【手続補正書】
【提出日】平成18年10月2日(2006.10.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スペア領域を有するデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法であって、
（ａ）前記記録媒体の前記データ領域内に存在する欠陥領域を検出するステップと、
（ｂ）欠陥領域が検出されると、欠陥領域に記録すべきデータをスペア領域に記録するステップと、
（ｃ）前記欠陥領域に関わる仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）を記録媒体上の欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域に記録するステップと、
（ｄ）前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）の位置を示すための情報を含む仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域を、前記記録媒体上の仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域に記録するステップと
を具えたことを特徴とするデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項２】
前記（ｃ）ステップにおいて、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域は、記録媒体上のデータ領域内における非ユーザーデータ領域（ｎｏｎ−ｕｓｅｒ ｄａｔａ ａｒｅａ）に位置することを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項３】
前記記録媒体は、第１及び第２のデータ領域をそれぞれ備えた第１の記録層と第２の記録層を含み、
前記（ｃ）ステップにおける仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域は、前記第１及び第２のデータ領域内にそれぞれ位置した第１及び第２の仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域を含む
ことを特徴とする請求項２記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項４】
前記（ｃ）ステップにおいて、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域は、記録媒体上のデータ領域の外部のリードイン領域又はリードアウト領域に位置することを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項５】
前記記録媒体は、第１の記録層及び第２の記録層を含み、
前記第１の記録層は、第１のデータ領域とリードイン領域を備え、
前記第２の記録層は、第２のデータ領域とリードアウト領域を備え、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域及び前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域のいずれもが、少なくとも第１の記録層のリードイン領域と第２の記録層のリードアウト領域のいずれかに位置することを特徴とする請求項４記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項６】
前記（ｄ）ステップにおいて、
前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域は、記録媒体上のデータ領域の外部のリードイン領域又はリードアウト領域に位置することを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項７】
前記記録媒体は、リードイン領域又はリードアウト領域をそれぞれ備えた第１の記録層と第２の記録層を含み、
前記（ｄ）ステップにおける仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域は、第１の記録層の前記リードイン領域と第２の記録層の前記リードアウト領域内にそれぞれ位置した第１及び第２の仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域を含むことを特徴とする請求項６記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項８】
前記（ｄ）ステップにおいて、
前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域は、記録媒体上のリードイン領域に位置することを特徴とする請求項２記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項９】
前記記録媒体は、第１及び第２のデータ領域をそれぞれ備えた第１の記録層と第２の記録層を含み、
前記（ｃ）ステップにおいて、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域は、前記第１及び第２のデータ領域内にそれぞれ位置した第１及び第２の仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域を含み、
前記（ｄ）ステップにおいて、前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域は、前記第１及び第２のデータ領域の外部にそれぞれ存在する第１及び第２の仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域を含むことを特徴とする請求項８記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１０】
前記（ｄ）ステップにおいて、前記予備領域は、記録媒体上のデータ領域の外部のリードイン領域又はリードアウト領域に位置することを特徴とする請求項４記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１１】
前記記録媒体は、第１及び第２のデータ領域をそれぞれ備えた第１の記録層と第２の記録層を含み、
前記（ｃ）ステップにおいて、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域は、前記第１及び第２のデータ領域の外部のリードイン領域又はリードアウト領域にそれぞれ位置した第１及び第２の仮管理領域を含み、
前記（ｄ）ステップにおいて、前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域は、前記第１及び第２のデータ領域の外部のリードイン領域又はリードアウト領域にそれぞれ存在する第１及び第２の仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域を含むことを特徴とする請求項１０記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１２】
前記（ｃ）ステップにおいて、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）は、少なくとも一つの欠陥エントリを含み、
前記欠陥エントリは、欠陥領域の位置と欠陥領域に対応したスペア領域内の代替領域の位置を識別することを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１３】
前記少なくとも一つの欠陥エントリは、スペア領域内の代替領域に欠陥が存在するか否かを識別する状態情報を更に含むことを特徴とする請求項１２記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１４】
（ｅ）データの再生途中に、前記ＴＤＦＬの現欠陥エントリ内に記録された状態情報を調査するステップと、
（ｆ）前記現欠陥エントリ内の状態情報が以前欠陥エントリに関するスペア領域の一部に欠陥が存在することを表すと、現欠陥エントリに関わる前欠陥エントリを用いて再生したデータを無視するステップと
をさらに具えたことを特徴とする請求項１３記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１５】
前記（ｄ）ステップにおいて、
前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）は、スペア領域がフルであることを示す識別情報を更に含むことを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１６】
（ｇ）前記記録媒体の終了時に、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）と前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を前記記録媒体上のデータ領域の外部のリードイン領域又はリードアウト領域に位置する欠陥管理領域（ＤＭＡ：Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）に移転するステップを更に含むことを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１７】
前記記録媒体は、１回だけ記録可能なブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）であることを特徴とする請求項１記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１８】
