(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
マルチフィラメントからなる交絡糸を所定の経路で走行させて、その交絡度を検査する装置であって、
前記交絡糸の走行を案内する案内手段と、
前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段と、
前記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸を回収する回収手段と、
前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する前記交絡糸に対してピン体を挿抜するピン挿抜手段と、
同じく前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する交絡糸の糸幅を計測する光学計測手段と、
前記ピン挿抜手段と送り手段との間の前記交絡糸に作用する張力を検出する張力検出手段と、
前記走行路の、前記ピン挿抜手段，光学計測手段及び張力検出手段より上流側で、前記交絡糸に張力を付与する張力付与手段と、
前記張力検出手段によって検出された信号を第１の基準値と比較，処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する第１の交絡度算出手段と、
前記光学計測手段によって検出された信号を第２の基準値と比較，処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する第２の交絡度算出手段と、
前記第１の交絡度算出手段によって算出された交絡度、及び前記光学計測手段によって計測されたデータに基づいて、第２の交絡度算出手段によって算出される交絡度が第１の交絡度算出手段によって算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、前記第２の基準値を設定する校正処理手段とを設けて構成し、
前記校正処理手段により第２の基準値が設定されると、以後、前記光学計測手段及び第２の交絡度算出手段によって前記交絡糸の交絡度を検査するように構成されてなることを特徴とする交絡度検査装置。
【請求項２】
前記光学計測手段を、
受光面が前記交絡糸の走行路に臨み、受光量に応じた電圧信号を出力する受光素子と、
前記交絡糸を挟んで前記受光素子に対し対向配置され、前記受光素子に光を照射する発光素子と、
前記発光素子から照射された光を透過可能な部材であって、前記発光素子と受光素子との間に配設され、前記交絡糸に当接してこれを扁平化し拡幅せしめる当接部材とから構成したことを特徴とする請求項１記載の交絡度検査装置。
【請求項３】
前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に当接してその走行を案内する横断面Ｖ字状の案内溝を有する一対の案内部材を、前記交絡糸の走行方向における前記当接部材の前後にそれぞれ配設したことを特徴とする請求項２記載の交絡度検査装置。
【請求項４】
前記ピン挿抜手段を、
前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に摺接する横断面Ｖ字状の案内溝を備えてなり、且つ該案内溝に開口する貫通孔を備えた案内部材と、
前記貫通孔に嵌挿されたピン体と、
前記ピン体をその軸方向に移動させて、その先端部を前記案内溝に対して進退せしめる駆動機構とから構成したことを特徴とする請求項１記載の交絡度検査装置。
【請求項５】
前記案内溝が、前記交絡糸の走行方向に沿って凸円弧状に形成されてなる請求項４記載の交絡度検査装置。
【請求項６】
前記案内溝を前記貫通孔の開口部で分断し、且つ、該開口部の周縁に平坦面を形成したことを特徴とする請求項５記載の交絡度検査装置。
【請求項７】
前記ピン挿抜手段を、
軸線が前記交絡糸の走行方向に対して直交するように配設され、前記交絡糸に当接してこれを扁平化し拡幅せしめる円筒状をした部材であって、前記交絡糸との当接部に開口する貫通孔を備えた当接部材と、前記貫通孔に嵌挿されたピン体と、前記ピン体をその軸方向に移動させて、その先端部を前記交絡糸との当接部に対して進退せしめる駆動機構とから構成するとともに、
前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に当接してその走行を案内する横断面Ｖ字状の案内溝を有する一対の案内部材を、前記交絡糸の走行方向における前記当接部材の前後にそれぞれ配設したことを特徴とする請求項１記載の交絡度検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マルチフィラメントからなる交絡糸の交絡度を検査する交絡度検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、マルチフィラメントからなる交絡糸の交絡部は、加工品の品質に影響を与える。これは、交絡部では各フィラメントが密になってその糸幅（太さ）が細くなり、逆に、交絡部以外では各フィラメント間に隙間を生じてその糸幅が太くなることから、形成される交絡部の数，強さなどによって加工品の色，風合いなどに変化が現れるからである。
【０００３】
