【誤訳訂正書】
【提出日】平成17年6月14日(2005.6.14)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
誘電率が温度の関数として判明している材料内の一つの既知成分のみが、実質的に前記材料の誘電率に寄与する少なくとも一つの周波数それぞれにおいて、前記材料の誘電率の実数部分及び虚数部分のうち少なくとも一つの測定を行う過程と、
前記少なくとも一つの周波数それぞれにおいて測定された誘電率の実数部分と虚数部分の少なくとも一つと、前記既知成分の誘電率の温度依存性を用いて、前記既知成分の温度を求め、ひいては、前記材料の温度を決定する過程と
を備えることを特徴とする材料の温度を測定する方法。
【請求項２】
前記測定された誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つを用いて温度を求める過程は、前記少なくとも一つの周波数の内ある同一周波数にて測定される誘電率の実数部分と虚数部分間の比率の値を測定する過程と、前記値から温度を決定する過程とを備えることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記少なくとも一つの周波数は第１と第２の周波数を備え、
前記測定された誘電率の実数部分及び/又は虚数部分を用いて温度を決定する過程は、
前記第１の周波数における誘電率の実数部分又は虚数部分と、前記第２の周波数における誘電率の実数部分又は虚数部分との比率の値を測定する過程と、
前記値から温度を決定する過程と
を備えることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記少なくとも一つの周波数それぞれにおいて前記材料の誘電率の実数部分及び/又は虚数部分を測定する過程は、前記材料の表面領域近傍において誘電率を測定する過程を備え、また、前記温度を決定する過程は、前記表面領域近傍において、あるいは、前記表面領域近傍内において、前記材料の温度を決定する過程を備えることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記表面領域近傍において誘電率の実数部分及び/又は虚数部分を測定する過程は、前記表面領域に入射する電磁波に対する前記表面領域の反射率を測定する過程と、前記反射率から前記表面領域近傍において、又は、前記表面領域近傍内において、材料領域の誘電率の実数部分及び/又は虚数部分を決定する過程とを備えることを特徴とする請求項４に記載の方法。
【請求項６】
請求項４に記載の方法に従い材料の複数の表面領域それぞれの温度を測定する過程と、前記複数の複数の表面領域において測定された温度を用いて前記材料の表面温度マップを作成する過程とを備えることを特徴とする方法。
【請求項７】
前記少なくとも一つの周波数それぞれにおいて誘電率の実数部分及び/又は虚数部分を測定する過程は、前記材料内部の誘電率の実数部分及び/又は虚数部分を測定する過程を備え、また、温度を決定する過程は、前記材料の内部温度を決定する過程を備えることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記材料内部における誘電率の実数部分及び/又は虚数部分の測定は、
前記材料に入射する電磁波のエネルギーから前記材料に反射されるエネルギー量と前記材料を透過するエネルギー量とを測定する過程と、
前記反射されたエネルギーと透過したエネルギーから前記材料内部の誘電率の虚数部分の平均値を求める過程と
を備えることを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記材料内部における誘電率の実数部分及び/又は虚数部分の測定は、
前記材料に入射するように電磁波を方向づける過程と、
前記入射波から前記材料に反射された電磁波の振幅及び位相を測定する過程と、
前記入射波から前記材料を透過した電磁波の振幅及び位相を測定する過程と、
前記測定された振幅と位相から前記材料内部の誘電率の実数部分及び虚数部分の平均値を求める過程と
を備えることを特徴とする請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
請求項５又は７に記載の方法に従い、材料の複数の内部位置において材料の内部温度を決定する過程と、前記複数の位置において決定された温度を用いて前記材料の内部領域の温度マップを作成する過程とを備えることを特徴とする方法。
【請求項１１】
前記誘電率の実数部分及び/又は虚数部分の測定に要する時間の間、前記入射波から前記材料に吸収されるエネルギー量が前記材料の温度を変化させないよう、入射する電磁波のパワーを制限する過程を備えることを特徴とする請求項５又は７に記載の方法。
【請求項１２】
温度変化率が概ね毎秒摂氏０．０５度未満になるよう前記パワーが決定されることを特徴とする請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
