(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気データをパーシャル・レスポンス・マキシマム・ライクリフッド（ＰＲＭＬ）方式により再生するデータ検出方法において、
（ａ）再生波形と第１等化誤差の入力に応答して、パーシャル・レスポンス（ＰＲ）等化によりＰＲ等化波形を出力するステップと、
（ｂ）孤立波の前記ＰＲ等化波としての孤立等化波形の複数のサンプル点での値を示す複数の第１等化基準レベルと、前記孤立等化波形が歪んだ歪み孤立等化波形の前記複数のサンプル点での値を示す複数の第２等化基準レベルと、を併せた複数の併合等化基準レベルを設定するステップと、
（ｃ）前記複数の併合等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記補正法により再生データの最尤検出を行う最尤検出ステップと、
を具備し、
前記（ｃ）ステップは、
（ｃ１）前記複数の併合等化基準レベルに基づいて、前記孤立等化波形と前記歪み孤立等化波形との重ね併せで生じるレベルを示す複数の判定基準レベルを設定するステップと、
（ｃ２）前記複数の判定基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記複数の判定基準レベルに対応した複数の遷移状態の各々間の遷移の全パターンについて、等化誤差とブランチメトリックとを計算するステップと、
（ｃ３）前記ブランチメトリックと、一時点前までのブランチメトリックの合計とを示すパスメトリックを計算し、前記複数の遷移状態の各々について前記パスメトリックが最少となる出現元の遷移状態を検出するステップと、
（ｃ４）前記複数の遷移状態の各々における前記出現元の遷移状態に基づいて、前記ＰＲ等化波形の遷移状態の組み合わせを最尤検出するステップと、
（ｃ５）前記遷移状態の組み合わせに基づいて、前記複数の遷移状態と前記複数の判定基準レベルとの対応関係に基づいて再生データを検出するステップと
を備え、
前記ＰＲＭＬ方式としてＰＲ（１，−１）ＭＬを用い、
前記孤立等化波形が歪みにより（０，１，０）から（０，α、β）となると仮定して四個の遷移状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出する
データ検出方法。
【請求項２】
磁気データをパーシャル・レスポンス・マキシマム・ライクリフッド（ＰＲＭＬ）方式により再生するデータ検出方法において、
（ａ）再生波形と第１等化誤差の入力に応答して、パーシャル・レスポンス（ＰＲ）等化によりＰＲ等化波形を出力するステップと、
（ｂ）孤立波の前記ＰＲ等化波としての孤立等化波形の複数のサンプル点での値を示す複数の第１等化基準レベルと、前記孤立等化波形が歪んだ歪み孤立等化波形の前記複数のサンプル点での値を示す複数の第２等化基準レベルと、を併せた複数の併合等化基準レベルを設定するステップと、
（ｃ）前記複数の併合等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記補正法により再生データの最尤検出を行う最尤検出ステップと、
を具備し、
前記（ｃ）ステップは、
（ｃ１）前記複数の併合等化基準レベルに基づいて、前記孤立等化波形と前記歪み孤立等化波形との重ね併せで生じるレベルを示す複数の判定基準レベルを設定するステップと、
（ｃ２）前記複数の判定基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記複数の判定基準レベルに対応した複数の遷移状態の各々間の遷移の全パターンについて、等化誤差とブランチメトリックとを計算するステップと、
（ｃ３）前記ブランチメトリックと、一時点前までのブランチメトリックの合計とを示すパスメトリックを計算し、前記複数の遷移状態の各々について前記パスメトリックが最少となる出現元の遷移状態を検出するステップと、
（ｃ４）前記複数の遷移状態の各々における前記出現元の遷移状態に基づいて、前記ＰＲ等化波形の遷移状態の組み合わせを最尤検出するステップと、
（ｃ５）前記遷移状態の組み合わせに基づいて、前記複数の遷移状態と前記複数の判定基準レベルとの対応関係に基づいて再生データを検出するステップと
を備え、
前記ＰＲＭＬ方式としてＰＲ４ＭＬを用い、
前記孤立等化波形が歪みにより（０，１，１，０）から（０，α、β、γ）となると仮定して、十二個の遷移状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出する
データ検出方法。
【請求項３】
磁気データをパーシャル・レスポンス・マキシマム・ライクリフッド（ＰＲＭＬ）方式により再生するデータ検出方法において、
（ａ）再生波形と第１等化誤差の入力に応答して、パーシャル・レスポンス（ＰＲ）等化によりＰＲ等化波形を出力するステップと、
（ｂ）孤立波の前記ＰＲ等化波としての孤立等化波形の複数のサンプル点での値を示す複数の第１等化基準レベルと、前記孤立等化波形が歪んだ歪み孤立等化波形の前記複数のサンプル点での値を示す複数の第２等化基準レベルと、を併せた複数の併合等化基準レベルを設定するステップと、
（ｃ）前記複数の併合等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記補正法により再生データの最尤検出を行う最尤検出ステップと、
を具備し、
前記（ｃ）ステップは、
（ｃ１）前記複数の併合等化基準レベルに基づいて、前記孤立等化波形と前記歪み孤立等化波形との重ね併せで生じるレベルを示す複数の判定基準レベルを設定するステップと、
（ｃ２）前記複数の判定基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記複数の判定基準レベルに対応した複数の遷移状態の各々間の遷移の全パターンについて、等化誤差とブランチメトリックとを計算するステップと、
（ｃ３）前記ブランチメトリックと、一時点前までのブランチメトリックの合計とを示すパスメトリックを計算し、前記複数の遷移状態の各々について前記パスメトリックが最少となる出現元の遷移状態を検出するステップと、
（ｃ４）前記複数の遷移状態の各々における前記出現元の遷移状態に基づいて、前記ＰＲ等化波形の遷移状態の組み合わせを最尤検出するステップと、
（ｃ５）前記遷移状態の組み合わせに基づいて、前記複数の遷移状態と前記複数の判定基準レベルとの対応関係に基づいて再生データを検出するステップと
を備え、
前記（ｂ）ステップは、
（ｂ１）前記ＰＲ等化波形と前記複数の併合等化基準レベルと前記複数の遷移状態の各々における前記出現元の遷移状態とに基づいて、第２等化誤差を全ての前記出現元の遷移状態に対して計算するステップと、
（ｂ２）前記第２等化誤差を、前記出現元の遷移状態の前記パスメモリ部による遅延に同期させるステップと、
（ｂ３）前記同期した前記第２等化誤差から前記第１等化誤差１個を選択するステップと、
（ｂ４）前記最終決定等化誤差と前記遷移状態の最尤値とに基づいて、前記複数の併合等化基準レベルの適応等化を行なうステップと、
（ｂ５）前記適応等化した前記複数の併合等化基準レベルを保持するステップと
を備え、
前記（ｃ）ステップは、
（ｃ６）前記複数の併合等化基準レベルが、前記複数の第２等化基準レベルのいくつかを含めずに構成されたとき、前記含めなかった前記複数の第２等化基準レベルについて、前記出現元の遷移状態から、以後の前記ＰＲ等化波形への重ね合わせの有無を判断するステップと、
（ｃ７）前記重ね合わせが存在する場合、その情報を実際に重ね合わせが生じる時点まで遅延させ、前記（ｃ２）へフィードバックし、前記ブランチメトリックを補正するステップを更に備え、
前記ＰＲＭＬ方式としてＰＲ４ＭＬを用い、
前記孤立等化波形が歪みにより（０，１，１，０）から（０，α、β、γ）となると仮定して、α、βのみを用いて六個の遷移状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出し、γの影響についてはフィードバックによって補正する
データ検出方法。
【請求項４】
磁気データをパーシャル・レスポンス・マキシマム・ライクリフッド（ＰＲＭＬ）方式により再生するデータ検出方法において、
（ａ）再生波形と第１等化誤差の入力に応答して、パーシャル・レスポンス（ＰＲ）等化によりＰＲ等化波形を出力するステップと、
（ｂ）孤立波の前記ＰＲ等化波としての孤立等化波形の複数のサンプル点での値を示す複数の第１等化基準レベルと、前記孤立等化波形が歪んだ歪み孤立等化波形の前記複数のサンプル点での値を示す複数の第２等化基準レベルと、を併せた複数の併合等化基準レベルを設定するステップと、
（ｃ）前記複数の併合等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記補正法により再生データの最尤検出を行う最尤検出ステップと、
を具備し、
前記（ｃ）ステップは、
（ｃ１）前記複数の併合等化基準レベルに基づいて、前記孤立等化波形と前記歪み孤立等化波形との重ね併せで生じるレベルを示す複数の判定基準レベルを設定するステップと、
（ｃ２）前記複数の判定基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記複数の判定基準レベルに対応した複数の遷移状態の各々間の遷移の全パターンについて、等化誤差とブランチメトリックとを計算するステップと、
