(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フレーム保持部に所期する状態で保持された眼鏡枠の枠溝又は型板に当接する測定子を玉型の動径方向に直線移動可能に保持する回転ベースを持ち、前記測定子を眼鏡枠の枠溝又は型板に押し当てつつ前記回転ベースの回転により枠溝又は型板の周りに沿って測定子を移動させ、前記測定子の動径方向の直線移動を回転部材を介して回転検出器により検出する計測部と、眼鏡枠の左右枠の玉型形状を順次測定するために前記回転ベースを回転可能に保持する横移動ベースを前記フレーム保持部の左右方向へ移動する移動手段と、を備える玉型形状測定装置において、前記横移動ベースの移動情報を検出する移動検出手段と、前記回転検出器による前記測定子の移動情報を較正するために、前記測定子の左右方向の一方の移動を制限する制限部材が前記フレーム保持部に取り付けられた状態で、前記測定子が前記横移動ベースが移動する左右方向に直線移動されるように前記回転ベースの回転をセットした後、前記測定子を前記制限部材の方向に押し当てつつ、前記横移動ベースを前記測定子の押し当て方向とは逆方向に移動させ、この移動に伴って前記移動検出手段により検出される検出結果に基づいて前記回転検出器により同時に検出される前記測定子の移動情報の較正データを得る制御手段と、を備えることを特徴とする玉型形状測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、眼鏡枠のレンズ枠または型板等の玉型形状を測定する玉型形状測定装置に関する。
【０００２】
【従来技術】
玉型形状測定装置は、眼鏡枠の枠溝に当接する測定子又は型板の側面に当接する測定子（以下、これらを玉型測定子という）の移動量を検出して玉型形状を測定するものが一般的である。玉型測定子の移動量を検出する機構としては、各種のものが提案されているが、ラック及びピニオンを組み合せた機構、ワイヤーやベルト等とプーリを組み合せた機構を使用して玉型測定子の直線移動を回転運動に変え、その回転量をエンコーダなどの回転検出器で検出することにより、その回転検出器の出力から移動量を得る方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような移動量の検出においては、ラック及びピニオンの加工精度や、エンコーダとピニオンの軸の偏心により、実際の測定子の移動量とエンコーダからの出力により計算された測定子の移動量がずれてしまい、正確に測定することができない。また、ワイヤーやベルト等とプーリを組み合せた機構においても同様である。
【０００４】
このため、各装置毎に事前にキャリブレーションを行い、そのデータを記憶させるが、従来は大きさの異なる数個の基準フレームに玉型測定子を当て、その数個の検出データのみに基づいてキャリブレーションしていたので、リニアリティのキャリブレーション精度は必ずしも良いものではなかった。また、玉型測定子の全ストロークに亘って精度良くキャリブレーションを行おうとすると、特別な測定器や治具が必要となる。
【０００５】
本発明は、上記従来技術に鑑み、特別な測定器や治具を用意することなく、測定子の移動量のキャリブレーションを広い範囲のストロークに亘って精度良く行うことができる玉型形状測定装置及びこれを有する眼鏡レンズ加工装置、そのキャリブレーション方法を提供することを技術課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
