(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録方法において、
実際の情報の記録に先立ち、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うともに、前記記録パワー毎にアシンメトリを検出して前記アシンメトリと前記記録パワーとの第１の関係を求め、
次に、前記記録パワーを所定記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対する前記レーザ光の空間的位置関係を順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うとともに、前記空間的位置関係毎にアシンメトリおよび異なる長さのピットに関する反射光量比を検出して、前記アシンメトリと前記反射光量比との第２の関係を求め、
更に、前記第１の関係と前記第２の関係に基づき前記記録パワーと前記反射光量比との第３の関係を求めるとともに、最適記録パワーに対応する最適反射光量比を求め、
実際の情報の記録に際しては、前記反射光量比を検出することにより前記第３の関係に基づき該検出した反射光量比に対応する記録パワーを求めて、該検出した反射光量比と前記最適反射光量比の差分が零になるように該記録パワーを補正する
ことを特徴とする光情報記録方法。
【請求項２】
前記光情報記録媒体に対する前記レーザ光の空間的位置関係の順次変化は、前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで変化させることにより行われる
ことを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。
【請求項３】
前記第１の関係に基づき最適記録パワーを求め、
前記所定記録パワーを該求めた最適記録パワーに設定する
ことを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。
【請求項４】
前記反射光量比は、
前記レーザ光スポットのスポット径より小さい第１のピットからの第１の全反射光量および前記スポット径より大きい第２のピットからの第２の全反射光量を検出して、該第２の全反射光量に対する前記第１の全反射光量の比から算出する
ことを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。
【請求項５】
前記第１のピットは、前記情報の記録に用いられる最小長のピットであり、
前記第２のピットは、前記情報の記録に用いられる最大長のピットである
ことを特徴とする請求項４記載の光情報記録方法。
【請求項６】
ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録方法において、
実際の情報の記録に先立つ記録レーザ光強度最適化処理に際して、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第１のステップと、
前記第１のステップによる記録に際して、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出して得られる出力値と後端部の反射光強度の平均値を検出して得られる出力値との差からなる差分光強度対応値、前記スポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比である反射光量比およびアシンメトリを前記記録パワーに対応して検出するとともに、前記差分光強度対応値と前記反射光量比を検出して得られる出力値（以下、反射光量比対応値）との差を差分検出値として算出する第２のステップと、
前記第２のステップで検出した前記差分光強度対応値に基づき前記記録パワーと前記差分光強度対応値との関係を示す第１検出式を求めて記憶する第３のステップと、
前記第２のステップで算出した前記差分検出値に基づき前記記録パワーと前記差分検出値との関係を示す第２検出式を求めて記憶する第４のステップと、
前記第２のステップで検出した前記アシンメトリに基づき前記アシンメトリと前記記録パワーとの関係を示す基準式を求めて記憶する第５のステップと、
前記第５のステップで記憶した前記基準式に基づき最適アシンメトリが得られる最適記録パワーを求めて記憶する第６のステップと、
前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第１検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分光強度対応値を求めて、この値を最適差分光強度対応値として記憶する第７のステップと、
前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第２検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分検出値を求めて、この値を最適基準化差分検出値として記憶する第８のステップと、
前記記録パワーを前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第９のステップと、
前記第９のステップによる記録に際して、前記オフセット毎に、前記反射光量比対応値およびアシンメトリを検出する第１０のステップと、
前記第１０のステップで検出した前記反射光量比対応値およびアシンメトリに基づき前記アシンメトリに対する反射光量比対応値の関係式を求める第１１のステップと、
前記第１１のステップで求めた前記関係式と前記第５のステップで求めた前記基準式に基づき前記記録パワーと前記反射光量比対応値との関係を示す第３検出式を求めて記憶する第１２のステップと、
前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第３検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する反射光量比対応値を求めて、この値を最適反射光量比対応値として記憶する第１３のステップと、
実際の情報の記録に際して、前記差分光強度対応値および前記反射光量比対応値を検出するとともに前記差分検出値を算出する第１４のステップと、
前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記最適差分光強度対応値との第１の差分を算出する第１５のステップと、
前記第１４のステップで算出した前記差分検出値と前記最適基準化差分検出値との第２差分を算出する第１６のステップと、
前記第１４のステップで検出した前記反射光量比対応値と前記最適反射光量比対応値との第３の差分を算出する第１７のステップと、
前記第３の差分が零で前記第１の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記第１検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第１の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１８のステップと、
前記第３の差分が零でなく、前記第１の差分が零である場合は、前記第１４のステップで検出した反射光量比対応値と前記第３検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第３の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１９のステップと、
前記第３の差分が零でなく、かつ前記第１の差分が零でなく、前記第２の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで算出した差分検出値と前記第２検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第２の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２０のステップと
を具備することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項７】
前記第１検出式、前記第２検出式、前記第３検出式は、
それぞれ一次関数からなることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項８】
前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットは、
前記情報の記録に用いられる最大長のピットであり、
前記レーザ光スポットのスポット径より小さいピットは、
前記情報の記録に用いられる最小長のピットである
ことを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項９】
ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録装置において、
前記光情報記録媒体にレーザ光を照射するとともに該光情報記録媒体からの反射光を受光して受光信号を出力する光ピックアップと、
前記光ピックアップから出力されるレーザ光の記録パワーを制御するレーザ制御手段と、
前記光ピックアップのフォーカス、トラッキング、チルトの少なくとも１つを制御するサーボ制御手段と、
前記光ピックアップから出力される前記受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比を反射光量比として検出する反射光量比検出手段と、
前記光ピックアップから出力される前記受光信号に基づき該受光信号のアシンメトリを検出するアシンメトリ検出手段と、
実際の情報の記録に先立ち、前記レーザ制御手段を制御することにより前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて、該光情報記録媒体に第１の記録を行い、前記記録パワー毎に、アシンメトリ検出手段からアシンメトリを検出して該アシンメトリと前記記録パワーとの第１の関係を求め、次に、前記記録パワーを所定記録パワーに固定して、前記サーボ制御手段を制御することにより前記光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのオフセットを所定ステップで順次変化させて、該光情報記録媒体に第２の記録を行い、前記オフセット毎に、アシンメトリ検出手段からアシンメトリを検出するとともに、前記反射光量比検出手段から反射光量比を検出して、前記アシンメトリと前記反射光量比との第２の関係を求め、更に、前記第１の関係と前記第２の関係に基づき前記記録パワーと前記反射光量比との第３の関係を求めるとともに、最適記録パワーに対応する最適反射光量比を求める第１の制御手段と、
実際の情報の記録に際して、前記反射光量比検出手段から前記反射光量比を検出することにより前記第３の関係に基づき該検出した反射光量比に対応する記録パワーを求めて、該検出した反射光量比と前記最適反射光量比の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２の制御手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項１０】
