぼ半球状の固定具５および６によって定位置に保たれる。好ましい実施例においては、蛍光チューブ３および４の他方の端部を支持するよう２つの付加的な固定具１５および１６がさらに含まれる。固定具５はチューブ１を通って延びるねじ７および８によって定位置に保たれる。残りの固定具６、１５および１６を定位置に保つために、これに似たねじ（図示せず）が用いられる。
【００３８】
チューブ１が潰れないようにするために、１対の支持ストラット９および１９がそれぞれの対の固定具５および６ならびに１５および１６間に横方向に延びる。チューブの柔軟性を高めるようスロット２の反対側でチューブ１の外面に長方形の溝１０が位置づけられる。これによりスロット幅の調整が容易になる。選択されたスロット幅に応じて、異なったストラット９および１９が用いられることとなる。
【００３９】
装置は１対の放射シールド１１および１２をさらに含み、これらは図２に示され、図１では省略されている。これらのシールドはスロット２を通る直接放射を蛍光チューブ３および４から遮蔽し、かつスロット２と関連して２つの放射ビーム１３および１４を規定する。これらのビームはスロット２を通り、交差して最大照射区域１７を形成する。
【００４０】
好ましい実施例において、チューブ１ならびにシールド１１および１２は、蛍光チューブ３および４によって放射され、それらの上に当たるすべての放射を吸収するよう黒くされている。黒いシールド１１および１２により、それに対して支持表面および透明体を観察することができる背景が提供される。
【００４１】
図３は照射装置の平面図を示す。この図では、スロット２の面に対して垂直な角度でチューブの方を見ると、スロットを通して黒いシールド１１および１２しか見えないことが明らかである。放射シールド１１および１２はチューブ１に沿った途中にあり、固定具５および６は一端に、固定具１５および１６は他方端にある。
【００４２】
蛍光チューブ３および４は固定具５、６、１５および１６の孔を通して取付けられるため、チューブの端部は固定具の外側端部から突出する。チューブ３および４の突出端部２３および２４はそれぞれ放射を吸収するよう黒くされている。これにより、装置の有効性を低減するおそれのある、支持表面への不所望な照射が避けられる。
【００４３】
チューブ３および４はリード２０および２１によって電源装置１８に接続される。各リードはそれぞれ２つのワイヤ２５および２６ならびに２７および２８を含む。リード２０および２１はチューブ１の一端に入り、ここで各リード２０および２１からのワイヤ２５および２７がそれぞれチューブ３および４のうち１つに接続される。残りのワイヤ２６および２８は放射シールド１１および１２の背後を通り、蛍光チューブ３および４の他方端に接続される。
【００４４】
この発明の方法の一例を実施するために、装置は分析スキャナ（図２）のドラム２９の内部に挿入され、いくつかの支持手段またはブラケット（図示せず）によって記録媒体支持表面２９Ａに隣接して定位置に保たれてもよく、または装置は必要に応じてユーザが装置を位置づけることのできるよう手で保持されてもよい。シリンダドラムスキャナの使用は制限的なものではなく、装置はフラットベッドスキャナと等しくうまく機能し得ることに留意されたい。ドラムは上に取付けられる透明体３０を有してもよいし、または有さなくてもよい。装置は、欠陥２２がチェックされるドラムの領域が最大照射区域１７内に含まれるように位置づけられる。その後、観察方向に沿って、スロット２の方を観察者が見ることにより領域が検査される。
【００４５】
一般的には、好ましい観察方向は支持表面２９Ａに対する法線に沿った方向であり、この場合光ビームは観察方向からずれた角度でドラム表面に当たる。さらに、光源３および４はスロット２のエッジによって観察者からは見えない。このため、観察方向１００に沿って見ている観察者の目に直接、放射光線が入射することはない。したがって、黒い背景に対して観察する時、ドラムおよび透明体は実質的に暗く見える。
【００４６】
分析スキャナドラム２９はスクラッチまたは汚点などの欠陥２２を含み得る。取付けられた透明体もまた、異物およびスクラッチを含む欠陥による影響を受けることとなり、透明体が油で取付けられる場合にはスキャナ表面２９Ａと透明体３０との間に油の泡が形成されるおそれがある。これらの欠陥２２に入射する光線は散乱することとなる。散乱光の中には観察者の目に入射するものもある。
【００４７】
このため、観察領域は高輝度の区域により均一に暗く見えることとなる。これらの区域はドラムまたは透明体のいずれかにある欠陥の位置に対応する。典型的な透明体の外観の一例が図４に示される。
【００４８】
図４はスキャナドラム２９に取付けられた透明体３０の目視検査によって見える画像を表わす。観察すると、ドラム２９および透明体３０は低輝度の区域により実質的に明るく見えるのではなく、高輝度の区域により実質的に暗く見えるという点で画像はネガであると考えられる。
【００４９】
マーク３１および３２はそれぞれドラム２９および透明体３０のスクラッチの結果として見える画像を表わす。異物はすべて、１点から光線を散乱することとなり、したがって異物は照射点３３として観察することができる。最後に、透明体３０とドラム表面２９との間に油の泡があると、わずかに輝度の高い領域３４が形成されることとなり、この領域３４はさらに輝度の高い外周３５によって囲まれる。高輝度の外周は泡のエッジを形成する油に多く散乱することにより生じる。
【００５０】
この発明は目視検査に制限されるのではなく、光感知スキャナなどの代替的な検出手段と関連して照射装置を用いることもできることに注目されたい。装置がスキャナと用いられる場合には、たとえば赤外線などの不可視照射を用いることもできる。この場合ドラム表面を照射するために用いられる放射線の波長をスキャナが確実に検出できるようにしなければならない。
【００５１】
