(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学記録担体上に情報を記録する装置において、
前記記録担体を放射のパルス列で照射することにより該記録担体上に光学的に検出可能なマークのパターンを書き込み、マークが１つのパルス列により形成されるような記録手段と、
テストパターンを有するテスト信号を発生すると共に該テスト信号を前記記録手段の入力端に供給するテスト信号発生器と、
前記記録担体上のマークを読み取ると共に読取信号を出力する読取手段と、
前記テストパターンに対応する前記読取信号のジッタを測定すると共に、前縁ジッタ信号及び後縁ジッタ信号を出力するジッタ検出器と、
前記前縁ジッタ信号及び前記後縁ジッタ信号に応じて第１制御信号及び第２制御信号を各々出力し、これら制御信号の値が前記読取信号の最適品質に対応するような制御手段と、
記録されるべき入力情報を前記記録手段に供給される出力信号に変換し、該出力信号が放射のパルス列に対応すると共に前記入力情報を表し、各パルス列が前縁部分と後縁部分とを有し、前記前縁部分に関係する第１パラメータの最適値が前記第１制御信号により決定され及び／又は前記後縁部分に関係する第２パラメータの最適値が前記第２制御信号により決定されるような処理手段と、
を有していることを特徴とする装置。
【請求項２】
請求項１に記載の装置において、前記第１又は第２パラメータが前記前縁又は後縁部分の放射出力であることを特徴とする装置。
【請求項３】
請求項１に記載の装置において、前記第１又は第２パラメータが前記前縁又は後縁部分におけるパルスの幅であることを特徴とする装置。
【請求項４】
請求項１に記載の装置において、前記第１又は第２パラメータが前記前縁又は後縁部分における２つのパルスの間の期間であることを特徴とする装置。
【請求項５】
請求項１に記載の装置において、前記制御手段が前記第２制御信号の値を前記第１パラメータの最適値でもって記録されたテストパターンから導出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項６】
請求項１に記載の装置において、前記制御手段が第３制御信号を前記テストパターンに対応する前記読取信号の振幅に応じて出力すると共に前記パルス列の放射出力を制御するように構成され、前記第３制御信号の値は前記読取信号の最適品質に対応し、前記処理手段が前記第３制御信号を受信すると共に、該第３制御信号の値を前記記録されるべき入力情報の前記出力信号への変換に使用するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項７】
記録担体上に情報を記録する方法において、
前記記録担体上にマークのテストパターンを書き込むステップと、
前記テストパターンを読み取ると共に読取信号を形成するステップと、
前記読取信号の前縁ジッタ及び後縁ジッタを測定するステップと、
前記前縁ジッタ及び前記後縁ジッタに応じて第１制御信号及び第２制御信号の最適値を各々決定するステップと、
記録されるべきユーザ情報を出力信号に変換すると共に該出力信号を記録手段に供給し、前記出力信号が放射のパルス列に対応すると共に前記ユーザ情報を表し、各パルス列が前縁部分と後縁部分とを有し、前記前縁部分に関係する第１パラメータの最適値が前記第１制御信号により決定され及び／又は前記後縁部分に関係する第２パラメータの最適値が前記第２制御信号により決定されるようなステップと、
を有していることを特徴とする方法。
【請求項８】
請求項７に記載の方法において、
前記読取信号の振幅を測定するステップと、
前記振幅に応じて第３制御信号の最適値を決定するステップと、
前記パルス列の放射出力を前記第３制御信号の値に応じて制御するステップと、
を有していることを特徴とする方法。
【請求項９】
請求項７に記載の方法において、第１テストパターンを使用する前記第１パラメータの最適化が、第２テストパターンを使用する第２パラメータの最適化により後続されることを特徴とする方法。
【請求項１０】
請求項８及び９に記載の方法において、前記放射出力の最適化が、前記第１及び第２パラメータの最適化により後続されることを特徴とする方法。
【請求項１１】
記録担体上に異なる長さのマークの形態で情報を記録する方法であって、マークは前記記録担体を放射のパルス列で照射することにより形成され、各パルス列は異なる長さを持つパルス列の集合に属し、該パルス列の集合は短いパルス列の部分集合と長いパルス列の部分集合とを含むような方法において、
