(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、
前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた前記面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とする断層撮影装置。
【請求項２】
被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、
前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、前記面検出器の画素行と前記照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
【請求項３】
被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、
前記面検出器はフラットパネル型検出器とし、前記フラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、
前記画像処理部は、前記面検出器における走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
【請求項４】
被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とのいずれか一方を、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される中心軸に直交する第１方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第１方向とは反対方向である第２方向に平行直線移動させる直線走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第１方向と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
【請求項５】
被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器と、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで２つの円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に前記面検出器を前記照射源との間隔が一定になるように移動させる円弧走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、前記中心軸に直交する水平線と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
【請求項６】
被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体を挟んで対向して平行配置される、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で前記照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で前記照射源の回転方向とは反対方向に前記面検出器を回転移動させる円形走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じたローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
【請求項７】
請求項６に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とする断層撮影装置。
【請求項８】
請求項６に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、医療分野、工業分野などに用いられる、被検体の断層撮影を行なう断層撮影装置に係り、特に、断層画像の偽像を低減する技術に関する。
【０００２】
【従来技術】
従来の断層撮影装置としては、例えば、近年進歩の著しいＸ線ＣＴ（Ｘ線コンピュータ・トモグラフィ）タイプのＸ線断層撮影装置（以下、適宜にＸ線ＣＴ装置と呼ぶ。）がある。このＸ線ＣＴ装置は、被検体を挟んで、コーンビーム形状のＸ線を被検体に照射するＸ線管と、被検体を透過したＸ線を面検出するイメージインテンシファイア（以下、「Ｉ．Ｉ管」と言う）とが対向配置され、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸が直交する単一平面内でその走査中心軸周りに、Ｘ線管とＩ．Ｉ管とを同期させて一回転（少なくとも半回転）走査させながら撮影することで、被検体の体軸周り１回転分（少なくとも半回転分）の透過像を取得する。
【０００３】
そして、このＸ線ＣＴ装置では、取得した複数枚の透過像に対してフェルドカンプ（feldkamp）法を用いた画像再構成を行なうことで、被検体の関心領域についての３次元ボリュームデータを生成しており、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の断層画像が選択されると、その選択された断層画像（被検体の体軸方向から見た断層画像）がモニタなどに表示されるようになっている。
【０００４】
このように、１回の撮影で被検体の関心領域についての３次元ボリュームデータが得られるので、撮影後に任意の断層面の断層画像を選択するだけで、所望の断層面の断層画像を迅速に表示できるなどの利点を有している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。すなわち、フェルドカンプ（feldkamp）法を用いた画像再構成では、被検体の関心領域のほぼ中心に位置するとともに走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れるほどその位置における再構成画像に偽像が大きく現れるという問題がある。これは、以下に説明するように、ボリュームスキャン方式に起因するためであると言える。
【０００６】
上述したように、Ｘ線管からはコーンビーム形状のＸ線が被検体に照射され、Ｉ．Ｉ管は被検体を透過したＸ線を面検出して、走査各位置で検出された透過像に対してフェルドカンプ（feldkamp）法を用いた画像再構成を行なっている。例えば、Ｘ線管から照射されるコーンビームＸ線の中心と、Ｉ．Ｉ管の検出面における走査中心軸方向のほぼ中心に位置する画素とを結ぶ対向パスは、走査各位置に関わらず、同一スライス平面に属している、すなわち、対向パスが一致しているので、画像再構成された３次元ボリュームのほぼ中心面付近の断層画像には、対向パスが不一致であることに起因する偽像は存在しない。しかし、Ｘ線管から照射されるコーンビームＸ線の中心と、Ｉ．Ｉ管の検出面の走査中心軸方向の中心から離れた画素とを結ぶ対向パス方向、すなわち、Ｘ線管から照射されるコーンビームＸ線の開き角度方向（傾斜方向）は、同一スライス平面に属さず、走査各位置ごとに異なり不一致となっているので、画像再構成された３次元ボリュームの中心面から離れた断層画像ほど、対向パスが不一致であることに起因する偽像が大きく現れることになるのである。
【０００７】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、ボリュームスキャン方式に起因する偽像などを低減する断層撮影装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわち、請求項１に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた前記面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とするものである。
【００１０】
また、請求項２に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、前記面検出器の画素行と前記照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【００１１】
また、請求項３に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記面検出器はフラットパネル型検出器とし、前記フラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、前記画像処理部は、前記面検出器における走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【００１２】
