(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学システムにおける光ディスクの最適パワー校正方法において、
該光ディスクはパワー校正領域を具え、該パワー校正領域にはカウンター領域と、テスト領域とが設けられ、該カウンター領域には複数のカウンター部が設けられ、該テスト領域には該カウンター部に対応する複数のテストブロックが設けられ、該テストブロックにテストデータを書き込む光ディスクであって、
該校正方法は指標パワーに基づいて複数の第１パワーレベルを発生させ、第１パワーレベルから複数の第２パワーレベルを選択し、
該第２パワーレベルに基づき、テストデータを該テストブロックに書き込み、
該テストブロックのデータを読み取り、対応するデータ信号と複数の対応する第１パラメータを発生させ、
予め設けられた計算法によって、予測される最適パワーを発生させ、
該予測される最適パワーに基づいて複数の第３パワーレベルを発生させ、
該第３パワーレベルに基づいてテストデータを該テストブロックに書き込み、
該テストブロックのデータを読み取り、対応するデータ信号と、複数の対応する第２パラメータを発生させ、
該第２パラメータに基づき、最適パワーを発生させるステップを含み、
該第２パワーレベルに対応するパワーが該指標パワーに比して低いことを特徴とする光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項２】
前記指標パワーは該光ディスクのリードイン領域に保存され、かつ該最適パワー校正方法には該リードイン領域から該指標パワーを読み取るステップを含むことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項３】
前記指標パワーは、光ディスク焼き込み装置のファームウェアデータベースに保存され、かつ該最適パワー校正方法には該ファームウェアデータベースから該指標パワーを読み取るステップを含むことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項４】
前記予め設けられた計算法は、該第２パワーレベル補間の結果を計算することを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項５】
前記予め設けられた計算法は、該第２パワーレベル外挿の結果を計算することを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項６】
前記第１パラメータと、第２パラメータとが対応するデータ信号の振幅に基づいて計算されることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項７】
前記最適パワー校正方法において、該最適パワーのパワーレベルが該予測される最適パワーを中心とした所定の範囲内にない場合は、該指標パワーを調整することを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項８】
前記最適パワー校正方法において、該最適パワーはデータを該光ディスクのプログラム領域に書き込む場合に用いられるパワーであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項９】
前記光ディスクがCD-Rであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項１０】
前記光ディスクがDVD-Rであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項１１】
前記光ディスクが消去可能型光ディスクであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項１２】
前記光ディスクがCD-RWであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項１３】
前記光ディスクがDVD-RWであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【請求項１４】
前記光ディスクがDVD＋RWであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの最適パワー校正方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
この発明は、光ディスクの最適パワー書き込み校正方法に関し、特にオプティカル・システムにおける光ディスクの最適パワー書き込み方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ディジタルデータの使用量は、コンピュータが大量に使用されるにつれて、大幅に高まる傾向にある。光ディスクの内、いわゆる焼き込み装置を使用することによって重複して書き込みできるシーディー・リライタブル（ＣＤ−ＲＷ）は、極めて便利な保存媒体である。かかる光ディスクの焼き込み装置は、レーザを利用してデータを光ディスクに書き込んで記録する。データを光ディスクに書き込む動作は、非常に精密な過程を経て完成するが、該過程において光ディスクが損傷を受けることがないように、極めて大きな力が注がれる。光ディスクに保存されたデータの品質を確保するために、多くのパワー校正方法がレーザのパワー校正に応用され、光ディスクにデータを正確に書き込むようにしている。
【０００３】
