(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体上に２本の光ビームを繋げて主走査方向に分割して走査する画像形成装置において、
各光ビ−ムに対応して光ビームの基準位置を検出する同期検知手段と、
前記同期検知手段から、画像書き出し位置までの間にドットを点灯させかつドット点灯位置と画像書き出し位置を移動させる光ビ−ム点灯手段と、
前記同期検知手段から、画像書き出し位置までの間にあって、前記点灯されたドットの位置を検出する位置検出手段と、を有し、
検出されたドットの位置と、正規のドットの位置との差分（ΔＸ１とする）を演算し、
Ｎ＊Ｐ＞ΔＸ１となる最小の整数Ｎを演算し（ただし、Ｐは光ビームのピッチ間隔とする）、
光ビームによる画像書き出し位置について、Ｎ＊Ｐ−ΔＸ１だけ後にずらす調整、及び、Ｎ＊Ｐだけ前にずらす調整をする光ビーム位置調整制御と、
測定精度が高い位置でドットを点灯させた際の前記位置検出手段の出力値をメモリに記憶しておいた上で、
画像書き出し毎に前記メモリに記憶された前記出力値を呼び出し、前記光ビーム点灯手段を用いて、前記位置検出手段の出力値が前記メモリに記憶された前記出力値になるまで、画像書き出し位置を移動させる画像書き出し位置調整制御と、を行うことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の光ビームを用いる画像形成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来技術として、特開２０００−１８７１７１号公報に開示されている光ビ−ム走査装置は、１つの偏向手段で２つの書込み系を走査し、繋ぎあわせる事で、走査幅の広いコンパクトな走査光学系を実現する。
【０００３】
また、特開２０００−２６７０２７号公報に開示されている光走査装置及び画像形成装置は、２つのビ−ムの繋ぎ目部の副走査方向の位置を検出し、位置を補正する。この技術では位置検出センサ（含む周辺回路）の精度で光ビームの調整精度が決まってしまう為、高精度のセンサを必要とした（しかも副走査方向のみ）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記特開２０００−２６７０２７号公報に記載の技術においては、１つのポリゴンで、２つの書込み系を走査し、画像のほぼ中央部から光ビ−ム走査を開始し、主走査方向に光ビ−ムを繋ぎ合わせる方式が提案されている。この事により、低コストで、コンパクトな広幅対応の書込み系が達成されている。さらに、副走査方向の光ビ−ムの通過位置検出手段（１個の１次元ＣＣＤ）を設け、温度変動によって生じる、走査線の副走査方向へのずれ（ハウジングやレンズ系の熱膨張によって光路が微妙に変化する為に生じる）を検出し、２本の繋ぎ目のずれを補正する事が提案されている。繋ぎ目のずれを調整するに当たり、２本の光ビームの位置（書き込み開始位置）を正確に検出し、容易に調整できることが重要となっている。
【０００５】
本発明は、以上のような点に鑑みてなされたものであり、２本の光ビームの主、副方向の繋ぎ目のずれ調整を高精度かつ容易にすることのできる画像形成装置を提供することを目的とする。
【０００６】
特に、本発明の主な目的は、光ビ−ムの位置検出をリニアリティーの比較的低いセンサを使用しても高精度の位置測定が出来ることである。特開２０００−２６７０２７号の技術では位置検出センサ（含む周辺回路）の精度で光ビームの調整精度が決まってしまう為、高精度のセンサを必要とした（しかも副走査方向のみ）。
【０００７】
また、本発明の他の目的は、条件（制御値）を変えた、２本の光ビ−ムの繋がり具合を複数一度に表示し、繋がり具合を容易に視認することである。
【０００８】
また、本発明の他の目的は、２本の光ビ−ムの繋がり具合が最適な時の条件を容易に見つけ出し入力できるようにし、繋がり調整の簡易化を行なうことである。
【０００９】
