(57)【要約】【課題】光ディスクライブラリ装置で使用する光ディスク装置を記録用と再生用とに効率的に選択すること。【解決手段】各光ディスク装置３０は、光ディスクにデータの記録を行ったとき、当該光ディスク装置の性能劣化を示す自己監視情報を記録する。光ディスク装置監視部１６は、各光ディスク装置から自己監視情報を取得して各光ディスク装置の装置状態を評価し、記録再生可能な状態か、再生のみ可能な状態か、あるいは記録再生とも不可能な状態かを判定して装置状態情報としてデータベース１８に保持する。ライブラリ制御部１１は、データベース１８の装置状態情報を参照して、記録又は再生に使用する光ディスク装置３０を選択する。【選択図】図１
2017004580.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光ディスク装置を搭載し光ディスクにデータを記録再生する光ディスクライブラリ装置において、
前記複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部と、
前記各光ディスク装置の状態を監視し各光ディスク装置の装置状態情報を保持する光ディスク装置監視部と、を備え、
前記各光ディスク装置は、前記光ディスクにデータの記録を行ったときの当該光ディスク装置の性能劣化を示す自己監視情報を記録する自己監視情報記録部を有し、
前記光ディスク装置監視部は、前記各光ディスク装置から前記自己監視情報を取得して前記各光ディスク装置の装置状態を評価し、記録再生可能な状態か、再生のみ可能な状態か、あるいは記録再生とも不可能な状態かを判定して前記装置状態情報としてデータベースに保持し、
前記ライブラリ制御部は、前記データベースに保持されている前記各光ディスク装置の前記装置状態情報を参照して、記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記光ディスク装置監視部は、前記光ディスク装置により記録品質が保証されている記録用テストディスクにテストデータを記録したときの性能劣化を示す自己監視情報を用いて当該光ディスク装置の装置状態を再評価し、
前記ライブラリ制御部は、再評価された装置状態情報を参照して、記録に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記光ディスク装置監視部は、前記光ディスク装置により再生品質が保証されている再生用テストディスクからテストデータを再生したときの性能劣化を示す自己監視情報を用いて当該光ディスク装置の装置状態を再評価し、
前記ライブラリ制御部は、再評価された装置状態情報を参照して、再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記ライブラリ制御部は、データの再生を行う場合に、再生のみ可能な状態と判定した前記光ディスク装置を優先的に選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記自己監視情報には、データ記録再生時の再生エラーレート又は交替記録回数が含まれることを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記各光ディスク装置は、前記光ディスクに対して記録と再生を行うときにそれぞれ使用する光路に差があることを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項７】
複数の光ディスク装置を搭載し光ディスクにデータを記録再生する光ディスクライブラリ装置において、
前記複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部を備え、
前記各光ディスク装置は、前記光ディスクにデータの記録を行ったときの当該光ディスク装置の性能劣化を示す自己監視情報を取得し、当該光ディスク装置の装置状態を評価して、記録再生可能な状態か、再生のみ可能な状態か、あるいは記録再生とも不可能な状態かを判定する光ディスク装置状態評価部を有し、
前記ライブラリ制御部は、前記各光ディスク装置にて評価した装置状態情報を参照して、記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項８】
複数の光ディスク装置を搭載した光ディスクライブラリ装置におけるデータの記録再生に使用する光ディスク装置の選択方法であって、
前記光ディスク装置が光ディスクにデータの記録を行ったときの当該光ディスク装置の性能劣化を示す自己監視情報を取得する自己監視情報取得ステップと、
前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の装置状態を評価し、記録再生可能な状態か、再生のみ可能な状態か、あるいは記録再生とも不可能な状態かを判定する装置状態評価ステップと、
前記装置状態の情報を参照して、データの記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択するステップと、
を備えることを特徴とする光ディスク装置の選択方法。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク装置の選択方法であって、