前記第１の制御手段は、
前記第１の記録に際して求めた第１の関係に基づき最適記録パワーを求め、
該求めた最適記録パワーで前記第２の記録の所定記録パワーを設定する
ことを特徴とする請求項９記載の光情報記録装置。
【請求項１１】
前記反射光量比検出手段は、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より小さい第１のピットからの全反射光量を検出する第１の検出回路と、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きい第２のピットからの全反射光量を検出する第２の検出回路と、
前記第１の検出回路の検出出力を前記第２の検出回路の検出出力で除算する除算回路と
を具備することを特徴とする請求項９記載の光情報記録装置。
【請求項１２】
前記第１のピットは、
前記情報の記録に用いられる最小長のピットであり、
前記第２のピットは、
前記情報の記録に用いられる最大長のピットである
ことを特徴とする請求項１１記載の光情報記録装置。
【請求項１３】
ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録装置において、
前記光情報記録媒体にレーザ光を照射するとともに該光情報記録媒体からの反射光を受光して受光信号を出力する光ピックアップと、
前記光ピックアップから出力されるレーザ光の記録パワーを制御するレーザ制御手段と、
前記光ピックアップのフォーカス、トラッキング、チルトの少なくとも１つを制御するサーボ制御手段と、
前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出して得られる出力値と後端部の反射光強度の平均値を検出して得られる出力値との差からなる差分光強度対応値を検出する差分光強度値検出手段と、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比からなる反射光量比を検出して得られる出力値（以下、反射光量比対応値）を検出する反射光量比検出手段と、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき該受光信号のアシンメトリを検出するアシンメトリ検出手段と、
制御手段と
を具備し、
前記制御手段は、
実際の情報の記録に先立つ記録レーザ光強度最適化処理に際して、前記レーザ制御手段を制御することにより前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第１の記録制御手段と、
前記第１の記録制御手段による記録に際して、前記記録パワーに対応して前記差分光強度値検出手段から前記差分光強度対応値を、前記反射光量比検出手段から前記反射光量比対応値を、アシンメトリ検出手段からアシンメトリを取得するとともに前記差分光強度対応値と前記反射光量比対応値との差を差分検出値として算出する第１の取得手段と、
前記第１の取得手段で取得した前記差分光強度対応値に基づき前記記録パワーと前記差分光強度対応値との関係を示す第１検出式を求めて記憶する第１の処理手段と、
前記第１の取得手段で算出した差分検出値に基づき前記記録パワーと前記差分検出値との関係を示す第２検出式を求めて記憶する第２の処理手段と、
前記第１の取得手段で取得したアシンメトリに基づき前記アシンメトリと前記記録パワーとの関係を示す基準式を求めて記憶する第３の処理手段と、
前記第３の処理手段で記憶した基準式に基づき最適アシンメトリが得られる最適記録パワーを求めて記憶する第４の処理手段と、
前記第４の処理手段で求めた最適記録パワーと前記第１検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分光強度対応値を求めて、この値を最適差分光強度対応値として記憶する第５の処理手段と、
前記第４の処理手段で求めた最適記録パワーと前記第２検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分検出値を求めて、この値を最適基準化差分検出値として記憶する第６の処理手段と、
前記レーザ制御手段および前記サーボ制御手段を制御することにより前記記録パワーを前記第４の記憶手段で求めた最適記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第２の記録制御手段と、
前記第２の記録制御手段による記録に際して、前記オフセット毎に前記反射光量比検出手段から前記反射光量比対応値を取得するとともに前記アシンメトリ検出手段からアシンメトリを取得する第２の取得手段と、
前記第２の取得手段で取得した前記反射光量比対応値および前記アシンメトリに基づき前記アシンメトリに対する前記反射光量比対応値の関係式を求める第７の処理手段と、
前記第７の処理手段で求めた前記関係式と前記第３の処理手段で求めた前記基準式に基づき前記記録パワーと前記反射光量比対応値との関係を示す第３検出式を求めて記憶する第８の処理手段と、
前記第４の処理手段で求めた最適記録パワーと前記第３検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する反射光量比対応値を求めて、この値を最適反射光量比対応値として記憶する第９の処理手段と、
実際の情報の記録に際して、前記差分光強度値検出手段で検出した前記差分光強度対応値を取得するとともに、前記反射光量比検出手段で検出した前記反射光量比対応値を取得し、更に、前記差分検出値を算出する第３の取得手段と、
前記第３の取得手段で取得した前記差分光強度対応値と前記最適差分光強度対応値との第１の差分を算出する第１０の処理手段と、
前記第３の取得手段で算出した前記差分検出値と前記最適基準化差分検出値との第２の差分を算出する第１１の処理手段と、
前記第３の取得手段で取得した前記反射光量比対応値と前記最適反射光量比対応値との第３の差分を算出する第１２の処理手段と、
前記第３の差分が零で前記第１の差分が零でない場合は、前記第３の取得手段で取得した前記差分光強度対応値と前記第１検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第１の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１の補正手段と、
前記第３の差分が零でなく、前記第１の差分が零である場合は、前記第３の取得手段で取得した反射光量比対応値と前記第３検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第３の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２の補正手段と、
前記第３の差分が零でなく、かつ前記第１の差分が零でなく、前記第２の差分が零でない場合は、前記第３の取得手段で算出した差分検出値と前記第２検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第２の差分が零になるように該記録パワーを補正する第３の補正手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項１４】
前記第１検出式、前記第２検出式、前記第３検出式は、
それぞれ一次関数からなることを特徴とする請求項１３記載の光情報記録装置。
【請求項１５】
前記差分光強度値検出手段は、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットからの受光信号を検出する検出回路と、
前記検出回路の出力に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出するピーク検出回路と、
前記検出回路の出力に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの後端部の反射光強度の平均値を求めるサンプルホールド回路と、
前記ピーク検出回路の出力と前記サンプルホールド回路の出力との差を求める減算回路と
を具備することを特徴とする請求項１３記載の光情報記録装置。
【請求項１６】
前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットは、
前記情報の記録に用いられる最大長のピットである
ことを特徴とする請求項１５記載の光情報記録装置。
【請求項１７】
前記反射光量比検出手段は、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より小さい第１のピットからの全反射光量を検出する第１の検出回路と、
前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きい第２のピットからの全反射光量を検出する第２の検出回路と、
前記第１の検出回路の検出出力を前記第２の検出回路の検出出力で除算する除算回路と
を具備することを特徴とする請求項１３記載の光情報記録装置。
【請求項１８】
前記第１のピットは、
前記情報の記録に用いられる最小長のピットであり、
前記第２のピットは、
前記情報の記録に用いられる最大長のピットである
ことを特徴とする請求項１７記載の光情報記録装置。
【請求項１９】
ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成するコンピュータによって処理される光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体であって、
前記光情報記録制御プログラムは、
実際の情報の記録に先立ち、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うともに、前記記録パワー毎にアシンメトリを検出して前記アシンメトリと前記記録パワーとの第１の関係を求める第１のステップと、
前記記録パワーを所定記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対する前記レーザ光の空間的位置関係を順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うとともに、前記空間的位置関係毎にアシンメトリおよび異なる長さのピットに関する反射光量比を検出して、前記アシンメトリと前記反射光量比との第２の関係を求める第２のステップと、
前記第１の関係と前記第２の関係に基づき前記記録パワーと前記反射光量比との第３の関係を求めるとともに、最適記録パワーに対応する最適反射光量比を求める第３のステップと、
実際の情報の記録に際しては、前記反射光量比を検出することにより前記第３の関係に基づき該検出した反射光量比に対応する記録パワーを求めて、該検出した反射光量比と前記最適反射光量比の差分が零になるように該記録パワーを補正する第４のステップと
を具備することを特徴とする光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体。
【請求項２０】
ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成するコンピュータによって処理される光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体であって、
前記光情報記録制御プログラムは、
実際の情報の記録に先立つ記録レーザ光強度最適化処理に際して、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第１のステップと、
前記第１のステップによる記録に際して、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出して得られる出力値と後端部の反射光強度の平均値を検出して得られる出力値との差からなる差分光強度対応値、前記スポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比である反射光量比およびアシンメトリを前記記録パワーに対応して検出するとともに、前記差分光強度対応値と前記反射光量比を検出して得られる出力値（以下、反射光量比対応値）との差を差分検出値として算出する第２のステップと、
前記第２のステップで検出した前記差分光強度対応値に基づき前記記録パワーと前記差分光強度対応値との関係を示す第１検出式を求めて記憶する第３のステップと、
前記第２のステップで算出した前記差分検出値に基づき前記記録パワーと前記差分検出値との関係を示す第２検出式を求めて記憶する第４のステップと、
前記第２のステップで検出した前記アシンメトリに基づき前記アシンメトリと前記記録パワーとの関係を示す基準式を求めて記憶する第５のステップと、
前記第５のステップで記憶した前記基準式に基づき最適アシンメトリが得られる最適記録パワーを求めて記憶する第６のステップと、
前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第１検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分光強度対応値を求めて、この値を最適差分光強度対応値として記憶する第７のステップと、
前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第２検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分検出値を求めて、この値を最適基準化差分検出値として記憶する第８のステップと、
前記記録パワーを前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第９のステップと、
前記第９のステップによる記録に際して、前記オフセット毎に、前記反射光量比対応値およびアシンメトリを検出する第１０のステップと、
前記第１０のステップで検出した前記反射光量比対応値およびアシンメトリに基づき前記アシンメトリに対する反射光量比対応値の関係式を求める第１１のステップと、
前記第１１のステップで求めた前記関係式と前記第５のステップで求めた前記基準式に基づき前記記録パワーと前記反射光量比対応値との関係を示す第３検出式を求めて記憶する第１２のステップと、
前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第３検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する反射光量比対応値を求めて、この値を最適反射光量比対応値として記憶する第１３のステップと、
実際の情報の記録に際して、前記差分光強度対応値および前記反射光量比対応値を検出するとともに前記差分検出値を算出する第１４のステップと、
前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記最適差分光強度対応値との第１の差分を算出する第１５のステップと、
前記第１４のステップで算出した前記差分検出値と前記最適基準化差分検出値との第２の差分を算出する第１６のステップと、
前記第１４のステップで検出した前記反射光量比対応値と前記最適反射光量比対応値との第３の差分を算出する第１７のステップと、
前記第３の差分が零で前記第１の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記第１検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第１の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１８のステップと、
前記第３の差分が零でなく、前記第１の差分が零である場合は、前記第１４のステップで検出した反射光量比対応値と前記第３検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第３の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１９のステップと、
前記第３の差分が零でなく、かつ前記第１の差分が零でなく、前記第２の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで算出した差分検出値と前記第２検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第２の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２０のステップと
を具備することを特徴とする光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光情報記録方法および装置並びに光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光情報記録媒体、例えば追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒ）等の光ディスクに大容量の情報を記録する技術が用いられ、近年においては２〜６倍速或いはさらに速い記録速度で情報を記録する技術が一般に普及している。
【０００３】
光ディスクに情報を記録する際には、記録対象の情報をディジタル化したディジタル信号に基づいて、回転している光ディスクに対して光ピックアップからパルス状のレーザ光を照射してピットを形成している。
【０００４】
記録対象の情報をディジタル化したディジタル信号を用いて光ディスク上にピットを形成するときは、例えばディジタル信号のハイレベルの期間に光ディスクに照射するレーザ光の強度を高強度に制御し、このレーザ光エネルギーによって記録層の状態を変化させてピットを形成している。また、ローレベルの期間にはトラッキングを行うために必要な低い光強度のレーザ光を照射している。
【０００５】
また、光ディスクは、ディスクの反りや変形によってディスク上の情報記録面に傾きが生じることがある。この情報記録面の傾きは、一定したものではない場合がほとんどであり、光ディスクの内周から外周に向かうほど徐々に大きくなっていく。ここで、光ディスクの回転軸に直交する平面に対する情報記録面の傾き角度θを一般にチルト角度と称している。
【０００６】
情報記録面に傾きが生じていないときは、光ピックアップから情報記録面に対してほぼ垂直にレーザ光を照射してピットを形成する。
【０００７】
しかし、レーザ光の射出方向を一定とした場合、情報記録面に傾きが生じると、レーザ光のスポットが歪むために情報記録面の単位面積あたりの照射光量が減少するので、ピットの大きさが小さくなってしまい、情報再生時にジッターが悪化する。
【０００８】
このため、光ディスクの情報記録面の傾き（チルト角度）を検出し、チルト角度に基づいて光ピックアップを傾けて、レーザ光の射出方向が光ディスクの情報記録面に対して垂直になるように制御するチルトサーボ制御が採用されている。
【０００９】
さらに、上記のチルトサーボ制御に加えて、レーザ光スポットのフォーカス制御およびレーザ光スポットがグルーブに追従するようにトラッキング制御等のサーボ制御を行うことにより最適なピットを形成できるようにしている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ピックアップをチルト角度θに応じて傾ける機構は、複雑であり装置のコスト高を招いていた。
【００１１】
また、チルト補正機構を用いず、記録を適正（適正β）にする方法としては、「光ディスク記録再生装置のパワーキャリブレーション方法」（特開平８−１４７７０１号）に開示されるように外周においても記録レーザ光強度最適化（ＯＰＣ：Optimum Power Control ，以下ＯＰＣと称する）を行うことも考えられるが、この場合はＯＰＣに時間がかかってしまう。
【００１２】
なお、上記βは、アシンメトリを表し、次の（Ａ）若しくは（Ｂ）式によって表される。
【００１３】
β＝（Ａ1＋Ａ2）／（Ａ1−Ａ2）  …（Ａ）
β＝[(Ｉ14H＋Ｉ14L)−(Ｉ3H＋Ｉ3L)]／[２(Ｉ14H−Ｉ14L)]  …（Ｂ）
ここで、Ａ1はＣＤ−Ｒの長さが１１Ｔのパルスのトップレベル、Ａ2は長さが１１Ｔのボトムレベルの値である。
【００１４】
また、Ｉ14Hは、ＤＶＤ−Ｒの長さが１４Ｔのパルスのトップレベル、Ｉ14Lは、長さが１４Ｔのパルスのボトムレベル、Ｉ3Hは、長さが３Ｔのパルスのトップレベル、Ｉ3Lは、長さが３Ｔのパルスのボトムレベルの値である。
【００１５】
この発明は、光情報記録媒体の情報記録面に傾き等が生じていてもレーザ光射出方向を一定にして情報記録を行えるようにした光情報記録方法および装置を提供することを目的とする。
【００１６】
また、この発明は、光情報記録媒体の情報記録面に傾き等が生じていてもレーザ光射出方向を一定にして情報記録を行えるようにした光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録方法において、実際の情報の記録に先立ち、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うともに、前記記録パワー毎にアシンメトリを検出して前記アシンメトリと前記記録パワーとの第１の関係を求め、次に、前記記録パワーを所定記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対する前記レーザ光の空間的位置関係を順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うとともに、前記空間的位置関係毎にアシンメトリおよび異なる長さのピットに関する反射光量比を検出して、前記アシンメトリと前記反射光量比との第２の関係を求め、更に、前記第１の関係と前記第２の関係に基づき前記記録パワーと前記反射光量比との第３の関係を求めるとともに、最適記録パワーに対応する最適反射光量比を求め、実際の情報の記録に際しては、前記反射光量比を検出することにより前記第３の関係に基づき該検出した反射光量比に対応する記録パワーを求めて、該検出した反射光量比と前記最適反射光量比の差分が零になるように該記録パワーを補正することを特徴とする。
【００１８】
