(57)【要約】【課題】被検眼に照射する光の波面を補正する波面補正デバイスを用いて補償光学を行う際に、レイテンシーの短い好適な補償光学を実現する仕組みを提供する。【解決手段】撮影用光源から照射された光が被検眼で反射した反射光の波面に係る測定データを入力データとして入力する入力手段６０１と、入力データに従って前記波面を補正するための２次元の出力データを演算する出力データ演算手段６０２と、撮影用光源と被検眼との間の光の光路に設けられている波面補正デバイスに対して、出力データを出力する出力手段６０３と、出力データに基づいて当該出力データの所定領域ごとに優先演算順位を設定する優先演算順位設定手段６０４を備え、出力データ演算手段６０２は、優先演算順位設定手段６０４で設定された優先演算順位に基づいて新たな出力データの演算を行う。【選択図】図６
2017074260.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影用光源から照射された光が被検眼で反射した反射光の波面に係る測定データを入力する入力手段と、
前記測定データに従って、前記波面を補正するための２次元の補正データを演算する演算手段と、
前記撮影用光源と前記被検眼との間の前記光の光路に設けられている波面補正デバイスに対して、前記補正データを出力する出力手段と、
前記補正データに基づいて、前記補正データの所定領域ごとに演算順位を設定する設定手段と
を有し、
前記演算手段は、前記演算順位に基づいて新たな前記補正データの演算を行うことを特徴とするデータ処理装置。
【請求項２】
前記設定手段で設定された演算順位を保持する保持手段を更に有し、
前記演算手段は、前記保持手段に保持されている演算順位に基づいて前記新たな補正データの演算を行うことを特徴とする請求項１に記載のデータ処理装置。
【請求項３】
前記所定領域は、矩形領域であることを特徴とする請求項１または２に記載のデータ処理装置。
【請求項４】
前記出力手段は、少なくとも、第１の出力動作と第２の出力動作とを行うものであり、前記第１の出力動作では前記演算順位が所定順位より高い前記所定領域について前記新たな補正データを出力し、前記第２の出力動作では前記演算順位が所定順位より低い前記所定領域について前記新たな補正データを出力することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項５】
前記波面補正デバイスが、複数の画素を有する液晶デバイスで構成され、
前記設定手段は、前記補正データの所定領域内に、第１の閾値よりも大きい画素値の画素がある場合に当該画素を最大値近傍画素と判定するとともに、前記第１の閾値よりも小さい第２の閾値よりも小さい画素値の画素がある場合に当該画素を最小値近傍画素と判定し、当該判定の結果に基づいて当該所定領域の前記演算順位を設定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項６】
前記設定手段は、前記補正データの所定領域内に前記最大値近傍画素または前記最小値近傍画素がある場合、当該所定領域に対して、前記最大値近傍画素および前記最小値近傍画素がない場合よりも高い順位の前記演算順位を設定することを特徴とする請求項５に記載のデータ処理装置。
【請求項７】
前記設定手段は、前記補正データの所定領域内にある前記最大値近傍画素または前記最小値近傍画素の数が多い程、当該所定領域に対して高い順位の前記演算順位を設定することを特徴とする請求項５に記載のデータ処理装置。
【請求項８】
前記設定手段は、前記補正データの所定領域内のそれぞれの画素について、前記補正データが取り得る最大値からの差分および最小値からの差分を評価し、前記最大値または前記最小値に近い画素が多く存在する程、当該所定領域に対して高い順位の前記演算順位を設定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項９】
前記出力手段は、少なくとも、異なるタイミングで前記補正データを出力するための第１のバッファと第２のバッファとを含む構成であり、
前記設定手段は、前記第１のバッファまたは前記第２のバッファに格納されている前記補正データを読み出して前記演算順位を設定することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項１０】
前記出力手段から出力する前記補正データを格納するバッファ手段を更に有し、
前記設定手段は、前記バッファ手段に格納されている補正データを読み出して前記演算順位を設定することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項１１】
前記バッファ手段は、前記補正データにおける１つの前記所定領域または前記補正データにおける複数の前記所定領域の補正データを格納することを特徴とする請求項１０に記載のデータ処理装置。
【請求項１２】
前記波面を測定する波面測定デバイスを更に有し、
前記入力手段は、前記波面測定デバイスで得られた前記測定データを入力することを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項１３】
前記設定手段において前記演算順位がどのように設定されたかを示す情報を撮影時のログとして保存する保存手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載のデータ処理装置。
【請求項１４】
撮影用光源から照射された光が被検眼で反射した反射光の波面に係る測定データを入力する入力ステップと、
前記測定データに従って、前記波面を補正するための２次元の補正データを演算する第１の演算ステップと、
前記撮影用光源と前記被検眼との間の前記光の光路に設けられている波面補正デバイスに対して、前記補正データを出力する出力ステップと、
前記補正データに基づいて、前記補正データの所定領域ごとに演算順位を設定する設定ステップと、
前記演算順位に基づいて新たな前記補正データの演算を行う第２の演算ステップと
を有することを特徴とするデータ処理方法。
【請求項１５】
撮影用光源から照射された光が被検眼で反射した反射光の波面に係る測定データを入力する入力ステップと、
前記測定データに従って、前記波面を補正するための２次元の補正データを演算する第１の演算ステップと、
前記撮影用光源と前記被検眼との間の前記光の光路に設けられている波面補正デバイスに対して、前記補正データを出力する出力ステップと、
前記補正データに基づいて、前記補正データの所定領域ごとに演算順位を設定する設定ステップと、