前記光ディスク装置により記録品質が保証されている記録用テストディスクにテストデータを記録したときの性能劣化を示す自己監視情報を用いて当該光ディスク装置の装置状態を再評価するステップを有し、
再評価された装置状態情報を参照して、記録に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスク装置の選択方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の光ディスク装置の選択方法であって、
前記光ディスク装置により再生品質が保証されている再生用テストディスクからテストデータを再生したときの性能劣化を示す自己監視情報を用いて当該光ディスク装置の装置状態を再評価するステップを有し、
再評価された装置状態情報を参照して、再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスク装置の選択方法。
【請求項１１】
請求項８に記載の光ディスク装置の選択方法であって、
データの再生を行う場合に、再生のみ可能な状態と判定した前記光ディスク装置を優先的に選択することを特徴とする光ディスク装置の選択方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の光ディスク装置を使用する光ディスクライブラリ装置において、各光ディスク装置の装置状態を管理し、用途に応じて使用する光ディスク装置を選択する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクライブラリ装置等で使用する光ディスク装置の管理技術として、特許文献１には、「光ディスク装置により光ディスクに情報を記録又は再生を実施する前に、自己監視情報を光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる使用頻度情報又は劣化情報に基づいて光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択する」ことが記載されている。また特許文献２には、「更新されたローディング回数とシーク動作回数とライト・ブロック数を予め設定された閾値と比較し、いずれかが閾値を超えている場合には、当該光ディスク・ドライブを使用禁止あるいは書込み禁止にする」ことが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１３−６２００６号公報
【特許文献２】特開２００６−１８９５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
複数の光ディスク装置を使用する光ディスクライブラリ装置では、データの記録又は再生を行なうための光ディスク装置の台数に限りがあるため、光ディスク装置を効率的に選択して使用する必要がある。
【０００５】
特許文献１記載の技術によれば、光ディスク装置の記録性能と再生性能について一律に評価しているため、劣化していると評価した光ディスク装置は記録用にも再生用にも選択されないことになる。しかし、ホログラム媒体への記録再生のように、記録用と再生用で要求性能に差がある場合には、記録用に使用できなくても再生用に使用できる可能性があり、用途に応じて選択するのが望ましい。
【０００６】
これに関し特許文献２の記載では、「リード系コマンドを処理可能にすることで、例えば寿命に至ったドライブへのアクセスにおいて、リード専用機として動作を継続する」（段落００４３）ことが述べられている。しかし、寿命に至ったドライブが全てリード専用機の性能を有しているとは限らず、使用するにはその確認が必要である。
【０００７】
本発明の目的は、光ディスクライブラリ装置で使用する光ディスク装置の性能劣化を記録用と再生用とで区別して評価し、評価結果に応じて効率的に選択することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するため、本発明による光ディスクライブラリ装置は、複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部と、各光ディスク装置の状態を監視し各光ディスク装置の装置状態情報を保持する光ディスク装置監視部と、を備える。各光ディスク装置は、光ディスクにデータの記録を行ったときの当該光ディスク装置の性能劣化を示す自己監視情報を記録する自己監視情報記録部を有し、光ディスク装置監視部は、各光ディスク装置から自己監視情報を取得して各光ディスク装置の装置状態を評価し、記録再生可能な状態か、再生のみ可能な状態か、あるいは記録再生とも不可能な状態かを判定して装置状態情報としてデータベースに保持する。ライブラリ制御部は、データベースに保持されている各光ディスク装置の装置状態情報を参照して、記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択する。
【０００９】
