【事件の表示】
　特許第６２４９６１６号発明「レーザ顕微鏡」の特許異議申立事件について，次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第６２４９６１６号の請求項１〜請求項１５に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　事案の概要
　１　手続等の経緯
　特許第６２４９６１６号の請求項１〜請求項１５に係る特許についての出願は，平成２５年３月１９日（優先権主張　平成２４年３月２３日）に出願され，平成２９年１２月１日にその特許権の設定の登録がされたものである（以下，請求項１〜請求項１５に係る特許を，それぞれ「本件特許１」〜「本件特許１５」といい，総称して「本件特許」という。）。
　本件特許について，平成２９年１２月２０日に特許掲載公報が発行されたところ，その発行の日から６月以内である平成３０年６月２０日に，特許異議申立人　カール　ツァイス　マイクロスコピー　ゲーエムベーハー（以下「特許異議申立人」という。）から，本件特許に対して特許異議の申立てがされた。
　その後の手続等の経緯は以下のとおりである。
平成３０年１１月２０日付け：取消理由通知書
平成３１年　１月２１日付け：意見書（特許権者）
平成３１年　４月　３日付け：（特許異議申立人に対し）審尋
令和　元年　７月　３日付け：回答書（特許異議申立人）
　
　２　本件特許発明
　本件特許の請求項１〜請求項１５に係る発明（以下，それぞれ「本件特許発明１」〜「本件特許発明１５」という。）は，本件特許の特許請求の範囲の請求項１〜請求項１５に記載された事項によって特定されるとおりの，以下のものである。
「【請求項１】
　レーザ光源から発せられたレーザ光を標本に照射する対物レンズと，
　該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置されて前記レーザ光源により発せられたレーザ光の位相を変調する位相変調型空間光変調器を有する刺激光学系と，
　前記レーザ光源により発せられたレーザ光を前記標本上で観察用照明光として走査させる走査部と前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を検出する検出部とを有する観察光学系と，
　該観察光学系が光軸方向に異なる観察面の観察画像を取得することにより前記標本の３次元的な画像を構築する画像構築部と，
　該画像構築部により構築された３次元的な画像上において，前記刺激光学系により前記レーザ光を刺激光として照射する前記標本の刺激箇所を光軸方向に異なる複数個所に設定する位置設定部と，
　前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部とを備え，
　前記位置設定部により設定された各刺激箇所に前記レーザ光が照射されるように前記空間光変調器が前記レーザ光の変調動作を行い，
　前記強度設定部が，前記レーザ光が照射される照射位置の深さに関わらず一定の強度で前記標本を刺激するように，前記レーザ光の強度を調節するレーザ顕微鏡。
【請求項２】
　前記刺激光学系により照射される前記レーザ光の前記標本における照射パターンを前記位置設定部に設定される所期の照射パターンに略一致させるように，前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御する相関補正部を備える請求項１に記載のレーザ顕微鏡。
【請求項３】
　レーザ光源から発せられたレーザ光を標本に照射する対物レンズと，
　該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置されて前記レーザ光源により発せられたレーザ光の位相を変調する位相変調型空間光変調器を有する刺激光学系と，
　前記レーザ光源により発せられたレーザ光を前記標本上で観察用照明光として走査させる走査部と前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を検出する検出部とを有する観察光学系と，
　該観察光学系が光軸方向に異なる観察面の観察画像を取得することにより前記標本の３次元的な画像を構築する画像構築部と，
　該画像構築部により構築された３次元的な画像上において，前記刺激光学系により前記レーザ光を刺激光として照射する前記標本の刺激箇所を光軸方向に異なる複数個所に設定する位置設定部と，
　前記刺激光学系により照射される前記レーザ光の前記標本における照射パターンを前記位置設定部に設定される所期の照射パターンに略一致させるように，前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御する相関補正部と，
　前記刺激箇所ごとに刺激する強度と時間をユーザに入力させる入力部と，
　前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部とを備え，
　前記位置設定部により設定された各刺激箇所に前記レーザ光が照射されるように前記空間光変調器が前記レーザ光の変調動作を行い，
　各前記刺激箇所に対して前記入力部により入力された前記強度と前記時間で前記レーザ光が照射されるように，前記刺激箇所ごとに入力された前記強度と前記時間に応じて，前記強度設定部が前記レーザ光源の出力を制御するとともに前記相関補正部により前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御するレーザ顕微鏡。
【請求項４】
　前記観察光学系またはこれと別に設けられた標本画像取得部が，前記空間光変調器により生成される規定の照射パターンで前記レーザ光が照射された前記標本の観察画像を取得し，
　前記相関補正部が，前記標本へ照射した規定の照射パターンと前記取得された観察画像における前記照射パターンとの差分を相殺するように，前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御する請求項２または請求項３に記載のレーザ顕微鏡。
【請求項５】
　前記相関補正部が，前記刺激光学系により照射するレーザ光の前記標本における深さ位置と前記観察光学系によりレーザ光が照射されて取得された前記標本の前記３次元的な画像上の深さ位置とを対応付ける請求項２から請求項４のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
【請求項６】
　前記相関補正部が，前記レーザ光の波長ごとに，前記刺激光学系により照射される前記標本における深さ位置と前記観察光学系によりレーザ光が照射されて得られる前記標本の前記３次元的な画像上の深さ位置とを対応付ける相関テーブルを有し，該相関テーブルに基づいて前記レーザ光の波長ごとに前記空間光変調器による位相の変調を制御する請求項２から請求項５のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
【請求項７】
