(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、
前記エージング手段内部に設けられ、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、前記取付けられた状態のまま検査用の充電を施す第１の充電機構と、
前記第１の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取り外された電解コンデンサを、前記エージング手段外部において、１つずつ搬送可能な搬送手段と、
前記第１の充電機構にて充電が施されてから所定の非充電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対し、さらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、
前記搬送手段にて前記第２の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段と
を備え、
前記検査手段は、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定し、その測定結果に対し前記非充電期間の相違に応じた補正を行うものであることを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【請求項２】
エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、
前記エージング手段内部に設けられ、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、前記取付けられた状態のまま検査用の充電を施す第１の充電機構と、
前記第１の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取り外された電解コンデンサを、前記エージング手段外部において、１つずつ搬送可能な搬送手段と、
前記第１の充電機構にて充電が施されてから所定の非充電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対し、さらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、
前記搬送手段にて前記第２の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段と
を備え、
前記検査手段は、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定するとともに、その測定結果と、予め設定された設定値とを比較することに基づいて良否判定を行うものであり、かつ、前記比較に先だって前記測定結果又は設定値に対し前記非充電期間の相違に応じた補正を行い、その上で前記比較を行うものであることを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【請求項３】
前記検査手段は、前記第２の充電機構の直下流に設けられていることを特徴とする請求項１又は２に記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【請求項４】
前記第１の充電機構による充電時間は、前記第２の充電機構による充電時間よりも長いことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電解コンデンサのリーク電流検査装置に係り、特に、エージング処理を経た後の電解コンデンサのリーク電流を検査する際に用いられる検査装置を含む技術分野に属するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、電解コンデンサの製造過程において、製造中に生じた誘電体酸化皮膜の部分的破壊を修復するべく、エージング処理が施される。電解コンデンサをエージング処理する場合、多数の電解コンデンサを治具に保持させたまま加熱炉内に入れて加熱するとともに、保持された電解コンデンサに所定の電圧を供給することが行われる。
【０００３】
このようにエージング処理が施された電解コンデンサにおいては、漏れ電流（リーク電流）が少ない方が望ましく、所定以上のリーク電流がある場合には、不良品として製品から除外する必要がある。このため、エージング処理が施された電解コンデンサは、リーク電流に関する検査（ＬＣ検査）に供される。一般に、ＬＣ検査手段は、エージング手段の外部に設けられている。エージング手段と、ＬＣ検査手段との間には、ＬＣ検査のための充電を所定時間行うべく、コンベアが設けられる。すなわち、エージング手段にてエージングの施された電解コンデンサは、エージング手段内部の最終段階において一旦放電される。次に、エージング手段外部において、コンベアにて搬送されながら、所定時間の間（例えば６０秒間）充電される。そして、６０秒間の充電を経た後、ＬＣ検査手段においてリーク電流が検査されるのである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記技術では、所定の充電時間を確保するのに十分なコンベア長を確保する必要がある。このため、コンベア長が長いものとなってしまう分だけ、装置全体の大型化を招いてしまうおそれがある。
