(57)【要約】【課題】測定対象物の形状によらず高い精度での測定が可能な光学測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】光学測定装置１では、対象物設置部２１は、上面２１ａの高さ位置を変更可能な高さ調整部を有する。測定対象物Ｏの高さ位置と標準反射板２３の高さ位置とが同じとなるように対象物設置部２１の高さを変更した後に、測定対象物Ｏに係る測定を行うことができる。したがって、測定対象物Ｏの大きさや形状等に関係なく、標準反射板２３と測定対象物Ｏとの高さを同じとすることができる。これにより、撮像部４０によるフォーカス位置を適切な状態とした状態で測定することができるため、測定対象物の形状によらず高い精度での測定が可能となる。【選択図】図１
2017125735.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物が載置される対象物設置部と、標準反射板が載置される反射板設置部と、前記対象物設置部に載置された測定対象物の上面の高さ位置と前記反射板設置部に載置された標準反射板の上面と高さ位置とが等しくなるように前記対象物設置部の高さ位置を変更することができる高さ調整部とを備える測定台と、
前記測定対象物及び前記標準反射板に対して、測定光を照射する光源と、
前記測定対象物からの反射光を撮像すると共に、前記標準反射板からの反射光を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像することで取得された前記測定対象物からの反射光の情報を、前記撮像手段により撮像することで取得された前記標準反射板からの反射光の情報に基づいて補正する補正手段と、
を備える光学測定装置。
【請求項２】
前記対象物設置部上に載置された前記測定対象物の高さを検出する高さ検出手段をさらに備え、
前記対象物設置部は、前記高さ検出手段による検出結果に基づいて前記上面の高さ位置を変更する請求項１に記載の光学測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
搬送手段により搬送される測定対象物に対して測定光を照射することで、測定対象物へ照射されて生じた反射光を撮像手段により撮像することで、測定対象物に係る情報を取得する光学測定装置が種々検討されている（例えば、特許文献１）。また、上記のような光学測定装置に用いられる光源についても種々検討されている（例えば、特許文献２）。
【０００３】
従来の光学測定装置では、測定対象物からの反射光の強度が装置に起因して変動する場合があり、これにより測定対象物の画像の精度が低下する場合がある。したがって、基準となる反射板を撮像した情報を利用して、反射光の情報を補正することが一般的に行われている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】国際公開第２００５／０９８４４３号
【特許文献２】特開２００６−４１６４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載のような光学測定装置では、特定の物品等が測定対象物となることが想定されている。したがって、測定対象物の形状が変化すると、測定精度が低下することが考えられる。
【０００６】
本発明は上記を鑑みてなされたものであり、測定対象物の形状によらず高い精度での測定が可能な光学測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願発明は、
（１）  測定対象物が載置される対象物設置部と、標準反射板が載置される反射板設置部と、前記対象物設置部に載置された測定対象物の上面の高さ位置と前記反射板設置部に載置された標準反射板の上面と高さ位置とが等しくなるように前記対象物設置部の高さ位置を変更することができる高さ調整部とを備える測定台と、
前記測定対象物及び前記標準反射板に対して、測定光を照射する光源と、
前記測定対象物からの反射光を撮像すると共に、前記標準反射板からの反射光を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像することで取得された前記測定対象物からの反射光の情報を、前記撮像手段により撮像することで取得された前記標準反射板からの反射光の情報に基づいて補正する補正手段と、
を備える光学測定装置。