　前記対物レンズ，該対物レンズと前記空間光変調器との間に配置される光学系の収差，および／または，前記標本の屈折率ミスマッチによる影響を補正するように，前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御する収差補正部を備える請求項１から請求項６のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
【請求項８】
　前記空間光変調器が配置される前記刺激光学系の刺激光路と前記走査部が配置される前記観察光学系の観察光路とが別個に設けられ，
　これらの刺激光路と観察光路とを合成して，前記刺激光学系のレーザ光と前記観察光学系のレーザ光とを共通の前記対物レンズに入射させる光路合成部を備える請求項１から請求項７のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
【請求項９】
　前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を撮影して該標本の２次元画像を取得する標本画像取得部を備える請求項１から請求項８のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
【請求項１０】
　前記強度設定部が，前記標本において照射された前記レーザ光が減光する減光関数を記憶する記憶部と，該記憶部に記憶されている前記減光関数に基づいて前記レーザ光源の出力を調節する出力調節部とを備える請求項１に記載のレーザ顕微鏡。
【請求項１１】
　前記強度設定部が，前記標本の深さに対する前記レーザ光の散乱率および吸収率に関するテーブルを記憶する記憶部と，該記憶部に記憶されている前記テーブルに基づいて前記レーザ光源の出力を調節する出力調節部とを備える請求項１に記載のレーザ顕微鏡。
【請求項１２】
　前記レーザ光源が赤外パルスレーザである請求項１から請求項１１のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
【請求項１３】
　レーザ光源から発せられたレーザ光を標本に照射する対物レンズと，
　該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置されて前記レーザ光源により発せられたレーザ光の位相を変調する位相変調型空間光変調器が配置された刺激光路を有する刺激光学系と，
　前記レーザ光源により発せられたレーザ光を前記標本上で観察用照明光として走査させる走査部が配置された観察光路と前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を共焦点ピンホールを介して検出する検出部とを有する観察光学系と，
　前記刺激光路と前記観察光路とを合成して，前記刺激光学系のレーザ光と前記観察光学系のレーザ光とを共通の前記対物レンズに入射させる光路合成部と，
　該観察光学系が光軸方向に異なる観察面の観察画像を取得することにより前記標本の３次元的な画像を構築する画像構築部と，
　該画像構築部により構築された３次元的な画像上において，前記刺激光学系により前記レーザ光を刺激光として照射する前記標本の刺激箇所を光軸方向に異なる複数個所に設定する位置設定部と，
　前記刺激光学系により照射される前記レーザ光の前記標本における照射パターンを前記位置設定部に設定される所期の照射パターンに略一致させるように，前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御する相関補正部とを備え，
　前記位置設定部により設定された各刺激箇所に前記レーザ光が照射されるように前記空間光変調器が前記レーザ光の変調動作を行い，
　前記空間光変調器により生成される規定の照射パターンで前記レーザ光が照射された前記標本からの光を，前記観察光学系が前記走査部を作動させて前記検出部により前記共焦点ピンホールを介して検出することにより，前記規定の照射パターンが照射された標本の観察画像を取得し，
　前記相関補正部が，前記標本へ照射した規定の照射パターンと前記取得された観察画像における前記照射パターンとの差分を相殺するように，前記空間光変調器による前記レーザ光の位相の変調を制御するレーザ顕微鏡。
【請求項１４】
　前記刺激光学系が，前記レーザ光を前記標本上で刺激光として走査させる刺激光走査部を前記刺激光路上に備える請求項１３に記載のレーザ顕微鏡。
【請求項１５】
　観察用照明光としての前記レーザ光を出力する第１のレーザ光源と，
　刺激光としての前記レーザ光を出力する第２のレーザ光源とを備える請求項１から請求項１４のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。」
　
　３　取消しの理由の概要
　平成３０年１１月２０日付け取消理由通知書において通知した取消しの理由は，概略，本件特許発明１〜５及び９〜１２は，本件特許の優先権主張の日（以下「本件優先日」という。）前に日本国内又は外国において頒布された刊行物である甲６に記載された発明，並びに，甲２，甲７及び甲８に記載された技術に基づいて，本件優先日前にその発明の属する技術の分野の通常の知識を有する者（以下「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから，本件特許１〜５及び９〜１２は，特許法２９条２項の規定に違反してされたものである，というものである。
甲２：F Helmchen 他１名，「Deep tissue two-photon microscopy」，NATURE METHODS，Nature Publishing Group，２００５年１２月，VOL.2 NO.12，９３２〜９４０頁
甲６：特開２０１１−１２８５７２号公報
甲７：特開２０１１−９９９８６号公報
甲８：特開２０１１−６４８９２号公報
　
　４　特許異議申立人が提出した証拠
　特許異議申立人は，前記３で述べた証拠に加えて，以下の証拠も提出している。
甲１：V Nikolenko 他５名，「SLM microscopy: scanless two-photon imaging and photostimulation with spatial light modulators」，Frontiers in Neural Circuits，Frontiers，２００８年１２月１９日，Volume 2 Article 5，１〜１４頁
甲３：独国特許出願公開第１０２００４０３４９９８号明細書
甲４：米国特許出願公開第２００６／００１２８７４号明細書
甲５：M D Maschio 他５名，「Simultaneous two-photon imaging and photo-stimulation with structured light illumination」，OPTICS EXPRESS，OSA Publishing，２０１０年８月３０日，Vol.18 No.18，１８７２０〜１８７３１頁
