(57)【要約】      （修正有）【課題】レンズの外周部付近にある欠陥部を検出するレンズ検査装置を提供する。【解決手段】レンズ検査装置１０は、照明光源１２を備える。照明光源１２は、レンズ２０の径方向外側に配置されており、レンズ２０に光を照射する。照明光源１２の径方向に互いに対向する位置には、第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されており、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位には、照明光源１２から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８が形成される。そして、例えば、一方の乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合には、照明光源１２から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６に基づいて欠陥部２４が検出される。【選択図】図２
2017003412.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レンズの径方向外側に配置され、前記レンズに光を照射する光源と、
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成する抑制領域形成部と、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する検出部と、
を備えるレンズ検査装置。
【請求項２】
前記光源は、前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源を有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向に互いに対向する位置に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する一対の光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位にそれぞれ形成される、
請求項１に記載のレンズ検査装置。
【請求項３】
前記光源は、前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源と、
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記照明光源よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源とを有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に形成され、
前記検出部は、前記スポット光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
請求項１に記載のレンズ検査装置。
【請求項４】
前記光源は、前記レンズの径方向外側に設けられたスポット光源を有し、
前記抑制領域形成部は、前記レンズの径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記スポット光源から出力された光の乱反射を抑制する乱反射抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記乱反射抑制部と対向する部位に形成される、
請求項１に記載のレンズ検査装置。
【請求項５】
レンズの径方向外側に配置された光源から前記レンズに光を照射すると共に、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成し、
前記乱反射抑制領域の位置を前記レンズの周方向に移動させ、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
ことを含むレンズ検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願の開示する技術は、レンズ検査装置及びレンズ検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、レンズに光を照射する光源と、レンズからの透過光や反射光に基づいてレンズの傷や異物などの欠陥部を検出する検出部とを備えるレンズ検査装置がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−５７６１１号公報
【特許文献２】特開２００９−２８８１２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
レンズの外周部が研磨されていない場合、レンズの外周部が粗面となるため、レンズの外周部にて光の乱反射が生じる可能性がある。このため、レンズの外周部付近に欠陥部がある場合に、レンズの外周部にて光の乱反射が生じている状態では、欠陥部から得られる反射光がレンズの外周部にて生じた乱反射光の影響を受けてしまい、欠陥部を検出できない虞がある。
【０００５】
本願の開示する技術は、一つの側面として、レンズの外周部付近にある欠陥部を検出できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本願の開示する技術の一観点によれば、光源と、抑制領域形成部と、検出部とを備えるレンズ検査装置が提供される。光源は、レンズの径方向外側に配置されており、レンズに光を照射する。抑制領域形成部は、レンズの径方向外側に設けられており、レンズの外周部における周方向の一部に、光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成する。検出部は、乱反射抑制領域がレンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、光源から出力され乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて欠陥部を検出する。