フレーム保持部に所期する状態で保持された眼鏡枠の枠溝又は型板に当接する測定子を玉型の動径方向に直線移動可能に保持する回転ベースを持ち、前記測定子を眼鏡枠の枠溝又は型板に押し当てつつ前記回転ベースの回転により枠溝又は型板の周りに沿って測定子を移動させ、前記測定子の動径方向の直線移動を回転部材を介して回転検出器により検出する計測部と、眼鏡枠の左右枠の玉型形状を順次測定するために前記回転ベースを回転可能に保持する横移動ベースを前記フレーム保持部の左右方向へ移動する移動手段と、を備える玉型形状測定装置において、前記横移動ベースの移動情報を検出する移動検出手段と、前記回転検出器による前記測定子の移動情報を較正するために、前記測定子の左右方向の一方の移動を制限する制限部材が前記フレーム保持部に取り付けられた状態で、前記測定子が前記横移動ベースが移動する左右方向に直線移動されるように前記回転ベースの回転をセットした後、前記測定子を前記制限部材の方向に押し当てつつ、前記横移動ベースを前記測定子の押し当て方向とは逆方向に移動させ、この移動に伴って前記移動検出手段により検出される検出結果に基づいて前記回転検出器により同時に検出される前記測定子の移動情報の較正データを得る制御手段と、を備えることを特徴とする。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１８】
(１)全体構成
図１は本発明に係る眼鏡レンズ加工装置の外観構成を示す図である。装置本体１の上部右奥には、眼鏡枠測定装置２が内蔵されている。眼鏡枠測定装置２は装置本体１の筐体上面の傾斜に沿って手前側に傾斜して配置されており、後述するフレーム保持部２００への眼鏡枠のセットが行い易くなっている。眼鏡枠測定装置２の前方には、眼鏡枠測定装置２を操作するためのスイッチを持つスイッチパネル部４１０、加工情報等を表示するディスプレイ４１５が配置されている。また、４２０は加工条件等の入力や加工のための指示を行う各種のスイッチを持つスイッチパネル部であり、４０２は加工室用の開閉窓である。
【００１９】
図２は装置本体１の筐体内に配置される加工部８００の構成を示す斜視図である。ベース１０上にはキャリッジ部７００が搭載され、キャリッジ７０１の回転軸に挟持された被加工レンズＬＥは、回転軸６０１に取り付けられた砥石６０２により研削加工される。回転軸６０１はスピンドル６０３によりベース１０に回転可能に取り付けられ、回転軸６０１の端部にはプーリ６０４が取り付けられており、プーリ６０４はベルト６０５を介して砥石回転用モータ６０６の回転軸に取り付けられたプーリ６０７と連結されている。キャリッジ７０１の後方には、レンズ形状測定部５００が設けられている。
【００２０】
(２)眼鏡枠測定装置の主要構成
眼鏡枠測定装置２の主要構成をフレーム保持部、計測部に分けて説明する。
【００２１】
＜フレーム保持部＞
フレーム保持部２００の構成を図３、図４により説明する。図３はフレーム保持部２００の平面図であり、図４は図３のＡ−Ａ断面の要部を示す図である。
【００２２】
保持部ベース２０１上には眼鏡フレームを保持するための前スライダー２０２と後スライダー２０３が左右に配置されたガイドレール２０４，２０５上に摺動可能に載置されている。ガイドレール２０４を支持する前方側のブロック２０６ａと後方側のブロック２０６ｂには、それぞれプーリ２０７，２０８が回動自在に取り付けられており、このプーリ２０７，２０８にはワイヤー２０９が掛け渡されている。そして、ワイヤー２０９の上側が後スライダー２０３から延びる右端部材２０３Ｒに取り付けられたピン２１０に固着され、ワイヤー２０９の下側が前スライダー２０２から延びる右端部材２０２Ｒに取り付けられたピン２１１に固着されている。さらに、後方側のブロック２０６ｂと前スライダー２０２の右端部材２０２Ｒとの間には取付板２１２を介してバネ２１３が掛け渡されており、前スライダー２０２はバネ２１３が縮む方向に常時付勢されている。こうした取付けにより前スライダー２０２と後スライダー２０３はその中央の基準線Ｌ1に対して対称に対向して摺動すると共に、バネ２１３により常に両者の中心（基準線Ｌ1）に向かう方向に引っ張られている。したがって、前スライダー２０２又は後スライダー２０３の一方を開く方向に摺動させることにより、フレームを保持するための間隔が確保され、前スライダー２０２及び後スライダー２０３をフリーな状態にすれば、バネ２１３の付勢力により両者の間隔が縮まる。
【００２３】