スペア領域を備えたデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法であって、
（ａ）前記記録媒体の前記データ領域内に存在する欠陥領域を検出するステップと、
（ｂ）欠陥領域が検出されると、欠陥領域に記録すべきデータをスペア領域に記録するステップと、
（ｃ）前記欠陥領域に関わる仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）を前記記録媒体上の仮欠陥管理領域（ＴＤＭＡ）に記録するステップと、
（ｄ）前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）の位置を示すための情報を含む仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を、前記記録媒体上の前記仮欠陥管理領域（ＴＤＭＡ）に記録するステップと
を具えたことを特徴とするデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項１９】
（ｅ）前記記録媒体の終了時に、前記仮欠陥管理領域（ＴＤＭＡ）に記録された前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）と前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を欠陥管理領域（ＤＭＡ：Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）に移転するステップを更に含むことを特徴とする請求項１８記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項２０】
前記記録媒体は、１回だけ記録可能なブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）であることを特徴とする請求項１８記載の１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項２１】
スペア領域を備えたデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理装置であって、
（ａ）光記録媒体に対するデータの書込み／読出しを行う光ピックアップと、
（ｂ）前記光ピックアップと前記記録媒体との間の距離を保つために該光ピックアップを制御し、前記記録媒体上の関連するトラックを追跡するサーボユニットと、
（ｃ）前記サーボユニットと光ピックアップとを制御するトコントローラと
ここで、該コントローラは、前記記録媒体の前記データ領域内に存在する欠陥領域を検出する手段と、
欠陥領域が検出されると、欠陥領域に記録すべきデータをスペア領域に記録する手段と、
前記欠陥領域に関わる仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）を、前記記録媒体上の仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）に記録する手段と、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）の位置を示すための情報を含む仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を、前記記録媒体上の前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域に記録する手段とを含み、
とを具えたことを特徴とするデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理装置。
【請求項２２】
スペア領域を備えたデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理装置であって、
（ａ）光記録媒体に対するデータの書込み／読出しを行う光ピックアップと、
（ｂ）前記光ピックアップと前記記録媒体との間の距離を保つために該光ピックアップを制御し、前記記録媒体上の関連するトラックを追跡するサーボユニットと、
（ｃ）前記サーボユニットと光ピックアップとを制御するトコントローラと
ここで、該コントローラは、前記記録媒体の前記データ領域内に存在する欠陥領域を検出する手段と、
欠陥領域が検出されると、欠陥領域に記録すべきデータをスペア領域に記録する手段と、
前記欠陥領域に関わる仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）を、前記記録媒体上の仮欠陥管理領域（ＴＤＭＡ）に記録する手段と、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）の位置を示すための情報を含む仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を、前記記録媒体上の前記仮欠陥管理領域（ＴＤＭＡ）に記録する手段とを含み、
とを具えたことを特徴とするデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理装置。
【請求項２３】
スペア領域を備えたデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法であって、
（ａ）前記データ領域内に前記欠陥領域が検出されたとき、該欠陥領域に記録されたデータを前記スペア領域に記録するステップと、
（ｂ）少なくとも１つの欠陥エントリを含む仮欠陥リスト情報を、前記記録媒体上の仮欠陥管理領域に記録するステップと、
ここで、該欠陥エントリは、前記欠陥領域の位置と、前記欠陥領域に対応した前記スペア領域内の代替領域の位置とを識別するものであり、
（ｃ）前記記録媒体の終了時に、前記仮欠陥リスト情報を、永久欠陥リスト情報としての欠陥管理領域に移転するステップと
を具えたことを特徴とするデータ領域を含む１回だけ記録可能な記録媒体における欠陥領域の管理方法。
【請求項２４】
１回だけ記録可能な記録媒体であって、
リードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域とを含む少なくとも１回記録可能な層と、
ここで、該データ領域は、該データ領域の欠陥領域に記録された記録データの代替のために、該データ領域のインナーおよび／又はアウターの部分に位置する少なくとも１つのスペア領域を含み、
前記欠陥領域に関わる仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）を記録するために、前記データ領域上に位置する、少なくとも１つの仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域と、
前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）の位置を示すための情報を含む仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を記録するために、前記リードイン領域および前記リードアウト領域の少なくとも１つに位置する、少なくとも１つの仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域と
を具えたことを特徴とする記録媒体。
【請求項２５】
前記記録媒体の終了時に、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）領域と前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）領域とから、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）と前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）とを移転するために、前記リードイン領域および前記リードアウト領域に位置する、少なくとも１つの欠陥管理領域（ＤＭＡ：Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）
をさらに具えたことを特徴とする請求項２４記載の記録媒体。
【請求項２６】
１回だけ記録可能な記録媒体であって、
リードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域とを含む少なくとも１回記録可能な層と、
ここで、該データ領域は、該データ領域の欠陥領域に記録された記録データの代替のために、該データ領域のインナーおよび／又はアウターの部分に位置する少なくとも１つのスペア領域を含み、
前記欠陥領域に関わる仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）を記録し、かつ、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）の位置を示すための情報を含む仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）を記録するために、前記リードイン領域および前記リードアウト領域の少なくとも１つに位置する、少なくとも１つの仮欠陥仮領域（ＴＤＭＡ）と
を具えたことを特徴とする記録媒体。
【請求項２７】
前記記録媒体の終了時に、前記仮欠陥仮領域（ＴＤＭＡ）から、前記仮欠陥リスト（ＴＤＦＬ）と前記仮ディスク定義構造（ＴＤＤＳ）とを移転するために、前記リードイン領域および前記リードアウト領域に位置する、少なくとも１つの欠陥管理領域（ＤＭＡ：Ｄｅｆｅｃｔ Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ Ａｒｅａ）
をさらに具えたことを特徴とする請求項２６記載の記録媒体。