甲９：特表２０１２−５０３７９８号公報
甲１０：国際公開第２０１０／０３６９７２号
　
第２　取消しの理由についての判断
　１　甲号証の記載及び甲号証記載の発明
　(1) 甲６の記載
　取消しの理由において引用され，本件優先日前に頒布された刊行物である甲６には，以下の事項が記載されている。なお，下線は当合議体が付したものであり，引用発明の認定や判断等に活用した箇所を示す。
　ア　「【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は，ホログラム像投影方法およびホログラム像投影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
　従来，標本上の複数箇所に同時に光を照射するために，ホログラムを利用することが知られている（例えば，非特許文献１参照。）。
　この方法においては，蛍光顕微鏡等によって標本の蛍光画像を取得し，取得した蛍光画像内において光刺激等をすべき複数の注目部位を特定することにより刺激光の照射パターンを生成し，当該照射パターンをフーリエ変換することによりホログラムの位相パターンを作成することとしている。そして，作成した位相パターンを波面変調素子に付与し，この波面変調素子に対して光源から導いてきた略平行光からなるレーザ光を入射させることにより，レーザ光を変調し，変調されたレーザ光を対物レンズによって集光している。このようにして，ホログラム像を標本に投影し，複数箇所同時に刺激光を集光させるようになっている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】Volodymyr Nikolenko et al, SLM microscopy: scanless two-photon imaging and photostimulation with spatial light modulators, Frontiers in Neural Circuits, Vol 2, Article 5, 19 December 2008，p1-15」
　
　イ　「【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
　しかしながら，従来の方法においては，対物レンズの焦点面に存在する複数の注目部位に対しては同時に光を集光させることができるものの，焦点面から光軸方向にずれた位置に配置されている注目部位には集光させることができないという不都合がある。
【０００５】
　本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって，標本内の深さ方向に異なる位置に配置されている注目部位に同時に光を集光させることができるホログラム像投影方法およびホログラム像投影装置を提供することを目的としている。
…(省略)…
【発明を実施するための形態】
【００２２】
　本発明の第１の実施形態に係るホログラム像投影装置およびホログラム像投影方法について，図１および図２を参照して以下に説明する。
　本実施形態に係るホログラム像投影装置１は，
顕微鏡システムであって，
光源装置２と，
顕微鏡装置３と，
調節装置４
を備え
（当合議体注：図１は以下の図である。）
　
　ウ　「【００２３】
　
光源装置２は，
レーザ光源５と，
コリメータレンズ６と，
波面変調部７と，リレーレンズ８，１０と，
スキャナ９
を備え
　
波面変調部７は，
プリズム１１と，
反射型の波面変調素子１２
を備え
【００２４】
　プリズム１１により反射されたレーザ光は波面変調素子１２によって同じプリズム１１に戻るように光路が折り返され，レーザ光源５からのレーザ光と同軸の光路に戻されるようになっている。
　波面変調素子１２は，後述する調節装置４によって，その表面形状を任意に変化させることができるセグメントタイプのＭＥＭＳミラーによって構成されている。この場合，ＭＥＭＳミラーの各セグメントの凹凸により形成される表面形状が，レーザ光の波面を変調するための位相パターンとなる。
波面変調素子１２と対物レンズ１３の入射瞳位置とは，光学的に共役な位置関係に配置され
【００２５】
　スキャナ９は，相互に交差する方向に配置された軸線回りに揺動可能な２枚のガルバノミラー９ａ，９ｂを近接して配置した，いわゆる近接ガルバノミラーであり，入射されるレーザ光を２次元的に走査することができるようになっている。
【００２６】
　
顕微鏡装置３は，
対物レンズ１３と，
光検出器１５と，
カメラ１６と，
ミラー１７
を備え
【００２７】
　
波面変調素子１２における表面形状を平坦な反射面形状に設定してお
　
ミラー１７を光検出器１５側
に切り替えた状態で，レーザ光源５からレーザ光を出射させ，スキャナ９を駆動して，標本Ａ内の焦点面に集光しているレーザ光を２次元的に走査させつつ，各集光位置において発生した蛍光を光検出器１５によって検出することにより，対物レンズ１３の焦点面に沿って広がる標本Ａの２次元的な蛍光像を取得することができ
【００２８】
　そして，
対物レンズ１３とステージ１４との距離を相対的に移動させて，対物レンズ１３の焦点面の位置を変化させながら２次元的な蛍光像
を複数取得していくことにより，標本Ａの３次元的な蛍光像を取得することができ
【００２９】
　
調節装置４は，
記憶部２２と，
入力部
２３と，
波面算出部２４と，
波面合成部２５と，
位相パターン設定部２６とを備え
【００３０】
　
入力部２３は，観察者が
集光点をモニタ
上において指定することにより，各集光点の３次元的な位置情報を設定するようになって
　また，標本Ａにおける集光点は，任意の位置に設定される場合と，光刺激に応答する位置に設定される場合とがある。集光点を光刺激に応答する位置に設定したい場合には，観察者が集光点を指定しやすいように，
モニタ
が顕微鏡装置３により取得された
３次元画像を表示し
【００３１】
　
波面算出部２４は，
　具体的には，
集光点について設定された位置情報によって特定される位置に点光源を仮定し，
レーザ光の逆光線追跡を行うことにより波面を算出
　波面合成部２５は，全ての集光点について算出された波面を合成するようになっている。本実施形態では，波面合成部２５は，全ての集光点について算出された波面の線形和を算出するようになっている。
【００３２】
　位相パターン設定部２６は，対物レンズ１３の入射瞳位置において得られた合成波面に基づいて，波面変調素子１２に付与すべき位相パターンを設定し，波面変調素子１２に出力するようになっている。ここで，波面変調素子１２は，対物レンズ１３の入射瞳と共役な関係にあるため，波面変調素子１２に付与される位相パターンは，対物レンズ１３の入射瞳位置における合成波面と同一か又は位相ラッピング処理したものとなっている。位相ラッピング処理は，波面変調素子１２における位相変調の範囲が２ｎπ（ｎは整数）に設定されている場合に，対物レンズ１３の入射瞳位置における合成波面のうち２ｎπを超える位相差を有する部分について，その位相差から２ｎπを差し引くことにより行われる。本実施形態におけるセグメントタイプのＭＥＭＳミラーでは，通常は位相変調の範囲が２ｎπの範囲に設定されているので，必要に応じて位相ラッピング処理が行われる。
