【事件の表示】
　特願２００１−３１０８１７「補正した空気流量の直接的非貫入型測定のためのシステム及び方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年　８月１４日出願公開、特開２００２−２２８５０９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願の手続きの概要は、以下のとおりである。
・平成１３年１０月　９日：特許出願（パリ条約による優先権主張２０００年１０月１０日、米国を伴う。）
・平成１３年１２月　７日：翻訳文の提出（翻訳文提出書）
・　　　　　同日　　　　：補正書の提出（特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の補正、以下、「補正１」という。）
・平成１６年　６月１０日：補正書の提出（特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の補正、以下、「補正２」という。）
・平成１９年　６月１２日：拒絶理由の通知（同年同月６日付け拒絶理由通知書）
・平成１９年１２月１２日：意見書、誤訳訂正書及び補正書の提出（いずれも、特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の補正、以下、併せて「補正３」という。）
・平成２０年　２月　５日：拒絶理由の通知（同年１月３１日付け拒絶理由通知書であって、特許法第１７条の２第１項２号に規定する拒絶理由通知である。以下、この通知に記載の拒絶理由を「原審拒絶理由」という。）
・平成２０年　８月　４日：意見書、補正書の提出（特許請求の範囲の補正、以下、「補正４」という。）
・平成２１年　８月２４日：補正却下の決定（送達：同年９月１日）により補正４を却下
・　　　　　　同日　　　：原審拒絶理由により拒絶査定（送達：同年９月１日）
・平成２１年１２月２９日：本件拒絶査定不服審判の請求、同時に、補正書の提出（特許請求の範囲を補正、以下、「本件補正」という。）
・平成２２年１２月　７日：審尋（同年同月２日付け審尋書）
・平成２３年　６月　７日：回答書の提出
　
２．原査定の拒絶理由
　原査定の拒絶の理由は、平成２０年１月３１日付け拒絶理由通知書に記載の原審拒絶理由のとおりであり、要するに、特許請求の範囲に記載された発明は、発明の詳細な説明に記載したものであるとは言えず、また、明確であるとも言えないから、本願は、特許法第３６条第６項１号及び２号違反であるというものである。
　また、発明の詳細な説明の記載は、当業者が特許請求の範囲に記載の発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものでないから、本願は、同法同条第４項違反であるとの判断も加えている。
　
３．本件補正について
　本件補正により、特許請求の範囲は、次のとおりに補正された。ここでは、独立請求項である請求項１のみ摘記する。（下線は、補正箇所。）
　
（本件補正前、すなわち、補正１、２、３による補正後）
「【請求項１】
　ダクト（２６）を通過して移動するガスの、測定された物理的ガス流量値から計算してガス流量値を得るための方法であって、
　前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てる段階と、
　前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを前記レーザーベースのセンサ（３０）によって測定する段階と、
　前記測定した物理的ガス流量値からガス流量値ＷCorrを計算する段階と、を含み、
　前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てる段階は、
　第１光電子放出器（４２）を、前記ダクト（２６）の前記内部の第１位置に配置する段階と、
　第１光検知器（５０）を、前記第１光電子放出器（４２）と反対側でその上流側に或る角度をなし前記第１光電子放出器（４２）と向き合うように前記ダクト（２６）の前記内部の第２位置に配置する段階と、
　第２光電子放出器（４４）を、前記ダクト（２６）の前記内部の前記第１光電子放出器（４２）と同じ側でその上流側の第３位置に配置する段階と、
　第２光検知器（５２）を、前記第２光電子放出器（４４）と反対側でその下流側に或る角度をなし前記第２光電子放出器（４４）と向き合うように前記ダクト（２６）の前記内部の第４位置に配置する段階と、
