(57)【要約】      （修正有）【課題】本発明は、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルに光を照射し、液晶セルに光が照射された状態で液晶セルを局部的に加圧することにより、液晶セルで発生する光漏れ現象を利用して液晶の注入状態を検査することができる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置を提供する。【解決手段】液晶注入状態検査方法は、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルにおいて液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査方法であり、液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ステップと、液晶セル全体または加圧位置に光を照射する照明ステップと、加圧ステップと照明ステップを経ることにより加圧位置で液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ステップ、および光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態の測定値と既設定の基準変化量を比較する検査ステップを含む。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルにおいて前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査方法であり、
前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ステップ；
前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ステップ；
前記加圧ステップと前記照明ステップを経ることにより前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ステップ；および
前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態の測定値と既設定の基準変化量を比較する検査ステップ；を含むことを特徴とする液晶注入状態検査方法。
【請求項２】
前記検査ステップは、
前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態の測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶が正常に注入されたと判断し、
前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態の測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶の注入状態が不良であると判断することを特徴とする請求項１に記載の液晶注入状態検査方法。
【請求項３】
前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態の測定値は、
前記加圧位置における光の明るさと、前記加圧位置における光漏れ面積と、前記加圧位置における光漏れの直径のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項１に記載の液晶注入状態検査方法。
【請求項４】
上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルにおいて前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査方法であり、
前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ステップ；
前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ステップ；
前記加圧ステップと前記照明ステップを経ることにより前記液晶セルを通過する光の光漏れを利用して前記加圧位置で前記液晶の復元時間を測定する復元時間測定ステップ；および
前記復元時間測定ステップにおける復元時間と既設定の基準復元時間を比較する検査ステップ；を含むことを特徴とする液晶注入状態検査方法。
【請求項５】
前記検査ステップは、
前記復元時間測定ステップにおける復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶が正常に注入されたと判断し、
前記復元時間測定ステップにおける復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶の注入状態が不良であると判断することを特徴とする請求項４に記載の液晶注入状態検査方法。
【請求項６】
前記復元時間測定ステップにおける復元時間は、
前記加圧ステップによって前記加圧位置で光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置で光漏れが消える第２時間との差によって計算することを特徴とする請求項４に記載の液晶注入状態検査方法。
【請求項７】
前記加圧ステップと前記照明ステップによって前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ステップ；をさらに含むことを特徴とする請求項４に記載の液晶注入状態検査方法。
【請求項８】
前記液晶セルで前記加圧位置を変更させる位置調整ステップ；をさらに含むことを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の液晶注入状態検査方法。
【請求項９】
上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルで前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査装置であり、
前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ユニット；
前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ユニット；
前記加圧ユニットと前記照明ユニットの作動によって前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ユニット；および
前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態の測定値と既設定の基準変化量を比較する検査ユニット；を含むことを特徴とする液晶注入状態検査装置。
【請求項１０】
前記検査ユニットは、
前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態の測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶が正常に注入されたと判断し、
前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態の測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶の注入状態が不良であると判断することを特徴とする請求項９に記載の液晶注入状態検査装置。
【請求項１１】
前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態の測定値は、
前記加圧位置における光の明るさと、前記加圧位置における光漏れ面積と、前記加圧位置における光漏れの直径の少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項９に記載の液晶注入状態検査装置。
【請求項１２】
上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルで前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査装置であり、
前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ユニット；
前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ユニット；
