(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
前面基板と、前記前面基板に放電空間を介して対向配置される後面基板から構成され、前記前面基板の前記後面基板と対向する面に対を成す走査電極と維持電極が互いに平行して形成され、前記走査電極と維持電極はそれぞれ透明電極と前記透明電極に沿うように形成されるバス電極から構成され、前記バス電極は表示領域の外部の一方の端部と他方の端部に検査端子部を有し、前記検査端子部の幅が前記バス電極の線幅よりも大きいプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記バス電極と前記検査端子部を形成する工程と、前記対をなす走査電極と維持電極の夫々の同じ側の前記検査端子部にピンプローブを接触させて検査する検査工程とを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。
【請求項２】
前面基板と、前記前面基板に放電空間を介して対向配置される後面基板から構成され、前記前面基板の前記後面基板と対向する面に対を成す走査電極と維持電極が互いに平行して形成され、前記走査電極と維持電極はそれぞれ透明電極と前記透明電極に沿うように形成されるバス電極から構成され、前記バス電極は表示領域の外部の一方の端部と他方の端部に検査端子部を有し、前記検査端子部の幅が前記バス電極の線幅よりも大きいプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記バス電極と前記検査端子部を形成する工程と、前記対をなす走査電極と維持電極の夫々の一方の前記検査端子部にピンプローブを接触させ、ショートを検査する検査工程とを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。
【請求項３】
前面基板と、前記前面基板に放電空間を介して対向配置される後面基板から構成され、前記前面基板の前記後面基板と対向する面に対を成す走査電極と維持電極が互いに平行して形成され、前記走査電極と維持電極はそれぞれ透明電極と前記透明電極に沿うように形成されるバス電極から構成され、前記バス電極は表示領域の外部の一方の端部と他方の端部に検査端子部を有し、さらに、隣接する前記バス電極の同じ側に形成される検査端子部のいずれか一方には引き出し部を介して接続される端子接続部を有し、前記端子接続部は前記放電電極を駆動する駆動回路に接続され、前記検査端子部の幅が前記バス電極の線幅よりも大きいプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記バス電極と前記検査端子部を形成する工程と、前記走査電極又は前記維持電極の一方の前記検査端子部と他方の前記端子接続部にピンプローブを接触させ、抵抗値を測定する検査工程とを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ（Plasma Display Panel））及びその製造方法に関し、特に、製造工程で生じる不具合の防止を図ったプラズマディスプレイパネル及びその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
通常、ＰＤＰ用基板の製造工程では、電極形成基板の品質検査として、電極の断線及び短絡を検出するためのプロービング検査が行われる。プロービング検査とは、テスターに接続されたピンプローブを、透明電極上のバス電極の両端にコンタクトさせ、抵抗値の違いで断線の有無を判定する方法である。
【０００３】
図７は、従来のＰＤＰの前面基板を示す平面図である。図７に示すように、ＰＤＰの前面基板となるガラス基板１０１の表示領域１０２には、１対の維持電極及び走査電極から構成される放電電極（表示電極）となる透明電極１０６ａ、１０６ｂが相互に平行に複数本形成されている。ＰＤＰでは透明電極間のプラズマ放電に比較的大電流を要し、大型であるために生じる電圧降下を抑制するため、透明電極１０６ａ、１０６ｂのみでは抵抗が高いので、各透明電極１０６ａ、１０６ｂ上に、この透明電極１０６ａ、１０６ｂの抵抗値を低くするための夫々金属バス電極１０４ａ、１０４ｂが夫々透明電極１０６ａ、１０６ｂに沿うように形成されている。ＰＤＰにおいては、例えば、後面基板（図示せず）上に透明電極１０６ａ、１０６ｂとは直交するように形成されるデータ電極（図示せず）と共に３電極面放電型のＰＤＰが構成され、予備放電期間に放電電極間に放電電圧を超える電圧を印加して予備放電を行い、書き込み期間にデータ電極に書き込みパルスを印加して表示を行わない表示セルの壁電荷を消去して放電を停止させる。