(57)【要約】【課題】端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査装置及び導通検査方法を提供する。【解決手段】導通検査治具２０を用いて、ワイヤハーネス１０１のコネクタ１０４に収容された端子金具１０４ａにネットワークアナライザ１０に接続された検査ピン２４を非接触の状態で近づけた後、ネットワークアナライザ１０により端子金具１０４ａが端末に設けられた電線１０２のインピーダンスの周波数特性を測定する。導通可否判定装置３０が、ネットワークアナライザ１０により測定した電線１０２のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線１０２の導通を検査する。【選択図】図１
2017003316.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、
前記端子金具にネットワークアナライザに接続された検査ピンを非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、
前記ネットワークアナライザにより測定した前記電線のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
【請求項２】
端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査方法であって、
前記複数の電線の端末にそれぞれ設けられた端子金具に、ネットワークアナライザに接続された複数の検査ピンをそれぞれ非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、
前記ネットワークアナライザにより測定した前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性に基づいて前記複数の電線それぞれの導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
【請求項３】
端子金具が端末に設けられた電線の導通検査装置であって、
前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、
前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される検査ピン、及び、前記検査ピンを前記端子金具に接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、
前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられている
ことを特徴とする導通検査装置。
【請求項４】
端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査装置であって、
前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、
複数の前記端子金具又は複数の前記端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される複数の検査ピン、及び、前記複数の検査ピンを前記複数の端子金具それぞれに接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、
前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられている
ことを特徴とする導通検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法及び当該導通検査方法に用いられる導通検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
車両内に配索されて各種電子機器等の接続に用いられるワイヤハーネスは、コネクタハウジングに収容される端子金具が端末に設けられた複数の電線を有している。そして、このようなワイヤハーネスに対して、電線の断線や端子の接続不良等を検出するための導通検査が行われる。
【０００３】
導通検査は、例えば、電線の両端末に設けられた端子金具に対をなす検査プローブを接触させて、これら検査プローブ間の導通を確認することにより行うものであるところ、この検査プローブを接触させることにより端子金具の変形や損傷が生じるおそれがあった。そして、このような端子金具の変形や損傷を抑制できる検査プローブの一例が、特許文献１に開示されている。
【０００４】
特許文献１に開示されている検査プローブは、検査器本体に取り付けられる管体と、この管体に突没自在に支持された可動ピンと、管体内に配置されかつ可動ピンを管体から突出させる方向に向けて押圧するコイルバネと、を有している。この検査プローブによれば、端子金具が可動ピンに押し付けられると、当該押し付けられる力に応じて可動ピンが管体内に押し込まれるので、端子金具の変形や損傷を抑制することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平９−４３２９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されているような可動ピンをコイルバネで押圧する構成の検査プローブは、繰り返し使用した場合においても可動ピンと端子金具とを確実に接触させるために、コイルバネによる可動ピンを押圧する力を、当該コイルバネの劣化（バネ力の低下等）などを考慮して、可動ピンと端子金具との間の導通を確保するために最低限必要な力より大きく設定することが求められ、そのため、端子金具の変形や損傷を抑制する点で改善の余地があった。
【０００７】
発明本は、かかる問題を解決することを目的としている。即ち、本発明は、端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査装置及び導通検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するためになされた請求項１記載の発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、前記端子金具にネットワークアナライザに接続された検査ピンを非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、前記ネットワークアナライザにより測定した前記電線のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法に存する。
