(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つの第１のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第１のコンデンサとを含み、本来のフィルタとして機能するスレーブフィルタと、
少なくとも１つの第２のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第２のコンデンサとを含み、所望のフィルタ特性を設定するためのマスタフィルタと、
マスタクロックに基づいて前記マスタフィルタが所望のフィルタ特性になるように前記第１のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第１のコンデンサの選択を行うとともに、前記スレーブフィルタのフィルタ特性を前記マスタフィルタのフィルタ特性に追随させるように前記第２のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第２のコンデンサの選択を行う制御部と、
前記複数の第１のコンデンサおよび前記複数の第２のコンデンサのうちの所定のコンデンサを外部から選択するテスト回路と、
を備えたことを特徴とするＧｍ−Ｃフィルタ。
【請求項２】
少なくとも１つの第１のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第１のコンデンサとを含み、本来のフィルタとして機能するスレーブフィルタと、
少なくとも１つの第２のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第２のコンデンサとを含み、所望のフィルタ特性を設定するためのマスタフィルタと、
マスタクロックに基づいて前記マスタフィルタが所望のフィルタ特性になるように前記第１のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第１のコンデンサの選択を行うとともに、前記スレーブフィルタのフィルタ特性を前記マスタフィルタのフィルタ特性に追随させるように前記第２のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第２のコンデンサの選択を行う制御部と、を備えたＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法であって、
前記複数の第１のコンデンサおよび前記複数の第２のコンデンサのうちの所定のコンデンサを外部から選択し、その選択に応じてＧｍ−Ｃフィルタの特性を検査するようにしたこと特徴とするＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法。
【請求項３】
前記複数の第１のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第１のスイッチを含むとともに、前記複数の第２のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第２のスイッチを含み、
前記第１および第２のスイッチを全てオフの状態にしておき、その状態から前記第１および第２のスイッチのうちの所定のスイッチを順にオンにしていき、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてその特性の合否の判定を行うようにしたことを特徴とする請求項２に記載のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法。
【請求項４】
前記複数の第１のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第１のスイッチを含むとともに、前記複数の第２のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第２のスイッチを含み、
前記第１および第２のスイッチを全てオンの状態にしておき、その状態から前記第１および第２のスイッチのうちの所定のスイッチを順にオフにしていき、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてその特性の合否の判定を行うようにしたことを特徴とする請求項２に記載のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、トランスコンダクタンスアンプと、複数のコンデンサとの組み合わせからなり、広帯域にわたって周波数特性を変えることができるＧｍ−Ｃフィルタ、およびそのＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のＧｍ−Ｃフィルタとしては、図３に示すようなものが知られている。
