(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定用試料を測定し、測定用試料に含まれる粒子の粒度分布グラフを表示部に表示する粒子測定装置であって、測定用試料における粒子の特徴パラメータを測定しその測定結果を出力信号として出力するための測定出力部と、この測定出力部からの出力信号に基づいて分布データを作成し一時記憶する回路及びメモリを有する分布データ作成記憶部と、この分布データ作成記憶部で得られた分布データをパソコンへ伝送するための通信ＩＦ回路と、パソコンに設けられ、粒度分布グラフを表示するための表示部と、試料測定中に、一時記憶された前記分布データを定期的にパソコンへ伝送するように通信ＩＦ回路に指示し、かつ、測定途中結果としての粒度分布グラフを繰り返し更新表示するように表示部に指示する制御部とを備えてなる粒子測定装置。
【請求項２】
粒度分布グラフが、粒度ヒストグラムである請求項１に記載の粒子測定装置。
【請求項３】
制御部が、試料測定中に、その時点までの粒子の累積計数値も併せて更新表示するように表示部にさらに指示する請求項２に記載の粒子測定装置。
【請求項４】
制御部が、試料測定中に、単位時間当たりの粒子計数値も併せて表示するように表示部にさらに指示する請求項２に記載の粒子測定装置。
【請求項５】
制御部が、測定開始直後における初期の分布データから、粒度分布グラフにおける横軸の範囲である粒径あるいは体積の範囲を自動的に設定する請求項２に記載の粒子測定装置。
【請求項６】
制御部が、測定開始直後における初期の分布データから、粒度分布グラフにおける縦軸の最大値である最大頻度値を自動的に設定する請求項２に記載の粒子測定装置。
【請求項７】
測定用試料における粒子の特徴パラメータを測定しその測定結果を出力信号として出力する工程と、この出力信号に基づいて分布データを作成し一時記憶する工程と、得られた分布データをパソコンへ伝送する工程と、伝送された分布データをパソコンの表示部に表示する工程とからなる粒子測定方法であって、試料測定中に、一時記憶された前記分布データを定期的にパソコンへ伝送すると共に、測定途中結果としての粒度分布グラフをパソコンの表示部に繰り返し更新表示する粒子測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は粒子測定装置および粒子測定方法に関するものであり、さらに詳しくは、トナー、顔料、研磨剤などの工業用粉体などにおける粒度分布などの、粒子の特徴パラメータを測定するための粒子測定装置および粒子測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
トナー、顔料、研磨剤、セラミックス、化粧品バウダーといった工業用粉体の品質管理を行う上で、粉体成分粒子の大きさである粒度の分布を測定したり管理したりすることはきわめて重要である。
【０００３】
粒度分布を測定する方法としては、粒子の大きさを一個ずつ測定することのできる電気的検知帯法（クールター法）がよく知られている。最近では、レーザー回折散乱法による測定装置も普及している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
電気的検知帯法の場合は、その測定用試料として、電解性のある粒子懸濁液が用いられる。この粒子懸濁液の粒子濃度を大きくすると、特に粒子が微細な場合には、粒子どうしが凝集しやすくなり、それが原因で粒子検知孔が詰まってしまうこともある。また、検知帯が粒子の大きさに比べてかなり広いため、複数の粒子が同時に検知帯を通過する確率が大きくなり、信頼性のある測定データが得られなくなるおそれもある。
【０００５】
また、粒子懸濁液の粒子濃度を小さくすると、信頼性のある粒度分布データを得るには、測定時間を長くする必要がある。
【０００６】
電気的検知帯法による従来の粒子測定装置では、試料の粒子濃度が適切かどうか、また凝集を起こしていないかどうかは、測定が終了してその測定結果が得られるまでは的確に判断することができない。粒子出力部で詰まりなどを起こさずに安定して測定できたかどうかは、測定結果だけを見ても判断できない場合もある。
【０００７】
