【手続補正書】
【提出日】平成18年8月31日(2006.8.31)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像センサを含む光学コード読取装置であって、
ターゲットに向けて照射信号を放出するための照射組立体と、
ターゲットから反射された放出照射信号を検出するための組立体と、
前記ターゲットまでの距離を測定するために、前記放出照射信号の反射によって生じたパターンに関連した特徴を分析するためのプロセッサと、
を備え、前記パターンが、コリメイトされたパターン及びスペックルパターンの１つから選択されることを特徴とする光学コード読取装置。
【請求項２】
前記測定された距離に応じて前記ターゲットの画像の焦点を合わせるための、前記プロセッサによって制御される自動焦点光学組立体を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の光学コード読取装置。
【請求項３】
前記プロセッサが、前記ターゲットから反射されたコリメイトされたパターンによって照射された、前記光学コード読取装置の前記画像センサ上の領域間の離隔距離を測定するための手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の光学コード読取装置。
【請求項４】
前記プロセッサが、前記測定された離隔距離を前記ターゲットまでの距離と相関させるための手段を備えることを特徴とする請求項３に記載の光学コード読取装置。
【請求項５】
前記相関させるための手段が、画像センサ上の領域とコリメイトされたパターンとの間の複数の離隔距離の各々を、ターゲットまでのそれぞれの距離と相関させるデータ構造を含むことを特徴とする請求項４に記載の光学コード読取装置。
【請求項６】
前記プロセッサが、ターゲットによる照射信号の反射によって生じたスペックルパターンを分析するための手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の光学コード読取装置。
【請求項７】
前記プロセッサが、
前記分析されたスペックルパターンからスペックル空間分布周波数を求めるための手段と、
前記求めたスペックル空間分布周波数を前記ターゲットまでの距離と相関させるための手段と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の光学コード読取装置。
【請求項８】
前記相関させるための手段が、複数のスペックル空間分布周波数の各々を、前記ターゲットまでのそれぞれの距離と相関させるデータ構造を含むことを特徴とする請求項７に記載の光学コード読取装置。
【請求項９】
前記スペックルパターンを検出するための、前記画像センサの前記画像化アレイの基準平面に実質的に沿って配置された少なくとも１つの光検出器を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の光学コード読取装置。
【請求項１０】
ターゲットまでの距離を測定するための、光学コード読取装置のための組立体であって、
ターゲットを照射するための、少なくとも１つのコリメイトされた光ビームを放出する照射組立体と、
前記ターゲットによる前記コリメイトされた光ビームの反射によって生じたコリメイトされたパターンを検出するための組立体と、
前記ターゲットまでの距離を測定するために、前記検出されたコリメイトされたパターンを分析するプロセッサと、
を備えることを特徴とする組立体。
【請求項１１】
前記測定された距離に応じて前記ターゲットの画像の焦点を合わせるための、前記プロセッサによって制御される自動焦点光学組立体を更に備えることを特徴とする請求項１０に記載の組立体。
【請求項１２】
前記プロセッサが、前記ターゲットから反射されたコリメイトされたパターンによって照射された、前記光学コード読取装置の前記画像センサ上の領域間の離隔距離を測定するための手段を備えることを特徴とする請求項１０に記載の組立体。
【請求項１３】
前記プロセッサが、前記測定された離隔距離を前記ターゲットまでの距離と相関させるための手段を備えることを特徴とする請求項１２に記載の組立体。
【請求項１４】
前記相関させるための手段が、画像センサ上の領域とコリメイトされたパターンの間の複数の離隔距離の各々を、ターゲットまでのそれぞれの距離と相関させるデータ構造を含むことを特徴とする請求項１２に記載の組立体。
【請求項１５】
ターゲットまでの距離を測定するための、光学コード読取装置のための組立体であって、
前記ターゲットを照射するための光を放出する照射組立体と、
前記ターゲットから反射された光によって生じたスペックルパターンを検出するための組立体と、
前記ターゲットまでの距離を測定するために、前記検出されたスペックルパターンを処理するためのプロセッサと、
を備えることを特徴とする組立体。
【請求項１６】
前記測定された距離に応じて前記ターゲットの画像の焦点を合わせるための、前記プロセッサによって制御される自動焦点光学組立体を更に備えることを特徴とする請求項１５記載の組立体。
【請求項１７】
前記プロセッサが、
前記スペックル空間分布周波数を求めるために、前記検出されたスペックルパターンを分析する手段と、
前記スペックル空間分布周波数を前記ターゲットまでの距離と相関させるための手段と、
を備え、前記相関させるための手段が、複数のスペックル空間分布周波数の各々をターゲットまでのそれぞれの距離と相関させるデータ構造を含むことを特徴とする請求項１５に記載の組立体。
【請求項１８】
指標の電気−光学的な画像化及び読み取りの間に距離を測定する方法であって、
コリメイトされた光ビームを放出して前記指標を照射する段階と、
前記指標による前記コリメイトされた光ビームの反射によって生じたコリメイトされたパターンを検出する段階と、
前記検出されたコリメイトされたパターンを分析して前記指標までの距離を測定する段階と、
を含むことを特徴とする距離測定方法。
【請求項１９】
前記距離を測定する段階が、前記光学コード読取装置の光軸と前記コリメイトされたパターンとの間に形成される角度を測定することを含むことを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記指標が、光学コード、英数文字、絵柄、及び手書き表記からなる群から選択されることを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２１】
指標の電気−光学的な画像化及び読み取りの間に距離を測定する方法であって、
入射光ビームによって前記指標を照射する段階と、
前記指標による前記入射光ビームの反射によって生じたスペックルパターンを検出する段階と、
前記指標までの距離を測定するために、前記検出されたスペックルパターンを分析する段階と、
を含むことを特徴とする距離測定方法。
【請求項２２】
前記分析する段階が、
前記検出されたスペックルパターンに基づいて、スペックル空間分布周波数を計算する段階と、
前記計算されたスペックル空間分布周波数を前記ターゲットまでの距離と相関させる段階と、
を含むことを特徴とする請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
画像センサを含む光学コード読取装置のための光学システムであって、
光学コードの画像を前記画像センサ上に自動的に焦点を合わせるための手段と、
前記光学コードによる照射信号の反射によって生じたパターンを分析することにより、前記光学コードまでの距離を測定するための手段と、
前記測定された距離に応じて焦点合わせ手段を制御するために、前記自動的に焦点を合わせるための手段に対して少なくとも１つの制御信号を供給するための手段と、
を含み、前記パターンが、コリメイトパターン及びスペックルパターンからなる群から選択されるパターンであることを特徴とする光学システム。