(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ記憶システムのヘッドの不安定性回復方法において，
（ａ）製造工程又は使用者条件フィールドでビットエラー率検査を実行する段階と，
（ｂ）前記段階（ａ）の実行結果に基づき，前記ビットエラー率が，予め定められた検査規格を超過する場合，トラックにおけるサーボセクタの区間でサーマル・アスぺリティを検出し，検出されるサーマル・アスペリティの回数をカウントする段階と，
前記（ｂ）段階によりカウントされたサーマル・アスペリティの検出値が許容臨界値を超過するか否かを判断する段階と，
（ｃ）前記カウントされたサーマル・アスペリティの検出値が，前記許容臨界値を超過する場合，前記ヘッドのドメイン整列を均一に再整列させるためリセット電流パルスをヘッドに印加するヘッドの不安定性回復のためのプロセスを実行する段階とを含むことを特徴とする，データ記憶システムにおけるヘッドの不安定性回復方法。
【請求項２】
データ記憶システムにおけるヘッドの不安定性回復方法において，
（ａ）再生モード中に同一セクタでデータ再生に関連したエラー発生による再試行ルーチンの開始を判断する段階と，
（ｂ）前記段階（ａ）の判断結果，再試行ルーチンされる反復回数が所定の臨界範囲内に含まれる場合，エラー発生した個所の再試行目標セクタまで追従し，その追従する間のサーボセクタの区間でサーマル・アスペリティを検出し，前記検出されたサーマル・アスペリティの回数をカウントする段階と，
（ｃ）前記（ｂ）段階によりカウントされたサーマル・アスペリティの検出値が許容臨界値を超過するか否かを判断する段階と，
（ｄ）前記カウントされたサーマル・アスペリティの検出値が，予め定められた許容臨界値を超過する場合，前記ヘッドのドメイン整列を均一に再整列させるためリセット電流パルスをヘッドに印加し，前記許容臨界値を超過しない場合，再試行によってデータ処理を実行する段階とを含むことを特徴とするデータ記憶システムにおけるヘッダの不安定性回復方法。
【請求項３】
データ記憶システムのヘッドの不安定性回復装置において，
ディスクに記録された信号を検出するヘッドと，
読出しモードにおいて，前記ヘッドから検出された信号を記録前のデータとして再生し，又は書込みモードで記録されるデータと一致する記録電流を生成する信号処理部と，
前記信号処理部で再生するデータを利用し，製造工程又は使用者条件フィールドで前記データのエラー発生に関する所定の性能検査を実行し，前記性能検査結果に結果に基づき，所定の規格範囲を超過する場合，サーマル・アスペリティ検出制御信号を生成させ，さらにトラックにおけるサーボセクタの区間で前記サーマル・アスペリティの検出をカウントした結果に基づき，そのサーマル・アスペリティの検出をカウントした値が，許容臨界値を超過する場合に電流ショック制御信号を生成させるためのシステム制御部と，
前記サーマル・アスペリティ検出制御信号が印加される場合，所定の区間でベースラインポッピングノイズによる前記サーマル・アスペリティの検出回数をカウントして前記システム制御部に出力させるためのサーマル・アスペリティ検出部と，
前記電流ショック制御信号が印加される場合，前記ヘッドのドメイン整列を均一に再整列させるためリセット電流パルスを印加するためのヘッド供給電流制御部とを含むことを特徴とする，データ記憶システムにおけるヘッドの不安定性回復装置。
【請求項４】
前記アスペリティ検出部は，前記信号処理部で入力される再生信号のレベルを検出するためのレベル検出部と，
前記レベル検出部で検出されたレベルと基準値とを比較して，前記基準値より大きい前記レベルの信号が入力される場合，パルスを発する比較部と，
前記比較部で出力されるパルスをカウントするためのカウンタとを含むことを特徴とする，請求項３に記載のデータ記憶システムにおけるヘッドの不安定性回復装置。
【請求項５】
前記所定の性能検査は，ビットエラー率検査であることを特徴とする，請求項３又は４に記載のデータ記憶システムにおけるヘッドの不安定性回復装置。
【請求項６】
