(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
装填された記録媒体に対してレーザ光の照射を行なってデータの記録／再生を行うことのできるヘッド手段と、
装填された記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパワーを変化させながら前記記録ヘッド手段による記録動作及びその再生動作を実行させ、その再生情報から適切なレーザーパワーを判別するとともに、前記試し書き領域に対する記録動作の際には、記録データとして、単一データパターン、ランダムデータパターン、無データパターンのうちで必要なパターンを上記再生動作における信号品質の監視対象に応じて選択的に発生させ、前記ヘッド手段に供給できるレーザパワー判別手段と、
前記レーザパワー判別手段で判別された適切なレーザパワーにより前記ヘッド手段のレーザパワーを設定し、記録媒体に対するデータ記録を実行させる記録制御手段と、を備え、
前記レーザパワー判別手段は、前記単一データパターンとして、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンを発生させることができるとともに、前記試し書き領域において前記単一データパターンが記録されるトラックに隣接するトラックには、データ記録が行われないように、前記無データパターンを発生させること
を特徴とする記録装置。
【請求項２】
前記レーザパワー判別手段では、適切なレーザパワーとして、少なくとも適切な記録パワー及び消去パワーを判別することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
前記レーザパワー判別手段は、前記試し書き領域において前記単一データパターンを記録したトラックの再生情報から、アシンメトリ値が適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項４】
前記レーザパワー判別手段は、前記試し書き領域において前記ランダムデータパターンを記録したトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項５】
前記レーザパワー判別手段は、前記試し書き領域において前記ランダムデータパターンを３トラック以上連続して記録させ、その中央のトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項６】
前記レーザパワー判別手段は、前記単一データパターンとして、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンを発生させることができるとともに、
１つのレーザパワー設定状態において、前記第１の単一データパターン、前記第２の単一データパターン、前記ランダムデータパターン、前記無データパターンをトラック毎に所定順序で選択して記録動作を実行させることで、当該記録動作にかかる領域からの再生情報により、そのレーザパワー状態におけるジッター又はエラーレート、及びアシンメトリ値を検出することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
【請求項７】
装填された記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパワーを変化させながら前記記録動作及びその再生動作を実行させ、記録媒体に対する適切なレーザパワーを設定するレーザパワー設定方法として、
前記試し書き領域に対する記録動作の際に、記録データとして、単一データパターン、ランダムデータパターン、無データパターンのうちで必要なパターンを上記再生動作における信号品質の監視対象に応じて選択的に発生させ、その記録したパターンの再生情報から適切なレーザパワーを判別し、設定し、
前記単一データパターンとして、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンを発生させるとともに、前記単一データパターンを記録するトラックに隣接するトラックには、データ記録が行われないように、前記無データパターンを発生させること
を特徴とするレーザパワー設定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等の記録媒体に対する記録装置、及び記録装置におけるレーザパワー設定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ディスク等の記録媒体に対してレーザ光を照射してデータの記録を行う機器が各種実現されている。
例えば光学ディスク記録媒体としてＣＤ（コンパクトディスク）方式のディスクや、マルチメディア用途に好適なＤＶＤ（Digital Versatile Disc／Digital Video Disc）と呼ばれるディスクなどが開発されており、これらの光ディスクに対応する記録装置では、ディスク上のトラックに対して記録データによって変調されたレーザ光を照射し、例えば相変化記録方式でデータの記録を行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、このようにレーザ光によりデータ記録を行う場合には、レーザ光のパワー、具体的には、記録パワーや消去パワーが適切な値に設定されていなければならない。
このために、通常、記録装置では、ＯＰＣ（オプティマムパワーコントロール）と呼ばれる最適レーザパワーの判別動作が行われる。
【０００４】
このＯＰＣ動作は、ディスク上に用意された試し書き領域（テスト領域）に対してレーザパワーを変化させながらレーザ照射を行って試し書きを行い、その試し書き部分の再生情報の品質（例えばジッタレベル等）を監視することで、最適なレーザパワーを判別する動作となる。
【０００５】
このようなＯＰＣ動作により、記録時に最適なレーザパワーによる記録動作が実現できるが、ＯＰＣ動作で判別する最適なレーザパワーについては、その判別をより高精度とすることが求められる。
例えば試し書きを行う際のデータ内容や、その試し書き部分の再生時に隣接トラックのクロストークの影響などの諸事情により、再生情報から信号品質が精度よく監視できないことがあるが、このような場合、ＯＰＣ動作により求められる最適なレーザパワーは、必ずしも最適であるとはいえない。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明はこのような事情を鑑みて、ＯＰＣ動作の精度を向上させることを目的とする。また動作効率のよいＯＰＣ動作を実現することも目的とする。
【０００７】
このために本発明では、装填された記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパワーを変化させながら記録動作及びその再生動作を実行させ、その再生情報から適切なレーザーパワーを判別する動作（ＯＰＣ動作）を行うが、そのＯＰＣ動作における記録動作の際には、記録データとして、単一データパターン、ランダムデータパターン、無データパターンのうちで必要なパターンを上記再生動作における信号品質の監視対象に応じて選択的に発生させ、ヘッド手段に供給できるようにする。
そして、前記レーザパワー判別手段は、前記単一データパターンとして、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンを発生させることができるとともに、前記試し書き領域において前記単一データパターンが記録されるトラックに隣接するトラックには、データ記録が行われないように、前記無データパターンを発生させる。
そしてこのようなＯＰＣ動作で判別した適切なレーザパワーによりヘッド手段のレーザパワーを設定し、記録媒体に対するデータ記録を実行させるようにする。
つまり試し書き記録の際の記録データとしては、単一データパターン、ランダムデータパターンを用意し、これを目的（信号品質の監視対象）によって使い分けることができるようにする。
【０００８】
またレーザパワー判別動作では、適切なレーザパワーとして、少なくとも適切な記録パワー及び消去パワーを判別する。
【０００９】
またレーザパワー判別動作においては、試し書き領域において単一データパターンを記録したトラックの再生情報から、アシンメトリ値が適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出するようにする。
【００１０】
またレーザパワー判別動作においては、試し書き領域においてランダムデータパターンを記録したトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出する。
またこのとき、ランダムデータパターンを３トラック以上連続して記録させ、その中央のトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出することで、実際の使用状況に即した判別ができるようにする。
【００１１】
またレーザパワー判別動作においては、１つのレーザパワー設定状態において、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンと、ランダムデータパターンと、無データパターンとをトラック毎に所定順序で選択して記録動作を実行させ、当該記録動作にかかる領域からの再生情報により、そのレーザパワー状態におけるジッター又はエラーレート、及びアシンメトリ値を検出することで、ＯＰＣ動作効率を向上させる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態として、記録可能な光ディスクに対応する記録再生装置及びその記録再生装置で実行される記録方法、レーザパワー設定方法について説明していく。この例の記録再生装置に装填される光ディスクは、例えば、ＣＤ−ＲなどのＣＤ方式のディスクや、ＤＶＤ（DIGITAL VERSATILE DISC／DIGITAL VIDEO DISC）と呼ばれるディスクなどが考えられる。もちろん他の種類の光ディスクに対応する記録装置でも本発明は適用できるものである。
説明は次の順序で行う。
１．光ディスクのフォーマット
２．記録再生装置の構成
３．レーザパワー設定手順の概略
４．動作方式
４−１  ＤＯＷ特性安定化処理
４−２  ディスク装填時の処理例（Ａ）〜（Ｃ）
４−３  ＯＰＣ処理例（Ｉ）〜（III）
４−４  ＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）〜（ハ）
４−５  ディフェクトキャンセル方式
４−６  ＯＰＣ動作例（１）〜（４）
４−７  ＯＰＣ動作時の記録パターン
【００１３】
１．光ディスクのフォーマット
本例で記録媒体となる光ディスクは、相変化方式でデータの記録を行う光ディスクであり、その物理的なフォーマットは図１に示されるようになる。
【００１４】
ディスクサイズとしては、直径が１２０ｍｍとされる。また、ディスク厚（サブストレート）０．６ｍｍ板の２枚張り合わせディスクとされ、全体としてディスク厚は１．２ｍｍとなる。またディスククランピングはメカニカル方式が採用される。即ちこれらの点では外形的に見ればＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disc-ROM／Digital Video Disc-ROM）等と同様となる。
また記録再生装置に装填される際などに用いることのできる、当該ディスクを収納保持するケースがオプションとして用意される。
【００１５】
ディスク上には予めグルーブ（溝）によるトラックが形成され、このグルーブがウォブリング（蛇行）されることにより物理アドレスが表現される。つまりグルーブがアドレスを変調した信号によってウォブリングされることで、グルーブからの再生情報を復調することで絶対アドレスが抽出できるようにされている。またディスクはＣＡＶ（角速度一定）方式で回転駆動されるものとされ、これに応じてグルーブに含まれる絶対アドレスはＣＡＶデータとなる。
グルーブの深さは記録再生のためのレーザ波長λ／８、グルーブ幅は０．４８μｍ中心、ウォブリング振幅は１２．５ｎｍ中心とされている。
なおレーザ波長λ＝６５０ｎｍ（−５／＋１５ｎｍ）、記録再生装置の光学ヘッドの開口率ＮＡ＝０．６とされる。
【００１６】
この光ディスクでは、グルーブ記録方式が採用され（ランドは記録に用いられない（但し用いられるようにしてもよい））、トラック幅方向にグルーブのセンターから隣接するグルーブのセンターまでがトラックピッチとなる。トラックピッチは０．８０μｍとされる。
またデータ記録は線密度一定（ＣＬＤ：Constant Linear Density ）とされて記録される。線密度は０．３５μｍ／bit とされる。
但し線密度範囲として或る幅が設定され、実際には非常に多数のゾーニング設定が行われることで、ディスク全体として線密度一定に近い状態とされる。これはゾーンＣＬＤ（Zoned Constant Linear Density ）と呼ばれる。そしてこのディスクでは、片面（一方の記録層）で３．０Ｇバイト／の記録容量を実現することができる。
【００１７】
また記録データの変調方式としてはいわゆるＤＶＤと同様に８−１６変調が採用され、相変化記録媒体へのマークエッジ記録が行われる。
【００１８】
図２にディスクの内周側（リードイン）から外周側（リードアウト）までのエリア構造を示す。この構造図の右側には絶対アドレス（セクターアドレス）の値を１６進表記で付記している。また各エリアの名称を「＊＊＊ゾーン」としているが、この各エリアに（  ）内で示した数値は、そのゾーンのセクター数を表している。
【００１９】
内周側（半径位置２２．６ｍｍ〜２４．０ｍｍ）の斜線を付した部分はエンボスピットが記録されたエリアとされる。
一方、斜線を付していない部分（半径位置２４．０ｍｍから最外周までの領域）は、グルーブによるトラックが形成された記録可能領域（グルーブエリア）となる。
【００２０】
エンボスエリアとされる最内周側は、絶対アドレス「０２ＥＦＦＦｈ」までがイニシャルゾーンとしてオール「００ｈ」のデータが記録されている。
続いて絶対アドレス「２Ｆ０００ｈ」の位置からが、リファレンスコードが２ＥＣＣブロック（以下、単にブロックともいう）分記録された３２セクターのリファレンスコードゾーンとなる。なおブロック（ＥＣＣブロック）とは、エラー訂正ブロックを構成する単位であり、３２Ｋバイトのデータ毎にエラー訂正コードが付加されて形成される。
続いて、４８０セクターのバッファゾーンを介して絶対アドレス「２Ｆ２００ｈ」の位置から３０７２セクターのコントロールデータゾーンが形成され、コントロールデータが記録される。
これらのコントロールデータ及びリファレンスコードは、原盤製造のためのカッティングの際に記録され、読出専用のピットデータとなる。コントロールデータには、光ディスクの物理的な管理情報などが記録される。
【００２１】
続くバッファゾーンがエンボスエリアの最外周側となり、コネクションゾーンから外周側がグルーブエリアとなる。
そしてこのグルーブエリアでは、コネクションゾーンに続いて、５１２セクターのガードゾーン、１０２４セクターのインナーディスクテストゾーン、１６６４セクターのインナードライブテストゾーン、５１２セクターのガードゾーン、６４セクターのＤＭＡ１ゾーン（ディフェクトマネジメントエリア）、２５６セクターのインナーディスクアイデンティフィケーションゾーン、６４セクターのＤＭＡ２ゾーンが設けられる。
【００２２】
このＤＭＡ２ゾーンに続いて、ユーザーがデータ記録に用いることができるレコーダブルエリアとしてのデータゾーンが形成される。データゾーンは絶対アドレスでいえば３１０００ｈ〜１９８ＦＦＦｈまでとなる。
【００２３】
また、データゾーンの外周側には、６４セクターのＤＭＡ３ゾーン、２５６セクターのアウターディスクアイデンティフィケーションゾーン、６４セクターのＤＭＡ４ゾーン、１０２４セクターのガードゾーン、２０４８セクターのアウターディスクテストゾーン、３０７２セクターのアウタードライブテストゾーン、３２７６８セクターのガードゾーンが設けられる。
【００２４】
各ガードゾーンは、ディスクテストゾーンやＤＭＡ等に対する書込を行う際にライトクロックの同期をとるためのエリアとして設けられている。
内周側（インナー）及び外周側（アウター）のディスクテストゾーンは、ディスクコンディションのチェックのために設けられている。
内周側（インナー）及び外周側（アウター）のドライブテストゾーンは記録再生ドライブ状況のチェックに用いられる。
特に後述するＤＯＷ特性安定化処理や、ＯＰＣ動作は、このドライブテストゾーンを使用することになる。
内周側（インナー）及び外周側（アウター）のディスクアイデンティフィケーションゾーンは、ディスクの製造者やフォーマットに関しての情報が記録可能に用意されたエリアである。後述するが、例えばこのエリアを利用してドライブテストゾーンの管理テーブルを記録することなどが可能となる。
【００２５】
ＤＭＡ（ＤＭＡ１〜ＤＭＡ４）にはレコーダブルエリアの欠陥状況の検出結果及びその交代セクターの情報が記録される。記録再生動作がＤＭＡの内容を参照して行われることで、欠陥領域（例えば傷の存在するセクター）を回避した記録再生を行うことができる。なおＤＭＡ１〜ＤＭＡ４はそれぞれ同一の内容が記録される。
【００２６】
２．記録再生装置の構成
図３は本例の記録再生装置の要部のブロック図である。この記録再生装置は、接続されたホストコンピュータ１００からの要求に応じてデータの記録再生動作を行うものとされる。
【００２７】
ディスク９０は上述したフォーマットのＤＶＤ方式のディスクや、ＣＤ−Ｒ,ＣＤ−ＲＯＭ等のＣＤ方式のディスクである。このディスク９０は、ターンテーブル７に積載され、記録又は再生動作時においてスピンドルモータ１によって一定線速度（ＣＬＶ）もしくは一定角速度（ＣＡＶ）で回転駆動される。
そしてピックアップ１によってディスク９０にエンボスピット形態や相変化ピット（マーク）形態などで記録されているデータの読み出しや、相変化ピット（マーク）としてのデータの記録、或いはデータ消去が行なわれることになる。
【００２８】
ピックアップ１内には、レーザ光源となるレーザダイオード４や、反射光を検出するためのフォトディテクタ５、レーザ光の出力端となる対物レンズ２、レーザ光を対物レンズ２を介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタ５に導く光学系が形成される。
対物レンズ２は二軸機構３によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
またピックアップ１全体はスレッド機構８によりディスク半径方向に移動可能とされている。
【００２９】
再生時及び記録時にレーザ光の照射を行うことで得られるディスク９０からの反射光情報はフォトディテクタ５によって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてＲＦアンプ９に供給される。
ＲＦアンプ９には、フォトディテクタ５としての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。例えば再生データであるＲＦ信号、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥなどを生成する。
ＲＦアンプ９から出力される再生ＲＦ信号は２値化回路１１へ、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥはサーボプロセッサ１４へ供給される。