である。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、測定対象物の形状によらず高い精度での測定が可能な光学測定装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態に係る光学測定装置の概略構成を説明する斜視図である。
【図２】光学測定装置の正面図である。
【図３】光学測定装置に係る各装置等の接続を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
［本願発明の実施形態の説明］
最初に本願発明の実施態様を列記して説明する。
【００１１】
本願の光学測定装置は、（１）測定対象物が載置される対象物設置部と、標準反射板が載置される反射板設置部と、前記対象物設置部に載置された測定対象物の上面の高さ位置と前記反射板設置部に載置された標準反射板の上面と高さ位置とが等しくなるように前記対象物設置部の高さ位置を変更することができる高さ調整部とを備える測定台と、前記測定対象物及び前記標準反射板に対して、測定光を照射する光源と、前記測定対象物からの反射光を撮像すると共に、前記標準反射板からの反射光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像することで取得された前記測定対象物からの反射光の情報を、前記撮像手段により撮像することで取得された前記標準反射板からの反射光の情報に基づいて補正する補正手段と、を備える。
【００１２】
上記の光学測定装置によれば、測定部は、対象物設置部の上面の高さ位置を変更可能な高さ調整部を有する。したがって、測定対象物の上面の高さ位置と標準反射板の上面の高さ位置とが同じとなるように対象物設置部の高さを変更した後に、測定対象物に係る測定を行うことが可能となる。したがって、測定対象物の大きさや形状等に関係なく、標準反射板と測定対象物との高さを合わせて測定することができ、測定対象物の形状によらず高い精度での測定が可能となる。
【００１３】
（２）また、本願発明は上述の（１）に記載の光学測定装置について、前記対象物設置部上に載置された前記測定対象物の高さを検出する高さ検出手段をさらに備え、前記対象物設置部は、前記高さ検出手段による検出結果に基づいて前記上面の高さ位置を変更する。
【００１４】
高さ検出手段の検出結果に基づいて、対象物設置部の高さを調整する構成とすることで、例えば、測定対象物が凹凸を有した形状である場合にも、撮像部によるフォーカス位置を適切な状態とすることができ、より高い精度の測定を実現することができる。
【００１５】
［本願発明の実施形態の詳細］
本発明に係る光学測定装置の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
【００１６】
図１は、本発明の実施形態に係る光学測定装置１の概略構成を説明する斜視図である。また、図２は、光学測定装置１の正面図である。また、図３は、光学測定装置１に係る各装置等の接続を説明する図である。図１〜図３に示される光学測定装置１は、測定台２０上に載置された状態で、搬送部３０によって所定の方向に搬送される測定対象物Ｏを撮像する装置である。このような光学測定装置１は、例えば、測定対象物Ｏの検査等に用いられる。光学測定装置１の測定対象物Ｏは特に限定されない。
【００１７】
光学測定装置１は、測定光を搬送部３０（搬送手段）により搬送される測定対象物Ｏ（図２参照、図１では測定対象物Ｏを省略している）に対して照射することにより得られる反射光を測定し、その反射光の強度又はスペクトル形状等に基づいて測定対象物Ｏの光学測定を行う。このため、光学測定装置１は、光源部１０（１０Ａ，１０Ｂ）、測定対象物Ｏを載置する測定台２０、搬送部３０（搬送手段）、撮像部４０（撮像手段）、測高センサ５０（高さ検出手段）、及び、分析部６０（図３参照；補正手段）を備える。なお、以下の実施形態では近赤外光を光学測定に使用する場合について説明するが、他の波長範囲の光を測定に用いてもよい。
【００１８】
本実施形態で説明する光学測定装置１では、搬送部３０が例えばコンベア、シューター、リフト等の搬送機構により構成され、搬送部３０に取り付けられた測定台２０に載置された測定対象物Ｏが、搬送方向（図１における矢印Ａ方向）に移動するとする。
【００１９】
撮像部４０は、搬送方向（矢印Ａ方向）に対して垂直な方向に視野領域Ｒ２を有して撮像を行う。すなわち、撮像部４０がラインカメラである場合について説明する。