前記加圧ユニットと前記照明ユニットの作動によって前記液晶セルを通過する光の光漏れを利用して前記加圧位置における前記液晶の復元時間を測定する復元時間測定ユニット；および
前記復元時間測定ユニットにおける復元時間と既設定の基準復元時間を比較する検査ユニット；を含むことを特徴とする液晶注入状態検査装置。
【請求項１３】
前記検査ユニットは、
前記復元時間測定ユニットにおける復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶が正常に注入されたと判断し、
前記復元時間測定ユニットにおける復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶の注入状態が不良であると判断することを特徴とする請求項１２に記載の液晶注入状態検査装置。
【請求項１４】
前記復元時間測定ユニットにおける復元時間は、
前記加圧ユニットによって前記加圧位置で光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置で光漏れが消える第２時間との差によって計算することを特徴とする請求項１２に記載の液晶注入状態検査装置。
【請求項１５】
前記加圧ユニットと前記照明ユニットによって前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ユニット；をさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の液晶注入状態検査装置。
【請求項１６】
前記液晶セルで前記加圧位置を変更させる測定制御部；をさらに含むことを特徴とする請求項９〜１５に記載の液晶注入状態検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶注入状態検査方法と検査装置に関するものであり、より具体的には、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルに光を照射し、液晶セルに光が照射された状態で液晶セルを局部的に加圧することにより、液晶セルで発生する光漏れ現象を利用して液晶の注入状態を検査することができる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ：Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）装置は、光源および液晶セルを含み、液晶の複屈折特性を利用して光の伝達を制御することにより、多様なイメージを表示する。液晶セルを作るプロセスにおいて、液晶物質が基板上に散布され、他の基板がその上に覆われる技術が提供されている。このような技術は、液晶セルを形成するプロセスのステップを大きく減らし、製造効率を改善する。
【０００３】
特に、ワンドロップフィル（ＯＤＦ：Ｏｎｅ  Ｄｒｏｐ  Ｆｉｌｌ）方法は次のステップを含む。先ず、密封部材を形成するために密封剤を一対の基板の一方の全体周辺に塗った後、液晶物質を一対の基板の一つに散布する。散布ステップ後、一つの基板を別の基板上に重ねて置き、密封部材を硬化させる。
【０００４】
このようなワンドロップフィル（ＯＤＦ）方法は、従来の真空注入方法に比べて液晶物質の使用量および液晶物質の注入時間を短縮させ液晶セルの製造コストをかなり減らすことができ、収率を改善させる。
【０００５】
このとき、基板の厚さが薄くなり、基板の面積が大型化され、液晶セルにおける解像度が高くなることにより、液晶セルの駆動不良を防止するための液晶の注入状態の検査はより重要な要素となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】韓国登録特許公報第１０−０２７９２６０号公報（発明の名称：液晶セルの液晶注入および液晶注入口封入検査システム，２０００．０１．１５．公告）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、従来の問題点を解決するためのものであり、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルに光を照射し、液晶セルに光が照射された状態で液晶セルを局部的に加圧することにより、液晶セルで発生する光漏れ現象を利用して液晶の注入状態を検査できる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述の本発明の目的を達成するための望ましい実施例によると、本発明にかかる液晶注入状態検査方法は、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルにおいて前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査方法であり、前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ステップ；前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ステップ；前記加圧ステップと前記照明ステップを経ることにより前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ステップ；および前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態測定値と既設定の基準変化量を比較する検査ステップ；を含む。
【０００９】
ここで、前記検査ステップは、前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態測定値が、既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合は前記液晶が正常に注入されたと判断し、前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合は前記液晶の注入状態が不良であると判断する。
【００１０】
ここで、前記光漏れ測定ステップにおける光漏れ状態測定値は、前記加圧位置における光の明るさと、前記加圧位置における光漏れ面積と、前記加圧位置における光漏れの直径の少なくとも一つを含む。
【００１１】
もしくは、本発明にかかる液晶注入状態検査方法は、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルにおいて前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査方法であり、前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ステップ；前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ステップ；前記加圧ステップと前記照明ステップを経ることにより前記液晶セルを通過する光の光漏れを利用して前記加圧位置で前記液晶の復元時間を測定する復元時間測定ステップ；および前記復元時間測定ステップにおける復元時間と既設定の基準復元時間を比較する検査ステップ；を含む。
【００１２】
ここで、前記検査ステップは、前記復元時間測定ステップにおける復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合は前記液晶が正常に注入されたと判断し、前記復元時間測定ステップにおける復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れる場合は前記液晶の注入状態が不良であると判断する。
【００１３】
ここで、前記復元時間測定ステップにおける復元時間は、前記加圧ステップによって前記加圧位置で光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置で光漏れが消える第２時間との差によって計算する。
【００１４】
本発明にかかる液晶注入状態検査方法は、前記加圧ステップと前記照明ステップによって前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ステップ；をさらに含む。
【００１５】
本発明にかかる液晶注入状態検査方法は、前記液晶セルで前記加圧位置を変更させる位置調整ステップ；をさらに含む。
【００１６】