【００３０】
ディスク９０に対する再生動作時において、ＲＦアンプ９で得られた再生ＲＦ信号は２値化回路１１で２値化されることでいわゆるＥＦＭ信号（８−１４変調信号；ＣＤ方式のディスクの場合）もしくはＥＦＭ＋信号（８−１６変調信号；ＤＶＤ方式のディスクの場合）とされ、エンコーダ／デコーダ１２に供給される。エンコーダ／デコーダ１２ではＥＦＭ復調，エラー訂正処理等を行ない、また必要に応じてＣＤ−ＲＯＭデコード、ＭＰＥＧデコードなどを行なってディスク９０から読み取られた情報の再生を行なう。
【００３１】
エンコーダ／デコーダ１２でデコードされたデータはキャッシュメモリ２０の読出／書込処理を行うバッファマネージャ２１の動作によってキャッシュメモリ２０に蓄積されていく。いわゆるバッファリング動作が行われる。
再生装置からの再生出力としては、キャッシュメモリ２０にバッファリングされたデータが転送出力されることになる。
なお、キャッシュメモリ２０からのデータの転送出力はシステムコントローラ１０の制御（ファームウエアとしての制御）によって行われる。
【００３２】
インターフェース部１３は、外部のホストコンピュータと接続され、ホストコンピュータとの間で再生データやリードコマンドの通信を行う。
即ちキャッシュメモリ２０に格納された再生データは、インターフェース部１３を介してホストコンピュータ１００に転送出力される。
またホストコンピュータ１００からのリードコマンドその他の信号はインターフェース部１３を介してシステムコントローラ１０に供給される。
【００３３】
サーボプロセッサ１４は、ＲＦアンプ９からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥや、デコーダ１２もしくはシステムコントローラ１０からのスピンドルエラー信号ＳＰＥ等から、フォーカス、トラッキング、スレッド、スピンドルの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、二軸ドライバ１６に供給する。二軸ドライバ１６はピックアップ１における二軸機構３のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップ１、ＲＦアンプ９、サーボプロセッサ１４、二軸ドライバ１６、二軸機構３によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００３４】
なお、理想的にはフォーカスエラー信号ＦＥがゼロとなるポイントと、ディスク９０から最も効率よく情報再生を行うことができるポイント（つまり再生ＲＦ信号の振幅が最大となるポイント）は同一であるはずであるが、実際には、これらのポイントはずれたものとなる。このずれ分をフォーカスバイアスとよび、そのフォーカスバイアス分に相当するバイアス電圧をフォーカスエラー信号ＦＥに加算するようにサーボ系を構成することで、フォーカス状態が、再生ＲＦ信号の振幅が最大となるポイントに収束されるように制御している。
トラッキングエラー信号ＴＥについても同様に、トラッキングバイアスが存在する。
【００３５】
またサーボプロセッサ１４はスピンドルモータドライバ１７に対して、スピンドルエラー信号ＳＰＥに応じて生成したスピンドルドライブ信号を供給する。スピンドルモータドライバ１７はスピンドルドライブ信号に応じて例えば３相駆動信号をスピンドルモータ６に印加し、スピンドルモータ６のＣＬＶ回転を実行させる。またサーボプロセッサ１４はシステムコントローラ１０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータドライバ１７によるスピンドルモータ６の起動または停止などの動作も実行させる。
【００３６】
サーボプロセッサ１４は、例えばトラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ１０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッドドライバ１５に供給する。スレッドドライバ１５はスレッドドライブ信号に応じてスレッド機構８を駆動する。スレッド機構８には図示しないが、ピックアップ１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライバ１５がスレッドドライブ信号に応じてスレッドモータ８を駆動することで、ピックアップ１の所要のスライド移動が行なわれる。
【００３７】
ピックアップ１におけるレーザダイオード４はレーザドライバ１８によってレーザ発光駆動される。
システムコントローラ１０はディスク９０に対する記録動作、再生動作を実行させる際に、レーザパワーの制御値をオートパワーコントロール回路１９にセットし、オートパワーコントロール回路１９はセットされたレーザパワーの値に応じてレーザ出力が行われるようにレーザドライバ１８を制御する。
【００３８】
ディスク９０に対する記録動作時には、記録データに応じて変調された信号がレーザドライバ１８に印加される。
例えば記録可能タイプのディスク９０に対して記録を行う際には、ホストコンピュータからインターフェース部１３に供給された記録データは、エンコーダ／デコーダ１２によってエラー訂正コードの付加、ＥＦＭ＋変調、ＮＲＺＩ変調などの処理が行われた後、レーザドライバ１８に供給される。
そしてレーザドライバ１８が記録データに応じてレーザ発光動作をレーザダイオード４に実行させることで、ディスク９０に対するデータ記録が実行される。
【００３９】
以上のようなサーボ及びデコード、エンコードなどの各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ１０により制御される。
例えば一連の再生動作制御としては、システムコントローラ１０はホストコンピュータ１００からのリードコマンドに応じて、要求されたデータ区間の読出を行うための動作として、サーボプロセッサ１４に指令を出し、リードコマンドにより転送要求されたデータ区間の開始位置をターゲットとするピックアップ１のアクセス動作を実行させる。そしてアクセス終了後、データ読出を実行させ、エンコーダ／デコーダ１２、キャッシュメモリ２０に必要な処理を実行させ、その再生データ（要求されたデータ）をインターフェース部１３からホストコンピュータ１００に転送させる制御を行う。
また記録動作制御としては、システムコントローラ１０はホストコンピュータ１００からのライトコマンドに応じて、供給されたデータの書込を行うための動作として、サーボプロセッサ１４に指令を出し、書込開始位置へのピックアップ１のアクセス動作を実行させる。そしてアクセス終了後、キャッシュメモリ２０、エンコーダ／デコーダ１２、レーザドライバ１８等に必要な処理を実行させ、その記録データ（供給されたデータ）をディスク９０に記録させる制御を行う。
【００４０】
ところで、記録動作に関してレーザダイオード４から出力させるレーザパワー、即ち記録パワー、消去パワーについては、それを最適なパワーとするために、記録動作に先立ってＯＰＣ動作が行われる。
【００４１】
記録時には、ディスク９０の結晶状態にしたトラック上に大きなパワー（記録パワー）を持つレーザ光を照射し、記録面の記録膜を溶融した後に急冷し、アモルファス化させることによって記録マークを形成する。
消去するときは、記録時よりも小さいパワー（消去パワー）のレーザ光を記録マークに照射させて、アモルファス化した部分を再び結晶化させるものとなる。このため、最適な記録パワー、消去パワーが設定されていないと、適切なオーバーライトが実行できないものとなる。このため、記録動作に先立って最適な記録パワー、消去パワーを設定するＯＰＣ動作が必要となる。
【００４２】
システムコントローラ１０はＯＰＣ動作のために、レーザドライバ１８及びオートパワーコントロール回路１９を制御して、レーザパワーを各種値に変化させながら上述したディスク９０のドライブテストゾーンに対して試し書きを実行させ、さらにその試し書き部分を再生させて信号品質を監視する。特に再生信号のジッタ又はエラーレートと、アシンメトリ値を監視する。
このために、ＲＦアンプ９からのＲＦ信号は検出部２３に供給され、検出部２３からはジッタ又はエラーレートの検出値ＤＪ、及びアシンメトリの検出値ＤＡＳが出力されるように構成されている。システムコントローラ１０はこれらの検出値ＤＪ、ＤＡＳを取り込むことで、各種レーザパワー状態での信号品質を判断することができ、それによって最適な記録パワー、消去パワーを判別できる。
そして最適な記録パワー、消去パワーを判別したら、それを記録動作時に用いる記録パワー、消去パワーとしてオートパワーコントロール回路１９にセットすることで、以降、記録動作時には最適な記録パワー、消去パワーによるレーザ出力が実現されることになる。
【００４３】
このようなＯＰＣ動作、及びＯＰＣ動作の前後の一連の動作（記録のためのレーザパワー設定に関する一連の動作）については後に詳述するが、それらの後述する各種動作は、システムコントローラ１０の制御に基づいて、レーザドライバ１８、オートパワーコントロール回路１９、サーボプロセッサ１４、検出部２３等がそれぞれ必要な動作を行うことで実現されるものである。
【００４４】
なお、ＯＰＣ動作時には、ジッターとアシンメトリ値を監視するか、もしくはエラーレートとアシンメトリ値を監視することになる。
検出部２３の構成例は後述するが、従って検出部２３には、ジッタ検出回路とアシンメトリ検出回路が設けられるか、もしくはエラーレート検出回路とアシンメトリ検出回路が設けられればよい。
さらには、検出対象をジッタとエラーレートとで切り換えられるジッタ／エラーレート検出回路と、アシンメトリ検出回路が設けられるようにしてもよい。この場合、例えば図３に示した制御信号Ｊ／Ｅにより、検出対象としてジッタかエラーレートかを選択できるようにする。このジッタ監視／エラーレート監視の選択は、システムコントローラ１０がモード設定などに応じて実行しても良いし、或いはホストコンピュータ１００又は図示していない操作部からのユーザーの操作により選択されるようにしても良い。
実際に記録再生動作において必要なのはエラーレートが低いことであるから、エラーレートを検出した方が精度的には良いものとなる。但し、ジッター検出の方が短時間で済むため、ＯＰＣ動作の迅速性を求めるならジッター検出の方が良い。選択可能とする場合は、このどちらをとるかの判断はユーザー操作にゆだねることが好適である。
【００４５】
ところで後述するが、ＯＰＣ動作は一定の時間経過や、装置内の温度変化に応じても実行される。このためシステムコントローラ１０は内部タイマ１０ａ（例えばソフトウエアによるタイムカウント）として、或るＯＰＣ動作後の経過時間をカウントできるようにされている。また温度センサ２４が設けられ、システムコントローラ１０が装置内の温度状況を監視できるようにされている。
【００４６】
なお、この図３のような記録再生装置の構成は一例であり、本発明の記録装置としては、これ以外に各種の構成例が考えられることはいうまでもない。
【００４７】
ここで記録動作時にレーザダイオード４からのレーザ出力を実行させるためのドライブパルスについて図４、図５で説明しておく。
レーザのドライブパルスは記録データ（ＮＲＺＩデータ）により変調されたパルスとなるが、例えば図４上段に示す或るＮＲＺＩデータの期間において、図４下段に示すようなドライブパルスが生成されることになる。
なお「Ｐｗ」は記録パワーとしてのレベル、「Ｐｅ」は消去パワーとしてのレベル、「Ｐｃ」は冷却パワーとしてのレベルである。
また「Ｔｗ」はチャンネルクロック期間、「Ｔｐｗ」は記録パワーのパルス期間である。
図からわかるように、ＮＲＺＩデータの「Ｌ」期間には、消去パワーＰｅとしてのドライブパルスが発生され、一方、ＮＲＺＩデータの「Ｈ」期間には、記録パワーＰｗ及び冷却パワーＰｃが交互にあらわれるパルス波形となる。このようにＮＲＺＩデータの「Ｈ」期間、つまり、ディスク９０上にマーク（ピット）を形成する区間では、記録パワーＰｗによるレーザ発光が断続的に実行されることになる。
【００４８】
また図５は、ＮＲＺＩデータとしての最短マーク長である３Ｔマークと３Ｔスペース、最長マーク長である１４Ｔマークを形成する場合のドライブパルスを示している。
図からわかるように、スペース形成期間においては消去パワーＰｅとしてのドライブパルスが連続して発生されてスペース形成動作（つまり消去動作）が行われる。また、マーク形成期間においては、そのマーク長に応じた回数だけ、記録パワーＰｗによるレーザ発光が断続的に実行されることになる。
【００４９】
次に、後述するＯＰＣ動作において監視されるアシンメトリについて説明しておく。
図６は再生されるＲＦ信号パターンを示しているが、「Ｉ14」は最長パターン（１４Ｔマーク／１４Ｔスペース）の再生ＲＦ信号の振幅（Ｉ14Ｈ−Ｉ14L）であり、「Ｉ3」は最短パターン（３Ｔマーク／３スペース）の再生ＲＦ信号の振幅（Ｉ3Ｈ−Ｉ3L）である。
そしてアシンメトリ値ＤＡＳは波形対称性を示す値として、
【数１】
0004158261.tif 000002
で算出される値である。
【００５０】
このアシンメトリ値ＤＡＳは、エンボスエリアでは、
−０．０５≦ＤＡＳ≦０．１５
リライタブルエリア（グルーブエリア）では、
−０．１５≦ＤＡＳ≦０．１０
であることが要求される。
そして実験によれば、アシンメトリ値ＤＡＳは、
ＤＡＳ＝０．０４となることが最適とされた。
【００５１】
つまり後述するＯＰＣ動作では、アシンメトリ値ＤＡＳに関しては、再生ＲＦ信号波形においてアシンメトリ値ＤＡＳ＝０．０４となる記録パワーが最適であると判断するものとなる。なお、ＤＡＳ＝０．０４を最適と判断することは一例であることはいうまでもなく、記録装置の信号処理特性や記録媒体の特性、システム使用状況などの各種の事情により、最適なアシンメトリ値は変更されることもあり得る。
【００５２】
３．レーザパワー設定手順の概略
続いて、本例におけるレーザパワー設定のための基本的な手順について説明していく。なお、ここでは概略的な手順及びその意味を説明することとし、具体的な処理手順については各種の例を後述する。
【００５３】
図７（ａ）（ｂ）に、レーザパワー設定のための大まかな手順の２例を示した。
図７（ａ）は、まずＤＯＷ特性（ダイレクトオーバーライト特性）の安定化を行い、続いてフォーカスバイアス調整を行い、その後にＯＰＣ処理を行うようにしたものである。
一方図７（ｂ）はＤＯＷ特性の安定化を行い、続いてＯＰＣ処理を行い、その後にフォーカスバイアス調整を行うようにしたものである。
【００５４】
即ち本例では、少なくともＤＯＷ特性安定化を実行した後にＯＰＣ処理を行うこととしている。そしてＯＰＣ処理とフォーカスバイアス調整については、どちらが先に実行されるかにより、それぞれ異なる利点が得られるため、実際の装置ではそれを勘案して選択すればよいものとなる。
なお、ＤＯＷ特性の安定化は、ＯＰＣ処理又はフォーカスバイアス調整の直前であっても良いし、或る程度時間が離れた前の時点であっても良い。一方、フォーカスバイアス調整は、通常は、ＯＰＣ処理の直前又は直後に行われることになる（但し離れた時点で実行されることもあり得る）。
【００５５】
まずＤＯＷ特性安定化処理について説明する。
ＤＯＷ特性とは、オーバーライト回数によりジッター、エラーレート、アシンメトリが変化することをいう。
例えば同様の記録動作を繰り返していくと、１回目の記録時よりも２回目の記録時はジッターがかなり悪くなるが、３回目以降は徐々にジッターの変動は小さくなり、１０回目以降は安定していくことが実験により確認されている。
【００５６】
図８は縦軸にジッター、横軸にオーバーライト回数をとって、ジッターのＤＯＷ特性を示したものである。
なお、ジッター値は記録パワーＰｗ及び記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比によって異なるものとなり、図８では各種パワーで計測されたジッター値の範囲を示している。
この図から、初期記録に対してオーバーライト回数を重ねる毎にジッターは変動するが１０回以上のオーバーライトではほぼ安定することがわかる。
【００５７】
また図９は、縦軸にアシンメトリ値、横軸にオーバーライト回数をとって、アシンメトリのＤＯＷ特性を示したものである。
この場合も、図８と同様に各種パワーで計測されたアシンメトリ値の範囲を示している。
この図から、アシンメトリ値に関しても、初期記録に対してオーバーライト回数を重ねる毎にばらつきが大きいが、１０回以上のオーバーライトではほぼ安定することがわかる。
【００５８】
このようなＤＯＷ特性を考えると、例えばＯＰＣ処理に用いるディスク９０上のドライブテストゾーン（試し書き領域）に、未記録部分と少なくとも１回以上記録を行った部分が混在すると、観測されるジッター（又はエラーレート）や、アシンメトリ値がばらつき、判別されるレーザパワーの精度が悪くなる。
【００５９】
そこで本例では、ＯＰＣ処理に利用するドライブテストゾーンの全域、もしくは実際に試し書きを行う一部のエリアについて、ＯＰＣ処理に先だって無条件に、少なくとも２回以上、好ましくは１０回以上のオーバーライトを実行する。
これが本例でいうＤＯＷ安定化処理である。
このようなＤＯＷ安定化処理を行ない、試し書きを行うエリアの特性を安定化させることで、その後、ＯＰＣ処理の際にジッター／エラーレートやアシンメトリ値が、エリアによってばらつくということはなくなり、最適レーザパワーを精度良く判別できることになる。
【００６０】
なお、ＤＯＷ特性安定化処理については、少なくともＯＰＣ処理が実行される前の時点で、また少なくともＯＰＣ処理で試し書きを行う領域において実行されればよい。このため、ＤＯＷ特性安定化の実行のタイミングや、ＤＯＷ特性安定化処理の対象エリアは各種考えられる。
【００６１】
ＤＯＷ特性安定化の実行タイミングとしては、例えばディスク９０がメーカーから出荷される前に製造工程（例えば最終の調整工程）において、インナー及びアウターのドライブテストゾーンに対して実行されるようにしても良いし、或いはユーザーサイドで記録再生装置において実行されるようにしても良い。
ユーザーサイドの記録再生装置で実行されるとした場合でも、ディスク装填時に行っても良いし、ＯＰＣ処理の直前に行われるようにしても良い。また、ディスクを初めて使用する際のフォーマット時に実行されるようにしても良い。
【００６２】
またＤＯＷ特性安定化処理の対象エリアとしては、インナー及びアウターのドライブテストゾーン領域の全域を対象としても良いし、インナー又はアウターのドライブテストゾーンの一方を対象としても良い。工場出荷前に実行する場合については、インナー及びアウターのドライブテストゾーン全域を対象とすることが好適である。
さらには、ユーザーサイドの記録再生装置で実行する場合は、同じくインナー、アウターのドライブテストゾーンの一方又は両方の全域を対象としても良いし、或いはその後に行われるＯＰＣ処理で実際に試し書きが行われるエリア、つまりドライブテストゾーン内の一部のエリアを対象としても良い。
これら、ＤＯＷ特性安定化処理の実行タイミングや実行対象エリアの各種の例については、後述する具体的な処理例で述べる。
【００６３】
本例ではこのようなＤＯＷ特性安定化処理が行われた後に、ＯＰＣ処理が実行される。