本発明による光ディスク装置の選択方法は、光ディスク装置が光ディスクにデータの記録を行ったときの当該光ディスク装置の性能劣化を示す自己監視情報を取得する自己監視情報取得ステップと、自己監視情報に基づいて光ディスク装置の装置状態を評価し、記録再生可能な状態か、再生のみ可能な状態か、あるいは記録再生とも不可能な状態かを判定する装置状態評価ステップと、装置状態の情報を参照して、データの記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択するステップと、を備える。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、光ディスクライブラリ装置に搭載されている各光ディスク装置を記録用と再生用に効率的に選択し、ライブラリ装置の処理機能を最大化させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】光ディスクライブラリ装置の構成を示すブロック図。
【図２】光ディスク装置の内部構成を示すブロック図。
【図３】ピックアップの構成と記録時の動作を説明する図。
【図４】ピックアップの構成と再生時の動作を説明する図。
【図５】光ディスクライブラリ装置の基本処理動作を示すフローチャート。
【図６】光ディスク装置の選択処理（Ｓ１１０）を示すフローチャート。
【図７】光ディスク装置の装置状態評価処理（Ｓ１５０）を示すフローチャート。
【図８】再生エラーレートの値と装置状態評価の関係を示す図。
【図９】記録性能を独立して評価する工程を追加したフローチャート（実施例２）。
【図１０】再生性能を独立して評価する工程を追加したフローチャート。
【図１１】記録性能と再生性能を独立に評価する方法を組み合わせ、自動切り替えするフローチャート。
【図１２】光ディスク装置の内部構成を示すブロック図（実施例３）。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００１３】
図１は、光ディスクライブラリ装置の構成を示すブロック図である。光ディスクライブラリ装置１０（以下、ライブラリ装置と略す）は、複数の光ディスク装置３０を搭載し、ラック１３に収納された光ディスク４０に対してデータの記録と再生を行う。ライブラリ装置１０はホストインターフェース１４を介してホストコンピュータ２０と接続され、記録や再生といった各種コマンドと記録再生データを送受信する。ラック１３は複数のスロットを備えており、各スロットには１枚ずつ光ディスク４０を収納することができる。ここでは光ディスク４０として、大容量データの記録が可能なホログラム記録媒体を用いるものとする。
【００１４】
ライブラリ制御部１１は、ライブラリ装置１０の動作全般を制御する。まず、チェンジャー機構１２を動作させ、ラック１３から所定の光ディスク４０を取り出し、所定の光ディスク装置３０まで搬送して挿入する。あるいは逆に、所定の光ディスク装置３０から排出された光ディスク４０を、ラック１３の所定のスロットに搬送して収納する。またライブラリ制御部１１は、ドライブインターフェース１５を介して各光ディスク装置３０と接続されており、所定の光ディスク装置３０に対して記録や再生といった各種コマンドと記録するデータを送信し、コマンドの実行結果と再生したデータおよび後述する自己監視情報（再生エラーレートや交替記録回数など）を受信する。
【００１５】
光ディスク装置監視部１６は、ライブラリ制御部１１から自己監視情報を受け取り、各光ディスク装置３０の装置状態（記録用、再生用に使用可能な状態か否か）を評価し、装置状態情報として光ディスク装置監視データベース１８に保存して管理する。ライブラリ制御部１１にある光ディスク装置選択部１７は、光ディスク装置監視部１６を介して各光ディスク装置３０の装置状態情報を取得し、それに基づきデータの記録／再生に使用する光ディスク装置３０の選択を行う。
【００１６】
図２は、光ディスク装置３０の内部構成を示すブロック図であり、記録原理にホログラフィを利用したホログラム媒体（光ディスク４０）に記録再生を行う。光ディスク装置３０は、入出力制御回路４９０を介してライブラリ装置１０のドライブインターフェース１５と接続され、記録再生データおよびコマンドの送受信を行う。
【００１７】
入出力制御回路４９０を介し入力した記録データは、信号生成回路４８６で信号処理を施してピックアップ４１１に送られる。ピックアップ４１１では空間光変調器にて信号光を生成し、信号光と参照光とを光ディスク４０において互いに重ね合うように入射することで、干渉縞パターンを形成しデータを記録する。
【００１８】
光ディスク４０からデータを再生する場合は、記録時とは逆の向きの参照光を再生用参照光光学系４１２にて生成して光ディスク４０に入射する。光ディスク４０からの再生光をピックアップ４１１内の光検出器によって検出し、信号処理回路４８５で信号処理（２値化、誤り訂正など）を施して再生データとし、入出力制御回路４９０を介して出力する。
【００１９】
自己監視情報記録部４９１は、当該光ディスク装置３０の自己監視情報を、自己監視情報に関するイベントが発生する毎にドライブメモリ４９２に記録する。ここで「自己監視情報」とは、光ディスク装置３０の記録再生動作における再生エラーレートや交替記録回数など、光ディスク装置の性能劣化を反映する情報である。なお、「再生エラーレート」とは、信号処理回路４８５で誤り訂正処理実施前の再生信号のエラーレートであり、「交替記録回数」とは、記録したデータのベリファイ処理で再生エラーレートが閾値以上の場合に行う再記録の回数である。