このＧｍ−Ｃフィルタは、図３に示すように、本来のフィルタとして機能するスレーブフィルタ１と、このスレーブフィルタ１に相当し所望のフィルタ特性を設定するためのマスタフィルタ２と、マスタクロックに基づいてマスタフィルタ２が所望のフィルタ特性となるようにマスタフィルタ２制御するとともに、スレーブフィルタ１のフィルタ特性がマスタフィルタ２のフィルタ特性に追随するようにスレーブフィルタ１を制御する制御部３とを備えている。
【０００３】
スレーブフィルタ１は、トランスコンダクタンスアンプ４、５と、このトランスコンダクタンスアンプ４、５の出力側に設けた容量回路６、７と、を備えている。
容量回路６は、１０個のコンデンサＣａ１〜Ｃａ１０とこれに対応するスイッチＳａ１〜Ｓａ１０とが直列に接続され、この各直列回路とコンデンサＣａが並列に接続されている。そして、コンデンサＣａ１〜Ｃａ１０は、スイッチＳａ１〜Ｓａ１０のオンオフ制御により選択できるようになっている。
【０００４】
容量回路７は、１０個のコンデンサＣｂ１〜Ｃｂ１０とこれに対応するスイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０が直列に接続され、この各直列回路とコンデンサＣｂが並列に接続されている。そして、コンデンサＣｂ１〜Ｃｂ１０は、スイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０のオンオフ制御により選択できるようになっている。
ここで、コンデンサＣａ１〜Ｃａ１０の容量値は、Ｃａ１＜Ｃａ２・・・・Ｃａ９＜Ｃａ１０の関係にあり、コンデンサＣｂ１〜Ｃｂ１０の容量値も、Ｃｂ１＜Ｃｂ２・・・・Ｃｂ９＜Ｃｂ１０の関係にある。
【０００５】
マスタフィルタ２は、トランスコンダクタンスアンプ８、９と、このトランスコンダクタンスアンプ８、９の出力側に設けた容量回路１０、１１と、を備えている。
容量回路１０は、１０個のコンデンサＣｃ１〜Ｃｃ１０とこれに対応するスイッチＳｃ１〜Ｓｃ１０とが直列に接続され、この各直列回路とコンデンサＣｃが並列に接続されている。そして、コンデンサＣｃ１〜Ｃｃ１０は、スイッチＳｃ１〜Ｓｃ１０のオンオフ制御により選択できるようになっている。
【０００６】
容量回路１１は、１０個のコンデンサＣｄ１〜Ｃｄ１０とこれに対応するスイッチＳｄ１〜Ｓｄ１０が直列に接続され、この各直列回路とコンデンサＣｄが並列に接続されている。そして、コンデンサＣｄ１〜Ｃｄ１０は、スイッチＳｄ１〜Ｓｄ１０のオンオフ制御により選択できるようになっている。
ここで、コンデンサＣｃ１〜Ｃｃ１０の容量値は、Ｃｃ１＜Ｃｃ２・・・・Ｃｃ９＜Ｃｃ１０の関係にあり、コンデンサＣｄ１〜Ｃｄ１０の容量値も、Ｃｄ１＜Ｃｄ２・・・・Ｃｄ９＜Ｃｄ１０の関係にある。
【０００７】
制御部３は、位相比較器１２と、ループフィルタ１３と、Ｖ−Ｉ変換器１４、１５と、電流比較器１６と、アップダウンカウンタ１７と、エンコーダ回路１８とを含み、これらがマスタフィルタ２と組み合わされてＰＬＬを形成するようになっている。
位相比較器１２は、マスタクロックとマスタフィルタ２の出力との位相を比較し、その位相差に比例する信号を出力するようになっている。ここで、マスタクロックは、マスタフィルタ２が所望のフィルタ特性になるように設定するためのクロックである。
【０００８】
ループフィルタ１３は、位相比較器１２の出力をフィルタリング（平滑化）するようになっている。Ｖ−Ｉ変換器１４、１５は、ループフィルタ１３からの出力電圧を電流に変化するようになっている。この変換された各電流は、マスタフィルタ２のトランスコンダクタンスアンプ８、９とスレーブフィルタ１のトランスコンダクタンスアンプ４、５にそれぞれ供給されるようになっている。この結果、トランスコンダクタンスアンプ４、５、８、９の各トランスコンダクタンス値（ｇｍ値）が制御（調整）される。
【０００９】
Ｖ−Ｉ変換器１４の出力電流ｉは、電流比較器１６で所定範囲（最大値ｉｍａｘと最小値ｉｍｉｎで決まる範囲）に属するか否かを判定し、その所定範囲に属しない場合にはそれに応じた信号をアップダウンカウンタ１７に出力する。アップダウンカウンタ１７は、その信号に応じて現在の計数値（カウント値）を増加または減少させる。その計数値は、エンコーダ回路１８により、容量回路６、７のスイッチＳａ１〜Ｓａ１０と容量回路１０、１１のスイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０をオンオフ制御する２値信号に変換される。この結果、例えば、容量回路６のスイッチＳａ１がオンする場合には、これに対応する容量回路１０のスイッチＳｂ１がオンすることになる。
