(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
テープカセットに収納された記録媒体とされる磁気テープを走行させるテープ走行手段と、
走行している前記磁気テープを走査することによって情報の記録または再生を行なう磁気ヘッドを備えた回転ドラムと、
装填された前記テープカセットの種別を識別するテープカセット種別識別手段と、
前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第一のテープカセットが装填されたと判別した場合に前記回転ドラムが回転動作を行った時間を計測する回転時間計測手段と、
前記回転時間計測手段によって計測された前記回転ドラムの回転時間を記憶する回転時間記憶手段と、
前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第二のテープカセットが装填されたと判別した場合に、前記回転時間記憶手段に記憶されている回転時間に応じて前記第二のテープカセットに収納されている磁気テープに対して所要の性能確認処理を行う性能確認処理手段と、
前記性能確認処理制御手段の確認結果に基づいて、所要の性能回復処理を行う性能回復処理手段と、
を備えたことを特徴とするテープドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、使用するテープカセットの磁気テープの厚みに応じて、磁気テープに対する記録／再生の最適化を図る処理を行うことができるテープドライブ装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
デジタルデータを磁気テープに記録／再生することのできるドライブ装置として、いわゆるテープストリーマドライブが知られている。このテープストリーマドライブは、ヘリカルスキャン方式が採用され、磁気ヘッドを有した回転ドラムに所定のラップ角で巻きつけた状態で、磁気テープを走行させさらに回転ドラムを所定の方向に回転させることにより、記録／再生などの動作が実現される。
このようなテープストリーマドライブは、メディアであるテープカセットのテープ長にもよるが、例えば数十〜数百ギガバイト程度の膨大な記録容量を有することが可能であり、このため、コンピュータ本体のハードディスク等のメディアに記録されたデータをバックアップするなどの用途に広く利用されている。また、データサイズの大きい画像データ等の保存に利用する場合にも好適とされている。
また、テープカセットはテープストリーマドライブから排出することができる、いわゆるリムーバブルなメディアとされている。したがって、同じテープカセットに記録されているデータを他のテープストリーマドライブで再生したり、またことなるテープストリーマドライブによってのデータ記録が可能となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、テープカセットの容量増加を図るためには、テープカセット内により長いテープを収納していくことが必要になる。すなわち、テープをより薄い構造で形成することによりテープカセット内により長いテープを収納することができるようになる。これにより、ユーザは用途、目的などに応じて好適とされる容量のテープカセットを選択することも可能になる。
これによりテープストリーマドライブには、厚みの異なるテープが収納されたテープカセットが選択的に装填されることになるが、磁気テープは回転ヘッドに圧着された状態で走査するので、テープの厚みによって回転ヘッドに形成される磁気ヘッド（再生ヘッド、記録ヘッド）に対する負荷が変動する。
【０００４】
図１１は、回転ヘッド（図示せず）に備えられている磁気ヘッド７０とこの磁気ヘッド７０に当接する磁気テープの状態を説明する模式図であり、図１１（ａ）は比較的厚く形成されている磁気テープ８０、同じく図１１（ｂ）は図１１（ａ）に示した磁気テープよりも薄く形成されている磁気テープ８１を例に挙げている。なお、実際の磁気テープの厚みは例えばサブミクロンとされる微小な単位で形成されるので、この図に示す例は説明の便宜を図るために、厚みの差が解りやすいように示している。
【０００５】
図１１（ａ）に示されているように、磁気ヘッド７０が磁気テープ８０を走査する場合は、磁気ヘッド７０の形状に沿ってほぼ全面に当接するようにされる。したがって、この状態で磁気ヘッド７０が磨耗していくことになり、これにより磁気ヘッド７０は厚い磁気テープ８０になじんだ形状になる。
しかし、図１１（ａ）に示したように磁気ヘッド７０が磁気テープ８０になじんだ状態で、図１１（ｂ）に示されているように磁気テープ８０よりも薄く形成されている磁気テープ８１を走査する場合は、磁気ヘッド７０の中央部分に形成されているギャップ７０ａ付近において中浮き現象が起こってしまう。この中浮き現象は磁気ヘッド７０先端部分の曲率半径が大きい場合に生じる現象とされ、これにより、磁気ヘッド７０と磁気テープ８１の間に間隙８５が生じて、記録／再生の性能が劣化してしまう。
【０００６】