（ｃ３）前記ブランチメトリックと、一時点前までのブランチメトリックの合計とを示すパスメトリックを計算し、前記複数の遷移状態の各々について前記パスメトリックが最少となる出現元の遷移状態を検出するステップと、
（ｃ４）前記複数の遷移状態の各々における前記出現元の遷移状態に基づいて、前記ＰＲ等化波形の遷移状態の組み合わせを最尤検出するステップと、
（ｃ５）前記遷移状態の組み合わせに基づいて、前記複数の遷移状態と前記複数の判定基準レベルとの対応関係に基づいて再生データを検出するステップと
を備え、
前記（ｂ）ステップは、
（ｂ１）前記ＰＲ等化波形と前記複数の併合等化基準レベルと前記複数の遷移状態の各々における前記出現元の遷移状態とに基づいて、第２等化誤差を全ての前記出現元の遷移状態に対して計算するステップと、
（ｂ２）前記第２等化誤差を、前記出現元の遷移状態の前記パスメモリ部による遅延に同期させるステップと、
（ｂ３）前記同期した前記第２等化誤差から前記第１等化誤差１個を選択するステップと、
（ｂ４）前記最終決定等化誤差と前記遷移状態の最尤値とに基づいて、前記複数の併合等化基準レベルの適応等化を行なうステップと、
（ｂ５）前記適応等化した前記複数の併合等化基準レベルを保持するステップと
を備え、
前記（ｃ）ステップは、
（ｃ６）前記複数の併合等化基準レベルが、前記複数の第２等化基準レベルのいくつかを含めずに構成されたとき、前記含めなかった前記複数の第２等化基準レベルについて、前記出現元の遷移状態から、以後の前記ＰＲ等化波形への重ね合わせの有無を判断するステップと、
（ｃ７）前記重ね合わせが存在する場合、その情報を実際に重ね合わせが生じる時点まで遅延させ、前記（ｃ２）へフィードバックし、前記ブランチメトリックを補正するステップを更に備え、
前記ＰＲＭＬ方式としてＥＰＲ４ＭＬを用いるデータ検出方法が、
前記孤立等化波形が歪みにより（０，１，２、１，０）から（０，α、β、γ、δ）となると仮定して、αのみを用いて十二個の遷移状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出し、β、γ、δについてはフィードバックによって補正する
データ検出方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか一項に記載のデータ検出方法のためのプログラムが記録された計算機読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気記録再生装置おけるデータ検出方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】
磁気ディスクや磁気テープなどのデジタル磁気記録再生装置では、記録データ再生方法として、パーシャルレスポンス方式と最尤検出法を組み合わせたＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式が用いられている。さらに近年の高記録密度化に対応するため、磁気記録では高次のＰＲＭＬ方式であるＥＥＰＲ４（Ｅｘｔｅｎｄｅｄ  Ｅｘｔｅｎｄｅｄ  Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  ｃｌａｓｓ−４）方式に対して最小符号間距離を広げることのできる変調方式を組み合わせた方式が提案されている。またＰＲＭＬ方式とは別に、フィードバックフィルタを用いた検出器としてＲＡＭ−ＤＦＥ（Ｄｅｃｉｓｉｏｎ  Ｆｅｅｄｂａｃｋ  Ｅｑｕａｌｉｚｅｒ）方式や、ＦＤＴＳ／ＤＦ（Ｆｉｘｅｄ  Ｄｅｌａｙ  Ｔｒｅｅ  Ｓｅａｒｃｈ／Ｄｅｃｉｓｉｏｎ  Ｆｅｅｄｂａｃｋ）方式も検討されている。高密度化に伴う大きな問題には、さらに再生波形の非線形歪みがあり、さまざまな対策が検討されている（特許２７８７８９５号公報）。
【０００３】
ここで、ＰＲ４（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  ｃｌａｓｓ−４）等化における記録再生過程を、図１４、図１５、図１６を参照して簡単に説明する。図１４（ａ）は記録データを示す。まず、記録データをプリコーダによりＮＲＺＩ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｅｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）符号（ｂ）に変換する。しかる後、ＮＲＺＩ符号（ｂ）に基づいた記録電流（ｃ）により、データを磁気記録媒体に記録する。データの再生過程においては、まず、磁気記録媒体から読み出した再生波形（ｄ）について、ＰＲ等化の処理を行うことによりＰＲ等化波形（ｅ）を得る。
ここで、ＰＲ等化波形を出力する等化器（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｉｍｐｕｌｓｅ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅフィルタ）を説明する。等化器の動作は、次の数１の式で表される。ａｉが再生波形であり、ｂｉがＰＲ等化波形である。ｃｊはＦＩＲフィルタの係数である。
【数１】
0004093447.tif 000002
記録データ列｛０，０，０，１，０，０，０｝、を記録再生すると、図１５（ａ）の孤立再生波形が得られる。この孤立再生波形をＰＲ等化することにより、図１５（ｂ）のＰＲ等化波形が得られる。実際にはサンプリングされた孤立再生波形ａｉに対して数１によってＰＲ等化を行い、ＰＲ等化波形ｂｉ＝｛０，０，０，１，１，０，０｝を得る。以上により、一般の再生波形に対しては、ＰＲ等化波形の各サンプル点での値は、０、±１の３つの値のどれかに限られる。この３つの値を、等化目標値という。等化目標値は、採用するＰＲＭＬ方式によって異なる。
実際のＰＲ等化波形では、各サンプル点における値は、ノイズ等の影響により等化値からのずれが生じている。そこで、以下に示す方法により、正しい等化値を検出し、等化値が±１のとき１、０のとき０としたものが再生データ（図４（ｆ））となる。
【０００４】
ＰＲＭＬ方式においては、ＰＲ等化波形（図１４（ｅ））から再生データ（図１４（ｆ））を求めるために、図１６のような状態遷移図を用いる。ＳＬ、Ｓ＋、ＳＲおよびＳ−は、ＰＲ等化波形の状態を表す。その状態Ｓを遷移状態、Ｌ、＋、Ｒ、−などを、状態記号と呼ぶことにする。遷移状態は、特定の値を示しているのではなく、ＰＲ等化波形に関連付けられたある状態を示しており、等化波形の前後関係に依存している。
【０００５】
図１６（ａ）は、各遷移状態が起こり得る場合を、遷移状態Ｓ、ブランチ、ならびに、再生データ／等化値の関係で示している。つまり、ある遷移状態から遷移可能な遷移状態へブランチが示されており、ブランチにはそのときに検出される等化目標値と対応する再生データが示されている。（ｂ）は、状態遷移図を時系列的に表現したものでありトレリス線図という。この図において、各時点の遷移状態を結ぶブランチを１つに限定し、各遷移状態を連続してつなげることによりブランチに対応する再生データが検出できる。このようにブランチが連続して接続されたものをパスといい、上記のように最終的に一本に特定されたパスを生き残りパスという。ビタビ検出法（最尤検出法）とは、図１６（ｂ）に示された無数のパスからメトリック（真値からのずれを示す指標で小さいほど確からしい）という指標を用いてただ１つのパスを特定する方法である。具体的には、ある時点においてそれぞれの遷移状態毎にパスのメトリックを比較して、各遷移状態に対してメトリックが最小となるただ１つのパスを選択する。この動作を繰り返していくことによりパスは徐々に１本に収束していく。パスが決定されれば、各ブランチに対応する再生データが得られる。
【０００６】
次に、磁気記録におけるオーバーライトについて説明する。
磁気記録では、媒体上に書かれた過去の磁化分布によって書き込みデータが影響を受け再生波形の特性が劣化する現象がある。これをオーバーライトによる特性劣化という。現時点では有効な解決方法は無く、ヘッド媒体の設計段階などにおいてオーバーライトの影響が小さくなるような設計を行っている。しかし近年の記録密度上昇に伴いオーバーライト特性の劣化が大きな問題になりつつある。ここでまず、オーバーライトによる歪みについて説明する。オーバーライトによる再生波形への影響は大きく２つに分けられる。１つは純粋に過去の磁化分布が消えずに残っているものであり、もう１つは過去の磁化分布とヘッド磁界の相互作用により磁化遷移位置がシフトするものである。デジタル磁気記録では一般に飽和記録を行っているので、問題となるのは主にオーバーライトによる磁化遷移シフト（以下、「Ｏ／Ｗシフト」と記す）である。図２を用いて、このＯ／Ｗシフトを説明する。図２（ａ）は、右向き１０８ａに一様に磁化された媒体１０２上を、磁気ヘッド１０１が媒体を左向き１１０ａに磁化しながら右方向へ移動してきて、図の位置でヘッド磁界１０３の向き１０４を反転させ、ヘッドの左側に磁化遷移１０５ａを記録した瞬間である。この磁化遷移が記録される位置を記録磁化遷移位置という。このときヘッド前方の１０９ａの領域と１０８の領域との間には磁化遷移が生じていないため、磁化遷移１０５ａは正しい記録磁化遷移位置に記録される。一方、図２（ｂ）では、媒体１０２は最初一様に左向き１０８ｂに磁化されている。このため同様にヘッド磁界１０３（向き１０４）を反転させて磁化遷移１０５ａを記録したとき、ヘッド前方にも磁化遷移１０５ｃが生じ、その反磁界１０６（向き１０７）によってヘッド磁界１０３が弱められる。このため書き込むべき記録磁化遷移位置が前方１１１にシフトし、１０５ｂになってしまう。この磁化遷移シフトがオーバーライトシフト（Ｏ／Ｗシフト）であり、再生波形の読み取り誤差が増加する原因となる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の目的は、オーバーライトによる再生波形への影響を予め考慮した状態遷移図に基づくＰＲＭＬ方式を用いることにより、再生信号の特性劣化を補償して等化誤差を小さくし、高精度のデータ検出を実現するデータ検出器およびデータ検出方法を提供することである。
