(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
集積回路を作製する方法であって、
基板を提供する工程と、
前記基板上にフッ素含有アモルファスカーボン層を堆積する工程と、
前記フッ素含有アモルファスカーボン層上に、炭化ケイ素層を、１５０〜２５０Å／分の範囲の速度で堆積して、最終的には少なくとも５０Åの厚さを有するともに、３００〜５００ＭＰａの範囲の内部圧縮応力を有し、緻密であって比較的Ｓｉ−Ｈ結合が少なく、全体にわたってフッ素の拡散を防止する構造とする、工程と、
前記炭化ケイ素層上に窒化ケイ素層を堆積する工程とを包含し、
前記窒化ケイ素層を堆積する工程は、３０：５０〜３０：１５０の範囲の比でシラン（ＳｉＨ４）と窒素（Ｎ２）とを提供する工程と、１０００ＫＨｚ未満の低周波数出力は提供しないが１３．５６ＭＨｚの高周波数出力を提供する工程とを包含する、集積回路の作製方法。
【請求項２】
前記炭化ケイ素層を堆積する工程は、０．７３５の流量比でシラン（ＳｉＨ４）と炭素含有ガスとを提供する工程を含み、ここで、前記炭素含有ガスは、Ｃ２Ｈ４、Ｃ２Ｈ６、およびＣＨ４からなる群から選択される、請求項１に記載の集積回路の作製方法。
【請求項３】
前記堆積する工程のそれぞれは、２００〜５００℃の範囲の温度で、プラズマ強化化学蒸着チャンバ内で行われる、請求項１に記載の集積回路の作製方法。
【請求項４】
前記フッ素含有アモルファスカーボン層を堆積する工程は、５．５〜５．７の比でオクタフルオロシクロブタン（Ｃ４Ｆ８）と炭化水素ガスとを提供する工程を含み、ここで、前記炭化水素ガスは、Ｃ２Ｈ４、Ｃ２Ｈ６、およびＣＨ４からなる群から選択される、請求項１に記載の集積回路の作製方法。
【請求項５】
少なくとも５０分間、少なくとも３５０℃の温度で、前記フッ素含有アモルファスカーボン層をアニールする工程をさらに包含し、前記フッ素含有アモルファスカーボン層は、アニール前は１８〜３８ＭＰａの範囲の内部圧縮応力を有し、アニール後は２０〜４０ＭＰａの範囲の内部引張応力を有し、２．５以下の誘電率を有する、請求項１に記載の集積回路の作製方法。
【請求項６】
前記フッ素含有アモルファスカーボン層、前記炭化ケイ素層、および前記窒化ケイ素層をその上に有する前記基板を、少なくとも１時間、３５０〜５００℃の範囲の温度にまで加熱する工程をさらに包含し、前記フッ素含有アモルファスカーボン層、前記炭化ケイ素層、および前記窒化ケイ素層は、前記加熱する工程中またはその後は、膨れていないか、または互いに剥がされていない、請求項１に記載の集積回路の作製方法。
【請求項７】
窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４）層とフッ素含有アモルファスカーボン層との間に、前記窒化ケイ素層および前記フッ素含有アモルファスカーボン層に直接接触するように配置された炭化ケイ素密着プロモータ層を含み、
前記炭化ケイ素密着プロモータ層は、１５０〜２５０Å／分の範囲の速度の堆積によって基板上に形成され、前記炭化ケイ素密着プロモータ層は、最終的には少なくとも５０Åの厚さを有するともに、３００〜５００ＭＰａの範囲の内部圧縮応力を有し、緻密であって比較的Ｓｉ−Ｈ結合が少なく、全体にわたってフッ素の拡散を防止する構造であり、
前記窒化ケイ素層は、７３．５：１３６．２〜７３．５：４００の範囲の比でシラン（ＳｉＨ４）と窒素（Ｎ２）とを提供する工程と、１０００ＫＨｚ未満の低周波数出力は提供しないが１３．５６ＭＨｚの高周波数出力を提供する工程とを包含する堆積工程により形成され、前記窒化ケイ素層は１０ＭＰａの内部引張応力を有する、集積回路。
【請求項８】
銅で充填された窪んだ領域をさらに含む、請求項７に記載の集積回路。
【請求項９】
前記炭化ケイ素密着プロモータ層は、０．７３５の流量比で、シラン（ＳｉＨ４）と炭素含有ガスとを提供することによって堆積され、前記炭素含有ガスは、Ｃ２Ｈ４、Ｃ２Ｈ６、およびＣＨ４からなる群から選択される、請求項７に記載の集積回路。
【請求項１０】
前記回路は、２００〜５００℃の範囲の温度で、プラズマ強化化学蒸着チャンバ内で形成される、請求項７に記載の集積回路。
【請求項１１】
前記フッ素含有アモルファスカーボン層は、５．５〜５．７の範囲の比でオクタフルオロシクロブタン（Ｃ４Ｆ８）と炭化水素ガスとを提供する工程であって、前記炭化水素ガスは、Ｃ２Ｈ４、Ｃ２Ｈ６、およびＣＨ４からなる群から選択される、工程と、前記フッ素含有アモルファスカーボン層がアニールされるようにアニールする工程であって、前記フッ素含有アモルファスカーボン層はアニール前は１８〜３８ＭＰａの範囲の内部圧縮応力を有する、工程とを包含する堆積工程により形成される、請求項７に記載の集積回路。
【請求項１２】
前記フッ素含有アモルファスカーボン層は２．５以下の誘電率を有し、前記回路は、少なくとも１時間、３５０〜５００℃の範囲の温度にまで加熱され得、前記フッ素含有アモルファスカーボン層、前記炭化ケイ素密着プロモータ層、および前記窒化ケイ素層は、前記加熱されている間またはその後は、膨れていないか、または互いに剥がされていない、請求項７に記載の集積回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
（技術分野）
本発明は、単層および多層ダマシン構造において、低誘電率のフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）で銅を一体的に化学蒸着する方法に関する。より詳細には、窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４）の層とａ−Ｆ：Ｃとの間に、比較的水素を含まない水素化炭化ケイ素（ＳｉＣ：Ｈ）のような密着プロモータ材料の薄層を提供し、ダマシン構造の密着特性および機械的特性を向上させる方法に関する。
【０００２】
（背景技術）