以上のような理由により、試料を測定している最中でも、その時々の累積粒子計数値や粒度ヒストグラムなどの測定途中結果や測定状態をモニターできることが望まれる。これによって、測定中に実時間で粒子濃度が適切であるかどうか、測定系が安定しているかどうかを的確に判断することができ、問題がある場合でも、試料をあまりムダにすることなく迅速に対処することができる。
【０００８】
近年、様々な分野の測定装置において、その操作性や測定結果に対する様々な処理、例えば、グラフ表示、統計解析、印刷、測定データの記憶や管理などの処理の容易性などの理由で、測定装置本体とは別に、Ｗｉｎｄｏｗｓ  ＯＳを搭載したパソコンを接続するタイプの測定システムが一般的になりつつある。パソコンを利用すれば、各種のデータ処理を行うためのアプリケーションソフトの開発も楽になる。また、市販されているデータ処理用パッケージソフトを利用することもできる。
【０００９】
測定装置本体とパソコンとの通信方法としては、これまで、ＲＳ２３２Ｃが最も多く利用されてきている。しかし、ＲＳ２３２Ｃの実効通信速度は数Ｋバイト／秒と遅く、この程度の通信速度では、試料測定中に粒度ヒストグラムを実時間で表示することは不可能である。
【００１０】
例えば、粒子のサイズを４０９６分割し、各分割当たりの最大頻度を１６ビットのバイナリデータで表現した場合、分布データのサイズは８Ｋバイトになる。ＲＳ２３２Ｃによる実効通信速度を２Ｋバイト／秒とすると、この分布データをパソコンに伝送するのに４秒かかる。これでは、測定中に粒度ヒストグラムを実時間で表示できるとは言えない。
【００１１】
近年、ＲＳ２３２Ｃに代わる高速通信手段として、イーサネットやＵＳＢが普及してきている。これらはどちらも、その実効通信速度が数百Ｋバイト／秒であり、ＲＳ２３２Ｃと比較して１００倍以上高速である。８Ｋバイトの分布データを伝送するのに要する時間は０．１秒以下である。パソコンに送られてきた頻度データを加工してグラフ表示するのに要する時間を含めても、粒度ヒストグラムを１秒間に３回以上、更新表示することができる。
【００１２】
本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、粒子の特徴パラメータの測定中であっても、その時々までに得られた分布データを高速の通信ＩＦを使って定期的にパソコンに伝送し、単位時間（数秒）当たりの粒子計数値や粒子の分布グラフ（ヒストグラムまたはスキャッタグラム）を実時間で表示することのできる粒子測定装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、測定用試料を測定し、測定用試料に含まれる粒子の粒度分布グラフを表示部に表示する粒子測定装置であって、測定用試料における粒子の特徴パラメータを測定しその測定結果を出力信号として出力するための測定出力部と、この測定出力部からの出力信号に基づいて分布データを作成し一時記憶する回路及びメモリを有する分布データ作成記憶部と、この分布データ作成記憶部で得られた分布データをパソコンへ伝送するための通信ＩＦ回路と、パソコンに設けられ、粒度分布グラフを表示するための表示部と、試料測定中に、一時記憶された前記分布データを定期的にパソコンへ伝送するように通信ＩＦ回路に指示し、かつ、測定途中結果としての粒度分布グラフを繰り返し更新表示するように表示部に指示する制御部とを備えてなる粒子測定装置が提供される。
【００１４】
本発明に係る粒子測定装置は、大別して、測定装置本体とパソコンとを備えてなる。この測定装置本体はさらに、測定出力部と、分布データ作成記憶部と、通信ＩＦ（インターフェイス）回路と、制御部とを備えてなり、パソコンは表示部を備えてなる。
【００１５】
測定出力部は、測定用試料における粒子の特徴パラメータ（例えば粒子の大きさ）を測定する測定部と、この測定部における測定結果を信号処理して出力信号として出力する出力部とからなる。この測定部としては、従来、よく知られている電気的検知帯法による粒子検出系が代表的である。出力部は、個々の粒子の大きさを反映する出力信号を捉えて、Ａ／Ｄ変換するための信号処理回路を備えている。
【００１６】
分布データ作成記憶部は、測定出力部における信号処理回路で得られた粒子の特徴パラメータを表す値を、メモリの番地（アドレス）に対応させ、その番地の内容、すなわち、その粒子と同じ特徴パラメータの粒子を検出した頻度をインクリメントするための回路を備えている。前記メモリの内容は、測定開始前にクリアされ、測定中、粒子を検出するたびにリアルタイム（実時間）で分布データが更新される。