眼鏡フレームは前スライダー２０２の左右２個所に配置されるクランプピン２３０と、後スライダー２０３の左右２個所に配置されるクランプピン２３０の計４個所に配置されるクランプピン２３０でクランプされ、測定基準平面で保持されるようになっている。
【００２４】
これらのクランプピン２３０の開閉は、保持部ベース２０１の裏側に固定されたクランプ用モータ２２３の駆動により行われる。モータ２２３の回転軸に取り付けられたウォームギヤ２２４は、ブロック２０６ａとブロック２０６ｂとの間で回転可能の保持されるシャフト２２０のホイールギヤ２２１に噛み合っており、モータ２２３の回転がシャフト２２０に伝達される。シャフト２２０は前スライダー２０２から延びる右端部材２０２Ｒと、後スライダー２０３から延びる右端部材２０３Ｒにそれぞれ挿通されている。右端部材２０２Ｒの内部ではクランプピン２３０の開閉を行うための図示なきワイヤーがシャフト２２０に取り付けてあり、シャフト２２０の回転によりワイヤーが引っ張られることにより、クランプピン２３０の開閉動作を同時に行うようになっている。右端部材２０３Ｒの内部にも同様に図示なきワイヤーがシャフト２２０に取り付けてあり、シャフト２２０の回転によりクランプピン２３０の開閉動作を同時に行うようになっている。また、右端部材２０２Ｒ及び右端部材２０３Ｒの内部には、シャフト２２０の回転によりは前スライダー２０２及び後スライダー２０３の開閉を固定するためのブレーキパットが設けられている。なお、このようなクランプピン２３０の開閉機構の構成は、例えば、本出願人による特開平４−９３１６３号公報に記載されたものが使用できるので、詳細はこれを参照されたい。
【００２５】
＜計測部＞
計測部２４０の構成を図５〜図７に基づいて説明する。図５は計測部２４０の平面図である。図５において、横移動ベース２４１は保持部ベース２０１に軸支されて横方向に延びる２本のレール２４２、２４３にしたがって横スライド可能に支持されている。横移動ベース２４１の横移動は、保持部ベース２０１に取り付けられているパルスモータ２４４の駆動により行われる。パルスモータ２４４の回転軸には送りネジ２４５が連結されており、この送りネジ２４５が横移動ベース２４１の下側に固定された雌ネジ部材２４６と噛合することにより、パルスモータ２４４の正逆回転によって横移動ベース２４１が横方向に移動する。
【００２６】
横移動ベース２４１には、３個所に取り付けられたローラ２５１により回転ベース２５０が回転可能に保持されている。図６に示すように、回転ベース２５０の円周端部にはギヤ部２５０ａが形成され、その下部には外周側に突出する山形形状のガイドレール２５０ｂが形成されている。このガイドレール２５０ｂが各ローラ２５１のＶ溝部に接触しており、回転ベース２５０は３個のローラ２５１によって保持されながら回転する。回転ベース２５０のギヤ部２５０ａはアイドルギヤ２５２に噛み合い、アイドルギヤ２５２は横移動ベース２４１の下側に固定されたパルスモータ２５４の回転軸に取り付けられたギヤ２５３に噛合している。これによりモータ２５４の回転が回転ベース２５０に伝達される。回転ベース２５０の下面には、測定子ユニット２５５が取り付けられている。
【００２７】
測定子ユニット２５５の構成を図６、図７により説明する。図６は測定子ユニット２５５を説明するための側面図、図７は図６のＣ方向の図である。
【００２８】
回転ベース２５０の下面には固定ブロック２５６が固定されている。固定ブロック２５６の側面にはガイドレール受け２５６ａが回転ベース２５０の平面方向に延びるように取り付けられており、このガイドレール受け２５６ａにスライドレール２６１を持つ移動支基２６０が摺動可能に取り付けられている。ガイドレール受け２５６ａの取付け面に対して固定ブロック２５６の反対側側面には、移動支基２６０を移動するためのＤＣモータ２５７とその移動量を検出するエンコーダ２５８が取り付けられている。エンコーダ２５８の回転軸に取り付けられたギヤ２５８ａは、移動支基２６０の下方に固定されたラック２６２に噛合し、この回転から移動支基２６０の移動量を検出する。モータ２５７の回転軸に取り付けられたギヤ２５７ａの回転は、アイドルギヤ２５９を介してギヤ２５８ａに伝達され、ラック２６２を動かすことにより移動支基２６０を図６上の左右方向に移動させる。
