(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線の取り込みを行う複数の検出器列を有するＸ線ＣＴ装置用のＸ線検出装置であって、
断面がＶ字状となるように第１の検出器列と第２の検出器列とに所定の傾き角を持たせて、Ｘ線を斜めに取り込むようにし、かつ、前記傾き角の設けられた検出器列を構成する各Ｘ線検出素子は、外側のスライス方向端部の検出領域よりも前記第１の検出器列と前記第２の検出器列の突合せ面側のスライス方向端部の検出領域の方が広くなっていることを特徴とするＸ線検出装置。
【請求項２】
前記傾き角の設けられた検出器列同士が隣接する部分には、取り込まれたＸ線の他の検出器列への入射を防止する遮蔽板が設けられていることを特徴とする請求項１記載のＸ線検出装置。
【請求項３】
前記遮蔽板には、放射線を受け蛍光体が発した光を拡散反射する拡散反射部材にて形成された反射板を設けたことを特徴とする請求項２記載のＸ線検出装置。
【請求項４】
前記遮蔽板には、遮蔽板同士が相対向する面の少なくとも一方の面に放射線を遮蔽するための遮蔽処理が施されていることを特徴とする請求項３記載のＸ線検出装置。
【請求項５】
前記各検出器列を構成する各Ｘ線検出素子は、
Ｘ線の散乱線を吸収してＸ線源から発生した直接検出器に入るＸ線のみの取り込みを行うための遮蔽材と、前記遮蔽材の間を介して取り込まれたＸ線の線量に応じた光を形成する蛍光体と、前記蛍光体により形成された光を電気信号に変換する光−電変換手段とを有し、
前記検出器列は、各Ｘ線検出素子の蛍光体の厚みに応じた傾き角を有するように調整されていることを特徴とする請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項記載のＸ線検出装置。
【請求項６】
前記検出器列の傾き角を可変制御する傾き角可変機構と、
指定された断層像のスライス厚に応じて、前記傾き角可変機構を介して各検出器列の傾き角を制御する傾き角制御手段とを有することを特徴とする請求項１乃至請求項５のうちいずれか１項記載のＸ線検出装置。
【請求項７】
前記傾き角制御手段は、Ｘ線発生手段の焦点を頂点とし、この頂点から当該Ｘ線ＣＴ装置の中心位置までの焦点距離と、該焦点から当該Ｘ線ＣＴ装置の端部までの焦点距離とが同じとなるように、前記傾き角を制御することを特徴とする請求項６記載のＸ線検出装置。
【請求項８】
Ｘ線管の焦点からのＸ線の取り込みを行う複数のＸ線検出素子を配したＸ線ＣＴ装置用のＸ線検出装置であって、
中心部から放射状に前記Ｘ線検出素子を配したＸ線検出器を備え、前記Ｘ線検出器は、その中心部分から外周部分にかけて迫り上がるように傾き角を設けて椀型の形状としたものであることを特徴とするＸ線検出装置。
【請求項９】
前記Ｘ線管の焦点と前記検出器の中心部分までの距離と、前記Ｘ線管の焦点と前記検出器の外周部分までの距離とが同じくなるように構成されたことを特徴とする請求項８記載のＸ線検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出部として設けて好適なＸ線検出装置に関し、特に複数の検出器列を有するＸ線検出器のエッジ部分の感度の向上等を図ったＸ線検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
現在、医用機器として画像診断に用いられているＸ線コンピュータ断層撮影装置（Ｘ線ＣＴ装置）としては、図９（ａ）に示すようなシングルスライス用のＸ線ＣＴ装置（シングルスライスＣＴ装置）が主流となっている。このシングルスライスＣＴ装置は、Ｘ線管１００から被検体に対してＸ線を曝射することにより形成されたＸ線を、複数チャンネル分のＸ線検出素子１０１ｎ〜１０１ｎ＋ｉ（ｎは１、ｉは任意の整数）を被検体の体軸方向（架台の回転軸方向＝スライス方向）に直交する方向であるチャンネル方向に一列に並設してなる検出器列を有するＸ線検出器１０１で取り込むようになっている。
【０００３】
一般的に、このＸ線検出器１０１を構成する各Ｘ線検出素子１０１ｎ〜１０１ｎ＋ｉは、図９（ｂ）に示すようにフォトダイオード１１０、蛍光体１１１及び遮蔽板１１２を順次積層して構成されており、Ｘ線の取り込みを行う際には、遮蔽板１１２が、Ｘ線源から発生した直接検出器に入るＸ線のみを取り込むよう、散乱線を吸収する。蛍光体１１１は、この遮蔽板１１２を介して取り込まれたＸ線の線量に応じた光を形成する（Ｘ線量に応じて発光する）。
