(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
パレット上に載置された電子部品に接触ピンを当接させて前記電子部品を検査する検査ユニットにおいて、前記検査ユニットは保持プレートと、この保持プレートを駆動する駆動源と、前記保持プレートに遊着された接触ユニットから成り、前記接触ユニットはプリント基板と、このプリント基板に一方が接続されたケーブルと、このケーブルの他方に接続されたコネクターと、前記プリント基板上に導電ゴムを介して設けられた接触ピンとを有し、前記保持プレートには楕円状の孔と、前記パレットの孔と嵌合する位置決めピンとを設け、この楕円状の孔に遊挿入された円形状の回動板に前記接触ユニットが固定される検査ユニット。
【請求項２】
接触ユニットには複数個の接触ピンが設けられるとともに、導電ゴムには異方性導電ゴムが用いられた請求項１に記載の検査ユニット。
【請求項３】
接触ピンの先端は４０度〜６０度とした請求項１に記載の検査ユニット。
【請求項４】
保持プレートと接触ユニットの対向面は高硬度の表面処理を施すとともに、前記保持プレートと回動板との対向面も高硬度の表面処理が施された請求項１に記載の検査ユニット。
【請求項５】
接触ユニットの保持プレート側には溝が設けられた請求項１に記載の検査ユニット。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品を検査するときに用いる検査ユニットに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
以下、従来の検査ユニットについて説明する。従来の検査ユニットは、図６に示すようにプリント基板１上にホルダー２とホルダー３を設け、このホルダー２とホルダー３の間に接触ピン４を固定していた。そしてこの接触ピン４の一方の端子４ａは接触ピンとして電子部品に接触するとともに、この接触ピン４の他方の端子４ｂはプリント基板１と接触し、このプリント基板１からケーブルとコネクターを介して検査治具に接続されていた。また５はねじであり、ホルダー２とホルダー３とプリント基板１とを固定するものである。
【０００３】
ここで接触ピン４は、図７に示すようなものであった。つまり接触ピン４の一方の端子４ａは凸状になっており、他方の端子４ｂは凹状の端子になっている。そしてこの接触ピン４の一方の端子４ａと他方の端子４ｂの間は導電性のばね６で接続されていた。したがって接触ピン４の一方の端子４ａが電子部品に当接され、押圧されると、その信号はばね６を通って他方の端子４ｂからプリント基板１を介して検査装置の方へ導かれるようになっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながらこのような従来の構成では、接触ピン４の中にばね６を用いていたので、高周波の計測などにおいては、このばね６がインダクタンスの働きをし、正確な計測値が得られないといった問題があった。
【０００５】
本発明はこの様な問題点を解決するもので正確な計測値が得られる検査ユニットを提供することを目的としたものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために本発明の検査ユニットは、保持プレートと、この保持プレートを駆動する駆動源と、前記保持プレートに遊着された接触ユニットから成り、前記接触ユニットはプリント基板と、このプリント基板に一方が接続されたケーブルと、このケーブルの他方に接続されたコネクターと、前記プリント基板上に導電ゴムを介して設けられた接触ピンとを有し、前記保持プレートには楕円状の孔と、前記パレットの孔と嵌合する位置決めピンとを設け、この楕円状の孔に遊挿入された円形状の回動板に前記接触ユニットが固定される構成としたものである。これにより正確な検査を行うことが出来る。
【０００７】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項１に記載の発明は、パレット上に載置された電子部品に接触ピンを当接させて前記電子部品を検査する検査ユニットにおいて、前記検査ユニットは保持プレートと、この保持プレートを駆動する駆動源と、前記保持プレートに遊着された接触ユニットから成り、前記接触ユニットはプリント基板と、このプリント基板に一方が接続されたケーブルと、このケーブルの他方に接続されたコネクターと、前記プリント基板上に導電ゴムを介して設けられた接触ピンとを有し、前記保持プレートには楕円状の孔と、前記パレットの孔と嵌合する位置決めピンとを設け、この楕円状の孔に遊挿入された円形状の回動板に前記接触ユニットが固定される検査ユニットであり、このように導電ゴムを介して接触ピンが触接されているので、この導電ゴムの弾性の為に従来のようにばねを使う必要が無い。したがって接触ピンの長さも短くすることが出来、例え高周波の検査をするときにおいても正確な検査をすることが出来る。また、パレットと接触ユニットの位置が少々ずれていたとしても位置決めピンでパレットに正確に当てることが出来る。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、接触ユニットには複数個の接触ピンが設けられるとともに、導電ゴムには異方性導電ゴムが用いられた請求項１に記載の検査ユニットであり、接触ピンが複数個設けられているので同時に複数個の点の検査をすることが出来る。また導電ゴムには異方性導電ゴムを用いているので、接触ピンの間隔を狭くすることが出来、小型の電子部品を検査することが容易に出来る。
【０００９】
請求項３に記載の発明は、接触ピンの先端は４０度〜６０度とした請求項１に記載の検査ユニットであり、接触ピンの先端をこのような角度にすることにより、例え被検査物である電子部品にフラックスが付着していたとしても、そのフラックスの壁を突き破って確実な接触が出来る。また被検査物にレジストの厚みやその他の段差があったとしても導電ゴムは弾性を有しているので確実な接触ができる。
【００１１】
請求項４に記載の発明は、保持プレートと接触ユニットの対向面は高硬度の表面処理を施すとともに、前記保持プレートと回動板との対向面も高硬度の表面処理が施された請求項１に記載の検査ユニットであり、高硬度の表面処理を施している為に、検査ユニットと保持プレートが遊着されていることで動きをスムーズにすることができ、さらに正確な検査が可能となる。
