【誤訳訂正書】
【提出日】平成17年8月16日(2005.8.16)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
駆動回路手段によって印加された電圧に応答して表示出力を生成する画素の配列と、
前記駆動回路手段によって発生された電圧を変更して表示アーチファクトを補償する補正手段と、を備え、
各画素は二つの電極の間に電気光学材料を有するセルを含み、
各セルの前記電極間に印加される電圧の極性は周期的に反転され、
前記補正手段は、測定画素と、前記セルの前記電極間に印加される電圧極性の各々に対して前記測定画素のセルの容量を示すそれぞれの信号を発生させる手段と、を含み、
前記補正手段は、前記信号に応答して、前記駆動回路によって発生された電圧を変更する、マトリックス表示装置。
【請求項２】
前記補正手段は前記測定画素のセル間に電圧パルスを印加する手段を含み、
前記発生手段は前記セルに生じた電圧変化を受け取るため動作可能である、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記発生手段は前記測定画素のセルに存在している別の電圧から前記生じた電圧変化を分離する手段を含む、請求項２に記載の装置。
【請求項４】
１個のセル電極は前記画素の配列の全てのセルに対する共通電極であり、
前記補正手段は、前記信号に応答して、前記共通電極に印加される電圧を変更するように構成されている、請求項１乃至３のいずれかに記載の装置。
【請求項５】
前記画素の配列は表示領域に前記表示出力を生成し、
前記測定画素は前記表示領域の外側に配置されたダミー画素である、請求項１乃至４のいずれかに記載の装置。
【請求項６】
各セルの第２電極は前記共通電極に対向する画素電極であり、
複数の測定画素を備え、
前記測定画素の画素電極は共に電気接続されている、請求項４または５に記載の装置。
【請求項７】
測定画素の画素電極の面積は、前記測定画素と、隣接する測定画素との間の電気接続部の面積に実質的に等しい量だけ、前記表示領域内の画素の画素電極に関連して縮小されている、請求項６に記載の装置。
【請求項８】
駆動回路手段によって印加された電圧に応答して表示出力を生成する画素の配列と、前記駆動回路手段によって発生された電圧を変更して表示アーチファクトを補償する補正手段と、を備えるマトリックス表示装置であって、各画素は二つの電極の間に電気光学材料を有するセルを含み、各セルの前記電極間に印加される電圧の極性は周期的に反転され、前記補正手段は測定画素を含む、マトリックス表示装置を駆動する方法であって、
（ａ）電圧極性の各々に対して前記測定画素のセルの容量を示すそれぞれの信号を発生するステップと、
（ｂ）前記信号に応答して、前記駆動回路によって発生された電圧を変更するステップと、を備える方法。
【請求項９】
前記（ａ）のステップは、前記電圧極性の各々に対して、前記測定画素のセルに電圧パルスを印加することと、前記セルに生じた電圧変化を監視することと、を含む、請求項８記載の方法。
【請求項１０】
前記測定画素は蓄積コンデンサを含み、前記電圧パルスは前記コンデンサを介してそのセルに印加される、請求項９記載の方法。
【請求項１１】
前記測定画素のセルの前記電極間に印加される電圧の極性の周期的反転は連続したフレーム周期の開始時に行われ、
前記信号は電圧極性毎に前記フレーム周期の終了時の方で発生される、請求項８乃至１０のいずれかに記載の方法。
【請求項１２】
前記信号は、電圧極性毎に前記フレーム周期の前記開始時の方および前記終了時の方で発生される、請求項１１記載の方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００３】
このディスプレイは、表示画像を生成するため、画素の配列に交流電圧を印加することによって駆動される。交流電圧は電気光学材料の劣化を防ぐために使用される。画素が（表示フレーム毎に）アドレス指定されるたびに、画素は逆極性へ駆動される、即ち、反転駆動方式が採用される。しかし、多数の理由から、寄生的ＤＣ成分がセル中に発生することが分かっている。このことは、例えば、装置が反射器を含む反射型表示装置の場合、又は、セルの電極自体が反射型である場合などのように、セルが非対称構造を備えている場合に、特にそうである。ＡＭＬＣＤの技術においてよく知られた現象であるキックバックは、例えば、セル中にＤＣ成分が生じる別の原因である。このＤＣ成分は、画素が連続したフレームで逆極性へ充電されるとき、画素電圧に異なる影響を与える。このため、連続したフレームである画素に印加される駆動電圧の絶対値が同一であるならば、ＤＣ成分は、各フレームで当該画素に異なる絶対電圧を生じさせ、フリッカの形の可視的なアーチファクトを引き起こす。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００５】
