(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
投入された円盤状記録媒体を回転駆動する回転駆動手段と、
上記円盤状記録媒体の径方向に移動可能とされ、かつ、上記円盤状記録媒体に対して情報データを光学的にアクセスするアクセス手段と、
上記アクセス手段からの光出力が目標値となるようにフィードバック制御する機能を有し、
少なくとも上記円盤状記録媒体の温度を検出する非接触型温度センサと、
上記円盤状記録媒体の投入直後から所定時間内に活性化され、かつ上記温度センサの温度情報と上記温度センサの温度時定数とに基づいて演算を行って上記円盤状記録媒体の予測温度を得る温度予測手段と、
上記所定時間経過後に活性化され、かつ上記温度センサからの温度情報を直接上記円盤状記録媒体の温度として設定する実温度設定手段と、
上記温度予測手段又は上記実温度設定手段からの温度情報に基づいて上記目標値を設定する目標値設定手段と、
上記目標値設定手段に基づいて上記アクセス手段の光出力を制御する光出力制御手段とを有することを特徴とする円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置。
【請求項２】
上記温度予測手段は、上記温度センサからの温度情報と、前回の予測温度との差分値を上記温度センサの温度時定数を考慮した係数で除算し、該除算値に上記前回の予測温度を加算して上記円盤状記録媒体の予測温度を求めることを特徴とする請求項２に記載の円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置。
【請求項３】
上記目標値設定手段は、上記円盤状記録媒体の温度補正係数が上記円盤状記録媒体上のアドレスに対応して格納された記憶手段を有し、
上記温度補正係数に基づいて上記目標値を算出することを特徴とする請求項２に記載の円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置。
【請求項４】
投入されて回転駆動された円盤状記録媒体の径方向に移動可能とされ、かつ、上記円盤状記録媒体に対して情報データを光学的にアクセスするアクセス手段とを備えた円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置における記録及び／又は再生方法において、
上記アクセス手段からの光出力が目標値となるようにフィードバック制御し、
上記円盤状記録媒体の温度情報を非接触型温度センサから検出し、
上記円盤状記録媒体の投入直後から所定時間内に活性化され、かつ検出した上記温度情報と上記温度センサの温度時定数とに基づいて演算を行って上記円盤状記録媒体の予測温度を得、
上記所定時間経過後に活性化され、かつ上記温度センサからの温度情報を直接上記円盤状記録媒体の実温度として設定し、
上記予測温度又は上記実温度の温度情報に基づいて上記目標値を設定し、設定された目標値に基づいて上記アクセス手段の光出力を制御することを特徴とする円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば再生専用の光ディスク、追記型光ディスク及び記録可能な光磁気ディスク等の円盤状記録媒体に対して情報データをアクセスする記録媒体の記録及び／又は再生装置、記録媒体の記録又は再生方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、光ビームを介して情報信号の記録再生が行われる円盤状の記録媒体（以下、単に光ディスクと記す）としては、いわゆるコンパクトディスクと呼ばれる再生専用型の光ディスクと、１回のみの記録を行なうことができる追記型光ディスク並びに再生のみならず情報信号の記録及び消去が可能な記録可能型の光ディスクがある。
【０００３】
再生専用型の光ディスクは、記録された情報信号に基づいて凹凸パターン、即ち位相ピットが同心円もしくは螺旋状に形成されたトラックが一方の面に形成されている。具体的には、光透過性を有するポリカーボネートやＰＭＭＡ等のような合成樹脂材料ディスク基板と、このディスク基板の一方の面に形成された位相ピットを被覆するように形成されたＡｌやＡｕ等の金属からなる反射膜と、この反射膜を保護することを目的として上記反射膜を被覆するように形成された保護層とにより形成されている。
【０００４】
この再生専用の光ディスクに対して情報信号の再生を行なう場合は、レーザ光源からの光ビームをディスク基板側より、対物レンズで集束した状態で照射し、この光ディスクの位相ピットにより変調された反射光束を例えばフォトディテクターにより検出し、上記反射光束の光量に応じた信号レベルを有する検出信号に変換することにより、再生専用型の光ディスクに記録された情報信号の再生信号を得るようにしている。
【０００５】
また、上記記録可能型の光ディスクとしては、垂直磁気記録材料を用いた光磁気ディスク等が知られている。この光磁気ディスクは、光ビームをガイドするための案内溝が一方の面に形成され、光透過性を有するポリカーボネートやＰＭＭＡ等のような合成樹脂材料ディスク基板と、上記案内溝を覆うように形成されたＴｅ、Ｆｅ、Ｃｏ等の垂直磁気記録材料からなる記録層と、この記録層を保護することを目的として上記記録層を被覆するように形成された保護層とにより形成されている。
【０００６】
この光磁気ディスクに対して所望の情報データを記録する場合は、該所望の情報データに対して所定の変調を施して記録信号を作成し、この作成された記録信号を例えば磁界発生装置に供給して、光磁気ディスクに対して記録信号に応じた外部磁界を印加し、光磁気ディスクの垂直磁化膜（記録層）中、光ヘッドからのレーザ光が照射されている部分（キュリー点を越える温度となっている部分）を記録信号に応じて磁化させることで上記情報データの記録を行なうようにしている。
【０００７】
また、光磁気ディスクに対して情報データの再生を行なう場合は、上記再生専用型の光ディスクと同様にして、レーザ光源からの光ビームをディスク基板側より、対物レンズで集束した状態で照射し、光ディスクの記録層によって変調された反射光束中のカー回転角を検出することによって、光磁気ディスクに記録された記録信号を再生し、この再生信号に対して所定の復調を施すことにより、情報データを得るようにしてる。
【０００８】
追記型の光ディスクは、色素の物理化学変化を利用した記録方式、単層膜による穴あけ記録方式、多層膜による穴あけ記録方式、相変化記録方式及びバブル・フォーミング記録方式等があり、再生時においては、上記再生専用の光ディスクと同様に、レーザ光源からの光ビーム（再生用の弱い光出力を有する）をディスク基板側より、対物レンズで集束した状態で照射し、予め記録されたピットにより変調された反射光束を例えばフォトディテクターにより検出し、上記反射光束の光量に応じた信号レベルを有する検出信号に変換することにより、再生専用型の光ディスクに記録された情報信号の再生信号を得るようにしている。
【０００９】
そして、光学的又は光磁気的なアクセス手段で情報データの記録及び再生が可能とされた記録媒体においては、情報データの記録時又は再生時における記録媒体の温度（媒体温度）が情報データの記録状態及び再生特性に大きく影響することから、記録時及び再生時における上記媒体温度を把握しておくことが非常に重要となってきている。
【００１０】
例えば、光磁気ディスクにおいては、その温度の変化によって記録層が伸び縮みするため、この記録層に磁界を印加する外部磁界発生装置による磁化情報の記録位置又は消去位置がずれることがあり、正確に情報データの記録・消去が行えない場合がある。
【００１１】
また、光磁気ディスクにおいては、記録時及び消去時において記録層をキュリー点以上に昇温させる必要があることから、光ピックアップから出射されるレーザ光に高い光出力が要求され、再生時には記録された磁化情報が消磁しない程度の低い光出力が要求される。従って、これら光出力は、記録媒体の温度を考慮して最適な記録及び再生ができるように設定する必要がある。
【００１２】
例えば、記録媒体のある温度において、記録時の光出力を最適な条件に設定したとしても、記録媒体の温度変化により、記録時の光出力が低すぎたり、高すぎたりし、その結果、ピットの大きさが変わってしまうことがある。
【００１３】
具体的に、図１７を参照しながら説明すると、この図１７は光磁気ディスクの温度に対するピットサイズの変動を示しており、ある一定の光出力で記録する際に、光磁気ディスクの温度（環境温度）が上昇した場合、光磁気ディスクの記録に最適な温度（キュリー点）に対して光出力を制御しているので、出力超過で記録することになり、これにより、ピットサイズが大きくなってしまう。また、再生時においては、記録層に照射されるレーザ光のスポットサイズが大きくなる。
【００１４】
この場合、例えば図１８Ａに示すように、再生時において、再生対象のトラックにサイズの大きなレーザスポットＳＰがトレースすると、隣接するトラックに記録されたピット情報Ｐの一部を再生することとなり、再生時のクロストークが増えるという問題が生じる。また、消去時において、消去対象のトラックにサイズの大きなスポットＳＰがトレースすると、隣接するトラックに記録されたピット情報Ｐの一部を消去（クロスイレーズ）してしまうという問題が生じる。