このように、交絡部は加工品の品質に与える影響が大きいため、交絡糸における極めて重要な物性項目のひとつとなっており、従来からその物性検査が行われている。そしてかかる検査法として、従来、ピンカウント法，接圧法，光学法と呼ばれる検査法が採用されている。以下、かかるピンカウント法，接圧法，光学法について、簡単に説明する。
【０００４】
まず、ピンカウント法について説明する。これは、交絡糸に所定の張力を作用させた状態で、交絡糸を所定の経路で走行させ、走行する交絡糸に対してピンをソレノイドなどのアクチュエータにより駆動して挿入し、交絡糸に作用する張力の変化を張力センサにより検出するというものである。交絡糸にピンが挿入されると、ピンが交絡部付近に近づくにつれて次第にピンに働く抵抗が大きくなって、検出される張力値も大きくなる。このピンカウント法では、検出される張力値を所定の基準値と比較し、これが基準値を超えた場合に、同部を交絡部として判定，検出し、検出した交絡部の数などに基づいて交絡度を算出する。
【０００５】
一方、接圧法は、交絡糸に所定の張力を作用させた状態で、これを所定の経路で走行させるとともに、歪ゲージの固着された板ばねを片持ちに設置し、当該板ばねの自由端に固着された押え部材と、これに対し対向配置された円筒状の当接部材とで、走行交絡糸を所定の荷重で挟みつけ、交絡糸の太さの変化に応じて生じる押え部材の変位を、歪ゲージによって検出するというものである。斯して、この接圧法では、歪ゲージから出力される電圧信号を予め経験的に設定された基準値と比較し、これが基準値を超えた場合に、同部を交絡部として判定，検出し、検出した交絡部の数などに基づいて交絡度を算出する。
【０００６】
また、光学法は、交絡糸を所定の経路で走行させ、半導体レーザ素子などの発光素子からレーザ光を走行交絡糸に対して照射し、これを発光素子と対向位置に配置されたフォトトランジスタなどの受光素子により受光し、受光量に応じて出力される電圧信号を基に交絡度を算出するというものである。照射されたレーザ光の一部は交絡糸によって遮られるため、交絡糸の糸幅の大小に応じて受光素子の受光量が変化し、これに伴って、出力される電圧信号も変化する。交絡部付近では他の部分に比べて糸幅が狭く、従って交絡部がレーザ光を遮った際に、出力される電圧信号は他の部分に比べて大きくなる。光学法では、出力電圧信号を予め経験的に設定された基準値と比較し、これが基準値を超えた場合に、同部を交絡部として判定，検出し、検出した交絡部の数などに基づいて交絡度を算出する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記各検査法にはそれぞれ以下に説明するような問題点があった。
【０００８】
まず、ピンカウント法では、走行交絡糸に対してピンの挿入，抜脱を繰り返して行うように構成されており、交絡部が検出されるたびにピンの挿入，抜脱が繰り返される。このため、交絡糸の走行速度を低速に設定する必要があり、効率的な検査を行うことができないという問題がある。
【０００９】
一方、接圧法では、板ばねにより支持された押え部材を、走行交絡糸に押えつけるようにしているので、交絡糸の走行速度を速くすると、板ばねの応答性が悪くなって、正確な変位量を検出できなくなる。即ち、効率的な検査を行うことができないという問題がある。また、交絡部を検出する基準値は経験的に設定されるものであり、交絡部の検出精度はこの基準値によって大きく左右される。このように、接圧法では、検出精度の信頼性が低いという問題もある。
【００１０】
また、光学法では、交絡糸に対して非接触でその交絡部を検出するようにしているので、ピンカウント法や接圧法に比べて効率的な検査を行うことができる。しかしながら、交絡部を検出するための基準値は経験的に設定されるものであり、交絡部の検出精度はこの基準値によって大きく左右される。また、糸の断面は円形ではないため、同じ太さの糸でも、光が透過する方向によって異なる太さとして検出するため、交絡部と他の部分とを混同する場合がある。このように、光学法では、検出精度の信頼性が低いという問題がある。
【００１１】
本発明は以上の実情に鑑みなされたものであって、交絡糸の交絡度を高精度、且つ高効率に検査することができる交絡度検査装置の提供を目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段及びその効果】
上記課題を解決するための本発明は、マルチフィラメントからなる交絡糸を所定の経路で走行させて、その交絡度を検査する装置であって、
前記交絡糸の走行を案内する案内手段と、
前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段と、
前記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸を回収する回収手段と、
前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する前記交絡糸に対してピン体を挿抜するピン挿抜手段と、
同じく前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する交絡糸の糸幅を計測する光学計測手段と、
前記ピン挿抜手段と送り手段との間の前記交絡糸に作用する張力を検出する張力検出手段と、
前記走行路の、前記ピン挿抜手段，光学計測手段及び張力検出手段より上流側で、前記交絡糸に張力を付与する張力付与手段と、
