【事件の表示】
　特願２００５−５１４５７１「テストプログラムデバッグ装置、半導体試験装置、テストプログラムデバッグ方法、及び試験方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１７年　４月２１日国際公開、ＷＯ２００５／０３６４０２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　
　本願は、平成１６年１０月５日（パリ条約による優先権主張２００３年１０月７日、日本国）を国際出願日とする出願であって、平成１８年３月１４日付けで国内書面が提出され、平成２０年９月２６日付けで最初の拒絶理由通知（同年同月３０日発送）がなされ、同年１１月１７日付けで意見書が提出されるとともに、手続補正がなされ、平成２１年１１月２７日付けで拒絶査定（同年１２月１日発送）がなされ、これに対し、平成２２年２月２６日に審判請求がなされるとともに手続補正がなされたものである。そして、同年３月３１日付けで特許法第１６４条第３項に定める報告（前置報告）がなされ、平成２３年１月２８日付けで当審より審尋（同年２月１日発送）がなされ、同年３月３０日付けで回答書が提出されたものである。
　
第２．平成２２年２月２６日付けの手続補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
　
　平成２２年２月２６日付けの手続補正を却下する。
　
［理由］
　
１．本件補正
　
　平成２２年２月２６日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）により、特許請求の範囲は、 
　
「　【請求項１】
　半導体試験装置用のテストプログラムのデバッグを行うテストプログラムデバッグ装置であって、
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、
　前記テストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置シミュレータとを備え、
　前記半導体試験装置シミュレータは、
　前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得する検証範囲取得部と、
　前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化部と、
　テストプログラムの実行において、前記非検証範囲においては、前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行し、前記検証範囲においては、
検証範囲命令を実行する命令実行部とを有し、
　前記非設定命令は、前記テストパターンの生成を行うためのパターン生成命令、及び前記テストパターンに対して前記被試験デバイスシミュレータから出力された出力パターンを期待値と比較するパターン比較命令を含み、
　前記命令単純化部は、前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を単純化し、
　前記命令実行部は、前記検証範囲命令及び前記設定命令、並びに前記単純化された前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を実行する
　テストプログラムデバッグ装置。
　　【請求項２】
　半導体試験装置用のテストプログラムのデバッグを行うテストプログラムデバッグ装置であって、
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、
　前記テストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置シミュレータとを備え、
　前記半導体試験装置シミュレータは、
　前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得する検証範囲取得部と、
　前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化部と、
　テストプログラムの実行において、前記非検証範囲においては、前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行し、前記検証範囲においては、
検証範囲命令を実行する命令実行部とを有し、
　前記命令単純化部は、前記非設定命令を前記命令実行部によって実行されない命令として設定し、
　前記命令実行部は、前記検証範囲命令及び前記設定命令を実行し、前記非設定命令を実行しない
　テストプログラムデバッグ装置。
　　【請求項３】
　半導体試験装置用のテストプログラムのデバッグを行うテストプログラムデバッグ装置であって、
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、
　前記テストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンの受け渡しを行う半導体試験装置シミュレータとを
備え、
　前記半導体試験装置シミュレータは、前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得し、
　前記被試験デバイスシミュレータは、テストプログラムの実行において、前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令に基づくシミュレートを単純化して実行し、