また、その他の目的は、２本の光ビ−ムの繋がり具合が最適な時のビ−ム点灯手段の制御値を一度決めればその後調整を必要としないことである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために、請求項１記載の発明は、感光体上に２本の光ビームを繋げて主走査方向に分割して走査する画像形成装置において、各光ビ−ムに対応して光ビームの基準位置を検出する同期検知手段と、前記同期検知手段から、画像書き出し位置までの間にドットを点灯させかつドット点灯位置と画像書き出し位置を移動させる光ビ−ム点灯手段と、前記同期検知手段から、画像書き出し位置までの間にあって、前記点灯されたドットの位置を検出する位置検出手段と、を有し、検出されたドットの位置と、正規のドットの位置との差分（ΔＸ１とする）を演算し、Ｎ＊Ｐ＞ΔＸ１となる最小の整数Ｎを演算し（ただし、Ｐは光ビームのピッチ間隔とする）、光ビームによる画像書き出し位置について、Ｎ＊Ｐ−ΔＸ１だけ後にずらす調整、及び、Ｎ＊Ｐだけ前にずらす調整をする光ビーム位置調整制御と、測定精度が高い位置でドットを点灯させた際の前記位置検出手段の出力値をメモリに記憶しておいた上で、画像書き出し毎に前記メモリに記憶された前記出力値を呼び出し、前記光ビーム点灯手段を用いて、前記位置検出手段の出力値が前記メモリに記憶された前記出力値になるまで、画像書き出し位置を移動させる画像書き出し位置調整制御と、を行うことを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照しながら詳細に説明する。まず、本発明の実施の形態における画像形成装置について、前提となる基本構成・動作を述べる。以下で、同一の部位に関しては同一の記号を付与して区別することにする。
【００１６】
まず図１１以下を参照して、本発明の適用されるべき「２ビームにより、被走査面上の走査領域を主走査方向に２分割して走査する光走査装置」について説明する。この光走査装置は、図１１に示すように、第１書込系と第２書込系とを有する。
【００１７】
第１書込系について説明すると、「光源」としての半導体レーザ１−１からは画像信号に応じて強度変調されたレーザ光のビームが射出する。射出したビームはカップリングレンズ２−１のコリメート作用により平行ビームとされ、シリンダレンズ３−１により副走査方向にのみ収束傾向を与えられ、「偏向手段」としてのポリゴンミラー４の１の偏向反射面近傍に、主走査方向に長い線像として結像する。ポリゴンミラー４の回転により等角速度的に偏向されたビームは「結像手段」としてのｆθレンズを構成するレンズ５−１、６−１を透過し、ミラー７−１、８−１および折り返しミラー９−１により順次反射され、光導電性の感光体１０の感光面（被走査面の実体をなす）上にビームスポットを形成し、感光体１０の第１走査領域Ｓ１を等速的に走査する。
【００１８】
第２書込系は「第１書込系」を、ポリゴンミラー４の回転軸を中心に１８０度回転させた位置に配置されている。「光源」としての半導体レーザ１−２からは画像信号に応じて強度変調されたレーザ光のビームが射出し、カップリングレンズ２−２により平行ビームとされ、シリンダレンズ３−２により副走査方向にのみ収束傾向を与えられてポリゴンミラー４の別の偏向反射面の近傍に主走査方向に長い線像として結像する。ポリゴンミラー４の回転により等角速度的に偏向されたビームは「結像手段」としてのｆθレンズを構成するレンズ５−２、６−２を透過し、ミラー７−２、８−２および折り返しミラー９−２により順次反射されて感光体１０の感光面上にビームスポットを形成し、感光体１０の第２走査領域Ｓ２を等速的に走査する。
【００１９】
第１、第２書込系は光学的に等価である。第１、第２書込系による書き込みは、第１、第２走査領域Ｓ１、Ｓ２の接合部、即ち、全走査領域の中央部Ｓ０を起点として、互いに逆方向、即ち、走査領域の両端部側へ向かって行われる。
【００２０】
