(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ユーザーの試料を受け入れるための複数のセンサと、各々の前記センサに対応した校正コードを規定する校正コード化ラベルと、を備えたパッケージと、
前記センサからの信号に基づいて、予め規定したパラメーター値を測定するために予め規定した試験シーケンスを実施する処理手段と、前記処理手段と電気的に接続された複数の校正用端子と、を備えた本体と、
を含む試料中の分析対象物濃度を測定するためのシステムであって、
前記校正コード化ラベルに、複数の電気的接触部が含まれ、
前記パッケージを前記本体に装着して、該電気的接触部と前記校正用端子とを電気的に接続することにより、前記処理手段が、前記校正コード化ラベルにより規定された前記校正コードを読み取って各々の前記センサに対応した校正を行なうことを特徴とするシステム。
【請求項２】
前記校正コード化ラベルに、複数の前記電気的接触部が電気的に相互結合した同期接触部が含まれる、請求項１記載のシステム。
【請求項３】
前記校正コード化ラベルに、少なくとも二つの前記同期接触部が含まれ、少なくとも二つの前記同期接触部が、予め規定した校正コードを示すために、互いに関連して配置されている、請求項２記載のシステム。
【請求項４】
少なくとも二つの前記同期接触部が、間隙なし、一スペースの間隙、二スペースの間隙および三スペースの間隙という、前記同期接触部間での複数の相対位置の組み合わせの予め規定した一つを有する、請求項３記載のシステム。
【請求項５】
前記校正コードが、電気的に相互結合した前記電気的接触部の一群により規定される、請求項２から４の何れか１項記載のシステム。
【請求項６】
前記本体が、ベース部材とカバー部材とにより形成される容器を更に含み；前記カバー部材及び前記センサは、前記センサを受け入れて位置決めするための協同手段を含み；また、前記ベース部材は予め規定した数の前記校正用端子を支持する請求項１から５の何れか１項記載のシステム。
【請求項７】
前記ベース部材と前記カバー部材とは、第一の端部において互いに回動自在に連結され、また反対側の第二の端部においてラッチ部材で互いに固定されている請求項６記載のシステム。
【請求項８】
センサシステムを校正するための方法であって、
ユーザーの試料を受け入れるための複数のセンサと、各々の前記センサに対応した校正コードを規定するため、複数の電気的接触部を有する校正コード化ラベルと、を備えたパッケージを準備する工程と、
前記センサからの電気信号に基づいて、予め規定したパラメーター値を測定するために予め規定した試験シーケンスを実施するプロセッサと、前記プロセッサと電気的に接続された複数の校正用端子と、を備えた本体を準備する工程と、
前記パッケージを前記本体に装着して、前記電気的接触部と前記校正用端子とを電気的に接続する工程と、
前記プロセッサによって、前記校正コード化ラベルにより規定された前記校正コードを読み取って各々の前記センサに対応した校正を行なう工程と、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項９】
前記校正コード化ラベルに、複数の前記電気的接触部が電気的に相互結合した同期接触部が少なくとも二つ含まれ、少なくとも二つの前記同期接触部が、予め規定した前記校正コードを示すために、互いに関連して配置されている、請求項８記載の方法。
【請求項１０】
前記プロセッサにより前記校正コードを読み取る工程が、複数の前記電気的接触部へ信号を与える工程と、その結果の信号パターンを読み取る工程と、前記校正コードを解読する工程と、を含む、請求項９記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般にはセンサに関し、特に、センサ要素を校正するための新規で改良された方法および装置に関する。
【０００２】
【従来技術】
臨床化学分野は、生体物質、典型的には血液、尿や唾液のような体液中の様々な物質の検出および定量に関するものである。この分野の重要な一面に、個体血液中のコレステロールやグルコースのような天然起源物質の濃度測定がある。液体試料中の分析対象物濃度を測定するための、臨床化学における最も頻繁に使用される一分析具は、試験センサである。この試験センサを液体試料に接触させた場合、このセンサ中に含まれるある種の試薬が、濃度が求められている分析対象物と反応し、検出可能な信号を与える。この信号は、比色センサの場合のように変色である場合があり、または電気化学システムの場合のように電流もしくは電圧の変化である場合がある。電気化学センサの特定種、すなわち電流センサにとり、検出電流は、試験された液体試料中の分析対象物濃度に比例する。試薬システムで酵素を使用するこれらシステムは、酵素（生物学的物質）と分析対象物との相互作用により検出可能な応答を与えるので、バイオセンサと言われる場合がある。色、電流または電圧の変化であるこの応答は、典型的には、センサがその中に挿入される計器（この計器は、例えばＬＣＤシステムにより、分析対象物濃度の読取りを与える）により測定される。
【０００３】
特に、血液中のグルコースの測定は、食事制限と薬物治療においてグルコース摂取を制限することと関連して頻繁にグルコースレベルをチェックする必要のある糖尿病患者にとり非常に重要である。以下の記載は、血液中のグルコース検出に向けられているが、本発明の手順や器具を、別の体液や非体液物質中の別の分析対象物の測定に使用することも可能であり、例えば適当な酵素を選択した上での糞便中の潜血の検出に使用しうるということが理解できよう。加えて、例えば肉損傷や井戸水中の異物の検査に、このセンサを使用することができる。
【０００４】
診断システム、例えば血液グルコース測定システムは、典型的には、測定出力と、試験を実施するために使用される試薬感受要素の既知の反応性とに基づき、現実のグルコース値を計算する。装置か、試験センサに類似するが、装置により読取られたその情報と校正要素として認識されうる感知要素か、装置のマイクロプロセッサボード中へプラグが差し込まれて直接読取られる記憶要素かに入る、数や文字を含む幾つかの形態で、後の情報をユーザーに提供することができる。
【０００５】
様々な手段が、装置内へロット校正情報を提供するために使用されてきた。これら基礎方法は、装置が参照用テーブルから校正定数を検索するために使用しうるコード番号を、ユーザーに入力させることを要求する。米国特許第５，２６６，１７９号明細書には、その抵抗値が装置により計測されうる抵抗器が開示されている。この抵抗値から校正定数が矯正される。