大規模集積回路の設計業者および製造業者は、より高速でデバイスの高パッキング密度を可能にするより小さいデバイスを絶えず製造し続けている。超大規模（ＵＬＳＩ）回路上のそれぞれの構成要素のサイズ（例えば、トランジスタゲート長）は、０．２５ミクロン未満にまで小さくなってきている。その結果、半導体チップ上のパッキング密度が増加し、それに伴って機能も増加し、各チップ上には非常に多くのかつ非常に込み入った相互接続が存在する。
【０００３】
機能性および複雑さが増加し、互いに接近してパッキングされたオンチップデバイスがより小さくなると、より小さな、より複雑な（例えば、より高い配線レベル）、そしてより接近して配置される相互接続（ライン、バイアなど）が必要となる。抵抗が増加し、かつ相互接続の間隔がより接近した相互接続のサイズがより小さくなると、伝播遅延およびレベル間導体間のクロストークノイズを含む抵抗−キャパシタンス（ＲＣ）カップリングの問題が生じる。相互接続ライン（レベル間およびレベル内の両方）がより小さく、そしてより接近した間隔になると、ＲＣ遅延はトータルの信号遅延の増加した部分となり、より小さいデバイスサイズに由来する任意のスピードの利点をオフセットする。従って、ＲＣ遅延は、デバイスの性能の向上を制限する。小さな導体サイズは、金属線の抵抗（Ｒ）を増加し、より小さなライン間およびレベル間の間隔はライン間のキャパシタンス（Ｃ）を増加させる。銅のようなより低い抵抗率の金属の使用および開発により、相互接続ラインの抵抗率が減少し続ける。キャパシタンスは低誘電率（すなわち、ｌｏｗｅｒ−Ｋ）の誘電材料を用いることで減少することができる。
【０００４】
キャパシタンス（Ｃ）は相互接続誘電体の誘電率（ｋ）に直接比例するので、ＵＬＳＩ回路によって示されるＲＣの問題は、低誘電率（ｌｏｗ−ｋ）材料がレベル間およびレベル内導体（本明細書中では「相互接続誘電体」または「相互接続誘電体材料」と呼ばれる誘電体）の間およびそのまわりに配置された絶縁材料として使用される場合に低減することができる。産業は、二酸化ケイ素（ＳｉＯ２）（これは永年の間、集積回路の誘電体として使用されている）の適切な代替物を探し続けている。二酸化ケイ素は優れた熱安定性を有し、比較的良好な誘電特性（約４．０の誘電率）を有している。しかし、現在では、ＩＣ回路相互接続の使用に適し、ＳｉＯ２の誘電率よりも低い誘電率の相互接続誘電体材料が必要とされている。
【０００５】
ＵＬＳＩ回路で相互接続誘電体として使用される可能な低誘電率材料を永年探し求めた後、その候補が所望の用途に依存して数個にまで絞られた。近年活発に研究され、非常に注目を浴びている有望な材料の１つが、フッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）である。
【０００６】
材料中のフッ素濃度が増加するに連れて、ａ−Ｆ：Ｃ膜の誘電率は低くなる。プラズマ強化化学蒸着（ＰＥＣＶＤ）プロセスにおいて、膜のフッ素濃度は流体（これは、供給ガス組成、ＲＦ出力入力、基板温度、および全圧によって確立される）中のフッ素と炭素との比に依存する。熱安定性は、高分子鎖間の架橋密度に密接に関連する。架橋密度が増加すると、構造がより密に結合し、熱安定性がより向上する。ＰＥＣＶＤプロセスにおいて、基板温度を上昇させる工程、イオンボンバードメントを向上させる工程、または低周波数プラズマエネルギーを適用する工程のいずれかにより、フルオロカーボン膜中の架橋が増加し得る。高温での堆積は、フッ素濃度の避けられない減少、そしてそれによる誘電率の増加という欠点を有している。さらに、高温での堆積はまた、熱応力の増加に起因してポリマー層とＳｉＯ２およびＳｉ３Ｎ４層との間の乏しい密着性をもたらし、膜により大きい漏れ電流を引き起こす。
【０００７】
フッ素含有アモルファスカーボンは、膜中のフッ素（Ｆ）の割合に依存して、３．０より低い誘電率ｋを有し、２．０〜２．５の範囲の誘電率を有し得る。これらのポリマーでの初期の経験では、室温で堆積された膜は２．１の低い誘電率、３００℃までの熱安定性を有し得る。ａ−Ｆ：Ｃ膜がより高温の基板温度で堆積される場合、熱安定性は４００℃まで向上し得るが、誘電率は約２．５より上に増加し得ることがさらなる経験で示されている。これまで、適切な低誘電率特性（２．５より低いｋ）、および４００℃より高い熱安定性を有するａ−Ｆ：Ｃ膜を調製することは不可能であった。ＵＬＳＩチップの製造に典型的である焼結範囲の温度（４５０℃）により、ａ−Ｆ：Ｃ膜の過剰な収縮が起こり、これはおそらくフッ素の気化によるものである。機械的強度および密着性の問題はまた、高密度集積回路の相互接続としてのａ−Ｆ：Ｃの使用に障壁となる。特に、ａ−Ｆ：Ｃとバリア層（例えば、窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４））との間の乏しい密着性は、永年問題となってきた。
【０００８】
低誘電率（ｌｏｗ−ｋ）材料の最近の研究開発は、低誘電率材料を有するＣｕの統合は、単層および多層ダマシン構造における将来の層間誘電体の候補を選択する際に重要な点の１つであるということを示している。多くの低誘電率候補は優れた電気特性を示すが、成功したＣｕ／低誘電率統合は、Ｃｕ／低誘電率ベースのダマシン構造の作製が困難であることに起因して、まだ達成されていない。これらの構造において、大部分の信頼できる点は、ａ−Ｆ：Ｃのような低誘電率膜とＳｉＯ２、Ｓｉ３Ｎ４、およびバリア層（ライナ）との密着性、化学的機械的研磨（ＣＭＰ）中の低誘電率材料の機械的強度、および熱処理、パターニング、プラズマエッチング下での単層および多層ダマシン構造の安定性である。多層配線はＣｕ／低誘電率相互接続の最終的な目的であるので、このような多層ダマシン構造の作製は重要である。
【０００９】
従って、低誘電率（ｋ＝３．０以下）、および向上した熱安定性（４５０℃まで）を有し、よって二酸化ケイ素誘電体の代替物として適切な低誘電率を提供する、集積回路の相互接続構造に使用する誘電体材料（本明細書中では、「相互接続誘電体」とも呼ばれる）を有することは有利である。
【００１０】