【０００４】
フォトダイオード上には、図９（ｂ）中斜線で示すように蛍光体１１１に覆われるかたちでアクティブエリア１１０ａが設けられており、このアクティブエリア１１０ａにより、蛍光体１１１が発光することで形成されたＸ線に応じた光を電気信号に変換し、これを画像再構成部等を介してモニタ装置等に供給する。これにより、被検体の所望の部位の断層像をモニタ表示することができ、医師等は、このモニタ表示された断層像に基づいて、診断、治療計画等を立てることとなる。
【０００５】
一方、近年において、前記検出器列をスライス方向に沿って複数列設けることにより、一度に複数列分の断層像を得られるようにしたＸ線検出器を有するＸ線ＣＴ装置（マルチスライスＣＴ装置）が提案されている。
【０００６】
このマルチスライスＣＴ装置と呼ばれるＸ線ＣＴ装置のうち、２列の検出器列を有するＸ線検出器が設けられたＸ線ＣＴ装置は、デュアルスライスＣＴ装置と呼ばれ、図１０に示すように構成されている。
【０００７】
すなわち、このデュアルスライスＣＴ装置は、Ｘ線管１２０から被検体にＸ線が曝射されることで形成されたＸ線を、スライス方向に沿って２列分設けられた検出器列１２２、１２３でそれぞれ取り込むＸ線検出器１２１を有している。各検出器列１２２、１２３は、それぞれチャンネル方向に沿って一列に並設された複数のＸ線検出素子１２２ｎ〜１２２ｎ＋ｉ、１２３ｎ〜１２３ｎ＋ｉで形成されている。
【０００８】
このデュアルスライスＣＴ装置用のＸ線検出器１２１としては、各検出器列１２２、１２３が分離された状態で設けられている「分離型」と、各検出器列１２２、１２３が一体的に接続された状態で設けられている「一体型」とが考えられる。
【０００９】
例えば、分離型のＸ線検出器１２１は、図１１（ａ）、（ｂ）に示すようにフォトダイオード１３０、蛍光体１３１及び遮蔽板１３２が順次積層されてなる検出器列１２２と、同様にフォトダイオード１４０、蛍光体１４１及び遮蔽板１４２が順次積層されてなる検出器列１２３とを並設することで構成されている。なお、動作としては、各検出器列１２２、１２３とも、前述のＸ線検出器１０１と同様であり、各遮蔽板１３２、１４２を介して取り込まれたＸ線を各蛍光体１３１、１４１が光に変換し、この光を各フォトダイオード１３０、１４０の各アクティブエリア１３０ａ、１４０ａで電気信号に変換するようになっている。
【００１０】
例えば、一体型のＸ線検出器１２１は、図１２（ａ）、（ｂ）に示すように一体型のフォトダイオード１５０、蛍光体１５１及び遮蔽板１５２が順次積層されてなる検出器列１２２と、同様に蛍光体１６１及び遮蔽板１６２が順次積層されてなる検出器列１２３とを接続部１６５を介して互いに接続することで両者を一体的に構成している。この一体型のＸ線検出器１２１の各検出器列１２２、１２３の動作も前述のＸ線検出器１０１と同様であり、各遮蔽板１５２、１６２を介して取り込まれたＸ線を各蛍光体１５１、１６１が光に変換し、この光をフォトダイオード１５０の各アクティブエリア１５０ａ、１５０ｂで電気信号に変換するようになっている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、このようなデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器１２１で問題となるのが、各検出器列のスライス中心面付近にあたるエッジ部分の感度である。
【００１２】
すなわち、フォトダイオードの出力は、図１３（ａ）に示すように蛍光体が積層されていない状態では、アクティブエリアの中心部分の出力レベルを１００％とした場合に、アクティブエリアのエッジ部分及びこのエッジ部分から中心方向へ所定分、中に入った部分では、出力レベルに数％の落ち込みが見られるのであるが、全体的には、略々１００％の出力レベルとなる。
【００１３】
これに対して、フォトダイオード上に蛍光体を積層すると、フォトダイオードの出力は、図１３（ｂ）に示すようにアクティブエリアのエッジ部分での出力レベルの落ち込みが大きくなる。
【００１４】
