【事件の表示】
　特願２００６−１２４５１０「タッチ位置取得装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１９年１１月１５日出願公開、特開２００７−２９９０７４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　本願は、平成１８年４月２７日の出願であって、平成２２年８月３１日付けで拒絶理由が通知され、同年１１月８日付けの意見書及び手続補正書が提出され、平成２３年４月１５日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年７月１３日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに手続補正がなされたものである。
　
第２．補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成２３年７月１３日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
１．補正後の本願発明
　上記手続補正（以下、「本件補正」という。）は補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載された発明を、
　「アナログ抵抗膜式タッチパネルを備え、タッチ操作によりタッチされた位置を取得するタッチ位置取得装置であって、
　前記アナログ抵抗膜式タッチパネルの抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及びその両端にかかる電圧を保持する保持手段と、
　前記保持手段により保持される各電圧に基づいて、前記アナログ抵抗膜式タッチパネルにおけるタッチ位置を算出するタッチ位置算出手段と、
　前記アナログ抵抗膜式タッチパネルへのタッチ操作を検出するタッチ操作検出手段と、
　前記抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及び該抵抗膜の両端にかかる電圧をそれぞれ測定する測定手段と、
　前記タッチ操作検出手段がタッチ操作の検出に応じて、前記測定手段による測定結果である一方向に係る前記抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及び該抵抗膜の両端にかかる電圧を、同時に前記保持手段に保持させる測定制御手段と、
　を含むことを特徴とするタッチ位置取得装置。」
という発明（以下、「補正後の発明」という。）に変更することを含むものである。
　
２．補正の目的要件について
　上記補正は、補正前の特許請求の範囲の請求項１に記載された「測定制御手段」を「一方向に係る前記抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及び該抵抗膜の両端にかかる電圧を、同時に前記保持手段に保持させる測定制御手段」と限定して特許請求の範囲を減縮するものである。
　
３．独立特許要件について
　上記補正は特許請求の範囲の減縮を目的とするものであるから、上記補正後の発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるのかどうかについて以下に検討する。
　
（１）補正後の発明
　上記「１．補正後の本願発明」の項で認定したとおりである。
　
（２）引用発明
　原査定の拒絶理由に引用された特開平９−１４６６８１号公報（以下、「引用例」という。）には図面とともに以下の事項が記載されている。
　
　ａ．「【請求項１】  第１抵抗膜(110)と第２抵抗膜(111)の少なくとも一方の抵抗膜の両端に印加される印加電圧値を検出するための印加電圧検出用引出線路(L5,L6,L7,L8)を、印加用線路(L1,L2,L3,L4)とは別に設けて、この印加電圧検出用引出線路(L5,L6,L7,L8)からの出力により前記印加電圧値を検出し、この印加電圧値を参考に、入力座標を算出する抵抗膜感圧式デジタイザ装置において、
前記印加電圧値の検出を作動時に繰り返して行うことを特徴とする抵抗膜感圧式デジタイザ装置。
【請求項２】  前記第１抵抗膜(110)は、Ｘ軸方向の両端の辺に電極(114,115)を有し、前記第２抵抗膜(111)はＹ軸方向の両端の辺に電極(112,113)を有し、抵抗膜同士が接触しないように絶縁スペ−サ(120)を挿入して隙間を作り、ペン(108)を用いて押圧することにより前記第１抵抗膜(110)と前記第２抵抗膜(111)が接触するその位置座標が検出できる請求項１の抵抗膜感圧式デジタイザ装置。
【請求項３】  前記印加電圧値の検出を、座標検出の度に行うことを特徴とする請求項１又は請求項２の抵抗膜感圧式デジタイザ装置。」（【請求項１】〜【請求項３】の記載。なお、原文には、「第１抵抗膜(110)と第２抵抗膜(111)の少なく