図１に従来のシーディー・ライトワンス（以下ＣＤ−Ｒと称する）に属する光ディスク１０の構造を表わす説明図を示す。ＣＤ−Ｒの構造をはっきりと示すために、図示にはディスクの四分の一のみを開示する。図示によれば、光ディスク１０はセンターホール１２と、パワー校正領域１４と、プログラムメモリ領域１６と、リードイン領域１８と、プログラム領域２０と、リードアウト領域２２とを含んでなる。パワー校正領域１４はカウント領域とテスト領域とを含み、該カウント領域は複数のカウント部を含む。また、テスト領域はそれぞれの該カウント部に対応する複数のテストブロックを含む。光ディスクの焼き込み装置は、パワー校正の工程において、テストデータをこれらテストブロックに書き込んで記録する。
【０００４】
図２に従来の光学パワー校正方法のプロセスを表わすフローチャートを示す。図３には、図２の方法に応用されるパワー効率と、最適パワー４６を開示する。従来の技術において、光ディスクの焼き込み装置は、ＣＤ−Ｒのリードイン領域１８、もしくは焼き込み装置のファームウェア（firmware）データベースから指標パワー値（indicated  power）４０を読み取り、該指標パワー値４０に基づいて最適パワー４６を得る。次いで、焼き込み装置は最適パワー４６を以ってレーザを発射して、データを光ディスク１０に書き込んで記録する。
【０００５】
従来の技術によるパワー校正のステップは次に掲げるとおりである。
３０のステップにおいて、リードイン領域１８から指標パワー値４０を読み取り、３２のステップにおいて、１．３＊（指標パワー）４２から０．７＊（指標パワー）４４の間に介在し、平均的に分布する１５個のパワーレベルを得て、該１５個のパワーレベルのテストデータを光ディスク１０に書き込んで記録し、テスト記録書き込みの工程を完了させる。次いで、３４のステップにおいて該１５個のパワーレベルを書き込み、記録した結果を評価し、該書き込み記録の結果に基づいて、補間法と外挿法によって最適パワー４６を求める。
【０００６】
図３に示すように、該１５個のパワーレベルの検索値は０から１４の間に介在し、かつ０．７＊（指標パワー）４４と、１．３＊（指標パワー）４２との間に平均して分布する。例を挙げると、検索値０はレーザのパワーが０．７＊（指標パワー）４４であることを表わし、検索値１４はレーザのパワーが１．３＊（指標パワー）４２であることを表わす。また、検索値７はレーザの指標パワーが４０であることを表わし、該焼き込み装置は、かかる１５個のパワーレベルによって書き込み記録テストを行って、最適パワー４６の所在地を検索する。
【０００７】
最適パワー４６に基づいてＣＤ−Ｒに書き込む動作を行う場合、高周波であり、且つ完全な対称振幅を有する高周波信号ＨＦが発生する。一般に高周波信号は、その値が０を超える場合、第１振幅（upper  amplitude）（Ａ１）を有し、その値が０を下回る場合、第２振幅（lower  amplitude）（Ａ２）を有する。振幅測定パラメータであるβ＝（Ａ１−Ａ２）／（Ａ１＋Ａ２）は、（Ａ１）と（Ａ２）の相対性の大きさを比較する。高周波信号ＨＦの第１振幅（Ａ１）が、ちょうど第２振幅（Ａ２）と等しい場合（即ち、β＝０）は、レーザの最適パワー４６が得られる。
【０００８】
図３を例に挙げると、仮に最適パワー４６が検索値８のレーザパワーと検索値９のレーザパワーの間に位置すると仮定した場合、光ディスクの焼き込み装置は、該１５個のパワーレベルによってテストデータを書き込む。検索値８のレーザパワーによってテストデータを書き込む場合、高周波信号の第２振幅A２は相対する第１振幅A１より大きくなる（即ちβ＜０である）。よって該２項の書き込みテストの結果を分析すると、光ディスク焼き込み装置は検索値８のレーザパワーと、検索値９のレーザパワーとの間に介在する最適パワーを計算によって得ることができる。更に、補間法によってβ＝０の場合のレーザパワーを求め、正確な最適パワー４６を得る。
【０００９】
従来の校正方法によって最適パワー４６を得る場合、１５個のパワーレベルによってデータの書き込みテストを行う。但し、光ディスク１０にテストデータを書き込む過程において、高パワーレーザによって光ディスクが損傷する可能性がある。例えば、仮に最適パワー４６が指標パワー値４０に比してはるかに低い場合、検索値１５のレーザパワーでテストデータを書き込むと、検索値１５のレーザパワーは光ディスク１０の許容範囲を越えるため、光ディスク１０の表面に損傷を受ける可能性がある。この例から明らかなようにパワー校正の過程において、光ディスク焼き込み装置はデータを光ディスク１０のプログラム領域２０に書き込む前に、光ディスク１０を破損させる可能性がある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
この発明は、CD-RW, DVD-R, DVD-RV, DVD+RWなど各種の光ディスクに応用される最適パワー校正法であって、高パワーレーザによって光ディスクが損傷を受ける可能性を極めて抑制できるパワー校正方法を提供することを課題とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明者は従来の装置に見られる欠点に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、光学システムの光ディスクに対する適正パワー校正方法について、指標パワーに基づいて複数の第１パワーレベルを発生させ、該第１パワーレベルから複数の第２パワーレベルを選択し、該第２パワーレベルに基づき、テストデータを該テストブロックに書き込み、該テストブロックのデータを読み取り、対応するデータ信号と複数の対応する第１パラメータを発生させ、予め設けられた計算法によって、予測される最適パワーを発生させ、該予測される最適パワーに基づいて複数の第３パワーレベルを発生させ、該第３パワーレベルに基づいてテストデータを該テストブロックに書き込み、該テストブロックのデータを読み取り、対応するデータ信号と、複数の対応する第２パラメータを発生させ、該第２パラメータに基づいて最適パワーを発生させる方法によって課題を解決できる点に着目し、かかる知見に基づいて本発明を完成させた。
