【事件の表示】
　特願２００２−５８６３３５「光記録担体の情報層にマークを記録する方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１４年１１月　７日国際公開、ＷＯ０２／８９１２１、平成１６年　７月　８日国内公表、特表２００４−５２０６７５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成１４年４月２２日（パリ条約に基づく優先権主張外国受理　平成１３年４月２６日　欧州特許庁（ＥＰ））を国際出願日とする出願であって、平成１９年１月２２日付け拒絶理由通知に対する応答時、平成１９年７月２４日付けで手続補正がなされ、平成２０年３月１７日付けで拒絶査定がなされ、これに対して、同年６月２３日付けで拒絶査定不服審判請求がなされた後、同年７月２３日付けで手続補正がなされた。
　その後、平成２２年８月２５日付けで審尋がなされ、平成２３年２月２４日付けで回答書が提出され、当審がした平成２３年３月１５日付け拒絶理由通知に対する応答時、同年９月２２日付けで意見書が提出されたものである。
　
２．本願発明
　本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成２０年７月２３日付け手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された、次のとおりのものである。
「【請求項１】
　時間長ｎＴを持つマークを記録する方法であって、ここでｎは１より大きい整数を表し、Ｔは基準クロックの１周期の長さを表し、記録担体において、前記記録担体は結晶質相と非晶質相との間で可逆的に変化可能な相を持つ情報層を有し、パルス放射ビームにより前記情報層を照射することによって、それぞれのマークがｍ個のパルスのシーケンスによって書き込まれ、ここでｍは１以上かつｎ以下の整数を表す方法であって、任意のｎについてｍがｎ／αに依存するように設定され、ここでαは１より大きい整数であることを特徴とする方法。」
　
３．引用列
　これに対して、当審が通知した拒絶の理由に引用された国際公開第００／７２３１６号（以下、「引用例」という。）には、図面とともに以下の各記載がある（なお、下線は当審で付与した）。
（１）「つまり、
従来技術においては、ｎＴマーク形成時に照射する記録光をパルス分割するにあたり、ｎから一律にｋを差し引いたｍ個（ｍ＝ｎ−ｋ、ただしｋは１または２）に分割（特開平９−２８２６６１号公報に記載あり）し、記録パルスの分割数ｍを一定数減ずることでマーク時間長を正確に制御していた（以下ではこのようなパルス分割方式を「ｎ−ｋ分割」方式と呼ぶこととする）
　
（２）「例えば、相変化型の書換え型コンパクトディスクであるＣＤ−ＲＷで時間的長さ４Ｔのマークを従来のｎ−ｋ分割方式（ただし、ｋ＝１）で記録する場合、非晶質マークの形成時には以下のパルスが照射される。
　　　α１Ｔ、β１Ｔ、α２Ｔ、β２Ｔ、α３Ｔ、β３Ｔ
　このときマークの始端部は、記録パルスα１Ｔ照射により溶融後、後続の記録パルスα２Ｔ、α３Ｔ照射による熱がマーク後方から伝導する。図４はマーク始端部での温度履歴の模式図で、図４（ａ）は低線速の場合、図４（ｂ）は高線速の場合であるが、いずれもα１Ｔ、α２Ｔ、α３Ｔによる３度の昇温過程とβ１Ｔ、β２Ｔ、β３Ｔによる冷却過程が見られる。
　低線速の場合には図４（ａ）に示すようにβ１Ｔ、β２Ｔでの冷却時間が十分にあるため、その都度記録層の温度が結晶化温度以下にまで下がることができるが、高線速の場合には、基準クロック周期Ｔが線速に反比例して小さくなるため、図４（ｂ）のようにα１Ｔで溶融した記録層が結晶化温度領域よりも冷却されることがないまま、次のα２Ｔで昇温され、さらにα３Ｔで昇温される。結晶化温度領域に保たれる時間が、低線速のＴ１＋Ｔ２＋Ｔ３に比べて高線速のＴ４＋Ｔ５＋Ｔ６ではずっと長くなるため、再結晶化が起こりやすくなることが分かる。なお、相変化記録層として使用されるＳｂＴｅ共晶組成付近の合金は非晶質／結晶の境界から結晶成長が起こりやすいので、マークの外側部分で再結晶化しやすい。ここで、低倍速とは例えば１０倍速未満（Ｔ＝２３．１ナノ秒未満）、高倍速とは１０倍速以上程度を言う。