【００１７】
通信ＩＦ回路は、前記の分布データを高速でパソコンに送信するためのものであり、測定中であっても、例えば１秒間に複数回、その時々の分布データをパソコンへ繰り返し送信する。
【００１８】
分布データを受け取ったパソコン側における表示部では、そのデータから粒度分布グラフ（ヒストグラムまたはスキャッタグラム）を表示する。
【００１９】
制御部は、マイコン部（ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなど）及び制御回路などで構成され、
（１）セットされた粒子懸濁液を吸引し、それを粒子出力部に導く。
（２）粒子懸濁液を少しずつ、常に安定させて粒子検出孔に通す。
（３）粒子出力信号に対する信号処理を開始させる。
（４）分布データ作成回路をアクティブにする。
（５）規定量の粒子懸濁液あるいは規定の時間の測定が終了すると、信号処理を終了させる。
（６）粒子懸濁液の通過した流路や検出孔を洗浄する。
などの制御を行う。
【００２０】
本発明に係る粒子測定装置は、分布グラフが例えば、粒子の１つの特徴パラメータに基づく粒度ヒストグラムや、複数の特徴パラメータに基づくスキャッタグラムである。前者の特徴パラメータは、例えば粒子の大きさである。
【００２１】
本発明に係る粒子測定装置は、制御部が、試料測定中に、その時点までの粒子の累積計数値も併せて更新表示するように表示部にさらに指示するように構成されているのが好ましい。このように構成されている場合には、測定終了前に粒子に関する有用な情報を迅速に測定者に伝えることができる。
【００２２】
本発明に係る粒子測定装置は、制御部が、試料測定中に、単位時間当たりの粒子計数値も併せて表示するように表示部にさらに指示するように構成されているのが好ましい。このように構成されている場合には、単位時間当たりの粒子計数値をモニターすることが可能になり、測定出力部が詰まっているかどうかなどの判断を行いやすい。
【００２３】
本発明に係る粒子測定装置は、制御部が、測定開始直後における初期の分布データから、粒度分布グラフにおける横軸の範囲である粒径あるいは体積の範囲を自動的に設定するように構成されているのが好ましい。このように構成されている場合には、分布データから粒度分布グラフにおける横軸のレンジが装置自体により自動的に設定表示されるので、測定者の手間を省いて、常に見やすい粒度分布グラフを得ることができる。
【００２４】
本発明に係る粒子測定装置は、制御部が、測定開始直後における初期の分布データから、粒度分布グラフにおける縦軸の最大値である最大頻度値を自動的に設定するように構成されているのが好ましい。このように構成されている場合には、分布データから粒度分布グラフにおける縦軸のレンジが装置自体により自動的に設定表示されるので、測定者の手間を省いて、常に見やすい粒度分布グラフを得ることができる。
【００２５】
本発明に係る粒子測定装置は、表示部が、使用者が指定した粒径あるいは体積の範囲に限定した粒子の累積計数値を表示するように構成され、あるいは、使用者が指定した粒径あるいは体積の範囲に限定した粒子の単位時間当たりの粒子計数値を表示するように構成されているのが好ましい。このように構成されている場合には、測定終了前に、指定した粒径あるいは体積の範囲における粒子（例えば、凝集塊、粗大粒子、高比重粒子）に関する有用な情報をいっそう迅速に測定者に伝えることができる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る１つの実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、本発明はこれによって限定されるものではない。
【００２７】
図１及び図２に示すように、粒子測定装置Ｄは、測定装置本体１とノートパソコン２とを備えてなる。測定装置本体１はさらに、測定出力部１１と、分布データ作成記憶部１２と、通信ＩＦ（回路１３と、制御部１４とを備えてなり、ノートパソコン２は表示部２１を備えてなる。
【００２８】
