【手続補正書】
【提出日】平成17年5月20日(2005.5.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、第一信号の少なくとも１つを検査バスを越えて各コントローラへ送信し、前記各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは、第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
前記第一検査資源は、各コントローラのアクセスを受けた結果として電子回路から受け取ることが予測されるデータを表示する予測データを各コントローラへ送信するようにさらに構成される前記システム。
【請求項２】
各コントローラにＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合するインタフェースが備えられ、各コントローラはさらに、ＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に与えられたプロトコルを用いて、該プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成されることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項３】
前記第一検査資源がＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合するインタフェースを備えることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項４】
前記検査バスがマルチドロップ検査アクセスバスを含み、アクセス対象となる各電子回路がそれぞれ検査アクセスバスを備えることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項５】
各コントローラが、マルチドロップ検査アクセスバスを、各検査アクセスバスとカプラー接続された電子回路中に含まれる各検査アクセスバスへ接続するように構成されることを特徴とする請求項４項記載のシステム。
【請求項６】
前記検査バスがＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合することを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項７】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、少なくとも１つの第一信号を検査バスを越えて各コントローラへ送信して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは、第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
前記検査バスはデジタル検査バスを構成し、及び前記システムにはさらに、アナログ検査バス、第二検査資源、及び前記第二検査資源を前記第一検査資源へカプラー接続するように構成された通信リンクが含まれ、前記アナログ検査バスは前記第二検査資源へカプラー接続され、またアクセス対象となる各電子回路へカプラー接続可能であることを特徴とする前記システム。
【請求項８】
前記第二検査資源は、前記第一検査資源から前記デジタル検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第二信号に基づいて、第二プロトコルを用いて各電子回路へアクセスするように構成されることを特徴とする請求項７記載のシステム。
【請求項９】
前記第二検査資源がＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合するインタフェースを備え、及び前記第二検査資源がさらにＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に与えられたプロトコルを用いて各電子回路へアクセスするように構成されることを特徴とする請求項７項記載のシステム。
【請求項１０】
各コントローラが、アクセスを受けた結果として各電子回路から実データを受け取り、及び前記実データを前記予測データと比較するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項１１】
各コントローラが、アクセスを受けた結果として各電子回路から実データを受け取るようにさらに構成されることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項１２】
各コントローラが、各コントローラへカプラー接続可能な各電子回路へ入力データを供給するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項１３】
各コントローラが前記比較の結果得られたデータを記憶するようにさらに構成されることを特徴とする請求項６３項記載のシステム。
【請求項１４】
前記第一検査資源が前記記憶された比較データを検索するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１０項記載のシステム。
【請求項１５】
各コントローラが前記実データを圧縮するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１０項記載のシステム。
【請求項１６】
各コントローラが前記入力データの少なくとも一部を生成するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１２項記載のシステム。