【００１０】
このように、制御部３では、電流比較器１６が、Ｖ−Ｉ変換器１４の出力電流ｉが所定範囲に属するか否かを判定する。そして、出力電流が所定範囲に属しない場合には、その所定範囲に属するように容量回路６、７のスイッチＳａ１〜Ｓａ１０のオンオフ制御と、これに対応する容量回路１０、１１のスイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０のオンオフ制御を行う。
【００１１】
ところで、図３に示すような従来のＧｍ−Ｃフィルタでは、スレーブフィルタ１の容量回路６、７およびマスタフィルタ２の容量回路１０、１１の検査をする必要があり、その検査は以下のように行っていた。
すなわち、まず、マスタクロックの周波数を低周波側の任意の値ｆ１に設定し、その条件の下で、スレーブフィルタ１の入力を変化させてその各出力を測定し、その各カットオフ周波数を測定する。次に、このような測定を、マスタクロックの異なる周波数ｆ２、ｆ３・・・・について順次行い、スレーブフィルタ１の各カットオフ周波数を求める。この測定結果に基づき、スレーブフィルタ１の周波数特性が、そのマスタクロックの周波数ｆ１、ｆ２、ｆ３の変化に応じて、適正に変化しているか否かの確認を行っていた。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記のような従来のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法では、その検査対象である容量回路のコンデンサの個数が多い場合には、ｇｍ値がプロセス、温度で変動するため、マスタークロックから計算されるところのｆｃ値から容量値を予測できない。このため、ｆｃを数多く設定して測定しなければならないという欠点があり、そのテスト時間が長時間になるという不都合があった。この結果、Ｇｍ−Ｃフィルタのテストに要する費用が嵩み、生産コストが嵩むという不都合があった。
【００１３】
そこで、本発明の第１の目的は、上記の点に鑑み、Ｇｍ−Ｃフィルタの容量回路のテスト時間の短縮化を図り、生産コストの低減化を図るようにしたＧｍ−Ｃフィルタを提供することにある。
本発明の第２の目的は、Ｇｍ−Ｃフィルタの容量回路のテスト時間の短縮化を図り、Ｇｍ−Ｃフィルタの生産コストの低減化を図ることができるようにしたＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法を提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決して本発明の第１の目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、以下のように構成した。
すなわち、請求項１に記載の発明は、少なくとも１つの第１のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第１のコンデンサとを含み、本来のフィルタとして機能するスレーブフィルタと、少なくとも１つの第２のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第２のコンデンサとを含み、所望のフィルタ特性を設定するためのマスタフィルタと、マスタクロックに基づいて前記マスタフィルタが所望のフィルタ特性になるように前記第１のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第１のコンデンサの選択を行うとともに、前記スレーブフィルタのフィルタ特性を前記マスタフィルタのフィルタ特性に追随させるように前記第２のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第２のコンデンサの選択を行う制御部と、前記複数の第１のコンデンサおよび前記複数の第２のコンデンサのうちの所定のコンデンサを外部から選択するテスト回路と、を備えたことを特徴とするものである。
【００１５】
このような構成からなる本発明のＧｍ−Ｃフィルタによれば、容量回路のテスト時間の短縮化が図れ、生産コストの低減化が図れる。
【００１６】
また、本発明の第２の目的を達成するために、請求項２〜請求項４に記載の発明は、以下のように構成した。