そして、維持期間に放電電極に維持パルスを印加して、放電セルの放電を維持する。そして、１対の走査電極及び維持電極からなる透明電極１０６ａ、１０６ｂに駆動パルスを印加するため、透明電極１０６ａ、１０６ｂ上に夫々形成されたバス電極１０４ａ及び１０４ｂは、相互に逆方向の１端が引き出し部によって放電電極を駆動する外部の駆動回路（図示せず）に接続する端子接続部１０５と接続される。従って、図７に示す表示領域の１端側においては、バス電極１０４ａ及び１０４ｂのうち、バス電極１０４ａのみが引き出し部１０７ａによって端子接続部１０５に接続されている。従来のＰＤＰの前面基板においては、バス電極１０４ａと端子接続部１０５とを接続する引き出し部１０７ａはバス電極１０４ａと同じ線幅を有して形成されている。このような前面基板１０１のバス電極１０４ａ、１０４ｂのプロービング検査をする際に、ピンプローブを接触させるプロービング検査部として、バス電極の一方側の端部に接続される端子接続部１０５と、バス電極の表示領域１０２における端部とを使用する。従って、例えばバス電極１０４ａの検査は、バス電極１０４ａが接続されている端子接続部１０５と、これとは反対側のバス電極１０４ａの表示領域１０２側の端部（図示せず）とを使用し、これらにピンプローブを接触させ、その抵抗値により断線等を検査する。また、対となるバス電極１０４ａ及び１０４ｂの表示領域１０２における夫々端部１１０ａ及び１１０ｂをピンプローブに接触させることにより、対となるバス電極１０４ａ及び１０４ｂがショートしているか否かを検査することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、バス電極１０４ａ、１０４ｂの線幅を極めて細く設計するとプロービング検査でピンプローブとバス電極１０４ａ、１０４ｂの表示領域１０２における端部１１０ａ、１１０ｂとの接触面積が十分に取れずコンタクト不良が頻繁に発生する。また、ピンプローブの打痕でバス電極１０４ａ、１０４ｂが断線し、表示領域内に不点灯セル、又は、不点灯ラインが発生する。ＰＤＰ固有の問題として、バス電極が蛍光体の発光を遮蔽することで生じる輝度の低下が挙げられるが、ＰＤＰでは、上述した如く、プラズマ放電に比較的大電流を要し、大型であるために生じる電圧降下を抑制するため、表示電極の抵抗値を低くする金属バス電極は欠かせない。よって、バス電極は、蛍光体の発光の遮蔽を最小限にするため、更に細くなる傾向にあり、また、パネルの解像度が更に高精細なものになると、更に一層細くする必要がある。従って、従来の構造では、輝度向上を目的にバス電極を極めて細く設計するとプロービング検査で不具合が多発するという問題点がある。
【０００５】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、製造工程における電極形成基板の品質検査での不具合を防止することができると共に輝度を向上させることができるプラズマディスプレイパネル及びその製造方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るプラズマディスプレイパネルの製造方法は、前面基板と、前記前面基板に放電空間を介して対向配置される後面基板から構成され、前記前面基板の前記後面基板と対向する面に対を成す走査電極と維持電極が互いに平行して形成され、前記走査電極と維持電極はそれぞれ透明電極と前記透明電極に沿うように形成されるバス電極から構成され、前記バス電極は表示領域の外部の一方の端部と他方の端部に検査端子部を有し、前記検査端子部の幅が前記バス電極の線幅よりも大きいプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記バス電極と前記検査端子部を形成する工程と、前記対をなす走査電極と維持電極の夫々の同じ側の前記検査端子部にピンプローブを接触させて検査する検査工程とを有することを特徴とする。
本発明に係る他のプラズマディスプレイパネルの製造方法は、前面基板と、前記前面基板に放電空間を介して対向配置される後面基板から構成され、前記前面基板の前記後面基板と対向する面に対を成す走査電極と維持電極が互いに平行して形成され、前記走査電極と維持電極はそれぞれ透明電極と前記透明電極に沿うように形成されるバス電極から構成され、前記バス電極は表示領域の外部の一方の端部と他方の端部に検査端子部を有し、前記検査端子部の幅が前記バス電極の線幅よりも大きいプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記バス電極と前記検査端子部を形成する工程と、前記対をなす走査電極と維持電極の夫々の一方の前記検査端子部にピンプローブを接触させ、ショートを検査する検査工程とを有することを特徴とする。
