(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光電変換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ測定方法であって、
前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を読み込んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）を作成し、
それら複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線広がり関数（ＬＳＦ）を求め、
その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を作成し、
複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を表示し、
ＭＴＦの計算に使用する合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を選択し、
該選択された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を平均し、
該平均された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、
該周波数領域へ変換された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正してＭＴＦを計算する、
ことを特徴とするＭＴＦ測定方法。
【請求項２】
前記表示された複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）は、測定対象の色に応じて表示色を変化させる、
ことを特徴とする請求項１記載のＭＴＦ測定方法。
【請求項３】
光電変換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ測定装置であって、
複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を表示する表示手段と、
ＭＴＦの計算に使用する合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の選択を受け付ける入力手段と、
前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を読み込んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線広がり関数（ＬＳＦ）を求め、その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を作成し、前記表示手段に複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）が表示された中で、前記入力手段において選択された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を平均し、該平均された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、該周波数領域へ変換された合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正してＭＴＦを計算するＭＴＦ測定手段を備えた、
ことを特徴とするＭＴＦ測定装置。
【請求項４】
前記表示手段で表示された複数の合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）は、測定対象の色に応じて表示色を変化させる、
ことを特徴とする請求項３記載のＭＴＦ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スキャナやディジタルカメラ等のディジタル撮像系のＭＴＦ測定方法およびＭＴＦ測定装置に関し、特に、入力画像に重畳したノイズによるＭＴＦ測定誤差を軽減する技術と、ＭＴＦ測定チャート撮影時の階調特性をＭＴＦ測定に反映させる技術とに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光電変換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ（Modulation Transfer Function）測定法としては、サインチャートの振幅から求める方法や、ナイフエッジチャートから線広がり関数（Line Spread Function：ＬＳＦ）を求めた後、フーリエ変換により計算する方法が知られている。