このため、シングルスライスＣＴ装置の場合は、図１３（ｂ）に示すようにアクティブエリアの中心部分から得られた出力のみを用いて断層像の再構成を行うのであるが、デュアルスライスＣＴ装置により、例えば１ｍｍ、２ｍｍ等の薄いスライス厚の断層像を得ようとした場合は、図１４に示すように前記出力レベルの落ち込みを生じているエッジ部分の出力を用いる必要がある。
【００１５】
従って、デュアルスライスＣＴ装置等のマルチスライスＣＴ装置では、前記エッジ部分の出力を用いる薄いスライス厚の断層像を得ようとした場合に、高画質の断層像を得ることができない問題があった。
【００１６】
なお、薄いスライス厚の断層像を得る場合にＸ線曝射条件を変更し、厚いスライス厚の断層像を得るときよりも高い管電圧でＸ線管を駆動して多量のＸ線を曝射することで、高画質の断層像を得ることができるが、これは、被検体に対する被曝量低減の観点から安全上好ましいことではない。
【００１７】
本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、複数の検出器列のエッジ部分の感度の向上を図り、通常のＸ線曝射条件でも高画質の薄いスライス厚の断層像を得ることができるようなＸ線検出装置の提供を目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の本発明は、Ｘ線の取り込みを行う複数の検出器列を有するＸ線ＣＴ装置用のＸ線検出装置であって、断面がＶ字状となるように第１の検出器列と第２の検出器列とに所定の傾き角を持たせて、Ｘ線を斜めに取り込むようにし、かつ、前記傾き角の設けられた検出器列を構成する各Ｘ線検出素子は、外側のスライス方向端部の検出領域よりも前記第１の検出器列と前記第２の検出器列の突合せ面側のスライス方向端部の検出領域の方が広くなっていることを特徴とする。
請求項８記載の本発明は、Ｘ線管の焦点からのＸ線の取り込みを行う複数のＸ線検出素子を配したＸ線ＣＴ装置用のＸ線検出装置であって、中心部から放射状に前記Ｘ線検出素子を配したＸ線検出器を備え、前記Ｘ線検出器は、その中心部分から外周部分にかけて迫り上がるように傾き角を設けて椀型の形状としたものであることを特徴とする。
【００１９】
このような構成とすることで、前記Ｘ線を垂直に取り込む際のＸ線の透過距離よりも、当該Ｘ線を斜めに取り込む際のＸ線の透過距離を長くすることができ、感度の向上を図ることができる。従って、薄いスライス厚の断層像であっても、Ｘ線の曝射量を多くすることなく明瞭に撮影することができ、これを通じて被検体の被曝低減を図ることができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るＸ線検出装置の好ましい実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２１】
まず、本発明に係るＸ線検出装置は、２列の検出器列のＸ線検出器を有するＸ線検出装置である、いわゆるデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器に適用することができる。図１は、この第１の実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置の撮影系の要部を示したものである。
【００２２】
この図１において、デュアルスライスＣＴ装置の撮影系は、寝台に載置された被検体に対してＸ線を曝射するＸ線管１と、デュアルスライス用のＸ線検出器２とを有している。このＸ線管１及びＸ線検出器２は、ガントリの内周に相対向するように設けられており、この相対関係を保持したままガントリの内周に沿って回転するようになっている。そして、回転軸に沿って載置された被検体の所望の部位にＸ線管１からＸ線を曝射し、これにより形成されたＸ線をＸ線検出器２で取り込むことで撮影を行うようになっている。
【００２３】
Ｘ線検出器２は、被検体の体軸方向（＝回転軸方向）であるスライス方向に直交する方向であるチャンネル方向に複数の検出素子３ｎ〜３ｎ＋ｉ（ｎは１、ｉは任意の整数）を一列に並設して形成した第１、第２の検出器列３、４を、前記スライス方向に並設することで構成されている。このＸ線検出器２をチャンネル方向に沿って見ると図２（ａ）の側面図に示すように、また、チャンネル方向或いはスライス方向に垂直な方向から見ると同図（ｂ）の上面図に示すようになっている。
【００２４】
