(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別する画像処理装置であって、
所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを入力する入力手段と、
上記テスト画像データ用の互いに異なる複数のエッジ判別リファレンスを設定するエッジ判別リファレンス設定手段と、
上記エッジ判別リファレンス設定手段で設定された複数のエッジ判別リファレンスに基づいて、それぞれ上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを示す、上記エッジ判別リファレンスに応じた複数のエッジ判別結果を出力するエッジ判別手段と、
上記エッジ判別手段による上記複数のエッジ判別結果に基づいて、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定する制御手段と
を備えるとともに、
上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出するエッジ長算出手段を備え、
上記制御手段は、上記エッジ長算出手段により上記複数のエッジ判別結果毎に得られたエッジの長さに基づいて上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスを設定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置において、
上記入力手段は、テスト画像シートを読み取ってテスト画像データを得る画像読取手段を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１に記載の画像処理装置において、
上記制御手段は、上記エッジ判別リファレンス設定手段で設定されると共に、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを入力するステップと、
エッジ判別リファレンスを変更して複数回設定するステップと、
上記各エッジ判別リファレンスに基づいて、上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを判別するステップと、
上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出するステップと、
上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定するステップと、
入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別するステップと
を備えることを特徴とする画像処理方法。
【請求項５】
所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを受け取るステップと、
エッジ判別リファレンスを変更して複数回設定するステップと、
上記各エッジ判別リファレンスに基づいて、上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを判別するステップと、
上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出するステップと、
上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定するステップと、
入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別するステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、エッジ判別リファレンスに基づいて判別する画像処理装置、画像処理方法、および画像処理方法を実行するためのプログラムに関する。
【０００２】
なお、エッジとは、画像中の対象物に対応する部分では特徴（濃度、色、テクスチャなど）が一様で、異なる対象物間（又はその部分間）では特徴が急激に変化しているとの仮定の下で、特徴の不連続部分（境界）として定義される。
【０００３】
【従来の技術】
デジタル複写機などの画像処理装置では、出力される画像の画質を向上させるために、入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを判別して、その判別結果をエッジ強調、スムージング（平滑化）、モアレ除去などの補正処理に利用することが多い。
【０００４】
エッジ判別は、通常、入力された画像データにおいて、注目画素の明度データとその周辺画素の明度データとの差分を求め、この差分を所定のエッジ判別リファレンス（しきい値）と比較することにより行われる。すなわち、上記差分がリファレンスよりも大きな場合はエッジ画素と判別される。画素データがエッジ画素か否かを正確に判別するためには、画像処理装置の特性に合わせてエッジ判別リファレンスを適正な値に設定する必要がある。
【０００５】
