【事件の表示】
　特願２００５−５０７０９４「Ｘ線後方散乱モバイル検査バン」拒絶査定不服審判事件〔平成１６年　５月２７日国際公開、ＷＯ２００４／０４３７４０、平成１８年　２月１６日国内公表、特表２００６−５０５８０５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯 
　本願は，平成１５年１１月３日（パリ条約による優先権主張日　平成１４年１１月６日，平成１４年１２月２６日，平成１５年５月２１日，米国）を国際出願日とする出願であって，平成２２年３月２９日付けで拒絶査定がされ，これに対し，同年８月６日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに，同日付けで手続補正がなされたものである。さらに，平成２３年１月７日付けで審尋がなされ，回答書が同年６月８日付けで請求人より提出されたものである。　
　
第２　平成２２年８月６日付けの手続補正（以下，「本件補正」という。）についての補正却下の決定 
　
 　［補正却下の決定の結論］ 
 　　本件補正を却下する。 
　
 　［理由］ 
１　補正内容　
　本件補正は，特許請求の範囲を補正するものであって，そのうち請求項１についてする補正は，以下のとおりである。
　
（１）補正前の請求項１（平成２１年９月１４日付けの手続補正によって補正されたもの。）
「【請求項１】　
　対象を検査する検査システムであって，
ａ．包囲体により特徴付けられる密閉型の運搬機構と，
ｂ．この密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，貫通放射線を発生するための貫通放射線源と，
ｃ．前記貫通放射線から，前記対象を該対象が前記包囲体の完全に外側に置かれた状態で走査するビームを形成する空間モジュレータと，
ｄ．前記密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，操作の過程において，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく散乱信号を発生する検出器モジュールと，
ｅ．少なくとも前記散乱信号に基づいて前記対象の前記内容物の画像を形成する画像生成器とを備える検査システム。」
　
（２）補正後の請求項１（下線は，補正箇所を示す。）
「【請求項１】
　対象を検査する検査システムであって，
ａ．包囲体により特徴付けられる密閉型の運搬機構と，
ｂ．この密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，貫通放射線を発生するための貫通放射線源と，
ｃ．前記貫通放射線から，前記対象を該対象が前記包囲体の完全に外側に置かれた状態で走査するビームを形成する空間モジュレータと，
ｄ．前記密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，操作の過程において，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく
単独の
大きな
領域
ｅ．少なくとも前記散乱信号に基づいて前記対象の前記内容物の画像を形成する画像生成器とを備える検査システム。」
　
２　本件補正の目的
　本件補正前の「散乱信号を発生する検出器モジュール」を「単独の散乱信号を発生する大きな検出器領域」とする補正は，検出器について，「単独の」散乱信号を発生する検出器である旨限定し，その検出領域が「大き」い旨限定するものである。また，検出器がモジュールとして構成されることは技術常識であるから，「検出器」と記載するか，「検出器モジュール」と記載するかに，実質的な差異はない。そうすると，上記補正は，特許特許請求の範囲を減縮するものである。
　
　以上のことから，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前（以下，「平成１８年改正前」という。）の特許法第１７条の２第４項第２号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　
　そこで，補正後の請求項１に係る発明（以下，「補正発明」という。）が特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるか（平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）について，以下検討する。
　
３　引用刊行物の記載事項
　本願優先日前に頒布され，原査定の拒絶の理由において引用された刊行物である米国特許第６４２４６９５号明細書（以下，「引用例１」という。）には，図面とともに，次の事項が記載されている。なお，以下において，下線は当審にて付与したものである。
（１−ア）
「ABSTRACT
A system and a method for determining the depth of an object with respect to a surface behind which the object is concealed. The intensity of x-rays backscattered from the object is measured by at least two backscatter detectors disposed at different positions with respect to the scattering object. The depth of a scattering source within the volume penetrated by the x-rays is derived from the ratio of scattered x-rays measured by the detectors.」（フロント頁要約欄），
当審仮訳
「要約
　オブジェクトが隠蔽された表面に対する，オブジェクトの深度を決定するためのシステムおよび方法。オブジェクトにより後方散乱されたＸ線強度が，散乱オブジェクトに関して異なる位置に配置された少なくとも２つの後方散乱検出器によって測定される。Ｘ線によって貫通されたボリューム内の散乱源の深度は，複数の検出器によって測定された散乱Ｘ線の比から導かれる。」
　
（１−イ）
「TECHNICAL FIELD 
　The present invention relates to x-ray inspection of containers, and, more particularly, to x-ray inspection employing the detection of backscatter radiation by means of a plurality of backscatter detectors in order to derive information including spatial and material information with respect to contents of the containers.」（１欄９〜１５行），
当審仮訳
「技術分野
　本発明はコンテナのＸ線検査に関し，特に，コンテナの内容物に関する空間的情報および材料情報を含む情報を導くために，複数の後方散乱検出器による後方散乱放射の検出を採用したＸ線検査に関する。」
　
（１−ウ）
「BACKGROUND OF THE INVENTION 