本発明にかかる液晶注入状態検査装置は、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルで前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査装置であり、前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ユニット；前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ユニット；前記加圧ユニットと前記照明ユニットの作動によって前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ユニット；および前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態測定値と既設定の基準変化量を比較する検査ユニット；を含む。
【００１７】
ここで、前記検査ユニットは、前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態測定値が、既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合は前記液晶が正常に注入されたと判断し、前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合は前記液晶の注入状態が不良であると判断する。
【００１８】
ここで、前記光漏れ測定ユニットにおける光漏れ状態測定値は、前記加圧位置における光の明るさと、前記加圧位置における光漏れ面積と、前記加圧位置における光漏れの直径の少なくとも一つを含む。
【００１９】
もしくは、本発明にかかる液晶注入状態検査装置は、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルで前記液晶の注入状態を検査する液晶注入状態検査装置であり、前記液晶セルの加圧位置を既設定の加圧力で加圧する加圧ユニット；前記液晶セル全体または前記加圧位置に光を照射する照明ユニット；前記加圧ユニットと前記照明ユニットの作動によって前記液晶セルを通過する光の光漏れを利用して前記加圧位置における前記液晶の復元時間を測定する復元時間測定ユニット；および前記復元時間測定ユニットにおける復元時間と既設定の基準復元時間を比較する検査ユニット；を含む。
【００２０】
ここで、前記検査ユニットは、前記復元時間測定ユニットにおける復元時間が、既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合は前記液晶が正常に注入されたと判断し、前記復元時間測定ユニットにおける復元時間が、既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れる場合は前記液晶の注入状態が不良であると判断する。
【００２１】
ここで、前記復元時間測定ユニットにおける復元時間は、前記加圧ユニットによって前記加圧位置で光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置で光漏れが消える第２時間との差によって計算する。
【００２２】
本発明にかかる液晶注入状態検査装置は、前記加圧ユニットと前記照明ユニットによって前記加圧位置で前記液晶セルを通過する光による光漏れ状態を測定する光漏れ測定ユニット；をさらに含む。
【００２３】
本発明にかかる液晶注入状態検査装置は、前記液晶セルで前記加圧位置を変更させる測定制御部；をさらに含む。
【発明の効果】
【００２４】
本発明にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置によると、上部基板と下部基板間に液晶が注入された液晶セルに光を照射し、液晶セルに光が照射された状態で液晶セルを局部的に加圧することにより、液晶セルで発生する光漏れ現象を利用して液晶の注入状態を検査することができる。
【００２５】
また、本発明は液晶セルの加圧位置を変えながら加圧位置Ｐにおける光漏れ状態または液晶の復元時間を測定することができ、液晶セルの全体表面に対して液晶の均一な注入状態を確認することができる。
【００２６】
また、本発明は液晶セルの加圧前後に対する光漏れ状態または液晶の復元時間を測定することにより、液晶セルの表面が平面状になるときは勿論、曲面状になっても液晶の均一な注入状態を確認することができる。
【００２７】
特に、本発明は平面状の液晶セルに対して、光漏れ状態または液晶の復元時間の測定を簡素化し、液晶の注入状態を速やかに検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の一実施例によって液晶セルに液晶が注入された状態を示した図面である。
【図２】本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置において加圧位置における光漏れ状態の変化を示した図面である。
【図３】本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置を示した図面である。
【図４】本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置の変形例を示した図面である。
【図５】本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法を示した図面である。
【図６】本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置において加圧位置における液晶の復元時間を示した図面である。
【図７】本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置を示した図面である。
【図８】本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置の変形例を示した図面である。
【図９】本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法を示した図面である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、添付する図面を参照して本発明にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置の一実施例を説明する。このとき、本発明は実施例によって制限されたり限定されるのではない。また、本発明を説明するにおいて、公知の機能あるいは構成に対する具体的な説明は本発明の要旨を明確にするために省略する場合がある。
【００３０】
図１は本発明の一実施例によって液晶セルに液晶が注入された状態を示した図面であり、図２は本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置で加圧位置における光漏れ状態の変化を示した図面である。
【００３１】
図１と図２を参照すると、本発明の一実施例において液晶セルＳＧは、上部基板ＧＴと下部基板ＧＢが多数のメインスペーサーＭＣによって一定間隔で離隔され、前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間に液晶ＬＣを注入して完成される。このとき、前記メインスペーサーＭＣ間にはサブスペーサーＳＣが備えられ、前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間の離隔状態を補完することができる。
【００３２】
図示してはいないが、前記液晶セルＳＧの両面には偏光フィルムが備えられてもよい。ここで、前記液晶セルＳＧの一面に備えられた偏光フィルムの偏光方向は、前記液晶セルＳＧの他面に備えられた偏光フィルムの偏光方向と交差し得る。実質的には直角に交差し得る。
【００３３】
一例として、前記液晶セルＳＧの両面にそれぞれ前記偏光フィルムが備えられる場合、後述するカメラユニット３０のカメラ部３１と照明ユニット３６には前記偏光フィルムが備えられないことが好ましい。
【００３４】
他の例として、前記液晶セルＳＧの両面に前記偏光フィルムが備えられない場合、後述するカメラユニット３０のカメラ部３１と照明ユニット３６には、互いに直角に交差するように前記偏光フィルムがそれぞれ備えられることが好ましい。
【００３５】
