(57)【要約】      （修正有）【課題】高クロム鋼を含む溶接継手の寿命を精度よく診断することができる診断方法を提供する。【解決手段】高クロム鋼からなる２つの母材２，３が、溶接金属からなる溶接部４を介して溶接されてなる溶接部材１のクリープ寿命を診断する方法であって、母材２，３と溶接部４との間に介在する熱影響部細粒域６の表面組織の状態を観察し、高温で溶接部材１を使用中に、熱影響部細粒域６の表面に生じるクリープボイドの孔径の分布状態を観察し、該分布状態から、熱影響部細粒域６におけるクリープ損傷の進行度を判定することにより、前記溶接部材１の寿命を診断する高クロム鋼のクリープ寿命診断方法。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
高クロム鋼からなる２つの母材が、溶接金属からなる溶接部を介して溶接されてなる溶接部材のクリープ寿命を診断する方法であって、
前記母材と溶接部との間に介在する熱影響部細粒域の表面組織の状態を観察し、
高温で前記溶接部材を使用中に、前記熱影響部細粒域の表面に生じるクリープボイドの孔径の分布状態を観察し、該分布状態から、前記熱影響部細粒域におけるクリープ損傷の進行度を判定することにより、前記溶接部材の寿命を診断することを特徴とする高クロム鋼のクリープ寿命診断方法。
【請求項２】
前記クリープ損傷の進行度が７５％以上の場合、前記クリープ損傷の進行度が増加するに伴って、前記溶接部材の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、前記溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比が増加することに基づいて、前記クリープ損傷の進行度を判定することを特徴とする請求項１に記載の高クロム鋼のクリープ寿命診断方法。
【請求項３】
予めクリープ損傷の進行度が異なる複数段階において、前記溶接部材と組成が等しいクリープ試験片の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、前記クリープ試験片の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比を測定し、その測定結果と、使用中の前記溶接部材の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、前記溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比とを比較することにより、前記溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープ損傷の進行度を判定することを特徴とする請求項２に記載の高クロム鋼のクリープ寿命診断方法。
【請求項４】
前記表面組織をレプリカ法により採取することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の高クロム鋼のクリープ寿命診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高クロム鋼のクリープ寿命診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
火力発電所の主蒸気管や高温再熱蒸気管等の大径管（配管）の溶接継手には、欧州を中心に、クロムを多く含むＡＳＭＥ（Ａｍｅｒｉｃａｎ  Ｓｏｃｉｅｔｙ  ｏｆ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｅｎｇｉｎｅｅｒｓ、アメリカ機械学会）規格のＧｒ９２材が広く用いられている。これらの配管は、溶接継手のクリープ損傷が寿命を支配するとされている。そこで、これらの配管の寿命を判定するために、多くのデータが採取されつつある。
しかしながら、これらのデータは標準サイズの試験片を用いて採取されたものであり、実規模の溶接継手に関する特性については、別途、検証が必要であった。また、クリープ損傷の蓄積の途中過程については、ほとんど知見がないため、新たな試験を実施する必要があった。
【０００３】
従来、高クロム鋼（９Ｃｒ鋼）の寿命診断法としては、例えば、ボイド個数密度法（単位面積当たりのボイドの個数と損傷量の相関から寿命を求める手法）、ボイド面積率法（単位面積当たりに占めるボイドの面積と損傷量の相関から寿命を求める手法）等が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−１９６９３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の寿命診断法は、寿命診断の精度に問題があった。例えば、ボイド個数密度法により、高クロム鋼の表面組織におけるボイドの個数変化を観察すると、クリープ損傷が進行しているにもかかわらず、ボイドの個数があまり変化しない期間（クリープ損傷の蓄積時間）がある。この期間には、ボイドの個数が変化しないため、ボイドの個数を測定しただけでは、高クロム鋼の寿命を精度よく診断することができなかった。
【０００６】
本発明は、このような事情を考慮してなされたものであり、高クロム鋼を含む溶接継手の寿命を精度よく診断することができる高クロム鋼のクリープ寿命診断方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者等は、上記課題を解決するために鋭意検討した結果、高クロム鋼を含む溶接継手のクリープ損傷が進行するに伴って、診断対象材料の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径に対する、診断対象材料の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径が増大することを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００８】