【００２９】
移動支基２６０には上下支基２６５が上下移動可能に支持されている。その移動機構は移動支基２６０と同じように、移動支基２６０に取り付けられて上下方向に延びるガイドレール受け２６６に、上下支基２６５に取り付けられたスライドレール（図示せず）が摺動可能に保持されている。上下支基２６５には上下方向に延びるラック２６８が固定されており、このラック２６８には移動支基２６０と固定板金により取り付けられたエンコーダ２７２のギヤ２７２ａが噛合している。上下支基２６５の移動量は、エンコーダ２７２によって検知される。また、ＤＣモータ２７０の回転は、アイドルギヤ２７１を介して、ギヤ２７２ａに伝達され、ラック２６８を動かすことにより上下支基２６５を上下移動させる。なお、上下支基２６５は移動支基２６０に取り付けられたゼンマイ２７５により下方向への荷重が減少されるようになっており、上下移動をスムーズにしている。
【００３０】
また、上下支基２６５にはシャフト２７６が回転可能に保持されており、その上先端にはＬ字状の取付け部材２７７が設けられ、さらに取付け部材２７７の上部には測定子２８０が固定されている。この測定子２８０の先端はシャフト２７６の回転軸線と一致しており、測定時には測定子２８０の先端を眼鏡フレームＦのフレーム溝に当接させる。
【００３１】
シャフト２７６の下端には制限部材２８１が取り付けてある。この制限部材２８１は略円筒形状であり、その側面に縦方向に沿って凸部２８１ａが形成され、図６における紙面反対側の方向にも凸部２８１ａが形成されている。この２個所の凸部２８１ａが上下支基２６５の切り欠き面２６５ａ（図６における紙面反対側にも同じ切り欠き面２６５ａがある）に当接することにより、シャフト２７６の回転（すなわち測定子２８０の回転）がある範囲で制限される。また、制限部材２８１の下方は斜めカットされた斜面が形成されている。上下支基２６５の上下移動によりシャフト２７６と共に制限部材２８１が下方へ下がったとき、この斜面が移動支基２６０に固定されたブロック２６３の斜面に当接することにより、制限部材２８１の回転は図６の状態に誘導され、測定子２８０の先端の向きが正される。
【００３２】
図６において、移動支基２６０の右側部分には型板測定用の測定軸２９０が上下スライド可能に保持されている。測定軸２９０の下端からは、図６の紙面上で表側方向に延びるピン２９１が取り付けてあり、このピン２９１と移動支基２６０の上部にはスプリング２９２が掛け渡されており、測定軸２９０は常時上方向に付勢されている。ピン２９１にはロック機構２９３が設けられている。ロック機構２９３は軸２９４を中心にして回動する固定板２９５と、固定板２９５を図６上の右方向に付勢するコイルバネ２９６を有し、測定軸２９０をスプリング２９２の付勢力に抗して移動支基２６０の内部に押し込むと、ピン２９１が固定板２９５に当接しながら固定板２９５を図６上の左方向に回動する。さらに測定軸２９０が押し込まれると、ピン２９１は固定板２９５の下に位置し、コイルバネ２９６の付勢力により固定板２９５は右側に戻される。これによりピン２９１は固定板２９５の切り欠きの下に入り、測定軸２９０は移動支基２６０の内部に収納された状態でロックされる。測定軸２９０を取り出すときは、測定軸２９０の頂部を押し込むことにより、ピン２９１が固定板２９５に形成されたガイド板２９５ａに案内されて切り欠きを脱し、測定軸２９０はスプリング２９２の付勢力に上部の所定位置まで上昇する。
【００３３】
（３）眼鏡枠測定装置の測定動作
次に、眼鏡枠測定装置２による眼鏡フレームの枠形状（以下、玉型形状という）を測定するときの動作を、図１４の制御系ブロック図を使用して簡単に説明する。
【００３４】
前スライダー２０２を手前に引いて前スライダー２０２と後スライダー２０３の間隔を広げるた後、眼鏡フレームをクランプピン２３０の間に位置させる。前スライダー２０２及び後スライダー２０３はバネ２１３により常に基準線Ｌ1に向かう求心的な力が働いているので、これにより両スライダーの間隔が狭められ、眼鏡フレームが基準線Ｌ1を中心にして保持される。
