(57)【要約】【課題】機器寿命をより正確に予測する。【解決手段】設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを備える。さらに、センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部を備え、機器寿命予測部は、パターン保持部に保持されている複数のパターンの中から、センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測する。本技術は、例えば、ネットワーク監視カメラシステムに適用できる。【選択図】図１
2017219515.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部と
を備える情報処理装置。
【請求項２】
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測する
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測する
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部と、
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部と、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量に応じて、前記機器寿命予測部による機器寿命の予測を切り替える制御を行う切り替え制御部と
をさらに備え、
前記切り替え制御部は、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値未満である場合、機器寿命予測部により、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測させ、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値以上である場合、機器寿命予測部により、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測させる
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項５】
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む情報処理方法。
【請求項６】
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む処理をコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項７】
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを有する複数の第１の情報処理装置と、
複数の前記第１の情報処理装置からネットワークを介して送信されてくる機器寿命を集約して蓄積し、それぞれの前記第１の情報処理装置の設置環境における一般的な機器寿命を求める機能を有する第２の情報処理装置と
を備える情報処理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、情報処理装置、情報処理方法、プログラム、および情報処理システムに関し、特に、機器寿命をより正確に予測することができるようにした情報処理装置、情報処理方法、プログラム、および情報処理システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子機器が故障して使用することができなくなるまでの期間（以下、機器寿命、または、単に寿命と称する）について、例えば、機種ごとに、特定の想定環境における寿命予測が行われている。このように、それぞれの電子機器が実際に設置される設置環境が考慮されてないことより、例えば、同一の機種については、全ての電子機器において同一の寿命が予測されることより、交換期間は一律に設定されることになる。
【０００３】
また、電子機器の運用中において故障に遭遇することが回避されるように、交換期間としては、安全側に倒した数字が設定される傾向にある。また、電子機器の設置環境が考慮されていないことより、寿命予測が行われる時の前提条件と違う設置環境においても同一の条件が適用されている。
【０００４】
ところで、複数の電子機器が設置されている場合、実際の設置環境によっては、それぞれの機器寿命が異なるものとなるため、ある電子機器が故障しても、他の電子機器は使用可能であることがある。
【０００５】
例えば、特許文献１には、複数のカメラの一部が故障した場合であっても、死角なく、撮影対象とする領域をくまなく撮影することができるカメラ端末が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第０６／０６８０４９号パンフレット
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述したように、電子機器の設置環境によって寿命が異なるものとなることより、交換期間に従って一律に交換した場合には、使用可能であるのに使用されない無駄な期間が発生することになる。このような無駄な期間の発生を回避するため、機器寿命を正確に予測することが求められている。
【０００８】