前記張力検出手段によって検出された信号を第１の基準値と比較，処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する第１の交絡度算出手段と、
前記光学計測手段によって検出された信号を第２の基準値と比較，処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する第２の交絡度算出手段と、
前記第１の交絡度算出手段によって算出された交絡度、及び前記光学計測手段によって計測されたデータに基づいて、第２の交絡度算出手段によって算出される交絡度が第１の交絡度算出手段によって算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、前記第２の基準値を設定する校正処理手段とを設けて構成し、
前記校正処理手段により第２の基準値が設定されると、以後、前記光学計測手段及び第２の交絡度算出手段によって前記交絡糸の交絡度を検査するように構成されてなることを特徴とする交絡度検査装置に係る。
【００１３】
この発明によれば、前記マルチフィラメントからなる交絡糸は、交絡度検査装置内の適宜個所に配置された前記案内手段に従って、前記送り手段により走行せしめられ、走行路終端部に配設された前記回収手段により前記交絡糸は回収される。また、交絡糸は走行中、前記張力付与手段によって適宜張力が付与されている。
【００１４】
そして、まず、前記ピン挿抜手段により前記走行交絡糸に対して、前記ピン体が挿入され、交絡糸に作用する張力が前記張力検出手段により検出される。尚、前記張力検出手段には歪ゲージやロードセルなどを用いることができる。
【００１５】
前記張力検出手段において検出される張力値は常に変化し、また、前記ピン体が交絡部付近に近づくにつれて次第にピン体に働く抵抗が大きくなって、前記交絡糸に作用する張力も大きくなる。そして、前記第１の交絡度算出手段において、前記張力検出手段により検出された張力値と前記第１の基準値とが比較されて、検出張力値が前記第１の基準値を超えた場合に、同部が交絡部として判定，検出される。
【００１６】
交絡部が検出されると、前記送り手段は一時的に停止せしめられ、走行が停止した交絡糸から前記ピン挿抜手段によって前記ピン体が抜脱される。その後、再び送り手段によって交絡糸が走行せしめられ、所定距離を進んだ交絡糸に対してピン挿抜手段によりピン体が挿入され、張力検出手段において交絡糸に作用する張力が検出される。以後、上記の動作が繰り返され、前記第１の交絡度算出手段において、交絡糸の所定長について検出された交絡部の数などに基づいて交絡度（単位長さ当たりの交絡部の数）が算出される。尚、このようにして算出される交絡度は、ピン体により直接交絡部を検出しているので、かなり高精度なものとなっている。
【００１７】
一方、前記光学計測手段においては、前記ピン挿抜手段，前記張力検出手段及び第１の交絡度算出手段による交絡度算出処理と並行して、或いはこの算出処理の後に、前記走行交絡糸の糸幅（太さ）が、その所定長について連続的に計測され、計測終了後、交絡糸の走行が停止せしめられる。
【００１８】
次にこのようにして、第１の交絡度算出手段による交絡度算出処理及び前記光学計測手段による計測を終えた後、前記校正処理手段により、第１の交絡度算出手段によって算出された交絡度、及び前記光学計測手段によって計測されたデータに基づいて、第２の交絡度算出手段により算出される交絡度が第１の交絡度算出手段により算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、前記第２の基準値が設定される。
【００１９】
そして、このようにして、第２の基準値が設定された後、再び送り手段によって交絡糸が走行せしめられて、以後、前記光学計測手段によってその糸幅が連続的に計測され、前記第２の交絡度算出手段において、計測された糸幅と前記第２の基準値とが比較されて、糸幅が前記第２の基準値を超えた場合に、同部が交絡部として判定，検出され、検出された交絡部の数などに基づいて交絡度が算出される。
【００２０】
このように、この交絡度検査装置によると、まず、ピン挿抜手段，張力検出手段及び第１の交絡度算出手段によって精度の高い交絡度が算出され、ついで、かかる高精度に算出された交絡度を基に、これとの整合性が図られるように、第２の交絡度算出手段の交絡度算出処理において用いられる第２の基準値が設定され、以後、迅速に処理を行うことができる光学計測手段及び第２の交絡度算出手段によって交絡度が算出される。斯くして、この交絡度検査装置によれば、上記従来のピンカウント法や光学法に比べて、高精度、且つ効率的に交絡度を検査することができる。
【００２１】
また、本発明の請求項２に記載した発明は、上記請求項１に記載した発明における前記光学計測手段を、
受光面が前記交絡糸の走行路に臨み、受光量に応じた電圧信号を出力する受光素子と、
前記交絡糸を挟んで前記受光素子に対し対向配置され、前記受光素子に光を照射する発光素子と、
前記発光素子から照射された光を透過可能な部材であって、前記発光素子と受光素子との間に配設され、前記交絡糸に当接してこれを扁平化し拡幅せしめる当接部材とから構成したことを特徴とする交絡度検査装置に係る。
【００２２】