ＯＰＣ処理の概要は、前述したようにディスク９０のドライブテストゾーンに対してレーザパワー（記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅ）を変化させながら試し書き記録を行い、それを再生してジッター／エラーレート、及びアシンメトリ値を監視して、最適な記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅを判別する処理である。
【００６４】
ところが、このための具体的な処理としては、記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてのそれぞれの変更可能なステップ数や、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせ（さらには冷却パワーＰｃの組み合わせ）により、試し書きを行うレーザパワーとしては、かなりの数のバリエーションが存在する。
そして、最も高精度に記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅを判別したいのであれば、全ての組み合わせで試し書きを行って、それぞれの組み合わせでのジッター等を監視し、ジッター等が最適となる組み合わせを判別しなければならない。ところがそれはＯＰＣ処理に非常に時間がかかることを意味する。
一方、試し書きを行う際の組み合わせの数を減らしたり、或いは最適な記録パワーＰｗだけを判別するようにすれば、ＯＰＣ処理時間は短縮できるが、最適レーザパワーとしての判別精度が低下することはいうまでもない。
【００６５】
ここで本例では短時間でかつ精度の良いＯＰＣ処理を実現することを１つの目的としているが、このために、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの最適比、もしくは最適な組み合わせの近似式を利用して処理を行うものとしている。
【００６６】
上述のＤＯＷ特性についてみてみると、ジッターやアシンメトリ値に関しては、記録時の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比（Ｐｅ／Ｐｗ）に大きく依存することが実験から確認されている。つまりＤＯＷ特性においてジッターが最小となるときの比（Ｐｅ／Ｐｗ）はほとんど変化していない。
これを言い換えれば、記録パワーが変わっても、ジッターが最小となる（或いはアシンメトリ値が最適となる）記録パワーと消去パワーの比は常にほぼ一定と考えられ、従って、例えば或る記録パワー（必ずしも最適記録パワーでなくとも）に対する最適な消去パワーが見つけられれば、そのときの比（Ｐｅ／Ｐｗ）を保ちながら、記録パワーと消去パワーの組み合わせを選択し、その中で最適な記録パワー（又は記録パワーと消去パワーの組み合わせ）を見つけることで、高精度かつ短時間でＯＰＣ処理が実行できることになる。
【００６７】
また、単に１つの記録パワーに対して最適消去パワーを見つけて、比を設定するのみでなく、この１つの記録パワーに対する最適消去パワーを見つける動作を複数回実行すれば、記録パワーと消去パワーの最適組み合わせの近似式が算出できる。従って、その近似式に沿って記録パワーと消去パワーの組み合わせを選択し、その中で最適な記録パワー（又は記録パワーと消去パワーの組み合わせ）を見つけることで、短時間で、さらに高精度なＯＰＣ処理が実行できる。
【００６８】
上述したように本例においては、フォーカスバイアス調整については、ＯＰＣ処理の直前もしくは直後で実行される。
記録時のフォーカスバイアスについては、上述したように最適な再生ＲＦ信号が得られるポイント（ジッター最小ポイント）に調整されなければならないが、記録パワーが高すぎた場合は、ジッターが最小点となるポイントが２点になる。図１０（ａ）〜（ｄ）は、それそれ異なるレーザパワー（記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、冷却パワーＰｃ）において、ジッターとデフォーカスの関係を示している。
この図１０（ａ）〜（ｄ）を比較してわかるように、レーザパワーが大きい図１０（ｄ）の場合は、ジッター最小点となるボトムが２つ観測され、このため最適なフォーカスバイアスが検出できない。一方、比較的レーザパワーの小さい図１０（ａ）〜（ｃ）ではジッター最小点が正しく観測でき、最適なフォーカスバイアスを判別できる。
【００６９】
このような事情を考慮したうえで、フォーカスバイアス調整をＯＰＣ処理の前又は後で行うことによるそれぞれの利点は次のようになる。
【００７０】
まず、図７（ａ）のようにＯＰＣ処理に先だってフォーカスバイアス調整を行う場合については、そのフォーカスバイアス調整実行時点では最適なレーザパワーは見つけられていない。
このため、適当なレーザパワーでフォーカスバイアス調整を行うと、もしそのパワーが高すぎた場合は適切にフォーカスバイアス値を見つけられないおそれがある。
そこで、記録時のフォーカスバイアス調整を行う際には、レーザパワーを、レーザパワーの初期値（例えば平均的な値）より多少パワーの小さい値にセットして実行する。これにより、フォーカスバイアスが適切に調整できる。
そしてこの場合は、フォーカスバイアス調整後にＯＰＣ処理が行われることになるため、ＯＰＣ処理においては最適なフォーカスバイアス調整での最適レーザパワーの設定が可能となるため、よりＯＰＣ処理の精度が向上される。
またフォーカスバイアスが最適化された後のＯＰＣ処理であることにより、ＯＰＣ処理時に、ディスク９０にダメージを与えるほどの記録パワーで記録が行われることはなくなる。
【００７１】
次に、図７（ｂ）のようにＯＰＣ処理の後にフォーカスバイアス調整を行う場合は、ＯＰＣ処理によりレーザパワー最適値が既にわかっていることになるため、レーザパワーを最適値にセットしてフォーカスバイアス調整を実行できることになる。
従って、レーザパワーが高すぎてフォーカスバイアス調整がうまくいかないということもなく、さらに実際に記録に使用するレーザパワーにより調整を行うものであるため、記録動作に即した最も適切なフォーカスバイアス調整が可能となる。
【００７２】
４．動作方式
４−１  ＤＯＷ特性安定化処理
以下、図７に示した手順に関しての具体的な動作方式について各種の例を説明していく。
まずＤＯＷ特性安定化処理のフローチャートを図１１に示す。上述したようにＤＯＷ特性安定化処理はディスク９０の製造工程において実行されても良いし、ユーザーサイドの記録再生装置で実行されても良い。このため図１１のフローチャートは製造工場において調整で用いる記録装置のコントローラや、ユーザーサイドにおける図３の記録再生装置のシステムコントローラ１０による制御を示すものとなる（以下の説明では、システムコントローラ１０の処理とする）。
なお、この図１１ではディスクのインナー及びアウタードライブテストゾーンの全域を対象としてＤＯＷ特性安定化処理を行う処理例としている。
【００７３】
ＤＯＷ特性安定化処理を行う際には、まずシステムコントローラ１０はステップＦ１０１として安定化のためのオーバーライト回数ＯＷＣをセットする。例えば２回オーバーライトを行うのであればＯＷＣ＝２、１０回オーバライトを行うのであればＯＷＣ＝１０とする。
またステップＦ１０２で変数ｎをｎ＝０とする。
【００７４】
以上の設定が済んだら、ステップＦ１０３で実際に内周側のドライブテストゾーンのオーバーライトを実行する。即ち１６６４セクターのインナードライブテストゾーンの全域に対して、所定のデータによりオーバーライトを実行する。書込の際のデータとしては、所定パターンのデータを用意しても良いし、ランダムなデータでもよい。またはＤＣライト／ＤＣイレーズを実行するようにしても良い。さらにこのステップＦ１０３のオーバーライトは複数回行われることになるが、各回毎に記録データを変更させても良い。
【００７５】
インナードライブテストゾーンの全域に対して一通りのオーバーライトが完了されたら、ステップＦ１０４で変数ｎをインクリメントし、ステップＦ１０５で変数ｎがオーバーライト回数ＯＷＣに達したかを確認する。そして達していなければステップＦ１０３に戻り、再びインナードライブテストゾーンの全域に対してのオーバーライトを実行する。
つまりステップＦ１０３〜Ｆ１０５によりインナードライブテストゾーンに対して設定したオーバーライト回数ＯＷＣだけオーバーライトが実行される。
【００７６】
設定回数のオーバライトが完了したら、ステップＦ１０６に進んで変数ｎをゼロにリセットするとともに、ステップＦ１０７で外周側のドライブテストゾーンのオーバーライトを実行する。即ち３０７２セクターのアウタードライブテストゾーンの全域に対して、所定のデータによりオーバーライトを実行する。上記同様、書込の際のデータは各種考えられる。
そしてアウタードライブテストゾーンの全域に対して一通りのオーバーライトが完了されたら、ステップＦ１０８で変数ｎをインクリメントし、ステップＦ１０９で変数ｎがオーバーライト回数ＯＷＣに達したかを確認する。そして達していなければステップＦ１０７に戻り、再びアウタードライブテストゾーンの全域に対してのオーバーライトを実行する。
このステップＦ１０７〜Ｆ１０９によりアウタードライブテストゾーンに対して設定したオーバーライト回数ＯＷＣだけオーバーライトが実行される。そしてアウタードライブテストゾーンに対するＯＷＣ回のオーバーライトが完了したら、ＤＯＷ特性安定化処理が終了される。
【００７７】
このような処理により、インナー及びアウタードライブテストゾーンの全域が、ＤＯＷ特性が安定化された状態となる。
【００７８】
なおＤＯＷ特性安定化処理の例は他にも多様に考えられる。
まず、インナー又はアウターのドライブテストゾーンの一方のみに対してＤＯＷ特性安定化処理が実行されるようにしても良い。例えば記録再生装置におけるＯＰＣ処理が、インナー又はアウターのドライブテストゾーンの一方のみで実行される場合は、その一方のみに対してＤＯＷ特性安定化処理を実行しておけば足り、また処理効率は向上する。
また、ＤＯＷ特性安定化処理がＯＰＣ処理の直前に行われる場合などは、インナー又はアウターのドライブテストゾーン内でＯＰＣ処理で用いられるエリア（試し書き実行エリア）がわかるため、その試し書き実行エリアのみに対してＤＯＷ特性安定化処理が行われればよい。もちろんこれによってＤＯＷ特性安定化処理に要する時間を短縮できる。
これら各種の処理例は、次のディスク装填時の処理例において述べる各種のＤＯＷ特性安定化処理タイミングの事情に応じて選択されればよい。
【００７９】
４−２  ディスク装填時の処理例（Ａ）〜（Ｃ）
ディスク９０が記録再生装置に装填された後における、レーザパワー設定に関する各種処理例（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）を、図１２、図１３、図１４でそれぞれ説明する。
【００８０】
［処理例（Ａ）］
図１２は処理例（Ａ）として、ディスク９０が装填された後のシステムコントローラ１０の処理を示している。
【００８１】
ディスク９０が装填されると、システムコントローラ１０はまずステップＦ２０１として、そのディスク９０の種別やライトプロテクト状況を判別し、記録可能なディスクであるか否かを確認する。
例えばＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどの再生専用ディスクであった場合や、オーバーライト可能なディスクであっても、ライトプロテクトがかけられているディスクであった場合は、そのディスクに対して記録動作が行われることはなく、従ってＯＰＣ処理も必要ないため、再生のみを対象とした通常処理に移る。
【００８２】
記録可能なディスクであった場合は、ステップＦ２０２でＤＯＷ特性安定化処理の必要性を判断し、必要であればステップＦ２０３で例えば上述したようなＤＯＷ特性安定化処理を行う。
必要でない場合とは、工場出荷前にすでにＤＯＷ特性安定化処理が施されている場合や、そのディスクに対する最初のフォーマット時にＤＯＷ特性安定化処理を施した場合である。さらには、後述するようにＯＰＣ処理の直前にＤＯＷ特性安定化処理を実行する場合も、ここではＤＯＷ特性安定化処理を実行する必要はない。
なお従って、ディスク装填の際にまずＤＯＷ特性安定化処理を実行するという動作方式が採用されていなければ、このステップＦ２０２，Ｆ２０３の処理自体が不要となる。このため図１２の処理として括弧を付したステップＦ２０２，Ｆ２０３が存在しない処理例も考えられる（これは後述する図１３、図１４でも同様）。
【００８３】
また、装填されたディスクが過去において記録再生装置に装填されたときにＤＯＷ特性安定化処理が実行された場合も、改めてＤＯＷ特性安定化処理を行う必要はない。
【００８４】
この図１２以降で説明していく各種処理例において、予めこの点を整理しておくと次のようになる。
ディスク９０が工場出荷前、もしくは記録再生装置で最初にフォーマットされる時点でＤＯＷ特性安定化がドライブテストゾーンの全域に対して必ず実行されることとした場合は、図１２、図１３、図１４、及び図１６、図１７に示されるＤＯＷ特性安定化処理は全て不要である。
【００８５】
出荷前やフォーマット時にＤＯＷ特性安定化が実行されないのであれば、例えば図１２〜図１４のように装填直後に必要に応じて（つまり過去に１度も実行されていなければ）実行することが考えられるが、上記のようにＯＰＣ処理の直前にＤＯＷ特性安定化処理を実行する場合は、装填直後のＤＯＷ特性安定化は不要である。逆に、ＯＰＣ処理の直前にＤＯＷ特性安定化処理を実行しない場合には、図１２〜図１４のように装填直後に必要に応じて実行することとなる。
【００８６】
ところで、例えば図１２のステップＦ２０２などで、ＤＯＷ特性安定化の必要性を判断する方法としては次のような方法が考えられる。
まず、ドライブテストゾーンに過去にまったく記録が行われていない未記録領域の存在を確認する方法がある。
或いは、ＤＯＷ特性安定化を実行したら、その実行済のフラグ情報をディスクの所定のエリアに記録しておき、ステップＦ２０２等ではそのフラグを確認するという手法も考えられる。
さらに、後述するようにテストゾーン管理テーブルを記録するようにすれば、より詳細に（例えばドライブテストゾーン内のエリア毎に）ＤＯＷ特性安定化の実行済の有無を確認できる。
これら各種の手法が考えられるが、具体的には、ＤＯＷ特性安定化の実行タイミングや実行対象エリアなどの設定の事情に応じて決定されることになる。
【００８７】
図１２の処理では、ディスク装填後ステップＦ２０４に進んだら、通常処理となる。このステップＦ２０４でいう通常処理とは、記録動作以外の、例えばホストコンピュータ１００との通信や、再生動作などをいう。
ステップＦ２０４での通常処理中に、記録動作要求、つまり装填後第１回目の記録動作がホストコンピュータ１００から要求された場合は、システムコントローラ１０はステップＦ２０５からＦ２０６に進み、まず記録時のためのフォーカスバイアス調整を実行させる。これは、図７（ａ）で述べたＯＰＣ処理前のフォーカスバイアス調整となる。
【００８８】
続いてステップＦ２０７でＯＰＣ処理を実行し、最適な記録パワー、消去パワーを設定する。具体的なＯＰＣ処理例については各種の例があるため、それぞれ後述する。
そして、フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理により最適なバイアス及びレーザパワーを設定したら、ステップＦ２０８としての通常処理に進む。ここでの通常処理とは、記録動作を含んで、ホストコンピュータ１００からの指示に応じて実行される各種動作である。
そしてステップＦ２０６，Ｆ２０７の処理が行われたのは、ホストコンピュータ１００からのライトコマンドに応じたものであるため、ステップＦ２０８ではまず要求された記録動作を実行する。
その記録動作が完了した後は、このステップＦ２０８において、ホストコンピュータ１００の指示に応じて記録動作や再生動作を実行することになる。
【００８９】
ところで、ステップＦ２０８の通常処理の段階で、ステップＦ２０９において所定時間の経過、又は所定値以上の温度変化が検出された場合は、再度ステップＦ２０４、Ｆ２０５のループに進み、記録動作要求が発生した時点でステップＦ２０６、Ｆ２０７のフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことになる。
【００９０】
後述するがＯＰＣ処理が実行された時点でシステムコントローラ１０の内部タイマ１０ａがリセット／スタートされることで、システムコントローラ１０は或るＯＰＣ処理後の経過時間を知ることができる。そして、そのカウントされている経過時間が所定時間以上となったら、その後記録が実行される場合は、フォーカスバイアス及びレーザパワーの再設定を行うようにしているものである。
また、システムコントローラ１０は、温度センサ２４からの装置内の温度値を監視しており、ＯＰＣ処理が実行された時点で装置内温度を記憶するようにしており（後述）、その後のステップＦ２０８の通常処理中も温度の監視を続けることで、装置内温度がＯＰＣ処理時と比べて所定値以上変化したか否かを判断できるようにしている。そして所定値以上の温度変化があった場合は、再度ステップＦ２０４、Ｆ２０５のループに進み、記録動作要求が発生した時点でＦ２０６、Ｆ２０７のフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行なってフォーカスバイアス及びレーザパワーの再設定を行うようにしている。
【００９１】
以上のような処理例（Ａ）によれば、次のような効果が得られる。
・ＤＯＷ特性安定化後にＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が向上される。
・フォーカスバイアス調整後にＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が向上される。
・記録時のフォーカスバイアスも最適化されるため記録特性が向上する。
・装填後の初回の記録動作時の直前、もしくは所定時間経過後の記録動作時の直前、もしくは温度変化後の記録動作時の直前にＯＰＣ処理が行われることになるが、これは最低限必要な時のみにＯＰＣ処理が行われることを意味し、無駄なＯＰＣ処理が実行されない。つまりＯＰＣ処理が効率的に実行される。フォーカスバイアス調整も同様である。
・ＯＰＣ処理後、所定時間を経過した後において再度記録動作が行われる場合には、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われることで、経時変化に対応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。
・ＯＰＣ処理後、所定値以上の温度変化が確認され、その後において再度記録動作が行われる場合には、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われることで、温度変化があってもそれに対応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。
【００９２】
［処理例（Ｂ）］
続いて図１３で処理例（Ｂ）を説明する。
この処理例（Ｂ）では、ステップＦ３０１〜Ｆ３０５、及びステップＦ３０８，Ｆ３０９は、上記処理例（Ａ）におけるステップＦ２０１〜Ｆ２０５、及びステップＦ２０８，Ｆ２０９と同様であるため重複説明を避ける。
処理例（Ａ）と異なる点は、ステップＦ３０６のＯＰＣ処理及びステップＦ３０７のフォーカスバイアス調整に手順であり、即ちこの処理例（Ｂ）の場合は、ディスク装填後の最初の記録動作が実行される直前に（又は所定時間経過後もしくは所定値以上の温度変化が確認された後において記録動作が実行される直前に）、まずＯＰＣ処理を行って、その後にフォーカスバイアス調整を行うものとなる。つまり図７（ｂ）の手順に沿った方式である。
