【手続補正書】
【提出日】平成18年4月28日(2006.4.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ロボットピペッティングデバイスによるアクセスのための複数のサンプルチューブの保持および収容における使用のためのサンプルキャリアであって、該サンプルキャリアは、以下：
下側支持壁；
該下側支持壁の底部端に接続されているか、または、該下側支持壁の底部端の近位に固定されている基板；
複数のサンプルチューブを実質的に垂直方向に受け取り、保持するための、該下側支持壁の近位に固定されたサンプルチューブ保持手段；および
該底部支持体の頂部端に直接的または間接的に接続されたブロッキング壁を備えるサンプルチューブブロッキング部材
を備え、該サンプルチューブ保持手段は、該サンプルチューブブロッキング部材のブロッキング壁の下に取り付けられ、その結果、該ブロッキング壁が、該サンプルチューブ保持手段によって保持される各サンプルチューブの一部を覆って延び、それによって、ロボットピペッティングデバイスによる該サンプルチューブの内容物へのアクセスを邪魔することなく、該サンプルキャリアによって保持されるサンプルチューブの垂直方向の動きを制限する、サンプルキャリア。
【請求項２】
請求項１に記載のサンプルキャリアであって、該サンプルチューブ保持手段が一連のサンプルチューブ受け取り領域を備え、各サンプルチューブ受け取り領域は、以下：
前記下側支持壁に対してほぼ垂直または放射状の方向を有する１対の固定された仕切り；
該下側支持壁に対して対向する方向を有する１つ以上の固定された保持壁；および
対応するサンプルチューブを中に保持するための該サンプルチューブ受け取り領域の各々の中に配置された１つ以上のばね、
によって規定される、サンプルキャリア。
【請求項３】
前記仕切りが前記下側支持壁から外向きかつ前期基板から上向きに延び、かつ、前記保持壁が該基板から上向きに延びる、請求項２に記載のサンプルキャリア。
【請求項４】
隣接するサンプルチューブ受け取り領域を隔てる各仕切りと１対の保持壁とが接続されてＹ型仕切り板を形成する、請求項２に記載のサンプルキャリア。
【請求項５】
１つだけのサンプルチューブ受け取り領域に隣接する前記仕切りとその関連する保持壁とが、１対の端壁を形成する、請求項４に記載のサンプルキャリア。
【請求項６】
前記１つ以上のばねが前記支持壁によって固定され、該支持壁に対して外向きに向って前記サンプルチューブ受け取り領域の１つに延びる板ばねを備え、該板ばねは、前記対応するサンプルチューブ受け取り領域と関連する１つ以上の保持壁に対してサンプルチューブを偏らせるように構成および配置される、請求項２に記載のサンプルキャリア。
【請求項７】
前記板ばねが前記下側支持壁に形成されるスロットを通って外向きに延びる、請求項６に記載のサンプルキャリア。
【請求項８】
前記サンプルチューブ保持手段が前記サンプルチューブを受け取るように構成されている前記基板内に形成される一連のスロットを備える、請求項１に記載のサンプルキャリア。
【請求項９】
開口部が各スロットに近接する前記基板の外側表面を通って延び、該スロットによって保持されるサンプルチューブの外側表面に貼られた機械読取り可能な情報を見ることを可能にする、請求項８に記載のサンプルキャリア。
【請求項１０】
前記サンプルチューブブロッキング部材が、前記ブロッキング壁からぶら下がった上側支持壁をさらに備え、該上側支持壁が該下側支持壁に直接的または間接的に接続されている、請求項１に記載のサンプルキャリア。
【請求項１１】
前記上側支持壁が前記下側支持壁に直接接続されている、請求項１０に記載のサンプルキャリア。
【請求項１２】
前記下側支持壁および上側支持壁が、それぞれ、該下側支持壁および上側支持壁を解放可能なように接続するために、嵌合される第１および第２の位置決め要素を備える、請求項１１に記載のサンプルキャリア。
【請求項１３】
前記第１の位置決め要素が前記下側支持壁の上部表面から上向きに延びる１対のピンから成り、前記第２の位置決め要素が１対の対応する貫通孔から成り、該貫通孔を通って該ピンを受け取る、請求項１１に記載のサンプルキャリア。
【請求項１４】
前記サンプルチューブ保持手段が、前記下側支持壁の両側面にサンプルチューブを受け取りかつ保持できる、請求項１に記載のサンプルキャリア。
【請求項１５】
前記サンプルキャリアが弓状の形を有する、請求項１４に記載のサンプルキャリア。
【請求項１６】
請求項１に記載のサンプルキャリアであって、以下：