このようにして現れるフリッカを低減するため、セルに印加される電圧を調整することはよく知られている。例えば、これは、共通電極上の電圧を調整することによって行われ得る。典型的に、現在の製造工程において、ディスプレイの共通電極電圧レベルは、フリッカ効果を補正するため手動で調整される。これは、時間と費用のかかる工程である。また、これは、ディスプレイの耐用期間中に寄生的ＤＣ成分の変化を補償しない。特に、ＤＣ成分の大きさは、ディスプレイの駆動周波数が変更された場合に変化する。例えば、携帯電話機は、異なる駆動周波数を利用する、通常電力モードや省電力モードのような異なる動作モードを備えている。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００８】
本発明の目的は、動作中の寄生的ＤＣ成分の影響を弱めるため改良された方法で動作可能であるマトリックス型表示装置を提供することである。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００９】
マトリックス表示装置は、駆動回路手段によって印加された電圧に応答して表示出力を生成する画素の配列と、上記駆動回路手段によって発生された電圧を変更して表示アーチファクトを補償する補正手段と、を備え、各画素は二つの電極の間に電気光学材料を有するセルを含み、各セルの上記電極間に印加される電圧の極性は周期的に反転され、上記補正手段は、測定画素と、上記セルの上記電極間に印加される電圧極性の各々に対して上記測定画素のセルの容量を示すそれぞれの信号を発生させる手段と、を含み、上記補正手段は、上記信号に応答して、上記駆動回路によって発生された電圧を変更する。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
好適な実施態様において、上記補正手段は上記測定画素のセルに電圧パルスを印加する手段を含み、上記発生手段は上記セルに生じた電圧変化を受け取る。上記発生手段は上記測定画素のセルに存在している別の電圧から上記生じた電圧変化を分離する手段を含んでも良い。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１２
【訂正方法】削除
【訂正の内容】
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
表示装置自体の１個以上の画素は測定画素として利用してもよい。好ましくは、完成した表示装置においてユーザから見える表示領域の外側にある１個以上の画素、以下では「ダミー画素」のように呼ばれる画素が利用される。１行以上のダミー画素を利用してもよい。１個以上のダミー画素は表示領域を形成する画素のスケールを変換したものでもよい。この装置は、複数の測定画素を具備してもよく、それらの画素電極は一体的に電気接続され、画素電極は、共通電極に対向する各セルの第２の電極である。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
表示装置はアクティブ型でもパッシブ型でもよい。アクティブ型ディスプレイの場合、共通電極は、通常、画素電極の配列に対向して設けられるが、共通電極は、必ずしも、例えば、「インプレインスイッチング」型ディスプレイ内になくてもよい。共通電極が利用される場合、駆動手段は、信号を共通電極へ供給する共通電極ドライバを更に含む。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１８】
また、本発明によれば、
駆動回路手段によって印加された電圧に応答して表示出力を生成する画素の配列と、上記駆動回路手段によって発生された電圧を変更して表示アーチファクトを補償する補正手段と、を備えるマトリックス表示装置であって、各画素は二つの電極の間に電気光学材料を有するセルを含み、各セルの上記電極間に印加される電圧の極性は周期的に反転され、上記補正手段は測定画素を含む、マトリックス表示装置を駆動する方法であって、
（ａ）電圧極性の各々に対して上記測定画素のセルの容量を示すそれぞれの信号を発生するステップと、
（ｂ）上記信号に応答して、上記駆動回路によって発生された電圧を変更するステップと、を備える方法が提供される。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１９】