この場合、その劣化状態がテープストリーマドライブにおける許容範囲を超えてしまった場合、双方の磁気テープに対して互換性を保証することが困難な場合があるという問題がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明はこのような問題点を解決するために、テープカセットに収納された記録媒体とされる磁気テープを走行させるテープ走行手段と、走行している前記磁気テープを走査することによって情報の記録または再生を行なう磁気ヘッドを備えた回転ドラムと、装填された前記テープカセットの種別を識別するテープカセット種別識別手段と、前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第一のテープカセットが装填されたと判別した場合に前記回転ドラムが回転動作を行った時間を計測する回転時間計測手段と、前記回転時間計測手段によって計測された前記回転ドラムの回転時間を記憶する回転時間記憶手段と、前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第二のテープカセットが装填されたと判別した場合に、前記回転時間記憶手段に記憶されている回転時間に応じて前記第二のテープカセットに収納されている磁気テープに対して所要の性能確認処理を行う性能確認処理手段と、前記性能確認処理制御手段の確認結果に基づいて、所要の性能回復処理を行う性能回復処理手段を備えてテープドライブ装置を構成する。
【０００８】
本発明によれば、テープカセット識別手段の判別結果に基づいて、磁気テープの厚みを検出することができ、さらに磁気テープの厚みに応じて性能回復処理を行うことができる。これにより、厚い磁気テープを用いることによる磁気ヘッドの形状変化により、薄い磁気テープの記録／再生性能が劣化している場合でも、性能回復処理によって改善を図ることができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。
図１は、本発明の実施の形態のテープストリーマドライブの一構成例を示すブロック図である。この図に示すテープストリーマドライブ１は、装填されたテープカセットの磁気テープ２に対して、ヘリカルスキャン方式により記録／再生を行うようにされている。
回転ドラム３においては、その側面に対して、アジマス角の異なる２つの再生ヘッド４Ａ、４Ｂが互いに１８０°対向するようにして設けられると共に、２つの記録ヘッド５Ａ，５Ｂも互いに１８０°対向するようにして設けられる。なお以降、再生ヘッド４Ａ、４Ｂ、及び記録ヘッド５Ａ，５Ｂを総じて示す場合は単に磁気ヘッドということにする。
この回転ドラム３には、後で図２で説明するように当該テープストリーマドライブ１に対応するテープカセット（図示せず）から引き出された磁気テープ２が巻き付けられる。そして、この回転ドラム３はドラムモータ２２により回転される。
また磁気テープ２を定速走行させるためのキャプスタン（図示せず）はキャプスタンモータ２３により回転駆動される。
【００１０】
またテープカセット内のリールハブ２Ａ，２Ｂは、それぞれリールモータ２４，２５により、順方向及び逆方向に回転駆動される。
ローディングモータ２６は、図示しないローディング機構を駆動し、磁気テープ２の回転ドラム３へのローディング／アンローディングを実行する。
【００１１】
ドラムモータ２２、キャプスタンモータ２３、リールモータ２４，２５、ローディングモータ２６は、それぞれメカドライバ２１からの電力印加により回転駆動される。メカドライバ２１はサーボコントローラ２０からの制御に基づいて各モータを駆動する。サーボコントローラ２０は各モータの回転速度制御を行って通常の記録再生時の走行や高速再生時のテープ走行、早送り、巻き戻し時のテープ走行、テープカセット装填動作、ローディング／アンローディング動作、テープテンション制御動作などを実行させる。
【００１２】
サーボコントローラ２０が各モータのサーボ制御を実行するために、例えば、ドラムモータ２２には、ＦＧ（Frequency Generator）２２ａ、及びＰＧ(Pulse Generator)２２ｂが設けられる。また、キャプスタンモータ２３、リールモータ２４，２５、ローディングモータ２６の各々に対しては、ＦＧ２３ａ，ＦＧ２４ａ，ＦＧ２５ａ，ＦＧ２６ａが設けられる。これら、ＦＧ、ＰＧから出力される信号によって、サーボコントローラ２０においては、各モータの回転情報が検出できるようになっている。
【００１３】
そしてサーボコントローラ２０はこれらＦＧ、ＰＧから得られるパルスに基づいて各モータの回転速度や回転位相差を判別することで、各モータの回転動作について目的とする回転速度や位相の誤差を検出し、その誤差分に相当する印加電力制御をメカドライバ２１に対して行うことで、回転速度制御を実現することができる。従って、記録／再生時の通常走行や、高速サーチ、早送り、巻き戻しなどの各種動作時に、サーボコントローラ２０はそれぞれの動作に応じた目標回転速度により各モータが回転されるように制御を行うようにされている。
【００１４】
また、上記サーボコントローラ２０はテープフォーマットコントローラ１１から内部バス３０を介してシステム全体の制御処理を実行するシステムコントローラ１９と双方向に通信可能に接続されている。
【００１５】
ところで、回転ドラム３は磁気テープ２が一定時間走行しない場合に、その回転を停止するように制御される。つまり、サーボコントローラ２０はリールモータ２４、２５を所定時間駆動しない場合にドラムモータ２２が停止するように制御する。したがって、テープストリーマドライブ１では、例えば記録／再生、早送り／巻き戻しなどを行い、磁気テープ２が走行している時間、及び磁気テープ２が走行していなくても回転ドラム３が回転してる時間、すなわちテープストリーマドライブ１にテープカセットが装填された後に回転ドラム３が回転している時間を磁気テープ２の走行時間としている。
サーボプロセッサ２０は回転ドラム３を回転させている時間の計測を行い、回転時間が前記所定時間に達した時点で、回転ドラム３の回転を停止させる制御を行うようにしている。