前記短いパルス列の部分集合をなすパルス列のみが、第１パラメータの相違する前縁部分及び中間部分を有し、前記長いパルス列の部分集合をなすパルス列が、第２パラメータの相違する中間部分及び後縁部分を有していることを特徴とする方法。
【請求項１２】
記録担体上に異なる長さのマークの形態で情報を記録する方法であって、マークは前記記録担体を放射のパルス列で照射することにより形成され、各パルス列は前縁部分と後縁部分とを有し、各パルス列は異なる長さを持つパルス列の集合に属するような方法において、
前記パルス列の集合が、前記前縁部分に第１パラメータの第１の値を有するパルス列の部分集合と、前記前縁部分に前記第１パラメータの第２の別の値を有するパルス列の部分集合とを含み、かつ、
前記パルス列の集合が、前記後縁部分に第２パラメータの第１の値を有するパルス列の部分集合と、前記後縁部分に前記第２パラメータの第２の別の値を有するパルス列の部分集合とを含むことを特徴とする方法。
【請求項１３】
請求項１１又は１２に記載の方法において、前記第１パラメータが、放射出力、前記パルス列におけるパルスの幅又は前記パルス列の２つのパルスの間の期間であることを特徴とする方法。
【請求項１４】
請求項１１又は１２に記載の方法において、前記第２パラメータが、放射出力、前記パルス列におけるパルスの幅又は前記パルス列の２つのパルスの間の期間であることを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、光学記録担体上にユーザ情報を書き込む方法及び装置に関する。該ユーザ情報を表すマークが、放射のパルス列を用いて、該記録担体の放射感知性記録層に書き込まれる。パルス列は１以上のパルスを有している。ユーザ情報を記録担体上に記録する前に、該記録担体上にテストパターンが書き込まれる。このパターンから得られる読取信号は、記録処理、特にパルス列の形態を最適化するための情報を提供する。次いで、上記ユーザ情報が最適化された方法でもって上記記録担体に書き込まれる。
背景技術
ヨーロッパ特許第０６６９６１１号は、斯かるパルス列の書込出力を最適化する方法及び装置を開示している。該既知の装置はテストパターンを記録担体上に書き込むが、該テストパターンは一連の副パターンからなり、各副パターンが異なる放射出力で書き込まれる。次いで、各副パターンに対応する読取信号のジッタが測定される。記録出力は、上記ジッタ対出力の曲線が最小のジッタを示すような値に設定される。データ信号のジッタは、該データ信号の立ち下がり縁及び／又は立ち上がり縁の位置と、多分該データ信号の上記縁から再生されるクロック信号の対応する遷移点との間のずれの目安である。該ずれは、当該クロック信号の１周期の期間で正規化することができる。
しかしながら、上記既知の方法は、特に異なる製造者の記録担体及び装置が入れ替えられた場合に、常に最適の記録条件を提供するとは限らない。
発明の開示
本発明の１つの目的は、特定の装置及び記録担体の組合せに対する記録条件の適応化が改善された記録装置及び方法を提供することにある。
この目的は、本発明による装置が、前記記録担体を放射のパルス列で照射することにより該記録担体上に光学的に検出可能なマークのパターンを書き込むと共にマークが１つのパルス列により形成されるような記録手段と、テストパターンを有するテスト信号を発生すると共に該テスト信号を上記記録手段の入力端に供給するテスト信号発生器と、前記記録担体上のマークを読み取ると共に読取信号を出力する読取手段と、上記テストパターンに対応する読取信号のジッタを測定すると共に前縁ジッタ信号及び後縁ジッタ信号を出力するジッタ検出器と、これら前縁ジッタ信号及び後縁ジッタ信号に応じて第１制御信号及び第２制御信号を各々出力すると共に該制御信号の値が前記読取信号の最適品質に対応するような制御手段と、記録されるべき入力情報を前記記録手段に供給される出力信号に変換し、該出力信号が放射のパルス列に対応すると共に上記入力情報を表し、各パルス列が前縁部分と後縁部分とを有し、該前縁部分に関係する第１パラメータの最適値が前記第１制御信号により決定され及び／又は上記後縁部分に関係する第２パラメータの最適値が前記第２制御信号により決定されるような処理手段とを有する場合に達成される。