また、請求項４に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とのいずれか一方を、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される中心軸に直交する第１方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第１方向とは反対方向である第２方向に平行直線移動させる直線走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第１方向と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【００１３】
また、請求項５に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器と、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで２の円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に前記面検出器を前記照射源との間隔が一定になるように移動させる円弧走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、前記中心軸に直交する水平線と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【００１４】
また、請求項６に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体を挟んで対向して平行配置される、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で前記照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で前記照射源の回転方向とは反対方向に前記面検出器を回転移動させる円形走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じたローパスフィルタリングを行うことを特徴とするものである。
【００１６】
また、請求項７に記載の断層撮影装置は、請求項６に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とするものである。
【００１９】
また、請求項８に記載の断層撮影装置は、請求項６に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【００２０】
【作用】
この発明の作用は次の通りである。すなわち、請求項１に記載の発明によれば、走査手段は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する。画像処理部は、面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じて、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかける。逆投影処理部は、画像処理部でローパスフィルタリングされた投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される３次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう。したがって、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【００２２】
また、請求項２に記載の発明によれば、画像処理部は、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、面検出器の画素行と照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なう。したがって、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【００２３】
また、請求項３に記載の発明によれば、面検出器はフラットパネル型検出器とし、このフラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、画像処理部は、走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なう。したがって、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【００２４】
また、請求項４に記載の発明によれば、走査手段は、照射源と面検出器のいずれか一方を被検体の関心領域のほぼ中心に設定される中心軸に直交する第１方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第１方向とは反対方向である第２方向に平行直線移動させる直線走査を行なう。画像処理部は、中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第１方向と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで平行直線走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００２５】
また、請求項５に記載の発明によれば、走査手段は、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで２つの円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に面検出器を照射源との間隔が一定になるように移動させる円弧走査を行なう。画像処理部は、中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、前記中心軸に直交する水平線と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円弧走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００２６】
また、請求項６に記載の発明によれば、走査手段は、同一平面内回転走査に替えて、被検体を挟んで対向して平行配置される、走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で照射源の回転方向とは反対方向に面検出器を回転移動させる円形走査を行なう。したがって、照射源と面検出器とを個別に被検体を挟む両平行面の各平行面内で回転走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプの断層撮影装置の場合であっても、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００２８】
また、請求項７に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで回転走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００３１】
また、請求項８に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円形走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００３２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照してこの発明の断層撮影装置に係る一実施例としてのＸ線ＣＴタイプのＸ線断層撮影装置（以下、適宜にＸ線ＣＴ装置と呼ぶ。）について、図面を参照しながら説明する。図１は、この発明の断層撮影装置に係る実施例のＸ線ＣＴ装置の概略構成を示すブロック図である。
【００３３】
この実施例のＸ線ＣＴ装置は、種々の情報および命令を入力する操作部１０と、これら入力された情報および命令に基づいてＸ線撮影を制御する撮影制御部２０と、この撮影制御部２０により制御されながら撮像部４０を動作させる駆動部３０と、被検体Ｍの関心領域を撮影する撮像部４０と、この撮像部４０から検出された画像情報に基づいて被検体Ｍの関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行ない、その生成した３次元ボリュームデータを記憶するデータ処理部５０と、このデータ処理部５０に記憶された画像情報を出力表示するモニタ６０とを備えている。