【００３５】
眼鏡フレームのセットした後、スイッチパネル部４１０の両眼トレース用スイッチ４１２を押すと、眼鏡枠測定装置２側の制御部１５０はモータ２２３を駆動させ、シャフト２２０の回転により４個所のクランプピン２３０を閉じて眼鏡フレームを固定する。その後、計測部２４０を作動させて玉型形状の測定を行う。
【００３６】
両眼トレースの場合、制御部１５０はパルスモータ２４４を駆動して、測定子２８０が眼鏡フレームの右枠側の所定位置に位置するように横移動ベース２４１を移動しておく。その後、モータ２７０の駆動により上下支基２６５を上昇させて測定子２８０を測定基準平面の高さに位置させる。最下点位置から測定子２８０を上昇させた際の移動量はエンコーダ２７２の検出から得られ、制御部１５０はエンコーダ２７２の検出情報を基に測定子２８０を測定基準平面の高さに位置させる。
【００３７】
その後、制御部１５０はモータ２５７を駆動して移動支基２６０を移動し、測定子２８０の先端を眼鏡フレームの枠溝に挿入する。この移動に際してはＤＣモータ２５７を使用しているので、モータ２５７への駆動電流（駆動トルク）の制御により所定の駆動トルクを掛けることで、フレームを変形させずに、かつ測定子２８０が外れない程度の弱い押圧力を与えることができる。続いて、パルスモータ２５４を予め定めた単位回転パルス数毎に回転させ、回転ベース２５０と共に測定ユニット２５５を回転する。この回転により、測定子２８０と共に移動支基２６０がレンズ枠溝の動径に従って、ガイドレール受け２６７のレール方向に移動し、その移動量はエンコーダ２５８によって検出される。すなわち、玉型形状に対する動径方向における測定子２８の移動量が、エンコーダ２５８によって検出される。
【００３８】
また、測定子２８０と共に上下支基２６５はレンズ枠溝の反り（カーブ）に沿って上下し、その移動量がエンコーダ２７２によって検出される。パルスモータ２５４の回転角θと、エンコーダ２５８による検出量ｒと、エンコーダ２７２による検出量ｚとから、右枠側の玉型形状が（ｒｎ，θｎ，ｚｎ）（ｎ＝１，２，……Ｎ）として計測される。
【００３９】
右枠側の計測が終了した後、制御部１５０はパルスモータ２４４を駆動して、測定子２８０が眼鏡フレームの左枠側の所定位置に位置するように横移動ベース２４１を移動し、同様に左枠側の玉型形状を計測する。
【００４０】
以上のように計測された玉型データは、スイッチパネル部４２０のデータスイッチ４２１が押されることにより、加工側のがデータメモリ１６１に転送され、加工情報として使用される。
【００４１】
なお、型板測定の場合は、測定子２８０の代わりに型板用の玉型測定子である測定軸２９０を使用して型板の周りを倣うことにより、上記眼鏡フレーム測定の場合と同様に測定軸２９０の動径方向の移動量がエンコーダ２５８によって検出され、これとパルスモータ２５４の回転角θとにより、型板の玉型形状が計測される。
【００４２】
（４）眼鏡枠測定装置のキャリブレーション
上記のように玉型形状の測定においては、エンコーダ２５８からの出力信号（パルス数）を基に玉型形状の動径方向の移動量が得られるが、その精度はエンコーダ２５８の回転軸に取り付けられたギヤ２５８ａ及びラック２６２の加工精度に依るところが大きい。特に、エンコーダ２５８の回転軸とギヤ２５８ａの軸に偏心があると、移動支基２６０の移動量に周期的な誤差が発生し、玉型形状の測定精度が高精度に得られない。
【００４３】
これに対して、一般に送りネジによる移動機構は、ラックとギヤ（ピニオン）による移動機構に比べ遥かに低コストで高精度の移動を実現できる。そこで、本装置では送りネジ２４５による横移動ベース２４１の移動を利用して、移動支基２６０（測定子２８０及び測定軸２９０）の移動量のリニアリティキャリブレーションを行う。以下、このキャリブレーションについて、図８〜１３を用いて説明する。
【００４４】
