(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
室温における格子定数が０．５４３０２ｎｍを超過し、且つ０．５４３１１ｎｍ以下に制御された金属Ｓｉ相を含む含Ｓｉ材料であり、該含Ｓｉ材料が、金属珪素−炭化珪素系材料又は炭化珪素を主成分とする材料であることを特徴とする高熱伝導性含Ｓｉ材料。
【請求項２】
前記Ｓｉ相中のホウ素含有量が、０．０２重量％以下である請求項１に記載の高熱伝導性含Ｓｉ材料。
【請求項３】
含Ｂ化合物を含有しない窯材料を用いて焼成し、請求項１記載の高熱伝導性含Ｓｉ材料を作製することを特徴とする高熱伝導性含Ｓｉ材料の製造方法。
【請求項４】
窯材料が、アルミナ又は酸化物結合炭化珪素材料である請求項３に記載の高熱伝導性含Ｓｉ材料の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高熱伝導性含Ｓｉ材料及びその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｓｉを金属Ｓｉ相として含む（多孔質又は緻密質）含Ｓｉ材料、例えば、ＳｉとＳｉＣとを主相として含有してなる金属珪素−炭化珪素複合材料又は炭化珪素を主成分とする材料は、高強度であり、且つ耐熱性、耐酸化性及び熱伝導性に優れているため、現在、窯道具、熱処理用治具、ハニカムフィルター等の様々な用途で用いられている。
【０００３】
このとき、上記含Ｓｉ材料の焼成時には、ＢＮ、Ｂ4Ｃ及びＣが外配で１％添加されたＳｉＣ緻密体又はＢＮコーティングの反応防止層を施したカーボンからなる窯道具が主に用いられてきた。
【０００４】
しかしながら、上記窯道具を用いて製造した含Ｓｉ材料は、実際に設計した熱伝導率を大幅に下回わってしまうという問題点があった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述した従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、Ｓｉ相の室温における格子定数を制御することにより、熱伝導率の低下を防止するとともに、高い熱伝導率を安定に発現させることができる高熱伝導性含Ｓｉ材料及びその製造方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
即ち、本発明によれば、室温における格子定数が０．５４３０２ｎｍを超過し、且つ０．５４３１１ｎｍ以下に制御された金属Ｓｉ相を含む含Ｓｉ材料であり、該含Ｓｉ材料が、金属珪素−炭化珪素系材料又は炭化珪素を主成分とする材料であることを特徴とする高熱伝導性含Ｓｉ材料が提供される。
このとき、Ｓｉ相中のホウ素含有量は、０．０２重量％以下であることが好ましい。
【０００８】
また、本発明によれば、含Ｂ化合物を含有しない窯材料を用いて焼成し、前記高熱伝導性含Ｓｉ材料を作製することを特徴とする高熱伝導性含Ｓｉ材料の製造方法が提供される。
このとき、上記窯材料は、アルミナ又は酸化物結合炭化珪素材料であることが好ましい。
【０００９】
【発明の実施の形態】
本発明の含Ｓｉ材料は、室温における格子定数が０．５４３０２ｎｍを超過し、且つ０．５４３１１ｎｍ以下に制御されたＳｉ相を含むものである。
これにより、熱伝導率の低下を防止するとともに、高い熱伝導率を安定に発現させることができる。
【００１０】
また、本発明の含Ｓｉ材料では、Ｓｉ相中のホウ素含有量が、上記格子定数になるように制御するため、０．０２重量％以下であることが好ましい。
これは、Ｓｉにおける熱伝導においてフォノンが中心と考えられ、Ｓｉ相中のホウ素含有量が０．０２重量％を超過する場合、Ｂ（ホウ素）が固溶化し、その格子振動の非調和性により熱伝導率が低下することが推測されるからである。
即ち、本発明の含Ｓｉ材料の主な特徴は、Ｂ（ホウ素）の固溶による格子定数の縮小による含Ｓｉ材料の熱伝導率の低下に着目し、室温における格子定数が０．５４３０２ｎｍを超過し、且つ０．５４３１１ｎｍ以下に制御されたＳｉ相を含むように、Ｓｉ相中のホウ素含有量を最適化したことにある。
【００１１】
更に、本発明では、含Ｓｉ材料が、金属珪素−炭化珪素系材料、金属珪素−炭化珪素系複合材料、炭化珪素を主成分とする材料、珪素を主成分とする材料のいずれか１つであることが好ましい。
ここで、金属珪素−炭化珪素系材料（Ｓｉ−ＳｉＣ系材料）は、未反応の状態で残存する珪素からなる珪素相からほぼ純粋な炭化珪素に至るまでの、いくつかの相異なる相を含む、典型的には珪素相と炭化珪素相からなるが、炭化珪素相には、珪素の含有量が傾斜的に変化しているＳｉＣ共存相を含みうるものをいう。従って、金属珪素−炭化珪素系材料とは、このようにＳｉ−ＳｉＣ系列において、炭素の濃度として、０ｍｏｌ％から５０ｍｏｌ％までの範囲以内で含まれている材料の総称である。