【０００５】
特に、コンベアが、少しずつ断続的に電解コンデンサを搬送する構造となっている場合には、少なくとも電解コンデンサが移送されている最中（移動中）は充電が行われない。そのため、総合的に所定時間分の充電を行おうとすると必然的にコンベア長が長いものとなってしまい、結果として上記不具合が起こりやすいものとなってしまう。
【０００６】
本発明は、上記各事情に鑑みてなされたものであり、検査に関しての信頼性の低下を招くことなく、装置全体の小型化を図ることの可能な電解コンデンサのリーク電流検査装置を提供することを主たる目的の一つとしている。
【０００７】
【課題を解決するための手段及びその効果】
上記目的を達成し得る特徴的手段について以下に説明する。また、各手段につき、特徴的な作用及び効果を必要に応じて記載する。
【０００８】
手段１．エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第１の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第１の充電機構にて充電の施された電解コンデンサにさらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【０００９】
手段１によれば、エージング手段内部にてエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、エージング手段内部に設けられた第１の充電機構によって、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデンサに対し、エージング手段外部に設けられた第２の充電機構によって、さらに検査用の充電が施される。そして、エージング手段外部に設けられた検査手段によって、かかる電解コンデンサのリーク電流が検査される。このように、エージング手段内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、少なくとも第２の充電機構の設置スペースを従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００１０】
手段２．エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第１の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第１の充電機構にて充電の施された電解コンデンサにさらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段と、前記電解コンデンサを、少なくとも前記エージング手段から前記第２の充電機構を経由して前記検査手段へと搬送するための搬送手段とを備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００１１】
手段２によれば、エージング手段内部にてエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、エージング手段内部に設けられた第１の充電機構によって、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデンサに対し、エージング手段外部に設けられた第２の充電機構によって、さらに検査用の充電が施される。そして、エージング手段外部に設けられた検査手段によって、かかる電解コンデンサのリーク電流が検査される。ここで、電解コンデンサは、少なくともエージング手段から第２の充電機構を経由して検査手段へと搬送手段によって搬送される。このように、エージング手段内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第２の充電機構の設置スペースや、搬送スペースを従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００１２】
手段３．エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段内部に設けられ、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、前記取付けられた状態のまま検査用の充電を施す第１の充電機構と、前記第１の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取り外された電解コンデンサを、前記エージング手段外部において、１つずつ搬送可能な搬送手段と、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対し、さらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、前記搬送手段にて前記第２の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００１３】