前記所定の性能検査は，エラー訂正コード検査によるエラーが発生するかどうかを判断する検査であることを特徴とする，請求項３，４，または５項のうちいずれか１項に記載のデータ記憶システムにおけるヘッドの不安定性回復装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は，データ記憶システムの制御方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば，ハードディスク装置（ＨＤＤ）などを構成するデータ記憶システム（ストレージシステム）において，既存のインダクティブヘッド（Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅ  Ｈｅａｄ）は，電気信号に変換するヘッドコアにコイルを巻いてディスクの磁束変化量をヘッドコイルの電圧変化量に変換する方法が採択されている。インダクティブヘッドではデータの信号周波数が高まればデータ信号の安定性のためにヘッドコイルのインダクタンス値を低くする必要がある。これはヘッドの誘導電圧（Ｉｎｄｕｃｔｉｏｎ  Ｖｏｌｔａｇｅ）を落として結局信号検出を不安定にする。
【０００３】
このような既存のインダクティブヘッドの問題点を補完して開発されたものが磁気抵抗ヘッド（Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ  Ｈｅａｄ；以下，ＭＲヘッドと称する）であって，ＭＲヘッドは，磁束の変化を容易に感知するＭＲセンサを適用することによって高い周波数のデータ信号に適応するようにしたものである。ＭＲヘッドは，例えば，電磁誘導現象を利用してコイルに再生電圧を発生させる方法によるなどの，既存のインダクティブヘッドでヘッドコイルにより磁束の変化を誘導電圧の変化に転換したものとは異なり，データを読出す時にはＭＲヘッダは，ＭＲセンサ磁束の変化を抵抗値の変化として検出するためのＭＲセンサを使用する。しかし，書込む時には既存のインダクティブヘッド構造を適用して単位面積当りの記録密度，及びＳ／Ｎ比を向上させた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら，このようなＭＲヘッドは既存のインダクティブヘッドでは発生しなかったＭＲセンサの不安定性という問題を引き起こす問題があった。ここで，ＭＲヘッドの不安定性とは，ＭＲセンサの不安定ドメイン（Ｉｎｓｔａｂｌｅｆｕｎｃｔｉｏｎｉｎｇ  ｄｏｍａｉｎ）によって発生する現象であって，その発生する原因にはいろいろがあるが，主に弱い静電気放電（ＥＳＤ：Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｓｔａｔｉｃ  Ｄｉｓｃｈａｒｇｅ）による損傷，ＭＲセンサ両端の不適切なハードバイアス作用（ｈａｒｄ  ｂｉａｓ  ｏｐｅｒａｔｉｏｎ）などがある。
【０００５】
ＭＲセンサの面積当り感度を高めるために容量を増加させれば，ＴＰＩ（Ｔｒａｃｋ  Ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ）が増加するにつれてＭＲセンサの幅が減少され，このようなヘッドの不安定性をさらに悪化させる。
【０００６】
上記ＭＲヘッドの不安定性は，ハードディスクドライブにおける信号のベースラインポッピングノイズ（例えば，ベースラインを不意に動くことによるノイズなど。），振幅スパイク（ａｍｐｌｉｔｕｄｅ  ｓｐｉｋｅ），及び振幅非対称現象（ａｍｐｌｉｔｕｄｅ  ａｓｙｍｍｅｔｒｙ  ｏｆ  ａ  ｓｉｇｎａｌ）などを起こす。これはデータ再生時に，ビットエラー率（Ｂｉｔ  ｐｅｒ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ：ＢＥＲ）は悪くなる，もしくはエラー訂正コード（ＥＣＣ）検査では，エラーが発生する。
【０００７】
さらに，このようなＭＲヘッドの不安定性は，正常な状態であっても発生し得るため，１次的に工程不良率を増加させ，２次的には市場に出回る商品の品質に莫大な影響を及ぼす問題点があった。
【０００８】
上記ＭＲヘッドの回復技術に関する文献としては，米国特許５,６５０,８８７号及び韓国公開特許１９９９−０７２２８４号などがある。
【０００９】
上記米国特許５,６５０,８８７号にはサーボＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を測定して２０％未満の場合にのみヘッドにリセット電流（ｒｅｓｅｔ  ｃｕｒｒｅｎｔ）を印加する技術が開示されており，韓国公開特許１９９９−０７２２８４号にはサーボ信号の検出の有無によってヘッドの性能を判断してヘッドに逆方向にリセット電流を印加する技術が開示されている。
【００１０】