正常的な前記液晶ＬＣの注入状態を見てみると、図１の（ａ）に図示したように、前記メインスペーサーＭＣの両端がそれぞれ前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢに支持される。また、前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間には別途の空間なく前記液晶ＬＣが充填される。
【００３６】
正常を超過する前記液晶ＬＣの注入状態を見てみると、図１の（ｂ）に図示したように、前記メインスペーサーＭＣの一端は前記下部基板ＧＢに支持されるが、前記メインスペーサーＭＣの他端は前記液晶ＬＣの過多注入によって前記上部基板ＧＴから離隔される。このとき、前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間には別途の空間がないが、前記メインスペーサーＭＣの他端と前記上部基板ＧＴ間にも前記液晶ＬＣが充填される。
【００３７】
正常よりも少ない前記液晶ＬＣの注入状態を見てみると、図１の（ｃ）に図示したように、前記メインスペーサーＭＣの両端がそれぞれ前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢに支持される。前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間に前記液晶ＬＣが充填されるが、前記液晶ＬＣの注入量の不足により前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間には空間が形成され得る。
【００３８】
ここで、前記液晶セルＳＧに光を照射した状態で後述する加圧ユニット２０が既設定の加圧力Ｐｐで前記液晶セルＳＧを加圧すると、前記液晶セルＳＧでは加圧力Ｐｐによって前記液晶ＬＣが駆動した場合と同じ原理が働き前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで光漏れ現象が現れる。
【００３９】
一例として、正常的な前記液晶ＬＣの注入状態では、前記加圧位置Ｐによって微差があり得るが、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさＰａは、既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する。
【００４０】
ここで、Ｐａは後述する加圧ユニット２０が既設定の加圧力Ｐｐで前記液晶セルＳＧを加圧したときの前記加圧位置Ｐにおける光の明るさである。このとき、前記液晶セルＳＧを加圧しなかった場合の前記加圧位置Ｐにおける光の明るさを「０」とする。
【００４１】
言い換えると、前記液晶ＬＣが正常に注入された状態である場合、図２の（ａ）に図示したように、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさＰａは既設定の基準変化量の最大値Ｐｈと同じか小さく、既設定の基準変化量の最小値Ｐｓと同じか大きい値を表す。
【００４２】
しかし、前記液晶ＬＣが正常を超過する注入状態であったり、前記液晶ＬＣが正常よりも少ない注入状態である場合、図２の（ｂ）に図示したように、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさＰａは既設定の基準変化量の最小値Ｐｓよりも小さい値を表したり、図２の（ｃ）に図示したように、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさＰａは既設定の基準変化量の最大値Ｐｈよりも大きい値を表す。
【００４３】
他の例として、正常な前記液晶ＬＣの注入状態では、前記加圧位置Ｐによって微差があり得るが、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径Ｄａは既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する。
【００４４】
ここで、Ｄａは、後述する加圧ユニット２０が既設定の加圧力Ｐｐで前記液晶セルＳＧを加圧したときの前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径である。このとき、前記液晶セルＳＧを加圧しなかったときの前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径を「０」とする。
【００４５】
言い換えると、前記液晶ＬＣが正常に注入された状態である場合、図２の（ａ）に図示したように、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径Ｄａは既設定の基準変化量の最大値Ｄｈと同じか小さく、既設定の基準変化量の最小値Ｄｓと同じか大きい値を表す。
【００４６】
しかし、前記液晶ＬＣが正常を超過する注入状態であったり、前記液晶ＬＣが正常よりも少ない注入状態である場合、図２の（ｂ）に図示したように、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径Ｄａは既設定の基準変化量の最小値Ｐｓよりも小さい値を表したり、図２の（ｃ）に図示したように、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径Ｄａは既設定の基準変化量の最大値Ｐｈよりも大きい値を表す。
【００４７】
上述の説明で前記加圧位置Ｐにおける光漏れ状態は、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさと、前記加圧位置Ｐにおける光漏れ面積と、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径のいずれかで表すことができる。
【００４８】
このように、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置は、前記液晶ＬＣの注入状態によって前記加圧位置Ｐにおける光漏れ状態に差が生じることを利用したものである。本発明の一実施例では、液晶注入状態検査装置を先に説明し、それを用いて本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法を説明する。
【００４９】
これより本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置について説明する。図３は本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置を示した図面であり、図４は本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置の変形例を示した図面である。
【００５０】
図１〜図４を参照すると、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、前記液晶セルＳＧを局部的に加圧することにより、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで発生する光漏れ状態を測定して前記液晶ＬＣの注入状態を検査することができる。
【００５１】
本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、加圧ユニット２０と、照明ユニット３６と、光漏れ測定ユニット３０と、検査ユニット４０を含む。
【００５２】
前記加圧ユニット２０は、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐを既設定の加圧力Ｐｐで加圧する。一例として、前記加圧ユニット２０は間接加圧方式として前記加圧位置Ｐに流体を噴射する多様な形態の噴射装置を含み得る。他の例として、前記加圧ユニット２０は直接加圧方式として既設定の加圧力Ｐｐで前記加圧位置Ｐを加圧するチップが備えられた多様な形態の圧力装置を含み得る。前記加圧ユニット２０は、前記加圧位置Ｐを加圧し続けるのではなく、既設定の加圧力Ｐｐで前記加圧位置Ｐを一定時間だけ加圧することが好ましい。
【００５３】
前記加圧ユニット２０は、後述する加圧ステップＳ２を行う際に用いることができる。
【００５４】
前記照明ユニット３６は、前記液晶セルＳＧ全体または前記加圧位置Ｐに光を照射する。ここで、前記照明ユニット３６を限定するのではなく、多様な形態を通じて前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧに光を照射することができる。また、前記照明ユニット３６を限定するのではなく、多様な形態を通じて前記液晶セルＳＧ全体に光を照射することができる。