本発明に係る更に他のプラズマディスプレイパネルの製造方法は、前面基板と、前記前面基板に放電空間を介して対向配置される後面基板から構成され、前記前面基板の前記後面基板と対向する面に対を成す走査電極と維持電極が互いに平行して形成され、前記走査電極と維持電極はそれぞれ透明電極と前記透明電極に沿うように形成されるバス電極から構成され、前記バス電極は表示領域の外部の一方の端部と他方の端部に検査端子部を有し、さらに、隣接する前記バス電極の同じ側に形成される検査端子部のいずれか一方には引き出し部を介して接続される端子接続部を有し、前記端子接続部は前記放電電極を駆動する駆動回路に接続され、前記検査端子部の幅が前記バス電極の線幅よりも大きいプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記バス電極と前記検査端子部を形成する工程と、前記走査電極又は前記維持電極の一方の前記検査端子部と他方の前記端子接続部にピンプローブを接触させ、抵抗値を測定する検査工程とを有することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例について添付の図面を参照して具体的に説明する。図１は、本発明の第１の実施例に係るプラズマディスプレイパネルを示す上面図、図２は、図１に示す領域Ａを拡大して示す上面図である。
【００１３】
図１及び図２に示すように、ガラス基板１の表示領域２上には、相互に平行な複数の透明電極６ａ及び６ｂが形成され、１対の透明電極６ａ及び６ｂから放電電極が構成されている。更に、この１対の透明電極６ａ及び６ｂ上には、透明電極６ａ、６ｂに沿って線状の夫々バス電極４ａ及び４ｂが形成されている。そして、バス電極４ａ及び４ｂの両端は、表示領域２の外部において夫々正方形の検査端子部１０ａ及び１０ｂに接続されている。そして、対となるバス電極４ａ及び４ｂのうち、一方のバス電極４ａの一方の検査端子部１０ａは、引き出し部７ａによって、放電電極に駆動パルスを印加する外部駆動回路（図示せず）に接続される端子接続部５に接続され、他方のバス電極４ｂは、バス電極４ａと逆側の他方の検査端子部１０ｂが引き出し部７ｂにより端子接続部５に接続されている。本実施例の正方形の検査端子部１０ａ、１０ｂの１辺の幅Ｌ、及び引き出し部７ａ、７ｂの線幅は、バス電極４ａ、４ｂの線幅より大きく、例えば１００μｍとなっている。なお、検査端子部１０ａ、１０ｂの形状は長方形であってもよく、この場合は、短辺をバス電極４ａ、４ｂの線幅より太くする。更に、検査端子部１０ａ、１０ｂの形状は円形等でもよく、この場合、検査端子部の面積が１００００μｍ2以上である。これらの検査端子部１０ａ、１０ｂ及び端子接続部５は、ＰＤＰの製造工程おいて実施されるプロービング検査（品質検査）の検査用端子として使用される。
【００１４】
本発明においては、バス電極４ａ、４ｂが表示領域外で接続される検査端子部１０ａ、１０ｂの隣り合う２辺が例えば１００μｍ以上であるか、又は検査端子部の面積が例えば１００００μｍ2以上である。これは、検査端子部の大きさをプロービング検査に使用するピンプローブの先端の大きさ及び検査装置の位置精度を含んだ値とするためで、このような大きさを有する検査端子部を設けることにより、ピンプローブとの接触不良等のプロービング検査における不具合を防止することができる。例えば、ピンプローブの先端の大きさを５０μｍ程度とし、これに±２０μｍ程度の装置の位置精度を含んだ値としたとき、好ましい隣り合う２辺の大きさが１００μｍ以上、又は好ましい検査端子部の面積が１００００μｍ2以上となる。なお、検査端子部１０ａ、１０ｂには、電極を製造する際の誤差、プロービング検査に使用するピンプローブの大きさ、及びプロービング検査装置の位置精度等を含んだ大きさが必要であって、これらの値に応じて適宜変更すればよい。
【００１５】
