(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザービームを照射して前記光ディスクに所望のデータを記録する光ディスク装置において、
最適書き込み光量と、前記レーザービームを照射して得られる戻り光の受光結果との対応関係を事前に取得し、
前記光ディスクの各領域より得られる戻り光の受光結果に基づいて、前記対応関係より各領域における前記レーザービームの書き込み光量を設定し、
前記光ディスクは、
受光面に前記レーザービームのガイド溝が形成され、
前記対応関係の受光結果、又は前記書き込み光量を設定する受光結果が、
前記ガイド溝に対する前記レーザービーム照射位置の変位に応じて信号レベルが変化するウォブル信号の信号レベルである
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光ディスクの内周側及び外周側の領域において事前に実行した試し書きにより、前記対応関係を取得する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクのゾーン単位で事前に実行した試し書きにより、前記対応関係を取得する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記対応関係は、
前記試し書きによる最適書き込み光量と、前記最適書き込み光量による前記戻り光の受
光結果との関係でなる
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記対応関係は、
前記試し書きによる最適書き込み光量と、前記最適書き込み光量による前記戻り光の受光結果との関係でなる
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ディスクは、
光磁気ディスクである
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
光ディスクにレーザービームを照射して前記光ディスクに所望のデータを記録する光ディスクの記録方法において、
最適書き込み光量と、前記レーザービームを照射して得られる戻り光の受光結果との対応関係を事前に取得する対応関係取得ステップと、
前記光ディスクの各領域より得られる戻り光の受光結果に基づいて、前記対応関係より各領域における前記レーザービームの書き込み光量を設定する書込み光量設定ステップとを有し、
前記光ディスクは、
受光面に前記レーザービームのガイド溝が形成され、
前記対応関係取得ステップにおける前記受光結果、又は前記書き込み光量設定ステップにおける前記受光結果が、
前記ガイド溝に対する前記レーザービーム照射位置の変位に応じて信号レベルが変化するウォブル信号の信号レベルである
ことを特徴とする光ディスクの記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置及び光ディスクの記録方法に関し、例えば光磁気ディスク装置に適用することができる。本発明は、最適書き込み光量と戻り光の受光結果との対応関係を事前に取得し、光ディスクの各領域より得られる戻り光の受光結果に基づいて、この対応関係より各領域における書き込み光量を設定することにより、ビデオデータ等の連続したデータ列であっても高密度記録することができるようにする。
【０００２】
【従来の技術】
従来、磁気超解像技術（ＭＳＲ：Magnetically induced Super Resolution ）による光磁気ディスク装置においては、記録再生時、レーザービーム光量を制御することにより、所望のデータを高密度記録し得るように検討されている。
【０００３】
すなわちこの種の光磁気ディスクは、例えば光磁気ディスクの内外周に、又は光磁気ディスクのゾーン単位で、いわゆる試し書き領域が形成される。光磁気ディスク装置は、記録時、レーザービームの光量を可変してこの試し書き領域にテストデータを記録し、続いてこの試し書き領域に記録したテストデータを再生する。ここで光磁気ディスクは、熱磁気記録により所望のデータが記録されることにより、レーザービーム光量に応じて変調磁界により垂直磁化される領域が変化する。これにより光磁気ディスク装置は、再生結果より最適書き込み光量を選択する。さらに光磁気ディスク装置は、この選択した書き込み光量により、続いて例えば対応するゾーンに所望のデータを記録する。
【０００４】