また、請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記光情報記録媒体に対する前記レーザ光の空間的位置関係の順次変化は、前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで変化させることにより行われることを特徴とする。
【００１９】
また、請求項３の発明は、請求項１の発明において、前記第１の関係に基づき最適記録パワーを求め、前記所定記録パワーを該求めた最適記録パワーに設定することを特徴とする。
【００２０】
また、請求項４の発明は、請求項１の発明において、前記反射光量比は、前記レーザ光スポットのスポット径より小さい第１のピットからの第１の全反射光量および前記スポット径より大きい第２のピットからの第２の全反射光量を検出して、該第２の全反射光量に対する前記第１の全反射光量の比から算出することを特徴とする。
【００２１】
また、請求項５の発明は、請求項４の発明において、前記第１のピットは、前記情報の記録に用いられる最小長のピットであり、前記第２のピットは、前記情報の記録に用いられる最大長のピットであることを特徴とする。
【００２２】
また、請求項６の発明は、ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録方法において、実際の情報の記録に先立つ記録レーザ光強度最適化処理に際して、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第１のステップと、前記第１のステップによる記録に際して、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出して得られる出力値と後端部の反射光強度の平均値を検出して得られる出力値との差からなる差分光強度対応値、前記スポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比である反射光量比およびアシンメトリを前記記録パワーに対応して検出するとともに、前記差分光強度対応値と前記反射光量比を検出して得られる出力値（以下、反射光量比対応値）との差を差分検出値として算出する第２のステップと、前記第２のステップで検出した前記差分光強度対応値に基づき前記記録パワーと前記差分光強度対応値との関係を示す第１検出式を求めて記憶する第３のステップと、前記第２のステップで算出した前記差分検出値に基づき前記記録パワーと前記差分検出値との関係を示す第２検出式を求めて記憶する第４のステップと、前記第２のステップで検出した前記アシンメトリに基づき前記アシンメトリと前記記録パワーとの関係を示す基準式を求めて記憶する第５のステップと、前記第５のステップで記憶した前記基準式に基づき最適アシンメトリが得られる最適記録パワーを求めて記憶する第６のステップと、前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第１検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分光強度対応値を求めて、この値を最適差分光強度対応値として記憶する第７のステップと、前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第２検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分検出値を求めて、この値を最適基準化差分検出値として記憶する第８のステップと、前記記録パワーを前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第９のステップと、前記第９のステップによる記録に際して、前記オフセット毎に、前記反射光量比対応値およびアシンメトリを検出する第１０のステップと、前記第１０のステップで検出した前記反射光量比対応値およびアシンメトリに基づき前記アシンメトリに対する反射光量比対応値の関係式を求める第１１のステップと、前記第１１のステップで求めた前記関係式と前記第５のステップで求めた前記基準式に基づき前記記録パワーと前記反射光量比対応値との関係を示す第３検出式を求めて記憶する第１２のステップと、前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第３検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する反射光量比対応値を求めて、この値を最適反射光量比対応値として記憶する第１３のステップと、実際の情報の記録に際して、前記差分光強度対応値および前記反射光量比対応値を検出するとともに前記差分検出値を算出する第１４のステップと、前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記最適差分光強度対応値との第１の差分を算出する第１５のステップと、前記第１４のステップで算出した前記差分検出値と前記最適基準化差分検出値との第２差分を算出する第１６のステップと、前記第１４のステップで検出した前記反射光量比対応値と前記最適反射光量比対応値との第３の差分を算出する第１７のステップと、前記第３の差分が零で前記第１の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記第１検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第１の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１８のステップと、前記第３の差分が零でなく、前記第１の差分が零である場合は、前記第１４のステップで検出した反射光量比対応値と前記第３検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第３の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１９のステップと、前記第３の差分が零でなく、かつ前記第１の差分が零でなく、前記第２の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで算出した差分検出値と前記第２検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第２の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２０のステップとを具備することを特徴とする。
【００２３】
また、請求項７の発明は、請求項６の発明において、前記第１検出式、前記第２検出式、前記第３検出式は、それぞれ一次関数からなることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項８の発明は、請求項６の発明において、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットは、前記情報の記録に用いられる最大長のピットであり、前記レーザ光スポットのスポット径より小さいピットは、前記情報の記録に用いられる最小長のピットであることを特徴とする。
【００２５】
また、請求項９の発明は、ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録装置において、前記光情報記録媒体にレーザ光を照射するとともに該光情報記録媒体からの反射光を受光して受光信号を出力する光ピックアップと、前記光ピックアップから出力されるレーザ光の記録パワーを制御するレーザ制御手段と、前記光ピックアップのフォーカス、トラッキング、チルトの少なくとも１つを制御するサーボ制御手段と、前記光ピックアップから出力される前記受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比を反射光量比として検出する反射光量比検出手段と、前記光ピックアップから出力される前記受光信号に基づき該受光信号のアシンメトリを検出するアシンメトリ検出手段と、実際の情報の記録に先立ち、前記レーザ制御手段を制御することにより前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて、該光情報記録媒体に第１の記録を行い、前記記録パワー毎に、アシンメトリ検出手段からアシンメトリを検出して該アシンメトリと前記記録パワーとの第１の関係を求め、次に、前記記録パワーを所定記録パワーに固定して、前記サーボ制御手段を制御することにより前記光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのオフセットを所定ステップで順次変化させて、該光情報記録媒体に第２の記録を行い、前記オフセット毎に、アシンメトリ検出手段からアシンメトリを検出するとともに、前記反射光量比検出手段から反射光量比を検出して、前記アシンメトリと前記反射光量比との第２の関係を求め、更に、前記第１の関係と前記第２の関係に基づき前記記録パワーと前記反射光量比との第３の関係を求めるとともに、最適記録パワーに対応する最適反射光量比を求める第１の制御手段と、実際の情報の記録に際して、前記反射光量比検出手段から前記反射光量比を検出することにより前記第３の関係に基づき該検出した反射光量比に対応する記録パワーを求めて、該検出した反射光量比と前記最適反射光量比の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２の制御手段とを具備することを特徴とする。
【００２６】
また、請求項１０の発明は、請求項９の発明において、前記第１の制御手段は、前記第１の記録に際して求めた第１の関係に基づき最適記録パワーを求め、該求めた最適記録パワーで前記第２の記録の所定記録パワーを設定することを特徴とする。
【００２７】
また、請求項１１の発明は、請求項９の発明において、前記反射光量比検出手段は、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より小さい第１のピットからの全反射光量を検出する第１の検出回路と、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きい第２のピットからの全反射光量を検出する第２の検出回路と、前記第１の検出回路の検出出力を前記第２の検出回路の検出出力で除算する除算回路とを具備することを特徴とする。
【００２８】
また、請求項１２の発明は、請求項１１の発明において、前記第１のピットは、前記情報の記録に用いられる最小長のピットであり、前記第２のピットは、前記情報の記録に用いられる最大長のピットであることを特徴とする。
【００２９】