第１、第２書込系はそれぞれ同期検知ユニット１１−１、１１−２を有する。各同期検知ユニット１１−１、１１−２は、各走査ビームの画像領域外に設けられ、１走査毎に各走査ビームの走査開始のタイミングを決定する。図示されない「書込制御回路」は決定されたタイミングに従い、書込開始位置（上述の全走査領域の中央部Ｓ０）から書込を開始する。このように各走査ビームの書込開始位置Ｓ０が互いに共通で、同期検知ユニット１１により良好に制御されるので、各走査ビームの主走査方向の継ぎ目部分を、容易かつ良好に整合させることができる。
【００２１】
上記第１、第２走査領域Ｓ１、Ｓ２は、互いに１本の直線として連結されるべきもので、設計的には「装置空間に固定的」に設定される。このように装置空間に固定的に設定された理想の走査線は、被走査面上の「２ビームにより同時に走査されるべき線」であり「被走査面軸」である。即ち、第１、第２走査領域Ｓ１、Ｓ２は理想的には「ともに被走査面軸に合致し、中央部Ｓ０で互いに連結しあう」べきものである。
【００２２】
図１２は、図１１に示す光走査装置を、ポリゴンミラー４の回転軸方向から見た状態を示している。前述の「ビーム偏向面」は、図１２において、図面に平行な面である。図１３は、図１２の状態を、被走査面の実体をなす感光体１０の軸方向から見た状態を示している。図１２に示されていないが、光走査装置は「ほこり等の付着」を防止するため光学箱内部に密閉され、精度良く固定、配置されている。図１３において、符号１２−１、１２−２は、上記光学箱に形成されたビーム射出用開口をふさぐ「防塵ガラス」を示している。
【００２３】
図１４に示すように、第１書込系におけるミラー７−１、８−１は、「空間的に副走査方向（図の上下方向）に重なりあう」ように配備される。ミラー７−１、８−１の「ビーム偏向面に対する傾き角」を、図の如く角：α、β（ともにビーム偏向面から計り、時計回りを「正」、反時計回りを「負」とする）とすると、傾き角：α、βは関係：｜α−β｜＝９０度を満足している。即ち、ミラー７−１、８−１は所謂「ダハミラー」を構成し、ミラー７−１、８−１で順次に反射された偏向ビームが掃引する面は「ビーム偏向面と平行」になる。第２書込系におけるミラー７−２、８−２も同様に構成されている。
【００２４】
第１および第２書込系により共通の走査線（「被走査面軸」）を等価に走査できるためには、一般に、第１、第２書込系の光軸が被走査面軸（感光体１０の軸と平行である）に直角に設定され、各書込系の結像手段の光路長が等しい関係に有る必要がある。このようになっていれば、ビームスポット径が均一で良好な走査を実現でき、良好な画像を得ることが出来る。
【００２５】
上に説明した例では、結像手段はｆθレンズで構成される。図１２に示すように、レンズ５−１、６−１で構成されるｆθレンズの光軸は、被走査面軸Ｓに対して傾き角：θ１を有し、レンズ５−２、６−２で構成されるｆθレンズの光軸は、被走査面軸Ｓに対して傾き角：θ２を有する。そこで、これら各ｆθレンズの光軸を被走査面軸Ｓに直交させるために、２枚のミラー（第１書込系においてミラー７−１、８−１、第２書込系においてミラー７−２、８−２）が設けられている。
【００２６】
第１書込系において、ｆθレンズの光軸が「ミラー７−１に対してビーム偏向面内で」なす角：γ１と、上記光軸が被走査面軸Ｓに対してなす角：θ１とは、｜θ１｜＋２｜γ１｜＝９０°を満足する。同様に、第２書込系において、ｆθレンズの光軸が「ミラー７−２に対してビーム偏向面内で」なす角：γ２と、上記光軸が被走査面軸Ｓに対してなす角：θ２とは、｜θ１｜＋２｜γ１｜＝９０°を満足する。
【００２７】
このようにして、各ｆθレンズの光軸に合致するビームの主光線は、ミラー８−１あるいはミラー８−２に反射されたのち（ビーム偏向面に射影すると）ビーム偏向面に射影された被走査面軸に直交する。ミラー８−１、８−２で反射された各ビームを、折り返しミラー９−１、９−２で副走査方向に折り返して、最終的に各ビーム被走査面軸Ｓに直交させる。