　前記光電子放出器（４２、４４）及び前記光検知器（５０、５２）からの信号をガスの物理的パラメータに変換するようにプログラムされた中央処理ユニット（３８）に、前記光電子放出器（４２、４４）及び前記光検知器（５０、５２）を接続する段階と、を含み、
　前記ガス流量値ＷCorrを計算する段階は、
　前記第１光電子放出器（４２）を介してガスの特性に関連する所定の周波数を有する第１ビームを生成し、前記第２光電子放出器（４４）を介してガスの特性に関連する所定の周波数を有する第２ビームを生成するように前記処理ユニット（３８）をプログラムする段階と、
　前記光検知器（５０、５２）から受信した光検知特性に基づきガスの吸収特徴を抽出する段階と、
　前記吸収特徴を数値的に特性化し、前記吸収特徴と関連した領域を積分する段階と、
　曲線の下の前記領域を積分した前記吸収特徴からガス密度ρを計算する段階と、
　前記第１ビームと前記第２ビームの前記吸収特徴の差に関連したドップラーシフトを求める段階と、
　前記ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階と、
を含むことを特徴とする方法。」
　
（本件補正後）
「【請求項１】ダクト（２６）を通過して移動するガスの、測定された物理的ガス流量値から計算してガス流量値を得るための方法であって、
　前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てて、前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを前記レーザーベースのセンサ（３０）によって測定する段階と、
　前記測定した物理的ガス流量値からガス流量値ＷCorrを計算する段階と、を含み、
　前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当て
て前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定する
　第１光電子放出器（４２）を、前記ダクト（２６）の前記内部の第１位置に配置する段階と、
　第１光検知器（５０）を、前記第１光電子放出器（４２）と反対側でその上流側に或る角度をなし前記第１光電子放出器（４２）と向き合うように前記ダクト（２６）の前記内部の第２位置に配置する段階と、
　第２光電子放出器（４４）を、前記ダクト（２６）の前記内部の前記第１光電子放出器（４２）と同じ側でその上流側の第３位置に配置する段階と、
　第２光検知器（５２）を、前記第２光電子放出器（４４）と反対側でその下流側に或る角度をなし前記第２光電子放出器（４４）と向き合うように前記ダクト（２６）の前記内部の第４位置に配置する段階と、
　前記光電子放出器（４２、４４）及び前記光検知器（５０、５２）からの信号をガスの物理的パラメータに変換するようにプログラムされた中央処理ユニット（３８）に、前記光電子放出器（４２、４４）及び前記光検知器（５０、５２）を接続する段階と、を含み、
　前記ガス流量値ＷCorrを計算する段階は、
　前記第１光電子放出器（４２）を介してガスの
吸収
吸収
　前記光検知器（５０、５２）から受信した光検知特性に基づきガスの
吸収
　前記吸収
特性
化し
特性
　曲線の下の前記領域を積分した前記吸収
特性
　前記第１ビームと前記第２ビームの前記吸収特性の差に関連したドップラーシフトを求める段階と、
　前記ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階と、
を含むことを特徴とする方法。」（下線は、補正箇所。）
　
　補正の内容は、以上のとおり下線部分を付加又は修正するものである。そして、主たる原審拒絶理由は、特許請求の範囲の記載に不備があるというものであること、また、請求人も審判請求書において、本件補正により特許請求の範囲の記載不備は解消された旨主張している。
　以上の事項を総合すれば、特許請求の範囲についてした本件補正は、明りょうでない記載の釈明を目的としたものと認めることができ、また、新規事項を追加するものでもない。
　よって、本件補正を適法なものとして受け入れた上で、検討を進めることとする。
　　
４．指摘事項の概要
　原審拒絶理由のうち、特許法第３６条第６項１号及び２号違反に係る指摘事項の概要は以下のとおりである。ここでは、請求項１について検討する。
（１）同法同条第６項２号違反について
　請求項１の記載では、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalから補正したガス流量値ＷCorrを計算して求めるための構成が不明である。したがって、請求項１に係る発明は、明確でない。
（２）同法同条第６項１号違反について
