(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
略平板状の母材の一主面にすくい面を有し、他の主面に着座面を有し、側面に逃げ面を有し、前記すくい面と前記逃げ面との交差稜に切刃が形成され、この切刃近傍の逃げ面に切刃の損耗を検知するセンサラインが設けられたスローアウェイチップの製造方法において、
前記母材の表面に導電性膜を形成する工程と、
前記母材の少なくとも一方の主面と前記逃げ面との交差稜の内接円のほぼ中心に凹部又は貫通孔を設ける工程と、
前記凹部又は貫通孔に一対のプランジャーピンを接触させるとともに、前記一対のプランジャーピンにより前記すくい面および前記着座面の両方から前記母材を挟みこみ、求心効果により前記母材の中心軸と、前記一対のプランジャーピンの中心軸をほぼ一直線上に移動させる工程と、
前記母材の側面にレーザ照射により前記導電性膜を除去してセンサラインのパターンを形成する工程と、
前記母材を前記一対のプランジャーピンの中心軸を基準に所定角度回転させて、前記母材の他の側面にレーザ照射により前記導電性膜を除去してセンサラインのパターンを形成する工程と、を備えることを特徴とするスローアウェイチップの製造方法。
【請求項２】
前記凹部が半球状であることを特徴とする請求項１記載のスローアウェイチップの製造方法。
【請求項３】
前記凹部の平面形状が多角形であることを特徴とする請求項１記載のスローアウェイチップの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は切削加工に使用するスローアウェイチップとその製造方法に関し、特に切刃の摩耗を検知するセンサラインを逃げ面に形成したスローアウェイチップとその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
スローアウェイチップは、通常は四角形や三角形を基本とする略平板状の母材の各コーナ部分に切刃稜が形成されている。いずれかのコーナ部分の切刃稜が摩耗すると他のコーナ部分の切刃稜を使用する。全てのコーナ部分の切刃稜が摩耗したときにスローアウェイチップが取り替えられる。
【０００３】
ところで、スローアウェイチップの切刃稜がどの程度摩耗したかを調べることは容易ではない。特に、切削加工中に切削加工を中断することなく切刃稜の摩耗量を検知することは難しい。
【０００４】
例えば切刃稜近傍の逃げ面にセンサラインを形成して摩耗を検知する場合、逃げ面とその隣り合う逃げ面の全部に等しいセンサラインを設ける必要がある。逃げ面にセンサラインを形成する方法として、すくい面の逃げ面との交差稜の内接円のほぼ中心の片方または両方を治具で挟み、一つの逃げ面にセンサラインをレーザ等を用いて不必要な部分を取り除くことで形成した後、隣り合う逃げ面にレーザ等が照射できる角度までスローアウェイチップを回転させて同様のセンサラインを形成する。この逃げ面を必要な数だけ回転させてレーザを照射して形成する。このとき、すくい面は略平面形状を有しているため、わずかな挟み込みの中心ずれが生じれば、このセンサラインは全てのコーナで位置ずれが生じ、各逃げ面で異なるパターンが形成されてしまう。
【０００５】
本発明はこのような従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、スローアウェイチップのすくい面のほぼ中心を治具で挟んでレーザ等を照射できる角度まで回転させてセンサラインを形成する際に、挟み込みの中心ずれが生じてセンサラインの位置ずれが生じることを解消したスローアウェイチップを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１に係るスローアウェイチップの製造方法は、略平板状の母材の一主面にすくい面を有し、他の主面に着座面を有し、側面に逃げ面を有し、前記すくい面と前記逃げ面との交差稜に切刃が形成され、この切刃近傍の逃げ面