すなわち、請求項２に記載の発明は、少なくとも１つの第１のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第１のコンデンサとを含み、本来のフィルタとして機能するスレーブフィルタと、少なくとも１つの第２のトランスコンダクタンスアンプと選択可能な複数の第２のコンデンサとを含み、所望のフィルタ特性を設定するためのマスタフィルタと、マスタクロックに基づいて前記マスタフィルタが所望のフィルタ特性になるように前記第１のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第１のコンデンサの選択を行うとともに、前記スレーブフィルタのフィルタ特性を前記マスタフィルタのフィルタ特性に追随させるように前記第２のトランスコンダクタンスのｇｍの制御および前記第２のコンデンサの選択を行う制御部と、を備えたＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法であって、前記複数の第１のコンデンサおよび前記複数の第２のコンデンサのうちの所定のコンデンサを外部から選択し、その選択に応じてＧｍ−Ｃフィルタの特性を検査するようにしたこと特徴とするものである。
【００１７】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法において、前記複数の第１のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第１のスイッチを含むとともに、前記複数の第２のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第２のスイッチを含み、前記第１および第２のスイッチを全てオフの状態にしておき、その状態から前記第１および第２のスイッチのうちの所定のスイッチを順にオンにしていき、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてその特性の合否の判定を行うようにしたことを特徴とするものである。
【００１８】
請求項４に記載の発明は、請求項２に記載のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法において、前記複数の第１のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第１のスイッチを含むとともに、前記複数の第２のコンデンサはその各コンデンサを選択する複数の第２のスイッチを含み、前記第１および第２のスイッチを全てオンの状態にしておき、その状態から前記第１および第２のスイッチのうちの所定のスイッチを順にオフにしていき、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてその特性の合否の判定を行うようにしたことを特徴とするものである。
【００１９】
このような構成からなる本発明のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法によれば、容量回路のテスト時間の短縮化が図れ、Ｇｍ−Ｃフィルタの生産コストの低減化が図れる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明のＧｍ−Ｃフィルタの実施形態について、図１を参照して説明する。
本発明のＧｍ−Ｃフィルタの実施形態は、図１に示すように、本来のフィルタとして機能するスレーブフィルタ１Ａと、このスレーブフィルタ１Ａに相当し所望のフィルタ特性を設定するためのマスタフィルタ２Ａと、マスタクロックに基づいてマスタフィルタ２Ａが所望のフィルタ特性となるようにマスタフィルタ２Ａ制御するとともに、スレーブフィルタ１Ａのフィルタ特性がマスタフィルタ２Ａのフィルタ特性に追随するようにスレーブフィルタ１Ａを制御する制御部３Ａとを備えている。
【００２１】
スレーブフィルタ１Ａは、図３に示すスレーブフィルタ１とその構成が同一である。また、マスタフィルタ２Ａは、図３に示すマスタフィルタ２とその構成が同一である。従って、これらについては、同一の構成要素には同一符号を付してその説明は省略する。
制御部３Ａは、図３に示す制御部３と同様に、位相比較器１２と、ループフィルタ１３と、Ｖ−Ｉ変換器１４、１５と、電流比較器１６と、アップダウンカウンタ１７と、エンコーダ回路１８とを備え、これらがマスタフィルタ２Ａと組み合わされてＰＬＬを形成するようになっている。
【００２２】