前記既知の装置は、総合ジッタ、即ち読取信号の前縁及び後縁の合成ジッタ、を使用しているため、常に最適な記録条件を見付けることができるとは限らないことが分かった。前縁ジッタ及び後縁ジッタが別々に決定される場合は、記録条件を更に改善することが可能である。前縁ジッタは記録層に書き込まれたマークの前縁位置の精度の目安であるから、測定された前縁ジッタは、好ましくは、この位置に影響を与えるように使用される。マークの前縁の位置には、該マークを書き込むために使用されるパルス列の前縁部分の第１パラメータを変化させることにより、影響を与えることができる。同様に、後縁ジッタは書き込まれたマークの後縁位置の精度の目安であるから、後縁ジッタは、好ましくは、当該パルス列の後縁部分の第２パラメータを最適化するために使用される。記録条件は、これらの条件下で記録された情報の再生においてエラーの数が最小となる場合に、最適と言われる。
通常、情報は記録担体上で異なるマークの集合により表される。例えば、該情報が所謂ＥＦＭに従い符号化されている場合、上記集合は単位長の３、４、…１１倍の長さを持つマーク及び、多分、１４単位長の同期マークを有するであろう。上記単位長のｎ倍の長さを持つマークはｎＴマークと呼ばれる。上記の異なるマークの集合のうちの単一のマークは、異なるパルス列の対応する集合のうちの１つのパルス列により書き込まれる。パルス列の長さは、書き込まれるべきマークの長さが増加するにつれて増加する。本発明による最適化方法においては、上記パルス列の集合のうちの少なくとも１つのパルス列の前縁部分が最適化され、同様に、上記集合のうちの少なくとも１つのパルス列の後縁部分が最適化される。本発明によれば、パルス列の前縁及び後縁部分の両方を最適化することもできる。
好ましくは、短いパルス列の前縁部分が最適化され、長いパルス列の後縁部分が最適化されるようにする。中間の長さのパルス列の前縁部分及び後縁部分を最適化することもできる。短いパルスと長いパルスとの間の中間休止（caesura）は最長のパルス列よりも最短のパルス列に近くしなければならない。何故なら、増加する長さの書き込みマークの長さの相対変化は、長いマークに対するよりも短いパルスに対する方が大きいからである。ＥＦＭ符号化された情報に対する中間休止は、好ましくは、Ｔ４又はＴ５パルス列におけるものとする。異なる長さのパルス列の別々の最適化は、記録条件を改善する非常に好適な方法を提供する。
最適化されるべき上記第１又は第２パラメータは、各々、当該パルス列の前縁又は後縁部分の放射出力（radiation power）とすることができる。パルス列は１以上の放射パルスを有することができる。パルス列が２以上のパルスを有している場合は、上記第１又は第２パラメータは、各々、該パルス列の前縁又は後縁部分におけるパルスのパルス幅とすることができる。他の例として、上記第１又は第２パラメータは、パルス列の前縁又は後縁部分における２つのパルスの間の期間とすることもできる。例えば、前縁部分の放射出力及び後縁部分のパルス幅のように、前縁及び後縁部分に対する異なるパラメータの組合せも可能である。当該装置の好ましい実施例においては、上記第１パラメータは前縁部分の出力であり、上記第２パラメータはパルス列の後縁部分の出力である。
本発明による装置は、好ましくは、パルス列の出力を、記録されたテストパターンに対応する読取信号の測定された振幅又は総合ジッタに依存して最適値に設定する。該出力は、当該パルス列のうちの上記第１又は第２パラメータにより出力が影響を受けない部分に適用する。測定された振幅は、出力を設定するために、読取信号の変調又は所謂非対称性に変換することができる。
本発明による方法において先ず最適化されるべきパラメータは、他のパラメータに強く影響するパラメータでなければならない。最適な記録条件を決定する好ましい順序は、第１パラメータ（例えば、パルス列の前縁部分のみの出力）の値を変化させてテストパターンを先ず書き込むことである。第１パラメータの最適値は、該パターンから読取信号の前縁ジッタを測定し、最小のジッタに対応する第１パラメータの値を決定することにより、決定される。第２テストパターンが、上記最適出力及び第１パラメータの上記最適値を用い、且つ、第２パラメータ（例えば、パルス列の後縁の出力）の値を変化させて、記録される。該第２パラメータの最適値は、読取信号の後縁ジッタから決定される。