４５０℃まで熱的に安定な２．５以下の誘電率を有するａ−Ｆ：Ｃ膜を有することもまた有利である。
【００１１】
プラズマ強化化学蒸着（ＰＥＣＶＤ）技術を用いてシリコン基板上に低誘電率ａ−Ｆ：Ｃ膜を形成する方法を有することもまた有利である。ここで、得られたａ−Ｆ：Ｃ膜は、４５０℃まで実質的に安定である。
【００１２】
シリコン基板上に複数のａ−Ｆ：Ｃ膜を形成する方法を有することもさらに有利である。ここで、得られた複数の層状のａ−Ｆ：Ｃ／Ｓｉ３Ｎ４構造は、４５０℃まで安定である。
【００１３】
ＳｉＣのようなプロモータ材料の薄層を形成し、ＳｉＯ２および／またはＳｉ３Ｎ４層とのａ−Ｆ：Ｃ膜の密着性および機械的特性を向上させる方法を有することは有利である。
【００１４】
層構造を通してフッ素原子の拡散を低減するためのバリアとしても機能し得るプロモータ層を形成する方法を有することは有利である。
【００１５】
ＣＭＰ、熱処理、パターニング、およびプラズマエッチングのプロセスを持続し得るＣｕ／ＳｉＯ２／ａ−Ｆ：Ｃダマシン積層を形成する方法を有することは有利である。
【００１６】
（発明の開示）
プラズマ強化化学蒸着（ＰＥＣＶＤ）プロセスが、集積回路の相互接続構造に使用するための基板上に、１つ以上の誘電体材料層を堆積するために提供される。この方法は、約２８ＭＰａの内部圧縮応力を有するａ−Ｆ：Ｃ層を堆積するように、フッ素含有ガス（好ましくは、オクタフルオロシクロブタン）と炭素含有ガス（好ましくは、メタン）とを約５．６の比で提供することで、基板上にフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）層を堆積する工程を包含する。堆積後、膜は、約２時間、約４００℃でアニールされ、約３０ＭＰａの内部引張応力を有する層となる。
【００１７】
次いで、比較的水素を含まない水素化炭化ケイ素の密着プロモータ層が、ケイ素含有ガス（好ましくは、シラン）と炭素含有ガス（好ましくは、メタン）とを約０．７３５の流量比で提供することで、ａ−Ｆ：Ｃ層上に堆積される。この堆積は、典型的には、約２．４Ｔｏｒｒの圧力、２００ワットおよび１３．５６ＭＨｚの高周波数出力、２００ワットおよび５００ＫＨｚの低周波数出力、および約４００℃の温度で起こる。炭化ケイ素層は約１８０Å／分の速度で堆積され得、典型的には約４００ＭＰａの内部圧縮応力を有する炭化ケイ素層の堆積をもたらす。この堆積条件により、比較的少ないケイ素−水素結合を有する堆積した炭化ケイ素層が生成し、これにより、互いへのダマシン構造層の密着性を促進し、炭化ケイ素層を通してフッ素の拡散を減少させる緻密な構造となる。
【００１８】
次いで、窒化ケイ素層が密着プロモータ層上に堆積し、この堆積材料は、好ましくはシラン（ＳｉＨ４）および窒素（Ｎ２）を、４００℃で０．５３９の流量比で含む。形成された窒化ケイ素層は、比較的少ないケイ素−水素結合を有し、これにより、約２４０ＭＰａの内部圧縮応力を有する層となる。この積層構造は、熱安定性を有し、４５０℃までの剥がれおよび割れに耐え、そしてａ−Ｆ：Ｃ層は低い誘電率（すなわち、２．５より低い）を有する。
【００１９】
（発明を実施するための最良の形態）
本発明は、シリコンウェハ基板上にフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）を堆積するプロセスを提供する。この方法において各工程が実行されるとき、ウェハ基板は周知の技術（示さず）によって処理され、ウェハ上に集積回路（ＩＣ）の構成要素（例えば、トランジスタおよび他のアクティブおよびパッシブデバイス）を生成する。基板上の集積回路の構成要素のタイプおよび数は、低誘電率フッ素含有アモルファスカーボン誘電体材料が超大規模集積（ＵＬＳＩ）高密度ＩＣに最も有利に使用されることを除いて、本発明のプロセスに重要ではない。誘電体材料は相互接続構造とともに使用される。相互接続構造には、例えば導体ラインおよびバイアがあり、これらはウェハ上に堆積される相互接続誘電体膜に、およびそれにわたって拡張して典型的に形成される周知の導電性相互接続構成要素であり、これには本発明の方法で堆積されるａ−Ｆ：Ｃ誘電体が含まれる。相互接続構造に使用される形状、アーキテクチャ、および導電性材料、ならびにこのような構造を形成する方法は、本明細書中には記載されておらず、当業者に周知の設計上の選択事項である。本発明は、ウェハ上に堆積し、導電性ライン、バイア、ならびにＵＬＳＩおよび同様のＩＣにおける他の導体の間、およびそれらの周辺での使用に適切な、好適な低誘電率（ｌｏｗ−ｋ）誘電体膜を形成する方法に関する。
【００２０】
図１は、本発明のプロセスにおいて選択された工程を実行するためのＰＥＣＶＤチャンバの概略図である。装置１０は、ウェハ１２のような基板上にプラズマ強化化学蒸着（ＰＥＣＶＤ）を実行するために適切である。装置１０は、１つ以上のウェハ１２を保持するために適切なサイズのＰＥＣＶＤチャンバ１６を含む。ウェハ１２は、チャック２０上のチャンバに支持されている。このようなチャンバが典型的である場合、内部２２は、ポンプ２６として概略的に示された適切なポンプおよびバルブ装置によって所望のように排気または加圧され得る。個々のウェハ１２は、チャンバ壁のゲートバルブ３２を介した適切なウェハハンドラ３０によってチャンバ１６の内外へ移動され、ウェハが処理のためにチャック２０上へ動かされ、次いでチャンバから取り除かれることが可能となる。
【００２１】
ＰＥＣＶＤ処理の間に使用される選択されたガスは、バルブ４２によって制御される４０として包括的に示された種々のガス供給リザバから適切なマニホルドシステム３６を通ってチャンバ中へと導入される。ガスは、いわゆるシャワーヘッド４６（これは、所望のようにガスを分配する）を通ってチャンバ中に導入される。チャック２０は任意の所望の温度にまで加熱され得、この目的のための加熱要素はヒータ５０として概略的に示されている。ヒータおよびチャックは、ＰＥＣＶＤ処理の間、ウェハ１２の温度を選択するように使用される。
【００２２】