前記下側支持壁の上側部分に接続された横壁であって、該横壁は間隔を空けた複数の開口部を備え、各開口部はそこを通ってサンプルチューブを受け取るように寸法決めされ、そして、該開口部は、該サンプルキャリアによって保持されるサンプルチューブを実質的に垂直方向に維持するために前記サンプルチューブ保持手段と整列される、横壁；および
前記ブロッキング壁からぶら下がった上側支持壁であって、直接的または間接的に該横壁を接続している、上側支持壁
をさらに備える、サンプルキャリア。
【請求項１７】
前記上側支持壁が前記横壁に直接接続されている、請求項１６に記載のサンプルキャリア。
【請求項１８】
請求項１６に記載のサンプルキャリアであって、前記サンプルチューブ保持手段が一連のサンプルチューブ受け取り領域を備え、各サンプルチューブ受け取り領域は、以下：
前記下側支持壁に対してほぼ垂直または放射状の方向を有する１対の固定された仕切り；
該下側支持壁に対して対向する方向を有する１つ以上の固定された保持壁；および
対応するサンプルチューブを中に保持するための該サンプルチューブ受け取り領域の各々の中に配置された１つ以上のばね、
によって規定される、サンプルキャリア。
【請求項１９】
前記仕切りが前記下側支持壁から外向きに、前記基板から上向きに延び、かつ、前記保持壁が該基板から上向きに延びる、請求項１８に記載のサンプルキャリア。
【請求項２０】
隣接するサンプルチューブ受け取り領域を隔てる各仕切りと１対の保持壁とが接続されて、Ｙ型仕切り板を形成する、請求項１８に記載のサンプルキャリア。
【請求項２１】
１つのみのサンプルチューブ受け取り領域に隣接する前記仕切りおよびそれらに関連する保持壁が１対の端壁を形成する、請求項２０に記載のサンプルキャリア。
【請求項２２】
前記１つ以上のばねが前記支持壁によって固定され、該支持壁に対して外向きに向って前記サンプルチューブ受け取り領域の１つに延びる板ばねを備え、該板ばねは、前記対応するサンプルチューブ受け取り領域と関連する１つ以上の保持壁に対してサンプルチューブを偏らせるように構成および配置される、請求項１８に記載のサンプルキャリア。
【請求項２３】
前記板ばねが前記下側支持壁に形成されるスロットを通って外向きに延びる、請求項２２に記載のサンプルキャリア。
【請求項２４】
請求項１６に記載のサンプルキャリアであって：
前記下側支持壁が上側部分および下側部分を備え；
前記サンプルチューブ保持手段が該下側支持壁の上側部分と下側部分との間に位置し、該下側支持壁の上側部分と下側部分とに接続される側方に延びる壁を備え、該側方に延びる壁が前記横壁の開口部と実質的に軸方向に整列されている間隔を空けられた複数の開口部を備え、該側方に延びる壁の各開口部がそこを通ってサンプルチューブを受け取るようにサイズ決めされ、フィンガーばねのセットが各開口部の周辺付近の該側方に延びる壁の底部表面からぶら下がり、該フィンガーばねのセットが該開口部内にサンプルチューブを保持するように構成および配置されている、サンプルキャリア。
【請求項２５】
前記下側支持壁と前記側方に延びる壁が一体の片を形成する、請求項２４に記載のサンプルキャリア。
【請求項２６】
フィンガーばねの各セットが４つのフィンガーばねを備える、請求項２４に記載のサンプルキャリア。
【請求項２７】
各フィンガーばねが遠位ノードを備え、前記サンプルチューブ保持手段からの前記サンプルチューブの取り外しを促進する、請求項２４に記載のサンプルキャリア。
【請求項２８】
前記横壁の上部表面および前記上側支持壁の底部表面がそれぞれ、該横壁および該上側支持壁を解放可能なように接続するために、嵌合される第１および第２の位置決め要素を備える、請求項１６に記載のサンプルキャリア。
【請求項２９】
前記第１の位置決め要素が前記横壁の上部表面から上向きに延びる１対のピンから成り、前記第２の位置決め要素が１対の対応する貫通孔から成り、該貫通孔を通って該ピンを受け取る、請求項２８に記載のサンプルキャリア。
【請求項３０】
前記横壁の上部表面が各開口部の周辺付近で面取りされている、請求項１６に記載のサンプルキャリア。
【請求項３１】
前記サンプルチューブ保持手段によって保持される１つ以上のサンプルチューブをさらに備える請求項１６に記載のサンプルキャリアであって、各サンプルチューブに関するキャップ成分は、前記横壁の頂部表面と底部表面との間の対応する開口部内に少なくとも部分的に収納される、サンプルキャリア。
【請求項３２】
各キャップが貫通可能なシールを備える、請求項３１に記載のサンプルキャリア。
【請求項３３】
各サンプルチューブに関する前記キャップ成分の長手方向軸が前記横壁の各対応する開口部の長手方向軸から約０．１２５インチを超えない、請求項３１に記載のサンプルキャリア。