【発明の効果】
【０００７】
本願の開示する技術によれば、レンズの外周部付近にある欠陥部を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第一実施形態に係るレンズ検査装置の正面図である。
【図２】第一実施形態に係るレンズ検査装置の平面図である。
【図３】第一実施形態における二値化画像を示す図である。
【図４】第一実施形態に係るレンズ検査装置の第一変形例を示す平面図である。
【図５】第一実施形態に係るレンズ検査装置の第二変形例を示す平面図である。
【図６】第二実施形態に係るレンズ検査装置の平面図である。
【図７】第二実施形態における二値化画像を示す図である。
【図８】第三実施形態に係るレンズ検査装置の平面図である。
【図９】第三実施形態における二値化画像を示す図である。
【図１０】抑制領域形成部の設定方法の一例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［第一実施形態］
はじめに、本願の開示する技術の第一実施形態を説明する。
【００１０】
図１に示されるように、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０は、照明光源１２と、回転機構１４と、カメラ１６と、パーソナルコンピュータ１８（以下、パソコン１８と略称する）とを備える。
【００１１】
検査対象であるレンズ２０は、照明光源１２とカメラ１６との間に配置される。このレンズ２０は、図示しない把持ハンド等によって把持され、照明光源１２及びカメラ１６と同軸上に配置される。図１において、矢印Ｚ１は、レンズ２０の軸方向一方側を示し、矢印Ｚ２は、レンズ２０の軸方向他方側を示している。
【００１２】
このレンズ検査装置１０は、カメラのレンズ、コンタクトレンズなど種々のレンズを検査対象とすることが可能である。これらのレンズは、傷や異物などの欠陥部２４を有する場合がある。
【００１３】
例えば、一眼レフカメラ用の交換レンズは、凹レンズ及び凸レンズを貼りあわせて形成される。このため、一眼レフカメラ用の交換レンズの場合、凹レンズ及び凸レンズの接合部に気泡やゴミが入り込んだり傷が付いたりすることがあり、これらが欠陥部として残存することがある。
【００１４】
照明光源１２は、「光源」の一例であり、レンズ２０の径方向外側かつ軸方向一方側に配置されている。この照明光源１２は、レンズ２０の外周部２２の周囲に沿って延びており、レンズ２０に光を照射する。この照明光源１２には、例えば、複数のＬＥＤ２６（light emitting diode）が配列されたＬＥＤアレイが用いられる。各ＬＥＤ２６は、レンズ２０の中央部に向けて配置されている。
【００１５】
回転機構１４は、「回転移動部」の一例であり、上述の照明光源１２が設けられた回転部材２８をレンズ２０の光軸を中心に回転させる。この回転機構１４には、例えば、ギアモータ等が用いられる。
【００１６】
カメラ１６は、「検出部」の一例であり、レンズ２０の軸方向他方側に配置されている。カメラ１６は、パソコン１８と通信可能に接続されており、カメラ１６で撮影された画像のデータは、パソコン１８に出力される。パソコン１８は、「画像処理部」の一例であり、カメラ１６で撮影された画像を二値化する機能を有する。
【００１７】
図２には、上述のレンズ検査装置１０が平面図にて示されている。図２では、上述のカメラ１６及びパソコン１８（図１参照）の図示が省略されている。
【００１８】
この図２に示されるように、照明光源１２には、第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されている。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、「一対の光出力抑制部」及び「抑制領域形成部」の一例である。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、照明光源１２の径方向に互いに対向する位置にそれぞれ形成されている。
【００１９】
また、この第一スリット３２及び第二スリット３４は、それぞれ照明光源１２の周方向の一部に形成されている。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、照明光源１２の周方向の一部が途切れることにより空間部として形成されている。
【００２０】
レンズ２０の平面視にて第一スリット３２の周方向の一端部とレンズ２０の中心Ｏとを結んだ線の延長線Ｌ１上には、第二スリット３４の周方向の一端部が位置する。また、レンズ２０の平面視にて第一スリット３２の周方向の他端部とレンズ２０の中心Ｏとを結んだ線の延長線Ｌ２上には、第二スリット３４の周方向の他端部が位置する。
【００２１】
レンズ２０の外周部２２は、通常、研磨されていないため、粗面となる。このため、レンズ２０の外周部２２における照明光源１２と対向する部位では、照明光源１２から出力された光４２が乱反射することにより反射光４４が得られる。この反射光４４は、レンズ２０の外周部２２の周囲に沿って得られる。図２において、照明光源１２から出力された光４２、及び、レンズ２０の外周部２２にて光が乱反射することにより得られた反射光４４は、理解の容易のために、ドットを付された状態で示されている。
【００２２】
一方、第一スリット３２及び第二スリット３４は、空間部であり、この第一スリット３２及び第二スリット３４では、光源や反射材が設けられていないため、光の出力が抑制される。このため、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位には、光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８がそれぞれ形成される。この乱反射抑制領域３６，３８は、照明光源１２の周方向に沿って円弧状に形成されている。