【００３３】
　このようにして，波面変調素子１２が，入力された位相パターンに合わせた表面形状となるように調節される。これにより，波面変調素子１２において反射されたレーザ光は，波面変調素子１２の表面において対物レンズ１３の入射瞳位置において得られた合成波面と同一の波面を有するように変調される。したがって，そのようなレーザ光が対物レンズ１３によって集光されることにより，対物レンズ１３を固定したままの状態で，設定された各集光点に同時に集光されるようになっている。」
　
　エ　「【００３４】
　このように構成された本実施形態に係るホログラム像投影装置１を用いて標本Ａ内の深さの異なる複数の位置に同時にレーザ光を集光させるようなホログラム像を投影するホログラム像投影方法について説明する。
　まず，図２に示されるように，入力部２３において，各集光点の位置情報が設定される（ステップＳ１）。」
（当合議体注：図２は以下の図である。）
　
　オ　「【００３５】
　ここで，集光点が標本Ａにおいて光刺激に応答する位置に設定される場合には，調節装置４からの出力によって，波面変調素子１２を平坦な反射面形状となる位相パターンに設定する。顕微鏡装置３においては，光路上からミラー１７を退避させておく。そして，レーザ光源５からレーザ光を発生させ，スキャナ９によってレーザ光を２次元的に走査する。
【００３６】
　レーザ光源５から発せられたレーザ光は波面を変化させることなく光路を伝播されて，スキャナ９によって２次元的に走査された後，ダイクロイックミラー２１によって反射されて対物レンズ１３に入射され標本Ａ内の焦点面に集光される。レーザ光の集光位置においては蛍光が発生し，発生した蛍光は対物レンズ１３によって受光され，ダイクロイックミラー２１を透過して集光レンズ１８，１９により集光され，光検出器１５によって検出される。
【００３７】
　
蛍光は対物レンズ１３の焦点面近傍の極めて薄い領域のみにおいて発生する
【００３８】
　観察者は，図示しないモニタに表示された３次元的な蛍光画像において，レーザ光を集光させたい集光点の位置を指定する。例えば，標本Ａが神経細胞であって，レーザ光による刺激を与えて挙動の観察を行う場合において，刺激を与えたい集光点は３次元的に分布している。この場合，観察者は，全ての集光点を指定することにより，集光点の３次元的な位置情報を設定する。
【００３９】
　標本Ａに対して対物レンズ１３を固定することにより，対物レンズ１３の焦点面が標本Ａに対して固定される。集光点の位置情報のうち，深さ情報については，標本Ａの所定の深さの面を基準面としたときの該基準面からの深さ方向の相対的な距離を設定する。この基準面は，例えば，対物レンズ１３の焦点面に設定される。
　その一方で，集光点が標本Ａにおける任意の位置に設定される場合には，このような３次元的な蛍光画像の取得は必要ない。
【００４０】
　次に，波面算出部２４においては，入力部２３により設定された位置情報，記憶部２２に記憶されている対物レンズ１３の全系の特性データおよび標本Ａの屈折率を用いて，逆光線追跡が行われ，各集光点に仮定された点光源から発生したレーザ光の対物レンズ１３の入射瞳位置における波面が算出される（ステップＳ２）。
【００４１】
　全ての集光点について対物レンズ１３の入射瞳位置における波面が算出されると，波面合成部２５によって波面の線形和が算出され，合成波面が生成される（ステップＳ３）。生成された合成波面は，位相パターン設定部２６に入力されて，波面変調素子１２に付与する位相パターンが対物レンズ１３の入射瞳位置における合成波面と同一か又は位相ラッピング処理したパターンとなるように設定される（ステップＳ４）。そして，
位相パターン設定部２６により設定された位相パターン
波面変調素子１２に対して出力され
　これにより，標本Ａに対して光刺激を行いながら観察するための準備が完了する。
【００４２】
　この状態で，顕微鏡装置３においては，
ミラー１７を光路上に挿入し
，スキャナ９を原点位置に停止した状態で，レーザ光源５から発せられたレーザ光を波面変調部７に入射させると，
波面変調素子１２
に表示されている位相パターンに従ってレーザ光の波面が変調され
【００４３】
　対物レンズ１３の入射瞳位置は波面変調素子１２と光学的に共役な位置に配置されているので，入射瞳位置に入射されるレーザ光は，波面変調素子１２により変調された時点における波面と同じ波面を有している。
　そして，このような
レーザ光が対物レンズ１３によって集光されることにより，深さ方向に異なる位置に配置されている複数の集光点に同時に集光させるような３次元的なホログラム像を標本Ａ内に投影
【００４４】
　指定された複数の集光点に同時にレーザ光が照射されることにより，標本Ａに刺激が与えられた状態で，標本Ａから発せられる蛍光が対物レンズ１３によって受光され，ダイクロイックミラー２１を透過して，ミラー１７により反射され，集光レンズ２０によって集光されて
カメラ１６により撮影され
，光刺激を与えたときの標本Ａの蛍光画像を取得することができる
【００４５】
　このように，本実施形態に係るホログラム像投影装置１およびホログラム像投影方法によれば，標本Ａの深さ方向に異なる位置に配置される複数の注目部位に，同時にレーザ光を集光させることができる。この結果，集光点が標本Ａにおいて光刺激に応答する位置に設定されている場合には，光刺激直後に発生する標本Ａの挙動を時間差なく正確に観察することができるという利点がある。」
　
　カ　「【００４６】
　なお，本実施形態においては，波面合成部２５における波面の合成は，波面の線形和を算出することによって行われていたが，これに代えて，各集光点について算出された複数の波面を領域分割したものを集光点の総数の逆数の割合で配列することにより行うこととしてもよい。
【００４７】
　具体的には，集光点の総数がｎ個の場合，各集光点について算出した波面の線形和を算出せずに，波長変調素子１２上の領域を分割し，分割された各領域に対して複数の集光点のいずれかを対応付ける。このとき，各集光点の対応領域が集光点の総数ｎの逆数の割合で周期的に分布するように，対応付けを行うことが好ましい。また，各集光点の対応領域の分布は，モザイク状であってもよいし，同心円状であってもよい。このような対応付けをした上で，予め算出された各集光点からの波面のうち，波長変調素子１２上での対応領域と重なる部分の波面要素を抽出し，抽出された波面要素を全領域にわたって配列して波面を合成する。このようにして得られた合成波面に基づいて，波長変調素子１２に付与する位相パターンが設定される。」
　
　キ　「【００４９】
　第１の実施形態においては，設定された各集光点から対物レンズ１３の入射瞳位置まで逆光線追跡を行うことにより波面を生成することとしたが，本実施形態においては，これに代えて，各集光点から所定の基準面まで順光線追跡を行ってスポット像を求め，これを変換することにより波面を生成することとしている。
