【手続補正書】
【提出日】平成17年12月1日(2005.12.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
生成物、成分、環境またはプロセスをモニタリングする際に使用するための機器であって、該機器が、以下：
光子検出器および暗所チャンバを備える光子検出アセンブリ；
該光子検出アセンブリの該光子検出器以外のさらなる測定デバイスからのシグナルを受信し得る通信ポートであって、該シグナルが、該さらなる測定デバイスによって決定されるパラメーターに対応する、通信ポート；
該パラメーターを該光子検出器から受信された情報を用いて統合データに統合するように作動可能な、プロセッサ、
を備える、機器。
【請求項２】
請求項１に記載の機器であって、前記さらなる測定デバイスが、ＡＴＰレベル、ＡＤＰレベル、ＡＭＰレベル、アルカリホスファターゼレベル、ｐＨ、温度、溶存気体、伝導率、微生物数、および特定のイオンのうちの少なくとも１つを測定し得る、機器。
【請求項３】
請求項１に記載の機器であって、前記光子検出器が、光電子増倍管またはフォトダイオードを含む光子計数器である、機器。
【請求項４】
請求項３に記載の機器であって、前記暗所チャンバが、開閉されるように回転可能に位置付け可能なシャッター部材、開いた場合に該サンプルおよび該シャッターを該検出器に対して近位に位置付けるためのスライド可能なシャフトを備える円筒形保持部材、ならびに該サンプルを入れるために開くが、該サンプルを測定するために閉じられなければならないカバーを有する、機器。
【請求項５】
請求項３に記載の機器であって、前記さらなる測定デバイスが、外部プローブであり、該外部プローブが、該機器に固定され得るか、または該機器から取り外し可能であり得る、機器。
【請求項６】
請求項５に記載の機器であって、前記外部プローブが、他の外部プローブと相互交換可能である、機器。
【請求項７】
請求項５に記載の機器であって、前記外部プローブが、異なるパラメーターを測定し得る、機器。
【請求項８】
請求項５に記載の機器であって、前記外部プローブが、前記光子検出器とは異なる単一のパラメーターを測定し得る、機器。
【請求項９】
請求項７に記載の機器であって、前記外部プローブが、同時に、異なるパラメーターを測定し得る、機器。
【請求項１０】
請求項７に記載の機器であって、前記異なるパラメーターが、温度、ｐＨ、溶存気体、伝導率、および特定のイオンのうちの少なくとも１つを含む、機器。
【請求項１１】
請求項５に記載の機器であって、前記さらなる測定デバイスが、外部プローブを備え、該外部プローブが、温度、ｐＨ、溶存気体、伝導率、還元電位、および特定のイオンのうちの少なくとも１つを測定し得る、機器。
【請求項１２】
請求項１に記載の機器であって、前記通信ポートが、複数の相互交換可能な測定デバイスのいずれかからのシグナルを受信し得る、機器。
【請求項１３】
請求項１２に記載の機器であって、前記複数の相互交換可能な測定デバイスが、異なるパラメーターを測定するためのデバイスを含む、機器。
【請求項１４】
請求項１に記載の機器であって、該機器が、複数の通信ポートを備え、各々が、別々の測定デバイスからのシグナルを受信し得る、機器。
【請求項１５】
請求項１４に記載の機器であって、前記通信ポートのうちの少なくとも１つが、汎用コンピューターと連絡し得る、機器。
【請求項１６】
請求項１５に記載の機器であって、前記通信ポートのうちの少なくとも１つが、データロガーと連絡し得る、機器。
【請求項１７】
請求項１５に記載の機器であって、前記通信ポートのうちの少なくとも１つが、外部メモリシステムと連絡し得る、機器。
【請求項１８】
サンプルからの発光を検出するための機器であって、該機器が、以下：
光子検出器；
該光子検出器を使用して分析されるサンプルを受容するためのチャンバであって、該チャンバが、該光子検出器と近接し、そして該チャンバに回転可能に取り付けられたシャッター部材を備え、該シャッター部材が、開閉されるように選択的に位置付け可能であり、ここで、該シャッター部材が、開いている場合、該光子検出器が、該チャンバ内でサンプルからの光に曝露され得、そして該シャッター部材が、閉じている場合、該光子検出器が、該チャンバ内の光または該チャンバに入る外部光から遮断される、チャンバ；および
