(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
シリコン基板と、
前記シリコン基板上に配置された導波管であって、前記導波管のうち少なくとも１つがフォトニッククリスタルを含み、前記フォトニッククリスタルは１つのピンまたは１つの穴により形成される要素（１４）を含み、前記要素は光軸に対してある角度で配置され且つ互いに平行に配置されている、導波管とからなる光集積回路。
【請求項２】
前記導波管がストリップ導波管（３，４）を含み、前記光集積回路がさらに、
前記ストリップ導波管（３，４）と前記シリコン基板（１）との間に設けられた絶縁層（２）からなり、前記フォトニッククリスタルは、前記ストリップ導波管（３，４）の下部境界面より下にある平面から前記ストリップ導波管（３、４）の上部境界面よりも上まで延在することを特徴とする請求項１に記載の光集積回路。
【請求項３】
前記要素が、誘電定数の高いピン（１４）により形成され、前記ピンは２次元の周期格子の形になって配置されていることを特徴とする請求項１に記載の光集積回路。
【請求項４】
前記要素が、高い誘電定数を持つ穴により形成され、前記穴は２次元の周期格子の形になって配置されていることを特徴とする請求項１に記載の光集積回路。
【請求項５】
前記ピンは前記絶縁層上にあり、前記絶縁層は、フォトニッククリスタルの領域における厚さが、導波管（３，４）の領域における厚さよりも薄いことを特徴とする請求項３に記載の光集積回路。
【請求項６】
前記ピンは前記シリコン基板上にあることを特徴とする請求項３に記載の光集積回路。
【請求項７】
前記ピンの間の空間には非線形光学材料が満たされており、フィールド電極（４６から４９）にかけられた電圧によって前記非線型光学材料の屈折率を調節できることを特徴とする請求項３に記載の光集積回路。
【請求項８】
前記フォトニッククリスタルは欠陥を含み、前記フォトニッククリスタルは、前記欠陥が配置される結果として分岐フィルタとなっており、選択された波長領域の分岐された光が、前記分岐フィルタから側面に発射することを特徴とする請求項１に記載の光集積回路。
【請求項９】
側面に発射したさまざまな波長領域の光が、平行するフォトニッククリスタルのさまざまな位置で集束することを特徴とする請求項１に記載の光集積回路。
【発明の詳細な説明】
本発明は、シリコン基板とその上に配置した導波管（導波路）をもつ光集積回路に関する。
光集積回路は通信工学ではさまざまな目的のために、たとえば、情報により変調された光の分配、合成、スペクトル分配、または切り替えのために必要である。そのほかに、その他の回路、たとえば計算機回路を光構造を利用して実現できる。
現在、光集積回路は、ポリマー、またはIII−V化合物半導体で作られる導波管つきで構築され、それらはリトグラフ法で製造される。
この回路の光学的に有効な要素としては、特にフォトニッククリスタルが適しており、これは寸法が小さいために完全な機能を発揮するためには、それをはめ込む導波管パターンが必要である。このような導波管パターンは、通常は、ポリマーまたは半導体材料によるストリップ導波管である。
この導波管パターンは１つの相補的な構造にすることが可能であり、物質の光量子パルスの伝播はその実施形態によって阻止され、通常は完全に光を反射する物質に意図的に組み込こんだ欠陥によって伝播させることが可能になる。その際、ドーピングによって作られるか、またはストリップ導波管として設計されている光導波管の波を誘導する場合のように、屈折率張りだしが作用するのではなく、ここでは、（理論的に決まっており）制限され、禁止されるバンドが、一定の波長に関して、その波の拡張のために望ましい独自の解決方法として作用する。この導波管については、たとえば、Ｍｅｋｉｓ．Ａ他の「物理論文集、７７巻、１８番、３７８７ページ」に説明されている。
本発明の課題は、そうした導波管がさまざまな機能のために使われ、必要な精度をもつ導波管が製造できるような光集積回路を提案することである。
この課題は本発明に沿って、導波管として１つ以上のフォトニッククリスタルを具備することで解決される。その際、好適には、その他の導波管はストリップ導波管として形成され、そのストリップ導波管とシリコン基板の間に絶縁層が作られ、フォトニッククリスタルが導波管の下側境界面の下の平面から導波管の上側境界面に延在することが想定される。
本発明の回路を製造するために、市場で入手できる材料、たとえば、ＳＯＩＴＥＣ  ＳＡ．（グレノーブル、フランス）社の「絶縁体上のシリコン」を使用できることは利点である。この材料は波長１．５５μｍでは良好に光を通す。シリコンはこうした導波管では高い誘電定数１２を有し、これはフォトニッククリスタルの場合にも導入することができる。挿入損失がきわめて少ない回路の一定の場所に導入される特別のフォトニッククリスタルは、回路の機能、たとえば、計算回路としての機能を保証し、その際、全体回路はきわめて小さくできる。それゆえ、たとえば、３５ｄＢの減衰を得るためには、波長の１／３の格子間隔をもつフォトニッククリスタルの格子の６周期で十分である。
本発明の回路の有利な点は、１つ以上のフォトニッククリスタルが不純物つきの（欠陥のある）２次元周期格子になっている、高い誘電定数をもつピンによって形成されることである。しかし、１つ以上のフォトニッククリスタルを、不純物つきの（欠陥のある）２次元周期格子の形になっている、誘電定数の低い穴をもち、誘電定数が高い１つの立体によって形成することも可能である。これは、たとえば、ＤＥ  １９５  ３３  １４８  Ａ１に記載されている。
個々の前提条件に応じて、ピンを、フォトニッククリスタルの領域における厚さが導波管の領域における厚さよりも薄い絶縁層に置くようにするか、または、ピンをシリコン基板の上に置くように想定できる。