【００１５】
逆にスポットサイズが小さくなると、図１８Ｂに示すように、上書き（オーバーライト）したときに、以前に記録されたピットＰｏを今回のピットＰｎにて消すことができず、いわゆる消し残りが生じるという問題がある。これは再生時において再生用のレーザスポットＳＰがトレースした場合に、上記消し残り部分を再生することとなり、再生時のＳ／Ｎの劣化を引き起こすことになる。図１９に、消し残りの大きさに対する光出力の位相余有（Phase Margin）の変化を示す。この特性から、消し残りの大きさが−２５ｄＢよりも大きくなると急速に位相余有が狭くなり、安定に光出力の制御が行えなくなることがわかる。これは、消し残りが大きくなるほど再生信号のＳ／Ｎが急速に劣化することを示している。
【００１６】
このように、光磁気ディスクに対して情報データを良好に記録再生する場合においては、光磁気ディスクの温度に対してもレーザ光の出力を制御することが必要となってくる。
【００１７】
特に、高記録密度を図った光磁気ディスクにおいては、ピット間の余裕が非常に狭くなり、クロストークや消し残りが生じ易くなるため、単にレーザ出力を制御するだけでなく、ディスク温度に対して最適パワーになるようにコントロールする必要がある。
【００１８】
そこで、従来では、光磁気ディスクの温度を検出するために、接触型の温度センサを装置内に温度センサを取り付け、該温度センサにて光磁気ディスク（又は該光磁気ディスクが回転可能に収容されたディスクカートリッジ）の温度を検出することにより、光磁気ディスクの温度（単に、ディスク温度と記す）を電気的に認識して、レーザ光の出力を制御するようにしている。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の上記方法では、接触型の温度センサを用いるようにしているため、装置へのディスクカートリッジの出し入れ操作等によって温度センサが破壊されるおそれがあり、この場合、ディスク温度の誤検出によりレーザ光の出力が適切な値にすることができなくなる可能性がある。
【００２０】
また、ディスクカートリッジに温度センサを接触させる必要から、温度センサの接触機構等も工夫しなければならず、製造コストの面で不利になるという問題もある。
【００２１】
そこで、上記温度センサとして、非接触型の温度センサ（例えば、サーミスタ）を使用する方法が考えられている。非接触型の温度センサを使用する場合において問題となるのは以下の点である。
【００２２】
(1) 温度センサにて検出されたディスクカートリッジの温度から光磁気ディスクの温度を求めるために、ディスクカートリッジの構成材料を光磁気ディスクの基板と同一の材料でなければならない。
【００２３】
(2) 光磁気ディスクはディスクカートリッジ内において回転可能に収容されていなければならない。
【００２４】
(3) 接触型の温度センサと比べて、ディスクカートリッジの投入後の数分間において、実際の光磁気ディスクの温度と温度センサにて検出したディスク温度（上記数分間においては装置内の周辺温度とほぼ同じである。）にはかなりの違いがあり、ディスク温度の誤検出によりレーザ光の出力が適切な値にならない。
【００２５】
特に、上記(3) の問題については、実際の光磁気ディスクの温度と温度センサにて検出したディスク温度との温度差があるレベルまで下がらないと、ディスク温度を正しく検出できず、光磁気ディスクに情報データを記録する場合において、ディスクカートリッジの投入時からある時間を待たなければ情報データの記録を行なうことができない。これは、アクセス時間のアクセス応答の遅延につながり、高速アクセスを達成できないという問題が生じる。
【００２６】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、レーザ光の制御を行なうための温度センサを非接触型にした場合においても、高速アクセスを達成でき、非接触型の温度センサの効果を最大限に発揮させることができる記録媒体の記録及び／又は再生装置、記録媒体の記録又は再生方法を提供することにある。
【００２７】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置は、投入された円盤状記録媒体を回転駆動する回転駆動手段と、上記円盤状記録媒体の径方向に移動可能とされ、かつ、上記円盤状記録媒体に対して情報データを光学的にアクセスするアクセス手段と、上記アクセス手段からの光出力が目標値となるようにフィードバック制御する機能を有し、少なくとも上記円盤状記録媒体の温度を検出する非接触型温度センサと、上記円盤状記録媒体の投入直後から所定時間内に活性化され、かつ上記温度センサの温度情報と上記温度センサの温度時定数とに基づいて演算を行って上記円盤状記録媒体の予測温度を得る温度予測手段と、上記所定時間経過後に活性化され、かつ上記温度センサからの温度情報を直接上記円盤状記録媒体の温度として設定する実温度設定手段と、上記温度予測手段又は上記実温度設定手段からの温度情報に基づいて上記目標値を設定する目標値設定手段と、上記目標値設定手段に基づいて上記アクセス手段の光出力を制御する光出力制御手段とを有する構成とする。
【００２８】
これにより、まず、装置内に投入された記録媒体は、駆動手段によって駆動される。このとき、制御手段において、上記記録媒体を投入してから所定時間内は、温度センサの温度時定数に基づいた温度情報によってアクセス手段が制御される。そして、上記所定時間経過後においては、上記温度センサからの温度情報に基づいて上記アクセス手段が制御される。
【００２９】
一般に、非接触型の温度センサを用いた場合、投入直後の記録媒体の温度と装置内の周辺温度との温度差が大きいため、温度センサにて検出された記録媒体の温度（以下、単に媒体温度と記す）は不正確なものとなっている。上記温度差は、時間が経つにつれて徐々に小さくなり、所定時間経過後においてはほぼ零の状態となり、この段階から温度センサによって検出される媒体温度は正確なものとなる。
【００３０】
従って、上記所定時間が経過した段階においてアクセス手段の制御を開始した方が安定に制御を行なうことができることとなるが、上記所定時間待たなければならなず、高速アクセスの点で問題がある。
【００３１】
しかし、この発明に係る記録媒体の記録及び／又は再生装置においては、上記制御手段において、温度センサの温度時定数、即ち、記録媒体を投入した時点から上記所定時間（整定時間）までの過渡期における温度センサの検出特性（温度差が徐々に少なくなる特性）に基づいて媒体温度が設定（予測）され、この設定された媒体温度に基づいてアクセス手段の制御が行なわれることになる。上記過渡期における媒体温度は、上記温度センサの温度時定数に基づいたものであるため、上記過渡期における実際の記録媒体の温度に近い値となる。
【００３２】
従って、上記過渡期におけるアクセス手段の制御も定常状態（実際の記録媒体の温度と温度センサの検出温度との温度差がほとんどなくなった状態）でのアクセス手段の制御と同様に安定なものとなり、記録媒体を装置内に投入した直後からアクセス手段による記録媒体に対する情報データのアクセスが行えることになる。これは、アクセス時間及びアクセス応答（アクセス速度）の高速化につながり、記録媒体の記録及び／又は再生装置の高性能化を実現させることができる。
【００３３】
このように、本発明に係る記録媒体の記録及び／又は再生装置においては、非接触型の温度センサを使用した場合の最大の欠点であるアクセス速度の遅延を有効に防止することができ、非接触型の温度センサを用いた場合の効果、即ち、（１）記録媒体の出し入れ操作等による温度センサの破壊をなくすことができ、信頼性を向上させることができる。（２）記録媒体との接触機構の工夫も不要となるため、製造コストの削減を実現させることができる。（３）記録媒体を収容したカートリッジを装置内に投入する場合において、カートリッジの構成材料を記録媒体の基板と同一材料にする必要がなくなる。という効果を十分に発揮させることができる。
【００３４】
次に、本発明に係る円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生方法は、投入されて回転駆動された円盤状記録媒体の径方向に移動可能とされ、かつ、上記円盤状記録媒体に対して情報データを光学的にアクセスするアクセス手段とを備えた円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置における記録及び／又は再生方法において、上記アクセス手段からの光出力が目標値となるようにフィードバック制御し、上記円盤状記録媒体の温度情報を非接触型温度センサから検出し、上記円盤状記録媒体の投入直後から所定時間内に活性化され、かつ検出した上記温度情報と上記温度センサの温度時定数とに基づいて演算を行って上記円盤状記録媒体の予測温度を得、上記所定時間経過後に活性化され、かつ上記温度センサからの温度情報を直接上記円盤状記録媒体の実温度として設定し、上記予測温度又は上記実温度の温度情報に基づいて上記目標値を設定し、設定された目標値に基づいて上記アクセス手段の光出力を制御する。
【００３５】