【００１６】
本実施の形態では、比較的厚い磁気テープを備えたテープカセットが装填されたと判別した場合に回転ドラム３の回転時間を記憶しておき、比較的薄い磁気テープを備えたテープカセットが装填されたと判別した場合に、この回転時間を性能回復処理を行うか否かの判断を行うための値として用いるようにしている。なお、磁気テープの厚みの判別は、後で説明するカセット種別判別手段としてのホール検出機構２８によって行われる。
回転時間の測定値は例えばワークＲＡＭ１８において更新され、回転時間メモリ２９に格納されることによって、例えばテープカセットが入れ換えられたときや、例えば電源がオフにされた場合などでも保持されるようにされている。
つまり、回転時間メモリ２９には厚いテープが装填されている場合の回転時間が累積されて記憶される。
【００１７】
テンションレギュレータ２７は、ここでは図示していないテンションピックアップなどを備え、図４で説明するようにローディング機構における所要の位置において、磁気テープ２が回転ドラム３に巻き付けられている状態での、当該磁気テープのテンションを検出して所要のテンション値に換算してサーボコントローラ２０に供給する。サーボコントローラ２０は供給されたテンション値に基づいてリールモータ２４、２５の負荷トルクを制御するようにして、磁気テープ２を所要のテンションにするようにされている。
【００１８】
ここで、図２に従い、本例のテープストリーマドライブ１内にテープカセット４０が装填され、ローディングされた状態を説明する。
破線で示しているされているようにテープカセット４０の内部にはリールハブ２Ａ及びリールハブ２Ｂが設けられ、このリールハブ２Ａ及び２Ｂ間に磁気テープ２が巻装される。そして、テープカセット４０はメカデッキ部に着座された状態で、リールハブ２Ａ，２Ｂがそれぞれ図示していないリールモータ２４、２５により正方向及び逆方向に駆動されるように係合される。また、このように着座されたテープカセット４０からは、磁気テープ２が引き出され、回転ドラム３に所定角度巻装される状態となる。
即ち、着座されたテープカセット４０は後述するガードパネルが開かれた状態となっており、移動式のローディングピン５５，５６が図中Ｓ方向及びＸ方向に移動されることによって、磁気テープ２がテープカセット４０の筐体から導出され、ガイドローラ５１，５２，５３，５４によってテープパスが規定された状態で回転ドラム３に巻き付けられる。
【００１９】
また、ピンチローラ５８はガイドローラ５３，５４間のテープパスで、磁気テープ２に対して一定のテープテンションを与えるとともに、磁気テープ２をキャプスタン５７の外周面に圧接するようにされている。これによりキャプスタン５７の定速回転が行われることで、磁気テープ２が定速で走行される。
このようにして磁気テープ２が走行されるとともに、磁気ヘッドを配した回転ドラム３が回転されることで、磁気テープ２に対する記録再生動作が実行される。
【００２０】
また、早送り、巻き戻しなどの高速走行時には、ピンチローラ５８は矢印Ｚ方向に所定の位置まで移動され、これによって磁気テープ２はピンチローラ５８とキャプスタン５７から開放される。
【００２１】
テープ走行時には、テープのたるみが生じないようにバックテンションがかけられ、このバックテンションはリールハブ２Ａ，２Ｂの回転駆動制御により得られるものとなる。
ここで、ガイドローラ５１，５２の間には図１に示したテンションレギュレータ２７を構成するテンションピックアップ２７ａが配されている。このテンションピックアップ２７はスピンドルリングで付勢されながら磁気テープ２に圧接していることで、磁気テープ２に与えられているテンションに応じて回動状態が変動する。従ってテンションレギュレータ２７ではこのテンションピックアップ２７ａの回動状況（回動位置）を例えばホール素子などで電気的に検出することで、磁気テープ２に対してかけられているテンションに相当する検出信号を得ることができる。
つまり、この検出信号がテンションレギュレータ２７からサーボプロセッサ２０に供給され、リールハブ２Ａ，２Ｂの回転駆動制御が行われる。
【００２２】
図１に示すホール検出機構２８は、装填されたテープカセット４０に形成されている各種識別孔を検出するための機構部であり、例えば各種識別孔に応じたピンや、フォトセンサなどによって構成される。
テープカセット４０には、予め定められた規格に従って、そのテープ種別や、ライトプロテクトの有無によって開閉する各種識別孔が形成されているが、ホール検出機構２８では、これらの識別孔を検出する。
ホール検出機構２８の検出情報は、システムコントローラ１５に供給されることで、システムコントローラ１９において、装填されたテープカセットの種別やライトプロテクト設定状況等を把握することが可能になる。
なお、本実施の形態としてのテープカセットに対して形成される識別孔については後述する。
【００２３】
このテープストリーマドライブ１においては、データの入出力にＳＣＳＩコントローラ１６が設けられる。つまり外部とのデータの授受はＳＣＳＩ(Small Computer System Interface)が用いられる。例えばデータ記録時にはホストコンピュータ３２から、ＳＣＳＩバス３１、ＳＣＳＩコントローラ１６を介してデータが入力され、インターナルバッファコントローラ１４に供給される。
【００２４】
インターナルバッファコントローラ１４では、入力されたデータについて、バッファメモリ１５を使用して一旦蓄積して、例えば単位データの時間軸的整合を図った後に、圧縮／伸長回路１３に対して供給する。