【０００３】
また、電子スチルカメラのＭＴＦ測定法として、ＩＳＯ／ＦＤＩＳ  １２２３３  “Photography - Electronics still picture cameras - Resolution measurements”において、ナイフエッジチャートを用いた方法が記載されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
以上のナイフエッジチャートを用いた方法は、上記文献のDraftの本文とAnnex Aで２つのアルゴリズムが記載されている。この場合、以下に列挙するようないくつかの問題が存在している。
【０００５】
▲１▼本文に記載されているＳＦＲアルゴリズムでは、合成するライン数を固定しているため、ナイフエッジの角度を正碓に合わせないと、実際のＭＴＦと一致しないという問題が存在している。
【０００６】
▲２▼また、Annex Aに記載されたＳＦＲアルゴリズムでは、複数ラインのエッジ広がり関数（ＥＳＦ）を合成したあとに、複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分により、線広がり関数（ＬＳＦ）を求めるようにしていた。これにより、図１６に示すように、ＬＳＦ（図１６のａ）の振幅と、ノイズ成分（図１６のａ以外の部分）の振幅とのレベル差が小さくなり、ＭＴＦの測定誤差が大きくなる欠点があった。
【０００７】
▲３▼ＭＴＦ計算の際に、合成ＬＳＦの全データサンプルを使っているため、実際のＭＴＦには影響しないＬＳＦ両端のデータにノイズが重畳していると、測定誤差が大きくなる欠点があった。
【０００８】
▲４▼電子スチルカメラでは、被写体ごとに画像処理によって自動的に階調カーブを変えることがあるため、階調特性測定チャート撮影時と、ＭＴＦ測定チャート撮影時との階調特性が異なっている場合がある。そのため、予め測定した階調特性データからカメラの階調特性を線形化しても、精度の高い変換ができなかった。
【０００９】
以上の▲１▼〜▲４▼のような不具合に対し、従来技術においては何の対処もなされていないのが実情であった。
本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたものであって、ＭＴＦ測定に際し、ノイズによる測定誤差を軽減できるＭＴＦ測定方法及び、スリットの光学像によるＭＴＦの劣化を補正できるＭＴＦ測定方法を有したＭＴＦ測定装置を提供することを目的とする。
【００１０】
本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたものであって、ノイズによる測定誤差を軽減できるＭＴＦ測定を実現することを目的とする。
また、本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたものであって、ＭＴＦ測定チャート撮影時の階調特性をＭＴＦ測定に反映させることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明のＭＴＦ測定方法は、光電変換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ測定方法であって、前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を読み込んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線広がり関数（ＬＳＦ）を求め、その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正してＭＴＦを計算する、ことを特徴とする。
【００１２】
また、本発明のＭＴＦ測定装置は、光電変換素子を用いたディジタル撮像系のＭＴＦ測定装置であって、前記ディジタル撮像系でナイフエッジチャー卜を読み込んだディジタル画像から、複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）を作成し、それら複数のエッジ広がり関数（ＥＳＦ）の差分から線広がり関数（ＬＳＦ）を求め、その線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を周波数領域へ変換し、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の周波数特性を補正してＭＴＦを計算するＭＴＦ測定手段を備えた、ことを特徴とする。