上記の２つの最適化ステップは、好ましくは、当該パルス列のうちの上記２つのステップによっては影響されない部分の書込出力を最適化するステップにより先行されるものとする。このため、テストパターンが当該パルス列の書込出力の値を変化させながら記録担体上に書き込まれ、最適書込出力が該パターンに対応する読取信号から決定される。この書込出力は、上記第１及び第２テストパターンを書き込む際に使用することができる。上記２つのステップの後、第４テストパターンを、上記第１及び第２パラメータの最適値を用い、且つ、当該パルス列の出力を上記第１ステップで見つかった最適値の周辺の狭い範囲にわたり変化させて、記録することができる。該出力の最適値は読取信号の振幅から決定される。
本発明の他の特徴は、記録担体上に情報を記録する方法であって、上記最適記録条件を本発明による上記記録装置に関して述べたようにして決定するステップを有するような方法に関するものである。
本発明の更に他の特徴は、記録担体上に異なる長さのマークの形態で情報を記録する方法であって、マークが前記記録担体を放射のパルス列で照射することにより形成され、各パルス列が前縁部分と中間部分と後縁部分とを有し、各パルス列が異なる長さを持つパルス列の集合に属し、該パルス列の集合が短いパルス列の部分集合と長いパルス列の部分集合とを有するような方法において、前記部分集合の１つのみのパルス列が第１パラメータの相違する前縁部分及び中間部分を有し、前記部分集合の他の１つのパルス列が第２パラメータの相違する中間部分及び後縁部分を有していることを特徴とする方法に関するものである。上記２つの部分集合は一部重なってもよい。即ち、１以上のパルス列が両部分集合に属してもよい。上記２つの部分集合は分離していてもよく、全てのパルス列が上記２つの部分集合に含まれる必要はない。１つの部分集合は少なくとも１つのパルス列を有するが、好ましくは２以上とする。
本発明の他の特徴は、記録担体上に異なる長さのマークの形態で情報を記録する方法であって、マークが前記記録担体を放射のパルス列で照射することにより形成され、各パルス列が前縁部分と後縁部分とを有し、各パルス列が異なる長さを持つパルス列の集合に属し、該パルス列の集合は短いパルス列の第１部分集合と長いパルス列の第２部分集合とを有するような方法において、前記第１部分集合のパルス列は前記前縁部分に第１パラメータの第１の値を有し、前記第２部分集合のパルス列は前記前縁部分に前記第１パラメータの第２の別の値を有し、前記第１部分集合のパルス列は前記後縁部分に第２パラメータの第１の値を有し、前記第２部分集合のパルス列は前記後縁部分に前記第２パラメータの第２の別の値を有していることを特徴とする方法に関するものである。
本発明による上記記録方法は、記録の品質を向上させ、記録された情報の読取信号のジッタを大幅に減少させることが分かった。記録担体及び記録装置の銘柄の記録の品質に対する影響が低減される。特に、記録の品質は、放射の波長及び記録装置の対物レンズの充填物に敏感でなくなる。
【図面の簡単な説明】
本発明の目的、作用効果及び特徴は、添付図面に示すような本発明の好ましい実施例の以下の詳細な説明から明らかになるであろう。添付図面において、
第１図は、本発明による光学記録装置のブロック図、
第２図は、ジッタ検出器のブロック図、
第３図は、デジタル情報信号、書き込み用の放射出力に対応する信号及び対応する一連の状態を示す、
第４図は、情報処理手段のブロック図、
第５Ａ図及び第５Ｂ図は、書き込み用の放射出力に対応する２つの信号を示す。
発明を実施するための最良の形態
第１図は本発明による装置及び光学記録担体１を示している。記録担体１は、透明基板２と該基板上に配置された記録層３とを有している。該記録層は放射ビームにより情報を書き込むのに適した材料を有している。該記録層は、例えば、光磁気型、相変化型、染料型又は他の何れかの好適な材料のものとすることができる。本発明は、これら媒体の何れにも適用することができるが、特に色素媒体に適したものであることが分かった。情報は記録層３上に、マークとも呼ばれる光学的に検出可能な領域の形態で記録することができる。当該装置は、放射ビーム５を放出するための、例えば半導体レーザのような放射源４を有している。該放射ビームは、ビームスプリッタ６、対物レンズ７及び基板２を介して記録層３上に収束される。該記録担体は、上記放射ビームが基板を通過することなく記録層３上に直接入射されるような空気入射であってもよい。媒体１から反射された放射はレンズ７により収束され、ビームスプリッタ６を通過した後、検出システム８に入力し、該検出システムは入射した放射を電気検出器信号に変換する。該検出器信号は回路９に入力される。該回路は上記検出器信号から、媒体１から読み取られる情報を表す読取信号ＳR1のような幾つかの信号を導出する。上記放射源、ビームスプリッタ６、対物レンズ７、検出システム８及び回路９は一緒になって読取手段１０を形成する。他の実施例においては、ビームスプリッタ６は回折格子であり、検出システム８は放射源４に接近して配置される。
