【手続補正書】
【提出日】平成18年8月22日(2006.8.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ラインスキャンレーザー検眼鏡であって、以下：
実質的に点である光源を提供する、光源；
光学装置であって、以下：
該光源から光を受け、そして入ってくる光のラインを提供する、第一の光学的構成要素；
（ｉ）１つ以上のレンズを通して、眼の一部を、該入ってくる光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンし、（ｉｉ）該眼の照射された部分からの反射光を共焦点でイメージングし、そして（ｉｉｉ）集束ラインの形態で、光の出力を提供する、少なくとも１つの第二の光学的構成要素；および
該入ってくる光および該反射光のうちの選択された１つを再指向する、回転ミラー、
を備える、光学装置；ならびに
一次元検出器であって、該出力光を検出し、そして該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に応答性の電気信号を提供する、一次元検出器、
を備える、ラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項２】
実質的に点である光源を提供する前記光源が、レーザーを備える、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項３】
実質的に点である光源を提供する前記光源が、スーパールミネッセントダイオードを備える、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項４】
前記光源から光を受光し、そして光のラインを提供する前記光学的構成要素が、１つ以上のレンズを備える、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項５】
前記光源から光を受光し、そして光のラインを提供する前記光学的構成要素が、ホログラフィー光学要素を備える、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項６】
さらに、以下：
信号分析モジュールであって、前記一次元検出器からの電気信号を復号し、そして前記眼の照射される部分からの反射光に応答性のデータのアレイを作製する、信号分析モジュール、
を備える、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項７】
さらに、以下：
ディスプレイモジュールであって、前記信号分析モジュールによって作製されたデータのアレイを表す情報を表示する、ディスプレイモジュール、
を備える、請求項６に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項８】
前記一次元検出器が、線形ＣＣＤアレイである、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項９】
前記一次元検出器が、線形ＣＭＯＳアレイである、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１０】
前記レーザーが赤外線レーザーである、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１１】
前記赤外線レーザーが、７００ｎｍ〜９５０ｎｍの範囲の波長で作動する、請求項１０に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１２】
前記赤外線レーザーが、実質的に８３０ｎｍの波長で作動する、請求項１１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１３】
前記光学装置が、さらに、以下：
前記光のラインに対して垂直なスキャン方向を有する、スキャンされた光のラインを提供する、スキャンミラー；
前記眼の照射された部分からの反射光を共焦点で受光し、そして反射光のラインを提供する、１つ以上のレンズ；
該反射光のラインを再指向する、スキャンミラー；
所望でない光が該光学装置を通って進むことを防止する、瞳孔絞り；および
該反射光の再指向されたラインを、前記一次元検出器に集束させる、対物レンズ、
を備える、請求項１に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１４】
前記再指向された光のラインを中継し、そして前記スキャンされた光のラインを提供するスキャンミラーと、前記反射光のラインを再指向するスキャンミラーとが、同じスキャンミラーである、請求項１３に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１５】
前記スキャンされた光のラインを眼の部分に集束させる１つ以上のレンズと、前記眼の照射された部分からの反射光を共焦点で受光する１つ以上のレンズとが、同じ１つ以上のレンズである、請求項１３に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１６】
前記瞳孔絞りが、共焦点で受光されていない光が前記光学装置を通って進むことを防止する、請求項１３に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１７】
ラインスキャン検眼鏡であって、以下：
少なくとも１つのレンズであって、該レンズを通して、光のラインが眼の一部に指向される、レンズ；
少なくとも１つの光学的構成要素を備える光学装置であって、該光学的構成要素は：（ｉ）１つ以上のレンズを通して、眼の一部を光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンし、（ｉｉ）該眼の照射された部分からの反射光を共焦点でイメージングし、そして（ｉｉｉ）集束ラインの形態で、光の出力をデスキャンする、光学装置；および
一次元検出器であって、該出力光を検出し、そして該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に応答性の電気信号を提供する、一次元検出器、
を備える、ラインスキャン検眼鏡。
【請求項１８】
ラインスキャンレーザー検眼鏡であって、以下：
実質的に点である光源を提供する、光源；
光学装置であって、以下：
該光源から光を受け、そして入ってくる光のラインを提供する、第一の光学的構成要素；