【００２０】
光ディスク装置３０内の他の構成回路・部品について説明する。コントローラ４８９は、光ディスク装置３０の各部の動作を制御する。回転モ−タ４５０は光ディスク４０を回転させ、ディスク回転角度検出用光学系４１４は、光ディスク４０の回転角度を検出し、ディスク回転モータ制御回路４８８は、回転角度の検出信号を用いて光ディスク４０の回転角度を制御する。シャッタ制御回路４８７は、ピックアップ４１１内のシャッタの開閉時間を制御し、光ディスク４０に照射する参照光と信号光の照射時間を調整する。
【００２１】
キュア光学系４１３は、光ディスク４０のプリキュアおよびポストキュアに用いる光ビームを生成する。光源駆動回路４８２は、ピックアップ４１１、キュア光学系４１３、ディスク回転角度検出用光学系４１４内の各光源に所定の駆動電流を供給し、各々の光源からは所定の光量の光ビームが発光される。アクセス制御回路４８１は、ピックアップ４１１やキュア光学系４１３を、光ディスク４０の半径方向に位置をスライドさせるときの位置制御を行う。サーボ信号生成回路４８３とサーボ制御回路４８４は、ホログラフィの角度多重記録における参照光角度のずれ量を検出して補正する。
【００２２】
図３は、ピックアップ４１１の構成と記録時の動作を説明する図である。光源３０１を出射した光ビームはコリメートレンズ３０２を透過し、シャッタ３０３に入射する。シャッタ３０３が開いている時は、光ビームはシャッタ３０３を通過した後、例えば２分の１波長板などの光学素子３０４によってｐ偏光とｓ偏光の光量比が所望の比になるように偏光方向が制御された後、ＰＢＳ（偏光ビームスプリッタ）プリズム３０５に入射する。
【００２３】
ＰＢＳプリズム３０５を透過した光ビームは信号光３０６として働き、ビームエキスパンダ３０８によって光ビーム径が拡大された後、位相マスク３０９、リレーレンズ３１０、ＰＢＳプリズム３１１を透過して空間光変調器３１２に入射する。
【００２４】
空間光変調器３１２によって記録データが付加された信号光は、ＰＢＳプリズム３１１を反射し、リレーレンズ３１３ならびに空間フィルタ３１４を伝播する。その後、信号光は対物レンズ３１５によって光ディスク４０に集光する。
【００２５】
一方、ＰＢＳプリズム３０５を反射した光ビームは参照光３０７として働き、偏光方向変換素子３１６によって記録時又は再生時に応じて所定の偏光方向に設定された後、ミラー３１７、３１８を経由してガルバノミラー３１９に入射する。ガルバノミラー３１９はアクチュエータ３２０によって角度が調整され、レンズ３２１、３２２を通過した後に光ディスク４０に入射する参照光の入射角度を、所望の角度に設定する。
【００２６】
このように光ディスク（ホログラム媒体）への記録では、信号光と参照光とを光ディスク４０に互いに重ね合うように入射させることで、記録媒体内には干渉縞パターンが形成され、このパターンを記録媒体に書き込むことで情報を記録する。また、ガルバノミラー３１９によって光ディスク４０に入射する参照光の入射角度を変化させることで、角度多重による記録が可能となる。
【００２７】
図４は、ピックアップ４１１の構成と再生時の動作を説明する図である。記録したデータを再生する場合は、前述したように参照光を光ディスク４０に入射し、光ディスク４０を透過した光ビームをアクチュエータ３２３によって角度調整するガルバノミラー３２４にて反射させることで、位相共役な再生用参照光を生成する。アクチュエータ３２３とガルバノミラー３２４は、前記再生用参照光光学系４１２に相当する。
【００２８】
再生用参照光を光ディスク４０に照射して得られる再生光は、対物レンズ３１５、リレーレンズ３１３ならびに空間フィルタ３１４を伝播する。その後、再生光はＰＢＳプリズム３１１を透過して光検出器３２５に入射し、記録したデータを再生する。光検出器３２５としては、ＣＭＯＳイメージセンサーやＣＣＤイメージセンサーなどの撮像素子を用いる。
【００２９】
上記した記録動作と再生動作を比較すると、記録時は信号光３０６の光路と参照光３０７の光路の両方を使用するが、再生時は信号光３０６の光路の一部を使用せずに処理を行なう。具体的には、ビームエキスパンダ３０８、位相マスク３０９、リレーレンズ３１０、空間光変調器３１２などは使用しない。このように、記録と再生を行うときにそれぞれ使用する光路に差がある構成となっている。例えば、空間光変調器３１２は記録用の信号光３０６に記録データを付加する役目があるが、空間光変調器３１２の表面に埃が付着した場合には埃付着箇所の情報が欠落しデータの信頼性を大きく損なうことから、記録性能の劣化が生じやすい。一方で再生時には、空間光変調器３１２の表面に埃が付着しても再生用の参照光３０７には影響を及ぼさないため、データの再生は正常に行える。このように、ホログラム媒体を用いた記録再生では、記録用と再生用とで許容される劣化の程度が異なり、光ディスク装置を効率的に使用するには、用途に応じて装置を選択することが必要である。