【００２３】
次に、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０を用いたレンズ検査方法について説明する。
【００２４】
先ず、図１に示されるように、検査対象であるレンズ２０が照明光源１２とカメラ１６との間に配置される。そして、回転機構１４が作動し、照明光源１２が設けられた回転部材２８がレンズ２０の光軸を中心に回転される。また、照明光源１２が作動し、照明光源１２からレンズ２０に光が照射される。
【００２５】
図２に示されるように、照明光源１２が作動すると、レンズ２０の外周部２２における照明光源１２と対向する部位では、照明光源１２から出力された光４２が乱反射することにより反射光４４が得られる。これに対し、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位では、照明光源１２から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８がそれぞれ形成される。反射光４４の位置及び乱反射抑制領域３６，３８の位置は、回転部材２８の回転に伴ってレンズ２０の周方向に移動される。
【００２６】
図１に示されるカメラ１６は、照明光源１２及び回転機構１４が作動している間、レンズ２０を一定の間隔で複数回撮影する。このカメラ１６は、レンズ２０が一周する間、撮影を行う。カメラ１６で撮影された画像のデータは、パソコン１８に出力され、パソコン１８では、カメラ１６で撮影された画像が二値化される。
【００２７】
そして、図２に示されるように、例えば、一方の乱反射抑制領域３６が欠陥部２４と対向する位置に位置された状態では、欠陥部２４の背面側において光の乱反射が抑制される。一方、乱反射抑制領域３６の周辺部では、照明光源１２から出力された光４２が乱反射することにより乱反射光４６が生じる。この乱反射光４６は、欠陥部２４にて反射する。また、図１に示されるように、この欠陥部２４にて反射した反射光４８は、カメラ１６にて検出される。
【００２８】
このように第一実施形態では、乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、照明光源１２から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６に基づいて欠陥部２４が検出される。
【００２９】
図３には、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０にて得られた二値化画像５０が示されている。この二値化画像５０では、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２の背面側にブラック部分ＢＬが位置する。このため、レンズの外周部にて生じた乱反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ１に、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２が取り込まれることが抑制され、ホワイト部分Ｗ２が明確に確保される。
【００３０】
そして、このようにして得られた二値化画像５０に基づいて作業者やパソコン等により、図１，図２に示されるレンズ２０における欠陥部２４の有無が判定される。
【００３１】
なお、以上は、レンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４が生じている場合の説明であるが、レンズ２０の中央部側に生じた欠陥部２４については、照明光源１２から出力された光４２に基づいて検出することが可能である。
【００３２】
また、図２に示される例では、一方の乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合について示されている。しかしながら、他方の乱反射抑制領域３８がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合においても上記と同様に欠陥部２４を検出することが可能である。
【００３３】
次に、第一実施形態の作用及び効果について説明する。
【００３４】
レンズ２０の外周部２２は、通常、研磨されていないため、粗面となる。レンズ２０の外周部２２が粗面である場合、レンズ２０の外周部２２にて光の乱反射が生じる。このため、図２に示されるようにレンズ２０の外周部２２付近に欠陥部２４がある場合に、レンズ２０の外周部２２にて光の乱反射が生じている状態では、欠陥部２４から得られる反射光がレンズ２０の外周部２２にて生じた乱反射光の影響を受ける可能性がある。この場合には、欠陥部２４を検出できない虞がある。
【００３５】
つまり、図３に示されるように、二値化画像５０が得られた場合に、例えば、レンズの外周部にて生じた乱反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ１に、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２が取り込まれてしまう虞がある。このことは、欠陥部がレンズの外周部近辺に形成された場合や、レンズが小径である場合に特に顕著である。
【００３６】
しかしながら、図２に示されるように、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０では、照明光源１２の径方向における互いに対向する部位に第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されている。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、空間部であり、この第一スリット３２及び第二スリット３４では、光源や反射材が設けられていないため、光の出力が抑制される。このため、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位では、光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８がそれぞれ形成される。