手段３によれば、エージング手段内部にて、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、エージング手段内部に設けられた第１の充電機構によって、前記取付けられた状態のまま検査用の充電が施される。また、第１の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取り外された電解コンデンサが、エージング手段外部において、搬送手段によって１つずつ搬送させられる。さらに、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対し、第２の充電機構によってさらに検査用の充電が施される。そして、搬送手段にて第２の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流が、検査手段によって検査される。このように、エージング手段内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第２の充電機構の設置スペースや、搬送スペースを従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００１４】
手段４．前記検査手段は、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定するとともに、その測定結果に基づき良否判定を行うよう構成されていることを特徴とする手段１乃至３のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００１５】
手段４によれば、検査手段では、第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流が測定される。そして、その測定結果に基づき良否判定が行われる。このため、上記各作用効果に加えて、判定に関する信頼性の低下を招くことがないというメリットがある。
【００１６】
手段５．前記検査手段は、前記第２の充電機構の直下流に設けられていることを特徴とする手段１乃至４のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００１７】
手段５によれば、検査手段が第２の充電機構の直下流に設けられているため、第２の充電機構での充電終了から時間間隔が空いてしまうことによるデメリットを払拭することができ、検査の信頼性の低下をより一層防止できる。
【００１８】
手段６．エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第１の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第１の充電機構にて充電の施された後、非充電期間の経過した電解コンデンサにさらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００１９】
手段６によれば、エージング手段内部にてエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、エージング手段内部に設けられた第１の充電機構によって、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデンサに対し、非充電期間が経過した後で、エージング手段外部に設けられた第２の充電機構によって、さらに検査用の充電が施される。そして、エージング手段外部に設けられた検査手段によって、かかる電解コンデンサのリーク電流が検査される。このように、エージング手段内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、少なくとも第２の充電機構の設置スペースを従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００２０】
手段７．エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段内部に設けられ、エージング及び放電の行われた電解コンデンサに検査用の充電を施す第１の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第１の充電機構にて充電の施された後、非充電期間の経過した電解コンデンサにさらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、前記エージング手段外部に設けられ、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段と、前記電解コンデンサを、少なくとも前記エージング手段から前記第２の充電機構を経由して前記検査手段へと搬送するための搬送手段とを備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００２１】
手段７によれば、エージング手段内部にてエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、エージング手段内部に設けられた第１の充電機構によって、検査用の充電が施される。また、かかる電解コンデンサに対し、非充電期間が経過した後、エージング手段外部に設けられた第２の充電機構によって、さらに検査用の充電が施される。そして、エージング手段外部に設けられた検査手段によって、かかる電解コンデンサのリーク電流が検査される。ここで、電解コンデンサは、少なくともエージング手段から第２の充電機構を経由して検査手段へと搬送手段によって搬送される。このように、エージング手段内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第２の充電機構の設置スペースや、搬送スペースを従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００２２】