【０００９】
請求項２記載の発明は、端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査方法であって、前記複数の電線の端末にそれぞれ設けられた端子金具に、ネットワークアナライザに接続された複数の検査ピンをそれぞれ非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、前記ネットワークアナライザにより測定した前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性に基づいて前記複数の電線それぞれの導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法に存する。
【００１０】
請求項３記載の発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査装置であって、前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される検査ピン、及び、前記検査ピンを前記端子金具に接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられていることを特徴とする導通検査装置に存する。
【００１１】
請求項４記載の発明は、端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査装置であって、前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、複数の前記端子金具又は複数の前記端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される複数の検査ピン、及び、前記複数の検査ピンを前記複数の端子金具それぞれに接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられていることを特徴とする導通検査装置に存する。
【発明の効果】
【００１２】
以上説明したように請求項１〜４記載の発明によれば、検査ピンと端子金具とを接触しなくても導通検査を行うことができる。これにより、端子金具の変形や損傷を効果的に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。
【図３】図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である。
【図４】正常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。
【図５】異常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の一実施形態に係る導通検査装置について、図１〜図５を参照して説明する。
【００１５】
図１は、本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。図２は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。図３は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である。図４は、正常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。図５は、異常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。
【００１６】
本実施形態の導通検査装置１は、例えば、各図に示すように、検査台Ｋ上に配索された車両用のワイヤハーネス１０１の導通検査に用いられる。このワイヤハーネス１０１は、複数の電線１０２を束ねたワイヤハーネス本体１０３と、ワイヤハーネス本体１０３の端末に設けられたコネクタ１０４と、を有している。ワイヤハーネス本体１０３は、幹線１０３ａとこの幹線１０３ａから分岐した分岐線１０３ｂとを有している。
【００１７】
コネクタ１０４は、図３に示すように、ワイヤハーネス本体１０３を構成する複数の電線１０２それぞれの端末に設けられた複数の端子金具１０４ａと、これら複数の端子金具１０４ａを収容するコネクタハウジング１０４ｂと、を有している。コネクタ１０４は、車両に搭載された電子機器等に接続される。
【００１８】
図１に示すように、導通検査装置１は、ネットワークアナライザ１０と、導通検査治具２０と、導通可否判定装置３０と、を備えている。
【００１９】
ネットワークアナライザ１０は、電線１０２のインピーダンスの周波数特性を測定する装置である。このネットワークアナライザ１０は、後述する検査ピン２４によって電線１０２に交流の入力電力を入力し、例えば検査ピン２４に入力される反射電力に基づいて入力電力の周波数に対する電線１０２のインピーダンスを測定する周知のネットワークアナライザである。
【００２０】
導通検査治具２０は、複数の電線１０２の端末にそれぞれ設けられた端子金具１０４ａと、ネットワークアナライザ１０に接続された検査ピン２４と、を非接触の状態で近づけるための治具である。導通検査治具２０は、ワイヤハーネス１０１のコネクタ１０４と同数、端子台Ｋに搭載されている。
【００２１】
導通検査治具２０は、図２に示すように、端子台Ｋ上に搭載される基部２１と、操作レバー２２と、一対のコネクタ保持部２３と、複数の検査ピン２４と、ピン保持部２５と、を備えている。基部２１は、互いに平行な一対の側壁２１ａなどを備えている。操作レバー２２と、コネクタ保持部２３と、ピン保持部２５と、は、前記一対の側壁２１ａ間に設けられている。
【００２２】
操作レバー２２は、前記側壁２１ａに回転自在に支持されている。コネクタ保持部２３は、前記側壁２１ａ間に固定されている。一対のコネクタ保持部２３は、コネクタハウジング１０４ｂの相手側端子金具の挿入口が後述するピン保持部２５に相対する状態で、前記コネクタハウジング１０４ｂを保持している。コネクタ保持部２３は、検査台Ｋと直交する方向に沿ってコネクタハウジング１０４ｂが出し入れ自在となっている。