回路９からの読取信号ＳR1は第１プロセッサ１１において処理され、これにより、該読取信号から例えば変調、非対称性又はジッタ等の１以上の読取パラメータを表す信号を導出する。これら信号は読取処理を制御するために使用される。これら信号は制御手段１２に供給され、該手段は上記の読み取られたパラメータの一連の値を処理すると共に、これらに基づいて最適な記録条件に対応する制御信号ＳCの値を導出する。これら制御信号は、例えばマイクロプロセッサ等の主処理手段１３に供給される。プロセッサ１１及び制御手段１２は、アナログ信号を処理するのに適した回路又はデジタル信号を処理するのに適した回路とすることができる。回路９により供給される第２読取信号ＳR2（ＳR1と同一の信号でもよい）も、主処理手段１３に供給され、この手段は該信号を処理して記録担体１から読み取られた情報を表す情報出力信号ＳIOを形成する。
主処理手段１３はテスト信号発生器１４を制御し、該発生器は情報の記録に先行するテストフェーズの間に放射源ドライバ１５にテスト信号ＳTを供給する。放射源ドライバ１５は、その入力端子の信号に依存して、放射源４用の駆動信号を発生する。該テスト信号は、放射源４により放出される放射のパルスパターンに対応するものである。ここで、上記放射源ドライバ１５、放射源４、ビームスプリッタ６及び対物レンズ７は一緒に記録手段１７を形成している。
記録担体１上に記録されるべきユーザ情報を表す情報入力信号ＳIIも、主処理手段１３に供給される。処理手段１３は、該ユーザ情報に同期、アドレス及びエラー訂正情報を付加することができる。信号ＳIPにより表される処理された情報は、処理手段１６に供給される。制御信号ＳCも該処理手段１６に供給される。処理手段１６は、情報を記録する際に放射源ドライバ１５を制御するために、信号ＳDを発生する。該手段は、上記駆動信号を最適な記録処理に対して調整するために、該制御信号を使用する。
放射源４により放出される放射パルスは、記録層３に光学的に検出可能な形態のマークを誘起する。斯様なマークは単一の放射パルスによっても書き込むことができる。また、マークは、等しい又は異なる長さの一連の放射パルスによっても書き込むことができる。
放射源４により放出される実際の放射出力は、当該放射ビームのさもなければ使用されないサイドローブ内、又は当該放射ビームの光学経路内の要素から反射される放射内に配置される図示せぬ出力検出器により測定することができる。該出力検出器の信号は主処理手段１３に直接供給することができる。
第１プロセッサ１１は、前記読取信号から読取パラメータを導出する手段を有している。該読取パラメータは、上記読取信号内の高及び低周波数成分の変調又は該変調の組合せのような該読取信号の振幅に関係するパラメータであり得る。また、該読取パラメータは、ジッタのような当該読取信号中の遷移のタイミングに関係するパラメータでもあり得る。プロセッサ１１は、上記読取信号から２以上のパラメータを導出する手段を有することもできる。
本発明によれば、プロセッサ１１は読取信号ＳR1の前縁及び後縁の両方のジッタを測定するジッタ検出器２０を有している。第２図は該ジッタ検出器２０の一実施例を示している。読取信号ＳR1は位相検出器２１に供給され、該検出器は該読取信号とクロック信号ＳCLとの間の位相を測定する。ローパスフィルタ２２は、該測定された位相から高周波成分を除去する。該ローパスフィルタ２２の出力はクロック発生器２３の周波数を制御するために使用される。該クロック発生器はクロック信号ＳCLを出力し、該クロック信号は位相検出器２１に帰還される。上記部品２１、２２及び２３はフェーズロックループを形成し、上記読取信号からクロック信号を導出する。クロック信号ＳCL及び読取信号ＳR1は第１時間間隔検出器２４に供給され、該検出器は上記読取信号の前縁と上記クロック信号の最寄りの遷移点との間の時間間隔を測定する。該前縁は上記読取信号ＳR1のうちの前記走査放射ビームにより検出されるマークの最初の部分に対応する部分であり、上記後縁はマークの最後の部分に対応する部分である。また、クロック信号ＳCL及び読取信号ＳR1は第２時間間隔検出器２５にも供給され、該検出器は上記読取信号の後縁と上記クロック信号の最寄りの遷移点との間の時間間隔を測定する。時間間隔検出器２４及び２５の測定された時間間隔は回路２６及び２７において各々解析される。回路２６及び２７は、上記時間間隔の値を処理して、平均値、標準偏差及び／又はピークずれを形成する。本発明による該ジッタ検出器の実施例においては、回路２６及び２７は前縁ジッタ及び後縁ジッタの標準偏差を示す信号ＳLJ及びＳTJを各々発生する。
