(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め電子部品における所定電気特性の初期特性を測定する第１工程と、
前記電子部品に対して同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、その所要累積時間ごとに該電子部品の電気特性をそれぞれ測定して、この測定結果に基づいて該電気特性の前記初期特性に対する時間的な変化の度合いを求める第２工程と、
前記電子部品に対して負荷条件のうち少なくとも１つの物理因子を異ならせた複数の負荷条件を設定し、それぞれの負荷条件を所定の一定時間与えた後、それぞれの場合ごとに該電子部品の電気特性を測定し、この測定結果に基づいて前記物理因子をパラメータとしたときの該電気特性の前記初期特性に対する変化の度合いを求める第３工程と、
前記電子部品に関して、少なくとも１回の故障率試験を行い、時間をパラメータとしたときの前記電子部品の故障率を求める第４工程と、
前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いから、所定の負荷条件および負荷印加時間で電子部品に蓄積される負荷量を定式化し、前記第４工程で求められた故障率と、該電子部品に蓄積される負荷量との関係を求め、該関係に基づいて、負荷条件または負荷印加時間または故障率を求める第５工程とを有する、
ことを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項２】
請求項１に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第３工程における前記物理因子とは、処理温度、処理湿度、印加電圧のいずれか、またはこれらの組み合わせであることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記電子部品とは、磁器蓄電器であることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項４】
請求項３に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記所定の電気特性とは、容量、損失係数、絶縁抵抗、充電特性のいずれか、またはこれらの組み合わせであることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程において、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、前記電子部品の内在故障が顕在化する負荷条件及び該負荷条件の付与に要する必要時間を算出し、
この算出された負荷条件及び必要時間で品質管理対象の電子部品に負荷を与えるとともに、該負荷印加処理中及び該負荷を与えた後の少なくとも一方において、該電子部品の特性を測定して良品と不良品とを判別する第６工程を有する、
ことを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項６】
請求項５に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程における「電子部品の内在故障が顕在化する負荷条件」とは、前記第４工程で求められた前記故障率から「累積故障率のワイブル分析により初期故障が収束したと判断される条件」、または、「所定条件で電子部品を使用した場合に予想される故障率がある一定値未満になると判断される条件」であることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項７】
請求項５または６に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程において、前記負荷印加処理中及び前記負荷印加後の少なくとも一方における電子部品の良不良を判別するための特性の測定とは絶縁抵抗測定であることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項８】
請求項７に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記電子部品に負荷を与える工程で被検体にかけた電圧の印加方向と、前記絶縁抵抗測定を行う際に被検体にかける電圧の印加方向を互いに一致させることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項９】
請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程において、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、使用環境下での負荷条件における前記電子部品の寿命を推定する、
ことを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程における「電子部品の寿命」とは、前記第４工程で求められた前記故障率から「累積故障率のワイブル分析により偶発故障が収束し摩耗故障領域に推移したと判断される寿命」、または、「ある条件で被検体を使用した場合に予想される故障率が、初期故障が収束してかつ偶発故障領域で低く安定していた値が徐々に増加してある一定値以上になった寿命」であることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１１】
請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程において、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、前記電子部品が正常に使用可能な寿命に対応する使用条件を導出する、
ことを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程における「電子部品が正常に使用可能な寿命に対応する使用条件」とは、前記第４工程で求められた前記故障率から「累積故障率のワイブル分析により偶発故障が収束し摩耗故障領域に推移したと判断される条件」、または、「ある条件で被検体を使用した場合に予想される故障率が、初期故障が収束してかつ偶発故障領域で低く安定していた値が徐々に増加してある一定値以上になった条件」であることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１３】
請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、
未知の使用状態で使用されてきた被検体電子部品の所定の電気特性を測定する未知使用状態の電子部品特性測定工程を有し、
前記第５工程において、前記未知使用状態の電子部品特性測定工程での測定結果と、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、前記被検体電子部品の使用状態を推定する、
ことを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記未知使用状態の電子部品特性測定工程工程において、「未知の使用状態で使用されてきた電子部品」は、「使用中に故障に至った電子部品」である、または、「使用中に故障に至った電子部品と同じ使用条件で使用されていたことが既知である電子部品」であることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１５】
請求項１４に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記第５工程は、前記第４工程で求められた前記故障率、及び前記第２工程及び第３工程で測定された前記特性の変化の度合いに基づいて、故障に至った電子部品が摩耗故障か、初期欠陥が原因の故障かを判断する工程を備えることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１６】
請求項１４または１５に記載の電子部品の品質管理方法において、
前記電子部品は積層磁気蓄電器であるとともに、
故障した積層磁器蓄電器の正常層の電気特性を測定し、これから故障前の電気特性を推定して、未知の使用状態で使用されてきた電子部品の電気特性とすることを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【請求項１７】
請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、
未知の使用状態で使用されてきた被検体電子部品の所定の電気特性を測定する未知使用状態の電子部品特性測定工程を有し、
前記第５工程は、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合い、及び前記第４工程によって求められた故障率に基づいて、所望条件下で使用されている電子部品のある時点での故障率を推定する工程を備える、
ことを特徴とする電子部品の品質管理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品の品質管理方法に関し、特に絶縁性電子部品の品質管理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
電子部品において、例えば、高誘電率磁器を用いた積層磁器蓄電器では、誘電体磁器に欠陥があったり、異物が混入していたりすると、使用初期において全く問題のない電気特性を示していても、長期的には絶縁抵抗が低下し、やがて短絡に至るおそれがある。
【０００３】
このような欠陥を含む電子部品の被検体を排除するために、例えば、特開２０００−１６４４７１号公報や、特開平２０００−２０８３８０号公報に開示されているように、バーンイン試験を実施する。
【０００４】
すなわち、高温下で通常の使用時よりも高い電圧を被検体に印加することで欠陥を含む被検体の絶縁抵抗を速やかに低下させ、これを排除することが有効であることが示されている。
【０００５】