また、請求項１３の発明は、ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成する光情報記録装置において、前記光情報記録媒体にレーザ光を照射するとともに該光情報記録媒体からの反射光を受光して受光信号を出力する光ピックアップと、前記光ピックアップから出力されるレーザ光の記録パワーを制御するレーザ制御手段と、前記光ピックアップのフォーカス、トラッキング、チルトの少なくとも１つを制御するサーボ制御手段と、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出して得られる出力値と後端部の反射光強度の平均値を検出して得られる出力値との差からなる差分光強度対応値を検出する差分光強度値検出手段と、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比からなる反射光量比を検出して得られる出力値（以下、反射光量比対応値）を検出する反射光量比検出手段と、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき該受光信号のアシンメトリを検出するアシンメトリ検出手段と、制御手段とを具備し、前記制御手段は、実際の情報の記録に先立つ記録レーザ光強度最適化処理に際して、前記レーザ制御手段を制御することにより前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第１の記録制御手段と、前記第１の記録制御手段による記録に際して、前記記録パワーに対応して前記差分光強度値検出手段から前記差分光強度対応値を、前記反射光量比検出手段から前記反射光量比対応値を、アシンメトリ検出手段からアシンメトリを取得するとともに前記差分光強度対応値と前記反射光量比対応値との差を差分検出値として算出する第１の取得手段と、前記第１の取得手段で取得した前記差分光強度対応値に基づき前記記録パワーと前記差分光強度対応値との関係を示す第１検出式を求めて記憶する第１の処理手段と、前記第１の取得手段で算出した差分検出値に基づき前記記録パワーと前記差分検出値との関係を示す第２検出式を求めて記憶する第２の処理手段と、前記第１の取得手段で取得したアシンメトリに基づき前記アシンメトリと前記記録パワーとの関係を示す基準式を求めて記憶する第３の処理手段と、前記第３の処理手段で記憶した基準式に基づき最適アシンメトリが得られる最適記録パワーを求めて記憶する第４の処理手段と、前記第４の処理手段で求めた最適記録パワーと前記第１検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分光強度対応値を求めて、この値を最適差分光強度対応値として記憶する第５の処理手段と、前記第４の処理手段で求めた最適記録パワーと前記第２検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分検出値を求めて、この値を最適基準化差分検出値として記憶する第６の処理手段と、前記レーザ制御手段および前記サーボ制御手段を制御することにより前記記録パワーを前記第４の記憶手段で求めた最適記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第２の記録制御手段と、前記第２の記録制御手段による記録に際して、前記オフセット毎に前記反射光量比検出手段から前記反射光量比対応値を取得するとともに前記アシンメトリ検出手段からアシンメトリを取得する第２の取得手段と、前記第２の取得手段で取得した前記反射光量比対応値および前記アシンメトリに基づき前記アシンメトリに対する前記反射光量比対応値の関係式を求める第７の処理手段と、前記第７の処理手段で求めた前記関係式と前記第３の処理手段で求めた前記基準式に基づき前記記録パワーと前記反射光量比対応値との関係を示す第３検出式を求めて記憶する第８の処理手段と、前記第４の処理手段で求めた最適記録パワーと前記第３検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する反射光量比対応値を求めて、この値を最適反射光量比対応値として記憶する第９の処理手段と、実際の情報の記録に際して、前記差分光強度値検出手段で検出した前記差分光強度対応値を取得するとともに、前記反射光量比検出手段で検出した前記反射光量比対応値を取得し、更に、前記差分検出値を算出する第３の取得手段と、前記第３の取得手段で取得した前記差分光強度対応値と前記最適差分光強度対応値との第１の差分を算出する第１０の処理手段と、前記第３の取得手段で算出した前記差分検出値と前記最適基準化差分検出値との第２の差分を算出する第１１の処理手段と、前記第３の取得手段で取得した前記反射光量比対応値と前記最適反射光量比対応値との第３の差分を算出する第１２の処理手段と、前記第３の差分が零で前記第１の差分が零でない場合は、前記第３の取得手段で取得した前記差分光強度対応値と前記第１検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第１の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１の補正手段と、前記第３の差分が零でなく、前記第１の差分が零である場合は、前記第３の取得手段で取得した反射光量比対応値と前記第３検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第３の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２の補正手段と、前記第３の差分が零でなく、かつ前記第１の差分が零でなく、前記第２の差分が零でない場合は、前記第３の取得手段で算出した差分検出値と前記第２検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第２の差分が零になるように該記録パワーを補正する第３の補正手段とを具備することを特徴とする。
【００３０】
また、請求項１４の発明は、請求項１３の発明において、前記第１検出式、前記第２検出式、前記第３検出式は、それぞれ一次関数からなることを特徴とする。
【００３１】
また、請求項１５の発明は、請求項１３の発明において、前記差分光強度値検出手段は、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットからの受光信号を検出する検出回路と、前記検出回路の出力に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出するピーク検出回路と、前記検出回路の出力に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの後端部の反射光強度の平均値を求めるサンプルホールド回路と、前記ピーク検出回路の出力と前記サンプルホールド回路の出力との差を求める減算回路とを具備することを特徴とする。
【００３２】
また、請求項１６の発明は、請求項１５の発明において、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットは、前記情報の記録に用いられる最大長のピットであることを特徴とする。
【００３３】
また、請求項１７の発明は、請求項１３の発明において、前記反射光量比検出手段は、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より小さい第１のピットからの全反射光量を検出する第１の検出回路と、前記光ピックアップから出力される受光信号に基づき前記レーザ光スポットのスポット径より大きい第２のピットからの全反射光量を検出する第２の検出回路と、前記第１の検出回路の検出出力を前記第２の検出回路の検出出力で除算する除算回路とを具備することを特徴とする。
【００３４】
また、請求項１８の発明は、請求項１７の発明において、前記第１のピットは、前記情報の記録に用いられる最小長のピットであり、前記第２のピットは、前記情報の記録に用いられる最大長のピットであることを特徴とする。
【００３５】
また、請求項１９の発明は、ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成するコンピュータによって処理される光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体であって、前記光情報記録制御プログラムは、実際の情報の記録に先立ち、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うともに、前記記録パワー毎にアシンメトリを検出して前記アシンメトリと前記記録パワーとの第１の関係を求める第１のステップと、前記記録パワーを所定記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対する前記レーザ光の空間的位置関係を順次変化させて該光情報記録媒体に記録を行うとともに、前記空間的位置関係毎にアシンメトリおよび異なる長さのピットに関する反射光量比を検出して、前記アシンメトリと前記反射光量比との第２の関係を求める第２のステップと、前記第１の関係と前記第２の関係に基づき前記記録パワーと前記反射光量比との第３の関係を求めるとともに、最適記録パワーに対応する最適反射光量比を求める第３のステップと、実際の情報の記録に際しては、前記反射光量比を検出することにより前記第３の関係に基づき該検出した反射光量比に対応する記録パワーを求めて、該検出した反射光量比と前記最適反射光量比の差分が零になるように該記録パワーを補正する第４のステップとを具備することを特徴とする。
【００３６】
また、請求項２０の発明は、ピット形成期間を表す第１レベルとピット不形成期間を表す第２レベルとから成るディジタル信号に基づいて光情報記録媒体に所定径のレーザ光スポットを照射し、該光情報記録媒体に前記ピット形成期間に対応した長さのピットを形成するコンピュータによって処理される光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体であって、前記光情報記録制御プログラムは、実際の情報の記録に先立つ記録レーザ光強度最適化処理に際して、前記光情報記録媒体に照射するレーザ光の記録パワーを順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第１のステップと、前記第１のステップによる記録に際して、前記レーザ光スポットのスポット径より大きいピットの先端部における反射光強度の極大値を検出して得られる出力値と後端部の反射光強度の平均値を検出して得られる出力値との差からなる差分光強度対応値、前記スポット径より大きいピットからの全反射光量に対する前記スポット径より小さいピットからの全反射光量の比である反射光量比およびアシンメトリを前記記録パワーに対応して検出するとともに、前記差分光強度対応値と前記反射光量比を検出して得られる出力値（以下、反射光量比対応値）との差を差分検出値として算出する第２のステップと、前記第２のステップで検出した前記差分光強度対応値に基づき前記記録パワーと前記差分光強度対応値との関係を示す第１検出式を求めて記憶する第３のステップと、前記第２のステップで算出した前記差分検出値に基づき前記記録パワーと前記差分検出値との関係を示す第２検出式を求めて記憶する第４のステップと、前記第２のステップで検出した前記アシンメトリに基づき前記アシンメトリと前記記録パワーとの関係を示す基準式を求めて記憶する第５のステップと、前記第５のステップで記憶した前記基準式に基づき最適アシンメトリが得られる最適記録パワーを求めて記憶