に切刃の損耗を検知するセンサラインが設けられたスローアウェイチップの製造方法において、前記母材の表面に導電性膜を形成する工程と、前記母材の少なくとも一方の主面と前記逃げ面との交差稜の内接円のほぼ中心に凹部又は貫通孔を設ける工程と、前記凹部又は貫通孔に一対のプランジャーピンを接触させるとともに、前記一対のプランジャーピンにより前記すくい面および前記着座面の両方から前記母材を挟みこみ、求心効果により前記母材の中心軸と、前記一対のプランジャーピンの中心軸をほぼ一直線上に移動させる工程と、前記母材の側面にレーザ照射により前記導電性膜を除去してセンサラインのパターンを形成する工程と、前記母材を前記一対のプランジャーピンの中心軸を基準に所定角度回転させて、前記母材の他の側面にレーザ照射により前記導電性膜を除去してセンサラインのパターンを形成する工程と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
すくい面の逃げ面との交差稜の内接円のほぼ中心に設けた凹部又は貫通孔を挟むことにより、この凹部又は貫通孔の求心効果によりスローウェイチップまたは治具が各頂点または底点に移動しスローアウェイチップの多少の位置ずれに対しても正確に位置が補正される。
【０００８】
請求項２に係るスローアウェイチップは、前記スローアウェイチップの逃げ面との交差稜の内接円のほぼ中心に半円球状の凹部を設けることで求心効果を持たす。
【０００９】
請求項３に係るスローアウェイチップは、前記スローアウェイチップの逃げ面との交差稜の内接円のほぼ中心に平面形状が多角形の凹部を設けることで求心効果を持たす。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して発明の具体的な実施形態を説明する。
【００１３】
図１（ａ）はこの発明の一実施形態に係るスローアウェイチップ１を手前上方から見た斜視図であり、図１（ｂ）はそのスローアウェイチップ１を手前下方から見た斜視図である。スローアウェイチップ１の母材２は、略平板状（略直方体状）を呈する。母材２は本来上下の区別はされないが、説明の便宜上、一方を上面、他方を下面として以下に説明する。
【００１４】
母材２の上面にはすくい面５が形成され、母材２の下面は着座面６とされている。また、母材２の４つの側面には、それぞれ逃げ面８が形成されている。そしてすくい面５と各逃げ面８との交差稜によって切刃稜９が形成されている。さらに、すくい面５および隣接する２つの逃げ面８の交差部分は切削に使用可能なコーナ部を形成している。
【００１５】
母材２の中央には、上面から下面に貫通するクランプ孔１１が形成されている。スローアウェイチップ１はクランパーで押さえることによりホルダー等に装着される。装着状態では、例えば図１（ａ）の手前上側の切刃９が切削に用いられる。また、クランプねじを緩めてスローアウェイチップ１を９０°回転させると、別のコーナ部の切刃９を切削に使用できる。このようにスローアウェイチップ１を９０°ずつ回転させることにより、その上面側の４つのコーナ部を順次切削に使用することができる。
【００１６】
さらに、スローアウェイチップ１の上下を反転させてホルダー等に装着することにより、図１（ａ）、（ｂ）における下面側の４つのコーナ部を順に切削に使用することができる。下面側コーナ部が使用される場合は上面が着座面とされ、下面がすくい面として機能する。このようにスローアウェイチップ１は、直方体状の母材２の８つのコーナ部分がそれぞれ切削に使用可能である。
【００１７】
このため、８つのコーナ部には切刃稜９に沿って延びる導電性膜のセンサライン１２がそれぞれ設けられている。具体的には、コーナ部１０を形成する２つの逃げ面８上に、コーナ部１０を取り巻くように切刃稜線９に沿って延びている。センサライン１２はその上辺が切刃稜線９に接しており、切刃稜９に沿って延びる幅Ｗの導電性膜のラインである。センサライン１２は、母材２に対して電気的に絶縁状態で設けられる。