この発明によれば、前記発光素子から照射された光は前記受光素子によって受光され、受光量に応じた電圧信号が出力される。この時、照射された光の一部は前記交絡糸によって遮られるため、交絡糸の糸幅の大小に応じて受光素子における受光量が変化し、これに伴って、出力される電圧信号も変化する。また、前記当接部材により交絡糸は扁平化され、拡幅されるので、交絡糸の糸幅の斑をなくすことができるとともに、更に、交絡部とそれ以外の部分の糸幅変化を際立たせることができる。そしてかかる作用により、信頼性の高い交絡度を算出することが可能となる。尚、受光素子には、フォトトランジスタやフォトダイオード，ＣＣＤカメラなどを用いることができ、発光素子には、小型，軽量である光源ランプや半導体レーザ素子などを用いることができる。また、当接部材には、光透過性の樹脂やガラスなどを用いると良い。
【００２３】
また、本発明の請求項３に記載した発明は、上記請求項２に記載した発明において、前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に当接してその走行を案内する横断面Ｖ字状の案内溝を有する一対の案内部材を、前記交絡糸の走行方向における前記当接部材の前後にそれぞれ配設したことを特徴とする交絡度検査装置に係る。この発明によれば、当接部材の前後に配設され、横断面Ｖ字状の案内溝を有する一対の案内部材により、交絡糸を案内するようにしているので、これを確実、且つ安定して発光素子と受光素子との間に導くことができ、信頼性の高い交絡度を算出することができる。尚、案内部材には、セラミックや金属製など、交絡糸の走行に支障をきたさないものを用いると良い。
【００２４】
また、本発明の請求項４に記載した発明は、上記請求項１に記載した発明における前記ピン挿抜手段を、
前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に摺接する横断面Ｖ字状の案内溝を備えてなり、且つ該案内溝に開口する貫通孔を備えた案内部材と、
前記貫通孔に嵌挿されたピン体と、
前記ピン体をその軸方向に移動させて、その先端部を前記案内溝に対して進退せしめる駆動機構とから構成したことを特徴とする交絡度検査装置に係る。
【００２５】
この発明によれば、前記案内部材に形成された案内溝及び貫通孔により前記交絡糸及び前記ピン体がそれぞれ案内されるので、交絡糸とピン体相互間の位置ずれをなくすことができ、交絡糸に対して確実にピン体を挿入させることができる。これにより、信頼性の高い交絡度を得ることができる。尚、前記ピン体には、できる限りぶれを少なくするため、貫通孔に対して僅かに小径のピンを用い、前記駆動機構には、ソレノイドやシリンダーなどのアクチュエータを使用すると良い。また、前記案内部材には、セラミックや金属製など、交絡糸の走行及びピン体の移動に支障をきたさないものを用いると良い。
【００２６】
また、本発明の請求項５に記載した発明は、上記請求項４に記載した発明において、前記案内溝が、前記交絡糸の走行方向に沿って凸円弧状に形成されてなる交絡度検査装置に係る。この発明によれば、案内溝が凸円弧状に形成されていることで、交絡糸は凸円弧状の案内溝に沿って抵抗を受けることなく滑らかに走行することができる。
【００２７】
また、本発明の請求項６に記載した発明は、上記請求項５に記載した発明における前記案内溝を前記貫通孔の開口部で分断し、且つ、該開口部の周縁に平坦面を形成したことを特徴とする交絡度検査装置に係る。この発明によれば、貫通孔周縁に平坦面が形成されているので、同平坦面において交絡糸が扁平化され、拡幅される。従って、交絡糸に対して確実にピン体を挿入させることができ、信頼性の高い交絡度を得ることができる。
【００２８】
また、本発明の請求項７に記載した発明は、上記請求項１に記載した発明において、前記ピン挿抜手段を、
軸線が前記交絡糸の走行方向に対して直交するように配設され、前記交絡糸に当接してこれを扁平化し拡幅せしめる円筒状をした部材であって、前記交絡糸との当接部に開口する貫通孔を備えた当接部材と、前記貫通孔に嵌挿されたピン体と、前記ピン体をその軸方向に移動させて、その先端部を前記交絡糸との当接部に対して進退せしめる駆動機構とから構成するとともに、
前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に当接してその走行を案内する横断面Ｖ字状の案内溝を有する一対の案内部材を、前記交絡糸の走行方向における前記当接部材の前後にそれぞれ配設したことを特徴とする交絡度検査装置に係る。
【００２９】
この発明によれば、前記当接部材の前後に配設され、横断面Ｖ字状の案内溝を有する前記一対の案内部材により、前記交絡糸を案内するようにしているので、これを確実、且つ安定して前記当接部材に設けられた前記貫通孔上に導くことができる。更に、当接部材に形成された貫通孔によりピン体は案内されるため、交絡糸とピン体相互間の位置ずれをなくすことができ、交絡糸に対して確実にピン体を挿入させることができる。また、交絡糸が当接部材に当接すると、交絡糸は扁平化され、拡幅されるので、このことによっても、交絡糸に対して確実にピン体を挿入させることができる。従って、信頼性の高い交絡度を得ることができる。
【００３０】