する第６のステップと、前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第１検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分光強度対応値を求めて、この値を最適差分光強度対応値として記憶する第７のステップと、前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第２検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する差分検出値を求めて、この値を最適基準化差分検出値として記憶する第８のステップと、前記記録パワーを前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーに固定して前記光情報記録媒体に対してレーザ光を照射する光ピックアップのフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで順次変化させて該光情報記録媒体に試験データを記録する第９のステップと、前記第９のステップによる記録に際して、前記オフセット毎に、前記反射光量比対応値およびアシンメトリを検出する第１０のステップと、前記第１０のステップで検出した前記反射光量比対応値およびアシンメトリに基づき前記アシンメトリに対する反射光量比対応値の関係式を求める第１１のステップと、前記第１１のステップで求めた前記関係式と前記第５のステップで求めた前記基準式に基づき前記記録パワーと前記反射光量比対応値との関係を示す第３検出式を求めて記憶する第１２のステップと、前記第６のステップで求めた前記最適記録パワーと前記第３検出式に基づき前記最適記録パワーに対応する反射光量比対応値を求めて、この値を最適反射光量比対応値として記憶する第１３のステップと、実際の情報の記録に際して、前記差分光強度対応値および前記反射光量比対応値を検出するとともに前記差分検出値を算出する第１４のステップと、前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記最適差分光強度対応値との第１の差分を算出する第１５のステップと、前記第１４のステップで算出した前記差分検出値と前記最適基準化差分検出値との第２差分を算出する第１６のステップと、前記第１４のステップで検出した前記反射光量比対応値と前記最適反射光量比対応値との第３の差分を算出する第１７のステップと、前記第３の差分が零で前記第１の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで検出した前記差分光強度対応値と前記第１検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第１の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１８のステップと、前記第３の差分が零でなく、前記第１の差分が零である場合は、前記第１４のステップで検出した反射光量比対応値と前記第３検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第３の差分が零になるように該記録パワーを補正する第１９のステップと、前記第３の差分が零でなく、かつ前記第１の差分が零でなく、前記第２の差分が零でない場合は、前記第１４のステップで算出した差分検出値と前記第２検出式に基づき記録パワーを求めて、前記第２の差分が零になるように該記録パワーを補正する第２０のステップとを具備することを特徴とする。
【００３９】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいてこの発明の一実施形態を説明する。
【００４０】
図１は、この発明の一実施形態における光情報記録再生装置を示す主要電気系回路のブロック図である。なお、本実施形態では、追記型の光情報記録媒体として、周知のＤＶＤ−Ｒを対象とした装置構成について説明する。また、追記型光ディスクとして周知のＣＤ−Ｒを用いた装置構成もほぼ同様である。
【００４１】
図１において、１０は追記型の光ディスク、２０は光情報記録再生装置である。
【００４２】
光情報記録再生装置２０は、ディスク回転モータ２１、モータ回転制御回路２２、光ピックアップ２３、レーザ制御部２４、サーボ制御部２５、記録パワーずれ検出部２６、アシンメトリ検出部２７、およびシステムコントローラ２８等を備えている。
【００４３】
光ディスク１０には、その記録領域（記録トラック）に予めグルーブが形成されている。このグルーブのうねり或いはグルーブサイドに形成されたランドピットから、ディスク回転制御信号等を抽出することができる。
【００４４】
ディスク回転モータ２１は、モータ回転制御回路２２から供給される駆動電圧によって所定の回転数にて回転駆動される。
【００４５】
モータ回転制御回路２２は、システムコントローラ２８から入力される命令信号に基づいてディスク回転モータ２１へ駆動電圧を供給する。
【００４６】
光ピックアップ２３は、レーザダイオード（ＬＤ）２３１、周知の４分割のフォトディテクタ（ＰＤ）２３２、および図示していないが対物レンズアクチュエータ等を備えている。さらに、光ピックアップ２３は、例えば周知のリニアモータ方式によるピックアップ送り機構によって光ディスク１０の半径方向に移動可能になっている。
【００４７】
レーザ制御部２４は、記録対象となる情報に対応したディジタル信号を入力し、システムコントローラ２８から指定されたストラテジ設定情報に基づいて、このディジタル信号からライトパルスを生成する。さらに、このライトパルスに同期してシステムコントローラ２８から指定されたレーザ光強度に対応する大きさの駆動電流をレーザダイオード２３１に供給する。これにより、レーザダイオード２３１は、システムコントローラ２８が指定した強度のレーザ光を射出する。
【００４８】
サーボ制御部２５は、フォーカス制御部２５１、トラッキング制御部２５２、およびチルト制御部２５３等からなり、システムコントローラ２８からの命令に基づいて、光ピックアップ２３の対物レンズアクチュエータおよびピックアップ送り機構の動作制御を行う。
【００４９】
記録パワーずれ検出部２６は、図２に示すように、３Ｔ検出回路２６１、１４Ｔ検出回路２６２、反射光量検出回路２６３，２６４、除算回路２６５、ピーク検出回路２６６、サンプルホールド回路２６７、および減算回路２６８から構成されている。
【００５０】
周知のようにＤＶＤ−Ｒは、媒体の記録層に長さが３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔのピットを形成することにより情報記録を行っている。
【００５１】
そこで、本実施形態の記録パワーずれ検出部２６においては、光ディスク１０に照射されるレーザ光のスポット径よりも小さい長さのピットである長さが３Ｔのピット（以下、単に３Ｔピットと称する）およびスポット径以上の長さのピットである長さが１４Ｔのピット（以下、単に１４Ｔピットと称する）を用いて、反射光量比（Ｘ２）および差分光強度値（Ｘ１）を検出する。
【００５２】
ここで、反射光量比（Ｘ２）は、記録時における１４Ｔピットからの全反射光量Ｓ１４Ｔに対する３Ｔピットからの全反射光量Ｓ３Ｔの比である。
【００５３】
また、差分光強度値（Ｘ１）は、記録時における１４Ｔピットに対応するＲＦ信号のピット先端部におけるピーク値Ｖｐｋと先端部を除く後部分の平均値Ｖｓｐとの差分の光強度値である。
【００５４】
図２において、３Ｔ検出回路２６１は、光ピックアップ２３から出力されるＲＦ信号を入力し、情報記録中の３Ｔピットからの反射光電流のみを出力する。３Ｔピットからの反射光電流は、反射光量検出回路２６３の抵抗器２６３ａを介してコンデンサ２６３ｂに充電される。これにより、コンデンサ２６３ｂの充電電圧は３Ｔピットからの全反射光量に対応した値となり、反射光量検出回路２６３からは３Ｔピットからの全反射光量Ｓ３Ｔに対応した値に対応する電圧が出力される。
【００５５】
また、１４Ｔ検出回路２６２は、光ピックアップ２３から出力されるＲＦ信号を入力し、情報記録中の１４Ｔピットからの反射光電流のみを出力する。１４Ｔピットからの反射光電流は、反射光量検出回路２６４の抵抗器２６４ａを介してコンデンサ２６４ｂに充電される。これにより、コンデンサ２６４ｂの充電電圧は１４Ｔピットからの全反射光量に対応した値となり、反射光量検出回路２６４からは１４Ｔピットからの全反射光量Ｓ１４Ｔに対応した値に対応する電圧が出力される。
【００５６】
そして、反射光量検出回路２６３から出力される電圧および反射光量検出回路２６４から出力される電圧は、除算回路２６５で除算され、反射光量比対応値（以下、反射光量比）（Ｘ２）としてシステムコントローラ２８に出力される。
【００５７】
また、ピーク検出回路２６６は、１４Ｔ検出回路２６２の出力に基づき１４Ｔピットからの反射光電流のピット先端部におけるピーク値Ｖｐｋを検出し、またサンプルホールド回路２６７は、１４Ｔ検出回路２６２の出力に基づき１４Ｔピットの後部分の反射光電流の平均値Ｖｓｐを検出する。
【００５８】
そして、減算回路２６８によってピーク検出回路２６５で検出された１４Ｔピットからの反射光電流のピット先端部におけるピーク値Ｖｐｋとサンプルホールド回路２６６で検出された１４Ｔピットの後部分の反射光電流の平均値Ｖｓｐとの差が算出され、差分光強度対応値（以下、差分光強度値）（Ｘ１）としてシステムコントローラ２８に出力される。
【００５９】
アシンメトリ検出部２７は、光ピックアップ２３から出力されるＲＦ信号からアシンメトリを検出して、この検出結果はシステムコントローラ２８に出力される。
【００６０】
システムコントローラ２８は、周知のＣＰＵ等から構成され、記録パワーずれ検出部２６およびアシンメトリ検出部２７の出力信号に基づいて、レーザ制御部２４，サーボ制御部２５等に制御命令を出力して情報記録を行う。
【００６１】
この際に、後述する演算処理を行い、リアルタイムで記録時のレーザ光強度を補正しながら情報の記録を行う。以下、記録時のレーザ光強度（記録レーザ光強度）を単に記録パワーと称する。
【００６２】
ここで、反射光量比（Ｘ２）および差分光強度値（Ｘ１）の詳細について説明する。
【００６３】
反射光量比（Ｘ２）は、前述したように、記録時における１４Ｔピットからの全反射光量Ｓ１４Ｔに対する３Ｔピットからの全反射光量Ｓ３Ｔの比である。
【００６４】
３Ｔピットからの全反射光量Ｓ３Ｔは、図３（ａ）に示すような３Ｔ記録パルスを用いて３Ｔの記録を行った場合の光ディスク１０からの反射光に対応する図３（ｂ）に示すようなＲＦ信号の面積から求めることができる。
【００６５】
また、１４Ｔピットからの全反射光量Ｓ１４Ｔは、図３（ｃ）に示すような１４Ｔ記録パルス（パルストレイン法を用いた記録パルス）を用いて１４Ｔの記録を行った場合の光ディスク１０からの反射光に対応する図３（ｄ）に示すようなＲＦ信号の面積から求めることができる。
【００６６】