【００９３】
従って記録動作の開始直前には、まずステップＦ３０６でＯＰＣ処理を実行し、最適な記録パワー、消去パワーを設定する（具体的なＯＰＣ処理例については後述）。
そして、最適な記録パワー、消去パワーが判別された後で、ステップＦ３０７では、その最適な記録パワー、消去パワーを用いてフォーカスバイアス調整を行うことになる。
【００９４】
このような処理例（Ｂ）によれば、次のような効果が得られる。
・処理例（Ａ）と同様に、ＤＯＷ特性安定化後にＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が向上される。
・処理例（Ａ）と同様に、記録時のフォーカスバイアスも最適化されるため記録特性が向上する。
・ＯＰＣ処理後に最適レーザパワーでフォーカスバイアス調整が行われることで、フォーカスバイアスが、実際の記録動作時の状況に即した状態で調整され、記録時のフォーカスバイアスはより最適化されるため記録特性が向上する。
・処理例（Ａ）と同様に、装填後の初回の記録動作時の直前、もしくは所定時間経過後の記録動作時の直前、もしくは温度変化後の記録動作時の直前にＯＰＣ処理が行われることになるが、これは最低限必要な時のみにＯＰＣ処理が行われることを意味し、無駄なＯＰＣ処理が実行されない。つまりＯＰＣ処理が効率的に実行される。フォーカスバイアス調整も同様である。
・処理例（Ａ）と同様に、ＯＰＣ処理後、所定時間を経過した後において再度記録動作が行われる場合には、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われることで、経時変化に対応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。
・処理例（Ａ）と同様に、ＯＰＣ処理後、所定値以上の温度変化が確認され、その後において再度記録動作が行われる場合には、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われることで、温度変化があってもそれに対応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。
【００９５】
［処理例（Ｃ）］
続いて図１４で処理例（Ｃ）を説明する。
この処理例（Ｃ）が上記処理例（Ａ）（Ｂ）と大きく異なる点は、ＯＰＣ処理やフォーカスバイアス調整が記録動作の直前でなく、基本的にはディスク装填時に実行されることである。
【００９６】
ディスク９０が装填されると、システムコントローラ１０はまずステップＦ４０１として、そのディスク９０の種別やライトプロテクト状況を判別し、記録可能なディスクであるか否かを確認する。
また記録可能なディスクであれば、ステップＦ４０２、Ｆ４０３で必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理を行う。
ここまでは上記処理例（Ａ）（Ｂ）と同様である。
【００９７】
続いてステップＦ４０４に進むわけであるが、このステップＦ４０４に進むのはディスク装填直後の時点となる。
そしてステップＦ４０４でシステムコントローラ１０は、記録時のためのフォーカスバイアス調整を実行させる。
【００９８】
続いてステップＦ４０５でＯＰＣ処理を実行し、最適な記録パワー、消去パワーを設定する（具体的なＯＰＣ処理例は後述）。
そして、フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理により最適なバイアス及びレーザパワーを設定したら、ステップＦ４０６としての通常処理に進む。ここでの通常処理とは、ホストコンピュータ１００からの指示に応じて実行される各種動作、つまり記録、再生、消去、通信等の通常の全ての処理を意味している。
従ってステップＦ４０６，Ｆ４０７のループ期間においてホストコンピュータ１００から記録要求が発せられた場合は、ステップＦ４０６で要求された記録動作を実行する。このとき、レーザパワー及びフォーカスバイアスは当然ながらそれより前の時点でステップＦ４０４，Ｆ４０５で設定された値とされる。
またもちろん、ステップＦ４０６，Ｆ４０７のループ期間においてホストコンピュータ１００から再生動作要求があった場合は、ステップＦ４０６で再生動作が実行される。
【００９９】
ところで、ステップＦ４０６の通常処理の段階で、ステップＦ４０７において所定時間の経過、又は所定値以上の温度変化が検出された場合は、再度ステップＦ４０４に進み、ステップＦ４０４，Ｆ４０５のフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことになる。時間経過及び温度変化の監視方式は処理例（Ａ）で説明した方式と同様である。
この点で上記処理例（Ａ）（Ｂ）と異なるのは、上記処理例（Ａ）（Ｂ）では、時間経過又は温度変化の検出後において、記録動作要求が発生された時点でフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことに対し、この処理例（Ｃ）では、時間経過又は温度変化の検出があったら、その時点でフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことにある。
【０１００】
このような処理例（Ｃ）によれば、次のような効果が得られる。
・処理例（Ａ）（Ｂ）と同様に、ＤＯＷ特性安定化後にＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が向上される。
・処理例（Ａ）（Ｂ）と同様に、記録時のフォーカスバイアスも最適化されるため記録特性が向上する。
・処理例（Ａ）と同様に、フォーカスバイアス調整後にＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が向上される。
・装填直後、もしくは所定時間経過直後、もしくは温度変化検出直後にＯＰＣ処理が行われることになるため、記録動作が要求される時点では、既に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアスが設定されていることになる。従って、記録動作要求に対して直ちに記録動作を開始することができ、レスポンスの良い記録動作を実現できる。
・ＯＰＣ処理後、所定時間を経過した後において、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われることで、経時変化に対応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。
・ＯＰＣ処理後、所定値以上の温度変化が確認された場合に、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われることで、温度変化があってもそれに対応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。
【０１０１】
なお、この処理例（Ｃ）はフォーカスバイアス調整後にＯＰＣ処理を行うという、図７（ａ）の手順に沿ったものであるが、図７（ｂ）の手順に沿った処理例も考えられる。つまり、図１４のステップＦ４０４とＦ４０５が逆になる処理例である。
その場合は、上記処理例（Ｂ）と同様に、ＯＰＣ処理後に最適レーザパワーでフォーカスバイアス調整が行われることで、フォーカスバイアスが、実際の記録動作時の状況に即した状態で調整され、記録時のフォーカスバイアスはより最適化されるため記録特性が向上するという効果が得られる。
【０１０２】
４−３  ＯＰＣ処理例（Ｉ）〜（III）
次に、各種ＯＰＣ処理例として３つの処理例（Ｉ）（II）（III）をそれぞれ図１５、図１６、図１７で説明する。このＯＰＣ処理例（Ｉ）〜（III）は、上記図１２、図１３、図１４の各ディスク装填後の処理例において、ステップＦ２０７，Ｆ３０６，Ｆ４０５で実行されるＯＰＣ処理のバリエーションとなる。
【０１０３】
［処理例（Ｉ）］
図１５はＯＰＣ処理例（Ｉ）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。この場合は、システムコントローラ１０はまずステップＦ５０１としてＯＰＣ動作を行う。ＯＰＣ動作とは、前述してきているように、ディスク９０のドライブテストゾーンに対してレーザパワーを変化させながら試し書きを行い、その再生情報からジッター等を監視して最適な記録パワー、消去パワーを設定する動作であるが、この具体的な動作手順も各種の例が考えられるため、ＯＰＣ動作例（１）〜（４）としてまとめて後述する。
【０１０４】
ＯＰＣ動作により最適な記録パワー、消去パワーが設定されたら、ステップＦ５０２で、内部タイマ１０ａのリセット／スタートを行なう。つまりＯＰＣ動作からの経過時間のカウントを開始する。また、その時点で温度センサ２４から得られる装置内温度を記憶する。
以上の処理を完了したら、ＯＰＣ処理、つまり上記図１２のステップＦ２０７、又は図１３のステップＦ３０６、又は図１４のステップＦ４０５の処理を終える。
【０１０５】
ステップＦ５０２でのタイマリセット／スタート及び装置内温度の記憶は、上述した図１２のステップＦ２０９、又は図１３のステップＦ３０９、又は図１４のステップＦ４０７の判別のための処理となる。つまり上述したように、ＯＰＣ処理後において所定時間が経過した場合、又は所定値以上の温度変化が検出された場合に、再度ＯＰＣ処理及びフォーカスバイアス調整を実行できるようにするための処理となる。
【０１０６】
このようなＯＰＣ処理例（Ｉ）により、上記ディスク装填後の処理例（Ａ）〜（Ｃ）の効果として説明したように、常に最適なレーザパワーで記録が実行できるという効果が実現される。
【０１０７】
［処理例（II）］
図１６はＯＰＣ処理例（II）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
この場合は、システムコントローラ１０はまずステップＦ５１１として、ドライブテストゾーンに関してＤＯＷ特性安定化処理の必要があるか否かを判別する。
上述したように、ＤＯＷ特性安定化処理の実行タイミングは各種考えられるが、このＤＯＷ特性安定化処理の実行タイミングを、ＯＰＣ動作の直前に行うものと設定される場合は、この図１６のようにＯＰＣ処理に進んだ時点で、ＤＯＷ特性安定化処理の必要性を判断し、必要であればステップＦ５１２で上述したようなＤＯＷ特性安定化処理を行う。
ＯＰＣ動作直前にこのような必要に応じたＤＯＷ特性安定化処理を行う処理手順を付加することの必要性、及びステップＦ５１１でのＤＯＷ特性安定化処理の必要性の判断方式は、上述したとおりである。
【０１０８】
必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理が行われた後は、ステップＦ５１３としてＯＰＣ動作を行う（ＯＰＣ動作例は後述）。
そしてＯＰＣ動作により最適な記録パワー、消去パワーが設定されたら、上記ＯＰＣ処理例（Ｉ）と同様に、ステップＦ５１４で、内部タイマ１０ａのリセット／スタート、及び温度センサ２４から得られる装置内温度の記憶を行なう。
以上の処理を完了したら、ＯＰＣ処理、つまり上記図１２のステップＦ２０７、又は図１３のステップＦ３０６、又は図１４のステップＦ４０５の処理を終える。
【０１０９】
このようなＯＰＣ処理例（II）により、上記ディスク装填後の処理例（Ａ）〜（Ｃ）の効果として説明したように、常に最適なレーザパワーで記録が実行できるという効果が実現される。
また、このＯＰＣ処理においてＯＰＣ動作直前にＤＯＷ特性安定化処理が行われることは、製造工程やディスクフォーマット時、或いは、図１２、図１３、図１４に示した時点でＤＯＷ特性安定化処理を行うことが不要となることを意味する。換言すれば、最低限必要なときのみＤＯＷ特性安定化処理が実行されるということになる。
【０１１０】
［処理例（III）］
図１７はＯＰＣ処理例（III）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
この処理例（III）は、上記処理例（II）と同様に、このＯＰＣ処理過程でＤＯＷ特性安定化を行うとともに、そのＤＯＷ特性安定化処理は、ドライブテストゾーンの一部、つまり実際に試し書きを行う使用エリアのみ（もしくは少なくともその使用エリアを含む一部の領域）に対して実行されるようにしたものである。
【０１１１】
まずステップＦ５２１では、システムコントローラ１０は装填されているディスク９０のドライブテストゾーンのうちで、実際にＯＰＣ動作において試し書きを行うエリア（以下「ＯＰＣ使用エリア」という）を選択する。
なおこの選択処理については、処理例（イ）（ロ）（ハ）として後述する。
【０１１２】
そしてＯＰＣ使用エリアを選択したら、ステップＦ５２２で、その選択されたＯＰＣ使用エリアについてＤＯＷ特性安定化処理の必要があるか否かを判別する。つまりここでは、ドライブテストゾーン内の一部であるＯＰＣ使用エリアのみを対象として、既にＤＯＷ特性が安定化されているか否かを確認することとなる。そして必要であればステップＦ５２３で、その選択されたＯＰＣ使用エリアのみについて（もしくは少なくとも選択されたＯＰＣ使用エリアを含むテストゾーン内の一部の領域について）、ＤＯＷ特性安定化処理を行う。
ＯＰＣ動作直前にこのような必要に応じたＤＯＷ特性安定化処理を行う処理手順を付加することの必要性、及びステップＦ５２２でのＯＰＣ使用エリアのＤＯＷ特性安定化処理の必要性の判断方式は、上述したとおりである。
【０１１３】
必要に応じて少なくともＯＰＣ使用エリアについてＤＯＷ特性安定化処理が行われた後は、ステップＦ５２４としてＯＰＣ動作を行う（ＯＰＣ動作例は後述）。
そしてＯＰＣ動作により最適な記録パワー、消去パワーが設定されたら、上記ＯＰＣ処理例（Ｉ）（II）と同様に、ステップＦ５２５で、内部タイマ１０ａのリセット／スタート、及び温度センサ２４から得られる装置内温度の記憶を行なう。
以上の処理を完了したら、ＯＰＣ処理、つまり上記図１２のステップＦ２０７、又は図１３のステップＦ３０６、又は図１４のステップＦ４０５の処理を終える。
【０１１４】
このようなＯＰＣ処理例（III）により、上記ディスク装填後の処理例（Ａ）〜（Ｃ）の効果として説明したように、常に最適なレーザパワーで記録が実行できるという効果が実現される。
またＯＰＣ処理例（II）と同様に、このＯＰＣ処理においてＯＰＣ動作直前にＤＯＷ特性安定化処理が行われることは、製造工程やディスクフォーマット時、或いは、図１２、図１３、図１４に示した時点でＤＯＷ特性安定化処理を行うことが不要となることを意味する。つまり最低限必要な時のみＤＯＷ特性安定化処理が行われる。
さらにこの場合は、ＤＯＷ特性安定化処理は、最低限必要なエリア、つまりＯＰＣ使用エリアに対して行われるものとなるため、ＤＯＷ特性安定化処理における複数回のオーバーライト動作の時間がかなり短縮できることになり、最も効率的な動作となる。
【０１１５】
４−４  ＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）〜（ハ）
上記図１７のＯＰＣ処理例（III）が採用される場合は、そのステップＦ５２１としてＯＰＣ使用エリアの選択処理が必要になる。このステップＦ５２１でのＯＰＣ使用エリア選択処理として処理例（イ）（ロ）（ハ）を図１８、図２０、図２１に示し、また図１９、図２１、図２２を利用して説明する。
【０１１６】
［処理例（イ）］
図１８はＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
ＯＰＣ使用エリアを選択する際には、まずシステムコントローラ１０はステップＦ６０１として、試し書きを実行するセクター数を変数ＳＮとしてセットする。試し書きに用いるセクター数は、実行するＯＰＣ動作方式（後述）により予めわかるものである。
【０１１７】
続いてステップＦ６０２で、ドライブテストゾーンの開始セクターのアドレスを変数ＳＡにセットし、またドライブテストゾーンの終了セクターの次のアドレスより変数ＳＮだけ前のアドレスを変数ＳＥにセットする。
【０１１８】
そしてステップＦ６０３で、セクターアドレスＳＡ〜セクターアドレスＳＥの間のアドレスとして、ランダムに或るセクターアドレスを選択し、選択したアドレスを変数ＵＳとする。
そしてステップＦ６０４で、セクターアドレスＵＳからセクターアドレス（ＵＳ＋ＳＮ）までの範囲を、ＯＰＣ使用エリアと設定する。
【０１１９】
このＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）を模式的に示すと図１９のようになる。例えばインナードライブテストゾーンの一部をＯＰＣ使用エリアとする場合、図示するように変数ＳＡ＝「３０６００ｈ」、変数ＳＥ＝「３０Ｃ８０ｈ−ＳＮ」となる（図２参照）。なおインナードライブテストゾーン内を区切っている破線はセクター単位の区切りであるとする。
【０１２０】
そしてアドレスＳＡ〜ＳＥの範囲でランダムに或るアドレスを選択してアドレスＵＳとする際に、選択されたアドレスが図示するアドレスＵＳ（１）であったとすると、このアドレスＵＳ（１）〜アドレス（ＵＳ（１）＋ＳＮ）がＯＰＣ使用エリアとなる。
また、例えば選択されたアドレスが図示するアドレスＵＳ（２）であったとすると、アドレスＵＳ（２）〜アドレス（ＵＳ（２）＋ＳＮ）がＯＰＣ使用エリアとなる。
【０１２１】
このように、ＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）では、選択処理が行われる毎に、ＯＰＣ使用エリアがドライブテストゾーンの範囲内でランダムに設定されることになる。
そして上述した図１７のＯＰＣ処理例（III）では、このようにして選択されたＯＰＣ使用エリアに対して、必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理を行った後、ＯＰＣ動作を実行する。
【０１２２】
このＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）により、ＯＰＣ動作において試し書きが行われるエリアが、ＯＰＣ動作毎に変更されることになるため、ＯＰＣ動作の毎に同じエリアばかりが試し書きされ、その部分が集中的に劣化が進行してしまうということを避けることができる。
【０１２３】
［処理例（ロ）］
図２０はＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
この例も、ＯＰＣ処理が行われる度に、ＯＰＣ使用エリアがランダムに選択されるものであるが、あらかじめドライブテストゾーン内でエリアを分割設定している方式となる。
【０１２４】
例えば図２３（ａ）のように、インナードライブテストゾーンを複数のエリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）に分割設定しておく。各エリアは、例えば、１回のＯＰＣ動作で試し書きが行われるセクター数以上のエリア長とする。
またディスク９０上には、例えば図２３（ｂ）に示すようなテストゾーン管理テーブルを記録し、システムコントローラ１０はこれを読み出してテーブル内容を確認できるようにする。
【０１２５】