【００３７】
そして、レンズ検査装置１０では、例えば、一方の乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、照明光源１２から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６に基づいて欠陥部２４が検出される。したがって、欠陥部２４がレンズ２０の外周部２２付近にある場合でも、この欠陥部２４の背面側では、光の乱反射が抑制されるので、欠陥部２４から得られる反射光が乱反射光の影響を受けることを抑制することができる。これにより、欠陥部２４から得られる反射光を精度良く検出することができるので、レンズ２０の外周部２２付近にある欠陥部２４を検出することができる。
【００３８】
しかも、照明光源１２の径方向に互いに対向する位置に第一スリット３２及び第二スリット３４を形成するという簡単な構造により、欠陥部２４から得られる反射光が乱反射光の影響を受けることを抑制することができる。これにより、コストアップを抑制することができる。
【００３９】
また、第一スリット３２及び第二スリット３４は、照明光源１２の径方向における互いに対向する部位に形成されているので、この第一スリット３２及び第二スリット３４を結ぶ仮想線Ｌの間の間隙部では、光の乱反射をより効果的に抑制することができる。これにより、レンズ２０の外周部２２における周方向の一部に乱反射抑制領域３６，３８を精度良く形成することができる。
【００４０】
次に、第一実施形態の変形例について説明する。
【００４１】
上述の第一実施形態において、照明光源１２には、一例として、複数のＬＥＤが配列されたＬＥＤアレイが用いられている。しかしながら、例えば、光源と、この光源の光を拡散させる拡散部材を用いた照明器具が照明光源１２として用いられても良い。また、照明光源１２は、レンズ２０に光を照射することができるものであれば、どのようなものでも良い。
【００４２】
また、上述の第一実施形態では、レンズ２０の外周部２２における周方向の一部に乱反射抑制領域３６，３８を形成するために、第一スリット３２及び第二スリット３４が用いられている。しかしながら、第一スリット３２及び第二スリット３４の代わりに、例えば、図４に示されるように、環状に形成された照明光源１２の周方向の一部を遮光する第一遮光部材６２及び第二遮光部材６４が用いられても良い。また、照明光源１２が回転せずに、第一遮光部材６２及び第二遮光部材６４が回転部材２８の回転に伴って回転されることで、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に移動されても良い。
【００４３】
また、図５に示されるように、照明光源１２としてＬＥＤアレイが用いられる場合に、このＬＥＤアレイを形成する複数のＬＥＤ２６のうちいずれかのＬＥＤ２６が消灯されることにより、乱反射抑制領域３６，３８が形成されても良い。また、複数のＬＥＤ２６のうち消灯されるＬＥＤ２６が順次切り替えられることにより、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に移動されても良い。この場合には、複数のＬＥＤ２６のうち消灯されるＬＥＤ２６が「抑制領域形成部」の一例に相当し、複数のＬＥＤ２６のうち消灯されるＬＥＤ２６を順次切り替えるための駆動回路等が「回転移動部」の一例に相当する。
【００４４】
また、上述の第一実施形態では、照明光源１２の周方向の一部からの光の出力を抑制するためのものであれば、第一スリット３２及び第二スリット３４以外に、どのような光出力抑制部が用いられても良い。
【００４５】
また、レンズ２０の外周部２２における周方向の一部に乱反射抑制領域３６，３８を形成することができるものであれば、光出力抑制部以外に、どのような抑制領域形成部が用いられても良い。
【００４６】
また、上述の第一実施形態において、乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６によって欠陥部２４から反射光を得られれば、第一スリット３２及び第二スリット３４の周方向の長さ及び形状は、どのように設定されても良い。
【００４７】
また、上述の第一実施形態では、第一スリット３２及び第二スリット３４が形成された照明光源１２が回転部材２８と共に回転されることにより、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に移動される。しかしながら、照明光源１２が固定された状態で、回転部材２８と共にレンズ２０が回転されることにより、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に相対移動されても良い。
【００４８】
また、上述の第一実施形態において、レンズ検査装置１０は、回転部材２８を回転させる回転機構１４を備えるが、回転部材２８は、作業者によって手動で回転されても良い。
【００４９】
なお、上記複数の変形例のうち組み合わせ可能な変形例は、適宜、組み合わされても良い。
【００５０】
［第二実施形態］
次に、本願の開示する技術の第二実施形態を説明する。
【００５１】
図６に示される第二実施形態に係るレンズ検査装置７０では、上述の第一実施形態に係るレンズ検査装置１０（図２参照）に対し、次のように構成が変更されている。
【００５２】
すなわち、第二実施形態に係るレンズ検査装置７０では、照明光源１２及びスポット光源７４を有する光源７２が用いられている。スポット光源７４は、レンズ２０の径方向外側（例えば、第二スリット３４の上側又は内側）に設けられており、照明光源１２に固定されている。