手段８．エージング手段にてエージング処理が施された電解コンデンサのリーク電流を検査するためのリーク電流検査装置であって、前記エージング手段内部に設けられ、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対し、前記取付けられた状態のまま検査用の充電を施す第１の充電機構と、前記第１の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取り外された電解コンデンサを、前記エージング手段外部において、１つずつ搬送可能な搬送手段と、前記第１の充電機構にて充電が施されてから所定の非充電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対し、さらに検査用の充電を施す第２の充電機構と、前記搬送手段にて前記第２の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流を検査する検査手段とを備えたことを特徴とする電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００２３】
手段８によれば、エージング手段内部にて、治具に対し複数個取付けられた状態でエージング及び放電の行われた電解コンデンサに対して、エージング手段内部に設けられた第１の充電機構によって、前記取付けられた状態のまま検査用の充電が施される。また、第１の充電機構にて充電が施され、かつ、前記治具から取り外された電解コンデンサが、エージング手段外部において、搬送手段によって１つずつ搬送させられる。さらに、前記第１の充電機構にて充電が施されてから所定の非充電期間が経過しており、前記搬送手段にて搬送されつつある電解コンデンサに対し、第２の充電機構によってさらに検査用の充電が施される。そして、搬送手段にて第２の充電機構から搬送された電解コンデンサのリーク電流が、検査手段によって検査される。このように、エージング手段内部で予め充電が行われることで、エージング手段外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第２の充電機構の設置スペースや、搬送スペースを従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００２４】
手段９．前記検査手段は、前記第２の充電機構の直下流に設けられていることを特徴とする手段６乃至８のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００２５】
手段９によれば、検査手段が第２の充電機構の直下流に設けられているため、第２の充電機構での充電終了から時間間隔が空いてしまうことによるデメリットを払拭することができ、検査の信頼性の低下をより一層防止できる。
【００２６】
手段１０．前記検査手段は、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定するとともに、その測定結果に基づき良否判定を行うよう構成されていることを特徴とする手段６乃至９のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００２７】
手段１０によれば、検査手段では、第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流が測定される。そして、その測定結果に基づき良否判定が行われる。このため、上記各作用効果に加えて、判定に関する信頼性の低下を招くことがないというメリットがある。
【００２８】
手段１１．前記検査手段は、前記測定結果と、予め設定された設定値とを比較することに基づいて良否判定を行うものであり、かつ、前記比較に先だって前記測定結果又は設定値に対し前記非充電期間に応じた補正を行い、その上で前記比較を行うものであることを特徴とする手段１０に記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００２９】
手段１１によれば、検査手段では、前記測定結果と、予め設定された設定値とが比較されることに基づいて良否判定が行われる。前記比較に先だって、測定結果又は設定値に対し、非充電期間に応じた補正が行われ、その上で前記比較が行われる。ここで、第２の充電機構にて充電されるまでの非充電期間が各コンデンサ毎に相違する場合に、検査手段での測定結果に影響が及ぶおそれがあるが、本手段では、非充電期間に応じた補正が行われた上で比較が行われる。そのため、各コンデンサ毎に非充電期間が相違したとしても、そのことによる悪影響を払拭することができる。その結果、良否判定の精度が高められることとなる。
【００３０】