これは、欠陥などの影響で寿命が本来的に短い被検体のその寿命を、高温高電圧による負荷によって短時間に使い果たさせていると考えることができる。
【０００６】
よって、これらの方法によれば、工業的には確認することが不可能な数１０時間〜数１００時間以上使用して初めて故障するような被検体を短時間のうちに検出可能であり、信頼性を確保できると考えられる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来技術では、適切な負荷印加条件（バーンイン条件等）を求めることができれば、被検体の信頼性を確保できるものの、適切な負荷条件そのものを求めることが極めて困難であるという問題があった。
【０００８】
すなわち、ある負荷印加条件で負荷印加（バーンイン等）を行った後の被検体の信頼性が確保できているかどうかを確認するには信頼性試験を実施する必要があるが、これには非常な長時間を要する。
【０００９】
加えて、ある負荷印加条件で信頼性が確保されていなければ、負荷条件を変えて再び負荷印加を行い、信頼性試験を実施するということを試行錯誤的に繰返さなければならない。
【００１０】
また、被検体の故障率が低い場合や、極めて高い信頼性が要求される場合には、信頼性が確保できているかどうかの確認に非常に多くの被検体を用いなければならない。
【００１１】
例えば、信頼性不良率１ｐｐｍ未満が要求される場合は、信頼性試験に投入する被検体は最低でも１００万個程度必要であるが、高価な装置と長時間を要する信頼性試験でこのように大量の被検体を用いて試行錯誤的に負荷印加条件を探索することは実際上不可能であり、被検体の無駄でもある。
【００１２】
また、従来において、例えば、高誘電率磁器を用いた積層磁器蓄電器は、大容量蓄電器のうちで非常に信頼性の高いものとされるが、故障の形態が主に短絡であることから一旦故障するとその部品で発熱するおそれがある。
【００１３】
このため、積層磁器蓄電器の寿命を予め推定しておくことが回路基板などにその積層磁器蓄電器を搭載する上で重要である。
【００１４】
しかしながら、非常に長寿命の積層磁器蓄電器を直接測定することはきわめて困難であるので、高温下で高電圧を印加することで、短時間で製品を故障に至るようにすることで故障率を短時間に求める、いわゆる加速試験が行われる。
【００１５】
加速試験を行っている下での電子部品の寿命と、本来的な使用条件下での寿命とを対応づけるため、温度条件、電圧条件とも多くの水準で故障率試験を行い、その温度や電圧による加速係数を求め、この加速係数をもとに本来の使用条件下での寿命を計算して推定することが行われている。
【００１６】
しかしながら、従来においては、このように温度条件や電圧条件などで水準を多数設定するため故障率試験を多く行わなければならず、非常に長時間を要していた。また、故障率試験は一般に恒温槽や絶縁抵抗測定器を備えた高価な装置が必要であって、１回の試験でも数１００〜１０００時間かかるものであり、コスト的な問題もある。
【００１７】
さらに、加速係数に高い精度が要求される場合には、故障率のばらつきを吸収するため数多くの被検体を用いなければならない。そして、故障率試験は破壊試験であるので、これを数多く行う必要がある従来技術では、被検体の無駄でもある。
【００１８】
また、電子部品の本来の使用条件での寿命が所望の寿命以上となる定格使用条件を決定するにも、従来は上記加速試験を行っていたが、その場合も上述した不具合があった。
【００１９】
さらに、例えば、高誘電率磁器を用いた積層磁器蓄電器が製品に組み込まれて使用されているときに故障した場合、この故障原因を追求する必要があるが、その積層磁器蓄電器がどのような条件下（例えば温度や電圧などの条件）で使用されてきたか不明であることが多い。
【００２０】
そのため、その積層磁器蓄電器の使用法の誤りによって故障が生じたのか、それともその積層磁器蓄電器の内部に欠陥がありこれが原因で故障したのか判断することがきわめて困難である。そのような判断をするため、従来は、故障した被検体を研磨して断面観察を行うなどして原因の推定を行っていた。
【００２１】
しかしながら、上記のように被検体を研磨して断面観察を行うのでは、その研磨などに時間が掛かるという問題があるのみならず、被検体の故障の原因が発見されない場合が多々有る。例え、その故障の原因が特定できたとしても、その故障が被検体の誤った使用によって生じたものか、それとも初期欠陥などによるものか判断が極めて困難である。
【００２２】
さらにまた、出荷される積層磁器蓄電器が実際に使用されたときに、ある時間使用されることによってどの程度の割合で故障が発生するかを見積もっておくことが品質管理上重要である。
【００２３】
これも、従来においては、上述したように加速試験によって求めることになるが、故障率試験を数多く行わなければならないという問題があった。
【００２４】
したがって、製品に搭載された電子部品が故障したことが判明した場合、潜在的な故障がどのくらい市場の製品に存在するか把握すること、あるいは将来どの程度の故障が見込まれるか速やかに知ってそれに対応しなければならないが、迅速な対応は困難であった。
【００２５】
本発明は、上記実状に鑑みてなされたものであって、バーンインや加速試験のための負荷条件の設定、電子部品の寿命を推定するための負荷条件の設定、あるいは故障に至った電子部品の使用状態での負荷条件の推定などを短時間で行うことのできる電子部品の品質管理方法を提供することを解決しようとする共通の課題としている。
【００２６】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項１に係る電子部品の品質管理方法は、予め電子部品における所定電気特性の初期特性を測定する第１工程と、前記電子部品に対して同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、その所要累積時間ごとに該電子部品の電気特性をそれぞれ測定して、この測定結果に基づいて該電気特性の前記初期特性に対する時間的な変化の度合いを求める第２工程と、前記電子部品に対して負荷条件のうち少なくとも１つの物理因子を異ならせた複数の負荷条件を設定し、それぞれの負荷条件を所定の一定時間与えた後、それぞれの場合ごとに該電子部品の電気特性を測定し、この測定結果に基づいて前記物理因子をパラメータとしたときの該電気特性の前記初期特性に対する変化の度合いを求める第３工程と、前記電子部品に関して、少なくとも１回の故障率試験を行い、時間をパラメータとしたときの前記電子部品の故障率を求める第４工程と、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いから、所定の負荷条件および負荷印加時間で電子部品に蓄積される負荷量を定式化し、前記第４工程で求められた故障率と、該電子部品に蓄積される負荷量との関係を求め、該関係に基づいて、負荷条件または負荷印加時間または故障率を求める第５工程とを有する、ことを特徴とする。
【００２７】
本発明の請求項１に係る構成によれば、未使用状態の電子部品が有する所定電気特性の初期特性を予め測定し、同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、所要累積時間ごとに電気特性を測定し、初期特性と対比させることで負荷を累積的に時間的に与えたときの電子部品に蓄積される負荷量の変化の度合いを求めることができ、同じく、負荷条件のうち少なくとも１つの物理要因を変えたときの電子部品に蓄積される負荷量のその物理要因に対する変化の度合いを求めることができ、さらに少なくとも１回の故障率試験により時間をパラメータとしたときの電子部品の故障率が求められ、これらの結果に基づいて、時間と、負荷条件としての物理要因の少なくとも一つと、負荷量との関係がわかるので、その関係に基づいて、電子部品に対する負荷条件または負荷印加時間または故障率が容易に求められることになる。
【００２９】
本発明の請求項１に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記第３工程における前記物理因子とは、処理温度、処理湿度、印加電圧のいずれか、またはこれらの組み合わせである（請求項２の発明）。
【００３０】
本発明の請求項１または２に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記電子部品とは、磁器蓄電器である（請求項３の発明）。
【００３１】
本発明の請求項３に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記所定の電気特性とは、容量、損失係数、絶縁抵抗、充電特性のいずれか、またはこれらの組み合わせである（請求項４の発明）。
【００３２】
本発明の請求項５に記載の電子部品の品質管理方法は、請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、前記第５工程において、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、前記電子部品の内在故障が顕在化する負荷条件及び該負荷条件の付与に要する必要時間を算出し、この算出された負荷条件及び必要時間で品質管理対象の電子部品に負荷を与えるとともに、該負荷印加処理中及び該負荷を与えた後の少なくとも一方において、該電子部品の特性を測定して良品と不良品とを判別する第６工程を有する、ことを特徴とする。
【００３３】
本発明の請求項５に係る構成によれば、未使用状態の電子部品が有する所定電気特性の初期特性を予め測定し、同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、所要累積時間ごとに電気特性を測定し、初期特性と対比させることで、負荷を累積的に時間的に与えたときの電子部品に蓄積される負荷量の変化の度合いを求めることができ、同じく、負荷条件のうち少なくとも１つの物理要因を変えたときの電子部品に蓄積される負荷量のその物理要因に対する変化の度合いを求めることができ、さらに少なくとも１回の故障率試験により時間をパラメータとしたときの電子部品の故障率が求められ、これらの結果に基づいて、時間と、負荷条件としての物理要因の少なくとも一つと、負荷量との関係がわかるので、その関係に基づいて、電子部品が内在する故障を顕在化させる負荷条件と該負荷条件を付与する負荷印加時間としての必要時間とを算出し、この算出された負荷条件及び必要時間で品質管理対象の電子部品に負荷を与え、その負荷が与えられた電子部品の特性測定により良不良を判別して、その選別を行うことができる。