【０００６】
Boehringer Mannheim Diagnostics により販売されているグルコース計器のAccucheck シリーズおよびAdvantage システムは、集積回路（ＩＣ）チップに基づく試薬校正方法を使用している。このチップは、顧客により購入された各試薬パッケージ中に含まれている。試薬の特定のロットに関してそれ自身どのように校正すべきかについての情報は、このＩＣに含まれている。顧客は、計器上に設置された接続口にＩＣを設置することにより、計器にＩＣを取り付ける必要がある。ＩＣは、ユーザが装置を作動する各時間にその情報について問われる場合がある。これらすべてのシステムは、装置に有効になるような校正情報に関し、ユーザに直接的にインターラクション（双方向性情報交換）を要求し、それにより、正確なグルコース数が計算される。
【０００７】
【発明の概要】
本発明の重要な課題は、センサを校正するための新規かつ改良された方法および装置を提供することであり、またユーザインターラクションの要求を除去または減ずるような方法および装置を提供することである。
【０００８】
簡潔に言うと、センサ要素を校正するための方法および装置が提供される。センサ要素は、センサメータ、分析されるべきユーザ試料を受け取るためのセンサ要素、予め規定したパラメータ値を測定するために予め規定した試験シーケンスを実施するためのプロセッサを含むセンサシステム中で使用される。メモリは、予め規定されたパラメータデータ値を保存するためにプロセッサに連結されている。自動校正コードはセンサと関連しており、測定されるべきユーザサンプルが受け取られる前にプロセッサにより読み取られる。自動校正コードは、バッチ−バッチ基準で変動するであろうセンサ間で相違する特性を補うために、予め規定したパラメータデータ値を測定する際に使用される。
【０００９】
【発明の実施の態様】
図面を参照して説明すると、図１、図２および図３において、参照番号１０で指定され、本発明の原理に従うセンサメータを示す。センサメータ１０は、ベース部材１４とカバー部材１６により形成されるクラムシェル（貝殻）型のハウジング容器１２を含む。ベース部材１４とカバー部材１６は、第一の端部１８で互いに軸着されており、反対側の第二の端部２２でラッチ部材２０により互いに固定されている。液晶ディスプレー（ＬＳＤ）のようなディスプレー２４は、カバー部材１６により支持されている。センサメータ１０をオンオフするために、カバー部材１６上に取り付けられている手動のスライド２８が、図１に示される開口位置と図２に示される閉鎖位置との間を移動する。
【００１０】
図２の閉鎖位置またはオフ位置において、スライド２８はディスプレー２４を覆う。スライド２８により支持されているつまみグリップ３０は、センサメーター１０にユーザが手をかざしてオンオフ位置を選択するために設けられている。つまみグリップ３０はまた、システムテスト作動モードを選択するために、スライド２８のオフ位置において左右に移動させることができる。ユーザが図１のオン位置にスライド２８を移動させる場合、ディスプレーは覆われておらず、またセンサ３２が見える。センサ３２は、溝孔３４を介して伸びており、またユーザが血液滴を適用することができるように容器１２の外側に位置している。センサメータ１０について予め規定された作動モードの選択、また例えば血液グルコースの読み取り値の設定、呼び出しおよび削除、並びに日付、時およびオプションの設定という、ユーザによる操作のために、右ボタン４２および左ボタンもしくはスイッチ４４（または図７におけるスイッチＡおよびＢ）が容器に支持されている。
【００１１】
図３と図４を参照すると、図３において、センサパッケージなしのセンサメータ１０の内側が示されている。参照番号５０で全体が指定されている例示的なセンサパッケージが、分離した形で図４に示されている。センサメータベース部材１４は、自動校正プレート５２と所定数の自動校正ピン５４（例えば、図示するように十個の自動校正ピン５４）を支持する。自動校正ピン５４は、図５および図６または図１０に示されるように、可撓性フレックス（flex）回路５６と自動校正コネクタ５８とを介して、関連するセンサ回路８１に接続される。センサ回路８１は、カバー１６とブロックガイド６０との間でセンサメータ１０の上部に位置する。ディスク保持具６６および割送りディスク６４が、カバー部材１６内に装備されている。割送りディスク６４は、センサパッケージ５０の協同的な三角形状のくぼみ部位３５との噛み合いのために、また割送りディスク６４上にセンサパッケージを受け入れて保持するために、一対のロック突起６５を有する。センサパッケージ５０は、参照番号７０で全体が指定されている自動校正ラベルを有する（図１１中の１７０、図１２中の１７０Ａ）。
【００１２】
本発明に従うと、センサのロット間での製造の際の変動を補うための、臨床値の計算の使用に割り当てられた校正コードは、図４に示すようなセンサ３２のセンサパッケージ５０と関連する、７０で全体が指定されているタグまたはラベル上にコード化される。校正コード化ラベル７０は、複数のセンサ３２（これらセンサは、個々のブリスター３３中に保存されている）のパッケージ５０と共に装置内に挿入され、センサ３２が使用される前に関連したセンサ電気回路により読み取られる。例えば、電流読み取り値からのグルコース値のような正確な試験値の計算は、単一の方程式を解くことに基づく。校正コードに基づく方程式定数は、例えば、方程式定数を計算するアルゴリズムを用いるか、校正コード化ラベル７０から読み取られる特別の予め規定される校正コードのためのルックアップテーブルから検索することにより同定される。校正コード化ラベル７０は、デジタル、機械的、アナログ、光学的、またはこれら技術の結合により提供される。
【００１３】