前記演算順位に基づいて新たな前記補正データの演算を行う第２の演算ステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ処理装置、データ処理方法及びプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）装置と呼ばれるレーザーを用いた眼底検査装置に対して、補償光学と呼ばれる技術を適用することが行われている。この補償光学とは、元々宇宙を撮影する際などに課題となる大気の揺らぎを補正する技術であり、眼底検査装置においては被検眼の水晶体における揺らぎに対して同様の補正技術を適用できる。
【０００３】
この補償光学を行うためには、例えば、ＬＣＯＳ＿ＳＬＭ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｏｎ  Ｓｉｌｉｃｏｎ＿Ｓｐａｔｉａｌ  Ｌｉｇｈｔ  Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ：以下、単に「ＬＣＯＳ」と称する）と呼ばれる光の位相を変調するデバイスを用いる。この適用例について説明する。まず、撮影用レーザーをいくつかのデバイスを経由して被検眼の眼底に照射する。そして、被検眼の眼底からの反射光を受光することになるが、その反射光は波面が整っていない状態となっている。そこで、シャックハルトマン型波面センサなどの波面測定デバイスを別途光学系に用意してその波面のデータを測定する。そして、その測定結果に応じて、同じく光学系に用意したＬＣＯＳなどの波面補正デバイスを制御することによって、波面が整っていない光の位相を整えて補正後の波面を得る。以上により、高精細な画像を得ることが可能となる。
【０００４】
しかしながら、例えばＬＣＯＳを制御するのにあたっては、応答時間に課題がある。ＬＣＯＳは、他の液晶デバイスと同様に、信号を駆動してから液晶が応答を終えるまでに数ｍｓから数十ｍｓ程度の時間を要してしまう。
【０００５】
従来、液晶デバイスの応答時間を改善する方がいくつか提案されている。例えば、特許文献１には、液晶デバイスに対してオーバードライブを行う際に、１つ前のフレームと現在のフレームから補間フレームを生成し、その補間フレームを用いてオーバードライブ量を制御する技術が記載されている。また、特許文献２には、オーバードライブを行うのにあたり、次のフレームで補正量がオーバーフローしている場合に、さらにその次のフレームで調整する技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−９１４５４号公報
【特許文献２】特開２００８−３３０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１及び特許文献２に記載の技術では、液晶デバイスに与える信号を演算する時間については考慮されていない。一般的な補償光学では、測定された波面データを基にして、例えばゼルニケ多項式と呼ばれる数式により補正データを演算するが、その演算には数ｍｓから数十ｍｓの時間を要してしまう。
【０００８】
また、特許文献１及び特許文献２に記載の技術は、応答時間が異なる領域に応じた対応となっていない。例えばＬＣＯＳは、信号値を、最小値から最大値またはその逆に変化させる場合に、最も応答時間が長くなる。補償光学の用途でＬＣＯＳを用いる場合、ＬＣＯＳに与えることができる信号値の最小値から最大値の区間を、光の１波長分、即ち位相０度から位相３６０度に対応付けて使用する。この場合、ＬＣＯＳでの補正量は、１波長分までに限られており、例えば補正すべき位相の演算結果が３６５度となった場合、ＬＣＯＳでは、実際には３６５度−３６０度＝５度の補正を行う。そして、補正すべき位相が、２つのフレーム間で３５５度から３６５度のように時間変化した場合、位相の変動量は少ないにも関わらず、ＬＣＯＳでは、実際には３５５度から５度への変化となり、応答時間が長くなってしまう。実際には、応答時間が長くなる領域は、ＬＣＯＳの有効領域すべてというわけではない。しかしながら、実装上のボトルネックとなるため、何かしらの対処があることが望ましい。
【０００９】
眼底検査装置での補償光学の波面測定、補正処理は、刻一刻と変化する被検眼の水晶体における揺らぎに対してある程度の周期で繰り返し行う必要がある。上述した演算時間及び応答時間によって補償光学による補正までのレイテンシー（遅延時間）が長くなると、十分な補正効果が得られないという問題がある。
【００１０】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、被検眼に照射する光の波面を補正する波面補正デバイスを用いて補償光学を行う際に、レイテンシーの短い好適な補償光学を実現する仕組みを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明のデータ処理装置は、撮影用光源から照射された光が被検眼で反射した反射光の波面に係る測定データを入力する入力手段と、前記測定データに従って、前記波面を補正するための２次元の補正データを演算する演算手段と、前記撮影用光源と前記被検眼との間の前記光の光路に設けられている波面補正デバイスに対して、前記補正データを出力する出力手段と、前記補正データに基づいて、前記補正データの所定領域ごとに演算順位を設定する設定手段とを有し、前記演算手段は、前記演算順位に基づいて新たな前記補正データの演算を行う。
また、本発明は、上述したデータ処理装置によるデータ処理方法、及び、当該データ処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、被検眼に照射する光の波面を補正する波面補正デバイス１０３を用いて補償光学を行う際に、レイテンシーの短い好適な補償光学を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るデータ処理装置を含む眼底検査装置の概略構成の一例を示す図である。
【図２】図１の波面測定デバイスの一例を示す模式図である。
【図３】図１の波面補正デバイスの一例を示す模式図である。
【図４】従来例における補償光学制御部及び波面補正デバイスの動作の一例を示すタイミングチャートである。
【図５】本発明の第１の実施形態を示し、図１の補償光学制御部から波面補正デバイスに出力する出力データ（補正データ）の一例を示す図である。
【図６】本発明の第１の実施形態を示し、図１の補償光学制御部の内部構成の一例を示すブロック図である。
【図７】本発明の第１の実施形態を示し、図６の出力データ演算手段における動作の一例を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第１の実施形態を示し、図６の優先演算順位設定手段における動作の一例を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第１の実施形態を示し、図５の２次元補正データから優先演算領域を探索する一例を示す図である。
【図１０】本発明の第１の実施形態を示し、図５の２次元補正データから非優先演算領域を探索する一例を示す図である。