　発明の詳細な説明及び図面の記載を総合すると、本願発明の解決しようとしている課題は、物理的空気流量は、吸気流の性質が変化すると著しく変動することに鑑み、ダクト（２６）を通過して移動するガスについて、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalから、吸気流の性質変化による変動を低減するように計算して、補正したガス流量値ＷCorrを求めることにあると認められるところ、請求項１記載の発明は、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalから、吸気流の性質変化による変動を低減するよう計算して、補正したガス流量値ＷCorrを求めるための構成を欠くものとなっており、両者は対応していない。したがって、請求項１に係る発明は、発明の詳細な説明に記載したものではない。
　
５．当審の判断
　上記原審拒絶理由に係る指摘事項について、補正１、補正２、補正３及び本件補正によって補正された明細書及び図面に基づき検討する。なお、補正４は、原審において、決定をもって却下されている。
　
（１）特許法第３６条第６項２号違反について
ア　請求項１の記載
　本件補正によって補正された請求項１を、以下に再掲する。
「ダクト（２６）を通過して移動するガスの、測定された物理的ガス流量値から計算してガス流量値を得るための方法であって、
　前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てて、前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを前記レーザーベースのセンサ（３０）によって測定する段階と、
　前記測定した物理的ガス流量値からガス流量値ＷCorrを計算する段階と、を含み、
　前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てて前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定する段階は、
　第１光電子放出器（４２）を、前記ダクト（２６）の前記内部の第１位置に配置する段階と、
　第１光検知器（５０）を、前記第１光電子放出器（４２）と反対側でその上流側に或る角度をなし前記第１光電子放出器（４２）と向き合うように前記ダクト（２６）の前記内部の第２位置に配置する段階と、
　第２光電子放出器（４４）を、前記ダクト（２６）の前記内部の前記第１光電子放出器（４２）と同じ側でその上流側の第３位置に配置する段階と、
　第２光検知器（５２）を、前記第２光電子放出器（４４）と反対側でその下流側に或る角度をなし前記第２光電子放出器（４４）と向き合うように前記ダクト（２６）の前記内部の第４位置に配置する段階と、
　前記光電子放出器（４２、４４）及び前記光検知器（５０、５２）からの信号をガスの物理的パラメータに変換するようにプログラムされた中央処理ユニット（３８）に、前記光電子放出器（４２、４４）及び前記光検知器（５０、５２）を接続する段階と、を含み、
　前記ガス流量値ＷCorrを計算する段階は、
　前記第１光電子放出器（４２）を介してガスの吸収特性に関連する所定の周波数を有する第１ビームを生成し、前記第２光電子放出器（４４）を介してガスの吸収特性に関連する所定の周波数を有する第２ビームを生成するように前記処理ユニット（３８）をプログラムする段階と、　
　前記光検知器（５０、５２）から受信した光検知特性に基づきガスの吸収特性を抽出する段階と、
　前記吸収特性を数値化し、前記吸収特性と関連した領域を積分する段階と、
　曲線の下の前記領域を積分した前記吸収特性からガス密度ρを計算する段階と、
　前記第１ビームと前記第２ビームの前記吸収特性の差に関連したドップラーシフトを求める段階と、
　前記ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階と、
を含むことを特徴とする方法。」
　
イ　検討　
　物理的ガス流量値ＷPhysicalとガス流量値ＷCorrとの関係に注目しつつ、以下に検討する。