ところが，ＭＲヘッドの不安定性により発生するデータエラー及びＢＥＲが許容規格値（基準値）を超過する品質問題を発するが，上記品質問題が発生する場合，従来にはＭＲヘッドの不安定性により直接的に引き起こされるベースラインポッピングノイズからヘッドの不安定性を判断する技術が開発されず，製作工程または例えば，使用者側で使用する条件などを示す使用者フィールド条件におけるデータ処理の過程で品質問題が発生する場合，ＭＲヘッドの不安定性による品質問題であるかどうかを正確に判断できず，ヘッドの不安定性を正常な状態に回復させることができないという問題点があった。
【００１１】
本発明は，上記問題点に鑑みてなされたものであり，本発明の目的は，ヘッドの不安定性が原因であると判断された場合に自動的にバイアス電流をヘッドに印加し，衝撃を与え，ヘッドの安定性を回復することが可能な，新規かつ改良されたデータ貯蔵システムにおける不安定性ヘッド回復方法及び不安定性ヘッド回復装置を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため，本発明の第１の観点によれば，前記技術的課題を達成するために本発明の第１実施例によるデータ貯蔵システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法は，データ貯蔵システムのヘッドの不安定性検出及び回復方法において，（ａ）製造工程又は使用者条件フィールドでＢＥＲ検査を実行して検査規格を超過するかどうかを判断する段階と，（ｂ）前記段階（ａ）の判断結果，前記ＢＥＲが検査規格を超過する場合に，トラックにおけるサーボセクタの区間でサーマル・アスぺリティ（ＴＡ）を検出し，検出されるサーマル・アスぺリティ（ＴＡ）の回数をカウンティングする段階と，（ｃ）前記カウンティングされたＴＡＤ値が許容臨界値を超過するかどうかを判断する段階と，（ｄ）前記カウンティングされたＴＡＤ値が許容臨界値を超過する場合に，ヘッドのドメイン整列を均一に再整列させるためリセット電流パルスをヘッドに印加するヘッドの不安定性回復プロセスを実行する段階を含むことを特徴とする。なお，許容臨界値は，例えば，サーマル・アスペリティの場合，サーマル・アスペリティとは判断されない許容される臨界値のことである。
【００１３】
前記技術的課題を達成するために本発明の第２実施例によるデータ貯蔵システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法は，データ貯蔵システムのヘッドの不安定性検出及び回復方法において，（ａ）再生モード中に同一セクタでデータ再生に関連したエラー発生による所定回数の再試行ルーチンがオンされるかどうかを判断する段階と，（ｂ）段階（ａ）の判断結果，再試行ルーチンされる反復回数が所定の臨界範囲内に含まれる場合，エラーが発生した再試行目標セクタまで追従しつつその追従する間のサーボセクタの区間でサーマルアスペリティを検出し，検出されたアスペリティの回数をカウンティングする段階と，（ｃ）カウンティングされたＴＡＤ値が許容臨界値を超過するかどうかを判断する段階と，（ｄ）カウンティングされたＴＡＤ値が許容臨界値を超過する場合，ヘッドのドメイン整列を均一に再整列させるためリセット電流パルスを印加し，そうでない場合には再試行プロセスによってデータ処理を実行させる段階とを含むことを特徴とする。
【００１４】
他の技術的課題を達成するために本発明の別の観点によるデータ貯蔵システムにおける不安定性ヘッド判断による回復装置は，データ貯蔵システムのヘッドの不安定性検出及び回復装置において，ディスクに記録された信号を検出するヘッドと，読出しモードで前記ヘッドから検出された信号を記録前のデータに再生させ，書込みモードで記録するデータに相応する記録電流を生成させるための信号処理部と，前記信号処理部で再生するデータを利用してデータのエラー発生に関する所定の性能検査を実行して，性能検査結果，所定の規格範囲を超過する場合にＴＡＤ制御信号を生成させ，トラックにおけるサーボセクタの区間でのＴＡＤ結果，許容臨界値を超過する場合に電流ショック制御信号を生成させるためのシステム制御部と，ＴＡＤ制御信号が印加される場合に，所定の区間でベースラインポッピングノイズによるサーマル・アスペリティの検出回数をカウンティングして制御部に出力させるためのＴＡＤと，電流ショック制御信号が印加される場合に，ヘッドにリセット電流パルスを印加するためのヘッド供給電流制御部とを含むことを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下，本発明の好適な実施の形態について，添付図面を参照しながら詳細に説明する。なお，以下の説明及び添付図面において，略同一の機能及び構成を有する構成要素については，同一符号を付することにより，重複説明を省略する。