手段１２．前記検査手段は、前記第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流を測定し、その測定結果に対し前記非充電期間に応じた補正を行うものであることを特徴とする手段６乃至９のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００３１】
手段１２によれば、前記検査手段では、第２の充電機構にて充電の施された電解コンデンサのリーク電流が測定される。そして、その測定結果に対し前記非充電期間に応じた補正が行われる。このため、各コンデンサ毎に非充電期間が相違したとしても、補正により、非充電期間が相違することによる影響が払拭されることとなり、ひいては検査精度を高めることができる。
【００３２】
手段１３．前記第１の充電機構による充電時間は、前記第２の充電機構による充電時間よりも長いことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の電解コンデンサのリーク電流検査装置。
【００３３】
手段１３によれば、エージング手段外部において行われる充電時間を比較的短いものとすることができる。そのため、十分な充電時間を確保しつつ、第２の充電機構の設置スペース等を従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００３４】
【発明の実施の形態】
以下、一実施の形態について、図１乃至図９を参照しつつ説明する。
【００３５】
図１，２に示すように、本実施の形態においてはエージング処理及びその後のリーク電流検査に関する装置として、パーツフィーダ１、エージング手段２、搬送手段３、操作パネルユニット４及びＬＣ検査手段５等が設けられている。
【００３６】
パーツフィーダ１には、電解コンデンサを構成するコンデンサ素子６（図４等参照）が多く貯留されており、エージング処理前のコンデンサ素子６は、このパーツフィーダ１から搬送手段３によってエージング手段２の方へと搬送されるようになっている。搬送手段３は、コンベアによって構成され、前記コンデンサ素子６を１つずつ間欠的に移送可能となっている。また、エージング手段２によってエージング処理等の施されたコンデンサ素子６は、今度は搬送手段３によってＬＣ検査手段５の方へと搬送されるようになっている。そして、ＬＣ検査手段５では、搬送されてくる各コンデンサ素子６に関し、リーク電流の測定及び良否判定が行われるようになっている。なお、操作パネルユニット４には、各種入力スイッチ等が設けられ、該スイッチ等の操作に基づいてコンデンサ素子６等に関するデータ（数量、容量、型式）等が入力されるようになっている。
【００３７】
ここで、エージング手段２の基本構成について説明する。図３，４に示すように、本実施の形態におけるエージング手段２は、コンデンサ素子６を加熱するための加熱機構１２及びコンデンサ素子６を回転させつつ送るための送り機構１３を備えている。送り機構１３は軸受１４を備えており、軸受１４には、回転軸１５が回転可能に支持されている。回転軸１５には前記コンデンサ素子６を保持するための治具１７を搬送するためのホイール状の回転体１８が二対所定間隔を隔てて取付けられている。回転体１８は、図示しない駆動モータが回転することにより、所定速度で回転させられるようになっている。
【００３８】
各回転体１８の外周には、凹部（図示略）及び凸部２０が歯車状に交互に形成されている。回転体１８には各凸部２０ごとに一対の位置決めピン２１が取付けられている。前記対の回転体１８の外周には、長尺状の治具１７が、複数個（例えば６０〜１００個程度：本実施の形態では８０個）所定間隔を隔てて取付けられるようになっている。該治具１７は、回転体１８の各凸部２０に対し取付けられるようになっており、前記位置決めピン２１と係合して位置決めするためのホルダ２６と、凸部２０両側にてホルダ２６に取付けられ、かつ、回転体１８間に延びる長板状の絶縁板２７とを有している。本実施の形態では、１個の治具１７あたり、例えば６０個のコンデンサ素子６が一斉に保持されるようになっている。
【００３９】
上記構成下においては、治具１７がコンデンサ素子６の供給位置にきたとき、図示しないカム機構が作動させられて、コンデンサ素子６の供給が可能な状態となる。また、コンデンサ素子６が供給された後においては、コンデンサ素子６の保持と、前記コンデンサ素子６への電気的導通とが併せて図られるようになっている。
【００４０】
治具１７の移送経路の外周には、約２７０度にわたって被うハウジング４１が設けられている。このハウジング４１は、治具１７の移送経路の外周を環状に囲み、かつ、外部から隔てられている。ハウジング４１の内面には断熱材が設けられており、また、軸受１４に取付けられた円板状のフレーム４２により回転軸１５と同心状に支えられている。また、ハウジング４１の円周方向の一端縁側には、図示しない送風機が設けられており、これにより、エージング中のコンデンサ素子６等が加熱されるようになっている。
【００４１】