【００１３】
すなわち、本発明のＭＴＦ測定は、測定する方向に対して直交する軸からエッジを傾けたナイフエッジの画像を読み込み、その画像からエッジの傾きを求め、合成するライン数を決定する。そして、各ラインの線広がり関数（ＬＳＦ）のピークから合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の中心位置を検出し、その前後の線広がり関数（ＬＳＦ）を合成して合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を作り、周波数領域へ変換する。その周波数データを、１画素幅のｓｉｎｃ関数で除算してＭＴＦを求める。
【００１４】
このようなＭＴＦ測定によれば、線広がり関数（ＬＳＦ）を合成することによってＳＮ比が高くなり、測定誤差を小さくすることができる。また、ｓｉｎｃ関数で除算することで、正確にＭＴＦを測定できるようになる。
【００１５】
また、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）を選択するようにしたことで、ノイズによる測定誤差を小さくすることができる。
また、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の表示色を測定対象色に応じて変えるようにすることで、測定対象色を容易に判別できる。
【００１６】
また、合成線広がり関数（合成ＬＳＦ）の両端のノイズを含んだデータを削除することで、ノイズによる測定誤差を小さくすることができる。
また、ＭＴＦと階調特性を同時に測定することで、階調の線形化を正確に行うことができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態例のＭＴＦ測定装置について図面を参照しつつ説明する。
【００１８】
図１は、ＭＴＦ測定を行う画像システムの概略ブロック図を示したものである。Ｘ線写真等をスキャナ等の画像入力部１０で読み取るような医用画像の分野では、入力のＸ線写真と出力のハードコピーの鮮鋭性が一致していなければならず、正確な周波数再現が求められるため、精度の高いＭＴＦ補正を行なうことは非常に重要である。このため、画像入力部１０から入力されたテストチャートの画像を画像記憶部１１で一旦記憶しておいて、ＭＴＦ測定部２０でＭＴＦ測定を行い、そのＭＴＦ測定値によって画像処理部３０の画像処理におけるＭＴＦ補正を行い、画像出力部１２から出力を行うようにしている。
【００１９】
図３はＭＴＦ測定装置の画像入力部１０である透過型フラットベットスキャナの概略構成を示す構成図である。ステージ１上に載置された写真フィルム等の透過原稿を上部から照明２で露光し、透過した光を下部に設けられたＣＣＤラインセンサ３で走査しながら受光した後、光電変換して画像データを生成する。なお、ＣＣＤラインセンサ３の長手方向（図３の紙面と垂直な方向）で主走査し、図示しない駆動系によってＣＣＤラインセンサ３を主走査とは直角方向（矢線で示す）に副走査することで二次元の画像データを得ている。なお、ここでは、フラットベッドスキャナを一例として示したが、２次元の撮像素子を備えた画像入力部１０を用いることも可能である。
【００２０】
そして、光電変換された画像データの電気信号は図示しないＡ／Ｄ変換回路によってディジタル化され、後述するＭＴＦ測定装置へ出力される。まず、上記透過原稿の読み取りに先立って画像入力部１０のＭＴＦ測定が行なわれる。
【００２１】
図１は、画像システム装置の概略構成を示すブロック図であり、図２は本実施の形態例の動作状態を示すフローチャートである。これらの図を用いてＭＴＦ測定装置の説明を行なう。
【００２２】
〈第１の実施の形態例〉
以上のフラットベッドスキャナにおいて、図４に示すようにエッジを境にして濃度が異なるナイフエッジチャートを使い、主走査方向のＭＴＦを測定する例を示す。
【００２３】
ナイフチャートを図３のステージ１に置き、図５のように副走査方向に対してスリットを所定角度（たとえば、１°〜４°）傾ける。ここで、Ｘは副走査方向、Ｙは主走査方向を表す。この所定の角度θは、小さ過ぎると後述する合成線広がり関数（以下、合成ＬＳＦ）の数が減ってしまい平均回数が少なくなるし、また、逆に角度θが大き過ぎると線広がり関数（以下、ＬＳＦ）の位相ずれによってＭＴＦ測定値が不均一になってしまうので、１°〜４°の間で設定されることが望ましい。
【００２４】