【００５０】
　本実施形態に係るホログラム像投影装置１００は，図３に示されるように，調節装置４の構成が，第１の実施形態とは異なる。すなわち，調節装置４は，対物レンズ１３の全系の特性データおよび標本Ａの屈折率を記憶する記憶部２２と，標本Ａにおけるレーザ光の集光点の３次元位置情報を設定する入力部（位置情報設定部）２３と，入力部２３により設定された各集光点の位置情報，記憶部２２に記憶されている対物レンズ１３の全系の特性データおよび標本Ａの屈折率に基づいて，各集光点を所定の基準面に投影した仮想像を生成する仮想像生成部２７と，生成された仮想像をフーリエ変換して対物レンズ１３の入射瞳位置における波面を算出する波面算出部２８と，該波面算出部２８により算出された波面に基づいて波面変調素子１２に付与する位相パターンを設定する位相パターン設定部２６とを備えている。
　ここで，波面算出部２８は，記憶部２２に記憶されている対物レンズ１３の全系の特性データおよび標本Ａの屈折率を用いて，仮想像生成部２７により生成された仮想像をフーリエ変換している。」
　
　ク　「【００６０】
　また，上記第１および第２の実施形態においては，波面変調素子１２として，その表面形状を変化させるセグメントタイプのＭＥＭＳミラーを例示したが，これに代えて，他の任意の波面変調素子１２，例えば，液晶素子，デフォーマブルミラー等でもよい。液晶素子の場合は，液晶分子の配向による屈折率の分布が位相パターンとなり，デフォーマブルミラーの場合は，その表面形状が位相パターンとなる。」
　
　(2) 甲６号証記載の発明
　甲６には，【図１】及びその説明（【００２２】〜【００３３】）に記載された装置によって，【図２】及びその説明（【００３４】〜【００４５】）に記載された測定を行うことができる「第１の実施形態」として，次の発明が記載されている（以下「甲６発明」という。）。
「　光源装置２と，顕微鏡装置３と，調節装置４を備えた顕微鏡システムであって，
　光源装置２は，レーザ光源５と，コリメータレンズ６と，波面変調部７と，リレーレンズ８，１０と，スキャナ９を備え，波面変調部７は，プリズム１１と，反射型の波面変調素子１２を備え，波面変調素子１２と対物レンズ１３の入射瞳位置とは，光学的に共役な位置関係に配置され，
　顕微鏡装置３は，対物レンズ１３と，光検出器１５と，カメラ１６と，ミラー１７を備え，
　波面変調素子１２における表面形状を平坦な反射面形状に設定しておき，ミラー１７を光検出器１５側に切り替えた状態で，レーザ光源５からレーザ光を出射させ，スキャナ９を駆動して，標本Ａ内の焦点面に集光しているレーザ光を２次元的に走査させつつ，各集光位置において発生した蛍光を光検出器１５によって検出することにより，対物レンズ１３の焦点面に沿って広がる標本Ａの２次元的な蛍光像を取得することができ，対物レンズ１３とステージ１４との距離を相対的に移動させて，対物レンズ１３の焦点面の位置を変化させながら２次元的な蛍光像を複数取得していくことにより，標本Ａの３次元的な蛍光像を取得することができ，
　調節装置４は，記憶部２２と，入力部２３と，波面算出部２４と，波面合成部２５と，位相パターン設定部２６を備え，入力部２３は，モニタが顕微鏡装置３により取得された３次元画像を表示し，観察者が集光点をモニタ上において指定することにより，各集光点の３次元的な位置情報を設定するようになっており，波面算出部２４は，集光点について設定された位置情報によって特定される位置に点光源を仮定し，レーザ光の逆光線追跡を行うことにより波面を算出し，
　位相パターン設定部２６により設定された位相パターンが波面変調素子１２に対して出力され，ミラー１７を光路上に挿入し，スキャナ９を原点位置に停止した状態で，レーザ光源５から発せられたレーザ光を波面変調部７に入射させると，波面変調素子１２に表示されている位相パターンに従ってレーザ光の波面が変調され，レーザ光が対物レンズ１３によって集光されることにより，深さ方向に異なる位置に配置されている複数の集光点に同時に集光させるような３次元的なホログラム像を標本Ａ内に投影して，カメラ１６により撮影され，光刺激を与えたときの標本Ａの蛍光画像を取得することができる，
　顕微鏡システム。」
　
　(3) 甲８の記載
　取消しの理由において引用され，本件優先日前に頒布された刊行物である甲８には，以下の事項が記載されている。なお，下線は当合議体が付したものであり，判断等に活用した箇所を示す。
　ア　「【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
　本発明は，空間光変調装置の技術に関し，特に，レーザ光源とともに用いられる空間光変調装置の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
　従来から，パターン刺激装置などの顕微鏡や，レーザリペア装置，露光機などでは，光の空間的分布及び強度（以降，パターンと記す。）を任意に制御し，所望のパターンの光を対象物に照射する技術が必要とされている。そして，このような技術を実現するために空間光変調器（ＳＬＭ：Spatial Light Modulator）が広く利用されている。」
　
　イ　「【００８５】
　図８Ａは，実施例２に係る空間光変調装置が適用された，レーザ顕微鏡の構成を例示する概略図である。」
（当合議体注：図８Ａは以下の図である。）
　
　ウ　「【００９０】
　
レーザ顕微鏡５８では，観察ユニットにより取得されモニタ６７に表示される標本６０の拡大画像に基づいて，操作盤６８からレーザ光で刺激する範囲，期間，強度などが入力されることにより，標本６０に照射すべき刺激パターンが指示される。
ＤＭＤドライバ７８が指示された範囲に合わせてＤＭＤ７５の空間光変調器領域８２を駆動させ
その後，レーザドライバ７０が指示された強度に合わせてレーザコンバイナモジュール６９の出力を調整
　
　２　対比及び判断
　(1) 対比
　本件特許発明１と甲６発明を対比すると，以下のとおりとなる。
　ア　刺激光学系
　甲６発明は，「光源装置２と，顕微鏡装置３と，調節装置４を備えた顕微鏡システムであって」，「光源装置２は，レーザ光源５と，コリメータレンズ６と，波面変調部７と，リレーレンズ８，１０と，スキャナ９を備え」，「波面変調部７は，プリズム１１と，反射型の波面変調素子１２を備え」，「波面変調素子１２と対物レンズ１３の入射瞳位置とは，光学的に共役な位置関係に配置され」，「顕微鏡装置３は，対物レンズ１３と，光検出器１５と，カメラ１６と，ミラー１７を備え」，「調節装置４は，記憶部２２と，入力部２３と，波面算出部２４と，波面合成部２５と，位相パターン設定部２６を備え」，「位相パターン設定部２６により設定された位相パターンが波面変調素子１２に対して出力され」，「ミラー１７を光路上に挿入し，スキャナ９を原点位置に停止した状態で，レーザ光源５から発せられたレーザ光を波面変調部７に入射させると，波面変調素子１２に表示されている位相パターンに従ってレーザ光の波面が変調され，レーザ光が対物レンズ１３によって集光されることにより，深さ方向に異なる位置に配置されている複数の集光点に同時に集光させるような３次元的なホログラム像を標本Ａ内に投影して，カメラ１６により撮影され，光刺激を与えたときの標本Ａの蛍光画像を取得することができる」，「顕微鏡システム」である。
