(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ダイヤモンド面形成方法において、この方法が、金属（２）の面を設ける工程と、この金属の面上にダイヤモンドグリット（６）の層を堆積する堆積工程と、この堆積工程後にのみ、この金属の面及びダイヤモンドグリットを高温度で気体雰囲気にさらす工程とを有し、金属の面と気体雰囲気とを、ダイヤモンドグリットを更に触媒成長させるように選択し、前記金属は、この金属が気体雰囲気中でのこの触媒成長処理により使い尽くされる程度に充分薄肉にすることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項２】
請求の範囲１に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記金属（２）の面を電気絶縁基板（１）上に設けることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項３】
請求の範囲２に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記金属（２）の面を、シリコン、石英、アルミニウム及びガラスを有する群から選択した基板（１）上に設けることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項４】
請求の範囲１〜３のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記ダイヤモンドグリット（６）を、結合剤中のペースト（４）として前記金属の面に被着することを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項５】
請求の範囲１〜４のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記金属（２）を、ニッケル、銀、銅、チタン、クロム、金、ランタン、セシウム、マグネシウム、バリウム、アルミニウム及びモリブデンを有する群から選択することを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項６】
請求の範囲１〜５のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記気体雰囲気を水素含有気体とすることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項７】
請求の範囲１〜６のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記高温度を500〜1000℃の範囲内とすることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項８】
請求の範囲１〜７のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、高温度での前記気体雰囲気を、マイクロ波プラズマ反応器（１１）により生ぜしめることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項９】
請求の範囲１〜８のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記ダイヤモンドグリット（６）にｎ型又はｐ型材料をドーピングすることを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【請求項１０】
請求の範囲１〜９のいずれか一項に記載のダイヤモンド面形成方法において、前記ダイヤモンドグリット（６）を、ｎ型又はｐ型のＣＶＤダイヤモンドフィルムを粉砕することにより形成することを特徴とするダイヤモンド面形成方法。
【発明の詳細な説明】
本発明は、ダイヤモンド面形成方法及びダイヤモンド面が上に形成された装置に関するものである。
ダイヤモンドは、その低仕事関数及び結晶特性の為に、電子エミッタを形成するのに特に有効な材料である。ダイヤモンドエミッタを形成する種々の方法が提案されている。ＣＶＤ（化学蒸着）処理では、銅又はニッケルのような金属の面上にダイヤモンドを堆積するのに、気体の炭素源が高温度及び高圧で用いられている。固体の炭素源を低圧で用いてダイヤモンドを金属の面上に堆積することも提案されている。これとは異なる技術が、文献“Journal Vacuum Science Technology”B14(3), May/June 1996の第2060〜2067頁に記載されている。この文献では、ダイヤモンドグリットをスラリー又はペーストの形態でシリコン基板に被着し、これを還元雰囲気中で加熱してダイヤモンドとシリコン基板との間に電気的及び機械的接点を形成している。次に、ダイヤモンドグリットの頂面にニッケル層を堆積しうる。欧州特許出願公開第0718864号明細書には、金属の面上にダイヤモンド粒子を有する電界放出装置が開示されている。ダイヤモンドは、例えば研摩材として他の分野に広く用いられる。
本発明の目的は、改善したダイヤモンド面形成方法及びダイヤモンド面を上に有する装置を提供せんとするにある。
