【手続補正書】
【提出日】平成18年8月29日(2006.8.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
汎用のC/C++コンストラクトでテストプログラムを開発する方法であって、前記テストプログラムは、半導体テストシステムにおける半導体集積回路（IC）をテストするためのものであり、
前記半導体テストシステム上で前記ICをテストするためのテストプログラムを開発するために、テストシステムリソース、テストシステムコンフィギュレーション、およびモジュールコンフィギュレーションを汎用のC/C++コンストラクトで記述し、テストシステムリソース、テストシステムコンフィギュレーション、およびモジュールコンフィギュレーションを記述することは、少なくとも一つのサイトコントローラを制御する、ホストオペレーティングシステムを実行するシステムコントローラを指定することと、それぞれが前記ICにテストを適用するためのものである、少なくとも一つのテストモジュールを制御するサイトコントローラを指定することとを含み、
前記半導体テストシステム上で前記ICをテストするための前記テストプログラムの開発のためにテストシーケンスを汎用のC/C++コンストラクトで記述し、
前記半導体テストシステム上で前記ICをテストするための前記テストプログラムの開発のためにテストプランを汎用のC/C++コンストラクトで記述し、
前記半導体テストシステム上で前記ICをテストするための前記テストプログラムの開発のためにテスト条件を汎用のC/C++コンストラクトで記述し、
前記半導体テストシステム上で前記ICをテストするための前記テストプログラムの開発のためにテストパターンを汎用のC/C++コンストラクトで記述し、
前記半導体テストシステム上で前記ICをテストするための前記テストプログラムの開発のために前記テストパターンのタイミングを汎用のC/C++コンストラクトで記述する方法。
【請求項２】
テストシステムリソースを記述することは、
前記ICにテストを適用する少なくとも一つのテストモジュールに関連付けられているリソースタイプを指定することと、
前記リソースタイプに関連付けられているパラメータタイプを指定することと、
前記パラメータタイプのパラメータを指定することと
を包含している請求項１に記載の方法。
【請求項３】
テストシステムコンフィギュレーションを記述することは、モジュール接続イネーブラの入力ポートを指定することとを更に包含しており、
前記テストシステムは、前記サイトコントローラを前記モジュール接続イネーブラに前記入力ポートで連結し、前記モジュール接続イネーブラは前記サイトコントローラを前記少なくとも一つのテストモジュールに連結する請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記モジュール接続イネーブラはスイッチマトリクスである請求項３に記載の方法。
【請求項５】
モジュールコンフィギュレーションを記述することは、
モジュールタイプを指定するモジュール識別子を指定することと、
前記モジュール識別子によって指定される前記モジュールタイプのテストモジュールを制御する実行可能なコードを指定することであって、前記テストモジュールは前記ICにテストを適用し、
前記テストモジュールに関連付けられているリソースタイプを指定することと
を包含している請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記方法は、モジュール接続イネーブラの出力ポートを指定するスロット識別子を指定することをさらに包含しており、前記テストシステムは、前記テストモジュールを前記モジュール接続イネーブラに前記出力ポートで連結し、前記モジュール接続イネーブラは対応するサイトコントローラに前記テストモジュールを連結する請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記モジュール接続イネーブラはスイッチマトリクスである請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記実行可能なコードはダイナミックリンクライブラリである請求項５に記載の方法。
【請求項９】
前記方法は、前記テストモジュールの提供者を識別するベンダ識別子を指定することをさらに包含している請求項５に記載の方法。
【請求項１０】
前記方法は、前記リソースタイプに関連して利用可能である最大数のリソースユニットの識別子を指定することをさらに包含している請求項５に記載の方法。
【請求項１１】
前記リソースタイプはデジタルテスタピンであり、前記リソースユニットはテスタチャネルである請求項５に記載の方法。
【請求項１２】
前記リソースタイプはアナログテスタピンであり、前記リソースユニットはテスタチャネルである請求項５に記載の方法。
【請求項１３】
前記リソースタイプはRFテスタピンであり、前記リソースユニットはテスタチャネルである請求項５に記載の方法。
【請求項１４】
前記リソースタイプは電源ピンであり、前記リソースユニットはテスタチャネルである請求項５に記載の方法。
【請求項１５】
前記リソースタイプはデジタイザピンであり、前記リソースユニットはテスタチャネルである請求項５に記載の方法。
【請求項１６】
前記リソースタイプは任意波形発生ピンであり、前記リソースユニットはテスタチャネルである請求項５に記載の方法。
【請求項１７】
前記リソースタイプはリソースユニットに関連付けられており、前記方法は、どのリソースユニットが無効にされているかに関連するインジケータを指定することをさらに包含している請求項５に記載の方法。
【請求項１８】
無効であると示されているリソースユニットは、前記テストモジュールの不良リソースユニットを表している請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
テスト条件を記述することは、少なくとも一つのテスト条件グループを指定することを包含している請求項１に記載の方法。
【請求項２０】
テスト条件を記述することは、
少なくとも一つの変数を含む少なくとも一つの仕様セットを指定することと、
変数に結び付けられている式を選択するセレクタを指定することと
をさらに包含している請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記少なくとも一つの仕様セットのための前記テスト条件グループとセレクタとの関連付けは、テスト条件を定義する請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記テスト条件はオブジェクトである請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
テストシーケンスを記述することは、
フローまたはテストを実行することの結果と
前記結果に基づくアクションと、
前記結果に基づく他のフローまたはテストへの移行と
を指定することを包含している請求項１に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本出願は,2003年2月14日に出願された出願第60/447,839号「半導体集積回路用のテストプログラムを開発する方法および構造」、2003年2月24日に出願された出願第60/449,622号「集積回路をテストする方法および装置」、2003年3月31日に出願された米国出願第10/404,002号「テストエミュレータ、テストモジュールエミュレータおよびプログラムを記憶している記録媒体」、2003年3月31日に出願された米国出願第10/403,817号「テスト装置およびテスト方法」の恩恵を受けることを主張する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
オープンアーキテクチャのテストシステムの説明は、同一の譲受人による米国出願第60/449,622号の恩恵を受けることを主張する、同時に出願された米国出願第10/772,327号「集積回路をテストするための方法および装置」において見られる。