(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線診断装置において、下記の構成要件を有し、即ち、
−少なくとも１つのビーム発生器（１）を有し、該ビーム発生器のＸ線ビームは、マトリクス状に配置された画点を有する少なくとも１つの固体検出器（４）により検出され、
−少なくとも１つの補正ユニット（６）を有し、該少なくとも１つの補正ユニットは、固体検出器（４）により生ぜしめられる、被検対象物（３）のその時点の明画像撮影の画像信号（５）を検出し、かつ、存在し得る残光信号を、少なくとも１つの暗画像撮影から検出するものであり、
−前記補正ユニット（６）は、当該残光信号の有無に依存して、及び／又は当該残光信号の強度に依存してビーム発生器（１）を制御し、必要な場合には、前記その時点の明画像撮影の画像信号（５）を補正するように構成されていることを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項２】
画像信号（５）及び残光信号は、補正ユニット（６）にデジタル的に供給されるように構成されていることを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項３】
残光信号は、その時点の明画像撮影前の少なくとも１つの暗画像撮影から求められるように構成されていることを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項４】
残光信号は、その時点の明画像撮影後の少なくとも１つの暗画像撮影から求められるように構成されていることを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項５】
残光信号は、その時点の明画像撮影前の少なくとも１つの暗画像撮影及びその時点の明画像撮影後の少なくとも１つの暗画像撮影から求められるように構成されていることを特徴とする請求項１記載の装置。
【請求項６】
残光信号は、複数の暗画像撮影から１つの算術平均値の形成により求められるように構成されていることを特徴とする請求項３または４記載の装置。
【請求項７】
残光信号は、複数の暗画像撮影から１つの移動重み付け平均値の形成により求められるように構成されていることを特徴とする請求項３または４記載の装置。
【請求項８】
その時点の明画像撮影の前及び後の各１つの暗画像撮影から残光信号に対する算術平均値が形成されるように構成されていることを特徴とする請求項５記載の装置。
【請求項９】
前記補正ユニット（６）はその時点の明画像撮影の時点までの残光信号の減衰特性を求める、請求項３から８までのうちいずれか１項記載の装置。
【請求項１０】
前記補正ユニット（６）は、最後の明画像撮影後およびその時点の明画像撮影前の一連の暗画像から残光信号の減衰特性を求める、請求項９記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
その種のＸ線診断装置は、例えば、ＥＰ０６４２２６４Ａ１から公知である。公知の事例では、ビーム発生器により生成されるＸ線ビームは、マトリクス状に配置された画点を有する固体検出器により検出される。アモルファスシリコンをベースとしたそれらの検出器は、Ｘ線ビームの遮断後、シンチレータ及びホトダイオードの時間特性に基づき、残光信号を惹起し、それら残光信号は所謂"ゴースト"画像または"ファントム"画像を生じさせる。従って、その時点のＸ線画像撮影（これは以降では明画像（Ｈｅｌｌｂｉｌｄ）撮影と称される）においてもまだ、単数または複数の先行画像の残部が見られる。上記作用は、著しく障害的であり、ＥＰ  ０６４２２６４Ａ１によるＸ線診断装置では、これは次のようにして補正される。即ち、先行明画像から、その時点の明画像内に未だに存在しているゴースト画像が計算され、減算されるのである。上記手法は、比較的不正確であり、明画像中のオーバーコントロールないし過励振された個所では機能しない。それというのは、残光信号の減衰の計算のための出発明度値が未知であるからである。
【０００３】
更に、英国特許第１４８９３４５号明細書に記載されている残光作用除去のための方法では、明画像及び暗画像が撮影され、障害ノイズ除去のため相互に打ち消し合い補償される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、改善されたゴースト画像特性を有する、冒頭に述べた形式のＸ線診断装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題は、次のような特徴部分の構成を有するＸ線診断装置によって解決される。即ち、
