(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光ベルト上に設けられる相異なるトナー領域範囲を有するテストパッチから反射される光を受光して光電変換するセンサを具備する印刷機の画質補償方法において，
（ａ）  前記センサを使用して測定した測定ＴＲＣ  Φ０と，目標ＴＲＣ  ΦＴとを比較して偏差ΔΦを求める段階と，
（ｂ）  前記偏差ΔΦが許容偏差ΔΦＴより大きければ，測定現像バイアスＶＢのヤコビアン行列ＪＢから現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出して新しい現像バイアスＶＢＮを計算し，測定グリッド電位ＶＧを新しいグリッド電位ＶＧＮに設定する段階と，
（ｃ）  前記グリッド電位ＶＧＮ及び前記現像バイアスＶＢＮからバックプレーティングベクトルＶＢＰを求める段階と，
（ｄ）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰと臨界値ＶＴとを比較して，制御変数ＶＧＮ，ＶＢＮを設定して調子再現曲線ＴＲＣ（Φ）を制御する段階と，
を含み、
前記（ａ）段階で，
前記偏差ΔΦは次の式を満足し、
【数１】
0004060724.tif 000086
【数２】
0004060724.tif 000087
【数３】
0004060724.tif 000088
前記（ｂ）段階は，
（ｂ−１）  測定現像バイアスＶＢのヤコビアン行列ＪＢから次の式を満足する現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出する段階と，
【数４】
0004060724.tif 000089
【数５】
0004060724.tif 000090
【数６】
0004060724.tif 000091
（ｂ−２）  前記現像バイアスＶＢの変位量ΔＶＢから次の式を満足する前記新しい現像バイアスＶＢＮを設定する段階と，
【数７】
0004060724.tif 000092
（ｂ−３）  前記測定グリッド電位ＶＧを前記新しいグリッド電位ＶＧＮに設定する段階と，を含むことを特徴とする画質補償方法。
【請求項２】
前記（ｃ）段階で，
前記新しいグリッド電位ＶＧＮ及び前記新しい現像バイアスＶＢＮから次の式を満足する前記バックプレーティングベクトルＶＢＰを算出することを特徴とする請求項１に記載の画質補償方法。
【数８】
0004060724.tif 000093
【請求項３】
前記（ｄ）段階は，
（ｄ−１）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ以上であれば，前記（ｃ）段階のグリッド電位ＶＧＮ及び現像バイアスＶＢＮを新しい制御変数に設定する段階と，
（ｄ−２）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ未満であれば，前記測定現像バイアスＶＢのヤコビアン行列ＪＢ，測定グリッド電位のヤコビアン行列ＪＧ及び，調整変数Ｃから次の式を満足する現像バイアスＶＢＮ及びグリッド電位ＶＧＮを算出する段階と，
【数９】
0004060724.tif 000094
【数１０】
0004060724.tif 000095
ここで，
【数１１】
0004060724.tif 000096
【数１２】
0004060724.tif 000097
【数１３】
0004060724.tif 000098
【数１４】
0004060724.tif 000099
（ｄ−３）  前記グリッド電位ＶＧＮ及び現像バイアスＶＢＮから算出した前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ未満であれば，次の式を満足するように前記調整変数Ｃの増分αを増加させる段階と，
【数１５】
0004060724.tif 000100
（ｄ−４）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ以上になるまで前記（ｄ−３）段階を反復する段階と，
（ｄ−５）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ以上になれば，この時の新しいグリッド電位ＶＧＮ及び新しい現像バイアスＶＢＮを新しい制御変数ＶＧＮ，ＶＢＮに設定する段階と，を含むことを特徴とする請求項２に記載の画質補償方法。
【請求項４】
感光ベルト上に設けられる相異なるトナー領域範囲を有するテストパッチから反射される光を受光して光電変換するセンサを具備する印刷機の画質補償方法において，
（ａ）  前記センサを使用して測定した測定ＴＲＣ  Φ（ｋ）と基準ＴＲＣ  ΦＲとを比較して偏差ΔΦを求める段階と，
（ｂ）  前記偏差ΔΦが許容偏差ΔΦＴ以上であれば，測定現像バイアスＶＢ（ｋ）のヤコビアン行列ＪＢから現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出して新しい現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）を計算し，測定グリッド電位ＶＧ（ｋ）を新しいグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）に設定する段階と，
（ｃ）  前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求める段階と，
（ｄ）  調整変数ａを初期化した後，前記バックプレーティングベクトルＶＢＰと最小臨界値ＶＴｍｉｎとを比較して前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが最小臨界値ＶＴｍｉｎより小さな場合に（ｅ）段階に進み，それ以外の場合に（ｇ）段階に進む段階と，
（ｅ）  調整変数ａを増分量αだけ増分した後，前記偏差ΔΦの符号によって制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定して前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｆ）段階に進む段階と，
（ｆ）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが最小臨界値ＶＴｍｉｎより小さな場合に（ｅ）段階から反復し，それ以外の場合に（ａ）段階から反復する段階と，
（ｇ）  調整変数ａを増分量αだけ増分した後，前記偏差ΔΦの符号によって制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定してその差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｈ）段階に進む段階と，
（ｈ）  前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが最大臨界値ＶＴｍａｘより大きい場合に（ｇ）段階から反復し，それ以外の場合に（ａ）段階から反復する段階と、
を含み、
前記（ａ）段階で，
前記偏差ΔΦは次の式を満足することを特徴とする請求項６に記載の画質補償方法。
【数１６】
0004060724.tif 000101
【数１７】
0004060724.tif 000102
【数１８】
0004060724.tif 000103
前記（ｂ）段階は，
（ｂ−１）  測定現像バイアスＶＢ（ｋ）のヤコビアン行列ＪＢから次の式を満足する現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出する段階と，