【００１８】
センサライン１２の幅Ｗは、コーナ部１０の寿命基準量（逃げ面８の摩耗限界）に一致されている。通常、この種のスローアウェイチップ１のコーナ部１０の寿命基準量は０．０５〜０．７ｍｍの範囲内であるから、センサライン１２の幅Ｗもかかる寿命基準量と等しい値にされている。
【００１９】
例えばスローアウェイチップ１の逃げ面８の摩耗が０．２ｍｍで寿命となる場合には、センサライン１２の幅Ｗも０．２ｍｍとして作成される。コーナ部１０によって切削加工が行われると、加工時間の増加とともに切刃稜９および逃げ面８の磨耗が進行する。逃げ面８の摩耗が進行すると、それに応じてセンサライン１２も摩耗する。そして逃げ面８の摩耗幅が寿命基準量以上に達すると、この寿命基準量に一致された幅Ｗを有するセンサライン１２は摩耗により断線する。
【００２０】
センサライン１２の両端の抵抗値は後述するように外部回路により測定されているから、センサライン１２の抵抗値が無限大になった時点をもってコーナ部１０の切刃稜９が寿命に達したと判定することができる。
【００２１】
図１（ｂ）に示すように、着座面６には対をなす２つの接触領域１３、１４が設けられている。２つの接触領域１３、１４は導電性膜により形成されており、母材２に対して絶縁状態で設けられている。接触領域１３、１４は例えばホルダの外部に備えられる抵抗値の検知回路と電気的に接続可能な領域である。後述するようにスローアウェイチップ１がホルダに装着されたとき、ホルダのチップ座に設けられた検知回路のプローブがこの接触領域１３、１４に電気的に接続される。接触領域１３、１４は検知回路のプローブ等が接触し易いよう、できる限り大きな領域とするのが好ましい。
【００２２】
母材２の逃げ面８から着座面６にわたって接続ライン１５、１６が母材２と絶縁状態で導電性膜によって設けられている。接続ライン１５はセンサライン１２の一端１２１と一方の接触領域１３とを電気的に接続するものであり、接続ライン１６はセンサライン１２の他端１２２と他方の接触領域１４とを電気的に接続するものである。接続ライン１５、１６はセンサライン１２の幅Ｗに比べて十分に太いラインとされ、接続ライン１５、１６の電気抵抗値がセンサライン１２の電気抵抗値に比べて十分大きくされている。よって、センサラインの電気抵抗値の変化の検出には接続ライン１５、１６は影響を及ぼさない。
【００２３】
センサライン１２の他端１２２に接続された接続ライン１６はその一部に折り返しライン１７を有している。折り返しライン１７は折り返し部１８でセンサライン１２の他端１２２とつながっている。折り返しライン１７はセンサライン１２と所定間隔Ｄ隔ててセンサライン１２と平行に延びている。接続ライン１６の−部を折り返しライン１７とすることにより、接続ライン１５と接続ライン１６とを所定の間隔で平行に逃げ面８上に設けることができ、接続ライン１５、１６を面積効率良く配置できるという利点がある。
【００２４】
センサライン１２と折り返しライン１７との間隔Ｄは０．０５ｍｍ以上の幅にされている。好ましくは幅Ｄは許容される範囲内で広い方が良い。というのは、コーナ部１０で切削を行う際、そこに含まれる切刃稜９により被加工物が削られる。削られた切り屑はすくい面５から逃げ面８方向へと、例えばカールしながら発生する。発生した切り屑はセンサライン１２と折り返しライン１７との間に付着して両ライン間を電気的に短絡し得る可能性がある。
【００２５】
そこで、センサライン１２と折り返しライン１７の間隔Ｄを広くしておくことによって、両ライン１５、１６の間が切り屑等の付着によって電気的に短絡することを防止することができる。逃げ面８に形成された２本の接続ライン１５、１６はセンサライン１２に対して（換言すれば切刃稜９に対して）直交方向ではなく、所定の傾斜角度で交差する方向に延びる傾斜ラインとされている。この理由は、下面である着座面６に設けられた接触領域１３、１４の配置位置と、上面に設けられた接触領域１３、１４の配置位置とを全く同じ配置にするためである。
