(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検水を入力する入力部を備えると共に、該入力した検水に含浸する位置に配置した電極を備えた容器とを備えた水質計であって、
前記容器の出口側に備えられ、該容器内の水圧が所定以上になったときに弁を開放し、所定水圧以下になったときに弁を閉止するチエッキ弁と、
ベロフラムと復帰用スプリングからなり、前記チエッキ弁の動きに連動して前記容器内の水圧の高低に伴って所定方向に伸縮するように往復運動を行なう手段と、
前記ベロフラムの伸縮に連動して往復運動を行なう部材に固定された軸と、
該軸に取り付けられて前記電極を洗浄するブラシと、
から構成されたことを特徴とする水質計。
【請求項２】
前記水質計は、前記検水中の溶存塩素量を測定することを特徴とする請求項１に記載の水質計。
【請求項３】
前記水質計は、前記検水中のｐＨ値を測定することを特徴とする請求項１に記載の水質計。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば残留塩素計やｐＨ計などの水質計に関するものであり、詳しくは水中の電極を洗浄する手段の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来技術における水質計において、電極を洗浄するようにした水質計は、種々のものがある。
【０００３】
第１の具体例の水質計（例えば残留塩素計）の電極を洗浄する構造は、図２に示すように、回転金属棒を用いたポーラログラフ方式で、ガラスビーズの中で回転させ、連続自動洗浄をしながら長期安定した測定を可能にするものであり、検水を流すための容器を２部屋に分離し、一方の部屋１１ａに対極１２を配置し、もう1つの他方の部屋１１ｂに２個の電極、即ち、作用極１３と、その設置した作用極１３に対峙した状態で回転電極１４とを配置し、その他方の部屋１１ｂに設けた作用極１３の底部は傾斜させた構造にし、そこに回転電極１４の先端部位にあたる位置に所定量のガラスビーズ１５を敷き詰めた構造になっている。
【０００４】
このような構造の電極において、回転電極１４は回転しているため、検水１６中のガラスビーズ１５がこの回転電極１４に接触することにより電極の洗浄を行う。
【０００５】
第２の具体例の水質計（例えば残留塩素計）の電極を洗浄する構造は、図３に示すように、電極２１を固定し、小さなガラスビーズ２６を水流で動かし、先端の金電極にぶつけるようにした構造の小型化したものである。その構造は、検水１６を入力する容器２１内に検水１６を入力する細管２２を容器２１の底部近傍にまで伸びるように配置し、容器２１底部は円錐形状２３に形成し、この円錐形状２３に形成した底部に向かう方向に先端が金電極２４の電極２５を配置する。そして、この円錐形状２３の底部に一定量のガラスビーズ２６を敷き詰める。又、容器２１の上方向に検水を排出するオーバーフロー出口２７を設けた構造にする。
【０００６】
このような構造の電極においては、細管２２にて供給される検水１６が円錐形状２３の底部の底面にあたると反転する。この時、ガラスビーズ２６を巻き込んで電極２５の先端にある金電極２４にあたり汚れを落とす構造となっている。
【０００７】
第３の具体例の水質計（例えば残留塩素計）の電極を洗浄する構造は、図４に示すように、検水１６を入力する容器３１の底部に電極３２を配置し、その臨んだ状態の電極３２に対して、横方向から検水を入力する検水入口部３３を備えた構造にし、その底部に臨んだ電極３２上部にガラスビーズ３４を敷き詰めた構造となっている。
【０００８】
このように、常時ガラスビーズ３４を電極３２に接触するようにして、底面横方向に設けた検水入口部３３から検水１６を給水すると、ガラスビーズ３４が電極３２に接触しながら巻き上がり、検水１６の渦に混じってガラスビーズ３４が電極３２にぶつかることにより電極３２の先端部位の洗浄が行われる。
【０００９】
第４の具体例の水質計（例えば残留塩素計）の電極を洗浄する構造は、図５に示すように、検水の容器３５の底部３７に検水１６を入力する検水入口部３６を配置し、その底部３７に設けた検水入口部３６に対して所定距離上方向の位置に電極３８を配置し、底部３７の検水入口部３６にメッシュ３９を配置して、その底部３７に所定量のガラスビーズ４０を敷き詰めた構造となっている。
【００１０】