【数１９】
0004060724.tif 000104
【数２０】
0004060724.tif 000105
【数２１】
0004060724.tif 000106
（ｂ−２）  前記現像バイアスの変位量ΔＶＢから次の式を満足する前記新しい現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）を設定する段階と，
【数２２】
0004060724.tif 000107
（ｂ−３）  前記測定グリッド電位ＶＧ（ｋ）を前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）に設定する段階と，を含むことを特徴とする画質補償方法。
【請求項５】
前記（ｃ）段階で，
前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）及び前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）から次の式を満足する前記バックプレーティングベクトルＶＢＰを算出することを特徴とする請求項４に記載の画質補償方法。
【数２３】
0004060724.tif 000108
【請求項６】
前記（ｄ）段階で，
前記調整変数ａは初期値ａ＝０を有するように初期化することを特徴とする請求項５に記載の画質補償方法。
【請求項７】
前記（ｅ）段階は，
（ｅ−１）調整変数ａを増分量αだけ増分する段階と，
【数２４】
0004060724.tif 000109
（ｅ−２）  前記偏差ΔΦが正である場合，次の式を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定して前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｆ）段階に進む段階と，
【数２５】
0004060724.tif 000110
【数２６】
0004060724.tif 000111
【数２７】
0004060724.tif 000112
ここで，
【数２８】
0004060724.tif 000113
【数２９】
0004060724.tif 000114
【数３０】
0004060724.tif 000115
【数３１】
0004060724.tif 000116
（ｅ−３）  前記偏差ΔΦが負である場合，次の式を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定して前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｆ）段階に進む段階と，を含むことを特徴とする請求項６に記載の画質補償方法。
【数３２】
0004060724.tif 000117
【数３３】
0004060724.tif 000118
【数３４】
0004060724.tif 000119
ここで，
【数３５】
0004060724.tif 000120
【数３６】
0004060724.tif 000121
【数３７】
0004060724.tif 000122
【数３８】
0004060724.tif 000123
【請求項８】
前記（ｇ）段階は，
（ｇ−１）  調整変数ａを増分量αだけ増分する段階と，
（ｇ−２）  前記偏差ΔΦが正である場合に次の式を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定して前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｈ）段階に進む段階と，
【数３９】
0004060724.tif 000124
【数４０】
0004060724.tif 000125
【数４１】
0004060724.tif 000126
ここで，
【数４２】
0004060724.tif 000127
【数４３】
0004060724.tif 000128
【数４４】
0004060724.tif 000129
【数４５】
0004060724.tif 000130
（ｇ−３）  前記偏差ΔΦが負である場合，次の式を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定して前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｈ）段階に進む段階と，を含むことを特徴とする請求項７に記載の画質補償方法。
【数４６】
0004060724.tif 000131
【数４７】
0004060724.tif 000132
【数４８】
0004060724.tif 000133
ここで，
【数４９】
0004060724.tif 000134
【数５０】
0004060724.tif 000135
【数５１】
0004060724.tif 000136
【数５２】
0004060724.tif 000137
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は印刷機の画質補償方法に係り，より詳細には環境変化に対応して調子再現曲線（ＴＲＣ：Ｔｏｎｅ  Ｒｅｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎ  Ｃｕｒｖｅ）を効果的に制御することによって高画質を提供する画質補償方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
印刷機に適用される電子写真プロセスは一般的に感光体を帯電する段階，帯電された感光体を露光して特定画像領域に潜像を形成する段階，現像器を利用して形成された潜像に現像液を付着する段階，現像された画像が用紙に転写される段階及び，転写された画像が定着ロールにより固定される段階より構成される。
【０００３】
上記感光体を帯電する段階では，感光体上に均一な電荷を与えて出力される画像の質を高めるため，帯電時の感光体の電位（帯電電位という）を均一に調節する必要がある。帯電電位が低い場合には非画像領域が汚れる恐れがあり，帯電電位が高い場合には現像量が変わり，また帯電電位が過度に高い場合には感光体が永久的に損傷される恐れがある。
【０００４】
感光体の電位は，露光段階で潜像を形成するために所定電位に降下するが，この電位を露光電位という。現像器は，現像液の電位（現像電位という）が，潜像が形成された部分の電位，すなわち，露光電位よりは高く，潜像が形成されていない感光ベルトの他の部分の電位よりは低くなるように現像バイアスを有し，これによって潜像に現像液が吸着される現像段階が行われる。
【０００５】
現像段階で潜像に吸着される現像液の現像量は，前述したように帯電電位によっても影響されるが，露光電位及び現像電位によっても影響される。
【０００６】
露光電位が低ければ現像電位を一定にしてもその偏差があまりに大きくなり，現像液の吸着が多くなる。露光電位が高ければ現像電位を一定に与えてもその偏差が小さくなって現像液の吸着が少なくなり，現像される画像が薄れる。
【０００７】
同じ原理で，一定帯電電位及び一定露光電位を与えた感光体上に，現像電位があまりに高く与えられれば，現像電位と露光電位との大きい偏差によって現像液が過度に吸着される。反対に現像電位があまりに低くければ，現像電位と露光電位との間には小さな偏差しか生じず，吸着される現像液が少なく，画像が薄れる。
【０００８】