該サンプルを位置付けるための保持部材であって、該保持部材の動きが該シャッター部材を回転させ得るように、該保持部材が構成される、保持部材、
を備える、機器。
【請求項１９】
請求項１８に記載の機器であって、測定デバイスを該機器に接続するための通信ポートをさらに備え、該測定デバイスが、前記光子検出器によって供給されるパラメーターに加えて、パラメーターを測定し得る、機器。
【請求項２０】
請求項１８に記載の機器であって、前記チャンバのためのカバーをさらに備え、該カバーが、前記シャッター部材が開くように、閉位置でなければならず、そして該カバーが、該シャッター部材が閉じた場合に、開位置または閉位置の間で選択的に位置付け可能であり得るように、該機器が構成されている、機器。
【請求項２１】
請求項２０に記載の機器であって、移動可能なシャフトをさらに備え、該移動可能なシャフトが、前記シャッター部材に連結され、その結果、前記カバーが閉じた場合、該移動可能なシャフトの変位が、該シャッター部材を開閉し得る、機器。
【請求項２２】
請求項２０に記載の機器であって、スライド可能なシャフトをさらに備え、該スライド可能なシャフトが、上位置と下位置との間で変位して、サンプル装填位置とサンプル測定位置との間で該機器を位置付け得、該スライド可能なシャフトが、前記シャッター部材に連結され、その結果、前記カバーが閉じた場合、該スライド可能なシャフトの該上位置から該下位置への変位が、該シャッター部材を開く、機器。
【請求項２３】
請求項２０に記載の機器であって、前記下位置から前記上位置に前記スライド可能シャフトを推進し得る、エレベーター機構をさらに備える、機器。
【請求項２４】
請求項２３に記載の機器であって、前記シャッター部材が、円筒形形状である、機器。
【請求項２５】
請求項２０に記載の機器であって、前記シャッター部材が、前記光子検出器に面するように回転して該シャッター部材を開き得る開口部を有する、機器。
【請求項２６】
請求項２０に記載の機器であって、前記保持部材が、サンプル試験デバイスを保持し得、そして該機器が、該サンプル試験デバイス内からのサンプルを分析し得る、機器。
【請求項２７】
請求項２６に記載の機器であって、前記サンプル試験デバイスを、前記光子検出器に対して近位にかつ再現可能に近位に位置付けるための位置付け部材をさらに備える、機器。
【請求項２８】
請求項２６に記載の機器であって、該機器が、前記サンプル試験デバイス内のサンプル収集表面を、前記光子検出器の光子検出経路に対して近位であるが、該光子検出経路内ではないように位置付けるように構成されている、機器。
【請求項２９】
請求項１８に記載の機器であって、さらに以下：
エレベーター機構であって、該エレベーター機構が、前記サンプルデバイスを装填するための第１位置と、該サンプルデバイスのサンプル含有部分が該光子検出器の測定経路内にあるような第２位置とに該保持チャンバを位置付け得る、エレベーター機構；および
測定デバイスを該機器に接続するための通信ポートであって、該測定デバイスが、該光子検出器によって供給されるパラメーターに加えて、パラメーターを測定し得る、通信ポート、
を備える、機器。
【請求項３０】
サンプル試験デバイスであって、以下：
手動で作動されるように構成された変位部材；
該変位部材が作動する場合に試薬を放出するように構成されている試薬チャンバ；
該試薬が該変位部材の作動によって推進されるチャネルであって、該チャネルがまた、該試薬と液体との混合を促進するように該液体を受容し、該試薬および液体を該サンプル試験デバイスの測定部分に向かう流路に向けるように配置される、チャネル；
サンプル収集表面であって、該サンプル収集表面が、該試薬流路に配置され、その結果、該変位部材の作動によって、該試薬が、該サンプル収集表面と接触して、サンプルを該試薬内に放出する、サンプル収集表面；および
該試薬が該変位部材の作動によって送達される試験デバイスの測定チャンバであって、該測定チャンバが、そのパラメーターを測定している間、該試薬を保持するための、該サンプル試験デバイス内のチャンバを提供する、測定チャンバ、
を備える、サンプル試験デバイス。
【請求項３１】
請求項３０に記載のサンプル試験デバイスであって、前記測定チャンバが、前記サンプル収集表面の端部を超えて延び、その結果、該サンプル収集表面が、該測定チャンバ内でサンプルのパラメーターを測定するために使用される検出器の測定経路内に配置されない、サンプル試験デバイス。