次に、本実施の形態におけるエージング手段２の基本的動作について簡単に説明する。送り機構１３において、回転体１８は、所定方向に間欠回転される。そして、回転体１８の外周に取付けられた治具１７が所定位置にきたとき、該治具１７に保持された多数のコンデンサ素子６の取出しと、治具１７への新たなコンデンサ素子６の供給とが図示しない供給取出手段によって行われる。一方、ハウジング４１内では、加熱された熱風が送風機により循環される。このため、治具１７に保持されたコンデンサ素子６は、治具１７とともに所定方向に移動しつつ、熱風により加熱される。そして、この間、治具１７を介して所定の電圧が供給され、エージング処理が施されるようになっている。
【００４２】
本実施の形態では、電源電圧のそれぞれ異なる複数種類の電源が用意されており、エージング手段２内においては前記治具１７の移動に伴って、供給される電圧が徐々に増大するようになっている。但し、図５に示すように、エージングの最終段階においては、エージングが完了した後、所定地点から当該治具１７に関して放電が開始され、一旦完全な放電が行われるようになっている。
【００４３】
さて、本実施の形態では、前記エージング手段２内において、前記放電が行われた後、ＬＣ検査用の充電が予め所定時間（例えば５０秒間）行われるようになっている。すなわち、エージング手段２内部には、前記放電領域よりも後段側において第１の充電機構５１が設けられている。
【００４４】
また、エージング手段２のハウジング４１終端（出口）に治具１７が到達した時点で、該治具１７に保持された多数のコンデンサ素子６が取出され、搬送手段３によって搬送されるようになっている。搬送手段３の途中には、前記出口から搬送経路の湾曲した部分（図５の左側部分：例えば１０ポジション分）を隔てるようにして、第２の充電機構５２が設けられている。該第２の充電機構５２においては、コンデンサ素子６が１ポジションずつ間欠的に移送されながら、所定時間ずつの充電が行われるようになっている。本実施の形態では、１ポジションの移動時間が例えば約０．５秒に設定され、各ポジションでの充電が約０．５秒間ずつ行われるようになっている。なお、前記ＬＣ検査手段５は、第２の充電機構５２の直下流に設けられており、第２の充電機構５２による充電が完了した後、速やかにＬＣ検査手段５による検査（測定及び良否判定）が行われるようになっている。
【００４５】
前記搬送に先だって、前記治具１７からは一度に６０個のコンデンサ素子６が取り出されることとなるが、先頭側のコンデンサ素子６と、終端側のコンデンサ素子６とでは、前記出口から第２の充電機構５２に達するまでの時間（非充電時間）に差異が生じることとなる。つまり、先頭側のコンデンサ素子６は、前記１０ポジション分の非充電期間（１０秒程度）を経て比較的速やかに第２の充電機構５２へと到達する。これに対し、終端側のコンデンサ素子６は、前記先頭側のコンデンサ素子６よりも５９個分だけ遅れて（７０秒程度を経て）第２の充電機構５２へと到達することとなるのである。
【００４６】
そこで、本実施の形態では、先頭側（１番目）から終端側（６０番目）までのコンデンサ素子６につき、前記非充電時間の差異により生じる影響を考慮して、該影響を相殺した上でコンデンサ素子６のリーク電流に関する良否判定を行うようにしている。より詳しくは、予め検査対象となるコンデンサ素子６につき、非充電時間の差異による影響を実験的に測定しておき、その影響を補正値として、検査に際しての測定値（実測値）に対し補正を加えることとしているのである。
【００４７】
ここで、補正値の設定について説明する。例えば、図６（ａ），（ｂ）は上記非充電時間の存在を考慮した上で、コンデンサ素子６に所定の充電を行うべく構成された回路図である。同図に示すように、本回路構成においては、第１〜第３のタイマリレーＴＲ１〜ＴＲ３が設けられている。第１のタイマリレーＴＲ１は、エージング時の充電（第１の充電機構５１による充電）を想定して設けられているものであって、完全に放電されているコンデンサ素子６に対し所定時間（ここでは５０秒）の充電を許容するためのものである。この第１のタイマリレーＴＲ１は、コンデンサ素子６に対して正特性サーミスタＰＯを介して設けられており、通常オン状態となっているいわゆるｂ接点と、オンディレータイプのソレノイドとを備えている。そして、該タイマリレーＴＲ１は、充電開始（図７のタイミングｔ１）から前記所定時間（５０秒）が経過すると（タイムアップすると）、ソレノイドが励磁されｂ接点がオフ状態とされる（図７のタイミングｔ２）。これにより、第１の充電機構５１での充電に相当する充電（第１の充電）が終了させられる。
【００４８】
また、第２のタイマリレーＴＲ２は、非充電状態での搬送を想定して設けられているものであって、充電を禁止するためのものである。この第２のタイマリレーＴＲ２は、コンデンサ素子６に対して抵抗ＲＥを介して設けられており、通常オフ状態となっているいわゆるａ接点及び後述する第３のタイマリレーＴＲ３のオフディレータイプのソレノイドを消磁させるためのｂ接点と、オンディレータイプのソレノイドとを備えている。また、第２のタイマリレーＴＲ２は、第３のタイマリレーＴＲ３が接続されてなるアンプＡＰに対し接続されている。かかる第２のタイマリレーＴＲ２は、前記第１のタイマリレーＴＲ１と同時に計時が開始される（タイミングｔ１）。そして、前記所定時間（５０秒）に前記非充電時間（１０秒〜７０秒；可変時間）を加算した時間が経過すると（図７のタイミングｔ３）、第２のタイマリレーＴＲ２のａ接点が通電オン状態とされる。これにより、抵抗ＲＥ、アンプＡＰを介して充電が許容されるようになっている。
【００４９】