【００３４】
以下、各部の構成および機能について詳細に説明する。図２（ａ）は、この実施例のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとの一走査形態を示す概略平面図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）に示したＸ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを横から見た概略側面図である。図２（ａ）に示すように、被検体Ｍを挟んで、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸Ｚ周りに、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを同期させて同一平面内で一回転（少なくとも半回転）走査させながら撮影することで、被検体の体軸周り１回転分（少なくとも半回転分）の透過像を取得する。操作部１０からは、被検体Ｍの関心領域を撮影する前に、Ｘ線管Ｒからフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄまでの距離や、Ｘ線管Ｒおよびフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄを円形に回転移動させるその円形方向への移動ピッチなどが予め設定入力される。なお、この操作部１０としては、キーボード、マウス、タッチパネルなどの入力装置が用いられる。上述したＸ線管Ｒはこの発明における照射源に相当する。
【００３５】
撮影制御部２０には、操作部１０と、駆動部３０およびデータ処理部５０とが接続されている。撮影制御部２０は、操作部１０より設定入力された各情報に基づいて、駆動部３０とデータ処理部５０とをそれぞれ制御している。制御内容については、各部にて後述する。
【００３６】
駆動部３０は、図２（ａ）に示すように、被検体Ｍを挟んで対向配置されるＸ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸Ｚ周りに、同期させて同一平面内で一回転（少なくとも半回転）させて移動させるように走査させるものである。また、このとき、図２（ｂ）に示すように、被検体Ｍに向けてＸ線管Ｒから照射されるコーンビーム状のＸ線の中心点が、常に、走査中心軸Ｚ上の特定の点である、被検体Ｍの特定断層面の中心点Ｏを透過して、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心点に垂直に入射されるように、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを対向させている。上述した駆動部３０はこの発明における走査手段に相当する。
【００３７】
撮像部４０は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板Ｔと、被検体Ｍに向けてコーンビーム状のＸ線を照射するＸ線管Ｒと、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを備えている。
【００３８】
フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄは、Ｘ線管ＲによるＸ線照射によって生じる被検体ＭのＸ線透視像を検出してＸ線検出信号としての電気信号に変換して出力するという構成のＸ線検出器であって、図３に示すように、多数の検出素子Ｄｕが縦横に配列されている所謂２次元状マトリックス状のＸ線検出器である。実施例のフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄにおける検出素子Ｄｕの配列は、例えば横（ｉ行）方向１０２４，縦（ｊ列）方向１０２４の正方形マトリックスであるが、説明の便宜上、横（ｉ）方向１０００，縦（ｊ）方向１０００の正方形マトリックスであるものとし、図３には、縦３×横３マトリックス構成で合計９個分のマトリックス構成のみを示している。矩形の平面形状を有するフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄは、検出面が円形に限られるイメージインテンシファイアと違って、胸部や腹部など大きな部位を撮影するのに適した方形の検出面が可能な点でも、有用なＸ線検出器である。
【００３９】
フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄは、図４に示すように、入射Ｘ線を電荷あるいは光に変換するＸ線変換層１２と、このＸ線変換層１２で生じた電荷あるいは光を検出する素子が縦横にマトリックス状に配置形成されている検出アレイ層１３との積層構造となっている。このフラットパネル型Ｘ線検出器ＤのＸ線変換層１２の平面寸法としては、例えば縦横約３０ｃｍが挙げられる。
【００４０】
このフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄには、図５（ａ）に示す直接変換タイプのものと、図５（ｂ）に示す間接変換タイプのものがある。前者の直接変換タイプの場合、Ｘ線変換層１２が入射Ｘ線を直に電荷に変換するセレン層やＣｄＺｎＴｅ層などからなり、検出アレイ層１３の表面に電荷検出素子１４として表面電極１５に対向形成された電荷収集電極群でもって電荷の検出を行いコンデンサＣｓに蓄電する構成となっていて、各電荷検出素子１４とその上のＸ線変換層１２の一部分とで１個の検出素子Ｄｕが形成されることになる。後者の間接変換タイプの場合、Ｘ線変換層１２が入射Ｘ線を光に変換するシンチレータ層からなり、検出アレイ層１３の表面に光検出素子１６として形成されたフォトダイオード群でもって光の検出を行いコンデンサＣｓに蓄電する構成となっていて、各光検出素子１６とその上のＸ線変換層１２の一部分とで１個の検出素子Ｄｕが形成されることになる。
【００４１】
フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄは、図３に示すように、Ｘ線変換層１２と検出アレイ層１３とが形成されたＸ線検出基板４１と、Ｘ線検出基板４１のキャリア収集電極（電荷収集電極）を介して収集キャリア（収集電荷）を溜めるコンデンサＣｓと、コンデンサＣｓに蓄積された電荷を取り出すための通常時オフ（遮断）の電荷の電荷取り出し用スイッチ素子４２である薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）と、Ｘ、Ｙ方向の読み出し回路のマルチプレクサ４５と、ゲートドライバ４７とを備えている。
【００４２】
また、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄは、図３に示すように、検出素子Ｄｕのスイッチ素子４２用の薄膜トランジスタのソースがｉ方向に配列した縦の読み出し配線４３に接続され、ゲートがｊ方向に配列した横の読み出し配線４６に接続されている。読み出し配線４３は電荷−電圧変換器群（プリアンプ群）４４を介してマルチプレクサ４５に接続されているとともに、読み出し配線４６はゲートドライバ４７に接続されている。なお、電荷−電圧変換器群４４では、１本の読み出し配線４３に対して、図示しないが、電荷−電圧変換器群４４が１個それぞれ接続されている。
【００４３】
そして、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの場合、マルチプレクサ４５およびゲートドライバ４７へ信号取り出し用の走査信号が送り込まれることになる。検出部１０の各検出素子Ｄｕの特定は、ｉ方向・ｊ方向の配列に沿って各検出素子Ｄｕへ順番に割り付けられているアドレス（検出素子Ｄｕが１０００個としているので０〜９９９、検出素子Ｄｕが１０２４個である場合は０〜１０２３）に基づいて行なわれるので、取り出し用の走査信号は、それぞれｉ方向アドレスまたはｊ方向アドレスを指定する信号となる。
【００４４】