処理手段１６は情報信号ＳIPに応答して出力信号ＳDを発生すると共に、該信号を放射源ドライバ１５に供給する。第３図は、上側の描線で２値のＥＦＭ符号化された情報信号ＳIPを時間ｔの関数として示している。該信号は論理値“０”及び“１”の系列として３Ｔ、４Ｔ及び６Ｔパルスを示し、各値の間の遷移は距離Ｔのクロック時点で発生している。第３図における２番目の描線は、上記最初の線で示された３つの信号パルスに関係すると共に本発明により最適化された出力信号ＳDの３つのパルス列の例を示している。該２番目の描線はＳDの信号値に対応する放射源４の放射出力を示している。ここで、Ｐbは前記記録層内にマークを書き込むには不充分なバイアス出力レベルである。また、ＰWは上記パルス列の中間部分の書込出力レベルである。また、ＰW1はパルス列の前縁部分の書込出力レベルである。また、ＰW2はパルス列の後縁部分の出力である。３番目の描線は、期間Ｔの各クロック周期に関する論理状態を示している。２番目の描線に示されたＳDの例においては、信号値はＴ／３なる距離のクロック時点で変化することができる。パルス列の最初のパルスは４／３Ｔなる幅を有し、該パルス列内の後続のパルスは２／３Ｔなる幅と１／３Ｔなるパルス間の間隙とを有している。本例におけるパルス列の前縁部分は１／３Ｔの長さを有し、後縁部分は２／３Ｔの長さを有している。パルス列の中間部分は、当該パルス列の全長から１Ｔを引いたものに等しい長さを有している。第３図における４番目の描線は上記２番目の描線のパルス列により形成されるマークを概念的に示している。即ち、３Ｔ、４Ｔ及び６Ｔのマーク２８ａ、２８ｂ及び２８ｃ、並びに中間の書き込まれない３Ｔ及び４Ｔの長さの領域２９ａ及び２９ｂである。
第３図の２番目の描線における最適化された信号の例においては、短いパルス列（３Ｔ及び４Ｔ）の部分集合の前縁部分における出力ＰW1が前記前縁ジッタを用いて最適化され、長いパルス列（ｎ≧５の場合のｎＴ）の前縁部分における出力はレベルＰWに設定される。３Ｔパルス列の後縁部分の出力は最適化されずにレベルＰWに設定され、長いパルス列（ｎ≧４の場合のｎＴ）の部分集合の後縁部分の出力ＰW2は前記後縁ジッタを用いて最適化される。
本発明は、上記のようなパルス列の前縁及び後縁部分の長さに限定されるものではなく、パルス列の前縁及び後縁部分の別の長さも可能であることは明らかであろう。同様に、本発明は前縁及び後縁が最適化される図示のパルス列の特定の選択に限定されるものでもないことも明らかであろう。
第４図は、第３図の最初の描線に示されるような情報信号ＳIPに応答して第３図の２番目の描線に示されるような出力信号ＳDを発生する処理手段１６の一実施例を示している。周期Ｔを持つクロック信号ＦCがフェーズロックループ３０に供給される。該フェーズロックループの出力ＦC3の周波数は、分周器３１により３なる係数で除算され、次いで該フェーズロックループ３０に帰還される。フェーズロックループ３０と分周器３１との組合せは、１／３Ｔなる周期を持つクロック信号ＦC3を発生する周波数３倍器として動作する。情報信号ＳIPは８ビットシフトレジスタ３２に供給される。ＳIPの入力ビットは当該レジスタにクロック周期Ｔ当たり１ビットの割合で導入される。該レジスタの内容は各クロック周期Ｔにつき一度、状態マシン３３に供給される。該状態マシンは、上記レジスタからの各８ビット語を３つの連続した出力値（power values）に変換する。これら出力値は、該状態マシンの出力端子で、１／３Ｔ周期当たり１つの値の割合で送出される。したがって、クロック周期Ｔ当たり３つの出力値が提供される。これら出力値はＤ／Ａ変換器３４によりデジタルからアナログのフォーマットに変換され、該変換器は前記放射源ドライバ１５において使用されるべきアナログ出力信号ＳDを出力する。
上記状態マシンの動作を表Ｉを参照して説明する。
0004056569.tif 000002
