(57)【要約】【課題】端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法を提供する。【解決手段】導通検査治具１０は、端子金具１０３又は当該端子金具１０３を収容したコネクタハウジング１０４を保持する検査治具本体１１と、端子金具１０３に一端が接触するように検査治具本体１１に支持された導通ピン２０と、を有している。そして、導通ピン２０の少なくとも前記一端が、端子金具１０３よりやわらかい導電性材料から構成されている。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも一端に端子金具が設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査治具であって、
前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する治具本体と、前記端子金具に一端が接触するように前記治具本体に支持された導通ピンと、を有し、
前記導通ピンの少なくとも前記一端が、前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成されていることを特徴とする導通検査治具。
【請求項２】
前記導電性材料が、導電性のゴム及び導電性のスポンジのうち少なくとも１種であることを特徴とする請求項１に記載の導通検査治具。
【請求項３】
少なくとも一端に端子金具が設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査装置であって、
前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する治具本体と、前記端子金具に一端が接触するように前記治具本体に支持された導通ピンと、を有する導通検査治具、及び、
前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査手段、を備え、
前記導通ピンの少なくとも前記一端が、前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成されていることを特徴とする導通検査装置。
【請求項４】
少なくとも一端に端子金具が設けられた電線の導通検査方法であって、
導通検査治具の治具本体に前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持させて、前記治具本体に支持された導通ピンにおける前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成された一端を前記端子金具に接触させる接触工程と、
前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
【請求項５】
少なくとも一端に端子金具が設けられた電線を備えるワイヤハーネスの導通検査方法であって、
導通検査治具の治具本体に前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持させて、前記治具本体に支持された導通ピンにおける前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成された一端を前記端子金具に接触させる接触工程と、
前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、端子金具が末端に設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
車両内に配索されて各種電子機器等の接続に用いられるワイヤハーネスは、コネクタハウジングに収容される端子金具が末端に設けられた複数の電線を有している。そして、このようなワイヤハーネスに対して、電線の断線や端子の接続不良等を検出するための導通検査が行われる。
【０００３】
導通検査は、例えば、電線の両末端に設けられた端子金具に対をなす検査プローブを接触させて、これら検査プローブ間の導通を確認することにより行うものであるところ、この検査プローブを接触させることにより端子金具の変形や損傷が生じるおそれがあった。そして、このような端子金具の変形や損傷を抑制できる検査プローブの一例が、特許文献１に開示されている。
【０００４】
特許文献１に開示されている検査プローブは、検査器本体に取り付けられる管体と、この管体に突没自在に支持された可動ピンと、管体内に配置されかつ可動ピンを管体から突出させる方向に向けて押圧するコイルバネと、を有している。この検査プローブによれば、端子金具が可動ピンに押し付けられると、当該押し付けられる力に応じて可動ピンが管体内に押し込まれるので、端子金具の変形や損傷を抑制することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平９−４３２９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されているような可動ピンをコイルバネで押圧する構成の検査プローブは、繰り返し使用した場合においても可動ピンと端子金具とを確実に接触させるために、コイルバネによる可動ピンを押圧する力を、当該コイルバネの劣化（バネ力の低下等）などを考慮して、可動ピンと端子金具との間の導通を確保するために必要な最低限の力より大きく設定することが求められ、そのため、端子金具の変形や損傷を抑制する点で改善の余地があった。