【００１６】
まず図１を参照しながら，本発明の実施の形態にかかるデータ記憶システムについて説明する。図１は，本発明の実施の形態にかかるハードディスクドライブ１０の構成を示すものである。
【００１７】
図１に示すように，データ記憶システムとしてハードディスクドライブ１０は，スピンドルモータ１４によって回転する少なくとも一つの磁気ディスク１２を含んでいる。ハードディスクドライブ１０はディスク表面１８に隣接して位置した変換器（図示せず）も含んでいる。なお，本実施の形態にかかるデータ記憶システムは，ハードディスクの場合を例にあげて説明するが，かかる例に限定されず，例えば，ＲＡＭ，ＲＯＭなどの主記憶装置，またはＦＤ（フロッピディスク，商標登録）などの補助記憶装置の場合も含まれる。
【００１８】
変換器は，各々のディスク１２の磁界を感知して磁化させることによって回転するディスク１２から情報を読出し，またはディスク１２に書込みできる。典型的に変換器は，各ディスク１８の表面に結合されている。上記変換器は，ディスク１２を磁化させるための記録用変換器と，上記記録用変換器とは分離されて，ディスク１２の磁界を感知するための読出し用変換器とから構成されている。読出し用変換器は，ＭＲ素子で構成される。
【００１９】
上記変換器（図示せず。）は，ヘッド２０に統合されうる。ヘッド２０は，変換器とディスク表面１８との間にベアリングのような空気の粘性（空気ベアリング）を生成させる構造になっている。さらにヘッド２０は，ヘッドスタックアセンブリ（ＨＳＡ）２２に結合されている。ＨＳＡ２２は，ボイスコイル２６を有するアクチュエータアーム２４に取り付けられている。ボイスコイル２６は，ボイスコイルモータ（ＶＣＭ：Ｖｏｉｃｅ  Ｃｏｉｌ  Ｍｏｔｏｒ）３０を特定する少なくともマグネットを有するマグネチックアセンブリ２８に隣接して位置している。ボイスコイル２６に供給される電流によりベアリングアセンブリ３２に対してアクチュエータアーム２４を回転させるトルクが発生する。アクチュエータアーム２４の回転は，ディスク表面１８を横切って変換器を移動させる。なお，本実施の形態にかかるヘッド２０は，例えば，ＭＲヘッド，ＧＭＲヘッド，または薄膜ヘッドなどのヘッドを例示することができる。
【００２０】
例えば，テキスト，動画，静止画，または音楽などの情報は，典型的にディスク１２の環状トラック内に記憶される。図２に示されたように各トラック３４は一般に複数のセクタを含んでいる。各セクタは，データフィールドと識別フィールドとを含むデータセクタと，サーボセクタとから構成されており，各データセクタの間にはインターセクタギャップ（ＩＳＧ；Ｉｎｔｅｒ  Ｓｅｃｔｏｒ  Ｇａｐ）領域が存在する。識別フィールドはセクタ及びトラックを識別するグレーコード（ｇｒａｙ  ｃｏｄｅ）を含んでいる。変換器は，他のトラックにある情報を読出したり書込むためにディスク表面１８を横切って移動する。
【００２１】
図２は，本発明の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断に基づく回復装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【００２２】
図２に示されたように，本発明の実施の形態にかかるデータ記憶記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復装置は，ＭＲヘッド２０１，ヘッド供給電流制御部２０２，システム制御部２０３，信号処理部２０４，ＴＡＤ（Ｔｈｅｒｍａｌ  Ａｓｐｅｒｉｔｙ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ：サーマル・アスぺリティ検出）２０５及びＶＣＭ２０６を具備する。なお，サーマル・アスペリティは，ヘッドがディスクと衝突することによって生じる熱エネルギによって磁気抵抗が変化し，再生信号のＤＣレベルが大きく変動する現象である。
【００２３】
ヘッド供給電流制御部２０２は，細部的に，読出し用電流発生部２０２Ａ，リセットパルス発生部２０２Ｂ，およびスイッチング部２０２Ｃから構成され，上記信号処理部２０４は，細部的に，信号検出部２０４Ａ，増幅部２０４Ｂ，およびＲ／Ｗチャンネル回路２０４Ｃから構成され，ＴＡＤ２０５は，レベル検出部２０５Ａ，比較部２０５Ｂ，およびカウンタ２０５Ｃから構成される。