このナイフエッジチャートを読み込んで、１６４×７５４画素程度のＲＧＢ画像データを得る（図２Ｓ１）。
次に、ＭＴＦ測定部２０内のＣＰＵでＭＴＦ測定プログラムを動作させ、該ＭＴＦ測定プログラムにてナイフエッジチャートのディジタル画像を開く。そして、画面上に表示されたナイフエッジ画像から測定範囲を選択する。
【００２５】
表示画面上に測定範囲を選択した例を図６として示す。ここで、主走査方向のＭＴＦを測定する際は、Ｙ方向よりもＸ方向が長くなるように範囲選択を行う。また、副走査方向の測定では、この逆になるようにする。４５度、１３５度方向のＭＴＦ測定に対しては、Ｘ方向、Ｙ方向をほほ同じ長さにする。このようにすることで、ＭＴＦ測定プログラムが測定する方向を自動的に判別することができるようになる。また、Ｘ方向・Ｙ方向の測定の際は、長辺を短辺の２倍以上にするとよい。これで４５度、１３５度方向との判別が容易になる。
【００２６】
図６の測定範囲の選択画面でＯＫボタンを押すと、ＭＴＦ測定プログラムによって、ダイアログボックスが閉じて別のダイアログボックスが表示される。この新たなダイアログボックスには、以下の手順で計算した合成ＬＳＦが表示される。
【００２７】
（１）ライン数決定：
ディジタル画像から合成ＬＳＦを作るためのライン数を決定する。合成するライン数ｎは、エッジの角度θから決定する。これは、以下の式▲１▼で表される。ｎが整数にならない場合は四捨五入などにより整数にする。
ｎ≒1／ｔａｎθ  …▲１▼
（２）平均値計算：
Ｘ方向の真中の１ラインについて、両端の数画素で平均値を計算する。
【００２８】
（３）ＬＳＦ作成：
Ｙ方向の全ラインのＬＳＦを作成する。上記（２）で計算した左端の平均値が右側の平均値より大きい場合は、式▲２▼によりＬＳＦを求める。ただし、Ｆ［］は、階調特性を線形化するためのルックアップテーブル（ＬＵＴ）を表す。また、Δｘは１画素の幅を表す。
ｇ（ｉΔｘ）＝Ｆ［ｅ（ｉΔｘ）］−Ｆ［ｅ（（ｉ＋１）Δｘ）］  …▲２▼
ここでｉ＝０，１，２，…，１６２
なお、左端の平均値が右側の平均値より小さい場合には、式▲３▼によりＬＳＦを計算する。
ｇ（ｉΔｘ）＝Ｆ［ｅ（（ｉ＋１）Δｘ）］−Ｆ［ｅ（ｉΔｘ）］  …▲３▼
ここでｉ＝０，１，２，…，１６２
なお、ここでは、ｅ（ｉΔｘ）とｅ（（ｉ＋１）Δｘ）がＥＳＦを表しており、ｇ（ｉΔｘ）がＬＳＦを表している。すなわち、この▲２▼式と▲３▼式がＥＳＦの差分からＬＳＦを求めることを示している。
【００２９】
（４）合成ライン数決定：
Ｘ方向に対するエッジの角度θを求め（図２Ｓ２）、合成するライン数を決定する（図２Ｓ３）。Ｙ方向の各ラインのＬＳＦの最大値を検出し、ＸＹ座標上にプロットする。そして、このデータに対して回帰直線を求め、その傾きからスリット角度θを求める。これは図７のようになる。図７中の式は図示されている回帰直線を表しており、傾きの絶対値がｔａｎθになる。すなわちｔａｎθ＝０．０３５となり、式▲１▼にあてはめて四捨五入するとライン数ｎについて、ｎ＝２８となる。
【００３０】
（５）合成ＬＳＦの中心位置検出：
ここでは、合成ＬＳＦの中心位置を検出する（図２Ｓ４）。これは、Ｙ方向の各ラインのＬＳＦの最大値をプロットした図８から求める。図８より、波形がピークとなる位置を検出し、ピークのラインを中心とした前後のラインから合計２８ラインのＬＳＦを合成する。ここで、ＬＳＦ合成の方法を図９に示す。ここでは、図９（ａ）にある４ラインの合成の場合の例を、図９（ｂ）に示す。また、図８において、最初と最後のピーク位置ではライン数が足りないため、２番目から２６番目のピーク位置で合成ＬＳＦを作る。
【００３１】
（６）合成ＬＳＦの中心位置再計算：
ここで、ＭＴＦ測定プログラムによるダイアログボックスヘ表示するため、検出した合成ＬＳＦの中心位置を再計算する。図１０に示す合成ＬＳＦのピーク（振幅最大値）に対し、例えば１／２の振幅をもつ位置をピーク位置から左右に探索する。そして、その振幅を持つ２つの座標の真中を、合成ＬＳＦの中心位置として定める。
【００３２】
（７）各色で処理実行：
以上の（１）〜（６）のそれぞれの処理ををＲＧＢの３色についてそれぞれ実行する。
【００３３】
合成ＬＳＦは、ＭＴＦ測定プログラムによって、図１１のダイアログボックスに表示される。合成ＬＳＦの中心位置が軸上にくるように表示を行う。ダイアログボックスに表示された合成ＬＳＦは、ＬＳＦナンバーを選択するためのスライドバーを動かすことにより、順次表示される。ここで、ＭＴＦ計算に使用する合成ＬＳＦを選択する（図２Ｓ５）。ここでは、ノイズがなく、波形のきれいなものを選択することが望ましい。“Ｓｅｌｅｃｔ”ボタンを押すと、ＬＳＦナンバーのボックスに色が付く、図１１中ではナンバー４の合成ＬＳＦが選択されたことを示している。そして、Ｓｅｌｅｃｔｅｄ  Ｃｏｕｎｔの数が１増加する。再度“Ｓｅｌｅｃｔ”ボタンを押すと、ＬＳＦナンバーのボックスの色が消えて、Ｓｅｌｅｃｔｅｄ  Ｃｏｕｎｔの数が１減少する。Ｓｅｌｅｃｔｅｄ  Ｃｏｕｎｔに０を入力すると全ての合成ＬＳＦが選択される。