【００１２】
また、金属珪素−炭化珪素系複合材料（Ｓｉ−ＳｉＣ系複合材料）は、例えば、Ｃ／ＣコンポジットにＳｉを含浸した材料であり、少なくとも炭素繊維の束と炭素繊維以外の炭素成分とを含有するヤーンが層方向に配向しつつ三次元的に組み合わされ、互いに分離しないように一体化されているヤーン集合体と、このヤーン集合体中で隣り合う前記ヤーンの間に充填されているＳｉ−ＳｉＣ系材料からなるマトリックスとを備えたものである。
【００１３】
更に、炭化珪素を主成分とする材料は、例えば、金属珪素を含浸させた炭化珪素材料、炭化珪素材料の表面を金属珪素で被覆したもの等が挙げられる。
【００１４】
次に、本発明の含Ｓｉ材料の製造方法について説明する。
本発明の製造方法の主な特徴は、含Ｂ化合物（例えば、ＢＮ等）を含有しない窯材料を用いて、含Ｓｉ材料（例えば、金属珪素−炭化珪素系材料、金属珪素−炭化珪素系複合材料、炭化珪素を主成分とする材料）を焼成することにある。
これにより、含Ｓｉ材料のＢ（ホウ素）との接触を防止することができるため、Ｂ（ホウ素）の固溶による格子定数の縮小による含Ｓｉ材料の熱伝導率の低下を防止することができる。
尚、上記窯材料は、アルミナ又は酸化物結合炭化珪素材料（ＳｉＣに粘土等を結合剤として焼結固化した材料）であることが好ましい。
【００１５】
【実施例】
本発明を実施例に基づいて、更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限られるものではない。
（実施例１〜２、比較例１〜５）
金属珪素（格子定数０．５４３１１ｎｍ、熱伝導率１３３Ｗ／ｍＫ）を、表１に示す匣鉢及びセッターを用いて、Ａｒ雰囲気中１４５０℃、２ｈｒ焼成することにより、溶融凝固試料（Ｓｉ単味材料）を作製した（実施例１〜２、比較例１〜５）。
得られた試料について、格子定数、熱伝導率、Ｓｉ相中のホウ素含有量をそれぞれ測定し、その結果を表１に示す。
尚、格子定数は、Ｘ線回折により得た回折プロファイルから、ＷＰＰＤ法にて算出した。
また、Ｓｉ相中のホウ素含有量は、溶液処理により金属珪素のみ抽出した後、ＩＣＰ発光分析法により定量・算出し、熱伝導率は、レーザーフラッシュ法により測定した。
【００１６】
【表１】
0004136380.tif 000002
【００１７】
実施例１〜２は、焼成（溶融）時雰囲気中からＢ（ホウ素）を排除した条件とすれば、格子定数が０．５４３０２ｎｍを超過し、熱伝導率を１００Ｗ／ｍＫ以上（格子定数が０．５４３０５ｎｍを超過し、熱伝導率を１１０Ｗ／ｍＫ以上）にすることができることを見出した。
尚、上記格子定数は、表１及び溶融凝固処理前の金属珪素（格子定数０．５４３１１ｎｍ、熱伝導率１３３Ｗ／ｍＫ）のデータの一次回帰式「格子定数＝３．１４×１０-6・熱伝導率＋０．５４２７１」から熱伝導率１００Ｗ／ｍＫ、１１０Ｗ／ｍＫとなる値を算出した。
【００１８】
一方、比較例１〜３は、セッターにＢＮを使用した水準であり、Ｓｉが直接ＢＮと反応しており、溶融時に固液界面を通しての溶解が考えられる系であり、その結果、格子定数は０．５２９６ｎｍ以下、熱伝導率は８０Ｗ／ｍＫ以下であった。
比較例４〜５は、匣鉢にＢＮを使用した水準であり、ＳｉはＢＮと直接接触しておらず、Ｓｉ溶融時に想定される事象としては、ＢＮから分解生成されたＢ（ホウ素）蒸気がＳｉとの気液界面を通しての溶解が考えられる系であり、その結果、格子定数は０．５４３０２ｎｍ以下、熱伝導率は１００Ｗ／ｍＫ未満であった。
【００１９】
（実施例３〜４、比較例６）
上記溶融凝固試料（Ｓｉ単味材料）の結果をふまえ、緻密質のＳｉ−ＳｉＣ系材料前駆体を、表２に示す匣鉢及びセッターを用いて、Ａｒ雰囲気中１４５０℃、２ｈｒ焼成することにより、Ｓｉ−ＳｉＣ系材料（開気孔率０％）を作製した（実施例３〜４、比較例６）。
得られた試料について、格子定数、熱伝導率、Ｓｉ相中のホウ素含有量をそれぞれ測定し、その結果を表２に示す。
【００２０】
【表２】
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【００２１】
実施例３〜４は、比較例６と比較して、熱伝導率を１７０Ｗ／ｍＫ以上にすることができた。
【００２２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の高熱伝導性含Ｓｉ材料及びその製造方法は、Ｓｉ相の室温における格子定数を制御することにより、熱伝導率の低下を防止するとともに、高い熱伝導率を安定に発現させることができる。