【００２８】
図１２に示したのは、図２以下に即して説明している光学配置に関するものであり、θ１＝θ２、γ１＝γ２の場合である。第１、第２書込系の配置は図１２の場合に限らない。図１５は別の配置例を示している。図１５の光学配置は、θ１≠θ２、γ１≠γ２とした例である。この場合、第１書込系と第２書込系の「走査する長さ」は同一にならない。角：γ１、γ２はそれぞれ、角：θ１、θ２に応じて一義的に定まる。そして、角：θ１、角：θ２に応じて第１、第２書込系の走査長さが定まる。従って、角：θ１、θ２を最適な値に設定することにより、有効走査幅を最も広く取ることが出来る。
【００２９】
上記で説明したように「２ビームにより、被走査面上の走査領域を主走査方向に２分割して走査する光走査装置」では、２つの書込系の走査ビームを精度良く繋ぎ合せて１つの走査線の走査を行う。即ち、第１、第２書込系の走査ビームの走査線は理想的には「被走査面軸に合致すべきもの」である。第１、第２書込系の光学配置は、組立て後、各書込系の走査ビームが被走査面軸に合致した状態となるように調整され、使用の初期には「この状態が保たれている」が、光走査装置を搭載した画像形成装置の機内温度上昇や偏向手段の発熱等で、光学系ハウジングの熱膨張やそれに伴うミラーや他の光学素子の姿勢変化などにより「各書込系の走査ビームの走査位置が、副走査方向にずれる現象」が発生する。そこで、このような「走査位置のずれ量」を検出し、自動的に補正することが必要となってくる。
【００３０】
以上の基本説明を踏まえて、次に、本発明に特徴的な構成・動作について説明する。まず、２次元位置センサの補正が終了し、そのセンサで光ビーム（レーザービーム）位置調整する所を説明し、その後センサの補正方法を説明する。
【００３１】
＜光ビーム位置調整＞図１に、本発明の実施例における光走査装置を備える画像形成装置の構成図を示す。第１書込み系によるレーザービームは、ポリゴンミラー４の回転によって偏向され、まず仮想感光体面上に配置された同期検知板１１−１（前述した同期検知ユニット）に入射する。この時、レーザービームは、図３のＬＤ点灯信号（ａ）に参照される様に、連続点灯の状態で同期検知に入射する。同期検知に連続点灯のレーザービームが入射すると、レーザービームの水平同期をとるための同期検知信号（ｂ）が発生し、ＬＤ点灯信号は一旦ＯＦＦになりＬＤは消灯する。
【００３２】
同期検知板１１−１内には、同期検知センサ１１−１−１、同期検知センサ１１−１−１から画像書き出し開始位置までの間に配置された２次元の位置センサ１１−１−２が配置されている。本例では、同一の基板上に配置されているが、同期検知から、画像書き出し位置までの間であれば、同一基板上でなくても良い。
【００３３】
２次元の位置検出素子は、本例では、２次元ＰＳＤ（公知技術である。詳細は省略する）を用いる構成となっている。第２書込系についても、同期検知板１１−２とそれに含まれる同期検知センサ１１−２−１、位置センサ１１−２−２が配置されている。
【００３４】
図２、３は同期検知センサ（１１−１−１、１１−２−１）、位置センサ（１１−１−２、１１−２−２）、レーザービームのドットと各信号の関係を示す図である。第１書込系と第２書込系が書かれているが、片方の説明だけでわかる場合は第１書込系について説明する。ＬＤが一旦消灯した後、同期検知信号（ｂ）から所定の画素クロック数（本例ではＮｏクロック）後に再度ＬＤが点灯し、位置センサの上で１ドットを生成する。このことにより、位置センサの上で、レーザービームは等価的に静止している状態になり、主走査及び副走査のレーザービーム位置を同時に検出する事が可能となる。画素クロック（ｃ）は同期検知信号（ｂ）を基準として発生し、同期検知から所定のクロック数（本例ではＮｇクロック）後に画像データに基づいた変調を開始する。
【００３５】