　上記の構成からみて，甲６発明の「レーザ光源５」，「標本Ａ」，「対物レンズ１３」及び「位相パターンに従ってレーザ光の波面」を「変調」する「波面変調素子１２」は，それぞれ本件特許発明１の「レーザ光源」，「標本」，「対物レンズ」及び「位相変調型空間光変調器」に相当する。また，甲６発明の「対物レンズ１３」は，本件特許発明１の「対物レンズ」における，「レーザ光源から発せられたレーザ光を標本に照射する」という構成を具備する。さらに，甲６発明の「波面変調素子１２」は，本件特許発明１の「位相変調型空間光変調器」における，「該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置されて前記レーザ光源により発せられたレーザ光の位相を変調する」という構成を具備する。
　加えて，甲６発明の「顕微鏡システム」は，「位相パターン設定部２６により設定された位相パターンが波面変調素子１２に対して出力され」，「ミラー１７を光路上に挿入し，スキャナ９を原点位置に停止した状態」において，本件特許発明１の，「該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置されて前記レーザ光源により発せられたレーザ光の位相を変調する位相変調型空間光変調器を有する刺激光学系」に相当する光学系を具備する。
　
　イ　観察光学系
　上記アで述べた構成に加えて，甲６発明の「顕微鏡システム」は，「波面変調素子１２における表面形状を平坦な反射面形状に設定しておき，ミラー１７を光検出器１５側に切り替えた状態で，レーザ光源５からレーザ光を出射させ，スキャナ９を駆動して，標本Ａ内の焦点面に集光しているレーザ光を２次元的に走査させつつ，各集光位置において発生した蛍光を光検出器１５によって検出することにより，対物レンズ１３の焦点面に沿って広がる標本Ａの２次元的な蛍光像を取得することができ」る。
　上記の構成からみて，甲６発明の「スキャナ９」，「標本Ａ内の焦点面に集光しているレーザ光」，「各集光位置において発生した蛍光」及び「光検出器１５」は，それぞれ本件特許発明１の「走査部」，「観察用照明光」，「前記標本からの観察光」及び「検出部」に相当する。また，甲６発明の上記構成からみて，甲６発明の「スキャナ９」は，本件特許発明１の「走査部」における，「前記レーザ光源により発せられたレーザ光を前記標本上で観察用照明光として走査させる」という構成を具備する。さらに，甲６発明の「光検出器１５」は，本件特許発明１の「検出部」における，「前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を検出する」という構成を具備する。
　加えて，甲６発明の「顕微鏡システム」は，「波面変調素子１２における表面形状を平坦な反射面形状に設定しておき，ミラー１７を光検出器１５側に切り替えた状態」において，本件特許発明１の「前記レーザ光源により発せられたレーザ光を前記標本上で観察用照明光として走査させる走査部と前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を検出する検出部とを有する観察光学系」に相当する光学系を具備する。
　
　ウ　画像構築部
　甲６発明の「顕微鏡システム」は，上記イで述べた状態において，「対物レンズ１３とステージ１４との距離を相対的に移動させて，対物レンズ１３の焦点面の位置を変化させながら２次元的な蛍光像を複数取得していくことにより，標本Ａの３次元的な蛍光像を取得することができ」る。
　そうしてみると，甲６発明の「２次元的な蛍光像」及び「標本Ａの３次元的な蛍光像」は，それぞれ本件特許発明１の「観察面の観察画像」及び「前記標本の３次元的な画像」に相当する。また，甲６発明の「顕微鏡システム」は，本件特許発明１の「該観察光学系が光軸方向に異なる観察面の観察画像を取得することにより前記標本の３次元的な画像を構築する画像構築部」に相当する構成を具備する。
　
　エ　位置設定部，変調動作
　上記ウで述べた構成に加えて，甲６発明の「顕微鏡システム」は，「モニタが顕微鏡装置３により取得された３次元画像を表示し，観察者が集光点をモニタ上において指定することにより，各集光点の３次元的な位置情報を設定する」，「入力部２３」を具備する。そして，甲６発明の「顕微鏡システム」は，上記アで述べた状態において，「波面変調素子１２に表示されている位相パターンに従ってレーザ光の波面が変調され」，「深さ方向に異なる位置に配置されている複数の集光点に同時に集光させるような３次元的なホログラム像を標本Ａ内に投影」する。
　上記の構成からみて，甲６発明の「入力部２３」は，本件特許発明１の「位置設定部」に相当する。また，甲６発明の「入力部２３」は，本件特許発明１の「位置設定部」における，「該画像構築部により構築された３次元的な画像上において，前記刺激光学系により前記レーザ光を刺激光として照射する前記標本の刺激箇所を光軸方向に異なる複数個所に設定する」という構成を具備する。さらに，甲６発明の「顕微鏡システム」は，本件特許発明１の「レーザ顕微鏡」における，「前記位置設定部により設定された各刺激箇所に前記レーザ光が照射されるように前記空間光変調器が前記レーザ光の変調動作を行い」という構成を具備する。
　
　オ　レーザ顕微鏡
　以上ア〜エからみて，甲６発明の「顕微鏡システム」は，本件特許発明１の「レーザ顕微鏡」に相当する。
　また，甲６発明の「顕微鏡システム」と本件特許発明１の「レーザ顕微鏡」は，「対物レンズと」，「刺激光学系と」，「観察光学系と」，「画像構築部と」，「位置設定部と」，「を備え」る点で共通する。
　
　(2) 一致点及び相違点
　ア　一致点
　本件特許発明１と甲６発明は，次の構成で一致する。
「　レーザ光源から発せられたレーザ光を標本に照射する対物レンズと，
　該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置されて前記レーザ光源により発せられたレーザ光の位相を変調する位相変調型空間光変調器を有する刺激光学系と，
　前記レーザ光源により発せられたレーザ光を前記標本上で観察用照明光として走査させる走査部と前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を検出する検出部とを有する観察光学系と，
　該観察光学系が光軸方向に異なる観察面の観察画像を取得することにより前記標本の３次元的な画像を構築する画像構築部と，
　該画像構築部により構築された３次元的な画像上において，前記刺激光学系により前記レーザ光を刺激光として照射する前記標本の刺激箇所を光軸方向に異なる複数個所に設定する位置設定部と，