測定出力部１１は、測定用試料における個々の粒子の大きさを電気的検知帯法で測定する測定部（電気抵抗検出部）１１１と、この測定部１１１における測定結果を信号処理して出力信号として出力する出力部（信号処理部）１１２とからなる。測定部１１１には、粒子を通過させるための細孔とその両側の電極とを配置し、その細孔に微小な定電流を常に流しておく。電解液中の粒子がその細孔を通過する時に電極間の電気抵抗が増大し、その粒子の体積にほぼ比例した電圧が検出される。
【００２９】
分布データ作成記憶部１２は、測定出力部１１における信号処理部１１２で得られた粒子の大きさを表す値を、メモリ１１４の番地（アドレス）に対応させ、その番地の内容、すなわち、その粒子と同じ大きさの粒子を検出した頻度をインクリメントするための回路（頻度データ作成回路）１１３を備えている。メモリ１１４の内容は、測定開始前にクリアされ、測定中、粒子を検出するたびにリアルタイム（実時間）で分布データが更新される。
【００３０】
通信ＩＦ回路１３は、前記の分布データを高速でノートパソコン２に送信するためのものであり、測定中であっても、１秒間に複数回、その時々の分布データをノートパソコン２へ繰り返し送信する。
【００３１】
通信ＩＦ回路１３の方式は、従来のＲＳ２３２Ｃよりも１０倍以上の高速通信が可能なＵＳＢ、イーサネット、ＩｒＤＡあるいはＩＥＥＥ１３９４などが考えられる。これらの中では、最近、パソコンに標準装備されてきているＵＳＢがコスト的に最もメリットがある。ＩｒＤＡを利用するのであれば、規格１．１の４Ｍビット／秒の通信速度までサポートしたＩｒＤＡ−ＩＦにするのが好ましい。ここでは、図２に示すように、ＵＳＢ方式のＩＦ回路１１６が用いられている。
【００３２】
また、データ送信時のＣＰＵの負荷を軽減させるため、頻度データのメモリ１１４と通信ＩＦ回路１３（ここではＵＳＢ方式のＩＦ回路１１６）との間におけるデータのやり取りを、図２に示すように、ＤＭＡ（ダイレクトメモリアクセス）方式のコントローラ１１５で行うことも考えられる。
【００３３】
粒子の大きさを１２ビットの分解能で分割し、各分割当たりの頻度値ｆｌ（ｌ＝０〜４０９５）を１６ビット（最大６５５３５個）で表現した場合、分布データのサイズは８Ｋバイトになる。従来、よく利用されているＲＳ２３２Ｃでパソコンに伝送するとすれば、その伝送に数秒以上を要する。前記の高速通信ＩＦの実効通信速度は数百Ｋバイト／秒以上であり、８Ｋバイトの頻度データを送信するのに要する時間は０．１秒以下である。
【００３４】
制御部１４は、計測制御回路１１７と、ＲＡＭ１１８、ＣＰＵ１１９、ＲＯＭ１２０からなるマイコン部とで構成されている。
【００３５】
制御部１４は、
（１）セットされた粒子懸濁液を吸引し、それを粒子出力部に導く。
（２）粒子懸濁液を少しずつ、常に安定させて粒子検出孔に通す。
（３）粒子出力信号に対する信号処理を開始させる。
（４）分布データ作成回路１１３をアクティブにする。
（５）規定量の粒子懸濁液あるいは規定の時間の測定が終了すると、信号処理を終了させる。
（６）粒子懸濁液の通過した流路や検出孔を洗浄する。
などの制御を行う。
【００３６】
ＵＳＢ方式のＩＦ回路１１６から分布データを受け取ったノートパソコン２側における表示部２１では、そのデータから図３に示すような粒度分布グラフ（粒度ヒストグラム）を表示する。図３におけるグラフの横軸は粒子の直径（単位はマイクロメートル）を表し、縦軸は粒径に対応した頻度を表している。
【００３７】
分布データの値ｆｌをすべて合計すると、その時点までに検出された粒子の総数（累積計数値）を求めることができる。また、測定を開始してからの各時点における累積計数値の差異から、単位時間当たり（数秒ごと）の粒子計数値（サンプリング計数値）を求めることも可能であり、粒度ヒストグラムと併せて、粒子の累積計数値やサンプリング計数値も、測定中に実時間で表示することができる。
【００３８】
図３の例では、測定を開始してから２秒ごとの粒子計数値をサンプリング計数値として表示している。測定開始後、１４秒から１６秒までの計数値が急に減少しているが、このような情報から、粒子検出孔が詰まりかけていることが推測できる。
【００３９】
また、図３に示す粒度ヒストグラムでは、６μｍ付近と９μｍ付近との２箇所で粒度分布のピークが見られるが、９μｍ近辺の大きさの粒子は、粒子が複数個、凝集したものであると推測することもできる。
【００４０】
これらの情報から、電解液中で粒子が凝集を起こしており、それが原因で粒子検出孔を詰まらせているのではないか、と推測することができる。