【請求項１７】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、少なくとも１つの第一信号を検査バスを越えて各コントローラへ送信して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは、第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
各コントローラは、前記第一検査資源から前記検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第二信号に基づいて、コントローラと各電子回路間へ１または２以上のデジタル信号を伝達するように構成されたデジタル入力／出力回路を備えることを特徴とする前記システム。
【請求項１８】
前記第一検査資源が、各コントローラのアクセスを受けた結果電子回路から各デジタル入力／出力回路へ送信されることが予測されるデータを表示する予測データを各コントローラへ送信するように構成されることを特徴とする請求項１７項記載のシステム。
【請求項１９】
各コントローラが、各コントローラへカプラー接続可能な電子回路から送信される実データを受け取り、及びその実データを前記予測データと比較するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１８項記載のシステム。
【請求項２０】
各コントローラが、各コントローラへカプラー接続可能な電子回路から実データを受け取るようにさらに構成されることを特徴とする請求項１７項記載のシステム。
【請求項２１】
各コントローラが、各コントローラへカプラー接続可能な各電子回路へ入力データを供給するように構成されることを特徴とする請求項１７項記載のシステム。
【請求項２２】
各コントローラが前記比較の結果得られたデータを記憶するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１９項記載のシステム。
【請求項２３】
前記第一検査資源が前記記憶された結果データを検索するようにさらに構成されることを特徴とする請求項２２項記載のシステム。
【請求項２４】
各コントローラが前記実データを圧縮するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１９項記載のシステム。
【請求項２５】
各コントローラが前記入力データの少なくとも一部を生成するようにさらに構成されることを特徴とする請求項２１項記載のシステム。
【請求項２６】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、少なくとも１つの第一信号を検査バスを越えて各コントローラへ送信して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは、第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
各コントローラは、アクセス対象となる各電子回路がコントローラへカプラー接続されていることを前記第一検査資源へ表示する機能をもつ起動信号を前記コントローラから前記検査バスを越えて前記第一検査資源へ送信することにより、前記第一検査資源が、各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするための少なくとも１つの第一信号を供給できるように構成された自動オート起動回路を備えることを特徴とする前記システム。
【請求項２７】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、少なくとも１つの第一信号を検査バスを越えて各コントローラへ送信して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
各コントローラは、アクセス対象となる各電子回路へカプラー接続可能な結合電圧レベルをもつ通信インタフェース、及び前記通信インタフェースの前記電圧レベルを設定して各電子回路との電気的適合性を確保するように構成されたプログラム可能な入力／出力電圧回路を備えることを特徴とする前記システム。
【請求項２８】
前記プログラム可能な入力／出力電圧回路が、前記第一検査資源から前記検査バスを越えて送信される少なくとも１つの第二信号に基づいて前記通信インタフェースの電圧レベルを設定することを特徴とする請求項２７項記載のシステム。
【請求項２９】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、少なくとも１つの第一信号を検査バスを越えて各コントローラへ送信して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは、第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
前記検査バスが複数の検査バスから構成され、及び複数のコントローラのそれぞれが、前記複数の検査バスへ接続され、かつ前記複数の検査バスを連続状に相互接続するように構成された少なくとも１個のバスブリッジをさらに備えることを特徴とする前記システム。
【請求項３０】
前記バスブリッジが第一検査バスと第二検査バスを相互接続し、及び前記第一検査バスがソースバスであることを特徴とする請求項２９項記載のシステム。
【請求項３１】
前記検査ブリッジが第一検査バスと第二検査バスを相互接続し、前記第一及び第二検査バスのそれぞれが検査データを伝達するように構成され、及び前記バスブリッジが前記第一検査バス及び第二検査バス間へ前記検査データを伝達することを特徴とする請求項２９項記載のシステム。
【請求項３２】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスシステムであって、
前記第一検査資源は、少なくとも１つの第一信号を検査バスを越えて各コントローラへ送信して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、