温度変化率が概ね毎秒摂氏０．０２度未満になるよう前記パワーが決定されることを特徴とする請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
前記材料の温度を決定する過程は、
誘電率の実数部分及び/又は虚数部分の測定中に、前記入射する電磁波が前記材料に吸収されることによって前記材料の温度が変化する量を見積もる過程と、
前記見積もられた温度変化量を用いて温度を決定する過程と
を備えることを特徴とする請求項５または７に記載の方法。
【請求項１５】
前記材料の既知の成分は、他の分子と結合しないダイポール分子であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項１６】
前記ダイポール分子は、水であることを特徴とする請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記少なくとも一つの周波数は、およそ１０１０から５０×１０１０Hzの範囲の周波数であることを特徴とする請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
第１回目及び第２回目の測定の間に放射によって材料を照射する過程と、
いずれかの先行請求項に記載の方法に従い、前記第１回目及び第２回目の測定において前記材料の温度を測定する過程と、
前記第１回目に測定された温度と第２回目に測定された温度との差を用いて、前記放射から前記材料に吸収されるエネルギー量を求める過程と
を備えることを特徴とする材料に吸収される放射量を決定する方法。
【請求項１９】
前記放射は、電磁放射であることを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記電磁放射は、光であることを特徴とする請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記光は、赤外光であることを特徴とする請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記放射は、音響放射であることを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２３】
請求項１８に記載の方法に従い、複数の材料領域それぞれにおいて材料に吸収される放射量を決定する過程と、前記複数領域における吸収量を用いて前記材料による放射吸収の空間マップを提供する過程とを備えることを特徴とする方法。
【請求項２４】
請求項１５又は１８に記載の方法に従い、材料に吸収される放射量を決定する過程と、
前記吸収されたエネルギー量から、前記放射に対する材料成分の吸収係数を決定する過程と、
前記決定された吸収係数及び前記成分の既知の吸収断面積から前記材料成分の濃度を決
定する過程と
を備えることを特徴とする材料の成分を分析する方法。
【請求項２５】
請求項２４に記載の方法に従い、材料の複数の領域において成分を分析する過程と、
前記複数の領域における分析結果を用いて、位置の関数として前記材料の濃度をマッピングする過程と
を備えることを特徴とする材料内の成分の濃度をマッピングする方法。
【請求項２６】
材料の複数の既知成分それぞれに対して、誘電率が温度の関数として既知で、しかも、前記複数の既知成分以外の全ての成分に対する相対的成分濃度が判明しており、前記複数の既知成分のみが実質的に前記材料の誘電率に寄与する少なくとも一つの周波数それぞれにおいて、前記材料の誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つを測定する過程と、
前記少なくとも一つの周波数それぞれにおいて測定された誘電率の実数部分と虚数部分の少なくとも一つと、前記既知成分の誘電率の温度依存性を用いて、前記材料の温度を求める過程と
を備えることを特徴とする材料の温度測定方法。
【請求項２７】
第１回目と第２回目の測定間に放射によって材料を照射する過程と、
少なくとも一つの既知成分それぞれに対して、誘電率が温度の関数として既知で、しかも、前記少なくとも一つの既知成分以外の全ての成分に対する相対的成分濃度が判明しており、前記複数の既知成分のみが実質的に前記材料の前記材料の誘電率に寄与する少なくとも一つの周波数それぞれにおける第１と第２の温度にて、前記材料の誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つの測定を行う過程と、
前記少なくとも一つの周波数それぞれにおいて前記第１回目と第２回目に測定された誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つと、前記少なくとも一つの既知成分それぞれの誘電率の温度依存性、及びそれらの相対的濃度を用いて、前記第１回目と第２回目との温度差を求める過程と、
前記温度差を用いて、前記放射から前記材料に吸収されたエネルギー量を求める過程と