【００３４】
よって、負荷を与える物理因子をパラメータとしてそのパラメータ毎にどれだけ与える負荷が強くなるかを求めるので、負荷条件設定に必要な予備実験回数を大幅に少なくできる。
【００３５】
本発明の請求項５に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記第５工程における「電子部品の内在故障が顕在化する負荷条件」とは、前記第４工程で求められた前記故障率から「累積故障率のワイブル分析により初期故障が収束したと判断される条件」、または、「所定条件で電子部品を使用した場合に予想される故障率がある一定値未満になると判断される条件」である（請求項６の発明）。
【００３６】
本発明の請求項５または６に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記第５工程において、前記負荷印加処理中及び前記負荷印加後の少なくとも一方における電子部品の良不良を判別するための特性の測定とは絶縁抵抗測定である（請求項７の発明）。
【００３７】
本発明の請求項７に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記電子部品に負荷を与える工程で被検体にかけた電圧の印加方向と、絶縁抵抗測定を行う際に被検体にかける電圧の印加方向を互いに一致させる（請求項８の発明）。
【００３８】
本発明の請求項９に記載の電子部品の品質管理方法は、請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、前記第５工程において、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、使用環境下での負荷条件における前記電子部品の寿命を推定する、ことを特徴とする。
【００３９】
本発明の請求項９に係る構成によれば、未使用状態の電子部品が有する所定電気特性の初期特性を予め測定し、同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、所要累積時間ごとに電気特性を測定し、初期特性と対比させることで、負荷を累積的に時間的に与えたときの電子部品に蓄積される負荷量の変化の度合いを求めることができ、同じく、負荷条件のうち少なくとも１つの物理要因を変えたときの電子部品に蓄積される負荷量のその物理要因に対する変化の度合いを求めることができ、さらに少なくとも１回の故障率試験により時間をパラメータとしたときの電子部品の故障率が求められ、これらの結果に基づいて、時間と、負荷条件としての物理要因の少なくとも一つと、負荷量との関係がわかるので、その関係に基づいて、電子部品の負荷印加時間としての寿命に相当する負荷量がわかることになる。したがって、寿命を知りたい電子部品に対して、その電子部品が受けた負荷量と寿命に相当する負荷量との比較を行ってその電子部品がどのくらいで寿命が尽きるか推定できる。
【００４０】
本発明の請求項９に記載の電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記第５工程における「電子部品の寿命」とは、前記第４工程で求められた前記故障率から「累積故障率のワイブル分析により偶発故障が収束し摩耗故障領域に推移したと判断される寿命」、または、「ある条件で被検体を使用した場合に予想される故障率が、初期故障が収束してかつ偶発故障領域で低く安定していた値が徐々に増加してある一定値以上になった寿命」である（請求項１０の発明）。
【００４１】
本発明の請求項１１に係る電子部品の品質管理方法は、請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、前記第５工程において、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、前記電子部品が正常に使用可能な寿命に対応する使用条件を導出する、ことを特徴とする。
【００４２】
本発明の請求項１１に係る構成によれば、未使用状態の電子部品が有する所定電気特性の初期特性を予め測定し、同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、所要累積時間ごとに電気特性を測定し、初期特性と対比させることで、負荷を累積的に時間的に与えたときの電子部品に蓄積される負荷量の変化の度合いを求めることができ、同じく、負荷条件のうち少なくとも１つの物理要因を変えたときの電子部品に蓄積される負荷量のその物理要因に対する変化の度合いを求めることができ、さらに少なくとも１回の故障率試験により時間をパラメータとしたときの電子部品の故障率が求められ、これらの結果に基づいて、時間と、負荷条件としての物理要因の少なくとも一つと、負荷量との関係がわかるので、その関係に基づいて、負荷量と電子部品の寿命に相当する負荷量がわかることになる。したがって、電子部品を使用していく上で寿命に達するまでに負荷条件としてどのような使用条件が可能であるかがわかり、例えば、特殊な使用条件であっても、その電子部品が十分使用可能か判断できる。
【００４３】
本発明の請求項１１に係る電子部品の品質管理方法は、好ましくは、前記第５工程における「電子部品が正常に使用可能な寿命に対応する使用条件」とは、前記第４工程で求められた前記故障率から「累積故障率のワイブル分析により偶発故障が収束し摩耗故障領域に推移したと判断される条件」、または、「ある条件で被検体を使用した場合に予想される故障率が、初期故障が収束してかつ偶発故障領域で低く安定していた値が徐々に増加してある一定値以上になった条件」である（請求項１２の発明）。
【００４４】
本発明の請求項１３に係る電子部品の品質管理方法は、請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、未知の使用状態で使用されてきた被検体電子部品の所定の電気特性を測定する未知使用状態の電子部品特性測定工程を有し、前記第５工程において、前記未知使用状態の電子部品特性測定工程での測定結果と、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合いに基づいて、前記被検体電子部品の使用状態を推定する、ことを特徴とする。
【００４５】
本発明の請求項１３に係る構成によれば、未使用状態の電子部品が有する所定電気特性の初期特性を予め測定し、同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、所要累積時間ごとに電気特性を測定し、初期特性と対比させることで、負荷を累積的に時間的に与えたときの電子部品に蓄積される負荷量の変化の度合いを求めることができ、同じく、負荷条件のうち少なくとも１つの物理要因を変えたときの電子部品に蓄積される負荷量のその物理要因に対する変化の度合いを求めることができ、さらに少なくとも１回の故障率試験により時間をパラメータとしたときの電子部品の故障率が求められ、これらの結果に基づいて、時間と、負荷条件としての物理要因の少なくとも一つと、負荷量との関係がわかるので、その関係に基づいて、製品に搭載されて使用されてきた電子部品に対し、その電子部品の電気特性を測定し、その測定結果と、時間、物理要因の少なくとも一つの関係とから、負荷条件または負荷印加時間としてどのような使用状態であったかを推定できる。
【００４６】
本発明の請求項１３に係る電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記未知使用状態の電子部品特性測定工程において、「未知の使用状態で使用されてきた電子部品」は、「使用中に故障に至った電子部品」である、または、「使用中に故障に至った電子部品と同じ使用条件で使用されていたことが既知である電子部品」である（請求項１４の発明）。
【００４７】
本発明の請求項１４に係る電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記第５工程は、前記第４工程で求められた前記故障率、及び前記第２工程及び第３工程で測定された前記特性の変化の度合いに基づいて、故障に至った電子部品が摩耗故障か、初期欠陥が原因の故障かを判断する工程を備える（請求項１５の発明）。
【００４８】
本発明の請求項１４または１５に係る電子部品の品質管理方法において、好ましくは、前記電子部品は積層磁気蓄電器であるとともに、故障した積層磁器蓄電器の正常層の電気特性を測定し、これから故障前の電気特性を推定して、未知の使用状態で使用されてきた電子部品の電気特性とする（請求項１６の発明）。
【００４９】
本発明の請求項１７に係る電子部品の品質管理方法は、請求項１から４のいずれかに記載の電子部品の品質管理方法において、未知の使用状態で使用されてきた被検体電子部品の所定の電気特性を測定する未知使用状態の電子部品特性測定工程を有し、前記第５工程は、前記第２工程及び第３工程で求められた前記特性の変化の度合い、及び前記第４工程によって求められた故障率に基づいて、所望条件下で使用されている電子部品のある時点での故障率を推定する工程を備える、ことを特徴とする。
【００５０】
本発明の請求項１７に係る構成によれば、未使用状態の電子部品が有する所定電気特性の初期特性を予め測定し、同一の負荷条件で所定負荷を時間的に累積するように与え、所要累積時間ごとに電気特性を測定し、初期特性と対比させることで、負荷を累積的に時間的に与えたときの電子部品に蓄積される負荷量の変化の度合いを求めることができ、同じく、負荷条件のうち少なくとも１つの物理要因を変えたときの電子部品に蓄積される負荷量のその物理要因に対する変化の度合いを求めることができ、これらの結果に基づいて、時間と、負荷条件としての物理要因の少なくとも一つと、負荷量との関係がわかり、さらに、少なくとも１回の故障率試験の結果と合わせて、所望条件下での負荷量に対応して故障率がどの程度になるかわかることになる。したがって、例えば、同一時間負荷を与えた場合でも負荷の大小に対応してどのように故障率が推移していくかわかることになる。