次に、本実施例のプラズマディスプレイパネルの製造方法について説明する。先ず、ＩＴＯ又は酸化スズ等からなる膜をスパッタ等により形成し、エッチング又はリフトオフ法によりパターニングを行って透明電極を形成する。その上に感光性銀ペーストをベタ塗りし、乾燥した後、上述したように、表示領域２においてはバス電極４ａ、４ｂとなり、表示領域外部３において、各バス電極４ａ及び４ｂの両端に接続する夫々検査端子部１０ａ及び１０ｂ、検査端子部のうち一方から引き出される引き出し部７ａ、及びこの引き出し部７ａに接続する端子接続部５が構成されるように設計されたガラスマスクを介して露光、現像、焼成する。なお、上述した如く、検査端子部の幅Ｌが例えば１００μｍの一定値以上の幅を有していればよいので、検査端子部１０ａ、１０ｂと引き出し部７ａ、７ｂと端子接続部５とは全て同一幅であってもよいし、異なっていてもよい。
【００１６】
次に、このＰＤＰの前面基板１に形成されたバス電極４ａ及び４ｂのプロービング検査の方法について説明する。図３（ａ）及び（ｂ）は、プロービング検査の方法を示す模式図である。図３（ａ）に示すように、プロービング検査のプローブは、一端がテスター（図示せず）に接続されており、複数個のピンプローブＰ１〜Ｐｎ（ｎは自然数）から構成され、例えばピンプローブＰ１とＰ２との間、Ｐ３とＰ４との間等である隣接する各１対のピンプローブ間の距離がａとなっている。更に、例えばピンプローブＰ２とＰ３との間等である各ピンプローブ対同士の間の距離がｂとなっている。この距離ａは、対となるバス電極４ａ及び４ｂに接続する夫々検査端子部１０ａ及び１０ｂの間の距離に対応し、また、距離ｂは、１対の透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される対となるバス電極４ａ及び４ｂのバス電極４ｂに接続される検査端子部１０ｂと、隣接する他の対となる透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される対となるバス電極４ａ及び４ｂのバス電極４ａに接続される検査端子部１０ａとの間の距離に対応している。また、本実施例のガラス基板１に形成される１対の透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される１対のバス電極４ａ及び４ｂは、間隔ｃを隔てて相互に平行に形成されている。更に、１対の透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される対となるバス電極４ａ及び４ｂのバス電極４ｂと、隣接する他の対となる透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される対となるバス電極４ａ及び４ｂのバス電極４ａとの間の距離はｄとなっている。
【００１７】
プローブを使用してＰＤＰのガラス基板１に形成されたバス電極４ａ、４ｂのプロービング検査をする際には、ピンプローブを表示領域２の外に設けられたバス電極４ａの一方の端部である検査端子部１０ａと他方の端部である端子接続部５とにコンタクトさせ、抵抗値を測定し、所定の抵抗値より高い場合は断線しているものと判定する。
【００１８】
また、図３（ｂ）は、図３（ａ）とは、対となるバス電極４ａ及び４ｂの形成位置を変更した例を示している。図３（ｂ）に示すように、放電電極に形成される１対のバス電極４ａ及び４ｂの間隙を狭めて距離ｅとしている。従って、１対の透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される対となるバス電極４ａ及び４ｂのバス電極４ｂと、隣接する他の対となる透明電極６ａ及び６ｂ上に形成される対となるバス電極４ａ及び４ｂのバス電極４ａとの間の距離はｆとなり、図３（ａ）の距離ｄより広くなっている。本実施例においては、このように対となるバス電極４ａ及び４ｂの間隔を変更しても、表示領域外でこのバス電極４ａ及び４ｂに接続する検査端子部１０ａ及び１０ｂの幅Ｌが広いため、バス電極４ａ及び４ｂとの接続位置が変更するのみで、検査端子部１０ａと１０ｂとの間隔は変化しない。従って、対となるバス電極４ａ及び４ｂの間隔が変更されてもプロービング検査に使用する各ピンプローブの位置を変更することなくプロービング検査に使用することができる。
【００１９】
本実施例によれば、バス電極のプロービング検査に使用する検査用の端子としてその幅が例えば１００μｍである検査端子部１０ａ及び１０ｂを設けたため、ピンプローブとプローブ検査用端子（検査端子部１０ａ又は１０ｂ及び端子接続部５）との接触面積を十分に取ることができ、コンタクト不良を防止することができる。また、ピンプローブの打痕により検査端子部１０ａ、１０ｂが傷ついても、検査端子部１０ａ、１０ｂの幅がピンプローブによる傷の大きさより太いため、断線には至らない。また、検査端子部１０ａ、１０ｂが形成されるのは、表示領域２の外部であるため、パネルの電圧特性及び外観には影響しない。