（ア）まず、請求項１の前段にある、「ダクト（２６）を通過して移動するガスの、測定された物理的ガス流量値から計算してガス流量値を得るための方法であって、前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てて、前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを前記レーザーベースのセンサ（３０）によって測定する段階と、前記測定した物理的ガス流量値からガス流量値ＷCorrを計算する段階と、を含み、・・・」との記載によれば、請求項１に係る発明の骨子は、レーザーベースのセンサ（３０）により物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定し、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalから、何らかの補正計算により補正したガス流量値ＷCorrを求めるものであると把握できる。
　そこで、補正したガス流量値ＷCorrを求める段階について見ると、「・・・前記ガス流量値ＷCorrを計算する段階は、前記第１光電子放出器（４２）を介してガスの吸収特性に関連する所定の周波数を有する第１ビームを生成し、前記第２光電子放出器（４４）を介してガスの吸収特性に関連する所定の周波数を有する第２ビームを生成するように前記処理ユニット（３８）をプログラムする段階と、前記光検知器（５０、５２）から受信した光検知特性に基づきガスの吸収特性を抽出する段階と、前記吸収特性を数値化し、前記吸収特性と関連した領域を積分する段階と、曲線の下の前記領域を積分した前記吸収特性からガス密度ρを計算する段階と、前記第１ビームと前記第２ビームの前記吸収特性の差に関連したドップラーシフトを求める段階と、前記ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階と、を含む・・・」とあり、補正したガス流量値ＷCorrを計算する段階において、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalが用いられていない。
　すなわち、請求項１は、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalを用いて、計算により補正したガス流量値ＷCorrを求めることを前提としつつ、具体的なガス流量値ＷCorrの計算段階においては、該物理的ガス流量値ＷPhysicalが用いられていないものとなっており、両者は互いに矛盾する内容となっている。よって、請求項１に係る発明は明確であるとは言えない。
（イ）次に、請求項１の後段にある、「ガス流量値ＷCorrを計算する段階は、・・・ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階と、を含む・・・」との記載について、検討する。
　この記載によれば、補正したガス流量値ＷCorrの計算段階には、ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階が含まれることになるが、このようにガス流量値ＷCorrの計算段階においてドップラーシフトからガスの流速を計算することは、請求項１の前段の、「・・・物理的ガス流量値ＷPhysicalを前記レーザーベースのセンサ（３０）によって測定する段階と、・・・」との記載と矛盾する。すなわち、ドップラーシフトからガスの流速を求めることは、請求項１の前段にも記載されているように、物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定する段階に含まれるべき事項であるから、ガス流量値ＷCorrの計算段階に、ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階を含むとした請求項１の後段の記載は、不明であると言わざるを得ない。
　
ウ　従属請求項の記載の参酌
　次に、請求項１に従属する請求項３又は請求項４の記載を参酌することにより、上記請求項１についての記載不備が解消されるかどうかについて、念のために検討する。
　請求項３、請求項４の記載は、それぞれ、以下のとおりである。
「【請求項３】
  前記レーザーベースのセンサ（３０）を用いて、前記ダクト（２６）の前記内部における静温度Ｔ、ガス密度ρ、及びガス流速ｖを測定する段階と、
　基準日の温度Ｔ０と基準日の圧力Ｐ０を得る段階と、
　式ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（Ｔ２．５／（ρＲ（ｖ２／７Ｒ＋Ｔ）３））によってＷCorrを計算する（ここで、Ｒは理想ガス定数）段階と、を更に含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。」
「【請求項４】
　従来のセンサシステムによって、前記ダクト（２６）の前記内部におけるよどみ点温度ＴＴ、ガス密度ρ、及びガス流速ｖを測定する段階と、
基準日の温度Ｔ０と基準日の圧力Ｐ０を得る段階と、
式ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（（ＴＴ−（ｖ２／７Ｒ）２．５）／（ρＲＴＴ３））によってＷCorrを計算する（ここで、Ｒは理想ガス定数）段階と、を更に含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。」
　
　以上のとおり、請求項３には、「・・・式ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（Ｔ２．５／（ρＲ（ｖ２／７Ｒ＋Ｔ）３））によってＷCorrを計算する・・・」とあるから、ＷCorrを計算により求めるに当たり、測定されたＷPhysicaを用いることが明確であり、この点では、請求項１の前段の記載である「ダクト（２６）を通過して移動するガスの、測定された物理的ガス流量値から計算してガス流量値を得るための方法であって、前記ダクト（２６）の内部にレーザーベースのセンサ（３０）を当てて、前記ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを前記レーザーベースのセンサ（３０）によって測定する段階と、前記測定した物理的ガス流量値からガス流量値ＷCorrを計算する段階と、を含み、・・・」との記載と合致する。しかしながら、請求項３には、その後段に、「・・・によってＷCorrを計算する（ここで、Ｒは理想ガス定数）
段階と、を更に含む
とは別に
段階を含むこととなり
　請求項４に係る発明は、補正によどみ点温度を用いる点で請求項３と相違する（したがって、計算式も相違する）ものの、その他の点では請求項３に係る発明と同内容であるから、請求項４の記載内容を参酌しても請求項１にかかる発明が明確になるものではない。
　
エ　まとめ
　以上のとおりであり、請求項１の記載では、請求項１に係る発明の骨子に係る、測定によって求められる物理的ガス流量値ＷPhysicalと補正したガス流量値ＷCorrとの関係が不明であるから、請求項１にかかる発明は、明確とは言えない。
　
（２）特許法第３６条第６項２号違反について
ア　発明の詳細な説明及び図面の記載
　請求項１に係る発明に関する発明の詳細な説明の記載は、以下のとおりである。
（ａ）「【００１１】
【発明の概要】
　上述の必要性は、補正したガス流量と、航空機エンジンの、特に空気流量値を得るためのシステム及び方法を提供する本発明によって満たされる。この方法は、ガスタービンエンジンのダクトを通過して移動するガスについての、物理的ガス流量値から補正したガス流量値を得ることを含む。このことは、レーザーベースのセンサをダクトの内部に適用し、レーザーベースのセンサを用いて、ガスの物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定することによって達成される。直接測定は、補正したガス流量値ＷCorrを計算するようにプログラムされた任意の種類の計算システムのような処理ユニットに用いられるデータを得る非貫入型(non-intrusive)の技術を提供する。
【００１２】
　上述の方法を可能にするシステムは、ガス流路となるダクト内に非貫入状態で設置されたレーザーベースのセンサシステムを備える。このシステムはまた、センサシステムに結合された処理ユニットを備える。特に、本発明のシステムは、ダクトを通過して流れるガスの物理的流量値ＷPhysicalを測定し、ＷPhysicalから、補正したガス流量値ＷCorrを計算する。レーザーベースのセンサは、ダクトの内部に固定され、ダクト内を移動するガスの物理的パラメータと関連した特性を測定する。処理ユニットは、センサの作動を制御し、センサから信号情報を受信し、ＷPhysicalとＷCorrを計算するために、レーザーベースのセンサに結合されている。センサシステムは、ドップラーシフトを使用してガス流速を生成する方法で互いに整列した、二対又はそれ以上の対の光電子放出器／光検知器を備える。この対により生成されるビームを分析して、ガス密度情報を生成するのに使用される吸収特徴を発生させる。第２レーザービームを用い、２つのビーム間の吸収特徴の相対的変化に基づくダクト内の静温度を測定するように、処理ユニットをプログラムしてもよい。」
（ｂ）「【００２２】