テストゾーン管理テーブルは、各エリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）についての情報を記録するものとし、例えば図示するように過去の試し書き回数（ＯＰＣ動作に利用された総回数）を記録するようにする。さらに、図２３（ａ）のようにドライブテストゾーンの一部に傷や汚れなどのディフェクト部分ＤＦＡが存在した場合は、図２３（ｂ）のようにそのディフェクトが存在するエリアの情報を、「Ｄｅｆｅｃｔ」として欠陥部分を含む領域である（つまりＯＰＣ使用エリアとして不適切なエリアである）ことが判別できるようにしても良い。
【０１２６】
このようなテストゾーン管理テーブルは、一例としては、図２２に示すディスクコントロールＥＣＣブロックとしてのエリアを利用してディスク９０に書き込む。
このディスクコントロールＥＣＣブロックは、図２に示したインナー及びアウターのディスクアイデンティフィケーションゾーン内に記録されるブロックであり、図２２に示すように１６セクター（セクター０〜セクター１５）のブロックとして記録内容が定義されている。
詳しい記録内容については本発明と直接関係しないため説明を省略するが、図２２からわかるように、ディスクコントロールＥＣＣブロックのセクター０のバイトポジションＤ40〜Ｄ2048、及びセクター１〜１５の全バイトポジションはリザーブ（予備）とされている。そこで、この領域を利用すれば、ディスク９０にテストゾーン管理テーブルを書き込むことができる。
【０１２７】
このようなテストゾーン管理テーブルをディスク９０に記録するようにし、システムコントローラ１０がそれを参照することで、図２０のようなＯＰＣ使用エリア選択処理が可能となる。
まずシステムコントローラ１０は、ステップＦ６１１として、テストゾーン管理テーブルに管理されている各エリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）の中で、或る１つのエリアをランダムに選択する。
続いてステップＦ６１２では、選択したエリアのテーブルデータを確認し、そのエリアがディフェクトを含むエリアであるか否かを確認する。
もしディフェクトを含むエリアであれば、ステップＦ６１１に戻って再度エリアをランダムに選択する。
【０１２８】
ランダムに選択したエリアがディフェクトを含むエリアでなければ、ステップＦ６１３に進んで、その選択したエリアをＯＰＣ使用エリアとして設定する。
【０１２９】
このように、ＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）では、選択処理が行われる毎に、ＯＰＣ使用エリアがドライブテストゾーンの範囲内でランダムに設定され、上述した図１７のＯＰＣ処理例（III）では、このようにして選択されたＯＰＣ使用エリアに対して、必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理を行った後、ＯＰＣ動作を実行する。
【０１３０】
このＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）により、ＯＰＣ動作において試し書きが行われるエリアが、ＯＰＣ動作毎に変更されることになるため、ＯＰＣ動作の毎に同じエリアばかりが試し書きされ、その部分が集中的に劣化が進行してしまうということを避けることができる。
さらにこの場合は、ディフェクトを含むエリアがＯＰＣ使用領域となることが回避されるため、ＯＰＣ動作の精度を向上させることができる。（なおディフェクトのＯＰＣ動作への影響、及びこれ以外のディフェクトキャンセル方式については後述する）
【０１３１】
なお、上述した図１７のＯＰＣ処理例（III）では述べなかったが、このＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）、及び次に説明するＯＰＣ使用エリア選択処理例（ハ）が採用される場合は、ＯＰＣ動作やディフェクトの発見などに応じてディスク９０上のテストゾーン管理テーブルが更新されていく必要がある。
このため例えば図１７でステップＦ５２４のＯＰＣ動作が行われた後の或る時点で、使用されたエリアに対応する試し書き回数が更新されるように、テストゾーン管理テーブルが書き換えられる。
また、ＤＯＷ特性安定化処理時や、ＯＰＣ動作時において或るエリアでディフェクトが発見される場合もあるが、その様な場合も、そのエリアがディフェクトエリアとされるように、テストゾーン管理テーブルが書き換えられることになる。なお、各エリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）がディフェクトエリアであるか否かの情報は、例えばディスク上のＤＭＡ（ディフェクトマネージメントエリア：図２参照）から得、それに応じてテストゾーン管理テーブルを作成又は更新するようにしても良い。
【０１３２】
ところで、図２０の処理例（ロ）においては、ＯＰＣ使用エリアとされるのは必ずしも１つのエリアとは限らない。１つのエリアのエリア長の設定及びＯＰＣ動作で試し書きを行うのに必要なエリア長に設定によるものとなるが、ＯＰＣ使用エリアとして、エリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）のうちの複数が必要になる場合もあり得る。その場合は、ランダムに選択した１つのエリアを起点として、物理的に連続する必要数のエリアをＯＰＣ使用エリアとしても良いし、特に物理的な連続性を考慮しない場合は、必要数のエリアをそれぞれランダムに選択して、それらをＯＰＣ使用エリアとしても良い。
【０１３３】
［処理例（ハ）］
図２１はＯＰＣ使用エリア選択処理例（ハ）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
この例も、ＯＰＣ処理が行われる度に、異なるＯＰＣ使用エリアが選択されるものであるが、その選択はランダムなものとはせずに、上記テストゾーン管理テーブルを参照して好適なエリアを選択するものである。
【０１３４】
まずシステムコントローラ１０は、ステップＦ６２１として、テストゾーン管理テーブルに管理されている各エリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）について、ディフェクトが存在すると記されているエリアを除いて、過去の試し書き回数が最小のエリアを抽出する。
ここで、ＯＰＣ使用エリアとして必要なエリアがエリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）の内の１つであるとした場合は、ステップＦ６２２で試し書き回数が最小となるエリア（抽出エリア）が複数個存在したら、ステップＦ６２３で、その中の１つをランダムに選択する。
そしてステップＦ６２４で、抽出エリア（もしくはステップＦ６２３で選択されたエリア）を、ＯＰＣ使用エリアとして設定する。
【０１３５】
このように、ＯＰＣ使用エリア選択処理例（ハ）では、選択処理が行われる毎に、過去の試し書き回数が最小回数のエリアがＯＰＣ使用エリアとして設定されるため、ＯＰＣ動作の毎に同じエリアばかりが試し書きされ、或るエリアが集中的に使用されて劣化が進行してしまうということを避けることができる。また、ランダムな選択に比べて効率よく、満遍なく各エリアが使用されるという利点もある。
もちろんこの場合も、ディフェクトを含むエリアがＯＰＣ使用領域となることが回避されるため、ＯＰＣ動作の精度を向上させることができる。
【０１３６】
なお、複数のエリアをＯＰＣ使用エリアとする場合は、ステップＦ６２１で試し書き回数が少ない方から必要数のエリアが抽出されることになる。そして、過去の試し書き回数が同数となるエリアの存在などにより、その抽出の結果として必要数より多いエリアが抽出された場合は、ステップＦ６２３の処理が行われるようにすればよい。
【０１３７】
以上、ＯＰＣ使用エリア判別処理例（イ）（ロ）（ハ）について述べたが、これらのＯＰＣ使用エリア判別処理は、必ずしも上述した図１７のＯＰＣ処理例（III）が採用される場合のみに実行されるものではない。
例えば図１７の変形例として、ステップＦ５２２、Ｆ５２３が存在しない処理例も考えられるが、そのような場合にも、ＯＰＣ使用エリア判別処理例（イ）（ロ）（ハ）のいずれかが実行されることもあり得る。
【０１３８】
また上述したテストゾーン管理テーブルは、ＯＰＣ使用エリアの判別だけでなく、図１７のステップＦ５２２や、図１２〜図１４にあげた、ＤＯＷ特性安定化処理の必要性の判断に用いることもできる。
即ち試し書き回数が記述されていることから、各エリア（或いはテストゾーン全体として）のＤＯＷ安定化状況を判断できるためである。
【０１３９】
４−５  ディフェクトキャンセル方式
具体的なＯＰＣ動作例については後述することになるが、ＯＰＣ動作の実行時には、試し書きを行った部分の再生情報からジッター／エラーレート、及びアシンメトリ値の検出を行って、最適なレーザパワーを判断することになる。
このとき、試し書きを行った部分にディフェクトが存在すると、ジッター／エラーレート、及びアシンメトリ値が正確に検出できないものとなり、ひいては最適なレーザーパワーの判別に悪影響を与えてしまう。
【０１４０】
図２４はＲＦ信号へのディフェクトの影響を示している。例えばディフェクトがない部分の再生ＲＦ信号が図２４（ａ）のように観測されることに比べて、ディフェクトが存在する部分では、図２４（ｂ）のようにＲＦ信号波形のエンベロープが大きく変動する。これによってジッターやアシンメトリ値が不正確に検出されてしまう。
このため、ＯＰＣ動作時には、ディフェクト部分において試し書きを行うことを避けるか、もしくはディフェクト部分で試し書きを行ったとしても、ジッターやアシンメトリ値の算出の際に、そのディフェクト部分からの再生情報を排除する必要がある。なお本例ではこれらの動作をまとめてディフェクトキャンセルと呼ぶこととする。
【０１４１】
ディフェクトキャンセル方式の１つとして、ディフェクト部分において試し書きを行うことを避けるようにする方式は、上記図２０、図２１のＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）（ハ）で述べた方式である。
つまり予めディフェクト部分を避けてＯＰＣ動作を行うようにすることで、ディフェクトキャンセルが達成される。
【０１４２】
一方、ＯＰＣ動作中でのディフェクトキャンセル方式としては、試し書き下部分を再生する際に、ディフェクト部分の再生情報を、ジッタやアシンメトリの算出のためのサンプルから排除する方式が考えられる。以下、このような方式としての各種の例を説明していく。
【０１４３】
図２５に、図３に示した検出部２３の構成例（構成例（α））を示す。
この構成例（α）では、検出部２３は、ディフェクト検出回路３１、スイッチ３２、ジッタ検出回路（又はエラーレート検出回路：以下同様）３３、アシンメトリ検出回路３４が設けられている。
そしてＲＦアンプ９から出力されるＲＦ信号はディフェクト検出回路３１及びスイッチ３２の各端子に供給される。またスイッチ３２の各端子はそれぞれジッタ検出回路３３及びアシンメトリ検出回路３４に接続される。
【０１４４】
ジッタ検出回路３３は、スイッチ３２を介して供給されたＲＦ信号について、所要期間のサンプルを取り込み、ＲＦ信号のジッター（又はエラーレート）を計測してその結果をジッター（又はエラーレート）の検出値ＤＪとしてシステムコントローラ１０に供給する。
またアシンメトリ検出回路３４は、スイッチ３２を介して供給されたＲＦ信号について、所要期間のサンプルを取り込み、ＲＦ信号のアシンメトリ値を計測してその結果を検出値ＤＡＳとしてシステムコントローラ１０に供給する。
【０１４５】
システムコントローラ１０は、後にＯＰＣ動作の説明で述べるように、このようにして供給される検出値ＤＪ，ＤＡＳから、各レーザパワーにおける信号品質をチェックし、最適なレーザパワーを判別することになる。
【０１４６】
ここで、ディフェクト検出回路３１は、ＲＦ信号上でのディフェクトの影響があらわれている期間を検出し、ディフェクト検出信号ＤＦをスイッチ３２に対して出力する。
即ちディフェクト検出回路３１には、図２４（ｂ）のようにＲＦ信号振幅に対する所定のスレッショルド値Ｒｅｆが設定されており、入力されてくるＲＦ信号とスレッショルド値Ｒｅｆを比較することで、図２４（ｃ）のようなディフェクト検出信号ＤＦを発生させる。
そしてスイッチ３２は、ディフェクト検出信号ＤＦがオンとなった期間は、各接点を開き、その期間はＲＦ信号がジッタ検出回路３３及びアシンメトリ検出回路３４に供給されないようにする。
【０１４７】
即ち検出部２３がこのように構成されることで、ジッタ検出回路３３及びアシンメトリ検出回路３４にはディフェクトの影響があらわれた期間のＲＦ信号は供給されず、従って検出値ＤＪ、ＤＡＳには、ディフェクトの影響はあらわれないことになる。これによってシステムコントローラ１０は検出値ＤＪ、ＤＡＳにより正しく信号品質をチェックできることになり、ハードウエア的なディフェクトキャンセルが実現される。
【０１４８】
同じく、ディフェクトキャンセルを実現するための検出部２３の構成例（構成例（β））を図２６に示す。
この構成例（β）では、検出部２３は、ディフェクト検出回路３１、ジッタ検出回路（又はエラーレート検出回路：以下同様）３３、アシンメトリ検出回路３４が設けられている。
そしてＲＦアンプ９から出力されるＲＦ信号はディフェクト検出回路３１、ジッタ検出回路３３、アシンメトリ検出回路３４のそれぞれに供給される。ディフェクト検出回路３１、ジッタ検出回路３３、アシンメトリ検出回路３４の動作は上記構成例αの場合と同様であり、所要の信号処理により、それぞれディフェクト検出信号ＤＦ、検出値ＤＪ、検出値ＤＡＳを出力する。そしてこの例の場合は、ディフェクト検出信号ＤＦ、検出値ＤＪ、検出値ＤＡＳが、システムコントローラ１０に供給される。
【０１４９】
この構成例（β）の場合は、検出部２３においてハードウエア的にディフェクトキャンセルを実現するのではなく、システムコントローラ１０側でソフトウエア的にディフェクトキャンセルを行うものである。
このため、検出部２３からディフェクト検出信号ＤＦ、検出値ＤＪ、検出値ＤＡＳが供給され、これを取り込む際の処理として、システムコントローラ１０は図２７のような処理（処理（β−１））を行う。
【０１５０】
つまり、検出値ＤＪ又はＤＡＳが供給され、１つのサンプルとして取り込まれるタイミングとなる毎に、処理をステップＦ７０１からＦ７０２に進め、そのときディフェクト検出信号ＤＦがオンとなっているか否かを確認する。
そしてディフェクト検出信号ＤＦがオフであれば、ステップＦ７０３に進んで、供給された検出値ＤＪ又はＤＡＳを信号品質のチェックのための計算用サンプルとして記憶する。ところがディフェクト検出信号ＤＦがオンであった場合は、ステップＦ７０３には進まず、つまりその時点で供給された検出値ＤＪ又はＤＡＳは計算用サンプルとはしないようにする。
【０１５１】
このような処理（β−１）により、システムコントローラ１０は、供給される検出値ＤＪ，ＤＡＳのうちで、ディフェクトの影響があらわれた期間の検出値ＤＪ，ＤＡＳを計算対象から排除することになり、ソフトウエア的なディフェクトキャンセルが実現される。
なお、実際には、ジッタ検出回路３３やアシンメトリ検出回路３４の処理方式などの影響で、ディフェクト検出信号ＤＦがオンになるタイミングと、ディフェクトの影響があらわれた検出値ＤＪ又はＤＡＳが供給されるタイミングがずれることがあり得るため、システムコントローラ１０はステップＦ７０２の判断で、そのタイミングのずれを考慮する必要がある。
【０１５２】
ところで、図２６の構成例βのように、ディフェクト検出信号ＤＦがシステムコントローラ１０に供給されるようにした場合、システムコントローラ１０が予めドライブテストゾーン内のディフェクト部分を検査し、それを記憶しておくことができる。
つまり、例えばＯＰＣ動作に先立って、ある時点でドライブテストゾーンの再生を行ないながらディフェクト検出信号ＤＦを監視し、ディフェクトが存在したら、そのアドレスを内部ＲＡＭなどに記憶しておくことができる。
【０１５３】
その様な動作方式を採用する場合は、図２８の処理例（β−２）によっても、ソフトウエア的なディフェクトキャンセルが可能となる。
つまり、検出値ＤＪ又はＤＡＳが供給され、１つのサンプルとして取り込まれるタイミングとなる毎に、処理をステップＦ７１１からＦ７１２に進め、そのときの検出値ＤＪ又はＤＡＳの計算対象となったＲＦ信号の再生エリアのアドレスを確認する。そして、その再生エリアのアドレスが、記憶しておいたディフェクト部分のアドレスであるか否かを判別する。
【０１５４】
そしてディフェクト部分のアドレスでなければ、ステップＦ７１３に進んで、供給された検出値ＤＪ又はＤＡＳを信号品質のチェックのための計算用サンプルとして記憶する。一方、ディフェクト部分のアドレスであった場合は、ステップＦ７１３には進まず、つまりその時点で供給された検出値ＤＪ又はＤＡＳは計算用サンプルとはしないようにする。
【０１５５】
このような処理例（β−２）により、システムコントローラ１０は、供給される検出値ＤＪ，ＤＡＳのうちで、ディフェクトの影響があらわれた期間の検出値ＤＪ，ＤＡＳを計算対象から排除することになり、ソフトウエア的なディフェクトキャンセルが実現される。
【０１５６】
ところで、この処理例（β−２）によるディフェクトキャンセルのためには、予めディフェクト部分のアドレスが確認されていることが必要になる。このため１つの方法として、上記のようにあらかじめディフェクト検出を行うわけであるが、このディフェクト検出処理は、例えばＤＯＷ特性安定化処理の際に実行してしまうことで、一連の動作を効率化できる。
なお、例えば１回オーバーライトを行ってからその部分を再生してディフェクト検出を行う場合は、ＤＣデータによる記録又は消去（つまり継続マークの記録、又は継続スペースの記録）を行うとディフェクトの影響がＲＦ信号にはっきりあらわれ、ディフェクト検出精度が向上するため好適である。
【０１５７】
但し、このように予めディフェクト検出を行うことは不要とすることもできる。
例えば図２に示したＤＭＡゾーンには、ディスク上のディフェクトセクターの情報が記述されているため、このＤＭＡゾーンのデータを確認すれば、システムコントローラ１０はディフェクト部分のアドレスを知ることができ、図２８の処理が可能となる。
また上述したようにテストゾーン管理テーブルが存在する場合は、そのテーブル情報からディフェクトエリアが確認でき、これによっても図２８の処理が可能となる。
【０１５８】
なお図２５、図２６の構成例（α）（β）において、ジッタ検出回路３３に対してシステムコントローラ１０から供給される制御信号Ｊ／Ｅを示した。
上述したように、ＯＰＣ動作時には、ジッターとアシンメトリ値を監視するか、もしくはエラーレートとアシンメトリ値を監視するかを選択できるようにすることもできるが、その場合は、ジッタ検出回路３３に対してシステムコントローラ１０が制御信号Ｊ／Ｅにより、検出値ＤＪをジッターの検出値とするか、エラーレートの検出値とするかを指示することになる。
制御信号Ｊ／Ｅは、動作モード状態やホストコンピュータの指示、或いはユーザーの指示などに応じてシステムコントローラ１０が発生させる。
【０１５９】
４−６  ＯＰＣ動作例（１）〜（４）
続いて本例のＯＰＣ動作例としてＯＰＣ動作例（１）〜（４）をそれぞれ説明していく。
以下に述べる各種のＯＰＣ動作例はそれぞれ、図１５、図１６、図１７で説明したＯＰＣ処理例（Ｉ）（II）（III）におけるステップＦ５０１、又はＦ５１３、又はＦ５２４のＯＰＣ動作の具体的な処理として採用できる例である。
