【事件の表示】
　平成４年　特　許　願　第２３０５７２号「Ｘ線マイクロアナライザ」拒絶査定に対する審判事件〔（平成８年３月２９日出願公告、特公平８−３４０９２）、特許請求の範囲に記載された請求項の数（１）〕について、次のとおり審決する。
【結論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許をすべきものとする。
【理由】
１．手続きの経緯
　本願は、平成４年８月２８日にされた特許出願である。
　原審において平成８年３月２９日に出願公告されたところ、日本電子株式会社から特許異議の申立があり、その特許異議の申立について理由ありとの決定がなされ、その決定の理由によって拒絶査定されたものである。
２．本願発明の要旨
　本願発明の要旨は、出願公告された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲に記載されたとおりの、
　「Ｘ線マイクロアナライザにおいて、
　特性Ｘ線を分光する分光素子と、前記分光素子によって分光された特性Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備えたＸ線分光器を縦型配列とするとともに、前記Ｘ線検出器を試料面及びその移動延長上の上方に配置し、
前記Ｘ線分光器は、試料面およびその移動延長上の下方で検出される特性Ｘ線の波長領域を前記配置のＸ線検出器によって検出可能とする分光領域を有する分光素子を具備することを特徴とするＸ線マイクロアナライザ」
にあるものと認められる。
　そして、本願発明は、この構成により、本願明細書に記載された、「Ｘ線検出器と試料との干渉を防ぐ」との課題を解決し、「したがって、従来、装填や走査を行うことができなかった大面積の試料の全面の走査、分析を行うことができる」との効果を得るものである。
３．引用例の記載
　これに対し、原査定の拒絶の理由となった特許異議の申立の決定の理由において引用した「Ｄ．Ｅ．Ｎｅｗｂｕｒｙ，Ｅｄ．，Ｍｉｃｒｏｂｅａｍ　Ａｎａｌｙｓｉｓ−１９８８，Ｐ３２９−３３２，Ｓａｎ　Ｆｒａｎｃｉｓｃｏ　Ｐｒｅｓｓ発行」（以下、「引用例１」という）及び「特開昭６０−２４７１４５号公報」（以下、「引用例２」という）には下記の事項が記載されている。
　（引用例１）
　ア．図３は、「ａ　ｖｅｒｔｉｃａｌ　ＷＤＳ」のスケッチで、ローランド円１及び２上の分析点Ａ、結晶Ｃ１、Ｃ２及び検出器Ｄｌ、Ｄ２をそれぞれ示している。図から分かるように、もしブラッグ角θ１が取出角α（ｔａｋｅ−ｏｆｆ　ａｎｇｌｅ　α）より小さいときは検出器Ｄ１は試料面の上方に位置し、一方、もしθ２がαより大きいときは検出器Ｄ２は試料面の下方を移動する。後者の配置は、大きい試料に対しては不可能である。
　イ．しかし、「ａ　ｉｎｃｌｉｎｅｄ　ＷＤＳ」では、ローランド円は結晶の通路（ＡＡ′）のまわりに回転させられ、そして、検出器Ｄ２は試料面の上方に留まる。
　（引用例２）
　ウ．Ｘ線分光器の配置上の物理的な制約等から１台のＸ線分光器で分光できる波長範囲は自から限界がある（第１頁右下欄）。
　エ．１台のＸ線分光器に配置された複数の分光結晶を時分割で選択使用する（第３頁左上欄）。
　オ．Ｘ線分光器が直進走査される際、Ｘ線検出器もローランド円上に位置するように変位される（第２頁左下）。
　力．１台のＸ線分光器の１回の走査で実用上必要な全波長範囲をカバーしたＸ線分光測定が可能となる（第３頁左上欄）。
４．対比・判断
　引用例１及び引用例２のいずれにも、本願発明の構成である
　「Ｘ線分光器を縦型配列としＸ線検出器を試料面及びその移動延長上の上方に配置する」
点（以下、「構成Ａ」という）については記載されていない。
　また、上記構成Ａは引用例１及び引用例２の記載から当業者が容易に導くことができたものである、とも認められない。
　そして、本願発明は、この構成Ａにより、本願明細書に記載された、「Ｘ線検出器と試料との干渉を防ぐ」との課題を解決し、「したがって、従来、装填や走査を行うことができなかった大面積の試料の全面の走査、分析を行うことができる」との効果を奏するものである。