【００５１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。
【００５２】
（実施の形態１）
まず、請求項１に係る発明の実施の形態について説明する。
【００５３】
（１）絶縁性電子部品の一例としての積層磁器蓄電器からなる同一品種の被検体１を複数個準備し、図１に示す測定装置によって、第１工程として、この被検体１の初期充電特性、すなわち負荷が与えられたことのない未使用状態での初期特性である充電特性を測定する。
【００５４】
図１に示すように、この測定装置は、収容した被検体１の温度環境を一定に保つ恒温槽２と、この恒温槽２内の被検体１に対して充電用の直流電圧を印加する電源部３と、被検体１に流れる電流を測定する電流計４と、恒温槽２の温度制御、電源部３の電圧制御を行うとともに電流計４から測定データを取り込んで記憶装置に記憶保存する制御装置（この制御装置は例えばパーソナルコンピュータである）５と、電源部３から被検体１へ電圧を印加する状態とその印加を停止する状態とに切り換えるリレー６とを備えて構成されている。
【００５５】
そして、この充電特性の測定は、被検体１に一定の電圧を印加し、印加開始後に被検体１を流れる電流の時間変化を十分短い時間間隔（例えば１０ｍｓ以下）で経時的に監視することで行う。
【００５６】
この測定された充電特性は、電流をｉ、印加開始時点からの経過時間をｔとすると、ａ〜ｅを定数として近似的にｉ＝ａ・ｅｘｐ（−ｂｔ）＋ｃｔd＋ｅという式に従う。
【００５７】
詳述すると、図２のグラフに示すように、充電特性電流ｉのうち、ａ・ｅｘｐ（−ｂｔ）で示される成分は、真の容量成分、すなわち容量として被検体１に蓄積されていく電流成分である（図２において、一点鎖線で示す）。充電特性電流ｉのうち、ｃｔdで示される成分はいわゆる吸収電流成分であって、両対数グラフ上では直線を描きながら減少していく直線成分となる（図２において、破線で示す）。充電特性電流ｉのうち、ｅで示される成分は絶縁抵抗を流れる漏洩電流成分である（図２において、２点鎖線で示す）。なお、図２の実線は、真の容量成分、直線成分、漏洩成分の各要素を総和した実際の電流を示す。図２のグラフは、充電特性を測定しているときの時間を対数目盛りの横軸に、充電特性電流を対数目盛りの縦軸にして示している。
【００５８】
この初期充電特性の実測結果は、制御装置５に設けられた記憶装置５ａに記憶されるとともに、図２に示すように、各測定ごとにプロットしてグラフ化した状態で図示しない表示装置に表示できるようにする。
【００５９】
ここで、式中の各定数は測定結果から決定することができるが、後述するように、充電特性の変化率Δは、ｃの大きさを用いて求めることが望ましい。
【００６０】
（２）第２工程として、前記第１工程で用いた測定装置を使用して、適当な負荷条件（温度Ｔ21で電圧Ｖ21を印加）で初期充電特性ｉ20が測定された被検体１に時間ｔ21だけ負荷を印加し、この後、放電してその被検体１の充電特性ｉ21を測定する。さらに、同じ被検体１に、負荷印加の累積時間がｔ22，ｔ23になるように同じ負荷条件で負荷を印加して、前記負荷が印加されたそれぞれの時点で充電特性ｉ22，ｉ23を測定する。その測定結果が、図３に示されるグラフである。このグラフは、充電特性を測定しているときの時間を対数目盛りの横軸に、充電特性電流を対数目盛りの縦軸にして、一定負荷を与えた累積時間が異なる場合の充電特性を示している。
【００６１】
なお、この場合、ｔ21、ｔ22、ｔ23の関係は、ｔ21＜ｔ22＜ｔ23である。また、その累積負荷印加時間を３つ以上異ならせた上で、それぞれにおいて充電特性が測定される。
【００６２】
次いで、これらの結果から被検体の特性の変化率と負荷の印加時間の関係を求めることができる。
【００６３】
図３のグラフから、第２工程において、一定の所定負荷条件であっても印加時間が長くなるほど、その印加後の充電特性の測定結果により充電特性における電流が増大することが判明し、その増大する電流の主なものは吸収電流または漏洩電流であった。
【００６４】
したがって、印加時間に対する充電電流の特性変化率は、充電開始後の経過時間のうちで真の容量成分の電流の影響のないと思われる経過時間、例えば図３のグラフにおいては充電開始から０．１秒の時点など特定の時点における電流値で、初期充電特性の電流に対して、各充電特性での電流の増大した割合により求められる。そして、この割合を百分率にした値を縦軸として、第２工程での累積印加時間を横軸として、求めた結果をプロットし、各プロット点を数学的手法で補間したのが図４のグラフである。
【００６５】
（３）第３工程として、前記第１工程や第２工程で用いた測定装置を使用して、初期充電特性ｉ310の被検体３１に温度Ｔ31の条件で時間ｔ31だけ負荷を印加し、このときの印加電圧はＶ31とし、この後に放電してから充電特性ｉ311を測定する。この場合、印加電圧が複数の異ならせた負荷条件を設定する物理因子である。同様に、初期充電特性ｉ320の被検体３２に対して、温度と印加時間は同じＴ31，ｔ31とする条件で、印加電圧Ｖ32とした負荷を印加した後、放電してから充電特性ｉ321を測定する。さらに、初期充電特性ｉ330の被検体３３に対して、温度と印加時間は同じＴ31，ｔ31とする条件で、印加電圧Ｖ33とした負荷を印加した後、放電してから充電特性ｉ331を測定する。なお、この場合、Ｖ31、Ｖ32、Ｖ33の関係は、Ｖ31＜Ｖ32＜Ｖ33である。また、その印加電圧値を３つ以上異ならせた上で、それぞれにおいて充電特性が測定される。その測定結果の一例のグラフを、図５に示す。
【００６６】
したがって、印加電圧に対する充電電流の特性の変化の度合い、すなわち特性変化率は、充電開始後の経過時間のうちで真の容量成分の電流の影響のないと思われる経過時間、例えば図５のグラフにおいては充電開始から０．１秒の時点などの特定の時点における電流値で、初期充電特性の電流に対して、各充電特性での電流の増大した割合により得られる。そして、上記印加電圧を横軸にとり、その割合を百分率にした値を縦軸として、求めた結果をプロットし、各プロット点を数学的手法で補間したのが図６のグラフである。
【００６７】
（４）同じく第３工程として、前記第１工程や第２工程で用いた測定装置を使用して、初期充電特性ｉ410の被検体４１に電圧Ｖ41、温度Ｔ41の条件で時間ｔ41だけ負荷を印加し、この後に放電してから充電特性ｉ411を測定する。この場合、温度が複数の異ならせた負荷条件を設定する物理因子である。同様に、初期充電特性ｉ420の被検体４２には電圧と印加時間を同じＶ41，ｔ41とし、温度をＴ42とした負荷を印加した後、放電してから充電特性ｉ421を測定する。さらに、初期充電特性ｉ430の被検体４３には電圧と印加時間を同じＶ41，ｔ41とし、温度Ｔ43とした負荷を印加した後、放電してから充電特性ｉ431を測定する。その測定結果が、図７に示されるグラフである。なお、この場合、Ｔ41、Ｔ42、Ｔ43の関係は、Ｔ41＜Ｔ42＜Ｔ43である。また、その温度条件を３つ以上異ならせた上で、それぞれにおいて充電特性が測定される。
【００６８】
したがって、物理因子としての温度条件に対する充電電流の特性の変化の度合い、すなわち特性変化率は、充電開始後の経過時間のうちで真の容量成分の電流の影響のないと思われる経過時間、例えば図７のグラフにおいては充電開始から０．１秒の時点などの特定の時点における電流値で、初期充電特性の電流に対して、各充電特性での電流の増大した割合により得られる。そして、上記温度条件の温度を横軸にとり、その割合を百分率にした値を縦軸として、求めた結果をプロットし、各プロット点を数学的手法で補間したのが図８のグラフである。
【００６９】
（５）ところで、図３のグラフからもわかるように、一定負荷条件が継続されて与えられたとき、その与えられた時間に比例して、被検知体が受けた負荷量ｓは大きくなることが判明している。
【００７０】
ここで、負荷量ｓとは、被検体に蓄積する疲労を表す指標として導入した抽象的な量である。負荷量ｓと時間ｔは比例する（例えば同じ条件で２倍の時間負荷を印加すれば、被検体には２倍の疲労が蓄積する）ことは明らかであるので、時間と特性変化率との関係は負荷量ｓと特性の変化率との関係に一致する（図４のグラフ参照）。つまり、ｔ＝ｃｓ（ｃは定数）である。さらに、特性の変化率をΔ、時間をｔ、負荷の量をｓとすると、Δ＝ａｔb（ａ、ｂは定数）という関係が得られることが見出せる。結局、負荷の量ｓと特性変化率Δには、Δ＝αｓβという関係がある。比例定数αは、ｓの定義の仕方によって決定するものであって、例えば最高使用温度・定格電圧のもとで１秒間被検体に負荷を印加した際の負荷量を１と定義するなどすれば決定する値である。指数βは、詳述しないが、第２工程での各測定結果からの計算で求められる。
【００７１】
例えば、図４に例示されるグラフによれば、充電特性の変化率と時間の関係がΔ＝２．１２×１０-4×ｔ0.682−０．０８（式１）として得られる。なお、式１の右辺第２項は時間０における変化率を表し、本来は０であるべきものであるが、測定誤差などの影響で現れた数値である。
【００７２】
（６）上記した所定の一定負荷条件で負荷印加時間が異なる場合の時間と、その後の充電特性における吸収電流または漏洩電流の変化率との関係と同様に、上記（３）で示した第３工程での各測定結果から、負荷印加時間と温度とを一定にして、印加電圧を異ならせた場合における被検体の充電特性の変化率と印加電圧との関係（図６のグラフ参照）を求めることができる。また、前式Δ＝αｓβによりΔとｓとの関係がわかっているので印加電圧と負荷量ｓとの関係を知ることができる。すなわち、その関係は、印加電圧をＶとすると、負荷量ｓと、印加電圧Ｖとが、ｓ＝γＶδｔ（γ，δは定数）という関係になることを見出せる。この比例定数γは、温度条件とも関連するからこの時点では決定しない。指数δは、詳述しないが、上記（３）で説明した第３工程での各測定結果からの計算で求められる。