　上記のように、
相変化型媒体においては、高密度化や高速化のために基準クロック周期Ｔが短くなると、従来のパルス分割法では再結晶化が起こりやすく、長マークの中央部で変調度が出なくなるという深刻な問題が発生する
　　　　　　　　・・・・・（中　略）・・・・・
　
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、高密度記録や高速記録に適した短いクロック周期でのマーク長記録においても、良好な記録が行えるような光記録方法
発明の開示
　本発明者らは、
上記目的は、パルス分割方式における分割数ｍを従来よりも少なくすることによって達成される
  
（３）「しかし中でも、オーバーライト可能な相変化媒体は記録層の昇温と冷却速度という２つの温度パラメータを正確に制御することでマーク記録とマーク消去を同時に行うため、オフパルスによる記録層の冷却機能は他のライトワンス媒体や光磁気媒体よりもいっそう重要な意味を持つ。従って、
本発明は、相変化型の記録媒体に対して特に有効である
　
本発明のパルス分割による記録方法においては、パルス記録マークの時間的長さｎＴのｎの異なる少なくとも２つの記録マークについて、同一のパルス分割数ｍを用いてよい。通常は、３Ｔマークと４Ｔマークなど隣合う時間的長さをもつｎＴマークに対してｍを同一にする
　分割数ｍはｎの値の大小とは無関係に並んでいても良いが、好ましくは長いマークほど、つまりｎが大きいほどｍを単調に大きく（等しい場合も含む）する。」（１７頁３〜１６行）
　
（４）「（分割記録パルス発生方法２）
　
以下の方法は、基準クロック周期Ｔを分周して得られる、周期２Ｔのクロック信号をベースとする分割記録パルス発生方法であり
　
パルス発生方法２は、ｎＴマークのｎのとり得る値が奇数であるか偶数であるかにわけて考える点に特徴がある
　
即ち、ｎが偶数、つまりマーク長がｎＴ＝２ＬＴ（ただし、Ｌは２以上の整数）のマークの記録に際しては、分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し
α１＋β１＝２＋δ１αｉ＋βｉ＝２　（２≦ｉ≦ｍ−１）
αｍ＋βｍ＝２＋δ２（ただし、δ１及びδ２は、それぞれ順に、−０．５≦δ１≦０．５、及び−１≦δ２≦１を満足する実数である。また、Ｌ＝２の場合には、α１、β１、αｍ及びβｍのみが存在するものとする。）
　
一方、ｎが奇数、つまりマーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔのマークの記録に際しては、分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し
α１’＋β１’＝２．５＋δ１’
αｉ’＋βｉ’＝２　（２≦ｉ≦ｍ−１）
αｍ’＋βｍ’＝２．５＋δ２’
（ただし、δ１’及びδ２’は、それぞれ順に、−０．５≦δ１’≦０．５、及び−１≦δ２’≦１を満足する実数である。また、Ｌ＝２の場合には、α１’、β１’、αｍ’及びβｍ’のみが存在するものとする。）
　そして、バルス発生方法２においては、さらに下記式を満足させる。
α１＋β１＋αｍ＋βｍ＋Δ＝α１’＋β１’＋αｍ’＋βｍ’
（ここで、Δ＝０．８〜１．２である）
　なお、上記パルス発生方法２では、α１，β１，α１’，β１，δ１，δ２，δ１’，δ２’は、いずれもＬの値に応じて変化していてもよい。
パルス発生方法２においては、ｎ＝２Ｌ及びｎ＝（２Ｌ＋１）の記録マークの形成に際しては、同じ分割数Ｌ個の記録パルスに分割して記録を行う。つまり、ｎが順に２，３，４，５，６，７，８，９、・・・・の場合、それぞれ、分割数ｍを順に１，１，２，２、３，３，４，４，・・・とする。具体的には、ＥＦＭ変調信号では、ｎ＝３、４，５，６，７，８，９，１０，１１に対して、分割数ｍを順にｍ＝１，２，２，３，３，４，４，５，５とする。また、ＥＦＭ＋信号では、ｎ＝１４が加わるが、その場合には分割数ｍは７とする。（１，７）ＲＬＬ−ＮＲＺＩ変調では、ｎ＝２の場合があるが、この場合分割数ｍは１とする