　It is desirable to be able to determine the presence of objects, such as contraband, weapons, or explosives, that have been concealed in an enclosure, such as luggage or a shipping container, or that are concealed behind a surface such as a wall. Additionally, it is desirable to obtain information regarding the geometrical and material characteristics of such objects. Conventional x-ray techniques provide measures either of attenuation, in the case of transmission techniques, or of scatter, in the case of scatter techniques.」（１欄１６〜２６行），
当審仮訳
「発明の背景
　カバン，輸送コンテナのような包囲体内に隠された，あるいは，壁といった表面の背後に隠された，密輸品，武器あるいは爆発物のようなオブジェクトの存在を決定できることが望ましい。さらに，そのようなオブジェクトの幾何学的および材料特性に関する情報を得ることが望ましい。従来のＸ線技術は，透過法の場合には減衰の測定を，あるいは，散乱法の場合には，散乱の測定を提供する。」
　
（１−エ）
「SUMMARY OF THE INVENTION 
　In accordance with one aspect of the invention, in a preferred embodiment, there is provided an inspection system for characterizing an object concealed by a concealing surface. The system has a source of penetrating radiation for emitting a beam that has an orientation and is incident upon the concealing surface at a plane of incidence. The source of penetrating radiation is characterized by a source position. The system also has a first scatter detector having a specified position with respect to the source position and beam orientation, for generating a first signal corresponding to penetrating radiation that has been scattered by the object. Additionally, the system has a second scatter detector having a field of view. The second scatter detector also has a specified position with respect to the source position and beam orientation and generates a second signal corresponding to penetrating radiation that has been scattered by the object. Finally, the system has a controller for determining an effective depth of the object with respect to the plane of incidence on the basis of at least the first and second signals.」（１欄４１〜６２行），
当審仮訳
「発明の要約
　本発明の１つの態様に従って，好ましい実施例では，隠蔽表面によって隠蔽されたオブジェクトを特徴づけるための検査システムが提供される。システムは，方向を有し，入射面において隠蔽表面に入射するビームを放射するための貫通放射源を備える。貫通放射源は，放射源位置により特徴付けられる。システムは，さらに，オブジェクトにより散乱された貫通放射に対応する第１の信号を生成するために，放射源位置とビーム方向に関して特定の位置に設けられた第１の散乱検出器を備える。加えて，システムは，視野を有する第２の散乱検出器を備える。第２の散乱検出器も，放射源位置とビーム方向に関して特定の位置に設けられ，オブジェクトにより散乱された貫通放射に対応する第２の信号を生成する。最後に，システムは，少なくとも前記第１の信号と前記第２の信号に基づいて，入射面に対するオブジェクトの有効深度を決定するためのコントローラーを備える。」
　
（１−オ）
「DETAILED DESCRIPTION OF PREFERRED EMBODIMENTS 
A principle of operation of preferred embodiment of the present invention, whereby geometrical and material information with respect to a concealed object may be derived by using multiple or segmented backscatter detectors to measure the intensity of x-rays backscattered from the object, is described with reference to  FIG.1. A beam 10  of penetrating radiation is incident upon one or more objects 12 and 20 which may be concealed from view, such as by surface 30 which may be the surface of a wall or may be a surface of an enclosure or container 14. A volume 2 posterior to surface 30 or contained within enclosure 14 may be referred to, herein, without limitation, simply as enclosure 14. Penetrating radiation refers to electromagnetic radiation of an appropriate range of energy and intensity as to penetrate container 14 and objects 12 and 20, and will be referred to, without limitation, in the following description as x-ray radiation. Beam 10 will similarly be referred to, without limitation, as an x-ray beam. Beam 10 is generated by a source (not shown) of penetrating radiation which may, for example, be an x-ray tube or a radioactive source. Plane 30 tangential to a point at which beam 10 penetrates surface enclosure 14 is referred to as the plane of incidence.