【００２５】
圧縮／伸長回路１３では、入力されたデータについて必要があれば、所定方式によって圧縮処理を施すようにされる。圧縮方式の一例として、例えばＬＺ符号による圧縮方式を採用するのであれば、この方式では過去に処理した文字列に対して専用のコードが割り与えられて辞書の形で格納される。そして、以降に入力される文字列と辞書の内容とが比較されて、入力データの文字列が辞書のコードと一致すればこの文字列データを辞書のコードに置き換えるようにしていく。辞書と一致しなかった入力文字列のデータは逐次新たなコードが与えられて辞書に登録されていく。このようにして入力文字列のデータを辞書に登録し、文字列データを辞書のコードに置き換えていくことによりデータ圧縮が行われるようにされる。
【００２６】
テープフォーマットコントローラ１１においては、圧縮／伸長回路１３の出力について、バッファメモリ１２を作業領域として使用してテープフォーマットに従った所要のデータ処理、信号処理を実行する。ここでは、例えば、エラー訂正符号の付加、サブコードの付加、同期信号の付加等を実行すると共に、最終的には、テープ対する磁気記録に適合した変調処理を施して、デジタルイコライザ／ビタビデコーダ１０に供給する。
また、後述する性能確認処理においては、記録／再生を行う場合のエラーレートの検出を行い、検出結果をシステムコントローラ１９に供給する。
【００２７】
デジタルイコライザ／ビタビデコーダ１０は、記録時においては、必要があれば入力データに対して所要のイコライジング処理を行って、記録データとしてＲＦ処理部８に出力する。
【００２８】
ＲＦ処理部８では供給された記録データについて記録イコライジング等の処理を施して磁気記録のための記録信号を生成し、記録アンプ９に供給する。記録アンプ９では、入力された記録信号について増幅を行って、ロータリートランス７を介して記録ヘッド５Ａ、５Ｂに供給する。これにより記録ヘッド５Ａ、５Ｂから磁気テープ２に対して磁気印加が行われ、データの記録が行われることになる。
【００２９】
また、データ再生動作について簡単に説明すると、磁気テープ２の記録データが再生ヘッド４Ａ、４ＢによりＲＦ再生信号として読み出される。その出力は、それぞれ再生アンプ６Ａ，６Ｂにて増幅された後、ロータリートランス７を介するようにして、ＲＦ処理部８に対して出力される。
ＲＦ処理部８においては、再生イコライジング、再生クロック生成、２値化などの処理が行われる。
【００３０】
ＲＦ処理部８において２値化されたＲＦ再生信号は、デジタルイコライザ／ビタビデコーダ１０に出力され、ここで、例えばビタビ復号に適合した波形等価（イコライジング処理）及びビタビ複合処理が実行され、テープフォーマットコントローラ１１に供給される。
【００３１】
テープフォーマットコントローラ１１では、バッファメモリ１２を利用して、入力されたデータについての誤り訂正処理、サブコードの抽出等を行い、圧縮／伸長回路１３に出力する。
圧縮／伸長回路１３では、システムコントローラ１９の判断に基づいて、記録時に圧縮が施されたデータであればここでデータ伸長処理を行い、非圧縮データであればデータ伸長処理を行わずにそのままパスして出力する。
圧縮／伸長回路１３の出力データは、一旦、インターナルバッファコントローラ１４に供給される。インターナルバッファコントローラ１４では、バッファメモリ１５を使用して、例えば、入力データを所定のデータ単位に整えるなどして、ＳＣＳＩコントローラ１６に対して出力する。ＳＣＳＩコントローラ１６では、入力された再生データを、ＳＣＳＩバス３１を介してホストコンピュータ３２に対して出力する。
【００３２】
システムコントローラ１９はマイクロコンピュータ等を備えて成り、内部バス３０を介して、テープフォーマットコントローラ１１、圧縮／伸長回路１３、インターナルバッファコントローラ１４，ＳＣＳＩコントローラ１６、フラッシュＲＯＭ１７、ワークＲＡＭ１８と相互通信可能に接続されていることで、各機能回路部に対しての各種制御処理を実行する。
ここで、フラッシュＲＯＭ１７及びワークＲＡＭ１８には、システムコントローラ１９が各種処理に用いるデータが記憶される。フラッシュＲＯＭ１７には、システムコントローラ１９が実行すべき各種制御処理のためのプログラムや、各種制御値等が記憶される。
ワークＲＡＭ１８には、例えば、システムコントローラ１９が行った処理結果や演算値等が一時的に格納される。
【００３３】
なお、フラッシュＲＯＭ１７，ワークＲＡＭ１８は、システムコントローラ１９を構成するマイクロコンピュータの内部メモリとして構成してもよく、またバッファメモリ１２（又はバッファメモリ１５）の領域の一部をワークメモリとして用いる構成としてもよい。
また、図１では回転時間メモリ２９を個別に示しているが、例えばフラッシュＲＯＭ１７の領域の一部に構成されるようにしても良い。
【００３４】
２．テープカセットの外観
【００３５】
図３はテープカセット４０の外観例を下方側から示す図であり、筺体全体は上側ケース４１、下側ケース４２、及び前方に備えられるガードパネル４３からなる。
【００３６】
このテープカセット４０の下面後方側近傍には、各種孔が形成されている。
例えば位置決め孔４４、４５は、テープカセット４０がテープストリーマドライブ１の所定の位置に着座するための位置決めを行う孔とされ、テープストリーマドライブ１の所定の位置に形成されている位置決め部材に嵌合することができるようにされている。これによって、テープカセット４０はテープストリーマ１内における所定の位置に着座するようにされる。