【００２４】
ＭＲヘッド２０１は，ハードディスクドライブ１０の読出しモードでディスク１８に記録されたデータ（情報）を検出するための素子であって，例えば，ＮｉＦｅなどのような合金の誘導性強磁性材料（Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅ  ｆｅｒｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  ａｌｌｏｙ）よりなり，ディスク上に記録された情報に応答して磁気抵抗値が変化するセンサである。
【００２５】
読出し用電流発生部２０２Ａは，ハードディスクドライブ１０が読出しモードでディスク１８に記録された情報（情報）に応答してＭＲヘッド２０１の抵抗値が変化することを電流（または電圧）で感知するために，ＭＲヘッド２０１に供給される電流を生成する。
【００２６】
リセットパルス発生部２０２Ｂは，ＭＲヘッド２０１の磁化容易軸（ＥａｓｙＡｘｉｓ）上でドメイン整列が不安定化した場合に，不安定化したドメイン整列を同じ方向に一致させるためのバイアス衝撃電流（ｂｉａｓ  ｓｈｏｃｋ  ｃｕｒｒｅｎｔ）を生成する。
【００２７】
スイッチング部２０２Ｃは，システム制御部２０３で印加される電流衝撃（ショック）制御信号に相応して，ＭＲヘッド２０１に印加される電流をスイッチング（切替）および出力する。
【００２８】
信号検出部２０４Ａは，読出しモードでＭＲヘッド２０１によってディスク１８上に記録された信号の磁束パターンに応答して変換された抵抗値を感知し，ディスク１８に記録された信号を検出する。すなわち，オーム（Ｏｈｍ）の法則を利用し，読出し用電流にＭＲヘッド２０１の変化した抵抗値をかけた結果（電圧）によって，ディスク１８に記録された信号を検出する。
【００２９】
増幅部２０４Ｂは，信号検出部２０４Ａから出力される信号を，本実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける信号処理に適合するように，増幅させる。
【００３０】
Ｒ／Ｗチャンネル回路２０４Ｃは，ＭＲヘッド２０１から読出された増幅されたアナログ信号を，例えば，ＣＰＵ（図示せず）などが含まれるホストコンピュータ（図示せず）が判読可能なデジタル信号に変調させ，ホストコンピュータから使用者データを受信し，ディスクに記録可能な記録電流に変換する信号処理を実行する。
【００３１】
レベル検出部２０５Ａは，増幅部２０４Ｂから出力される再生信号のピークレベルを検出する。
【００３２】
比較部２０５Ｂは，検出されたピークレベルと基準電圧Ｖｔｈとを比較して，入力されるピークレベルが基準電圧Ｖｔｈより大きい値を有する場合にのみ“ハイ”出力を発し，それ以外には“ロー”出力を発する。ここで，基準電圧Ｖｔｈは，図５に示すようにベースラインポッピングノイズを検出するのに適したレベルに設定される。
【００３３】
カウンタ２０５Ｃは，比較部２０５Ｂから出力される“ハイ”出力パルスの個数をカウンティングして（数えて），システム制御部２０３に出力する。
【００３４】
ＴＡＤ２０５は，システム制御部２０３の制御によってＢＥＲを検査した結果，許容値を超過するか，またはＥＣＣ検査でエラーが発生して再試行ルーチンが開始（オン）されることを条件として動作し，特にトラック３４のサーボセクタでのみサーマル・アスぺリティを検出するように設計されることが効率的であるが，かかる例に限定はされない
【００３５】
ＶＣＭ２０６は，システム制御部２０３の制御に相応して，例えば，トラック３４のうち，ある１のトラックから他のトラックに変換器を移動させるシークルーチン，及びトラック３４内で目標セクタを捜し出す追従ルーチンなど，変換器を移動させるための駆動力を発生する。。
【００３６】
システム制御部２０３は，ハードディスクドライブ１０を総括的に制御し，ホストコンピュータ（図示せず）とのデータ通信を制御する役割を実行する。そして，本発明の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法を実行させるために，例えば，信号処理部２０４などを，制御する。
【００３７】
次に，本発明の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定ヘッド判断による回復方法について，図３を参照しながら詳細に説明する。図３は，本発明の第１の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法の概略的な構成を示すフローチャートである。