【００５５】
このとき、前記加圧ユニット２０は前記液晶セルＳＧの上側に備えられ、前記照明ユニット３６は前記液晶セルＳＧの下側に備えられて、前記加圧ユニット２０の作動に前記照明ユニット３６が干渉されないようにする。
【００５６】
前記照明ユニット３６は、後述する照明ステップＳ３を行う際に用いることができる。
【００５７】
前記光漏れ測定ユニット３０は、前記加圧ユニット２０と前記照明ユニット３６の作動によって前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定する。
【００５８】
ここで、前記光漏れ測定ユニット３０を限定するのではなく、照度計、干渉計、カメラ等のような多様な形態を通じて前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定することができる。前記光漏れ測定ユニット３０は、前記照明ユニット３６が前記加圧位置Ｐまたは前記液晶セルＳＧ全体に光を照射した状態で前記加圧ユニット２０が前記加圧位置Ｐを加圧して前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定することが好ましい。
【００５９】
ここで、前記光漏れ測定ユニット３０は、図３に図示したように、光漏れ測定部３１と、位置調整部３２を含み得る。
【００６０】
前記光漏れ測定部３１は、前記液晶セルＳＧの上側に離隔された状態で配置される。前記光漏れ測定部３１は、前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定する。ここで、前記加圧ユニット２０は、前記光漏れ測定部３１と前記液晶セルＳＧ間で前記加圧位置Ｐを加圧することができる。そして、前記光漏れ測定部３１は、照度計、干渉計、カメラ等のような多様な形態を通じて前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定することができる。
【００６１】
前記光漏れ測定部３１は、後述する光漏れ測定ステップＳ３１を行う際に用いることができる。
【００６２】
前記位置調整部３２は、前記液晶セルＳＧの上側で前記加圧位置Ｐに対応して前記光漏れ測定部３１を移動させる。前記位置調整部３２は、前記液晶セルＳＧの上側で前記加圧位置Ｐに対応して前記加圧ユニット２０を移動させることができる。前記位置調整部３２は、この場所に限定せず、多様な形態を通じて前記液晶セルＳＧの上側で前記加圧位置Ｐに対応して前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０を移動させることができる。
【００６３】
このとき、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、前記液晶セルＳＧで前記加圧位置Ｐを変更させる測定制御部３５をさらに含むことができる。前記測定制御部３５は、前記位置調整部３２を作動させて前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０を該当加圧位置Ｐに移動させることにより、前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させることができる。
【００６４】
前記測定制御部３５は、前記位置調整部３２と連係して、後述する位置調整ステップＳ５を行う際に用いることができる。
【００６５】
他の例として、前記光漏れ測定ユニット３０は、図４に図示したように、測定支持部３４と、光漏れ測定部３１を含むことができる。
【００６６】
前記測定支持部３４は、前記液晶セルＳＧから離隔配置される。
【００６７】
前記光漏れ測定部３１は、前記加圧位置に対応して多数個が前記測定支持部３４に備えられる。前記光漏れ測定部３１は、前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定する。そして、前記光漏れ測定部３１は、照度計、干渉計、カメラ等のような多様な形態を通じて前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定することができる。
【００６８】
前記光漏れ測定部３１は、後述する光漏れ測定ステップＳ３１を行う際に用いることができる。
【００６９】
一例として、前記測定支持部３４には前記加圧位置Ｐに対応して多数の前記光漏れ測定部３１と多数の加圧ユニット２０が支持され得る。
【００７０】
他の例として、前記測定支持部３４には前記加圧位置Ｐに対応して前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０のいずれかが多数支持され、前記位置調整部３２には前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０のうちのもう一方を備えることができる。
【００７１】
このとき、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させる測定制御部３５をさらに含むことができる。
【００７２】
一例として、前記測定制御部３５は前記加圧位置Ｐに対応して前記測定支持部３４に支持された前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０を作動させることにより、前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させることができる。
【００７３】
他の例として、前記測定制御部３５は前記加圧位置Ｐに対応して前記測定支持部３４に支持された前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０のいずれかを作動させ、前記位置調整部３２を作動させて前記光漏れ測定部３１と前記加圧ユニット２０のうちのもう一方を該当加圧位置Ｐに移動させることにより、前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させることができる。
【００７４】
前記測定制御部３５は、前記位置調整部３２と連係して、後述する位置調整ステップＳ５を行う際に用いることができる。
【００７５】
このとき、前記光漏れ測定ユニット３０が測定する光漏れ状態の測定値は、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさと、前記加圧位置Ｐにおける光漏れ面積と、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径の少なくとも一つを含み得る。
【００７６】
前記光漏れ測定ユニット３０は、後述する光漏れ測定ステップＳ３１を行う際に用いることができる。
【００７７】
前記検査ユニット４０は、前記光漏れ測定部３１における光漏れ状態と既設定の基準変化量を比較する。
【００７８】
前記検査ユニット４０は、後述する検査ステップＳ４を行う際に用いることができる。
【００７９】
前記検査ユニット４０は、前記光漏れ測定部３１における光漏れ状態が既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶ＬＣが正常に注入されたと判断する。また、前記検査ユニット４０は、前記光漏れ測定部３１における光漏れ状態が既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶ＬＣの注入状態が不良であると判断する。
【００８０】
未説明符号１０は、前記液晶セルＳＧが安着するステージである。このとき、前記ステージ１０には前記液晶セルＳＧに光を照射するための前記照明ユニット３６を備えることができる。前記ステージ１０は、後述する配置ステップＳ１を行う際に用いることができる。
【００８１】
これより本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法について説明する。図５は本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法を示した図面である。
【００８２】
図１〜図５を参照すると、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、前記液晶セルＳＧを局部的に加圧することにより前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで発生する光漏れ状態を測定して、前記液晶ＬＣの注入状態を検査することができる。