図８は、リニアリティキャリブレーションの流れを説明する図である。図９は、リニアリティキャリブレーションの動作を説明する図である。
【００４５】
図９において、９０１は測定子２８０を図９左方向へ動かない様に制限する制限板であり、玉型形状の全体的なキャリブレーションができるように、眼鏡フレームを模した形状としている。この制限板９０１の中央部には裏側に一段低くなった測定溝９０１ａが形成されており、リニアリティキャリブレーションは測定溝９０１ａに測定子２８０を当接させることにより行われる。
【００４６】
キャリブレーションに際しては、予め、眼鏡フレームの固定と同じような要領で制限板９０１をクランプピン２３０で固定する。次に、スイッチパネル部４１０のスイッチ操作（３つのスイッチを同時に押す操作）により、制御部１５０に予め記憶されているキャリブレーション用のプログラムが実行される。
【００４７】
まず、制御部１５０はＤＣモータ２５７を駆動して、図６に示したように、移動支基２６０を右側の移動原点まで移動し、このときのエンコーダ２５８のカウント値をクリアにする。次に、モータ２５４の駆動によって回転ベース２５０を回転し、移動支基２６０が左右に移動する方向、すなわち横移動ベース２４１が移動する方向にセットする。その後、測定子２８０が測定溝９０１ａに当接するまでモータ２５７の駆動により移動支基２６０を左側に移動し、このときにエンコーダ２５８から出力される値（パルス数）を得ておく。続いて、測定子２８０を測定溝９０１ａに押し当てたまま、パルスモータ２４４の駆動により横移動ベース２４１を左方向に動かし、先に得られたエンコーダ２５８の値が原点の値になるまで移動することにより、移動支基２６０を右側の移動原点の位置（図９（ａ）に示す位置）にする。
【００４８】
なお、この場合、測定子２８０の押し当て方向の違いによるギヤ２５８ａ及びラック２６２のバックラッシュの影響を考慮し、エンコーダ２５８の値を原点＋α（原点より所定パルス数分手前）にして、移動原点のやや手前までの移動としても良い。
【００４９】
次に、リニアリティ測定を次の様に行う。モータ２５７への駆動電流の制御により所定の駆動トルクを掛けながら測定子２８０を制限板９０１に押し当てつつ、パルスモータ２４４の駆動により横移動ベース２４１を右方向へ移動する。このとき、エンコーダ２５８から出力される値（パルス数）が変化する毎に、横移動ベース２４１を移動するパルスモータ２４４のパルス数を順次保存していく。これにより、エンコーダ２５８の値に対する移動量の較正用テーブルが作成される。
【００５０】
また、測定終了は次のようにして判断する。横移動ベース２４１の移動に伴い、測定子２８０を備える移動支基２６０は相対的に固定ブロック２５６に対して左側へ移動することになる。移動支基２６０が移動原点に達すると、測定子２８０は制限板９０１から離れ、エンコーダ２５８の値が変化しなくなる。これにより制御部１５０は移動支基２６０が移動する全ストローク分の測定データ（エンコーダ２５８の値に対するパルスモータ２４４のパルス数）が得られたことを検知し、リニアリティ測定を終了する。
【００５１】
なお、パルスモータ２４４のパルス数に対する横移動ベース２４１の移動量は、送りネジ２４５のピッチとパルスモータ２４４のパルス数に対応する回転量との関係から、設計的に既知の値である。したがって、パルスモータ２４４のパルス数が得られれば、横移動ベース２４１の移動量、すなわち、エンコーダ２５８の値に対する移動支基２６０の移動量が求められる。較正用テーブルの作成に際しては、制御部１５０はパルスモータ２４４のパルス数を実際の移動距離に変換してメモリ１５１に記憶する。
【００５２】
以上のようにして、エンコーダ２５８の値に対する移動支基２６０の移動量の較正用テーブルが作成されるので、実際の玉型測定時にはこれを参照することにより、ラックとピニオンを使用した測定機構でありながら、玉型形状を高精度に測定できる。
【００５３】
実際の装置においては、メモリ（ＲＡＭ）１５１に記憶した較正用テーブルをそのまま不揮発性メモリ１５２に記憶し、装置起動時にメモリ１５１側に移し替えて使用するようにしても良いが、メモリ容量の節約のためには、例えば次のようにする。