図４を参照すると、センサパッケージ５０は、複数の液体センサ３２を取り扱うためのセンサメータ１０中で使用される。センサパッケージ５０は、センサパッケージ５０の辺縁に向かって伸びている、複数のセンサキャビティーまたはブリスター３３を有する。各センサキャビティーは、複数の液体センサ３２のひとつを収容する。センサパッケージ５０は、外辺縁近くからセンサパッケージ５０の中心に向かって離れているセンサキャビティー３３を有する、一般的には円形のものである。センサパッケージ５０は、自動校正コード化情報を提供する、全体が７０で指定されている自動校正データ領域を有する。この自動校正コード化情報または自動校正ラベル７０は、センサパッケージ５０がセンサメータ１０内に受け入れられる際、自動校正ピン５４との電気的接触噛み合いのために配された複数の接触パッド７２を有する。自動校正ラベル７０は、内部導電性パスもしくはトレース７４と外部導電性パス７６を有する。以下で詳細に説明するように、選択される接触パット７２は、導電性パス７４および７６に結合している。
【００１４】
図５を参照すると、本発明の原理に従って配置されている、全体が参照番号８１で指定されているセンサ回路のブロックダイアグラムが示されている。センサ回路８１は、プログラムとユーザデータを保存するための関連するメモリ８４と共に、マイクロプロセッサ８２を有する。センサ３２に結合したメータ機能８６は、血液グルコース試験値を記録するために、マイクロプロセッサ８２により作動的に制御される。バッテリモニタ機能８８は、低バッテリ状態（図示せず）を検出するために、マイクロプロセッサ８２に結合している。アラーム機能８９は、予め規定されたシステム状態を検出し、そしてセンサメータ１０のユーザのアラーム表示をするために、マイクロプロセッサ８２に結合している。データポートまたは通信インターフェース９０は、連結したコンピュータ（図示せず）からおよび連結したコンピュータに、データをつなぐ。ユーザによるスライド２８のオン／オフ操作に対応するオン／オフ入力（ユーザライン２８Ａ）は、センサメータ１０の血液試験シーケンスモードを実施するために、マイクロプロセッサ８２に結合している。ユーザによるつまみグリップ３０の操作に対応するシステム態様入力（ライン３０Ａ）は、選択的にセンサメータ１０のシステム態様モードを実施するために、マイクロプロセッサ８２に結合している。ライン７０Ａで示される自動校正信号入力は、本発明に従い、センサロットに関する自動校正コード化情報を検知するために、マイクロプロセッサ８２に結合している。マイクロプロセッサ８２は、図１４、図１５、図１６および図１７に示されるような本発明に係る方法を実施するための適切なプログラムを含む。
【００１５】
図６は、デジタル校正方法に関する、プロセッサ８２をラベル７０へ結合するデジタル電気回路１００を示す。プロセッサ８２からの十個の出力信号は、十個のドライバ１０２（ＤＡ〜ＤＪ）を通って十個の自動校正ピン５４（ＰＡ〜ＰＪ）へ、十個のＰチャネル電界効果トランジスタ（ＦＥＴ) １０４（ＴＡ〜ＴＪ）の対応するひとつを介して連絡する。十個の自動校正ピン５４は、十個のデジタル入力信号（ＩＡ〜ＩＪ）を供する十個のレシーバ１０６（ＲＡ〜ＲＪ）に連絡する。各レシーバは、供給電圧ＶＣＣに結合した関連するプルアップ１０８（ＰＵ）を有する。カバー１６が閉じられ、またラベル７０が存在する場合、ラベル７０上にプリントされた導電性パターンにより、自動校正ピン５４（ＰＡ〜ＰＪ）は、自動校正ラベル７０上の別のラベル接触部７２に電気的に接触する（例えば、図４および図７中のラベル７０参照）。
【００１６】
ラベル７０の接触パターンを読み取る操作において、プロセッサ８２は、ドライバ１０２のひとつをオンにし、他のドライバ１０２すべてをオフにする。準備されたドライバ１０２は、関連する自動校正ピン５４に低信号を送る。関連する自動校正ピン５４に直接結合した準備されたドライバ１０２に関して対応するレシーバ１０６は、この特定ドライバ１０２とレシーバ１０６が直接結合しているので、低信号として読み取る。ラベル７０上の導電性トレース７４、７６、７８により供される低抵抗結合部により自身の自動校正ピン５４が低作動されるすべての他のレシーバ１０６もまた、低信号として読み取る。残りの他のすべてのレシーバ１０６は、関連するドライバ１０２がオンでなく、関連するプルアップ１０８がレシーバ電圧をＶＣＣに引き上げるので、高信号として読み取る。
【００１７】
図７は、本発明の校正コード化ラベル７０の好適な配列の拡大図である。本発明の一態様に従うと、校正コード化ラベル７０は、関連するセンサ３２に関するロット特異性試薬校正配列についての情報移送方法を自動化するために使用される。例えば、図７中で示されるような自動校正情報は、ラベル７０中にコード化される。このラベル７０は、ブリスタータイプのパッケージ５０〔例えば、通常の起源またはロットである十個のセンサ３２（十個の個々のブリスター３３の各々におけるひとつ）を含む〕の底側に付加される。この校正コード化ラベル７０は、いかなる角度の位置でも読み取られ、いかなるユーザの介入なしにもセンサメータ１０により判読される。校正コード化ラベル７０は、所定の位置に装備された複数の接触部７２を介して読み取られる。図４にもまた示されるように、接触部７２の選ばれたものは、内部リングまたはパス７４に結合し、別の接触部７２は外部リングまたはパス７６に結合し、そして別の接触部７２は結合しない。
【００１８】
デジタルとアナログ配列の両方の多くは、図４や図７の校正コード化ラベル７０、図１１の校正コード化ラベル１７０、および図１２の校正コード化ラベル１７０Ａを画定するために使用されうる。校正コード化ラベル７０、１７０および１７０Ａは、導電性インクを基体上にスクリーン印刷することにより構築される。これは分離した基体でもよく、図４および図７に示したように外部センサパッケージ表面５０であってもよい。分離した基体は、センサパッケージ５０上に接着剤（ホットメルト、紫外線硬化または速硬性接着剤）を用いて付着されうる。校正コード化ラベル７０、１７０および１７０Ａを画定する導電性インクは、好ましくは、カーボン、銀またはカーボン／銀配合インクである。基体５０は、紙、ポリマー充填紙またはポリマー基体であり、好ましくは熱安定化ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリカーボネートである。デジタル校正コード化は、特定のセンサロットに関して、プリントを介しての直接コード化でもレーザ（例えば、ＣＯ2 またはＮｄ：ＹＡＧレーザ）によるトレースカッティングにより画定してもよい。図１０、図１１、図１２および図１３に関して示されているアナログシステムが使用されうる。これは、選択的に予め規定された位置に配されている抵抗器（例えば、ライン１５２により示されており、図１１に示されたような選択された接触部Ｏ、Ｉ、Ｊに結合する）を測定することに基づく。アナログラベル１７０または１７０Ａにおいて、ライン１５２における抵抗器、またはＲ１およびＲ２は、好ましくは標準のスクリーン印刷技術によりラベルに適用される厚フィルムタイプのものである。
