【手続補正書】
【提出日】平成18年3月16日(2006.3.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  共焦点イメージングシステムであって、
ａ）放射が伝搬する光軸に横向きに伸びる電磁放射の伸長ビームを形成する手段；
ｂ）対象が位置する第１平面における第１の伸長領域に伸長ビームを向けて集束させるとともに、対象から放射される電磁放射を１以上の第２伸長領域に向ける手段であって、各第２伸長領域が第１平面に接合した異なる第２平面上にある手段；
ｃ）第２接合面の最後の一つにおいて、又は少なくとも一つの第２接合平面に接合した第３平面において、対象から放射される電磁放射が一致する検出エレメントの方形アレイを含む検出デバイス；及び
ｄ）放射された電磁放射が検出エレメントの方形アレイに送達され、検出デバイスにより放射された電磁放射を走査と同調して示す多くの電子シグナルに変換されるように、対象に対して伸長ビームを動かすか或いは伸長ビームに対して対象を動かすことにより対象を走査する手段
を含む、共焦点イメージングシステム。
【請求項２】  更にａ）第２伸長領域と整列した長軸を有する伸長空間フィルター；及び
ｂ）検出デバイス上に、第２接合平面のイメージを形成する手段
を含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項３】  対象に向かう電磁放射の伸長ビームが２以上の波長を含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項４】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する、請求項１記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、対物レンズを通して該不連続表面で反射されて戻る第１ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、対物レンズを通して該連続表面で反射されて戻る第２ビーム；
ｃ）対物レンズに反射して戻ってきた第１波長の放射を第２波長から分ける手段；
ｄ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた第１集束ビームの検出のための第１ディテクター；
ｅ）対物レンズを通して連続表面から戻ってきた第２集束ビームの検出のための第２ディテクター；
ｆ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｇ）第１及び第２ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがって、移動手段を操作するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、共焦点イメージングシステム。
【請求項５】  走査手段が対象を通して伸長ビームを移動させるための回転光学手段を含む、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項６】  対象上に向かう電磁放射の伸長ビームが１以上の波長を含み、第２平面が一つである、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項７】  電磁放射の２以上の波長が第１平面の第１伸長領域の対象から放射され、更に放射波長を分離し１以上の検出デバイスにより少なくとも１個の分離した波長が検出される、請求項１記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項８】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する請求項１記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、対物レンズを通して該不連続表面で反射されて戻る第１ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、対物レンズを通して該連続表面で反射されて戻る第２ビーム；
ｃ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｄ）焦点ディテクター及び移動手段に接続したコントローラー、支持体上の集束ビームの位置にしたがって焦点ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を調節するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、共焦点イメージングシステム。
【請求項９】  第１及び第２波長が同じである、請求項４記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項１０】  支持体がマイクロタイタープレートであり、不連続表面がマイクロタイタープレートの底である、請求項４又は請求項８記載の共焦点イメージングシステム。
【請求項１１】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置し、対象から２以上の波長の電磁放射が放出される請求項７記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、対物レンズを通して該不連続表面で反射されて戻る第１集束ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、対物レンズを通して該連続表面で反射されて戻る第２集束ビーム；
ｃ）対物レンズに反射して戻ってきた第１波長の放射を第２波長から分ける手段；
ｄ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた第１集束ビームの検出のための第１ディテクター；