　X-rays 10 are scattered by objects 12 and 20, giving rise, for example, to scattered x-ray paths 16, 18, 22, 24, and 26. Backscatter detectors 3, 4, 5, and 6 are disposed on the same side of container 14 as source 46 , with detectors 3 and 5 on one side of beam 10 and detectors 4 and 6 on the opposite side of the beam. X-rays 10 are preferably in the form of a pencil beam that is raster scanned in the plane perpendicular to the line of the detectors Other shapes of beam 10 may also be employed within the scope of the present invention. Backscatter detectors may be any detectors known in the art for detection of the penetrating radiation scattered by objects 12 and 20, with the choice of particular detectors governed by design considerations with respect to a particular system and application. Backscatter detectors 3, 4, 5, and 6 may include, without limitation, an array of x-ray detectors arranged in a linear or planar configuration.・・・
　The position and relative sizes of backscatter detectors 3, 4, 5, and 6 may be chosen, in accordance with preferred embodiments of the invention, to optimize the efficiency of the system in discriminating among x-rays scattered from various selected regions of the space penetrated by beam 10, and to obtain images that enhance scattering features located at different depths into container 14. Radiation scattered from more distant scattering sources such as object 20 will be detected preferentially by exterior detectors 5 and 6 relative to interior detectors 3 and 4 since the detected flux is substantially proportional to the solid angles (depicted in projection in the plane of the paper) designated respectively as Ω６ｆａｒ and Ω３ｆａｒ, subtended by the respective detectors. The collection area of exterior detectors 5 and 6 may be increased relative to the collection area of the interior detectors 3 and 4 in order to enhance the magnitude of Ω６ｆａｒ relative to Ω３ｆａｒ for the more distant scattering sources 20. By way of contrast, for nearer object 12, the ratio of solid angles (depicted in projection in the plane of the paper) designated respectively as Ω６ｎｅａｒ and Ω３ｎｅａｒ, subtended by exterior detectors 5 and 6 relative to interior detectors 3 and 4, favors detection by the interior detectors. 
　As enclosure 14 is scanned in lateral direction 8 with respect to beam 10, whether by motion of the enclosure on a conveyor 34, or, equivalently, by motion of beam 10, the contents of enclosure 14 may be imaged or otherwise processed using techniques known in the art of x-ray inspection. Images obtained using exterior detectors 5 and 6 will emphasize more distant objects 20, whereas images obtained using interior detectors 3 and 4 will emphasize objects 16 nearer the plane of the detectors.」（２欄２２行〜３欄３５行），
当審仮訳
「好ましい実施例の詳細な記述