この図２（ａ）において、第１の検出器列３は、傾き角が例えば４５度に形成された台座１０の傾斜面１０ａに沿って、フォトダイオード１１、蛍光体１２及びコリメータ１３を順に積層することで形成されている。同様に、第２の検出器列４も、傾き角が例えば４５度に形成された台座１５の傾斜面１５ａに沿って、フォトダイオード１６、蛍光体１７及びコリメータ１８を順に積層することで形成されている。
【００２５】
各台座１０、１５は、各傾斜面１０ａ、１５ａの１辺同士が突き合わされるかたちで設けられており、これらに積層されたフォトダイオード１１、１６、蛍光体１２、１７、及びコリメータ１３、１８も同様に各端部が突き合わされるかたちで設けられている。従って、この台座１０、１５に積層された各フォトダイオード１１、１６、蛍光体１２、１７、及びコリメータ１３、１８も例えば４５度の傾き角を持って設けられていることとなる。
【００２６】
各フォトダイオード１１、１６、蛍光体１２、１７、及びコリメータ１３、１８の突き合わせ面には、各検出器列３、４の遮蔽板２０及び例えば拡散反射板となっている反射板１４、１９が設けられている。遮蔽板２０としては、例えば各検出器列３、４の傾き角及びスライス方向の幅等に基づいて所定の計算により求めた高さを有するものが設けられている。
【００２７】
ここで、この実施の形態においては、各フォトダイオード１１、１６、蛍光体１２、１７、及びコリメータ１３、１８の傾き角は、例えば４５度であることとしたが、この傾き角は、蛍光体１２、１７の厚み、及び前記遮蔽板２０から蛍光体１２、１７の中心までの長さに基づいて決定されるようになっている。
【００２８】
すなわち、図４に示すように蛍光体の厚みを「ｔ」、遮蔽板２０から蛍光体１２、１７の中心までの長さを「ｌ（エル）」とすると、傾き角「ｔａｎθ」は、「ｔａｎθ＝ｔ／ｌ」の演算式に基づいて算出され、蛍光体１２、１７等は、この算出された傾き角となるように前記台座１０、１５上に積層される。
【００２９】
なお、この傾き角は、各蛍光体１２、１７及び各フォトダイオード１１、１６を接着して固定する場合は、その接着部材の屈折率も考慮して決定される。また、Ｘ線焦点からの距離により単位面積あたりのＸ線の束（密度）が決まるため、その面積との関係からエッジ部の出力を向上させるように最適な傾き角が決定される。
【００３０】
次に、このように所定の傾き角を有するように設けられる各検出器列３、４は、ガントリの内周に沿った円滑な回転移動を可能とするために、前記チャンネル方向に沿って円弧状となるように各検出素子３ｎ〜３ｎ＋ｉ、４ｎ〜４ｎ＋ｉを並設する必要がある。このため、各検出器列３、４は、図２（ｂ）に示すように前記遮蔽板２０側（内側）が、反接続部側（外側）よりも広くなっている。Ｘ線検出器の感度は、Ｘ線の取り込み範囲（いわゆる検出窓）が広ければ広い程、良好なものとなるのであるが、当該Ｘ線検出器２は、各検出器列３、４に所定の傾き角を持たせている結果、全体形状を前記円弧状に形成しようとすると、結果的に外側よりも内側のＸ線の取り込み範囲が広がるようになり、後に説明する遮蔽板２０近傍の感度であるエッジ部分の感度向上の一役を担うようになっている。
【００３１】
次に、このような構成を有する当該第１の実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置の動作説明をする。
【００３２】
このデュアルスライスＣＴ装置は、撮影の位置決め等に用いられるスキャノグラム像を撮影する際には、寝台を所定の速度で移動しながら寝台に載置された被検体の上側にＸ線管１を固定すると共に、被検体の下側にＸ線検出器２を固定し、いわゆるオーバーチューブのかたちで少線量のＸ線の曝射を行い、これによるＸ線であるスキャノグラム像の収集を行う。また、このスキャノグラム像等に基づいて行われる所望の部位の撮影の際には、Ｘ線管１及びＸ線検出器２を回転制御しながら（いわゆるヘリカルスキャンを行う際には、この回転制御に寝台の速度移動が加わる。）Ｘ線の曝射を行い、これによるＸ線の取り込みを行う。
【００３３】
具体的には、図２に示すようにＸ線の曝射により形成されたＸ線は、図２に示す各検出器列３、４のコリメータ１３、１８に入射される。コリメータ１３、１８は、各検出器列３、４への散乱線の入射を防止する。このＸ線は、次に蛍光体１２、１７に入射される。この蛍光体１２、１７は、入射されたＸ線に応じた光を形成する。