ｊ方向の走査信号に従ってゲートドライバ４７からｊ方向の読み出し配線４６に対し取り出し用の電圧が印加されるのに伴い、各検出素子Ｄｕが列単位で選択される。そして、ｉ方向の走査信号に従ってマルチプレクサ４５が切り替えられることにより、選択された列の検出素子ＤｕのコンデンサＣｓに蓄積された電荷が、電荷−電圧変化器群４４およびマルチプレクサ４５の順に経て外部に送りだされることになる。このように、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄで検出された検出信号は、逐次、データ処理部５０にリアルタイムに出力される。上述したフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄはこの発明における面検出器に相当する。
【００４５】
次に、データ処理部５０の構成および機能について説明する。図１に示すように、データ処理部５０は、撮像部４０において走査各位置で検出された投影データ（検出信号）に基づいて、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成（フェルドカンプ（Feldkamp）法を用いた画像再構成）を行なう画像処理部５１と、この画像処理部５１で画像再構成された関心領域の３次元ボリュームデータを記憶する画像情報記憶部５２とを備えている。この画像処理部５１と画像情報記憶部５２の具体的な機能について説明する。
【００４６】
ここで、関心領域の３次元ボリュームデータを生成するために行なわれる、フェルドカンプ（Feldkamp）法による画像再構成の一連の処理手順について、図１，図２を参照しながら概説する。まず、図２に示すように、被検体Ｍを挟んでＸ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸Ｚ周りに、同期させて同一平面内で一回転させて移動させるように走査させることで、被検体Ｍの関心領域についての撮影を行ない、走査各位置で検出された、被検体Ｍの関心領域についての一群の投影データを取得する。次に、この一群の投影データを個別に、後述する所定の第１の重み付け処理を行なう。次に、第１の重み付け処理後の各投影データに対して、後述する所定のコンボリューション処理を施す。次に、コンボリューション処理後の各投影データに対して、後述する所定の第２の重み付け処理を行なう。次に、第２の重み付け処理した後の投影データを個別に、後述する所定の逆投影（バックプロジェクション：ＢＰ）処理してＢＰ像（３次元ボリュームデータ）を生成する。このようにして、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成が行なわれる。なお、オペレータは、この３次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を選択することで、選択した断層画像（走査中心軸（Ｚ軸）方向から見た断層画像）が見られる。
【００４７】
画像処理部５１は、図１に示すように、撮影により得られた一群の投影データを個別に所定の第１の重み付け処理を行なう第１の重み付け処理部５３と、この第１の重み付け処理後の各投影データに対して所定のコンボリューション処理を施すコンボリューション処理部５４と、このコンボリューション処理後の各投影データに対して所定の第２の重み付け処理を行なう第２の重み付け処理部５５と、この第２の重み付け処理した後の投影データを個別に所定の逆投影（バックプロジェクション：ＢＰ）処理してＢＰ像（３次元ボリュームデータ）を生成する逆投影処理部５６とを備えている。
【００４８】
第１の重み付け処理部５３は、撮影により得られた一群の投影データを個別に所定の第１の重み付け処理（リング補正、余弦補正）を行なう。具体的には、図６に示すように、走査各位置でフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄで検出された各投影データに対して、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行ｉごとにビュー方向の画素検出レベル変動を補正する、いわゆる、リング補正を行なう。なお、図６に示すように、被検体Ｍに向けてＸ線管Ｒから照射されるコーンビーム状のＸ線の中心点が、常に、被検体Ｍの特定断層面の中心点Ｏ（走査中心軸Ｚ上の点でもある）を透過して、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心点に垂直に入射されるようになっている。
【００４９】
続いて、第１の重み付け処理部５３は、図６に示すように、リング補正後の投影データに対して、次に示す式（１）に基づく余弦補正を行なう。ただし、ＲＤは、Ｘ線管Ｒからフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄまでの距離である。
cos θ＝ＲＤ／（ＲＤ2 ＋Ｙj2 ＋Ｚj2 ）1/2  ……  （１）
つまり、各画素に式（１）のcos θをかけて余弦補正を行なう。例えば、画素Ｄijは、Ｙj ・cos θとすることで、余弦補正後の画素値が求められる。これはビューによらず一定であるので、余弦補正テーブルとして予め作られている。このようにして、余弦補正後の投影データを算出する（図７には、「余弦補正後投影像：ＳＣ（ｉ，ｊ）」として図示している）。
【００５０】
コンボリューション処理部５４は、第１の重み付け処理後の各投影データ、すなわち、余弦補正後投影像：ＳＣ（ｉ，ｊ）に対して所定のコンボリューション処理を施す。実空間で行なうコンボリューション処理は、フーリエ空間で行なうフィルタリング処理と同等であるので、ここでは説明の便宜上、上述の所定コンボリューション処理を、フーリエ空間で行なうフィルタリング処理（図７に示す｜ω｜（絶対値オメガ）フィルタリング処理と、ローパスフィルタリング処理）として説明するものとする。なお、最初にコンボリューション処理部５４での｜ω｜フィルタリング処理について説明し、その後にコンボリューション処理部５４でのローパスフィルタリング処理について説明する。
【００５１】
まず、コンボリューション処理部５４での｜ω｜フィルタリング処理について説明する。コンボリューション処理部５４は、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄのｉ行ごとに横方向に１次元フーリエ変換を行ない、フーリエ面像ＳＣＦ（ｉ，ω）を生成する１次元フーリエ変換部と、１次元フーリエ変換したフーリエ面像ＳＣＦ（ｉ，ω）に対して｜ω｜フィルタリングを施すフィルタリング部と、このフィルタリング部でフィルタリングした後のフーリエ面像ＳＣＦ´（ｉ，ω）を１次元逆フーリエ変換して実空間データに戻す１次元逆フーリエ変換部とを備えている。
【００５２】
フィルタリング部は、図７に示すように、１次元フーリエ変換したフーリエ面像ＳＣＦ（ｉ，ω）のｉ行方向に等方的に高周波領域を低減して高周波ノイズ分を抑制するフィルタとデータ収集走査形態に依存するフィルタとにより構成される｜ω｜フィルタリング部を備えている。なお、上述のデータ収集走査形態に依存するフィルタは、フィルタリング後のフーリエ面像ＳＣＦ´（ｉ，ω）を１次元逆フーリエ変換する際に、直流成分が強調されて生成されるのを抑制しており、直流成分が強調されることに起因する偽像を低減しているのである。
【００５３】
ここで、１次元フーリエ空間でフィルタリング処理を行なうことの意味合いについて説明する。１次元フーリエ空間でフィルタリング処理を行なうことは、数学的には次に示す式（２）で示される。なお、ＳＣＦ´（ｉ，ω）はフィルタリング処理された後の１次元フーリエ面像であり、Ｍ（ωi ）は上述したフィルタリング部のフィルタ特性を示す関数である。
ＳＣＦ´（ｉ，ω）＝ＳＣＦ（ｉ，ω）×Ｍ（ωi ）  …  （２）
【００５４】
なお、Ｍ（ωi ）は、前述の２個のフィルタ特性を表す関数の積として次に示す式（３）のように表される。
Ｍ（ωi ）＝Ｍｉ（ωi ）・Ｍω（ωｉ）  …  （３）
式（３）に示した各フィルタ関数系の典型例について、以下に示す。
【００５５】
Ｍｉ（ωi ）は、図８（ａ）に示すようなフィルタ特性を有しており、次に示す式（４）〜（６）で表される。
Ｍｉ（ωi ）＝１    （ωi ＜ＣＦＲ−ＷＦＲ／２である場合）  …  （４）
Ｍｉ（ωi ）＝｛１−sin（（ωi −ＣＦＲ）・π／ＷＦＲ）｝／２
（ＣＦＲ−ＷＦＲ／２＜ωi ＜ＣＦＲ＋ＷＦＲ／２である場合）…  （５）
Ｍｉ（ωi ）＝０    （ＣＦＲ＋ＷＦＲ／２＜ωi である場合）  …  （６）
ただし、高周波成分が図８（ａ）に示すように滑らかに減衰する正弦波状関数型にした。ＣＦＲはカットオフ周波数であり、ＷＦＲはフィルタ強度の遷移全周波数幅である（図８（ａ）参照）。このＭｉ（ωi ）は、１次元フーリエ空間での高周波成分を削除するものである。