さらに磁気超解像技術の１つであるＣＡＤ（Center Aperture Detection-MSR ）による光磁気ディスク装置等は、レーザービーム光量を切り換えて試し書き領域等に記録したデータを再生する。ここでこの種の光磁気ディスク装置においては、再生時、レーザービームを照射して再生層を局所的に温度上昇させ、所定温度以上に温度上昇した再生層の一部領域を介して再生層の下層に配置された情報記録層よりデータ再生する。これによりこの種の光磁気ディスクは、レーザービーム光量に応じてこの所定温度以上に温度上昇する領域の大きさが変化し、この変化により、等化的に、通常の光磁気ディスクにおけるビームスポット径が変化したと同様の状態が発生する。
【０００５】
これによりＣＡＤによる光磁気ディスク装置等は、レーザービーム光量を切り換えて得られる再生結果より最適再生光量を選択し、この選択した再生光量によりデータ再生するようになされている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところでこのようにして書き込み用光量を設定する場合、記録に先立ち、テストデータを試し書きする必要があり、例えば試し書き領域をゾーン単位で設定した状態で、ゾーンを跨がって連続したデータを記録する場合には、ゾーンの切り換わりで試し書きすることになる。これにより例えばビデオデータ等の連続したデータ列の記録が困難になる問題がある。
【０００７】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、ビデオデータ等の連続したデータ列であっても高密度記録することができる光ディスク装置及び光ディスクの記録方法を提案しようとするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため請求項１又は請求項７の発明においては、最適書き込み光量と、レーザービームを照射して得られる戻り光の受光結果との対応関係を事前に取得し、光ディスクの各領域より得られる戻り光の受光結果に基づいて、対応関係より各領域におけるレーザービームの書き込み光量を設定する。またこれらの設定に係る受光結果が、光ディスクのガイド溝に対するレーザービーム照射位置の変位に応じて信号レベルが変化するウォブル信号の信号レベルであるようにする。
【０００９】
光ディスクの各領域より得られる戻り光の受光結果に基づいて、事前に取得した対応関係より各領域におけるレーザービームの書き込み光量を設定すれば、連続したデータ列を連続して記録することができる。また事前に取得した最適書き込み光量を、アクセスの際に得られる受光結果により補正して書き込み光量を設定できることにより、光量の校正精度を向上でき、所望のデータを高密度記録することが可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【００１１】
（１）第１の実施の形態
図１は、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置を示すブロック図である。この光ディスク装置１は、ビデオデータ及びオーディオデータによるＡＶデータＤＡＶを光ディスク２に記録し、またこの光ディスク２に記録したＡＶデータＤＡＶを磁気超解像技術により再生する。なおこの第１の実施例は、本願発明の前提の構成を示す実施例である。
【００１２】
すなわち光ディスク２は、ＣＡＤによる磁気超解像技術に適用可能な光磁気ディスクであり、例えばポリカーボネートによるディスク基板上に誘電体層を形成した後、再生層が形成される。さらに続いて所定の非磁性層を間に挟んで、情報記録層が形成される。
【００１３】
さらに光ディスク２は、ランドグルーブ記録できるように、ディスク基板の表面にレーザービームのガイド溝を担うグルーブが形成され、さらにこのグルーブが所定周期により蛇行して形成される。光ディスク２は、このグルーブの蛇行が一定の周期になるように回転駆動することにより、図２に示すように、情報記録面が同心円状に１９のゾーンに分割されて、ＺＣＡＶ（Zone Constant Angular Verocity) の条件で回転駆動できるようになされている。
【００１４】
光ディスク２は、これら１９のゾーンのうち、最内周及び最外周のゾーンＺＣがコントロールトラックに割り当てられ、他のゾーンの管理用データが記録される。さらにこのコントロールトラックに続くゾーンＺＯ及びＺＩがレーザービームの光量調整用の試し書き用のゾーンに割り当てられ、残るゾーンＺ１〜Ｚ１５がＡＶデータＤＡＶの記録に割り当てられる。
【００１５】
さらに光ディスク２は、このグルーブの蛇行を基準にした、光ディスク装置１における初期化処理により、所定の周期で同期パターン、アドレスが記録され、これにより所定フォーマットによりセクタ構造が形成される。
【００１６】