これにより、まず、記録媒体を投入してから所定時間内は、上記温度センサの温度時定数に基づいた温度情報によってアクセス手段が制御され、上記所定時間経過後は、上記温度センサからの温度情報によってアクセス手段が制御される。
【００３６】
そのため、上記過渡期におけるアクセス手段の制御も定常状態（実際の記録媒体の温度と温度センサの検出温度との温度差がほとんどなくなった状態）でのアクセス手段の制御と同様に安定なものとなり、記録媒体を装置内に投入した直後からアクセス手段による記録媒体に対する情報データのアクセスが行えることになる。これは、アクセス時間及びアクセス応答（アクセス速度）の高速化につながり、記録媒体の記録及び／又は再生装置の高性能化を実現させることができる。
【００３７】
このように、本発明に係る記録媒体の記録及び／又は再生方法においては、非接触型の温度センサを使用した場合の最大の欠点であるアクセス速度の遅延を有効に防止することができ、非接触型の温度センサを用いた場合の効果を十分に発揮させることができる。
【００３８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る円盤状記録媒体用の記録再生装置及び円盤状記録媒体用の記録再生方法を、円盤状記録媒体として例えば光磁気ディスクを用いた磁界変調型の記録再生装置に適用した実施の形態例（以下、単に実施の形態に係る記録再生装置と記す）を図１〜図１６を参照しながら説明する。
【００３９】
この実施の形態に係る記録再生装置は、図１に示すように、内部に例えば磁界変調方式に対応した光磁気ディスクＤが回転自在に収納されたディスクカートリッジ（図示せず）が挿入される図示しないカートリッジホルダと、このカートリッジホルダに挿入された上記ディスクカートリッジ内の光磁気ディスクＤを回転駆動するスピンドルモータ１と、上記光磁気ディスクＤに対して情報信号の再生を行う光ヘッド２と、上記スピンドルモータ１によって回転駆動される光磁気ディスクＤに対し、記録用磁界を印加して、光磁気ディスクＤの垂直磁化膜（記録層）中、光ヘッド２からのレーザ光Ｌが照射されている部分（キューリー点を越える温度となっている部分）を、記録信号に応じて磁化させる記録用磁界発生装置（内部に励磁コイルを有して構成される）３を有する。この図１においては、図面の複雑化を回避するため、上記ディスクカートリッジやカートリッジホルダ等を省略して図示してある。
【００４０】
上記カートリッジホルダは、その内部に上記ディスクカートリッジのシャッタ（図示せず）を開閉させる図示しない既知のシャッタ開閉機構が設けられている。
【００４１】
従って、上記ディスクカートリッジを上記カートリッジホルダ内に挿入することにより、上記シャッタ開閉機構によってシャッタが開かれ、このシャッタが完全に開状態となった位置、即ちディスクカートリッジがカートリッジホルダに完全に挿入された位置でディスクカートリッジの記録再生装置内への装着が完了する。
【００４２】
スピンドルモータ１は、装着されたディスクカートリッジの中央部分に対応した下方の位置に設けられており、例えばステッピングモータと回転−直線運動変換機構を主体とする既知のスピンドルモータ用上下移動機構（図示せず）によって、上下方向、即ちディスクカートリッジの接離方向に移動自在とされている。また、このスピンドルモータ１におけるモータ軸の上端には、マグネット付きのターンテーブル４が設けられている。
【００４３】
このスピンドルモータ１は、上記ディスクカートリッジが装着されたことに基づいて、上記スピンドルモータ用上下移動機構によって上方に移動し、この移動によって、ターンテーブル４がディスクカートリッジの裏面側開口部を通してディスクカートリッジ内に進入する。このとき、マグネットの吸引によってターンテーブル４の上面とディスクカートリッジ内の光磁気ディスクＤのセンターハブ同士が互いに密着、保持され、ディスクカートリッジ内にある光磁気ディスクＤがスピンドルモータ１に装着されることになる。
【００４４】
光ヘッド２は、上記ディスクカートリッジ中、記録再生装置内部に露出した裏面側開口部の下方の位置に設けられている。この光ヘッド２は、ボイスコイルモータ及びガイド軸を主体とする光ヘッド用スライド機構５によって、ディスクカートリッジにおける光磁気ディスクＤの径方向に移動自在とされている。
【００４５】
光ヘッド用スライド機構５は、図２に示すように、ユニット化された光ヘッド２が収容された外筺（以下、単にキャリッジ１１と記す）を光磁気ディスクＤの径方向に案内する二つの案内軸１２ａ及び１２ｂと、キャリッジ１１を光磁気ディスクＤの径方向に移動駆動するための駆動源である２つのボイスコイルモータ１３ａ及び１３ｂを有して構成されている。なお、第１及び第２のボイスコイルモータ１３ａ及び１３ｂは、図示するように、それぞれショート・コイル型のボイスコイルモータとされている。
【００４６】
上記光ヘッド２は、図示しないが、光ビームＬの光源である半導体レーザからなるレーザ光源ＬＤ（図３参照）と、光ビームＬを光磁気ディスクＤ上に集光させる上記対物レンズと、この光磁気ディスクＤ上で反射した戻り光を検出して、その光量に応じた電流レベルの電気信号（検出信号）に変換する光検出器を含む光学系の全体が、１個のユニットとして構成されている。
【００４７】
この光学系には、上記光学部品のほかに、レーザ光源から出射された光ビームＬを平行光にするコリメータレンズと、光ビームＬを少なくとも３本の光束成分に分離する位相回折格子と、レーザ光源からの光ビームＬと光磁気ディスクＤからの戻り光とを分離するビームスプリッタ等が配設されている。
【００４８】
また、戻り光の光路中においては、該戻り光を光検出器上に収束する結像レンズと、上記戻り光の焦点距離の調整と非点収差を発生させるためのシリンドリカル・レンズ及び凹レンズで構成されるマルチレンズが配設される。
【００４９】
また、ビームスプリッタの上記結像レンズ側とは反対側には、レーザ光源からの光ビームＬ（ここでは、Ｐ偏光とする）の一部（上記ビームスプリッタの境界面にて反射した光成分）を検出し、その光成分の光量に応じた出力レベル（電流レベル）の電気信号（検出信号）に変換するモニタ用のフォトディテクタＦＤ（図３参照）が配設されている。
【００５０】
この実施の形態では、上記ビームスプリッタの特性を、例えば、Ｐ偏光の透過率：ＴＰ＝８０％、Ｓ偏光の反射率：ＲＳ＝１００％としているため、ビームスプリッタに入射するレーザ光源からの光ビームＬのうち、その２０％がその境界面にて反射されて、上記モニタ用のフォトディテクタＦＤに入射されることになる。
【００５１】
上記モニタ用のフォトディテクタＦＤの後段には、該フォトディテクタＦＤからの検出信号に基づいて、レーザ光源が安定に発振するようにレーザ駆動回路に対して制御信号を出力する光出力制御系（ＡＬＰＣ系）２１が接続されている。
【００５２】
このＡＬＰＣ系２１は、図３に示すように、光出力検出系２２と光出力制御系２３とを有し、上記光出力検出系２２は、モニタ用フォトディテクタＦＤからの出力電流ｉを電圧信号Ｖｉに変換するＩ−Ｖ変換回路２４と、該Ｉ−Ｖ変換回路２４からの電圧信号Ｖｉを再生用のサンプリングタイミングでサンプリングホールドする再生用サンプルホールド回路（以下、単に再生側Ｓ／Ｈ回路と記す）２５と、Ｉ−Ｖ変換回路２４からの電圧信号Ｖｉを記録用のサンプリングタイミングでサンプリングホールドする記録用サンプルホールド回路（以下、単に記録側Ｓ／Ｈ回路と記す）２６と、再生側Ｓ／Ｈ回路２５からのサンプリング信号Ｓｓｒを例えば８ビットのデジタルデータ（再生光出力モニタデータ）Ｄｓｒに変換してシステムコントローラ２７に出力する再生側Ａ／Ｄ変換器２８と、記録側Ｓ／Ｈ回路２６からのサンプリング信号Ｓｓｗを例えば８ビットのデジタルデータ（記録光出力モニタデータ）Ｄｓｗに変換してシステムコントローラ２７に出力する記録側Ａ／Ｄ変換器２９とを有して構成されている。
【００５３】
一方、光出力制御系２３は、システムコントローラ２７からの再生用光出力データＤｐｒ及び記録用光出力データＤｐｗをそれぞれ保持するための再生側レジスタ３０及び記録側レジスタ３１と、各レジスタ３０及び３１に保持されている光出力データＤｐｒ及びＤｐｗを記録／再生指令信号Ｓｒｗの入力に基づいて選択的に切り換えて出力するマルチプレクサ３２と、該マルチプレクサ３２からの光出力データＤｐ（再生用光出力データＤｐｒ又は記録用光出力データＤｐｗ）をアナログの制御信号Ｓｐに変換してレーザ駆動回路３３に出力するＤ／Ａ変換器３４とを有して構成されている。
【００５４】
上記マルチプレクサ３２に供給される記録／再生指令信号Ｓｒｗは、システムコントローラ２７から送出されるもので、例えば、記録要求時は高レベルとされ、再生要求時は低レベルとされるパルス信号の信号形態を有する。そして、上記マルチプレクサ３２は、記録／再生指令信号Ｓｒｗが高レベルの期間において、記録側レジスタ３１から記録用光出力データＤｐｗを取り出して後段のＤ／Ａ変換器３４に出力し、記録／再生指令信号Ｓｒｗが低レベルの期間においては、再生側レジスタ３０から再生用光出力データＤｐｒを取り出して後段のＤ／Ａ変換器３４に出力する。
【００５５】
上記レーザ駆動回路３３は、Ｄ／Ａ変換器３４からの制御信号Ｓｐの属性（電圧レベル，電流レベル又は周波数）に応じたレベルの駆動電流ｉｄを発生して光ヘッド２のレーザ光源ＬＤに供給する回路である。