【００４１】
このように、測定中に、短い時間間隔で繰り返しその時点までの測定結果をモニターすることができれば、試料が適切に調製することができたものであるかどうか、常に安定して測定が行われているかどうか、などを迅速に把握することができる。問題があると判断された場合には、試料の再調製、あるいは検出孔の詰まり除去などの処置を的確かつ迅速に行うことができる。測定したい試料が貴重なものである場合でも、その試料をあまりムダにすることなく問題に対処できる。
【００４２】
また、前記の累積計数やサンプリング計数の対象とする粒子の大きさを設定する機能を付加することもできる。このような粒径範囲設定機能を用いて、測定者は、特に着目したい粒子だけに限定しての計数値をモニターすることができる。例えば、粒子凝集塊を除いて計数させる、微小なゴミ粒子を除いて計数させる、といったことも可能である。
【００４３】
ところで、測定したい粒子の大きさやそのばらつき度合い、また粒子懸濁液の粒子濃度はさまざまである。したがって、粒度ヒストグラムの表示において、横軸が表す粒径あるいは体積の範囲をどこからどこまでにすれば、より見やすい粒度ヒストグラムになるか、あるいは、縦軸が表す頻度値の最大値をいくらにすれば、より見やすい粒度ヒストグラムになるか、試料ごとに粒径または体積、及び頻度の範囲が適切に設定されて表示できるものであるのが好ましい。
【００４４】
この実施態様では、粒度ヒストグラムの横軸と縦軸とで表す、粒径あるいは体積の範囲と最大頻度値とを自動的に設定するのに、測定を開始してから最初の１秒間くらいで得られる分布データを参考にする。また、粒子検出孔の径によっても、縦軸が表す粒径あるいは体積の範囲が限定される。
【００４５】
電気的検知帯法では、粒径が粒子検出孔の径（孔径）の２％〜５０％程度である粒子まで、その体積を測定することができる。
【００４６】
例として、孔径５０μｍの粒子検出孔を使用し、測定を開始してから１秒後に得られた粒度頻度データから、粒子のサイズが４μｍ〜１３μｍの範囲で頻度値が１以上であり、その範囲での最大頻度値が９であり、粒子測定時間が２０秒である場合を考える。粒子検出孔の孔径が５０μｍであるので、粒径測定範囲は１μｍ〜約２５μｍとなる。
【００４７】
粒子が３個の凝集塊まで粒度分布表示することを目安とすれば、表示する粒径の最大値は、最初の１秒間で得られた最大粒径の約１．５倍に設定すればよい。上記の例では、粒度ヒストグラムの横軸の最大値は、粒径で２０μｍに設定すればよい。
【００４８】
粒子が８個の凝集塊まで粒度分布表示するのであれば、粒径の最大値は、最初の１秒間で得られた最大粒径の約２倍に設定すればよい。必要であれば、何個までの凝集粒子まで表示させるのかの設定機能を付加し、測定開始前に測定者があらかじめ設定できるように構成してもよい。その設定値から粒度ヒストグラムの横軸である粒径または体積の範囲を自動設定する。ただし、粒子検出孔の孔径から決められる粒径測定範囲の上限値を超えない範囲で設定する。
【００４９】
粒度ヒストグラムの横軸の最小値は、最初の１秒間で得られた最小粒径の１／２程度に設定する。ただし、粒子検出孔の孔径から決められる粒径測定範囲の下限値を下回らない範囲で設定する。
【００５０】
縦軸（頻度）の最大値は、
最初の１秒間測定での最大頻度値×測定時間×（１＋理論ＣＶ×３）
という計算式で算出される値を目安に設定する。
【００５１】
理論ＣＶは、最初の１秒間測定での最大頻度値をＮＩとすれば、
（ＮＩ）1/2／ＮＩ
で求められる。
【００５２】
上記の例では、理論ＣＶは１／３となり、上記計算式の算出結果は３６０になる。したがって、粒度ヒストグラムの縦軸（頻度）の最大値は４００ぐらいに設定すればよい。このように頻度の最大値を設定すれば、測定途中での粒度ヒストグラムのピークが、設定した最大頻度値を超えるおそれはほとんどなくなる。
【００５３】
測定が終了するまでに粒度ヒストグラムのピークが上記最大頻度値を超えてしまう場合は、その時点で改めて頻度の最大値を設定（再設定）すればよい。再設定する最大頻度値の目安は、次のような２つの計算式で算出する。
【００５４】
すなわち、Ｔ秒間測定する、という測定モードでは、
0004136263.tif 000002
の計算式で算出する。
【００５５】
また、粒子Ｎ個まで測定する、という測定モードでは、