【０００８】
本発明の他の目的は、オーバーライトによる再生波形への影響を考慮した状態遷移図の作成において、等化基準レベルのうちの後縁部の何点かをフィードバックによって補償することにより状態遷移図を簡略化し回路規模を縮小するデータ検出器及びデータ検出方法を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本課題を解決するための手段の項における、図番号、符号は、特許請求の範囲と発明の実施の形態との対応を示すために記したものであり、特許請求の範囲の解釈に用いてはならない。
【００１０】
上記課題を解決するために、本発明のデータ検出器は、磁気データをパーシャル・レスポンス・マキシマム・ライクリフッド（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ、ＰＲＭＬ）方式により再生するデータ検出器が、再生波形と等化誤差の入力に応答して、所定の補正法を組込んだパーシャル・レスポンス（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ、ＰＲ）等化によりＰＲ等化波形を出力するＰＲ等化部（図１、１７）と、前記補正法に基づく等化基準レベルを保持する等化基準レベル部（図１、１９）と、前記等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記補正法により再生データの最尤検出を行う最尤検出部（図１、１８）とを具備する。
【００１１】
また、本発明のデータ検出器は、前記補正法が、歪んだＰＲ等化波形に基づく等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形に対応する新たな遷移状態を加えた状態遷移図とに基づいて行われる。
【００１２】
更に、本発明のデータ検出器は、前記最尤検出部（図１、１８）が、前記ＰＲ等化波形と前記等化基準レベルとに基づき、前記等化誤差に関するブランチメトリックを計算するブランチメトリック計算部（図１、２）と、前記ブランチメトリックに基づいて、前記ＰＲ等化波形の確からしい状態である生き残りパスを検出するパスメトリック計算比較部（図１、３）と、前記生き残りパスに基づいて、前記ＰＲ等化波形の遷移状態を示す状態記号を最尤検出するパスメモリ部（図１、４）と、前記状態記号に基づいて、再生データを検出するデータセレクタ部（図１、１１）とを具備する。
【００１３】
更に、本発明のデータ検出器が、前記等化基準レベル部（図１、１９）は、前記ＰＲ等化波形と前記等化基準レベルと前記生き残りパスとに基づいて、等化誤差を全生き残りパスに対して計算する等化誤差計算部（図１、７）と、前記生き残りパスの等化誤差に基づいて、前記生き残りパスの等化誤差のパスメモリ部による遅延を同期させる等化誤差遅延部（図１、８）と、前記同期した前記等化誤差に基づいて、前記同期した等化誤差から最終決定等化誤差１個を選択する等化誤差選択部（図１、９）と、前記最終決定等化誤差と前記状態記号とに基づいて、等化基準レベルの適応等化を行なう等化基準レベル適応等化部（図１、６）と、前記適応等化した等化基準レベルを保持する孤立波形等化基準レベルテーブル（図１、５）とを具備する。
【００１４】
更に、本発明のデータ検出器は、前記最尤検出部（図１、１８）が、補正フラグ遅延部（図１、１０）とを更に具備し、歪んだ孤立波等化波形の等化基準レベルに等化基準値のいくつかを含めずに構成した状態遷移図を用い、前記状態遷移図に含めなかった前記等化基準値については、前記パスメトリック計算比較部（図１、３）で求めた前記生き残りパスから、以後のＰＲ等化波形への重ね合わせの有無を判断し、重ね合わせが存在する場合は、その情報を実際に重ね合わせが生じる時点まで前記補正フラグ遅延部（図１、１０）で遅延させフィードバックによって前記ブランチメトリック計算部（図１、３）に伝え、ブランチメトリックを補正する。
【００１５】
更に、本発明のデータ検出器において、前記等化基準レベル部（図１、１９）は、前記等化誤差計算部（図１、７）が、前記等化誤差を前記全生き残りパスに対して計算する際に、前記補正フラグ遅延部（図１、１０）からの情報を更に使用する。
【００１６】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＰＲ（１，−１）ＭＬを用いる。
【００１７】
更に、本発明のデータ検出器は、孤立波のＰＲ等化波形が歪みにより（０，１，０）から（０，α、β）となると仮定して４状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出する。
【００１８】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＰＲ４ＭＬを用いる。
【００１９】
更に、本発明のデータ検出器は、孤立波のＰＲ等化波形が歪みにより（０，１，１，０）から（０，α、β、γ）となると仮定して、１２状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出する。
【００２０】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＥＰＲ４ＭＬを用いる。
【００２１】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＥＥＰＲ４ＭＬを用いる。
【００２２】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＰＲ（１，１，０，−１，−１）ＭＬを用いる。
【００２３】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＰＲ４ＭＬを用いるデータ検出器が、孤立波のＰＲ等化波形が歪みにより（０，１，１，０）から（０，α、β、γ）となると仮定して、α、βのみを用いて６状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出し、γの影響についてはフィードバックによって補正する。
【００２４】
更に、本発明のデータ検出器は、ＰＲＭＬ方式としてＥＰＲ４ＭＬを用いるデータ検出器が、孤立波のＰＲ等化波形が歪みにより（０，１，２、１，０）から（０，α、β、γ、δ）となると仮定して、αのみを用いて１２状態の状態遷移図を構成し、その状態遷移図に基づいて再生データを最尤検出し、β、γ、δについてはフィードバックによって補正する。
【００２５】
上記課題を解決するための本発明のデータ検出方法は、磁気データをパーシャル・レスポンス・マキシマム・ライクリフッド（ＰＲＭＬ）方式により再生するデータ検出方法において、再生波形と等化誤差の入力に応答して、所定の補正法を組込んだパーシャル・レスポンス（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ、ＰＲ）等化によりＰＲ等化波形を出力するＰＲ等化ステップと、前記補正法に基づく等化基準レベルを保持する等化基準レベルステップと、前記等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形とに基づいて、前記補正法により再生データの最尤検出を行う最尤検出ステップとを具備する。
【００２６】
また、本発明のデータ検出方法は、前記補正法が、歪んだＰＲ等化波形のずれた等化基準レベルと前記ＰＲ等化波形に対応する新たな状態を加えた状態遷移図とに基づいて行われる。
【００２７】
また、本発明は、データ検出方法のためのプログラムが記録された計算機読み取り可能な記憶媒体である。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明であるデータ検出器の実施の形態に関して、添付図面を参照して説明する。
本実施例において、磁気媒体上に記録されたデータを再生するに使用される情報記録用再生装置のデータ検出器を例に示して説明するが、他の磁気を使用した磁気記録用再生装置においても、適用可能である。
【００２９】
本発明である、データ検出器では、ＰＲＭＬ方式における状態遷移図において、Ｏ／Ｗシフトによって歪んだＰＲ等化波形も考慮して状態遷移図（図８（ｂ）、図９（ｂ）、図１１）を作成する。