【００５６】
なお、上記光出力検出系２２における再生側Ａ／Ｄ変換器２８及び記録側Ａ／Ｄ変換器２９から各光出力モニタデータＤｓｒ及びＤｓｗは、システムコントローラ２７の外部バス３５を通じてシステムコントローラ２７に供給されるようになっており、システムコントローラ２７から光出力制御系２３に出力される再生用光出力データＤｐｒ及び記録用光出力データＤｐｗ並びに記録／再生指令信号Ｓｒｗは、上記外部バス３５を通じてそれぞれ再生側レジスタ３０及び記録側レジスタ３１並びにマルチプレクサ３２に供給されるようになっている。
【００５７】
そして、この実施の形態に係る記録再生装置においては、光磁気ディスクＤの温度を検出するための非接触型温度センサ３６が取り付けられおり、該温度センサ３６からの温度検出信号Ｓｔｐを例えば８ビットのデジタルデータ（温度検出データ）Ｄｔｐに変換してシステムコントローラ２７に出力するＡ／Ｄ変換器３７が上記ＡＬＰＣ系２１の光出力検出系２２に接続されている。
【００５８】
この実施の形態に係る記録再生装置の全体構成の概略は、例えば図４に示すように、記録再生装置の基台を構成するシャーシ４１と、該シャーシ４１の上部に固定された記録再生装置本体４２（ディスクカートリッジ４３が出し入れされるディスクカートリッジ挿入部４４や光ヘッド駆動部（図示せず）などが組み込まれている。）と、該記録再生装置本体４２の上部に電気的絶縁及び磁気的絶縁のためのシールド板４５を介して回路基板４６が取り付けられて構成されている。
【００５９】
そして、上記温度センサ３６は、記録再生装置本体４２のうち、ディスクカートリッジ４３の温度（光磁気ディスクＤの温度）を正確に検出できる位置に取り付けられている。本実施の形態においては、本体４２内の周辺温度に影響を受けにくい位置、例えば本体４２のディスクカートリッジ挿入部４４における開口部分近傍に温度センサ３６が取り付けられている。
【００６０】
一方、光ヘッド２における対物レンズは、二次元アクチュエータ５１によって、光磁気ディスクＤの接離方向及び光磁気ディスクＤの径方向にそれぞれ僅かに移動するようになっている。この二次元アクチュエータ５１は、例えばフォーカス・コイル、トラッキング・コイル及びマグネットからなる磁気回路にて構成されている。
【００６１】
記録用磁界発生装置３は、ディスクカートリッジ中、記録再生装置内部に露出した上面側開口部の上方の位置に設けられている。この記録用磁界発生装置３は、例えばステッピングモータと回転−直線運動変換機構を主体とする既知の上下移動機構（図示せず）によって、上下方向、即ち、ディスクカートリッジの上面側開口部に対して接離方向に移動自在とされている。また、この記録用磁界発生装置３は、図示しない連動機構によって、光ヘッド２と連動して光磁気ディスクＤの径方向に移動するようになっている。
【００６２】
この実施の形態に係る記録再生装置の回路系は、上記ＡＬＰＣ系２１のほかに、図１に示すように、ＲＦアンプ５２、演算回路５３、エンコーダ５４、磁界発生駆動回路５５、サーボ制御回路５６、デコーダ５７、光ヘッド用スライド駆動回路５８及びこれら各種回路を制御するシステムコントローラ２７を有して構成されている。システムコントローラ２７は、外部に設置されたホストコンピュータ５９に対し、インターフェースバス６０（例えばＳＣＳＩバス）及びインターフェース回路６１を介してデータの転送が行なわれるように配線接続されている。
【００６３】
インターフェース回路６１は、この記録再生装置が接続されたホストコンピュータ５９から送られてくるコマンドの内容を解読し、システムコントローラ２７にその動作内容を伝達する回路である。また、このインターフェース回路６１は、ホストコンピュータ５９とのデータを授受するためのバッファとしても機能し、この場合、ディスク欠陥に対する誤り訂正（ＥＣＣ）を行なうように構成されている。
【００６４】
ＲＦアンプ５２は、光ヘッド２内の光検出器からの光検出信号（電流信号）を電圧信号に変換して所定のゲインにて増幅する回路である。演算回路５３は、ＲＦアンプ５２からの光検出信号（電圧信号）に基づいて各種信号、ここでは、トラッキングエラー信号Ｓｔ、フォーカスエラー信号Ｓｆ及びＲＦ信号Ｓｒｆを生成するための回路である。
【００６５】
エンコーダ５４は、インターフェース回路６１を通じて送られてくるホストコンピュータ５９からの記録データＤｗに、エラー訂正等の符号化処理と例えばＥＦＭ変調を行なって、記録情報データに変換し、更にこの記録情報データを二値化データに変換して、オンオフ信号Ｓｏとして出力する回路である。
【００６６】
磁界発生駆動回路５５は、システムコントローラ２７からの起動信号Ｓｄに基づいて活性化（電源供給）され、エンコーダ５４からのオンオフ信号Ｓｏに基づいて、記録用磁界発生装置３内の励磁コイルへの電流供給を正方向及び負方向に切り換える回路である。
【００６７】
具体的には、励磁コイルに対して正方向に電流を流すことにより、光磁気ディスクＤの記録層中、上記光ヘッド２からのレーザ光照射によって温度がキューリー点を超えている部分が、例えば正方向に磁化され、励磁コイルに対して負方向に電流を流すことにより、上記部分が、例えば負方向に磁化されることとなる。
【００６８】
そして、その後に、光ヘッド２による再生用のレーザ光Ｌを照射することにより、正方向に磁化された部分又は負方向に磁化された部分にて変調された反射光束中のカー回転角を、光ヘッド２内に組み込まれた例えばｐｎ接合のフォトダイオードからなる光検出器にて検出することによって、光磁気ディスクＤに記録された磁化情報の再生信号を得ることができるようになっている。
【００６９】
サーボ制御回路５６は、その内部に、フォーカス・サーボ回路、トラッキング・サーボ回路、スピンドル・サーボ回路、スレッド・サーボ回路及び各種移動機構の駆動源であるモータに対してサーボ制御を行うモータ用サーボ回路等が組み込まれており、これら各種サーボ回路は、それぞれシステムコントローラ２７からのサーボ制御に関するデータ（サーボゲイン等）や駆動信号などのサーボ駆動制御信号や演算回路５３からのサーボ用演算信号が入力されるようになっている。
【００７０】
上記スピンドル・サーボ回路は、システムコントローラ２７からの最大回転数データに基づいて、その最大回転数以下の回転数でスピンドルモータ１を駆動して、ターンテーブル４に装着されている光磁気ディスクＤをＣＬＶ（線速度一定：Constant Angular Verocity ）方式又はＣＡＶ（角速度一定：Constant Linear Verocity）で回転駆動させる回路である。
【００７１】
上記フォーカス・サーボ回路は、演算回路５３からのフォーカスエラー信号Ｓｆ、具体的には、光磁気ディスクＤに形成されたミラー面へのレーザ光照射に伴う該ミラー面からの反射光量に応じた検出信号を演算回路５３にて所定の演算を行なって得た信号に基づいて、光ヘッド２の上記二次元アクチュエータ５１を駆動・制御することにより、対物レンズを光磁気ディスクＤの接離方向に移動させてその焦点調整を行う回路である。
【００７２】
上記トラッキング・サーボ回路は、演算回路５３からのトラッキングエラー信号Ｓｔ、具体的には、光磁気ディスクＤに形成されているサーボ領域内のサーボピットの検出に伴う検出信号を演算回路５３にて所定の演算を行なって得た信号に基づいて、光ヘッド２の上記二次元アクチュエータ５１を駆動・制御することにより、対物レンズを光磁気ディスクＤの径方向に移動させてそのトラッキング調整を行う回路である。
【００７３】
スレッド・サーボ回路は、システムコントローラ２７から順次送られてくる目標位置データと光ヘッド２の現在位置データ（リニア・エンコーダから得られる位置データ）とを比較しながら光ヘッド２を基準位置データが示す位置に到達するように光ヘッド用スライド駆動回路５８に制御信号を出力する回路である。
【００７４】
光ヘッド用スライド駆動回路５８は、上記スレッド・サーボ回路からの上記制御信号のレベル（電流レベル，電圧レベルあるいは周波数等）に応じて光ヘッド用スライド機構５の駆動源である二つのボイスコイルモータ１３ａ及び１３ｂを駆動制御し、光ヘッド２を上記目標位置データが示す位置に移動駆動させる。
【００７５】
デコーダ５７は、演算回路５３からの再生信号Ｓｒｆ、具体的には、光磁気ディスクＤの記録層に記録されている磁化情報に応じて変調された反射光のＰ偏光成分とＳ偏光成分に対して所定の演算を行なうことによって得た信号をデジタルデータに変換し、更にこの変換したデジタルデータに付加されているエラー訂正等の符号化処理を復号化処理して再生データＤｒとして出力する回路である。このデコーダ２８からの再生データＤｒは、インターフェース回路６１及びインターフェースバス６０を介して外部に接続されたホストコンピュータ５９に供給される。なお、ホストコンピュータ５９に供給される再生データＤｒのうち、セクタ同期信号やセクタアドレス信号等のサブコードＤｓは、スピンドルモータ１の回転制御やシーク動作時の光ヘッド２の走査位置の制御のためにシステムコントローラ２７に供給される。
【００７６】
そして、本実施の形態に係る記録再生装置においては、上記システムコントローラ２７内に、光磁気ディスクＤの温度に応じて最適な光出力の制御を行なう光出力制御手段８１（図８参照）がソフトウェアとして具備されている。