【図１１】本発明の第１の実施形態を示し、図６の出力手段における動作の一例を示す図である。
【図１２】本発明の第１の実施形態を示し、図１の補償光学制御部及び波面補正デバイスの動作の一例を示すタイミングチャートである。
【図１３】本発明の第２の実施形態を示し、図１の補償光学制御部の内部構成の一例を示すブロック図である。
【図１４】本発明の第２の実施形態を示し、図１３の出力データ演算手段における動作の一例を示すフローチャートである。
【図１５】本発明の第２の実施形態を示し、図６の優先演算順位設定手段における動作の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（実施形態）について説明する。
【００１５】
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態について説明する。
【００１６】
図１は、本発明の第１の実施形態に係るデータ処理装置を含む眼底検査装置１００の概略構成の一例を示す図である。ここで、本実施形態では、眼底検査装置１００の一例として、補償光学機能を備え、被検眼Ｅの眼底Ｅｒを検査対象とするＳＬＯ装置であるものとする。
【００１７】
眼底検査装置１００において、撮影用光源１０１は、撮影用レーザー光１０２を出力する。走査ミラー１０４は、撮影用光源１０１から出力され、波面補正デバイス１０３などの光学デバイスを経由して到達した撮影用レーザー光１０２を、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対して走査させる。
【００１８】
光センサ１０５は、被検眼Ｅの眼底Ｅｒから反射した反射光である撮影用レーザー光１０２を受光し、信号変換処理を経ることにより得られた画像信号を、不図示の画像構築システムに送信する。
【００１９】
波面測定デバイス１０６は、例えば、上述したシャックハルトマン型波面センサなどで構成されており、被検眼Ｅの眼底Ｅｒから反射した反射光である撮影用レーザー光１０２の波面を測定して、当該波面に係る測定データを生成する。
【００２０】
波面補正デバイス１０３は、例えば、上述したＬＣＯＳなどで構成されており、撮影用光源１０１から照射された撮影用レーザー光１０２が被検眼Ｅ（具体的に、本実施形態では被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）で反射した反射光（撮影用レーザー光１０２）の波面を補正する。この波面補正デバイス１０３は、図１に示すように、撮影用光源１０１と被検眼Ｅとの間の撮影用レーザー光１０２の光路に設けられている。また、図１には、補正前波面１０８と、波面補正デバイス１０３による補正後波面１０９が図示されている。図１に示す例では、補正前波面１０８は波面が整っていない状態となっており、補正後波面１０９は波面が整っている状態（撮影用レーザー光１０２の位相が整っている状態）となっている。この波面補正デバイス１０３による波面補正により、高精細な撮影画像（眼底画像）を得ることが可能となる。
【００２１】
補償光学制御部１０７は、波面測定デバイス１０６の測定の結果得られた測定データを入力データとして入力し、当該入力データに従って補正前波面１０８を補正するための２次元の出力データを演算する。そして、補償光学制御部１０７は、演算により求めた出力データを波面補正デバイス１０３に出力して、波面補正デバイス１０３を制御する。この補償光学制御部１０７は、本発明の第１の実施形態に係る「データ処理装置」を構成する。
【００２２】
そして、眼底検査装置１００では、波面測定デバイス１０６による波面測定から波面補正デバイス１０３による波面補正までの補償光学制御を所定の周期で繰り返し実行する。
【００２３】
図２は、図１の波面測定デバイス１０６の一例を示す模式図である。
ここで、図２（ａ）は波面に歪みがない場合の波面測定デバイス１０６の一例を示し、図２（ｂ）は波面に歪みがある場合（波面が湾曲している場合）の波面測定デバイス１０６の一例を示す。
【００２４】
図２（ａ）の光線２０１−１及び図２（ｂ）の光線２０１−２は、それぞれ、測定対象となる光線であり、図１における撮影用レーザー光１０２が被検眼Ｅの眼底Ｅｒから反射して波面測定デバイス１０６に到達したものである。図２（ａ）の波面２０２−１は光線２０１−１の波面を示し、図２（ｂ）の波面２０２−２は光線２０１−２の波面を示す。
【００２５】
図２（ａ）の光線２０１−１は、マイクロレンズアレイ２０３によって所定領域ごとに集光され、ＣＣＤセンサ２０４の上にスポット２０５−１を形成する。また、図２（ｂ）の光線２０１−２は、マイクロレンズアレイ２０３によって所定領域ごとに集光され、ＣＣＤセンサ２０４の上にスポット２０５−２を形成する。
【００２６】
図２（ａ）は、上述したように波面２０２−１に歪みがない場合の例を示しており、スポット２０５−１は、マイクロレンズアレイ２０３の各マイクロレンズの真下に形成される。図２（ｂ）は、上述したように波面２０２−２が湾曲している場合の例を示しており、スポット２０５−２は、マイクロレンズアレイ２０３の各マイクロレンズの真下よりずれた位置に形成される。ＣＣＤセンサ２０４では、これらのずれ量を測定することで、各波面２０２の測定が可能となる。
【００２７】
図３は、図１の波面補正デバイス１０３の一例を示す模式図である。
波面補正デバイス１０３は、図３に示すように液晶デバイスで構成され、ベース部３０１とカバー部３０２との間に液晶分子３０３−１及び３０３−２が封入された構造となっている。ベース部３０１には、複数の画素電極３０４が配置されており、また、カバー部３０２にも、不図示の透明な対向電極が配置されている。液晶分子３０３−１は、電極間に電圧を印加していない場合の液晶分子である。また、液晶分子３０３−２は、電極間に電圧を印加した場合の液晶分子であり、液晶分子３０３−１とは異なった配向となる。
【００２８】
図３では、図１に示す補正前波面１０８を図示している。入射光３０５は、補正前波面１０８を構成する光である。この入射光３０５が液晶分子３０３−１を通過する場合には、反射光３０６−１が得られる。また、この入射光３０５が液晶分子３０３−２を通過する場合には、反射光３０６−２が得られる。液晶分子３０３−１と液晶分子３０３−２とは屈折率が異なるため、反射光３０６−２は、反射光３０６−１に対して位相が遅れる。その結果、反射光３０６−１と反射光３０６−２とにより波面が揃うため、図１に示す補正後波面１０９が得られる。
【００２９】
図４は、従来例における補償光学制御部１０７及び波面補正デバイス１０３の動作の一例を示すタイミングチャートである。
図４において、補償光学フィードバック周期４０１は、補償光学を実施する周期であり、波面補正デバイスリフレッシュレート４０２に対して長めの周期となっている。波面補正デバイスリフレッシュレート４０２は、波面補正デバイス１０３が駆動される周期である。