従来、入力画像データ用エッジ判別リファレンスとしては、画像処理装置の設計段階で、標準マシンを用いてサンプル画像のエッジを繰り返して検出し、そのエッジを適切に検出できるような値が選択されていた。そして、その入力画像データ用エッジ判別リファレンスの値が同種の量産マシンに共通に設定されていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、最近では画質をさらに高める要求が強くなり、生産ラインで各マシン毎（１台毎）に入力画像データ用エッジ判別リファレンスを調整する必要が生じている。この結果、生産工数が増加するという問題がある。また、市場においてマシン特性の経年変化により、読取装置のＣＣＤ〜レンズ間の機械的な位置変動が生じたり、Ｓ／Ｎ比が劣化することによって入力画素データのＭＴＦ特性が変化してしまった場合には、マシンの設計／生産段階で設定したエッジ判別リファレンスではエッジ判別誤差が多くなり、その結果出力される画像の画質が劣化してしまうという課題があった。これを解決するために市場においてエッジ判別リファレンスを再調整することが望まれているが、従来のやり方では、入力画像データ用エッジ判別リファレンスを再調整することが難しいという問題がある。
【０００７】
そこで、この発明の課題は、入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定できる画像処理装置、画像処理方法、および画像処理方法を実行するためのプログラムを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項１に記載の画像処理装置は、入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別する画像処理装置であって、
所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを入力する入力手段と、
上記テスト画像データ用の互いに異なる複数のエッジ判別リファレンスを設定するエッジ判別リファレンス設定手段と、
上記エッジ判別リファレンス設定手段で設定された複数のエッジ判別リファレンスに基づいて、それぞれ上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを示す、上記エッジ判別リファレンスに応じた複数のエッジ判別結果を出力するエッジ判別手段と、
上記エッジ判別手段による上記複数のエッジ判別結果に基づいて、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定する制御手段と
を備えるとともに、
上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出するエッジ長算出手段を備え、
上記制御手段は、上記エッジ長算出手段により上記複数のエッジ判別結果毎に得られたエッジの長さに基づいて上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスを設定することを特徴とする。
【０００９】
この請求項１の画像処理装置では、入力画像データを入力する前に予め、上記入力手段によって所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データが入力される。上記エッジ判別リファレンス設定手段は上記テスト画像データ用の互いに異なる複数のテスト画像データ用エッジ判別リファレンスを設定する。上記エッジ判別手段は、上記エッジ判別リファレンス設定手段で設定された複数のエッジ判別リファレンスに基づいて、それぞれ上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを示す、上記エッジ判別リファレンスに応じた複数のエッジ判別結果を出力する。そして、上記制御手段は、上記エッジ判別手段による上記複数のエッジ判別結果に基づいて、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定する。
【００１０】
このように、互いに異なる複数のテスト画像データ用エッジ判別リファレンスを設定し、このテスト画像データ用エッジ判別リファレンスに基づく複数のエッジ判別結果に基づいて、適切な入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定するのである。したがって、簡単な方法でエッジ判別リファレンスが自動設定されるので、マシン１台毎においてもそのマシンの特性に合わせて設定でき、かつ経年変化が生じた場合でもその時の特性に合わせて再設定することが可能となり、いかなるマシンでも実際に入力画像データを入力したとき、その入力画像データ中の画素データが表すエッジを、予め自動的かつ適切に設定された入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて、正確に判別することができる。
【００１１】
しかも、この画像処理装置では、エッジ長算出手段は、上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出する。上記制御手段は、上記エッジ長算出手段により上記複数のエッジ判別結果毎に得られたエッジの長さに基づいて上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスを設定する。したがって、入力画像データ用エッジ判別リファレンスを適切な値に設定できる。
