(57)【要約】【課題】撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素に対して、適切な補正を行うことができる放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の処理方法を提供することを課題とする。【解決手段】放射線撮像装置は、撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する複数の画素と、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理部とを有する。【選択図】図５
2017152858.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する複数の画素と、
撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理部と
を有することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
前記欠陥補正処理部が補正する欠陥画素の数は、前記撮像枚数に応じて変わることを特徴とする請求項１記載の放射線撮像装置。
【請求項３】
前記欠陥補正処理部は、前記撮像枚数に応じて、前記撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素の画素データを補正することを特徴とする請求項１又は２記載の放射線撮像装置。
【請求項４】
前記欠陥補正処理部は、第１の撮像枚数の場合には、前記撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正し、第２の撮像枚数の場合には、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項５】
前記欠陥補正処理部は、
第１の撮像モードでは、第１の撮像枚数の場合には、前記撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正し、第２の撮像枚数の場合には、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正し、
第２の撮像モードでは、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項６】
前記撮像枚数が第１の閾値より少ない場合に補正する欠陥画素の数は、前記撮像枚数が前記第１の閾値より多い場合に補正する欠陥画素の数より多いことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項７】
前記撮像枚数が前記第１の閾値より多くかつ第２の閾値より少ない場合に補正する欠陥画素の数は、前記撮像枚数が前記第２の閾値より多い場合に補正する欠陥画素の数より多いことを特徴とする請求項６記載の放射線撮像装置。
【請求項８】
前記撮像枚数が第１の閾値より少ない場合に補正する欠陥画素の数は、前記撮像枚数が前記第１の閾値より多い場合に補正する欠陥画素の数より少ないことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項９】
前記撮像枚数が前記第１の閾値より多くかつ第２の閾値より少ない場合に補正する欠陥画素の数は、前記撮像枚数が前記第２の閾値より多い場合に補正する欠陥画素の数より少ないことを特徴とする請求項８記載の放射線撮像装置。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか１項に記載の放射線撮像装置と、
放射線を照射する放射線源と
を有することを特徴とする放射線撮像システム。
【請求項１１】
撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する複数の画素を有する放射線撮像装置の処理方法であって、
欠陥補正処理部により、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理ステップを有することを特徴とする放射線撮像装置の処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル画像として被写体のＸ線画像を撮像するＸ線撮像システムが開発されている。このＸ線撮像システムは、銀塩写真を用いるＸ線写真システムと比較して、極めて広範囲のＸ線露出域に渡って画像を記録できるという実用的な利点を有している。具体的には、Ｘ線撮像システムは、極めて広範囲のダイナミックレンジのＸ線を、例えば蛍光体を介して光電変換して電気信号として読み取り、その電気信号を更にデジタル信号に変換する。そして、Ｘ線撮像システムは、デジタル信号を処理して、写真感光材料等の記録材料やＣＲＴ等の表示装置に、可視画像としてＸ線画像を出力することにより、Ｘ線露光量がある程度変動しても良好なＸ線画像を得ることができる。
【０００３】
近年、撮像装置は、画素の高精細化と大画素数化が進み、例えば、横方向２０００画素×縦方向２０００画素を超える画素数を有する撮像装置が開発されている。このような撮像装置には、正常な出力値が得られない欠陥画素が存在する。この欠陥画素を補正するために、特許文献１には、撮像条件（画素加算設定）に応じて、欠陥画素情報を切り替え、画像データを補正する方法が開示されている。また、特許文献２には、撮像部への高電圧印加開始に起因して出現する欠陥画素に対して、高電圧印加からの経過時間に応じた補正方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第４８５０７３０号公報