つまり、ディスク９０のドライブテストゾーンに対してレーザパワー（記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅ）を変化させながら試し書き記録を行い、それを再生してジッター／エラーレート、及びアシンメトリ値を監視して、最適な記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅを判別するための具体的処理例である。
【０１６０】
［ＯＰＣ動作例（１）］
図２９はＯＰＣ動作例（１）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
ＯＰＣ動作に際しては、システムコントローラ１０はまずステップＦ８０１で、ＯＰＣ使用エリア（ＯＰＣ使用エリアとしては前述してきたようにドライブテストゾーンの一部の領域の場合もあるし、ドライブテストゾーンの全域とする場合もある）に対して、記録パワーＰｗを或る初期設定値に固定したうえで、消去パワーＰｅを複数段階に順次切り換えながら試し書きを実行させる。
なお、このステップＦ８０１や、後述するステップＦ８０３、或いはＯＰＣ動作例（２）〜（４）で実行する試し書きの際の記録データやレーザパワー切換態様については、具体例を後述する。
【０１６１】
即ちステップＦ８０１の処理により、或る１つの記録パワーＰｗに対して、複数の消去パワーＰｅによる試し書きが実行される。例えば記録パワーＰｗ＝Ｐｗ１と固定し、消去パワーＰｅをＰｅ１，Ｐｅ２・・・と変更するとすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（Ｐｗ１、Ｐｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）（Ｐｗ１、Ｐｅ３）・・・の各状態で、それぞれ図４、図５で説明したようなレーザドライブパルスが生成され、試し書きが行われることになる。
【０１６２】
この試し書きが完了したら、ステップＦ８０２で、システムコントローラ１０は、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのジッター（又はエラーレート；以下同様）の検出値ＤＪを取り込んでいく。つまり、例えば（Ｐｗ１、Ｐｅ１）で記録した部分での検出値ＤＪ、（Ｐｗ１、Ｐｅ２）で記録した部分での検出値ＤＪ、（Ｐｗ１、Ｐｅ３）で記録した部分での検出値ＤＪ・・・・をそれぞれ確認する。
これにより、試し書きを行った各種の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、ジッターが最小となる組み合わせが判別できる。
そしてジッター最小の組み合わせにおける、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比（Ｐｅ／Ｐｗ）を算出する。つまり試し書きを行った組み合わせの中で、ジッターが最小となる組み合わせが（Ｐｗ１、Ｐｅ（ｍ））であったとすると、最適比（Ｐｅ／Ｐｗ）＝（Ｐｅ（ｍ）／Ｐｗ１）として計算される。
【０１６３】
次にステップＦ８０３では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせとして、上記最適比（Ｐｅ／Ｐｗ）が保たれる組み合わせを数種類設定し、ＯＰＣ使用エリアに対して各組み合わせのレーザパワーでの試し書きを実行させる。
そしてその試し書きが完了したら、ステップＦ８０４で、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８０３で試し書きを行った各種の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、アシンメトリ値が最も適切となる組み合わせが判別できる。なお図６の説明で述べたようにアシンメトリ値は例えば０．０４を最適とし、ここでは検出値ＤＡＳ＝０．０４となっている組み合わせ、もしくは検出値ＤＡＳが０．０４に最も近い値となる組み合わせを選ぶことになる。
【０１６４】
この時点でアシンメトリ値が最も適切となる組み合わせが判別できたら、その組み合わせはジッターが最小かつアシンメトリ値が最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとして判別できたことになる。
これによりステップＦ８０５で、その組み合わせにおける記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとして設定する。つまりその記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅの値を、オートパワーコントロール回路１９にセットする。
これにより、ＯＰＣ動作が完了される。
【０１６５】
つまりこのようなＯＰＣ動作例（１）によれば、記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させながら試し書きを行って最適比を見つけ、その後、最適比が保たれる組み合わせとして記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせを数種類設定して試し書きを行ってアシンメトリ値が最適となる組み合わせを見つけることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを判別し、設定することになる。
このため、試し書きを行う記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせの数はさほど多数にはならず、従って短時間でＯＰＣ動作が完了できるとともに、その最適パワーとして非常に高精度に記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定できることになる。
【０１６６】
［ＯＰＣ動作例（２）］
次に図３０でＯＰＣ動作例（２）としてのシステムコントローラ１０の処理を述べる。
なお、このＯＰＣ動作例（２）におけるステップＦ８１１、Ｆ８１２は、上記ＯＰＣ動作例（１）のステップＦ８０１、Ｆ８０２と同様であるため説明を省略する。即ちこの場合も、まず記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの最適な比を求めることは同様である。
【０１６７】
この例の場合は、最適比が検出されたら、次にステップＦ８１３として、消去パワーＰｅを或る値に固定したうえで、記録パワーＰｗを変化させながら試し書きを行う。例えば消去パワーＰｅ＝ＰｅＺと固定し、記録パワーＰｗをＰｗ１，Ｐｗ２・・・と変更するとすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（Ｐｗ１、ＰｅＺ）（Ｐｗ２、ＰｅＺ）（Ｐｗ３、ＰｅＺ）・・・の各状態で、それぞれ図４、図５で説明したようなレーザドライブパルスが生成され、試し書きが行われることになる。
【０１６８】
そしてその試し書きが完了したら、ステップＦ８１４で、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８１３での試し書きにおいて変化させた各種の記録パワーＰｗの中で、アシンメトリ値が最も適切となる記録パワーＰｗ、つまり最適な記録パワーＰｗが判別できる。
【０１６９】
次にステップＦ８１５で、最適な記録パワーＰｗに対して、上記ステップＦ８０２で検出した比（Ｐｅ／Ｐｗ）から、最適な消去パワーＰｅの候補となる範囲（好適範囲）を算出する。
つまり、最適な記録パワーＰｗに対して比（Ｐｅ／Ｐｗ）を乗算することで、或る消去パワーＰｅが求められるが、例えばこの算出された消去パワーを中心として或る程度狭いパワー可変範囲を、消去パワーＰｅの好適範囲とする。
【０１７０】
そしてステップＦ８１６で、記録パワーＰｗを最適値（ＰｗＳとする）に固定したうえで、消去パワーＰｅを好適範囲内で変化させながら試し書きを行う。例えば好適範囲内の消去パワーＰｅをＰｅＳ１，ＰｅＳ２・・・とすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（ＰｗＳ、ＰｅＳ１）（ＰｗＳ、ＰｅＳ２）（ＰｗＳ、ＰｅＳ３）・・・の各状態で、それぞれ図４、図５で説明したようなレーザドライブパルスが生成され、試し書きが行われることになる。
【０１７１】
そしてその試し書きが完了したら、ステップＦ８１７で、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８１６での試し書きにおいて変化させた各種の消去パワーＰｅの中で、アシンメトリ値が最も適切となる消去パワーＰｅ、つまり最適な消去パワーＰｅが判別できる。
【０１７２】
この時点でジッターが最小かつアシンメトリ値が最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅが判別できたことになり、ステップＦ８１８で、その記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてオートパワーコントロール回路１９にセットする。
これにより、ＯＰＣ動作が完了される。
【０１７３】
つまりこのＯＰＣ動作例（２）によれば、記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させながら試し書きを行って最適比を見つけ、その後、最適な記録パワーを見つける。さらに最適な記録パワーと比から消去パワーの好適範囲を算出して、その好適範囲内で消去パワーを変化させながら試し書きを行って、最適な消去パワーを見つけることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを判別し、設定することになる。
このため、試し書きを行う記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせの数はさほど多数にはならず、従って短時間でＯＰＣ動作が完了できるとともに、その最適パワーとして非常に高精度に記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定できることになる。
なお、最適比検出後に最適記録パワーの検出のための試し書きと、最適消去パワーのための試し書きを別々に行うため、試し書き回数が増えることが考えられるが、最適消去パワーのための試し書きはレーザパワー可変範囲が好適範囲内に絞られるため、さほど大幅に試し書き回数が増えるものではない。
【０１７４】
［ＯＰＣ動作例（３）］
図３１はＯＰＣ動作例（３）としてのシステムコントローラ１０の処理を示している。
この場合、ＯＰＣ動作に際しては、システムコントローラ１０はまずステップＦ８２１で、ＯＰＣ使用エリアに対して、記録パワーＰｗを或る初期設定値Ｐｗ１に固定したうえで、消去パワーＰｅを複数段階に順次切り換えながら試し書きを実行させる。例えば記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（Ｐｗ１、Ｐｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）（Ｐｗ１、Ｐｅ３）・・・の各状態で、それぞれ試し書きが行われる。
【０１７５】
そしてステップＦ８２２で、その試し書き部分の再生を指示し、その再生時に検出部２３からのジッターの検出値ＤＪを取り込んでいく。これにより、消去パワーを変化させた各種の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、ジッターが最小となる組み合わせが判別できる。ジッターが最小となった時の消去パワーＰｅ＝ＰｅＳ１とすると、（Ｐｗ１、ＰｅＳ１）という組み合わせを検出することになる。
【０１７６】
次にステップＦ８２３で、今度は記録パワーＰｗを異なる或る設定値Ｐｗ２に固定したうえで、消去パワーＰｅを複数段階に順次切り換えながら試し書きを実行させる。例えば記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（Ｐｗ２、Ｐｅ１）（Ｐｗ２、Ｐｅ２）（Ｐｗ２、Ｐｅ３）・・・の各状態で、それぞれ試し書きが行われる。
【０１７７】
そしてステップＦ８２４で、その試し書き部分の再生を指示し、その再生時に検出部２３からのジッターの検出値ＤＪを取り込んでいく。これにより、消去パワーを変化させた各種の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、ジッターが最小となる組み合わせが判別できる。ジッターが最小となった時の消去パワーＰｅ＝ＰｅＳ２とすると、（Ｐｗ２、ＰｅＳ２）という組み合わせを検出することになる。
【０１７８】
以上の処理で、ジッター最小となる２組のレーザパワー（Ｐｗ１、ＰｅＳ１）（Ｐｗ２、ＰｅＳ２）が見つけられたことになるが、ステップＦ８２５では、この２組の値からジッター最小となる組み合わせの近似式Ｐｗ＝ａ・Ｐｅ＋ｂを算出する。
つまり、（Ｐｗ１）＝ａ（ＰｅＳ１）＋ｂ、及び（Ｐｗ２）＝ａ（ＰｅＳ２）＋ｂの式から「ａ」「ｂ」の値を求め、近似式Ｐｗ＝ａ・Ｐｅ＋ｂを得る。
【０１７９】
この近似式は、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせとして、ジッターが最小となる各種の組み合わせを示すものとなる。
そこで次にステップＦ８２６では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせとして、上記近似式が保たれる組み合わせを数種類設定し、ＯＰＣ使用エリアに対して各組み合わせのレーザパワーでの試し書きを実行させる。
そしてその試し書きが完了したら、ステップＦ８２７で、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８２６で試し書きを行った各種の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、アシンメトリ値が最も適切となる組み合わせが判別できる。
【０１８０】
この時点でアシンメトリ値が最も適切となる組み合わせが判別できたら、その組み合わせはジッターが最小かつアシンメトリ値が最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとして判別できたことになる。
これによりステップＦ８２８で、その組み合わせにおける記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてオートパワーコントロール回路１９にセットする。
これにより、ＯＰＣ動作が完了される。
【０１８１】
このＯＰＣ動作例（３）によれば、記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させながら試し書きを行なう動作を複数回行うことで、最適組み合わせの近似式を求め、その後、近似式に基づいて記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせを数種類設定して試し書きを行ってアシンメトリ値が最適となる組み合わせを見つけることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを判別し、設定することになる。
このため、試し書きを行う記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせの数はさほど多数にはならず、従って短時間でＯＰＣ動作が完了できるとともに、その最適パワーとして非常に高精度に記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定できることになる。特に上述したＯＰＣ動作例（１）（２）のように或る１つの記録パワーと消去パワーの最適比に基づくものではなく、複数の記録パワーと消去パワーの最適組み合わせから近似していくため、レーザパワー設定精度はより向上されることになる。
【０１８２】
なお、図３１の処理では、ステップＦ８２１，Ｆ８２２、及びステップＦ８２３，Ｆ８２４として、ジッター最適な２つの組み合わせを求め、そこから近似式を求めるようにしたが、例えばジッター最適な３つの組み合わせを求め、そこから近似式を求めるなど、最適組み合わせの検出をより多数回実行するようにすれば、それだけ精度の高い近似式が求められる。これによってよりレーザーパワー設定精度を向上させることも可能となる。
【０１８３】
［ＯＰＣ動作例（４）］
図３２によりＯＰＣ動作例（４）としてのシステムコントローラ１０の処理を説明する。
なお、このＯＰＣ動作例（４）におけるステップＦ８４１〜Ｆ８４５は、上記ＯＰＣ動作例（３）のステップＦ８２１〜Ｆ８２５と同様であるため説明を省略する。即ちこの場合も、まず記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの最適な組み合わせを２回（もしくは３回以上）求め、そこから最適組み合わせの近似式を求めるものである。
【０１８４】
この例の場合は、近似式が算出されたら、次にステップＦ８４６として、消去パワーＰｅを或る値に固定したうえで、記録パワーＰｗを変化させながら試し書きを行う。例えば消去パワーＰｅ＝ＰｅＺと固定し、記録パワーＰｗをＰｗ１，Ｐｗ２・・・と変更するとすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（Ｐｗ１、ＰｅＺ）（Ｐｗ２、ＰｅＺ）（Ｐｗ３、ＰｅＺ）・・・の各状態で、それぞれ試し書きが行われることになる。
【０１８５】
そしてその試し書きが完了したら、ステップＦ８４７で、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８４６での試し書きにおいて変化させた各種の記録パワーＰｗの中で、アシンメトリ値が最も適切となる記録パワーＰｗ、つまり最適な記録パワーＰｗが判別できる。
【０１８６】
次にステップＦ８４８で、最適な記録パワーＰｗに対して、上記ステップＦ８４５で算出した近似式から、最適な消去パワーＰｅの候補となる範囲（好適範囲）を算出する。
つまり、検出された最適な記録パワーＰｗの値を近似式Ｐｗ＝ａ・Ｐｅ＋ｂに代入することで、或る消去パワーＰｅが求められるが、例えばこの算出された消去パワーを中心として或る程度狭いパワー可変範囲を、消去パワーＰｅの好適範囲とする。
【０１８７】
そしてステップＦ８４９で、記録パワーＰｗを最適値（ＰｗＳとする）に固定したうえで、消去パワーＰｅを好適範囲内で変化させながら試し書きを行う。例えば好適範囲内の消去パワーＰｅをＰｅＳ１，ＰｅＳ２・・・とすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとして、（ＰｗＳ、ＰｅＳ１）（ＰｗＳ、ＰｅＳ２）（ＰｗＳ、ＰｅＳ３）・・・の各状態で、それぞれ試し書きが行われる。
【０１８８】
そしてその試し書きが完了したら、ステップＦ８５０で、その試し書き部分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８４９での試し書きにおいて変化させた各種の消去パワーＰｅの中で、アシンメトリ値が最も適切となる消去パワーＰｅ、つまり最適な消去パワーＰｅが判別できる。
【０１８９】