【０００７】
本発明は、端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１に記載された発明は、上記目的を達成するために、少なくとも一端に端子金具が設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査治具であって、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する治具本体と、前記端子金具に一端が接触するように前記治具本体に支持された導通ピンと、を有し、前記導通ピンの少なくとも前記一端が、前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成されていることを特徴とする導通検査治具である。
【０００９】
請求項２に記載された発明は、請求項１に記載の導通検査治具において、前記導電性材料が、導電性のゴム及び導電性のスポンジのうち少なくとも１種であることを特徴としている。
【００１０】
請求項３に記載された発明は、少なくとも一端に端子金具が設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査装置であって、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する治具本体と、前記端子金具に一端が接触するように前記治具本体に支持された導通ピンと、を有する導通検査治具、及び、前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査手段、を備え、前記導通ピンの少なくとも前記一端が、前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成されていることを特徴とする導通検査装置である。
【００１１】
請求項４に記載された発明は、少なくとも一端に端子金具が設けられた電線の導通検査方法であって、導通検査治具の治具本体に前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持させて、前記治具本体に支持された導通ピンにおける前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成された一端を前記端子金具に接触させる接触工程と、前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法である。
【００１２】
請求項５に記載された発明は、少なくとも一端に端子金具が設けられた電線を備えるワイヤハーネスの導通検査方法であって、導通検査治具の治具本体に前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持させて、前記治具本体に支持された導通ピンにおける前記端子金具よりやわらかい導電性材料から構成された一端を前記端子金具に接触させる接触工程と、前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、端子金具に一端が接触するように治具本体に支持された導通ピンを有し、前記一端が、端子金具よりやわらかい導電性材料から構成されている。このような構成により、当該導通ピンを電線の端子金具に接触させる際に、端子金具にかかる負担を小さくすることができるため、端子金具の変形や損傷を効果的に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。
【図３】図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の一実施形態に係る導通検査装置について、図１〜図３を参照して説明する。
【００１６】
図１は、本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。図２は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。図３は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図であって、導通ピンが端子金具と接している状態を示したものである。
【００１７】
本実施形態の導通検査装置は、例えば、各図に示すように、検査台Ｋ上に配索された車両用のワイヤハーネス１０１の導通検査に用いられる。このワイヤハーネス１０１は、両末端に端子金具１０３が設けられた複数の電線１０２と、各電線１０２のそれぞれの末端の端子金具１０３を収容する複数のコネクタハウジング１０４と、を有している。ワイヤハーネス１０１は、幹線１０１ａとこの幹線１０１ａから分岐した分岐線１０１ｂとを有している。コネクタハウジング１０４に端子金具１０３が収容されることで、車両に搭載された電子機器等に接続されるコネクタ１０５を構成する。
【００１８】
コネクタハウジング１０４は、絶縁性の合成樹脂からなり、かつ箱状に形成されている。コネクタハウジング１０４は、図３に示すように、端子収容室１０６を複数備えている。端子収容室１０６は、端子金具１０３を収容する。
【００１９】
図１に示すように、導通検査装置１は、導通検査治具１０と、導通検査手段としての導通検査部４０と、を備えている。