【請求項３４】
前記サンプルチューブ保持手段が、前記下側支持壁の両側面にサンプルチューブを受け取り、保持できる、請求項１６に記載のサンプルキャリア。
【請求項３５】
前記サンプルキャリアが弓状の形を有する、請求項３４に記載のサンプルキャリア。
【請求項３６】
自動サンプリング手順の間にサンプルキャリアによって保持されるサンプルチューブの内容物の保護における使用のためのドリップシールドであって、該ドリップシールドは、以下：
カバープレート；
該カバープレート中に形成される１つ以上の貫通孔であって、各貫通孔はそこを通る整列したピペットチップの干渉されない垂直方向の通過および該カバープレートの下に配置されるサンプルキャリアによって保持される一連のサンプルチューブの１つの内容物へのアクセスを提供するように構成および配置されている、貫通孔；および
該カバープレートの下部表面からぶら下がり、内部ランナーとそこから間隔を空けられている少なくとも１つの外部ランナーから成る一組のランナーであって、該内部ランナーは、該ドリップシールドの下に配置されるサンプルキャリアの垂直方向の動きを制限するように構成および配置され、該一組のランナーは、該サンプルキャリアによって保持されるサンプルチューブの垂直方向の動きを制限するように構成および配置される、一組のランナー
を備える、ドリップシールド。
【請求項３７】
前記内部ランナーが前記カバープレートの底部表面上で実質的に長手方向軸または弓状中心にあり、前記少なくとも１つの外部ランナーが、該内部ランナーの反対の側面からぶら下がった２つの外部ランナーを備える、請求項３６に記載のドリップシールド。
【請求項３８】
少なくとも２つの貫通孔が前記カバープレート中に形成され、該貫通孔の少なくとも１つが前記内部ランナーの各側、かつ、該内部ランナーと前記外部ランナーの１つとの間に配置される、請求項３７に記載のドリップシールド。
【請求項３９】
前記内部ランナーが少なくとも１つのテーパ状の端部を有する、請求項３６に記載のドリップシールド。
【請求項４０】
前記カバープレートの上部表面が各貫通孔の周辺付近で面取りされている、請求項３６に記載のドリップシールド。
【請求項４１】
前記カバープレートの上部表面上の各貫通孔の周辺付近にリムが提供される、請求項３６に記載のドリップシールド。
【請求項４２】
前記ドリップシールドが実質的に非導電性の物質から構成される、請求項３６に記載のドリップシールド。
【請求項４３】
サンプルキャリア運搬手段を備える自動サンプリングシステムであって、該サンプルキャリア運搬手段の上に請求項１に記載のサンプルキャリアが位置付けられ、前記ドリップシールドが静止表面に固定されて該サンプルキャリア運搬手段の上に位置付けられ、ここで、該ドリップシールドは、以下：
カバープレート；
該カバープレートの下部表面からぶら下がり、該カバープレートの下部表面上で実質的に長手方向軸または弓状中心にある内部ランナーであって、該ランナーは、該ドリップシールドの下に位置付けられる場合に、該サンプルキャリアの垂直方向の動きを制限するように構成および配置されている、内部ランナー；
１対の外部ランナーであって、該外部ランナーは、該内部ランナーから間隔を空けられ、該内部ランナーの反対側に位置付けられており、該ランナーは、該サンプルキャリアが該サンプルキャリアによって保持されるサンプルチューブの垂直方向の動きを制限するように構成および配置されている、１対の外部ランナー；および
該内部ランナーの各側でありかつ該内部ランナーと該外部ランナーとの間で、該カバープレートに形成される１つ以上の貫通孔であって、各貫通孔は、そこを通る整列したピペットチップの垂直方向の干渉しない通過、および該サンプルキャリアが該カバープレートの下に位置付けられる場合に、該サンプルキャリア中に存在する一連のサンプルチューブの内容物へのアクセスを提供するように構成および配置されている、貫通孔
を備える、自動サンプリングシステム。
【請求項４４】
前記サンプルキャリアが前記ドリップシールドの下に運ばれる場合、該サンプルキャリアの前記ブロッキング壁の上部表面が、前記内部ランナーの下部表面の下方、約０．１２５インチ以内にある、請求項４３に記載の自動サンプリングシステム。
【請求項４５】
前記カバープレート中の各貫通孔の直径が、前記サンプルキャリアによって保持される任意のサンプルチューブの最小の直径よりも小さくなるように寸法決めされる、請求項４３に記載の自動サンプリングシステム。
【請求項４６】
前記サンプルキャリアおよび前記ドリップシールドが対応する弓状の形を有する、請求項４３に記載の自動サンプリングシステム。