【００１２】
請求項２に記載の画像処理装置は、請求項１に記載の画像処理装置において、上記入力手段は、テスト画像シートを読み取ってテスト画像データを得る画像読取手段を備えることを特徴とする。
【００１３】
この請求項２の画像処理装置では、上記入力手段は、テスト画像シートを読み取ってテスト画像データを得る画像読取手段を備えるので、テスト画像データが簡単に入力される。
【００１４】
請求項３に記載の画像処理装置は、請求項１に記載の画像処理装置において、上記制御手段は、上記エッジ判別リファレンス設定手段で設定されると共に、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定することを特徴とする。
【００１５】
この請求項３の画像処理装置では、上記制御手段は、上記エッジ判別リファレンス設定手段で設定されると共に、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定する。
【００１６】
このように、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとしているので、入力画像データ用エッジ判別リファレンスを最適な値に設定できる。あるテスト画像データは、その性質により、エッジ判別リファレンスの増大につれて、エッジ長は、まず減少し、次に増大し、次に減少するという傾向を持つ。そして、エッジ長が極大値をとるときは、エッジ判別リファレンスが最適な値に設定されたことになって、正確にエッジを検出できることになる。
【００１７】
請求項４に記載の画像処理方法は、所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを入力するステップと、エッジ判別リファレンスを変更して複数回設定するステップと、上記各エッジ判別リファレンスに基づいて、上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを判別するステップと、上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出するステップと、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定するステップと、入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別するステップとを備えることを特徴とする。
【００１８】
この請求項４の画像処理方法では、まず、所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを入力する。次に、エッジ判別リファレンスを変更して複数回設定する。次に、上記各エッジ判別リファレンスに基づいて、上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを判別する。次に、上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出する。次に、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定する。そして、入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別する。
【００１９】
このように、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとしているので、入力画像データ用エッジ判別リファレンスを最適な値に設定できる。あるテスト画像データは、その性質により、エッジ判別リファレンスの増大につれて、エッジ長は、まず減少し、次に増大し、次に減少するという傾向を持つ。そして、エッジ長が極大値をとるときは、エッジ判別リファレンスが最適な値に設定されたことになって、正確にエッジを検出できることになる。
【００２０】
請求項５に記載のプログラムは、所定のエッジを表す画素データを含むテスト画像データを受け取るステップと、エッジ判別リファレンスを変更して複数回設定するステップと、上記各エッジ判別リファレンスに基づいて、上記テスト画像データの画素データがエッジを表すか否かを判別するステップと、上記エッジを表す画素データによって、エッジ画素の連続性を判断すると共に、エッジの長さを算出するステップと、上記エッジの長さが極大値をとったときのエッジ判別リファレンスを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定するステップと、入力画像データ中の画素データがエッジを表すか否かを、上記入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別するステップとをコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【００２１】