　使用の際、センサシステム３０は次のように作動する。レーザービームが、光電子放出器４２、４４によって指向され、ガス流路５４を横切る。放出された光は、光検知器５０、５２によってそれぞれ収集される。検知されたビームの吸収特徴の線形状が中央処理ユニット３８によって抽出され、データとして蓄積される。特に、この吸収特徴の積分した領域は、図３に関して説明される方法で、ガス密度に比例するものとして知られている。光電子放出器４４と光検知器５２との間の経路と関連し、第１ビーム対に関して所定の角度に整列した第２ビームの使用は、データのドップラーシフトをもたらし、より確実な吸収波形特性を提供する。直接流速値は、ドップラーシフトから得られる。流量密度の計算の際、この情報、測定したダクトの横断面積及び測定した流速を使用して、ダクトを通る経路平均空気流量を計算する。付加的な特徴を生成するために、発生器３４のような第２のダイオードベースのレーザー発生器を用いて、隣り合った吸収特徴の積分した領域の相対寸法に基づいて、空気流の経路平均静温度を計算してもよい。そのような第２の発生器は、発生器３４の作動周波数とは異なる周波数で作動する。２つの発生器の使用から生じる吸収特徴の基準値に対する比率は、静温度の計算を可能にする。
【００２３】
　図２の処理ユニット３８は、第１の物理的空気流量（時間当たりの質量の単位）を計算し、次いで後述する方法を使用して、補正した空気流量を計算するように、プログラムされている。ダクト２６を通る物理的空気流量ＷPhysicalは、連続方程式ＷPhysical＝ｖρＡを用いてセンサシステム３０で測定される。センサシステム３０は、放出器／検知器４２／５０と放出器／検知器４４／５２によって形成されたビーム間のドップラーシフトを求め、流速ｖを生成する。
【００２４】
　図３は、光検知器５０、５２により検知された増幅信号によって生成される曲線の一例を示している。図３に示されているように、放出器／検知器４２／５０の対と関連したビーム１と、放出器／検知器４４／５２の対と関連したビーム２との周波数の食い違いが、流速ｖを定める。特に、ビームと流体との相対的な速度差に基づく２つのビームの周波数の偏移を用いて、流速ｖを計算してもよい。次に、センサシステム３０の処理ユニット３８は、図３の例のビーム曲線の下の積分面積を、ガス密度と関連した既知のキャリブレーション基準値と比較するようにプログラムされている。その比較から、測定位置におけるガス密度ρを求める。最後に、ダクト２６の横断面積Ａを測定して式に代入し、センサシステム３０を用いて測定位置での物理的空気流量を定める。
【００２５】
　センサシステム３０を使用して得られたデータを処理ユニット３８に入力し、ここに記載された式に基づき処理ユニット３８にプログラムされたデータ検索と分析により、補正した空気流量情報が得られる。１又はそれ以上の式を使用して直接測定し計算した物理的空気流量値から補正した空気流量を求める。最も基本的な形態では、式１が、式２、式３を参照して、測定した物理的空気流量と補正した空気流量との第１の関係を定めている。
【００２６】
　ＷCorr＝ＷPhysical×（√θ ／δ）　 … 式１
　θ＝ＴＴ／Ｔ０　… 式２
　δ＝ＰＴ／Ｐ０  … 式３ここで、ＷCorrは、補正した空気流量、ＷPhysicalは、実際の、又は観測した空気流量、Ｔ０とＰ０はそれぞれ、海面での静温度と静圧についての基準日の一定値である。さらに、ＴＴとＰＴはそれぞれ、ダクト２６の内部におけるよどみ点温度とよどみ点圧力である。よどみ点測定は、空気流の中に軸方向に貫入して位置決めされた検知機構を備えた従来の測定装置によってなされる。静温度と静圧についての測定は、空気流に対して直交して、及び空気流から外れて行われる。静温度は、センサシステム３０に加えて、発生器３４と実質的に等価な第２ダイオードベースのレーザー発生器によって計算するのがよい。特に、隣接するスペクトルの吸収特徴の相対領域は、温度の変化に伴って変化する。センサシステム３０を使用して静温度を計算するのに、所定の基準値につ-いての測定値と既知の吸収特徴との比率を比較するのがよい。
【００２７】
　式１は、圧力ベースのセンサと関連した複雑なシステムなしで、レーザーベースのセンサシステムから補正した空気流量を直接得るための適当な方法を提供する。この補正した空気流は、物理的空気流量よりも価値のある環境パラメータであり、エンジン試験とエンジン作動との良好な相互関係をもたらし、単純化したエンジン制御をもたらす。センサシステムから得られる容易に利用できるデータの使用を継続しつつ補正した空気流量を得るための別の技術が、以下の一連の式に示されている。理想気体法則と等エントロピー流量方程式を適用することによって、式１を、圧力及びよどみ点温度測定値に依存しない形式に拡張することができる。簡潔に述べると、理想気体法則は、空気のようなガスの物理的特性の相互関係を提供し、これらの特性のうち１又はそれ以上の変化を用いて、１又はそれ以上の他の値の変化を求めることができる。理想気体法則の方程式は、