通常、ＰＲ等化波形を評価する場合、波形の重ね合わせの原理を用い、ＰＲ等化波形をＯ／Ｗシフトの無い孤立等化波形（例えば、図１５（ｂ））の重ね合わせとして評価している。その判断基準となるのが、孤立波等化基準レベル値（以下、「等化基準レベル」と記す）である。例えば、ＰＲ（１、−１）や前述のＰＲ４では、１、０である。そして、従来の状態遷移図（例えば、図１６）では、遷移状態については、Ｏ／Ｗシフトの無い孤立等化波形を前提としている。
本発明での状態遷移図は、Ｏ／Ｗシフトした孤立波等化波形のサンプル点での値も、通常の等化基準レベルに加えると共に、そのＯ／Ｗシフトに対応するＰＲ等化波形の状態も新たな遷移状態として、通常の状態遷移図に加えることとした。例えば、ＰＲ（１，−１）方式において、図３で通常の孤立等化波形（破線）がＯ／Ｗシフトした（実線）ことに伴い、図８（ａ）の通常の状態遷移図（遷移状態Ｓ＋およびＳ−）に、新たな遷移状態ＳＵおよびＳＤを加えて、状態遷移図（ｂ）とする。そして、等化基準レベルは、通常の１、０に、α、βを加える。このとき、実際のＰＲ等化波形においては、これら等化基準レベルそのものが出力される場合だけでなく、それらの重ね合わせが出力される。その波形を評価する場合には、孤立波等化波形の重ね合わせで生じるレベル（＝等化基準レベルの和あるいは差）を用いるが、それを判定基準レベルという。通常±１、０であるが、この例では更に追加して±１、０、±α、±β、±（１−β）、±（α−β）とする。
このように、状態遷移図および等化基準レベルにＯ／Ｗシフトを考慮した改善を加えることにより、Ｏ／Ｗシフトの有無も含めてデータ検出できるようにする。Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルは、予め求めておいた固定値を用いてもよいが、等化誤差（ＰＲ等化波形のサンプル点における値と判定基準レベルとの差）をもとに適応制御による等化（以下「適応等化」という）によって最適値を求めることもできる。またＯ／Ｗシフトによる新たな等化基準レベルを加えた状態遷移図は非常に複雑になるので、Ｏ／Ｗシフトを検出した時点で、フィードバックによってＰＲ等化波形を補償することもできる。このときの状態遷移図は、Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルの一部だけを取り入れればよいので簡略化できる。その結果、Ｏ／ＷシフトによるＰＲ等化誤差が減少し、高精度のデータ検出が可能となるほか、回路規模を縮小することもできる。
【００３０】
（実施例１）
本実施例であるデータ検出器の実施の一形態について、詳細に説明する。
図１は、本発明のデータ検出器の実施例を示すブロック図であり、ＰＲ等化部１７、最尤検出部１８、等化基準レベル部１９から構成されている。ＰＲ等化部１７は、ＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｉｍｐｕｌｓｅ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）フィルタ部１を備えている。最尤検出部１８は、ブランチメトリック計算部２、バスメトリック計算比較部３、バスメモリ部４、補正フラグ遅延部１０、データセレクタ部１１、状態記号遅延部１２を備えている。等化基準レベル部１９は、孤立波等化基準レベルテーブル５、等化基準レベル適応等化部６、等化誤差計算部７、等化誤差遅延部８、等化誤差選択部９を備えている。
【００３１】
ＰＲ等化部１７は、再生波形および等化誤差等の入力に応答して、再生波形をＰＲ等化し、その波形を出力する。最尤検出部１８は、出力されたＰＲ等化波形および等化基準レベル部１９が保持する等化基準レベル等から、オーバーライトによる歪みの検出、および、再生データを最尤検出し、出力する。等化基準レベル部１９は、ＰＲ等化波形および再生データ等からデータの再生に使用される等化基準レベルを更新し、内部に保持すると共に、等化誤差の算出を行う。
以下に各部について詳細に説明する。
【００３２】
まず、ＰＲ等化部１７について説明する。
ＦＩＲフィルタ部１は、磁気媒体上の磁気記録からサンプリングされた再生波形ａｉの入力に応答して、ａｉのＰＲ等化処理を行いＰＲ等化波形ｂｉを出力する。その際、後段のプロセスで決定された等化誤差εｉ−１−ｍが、ＦＩＲフィルタ部１に入力され、ＦＩＲフィルタ部１での適応等化（後述）が行われている。添え字（ｉ）は、データ処理プロセスにおけるある時点を示している（以下、「（ｉ）時点」とも記す）。今後出て来る他のデータに関しても、同じ添え字がある場合には、同じ時点を表す。
【００３３】
次に、最尤検出部について説明する。
ブランチメトリック計算部２では、ＦＩＲフィルタ１から出力されたＰＲ等化波形ｂｉに対して、サンプル点におけるｂｉの前（出現元Ｘ）の遷移状態と後（到達先Ｙ）の遷移状態がどの状態に当たるのかを調べるための、第１段階の計算を行う。具体的には、等化誤差に関係した量であるブランチメトリックＢＸＹ，ｉ（後述）を起こり得る遷移状態間の遷移（Ｘ，Ｙ）の全ての組み合せで計算する。この値は、遷移状態間の遷移の起き易さの目安となる。このとき、図３をもとに孤立波等化基準レベルテーブル５（後述）が保持するＯ／Ｗシフトも含めた等化基準レベルＡ（ベクトル）＝｛１、０、α、β｝から求めた判定基準レベル（±１、０、±α、±β、±（１−β）、±（α−β））を用いる。
なお、本実施例では、等化基準レベルとしてα、βをどちらも使用しているため、パスメトリック計算比較部３（後述）で計算され補正フラグ遅延部１０（後述）を経由したフィードバック補正フラグＦｉ−１（後述）は、ブランチメトリックＢＸＹ，ｉの計算に使用しない。
【００３４】
パスメトリック計算比較部３では、ブランチメトリック計算部２に引き続いて、サンプル点におけるｂｉの前（出現元Ｘ）の遷移状態がどの状態に当たるのかを各到着先遷移状態Ｙについて調べるための、第２段階の計算を行う。具体的には、ブランチメトリック計算部２で計算された（ｉ）時点までのブランチメトリックＢＸＹ，ｉの累計であるパスメトリックＬＹ，ｉ（＝ＬＸ，ｉ−１＋ＢＸＹ，ｉ）を各Ｙについて求める。このとき、パスメトリックＬＹ，ｉが最小である出現元Ｘが存在する。それを、各到達先Ｙの遷移状態毎に出現元Ｘとして決定する。
以上により、各遷移状態への生き残りパスが決定される。以後、この決定された出現元Ｘ（遷移状態）を、最小パスあるいは生き残りパスＰＹ，ｉと記す。本来、生き残りパスとはブランチの繋がりを示すものであるが、ここでは、ＰＹ，ｉを生き残りパスという表記で用いている。
なお、パスメトリック計算比較部３では、選択されたパスＰｉが次の時点でのブランチメトリック計算において、フィードバックによる補正を必要とするかどうかを示すフラグＦｉを出力する。本実施例では、Ｆｉは使用しないので、その出力は無い。
【００３５】
パスメモリ部４では、パスメトリック計算比較部３において選択された最小パスＰＹ，ｉを用いて最尤検出（ビタビ検出）を行い、パスＰＹ，ｉに対応する状態記号ｓｉ−ｍを検出する。
図１２にパスメモリ部４の構成を示す。内部には、セレクタ部１３および遅延素子部１４が、それぞれｍ個存在する。そして、ＰＹ，ｉは、各セレクタ部１３に選択信号として入力され、その値に基づいて、対応する各遅延素子部１４からの入力データから１つが選択されて出力される。（ｉ）時点でのＰＹ，ｉの入力により、（ｉ−ｍ）時点での状態記号ｓｉ−ｍが確定されて、出力される。
【００３６】
データセレクタ部１１では、パスメモリ部４にて検出された状態記号ｓｉ−ｍから、プリコーダの構成を考慮して、再生データｄｉ−１−ｍを求める。
【００３７】
状態記号遅延部１２は、パスメモリ部４からの状態記号ｓｉ−ｍの入力により、（ｉ−１−ｍ）および（ｉ−２−ｍ）時点の状態記号のデータｓｉ−１−ｍ、ｓｉ−２−ｍを、等化基準レベル部へ出力する。
【００３８】
補正フラグ遅延部１０では、パスメトリック計算比較部３で、パスメトリックＬＹ，ｉと共に求められた補正フラグＦｉを、（ｉ−１）時点に遅延し補正フラグＦｉ−１として、出力する。
なお、本実施例では、補正フラグＦｉ−１は使用しない。
【００３９】
次に、等化基準レベル部１９について説明する。
等化誤差計算部７では、孤立波等化基準レベルテーブルが保持する等化基準レベルＡを用いて、ＰＲ等化部１７が出力したＰＲ等化波形ｂｉから、すべてのブランチに対する等化誤差ＥＸＹ，ｉを求め、パスメトリック計算比較部３が出力した生き残りパスＰＹ，ｉを用いて各状態に対応する等化誤差ＥＹ，ｉを選択する。
なお、本実施例では、パスメトリック計算比較部３で計算され補正フラグ遅延部１０を経由したフィードバック補正フラグＦｉ−１は等化誤差ＥＸＹ，ｉの計算に使用しない。
【００４０】
等化誤差遅延部８は、等化誤差計算部７において選択された等化誤差ＥＹ，ｉについて、パスメモリ部４のパスメモリ長ｍに合わせて、（ｉ−１−ｍ）時点での等化誤差ＥＹ，ｉ−１−ｍを出力する。
【００４１】
等化誤差選択部９では、等化誤差遅延部８から出力された生き残りパスの状態記号ｓｉ−ｍにより、等化誤差ＥＹ，ｉ−１−ｍから状態記号に対応する等化誤差εｉ−１−ｍを１つ選択する。
以上によって求まった等化誤差εｉ−１−ｍを用いて、ＦＩＲフィルタ１の適応等化を行なう。
【００４２】