本開示は、このような状況に鑑みてなされたものであり、機器寿命をより正確に予測することができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本開示の一側面の情報処理装置は、設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを備える。
【００１０】
本開示の一側面の情報処理方法またはプログラムは、設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測するステップを含む。
【００１１】
本開示の一側面の情報処理システムは、設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを有する複数の第１の情報処理装置と、複数の前記第１の情報処理装置からネットワークを介して送信されてくる機器寿命を集約して蓄積し、それぞれの前記第１の情報処理装置の設置環境における一般的な機器寿命を求める機能を有する第２の情報処理装置とを備える。
【００１２】
本開示の一側面においては、設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果がセンサ情報として取得され、センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命が予測される。
【発明の効果】
【００１３】
本開示の一側面によれば、機器寿命をより正確に予測することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本技術を適用した寿命予測システムの第１の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【図２】温度および湿度から選択されるパターンの例を示す図である。
【図３】電子機器において実行される処理を説明するフローチャートである。
【図４】本技術を適用した寿命予測システムの第２の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【図５】予測部により求められる予測カーブの例を示す図である。
【図６】電子機器において実行される処理を説明するフローチャートである。
【図７】本技術を適用した寿命予測システムの第３の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【図８】電子機器において実行される処理を説明するフローチャートである。
【図９】複数の電子機器が連携する機器連携システムの構成例を示すブロック図である。
【図１０】本技術を適用したコンピュータの一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本技術を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】
図１は、本技術を適用した寿命予測システムの第１の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【００１７】
図１に示すように、寿命予測システム１１は、電子機器１２および提示部１３を備えて構成される。
【００１８】
電子機器１２は、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像装置、テレビジョン受信機やラジオ受信機などの受信装置、いわゆるスマートフォンを含む携帯電話端末などのように、経年劣化により故障する可能性のあるハードウエアで構成される。
【００１９】
提示部１３は、例えば、液晶ディスプレイなどのような表示部により構成することができ、電子機器１２から供給される寿命予測データを表示して、その寿命予測データをユーザに提示する。または、提示部１３は、ネットワークを介して通信を行う通信部により構成してもよく、電子機器１２から供給される寿命予測データをユーザの端末に送信することで、その寿命予測データをユーザに提示することができる。
【００２０】
電子機器１２は、センサ２１−１および２１−２、パターン保持部２２、パターン選択部２３を有して構成される。また、電子機器１２は、電子機器１２の近隣に設置されている他の電子機器１２（図示せず）が有するセンサ２１−３から出力されるセンサ情報を取得することができる。
【００２１】
センサ２１−１乃至２１−３は、例えば、温度センサ、湿度センサ、振動センサ、時計、イメージセンサなどにより構成され、時刻や状況により変化する様々な物理量を測定し、その測定結果を、読み出し可能なセンサ情報としてパターン選択部２３に供給する。なお、センサ２１は、電子機器１２に組み込まれているものの他、電子機器１２の周辺やアクセス可能なネットワーク上に配置されていてもよく、電子機器１２が外部からセンサ情報を読み込むような状態となっていればよい。また、センサ２１としては、寿命を測定するためにパターンを選択するための専用のものを利用する他、例えば、画質向上などのように、本来の目的としてパターンを選択するため以外の役割を有するものを利用してもよい。
【００２２】
パターン保持部２２は、予め定義されている複数のパターンを保持している。
【００２３】
ここで、パターンは、センサ２１から出力されるセンサ情報の取り得る範囲においていくつかの区分に分割し、それらの区分ごとに故障率や劣化具合などを定義したものである。具体的には、温度センサから出力されるセンサ情報では、-200度以上から0度未満の区分、0度以上から50度未満の区分、および、50度以上の区分の３パターンに分割し、それぞれ個別に故障が発生するまでの時間が定義される。
【００２４】