【００５６】
Ｍω（ωｉ）は、図８（ｂ）に示すようなフィルタ特性を有しており、次に示す式（７）で表される。
Ｍω（ωｉ）＝｜ωｉ｜    …  （７）
【００５７】
なお、図８（ａ），（ｂ）には、横軸のプラス方向の特性のみを図示しているが、横軸のマイナス方向の特性は、縦軸を中心に横軸のプラス方向の特性を線対称させたものと同じであるので、図示省略している。
【００５８】
図７に戻って、１次元逆フーリエ変換部は、｜ω｜フィルタリング部で｜ω｜フィルタリングした後のフーリエ面像ＳＣＦ´（ｉ，ω）を１次元逆フーリエ変換して実空間データに戻して、コンボリューション後の投影像ＳＣ´（ｉ，ｊ）を生成する。
【００５９】
次に、コンボリューション処理部５４でのローパスフィルタリング処理について説明する。このコンボリューション処理部５４は、さらに、図７に示すコンボリューション後の投影像ＳＣ´（ｉ，ｊ）のｉ行方向の画素に対して、そのｉ行方向の画素が投影される走査中心軸（Ｚ方向）上の場所に応じたローパスフィルタをかけるフーリエ空間ローパスフィルタリング部を備えている。なお、このローパスフィルタは、ガウス型のローパスフィルタ特性を有するものである。ここで、このローパスフィルタリングの必要性について以下に説明する。
【００６０】
走査各位置における投影データ全てについて、図７に示す｜ω｜フィルタリング処理だけを行ない、この処理後のコンボリューション後投影像ＳＣ´（ｉ，ｊ）の画素行ｉの近傍行の部分を逆投影（ＢＰ）処理して得た３次元ボリュームデータを３次元フーリエ変換した３次元フーリエ変換データ（３次元フーリエ分布像）について見てみる。図１０（ａ）に示すように、例えば、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの中心に近い画素行ｉn-m と検出面の中心から離れた画素行ｉn とにおける各３次元フーリエ変換データ（３次元フーリエ分布像）には、図１０（ｂ），（ｃ）に示すように、ωＺ軸を軸心とし互いの中心角の先端がフーリエ空間座標の原点で交わる２つの欠損円錐（ミッシングコーン：Missing Cone）ＭＳが存在している。この２つの欠損円錐ＭＳは、データが欠落して存在していないものである。また、この２つの欠損円錐ＭＳの大きさ（体積）は、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉごとに異なっている。すなわち、Ｘ線管Ｒから照射されるコーンビームＸ線の中心と、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの走査中心軸方向（Ｚ軸）に並ぶ各画素行ｉとを結ぶ対向パスが、Ｘ線管Ｒのコーンビーム状Ｘ線の中心点と被検体Ｍの特定断層面の中心点Ｏとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの中心点おける画素行ｉ0 とを結ぶ直線（以下、適宜に照射基準線Ｒefと呼ぶ）に対して傾いている角度分の大きさに比例して、欠損円錐ＭＳの中心角および体積が大きくなっている。
【００６１】
図１０（ｂ）に示すように、Ｘ線管Ｒと、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心に近い画素行ｉn-m とを結ぶ対向パスは、照射基準線Ｒefに対してθn-m だけ傾いており、その角度は比較的小さいので、走査各位置における対向パスの不一致分は小さくとなっており、欠損円錐ＭＳは中心角が小さく体積の小さいものとなっている。なお、上述のｍ，ｎは整数であり、ｍ＜ｎとなっている。図１０（ｃ）に示すように、Ｘ線管Ｒと、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心から離れた画素行ｉn とを結ぶ対向パスは、照射基準線Ｒefに対してθn 傾いており、その角度は比較的大きいので、走査各位置における対向パスの不一致分は大きくとなっており、欠損円錐ＭＳは中心角が大きく体積の大きいものとなっている。このように、フーリエ空間ローパスフィルタリング部は、図１０に示すように、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの中心から離れた画素行ほど体積が大きくなる欠損円錐ＭＳの影響を低減させるように、画素行ｉごとに応じたローパスフィルタをかけることが特徴となっている。
【００６２】
具体的には、図９，図１０に示すように、フーリエ空間ローパスフィルタリング部は、照射基準線Ｒefと、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行ｉn とＸ線管Ｒとを結ぶ投影線とからなる開き角度をα（α＝θn ）とし、その画素行ｉn の投影データに対して、ｓｉｎ（θn ）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なう。例えば、図９（ａ）に示すように、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉm に対してｓｉｎ（θm ）に比例するぼかしを行なう、すなわち、Ｘ線管Ｒからフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄまでの距離ＲＤにｔａｎθm をかけたもの、つまり照射基準線Ｒefから画素行ｉm までの距離（＝ＲＤ・tan θm ）にある画素行ｉm に対して、ｓｉｎ（θm ）に比例するガウス型のローパスフィルタをかけて、｜ｓｉｎ（θ）｜に比例するぼかし程度（ＦＷＨＭ：半値幅）でローパスフィルタリングを行なう。図９（ｂ）には、｜ｓｉｎ（θ）｜に比例するぼかし程度（ＦＷＨＭ：半値幅）特性を示す。なお、縦軸をフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉとし、横軸をぼかし程度（ＦＷＨＭ：半値幅）とする。
【００６３】
図１０（ｂ）に示すように、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心に近い画素行ｉn-m では、欠損円錐が小さくその影響は小さいので、ぼかし程度（ＦＷＨＭ：半値幅）は小さく、すなわち、ωＺ軸の高周波成分をカットする量（図中の白抜き部分）を小さくしている。また、図１０（ｃ）に示すように、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心から離れた画素行ｉn では、欠損円錐が大きくその影響は大きいので、ぼかし程度（ＦＷＨＭ：半値幅）は大きく、すなわち、ωＺ軸の高周波成分をカットする量（図中の白抜き部分）を大きくしている。
【００６４】
このように、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの中心から走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた画素行ｉ程大きく現れる欠損円錐ＭＳを、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減させることができ、これにより、後段の逆投影処理部５６でコンボリューション後の投影像を後述の逆投影して生成する３次元ボリュームデータにおける偽像を低減しているのである。なお、上述したコンボリューション処理部５４はこの発明における画像処理部に相当する。
【００６５】
第２の重み付け処理部５５は、走査各位置におけるコンボリューション処理後の投影データＳＣ´（ｉ，ｊ）に対して所定の第２の重み付け処理を行なう。具体的には、次に示す式（８）に従って、被検体固定座標系での３次元画素ポイント：Ｐ（ｌ，ｍ，ｎ）の重み関数Ｗ（ｌ，ｍ，ｎ）を計算する（図１１参照）。ただし、Ｈは、画素ポイントＰ（ｌ，ｍ，ｎ）からＸ軸に下ろした垂線の位置である。
Ｗ（ｌ，ｍ，ｎ）＝ＲＯ2 ／（ＲＯ＋ＯＨ）2     …  （８）
【００６６】
続いて、第２の重み付け処理部５５は、図１２に示すように、３次元画素ポイント：Ｐ（ｌ，ｍ，ｎ）の投影像ＳＣ´（ｉ，ｊ）上での座標（Ｉ，Ｊ）と重み用の仮数（ａz ，ａy ）とを求める。このようにして、第２の重み付け処理を行なう。
【００６７】
