【手続補正書】
【提出日】平成18年6月14日(2006.6.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログ信号回路又は混合信号回路の正常バージョン又はそのコンピュータシミュレーションに、デジタル化したテストシーケンスを入力する工程と、少なくとも１つの欠陥を持つ回路の故障バージョン又はコンピュータシミュレーションに、上記と同じデジタル化したテストシーケンスを入力する工程と、入力されたテストシーケンスを変更し、各テストシーケンスについて正常回路及び故障回路からの出力を監視し、そして、デジタル化された入力シーケンスを識別するために、最適化アルゴリズムを使用する工程を包含し、デジタル化された入力を使用して、テストモードで使用する対応デジタル化出力を識別することを特徴とするアナログ信号回路又は混合信号回路の改良されたデジタル試験の方法。
【請求項２】
デジカル化入力シーケンスに対応する正常回路の出力と既知の故障回路の出力との差異を示す指標（例えば、性能指数）を各々の入力について測定する工程と、全ての入力シーケンスについて測定された指標に基づいて、改良された入力テストシーケンスを選択する工程を包含する請求項１記載の方法。
【請求項３】
複数のデジタル化入力シーケンスを入力する工程が、最初のシーケンスを入力し、次いでこれを所定の基準に従って変更する工程を包含する請求項２記載の方法。
【請求項４】
最初のデジタル化入力シーケンスを変更させることが、そのシーケンスでの１つ又はそれ以上のパルスの長さを変化させることである請求項３記載の方法。
【請求項５】
個々のパルスの長さを、同一量、漸増量又は漸減量で変化させるか、あるいは所定の基準で選択されるか、無作為に選択される別の量で変化させる請求項４記載の方法。
【請求項６】
全てのパルスの長さを同じ量で順々に変化させる請求項５記載の方法。
【請求項７】
パルス長が変化する量の大きさを変化させ、パルス長を変化させる工程を繰り返す請求項６記載の方法。
【請求項８】
デジタル化入力シーケンスを変化させることが、初期入力シーケンスにパターンシフト関数のような所定の関数を入力することを包含し、その所定の関数が入力シーケンスの全てのパルスを同時に修正する請求項３〜請求項７の何れかに記載の方法。
【請求項９】
個々の初期入力について局所最適を見出すため、所定の基準に従って個々に変化する一連の異なる初期デジタル入力を入力する工程を包含する先行請求項の何れかに記載の方法。
【請求項１０】
局所最適を全て比較する工程と、最適シーケンスを選択する工程を包含する先行請求項の何れかに記載の方法。
【請求項１１】
個々の正常回路及び既知の故障回路について使用される出力シーケンスが、アナログ出力である請求項２〜１０の何れかに記載の方法。
【請求項１２】
出力における大きな差が支配的になるのを阻止するため、最適入力シーケンスを選択するに先立ち、アナログ出力シーケンスを処理する請求項１１記載の方法。
【請求項１３】
アナログ信号の処理に、入力の負の極値及び正の極値について２つの異なる所定の値にて飽和する出力を持つ関数を使用することを包含する請求項１２記載の方法。
【請求項１４】
前記の関数が、シグモイド方程式又はロジスティック方程式に基づく非線形スクァシ関数を採用するシグモイド関数であり、そのシグモイド関数が、双曲正接関数である請求項１３記載の方法。
【請求項１５】
正常回路及び故障回路からのデジタル化出力が、最適なデジタル化入力シーケンスの決定に使用される請求項１〜１０の何れかに記載の方法。
【請求項１６】
故障検出比が最適回路の決定に使用され、その故障検出比が、一連の故障識別基準に従って検出できる所定の故障の割合として定義される先行請求項の何れかに記載の方法。
【請求項１７】
性能指数が、正常回路のデジタル化出力応答と故障回路の出力応答との間のハミング距離である請求項２〜１６の何れかに記載の方法。
【請求項１８】
性能指数が、ハミング距離に比例するか、ハミング距離の関数である請求項１７記載の方法。
【請求項１９】
見込まれるデジタル化入力シーケンスの所定のグループを包括的に評価することが、一つ又はそれ以上の良好な初期又は開始デジタル化入力シーケンスの発見に使用される先行請求項の何れかに記載の方法。