【００７３】
例えば、図６に例示されるグラフによれば、充電特性の変化率と印加電圧の関係がΔ＝２．０２×１０-7×Ｖ3.18−０．０８（式２）として得られ、これを元にｓとＶの関係が得られる。
【００７４】
（７）上記した所定の一定負荷条件で負荷印加時間が異なる場合の時間と、その後の充電特性における吸収電流または漏洩電流の変化率との関係と同様に、上記（４）で示した第３工程での各測定結果から、負荷印加時間と印加電圧とを一定にして、温度条件を異ならせた場合における被検体の充電特性の変化率と温度条件との関係を求めることができる（図８のグラフ参照）。また、前式Δ＝αｓβ，ｓ＝γＶδｔにより変化率Δと負荷量ｓとの関係がわかっているので温度と負荷量ｓとの関係を知ることができる。
【００７５】
その関係は、上記（６）での結果とあわせて温度をＴとすると、ｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔ（η、κは定数）という関係になることを見出せる。ζはこの時点では決定しない。κは、上記（５），（７）での結果から簡単な計算で求められる。
【００７６】
例えば、図８に例示されるグラフによれば、充電特性の変化率と温度の関係がΔ＝２．８４×１０-9×ｅｘｐ（４．３０×１０-2×Ｔ）−０．０８（式３）と得られる。
【００７７】
上記（式１），（式２），（式３）から、時間と電圧との関係は、次の（式４）となる。
【００７８】
ｔ＝３．７２×１０-7×Ｖ4.66（式４）
また、上記（式１），（式２），（式３）から、時間と温度との関係は、次の（式５）となる。
【００７９】
ｔ＝７．１６×１０-8×２T/10.99（式５）
この場合、充電特性の変化率と、温度・電圧・時間との関係から、電圧の４．６６乗倍に比例して負荷が大きくなる（寿命が短くなる）こと、温度が、１０．９９℃上昇するたびに負荷が２倍になる（寿命が半分）になることが求まる。
【００８０】
（８）次に、例えば、対象となる被検体において最高使用温度でかつ定格電圧を印加したときに１秒あたりに被検体に蓄積する負荷量ｓを１と定義すれば比例定数ζを決めることができる。以上のようにして、温度Ｔ、電圧Ｖ、時間ｔの条件で被検体に蓄積する負荷の量ｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔを定式化することができる。
【００８１】
（９）次に、被検体を多数用意して、所定の温度Ｔ9、電圧Ｖ9の条件で故障率試験を行なう。この故障率試験を行う工程は、第４工程に相当する。故障率試験の結果の故障率は、図９に示すように、バスタブ曲線を描き、試験開始直後の故障率の高い領域が初期故障領域Ｓ、その後の故障率の低い部分が偶発故障領域Ｇ、そしてその後故障率が高くなる領域は摩耗故障領域Ｍと呼ばれている。この条件では、単位時間当たり、つまり毎秒Ｖ9ηｅｘｐ（κＴ9）という負荷が蓄積している。なお、図９は、時間軸となる横軸が対数目盛である。
【００８２】
実際にユーザーが使用する条件は最高使用温度Ｔｍａｘ定格電圧Ｖｍａｘの環境下が最高であるので、その場合、被検体には毎秒ζＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）という負荷しか蓄積しない。よって、実際の市場での故障率曲線は、この試験で得られたグラフの時間軸目盛りを（Ｖ9ηｅｘｐ（κＴ9））／（Ｖｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ））倍に拡大したものになる。
【００８３】
信頼性を確保するとは、市場での故障確率がある一定値（必要故障率）未満である状態を保証することである。換言すれば、最高使用温度・定格電圧で例えば１ヶ月間使用した際に故障する電子部品が１００万個中、０．１個未満であるような状態を保証することである。このような故障率は電子部品の性格や用途によって決定される。
【００８４】
このように換算して得た市場での故障率が、前述の必要故障率に下がる時点での負荷量を前述拡大された故障率曲線のうち初期故障領域Ｓから偶発故障領域Ｇへ移行する時点をｔ9としてｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔ（η、κは定数）の式によって計算し、この負荷の量をｓ9とする。
【００８５】
なお、電子部品の信頼性を確保することが目的であるので、実際には故障率試験で摩耗故障領域に至るまで試験を継続する必要はなく、換算した故障率が前述の必要故障率未満になった時点で試験を打ち切れば良い。
【００８６】
（１０）量産する電子部品にｓ9の負荷を与えた後不良品を排除する判別を行うことで市場での故障率を所望の値以下に保つ、すなわち信頼性を確保することができる。したがって、この信頼性を確保するバーンイン試験での負荷条件の温度をＴ10、電圧をＶ10とすると、このような負荷を被検体に与えるには、ｓ9／（Ｖ10ηｅｘｐ（κＴ10））の時間だけ負荷印加を行なえば良い。このような条件をみたす温度・電圧・時間の組み合わせは無限に考えられるが、生産性の観点から時間をできるだけ短くするように条件設定するのが望ましい。ただし、例えば被検体のブレークダウン電圧を超える電圧や、被検体を構成する材料が溶解する温度のような極端な条件設定はできない。このように、バーンイン試験での負荷条件を設定する工程が第５工程に相当する。
【００８７】
（１１）以上のような過程で求めた条件で、量産する商品にバーンインによる負荷印加を行い、この後に負荷印加で故障した電子部品を取り除くために絶縁抵抗測定を行なう。この絶縁抵抗測定中に不良と判別するとただちにその測定を停止してその不良品を排除しても良い。また、多数の電子部品について同時に絶縁抵抗測定している場合、その測定している全てについて測定完了後、判別された不良品のみを排除するようにしても良い。また、同じく多数の電子部品を同時に絶縁抵抗測定している場合、その測定途中であっても不良品と判別したものを測定ステーションから排除していくようにしても良い。ここで、（１０）の工程において設定した負荷条件でバーンインを行い、その後絶縁抵抗測定によって良品と不良品とを判別するこの工程（１１）が第６工程に相当する。
【００８８】
なお、バーンインによる負荷印加の電圧の極性を絶縁抵抗測定での測定用直流信号の電圧の極性とを電子部品に対して一致させておくことが望ましい。すなわち、印加電圧の極性がバーンインと絶縁抵抗測定とで一致したものにしておけば、故障したものについて絶縁抵抗の測定精度がより高いものとなる。
【００８９】
以上、（１）〜（９）までの工程によって、短時間で故障に至るような信頼性の低い電子部品を出荷前に事前に故障させて判別するバーンインを行う際に電子部品に与える必要のあるダメージの量、すなわち負荷の量が予め求められる。さらに、この負荷を短時間で効率良く電子部品に与えることができる条件を求めることができる。このため、工程（１０）にて、信頼性の低い電子部品を効率良く故障させる条件を設定して、工程（１１）にて、その負荷条件で負荷印加させて故障を内在している電子部品を故障させ、その故障した電子部品を除去することができる。
【００９０】
次に、上記実施の形態１における短時間で故障に至るような信頼性の低い電子部品を出荷前に事前に故障させて判別するバーンインで電子部品に与える必要のある負荷量の別の算出方法について説明する。
【００９１】
上記工程（８）の次の工程において、被検体を複数個用意して、所定の温度Ｔ9、電圧Ｖ9の負荷条件で故障率試験を行なう。故障率試験の結果の累積故障率を、図１０に示すように、ワイブル確率紙にプロットする。これによって、初期故障領域Ｓが偶発故障領域Ｇに推移する時点ｔ9がわかるから、Ｔ9，Ｖ9，ｔ9を負荷の量を前述の式ｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔに代入して計算し、この時点ｔ9までに被検体に蓄積した負荷の量をｓ9とする。この負荷の量ｓ9に基づいて、前述（１０）の工程で示した式に基づいて、バーンインするための時間、電圧、温度の各条件を比較的短時間でバーンインが済むように設定して、バーンインすることで、初期故障の生じるおそれのある電子部品を故障させて、その後、絶縁抵抗測定を行って不良品を除去する。
【００９２】
以上の処理を、本発明者が３６個の被検体に適応した実験による具体的結果は次のとおりである。
【００９３】
１．  最高使用温度８５℃、定格電圧６．３Ｖの１０μＦの容量の磁器積層蓄電器の被検体３６個に１２５℃・２１Ｖの条件で故障率試験を行なったところ、約４４時間で必要な故障率（実質的には０）を実現できることがわかった。
【００９４】
２．  この被検体を上記の手法で調査したところ、１２５℃・１０５Ｖの負荷条件であればわずか２分程度であることがわかった。
【００９５】
３．  そこで、同じ品種の別の被検体３６個に１３５℃・１０５Ｖ・２分間の負荷を与え、これの絶縁抵抗を測定したところ６個の被検体が故障していた。
【００９６】
４．  故障しなかった被検体を、さらに１２５℃・２１Ｖの条件で５６時間処理したがこの処理で故障に至る被検体は１つも検出されなかった。
【００９７】
上記の結果は、１３５℃・１０５Ｖという条件でわずか２分間負荷を与えることでこの電子部品の信頼性を確保できることを意味し、本発明の有効性を示している。
【００９８】
さらに、所定の温度、電圧の負荷条件について、ユーザーが対象となる磁気蓄電器（セラミックコンデンサ）をある条件である期間使用するのと同じ条件の負荷を被検体に与える試験で、この負荷を被検体に与えたときに故障率がある値以下であれば品質事故が起こる可能性は十分小さいとみなせる。ところで、製造されたままの電子部品の被検体群には、初期不良を多く含むため故障率が高いが、試験において、負荷を与えつづけると、信頼性の低いものは故障してしまい、その不良品を排除していくと、残りの群全体の故障確率は徐々に低下する。この故障確率が商品として必要な目標故障確率を下回るようになったときの負荷の量が、バーンインに必要な負荷量であるとみなすこともできる。