【００３０】
以下、光ディスクライブラリ装置１０で使用する光ディスク装置を効率的に選択する処理動作について説明する。
【００３１】
図５は、光ディスクライブラリ装置の基本処理動作を示すフローチャートである。ライブラリ制御部１１は、ホストコンピュータ２０から発行された記録（又は再生）のコマンドを受け取ると（Ｓ１００）、光ディスク装置選択部１７により、記録（又は再生）処理を実行するために使用する光ディスク装置３０を選択する（Ｓ１１０）。その際、光ディスク装置監視部１６を介し光ディスク装置監視データベース１８に保存されている装置状態情報を参照し、光ディスク装置３０が記録用として使用できる条件を満足しているか、また記録用条件は満足しないが再生用として使用できる条件を満足しているか、に基づいて選択する。光ディスク装置の選択処理（Ｓ１１０）と装置状態情報の詳細については後述する。
【００３２】
使用する光ディスク装置３０が選択されると、チェンジャー機構１２を動作させてラック１３から所定の光ディスク４０を取り出し、選択された光ディスク装置３０まで搬送して挿入する（Ｓ１２０）。そして、ホストコンピュータ２０から発行された記録（又は再生）のコマンドを実行する（Ｓ１３０）。
【００３３】
光ディスク装置３０がＳ１３０でデータの記録を実行した場合、コントローラ４８９は任意の記録単位（例えば、ホログラム記録におけるブック単位）が完了する毎に、光ディスク装置３０の自己監視情報を生成し、自己監視情報記録部４９１を介してドライブメモリ４９２に記録する（Ｓ１４０）。本実施例における記録のコマンドでは、データ記録の後にベリファイ処理を伴っているので、データを記録したときの自己監視情報には再生エラーレートと交替記録回数が含めることができる。ドライブメモリ４９２には、記録の開始から終了までのすべての自己監視情報が蓄積される。
【００３４】
ライブラリ装置１０はデータの記録（又は再生）処理を実行した後、使用した光ディスク装置３０からその自己監視情報を取得し、装置状態を評価して装置状態情報を更新する（Ｓ１５０）。すなわち光ディスク装置のドライブメモリ４９２に記録された自己監視情報は、光ディスク装置監視部１６に送られて装置状態が評価され、光ディスク装置監視データベース１８に装置状態情報として保存（更新）される。光ディスク装置の装置状態の評価処理（Ｓ１５０）の詳細については後述する。
【００３５】
記録（又は再生）処理を行った光ディスク４０は当該光ディスク装置３０から排出され、チェンジャー機構１２により搬送されてラック１３の所定のスロットに収納される（Ｓ１６０）。
【００３６】
図６は、図５における光ディスク装置の選択処理（Ｓ１１０）を示すフローチャートである。光ディスク装置選択部１７は、光ディスク装置監視部１６を介して光ディスク装置監視データベース１８にある各光ディスク装置３０の装置状態情報を取得する（Ｓ１１１）。装置状態情報とは、当該光ディスク装置が記録再生可能な状態（Ｄ１）であるか、再生のみ可能（再生専用）な状態（Ｄ２）であるか、あるいは記録も再生も不可能な状態（Ｄ３）であるか、を示す情報である。
【００３７】
図５のＳ１００で発行されたコマンドが記録の場合には（Ｓ１１２）、記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１を選択する（Ｓ１１３）。Ｓ１００で発行されたコマンドが再生の場合には（Ｓ１１２）、再生専用の光ディスク装置Ｄ２が存在するか否かを判定する（Ｓ１１４）。再生専用装置が存在する場合は再生専用の光ディスク装置Ｄ２を選択し（Ｓ１１５）、再生専用装置が存在しない場合（すでに使用されている場合を含む）は記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１を選択する（Ｓ１１３）。これで光ディスク装置の選択処理を終了し、図５のＳ１２０へ進む。
【００３８】
図７は、図５における光ディスク装置の装置状態評価処理（Ｓ１５０）を示すフローチャートである。
【００３９】
図５のＳ１４０で光ディスク装置３０におけるデータ記録後の自己監視情報が生成されると、ライブラリ制御部１１はドライブインターフェース１５を介して自己監視情報を取得し（Ｓ１５１）、光ディスク装置監視部１６により光ディスク装置３０の装置状態を評価する（Ｓ１５２以降）。ここでは、自己監視情報として再生エラーレートを使用して光ディスク装置３０の装置状態を評価する場合について説明する。ライブラリ装置１０では記録データの信頼性を確保するため、ベリファイ処理で記録したデータの再生エラーレートが許容値（閾値）以下となることが必要である。
【００４０】
図８は、再生エラーレートの値と装置状態評価の関係を示す図である。ライブラリ装置１０は複数の光ディスク装置３０を使用し情報の記録を行うため、ベリファイ処理の再生エラーレートの閾値Ｔｈ１は装置毎の個体差を考慮して設定する。具体的には、すべての光ディスク装置３０でデータの再生が可能となるように、ベリファイ処理用の再生エラーレート閾値Ｔｈ１を定める。これとは別に、データを再生できる限界である再生エラーレート閾値Ｔｈ２（誤り訂正処理を施して訂正可能なエラー状態）を定める。閾値Ｔｈ２は閾値Ｔｈ１よりも高い値となる。