すなわち、第３のタイマリレーＴＲ３は、第２の充電機構５２による充電を想定して設けられているものであって、コンデンサ素子６に対し所定時間（ここでは１０秒）の充電を許容するものである。この第３のタイマリレーＴＲ３は、上述したようにアンプＡＰに対応して設けられており、通常オフ状態となっているいわゆるａ接点と、オフディレータイプのソレノイドとを備えている。かかる第３のタイマリレーＴＲ３では、前記第２のタイマリレーＴＲ２のタイムアップに基づきソレノイドの入力がオフ状態とされ（タイミングｔ３）、計時が開始される。そして、前記所定時間（１０秒）が経過した時点でａ接点がオフ状態とされ（図７のタイミングｔ４）、これにより、測定が行われる。
【００５０】
本実施の形態では、第２の充電が終了させられた直後において、該当するコンデンサ素子６のリーク電流が、それぞれ異なる非充電時間につきそれぞれ測定される。そして、かかる測定が同一又は同タイプのコンデンサ素子６につき複数回繰り返される。これにより、１０秒から７０秒までの間のそれぞれ異なる非充電時間に対応するリーク電流のデータが得られる。そして、各データに基づき、補正値が決定されるのである。
【００５１】
補正値の決定の方法については何ら限定されるのではないが、例えば次のように決定することができる。すなわち、非充電時間が１０秒のときのデータの平均値に対し、非充電時間がそれよりも増大するのに伴ってデータの平均値が減少するような場合には、その減少分に見合った補正値（例えば正の値）とされる。一方、非充電時間が１０秒よりも増大するのに伴ってデータの平均値が増大するような場合には、その増大分に見合った補正値（例えば負の値）とされる。
【００５２】
次に、上記のように構成されてなる装置を用いて、コンデンサ素子６のリーク電流を測定し、検査するに際しての工程、及び、作用効果について説明する。
【００５３】
エージング手段２内において、放電が行われた後、図８に示すように、第１の充電機構５１における充電が所定時間（５０秒間；Ｔ２−Ｔ１）行われる。尚、この間、リーク電流の値Ｉは、充電の進行に伴って減少してゆく（図９（ａ），（ｂ）におけるタイミングＴ１からＴ２の間）。
【００５４】
次に、エージング手段２のハウジング４１終端（出口）に治具１７が到達した時点で、該治具１７に保持された多数のコンデンサ素子６が取出され、搬送手段３によって搬送される。そして、１０秒〜７０秒の非充電期間（Ｔ３−Ｔ２；Ｔ３は可変）を経て（ここではコンデンサ素子６の取出しから搬送開始までの期間は便宜上考慮に入れていない）、第２の充電機構５２へと供給される。該第２の充電機構５２においては、コンデンサ素子６が１ポジションずつ間欠的に移送されながら、所定時間ずつの充電が行われる。尚、この間、リーク電流の値Ｉは、充電の進行に伴って再度減少してゆく（図９（ａ），（ｂ）におけるタイミングＴ３ａからＴ４ａの間又はタイミングＴ３ｂからＴ４ｂの間）。そして、第２の充電機構５２において合計約１０秒間（Ｔ４−Ｔ３）の充電が行われた後、ＬＣ検査手段５へと搬送される。
【００５５】
ＬＣ検査手段５では、搬送されてくる各コンデンサ素子６に関し、リーク電流の測定及び良否判定が行われる。すなわち、ＬＣ検査手段５において、所定のコンデンサ素子６について測定されたリーク電流の測定値が「Ａ」であったとする。ここで、ＬＣ検査手段５では、当該コンデンサ素子６が何番目のものであったかが判断され（１番目から６０番目のいずれかが判断され）、その判断結果に応じて補正値αが決定される。さらに、前記測定値たる「Ａ」に対し補正値αが加算（又は減算）された値（補正後の値）が、予め定められた設定値Ｃと比較される。そして、補正後の値が設定値よりも小さい場合には良品と判定され次工程へと搬送される。一方、補正後の値が設定値以上の場合には不良品と判定され、製品から除外される。
【００５６】
このように、本実施の形態によれば、エージング手段２の内部で予め充電を行う構成としている。このため、エージング手段２外部での充電時間の短縮化を図ることができる。従って、十分な充電時間を確保しつつ、第２の充電機構５１の設置スペースや、搬送手段３のスペースを、従来に比べて縮小することができる。その結果、検査に関しての信頼性を保持しつつ装置全体の小型化を図ることができる。
【００５７】
また一方で、本実施の形態では、エージング手段２の外部においてＬＣ検査手段５を設けることとしている。ここで、エージング手段の内部で検査を行う場合には、一度に多数の（例えば６０個の）コンデンサ素子のリーク電流の測定を行わなければならず、そのための回路が著しく複雑となってしまう。これに対し、本実施の形態では、エージング手段２の外部において１つずつ測定するため、回路構成を簡素なものとすることができるというメリットがある。
【００５８】
さらに、本実施の形態では、ＬＣ検査手段５において、測定値と、予め設定された設定値とが比較されることに基づいて良否判定が行われるのであるが、当該比較に先だって、測定値に対し、非充電期間に応じた補正が行われる。そして、そのような補正が行われた上で前記比較が行われる。ここで、第２の充電機構５２にて充電が開始されるまでの非充電期間が、本実施の形態の如く各コンデンサ素子６毎に相違すると、実際の測定値に影響が及ぶおそれがある。これに対し、本実施の形態では、非充電期間に応じた補正が行われた上で比較が行われる。そのため、各コンデンサ素子６毎に非充電期間が相違したとしても、当該相違による悪影響を払拭することができる。その結果、良否判定の精度を高めることができる。