このように、ガラスビーズ４０を検水入口部３６の底部３７から所定距離の上部位置の電極３８に接触するようにする。即ち、底部３７から検水１６を給水すると、ガラスビーズ４０が噴水のように吹き上げ、対局する電極３８にぶつかることにより電極３８の洗浄が行われる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来技術で説明した種々の電極を洗浄する手法において、検水の流量が少ないため、微細なガラスビーズしか掻き回すことができないという問題がある。
【００１２】
又、流量及び流速が変動するとガラスビーズの動きが変わり、洗浄効果が一定せず洗浄力が弱くなるという問題もある。
【００１３】
更に、電極をガラスビーズの中で回転させる回転電極の場合には、検水が河川水のような汚れた水の中でも洗浄効果が期待できるが、大きなパワーと回転電極から小さな接触抵抗で信号を取り出す機能が必要になり、構成及び構造的に複雑になるという問題もある。
【００１４】
従って、構造が簡単でも確実に且つ正確に電極を洗浄できる構成に解決しなければならない課題を有する。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明に係る水質計は、次に示す構成にしたものである。
【００１６】
（１）検水を入力する入力部を備えると共に、該入力した検水に含浸する位置に配置した電極を備えた容器とを備えた水質計であって、
前記容器の出口側に備えられ、該容器内の水圧が所定以上になったときに弁を開放し、所定水圧以下になったときに弁を閉止するチエッキ弁と、
ベロフラムと復帰用スプリングからなり、前記チエッキ弁の動きに連動して前記容器内の水圧の高低に伴って所定方向に伸縮するように往復運動を行なう手段と、
前記ベロフラムの伸縮に連動して往復運動を行なう部材に固定された軸と、
該軸に取り付けられて前記電極を洗浄するブラシと、
から構成されたことを特徴とする。
（２）請求項１に記載の水質計において、前記水質計は、前記検水中の溶存塩素量を測定することを特徴とする。
（３）請求項１に記載の水質計において、前記水質計は、前記検水中のｐＨ値を測定することを特徴とする。
【００１７】
このように、検水に残留する塩素を検出するための電極の自由端部を検水の水圧を利用して往復運動するベロフラムの先端部位にブラシを取付け、そのブラシの往復運動により電極の自由端部を拭うようにして洗浄することにより、電極にブラシを直接接触させることができるため、正確且つ確実な洗浄効果を発生させることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
次に、本発明に係る水質計（ここでは残留塩素計）の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１９】
本願発明の水質計（ここでは残留塩素計）は、図１に示すように、検水を入力する検水入口部である検水入力部５４を備えると共に、この入力した検水に含浸する位置に配置した一対の電極を備えた容器５１と、一対の電極に電圧を印加し、この一対の電極間に流れる電流に基づき検水中の遊離有効塩素濃度を測定する測定手段である測定部５２とを備えた構成になっている。
【００２０】
容器５１は、検水を入力する容器ハウジング５３を有し、この容器ハウジング５３内部に検水を入力する検水入力部５４と、容器ハウジング５３内部に臨ました状態で配置した比較極５５と、容器ハウジングの底部位置に内部に起立状態で配設した自由端部を有する作用極５６と、この作用極５６の奥側位置に図示しない対極と、図において容器ハウジング５３の左側の開口部に収まる大きさに形成されたベロフラム部５７と、容器ハウジング５３の上部位置の検水出口部５８に設けたチエッキ弁部５９とからなる。
【００２１】
ベロフラム部５７は、図１において右側を開口としたベロフラムハウジング６０と、容器ハウジング５３とベロフラムハウジング６０とを外側から密接に係合する袋ナット６１と、ベロフラムハウジング６０の中心位置に備えた中心軸６２と、この中心軸６２に係合している復帰用スプリング６３と、ベロフラムハウジング６０の外側側壁面であって、中心軸６２を支持すると共に圧力を調整する固定用ナット６４と、復帰用スプリング６３に接続し中心軸６２上を摺動可能に取付けられているシリンダー６５と、このシリンダー６５を動かすためのベロフラム６６と、ベロフラム６６の外側位置に設け、中心軸６２の先端部分に備えたブラシ部６７と、このブラシ部６７の基端部をベロフラム６６に取付けるためのベロフラム押さえ金具６８とからなる。
【００２２】
ブラシ部６７は、シリンダー６５に取付ける棒状の軸部６９と、この軸部６９の先端部位に設け、作用極５６の自由端部を拭うように取付けたブラシ７０とからなる。このブラシ７０が作用極５６の自由先端部を往復運動により拭うことにより作用極５６の自由端部を洗浄する。