さらに等化基準レベル適応等化部６において、等化誤差選択部９が選択した等化誤差εｉ−１−ｍと、パスメモリ部４が検出した最終生き残りパス（状態記号）ｓｉ−ｍ、と状態記号遅延部１２が出力したｓｉ−１−ｍ、ｓｉ−２−ｍを用いてオーバーライトによる等化基準レベルの適応等化を行う。
【００４３】
等化基準レベルテーブル５では、等化基準レベルを保持している。そして、等化基準レベル適応等化部６による等化基準レベルの適応等化に基づいて、等化基準レベルを最適値に更新する。
【００４４】
次に本発明であるデータ検出器の動作を、図面を参照して詳細に説明する。
まず、Ｏ／Ｗシフトがある場合の、データ検出方法について説明する。
図３〜図７に、Ｏ／ＷシフトによるＰＲ等化波形への影響の例を示す。それぞれＰＲＭＬ方式であるＰＲ（１，−１）（図３）、ＰＲ４（図４）、ＥＰＲ４（Ｅｘｔｅｎｄｅｄ  Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  ｃｌａｓｓ−４、図５）、ＥＥＰＲ４（図６）、ＰＲ（１，１，０，−１，−１）（図７）等化の場合である。磁気記録されたデータは、Ｏ／Ｗシフトによりサンプリング点での値が本来の整数値からずれている。各図中、点線がＯ／Ｗシフト無しの場合のＰＲ等化波形であり、実線がシフトありの場合のＰＲ等化波形である。（シフトを特徴付ける量として、図上でα、β、γ、δ、εがある）。このようなシフトは、媒体に記録された過去の磁化分布の影響によって生じるため、事前に予測することは困難である。しかし、Ｏ／Ｗシフト量は、ヘッド媒体特性や記録密度、記録電流値、周速、半径位置、浮上量などの主に磁気記録装置の特性によって決まっており、条件が変化しなければほぼ一定値である。ゆえに、図３から７において、正しいＰＲ等化波形だけでなくシフトしたＰＲ等化波形が重ね合わされる可能性も考慮して状態遷移図を書き換えることができる。
図８に、図３に示したＰＲ（１、−１）等化の状態遷移図の例を示す。図８（ａ）は、Ｏ／Ｗシフトの無い場合であり、２つの等化基準レベル（１，０）に基づいた３つの判定基準レベル（±１、０）と２つの遷移状態（Ｓ＋，Ｓ−）が存在する。Ｏ／Ｗシフトにより等化基準レベルとして新たにα、βが生じると仮定する。そこで状態数を２つ（ＳＵ，ＳＤ）増やして、図８（ｂ）の状態遷移図を構成した。図において各ブランチ（矢印）に示した値（±１、０、±α、±β、±（１−β）、±（α−β））は、そのブランチに対する判定基準レベルである。Ｏ／Ｗシフトによって生じる等化誤差は、この状態遷移図に基づいて再生データを検出することによって補償されるため、再生データを高精度に検出することができる。なお、各ブランチに対応する再生データは、一般にはプリコーダの構成によって変化する。
【００４５】
次に、適応等化方法について説明する。一般にＰＲＭＬ方式での適応等化はＦＩＲフィルタに対してのみ行われている。また等化誤差は単純なレベル検出結果から求めており、ビタビ検出器からは独立している。しかし本発明では、判定レベルがα、βに関連し、単純な整数値（等化値）だけでなく、実数値として多数存在するため、単純なレベル判定による適応等化では十分な精度が得られない可能性が大きい。そこで、ビタビ検出結果を基にして適応等化を行うことを考える。通常のパスメモリでは再生データのみを最尤検出によって求めており、どのブランチが選択されたかは情報として残らない。そこでブランチそのもの（つまりパスそのもの）を最尤検出する。具体的には、再生データの代わりに選択されたブランチの出力元の状態記号ｓｉ−ｍを出力するようにパスメモリ部４を構成する。これにより状態記号ｓをたどることによって生き残りパスを特定することができ、各時点での判定基準値を求めることができる。一方、等化誤差計算部７では各状態の生き残りパスに対する等化誤差を求め、パスメモリ長に合わせて遅延させ、パスメモリ出力（状態記号）ｓｉ−ｍによってＥｉ−１−ｍから選択して確定等化誤差εｉ−１−ｍとして出力している。このようにして求めた等化誤差εｉ−１−ｍを用いて、ＦＩＲフィルタの適応等化を行う。Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルを適応等化するためには、特定された最終生き残りパスＰＹ，ｉから、ある時点の判定基準レベルＤiを求め、等化誤差εｉ−１−ｍを用いて適応等化を行う。
【００４６】
次に、ＰＲＭＬ方式にＰＲ（１，−１）ＭＬを用いた図３、および、図８（ｂ）の場合について、動作を説明する。図８（ｂ）の状態遷移図では、図３に示した、新たに加えたＯ／Ｗシフトによる２つの等化基準レベル（α、β）を省略せずに全て用いているので、図１の補正フラグＦｉによる補正のためのフィードバックは必要ない。一方、再生データを検出する過程においては、連続する２つの状態記号ｓ（“＋”、“−”、“Ｕ”、“Ｄ”）を用いることが必要となる。
【００４７】
【数２】
0004093447.tif 000003
ＦＩＲフィルタ部１は、磁気媒体からサンプリングされた再生波形ａｉの入力に応答して、数２に示すＰＲ等化処理を行い、ＰＲ等化波形ｂｉを出力する。その際、後段のプロセスで決定された等化誤差εｉ−１−ｍが、ＦＩＲフィルタ部１に入力され、ＦＩＲフィルタ部１での適応等化がｃｊを介して行われている。
数２において、ｃｊはＦＩＲフィルタのタップ係数であり、ＦＩＲフィルタのタップ数はＮ個である。ｊは、ｊ番目のタップを意味する。そして、収束係数ｃを用いて誤差２乗平均が最小となる様に適応等化されている。
ｂｉは、ａｉがＦＩＲフィルタを通過して、数２により生成されたＰＲ等化波形である。
Ｄｉは最尤検出によって最終的に決定された判定基準レベルであり、それとｂｉとの差が等化誤差εｉである。
このようなｃｊを介した適応等化を開発し、採用することにより、Ｏ/Ｗシフトの存在下においても、十分な精度のＰＲ等化を行うことが可能となる。
なお、ｍはパスメモリ長である。すなわち、パスメモリ部４において、新しくデータが１つ入る毎にｍステップ前のデータ（状態記号ｓｉ−ｍ）が確定し、パスメモリ部４から出力される。従って、状態記号により決定する等化誤差は、その確定までにｍステップの遅れを生じていることに注意する必要がある。
【００４８】
ブランチメトリック計算部２は、ＦＩＲフィルタ１から出力されたＰＲ等化波形ｂｉから、数３および数４を用いて、ブランチメトリックＢｉを計算する。
まず数３で、ｂｉについて、前（出現元Ｘ）の遷移状態と後（到達先Ｙ）の遷移状態間の遷移（Ｓ＋→ＳＬなど）として可能な全パターンについて、その全ブランチに対する等化誤差ＥＸＹ，ｉ（等化波形のサンプル点における値と判定基準レベルとの差）の２乗をそれぞれ求めている。
【数３】
0004093447.tif 000004
計算の際、各判定基準レベルは、孤立波等化基準レベルテーブル５が保持するＯ／Ｗシフトも含めた等化基準レベルＡから求めた判定基準レベルを用いる。添え字は遷移前後の遷移状態及び（ｉ）時点であることを意味する。例えばＥ２−＋，ｉは、（ｉ）時点におけるＳ−からＳ＋への遷移状態間の遷移についての等化誤差の２乗である。各等化誤差ＥＸＹ，ｉあるいはその２乗の値Ｅ２ＸＹ，ｉが小さいほど、判定基準レベルとＰＲ等化波形上の点ｂｉが近いことを意味している。
【００４９】
次に、数３で求めたＥ２ＸＹ，ｉを用いて、ブランチメトリックＢｉを計算する。
数４は、数３の等化誤差の２乗からｂｉの２乗を引いて２で割った結果であり、これをブランチメトリックＢｉとして定義している。すなわち、ブランチメトリックＢｘｙ，ｉ＝（Ｅ２ｘｙ，ｉ−ｂｉ２）／２  である（添え字は、等化誤差に同じ）。これらの式は複雑であるが、ｂｉ、αｂｉ、βｂｉと定数の加減算で求まる。この値は基本的には、等化誤差ＥＸＹ，ｉと同様に、その絶対値が小さいほど判定基準レベルとＰＲ等化波形上の点ｂｉが近いことを意味している。つまり（ｉ）時点だけに注目したとき、そのブランチが最も確からしさしいことを表している。
ここで求められた値（数４最下段で示す、Ｂｉ（ベクトル））は、パスメトリック計算部３へ出力される。
【数４】
0004093447.tif 000005
【００５０】
パスメトリック計算比較部３では、ブランチメトリック計算部２で計算されたブランチメトリックＢＸＹ，ｉとパスメトリック計算比較部３に保持する１時点前のパスメトリックＬｘ，ｉ−１とを各遷移状態において加算して（ｉ）時点でのパスメトリックＬＹ，ｉを求める。そして、各遷移状態ＹにおいてパスメトリックＬＹ，ｉが最小であるパスＰＹ，ｉを求める。
数５に、パスメトリックＬＹ，ｉの計算過程を示す。添え字は、遷移状態及びデータの時点を意味する。例えば、Ｌ＋，ｉは、（ｉ）の時点において遷移状態Ｓ＋のについてのパスメトリックである。各Ｌｘ，ｉ−１は、一時点前の遷移状態Ｘまでのパスメトリックを表している。そして、数５に示す様に、ブランチメトリックを加えて求めた、（ｉ）時点で遷移状態Ｙに入力される全パスメトリックの中から、最小になる値がパスメトリックＬＹ，ｉ（ベクトルの成分）として選択される（例えば、ＬＤ，ｉ＝ｍｉｎ｛Ｌ＋，ｉ−１＋Ｂ＋Ｄ，ｉ、ＬＵ，ｉ−１＋ＢＵＤ，ｉ｝＝Ｌ＋，ｉ−１＋Ｂ＋Ｄ，ｉ）。それは、パスに含まれる全ブランチの（ｉ）時点までの合計が最小となることであり、最も確からしい遷移状態の組み合せを選択することを意味するからである。なお、パスメトリックの値は、オーバーフローする可能性があるため、適宜、適当な定数値を加減算しオーバーフローを防ぐ必要がある。これはパスメトリックには、互いの差の大小にしか意味がないため可能となる。