ｅ）対物レンズを通して連続表面から戻ってきた第２集束ビームの検出のための第２ディテクター；
ｆ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｇ）第１及び第２ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがって、第１ディテクター又は第２ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を操作するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、共焦点イメージングシステム。
【請求項１２】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置し、対象から２以上の波長の電磁放射が放出される請求項７記載の共焦点イメージングシステムであって、当該システムが、
ａ）第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームであって、対物レンズを通して不連続表面に向かい、対物レンズを通して該不連続表面で反射されて戻る第１集束ビーム；
ｂ）第２波長を有する電磁放射の第２集束ビームであって、対物レンズを通して連続表面に向かい、対物レンズを通して該連続表面で反射されて戻る第２集束ビーム；
ｃ）対物レンズを表面に対して、又は表面を対物レンズに対して移動させる移動手段；及び
ｄ）焦点ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の集束ビームの位置にしたがって焦点ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を調節するコントローラー
を備える焦点システムを更に含む、共焦点イメージングシステム。
【請求項１３】  不連続表面及び不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を含む支持体と共に使用される集束システムであって、
ａ）不連続表面又は不連続表面上に位置する対象に集束すべき電磁放射の第１ビームを方向付けする対物レンズ；
ｂ）第１波長を有する電磁放射の第２ビームであって、該対物レンズを通って不連続表面に集束し、該不連続表面で反射して対物レンズを通して戻る第２ビーム；
ｃ）第２波長を有する電磁放射の第３ビームであって、該対物レンズを通って連続表面に集束し、該連続表面で反射して対物レンズを通して戻る第３ビーム；
ｄ）対物レンズを通して反射して戻ってきた第１波長の放射を第２波長の放射と分ける手段；
ｅ）対物レンズを通して不連続表面で反射された第２ビームの検出のための第１ディテクター；
ｆ）対物レンズを通して連続表面で反射された第３ビームの検出のための第２ディテクター；
ｇ）対物レンズを支持体に対して、又は指示体を対物レンズに対して移動し、対物レンズを通して反射して戻るビームの焦点をコントロールする移動手段；及び
ｈ）第１及び第２ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがって、第１ディテクター又は第２ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を操作するコントローラー
を含む集束システム。
【請求項１４】  不連続表面及び不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を含む支持体と共に使用される集束システムであって、
ａ）不連続表面又は不連続表面上に位置する対象に集束すべき電磁放射の第１ビームを方向付けする対物レンズ；
ｂ）対物レンズを通って不連続表面に方向付けされ、該不連続表面で反射して対物レンズを通して戻る電磁放射の集束ビーム；
ｃ）対物レンズを通して反射して戻ってきた集束ビームの検出のための焦点ディテクター；
ｄ）対物レンズを支持体に対して、又は指示体を対物レンズに対して移動し、対物レンズを通して反射して戻るビームの焦点をコントロールする移動手段；及び
ｅ）焦点ディテクター及び移動手段に接続したコントローラーであって、支持体上の集束ビームの位置にしたがって、焦点ディテクターからのシグナルに応答して移動手段を操作するコントローラー
を含む集束システム。
【請求項１５】  支持体がマイクロタイタープレートであり、不連続表面がマイクロタイタープレートの底である、請求項１３又は請求項１４記載の集束システム。
【請求項１６】  対象の試験方法であって、
ａ）請求項１記載の共焦点イメージングシステムを使用した対象から放射される電磁放射の測定する段階、並びに
ｂ）複数のシグナルの受信；
複数のシグナルのシグナルの閾値との比較；
複数のシグナルの閾値との比較に基づいた複数のシグナルに対応する一組の縮約データ値の製造；及び
一組の縮約データ値に対応する対象の複数の領域の部分の空間的に関係に基づいた少なくとも二つのグループへの縮約データのグループ化
を含む過程を使用して、検出デバイスで生成した複数の電子シグナルをグループ化する段階
を含む試験方法。
【請求項１７】  対象の試験方法であって、
ａ）請求項１３又は請求項１４記載の集束システムを備えた顕微鏡を使用して対象から放射される電磁放射を測定する段階であって、対象から放射される電磁放射を検出装置に集めて、複数の電子シグナルに変換する段階；並びに
ｂ）複数のシグナルの受信；
複数のシグナルのシグナルの閾値との比較；
複数のシグナルの閾値との比較に基づいた複数のシグナルに対応する一組の縮約データ値の製造；及び
一組の縮約データ値に対応する対象の複数の領域の部分の空間的に関係に基づいた少なくとも二つのグループへの縮約データのグループ化
を含む過程を使用して、検出デバイスで生成した複数の電子シグナルをグループ化する段階
を含む試験方法。
【請求項１８】  対象の試験方法であって、