書き込み禁止孔４６は、当該テープカセット４０が記録可または記録不可とされているかの判別を行う孔として構成される。例えば書き込み禁止孔４６が開状態である場合は書き込み禁止、また例えば書き込み禁止孔４６が閉状態である場合には書き込み可とされる。書き込み禁止孔４６の開閉状態はこれはホール検出機構２８によって、記録可否判別情報として検出されてシステムコントローラ１９に供給される。
【００３７】
カセット種別識別孔４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、及びカセット種別識別孔４７ｄは、テープカセット４０の種別を識別することができるように形成されている。すなわち、これら４個のカセット種別識別孔４７（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）の開閉状態の組み合わせによって、例えばＤＤＳ、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４などとしてとして規定されている磁気テープのフォーマット方式を識別することができるようにされている。したがって、ホール検出機構２８はこれらのカセット種別識別孔４７（ａ〜ｄ）の開閉状態を検出して、ＤＤＳ乃至ＤＤＳ４のいずれのフォーマットであるかというフォーマット情報をシステムコントローラ１９に供給すると、システムコントローラ１９は各フォーマットに対応した各種動作を行うような制御を行う。
【００３８】
また本実施の形態では、カセット種別識別孔４７（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）の開閉状態に基づいて磁気テープ２の厚みを識別して、その厚みに対応した処理を行うようにされている。
ここで、図４に従い、カセット種別識別孔４７（ａ〜ｄ）の開閉状態の組み合わせと磁気テープ２の厚み、長さ及びフォーマット方式の関係を説明する。この図で「×」はカセット種別識別孔４７（ａ〜ｄ）の閉状態、「○」は同じく開状態を示している。したがって、このようなカセット種別識別孔４７（ａ〜ｄ）の開閉状態を検出することによって、磁気テープ２の厚み、長さ、及びフォーマットを検出することがでいる。
【００３９】
開閉状態が例えば（ａ）に示されている「××××」とされている場合は、フォーマットはＤＤＳとされテープ厚は例えば１３μｍ、テープ長は６０ｍとされている。また、（ｂ）に示されている「×○××」とされている場合は、同じくＤＤＳフォーマットとされテープ厚は例えば９μｍ、テープ長は９０ｍとされている。
さらに、（ｃ）に示されているように「○×××」の場合はＤＤＳ-２で６．９μｍ、テープ長は１２０ｍ、（ｄ）に示されているように「○×○×」の場合はＤＤＳ-３で６．９μｍ、テープ長は１２５ｍ、また（ｅ）に示されているように「○×○○」の場合はＤＤＳ-４で５．９μｍ、テープ長は１５０ｍとされている。
【００４０】
本実施の形態では、例えばＤＤＳとされる磁気テープを厚く形成されているものとして、カセット種別識別孔４７ａ〜４７ｄが例えば（ａ）（ｂ）に示されている開閉状態である判別した場合は、第一のテープカセットとして比較的厚い磁気テープ２が収納されている構成であると識別する。また、カセット種別識別孔４７ａ〜４７ｄが例えば（ｅ）に示されている開閉状態であると判別した場合は、第二のテープカセットとして比較的薄い磁気テープ２が収納されている構成であると識別する。
これによって、テープストリーマドライブ１ではテープの厚みに応じて変形（磨耗）した磁気ヘッドの形状に対応して、性能確認処理、性能回復処理などを行うことができるようになる。つまり、第二のテープカセット（ＤＤＳ-４）が装填された場合には、それ以前に第一のテープカセット（ＤＤＳ-１）が使用されていた時間に基づいて性能確認処理、性能回復処理を行い、磁気ヘッドを第二のテープカセット（ＤＤＳ-４）に対応した形状になじませるようにしている。
【００４１】
なお、（ｃ）（ｄ）に示されているＤＤＳ-２、ＤＤＳ-３については、第二のテープカセットとされるＤＤＳ-４よりも厚く形成されている。しかしＤＤＳよりも厚みの差が小さいことから、磁気ヘッド２に対する影響が小さいものとして、性能確認処理などを行う条件の対象としていない。しかし、必要に応じてＤＤＳ-２、ＤＤＳ-３が使用された時間などを性能確認処理、性能回復処理を行う条件にするようにしても良い。
【００４２】
性能確認処理は、例えば回転時間メモリ２９に記憶されている第一のテープカセット（ＤＤＳ）装填時における回転ドラム３の回転時間が所定時間以上とされ、この場合に第二のテープカセット（ＤＤＳ-４）が装填されたことなどを条件として行われる。この性能確認処理は磁気テープ２上において自由使用が認められている所定の位置において、データとしての意味をなさないランダムデータの記録／再生を行い、記録／再生データのエラーレートを検出するものとされる。
【００４３】
図５は磁気テープに形成されるデータ構成領域を説明する模式図であり、例えば１個のパーティションが形成されている例を示している。
図示されているように、磁気テープ２の最初の部分に対して物理的にリーダーテープが先頭に位置しており、次にテープカセットのローディング／アンローディングを行う領域となるデバイスエリアが設けられている。このデバイスエリアの先頭が物理的テープの先頭位置ＰＢＯＴ（Phisycal Bigining of Tape)とされる。