１つ以上のレンズを備える少なくとも１つの第二の光学的構成要素であって、該第二の光学的構成要素は、（ｉ）拡張されていない瞳孔を有する眼の一部を、該１つ以上のレンズを通って入ってくる光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンし、（ｉｉ）該眼の照射された部分からの反射光を共焦点で受光し、そして（ｉｉｉ）集束ラインの形態で、光の出力を提供する、少なくとも１つの第二の光学的構成要素；および
該入ってくる光および該反射光のうちの選択された１つを再指向する、回転ミラー、
を備える、光学装置；ならびに
一次元検出器であって、該出力光を検出し、そして該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に応答性の電気信号を提供する、一次元検出器、
を備える、ラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項１９】
ラインスキャンレーザー検眼鏡であって、以下：
実質的に点である光源を提供する、光源；
光学装置であって、以下：
該光源から光を受け、そして入ってくる光のラインを提供する、第一の光学的構成要素；
１つ以上のレンズを備える少なくとも１つの第二の光学的構成要素であって、該第二の光学的構成要素は、（ｉ）眼の一部を、該１つ以上のレンズを通って入ってくる光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンし、（ｉｉ）該眼の照射された部分からの反射光を共焦点で受光し、入ってくる光のラインおよび反射光が、モノスタティックビーム構造を有し、そして（ｉｉｉ）集束ラインの形態で、光の出力を提供する、少なくとも１つの第二の光学的構成要素；および
該入ってくる光および該反射光のうちの選択された１つを再指向する、回転ミラー、
を備える、光学装置；ならびに
一次元検出器であって、該出力光を検出し、そして該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に応答性の電気信号を提供する、一次元検出器、
を備える、ラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項２０】
物体の光学測定を行う方法であって、以下の工程：
入ってくる光のラインを提供する工程；
１つ以上のレンズを通して、物体の一部分を、該入ってくる光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンする工程；
該物体の照射された部分からの反射光を共焦点で受光する工程；
該受光された反射光から、集束ラインの形態の出力光を提供する工程；
該入ってくる光および該出力光を分離する工程；
該出力光を検出する工程；ならびに
該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に対して応答性の電気信号を提供する工程、
を包含する、方法。
【請求項２１】
前記物体が眼である、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
さらに、以下の工程：
前記電気信号を復号する工程；および
前記物体の照射された部分からの反射光に応答性のデータのアレイを作製する工程；
を包含する、請求項２０に記載の方法。
【請求項２３】
検眼鏡測定を行う方法であって、以下の工程：
入ってくる光のラインを提供する工程；
拡張されていない瞳孔を有する眼の一部分を、１つ以上のレンズを通過して該入ってくる光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンする工程；
該眼の照射された部分からの反射光を共焦点で受光する工程；
該受光された反射光から、集束ラインの形態の出力光を提供する工程；
該入ってくる光および該出力光を分離する工程；
該出力光を検出する工程；ならびに
該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に対して応答性の電気信号を提供する工程、
を包含する、方法。
【請求項２４】
検眼鏡測定を行う方法であって、以下の工程：
入ってくる光のラインを提供する工程；
１つ以上のレンズを通して、眼の一部分を、該入ってくる光のラインで、該ラインに対して垂直な方向でスキャンする工程；
該入ってくる光のラインおよび該反射光に対するモノスタティックビーム形状を使用して、該眼の照射された部分からの反射光を、共焦点で受光する工程；
該受光された反射光から、集束ラインの形態の出力光を提供する工程；
該入ってくる光および該出力光を分離する工程；
該出力光を検出する工程；ならびに
該出力光のラインに沿った複数の位置の各々において、該出力光に対して応答性の電気信号を提供する工程、
を包含する、方法。
【請求項２５】
請求項１７に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡であって、さらに、以下：
前記デスキャンされた光を第一の光のビームと第二の光のビームとに分離するための光学要素であって、前記一次源検出器が、該第一の光のビームを受光する、光学要素；および
該第二の光のビームを受光するための第二の検出器、
を備える、ラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項２６】
前記第一の光のビームおよび前記第二の光のビームが、前記眼の立体画像を形成するために収集される、請求項２５に記載のラインスキャンレーザー検眼鏡。
【請求項２７】
眼の光学測定を行う方法であって、以下：
少なくとも１つのレンズを通して、該眼の一部を、光のラインで、該光のラインに対して垂直な方向でスキャンする工程；
該眼の照射された部分から戻る光を、共焦点でイメージングする工程；および
該眼の照射された部分から戻る光を、集束ラインの形態で、線形アレイ検出器でデスキャンする工程、
を包含する、方法。
【請求項２８】
前記眼に入射する光と、該眼から反射する光とを分離する工程をさらに包含する、請求項２７に記載の方法。
【請求項２９】
所望でない光が前記光学装置を通って進むことを防止するための開口を使用する工程をさらに包含する、請求項２７に記載の方法。
【請求項３０】
請求項２７に記載の方法であって、さらに、以下：
前記眼の照射された部分から戻るデスキャンされた光を、第一の光のビームと第二の光のビームとに分割する工程；
該第一の光のビームを、前記線形アレイ検出器にて受光する工程；および
該第二の光のビームを、第二の検出器にて受光する工程、
を包含する、方法。
【請求項３１】
前記第一の光のビームおよび前記第二の光のビームから、前記眼の立体画像を形成する工程をさらに包含する、請求項３０に記載の方法。