プラズマエネルギーは、シャワーヘッド４６を通って放射される高周波数（ＨＦ）ＲＦ出力を供給するＲＦジェネレータ５２を介してチャンバに供給される。ＰＥＣＶＤチャンバに使用されるＨＦプラズマエネルギーの工業規格は１３．５６メガヘルツ（ＭＨｚ）であるが、本発明はいかなる正確な周波数値にも限定されない。装置１０はまた、好ましくはチャンバの内部にＬＦ出力を供給する低周波数（ＬＦ）ジェネレータ５６を含む。ＬＦ出力は、ＰＥＣＶＤ処理の間にウェハ１２上に堆積されたフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）膜中の架橋を増加させるために使用される。
【００２３】
図２は、本発明に従って、ＰＥＣＶＤチャンバ中で基板上にフッ素含有アモルファスカーボン層を堆積するプロセスにおける各工程を示すブロック図である。図１および図２の両方を参照すると、ウェハ基板１２は、初めにウェハハンドラ３０によってＰＥＣＶＤチャンバ１６中のチャック２０に位置決めされる。装置１０は、任意の適切な装置が使用され得るが、好ましくはＯＸＦＯＲＤ  Ｐｌａｓｍａｌａｂ  １００システムを含む。基板１２は、典型的にはａ−Ｆ：Ｃ膜を受けるために調製されたシリコンウェハである。ａ−Ｆ：Ｃは、ウェハの上面５８上に堆積されている。図２に示される第１の工程は、工程７０である。この工程７０は、２００℃を超える温度まで基板１２を加熱する。好ましくは、ウェハ１２は、一般に２００〜３００℃の範囲の温度に加熱される。より好ましくは、約２５０℃の温度に加熱される。この堆積工程の間に供給される出力は、典型的にはデュアル周波数ＲＦ流体を含む。
【００２４】
第２の工程７６は、フッ素含有ガス（ＦＣＧ）および炭素含有ガス（ＣＣＧ）の流体を、適切な供給源４０からマニホルド３６を介してチャンバ１６中に導入する。ＦＣＧとＣＣＧとの比は、基板上にフッ素含有アモルファスカーボンを堆積するように選択される。本発明のプロセスで使用される好適なフッ素含有ガス（ＦＣＧ）は、オクタフルオロシクロブタン（Ｃ４Ｆ８）である。本発明のプロセスで使用される好適な炭素含有ガス（ＣＣＧ）は、メタン（ＣＨ４）である。基板上にフッ素含有アモルファスカーボンを堆積するためのＦＣＧとＣＣＧとの適切な比は、一般に５．５〜５．７の範囲であるが、より好ましくは約５．６である。この５．６の比はまた、流量の点において記載され得る。すなわち、オクタフルオロシクロブタンの流量は１１２ｃｍ３／分（ｓｃｃｍ）であり、メタンの流量は２０ｓｃｃｍである。チャンバ中にＦＣＧおよびＣＣＧを導入する間、ＰＥＣＶＤチャンバ中で維持される周囲圧力は、好ましくは一般に０．３〜０．５Ｔｏｒｒの範囲であり、より好ましくは約０．４Ｔｏｒｒである。
【００２５】
工程７８では、充分なエネルギーがチャンバ１６に付与されて、チャンバ中にフッ素および炭素のガスプラズマを形成する。約１３．５６ＭＨｚ（業界では標準である）のＨＦエネルギーを含むプラズマ出力がチャンバ１６に適用され、エネルギーレベルは１５０〜２５０ワット、より好ましくは２００ワットであり、そしてＬＦエネルギーは一般に５〜５０ＫＨｚの範囲の周波数であり、典型的には１５０〜２５０ワットのエネルギーレベルで、より好ましくは約２００ワットのエネルギーレベルで１０ＫＨｚのＬＦエネルギーである。
【００２６】
ＰＥＣＶＤ処理の当業者に周知のように、チャンバ１６中のプラズマエネルギーは、ウェハ１２の表面５８上に堆積された導入されたポリマーラジカルを生成する導入ガスをイオン化する。Ｃ４Ｆ８は、２種類の長寿命ラジカルの流体を提供する。その一方は、フルオロカーボンラジカル（ＣＦｘ）（ここで、１＜／＝ｘ＞／＝２）であり、これは、ａ−Ｆ：Ｃ堆積のブロックを構成する。他方は、ＦおよびＦ２原子であり、これらは基板１２上に堆積されたａ−Ｆ：Ｃ膜を脆くする揮発性フッ素を形成する破壊性エッチャントである。チャンバに加えられるメタンは、水素（Ｈ）ラジカルの流体（これは、揮発性ＨＦを形成することによりフッ素（Ｆ）原子と結合し得る）に働きかけ、これによりＦおよびＦ２原子からのエッチングを減少し、ウェハ上に堆積された得られたａ−Ｆ：Ｃ膜の安定性を向上させる。ａ−Ｆ：Ｃ膜の堆積速度およびフッ素濃度は、ＦＣＧガスおよびＣＣＧガスの流量、ならびにチャンバ１６内のチャンバ圧力によって選択的に制御される。上記のように、ＦＣＧとＣＣＧとの比は、一般に約５．６である。工程７６および７８の間にチャンバ１６内に維持される周囲圧力は、好ましくは０．３〜０．５Ｔｏｒｒの範囲である。
【００２７】
工程７６および７８の間、ａ−Ｆ：Ｃ膜は、１８〜３８ＭＰａの範囲、より好ましくは約２８ＭＰａ（堆積時）の膜圧縮応力を有して堆積される。このプロセスはさらに工程８０を含む。工程８０では、堆積されたａ−Ｆ：Ｃ膜は、堆積されたａ−Ｆ：Ｃ膜の厚さに依存して、適切な時間、約４００℃の温度でアニールされる。約０．５ミクロンの厚さを有する典型的な膜は、４００℃での２時間のアニーリング期間が望ましい。アニーリングされた膜は、典型的には、２０〜４０ＭＰａの範囲、より好ましくは約３０ＭＰａ（アニール済み）の内部膜引張応力を有し、これにより４００℃まで、および４００℃を超える熱安定性を有する膜が得られる。ウェハ１２上に堆積されたフッ素含有アモルファスカーボン（これは、本発明の第１の相の生成物８６である）は、低誘電率材料を有する積層構造を生成するために使用され、他のガスで他の比率で堆積されたａ−Ｆ：Ｃ膜よりも熱安定性が大きく、本明細書中に記載されるように、５．６のＣ４Ｆ８とＣＨ４との所望の比で堆積された生成物よりも熱安定性が大きい。
【００２８】