【００９９】
次に、そのように目標故障確率を下回るときの負荷量を求める方法について具体例によって説明する。
【０１００】
図１１に、３６個の同一品種のセラミックコンデンサに温度条件１３５℃、電圧８．５ＷＶを印加してその故障率を時間を横軸としてワイブル確率紙にプロットしたものを示している。なお、この場合、蓄積される負荷量が時間と電圧との関係、時間と温度との関係で前述した式４，式５に対応するセラミックコンデンサについて故障率試験を行なったものである。
【０１０１】
この場合、例えば、ある期間における故障確率が３００ｐｐｍになる時点を探すことが信頼性を確保できる条件を求めることになるが、図１１において、ハッチングで示す量の負荷の印加で故障させてしまうことがこのバーンインの目的となる。
【０１０２】
この図１１のワイブルチャートは横軸が対数目盛りであり、累積故障率を示す曲線の傾きが直接故障率に対応しないことから、図１２のようなグラフを別途作成して故障確率が３００ｐｐｍ未満になる部分を探すことになる。
【０１０３】
すなわち、図１２に示すように、故障率試験を行なって故障した被検体を除いていったときの残りの被検体における不良率を縦軸にとり、故障率試験の経過時間を横軸にとると、この負荷条件が温度条件１３５℃、電圧８．５ＷＶ場合、不良率３００ｐｐｍ未満となる時点が、おおよそ０．０９時間であることがわかる。この時間前記負荷条件を与えて蓄積される負荷量を求め、この求められた負荷量と同じ負荷量をより短時間で印加できる温度条件や電圧条件を求めることで、より短時間のバーンインを行なえることになる。
【０１０４】
なお、図１３に、上記実施形態１に関して各工程の流れを概略的にフローチャートとして示している。ステップＳ１〜Ｓ３が印加電圧と充電特性変化率との関係を求める工程（第３工程）に相当し、ステップＳ４〜Ｓ６が温度条件と充電特性変化率との関係を求める工程（第３工程）に相当し、ステップＳ７〜Ｓ９が負荷の累積時間と充電特性変化率との関係を求める工程（第２工程）に相当する。この図１３では、ステップＳ１からＳ９まで順に経過していくように示しているが、実際の工程は、上述したように、ステップＳ１〜Ｓ３と、ステップＳ４〜Ｓ６と、ステップＳ７〜Ｓ９とは、並列的に行っても良いとともに、順序が前後しても良い。ステップＳ１０は、上述した工程（８）に相当する。このステップＳ１〜Ｓ１０までの工程が後述する別の各実施形態と共通する工程である。そして、ステップＳ１１は、上述した工程（９）に相当する。ステップＳ１２は、上述した工程（９）に相当する。ステップＳ１３は、上述した工程（１０）に相当する。ステップＳ１４は、上述した工程（１１）に相当する。
【０１０５】
上記実施の形態１により得られる効果
従来、負荷印加条件の決定は適切な条件が見出されるまで試行錯誤的に信頼性試験を何度も繰り返して行なう必要があり、非常に長時間を要していたが、本発明では信頼性試験は１回行なうだけで良く、負荷印加条件決定に掛かる時間を大幅に短縮することができる。
【０１０６】
従来、負荷条件のパラメータ（例えば雰囲気温度・湿度・印加電圧等）が増えると設定可能な負荷印加条件の組み合わせが非常に多くなり、試行錯誤的に適切な負荷条件を求めることは極めて困難であったが、本発明ではパラメータ毎にどれだけ与える負荷が強くなるかを求めるので、負荷条件設定に必要な予備実験回数が大幅に少なくて済む。
【０１０７】
本発明では、多くの被検体を用いなければならない信頼性試験を１回行なうだけで良く、信頼性試験以外で必要な被検体の数は負荷パラメータあたりせいぜい数１０個程度であるので、従来の試行錯誤的な手法に比べて負荷印加条件決定に必要な被検体の数を大幅に減ずることができる。
【０１０８】
従来の手法では、設定した条件が被検体に過大な負荷を与えて余分な疲労を与えていてもこれを判定することが困難であったが、本発明では適切な量の負荷を与える条件を決定でき、良品である被検体に余分な疲労を与えることを回避できる。
【０１０９】
ワイブル確率紙に累積故障率をプロットして描かれた曲線から判明する初期故障領域から偶発故障領域に推移する時点に基づいて負荷条件を決定する場合、次の効果を奏する。すなわち、信頼性が比較的高い電子部品では初期故障が収束し偶発故障領域に推移すれば、市場での故障率は充分に低いことが明らかであるが、このような場合、故障率を精度良く求めるには少数の被検体で故障率試験を行なっても、初期故障の収束が確認できれば目的を達成できるので、初期故障試験に必要な被検体数を少なくすることができる。
【０１１０】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２について説明する。なお、上記実施の形態１と共通する工程については説明を省略する。すなわち、上記実施の形態１の工程のうち、（１）〜（８）の工程は共通するものである。したがって、それよりも後の工程について説明する。
【０１１１】
この実施の形態２は、請求項９及び１０に係る発明に関するものであって、使用条件に応じて絶縁性電子部品の製品としての使用可能な負荷印加時間としての寿命を推定する方法である。
【０１１２】
（１２）被検体を多数用意して、所定の温度Ｔ12電圧Ｖ12の条件で第４工程としての故障率試験を行なう。故障率試験の結果の故障率は、いわゆるバスタブ曲線（図９参照、実施の形態１と共通のグラフ）を描き、試験開始直後の故障率の高い領域が初期故障領域Ｓ、その後の故障率の低い部分が偶発故障領域Ｇ、そしてその後故障率が高くなる領域は摩耗故障領域Ｍと呼ばれている。この条件では、被検体に毎秒ζＶ12ηｅｘｐ（κＴ12）という負荷量が蓄積していることが求められる。
【０１１３】
製品の寿命とは、市場での故障確率がある一定値（限界故障率）を超える状態になるまでの使用可能な時間のことである。換言すれば、きわめて低い故障率であった製品が、最高使用温度・定格電圧で例えば１ヶ月間使用した際に１００万個中０．１個以上故障してしまうような状態となることである。なお、どの程度の故障率になれば商品の寿命であると判定するかは商品の性格や用途によって決定されるものである。
【０１１４】
実際にユーザーが使用する条件は最高使用温度Ｔｍａｘ、定格電圧Ｖｍａｘの環境下が最高であるので、被検体には毎秒ζＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）という負荷量しか蓄積しない。よって、故障率のグラフ（図９）の時間軸目盛りをＶ12ηｅｘｐ（κＴ12）／Ｖｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）と拡大したものが実際にユーザーが使用する条件での故障率グラフであり、これを用いて故障率試験結果を市場での故障率に換算できる。
【０１１５】
（１３）上記のように換算して得た市場での故障率が、前述の限界故障率に上がる時点での時間をｔ13とすると、このｔ13こそが実際の市場での製品寿命の推定値である。
【０１１６】
上述した工程（１）〜（８）、（１２）によって、電子部品の寿命が尽きるまでの電子部品が受け得るダメージの量、すなわち負荷の量が求められ、さらに任意の条件で単位時間当たりに電子部品にどれだけの負荷を与えるかが求められたので、工程（１３）において電子部品が市場で使用された際にどれだけの時間で寿命が尽きるかを推測することができる。この電子部品の負荷印加時間としての寿命を推測する工程が第５工程に相当する。
【０１１７】
次に、上記実施の形態２における電子部品が市場で使用された際にどれだけの時間で寿命が尽きるかを予測する品質管理方法の別の実施形態について説明する。
【０１１８】
上記工程（８）の次の工程において、被検体を複数個用意して、所定の温度Ｔ9、電圧Ｖ9の条件で故障率試験を行なう。故障率試験の結果の累積故障率を、図１０（実施の形態１と共通のグラフ）に示すように、ワイブル確率紙にプロットして偶発故障領域Ｇが摩耗故障領域Ｍに推移する時点ｔ13がわかるから、負荷の量を前述の式ｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔによって計算し、この負荷の量をｓ12とする。この負荷の量ｓ12に基づいて、寿命が尽きるまでその電子部品が受ける総負荷量ｓ12を、実際にユーザーが使用する条件は最高使用温度Ｔｍａｘ、定格電圧Ｖｍａｘに基づく単位時間当たりの負荷量ｓ、すなわちＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）で除することにより寿命がわかることになる。この場合、所定負荷で所定時間使用されてきたことがわかっている電子部品についての残り寿命もわかる。つまり、寿命が尽きるまでその電子部品が受ける総負荷量ｓ12から所定負荷と所定時間との積分量を差し引いた負荷量をＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）で除することにより残り寿命がわかることになる。
【０１１９】
なお、図１４に、実施形態２に関して各工程の流れを概略的にフローチャートとして示している。ステップＳ１〜Ｓ１０は、前述したように、実施形態１と共通する工程である。そして、ステップＳ１５は、上述した工程（１２）に相当する。ステップＳ１６は、上述した工程（１３）に相当する。
【０１２０】
この実施の形態２による効果は次のとおりである。
【０１２１】
従来、磁器蓄電器の寿命の推定は、故障率試験を何度も繰り返して行う必要があり、非常に長時間を要していたが、本発明では信頼性試験は１回行うだけで良く、寿命推定にかかる時間を大幅に短縮することができる。
【０１２２】
また、本発明では、多くの被検体を用いなければならない信頼性試験を１回行うだけで良く、故障率試験以外で必要な被検体の数は負荷パラメータあたりせいぜい数１０個程度であるので、従来の手法に比べて寿命推定に必要な被検体の数を大幅に減ずることができる。
【０１２３】
摩耗故障領域での累積故障率が急激に大きくなる電子部品（寿命ばらつきの小さい電子部品）では、故障率で判定しなくとも摩耗故障領域に入ったことだけが確認できれば、これを製品寿命とみなしても十分な場合が多い。このような場合、故障率を精度良く求めるには少数の被検体で故障率試験を行っても、摩耗故障領域に入ったことが確認できれば目的を達成できるので、初期故障試験に必要な被検体数を少なくすることができる。