【００４１】
装置状態の評価では、当該装置の再生エラーレートＥを２つの閾値Ｔｈ１，Ｔｈ２と比較する。まず、エラーレートＥをベリファイ処理用閾値Ｔｈ１と比較し（Ｓ１５２）、Ｔｈ１よりも小さい場合は、記録用と再生用の条件を満足する記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１であると判定する（Ｓ１５３）。
【００４２】
エラーレートＥがベリファイ処理用閾値Ｔｈ１よりも大きい場合は、データ再生限界の閾値Ｔｈ２と比較する（Ｓ１５４）。Ｔｈ２よりも小さい場合は、記録用の条件は満足しないが再生用の条件を満足する再生専用装置Ｄ２であると判定する（Ｓ１５５）。Ｔｈ２よりも大きい場合は、記録再生不可能な装置Ｄ３と判定する（Ｓ１５６）。
【００４３】
そして光ディスク装置監視部１６は、判定した装置状態評価結果を光ディスク装置監視データベース１８に格納し、装置状態情報を更新する（Ｓ１５７）。なお、評価に用いた再生エラーレートの値を光ディスク装置監視データベース１８に格納してもよい。次回の光ディスク装置選択時には、更新された装置状態情報を使用できる。
【００４４】
ここでは自己監視情報として再生エラーレートを使用したが、光ディスク装置３０の記録転送レートを考慮し、交替記録回数を評価条件に含めてもよい。交替記録回数を条件に加える場合には、所定のデータ量を記録する際に実行した交替記録回数を取り上げる。この評価によれば、交替記録回数が少なく安定した記録転送速度を確保可能な光ディスク装置３０を選択することができる。
【００４５】
以上述べたように実施例１によれば、自己監視情報に基づいて装置状態を評価し、光ディスクライブラリ装置に搭載されている各光ディスク装置を記録用と再生用に効率的に選択し、ライブラリ装置の処理機能を最大化させることが可能となる。
【実施例２】
【００４６】
実施例１では、データ記録時の自己監視情報に基づいて光ディスク装置の装置状態を評価した。その結果、記録用の条件、あるいは再生用の条件を満足していないと判定した光ディスク装置であっても、使用した光ディスクに不良があった場合には、記録性能を正しく評価したとは言えない。あるいは、データが正しく記録されなかった光ディスクを再生する場合も、再生性能の正しい評価とは言えない。そこで実施例２では、記録用テストディスクあるいは再生用テストディスクを用いて、光ディスクの性能不良の影響を受けずに、光ディスク装置の記録性能と再生性能を独立して再評価する方法を述べる。
【００４７】
光ディスクライブラリ装置１０と光ディスク装置３０の構成は、実施例１と同様であり、説明は省略する。また、光ディスクライブラリ装置の基本処理動作と光ディスク装置の選択処理は実施例１（図５、図６）と同様であり、説明を省略する。
【００４８】
図９は、記録性能を独立して再評価する工程を追加したフローチャートである。すなわち、記録用テストディスクを用いて記録性能を独立に評価する。記録用テストディスク４０ｒは、記録条件を満足する光ディスク装置でテストデータの記録を行った際、所定の記録品質（再生エラーレート）が得られることが保証されている光ディスクである。記録用テストディスク４０ｒはラック１３に収納されている。
【００４９】
工程Ｓ１５１〜Ｓ１５３、Ｓ１５５〜Ｓ１５７は図７と同様で、これに記録性能を独立して評価する工程Ｓ１７０〜Ｓ１７３を追加している。Ｓ１５１〜Ｓ１５３では、ライブラリ制御部１１は光ディスク装置３０から自己監視情報を取得し、エラーレートＥをベリファイ処理用閾値Ｔｈ１と比較する。Ｔｈ１よりも小さい場合は、記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１であると判定する。
【００５０】
Ｓ１５２の判定でエラーレートＥがベリファイ処理用閾値Ｔｈ１よりも大きい場合は、当該光ディスク装置に記録用テストディスク４０ｒを装着する（Ｓ１７０）。チェンジャー機構１２はラック１３から記録用テストディスク４０ｒを取り出し、当該光ディスク装置に挿入する。
【００５１】
当該光ディスク装置にて記録用テストディスク４０ｒにテストデータを記録し、記録したデータをベリファイ処理したときの再生エラーレートＥｒ（自己監視情報）を取得する（Ｓ１７１）。得られたエラーレートＥｒをベリファイ処理用閾値Ｔｈ１と比較する（Ｓ１７２）。この閾値Ｔｈ１は、図７、図８における閾値Ｔｈ１と同じである。エラーレートＥ１がＴｈ１よりも小さい場合は、記録用と再生用の条件を満足する記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１であると判定する（Ｓ１５３）。
【００５２】
エラーレートＥ１がＴｈ１よりも大きい場合は、エラーレートＥｒをデータ再生限界の閾値Ｔｈ２と比較する（Ｓ１７３）。この閾値Ｔｈ２は、図７、図８における閾値Ｔｈ２と同じである。エラーレートＥｒがＴｈ２よりも小さい場合は、記録用の条件は満足しないが再生用の条件を満足する再生専用装置Ｄ２であると判定する（Ｓ１５５）。またＴｈ２よりも大きい場合は、記録再生不可能な装置Ｄ３であると判定する（Ｓ１５６）。
【００５３】