【請求項３２】
請求項３１に記載のサンプル試験デバイスであって、前記サンプル収集表面が、前記変位部材によって前記測定チャンバ内に送達される試薬と接触されたままであるように構成され、その結果、該試薬が、連続的に、該サンプル収集表面からサンプルを遊離し得、その間、該サンプルのパラメーターが測定される、サンプル試験デバイス。
【請求項３３】
請求項３０に記載のサンプル試験デバイスであって、複数の試薬、および前記変位部材が作動する場合、該複数の試薬を放出するように構成された複数のチャンバが存在する、サンプル試験デバイス。
【請求項３４】
請求項３３に記載のサンプル試験デバイスであって、前記測定チャンバが、連続的で、光学的に均一である、サンプル試験デバイス。
【請求項３５】
請求項３３に記載のサンプル試験デバイスであって、前記測定チャンバが、透明である、サンプル試験デバイス。
【請求項３６】
請求項３３に記載のサンプル試験デバイスであって、半透明であり、光子の通過を許容する、サンプル試験デバイス。
【請求項３７】
請求項３３に記載のサンプル試験デバイスであって、前記試薬のうちの少なくとも１つが、乾燥形態である、サンプル試験デバイス。
【請求項３８】
請求項３０に記載のサンプル試験デバイスであって、前記試薬チャンバがシールされ、そして前記変位部材の変位が、該試薬チャンバから試薬を放出する、サンプル試験デバイス。
【請求項３９】
請求項３８に記載のサンプル試験デバイスであって、前記変位部材の変位によって、前記試薬チャンバの一部を通して貫通部材を押すことによって試薬が放出される、サンプル試験デバイス。
【請求項４０】
請求項３０に記載のサンプル試験デバイスであって、貫通先端をさらに備え、前記変位部材の変位によって、前記試薬チャンバが変位され、そして該貫通先端と接触し、それによって試薬を放出する、サンプル試験デバイス。
【請求項４１】
請求項３０に記載のサンプル試験デバイスであって、該サンプル試験デバイスが、完全に組み立てられ、光子検出機器に挿入される場合、前記サンプル収集部材が、該光子検出器の光子検出経路の外側にあり、該サンプル測定チャンバの少なくとも一部が、該光子検出経路内にある、サンプル試験デバイス。
【請求項４２】
サンプルを試験する方法であって、以下：
試薬チャンバを有する試験デバイスを提供する工程；
該試験デバイスの変位部材を作動させて、該試薬チャンバからの試薬を、サンプル収集部材に接触させるように駆動して、そこからサンプルを遊離させる工程であって、該変位部材の作動がまた、該試薬チャンバからの試薬を試験デバイスのサンプル測定チャンバ内に駆動する、工程；および
該サンプル測定チャンバを光子検出経路内に配置して、該サンプル収集部材に収集されるサンプルの光子放出を測定する、工程、
を包含する、方法。
【請求項４３】
請求項４２に記載の方法であって、前記変位部材の作動によって、前記チャンバ内の前記試薬を液体と混合する工程をさらに包含する、方法。
【請求項４４】
請求項４３に記載の方法であって、前記サンプルの光子放出の測定の間、前記光子検出経路の外側に前記サンプル収集部材を維持する工程をさらに包含する、方法。
【請求項４５】
請求項４４に記載の方法であって、前記サンプルからの光子放出の測定が、前記光子検出経路内に前記サンプル測定チャンバの試薬の少なくとも一部を配置する工程、および前記サンプル収集部材を該試薬と接触させて維持する工程を包含する、方法。
【請求項４６】
請求項４２に記載の方法であって、前記変位部材を作動させる工程が、液体チャンバから液体を放出し、該方法が、さらに以下：
該変位部材の作動によって作製される圧力勾配を使用して、該液体および試薬を混合して、溶液を形成し、その後、該変位部材の作動によって作製される圧力勾配を使用して該溶液をサンプル収集部材を通過するように駆動して、該サンプル収集部材を該溶液と接触させ、そして該表面からサンプルを遊離させる工程；および
該変位部材の作動によって作製される圧力勾配を使用して、該サンプルを含む溶液を測定チャンバ内に押しやる工程、
を包含する、方法。
【請求項４７】
請求項４６に記載の方法であって、前記試験デバイスの変位部材が、片手のみを使用して使用者によって容易に作動され得る、方法。
【請求項４８】