0004136263.tif 000003
の計算式で算出する。
【００５６】
表１に、粒度ヒストグラムにおける横軸（粒径）と縦軸（頻度）との範囲を自動設定した例を示す。
【００５７】
【表１】
0004136263.tif 000004
【００５８】
【発明の効果】
請求項１に記載の粒子測定装置にあっては、測定用試料における粒子の特徴パラメータを測定しその測定結果を出力信号として出力するための測定出力部と、この測定出力部からの出力信号に基づいて分布データを作成し一時記憶する回路及びメモリを有する分布データ作成記憶部と、この分布データ作成記憶部で得られた分布データをパソコンへ伝送するための通信ＩＦ回路と、パソコンに設けられ、粒度分布グラフを表示するための表示部と、試料測定中に、一時記憶された前記分布データを定期的にパソコンへ伝送するように通信ＩＦ回路に指示し、かつ、測定途中結果としての粒度分布グラフを繰り返し更新表示するように表示部に指示する制御部とを備えてなる。したがって、分布データをＵＳＢやイーサネットなどの高速の通信ＩＦを介して伝送することにより、測定中における粒度分布グラフを例えば１秒間に複数回、更新表示することができ、測定途中の結果や状況を実時間でモニター表示することが可能になる。
【００５９】
請求項２に記載の粒子測定装置にあっては、分布グラフが、粒度ヒストグラムである構成になっている。したがって、分布データをＵＳＢやイーサネットなどの高速の通信ＩＦを介して伝送することにより、測定中における粒度ヒストグラムを例えば１秒間に複数回、更新表示することができ、測定途中の結果や状況を実時間でモニター表示することが可能になる。
【００６０】
請求項３に記載の粒子測定装置にあっては、制御部が、試料測定中に、その時点までの粒子の累積計数値も併せて更新表示するように表示部にさらに指示するように構成されている。したがって、測定終了前に粒子に関する有用な情報を迅速に測定者に伝えることができる。すなわち、試料の粒子濃度が薄いため測定時間が数分以上に長くかかるような場合に、測定が終了しなくても、粒子濃度や粒子測定系の安定性などの有用な情報を迅速に測定者に伝えることができる。例えば、試料の粒子濃度が適切かどうか、あるいは粒子の凝集が起きていないかどうかなどを、測定開始後すぐに判断することができ、判断結果が適切なものでない場合には、すぐに測定用試料の再調製に取りかかることができる。
【００６１】
請求項４に記載の粒子測定装置にあっては、制御部が、試料測定中に、単位時間当たりの粒子計数値も併せて表示するように表示部にさらに指示するように構成されている。したがって、単位時間（数秒）当たりの粒子計数値をモニターすることが可能になり、測定出力部が詰まっているかどうかなどの判断が行いやすくなる。
【００６２】
請求項５に記載の粒子測定装置にあっては、制御部が、測定開始直後における初期の分布データから、粒度分布グラフにおける横軸の範囲である粒径あるいは体積の範囲を自動的に設定するように構成されている。したがって、分布データから粒度分布グラフにおける横軸のレンジが装置自体により自動的に設定表示されるので、測定者の手間を省いて、常に見やすい粒度分布グラフを得ることができる。
【００６３】
請求項６に記載の粒子測定装置にあっては、制御部が、測定開始直後における初期の分布データから、粒度分布グラフにおける縦軸の最大値である最大頻度値を自動的に設定するように構成されている。したがって、分布データから粒度分布グラフにおける縦軸のレンジが装置自体により自動的に設定表示されるので、測定者の手間を省いて、常に見やすい粒度分布グラフを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明に係る粒子測定装置の構成説明図である。
【図２】図２は図１に示す粒子測定装置における主要部のブロック図である。
【図３】図３は図１に示す粒子測定装置における表示部に表示された粒度分布グラフである。
【符号の説明】
１    測定装置本体
２    ノートパソコン
１１    測定検出部
１２    分布データ作成記憶部
１３    通信ＩＦ回路
１４    制御部
【図１】
0004136263.tif 000005
【図２】
0004136263.tif 000006
【図３】
0004136263.tif 000007