次に、逆投影処理部５６は、第２の重み付け処理後の投影データを個別に所定の逆投影（バックプロジェクション：ＢＰ）処理してＢＰ像（３次元ボリュームデータ）を生成する。具体的には、図１２に示すように、走査各位置で検出された、被検体Ｍの関心領域についての一群の第２の重み付け処理後の投影データを、撮影された被検体Ｍの関心領域に仮想的に設定される３次元格子群Ｋの所定の格子点に逆投影して、関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、すなわち、上述の単純ＢＰ像を生成する。なお、図１２に示す３次元格子群Ｋの各軸方向における最小単位の格子間隔は、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素ピッチとの関係で決まる。すなわち、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄはその画素が１０００×１０００の２次元マトリックス状に配置されていることから、３次元格子群Ｋの各３軸（Ｘ，Ｙ，Ｚ軸）方向の格子点の最大設定数はそれぞれ１０００となる。
【００６８】
具体的には、次に示す式（９）に従って、線型補間演算とバックプロジェクションとを行なう。なお、バックプロジェクション蓄積量をＩn（ｌ，ｍ，ｎ）とし、前回までのバックプロジェクション蓄積量をＩn-1（ｌ，ｍ，ｎ）とする。Ｉn （l,m,n ）＝Ｉn-1 （l,m,n ）＋Ｗ（l,m,n ）×｛Ｗ11・ＳＣ´（Ｉ，Ｊ）＋Ｗ12・ＳＣ´（Ｉ，Ｊ＋１）＋Ｗ21・ＳＣ´（Ｉ＋１，Ｊ）＋Ｗ22・ＳＣ´（Ｉ＋１，Ｊ＋１）｝  …（９）
【００６９】
なお、投影像の画素間隔を１に規格化して、次に示す式（10）〜（13）のような乗算重み付け方式の場合の重み関数を示す。
Ｗ11＝（１−ａz ）・（１−ａy ）  …（10）
Ｗ12＝（１−ａz ）・ａy           …（11）
Ｗ21＝ａz ・（１−ａy ）          …（12）
Ｗ22＝ａz ・ａy                   …（13）
【００７０】
３次元格子群Ｋの残りの所定の格子点についても、前記と同様にして逆投影を行ない、さらに、走査各位置ごと、すなわち、３６０°にわたって、これと同様の逆投影を行なうことで、ＢＰ像（３次元ボリュームデータ）が生成される。
【００７１】
画像情報記憶部５２は、逆投影処理部５６で生成された３次元ボリュームデータを記憶しており、操作部１０から任意の断層面の画像情報が選択されると、その断層面の画像情報をモニタ６０に出力する。
【００７２】
モニタ６０は、画像情報記憶部５２に蓄積された所定の画像情報を出力表示するものである。
【００７３】
以上、上述した実施例では、コンボリューション処理部５４は、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄにおける、走査中心軸方向（Ｚ軸）に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸（Ｚ軸）上の場所に応じたローパスフィルタリングを行なっているので、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸（Ｚ軸）に直交する中心面から、その走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減することができ、走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【００７４】
コンボリューション処理部５４は、Ｘ線管Ｒのビーム中心を走査中心軸（Ｚ軸）に直交するように照射した照射基準線Ｒefと、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉとＸ線管Ｒとを結ぶ投影線とからなる開き角度をα（＝θn ）とし、その画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（θn ）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なっているので、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸（Ｚ軸）に直交する中心面から、その走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減することができ、走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【００７５】
また、上述の実施例では、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄで検出した投影データの画素行ごとに、ｓｉｎ（θn ）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なっているが、フラットパネル型検出器Ｄのゲート線の配列方向を走査中心軸（Ｚ軸）方向に対応するように配置し、走査中心軸（Ｚ軸）方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることにより、同時にこの所定数画素行についての複数画素分の信号が読み出され、結果的に加算された信号が得られる（加算処理される）ことで、面検出器上でのｓｉｎ（θn ）に比例するぼかしを行なうようにしてもよい。これは、上述のローパスフィルタリングをかけたことと等価なものである。したがって、所定数画素行にローパスフィルタリングがかかったデータ収集を、面検出器側でその所定数画素行のデータを同時に読み出し制御するということでハードウエア的に実現できる。
【００７６】
なお、上述の実施例は、Ｘ線管Ｒおよびフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄを連続回転走査、例えば、螺旋走査（ヘリカルスキャン）させるコーンビームＣＴにおいても適用可能である。
【００７７】
この発明は、上記実施例に限られるものではなく、下記のように変形実施することができる。
【００７８】
（１）上述の実施例では、駆動部３０は、被検体Ｍを挟んで、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸（Ｚ軸）周りに、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを同期させて同一平面内で一回転（少なくとも半回転）走査させて、Ｘ線ＣＴタイプのＸ線断層撮影を行なっているが、以下に説明するような非ＣＴタイプ（Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを被検体の体軸周りに半回転以上させない）のＸ線断層撮影を行なうための種々の走査を行えるようにしてもよい。
【００７９】
例えば、駆動部３０は、図１３（ａ）に示すように、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄのいずれか一方を第１方向に移動させるのと同期して、他方を第１方向とは反対方向である第２方向に移動させるようにして、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを被検体Ｍを挟んで平行直線移動させた場合には、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを被検体Ｍを挟んで平行直線走査して、被検体Ｍの関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なうための非ＣＴタイプの断層撮影を行なうことができる。なお、この直線走査の場合には、図１３（ａ）に示すように、Ｘ線管Ｒのコーンビーム中心と走査中心軸であるＺ軸との角度は、走査各位置によって変化していく、つまり、＋θmax 〜−θmax の範囲で変化していくことになる。そこで、Ｚ軸と走査所定位置でのＸ線管Ｒのコーンビーム中心とのなす角度を例えば２乗平均するなどして平均角度θave を求める。そして、Ｚ軸とＸ線管Ｒのコーンビーム中心とのなす角度が、この求めた平均角度θave に一致させた状態における、Ｚ軸に直交する水平線（直線）ＨＬとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行とのなす角度をαとし、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことで、開き角度（９０°−｜θ｜）ごとに大きさの異なる欠損円錐による偽像を低減できる。
【００８０】