【００１２】
請求項５に記載の発明は、接触ユニットの保持プレート側には溝が設けられた請求項１に記載の検査ユニットであり、例え接触ユニットと保持プレートの間にごみが入ったとしても、この溝の中にごみが入って、接触ユニットと保持プレートの遊着によるスムーズな動きを妨げることが無い。
【００１３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。図１は本発明の検査ユニットの断面図である。図１において１１は保持プレートであり、この保持プレート１１を上下方向に駆動するエアシリンダー１２が接続されている。またこの保持プレート１１には、回動板１３に固定された接触ユニット１４が遊着されている。
【００１４】
その遊着方法は図２に示すように、保持プレート１１に楕円状の孔１５が設けられている。一方回動板１３は円形をしており、この回動板１３の挿入部１３ａが孔１５に遊挿入されるわけである。また、回動板１３の上方には、つば１３ｂが設けられており、このつば１３ｂのピン１６を用いて保持プレート１１上の孔１５に対して直角方向に設けられた楕円状の孔１７に挿入している。そしてこの回動板１３は挿入部１３ａに設けられたねじで接触ユニット１４に固定される。このように構成されているので接触ユニット１４と保持プレート１１は遊着されることとなる。すなわち孔１５内に隙間を持って回動板１３の挿入部１３ａが挿入されるので横方向には隙間分だけ自由に動く。
【００１５】
また保持プレート１１上に設けられた孔１７は、この孔１５と直角方向に設けられているので縦方向にもこの孔１７とピン１６の隙間分だけ自由に動く。これにより、回動板１３の中心１８を中心として回動板１３はθ方向にも動くことが出来る。したがってこの接触ユニット１４は保持プレート１１に対して自由に動くことが出来る。
【００１６】
またここで重要なことは接触ユニット１４の上面１４ａは高硬度の表面処理をしておくことである。またこの接触ユニット１４の上面１４ａには円形状の溝１９が設けられている。これは例え保持プレート１１と接触ユニット１４の間にごみが入ったとしても、この溝１９に入るものである。また同様にこの接触ユニット１４の上面１４ａに対向する保持プレート１１の下面１１ａも高硬度の表面処理をしておくことが重要である。こうすることにより摺動抵抗を少なくすることが出来るからである。同様の理由で、この保持プレート１１の上面１１ｂも高硬度の表面処理としている。
【００１７】
また回動板１３のつば１３ｂの下面１３ｃも高硬度の表面処理としている。この事により摺動抵抗を少なくすることが出来る。図１において、３０はコンベアでありこのコンベア３０上にはパレット３１が乗っており、このパレット３１には電子部品３２が載置されている。そしてこのパレット３１に設けられた孔３３に接触ユニット１４に設けられた位置決めピン３４が嵌合して電子部品３２の端子と接触ピン２５とを正確に当接するものである。
【００１８】
つぎに図３を用いて接触ユニット１４の詳細を説明する。接触ユニット１４は、プリント基板２０と、このプリント基板２０の裏面からケーブル２１を介して接続されたコネクター２２と、このプリント基板２０表面に設けられたホルダー２３と、このホルダー２３に設けられた孔２４と、この孔２４内に埋設された接触ピン２５と、この接触ピン２５とプリント基板２０の間に挿入された異方性導電ゴム２６とで構成されている。
【００１９】
そして、ねじ２７でホルダー２３とプリント基板２０とをシャフト２８に固定している。ここで孔２４は導電ゴム２６側が大きな形の孔２４ａとなっており、この孔２４に接触ピン２５が挿入されている。この孔２４の孔２４ａ側に接触ピン２５のつば２５ａが挿入されるので接触ピン２５は抜けることはない。
【００２０】
またこの接触ピン２５は、図４に示すように一方にはつば２５ａを有しており、他方には当接部２５ｂを有している。そしてこの当接部２５ｂの先端の角度２５ｃは４０〜６０度としている。このような鋭角にしておくことによりフラックスを突き破り確実に接触することが出来る。またこの接触ピン２５の長さは２ｍｍ程度であり、接触ピン２５の長さをこのように短くすることが出来るので、高周波検査に対してもインダクタンス成分が小さくなり、正確な検査をすることが出来る。
【００２１】
また２６は異方性導電ゴムであり、この異方性導電ゴム２６には図５に示すように導電性のワイヤー２９が垂直方向に密接して埋め込まれているが、お互いのワイヤー２９ａとワイヤー２９ｂの間はゴムで絶縁されている。したがって接触ピン２５を複数個触接したとしてもそれぞれがショートすること無くプリント基板２０の信号パターンにその信号を伝えることが出来るものである。
【００２２】
また、この異方性導電ゴム２６は弾性を有しているので例え被検査物の電子部品３２の方にレジストやその他の段差があったとしても弾性の為に接触ピン２５を確実に電子部品３２に当接させることが出来る。
【００２３】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、プリント基板上に導電ゴムを介して接触ピンを触接させているので、従来のようにばねを使う必要が無く接触ピンの長さを短くすることが出来る。したがって高周波性能の優れた検査ユニットを実現する事が出来る。また保持プレートと接触ユニットが遊着されているのでパレットと接触ユニットとの間に多少のずれがあったとしても正確に接触させて検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態における検査ユニットの断面図
【図２】同、保持プレートと接触ユニットの分解斜視図
【図３】同、検査ユニットの要部断面図
【図４】同、接触ピンの正面図
【図５】同、異方性導電ゴムの断面図
【図６】従来の検査ユニットの断面図
【図７】同、検査ユニットに用いる接触ピンの断面図
【符号の説明】
１１  保持プレート
１２  エアシリンダー
１３  回動板
１４  接触ユニット
２０  プリント基板
２１  ケーブル
２２  コネクター
２５  接触ピン
２６  異方性導電ゴム
３１  パレット
３２  電子部品
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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