熱安定性は、ＩＣウェハ上のレベル間相互接続が完成すると実行される高温アニールの間、堆積されたａ−Ｆ：Ｃ膜の最小から０までの収縮（例えば、１％未満の収縮）として一般に規定される。ＩＣウェハの製造において、最低でも約２０分間、好ましくは３０分間から数時間まで、４４０℃より高い温度で作製したウェハをアニールできるという利点がある。アニールは、一般にウェハ上のデバイスの完成プロセスの一部である。ＩＣウェハ上のａ−Ｆ：Ｃ誘電体の使用に関するある顕著な問題は、３５０〜４００℃にわたるアニーリングの間、そしてさらに高い温度で熱安定性が乏しくなることである。従来技術のプロセスを用いて堆積された積層構造中のフッ素含有アモルファスカーボン膜は、高温のアニール（４４０℃よりも高い）が行われると、例えば、２．０〜５．０％以上の所望でない収縮を示す。本発明は、４４０℃よりも高い最終的なアニールにおいて、良好な熱安定性（最小で０収縮）を有し、典型的には約１．０％よりも小さい収縮値を有するａ−Ｆ：Ｃ積層構造を提供することができる。
【００２９】
図３は、ａ−Ｆ：Ｃ層を堆積するために使用されるいくつかの材料の特性を示す表である。示されるように、４．４の流入ガス比により、密着性テストの間に剥がれる膜が生成する。約５．６の比で、ＦＣＧ（Ｃ４Ｆ８）およびＣＣＧ（ＣＨ４）を提供することの利点は、このような比が、約−７５ＭＰａの圧縮応力を有する膜を生成する異なる流入ガス比（例えば、比が４．４のＣ４Ｆ８／ＣＨ４）で生成された膜よりも小さい圧縮応力、すなわち堆積時に約２８ＭＰａ（ここで、負の応力は圧縮応力を示し、正の応力は引張応力を示す）を有する膜の生成を助けると考えられている。両方のフィルムがアニール後に約３０ＭＰａの応力を有する。しかし、５．６の流入ガス比で生成された膜は、標準的なテープテストの間に剥がれないが、４．４の流入ガス比で生成された膜は、標準的なテープテストの間に剥がれる。言い換えると、５．６の比で堆積された膜（これは、より低い内部膜応力を有する膜となる）は剥がれに耐え、４００℃を超える温度で熱安定となる。
【００３０】
図４は、図２を参照して記載されるように、形成されたａ−Ｆ：Ｃ層上に炭化ケイ素密着プロモータ層を堆積するプロセスにおける各工程を示すブロック図である。図２に示される生成８６（すなわち、その上に堆積された単一のａ−Ｆ：Ｃ層を有する基板）は、ウェハハンドラ３０によりＰＥＣＶＤチャンバ１６中のチャック２０に位置決めされる。図４に示される第１の工程は、工程１００である。この工程１００は、堆積温度にまで基板１２を加熱する工程である。好ましくは、ウェハ１２は、一般には３００〜５００℃の範囲の温度に、より好ましくは約４００℃の温度にまで加熱される。
【００３１】
第２の工程１０２は、シラン（ＳｉＨ４）およびメタン（ＣＨ４）の流体を、適切な供給源４０からマニホルド３６を介してチャンバ１６中に導入する。炭化ケイ素膜が１００〜３００Å／分の範囲、典型的には約１８０Å／分の速度で、約４００℃の堆積温度で、基板１２上に堆積される。炭化ケイ素の堆積の間にＰＥＣＶＤチャンバ中で維持される周囲圧力は、好ましくは一般に０．３〜０．５Ｔｏｒｒの範囲、より好ましくは約０．４Ｔｏｒｒである。炭化ケイ素膜の堆積中に供給される出力は、典型的には２００ワット、１３．５６ＭＨｚのＨＦ出力、および２００ワット、５００ＫＨｚのＬＦ出力である。
【００３２】
工程１００および１０２の間、炭化ケイ素膜は、３５０〜４５０ＭＰａの範囲、より好ましくは約４００ＭＰａ（堆積時）の内部圧縮応力を有して堆積される。炭化ケイ素の層は、好ましくは５０〜３００Åの範囲の厚さに堆積される。より好ましくは１００Åの厚さを有する。これらのプロセスにより、中に水素がほとんど含まれない緻密な構造を有する炭化ケイ素膜が生じる。生成が１０４として示される。膜中の低レベルの水素により、４００℃までおよび４００℃を超える温度での破壊に耐える、よりタイトで緻密な炭化ケイ素の構造になると考えられる。加えて、タイトで緻密で本質的に水素を含まない炭化ケイ素構造（これは、その中に複合化された相対的に少ない水素を有する）はまた、その中のフッ素拡散のための少ないチャネルを提供し、これは、緩くパッキングされた水素化炭化ケイ素構造よりも少ないと考えられる。従って、本発明のプロセスにより、４００℃までおよび４００℃を超える熱安定性を有する積層構造が得られる。さらに、本発明の炭化ケイ素層は、１０Å／分未満の比較的遅い速度で典型的に堆積されるダイアモンド様カーボン（ＤＬＣ）の膜（これは、約−２０００ＭＰａの内部応力を有し、そして４００℃以上の温度でわずかに安定であるのみである）よりも大きな熱安定性を有する。
【００３３】
図５は、密着プロモータ層を堆積するために使用されるいくつかの材料の特性を示す表である。この表は、ダイアモンド様カーボン（ＤＬＣ）膜は４００℃でほんのわずかに安定であるが、炭化ケイ素膜は４００℃で安定であることを示している。
【００３４】
図６は、ａ−Ｆ：Ｃ層上に堆積された低レベルの水素−炭化ケイ素密着プロモータ層を有する生成物１０４上に窒化ケイ素層を堆積するためのプロセスにおける各工程を示すブロック図である。第１の工程１１０は、適切な温度に基板１２を加熱する工程を包含する。チャンバ中へ堆積ガスを導入する間、ＰＥＣＶＤチャンバ中で維持される温度は、好ましくは一般に３５０〜４５０℃の範囲、より好ましくは約４００℃である。第２の工程１１２は、チャンバ１６に堆積ガスを提供する工程を包含する。本発明のプロセスで使用される好適なケイ素含有ガス（ＳＣＧ）は、シラン（ＳｉＨ４）である。本発明のプロセスで使用される好適な窒素含有ガス（ＮＣＧ）は、窒素ガス（Ｎ２）である。炭化ケイ素密着プロモータ層上に窒化ケイ素を堆積するための適切なＳＣＧとＮＣＧとの比は、一般に３０：５０〜３０：２００の範囲であり、より好ましくは約３０：１００の比である。この比はまた、７３．５ｓｃｃｍのＳＣＧ流量および１３６．２ｓｃｃｍのＮＧＣ流量として記載され得る。第３の工程１１４は、約４時間、３００〜４５０℃の範囲の温度で、好ましくは約４００℃の温度で、挟まれた層をアニーリングする工程を包含する。このプロセスにより、窒化ケイ素層中にケイ素−窒素結合およびケイ素−ケイ素結合が生じる。すなわち、ケイ素リッチであり、本質的に水素を含まない窒化ケイ素膜である（生成１１６として示す）。窒化ケイ素膜は、約１３．５６ＭＨｚの高周波数出力の入力のみの使用により堆積を行うことで、５〜１５ＭＰａの範囲、より好ましくは約１０ＭＰａの内部引張膜応力を有して堆積される。高周波数出力の入力を用いると、基板上のバイアスのかかった電圧が低下し、ａ−Ｆ：Ｃ膜上のイオンボンバードメントが顕著に減少し得る。堆積された窒化ケイ素膜で構成された比較的水素を含まないことにより、このような高周波数出力の入力条件のもとで、膜を形成する結果となると考えられている。言い換えると、ＬＦ出力（５００ＫＨｚ以下、好ましくは１００ＫＨｚ以下）の使用は、堆積工程の間は避けるべきである。次いで、挟まれた層は、テープテストを実行するために室温まで冷却される。標準のテープテストにおける挟まれた層のテストは、この堆積した膜が良好な密着品質を有し、膜の剥がれおよび割れを防止することを示している。