【特許文献２】特開２０１０−２３３５８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
Ｘ線撮像装置には、正しい画素値が出力されない欠陥画素が存在する場合がある。しかし、欠陥画素の種類によっては、引用文献１及び２では、適切な欠陥補正を行えない場合がある。
【０００６】
本発明の目的は、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素に対して、適切な補正を行うことができる放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の処理方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の放射線撮像装置は、撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する複数の画素と、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理部とを有する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素に対して、適切な補正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】放射線撮像システムの構成例を示すブロック図である。
【図２】撮像制御部の構成例を示すブロック図である。
【図３】撮像枚数によって正常出力となる欠陥画素の様子を示す図である。
【図４】欠陥画素情報のメモリ上の配置例を示す図である。
【図５】放射線撮像システムの処理方法を示すフローチャートである。
【図６】放射線撮像システムの処理方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態による大面積フラットパネル式の放射線撮像システムの構成例を示す図である。放射線撮像システムは、大面積フラットパネル式の放射線動画撮像システムであり、放射線撮像装置１００、システム制御装置１０１、画像表示装置１０２、Ｘ線発生装置１０３、及びＸ線管１０４を有する。撮像時には、システム制御装置１０１は、放射線撮像装置１００とＸ線発生装置１０３を同期制御する。Ｘ線管１０４は、放射線源であり、Ｘ線発生装置１０３の制御の下、被写体を介して放射線撮像装置１００に放射線（Ｘ線）を照射する。放射線撮像装置１００は、被写体を透過したＸ線をシンチレータにより可視光に変換し、光電変換素子により光量に応じた電荷を生成し、アナログ画像をデジタル画像に変換し、Ｘ線照射に対応したフレーム画像データをシステム制御装置１０１に出力する。システム制御装置１０１は、画像処理を行い、画像表示装置１０２に放射線画像をリアルタイムで表示する。
【００１１】
放射線撮像装置１００は、フラットパネルセンサ１０５と、差動増幅器１０７と、Ａ／Ｄ変換器１０８と、撮像制御部１０９とを有する。フラットパネルセンサ１０５は、１６列×２行の行列状の複数の矩形半導体基板１２０を有する。矩形半導体基板１２０は、シリコン半導体ウエハ上の二次元行列状の画素（光電変換素子を含む）を短冊状に切り出したＣＭＯＳ型撮像素子であり、平面基台上に１６列×２行の行列状にタイリングされている。複数の矩形半導体基板１２０の各々は、シンチレータと、等ピッチで二次元行列状に配置された複数の画素とを有する。シンチレータは、放射線を光に変換する。複数の画素の各々は、光電変換素子により、その光を電荷に変換し、画素信号を出力する。すなわち、複数の画素は、撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する。隣接する矩形半導体基板１２０の境界を挟む領域の画素は、矩形半導体基板１２０上の画素と同じピッチになるように、隣接する矩形半導体基板１２０がタイリングされている。フラットパネルセンサ１０５の上辺部と下辺部には、矩形半導体基板１２０の外部端子（電極パット）が一列に並んでいる。矩形半導体基板１２０の電極パットは、フライングリード式プリント配線板で外部の回路に接続される。
【００１２】
複数の矩形半導体基板１２０は、それぞれ、行列状の複数の画素により、複数の画素信号を複数の差動増幅器１０７に出力する。複数の差動増幅器１０７は、それぞれ、複数の矩形半導体基板１２０が出力する画素信号を増幅してＡ／Ｄ変換器１０８に出力する。複数のＡ／Ｄ変換器１０８は、それぞれ、複数の差動増幅器１０７が出力する画素信号をアナログからデジタルに変換し、デジタルの画素信号を撮像制御部１０９に出力する。この時、１個の矩形半導体基板１２０に対して、１個の差動増幅器１０７及び１個のＡ／Ｄ変換器１０８を設けることにより、各矩形半導体基板１２０の画素信号を並行して同時読み出し制御することが可能となり、画素読み出し処理の高速化が達成できる。
【００１３】
撮像制御部１０９は、システム制御装置１０１に対して、制御コマンドの通信、同期信号の通信、画像データの送信を行う。また、撮像制御部１０９は、フラットパネルセンサ１０５に対して駆動制御及び撮像モード制御を行い、複数のＡ／Ｄ変換器１０８から入力されたデジタル画像データをフレームデータに合成し、システム制御装置１０１に出力する。
【００１４】