【００５９】
特に、１つの治具１７に対し多数のコンデンサ素子６が取り付けられてエージング処理が行われる場合には、一度に多数のコンデンサ素子６が導出され、これらを搬送しつつ充電する必要がある。そして、このように多数のコンデンサ素子６がエージング処理されるような場合には、非充電時間の差異も大きくなる傾向にある。これに対し、本実施の形態の補正は、前記差異の影響を払拭できるという点で、極めて有効となる。
【００６０】
尚、上述した実施の形態の記載内容に限定されることなく、例えば次のように実施してもよい。
【００６１】
（ａ）上記実施の形態では、第１の充電機構５１による充電時間を５０秒とし、第２の充電機構５２による充電時間を１０秒とし、トータル充電時間が６０秒となるようにした。このように第１の充電機構５１による充電を比較的長く設定することで、第２の充電機構５２での充電のためのスペースを短く（縮小）できる。
【００６２】
これに対し、トータル充電時間は６０秒に限定されるものではなく、例えば３０秒であっても、４０秒或いは５０秒であってもよい。また、６０秒よりも長い時間充電を行うこととしてもよい。さらに、第１の充電機構５１による充電時間よりも、第２の充電機構５２での充電時間を長く設定することとしてもよい。
【００６３】
（ｂ）上記実施の形態では、予め検査対象となるコンデンサ素子６につき、非充電時間の差異による影響を実験的に測定しておき、その影響を補正値として、検査に際しての測定値（実測値）に対し補正を加えることとしている。これに対し、実際の装置レベルでの影響を経験的に測定しておき、その影響を考慮して補正値を設定することとしてもよい。
【００６４】
（ｃ）搬送手段３による搬送は、間欠的なものでなくともよい。従って、搬送手段３は、コンデンサ素子６を連続的に移送するよう構成されていてもよい。
【００６５】
（ｄ）上記実施の形態では、搬送手段３の湾曲状の搬送路を考慮して、１０ポジション分の非充電部分を設けることとしているが、かかる空きポジションを設けることなく、エージング手段２の出口近傍に第２の充電機構５２を設けるような構成としてもよい。
【００６６】
（ｅ）検査に際し、上記実施の形態のような補正を行わない場合があってもよい。
【００６７】
（ｆ）上記実施の形態では、ＬＣ検査手段５において、測定及び良否判定を行うこととしている。これに代えて、測定のみを行うこととしてもよい。また、良否判定に代えて、コンデンサ素子６毎にリーク電流の測定値（補正をしてもしなくてもよい）を複数段階にランク付けすることとしてもよい。
【００６８】
（ｇ）エージング手段２において、治具１７を回転体１８に取付けることで搬送する場合に具体化しているが、必ずしも回転体１８である必要はない。例えば、治具１７をチェーン（ワイヤやベルトでもよい）等の巡回移動する無端条体に所定の間隔を隔てて取付けることで搬送するようにしてもよい。また、加熱装置を直線状としても差し支えない。すなわち、加熱装置や搬送装置の形状や仕様については、上記実施の形態のものに何ら限定されるものではない。
【００６９】
（ｈ）保持される治具１７の数や、治具１７に保持されるコンデンサ素子６の数は、上記実施の形態のものに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図１】一実施の形態におけるエージング処理及びその後のリーク電流検査に関する装置等を示す図であって、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
【図２】エージング処理及びその後のリーク電流検査に関する装置等を示す側面図である。
【図３】エージング手段の構成を示す断面図である。
【図４】エージング手段に位置する治具等を示す部分断面図である。
【図５】エージング処理及びその後のリーク電流検査に至るまでの流れを示す模式図である。
【図６】（ａ），（ｂ）は補正値を設定するために用いられる回路構成を示す図である。
【図７】時間の経過に対するタイマリレーの動作（計時）を示すタイミングチャートである。
【図８】時間の経過に対する第１の充電機構、第２の充電機構等の作動状況を説明するためのタイミングチャートである。
【図９】（ａ），（ｂ）は、非充電時間の相違するコンデンサ素子に関する時間の経過に対するリーク電流の関係の例を示すグラフである。
【符号の説明】
２…エージング手段、３…搬送手段、５…ＬＣ検査手段、６…電解コンデンサとしてのコンデンサ素子、１７…治具、５１…第１の充電機構、５２…第２の充電機構。
【図１】
0004053248.tif 000002
【図２】
0004053248.tif 000003
【図３】
0004053248.tif 000004
【図４】
0004053248.tif 000005
【図５】
0004053248.tif 000006
【図６】
0004053248.tif 000007
【図７】
0004053248.tif 000008
【図８】
0004053248.tif 000009
【図９】
0004053248.tif 000010