位置センサ（１１−１−２、１１−２−２）からの信号は制御部を介して、Ｘ（主走査）方向位置、及びＹ（副走査）方向位置に基づいたＸ１、Ｙ１電圧を発生し、図示しない（図１０の書き込み制御部内に有る）ＡＤコンバ−タ−、制御演算部等によって位置情報に変換される。
【００３６】
第２書込系においても、走査方向が逆になるだけで、第１書込系と動作は同じになり、位置の検出が行われる。
【００３７】
次に、図４、５、６に、同期検知の温度上昇による信号遅延や書込系の温度上昇による主方向、及び副走査方向にドットがずれた場合の概念図を示す。まず、主走査方向のずれについて説明すると、レーザービームが同期検知に入射するまで、レーザービームは連続点灯している。常温の場合は図２、３（図５ｂ）に示したように、同期検知に入射したとほぼ同時（実際にはタイムラグは０ではない）に同期検知信号が発生したとすると、図５において温度上昇した場合、Δｔ（距離換算でΔＸ１）だけ同期検知信号の発生が遅延してしまう現象が発生するところを示している。また、レンズ系の温度上昇によって倍率が変化し主走査方向にドットがずれてしまう現象も重なってくる。
【００３８】
同期検知信号が遅延すると、同期検知を基準として所定のクロック（Ｎｇ）後に書き出しを開始する為、画像の書き出し位置もΔＸ１だけのずれが生じ、位置センサ上のビーム位置もΔＸ１だけずれる事になる。光学系の倍率誤差の影響を考慮すると、位置センサ上のずれ量と、書き出し位置でのずれ量は同一ではなくなるが、ここでは、簡略化の為に省略する。
【００３９】
一例として、ΔＸ１だけ主走査方向にずれた場合の補正方法の例を図６に示す。図６（ａ）は、正規のずれの無い場合のドット位置である。図６（ｂ）は、ΔＸ１だけずれた場合のドット位置を示す。
【００４０】
ΔＸ１だけドットが２次元位置検出素子上でずれたとすると、Ｎ＊Ｐ−ΔＸ１の距離に相当する画素クロックの位相を図示していないレーザービーム点灯制御部により遅らせる図６（ｃ）。ここでＮはＮ＊Ｐ＞ΔＸ１になる最小の整数、Ｐはビームのピッチ間隔とする。
【００４１】
このことで、正規のドット位置の４番目の画素と（ｃ）の１番目の主走査方向のドット位置が同一になる。次に、図６（ｄ）に示すように、Ｎドット（本例では３ドット）を先頭ドットの前に追加して、さらに画像データをＮドット前側にずらす処理が行われる。実際には、同期検知信号から書き出し位置までのクロック数（Ｎｇ）をＮｇ−Ｎとすることと同じになる。
【００４２】
以上の処理を第２書込系にも同様に行うことで、主走査方向の繋ぎ目を所定の位置に合わせることができる。
【００４３】
次に、副走査方向の補正について説明する。図８において、第１書込系では、副走査方向にΔＹ１、第２書込系ではΔＹ２のずれが、２次元位置検出素子上で検出される。これに対応して、書き出し位置においてもそれぞれΔＹ１、ΔＹ２のずれが発生し、相対的には、ΔＹだけレーザービームが副走査方向に離れてしまう。
【００４４】
副走査方向へのずれの発生要因としては、ハウジングの熱膨張などによって、ミラー等の光学部品の位置が微妙に変位してしまうことが主な原因として挙げられる。
【００４５】
上記の検出された副走査方向のずれに対応する量だけ図１のステッピングモータ１４を回転させて折り返しミラー（９−１、９−２）の角度を変位させ、副走査方向のずれ補正を行っている。
【００４６】
＜画像書き込み開始位置調整＞２本のレーザービームを繋げて１本の走査線を構成する際、画像書き込み開始点が隣り合っている場合について説明する。隣り合った開始点の２つのドットは、規定の間隔をもって書き込みが行われる様に設計されているが、構造体や構成部品のバラツキによって、所望の間隔にならない。６００ＤＰＩの書き込みの場合、規定の間隔は４２．３μｍである。たとえば、所望の間隔を４２．３μｍ±２０μｍに決めたとしても実際は間隔が１１５μｍとなり所望の間隔にならない場合である。
【００４７】
ここで調整は２種類必要となる。初期調整と、初期調整後、温度や経時により書き込み開始位置がずれた分を所望の間隔にするための調整である。