尚、前記ピン体には、できる限りぶれを少なくするため、貫通孔に対して僅かに小径のピンを用い、前記駆動機構には、ソレノイドやシリンダーなどのアクチュエータを使用すると良い。また、前記当接部材や前記一対の案内部材には、ガラス，セラミック，金属製など、交絡糸の走行及びピン体の移動に支障をきたさないものを用いると良く、また、当接部材は楕円形でも構わない。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の具体的な実施形態について添付図面に基づき説明する。尚、図１は、本発明の一実施形態に係る交絡度検査装置の概略構成を示した正面図であり、図２は、図１における交絡度検査装置の概略構成を示したブロック図である。
【００３２】
図１に示すように、本例の交絡度検査装置１は、マルチフィラメントからなる交絡糸Ｔの巻き取られたボビン２から、当該交絡糸Ｔを引き出して所定経路で走行させ、その交絡度を検査する装置であって、交絡糸Ｔの走行を案内する案内手段８と、交絡糸Ｔを牽引して走行せしめる送り手段５と、走行交絡糸Ｔに対して張力を付与する張力付与手段３と、走行交絡糸Ｔに作用する張力を検出する張力検出手段４と、走行交絡糸Ｔを回収する回収手段６と、ピン挿抜装置２０及び光学センサ装置３０とから構成されるデータ取得装置１０、並びに得られたデータを処理するデータ処理装置４０などからなる。尚、前記データ取得装置１０は図２に示した制御手段９によってその作動が制御される。
【００３３】
前記案内手段８は、回転自在に設けられたローラからなり、図示する如く、適宜間隔で配設されて、前記交絡糸Ｔの走行を案内する。また、前記張力付与手段３はマグネットテンサや制動モータなどからなり、走行交絡糸Ｔに所定の張力（初期張力）を付与する。また、前記張力検出手段４は、歪ゲージやロードセルなどを備えてなり、走行交絡糸Ｔに作用する張力を検出する。前記ピン挿抜装置２０，前記光学センサ装置３０は、図示するように、交絡糸Ｔの走行路近傍に配設され、張力付与手段３は、同じく図示するように、交絡糸Ｔの走行路において、ピン挿抜装置２０，張力検出手段４，光学センサ装置３０より上流側に配設されている。
【００３４】
前記送り手段５は駆動ローラ、当該駆動ローラを回転せしめるモータ、及びロータリエンコーダなどからなり、前記交絡糸Ｔの走行速度を制御可能であるとともに、交絡糸Ｔの走行距離を算出可能に構成される。また、前記回収手段６はリールなどを備えてなり、送り手段５によって走行せしめられた交絡糸Ｔを当該リールに巻き取って回収する。
【００３５】
図３は、本実施形態に係るピン挿抜装置の概略構成を示した正面図であり、図４は、図３における矢視Ａ方向の平面図であるが、これら図３及び図４に示すように、前記ピン挿抜装置２０は、駆動機構部２１，ピン体２２，案内部材２３からなる。また、前記案内部材２３は、前記交絡糸Ｔの走行方向に沿って凸円弧状に形成されるとともに、横断面Ｖ字状をした案内溝２４、及び当該案内溝２４に開口した、ピン体２２より僅かに大きい径の貫通孔２５を有している。
【００３６】
前記ピン体２２は貫通孔２５内に位置しており、ソレノイドやシリンダーなどのアクチュエータからなる前記駆動機構部２１の作動に従って、その軸方向（図３において矢示Ｂ方向）に移動可能となっている。斯くして、走行交絡糸Ｔは前記案内溝２４に摺接し、当該案内溝２４により案内されて、前記貫通孔２５上を走行し、このように走行する交絡糸Ｔに対してピン体２２が挿抜される。尚、前記案内部材２３にはセラミック，金属製など、交絡糸Ｔの走行及びピン体２２の移動に支障をきたさないものを用いる。
【００３７】
図５は、本実施形態に係る光学センサ装置の概略構成を示した正面図であり、図６は、図５における矢視Ｃ方向の平面図であるが、これら図５及び図６に示すように、前記光学センサ装置３０は、受光素子３１，発光素子３２，当接部材３３，一対の案内部材３４からなる。受光素子３１は前記交絡糸Ｔの走行路に臨むように配置され、発光素子３２は交絡糸Ｔを挟んで受光素子３１に対し対向する位置に配置される。尚、受光素子３１には、フォトトランジスタやフォトダイオード，ＣＣＤカメラなどを使用し、発光素子３２には、小型，軽量である光源ランプや半導体レーザ素子などを使用する。
【００３８】
また、前記当接部材３３は、前記受光素子３１と前記発光素子３２との間に配設され、楕円状や円筒状をした光透過性の硬質樹脂やガラスなどからなる。前記一対の案内部材３４は、交絡糸Ｔの走行路に沿って形成されるとともに、横断面Ｖ字状の案内溝３５を有し、交絡糸Ｔの走行方向における当接部材３３の前後にそれぞれ配設される。また、一対の案内部材３４にはセラミック，金属製など、交絡糸Ｔの走行に支障をきたさないものを用いる。走行交絡糸Ｔは案内溝３５に当接し、当該案内溝３５により案内されて走行するとともに、当接部材３３に当接して扁平化され、拡幅される。
【００３９】
図２に示すように、前記データ処理装置４０は、第１のデータ記憶手段４１，第１の基準値記憶手段４２，第２のデータ記憶手段５０，第２の基準値記憶手段４７，交絡度算出処理手段４９，基準値更新手段４４，算出結果記憶手段４６などを備えてなる。また、交絡度算出処理手段４９は、第１の交絡度算出手段４３，第２の交絡度算出手段４８，校正処理手段４５から構成される。
【００４０】
尚、前記第１の交絡度算出手段４３，前記第２の交絡度算出手段４８，前記校正処理手段４５，前記基準値更新手段４４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭや所定の処理実行プログラムが格納された補助記憶装置などを備えるコンピュータから構成され、前記第１のデータ記憶手段４１，前記第１の基準値記憶手段４２，前記第２のデータ記憶手段５０，前記第２の基準値記憶手段４７，前記算出結果記憶手段４６は、補助記憶装置などから構成される。