【００３０】
図４において、補正データ演算時間４０３は、補正データである出力データの演算に要する時間である。波面補正デバイス応答時間４０４は、波面補正デバイス１０３が応答に要する時間であり、ここでは応答時間が最も長い場合を記載している。
【００３１】
図４において、破線４０５は、波面測定デバイス１０６から測定データを取得するタイミングで、補償光学フィードバックの開始するタイミングである。破線４０６は、波面測定デバイス１０６から取得した測定データを用いて補正データである出力データの演算が終了するタイミングである。破線４０７は、演算された補正データ（出力データ）を用いて波面補正デバイス１０３が駆動されるタイミングである。破線４０８は、波面補正デバイス１０３の駆動において、波面補正デバイス応答時間４０４が経過することによって波面補正デバイス１０３の応答が終了するタイミングである。その結果、図４に示す場合には、破線４０５〜破線４０８までの時間が補償光学のレイテンシー（遅延時間）となる。
【００３２】
図５は、本発明の第１の実施形態を示し、図１の補償光学制御部１０７から波面補正デバイス１０３に出力する出力データ（補正データ）の一例を示す図である。
図１の補償光学制御部１０７から波面補正デバイス１０３に出力する出力データ（補正データ）は、２次元のデータであり、図５（ａ）においてはこれを２次元補正データ５０１としてその一例を示す。この２次元補正データ５０１の各画素の画素値は、デジタル信号で例えば８ビットからなる。また、図５（ｂ）は、図５（ａ）に示す破線５０２上の画素の画素値を示す図である。図５に示す２次元補正データ５０１の画素の画素値は、補正すべき光の位相量と対応し、画素値の最小値から最大値が光の１波長分に対応する。エッジ５０３は、補正量が１波長分を超えたことによって画素値が急峻に変化した部分である。最大値近傍画素５０５は、第１の閾値５０４よりも大きい画素値の画素である。また、最小値近傍画素５０７は、第１の閾値５０４よりも小さい第２の閾値５０６よりも小さい画素値の画素である。
【００３３】
ここで、波面補正デバイス１０３の応答時間について補足する。
波面補正デバイス１０３の応答時間は、印加する信号値の変化量に依存し、画素値を最大値から最小値に変化させる（またはその逆）場合に、最も応答時間が長くなる。図５に示すエッジ５０３の位置が微小移動すると、その際に画素値が最大値から最小値に変化する（またはその逆）場合が発生し、その画素については応答時間が長くなってしまう。また、最大値近傍画素５０５は、補正量がわずかに変化した場合に補正量が１波長分を上回って、所謂位相ラッピングにより画素値が大きな値から小さな値にジャンプする可能性があり、その場合に応答時間が長くなる。同様に最小値近傍画素５０７は、補正量がわずかに変化した場合に補正量が１波長分を下回って、画素値が小さな値から大きな値にジャンプする可能性があり、その場合に応答時間が長くなる。なお、別の側面として、本実施形態における眼底検査装置１００においては、２次元補正データ５０１を刻一刻と変化させるのにあたり、２次元補正データ５０１の概略図は大きくは変動しない。エッジ５０３は、次回の補償光学フィードバックの際に元の位置の近辺に発生することが見込まれている。即ち、エッジ５０３の位置近辺は、次回の補正時に応答時間が長くなる可能性が高い。また、最大値近傍画素５０５及び最小値近傍画素５０７については、上述したように補正量が微小変動しただけで画素値が大きくジャンプするので、次回の補正時に応答時間が長くなる可能性が高い。そこで、本実施形態では、応答時間が長くなることが予想される領域と、応答時間が短くなることが予想される領域とを区別し、矩形領域（所定領域）単位で画像処理を行う。
【００３４】
図１２は、本発明の第１の実施形態のタイミングチャートを示し、図１の補償光学制御部１０７及び波面補正デバイス１０３の動作の一例を示すタイミングチャートである。この図１２については、詳しくは後述するため、ここでは概要だけを説明する。また、図１２において、図４に示す要素と同じ要素を示すものについては同じ符号を付している。
図４の補正データ演算時間４０３は、図１２では、優先演算領域補正データ演算時間１２０７と非優先演算領域補正データ演算時間１２０８とに分けられている。これにより、優先演算領域波面補正デバイス応答時間１２０９は、図４の波面補正デバイス応答時間４０４と同等の長さであるものの、開始のタイミングが前倒しされている。また、非優先演算領域波面補正デバイス応答時間１２１０は、図４の波面補正デバイス応答時間４０４より短いものとなる。以上により、補償光学を行う際のレイテンシーを短縮することができる。
【００３５】
図６は、本発明の第１の実施形態を示し、図１の補償光学制御部１０７の内部構成の一例を示すブロック図である。
【００３６】
入力手段６０１は、図１の撮影用光源１０１から照射された撮影用レーザー光１０２が被検眼Ｅ（具体的に、本実施形態では被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）で反射した反射光（撮影用レーザー光１０２）の波面に係る測定データを入力データとして入力する。具体的に、入力手段６０１は、図１の波面測定デバイス１０６で得られた測定データを入力データとして入力する。
【００３７】
出力データ演算手段６０２は、入力手段６０１から入力された入力データ（測定データ）に従って、補正前波面１０８を補正するための２次元の出力データ（２次元補正データ５０１）を演算する。
【００３８】
出力手段６０３は、波面補正デバイス１０３に対して、出力データ演算手段６０２の演算により得られた出力データ（２次元補正データ５０１）を出力する。本実施形態においては、例えば、出力手段６０３は、内部のフレームバッファに出力データを保持し、波面補正デバイス１０３への出力タイミングに合わせて保持している出力データを出力する。
【００３９】
優先演算順位設定手段６０４は、出力手段６０３から波面補正デバイス１０３に出力される出力データに基づいて、当該出力データの所定領域ごとに優先演算順位を設定する。例えば、優先演算順位設定手段６０４は、出力手段６０３の内部に構成されているフレームバッファに保持されている出力データを読み出して、当該出力データの所定領域（矩形領域）ごとに優先演算順位を設定する。
【００４０】
ここで、本実施形態においては、出力データの所定領域ごとに設定する優先演算順位として、例えば１及び２の２つの順位を設定するものとし、具体的に、例えば、優先演算領域に優先演算順位「１」を設定し、非優先演算領域に優先演算順位「２」を設定する。
【００４１】