上記デバイスエリアに続いては、リファレンスエリア及びテープの使用履歴情報等が格納されるシステムエリア（以下、リファレンスエリアを含めてシステムエリアという）が設けられて、以降にデータエリアが設けられる。システムエリアの先頭が論理的テープの開始位置ＬＢＯＴ（Logical Bigining of Tape) とされる。
【００４４】
データの記録が行われるデータエリアに続いては、パーティションのデータ領域の終了を示すＥＯＤ（End of Data)の領域が設けられる。そしてＥＯＤの最後が、論理的テープの終了位置ＬＥＯＴ（Logical End of Tape)とされる。
ＰＥＯＴ（Phisycal End of Tape) は、物理的テープの終了位置、又はパーティションの物理的終了位置を示すことになる。
【００４５】
本実施の形態では、例えばデバイスエリアを利用して性能確認処理を行う。つまり、性能確認処理を行う場合、まずデバイスエリアに移動する制御が行われる。
図６はデバイスエリア及びシステムエリアが形成される長さの一例を説明する図である。
図６（ａ）に示されているようにデバイスエリアはＰＢＯＴを起点として、例えば５００ｍｍの長さで形成される。つまりＰＢＯＴからＬＢＯＴまでの長さが５００ｍｍということになる。また、システムエリアはＬＢＯＴを起点として例えば２０ｍｍの長さで形成される。
上記したように性能確認処理はデバイスエリアで行うようにされるが、この場合デバイスエリア内において例えばＰＢＯＴを起点として約３５０ｍｍ〜４５０ｍｍの領域を性能確認領域とする。したがって、テープカセット４０が装填された後に、性能確認処理を行う場合は、磁気テープ２のポジション検出を行い、性能確認領域まで移動することになる。
【００４６】
図７にリールハブ２Ｂ、リールハブ２Ａに磁気テープ２が巻装されて走行されている状態を示しているが、ここでリールハブ２Ａ側のリール巻径をＲｔ、Ｓリールハブ２Ｂ側のリール巻径をＲｓ、リールハブ２Ｂ及びリールハブ２Ａのリールハブ径をＲｏとする。またテープ速度をＶtape、テープ長をＬtape、テープ厚をＤtapeとする。
当然ながらテープ長Ｌtape、テープ厚Ｄtapeは、そのテープカセット１についての固定値となり、図４で説明したようにカセット種別識別孔４７（ａ〜ｄ）の開閉状態によって把握することができる。従って磁気テープ２が巻装された状態のリールハブ２Ｂ側の投影面積とリールハブ２Ａ側の投影面積の和はテープ走行位置に関わらず一定である。すると次の（数１）が成立する。
【数１】
0004120085.tif 000002
つまり磁気テープ２が巻装された状態のリールハブ２Ｂ側の投影面積とリールハブ２Ａ側の投影面積の和から、両リールハブ自体の投影面積を引いたものは、テープ長Ｌtapeとテープ厚Ｄtapeのみによる投影面積に相当する。
【００４７】
ここで、リールハブ２Ａ側の回転周期をＴｔ、リールハブ２Ｂ側の回転周期をＴｓとしたときに、各回転周期Ｔｔ、Ｔｓが測定できれば、各リールハブのリール巻径の比率がわかることになるため、次の（数２）が成り立つ。
【数２】
0004120085.tif 000003
そして上記（数２）を上記（数１）に代入すると、
【数３】
0004120085.tif 000004
が得られる。
【００４８】
この（数３）において、テープ長Ｌtape、テープ厚Ｄtape、リールハブ径Ｒｏは、そのテープカセット１についての固有の値である。従って、あらかじめこのテープ長Ｌtape、テープ厚Ｄtape、リールハブ径Ｒｏがわかっているとすれば、ＦＧ２４ａ、２５ａから供給されるリールモータ２４、２５の回転情報に基づいて、各リールハブの回転周期Ｔｔ、Ｔｓを測定することができる。これにより、でテープポジション検出（両リールのリール巻径又はその比の検出）が可能であり、性能確認領域への移動が可能になる。
【００４９】
また、図６（ｂ）に示すＦＷＤ-ＲＶＳ領域は、性能確認処理の結果として記録／再生性能が劣化している場合に磁気ヘッドを第二のテープカセット（薄型の磁気テープ）になじんだ形状にするために性能回復処理としてのＦＷＤ（順方向の倍速再生）、ＲＶＳ（逆方向の倍速再生）を行う領域とされる。
性能回復処理とは、厚い磁気テープを所定時間使用した後に薄い磁気テープ２を使用する場合に生じていた、間隙８５（図１１（ｂ））をなくすために、薄いテープが装填されてから或る程度の期間、磁気テープ２のテンションを上げた状態で、例えばＦＷＤ、ＲＶＳなどを行う処理とされる。この場合、磁気テープ２のテンションを上げた状態で、所定の位置から１往復で約１０秒程度を要してＦＷＤ、ＲＶＳを行い、この動作を例えば５回程度繰り返して行うようにする。
【００５０】
図８は性能回復処理の概要を説明する図であり、図８（ａ）は図１１（ｂ）に対応している。性能回復処理としては、図８（ａ）に破線円Ａ、Ａで囲んで示しているように、磁気ヘッド６０（再生ヘッド４Ａ、４Ｂ、記録ヘッド５Ａ、５Ｂに対応する）において磁気テープ２が当接している部分を磨耗させて、その先端の曲率半径を小さくして尖った形状にさせる処理とされる。この場合、磁気テープ２のテンションを通常よりも上げた状態で磁気テープを例えばＦＷＤ及びＲＶＳを行うことによって、より付加かけることにより磁気ヘッド６０の先端部分を尖らすことができるようになる。
性能回復処理によって磁気ヘッド６０が尖るようになると、図８（ａ）に示していた間隙８５が無くなり、図８（ｂ）に示されているように磁気テープ２と磁気ヘッド６０がなじむようになる。これにより、薄型の磁気テープ２を使用する場合でも、安定した走査を行うことができるようになり、所定の記録／再生性能を得ることができるようになる。