【００８３】
本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、加圧ステップＳ２と、照明ステップＳ３と、光漏れ測定ステップＳ３１と、検査ステップＳ４を含む。
【００８４】
前記加圧ステップＳ２では、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐを既設定の加圧力Ｐｐで加圧する。前記加圧ステップＳ２では、前記加圧ユニット２０の作動によって前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐを既設定の加圧力Ｐｐで加圧できる。
【００８５】
前記照明ステップＳ３では、前記液晶セルＳＧ全体または前記加圧位置Ｐに光を照射する。前記照明ステップＳ３では、前記照明ユニット３６の作動によって前記液晶セルＳＧ全体または前記加圧位置Ｐに光を照射する。
【００８６】
前記光漏れ測定ステップＳ３１では、前記加圧ステップＳ２と前記照明ステップＳ３を経ることにより、前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定する。前記光漏れ測定ステップＳ３１では、前記照明ユニット３６の作動によって前記液晶セルＳＧに光が照射された状態で前記加圧ユニット２０の作動によって前記加圧位置Ｐを加圧し、前記光漏れ測定ユニット３０の作動によって前記加圧位置Ｐにおいて前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定することができる。
【００８７】
このとき、前記光漏れ測定ステップＳ３１を経て測定される光漏れ状態の測定値は、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさと、前記加圧位置Ｐにおける光漏れ面積と、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの直径の少なくとも一つを含み得る。
【００８８】
前記検査ステップＳ４では、前記光漏れ測定ステップＳ３１における光漏れ状態の測定値と既設定の基準変化量を比較する。前記検査ステップＳ４では、前記検査ユニット４０の作動によって前記光漏れ測定ステップＳ３１における光漏れ状態の測定値と既設定の基準変化量を比較することができる。
【００８９】
本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、位置調整ステップＳ５をさらに含むことができる。
【００９０】
前記位置調整ステップＳ５では、前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させる。前記位置調整ステップＳ５では、前記測定制御部３５の作動によって前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させることができる。前記位置調整ステップＳ５を経ることにより多数の前記加圧位置Ｐ中の別の加圧位置Ｐで液晶注入状態を検査することができる。
【００９１】
このとき、前記検査ステップＳ４では、前記光漏れ測定ステップＳ３１における光漏れ状態の測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶が正常に注入されたと判断できる。また、前記検査ステップＳ４では、前記光漏れ測定ステップＳ３１における光漏れ状態の測定値が既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶の注入状態が不良であると判断できる。
【００９２】
これにより、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、正常ステップＳ４１または不良ステップＳ４２をさらに含むことができる。
【００９３】
前記正常ステップＳ４１では、前記検査ステップＳ４で前記光漏れ測定ステップＳ３１における光漏れ状態が既設定の基準変化量の誤差範囲内に存在する場合に実施する。前記正常ステップＳ４１では、 前記液晶ＬＣが注入された基板が正常であると判断する。
【００９４】
多数の前記加圧位置Ｐを全て検査して前記正常ステップＳ４１を経た後は、交替ステップＳ４３をさらに含み、配置ステップＳ１をさらに含むことができる。
【００９５】
前記交替ステップＳ４３では、前記正常ステップＳ４１にかかる前記液晶セルＳＧを前記ステージ１０から排出させ、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に移動させる。
【００９６】
前記配置ステップＳ１では、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に位置させる。 前記交替ステップＳ４３と前記配置ステップＳ１を経た後、新たな液晶セルＳＧに対して液晶注入状態を検査することができる。
【００９７】
前記不良ステップＳ４２は、前記検査ステップＳ４で前記光漏れ測定ステップＳ３１における光漏れ状態の測定値が、既設定の基準変化量の誤差範囲から外れる場合に実施する。前記不良ステップＳ４２では、前記液晶ＬＣが注入された基板が不良であると判断する。
【００９８】
前記不良ステップＳ４２を経た後は、交替ステップＳ４３をさらに含み、配置ステップＳ１をさらに含むことができる。
【００９９】
前記交替ステップＳ４３では、前記不良ステップＳ４２にかかる前記液晶セルＳＧを前記ステージ１０から排出させ、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に移動させる。
【０１００】
前記配置ステップＳ１では、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に位置させる。 前記交替ステップＳ４３と前記配置ステップＳ１を経た後、新たな液晶セルＳＧに対して液晶注入状態を検査することができる。
【０１０１】
これより本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置について説明する。
【０１０２】
図６は、本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置において加圧位置における液晶の復元時間を示した図面である。
【０１０３】
図１と図６を参照すると、前記液晶セルＳＧに光を照射した状態で後述する加圧ユニット１０が既設定の加圧力Ｐｐで前記液晶セルＳＧを加圧すると、前記液晶セルＳＧでは加圧力Ｐｐによって前記液晶ＬＣの駆動と同じ原理が働き前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで光漏れ現象が起こる。
【０１０４】
前記液晶セルＳＧを加圧しないと、前記液晶ＬＣは注入された状態を保っているが、前記液晶セルＳＧを加圧すると、前記液晶ＬＣは既設定の加圧力Ｐｐによって動いた後、原状態に復元しようとする特性のため前記加圧位置Ｐでは光漏れが変化する。そして、前記加圧位置Ｐにおける光漏れの変化は、前記液晶ＬＣの復元時間によって表れ得る。ここで、前記液晶ＬＣの復元時間は、前記加圧ユニット２０によって前記加圧位置Ｐで光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置Ｐで光漏れが消える第２時間との差によって計算できる。図示してはいないが、前記第１時間を「０」とすると、前記第１時間から前記第２時間をカウントすることにより計算を簡素化することができる。
【０１０５】
このとき、正常的な前記液晶ＬＣの注入状態では、前記加圧位置Ｐによって微差があり得るが、前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間は既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する。
【０１０６】
言い換えると、前記液晶ＬＣが正常に注入された状態であれば、図６に示したグラフにおいて実線で表したように前記第１時間（ｔ０）に光漏れが発生して前記第２時間（ｔａ）に光漏れが消える。そのため、前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間（ｔａ−ｔ０）は、既設定の基準復元時間の最大値と同じか小さく、既設定の基準復元時間の最小値と同じか大きい値を表す。