【００２６】
より具体的に説明すると、図１（ａ）の上面側に位置する４つのコーナ部１０は、スローアウェイチップ１を９０°ずつ回転させることにより、順次切削に使用することができる。スローアウェイチップ１を９０°ずつ回転させると、図１（ｂ）に示す４対の接触領域１３、１４も順に９０°ずつ回転する。そして切削に使用されるコーナ部１０のセンサライン１２に接続された接触領域１３、１４が外部回路のプローブに接続される。このため、着座面６に設けられた４対の接触領域１３、１４は着座面６の中心に対して９０°の回転対象の位置関係になっている。
【００２７】
また、スローアウェイチップ１は上下逆にして使用することができるから、図１（ａ）に示す上面に設けられた４対の接触領域１３、１４も上面の中心に対して９０°の回転対象の位置関係になっている。このように上面に設けられた接触領域１３、１４と下面に設けられた接触領域１３、１４とを全く同じ配置にするために、接続ライン１５、１６を逃げ面８に斜めに設ける必要がある。
【００２８】
なお、いわゆるポジタイプと呼ばれる片面（例えば上面）のコーナ部だけを切削に使用するスローアウェイチップの場合等は、接続ライン１５、１６を逃げ面８に斜めに設けなくてもよいこともある。
【００２９】
図２は、スローアウェイチップ１の着座面６に設けられた４対の接触領域１３、１４の変形例を示す平面図である。着座面６には４対の接触領域１３、１４が設けられていて、対応するコーナ部がそれぞれ切削に使用される際に外部回路のプローブに接触される。
【００３０】
ところで、接触領域１３、１４が外部回路と接続されてセンサライン１２の電気抵抗値が測定される際には、一方の接触領域１３には外部回路から所定の電圧が印加され、他方の接触領域１４は外部回路のアース電位に接続される。つまり、いずれの対の接触領域１３、１４が使用される場合であっても、一方の接触領域はアース電位に接続されるわけである。従って、例えば接触領域１４をアース電位として用いることにし、４対の接触領域の各一方の接触領域１４を電気的に共通に接続した構成にしてもよい。かかる構成例が図２に示されている。
【００３１】
このような接続領域の形状は、着座面６全体に導電性膜が形成されていて、その膜をレーザで加工して接触領域１３、１４や接続ライン１５、１６等を形成する際に、レーザ加工時間を短縮できるという利点がある。レーザ加工により除去すべき導電性膜の面積が少なくて済むからである。
【００３２】
図３は、センサラインの他の実施形態を示す斜視図である。図１で説明したセンサライン１２は、その上辺が切刃稜９に接しており、コーナ部１０を取り囲むように幅Ｗで切刃稜９に平行に延びていた。これに対し、図３のセンサライン１２３は、幅がＸ（Ｗ＞Ｘ）で、センサライン１２よりも幅の細いラインになっている。センサライン１２３もセンサライン１２と同様に導電性膜で母材２に絶縁状態で形成されている。このセンサライン１２３は、その下辺、すなわち切刃稜９から遠い側の側辺１２４が切刃稜９から距離Ｗになるように切刃稜９に平行に延びている。
【００３３】
この距離Ｗは、図１で説明したセンサライン１２の幅Ｗと同様に逃げ面８の寿命基準量に一致されている。従って、切刃稜９の使用時間の増加に伴い、逃げ面８の摩耗が切刃稜９側から進行し、やがては摩耗がセンサライン１２３およびその下辺１２４まで達する。するとセンサライン１２３が断線状態となる。このようにセンサライン１２３は、切刃稜９から遠い側の側辺（下辺）１２４が切刃稜９から所定距離Ｗ離れた構成であってもよい。
【００３４】
図１、図３では、切刃稜９からセンサラインの下辺までの距離Ｗがいずれもコーナ部１０の寿命基準量（逃げ面８の摩耗限界）に一致されている場合を説明した。
【００３５】