また、パターンとしては、センサ２１ごとに独立して定義してある場合や、複数のセンサ２１をまとめてテーブル化して複数のセンサ情報から１つのパターンを選択することができる。また、パターン保持部２２が、電子機器１２の出荷時点において事前に定義されたパターンを保持していたり、ネットワークなどを介して最新のパターンを取得して保持していたりすることができる。
【００２５】
パターン選択部２３は、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報に基づいて、パターン保持部２２に保持されている複数のパターンの中から、最も適切なパターンを選択し、そのパターンを寿命予測データとして提示部１３に供給する。
【００２６】
例えば、図２に示すように、パターン保持部２２が、温度および湿度に基づいたパターンテーブルを保持している場合、パターン選択部２３は、センサ情報として供給される温度および湿度から一意に決定されるパターンを選択することができる。
【００２７】
このように、パターン選択部２３は、複数のパターンの中から、センサ情報と単純に一致するもののみを検索して、選択する機能を備えることができる。また、パターン選択部２３は、例えば、複数のセンサ情報やパターンの選択条件などに基づいた演算を行って、一致するものを選択する機能を備えることができる。
【００２８】
そして、パターン選択部２３は、選択されるパターンが一意に決定される場合には、そのパターンを寿命予測データとしてユーザに提示する。また、パターン選択部２３は、複数のセンサ情報から得られた結果がそれぞれ矛盾したり範囲に幅があったりすることで、選択されるパターンが一意に決定されない場合には、複数のパターンを寿命予測データとしてユーザに提示し、ユーザに選択させることができる。
【００２９】
また、パターン選択部２３は、センサ情報に基づいて状況が変化したことを認識したときに、パターンをユーザに提示するようにしてもよい。
【００３０】
即ち、センサ２１から出力されるセンサ情報は固定的なものではなく、状況により変化するものであることより、パターン選択部２３は、状況の変化をトリガーとして利用することができる。例えば、パターン選択部２３は、センサ情報が少しでも変化した場合に通知を行ったり、センサ情報に変化があってもパターンの選択結果には影響がない場合には通知を行わずに、パターンの選択結果に影響がある場合に通知を行ったりすることができる。このように、パターン選択部２３は、そのような通知条件を選択することで通知頻度をコントロールすることができる。
【００３１】
さらに、パターン選択部２３は、選択されたパターンに基づいて、寿命が短くなっていることを認識した場合に、通知を行う頻度を増加することができる。つまり、パターン選択部２３は、選択されたパターンにより通知を行う挙動を変更するようにしてもよい。
【００３２】
また、パターン選択部２３は、一度通知したパターンと同一のパターンを提示していることや、一度通知したパターンとは異なるパターンを提示していること、前回のパターンとは大きく変化したパターンを提示しているときには特別な提示を行うことなど、パターンを提示する形態を選択することができる。
【００３３】
このように、寿命予測システム１１は構成されており、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報に基づいて、パターン選択部２３により選択された適切なパターンが、寿命予測データとしてユーザに提示される。
【００３４】
次に、図３は、電子機器１２において実行される処理を説明するフローチャートである。
【００３５】
例えば、電子機器１２が起動すると処理が開始され、ステップＳ１１において、パターン選択部２３は、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報を取得する。
【００３６】
ステップＳ１２において、パターン選択部２３は、ステップＳ１１で取得したセンサ情報に基づいて、予め定義されてパターン保持部２２に保持されている複数のパターンから、最も適切なパターンを選択する。
【００３７】
ステップＳ１３において、パターン選択部２３は、ステップＳ１２で選択したパターンを寿命予測データとしてユーザに提示するか否かを判定する。例えば、上述したように、パターン選択部２３は、センサ情報に変化があった場合に、ユーザに提示することを選択することができる。
【００３８】
ステップＳ１３において、パターン選択部２３がパターンを寿命予測データとしてユーザに提示すると判定した場合、処理はステップＳ１４に進み、パターン選択部２３は、ステップＳ１２で選択したパターンを提示部１３に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示する。
【００３９】
ステップＳ１４の処理後、または、ステップＳ１３においてパターン選択部２３がパターンを寿命予測データとしてユーザに提示しないと判定した場合、処理はステップＳ１１に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【００４０】
以上のように、電子機器１２では、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報に基づいて、例えば、センサ情報に変化があった場合に、パターン選択部２３により選択されたパターンを寿命予測データとしてユーザに提示することができる。このように、電子機器１２は、センサ情報に基づいて寿命予測データを求めることができるので、従来のような特定の想定環境における寿命予測よりも、より正確に寿命を予測することができる。これにより、例えば、電子機器１２の設置環境に応じた交換期間を設定することができるので、電子機器１２が使用可能であるのに交換されるようなことを回避すること、即ち、電子機器１２の商品寿命を延ばすことができる。