スピンドルモータ３は、スピンドル制御回路４の制御によりこの光ディスク２を回転駆動し、スピンドル制御回路４は、ＩＶ変換マトリックス回路７より得られるウォブル信号よりグルーブの蛇行を基準にしてスピンドルモータ３の回転速度を制御し、ＺＣＡＶの条件により光ディスク２を回転駆動する。
【００１７】
光ピックアップ５は、レーザー制御回路６の制御により光ディスク２にレーザービームを照射し、その戻り光を所定の光学系を介して複数の受光素子により受光し、これら受光素子の受光結果を出力する。さらに光ピックアップ５は、ＡＶデータＤＡＶの記録時、所定のクロックを基準にしてレーザービームの光量を間欠的に立ち上げ、これによりいわゆるパルストレインの手法を適用してＡＶデータＤＡＶを高密度記録できるようにする。
【００１８】
さらに光ピックアップ５は、光ディスク２が装填されると、又はこの光ディスク装置１の電源が立ち上げられると、図示しないスレッド機構により光ディスク２のコントロールトラックＺＣをアクセスし、このコントロールトラックＺＣに記録されたデータを再生できるようにする。さらに図示しないシステム制御回路の制御により、このコントロールトラックＺＣに記録された管理用データに従って続いて内周側及び外周側の試し書き用ゾーンＺＩ、ＺＯをアクセスし、これによりこの試し書き用ゾーンＺＩ、ＺＯにて書き込み用レーザー光量、再生用レーザー光量を最適化できるようにする。
【００１９】
また何ら初期化されていない光ディスク２が装填された場合、光ピックアップ５は、グルーブ及びランドに沿って内周側より外周側に光ディスク２をアクセスし、これにより光ディスク２を初期化し得るようにする。
【００２０】
また光ピックアップ５は、光ディスク２が排出される際に、又はこの光ディスク装置１の電源の立ち下げが操作されると、光ディスク２のコントロールトラックＺＣをアクセスし、このコントロールトラックＺＣに記録された管理用データを更新し得るようにする。
【００２１】
ＩＶ変換マトリックス回路７は、光ピックアップ５の各受光素子より出力される受光結果を電流電圧変換する。さらにＩＶ変換マトリックス回路７は、これら電流電圧変換して得られる各受光素子の出力信号を演算処理し、これによりトラッキングエラー量に応じて信号レベルが変化するトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー量に応じて信号レベルが変化するフォーカスエラー信号ＦＥ、戻り光の偏光面に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦ、グルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するウォブル信号等を生成する。
【００２２】
サーボ回路８は、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥを基準にして光ピックアップ５をトラッキング制御、フォーカス制御する。レーザー制御回路６は、再生時においては一定の光量によりレーザービームを出射するように、記録時においては、再生時の光量より書き込み時の光量に間欠的にレーザービーム光量が立ち上がるように、光ピックアップ５を駆動する。これらの制御において、レーザー制御回路６は、これらのレーザービームの光量がディジタルシグナルプロセッサー１２より指定される光量になるように光ピックアップ５を駆動する。
【００２３】
データ処理回路９は、再生時、再生信号ＲＦよりクロックを再生し、このクロックを基準にして再生信号ＲＦを処理することにより、再生信号ＲＦを２値化してなる再生データを生成する。データ処理回路９は、この再生データを復号した後、デインターリーブ処理、誤り訂正処理することにより、ＡＶデータＤＡＶを再生して出力する。また記録時、これとは逆に、ＡＶデータＤＡＶに誤り訂正符号を付加した後、インターリーブ処理、変調処理する。データ処理回路９は、この変調処理結果に基づいて、光ピックアップ５に内蔵の変調コイルを駆動し、これによりＡＶデータＤＡＶを光ディスク２に熱磁気記録する。
【００２４】
さらにデータ処理回路９は、光ディスク２が装填されて、又はこの光ディスク装置１の電源が立ち上げられて、光ピックアップ５が光ディスク２のコントロールトラックＺＣをアクセスすると、このコントロールトラックＺＣより得られる再生信号ＲＦを処理することにより、このコントロールトラックＺＣに記録された管理用データを再生して図示しないシステム制御回路に出力する。またこれに続いて光ピックアップ５が試し書き用ゾーンＺＯ、ＺＩをアクセスすると、所定のテストデータにより変調コイルを駆動し、これによりこのテストデータを光ディスク２に熱磁気記録する。
【００２５】