また、優先演算順位設定手段６０４は、出力データの所定領域内に、図５（ｂ）の第１の閾値５０４よりも大きい画素値の画素がある場合に当該画素を最大値近傍画素５０５と判定するとともに、第１の閾値５０４よりも小さい図５（ｂ）の第２の閾値５０６よりも小さい画素値の画素がある場合に当該画素を最小値近傍画素５０７と判定し、当該判定の結果に基づいて当該所定領域の優先演算順位を設定する。この際、優先演算順位設定手段６０４は、出力データの所定領域内に最大値近傍画素５０５または最小値近傍画素５０７がある場合、当該所定領域に対して、最大値近傍画素５０５及び最小値近傍画素５０７がない場合よりも高い順位の優先演算順位を設定するようにしてもよい。
【００４２】
優先演算順位情報保持手段６０５は、優先演算順位設定手段６０４で所定領域（矩形領域）ごとに設定された優先演算順位の情報を保持するものである。ここで、本実施形態においては、優先演算順位情報保持手段６０５は、例えば、優先演算順位「１」が設定された優先演算領域に対してフラグを付して保持する。
その後、出力データ演算手段６０２は、優先演算順位情報保持手段６０５に保持されている優先演算順位の情報に基づいて新たな出力データの演算を行う。
【００４３】
図７は、本発明の第１の実施形態を示し、図６の出力データ演算手段６０２における動作の一例を示すフローチャートである。
【００４４】
まず、ステップＳ７０１において、出力データ演算手段６０２は、次の補償光学フィードバックが開始されるまでタイミングを待つ処理を行う。
【００４５】
続いて、ステップＳ７０２において、出力データ演算手段６０２は、入力手段６０１から入力される入力データ（波面測定データ）を読み出す処理を行う。
【００４６】
続いて、ステップＳ７０３において、出力データ演算手段６０２は、優先演算順位情報保持手段６０５に保持されている優先演算領域（具体的に、本実施形態では優先演算順位「１」が設定された所定領域）に係るフラグを読み出す処理を行う。このステップＳ７０３における優先演算領域フラグリード処理は、後述する図８の動作と同期して行われる。
【００４７】
続いて、ステップＳ７０４において、出力データ演算手段６０２は、ステップＳ７０３で読み出したフラグに基づいて、優先演算領域の補正データ（出力データ）を演算する処理を行う。ここで、優先演算領域は、所定領域である矩形領域の単位で管理し、上述した演算処理も矩形領域単位で行われる。
【００４８】
続いて、ステップＳ７０５において、出力データ演算手段６０２は、ステップＳ７０４の演算処理により得られた優先演算領域の補正データ（出力データ）を出力手段６０３に対して出力する処理を行う。
【００４９】
続いて、ステップＳ７０６において、出力データ演算手段６０２は、優先演算領域の全ての矩形領域について処理を行ったか否かを判断する。この判断の結果、優先演算領域の全ての矩形領域については未だ処理を行っていない場合には（Ｓ７０６／Ｎｏ）、ステップＳ７０４に戻り、未だ処理を行っていない優先演算領域の矩形領域について、ステップＳ７０４以降の処理を行う。
【００５０】
一方、ステップＳ７０６の判断の結果、優先演算領域の全ての矩形領域について処理を行った場合には（Ｓ７０６／Ｙｅｓ）、ステップＳ７０７に進む。
ステップＳ７０７に進むと、出力データ演算手段６０２は、ステップＳ７０３で読み出したフラグに基づいて、非優先演算領域（具体的に、本実施形態では優先演算順位「２」が設定された所定領域）の補正データ（出力データ）を演算する処理を行う。ここで、非優先演算領域は、優先演算領域と同様に、所定領域である矩形領域の単位で管理し、上述した演算処理も矩形領域単位で行われる。
【００５１】
続いて、ステップＳ７０８において、出力データ演算手段６０２は、ステップＳ７０７の演算処理により得られた非優先演算領域の補正データ（出力データ）を出力手段６０３に対して出力する処理を行う。
【００５２】
続いて、ステップＳ７０９において、出力データ演算手段６０２は、非優先演算領域の全ての矩形領域について処理を行ったか否かを判断する。この判断の結果、非優先演算領域の全ての矩形領域については未だ処理を行っていない場合には（Ｓ７０９／Ｎｏ）、ステップＳ７０７に戻り、未だ処理を行っていない非優先演算領域の矩形領域について、ステップＳ７０７以降の処理を行う。
【００５３】
一方、ステップＳ７０９の判断の結果、非優先演算領域の全ての矩形領域について処理を行った場合には（Ｓ７０９／Ｙｅｓ）、ステップＳ７１０に進む。
ステップＳ７１０に進むと、出力データ演算手段６０２は、波面補正デバイス１０３を用いて行う補償光学を終了するか否かを判断する。この判断の結果、波面補正デバイス１０３を用いて行う補償光学を終了しない場合には（Ｓ７１０／Ｎｏ）、ステップＳ７０１に戻り、ステップＳ７０１以降の処理を行う。
【００５４】
一方、ステップＳ７１０の判断の結果、波面補正デバイス１０３を用いて行う補償光学を終了する場合には（Ｓ７１０／Ｙｅｓ）、図７のフローチャートの処理を終了する。なお、図７に示す補正データの出力は、後述する図８の動作と同期して行われる。
【００５５】
図８は、本発明の第１の実施形態を示し、図６の優先演算順位設定手段６０４における動作の一例を示すフローチャートである。
【００５６】
まず、ステップＳ８０１において、優先演算順位設定手段６０４は、図７のステップＳ７０５及びステップＳ７０８において出力データ演算手段６０２が出力手段６０３の内部のフレームバッファに２次元補正データ５０１を入力し終えるのを待つ処理を行う。
【００５７】
続いて、ステップＳ８０２において、優先演算順位設定手段６０４は、出力手段６０３の内部のフレームバッファから２次元補正データ５０１を読み出す処理を行う。
【００５８】
続いて、ステップＳ８０３において、優先演算順位設定手段６０４は、ステップＳ８０２で読み出した２次元補正データ５０１から優先演算領域（更には、非優先演算領域）を探索する処理を行う。このステップＳ８０３の処理を、図９及び図１０を用いて説明する。
【００５９】
図９は、本発明の第１の実施形態を示し、図５の２次元補正データ５０１から優先演算領域９０１を探索する一例を示す図である。
図９の示す例では、優先演算順位設定手段６０４は、２次元補正データ５０１を矩形領域に区切り、エッジ５０３、最大値近傍画素５０５、最小値近傍画素５０７のいずれかが含まれている矩形領域を優先演算領域９０１と判定した場合について示している。
【００６０】
図１０は、本発明の第１の実施形態を示し、図５の２次元補正データ５０１から非優先演算領域１００１を探索する一例を示す図である。
図１０の示す例では、優先演算順位設定手段６０４は、２次元補正データ５０１を矩形領域に区切り、エッジ５０３、最大値近傍画素５０５、最小値近傍画素５０７のいずれも含まれていない矩形領域を非優先演算領域１００１と判定した場合について示している。ここで、図１０の非優先演算領域１００１は、図９の優先演算領域９０１と排他の関係である。
【００６１】