本発明の一態様は、高クロム鋼からなる２つの母材が、溶接金属からなる溶接部を介して溶接されてなる溶接部材のクリープ寿命を診断する方法であって、前記母材と溶接部との間に介在する熱影響部細粒域の表面組織の状態を観察し、高温で前記溶接部材を使用中に、前記熱影響部細粒域の表面に生じるクリープボイドの孔径の分布状態を観察し、該分布状態から、前記熱影響部細粒域におけるクリープ損傷の進行度を判定することにより、前記溶接部材の寿命を診断する高クロム鋼のクリープ寿命診断方法である。
【０００９】
本発明の一態様は、前記クリープ損傷の進行度が７５％以上の場合、前記クリープ損傷の進行度が増加するに伴って、前記溶接部材の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、前記溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比が増加することに基づいて、前記クリープ損傷の進行度を判定してもよい。
【００１０】
本発明の一態様は、高クロム鋼のクリープ寿命診断方法において、予めクリープ損傷の進行度が異なる複数段階において、前記溶接部材と組成が等しいクリープ試験片の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、前記クリープ試験片の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比を測定し、その測定結果と、使用中の前記溶接部材の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、前記溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比とを比較することにより、前記溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープ損傷の進行度を判定してもよい。
【００１１】
本発明の一態様は、高クロム鋼のクリープ寿命診断方法において、前記表面組織をレプリカ法により採取してもよい。
【発明の効果】
【００１２】
上記した高クロム鋼のクリープ寿命診断方法によれば、高クロム鋼を含む溶接継手の寿命を精度よく診断することができる高クロム鋼のクリープ寿命診断方法を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】溶接部材の溶接部を示す概略断面図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る高クロム鋼のクリープ寿命診断方法で用いられるクリープ試験片の一例の外観を示す光学写真である。
【図３】クリープ破断試験による破断材の外観を示す光学写真である。
【図４】クリープ破断試験による破断材の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像である。
【図５】クリープ途中止め試験の途中止め時間が７０００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像である。
【図６】クリープ途中止め試験の途中止め時間が８０００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像である。
【図７】クリープ途中止め試験の途中止め時間が８５００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像である。
【図８】クリープ途中止め試験の途中止め時間が９０００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像である。
【図９】クリープ途中止め試験において、（診断対象材料の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ））／（診断対象材料の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ））と、クリープ損傷の進行度（％）との比の経時変化を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１５】
［高クロム鋼のクリープ寿命診断方法］
図１は、溶接部材の溶接部を示す概略断面図である。
図１に示すように、溶接部材１は、２つの母材２，３（第１母材２、第２母材３）と、溶接部４と、を有する。溶接部材１では、第１母材２と第２母材３が、溶接金属からなる溶接部４を介して溶接されている。
第１母材２における溶接部４の近傍部分、および、第２母材３における溶接部４の近傍部分には、溶接による熱の影響を受けた熱影響部（Ｈｅａｔ  Ａｆｆｅｃｔｅｄ  Ｚｏｎｅ：ＨＡＺ）５が存在している。熱影響部５の中でも、溶接による熱の影響を強く受けていない第１母材２および第２母材３寄りの部分は、これら２つの母材２，３を構成する結晶粒の大きさが比較的小さい細粒域（熱影響部細粒域、Ｆｉｎｅ  Ｇｒａｉｎ  Ｈｅａｔ  Ａｆｆｅｃｔｅｄ  Ｚｏｎｅ：ＦＧＨＡＺ）６となっている。
【００１６】