ここでテストデータは、光ピックアップ５による間欠的なレーザービームの光量立ち上げ周期Ｔに対して、周期２Ｔで変調磁界の極性が反転する第１のパターンと、周期８Ｔで変調磁界の極性が反転する第２のパターンとの組み合わせによりレーザービーム照射位置に変調磁界を印加するように設定される。これによりデータ処理回路９は、光ディスク２の内周側試し書きゾーンＺＩ、外周側試し書きゾーンＺＯとに、それぞれ周期２Ｔに対応する長さのマーク、スペース、周期８Ｔに対応する長さのマーク、スペースを繰り返し形成する。
【００２６】
またこれとは逆に、光ディスク２が排出される際に、又はこの光ディスク装置１の電源の立ち下げられる際に、データ処理回路９は、光ピックアップ５が光ディスク２のコントロールトラックＺＣをアクセスすると、システム制御回路より出力される管理用データにより変調コイルを駆動し、これにより光ディスク２に記録された管理用データを更新する。また光ディスク２の初期化時においては、所定のタイミングで同期パターン、アドレスによるヘッダのデータにより変調コイルを駆動する。
【００２７】
エラー検出ＲＦ検出回路１０は、試し書きゾーンＺＯ、ＺＩより得られる再生信号ＲＦよりクロックを生成し、このクロックを基準にして再生信号ＲＦの信号レベルを検出する。ここで試し書きゾーンＺＯ、ＺＩにおいては、書き込み用のレーザー光量を段階的に切り換えてテストデータが繰り返し記録され、また再生時、再生用のレーザー光量を段階的に切り換えてテストデータが再生される。エラー検出ＲＦ検出回路１０は、各書き込み用のレーザー光量毎に、また各再生用レーザー光量毎に、再生信号ＲＦの信号レベルを検出する。さらにエラー検出ＲＦ検出回路１０は、テストデータにより形成される記録パターン毎に、再生信号ＲＦの信号レベルを検出する。
【００２８】
さらにエラー検出ＲＦ検出回路１０は、このようにして検出した再生信号ＲＦの信号レベルより、内周側の試し書きゾーンＺＩ、外周側の試し書きゾーンＺＯ毎に、最適書き込み用レーザー光量、最適な再生用レーザー光量を検出する。さらにこの検出したレーザー光量の情報をメモリに記録し、これによりパワー換算表１１を形成する。
【００２９】
ここで図３に示すように、磁気超解像技術においては、レーザービームを照射して再生層を局所的に温度上昇させ、所定温度以上に温度上昇した再生層の一部領域を介して再生層の下層に配置された情報記録層よりデータ再生することから、光ディスク２においては、レーザービームの照射によるビームスポットに内側に、情報記録層に記録されたデータを再生可能な読み出し可能領域が形成される（図３（Ａ）〜（Ｃ））。光ディスク２においては、レーザービームの光量を変化させると、矢印により示すように、この読み出し可能領域の大きさが変化することになる。
【００３０】
これにより図４に示すように、周期２Ｔの長さに対応するマーク及びスペースの繰り返しにおいては（図３（Ａ））、所定光量以下の範囲において、レーザービームの光量変化に追従するように再生信号ＲＦ（ＲＦ２Ｔ）の信号レベルが変化するのに対し、このマーク及びスペースの長さに対応する所定光量以上の範囲においては、レーザービームの光量変化に対する再生信号レベルの変化が低下し、ついには飽和特性を示すようになる。また周期８Ｔの長さに対応するマーク及びスペースの繰り返しにおいても（図３（Ｂ））、同様の変化を呈し、周期２Ｔに比してそれぞれマーク及びスペースの長さが長い分、レーザービーム光量の増大した位置にて飽和特性を示すようになる。
【００３１】
これにより図５に示すように、周期２Ｔによる再生信号ＲＦ（ＲＦ２Ｔ）の信号レベルと、周期８Ｔによる再生信号ＲＦ（ＲＦ８Ｔ）の信号レベルとの比をとれば、最適な再生光量を特定可能な特性曲線を作成することができる。この特性曲線により特性される最適再生光量ＰＲ０を中心にして図６に示すように、この最適再生光量ＰＲ０より光量が変化すると、振幅余裕が低下してエラーレートが劣化するとことになる。
【００３２】
これによりエラー検出ＲＦ検出回路１０は、再生信号ＲＦの信号レベル検出結果より最適再生光量ＰＲ０を検出する。エラー検出ＲＦ検出回路１０は、この最適再生光量ＰＲ０に対応する周期８Ｔ及び周期２Ｔにおける再生信号ＲＦ（ＲＦ８Ｔ、ＲＦ２Ｔ）の信号レベル検出結果を最適な再生用レーザー光量の情報としてパワー換算表１１に記録する。さらにディジタルシグナルプロセッサー（ＤＳＰ）１２より、このパワー換算表１１に記録した再生信号ＲＦの信号レベルに対応する再生レーザー光量を取得し、この光量を最適な再生用レーザー光量としてパワー換算表１１に記録する。
【００３３】
また図７に示すように、エラーレートと書き込み用のレーザー光量と関係についても同様の関係が成立することにより、同様にして最適書き込み用レーザー光量ＰＷ０を検出し、この検出した光量ＰＷ０をパワー換算表１１に記録する。
【００３４】