【００３５】
図７は、膜のアニーリング時間に関するａ−Ｆ：Ｃ層の膜応力を示すグラフである。特に、熱アニーリング工程は、ａ−Ｆ：Ｃ膜の応力を、圧縮応力（０未満）から引張応力（０より大きい）まで変化させる。基板１２上に堆積された窒化ケイ素膜の内部応力は、ａ−Ｆ：ＣおよびＳｉ３Ｎ４膜の両方を含む構造中のせん断応力を低減するために、ａ−Ｆ：Ｃ膜の内部応力と整合させる必要がある。従って、わずかな引張応力（例えば、上記のような約１０ＭＰａの応力）を有する窒化ケイ素膜を堆積することが望ましい。堆積されたａ−Ｆ：ＣおよびＳｉ３Ｎ４膜の同じ内部応力は、高温条件の間の膜の剥がれおよび割れに耐える積層構造をもたらす。
【００３６】
図８は、窒化ケイ素層を堆積するために使用されるいくつかの材料の特性を示す表である。４００℃の堆積温度でのＳｉＨ４：Ｎ２：ＮＨ３の流量比が７３．５：２７２：１０であることにより、Ｎ−Ｈ結合を有する膜が生成し、これは＋２４０ＭＰａの内部応力を有し、密着性テストの間に割れを生じる。４００℃の堆積温度でのＳｉＨ４：Ｎ２の流量比が７３．５：２７２．５であることにより、Ｎ−Ｈ結合を有する膜が生成し、これは−３００ＭＰａの内部応力を有し、密着性テストの間に剥がれを生じる。２５０℃の堆積温度でのＳｉＨ４：Ｎ２の流量比が７３．５：２７２．５であることにより、Ｓｉ−Ｈ結合を有する膜が生成し、これは−１０ＭＰａの内部応力を有し、密着性テストの間に剥がれを生じる。４００℃の堆積温度でのＳｉＨ４：Ｎ２の流量比が７３．５：１３６．２であることにより、Ｓｉ−ＨまたはＮ−Ｈ結合を有さない膜が生成し、これは−２４ＭＰａの内部応力を有し、密着性テストの間に剥がれまたは割れを生じない。
【００３７】
（実施例）
ａ−Ｆ：ＣおよびＳｉＣ：Ｈ膜は、市販のＰＥＣＶＤシステム（すなわち、ＯＸＦＯＲＤ  Ｐｌａｓｍａｌａｂ  １００システム）で堆積した。高度に架橋したａ−Ｆ：Ｃ膜は、２５０℃にて、デュアル周波数ＲＦ流体を利用し、次いで後熱処理を行うことで得られた。ａ−Ｆ：ＣおよびＳｉＣ：Ｈ膜の厚さおよび屈折率は、分光楕円偏光計（ＳＥＮＴＥＣＨ  Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ  Ｇｍｂｈ）によって測定した。フーリエ変換赤外（ＦＴＩＲ）およびＸ線写真スペクトル（ＸＰＳ）テストを用いて、膜の結合および化学的濃度をそれぞれ測定した。
【００３８】
積層構造の熱安定性の等温テストを、１０−５Ｔｏｒｒの基準圧力で真空チャンバ中で実施した。ここで、堆積したウェハは、約２時間、約２％の時間変動、および５℃未満の温度不均一性で、加熱したチャック上でアニールした。密着テストを、標準テープ引張試験および化学的機械的研磨法（ＣＭＰ）により行った。
【００３９】
金属・有機化学蒸着法（ＭＯＣＶＤ）で、銅を堆積した。この時Ｃｕ−ｈｆａｃ−ｔｍｖｓプリカーサを使用し、約２０００Å／分の高堆積速度、約２μΩ−ｃｍの低抵抗率で、密着性およびギャップ充填は良好であった。ＭＯＣＶＤ銅膜の窒化チタン（ＴｉＮ）拡散バリア膜への優れた密着性は、当業者によって理解されるように、プロセスと機器設計との組み合わせによって達成された。
【００４０】
ａ−Ｆ：Ｃ積層のパターニングは、酸素（Ｏ２）を用いた従来のプラズマエッチング法を用いて行った。薄いＰＥＣＶＤ酸化物は、プラズマエッチングおよびレジストストリッピング工程の間、ａ−Ｆ：Ｃ膜を保護するためにハードマスク材料として利用した。窒化チタン（ＴｉＮ）を、銅堆積工程の前に拡散バリアとしてスパッタリングした。銅を、市販のシステムおよびスラリーで、標準ＣＭＰ法を用いてパターニングした。２工程の研磨プロセスを使用して、構造の表面上のせん断応力を低減し、研磨中の構造の割れを防止した。
【００４１】
図９は、本発明の方法によって生成した典型的な１レベルデュアルダマシン構造の概略図である。ここで、バイアおよびトレンチラインにＣｕが充填されている。この構造は、シリコンウェハ基板１２０、二酸化ケイ素（ＳｉＯ２）層１２２、窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４）層１２４、炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１２６、フッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）層１２８、炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１３０、窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４）層１３２、二酸化ケイ素（ＳｉＯ２）層１３４、バリア金属（例えば、ＴｉＮ）１３６、銅（Ｃｕ）から構成されるバイア１３８、および銅（Ｃｕ）から構成されるトレンチ１４０を含む。
【００４２】
バイアコンタクト層１３８において、０．５μｍ厚のＳｉＯ２層を誘電体層１２２として使用する。ライン接続１４０の層のために、低誘電率ａ−Ｆ：Ｃ層１２８を金属間誘電体に使用する。ＳｉＯ２（０．１μｍ）の上層１３４をハードマスクとして使用する。Ｓｉ３Ｎ４からなる薄層１２４および１３２（約０．０５μｍ）を、ＳｉＯ２とａ−Ｆ：Ｃ層との間（１２８と１２２および１３４との間）に挿入し、これはエッチング停止およびＣｕ拡散バリアとして機能し得る。