すなわち、図２に示した反射光量検出回路２６３からは３Ｔピットからの全反射光量Ｓ３Ｔに対応した値に対応する電圧が出力され、図２に示した反射光量検出回路２６４からは１４Ｔピットからの全反射光量Ｓ１４Ｔに対応した値に対応する電圧が出力されるので、除算回路２６５で反射光量検出回路２６３の出力を反射光量検出回路２６４で除算することにより、記録時における１４Ｔピットからの全反射光量Ｓ１４Ｔに対する３Ｔピットからの全反射光量Ｓ３Ｔの比からなる反射光量比（Ｘ２）を求めることができる。
【００６７】
ここで、３Ｔピットは、レーザ光のスポット径より短いピットであり、１４Ｔピットは、レーザ光のスポット径より十分長いピットであるので、この反射光量比（Ｘ２）は、光ディスク１０のレーザビームに対するチルト等の表面の状態に対応して変化し、その結果、光ディスク１０の表面の状態に主に依存する情報を含むことになる。
【００６８】
また、差分光強度値（Ｘ１）は、前述したように、記録時における１４Ｔピットに対応するＲＦ信号のピット先端部におけるピーク値Ｖｐｋと先端部を除く後部分の平均値Ｖｓｐとの差分の光強度値である。
【００６９】
図３（ｃ）に示すような、パルストレイン法を用いた１４Ｔ記録パルスを用いて１４Ｔピットを形成する場合、光ディスク１０からは図３（ｄ）に示すようなＲＦ信号が得られる。ここで、このＲＦ信号のピット先端部におけるピーク値がＶｐｋとなり、先端部を除く後部分のサンプリング期間Ｔｓｐの平均値を求めるとＶｓｐとなり、このピーク値Ｖｐｋの平均値Ｖｓｐとの差分Ｖｄｆから差分光強度値（Ｘ１）を求める。
【００７０】
すなわち、図２に示したピーク検出回路２６６からは１４Ｔピットからの反射光電流のピット先端部におけるピーク値Ｖｐｋが出力され、サンプルホールド回路２６７からは、１４Ｔピットの後部分の反射光電流の平均値Ｖｓｐが出力されるので、減算回路２６８で、ピーク検出回路２６６とサンプルホールド回路２６７の差分を求めることで、差分光強度値（Ｘ１）を求めることができる。
【００７１】
ここで、１４Ｔピットのピット長はレーザ光のスポット径より十分長いピットであるので、このＲＦ信号は、光ディスク１０のレーザビームに対するチルト等の表面の状態の影響を受けずに、記録パワーのみに依存する信号となるので、その結果、差分光強度値（Ｘ１）は、光ディスク１０に照射したレーザ光の記録パワーに主に依存する情報を含むことになる。
【００７２】
なお、差分光強度値（Ｘ１）は、レーザ光のスポット径より十分長いピットからのＲＦ信号を用いて検出することができ、反射光量比（Ｘ２）は、レーザ光のスポット径より短いピットからのＲＦ信号およびレーザ光のスポット径より十分長いピットからのＲＦ信号を用いて検出することができるので、図２の記録パワーずれ検出部では、レーザ光のスポット径より十分長いピットとしてＤＶＤ−Ｒにおける最長ピットである１４Ｔピットを用い、レーザ光のスポット径より短いピットとしてＤＶＤ−Ｒにおける最短ピットである３Ｔピットを用いたが、これに限定されない。
【００７３】
なお、レーザ光のスポット径に対するピット長の関係は、以下のようにして検出することができる。
【００７４】
すなわち、ＤＶＤ−Ｒの場合の３Ｔ〜１１Ｔおよび１４ＴのピットＰ３Ｔ〜Ｐ１１ＴおよびＰ１４ＴからのＲＦ信号を調べると、図５に示すように、ピット長Ｌがスポット径２Ｒより短い領域Ａにある場合は、ＲＦ信号のレベルはピット長が長くなるにしたがって順次増加するが、ピット長Ｌがスポット径２Ｒ以上の領域Ｂになると、ＲＦ信号のレベルは飽和して一定値となる。
【００７５】
また、ＤＶＤ−Ｒの場合の３Ｔ〜１１Ｔおよび１４ＴのピットＰ３Ｔ〜Ｐ１１ＴおよびＰ１４ＴからのＲＦ信号のアイパターンを調べると、図６に示すように、その振幅は、ピット長がスポット径より短い場合は、ピット長が長くなるにしたがって順次増加するが、ピット長がスポット径より長くなると、その振幅は飽和して一定値となる。
【００７６】
なお、ＤＶＤ−Ｒ（４．７Ｇバイトディスク）の場合、線速３．４９ｍ／ｓのとき、１Ｔの長さは約０．１３μｍとなり、図５および図６においては、７ＴピットでＲＦ信号のレベル若しくは振幅が最大値を示しており、この場合は、７Ｔピットの長さがスポット径と等しいと考えられる。従って、スポット径は、約０．９μｍとなる。
【００７７】
したがって、この図５若しくは図６に示すＲＦ信号のレベル若しくは振幅が飽和するピット長からレーザ光のスポット径より小さいピット長のピットおよびスポット径より十分大きいピット長のピットを選択することができる。
【００７８】
次に、システムコントローラ２８の情報記録処理におけるこの発明に係る処理に関して、図７乃至図１０に示すフローチャートを参照して詳細に説明する。
【００７９】
システムコントローラ２８は、情報の記録開始時にＯＰＣを行う。このＯＰＣ実行時に記録パワーを最適値に補正するための関係式等を求め、実際の情報記録時にはこの関係式を用いてリアルタイムで記録パワーの補正を行いながら、情報の記録を行う。
【００８０】
すなわち、システムコントローラ２８は、ＯＰＣ実行時に、図７に示すように、光ピックアップ２３を光ディスク１０の試し書き領域に移動し（ＳＫ１）、記録パワー（Ｘ）を所定ステップで順次変化させながら試験データの記録を行う（ＳＫ２）。
【００８１】
また、この試験データの記録中において、記録パワーずれ検出部２６の出力信号に基づいて、記録パワー（Ｘ）毎に差分光強度値（Ｘ１）および反射光量比（Ｘ２）を取得する（ＳＫ３，ＳＫ４）。
【００８２】
次に、システムコントローラ２８は、記録した情報を再生しながらアシンメトリ検出部２７の出力を入力して、各記録パワー（Ｘ）毎にアシンメトリ（ｙ）を取得する（ＳＫ５）。このアシンメトリ（ｙ）は、前掲の式（Ａ）または（Ｂ）で算出されるβに対応する値である。
【００８３】
この後、前記ＳＫ３の結果を用いて、差分光強度値（Ｘ1）と記録パワー（Ｘ）の関係式を次の（１）式のように求めて、第１検出式として図示しないメモリに記憶する（ＳＫ６）。
【００８４】
Ｘ＝ａ１・Ｘ１＋ｂ１…（１）
ここで、ａ１，ｂ１は定数である。
【００８５】
次に、前記ＳＫ３およびＳＫ４の結果を用いて、差分光強度値（Ｘ１）と反射光量比（Ｘ２）との差を差分検出値Ｄとして、この差分検出値Ｄと記録パワー（Ｘ）との関係式を次の（２）式のように求めて、第２検出式としてメモリに記憶する（ＳＫ７）。
【００８６】
Ｘ＝ａ２・Ｄ＋ｂ２…（２）
ここで、ａ２，ｂ２は定数である。
【００８７】
さらに、前記ＳＫ５の結果を用いて、記録パワー（Ｘ）とアシンメトリ（ｙ）の関係式を次の（３）式のように求めて、基準式としてメモリに記憶する（ＳＫ８）。
【００８８】
ｙ＝ｃ１・Ｘ＋ｄ１…（３）
ここで、ｃ１，ｄ１は定数である。
【００８９】
次に、システムコントローラ２８は、規格に合った最適なアシンメトリ（ｙ）が得られる記録パワー（Ｘ）を上記の基準式を用いて算出し、この値を最適記録パワー（Ｘｍｓ）としてメモリに記憶する（ＳＫ９）。
【００９０】
この後、システムコントローラ２８は、上記最適記録パワー（Ｘｍｓ）が得られる差分光強度値（Ｘ１）を上記の第１検出式を用いて算出し、この値を最適差分光強度値（Ｘ１ｍｓ）としてメモリに記憶する（ＳＫ１０）。
【００９１】
さらに、システムコントローラ２８は、上記最適記録パワー（Ｘｍｓ）が得られる差分検出値（Ｄ）を上記第２検出式を用いて算出し、この値を最適基準化差分検出値（Ｄｍｓ）としてメモリに記憶する（ＳＫ１１）。
【００９２】
以上の処理によって、第１検出式（Ｘ＝ａ１・Ｘ１＋ｂ１）、第２検出式（Ｘ＝ａ２・Ｄ＋ｂ２）、基準式（ｙ＝ｃ１・Ｘ＋ｄ１）、最適差分光強度値（Ｘ１ｍｓ）、最適基準化差分検出値（Ｄｍｓ）、最適記録パワー（Ｘｍｓ）がシステムコントローラ２８に記憶される。
【００９３】
さらに、システムコントローラ２８は、ＯＰＣ実行時に図８に示す処理を行い、第３検出式、最適反射光量比（Ｘ２ｍｓ）を求めて、メモリに保存する。
【００９４】
すなわち、システムコントローラ２８は、ＯＰＣ実行時に、上記の最適記録パワー（Ｘｍｓ）を用いて、サーボ制御部２５で制御されるフォーカス、チルト、トラッキングの内の少なくとも何れか１つのサーボ系のオフセットを所定ステップで変化させて試験データを記録して（ＳＬ１）、これを再生し、アシンメトリ検出部２７の出力に基づき各オフセット値毎にアシンメトリ（ｙ）を取得する（ＳＬ２）。
【００９５】
さらに、記録パワーずれ検出部２６の出力に基づき各オフセット値毎に、反射光量比（Ｘ２）を取得する（ＳＬ３）。
【００９６】
この後、システムコントローラ２８は、前記ＳＬ２及びＳＬ３の結果を用いて反射光量比（Ｘ２）とアシンメトリ（ｙ）との関係式を次の（４）式のように求める（ＳＬ４）。
【００９７】
ｙ＝ｃ２・Ｘ２＋ｄ２…（４）
ここで、ｃ２，ｄ２は定数である。
【００９８】
そして、上記（４）式と前記基準式（３）より、反射光量比（Ｘ２）と記録パワー（Ｘ）の関係式を次の（５）式のように求め、これを第３検出式としてメモリに記憶する（ＳＬ５）。
【００９９】
Ｘ＝ａ３・Ｘ２＋ｂ３…（５）
ここで、ａ３，ｂ３は定数である。
【０１００】
さらに、システムコントローラ２８は、上記最適記録パワー（Ｘｍｓ）が得られる反射光量比（Ｘ２）を求めて、この値を最適反射光量比（Ｘ２ｍｓ）としてメモリに記憶する（ＳＬ６）。
【０１０１】
システムコントローラ２８は、ＯＰＣの実行時に上記の処理を行った後に、図９および図１０に示すように記録パワーの補正処理をリアルタイムで行いながら、実際の情報記録を行う。
【０１０２】
すなわち、実際の情報記録時には、システムコントローラ２８は、記録パワーずれ検出部２６の出力信号に基づいて、記録中差分光強度値（Ｘ１）を取得し（ＳＭ１）、この差分光強度値（Ｘ１）と記憶している最適差分光強度値（Ｘ１ｍｓ）とを比較し、これらの差を第１差分として算出する（ＳＭ２）。
【０１０３】
次に、システムコントローラ２８は、記録パワーずれ検出部２６の出力信号に基づいて、記録中反射光量比（Ｘ２）を取得し（ＳＭ３）、この反射光量比（Ｘ２）と記憶している最適反射光量比（Ｘ２ｍｓ）とを比較し、これらの差を第３差分として算出する（ＳＭ４）。
【０１０４】
さらに、ＳＭ１およびＳＭ３の結果に基づき記録中差分光強度値（Ｘ１）と記録中反射光量比（Ｘ２）との差を記録中差分検出値（Ｄ）として算出する（ＳＭ５）。
【０１０５】
次に、システムコントローラ２８は、記憶していた最適基準化差分検出値（Ｄｍｓ）と、前記ＳＭ５の処理で求めた差分検出値（Ｄ）との差を第２差分として算出する（ＳＭ６）。
【０１０６】
次いで、前記ＳＭ４の処理で求めた第３差分が０であるか否かを判定し（ＳＭ７）、０のときはさらに第１差分が０であるか否かを判定する（ＳＭ８）。
【０１０７】
この判定の結果、第１差分が０のときは前記ＳＭ１の処理に移行し、０でないときは上記ＳＭ１の処理で取得した記録中差分光強度値（Ｘ１）を第１検出式に代入して現時点の記録パワー（Ｘｒ）、すなわち、差分光強度値（Ｘ１）と記録パワー（Ｘ）との関係を示す第１検出式を用いて記録中差分光強度値（Ｘ１）に対応する現時点の記録パワー（Ｘｒ）を算出する（ＳＭ９）。
【０１０８】
そして、第１差分が０になるようにレーザ制御部２４に制御命令を出力してこの算出された記録パワー（Ｘｒ）を補正する（ＳＭ１０）。すなわち、レーザ制御部２４では、上記制御命令に基づき、上記記録中差分光強度値（Ｘ１）が上記ＳＫ１０で保存した最適差分光強度値（Ｘ１ｍｓ）になるように記録パワーを補正する。この後、前記ＳＭ１の処理に移行する。