【００３４】
また、Ｃｏｕｎｔ ｏｆ  Ｓａｍｐｌｅｓを書き換えて、“Ｒｅｔｒｙ”ボタンを押すとＭＴＦ計算で使用するデータ数が変化する。図１１では、合成ＬＳＦの中心位置の前後８００個のデータサンプルから、ＭＴＦを計算する例を示している。これにあわせて表示されるデータ数も変化する。
【００３５】
Ｃｏｌｏｒのいずれか（Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）、Ｙ（輝度））にチェックを入れることで選択をかえて、“Ｒｅｔｒｙ”ボタンを押すと、測定対象の色が切り替わる。このときに、合成ＬＳＦの表示色は、選択した測定色に応じて変化することが望ましい。例えばＲが選択されたときは赤を、Ｇ，Ｂでは緑、青で表示をする。また、輝度Ｙのときはグレーで表示する。
【００３６】
最初の表示では、輝度Ｙの合成ＬＳＦが表示される。ＲＧＢ画像に対しては、以下の式▲４▼からＹを計算する。ａ0、ａ1、ａ3は、ダイアログボックスに設定されているパラメータを用いる。図１１の例では、ａ0＝０．２１２５、ａ1＝０．７１５４、ａ2＝０．０７２１となっている。この係数は書き換えが可能であるが、グレースケール画像に対しては、この数値は無視される。
Ｙ＝ａ0・Ｒ＋ａ1・Ｇ＋ａ2・Ｂ  …▲４▼
Ｔｏｎｅでは、画像の階調特性を線形化するためのデータを選択する。スキャナの階調特性がリニアのときは、“Ｌｉｎｅａｒ”を選択し、予めフォーマットが決められている階調特性測定用チャートを使用するときは“Ｔｅｓｔ  Ｃｈａｒｔ”を選択する。このとき、画像ファイルを開くためのウィンドウが表示される。階調特性が予め測定されているときは、“Ｔｅｘｔ”を選択し、テキスト形式のデータファイルを読み込む。読み込んだファイル名は、“Ｆｉｌｅ  Ｎａｍｅ”に表示される。ここで、“Ｒｅｔｒｙ”ボタンを押すと、階調特性が変換された合成ＬＳＦが表示される。最初の表示では、“Ｌｉｎｅａｒ”が設定される。
【００３７】
“ＯＫ”ボタンを押すと、選択された合成ＬＳＦ（図２Ｓ７）からＭＴＦ計算を行う。これは以下の手順となる。
（８）離散フーリエ変換：
合成ＬＳＦの中心８００個のデータを抽出し、そのデータを離散フーリエ変換する（図２Ｓ８）。
【００３８】
（９）実部・虚部の平均：
合成ＬＳＦの選択数が２以上であるときは、実数部Ｈｒ（ｆ）、虚数部Ｈｉ（ｆ）で平均をとる（図２Ｓ１０）。
【００３９】
（１０）除算：
実数部Ｈｒ（ｆ）、虚数部Ｈｉ（ｆ）を、以下の式（▲５▼のｓｉｎｃ関数で除算する（図２Ｓ１１）。これは、式▲６▼、▲７▼となる。ただし、ここでＮは偶数でサンプリング周波数に対する分割数を表す。
Ｓ（ｆ）＝ｓｉｎ（πΔｘｆ）／（πΔｘｆ）  …▲５▼
Ｈｒ’（ｆ）＝Ｈｒ（ｆ）／Ｓ（ｆ）  …▲６▼
Ｈｉ’（ｆ）＝Ｈｉ（ｆ）／Ｓ（ｆ）  …▲７▼
ここで、ｆ＝ｋ／ＮΔｘであり、ｋ＝０，１，…，Ｎ／２
（１１）ＭＴＦ計算：
以下の▲８▼式により、ＭＴＦの計算を行う（図２Ｓ１２）。
ＭＴＦ（ｆ）＝√〔（Ｈｒ’（ｆ））2＋（Ｈｉ’（ｆ））2〕…▲８▼
以上、（１）〜（１１）に示した手順によりＭＴＦ測定を行う。従来手法では図１６に示したようにＬＳＦ（図１６のａ）の振幅と、ノイズ成分（図１６のａ以外の部分）の振幅とのレベル差が小さくなりＭＴＦの測定誤差が大きくなる欠点があったが、本実施の形態例によれば図１２に示すようにＬＳＦ（図１２のａ）の振幅とノイズ成分（図１２のａ以外の部分）の振幅とのレベル差が極めて大きくなりＭＴＦの測定誤差を小さくできる。  また、ＭＴＦ測定値を比較した図１３に示すように、従来測定結果（太線）はノイズの影響などで特性が滑らかでないのに対し、本実施の形態例の測定結果（細線）では滑らかで誤差の小さい測定結果が得られる。
【００４０】
〈第２の実施の形態例〉
以上の第１の実施の形態例に加え、階調特性とＭＴＦを同時に測定することにより、撮影時の階調特性を正確に線形化することができる。
【００４１】
図１４に示すＭＴＦ測定に使用するナイフエッジチャートは、濃度の異なる複数のグレーパッチが垂直方向または水平方向に対し所定の角度だけ傾けられた状態で、全体として円環形に配置されたテストチャートである。なお、図１４では各グレーパッチの濃度をハッチングによって模式的に示している。