　前記被試験デバイスシミュレータは、前記半導体試験装置シミュレータから供給された前記テストパターンに対する出力パターンを予め保持しており、パターンプログラムの実行において、前記非設定命令に基づく前記半導体試験装置シミュレータからの前記テストパターンに対して、予め保持している前記出力パターンを出力する
　テストプログラムデバッグ装置。
　　【請求項４】
　テストプログラムを実行することにより被試験デバイスを試験する半導体試験装置であって、
　前記テストプログラムのうちの前記被試験デバイスの試験に用いるべき命令の範囲である試験範囲を取得する試験範囲取得部と、
　前記テストプログラムのうちの前記試験範囲以外の範囲である非試験範囲に含まれる非試験範囲命令のうち、前記被試験デバイスの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化部と、
　テストプログラムの実行において、前記非試験範囲においては、前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行し、前記試験範囲においては、
試験範囲命令を実行する命令実行部とを備え、
　前記非設定命令は、テストパターンの生成を行うためのパターン生成命令、及び前記テストパターンに対して前記被試験デバイスから出力された出力パターンを期待値と比較するパターン比較命令を含み、
　前記命令単純化部は、前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を単純化し、
　前記命令実行部は、前記試験範囲命令及び前記設定命令、並びに前記単純化された前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を実行する
　半導体試験装置。
　　【請求項５】
　テストプログラムを実行することにより被試験デバイスを試験する半導体試験装置であって、
　前記テストプログラムのうちの前記被試験デバイスの試験に用いるべき命令の範囲である試験範囲を取得する試験範囲取得部と、
　前記テストプログラムのうちの前記試験範囲以外の範囲である非試験範囲に含まれる非試験範囲命令のうち、前記被試験デバイスの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化部と、
　テストプログラムの実行において、前記非試験範囲においては、前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行し、前記試験範囲においては、
試験範囲命令を実行する命令実行部とを備え、
　前記命令単純化部は、前記非設定命令を前記命令実行部によって実行されない命令として設定し、
　前記命令実行部は、前記試験範囲命令及び前記設定命令を実行し、前記非設定命令を実行しない
　半導体試験装置。
　　【請求項６】
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、半導体試験装置用のテストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置シミュレータとを備えるテストプログラムデバッグ装置によるテストプログラムデバッグ方法であって、
　前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得する検証範囲取得段階と、
　前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化段階と、
　テストプログラムの実行において、前記非検証範囲においては、前記設定命令及び単純化された前記非設定命令を実行し、前記検証範囲においては、検証範囲命令を実行する命令実行段階とを備え、
　前記非設定命令は、前記テストパターンの生成を行うためのパターン生成命令、及び前記テストパターンに対して前記被試験デバイスから出力された出力パターンを期待値と比較するパターン比較命令を含み、
　前記命令単純化段階は、前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を単純化し、
　前記命令実行段階は、前記検証範囲命令及び前記設定命令、並びに前記単純化された前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を実行する
　テストプログラムデバッグ方法。
　　【請求項７】
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、半導体試験装置用のテストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置シミュレータとを備えるテストプログラムデバッグ装置によるテストプログラムデバッグ方法であって、
　前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得する検証範囲取得段階と、
　前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化段階と、
　テストプログラムの実行において、前記非検証範囲においては、前記設定命令及び単純化された前記非設定命令を実行し、前記検証範囲においては、検証範囲命令を実行する命令実行段階とを備え、