【００３８】
なお，ＭＲヘッド２０１の不安定性によって起こりうるリードデータのエラー発生に関する性能検査として，本発明の一実施例では製造工程で実施するＢＥＲ検査と，使用者条件フィールドで実行されるＥＣＣによるエラー発生検査とを使用する。ここで，ＢＥＲはＭＲヘッド２０１によって読出した信号に含まれた一定数のデータビットのうちいくつのエラービットが発生するかを示す比率である。
【００３９】
また図３に示すように，本発明の第１の実施の形態にかかる不安定性ヘッド判断による回復方法を示すフローチャートは，ＭＲヘッド２０１の不安定性を判断するための性能検査としてＢＥＲ検査を適用した場合を示したものである。
【００４０】
まず，図３のフローチャートによって本発明の第１の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法を説明すると以下の通りである。
【００４１】
システム制御部２０３は，製造工程の品質検査に該当するバーンイン工程（ｂｕｒｎ−ｉｎ  ｐｒｏｃｅｓｓ）で再生されるデータで発生する，エラービットの比率を検査するためのＢＥＲを算出及び検査をする（段階３０１）。
【００４２】
システム制御部２０３は，段階３０１において算出されたＢＥＲ値がシステムの要求する検査規格値を超過して，不良（ＢＡＤ）が発生するかどうかを判断する（段階３０２）。
【００４３】
段階３０２の判断結果，検査規格値を超過して，算出されたＢＥＲが不良である場合に，システム制御部２０３はトラックのサーボセクタの区間でのみベースラインポッピングノイズによるサーマル・アスぺリティを検出するためにサーボゲートをオンにする（段階３０３）。
【００４４】
それから，システム制御部２０３は，初期設定区間でＴＡＤ２０５をイネーブルさせるための制御信号を生成する（段階３０４）。一例として，初期設定区間は特定アドレス（番地）の１のトラックに設定できる。
【００４５】
上記制御信号発生により，ＴＡＤ２０５はベースラインポッピングノイズを検出するために次のように動作する。
【００４６】
まず，レベル検出部２０５Ａは増幅部２０４Ｂから出力される信号のうち，サーボゲート信号を用いながら，サーボセクタの再生信号だけを分離し，サーボセクタにおける分離された再生信号のエンベロープレベルもしくはピークレベル（ｐｅａｋ  ｌｅｖｅｌ）を検出する。
【００４７】
そして，比較部２０５Ｂはレベル検出部２０５Ａから検出されたエンベロープレベルもしくはピークレベルと基準電圧とを比較して，基準電圧より大きいレベルのエンベロープレベルの信号である場合，ハイレベルのパルスを発生する。ここで，基準電圧は，図５に示すように，ベースラインポッピングノイズによるサーマル・アスぺリティを検出するのに適したレベルに設定される。
【００４８】
それから，比較部２０５Ｂから出力されるパルスの個数をカウンタ２０５Ｃでカウントした（数えた）後，カウントされたカウント値をシステム制御部２０３に伝送する。
【００４９】
このようなＴＡＤ２０５の動作によって検出されたサーマル・アスぺリティのカウント値をシステム制御部２０５でモニタリング（監視）する（段階３０５）。
【００５０】
システム制御部２０５は，カウンタ２０５Ｃから伝送されるカウント値（ＣＴＡ）がサーマル・アスぺリティと判断しない許容される範囲内である許容臨界値（Ｃｔｈ）を超過するか否かを判断して（段階３０６），許容臨界値を超過した場合には，ＭＲヘッドの不安定性によってベースラインポッピングノイズが発生したと判断し，ＭＲヘッドの不安定性回復ルーチンを開始（オン）する。すなわち，この場合にシステム制御部２０３は，ヘッド供給電流制御部２０２に電流衝撃（ショック）制御信号を印加する。
【００５１】
つまり不安定性回復ルーチンとして，ヘッド供給電流制御部２０２は，安定性を回復するために，バイアス電流の衝撃（バイアス衝撃電流）をＭＲヘッド２０１に加える（段階３０７）。
【００５２】
次に，電流衝撃制御信号がリセットパルス発生部２０２Ｂに印加された場合，ＭＲヘッド２０１のドメインの再整列のために比較的高いリセット電流パルスを発生する。この時，リセット電流パルスのパルス幅，振幅個数，または周期は，ＭＲヘッド２０１の抵抗値によって，それぞれ適応するように設定する。つまり上記設定は，実験的なデータ値の統計に基づいて，ＭＲヘッド２０１が損傷されずにＭＲヘッド２０１のドメイン整列が効果的に行われる値が設定される。特にリセット電流の振幅は，ＭＲヘッド２０１の抵抗値に反比例して設定される。