ＬＹ，ｉの決定により、生き残りパスＰＹ，ｉ（その遷移状態Ｙになるのにどの遷移状態Ｘから来たかを示すパス）の状態記号（“＋”、“−”、“Ｕ”、“Ｄ”のどれか）および、その時点の等化誤差ＥＹ，ｉが決定する。それらは、数５でのＬＹ，ｉの選択において括弧内の何番目の値が選ばれたかによって決定される。つまり、ＬＹ，ｉとして括弧内の右から２番目が選ばれた場合、ＰＹ，ｉ、ＥＹ，ｉは共に括弧内の右から２番目を選ぶ。これは、ＬＹ，ｉにおいて最も確からしいとして選択した遷移状態と同じ遷移状態のＰＹ，ｉおよびＥＹ，ｉを選択することを意味している。つまり、数５のＰＹ，ｉ、ＥＹ，ｉは、括弧内に入っている２または４つの値から、前述の方法で選択した、１つの値を意味している。
こうして、Ｌｉ、Ｐｉ、Ｅｉは、数５下側で示す、３つのベクトルとして求まる。なお、実際にこの方法で等化誤差Ｅｉが決定されるのは、後述の等化誤差計算部７である。
【数５】
0004093447.tif 000006
また、パスメトリック計算比較部３では、選択されたパスＰＹ，ｉが次の時点でのブランチメトリック計算において、フィードバックによる補正の必要性の有無を示すフラグＦｉを出力する。ただし、本実施例では、補正フラグのフィードバックは行わない。
【００５１】
等化誤差計算部７では、等化基準レベルＡを用いて、ＰＲ等化波形ｂｉからすべてのブランチ（状態遷移）に対する等化誤差を求める。しかる後、前記パスメトリックＬＹ，ｉの計算過程で述べたように、数５で示す方法で、各遷移状態に対応する等化誤差Ｅｉを選択する。
【００５２】
パスメモリ部４では、パスメトリック計算比較部３において選択された生き残りパスＰＹ，ｉを用いて最尤検出（ビタビ検出）を行い、パスに対応する状態記号Ｓｉ−ｍを検出する。それについて図１２を参照して説明する。
図１２に、本実施例におけるパスメモリ部の構成を示す。このパスメモリ部は、遅延素子部１４に、再生データではなく状態記号（“＋”、“Ｕ”、“Ｄ”、“−”）を保持している。また、図１２に示された生き残りパスＰｉはベクトルであり、４つの変数｛Ｐ＋，ｉ、ＰＵ，ｉ、ＰＤ，ｉ、Ｐ−，ｉ｝から成っており、それぞれの変数は、状態記号 “＋”、“Ｕ”、“Ｄ”、“−”のいずれかの値を保持している。
（ｉ）の時点で、各セレクタ部１３−１〜１３−ｍの全ての４つの各セレクタ内に、パスメトリック計算比較部３において選択された４つの生き残りパスＰｉ＝｛Ｐ＋，ｉ、ＰＵ，ｉ、ＰＤ，ｉ、Ｐ−，ｉ｝の状態記号がセレクタの上から順に入る。そして、各セレクタ部１３−ｋ（ｋ＝１〜ｍ）は、直前の各遅延素子部１４−（ｋ−１）から、各遷移状態において、生き残りパスに対応するデータを選択する。つまり、例えば、遷移状態Ｓ＋の生き残りパスＰＹ，ｉが、（Ｐ＋、ｉ＝）“Ｄ”ならば、縦に並んだ４つのセレクタのうちＳ＋遷移状態に対応する一番上のセレクタは、４つの遅延素子のうち上から２番目の、遷移状態ＳＤからのデータ（状態記号）を選択する。選択されてセレクタ部１３−ｋに入ったデータは、隣に接続している遅延素子部１４−ｋに移る。そして、（ｉ＋１）の時点で、各セレクタに次の生き残りパスＰｉ＋１＝｛Ｐ＋，ｉ＋１、ＰＵ，ｉ＋１、ＰＤ，ｉ＋１、Ｐ−，ｉ＋１｝が入り、同じ動作を繰り返す。この動作は、最尤検出処理と同じであり、複数のセレクタを通過することにより、生き残りパスＰＹ，ｉが一つの遷移状態ｓｉに収束する。ここで、一番左側の遅延素子部１４−０に入るデータは、Ｐｉ＝｛Ｐ＋，ｉ、ＰＵ，ｉ、ＰＤ，ｉ、Ｐ−，ｉ｝そのものである。これは、各遷移状態の生き残りパスＰｉ（ベクトル）の初期値が、Ｐ＋，ｉ＝“＋”、ＰＵ，ｉ＝“Ｕ”、ＰＤ，ｉ＝“Ｄ”、Ｐ−，ｉ＝“−”であり、選択信号であるＰｉと選択された信号が一致するためである。
パスメモリ４は、ｍ段の遅延素子部によって構成されている。ゆえに、（ｉ）の時点でのセレクタによる状態記号の選択により、ｍ番目のセレクタ１３−ｍに最終的な状態記号ｓｉ−ｍが出力される。以上により、最終生き残りパスの経由する状態記号ｓｉ−ｍが決定する。
【００５３】
等化誤差選択部９では、等化誤差遅延部８でパスメモリ長ｍ分（正確にはｍ＋１）だけ遅延させた等化誤差（ＥＹ，ｉ−１−ｍ）について、パスメモリ部４で決定した状態記号ｓｉ−ｍにより等化誤差ＥＹ，ｉ−１−ｍから状態記号に対応する等化誤差εｉ−１−ｍを１つ選択する。
また、データセレクタ部１１では、検出された状態記号ｓｉ−ｍから、プリコーダの構成を考慮して、再生データｄｉ−１−ｍを求める。
数６に、等化誤差選択過程と再生データ検出過程を示す。数５と同様に、パスメモリ部４で検出したｓｉ−ｍでの選択位置と同じ位置のＥｉ−１−ｍを選択する。つまり、ｓｉ−ｍ＝“Ｄ”ならば、εｉ−１−ｍ＝ＥＤ，ｉ−１−ｍである。等化誤差は、パスメモリ出力に対して１クロック遅れた時点の値が得られる。ただし、数６のｓｉ−ｍ、εｉ−１−ｍは、括弧内に４つの値が入っているが、前述の方法で選択した、この中の１つの値を意味している。
一方、再生データの検出は少し複雑になる。連続する２つの状態記号からブランチを特定し、対応する再生データを求める。具体的には、ｓｉ−１−ｍとｓｉ−ｍの組み合わせにより、数６下側に示す４つの組み合わせではｄｉ−１−ｍ＝０となり、それ以外の組み合わせではｄｉ−１−ｍ＝１になる。
【数６】
0004093447.tif 000007
【００５４】
以上によって求まった等化誤差εｉ−１−ｍを用いて、前述したＦＩＲフィルタの適応等化を行なう。
さらに等化基準レベル適応等化部６において、等化誤差εｉ−１−ｍと最終生き残りパス（状態記号）ｓｉ−ｍを用いてオーバーライトによる等化基準レベルの適応等化を行う。
【数７】
0004093447.tif 000008
数７、数８にα、βに対する適応等化過程を示す。ｃα、ｃβは、収束係数である。数３に示された各ブランチに対応する等化誤差Ｅを数７のεに代入して数８を導出した。ただし、数８によってΔα、Δβの値を求めるにはブランチを特定する必要がある。そのためには、ｓｉ−１−ｍとｓｉ−ｍが必要になる。それらは、パスメモリ部４からの出力ｓｉ−ｍを、状態記号遅延部１２を通することにより得る。
等化基準レベルテーブル５では、等化基準レベル適応等化部６での数７および数８による等化基準レベルの適応等化に基づいて、等化基準レベルが記された等化基準レベルテーブルを最適値に更新する。
ここで計算された新たなα、βを新たな等化基準レベルとして用いることにより、適応等化が良好に行われ、より精度の高い最尤検出が可能となる。
【数８】
0004093447.tif 000009
【００５５】
以上のように、本実施例において、本発明は、状態遷移図および等化基準レベルにＯ／Ｗシフトを考慮した改善を加えることにより、Ｏ／Ｗシフトの有無も含めて精度良く再生データが検出できる。Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルは、等化誤差をもとに適応等化によって最適値を求めることにより、更に精度を上げることも可能である。
【００５６】
（実施例２）
本実施例であるデータ検出器の他の実施の一形態について、詳細に説明する。
実施例２では、ＰＲＭＬ方式にＰＲ４ＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  ｃｌａｓｓ４  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）を用いる点で、実施例１と異なる。
【００５７】
本実施例のデータ検出器のブロック図は、図１であり実施例１と同様であるので説明は省略する。
次に、図４、および、図９（ｂ）のＰＲ４ＭＬにおける、孤立再生波形のＯ／Ｗシフトおよび遷移状態図について説明する。図４においては、Ｏ／Ｗシフトにより、サンプル点での値がα、β、γとなると仮定する。従って、それらが新たな３つの等化基準レベルとなる。図９（ｂ）の状態遷移図では、図４に示した新たな３つの等化基準レベル（α、β、γ）のうち、２個（α、β）のみを用いて状態遷移図を作成している。そのためγについては、補正フラグＦｉによるフィードバックによって補償する必要がある点が、実施例１と異なる。
【００５８】
次に本発明であるデータ検出器の動作を、図面を参照して詳細に説明する。
まず、Ｏ／Ｗシフトがある場合の、データ検出方法について説明する。