【００２３】
検査ピン２４は、上述したネットワークアナライザ１０に接続され、交流の入力電力を出力する。検査ピン２４は、コネクタ保持部２３に保持されるコネクタハウジング１０４ｂに収容される複数の端子金具１０４ａと同数設けられる。また、検査ピン２４は、図３に示すように、一端に設けられた棒状の先端部２４ａと、他端に設けられた配線Ｌ１（図１）を接続するための電線接続部（図示せず）と、が設けられている。この検査ピン２４の他端に接続された配線Ｌ１がネットワークアナライザ１０に接続される。
【００２４】
ピン保持部２５は、上述した先端部２４ａをコネクタ保持部２３側に突出させ、コネクタ保持部２３とは反対側から配線Ｌ１を引き出すように、検査ピン２４を保持する。ピン保持部２５は、図２に示すように、リンク２６によって、操作レバー２２に連結される。これにより、ピン保持部２５は、操作レバー２２の回転操作によってコネクタ保持部２３に最接近する検査位置（図３）と、最も離れる着脱位置との間でスライドするように一対の側壁２１ａ間に配されている。即ち、ピン保持部２５は、検査ピン２４を端子金具１０４ａに対して接近可能に保持している。
【００２５】
上記検査位置では、図３に示すように、検査ピン２４は雌型で筒状の端子金具１０４ａ内に挿入されている。この検査位置において検査ピン２４の先端部２４ａは、端子金具１０４ａの挿入口付近の内径が大きい位置までしか挿入されないため、検査ピン２４と端子金具１０４ａとが接触することがなく、非接触の状態で近づけることができる。
【００２６】
上記着脱位置では、検査ピン２４は、筒状の端子金具１０４ａ外に位置する。この着脱位置で、コネクタ保持部２３にコネクタハウジング１０４ｂを着脱することができる。
【００２７】
導通可否判定装置３０は、例えばＰＣなどから構成されている。導通可否判定装置３０にはネットワークアナライザ１０により計測された各電線１０２のインピーダンスの周波数特性が入力される。導通可否判定装置３０は、各電線１０２のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線１０２それぞれの導通の有無を検査する。
【００２８】
次に、上述した導通検査装置１の導通検査の動作の一例について以下に説明する。
【００２９】
まず、検査台Ｋに搭載された各導通検査治具２０の操作レバー２２を操作してピン保持部２５を着脱位置にする。次に、導通検査対象となるワイヤハーネス１０１を検査台Ｋに配索し、ワイヤハーネス１０１の端末に設けられたコネクタ１０４を、それぞれに対応する導通検査治具２０のコネクタ保持部２３に保持させる。
【００３０】
次に、操作レバー２２を回転操作して、ピン保持部２５を検査位置にスライドさせて、図３に示すように、端子金具１０４ａにネットワークアナライザ１０に接続された検査ピン２４を非接触の状態で近づける。その後、ネットワークアナライザ１０によりコネクタハウジング１０４ｂに収容される複数の電線１０２それぞれについてインピーダンスの周波数を測定させる。ネットワークアナライザ１０は、各検査ピン２４から例えば０〜５００ＭＨｚの範囲で変化する交流の入力電力を出力し、検査ピン２４に入力される反射電力に基づいて入力電力の周波数に対する電線１０２のインピーダンスを求めて、導通可否判定装置３０に送信する。
【００３１】
導通可否判定装置３０は、例えば、図４に示すような正常時の電線１０２のインピーダンスの周波数特性を記録している。電線１０２に断線や短絡、導通不良などの異常が発生すると電線１０２のインピーダンスの周波数特性が例えば図５に示すように変化する。このことに着目し、導通可否判定装置３０は、予め記憶された正常時の電線１０２のインピーダンスの周波数特性と、ネットワークアナライザ１０が測定した電線１０２のインピーダンスの周波数特性とを比較して、各電線１０２の導通を検査する。導通可否判定装置３０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２の全てについて導通を検査する。
【００３２】
全ての導通検査が終了すると、作業員が、操作レバー２２を操作して、ピン保持部２５を再び着脱位置に戻して、コネクタ保持部２３からコネクタハウジング１０４ｂを外して、次に検査すべきワイヤハーネス１０１のコネクタハウジング１０４ｂを保持させる。
【００３３】
上述した実施形態では、端子金具１０４ａにネットワークアナライザ１０に接続された検査ピン２４を非接触の状態で近づけた後、ネットワークアナライザ１０により電線１０２のインピーダンスの周波数特性を測定し、ネットワークアナライザ１０により測定した電線１０２のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する。これにより、検査ピン２４と端子金具１０４ａとを接触しなくても導通検査を行うことができ、端子金具１０４ａの変形や損傷を効果的に抑制することができる。
【００３４】
なお、上述した実施形態によれば、端子金具１０４ａは雌型であったがこれに限ったものではない。雄型の端子金具１０４ａであってもよい。
【００３５】
また、上述した実施形態によれば、ワイヤハーネス１０１を構成する電線１０２の導通検査を行っていたが、これに限ったものではない。例えば、ワイヤハーネス１０１にする前の電線１０２の１本、１本の導通検査を行うようにしてもよい。
【００３６】
また、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１  導通検査装置
１０  ネットワークアナライザ
２０  導通検査治具
２３  コネクタ保持部
２４  検査ピン
２５  ピン保持部
１０１  ワイヤハーネス
１０２  電線
１０４ａ  端子金具
１０４ｂ  コネクタハウジング
【図１】
2017003316.tif 000003
【図２】
2017003316.tif 000004
【図３】
2017003316.tif 000005
【図４】
2017003316.tif 000006
【図５】
2017003316.tif 000007