したがって，帯電電位，露光電位及び現像電位を適切に調節するアルゴリズムを開発して画質を補償しようとする努力が続いた。上記の３つの電位は，感光ベルト上に現像される画像の現像量に影響を及ぼすため，上記現像量を測定することによって印刷機を制御して，画質を補償する方法が従来に提示された。
【０００９】
図１は，従来の画質補償方法における高品質の画像を得るために画像エラーを補正するための現像量（Ｄｅｖｅｌｏｐｅｄ  Ｍａｓｓ  ｐｅｒ  ｕｎｉｔ  Ａｒｅａ；以下ＤＭＡという）を調節する方法を示した図面である。図１のＤＭＡの調節方法は，内的プロセス変数，すなわち，放電比率，除電電位，現像バイアスから前記の帯電電位，露光電位及び現像バイアスを制御する方法を提案している。
【００１０】
上記の現像量調節方法は，簡単にいえば，プロセス制御ループでＤＭＡを制御することによって印刷される画像の質を高める方法である。画像が形成される領域を画像領域といい，テストパッチは一般的に画像領域間の区域に設けられて，ＤＭＡを測定するのに利用される。測定されたＤＭＡを目標値と比較した後，発生したエラーを調節器に伝送して上記内的プロセス変数を制御することによって現像エラーを補正する。すなわち，上記内的プロセス変数からグリッド電位及び露光システムの平均ビーム電力を計算して印刷機のシステムを制御できる。
【００１１】
図１に示すように，レベル１調節器１２０は，帯電及び露光システム１２２に適切な制御信号Ｕｇ，Ｕｌを与えて帯電及び露光システム１２２を制御する。
【００１２】
帯電及び露光システム１２２の電位を静電位センサ（ＥＳＶ；Ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ  ｖｏｌｔａｇｅ  ｓｅｎｓｏｒ）で測定して得た帯電及び露光電位値が各々，電位値Ｖｈ１２４及び電位値Ｖｌ１２４に図示されている。
【００１３】
比較器１２６ａ，１２６ｂは，ＥＳＶで測定された電位値Ｖｈ１２４及び電位値Ｖｌ１２４と，帯電及び露光電位の目標値ＶｈＴ１２８，目標値ＶｌＴ１２８とを比較して，レベル１調節器１２０にエラー信号Ｅｈ１２９，エラー信号Ｅｌ１２９を伝送する。エラー信号Ｅｈ１２９，エラー信号Ｅｌ１２９からレベル１の利得を求めて，感光体の電位を目標値ＶｈＴ１２８，目標値ＶｌＴ１２８に収斂させる。
【００１４】
調節１調節器１２０，及び帯電及び露光システム１２２に与えられる帯電及び露光電位の目標値ＶｈＴ１２８，目標値ＶｌＴ１２８は，レベル２調節器１３０から生成される。比較器１３６ａ，１３６ｂ，１３６ｃは，ＣＴＤ（ＣｏｌｏｒＴｏｎｅｒ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）センサでトナー領域範囲（Ｔｏｎｅｒ  Ａｒｅａ  Ｃｏｖｅｒａｇｅ）によって設けられたテストパッチから測定されたＤＭＡ値ＶｈＴ１２８，ＤＭＡ値ＶｌＴ１２８と目標値ＤｌＴ１３８，目標値ＤｍＴ１３８，目標値ＤｈＴ１３８とを比較して，レベル２調節器１３０にエラー信号１３９を伝送する。レベル２調節器１３０は，現像システム１３２を制御するための信号ＶＴｄも生成する。
【００１５】
すなわち，従来の現像量調節方法では，ＣＴＤセンサで測定されたＤＭＡ値ＶｈＴ１２８，ＤＭＡ値ＶｌＴ１２８を，目標値ＤｌＴ１３８，目標値ＤｍＴ１３８，目標値ＤｈＴ１３８と比較してその偏差を計算した後，計算された偏差をレベル２調節器１３０に伝送する。この値はレベル２調節器１３０でそれぞれの内的プロセス変数，すなわち，放電比率，除電電位及び現像バイアスに対して線形化させる。線形化された前記放電比率，除電電位及び現像バイアスから制御変数，すなわち，前記の帯電電位，露光電位及び現像バイアスの目標値を抽出して，レベル１調節器１２０，帯電及び露光システム１２２及び現像システム１３２を制御する。この制御過程については図２を参照して説明する。
【００１６】
図２は，従来の現像量調節方法を簡略に示したフローチャートである。図２に示すように，従来の現像量調節方法は，まずＤＭＡを測定し（第１０１段階），測定されたＤＭＡと目標ＤＭＡとを比較してその偏差を計算する（第１０３段階）。偏差が許容偏差以下であればそのまま印刷作業を進み，偏差が許容偏差を超過すれば，制御変数変位量ΔＵをΔＵ＝−Ｇ・ΔＤのように算出して（第１０７段階），新しい制御変数ＵｎｅｗをＵＮＥＷ＝ＵＯＬＤ＋ΔＵのように設定して現像量を制御する（第１０９段階）（例えば，特許文献１参照）。
【００１７】
【特許文献１】
米国特許第５，７４９，０２１号公報
【特許文献２】
米国特許第５，８３９，０２２号公報
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の現像量調節方法は理論的には問題がないが，実際には現像制御が容易ではない。その理由は，ＣＴＤセンサで測定したＤＭＡ値には現像装置で現像されたＤＭＡ以外にノイズ成分が含まれているからである。このノイズ成分には，感光ドラム（ＯＰＣ；Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｐｈｏｔｏｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ  Ｃｅｌｌ）または中間転写ベルト（ＩＴＢ；Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｂｅｌｔ）の汚染，現像特性の非線形性及びその他の外乱などがある。
【００１９】
現像量制御のための制御変数の変位量を算出する時に，目標ＤＭＡと測定ＤＭＡとの偏差ΔＤに利得行列Ｇを乗算して変位量ΔＵを算出するが，ΔＵ＝Ｇ・（ΔＤ＋ｎ）のようにノイズ成分ｎも共に乗算されて制御変数の変位量ΔＵに影響を及ぼす。
【００２０】
これにより制御変数変位量ΔＵに誤差が発生して，ノイズが大きい場合に現像量が制御されず，激しい場合には算出された制御変数は動作領域を外れて画質を適切に補償できない。
【００２１】
したがって，本発明が解決しようとする技術的課題は，前述した従来の技術の問題点を改善するためのものとして，測定現像量に含まれる恐れがあるノイズ成分を排除するようにＴＲＣを一定に制御することによって，高画質の画像を得られる画質補償方法を提供することである。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上記技術的課題を解決するため，本発明によれば，感光ベルト上に設けられる相異なるトナー領域範囲を有するテストパッチから反射される光を受光して光電変換するセンサを具備する印刷機の画質補償方法において，（ａ）前記センサを使用して測定した測定ＴＲＣ  Φ０と目標ＴＲＣ  ΦＴとを比較して偏差ΔΦを求める段階と，（ｂ）前記偏差ΔΦが許容偏差ΔΦＴより大きければ，測定現像バイアスＶＢのヤコビアン行列ＪＢから現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出して新しい現像バイアスＶＢＮを計算し，測定グリッド電位ＶＧを新しいグリッド電位ＶＧＮに設定する段階と，（ｃ）前記グリッド電位ＶＧＮ及び前記現像バイアスＶＢＮからバックプレーティングベクトルＶＢＰを求める段階と，（ｄ）前記バックプレーティングベクトルＶＢＰと臨界値ＶＴとを比較して，制御変数ＶＧＮ，ＶＢＮを設定してＴＲＣ（Φ）を制御する段階と，を含むことを特徴とする画質補償方法が提供される。
【００２３】
前記（ａ）段階で，前記偏差ΔΦは上記式（１）から式（３）を満足する。
【００２４】