【請求項２０】
既知の故障に基づいて入力シーケンスを最適化するよりも、機能仕様の価値の変動を考慮してそのシーケンスを最適化する先行請求項の何れかに記載の方法。
【請求項２１】
デジタル化入力テストシーケンスを最適化する工程が、例えば、山登りアルゴリズム及び／又は遺伝的アルゴリズム、もしくはこれらの修正バージョンから選ばれる最適化アルゴリズムを用いて実行される先行請求項の何れかに記載の方法。
【請求項２２】
請求項１〜２１のいずれかの方法の産物であるとことの、アナログ信号回路又は混合信号回路を試験するためのデジタル化入力テストシーケンス又はその復製品。
【請求項２３】
アナログ信号回路又は混合信号回路の正常バージョンに、デジタル化入力テストシーケンスを入力することと、同じデジタル化入力テストシーケンスを、少なくとも一つの故障を持つ回路の故障バージョンに入力することと、そして、入力テストシーケンスを変え、それぞれのテストシーケンスについて正常回路及び故障回路の出力を監視し、一つのデジタル化入力シーケンスを同定するために最適化アルゴリズムを使用することで構成され、デジタル化入力がテストモードで用いられる対応デジタル化出力を識別するために使用するアナログ信号回路又は混合信号回路の改良されたデジタル試験システム。
【請求項２４】
デジタル化入力シーケンスに応じて正常回路の出力と既知の故障回路の出力との差異を示す指標（例えば、性能指数）を測定することができ、最適入力テストシーケンスを選択する手段が、各々のデジタル化入力シーケンスについて測定された指標に基づいて最適入力テストシーケンスが選択することができる請求項２３記載のシステム。
【請求項２５】
初期入力シーケンスを入力することができ、次いでその入力を所定の基準に従って変化させることができる請求項２３又は２４記載のシステム。
【請求項２６】
初期デジタル化入力シーケンス中の一つ又はそれ以上のパルスの長さを変化させることで前記した初期入力デジタル化シーケンスを変更することができる請求項２５記載のシステム。
【請求項２７】
パルス長を同一量、漸増量又は漸減量で変化させることができるか、もしくは所定の基準で選択された、又は無作為に選択された別の量で変化させることができる請求項２６記載のシステム。
【請求項２８】
最適化アルゴリズムが、デジタル化入力シーケンスの周波数を変化させることができる請求項２３〜２７の何れかに記載のシステム。
【請求項２９】
最適化アルゴリズムが、正常回路及び故障回路からのアナログ出力を監視できる請求項２３〜２８記載のシステム。
【請求項３０】
最適化アルゴリズムが、正常回路及び故障回路からのデジタル出力を監視できる請求項２３〜２９の何れかに記載のシステム。
【請求項３１】
複数の異なる故障回路の一つ一つについて性能指数を測定することができ、その全てを組み合わせた混成性能指数を測定できる請求項２３〜３０の何れかに記載のシステム。
【請求項３２】
デジタル化シーケンスを使用してアナログ信号回路及び／又は混合信号回路をテストする方法であって、請求項２２に規定した最適化デジタルテストシーケンスを供試回路に入力する工程と、供試回路からのデジタル出力を正常回路について予想されるデジタル出力と比較する工程と、比較工程の結果に基づいて故障を確定する工程を包含する前記のテスト方法。
【請求項３３】
供試回路からの出力と、予想される出力とがアナログであり、供試回路の出力をデジタル化する工程をさらに包含する請求項３２記載の方法。
【請求項３４】
正常回路について予想される出力が、最適化入力テストシーケンスに関する許容範囲を包含する請求項３２又は３３記載の方法。
【請求項３５】
最適化入力テストシーケンスに対する一つ又はそれ以上の既知故障についての出力を記憶しておく工程と、供試回路からの出力を前記の記憶出力に比較する工程をさらに包含する請求項３２〜３４の何れかに記載の方法。
【請求項３６】
一つ又はそれ以上の既知故障について記憶された出力が、最適化入力テストシーケンスに関する許容範囲を包含する請求項３５記載の方法。
【請求項３７】