【００２０】
図２に示すように、導通検査治具１０は、検査台Ｋなどの上に設置される治具本体としての検査治具本体１１と、操作レバー１２と、検査部１３と、一対のコネクタ受け部１４と、を備えている。検査治具本体１１は、互いに平行な一対の側壁１５を備えている。操作レバー１２と、検査部１３と、コネクタ受け部１４とは、一対の側壁１５間に設けられている。
【００２１】
操作レバー１２は、側壁１５の一端部に回転自在に支持されている。コネクタ受け部１４は、側壁１５の他端部に設けられている。コネクタ受け部１４は、端子収容室１０６の開口部が、検査部１３に相対する状態で、コネクタ１０５を保持する。コネクタ受け部１４は、検査台Ｋと直交する方向に沿ってコネクタ１０５が出し入れ自在となっている。
【００２２】
検査部１３は、側壁１５の長手方向略中央部に設けられている。検査部１３は、図２に示すように、検査部本体１６と、導通ピン２０と、を備えている。検査部本体１６は、方体状に形成されている。検査部本体１６は、コネクタ受け部１４に近づいたり離れたりする方向にスライド自在（コネクタ受け部１４に接離自在）に、一対の側壁１５間に配されている。
【００２３】
導通ピン２０は、それぞれ直線状に延在した棒状に形成され、かつ互いに間隔をあけて平行に配置されている。導通ピン２０は、その長手方向が検査治具本体１１の長手方向と平行に配置されており、その一部が検査部本体１６におけるコネクタ受け部１４側を向く面から突出するように検査部本体１６内に埋設されている。また、導通ピン２０は、コネクタ受け部１４に保持されるコネクタ１０５の端子収容室１０６と同数設けられている。導通ピン２０は、後述する接触部２２の接触面２２ａが、端子収容室１０６即ち端子金具１０３に相対する。
【００２４】
さらに、導通検査治具１０は、リンク１８を備えている。リンク１８は、一端部が操作レバー１２に回転自在に連結しているとともに、他端部が検査部１３の検査部本体１６に回転自在に連結している。操作レバー１２が回転操作されると、リンク１８によって、コネクタ受け部１４に接離するように検査部１３がスライド移動する。なお、図２に示す状態では、検査部１３はコネクタ受け部１４から離れた状態となっている。図２中に示す矢印Ｊに沿って操作レバー１２を回転すると、検査部１３がコネクタ受け部１４に近づく。
【００２５】
導通ピン２０は、図３に示すように導電性の支持部２１と、導電性の接触部２２と、を一体に有している。支持部２１は、例えば、銅合金などの導電性の材料を用いて構成されており、円柱状に形成された小径部２１ａと、円柱状に形成された大径部２１ｂと、を一体に有している。小径部２１ａの外径は、大径部２１ｂの外径よりわずかに小さく形成されている。図３に示すように、導通ピン２０は、支持部２１の大径部２１ｂにおいて検査部本体１６に埋設されて取り付けられる。導通ピン２０のそれぞれの大径部２１ｂには、導通検査部４０と接続する導通検査線４５が接続されている。
【００２６】
接触部２２は、導通ピン２０の一端を構成しており、支持部２１における小径部２１ａの先端部分に配されている。即ち、接触部２２は導通ピン２０の一端を、大径部２１ｂは導通ピン２０の他端を構成している。接触部２２は、大径部２１ｂから小径部２１ａの軸線上に延在する円柱状に形成されている。接触部２２における端子金具１０３側の端面である接触面２２ａは、端子収容室１０６即ち端子金具１０３に相対して配されている。接触部２２は、導通検査を施す際に、接触面２２ａ、その側面２２ｂ、又は、接触面２２ａ及び側面２２ｂにおいて端子金具１０３と接触する。
【００２７】
接触部２２は、端子金具１０３よりやわらかい導電性材料から構成されている。接触部２２を構成する材料としては、端子金具１０３よりやわらかい導電性材料であれば特に限定されるものではなく、接触部２２と端子金具１０３との接触の際に、端子金具１０３にかかる負荷が小さいものであることが好ましい。このような導電性材料としては、例えば、ゴム材料に導電金属粉や導電性カーボン等を添加して構成される導電性ゴム、導電金属粉や導電性カーボン等を添加して構成される高分子化合物の導電性スポンジ（例えば、導電性のウレタンフォーム、導電性のスチレンフォーム）等が挙げられる。
【００２８】
導通検査部４０は、例えばＰＣなどから構成されている。導通検査部４０は、上述した導通検査治具１０の各導通ピン２０と導通検査線４５で接続されており、対をなす導通ピン２０間の導通の有無を検査する。
【００２９】
次に、上述した導通検査装置１の導通検査の動作の一例について以下に説明する。まず、導通検査対象となるワイヤハーネス１０１を検査台Ｋに配索し、ワイヤハーネス１０１の末端に設けられたコネクタ１０５を、それぞれに対応する導通検査治具１０のコネクタ受け部１４に挿入して嵌合させる（図１）。図１において、ワイヤハーネス１０１は、幹線１０１ａの端部及び分岐線１０１ｂの端部に設けられたコネクタ１０５が、導通検査治具１０に嵌合されているが、当該ワイヤハーネス１０１が図示しない他のコネクタ１０５についても同様に図示しない導通検査治具１０に嵌合されている。この状態において、導通検査治具１０の各導通ピン２０は、コネクタ１０５における対応する各端子金具１０３に接触していない。
【００３０】