【０１０７】
しかし、前記液晶ＬＣが正常を超過する注入状態であったり、前記液晶ＬＣが正常よりも少ない注入状態の場合は、図６に示したグラフにおいて点線で表したように前記第１時間（ｔ０）に光漏れが発生して前記第２時間（ｔｂ）に光漏れが消える。そのため、前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間（ｔｂ−ｔ０）は既設定の基準復元時間の最大値よりも大きかくなる。あるいは、図６に示したグラフにおいて点線で表したように前記第１時間（ｔ０）に光漏れが発生して前記第２時間（ｔｃ）に光漏れが消える。このときは、前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間（ｔｃ−ｔ０）は、既設定の基準復元時間の最小値よりも小さくなる。
【０１０８】
このように、本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置は、前記液晶ＬＣの注入状態によって前記加圧位置Ｐで前記液晶ＬＣの復元時間に差が生じることを利用する。本発明の他の実施例では、液晶注入状態検査装置を先に説明し、それを用いて本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法を説明する。
【０１０９】
これより本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置について説明する。図７は本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置を示した図面であり、図８は本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置の変形例を示した図面である。
【０１１０】
図１と図６〜図８を参照すると、本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、前記液晶セルＳＧを局部的に加圧することにより、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで発生する光漏れ状態にかかる前記液晶ＬＣの復元時間を測定して前記液晶ＬＣの注入状態を検査することができる。
【０１１１】
本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、加圧ユニット２０と、照明ユニット３６と、復元時間測定ユニット３３と、検査ユニット４０を含む。
【０１１２】
前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐを既設定の加圧力Ｐｐで加圧する。一例として、前記加圧ユニット２０は間接加圧方式として前記加圧位置Ｐに流体を噴射する多様な形態の噴射装置を含み得る。他の例として、前記加圧ユニット２０は直接加圧方式として既設定の加圧力Ｐｐで前記加圧位置Ｐを加圧するチップが備えられた多様な形態の圧力装置を含み得る。前記加圧ユニット２０は、前記加圧位置Ｐを加圧し続けるのではなく、既設定の加圧力Ｐｐで前記加圧位置Ｐを一定時間だけ加圧することが好ましい。
【０１１３】
前記加圧ユニット２０は、後述する加圧ステップＳ２を行う際に用いることができる。
【０１１４】
前記照明ユニット３６は、前記液晶セルＳＧ全体または前記加圧位置Ｐに光を照射する。ここで、前記照明ユニット３６を限定するのではなく、多様な形態を通じて前記加圧位置Ｐに前記液晶セルＳＧに光を照射することができる。また、前記照明ユニット３６を限定するのではなく、多様な形態を通じて前記液晶セルＳＧ全体に光を照射できる。
【０１１５】
このとき、前記加圧ユニット２０は前記液晶セルＳＧの上側に備えられ、前記照明ユニット３６は前記液晶セルＳＧの下側に備えられて、前記加圧ユニット２０の作動に前記照明ユニット３６が干渉されないようにする。
【０１１６】
前記照明ユニット３６は、後述する照明ステップＳ３を行う際に用いることができる。
【０１１７】
前記復元時間測定ユニット３３は、前記加圧ユニット２０と前記照明ユニット３６の作動によって前記液晶セルＳＧを通過する光の光漏れを利用して前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間を測定する。
【０１１８】
前記液晶ＬＣの復元時間は、前記加圧ユニット２０によって前記加圧位置Ｐで光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置Ｐで光漏れが消える第２時間との差によって計算できる。図示してはいないが、前記第１時間を「０」とすると、前記第１時間から前記第２時間をカウントすることにより計算を簡素化できる。
【０１１９】
前記復元時間測定ユニット３３は、後述する復元時間測定ステップＳ３２を行う際に用いることができる。
【０１２０】
前記検査ユニット４０は、前記復元時間測定ユニット３３における復元時間と既設定の基準復元時間を比較する。
【０１２１】
前記検査ユニット４０は、後述する検査ステップＳ４を行う際に用いることができる。
【０１２２】
このとき、前記検査ユニット４０は、前記復元時間測定ユニット３３における復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶ＬＣが正常に注入されたと判断する。また、前記検査ユニット４０は、前記復元時間測定ユニット３３における復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れた場合は、前記液晶ＬＣの注入状態が不良であると判断する。
【０１２３】
未説明符号１０は、前記液晶セルＳＧが安着するステージである。このとき、前記ステージ１０には前記液晶セルＳＧに光を照射するための前記照明ユニット３６を備えることができる。前記ステージ１０は、後述する配置ステップＳ１を行う際に用いることができる。
【０１２４】
本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置は、光漏れ測定ユニット３０をさらに含み、測定制御部３５をさらに含むことができる。
【０１２５】
本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査装置において前記光漏れ測定ユニット３０と前記測定制御部３５は、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査装置のものと同一構成であり、図７と図８を通じて同一図面符号を付与し、これに対する説明は省略する。
【０１２６】
これより本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法について説明する。図９は、本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法を示した図面である。
【０１２７】
図１と図６〜図９を参照すると、本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、前記液晶セルＳＧを局部的に加圧することにより、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで発生する光漏れ状態による前記液晶ＬＣの復元時間を測定して前記液晶ＬＣの注入状態を検査することができる。
【０１２８】
本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、加圧ステップＳ２と、照明ステップＳ３と、復元時間測定ステップＳ３２と、検査ステップＳ４を含む。
【０１２９】
前記加圧ステップＳ２では、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐを既設定の加圧力Ｐｐで加圧する。前記加圧ステップＳ２では、前記加圧ユニット２０の作動によって前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐを既設定の加圧力Ｐｐで加圧できる。
【０１３０】
前記照明ステップＳ３では、前記液晶セルＳＧ全体または前記加圧位置Ｐに光を照射する。前記照明ステップＳ３では、前記照明ユニット３６の作動によって前記液晶セルＳＧ全体または前記加圧位置Ｐに光を照射する。