【００１９】
図４および図７に示すような、校正コード化ラベル７０の別の態様は、矢印で表示された８０により示される、一個以上の接触しない接触部７２を置換する指示態様である。指示矢印８０は、有利には、センサメータ１０のユーザに表示される、残りのセンサカウント数を維持するために使用される。例えば、センサ３２のパッケージが装置１０から取り除かれ、その後どのような理由であれ再びインストールされるような場合に、残りの正確なセンサカウント数が可能となるように、指示矢印８０はセンサパッケージ５０の開始またはホーム位置を画定する。センサパッケージ５０が挿入される際にセンサメータ１０に自動校正ラベル７０上の矢印８０が予め決められた装置位置に並ぶように、センサパッケージ５０が、残りのセンサカウントを維持するために配置される。センサ３２が有効になるまで、ユーザはセンサパッケージ５０を前進させる（必要ならば繰り返し）。この時点で、センサカウンタは、適切な残りの試験数を反映する。
【００２０】
図７は、校正コード化ラベル７０に関する例示的なトレースパターンを示している。図７に示すように、自動校正ラベル７０は、３セットの接触結合部、すなわち第一の接触部７２（論理１を示す、外側リングまたはパス７６に結合したＴＯ、Ａ、ＤおよびＥ）、第二の接触部７２（論理０を示す、内側リングまたはパス７４に結合したＴＩ、Ｂ、Ｃ、Ｆ）および第三のゼロ接触部またはホーム位置または同期を示す非接触部を有する。内環７４および外環７６は完全なリングまたは円である必要はないと理解すべきである。ラベル接触部７２並びに内環７４および外環７６を形成するトレースは、導電性材料からなる。接触部７２の位置はセンサメータ１０中で自動校正ピン５４（図３参照）と並んでおり、電気的接触をしている。校正コード化ラベル７０はセンサパッケージ５０が回転するので複数の回転位置（例えば十個）のいずれか一点に位置しうるが、校正コード化ラベル７０が読み取られる際にラベル接触部７２はセンサメータ１０中でピン５４と常に並んでいる。
【００２１】
接触部を同定するテキストは、現実には校正コード化ラベル７０上に現れない。矢印８０は、ユーザがラベル７０を含むパッケージ５０を装置内で位置付けるのを視覚的に助けるものである。矢印８０は導電性である必要はない。二個の同期接触部７２は現実にはラベル上に存在しないが、これはそれらが他の複数の接触部７２のいずれにも結合していないからである。ラベル７０の変形は、同期接触部７２と共に電気的な結合を含みうる。同期接触部７２の位置は、図７中の矢印８０のいずれの側でもよい。ＴＩとラベル付けした接触部（Tied Inner) は常に内環７４と結合しており、ＴＯとラベル付けした接触部(Tied Outer)は常に外環７６と結合している。Ａ〜Ｆとラベル付けした接触部は、プログラムされていないラベルにおいては両リングに結合している。ラベル７０中へ校正コードをプログラムするために、内環７４または外環７６から接触部を分離するようにプリント化導電性ラベル材料を切除する。接触部Ａ〜Ｆの各々は、いずれかの環に結合することができ、これは２6 ＝６４の可能な組み合わせを示す。コード０（Ａ〜Ｆすべて内環に結合している）およびコード６３（Ａ〜Ｆすべて外環に結合している）は許容されず、そのために６２個のコードが校正コード化ラベル７０と共にプログラムされる。どの接触部７２が同期接触部であるか、並びにどの接触部７２が内環７４および外環７６に結合しているかを決定するために、一時に一つの接触部７２が低出力（ゼロ）に設定される。ラベル７０上の導電性トレースにより提供される電気的接続により、この「低」の接触部と同じ環７４または７６上にあるすべての接触部７２も「低」と記録される。同期接触部は環７４または７６のいずれかと結合していないので、いずれかが「低」に設定される場合にのみ「低」と記録される。このことは、各環に結合した少なくとも二つの接触部が存在する必要があることを意味するか、あるいは計測接触部が同期接触部であることを決定することは不可能であることを意味する。
【００２２】
自動校正番号を決定するための方法は、自動校正ラベル７０の四つの読み取りを用いることができる。読み取りの各々は、接触部７２の一セット、内環７４に結合したセット、外環７６に結合したセット、一つの同期接触部、または他の同期接触部に関する。四つの読み取りのみがなされた後、接触部７２が四つのセットのいずれに相当するかを決定することができる。同期接触部の位置が決定され、これが内環７４に結合したセットからの読み取りと関連して使用され、自動校正番号が決定される。内環７４に結合した接触部７２は論理０とされ、外環７４に結合した接触部７２は論理１とされる。
【００２３】
選択された予め規定した校正コード化パターンは、導電性内環７４および外環７６により相互結合している導電性パッド７２からなる。校正データは、選択的に電気的に相互結合したラベル７０上の接触部のセットを用いてコード化している。一以上のゼロ接触位置（図６Ｂ中、矢印８０での接触部ＡとＴＩの間）は両環７４および７６から離れており、回転位置インデックスとして役立つ。接触部ＴＯにより示される同期位置８０に関するいくつかの既知の位置における接触部７２のひとつは外環７６に結合しており、そのためこの接触部ＴＯへの結合はすべて論理１である。内環７４または外環７６への結合を検知するために、この環への少なくとも二つの結合が連続状態を検知するために要される。残りのパッド７２は、一方または他方の環７４および７６に結合しており、特定の結合パターンが校正コードを同定する。ラベルストックを最小にするために、連続するパンチやカットを有する単一パターンが有利には使用され、六つのパッドの各々を二つの環７４または７６のひとつから位置Ａ〜Ｆに選択的に分ける。二つのパッド７２の最小数が各環７４および７６に結合している。この配列は、インデックスまたは同期接触部７２を除いたパッド７２のすべてが価値が考慮されるべき読み取りのための二つの連続する群のひとつにおいて説明されなくてはならないので、エラーチェックを容易にする。すべての接触部が同期接触部であると思われる場合、すなわちラベル７０により提供される連続性がないためにメーターピン５４間で電気的結合がない場合、欠陥ラベル７０が検知される。
【００２４】