本発明は、ダイヤモンド面形成方法において、この方法が、金属の面を設ける工程と、この金属の面上にダイヤモンドグリットの層を堆積する堆積工程と、この堆積工程後にのみ、この金属の面及びダイヤモンドグリットを高温度で気体雰囲気にさらす工程とを有し、金属の面と気体雰囲気とを、ダイヤモンドグリットを更に触媒成長させるように選択し、前記金属は、この金属が気体雰囲気中でのこの触媒成長処理により使い尽くされる程度に充分薄肉にすることを特徴とする。
金属の面は、例えばシリコン、石英、アルミニウム及びガラスを有する群から選択した電気絶縁基板上に設けることができる。ダイヤモンドグリットは結合剤に入れて金属の面に被着するのが好ましい。
更に、本発明は、ダイヤモンド面形成方法において、この方法が、表面を設ける工程と、ダイヤモンドグリットと金属含有粉末との混合物を前記表面上に堆積する工程と、この表面及び堆積された前記混合物を高温度で気体雰囲気にさらす工程とを有し、金属含有粉末と気体雰囲気とを、ダイヤモンドグリットを更に触媒成長させるように選択することを特徴とする。
前記表面は電気絶縁材料とするのが好ましく、前記金属は、ニッケル、銀、銅、チタン、クロム、金、ランタン、セシウム、マグネシウム、バリウム、アルミニウム及びモリブデンを有する群から選択するのが好ましい。前記ダイヤモンドグリットを被着する場合、その粒子寸法を十分の数ミクロン〜数ミクロンの範囲内とするのが好ましい。前記気体雰囲気は水素含有気体とするのが好ましく、前記高温度は500〜1000℃の範囲内とするのが好ましく、前記気体雰囲気は数トル〜数百トルの範囲内の圧力を有するようにするのが好ましい。高温度での気体雰囲気はマイクロ波プラズマ反応器によって生ぜしめるのが好ましい。ダイヤモンドグリットにはｎ型又はｐ型の材料をドーピングすることができる。ダイヤモンドグリットはｎ型又はｐ型のＣＶＤダイヤモンドフィルムを粉砕することにより形成しうる。
ダイヤモンド面を形成する方法及びこの方法により形成した装置を、添付図面を参照して実施例につき説明する。
図１を参照するに、シリコン、石英、アルミナ又はガラスのような電気絶縁基板１の上側面上に、ホトレジストマスクを介する堆積のような何らかの通常の技術により２つの金属細条２を設け、その後このホトレジストマスクを除去する。これら細条２は約１〜５μｍの厚さとし、例えばニッケルを以て構成するか、或いは、銀、銅、チタン、クロム、金、ランタン、セシウム、マグネシウム、アルミニウム又はモリブデンのような、以下に説明する触媒作用を生じるのに有効な他の何らかの金属を以て構成しうる。
図２に示す次の工程で、基板の上側面にシルクスクリーン３を配置する。このシルクスクリーンは細条２の位置に対応する多孔質領域１３のパターンを有する。次に、スクイジー５を以てスクリーン３の上側面上にペースト４をこすりつけ、このペーストが多孔質領域１３に押入って金属細条２の上側面に到達するようにする。ペースト４は、粒子寸法が十分の数ミクロン〜数ミクロンで低価格のダイヤモンドグリットすなわち、ナノグリットを結合剤に入れたものである。次に、スクリーン３を除去し、ペーストが被覆された細条２を有する基板１をオーブンに入れて、結合剤を飛散させ、図３に示すようにダイヤモンドグリット６を残す。ダイヤモンドグリット６の密度は代表的に約10,000／cm2である。或いはまた、ダイヤモンドグリットを超音波研摩により堆積して、ダイヤモンドグリットを金属細条の上側面内に埋込むようにすることができる。
ダイヤモンドグリットのパターンは、電子ビーム又はＸ線ビーム技術を用いるような通常の何れかのリソグラフ技術により表面上に生ぜしめることができる。ダイヤモンドグリットは、スピン-オン技術、プリント又は電気泳動により被着させることができる。
次の工程では、図４に示すように、反応室１０内に入れる。この反応室１０は６ＫＷのマイクロ波プラズマ反応器１１を有し、水素ガスポンプ１２に連結されている。反応器１１は、基板１を500〜1000℃の範囲内の温度に加熱し、ポンプ１２は、十分の数トル〜数百トルの範囲内の圧力で約１時間までの間反応室１０に水素を循環させる。他の形態の水素プラズマを用いることができ、プラズマにはメタンのような炭化水素ガスを含めることができる。ＲＦ加熱のような他の形態の加熱を用いることもできる。
細条２の金属は水素プラズマの存在中で触媒として作用し、ダイヤモンドグリット６を、サブミクロン〜ミクロン範囲内で寸法を増大させた、高品質で、切子面を有し、エッジを鋭くしたダイヤモンド粒子に更に成長させる。これにより、ダイヤモンドグリットと、残留金属又はカーバイド、例えば金属及びダイヤモンド間の反応により形成されたカーバイドとの間に形成される界面状態をも助長する（これは特に、金属がモリブデン又はチタンである場合に適用しうる）。従って、ダイヤモンドの更なる成長が、寸法の増大及び良好とした形状のためにダイヤモンドの品質を高める。更に、ダイヤモンドとその下側面との接着、従って、電気接触も改善される。本発明による方法は、ダイヤモンドの更なる成長を比較的迅速に達成しうるという利点も有する。
ダイヤモンドグリット６には、これを細条に被着する前にｎ型又はｐ型材料をドーピングすることができる。或いはまた、ダイヤモンドには、これを細条に被着した後に、例えば水素プラズマ処理中にドーパントを導入することによりドーピングすることができる。これにより、電子放出を高めるためにいかなる表面処理或いはいかなる金属被着も必要としなくなる。このようにドーピングされたダイヤモンドグリットは、ダイヤモンド結晶と金属層との間の界面における空乏層を望ましいものとする。ドーピングされたダイヤモンドグリットはｎ型又はｐ型のＣＶＤダイヤモンドフィルムを粉砕することにより形成しうる。これにより、導電性を容易に制御することができることを確かめた。