　（引用例１）
　引用例１において、「ａ　ｖｅｒｔｉｃａｌ　ＷＤＳ」が本願発明の「縦型配列のＸ線分光器」に相当し、「ａ　ｉｎｃ１１ｎｅｄ　ＷＤＳ」が本願明細書に記載された「横型配列のＸ線分光器」に相当することは明らかである。
　引用例１は、「縦型配列ではある角度以上のブラッグ角で検出を行うＸ線検出器は試料面より下方に配置しなければならず、大きい試料を対象とする場合は、そのような配置は不可能である」との問題点を指摘し、Ｘ線分光器を上記問題点を有する縦型配列から横型配列へとその配列型式を変更することにより上記問題点を解決するものである。これは、縦型配列に関連しては上記問題点を指摘するにとどまり、縦型配列において上記問題点をどのように解決するかを意図するものではない。
　したがって、引用例１には、「縦型配列においてＸ線検出器と試料との干渉を防ぐ」との本願発明の課題の認識はない。
　本願発明と引用例１に記載された縦型配列のＸ線分光器とを対比すると、縦型配列である点においては一致するが、本願発明は上記構成Ａを備えるのに対し引用例１は上記問題点を指摘するのみである、点で相違する。
　しかし、上述のとおり引用例１には本願発明の上記課題の認識がないことから、縦型配列の問題点の指摘からだけでは本願発明の上記構成Ａを導くことはできない。
　本願発明と引用例１に記載された横型配列のＸ線分光器とを対比すると、「Ｘ線検出器を試料面の上方に配置する１点で一致するが、両者は配列型式において相違する。
　しかし、上述のとおり、引用例１は、縦型配列の問題点を指摘し縦型配列に代えて横型配列を採用したものであり、この経緯からして、引用例１において配列型式を単に横型配列から縦型配列とすることは当業者が容易になしうるとすることはできない。したがって、引用例１の記載から、縦型配列であることをも含む本願発明の上記構成Ａを導くことはできない。
　以上より、上記構成Ａについては、引用例１には記載されておらず、引用例１の記載から導くこともできない。また、引用例１には、「縦型配列においてＸ線検出器と試料との干渉を防ぐ」との本願発明の課題の認識もない。
　（引用例２）
　引用例２には、「Ｘ線分光器の配置上の物理的な制約等から」（上記（ウ））との記載はあるものの、この物理的な制約が試料面によるものであるとの趣旨の記載はなく、したがって、「縦型配列においてＸ線検出器と試料との干渉を防ぐ」との本願発明の上記課題の認識もない。
　本願発明と引用例２に記載されたＸ線分光器とを対比すると、本願発明は上記構成Ａを備えるのに対し引用例２には上記構成Ａについての記載はない点において相違する。
　しかし、上述のとおり、引用例１には本願発明の上記課題の認識がないことから、「Ｘ線分光器の配列の物理的な制約」との記載からだけでは本願発明の上記構成Ａを導くことはできない。
　以上より、上記構成Ａについては、引用例２には記載されておらず、引用例２の記載から導くこともできない。また、引用例２には、「縦型配列においてＸ線検出器と試料との干渉を防ぐ」との本願発明の上記課題の認識もない。
　（引用例の組合せ）
　上述のとおり、引用例１、引用例２のいずれにも、「縦型配列においてＸ線検出器と試料との干渉を防ぐ」という本願発明の上記課題の認識がないことから、両引用例を組み合わせても本願発明の課題を導くことはできず、上記構成Ａを導くこともできない。
５．まとめ
　したがって、本願発明は引用例１及び引用例２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである、とは言えないから、「本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない」という理由で本願は拒絶をすべきものであるとした原査定は妥当でない。
　また、他に、本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。