請求項４６に記載の方法であって、前記サンプルを含む溶液からの発光を測定するための機器を使用する工程をさらに包含する、方法。
【請求項４９】
請求項４８に記載の方法であって、前記機器を使用して、発光に加えてパラメーターを測定する工程をさらに包含する、方法。
【請求項５０】
請求項４９に記載の方法であって、前記さらなるパラメーターが、温度、ｐＨ、溶存気体、伝導率、還元電位、または特定のイオンのうちの少なくとも１つである、方法。
【請求項５１】
生成物、成分、プロセスまたは環境のサンプルをモニタリングする方法であって、以下：
光子検出器および測定デバイスとの連絡のための通信ポートを有する機器を提供する工程であって、該測定デバイスが、該光子検出器によって測定されるパラメーターに加えてパラメーターを測定し得る、工程；
該通信ポートを通って該機器に連結される該測定デバイスを提供する工程；
該環境、プロセス、生成物または成分からサンプルを収集し、そして該光子検出器を使用して分析のためにチャンバ内にサンプルを配置する工程；
該光子検出器を使用して該サンプルを分析する工程；および
該生成物、該成分、該環境または該プロセスのパラメーターを該測定デバイスを使用して測定する工程、
を包含する、方法。
【請求項５２】
請求項５１に記載の方法であって、前記光子検出器および前記測定デバイスから受信されたデータが、選択されたＣＣＰインジケーターを表す、方法。
【請求項５３】
請求項５２に記載の方法であって、ＣＣＰ限界に相関するように、前記機器のプロセッサを使用してデータを分析する工程をさらに包含する、方法。
【請求項５４】
請求項５１に記載の方法であって、前記光子検出器および前記測定デバイスからのデータを、前記機器のディスプレイデバイスに表示する工程をさらに包含する、方法。
【請求項５５】
請求項５４に記載の方法であって、データ分析を容易にするために、前記機器からのデータをグラフ形式またはチャート形式で表示する工程をさらに包含し、そのデータの表示およびその分析が、該機器のプロセッサまたは外部プロセッサによって実行される、方法。
【請求項５６】
請求項５１に記載の方法であって、前記光子検出器および前記測定デバイスからのデータを、前記機器のメモリに記録する工程をさらに包含する、方法。
【請求項５７】
請求項５１に記載の方法であって、前記機器からのデータをランダムアクセス構成で記録する工程をさらに包含し、その結果、前記使用者が、任意の量のメモリーを測定される各パラメーターに割り当て得る、方法。
【請求項５８】
請求項５１に記載の方法であって、前記機器が、複数の通信ポートを備え、該通信ポートの少なくとも１つが、前記光子検出器および前記測定デバイスから受信されたデータを外部デバイスに転送するために使用される、方法。
【請求項５９】
請求項５７に記載の方法であって、前記外部デバイスが、前記記録されたデータを分析するために使用されるプロセッサを備える、方法。
【請求項６０】
請求項５８に記載の方法であって、前記外部デバイスが、汎用コンピュータである、方法。
【請求項６１】
請求項５８に記載の方法であって、前記外部デバイスが、データ保存デバイスを備える、方法。
【請求項６２】
請求項６１に記載の方法であって、前記外部デバイスが、汎用コンピュータであり、そして前記データ保存デバイスが、該汎用コンピュータに連結されたハードディスクである、方法。
【請求項６３】
請求項４８に記載の方法であって、前記光子検出器および前記測定デバイスから受信されたデータを分析するために、前記機器のプロセッサを使用する工程をさらに包含する、方法。
【請求項６４】
請求項６３に記載の方法であって、前記データを分析するためにプロセッサを使用する工程が、ＣＣＰ限界との相関を示すために前記機器のプロセッサとともに使用されるソフトウェアを提供する工程を包含する、方法。
【請求項６５】
請求項６３に記載の方法であって、前記データを分析するために使用されるプロセッサが、前記機器に対して内部であり得るか、該機器に対して外部であり得るか、またはそれらの任意の組合せであり得る、方法。
【請求項６６】
請求項５１に記載の方法であって、前記機器を使用して前記プロセスまたは環境のパラメーターを測定する工程が、ＡＴＰレベル、ＡＤＰレベル、アルカリホスファターゼレベル、温度、伝導率、ｐＨ、溶存気体、特定のイオン、および微生物数のうちの少なくとも１つに比例する測定値を提供する工程を包含する、方法。