そして光ディスク装置監視部１６は、判定した装置状態評価結果を光ディスク装置監視データベース１８に格納し、装置状態情報を更新する（Ｓ１５７）。
【００５４】
このように、記録用テストディスク４０ｒを用いる場合の再生エラーレートＥｒは、光ディスクの性能不良の影響を受けないので、光ディスク装置の記録性能をより正しく評価したものとなる。すなわち、得られるエラーレートＥｒは実施例１（図７）のエラーレートＥより低い値になることが期待される。その結果、実施例１（図７）の判定で再生専用装置Ｄ２（Ｓ１５５）とされた装置でも、記録再生可能な装置Ｄ１（Ｓ１５３）として救済し、あるいは記録再生不可能Ｄ３（Ｓ１５６）とされた装置でも、再生専用装置Ｄ２（Ｓ１５５）として救済することができる。
【００５５】
図１０は、再生性能を独立して再評価する工程を追加したフローチャートである。すなわち、再生用テストディスクを用いて再生性能を独立に評価する。再生用テストディスク４０ｐは、所定の領域に再生評価用テストデータが書き込まれ、所定の再生品質が保証されている光ディスクである。再生用テストディスク４０ｐもラック１３に収納されている。
【００５６】
工程Ｓ１５１〜Ｓ１５３、Ｓ１５５〜Ｓ１５７は図７と同様で、これに再生性能を独立して評価する工程Ｓ１８０〜Ｓ１８２を追加している。Ｓ１５１〜Ｓ１５３では、ライブラリ制御部１１は光ディスク装置３０から自己監視情報を取得し、エラーレートＥをベリファイ処理用閾値Ｔｈ１と比較する。Ｔｈ１よりも小さい場合は、記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１であると判定する。
【００５７】
Ｓ１５２の判定でエラーレートＥがベリファイ処理用閾値Ｔｈ１よりも大きい場合は、当該光ディスク装置に再生用テストディスク４０ｐを装着する（Ｓ１８０）。チェンジャー機構１２はラック１３から再生用テストディスク４０ｐを取り出し、当該光ディスク装置に挿入する。
【００５８】
当該光ディスク装置にて再生用テストディスク４０ｐからテストデータを再生し、そのときの再生エラーレートＥｐ（自己監視情報）を取得する（Ｓ１８１）。得られたエラーレートＥｐをデータ再生限界の閾値Ｔｈ２と比較する（Ｓ１８２）。この閾値Ｔｈ２は、図７、図８における閾値Ｔｈ２と同じである。エラーレートＥｐがＴｈ２よりも小さい場合は、記録用の条件は満足しないが再生用の条件を満足する再生専用装置Ｄ２であると判定する（Ｓ１５５）。またＴｈ２よりも大きい場合は、記録再生不可能な装置Ｄ３と判定する（Ｓ１５６）。
【００５９】
そして光ディスク装置監視部１６は、判定した装置状態評価結果を光ディスク装置監視データベース１８に格納し、装置状態情報を更新する（Ｓ１５７）。
【００６０】
このように、再生用テストディスク４０ｐを用いたことによりエラーレートＥｐは光ディスク装置の再生性能をより正しく評価したものとなる。すなわち、光ディスク装置の記録性能の劣化の影響を受けないので、得られるエラーレートＥｐは実施例１（図７）の場合より低い値になることが期待される。その結果、実施例１（図７）の判定で記録再生不可能（Ｓ１５６）と判定された装置でも、再生専用で使用可能（Ｓ１５５）として救済することができる。
【００６１】
さらに、図９の記録性能の再評価法と図１０の再生性能の再評価法を組み合わせて評価する方法も可能である。
【００６２】
図１１は、記録性能と再生性能を独立に評価する方法を組み合わせ、自動切り替えするフローチャートである。光ディスクライブラリ装置１０には複数台の光ディスク装置３０を搭載しているが、目標とする記録又は再生パフォーマンスを維持するため、記録又は再生が可能な光ディスク装置の有効台数に閾値を設定してこれを確保する必要がある。そこで、記録又は再生が可能な装置の現在の有効台数を閾値と比較して、評価法を切り替えるようにした。
【００６３】
Ｓ１５２で当該光ディスク装置が記録用の条件を満足していないと判定すると、現在の記録又は再生が有効な装置の台数を確認する（Ｓ１９０）。有効装置の台数が閾値（例えば、１０台中７台を有効装置の閾値とする）よりも大きい場合には、現状でパフォーマンスを維持できると判断し、再評価は行わずに装置状態情報の更新を行う（Ｓ１５７）。
【００６４】
一方、有効装置の台数が閾値よりも小さい場合には、ライブラリ装置１０のパフォーマンスが低下していると判断し、有効装置ではないと判断した光ディスク装置の性能を再評価する。まず、記録用テストディスク４０ｒを装着してテストデータを記録し、再生エラーレートＥｒ（自己監視情報）を取得する（Ｓ１７０，Ｓ１７１）。エラーレートＥｒをベリファイ処理用閾値Ｔｈ１と比較し（Ｓ１７２）、Ｔｈ１よりも小さい場合は、記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１であると判定する（Ｓ１５３）。
【００６５】
エラーレートＥ１がＴｈ１よりも大きい場合は、再生用テストディスク４０ｐを装着してテストデータを再生し、再生エラーレートＥｐ（自己監視情報）を取得する（Ｓ１８０，Ｓ１８１）。エラーレートＥｐをデータ再生限界の閾値Ｔｈ２と比較し（Ｓ１８２）、Ｔｈ２よりも小さい場合は、再生専用装置Ｄ２であると判定する（Ｓ１５５）。Ｔｈ２よりも大きい場合は、記録再生不可能な装置Ｄ３と判定する（Ｓ１５６）。
