(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ゲート駆動信号が印加される多数個のゲートラインとグラフィック信号が供給される多数個のデータラインとがパネル内にマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲートラインと前記データラインとが交差する部分にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、
前記パネルの前記ゲート駆動信号が印加される側と前記グラフィック信号が供給される側とを接続する前記パネル内の端部に形成された複数の配線と、
前記多数個のデータラインに共通に連結され、前記データラインを駆動する信号を受信するデータパッド部と、
前記データパッド部と前記データラインとの間にそれぞれ接続され、前記データライン各々の断線及びショートを検出するデータライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記データパッド部は、
前記多数個のデータラインのうち奇数番目のデータラインに共通に連結され、前記奇数番目のデータラインを駆動する信号を受信する第１データパッド部と、
前記多数個のデータラインのうち偶数番目のデータラインに共通に連結され、前記偶数番目のデータラインを駆動する信号を受信する第２データパッド部と、を備え、
前記データライン欠陥検出用配線部は、
前記第１データパッド部と前記奇数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続され、前記奇数番目のデータライン各々の断線及びショートを検出する第１データライン欠陥検出用配線部と、
前記第２データパッド部と前記偶数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続され、前記偶数番目のデータライン各々の断線及びショートを検出する第２データライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記第１及び第２データライン欠陥検出用配線部の一部の配線は、前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線を介して前記データパッドと前記データラインとを接続するものであることを特徴とするパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置。
【請求項２】
前記第１及び第２データライン欠陥検出用配線部の前記一部の配線と前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線との接続は、ジグザグ形態を有することを特徴とする請求項１に記載のパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置。
【請求項３】
ゲート駆動信号が印加される多数個のゲートラインとグラフィック信号が供給される多数個のデータラインとがパネル内にマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲートラインと前記データラインとが交差する部分にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、
前記パネルの前記ゲート駆動信号が印加される側と前記グラフィック信号が供給される側とを接続する前記パネル内の端部に形成された複数の配線と、
前記多数個のゲートラインに共通に連結され、前記ゲートラインを駆動する信号を受信するゲートパッド部と、
前記ゲートパッド部と前記ゲートラインとの間にそれぞれ接続され、前記ゲートライン各々の断線及びショートを検出するゲートライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記ゲートパッド部は、
前記多数個のゲートラインのうち奇数番目のゲートラインに共通に連結され、前記奇数番目のゲートラインを駆動する信号を受信する第１ゲートパッド部と、
前記多数個のゲートラインのうち偶数番目のゲートラインに共通に連結され、前記偶数番目のゲートラインを駆動する信号を受信する第２ゲートパッド部と、を備え、
前記ゲートライン欠陥検出用配線部は、
前記第１ゲートパッド部と前記奇数番目のゲートラインとの間にそれぞれ接続され、前記奇数番目のゲートライン各々の断線及びショートを検出する第１ゲートライン欠陥検出用配線部と、
前記第２ゲートパッド部と前記偶数番目のゲートラインとの間にそれぞれ接続され、前記偶数番目のゲートライン各々の断線及びショートを検出する第２ゲートライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記第１及び第２ゲートライン欠陥検出用配線部の一部の配線は、前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線を介して前記ゲートパッドと前記ゲートラインとを接続するものであることを特徴とするパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置。
【請求項４】
前記第１及び第２ゲートライン欠陥検出用配線部の前記一部の配線と前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線との接続は、ジグザグ形態を有することを特徴とする請求項３に記載のパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に関し、特にパネル内配線の欠陥をテストできる液晶表示装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の液晶表示装置の構成について簡単に説明する。
図１、図２、及び図３は、一般的な液晶表示装置のモジュール構成を示す図である。
図１に示されたように、液晶表示装置は、グラフィック信号をパネル１に供給するＸ−ＰＣＢ２と、ＴＦＴ駆動信号を印加するＹ−ＰＣＢ４と、各ＰＣＢを連結するフレキシブルプリント回路（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）７とで構成されている。
そして、図２に示すように、ＦＰＣ７を除去した方式が開発され、図３に示すように、Ｙ−ＰＣＢ４を除去し、パネル１内に配線を介してゲート駆動集積回路を駆動するのに必要な各種信号を印加する方式が開発された。
ここで、各モジュールを構成するためのパネルの構造は、お互いに異なる形態を有し、ゲート駆動集積回路を駆動するための配線がパネルのアレイ基板上部に形成される。
【０００３】
図４は、従来のパネルテスト方法を説明するための液晶表示装置の構成図である。