【００３４】
フォトダイオード１１、１６上には、アクティブエリア１１ａ、１６ａが形成されており、このアクティブエリア１１ａ、１６ａにより、蛍光体１２、１７が発光することで形成された光の光量に応じたレベルの電気信号を形成して出力する（光−電流変換）。
【００３５】
この電気信号は、Ｉ−Ｖ変換回路により電流から電圧のかたちに変換され、信号収集部に供給される。そして、プリアンプ回路で所定の利得で増幅され、アナログ−デジタル変換処理により収集データとして画像再構成部に供給される。画像再構成部は、この収集データに基づいて画像再構成を行うことで、被検体の所望の部位の断層像を形成し、これをモニタ装置等に供給する。これにより、Ｘ線検出器２で検出されたＸ線に応じた断層像をモニタ表示等することができる。
【００３６】
ここで、通常、各検出器列は、図３中点線で示すようにＸ線管から曝射されたＸ線を垂直に取り込むように設けられるのであるが、前述のように当該Ｘ線検出器２の各検出器列３、４は、同図中実線で示すように所定の角度を持ってＸ線を取り込むように設けられている。
【００３７】
すなわち、この所定の角度を設けたときの各蛍光体１２、１７を透過するＸ線の透過長を「ｔ１」とし、前記通常時において蛍光体を透過するＸ線の透過長を「ｔ２」とすると「ｔ１＞ｔ２」となり、所定の角度を設けたときの各蛍光体１２、１７を透過するＸ線の透過長の方が、前記通常時のＸ線の透過長よりも長くなる。
【００３８】
これは、各蛍光体１２、１７の前記垂直方向の厚みである実際の厚みよりも厚い蛍光体でＸ線の検出を行うことを意味する。言い換えれば、通常の厚みの蛍光体を用いながらにして、これよりも厚さの厚い蛍光体でＸ線の検出を行ったときと同等の感度が得られることを意味する。また、各蛍光体１２、１７の前記遮蔽板２０の近傍のエッジ部分を考えると、このエッジ部分からより離れた位置までＸ線が入射し、発光分布（感度分布）としてはより均一な感度を有する入射位置まで使用できることを意味する。
【００３９】
一方、当該Ｘ線検出器は、この各蛍光体１２、１７により発光された光の検出を行うフォトダイオード１１、１６にも、各蛍光体１２、１７に設けられた傾き角と同じ傾き角が設けられている。図３の各反射板１４、１９近傍であるエッジ部分に注目すると、各蛍光体１２、１７のエッジ部分で形成された光は、各フォトダイオード１１、１６上に各蛍光体１２、１７が積層された構造上、各フォトダイオード１１、１６のアクティブエリア１１ａ、１６ａのエッジ部分ではなく、このエッジ部分から中央寄りの感度が良好な部分で検出されるようになる。
【００４０】
このようなことから、当該Ｘ線ＣＴ装置は、前記角度を持たせた構成により、蛍光体１２、１７のエッジ部分での光の発光量を多くすることができるうえ、この多い発光量の光を、図５に示すように各フォトダイオード１１、１６のアクティブエリア１１ａ、１６ａのエッジ部分から離れた中央寄りの部分で検出することができる。しかも、図２（ｂ）を用いて説明したように検出器外側の検出窓よりも、前記エッジ部分近傍の検出器内側の検出窓の方が広い構成となっている。このため、エッジ部分での感度を良好なものとすることができ、厚いスライス厚の断層像は勿論のこと、前記エッジ部分を用いて撮影を行う、例えば１ｍｍ、２ｍｍ等の薄いスライス厚の断層像でも明瞭な画像を得ることができる。
【００４１】
また、通常の線量のＸ線で、この薄いスライス厚の明瞭な断層像を得ることができるため、薄いスライス厚の明瞭な断層像を得るために線量の多いＸ線の曝射を行う不都合を防止することができ、被検体の被曝低減を通じて当該Ｘ線検出器２が設けられた当該デュアルスライスＣＴ装置の安全性の向上を図ることができる。
【００４２】
次に、本発明に係るＸ線検出装置の第２の実施の形態の説明をする。
【００４３】
上述の第１の実施の形態は、各検出器列３、４の傾き角を蛍光体の厚み等に応じて固定するものであったが、この第２の実施の形態では、各検出器列３、４の傾き角をスライス厚に応じて可変制御するようにしたものである。なお、この第２の実施の形態は、この点のみが上述の第１の実施の形態と異なるものであるため、以下、この差異の説明のみ行い重複説明を省略することとする。
【００４４】