【００４２】
このテストチャートをスキャナで読み込んで得た画像データをＭＴＦ測定プログラムで読み込み、ＭＴＦ測定範囲として全画面を選択する。選択範囲に対し、グレーパッチの位置を自動検出し、各パッチの画像データの平均値を求める。この平均値と予め測定されている反射率のデータより、図１５のような階調補正カーブが求まる。Ｒ，Ｇ，Ｂの補正カーブは以下の式(a),(b),(c)で表される。この式より式▲２▼、▲３▼のＬＵＴを作成する。なお、このテストチャートを読み込んだ際は、ダイアログボックスのＴｏｎｅが“Ｔｅｓｔ  Ｃｈａｒｔ”に設定される。
ｙ＝１．４１９ｅ−５ｘ2−４．５０６ｅ−４ｘ＋４．６８３ｅ−２  …(a)
ｙ＝１．３５９ｅ−５ｘ2−１．４６９ｅ−４ｘ＋４．０４８ｅ−２  …(b)
ｙ＝１．３７０ｅ−５ｘ2−３．６８４ｅ−４ｘ＋４．１５５ｅ−２  …(c)
ＭＴＦ測定は傾いたグレーパッチのエッジ部分を用いて行う。エッジ部が自動的に抽出され、合成ＬＳＦが作られる。これを、全てのパッチの縦横方向について行う。このように濃度の異なるグレーバッチからＭＴＦを測定することで、複数の各コントラストにおけるＭＴＦが測定できる。
【００４３】
この結果、電子スチルカメラ等で、被写体ごとに画像処理によって自動的に階調カーブを変えるような場合でも、階調特性とＭＴＦを同時に測定することにより、撮影時の階調特性を正確に線形化することができる。
【００４４】
また、グレーパッチの画像データの標準偏差を計算し、ＲＭＳノイズも同時に測定可能である。これにより、ＭＴＦとＳＮ比との関係を調べることが可能になる。
【００４５】
〈その他の実施の形態例〉
以上の各実施の形態例の説明において使用した具体的数値や表示画面はあくまでも一例であって、種々の変更が可能である。
【００４６】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果が得られる。
（１）ＬＳＦを合成することによりＳＮ比が高くなり、測定誤差を小さくすることができる。また、ｓｉｎｃ関数で除算することで、正確にＭＴＦを測定できる。
【００４７】
（２）合成ＬＳＦを選択することで、ノイズによる測定誤差を小さくすることができる。
（３）合成ＬＳＦの表示色を変えることで、測定対象色を容易に判別できる。
【００４８】
（４）ノイズを含んだデータを削除することで、ノイズによる測定誤差を小さくすることができる。
（５）ＭＴＦと階調特性を同時に測定することで、階調の線形化を正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態例の構成を示す構成図である。
【図２】本発明の実施の形態例の動作を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態例の主要部の構成を示す構成図である。
【図４】本発明の実施の形態例で使用するナイフエッジチャートの一例を示す説明図である。
【図５】本発明の実施の形態例で使用するナイフエッジチャートを傾けた様子の一例を示す説明図である。
【図６】本発明の実施の形態例におけるＭＴＦ測定範囲を指定する様子を示す説明図である。
【図７】本発明の実施の形態例において読み込んだテストチャートからエッジの角度を求める様子を示す説明図である。
【図８】本発明の実施の形態例においてＬＳＦの測定位置を検出する様子を示す説明図である。
【図９】本発明の実施の形態例においてＬＳＦ合成の様子を示す説明図である。
【図１０】本発明の実施の形態例においてＬＳＦの中心位置を求める様子を示す説明図である。
【図１１】本発明の実施の形態例においてＬＳＦの指定の様子を示す説明図である。
【図１２】本発明の実施の形態例のＬＳＦの振幅とノイズとの比較の様子を示す説明図である。
【図１３】本発明の実施の形態例のＭＴＦ測定値の特性を従来と比較して示す説明図である。
【図１４】本発明の実施の形態例における円環状のテストチャートの構成を示す構成図である。
【図１５】本実施の形態例における階調補正カーブの様子を示す特性図である。
【図１６】従来におけるＬＳＦの振幅とノイズとの比較の様子を示す説明図である。
【符号の説明】
１０  画像入力部
１１  画像記憶部
１２  画像出力部
２０  ＭＴＦ測定部
３０  画像処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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