【００４３】
ａ−Ｆ：ＣとＳｉ３Ｎ４とのとの間の密着性が乏しいことは周知である。従って、ＳｉＣ：Ｈ材料の密着プロモータ層１２６および／または１３０を、密着プロモータとして選択する。特に、ＳｉＣ：Ｈ膜は、ＳｉＨ４と炭化水素ガス（例えば、Ｃ２Ｈ２、Ｃ２Ｈ６、またはＣＨ４）との混合物を使用して、ＰＥＣＶＤプロセスで堆積することができる。密着プロモータ層としてのＳｉＣ：Ｈの品質は、膜中のＳｉ−Ｈ結合の濃度に依存する。Ｓｉ−Ｈ結合の量は、堆積条件（例えば、堆積温度、バイアス出力、およびガス流量比）を調節することで制御可能である。
【００４４】
図１０は、比較的少ないＳｉ−Ｈ結合を含む本発明の炭化ケイ素膜のＦＴＩＲスペクトルである。図１１は、比較的多くのＳｉ−Ｈ結合を含む炭化ケイ素膜のＦＴＩＲスペクトルである。特に、約２２７０ｃｍ−１のピークは、通常Ｓｉ−Ｈ結合の振動と関連する。従って、図１０に示される膜は、図１１に示される膜と比較して含まれるＳｉ−Ｈ結合がより少ない。どの膜がより優れた密着特性を有しているかを調べるために、図１２および１３に示すように、２種類の積層構造上で、３時間、約４００℃で、アニールテストを実施した。
【００４５】
図１２は、密着性および安定性テストで使用する本発明の層構造の概略図である。ここで、この構造は、２つのａ−Ｆ：Ｃ層を含んでいる。図１３は、密着性および安定性テストで使用する本発明の別の層構造の概略図である。ここで、この構造は、１つのａ−Ｆ：Ｃ層を含んでいる。図１２に示される構造を使用して、上部または下部のａ−Ｆ：Ｃ層からフッ素原子の垂直方向の拡散をテストする。この構造は、シリコンウェハ基板１５０、約１００Åの厚さを有する炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１５２、約５０００Åの厚さを有するフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）層１５４、約１００Åの厚さを有する炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１５６、約５００Åの厚さを有する窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４）層１５８、約１００Åの厚さを有する炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１６０、および約５０００Åの厚さを有するフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）層１６２を含む。
【００４６】
図１３に示す構造は、上部のＳｉＯ２層がハードマスクとして使用されるダマシン構造を作製するために使用される積層構造である。この構造は、シリコンウェハ基板１６４、約１００Åの厚さを有する炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１６６、約５０００Åの厚さを有するフッ素含有アモルファスカーボン（ａ−Ｆ：Ｃ）層１６８、約１００Åの厚さを有する炭化ケイ素（ＳｉＣ）層１７０、約５００Åの厚さを有する窒化ケイ素（Ｓｉ３Ｎ４）層１７２、および約３０００Åの厚さを有する二酸化ケイ素（ＳｉＯ２）層１７４を含む。
【００４７】
図１０に示されるような最小のＳｉ−Ｈ結合を有する、図１２および１３の両方のＳｉＣ：Ｈ層構造を用いると、膨れおよび剥がれは観測されなかった。図９および１０の両方の構造のテストはまた、アニーリング後の標準テープ引張テストを通過した。対照的に、図１１に示されるようなＳｉ−Ｈ結合を有する、図１２および１３のＳｉＣ：Ｈ層構造を使用すると、アニーリング後に層構造の膨れおよび剥がれの両方が見られた。この構造の密着性不足は、図１１に関して記載したＳｉ−Ｈ結合の存在に起因すると考えられる。
【００４８】
より少ないＳｉ−Ｈ結合を有するＳｉＣ：Ｈ膜は、より優れた密着特性を示すと結論付ける。これは、ケイ素−水素（および／または窒素−水素）結合の存在が、隣接するケイ素原子間の架橋ネットワーク接続を終結し、より多くのオープンな内部構造を生成する傾向があるという点で理解され得る。従って、ＳｉＣ：Ｈ膜中のケイ素−水素結合の濃度がより高いと、界面の密着結合を低減するばかりか、ＳｉＣ膜のフッ素原子の拡散を効果的に遮断することもできなくなる。テストにおいて密着性が損なわれた主な理由は、フッ素原子がＳｉＣ：Ｈ層中を拡散した場合のフッ素とＳｉ３Ｎ４との間の反応に起因し得る。それゆえ、最小のＳｉ−Ｈ結合を有するＳｉ：Ｈ膜を有することが望ましく、これはａ−Ｆ：Ｃ膜を含むように充分に架橋した緻密な構造を有することが可能であり、フッ素原子のＳｉ３Ｎ４層への拡散を防止する。従って、本発明は、炭化ケイ素層中のケイ素−水素結合が減少した積層構造を堆積する方法を提供する。
【００４９】
図１４は、エッチング後の本発明の単一のダマシン構造の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）による断面画像である。図１５は、化学的機械的研磨後の本発明の２レベルのダマシン構造のＳＥＭによる断面画像である。ダマシン積層上にフォトレジストパターニングをした後、トレンチライン中のＳｉＯ２がまずプラズマエッチングされ、ウィンドウをオープンにする。次いで、下側のａ−Ｆ：Ｃ膜および上部のフォトレジストの両方が、Ｏ２ケミストリを使用して同時にエッチング除去され得る。特に、図１４は、エッチング後の単一ダマシン構造のＳＥＭ断面画像である。充分な厚さのＳｉＯ２ハードマスク層が、プラズマエッチング中に下層のａ−Ｆ：Ｃ膜を下方浸食から保護するために非常に重要であることに留意のこと。上部のハードマスク層は上方浸食（これは、ＣＭＰ後により薄く研磨されるべきである）を示すが、下層は重度の下方浸食は示さない。
【００５０】