−少なくとも１つのビーム発生器を有し、該ビーム発生器のＸ線ビームは、マトリクス状に配置された画点を有する少なくとも１つの固体検出器により検出され、
−少なくとも１つの補正ユニットを有し、該少なくとも１つの補正ユニットは、固体検出器により生ぜしめられる、被検対象物のその時点の明画像撮影の画像信号を検出し、かつ、存在し得る残光信号を、少なくとも１つの暗画像撮影から検出するものであり、
−前記補正ユニットは、当該残光信号の有無に依存して、及び／又は当該残光信号の強度に依存してビーム発生器を制御し、必要な場合には、前記その時点の明画像撮影の画像信号を補正するように構成されていることを特徴とするＸ線診断装置によって解決される。有利な発展形態は、更なる請求項に記載されている。
【０００６】
請求項１によるＸ線診断装置は、下記の構成要素を備える。即ち、少なくとも１つのビーム発生器を有し、該ビーム発生器のＸ線ビームは、マトリクス状に配置された画点を有する少なくとも１つの固体検出器により検出され、少なくとも１つの補正ユニットを有し、該少なくとも１つの補正ユニットは、被検対象物のその時点の明画像撮影の固体検出器により生ぜしめられる画像信号を検出するものである。更に、前記補正ユニットは、場合により存在する残光信号を、少なくとも１つの暗画像（Ｄｕｎｋｅｌｂｉｌｄ）撮影から検出するものである。当該の暗画像（撮影）においては、その瞬時の残光だけが見られる。前記補正ユニットは、残光信号の有無に依存して、及び／又は残光信号の強度に依存してビーム発生器を制御する。そして、必要な場合には、その時点の明画像撮影の画像信号は、前記補正ユニットにて補正されるのである。ここで、その時点の明画像撮影の補正された画像信号は、常法で後続処理され得る（例えば、フィルタリング、ハードコピー、アーカイビング、ネットワークへの入力供給等々）。
【０００７】
要するに、本発明のＸ線診断装置では各可能な時間インターバルで１つのＸ線パルスの印加及び１つの明画像の撮影が行われるのではなく、その間に少なくとも１つの暗画像が撮影されるのである。その瞬時の残光だけが見られる、このような暗画像撮影から明画像撮影内の残光成分が求められ、除去される。
【０００８】
少なくとも１つの暗画像撮影から残光信号を求める本発明の手段により、先行の高線量撮影（蓄積される明画像撮影）後の低線量撮影（透視ないし透過照射）も可能である。
【０００９】
残光信号の検出のため、有利には請求項３〜１０に記載した手段を個々に、または、組み合わせて適用することができる。
【００１０】
本発明の更なる利点及び詳細は、図を用いた以降の説明及び更なる請求項との関連から明らかである。
【００１１】
【実施例】
図１中、１はビーム発生器を示し、該ビーム発生器のＸ線ビーム２は、被検対象物３を透射する。Ｘ線ビーム２は、被検対象物３を透射後、固体検出器４にて検出される。当該の明画像の際、固体検出器４により生ぜしめられた画像信号５は、補正ユニット６に供給される。補正ユニット６は、残光信号の有無に依存して、及び／又は残光信号の強度に依存してビーム発生器１を制御する。ここで、残光信号は、少なくとも１つの暗画像撮影（これはその瞬時の残光のみを含む）から求められる。必要な場合、画像信号５は、補正ユニット６にて補正される。補正された画像信号７は、更に後続処理される（例えば、フィルタリング、ハードコピー、アーカイビング、ネットワークへの入力供給等々）。
【００１２】
図２の時間的特性波形図では、通常Ｘ線パルスが印加される様子が示されている。例えば、高い強度の（以下高線量パルス２１と称される）１つのＸ線パルスの後比較的小さい強度の一連のＸ線パルス（以降、低線量パルス２２と称される）（図２−Ａ）が継起する。高線量パルス２１（図２Ｂ）の信号は、固体検出器の物理的性質に基づき多かれ、少なかれ理想的信号特性経過（矩形波信号）とは異なる。検出された信号全体（図２Ｃ）は、成分２１ａ（これは高線量パルス２１に由来する）と、成分２２ａ（これは低線量パルス２２に由来する）を有する。高線量パルス２１から由来する成分２１ａは、補正された画像信号Ｓ＊ｎ（図１中７で示す）を得るには除去されねばならない。この場合補正された画像信号Ｓ＊ｎは、低線量パルスの成分２２ａのみを有するようになる。高線量パルス２１の成分２１ａは、信号全体におけるゴースト画像またはファントム画像に対して責任的に関与する。