しかし、この寸法Ｗは逃げ面８の摩耗限界とせず、逃げ面８の摩耗に関連する寸法であってもよい。例えば予備切削（粗削り）や標準切削の場合には逃げ面８の摩耗限界が比較的大きいが、仕上げ切削では逃げ面８がある程度摩耗したときにスローアウェイチップを交換する必要がある。このような状況に則して、上記寸法Ｗをスローアウェイチップとしては使用できるが、仕上げ切削には使用できない程度の摩耗を検知できる寸法としてもよい。
【００３６】
図４は、図１（ａ）、１（ｂ）に示すスローアウェイチップ１をホルダに装着する様子を示す図解的な斜視図である。
【００３７】
ホルダ２０の先端にはチップ装着用のポケット２１が形成されている。ポケット２１の底面はチップ座２２となっている。またポケット２１の側面はチップの側面に当接し、チップを拘束するための拘束面２３となっている。スローアウェイチップ１はこのポケット２１に納められ、着座面６がチップ座２２に当接される。またその側面が拘束面２３に当接される。そして上方からクランプねじ２４がクランパー１１に差し込まれて、その先端がホルダ２０に形成されたねじ孔２５に螺合される。これによりスローアウェイチップ１はホルダ２０に装着される。
【００３８】
チップ座２２には、装着されたスローアウェイチップ１の切削に使用するコーナ部１０に設けられたセンサライン１２と接続された接触領域１３、１４に対向する位置に一対のプローブ２６、２７が突設されている。プローブ２６、２７は上方へ弾力付勢されていて、チップ座２２から例えば数ｍｍ突出している。
【００３９】
スローアウェイチップ１がポケット２１に装着されると、スローアウェイチップ１の着座面６によってプローブ２６、２７は押し下げられ、その上端はチップ座２２と面一となる。このときプローブ２６、２７の上端はスローアウェイチップ１の着座面６に設けられた接触領域１３、１４とそれぞれ電気的に接触した状態となる。
【００４０】
プローブ２６、２７には、一点鎖線で示すように、ホルダ２０内に配設されたリード線２８がつながれていて、このリード線２８はオーム計等の抵抗値の検知回路２９に接続されている。
【００４１】
よって、検知回路２９により、ポケット２１に装着されたスローアウェイチップ１の切削に使用するコーナ部１０に設けられたセンサライン１２の抵抗値を測定することができる。
【００４２】
スローアウェイチップ１がポケット２１に装着された状態では、スローアウェイチップ１の着座面６はそのほぼ全面がチップ座２２に密着している。このため、切削時にホルダ２０の先端部に対して切削液（水や油）がかけられたり、スローアウェイチップ１で削られた切り屑がスローアウェイチップ１の周囲に飛散しても、それら切削液や切り屑は密着したチップ座２２と着座面６との間に進入することがない。つまりスローアウェイチップ１の着座面６およびチップ座２２は切削液や切り屑から保護された状態である。よって、チップ座２２に設けられたプローブ２６、２７と着座面６に設けられた接触領域１３、１４とは切削中も良好に電気的接続が維持された状態となる。
【００４３】
さらに、プローブ２６、２７およびそれに接続されたリード線２８をホルダ２０内に設けることができる。
【００４４】
図４に示すホルダ２０は一例を示しただけであり、この実施形態にかかるスローアウェイチップ１が装着可能なホルダとしては、例えば本願出願人の先願（特願平１１−２７７５４８号）を用いてもよい。
【００４５】
図５（ａ）は、略平板状のすくい面５および着座面６と逃げ面８との交差稜の内接円のほぼ中心に球面の凹部３０を設けているスローアウェイチップとそれをスローアウェイチップのすくい面５および着座面５の両方向から挟み込むためのプランジャーピン３３ａ、３３ｂを設けている。すくい面５の球面状の凹部３０に接触するように、プランジャーピンの３３ａ、３３ｂの先端形状は球面状の凸形状になっている。
【００４６】
図５（ａ）では、チップ１のすくい面５の球面状凹部３０の中心軸３１とプランジャーピン３３ａ、３３ｂの中心軸３４がずれているが、図５（ｂ）のように、プランジャーピンの先端３２ａ、３２ｂがチップ１のすくい面５の球面状の凹部３０が接触することでお互いの中心軸３１、３４が求心効果によりほぼ一直線上の中心軸に移動する。お互いの位置関係が一致すれば、レーザ照射３５およびセンサライン１２は隣り合う逃げ面８に正確に描くことが可能になる。