【００４８】
初期調整に付いて説明する。図７（ａ）は、第１書込み系のレーザービーム用の位置センサ１１−１−２を含む同期検知板１１−１、図７（ｃ）は、第２書込み系左走査のレーザービーム用の位置センサ１１−２−２を含む同期検知板１１−２を示す。
【００４９】
図８は、第２書込み系の書き込み開始ドット（第２書込み系側番号１）位置を最初は固定させておき、第１書込系の書き込み開始ドット（第１書込系側番号１）位置を主走査方向に順次移動させてＮｏ１．〜Ｎｏ８．の８通り状態をつくり、プリント出力させた調整用シートである。移動間隔は制御上の可能な最小である。調整シート上の線分に対応した識別記号又は文字の例として、図８ではＮｏ１．〜Ｎｏ８．を記載してある。図８は解りやすくする為、２本のレーザービームは副走査（上下）方向にずらして描いてある（実際も副走査方向調整後もずれは有る）。第２書込系側の１’は、第１書込系側の書き込み開始ドットの理想位置（位置誤差が零）を示す。Ｎｏ６．が最適（理想位置に一番近い）であることが判明する。
【００５０】
このＮｏ６．を図示していない入力手段（図１０の操作部内に有る）により入力し装置側でＮｏ６．が最適であることを認識する。Ｎｏ６．での位置センサ上のドット位置がそれぞれ▲１▼、▲２▼となったとする（図７）。位置センサ１１−２−１上の▲１▼は、後述するセンサの測定精度が高い破線矩形内（中央）にあるが、位置センサ１１−１−２上の▲２▼は、破線矩形外（中央から主走査方向ΔＸ１−１）にある。▲２▼が破線矩形外にあるとき再度調整が必要な旨を、操作部内の（図示していない）表示部に表示する。なおこの時点で▲２▼が破線矩形内にある場合はこの状態での位置▲４▼に対応したＸ１電圧、位置▲３▼に対応したＸ２電圧をデジタル値に変換後、不揮発メモリ（図１０）に記憶させる。
【００５１】
▲２▼が破線矩形外にあるとき第２書込系の書き込み開始位置をΔＸ１−１の１／２だけずらす。位置センサ１１−２−２上のドット位置が▲１▼から▲３▼に移動する。なおΔＸ２≒１／２（ΔＸ１−１）とする。このように第２書込系の書き込み位置をずらした状態で再度調整シートを出力させる。操作部の再度調整が必要との表示に対応して、後者の調整シート内から繋ぎの状態が最適なものを入力する。この状態での位置センサ１１−１−２上のドットはほぼ１／２（ΔＸ１−１）だけ位置センサ１１−１−２の中心に近づき、センサの測定精度が高い破線矩形内の位置▲４▼に移動する。
【００５２】
▲２▼が破線矩形内にある場合は▲１▼と▲２▼に対応する値をメモリに記憶させたが、▲２▼が破線矩形外にある場合はこの状態での位置▲４▼に対応したＸ１電圧、（位置▲２▼から移動した）位置▲３▼に対応したＸ２電圧をデジタル値に変換後、不揮発メモリに記憶させる。
【００５３】
図９は、位置センサ１１−１−２（位置センサ１１−２−２も同様）の特性を示すものである。中心からの距離ΔＸH まで測定できるが、距離がΔＸL （図７ａ、ｂの破線矩形に対応）より大きくなるとセンサの測定精度（直線性）が悪くなっている。位置を▲２▼から▲４▼に移動することにより、測定精度を高めることができる（なおセンサの原理と精度については他の公知資料を参照のこと）。
【００５４】
温度や経時により書き込み開始位置がずれた分を所望の間隔にするための調整は自動で以下のように行われる。書き込み毎に、一度不揮発メモリに記憶された▲３▼、▲４▼（又は▲１▼、▲２▼）に対応した値を、呼び出し、画像書き出し位置までの間にドットを点灯させかつドット点灯位置と画像書き出し位置を移動させる事ができる光ビ−ム点灯手段により位置センサの出力が▲３▼、▲４▼（又は▲１▼、▲２▼）に対応した値になる様に制御する。
【００５５】
以上で説明は主に主走査方向について行なったが、副走査方向も同様に繋ぎ目調整が出来る。図１０は、全体のブロック図である。各ブロック中の番号は文中の番号と対応したものである。書き込み制御部は複数の繋がり部分の画像に対応して識別記号又は文字を出力する手段を含む。