【００５３】
このスポット光源７４は、レンズ２０の周方向に沿って並ぶ一対の光源部７６，７８を有する。一対の光源部７６，７８は、照明光源１２よりも直進性及び輝度の高い光を出力する。この一対の光源部７６，７８は、レンズ２０の平面視にてレンズ２０の中心Ｏを通過する光軸Ａ１，Ａ２を有する。この一対の光源部７６，７８には、例えば、照明光源１２の光を集光する集光レンズや、ＬＥＤ等の光源が用いられる。
【００５４】
第二実施形態において、第一スリット３２は、「抑制領域形成部」の一例であり、照明光源１２の径方向におけるスポット光源７４と反対側に設けられている。レンズ２０の平面視にて一方の光源部７６の光軸Ａ１上には、第一スリット３２の周方向の一端部が位置する。また、レンズ２０の平面視にて他方の光源部７８の光軸Ａ２上には、第一スリット３２の周方向の他端部が位置する。この第一スリット３２は、レンズ２０の平面視にて一対の光源部７６，７８から出力される光８２の間隙部に位置される。
【００５５】
この第二実施形態において、照明光源１２、スポット光源７４、第一スリット３２及び第二スリット３４の位置は、回転部材２８の回転に伴ってレンズ２０の周方向に移動される。また、一対の光源部７６，７８は、照明光源１２と共に作動する。一対の光源部７６，７８から出力された光８２は、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射する。そして、乱反射抑制領域３６の周辺部で生じた乱反射光８６は、欠陥部２４にて反射し、この欠陥部２４にて反射した反射光は、カメラ１６（図１参照）にて検出される。
【００５６】
このように第二実施形態では、乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、スポット光源７４から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光８６に基づいて欠陥部２４が検出される。
【００５７】
図７には、第二実施形態に係るレンズ検査装置７０にて得られた二値化画像９０が示されている。この二値化画像７０においても、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２の背面側にブラック部分ＢＬが位置する。このため、レンズの外周部にて生じた乱反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ１に、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２が取り込まれることが抑制され、ホワイト部分Ｗ２が明確に確保される。なお、この二値化画像７０では、乱反射抑制領域の周辺部で生じた乱反射光によってホワイト部分Ｗ３が形成されるが、ホワイト部分Ｗ３は、ホワイト部分Ｗ２と離れるため影響は少ない。
【００５８】
そして、このようにして得られた二値化画像９０に基づいて作業者やパソコン等により、図６に示されるレンズ２０における欠陥部２４の有無が判定される。
【００５９】
この第二実施形態によれば、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射光８６を得るために、照明光源１２よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源７４が用いられている。したがって、上述の第一実施形態よりも、乱反射抑制領域３６の周辺部で光の強度の高い乱反射光を得ることができるので、欠陥部２４の検出精度を向上させることができる。
【００６０】
この第二実施形態において、上記以外は、第一実施形態と同様の構造である。第二実施形態において、上述の第一実施形態と同様の構造については、同様の作用効果を奏する。
【００６１】
また、第二実施形態において、上述の第一実施形態と同様の構造については、第一実施形態と同様の変形例を採用することが可能である。
【００６２】
なお、第二実施形態では、照明光源１２に第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されている。しかしながら、スポット光源７４から出力された光８２によって得られる乱反射光８６に基づいて欠陥部２４を検出できるのであれば、スポット光源７４が設けられた側の第二スリット３４は無くても良い。
【００６３】
［第三実施形態］
次に、本願の開示する技術の第三実施形態を説明する。
【００６４】
図８に示される第三実施形態に係るレンズ検査装置１００では、上述の第二実施形態に係るレンズ検査装置７０（図６参照）に対し、次のように構成が変更されている。
【００６５】
すなわち、第三実施形態に係るレンズ検査装置１００では、照明光源１２（図６参照）が省かれており、「光源」の一例として、スポット光源７４が用いられている。また、レンズ２０の径方向におけるスポット光源７４と反対側には、「抑制領域形成部」の一例である乱反射抑制部１０２が確保されている。この乱反射抑制部１０２は、一対の光源部７６，７８から出力される光８２の間隙部によって形成される。
【００６６】
レンズ２０の外周部２２における乱反射抑制部１０２と対向する部位には、スポット光源７４から出力された光の乱反射が抑制された円弧状の乱反射抑制領域３６が形成される。
【００６７】
この第三実施形態において、スポット光源７４及び乱反射抑制部１０２の位置は、回転部材２８の回転に伴ってレンズ２０の周方向に移動される。また、一対の光源部７６，７８から出力された光８２は、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射する。そして、乱反射抑制領域３６の周辺部で生じた乱反射光８６は、欠陥部２４にて反射し、この欠陥部２４にて反射した反射光は、カメラ１６（図１参照）にて検出される。
【００６８】