前記（ｂ）段階は，（ｂ−１）測定現像バイアスＶＢのヤコビアン行列ＪＢから上記式（４）から式（６）を満足する現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出する段階と，（ｂ−２）前記現像バイアスＶＢの変位量ΔＶＢから上記式（７）を満足する前記新しい現像バイアスＶＢＮを設定する段階と，（ｂ−３）測定グリッド電位ＶＧを新しいグリッド電位ＶＧＮに設定する段階と，を含む。
【００２５】
前記（ｃ）段階で，前記新しいグリッド電位ＶＧＮ及び前記新しい現像バイアスＶＢＮから上記式（８）を満足するバックプレーティングベクトルＶＢＰを算出する。
【００２６】
前記（ｄ）段階は，（ｄ−１）前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ以上であれば，前記（ｃ）段階のグリッド電位ＶＧＮ及び現像バイアスＶＢＮを新しい制御変数に設定する段階と，（ｄ−２）前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ未満であれば，前記測定現像バイアスＶＢのヤコビアン行列ＪＢ，測定グリッド電位のヤコビアン行列ＪＧ及び，調整変数Ｃから上記式（９）から式（１４）の関係式を満足する現像バイアスＶＢＮ及びグリッド電位ＶＧＮを算出する段階と，（ｄ−３）前記グリッド電位ＶＧＮ及び現像バイアスＶＢＮから算出した前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ未満であれば，上記式（１５）を満足するように前記調整変数Ｃの増分αを増加させる段階と，（ｄ−４）前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ以上になるまで前記（ｄ−３）段階を反復する段階と，（ｄ−５）前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが臨界値ＶＴ以上になれば，この時の新しいグリッド電位ＶＧＮ及び新しい現像バイアスＶＢＮを新しい制御変数ＶＧＮ，ＶＢＮに設定する段階と，を含む。
【００２７】
本発明の別の観点によれば，感光ベルト上に設けられる相異なるトナー領域範囲を有するテストパッチから反射される光を受光して光電変換するセンサを具備する印刷機の画質補償方法において，（ａ）前記センサを使用して測定した測定ＴＲＣ  Φ（ｋ）と基準ＴＲＣ  ΦＲとを比較して偏差ΔΦを求める段階と，（ｂ）前記偏差ΔΦが許容偏差ΔΦＴ以上であれば，測定現像バイアスＶＢ（ｋ）のヤコビアン行列ＪＢから現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出して新しい現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）を計算し，測定グリッド電位ＶＧ（ｋ）を新しいグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）に設定する段階と，（ｃ）前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求める段階と，（ｄ）調整変数（ａ）を初期化した後，前記バックプレーティングベクトルＶＢＰと最小臨界値ＶＴｍｉｎとを比較して前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが最小臨界値ＶＴｍｉｎより小さな場合に（ｅ）段階に進み，その逆である場合に（ｇ）段階に進む段階と，（ｅ）調整変数ａを増分量αだけ増分した後，前記偏差ΔΦの符号によって制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定して前記グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｆ）段階に進む段階と，（ｆ）前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが最小臨界値ＶＴｍｉｎより小さな場合に（ｅ）段階から反復し，その逆である場合に（ａ）段階から反復する段階と，（ｇ）調整変数ａを増分量αだけ増分した後，前記偏差ΔΦの符号によって制御変数ＶＧ（ｋ＋１），（ｋ＋１）を設定してその差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｈ）段階に進む段階と，（ｈ）前記バックプレーティングベクトルが最大臨界値ＶＴｍａｘより大きい場合に（ｇ）段階から反復し，その逆である場合に（ａ）段階から反復する段階とを含むことを特徴とする画質補償方法が提供される。
【００２８】
前記（ａ）段階で，前記偏差ΔΦは上記式（１６）から式（１８）を満足する。前記（ｂ）段階は，（ｂ−１）測定現像バイアスＶＢ（ｋ）のヤコビアン行列ＪＢから上記式（１９）から式（２１）を満足する現像バイアスの変位量ΔＶＢを算出する段階と，（ｂ−２）前記現像バイアスの変位量ΔＶＢから上記式（２２）を満足する新しい現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）を設定する段階と，（ｂ−３）測定グリッド電位ＶＧ（ｋ）をグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）に設定する段階と，を含む。
【００２９】
前記（ｃ）段階で，グリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）及び現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）から上記式（２３）を満足する前記バックプレーティングベクトルＶＢＰを算出する。
【００３０】
前記（ｄ）段階で，前記調整変数ａは初期値０を有するように初期化する。
【００３１】
前記（ｅ）段階は，（ｅ−１）調整変数ａを上記式（２４）によって増分量αだけ増分する段階と，（ｅ−２）偏差ΔΦが負である場合，上記式（２５）から式（３１）を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定してグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｆ）段階に進む進行する段階と，（ｅ−３）偏差ΔΦが正である場合，上記式（３２）から式（３７）を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定してグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と前記現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｆ）段階に進む段階と，を含む。
【００３２】
前記（ｇ）段階は，（ｇ−１）調整変数ａを上記式（２４）によって増分量αだけ増分する段階と，（ｇ−２）前記偏差ΔΦが負である場合に上記式（３９）から式（４５）を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定してグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｈ）段階に進む段階と，（ｇ−３）前記偏差ΔΦが正である場合，上記式（４６）から式（５２）を満足する制御変数ＶＧ（ｋ＋１），ＶＢ（ｋ＋１）を設定してグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）と現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）との差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後，（ｈ）段階に進む段階と，を含む。
