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　特願２００６−５１７１３４「エッジをベースにした識別機能を有する半導体ウエハ」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　１月　６日国際公開、ＷＯ２００５／００１９２４、平成１８年１２月　７日国内公表、特表２００６−５２７９２２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　本願は、平成１６年５月２１日（優先権主張、平成１５年６月１９日、アメリカ合衆国）を国際出願日とする出願であって、平成２２年２月２６日付けで拒絶の理由が通知され、同年９月２日に手続補正がなされ、平成２３年３月２日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年７月８日に拒絶査定に対する審判請求とともに手続補正（以下「本件補正」という。）がなされ、同年９月８日に審尋がなされ、平成２４年３月１３日に回答書が提出されたものである。
　
第２．本件補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　本件補正を却下する。
　
［理由］
１．補正の内容
　本件補正は、特許請求の範囲について補正をするものであって、特許請求の範囲の請求項６について、補正前後の記載は、以下のとおりである。
　
（１）補正前
「半導体材料からなるウエハを含み、前記ウエハは、周辺端部を有し、当該ウエハの周辺端部の全体に亘って繰り返しマークを有し、前記マークによって、前記ウエハが識別され、各マークは、１つのマークの長さより長くない前記周辺端部の一部分のスキャンにより、前記ウエハの識別が可能となるように構成されていることを特徴とする半導体ウエハ。」
　
（２）補正後
「半導体材料からな
りかつ
する半導体
であって
　前記
半導体
マークの複数からなる繰り返しパターン
すること
　前記
繰り返しパターン中の各マーク
半導体
する情報を具体化するものであること
　各マークは、
前記繰り返しパターンの１つ
いかなる
半導体
　
２．当初明細書等との関係について　　　
　本件補正の特許請求の範囲の補正後の請求項６についての補正は、実質的に「ウエハ」を「半導体ウエハ」とし、「繰り返しマーク」を「マークの複数からなる繰り返しパターン」とし、マークの機能について「ウエハが識別」を「ウエハを識別する情報を具体化する」とし、「１つのマーク」を「繰り返しパターンの１つ」とし、「一部分」を「いかなる部分」とするとともに、表現を整理するものである。
　
　補正後における「周辺端部のいかなる部分のスキャンによっても、前記半導体ウエハの識別が可能となる」点についてみると、願書に最初に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面（以下「当初明細書等」という。）には、以下の記載がある。
　
「図１は、半導体ウエハ１０の実施例を示しており、当該半導体ウエハは、ウエハのエッジ部１２の全体に亘って、バーコード形状の繰り返しマーク１１を有する半導体材料でできている。・・・。例えば図示されているようなバーコード形状の識別マーク１１は、レーザ光線照射で半導体ウエハ１０を彫り込むことによって形成させることができ、ウエハの周辺端部にわたった繰り返し識別マークの形式で彫り込みの外形を認識できるようになる。」（段落０００９）
「この実施例においては、識別マーク１１は、繰り返しマーク１１をもって半導体ウエハ１０の周辺端部１２上に形成される。・・・。この実施例において、識別マーク１１は、エッジ部１２（すなわちウエハ１０の周囲）にわたって繰り返しパターンで形成される。」（段落００１２）
「図７に概略的に示されているセンサ１０８はさらに、その領域をスキャンしてマーク１１のパターンを読み取ることによって、そこに具体化された識別情報を読み取ることができ得る。ウエハ１０の周辺領域にわたったマーク１１の繰り返しパターンは、マーク１１の少なくとも１つのパターン（または１つのパターンを形成するような部分）がセンサ１０８と面し、その結果センサによって読み取られ得ることを確実にする。繰り返しパターンに含まれるチェックサムまたは開始／終了のパターンは、センサが、センサ１０８の視野においてパターンのその部分を読み取ることによって完全な識別情報を得ることを可能にする、ということが知られており、そのような場合には、完全なパターンがセンサの視野内にあるようにウエハが配置されているという訳ではない。従って、ウエハ１０は、所望の方向でＦＯＵＰ中に配されて良く、それでもセンサ１０８が各ウエハ上の識別マーク１１を読み取ることを可能にする。」（段落００１８）
　
　また、図１には、ウエハ１０のエッジ部１２の全体に亘って、バーコード状のマーク１１とマークが形成されていない部分が交互にあることが看取できる。
　
　「周辺端部のいかなる部分」とは、「ウエハ１０のエッジ部１２の全体」の「いかなる部分」であるから、「マークが形成されていない部分」をも含むこととなる。
　しかし、当初明細書等には、マーク１１を読み取り半導体ウエハの識別を行うことは記載されているものの、「マークが形成されていない部分」を読み取り半導体ウエハの識別を行うことは記載されていない。
　しかも、「マークが形成されていない」以上、情報を読み取ることはできないから、この点が自明であるとも認められない。
　