【０１２４】
（実施の形態３）
次に、実施の形態３について説明する。なお、実施の形態１と共通する工程については、その説明を省略する。この実施の形態３において実施の形態１と共通する工程は（１）〜（８）である。この工程以降について説明する。
【０１２５】
この実施の形態３は、請求項１１及び請求項１２に係る発明に関するものである。すなわち、絶縁性電子部品を使用する上での必要な寿命に対して、その寿命を全うするには、どのような使用条件で使用していけばよいかを予め知るための品質管理方法である。
【０１２６】
（１４）所望寿命を全うするための使用条件を知りたい被検体を多数用意して、ある温度Ｔ14、電圧Ｖ14の条件で第４工程としての故障率試験を行う。故障率試験の結果の故障率はいわゆるバスタブ曲線（図９参照、実施の形態１と共通のグラフ）を描き、試験開始直後の故障率の高い領域が初期故障領域Ｓ、その後の故障率の低い部分が偶発故障領域Ｇ、そしてその後、故障率が高くなる領域は摩耗故障領域Ｍと呼ばれている。この条件では、被検体に毎秒ζＶ14ηｅｘｐ（κＴ14）という負荷量が蓄積していることが求められる。
【０１２７】
製品の寿命とは、市場での故障確率がある一定値（限界故障率）を超える状態になるまでの使用時間のことである。換言すれば、きわめて低い故障率であった製品が、最高使用温度・定格電圧で例えば１ヶ月間使用した際に１００万個中０．１個以上故障してしまうような状態になることである。どの程度の故障率になれば商品の寿命であると判定するかは商品の性格や用途によって決定されるものである。
【０１２８】
仮に、最高使用温度Ｔｍａｘ、定格電圧Ｖｍａｘとすると、その最高使用温度でかつ定格電圧で使用している場合、被検体には毎秒ζＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）という負荷量が蓄積する。よって、故障率のグラフの時間軸目盛りをＶ14ηｅｘｐ（κＴ14）／（ζＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ））としたものが、その条件における故障率グラフである。
【０１２９】
このようにして、故障率試験の結果を仮に設定した最高使用温度・定格電圧における故障率試験結果、すなわち、市場での故障率に換算できる。
【０１３０】
（１５）上記のように換算して得られた市場での故障率が、前述の限界故障率にあがる時点での時間をｔ13とすると、このｔ13こそがこの製品の予測寿命である。
【０１３１】
この予測寿命ｔ13がその電子部品に求められる寿命よりも長ければその使用条件を用いることができる。短ければ、より弱い使用条件を設定する必要があるので、条件を再設定して、上記工程を繰り返せば良い。もちろん、予測寿命ｔ13が所望の寿命よりも十分に長い場合には、さらに過酷な環境でその電子部品を使用できる可能性があるので、やはり条件を再設定して上記工程を繰り返しても良い。この使用条件を導出する工程が第５工程に相当する。
【０１３２】
（１６）単位時間当たりに製品に与える負荷の量が等しければ寿命はほぼ変化しないとみなせるので、上記（１５）の工程を繰り返して特殊な使用条件の組を設定することも可能である。すなわち、高温で使用できるが電圧は低く抑えなければならない条件や、高電圧で使用できるが使用可能温度の上限が低いような条件である。これにより、負荷条件としての特定の使用条件についても電子部品の寿命との関係で適宜設定可能であるから、過酷な特殊環境下で製品を使用したいユーザーの要求に応えることができる。
【０１３３】
（１７）求めた製品の使用条件は、製品の寿命の観点で定めた条件である。もし、これらの条件における製品の電気特性が規格を満足しない場合（例えば温度特性によって容量が変化してしまう場合）には、これを満足するような条件範囲で上記（１５）の工程を繰り返せば良い。
【０１３４】
上述した工程（１）〜（８）、（１４）までによって、電子部品の寿命が尽きるまでに商品が受け得るダメージの量、すなわち負荷の量が求められ、さらに任意の条件で単位時間当たりに電子部品にどれだけの負荷を与えるかが求められたので、工程（１５）である使用条件での電子部品の寿命を計算することができ、これによって電子部品の寿命が所望の条件を満たすような使用条件を決定することができる。
【０１３５】
さらに、上記（１６）の工程において、特定の条件が通常の使用範囲外で電子部品を使用したいような特殊な状況に対しても、十分な寿命を期待できるように他の条件を設定することが可能である。
【０１３６】
次に、上記実施の形態３における電子部品の寿命が所望の条件を満たすような使用条件を決定することができる品質管理方法の別の実施形態について説明する。
【０１３７】
上記工程（８）の次の工程において、被検体を複数個用意して、所定の温度Ｔ9、電圧Ｖ9の条件で故障率試験を行なう。故障率試験の結果の累積故障率を、図１０（実施の形態１と共通のグラフ）に示すように、ワイブル確率紙にプロットして偶発故障領域Ｇが摩耗故障領域Ｍに推移する時点ｔ13がわかるから、負荷の量を前述の式ｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔによって計算し、この負荷の量をｓ12とする。この負荷の量ｓ12に基づいて、寿命が尽きるまでその電子部品が受ける総負荷量ｓ12を、実際にユーザーが使用する条件は最高使用温度Ｔｍａｘ、定格電圧Ｖｍａｘに基づく単位時間当たりの負荷量ｓ、すなわちＶｍａｘηｅｘｐ（κＴｍａｘ）で除することにより寿命がわかることになる。その後、上記（１５）〜（１７）の工程によって、その寿命での使用条件を適宜設定できる。
【０１３８】
なお、図１５に、実施形態３に関して各工程の流れを概略的にフローチャートとして示している。ステップＳ１〜Ｓ１０は、前述したように、実施形態１と共通する工程である。そして、ステップＳ１７は、上述した工程（１４）に相当する。ステップＳ１８は、上述した工程（１５），（１６）に相当する。ステップＳ１９は、上述した工程（１５），（１６）に相当する。
【０１３９】
この実施の形態３による効果は次のとおりである。
【０１４０】
従来、磁気蓄電器の寿命の推定は故障率試験を何度も繰り返して行う必要があり、非常に長時間を要していたが、この実施形態３の場合、信頼性試験は１回行なうだけで良く、寿命推定に掛かる時間を大幅に短縮することができる。
【０１４１】
従って、多くの被検体を用いなければならない信頼性試験を１回行なうだけで良く、故障率試験以外で必要な被検体の数は負荷パラメータあたりせいぜい数１０個程度であるので、従来の手法に比べて寿命推定に必要な被検体の数を大幅に減ずることができる。
【０１４２】
ワイブル確率紙に累積故障率をプロットして描かれた曲線から判明する偶発故障領域から摩耗故障領域に推移する時点に基づいて負荷条件を決定する場合、次の効果を奏する。すなわち、摩耗故障領域に入ったことだけが確認できれば、これを製品寿命と考えても良い。このような場合、故障率を精度良く求めるには少数の被検体で故障率試験を行なっても、摩耗故障領域に入ったことが確認できれば目的を達成できるので、初期故障試験に必要な被検体数を少なくできる。
【０１４３】
（実施の形態４）
次に、実施の形態４について説明する。なお、実施の形態１と共通する工程については、その説明を省略する。この実施の形態４において実施の形態１と共通する工程は（１）〜（８）である。この工程以降について説明する。
【０１４４】
この実施の形態４は、請求項１３から請求項１６に係る発明に関するものである。すなわち、製品に搭載されて使用されていた絶縁性電子部品が故障した場合、どのような状態で使用されていたのかを見積もるための分析を行うことを可能とする品質管理方法である。
【０１４５】
（１８）そのような品質管理をする対象となる試料を多数用意して、ある温度Ｔ21、電圧Ｖ18の条件で故障率試験を行う。故障率試験の結果の故障率はいわゆるバスタブ曲線（図９参照、実施の形態１と共通）を描き、試験開始直後の故障率の高い領域が初期故障領域Ｓ、その後の故障率の低い部分が偶発故障領域Ｇ、そしてその後故障率が高くなる領域は摩耗故障領域Ｍと呼ばれている。この条件では、試料に毎秒ζＶ18ηｅｘｐ（κＴ18）という負荷が蓄積している。
【０１４６】
（１９）さて、故障率を求めたい温度をＴ19、電圧をＶ19とすると、試料には毎秒ζＶ19ηｅｘｐ（κＴ19）という負荷が蓄積する。よって、故障率のグラフの時間軸目盛りをＶ18ηｅｘｐ（κＴ18）／Ｖ19ηｅｘｐ（κＴ19）としたものが、その条件における故障率グラフである。このようにして、故障率試験の結果を必要な条件での故障率に換算することができる。
【０１４７】
（２０）使用状態を知りたい被検体を用意する。積層磁器蓄電器の故障は、通常誘電体層１層のみで発生しており、この層を除く誘電体層は正常であることが多い。その被検体の正常層に関して充電特性の測定を行い、この結果から全ての誘電体層が正常である場合の充電特性ｉ20を求める（例えば、ｎ個の小蓄電器からなる積層磁器蓄電器の１層のみが故障している場合、測定結果をｎ／（ｎ−１）倍すれば良い）。この充電特性を求める工程が、特許請求の範囲に言う未知使用状態の電子部品特性測定工程に相当する。
【０１４８】
（２１）この被検体の通常の充電特性からｉ20がどれほどの割合（Δ21）変化しているかを求める。その変化率Δと負荷量ｓとの関係は工程８までに求められているので、Δ21から被検体が受けた負荷ｓ21を求めることができる。
【０１４９】
（２２）負荷がｓ21になるような温度・電圧・時間条件の組み合わせは工程（８）のｓ＝ζＶηｅｘｐ（κＴ）ｔの式からいくつも求めることができる。
【０１５０】
ところで、例えば、使用時間等は被検体を出荷してからの経過時間以上になり得ないことは明白であるので、このような既知の情報によって温度・電圧の取り得る範囲を絞り込むことができる。
【０１５１】