【００４１】
前記第１の交絡度算出手段４３は、前記張力検出手段４において検出され、前記第１のデータ記憶手段４１に格納された張力データと前記第１の基準値記憶手段４２に格納された第１の基準値とを比較，処理して、前記交絡糸Ｔの交絡度を算出し、算出した交絡度を前記算出結果記憶手段４６に格納する処理を行う。尚、交絡度とは、単位長さ当たりの交絡部の数である。
【００４２】
また、前記第２の交絡度算出手段４８は、前記受光素子３１から出力され、前記第２のデータ記憶手段５０に格納された電圧データと前記第２の基準値記憶手段４７に格納された第２の基準値とを比較，処理して、前記交絡糸Ｔの交絡度を算出し、算出した交絡度を前記算出結果記憶手段４６に格納する処理を行う。
【００４３】
また、前記校正処理手段４５は、前記第１の交絡度算出手段４３によって算出された交絡度、及び前記第２のデータ記憶部５０に格納された電圧データを基に校正処理を行い、第２の交絡度算出手段４８により算出される交絡度が、第１の交絡度算出手段４３により算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、前記第２の交絡度算出手段４８の交絡度算出処理において用いられる前記第２の基準値を設定する。
【００４４】
また、前記基準値更新手段４４は、前記第２の基準値記憶手段４７に格納された第２の基準値を、前記校正処理手段４５において設定された第２の基準値に更新する。また、前記交絡度算出処理手段４９からの信号に基づいて、前記制御手段９は前記データ取得装置１０の動作状態を制御可能になっている。
【００４５】
以下、上述した本例の交絡度検査装置１における具体的な一連の処理内容について図７に基づき説明する。尚、図７は、本実施形態に係る交絡度検査装置における処理手順を示したフローチャートである。
【００４６】
まず、第１の交絡度算出手段４３により交絡度の算出処理が行われる（ステップＳ１）。即ち、交絡度算出処理手段４９から前記制御手段９に実行信号が送信され、この制御手段９によってデータ取得装置１０が駆動，制御されて、交絡糸Ｔが走行せしめられ、走行交絡糸Ｔに対してピン体２２が挿入される。そして、走行交絡糸Ｔに対して作用する張力が前記張力検出手段４によって検出され、検出された張力値が、図示しないＡ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換された後、前記第１のデータ記憶手段４１に格納される。また、これと並行して、前記第１の交絡度算出手段４３において、前記第１のデータ記憶手段４１に格納された張力データが順次読み出され、これが前記第１の基準値記憶手段４２に格納された第１の基準値と比較され、前記第１の基準値を超えた場合に、同部が交絡部として判定，検出される。
【００４７】
そして、前記第１の交絡度算出手段４３において交絡部が検出されると、前記制御手段９は前記送り手段５を一旦停止させ、前記交絡糸Ｔの走行を止めた後、前記駆動機構部２１を駆動して前記ピン体２２を交絡糸Ｔから抜脱する。ピン体２２が交絡糸Ｔから抜脱されると、制御手段９は送り手段５を再び駆動させて、交絡糸Ｔを走行させる。そして、所定距離を進んだ交絡糸Ｔに対し、制御手段９は駆動機構部２１を駆動してピン体２２を挿入する。以後、かかる処理が所定長の交絡糸Ｔに対して繰り返され、第１の交絡度算出手段４３において検出された交絡部数及び交絡糸Ｔの走行距離に基づいて交絡度が算出され、算出された交絡度が前記算出結果記憶手段４６に格納される。
【００４８】
次に、前記光学センサ装置３０による糸幅計測処理が実行される（ステップＳ２）。即ち、上記と同様に、交絡度算出処理手段４９から前記制御手段９に実行信号が送信され、この制御手段９によってデータ取得装置１０が駆動，制御されて、交絡糸Ｔが走行せしめられ、光学センサ装置３０によって、走行交絡糸Ｔの糸幅が計測される。
【００４９】
走行交絡糸Ｔは、前記当接部材３３に当接して扁平，拡幅され、拡幅された交絡糸Ｔに対して、前記発光素子３２から検出光が照射され、照射された検出光が前記受光素子３１によって受光され、受光量に応じた電圧信号が受光素子３１から出力される。このとき、発光素子３２から照射された検出光の一部は交絡糸Ｔによって遮られるため、交絡糸Ｔの糸幅（太さ）の大小に応じて受光素子３１における受光量が変化し、これに伴って、出力される電圧信号も変化する。交絡部付近では他の部分に比べて糸幅が狭く、従って交絡部が光を遮った際に、出力される電圧信号は他の部分に比べて大きくなる。
【００５０】
そして、受光素子３１から出力された電圧信号は、図示しないＡ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換された後、前記第２のデータ記憶手段５０に格納される。このようにして、所定長の前記交絡糸Ｔについてその糸幅が計測されると、前記制御手段９によって交絡糸Ｔの走行が停止せしめられる。
【００５１】