このように第三実施形態では、乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、スポット光源７４から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光８６に基づいて欠陥部２４が検出される。
【００６９】
図９には、第三実施形態に係るレンズ検査装置１００にて得られた二値化画像１１０が示されている。この二値化画像１１０においても、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２の背面側にブラック部分ＢＬが位置する。このため、ホワイト部分Ｗ２が明確に確保される。なお、この二値化画像１１０においても、乱反射抑制領域の周辺部で生じた乱反射光によってホワイト部分Ｗ３が形成されるが、ホワイト部分Ｗ３は、ホワイト部分Ｗ２と離れるため影響は少ない。
【００７０】
そして、このようにして得られた二値化画像１１０に基づいて作業者やパソコン等により、図８に示されるレンズ２０における欠陥部２４の有無が判定される。
【００７１】
この第三実施形態によれば、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射光８６を得るために、スポット光源７４が用いられている。したがって、例えば、スポット光源７４に加えて照明光源を用いる場合に比して、照明光源による乱反射光の影響を排除できるので、欠陥部２４の検出精度を確保することができる。
【００７２】
また、照明光源を用いない分、部品点数を削減することができるので、コストダウンすることができる。
【００７３】
この第三実施形態において、上記以外は、第一及び第二実施形態と同様の構造である。第三実施形態において、上述の第一及び第二実施形態と同様の構造については、同様の作用効果を奏する。
【００７４】
また、第三実施形態において、上述の第一及び第二実施形態と同様の構造については、第一及び第二実施形態と同様の変形例を採用することが可能である。
【００７５】
[抑制領域形成部の設定方法の一例]
次に、図１０を適宜参照しながら、上述の各実施形態における抑制領域形成部の幅の設定方法の一例について説明する。上述の各実施形態において、抑制領域形成部の幅は、照明光源の輝度やレンズの特性に関係するため、レンズの外周部で乱反射している光の幅を基に決定される。
【００７６】
先ず、レンズの外周部で乱反射している光の幅ｄを計測する。
幅ｄでは、欠陥部が見えないが、幅ｄ＋ｄ／２では欠陥部の検出が可能で、かつ、散乱光もある。
このため、レンズの乱反射抑制領域の幅は、２×３ｄ／２＝３ｄとなる。
レンズの半径をｒとすると、レンズの中心から乱反射抑制領域までの角度θは、以下で求められる。
2017003412.tif 000003
したがって、照明光源の半径をＲとすると、抑制領域形成部の幅Ｌは、以下で求められる。
2017003412.tif 000004
【００７７】
以上、本願の開示する技術の第一乃至第三実施形態について説明したが、本願の開示する技術は、上記に限定されるものでなく、上記以外にも、その主旨を逸脱しない範囲内において種々変形して実施可能であることは勿論である。
【００７８】
なお、上述の本願の開示する技術の一実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【００７９】
（付記１）
レンズの径方向外側に配置され、前記レンズに光を照射する光源と、
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成する抑制領域形成部と、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する検出部と、
を備えるレンズ検査装置。
（付記２）
前記光源は、前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源を有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向に互いに対向する位置に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する一対の光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位にそれぞれ形成される、
付記１に記載のレンズ検査装置。
（付記３）
前記レンズの平面視にて一方の前記光出力抑制部の周方向の一端部と前記レンズの中心とを結んだ線の延長線上には、他方の前記光出力抑制部の周方向の一端部が位置し、
前記レンズの平面視にて一方の前記光出力抑制部の周方向の他端部と前記レンズの中心とを結んだ線の延長線上には、他方の前記光出力抑制部の周方向の他端部が位置する、
付記２に記載のレンズ検査装置。
（付記４）
前記一対の光出力抑制部は、前記照明光源の径方向に互いに対向する位置にそれぞれ形成されたスリットである、
付記２又は付記３に記載のレンズ検査装置。
（付記５）
前記一対の光出力抑制部の位置を前記レンズに対して前記レンズの周方向に相対移動させる回転移動部をさらに備える、
付記２〜付記４のいずれか一項に記載のレンズ検査装置。
（付記６）
前記光源は、前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源と、
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記照明光源よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源とを有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に形成され、
前記検出部は、前記スポット光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