　前記位置設定部により設定された各刺激箇所に前記レーザ光が照射されるように前記空間光変調器が前記レーザ光の変調動作を行う，
　レーザ顕微鏡。」
　
　イ　相違点
　本件特許発明１と甲６発明は，次の点で相違する。
（相違点）
　本件特許発明１は，「前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部」を備え，「前記強度設定部が，前記レーザ光が照射される照射位置の深さに関わらず一定の強度で前記標本を刺激するように，前記レーザ光の強度を調節する」のに対して，甲６発明は，この構成を具備すると特定されたものではない点。
　
　(3) 判断
　甲６発明の「入力部２３」は，「モニタが顕微鏡装置３により取得された３次元画像を表示し，観察者が集光点をモニタ上において指定することにより，各集光点の３次元的な位置情報を設定するようになって」いるものの，各集光点に照射するレーザ光の強度を各集光点のそれぞれに対して設定するようにはなっていない。また，甲６には，各集光点に照射するレーザ光の強度を，各集光点のそれぞれに対して設定する構成はもとより，これが必要又は望ましいことを示唆する，動機付けに関する記載もない。そうしてみると，当業者が甲６の記載に接したとしても，相違点に係る本件特許発明１の構成のうち，「前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部」の構成を採用することに，直ちに思い到るとはいえない。
　ところで，本件優先日前の当業者ならば，甲８に記載された技術を心得ている。そして，甲８の【００９０】には，「レーザ顕微鏡５８では，観察ユニットにより取得されモニタ６７に表示される標本６０の拡大画像に基づいて，操作盤６８からレーザ光で刺激する範囲，期間，強度などが入力されることにより，標本６０に照射すべき刺激パターンが指示される。」と記載されている。
　しかしながら，甲８の上記の記載は，レーザ顕微鏡において，レーザ光で刺激する強度を入力する技術までは開示するとしても，レーザ光で刺激する強度を各集光点のそれぞれに対して入力する技術まで開示するものではない。また，特許異議申立人が提出した他の証拠（甲１〜甲５，甲７，甲９及び甲１０）にも，この構成は開示されておらず，この構成が，本件優先日前の当業者において技術常識であったということもできない。
　
　念のため，甲６発明を前提にして甲８の上記の【００９０】の記載に接した当業者が，刺激光学系により照射するレーザ光の強度を，位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能とする構成を理解したと仮定する。
　しかしながら，甲８の【００９０】には，「ＤＭＤドライバ７８が指示された範囲に合わせてＤＭＤ７５の空間光変調器領域８２を駆動させ」，「その後，レーザドライバ７０が指示された強度に合わせてレーザコンバイナモジュール６９の出力を調整」する技術が開示されており，この技術では，各集光点に対して同じ強度のレーザ光を照射することしかできない。したがって，令和元年７月３日付け回答書を検討してもなお，平成３１年１月２１日付け審尋で指摘した，「甲６に記載された発明を前提として，設定された（互いに異なる）レーザ強度で複数の刺激箇所を照射できるようにするための具体的な構成は，甲８には記載されていない」との，当合議体の判断は変わらない。
　以上勘案すると，当業者が，甲６発明において，相違点に係る本件特許発明１の構成を採用することが，容易に発明できたことであるということはできない。
　
　(4) 特許異議申立人の主張に対して
　特許異議申立人は，当業者であれば，甲６発明の波面変調素子１２に代えて又は加えて，甲１号証に開示されているように同様な効果を奏する空間光変調器を用いることは，当業者が容易になしえたものであると主張する（回答書３頁（３枚目）の下から８〜２行）。
　確かに，甲１の図３Ｂからは，甲１に開示された空間光変調器により，グレースケールパターン（サンティアゴ・ラモン・イ・カハル氏の横顔の像）を形成できることが開示されている。
（当合議体注：甲１の図３Ｂは以下の図である。）
　しかしながら，甲１の上記の記載は，甲１に開示された空間光変調器により，グレースケールパターンを照射できることを開示するとしても，相違点に係る本件特許発明１の「前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部」の構成を開示するものではない。かえって，甲１の図４においては，複数の刺激箇所のそれぞれに対して同じ強度のレーザ光が照射される構成を理解することができる。
（当合議体注：甲１の図４は以下の図である。）
　以上のとおりであるから，特許異議申立人の主張は採用できない。
　
　(5) 本件特許発明２〜本件特許発明１５について
　ア　本件特許発明２について
　本件特許発明２は，本件特許発明１の構成に対して，さらに他の構成を付加したものであるから，相違点に係る本件特許発明１の構成を具備するものである。
　したがって，本件特許発明１と同じ理由により，本件特許発明２は，甲６発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるということができない。
　
　イ　本件特許発明３〜本件特許発明５について
　これら発明は，いずれも，「前記刺激箇所ごとに刺激する強度と時間をユーザに入力させる入力部」（請求項３）の構成を具備する。
　したがって，本件特許発明１と同様の理由により，本件特許発明３〜本件特許発明５も，甲６発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるということができない。
　
　ウ　本件特許発明６〜本件特許発明１２について
　これら発明は，いずれも本件特許発明１の構成に対して，さらに他の構成を付加したものであるか，本件特許発明３の構成に対して，さらに他の構成を付加したものである。
　したがって，本件特許発明１又は本件特許発明３と同じ理由により，本件特許発明６〜本件特許発明１２も，甲６発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるということができない。
　
　エ　本件特許発明１３〜本件特許発明１５について
　これら発明は，「前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を共焦点ピンホールを介して検出する検出部」（請求項１３）の構成を具備する。
（当合議体注：共焦点ピンホールは，一般に，対物レンズの焦点面近傍の極めて薄い領域のみからの光を検出するための手段として用いられる。）
　しかしながら，甲６の【００３７】には，「蛍光は対物レンズ１３の焦点面近傍の極めて薄い領域のみにおいて発生する」と記載されている（甲６の【０００３】において挙げられた非特許文献１，すなわち甲１に記載された技術と同様に，甲６発明は，２光子分光法を前提としたものである。）。