て
すための
　
　ｂ．「【００２２】上記
ステップ(203)
スイッチ(107)をＺ１に切り換える。読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換する
【００２３】
そのデジタルデータを基準電圧用メモリ(123)にＸ軸印加電圧の一方の値として格納する。次に、スイッチ(107)をＺ３に切り換える。検出された電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、基準電圧用メモリ(123)にＸ軸印加電圧の他方の値として格納する
　
　ｃ．「上記
ステップ(206)
【００２６】デジタイザ制御部(101)は、デジタイザの電極切換スイッチ(106)をすべてＸ側(Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４，Ｘ５)に切り換える。
スイッチ(107)をＺ２を介して、読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換する。この時に検出される電圧値は、点ＰにおけるＸ座標の電圧値であり、Ａ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換する
【００２７】
先に格納しておいた基準電圧用メモリ(123)のＸ軸印加電圧の２つの値を用いて、Ｘ座標値を計算する
　
　ｄ．「【００３１】
【課題を解決するための手段】本発明の抵抗膜感圧式デジタイザ装置は、前述の問題点を解決するために、抵抗膜の両端の印加電圧値(基準電圧)を電源オン時の始動時だけでなく、使用中は繰り返して調べることを特徴とする」（【００３１】の記載）
　
　ｅ．「【００３２】
【発明の実施の形態】図１，図２を参照して本発明の第１実施例を説明する。図１は、抵抗膜感圧式デジタイザ装置の構成を示すブロック図である。(101’)は、デジタイザ制御部である。図２の処理フローチャートを用いて動作を説明をする。
【００３３】ステップ(201)により、起動時に、サンプリングレ−ト(座標検出を行う間隔)の設定，表示装置の解像度の設定，ポイント時に連続でデータを送出するか最初のデータだけ送出するかといったモード設定などの初期設定を行う。ステップ(204,205)により、抵抗膜感圧式デジタイザにペンダウンしているかどうかチェックする。ペンダウンがなければ待ち状態(アイドル状態)となる。
【００３４】
ペンダウンがあった場合
座標検出処理を行う
まず、ステップ(301)により、Ｘ軸基準電圧を求める。ステップ(206)により、押圧点のＸ座標電圧値を読み込み表示装置に対応した座標値を算出する
【００３５】次に、ステップ(302)により、Ｙ軸基準電圧を求める。ステップ(207)により、押圧点のＹ座標電圧値を読み込み表示装置に対応した座標値を算出する。ステップ(208)により、これらの座標値を押圧点の位置座標データとしてホストコンピュータに送られる。
【００３６】
ペンダウンしている間、この位置検出処理を繰り返す
　
　
　引用例の記載ａ〜ｅにおいて、記載ｅの「ステップ（３０１）」のＸ軸基準電圧を求める処理の詳細は、記載ｄを参酌すると、従来の技術の記載ｂ（「ステップ（２０３）に関する記載）に記載のＸ軸基準電圧を求める処理と同じ処理であることは、明らかである。同様に、記載ｅの「ステップ（２０６）」の押圧点のＸ座標電圧値を読み込み表示装置に対応した座標値を算出する処理の詳細は、従来の技術の記載ｃ（「ステップ（２０６）」に関する記載）の押圧点のＸ座標電圧値を読み込み表示装置に対応した座標値を算出する処理と同じ処理である。
　
　したがって、上記引用例には以下の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
〈引用発明〉
　「第１抵抗膜(110)と第２抵抗膜(111)の少なくとも一方の抵抗膜の両端に印加される印加電圧値を検出するための印加電圧検出用引出線路(L5,L6,L7,L8)を、印加用線路(L1,L2,L3,L4)とは別に設けて、この印加電圧検出用引出線路(L5,L6,L7,L8)からの出力により前記印加電圧値を検出し、この印加電圧値を参考に、入力座標を算出する抵抗膜感圧式デジタイザ装置において、
　前記第１抵抗膜(110)は、Ｘ軸方向の両端の辺に電極(114,115)を有し、前記第２抵抗膜(111)はＹ軸方向の両端の辺に電極(112,113)を有し、抵抗膜同士が接触しないように絶縁スペ−サ(120)を挿入して隙間を作り、ペン(108)を用いて押圧することにより前記第１抵抗膜(110)と前記第２抵抗膜(111)が接触するその位置座標が検出でき、
　前記印加電圧値の検出を、座標検出の度に繰り返して行うことを特徴とする抵抗膜感圧式デジタイザ装置であって、
　その座標検出の処理は、