【００４７】
一方のプランジャーピン３３ａの先端形状が球面形状をなしていれば、もう一方が平面形状でも上記効果は十分ある。また、プランジャーピン３３ａ、３３ｂの先端形状は円錐形状または多角形でも効果はある。
【００４８】
図６は、すくい面５および着座面６と逃げ面８との交差稜の内接円のほぼ中心に凹部３０を設けているスローアウェイチップの応用例である。
ほぼ交差稜の内接円のほぼ中心に設けた凹部３０を挟むことにより、スローアウェイチップの多少の位置ずれに対してもこの凹部３０の求心効果により正確に位置が補正される。
凹部３０の形状は図６（ａ）（ｂ）に示すような球面状に限らず、図６（ｃ）〜（ｐ）に示すように三角形または多角形でもよい。
また、母材２の平面形状は図６（ａ）〜（ｈ）に示すような四角形や図６（ｉ）〜（ｐ）に示すような三角形に限らず、円形や楕円形のスローアウェイチップ等にもこの発明を適用することが可能である。
【００４９】
次に、この発明にかかるスローアウェイチップの母材、センサライン、接続領域、および側面ライン等の材質や製造方法につき説明をする。
【００５０】
スローアウェイチップの母材としては、アルミナ質焼結体、窒化珪素質焼結体、サーメット、超硬合金、立方晶窒化ホウ素質焼結体（CBN/cubic Boron Nitride）、ダイヤモンド焼結体（PCD/Polycrystalline Diamond）等が使用できる。
【００５１】
スローアウェイチップの切刃部分に形成されるセンサライン１２は、それ自体が所定の電気抵抗値を有する。この電気抵抗値の変化をオーム計で測定することによって、スローアウェイチップの摩耗度合い、欠損の発生の有無が検出できる。
ＴｉＮはスローアウェイチップの母材に対する接合力が強いこと、被削材と反応せず、センサライン１２の電気抵抗値が常に所定値を示し、スローアウェイチップの摩耗度合い、欠損の発生の有無を正確に検出することができること、被削材の加工表面に反応生成物による傷が形成されるのを有効に防止できること、耐酸化性に優れ、酸化物生成によるセンサライン１２の電気抵抗値の変化がなく、スローアウェイチップの摩耗度合い、欠損の発生の有無を正確に検出することができること等の理由から好適に使用し得る。
【００５２】
このセンサライン１２は、次のように作られる。まず、ＣＶＤ法やイオンプレーティング、スパッタリング、蒸着等のＰＶＤ法、めっき法等を採用することによってスローアウェイチップの母材のほぼ全面に所定厚みに導電性膜が被着される。その後、レーザ加工によって、導電性膜が所定パターンに加工される。
【００５３】
導電性膜は、その厚みが０．０５μｍ未満の薄いものでは、母材表面への接合が弱くなるとともにセンサライン１２の電気抵抗値が高くなり、スローアウェイチップの摩耗度合いや欠損を正確に検出するのが困難となってしまう危険性がある。また２０μｍを超える導電性膜を形成しようとすると、形成時に導電性膜の内部に大きな応力が発生して残留し、該残留応力によって導電性膜の母材表面への接合が弱いものとなってしまう危険性がある。
【００５４】
スローアウェイチップの母材表面に被着されたＴｉＮや（Ｔｉ、Ａｌ）Ｎ、（Ｔｉ、Ａｌ）ＣＮ等の導電性膜は、レーザ加工等によって、センサライン１２、接続領域１３、１４、接続ライン１５、１６、１７等の所定パターンに加工される。レーザ加工により所定パターンに加工する場合には、母材表面に被着されたＴｉＮ等に対し、波長が１．０６μｍのＹＡＧレーザを３５ｋＨｚ、１０Ａの出力で幅５０μｍ、描画スピード１００〜３００ｍｍ／ｓで照射走査することによって、あるいはＣＯ2レーザを２０Ｗの出力で照射面積径０．３ｍｍ、描画スピード０．３ｍ／ｍｉｎで照射走査することによって行われる。逃げ面に形成されるセンサライン１２、接続ライン１５、１６、１７は母材の両主面をプランジャーで挟んで固定した状態でレーザ描写し、次に所定角度回転させて他の逃げ面をレーザに対峙させてその逃げ面にレーザ描写し、さらに所定角度回転させて、次の逃げ面にレーザ描写する。