その後、本実施形態においては、優先演算順位設定手段６０４は、例えば、優先演算領域９０１に優先演算順位「１」を設定し、非優先演算領域１００１に優先演算順位「２」を設定する。
【００６２】
ここで、再び、図８の説明に戻る。
ステップＳ８０３の処理が終了すると、ステップＳ８０４に進む。
ステップＳ８０４に進むと、優先演算順位設定手段６０４は、優先演算順位情報保持手段６０５に対して、所定領域である矩形領域ごとに設定した優先演算順位の情報を更新する処理を行う。この際、優先演算順位設定手段６０４は、例えば、優先演算順位「１」が設定された優先演算領域に対してフラグを付して更新処理を行う。
【００６３】
続いて、ステップＳ８０５において、優先演算順位設定手段６０４は、波面補正デバイス１０３を用いて行う補償光学を終了するか否かを判断する。この判断の結果、波面補正デバイス１０３を用いて行う補償光学を終了しない場合には（Ｓ８０５／Ｎｏ）、ステップＳ８０１に戻り、ステップＳ８０１以降の処理を行う。
【００６４】
一方、ステップＳ８０５の判断の結果、波面補正デバイス１０３を用いて行う補償光学を終了する場合には（Ｓ８０５／Ｙｅｓ）、図８のフローチャートの処理を終了する。
【００６５】
なお、図８の動作は図７の動作と同期して行われるため、その説明を以下に行う。
図８のステップＳ８０１の処理は、図７のステップＳ７０５及びステップＳ７０８において出力データ演算手段６０２が出力手段６０３の内部のフレームバッファに２次元補正データ５０１を入力し終えるのを待つことで同期動作する。
また、図７のステップＳ７０３の処理は、前回の補償光学で行った、図８のステップＳ８０４における優先演算領域フラグ更新処理の結果を読み出すことで同期動作する。
【００６６】
図１１は、本発明の第１の実施形態を示し、図６の出力手段６０３における動作の一例を示す図である。図１１に示すように、本実施形態では、出力手段６０３は、その内部に、異なるタイミングで出力データを出力するための第１のフレームバッファ１１０１と第２のフレームバッファ１１０２とを含む構成である。そして、出力手段６０３は、各フレームバッファ１１０１及び１１０２に格納されている出力データを波面補正デバイス１０３に出力する。また、優先演算順位設定手段６０４は、第１のフレームバッファ１１０１または第２のフレームバッファ１１０２に格納されている出力データを読み出して、上述した優先演算順位を設定する。
【００６７】
第１のフレームバッファ１１０１と第２のフレームバッファ１１０２は、出力データの各フレームごとに交互に使用され、また、破線１１０３は、波面補正デバイス１０３に出力するフレームを示している。この第１のフレームバッファ１１０１と第２のフレームバッファ１１０２に格納される出力データの更新は、波面補正デバイス１０３に出力されていないタイミング、即ち破線１１０３が付与されていないタイミングで行われる。
【００６８】
また、図１１において、縦方向は時間を示しており、時間ごとの各フレームバッファ１１０１及び１１０２の状態を示している。
【００６９】
期間ｔ０では、前回のフィードバック時の状態となっており、第１のフレームバッファ１１０１と第２のフレームバッファ１１０２には前回の補正データ（出力データ）Ｄａｔａ０が格納されている。
【００７０】
期間ｔ１では、１フレーム目の書き込み処理と前回のフィードバックの５フレーム目の出力処理との２つの処理が行われる。１フレーム目の書き込み処理では、出力データ演算手段６０２で優先演算領域９０１について演算を行い、波面補正デバイス１０３への出力に使われていない第２のフレームバッファ１１０２の優先演算領域９０１にＤａｔａ１の書き込み１１０４を行う。一方、図４及び図１２に示すタイミングチャートによれば、フィードバック１回につき５フレームの出力が行われる。そのため、この際、前回のフィードバックの５フレーム目出力処理として、第１のフレームバッファ１１０１に格納されている出力データが波面補正デバイス１０３に出力される。
【００７１】
期間ｔ２では、２フレーム目の書き込み処理と１フレーム目の出力処理との２つの処理が行われる。２フレーム目の書き込み処理では、出力データ演算手段６０２で非優先演算領域１００１について演算を行い、波面補正デバイス１０３への出力に使われていない第１のフレームバッファ１１０１の非優先演算領域１００１にＤａｔａ１の書き込み１１０５を行う。加えて、２フレーム目の書き込み処理では、第２のフレームバッファ１１０２の優先演算領域９０１から第１のフレームバッファ１１０１の優先演算領域９０１にＤａｔａ１のコピー１１０６を行う。この際、１フレーム目の出力処理が同時に行われており、第２のフレームバッファ１１０２に格納されている出力データが波面補正デバイス１０３に出力され、その際、優先演算領域９０１については、Ｄａｔａ１の内容が反映されている。
【００７２】
期間ｔ３では、３フレーム目の書き込み処理と２フレーム目の出力処理との２つの処理が行われる。３フレーム目の書き込み処理では、第１のフレームバッファ１１０１の非優先演算領域１００１から第２のフレームバッファ１１０２の非優先演算領域１００１にＤａｔａ１のコピー１１０７を行う。この際、２フレーム目の出力処理が同時に行われており、第１のフレームバッファ１１０１に格納されている出力データが波面補正デバイス１０３に出力され、その際、優先演算領域９０１及び非優先演算領域１００１ともにＤａｔａ１の内容が反映されている。
【００７３】
期間ｔ４では、３フレーム目の出力処理として、第２のフレームバッファ１１０２に格納されている出力データが波面補正デバイス１０３に出力される。期間ｔ５では、４フレーム目の出力処理として、第１のフレームバッファ１１０１に格納されている出力データが波面補正デバイス１０３に出力される。期間ｔ６では、５フレーム目の出力処理と次回のフィードバックの１フレーム目の書き込み処理との２つの処理が行われるが、ここからは、以上説明した動作と同様の動作であり、期間ｔ１での動作と同様である。
【００７４】
なお、図８において説明した、ステップＳ８０３の優先演算領域探索処理を実行するためのステップＳ８０２のバッファデータリード処理は、第１のフレームバッファ１１０１または第２のフレームバッファ１１０２を対象として、新しいデータがフレームバッファに書き込まれた後に実行すればよい。例えば、バッファデータ１１０８をリードすればよい。
【００７５】
本実施形態においては、出力手段６０３は、少なくとも、第１の出力動作（図１１の期間ｔ２）と、第２の出力動作（図１１の期間ｔ３）とを行うものである。そして、例えば、第１の出力動作では、優先演算領域９０１（優先演算順位が所定順位以内（順位「１」以内）の所定領域）について新たな出力データを構成するデータを出力する。また、例えば、第２の出力動作では、非優先演算領域１００１（優先演算順位が所定順位外（順位「１」より低い）の所定領域）について新たな出力データを構成するデータを出力する。