【００３３】
上記のように，本発明においては，測定される現像量に含まれるノイズ成分に関係なく一貫して現像量を制御するために，外乱及び内部システムの変化にもかかわらずＴＲＣを一定に維持させることによって高画質の画像を提供できる。
【００３４】
【発明の実施の形態】
以下，本発明による画質補償方法を添付した図面を参照して詳細に説明する。
【００３５】
図３は，本発明が適用される印刷機を示す図面である。図３に示すように，印刷機には感光ベルト１３の感光体に帯電をする帯電器１５，帯電された感光体を露光させて静電潜像を形成するレーザースキャニングユニット（ＬＳＵ；Ｌａｓｅｒ  Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｕｎｉｔ），露光された部分にイエロー（Ｙ），シアン（Ｃ），マゼンタ（Ｍ）及びブラック（Ｋ）のそれぞれのカラーを有する現像液を吸着させて画像を現像する現像装置１６，１７，１８，１９，現像された部分からキャリアを除去する乾燥装置２０，感光ベルト１３上の現像されたテストパッチに赤外線を照射した後，反射光の強度を測定して現像量に比例する電気的信号を生じるＣＴＤセンサ２２，感光ベルト１３上に現像された画像を感光ベルト１３と接触する中間転写ロール１２に移動させる第１転写装置，第１転写された中間転写ロール１２上の画像を他の用紙２１に移動させるヒューザロール１１と，中間転写ロール１２とより構成された第２転写装置，及び転写後に感光体の電位を低めて一定に維持させる除電器１４が備わっている。
【００３６】
図４は，本発明の実施例による画質補償方法に利用されるテストパッチが位置する感光ベルトを示す図面である。
【００３７】
図４に示すように，感光ベルト３１上に画像領域３３が二つに分かれており，両画像領域３３間の区間にテストパッチ４１，４３，４５が設けられている。テストパッチ４１，４３，４５は，各々トナー領域範囲によって９０％ないし１００％の高密度のテストパッチ４１，５０％内外の中密度のテストパッチ４３，０ないし２０％の低密度のテストパッチ４５に区分される。
【００３８】
感光ベルト３１と一定間隔をおいて，テストパッチ４１，４３，４５に赤外線を照射してその反射光を測定するＣＴＤセンサ３５が配置されている。ＣＴＤセンサ３５から検出される信号のうち，高密度のテストパッチ４１から検出されるＴＲＣ信号はＴＨ，中密度のテストパッチ４３から検出されるＴＲＣ信号はＴＭ，低密度のテストパッチ４５から検出されるＴＲＣ信号はＴＬとする。
【００３９】
３つのテストパッチ４１，４３，４５に印刷される現像液の実際密度は，ＣＴＤセンサ３５を利用して光学的に測定できる。テストパッチ４１，４３，４５上の現像液の密度が高いほどテストパッチ４１，４３，４５に光がより多く吸収されるので，光学的センサに感知されるテストパッチ４１，４３，４５はより暗く現れる。
【００４０】
前述したように，ＣＴＤセンサ３５は，テストパッチ４１，４３，４５で反射される光量を測定してこれに比例する電気的な信号を生じるので，印刷される現像液の密度が増加するにつれて，すなわち，トナー領域範囲が増加するにつれて発生する電気的信号は減少する。したがって，ＴＨ＜ＴＭ＜ＴＬのような関係式が成立する。
【００４１】
図５は，本発明の第１の実施の形態にかかる画質補償方法，すなわち，調子再現曲線（ＴＲＣ：Ｔｏｎｅ  Ｒｅｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎ  Ｃｕｒｖｅ）を制御することによって画質を補償する方法のブロック図である。
【００４２】
図５に示すように，３つの比較器５１ａ，５１ｂ，５１ｃで測定ＴＲＣ  ΦＯＬ，ΦＯＭ，ΦＯＨと目標ＴＲＣ  ΦＴＬ，ΦＴＭ，ΦＴＨとを各々比較して偏差ΔΦＬ，ΔΦＭ，ΔΦＨを算出する。補償器Ｇ５３で特定ＴＲＣに対して求めた利得行列Ｇ，及び偏差ΔΦＬ，ΔΦＭ，ΔΦＨから現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧに対する調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを求める。
【００４３】
加算器５５ａ，５５ｂでは，前記調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを測定現像バイアスＶＢＯ及び測定グリッド電位ＶＧＯに加算して，新しい現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧを求める。現像サブシステム５７で，前記現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧからバックプレーティングベクトルＶＢＰを算出して目標値ＶＴと比較した後，現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧをそのまま印刷機に適用して画質を補償するか，再び新しい現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧを計算する。
【００４４】
上記の方法で求めた新しい現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧで印刷機を制御することによって入力画像に近接な出力画像を形成できる。
【００４５】
本発明の第１の実施形態にかかる画質を補償する方法を図６のフローチャートを利用してより詳細に説明する。
【００４６】
図６に示すように，ＲＴＲＣ（Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｎｅ  Ｒｅｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎ  Ｃｕｒｖｅ）空間から目標ＴＲＣ  ΦＴを定めて（第２０１段階），感光体またはＩＴＢ上のＴＲＣ  Φ０を，ＣＴＤセンサを使用して測定し（第２０２段階），上記目標ＴＲＣ  ΦＴと比較してその偏差ΔΦを下記式（１）から式（３）によって計算する（第２０３段階）。
【００４７】
【数５３】
0004060724.tif 000002
【００４８】
【数５４】
0004060724.tif 000003
【００４９】
【数５５】
0004060724.tif 000004
【００５０】
上記偏差ΔΦを許容値ΔΦＴと比較して（第２０４段階），許容値ΔΦＴより小さければアルゴリズムを終了し，偏差ΔΦが許容値ΔΦＴ以上であれば調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを下記式（４）から式（６）によって計算した後，下記式（７）によって新しい現像バイアスＶＢＮ及びグリッド電位ＶＧＮを算出する（第２０５段階）。
【００５１】
【数５６】
0004060724.tif 000005
【００５２】
【数５７】
0004060724.tif 000006
【００５３】
【数５８】
0004060724.tif 000007
【００５４】
【数５９】
0004060724.tif 000008
【００５５】