を備えることを特徴とする材料によって吸収された放射量を測定する方法。
【請求項２８】
前記材料は、生体組織であることを特徴とする請求項１、１８、２６又は２７のいずれかに記載の方法。
【請求項２９】
前記生体組織は、耳の内部の組織であることを特徴とする請求項２８に記載の方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００８】
本発明の一態様は、物体の（一般的に複素）誘電率を決定することにより、前記物体の温度を測定する方法を提供することに関する。ここで使用される用語、材料の“誘電率（dielectric permittivity）”、或いは“誘電率（permittivity）”は、実数で8.85×10-12 F/mに等しい自由空間の誘電率に対する相対的な材料の複素誘電率を示す。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００９】
本発明の実施形態の一態様は、材料の温度を決定するために、材料の一つの既知の成分の誘電率を決定することに関する。本発明の様々な実施形態によれば、一つの既知の成分の誘電率は、前記一つの成分のみが材料の誘電率に寄与する周波数に対して材料の誘電率を測定することにより決定される。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
しかしながら、隔離周波数における材料の誘電率は、隔離周波数に関連する指標成分の誘電率の関数であるだけではなく、材料内の指標成分の濃度の関数でもある。一般的に濃度は既知でないので、本発明の実施形態によれば、材料の誘電率の測定値間の比率は、材料の温度の決定に使用される。本発明の実施形態によれば、前記比率は、指標成分の２つの異なる隔離周波数における誘電率の実数部分間の、もしくは、虚数部分間の比率である。本発明の実施形態によれば、前記比率は、指標成分の同じ隔離周波数における誘電率の実数部分と虚数部分間の比率である。前記比率は、指標成分の濃度とは無関係であり、材料の指標成分の誘電率の温度依存性が既知である場合、前記比率の温度依存性は既知となる。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
材料内のダイポール分子の誘電緩和時間は、材料に加えられる電場の方向に分子が並べられる時間と相関性がある。分子の“誘電緩和周波数（dielectric relaxation frequency）”は、誘電緩和時間の逆数であるものとする。材料内の分子の誘電緩和周波数よりも実質的に高い周波数の電場に対しては、分子は電場方向の変化には追従せず、ひいては、前記周波数における材料の誘電率には実質的に寄与しない。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
液体状態であって他の分子と結合しない水は、その大きさ及び重さが比較的小さい為、一般的に、例えば、血液内のリンパ球のような、より大きい又は重い分子、或いは比較的大きい構造の物質よりも実質的に高い誘電緩和周波数をもつ。従って、一般的に“自由水（free water）”と称される液体である“非結合（unbound）”水の誘電緩和周波数に近い周波数では、自由水は一般的且つ実質的に、自由水が見出される材料の誘電率に寄与する唯一のダイポール分子である。従って、本発明の実施形態によれば、水は材料の温度の測定に使用するのに、簡便且つ実質的に“普遍的”な指標成分である。一般的に、自由水の誘電緩和周波数は、およそ２０ＧＨｚのオーダーをもつ。“結合水（bound water）”又は“水和水（hydrate water）”と称されるより重い分子と結合した水は、一般的に１０８Ｈｚから約１０９Ｈｚまでの間で変動する緩和周波数を持つ。以後、“水(water)”という用語は“自由水(free water)”を意味する。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１６】
本発明の実施形態によれば、材料の内部温度は、材料の誘電率の虚数部分を測定することにより決定される。材料の指標成分の少なくとも一つの隔離周波数で、電磁波は材料に入射するよう方向づけられる。材料を通過する各入射波からのエネルギー量が測定される。任意の隔離周波数における透過エネルギー量は、材料を透過するエネルギーの経路長に沿った、前記隔離周波数における材料の誘電率の虚数部分の平均値の関数であり、前記平均値を決定するために使用される。少なくとも一つの隔離周波数それぞれに対して決定される誘電率の虚数部分は、透過エネルギーの経路長に沿った、材料の平均内部温度を決定するために使用される。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
本発明の実施形態の一態様は、誘電率の測定中に場が実質的に材料の温度を変化させないよう材料の誘電率の測定に使用される印加場のエネルギーを制限することに関する。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１８】