　本発明の好ましい実施例の動作原理，それによって，隠蔽されたオブジェクトの幾何学的情報および材料情報が，オブジェクトからの後方散乱Ｘ線強度を測定する複数あるいはセグメント化された検出器を用いて導かれることが，図１を参照して記述される。貫通放射線ビーム１０は，壁表面あるいは包囲体またはコンテナ１４の表面であるかもしれない表面３０によって隠蔽された１つあるいはそれ以上のオブジェクト１２および２０に入射する。表面３０の背後あるいは包囲体１４内に包含されるのボリューム２は，ここでは，それによって制限されることなく，単に“包囲体１４”と呼ぶ。“貫通放射線”は，コンテナ１４並びにオブジェクト１２および２０を貫通するのに適切な範囲のエネルギおよび強度を備えた電磁放射線を指し，以後，それによって制限されることなく，Ｘ線ビームと呼ぶ。ビーム１０は，例えば，Ｘ線チューブあるいは放射性線源かもしれない貫通放射線源（図示せず）によって生成される。ビーム１０が包囲体１４の表面を貫通するポイントにおける接平面３０を，“入射面”と呼ぶ。
　Ｘ線１０は，オブジェクト１２および２０により散乱されて，例えば，散乱されたＸ線パス１６，１８，２２，２４および２６を生じる。後方散乱検出器３，４，５および６は，コンテナ１４に対し，放射源４６と同じ側に配置され，検出器３および５は，ビーム１０の一方側に配置され，検出器４および６は，ビーム１０の他方側に配置される。Ｘ線１０は，好ましくは，検出器列に対して垂直な平面内で走査されるペンシルビームの形態である。他の形態のビーム１０を採用することも本発明の範囲に属する。後方散乱検出器は，オブジェクト１２および２０により散乱された貫通放射線を検出するための既知のいかなる検出器であってもよく，特定のシステムおよび応用に関して設計された特別の検出器を選択することもできる。後方散乱検出器３，４，５および６は，それによって制限されることなく，ライン状，あるいは，平面状に配置されたＸ線検出器のアレイであることを含む。・・・
　後方散乱検出器３，４，５および６の位置および相対的なサイズは，ビーム１０によって貫通された様々な選択領域から散乱されたＸ線を区別する際に，システムの効率を最適化するよう，および，コンテナ１４内の異なる深度に位置する散乱物を強調する画像を取得するよう，本発明の好ましい実施例にしたがって選択されてもよい。オブジェクト２０のように，より遠い散乱源からの散乱放射は，内側の検出器３および４よりも外側の検出器５および６で優先的に検出されるが，これは，
検出されるフラックスが，
立体角（紙面への投影として描かれた）に本質的に比例するからである
　包囲体１４は，ビーム１０に対して横方向８に走査されるが，これは，コンベヤー３４上を包囲体が運動するか，あるいは，それと等価に，ビーム１０の運動による。包囲体１４の内容物は，Ｘ線検査における既知の技術を用いて，画像化されるか，あるいは，そうでなければ処理される。
外側検出器５および６を使用して得られた画像は，より遠いオブジェクト２０を強調し，内側検出器３および４を使用して得られた画像は，検出器の平面近くのオブジェクト
を強調するであろう
　
（１−カ）
「In accordance with a further alternate embodiment of the invention, a source 60 of scanning x-rays may be mounted on a moving platform such as a self-propelled vehicle 62, as shown in FIG.4. Source 60 may include a scanning chopper wheel as known in the art for the production of a flying spot beam 64. Vehicle  62  may be driven in direction 66 past a large object 68, such as a truck or sea cargo container, in a manner described in detail in U.S.Pat.No.5,764,683, which is herein incorporated by reference. Interior backscatter detectors D1 and D1' preferentially detect radiation scattered from near scattering source A, whereas exterior backscatter detectors D2 and D2' preferentially detect radiation scattered from far scattering source B, as described in the foregoing discussion. The respective scatter images derived from interior and exterior detector sets may be displayed, for example, as images on display devices 70 and 72, or otherwise processed as known in the art.」（４欄１９〜３５行），
当審仮訳 
「本発明のさらなる他の実施例にしたがって，
走査Ｘ線源６０は，
自走式車両６２
上に設置されてもよい
フライング・スポット・ビーム６４の生成において既知の走査チョッパー・ホイールを含んでもよい
トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８
　
（１−キ）
「1. An inspection system for characterizing an object concealed by a concealing surface, the system comprising:
　a. a source of penetrating radiation for emitting a beam, the beam having an orientation and being incident upon the concealing surface at a plane of incidence, the source having a source position;