しかし、制御部３Ａは、図１に示すようにアップダウンカウンタ１７とエンコーダ回路１８との間にテスト回路２１をさらに含み、この点が図３に示す制御部３とは異なる。
このテスト回路２１は、スレーブフィルタ１Ａの容量回路６、７とマスタフィルタ２Ａの容量回路１０、１１を後述のように検査する回路である。このために、テスト回路２１は、図１に示すように、外部からのテスト用データを格納するレジスタ２２と、アップダウンカウンタ１７の計数値とレジスタ２２の格納値を選択して出力するマルチプレクサ２３とを備えている。
【００２３】
なお、制御部３Ａの他の部分の構成は、図３の制御部３の構成と同一であるので、同一の構成要素には同一符号を付してその説明は省略する。
次に、このような構成からなる実施形態のテスト動作について、図１および図２を参照して説明する。
まず、アップダウンカウンタ１７、テスト回路２１、エンコーダ回路１８からなるデジタル回路の部分について、デジタルテストを行う。このデジタルテストは、所定のテスト用のデジタル信号を入力し、これに対応するデジタル信号が出力されるか否かを判定し、これによりその合否の判定を行う。なお、このテストは、デジタルテストのため、短時間で行える。
【００２４】
次に、このデジタルテストに合格したものは、マスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａについてのテストを、例えば図２に示す手順により行う。
まず、テスト回路２１のマルチプレクサ２３に対して供給するテストモード信号をオンにし、テストモードを設定する（ステップＳ１）。これにより、マルチプレクサ２３は、レジスタ２２の格納値をエンコーダ回路１８に対して出力するようになる。
【００２５】
そこで、スレーブフィルタ１Ａの容量回路６、７とマスタフィルタ２Ａの容量回路１０、１１を検査するために、テスト回路２１のレジスタ２２に対してテスト用データを外部から書き込む（ステップＳ２）。このテスト用データは、コンデンサＣａ１〜Ｃａ１０、コンデンサＣｂ１〜Ｃｂ１０、コンデンサＣｃ１〜Ｃｃ１０、およびコンデンサＣｄ１〜Ｃｄ１０のうちの任意のコンデンサを選択（設定）するためのデータである。
【００２６】
ここでは、例えば、このテスト用データとして、スレーブフィルタ１ＡのスイッチＳａ１、Ｓｂ１とマスタフィルタ２ＡのスイッチＳｃ１、Ｓｄ１をオンにするデータをレジスタ２２に書き込むものとする。この結果、スイッチＳａ１、Ｓｂ１、Ｓｃ１、Ｓｄ１がオンになり、コンデンサＣａ１、Ｃｂ１、Ｃｃ１、Ｃｄ１が選択される。
【００２７】
次に、そのレジスタ２２に書き込んだテスト用データに対応するマスタクロックを、位相比較器１２に入力する（ステップＳ３）。この状態で、スレーブフィルタ１Ａの周波数特性を、測定器を使用して測定する（ステップＳ４）。
ここで、期待値としてのフィルタの周波数特性は、位相比較器１２に入力するマスタクロックの周波数ｆｃｌｋによって自動的に決まる。すなわち、マスタフィルタ２Ａのカットオフ周波数ｆｃｍと、スレーブフィルタ１Ａのカットオフ周波数ｆｃｓは、次の式によって決まる。
【００２８】
ｆｃｍ＝ａ１×ｆｃｌｋ  ・・・・（１）
ｆｃｓ＝ａ２×ｆｃｌｋ  ・・・・（２）
ここで、ａ１、ａ２は定数である。
また、そのカットオフ周波数ｆｃｍ、ｆｃｓは、次の式のように表すことができる。
【００２９】
ｆｃｍ＝ａ１×ｆｃｌｋ＝ｇｍ１／Ｃｍ  ・・・・（３）
ｆｃｓ＝ａ２×ｆｃｌｋ＝ｇｍ２／Ｃｓ  ・・・・（４）
ここで、ｇｍ１はマスタフィルタ２Ａのトランスコンダクタンスアンプ８、９のトランスコンダクタンス値、ｇｍ２はスレーブフィルタ１Ａのトランスコンダクタンスアンプ４、５のトランスコンダクタンス値である。また、Ｃｍは、マスタフィルタ２Ａの選択されたコンデンサの容量値、Ｃｓはスレーブフィルタ１Ａの選択されたコンデンサの容量値である。
【００３０】
ただし、（３）（４）式は１次フィルタの場合であって、２次フィルタの場合には、それぞれのトランスコンダクタンス値、容量値の相乗平均として計算すれば良い。
そこで、マスタクロックの周波数ｆｃｌｋの値としては、（３）（４）式により、トランスコンダクタンスアンプ８、９のトランスコンダクタンス値が最適な電流値のときの値から選ぶのが好ましい。具体的な電流値としては、電流比較器１６がＶ−Ｉ変換器１４の出力電流ｉを比較する際の最大値ｉｍａｘと最小値ｉｍｉｎの中間値が好ましい。
【００３１】
次に、マスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａの周波数特性の測定結果に基づき、Ｇｍ−Ｃフィルタの合否を、後述のように検査者が判定する（ステップＳ５）。