【００５３】
そして，電流衝撃制御信号（電流ショック制御信号）は，スイッチング部２０２Ｃを制御してリセットパルス発生部２０２Ｂで発生したリセットパルスがＭＲヘッド２０１に印加されるようにスイッチング（切替）する。
【００５４】
このようなＭＲヘッド２０１にリセット電流パルスを印加して，ＭＲヘッド２０１の不安性を回復するプロセスを実行した後，一般的に実施されているハードディスクアセンブリ性能検査を実行する（段階３０８）。なお，上記ハードディスクアセンブリ性能検査は，一般的に実施されている検査とほぼ同様な構成により詳細な説明は，省略する。
【００５５】
段階３０６の判断結果において，カウンタ２０５Ｃから伝送されるカウント値（ＣＴＡ）が，サーマル・アスぺリティの許容臨界値（Ｃｔｈ）を超過しない場合は，ＭＲヘッド２０１の不安定性による品質の問題ではないと判断され，ＭＲヘッド２０１の安定性が確認されて，次の段階である一般的に実施されているハードディスクアセンブリ性能検査が実行される。
【００５６】
上記段階３０１〜段階３０８にかかる一連の方法によって，再生データ処理過程においてＢＥＲの値によってＭＲヘッド２０１の不安定性原因を含む品質問題を検出し，品質問題が発生した場合にＴＡＤ（サーマル・アスペリティ検出）によってヘッドが不安定であるかどうかを正確に判断してバイアス電流の衝撃（ショック）により，ＭＲヘッド２０１の安定性が回復する。
【００５７】
次に，本発明の第２の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法について，図４を参照しながら説明する。図４は，本発明の第２の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法の概略的な構成を示すフローチャートである。また，図４に示すフローチャートは，ＭＲヘッド２０１の不安定性を判断するための性能検査としてＥＣＣによるエラー発生検査を適用する場合を示したものである。
【００５８】
まず，ＥＣＣテストにより引き起こされるエラー発生によって再試行時に，同一セクタを連続して何回か反復させる再試行条件で，ヘッドの不安定性を判断するためのＴＡＤルーチンを開始（オン）するか否かを決定するための再試行回数の最小値（Ｎｍｉｎ）及び最大値（Ｎｍａｘ）が，初期設定される。またサーマル・アスぺリティ許容範囲を判定するためのベースラインポッピングノイズの棄却限界値を示すカウント値（ＣＴＡ）を決定する（段階４０１）。ここで，再試行回数の最大値Ｎｍａｘはシステムが許す最大反復再試行回数より少なくとも１回少なく設定することが効率的である。その理由はヘッドの不安定性回復後に少なくとも１回再試行するためである。
【００５９】
それから，データ処理過程のエラー訂正時に，ＥＣＣによるエラーが原因で，再試行ルーチンが開始（オン）されるかどうかを判断する（段階４０２）。
【００６０】
もし，段階４０２で再試行ルーチンがオンされた場合，同一セクタで連続して反復される再試行回数が，段階４０１で設定した再試行最小値Ｎｍｉｎと最大値Ｎｍａｘとの間であるか否かを判断する（段階４０３）。
【００６１】
段階４０３の判断結果，現在の再試行反復回数が，設定した再試行最小値Ｎｍｉｎと最大値Ｎｍａｘとの間に含まれる場合，システム制御部２０３は，エラーが発生した上記セクタでＭＲヘッド２０１が再び上記セクタに追従する間のサーボセクタ区間でのみ，サーマルアスぺリティを検出するため，サーボゲートをオンする（段階４０４）。これは，エラーが発生したセクタが含まれたトラックの全体のサーボセクタにおいて，再試行ルーチンによってエラーが発生したセクタが追従される間に，サーマル・アスぺリティを検出するためである。
【００６２】
それから，システム制御部２０３はＴＡＤ２０５をイネーブルさせるための制御信号を生成させる（段階４０５）。
【００６３】
これにより，ＴＡＤ２０５は，図３の本発明の第１の実施の形態で設定されたのとほぼ同様な方法でベースラインポッピングノイズによるサーマル・アスぺリティ（ＴＡ）を検出し，検出されたサーマル・アスぺリティのカウント値をシステム制御部２０５でモニタリング（監視）する（段階４０６）。
【００６４】