【００２０】
光源部１０Ａ，１０Ｂは、所謂ロッド光源であり、光源１１Ａ，１１Ｂに対して光学的に接続されて測定光を出射するガラスロッド１２Ａ，１２Ｂが搬送方向に対して垂直な方向に延びている。光源部１０Ａ，１０Ｂは、近赤外光を上の測定対象物Ｏが配置される領域に対して照射する。２つの光源部１０Ａ，１０Ｂは、測定対象物Ｏの搬送方向に沿って、撮像部４０を挟んで配置されている。光源部１０が照射する測定光の波長範囲は、測定対象物Ｏによって適宜選択される。測定光としては、具体的には、波長範囲が８００ｎｍ〜２５００ｎｍの光が好適に用いられ、特に１０００ｎｍ〜２３００ｎｍの光が好適に用いられる。なお、本実施形態では、ハロゲンランプからなる光源１１Ａ，１１Ｂを含む光源部１０Ａ，１０Ｂについて説明する。
【００２１】
ハロゲンランプの反射鏡は、一般的には、測定対象物Ｏに対して熱が伝搬することを避けるために、近赤外光を反射しないダイクロイックミラー等を採用して、近赤外光の強度を低下させる構成としている。しかしながら、本実施形態の光源としてハロゲンランプを用いる場合、反射鏡をアルミや金などの金属蒸着で構成し、近赤外光強度を向上させることが好ましい。
【００２２】
また、ハロゲンランプへの電力供給は直流で行うのが好ましい。電力供給を交流で行う場合、光源から出射する光の強度が変動する。また、電力供給は定電流制御により行うことが好ましい。定電圧制御だと、周囲環境温度の変動によって導線（ハロゲンランプへの電力供給用電線）の抵抗値が変動し、ランプへの印可電流が変動する可能性がある。
【００２３】
光源部１０Ａからの近赤外光Ｌ１及び光源部１０Ｂからの近赤外光Ｌ２は、照射領域Ｒ１に対して出射される。図１，２に示す状態では、照射領域Ｒ１とは、測定台２０の表面の一部の領域となる。この照射領域Ｒ１は、測定台２０上において搬送方向（矢印Ａ方向）に対して垂直な方向に延びるライン状に延びる領域である。上記のように、一方向に延びる照射領域Ｒ１を形成するため、光源部１０Ａ，１０Ｂにおけるガラスロッド１２の一方側の端部に光源１１（１１Ａ，１１Ｂ）が設けられて、光源１１からの近赤外光がガラスロッド１２に入射する。光源１１からの光はガラスロッド１２内を導波しながら、その側面からライン状に出射される。光源部１０Ａ，１０Ｂからの近赤外光Ｌ１，Ｌ２が照射領域Ｒ１に対して照射される。なお、ガラスロッド１２は石英ガラス製であるのが好ましい。石英ガラス製のガラスロッド１２を用いることで、より広い近赤外波長帯域（具体的には７５０ｎｍ〜２５００ｎｍ）において、近赤外光Ｌ１，Ｌ２の強度を向上させることができる。
【００２４】
光源部１０Ａ，１０Ｂの構成は上記に限定されない。例えば、ロッドを用いた構成に代えて他の構成を有していてもよい。ライン状の照射領域Ｒ１を照射可能な構成であれば適宜変更することができる。
【００２５】
なお、光源部１０Ａ，１０Ｂは、本実施形態で説明する構成のように、撮像部４０を挟んで両側に配置するのが好ましい。このように撮像部４０を挟んで両側に設置することで、測定対象物Ｏに凹凸がある場合でも、視野領域Ｒ２における光量の面内ムラを低減することができる。
【００２６】
光源部１０Ａ，１０Ｂから出力された近赤外光Ｌ１，Ｌ２は、照射領域Ｒ１上の測定対象物Ｏに入射する。測定対象物Ｏに入射した光はその表面から反射光として出射される。そして、その一部が、反射光Ｌ３として撮像部４０に入射する。なお、光源部１０の構成は、上記の構成に限定されるものではない。なお、本実施形態では、反射光Ｌ３が測定対象物Ｏからの拡散反射光である場合について説明している。
【００２７】
測定台２０は、搬送部３０上に設けられる。搬送部３０は、例えば、搬送機構３１とモータ３２とを含んで構成され、モータ３２の駆動により搬送機構３１が動作することで、搬送機構３１に取り付けられた測定台２０を所定の搬送方向へ移動させることができる。測定台２０は、対象物設置部２１と、反射板設置部２２とを含んで構成される。対象物設置部２１は、上面２１ａが平板となっている部材であり、測定を行う際には測定対象物Ｏを上面２１ａに載置する。対象物設置部２１は、上面２１ａの高さ位置を変更可能な機構（高さ調整部）を有する。対象物設置部２１の上面２１ａには、近赤外光に対する反射率が低い樹脂製シート（例えば、カーボンが練り込まれている樹脂製シート等）が貼付されていることが好ましい。このような構成とすることで、迷光を防止することができる。