その判定の結果、不合格として判定した場合には、その検査対象であるＧｍ−Ｃフィルタを廃棄処理し（ステップＳ６）、検査を終了する。一方、合格と判定した場合には、次のステップＳ７に進み、レジスタ２２に書き込むべき次のテスト用データがあるか否かを判定する。
【００３２】
ここでは、テスト用データがあるのでステップＳ２に戻る。ステップＳ２では、テスト用データとして、スレーブフィルタ１ＡのコンデンサＣａ２、Ｃｂ２と、マスタフィルタ２ＡのコンデンサＣｃ２、Ｃｄ２を選択するために、それらに対応するスイッチＳａ２、Ｓｂ２、Ｓｃ２、Ｓｄ２をオンにするデータをレジスタ２２に書き込む。
【００３３】
この結果、スイッチＳａ２、Ｓｂ２、Ｓｃ２、Ｓｄ２のみがオンとなり、コンデンサＣａ２、Ｃｂ２、Ｃｃ２、Ｃｄ２が選択される。次いで、上記と同様にステップＳ３〜Ｓ５の各処理を行う。
このように、この実施形態の検査では、スイッチＳａ１〜Ｓａ１０、スイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０、スイッチＳｃ１〜Ｓｃ１０、およびスイッチＳｄ１〜Ｓｄ１０を全てオフの状態にしておく。次に、その状態からまずスイッチＳａ１、Ｓｂ１、Ｓｃ１、Ｓｄ１をオン、次にスイッチＳａ２、Ｓｂ２、Ｓｃ２、Ｓｄ２をオン、・・・・最後にスイッチＳａ１０、Ｓｂ１０、Ｓｃ１０、Ｓｄ１０をオンとなるようにし、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてそのＧｍ−Ｃフィルタの合否を判定するようにした。
【００３４】
次に、ステップＳ５において行うＧｍ−Ｃフィルタの合否の判定の方法について説明する。
例えば、仮にスレーブフィルタ１Ａ側のコンデンサＣａ１をオンオフ制御するスイッチＳａ１がオンしない場合について説明する。
この場合には、マスタフィルタ２Ａ側では、（３）式を満足するようにトランスコンダクタンスアンプ８、９のトランスコンダクタンス値が制御されるので、スレーブフィルタ１Ａ側のトランスコンダクタンスアンプ４、５もそのトランスコンダクタンス値となる。
【００３５】
しかし、このときスレーブフィルタ１Ａ側のコンデンサＣａ１の容量値はゼロであるので、スレーブフィルタ１Ａのカットオフ周波数ｆｃｓは、マスタフィルタ２Ａのカットオフ周波数ｆｃｍに比べてはるかに大きな値になる（（４）式参照）。このため、周波数特性の測定結果により、Ｇｍ−Ｃフィルタは不良であると容易に判定できる。
【００３６】
一方、マスタフィルタ２ＡのコンデンサＣｃ１をオンオフ制御するスイッチＳｃ１がオンしない場合について説明する。
この場合には、マスタフィルタ２Ａでは、トランスコンダクタンスアンプ８、９のトランスコンダクタンス値がスイッチＳｃ１がオンした時に比べて小さくなり、スレーブフィルタ１Ａのトランスコンダクタンスアンプ４、５のトランスコンダクタンス値も同様に小さくなる。このため、スレーブフィルタ１Ａのカットオフ周波数ｆｃｓは、（４）式により小さくなるので、周波数特性の測定結果により、Ｇｍ−Ｃフィルタは不良であると容易に判定できる。
【００３７】
次に、マスタフィルタ２ＡのコンデンサＣｃ１を選択するスイッチＳｃ１またはスレーブフィルタ１ＡのコンデンサＣａ１を選択するスイッチＳａ１のいずれか一方が不良でオフしない場合について説明する。
この場合に、コンデンサＣｂ１、Ｃａ１を選択するテストでは、コンデンサＣｂ１、Ｃａ１を選択したことになり、その周波数特性が同じになるので合格判定となる。しかし、スイッチＳｂ２、Ｓａ２をオンにしてコンデンサＣｂ２、Ｃａ２のみを選択した場合には、不良判定とすることができる。以下では、その説明をする。
【００３８】
スレーブフィルタ１ＡのスイッチＳａ１がオンのままでコンデンサＣａ１が常時選択されている場合、スイッチＳａ２をオンにしてコンデンサＣａ２のみを選択すると、コンデンサＣａ１、Ｃａ２が選択されることになる。このため、スレーブフィルタ１Ａのトランスコンダクタンスアンプ４と容量回路６からなるフィルタ部分のカットオフ周波数ｆｃｓは、ｆｃｓ＝ｇｍ２／（Ｃａ１＋Ｃａ２）となり、所望のカットオフ周波数ｆｃｓ＝ｇｍ２／（Ｃａ２）よりも小さくなる。
【００３９】
逆に、マスタフィルタ２ＡのスイッチＳｃ１がオンのままでコンデンサＣｃ１が常時選択されている場合、スイッチＳｃ２をオンにしてコンデンサＣｃ２のみを選択すると、コンデンサＣｃ１、Ｃｃ２が選択されることになる。このため、マスタフィルタ２Ａのトランスコンダクタンスアンプ８と容量回路１０からなるフィルタ部分のカットオフ周波数ｆｃｍは、ｆｃｍ＝ｇｍ１／（Ｃｃ１＋Ｃｃ２）を満足するように動作し、コンデンサＣｂ２のみを選択した場合よりもトランスコンダクタンス値が大きな値になる。