エラー検出ＲＦ検出回路１０は、光ディスク２が装填されて、または光ディスク装置１の電源が立ち上げられて、光ピックアップ５が光ディスク２の試し書きゾーンＺＯ、ＺＩをアクセスする際に、これらの処理を実行し、パワー換算表１１を形成する。
【００３５】
これらの処理により、エラー検出ＲＦ検出回路１０は、それぞれ内周側及び外周側の試し書きゾーンＺＩ及びＺＯについて、図８に示すように、最適再生光量ＰＲ０と対応する再生信号レベルＲＦ０により、再生光量と再生信号ＲＦの信号レベルとの関係を規定し、この関係をパワー換算表１１に記録することになる。また図９に示すように、最適書き込み光量ＰＷ０と最適再生光量ＰＲ０とにより、再生光量と書き込み光量との関係を規定し、この関係をパワー換算表１１に記録することになる。
【００３６】
これに対してエラー検出ＲＦ検出回路１０は、データゾーンＺ１〜Ｚ１５においては、各セクタ毎に、同期パターン、アドレスが記録された領域より再生信号ＲＦの信号レベルを検出し、この検出した信号レベルをパワー換算表１１に記録したデータと共にディジタルシグナルプロセッサー１２に出力する。
【００３７】
ディジタルシグナルプロセッサー１２は、光ピックアップ５が光ディスク２の試し書きゾーンＺＯ、ＺＩをアクセスして試し書きする場合、事前に設定された基準の光量により順次段階的に書き込み用光量を切り換えるように、レーザー制御回路６の動作を制御する。また試し書きしたテストデータを再生する場合、同様に、事前に設定された基準の光量により順次段階的に再生用光量を切り換えるように、レーザー制御回路６の動作を制御する。
【００３８】
これに対してデータゾーンＺ１〜Ｚ１５を再生する場合、エラー検出ＲＦ検出回路１０より通知される再生信号ＲＦの信号レベル検出結果、パワー換算表１１に記録したデータより各セクタ毎に最適再生光量になるようにレーザー制御回路６の動作を制御する。
【００３９】
すなわちディジタルシグナルプロセッサー１２は、図１０に示すように、内周側の試し書きゾーンＺＩより検出された最適再生光量ＰＲ０Ｉ、対応する再生信号ＲＦの信号レベルＲＦ０Ｉ、外周側の試し書きゾーンＺＯより検出された最適再生光量ＰＲ０Ｏ、対応する再生信号ＲＦの信号レベルＲＦ０Ｏを用いた補間演算処理により、アクセスするゾーンにおける最適再生光量ＰＲ０Ｚに対応する再生信号ＲＦの信号レベルＲＦ０Ｚを計算する。
【００４０】
さらにディジタルシグナルプロセッサー１２は、この計算した最適再生光量ＰＲ０Ｚによるレーザービームの照射をレーザー制御回路６に指示し、このレーザービームの照射により同期パターン、アドレスが記録された領域より検出される再生信号ＲＦの信号レベルＲＦＺをエラー検出ＲＦ検出回路１０より取得する。ディジタルシグナルプロセッサー１２は、図１１に示すように、この取得した信号レベルＲＦＺが計算した最適な信号レベルＲＦ０Ｚになるように、同期パターン、アドレスが記録された領域に照射したレーザービーム光量ＰＲ０Ｚを補正してなる光量ＰＲＺ（すなわちＰＲ０Ｚ×ＲＦ０Ｚ／ＲＦＺでなる）を計算し、信号レベルＲＦＺを検出した続くデータ領域においては、この計算した光量ＰＲＺによりレーザービームを照射するように、レーザー制御回路６の動作を制御する。
【００４１】
これに対して書き込み時、ディジタルシグナルプロセッサー１２は、図１２に示すように、同様にして補間演算処理により得られる最適再生光量ＰＲ０Ｚにより同期パターン、アドレスを記録した領域にレーザービームを照射し（図１３（Ａ）及び（Ｂ））、その結果得られる再生信号の信号レベルＲＦＺより、同期パターン、アドレスが記録された領域に照射したレーザービーム光量ＰＲ０Ｚを補正してなる光量ＰＲＺを計算する。
【００４２】
さらにディジタルシグナルプロセッサー１２は、図１３に示すように、内周側試し書きゾーンＺＩの最適再生光量ＰＲ０Ｉ及び最適書き込み光量ＰＷ０Ｉ、外周側試し書きゾーンＺＯの最適再生光量ＰＲ０Ｏ及び最適書き込み光量ＰＷ０Ｏを用いた補間演算処理により、アクセスするゾーンにおける最適再生光量ＰＲ０Ｚに対応する最適書き込み光量ＰＷ０Ｚを計算する。
【００４３】
さらにディジタルシグナルプロセッサー１２は、図１４に示すように、このようにして計算した最適書き込み光量ＰＷ０Ｚ、最適再生光量ＰＲ０Ｚの関係より、レーザービーム光量ＰＲ０Ｚを補正してなる光量ＰＲＺに対応する書き込み光量ＰＷＺ（すなわち検出された再生信号ＲＦの信号レベルＲＦＺにより最適書き込み光量ＰＷ０Ｚを補正した補正値でなる）を計算し、信号レベルＲＦＺを検出した続くデータ領域においては、この計算した書き込み光量ＰＷＺによりレーザービームを照射するように、レーザー制御回路６の動作を制御する。
【００４４】