【００１２】
即ち、該光ディスクはパワー校正領域を具え、該パワー校正領域にはカウンター領域と、テスト領域とが設けられ、該カウンター領域には複数のカウンター部が設けられ、該テスト領域には該カウンター部に対応する複数のテストブロックが設けられ、該テストブロックによってテストデータを書き込む光ディスクであって、かかる光ディスクに対する本発明の最適パワー校正方法は、前述のとおり二段階のテスト過程によってディスクに書き込みを行う場合の最適パワーを決定する。その第１段階のテスト過程においては、指標パワーより低いＮ個のパワーレベルを利用する。即ち、指標パワーより低いパワーレベルを利用するため、光ディスクが高パワーのレーザによって損傷を受ける機会はほとんどなく、さらに、第１段階におけるテスト結果を第２段階に導入して正確な最適パワー値を求める。よって、この発明は、課題である安全で正確なパワー校正過程を提供することができる。
【００１３】
以下、本発明について具体的に説明する。請求項１に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、光学システムにおける光ディスクの最適パワー校正方法であって、該光ディスクはパワー校正領域を具え、該パワー校正領域にはカウンター領域と、テスト領域とが設けられ、該カウンター領域には複数のカウンター部が設けられ、該テスト領域には該カウンター部に対応する複数のテストブロックが設けられ、該テストブロックによってテストデータを書き込む光ディスクである。該校正方法は指標パワーに基づいて複数の第１パワーレベルを発生させ、該第１パワーレベルから複数の第２パワーレベルを選択し、該第２パワーレベルに基づき、テストデータを該テストブロックに書き込み、該テストブロックのデータを読み取り、対応するデータ信号と複数の対応する第１パラメータを発生させ、予め設けられた計算法によって、予測される最適パワーを発生させ、該予測される最適パワーに基づいて複数の第３パワーレベルを発生させ、該第３パワーレベルに基づいてテストデータを該テストブロックに書き込み、該テストブロックのデータを読み取り、対応するデータ信号と、複数の対応する第２パラメータを発生させ、該第２パラメータに基づいて最適パワーを発生させるステップを含む。
【００１４】
前記光ディスクの最適パワー校正方法において、前記第２パワーレベルに対応するパワーが前記指標パワーに比して低い。
【００１５】
請求項２に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における指標パワーが該光ディスクのリードイン領域に保存され、かつ該最適パワー校正方法には該リードイン領域から該指標パワーを読み取るステップを含む。
【００１６】
請求項３に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における指標パワーが、該光ディスク焼き込み装置のファームウェアデータベースに保存され、かつ該最適パワー校正方法には該ファームウェアデータベースから該指標パワーを読み取るステップを含む。
【００１７】
請求項４に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における計算法で該第２パワーレベル補間の結果を計算する。
【００１８】
請求項５に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における計算法で第２パワーレベル外挿の結果を計算する。
【００１９】
請求項６に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における第１パラメータと、第２パラメータとが対応するデータ信号の振幅に基づいて計算される。
【００２０】
請求項７に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における最適パワー校正方法において、該最適パワーのパワーレベルが該予測される最適パワーを中心とした所定の範囲内にない場合は、該指標パワーを調整する。
【００２１】
請求項８に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項７における最適パワー校正方法において、該指標パワーを調整する場合、該第３パワーレベル内の最低値のパワーレベルを下げ、前記指標パワーを調整する。
【００２２】
請求項９に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項７における最適パワー校正方法において、該指標パワーを調整する場合、該第３パワーレベル内の最高値のパワーレベルを上げ、前記指標パワーを調整する。
【００２３】
請求項１０に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における最適パワー校正方法において、該最適パワーはデータを該光ディスクのプログラム領域に書き込む場合に用いられるパワーである。
【００２４】
請求項１１に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における光ディスクがCD-Rである。
【００２５】
請求項１２に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における光ディスクがDVD-Rである。
【００２６】