付記１に記載のレンズ検査装置。
（付記７）
前記スポット光源は、前記レンズの周方向に沿って並ぶ一対の光源部を有し、
前記一対の光源部は、前記レンズの平面視にて前記レンズの中心を通過する光軸を有し、
前記レンズの平面視にて一方の前記光源部の光軸上には、前記光出力抑制部の周方向の一端部が位置し、
前記レンズの平面視にて他方の前記光源部の光軸上には、前記光出力抑制部の周方向の他端部が位置する、
付記６に記載のレンズ検査装置。
（付記８）
前記光出力抑制部は、前記照明光源の周方向の一部に形成されたスリットである、
付記６又は付記７に記載のレンズ検査装置。
（付記９）
前記スポット光源及び前記光出力抑制部の位置を前記レンズに対して前記レンズの周方向に相対移動させる回転移動部をさらに備える、
付記６〜付記８のいずれか一項に記載のレンズ検査装置。
（付記１０）
前記光源は、前記レンズの径方向外側に設けられたスポット光源を有し、
前記抑制領域形成部は、前記レンズの径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記スポット光源から出力された光の乱反射を抑制する乱反射抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記乱反射抑制部と対向する部位に形成される、
付記１に記載のレンズ検査装置。
（付記１１）
前記乱反射抑制部は、前記一対の光源部から出力される光の間隙部によって形成される、
付記１０に記載のレンズ検査装置。
（付記１２）
前記スポット光源及び前記乱反射抑制部の位置を前記レンズに対して前記レンズの周方向に相対移動させる回転移動部をさらに備える、
付記１０又は付記１１に記載のレンズ検査装置。
（付記１３）
前記検出部は、カメラである、
付記１〜付記１２のいずれか一項に記載のレンズ検査装置。
（付記１４）
前記カメラで撮影された画像を二値化する画像処理部をさらに備える、
付記１３に記載のレンズ検査装置。
（付記１５）
レンズの径方向外側に配置された光源から前記レンズに光を照射すると共に、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成し、
前記乱反射抑制領域の位置を前記レンズの周方向に移動させ、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
ことを含むレンズ検査方法。
（付記１６）
前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源を有する前記光源から前記レンズに光を照射し、
前記照明光源の径方向に互いに対向する位置に設けられた一対の光出力抑制部によって前記照明光源からの光の出力を抑制することにより前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に前記乱反射抑制領域をそれぞれ形成する、
付記１５に記載のレンズ検査方法。
（付記１７）
前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源と、前記レンズの径方向外側に設けられ前記照明光源よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源とを有する前記光源から前記レンズに光を照射し、
前記照明光源の径方向における前記スポット光源と反対側に設けられた光出力抑制部によって前記照明光源からの光の出力を抑制することにより前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に前記乱反射抑制領域を形成し、
前記スポット光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
付記１６に記載のレンズ検査方法。
（付記１８）
前記レンズの径方向外側に設けられたスポット光源を有する前記光源から前記レンズに光を照射し、
前記レンズの径方向における前記スポット光源と反対側に設けられた乱反射抑制部によって前記スポット光源から出力された光の乱反射を抑制することにより前記レンズの外周部における前記乱反射抑制部と対向する部位に前記乱反射抑制領域を形成する、
付記１７に記載のレンズ検査方法。
【符号の説明】
【００８０】
１０  レンズ検査装置
１２  照明光源（光源の一例）
１４  回転機構（回転移動部の一例）
１６  カメラ（検出部の一例）
１８  パーソナルコンピュータ
２０  レンズ
２２  外周部
２４  欠陥部
３２  第一スリット（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
３４  第二スリット（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
３６，３８  乱反射抑制領域
６２  第一遮光部材（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
６４  第二遮光部材（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
７０  レンズ検査装置
７２  光源
７４  スポット光源
７６，７８  一対の光源部
１００  レンズ検査装置
１０２  乱反射抑制部（抑制領域形成部の一例）
【図１】
2017003412.tif 000005
【図２】
2017003412.tif 000006
【図３】
2017003412.tif 000007
【図４】
2017003412.tif 000008
【図５】
2017003412.tif 000009
【図６】
2017003412.tif 000010
【図７】
2017003412.tif 000011
【図８】
2017003412.tif 000012
【図９】
2017003412.tif 000013
【図１０】
2017003412.tif 000014