下記式（８）のように，現像バイアスＶＢＮとグリッド電位ＶＧＮとの差からバックプレーティングベクトルＶＢＰを求めた後（第２０６段階），目標値ＶＴと比較する（第２０７段階）。前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが目標値ＶＴ以上であれば，前記現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧを制御変数として決定して印刷機を制御し（第２０８段階），前記バックプレーティングベクトルＶＢＰが目標値ＶＴ未満であれば，下記式（９）から式（１４）によって調節変数Ｃを増分した後，増分値Ｃ，偏差ΔΦ及び利得行列ＧＢ，ＧＧから調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを計算して再び新しい現像バイアスＶＢＮ及びグリッド電位ＶＧＮを求めた後，第２０７段階に戻る（第２０９段階）。
【００５６】
【数６０】
0004060724.tif 000009
【００５７】
【数６１】
0004060724.tif 000010
【００５８】
【数６２】
0004060724.tif 000011
【００５９】
【数６３】
0004060724.tif 000012
【００６０】
【数６４】
0004060724.tif 000013
【００６１】
【数６５】
0004060724.tif 000014
【００６２】
【数６６】
0004060724.tif 000015
【００６３】
第２０５段階で，上記偏差ΔΦが許容値ΔΦＴより大きければ，従来の方法のように現像バイアス調節入力量ΔＶＢ及びグリッド電位調節入力量ΔＶＧを同時に計算せず，グリッド電位の調節入力量ΔＶＧ＝０と置いて，現像バイアスに対する調節入力量ΔＶＢだけ計算して新しい制御変数ＶＢＮ，ＶＧＮを設定する。これは測定ＴＲＣΦ（ｋ）に含まれうるノイズ成分の影響を排除するためである。
【００６４】
第２０７段階で，上記新しい制御変数ＶＢＮ，ＶＧＮの差から算出されるバックプレーティングベクトルＶＢＰが目標値ＶＴ未満である場合，第２０９段階のように新しい制御変数ＶＢＮ，ＶＧＮを算出し，これより計算されるバックプレーティングベクトルＶＢＰを再び目標値ＶＴと比較する段階が反復される。
【００６５】
ここで，調整変数Ｃを導入して下記式（１５）のように計算することは，現像バイアスＶＢの増加時に現像量ＤＯが増加，すなわち，ＴＲＣが減少し，グリッド電位ＶＧの増加時には現像量ＤＯが減少，すなわち，ＴＲＣが増加するからである。
【００６６】
【数６７】
0004060724.tif 000016
【００６７】
図７は，本発明の第２の実施形態による画質補償方法を示すフローチャートである。
【００６８】
図７に示すように，まず基準ＴＲＣになるＲＴＲＣを設定し，これをΦＲと置き（第２１１段階），ＩＴＢ上に位置するＣＴＤセンサを利用して測定されたＴＲＣをΦ（ｋ）と置く（第２１２段階）。
【００６９】
上記基準ＴＲＣ  ΦＲと測定ＴＲＣ  Φ（ｋ）との差から偏差ΔΦを計算し（第２１３段階），上記偏差ΔΦを許容値ΔΦＴと比較して許容値ΔΦＴ未満であればアルゴリズムを終了し，許容値以上であれば（第２１４段階），現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧを測定する（第２１５段階）。
【００７０】
上記現像バイアスＶＢ，グリッド電位ＶＧ及び前記Φ（ｋ）からＴＲＣ特性方程式を求めた後，これよりヤコビアン行列を計算する（第２１６段階）。
【００７１】
第２１１段階〜第２１６段階の詳細な説明のために，新しい感光ドラム（ＯＰＣ）を用いて，常温常湿で調節入力量のための変数として現像バイアス調節入力量ΔＶＢ及びグリッド電位ΔＶＧを選定し，選定された値のそれぞれの組合わせで求められる制御変数ＶＢ，ＶＧでトナー領域範囲が２０％，５０％，８０％である時のＴＲＣをＣＴＤセンサで測定して測定ＴＲＣΦ（ｋ）を求める。
【００７２】
トナー領域範囲がＬ（２０％），Ｍ（５０％），Ｈ（８０％）であるＴＲＣは各々下記式（５３）から式（５５）のように示すことができる。
【００７３】
【数６８】
0004060724.tif 000017
【００７４】
【数６９】
0004060724.tif 000018
【００７５】
【数７０】
0004060724.tif 000019
【００７６】
式（５３）から式（５５）を行列で表せば，下記式（５６）から式（５９）のようなＴＲＣ特性方程式になる。
【００７７】
【数７１】
0004060724.tif 000020
【００７８】
【数７２】
0004060724.tif 000021
【００７９】
【数７３】
0004060724.tif 000022
【００８０】
【数７４】
0004060724.tif 000023
現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧに対して前記のＣＴＤセンサで測定した測定ＴＲＣ値をカーブフィッティングして，ＴＲＣ特性方程式の係数行列Ｇを算出する。
【００８１】
ＶＢ及びＶＧに対するヤコビアン行列（Ｊ＝（ＪＢ，ＪＧ））は下記式（６０）から式（６６）のように示すことができる。
【００８２】
【数７５】
0004060724.tif 000024
【００８３】
【数７６】
0004060724.tif 000025
【００８４】
【数７７】
0004060724.tif 000026
【００８５】
【数７８】
0004060724.tif 000027
【００８６】
【数７９】
0004060724.tif 000028
【００８７】
【数８０】
0004060724.tif 000029
【００８８】
【数８１】
0004060724.tif 000030
【００８９】
図９，図１０，図１１は，図４に示されたテストパッチのトナー領域範囲によってＣＴＤセンサを利用してＴＲＣを測定した後，上記式（６０）から式（６６）によってヤコビアン行列を求めたある実験で測定されたＪＢＬ，ＪＢＭ，ＪＢＨを現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧに対して示したグラフであり，図１２，図１３，図１４は，ＪＧＬ，ＪＧＭ，ＪＧＨを各々現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧに対して示したグラフである。
【００９０】
現像バイアスＶＢに対するＪＢＬ，ＪＢＭ，ＪＢＨの傾斜度は負であり，グリッド電位ＶＧに対するＪＢＬ，ＪＢＭ，ＪＢＨの傾斜度は正である。現像バイアスＶＢに対するＪＧＬ，ＪＧＭ，ＪＧＨの傾斜度は正であり，グリッド電位ＶＧに対するＪＧＬ，ＪＧＭ，ＪＧＨの傾斜度は負である。
【００９１】
以上の過程を通じてヤコビアン行列Ｊ（ｋ）を求めたので，これから調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを求めるためにＧＢ及びＧＧを求める第２１７段階について詳細に説明する。
【００９２】
第２１３段階でＴＲＣの偏差ΔΦは下記式（１６）から式（１８）のように与えられ，この偏差ΔΦ及びヤコビアン行列の逆行列から下記式（６７）から式（７２）のように定義される増分Δｕを設定する。
【００９３】
【数８２】
0004060724.tif 000031
【００９４】
【数８３】
0004060724.tif 000032
【００９５】
【数８４】
0004060724.tif 000033
【００９６】
【数８５】
0004060724.tif 000034
【００９７】
【数８６】
0004060724.tif 000035
【００９８】
【数８７】
0004060724.tif 000036
【００９９】
【数８８】
0004060724.tif 000037
【０１００】
【数８９】
0004060724.tif 000038