ａ）放射が伝搬する光軸に横向きに伸びる電磁放射の伸長ビームを形成する段階；
ｂ）対象が位置する第１平面における第１伸長領域へと伸長ビームを方向付け及び集束させるとともに、対象から放射される電磁放射の１以上の第２伸長領域へと方向付ける段階であって、各第２伸長領域が第１平面に接合した異なる第２平面上である、段階；
ｃ）第２接合面の最後の一つにおいて、又は少なくとも一つの第２接合平面に接合した第３平面において、対象から放射される電磁放射が一致する検出エレメントの方形アレイを含む検出デバイスを設置する段階；及び
ｄ）放射された電磁放射が検出エレメントの方形アレイに送達され、検出デバイスにより放射された電磁放射を走査と同調して示す多くの電子シグナルに変換されるように、対象に対して伸長ビームを動かすか或いは対象を伸長ビームに対して動かすことによって対象を走査する段階
を含む試験方法。
【請求項１９】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する請求項１８記載の試験方法であって、当該方法が、
ａ）第１集束ビームが対物レンズを通して不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻るように、不連続表面への対物レンズを通して第１波長を有する電磁放射の第１集束ビームを方向付ける段階；
ｂ）第２集束ビームが対物レンズを通して連続表面で反射されて対物レンズを通して戻るように、連続表面への対物レンズを通した第２波長を有する電磁放射の第１集束ビームの方向付ける段階；
ｃ）対物レンズに反射して戻ってきた第１波長の放射を第２波長から分離する段階；
ｄ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた第１集束ビームを第１ディテクターで検出する段階；
ｅ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた第２集束ビームを第２ディテクターで検出する段階；及び
ｆ）支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがう第１ディテクター又は第２ディテクターからのシグナルに応答して、支持体に対して対物レンズを移動させるか或いは対物レンズに対して支持体を移動させる段階
を含む集束法を更に含む、試験方法。
【請求項２０】  不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を有する支持体の不連続表面に対象が位置する請求項１８記載の試験方法であって、当該方法が、
ａ）対物レンズを通して不連続表面で反射されて対物レンズを通して戻るように、不連続表面へ対物レンズを通して電磁放射の集束ビームを方向付ける段階；
ｂ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた集束ビームを焦点ディテクターで検出する段階；及び
ｃ）支持体上の集束ビームの位置にしたがう焦点ディテクターからのシグナルに応答して、支持体に対して対物レンズを移動させるか或いは対物レンズに対して支持体を移動させる段階
を含む集束法を更に含む、試験方法。
【請求項２１】  不連続表面及び不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を含む支持体と共に使用される集束方法であって、
ａ）第１ビームを対物レンズを通して不連続表面又は不連続表面上に位置する対象に方向付ける段階；
ｂ）第１の波長を有する電磁放射の第２ビームを対物レンズを通して不連続表面に集束し、該不連続表面で対物レンズに反射して戻るように方向付ける段階；
ｃ）第２の波長を有する電磁放射の第３ビームを対物レンズを通して連続表面に集束し、該連続表面で対物レンズに反射して戻るように方向付ける段階；
ｄ）対物レンズを通して反射して戻ってきた第１波長の放射を第２波長の放射と分離する段階；
ｅ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた第２ビームを第１ディテクターで検出する段階；
ｆ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた第３ビームを第２ディテクターで検出する段階；及び
ｇ）対物レンズを通して反射して戻ったビームの焦点を制御するため、支持体上の第１集束ビーム又は第２集束ビームの位置にしたがう第１ディテクター又は第２ディテクターからのシグナルに応答して支持体に対して対物レンズを移動させるか或いは対物レンズに対して支持体を移動させる段階
を含む集束方法。
【請求項２２】  不連続表面及び不連続表面と同じ方向に伸びる連続表面を含む支持体と共に使用される集束方法であって、
ａ）第１ビームを対物レンズを通して不連続表面又は不連続表面上に位置する対象に方向付ける段階；
ｂ）電磁放射の集束ビームを対物レンズを通して、不連続表面に集束し、該不連続表面で対物レンズに反射して戻るように方向付ける段階；
ｃ）対物レンズを通して不連続表面から戻ってきた集束ビームを焦点ディテクターで検出する段階；
ｄ）対物レンズを通して反射して戻ったビームの焦点を制御するため、支持体上の集束ビームの位置にしたがう焦点ディテクターからのシグナルに応答して支持体に対して対物レンズを移動させるか或いは対物レンズに対して支持体を移動させる段階
を含む集束方法。
【請求項２３】  ａ）複数のシグナルの受信；
ｂ）複数のシグナルのシグナルの閾値との比較；
ｃ）複数のシグナルの閾値との比較に基づいた複数のシグナルに対応する一組の縮約データ値の製造；そして
ｄ）一組の縮約データ値に対応する対象の複数の領域の部分の空間的に関係に基づいた少なくとも二つのグループへの縮約データのグループ化
を含む過程を使用して検出デバイスで生成した複数の電子シグナルをグループ化する段階を更に含む、請求項１８記載の試験方法。