この請求項５のプログラムによれば、コンピュータに請求項４に記載の画像処理方法を実行させることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
【００２３】
図１は、一実施形態の画像処理装置のブロック構成を示している。
【００２４】
この画像処理装置は、画像読取手段および入力手段としての画像入力部１０１と、入力画像データに対して画像処理を施すための色補正部１０２、領域判別部１０３およびＭＴＦ補正部１０４と、画像処理後の画像データを用いて用紙上に画像を形成（印字）するプリンタ１０５とを備えている。
【００２５】
上記画像入力部１０１は、図示しないガラス板上に置かれた原稿画像へ下方から光を照射し、その反射光をＣＣＤ型固体撮像素子で光電変換して画像データＲ（レッド），Ｇ（グリーン），Ｂ（ブルー）を得る。
【００２６】
上記色補正部１０２は、画像入力部１０１からの入力画像データＲ，Ｇ，Ｂをプリンタ１０５の色再現性に適応した画像データＣ（シアン），Ｍ（マゼンタ），Ｙ（イエロー），Ｋ（ブラック）に変換する。
【００２７】
上記領域判別部１０３は、画像入力部１０１からの入力画像データＲ，Ｇ，Ｂについて、網点領域やエッジ領域等の領域判別を行う。
【００２８】
上記ＭＴＦ補正部１０４は、色補正部１０２からの画像データＣ，Ｍ，Ｙ，Ｋに対して、領域判別部１０４による判別結果に基づいて、スムージング処理やエッジ強調処理を行う。
【００２９】
上記プリンタ１０５は、画像処理後の画像データ、この例ではＭＴＦ補正部１０４が出力した画像データＣ，Ｍ，Ｙ，Ｋを用いて、用紙上に画像を形成する。
【００３０】
上述の各部の動作全般は、操作パネル１２０を通したユーザの設定に応じて、所定のプログラムにしたがって、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１１０によって制御されるようになっている。なお、ＣＰＵ１１０が実行すべきプログラム（後述するエッジ判別リファレンス調整モードの処理を実行するためのプログラムを含む。）は、この例ではＥＥＰＲＯＭ（エレクトリカリ・イレイザブル・プログラマブル・リード・オンリ・メモリ）１１１に格納されている。
【００３１】
図２は、図１中に示した領域判別部１０３のブロック構成を詳細に示している。この領域判別部１０３は、画像入力部１０１からの入力画像データＲ，Ｇ，Ｂを別の色空間Ｌａｂへ変換して明度データＬを得る明度データ作成手段１０３１と、その明度データＬに微分処理等を施して明度エッジを判別するエッジ判別手段１０３２と、明度データＬから孤立点を抽出して網点領域を判別する網点判別手段１０３７とを備えている。エッジ判別手段１０３２に対する制御手段の一例として、エッジ連続性検出手段１０３３と、エッジ長検出手段１０３４と、エッジ極大値検出手段１０３５と、エッジ判別リファレンス変更手段１０３６とからなるループが付加されている。このループは、この画像処理装置が、ユーザによって、次に述べるエッジ判別リファレンス調整モードに設定された場合に動作する。なお、メモリ１０３８は、エッジ長検出手段１０３４が算出したエッジ長を記憶することができる。
【００３２】
エッジ判別リファレンス調整モードでは、ユーザによって、画像入力部１０１のガラス板上に、図３（ａ）に示すような、白地に黒色のラダーパターン３０１，３０２を描いた態様のテスト画像が置かれる。図３（ａ）中、左側のラダーパターン３０１は副走査方向に延びる密集したライン群からなり、右側のラダーパターン３０２は主走査方向に延びる密集したライン群からなる。このように複数の方向のラダーパターンで構成することにより、複数の方向についてのエッジ判別リファレンスを設定することができる。例えば図３（ｂ）に拡大して示すように、ラダーパターン３０２を構成する各ライン３０３の副走査方向の幅Ｄは３画素分に設定され、隣り合うライン３０３同士の副走査方向の間隔は同じ３画素分（エッジ判別をしなければならない最低レベル）に設定されている。同様に、ラダーパターン３０１を構成する各ラインの主走査方向の幅は３画素分に設定され、隣り合うライン同士の主走査方向の間隔は同じ３画素分（エッジ判別をしなければならない最低レベル）に設定されている。なお、図３（ｂ）中の１つの桝目が１つの画素に対応している。
【００３３】
図６は、この画像処理装置のエッジ判別リファレンス調整モードにおける処理のフローを示している。
【００３４】
ユーザによって、操作パネル１２０を通してエッジ判別リファレンス調整モードに設定された場合に限り、このエッジ判別リファレンス調整モードに入る（Ｓ１）。画像入力部１０１のガラス板上に、図３（ａ）に示したようなテスト画像がセットされ、プリントキー（図示せず）が押されると、図１中に示した画像入力部１０１にテスト画像データ（入力画像データＲ，Ｇ，Ｂ）が入力され、つまり読み取られる。すると、図２中に示した明度データ作成手段１０３１が、画像入力部１０１からの入力画像データＲ，Ｇ，Ｂを別の色空間Ｌａｂへ変換して明度データＬを得る。
【００３５】