　　ＰＶ＝ｎＲＴ　　　　　　　　　　　　　…　式４
である。ここで、Ｐはガスの圧力、Ｖはガスの体積、ｎはガスのモル数、Ｒはガスの普遍定数、Ｔはガスの温度である。ｎ／Ｖが本質的にガス密度であるので、理想気体法則は、物理的特性密度ρを用いて、次のように書き換えられる。
【００２８】
　　Ｐ＝ρＲＴ　　　　　　　　　　　　　　…　式５
　分析の目的が完全ガスであるとみなされる、ガスの等エントロピー流れについては、
　　ＰＴ／Ｐ＝（ＴＴ／Ｔ）Ｙ／(Ｙ−１) 　　　　　…　式６
　　ＴＴ＝ｖ２／（２ＣＰ）＋Ｔ　　　　　　　 …　式７
である。ＰとＴはそれぞれ、所要の測定位置における静圧と静温度、Ｙはガスの比熱の比率、ｖは所要の位置での流速、そしてＣＰは温度に関してのエンタルピーの変化である。ＣＰは、以下のように書き換えられる。
【００２９】
　　ＣＰ＝（ＹＲ）／（Ｙ−１）　　　　　　 …　式８
Ｙは温度に応じて変化するが、典型的なガスタービンエンジンの作動環境内での空気については、約１．４０に等しく設定することができる。しかしながら、Ｙについての計算値又は概算値を式に代入してもよいことを理解すべきである。式７のＣＰに式８の右辺を代入すると、平均的なタービンエンジン作動環境に使用するのに適した式９が得られる。
【００３０】
　　ＴＴ＝ｖ２／７Ｒ＋Ｔ　　　　　　　　　　　…　式９
式６を再整理し、式５の右辺を式６に代入し、上述のようにＹを１．４にすると、式１０が得られる。
【００３１】
　　ＰＴ＝ρＲ（ＴＴ３．５／Ｔ２．５）　　　　　　　…　式１０
式２と式３を式１に適用し、ＴＴに式９の右辺を、ＰＴに式１０の右辺を代入すると、式１１が得られる。
【００３２】
ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（Ｔ２．５／（ρＲ（ｖ２／７Ｒ＋Ｔ）３））　　　…　式１１
式１１により、例えば上述の方法でセンサシステム３０を使用することによって、静温度測定値から補正した空気流量を計算することができる。式１２は、従来のよどみ点温度測定方法を用いて物理的空気流量測定値から補正した空気流量を求めるための別の方法を提供する。
【００３３】
ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（（ＴＴ−（ｖ２／７Ｒ）２．５）／（ρＲＴＴ３））　　　　…　式１２
光検知器５０／５２から収集した情報からＷCorrを求めるための方法にこれらの式を組み込むように、処理ユニット３８をプログラムしてもよいことを、当業者は気付くであろう。」
　そして、図２にレーザーベースのセンサシステムの概略が示されており、図３にセンサシステムにより得られた振幅値の波形図が示されている。
　
イ　発明の詳細な説明及び図面の記載から把握される技術事項
　上記記載（ａ）、（ｂ）によれば、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalから補正したガス流量値ＷCorrを求める手順として、補正のパラメータとして用いる温度の種類に応じて、次に示す２つの手順があることが把握できる。
（ア）補正のパラメータとして静温度Ｔを用いた場合
　補正したガス流量値ＷCorrを求める手順は、以下のとおりである。
・ステップａ　
　物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定し、測定された物理的ガス流量値ＷPhysicalから、補正したガス流量値ＷCorrを計算により求めるものであること。
・ステップｂ
　物理的ガス流量値ＷPhysicalは、連続方程式ＷPhysical＝ｖρＡにより得られ、ここで、流速ｖは、レーザーベースのセンサシステムにより測定されたドップラーシフトから求められ、また、密度ρは、レーザーベースのセンサシステムにより測定されたビーム曲線の下の積分面積から求められること。
・ステップｃ　
　ＷPhysicalからＷCorrを求める計算式は、
ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（Ｔ２．５／（ρＲ（ｖ２／７Ｒ＋Ｔ）３））であり、ここで、静温度Ｔは、レーザーベースのセンサシステムにより測定されたスペクトルの吸収特性から求められること。
　
（イ）補正のパラメータとしてよどみ点温度ＴＴを用いた場合
　この場合の補正したガス流量値ＷCorrを求める手順は、以下のとおりである。
　ステップａ、ｂについては、上記（ア）と同じである。
・ステップｃ’
　ＷPhysicalからＷCorrを求める計算式は、