　b. a first scatter detector having a specified position with respect to the source position, a beam orientation, and a first field of view, the first field of view subtending a first solid angle, the first scatter detector generating a first signal corresponding to penetrating radiation that has been scattered by the object;
　c. a second scatter detector having a second field of view, the second field of view subtending a second solid angle of larger magnitude than the first solid angle, the second scatter detector disposed at a specified position with respect to the source position exterior to the position of the first scatter detector, the second scatter detector generating a second signal corresponding to penetrating radiation that has been scattered by the object; and
　d. a processor for determining an effective depth of the object with respect to the plane of incidence on the basis of at least the first and second signals.」（４欄５６行〜５欄１２行），
当審仮訳
「
隠蔽表面により隠蔽されたオブジェクトを特徴づけるための検査システムであって
ａ．放射ビームのための貫通放射源であって，当該ビームは，方向を有し，入射面において隠蔽平面に入射し，前記貫通放射源は，放射源位置を有する，
ｂ．前記放射源位置，ビーム方向，および，第１の視野に関して，特定の位置を有する
第１の散乱検出器であって，
第１の信号を生成する
ｃ．第２の視野を有する
第２の散乱検出器であって，
第２の信号を生成する
ｄ．
前記第１および第２の信号に基づき
　
（１−ク）
　図１には，後方散乱検出器３と後方散乱検出器５とが互いに接触配置され，後方散乱検出器４と後方散乱検出器６とが互いに接触配置された様子が記載されている。
　
（１−ケ）
　図４には，内側後方散乱検出器Ｄ１と外側後方散乱検出器Ｄ２とが互いに離間配置され，内側後方散乱検出器Ｄ１’と外側後方散乱検出器Ｄ２’とが互いに離間配置された様子が記載されている。また，同図には，
走査Ｘ線源６０，内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’，並びに，外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’が，自走式車両６２上に設置された様子が記載されている
トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８である包囲体をＸ線ビーム６４が貫通して，散乱源Ａおよび散乱源Ｂに入射され，散乱源Ａおよび散乱源Ｂにより散乱されたＸ線が前記包囲体を貫通して，後方散乱検出器Ｄ１，Ｄ１’，Ｄ２およびＤ２’により検出される様子が記載されている
内側後方散乱検出器Ｄ１に対応する表示デバイスとして表示デバイス７０が記載され，外側後方散乱検出器Ｄ２に対応する表示デバイスとして表示デバイス７２が記載されている
　
　上記摘記事項（１−ア）〜（１−ケ）からみて，引用例１には，以下の発明が記載されていると認められる。
　
「トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８である包囲体により隠蔽された散乱源Ａ，Ｂを特徴づけるための検査システムであって，
　自走式車両６２と，
　自走式車両６２上に設置され，フライング・スポット・ビーム６４の生成において既知の走査チョッパー・ホイールを含む走査Ｘ線源６０と，
　自走式車両６２上に設置された内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’，並びに，外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’と，
　内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’からの第１の信号，並びに，外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’からの第２の信号に基づき，内側後方散乱検出器に対応する表示デバイス７０，および，外側後方散乱検出器に対応する表示デバイス７２のそれぞれに分散画像を表示させる表示手段と，
　を備える検査システム。」（以下，「引用発明」という。）
　
４　対比・判断
　
（１）対比 
　補正発明と引用発明とを対比する。
　
ア　引用発明の「トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８」は，その構造および機能からみて，本願発明の「検査する」「対象」に相当する。
　してみると，引用発明の「トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８である包囲体により隠蔽された散乱源Ａ，Ｂを特徴づけるための検査システム」は，本願発明の「対象を検査する検査システム」に相当する。
　
イ　引用発明の「自走式車両６２」と，本願発明の「包囲体により特徴付けられる密閉型の運搬機構」とは，「運搬機構」である点で共通する。
　