そして，システム制御部２０５は，カウンタ２０５Ｃから伝送されるカウント値（ＣＴＡ）がサーマル・アスぺリティ（ＴＡ）の許容臨界値を超過するかどうかを判断して（段階４０７），許容臨界値を超過する場合にはＭＲヘッド２０１の不安定性が発生したと判断し，ＭＲヘッド２０１の不安定性回復ルーチンをオンする。すなわち，この場合，システム制御部２０３はヘッド供給電流制御部２０２に電流衝撃（ショック）制御信号を印加する。
【００６５】
これにより，ヘッド供給電流制御部２０２は，図３に示す本発明の第１の実施の形態で既に説明したのとほぼ同様な不安定性回復ルーチンの動作によってＭＲヘッド２０１にバイアス電流の衝撃を加えて安定性を回復する（段階４０８）。
【００６６】
しかし，段階４０７の判断結果，カウンタ２０５Ｃから伝送されるカウント値（ＣＴＡ）がサーマル・アスぺリティ許容臨界値を超過しない場合は，ＭＲヘッド２０１の不安定性による品質の問題ではないと判断されて，ＭＲヘッド２０１の安定性が確認された後に，次の段階である一般的に実施されるハードディスクアセンブリ性能検査が実行される。なお，ハードディスクアセンブリ性能検査は一般的に実施される工程とほぼ同様な構成であることから詳細な説明は省略する。
【００６７】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例を想定し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００６８】
上記実施形態においては，不安定性ヘッド判断による回復方法，装置，システム，およびプログラムにおいて実施可能である。また例えば，プログラムで実施される場合，本発明の実施の形態にかかる構成手段は必要な作業を実行するコードセグメントである。プログラムまたはコードセグメントはプロセッサー判読可能媒体に記憶されるか，または伝送媒体または通信網で搬送波と結合されたコンピュータデータ信号によって伝送される。上記プロセッサー判読可能な媒体は，情報を記憶または伝送できるいかなる媒体も含む。プロセッサー判読可能媒体は，例えば，電子回路，半導体メモリ素子，ＲＯＭ，フラッシュメモリ，ＥＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＲＯＭ），フロッピディスク（ＦＤ：登録商標），光ディスク，ハードディスク，光ファイバ媒体，無線周波数（ＲＦ）網などを例示することができる。コンピュータデータ信号は，電子網チャンネル，光ファイバ，空気，電磁界，ＲＦ網のような伝送媒体上に伝播されうるいかなる信号も含まれる。
【００６９】
【発明の効果】
以上説明したように，本発明によれば，データ記憶システムの製造工程または使用者フィールドでのＢＥＲ不良またはＥＣＣエラーが発生する場合にＴＡＤルーチンを動作させて，品質問題がヘッドの不安定性が原因で発生したかどうかを判断して，ヘッドの不安定性が原因であると判断された場合，自動的にバイアス電流の衝撃をヘッドに印加してヘッドの安定性を回復すべく制御することによって，製造工程及び使用者条件で品質問題発生時にヘッドが不安定性であるかどうかを正確に判断することが可能となり，さらにヘッドが不安定である場合は，ヘッドを自動的に回復して工程品質及び市場品質を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態にかかるハードディスクドライブの概略的な構成を示す平面図である。
【図２】本発明の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法の概略的な構成を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第２の実施の形態にかかるデータ記憶システムにおける不安定性ヘッド判断による回復方法の概略的な構成を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態にかかるサーマル・アスぺリティが検出された場合の再生信号の波形の概略的な構成を示す説明図である。
【符号の説明】
１０：ハードディスクドライブ
１２：磁気ディスク
１４：スピンドルモータ
１８：ディスク表面
２０：ヘッド
２２：ＨＳＡ
２４：アクチュエータアーム
２６：ボイスコイル
２８：マグネチックアセンブリ
３０：ボイスコイルモータ
３２：ベアリングアセンブリ
【図１】
0004054640.tif 000002
【図２】
0004054640.tif 000003
【図３】
0004054640.tif 000004
【図４】
0004054640.tif 000005
【図５】
0004054640.tif 000006