【００７７】
一般に、非接触型の温度センサ３６を用いた場合、図５及び図６に示すように、投入直後の光磁気ディスクＤの温度と装置内の周辺温度との温度差が大きいため、温度センサ３６にて検出された光磁気ディスクＤの温度（以下、単にディスク温度と記す）は不正確なものとなっている。図５中、●で示す特性曲線は、ディスクカートリッジを装置内に投入した際のディスクカートリッジの実際の温度変化を示し、○で示す特性曲線は、ディスクカートリッジを装置内に投入した際の装置内の周辺温度（温度センサ３６による検出温度）の変化を示す。また、図６は温度センサ３６の温度時定数、即ちディスクカートリッジを装置内に投入した時点から所定時間Ｔまでの実際のディスクカートリッジの温度と温度センサによる検出温度との差（温度差）の変化特性を示す。
【００７８】
これら図５及び図６からわかるように、上記温度差は、時間が経つにつれて徐々に小さくなり、所定時間Ｔの経過後においてはほぼ零の状態となり、この段階から温度センサ３６によって検出されるディスク温度は正確なものとなる。
【００７９】
従って、上記所定時間Ｔが経過した段階において光出力の制御を開始した方が安定に制御を行なうことができることとなるが、上記所定時間Ｔほど待たなければならず、高速アクセスの点で問題がある。
【００８０】
この光出力制御手段８１は、上記問題を解決するために組み込まれるものであり、その処理動作を簡単に説明すると、まず、ディスクカートリッジを装置内に投入してから所定時間Ｔが経過するまでは、ディスクカートリッジ投入時のディスク温度（ディスク初期温度）を常温（例えば２０℃）と仮定し、温度センサ３６による光磁気ディスクＤの平均温度がディスクカートリッジ投入時の装置内周辺温度に向かって該温度センサ３６の温度時定数に沿って上がっていくと判断して、仮のディスク温度を求め、この仮のディスク温度に基づいて光ヘッド２の光出力を制御する。そして、所定時間Ｔが経過した後は、温度センサ３６によるディスク温度と装置内の周辺温度とに温度差がなくなっているため、温度センサ３６の検出温度をディスク温度として光ヘッドの光出力を制御する。
【００８１】
通常、光磁気ディスクＤはその投入時においては、常温（例えば２０℃）である場合が多いため、上記のように制御することにより、温度センサ３６による検出温度に対して誤差が比較的少なくなる。
【００８２】
ここで、システムコントローラ２７のハード構成と上記光出力制御手段８１の機能及びその処理動作を図７〜図１４に基づいて説明する。
【００８３】
まず、システムコントローラ２７のハード構成は、図７に示すように、上記光出力制御手段等の各種プログラムが格納されたプログラムＲＯＭ７１と、各種固定データが予め登録されたデータＲＯＭ７２と、上記プログラムＲＯＭ７１から読み出されたプログラムの動作用として用いられる動作用ＲＡＭ７３と、外部回路からのデータや制御信号並びに各種プログラムによってデータ加工されたデータ等が格納されるデータＲＡＭ７４と、水晶振動子等の基準クロック発生回路からの基準クロックを計数して時間データを出力する時計７５と、外部回路に対してデータの入出力を行なう入力ポート７６及び出力ポート７７と、これら各種回路を制御するＣＰＵ（制御装置及び論理演算装置）７８とを有して構成されている。
【００８４】
そして、上記各種回路は、ＣＰＵ７８から導出されたデータバスＤＢを介して各回路間のデータの受渡しが行なわれ、更にＣＰＵ７８から導出されたアドレスバスや制御バス（共に図示せず）を介してそれぞれＣＰＵ７８にて制御されるように構成されている。
【００８５】
次に、上記光出力制御手段８１の処理動作について図８〜図１３の機能ブロック及びフローチャートに基づいて説明する。
【００８６】
この光出力制御手段８１は、まず、図９で示すステップＳ１において、電源投入と同時に初期動作、例えば、システムコントローラ２７内のシステムチェックやメモリチェック及びセットアップ等が行なわれる。
【００８７】
次に、ステップＳ２において、プログラムＲＯＭ７１から、光出力制御手段７０（光出力制御プログラム：図８参照）が読み出されて、動作用ＲＡＭ７３にストアされると同時に、このプログラムの動作中において生成されたデータを一時的に保存するためや、上記プログラムを構成する各ルーチン間のパラメータの受渡しなどに用いられる作業領域が動作用ＲＡＭ７３中に割り付けられる。
【００８８】
また、データＲＡＭ７４に、記録用光出力の目標値が格納される記録用目標値格納領域と、再生用光出力の目標値が格納される再生用目標値格納領域と、温度センサにて検出された平均温度値が格納される平均温度格納領域と、データＲＯＭ７２からの各種固定データが格納される固定データ格納領域が割り付けられる。
【００８９】
固定データ格納領域は、記録用の光出力における補正係数が登録された記録用補正係数テーブルが格納される記録用補正係数テーブル格納領域と、再生用の光出力における補正係数が登録された再生用補正係数テーブルが格納される再生用補正係数テーブル格納領域と、常温での記録用光出力の目標値（常温記録用目標値）が格納される常温記録用目標値格納領域と、常温での再生用光出力の目標値（常温再生用目標値）が格納される常温再生用目標値格納領域とを有する。
【００９０】
例えば記録用補正係数テーブルは、図１４の特性図に示すように、ディスク温度の変化に対する補正係数がアドレス順次に登録されたものであり、この例では、常温を２０℃として、該常温に対応する補正係数を１とし、常温未満についての補正係数は１よりも大きく、常温よりも高い温度の補正係数は１よりも小さくし、その最大値〜最小値の幅を全体の４４％に規定している。なお、再生用補正係数テーブルついては図示しないが、上記記録用補正係数テーブルとほぼ同じ特性の補正係数が配列される。
【００９１】
そして、上記ステップＳ２においては、上記プログラムの転送処理のほかに、データＲＯＭ７２から各種固定データを読み出して固定データ格納領域に格納するという処理を行なう。
【００９２】
このとき、データＲＯＭ７２に登録されている記録用補正係数テーブル及び再生用補正係数テーブルがそれぞれ対応する格納領域に格納され、データＲＯＭ７２に登録されている初期温度値（光磁気ディスクの予測温度を演算するための初期温度値（例えば２０℃を示すデジタル値））が光磁気ディスクの予測温度を演算するための温度演算用レジスタＲｄ（光出力制御プログラム７０にて使用される各種レジスタのうち、温度演算用レジスタＲｄとして宣言されたレジスタ）に格納される。また、記録用目標値格納領域及び再生用目標値格納領域にそれぞれ常温記録用目標値及び常温再生用目標値が格納される。
【００９３】
上記動作用ＲＡＭ７３に読み出された光出力制御プログラム８１は、図８に示すように、各種判別を行う判別手段８２と、操作パルスに配列された各種操作キーからなるキー入力装置８３からのキー入力データを受け取るためのキー入力受取り手段８４と、温度センサ３６からの温度検出データＤｔｐを受け取ってその平均温度値／Ｔｓを求める平均温度演算手段８５と、該平均温度演算手段８５にて得られた平均温度値／Ｔｓを読み出す平均温度読出し手段８６と、該平均温度読出し手段８６にて読み出された平均温度値／Ｔｓと温度センサ３６の温度時定数から光磁気ディスクＤの温度を予測するディスク温度予測手段８７と、該ディスク温度予測手段８７にて得られた予測温度あるいは平均温度読出し手段８６にて読み出された平均温度値／Ｔｓに基づいて各補正係数テーブルのレコードアドレスを算出するレコードアドレス演算手段８８と、記録用補正係数テーブルのうち、上記レコードアドレス演算手段８８にて得られたレコードアドレスに対応する補正係数を読み出す記録用補正係数読出し手段８９と、読み出された記録用補正係数に基づいて記録用光出力の目標値を演算する記録用目標値演算手段９０と、再生用補正係数テーブルのうち、上記レコードアドレス演算手段８８にて得られたレコードアドレスに対応する補正係数を読み出す再生用補正係数読出し手段９１と、読み出された再生用補正係数に基づいて再生用光出力の目標値を演算する再生用目標値演算手段９２と、各目標値演算手段９０及び９２にて得られた目標値と現在の光出力に基づいて今回の光出力を設定・出力する光出力設定手段９３とを有して構成されている。
【００９４】
そして、この光出力制御プログラム８１は、まず、図９のステップＳ３において、判別手段８２を通じて、光磁気ディスクＤが装着された否かが判別される。この判別は、ディスクカートリッジの装着を検知するセンサからの検出信号が入力されたかどうかで行なわれる。このステップＳ３においては、光磁気ディスクＤが装着されるまでその判別処理が繰り返される。即ち、光磁気ディスクＤの装着待ちとなる。
【００９５】
光磁気ディスクＤが装着されると、次のステップＳ４に進み、平均温度演算手段（平均温度演算プログラム）８５を起動する。この平均温度演算プログラムは、当該光出力制御プログラム８１と時分割（タイムシュアリング方式）で動作する。この平均温度演算手段８５の構成及びその処理動作を図１０及び図１１に基づいて説明すると、この平均温度演算手段８５は、図１０に示すように、各種判別を行なう判別手段１０１と、温度センサ３６から順次出力される温度検出データＤｔｐを入力ポート７６を通じて受け取る検出温度受取り手段１０２と、該検出温度受取り手段１０２を通じて順次送られてくる温度検出データＤｔｐを所定回数累算処理する累算処理手段１０３と、該累算処理手段１０３にて累算された値の平均値を求めて平均温度データ／ＴｓとしてデータＲＡＭ７４の平均温度格納領域に格納する平均化処理手段１０４とを有して構成されている。