一つのデジタルコード化法において、０および１で示される一連の開閉回路がラベル７０上に導入される。自動校正デジタルラベル７０はレーザカットまたはプリントによりコード化され、内環７４への結合により決定される特定の校正コード番号を示す（例えば、Ａは１、Ｂは２、Ｃは４、Ｄは８、Ｅは１６、またＦは３２を示す）。図７において、接触部Ｂ、ＣおよびＦは内環７４に結合しており、校正コード番号が画定される。
【００２５】
図１７と関連して示したソフトウエアの制御下で、マイクロプロセッサ８２は、他の残りの接触部を「高」にしながら、一つの接触部７２またはビットを「低」にする。特定の作動した接触部７２に電気的に結合したすべての接触部７２は、残りの接触部が「高」に引き込まれながら、「低」に強制される。接触部７２を選択的に作動させ、また得られた入力パターンを読み取ることにより、相互結合パターンおよび関連する校正コードが決定される。別の接触部への非結合により画定されるユニークなホームまたは同期位置が、容器５０中にいくつのセンサ３２が残存するかを同定するために、また校正コード化ラベル７０の回転位置を決定するために使用されながら（これにより、ラベル接触部７２、Ａ〜Ｅ、ＴＯ〜ＴＩが同定される）、コード化開始位置および校正コードの両方へのユニークなビットパターンを有する他の配置も使用しうる。しかしながら、別の二進コード法は、ほとんど意味のない数のコードを、ラベル接触部７２と同数の校正コード数に提供する。
【００２６】
校正情報のコード化のための別の校正コード化ラベル７０Ａおよび７０Ｂを図８および図９にそれぞれ示す。７０、７０Ａおよび７０Ｂのいずれのラベルにおいても、互いに関する接触部の現実の物理的位置は、これらが既知であるか予め画定された位置である限り、ラベル７０を解読するために重要でない。
【００２７】
図８および図９を参照すると、十個のラベル接触部７２は、接触部Ａ〜接触部Ｊにより示される。図７で示されるように、ゼロまたはＳＹＮＣ、外環７６またはＯＵＴＥＲ、内環７４またはＩＮＮＥＲを含む、三つの接触結合部のセットまたは群が存在する。十個の接触部Ａ〜Ｊを有する校正コード化ラベル７０Ａに関し、一つの接触部は接触部Ａで示されたＳＹＮＣである必要があり、一つは接触部Ｂで示された外環に結合したものである必要があり、残りの八つの接触部Ｃ〜Ｊは内環７４または外環７６のいずれかに結合している。八つの接触部Ｃ〜Ｊ（コード０〜２５５）は２５６（２8 ）の可能な結合組み合わせを表し、一つの内環結合のみに関する八つの組み合わせ（コード１２７、１９１、２２３、２３９、２４７、２５１、２５３、２５４）を引き、一つの外環結合のみに関する一つの組み合わせ（コード０）を引く。校正コード化ラベル７０Ａは２４７のユニークな結合または校正番号のコードを提供する。
【００２８】
特定のラベル７０上の校正コードはまた、数種のセンサ３２間を区別するために使用されうる。センサの「Ａ」タイプが１０という校正コードを要求し、センサの「Ｂ」タイプが２０という校正コードを要求し、センサの「Ｃ」タイプが３０という校正コードを要求する場合を想定する。自動校正コードを割り当て、これによりコード１〜１０は、「Ａ」タイプの校正コード１〜１０で「Ａ」タイプのセンサを示し、ラベルコード１１〜３０は、「Ｂ」タイプの校正コード１〜２０で「Ｂ」タイプの校正コードを示し、ラベルコード３１〜６０は、「Ｃ」タイプの校正コード１〜３０で「Ｃ」タイプの校正コードを示す。このようにして、ラベルコードは、センサのタイプとそのセンサのタイプに関連した校正コードの両方を示す。
【００２９】
図９において、校正コード化ラベル７０Ｂの選択タイプ１、２、３および４は、二つの同期位置を含む。タイプ１の校正コード化ラベル７０Ｂにおいて、二つの隣接した同期位置（有利には、図４および図７に示したような矢印指標８０に相当する）が、センサメータ１０中でラベルをユーザが位置付けるのを補助するために使用される。タイプ１のラベル７０Ｂの場合、二つの隣接する同期接触部はＡとＢであり、ひとつの接触部Ｊは外環７６に結合しており、また残り七個の接触部Ｃ〜Ｉは内環７４または外環７６に結合している。七つの接触部は１２８（２7 ）の可能な結合組み合わせを表し、一つの内環結合のみに関する七つの組み合わせを引き、一つの外環結合のみに関する一つの組み合わせを引く。タイプ１の校正コード化ラベル７０Ｂは１２０のユニークな結合または校正番号のコードを提供する。
【００３０】
タイプ２、３および４の校正コード化ラベル７０Ｂにおいて、二つの同期接触部の相対的位置は、付加的情報を提供するために使用されうる。同期接触部の組み合わせである、タイプ１のＡとＢ（間隙なし）、タイプ２のＡとＣ（１スペースの間隙）、タイプ３のＡとＤ（２スペースの間隙）、タイプ４のＡとＥ（３スペースの間隙）がユニークに検知され、４タイプの校正コード化ラベル７０Ｂ（各校正コード化ラベル７０Ｂは、１２０のユニークな組み合わせをコード化している）を区別するために使用されうる。同期接触部の組み合わせである、ＡとＦ、ＡとＧ、ＡとＨ、ＡとＩ、ＡとＪは、ユニークに区別されうるものではない。４タイプ（１、２、３、４）の校正コード化ラベル７０Ｂの使用は、校正番号に関し、全部で４８０（４×１２０）の組み合わせを提供する。
【００３１】
ユニークなパターンを生み出すために使用される三つ以上の同期接触部の相対的位置を有する別の校正コード化ラベル７０が提供される。例えば、三つの同期接触部と一つの接触部が外環に結合した場合、六つの接触部が外環または内環に結合したままになる。六つの接触部は６４（２6 ）の可能な結合組み合わせを表し、一つの内環結合のみに関する七つの組み合わせを引き、一つの外環結合のみに関する一つの組み合わせを引き、５６のユニークな結合を残す。三つの同期接触部がユニークに配置されうる多くの方法がある（Ａ、ＢおよびＣ；Ａ、ＢおよびＤ；Ａ、ＢおよびＥ；Ａ、ＢおよびＦ；Ａ、ＢおよびＧ；Ａ、ＢおよびＨ；Ａ、ＢおよびＩ；Ａ、ＣおよびＥ；Ａ、ＣおよびＦ等）。二つの同期接触部を有するので、同期接触部のこれらの組み合わせは、ラベルの様々なタイプを示すことができる（例えば、センサメータ１０により実施されるべきマルチタイプの分析の一つを同定するために）。
【００３２】