【０１０９】
前記ＳＭ７の判定の結果、第３差分が０でないときは、第１差分が０であるか否かを判定する（ＳＭ１１）。
【０１１０】
この判定の結果、第１差分が０のときは上記ＳＭ３の処理で取得した記録中反射光量比（Ｘ２）を第３検出式に代入して現時点の記録パワー（Ｘｒ）、すなわち、反射光量比（Ｘ２）と記録パワー（Ｘ）との関係を示す第３検出式を用いて記録中反射光量比（Ｘ２）に対応する現時点の現時点の記録パワー（Ｘｒ）を算出する（ＳＭ１２）。
【０１１１】
そして、第３差分が０になるようにレーザ制御部２４に制御命令を出力してこの算出された記録パワー（Ｘｒ）を補正する（ＳＭ１３）。すなわち、レーザ制御部２４では、上記制御命令に基づき、上記記録中反射光量比（Ｘ２）が上記ＳＬ６で保存した最適反射光量比（Ｘ２ｍｓ）になるように記録パワーを補正する。
【０１１２】
前記ＳＭ１１の判定の結果、第１差分が０でないときは、第２差分が０であるか否かを判定し（ＳＭ１４）、０でないときは前記ＳＭ１の処理に移行する。
【０１１３】
また、第２差分が０のときは、前記ＳＭ５の処理で求めた記録中差分検出値（Ｄ）を第２検出式に代入して現時点の記録パワー（Ｘｒ）、すなわち、差分検出値（Ｄ）と記録パワー（Ｘ）との関係を示す第２検出式を用いて記録中差分検出値（Ｄ）に対応する現時点の現時点の記録パワー（Ｘｒ）を求める（ＳＭ１５）。
【０１１４】
そして、第２差分が０になるようにレーザ制御部２４に制御命令を出力してこの算出された記録パワー（Ｘｒ）を補正する（ＳＭ１６）。すなわち、レーザ制御部２４では、上記記録中差分検出値（Ｄ）が上記ＳＫ１１で保存した最適基準化差分検出値（Ｄｍｓ）になるように記録パワーを補正する。
【０１１５】
上記処理を図１１乃至図１４を参照して更に説明する。
【０１１６】
図１１は、上述した基準式と第１検出式、第２検出式、３検出式の関係を示したものである。
【０１１７】
図１１において、縦軸はアシンメトリｙ若しくは記録パワーＸを示し、横軸は、記録パワーＸ若しくは差分光強度検出値Ｘ１若しくは差分検出値Ｄ若しくは反射光量比Ｘ２を示す。
【０１１８】
ここで基準式でアシンメトリｙが最適値を示す記録パワーＸが最適記録パワーＸｍｓである。
【０１１９】
また、第１検出式で記録パワーＸが最適記録パワーＸｍｓとなる差分光強度検出値Ｘ１が最適差分光強度検出値Ｘ１ｍｓであり、第２検出式で記録パワーＸが最適記録パワーＸｍｓとなる差分検出値Ｄが最適基準化差分検出値Ｄｍｓであり、第３検出式で記録パワーＸが最適記録パワーＸｍｓとなる反射光量比Ｘ２が最適反射光量比Ｘ２ｍｓである。
【０１２０】
前記ＳＭ７，ＳＭ８の判定において、第３差分が０でありかつ第１差分が０以外の値のときは、光ディスク１０のレーザビームに対するチルト等の表面の状態に対応した補正は必要とせずに、記録パワーのみに対応した補正だけを行えばよいので、図１２に示すように、第１検出式に基づき現時点における記録パワー（Ｘｒ）を求めて、第１差分を０にするのに必要な現時点における記録パワー（Ｘｒ）と最適差分光強度検出値（Ｘ１ｍｓ）に対応する記録パワーとの差だけ補正する制御命令をレーザ制御部２４に出力してレーザ出力パワー〈記録パワー〉を最適化する。
【０１２１】
また、ＳＭ７，ＳＭ１１の判定において、第３差分が０以外の値でありかつ第１差分が０のときは、光ディスク１０のレーザビームに対するチルト等の表面の状態に対応した補正を行えばよいので、図１３に示すように、第３検出式に基づき現時点における記録パワー（Ｘｒ）を求めて、第３差分を０にするのに必要な現時点における記録パワー（Ｘｒ）と最適反射光量比（Ｘ２ｍｓ）に対応する記録パワーとの差だけ補正する制御命令をレーザ制御部２４に出力してレーザ出力パワー〈記録パワー〉を最適化する。
【０１２２】
また、ＳＭ７，ＳＭ１１，ＳＭ１４の判定において、第３差分および第１差分並びに第２差分が共に０以外の値であるときは、記録パワーに対応した補正および光ディスク１０のレーザビームに対するチルト等の表面の状態に対応した補正の両者が必要となるので、この場合は、図１４に示すように、第２検出式に基づき現時点における記録パワー（Ｘｒ）を求めて、第２差分を０にするのに必要な現時点における記録パワー（Ｘｒ）と最適反射光量比（Ｘ２ｍｓ）に対応する記録パワーとの差だけ補正する制御命令をレーザ制御部２４に出力してレーザ出力パワー〈記録パワー〉を最適化する。
【０１２３】
このように本実施形態によれば、光ディスク１０に傾きが生じていたとしても、最適なアシンメトリおよび形成中のピットから最適な反射光量が得られるように記録レーザ光強度を変化しながらピットを形成するので、光ディスク１０に傾きが生じていても記録レーザ光の射出方向を補正することなく、光ディスク１０の情報記録面の傾斜に伴って生ずる単位面積あたりの照射光量の減少分を補正することができる。
【０１２４】
これにより、必要十分な形状のピットを適切な位置に形成することができるので、情報再生特性に優れた情報記録を行うことができる。
【０１２５】
さらに、従来のようにチルト角度に基づいて光ピックアップ２３を傾けて、記録レーザ光の射出方向が光ディスク１０の情報記録面に対して垂直になるようにする複雑な機構を備える必要がないので、従来よりも装置のコストを低減することができる。
【０１２６】
また、本実施形態によれば、光ディスク１０の傾きだけではなく、媒体の種類の違いや光ディスク上の部分的な反射率の違い等にも対応でき常に最適な記録パワー（記録レーザ光強度）で情報の記録（ピットの形成）を行うことができる。
【０１２７】
また、本実施形態では、第１乃至第３検出式並びに基準式を直線式（一次関数）としたので、処理速度の向上を図ることができる。
【０１２８】
尚、前述した実施形態はこの発明の一具体例にすぎず、この発明がこれに限定されることはない。
【０１２９】
【発明の効果】
この発明によれば、光情報記録媒体に対するレーザ光の空間的位置関係に応じてレーザ光強度を変化しながらピットを形成するので、光情報記録媒体に傾きが生じていてもレーザ光の射出方向を補正する必要なく情報記録面の傾斜に伴って生ずる単位面積あたりの照射光量の減少分を補正することができる。これにより、必要十分な形状のピットを適切な位置に形成することができるので、情報再生特性に優れた情報記録を行うことができる。
【０１３０】
また、この発明は上記の効果に加えて、実際の情報記録時に行うレーザ光強度の補正処理時間短縮を図ることができる。
【０１３１】
また、この発明の光情報記録方法によれば、上記の効果に加えて、記録レーザ光のスポット径が多少変化しても正確な補正処理を行うことができる。
【０１３２】
また、この発明の光情報記録装置によれば、光情報記録媒体に対するレーザ光の空間的位置関係に応じてレーザ光強度を変化しながらピットを形成できるので、光情報記録媒体に傾きが生じていても前記情報記録面の傾斜に伴って生ずる単位面積あたりの照射光量の減少分を補正することができる。これにより、必要十分な形状のピットを適切な位置に形成することができるので、情報再生特性に優れた情報記録を行うことができる。さらに、従来のようにレーザ光の射出方向を補正する手段を設ける必要がないので、装置コストを低減することができる。
【０１３３】
また、この発明の光情報記録装置によれば、上記の効果に加えて、実際の情報記録時に行うレーザ光強度の補正処理時間短縮を図ることができる。
【０１３４】
また、この発明の光情報記録装置によれば、上記の効果に加えて、記録レーザ光のスポット径が多少変化しても正確な補正処理を行うことができる。
【０１３５】
また、この発明の光情報記録制御プログラムを記録した記録媒体によれば、該プログラムを用いてコンピュータを動作させることにより光情報記録媒体に対するレーザ光の空間的位置関係に応じてレーザ光強度を変化しながらピットを形成することができるので、光情報記録媒体に傾きが生じていてもレーザ光の射出方向を補正する必要なく前記情報記録面の傾斜に伴って生ずる単位面積あたりの照射光量の減少分を補正することができる。これにより、必要十分な形状のピットを適切な位置に形成することができるので、情報再生特性に優れた情報記録を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の一実施形態における光情報記録再生装置を示す電気系回路のブロック図である。
【図２】  この発明の一実施形態における光情報記録再生装置の記録パワーずれ検出部を示す電気系回路のブロック図である。
【図３】  この発明の一実施形態における反射光量比を説明するための図である。
【図４】  この発明の一実施形態における差分光強度値を説明するための図である。
【図５】  この発明の一実施形態におけるレーザスポット径とピット長との関係を説明する図である。
【図６】  この発明の一実施形態におけるレーザスポット径とピット長との関係をアイパターンを用いて説明する図である。
【図７】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正に係る処理を説明するフローチャートである。
【図８】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正に係る処理を説明するフローチャートである。
【図９】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正に係る処理を説明するフローチャートである。
【図１０】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正処理を説明する図である。
【図１１】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正処理を説明する図である。
【図１２】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正処理を説明する図である。
【図１３】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正処理を説明する図である。
【図１４】  この発明の一実施形態における記録パワーの補正処理を説明する図である。
【図１】
0004074063.tif 000002
【図２】
0004074063.tif 000003
【図３】
0004074063.tif 000004
【図４】
0004074063.tif 000005
【図５】
0004074063.tif 000006
【図６】
0004074063.tif 000007
【図７】
0004074063.tif 000008
【図８】
0004074063.tif 000009
【図９】
0004074063.tif 000010
【図１０】
0004074063.tif 000011
【図１１】
0004074063.tif 000012
【図１２】
0004074063.tif 000013
【図１３】
0004074063.tif 000014
【図１４】
0004074063.tif 000015