ここで、エッジ判別リファレンス変更手段１０３６は、エッジ判別リファレンスを例えば図４中に示す小さい側から順に、１番目の値（最も小さい値）ｒｅｆ１に設定する（Ｓ４）。エッジ判別手段１０３２は、このエッジ判別リファレンスｒｅｆ１に応じた図５（ａ）に示すようなエッジ判別結果を出力する（Ｓ５）。なお、図５（ａ）〜（ｄ）は、いずれも図３（ｂ）に対応した領域を示している。図５（ａ）に示すエッジ判別結果では、エッジ判別リファレンスｒｅｆ１が最も小さい値であることから、ライン３０３が密集した領域（これを「ライン密集領域」という。）の画素は殆どエッジであると判別され、隣り合うライン３０３間の隙間は検出されていない。また、ライン密集領域以外の領域内でもノイズによって多くの画素がエッジであると判別されている。次に、エッジ連続性検出手段１０３３が、このエッジ判別結果でエッジと判別された画素が連続しているか否かを判断する。そして、エッジ長検出手段１０３４が、エッジと判別されて連続している画素の数をカウントしてエッジ長を算出する（Ｓ６）。このとき、図７に示すように、未算出のエッジについてエッジ長を算出するとともに（Ｓ１１）、離散しているエッジについても積算して全エッジ長を求める（Ｓ１２）。そして、この算出した全エッジ長をエッジ判別リファレンスｒｅｆ１と対応付けて、メモリ１０３８に記憶させる。このとき算出した全エッジ長は、図４中に５００ａで示すように、最も大きい値となる。
【００３６】
次に、エッジ判別リファレンス変更手段１０３６は、エッジ判別リファレンスを既に所定数（この例では４個）設定したか否かを判断する（図６のＳ７）。最初は、所定数に達していないので（Ｓ７でＮＯ）、エッジ判別リファレンスを変更してステップＳ４〜Ｓ６の処理を繰り返す。
【００３７】
２回目の処理Ｓ４〜Ｓ６では、エッジ判別リファレンスを図４中に示す２番目の値ｒｅｆ２に設定する（Ｓ４）。エッジ判別手段１０３２は、このエッジ判別リファレンスｒｅｆ２に応じた図５（ｂ）に示すようなエッジ判別結果を出力する（Ｓ５）。図５（ｂ）に示すエッジ判別結果では、ライン密集領域の画素は依然として殆どエッジであると判別されているが、ライン密集領域以外の領域ではエッジであると判別された画素は減っている。前回の処理と同様にエッジ長を算出して（Ｓ６）、この算出した全エッジ長をエッジ判別リファレンスｒｅｆ２と対応付けて、メモリ１０３８に記憶させる。ライン密集領域以外の領域ではエッジであると判別された画素が減ったことから、このとき算出した全エッジ長は、図４中に５００ｂで示すように、１回目の処理で算出した全エッジ長５００ａに比して小さい値となる。
【００３８】
３回目の処理では、エッジ判別リファレンスを図４中に示す３番目の値ｒｅｆ３に設定する（Ｓ４）。エッジ判別手段１０３２は、このエッジ判別リファレンスｒｅｆ３に応じた図５（ｃ）に示すようなエッジ判別結果を出力する（Ｓ５）。図５（ｃ）に示すエッジ判別結果では、ライン密集領域で、各ライン３０３の主走査方向に延びる輪郭（エッジ画素）が検出されている。前回の処理と同様にエッジ長を算出して（Ｓ６）、この算出した全エッジ長をエッジ判別リファレンスｒｅｆ３と対応付けて、メモリ１０３８に記憶させる。各ライン３０３の輪郭が検出されてエッジ画素が増えたことから、このとき算出した全エッジ長は、図４中に５００ｃで示すように、２回目の処理で算出した全エッジ長５００ｂに比して大きい値となる。
【００３９】
４回目の処理では、エッジ判別リファレンスを図４中に示す４番目の値（最も大きい値）ｒｅｆ４に設定する（Ｓ４）。エッジ判別手段１０３２は、このエッジ判別リファレンスｒｅｆ４に応じた図５（ｄ）に示すようなエッジ判別結果を出力する（Ｓ５）。図５（ｄ）に示すエッジ判別結果では、各ライン３０３の輪郭をなす画素の一部がエッジではないと判別されている。前回の処理と同様にエッジ長を算出して（Ｓ６）、この算出した全エッジ長をエッジ判別リファレンスｒｅｆ４と対応付けて、メモリ１０３８に記憶させる。各ライン３０３の輪郭をなす画素の一部がエッジではないと判別されたことから、このとき算出した全エッジ長は、図４中に５００ｄで示すように、３回目の処理で算出した全エッジ長５００ｃに比して小さい値となる。
【００４０】
このようにして、エッジ判別リファレンスを順次変化させながら、各エッジ判別リファレンスｒｅｆ１〜ｒｅｆ４と対応した（全）エッジ長５００ａ〜５００ｄをそれぞれ算出して、メモリ１０３８に記憶させる。そして、エッジ判別リファレンスを既に所定数（この例では４個）設定したと判断したら（図６のＳ７でＹＥＳ）、エッジ極大値検出手段１０３４は、メモリ１０３８から、各エッジ判別リファレンスｒｅｆ１〜ｒｅｆ４と対応したエッジ長５００ａ〜５００ｄを読み出して（Ｓ８）、図４中に示すようなエッジ判別リファレンスとエッジ長との間の相関関係５００を見出す。エッジ長は、図５（ａ）〜図５（ｄ）に示したように、最初はノイズのせいで最も大きく、次にノイズが減少して小さくなり、次に各ラインの輪郭（エッジ画素）が検出されて増加し、そして本来の輪郭をなす画素の一部が検出されなくなって再び減少する。エッジ長がこのように変化することから、相関関係５００は極大値（この例では５００ｃ）を示し、その極大値を与えるエッジ判別リファレンスの値（この例ではｒｅｆ３）がエッジを最も適切に検出できる値になっている。そこで、エッジ極大値検出手段１０３５がこの相関関係５００から極大値を抽出する（Ｓ９）。そして、エッジ判別リファレンス変更手段１０３６が、エッジ判別手段１０３２に対して、その極大値を与えるエッジ判別リファレンスを入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定する（Ｓ１０）。