次に、校正処理手段４５によって校正処理が実行される（ステップＳ３）。即ち、校正処理手段４５において、前記第１の交絡度算出手段４３によって算出され、前記算出結果記憶手段４６に格納された交絡度、及び前記第２のデータ記憶部５０に格納された電圧データを基に、第２の交絡度算出手段４８により算出される交絡度が、第１の交絡度算出手段４３により算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、前記第２の交絡度算出手段４８の交絡度算出処理において用いられる前記第２の基準値を設定する。
【００５２】
より具体的には、前記第２の基準値について暫定的な値を仮設定し、かかる暫定基準値を基に、前記第２のデータ記憶手段５０に格納された電圧データと、かかる暫定基準値とを比較，処理して暫定交絡度を算出し、更に、算出された暫定交絡度と、前記算出結果記憶手段４６に格納された前記第１の交絡度算出手段４３算出の交絡度とを比較し、暫定交絡度が第１の交絡度算出手段４３算出の交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、順次、暫定基準値を更新処理し、暫定交絡度が第１の交絡度算出手段４３算出の交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まった時点で、これを第２の基準値に設定する。
【００５３】
例えば、第１のデータ記憶手段４１に格納された張力データが、図８に示すようなデータであり、前記光学センサ装置３０によって計測され、第２のデータ記憶手段５０に格納された電圧データが、図９に示すようなデータである場合、第１の基準値を基準として前記第１の交絡度算出手段４３によって検出される交絡部は３個所となる（仮に、この場合の交絡度を３とする）。
【００５４】
校正処理手段４５は、まず、暫定基準値ａを設定して、かかる暫定基準値ａを基に、前記第２のデータ記憶手段５０に格納された電圧データとかかる暫定基準値ａとを比較，処理して暫定交絡度を算出し（図９の例では、暫定交絡度１）、これが第１の交絡度算出手段４３検出の交絡度に対して所定の誤差範囲内に在るか否かを判定する。今、誤差範囲を仮に１０％とすると、暫定基準ａとした場合には、前記誤差範囲に収まらないので、校正処理手段４５は、暫定基準値をａから所定量だけ差し引いたｂに更新して、以下、同じ処理を繰り返し、暫定交絡度が第１の交絡度算出手段４３算出の交絡度に対して前記誤差範囲内に収まった時点の暫定基準値（図９に示した例では、暫定基準値ｃ）を第２の基準値に設定する。
【００５５】
そして、以上のようにして、前記校正処理手段４５によって前記第２の基準値が設定されると、次に、前記基準値更新手段４４により、設定された第２の基準値で、前記第２の基準値記憶手段４７に格納された第２の基準値が更新される。（ステップＳ４）。
【００５６】
このようにして、前記第２の基準値の設定処理を完了すると、以後、再び交絡度算出処理手段４９から前記制御手段９に実行信号が送信され、制御手段９によってデータ取得装置１０が駆動，制御されて、交絡糸Ｔが走行せしめられ、光学センサ装置３０によって、走行交絡糸Ｔの糸幅が連続的に計測される（ステップＳ５）。そして、前記交絡糸Ｔの所定長について、その糸幅の計測を完了すると、交絡度算出処理手段４９から制御手段９に終了信号が送信され、データ取得装置１０の駆動が停止せしめられる（ステップＳ６）。
【００５７】
次に、前記第２の交絡度算出手段４８において、前記第２のデータ記憶手段５０に格納された電圧データと、前記第２の基準値記憶手段４７に格納された第２の基準値とが比較され、前記電圧データが前記第２の基準値を超えた場合に、同部が交絡部として判定，検出され、検出された交絡部数及び前記交絡糸Ｔの走行距離に基づいて交絡度が算出され、算出された交絡度が前記算出結果記憶手段４６に格納される（ステップＳ７）。
【００５８】
尚、前記第１の交絡度算出手段４３及び前記第２の交絡度算出手段４８によって算出され、前記算出結果記憶手段４６にそれぞれ格納された交絡度は、必要に応じて、図示しない表示手段や出力手段により表示、又は出力されるようになっている。また、前記第１の交絡度算出手段４３及び第２の交絡度算出手段４８は、それぞれ、これを、交絡度に加えて、交絡部間隔，交絡部長さや非交絡部長さを算出可能に構成することができる。
【００５９】
以上、詳述したように、本例の交絡度検査装置１によると、第１の交絡度算出手段４３及び第２の交絡度算出手段４８によって交絡度が算出され、しかも、第２の交絡度算出手段４８で算出される交絡度が第１の交絡度算出手段４３で算出される交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、校正処理手段４５において第２の基準値が設定され、第１の交絡度算出手段４３で算出される交絡度と第２の交絡度算出手段４８で算出される交絡度との間の整合性が図られている。これにより、第２の交絡度算出手段４８における交絡部算出精度の信頼性が高くなり、当該第２の交絡度算出手段４８において算出される交絡度が高精度となる。
【００６０】
従って、校正処理手段４５において第２の基準値が設定され、第２の基準値記憶手段４７に格納された第２の基準値が基準値更新手段４４によって更新された後は、非接触で交絡糸Ｔの糸幅を計測する光学センサ装置３０、及び第２の交絡度算出手段４８のみによって迅速に交絡度を算出することができ、上述した従来のピンカウント法や光学法に比べて、高精度、且つ効率的に交絡度を検査することが可能となる。
【００６１】