　前記命令単純化段階は、前記非設定命令を前記命令実行段階によって実行されない命令として設定し、
　前記命令実行段階は、前記検証範囲命令及び前記設定命令を実行し、前記非設定命令を実行しない
　テストプログラムデバッグ方法。
　　【請求項８】
　テストプログラムを実行することにより被試験デバイスを試験する試験方法であって、
　前記テストプログラムのうちの前記被試験デバイスの試験に用いるべき命令の範囲である試験範囲を取得する試験範囲取得段階と、
　前記テストプログラムのうちの前記試験範囲以外の範囲である非試験範囲に含まれる非試験範囲命令のうち、前記被試験デバイスの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化段階と、
　テストプログラムの実行において、前記非試験範囲においては、前記設定命令及び単純化された前記非設定命令を実行し、前記試験範囲においては、試験範囲命令を実行する命令実行段階とを備え、
　前記非設定命令は、テストパターンの生成を行うためのパターン生成命令、及び前記テストパターンに対して前記被試験デバイスから出力された出力パターンを期待値と比較するパターン比較命令を含み、
　前記命令単純化段階は、前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を単純化し、
　前記命令実行段階は、前記試験範囲命令及び前記設定命令、並びに前記単純化された前記パターン生成命令及び前記パターン比較命令を実行する
　試験方法。
　　【請求項９】
　テストプログラムを実行することにより被試験デバイスを試験する試験方法であって、
　前記テストプログラムのうちの前記被試験デバイスの試験に用いるべき命令の範囲である試験範囲を取得する試験範囲取得段階と、
　前記テストプログラムのうちの前記試験範囲以外の範囲である非試験範囲に含まれる非試験範囲命令のうち、前記被試験デバイスの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化段階と、
　テストプログラムの実行において、前記非試験範囲においては、前記設定命令及び単純化された前記非設定命令を実行し、前記試験範囲においては、試験範囲命令を実行する命令実行段階とを備え、
　前記命令単純化段階は、前記非設定命令を前記命令実行段階によって実行されない命令として設定し、
　前記命令実行段階は、前記試験範囲命令及び前記設定命令を実行し、前記非設定命令を実行しない
　試験方法。」
　
　と補正された。
　
２．新規事項の有無、補正の目的要件 
　
　本件補正は、願書に最初に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてなされており、特許法第１７条の２第３項の規定に適合する。
　
３．独立特許要件
　
　本件補正は「命令実行部」で実行される検証範囲命令、設定命令、命令単純化部によって単純化された非設定命令が、検証範囲、非検証範囲のいずれに含まれる命令か限定したものであり、特許法１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　
　そこで、本件補正後の前記【請求項２】に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に適合するか）以下に検討する。
　
（１）補正後の発明
　
　本件補正により、本願補正発明は、前記「１．本件補正」の「【請求項２】」に記載された以下のとおりのものである。 
　
「半導体試験装置用のテストプログラムのデバッグを行うテストプログラムデバッグ装置であって、
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、
　前記テストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置シミュレータとを備え、
　前記半導体試験装置シミュレータは、
　前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得する検証範囲取得部と、
　前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化部と、
　テストプログラムの実行において、前記非検証範囲においては、前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行し、前記検証範囲においては、
検証範囲命令を実行する命令実行部とを有し、
　前記命令単純化部は、前記非設定命令を前記命令実行部によって実行されない命令として設定し、
　前記命令実行部は、前記検証範囲命令及び前記設定命令を実行し、前記非設定命令を実行しない
　テストプログラムデバッグ装置。」
　
（２）引用文献 
　
　原査定の拒絶の理由に引用された、特開２００１−５１０２５号公報（以下、「引用文献１」という。）には、以下の事項が記載されている。
　
（ア）「【要約】
【課題】  実際の被検査用半導体デバイスに対して半導体試験用プログラムを動作させた場合と同様の試験結果を得て、この試験結果に基づいて半導体試験用プログラムの内容を的確に検証できるようにする。