【００４１】
このようにして、この画像処理装置によれば、テスト画像データ用エッジ判別リファレンスに基づくエッジ判別をして、エッジ長が極大値となるエッジ判別リファレンスを入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定しているので、適切な入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定できる。この結果、この画像処理装置が実際にプリントすべき入力画像データを入力したとき、エッジ判別手段１０３２は、その入力画像データ中の画素データが表すエッジを、予め自動的に設定された入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別することができる。
【００４２】
なお、これまで主走査方向に延びるライン３０３群が密集した領域（ラダーパターン３０２）のエッジ判別結果に着目して説明したが、副走査方向に延びるライン群が密集した領域（ラダーパターン３０１）でも同様のエッジ判別結果が得られる。つまり、ラダーパターン３０２における主走査方向に隣接したエッジ画素とラダーパターン３０１における副走査方向に隣接したエッジ画素との両方、すなわち互いに垂直に交差する２方向のエッジ画素が、算出されるエッジ長に寄与する。したがって、エッジ長の極大値を与えるエッジ判別リファレンスの値を精度良く求めることができ、入力画像データ用エッジ判別リファレンスを精度良く設定できる。
【００４３】
この実施形態では、エッジ判別リファレンス調整モードにおいて、エッジ判別リファレンスとエッジ長との間の相関関係５００を見出して極大値を抽出するために、エッジ判別リファレンスを４個設定したが、これに限られるものではない。より精度良く極大値を抽出するために、より多数のエッジ判別リファレンスを設定しても良い。
【００４４】
また、テスト画像シートは、上記の実施の形態に限らず、パターンが渦巻き型等の種々のものが考えられる。また、テスト画像シートによっては、エッジ長が極小値となるエッジ判別リファレンスを入力画像データ用エッジ判別リファレンスとして設定しても良い。
【００４５】
また、入力手段としては、ラインセンサ形のイメージスキャナ等の画像読取装置の他に、デジタルカメラ等の画像読取手段を備えても良い。
【００４６】
【発明の効果】
以上より明らかなように、この発明の画像処理装置によれば、適切な入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定できる。したがって、簡単な方法でエッジ判別リファレンスが自動設定されるので、マシン１台毎においてもそのマシンの特性に合わせて設定でき、かつ経年変化が生じた場合でもその時の特性に合わせて再設定することが可能となり、いかなるマシンでも実際に入力画像データを入力したとき、その入力画像データ中の画素データが表すエッジを、予め自動的に設定された入力画像データ用エッジ判別リファレンスに基づいて判別することができる。
【００４７】
また、この発明の画像処理方法によれば、適切な入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定して、エッジ判別をすることができる。
【００４８】
また、この発明のプログラムによれば、コンピュータに、適切な入力画像データ用エッジ判別リファレンスを自動的に設定して、エッジ判別を実行させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の一実施形態の画像処理装置のブロック構成を示す図である。
【図２】  図１中に示した領域判別部のブロック構成を詳細に示す図である。
【図３】  テスト画像の態様を示す図である。
【図４】  エッジ判別リファレンスとエッジ長との間の相関関係を示す図である。
【図５】  エッジ判別リファレンスに対応したエッジ判別結果を示す図である。
【図６】  上記画像処理装置のエッジ判別リファレンス調整モードにおける処理のフローを示す図である。
【図７】  図６中のエッジ長算出処理のフローを具体的に示す図である。
【符号の説明】
１０３  領域判別部
１０３２  エッジ判別手段
１０３３  エッジ連続性検出手段
１０３４  エッジ長検出手段
１０３５  エッジ極大値検出手段
１０３６  エッジリファレンス変更手段
【図１】
0004096522.tif 000002
【図２】
0004096522.tif 000003
【図３】
0004096522.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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