【００９６】
そして、この平均温度演算手段８５は、図１１に示すように、まず、ステップＳ１０１において、この平均温度演算プログラム８５にて使用される各種レジスタのうち、インデックスレジスタｉとして宣言されたレジスタ（以後、単にインデックスレジスタｉと記す）に初期値＝０を格納して、該インデックスレジスタｉを初期化する。
【００９７】
次に、ステップＳ１０２において、検出温度受取り手段１０２を通じて、温度センサ３６から入力ポート７６を介して供給される温度検出データＤｔｐを受け取って第１のレジスタＲ１（平均温度演算プログラム８５にて使用される各種レジスタのうち、第１のワーク用レジスタＲ１として宣言されたレジスタ）に格納する。
【００９８】
次に、ステップＳ１０３において、累算処理手段１０３を通じて、上記温度検出データＤｔｐの累算処理を行なう。具体的には、第２のレジスタＲ２（平均温度演算プログラム８５にて使用される各種レジスタのうち、第２のワーク用レジスタＲ２として宣言されたレジスタ）の値と第１のレジスタＲ１の値とを加算し、この加算値を再度第２のレジスタＲ２に格納するという処理を行なう。なお、第２のレジスタＲ２には、初期段階において０が格納されている。
【００９９】
次に、ステップＳ１０４において、インデックスレジスタｉの値を＋１更新する。その後、ステップＳ１０５において、判別手段１０１を通じて、インデックスレジスタｉの値が所定回数Ｍ以上であるか否かが判別される。インデックスレジスタｉの値が所定回数Ｍ未満である場合は、上記ステップＳ１０２に戻って該ステップＳ１０２以降の処理を繰り返す。即ち、温度センサ３６から順次送出される温度検出データＤｔｐを受け取って所定回数Ｍほど累算するという処理が行なわれる。
【０１００】
そして、上記ステップＳ１０５において、上記インデックスレジスタｉの値が所定回数Ｍ以上であると判別された場合は、次のステップＳ１０６に進み、平均化処理手段１０４を通じて、温度検出データＤｔｐの平均値／Ｔｓを求める。具体的には、第２のレジスタＲ２の値を所定回数Ｍにて除算することにより行なわれ、該除算値は今回の平均温度データ／ＴｓとしてデータＲＡＭ７４の平均温度格納領域に格納される。
【０１０１】
次に、ステップＳ１０７において、判別手段１０１を通じて、プログラム終了要求があったかどうかが判別される。この判別は、電源ＯＦＦなどの終了要求割り込みの発生があったかどうかで行なわれる。
【０１０２】
そして、このステップＳ１０７においては、上記終了要求がない場合、ステップＳ１０１に戻って、該ステップＳ１０１以降の処理が繰り返され、次の平均温度データ／Ｔｓが求められることになる。上記終了要求があった場合は、この平均温度演算プログラム８５が終了する。
【０１０３】
図９に示すメインルーチンの説明に戻り、次のステップＳ５において、光出力設定手段９３（光出力設定プログラム）を起動する。この光出力設定プログラム９３も当該光出力制御プログラム８１と時分割（タイムシュアリング方式）で動作する。この光出力設定手段９３の構成及びその処理動作は後述する。
【０１０４】
次に、ステップＳ６において、時計７５から時間データを読み出し、次のステップＳ７において、判別手段８２を通じて、所定時間Ｔが経過したか否かが判別される。この判別は、上記時間データが所定時間Ｔ以上であるかどうかで行なわれる。
【０１０５】
時間データが所定時間Ｔ未満であれば、次のステップＳ８に進み、ディスク温度予測手段８７を通じて、現在のディスク温度（光磁気ディスクＤの温度）を予測する。具体的には、平均温度格納領域に格納されている平均温度データ／Ｔｓから温度演算用レジスタＲｄの値（初期段階では常温２０℃を示すデジタル値が格納されている）を差し引いて、その差分値を温度センサの時定数で定まる係数ｋにて除算し、この除算値を上記温度演算用レジスタＲｄの値に加算し、この加算値をディスク予測温度データとして再度温度演算用レジスタＲｄに格納することにより行なわれる。
【０１０６】
一方、上記ステップＳ７において、所定時間Ｔが経過したと判別された場合は、ステップＳ９に進み、平均温度格納領域に格納されている平均温度データ／Ｔｓを温度演算用レジスタＲｄに格納する。
【０１０７】
上記ステップＳ８での処理又はステップＳ９での処理が終了した段階で、次のステップＳ１０に進み、レコードアドレス演算手段８８を通じて、上記温度演算用レジスタＲｄに格納されているディスク予測温度データ又は平均温度データに基づいて、記録用補正係数テーブル及び再生用補正係数テーブルのレコードアドレスを求める。
【０１０８】
次に、ステップＳ１１において、判別手段８２を通じて、現在記録モードであるか否かが判別される。この判別は、例えばシステムコントローラ２７において使用されるシステム状態フラグが記録モードになっているかどうかで行なわれる。現在記録モードであると判別された場合は、次のステップＳ１２に進み、記録用補正係数読出し手段８９を通じて、記録用補正係数テーブルのうち、上記ステップＳ１０にて求めたレコードアドレスに対応するレコードから記録用補正係数αｗを読み出す。
【０１０９】
次に、ステップＳ１３において、記録用目標値演算手段９０を通じて記録用目標値Ｒｗを演算する。具体的には、常温記録用目標値格納領域に格納されている常温記録用目標値と上記ステップＳ１２にて求めた記録用補正係数αｗを乗算し、その乗算値を今回の記録用目標値ＲｗとしてデータＲＡＭ７４の記録用目標値格納領域に格納することにより行なわれる。
【０１１０】
一方、上記ステップＳ１１において、現在再生モードであると判別された場合は、ステップＳ１４に進み、再生用補正係数読出し手段９１を通じて、再生用補正係数テーブルのうち、上記ステップＳ１０にて求めたレコードアドレスに対応するレコードから再生用補正係数αｒを読み出す。
【０１１１】
次に、ステップＳ１５において、再生用目標値演算手段９２を通じて再生用目標値Ｒｒを演算する。具体的には、常温再生用目標値格納領域に格納されている常温再生用目標値と上記ステップＳ１４にて求めた再生用補正係数αｒを乗算し、その乗算値を今回の再生用目標値ＲｒとしてデータＲＡＭ７４の再生用目標値格納領域に格納することにより行なわれる。
【０１１２】
上記ステップＳ１３又はステップＳ１５での処理が終了した段階で、次のステップＳ１６に進み、判別手段８２を通じて、停止要求があったか否かが判別される。この判別は、キー入力装置８３に対するキー操作に基づく割込み信号の有無を判別し、更に、該割込み信号があった場合に、キー入力受取り手段８４によって受け取られたキー入力データの内容が「停止」を示すものかどうかを判別することによって行なわれる。
【０１１３】
キー入力装置８３からのキー入力割込みがなかった場合、あるいはキー入力があった場合において、そのキー入力データが「停止」を示すものでなかった場合は、上記ステップＳ６に進み、該ステップＳ６以降の処理を繰り返す。即ち、現在の時間データを読み出して、所定時間Ｔが経過していなければ、ディスクの予測温度を算出し、該ディスクの予測温度に基づいて今回の補正係数αｗ又はαｒを割り出し、該補正係数αｗ又はαｒに基づいて今回の目標値Ｒｗ又はＲｒを定めるという処理を行い、所定時間Ｔが経過している場合は、実際の光磁気ディスクＤの平均温度に基づいて今回の補正係数αｗ又はαｒを割り出し、該補正係数αｗ又はαｒに基づいて今回の目標値Ｒｗ又はＲｒを定めるという処理を行う。
【０１１４】
上記ステップＳ１６において、停止要求があったと判別された場合は、次のステップＳ１７に進む。
【０１１５】
ここで、上記ステップＳ５にて起動される光出力設定手段９３の構成及びその処理動作について図１２及び図１３を参照しながら説明する。
【０１１６】
この光出力設定手段９３（光出力設定プログラム）は、図１２に示すように、各種判別を行なう判別手段１１１と、キー入力装置８３からのキー入力データを受け取るためのキー入力受取り手段１１２と、記録側Ａ／Ｄ変換器２９（図３参照）から入力ポート７６を通じて供給される現在の記録光出力モニタデータＤｓｗを受け取る現記録光出力受取り手段１１３と、再生側Ａ／Ｄ変換器２８から入力ポート７６を通じて供給される現在の再生光出力モニタデータＤｓｒを受け取る現再生光出力受取り手段１１４と、これら現記録光出力受取り手段１１３及び現再生光出力受取り手段１１４にて受け取られた記録光出力モニタデータＤｓｗ及び再生光出力モニタデータＤｓｒをそれぞれ記録用目標値Ｒｗ及び再生用目標値Ｒｒと比較できるデータ形態に換算するデータ換算処理手段１１５と、データＲＡＭ７４の記録用目標値格納領域に格納されている記録用目標値Ｒｗを読み出す記録用目標値読出し手段１１６と、データＲＡＭ７４の再生用目標値格納領域に格納されている再生用目標値Ｒｒを読み出す再生用目標値読出し手段１１７と、データ換算処理手段１１５からの記録光出力モニタデータＤｓｗの換算データと記録用目標値Ｒｗに基づいて今回の記録用光出力を求める記録用光出力演算手段１１８と、該記録用光出力演算手段１１８からの記録用光出力データＤｐｗを出力ポート７７を通じて記録側レジスタ３１（図３参照）に出力する記録用光出力データ出力手段１１９と、データ換算処理手段１１５からの再生光出力モニタデータＤｓｒの換算データと再生用目標値Ｒｒに基づいて今回の再生用光出力を求める再生用光出力演算手段１２０と、該再生用光出力演算手段１２０からの再生用光出力データＤｐｒを出力ポート７７を通じて再生側レジスタ３０に出力する再生用光出力データ出力手段１２１とを有して構成されている。