【００７６】
図１２は、上述したように、本発明の第１の実施形態を示し、図１の補償光学制御部１０７及び波面補正デバイス１０３の動作の一例を示すタイミングチャートである。図１２において、図１１に示す期間ｔ１〜ｔ５と対応する期間にｔ１〜ｔ５を付している。また、補償光学フィードバック周期４０１、波面補正デバイスリフレッシュレート４０２、及び、破線４０５については、図４と同様であるため、同じ符号を付している。
【００７７】
まず、優先演算領域９０１に着目して説明する。
破線１２０１は、優先演算領域補正データ演算時間１２０７が経過して終了するタイミングである。破線１２０２は、優先演算領域補正データ演算時間１２０７において演算された補正データを用いて波面補正デバイス１０３が駆動するタイミングであり、図４の破線４０７よりも前のタイミングとなっている。破線１２０５は、当該駆動について、優先演算領域波面補正デバイス応答時間１２０９が経過することによって波面補正デバイス１０３の応答が終了するタイミングであり、これも図４の破線４０８よりも前のタイミングとなっている。
【００７８】
次に、非優先演算領域１００１に着目して説明する。
破線１２０１で優先演算領域補正データ演算時間１２０７が経過して終了すると同時に、非優先演算領域補正データの演算が開始される。破線１２０３は、非優先演算領域補正データ演算時間１２０８が経過して終了するタイミングである。破線１２０４は、非優先演算領域補正データ演算時間１２０８において演算された補正データを用いて波面補正デバイス１０３が駆動するタイミングである。破線１２０６は、当該駆動について、非優先演算領域波面補正デバイス応答時間１２１０が経過することによって波面補正デバイス１０３の応答が終了するタイミングである。ここで、非優先演算領域波面補正デバイス応答時間１２１０は、図４の波面補正デバイス応答時間４０４よりも短くなる。
【００７９】
以上をまとめると、優先演算領域９０１については波面補正デバイス１０３への駆動が前倒しされ、非優先演算領域１００１については波面補正デバイス１０３の応答時間が短くなる。図１２において、破線４０５から破線１２０５までの時間または破線４０５から破線１２０６までの時間のうちの長い方の時間が補償光学におけるレイテンシーとなるが、その時間は、図４の破線４０５から破線４０８までの時間よりも短いものとなる。
【００８０】
第１の実施形態では、波面補正デバイス１０３の応答時間が長くなる領域については補正データ（出力データ）の演算を優先し、それ以外の波面補正デバイス１０３の応答時間が比較的短い領域については補正データ（出力データ）の演算を後回しにする。
かかる構成によれば、被検眼に照射する光の波面を補正する波面補正デバイス１０３を用いて補償光学を行う際に、レイテンシーの短い好適な補償光学を実現することができる。
【００８１】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
【００８２】
第２の実施形態に係る眼底検査装置は、図１に示す第１の実施形態に係る眼底検査装置１００と同様の構成である。また、第２の実施形態に係る眼底検査装置１００の波面測定デバイス１０６は、図２に示す第１の実施形態における波面測定デバイス１０６と同様の構成である。また、第２の実施形態に係る眼底検査装置１００の波面補正デバイス１０３は、図３に示す第１の実施形態における波面補正デバイス１０３と同様の構成である。また、第２の実施形態における補償光学制御部１０７から波面補正デバイス１０３に出力する出力データ（補正データ）は、図５に示す第１の実施形態における出力データ（補正データ）と同様の構成である。また、第２の実施形態における、図５の２次元補正データ５０１から優先演算領域９０１を探索する一例は、図９に示す第１の実施形態における、図５の２次元補正データ５０１から優先演算領域９０１を探索する一例と同様である。また、第２の実施形態における、図５の２次元補正データ５０１から非優先演算領域１００１を探索する一例は、図１０に示す第１の実施形態における、図５の２次元補正データ５０１から非優先演算領域１００１を探索する一例と同様である。
【００８３】
図１３は、本発明の第２の実施形態を示し、図１の補償光学制御部１０７の内部構成の一例を示すブロック図である。図１３において、図６に示す構成と同様の構成については同じ符号を付している。
【００８４】
第２の実施形態における補償光学制御部１０７は、図１に示す第１の実施形態における補償光学制御部１０７の内部構成に対して、出力手段６０３から出力する出力データを構成するデータを格納するバッファ手段１３０１が追加された構成である。そして、第２の実施形態では、優先演算順位設定手段６０４は、出力手段６０３からではなく、バッファ手段１３０１に格納されているデータを読み出して優先演算順位を設定する。ここで、第２の実施形態では、バッファ手段１３０１は、優先演算領域９０１及び非優先演算領域１００１からなる２次元補正データ５０１における最小処理単位である１つの矩形領域（所定領域）のデータを格納するものとする。
【００８５】
図１４は、本発明の第２の実施形態を示し、図１３の出力データ演算手段６０２における動作の一例を示すフローチャートである。図１４において、図７の処理ステップと同様の処理ステップについては同じステップ番号を付している。
【００８６】
図１４のフローチャートの処理が開始されると、まず、図７のステップＳ７０１〜Ｓ７０４の処理がなされる。
【００８７】
続いて、ステップＳ１４０１において、出力データ演算手段６０２は、図１３のバッファ手段１３０１に対して書き込みを行える状態になるのを待つ処理を行う。このステップＳ１４０１におけるバッファ空き待ち処理は、後述する図１５の動作と同期して行われる。
【００８８】
その後、図７のステップＳ７０５〜Ｓ７０７の処理がなされる。
【００８９】
続いて、ステップＳ１４０２において、出力データ演算手段６０２は、図１３のバッファ手段１３０１に対して書き込みを行える状態になるのを待つ処理を行う。このステップＳ１４０２におけるバッファ空き待ち処理は、後述する図１５の動作と同期して行われる。
【００９０】
その後、図７のステップＳ７０８〜Ｓ７１０の処理がなされて、図１４のフローチャートの処理を終了する。
【００９１】
図１５は、本発明の第２の実施形態を示し、図６の優先演算順位設定手段６０４における動作の一例を示すフローチャートである。図１５において、図８の処理ステップと同様の処理ステップについては同じステップ番号を付している。
【００９２】
図１５において、ステップＳ８０１〜Ｓ８０４の処理は、それぞれ、図８に示す第１の実施形態におけるステップＳ８０１〜Ｓ８０４の処理とほぼ同様であるが、一部差異があるため、以下に説明する。
【００９３】