また、駆動部３０は、図１３（ｂ）に示すように、被検体Ｍの周りの円周軌道上に被検体Ｍを挟んで２つの円弧軌道を対向して設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上にＸ線管Ｒを移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上にフラットパネル型Ｘ線検出器ＤをＸ線管Ｒとの間隔が一定になるように移動させる、所謂、円弧走査を行なうようにした場合は、被検体Ｍを挟んでＸ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを個別に円弧走査して、被検体Ｍの関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なうための非ＣＴタイプの断層撮影を行なうことができる。なお、この円弧走査の場合には、図１３（ｂ）に示すように、Ｘ線管Ｒのコーンビーム中心と走査中心軸であるＺ軸との角度は、走査各位置によって変化していく、つまり、＋θmax 〜−θmax の範囲で変化していくことになる。そこで、Ｚ軸と走査所定位置でのＸ線管Ｒのコーンビーム中心とのなす角度を例えば２乗平均するなどして平均角度θave を求める。そして、Ｚ軸とＸ線管Ｒのコーンビーム中心とのなす角度が、この求めた平均角度θave に一致させた状態における、Ｚ軸に直交する水平線（直線）ＨＬとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行とのなす角度をαとし、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことで、開き角度（９０°−｜θ｜）ごとに大きさの異なる欠損円錐による偽像を低減できる。
【００８１】
また、上述の直線走査や円弧走査の場合の非ＣＴタイプの断層撮影において、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行の投影データに対して、Ｘ線管Ｒに近いＺ軸上の場所ほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるようにしてもよい。
【００８２】
また、駆動部３０は、図１４に示すように、被検体Ｍを挟んでＸ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを被検体Ｍを挟んで対向して平行配置される両平行面のいずれか一方の平行面内でＸ線管Ｒを回転移動させるのと同期して、他方の平行面内でＸ線管Ｒの回転方向とは反対方向にフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄを回転移動させる、所謂、円形走査を行なうようにした場合は、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを個別に被検体Ｍを挟む両平行面の各平行面内で回転走査して、被検体Ｍの関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なうための非ＣＴタイプの断層撮影を行なうことができる。なお、この円形走査の場合には、図１４に示すように、走査中心軸であるＺ軸に直交する水平線（直線）ＨＬとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行とのなす角度をαとし、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことで、開き角度αごとに大きさの異なる欠損円錐による偽像を低減できる。
【００８４】
また、図１３，図１４に示すように非ＣＴタイプの断層撮影装置において、Ｘ線管Ｒから照射されるコーンビーム状のＸ線の中心点が、常に、被検体Ｍの特定断層面の中心点Ｏを透過してフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面の中心点に垂直に入射されるように、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄとを対向させているが、このフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの検出面を被検体Ｍの断層面と平行になるようにしておいてもよい。
【００８５】
また、Ｘ線管Ｒおよびフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄを移動させるようにして走査しているが、例えば、Ｘ線管Ｒを固定としフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄと被検体Ｍとを移動させて走査したり、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄを固定としＸ線管Ｒと被検体Ｍとを移動させて走査したりするなど、Ｘ線管Ｒとフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄと被検体Ｍとのうちのいずれか２つを移動させるようにして走査してもよい。
【００８６】
（２）上述の実施例のコンボリューション処理部５４では、｜ω｜フィルタリング後にローパスフィルタリングを行なっているが、｜ω｜フィルタリングとローパスフィルタリングの演算順序はどちらが先でも構わない。また、上述の実施例では、｜ω｜フィルタリングとローパスフィルタリングとの双方をフーリエ空間上で行なっているが、この双方を実空間上で行なってもよいし、一方を実空間上で他方をフーリエ空間上で行なってもよい。また、上述の実施例では、ローパスフィルタリングのフィルタ関数としてガウス型のフィルタ関数を一例として採用しているが、正弦波形型のフィルタ関数などガウス型以外のフィルタ関数を採用してもよい。
【００８７】
（３）上述の実施例のコンボリューション処理部５４では、フラットパネル型Ｘ線検出器Ｄで検出した投影データの画素行ごとに、ｓｉｎ（θn ）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なっているが、コンボリューション処理部５４は、図１０に示すように、Ｘ線源ＲのＸ線ビーム中心を走査中心軸（Ｚ軸）に直交するように照射した照射基準線Ｒefから離れたフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉの投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるようにしてもよい。
【００８８】
具体的には、照射基準線Ｒefに近いフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉの投影データに対しては、図１５（ａ）に示すように、通過周波数が高い（例えばカットオフ周波数ＣＦＲ１である）ローパスフィルタリングをかけ、殆ど高周波成分をカットせずに、直流からカットオフ周波数ＣＦＲ１までを通過させるようにする。次に、前記よりも照射基準線Ｒefから離れたフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉの投影データに対しては、図１５（ｂ）に示すように、前記よりも通過周波数を低くした（例えばカットオフ周波数ＣＦＲ２である）ローパスフィルタリングをかけ、直流からカットオフ周波数ＣＦＲ２までを通過させるようにする。次に、前記よりもさらに照射基準線Ｒefから離れたフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉの投影データに対しては、図１５（ｃ）に示すように、前記よりもさらに通過周波数を低くした（例えばカットオフ周波数ＣＦＲ３である）ローパスフィルタリングをかけ、直流からカットオフ周波数ＣＦＲ３までを通過させるようにする。なお、これらのカットオフ周波数は、ＣＦＲ３＜ＣＦＲ２＜ＣＦＲ１の関係にある。このようにして、照射基準線Ｒefから離れたフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄの画素行ｉの投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるようにする。このようにした場合でも、被検体Ｍの関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸（Ｚ軸）に直交する中心面から、その走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減することができ、走査中心軸（Ｚ軸）方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【００８９】