【０１１７】
そして、この光出力設定手段９３は、図１３に示すように、まず、ステップＳ２０１において、判別手段１１１を通じて、現在記録モードであるか否かが判別される。現在記録モードであると判別された場合は、次のステップＳ２０２に進み、現記録光出力受取り手段１１３を通じて、記録側Ａ／Ｄ変換器２９から入力ポート７６を介して供給される現在の記録光出力モニタデータＤｓｗを受け取る。
【０１１８】
次に、ステップＳ２０３において、データ換算処理手段１１５を通じて、上記現記録光出力受取り手段１１３にて受け取られた記録光出力モニタデータＤｓｗを記録用目標値Ｒｗと比較できるデータ形態に換算する。換算後のデータを便宜的に換算記録光出力モニタデータＲＤｓｗと記す。
【０１１９】
次に、ステップＳ２０４において、記録用目標値読出し手段１１６を通じて、データＲＡＭ７４の記録用目標値格納領域に格納されている記録用目標値Ｒｗを読み出す。
【０１２０】
次に、ステップＳ２０５において、記録用光出力演算手段１１８を通じて、今回の記録用の光出力Ｄｐｗを求める。具体的には、記録用目標値Ｒｗから換算記録光出力モニタデータＲＤｓｗの値を差し引き、その差分値と上記記録用目標値Ｒｗとを加算することで行なわれる。
【０１２１】
次に、ステップＳ２０６において、記録用光出力データ出力手段１１９を通じて、上記記録用光出力演算手段１１８にて得られた記録用光出力データＤｐｗを出力ポート７７を介して記録側レジスタ３１に出力する。
【０１２２】
記録側レジスタ３１に供給された記録用光出力データＤｐｗは、図３に示すように、後段のマルチプレクサ３２を通じてＤ／Ａ変換器３４に供給され、該Ｄ／Ａ変換器３４においてアナログの制御信号Ｓｐに変換されてレーザ駆動回路３３に供給される。レーザ駆動回路３３は、供給された制御信号Ｓｐの属性（電圧レベル，電流レベル又は周波数）に応じた駆動電流ｉｄを光ヘッド２のレーザ光源ＬＤに流す。その結果、該レーザ光源ＬＤは、供給された駆動電流ｉｄのレベルに応じた出力のレーザ光Ｌを出射することとなる。
【０１２３】
一方、上記ステップＳ２０１において、再生モードであると判別された場合は、ステップＳ２０７に進み、現再生光出力受取り手段１１４を通じて、再生側Ａ／Ｄ変換器２８から入力ポート７６を介して供給される現在の再生光出力モニタデータＤｓｒを受け取る。
【０１２４】
次に、ステップＳ２０８において、データ換算処理手段１１５を通じて、上記現再生光出力受取り手段１１４にて受け取られた再生光出力モニタデータＤｓｒを再生用目標値Ｒｒと比較できるデータ形態に換算する。換算後のデータを便宜的に換算再生光出力モニタデータＲＤｓｒと記す。
【０１２５】
次に、ステップＳ２０９において、再生用目標値読出し手段１１７を通じて、データＲＡＭ７４の再生用目標値格納領域に格納されている再生用目標値Ｒｒを読み出す。
【０１２６】
次に、ステップＳ２１０において、再生用光出力演算手段１２０を通じて、今回の再生用の光出力Ｄｐｒを求める。具体的には、再生用目標値Ｒｒから換算再生光出力モニタデータＲＤｓｒの値を差し引き、その差分値と上記再生用目標値Ｒｒとを加算することで行なわれる。
【０１２７】
次に、ステップＳ２１１において、再生用光出力データ出力手段１２１を通じて、上記再生用光出力演算手段１２０にて得られた再生用光出力データＤｐｒを出力ポート７７を介して再生側レジスタ３０に出力する。
【０１２８】
再生側レジスタ３０に供給された再生用光出力データＤｐｒは、図３に示すように、後段のマルチプレクサ３２を通じてＤ／Ａ変換器３４に供給され、該Ｄ／Ａ変換器３４においてアナログの制御信号Ｓｐに変換されてレーザ駆動回路３３に供給される。レーザ駆動回路３３は、供給された制御信号Ｓｐの属性（電圧レベル，電流レベル又は周波数）に応じた駆動電流ｉｄを光ヘッド２のレーザ光源ＬＤに流す。その結果、該レーザ光源ＬＤは、供給された駆動電流ｉｄのレベルに応じた出力のレーザ光Ｌを出射することとなる。
【０１２９】
そして、上記ステップＳ２０６での処理又はステップＳ２１１での処理が終了した段階で、次のステップＳ２１２に進み、判別手段１１１を通じて、停止要求があったか否かが判別される。この判別は、キー入力装置８３に対するキー操作に基づく割込み信号の有無を判別し、更に、該割込み信号があった場合に、キー入力受取り手段１１２によって受け取られたキー入力データの内容が「停止」を示すものかどうかを判別することによって行なわれる。
【０１３０】
キー入力装置８３からのキー入力割込みがなかった場合、あるいはキー入力があった場合において、そのキー入力データが「停止」を示すものでなかった場合は、上記ステップＳ２０１に進み、該ステップＳ２０１以降の処理を繰り返す。即ち、記録モード下においては、現在の記録光出力モニタデータＤｓｗを受け取って、所定のデータ形態に換算し、その換算データＲＤｓｗを記録用目標値Ｒｗと比較して最適な記録用光出力データＤｐｗを求めて記録側レジスタ３１に出力するという処理を行い、再生モード下においては、現在の再生光出力モニタデータＤｓｒを受け取って、所定のデータ形態に換算し、その換算データＲＤｓｒを再生用目標値Ｒｒと比較して最適な再生用光出力データＤｐｒを求めて再生側レジスタ３０に出力するという処理を行う。
【０１３１】
上記ステップＳ２１２において、停止要求があったと判別された場合は、この光出力設定プログラム９３が終了する。
【０１３２】
図９に示すメインルーチンの説明に戻って、ステップＳ１７において、判別手段８２を通じて、ディスクカートリッジの排出要求があったか否かが判別される。この判別は、キー入力装置８３に対するキー操作に基づく割込み信号の有無を判別し、更に、該割込み信号があった場合に、キー入力受取り手段８４によって受け取られたキー入力データの内容が「ディスク排出」を示すものかどうかを判別することによって行なわれる。
【０１３３】
キー入力装置８３からのキー入力割込みがなかった場合、あるいはキー入力があった場合において、そのキー入力データが「ディスク排出」を示すものでなかった場合は、上記ステップＳ５に進み、該ステップＳ５以降の処理を繰り返す。
【０１３４】
上記ステップＳ１７において、ディスク排出要求があったと判別された場合は、次のステップＳ１８に進み、時計７５での計数をリセットしてその計数値（時間データ）を初期化する。
【０１３５】
次に、ステップＳ１９において、判別手段８２を通じて、プログラム終了要求があったかどうかが判別される。この判別は、電源ＯＦＦなどの終了要求割り込みの発生があったかどうかで行なわれる。そして、このステップＳ１９において、終了要求がないと判別された場合は、ステップＳ３に戻って、該ステップＳ３以降の処理が繰り返されることとなる。一方、終了要求があった場合は、この光出力制御プログラム８１が終了することになる。
【０１３６】
次に、本実施の形態に係る記録再生装置による光磁気ディスクＤへのデータ書込み精度の結果を図１５及び図１６に示す。このデータ書込み精度の測定は、実施例と比較例とに分けて行い、実施例は、本実施の形態に係る記録再生装置のように、ディスクカートリッジの投入時から所定時間Ｔにわたってディスク温度を予測し、該予測温度に基づいて光出力の制御を行ない、所定時間Ｔ経過後の定常状態においては温度センサ３６からの検出温度に基づいて光出力の制御を行なうようにしたものであり、比較例は、温度センサ３６を設けずに、即ち温度補償を行なわずに光出力の制御を行なうようにしたものである。
【０１３７】
また、データ書込み精度の測定は、各セグメントにおけるデータ領域の先頭部分にある試し書き領域に対してピットを書き込み、その後、当該試し書き領域に書き込まれたピットを再生するという操作を繰り返し、この再生時において、各試し書き領域に書き込まれたピットの再生タイミング（再生データ位置（ｎｓ））をプロットすることにより行なった。
【０１３８】
具体的には、ディスクカートリッジの投入時点から所定時間Ｔまでのデータ書込み精度の測定は、図１５に示すように、ディスクカートリッジの投入時から各セグメントの試し書き領域にピットを書き込んでゆき、例えば３００秒経過した段階で、再生モードに切り換えて上記試し書き領域に書き込まれたピットの再生タイミングをプロットすることにより行なった。
【０１３９】
また、上記所定時間Ｔ経過後の定常状態におけるデータ書込み精度の測定は、図１６に示すように、装置内の温度を１０℃から５５℃まで徐々に昇温させ、この昇温の段階において、各セグメントの試し書き領域にピットを書き込んでゆき、装置内の温度が例えば６０℃になった段階で、再生モードに切り換えて上記試し書き領域に書き込まれたピットの再生タイミングをプロットすることにより行なった。