【００２０】
また、表示領域のバス電極の太さはプロービング検査の制約を受けずに任意に設計できるため、表示領域内のバス電極を極めて細くして蛍光体の発光を遮蔽する面積を低減させることが可能となり、ＰＤＰの輝度が向上する。
【００２１】
更に、表示領域のバス電極の間隔に設計変更が生じても、検査端子部１０ａ、１０ｂの幅が広く形成されているため、バス電極４ａ、４ｂと検査端子部１０ａ、１０ｂとの接続位置を変更するか、又は検査端子部１０ａ、１０ｂの幅を調整するのみで、ピンプローブとのコンタクト部位である検査端子部１０ａ、１０ｂの位置に変更は生じない。従って、ピンプローブの間隔（距離ａ、ｂ）を変更することなく、同一プローブで、プロービング検査が行うことができる。これにより、プローブを改めて作製する必要がなく、また、プローブ交換等の段取り換えがなくなり、コスト低減及び作業性向上の効果を奏する。ＰＤＰのバス電極の間隔は、図３（ａ）に示すように、バス電極４ａ及び４ｂとの間隔を広くすると縦に並ぶセル間での電荷の干渉が起こり、また、図３（ｂ）に示すように、バス電極狭くすると輝度の低下が起こる。よって、設計変更が生じやすいが、本発明のＰＤＰにおけるガラス基板に形成されるバス電極４ａ、４ｂには、その両端に端子部１０ａ、１０ｂが形成されているため、バス電極のこのような設計変更に対して端子部１０ａ、１０ｂを形成する位置を変更することなくコストを低減して作業性を向上させる。
【００２２】
また、本実施例においては検査端子部１０ａ、１０ｂを設けてその幅をバス電極より太くすると共に、この検査端子部１０ａ、１０ｂから引き出される引き出し部７ａ、７ｂの線幅も太くしている。従って、本実施例においては、以下の効果も有する。通常ＰＤＰの電極検査は、プロービング検査の前に画像検査を行っている。この画像検査によって外観から電極の断線等の不具合を検査し、この検査で不具合が確認されなかったもののみ、最終検査としてプロービング検査が行われる。画像検査においては、図２に示すように、バス電極４ａ、４ｂに対して引き出し部７ａ、７ｂ等は傾斜して設けられているが、バス電極４ａ、４ｂの画像検査を行う場合、画像検査のアルゴリズムの制約上、これらの傾斜した部位の検出力はバス電極４ａ、４ｂに比べると劣るため、通常、引き出し部の画像検査では、欠陥の検出洩れが生じやすい。しかし、本実施例のように、引き出し部７ａ、７ｂの線幅も検査端子部１０ａ、１０ｂと同様に太く形成することにより、引き出し部に欠陥自体が生じにくくなるため、検査洩れが生じにくくなり、引き出し部に生じた欠陥による断線等が起こりにくくなる。
【００２３】
次に、本発明の第２の実施例について説明する。図４は、本発明の第２の実施例のＰＤＰのガラス基板を示す上面図である。なお、図２に示す第２の実施例において、図１及び図２に示す第１の実施例と同一構成要素には同一の符号を伏してその詳細な説明は省略する。図４に示すように、本実施例においては、第１の実施例で検査端子部１０ａ、１０ｂと同一幅で形成した引き出し部７ａ、７ｂの線幅を細くした引き出し部とする。検査端子部１０ａから引き出される引き出し部１７ａ及び検査端子部１０ｂから引き出される引き出し部（図示せず）は本実施例のように、検査端子部１０ａ、１０ｂより細くてもよい。本実施例においてもバス電極４ａ、４ｂに接続し、バス電極４ａ、４ｂの線幅より広い幅を有する検査端子部１０ａ、１０ｂを有しているため、コンタクト不良、接触による損傷等の不具合を防止すると共に、検査端子部を有しているのでパネルの電圧特性及び外観に影響を与えることなく表示領域内のバス電極を極めて細くすることができ、輝度を向上させることができる。
【００２４】
次に、本発明の第３の実施例について説明する。図５は、本発明の第３の実施例のＰＤＰ用基板の要部を拡大して示す平面図である。なお、図５に示す第３の実施例において、図１及び図２に示す第１の実施例と同一の構成要素には同一の符号を伏してその詳細な説明は省略する。図５に示すように、任意の本数目のバス電極に接続する表示領域外の検査端子部１１ａ、１１ｂの形状を他の検査端子部１０ａ、１０ｂの形状とは異ならせる。本実施例においては、この任意の本数を５本とし、５本目のバス電極であるバス電極４ａに接続する検査端子部１１ａと、次の５本目のバス電極であるバス電極４ｂに接続する検査端子部１１ｂと、というように、順次５本目のバス電極４ａ又は４ｂと接続する検査端子部１１ａ、１１ｂの形状を円形とし、他のバス電極４ａ、４ｂに接続する正方形の検査端子部１０ａ、１０ｂの形状とは異ならせる。なお、上述した如く、検査端子部１０ａ、１０ｂ、１１ａ、１１ｂの面積は１００００μｍ2が好ましい。これにより、他の検査端子部１０ａ、１０ｂとは形状が異なる円形の検査端子部１１ａ、１１ｂを目印にできるため、バス電極本数が容易に数えられる。プロービング検査では、検査結果を基に電極本数を数えて断線、又は、短絡箇所を任意する作業を伴うため、電極本数の取得が容易になれば、作業性が向上する。また、検査端子部は表示領域外にあるのでパネルの品位には影響しない。