上記表は、状態マシン３３によりシフトレジスタ３２から受信されたビットパターン、該状態マシンの対応する状態、及び該状態に関係する３つの連続した出力値を示している。第３図の最初の描線における情報信号ＳIPに属する状態が、第３図の一番下の描線に示されている。状態０につながるものとして２つの入力ビットパターンがあり、状態１につながるものとして２つのものがある。各ビットパターンの一番右のビットは、シフトレジスタ３２に入力された情報の最後のビットである。右から４番目のビットは現在のビットである。該表の各ビットは論理値“０”及び“１”並びに“ｘ”で示された所謂“どちらでもよい”値“０”又は“１”を持つことができる。一例として、ＦCのクロック時点で、状態マシン３３がビットパターン“ｘ１１１１０ｘｘ”を有していると、該マシンは状態３となり、これに応答して該マシンはＦC3の３つの連続するクロック時点で出力値Ｐb、ＰW2及びＰW2をこの順で供給する。これらのデジタル出力値はデジタルからアナログに変換され、放射源ドライバ１５に供給される。
記録担体１上に情報を書き込む前に、当該装置はテストフェーズを経て進み、このフェーズでは該装置は以下の手順を実行することにより書込に使用されるパルス列の放射出力を最適値に設定する。該装置は記録担体１上に、各々が異なる書込出力を持つ一連の副パターンを有する第１テストパターンを書き込む。後続の副パターンは、主処理手段１３の制御の下で、段階的に増加される書込出力で書き込むことができる。これら副パターンにおけるマークの長さは、所望の読取信号が得られるように選択されねばならない。読取信号の最大変調が決定されねばならない場合は、これら副パターンは該読取信号の最大変調を達成するために充分に長いマークを有していなければならない。当該情報が所謂ＥＦＭ変調に従い符号化される場合は、テストパターンは好ましくは長いＩ11マークを有するようにする。これらパターンは当該媒体上の何れの位置にも書き込むことができる。また、これらパターンは当該媒体上に特別に設けられたテスト領域に書き込むこともできる。
上記第１テストパターンに対応する読取信号ＳR1はプロセッサ１１により処理され、該読取信号から第１読取パラメータが導出される。該第１読取パラメータは当該読取信号の変調であり得る。該第１読取パラメータは、好ましくは、当該読取信号の全情報帯域幅にわたって得られる平均値と、該読取信号の上記帯域幅の低周波端近傍の成分の平均値との間の差の目安となる、βと呼ばれる、該読取信号の非対称性とする。該非対称性を表す信号は、読取信号ＳR1をハイパスフィルタに通過させ、該フィルタされた信号の上側及び下側包絡線の信号値Ａ１及びＡ２を各々決定し、β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）を計算することにより得ることができ、ここで、通常Ａ２は負の値を有するであろう。
制御手段１２はプロセッサ１１から上記第１テストパターンにおける全ての副パターンに関するβの値を受信する。βの該値及び対応する副パターンの書込出力は、β対書込出力曲線を形成し、該曲線はβ＝０軸と交差する線である。制御手段１２は、βが零に近いか又は零に等しい値、好ましくは−０．０５ないし＋０．１５の範囲内の値を有するような書込出力を決定する。該選択された最適書込出力は、主処理手段１３に供給される。
該テストフェーズの第２ステップでは、当該装置は書き込みに使用されるパルス列の前縁部分を最適化する。この目的のため、テスト信号発生器１４は、上記第１のステップで得られた最適書込出力を用いて、当該記録担体上に第２テストパターンを書き込むためのテスト信号を発生する。該第２テストパターンは、パルス列の前縁部分において異なる出力の値を持つ一連の副パターンを有している。プロセッサ１１は、各副パターンに対応する読取信号の前縁ジッタＳLJを測定し、これらジッタ値を制御手段１２に供給する。該制御手段１２は、これら副パターンの前縁ジッタ値を使用して、最も少ない前縁ジッタを与えるような前縁出力ＰW1を決定する。この値を表す制御信号は主処理手段１３に供給される。
このテストフェーズの第３ステップでは、当該装置は書き込みに使用されるパルス列の後縁部分を最適化する。該装置は第３テストパターンを、該第３テストパターンの異なる副パターンにおいて後縁パルスに関し異なる値を持つ書込出力のパルス列を用いて書き込む。これらパルス列は、上記第２ステップで得られた最適前縁出力と、前記第１ステップで見つかった最適出力とを適用する。プロセッサ１１は上記副パターンの各々に対応する読取信号の後縁ジッタＳTJを測定する。制御手段１２は、該後縁ジッタが最小値を示す後縁出力ＰW2を決定し、この値を制御信号として主処理手段１３に供給する。特定の記録担体に対しては、後縁部分が上記第２ステップにおいて最適化され、前縁部分が該第３ステップにおいて最適化される。