【００２８】
また、反射板設置部２２は、上面２２ａ（図２参照）に標準反射板２３が取り付けられる。反射板設置部２２の上面２２ａの標準反射板２３の高さ位置は、対象物設置部２１の上面２１ａの高さ位置よりも上方となっている。これは、測定対象物Ｏを対象物設置部２１に載置した際に、測定対象物Ｏの高さ位置と標準反射板２３の高さ位置とが同じとなるように対象物設置部２１の上面２１ａの高さを変更するためである。反射板設置部２２上の標準反射板２３については、ホワイト標準反射板等の公知のものを使用することができる。
【００２９】
測定台２０は、対象物設置部２１及び反射板設置部２２が搬送方向に沿って並ぶように、搬送部３０に対して取り付けられる。対象物設置部２１及び反射板設置部２２上の標準反射板２３は、それぞれ搬送方向に対して垂直な方向に延びる視野領域Ｒ２よりも大きい形状とされている。これにより、搬送方向に測定台２０が移動したときに視野領域Ｒ２全体が標準反射板２３及び対象物設置部２１を撮像することが可能となる。
【００３０】
撮像部４０は、光源部１０Ａ，１０Ｂから照射領域Ｒ１に対して照射される近赤外光が測定対象物Ｏにおいて反射された反射光Ｌ３をレンズ４１から入射して、分光カメラ４２において受光することで、測定対象物Ｏの撮像を行う。分光カメラ４２は、ライン状の視野領域Ｒ２からの光を分光した後に、ライン状又は２次元に配置された画素により構成される受光面により受光する。その後受光面における受光により発生する電荷をＡ／Ｄ変換器によってデジタル変換し、波長領域ごとに光強度の分布を示すデジタル情報を生成する。生成されたデジタル情報は、撮像部４０から分析部６０へ送られる。分光カメラ４２は、照射領域Ｒ１に含まれ、測定台２０上において搬送方向（矢印Ａ方向）に対して垂直な方向に延びるライン状の視野領域Ｒ２からの光を受光面にて受光する。本実施形態では、図２に示すように、視野領域Ｒ２はカメラの真下にあるが、この配置は特に限定されない。
【００３１】
撮像部４０は、ハイパースペクトル画像を取得するハイパースペクトルセンサであってもよい。ハイパースペクトル画像とは、一画素がＮ個の波長データにより構成されている画像であり、画素毎にそれぞれ複数の波長に対応した反射強度データからなるスペクトル情報が含まれている。すなわち、ハイパースペクトル画像は、画像を構成する画素毎に、それぞれ複数波長の強度データを持つという特徴から、画像としての二次元的要素と、スペクトルデータとしての要素をあわせ持った三次元的構成のデータである。なお、本実施形態では、ハイパースペクトル画像とは、１画素あたり少なくとも５つの波長帯域における強度データを保有している画素によって構成された画像のことをいう。
【００３２】
なお、撮像部４０は、拡散反射光を撮像可能な位置に配置する。光源部１０Ａ，１０Ｂからの近赤外光Ｌ１、Ｌ２が測定対象物Ｏの表面で正反射した場合の正反射光は、光量（強度）は多いがノイズが多いため、測定対象物Ｏに係る情報の検出精度が低下する可能性が考えられる。したがって、反射光Ｌ３として拡散反射光のみを検出可能な位置に撮像部４０を配置することが好ましい。
【００３３】
測高センサ５０は、撮像部４０による測定対象物Ｏの撮像を妨げない位置に設けられ、測定台２０における対象物設置部２１の上面２１ａの高さ位置を検出する機能を有する。また、対象物設置部２１上に測定対象物Ｏを載置した場合には、測定対象物Ｏの高さ位置を検出する。測高センサ５０による検出結果は、対象物設置部２１の上面２１ａの高さ位置の調整・制御等に用いることができる。本実施形態では、測高センサ５０が光学測定により高さを検出する構成を示しているが、測高センサ５０の機構は特に限定されない。また、測高センサ５０の取付位置についても適宜変更することができる。
【００３４】
分析部６０は、撮像部４０から送られる反射スペクトルの情報を受け取り、演算処理等を行う。分析部６０により、吸収スペクトルの導出、スペクトルの２階微分スペクトルの導出、吸収スペクトルの２階微分スペクトルの導出等を行う構成としてもよい。また、測定対象物Ｏに係る評価を行うための統計処理等が分析部６０において行われる構成としてもよい。また、撮像部４０がハイパースペクトルセンサを有するハイパースペクトルカメラである場合、各画素に係るスペクトルの情報が分析部６０に対して送られるので、分析部６０においてこれらのスペクトル情報についての演算を行う構成とすることができる。
【００３５】