次に、操作レバー１２を回転して、検査部１３をコネクタ受け部１４即ちコネクタ１０５に近づける。すると、図３に示すように、接触部２２の接触面２２ａ及び側面２２ｂとコネクタ１０５の端子金具１０３とが互いに接触する（接触工程）。このとき、接触部２２は、接触部２２と端子金具１０３とが接触することにより生じる負荷を吸収することができる。具体的には、接触部２２が、端子金具１０３よりやわらかいため、接触部２２の形状が端子金具１０３の形状に沿うように変形し、端子金具１０３にかかる負荷を接触部２２が吸収する。
【００３１】
そして、導通検査部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２のうちの一の電線１０２を選択し、この一の電線１０２の両末端の端子金具１０３に正常（即ち、誤配線等がない）であれば接触される一対の導通ピン２０間に通電し、当該一対の導通ピン２０間に電流が流れるか否かを判断することにより導通を検査する（導通検査工程）。また、これら一対の導通ピン２０とこれら以外の他の導通ピン２０との導通を検査して電線１０２間の短絡や誤配線の有無を検査してもよい。
【００３２】
導通検査部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２の全てについて上記と同様に導通を検査する。導通検査部４０は、全ての導通検査が終了すると、導通検査を終了する。その後、操作レバー１２を回転して、検査部１３をコネクタ受け部１４即ちコネクタ１０５から遠ざける。すると、接触部２２の接触面２２ａ及び側面２２ｂと、コネクタ１０５の端子金具１０３との接触が解除される。
【００３３】
以上より、本実施形態によれば、端子金具１０３と接触する導通ピン２０の接触部２２が、端子金具１０３よりやわらかい導電性材料から構成されている。このような構成により、導通ピン２０を端子金具１０３に接触させる際に、端子金具１０３にかかる負荷を小さくすることができるため、端子金具１０３の変形や損傷を効果的に抑制することができる。また、接触部２２が、端子金具１０３と接触する際の導通ピン２０にかかる負荷を吸収することにより導通ピン２０の耐久性も向上するため、導通検査治具１０及び導通検査装置１の寿命も向上させることができる。
【００３４】
以上、本発明について、好ましい実施形態を挙げて説明したが、本発明の導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法は、これらの実施形態の構成に限定されるものではない。
【００３５】
例えば、上述した実施形態では、導通ピン２０のうち、接触部２２のみを導電性ゴムや導電性スポンジとする構成としたが、これに限定されるものではない。具体的には、接触部２２が端子金具１０３よりやわらかい導電性材料から構成されていればよく、導通ピン２０全体、即ち接触部２２及び支持部２１ともに端子金具１０３よりやわらかい導電性材料から構成されていてもよい。
【００３６】
また、上述した実施形態では、導通ピン２０の接触部２２の形状を円柱状としたが、端子金具１０３に押し付けられて接触するものであればこれに限定されるものではない。例えば、接触部２２の形状を、球状、楕円体又は方体状とする構成としてもよい。さらに、本発明の目的に反しない限り、導通ピン２０及び支持部２１の形状は任意である。例えば、支持部２１を、小径部２１ａ及び大径部２１ｂと、に分けることなく、外径を等しくする構成としてもよい。
【００３７】
さらに、導通検査治具１０においては、すべての導通ピン２０における接触部２２を導電性ゴム又は導電性スポンジとしてもよいし、接触部２２を導電性ゴムとした導通ピン２０と接触部２２を導電性スポンジとした導通ピン２０とを混在させてもよい。
【００３８】
また、上述した実施形態では、両端に端子金具１０３が設けられた電線１０２の各末端を、導通ピン２０を介して導通検査部４０に電気的に接続して導通を検査する導通検査装置１と、その導通検査装置１を用いた電線の導通検査方法、及びワイヤハーネスの導通検査方法が例示されている。しかしながら、本発明はこれに限るものではなく、例えば、一端のみに端子金具が設けられた電線の端子金具側の一端は導通ピンを介して導通検査手段に電気的に接続し、他端はクリップ等の接続手段を介して導通検査手段に電気的に接続して導通を検査する装置や方法であってもよい。
【００３９】
なお、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、当業者は、従来公知の知見に従い、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。かかる変形によってもなお本発明の導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法の構成を具備する限り、勿論、本発明の範疇に含まれるものである。
【符号の説明】
【００４０】
１          導通検査装置
１０        導通検査治具
１１        検査治具本体（治具本体）
２０        導通ピン
２２        接触部（一端）
４０        導通検査部（導通検査手段）
１０１      ワイヤハーネス
１０２      電線
１０３      端子金具
１０４      コネクタハウジング
【図１】
2017003317.tif 000003
【図２】
2017003317.tif 000004
【図３】
2017003317.tif 000005