【００５６】
以上により本発明の実施の形態について説明した。なお、上述した実施形態は、本発明の好適な実施形態の一例を示すものであり、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内において、種々変形実施が可能である。
【００５７】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、光ビーム位置を位置センサ上の誤差の少ない部分で測定できるので、部分的に位置精度の悪いセンサでも高精度な光ビーム位置測定が出来る。
【００５８】
また、本発明によれば、条件（制御値）を変えた、２本の光ビ−ムの繋がり具合を複数一度に表示しているので、繋がり具合を容易に確認出来る。
【００５９】
また、本発明によれば、条件（制御値）を変えた、２本の光ビ−ムの繋がり具合の例を識別記号又は文字で識別されている複数一度に表示した出力シートを見ながら、最適な繋がり具合のものを選択し入力することにより調整が出来るので、調整の容易化が出来る。
【００６０】
また、本発明によれば、２本の光ビ−ムの繋がり具合が最適な時のビ−ム点灯手段の制御値を記憶していて、書き込み時ごとに使用することにより、常に繋がり具合が最適な状態での書き込みが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態における光走査装置を備える画像形成装置の構成を示す図である。
【図２】同期検知センサ（１１−１−１、１１−２−１）、位置センサ（１１−１−２、１１−２−２）、レーザービームのドットの関係を示す図である。
【図３】図２での各信号の関係を示す図である。
【図４】同期検知の温度上昇による信号遅延や書込系の温度上昇による主方向及び副走査方向にドットがずれた場合について説明するための、同期検知センサ、位置センサ、レーザービームのドットの関係を示す図である。
【図５】図４での各信号の関係を示す図である。
【図６】ΔＸ１だけ主走査方向にずれた場合の補正方法の例を示す図である。
【図７】初期調整に付いて説明するための、同期検知板１１−１、１１−２について示す図である。
【図８】副走査方向の補正について説明するための、調整用シートについて示す図である。
【図９】位置センサ１１−１−２（位置センサ１１−２−２も同様）の特性を示す図である。
【図１０】本発明の実施の形態における光走査装置を備える画像形成装置の全体構成を示す図である。
【図１１】２ビームにより被走査面上の走査領域を主走査方向に２分割して走査する光走査装置の構成を示す図である。
【図１２】図１１の光走査装置をポリゴンミラー４の回転軸方向から見た構成を示す図である。
【図１３】図１２の状態を、被走査面の実体をなす感光体１０の軸方向から見た状態を示す図である。
【図１４】図１１の光走査装置でのミラーの配備を示す図である。
【図１５】図１１の光走査装置での第１、第２書込系の別の配置を示す図である。
【符号の説明】
１−１、１−２  半導体レーザ
２−１、２−２  カップリングレンズ
３−１、３−２  シリンダレンズ
４  ポリゴンモータ
５−１、５−２  レンズ
６−１、６−２  レンズ
７−１、７−２  ミラー
８−１、８−２  ミラー
９−１、９−２  折り返しミラー
１０  感光体
１１−１、１１−２  同期検知ユニット
１１−１−１、１１−２−１  同期検知センサ
１１−１−２、１１−２−２  位置センサ
１２−１、１２−２  防塵ガラス
１４  ステッピングモータ
Ｓ０  走査領域中央部
Ｓ１  第１走査領域
Ｓ２  第２走査領域
３０  制御手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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