【０１０１】
【数９０】
0004060724.tif 000039
【０１０２】
上記式（６７）から式（７２）で偏差ΔΦに対する下記式（７３）から式（７５）を導出できる。
【０１０３】
【数９１】
0004060724.tif 000040
【０１０４】
【数９２】
0004060724.tif 000041
【０１０５】
【数９３】
0004060724.tif 000042
【０１０６】
最適の解を求めるために調整変数ａを導入すれば，下記式（７６），式（７７）が成立する。
【０１０７】
【数９４】
0004060724.tif 000043
【０１０８】
【数９５】
0004060724.tif 000044
【０１０９】
上記式（７６），式（７７）から第２１７段階で提示された値ＧＢ，ＧＧが下記式（７８）から式（８１）によって計算される。
【０１１０】
【数９６】
0004060724.tif 000045
【０１１１】
【数９７】
0004060724.tif 000046
【０１１２】
【数９８】
0004060724.tif 000047
【０１１３】
【数９９】
0004060724.tif 000048
【０１１４】
前記の値ＧＢ，ＧＧから下記式（１９）から式（２１）のように調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを計算し，この値から下記式（２２）のように新しい現像バイアスＶＢ（ｋ＋１）及び新しいグリッド電位ＶＧ（ｋ＋１）を求めた後，下記式（２３）によりバックプレーティングベクトルＶＢＰを算出する（第２１８段階）。
【０１１５】
【数１００】
0004060724.tif 000049
【０１１６】
【数１０１】
0004060724.tif 000050
【０１１７】
【数１０２】
0004060724.tif 000051
【０１１８】
【数１０３】
0004060724.tif 000052
【０１１９】
【数１０４】
0004060724.tif 000053
【０１２０】
調整変数ａを初期化（ａ＝０）した後（第２１９段階），バックプレーティングベクトルＶＢＰが所定限界値，例えば，２００Ｖ〜２２０Ｖの値のうち最小限界値（ＶＴｍｉｎ＝２００Ｖ）との大小差を比較する（第２２０段階）。バックプレーティングベクトルＶＢＰが上記最小限界値未満であれば，Ａ段階に進み，最小限界値以上であれば，Ｂ段階に進む。
【０１２１】
第２２０段階でＡ段階に進む場合にまず調整変数ａを下記式（８２）によって更新する（第２２１段階）。これは下記式（２４）で増分αを０．１に置いた場合であり，アルゴリズムの設定によって他の値に設定することもある。
【０１２２】
【数１０５】
0004060724.tif 000054
【０１２３】
【数１０６】
0004060724.tif 000055
【０１２４】
第２２２段階で，偏差ΔΦが０より大きいかどうかを確認した後，０より大きい場合に下記式（２５）から式（３１）によって（第２２３段階），偏差ΔΦが０より小さな場合に下記式（３２）から式（３８）によって（第２２５段階）調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを計算してバックプレーティングベクトルＶＢＰを算出する。
【０１２５】
【数１０７】
0004060724.tif 000056
【０１２６】
【数１０８】
0004060724.tif 000057
【０１２７】
【数１０９】
0004060724.tif 000058
【０１２８】
【数１１０】
0004060724.tif 000059
【０１２９】
【数１１１】
0004060724.tif 000060
【０１３０】
【数１１２】
0004060724.tif 000061
【０１３１】
【数１１３】
0004060724.tif 000062
【０１３２】
【数１１４】
0004060724.tif 000063
【０１３３】
0004060724.tif 000064
【０１３４】
0004060724.tif 000065
【０１３５】
【数１１５】
0004060724.tif 000066
【０１３６】
【数１１６】
0004060724.tif 000067
【０１３７】
バックプレーティングベクトルＶＢＰが２００より小さいかどうかを確認した後（第２２４段階，第２２６段階），バックプレーティングベクトルＶＢＰが２００より小さな場合に再び第２２１段階から反復し，その逆である場合，すなわち，バックプレーティングベクトルＶＢＰが２００より大きい場合にＣ段階，すなわち，第２１２段階に再び進んでＴＲＣ制御アルゴリズムを行う。第２１４段階で偏差ΔΦが許容値ΔΦＴより小さな場合にのみＴＲＣ制御アルゴリズムを終了する。
【０１３８】
第２２０段階でＢ段階に進む場合に，まず調整変数ａを上記式（８２）によって更新する（第２３１段階）。
【０１３９】
第２３２段階で，偏差ΔΦが０より大きいかどうかを確認した後，０より大きい場合に下記式（３９）から式（４５）によって（第２３３段階），偏差ΔΦが０より小さな場合に下記式（４６）から式（５２）によって（第２３５段階）調節入力量ΔＶＢ，ΔＶＧを計算してバックプレーティングベクトルＶＢＰを算出する。
【０１４０】
【数１１７】
0004060724.tif 000068
【０１４１】
【数１１８】
0004060724.tif 000069
【０１４２】
【数１１９】
0004060724.tif 000070
【０１４３】
【数１２０】
0004060724.tif 000071
【０１４４】
【数１２１】
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【０１４５】
【数１２２】
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【０１４６】
【数１２３】
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【０１４７】
【数１２４】
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【０１４８】
【数１２５】
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【０１４９】
【数１２６】
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【０１５０】
【数１２７】
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【０１５１】
【数１２８】
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【０１５２】
【数１２９】
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【０１５３】
【数１３０】
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【０１５４】
バックプレーティングベクトルＶＢＰが最大限界値ＶＴｍａｘ，２２０より大きいかどうかを確認した後（第２３４段階，第２３６段階），バックプレーティングベクトルＶＢＰが２２０より大きい場合に再び第２３１段階から反復し，その逆である場合，すなわち，バックプレーティングベクトルＶＢＰが２２０より小さな場合にＣ段階，すなわち，第２１２段階に再び進んでＴＲＣ制御アルゴリズムを行う。第２１４段階で偏差ΔΦが許容値ΔΦＴより小さな場合にのみＴＲＣ制御アルゴリズムを終了する。