本発明の実施形態の一態様は、材料の誘電率測定、ひいては温度測定に使用される電磁場による材料の加熱に対して、材料の温度測定を修正することに関する。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
本発明の実施形態により、次のことからなる材料の温度を測定する方法が提供される。  誘電率が温度の関数として判明している材料内の一つの既知の成分のみが、材料の誘電率に実質的に寄与する少なくとも一つの周波数のそれぞれで、前記材料の誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つを測定すること、及び  前記既知の成分の温度、ひいては前記材料の温度を決定するために、前記少なくとも一つの周波数のそれぞれにおいて測定された誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つ、及び前記既知の成分の誘電率の温度依存性を使用すること。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２７】
さらに、材料の内部の誘電率の実数部分及び／又は虚数部分を測定することは、材料に入射する電磁波のエネルギーから材料によって反射される電磁波及び材料を透過するエネルギー量を測定すること、及び反射及び透過するエネルギーから材料の内部の誘電率の虚数部分の平均値を決定すること、からなる。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２８】
選択的もしくは付加的には、材料の内部の誘電率の実数部分及び／又は虚数部分を測定することは、下記のことからなる。材料に入射するように電磁波を方向づけること、入射波から材料によって反射された電磁波の振幅及び位相を測定すること、入射波から材料を透過する電磁波の振幅及び位相を測定すること、及び前記測定された振幅及び位相から材料の内部の誘電率の実数部分及び／又は虚数部分の平均値を決定すること。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３２】
本発明の実施形態によれば、材料の温度を決定することは、入射する電磁波から材料に吸収されるエネルギーによって誘電率の実数部分及び／又は虚数部分の測定中に材料の温度が変化する温度変化量を見積もること、及び温度を決定するために前記見積もられた温度変化量を使用することからなる。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３４】
さらに、前記少なくとも一つの周波数は、およそ１０１０から５０×１０１０Hzの範囲の周波数でもよい。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３５】
本発明の実施形態によれば、さらには、次のことからなる材料に吸収される放射量を決定する方法が提供される。第１回目及び第２回目の測定の間に放射によって材料を照射すること、本発明に従って第１回目及び第２回目に材料の温度を測定すること、及び放射によって材料に吸収されるエネルギー量の決定のために、第１回目に測定された温度と第２回目に測定された温度との温度差を使用すること。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３６】
随意的に、前記放射は電磁放射でもよい。随意的に、前記電磁放射は光でもよい。随意的に、前記光は赤外光でもよい。随意的に、前記放射は音響放射でもよい。
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３８】
本発明の実施形態によれば、さらには、次のことからなる材料内の成分の分析方法が提供される。本発明の実施形態により材料に吸収される放射量を決定すること、吸収されるエネルギー量から放射に対する材料内の成分の吸収係数を決定すること、及び決定された吸収係数と前記成分の既知の吸収断面積から前記成分の濃度を決定すること。
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４０】
本発明の実施形態によれば、さらには、次のことからなる材料の温度を決定する方法が提供される。材料の複数の既知の成分それぞれについて誘電率が温度の関数として既知で、しかも、前記複数の既知の成分以外の全ての成分に対する相対的成分濃度が判明しており、前記複数の既知の成分のみが、材料の誘電率に実質的に寄与する少なくとも一つの周波数のそれぞれで、前記材料の誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つを測定すること、及び前記材料の温度を決定するために、前記少なくとも一つの周波数のそれぞれにおいて測定された誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つ、及び前記既知の成分の誘電率の温度依存性を使用すること。