ウ　引用発明の「自走式車両６２上に設置され」た「走査Ｘ線源６０」と，本願発明の「この密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，貫通放射線を発生するための貫通放射線源」とは，「この運搬機構に設置され，貫通放射線を発生するための貫通放射線源」である点で共通する。
　
エ　引用発明の「フライング・スポット・ビーム６４の生成において既知の走査チョッパー・ホイール」は，例えば，特開平３−１７００８５号公報の７頁右欄１１〜１４行に「ファンビームは回転チョッパ円板に入射して飛点ペンシルビーム３０とされ，・・・上下に繰り返して掃引される。」と記載されているように，走査ビームを形成するものであることが技術常識である。
　また，引用例１の摘記事項（１−ケ）における「・・・トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８である包囲体をＸ線ビーム６４が貫通して，散乱源Ａおよび散乱源Ｂに入射され，散乱源Ａおよび散乱源Ｂにより散乱されたＸ線が前記包囲体を貫通して，後方散乱検出器Ｄ１，Ｄ１’，Ｄ２およびＤ２’により検出される・・・」の記載からみて，引用発明では，オブジェクト６８が，走査Ｘ線源６０が設置された自走式車両６２の完全に外側に置かれた状態で，当該オブジェクト６８を走査していることが明白である。
　してみると，引用発明の「自走式車両６２上に設置され，フライング・スポット・ビーム６４の生成において既知の走査チョッパー・ホイールを含む走査Ｘ線源６０」を備える点と，本願発明の「前記貫通放射線から，前記対象を該対象が前記包囲体の完全に外側に置かれた状態で走査するビームを形成する空間モジュレータ」を備える点とは，「前記貫通放射線から，前記対象を該対象が前記運搬機構の完全に外側に置かれた状態で走査するビームを形成する空間モジュレータ」を備える点で共通する。
　
オ　引用発明の「散乱源Ａ，Ｂ」は，本願発明の「対象の内容物」に相当する。
　また，引用発明では，「内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’からの第１の信号，並びに，外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’からの第２の信号に基づき」「分散画像を表示させ」ているのであるから，引用発明の「内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’」および「外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’」は，それぞれ，「第１の信号」および「第２の信号」を発生されているといえ，当該「第１の信号」および「第２の信号」のそれぞれが，本願発明の「単独の散乱信号」に相当する。
　してみると，引用発明の「自走式車両６２上に設置された内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’，並びに，外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’」を備える点と，本願発明の「前記密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，操作の過程において，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく単独の散乱信号を発生する大きな検出器領域」を備える点とは，「前記運搬機構に設置され，操作の過程において，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく単独の散乱信号を発生する検出器領域」を備える点で共通する。
　
カ　引用発明の「内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’からの第１の信号，並びに，外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’からの第２の信号に基づき，内側後方散乱検出器に対応する表示デバイス７０，および，外側後方散乱検出器に対応する表示デバイス７２のそれぞれに分散画像を表示させる表示手段」は，本願発明の「少なくとも前記散乱信号に基づいて前記対象の前記内容物の画像を形成する画像生成器」に相当する。
　
　そうすると，両者は， 
　
（一致点）
「対象を検査する検査システムであって，
ａ．運搬機構と，
ｂ．この運搬機構に設置され，貫通放射線を発生するための貫通放射線源と，
ｃ．前記貫通放射線から，前記対象を該対象が前記運搬機構の完全に外側に置かれた状態で走査するビームを形成する空間モジュレータと，
ｄ．前記運搬機構に設置され，操作の過程において，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく単独の散乱信号を発生する検出器領域と，
ｅ．少なくとも前記散乱信号に基づいて前記対象の前記内容物の画像を形成する画像生成器とを備える検査システム。」
の点で一致し，以下の点で相違する。
　
（相違点１）本願発明では，運搬機構が，「包囲体により特徴付けられる密閉型の」運搬機構であり，貫通放射線源および検出器領域が，「密閉型」運搬機構の「前記包囲体内に完全に収容され」ているのに対し，引用発明では，運搬機構が自走式車両６２であり，貫通放射線源および検出器領域が，自走式車両６２上に設置されている点。
　
（相違点２）本願発明では，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく単独の散乱信号を発生する「大きな」検出器領域を備えるのに対し，引用発明では，単独の散乱信号を発生する検出器が，「内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’」並びに「外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’」の２つであり，また，検出器の検出器領域が大きいか否かが不明な点。
　
（２）上記相違点１について
　以下の理由１または理由２により，上記相違点１は，本願発明と引用発明との実質的な相違点でないか，あるいは，引用発明を，上記相違点１における本願発明のようにすることは，当業者にとって容易である。
　
（理由１）　