【００４１】
次に、図４は、本技術を適用した寿命予測システムの第２の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図４に示す寿命予測システム１１Ａにおいて、図１の寿命予測システム１１と共通する構成については、その詳細な説明は省略する。
【００４２】
図４に示すように、寿命予測システム１１Ａは、電子機器１２Ａおよび提示部１３を備えて構成されており、電子機器１２Ａは、センサ２１−１および２１−２、センサ情報蓄積部２４、および予測部２５を有して構成される。
【００４３】
センサ情報蓄積部２４は、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報の変化を蓄積する。
【００４４】
例えば、センサ情報蓄積部２４は、予測部２５による予測を提示するか否かに関わらず、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報が変化した場合に、そのセンサ情報を記録して蓄積する。例えば、センサ情報蓄積部２４は、時間経過により変化したか否かに関わらずセンサ情報を記録しておいたり、時間経過に関わらず変化した場合のみセンサ情報を記録しておいたりするなど、記録する状況を選択することができる。
【００４５】
また、センサ情報蓄積部２４は、センサ情報の変化を取得可能な状態となっている。例えば、センサ情報蓄積部２４は、使用目的を記録する媒体の記憶容量などにより全てのセンサ情報を記録したり、ある一定期間のみのセンサ情報を記録したり、センサ情報を間引いて記録するなど、センサ情報の記録の仕様を選択することができる。
【００４６】
予測部２５は、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って、将来の推移を予測することで予測値を算出する。
【００４７】
例えば、予測部２５は、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報に相関関係があるか、どのような遷移をたどっているか、初期から同一の変化であるのか、直近で特徴のある変更点がみられるかなど、予測に使用するアルゴリズムに従って、所定の期間後の予測値を算出することで、予測を導く。また、予測部２５は、１つのセンサ情報から１つの予測値を算出したり、１つのセンサ情報から複数の予測値を算出したり、複数のセンサ情報から複数の予測値を算出したり、複数のセンサ情報から１つの予測値を算出することができる。さらに、予測部２５は、複数の予測値から別の予測値を算出すること、即ち、平均値や中央値、最大値、最小値などを算出することができる。
【００４８】
そして、予測部２５は、最も確からしい１つの予測値を提示部１３に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示することができる。または、予測部２５は、複数の予測値を提示部１３に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示し、それらの予測値の中からユーザにより選択させることができる。
【００４９】
このように、寿命予測システム１１Ａは構成されており、センサ２１−１乃至２１−３から出力され、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報に基づいて、予測部２５により予測された予測値が、寿命予測データとしてユーザに提示される。
【００５０】
例えば、図５に示すように、予測部２５は、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報（蓄積データ）に基づいて、時間経過に応じて故障が発生することが予想される確率が曲線により表される予想カーブを求めることができる。この予想カーブは、時間の経過とともに蓄積データに基づいた実績が反映され、それらの蓄積データから新たな予想として将来の推移が求められる。そして、予測部２５は、予想カーブに従って、ある一定以上の確率で故障が発生するようになる時期を、予測値として算出することができる。
【００５１】
次に、図６は、電子機器１２Ａにおいて実行される処理を説明するフローチャートである。
【００５２】
例えば、電子機器１２Ａが起動すると処理が開始され、ステップＳ２１において、センサ情報蓄積部２４は、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報を取得し、それらのセンサ情報を蓄積する。
【００５３】
ステップＳ２２において、予測部２５は、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報に基づいて、将来の推移を予測する予測値を算出する。
【００５４】
ステップＳ２３において、予測部２５は、ステップＳ２２で算出した予測値を寿命予測データとしてユーザに提示するか否かを判定する。例えば、予測部２５は、予測値に変化があった場合に、予測値を寿命予測データとしてユーザに提示することを選択することができる。
【００５５】