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４１】
本発明の実施形態によれば、さらには、次のことからなる材料に吸収される放射量を決定する方法が提供される。第１回目と第２回目の測定の間に放射によって材料を照射すること、  少なくとも一つの材料内の既知の成分それぞれについて誘電率が温度の関数として既知で、しかも、前記既知の成分以外の全ての成分に対する相対的成分濃度が判明していて、前記既知の成分のみが材料の誘電率に実質的に寄与する少なくとも一つの周波数のそれぞれで、第１と第２の温度における材料の誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つを測定すること、第１回目の測定と第２回目の測定との温度差を決定するために、少なくとも一つの周波数それぞれにおける第１回目と第２回目の測定での誘電率の実数部分及び虚数部分の少なくとも一つと、前記少なくとも一つの既知の成分それぞれの誘電率の温度依存性と、それらの相対的な濃度とを使用すること、及び前記温度差を用いて放射から前記材料によって吸収されるエネルギー量を測定すること。
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４３】
本発明のいくつかの実施形態によれば、前記生体の組織は、耳の内部の組織である。
【誤訳訂正２１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４５】
図１に見られるように、液状の水は、生態系に一般に見られる分子又は組織の中で最も高い誘電緩和周波数を持つ。同様に、水が存在する非生物学的な物質についても、水は一般に他の材料の成分や組織の誘電緩和周波数よりも高い誘電緩和周波数を持つ。従って、水が存在する多くの材料についても、水の誘電緩和周波数の範囲の周波数では、材料の誘電率は主に水の誘電率に起因する。本発明の実施形態によれば、これらの材料にとって、水は材料の温度を測定するのに格好の指標成分である。材料内の水の隔離周波数は、水の誘電緩和周波数の範囲内の周波数である。
【誤訳訂正２２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４６】
水の誘電特性は良く知られており、周波数“ω”と温度“Ｔ”の関数である水の複素誘電率“ε＊（ω，Ｔ）”は、比較的正確にε＊（ω，Ｔ）＝ε‘（ω，Ｔ）＋ｉε“（ω，Ｔ）＝ε∞＋(εｓ−ε∞)／（１＋ｉετ（Ｔ））に近似できる。ここでｉは虚数ｉを示す。ε＊（ω、Ｔ）に関する表現で、εｓは、ω＝０に対するε＊（ω，Ｔ）の“静的”な値であり、ε∞はω＝∞に対するε＊（ω，Ｔ）の値であり、ε＊（ω，Ｔ）の温度Ｔ依存性は誘電緩和時間τ（Ｔ）を介して存在する。τ（Ｔ）の温度依存性に関して様々な理論モデルが知られており、純水の温度の関数としてτ（Ｔ）の値が表にされている。τの逆数は、温度Ｔにおける水の誘電緩和周波数である。図２Ａと２Ｂは、  ２．５ＧＨｚ，１０ＧＨｚ及び２０ＧＨｚの“隔離”周波数における水の複素誘電率ε＊（ω，Ｔ）の実数部分ε‘（ω，Ｔ）及び虚数部分ε“（ω，Ｔ）それぞれを温度の関数としたグラフである。
【誤訳訂正２３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５０】
図３Ａは、２０ＧＨにおけるε＊（ω，Ｔ）の実数部分であるＲｅ［ε＊（２０，Ｔ）］と、２．５ＧＨｚにおけるε＊（ω，Ｔ）の実数部分であるＲｅ［ε＊（２．５，Ｔ）］の比率“Ｒ２０／Ｒ２．５”＝Ｒｅ［ε＊（２０，Ｔ）］／Ｒｅ［ε＊（２．５，Ｔ）］を、０−６０℃の温度範囲で温度の関数としたグラフである。グラフから、前記比率は温度の一価関数であり、材料のＲ２０／Ｒ２．５の値が判れば、材料の温度を決定することができることが理解される。
【誤訳訂正２４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５４】
図４は、本発明の実施形態による、ある濃度の水を有する材料３２の表面領域３０の温度測定を概略的に示している。米国特許５７４４９７１に記載されるプローブのような適切なプローブ３４が、少なくとも１つの水の隔離周波数で、表面領域３０に入射する波状の実線３６で表わされる電磁波を生成するために使用される。波状の破線で表される反射波において、入射波３６から表面領域３０により反射されたエネルギーは、プローブ３４によって検知され、当該技術において既知の方法を使用して前記反射波の振幅及び位相の測定を行う。
【誤訳訂正２５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５５】