【００１３】
図１に示すＸ線診断装置の場合、各可能な時間インターバルＴで１つのＸ線パルスの印加及び明画像の撮影がなされるものではなく、その間に暗画像が撮影されるのである。当該の暗画像撮影においては、その瞬時の残光（この残光は、実際の信号特性経過と理想的特性経過との偏差により生じる）だけが見られる。上記の暗画像撮影から、明画像撮影における残光成分が求められ、除去される。
【００１４】
暗画像は、種々のパターンに従って分散され得る。有利には、高線量パルス２１の後に、先ず、１度、一連の暗画像を撮影するとよい（図３）。図３Ａ，Ｂ及びＣは、図２Ａ，Ｂ及びＣと類似して夫夫のＸ線パルスの時間的特性波形図を示す。高線量パルス２１の成分２１ａの減衰が著しい場合は、暗画像撮影の一部を無視できる。暗画像撮影の頻度は、一定に保持され得、または、時間と共に変化し得る。例えば、高線量撮影の残光信号（ゴースト画像）がなお著しく低下する場合、例えば１つおき（２番目ごと）を、暗画像として撮影し、それから後は２つおき（３番目ごと）、３つおき（４番目ごと）…を暗画像として撮影していって、ついには、ゴースト画像成分（高線量パルスの残光信号）がもはや可視でなくなりゴースト画像補正がもはや必要でなくなるようにすると有利である。
【００１５】
残光信号を求めるため、即ち、明画像から差し引かれるべき残光成分を求めるため、種々の手法が存在する。而して、残光成分を暗画像撮影から、例えば、平均値形成により、及び／又は減衰特性の考慮下で求め得る。而して、例えば、少なくとも２つの先行の暗画像撮影から平均値を求め、そして、それぞれの明画像撮影から差し引くことができる。算術平均値形成のための選択肢として、差し引かれるべき残光成分を、複数の先行の暗画像撮影からの移動重み付け平均値形成によっても求め得る。
【００１６】
更なる選択肢は、少なくとも１つの先行の暗画像撮影及び少なくとも１つの後続の暗画像撮影からの１つの平均値形成である（図４）。図４Ａ，Ｂ及びＣは、図２Ａ，Ｂ及びＣと類似して夫夫のＸ線パルスの時間的特性波形図を示す。上記平均値は、残光成分として、明画像撮影から差し引かれる。以て、補正された信号Ｓ＊ｎは下記の関係式により得られる。
【００１７】
Ｓ＊ｎ＝Ｓｎ−（Ｓｎ−１＋Ｓｎ＋１）／２．
平均値として形成される残光信号（残光成分）は、付加的に、更なる減衰に相応する成分だけ低減され、その結果、測定された残光成分から得られた平均値は、目下の明画像撮影の残光成分に相応するようになる。選択的に、一連の暗画像（これらは高線量パルスの後直ちに撮影される）から更なる減衰が計算され、そして、後続の明画像撮影から差し引かれ得る。
【００１８】
【発明の効果】
本発明によれば、改善されたゴースト画像特性を有するＸ線診断装置を実現することができ、そして、有利には、ゴースト画像成分（高線量パルスの残光信号）がもはや可視でなくなりゴースト画像補正がもはや必要でなくなるようにすることもできるという効果が奏される。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明のＸ線診断装置の１実施例の概念図。
【図２】  通常のＸ線パルスの印加される際のＸ線パルスの種々のシーケンスの波形図。
【図３】  高線量パルス後、一連の暗画像撮影のなされる際のＸ線パルスの種々のシーケンスの波形図。
【図４】  少なくとも１つの先行の、及び後続の暗画像撮影からの平均値計算の説明のためのＸ線パルスの種々のシーケンスの波形図。
【符号の説明】
１            ビーム発生器
２            Ｘ線ビーム
３            被検対象物
４            固体検出器
５            画像信号
６            補正ユニット
７            補正された信号
２１          高線量パルス
２１ａ        高線量パルス成分
２２          低線量パルス
２２ａ        低線量パルス成分
Ｔ            時間インターバル
Ｓ            Ｘ線パルス信号
Ｉ            Ｘ線パルスの強度
ｔ            時間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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