なおディジタルシグナルプロセッサー１２は、初期化の処理においては、上述のＡＶデータＤＡＶの記録の場合とは逆に、データエリアで検出される再生信号の信号レベルを基準にして最適光量を計算し、この最適光量により続くセクタの同期パターン、アドレスを記録し、光ディスク２にセクタ構造を作成する。
【００４５】
以上の構成において、光ディスク装置１は（図１及び図２）、光ディスク２が装填されると、又は電源が立ち上げられると、光ピックアップ５が光ディスク２の最内周、最外周に形成されたコントロールトラックＺＣをアクセスし、このコントロールトラックＺＣより得られる再生信号ＲＦがデータ処理回路９により処理されて、管理用データが再生される。
【００４６】
さらにこの管理用データに従って、光ピックアップ５が試し書きゾーンＺＩ及びＺＯをアクセスする。このアクセスにおいて、試し書きゾーンＺＩ及びＺＯは、順次光量が段階的に切り換えられて、周期２Ｔによるマーク及びスペース、周期８Ｔによるマーク及びスペースが繰り返されてなるテストデータが記録される。さらにこのテストデータが再生され、再生信号ＲＦの信号レベルがエラー検出ＲＦ検出回路１０により検出される（図３〜図７）。
【００４７】
さらにこの検出結果より、それぞれ内周側及び外周側の試し書きゾーンＺＩ及びＺＯについて、最適書き込み光量ＰＷ０Ｉ、ＰＷ０Ｏ、最適再生光量ＰＲ０Ｉ、ＰＲ０Ｏ、対応する再生信号レベルＲＦ０Ｉ、ＲＦ０Ｏが検出され、これらがパワー換算表１１に記録される（図８及び図９）。これらの処理により光ディスク装置１は、光ディスク２に対する書き込み光量の基準、再生光量の基準が取り込まれ、事前の処理が完了する。
【００４８】
この事前の処理が完了した後、光ディスク２に記録されたＡＶデータＤＡＶを再生する場合、最適再生光量ＰＲ０Ｉ、ＰＲ０Ｏ、対応する再生信号レベルＲＦ０Ｉ、ＲＦ０Ｏを用いた補間演算処理により（図１０）、アクセスするゾーンについての最適再生光量ＰＲ０Ｚ、対応する再生信号レベルＲＦ０Ｚが計算される。さらにこの最適再生光量ＰＲ０Ｚにより各セクタの先頭、同期パターン及びアドレスの記録された領域でレーザービームが照射され、その再生信号レベルＲＦＺがエラー検出ＲＦ検出回路１０により検出される。さらにこの再生信号レベルＲＦＺが最適再生光量ＰＲ０Ｚに対応する再生信号レベルＲＦ０Ｚになるように、最適再生光量ＰＲ０Ｚを補正してなる最適再生光量ＰＲＺが計算され（図１１）、この計算した最適再生光量ＰＲＺにより続くデータエリアにレーザービームが照射される。
【００４９】
これにより光ディスク装置１では、事前に内周側試し書きゾーンＺＩ、外周側試し書きゾーンＺＯにより検出された最適再生光量を基準にして計算された各ゾーンにおける最適再生光量により連続してＡＶデータＤＡＶが再生され、十分なマージンにより高密度記録されたＡＶデータＤＡＶが再生される。またこのとき各セクタの先頭で検出した再生信号ＲＦの信号レベルＲＦＺを用いて計算した再生光量が補正されることにより、光ディスク２の温度変化による最適光量の変化に対応することができる。
【００５０】
これに対してＡＶデータＤＡＶを書き込む場合、同様にして、各セクタの先頭領域より得られる再生信号ＲＦの信号レベルＲＦＺより最適再生光量ＰＲ０Ｚが計算される。またそれぞれ内周側及び外周側の試し書きゾーンＺＩ及びＺＯについての最適書き込み光量ＰＷ０Ｉ、ＰＷ０Ｏ、最適再生光量ＰＲ０Ｉ、ＰＲ０Ｏを用いた補間演算処理により（図１２及び図１３）、アクセスするゾーンについての最適再生光量ＰＲ０Ｚ、対応する最適書き込み光量ＰＷ０Ｚが計算され、これらの関係より再生信号ＲＦの信号レベルＲＦＺより計算した最適再生光量ＰＲ０Ｚに対応する最適書き込み光量ＰＷＺが計算される。これによりこの計算した書き込み光量ＰＷＺにより続くデータエリアにレーザービームが間欠的に照射され、ＡＶデータＤＡＶが熱磁気記録される。
【００５１】
これにより光ディスク装置１においては、連続するＡＶデータＤＡＶの記録を開始した後においては、試し書きの処理を間に挟むことなく、連続してＡＶデータＤＡＶを記録することができる。またこのとき事前の処理により検出した条件により最適書き込み光量により記録することができ、これにより連続するＡＶデータＤＡＶを高密度記録することが可能となる。またこのとき各セクタの先頭で検出した再生信号ＲＦの信号レベルＲＦＺにより最適再生光量を計算し、この再生光量に対応する書き込み光量によりＡＶデータＤＡＶを記録することにより、光ディスク２の温度変化による最適光量の変化に対応することもできる。
【００５２】