図９に、図４に示したＰＲ４等化の場合の例を示す。図９（ａ）は、Ｏ／Ｗシフトのない場合の状態遷移図であり、２つの等化基準レベル（１，０）に基づいた３つの判定基準レベル（±１、０）と４つの遷移状態（ＳＬ、Ｓ＋、Ｓ−、ＳＲ）が存在する。Ｏ／Ｗシフトにより等化基準レベルとして新たにα、β、γが生じると仮定する。これらすべてを考慮して状態遷移図を作成した例を図１０に示す。これは遷移状態数１２個、ブランチ数３６本の非常に複雑な状態遷移図となる。そこで等化基準レベルとしてα、βのみを用いて状態遷移図を作成し、γについてはフィードバックによって補償するようにする。図９（ｂ）に、簡略化した状態遷移図の例を示す。等化基準レベル（１、０、α、β）に基づいた１８個の判定基準レベル（±１、０、±α、±β、±（１−α）、±（１−β）、±（α−β））、遷移状態数６個（ＳＬ、Ｓ＋、ＳＤ、ＳＵ、Ｓ−、ＳＲ）となり、図１０と比較して大幅に簡略化されている。しかし、このままでは等化基準レベルγが考慮されていないので等化誤差が生じる。次に、このγをフィードバックによって補償する方法を説明する。図９（ｂ）において、各遷移状態へ入るブランチは３本存在する。パスメトリック計算比較部３では、この３本からパスメトリックが最小となるパス（対応するブランチ、もしくは、ブランチに対応する状態記号）を選択することになる。このとき、例えば、選択されたブランチの判定基準レベルにβの項が入っている場合、つまり、遷移状態ＳＤ、ＳＵから伸びるブランチを含むパスを選択した場合、次の時点で、そのような遷移状態から伸びるブランチの判定基準レベルにはγの項の影響があるはずである。そこで、この情報（遷移状態ＳＤ、ＳＵから伸びるブランチを選択したこと）をブランチメトリック計算部２および等化誤差計算部７にフィードバック（補償フラグＦｉ）し、次の時点でのブランチメトリック計算結果および等化誤差計算結果を補償する。以上により、図４に示したＯ／Ｗシフトに対する最尤検出を行うことができる。
【００５９】
次に、適応等化方法については、判定レベルがα、β、γ、δ、εに関連しているほかは、実施例１と同様なので説明は省略する。
【００６０】
実施例２の動作について詳細に説明する。
ＦＩＲフィルタ部１によるＰＲ等化過程および最適化過程は、数２で表され、実施例１と同様なので説明は省略する。
ブランチメトリック計算部２は、ＦＩＲフィルタ１から出力されたＰＲ等化波形ｂｉから、数９、数１０および数１１を用いて、ブランチメトリックＢｉを計算する。
数９、数１０、数１１に、ブランチメトリック計算過程を示す。
数９は、全ブランチに対する等化誤差ＥＸＹ，ｉを求めている。Ｅの意味や添え字等は、遷移状態の種類が多いほかは、実施例１と同様である。各ＥＸＹ，ｉは、ｂｉが、ある遷移状態（Ｘ）から別の遷移状態（Ｙ）へ遷移する場合の等化誤差である。ここで、ｆｘ，ｉ−１は補正フラグである。添え字は、遷移状態（Ｘ）の（ｉ−１）時点での補正フラグであることを示している。例えばｆ−，ｉ−１は、（ｉ−１）時点である遷移状態“−”についての補正フラグであり、Ｐ−，ｉ−１（つまり、２時点前の遷移状態）に依存する。１次点前のｆを用いているのは、フィードバックによる補償を行うためである。なお、Ｆｉはベクトルであり、各遷移状態の補正フラグ｛ｆ＋，ｉ，ｆＵ，ｉ，ｆＤ，ｉ，ｆ−，ｉ｝をまとめたものである。
ｆｘ，ｉは、状態遷移（Ｘ）から延びる次の時点（ｉ＋１）でのブランチに対して、γによる補正が必要であるかどうかを示している。つまり、（ｉ）時点での遷移状態（Ｘ）へ入るブランチの等化判定レベル値にβの項が入っていれば、ｆｘ，ｉ＝１となり、（ｉ＋１）時点で遷移状態（Ｘ）から延びるブランチには必ずγの項が入ることを示している。このときβの項が含まれるブランチの出力元の遷移状態は、ＳＵおよびＳＤだけである。ゆえに、Ｐｉ＝｛Ｐ＋，ｉ、ＰＵ，ｉ、ＰＤ，ｉ、Ｐ−，ｉ｝が、“Ｕ”、“Ｄ”のとき、ｆｘ，ｉ＝１（次の時点で補正が必要）となり、それ以外ではｆｘ，ｉ＝０である（後述）。
【数９】
0004093447.tif 000010
数１０は、全ブランチに対する等化誤差ＥＸＹ，ｉの２乗である。
数１１は、数１０の等化誤差Ｅの２乗からｂｉの２乗を引いて２で割った結果である。これをブランチメトリックＢＸＹ，ｉとして定義しているのは、実施例１と同様である。そして、Ｅ２ＸＹ，ｉ、ＢＸＹ，ｉの意味や添え字等に関しては、遷移状態の種類が多いほかは、実施例１と同様である。
ここで求められた値（数１１最下段で示す、Ｂｉ（ベクトル））は、パスメトリック計算部３へ出力される。
【数１０】
0004093447.tif 000011
【数１１】
0004093447.tif 000012
【００６１】
パスメトリック計算比較部３では、ブランチメトリック計算部２で計算されたブランチメトリックＢＸＹ，ｉとパスメトリック計算比較部３に保持する１時点前のパスメトリックＬＸ，ｉ−１とを各遷移状態において加算して（ｉ）時点でのパスメトリックＬＹ，ｉを求める。そして、各遷移状態ＹにおいてパスメトリックＬＹ，ｉが最小であるパスＰＹ，ｉを求める。なお、パスメトリック値のオーバーフロー対策が必要になることは、実施例１と同様である。
数１２に、パスメトリックＬの計算過程を示す。ＬＹ，ｉ、ＰＹ，ｉ、ＥＹ，ｉの意味や添え字等は、遷移状態数が多い以外は実施例１と同様である。各ＬＸ，ｉ−１は、（ｉ−１）時点までのパスメトリック（その時点までのブランチメトリックの合計と等価な値）を表しており、（ｉ）の時点での各遷移状態Ｙにおいてパスメトリックは、出力元遷移状態Ｘが異なる複数の成分を有する。そして、その成分が最小になる遷移状態からのパスメトリックがＬＹ，ｉとして選択される。それは、そのパスに含まれるＢＸＹの合計が最小となることであり、最も確からしい遷移状態の順列を選択することを意味するからである。
【数１２】
0004093447.tif 000013
数１２でのＬＹ，ｉの決定後、生き残りパス（状態記号）ＰＹ，ｉ、等化誤差ＥＹ，ｉ、および、補正フラグＦＹ，ｉは、ＬＹ，ｉの決定において、最小値として括弧内の何番目が選ばれたかによって決まる。つまり、ＬＹ，ｉとして括弧内の右から２番目が選ばれた場合、ＰＹ，ｉ、ＥＹ，ｉ、ＦＹ，ｉとも括弧内の右から２番目を選ぶ。これは、最も確からしいとして決定したＬＹ，ｉに対応する、出力元遷移状態のＰＹ，ｉ、ブランチの等価誤差ＥＹ，ｉおよび補正フラグＦＹ，ｉを選択することを意味している。
こうして、Ｌｉ、Ｐｉ、Ｅｉ、Ｆｉは、数１２下側で示す、４つのベクトルとして求まる。これらのベクトルＬi、Ｐi、Ｅi、Ｆiは、ＬＹ，ｉ、ＰＹ，ｉ、ＥＹ，ｉ、ＦＹ，ｉをすべての遷移状態Ｙについてまとめて表したものである。なお、実際にこの方法で等化誤差ＥＹ，ｉが決定されるのは、後述の等化誤差計算部７においてである。それに関しては、実施例１と同様なので省略する。
【００６２】
ここで補正フラグＦｉ（ｆＹ，ｉ）による等化基準レベルの補償法について説明する。
パスメトリック計算比較部３において、数１２で選択されたパスＰＹ，ｉに対応するブランチにおいて、遷移状態ＳＤ、ＳＵからのブランチ（数１２では、ＰＹ，ｉの選択候補表示の一番右の値）が選択されたときｆ＝１となる。このブランチの判定基準値には、βの項が必ずある。ゆえに次の時点ではγの項が必ず含まれるはずである。以上より、このようなブランチから伸びる、次の（ｉ＋１）時点のブランチに対しては、判定基準レベルＤに対してγの補正を行えばよいことが分かる。これを１時点ずらして数式で示したものが数９である。
【００６３】
パスメモリ部４では、パスメトリック計算比較部３において選択されたパスメトリック最小である生き残りパスＰｉを用いて最尤検出（ビタビ検出）を行い、一本の最終生き残りパスの（ｉ−１−ｍ）時点に対応する状態記号Ｓｉ−ｍを検出する。本実施例におけるパスメモリ部４の構成を図１３に示す。各セレクタ部１３のセレクタ数および各遅延素子部１４の遅延素子数は、実施例１よりも多いが、その機能は実施例１と同様なので、動作の説明は省略する。
【００６４】
等化誤差選択部９では、状態記号ｓｉ−ｍに対応する等化誤差εｉ−１−ｍを選択し、データセレクタ部１１では、状態記号ｓｉ-ｍから再生データｄｉ−１−ｍを求める。
数１３に、その等化誤差選択過程と再生データ検出過程を示す。数５と同様に、ｓｉ−ｍの選択位置と同じ位置のＥｉ−１−ｍを選択する。つまり、ｓｉ−ｍ＝“Ｄ”となった場合、εｉ−１−ｍ＝ＥＤ，ｉ−１−ｍとなる。以上により等化誤差は、１クロック遅れた時点での値が得られる。ここで、数１３のｓｉ−ｍ、εｉ−１−ｍは、括弧内に６つの値が入っているが、前述の方法で選択した、この中の１つの値を意味している。つまり、ｓｉ−ｍとして括弧内の２番目の値を選んだときは、ε、ｄ、ｆは、それぞれ括弧内の２番目の値を選択する。
また、補正フラグｆｉ−ｍは、数１３によって、ｓｉ−ｍの値から一意的に決定される。
一方、再生データｄｉ−１−ｍは、数１３によって、ｓｉ−ｍの値から一意的に決定される。ただし、この結果はプリコードのない場合であり、プリコードがある場合は、対応する逆演算を行って再生データを検出する。一般には、ＰＲ等化方法、プリコーダの構成、状態遷移図の構成などによってｓｉとｄｉの関係は決定される。
【数１３】
0004093447.tif 000014
【００６５】
以上によって求まった等化誤差εｉ−１−ｍを用いて、前述のようにＦＩＲフィルタの適応等化を行なうと共に、等化基準レベル適応等化部６において、オーバーライトによる等化基準レベルの適応等化を行う。
数１４、数１５にα、β、γに対する適応等化過程を示す。ｃα、ｃβ、ｃγは、収束係数である。数９に示された各ブランチに対応する等化誤差Ｅを数１４のεに代入して数１５を導出した。ただし、数１５によって、Δα、Δβ、Δγの値を求めるにはブランチを特定する必要がある。そのためには、ｓｉ−１−ｍとｓｉ−ｍが必要になる。また数１５で必要なｆｉ−２−ｍを求めるためには、ｓｉ−２−ｍが必要である。それらは、パスメモリ部４からの出力ｓを状態記号遅延部１２を通することにより得る。