好ましい校正コード化ラベル配列は、図７に示したように二つの環またはパス７４および７６を有し、接触部は一つの環（例えば、二進コード法に関して論理０に割り当てられた環７４または論理１に割り当てられた別の環７６）に結合する。別の設計変更においては、論理２（第三コード化）、論理３（第四コード化）等のように割り当てられたこれら導電体への結合をもって、ラベルに付加的な導電体を持たせることが可能である。これは、付与数のラベル接触部７２に関して、より多くのユニークな組み合わせを許容する。
【００３３】
参照番号１５０により全体が指定されるアナログシステムを、図１０に示す。アナログシステム１５０は、ラベル１７０（または、図１２のラベル１７０Ａ）上に装備された抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）の抵抗値を測定することに基づく。抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）の抵抗値は、校正コード化ラベル値を提供する。アナログの抵抗値を校正値と関係づけることは可能であるが、好ましい配列は特定値の抵抗器１５２をプリントすることである。例えば、五つの校正コードを区別するために、五つの相違する抵抗値（例えば、１０００Ω、２０００Ω、３０００Ω、４０００Ω、５０００Ω）をラベル１７０または１７０Ａ上にスクリーン印刷する。抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）の抵抗値は選択され、これにより、プロセッサ８２により測定された抵抗値は、たとえ印刷変動による変動やラベル１７０または１７０Ａが自動校正ピン５４により接触する場所における接触変動があったとしても、互いに容易に区別される。
【００３４】
図１０において、ＶＲＥＦは既知の参照電圧であり、抵抗器１５４のＲＲＥＦは既知の参照抵抗である。ＡＤコンバータ（ＡＤＣ）１５６は、ＶＭＥＡＳとラベル化した入力部に存在するアナログ電圧を、ＩＡとラベル化した出力部においてデジタル値（これがプロセッサ８２により読み取られる）に変換する。ドライバ１５８（ＤＡ）は、ＯＡとラベル化した信号ラインを介してプロセッサ８２により制御されるアナログスイッチである。ドライバ１５８は、Ｐチャネル電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）１６０を制御し、ドライバ１５８がオフであるときは回路１５０中の抵抗器１５４のＲＲＥＦをそのままにし、ドライバ１５８がオンであるときには抵抗器１５４のＲＲＥＦを短絡させる。
【００３５】
抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）の値は、以下のようにして決定されうる。ドライバ１５８ＤＡがオフの場合、抵抗器１５４ＲＲＥＦは回路内にあり、抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）と抵抗器１５４ＲＲＥＦは電圧割算器として機能する。その後、電圧ＶＭＥＡＳが測定されＶＯＦＦとして定義される。ドライバ１５８ＤＡがオンの場合、ＲＲＥＦが短絡するために抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）は電圧割算器として機能する。その後、電圧ＶＭＥＡＳが再び測定されここではＶＯＮとして定義される。
【００３６】
適用しうる式は、次のとおりである：
【００３７】
【数１】
0004036935.tif 000002
【００３８】
ＶＲＥＦおよびＲＲＥＦは既知の値であり、ＶＯＦＦおよびＶＯＮは測定値である。式３において、Ｒ２、ＶＲＥＦおよびＶＯＮに関する値は、Ｒ１を計算するために代入される。この時点で、Ｒ１およびＲ２は既知であるため、校正値が決定されうる。
【００３９】
多くの校正コードを区別するため、一つを超える抵抗器が使用されうる。ｍ個の抵抗器を有するラベル７０（各抵抗器はｎ個のうちの何れの値であってもよい）に関し、校正コードの数はｍn である。
【００４０】
例えば、二つの抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）（ここで、各抵抗器１５０は、五つの別個の抵抗値のひとつを有していてもよい）をプリントすることは、２５個（すなわち、５×５、または５2 ）の校正コードが区別されることを許容する。これは、１２５個（すなわち、５×５×５、または５3 ）の校正コードを提供しうる三つの抵抗器１５２等に拡張することもできる。
【００４１】
図１１を参照すると、アナログの二つの抵抗器ラベル１７０が示されている。内部抵抗１５２（Ｒ２）および外部抵抗１５２（Ｒ１）は、十回繰り返してもよく（センサパッケージ５０の各回転位置に関して一回）、図１０に示されるように三つの自動校正ピン５４のみが要される。自動校正ピン５４は線上に配置される。ひとつのピン５４（ＰＡ）はすべての内部抵抗１５２（Ｒ２）の共通の接合部（Ｉ）において接触パッドと接触する。別のピン５４（ＰＢ）は内部抵抗器（Ｒ２）および外部抵抗器１５２（Ｒ１）の接合部（Ｊ）と接触する。第三のピン５４（ＰＣ）は、外部抵抗器１５２（Ｒ１）の別の端部（Ｏ）と接触する。
【００４２】
図１１のラベル１７０の変更は、連続的な導電性環を自動校正ピン５４と接触させながら、一つの内部抵抗１５２（Ｒ２）および一つの外部抵抗１５２（Ｒ１）のみを有していてもよい。ひとつの環（図示せず）は、抵抗器１５２（Ｒ１およびＲ２）の接合部（Ｊ）の直径になる。別の環（図示せず）は、抵抗器１５２（Ｒ１）の別の端部の直径に配置される。導電性環は低抵抗材料からなる。メータ自動校正ピン５４は、中心の接触部（Ｉ）と二つの環と接触する（ラベル１７０のように）。
【００４３】
二つの抵抗器ラベル１７０Ａの別の形態が、図１２に示される。三つの自動校正ピン５４は線状に配置される。ひとつのピン５４（ＰＢ）は、十個の抵抗器１５２すべての接合部１７６と接触する。別のピン（ＰＡ）は、抵抗器Ｒ１の端部１７４に結合する。第三のピン（ＰＣ）は、抵抗器Ｒ２の端部１７４に結合する。抵抗Ｒ１に関する一連の抵抗値（例えば、ｎ１値）がＲ２に関する一連の抵抗値（例えば、ｎ２値）とは異なる場合、ｎ１×ｎ２の異なる校正コードが区別されうる。
【００４４】
図１２の形態のラベル１７０Ａに関し、二つの抵抗器１５２の値がｎ個の抵抗値群から選択される場合、ラベルが回転するためにいくつかの組み合わせは区別されえない（例えば、Ｒ１が１０００ΩでＲ２が２０００Ωの組み合わせは、Ｒ１が２０００ΩでＲ２が１０００Ωの組み合わせと区別されえない）。各抵抗器がｎ値のひとつであってもよい、図１１の形態の二つの抵抗器の相違する組み合わせ数は、式