ステップＳ２３において、予測部２５が予測値を寿命予測データとしてユーザに提示すると判定した場合、処理はステップＳ２４に進み、予測部２５は、ステップＳ２２で算出した予測値を提示部１３に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示する。
【００５６】
ステップＳ２４の処理後、または、ステップＳ２３において予測部２５が予測値を寿命予測データとしてユーザに提示しないと判定した場合、処理はステップＳ２１に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【００５７】
以上のように、電子機器１２Ａは、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報に基づいて、例えば、予測値に変化があった場合に、予測部２５により算出された予測値を寿命予測データとしてユーザに提示することができる。このように、電子機器１２Ａは、センサ情報に基づいて寿命予測データを求めることができるので、従来のような特定の想定環境における寿命予測よりも、より正確に寿命を予測することができる。これにより、例えば、電子機器１２Ａの設置環境に応じた交換期間を設定することができるので、電子機器１２Ａが使用可能であるのに交換されるようなことを回避すること、即ち、電子機器１２Ａの商品寿命を延ばすことができる。
【００５８】
ところで、図４の寿命予測システム１１Ａのように予測を行う場合に、初期状態において、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報のデータ量が少なく、予測部２５により十分な精度で寿命を予測することができないと想定される。ここで、初期状態とは、電子機器１２Ａの購入直後や、電子機器１２Ａのリセット直後、環境が異なる場所に電子機器１２Ａを移動させた直後などのことである。
【００５９】
そこで、例えば、図１の寿命予測システム１１におけるパターン選択と、図４の寿命予測システム１１Ａにおける予測とを組み合わせたシステムを構築することができる。
【００６０】
即ち、図７は、本技術を適用した寿命予測システムの第３の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図７に示す寿命予測システム１１Ｂにおいて、図１の寿命予測システム１１および図４の寿命予測システム１１Ａと共通する構成については、その詳細な説明は省略する。
【００６１】
図７に示すように、寿命予測システム１１Ｂは、電子機器１２Ｂおよび提示部１３を備えて構成される。そして、電子機器１２Ｂは、センサ２１−１および２１−２、パターン保持部２２、パターン選択部２３、センサ情報蓄積部２４、予測部２５、および切り替え制御部２６を有して構成される。
【００６２】
つまり、寿命予測システム１１Ｂは、図１の寿命予測システム１１および図４の寿命予測システム１１Ａが備える構成に加えて、切り替え制御部２６を有して構成される。
【００６３】
切り替え制御部２６は、センサ情報蓄積部２４に蓄積されているセンサ情報のデータ量が充分に増えたか否か（データ量が規定値未満または規定値以上）に基づいて、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替える制御を行う。
【００６４】
例えば、切り替え制御部２６は、電子機器１２Ｂが初期状態となってから所定時間が経過したときに、充分なデータ量のセンサ情報がセンサ情報蓄積部２４に蓄積されたとして、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。具体的には、切り替え制御部２６は、電子機器１２Ｂが初期状態となってから３０日以上のセンサ情報の蓄積があった場合に、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。または、切り替え制御部２６は、ユーザにより設定される任意の時点が経過したときに、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。
【００６５】
さらに、切り替え制御部２６は、パターン選択部２３によるパターン選択を行っている間に、予測部２５による予備的な予測を複数回行わせることができる。そして、切り替え制御部２６は、予備的な予測の予測結果のバラツキを計測して、それらのバラツキ量が所定値以下（例えば、５％以下）である場合に、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。
【００６６】
また、切り替え制御部２６は、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えを１回だけ行ってもよいし、その切り替えを繰り返しておこなってもよい。また、切り替え制御部２６は、複数のセンサ２１ごとに個別に切り替えを行ったり、複数のセンサ２１の全体でまとめて切り替えたりしてもよい。
【００６７】
このように、寿命予測システム１１Ｂは、パターン選択部２３によるパターン選択と予測部２５による予測とを切り替えることができるが、これら以外の予測、例えば、従来の組み込みの固定情報に基づいた予測を組み合わせて用いることができる。さらに、寿命予測システム１１Ｂは、これらの予測方法を、複数のセンサ２１ごとに個別に切り替えたり、複数のセンサ２１の全体でまとめて切り替えたりしてもよい。
【００６８】
次に、図８は、電子機器１２Ｂにおいて実行される処理を説明するフローチャートである。
【００６９】