【０１４０】
上記測定の結果、ディスクカートリッジの投入時点から所定時間Ｔ経過までのデータ書込み精度は、図１５に示すように、比較例においては、破線ａに示すように、時間の経過に伴って再生データ位置が変わり、各試し書き領域に書き込まれたピットの位置が徐々にずれていることがわかる。それに対して、実施例においては、実線ｂに示すように、ディスクカートリッジの投入時点から所定時間にわたってほぼ同一の再生データ位置を示している。これは、実際のディスクカートリッジの温度と装置内の温度の差が徐々に変化している期間（過渡期間）であるにもかかわらず、実際のディスクカートリッジの温度の変化に対応して記録用の光出力が最適に制御されていることがわかる。
【０１４１】
また、定常状態でのデータ書込み精度は、図１６に示すように、比較例においては、破線ａに示すように、装置内の温度上昇に伴って再生データ位置が変わり、各試し書き領域に書き込まれたピットの位置が徐々にずれていることがわかる。それに対して、実施例においては、実線ｂに示すように、装置内の温度が変化してもほぼ同一の再生データ位置を示しており、装置内の温度が変化しているにもかかわらず、実際のディスクカートリッジの温度の変化に対応して記録用の光出力が最適に制御されていることがわかる。
【０１４２】
上記のように、本実施の形態に係る記録再生装置においては、定常状態においても、ディスクカートリッジの投入時においても、光磁気ディスクＤに対して良好にデータの記録再生が行なわれていることがわかる。
【０１４３】
このように、上記実施の形態に係る記録再生装置においては、ディスクカートリッジを装置内に投入してから所定時間Ｔが経過するまでは、ディスクカートリッジ投入時のディスク温度（ディスク初期温度）を常温（例えば２０℃）と仮定し、温度センサ３６の温度時定数を考慮（図９で示すステップＳ８でのディスク温度予測手段８７による演算処理）してディスクの温度を予測し、該予測温度に基づいて光ヘッド２の光出力を制御するようにし、そして、所定時間Ｔが経過した後は、温度センサ３６によるディスク温度と装置内の周辺温度とに温度差がなくなっているため、温度センサ３６の検出温度をディスク温度として光ヘッド２の光出力を制御するようにしている。
【０１４４】
つまり、温度センサ３６の温度時定数、即ち、光磁気ディスクＤを投入した時点から所定時間Ｔまでの過渡期における温度センサ３６の検出特性（温度差が徐々に少なくなる特性）に基づいてディスク温度が設定（予測）され、この設定されたディスク温度に基づいて光出力の制御が行なわれることになる。上記過渡期におけるディスク温度は、上記温度センサの温度時定数に基づいたものであるため、上記過渡期における実際の光磁気ディスクＤの温度に近い値となる。
【０１４５】
従って、上記過渡期における光出力の制御も定常状態（実際の光磁気ディスクＤの温度と温度センサ３６の検出温度との温度差がほとんどなくなった状態）での光出力の制御と同様に安定なものとなり、光磁気ディスクＤを装置内に投入した直後から光ヘッド２による光磁気ディスクＤに対する情報データのアクセスが行えることになる。これは、アクセス時間及びアクセス応答（アクセス速度）の高速化につながり、記録再生装置の高性能化を実現させることができる。
【０１４６】
上述のように、本実施の形態に係る記録再生装置においては、非接触型の温度センサを使用した場合の最大の欠点であるアクセス速度の遅延を有効に防止することができ、非接触型の温度センサ３６を用いた場合の効果、即ち、▲１▼ディスクカートリッジの出し入れ操作等による温度センサの破壊をなくすことができ、信頼性を向上させることができる。▲２▼ディスクカートリッジとの接触機構の工夫も不要となるため、製造コストの削減を実現させることができる。▲３▼光磁気ディスクＤを回転可能に収容したディスクカートリッジを装置内に投入する場合において、ディスクカートリッジの構成材料を光磁気ディスクの基板と同一材料にする必要がなくなる。という効果を十分に発揮させることができる。
【０１４７】
上記実施の形態においては、磁界変調型の記録再生装置に適用した例を示したが、その他、光変調型の記録再生装置にも適用でき、また、レーザ光を媒介として光ディスクに対しデータのアクセスを行なう記録再生装置、例えば相変化型光ディスク用の記録再生装置や再生専用光ディスク（ＣＤ，ＣＤ−ＲＯＭ）用の再生装置にも適用させることができる。
【０１４８】
【発明の効果】
上述のように、本発明に係る記録媒体の記録及び／又は再生装置によれば、記録媒体を駆動する駆動手段と、上記記録媒体に対して情報を書き込み又は読み取りを行うアクセス手段と、上記記録媒体の温度を検出する温度センサと、上記記録媒体を駆動する装置内に上記記録媒体を投入してから所定時間内は、上記温度センサの温度時定数に基づいた温度情報によって上記アクセス手段を制御し、上記所定時間経過後は、上記温度センサの温度情報に基づいて上記アクセス手段を制御する制御手段とを設けるようにしたので、温度センサを非接触型にした場合においても、高速アクセスを達成でき、非接触型の温度センサの効果を最大限に発揮させることができる。
【０１４９】
また、本発明に係る記録媒体の記録及び／又は再生方法によれば、装置内に投入された記録媒体の温度を検出する温度センサで上記記録媒体の温度を検出し、該検出結果に基づいて上記記録媒体にアクセス手段を用いて情報を書き込み又は読み取りを行う記録媒体の記録及び／又は再生方法において、上記記録媒体を駆動する装置内に上記記録媒体を投入してから所定時間内は、上記温度センサの温度時定数に基づいた温度情報によって上記アクセス手段を制御し、上記所定時間経過後は、上記温度センサからの温度情報によって上記アクセス手段を制御するようにしたので、温度センサを非接触型にした場合においても、高速アクセスを達成でき、非接触型の温度センサの効果を最大限に発揮させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る円盤状記録媒体用の記録再生装置及び円盤状記録媒体用の記録再生方法を、円盤状記録媒体として例えば光磁気ディスクを用いた磁界変調型の記録再生装置に適用した実施の形態例（以下、単に実施の形態に係る記録再生装置と記す）を示す構成図である。
【図２】本実施の形態に係る記録再生装置の内部構成を示す分解斜視図である。
【図３】本実施の形態に係る記録再生装置に組み込まれるＡＬＰＣ系の構成を示すブロック図である。
【図４】本実施の形態に係る記録再生装置の全体構成を示す概略図である。
【図５】ディスクカートリッジを装置内に投入した際のディスクカートリッジの実際の温度変化と装置内の周辺温度の変化を示す特性図である。
【図６】温度センサの温度時定数（ディスクカートリッジを装置内に投入した時点から所定時間までの実際のディスクカートリッジの温度と温度センサによる検出温度との差（温度差））の変化を示す特性図である。
【図７】本実施の形態に係る記録再生装置に組み込まれるシステムコントローラの構成を示すブロック図である。
【図８】システムコントローラに組み込まれる光出力制御手段を示す機能ブロック図である。
【図９】システムコントローラに組み込まれる光出力制御手段の処理動作を示すフローチャートである。
【図１０】光出力制御手段によって起動される平均温度演算手段を示す機能ブロック図である。
【図１１】光出力制御手段によって起動される平均温度演算手段の処理動作を示すフローチャートである。
【図１２】光出力制御手段によって起動される光出力設定手段を示す機能ブロック図である。
【図１３】光出力制御手段によって起動される光出力設定手段の処理動作を示すフローチャートである。
【図１４】補正係数テーブルに登録される補正係数のディスク温度に対する変化を示す特性図である。
【図１５】ディスクカートリッジの投入時点から所定時間までのデータ書込み精度の測定結果を示す特性図である。
【図１６】所定時間経過後の定常状態におけるデータ書込み精度の測定結果を示す特性図である。
【図１７】光磁気ディスクの温度に対するピットサイズの変動を示す説明図である。
【図１８】ピットサイズの変動に伴う不都合点を示す説明図であり、同図Ａはクロストーク及びクロスイレーズを示し、同図Ｂは消し残りを示す。
【図１９】消し残りの大きさに対する光出力の位相余有の変化を示す特性図である。
【符号の説明】
Ｄ  光磁気ディスク、１  スピンドルモータ、２  光ヘッド、３  記録用磁界発生装置、ＬＤ  レーザ光源、ＦＤ  モニタ用フォトディテクタ、２１  ＡＬＰＣ系、２２  光出力検出系、２３  光出力制御系、２７  システムコントローラ、２８  再生側Ａ／Ｄ変換器、２９  記録側Ａ／Ｄ変換器、３０  再生側レジスタ、３１  記録側レジスタ、３３  レーザ駆動回路、３６  温度センサ、８３  キー入力装置、８１  光出力制御手段、８５  平均温度演算手段、８６  平均温度読出し手段、８７  ディスク温度予測手段、８８  レコードアドレス演算手段、９０  記録用目標値演算手段、９２  再生用目標値演算手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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