【００４５】
【数２】
0004036935.tif 000003
【００４６】
により与えられる。
【００４７】
図１３を参照すると、測定されうる以外の、相違する抵抗値の数と別個の校正コードの数を表に示す。
【００４８】
図１４を参照すると、マイクロプロセッサ８２により実施される連続工程が、センサメータ１０のハードウエアおよびソフトウエアを初期化しながら、ブロック８００で始まる。ライン２８ＡにおけるＯＮ入力（図５）が決定ブロック８０２で示されるように同定される。マイクロプロセッサ８２は、ブロック８０４で示されるようにデイロールオーバー（day rollover）処理する。ＯＮ入力がブロック８０２で同定された場合、Ａ（４４）およびＢ（４２）ボタンの両方が押されたことをチェックする工程が、決定ブロック８０６で示されるように提供される。Ａ（４４）およびＢ（４２）ボタンの両方が押された場合、製造モードがブロック８１０で示されるように処理される。あるいは、システムチェックがブロック８１２で示されるように行われる。その後、Ｂ（４２）が押されたことをチェックする工程が、決定ブロック８１４で示されるように提供される。Ｂ（４２）が押されている場合、その後顧客サービスモードがブロック８１６で示されるように処理される。あるいは、モードスイッチが決定ブロック８１８で示されるようにチェックされる。試験選択がブロック８１８で同定された場合、その後テストモードがブロック８２０で示されるように処理される。形態選択がブロック８１８で同定された場合、その後形態モードがブロック８２２で示されるように処理される。マイクロプロセッサ８２は、ブロック８２３で示されるようにセンサ作動停止処理をし、ブロック８２４で示されるように電源オフする。
【００４９】
図１５を参照すると、マイクロプロセッサ８２により実施されるシステムチェックのための連続工程は、ブロック９００で示されるように開スイッチ状態をチェックする工程から始まる。マイクロプロセッサ８２はブロック９０２で示されるようにメモリ５４の完全性をチェックする。本発明に従い、マイクロプロセッサ８２は、ブロック９０４で示されるように校正コード化ラベル７０をチェックする。校正コード化ラベル７０を読み取って解読するために実施される例示的工程を図１０に更に示す。マイクロプロセッサ８２は、ブロック９０６で示されるように、バッテリ交換ビット（changed bit)をチェックし、低または使用不可(dead)バッテリを同定する。マイクロプロセッサ８２は、ブロック９１０で示されるように１秒、１／４秒および押キー中断が可能である。
【００５０】
図１６を参照すると、テストモードのためにマイクロプロセッサ８２により実施される連続工程は、ブロック１０００で示されるように適用される血液試料を待つ工程から始まる。ユーザが血液試料をセンサ３２に適用する場合（ブロック１０００で同定される）、その後マイクロプロセッサ８２はブロック１００２で示されるように３０秒のカウントダウンを開始する。ブロック１００４で示されるように、図９中のブロック９０４で読み取られた校正コード値を用いて、グルコース値がマイクロプロセッサ８２により計算される。ブロック１００８で示されるように、ユーザによる視認のためにグルコース値が表示される。マイクロプロセッサ８２は、ブロック１０１０で示されるように作動停止処理をする。
【００５１】
図１７は、マイクロプロセッサ８２により実施される校正コード化ラベル７０を解読するための連続工程を示す。連続操作は、ブロック１１００で示されるように、マイクロプロセッサ８２が最下位のビット（ＬＳＢ）を「低」にまた残りのビットを「高」に設定し、読み取りを行う工程から始まる。ブロック１１０２で示されるように、マイクロプロセッサ８２は、第一の読み取りから、最下位のビットに結合していないラベル７０中の第一のビットの位置を決定し、このビットを「低」にまた残りのビットを「高」に設定し、第二の読み取りがなされる。第二の読み取りの前に「低」に設定されたこのビットは、第一のまたは最下位のビット（ａ１）である。ブロック１１０４で示されるように、マイクロプロセッサ８２は、前記群のいずれにも結合していない第一のビット（両読み取りにおいて最下位のビット（ａ１）である）を決定し、このビットを「低」にまた残りのビットを「高」に設定し、第三の読み取りを行う。ブロック１１０６で示されるように、マイクロプロセッサ８２は、前記群のいずれにも結合していなかった第一のビット（前三回の読み取りにおいて最下位のビット（ａ１）である）を決定し、このビットを「低」にまた残りのビットを「高」に設定し、第四の読み取りを行う。マイクロプロセッサ８２は、ブロック１１０８で示されるように、四回の読み取りのいずれが同期接触部（これらの読み取りが０・１ビットのみを有する）を区別するかを決定する。マイクロプロセッサ８２は、ブロック１１１０で示されるように、残りの２回の読み取りのいずれが外環７６からのものでまた内環７４からのものであるかを決定する。内環７４および外環７６を同定する工程は、ブロック１１０８で示される同期ビットの位置と、ＴＩおよびＴＯ接触部の既知の固定パターンとを使用してなされる。マイクロプロセッサ８２は、同期ビットの位置と内環の読み取りとを使用して、ブロック８１２で示されるように自動校正コード化ラベル番号を決定する。例えば、自動校正番号を同定するビットはＦＥＤＣＢＡを含んでいてもよい。
【００５２】
四つの読み取りにおいて、ビットが存在していなくてもよく、または結合していなくてもよい（一つを超える読み取りに関して）。換言すれば、四つの群中のわずか一つにおいて、ビットがゼロであってもよい。四つの群すべてにおけるゼロは、相互に排他的である。四つの読み取りの二つは同期位置に関するものである必要がある。すなわち、読み取りの二つは１・０のみを有し、またこれらは近接している必要がある。ＴＯおよびＴＩビットのパターンは正確に存在する必要がある。すなわち、接触部ＴＯに対するすべての結合は論理１に割り振られ、接触部ＴＩへの結合は論理０に割り振られ、また接触部ＴＯおよびＴＩは一緒に結合しえない。マイクロプロセッサ８２は、同期接触部の位置に基づきこの正確な環境を探す。ブロック８１２で同定された自動校正コード化ラベル番号は１と６２の間で排他的である必要がある。
【００５３】