等化基準レベルテーブル５では、等化基準レベル適応等化部６による等化基準レベルの適応等化に基づいて、テーブルを最適値に更新する。
ここで計算された新たなα、β、γを新たな等化基準レベルとして用いること、および、補正フラグにより調整を行うことにより、適応等化が良好に行われ、より精度の高い最尤検出が可能となる。
【数１４】
0004093447.tif 000015
【数１５】
0004093447.tif 000016
【００６６】
本発明においては、パスメモリ部４は、適応等化を行うための等化誤差を求めるために、一般に採用される再生データではなく生き残りパスに対応する最終（最新）ブランチの出力元状態記号を保持している。パスメモリ部の最終段からは状態記号が出力されるため再生データを得るにはデータセレクタ１１のような何らかの変換が必要となる。
そこで、状態記号に変えて、全ブランチに通し番号を付けこの番号を保持するようにする。その場合、ブランチが特定されると再生データは一意的に決定されるため、前後の遷移状態は、直接は必要なくなり、データセレクタ１１を簡略化することが可能である。
【００６７】
なお、図１１は、さらに複雑な、図５に示したＥＰＲ４における、Ｏ／Ｗシフトに対する状態遷移図の例である。等化基準レベルαのみを考慮している。図９（ｂ）と同様に、その他の等化基準レベル（β、γ、δ）については生き残りパスを調べることによって影響の有無を判断し、それぞれフィードバックによって補償する。適応等化方法については、判定レベルがα、β、γ、δに関連しているほかは、実施例２と同様である。実施方法に関しても、実施例２と同様であるので省略する。
【００６８】
また、図６に示したＥＥＰＲ４におけるＯ／Ｗシフトや、図７に示したＰＲ（１，１，０，−１，−１）に関しても、ＰＲ４やＥＰＲ４と同様に行うことが出来る。まず、α、β、γ、δ、εの中から等化基準レベルにするものと、フィードバックにより補償するものを決定し、それにより状態遷移図を作成する。そして、実施例２と同様の方法に従って計算等を行うことより、Ｏ／Ｗシフトの有無、遷移状態の推移、再生データ検出等を精度良く行うことが可能となる。基準等化レベルとしては、基本的にはα、β、γ、δ、εの左から何番目までを選択しても良いが、ＥＥＰＲ４やＰＲ（１，１，０，−１，−１）では５つの内、一つ（α）のみを用いて状態遷移図を作成することが現実的である。α一つにすることで、状態遷移図を簡略化できるので、回路規模の増大を抑制することが可能である。
【００６９】
また、本発明において、用いられるＰＲＭＬ方式は任意である。Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルを仮定し、フィードバックによって補償する項を決めて状態遷移図を構成すれば、どのようなＰＲＭＬ方式にも適応できる。
【００７０】
以上のように、本実施例において、本発明による状態遷移図および等化基準レベルにＯ／Ｗシフトを考慮した改善を加えることにより、Ｏ／Ｗシフトの有無、遷移状態の推移、再生データ検出等を精度良く行うことが可能となる。Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルは、固定値を用いても良いし、等化誤差をもとに適応等化によって最適値を求めることも可能である。またＯ／Ｗシフトによる新たな等化基準レベルを加えた状態遷移図は非常に複雑になるので、Ｏ／Ｗシフトを検出した時点で、フィードバックによってＰＲ等化波形を補償することもできる。このときの状態遷移図は、Ｏ／Ｗシフトによる等化基準レベルの一部だけを取り入れればよいので簡略化できる。その結果、Ｏ／ＷシフトによるＰＲ等化誤差が減少し、高精度のデータ検出が可能となるほか、回路規模が縮小でき、磁気記録再生装置の小型化や、製造、保守等のコスト削減につなげることが出来る。
【００７１】
【発明の効果】
本発明の第１の効果は、Ｏ／Ｗシフトによる再生波形の特性劣化を補償するために、Ｏ／ＷシフトによるＰＲ等化波形の等化基準レベルのずれを考慮した状態遷移図を用い、Ｏ／Ｗシフトの有無も含めて最尤検出することにより等化誤差が小さくなり、精度の良い検出を行なうことができることである。
【００７２】
本発明の第２の効果は、Ｏ／Ｗシフトを考慮した状態遷移図の作成において、等化基準レベルのうちの後縁部の何点かをフィードバックによって補償することにより状態遷移図を簡略化し回路規模を縮小することができることである。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明のデータ検出器の全体構成を示すブロック図である。
【図２】  （ａ）Ｏ／Ｗによる磁化遷移位置シフトの無い磁気記録の説明図である。
（ｂ）Ｏ／Ｗによる磁化遷移位置シフトの有る磁気記録の説明図である。
【図３】  ＰＲ（１，−１）におけるＯ／ＷによるＰＲ等化波形のシフトを示す図である。
【図４】  ＰＲ４におけるＯ／ＷによるＰＲ等化波形のシフトを示す図である。
【図５】  ＥＰＲ４におけるＯ／ＷによるＰＲ等化波形のシフトを示す図である。
【図６】  ＥＥＰＲ４におけるＯ／ＷによるＰＲ等化波形のシフトを示す図である。
【図７】  ＰＲ（１，１，０，−１，−１）におけるＯ／ＷによるＰＲ等化波形のシフトを示す図である。
【図８】  （ａ）従来のＰＲ（１，−１）における状態遷移図の例を示す図である。
（ｂ）本発明のＰＲ（１，−１）における状態遷移図の例を示す図である。
【図９】  （ａ）従来のＰＲ４における状態遷移図の例を示す図である。
（ｂ）本発明のＰＲ４における簡略化した状態遷移図の例を示す図である。
【図１０】  本発明のＰＲ４における状態遷移図の例を示す図である。
【図１１】  本発明のＥＰＲ４における簡略化した状態遷移図の例を示す図である。
【図１２】  図８（ｂ）の状態遷移図に対応するパスメモリ部の詳細な構成を示す図である。
【図１３】  図９（ｂ）の状態遷移図に対応するパスメモリ部の詳細な構成を示す図である。
【図１４】  ＰＲ４の等化過程を示す図である。
【図１５】  孤立再生波形のＰＲ４等化波形を示す図である。
【図１６】  （ａ）ＰＲ４の状態遷移を示す図である。
（ｂ）ＰＲ４の状態遷移を時系列的に示す図である。
【符号の説明】
１    ＦＩＲフィルタ部
２    ブランチメトリック計算部
３    パスメトリック計算比較部
４    パスメモリ部
５    孤立波等化基準レベルテーブル
６    等化基準レベル適応等化部
７    等化誤差計算部
８    等化誤差遅延部
９    等化誤差選択部
１０    補正フラグ遅延部
１１    データセレクタ部
１２    状態記号遅延部
１３    セレクタ部
１４    遅延素子部
１７    ＰＲ等化部
１８    最尤検出部
１９    等化基準レベル部
２０    データ検出器
１０１    磁気ヘッド
１０２    媒体
１０３    ヘッド磁界
１０４    ヘッド磁界方向
１０５ａ  正常な磁化反転位置
１０５ｂ  シフトした磁化反転位置
１０５ｃ  ヘッド前方磁化遷移位置
１０６    磁化遷移による反磁界
１０７    磁化遷移による反磁界方向
１０８ａ  右向き初期磁化方向
１０８ｂ  左向き初期磁化方向
１０９ａ  正常な記録磁化
１０９ｂ  ずれた記録磁化
１１０ａ  記録された磁化
１１０ｂ  記録された磁化
１１１    磁化反転のシフト
１１２    磁気ヘッド進行方向
ai  ： 再生波形
bi  ： ＰＲ等化波形
Ｐi  ： 各状態に対する生き残りパス（状態番号）（ベクトル量）
Ｌi  ： 各状態への生き残りパスのパスメトリック（ベクトル量）
Ｅi  ： 各状態への生き残りパスに対する等化誤差（ベクトル量）
Ａ  ： Ｏ／Ｗシフトによる孤立波等化基準レベル（ベクトル量、α、β、γ...）
ｄi  ： 再生データ列
Ｂi  ： 全ブランチメトリック（ベクトル量）
Ｆi  ： ブランチメトリック補正フラグ（ベクトル量）
εi  ： 最終決定等化誤差
ｓi  ： 最終生き残りパスに対応する状態記号
ｍ  ： パスメモリ長
ｉ  ： 時間（クロック）
ｃj  ： ＦＩＲフィルタのタップ係数
Ｎ  ： ＦＩＲフィルタのタップ数
ｃ、ｃα、ｃβ、ｃγ  ： 適応等化の収束係数
注：ベクトル量とは、複数の値を纏めて示したものであることを示している。
【図１】
0004093447.tif 000017
【図２】
0004093447.tif 000018
【図３】
0004093447.tif 000019
【図４】
0004093447.tif 000020
【図５】
0004093447.tif 000021
【図６】
0004093447.tif 000022
【図７】
0004093447.tif 000023
【図８】
0004093447.tif 000024
【図９】
0004093447.tif 000025
【図１０】
0004093447.tif 000026
【図１１】
0004093447.tif 000027
【図１２】
0004093447.tif 000028
【図１３】
0004093447.tif 000029
【図１４】
0004093447.tif 000030
【図１５】
0004093447.tif 000031
【図１６】
0004093447.tif 000032