（２３）もし、温度・電圧の取り得る値が、その製品の最高使用温度や定格電圧を超えたものである場合、故障は被検体の不適切な使用法が原因である可能性が高いと判断できる。
【０１５２】
（２４）被検体が受けた負荷ｓ21は、この製品の故障率のワイブルプロット上で、初期故障領域Ｓ・偶発故障領域Ｇ・摩耗故障領域Ｍのどの領域にくるかを工程（２５）で得た任意の条件に適応できる故障率試験結果から判定する。適切にスクリーニングされた製品では初期故障であることはありえない。摩耗故障領域の負荷を受けた結果故障したのであれば、これは製品の本質的な寿命でありやむを得ないといえる。偶発故障域の負荷しか受けていないにも関わらず故障したのであれば、通常のスクリーニングでは除去できない特殊な欠陥を内在していた可能性が高いと判断できる。
【０１５３】
上述した工程（１）〜（８），（１８）において、電子部品が受けるダメージの量、すなわち負荷の量と電子部品の故障率との関係が求められ、さらに任意の条件で単位時間当たりに電子部品にどれだけの負荷を与えるかが求められたので、工程（１９）において任意使用条件での故障率を推定できる。
【０１５４】
工程（２０）では、故障した被検体の正常層のみを測定することによって、被検体が故障していないという仮想的な場合の電気特性を測定している。
【０１５５】
工程（２１）では、被検体の電気特性変化から、被検体がどれだけの疲労を蓄積しているかを推定している。
【０１５６】
工程（２２）では、被検体が蓄積した疲労から、どのような使用状態でこの被検体が使用されてきたのかを推定している。さらに、先見情報を元に、より詳細な被検体の使用状態を推定している。この推定する工程が電子部品の負荷条件または負荷印加時間としての使用状態を推定する第５工程に相当する。
【０１５７】
工程（２４）では、推定した使用状態を元に、被検体の故障原因が、使用法にあるのかそれとも被検体自体にあるのかを判断している。
【０１５８】
工程（２５）では、この故障が製品の本質的な寿命による避け得ないものであるのか、それとも被検体になんらかの欠陥があったのかを判断している。
【０１５９】
なお、図１６に、実施形態４に関して各工程の流れを概略的にフローチャートとして示している。ステップＳ１〜Ｓ１０は、前述したように、実施形態１と共通する工程である。そして、ステップＳ２０は、上述した工程（２０）に相当する。ステップＳ２１は、上述した工程（２１）に相当する。ステップＳ２２は、上述した工程（２２）に相当する。
【０１６０】
この実施の形態４により奏される効果について説明する。
【０１６１】
故障した積層磁器蓄電器がどのような状態で使用されていたのかを見積もること（推定すること）ができる。
【０１６２】
積層磁器蓄電器の故障が、本質的な寿命による避け得ないものであったのか、試料が何らかの欠陥を内在していたと考えられるのかを判定することができる。
【０１６３】
上記の効果により、積層磁器蓄電器の故障が原因で積層磁器蓄電器を搭載した機器が不具合を生じた場合に、故障が使用者の責に帰するものかを明確にできる。
【０１６４】
また、実際に積層磁器蓄電器が故障する以前にこれの使用法が適切であるかどうかを判定できる。
【０１６５】
特に実稼動状態での温度などの測定が困難な場合に、どのような環境下で使用されてきたかを知ることができる。
【０１６６】
また、故障部品に対して正常層を取り出すような処理を行わずに、使用状態を推定できる。積層磁器蓄電器は、１つの機器中に同じ物が複数使用される場合が珍しくなく、このような場合は１つが故障した場合に同様の使い方をされている他の試料から使用状態を推定でき、手間がかからない。また、ほぼ同じ条件で使用されている同一機種の機器（別の個体）中で使用されている試料を用いても同じ効果がある。
【０１６７】
（実施の形態５）
次に、実施の形態５について説明する。なお、実施の形態１と共通する工程については、その説明を省略する。この実施の形態５において実施の形態１と共通する工程は（１）〜（８）である。この工程以降について説明する。
【０１６８】
この実施の形態５は、請求項１７に係る発明に関するものである。すなわち、製品に搭載された電子部品が故障した場合、市場において潜在的にどの程度の数故障しているのか、あるいは、これから故障するおそれがあるかを見積もる分析を行う品質管理方法である。
【０１６９】
（２６）被検体を多数用意して、ある温度Ｔ26、電圧Ｖ26の条件で第４工程としての故障率試験を行う。故障率試験の結果の故障率はいわゆるバスタブ曲線（図９参照、実施の形態１と共通）を描き、試験開始直後の故障率の高い領域が初期故障領域Ｓ、その後の故障率の低い領域が偶発故障領域Ｇ、そしてその後故障率が高くなる領域は摩耗故障領域Ｍと呼ばれている。この条件では、被検体に毎秒ζＶ26ηｅｘｐ（κＴ26）という負荷が蓄積している。
【０１７０】
（２７）さて、故障率を求めたい温度をＴ27、電圧をＶ27とすると、その場合、被検体には毎秒ζＶ27ηｅｘｐ（κＴ27）という負荷が蓄積する。よって、故障率のグラフの時間軸目盛りをＶ26ηｅｘｐ（κＴ26）／Ｖ27ηｅｘｐ（κＴ27）としたものが、その条件における故障率グラフである。このようにして、故障率試験の結果を必要な条件での故障率に換算できる。
【０１７１】
（２８）上記のように換算して得た故障率グラフから、任意の時間における製品の故障率の推定値を読み取ることができる。
【０１７２】
上述した工程（１）〜（８）までによって、電子部品が受けるダメージの量、すなわち負荷の量と電子部品の故障率との関係が求められ、さらに任意の条件で単位時間当たりに電子部品にどれだけの負荷を与えるかが求められので、工程１８において任意使用条件での故障率を推定することができる。
【０１７３】
さらに、工程（２７）、（２８）において必要な条件における電子部品の故障率を推定することが可能である。この故障率を推定する工程が第５工程に相当する。
【０１７４】
実施の形態５により奏される効果を説明する。
【０１７５】
従来、磁器蓄電器の故障率を推定するには故障率試験を何度も繰り返して行う必要があり、非常に長時間を要していたが、本発明では故障率試験は１回行うだけで良く、故障率推定にかかる時間を大幅に短縮することができる。
【０１７６】
本発明では、多くの被検体を用いなければならない故障率試験を１回行うだけで良く、故障率試験以外で必要な被検体の数は、負荷パラメータあたりせいぜい数１０個程度であるので、従来の手法に比べて故障率推定に必要な被検体数を大幅に減ずることができる。
【０１７７】
本発明は、故障率推定にかかる時間が従来と比して極めて短くできるので、電子部品が市場で故障を発生したような場合に、どの程度の数の電子部品が潜在的に故障しているのか、あるいは、これから故障するのかを見積もる類の分析を速やかに完了することができる。このため、電子部品故障が深刻な問題を生じる前に対策を実行できる可能性が高くなる。
【０１７８】
上記各実施の形態では、所定電気特性として、充電特性について示したが、本発明は、この充電特性に限定されるものではなく、磁器蓄電器の場合、例えば、その容量特性、損失係数、絶縁抵抗などの特性を測定しても良いとともに、これらを組み合わせた特性の測定でも良い。
【０１７９】
また、上記各実施の形態では、負荷条件の物理因子として、被検体に対する印加電圧、温度、時間を示したが、これ以外に例えば湿度などの物理因子を負荷条件としても良い。
【０１８０】
【発明の効果】
本発明によれば、負荷を与える物理因子をパラメータとしてそのパラメータ毎にどれだけ与える負荷が強くなるかを求めるので、負荷条件設定に必要な予備実験回数を大幅に少なくできることになり、きわめて短時間で負荷条件を設定できることになる。
【０１８１】
従って、バーンインや加速試験のための負荷条件の設定、電子部品の寿命を推定するための負荷条件の設定、あるいは故障に至った電子部品の使用状態での負荷条件の推定などを短時間で行うことができ、各作業効率を大幅に向上できるとともに、それに要するコストも低下できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】充電特性を測定する測定装置を示す説明図
【図２】充電特性電流及びその各成分電流を示す両対数グラフ
【図３】所定負荷の累積印加時間を異ならせた場合の充電特性電流を示す両対数グラフ
【図４】累積印加時間と充電特性電流の変化率との関係を示す片対数グラフ
【図５】印加電圧を異ならせた場合の充電特性電流を示す両対数グラフ
【図６】印加電圧と充電特性電流の変化率との関係を示すグラフ
【図７】温度条件を異ならせた場合の充電特性電流を示す両対数グラフ
【図８】温度条件と充電特性電流の変化率との関係を示すグラフ
【図９】単位時間当たりの故障率をバスタブ曲線として示す片対数グラフ
【図１０】累積故障率をワイブル確率紙にプロットして示す片対数グラフ
【図１１】具体例の累積故障率をワイブル確率紙にプロットして示す片対数グラフ
【図１２】不良率と時間との関係を示すグラフ
【図１３】実施の形態１を示すフローチャート
【図１４】実施の形態２を示すフローチャート
【図１５】実施の形態３を示すフローチャート
【図１６】実施の形態４を示すフローチャート
【符号の説明】
１    被検体（電子部品）
【図１】
0004100024.tif 000002
【図２】
0004100024.tif 000003
【図３】
0004100024.tif 000004
【図４】
0004100024.tif 000005
【図５】
0004100024.tif 000006
【図６】
0004100024.tif 000007
【図７】
0004100024.tif 000008
【図８】
0004100024.tif 000009
【図９】
0004100024.tif 000010
【図１０】
0004100024.tif 000011
【図１１】
0004100024.tif 000012
【図１２】
0004100024.tif 000013
【図１３】
0004100024.tif 000014
【図１４】
0004100024.tif 000015
【図１５】
0004100024.tif 000016
【図１６】
0004100024.tif 000017