デジタル的にインプレメントした校正コード化ラベル７０、７０Ａまたは７０Ｂはいくつかの利点を有する。第一に、デジタル的にコード化した校正コード化ラベル７０、７０Ａまたは７０Ｂを少なくともホーム（すなわち、環７４または環７６のいずれの結合もなしの接触パッド位置）を画定する一つの割り当てられた位置を含む、校正コード化ラベル７０、７０Ａまたは７０Ｂをデジタル的にコード化したセンサパッケージ５０をセンサメータ１０内で任意のまたは複数の回転位置に回転する場合、校正コードを解読するためのソフトウエアが簡素化される。第二に、接続しているトレースを有する内環７４および外環７６は、装置が適切に校正コード化ラベルに接触したか否かを決定する手段を提供する。デジタル的にコード化した自動校正ラベル７０、７０Ａまたは７０Ｂは、両方のトレースを有するこれらの位置で、いずれかのトレースをカットすることによりコード化されうる。内環７４に沿って結合したこれらの位置の関知が校正情報を提供する一方、残りの位置の関知は、接触ピンが適切にこれらの位置に接触したことを示す。たいていの失敗モードはラベルや開回路に不適切に接触することであると考えられている。いずれかのトレースがカットされていない場合、エラーはまた検出されうる。第三に、デジタルシステムは、信号検知に関してより強靭である。アナログまたは抵抗バージョンにおいて、プリント厚、インクおよび接触抵抗の慎重な制御は、さまざまな校正レベルを区別するために必要である。これらのパラメータはまだデジタルシステムにとって重要であるが、これらの要求はラベル中に含まれる情報を妥協することなしに軽減されうる。第四に、デジタル校正コード化ラベル７０を製造する方法は、単一のプリント工程と引きつづいてのマーキング工程に簡素化される。校正コード化ラベル７０のアナログバージョンは、完全なラベルを製造するために、様々なインクを用いる複数のプリント工程を要する。第五に、可能な校正ライン数は２５６（すなわち、２8 ）に近づく。この校正ラインの数は、アナログシステムでは簡単には得られない、過度のキャパシティーや柔軟性を提供する。また、図６のＴ１やＴ２のような特別の位置は、６４を超えて校正ライン数を増加させるために使用されうる。あるいは、様々な生産物を指定するために使用されうる（例えば、グルコース以外の特定のパラメータを試験するための試験センサ３２）。最後に、情報をコード化するためにマーキングされた単一のラベルの使用は、製造コストと在庫品の要求を引き下げる。単一のインクがラベルプリントに要されるので、製造コストは引き下げられる。各々が異なった抵抗を有するいくつかの導電性インクが、アナログ法では要求される。在庫品コストは、同じラベルが同時に製造されるので最小化される。校正レベルが決定されたとき、デジタル校正コード化ラベル７０が適当なトレースをカットすることによりマーキングされる。これは、デジタル校正コード化ラベル７０が、適当なトレースなしに内環７４または外環７６へプリントすることによりコード化されうると理解すべきである。
【００５４】
図面に示した発明の実施態様の詳細を参照しながら本発明を記載したが、この詳細は特許請求の範囲に記載された発明の範囲を限定するものではない。
【図面の簡単な説明】
【図１】スライドが開いた位置である、本発明に従うセンサメータの拡大斜視図である。
【図２】スライドが閉じた位置である、図１のセンサメータの拡大斜視図である。
【図３】図１のセンサメータの内部を示す、センサメータの拡大斜視図である。
【図４】本発明に係る図１のセンサメータのセンサディスクに付着する、自動校正コード化ラベルの好ましい配置を示す例示的なセンサパッケージの拡大斜視図である。
【図５】本発明に係る図１のセンサのセンサメータ回路のブロックダイアグラムである。
【図６】本発明のデジタル自動校正コード化ラベルを使用する場合の、例示的な回路のダイアグラムである。
【図７】本発明において有効であるデジタル自動校正コード化ラベルの拡大図である。
【図８】本発明に係る図１のセンサメータの別のデジタル自動校正コード化ラベルを示すチャートである。
【図９】本発明に係る図１のセンサメータの更に別のデジタル自動校正コード化ラベルを示すチャートである。
【図１０】本発明のアナログ自動校正コード化ラベルを使用する場合の、例示的な回路のダイアグラムである。
【図１１】本発明において有効であるアナログ自動校正コード化ラベルの拡大図である。
【図１２】本発明において有効であるアナログ自動校正コード化ラベルの拡大図である。
【図１３】本発明に係る図１のセンサメータの更に別のアナログ自動校正コード化ラベルを示すチャートである。
【図１４】本発明に係る図１のセンサメータによる自動校正コード化法を実施した論理ステップを示すフローチャートである。
【図１５】本発明に係る図１のセンサメータによる自動校正コード化法を実施した論理ステップを示すフローチャートである。
【図１６】本発明に係る図１のセンサメータによる自動校正コード化法を実施した論理ステップを示すフローチャートである。
【図１７】本発明に係る図１のセンサメータによる自動校正コード化法を実施した論理ステップを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０  センサメータ
３２  センサ
５０  センサパッケージ
５２  自動校正プレート
５４  自動校正ピン
７０  校正コード化ラベル
７２  接触部（導電性パッド）
７４  内部導電性トレース（パス）
７６  外部部導電性トレース（パス）
【図１】
0004036935.tif 000004
【図２】
0004036935.tif 000005
【図３】
0004036935.tif 000006
【図４】
0004036935.tif 000007
【図５】
0004036935.tif 000008
【図６】
0004036935.tif 000009
【図７】
0004036935.tif 000010
【図８】
0004036935.tif 000011
【図９】
0004036935.tif 000012
【図１０】
0004036935.tif 000013
【図１１】
0004036935.tif 000014
【図１２】
0004036935.tif 000015
【図１３】
0004036935.tif 000016
【図１４】
0004036935.tif 000017
【図１５】
0004036935.tif 000018
【図１６】
0004036935.tif 000019
【図１７】
0004036935.tif 000020