該テストフェーズの第４ステップでは、当該装置は上記第２及び第３ステップで得られた前縁及び後縁出力を用いて、もう一度、書込出力を最適化する。該装置は第４テストパターンを、該第４テストパターンにおける異なる副パターンに対して当該パルス列の中間部分における出力が異なる値を有するようなパルス列を用いて書き込む。これら書込出力は、前記第１ステップで得られた最適書込出力付近の比較的狭い範囲内にある。プロセッサ１１及び制御手段１２は最適書込出力ＰWを表す制御信号を形成し、該制御信号を主処理手段１３に供給する。
該テストフェーズの後、信号ＳIIにより表される情報を最適記録条件の下で当該記録担体上に記録することができる。処理手段１６により該情報信号ＳIIに依存して形成されるパルス列は、制御信号ＳCにしたがって修正される。当該装置の上記実施例では、３Ｔ及び４Ｔパルス列の前縁部分の出力は前縁出力ＰW1に設定され、ｎ≧４の場合のｎＴパルス列の後縁部分の出力は後縁出力ＰW2に設定される。また、パルス列の中間部分の出力は最適出力ＰWに設定される。
本発明による方法の他の実施例では、３Ｔ及び４Ｔパルス列のＰW1は第１ステップで同一の値に最適化される。また、ｎ≧４の場合のｎＴパルス列のＰW2は後続のステップにおいて同一値に最適化される。また、４Ｔパルス列のＰW2は次のステップで再び最適化される。
第５図は、本発明による記録方法の他の実施例から結果として得られる出力信号ＳDを３Ｔ、４Ｔ及び６Ｔマークに関して示している。ｎＴマークは（Ｎ−１）パルスのパルス列により書き込まれる。第５Ａ図の実施例では、第１パラメータは３Ｔ及び４Ｔパルス列の最初のパルスの幅Ｔ1であり、該幅の値は単一の最適化ステップで決定される。各パルス列の最初と最後のパルスの間のパルスの幅Ｔ2は、例えば２／３Ｔ等の所定の値を有している。また、パルス列内のパルスの間の期間は、例えば１／３Ｔ等の所定の期間を有している。ｎ≧４の場合のｎＴパルス列の最後のパルスの幅Ｔ3は、単一の最適化ステップにおいて決定される。ｎ≧５の場合のｎＴパルス列の最初のパルスの幅Ｔ1’は、例えば１／３Ｔ等の所定の値を有している。後続の最適化ステップにおいては、４Ｔパルス列のＴ3の値を更に最適化することができる。
第５Ｂ図は、パルス間の期間が最適化された３Ｔ、４Ｔ及び６Ｔパルス列の出力信号ＳDを示している。図示の例では、パルス幅は、例えば６Ｔパルス列に関しては１／３Ｔ、２／３Ｔ、２／３Ｔ、１／２Ｔのような一定の所定値を有している。第１の最適化ステップにおいては、３Ｔ及び４Ｔパルス列の最初のパルスと２番目のパルスとの間の期間Ｔ5が最適化される。パルス列のうちの最初及び最後のパルス以外のパルスの間の期間Ｔ6は、例えば１／３Ｔのような所定の値を有している。同様に、ｎ≧５の場合のｎＴパルス列の最初のパルスと２番目のパルスとの間の期間Ｔ5’は、例えば１／３Ｔのような所定の値を有している。後続の最適化ステップにおいては、ｎ≧４の場合のｎＴパルス列の最後から２番目のパルスと最後のパルスとの間の期間Ｔ7が決定される。
特定の適用例においては、例えば前縁部分の出力最適化及び後縁部分のパルス幅最適化のような、第３、５Ａ及び５Ｂ図に示した方法の組合せを行うこともできることは明らかであろう。
記録装置は、記録担体上に、上記手順で得られた最適記録条件と一緒に当該装置の識別子を記録することもできる。該記録条件は、書込出力ＰW、ＰW1及びＰW2、書込速度、並びに波長を含むことができる。その場合、該装置は記録担体が記録に先立ちテストされねばならないか否かをチェックすることができる。当該記録担体上の識別子が当該装置の識別子と等しい場合は、記録テスト手順は実行する必要はなく、その代わりに当該記録担体から読み取られた記録条件を使用することができる。他の例として又は追加として、記録装置又はレコード製造者は、記録担体上にパラメータ用の開始値又は範囲を書き込むことができる。本発明による記録方法は、消去された記録層に書き込むのに、及び未だ消去されていない記録層に書き込むのに、即ち所謂直接重ね書きをするのに適している。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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