請求項１３に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における光ディスクが消去可能型光ディスクである。
【００２７】
請求項１４に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における光ディスクがCD-RWである。
【００２８】
請求項１５に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における光ディスクがDVD-RWである。
【００２９】
請求項１６に記載する光ディスクの最適パワー校正方法は、請求項１における光ディスクがDVD＋RWである。
【００３０】
【発明の実施の形態】
この発明は、光ディスクの最適パワー校正方法に関し、パワー校正領域を具え、該パワー校正領域にはカウンター領域と、テスト領域とが設けられ、該カウンター領域には複数のカウンター部が設けられ、該テスト領域には複数のテストブロックが設けられ、該カウンター部に対応する該テストブロックによってテストデータを書き込む光ディスクに対して、安全性の高い適正パワー校正を行うための方法を提供する。
【００３１】
かかる光ディスクの適正パワー校正方法について、その特徴と効果を説明するために、具体的な実施例を挙げ、図示を参照にして以下に詳述する。
【００３２】
【実施例】
実施例において、光ディスク焼き込み装置は、光ディスク１０内のリードイン領域１８からデータを読み取る。また、指標パワーは光ディスク焼き込み装置のデータベースに保存されたデータから読み取り、光ディスク焼き込み装置は、即複数の適宜なテストパワーレベルを発生させる。レーザパワーが高すぎて光ディスク１０が破損することを防ぐために、この発明においては、改良された最適パワー校正方法を応用する。
【００３３】
図４には、この発明による最適パワー校正方法を表わすフローチャートを開示する。図５、図６は、図４の方法に用いられるテストパワーと、最適パワーの説明図である。この発明による最適パワー校正法は、テストデータを書き込む場合、周知の校正法と同様に１５個のパワーレベルを応用して最適パワー９６を得る。但し、この発明の校正法は、該１５個のパワーレベルのテストを同時に実行するわけではない。Ｎ個の比較的低いパワーレベルを先にテストし、最適パワー９６が該比較的狭い範囲に位置するか否か判断する。
【００３４】
この発明による最適パワー校正法は、次に掲げるステップを含んでなる。即ち、５０のステップにおいて、リードイン領域１８から指標パワー８０を読み取る。
【００３５】
５２のステップにおいて、１．３＊（指標パワー）８２と、０．７＊（指標パワー）８４との間に介在し、平均的に分布する１５個のパワーレベルを求め、かつＮ個の比較的低いパワーレベルを得て、データを書き込んで記録する動作のテストの工程を完了させる。
【００３６】
次いで、５４のステップにおいて該Ｎ個のパワーレベルを書き込み、記録した結果を評価し、該書き込み記録の結果に基づいて、補間法と外挿法によって最適パワー８６を求める。
【００３７】
５６のステップにおいて、余剰の１５−Ｎ個のパワーレベルを利用して、０．８＊予測最適パワーで予測される最適パワー９４と、１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２を範囲内に取り込み、かつ余剰の１５−Ｎ個のパワーレベルによってデータを書き込み記録する動作のテストの工程を完了させる。
【００３８】
５８のステップにおいて、余剰の１５−Ｎ個のパワーレベル書き込み記録上の結果を評価する。
【００３９】
６０のステップにおいて、最適パワー９６が、０．８＊予測最適パワーで予測される最適パワー９４と、１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２の範囲内に位置するか判断し、仮に位置するのであれば６２のステップに進み、位置しなければ６４のステップに進む。
【００４０】
６２のステップにおいて、最適パワー９６を書き込み最適パワーとしてデータを光ディスク１０内のプログラム領域２０内に書き込み記録する。
【００４１】
６４のステップにおいて、最適パワー９６が１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２より高いか判断する。最適パワー９２より高いと判断した場合は６８のステップに進み、そうでなければ、６６のステップに進む。
【００４２】
６６のステップにおいて、最低書き込みテストパワー値を低減させる。即ち、０．７＊（指標パワー）８４として、該低減させたパワー効率を新しい指標パワーに設定して５２のステップに戻る。
【００４３】
６８のステップにおいて、最高書き込みテストパワー値を高める。即ち、１．３＊（指標パワー）８２として、該高めたパワー効率を新しい指標パワーに設定して５２のステップに戻る。
【００４４】
上述のフローチャートに係る説明をさらに明瞭にさせるために、図５、図６を例にしてこの発明の最適パワー校正方法を説明する。図５に開示するように、光ディスク１０のリードイン領域１８か、もしくは光ディスク焼き込み装置のデータベースから指標パワー８０を読み取ると、０．７＊（指標パワー）８４と、１．３＊（指標パワー）８２との間に介在する１５個のパワーレベルが発生する。該１５個のパワーレベルからＮ個の比較的低いパワーレベルを取り出してデータを光ディスク１０書き込む動作のテストを完了する。
【００４５】
図５においては、Ｎ＝４となる。安全のために選択された４個のパワーレベルは、データを光ディスク１０に書き込む動作のテストを行う場合にレーザパワーが高すぎて光ディスク１０の損傷を招くことを防ぐために、選定された４個のパワーレベルは、テストを行う指標パワー８０よりも低いものでなければならない。