すなわち、この第２の実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置に設けられているＸ線検出器２は、例えば１ｍｍ〜１０ｍｍのスライス厚の断層像の撮影が可能であるとすると、この中間の５ｍｍのスライス厚を基準として蛍光体１２、１７の厚みが決定されている。
【００４５】
また、各検出器列３、４は、操作者により指定されたスライス厚に応じて傾き角が可変制御されるようになっており、そのために当該デュアルスライスＣＴ装置は、図６に示すように操作者が所望のスライス厚の入力を行うための操作部５６と、この入力されたスライス厚を検出するスライス厚検出部５７と、スライス厚に応じた傾き角に各検出器列３、４を制御するための角度制御データが記憶された角度メモリ５８と、入力されたスライス厚に応じて角度メモリ５８から角度制御データを読み出し、これに基づいて各検出器列３、４の傾き角を制御する駆動制御部５９と、各検出器列３、４の傾き角制御機構とが設けられた構成となっている。
【００４６】
このようなデュアルスライスＣＴ装置は、操作者が操作部５６を操作することにより所望のスライス厚を指定すると、スライス厚検出部５７がこれを検出し、駆動制御部５９に指定されたスライス厚を示すスライス厚指定データを供給する。
【００４７】
角度メモリ５８には、５ｍｍのスライス厚を基準としてその厚みが設定された蛍光体１２、１７に対応する、各スライス厚に応じた各検出器列３、４の傾き角を示す角度制御データがそれぞれ記憶されている。駆動制御部５９は、スライス厚指定データで示されるスライス厚に対応する角度制御データを角度メモリ５８から読み出し、この角度制御データに基づいて、図６に示すようにＸ線管１の焦点からＸ線検出器２の外側までの焦点距離Ａと、Ｘ線管１の焦点からＸ線検出器２の内側（前記遮蔽板２０）までの焦点距離Ｂとが同じ距離となるように（Ａ＝Ｂ）、前記傾き角制御機構を介して各検出器列３、４の傾き角を制御する。すなわち、Ｘ線管１の焦点を頂点とし、前記焦点距離Ａ及び焦点距離Ｂで２等辺三角形を形成するように各検出器列３、４の傾き角を制御する。
【００４８】
これにより、スライス厚に応じて、各検出器列３、４の常に最適な傾き角で撮影等を行うことができ、良好な断層像を得ることができる他、上述の第１の実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置と同じ効果を得ることができる。
【００４９】
次に、本発明に係るＸ線検出装置の第３の実施の形態の説明をする。
【００５０】
上述の第１、第２の実施の形態は、本発明に係るＸ線検出装置をデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器に適用したものであったが、この第２の実施の形態は、本発明に係るＸ線検出装置を、例えばＸ線診断装置等に用いられる固体検出器に適用したものである。
【００５１】
通常、固体平面検出器は、図７に示すように複数の半導体Ｘ線検出素子を２次元的に配列して設けることにより平面的に構成されている。内部構造は、上述の各Ｘ線検出素子３ｎ等と同様に、光等を反射してＸ線のみの取り込みを行う反射部材と、この取り込んだＸ線に応じて発光するＸ線−光変換部材と、光を電気信号に変換する光−電変換手段とで構成されている。
【００５２】
ここで、このような固体平面検出器４１は、複数の半導体Ｘ線検出素子を２次元的に配列して構成されているため、図７に示すようにＸ線管４０の焦点から固体平面検出器４１の中央部までの距離（焦点距離Ａ）よりも、該焦点から固体平面検出器４１の端部までの距離（焦点距離Ｂ）の方が長くなり、端部分近傍に相当する表示画像にぼけを生ずる問題がある。
【００５３】
このため、当該第３の実施の形態のＸ線検出器は、図８（ａ）に示すように全体的な形状がいわばお椀型となっており、当該固体検出器８０の中心部分から外周部分にかけて、迫り上がるかたちで傾き角が設けられている。この傾き角は、図８（ｂ）に示すようにＸ線管８１の焦点から当該固体検出器８０の中心部分までの焦点距離Ａと、Ｘ線管８１の焦点から当該固体検出器８０の外周部分までの焦点距離Ｂとが同じ焦点距離（Ａ＝Ｂ）となる角度に設定されている。また、その内面には、当該固体検出器８０の中心部を中心として隙間無く放射状に配されるように複数のＸ線検出素子が設けられている。