分析部６０は、図３に示すように、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、主記憶装置であるＲＡＭ（Random  Access  Memory）やＲＯＭ（Read  Only  Memory）、他の機器との間の通信を行う通信モジュール、並びにハードディスク等の補助記憶装置等のハードウェアを備えるコンピュータとして構成することができる。そして、これらの構成要素が動作することにより、分析部６０としての機能が発揮される。
【００３６】
図３を参照しながら、光学測定装置１における各装置の接続関係及び電源関係について説明する。分析部６０であるＰＣには、光源部１０Ａ，１０Ｂと接続された光源用電源１５、測定台２０、搬送部３０のモータ３２を制御するためのモータ制御ユニット３５及び測高センサ５０とＰＣとを接続するための制御ケーブルＣ１が設けられている。さらに、分析部６０であるＰＣと撮像部４０との間には、カメラ制御ケーブルＣ２が設けられていて、撮像部４０の分光カメラ４２において取得されたスペクトルデータに係るデジタル情報が分析部６０へ送信される。また、モータ制御ユニット３５とモータ３２との間には、モータ制御ケーブルＣ３が設けられる。
【００３７】
また、光源用電源１５と光源部１０Ａ，１０Ｂとの間には、光源用電源ケーブルＣ４が設けられる。また、測定台２０及び搬送部３０と搬送用電源２５との間にも、搬送用電源ケーブルＣ５が設けられる。さらに、撮像部４０と撮像部用電源４５との間にも、撮像部電源用ケーブルＣ６が設けられる。
【００３８】
このように、光学測定装置１のうち何らかの動作が必要な機能部に対してはそれぞれ電源が接続されると共に、分析部６０が電源又は機能部を制御することで、各構成部が動作する。
【００３９】
なお、光学測定装置１のうち、分析部６０であるＰＣ以外の光源部１０、測定台２０が取り付けられた搬送部３０、及び、撮像部４０は、移動可能な架台等に取り付けられていることが好ましい。このような構成とすることで、光源部１０、測定台２０が取り付けられた搬送部３０、及び、撮像部４０という測定対象物Ｏの測定に直接かかわる部分を分解することなく移設することができる。この場合、移設しても測定再現性を保つことが可能となる。
【００４０】
また、光源部１０の位置及び角度、撮像部４０の分光カメラ４２のフォーカス位置、測定台２０に取り付けられた標準反射板２３の高さ位置は固定されていることが好ましい。これにより、移設した際の再現性を更に高めることができる。
【００４１】
上記の構成を有する光学測定装置１による光学測定方法について説明する。光学測定方法には、測定台２０の反射板設置部２２上の標準反射板２３に対して近赤外光を照射することで、標準反射板２３からの出射される反射光を用いて撮像部４０により撮像されたスペクトル情報を補正するためのスペクトル情報を取得する補正情報取得工程と、測定台２０の対象物設置部２１に載置された測定対象物Ｏに対して近赤外光を照射することで、当該測定対象物Ｏに係る反射スペクトルを取得する対象物測定工程と、補正情報取得工程で取得した情報と対象物測定工程で得られた反射スペクトルとに基づいて、測定対象物Ｏに係る分析を行う分析工程と、が含まれる。補正情報取得工程と対象物測定工程との実施順序は変更してもよい。
【００４２】
具体的には、補正情報取得工程では、光源部１０Ａ，１０Ｂから照射領域Ｒ１へ向けて近赤外光Ｌ１，Ｌ２が照射される。このとき、搬送部３０による測定台２０の移動により、照射領域Ｒ１には、標準反射板２３が配置される。光源部１０から照射された近赤外光Ｌ１，Ｌ２は標準反射板２３で反射され、反射した近赤外光のうち光路Ｌ３方向に進む光が撮像部４０へ到達し、撮像部４０によって反射スペクトルが取得される。撮像部４０によって取得された標準反射板２３に係る反射スペクトルは、測定対象物Ｏを撮像したデータの補正等に使用される。
【００４３】
次に、対象物測定工程では、光源部１０Ａ，１０Ｂから照射領域Ｒ１へ向けて近赤外光Ｌ１，Ｌ２が照射される。このとき、搬送部３０により測定台２０を矢印Ａ方向へ移動することにより、照射領域Ｒ１には、対象物設置部２１上の測定対象物Ｏが配置される。光源部１０から照射された近赤外光Ｌ１，Ｌ２は測定対象物Ｏにより反射され、その一部が光路Ｌ３方向に進み、撮像部４０へ到達する。撮像部４０では反射スペクトルが取得される（対象物測定工程）。撮像部４０で得られた反射スペクトルは、分析部６０へ送られ、分析部６０において、測定対象物Ｏの分析に係る処理が行われる（分析工程）。分析工程では、補正情報取得工程で取得した標準反射板２３に係る反射スペクトルを利用して、測定対象物Ｏに係る反射スペクトルを補正した上で、分析が行われる。撮像部４０はラインカメラであるので、搬送部３０により測定台２０を移動させながら、測定対象物Ｏの撮像を繰り返すことで、測定対象物Ｏ全体に係る測定を行うことができる。