　引用発明は，「トラックまたは海上貨物専用コンテナのような大きなオブジェクト６８である包囲体」を検査するシステムであり，トラックまたは海上貨物専用コンテナは，通常，屋外にあるものであるから，引用発明の「自走式車両６２」による検査は，屋外で行われるものといえる。
　そして，屋外で使用される検査装置（貫通放射線源および検出器領域）は，風雨を避けるために，包囲体で覆われることが技術常識である。
　してみると，引用発明においても，当然，検査装置は包囲体で覆われているというべきである。仮に，そうではないとしても，風雨を避けるために，検査装置を包囲体で覆うようにすることは，当業者であれば，当然になし得る設計的事項であるといえる。
　
（理由２）
　検査装置の存在が人に警戒を与えないセキュリティー・システムは，例えば，米国特許第６０９４４７２号明細書の３欄１７行〜２２行に「The system, employed in any of these configurations, may be operated as a covert scanning system. A person who is not aware of the scanning process cannot take countermeasures to defeat the system. There are many security systems that are currently being used that, similarly, do not alert persons of their existence.（当審仮訳：これらのいずれの構成においても，システムは，秘密裏の走査システムとして操作されてもよい。走査プロセスに気づいていない人は，システムを破るための対策をとることができない。現在使用されているシステムであって，上記同様，それらの存在が人に警戒を与えない，セキュリティー・システムが数多く存在する。）」と記載されているように，本願優先日前における常套手段であり，また，検査装置の存在が人に警戒を与えないようにするためには，検査装置が人から見えないようにする，すなわち，包囲体で覆えばよいことが自明である。
　してみると，引用発明において，上記常套手段を採用し，検査装置（貫通放射線源および検出器領域）を包囲体で覆うようにすること，すなわち，上記相違点１における本願発明のようにすることは，当業者であれば，何ら困難性はなく，容易に想到し得る事項であるといえる。
　
　なお，引用例１の摘記事項（１−ケ）に「・・・包囲体をＸ線ビーム６４が貫通して，・・・散乱源Ａおよび散乱源Ｂに入射され，散乱源Ａおよび散乱源Ｂにより散乱されたＸ線が前記包囲体を貫通して，後方散乱検出器Ｄ１，Ｄ１’，Ｄ２およびＤ２’により検出される」と記載されているように，引用発明では，
Ｘ線が
包囲体を貫通することを前提としている
　
（３）相違点２について
ア　単独の散乱信号を発生する検出器の数について
　本願発明では，単独の散乱信号を発生する検出器の数については特定されていない。また，本願の特許請求の範囲の請求項４には「請求項１記載の検査システムにおいて，前記貫通放射線源が前記密閉型運搬機構の移動方向を横断する
二つの方向に
検出器は
同時に両側からの走査を可能とする
検出器モジュール１００が
２つで構成された
　そうすると，単独の散乱信号を発生する検出器の数，すなわち，本願発明では，検出器の数が特定されていないのに対し，引用発明では，単独の散乱信号を発生する検出器が，「内側後方散乱検出器Ｄ１およびＤ１’」並びに「外側後方散乱検出器Ｄ２およびＤ２’」の２つである点については，両発明の実質的な相違点であるとはいえない。
　
　なお，請求人は，平成２２年８月６日付け審判請求書の２頁最下行〜３頁４行において「引用文献１に記載された検査システムは，・・・そのためには複数の検出器を励起ビームからの距離が異なる位置に配置せねばならず，また複数の散乱信号を発生させねばなりません。」と主張している。
　しかし，仮に，本願発明では，単独の散乱信号を発生する検出器の数が１つだけであることが特定されており，単独の散乱信号を発生する検出器の数が，本願発明と引用発明との実質的な相違点であったとしても，引用発明を，当該相違点における本願発明のようにすることは，以下の理由１または理由２により，当業者にとって容易である。
　
（理由１）
　引用例１の摘記事項（１−オ）における「・・・外側検出器５および６を使用して得られた画像は，より遠いオブジェクト２０を強調し，内側検出器３および４を使用して得られた画像は，検出器の平面近くのオブジェクト・・・を強調するであろう。」の記載，および，同摘記事項（１−ケ）における「・・・内側後方散乱検出器Ｄ１に対応する表示デバイスとして表示デバイス７０が記載され，外側後方散乱検出器Ｄ２に対応する表示デバイスとして表示デバイス７２が記載されている。」の記載からみて，引用発明では，内側後方散乱検出器からの第１の信号を用いて，走査Ｘ線源６０から近い場所に位置する散乱源Ａの画像を表示デバイス７０に表示し，外側後方散乱検出器からの第２の信号を用いて，走査Ｘ線源６０から遠い場所に位置する散乱源Ｂの画像を表示デバイス７０に表示しているといえる。そして，検査すべき深度が特定されているような場合，すなわち，オブジェクト６８の幅が小さい場合や，オブジェクト６８中の検査すべき部位が特定されているような場合には，内側後方散乱検出器（および表示デバイス７０），あるいは，外側後方散乱検出器（および表示デバイス７２）のうちのいずれか一方を用いれば十分であることが自明である。
　してみると，引用発明において，内側後方散乱検出器（および表示デバイス７０），あるいは，外側後方散乱検出器（および表示デバイス７２）のうちのいずれか一方のみを用いるようにすること，すなわち，単独の散乱信号を発生する検出器の数が１つだけであるようにすることは，検査すべきオブジェクトの特性（幅，あるいは，隠蔽可能な場所）等に対応して，当業者が，適宜なし得る設計的事項であるといえる。
　
（理由２）
　本願発明では，検出器領域の具体的構成について何ら特定されていないから，検出器領域が，複数の検出アレイからなる検出器領域であることや，複数の検出アレイからなる検出器領域が単独の信号を発生することも排除していないことが明白である。