　
（５）「１．　
記録媒体に光を照射することによってマーク長変調された情報を複数の記録マーク長により記録するにあたり、一つの記録マークの時間的な長さをｎＴとしたとき（Ｔは基準クロック周期であって２５ｎｓ以下である。ｎは２以上の自然数である。）
　
記録マークの時間的長さｎＴを
　　　
η
１
Ｔ、α
１
Ｔ、β
１
Ｔ、α
２
Ｔ、β
２
Ｔ、・・・
　　　　　　　
α
ｉ
Ｔ、β
ｉ
Ｔ、・・・、α
ｍ
Ｔ、β
ｍ
Ｔ、η
２
Ｔ
ｍはパルス分割数である。Σ
ｉ
（α
ｉ
＋β
ｉ
）＋η
１
＋η
２
＝ｎである
α
ｉ
（１≦ｉ≦ｍ）は０より大きい実数であり、β
ｉ
（１≦ｉ≦ｍ−１）は０より大きい実数であり、β
ｍ
は０以上の実数である。η
１
及びη
２
はそれぞれ−２以上２以下の実数である。）の順に分割し
　αｉＴ（１≦ｉ≦ｍ）の時間内においては記録パワーＰｗｉの記録光を照射し、
　βｉＴ（１≦ｉ≦ｍ−１）の時間内においては、Ｐｂｉ＜ＰｗｉかつＰｂｉ＜Ｐｗｉ＋１なるバイアスパワーＰｂｉの記録光を照射し、
　少なくとも一つの記録マークの時間的長さについては上記パルス分割数ｍを２以上とし、かつ、全ての記録マークの時間的長さについてｎ／ｍ≧１．２５を満たすことを特徴とする光記録方法。」（６４頁３〜２０行）
　
（６）「７．　
ｎの異なる少なくとも２つの記録マークについて、同一のパルス分割数ｍを用い
８．　
マーク長がｎＴ＝２ＬＴ（ただし、Ｌは２以上の整数）で表される場合、マークを分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し
α１＋β１＝２＋δ１αｉ＋βｉ＝２　（２≦ｉ≦ｍ−１）
αｍ＋βｍ＝２＋δ２（ただし、δ１及びδ２は、それぞれ順に、−０．５≦δ１≦０．５、及び−１≦δ２≦１を満足する実数である。また、Ｌ＝２の場合には、α１、β１、αｍ及びβｍのみが存在するものとする。）
　
マーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔで表される場合、マークを分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し
α１’＋β１’＝２．５＋δ１’
αｉ’＋βｉ’＝２　（２≦ｉ≦ｍ−１）
αｍ’＋βｍ’＝２．５＋δ２’
（ただし、δ１’及びδ２’は、それぞれ順に、−０．５≦δ１’≦０．５、及び−１≦δ２’≦１を満足する実数である。また、Ｌ＝２の場合には、α１’、β１’、αｍ’及びβｍ’のみが存在するものとする。）
　且つ、α１、β１、αｍ、βｍ、α１’、β１’、αｍ’、及びβｍ’が下記式を満足することを特徴とする請求の範囲７に記載の光記録方法。
α１＋β１＋αｍ＋βｍ＋Δ＝α１’＋β１’＋αｍ’＋βｍ’
（ここで、Δ＝０．８〜１．２である）」（６５頁５行〜６６頁３行）
　
（７）「１２．　
マーク長ｎＴ＝２Ｔ又は３Ｔのマークの記録に際して、ｍ＝１個の区間に分割する
　
（８）「２５．　
記録媒体が、結晶状態を未記録・消去状態とし、非晶質状態を記録マークとする相変化型の光記録媒体である
　
（９）「２９．　
マーク長変調方式が、８−１６変調方式もしくは（１，７）−ＲＬＬ−ＮＲＺＩ変調方式である
３０．　
マーク長変調方式がＥＦＭ変調方式であり
３１．　
マーク長変調方式がＥＦＭ変調方式であり
　
　上記記載事項及び図面を総合勘案すると、引用例には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。 
「結晶状態を未記録・消去状態とし、非晶質状態を記録マークとする相変化型の光記録媒体に光を照射することによってマーク長変調された情報を複数の記録マーク長（一つの記録マークの時間的な長さをｎＴとしたとき、Ｔは基準クロック周期であって２５ｎｓ以下である。ｎは２以上の自然数である。）により記録する光記録方法において、