【００５４】
これにより、図８（ｂ）に示すように前記焦点距離Ａと焦点距離Ｂとを同じとすることができ（Ａ＝Ｂ）、検出器の端部分近傍に相当する表示画像にぼけを生ずる不都合を防止することができ、端部分まで明瞭な表示画像を提供することを可能とすることができる。
【００５５】
最後に、上述の第１、第２の実施の形態の説明では、本発明に係るＸ線検出装置をデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器に適用することとしたが、当該Ｘ線検出装置は、３列以上の検出器列を有するマルチスライスＣＴ装置用のＸ線検出器に適用するようにしてもよい。この場合は、例えば４列、６列、８列・・・等のように偶数の検出器列を有するＸ線検出器に適用することが好ましく、例えば４列の検出器列を有するＸ線検出装置に適用した場合には、１列目、２列目を図１に示したように断面Ｖの字上となるように所定の傾き角を有するように設けると共に、同様に３列目、４列目を所定の傾き角を有するように設ければよい。また、必ずしも偶数の検出器列を有するＸ線検出器でなくとも、例えば３列の検出器列を有するＸ線検出器に適用してもよく、この場合は、例えば１列目、２列目（或いは２列目、３列目）にのみ所定の角度をつけて設けるようにすればよい。
【００５６】
さらに、上述の各実施の形態では、本発明を、半導体で形成されたＸ線検出器に適用することとしたが、これは、いわゆるゼノン検出器等に適用してもよく、この他、本発明に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。
【００５７】
【発明の効果】
本発明に係るＸ線検出装置は、複数の検出器列のエッジ部分の感度の向上を図ることができる。このため、通常のＸ線曝射条件でも高画質の薄いスライス厚の断層像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＸ線検出装置を適用した第１の実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器の斜視図である。
【図２】前記Ｘ線検出器の側面図及び上面図である。
【図３】前記Ｘ線検出器の接続部を説明するための図である。
【図４】前記Ｘ線検出器の設置角度と蛍光体の厚みとの関係を説明するための図である。
【図５】前記Ｘ線検出器において、薄いスライス厚の断層像を得る場合に用いられるフォトダイオードの出力領域を示す図である。
【図６】本発明に係るＸ線検出装置を適用した第２の実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置を示す図である。
【図７】固体平面検出器の中央部分と周辺部分とで、Ｘ線管焦点からの距離が異なることによる生ずる不都合を説明するための図である。
【図８】本発明に係るＸ線検出装置を適用した第３の実施の形態の固体検出器を説明するための図である。
【図９】従来のシングルスライスＣＴ装置のＸ線検出器の斜視図である。
【図１０】従来のデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器の斜視図である。
【図１１】前記デュアルスライスＣＴ装置に設けられている分離型のＸ線検出器の側面図及び上面図である。
【図１２】前記デュアルスライスＣＴ装置に設けられている一体型のＸ線検出器の側面図及び上面図である。
【図１３】蛍光体が積層されていない状態及び蛍光体が積層された状態でのフォトダイオードの出力の違いを説明するための図である。
【図１４】従来のデュアルスライスＣＴ装置で、薄いスライス厚の断層像を得る場合に用いられるフォトダイオードの出力領域を示す図である。
【符号の説明】
１…Ｘ線管、２…デュアルスライス用のＸ線検出器、１０，１５…台座
３，４…第１，第２の検出器列、１２，１７…蛍光体
３ｎ〜３ｎ＋ｉ，４ｎ〜４ｎ＋ｉ…Ｘ線検出素子、１５…接続部
１１，１６…フォトダイオード、１１ａ，１６ａ…アクティブエリア
１３，１８…コリメータ、１４，１９…反射板、２０…遮蔽板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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