各コントローラは、第一プロトコルを用いて、前記第一検査資源から検査バスを越えて送信された前記少なくとも１つの前記第一信号に基づいて、プロトコルへカプラー接続可能な各電子回路へアクセスするように構成され、及び
前記第一検査資源が、前記複数のコントローラをアドレス指定するための複数モードを表示するデータを記憶し、及び前記アドレス指定モードの一つに従って前記複数のコントローラの少なくとも１つをアドレス指定する少なくとも１つのアプリケーションを実行するように構成されることを特徴とする前記システム。
【請求項３３】
各コントローラが結合アドレス値を有し、前記アドレス指定モードの１つにおいて、前記検査資源がその結合アドレス値に基づいて単一のコントローラをアドレス指定することを特徴とする請求項３２項記載のシステム。
【請求項３４】
各コントローラにはそれぞれ結合識別値があり、前記アドレス指定モードの一つにおいて、前記検査資源はそれら結合識別値に基づいて前記複数のコントローラの１または２以上をアドレス指定することを特徴とする請求項３２項記載のシステム。
【請求項３５】
各コントローラにはそれぞれ結合グループアドレス値があり、前記アドレス指定モードの一つにおいて、前記検査資源は同一グループアドレス値をもつ各コントローラをアドレス指定することを特徴とする請求項３２項記載のシステム。
【請求項３６】
前記複数のコントローラの少なくとも１台が結合別アドレス値をもち、前記アドレス指定モードの一つにおいて、前記検査資源がその結合別アドレス値に基づいて少なくとも１台のコントローラをアドレス指定することを特徴とする請求項３２項記載のシステム。
【請求項３７】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へアクセスするための検査バスアーキテクチャーであって、
前記検査バスは前記第一検査資源から送信された第一信号の少なくとも１つを各コントローラへ伝達して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、及び
前記検査バスは、前記第一検査資源から送信された、各コントローラのアクセスを受けた結果として電子回路から受け取ることが予測されるデータを表示する予測データを各コントローラへ伝達するようにさらに構成されることを特徴とする前記検査バスアーキテクチャー。
【請求項３８】
アクセスを受ける前記電子回路の各ポートがＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合することを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項３９】
前記検査バスがマルチドロップ検査アクセスバスを構成することを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項４０】
前記検査バスがＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合することを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項４１】
前記検査バスが、前記第一検査資源及び前記複数のコントローラ間へ、検査クロック信号、検査モード選択信号、検査データ入力信号、検査データ出力信号及び検査リセット信号を含む信号群から選択される検査アクセス信号の少なくとも１つを伝達するようにさらに構成されることを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項４２】
各コントローラが各電子回路から送信される実データを受け取り、及び受け取ったデータを前記予測データと比較するようにさらに構成されることを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項４３】
各コントローラが各電子回路から送信された実データを受け取るようにさらに構成されることを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項４４】
各コントローラが、各コントローラへカプラー接続可能な各電子回路へ入力データを供給するように構成されることを特徴とする請求項３７項記載の検査バスアーキテクチャー。
【請求項４５】
検査バス、
前記検査バスへ接続された第一検査資源、及び
それぞれがアクセス対象としての各電子回路へカプラー接続可能な、前記検査バスへ接続された複数のコントローラを含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へアクセスするための検査バスアーキテクチャーであって、
前記検査バスは前記第一検査資源から送信された第一信号の少なくとも１つを各コントローラへ伝達して各コントローラを介して電子回路へ実質的に同時にアクセスするように構成され、及び
前記検査バスは、アクセスを受ける各電子回路がコントローラへカプラー接続されていることを前記第一検査資源へ表示する機能を果たす起動信号を各コントローラから前記第一検査資源へ伝達し、その伝達によって前記第一検査資源が各コントローラを介して電子回路の各ポートへ実質的に同時にアクセスする少なくとも１つの第一信号を与えることができるようにさらに構成されることを特徴とする前記検査バスアーキテクチャー。
【請求項４６】
各コントローラがアクセス対象となる各電子回路へカプラー接続可能である複数のコントローラへ接続されている検査バスへ接続可能な通信インタフェース、及び
前記複数のコントローラを介して各電子回路へ実質的に同時にアクセスするためのアプリケーションの少なくとも１つを記憶するように構成された少なくとも１台の記憶装置を含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスを制御する検査資源であって、