ＷCorr＝ＷPhysical×（Ｐ０／√Ｔ０）×（（ＴＴ−（ｖ２／７Ｒ）２．５）／（ρＲＴＴ３））であり、ここで、よどみ点温度ＴＴは、従来のセンサシステムによって求められること。
　
ウ　検討
　そこで、検討するに、請求項１に係る発明は、前記「（１）ア　請求項１の記載」に記載したとおりであり、次の（ア）ないし（ウ）の点で発明の詳細な説明及び図面に記載の上記技術事項（ア）、（イ）と対応していない。すなわち、
（ア）上記技術事項では、上記「イ（ア）、（イ）」のいずれの場合も、物理的ガス流量値ＷPhysicalから補正したガス流量値ＷCorrを求めるための所定の関係を計算式により規定しているのに対し、請求項１に係る発明では、物理的ガス流量値ＷPhysicalと補正したガス流量値ＷCorrとの関係を規定していない点。
（イ）上記技術事項では、上記「イ（ア）、（イ）」のいずれの場合も、そのステップｂで挙げたように、ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階は、物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定する段階に含まれるものと規定しているのに対し、請求項１に係る発明では、かかる段階は、物理的ガス流量値ＷPhysicalを測定する段階ではなく、補正したガス流量値ＷCorrを計算する段階に含まれるものと規定している点。
（ウ）上記技術事項は、上記「イ（ア）、（イ）」のいずれの場合も、レーザーベースのセンサシステムにより流速ｖ及び密度ρを測定し、物理的ガス流量値ＷPhysicalを連続方程式ＷPhysical＝ｖρＡにより求め、物理的ガス流量値ＷPhysicalから補正したガス流量値ＷCorrを求めるための所定の計算式を用いて、補正したガス流量値ＷCorrを求めるものであるのに対し、請求項１に係る発明では、「・・・曲線の下の前記領域を積分した前記吸収特性からガス密度ρを計算する段階と、前記第１ビームと前記第２ビームの前記吸収特性の差に関連したドップラーシフトを求める段階と、前記ドップラーシフトからガスの流速を計算する段階と、・・・」と規定していて、あたかも、ドップラーシフト量に吸収特性の差が反映されていることを前提としており、かかるドップラーシフトを求めることにより密度ρにより補正したガス流量値ＷCorrが求まるが如き記載となっている点。
　よって、請求項１に係る発明は、発明の詳細な説明や図面に記載したものとは言えない。
　
（３）付言
　なお、補正４は原審で決定をもって却下されているが、補正４に係る特許請求の範囲の請求項１に係る発明は、上記「イ　発明の詳細な説明及び図面の記載から把握される技術事項の（ア）」の技術内容に即したものとなっており、該記載であれば上記（１）、（２）で指摘した記載不備はないものと認められる。
　もっとも、補正４によって補正された特許請求の範囲の請求項２に係る発明は、「・・・前記レーザーベースのセンサ（３０）を用いて、前記ダクト（２６）の前記内部におけるよどみ点温度ＴＴ及びガス流速ｖを測定する段階と、・・・」とあるように、よどみ点温度ＴＴも、ガス流速ｖと同様にレーザーベースのセンサ（３０）を用いて測定するとしているが、この補正は新規事項に当たる。すなわち、翻訳文提出書の記載によれば、よどみ点温度ＴＴは従来のセンサシステムによって測定するものであるから、請求項２についての補正が新規事項違反であることを理由に補正４を却下した原審における前記補正却下の決定は、妥当である。
　
６．請求人の主張について
　本件補正によって補正された特許請求の範囲には、依然として記載不備がある旨の審尋に対し、請求人は、回答書において、特許請求の範囲の記載に記載不備があるとの拒絶理由は、原審において通知されていない旨主張している。　しかしながら、平成２０年１月３１日付け拒絶理由通知書において、特許請求の範囲の記載には、特許法第３６条第６項１号、２号違反があることを原審拒絶理由として指摘している（前記「４．指摘事項の概要」の項を参照のこと。）から、請求人の主張は採用できない。
　
７．むすび
　以上のとおり、請求項１に係る発明は発明の詳細な説明に記載したものではないから、本願は、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない。
　さらに、請求項１に係る発明は明確でないから、本願は、同法同条第６項２号に規定する要件も満たしていない。
　よって、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　したがって、結論のとおり審決する。