図１５に示す第２の実施形態におけるステップＳ８０１〜Ｓ８０２の処理対象となっているバッファは、第１の実施形態とは異なり、バッファ手段１３０１である。また、そのバッファ手段１３０１のリードデータ量は、優先演算領域９０１または非優先演算領域１００１の最小処理単位である１つの矩形領域（所定領域）のデータである。
【００９４】
そして、図１５に示す第２の実施形態におけるステップＳ８０３においては、第１の実施形態とは異なり、１回の処理量は、優先演算領域９０１または非優先演算領域１００１の最小処理単位である１つの矩形領域（所定領域）のデータである。
【００９５】
そして、図１５に示す第２の実施形態におけるステップＳ８０４においては、第１の実施形態とは異なり、優先演算領域９０１または非優先演算領域１００１の最小処理単位である１つの矩形領域（所定領域）に対応するフラグのみを更新する。
【００９６】
続いて、ステップＳ１５０１において、優先演算順位設定手段６０４は、優先演算領域９０１及び非優先演算領域１００１からなる２次元補正データ５０１における全ての矩形領域（所定領域）について処理を行ったか否かを判断する。この判断の結果、２次元補正データ５０１における全ての矩形領域（所定領域）については未だ処理を行っていない場合には（Ｓ１５０１／Ｎｏ）、ステップＳ８０１に戻り、未だ処理を行っていない矩形領域についてステップＳ８０１以降の処理を行う。
【００９７】
一方、ステップＳ１５０１の判断の結果、２次元補正データ５０１における全ての矩形領域（所定領域）について処理を行った場合には（Ｓ１５０１／Ｙｅｓ）、ステップＳ８０５に進む。
そして、ステップＳ８０５に進むと、図８に示す第１の実施形態におけるステップＳ８０５と同様の処理が行われて、図１５のフローチャートの処理を終了する。
【００９８】
なお、図１５の動作は図１４の動作と同期して行われるため、その説明を以下に行う。
図１５のステップＳ８０１の処理は、図１４のステップＳ７０５またはＳ７０８の１回ごとの動作を待つことで同期動作する。さらに、図１５のステップＳ８０２の処理が実行されると、バッファ手段１３０１は空き状態となり、図１４のステップＳ１４０１の処理が完了となる。
また、図１４のステップＳ７０３の処理は、前回の補償光学で行った、図１５のステップＳ８０４における優先演算領域フラグ更新処理の全領域分の結果を読み出すことで同期動作する。
【００９９】
なお、本実施形態では、バッファ手段１３０１は、２次元補正データ５０１における最小処理単位である１つの矩形領域（所定領域）のデータを格納するものとしたが、本発明においてはこの形態に限定されるものではない。例えば、バッファ手段１３０１において、２次元補正データ５０１における複数の矩形領域（所定領域）のデータを格納する形態も、本発明に含まれる。また、バッファ手段１３０１として、ダブルバッファやリングバッファを用いても構わない。
【０１００】
第１の実施形態で説明した図１１、即ち出力手段６０３が動作する際の状態は、第２の実施形態においても同様である。ただし、第２の実施形態では、バッファデータ１１０８のリードは不要である。
【０１０１】
また、第１の実施形態で説明した図１２、即ち補償光学制御部１０７及び波面補正デバイス１０３の動作のタイミングチャートは、第２の実施形態においても同様である。
【０１０２】
第２の実施形態によれば、第１の実施形態と同様に、被検眼に照射する光の波面を補正する波面補正デバイス１０３を用いて補償光学を行う際に、レイテンシーの短い好適な補償光学を実現することができる。
【０１０３】
（その他の実施形態）
上述した第１の実施形態及び第２の実施形態では、２次元補正データ５０１の矩形領域（所定領域）に対して２種類の優先演算順位を設定する形態、即ち優先演算順位が１の優先演算領域９０１と優先演算順位が２の非優先演算領域１００１とを設定する形態について説明を行ったが、本発明においてはこの形態に限定されるものではなく、３種類以上の優先演算順位を設定する形態も本発明に適用可能である。この際、例えば、２次元補正データ５０１を分割した個々の矩形領域（所定領域）の全てに異なる優先演算順位を設定して、その優先演算順位に従って処理を行うようにしてもよい。
【０１０４】
また、優先演算順位設定手段６０４による優先演算順位の設定の仕方として、例えば、２次元補正データ５０１の矩形領域（所定領域）の中にエッジ５０３がどの程度含まれているかを評価してその評価結果に基づいて優先演算順位を設定してもよい。また、優先演算順位設定手段６０４は、最大値近傍画素５０５が第１の閾値５０４を超えている量や最小値近傍画素５０７が第２の閾値５０６を下回っている量を積算評価してその評価結果に基づいて優先演算順位を設定してもよい。
【０１０５】
また、優先演算順位設定手段６０４は、２次元補正データ５０１の矩形領域内（所定領域内）にある最大値近傍画素５０５または最小値近傍画素５０７の数が多い程、当該矩形領域に対して高い順位の優先演算順位を設定するようにしてもよい。
【０１０６】
また、優先演算順位設定手段６０４は、第１の閾値５０４及び第２の閾値５０６を用いずに、２次元補正データ５０１の矩形領域内（所定領域内）の各画素について２次元補正データ５０１が取り得る最大値及び最小値に対してどれだけ近いかを積算評価して、その評価結果に基づいて優先演算順位を設定してもよい。この場合、例えば、優先演算順位設定手段６０４は、２次元補正データ５０１の矩形領域内（所定領域内）のそれぞれの画素について、２次元補正データ５０１が取り得る最大値からの差分及び最小値からの差分を評価し、最大値または最小値に近い画素が多く存在する程、当該矩形領域に対して高い順位の優先演算順位を設定するようにしてもよい。
【０１０７】
また、優先演算順位設定手段６０４において、優先演算領域９０１及び非優先演算領域１００１等に係る優先演算順位がどのように設定されたかを示す情報を、撮影時のログとして保存する保存手段を更に補償光学制御部１０７の内部に構成するようにしてもよい。この場合、撮影画像に不備があった際に、問題の切り分けを行うための撮影環境情報として使用することが可能となる。
【０１０８】
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、本発明に含まれる。
【０１０９】
なお、上述した本発明の実施形態は、いずれも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【符号の説明】
【０１１０】
６０１  入力手段、６０２  出力データ演算手段、６０３  出力手段、６０４  優先演算順位設定手段、６０５  優先演算順位情報保持手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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