　従来の「ｎ−ｋ分割」方式（ただしｋは１または２）では高密度化や高速化のために基準クロック周期Ｔが短くなると、再結晶化が起こりやすく、長マークの中央部で変調度が出なくなるという問題を解決するために、パルス分割方式におけるパルス分割数ｍを従来よりも少なくするものであって、
　ｎが偶数、つまりマーク長がｎＴ＝２ＬＴ（ただし、Ｌは２以上の整数）のマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し、一方、ｎが奇数、つまりマーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔのマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割する、
　すなわち、ｎが順に２，３，４，５，６，７，８，９，・・・・の場合、それぞれ、パルス分割数ｍを順に１，１，２，２，３，３，４，４，・・・とするものであり、具体的には、マーク長変調方式がＥＦＭ変調方式では、ｎ＝３，４，５，６，７，８，９，１０，１１に対して、パルス分割数ｍを順にｍ＝１，２，２，３，３，４，４，５，５とし、また、マーク長変調方式がＥＦＭ＋変調方式（８−１６変調方式）では、ｎ＝１４が加わるが、その場合にはパルス分割数ｍは７とし、マーク長変調方式が（１，７）ＲＬＬ−ＮＲＺＩ変調方式では、ｎ＝２の場合があるが、この場合パルス分割数ｍは１とするようにした光記録方法。」 
　
４．対比・判断
　そこで、本願発明と引用発明とを対比すると、
（１）引用発明における「結晶状態を未記録・消去状態とし、非晶質状態を記録マークとする相変化型の光記録媒体に光を照射することによってマーク長変調された情報を複数の記録マーク長（一つの記録マークの時間的な長さをｎＴとしたとき、Ｔは基準クロック周期であって２５ｎｓ以下である。ｎは２以上の自然数である。）により記録する光記録方法において」は、本願発明における「時間長ｎＴを持つマークを記録する方法であって、ここでｎは１より大きい整数を表し、Ｔは基準クロックの１周期の長さを表し、記録担体において、前記記録担体は結晶質相と非晶質相との間で可逆的に変化可能な相を持つ情報層を有し」に相当することは明らかである。
　
（２）引用発明における『従来の「ｎ−ｋ分割」方式（ただしｋは１または２）では高密度化や高速化のために基準クロック周期Ｔが短くなると、再結晶化が起こりやすく、長マークの中央部で変調度が出なくなるという問題を解決するために、パルス分割方式におけるパルス分割数ｍを従来よりも少なくするものであって、ｎが偶数、つまりマーク長がｎＴ＝２ＬＴ（ただし、Ｌは２以上の整数）のマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し、一方、ｎが奇数、つまりマーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔのマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割する、すなわち、ｎが順に２，３，４，５，６，７，８，９，・・・・の場合、それぞれ、パルス分割数ｍを順に１，１，２，２，３，３，４，４，・・・とするものであり』によれば、記録マークをパルス分割数ｍのパルス分割方式で記録するものであり、当該パルス分割数ｍは、ｎが偶数つまりマーク長がｎＴ＝２ＬＴのマークの記録に際してはｍ＝Ｌ＝ｎ／２個、ｎが奇数つまりマーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔのマークの記録に際してはｍ＝Ｌ＝（ｎ／２−１／２）個であることから、本願発明と引用発明とは「パルス放射ビームにより前記情報層を照射することによって、それぞれのマークがｍ個のパルスのシーケンスによって書き込まれ、ここでｍは１以上かつｎ以下の整数を表す」点で一致する。
　