ＴｉＮおよびＣｕ  ＣＶＤ堆積工程の後、ＣＭＰ研磨工程を用いてダマシン積層構造の密着性と機械的強度とをテストする。（図１０に示されるように）密着層として最小のＳｉ−Ｈ結合を有するＳｉＣ：Ｈ膜を使用すると、積層はＣＭＰプロセスを維持することが可能であることが分かった。このようなテストは、多層ダマシン構造にまでさらに拡大することができる。
【００５１】
図１５を参照すると、この図はＣＭＰ後の２レベルのダマシン構造のＳＥＭ断面画像を示す。充分な厚さのＳｉＯ２ハードマスク層がまた、ＣＭＰスラリー浸食から下層のａ−Ｆ：Ｃ膜を保護するために重要であることに留意のこと。
【００５２】
図１６は、櫛形構造から測定されたライン間の漏れ電流を示すグラフである。図１７は、Ａｌ／ａ−Ｆ：Ｃ／ｐ−Ｓｉ  ＭＯＳキャパシタから測定された漏れ電流を示すグラフである。ライン間漏れ電流の測定は、Ｃｕ／ａ−Ｆ：Ｃベースの単一ダマシン構造中にパターニングされた櫛形回路で実施した。図１６は、掃引電圧の関数としてのライン漏れ電流のプロットを示す。櫛形構造における０．３μｍのライン間隔に対して、約３〜５×１０−８Ａの典型的な漏れ電流が、２．５Ｖの動作電圧で得られた。比較のため、図１７は、Ａｌ／ａ−Ｆ：Ｃ／ｐ−Ｓｉ  ＭＯＳキャパシタから測定された漏れ電流を示す。ここで、０．８×１０６Ｖ／ｃｍの電界において、４００℃でのアニーリング前後で漏れ電流密度が１０−８Ａ／ｃｍ２のオーダーであった。
【００５３】
図１８は、測定されたラインキャパシタンスの統計的分布を示すグラフである。Ｃｕ／ａ−Ｆ：Ｃベースの単一ダマシン構造中にパターニングされた櫛形回路からのライン間キャパシタンスは、Ｃｕ／ＳｉＯ２ベースの単一ダマシン構造のキャパシタンスの測定と比較するために測定される。この図は、両方のダマシン構造からの測定されたラインキャパシタンスの統計的分布を示す。Ｃｕ／ａ−Ｆ：Ｃ構造では平均キャパシタンスは約０．２２ｎＦであるが、Ｃｕ／ＳｉＯ２構造では平均キャパシタンスは約０．３０ｎＦである。それゆえ、低誘電率ａ−Ｆ：Ｃ膜は、ライン間キャパシタンスを約２５％低減する。（ａ−Ｆ：Ｃ膜では、ｋは約２．５であり、ＳｉＯ２膜では、ｋは約４．０である。）図１８において、ａ−Ｆ：Ｃ膜のキャパシタンス分布はより広く、これは本発明の小型のＰＥＣＶＤシステム中に堆積されたａ−Ｆ：Ｃ膜の不均一な厚さに起因し得ることに留意のこと。
【００５４】
まとめると、単一レベルの低誘電率ａ−Ｆ：Ｃ膜を有するＣＶＤ  Ｃｕと多層ダマシン構造との一体化プロセスが実証される。特に、密着プロモータ材料の薄層（例えば、最小のＳｉ−Ｈ結合を有するＳｉＣ：Ｈ）を使用して、ダマシン積層の密着性および機械的特性を向上させることができる。ＳｉＣ：Ｈ層はまた、拡散からのフッ素原子を含むためのバリアとして機能し得る。テストは、ａ−Ｆ：Ｃベースのダマシン積層がＣＭＰ、熱処理、パターニングおよびプラズマエッチングのプロセスを維持することができることを示す。このように、多層レベルダマシン構造の作製の実現可能性が首尾よく実証された。最終的に、ダマシン構造上のライン漏れ電流およびキャパシタンスの評価がさらに示され、これは、低誘電率ａ−Ｆ：Ｃ誘電体構造の合理的な良好な電気的性能を示す。
【００５５】
（産業上の利用可能性）
このように、向上した熱安定性を有するダマシン構造を形成する方法、およびその構造が開示される。構造を形成する好適な方法が開示されるが、特許請求の範囲に規定されるように、本発明の範囲から逸脱することなく、さらなる改変および変更が本発明においてなされ得ることが理解されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】  図１は、本発明のＰＥＣＶＤチャンバの概略図である。
【図２】  図２は、本発明に従って、図１に示されるＰＥＣＶＤチャンバ中で基板上にフッ素含有アモルファスカーボン層を堆積するプロセスにおける各工程を示すブロック図である。
【図３】  図３は、ａ−Ｆ：Ｃ層を堆積するために使用されるいくつかの材料の特性を示す表である。
【図４】  図４は、ａ−Ｆ：Ｃ層上に炭化ケイ素密着プロモータ層を堆積するプロセスにおける各工程を示すブロック図である。
【図５】  密着プロモータ層を堆積するために使用されるいくつかの材料の特性を示す表である。
【図６】  炭化ケイ素密着プロモータ層上に窒化ケイ素層を堆積するためのプロセスにおける各工程を示すブロック図である。
【図７】  アニーリング時間に関するａ−Ｆ：Ｃ層の膜応力を示すグラフである。
【図８】  図８は、窒化ケイ素層を堆積するために使用されるいくつかの材料の特性を示す表である。
【図９】  図９は、本発明の方法によって生成した１レベルデュアルダマシン構造の概略図である。
【図１０】  図１０は、比較的少ないＳｉ−Ｈ結合を含む本発明の炭化ケイ素膜のＦＴＩＲスペクトルである。
【図１１】  図１１は、図１０の膜よりも比較的多くのＳｉ−Ｈ結合を含む本発明の炭化ケイ素膜のＦＴＩＲスペクトルである。
【図１２】  図１２は、密着性および安定性テストで使用する本発明の層構造の概略図である。ここで、この構造は、２つのａ−Ｆ：Ｃ層を含んでいる。
【図１３】  図１３は、密着性および安定性テストで使用する本発明の別の層構造の概略図である。ここで、この構造は、１つのａ−Ｆ：Ｃ層を含んでいる。
【図１４】  図１４は、エッチング後の本発明の単一のダマシン構造のＳＥＭによる断面画像である。
【図１５】  図１５は、化学的機械的研磨後の本発明の２レベルのダマシン構造のＳＥＭによる断面画像である。
【図１６】  図１６は、櫛形構造から測定されたライン間の漏れ電流を示すグラフである。
【図１７】  図１７は、Ａｌ／ａ−Ｆ：Ｃ／ｐ−Ｓｉ  ＭＯＳキャパシタから測定された漏れ電流を示すグラフである。
【図１８】  図１８は、測定されたラインキャパシタンスの統計的分布を示すグラフである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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