【０１５５】
本発明の第２の実施形態による画質補償方法のＴＲＣ制御アルゴリズムの検証のために，人為的に現像バイアスＶＢ及びグリッド電位ＶＧを変更し，測定ＴＲＣが基準ＴＲＣ及び偏差ΔΦを発生させた状態でＴＲＣ制御アルゴリズムを適用した時，測定ＴＲＣが基準ＴＲＣに収斂されるかどうかを実験した結果を，図１５，図１６，図１７に示し，また補償前と補償後とのカラー一致量ΔＥの変化を算出して図１８に示した。
【０１５６】
図１５，図１６，図１７は，トナー領域範囲が各々２０％，５０％，８０％である場合，各々に対して補償前，１次補償後及び２次補償後の測定ＴＲＣの分布をボックスプロットで示すグラフである。
【０１５７】
図１５，図１６，図１７に示したように，各トナー領域範囲のＴＲＣ偏差は補償前に比べて１次補償後に顕著に減少し，２次補償後にさらに偏差が減少して基準ＴＲＣに近接していることが分かる。
【０１５８】
図１８は，下記式（８３）から式（８６）によって計算されたカラー一致量ΔＥの変化を示すグラフである。ここで，ΔＬ＊は輝度，Δａ＊は赤緑程度，及びΔｂ＊は黄青程度の偏差を示してＣＩＥ  Ｌａｂ色座標系で求めることができ，測定値ＬＯ＊，ａＯ＊，ｂＯ＊と目標値ＬＴ＊，ａＴ＊，ｂＴ＊との差で計算される。
【０１５９】
【数１３１】
0004060724.tif 000082
【０１６０】
【数１３２】
0004060724.tif 000083
【０１６１】
【数１３３】
0004060724.tif 000084
【０１６２】
【数１３４】
0004060724.tif 000085
【０１６３】
図１８に示すように，トナー領域範囲が各々２０％，５０％。８０％である場合において，補償前と１次補償後とのカラー一致量ΔＥの値がいずれも６以下になって，入力イメージと出力イメージとをほとんど一致させうることが分かる。
【０１６４】
以上，添付図面を参照しながら本発明にかかる画質補償方法の好適な実施形態について説明したが，本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【０１６５】
例えば，本発明の実施の形態にかかる画質補償方法で，ＣＴＤセンサの出力からＴＲＣを算出してこれを基準ＴＲＣと比較するアルゴリズムを提案したが，現像量ＤをＴＲＣの代わりをする内的プロセス変数に設定して類似のアルゴリズムを実行して画質を補償することもできる。この場合，ＴＲＣ値と現像量とは互いに反比例関係にあることを留意せねばならない。また，当業者であれば実験時にＴＲＣの特性方程式を求めるために入力値及び出力値の水準を各印刷機に合せて適切に調節して特性方程式の係数を求めることができる。
【０１６６】
【発明の効果】
以上説明したように，本発明にかかる画質補償方法は，感光ベルト上のテストパッチでの現像量またはＴＲＣをＣＴＤセンサで測定してこれを制御するアルゴリズムを提案することによって，測定現像量または測定ＴＲＣに含まれるノイズにより発生する恐れがある誤差を減らすことができる。また，バックプレーティングベクトルを内的プロセス変数に設定して制御を容易にし，バックプレーティング変数を算出するための現像バイアスとグリッド電位とを各々別途に増加させるプロセスを適用して入力画像にほとんど一致する出力画像を形成できて印刷機の画質を効果的に補償できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の画像エラーを補正するＤＭＡ調節方法を示す図面である。
【図２】従来の現像量調節方法を示すフローチャートである。
【図３】本発明の１実施の形態にかかる画質補償方法が適用される一般的な印刷機を簡略に示す図面である。
【図４】本発明の１実施の形態にかかる画質補償方法に利用されるテストパッチが位置する感光ベルトを概略的に示す図面である。
【図５】本発明の第１の実施の形態による画質補償方法を示すブロック図である。
【図６】本発明の第１の実施形態による画質補償方法を示すフローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施形態による画質補償方法の前段階を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のＡ及びＢ段階を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のヤコビアン行列ＪＢＬを示すグラフである。
【図１０】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のヤコビアン行列ＪＢＭを示すグラフである。
【図１１】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のヤコビアン行列ＪＢＨを示すグラフである。
【図１２】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のヤコビアン行列ＪＧＬを示すグラフである。
【図１３】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のヤコビアン行列ＪＧＭを示すグラフである。
【図１４】本発明の第２の実施形態による画質補償方法のヤコビアン行列ＪＧＨを示すグラフである。
【図１５】トナー領域範囲が２０％である場合，補償前と補償後とのＴＲＣ偏差を比較することによって本発明の第２の実施形態による画質補償方法の効果を示すグラフである。
【図１６】トナー領域範囲が５０％である場合，補償前と補償後とのＴＲＣ偏差を比較することによって本発明の第２の実施形態による画質補償方法の効果を示すグラフである。
【図１７】トナー領域範囲が各々８０％である場合，補償前と補償後とのＴＲＣ偏差を比較することによって本発明の第２の実施形態による画質補償方法の効果を示すグラフである。
【図１８】トナー領域範囲が各々２０％，５０％，８０％である場合，補償前と補償後とのΔＥ偏差を比較することによって本発明の第２実施形態による画質補償方法の効果を示すグラフである。
【符号の説明】
１１  ヒューザロール
１２  中間転写ロール
１３  感光ベルト
１４  除電器
１５  帯電器
１６，１７，１８，１９  現像装置
２０  乾燥装置
２１  用紙
２２  ＣＴＤセンサ
ＬＳＵ  レーザースキャニングユニット
【図１】
0004060724.tif 000138
【図２】
0004060724.tif 000139
【図３】
0004060724.tif 000140
【図４】
0004060724.tif 000141
【図５】
0004060724.tif 000142
【図６】
0004060724.tif 000143
【図７】
0004060724.tif 000144
【図８】
0004060724.tif 000145
【図９】
0004060724.tif 000146
【図１０】
0004060724.tif 000147
【図１１】
0004060724.tif 000148
【図１２】
0004060724.tif 000149
【図１３】
0004060724.tif 000150
【図１４】
0004060724.tif 000151
【図１５】
0004060724.tif 000152
【図１６】
0004060724.tif 000153
【図１７】
0004060724.tif 000154
【図１８】
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