２つの母材２，３には、クロムを９質量％〜１２質量％程含有する高クロム鋼が用いられている。高クロム鋼としては、例えば、表１に示す組成のものが用いられる。
このような高クロム鋼は、高温強度（耐熱性）に優れる。
【００１７】
【表１】
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【００１８】
このような溶接部材１は、例えば、火力発電所の主蒸気管や高温再熱蒸気管等の大径管（配管）の溶接継手や、ボイラ、加熱炉、石油化学プラント等の高温環境で用いられる配管等の溶接継手として用いられる。
【００１９】
溶接部材１が、長期間にわたって高温で使用されることによって、熱影響部５にクリープボイドが発生する。このクリープボイドは、時間の経過に伴ってその個数が増加する。クリープボイドの個数が増加すると、隣接するクリープボイド同士が連結して微小な亀裂が発生する。この亀裂は徐々に成長し、最終的に第１母材２や第２母材３（熱影響部５）を、その厚み方向に貫通する。すると、この亀裂の部分で第１母材２や第２母材３が破断する。第１母材２や第２母材３が破断した時点が、溶接部材１の寿命と言える。特に、熱影響部５のうち熱影響部細粒域６にて、第１母材２や第２母材３の厚み方向に生じる亀裂を、タイプＩＶ型損傷と言う。
【００２０】
火力発電所、ボイラ、加熱炉、石油化学プラント等の運用においては、安全性や信頼性を確保するために、配管等の溶接継手として用いられる溶接部材１の寿命診断を的確に行う必要がある。
そこで、本発明では、高クロム鋼を含む溶接継手の寿命を精度よく診断することができる高クロム鋼のクリープ寿命診断方法を提供する。
【００２１】
本発明の一実施形態に係る高クロム鋼のクリープ寿命診断方法は、先ず、例えば、実験室において、溶接部４を含む溶接部材１と同様なクリープ試験片を用意して、このクリープ試験片に対してクリープ試験を行う。
クリープ試験片としては、例えば、図２に示すようなものが用いられる。このクリープ試験片の断面の外形形状を、平行部に溶接部の断面が概ね含まれるような矩形とし、その大きさを、厚み方向（紙面の上下方向）が４０ｍｍ、幅方向（紙面と垂直な方向）が２４ｍｍとなるようにした。
【００２２】
そして、クリープ試験の進行中に、所定の時間毎に、クリープ試験片のうち、熱影響部細粒域６の表面組織の状態を観察する。
熱影響部細粒域６の表面組織の状態を観察するためには、例えば、レプリカ法により、熱影響部細粒域６の表面組織を採取する。
【００２３】
レプリカ法により、熱影響部細粒域６の表面組織を採取するには、熱影響部細粒域６の表面にレプリカ膜を形成し、そのレプリカ膜に熱影響部細粒域６の表面組織を転写する。
また、レプリカ膜を形成する前に、熱影響部細粒域６の表面を研磨してエッチングする前処理を行うことが好ましい。前処理を行うことにより、熱影響部細粒域６の表面の酸化物膜や塵等を取り除いて、熱影響部細粒域６の表面に結晶粒界を露出させ、レプリカ膜にその結晶粒界をより鮮明に転写することができる。
【００２４】
本実施形態では、レプリカ膜に転写された結晶粒界を含む熱影響部細粒域６の表面組織を、光学顕微鏡または走査型電子顕微鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、ＳＥＭ）により観察する。
【００２５】
図２に示すクリープ試験片を用いた高クロム鋼のクリープ寿命診断方法を説明する。
縦型電気炉を用いた大型クリープ試験機にクリープ試験片をセットし、クリープ破断試験およびクリープ途中止め試験を実施した。
表２に、クリープ試験の条件を示す。
【００２６】
【表２】
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【００２７】
なお、クリープ途中止め試験における応力が、上記の溶接部材が、火力発電所の主蒸気管や高温再熱蒸気管等の大径管（配管）の溶接継手や、ボイラ、加熱炉、石油化学プラント等の高温環境で用いられる配管等の溶接継手として用いられた場合に想定される応力である。
クリープ試験を途中止めした時（クリープ途中止め試験を実施した時）には、レプリカ法により、クリープ試験片の熱影響部細粒域にレプリカ膜を形成し、熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを採取した。
得られたレプリカを、光学顕微鏡または走査型電子顕微鏡により観察して、熱影響部細粒域の表面に生じるクリープボイドの孔径（μｍ）の分布状態を観察した。
【００２８】
顕微鏡観察によって観察されたクリープボイドの孔径の分布状態から、熱影響部細粒域におけるクリープ損傷の進行度を判定することにより、クリープ試験片の寿命を診断した。
表３に、クリープ破断試験の破断時間およびクリープ途中止め試験の途中止め時間を示す。
【００２９】
【表３】
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【００３０】
クリープ破断試験の破断時間は、経済産業省令の寿命評価式に準じて計算した値（約２２００時間）を約３割上回った。
また、クリープ途中止め試験は、予想破断時間（１００００時間）に対して、６０００時間、７０００時間、８０００時間、８５００時間、９０００時間および９５００時間で実施した。
【００３１】
図３に、クリープ破断試験による破断材の外観を示す。図４に、クリープ破断試験による破断材の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像を示す。
図３に示すように、クリープ試験片は溶接部に沿って破断していた。また、クリープ試験片の破面の酸化度合いから、破面は母材の開先のルート側から発生、進展したものと考えられる。