かくするにつき、この実施の形態においては、試し書きゾーンＺＩ、ＺＯにおいて検出した最適光量を、各セクタの先頭より検出される再生信号ＲＦの信号レベルにより補正して書き込み用光量を設定することにより、レーザービームの照射による光ディスク２の熱的な情報を再生信号ＲＦの信号レベルにより検出し、この検出結果により最適書き込み光量を設定することになる。これにより試し書きゾーンと実際のデータ記録領域との間の熱的特性の変化を加味して書き込み光量を設定することができ、また熱的特性の経年変化をも加味して書き込み光量を設定することができる。従ってその分、この種の特性により由来するとされている書き込み光量における１〜２〔％〕程度の校正精度の劣化をほぼ０〔％〕に改善することができる。
【００５３】
また光ディスク２の温度変化による校正精度の劣化（従来３〔％〕程度と考えられる）についても、この温度変化により変化する再生信号ＲＦの信号レベルにより補正して書き込み用光量を設定することにより、ほぼ０〔％〕に改善することができる。
【００５４】
以上の構成によれば、内周側の試し書きゾーンＺＩ、外周側の試し書きゾーンＺＯで検出した最適書き込み光量、最適再生光量、対応する再生信号レベルを基準にして、各セクタの先頭で検出される再生信号レベルより書き込み光量を順次設定することにより、途中で試し書きの処理を実行することなく、連続するＡＶデータＤＡＶを途切れることなく高密度記録することができる。
【００５５】
（２）他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、内周側の試し書きゾーンと外周側の試し書きゾーンとで最適書き込み光量、最適再生光量を検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ゾーン毎に試し書き領域を設定し、各ゾーンで最適書き込み光量、最適再生光量を検出してもよい。
【００５６】
また上述の実施の形態においては、再生信号の信号レベルを基準にして試し書きゾーンにおける最適光量を検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、再生信号の過渡応答特性により最適光量を検出する場合等、種々の最適光量検出手法を広く適用することができる。
【００５７】
（３）第３の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、再生信号の信号レベルを基準にしてアクセスする領域毎に最適書き込み光量を計算する場合について述べたが、要は戻り光より得られる種々の情報を基準にしてアクセスする領域毎に最適書き込み光量を計算して上述の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００５８】
そこで本願は、グルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するウォブル信号を基準にして、試し書きして検出した最適書き込み光量より各領域の最適書き込み光量を計算する。すなわちウォブル信号の信号レベルは、再生光量の変化に追従しても変化することにより、ウォブル信号の信号レベルと、最適再生光量、最適書き込み光量との関係によりパワー換算表を形成しても同様に途中で試し書きすることなく連続したデータを高密度記録することができる。なおこの場合、光ディスクの温度特性については補正困難なことにより、校正の精度は上述の実施の形態より劣ることになる。
【００５９】
この場合例えばエンボスピット等により変化する戻り光の光量に応じて信号レベルが変化する再生信号を基準にして、試し書きして検出した最適書き込み光量より各領域の最適書き込み光量を計算してもよい。またグルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するウォブル信号を基準にして、試し書きして検出した最適書き込み光量より各領域の最適書き込み光量を計算してもよい。すなわちこれらの信号レベルは、再生光量の変化に追従しても変化することにより、これらの信号レベルと、最適再生光量、最適書き込み光量との関係によりパワー換算表を形成しても同様に途中で試し書きすることなく連続したデータを高密度記録することができる。なおこの場合、光ディスクの温度特性については補正困難なことにより、校正の精度は上述の実施の形態より劣ることになる。
【００６０】
また上述の実施の形態においては、図９の特性曲線により示したように、最適再生光量と最適書き込み光量とが比例関係にあるものとして処理する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、処理回路等の非線型特性を考慮して処理するようにしてもよい。なおこの場合、最適な光量の前後で検出される再生信号と光量との関係を併せてパワー換算表に記録し、光量算出時、これを参考に例えば２次曲線補間等により最適光量を検出すればよい。