【００２３】
チエッキ弁部５９は、容器ハウジング５３の上部位置に設けた検水出口部５８に取り付けたもので、排出孔にチエッキ弁７３を備えたものであり、ボデイ７１内部にスプリング７４の付勢力により閉圧状態にしてあるピストン７２と、ピストン７２の下端部に設けたチエッキ弁７３と、ピストン７２とスプリング７４との間に設けた座金７５とからなる。
【００２４】
このような構成において、容器５１内部の検水の水圧が所定水圧以上に上がると、スプリング７４の付勢力に抗してピストン７２が上昇することにより、チエッキ弁７３が開放し、検水が排出でき、所定の水圧以下になるとスプリング７４の付勢力によりピストン７２が下降してチエッキ弁７３が閉まり検水の排出が止まる。
【００２５】
次に、上記構造を有する水質計（ここでは残留塩素計）の電極の洗浄構造における動作について、説明する。
【００２６】
先ず、チエッキ弁７３が閉状態で検水が排出できない状態にある場合に、容器５１内部の水圧が上昇し、チエッキ弁７３のスプリング７４の付勢力に抗してピストン７２が上昇してチエッキ弁７３が開くと、容器５１内の検水が排出され水圧が下がる。そうすると、水圧の下降に伴って、スプリング６３に押されてシリンダー６５が容器５１の内部方向に動き、この動きに伴ってブラシ７０が作用極５６の自由端部を拭う。
【００２７】
そして、所定位置まで拭う動作をすると同時に、容器５１内部の水圧が所定圧以下になるとスプリング７４の復帰力によりピストン７２が下降してチエッキ弁７３を閉め、容器５１内部を閉状態にする。同時に所定位置まで拭う動作をしたブラシ７０は、スプリング６３の付勢力に抗してシリンダー６５が逆方向に戻されるため、ブラシ７０も逆方向に動く。このとき、容器５１内部の水圧は再び所定の水圧以上になるため、シリンダー６５が作用極５６方向に動くことはない。
【００２８】
このようにして、チエッキ弁７３の開閉により容器５１内部の水圧の上昇／下降を利用してシリンダー６５を往復運動させて、ブラシ７０で作用極５６の自由端部を往復して拭うことができるのである。
【００２９】
本発明の以上の説明は、説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの変更、変形をなし得ることは当業者に明らかである。
【００３０】
例えば本実施例においては残留塩素計を示したがｐＨ計に用いてもよく、他の水質計で電極の洗浄が必要なものに適用可能である。特許請求の範囲の欄の記載により定義される本発明の範囲は、その範囲内の変更、変形を包含するものとする。
【００３１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る水質計は、検水が導入される容器内の水圧を利用したブラシの往復運動により電極を拭うようにしたので、確実且つ正確に電極の洗浄を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る水質計の電極構造を示した断面図である。
【図２】従来技術における第１の具体例の水質計の電極の構造の断面図である。
【図３】従来技術における第２の具体例の水質計の電極の構造の断面図である。
【図４】従来技術における第３の具体例の水質計の電極の構造の断面図である。
【図５】従来技術における第４の具体例の水質計の電極の構造の断面図である。
【符号の説明】
５１        容器
５２        測定部
５３        容器ハウジング
５４        検水入力部
５５        比較極
５６        作用極
５７        ベロフラム部
５８        検出出口部
５９        チエッキ弁
６０        ベロフラムハウジング
６１        袋ナット、
６２        中心軸
６３        復帰用スプリング
６４        固定用ナット
６５        シリンダー
６６        ベロフラム
６７        ブラシ部
６８        ベロフラム押さえ金具
６９        軸部
７０        ブラシ
７１        ボデー
７２        ピストン
７３        チエッキ弁
７４        スプリング
７５        座金
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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