(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
チェックランドを有するフレキシブルプリント基板において、
上記チェックランドを上記フレキシブルプリント基板上に設けられるカバーレイ開口中であってメッキ用に引き出されたパターンの途中に設け、且つ当該フレキシブルプリント基板を機器に装着する際に上記チェックランドが設けられた部分である上記フレキシブル基板の曲げ部が折り曲がったままの状態で上記機器内に配置するようになしたことを特徴とするフレキシブルプリント基板。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高密度実装に好適なプリント基板に関し、特に電気的接続状態等を検査するためのチェックランドを有するプリント基板及びフレキシブルプリント基板に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、電子機器の小型化に伴って、フレキシブルプリント基板が汎用されるようになっている。例えば、カメラ等に採用されるフレキシブル基板には、システムコントローラとしてのＣＰＵ、メモリであるＥＥＰＲＯＭ、そのインターフェースであるＩＦＩＣ、デート写し込みのためのデータＣＰＵ等が実装されているる。そして、フレキシブル基板の信号線の一部には、当該フレキシブル基板の配線検査や電子回路部品の実装後の動作検査の際に、テスタ等の検査機の検査用プローブを接触させるための所謂チェックランドが設けられている。
【０００３】
例えば、特開平５−６３３２７号公報では、接続配線導体はそれぞれ１個の検査用ランドをもち、同様に非接続配線導体もそれぞれ１個の検査用ランドを備えており、互いに隣接する接続配線導体及び非接続配線導体の間隔が１．２７ｍｍ以下である場合は、検査用ランドをそれぞれの配線導体に沿って互いに離間させて配置することにより、その中心位置の間隔が１．２７ｍｍ以上になるように配置する技術が開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したチェックランドは、その検査時においては、検査機の検査用プローブと接触させる必要があるため、所定以上のスペースを要し、その結果、フレキシブルプリント基板自体の大型化を招いていた。
【０００５】
これについて、上記特開平５−６３３２７号公報では、検査機の検査用プローブとの接触を念頭においた設計がなされているが、フレキシブル基板自体の小型化を図る事については何ら示唆されていなかった。
【０００６】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、基板自体のスペースの有効活用を図り基板自体の小型化を実現すると共に、電気的ショート発生の問題を解消するフレキシブルプリント基板を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の第１の態様では、チェックランドを有するフレキシブルプリント基板において、上記チェックランドを上記フレキシブルプリント基板上に設けられるカバーレイ開口中であってメッキ用に引き出されたパターンの途中に設け、且つ当該フレキシブルプリント基板を機器に装着する際に上記チェックランドが設けられた部分である上記フレキシブル基板の曲げ部が折り曲がったままの状態で上記機器内に配置するようになしたことを特徴とするフレキシブルプリント基板が提供される。
【００１０】
上記第１の態様によれば、以下の作用が奏される。
本発明の第１の態様では、チェックランドが、上記フレキシブルプリント基板上に設けられるカバーレイ開口中であってメッキ用に引き出されたパターンの途中に設けられ、当該フレキシブルプリント基板を機器に装着する際に上記チェックランドが設けられた部分である上記フレキシブル基板の曲げ部が折り曲がったままの状態で上記機器内に配置される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
図１及び図２は本発明の一実施の形態に係るフレキシブルプリント基板の詳細な構成を示す図である。本発明は、チップ型のコネクタをフレキシブルプリント基板の曲げ部の近傍に配置し、当該曲げ部におけるカバーレイの開口をチェックランド配設領域として有効利用するものである。以下、詳細に述べる。
【００１３】
尚、図１は本実施の形態のフレキシブルプリント基板にカバーレイを装着する前の様子を示しており、図２は本実施の形態のフレキシブルプリント基板にカバーレイを装着した後の様子を示している。さらに、説明の便宜上、図２において、カバーレイを装着した場合に開口される領域を波線で示している。
【００１４】