【０１３１】
前記復元時間測定ステップＳ３２では、前記加圧ステップＳ２と前記照明ステップＳ３を経ることにより、前記液晶セルＳＧを通過する光の光漏れを利用して前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間を測定する。前記復元時間測定ステップＳ３２では、前記復元時間測定ユニット３３の作動により前記加圧位置Ｐにおける前記液晶ＬＣの復元時間を測定することができる。
【０１３２】
前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間は、前記加圧ユニット２０によって前記加圧位置Ｐで光漏れが発生する第１時間と、前記加圧位置Ｐで光漏れが消える第２時間との差によって計算できる。図示してはいないが、前記第１時間を「０」とする場合、前記第１時間から前記第２時間をカウントすることにより計算を簡素化することができる。
【０１３３】
前記検査ステップＳ４では、前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間と既設定の基準復元時間を比較する。前記検査ステップＳ４では、前記検査ユニット４０の作動によって前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間と既設定の基準復元時間を比較することができる。
【０１３４】
本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、位置調整ステップＳ５をさらに含むことができる。
【０１３５】
前記位置調整ステップＳ５では、前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させる。前記位置調整ステップＳ５では、前記測定制御部３５の作動によって前記液晶セルＳＧにおいて前記加圧位置Ｐを変更させることができる。前記位置調整ステップＳ５を経ることにより、多数の前記加圧位置Ｐ中の他の加圧位置Ｐで液晶注入状態を検査することができる。
【０１３６】
このとき、前記検査ステップＳ４では、前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合は、前記液晶ＬＣが正常に注入されたと判断できる。また、前記検査ステップＳ４では、前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れる場合は、前記液晶ＬＣの注入状態が不良であると判断できる。
【０１３７】
これにより、本発明の一実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、正常ステップＳ４１または不良ステップＳ４２をさらに含むことができる。
【０１３８】
前記正常ステップＳ４１では、前記検査ステップＳ４で前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲内に存在する場合に実施する。前記正常ステップＳ４１では、 前記液晶ＬＣが注入された基板が正常であると判断する。
【０１３９】
多数の前記加圧位置Ｐを全て検査して前記正常ステップＳ４１を経た後は、交替ステップＳ４３をさらに含み、配置ステップＳ１をさらに含むことができる。
【０１４０】
前記交替ステップＳ４３では、前記正常ステップＳ４１にかかる前記液晶セルＳＧを前記ステージ１０から排出させ、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に移動させる。
【０１４１】
前記配置ステップＳ１では、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に位置させる。 前記交替ステップＳ４３と前記配置ステップＳ１を経た後、新たな液晶セルＳＧに対して液晶注入状態を検査することができる。
【０１４２】
前記不良ステップＳ４２は、前記検査ステップＳ４で前記復元時間測定ステップＳ３２における復元時間が既設定の基準復元時間の誤差範囲から外れる場合に実施する。前記不良ステップＳ４２では、 前記液晶ＬＣが注入された基板が不良であると判断する。
【０１４３】
前記不良ステップＳ４２を経た後は、交替ステップＳ４３をさらに含み、配置ステップＳ１をさらに含むことができる。
【０１４４】
前記交替ステップＳ４３では、前記不良ステップＳ４２にかかる前記液晶セルＳＧを前記ステージ１０から排出させ、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に移動させる。
【０１４５】
前記配置ステップＳ１では、新たな液晶セルＳＧを前記ステージ１０に位置させる。 前記交替ステップＳ４３と前記配置ステップＳ１を経た後、新たな液晶セルＳＧに対して液晶注入状態を検査することができる。
【０１４６】
本発明の他の実施例にかかる液晶注入状態検査方法は、光漏れ測定ステップＳ３１をさらに含むことができる。
【０１４７】
前記光漏れ測定ステップＳ３１では、前記加圧ステップＳ２と前記照明ステップＳ３を経ることにより、前記加圧位置Ｐで前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定する。前記光漏れ測定ステップＳ３１では、前記照明ユニット３６の作動により前記液晶セルＳＧに光が照射された状態で前記加圧ユニット２０の作動によって前記加圧位置Ｐを加圧し、前記光漏れ測定ユニット３０の作動によって前記加圧位置Ｐで前記液晶セルＳＧを通過する光による光漏れ状態を測定することができる。
【０１４８】
このとき、前記光漏れ測定ステップＳ３１を経て測定される光漏れ状態は、前記加圧位置Ｐにおける光の明るさと、前記加圧位置Ｐにおける光漏れ面積と、前記加圧位置Ｐにおける光漏れ直径の何れか一つを含むことができる。
【０１４９】
上述の液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置によると、前記上部基板ＧＴと前記下部基板ＧＢ間に前記液晶ＬＣが注入された前記液晶セルＳＧに光を照射し、前記液晶セルＳＧに光が照射された状態で前記液晶セルＳＧを局部的に加圧することにより、前記液晶セルＳＧの加圧位置Ｐで発生する光漏れ現象を利用して前記液晶ＬＣの注入状態を検査することができる。また、前記液晶セルＳＧの前記加圧位置Ｐを変えながら前記加圧位置Ｐにおける光漏れ状態または前記液晶ＬＣの復元時間を測定することができ、前記液晶セルＳＧの全体表面に対して前記液晶ＬＣの均一な注入状態を確認することができる。
【０１５０】
また、前記液晶セルＳＧの加圧前後に対する光漏れ状態または前記液晶ＬＣの復元時間を測定することにより、前記液晶セルＳＧの表面が平面状になるときは勿論、曲面状になっても前記液晶ＬＣの均一な注入状態を確認することができる。特に、平面状の前記液晶セルＳＧに対して、光漏れ状態または前記液晶ＬＣの復元時間測定を簡素化し、前記液晶ＬＣの注入状態を速やかに検査することができる。
【０１５１】
上述の通り、図面を参照して本発明の好ましい実施例を説明したが、該当技術分野の熟練者であれば、下記の請求の範囲に記載した本発明の思想および領域から外れない範囲内で本発明を多様に修正または変更させることができる。
【符号の説明】
【０１５２】
ＧＴ：上部基板
ＧＢ：下部基板
ＬＣ：液晶
ＭＣ：メインスペーサー
ＳＣ：サブスペーサー
ＳＧ：液晶セル
Ｓ１：配置ステップ
Ｓ２：加圧ステップ
Ｓ２１：加圧解除ステップ
Ｓ３：照明ステップ
Ｓ３１：光漏れ測定ステップ
Ｓ３２：復元時間測定ステップ
Ｓ４：検査ステップ
Ｓ４１：正常ステップ
Ｓ４２：不良ステップ
Ｓ４３：交替ステップ
Ｓ５：位置調整ステップ
１０：ステージ
２０:加圧ユニット
３０：光漏れ測定ユニット
３１：光漏れ測定部
３２：位置調整部
３３：復元時間測定ユニット
３４：測定支持部
３５：測定制御部
３６：照明ユニット
４０：検査ユニット
【図１】
2017062472.tif 000003
【図２】
2017062472.tif 000004
【図３】
2017062472.tif 000005
【図４】
2017062472.tif 000006
【図５】
2017062472.tif 000007
【図６】
2017062472.tif 000008
【図７】
2017062472.tif 000009
【図８】
2017062472.tif 000010
【図９】
2017062472.tif 000011