（４）上述の実施例では、面検出器としてフラットパネル型Ｘ線検出器Ｄを採用しているが、Ｘ線ＣＣＤカメラやＩ．Ｉ管やイメージングプレートなど各種の２次元面検出器を採用することもできる。
【００９０】
（５）上述の実施例の断層撮影装置は、被検体Ｍを人体などとして医療用に用いることもできるし、被検体ＭをＢＧＡ（Ball Grid Array）基板やプリント配線基板など各種の電子部品などとして非破壊検査用に用いることもできる。
【００９１】
【発明の効果】
以上の説明からも明らかなように、請求項１に記載の断層撮影装置によれば、画像処理部は、面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じて、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減でき、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【００９３】
また、請求項２に記載の発明によれば、画像処理部は、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【００９４】
また、請求項２に記載の断層撮影装置によれば、画像処理部は、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、面検出器の画素行と照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減でき、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【００９５】
また、請求項３に記載の発明によれば、面検出器はフラットパネル型検出器とし、このフラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、画像処理部は、走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なうので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【００９６】
また、請求項４に記載の断層撮影装置によれば、照射源と面検出器のいずれか一方を中心軸に直交する第１方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第１方向とは反対方向である第２方向に平行直線移動させる。画像処理部は、走査中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、走査中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第１方向と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで平行直線走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００９７】
また、請求項５に記載の断層撮影装置によれば、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで２つの円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に面検出器を照射源との間隔が一定になるように移動させる。画像処理部は、中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、中心軸に直交する水平線と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円弧走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【００９８】
また、請求項６に記載の断層撮影装置によれば、被検体を挟んで対向して平行配置される、走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で照射源の回転方向とは反対方向に面検出器を回転移動させるので、照射源と面検出器とを個別に被検体を挟む両平行面の各平行面内で回転走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう非ＣＴタイプの断層撮影装置の場合においても、開き角度に応じた部位における再構成偽像を低減できる。
【０１００】
また、請求項７に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで回転走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【０１０３】
また、請求項８に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、ｓｉｎ（α）に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円形走査して、被検体の関心領域の３次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非ＣＴタイプ（照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない）の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施例に係るＸ線ＣＴ装置のブロック図である。
【図２】（ａ）は実施例のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線管とフラットパネル型Ｘ線検出器との一走査形態を示す概略平面図であり、（ｂ）は（ａ）の概略側面図である。
【図３】フラットパネル型Ｘ線検出器の構成図である。
【図４】フラットパネル型Ｘ線検出器の概略構成を示す斜視図である。
【図５】（ａ）、（ｂ）はフラットパネル型Ｘ線検出器の層構造を示す断面図である。
【図６】実施例の第１の重み付け処理部による余弦補正を説明するための模式図である。
【図７】実施例のコンボリューション部での一連の処理を説明するための模式図である。
【図８】（ａ）、（ｂ）は実施例の｜ω｜フィルタリング部の各フィルタ関数を示す特性図である。
【図９】（ａ）、（ｂ）は画素行ごとに、開き角度に応じたローパスフィルタリングを施すことを説明するための模式図である。
【図１０】（ａ）〜（ｃ）は画素行ごとに、開き角度に応じたローパスフィルタリングを施すことを説明するための模式図である。
【図１１】コンボリューション処理後の投影データを仮想の３次元格子群に逆投影処理することを説明するための模式図である。
【図１２】コンボリューション処理後の投影データを仮想の３次元格子群に逆投影処理することを説明するための模式図である。
【図１３】（ａ）、（ｂ）は非ＣＴタイプのＸ線断層撮影装置における撮影の様式図である。
【図１４】非ＣＴタイプのＸ線断層撮影装置における撮影の様式図である。
【図１５】（ａ）〜（ｃ）は照射基準線から離れたフラットパネル型Ｘ線検出器の画素行ほど通過周波数が低くなるローパスフィルタ特性を示す特性図である。
【符号の説明】
３０  …  駆動部
５１  …  画像処理部
５４  …  コンボリューション処理部
５６  …  逆投影処理部
Ｄ    …  フラットパネル型Ｘ線検出器
Ｍ    …  被検体
Ｒ    …  Ｘ線管
【図１】
0004078846.tif 000002
【図２】
0004078846.tif 000003
【図３】
0004078846.tif 000004
【図４】
0004078846.tif 000005
【図５】
0004078846.tif 000006
【図６】
0004078846.tif 000007
【図７】
0004078846.tif 000008
【図８】
0004078846.tif 000009
【図９】
0004078846.tif 000010
【図１０】
0004078846.tif 000011
【図１１】
0004078846.tif 000012
【図１２】
0004078846.tif 000013
【図１３】
0004078846.tif 000014
【図１４】
0004078846.tif 000015
【図１５】
0004078846.tif 000016