前記検査資源は、少なくとも１つの第一信号の、検査バスを越え、通信インタフェースを介した各コントローラへの伝達を制御する前記少なくとも１つのアプリケーションを実行するように構成され、各コントローラは第一プロトコルを用いて検査資源から検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づいてコントローラへカプラー接続可能な電子回路へアクセスし、
前記少なくとも１台の記憶装置は、前記複数のコントローラをアドレス指定するための複数モードを表示するデータを記憶するように構成され、前記検査資源は前記アドレス指定モードの一つに従って前記複数のコントローラの少なくとも１つをアドレス指定する少なくとも１つのアプリケーション実行するように構成され、及び
各コントローラは結合アドレス値をもち、前記アドレス指定モードの一つにおいて、検査資源はその結合アドレス値に基づいて単一のコントローラをアドレス指定することを特徴とする前記検査資源。
【請求項４７】
前記通信インタフェースがＩＥＥＥ１１４９．１検査基準に適合することを特徴とする請求項４６項記載の検査資源。
【請求項４８】
前記少なくとも１台の記憶装置が、選択されたコントローラによる単一電子回路へのアクセスに関する少なくとも１つのアプリケーションを記憶するように構成され、検査資源が、少なくとも１つの第一信号の、検査バスを越え、通信インタフェースを介した前記選択されたコントローラへの伝達を制御する前記少なくとも１つのアプリケーションを実行するように構成されることを特徴とする請求項４６項記載の検査資源。
【請求項４９】
各コントローラがアクセス対象となる各電子回路へカプラー接続可能である複数のコントローラへ接続されている検査バスへ接続可能な通信インタフェース、及び
前記複数のコントローラを介して各電子回路へ実質的に同時にアクセスするためのアプリケーションの少なくとも１つを記憶するように構成された少なくとも１台の記憶装置を含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスを制御する検査資源であって、
前記検査資源は、少なくとも１つの第一信号の、検査バスを越え、通信インタフェースを介した各コントローラへの伝達を制御する前記少なくとも１つのアプリケーションを実行するように構成され、各コントローラは第一プロトコルを用いて検査資源から検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づいてコントローラへカプラー接続可能な電子回路へアクセスし、
前記少なくとも１台の記憶装置は、前記複数のコントローラをアドレス指定するための複数モードを表示するデータを記憶するように構成され、前記検査資源は前記アドレス指定モードの一つに従って前記複数のコントローラの少なくとも１つをアドレス指定する少なくとも１つのアプリケーション実行するように構成され、及び
各コントローラは結合識別値をもち、前記アドレス指定モードの一つにおいて、検査資源はそれらの結合識別値に基づいて前記複数のコントローラの１または２以上をアドレス指定することを特徴とする前記検査資源。
【請求項５０】
各コントローラがアクセス対象となる各電子回路へカプラー接続可能である複数のコントローラへ接続されている検査バスへ接続可能な通信インタフェース、及び
前記複数のコントローラを介して各電子回路へ実質的に同時にアクセスするためのアプリケーションの少なくとも１つを記憶するように構成された少なくとも１台の記憶装置を含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスを制御する検査資源であって、
前記検査資源は、少なくとも１つの第一信号の、検査バスを越え、通信インタフェースを介した各コントローラへの伝達を制御する前記少なくとも１つのアプリケーションを実行するように構成され、各コントローラは第一プロトコルを用いて検査資源から検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づいてコントローラへカプラー接続可能な電子回路へアクセスし、
前記少なくとも１台の記憶装置は、前記複数のコントローラをアドレス指定するための複数モードを表示するデータを記憶するように構成され、前記検査資源は前記アドレス指定モードの一つに従って前記複数のコントローラの少なくとも１つをアドレス指定する少なくとも１つのアプリケーション実行するように構成され、及び
各コントローラは結合グループアドレス指定値をもち、前記アドレス指定モードの一つにおいて、検査資源は同一グループアドレス指定値をもつ各コントローラをアドレス指定することを特徴とする前記検査資源。
【請求項５１】
各コントローラがアクセス対象となる各電子回路へカプラー接続可能である複数のコントローラへ接続されている検査バスへ接続可能な通信インタフェース、及び
前記複数のコントローラを介して各電子回路へ実質的に同時にアクセスするためのアプリケーションの少なくとも１つを記憶するように構成された少なくとも１台の記憶装置を含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセスを制御する検査資源であって、
前記検査資源は、少なくとも１つの第一信号の、検査バスを越え、通信インタフェースを介した各コントローラへの伝達を制御する前記少なくとも１つのアプリケーションを実行するように構成され、各コントローラは第一プロトコルを用いて検査資源から検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づいてコントローラへカプラー接続可能な電子回路へアクセスし、