この時点でジッターが最小かつアシンメトリ値が最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅが判別できたことになり、ステップＦ８５１で、その記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてオートパワーコントロール回路１９にセットする。
これにより、ＯＰＣ動作が完了される。
【０１９０】
つまりこのＯＰＣ動作例（４）によれば、記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させながら試し書きを行なう動作を複数回行うことで、最適組み合わせの近似式を求める。その後最適な記録パワーを見つけ、さらに最適な記録パワーと近似式から消去パワーの好適範囲を算出して、その好適範囲内で消去パワーを変化させながら試し書きを行って、最適な消去パワーを見つけることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを判別し、設定することになる。
このため、この動作例の場合も、試し書きを行う記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせの数はさほど多数にはならず、従って短時間でＯＰＣ動作が完了できるとともに、その最適パワーとして非常に高精度に記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定できることになる。また上述したＯＰＣ動作例（１）（２）のように或る１つの記録パワーと消去パワーの最適比に基づくものではなく、複数の記録パワーと消去パワーの最適組み合わせから近似していくため、レーザパワー設定精度はより向上されることになる。
なお、近似式算出後に最適記録パワーの検出のための試し書きと、最適消去パワーのための試し書きを別々に行うため、試し書き回数が増えることが考えられるが、最適消去パワーのための試し書きはレーザパワー可変範囲が好適範囲内に絞られるため、さほど大幅に試し書き回数が増えるものではない。
【０１９１】
ところで以上の各例のようなＯＰＣ動作は、例えばインナードライブテストゾーンを用いてディスク内周側で行うことが考えられるが、アウタードライブテストゾーンを用いてディスク外周側で行うようにしてもよい。
またその両方で実行することも考えられる。特にインナー及びアウターのドライブテストゾーンの両方で実行すれば、ディスク内外周でのレーザパワーの補正も可能となり、レーザパワーをより高精度に設定できる。
【０１９２】
４−７  ＯＰＣ動作時の記録パターン
以上ＯＰＣ動作の具体的な手順を説明してきたが、これらのＯＰＣ動作において実行される試し書きの際の記録パターンについて説明していく。
なお本例として適切な記録パターンの例は非常に多様に考えられるが、ここでは上記各ＯＰＣ動作例（１）〜（４）に沿って、それぞれ好適とされる記録パターン例を述べていくこととする。
【０１９３】
また本例では、記録パターンとして、ジッター（又はエラーレート）の測定を目的とする試し書きは、ＥＦＭランダムデータを用い、一方、アシンメトリの測定を目的とする試し書きは、単一データパターンを用いることとする。この単一データパターンは、最短マーク長（最短スペース長）である３Ｔパターンと、最長マーク長（最長スペース長）である１４Ｔパターンとする。
【０１９４】
［ＯＰＣ動作例（１）における記録パターン］
上記図２９のＯＰＣ動作例（１）では、まずステップＦ８０１で試し書きが行われることになる。
この場合の記録パターンを図３３に示す。
【０１９５】
ステップＦ８０１では、記録パワーＰｗがＰｗ１に固定され、消去パワーＰｅが変化されることになる。
上述したようにこの試し書きは、最適比を求めるためであり、最適比の精度をあげるためには消去パワーＰｅの変化ステップ数は多いほど良い。但し多ければ時間がかかる。
これらを勘案して、例えば消去パワーＰｅはＰｅ１〜Ｐｅ８まで８段階に切り換えるようにする。
又、最適比は、記録再生装置個体毎やディスク別、動作時の温度、経時変化などにより変動するものの、最適比を含む大まかな範囲としては予めわかる。例えば実験によれば、比（Ｐｅ／Ｐｗ）が、０．２５〜０．４５の範囲内に、ジッター最小となる比の値が存在することがわかっている。
そこで、例えば８段階の消去パワーＰｅ１〜Ｐｅ８は、それぞれ記録パワーＰｗ１に対して、比（Ｐｅ／Ｐｗ）が０．２５〜０．４５となる値であって、かつマーク形成パワーよりも小さい値に絞るものとする。８段階の消去パワーＰｅ１〜Ｐｅ８の値をこのような範囲内に制限することで、８段階（もしくはより少ない段階数）の消去パワーを試すのみで、比較的精度良く最適比を求めることができる。
【０１９６】
そして実際の試し書きは、記録パワーと消去パワーの１つの組み合わせにつき３トラック（もしくはそれ以上）実行する。記録データはランダムデータとする。これにより、記録パターンは図３３のようになる。
図では、各トラックＴＫに対して実線で示すようにランダムデータが記録されていることが示されている。
そしてまずレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ１）の状態で３トラック、次にレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ２）の状態で３トラック、さらにレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ３）の状態で３トラック・・・・・レーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ８）の状態で３トラック、というように記録が行われる。
【０１９７】
図２９のステップＦ８０２では、このように試し書きを行ったエリアに対して再生を行い、各レーザパワーの組み合わせでのジッター又はエラーレートを検出するわけであるが、その再生動作は、図３３にＴＫｐとして示したトラックに対して行う。つまり、１つのレーザパワーの組み合わせで実行した３トラックのうちの中央のトラック（少なくとも両隣のトラックが同条件となっているトラック）とする。
なお従って、もし１つのレーザパワーの組み合わせで４トラック以上の記録を実行する場合は、両隅のトラックを除いた中央の複数のトラックの全部又は一部が再生されるトラックＴＫｐとなる。
【０１９８】
そして検出部２３では、レーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ１）の３トラックのうちの中央のトラックの再生時に、できるだけジッター測定ポイントを多くとって実体測定を行い、それを平均化し、それをジッターの検出値ＤＪとする。この動作が、８段階の各組み合わせにおいて行われる。
【０１９９】
図２９のＯＰＣ動作例（１）では、この後、ステップＦ８０３で、比（Ｐｅ／Ｐｗ）を保った組み合わせでレーザパワーを変化させながら、アシンメトリ検出のための試し書きを行うことになる。
このときは、図３４に示すような記録を行う。
まず、記録パワーＰｗを、Ｐｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３・・・と変化させるとすると、各記録パワー（Ｐｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３・・・）に対して、求められた最適比で算出される消去パワーＰｅを組み合わせる。例えば記録パワーＰｗ１に対して算出された消去パワーをＰｅ１１、記録パワーＰｗ２に対して算出された消去パワーをＰｅ１２・・・とする。
【０２００】
すると、まずレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ１１）の組み合わせで、図示するように４トラックの記録が行われる。
即ち一点鎖線で示す１４Ｔパターンのトラックと、破線で示す３Ｔパターンのトラックが、点線で示す無データパターンのトラックを挟んで記録されるようにする。無データパターンのトラックとは、記録データがオールゼロデータとされて記録が行われることで、そのトラック全部がスペースとされた（つまりマークが記録されない）トラックである。
【０２０１】
この、無記録トラック、１４Ｔ記録トラック、無記録トラック、３Ｔ記録トラックという４トラックが、最適比を保った各種レーザパワーの組み合わせにおいて、図３４に示すように行われていく。
なお、１つの組み合わせにおける４トラックの種別の順序（無記録トラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記録トラック）は、これに限定されるものではなく、あくまで試し書きをする領域において、１４Ｔ記録トラックと３Ｔ記録トラックが、それぞれの両隣のトラックが無記録トラックとされる順序であればよい。従って４トラックの種別の順序は、（無記録トラック→３Ｔ記録トラック→無記録トラック→１４Ｔ記録トラック）とされても良いし、（３Ｔ記記録トラック→無記録トラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック）とされても良い。さらに（１４Ｔ記記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記録トラック→無記録トラック）とされてもよい。
【０２０２】
この図３４のようなパターンで試し書きが行われたら、図２９のステップＦ８０４で、試し書きを行ったエリアに対して再生を行い、各レーザパワーの組み合わせでのアシンメトリ値を検出するわけであるが、その再生動作は３Ｔ記録トラック及び１４Ｔ記録トラックに対して行う。そして検出部２３では、各レーザパワーの組み合わせについて、１４ＴトラックのＲＦ信号振幅と、３ＴトラックのＲＦ信号振幅とからアシンメトリ値を算出し、それらを各組み合わせについてのアシンメトリの検出値ＤＡＳとする。
なお、このようなアシンメトリ検出のための試し書きを行うレーザパワーの組み合わせは、例えば多くても１０通り程度で十分である。又、或る程度最適記録パワーの範囲を予め絞ることができるため、それによって組み合わせ数を少なくし、試し書き時間及び再生時間を短縮することも可能である。
【０２０３】
［ＯＰＣ動作例（２）における記録パターン］
次に上記図３０のＯＰＣ動作例（２）における試し書き記録パターンを説明する。
図３０の場合、まずステップＦ８１１で試し書きが行われるが、これは図２９のステップＦ８０１と同様の動作であるため、記録パターンは上記図３３で説明した通りとなる。
【０２０４】
図３０の場合では、次にステップＦ８１３で、消去パワーを固定したうえで、記録パワーを変化させる試し書きが行われる。
このときの記録パターンは図３５（ａ）のようになる。
この場合はアシンメトリ計測が目的であるため、上記図３４で説明したように、１つの組み合わせにつき４トラック（例えば、無記録トラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記録トラック）が記録される。
【０２０５】
また実際の組み合わせとしては、消去パワーＰｅが或る設定値ＰｅＺに固定され、記録パワーＰｗを、Ｐｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３・・・と変化させるとすると、図示するように、（Ｐｗ１、ＰｅＺ）（Ｐｗ２、ＰｅＺ）（Ｐｗ３、ＰｅＺ）・・・・という組み合わせで、それぞれ４トラックづつの記録が行われることになる。
【０２０６】
この図３５（ａ）のようなパターンで試し書きが行われたら、図３０のステップＦ８１４で、試し書きを行ったエリアに対して再生を行い、各レーザパワーの組み合わせでのアシンメトリ値を検出する。その再生動作は３Ｔ記録トラック及び１４Ｔ記録トラックに対して行う。そして検出部２３では、各レーザパワーの組み合わせについて、１４ＴトラックのＲＦ信号振幅と、３ＴトラックのＲＦ信号振幅とからアシンメトリ値を算出し、それらを各組み合わせについてのアシンメトリの検出値ＤＡＳとする。
この場合、各組み合わせのアシンメトリの検出値ＤＡＳから最適な記録パワー（ＰｗＳ）が判別される。
【０２０７】
次にステップＦ８１６では、記録パワーを最適記録パワーＰｗＳに固定したうえで、消去パワーを変化させる試し書きが行われる。
このときの記録パターンは図３５（ｂ）のようになる。
この場合もアシンメトリ計測が目的であるため、上記図３５（ａ）と同様に、１つの組み合わせにつき４トラック（例えば、無記録トラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記録トラック）が記録される。
【０２０８】
また実際の組み合わせとしては、上述したように消去パワーＰｅが好適範囲内の値としてＰｅＳ１、ＰｅＳ２・・・と切換えられるため、図示するように、（ＰｗＳ、ＰｅＳ１）（ＰｗＳ、ＰｅＳ２）（ＰｗＳ、ＰｅＳ３）・・・・という組み合わせで、それぞれ４トラックづつの記録が行われることになる。
この図３５（ｂ）のようなパターンで試し書きが行われたら、図３０のステップＦ８１７で、試し書きを行ったエリアに対して再生を行い、各レーザパワーの組み合わせでのアシンメトリ値を検出する。その再生動作は３Ｔ記録トラック及び１４Ｔ記録トラックに対して行う。そして検出部２３では、各レーザパワーの組み合わせについて、１４ＴトラックのＲＦ信号振幅と、３ＴトラックのＲＦ信号振幅とからアシンメトリ値を算出し、それらを各組み合わせについてのアシンメトリの検出値ＤＡＳとする。
この場合、各組み合わせのアシンメトリの検出値ＤＡＳから最適な消去パワーが判別されることになる。
【０２０９】
［ＯＰＣ動作例（３）における記録パターン］
上記図３１のＯＰＣ動作例（３）では、近似式を求めるためにステップＦ８２１、Ｆ８２３で、それぞれ記録パワーＰｗを固定し、消去パワーＰｅを変化させる試し書きが行われることになる。
従って基本的には、ステップＦ８２１、Ｆ８２３のそれぞれで上記図３３に示した記録パターンで記録が行われればよい。
【０２１０】
また、ステップＦ８２５では、近似式から求められる各種組み合わせにおいて、アシンメトリ計測を目的とする試し書きが行われる。この場合の記録パターンを図３６に示すが、この場合も、上記図３４、図３５（ａ）（ｂ）と同様に、１つの組み合わせにつき４トラック（例えば、無記録トラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記録トラック）が記録されればよい。
【０２１１】
ただし実際の組み合わせとしては、上述したように近似式から求められる組み合わせが設定されるため、例えば記録パワーＰｗがＰｗＡ、ＰｗＢ・・・と切換えられていくとすると、消去パワーはそれぞれの記録パワーについて近似式から求められる値であるＰｅＡ、ＰｅＢ・・・とされる。
従って図３６に示すように（ＰｗＡ、ＰｅＡ）（ＰｗＢ、ＰｅＢ）（ＰｗＣ、ＰｅＣ）・・・・という組み合わせで、それぞれ４トラックづつの記録が行われることになる。
その後、この図３６の記録部分についての再生が行われて、各組み合わせのアシンメトリの検出値ＤＡＳから最適な組み合わせ（記録パワー及び消去パワー）が判別されることになる。
【０２１２】
ところで、このＯＰＣ動作例（３）の場合は、近似式を求めるため、ステップＦ８２１、Ｆ８２３での２回の試し書き（もしくは３回以上の場合も考えられる）が行われるが、例えば図３７のような記録パターンとすることで、ステップＦ８２１〜Ｆ８２４の処理を効率化できる。
つまり、例えばそれぞれ或る記録パワーにつき消去パワーを８段階に変化させるとし、かつ１つの組合わせに３トラック用いるとすると、最初の２４トラックは（Ｐｗ１、Ｐｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ１、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行う。
そしてさらに続けて、２４トラックに（Ｐｗ２、Ｐｅ１）（Ｐｗ２、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ２、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行う。
【０２１３】
つまりこの４８トラックの試し書きで、ステップＦ８２１及びＦ８２３で必要な試し書きを一度に実行するものである。
その後、この４８トラック（１６個の組み合わせ）につき、各組み合わせでの中央トラックのみを再生していくことで、ステップＦ８２２、Ｆ８２４の検出を一度に行うことができる。
従って、試し書き記録及び試し書き部分の再生動作が非常に効率化され、ＯＰＣ処理時間の短縮に大きく寄与できることになる。
【０２１４】
さらには、例えば近似式を求めるための試し書き及び再生を３回実行するようにした場合は、図３８に示すように、最初の２４トラックは（Ｐｗ１、Ｐｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ１、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行ない、続けて２４トラックに（Ｐｗ２、Ｐｅ１）（Ｐｗ２、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ２、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行ない、さらに続けて２４トラックに（Ｐｗ３、Ｐｅ１）（Ｐｗ３、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ３、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行なうことで、同様に近似式算出のための処理を効率化できる。特に、最適組み合わせを数多く見つけることで、近似式はより正確なものとすることができるが、このように試し書きを行うことで、近似式をより正確なものとする一方、処理時間はさほど長くならないようにすることができるものとなる。
【０２１５】
［ＯＰＣ動作例（４）における記録パターン］
上記図３２のＯＰＣ動作例（４）では、ＯＰＣ動作例（３）と同様に近似式を求めるための試し書きが行われる。
従ってこのときの記録パターンとしては、上記図３３に示した記録パターンでの試し書きが複数回実行されるようにするか、もしくは上記図３７、図３８で説明したような記録が行われればよい。
【０２１６】
また図３２の場合、ステップＦ８４６で、消去パワーを固定したうえで、記録パワーを変化させる試し書きが行われる。このときの記録パターンは上記図３５（ａ）のようにすればよい。
さらにステップＦ８４９では、記録パワーを最適記録パワーＰｗＳに固定したうえで、消去パワーを変化させる試し書きが行われる。このときの記録パターンは上記図３５（ｂ）のようにすればよい。
【０２１７】
ところで、このＯＰＣ動作例（４）における記録パターンとしては、図３９に示すような記録パターンにより、図３２のステップＦ８４１〜Ｆ８４７までの処理が非常に効率化できる。
【０２１８】
この図３２の例では、まず或る固定の記録パワーＰｗ（Ｐｗ１、Ｐｗ２・・・）に対してたとえばそれぞれ６段階の消去パワーＰｅ（Ｐｅ１、Ｐｅ２・・・Ｐｅ６）を切り換えて試し書きを行うとする。
例えば図示するＰ１部分は、記録パワーＰｗ１に対して消去パワーＰｅをＰｅ１〜Ｐｅ６まで切り換えた各組み合わせの部分である。同様にＰ２部分は、記録パワーＰｗ２に対して消去パワーＰｅをＰｅ１〜Ｐｅ６まで切り換えた各組み合わせの部分である。
【０２１９】