【解決手段】  テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。ＨＤＬシミュレート部１５０は、ハードウェア記述言語によって記述されたファイルに基づいて半導体デバイスをシミュレートする。ＨＤＬシミュレート部１５０によってシミュレートされた半導体デバイスは、製造による欠陥を含まない被検査用半導体デバイスと全く同じように動作する理想的な半導体デバイスとなる。この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。」
　
（イ）「【００１６】図１のデバッグ装置１００は上述の半導体試験装置２００の全体動作をエミュレートすると共に被検査用半導体デバイス２５０の動作をシミュレートするものである。従って、半導体試験装置２００用に作成されたデバイステストプログラム１１２を図１のデバッグ装置１００を用いて実行すると、そのデバイステストプログラム１１２の動作がユーザの意図したものと一致するか否かを調べることができる。」
　
（ウ）「【００１７】図１に示すエミュレータ制御部１１０は、デバイステストプログラム１１２、アプリケーションプログラム１１４、言語解析実行部１１６、テスタライブラリ１１８、テスタバスエミュレータ１２０を含んで構成されている。このエミュレータ制御部１１０は、テスタエミュレート部１４０の動作を制御するためのものであり、図２に示した半導体試験装置２００に含まれるテスタ制御部２１０と基本的に同じ動作を行う。」
　
（エ）「【００１９】テスタエミュレート部１４０は、図２のテスタ本体２４０の動作をソフトウェアで実現したものであり、エミュレータ制御部１１０内のテスタライブラリ１１８の動作指示に応じてハードウェア記述言語（ＨＤＬ）シミュレータ１５０に対する模擬的な試験を行う。テスタエミュレート部１４０は、仮想レジスタ１４２と仮想メモリ１４４と仮想試験実行部１４６を含んで構成されている。」
　
　また、原査定の拒絶の理由に引用された、特開平７−４９７４７号公報（以下、「引用文献２」という。）には、以下の事項が記載されている。
　
（オ）「【００１０】この発明は上記のような問題点を解消するためになされたもので、テストプログラムの編集作業（削除、実行順序の変更等）の効率化を図ると共に、デバッグ時間の短縮化を図って、総合的にテストプログラムの作成効率を向上させることができるプログラム作成装置を得ることを目的とする。」
　
（カ）「【００１６】図２に従って動作を説明する。まず、対象となるテストプログラムが作業者により指定手段１４を介して指定される（ステップＳＴ１）。次に、確認手段は、ステップＳＴ１で指定されたテストプログラムを読み込む（ステップＳＴ２）。そして、変更を必要とする行番号の指定の入力を受けつける（ステップＳＴ３）。例えば図７に示すテストプログラムが指定されていた場合に、テスト２終了後、テストｎに飛ぶために、行番号５１２０での設定状態を知る必要があれば、作業者は５１２０を指定する。
【００１７】確認手段は、プログラムを解析し、テスタハードウェアの設定状態を解読する（ステップＳＴ４）。この解読の結果、テスタハードウェアの各計測機器によって実現しようとする電子回路測定条件を、テストプログラム編集用コンピュータの表示画面に図５に示すような形式で表示する（ステップＳＴ５）。また、必要に応じて使用可能とすることを目的としてメモリ上に格納する。さらにこの表示結果のハードコピーも必要に応じて作成する。
【００１８】表示内容を追加のテストプログラムに変更したい場合、発生手段１２が、追加のテストプログラムへの変換を行う（ステップＳＴ６）。変換は、図５に示した表示内容に従って、各測定機器対応ごとに設定データを逐次変換することを可能にしたソフトウェアを実行することによって実現される。その結果の例を図６に示す。
【００１９】挿入手段１３は、ステップＳＴ６で作成された追加のテストプログラムをもとのプログラムに自動的に挿入し（図４参照）、かつ、必要に応じて、この挿入して作成したテストプログラムに追加、削除などの編集を行う（ステップＳＴ７）。勿論、原始プログラム自体に対しての編集機能も有する。こうして、所望のテストプログラムを作成する。なお、以上の操作ステップを対話的に実行することによって、プログラムの編集作業を効率よく実行可能とする。」
　
（キ）「【００２０】このようにして、テストプログラムは実行可能となり、必要に応じてデバッグ作業を開始することができるので、テストプログラムの任意のテストを設定条件を誤ることなく実行でき、良好なデバッグが可能である。」
　
　（イ）における記載「半導体試験装置２００用に作成されたデバイステストプログラム１１２を図１のデバッグ装置１００を用いて実行すると、そのデバイステストプログラム１１２の動作がユーザの意図したものと一致するか否かを調べることができる。」からすると、半導体試験装置用のデバイステストプログラムのデバッグを行うデバッグ装置が記載されていると解される。
　
　（ア）における記載「ＨＤＬシミュレート部１５０によってシミュレートされた半導体デバイス」からすると、半導体デバイスをシミュレートするＨＤＬシミュレート部が記載されていると解される。
　