　他方，引用例１の摘記事項（１−ク）には，内側後方散乱検出器と外側後方散乱検出器とを互いに接触配置する実施例が記載されているから，引用発明において，内側後方散乱検出器および外側後方散乱検出器の配置を，当該実施例のように接触した配置とすることは，当業者が適宜選択し得る設計的事項であるといえる。そして，互いに接触配置された検出器は，複数の検出アレイからなる１つの検出器領域を形成しているといえ，また，当該複数の検出アレイからなる１つの検出器領域が発生する信号を，単独のシリアル信号とすることは，例えば，国際公開第０２／０３９９００号の２９頁２９〜３１行に「the step of generating a serial data stream comprising the digital data from a plurality of x-ray sensititive cells（当審仮訳：複数のＸ線感知セルから，デジタルデータからなるシリアルデータストリームを生成するステップ）」と記載されているように，当業者が適宜なし得る事項である。
　以上をまとめると，引用発明において，内側後方散乱検出器と外側後方散乱検出器とを互いに接触配置し，互いに接触配置された検出器からなる１つの検出器領域が発生する信号を，単独の散乱信号とすること，すなわち，単独の散乱信号を発生する検出器の数が１つだけであるようにすることは，当業者が適宜なし得る設計的事項であるといえる。
　
イ　検出器領域の大きさについて
　検出感度を向上させるために，検出器の面積を大きくすることは，例えば，引用例１の摘記事項（１−オ）に，「検出されるフラックスが，・・・立体角（紙面への投影として描かれた）に本質的に比例するからである。」と記載され，特開平１１−８６７８３号後方の段落【０００４】に，「・・・検出感度を向上させるためには，・・・検出器７の面積を大きくするという工夫が考えられる。・・・」と記載されているように，本願優先日前における常套の技術手段である。
　してみると，引用発明において，検出感度を向上させるために，上記常套手段を採用し，検出器領域を大きくするようにすることは，当業者であれば，何ら困難性はなく，容易に想到し得る事項であるといえる。
　
　そして，本願明細書に記載された補正発明によってもたらされる効果は，引用例１の記載事項および常套手段から，当業者であれば予測することができる程度のものであり，格別顕著なものとはいえない。
　
（４）付記（回答書における補正案について）
　請求人は，平成２３年６月８日付けで提出された審尋に対する回答書の１頁下から５行〜２頁１２行において，請求項１を，次の補正案のとおり補正したい旨主張している。
「＜請求項１＞
　対象を検査する検査システムであって， 
 　ａ．
放射線を吸収および散乱する
包囲された
 　ｂ．
前記包囲された
ている貫通放射線源であって，
生成する
 　ｃ．
前記
，
から
を
 　ｄ．
操作の過程において，
る大きな検出器領域であって，前記包囲体は，前記対象と前記大きな検出器領域との間に配置されており，前記大きな検出器領域は，
散乱信号
生成
，
 　ｅ．少なくとも前記散乱信号に基づいて前記対象
の
と
 　を備える検査システム。」（以下，「補正案発明」という。）
　
　しかし，包囲体が，ある程度放射線を吸収および散乱することは技術常識であり，また，引用発明において，上記「（２）上記相違点１について」で検討のとおり，検査装置（貫通放射線源および検出器領域）を包囲体で覆うようにすれば，「前記包囲体は，前記対象と」「検出器領域との間に配置され」ることとなるのが自明である。
　また，上記補正案におけるその他の補正事項は，単なる表現上の修正にすぎない。
　そうすると，請求項１に係る発明を，補正案発明のとおりに補正したとしても，進歩性を有するとはいえないから，請求人の上記主張は，採用することができない。
　
５　まとめ
　以上のとおりであるから，本件補正は，平成１８年改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により，却下すべきものである。 
　
　
第３　本願発明について
　
１　本願発明
　以上のとおり，本件補正は，却下されることとなったから，本件特許出願人が特許を受けようとする発明は，平成２１年９月１４日付け手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１〜２１に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められ，そのうち請求項１に係る発明は，次のとおりである。（以下，「本願発明」という。）
　
「【請求項１】　
　対象を検査する検査システムであって，
ａ．包囲体により特徴付けられる密閉型の運搬機構と，
ｂ．この密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，貫通放射線を発生するための貫通放射線源と，
ｃ．前記貫通放射線から，前記対象を該対象が前記包囲体の完全に外側に置かれた状態で走査するビームを形成する空間モジュレータと，
ｄ．前記密閉型運搬機構の前記包囲体内に完全に収容され，操作の過程において，前記対象の内容物により散乱された貫通放射線に基づく散乱信号を発生する検出器モジュールと，
ｅ．少なくとも前記散乱信号に基づいて前記対象の前記内容物の画像を形成する画像生成器とを備える検査システム。」
　
２　引用刊行物の記載事項　
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例およびその記載事項は，上記「第２　３　引用刊行物の記載事項」に記載したとおりである。
　
３　対比・判断　
　本願発明は，本件補正前の「散乱信号を発生する検出器モジュール」を「単独の散乱信号を発生する大きな検出器領域」とする限定を元に戻したものである。
　そうすると，本願発明の構成要件をすべて含み，さらに他の構成要件を付加したものに相当する補正発明が，上記「第２　４　対比・判断」において検討のとおり，引用発明および常套手段に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，引用発明および常套手段に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきである。
　
４　むすび　
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　
　
　よって，結論のとおり審決する。