　まず、Ｘ軸基準電圧（Ｘ軸の印加電圧）を求め、次に、押圧点のＸ座標電圧値を読み込み表示装置に対応した座標値を算出するもので、
　そのＸ軸基準電圧を求める処理は、
　スイッチ(107)をＺ１に切り換え、読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、そのデジタルデータを基準電圧用メモリ(123)にＸ軸印加電圧の一方の値として格納し、次に、スイッチ(107)をＺ３に切り換え、検出された電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、基準電圧用メモリ(123)にＸ軸印加電圧の他方の値として格納するものであり、
　また、その押圧点のＸ座標電圧値を読み込み表示装置に対応した座標値を算出する処理は、
　スイッチ(107)をＺ２を介して、読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、この時に検出される電圧値は、点ＰにおけるＸ座標の電圧値であり、Ａ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、先に格納しておいた基準電圧用メモリ(123)のＸ軸印加電圧の２つの値を用いて、Ｘ座標値を計算する、
ものである。」
　
（３）対比
　補正後の発明と引用発明とを対比する。
（３−１）
　引用発明の「抵抗膜感圧式デジタイザ装置」は、「前記第１抵抗膜(110)は、Ｘ軸方向の両端の辺に電極(114,115)を有し、前記第２抵抗膜(111)はＹ軸方向の両端の辺に電極(112,113)を有し、抵抗膜同士が接触しないように絶縁スペ−サ(120)を挿入して隙間を作り、ペン(108)を用いて押圧することにより前記第１抵抗膜(110)と前記第２抵抗膜(111)が接触するその位置座標が検出」することができるものであるから、補正後の発明の「アナログ抵抗膜式タッチパネルを備え、タッチ操作によりタッチされた位置を取得するタッチ位置取得装置」に相当する。
（３−２）
　引用発明の「基準電圧用メモリ(123)」は、「Ｘ軸印加電圧の一方の値」及び「Ｘ軸印加電圧の他方の値」を格納しており、「両端に係る電圧を保持」する点で、補正後の発明の「保持手段」と一致している。
（３−３）
　引用発明の「スイッチ(107)をＺ２を介して、読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、この時に検出される電圧値は、点ＰにおけるＸ座標の電圧値」であるので、この電圧値は、補正後の発明の「抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧」に相当し、引用発明では、「スイッチ(107)をＺ２を介して、読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、この時に検出される電圧値は、点ＰにおけるＸ座標の電圧値であり、Ａ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、先に格納しておいた基準電圧用メモリ(123)のＸ軸印加電圧の２つの値を用いて、Ｘ座標値を計算する」ものであるから、補正後の発明の「各電圧に基づいて、前記アナログ抵抗膜式タッチパネルにおけるタッチ位置を算出するタッチ位置算出手段」を備えている。
（３−４）
　引用発明では、「ペン(108)を用いて押圧することにより前記第１抵抗膜(110)と前記第２抵抗膜(111)が接触するその位置座標が検出でき」るものであるから、補正後の発明の「アナログ抵抗膜式タッチパネルへのタッチ操作を検出するタッチ操作検出手段」を備えている。
（３−５）
　引用発明では、「印加電圧値の検出を、座標検出の度に繰り返して行う」ものであり、その「Ｘ軸基準電圧を求める処理」は、「スイッチ(107)をＺ１に切り換え、読み込まれた電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、そのデジタルデータを基準電圧用メモリ(123)にＸ軸印加電圧の一方の値として格納し、次に、スイッチ(107)をＺ３に切り換え、検出された電圧値をＡ／Ｄ変換回路(102)でデジタルデータに変換し、基準電圧用メモリ(123)にＸ軸印加電圧の他方の値として格納」していることから、補正後の「測定制御手段」と、「タッチ操作検出手段がタッチ操作の検出に応じて、前記測定手段による測定結果である一方向に係る」「該抵抗膜の両端にかかる電圧を、」「前記保持手段に保持させる」点で一致している。
　
　したがって、補正後の発明と引用発明は、以下の一致点と相違点とを有する。
　
〈一致点〉
　「アナログ抵抗膜式タッチパネルを備え、タッチ操作によりタッチされた位置を取得するタッチ位置取得装置であって、
　前記アナログ抵抗膜式タッチパネルの抵抗膜のその両端にかかる電圧を保持する保持手段と、