　仮に周縁部のマークの付されている箇所において、との記載が欠落していると善解したとしても、上記記載は、「繰り返しパターンの１つの長さより長くない」「いかなる部分のスキャン」によっても「半導体ウエハの識別が可能」であることから、図１の実施例におけるバーコードのライン一本のみの、極めて短い領域のスキャンによっても、「半導体ウエハの識別が可能」なようにマークを構成することになる。
　しかしながら、段落００１８に記載されているようにチェックサムを有するバーコードでマークを構成したとしても、チェックサムによる情報復元能力の限界を超えるほどに短い長さでしかスキャンをしていないのであれば、バーコードに符号化された必要な情報を読み取ることは、技術的に不可能であって、このような点が当初明細書等に記載されていたとは認められない。
　
　したがって、本件補正は、当初明細書等に記載した事項の範囲内においてしたものでないから、平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法（以下「改正前特許法」という。）第１７条の２第３項の規定に違反する。
　
３．独立特許要件について
　仮に、補正発明を以下（１）のとおり善解し、本件補正が、改正前特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するとした場合、補正後の特許請求の範囲の請求項６に係る発明（以下「補正発明」という。）が、改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか否か（いわゆる独立特許要件）が問題となるので、一応検討する。
　
（１）補正発明
　補正発明は、本件補正により補正された明細書及び図面の記載からみて、上記１．（２）のとおりのものと認める。
　ここで、「いかなる部分のスキャン」とは、図１の実施例を参酌し、「任意の、繰り返しパターンの１つのうち識別データ取得可能な範囲のスキャン」と善解した。
　
（２）刊行物に記載された発明
　これに対し、原査定で引用された本件優先日前に日本国内において頒布された刊行物である特開平１０−５６０４４号公報（以下「刊行物１」という。）には、以下の事項が記載されている。
　
ア．段落０００１
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造技術に関し、特に、半導体ウェハの側面に形成されたウェハＩＤを検出するウェハＩＤ読み取り装置およびそれを用いる半導体集積回路装置の製造方法に関する。」
　
イ．段落００３９
「【００３９】なお、本実施の形態のウェハＩＤ読み取り装置（図１および図３参照）は、図２に示すような半導体ウェハ１の側面１ａに形成されたウェハＩＤをウェハカセット２（ウェハ支持部）に収容された状態のまま読み取るものである。」
　
ウ．段落００４４〜００５１
「【００４４】また、本実施の形態においては、図２（ｃ）に示すように、ウェハＩＤとして、半導体ウェハ１の番号を表すウェハ番号ＩＤ１０と、複数の前記ウェハＩＤからなる複数のウェハＩＤ群１２をそのウェハＩＤ群１２毎に区切る区画ＩＤ１１との２種類のウェハＩＤを設けた場合を説明する。
【００４５】ここで、ウェハ番号ＩＤ１０（ウェハＩＤ）は、半導体ウェハ１に付けられた「名前」のようなものであり、例えば、その製品やロット番号などを表すものである。
【００４６】・・・。
【００４７】・・・。
【００４８】すなわち、ウェハＩＤ群１２は、ウェハ番号ＩＤ１０と区画ＩＤ１１とから構成される。
【００４９】ここで、図２（ｃ）に示す半導体ウェハ１においては、１つのウェハＩＤ群１２が１つの区画ＩＤ１１と“１”を表す７つのウェハ番号ＩＤ１０および“０”を表す６つのウェハ番号ＩＤ１０ａとから構成されている。
【００５０】また、本実施の形態においては、複数のウェハＩＤ群１２を半導体ウェハ１の側面１ａに分散させて形成している。
【００５１】すなわち、本実施の形態においては、図２（ｂ）に示すように、１枚の半導体ウェハ１の側面１ａに対して１６個のウェハＩＤ群１２が分散されて形成されている。」
　
エ．段落０１５４
「【０１５４】（２）．複数のウェハＩＤ群を半導体ウェハの側面に分散させて形成することにより、ウェハＩＤを半導体ウェハの外周部のどの位置からでも読み取ることができる。したがって、ウェハ支持部から半導体ウェハを取り出さないだけでなく、ウェハ支持部を回転させる必要もないため、半導体ウェハのウェハＩＤの読み取り・認識を高速化することができる。」
　
オ．図２
　半導体ウエハの側面１ａの全周に、ウェハＩＤ群１２形成部分と、ウェハＩＤ群１２が形成されていない部分が、交互に存することが看取できる。
　
　これらを、図面、特に図２を参照しつつ、技術常識を考慮しながら補正発明に照らして整理すると、刊行物１には以下の発明（以下、「刊行物発明」という。）が記載されていると認める。
　
「半導体材料からなりかつ外周部である側面１ａを有する半導体ウエハ１であって、
　前記半導体ウエハの側面１ａの全周に渡ってウェハＩＤ群１２の複数を有し、ウェハＩＤ群１２形成部分とウェハＩＤ群１２が形成されていない部分が交互に存すること、
　前記複数の各ウェハＩＤ群１２が前記半導体ウエハの製品やロット番号などを表すものであること、
　各ウェハＩＤ群１２は、前記外周部のどの位置からでも読み取ることができ、前記半導体ウエハの識別が可能となるように構成されている半導体ウエハ。」
　
（３）対比
　補正発明と刊行物発明とを対比する。
　刊行物発明の「外周部である側面１ａ」は補正発明の「全周辺端部」に、「全周に渡って」は「全体に亘って」に、「ウェハＩＤ群１２」は「マーク」に、「製品やロット番号などを表すもの」は「識別する情報を具体化するもの」に、それぞれ相当する。