例えば、電子機器１２Ｂが起動すると処理が開始され、ステップＳ３１において、センサ情報蓄積部２４は、センサ２１−１乃至２１−３から出力されるセンサ情報を取得し、それらのセンサ情報を蓄積する。
【００７０】
その後、ステップＳ３２乃至Ｓ３５において、図３のステップＳ１１乃至Ｓ１４と同様の処理が行われ、パターン選択部２３によるパターンの選択および提示が行われる。
【００７１】
ステップＳ３６において、切り替え制御部２６は、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えを行うか否かを判定する。例えば、上述したように、切り替え制御部２６は、充分なデータ量のセンサ情報がセンサ情報蓄積部２４に蓄積された場合に、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えを行うと判定する。
【００７２】
ステップＳ３６において、切り替え制御部２６が、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えを行わないと判定した場合、処理はステップＳ３１に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。一方、ステップＳ３６において、切り替え制御部２６が、パターン選択部２３によるパターン選択から予測部２５による予測へ切り替えを行うと判定した場合、処理はステップＳ３７に進む。
【００７３】
その後、ステップＳ３７乃至４０において、図６のステップＳ２１乃至Ｓ２４と同様の処理が行われ、予測部２５による予測および提示が行われる。
【００７４】
以上のように、電子機器１２Ｂでは、パターン選択部２３によるパターン選択と予測部２５による予測とを切り替えることができる。これにより、電子機器１２Ｂは、初期状態において、寿命を予測する精度が低下することを回避して、より正確に寿命の予測を行うことができる。
【００７５】
次に、図９を参照して、複数の電子機器１２が連携する機器連携システムについて説明する。
【００７６】
図９に示すように、機器連携システム３１は、Ｎ台の電子機器１２−１乃至１２−Ｎがネットワーク３２を介して情報処理サーバ３３に接続されて構成される。
【００７７】
電子機器１２−１乃至１２−Ｎは、それぞれ自身の寿命予測データを求めることができ、ネットワーク３２を介して情報処理サーバ３３に寿命予測データを送信することができる。
【００７８】
例えば、電子機器１２−１乃至１２−Ｎが、同一環境に設置されていて、それぞれ異なる機種である場合、様々な機種の同一環境における寿命予測データが集計される。また、電子機器１２−１乃至１２−Ｎが、異なる環境に設置されていて、それぞれ同一の機種である場合、同一機種の異なる環境ごとの寿命予測データが集計される。なお、電子機器１２−１乃至１２−Ｎは、それぞれ同一の予測方法を採用してもよいし、それぞれ異なる予測方法を採用してもよく、それらの導入時期が同一および個別のどちらでもよい。即ち、電子機器１２−１乃至１２−Ｎにより、様々な寿命予測データを集計して使用することができる。
【００７９】
情報処理サーバ３３は、電子機器１２−１乃至１２−Ｎから送信されてくる寿命予測データを集約して蓄積する。なお、情報処理サーバ３３として、専用の装置を設置する他、電子機器１２−１乃至１２−Ｎのうちの、いずれか１台の電子機器１２が、情報処理サーバ３３としての機能を備えていてもよい。また、情報処理サーバ３３が備える機能が、ネットワーク３２を介して分散さていてもよい。
【００８０】
図示するように、情報処理サーバ３３は、予測データ蓄積部４１、予測部４２、提示部４３、開発データ提供部４４を備えて構成される。
【００８１】
予測データ蓄積部４１は、ネットワーク３２を介して電子機器１２−１乃至１２−Ｎから送信されてくる寿命予測データを蓄積する。
【００８２】
予測部４２は、予測データ蓄積部４１に蓄積されている寿命予測データを加工し、電子機器１２−１乃至１２−Ｎそれぞれが設置されている環境における一般的な予測値を求める。
【００８３】
例えば、予測部４２は、予測データ蓄積部４１に蓄積されている寿命予測データの平均値や最大値、中央値、最悪値などを求めることができる。また、予測部４２は、予測データ蓄積部４１に蓄積されている寿命予測データの中から、同一環境の同一機種である電子機器１２のみを抽出したり、複数の電子機器１２の寿命予測データを全て利用したりするなど、寿命予測データのカテゴライズを行うことができる。また、予測部４２は、寿命予測データの近い電子機器１２を纏めたりするなど、寿命予測データから電子機器１２をカテゴライズすることができる。
【００８４】
そして、予測部４２は、加工した寿命予測データに基づいて、その環境における一般的な予測値、つまり、今回利用した複数の電子機器１２の傾向や全体的な寿命を予測する予測値を算出して、提示部４３に供給してユーザに提示する。
【００８５】
また、予測部４２は、この一般的な予測値に基づいて、新たな予測値を算出することができる。例えば、予測部４２は、環境における一般的な寿命予測データを算出することで、同一環境に新規に電子機器１２を導入する場合における寿命予測などを行うことができる。さらに、予測部４２は、算出された予測値と大幅に異なる電子機器１２を特定することで、その電子機器１２に特有の問題点の検出を行うことができる。
【００８６】