また、光学センサ装置３０に配設された当接部材３３により交絡糸Ｔは扁平化され、拡幅されるので、交絡糸Ｔの糸幅の斑をなくすことができるとともに、交絡部とそれ以外の部分の糸幅変化を際立たせることができる。更に、当接部材３３の前後に配設され、横断面Ｖ字状の案内溝３５を有する一対の案内部材３４により、交絡糸Ｔを案内するようにしているので、これを確実、且つ安定して発光素子３２と受光素子３１との間に導くことができる。これらのことから、信頼性の高い交絡度を算出することが可能となる。
【００６２】
また、ピン挿抜装置２０の案内部材２３に形成された案内溝２４及び貫通孔２５により交絡糸Ｔ及びピン体２２がそれぞれ案内されるので、交絡糸Ｔとピン体２２相互間の位置ずれをなくすことができ、交絡糸Ｔに対して確実にピン体２２を挿入させることができる。更に、案内溝２４は交絡糸Ｔの走行方向に沿って凸円弧状に形成されていることで、交絡糸Ｔは凸円弧状の案内溝２４に沿って抵抗を受けることなく滑らかに走行することができる。これらのことによっても、信頼性の高い交絡度を得ることができる。
【００６３】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の採り得る具体的な態様は、何らこれに限定されるものでない。
【００６４】
例えば、上例の案内部材２３に代えて、図１０及び図１１に示すような案内部材６３を使用することもできる。この案内部材６３は、交絡糸Ｔの走行方向に沿って凸円弧状に形成されるとともに、横断面Ｖ字状の案内溝６４、当該案内溝６４を分断する水平な平坦面６６、及び当該平坦面６６から垂直に形成されて、ピン体２２より僅かに大径の貫通孔６５を有している。尚、図１１は、図１０における矢視Ｄ方向の平面図である。
【００６５】
更に、上例の案内部材２３に代えて、図１２及び図１３に示すような当接部材７３を設け、交絡糸Ｔの走行方向におけるその前後に一対の案内部材７５を設けた構成としても良い。当接部材７３は、その軸線が交絡糸Ｔに対して直交するように配設され、交絡糸Ｔとの当接部に開口する貫通孔７４を備えた円筒状の部材からなり、一対の案内部材７５は、当該当接部材７３の前後に配設され、横断面Ｖ字状の案内溝７６を有している。尚、図１３は、図１２における矢視Ｅ方向の平面図である。
【００６６】
上記のような構成にすると、交絡糸Ｔは案内溝６４や一対の案内部材７５によって案内されるだけでなく、平坦面６６及び当接部材７３において扁平化され、拡幅される。従って、このことによっても、交絡糸Ｔに対して確実にピン体２２を挿入させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】        本発明の一実施形態に係る交絡度検査装置の概略構成を示した正面図である。
【図２】        本実施形態に係る交絡度検査装置の概略構成を示したブロック図である。
【図３】        本実施形態に係るピン挿抜装置の概略構成を示した正面図である。
【図４】        図３における矢視Ａ方向の平面図である。
【図５】        本実施形態に係る光学センサ装置の概略構成を示した正面図である。
【図６】        図５における矢視Ｃ方向の平面図である。
【図７】        本実施形態の交絡度検査装置における処理手順を示したフローチャートである。
【図８】        張力データと第１の基準値との関係を示した説明図であり、本実施形態に係る校正処理を説明するための説明図である。
【図９】        電圧データと第２の基準値との関係を示した説明図であり、本実施形態に係る校正処理を説明するための説明図である。
【図１０】        本発明の他の形態に係るピン挿抜装置の概略構成を示した正面図である。
【図１１】        図１０における矢視Ｄ方向の平面図である。
【図１２】        本発明の更に他の形態に係るピン挿抜装置の概略構成を示した正面図である。
【図１３】        図１２における矢視Ｅ方向の平面図である。
【符号の説明】
１    交絡度検査装置
４    張力検出手段
１０  データ取得装置
２０  ピン挿抜装置
２１  駆動機構部
２２  ピン体
２３  案内部材
３０  光学センサ装置
３１  受光素子
３２  発光素子
３３  当接部材
４０  データ処理装置
４３  第１の交絡度算出手段
４４  基準値更新手段
４５  校正処理手段
４８  第２の交絡度算出手段
【図１】
0004114909.tif 000002
【図２】
0004114909.tif 000003
【図３】
0004114909.tif 000004
【図４】
0004114909.tif 000005
【図５】
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【図６】
0004114909.tif 000007
【図７】
0004114909.tif 000008
【図８】
0004114909.tif 000009
【図９】
0004114909.tif 000010
【図１０】
0004114909.tif 000011
【図１１】
0004114909.tif 000012
【図１２】
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【図１３】
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