プローブ３４内のプロセッサー(図示されていない) は、前記測定された反射波３８の振幅及び位相を用いて、入射波３６を特徴づける隔離周波数ωにおける表面領域３０の反射率“Ｒ（ω）"を決定する。順に、前記反射率は、表面領域３０における材料３２の誘電率ε＊（ω，Ｔ）の値を決定するために使用される。例えば、入射波３６が表面領域３０に垂直であると仮定すると、領域３０の誘電率は、通常の式Ｒ（ω） = ［１−ε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）０．５］／［１＋ε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）０．５］を用いて前記反射率から決定できる。上で議論されたように、少なくとも１つの隔離周波数における、誘電率ε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）の実数部分と虚数部分間、或いは、実数部分間又は虚数部分間の適切な比率を用いて、表面領域３０の温度を決定する。
【誤訳訂正２６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５７】
入射波３６から材料３２によって反射されないエネルギーは、表面領域３０から、材料３２内部へ向かう波３６に対するある吸収長さ“ｄ（ω）”とほぼ等しい深さにまで及ぶ材料３２の領域に、全て吸収されると仮定する。この仮定の下で、反射波３８において反射されない入射波３６からのエネルギーによって、表面領域３０の１平方センチメートル当たりほぼｄ（ω）ｃｍ３に等しい体積の材料が加熱される。材料の密度は"ρ"で表されるものとし、且つ材料の比熱は"J"で表されるものとする。この時、表面領域３０の温度Ｔは前記入射波にさらされている間、ｄＴ／ｄｔ＝Ｐin（１−｜Ｒ（ω)２｜）／（ｄ（ω）ρＪ）で近似される時間変化率ｄＴ／ｄｔを有する。ここでＰinは入射波３６の強度である。
【誤訳訂正２７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５８】
材料３２の比熱Ｊは水の比熱と等しく、ρは約１ｇｍ／ｃｍ３、入射波の周波数は２０ＧＨｚ、そして、波が温度測定を妨害しないよう、ｄＴ／ｄｔは０．０２℃／ｓ以下でなければならないと仮定しよう。前記波の吸収長さｄ(ω)は、式ｄ(ω)=λｏ(ω)/[２πＩｍ（ε＊（ω，Ｔ）０．５）］で見積もられる。ここでλｏ(ω)は、入射波３６の自由空間波長である。ω＝２０ＧＨｚ、温度約３５℃に対して、ｄ(ω)≒０．１ｃｍ、|Ｒ(ω)２|≒０．６５である。そして、ｄＴ／ｄｔがｄＴ／ｄｔ≦０．０２℃／ｓの関係を満たすためには、Ｐinは、Ｐin≦２４ミリワット／ｃｍ２の関係を満足しなければならない。
【誤訳訂正２８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６０】
図５は、本発明の実施形態による、ある濃度の水を有する材料４０の内部温度の測定について説明するための概略図である。
【誤訳訂正２９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６１】
本発明の実施形態によれば、適切な電源、回路、ネットワーク分析器（いずれも図示されず）及び２つのアンテナを備えたプローブ４２が、材料４０の内部温度を決定するために使用される。アンテナ４４は、例えば、ストリップアンテナ又はホーンアンテナ、或いは、水の隔離周波数で電磁波を放射及び／又は受信するのに適切な他のどのアンテナでも良く、それらは、アンテナの間に材料４０の体積領域４６を実質的に挟み込むように配置される。
【誤訳訂正３０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６２】
プローブ４２内の電源及び回路は、少なくとも一つの水の隔離周波数で、一方のアンテナから他方のアンテナ４４に向けて放射される電磁波を生成する。当該技術において既知の方法を用いた回路分析器によって、放射された波から材料４０によって反射される波と放射された波から材料４０を透過する波の振幅、及び随意的に位相が測定される。反射及び透過する波の振幅及び位相から、回路分析器は体積領域４６の平均誘電率ε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）を決定する。少なくとも一つの水の隔離周波数における誘電率ε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）の実数部分と虚数部分間の、或いは、実数部分間又は虚数部分間の適切な比率を用いて、体積領域の平均内部温度である体積領域４６の平均温度を決定する。
【誤訳訂正３１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６３】