そして、機器連携システム３１では、予測部４２による予測に基づいて、複数の電子機器１２をローテーションさせることができる。即ち、複数の電子機器１２を導入している場合、環境により個別に寿命予測データを取得し、それらの個体差に基づいて、電子機器１２の設置位置を入れ替えることができる。例えば、日当たりの良さや使用時間の差異、電子機器１２の個体差などにより寿命に差が生じることが想定され、電子機器１２の固体別に寿命予測データを取得することで、寿命が短い電子機器１２と寿命が長い電子機器１２とを入れ替えることができる。また、耐久性の高い機器を、最も過酷な環境に設置したり、全体としての電子機器１２の寿命が均一になるように使用時間を制限することができる。
【００８７】
このように、複数の電子機器１２をローテーションさせることで、複数の電子機器１２からなる群の全体としての寿命を延長することが、故障時期をずらすことによってリスク回避を行うことができる。例えば、最も近い時期に故障が発生すると予測される電子機器１２を、別の場所に設置されている電子機器１２と入れ替えたり、電子機器１２を別のものに置き換えたりすることで、全体としての寿命を延長することができる。また、故障時期が近い電子機器１２がある場合、同一時期に入れ替えを行うとシステム全体としての稼働時間が削減されたり、多重化による冗長性が犠牲になることが懸念されるため、それらの懸念を解消するために、交換時期をずらすなどの施策を行うことで、リスク改善を図ることができる。
【００８８】
開発データ提供部４４は、予測データ蓄積部４１に蓄積されている寿命予測データと、予測部４２に予測された予測値とを、電子機器１２の開発元に提供することで、次世代の電子機器１２の開発に利用可能とする。
【００８９】
また、開発データ提供部４４は、電子機器１２−１乃至１２−Ｎそれぞれに蓄積されているセンサ情報を取得したり、ある時点において蓄積された寿命予測データを電子機器１２−１乃至１２−Ｎから取得したりすることができる。
【００９０】
また、開発データ提供部４４は、電子機器１２−１乃至１２−Ｎの設置場所や利用時間などの情報も取得して、寿命予測データと組み合わせて利用することができる。また、電子機器１２−１乃至１２−Ｎは、電子機器１２−１乃至１２−Ｎのセンサで検知できない情報、例えば、ある電子機器１２には搭載されていないセンサの情報や、特殊な使い方などの情報を取得することができる。
【００９１】
そして、開発データ提供部４４により提供される情報は、電子機器１２の固体別にどのような差があったか、予測と実際とがどの程度の乖離があったか、今回は取得できなかった情報が予測にどの程度有効であるか、といったことを求めるのに利用される。
【００９２】
このように構成される機器連携システム３１は、例えば、電子機器１２として監視カメラを用い、ネットワーク３２を介して、監視カメラが接続されたネットワーク監視カメラシステムに適用することができる。そして、例えば、監視カメラが備えるイメージセンサをセンサ２１として利用し、欠陥画素の補正数や補正率、起動に要した時間などをセンサ情報として用いることで、監視カメラの寿命の予測精度を向上させることができる。これにより、システム全体としての監視カメラの運用期間を最適に設定することができる。また、監視カメラに搭載されている各種のセンサを、画質の向上目的ではなく、寿命の予測に用いることができる。
【００９３】
また、機器連携システム３１は、例えば、電子機器１２として車載カメラを用い、ネットワーク３２を介して、車載カメラが接続された車載カメラシステムに適用することができる。これにより、車両の走行環境に応じて、車両ごとに、車載カメラの寿命の予測精度を向上させることができる。
【００９４】
なお、図９に示す機器連携システム３１では、ネットワーク３２には電子機器１２および情報処理サーバ３３のみが接続された構成例となっているが、例えば、ネットワーク３２にセンサ２１が接続されていてもよい。即ち、機器連携システム３１は、ネットワーク３２を介して、温度や湿度などの測定結果がセンサ２１から情報処理サーバ３３に送信されるように構成することができ、情報処理サーバ３３は、その測定結果も参照して、より詳細な予測値を算出することができる。
【００９５】
上述した各実施の形態のように、電子機器１２の寿命を正確に予測することができることにより、電子機器１２を運用中に故障に遭遇する可能性を大幅に削減することができる。また、電子機器１２の交換期間を適切に設定することで、使用可能であるのに交換されてしまことを回避することができ、交換にかかる費用を削減することができる。
【００９６】
また、電子機器１２ごとに個別に適切な交換期間を設定することができ、交換時期をずらすことになる結果、同時期に大量の電子機器１２を交換することを回避したり、ある程度のグループ化をすることで、交換台数をコントロールしたりすることができる。
【００９７】
そして、複数の電子機器１２をローテーションして利用することで、全体としての交換時期を変更することができる。また、電子機器１２の正確な交換時期を特定することができるため、在庫の調整やオペレータ待機の調整を容易に行うことができる。
【００９８】
さらに、電子機器１２において実際に測定されるデータを用いて、次世代の電子機器１２を開発することで、特定の環境に特化した調整などを行うことができ、次世代の電子機器１２の寿命を延ばすことができる。
【００９９】
また、従来は、シミュレーションなどで初期値を設定していたのに対し、電子機器１２において実際に測定されたデータを利用することで、例えば、データの蓄積がない初期状態（出荷時の初期予想カーブ）を用いても、寿命を予測する精度の向上を図ることができる。
【０１００】
