【手続補正書】
【提出日】平成18年1月11日(2006.1.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  赤外線放射源からの光線により物体を照射する検出ステーションによって、検出ステーションを連続的に又は非連続的に物体を通過せしめること、物体を通過して吸収されなかった光線を検出し、検出された光線の相関解析をすることを含む、全体的又は部分的に透明なプラスチック又はガラスのビンのような物体の材料のタイプを識別する方法において、
放射源からの光線を、相互に異なったスペクトル特性を有し全体的又は部分的に透明な材料よりなる群より選択された第１の数の複数のフィルターを介して、通過させ、上記群の材料の少なくとも１つが、識別されるべき材料と同じであり、  
物体の特徴的な透過識別特性を現している測定値の連鎖を形成するために、フィルターを通過し物体により吸収されなかった光線を取り上げ、
物体の材料のタイプを決定するために統計的モデルに関する識別特性の相関解析を実施することを特徴とする方法。
【請求項２】  第２の数の複数のフィルターの少なくとも１つを、ダイヤフラム材料なし開口として形成することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】  測定値の連鎖内に１個のピークの基準値を作るようにダイヤフラム又は開口を貫通する面積の限定された光線、及び測定値の連鎖内に谷の基準値を作るように非貫通性の光線をそれぞれ与えるように、第２の数のフィルターが選定されることを特徴とする請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】  測定値の連鎖内で、それぞれの識別特性測定値に隣接した基準測定値が作られることを特徴とする請求項１、２又は３に記載の方法。
【請求項５】  測定値の連鎖内で、面積が限定され材料で濾波されない光により生じた少なくとも１つの基準信号ピークを提供すること、
２つの隣接する信号の谷の平均値に関して測定値の連鎖内の他の信号ピークの各々を連続的に分析することを含む
ことを特徴とする請求項１−４のいずれか１に記載の方法。
【請求項６】  放射源と検出器との間で放射経路に波長の限定を提供することを特徴とする請求項１−５のいずれか１に記載の方法。
【請求項７】  放射源と検出器との間で放射経路に光線の部分的絞りを提供することを特徴とする請求項１−６のいずれか１に記載の方法。
【請求項８】  物体を通過した光線を、焦点合せ用ミラーの手段により検出器に向けて偏向させることを特徴とする請求項１−７のいずれか１に記載の方法。
【請求項９】  測定値の連鎖内で、光線の阻止により生じた少なくも１個の基準信号の谷を提供し、そして  連続した信号ピークに関する２個の隣接信号値の前記平均値を順次形成するために測定値の連鎖内のその他の信号の谷の各を解析することを特徴とする請求項１−５のいずれか１に記載の方法。
【請求項１０】  それぞれの信号ピークのレベル値から前記平均値を減ずることに基づいて物体の光透過値を計算することを特徴とする請求項５又は９に記載の方法。
【請求項１１】  ｎ個の要素からなるベクトルにおける信号の周期から算出された光透過値を収集し、ただしｎはフィルターの数に等しく、そして  これらと続く信号周期の対応値とを比較することを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】  継続した２個の信号周期値の間の差が受容し得る測定の連鎖内の閾値を越えた場合は物品の測定を拒絶することを特徴とする請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】  ２個の継続した信号周期の値の平均値を計算し、そして、校正及び鑑定演算、例えばＰＬＳ（部分最小二乗法）の判別解析の支援により、物品が作られた材料のタイプの特有の特徴を誘導することを特徴とする請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】  校正及び鑑定演算が校正及び鑑定のアルゴリズムの使用を含むことを特徴とする請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】  フィルターを円形経路に沿って移動せしめることを含むことを特徴とする請求項１−１４のいずれか１に記載の方法。
【請求項１６】  第１の数のフィルターの少なくも１個のフィルターが、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ塩化ビニル、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリスチレン、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体、ポリメチルメタクリレート、ポリアミド、ポリウレタン、ポリスルフォネート、ポリカーボネート、及びパイレックス（商標名）ガラスよりなるグループから選定された材料のものであることを特徴とする請求項１−１５のいずれか１に記載の方法。