これらの図に示されるように、ベース基板３上の所定位置にはメッキリード又はメッキパターン２ａ乃至２ｃが引き出されている。そして、これらメッキリード２ａ乃至２ｃは、チェックランド１ａ乃至１ｃを介してチップ型のコネクタ６の入力端に接続されている。そして、このコネクタ６は中央演算処理装置（CPU ；Central   Processing  Unit）と通信自在に接続されている。
【００１５】
このチェックランド１ａ乃至１ｃは、図２に示されるようにカバーレイ８をエポキシ系接着剤で固着した場合に開口領域５に相当する位置に配置されている（開口領域５は図１中においては波線で示す）。この開口領域５は、本発明のフレキシブルプリント基板を機器に装着する際に曲げる曲げ部４に相当する位置に設けられている。このように、曲げ部４では、カバーレイ８を開口しているので、他の部分に比して基板が柔軟になっており、装着に好適となっている。
【００１６】
さらに、通常、上記チェックランド１ａ乃至１ｃは、フレキシブルプリント基板単体時において、当該基板を折り曲げられる前に検査機による検査に使用されるものにすぎない為、当該検査後に折り曲げてパターンが断線しても基板自体の機能には何ら影響を与えることはない。
【００１７】
また、上記チェックランド１ａ乃至１ｃは電気部品間の信号パターンの途中に設けられているわけではなく、メッキ用に引き出されたパターンの途中に設けられているので、折り曲げる際に万が一断線しても、回路動作上は何等問題はないし、また、カバーレイ８によって両端のパターンを押さえているので、剥がれにくくなっており、他のチェックランドと接触して電気的なショート等を生じることはない。
【００１８】
以上の構成において、実際の検査機による検査を行う場合には、上記チェックランド１ａ乃至１ｃに検査機の検査用プローブを当接し、検査を所望とする電子部品の信号を与えてその結果を検査機で読み取ることで、例えば、はんだの接続不要等の状態を検出することができることになる。
【００１９】
ここで、本実施の形態に係るフレキシブルプリント基板を実際に機器に装着する際に折り曲げる様子は図３に示される通りである。同図に示されるように、カバーレイ８の開口領域５を有する曲げ部４において、上記カバーレイ８が曲げ方向の内側となるように基板を折り曲げることになる。
【００２０】
尚、本発明の上記実施の形態には、以下の発明の内在している。
即ち、第１に、機器に装着する際に折り曲げる為の曲げ部をその一部に有する基板と、上記曲げ部に相当する所定の開口領域を有し上記基板を被覆するカバーレイと、上記基板の曲げ部に対応するカバーレイの開口領域に設けられた検査用のチェックランドと、を具備することを特徴とするフレキシブルプリント基板が提供され、
第２に、機器に装着する際に折り曲げる為の曲げ部をその一部に有する基板と、上記曲げ部に相当する所定の開口領域を有し上記基板を被覆するカバーレイと、上記曲げ部近傍に配置されたコネクタと、上記基板上に設けられたメッキリードと、上記基板の曲げ部に対応するカバーレイの開口領域に設けられ、その一端が上記メッキリードに接続され、他端が上記コネクタに接続されたチェックランドと、を具備することを特徴とするフレキシブルプリント基板が提供され、
第３に、機器に装着する際に折り曲げる為の曲げ部をその一部に有する基板と、上記曲げ部に相当する所定の開口領域を有し上記基板を被覆するカバーレイと、上記曲げ部近傍に配置されたコネクタと、上記基板上に設けられたメッキリードと、上記基板の曲げ部に対応するカバーレイの開口領域に設けられ、その一端が上記メッキリードに接続され、他端が上記コネクタに接続され、その長手方向の長さが上記開口領域の幅よりも広いたチェックランドと、を具備することを特徴とするフレキシブルプリント基板が提供される。
【００２１】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、基板自体のスペースの有効活用を図り基板自体の小型化を実現すると共に、電気的ショート発生の問題を解消するフレキシブルプリント基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係るフレキシブルプリント基板にカバーレイを装着する前の詳細な構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施の形態に係るフレキシブルプリント基板にカバーレイを装着した後の詳細な構成を示す図である。
【図３】実施の形態に係るフレキシブルプリント基板の折り曲げ部を折り曲げて実装する際の様子を示す図である。
【符号の説明】
１ａ  チェックランド
１ｂ  チェックランド
１ｃ  チェックランド
２ａ  メッキリード
２ｂ  メッキリード
２ｃ  メッキリード
３    ベース基板
４    曲げ部
５    開口領域
６    コネクタ
７    ＣＰＵ
８    カバーレイ
【図１】
0004036549.tif 000002
【図２】
0004036549.tif 000003
【図３】
0004036549.tif 000004