　（ア）における記載「テスタエミュレート部１４０は、…（中略）…デバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。ＨＤＬシミュレート部１５０は、…（中略）…半導体デバイスをシミュレートする。…（中略）…。この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。」、（イ）における記載「図１のデバッグ装置１００は上述の半導体試験装置２００の全体動作をエミュレートすると共に被検査用半導体デバイス２５０の動作をシミュレートするものである。従って、半導体試験装置２００用に作成されたデバイステストプログラム１１２を図１のデバッグ装置１００を用いて実行する」、（ウ）における記載「エミュレータ制御部１１０は、テスタエミュレート部１４０の動作を制御する」、及び本実施形態のデバッグ装置の全体構成を示す図１からすると、デバッグ装置は、半導体試験装置の全体動作をエミュレートするエミュレータ制御部とテスタエミュレート部（以下、「半導体試験装置エミュレート部」という。）を備え、デバイステストプログラムを実行して半導体試験装置をシミュレートし、ＨＤＬシミュレート部に試験信号を供給する半導体試験装置エミュレート部が記載されていると解される。
　
　（エ）における記載「テスタエミュレート部１４０は、図２のテスタ本体２４０の動作をソフトウェアで実現したものであり、エミュレータ制御部１１０内のテスタライブラリ１１８の動作指示に応じてハードウェア記述言語（ＨＤＬ）シミュレータ１５０に対する模擬的な試験を行う。テスタエミュレート部１４０は、仮想レジスタ１４２と仮想メモリ１４４と仮想試験実行部１４６を含んで構成されている。」からすると、半導体試験装置エミュレート部は、デバイステストプログラムの試験を実行する仮想試験実行部を有していると解される。
　
　したがって、引用文献１には、次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
　
　半導体試験装置用のデバイステストプログラムのデバッグを行うデバッグ装置であって、
　半導体デバイスをシミュレートするＨＤＬシミュレート部と、
　前記デバイステストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記ＨＤＬシミュレート部に試験信号を供給する半導体試験装置エミュレート部とを備え、
　前記半導体試験装置エミュレート部は、
　前記デバイステストプログラムを実行する仮想試験実行部を有する
　デバッグ装置。
　
（３）対比
　
　ここで、本願補正発明と引用発明とを比較する。 
　
　引用発明の「デバイステストプログラム」は、本願補正発明の「テストプログラム」に相当する。
　引用発明の「デバッグ装置」は、本願補正発明の「テストプログラムデバッグ装置」に相当する。
　引用発明の「半導体デバイス」は、本願補正発明の「被試験デバイス」に相当する。
　引用発明の「ＨＤＬシミュレート部」は、本願補正発明の「被試験デバイスシミュレータ」に相当する。
　引用発明の「試験信号」は、ＨＤＬシミュレート部（本願補正発明の「被試験デバイスシミュレータ」に相当）でシミュレート試験を行うためにテストエミュレータ部からＨＤＬシミュレート部に供給される試験データであることから、本願補正発明の「テストパターン」に相当する。
　引用発明の「半導体試験装置エミュレート部」は、本願補正発明の「半導体試験装置シミュレータ」に相当する。
　引用発明の「仮想試験実行部」は、シミュレーション試験を実行する実行部である点で、本願補正発明の「命令実行部」に相当する。
　
　したがって、本願補正発明と引用発明とは、以下の点で一致し、また、相違している。
　
（一致点）
　
　半導体試験装置用のテストプログラムのデバッグを行うテストプログラムデバッグ装置であって、
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、
　前記デバイステストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置エミュレート部とを備え、
　前記半導体試験装置シミュレータは、
　前記テストプログラムを実行する命令実行部を有する
　テストプログラムデバッグ装置。
　
（相違点）
　
　本願補正発明が、「検証範囲取得部」、「命令単純化部」を有し、検証範囲以外の命令に対しては、被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令のみを実行する構成であるのに対して、引用発明では、効率的な検証試験を行うための具体的な構成については、明記されていない点。
　
（４）判断
　
　相違点について検討する。
　
　試験を効率的に行うことは、当該技術分野のみならず、一般に幅広く行われていることであり、そして、効率的な検証試験を行うために、複数ある試験項目の中から選択的に試験を行うことは、技術常識的事項である。
　
　また、（オ）における記載「この発明は…（中略）…テストプログラムの編集作業（削除、実行順序の変更等）の効率化を図ると共に、デバッグ時間の短縮化を図って、総合的にテストプログラムの作成効率を向上させることができるプログラム作成装置を得ることを目的とする。」、（カ）における記載「まず、対象となるテストプログラムが作業者により指定手段１４を介して指定される…（中略）…確認手段は、プログラムを解析し、テスタハードウェアの設定状態を解読する…（中略）…この解読の結果、…（中略）…追加のテストプログラムに変更したい場合、発生手段１２が、追加のテストプログラムへの変換を行う…（中略）…挿入手段１３は、ステップＳＴ６で作成された追加のテストプログラムをもとのプログラムに自動的に挿入し…（中略）…かつ、必要に応じて、…（中略）…作成したテストプログラムに追加…（中略）…などの編集を行う…（中略）…。こうして、所望のテストプログラムを作成する。」、及び（キ）における記載「このようにして、テストプログラムは実行可能となり、必要に応じてデバッグ作業を開始することができるので、テストプログラムの任意のテストを設定条件を誤ることなく実行でき、良好なデバッグが可能である。」からすると、効率的なデバッグ試験を行うことを目的として、指定された試験対象以外のテストプログラムに対しては、テスト環境の設定を行うための追加プログラム及び必要に応じて追加編集されたプログラムを実行する構成は、周知技術である。