そして例えばＰ１部分では、最初の組み合わせ（Ｐｗ１、Ｐｅ１）については９トラックを用いて、最初の３トラックを、それぞれ無記録トラック、３Ｔトラック、無記録トラックとし、中間の３トラックをそれぞれランダムデータトラックとし、最後の３トラックを、それぞれ無記録トラック、１４Ｔトラック、無記録トラックとしている。
一方、２番目〜６番目までの組み合わせ（Ｐｗ１、Ｐｅ２）〜（Ｐｗ１、Ｐｅ６）については、それぞれ３トラックを用いてランダムデータトラックとしている。
Ｐ２部分、Ｐ３部分、及び図示していないＰ４部分以降も同様である。
【０２２０】
このように試し書きを行ない、またその再生を行うことで、図３２のステップＦ８４１〜Ｆ８４７までの処理が実行できる。
即ち、まず近似式を求めるために、或る記録パワーとそれに対する最適な消去パワーの組み合わせ（ジッター最良の組み合わせ）を、複数組求める必要があるが、Ｐ１部分、Ｐ２部分・・・のそれぞれにおいて、１つの記録パワーに対するジッターが最適な消去パワーを検出することができ、従って少なくともＰ１部分とＰ２部分のみの再生情報から（もちろんＰ３部分以降も用いても良い）、近似式を求めることができる。
【０２２１】
さらに近似式を求めた後は、消去パワーを固定して記録パワーを変化させていくことで、アシンメトリが最適値となる記録パワーを求めることになるが、例えば消去パワーＰｅ１を固定値とすれば、Ｐ１部分における（Ｐｗ１、Ｐｅ１）、Ｐ２部分における（Ｐｗ２、Ｐｅ１）、Ｐ３部分における（Ｐｗ３、Ｐｅ１）・・・のそれぞれは、消去パワーを固定して記録パワーを変化させた各組み合わせに相当する。そしてこれらの各組み合わせについては３Ｔパターンと８Ｔパターンが記録されているため、これらの再生情報から、最適な記録パワーを検出することができる。
以上のことから、この図３９に示す記録パターンにより、図３２のステップＦ８４１〜Ｆ８４７までの処理が非常に効率的に実行できることが理解される。
【０２２２】
なお、このような効率的な試し書きは、この図３９のままで、もしくは図３９を多少変形したパターンとして例えばＯＰＣ動作例（２）にも適用可能である。変形する場合とは、Ｐ１部分は図３９のままとするが、Ｐ２部分以降は、それぞれ最初の組み合わせのみとする。つまりＰ２部分は組み合わせ（Ｐｗ２、Ｐｅ１）による９トラックのみとし、Ｐ３部分は組み合わせ（Ｐｗ３、Ｐｅ１）による９トラックのみとする。
即ち、Ｐ１部分からは記録パワーと消去パワーのジッター最適な組み合わせを見つけることができるため、最適比が算出できる。
そして最適比を求めた後は、消去パワーを固定して記録パワーを変化させていくことで、アシンメトリが最適値となる記録パワーを求めることになるが、これは上記同様に、Ｐ１部分における（Ｐｗ１、Ｐｅ１）、Ｐ２部分における（Ｐｗ２、Ｐｅ１）、Ｐ３部分における（Ｐｗ３、Ｐｅ１）・・・のそれぞれから検出することができる。
【０２２３】
以上のことから、この図３９に示す記録パターン、もしくは図３９のＰ２部分以降を、それぞれ最初の組み合わせのみとするパターンにより、図３０のステップＦ８１１〜Ｆ８１４の処理が効率化できる。
【０２２４】
以上、ＯＰＣ動作例（１）〜（４）のそれぞれに合わせて記録パターンの各種の例を説明してきたが、各処理ステップで採用できる記録パターンや、処理ステップを効率化できる記録パターンは、他にも多様に考えられる。
そして、以上の例のような各記録パターンによれば、次のような効果を得ることができる。
【０２２５】
まずジッター又はアシンメトリ検出のために、記録パターンとして記録媒体上の１トラック期間単位で、単一データパターン、ランダムデータパターン、無データパターンのうちで必要なパターンを選択的に発生させ、記録させるようにしている。このように試し書き記録の際の記録データとしては、単一データパターン、ランダムデータパターンを発生可能とすることで、これを監視する目的（ジッタやアシンメトリなど）によって記録データを使い分けることができる。これにより状況に応じて最適な記録データを用い、もって最適レーザパワーの判別精度を向上させることができる。
また無データパターンを利用してデータ記録が行われないトラックを形成することで、クロストークの影響などを排除できる。特に上記のように、３Ｔトラック、１４Ｔトラックの両側が無記録トラックとすることで、クロストークの影響がでやすい単一パターンのトラックについて、クロストークを排除し、アシンメトリ計測を良好に実現できる。
【０２２６】
また、上記例においては単一データパターンを記録したトラックの再生情報から、アシンメトリ値が最適となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出していることで、アシンメトリ値の検出精度を向上させ、これによって最適レーザパワーの判別を高精度とすることができる。
特にアシンメトリ値は図６で説明したように算出されるものであるため、単一パターンによりＲＦ信号の最小振幅と最大振幅が常に得られるようにすることが、アシンメトリ値算出精度を向上させるものである。
【０２２７】
なお、上記例は３Ｔパターンと１４Ｔパターンとしたが、１４Ｔパターンに換えて８Ｔパターンや６Ｔパターンなどを用いるようにしても良い。即ち、少なくとも最大振幅がわかる単一パターン長であれば、アシンメトリ計測に好適となる。また、８Ｔパターンや６Ｔパターンなどを用いることは、１４Ｔパターンに比べて高いレーザパワーである記録パワーＰｗが長時間継続することを避けることができる。このため、ディスクの劣化への影響を考えれば１４Ｔパターンより８Ｔパターンや６Ｔパターンを用いる方が好適である。
なお、アシンメトリ計測をランダムデータの再生情報から実行することも可能であり、そのような試し書きパターンも考えられる。
【０２２８】
また上記例においては、ランダムデータパターンを記録したトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが最適となる記録パワー及び／又は消去パワーが検出している。ランダムデータは実際の記録動作に即したデータパターンとなるため、これは、ジッター又はエラーレートを実際の記録動作に即して検出できることになり、これによって最適レーザパワーの判別を高精度とすることができる。
【０２２９】
なお、ジッター又はエラーレート計測を単一パターンデータの再生情報から実行することも可能であり、そのような試し書きパターンも考えられる。
例えば３Ｔパターン（最短データパターン）は、熱伝導性の影響が最もジッターとしてあらわれるパターンであり、この点ではジッター検出に適しているといえる。但し、再生クロックを生成するＰＬＬはランダムデータの方がロックしやすいため、その点ではランダムパターンが適しているともいえる。
【０２３０】
また上記例のように、ランダムデータパターンを３トラック以上連続して記録させ、その中央のトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが最適となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出することで、これも実際の記録再生動作状況と同一の記録状態（つまり隣接トラックの影響が存在する状態）を作り出してジッター又はエラーレートを検出することができる。従ってこれによっても実際の使用状況に即した最適レーザパワーを高精度に判別できることになる。
【０２３１】
また、上記図３９で説明したように、１つのレーザパワー設定状態（組み合わせ）において、記録データの単一データパターン（３Ｔパターン及び１４Ｔパターン）と、ランダムデータパターンと、無データパターンとをトラック毎に所定順序で選択して記録動作を実行させ、当該記録動作にかかる領域からの再生情報により、そのレーザパワー状態におけるジッター又はエラーレート、及びアシンメトリ値を検出することで、或るレーザパワーの組み合わせ状態において１回の試し書き記録と再生により、ジッター又はエラーレート、及びアシンメトリ値を検出できる。これによってＯＰＣ動作効率を向上させることができる。
【０２３２】
ところで、試し書きを行った各トラックに対して、試し書き直後に再生を行っていくという手法も考えられる。例えばジッター測定のためにランダムデータを３トラック記録した直後に中央トラックの再生を行い、これを繰り返していくような手順である。
この場合は、図３３〜図３９で説明した各試し書き記録を、それぞれ完了する前に、目的の値（最適値）を検出できる場合がある。このようなときは、各試し書きパターンを完了する前に、次のステップに進むことも可能となり、処理時間の短縮化を促進できる。
【０２３３】
また、試し書き時に記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅを各種の値にする場合に、ドライブパルス電圧としての或る上限値、下限値を設定できるようにしておくと、レーザダイオードの劣化やディスクの劣化の防止に役立つ。
通常レーザパワーはオートパワーコントロール回路１９によりドライブ電流がモニターされ、設定値に保たれるわけであるが、もしこのモニタ系に異常があると、記録パワーが高すぎたり低すぎたり変動して、ディスク寿命やレーザの劣化を進めることがあり得る。ここで、上限／下限を設定するようにすることで、レーザパワー範囲が２重に保護される状態とすることができる。
また上限／下限の設定は、試し書きを行う組み合わせ数の制限にもなり、ＯＰＣ動作の効率化も促すことができる。
【０２３４】
以上、実施の形態としての各種構成、処理例を説明してきたが、本発明は実施の形態として例示したものに限定されず、発明の要旨の範囲内で各種変形例が考えられることはいうまでもない。
【０２３５】
【発明の効果】
以上の説明からわかるように本発明によれば次のような各種の効果を得ることができる。
【０２３６】
請求項１又は請求項７の発明によれば、装填された記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパワーを変化させながら記録動作及びその再生動作を実行させ、その再生情報から適切なレーザーパワーを判別する動作（ＯＰＣ動作）を行うときに、記録データとして、単一データパターン、ランダムデータパターン、無データパターンのうちで必要なパターンを上記再生動作における信号品質の監視対象に応じて選択的に発生させ、記録させるようにしている。このように試し書き記録の際の記録データとしては、単一データパターン、ランダムデータパターンを発生可能とすることで、これを監視する目的（ジッタやアシンメトリなど）によって記録データを使い分けることができる。これにより状況に応じて適切な記録データを用い、もって適切レーザパワーの判別精度を向上させることができる。
また無データパターンを利用してデータ記録が行われないトラックを形成することで、クロストークの影響などを排除できる。
【０２３７】
請求項２の発明によれば、レーザパワー判別動作では、少なくとも適切な記録パワー及び消去パワーが判別される。これにより記録媒体に対するオーバーライトのためのレーザパワーを精度よく設定できる。
【０２３８】
請求項３の発明によれば、試し書き領域において単一データパターンを記録したトラックの再生情報から、アシンメトリ値が適切となる記録パワー及び／又は消去パワーが検出される。つまりアシンメトリ値の測定に好適な単一データパターンが用いられることで、アシンメトリ値の検出精度を向上させ、これによって適切レーザパワーの判別を高精度とすることができる。
【０２３９】
さらに請求項１又は請求項７の発明によれば、単一データパターンとして、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンを発生させることができるようにしている。これにより、アシンメトリ測定に好適な再生情報を得ることができ、これも適切なレーザパワー判別精度の向上に寄与する。
【０２４０】
さらに、請求項１の発明によれば、単一データパターンが記録されるトラックに隣接するトラックには、無データパターンによりデータ記録が行われないようにされる。従ってアシンメトリ測定等の際のノイズとなるクロストーク成分を除去でき、これも適切なレーザパワー判別精度の向上に寄与する。
【０２４１】
請求項４の発明によれば、試し書き領域においてランダムデータパターンを記録したトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが適切となる記録パワー及び／又は消去パワーが検出される。つまりジッター又はエラーレートの測定に好適なランダムデータパターンが用いられることで、ジッター又はエラーレートの検出精度を向上させ、これによって適切なレーザパワーの判別を高精度とすることができる。
【０２４２】
請求項５の発明によれば、試し書き領域においてランダムデータパターンを３トラック以上連続して記録させ、その中央のトラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが適切となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出するようにしている。これは、試し書きの際に、実際の記録再生動作状況と同一の記録状態を作り出してジッター又はエラーレートを検出することを意味しており、従って実際の使用状況に即した検出が可能となり、実際の使用状況に即した適切なレーザパワーを高精度に判別できることになる。
【０２４３】
請求項８の発明によれば、レーザパワー判別動作においては、１つのレーザパワー設定状態において、記録データの最短マーク長に相当する第１の単一データパターンと、少なくとも再生情報から振幅ピークが検出できるマーク長に相当する第２の単一データパターンと、ランダムデータパターンと、無データパターンとをトラック毎に所定順序で選択して記録動作を実行させ、当該記録動作にかかる領域からの再生情報により、そのレーザパワー状態におけるジッター又はエラーレート、及びアシンメトリ値を検出する。これにより、或るレーザパワー状態においては１回の試し書き記録と再生により、ジッター又はエラーレート、及びアシンメトリ値を検出できることになるため。ＯＰＣ動作における処理効率が向上されるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態で用いられるディスクのフォーマットの説明図である。
【図２】実施の形態で用いられるディスクのエリア構造の説明図である。
【図３】実施の形態の記録再生装置のブロック図である。
【図４】実施の形態の記録再生装置のレーザドライブパルスの説明図である。
【図５】実施の形態の記録再生装置のレーザドライブパルスの説明図である。
【図６】実施の形態のアシンメトリ計測方式の説明図である。
【図７】実施の形態の概略的な処理手順の説明図である。
【図８】実施の形態で安定化させるジッターのＤＯＷ特性の説明図である。
【図９】実施の形態で安定化させるアシンメトリのＤＯＷ特性の説明図である。
【図１０】実施の形態で調整するフォーカスバイアスの説明図である。
【図１１】実施の形態のＤＯＷ特性安定化処理のフローチャートである。
【図１２】実施の形態のディスク装填時の処理例（Ａ）のフローチャートである。
【図１３】実施の形態のディスク装填時の処理例（Ｂ）のフローチャートである。
【図１４】実施の形態のディスク装填時の処理例（Ｃ）のフローチャートである。
【図１５】実施の形態のＯＰＣ処理例（Ｉ）のフローチャートである。
【図１６】実施の形態のＯＰＣ処理例（II）のフローチャートである。
【図１７】実施の形態のＯＰＣ処理例（III）のフローチャートである。
【図１８】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）のフローチャートである。
【図１９】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）の説明図である。
【図２０】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）のフローチャートである。
【図２１】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例（ハ）のフローチャートである。
【図２２】実施の形態で用いるディスクのディスクコントロールＥＣＣブロックの説明図である。
【図２３】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）（ハ）で用いるテストゾーン管理テーブルの説明図である。
【図２４】実施の形態のＲＦ信号のディフェクトの影響の説明図である。
【図２５】実施の形態の検出部の構成例（α）のブロック図である。
【図２６】実施の形態の検出部の構成例（β）のブロック図である。
【図２７】実施の形態のデータ取込時の処理例（β−１）のフローチャートである。
【図２８】実施の形態のデータ取込時の処理例（β−２）のフローチャートである。
【図２９】実施の形態のＯＰＣ動作例（１）のフローチャートである。
【図３０】実施の形態のＯＰＣ動作例（２）のフローチャートである。
【図３１】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）のフローチャートである。
【図３２】実施の形態のＯＰＣ動作例（４）のフローチャートである。
【図３３】実施の形態のＯＰＣ動作例（１）〜（４）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【図３４】実施の形態のＯＰＣ動作例（１）（２）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【図３５】実施の形態のＯＰＣ動作例（２）（４）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【図３６】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）（４）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【図３７】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）（４）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【図３８】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）（４）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【図３９】実施の形態のＯＰＣ動作例（２）（４）で採用できる試し書きパターンの説明図である。
【符号の説明】
１  ピックアップ、２  対物レンズ、３  二軸機構、４  レーザダイオード、５  フォトディテクタ、６  スピンドルモータ、８  スレッド機構、９  ＲＦアンプ、１０  システムコントローラ、１２  エンコーダ／デコーダ、１３  インターフェース部、１４  サーボプロセッサ、２０  キャッシュメモリ、２１  バッファマネージャ、２３  検出部、２４  温度センサ、３１  ディフェクト検出回路、３２  スイッチ、３３  ジッタ検出回路、３４  アシンメトリ検出回路、９０  ディスク、１００  ホストコンピュータ
【図１】
0004158261.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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