【００４０】
一方、スレーブフィルタ１Ａでは、コンデンサＣａ１は選択されておらず、コンデンサＣａ２のみが選択されている。従って、スレーブフィルタ１Ａのトランスコンダクタンスアンプ４と容量回路６からなるフィルタ部分のカットオフ周波数ｆｃｓは、ｆｃｓ＝ｇｍ２／（Ｃａ２）となり、マスタフィルタ２Ａのカットオフ周波数ｆｃｍよりも高くなる。
【００４１】
このように、スレーブフィルタ１Ａの周波数特性は、マスタフィルタ２Ａの周波数特性と異なるので、周波数特性の測定結果によってＧｍ−Ｃフィルタの合否を容易に判定できる。
以上説明したように実施形態によれば、上記のようにしてマスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａについてのテストを行うようにした。このため、例えばマスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａとコンデンサの組が１０組の場合でも、１０回のテストによりマスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａのテストを終了できるので、テスト時間の大幅な削減ができる。
【００４２】
なお、上記の実施形態では、図１に示すように、テスト回路２１を、アップダウンカウンタ１７とエンコーダ回路１８との間に設けるようにした。しかし、これに代えて、テスト回路２１を電流比較器１６とアップダウンカウンタ１７との間に設けるようにしても良い。
また、上記の実施形態の検査では、スイッチＳａ１〜Ｓａ１０、スイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０、スイッチＳｃ１〜Ｓｃ１０、およびスイッチＳｄ１〜Ｓｄ１０を全てオフの状態にしておき、その状態からまずスイッチＳａ１、Ｓｂ１、Ｓｃ１、Ｓｄ１をオン、次にスイッチＳａ２、Ｓｂ２、Ｓｃ２、Ｓｄ２をオン、・・・・最後にスイッチＳａ１０、Ｓｂ１０、Ｓｃ１０、Ｓｄ１０をオンにするようにし、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてそのＧｍ−Ｃフィルタの合否を判定するようにした。
【００４３】
しかし、これに代えて、スイッチＳａ１〜Ｓａ１０、スイッチＳｂ１〜Ｓｂ１０、Ｓｃ１〜Ｓｃ１０、およびＳｄ１〜Ｓｄ１０を全てオンの状態にしておき、その状態から例えばまずスイッチＳａ１、Ｓｂ１、Ｓｃ１、Ｓｄ１をオフ、次にスイッチＳａ２、Ｓｂ２、Ｓｃ２、Ｓｄ２をオフ、・・・・最後にスイッチＳａ１０、Ｓｂ１０、Ｓｃ１０、Ｓｄ１０をオフにするようにし、その都度Ｇｍ−Ｃフィルタの周波数特性を測定し、その測定結果に基づいてそのＧｍ−Ｃフィルタの合否を判定するようにしても良い。
【００４４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のＧｍ−Ｃフィルタによれば、容量回路のテスト時間の短縮化が図れ、生産コストの低減化が図れる。
また、本発明のＧｍ−Ｃフィルタのテスト方法によれば、容量回路のテスト時間の短縮化が図れ、Ｇｍ−Ｃフィルタの生産コストの低減化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のＧｍ−Ｃフィルタの実施形態の構成を示す図である。
【図２】その実施形態によりマスタフィルタとスレーブフィルタのテストの手順を示すフローチャートである。
【図３】従来のＧｍ−Ｃフィルタの構成を示す図である。
【符号の簡単な説明】
Ｃａ１〜Ｃａ１０  コンデンサ
Ｃｂ１〜Ｃｂ１０  コンデンサ
Ｃｃ１〜Ｃｃ１０  コンデンサ
Ｃｄ１〜Ｃｄ１０  コンデンサ
Ｓａ１〜Ｓａ１０  スイッチ
Ｓｂ１〜Ｓｂ１０  スイッチ
Ｓｃ１〜Ｓｃ１０  スイッチ
Ｓｄ１〜Ｓｄ１０  スイッチ
１Ａ  スレーブフィルタ
２Ａ  マスタフィルタ
３Ａ  制御部
４、５、８、９  トランスコンダクタンスアンプ
６、７、１０、１１  容量回路
２１  テスト回路
２２  レジスタ
２３  マルチプレクサ
【図１】
0004111311.tif 000002
【図２】
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【図３】
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