【００６１】
さらに上述の実施の形態においては、再生光量による再生信号の信号レベルを基準にしてデータ領域の書き込み光量を設定する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばパルストレインの手法により記録する場合、記録中でも、エンボスピットの再生信号、ウォブル信号等においては検出できることにより、これらエンボスピットの再生信号、ウォブル信号の信号レベルを基準にして記録中の領域について最適な光量を適宜補正するようにしてもよい。このようにすれば、計算した最適再生光量を書き込み光量に換算する処理を省略して、直接最適書き込み光量を計算することができる。
【００６２】
また上述の実施の形態においては、磁区超解像技術の１つであるＣＡＤにより所望のデータを記録再生する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＦＡＤ、ＲＡＤ等の磁区超解像技術により所望のデータを記録再生する場合、さらには種々の磁区拡大再生手法により所望のデータを記録再生する場合、また一般的な光磁気記録により所望のデータを記録再生する場合に広く適用することができる。因みに一般的な光磁気記録により所望のデータを記録再生する場合、上述のウォブル信号を基準にして最適光量を計算する場合と同様に校正精度を向上することができる。
【００６３】
また上述の実施の形態においては、ＡＶデータを記録再生する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、コンピュータ等の情報機器のデータを記録再生する場合にも広く適用することができる。なおこの場合も、例えばゾーンを跨がって記録する場合に試し書きする必要が無いことにより、その分全体的なデータ転送レートを向することができる。また試し書き領域間においても再生結果により書き込み光量を最適化できることにより、その分校正精度を向上することができ、その分所望のデータを高密度記録することができる。
【００６４】
また上述の実施の形態においては、光磁気ディスクに所望のデータを記録再生する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、相変化型の光ディスクに所望のデータを記録再生すする場合にも広く適用することができる。すなわちこの場合も試し書き領域間においても再生結果により書き込み光量を最適化できることにより、その分校正精度を向上することができ、その分所望のデータを高密度記録することができる。
【００６５】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、最適書き込み光量と、戻り光の受光結果との対応関係を事前に取得し、光ディスクの各領域より得られる戻り光の受光結果に基づいて、この対応関係より各領域における書き込み光量を設定することにより、ビデオデータ等の連続したデータ列を高密度記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】図１の光ディスク装置に適用される光ディスクを示す平面図である。
【図３】図１の光ディスク装置のデータ再生の説明に供する略線図である。
【図４】再生光量と再生信号の信号レベルとの関係を示す特性曲線図である。
【図５】周期２Ｔの再生信号の信号レベルと周期８Ｔの再生信号の信号レベルとの関係を示す特性曲線図である。
【図６】再生光量とエラーレートの関係を示す特性曲線図である。
【図７】書き込み光量とエラーレートの関係を示す特性曲線図である。
【図８】再生信号レベルと再生光量との関係を示す特性曲線図である。
【図９】再生光量と書き込み光量との関係を示す特性曲線図である。
【図１０】各ゾーンにおける最適再生光量と再生信号レベルとの関係算出の処理の説明に供する特性曲線図である。
【図１１】各ゾーンにおける最適再生光量の設定の説明に供する特性曲線図である。
【図１２】セクタ構造を示す略線図である。
【図１３】各ゾーンにおける最適書き込み光量と最適再生光量との関係算出の処理の説明に供する特性曲線図である。
【図１４】各ゾーンにおける最適書き込み光量の設定の説明に供する特性曲線図である。
【符号の説明】
１……光ディスク装置、２……光ディスク、５……光ピックアップ、１０……エラー検出ＲＦ検出回路、１１……パワー換算表、１２……ディジタルシグナルプロセッサー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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