【００６６】
光ディスク装置監視部１６は、判定した装置状態評価結果を光ディスク装置監視データベース１８に格納し、装置状態情報を更新する（Ｓ１５７）。
【００６７】
この方法によれば、ライブラリ装置１０の目標のパフォーマンスを維持し、パフォーマンスが低下することが予想される場合に効率的に光ディスク装置の性能の再評価を行うことが可能となる。なお、Ｓ１９０における有効装置の台数の確認では有効台数の閾値を記録用と再生用に分けて、その比較結果に応じて記録用の再評価あるいは再生用の再評価のいずれかを実施するようにしてもよい。
【００６８】
さらに、再生専用装置の判定（Ｓ１５５）と記録再生不可能な装置の判定（Ｓ１５６）を行った際、ライブラリ制御部１１はホストインターフェース１４を介してホストコンピュータ２０に再生専用装置Ｄ２又は記録再生不可能装置Ｄ３の存在を通知することで、ライブラリ装置１０のメンテナンス実施の要否を的確に判断することができる。
【００６９】
以上に述べたように実施例２によれば、光ディスクに不良があった場合においても自己監視情報に基づいて装置状態をより正確に評価し、使用する光ディスク装置を効率的に選択することができる。その結果、光ディスクライブラリ装置１０の処理機能をさらに向上させることが可能となる。
【実施例３】
【００７０】
実施例１，２では、光ディスクライブラリ装置１０の光ディスク装置監視部１６が各光ディスク装置３０の自己監視情報を取得して装置状態を評価した。これに代わり実施例３では、各光ディスク装置３０自身が自己監視情報に基づいて自装置の状態を評価し、評価結果（装置状態情報）をライブラリ制御部１１に送信するようにした。その結果、光ディスクライブラリ装置１０では装置状態を評価する光ディスク装置監視部１６が不要になり、各光ディスク装置３０から受信した装置状態情報を直接光ディスク装置監視データベース１８に保存する構成とする。
【００７１】
図１２は、実施例３における光ディスク装置３０の内部構成を示すブロック図である。実施例１の光ディスク装置３０の構成（図２）に対し、光ディスク装置状態評価部４９３を追加した構成として、当該光ディスク装置３０の装置状態を光ディスク装置状態評価部４９３で評価する。光ディスクライブラリ装置１０の基本処理動作と光ディスク装置３０の選択処理は実施例１（図５、図６）と同様であり、説明を省略する。
【００７２】
実施例３における光ディスク装置の装置状態評価方法は、実施例１（図７）のフローチャートと基本的に同じであり、変更する工程について説明する。
【００７３】
光ディスク装置３０においてデータ記録後の自己監視情報（再生エラーレート）が生成されると、光ディスク装置状態評価部４９３は、ドライブメモリ４９２に記録された自己監視情報を読出し（Ｓ１５１）、当該光ディスク装置３０の装置状態を評価する（Ｓ１５２，Ｓ１５４）。すなわち、再生エラーレートＥをベリファイ処理用閾値Ｔｈ１とデータ再生限界閾値Ｔｈ２と比較し、記録再生可能な光ディスク装置Ｄ１（Ｓ１５３）、再生専用装置Ｄ２（Ｓ１５５）、記録再生不可能な装置Ｄ３（Ｓ１５６）のいずれかに判定する。そしてこれらの評価結果は、ドライブインターフェース１５を介してライブラリ制御部１１へ送られ、光ディスク装置監視データベース１８に保存されている装置状態情報の更新を行う（Ｓ１５７）。
【００７４】
これによれば、光ディスク装置選択部１７が次回の光ディスク装置を選択するとき（Ｓ１１０）、光ディスク装置監視データベース１８に保存されている更新された装置状態情報を同様に使用できる。ここでは自己監視情報として再生エラーレートを使用したが、交替記録回数を条件に含めてもよい。
【００７５】
実施例３によっても、光ディスクライブラリ装置に搭載されている各光ディスク装置を記録用と再生用に効率的に選択し、ライブラリ装置の処理機能を最大化させることが可能となる。なお、実施例３においては、必要に応じて装置状態の評価条件（閾値）を光ディスク装置毎に独自に設定することで、きめ細かな評価が可能になる。
【００７６】
本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであって、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【００７７】
また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてよい。
【符号の説明】
【００７８】
１０：光ディスクライブラリ装置、１１：ライブラリ制御部、１２：チェンジャー機構、１６：光ディスク装置監視部、１７：光ディスク装置選択部、１８：光ディスク装置監視データベース、３０：光ディスク装置、４０：光ディスク、４８９：コントローラ、４９１：自己監視情報記録部、４９２：ドライブメモリ、４９３：光ディスク装置状態評価部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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