本発明の回路のその他の有利な点は、ピン相互間の中間空間に非線型光学材料が満たされており、フィールド電極にかけられた電圧によって、非線型光学材料の屈折率が調節できることである。それによって、たとえば、光集積回路として実施されているフィルタの特性の制御が可能となる。ＤＥ  １９５  ４２  ０５８  Ａ１参照。
その他に有利な点は、ピンないし穴が光軸に斜めになっていることである。それによって波長領域の一部にある光を光集積回路のその他の平面に分岐させることが可能になる。これに関して、１つ以上のフォトニッククリスタルに欠陥を配置することによって分岐フィルタにするという別の成形も選択できる。この場合、選ばれた波長領域の分岐光が側面に発射する。この側面に発射する光はさまざまな方法でさらに誘導できる。
本発明をその他の成形にすると、さまざまな波長領域の側面に発射する光が、平行するフォトニッククリスタルのさまざまな位置に集束可能であることが想定される。それによって複数の計算レベルを簡単な方法で結合することが可能になる。
本発明の実施例を図を用いて、以下に詳しく説明する。
図１は、本発明の回路の一部分の断面である。
図２は、図１に示した部分の俯瞰図である。
図３は、その他の実施例の一部分の俯瞰図である。
図４は、光集積回路の２つのレベルの光結合の例である。
図５は、本発明の回路での複数の計算レベルの光結合の例である図式的表現である。
図６は、本発明の回路で実現したマッハ・ツェンダー干渉計である。
図１の実施例では、シリコン基板１の上に酸化シリコンの絶縁層２があり、その上にシリコンの光ストリップ導波管３，４が作られている。導波管３，４の間には、フォトニッククリスタル５があり、これはピン６の格子で作られる。
ピン６は実施例では絶縁層２の上にあり、絶縁層はフォトニッククリスタル５の領域で１つのキャビテーション（空洞）を持っている。これによって、また、ピンが波長３，４の上部境界平面を越えて張り出すことによって、フォトニッククリスタルは、導波管の外部の縁部分に誘導されるフィールドをも把握する。
ピン６は、周知の方法で粒子放射デポジション（堆積物）によって作ることができる。その１つの方法が、たとえばＤＥ  １９５  ３３  １４８  Ａ１に記載されている。
Ｓ．Ｙ．Ｌｉｎ，Ｇ．Ａｒｊａｖａｌｉｎｇａｍ著「光学通信」１８巻、１９号、１６６６（１９９０）に記載されたミリ波での実験が示すように、３５ｄＢの減衰を得るためには、波長の３分の１の格子定数をもつ格子の６周期で十分である。それによって減衰される波長領域内部では意図的な不純物（欠陥）によって、つまりピンを抜くことによって、減衰の少ない波長領域を創出できる。図１および図２の実施例では、複数の波長の光が導波管３によって導波管４に導かれ、その一方で分岐７で、選んだ波長の光が発射する。その際、フォトニッククリスタルの中央領域におけるピンについて選ばれる間隔は、目的のフィルタ特性をもたせるための正確な構成を表す。
図３の実施例では、フォトニッククリスタルは１つのフィルタのためだけではなく、入り口および出口のためにも具備されており、その際、入り口部分１１と出口部分１２，１３は、中央領域にピンを具備しないことによってそれぞれオールパスフィルタとして形成される。
図４は、フォトニッククリスタルを形成するピン１４が傾いている実施例を示す。選んだ領域に被覆層１５が設けてあるので、光はそこへ逃げ、好適には、ポリマー材料で作られるレンズ１６を通って上の平面の、図には示されていない、入射口に集束される。それによって３次元構造が、たとえば、計算機回路で可能になる。レンズは周知の方法で電子ビーム・リトグラフで、または、光学的方法で製造できる。
図５は、フォトニッククリスタル２６によって複数の分岐２１から２５が形成されている、本発明の回路の断面を示す。その場合、レンズ２７から３１は分岐から発射する光を、フォトニッククリスタル２６の横を通っているその他の光学要素３７，３８に設けられている入射面３２から３６に集束する。
図６は、マッハ・ツェンダー干渉計として作られる実施例を示す。ここでは、すべての要素、特に、導波管、フィルタ、鏡、およびビームスプリッタがフォトニッククリスタルにより形成されている。干渉計で、図６の反射する測定対象４１における走行時間が測定される。そのためには４２で送られた光がまず調節可能なフィルタ４３を通って導かれ、それによって、測定のために使うべき波長が選ばれる。フィルタ４３から出た光のうち一部は、ビームスプリッタ４４によって、調節可能な位相シフタ４５のほうへ導かれ、フィルタ４３から出た光のうち反射された部分は測定対象４１に導かれる。
調節可能なフィルタ４３と調節可能な位相シフタ４５は、それぞれ１つのフォトニッククリスタルで構成され、その際、中間空間には非線型光学材料が満たされており、その誘電定数と、ピンの光学的に有効な間隔は、電極４６，４７、ないし４８，４９にかけられた電圧によって制御可能である。
位相シフタ４５には、完全に反射する鏡５０が接しており、その鏡は位相シフタ４５から出る光を別のビームスプリッタ５１に送る。
測定対象４１の前に設けられている、方向フィルタ４２として形成されるフォトニッククリスタルは、ビームスプリッタ４４から来る光が対象４１に導かれ、測定対象に反射する光は導波管４３を介してその他のビームスプリッタ５１に達するように作用する。出力部５４では両方の光流れが重なる。適切な測定変換機によって出力部５４から発射する強さを測り、出力部５４における強度が最小となるように４５での位相を調節することによって、測定対象４１の位相シフトを合わすことができる。これまで述べた理由により、図６に示した回路もきわめて小さく、たとえば全体長さ約２０μｍに設計できる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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