（３）引用発明における「ｎが偶数、つまりマーク長がｎＴ＝２ＬＴ（ただし、Ｌは２以上の整数）のマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し、一方、ｎが奇数、つまりマーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔのマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割する、すなわち、ｎが順に２，３，４，５，６，７，８，９，・・・・の場合、それぞれ、パルス分割数ｍを順に１，１，２，２、３，３，４，４，・・・とするものであり、具体的には、マーク長変調方式がＥＦＭ変調方式では、ｎ＝３，４，５，６，７，８，９，１０，１１に対して、パルス分割数ｍを順にｍ＝１，２，２，３，３，４，４，５，５とし、また、マーク長変調方式がＥＦＭ＋変調方式（８−１６変調方式）では、ｎ＝１４が加わるが、その場合にはパルス分割数ｍは７とし、マーク長変調方式が（１，７）ＲＬＬ−ＮＲＺＩ変調方式では、ｎ＝２の場合があるが、この場合パルス分割数ｍは１とするようにした」によれば、まず、「ｎが偶数、つまりマーク長がｎＴ＝２ＬＴ（ただし、Ｌは２以上の整数）のマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割し、一方、ｎが奇数、つまりマーク長がｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔのマークの記録に際しては、パルス分割数ｍ＝Ｌ個の区間に分割する、すなわち、ｎが順に２，３，４，５，６，７，８，９，・・・・の場合、それぞれ、パルス分割数ｍを順に１，１，２，２，３，３，４，４，・・・とする」のであるから、パルス分割数ｍはｎ／２の整数部に設定される、あるいはｎ／２以下の最も近い整数に設定されるとみることができ、いずれにせよ、パルス分割数ｍはｎ／２に依存するといえる。また、「ｎが順に２，３，４，５，６，７，８，９，・・・・の場合、それぞれ、パルス分割数ｍを順に１，１，２，２，３，３，４，４，・・・とする」とあるように、ｎの値がとり得る範囲（特に上限値）は特定の範囲のみに限定されているわけではなく、「具体的には、マーク長変調方式がＥＦＭ変調方式では、ｎ＝３，４，５，６，７，８，９，１０，１１に対して、パルス分割数ｍを順にｍ＝１，２，２，３，３，４，４，５，５とし、また、マーク長変調方式がＥＦＭ＋変調方式（８−１６変調方式）では、ｎ＝１４が加わるが、その場合にはパルス分割数ｍは７とし、マーク長変調方式が（１，７）ＲＬＬ−ＮＲＺＩ変調方式では、ｎ＝２の場合があるが、この場合パルス分割数ｍは１とする」とあるように、採用するマーク長変調方式に応じて必然的にｎの値のとり得る範囲が定まるのであって、この採用するマーク長変調方式に応じた範囲の全てのｎについて、上記したようにパルス分割数ｍはｎ／２に依存するといえるのであるから、結局、本願発明と引用発明とは「任意のｎについて」「ｍがｎ／αに依存するように設定され、ここでαは２である」点で一致するということができる。
　
　よって、本願発明と引用発明とは、
「時間長ｎＴを持つマークを記録する方法であって、ここでｎは１より大きい整数を表し、Ｔは基準クロックの１周期の長さを表し、記録担体において、前記記録担体は結晶質相と非晶質相との間で可逆的に変化可能な相を持つ情報層を有し、パルス放射ビームにより前記情報層を照射することによって、それぞれのマークがｍ個のパルスのシーケンスによって書き込まれ、ここでｍは１以上かつｎ以下の整数を表す方法であって、任意のｎについてｍがｎ／αに依存するように設定され、ここでαは２である方法。」
である点で一致し、相違するところがない。
　
６．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、引用例に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の該当し、特許を受けることができない。
　したがって、本願は、その余の請求項について論及するまでもなく拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。