【００５１】
このように、性能確認処理の結果に基づいて図８で説明したような性能回復処理を行うために、ＦＷＤ-ＲＶＳ領域に移動する場合も、テープ長Ｌtape、テープ厚Ｄtape、リールハブ径Ｒｏ、及びリールモータ２４、２５の回転情報に基づいて所要の位置に移動することが可能になる。
なお、性能回復処理としてはこの他に、例えば早送り／巻き戻しを例えば１往復行うようにしても良いし、例えば回転ドラム３を逆回転させた上で磁気テープ２を走行させるようにしても良い。また、これらの動作を組み合わせて実行するようにしても良い。
【００５２】
図９は性能回復処理を行う条件とされる、第一のテープカセットが装填された場合の回転ドラムの回転時間を測定するシステムコントローラ１９の処理遷移の一例を説明する図である。
テープカセット４０が装填され、ローディング処理が終了すると（Ｓ００１）、通常動作状態に移行する（Ｓ００２）。なお、ローディング処理とは、例えば図２示したように回転ヘッド３に磁気テープ２を巻きつけ、さらに磁気テープ２上のシステムエリアの読み込みなどを行う、テープカセット装填時一連の処理とされる。さらに、通常動作状態とはローディング処理が終了した後に例えば記録／再生などの各種動作を行うことができる状態とされる。
【００５３】
通常動作状態に移行すると、回転ドラム３を回転させているか否かの判別を行い（Ｓ００３）、回転ドラム３を回転させていると判別した場合は、回転時間ｎをカウントアップする（Ｓ００４）。このカウントアップ処理は例えばワークＲＡＭにおける所要のワークエリアで行われる。なお、上記したように回転ドラム３は所定時間磁気テープ２が走行しなかった場合は、回転を停止するようにされているので、その場合はステップＳ００４のカウントアップ処理は行われない。
このように、ステップＳ００３、Ｓ００４において回転ドラム３の回転動作の監視とともに、さらに例えばホストコンピュータ３２からのアンロード要求を受けたか否かの判別を行う（Ｓ００５）。つまり、テープカセット４０が装填されている場合は、ステップＳ００３、Ｓ００４、Ｓ００５を繰り返すことで回転時間ｎの計測が行われることになる。
【００５４】
アンロード要求を受けたと判別した場合は、現在装填されているテープカセット４０のカセット種別識別孔４７の開閉状態の判別を行う（Ｓ００６）。このステップにおいて、カセット種別識別孔４７の開閉状態が「××××」であった場合は、テープ厚が例えば１３μｍであることが解る。この場合は回転時間ｎに例えば４倍の係数を掛けたうえで（Ｓ００７）、総回転時間Ｍに回転時間ｎを加え総回転時間Ｍの更新を行う（Ｓ００８）。この総回転時間Ｍの更新は、例えばワークＲＡＭなどにおいて行われ、更新が行われた後に、回転時間メモリ２９に総回転時間Ｍを記憶する（Ｓ００９）。
また、ステップＳ００６でカセット種別識別孔４７の開閉状態が「×○××」であった場合は、テープ厚が例えば９μｍであることが解る。したがって、この場合は回転時間ｎに、ステップＳ００７よりも小さい例えば２倍の係数を掛けたうえで（Ｓ０１０）、総回転時間Ｍの更新（Ｓ００８）、総回転時間Ｍの記憶（Ｓ００９）を行う。
【００５５】
このように、テープストリーマドライブ１に例えばＤＤＳのテープカセット４０が装填された場合に、回転ドラム３の回転時間ｎを計測するようにしているが、この回転時間ｎを累積した総回転時間Ｍが磁気ヘッド６０の減り具合に相当するものとされる。したがって、以降例えばＤＤＳ-４のテープカセットが装填された場合に、総回転時間Ｍに基づいて性能確認処理を行い、さらに性能確認結果に基づいて性能回復処理を行うようにする。
【００５６】
図１０は性能確認処理及び性能回復処理を行う場合のシステムコントローラ１９の処理遷移の一例を説明するフローチャートである。
テープストリーマドライブ１にテープカセット４０が装填され、所定の位置に着座すると（Ｓ１０１）、カセット種別識別孔４７の開閉状態の判別を行う（Ｓ１０２）。そして、カセット種別識別孔４７の開閉状態が「○×○○」、すなわちＤＤＳ-４のテープカセットが装填されていると判別した場合は、回転時間メモリ２９に記憶されている、総回転時間Ｍが所定時間以上か否かを判別する（Ｓ１０３）。ここでの所定時間とは、例えば２４時間程度とする。したがって、例えば総回転時間Ｍが２４時間以下であった場合は、以降の処理を省略して通常動作状態に移行する（Ｓ１０９）。
【００５７】
総回転時間Ｍが例えば２４時間以上であった場合は、例えば図７に示したデバイスエリアにおける性能確認領域で、記録／再生動作を行いエラーレートの測定を行う（Ｓ１０４）。そして、エラーレートが所要の閾値（例えば２×１０Ｅ-2）を超えているか否かの判別を行い（Ｓ１０５）、エラーレートが閾値を超えていた場合は性能回復処理に移行する（Ｓ１０６）。この性能回復処理は、前記したように磁気テープ２のテンションを上げた状態でのＦＷＤ、ＲＶＳなどの動作とされる。なお、エラーレートが前記閾値を越えていなかった場合は、所望する性能が得られたとして、以降の処理を省略して通常動作状態に移行する（Ｓ１０９）。
【００５８】
また性能回復処理が開始された場合はその処理過程を監視して、性能回復処理が終了した可否かの判別を行う（Ｓ１０７）。そして、性能回復処理が終了したと判別した場合は、総回転時間Ｍを所定の割合で減じる処理を行う（Ｓ１０８）。なお、ここで、総回転時間Ｍをリセットしない理由として、例えば１回の性能回復処理では完全に性能を回復させることが困難な場合があると考えられるためとされる。したがって、例えば１回の性能回復処理でほぼ完全に性能を回復させることができると想定した場合は、総回転時間Ｍをリセットすることも可能である。