図４に示したようなパネル１０のテスト方法では、データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎのうち奇数番目のラインをデータ奇数パッド１７ａに連結させ、前記データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎのうち偶数番目のラインをデータ偶数パッド１７ｂに連結させる。同じく、ゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎのうち奇数番目のラインをゲート奇数パッド１５ａに、偶数番目のラインをゲート偶数パッド１５ｂにそれぞれ連結させる。また、Ｖｃｏｍパッド１３は、パネル上のＴＦＴアレイ１１のすべての画素に連結されており、パネル１０の上端には、その端部に配線２０が形成されている。
前述したように、形成された５個のパッドに信号を印加し、単位画素が正常に動作するか否かをテストすることになる。すなわち、ゲート奇数パッド１５ａ、ゲート偶数パッド１５ｂ、データ奇数パッド１７ａ、データ偶数パッド１７ｂ及びＶｃｏｍパッド１３に電圧を印加した後、それぞれのライン及び画素間のショートをテストすることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来技術によるＸ−ＰＣＢやＦＰＣを取り除いただけの液晶表示装置では、データライン、ゲートライン、或いは共通電圧ラインのオープン可否と画素の正常動作の可否はテストすることができるが、パネル端部に形成された配線の断線やショートはテストすることができないし、配線の不良可否をテストするためには、別途のテスト装備を備えなければならないという不都合がある。
したがって、本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので、本発明の目的は、パネル端部に配線を形成する構造で、パネル内のデータライン、ゲートライン、及び共通電圧ラインのオープン可否及び画素の正常動作の可否をテストすることができるのは勿論、パネル内の配線の不良可否もテストすることができる液晶表示装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本願発明の一態様に係るパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、ゲート駆動信号が印加される多数個のゲートラインとグラフィック信号が供給される多数個のデータラインとがパネル内にマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲートラインと前記データラインとが交差する部分にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、前記パネルの前記ゲート駆動信号が印加される側と前記グラフィック信号が供給される側とを接続する前記パネル内の端部に形成された複数の配線と、前記多数個のデータラインに共通に連結され、前記データラインを駆動する信号を受信するデータパッド部と、前記データパッド部と前記データラインとの間にそれぞれ接続され、前記データライン各々の断線及びショートを検出するデータライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記データパッド部は、前記多数個のデータラインのうち奇数番目のデータラインに共通に連結され、前記奇数番目のデータラインを駆動する信号を受信する第１データパッド部と、前記多数個のデータラインのうち偶数番目のデータラインに共通に連結され、前記偶数番目のデータラインを駆動する信号を受信する第２データパッド部と、を備え、
前記データライン欠陥検出用配線部は、前記第１データパッド部と前記奇数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続され、前記奇数番目のデータライン各々の断線及びショートを検出する第１データライン欠陥検出用配線部と、前記第２データパッド部と前記偶数番目のデータラインとの間にそれぞれ接続され、前記偶数番目のデータライン各々の断線及びショートを検出する第２データライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記第１及び第２データライン欠陥検出用配線部の一部の配線は、前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線を介して前記データパッドと前記データラインとを接続するものであることを特徴とする。
また、前記第１及び第２データライン欠陥検出用配線部の前記一部の配線と前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線との接続は、ジグザグ形態を有する。
【０００６】
本願発明の他の態様に係るパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、ゲート駆動信号が印加される多数個のゲートラインとグラフィック信号が供給される多数個のデータラインとがパネル内にマトリックス形態で構成され、かつ、前記ゲートラインと前記データラインとが交差する部分にＴＦＴトランジスタを具備したＴＦＴアレイ部と、前記パネルの前記ゲート駆動信号が印加される側と前記グラフィック信号が供給される側とを接続する前記パネル内の端部に形成された複数の配線と、前記多数個のゲートラインに共通に連結され、前記ゲートラインを駆動する信号を受信するゲートパッド部と、前記ゲートパッド部と前記ゲートラインとの間にそれぞれ接続され、前記ゲートライン各々の断線及びショートを検出するゲートライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記ゲートパッド部は、前記多数個のゲートラインのうち奇数番目のゲートラインに共通に連結され、前記奇数番目のゲートラインを駆動する信号を受信する第１ゲートパッド部と、前記多数個のゲートラインのうち偶数番目のゲートラインに共通に連結され、前記偶数番目のゲートラインを駆動する信号を受信する第２ゲートパッド部と、を備え、
前記ゲートライン欠陥検出用配線部は、前記第１ゲートパッド部と前記奇数番目のゲートラインとの間にそれぞれ接続され、前記奇数番目のゲートライン各々の断線及びショートを検出する第１ゲートライン欠陥検出用配線部と、前記第２ゲートパッド部と前記偶数番目のゲートラインとの間にそれぞれ接続され、前記偶数番目のゲートライン各々の断線及びショートを検出する第２ゲートライン欠陥検出用配線部と、を備え、
前記第１及び第２ゲートライン欠陥検出用配線部の一部の配線は、前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線を介して前記ゲートパッドと前記ゲートラインとを接続するものであることを特徴とする。