前記少なくとも１台の記憶装置は、前記複数のコントローラをアドレス指定するための複数モードを表示するデータを記憶するように構成され、前記検査資源は前記アドレス指定モードの一つに従って前記複数のコントローラの少なくとも１つをアドレス指定する少なくとも１つのアプリケーション実行するように構成され、及び
前記複数のコントローラの少なくとも１台が結合別アドレス指定値をもち、前記アドレス指定モードの一つにおいて、検査資源はその結合別アドレス指定値に基づいて少なくとも１台のコントローラをアドレス指定することを特徴とする前記検査資源。
【請求項５２】
第一検査バスを設ける工程と、
第一検査資源、及び前記検査バスへ接続され、アクセスを受ける各電子回路へカプラー接続可能な複数の第一コントローラを設ける工程と、
前記第一検査資源が、少なくとも１つの第一信号を前記第一検査バスを越えて各第一コントローラへ送信して各第一コントローラを介して前記電子回路へ実質的に同時にアクセスする工程と、
前記第一検査資源によって前記第一検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づき、第一プロトコルを用いて、各第一コントローラによって電子回路へアクセスする工程と、さらに
アクセスを受ける各電子回路、及び前記第二検査バス及び前記第一コントローラへ接続された第二コントローラそれぞれへカプラー接続可能な第二検査バスを設け、第二プロトコルを用いて、前記第一検査資源によって前記第一検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第二信号に基づき、各第二コントローラを介して前記第一コントローラが書く電子回路へアクセスする工程を含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセス方法。
【請求項５３】
第一検査バスを設ける工程と、
第一検査資源、及び前記検査バスへ接続され、アクセスを受ける各電子回路へカプラー接続可能な複数の第一コントローラを設ける工程と、
前記第一検査資源が、少なくとも１つの第一信号を前記第一検査バスを越えて各第一コントローラへ送信して各第一コントローラを介して前記電子回路へ実質的に同時にアクセスする工程と、
前記第一検査資源によって前記第一検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づき、第一プロトコルを用いて、各第一コントローラが電子回路へアクセスする工程と、さらに
前記第一検査資源が、各第一コントローラのアクセスを受けた結果として電子回路から受け取ることが予測されるデータを表示する予測データを各第一コントローラへ送信する工程を含む、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセス方法。
【請求項５４】
前記第一コントローラが、前記第一コントローラのアクセスを受けた結果として各電子回路から送信された実データを受け取り、及び前記実データを前記予測データと比較する各工程をさらに含むことを特徴とする請求項５３項記載の方法。
【請求項５５】
第一検査バスを設ける工程と、
第一検査資源、及び前記検査バスへ接続され、アクセスを受ける各電子回路へカプラー接続可能な複数の第一コントローラを設ける工程と、
前記第一検査資源が、少なくとも１つの第一信号を前記第一検査バスを越えて各第一コントローラへ送信して各第一コントローラを介して前記電子回路へ実質的に同時にアクセスする工程と、
前記第一検査資源によって前記第一検査バスを越えて送信された少なくとも１つの第一信号に基づき、第一プロトコルを用いて、各第一コントローラが電子回路へアクセスする工程を含み、さらに
前記最初の工程において複数の検査バスが設けられ、及び前記二番目の工程において前記複数の検査バスへそれぞれ接続される複数の第一コントローラが設けられ、及び前記複数の検査バスを少なくとも１個のバスブリッジで連続状に相互接続する工程がさらに含まれる、電子回路の検査、デバッグあるいは可プログラム化構成のための電子回路の１または２以上へのアクセス方法。
【請求項５６】
前記検査バスを連続状に相互接続する工程に、ソースバスとしての第一検査バスと第二検査バスを前記バスブリッジで相互接続する工程が含まれることを特徴とする請求項５５項記載の方法。
【請求項５７】
前記検査バスを連続状に相互接続する工程に検査データを伝達するようにそれぞれ構成された第一検査バスと第二検査バスを前記バスブリッジによって相互接続する工程が含まれ、及び前記検査データを前記バスブリッジを越えて前記第一検査バスと第二検査バス間へ伝達する工程をさらに含むことを特徴とする請求項５５項記載の方法。
【請求項５８】
各コントローラが、各電子回路へのアクセスの結果として得られたデータを前記検査バスを越えて前記第一検査資源へ供給するようにさらに構成されることを特徴とする請求項１項記載のシステム。
【請求項５９】
以下からなる複数の電子回路を並列的に検査するためのシステム:
通信パス;
前記通信パスと交信可能でカップラー接続可能な第１次検査コントローラ;および
前記通信パスと通信的にカップラー接続可能でかつ複数の電子回路と交信可能でカップラー接続可能な少なくとも一つの局部検査コントローラ；そして
ここで前記第１次検査コントローラは、前記通信パスを通じて前記少なくとも一つの局部検査コントローラへ刺激データおよび予測データを供給するように作動するものであり、そして
前記刺激データを交信可能でカップラー接続可能な前記複数の電子回路に適用し、そして刺激データの前記適用に応答して前記複数の電子回路により生成される結果のデータを受けるように、また結果のデータを予測のデータと照合するように前記少なくとも一つの局部コントローラは作動するものである。
【請求項６０】
以下の工程からなる複数の電子回路を並列的に検査するための方法:
通信回路を通じて刺激データと予測データを少なくとも一つの局部検査コントローラに供給すること;
刺激データを複数の電子回路に対して前記少なくとも一つの局部検査コントローラへ適用すること；