【請求項１７】  物体を、赤外線放射源からの光線で物体を照射する検出ステーションを介して連続的に又は不連続に移動せしめる手段によって制御されるコンベヤーと、物品を通過して吸収されなかった光線を検出する手段と、そしてかかる検出された光線の相関解析を実施する手段とを具備する、全体的又は部分的に透明なプラスチック又はガラスのビンのような物体の材料のタイプを識別する装置において、
検出ステーションにあって、放射源からの光線に対して順次に異なった濾波を行うために相互に異なったスペクトル特性を有する完全に又は部分的に透明な材料の群から各々選択された複第１の数の数のフィルターが設けられ、上記群の材料の少なくとも１つが識別されるべき材料と同じである装置、
フィルターにより濾波されかつ物品により吸収されなかった光線を取り上げて、物体の特徴的な透過識別特性を現している測定値の連鎖を形成するように配列された手段、及び
物品の材料のタイプを決定するために統計モデルに関する識別特性の相関解析を実施するようにされた解析装置、例えばマイクロプロセッサーを含むプロセッサー
を具備することを特徴とする装置。
【請求項１８】  第２の数の複数のフィルターの少なくとも１つのフィルターが、絞られるが材料のない開口として形成されていることを特徴とする請求項１７に記載の装置。
【請求項１９】  第２の数のフィルターの２つのフィルターが、測定値の連鎖における信号ピーク基準値を生成する、絞り又は開口を介する面積が限定された光の透過性と、測定値の連鎖内の谷基準値を生成する光の非透過性とを有する請求項１８に記載の装置。
【請求項２０】  フィルターが、円形経路に沿って動くように回転可能な円形又は多角形のディスク上に配列されることを特徴とする請求項１７、１８又は１９に記載の装置。
【請求項２１】  フィルターが赤外線放射源又は検出器の周りを回転できるドラムの壁に配列され、ドラムは円形又は多角形の断面を有することを特徴とする請求項１７、１８又は１９に記載の装置。
【請求項２２】  隣接するフィルターの間に、絞られた開口或いは全ての開口に対して同じ光透過材料を有する開口が配置されていることを特徴とする請求項１７、１８、１９、２０又は２１に記載の装置。
【請求項２３】  放射源と検出器との間に放射経路内に波長限定用のエンベロープフィルターが設けられることを特徴とする請求項１７−２２のいずれか１に記載の装置。
【請求項２４】  光ビームの経路内にダイヤフラムが配列されることを特徴とする請求項１７−２３のいずれか１に記載の装置。
【請求項２５】  検出器と組み合わせて、物体を通過して検出器に光線を案内するための焦点用ミラーが設けられることを特徴とする請求項１７−２４のいずれか１に記載の装置。
【請求項２６】  プロセッサーは、濾波されない光により生じた検出器からの識別特性測定値の連鎖内の少なくも１個の基準信号のピークを登録するようにされることを特徴とする請求項１７、１８又は１９に記載の装置。
【請求項２７】  プロセッサーは、光線を阻止することにより生じた信号の測定値の連鎖内の少なくも１個の基準信号の谷を登録するようにもされること、及びプロセッサーは、測定値の連鎖内のその他の信号ピークの各を、２個の隣接した信号の谷の平均値に関して順次解析するアナライザーも有することを特徴とする請求項２６に記載の装置。
【請求項２８】  プロセッサーが、それぞれの信号ピークのレベル値から前記平均値を引いた値に基づいて、物体についての光透過値を計算するようにされることを特徴とする請求項１６、２６又は２７に記載の装置。
【請求項２９】  プロセッサーが、隣接の基準信号ピークの値に関するそれぞれの信号ピークのレベルに基づき物品の透過識別特性値を計算するようにされることを特徴とする請求項１７又は２６に記載の装置。
【請求項３０】  ｎ個の要素からなるベクトルにおける測定値の連鎖から算出された透過識別特性を収集し、ただしｎはフィルターの数に等しく、そして続く信号周期の対応値とを比較することを特徴とする請求項１７、２６、２７、２８又は２９に記載の装置。
【請求項３１】  プロセッサーは、継続した２個の信号連鎖の測定値の間の差が閾値を越えた場合は物品の測定を拒絶するようにされることを特徴とする請求項１７、２３−３０のいずれか１に記載の装置。
【請求項３２】  プロセッサーは、２個の継続した信号連鎖の測定値の平均値を計算し、そして物体の作られる材料のタイプの特有の特徴を与えるために、校正及び鑑別演算、例えばＰＬＳ（部分最小二乗法）の判別解析の支援により、解析を実行するようにされることを特徴とする請求項１７、２３、２４、２５又は２６に記載の装置。
【請求項３３】  フィルターの少なくも１個のフィルターが、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ塩化ビニル、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリスチレン、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体、ポリメチルメタクリレート、ポリアミド、ポリウレタン、ポリスルフォネート、ポリカーボネート、及びパイレックス（商標名）ガラスよりなるグループから選定された材料のものであることを特徴とする請求項１７−３２のいずれか１に記載の装置。
【請求項３４】  異なった材料のタイプのビンを鑑別し分類するための、リバース式販売機における請求項１−１６記載のいずれか１に記載の方法又は請求項１７−３３のいずれか１に記載の装置の使用。