【００３２】
また、図４に示すように、熱影響部細粒域には、多数のクリープボイドが存在することが確認された。すなわち、この多数のクリープボイドにより、クリープ試験片の熱影響部細粒域にて、タイプＩＶ型損傷が発生したと考えられる。クリープボイドの孔径は、数μｍの微小な大きさから、１５μｍ程度の結晶粒の粒径に相当する大きさであり、比較的広範囲に分布していた。なお、熱影響細粒域における平均的な結晶粒の粒径は１５μｍである。微小なクリープボイドは、結晶粒界に生じ、一部の結晶粒に集中的に存在していた。また、微小なクリープボイドのなかには、成長して互いに近接し、連結する過程にあると考えられるものも観察された。
【００３３】
図５に、クリープ途中止め試験の途中止め時間が７０００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像を示す。
図５に示すように、上述の破断材と同様に、熱影響部細粒域において、微小なクリープボイドが、一部の結晶粒に集中的に存在していた。
なお、クリープ途中止め試験の途中止め時間が６０００時間の時にも、微小なクリープボイドが確認された。しかしながら、この時、熱影響部細粒域において、微小なクリープボイドが、一部の結晶粒に集中的に存在していなかった。
【００３４】
図６に、クリープ途中止め試験の途中止め時間が８０００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像を示す。図７に、クリープ途中止め試験の途中止め時間が８５００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像を示す。図８に、クリープ途中止め試験の途中止め時間が９０００時間の時に、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを観察した走査型電子顕微鏡像を示す。
【００３５】
図５と図６を比較すると、クリープ途中止め試験の途中止め時間が８０００時間の時には、７０００時間の時よりもクリープボイドの個数が顕著に増加していることが確認された。
図６と図７を比較すると、クリープ途中止め試験の途中止め時間が８５００時間の時には、８０００時間の時に対してクリープボイドの個数には大差がないが、クリープボイドの孔径が結晶粒の粒径と同等であることが確認された。同様に、図６と図８を比較すると、クリープ途中止め試験の途中止め時間が９０００時間の時には、８０００時間の時に対してクリープボイドの個数には大差がないが、クリープボイドの孔径が結晶粒の粒径と同等であることが確認された。
また、図７と図８を比較すると、クリープ途中止め試験の途中止め時間が９０００時間の時には、８５００時間の時には存在しなかった微小なクリープボイドが新たに発生していることが確認された。
【００３６】
以上の結果から、以下のようなことが考察される。
クリープ破断試験の破断時間は、上述の通り、寿命評価式に準じて計算した値を上回った。一般に、クリープ試験片が大型化すると、クリープ試験片の熱影響部に作用する応力の多軸度が高まって、クリープ試験片の熱影響部細粒域にて、タイプＩＶ型損傷が発生し易くなると言われている。本試験においても、同様の結果が得られた。
【００３７】
クリープ破断試験における破断材およびクリープ途中止め試験におけるクリープ試験片は、熱影響部細粒域にて、クリープボイドが発生し、タイプＩＶ型損傷が発生していることが確認された。クリープボイドは、従来から確認されている、孔径が結晶粒の粒径と同等のものに加えて、図４にて符号Ａで示すように、孔径が数μｍ（１μｍ以上１０μｍ未満）程度のものが確認された。孔径が数μｍ程度のクリープボイドは、熱影響部細粒域の表面全面に存在するのではなく、一部の結晶粒に偏在していた。
【００３８】
また、図５にて符号Ｂで示すように、微小なクリープボイドが成長して互いに近接し、連結する過程にあると考えられるものも観察された。
さらに、図４にて符号Ｃで示すように、１つの結晶粒の周囲に、複数のクリープボイドが発生すると、それらのクリープボイドが互いに連結する。これにより、結晶粒界が著しく損傷し、多くの結晶粒が剥離すると考えられる。したがって、図４に符号Ｄで示す部位、図６および図７に示すように、孔径が結晶粒の粒径と同等（孔径１５μｍ程度）のクリープボイドが存在する場合、熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを作製する際に、結晶粒界が著しく損傷した結晶粒が脱落すると考えられる。
【００３９】
このように、高クロム鋼からなる溶接部材におけるクリープ損傷の発生や進展の過程は、ベイナイト組織を呈する低合金鋼における損傷過程と類似し、結晶粒界における微小なクリープボイドの発生、微小なクリープボイドの成長・連結、結晶粒界の剥離、レプリカ作製時における結晶粒の脱落等の過程を経ると考えられる。
【００４０】
クリープ途中止め試験の途中止め時間が８０００時間と８５００時間の間では、クリープボイドの個数が増加することよりも、クリープボイドの孔径が大きくなることが顕著であった。これは、クリープボイドが発生すると、そのクリープボイドの周囲に応力が集中して、クリープ損傷が著しく進行することを示していると考えられる。なお、クリープ途中止め試験の途中止め時間が８５００時間と９０００時間の間では、クリープボイドの個数とクリープボイドの孔径について、明確な違いが確認されなかった。
【００４１】