　
　してみれば、引用発明においても、当該周知技術を適用し、検証試験を効率的に行うために、デバイステストプログラムを選択的に実施し、選択されなかった部分については、必要となるＨＤＬシミュレート部の設定プログラムのみを実行するように構成することは、当業者であれば、容易に想到し得たものである。
　
　よって、相違点は格別のものではない。
　
　上記で検討したごとく、相違点は格別のものではなく、そして、本願補正発明の構成によってもたらされる効果も、当業者であれば当然に予測可能なものに過ぎず格別なものとは認められない。
　
　したがって、本願補正発明は上記引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
４．むすび 
　
　以上のとおり、本件補正は、補正後の発明が特許出願の際独立して特許を受けることができないものであるから、特許法第１７条の２第５項の規定により準用する特許法第１２６条第５項の規定に適合していない。
　
　したがって、本件補正は、特許法第１５９条第１項において準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
　よって、結論のとおり決定する。
　
第３．本願発明について 
　
　平成２２年２月２６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項２に係る発明（以下、同項記載の発明を「本願発明」という。）は、平成２０年１１月１７日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項２に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。 
　
「半導体試験装置用のテストプログラムのデバッグを行うテストプログラムデバッグ装置であって、
　被試験デバイスをシミュレートする被試験デバイスシミュレータと、
　前記テストプログラムを実行して前記半導体試験装置をシミュレートし、前記被試験デバイスシミュレータにテストパターンを供給する半導体試験装置シミュレータと
を備え、
　前記半導体試験装置シミュレータは、
　前記テストプログラムのうちの検証すべき命令の範囲である検証範囲を取得する検証範囲取得部と、
　前記テストプログラムのうちの前記検証範囲以外の範囲である非検証範囲に含まれる非検証範囲命令のうち、前記被試験デバイスシミュレータの設定を行うための設定命令以外の非設定命令を単純化する命令単純化部と、
　前記検証範囲に含まれる検証範囲命令、前記設定命令、及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行する命令実行部と
を有し、
　前記命令単純化部は、前記非設定命令を前記命令実行部によって実行されない命令として設定し、
　前記命令実行部は、前記検証範囲命令及び前記設定命令を実行し、前記非設定命令を実行しない
　テストプログラムデバッグ装置。」
　
１．引用文献 
　
　原査定の拒絶の理由に引用された、引用文献およびその記載事項は、前記「平成２２年２月２６日付けの手続補正についての補正却下の決定」の「３．独立特許要件」の「（２）引用文献」に記載したとおりである。 
　
２．対比・判断 
　
　本願発明は、前記「平成２２年２月２６日付けの手続補正についての補正却下の決定」の「３．独立特許要件」の「（１）補正後の発明」に記載された本願補正発明の発明特定事項「テストプログラムの実行において、前記非検証範囲においては、前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行し、前記検証範囲においては、検証範囲命令を実行する命令実行部」から限定要件「テストプログラムの実行において、」、「非検証範囲においては、（前記設定命令及び前記命令単純化部によって単純化された前記非設定命令を実行）」、「検証範囲においては、（検証範囲命令を実行）」を省いたものである。
　
　してみると、本願発明の構成も引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に想到し得たものである。
　そして、当該構成の採用によって奏される作用効果も、当業者であれば容易に予測し得る程度のものであって、格別顕著なものではない。
　よって、本願発明は、引用発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３．むすび 
　
　以上のとおり、本願発明は、引用発明、及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　
　よって、結論のとおり審決する。