このように、性能回復処理が終了して総回転時間Ｍを所定の割合で減じた時点で、通常処理状態に移行する（Ｓ１０９）。
【００５９】
なお、図１０ではテープカセットが装填されて通常動作状態に移行する以前（ローディング処理が完了する以前）に性能確認処理、性能回復処理を行う処理行程を例に挙げて説明しているが、通常動作状態に移行した後に、例えば再生などのコマンドが供給された時点で、実際の動作に移行する前に行うようにしても良い。
【００６０】
本実施の形態では、例えば図９、図１０に示したフローチャートの処理行程で説明したように、例えばＤＤＳ-４とされる薄型の磁気テープを利用する場合でも、回転ドラム３の回転時間やエラーレートの測定結果などに基づいて、性能回復処理を行うことができるようになり。これにより、薄型の磁気テープ２を使用する場合でも、ユーザはそれを意識することなく通常の使用手順で所要の記録／再生性能を得ることができるようになる。
また、磁気ヘッド６０を薄型の磁気テープになじんだ形状にするために、例えばクリーニングテープなどのように、例えば製造過程におけるカレンダー処理（磁気テープ２をローラなどでつぶしてその表面性を上げる行程）を行わないことで、磁気テープとの摺接面が比較的粗とされるテープを用いてヘッド形状をなじませることも考えられる。しかし、本発明はこのような他の媒体を必要とせず、前記したようにユーザが磁気テープの構成を意識しないで利用することに利点を有している。
【００６１】
なお、図１０のフローチャートの処理行程において、ステップＳ１０５でエラーレートが閾値を超えていたと判別した場合に、前記した例えばクリーニングテープなどとされる他の媒体を使用することをユーザに促して、ステップＳ１０６及びステップＳ１０７に示す処理行程を、前記クリーニングテープなどとされる他の媒体で行うことも可能である。
【００６２】
また、上記実施の形態では、例えばテープストリーマドライブを例に挙げて説明したが、ヘリカルスキャン方式で磁気テープを走査するように構成されている機器であれば、本発明を適用することがでいる。
【００６３】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明のテープドライブ装置は、薄い磁気テープを収納して構成されている第二のテープカセットが装填された場合に、その時点の磁気ヘッドの形状で、薄い磁気テープに対して所望する記録／再生性能が得られるかを判別することができ、さらに所望する記録／再生性能が得られなかった場合には、磁気ヘッドの形状をなじませるための性能回復処理を行うことができるようにされている。
したがって、テープドライブ装置において例えば再生などの動作を実行する前に、薄い磁気テープに対して所望する記録／再生性能を得ることができるようになる。これにより、ユーザは厚い磁気テープと薄い磁気テープを意識せずに使用することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態のテープストリーマドライブの構成例を説明するブロック図である。
【図２】実施の形態のテープストリーマドライブのローディング機構を説明する図である。
【図３】テープカセットの外観を説明する図である。
【図４】テープカセットにおけるカセット種別識別孔の定義を説明する図である。
【図５】磁気テープのフォーマット例を説明する図である。
【図６】デバイスエリアにおけるＦＷＤ-ＲＶＳ領域及び性能回復領域を説明する図である。
【図７】磁気テープのポジション検出を説明する図である。
【図８】性能回復処理について説明する図である。
【図９】回転ヘッドの回転時間を計測する処理行程の一例を説明するフローチャートを示す図である。
【図１０】性能確認処理、及び性能回復処理を行う場合の処理行程の一例を説明するフローチャートを示す図である。
【図１１】テープ厚と磁気ヘッドの形状の関係を説明する図である。
【符号の説明】
１  テープストリーマドライブ、２  磁気テープ、２Ａ，２Ｂ  リールハブ、３  回転ドラム、４Ａ，４Ｂ  再生ヘッド、５Ａ，５Ｂ  記録ヘッド、６Ａ，６Ｂ、再生アンプ、７  ロータリートランス、８  ＲＦ処理部、９  記録アンプ、１０  デジタルイコライザ／ビタビデコーダ、１１ テープフォーマットコントローラ、１２  バッファメモリ、１３  圧縮／伸長回路、１４  インターナルバッファコントローラ、１５  バッファメモリ、１６   ＳＣＳＩコントローラ、１７  フラッシュＲＯＭ、１８  ワークＲＡＭ、１９  システムコントローラ、２０  サーボコントローラ、２１  メカドライバ、２２  ドラムモータ、２３  キャプスタンモータ、２４，２５  リールモータ、２６  ローディングモータ、２２ａ〜２６ａ  ＦＧ、２２ｂ  ＰＧ、２７  テンションレギュレータ、２８  ホール検出機構、２９  回転時間メモリ、３０  内部バス、３１  ＳＣＳＩバス、３２  ホストコンピュータ、４０  テープカセット、４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、４７ｄ  カセット種別識別孔
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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