上記（ａ）のステップは、上記電圧極性の各々に対して、上記測定画素のセルに電圧パルスを印加するステップと、上記セルに生じた電圧変化を監視するステップと、を含むことが好ましい。有利なことに、上記測定画素は蓄積コンデンサを含み、上記電圧パルスは上記コンデンサを介してそのセルに印加される。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
発生手段によって供給される各信号は、好ましくは、フレーム周期中の所定のポイントにおける測定画素セルの瞬時容量を実質的に表し、測定画素セルの電極間に印加された電圧の極性の周期的な反転は、連続したフレーム周期の開始時に起きる。好ましくは、発生手段は、電圧極性毎にフレーム周期の終了時の方で上記信号を発生する。別の実施形態では、発生手段は、電圧極性毎にフレーム周期の開始時の方および終了時の方で上記信号を発生する。何れの場合でも、発生された信号は、表示アーチファクトを弱めるために、駆動回路手段によって発生された電圧の修正法を決定する際に使用可能である。更なる実施形態では、各極性のフレーム周期中に発生手段によって発生された信号は積分され、電圧修正量はその結果から導出される。異なる極性のフレーム期間に亘る測定画素セル容量の漸進的変化の差はフリッカの存在を示すので、この積分のようなアプローチは、このような差の測定量を得るために使用してもよい。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
図２は液晶表示装置１の一部の断面図である。明瞭にするため、数個の画素だけが図示されている。ツイストネマチック液晶材料２は、例えば、ガラス製の２枚の基板３および４の間に置かれる。画素電極６は一方の基板４に支持され、一方、反射共通電極５は、もう一方の基板３の対向面に設けられる。例えば、透過型ディスプレイの場合、電極５および６は、インジウム−スズ酸化物（ＩＴＯ）のような透明材料から形成される。反射型ディスプレイの場合、一方の基板上の電極だけが透明である。各画素電極、共通電極５の対向部分、および、介挿された液晶材料２は、一体として、画素の液晶セルを形成する。偏光子７および８は、それぞれの基板３および４の外側面に取り付けられ、それぞれの基板の偏光子の配向は相互に直交している。それぞれの配向層９は、基板３および４の内壁上の液晶材料２を配向させるため、画素電極６および共通電極５の上に設けられる。画素間に電圧が印加されるとすぐに、液晶は結果として生じた電界に揃って、画素の透過率を変える。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
典型的なアクティブマトリックス表示装置の主要な素子が図３に示されている。ディスプレイの各画素２５は、スイッチング素子１９と液晶セル１８とを含む。各スイッチング素子は、一組又は一行の選択電極１７のうちの対応した１個の選択電極、および、一組のデータ電極又は列電極１１のうちの対応した１個と結合される。行電極は、各行電極１７に接続された行駆動回路１６によって発生された行選択信号によって連続的に選択される。列電極は、データ信号を列電極へ供給する列駆動回路１０に接続される。必要に応じて、表示装置へ入力されたデータは、最初に、プロセッサ１５によって処理される。データおよび同期パルスは、プロセッサ１５から駆動ライン１２に沿って行駆動回路１６および列駆動回路１０へ供給される。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
液晶セルの容量Ｃは、液晶に印加された電圧Ｖと共に変化し、図４は、静的電圧に対するこれらの量の間の典型的な関係を示している。画素のアドレス指定中の正極性フレームから負極性フレームへの遷移後に、寄生的ＤＣ成分は、画素が充電される電圧の大きさに加わるので、液晶材料自体にかかる電圧の大きさが（前のフレームの同じグレイレベルよりも）増加する。したがって、図４から明らかであるように、セルの容量は、負のフレーム時間中に増加する。逆に、正のフレームでは、ＤＣ成分は画素電圧の大きさから差し引かれ、液晶材料にかかる電圧の大きさが減少し、これによって、セル容量が減少する。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２８】
アクティブマトリックス装置内の液晶セルの容量を測定する回路の一例は図７に示されている。各液晶セル１８は、図７では、寄生的ＤＣ成分を表す電源１８ｂと直列にセルを形成する電極のペア１８ａにより構成されるものとして示されている。測定画素２５ａのペアが図示されている。画素電極はリンク４０によってまとめて電気接続される。これは、測定対象の容量のサイズを拡大するために役立ち、それにより、容量測定の信号対ノイズ比を改良する。画素のペアが例示のため示されているが、測定される容量をこのようにして更に増大させるため、３個以上の画素を一体的に連結してもよいことは明らかである。画素電極は高入力インピーダンスバッファ４２に接続される。このバッファは、次に、コンデンサ４４の一方側に接続される。このコンデンサのもう一方側は、出力５０を介して、必要なフリッカ補正を計算するフリッカ補正処理手段（図示せず）に接続される。通常は開いているスイッチ４６は、コンデンサのもう一方側とグラウンドとの間に接続される。