クリープ途中止め試験の途中止め時間が９０００時間の時には、８５００時間の時には存在しなかった微小なクリープボイドが新たに発生していることが確認された。このことは、熱影響部細粒域の表面において、クリープボイドが占める面積の割合（面積率）が増加し、全体的に熱影響部細粒域の応力が高くなったことが影響していると考えられる。
【００４２】
クリープ途中止め試験を継続した結果、クリープ試験片は９６０９時間で破断した。この破断時間（９６０９時間）がクリープ損傷の進行度が１００％の時点となる。従って、途中止め時間６０００時間ではクリープ損傷の進行度が６２％、途中止め時間７０００時間ではクリープ損傷の進行度が７３％、途中止め時間８０００時間ではクリープ損傷の進行度が８３％、途中止め時間８５００時間ではクリープ損傷の進行度が８８％、途中止め時間９０００時間ではクリープ損傷の進行度が９４％、途中止め時間９５００時間ではクリープ損傷の進行度が９８．９％であると言える。
クリープ試験片（溶接部材）の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、クリープ途中止め試験の各途中止め時間において測定した、クリープ試験片（溶接部材）の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比（以下、比Ａと言う。）と、クリープ損傷の進行度（％）との関係を図９に示す。なお、図９において、上記の比Ａを、診断対象材料の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、診断対象材料の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比（以下、比Ｂと言う。）と表示する。ここで、診断対象材料とは、クリープ試験片（溶接部材）のことである。
【００４３】
以上の観察結果から、次のようなことが分かった。
クリープ途中止め試験の途中止め時間が７０００時間（クリープ損傷の進行度が７３％）以下では、熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）は連続的に変化しない。なぜならば、１つの結晶粒の周囲に、複数の微小なクリープボイドが発生し、それらのクリープボイドが互いに連結して、孔径が結晶粒の粒径と同等のクリープボイドが発生することがあるからである。
一方、クリープ途中止め試験におけるクリープ損傷の進行度が７３％を超えた場合、図９に示すように、クリープ損傷の進行度が増加するに伴って、熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）は連続的に変化する。
【００４４】
図９に示すように、クリープ損傷の進行度が６２％（途中止め時間６０００時間）のとき、比Ｂは０．１であった。また、クリープ損傷の進行度が７３％（途中止め時間７０００時間）のとき、比Ｂは１であった。また、クリープ損傷の進行度が８３％（途中止め時間８０００時間）のとき、比Ｂは１．６であった。また、クリープ損傷の進行度が８８％（途中止め時間８５００時間）のとき、比Ｂは２．１であった。また、クリープ損傷の進行度が９４％（途中止め時間９０００時間）のとき、比Ｂは２．３であった。また、クリープ損傷の進行度が９８．９％（途中止め時間９５００時間）のとき、比Ｂは２．５であった。このように、クリープ損傷の進行度が増加するに伴って、比Ｂ（比Ａ）が増加することが分かった。
【００４５】
従って、クリープ損傷の進行度が７５％以上の場合、クリープ損傷の進行度が増加するに伴って、比Ｂ（比Ａ）が増加することに基づいて、クリープ損傷の進行度を判定することができる。一方、クリープ試験片の熱影響部細粒域の表面組織のレプリカを走査型電子顕微鏡像等で観察した際、１つの結晶粒の周囲に、複数の微小なクリープボイドが発生している場合には、クリープ損傷の進行度が７５％未満であると判定する。
【００４６】
また、本実施形態の高クロム鋼のクリープ寿命診断方法では、予めクリープ損傷の進行度が異なる複数段階において、溶接部材と組成が等しいクリープ試験片の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、そのクリープ試験片の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比を測定し、その測定結果と、使用中の溶接部材の熱影響部細粒域における平均的な結晶粒の粒径（１５μｍ）に対する、その溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープボイドの最大径（μｍ）の比とを比較することにより、使用中の溶接部材の熱影響部細粒域におけるクリープ損傷の進行度を判定することもできる。
【００４７】
以上説明した通り、本実施形態の高クロム鋼のクリープ寿命診断方法によれば、高クロム鋼を含む溶接継手の寿命を精度よく診断することができる。
【００４８】
なお、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上記した実施の形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能である。
【符号の説明】
【００４９】
１  溶接部材
２  第１母材（母材）
３  第２母材（母材）
４  溶接部
５  熱影響部
６  熱影響部細粒域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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