ダイヤモンドのナノグリットを、予め形成した金属触媒層上に堆積する代りに、金属触媒を粉末の形態でダイヤモンドのナノグリットと混合し、この粉末混合物を表面上に堆積することができる。この粉末は金属酸化物或いはその他の金属含有粉末とすることができる。
ダイヤモンドグリットを、シリコン基板上に形成された金属層上に堆積する場合、この金属層は更なる成長処理により使い尽くされる程度に充分薄肉とするのが望ましい。これにより、ダイヤモンド粒子を、下側の基板との物理的接点中に浸透せしめうる。
完成した装置は、英国特許第2297862号明細書に記載された種類のディスプレイのような電界放出装置の陰極に用いることができる。ダイヤモンド面は、ディスプレイ装置におけるようなプレーナエミッタアレイに用いることができる。ダイヤモンド面は、ＬＣＤのバックライトにおけるような冷陰極に適用しうる。
図５〜８は、発光ディスプレイの種々の構成の装置２０〜２０”’を示す。図５の構造は、透明な陽極プレート２２の下側面上に低電圧蛍光体層２３を有する当該陽極プレート２２の下側で、陰極プレート２１上に支持された装置２０を有するダイオード構造である。装置２０の上側の露出面は、これから真空によって分離された蛍光体層２３に対向している。装置２０によって放出された電子は約500〜1000ボルトの電圧により陽極プレート２２に引付られ、蛍光体層２３を発光させる。ディスプレイは代表的に、多くのこのような装置２０を有し、通常のようにして個々の装置を適切にアドレスすることにより所望のディスプレイ表示を生ぜしめうるようになっていること明らかである。
図６の構造は図５の構造に類似しているも、陰極プレート２１’と陽極プレート２２’との間にゲートプレート２４’を有するトライオード構造となっている。このゲートプレート２４’上の電圧を制御することにより、装置２０’から陽極プレート２２’への電子の流れを制御しうる。
図７の構造は、電圧バイアス式の表面導通モードで動作する装置２０”を有する。装置２０”の両側にある２つの電極２５”及び２６”は、バッテリ２７”のような低電圧直流電源（約１４ボルト）に接続されている。
図８の構造も電圧バイアス式の表面導通モードで動作する装置２０”’を有する。しかし、この構造では、蛍光体層２３”’は装置２０”’に対向して位置しておらず、この装置を有する共通絶縁プレート２８”’上に、同一平面で装着されている。従って、蛍光体層２３”’の露出面は装置２０”’の露出面と同じ方向に面している。装置２０”’により放出された電子は、最初プレート２８”’から離れる方向に移動して湾曲軌道を通り、次に陽極２２”’上の正電圧による引力の下でこのプレート２８”’の方向に戻るように移動する。この構造には、一般に蛍光体を電子エミッタの真上に位置させる通常の構造に比べて、電子エミッタディスプレイにおいて種々の利点がある、ということを確かめた。特に、陽極プレートと陰極プレートとの間に正確な間隔を保つためのスペーサが必要でなくなり、蛍光体と電子エミッタとの間が汚染されるおそれが減少し、多色ディスプレイで特に重要な、蛍光体領域とエミッタとの間の位置決めを容易にする。
本発明は、通常の銅／インバー／銅層を銅／ダイヤモンドの複合層と置き換えうるプリント回路板のような他の装置上にダイヤモンド面を形成するのにも用いることもできる。ダイヤモンド層の熱伝導率は極めて高く、特に熱放出が高い分野に有効となる。
本発明方法は研摩装置を形成するのに用いることができる。これにより形成されたダイヤモンドナノグリット装置の有効寿命は、通常のダイヤモンドグリット研摩装置に比べて長くなる。これにより形成された研摩パッドは例えば、多重金属層ＣＭＰ（化学的な金属研摩）平坦化処理に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
図１は、装置の一形成工程を、実際のものに正比例させずに簡単に描いた縦断面図である。
図２は、装置の次の形成工程を、実際のものに正比例させずに簡単に描いた縦断面図である。
図３は、装置の更に次の形成工程を、実際のものに正比例させずに簡単に描いた縦断面図である。
図４は、装置の更に次の形成工程を、実際のものに正比例させずに簡単に描いた縦断面図である。
図５は、ダイオード構造のディスプレイ装置の縦断面図である。
図６は、トライオード構造のディスプレイ装置の縦断面図である。
図７は、電子エミッタが表面導通モードである構成のディスプレイの縦断面図である。
図８は、電子エミッタが表面導通モードである他の構成のディスプレイの縦断面図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図７】
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【図８】
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【図６】
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