【００４６】
次いで、該４個の比較的低いパワーレベルをパワー校正領域１４内のテスト領域内に書き込む。周知の方法と同様に、それぞれのテスト領域には、それぞれ対応する測定β値が存在し、これら最初に出現するβ値に基づき、さらに補間法と外挿法によって、予測される最適パワー８６を求める。
【００４７】
図６に示すように、予測される最適パワー８６によって、０．８＊予測最適パワーで予測される最適パワー９４と、１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２の間に介在する余剰の効率レベル・グループを形成する。１５個のパワーレベルの内、４個はすでにテストを行ったので、余剰のパワーレベルグループは、１１個のパワーレベルの検索値０Ｂから検査値１０Ｂのみを含む。
【００４８】
次いで、該余剰のパワーレベルによってデータをパワー校正領域１４内のテスト領域に書き込み、同時にそれぞれのβ値を計算する。同様に、これら二回目に出現したβ値に基づき、さらに補間法と外挿法によって、予測される最適パワー９６を求める。
【００４９】
図４のフローチャートにおける６０のステップに開示するように、仮に最適パワー９６が０．８＊予測最適パワーで予測される最適パワー９４と、１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２との範囲内に位置しない場合は、指標パワー８０を同期して調整する。例を挙げると、仮に最適パワー９６が１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２より高い場合、改めて設定する指標パワーは、前記０．８＊予測最適パワーで予測される最適パワー９４に比して、さらに大きい値になる。指標パワーを新たに設定した後、最適パワー校正の工程は、５２のステップに戻る。この場合の指標パワーは更新された指標パワーである。
【００５０】
図４のフローチャートにおける６２のステップに開示するように、仮に最適パワー９６がちょうど０．８＊予測最適パワーで予測される予測される最適パワー９４と、１．２＊予測最適パワーで予測される最適パワー９２との範囲内に位置する場合は、最適パワー校正の工程を完了させて、最適パワー９６に基づいてデータを光ディスク１０のプログラム領域に書き込んで記録する。
【００５１】
この発明による最適パワー校正方法は、読み取り用の光ディスクのパワー校正に適用できるのみならず、例えばＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷなど、如何なる種類の光ディスクにも適用することができる。周知の技術に比較して、この発明による最適パワー校正方法は二段階のテスト過程によってディスクに書き込みを行う場合の最適パワーを決定する。その第１段階のテスト過程においては、指標パワーより低いＮ個のパワーレベルを利用する。即ち、指標パワーより率いパワーレベルを利用するため、光ディスクが高パワーのレーザによって損傷を受ける機会はほとんどない。さらに、第１段階におけるテスト結果を第２段階に導入して正確な最適パワー値を求める。よって、この発明は安全で正確な方法によって達成する光学的パワー校正過程を提供するものである。
【００５２】
以上はこの発明の好ましい実施例であって、この発明の実施の範囲を限定するものではない。よって、当業者のなし得る修正、もしくは変更であって、この発明の精神の下においてなされ、この発明に対して均等の効果を有するものは、いずれもこの発明の特許請求の範囲に属するものである。
【００５３】
【発明の効果】
この発明による光ディスクの適正パワー校正方法は、CD-RW、 DVD-R、 DVD-RV、DVD+RWなど各種の光ディスクに応用でき、高パワーレーザによって光ディスクが損傷を受ける可能性を極めて抑制することができ、焼き込みの安全性と、品質を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  従来の書き込み可能型光ディスクの構造を表わす説明図である。
【図２】  従来の最適パワー校正方法を表わすフローチャートである。
【図３】  図２の方法に用いられるデストパワーと、最適パワーの説明図である。
【図４】  この発明による最適パワー校正方法を表わすフローチャートである。
【図５】  図４の方法に用いられるテストパワーと、最適パワーの説明図である。
【図６】  図４の方法に用いられるテストパワーと、最適パワーの説明図である。
【符号の簡単な説明】
１０          光ディスク
１２          センターホール
１４          パワー校正領域
１６          プログラムメモリ領域
１８          リードイン領域
２０          プログラム領域
２２          リードアウト領域
４０          指標パワー値
４２          １.３＊（指標パワー）
４４          ０.７＊（指標パワー）
４６          最適パワー
８０          指標パワー
８２          １.３＊（指標パワー）
８４          ０.７＊（指標パワー）
８６          予測される最適パワー
９２          １.２＊予測最適パワーで予測される最適パワー
９４          ０.８＊予測最適パワーで予測される最適パワー
９６          最適パワー
【図１】
0004115773.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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