なお、上述のフローチャートを参照して説明した各処理は、必ずしもフローチャートとして記載された順序に沿って時系列に処理する必要はなく、並列的あるいは個別に実行される処理（例えば、並列処理あるいはオブジェクトによる処理）も含むものである。また、プログラムは、１のCPUにより処理されるものであっても良いし、複数のCPUによって分散処理されるものであっても良い。
【０１０１】
また、本明細書において、システムとは、複数の装置により構成される装置全体を表すものである。
【０１０２】
また、上述した一連の処理（情報処理方法）は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータ、または、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに、プログラムが記録されたプログラム記録媒体からインストールされる。
【０１０３】
図１０は、上述した一連の処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウエアの構成例を示すブロック図である。
【０１０４】
コンピュータにおいて、CPU（Central Processing Unit）１０１，ROM（Read Only Memory）１０２，RAM（Random Access Memory）１０３、およびEEPROM（Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory）１０４は、バス１０５により相互に接続されている。バス１０４には、さらに、入出力インタフェース１０５が接続されており、入出力インタフェース１０５が外部に接続される。
【０１０５】
以上のように構成されるコンピュータでは、CPU１０１が、例えば、ROM１０２およびEEPROM１０４に記憶されているプログラムを、バス１０５を介してRAM１０３にロードして実行することにより、上述した一連の処理が行われる。また、コンピュータ（CPU１０１）が実行するプログラムは、ROM１０２に予め書き込んでおく他、入出力インタフェース１０５を介して外部からEEPROM１０４にインストールしたり、更新したりすることができる。
【０１０６】
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
（１）
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部と
を備える情報処理装置。
（２）
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測する
上記（１）に記載の情報処理装置。
（３）
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測する
上記（１）に記載の情報処理装置。
（４）
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部と、
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部と、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量に応じて、前記機器寿命予測部による機器寿命の予測を切り替える制御を行う切り替え制御部と
をさらに備え、
前記切り替え制御部は、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値未満である場合、機器寿命予測部により、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測させ、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値以上である場合、機器寿命予測部により、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測させる
上記（１）に記載の情報処理装置。
（５）
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む情報処理方法。
（６）
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む処理をコンピュータに実行させるプログラム。
（７）
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを有する複数の第１の情報処理装置と、
複数の前記第１の情報処理装置からネットワークを介して送信されてくる機器寿命を集約して蓄積し、それぞれの前記第１の情報処理装置の設置環境における一般的な機器寿命を求める機能を有する第２の情報処理装置と
を備える情報処理システム。
【０１０７】
なお、本実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１０８】
１１  寿命予測システム，  １２  電子機器，  １３  提示部，  ２１  センサ，  ２２  パターン保持部，  ２３  パターン選択部，  ２４  センサ情報蓄積部，  ２５  予測部，  ２６  切り替え制御部，  ３１  機器連携システム，  ３２  ネットワーク，  ３３  情報処理サーバ，  ４１  予測データ蓄積部，  ４２  予測部，  ４３  提示部，  ４４  開発データ提供部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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