【００５４】
作成された較正用テーブルにおけるエンコーダ２５８のパルス数Ｎ、移動量をＹとしたときの両者の関係は、図１０のようになる（図１０ではパルスモータ２４４から求めた移動量の縮尺が大きいので、周期的に波うった変化の様子が分からないが、測定に必要な精度のレベルでは波うったデータとなっている）。ここで、まず、エンコーダ２５８のパルス数Ｎから直線近似した移動量をＹ´を、
Ｙ´＝ａＮ＋ｂ（ａは傾き、ｂは切片）
として求める。
【００５５】
次に、Ｙ−Ｙ´＝ｙの演算により、パルス数Ｎ毎のリニアリティ補正量ｙを求め、新たな補正量テーブルを作成する。これを図示したものが図１１であり、パルス数Ｎに対する全ストロークの移動量を少ない桁数として不揮発性メモリ１５２に記憶できることが分かる。装置起動時には、上記のＹ´を求める式と図１１に示したリニアリティ補正量テーブルから、演算により再び補正量テーブルを作成し、これをメモリ１５１に記憶して使用する。
【００５６】
また、図１２の実線で示すように、リニアリティ補正量ｙをある一定間隔のパルス数毎（例えば１００パルス数毎）に記憶し、その間の値は直線補間するようにすれば、更にメモリ容量を節約することができる。またさらに、図１３のように、パルス数Ｎに対するリニアリティ補正量ｙを正弦波で近似した演算式の形式で記憶すれば、不揮発性メモり１５２のメモリ容量を格段に節約できる。これらのデータの取り方は、必要とする精度との関係で決定すれば良い。
【００５７】
以上説明したリニアリティのキャリブレーションでは、測定子２８０を使用して行ったが、型板測定用の測定軸２９０を用いて行うこともできる。
【００５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、特別な測定器や治具を用意することなく、装置が持つ機構を利用して、玉型測定子の移動量のリニアリティキャリブレーションを広い範囲のストロークに亘って精度良く行える。従って、玉型形状の測定において精度のよい測定結果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る眼鏡レンズ加工装置の外観構成を示す図である。
【図２】装置本体の筐体内に配置される加工部８００の構成を示す斜視図である。
【図３】眼鏡枠測定装置におけるフレーム保持部２００の平面図である。
【図４】図３のＡ−Ａ断面の要部を示す図である。
【図５】眼鏡枠測定装置における計測部の平面図である。
【図６】測定子ユニットを説明するための側面図である。
【図７】図６のＣ方向の図である。
【図８】リニアリティキャリブレーションの流れを説明する図である。
【図９】リニアリティキャリブレーションの動作を説明する図である。
【図１０】エンコーダパルス数とパルスモータから求めた移動量の関係を示す図である。
【図１１】エンコーダパルス数とリニアリティ補正量（生データ）の関係を示す図である。
【図１２】エンコーダパルス数とリニアリティ補正量（数点間を直線補完）の関係を示す図である。
【図１３】エンコーダパルス数とリニアリティ補正量（正弦波で近似）の関係を示す図である。
【図１４】本装置の制御系ブロックである。
【符号の説明】
１  装置本体
１５０  制御部
１５１  メモリ
１５２  不揮発性メモリ
１６０  主制御部
２０２  前スライダー
２０３  後スライダー
２３０  クランプピン
２４１  横移動ベース
２４４  パルスモータ
２４５  送りネジ
２４６  雌ネジ部材
２５０  回転ベース
２５８  エンコーダ
２５８ａ  ギヤ
２８０  測定子
２９０  測定軸
９０１  制限板
【図１】
0004194192.tif 000002
【図２】
0004194192.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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