欠陥が検出されると、それらのうちいつらかは取除くことができる。これはさまざまな方法で行なうことができ、欠陥の種類に大きく依存する。たとえば、媒体支持部の表面または記録媒体上の異物は表面をきれいにすることにより取除くことができる。媒体と支持表面との間にある油の泡は再度取付けるか、その領域に圧力を加えて、集められた油を分散することにより減らすことができる。さらに、支持表面にスクラッチがある場合には、それを取り換えることが必要であろう。
【００５２】
欠陥の補償を可能にする装置が図５に示され、これは透明シリンダまたはフラットベッドなどの記録媒体支持部５１を含む。像が映し出される透明体５２は支持部５１の表面に固定される。支持部５１の上方には、走査ヘッド５３が位置づけられ、この走査ヘッド５３はモータ５５によって回転する親ねじ５４に取付けられる。支持部５１の下方には第１の光源５６が位置づけられる。これに代えて支持部５１は、透明体が上に置かれるギャップを規定してもよい。
【００５３】
記録媒体支持部５１は透明体５２をヘッド５３の下で第１の方向に走査されるよう移動することができ、第１の方向は、親ねじ５４が回転すると、それに沿ってヘッド５３が移動する第２の方向に直交する。源５６はヘッド５３とともに移動するよう取付けられる。このように、透明体５２全体を走査ヘッド５３で走査することができる。
【００５４】
走査ヘッド５３は画像レンズ５７を含み、これは光または放射検出器５８の下に取付けられる。検出器５８は、透明体５２を通過し、（かつ透明体５２上の画像によって変調された）光を受取る。検出器５８から得られた電気信号は線５９に沿ってプロセッサ６０に送られる。プロセッサ６０は信号をディジタル化し、それらをストア６１に送り、このストア６１では、受取られた光の輝度を表わす透明体５２の各ピクセルに対する値がストアされる。
【００５５】
この例では白黒画像の走査が説明されたが、この発明はカラー画像にも適用することができ、この場合走査ヘッド３は従来の態様で適切に変形されることとなる。
【００５６】
最後に、補助光源６２が設けられ、この補助光源６２はビーム６３を発生し、このビーム６３はヘッド５３から透明体５２を通って延びる縦軸からずれる。この源は単に、図５に示されるようなずらしておかれた源であってもよいが、蛍光チューブ３および４を別個に起動することができるならば、図１の照射装置を用いていわゆるずれた照射をもたらすようにすることもできる。
【００５７】
次に、図５に示した装置の動作を説明する。
初めに、透明体５２が支持部５１に取付けられ、源５６が活性化（作動）する。源６２は不活性の（停止した）ままである。源５６は全体的に均一に、ヘッド５３の下方にある透明体５２を照射し（図６のステップ７０）、透明体５２の小さな区域からの光はＣＣＤ検出器５８上にレンズ５７によって焦点合わせされる。検出器は当業者には周知である形の、ＣＣＤ検出器アレイなどのいかなる適切な検出器であってもよい。親ねじ５４が回転して走査ヘッド５３がモータ５５の制御下で親ねじに沿って（源５６の移動に対応して）移動するようにし、支持部５１は直交方向に移動する。このように、透明体５２のすべての部分の画像がＣＣＤ検出器５８上に映し出される（ステップ７１）。検出器５８からの信号は線５９に沿ってプロセッサ６０にダウンロードされ、このプロセッサ６０で信号はディジタル化され、その後、それぞれのピクセルに対応するストア６１の適切な位置にストアされる（ステップ７２）。
【００５８】
次に、光源５６が不活性化（停止）し、光源６２が活性化（作動）する。源６２からの光は鋭角をなして透明体５２上に当たるため、実質的には透明体５２上のスクラッチなどの欠陥によって回折または屈折した光のみが画像レンズ５７に方向づけられることとなる。透明体５２上の乳剤により光のうちいくらかを散乱させることもできるが、これは一般的には、スクラッチによって散乱する光よりも遙に弱い（ステップ７３）。透明体５２は再度走査され（ステップ７４）、源６２はヘッド５３の移動とともに動き、透明体５２の外観の、ディジタル化された第２の画像がストア６１にストアされる（ステップ７５）。
【００５９】
画像は、スクラッチなどの欠陥から予期される光の輝度のみが上回るように設定された、予め定められた輝度しきい値と比較され得る。その後マスク画像が生成され、このマスク画像においては、各ピクセルが、スクラッチを示すために十分な光がないかあるかをそれぞれ示す単一の２進値「０」または「１」を含む。
【００６０】
次にプロセッサ６０はマスク画像を用いて、ディジタル化された第１の画像にあるスクラッチを突き止め、マスク画像において「１」で識別されたピクセルのストア値と、隣接するピクセルに基づいた内挿値とを置換える（ステップ７７）。このように第１の画像のスクラッチによる影響が取除かれる。
【００６１】
示した例では、２つの源５６および６２が用いられる。場合によっては、可動クレードルに源５６を取付けて、源６２の位置に示される位置から調節できるようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】照射装置の斜視図である。
【図２】図１に示した装置が分析スキャナドラムに取付けられたときの断面図である。
【図３】図１に示した装置の平面図である。
【図４】照射装置を用いて観察した典型的な画像を表わす図である。
【図５】欠陥による影響を低減するために用いられる装置の概略的なブロック図である。
【図６】図５に示した装置の動作を示すフロー図である。
【符号の簡単な説明】
１  ハウジング
２  スロット
３，４  放射源
【図１】
0004086934.tif 000002
【図２】
0004086934.tif 000003
【図３】
0004086934.tif 000004
【図４】
0004086934.tif 000005
【図５】
0004086934.tif 000006
【図６】
0004086934.tif 000007