　刊行物発明の「各ウェハＩＤ群１２は、前記外周部のどの位置からでも読み取ることができ」と、補正発明の「繰り返しパターンの１つの長さより長くない前記周辺端部の任意の、繰り返しパターンの１つのうち識別データ取得可能な範囲のスキャンによっても」とは、「周辺端部の任意の、識別データ取得可能な範囲のスキャンによっても」である限りにおいて、一致する。
　
　したがって、補正発明と刊行物発明とは、次の点で一致している。
「半導体材料からなりかつ周辺端部を有する半導体ウエハであって、
前記半導体ウエハの周辺端部の全体に亘ってマークの複数を有すること、
　前記各マークが前記半導体ウエハを識別する情報を具体化するものであること、
　各マークは、前記周辺端部の任意の、識別データ取得可能な範囲のスキャンによっても、前記半導体ウエハの識別が可能となるように構成されている半導体ウエハ。」
　
　そして、補正発明と刊行物発明とは、次の点で相違している。
　相違点１：補正発明は、複数のマークが「繰り返しパターン」を形成するが、刊行物発明は「マーク（ウェハＩＤ群１２）形成部分とマークが形成されていない部分が交互に存する」ものである点。
　相違点２：スキャン対象範囲について、補正発明は「繰り返しパターンの１つの長さより長くない前記周辺端部の任意の、繰り返しパターンの１つうち識別データ取得可能な範囲」であるが、刊行物発明は明らかでない点。
　
（４）相違点の検討
　相違点１について検討する。
　補正発明の「繰り返しパターン」とは、図１の実施例を参照すると、マーク１１形成部分とマーク１１が形成されていない部分とが交互に存するものを含むから、刊行物発明の「マーク（ウェハＩＤ群１２）形成部分とマークが形成されていない部分が交互に存する」ものを含むことになる。
　してみると、この点は実質的相違点ではない。
　
　相違点２について検討する。
　補正発明の「繰り返しパターンの１つ」とは、本件補正により補正された特許請求の範囲の請求項２、３を参酌すると「バーコード」、「二次元バーコード」を含む。
　すなわち、相違点２に係る技術的事項は、スキャン対象範囲が、１つの識別マーク「全部」でなく「一部」であっても、スキャンにより識別可能となるということである。
　識別マークの一部のスキャンにより識別可能とする点は、誤り訂正可能な２次元ないし１次元のバーコードとして、周知である（例えば、拒絶査定において周知例として引用した特開２００３−１６２６１０号公報の段落００５３、同じく特開２００２−３２４２２２号公報の段落０００２、００５６、同じく特開２００１−３１５４４９号公報の段落００２７）。
　そして、これによりスキャンの利便性が向上することから、刊行物発明にかかる周知技術を適用することに、格別の困難性は認められない。
　
　請求人は、回答書において、補正案を示し、「一見して特許可能であることが明白」であれば、補正案を考慮して欲しい旨、主張する。
　しかし、補正案には法的根拠はない。
　一応、検討するに「繰り返しパターンの１つの繰り返しパターンは、前記繰り返しパターンの１つの繰り返しパターンの全体の１つ並びに第１及び第２の繰り返しパターンであり、前記第１及び第２の繰り返しパターンのパターンが前記繰り返しパターンの１つの繰り返しパターンを形成すること」は、当初明細書に明記されておらず、新規事項の疑義がある。仮に、新規事項でないとしても、これによる技術的意義が明らかでなく、設計的事項にすぎないと解される。
　よって、補正案が「一見して特許可能であることが明白」であるとは認められず、請求人の主張は採用できない。　
　
　以上のことから、補正発明は、刊行物発明、及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際、独立して特許を受けることができないものである。
　
４．むすび
　したがって、本件補正は、改正前特許法第１７条の２第３項の規定に違反し、かつ同法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定にも違反するから、同法第１５９条第１項の規定において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
第３．本願発明について
１．本願発明
　本件補正は、上記のとおり却下されたので、本件出願の請求項１ないし１６に係る発明は、平成２２年９月２日付けで補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし１６に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められるところ、請求項６に係る発明（以下「本願発明」という。）は、上記第２．１．（１）に示す請求項６に記載されたとおりである。
　
２．刊行物等
　これに対して、原査定の際にあげられた刊行物及びその記載内容は、上記第２．３．（２）に示したとおりである。
　
３．対比・検討
　本願発明は、補正発明において付加された事項を削除するものである。
　そうすると、本願発明も、上記第２．２．（４）と同様の理由により、刊行物発明、及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
４．むすび
　したがって、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないことから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。