【００２５】
次に、本発明の第４の実施例について説明する。図６は、本発明の第４の実施例のＰＤＰ用基板の要部を拡大して示す平面図である。なお、図６に示す第４の実施例において、図１及び図２に示す第１の実施例と同一の構成要素には同一の符号を伏してその詳細な説明は省略する。図６に示すように、任意の本数目のバス電極４ａ又は４ｂと表示領域外で接続する検査端子部の長さを変える。本実施例においては、５本目のバス電極及びこの次の５本目のバス電極４ａ及び４ｂに接続する検査端子部１２ａ及び１２ｂを長方形の形状とし、他の正方形の端子１０ａ及び１０ｂの１辺より、検査端子部１２ａ、１２ｂの長辺を長くする。これにより、他の検査端子部１０ａ、１０ｂとは長さが異なる検査端子部１２ａ、１２ｂを目印にすることができるため、電極本数の取得が容易になる。上述した如く、プロービング検査では、検査結果を基に電極本数を数えて断線、又は、短絡箇所を任意する作業を伴うため、電極本数の取得が容易になれば、作業性が向上する。また、検査端子部は表示領域外にあるのでパネルの品位には影響しない。
【００２６】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、バス電極に表示領域外で接続するバス電極の線幅Ｗより隣り合う２辺が共にＷより長いか、又は面積がＷ×Ｗより大きい検査端子部を設けたため、ピンプローブと検査端子部との接触面積が十分に取れ、コンタクト不良が防止できる。また、ピンプローブの打痕により電極が傷ついても、幅がそれ以上に太いため、断線には至らない。また、線幅が太く構成される部位は、表示領域の外側であるため、パネルの電圧特性及び外観には影響しない。
【００２７】
また、バス電極の太さはプロービング検査の制約を受けずに任意に設計できるため蛍光体の発光を遮蔽する面積を減少させることが可能となり、輝度が向上する。
【００２８】
更に、バス電極の間隔に設計変更が生じても、検査端子部の幅の調整又はバス電極と検査端子部との接続位置の変更のみで、ピンプローブとのコンタクト部位に変更は生じないため、ピンプローブの間隔を変更することなく、同一プローブで、プロービング検査が行うことができる。よって、プローブを改めて作製する必要がなく、また、プローブ交換等の段取り換えがなくなり、コスト低減及び作業性向上の効果を奏する。ＰＤＰのバス電極の間隔は、広くすると縦に並ぶセル間での電荷の干渉が起こり、また、狭くすると輝度の低下が起こる。よって、設計変更が生じやすいが、このような設計変更に対してコストを低減して作業性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例に係るプラズマディスプレイパネルを示す上面図である。
【図２】図１に示す領域Ａを拡大して示す上面図である。
【図３】プロービング検査の方法を示す模式図である。
【図４】本発明の第２の実施例のプラズマディスプレイパネルの要部を拡大して示す平面図である。
【図５】本発明の第３の実施例のプラズマディスプレイパネルの要部を拡大して示す平面図である。
【図６】本発明の第４の実施例のプラズマディスプレイパネルの要部を拡大して示す平面図である。
【図７】従来のＰＤＰ用基板の端子接続部分を示す平面図である。
【符号の説明】
１、１０１；ガラス基板
２、１０２；表示領域
４ａ、４ｂ、１０４ａ、１０４ｂ；バス電極
５、１０５；端子接続部
６ａ、６ｂ、１０６ａ、１０６ｂ；透明電極
７ａ、７ｂ、１７ａ、１０７ａ；引き出し部
１０ａ、１０ｂ、１１ａ、１１ｂ、１２ａ、１２ｂ；検査端子部
【図１】
0004138205.tif 000002
【図２】
0004138205.tif 000003
【図３】
0004138205.tif 000004
【図４】
0004138205.tif 000005
【図５】
0004138205.tif 000006
【図６】
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【図７】
0004138205.tif 000008