(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
焼却炉排ガスを、セラミックフィルタを備えた集塵機で集塵するにあたり、排ガス温度が３００℃以上、集塵機内容積と処理ガス量の比が４０秒以下の条件で集塵することを特徴とする焼却炉排ガス集塵方法。
【請求項２】
排ガス温度が５００℃以上、集塵機内容積と処理ガス量の比が２０秒以下の条件で集塵する請求項１記載の焼却炉排ガス集塵方法。
【請求項３】
集塵機内で処理すべき排ガスを拡散させて集塵する請求項１または２記載の焼却炉排ガス集塵方法。
【請求項４】
セラミックフィルタがハニカムフィルタである請求項１〜３のいずれか１項に記載の焼却炉排ガス集塵方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の条件で、焼却炉排ガスをセラミックフィルタで集塵するよう集塵機を構成したことを特徴とする焼却炉排ガス集塵装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、焼却炉排ガスをセラミックフィルタを備えた集塵機で集塵するための焼却炉排ガス集塵方法及び集塵装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
焼却炉排ガスから排出されるダイオキシン類（ＰＣＤＤ：ポリ塩化ジベエンゾジオキキシン、および、ＰＣＤＦ：ポリ塩化ジベンゾフランの総称）は、極めて毒性が強くしかも発ガン性を有し、人体に深刻な影響を与えることから、大気中に放出される排ガス中のダイオキシン類濃度は規制されている。焼却炉新規施設に対する規制の一例は、以下の表１の通りであり、焼却炉の処理能力に応じてダイオキシン類の濃度が規定されている。
【０００３】
【表１】
0004101442.tif 000002
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ダイオキシン類の濃度を上記規制値以下にするための技術として、本出願人は特開平１１−２３９７０６号公報において、焼却炉からの排ガスをセラミックフィルタで高温集塵することで、ダイオキシン類の再合成を抑制する技術を開示している。しかしながら、上述した集塵方法を使用しても、集塵装置を通過する際の排ガスの条件によっては、ダイオキシン類の再合成を防ぎきれず、ダイオキシン類の再合成が生じてしまう問題があった。
【０００５】
本発明の目的は上述した課題を解消して、集塵時のダイオキシン類の再合成をより効果的に抑制することのできる焼却炉排ガスの集塵方法及び集塵装置を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の焼却炉排ガスの集塵方法は、焼却炉排ガスを、セラミックフィルタを備えた集塵機で集塵するにあたり、排ガス温度が３００℃以上、集塵機内容積と処理ガス量の比が４０秒以下の条件で集塵することを特徴とするものである。また、本発明の焼却炉排ガスの集塵装置は、上述した条件で、焼却炉排ガスをセラミックフィルタで集塵するよう集塵機を構成したことを特徴とするものである。
【０００７】
本発明では、セラミックフィルタで高温集塵する際、いかに排ガスの淀みをなくし早く集塵させるかがダイオキシン類の再合成を抑制するために必要かをつきとめ、その条件を検討することで、排ガス温度が３００℃以上、集塵機内容積と処理ガス量の比（＝集塵機内ガス通過時間）が４０秒以下の条件で集塵することで、ダイオキシン類の再合成を効果的に抑制できることを見いだした。
【０００８】
本発明の好適な実施態様として、排ガス温度が５００℃以上、集塵機内容積と処理ガス量の比が２０秒以下の条件で集塵すること、集塵機内で処理すべき排ガスを拡散させて集塵すること、セラミックフィルタがハニカムフィルタであることが、ダイオキシン類の再合成をさらに効果的に抑制できるため好ましい。
【０００９】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の焼却炉排ガス集塵装置の一例の構成を示す図である。図１に示す例において、焼却炉排ガス集塵装置１は、焼却炉２と、焼却炉２からの排ガスをセラミックフィルタ３で集塵する集塵機４と、集塵機４で集塵された排ガスを吸引するブロワ６と、ブロワ６で吸引した排ガスを大気中に放出する煙突７とから構成されている。