　したがって，本件優先日前の当業者が，甲６発明において，「前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を共焦点ピンホールを介して検出する検出部」の構成を採用することが，容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　
　３　小括
　本件特許（請求項１〜請求項１５に係る特許）は，いずれも平成３０年１１月２０日付け取消理由通知書において通知した取消しの理由によっては取り消すことができない。
　
第３　採用しなかった特許異議申立ての理由について
　１　甲１を主引用例とする特許異議の申立ての理由
　特許異議申立人は，甲１を主引用例として，特許法２９条１項３号及び２９条２項の理由を主張する。
　しかしながら，甲１には，本件特許発明１の「前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部」の構成，及び本件特許発明３の「前記刺激箇所ごとに刺激する強度と時間をユーザに入力させる入力部」の構成は，記載されていない。また，甲１はもとより，甲２〜甲１０においても，甲１に記載されたレーザ顕微鏡において，これら構成を採用することの動機付けとなる記載は存在しない。
　したがって，本件特許発明１及び本件特許発明３は，甲１に記載された発明であるということはできず，また，本件優先日前の当業者が，甲１に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるということもできない。
　
　この点に関して，特許異議申立人は，甲１の図３〜図５及び図７には，これらに相当する構成が開示されていると主張する。
　しかしながら，甲１の図３（前記「第２」２(4)参照。）には，空間光変調器によりグレースケールパターンを照射できることが開示されているにとどまる。また，甲１の図４（前記「第２」２(4)参照。）には，マウス新皮質切片の５箇所のアンケージング部位に，空間光変調器によって光を照射する様子が描かれているにとどまる。
（当合議体注：ＭＮＩ−グルタミン酸（ケージド試薬）を解離させるための光強度は，同一と理解される。）。
　甲１の図５には，２箇所（図５Ａ），４箇所（図５Ｂ），１箇所（図５Ｄ）に刺激光を照射した結果が開示されているが，各箇所の光強度は不明である。
（当合議体注：甲１の図５Ａ〜図５Ｄは以下の図である。）
　甲１の図７Ｂには，新皮質スライスの５０箇所の細胞に観察光（当合議体注：刺激光ではない。）を照射するための，イメージファイルが開示されているにとどまる。
（当合議体注：甲１の図７Ｂは以下の図である。なお，図７Ｃ及び図７Ｅは，観察された蛍光像であり，観察光ではない。）
　
参考：図７Ｃ及び図７Ｅ
　空間光変調器が，グレースケールパターンを照射できることそれ自体は，動作原理からみて明らかである。しかしながら，甲１の図４，図５及び図７には，複数の照射箇所のそれぞれに，異なる強度で光を照射することは開示されておらず，むしろ，少なくとも図４においては，複数の照射箇所の光強度は同一と理解される。そうしてみると，グレースケールパターンを照射できること（図３）と，複数の照射箇所に光を照射できること（図４，図５及び図７）を根拠にして，甲１に，複数の照射箇所のそれぞれに異なる強度の光を照射することが開示されていると理解することは後知恵であるから，当業者が，本件特許発明１の光強度設定部の構成や，本件特許発明３の入力部の構成に到ることはないといえる。
　したがって，本件特許発明１の「前記刺激光学系により照射する前記レーザ光の強度を，前記位置設定部により設定された複数の刺激箇所のそれぞれに対して設定可能な強度設定部」の構成，及び本件特許発明３の「前記刺激箇所ごとに刺激する強度と時間をユーザに入力させる入力部」の構成は，甲１に記載されているとはいえないし，また，甲１に接した当業者が，これら構成を具備してなる本件特許発明１及び本件特許発明３のレーザ顕微鏡を容易に発明することができたということもできない。
　甲２〜甲１０の記載を考慮しても，同様である。
　
　本件特許発明２，本件特許発明４〜本件特許発明１２は，本件特許発明１又は本件特許発明３の上記構成のいずれかを具備し，さらに他の構成を具備したものである。したがって，本件特許発明２，本件特許発明４〜本件特許発明１２についても，同様である。
　
　本件特許発明１３〜本件特許発明１５は，「前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を共焦点ピンホールを介して検出する検出部」の構成を具備する。
　しかしながら，甲１に記載されたレーザ顕微鏡は，２光子分光法によるものである。
　したがって，本件優先日前の当業者が，甲１に記載された発明において，「前記対物レンズにより集光された前記標本からの観察光を共焦点ピンホールを介して検出する検出部」の構成を採用することが，容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　
　２　甲９を主引用例とする特許異議申立ての理由について
　特許異議申立人は，甲９を主引用例として，特許法２９条１項３号及び２９条２項の理由を主張する。
　しかしながら，甲９は，甲１に記載された技術（当合議体注：特許異議申立人が主張するとおり，甲９は，甲１の論文に基づいてされた特許出願である。），及びその従来技術（空間光変調器ではなく，回折格子素子（ＤＯＥ）を使用したレーザ顕微鏡（【図８】等）。）を開示するにとどまる。
　前記１で述べたのと同様の理由により，本件特許発明１〜本件特許発明１５は，甲９に記載された発明であるということはできず，また，本件優先日前の当業者が，甲９に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるということもできない。
　
　３　甲１０を主引用例とする特許異議申立ての理由について
　特許異議申立人は，甲１０を主引用例として，特許法２９条１項３号及び２９条２項の理由を主張する。
　しかしながら，甲１０は，甲９の国際公開である。
　前記２で述べたのと同じ理由により，本件特許発明１〜本件特許発明１５は，甲１０に記載された発明であるということはできず，また，本件優先日前の当業者が，甲１０に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものであるということもできない。
　
第４　むすび
　以上のとおりであるから，請求項１〜請求項１５に係る特許は，平成３０年１１月２０日付け取消理由通知書において通知した取消しの理由，及び特許異議申立書に記載された特許異議申立ての理由によっては，取り消すことができない。
　また，他に請求項１〜請求項１５に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって，結論のとおり決定する。
【異議決定日】
令和１年７月１９日（２０１９．７．１９）