回路の利得がテストされる場合において、デジタル化テストシーケンスが、最適化されたオフセット電圧及び／又は振幅を持つ請求項３２〜３６の何れかに記載の方法。
【請求項３８】
デジタル化シーケンスを使用してアナログ信号回路及び／又は混合信号回路をテストするシステムであって、請求項２２で規定した最適化デジタル入力シーケンスを供試回路に入力する手段と、供試回路のデジタル出力を健全回路について予想されるデジタル出力に比較する手段と、この比較手段からの出力に基づいて故障を確定する手段とを備えた前記のシステム。
【請求項３９】
供試回路からの出力がアナログであって、この出力をデジタル化する手段が設けられている請求項３８記載のシステム。
【請求項４０】
複数の異なる電子関数又はサブシステムを刺激するために、単一のシーケンス発生器が設けられている請求項３８又は３９記載のシステム。
【請求項４１】
故障を確定するための手段が、複数の異なる電子関数又はサブシステムの各々からの出力を分析することができる単一の検出器からなる請求項４０記載のシステム。
【請求項４２】
デジタル化入力シーケンスを使用してアナログ信号回路又は混合信号回路をテストする改良された方法のコンピュータプログラムであって、アナログ信号回路又は混合信号回路の正常バージョンに、デジタル化入力テストシーケンスを入力する命令又はコードと、少なくとも一つの故障を持つ回路の故障バージョンに、同じデジタル化入力テストシーケンスを入力する命令又はコードと、入力テストシーケンスを変更し、各々のテストシーケンスに対する正常回路及び故障回路からの出力を監視してデジタル化入力シーケンスを識別するために最適化アルゴリズムを使用する命令又はコードがそれぞれデータ記憶媒体又はコンピュータ可読媒体に書き込まれていて、デジタル化入力がテストモードで使用される対応デジタル出力の識別に使用される前記のコンピュータプログラム。
【請求項４３】
各々のデジタル化入力シーケンスに応じて正常回路の出力と既知の故障回路の出力との差異を示す指標（例えば、性能指数）を測定する命令又はコードと、各デジタル化入力シーケンスについて測定された指標に基づいて最適入力テストシーケンスを選択する命令又はコードを含む請求項４２記載のコンピュータプログラム。
【請求項４４】
正常回路及び故障回路についての出力応答をモデル化する命令又はコードを含む請求項４２又は４３記載のコンピュータプログラム。
【請求項４５】
デジタル化シーケンスを使用してアナログ信号回路又は混合信号回路をテストする方法で使用されるコンピュータプログラムであって、供試回路の請求項２２で規定した最適化されたデジタル化テストシーケンスを入力する命令又はコードと、供試回路のデジタル化出力を健全回路で予想されるデジタル化出力と比較する命令又はコードと、比較手段からの出力に基づいて故障があるか否かを割り出す命令又はコードが、データ記憶媒体又はコンピュータ可読媒体に書き込まれた前記のコンピュータプログラム。
【請求項４６】
既知の故障を持つ回路についての指標（例えば、性能指数）を記憶する命令又はコードと、供試回路の指標を前記既知故障回路の指標と比較する命令又はコードを備えた請求項４５記載のコンピュータプログラム。
【請求項４７】
請求項２２で規定した最適化されたデジタル化テストシーケンスを発生する手段と、供試するアナログ信号回路又は混合信号回路に、デジタル化テストシーケンスを入力する手段と、供試回路のデジタル化出力を、既知の回路（例えば、正常回路又は既知の故障回路）について予想されるデジタル化出力と比較する手段と、比較手段からの出力に基づいて故障を確定する手段を包含し、前記の既知の回路も記憶されているか、局所的に生成されているテストシステム。
【請求項４８】
供試回路と同じチップにある請求項４７記載のテストシステム。
【請求項４９】
請求項２２で規定した最適化されたデジタル化テストシーケンスを発生する手段と、供試するアナログ信号回路又は混合信号回路に、デジタル化テストシーケンスを入力する手段と、貯蔵された又は局所的に発生させた健全回路について予想されるデジタル化出力に比較する手段と、比較手段からの出力に基づいて故障を確定する手段を備えたテストシステムを包含する携帯電話のような電子デバイス。