前記少なくとも一つの局部検査コントローラによる刺激データの前記適用に応答して前記複数の電子回路により生成される結果のデータを受けること；および
前記少なくとも一つの局部検査コントローラによる予測のデータに対して結果のデータを照合すること         。
【請求項６１】
以下の工程からなる複数の電子回路を検査する方法：
少なくとも一つの検査コントローラにより少なくとも一つの通信パスを通じて刺激データを複数の電子回路に適用すること;
前記少なくとも一つの検査コントローラによる刺激データの前記適用に応答して前記複数の電子回路により生成される結果のデータを受けること；および
前記少なくとも一つの局部検査コントローラによる予測のデータに対して結果のデータを照合し、予測のデータは、前記少なくとも一つの検査コントローラにより複数の電子回路から受け取ることを期待する結果のデータを表示するものである。
【請求項６２】
以下からなる検査バスアーキテクチャー：
複数の検査バス；および
前記複数の検査バスと相互接続する少なくとも一つの検査バスブリッジで、各検査バスブリッジは一対の検査バスのそれぞれと相互接続するものであり、
各検査バスブリッジは、第１の検査バスと第２の検査バス間の検査データを伝達する構成であり、
各検査バスブリッジは、少なくとも一つの第１のレジスターと少なくとも一つの第２のレジスターを含み、前記第１のレジスターは、第１の検査バスに交信可能に結合され、第２のレジスターは第２の検査バスに交信可能に結合され、第１と第２のレジスターは相互に交信可能に結合して検査データが第１と第２のレジスターを介して伝達されることを可能とし、そして
前記第１のレジスターは第１のクロック信号により時間計測され、前記第２のレジスターは第２のクロックにより時間計測されるものである。
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１】
2004522169.tif 000001
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図２】
2004522169.tif 000002
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図３】
2004522169.tif 000003
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図４】
2004522169.tif 000004
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図５
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図５】
2004522169.tif 000005
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図６
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図６】
2004522169.tif 000006
【手続補正８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図７
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図７】
2004522169.tif 000007
【手続補正９】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図８
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図８】
2004522169.tif 000008
【手続補正１０】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図９
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図９】
2004522169.tif 000009
【手続補正１１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１０】
2004522169.tif 000010
【手続補正１２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１１
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１１】
2004522169.tif 000011
【手続補正１３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１２
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１２】
2004522169.tif 000012
【手続補正１４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１３
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１３】
2004522169.tif 000013
【手続補正１５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１４ａ
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１４ａ】
2004522169.tif 000014
【手続補正１６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１４ｂ
【補正方法】追加
【補正の内容】
【図１４ｂ】
2004522169.tif 000015