【００４４】
ここで、本実施形態に係る光学測定装置１では、対象物設置部２１は、上面２１ａの高さ位置を変更可能な機構を有する。したがって、上記の対象物測定工程では、測定対象物Ｏの高さ位置と標準反射板２３の高さ位置とが同じとなるように対象物設置部２１の上面２１ａの高さを変更した後に、測定対象物Ｏに係る測定を行う。したがって、測定対象物Ｏの大きさや形状等に関係なく、標準反射板２３と測定対象物Ｏとの高さを同じとすることができる。これにより、撮像部４０によるフォーカス位置を適切な状態とした状態で測定することができる。
【００４５】
従来の光学測定装置においても、標準反射板を撮像して得られるスペクトル情報に基づいて、補正は行われていた。しかしながら、測定対象物の形状、特に高さが変化することにより測定精度が低下することについて、従来は注目されていなかった。これは、従来の光学測定装置では特定の物品の検査等に用いることを想定していたことが多く、測定対象物の形状が大きく変化することを考慮していなかったためと考えられる。しかし、測定対象物の形状が変化すると反射光の強度等も変化することから、測定対象物の高さ位置に由来する精度低下の問題が発生すると考えられる。
【００４６】
これに対して、本実施形態に係る光学測定装置１では、対象物設置部２１の上面２１ａの高さ位置を変更可能とすることで、測定対象物Ｏの高さ位置と標準反射板２３の高さ位置とが同じとなるように対象物設置部２１の上面２１ａの高さを変更した後に、測定対象物Ｏに係る測定を行う。これにより、測定対象物の高さ位置に由来する精度低下の問題を回避することが実現される。
【００４７】
なお、本実施形態に係る光学測定装置１のように測高センサ５０を備えている場合には、測高センサ５０の測定結果に基づいて、リアルタイムに対象物設置部２１の高さを調整する構成とすることもできる。この場合、測定対象物Ｏが凹凸を有した形状である場合にも、撮像部４０によるフォーカス位置を適切な状態とすることができる。このように、測高センサ５０を備えることで、より高い精度の測定を実現することができる。
【００４８】
なお、測高センサ５０を備えていない場合には、測定前に測定対象物Ｏの形状（高さを含む）に係る情報を光学測定装置１が予め取得しておき、測定対象物Ｏの形状に係る情報に基づいて、測定台２０の対象物設置部２１の高さを調整することで、標準反射板２３と測定対象物Ｏとの高さを同じとすることができる。
【００４９】
また、本実施形態に係る光学測定装置１では、測定台２０が対象物設置部２１と反射板設置部２２とを有するため、測定台２０を搬送部３０によって搬送方向へ搬送させることにより、反射板設置部２２上の標準反射板２３を用いた撮像部４０の補正と、対象物設置部２１上の測定対象物Ｏの撮像とを連続して行うことができる。したがって、測定対象物Ｏの撮像と標準反射板２３の撮像との間のタイムラグを少なくすることができるため、測定対象物Ｏの撮像時により近い状況で補正に用いるスペクトル情報を取得することが可能となる。
【００５０】
なお、本発明に係る光学測定装置１及び光学測定方法は上記実施形態に限定されない。例えば、上記実施形態で示した光学測定装置１の構成には限定されず、適宜変更することができる。例えば、搬送部３０が搬送機構３１とモータ３２とから構成されていて、測定台２０が搬送機構３１上に取り付けられている例について説明したが、例えば測定台２０の下方に搬送部３０が取り付けられている構成であってもよい。また、上記実施形態では、光学測定装置１が近赤外光を用いて測定を行う場合について説明したが、近赤外光とは異なる波長域の光を測定光として用いる構成であってもよい。
【符号の説明】
【００５１】
１…光学測定装置、１０…光源部、２０…測定台、２１…対象物設置部、２２…反射板設置部、３０…搬送部、４０…撮像部、５０…測高センサ、６０…分析部。
【図１】
2017125735.tif 000003
【図２】
2017125735.tif 000004
【図３】
2017125735.tif 000005