　タッチ位置にかかる電圧及び前記保持手段により保持される各電圧に基づいて、前記アナログ抵抗膜式タッチパネルにおけるタッチ位置を算出するタッチ位置算出手段と、
　前記アナログ抵抗膜式タッチパネルへのタッチ操作を検出するタッチ操作検出手段と、
　前記抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及び該抵抗膜の両端にかかる電圧をそれぞれ測定する測定手段と、
　前記タッチ操作検出手段がタッチ操作の検出に応じて、前記測定手段による測定結果である一方向に係る該抵抗膜の両端にかかる電圧を、前記保持手段に保持させる測定制御手段と、
　を含むことを特徴とするタッチ位置取得装置。」
〈相違点〉
　補正後の発明では、抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧を保持するとともに、抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及び該抵抗膜の両端にかかる電圧の保持を、補正後の発明では「同時」に行うのに対し、引用発明ではそうではない点。
　
（４）判断
　相違点につき検討する。
　引用発明と補正後の発明とでは、「抵抗膜の両端にかかる電圧」及び「抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧」を検出する工程において、引用発明では、その各電圧を検出する工程が、それぞれ順番に測定するのに対し、補正後の発明では、各電圧を「同時」に測定し、保持する点で相違しているが、両者とも、タッチ操作を検出する毎に各電圧を検出し、各電圧値に基づいてタッチ位置を検出していることには変わりはないものである。
　そして、各工程を順次行うようにするか、同時に行うようにするかは、その装置の能力及びコスト（Ａ／Ｄ変換回路等の数等）を考慮し、適宜採用することができる設計的事項であるから、引用発明において、当該各工程を同時に行うようにして相違点に係る構成とすることは、当業者が格別の創意を要することなく構成し得たものである。
　
　また、補正後の発明を採用することによる作用効果も、引用発明の構成を採用することによる作用効果からみて格別のものであるともいえない。
　
　以上のとおり、補正後の発明は引用発明に基づいて当業者が容易に発明できた発明であるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
４．結語
　したがって、本件補正は、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３．本願発明について
１．本願発明
　平成２３年７月１３日付けの手続補正を上記のとおり却下したので、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成２２年１１月８日付けの手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載された以下のとおりのものと認める。
　
　「アナログ抵抗膜式タッチパネルを備え、タッチ操作によりタッチされた位置を取得するタッチ位置取得装置であって、
　前記アナログ抵抗膜式タッチパネルの抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及びその両端にかかる電圧を保持する保持手段と、
　前記保持手段により保持される各電圧に基づいて、前記アナログ抵抗膜式タッチパネルにおけるタッチ位置を算出するタッチ位置算出手段と、
　前記アナログ抵抗膜式タッチパネルへのタッチ操作を検出するタッチ操作検出手段と、
　前記抵抗膜のタッチ位置にかかる電圧及び該抵抗膜の両端にかかる電圧をそれぞれ測定する測定手段と、
　前記タッチ操作検出手段がタッチ操作の検出に応じて、前記測定手段による測定結果を、前記保持手段に保持させる測定制御手段と、
　を含むことを特徴とするタッチ位置取得装置。」
　
２．引用発明
　引用発明は、上記「第２．補正却下の決定」の項中の「３．独立特許要件について」の項中の「（２）引用発明」の項に示したとおりである。
　
３．対比・判断
　そこで、本願発明と引用発明とを対比するに、本願発明は上記補正後の発明から当該補正に係る限定を省いたものである。
　そうすると、本願発明の構成に当該補正に係る限定を付加した補正後の発明が、上記「第２．補正却下の決定」の項中の「３．独立特許要件について」の項で検討したとおり、引用発明に基づいて当業者が容易に発明できた発明であるから、本願発明も同様の理由により、当業者が容易に発明できた発明である。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができた発明であるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　よって、結論のとおり審決する。