【００１０】
図１に示す焼却炉排ガス集塵装置１を利用した本発明の焼却炉排ガス集塵方法は、集塵機４で集塵するにあたり、排ガス温度を３００℃以上とするとともに、集塵機４の内容積と処理ガス量の比（言い換えると、集塵機４内のガス通過時間）を４０秒以下とすることに特徴がある。排ガス温度を５００℃以上とすること、及び、集塵機４の内容積と処理ガス量の比を２０秒以下とすることは、それぞれ本発明のダイオキシン類の再合成をさらに効果的に抑制できる。
【００１１】
また、図２に集塵機４の他の例を示すように、集塵機４の排ガス入口１１の内部に、供給される排ガスが衝突し一旦下側へ流れるよう排ガスの流れを規制する邪魔板１２を設け、集塵機４内で処理すべき排ガスを拡散させて集塵するよう構成することが好ましい。集塵機３に邪魔板１２を設置した場合は、排ガス中のダストの集塵をより効果的に実施することができるとともに、ダイオキシン類の再合成をさらに好適に抑制することができる。
【００１２】
さらに、集塵機４内で使用するセラミックフィルタ３の材質については、例えばコージェライト等従来から集塵機４用として知られているセラミックスであれば何でも使用することができる。さらにまた、セラミックフィルタ３の形状については、図３（ａ）に示すようなキャンドルフィルタ２１でも良いが、図３（ｂ）に示すように両端に互い違いに目封止部２２を設けたハニカムフィルタ２３の方が集塵機４の容積を小さくでき、より効果的である。ハニカムフィルタ２３の一例として、本出願人が市販しているセラレック（商標名）を好適に使用することができる。
【００１３】
以下、実際の例について説明する。
図４に示すように、ゴミ焼却炉３１、排ガス温度調整用の冷却機３２、セラミックハニカムフィルタを使用した集塵機３３、ダイオキシン類の濃度を測定する測定口３４、排ガス量を調整するために排ガスを吸引するブロア３５から実験用システムを構成し、この実験用システムにより、以下の表２に示す試験Ｎｏ．１〜９の条件でゴミを実際に焼却したときの集塵機出口ダイオキシン類濃度を測定し比較した。変化させた条件は、表２に示すように、集塵機３３内の排ガス温度、集塵機容積Ｖ、排ガス量Ｑ、集塵機内排ガス通過時間Ｖ／Ｑ、ガス拡散装置（邪魔板）の有無であった。結果を表２に示す。
【００１４】
【表２】
0004101442.tif 000003
【００１５】
表２の結果から、試験Ｎｏ．５、７の場合ダイオキシン類の濃度が５ng-TEQ /m3N以上となるため、集塵機の温度が３００℃以上で集塵機内の排ガス通過時間が４０秒以下であれば、２０００kg/h未満の小型炉の規制値をクリアできることがわかった。また、試験Ｎｏ．４〜７の場合ダイオキシン類の濃度が０．１ng-TEQ /m3N以上となるため、集塵機の温度が５００℃以上で集塵機内の排ガス通過時間が２０秒以下であれば、４０００kg/h以上の大型炉の規制値をクリアできることがわかった。
【００１６】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、排ガス温度が３００℃以上、集塵機内容積と処理ガス量の比（＝集塵機内ガス通過時間）が４０秒以下の条件で集塵しているため、ダイオキシン類の再合成を効果的に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の焼却炉排ガス集塵装置の一例の構成を示す図である。
【図２】集塵機の他の例の構成を示す図である。
【図３】（ａ）、（ｂ）はいずれもセラミックフィルタの一例を示し、（ａ）はキャンドルフィルタの例を、（ｂ）はハニカムフィルタの例を示す。
【図４】実験用システムの構成を示す図である。
【符号の説明】
１  焼却炉排ガス集塵装置、２  焼却炉、３  セラミックフィルタ、４  集塵機、６  ブロワ、７  煙突、１１  排ガス入口、１２  邪魔板、２１  キャンドルフィルタ、２２  目封止部、２３  ハニカムフィルタ、３１  ゴミ焼却炉、３２冷却機、３３  集塵機、３４  ダイオキシン類濃度測定口、３５  フィルタ
【図１】
0004101442.tif 000004
【図２】
0004101442.tif 000005
【図３】
0004101442.tif 000006
【図４】
0004101442.tif 000007