例えば、本発明の実施形態によれば、回路分析器は、反射及び透過する波の振幅、すなわちエネルギーと、測定された放射波から体積４６に吸収されたエネルギー量の値のみを決定する。吸収されたエネルギー量を用いて、体積領域４６におけるε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）の虚数部分の平均値を求める。水の２つの隔離周波数間に於けるε＊ｍａｔ（ω，Ｔ）の虚数部分の平均値間の比率を用いて、体積領域４６の平均内部温度を決定する。材料４０の異なる領域にアンテナ４４を動かすか、もしくは、アンテナ４４に類似したアンテナ対の列を位置決めすることにより、材料４０の異なる領域の内部温度が決定され、材料４０の温度マップが提供されることに留意すべきである。同様に、図４に示されるプローブ３４を動かすか、もしくは、材料３２の表面に向かい合って複数のプローブ３４を位置決めすることにより、材料の異なる表面領域３０の表面温度が決定され、材料表面の温度マップが提供される。
【誤訳訂正３２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６６】
上記の議論が、光に対しての材料の吸収係数の測定について述べているのに対して、本発明のいくつかの実施形態によれば、同様の方法が、別のタイプの放射に対しての吸収係数を決定するために使用される。材料に吸収される実質的にいずれのタイプの放射に対しても吸収係数が、同様に決定される。例えば、本発明の一実施形態によれば、音響放射に対しての吸収係数が、誘電率による温度測定から決定されてもよい。
【誤訳訂正３３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６７】
上記においては、材料の温度は、材料の指標成分の少なくとも一つの隔離周波数の決定と前記少なくとも一つの隔離周波数での材料の誘電率測定により求められる。本発明のいくつかの実施形態によれば、材料の複数の既知の指標成分が前記材料の誘電率に寄与し、前記材料の他の成分が実質的に誘電率に寄与しない隔離周波数が決定される。本発明の一実施形態によれば、材料の温度は、少なくとも一つの隔離周波数において、材料の誘電率の実数部分又は虚数部分の少なくとも一つを測定することにより、各指標成分それぞれの既知の誘電率の温度依存性から決定できる。単一の指標成分に対応する隔離周波数での誘電率の測定が温度測定に使用される方法と同様に、複数の指標成分に対応する隔離周波数での誘電率の測定が温度測定に使用される。しかしながら、複数の指標成分の隔離周波数の場合には、既知の成分の相対的な濃度が、隔離周波数における材料の誘電率の温度依存性を決定するために既知でなければならない。
【誤訳訂正３４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００６９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００６９】
本出願の明細書と請求項において、 “備える、〜からなる（comprise）”、“含む（include）”、“有する、持つ（have）”といった動詞及びその活用形が使用されているが、それらの目的語は必ずしも、各動詞の主語の部材（members）、構成要素（components）、要素（elements）、或いは、部分（parts）を完全に列挙したものではない。
【誤訳訂正３５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７１】
以上、ここに添付した図面を参照して、本発明の実施形態の限定されない例を記載した。図面において、１つ以上の図面に現れる同一の構造、要素又は部分は、通常、それらが現れる全ての図面において同じ数字が付されている。図面に示されている部品及び特徴の寸法は、説明上の便宜と明瞭のために選択されたもので必ずしも実際の縮尺比に従って示されてはいない。図面を以下に列挙する。
【誤訳訂正３６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７２】
【図１】図１は、生態系で一般的に発見されている分子や物質の構造に対応する誘電緩和周波数を模式的に示す。
【図２】図２Ａと２Ｂは、異なる３つの隔離周波数における、水の誘電率の実数部分及び虚数部分のグラフである。
【図３Ａ】図３Ａは、本発明の実施形態による、材料の温度を決定するために使用される、２０ＧＨｚ及び２．５ＧＨｚにおける水の誘電率の実数部分の比率を、温度の関数として表したグラフである。
【図３Ｂ】図３Ｂは、本発明の実施形態による、材料の温度を決定するために使用される、２０ＧＨｚでの水の誘電率の実数部分の虚数部分に対する比率を、温度の関数として表したグラフである。
【図３Ｃ】図３Ｃは、本発明の実施形態による、材料の温度を決定するために使用される、２０ＧＨｚでの水の誘電率の虚数部分の１０ＧＨｚでの誘電率の虚数部分に対する比率を、温度の関数として表したグラフである。
【図４】図４は、本発明の実施形態による、材料の表面領域の温度の決定について説明するための概略図である。
【図５】図５は、本発明の実施形態による、材料の内部温度の決定について説明するための概略図である。