また、前記第１及び第２ゲートライン欠陥検出用配線部の前記一部の配線と前記パネル内の端部に形成された前記複数の配線との接続は、ジグザグ形態を有する。
【０００７】
本発明によれば、既存のパネルテスト方法を用いて、パネル内に形成された配線の不良をも検査することができるので、パネルの信頼性をより一層向上させることができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照しながら本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。図５は、本実施の形態に係るパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置の構成図であり、図６は、図５に示す液晶表示装置のパネル内配線のテスト方法を説明するための図である。
【０００９】
図５に示されたように、パネル１０内のＴＦＴアレイ部１１と、前記ＴＦＴアレイ部から延設した複数個のゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎ及びデータラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎが配置されている。前記ゲートラインＧ１、Ｇ２…Ｇｎのうち奇数番目のゲートラインをゲート奇数パッド１５ａに連結させ、偶数番目のゲートラインをゲート偶数パッド１５ｂに連結させる。同じく、前記データラインＤ１、Ｄ２…Ｄｎのうち奇数番目のデータラインをデータ奇数パッド１７ａに、偶数番目のデータラインを偶数パッド１７ｂにそれぞれ連結させる。また、前記パネル１０の上部に設けられたジグザグ連結配線３０ａを、データ奇数パッド１７ａの第１ラインＤ１に直列に連結させる。
【００１０】
図６に示されたように、前記図５と同様のテスト構造を形成し、但し、分離したジグザグ連結配線３０ｂで配線を形成した後、データ奇数パッド１７ａの第１ラインＤ１とデータ偶数パッド１７ｂの第１ラインＤ２に直列に連結する。前記テストのための信号をデータ奇数パッド１７ａとデータ偶数パッド１７ｂに印加すると、配線の断線だけでなく、配線間のショートをも検出することができる。ショートが発生した場合には、データ奇数パッド１７ａに信号を印加しても、データ奇数ライン１７ａだけでなく、信号を印加しないデータ偶数ライン１７ｂのＴＦＴさえ動作することになる。
【００１１】
図７、及び図８は、本発明に係るパネル内配線の断線及びショート検出を説明するための図面である。
図７に示されたように、パネル内の配線中に断線が発生した場合、断線された配線がデータ奇数パッド１７ａの第１ラインＤ１に連結されているので、前記データ奇数パッド１７ａに信号が印加される場合、断線が発生した第１ラインＤ１のＴＦＴが動作せず、他のＤ３、Ｄ５…ラインのＴＦＴは正常に動作することになる。
【００１２】
図８は、パネル内の配線間にショートが発生した場合、その不良を検出する方法を示すもので、ショートによってデータ奇数パッド１７ａに連結した配線とデータ偶数パッド１７ｂに連結した配線とが連結されているから、データ奇数パッド１７ａに信号を印加した場合、第１データラインＤ１のＴＦＴだけでなく、偶数番目に属する第２データラインＤ２のＴＦＴも同時に動作することになる。このように同時に動作する場合、ショート不良と判断して検出することができる。図示してはいないが、前述したような本発明の方法を、ゲート奇数パッド１５ａとゲート偶数パッド１５ｂに適用しても、不良を検出することができる。また、共通電圧Ｖｃｏｍパッド１３に、ジグザグ連結配線３０ａを直列に連結しても、不良を検出することができる。
【００１３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によるパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置は、パネル内配線の不良を検出するために、配線をジグザグで連結したり、分離してジグザグで連結した後、ゲートパッドとデータパッド及び共通電圧Ｖｃｏｍパッドに直列に連結することにより、既存のパネルのテスト方法を用いてパネル内の配線の不良をも検出することができるという効果を奏する。
また、本発明の液晶表示装置は、ＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）又はＰＣＢ（Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ）を除去することができるので、製造コストを低減することができ、製品のサイズを減少することができる。
本発明は、本発明の技術的思想から逸脱することなく、他の種々の形態で実施することができる。前述の実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例のみに限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請求の範囲内で、いろいろと変更して実施することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】一般的な液晶表示装置のモジュール構成を示す図である。
【図２】一般的な液晶表示装置の他のモジュール構成を示す図である。
【図３】一般的な液晶表示装置のさらに他のモジュール構成を示す図である。
【図４】従来のパネルテスト方法を説明するための液晶表示装置の構成図である。
【図５】本発明の実施の形態に係るパネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置の構成図である。
【図６】図５に示す液晶表示装置のパネル内配線のテスト方法を説明するための図である。
【図７】図６に示すパネル内配線の断線検出を説明するための図である。
【図８】図６に示すパネル内配線のショート検出を説明するための図である。
【符号の説明】
１０    パネル
１１    ＴＦＴアレイ部
１３    Ｖｃｏｍパッド
１５ａ、１７ａ    奇数パッド
１５ｂ、１７ｂ    偶数パッド
３０ａ    ジグザグ連結配線
３０ｂ    分離したジグザグ連結配線
Ｇ１、Ｇ２…Ｇｎ    ゲートライン
Ｄ１、Ｄ２…Ｄｎ    データライン
【図１】
0004158848.tif 000002
【図２】
0004158848.tif 000003
【図３】
0004158848.tif 000004
【図４】
0004158848.tif 000005
【図５】
0004158848.tif 000006
【図６】
0004158848.tif 000007
【図７】
0004158848.tif 000008
【図８】
0004158848.tif 000009