【００５５】
この場合、すくい面のほぼ中心に設ける凹部３０に代わって貫通孔を設けてもよい。この場合、貫通孔の径をプランジャーの径より小さいものにすれば、この貫通孔が上述した凹部３０と同様の作用をする。また、貫通孔であれば、スローアウェイチップをクランプ螺子で固定するためのクランプ孔として用いることもできる。
【００５６】
センサライン１２等は、スローアウェイチップの母材がアルミナ質焼結体、窒化珪素質焼結体、ｃＢＮ等の絶縁物で形成されている場合には、その表面に直接形成される。また、母材が超硬合金やサーメット等の導電物で形成されている場合は、アルミナ等の絶縁物からなる中間層を間に挟んで形成される。
【００５７】
前記アルミナ等の絶縁物からなる中間層は、センサライン等を電気的に独立させる作用をなす。中間層は、ＣＶＤ法等の方法を採用することによって、母材表面とセンサライン等（導電性膜）との間に所定の厚みに形成される。中間層は、その厚みが１μｍ未満では、母材とセンサライン等との間に電気的な短絡が発生して、センサラインによりスローアウェイチップの摩耗度合いや欠損の検出を正確に行うことができなくなる危険性がある。また１０μｍを超える中間層を形成しようとすると、形成の際に中間層内部に応力が発生して残留し、該残留応力によって中間層の母材に対する接合強度が弱いものとなり、小さな外力印加によっても中間層が母材表面より容易に剥離してしまう危険性がある。従って、中間層は、その厚みを１μｍないし１０μｍの範囲としておくことが好ましい。
【００５８】
【発明の効果】
以上のように、請求項１に係るスローアウェイチップによれば、この凹部または貫通孔の求心効果によりスローウェイチップまたは治具が各頂点または底点に移動し多少のスローアウェイチップの位置ずれに対しても正確に位置が補正される。もって、スローアウェイチップのすくい面のほぼ中心を治具で挟んでレーザ等を照射できる角度まで回転させてセンサラインを形成する際に、挟み込みの中心ずれが生じることなく、センサラインを正確な位置に形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明に係るスローアウェイチップの一実施形態を示す図であり、（ａ）は手前上方から見た斜視図であり、（ｂ）は手前下方から見た斜視図である。
【図２】この発明に係るスローアウェイチップの他の実施形態を示す図であり、スローアウェイチップを上方から見た図である。
【図３】この発明に係るスローアウェイチップの切刃部分を拡大して示す図である。
【図４】この発明に係るスローアウェイチップをホルダに装着する様子を示す図である。
【図５】この発明に係るスローアウェイチップの製造方法を示す図であり、（ａ）はスローアウェイチップとプランジャーピンの中心軸がずれている状態を示し、（ｂ）はプランジャーピンの中心軸が合っている状態を示す。
【図６】この発明に係るスローアウェイチップの凹部または凸部と母材の形状の他の実施形態を示す図である。
【符号の説明】
１：スローアウェイチップ、２：母材、５：すくい面、６：着座面、８：逃げ面、９：切刃稜、１０：コーナー部、１２：センサライン、１３、１４：接続領域、１５、１６：接続ライン、３３：プランジャーピン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
0004105854.tif 000005
【図５】
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【図６】
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