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２９】
図７の回路を使用して、各容量測定は、最初に、各画素２５ａを、それぞれの列電極１１およびスイッチング素子１９を介して、中間電圧、すなわちグレイレベルまで充電することによって実現される。画素は、好ましくは、中間域の階調に対応したデータ信号でアドレス指定される。図１から分かるように、これは、フリッカ効果を高める。なぜならば、電圧に関する透過の変化の速度は、中間域の階調、即ち、５０％の透過の周辺で最大になるからである。
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３２】
出力５０における電圧変化ｄＶａｃは、液晶セル容量ＣＬＣと、以下の式、
【数１】
2005501276.tif 000001
として関係付けられることがわかる。ここで、Ｃｓｔは蓄積コンデンサ２３の容量である。このようにして、ＣＬＣはｄＶａｃから計算することができる。このタイプのアプローチを使用することにより、ｄＶａｃは、ＣＬＣの大きさを、別の既知の容量（本例では、Ｃｓｔ）に対して測定量を与える。このパルスは、別の既知の容量を介して、或いは、付加的なコンデンサを介して、又は、画素に既に存在している別の容量を介して、同様に印加できることが理解されるだろう。例えば、ＴＦＴ１９の寄生的なドレイン容量は、それぞれの行導体１７に沿ってパルスを印加することによって使用してもよい。
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３３】
蓄積コンデンサ２３（又は、既に画素に存在する別の容量）を介して電圧エッジを印加することには、画素容量の容量比が測定画素２５ａにおいて不変であり、その結果として、これらの画素がキックバックに関して表示領域内の画素と実質的に同様に挙動することが確実であるという利点がある。印加された電圧エッジｄＶａｐｐは、好ましくは、液晶配向を著しく変化させることによって蓄積コンデンサ２３を通して結合される電圧が液晶セル１８に影響を与えないことを保証するため、比較的小さく、かつ、短い状態を維持されるべきである。バッファ４２は高インピーダンスを有し、画素２５ａに蓄積される電荷の量に実質的に影響を与えないことを保証する。
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３６】
測定画素（又は、複数の連結された画素が測定のために利用される場合の複数の画素）内の液晶セルの容量を測定するため、上述の技術の他に、別の技術を使用してもよいことが認められるであろう。例えば、容量は、小さい発振電圧を画素に印加し、それを実現するために必要な電流を測定することによって推定される。或いは、測定画素は既知の容量へ短絡させてもよい。出現する電流フローの量、又は、画素にかかる最終電圧は、画素の容量を示すであろう。これらのアプローチを用いる場合、測定工程によるディスプレイの劣化を回避するため、ダミー画素を使用することが必要である。
【誤訳訂正２１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４３】
望ましくは、電磁妨害効果を低減するため、ディスプレイへの、および／または、ディスプレイ内のライン７４、ライン７０、および／または、その他のコネクタをスクリーンする。ディスプレイ基板３および４の領域内で、接地された導電性スクリーン層は、ディスプレイの素子を形成するために使用された層の余裕部分を用いて、および／または、一方若しくは両方の基板の片面又は両面に１層以上の付加的な層を設けることによって、ラインの上および／または下に形成する方が好都合である。より詳細には、原理的に３軸ケーブルに類似した構造を形成してもよい。この構造は、信号ラインの上下の接地されたシールド層と、信号ラインと各シールド層の間にある二つの更なる導電性介在層と、を含む。介在層は、高インピーダンス、単位利得のバッファを介して信号ラインに接続され、その結果として、介在層は、常に、信号ラインと実質的に等電位に維持されるので、信号ラインには、シールド層に起因して無視できるほどの寄生容量が生じる。