コマンド制御用インターフェース１１０は、システム制御装置１０１から撮像制御部１０９への撮像モードの設定、各種パラメータの設定、撮像開始設定、撮像終了設定等を通信する。また、コマンド制御用インターフェース１１０は、撮像制御部１０９からシステム制御装置１０１への放射線撮像装置１００の状態等を通信する。画像データインターフェース１１１は、撮像制御部１０９からシステム制御装置１０１へ画像データを送信する。ＲＥＡＤＹ信号１１２は、放射線撮像装置１００が撮像可能状態になったことを撮像制御部１０９からシステム制御装置１０１へ伝える信号である。外部同期信号１１３は、システム制御装置１０１が撮像制御部１０９のＲＥＡＤＹ信号１１２を受けると、システム制御装置１０１が撮像制御部１０９にＸ線照射のタイミングを知らせる信号である。照射許可信号１１４は、照射許可信号１１４がイネーブルの間にシステム制御装置１０１からＸ線発生装置１０３に照射信号が送信され、放射線撮像装置１００は、Ｘ線管１０４から照射されたＸ線に基づくＸ線画像を形成する。
【００１５】
放射線撮像装置１００は、画素数が増え、画像処理のデータ量及び通信のデータ量が増えているため、フレームレートの高速化が求められている。なお、放射線撮像装置１００とシステム制御装置１０１との通信系は、放射線撮像装置１００とシステム制御装置１０１との間の信号線数を考慮し、双方向シリアル通信系にしてもよい。
【００１６】
図２は、図１の撮像制御部１０９の構成例を示す図である。撮像制御部１０９は、ＦＰＧＡ２００と、メモリ２１０と、不揮発性メモリ２１１とを有する。ＦＰＧＡ２００は、欠陥補正処理を行う欠陥補正処理部である。ＦＰＧＡ２００は、コントローラ２０１と、複数の欠陥処理モジュール２０２と、画像データ結合モジュール２０９とを有する。メモリ２１０は、欠陥画素情報を記憶する。コントローラ２０１は、メモリ２１０から欠陥画素情報を読み出す。メモリ２１０は、高速読み出しを可能とするために、ＤＤＲメモリ等が使用される。放射線撮像装置１００は、電源起動時や撮像動作設定時に、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ２１１から、欠陥画素情報を読み出してＤＤＲメモリ２１０にコピーする。複数の欠陥処理モジュール２０２は、それぞれ、複数のＡ／Ｄ変換器１０８から入力した画像データに対して、欠陥補正処理を行う。また、複数の欠陥処理モジュール２０２は、複数のＡ／Ｄ変換器１０８が同時出力した画像データを並行処理するために、画像データ系統数分設けられる。例えば、図１のように、矩形半導体基板１２０が１６列×２行分の数だけ構成された場合は、３２系統分の欠陥処理モジュール２０２が設けられる。
【００１７】
コントローラ２０１は、読み出し制御モジュール２０３と、ＦＩＦＯ２０４と、セレクタ２０５とを有する。読み出し制御モジュール２０３は、メモリ２１０から欠陥画素情報を読み出す。詳細は後述するが、矩形半導体基板１２０は、１ライン毎、順次画像データを出力するため、読み出し制御モジュール２０３も、ライン方向の欠陥画素情報をメモリ２１０から順次読み出す。そして、読み出し制御モジュール２０３は、読み出した欠陥画素情報を、ＦＩＦＯ２０４及びセレクタ２０５を介して、複数の欠陥処理モジュール２０６内のシフトレジスタ２０７に書き込む。このシフトレジスタ２０７への欠陥画素情報の書き込み処理は、矩形半導体基板１２０から出力される画像データの欠陥補正処理のタイミングに間に合うように実施する。ここで、ＦＩＦＯ２０４及びシフトレジスタ２０７の容量は、１画像フレーム分用意する必要はなく、容量削減のため、ライン毎の各データ処理に間に合う範囲で、複数ライン分用意すればよい。
【００１８】
欠陥処理モジュール２０２は、ＦＩＦＯ２０６と、シフトレジスタ２０７と、欠陥処理部２０８とを有する。欠陥処理モジュール２０２は、Ａ／Ｄ変換器１０８から入力した画像データをＦＩＦＯ２０６に順次書き込む。欠陥処理部２０８は、ＦＩＦＯ２０６の画像データに対して、シフトレジスタ２０７に書き込まれた欠陥画素情報を用いながら、欠陥補正処理を行い、欠陥補正処理後の画像データを画像データ結合モジュール２０９へ出力する。欠陥補正処理は、例えば、矩形半導体基板１２０の欠陥画素の画素値を０へ置き換えたり、欠陥画素の周辺画素の画素値を用いた補正値に欠陥画素の画素値を置き換えたりする処理である。欠陥画素の画素値を０へ置き換える処理方法においては、画像データと欠陥画素情報との論理積（ＡＮＤ）を順番に演算することにより、欠陥画素の画素値を０へ変換することができる。欠陥画素情報は画素毎に設けられ、欠陥画素の欠陥画素情報は０であり、正常画素の欠陥画素情報は１にすればよい。
【００１９】
複数の欠陥処理モジュール２０２は、それぞれ、並列処理された欠陥補正処理後の画像データを画像データ結合モジュール２０９に出力する。画像データ結合モジュール２０９は、欠陥補正処理後の画像データに対してフレーム化等の結合処理を行い、システム制御装置１０１との画像データ通信プロトコルに応じて、結合処理された画像データをシステム制御装置１０１へ出力する。
【００２０】
フラットパネルセンサ１０５は、例えば、１１インチ×１１インチ等の大サイズの撮像領域を有するが、正しい画素値が出力されない欠陥画素が存在する。図３に示すように、動画撮像において、この欠陥画素のうち、１枚目の撮像では異常出力となり、２枚目以降の撮像を繰り返すうちに、出力異常の程度が低減していく。例えば、撮像枚数が１０枚を過ぎると、正常出力となるような振る舞いをする欠陥画素が見つかっている。このような振る舞いの欠陥画素を、特許文献１のように、定常的な欠陥情報として定義する方法だと、正常出力となった後も、過剰に無駄な欠陥補正を行ってしまう。また、特許文献２のように、撮像部への高電圧印加からの経過時間によって、欠陥補正サイズを変更する方法では、高電圧印加からしばらく時間が経過した後に１枚目の動画撮像を開始する操作に対しては、適切な欠陥補正を行えない。
【００２１】
以下、図３のような欠陥画素を適切に欠陥補正処理する方法を説明する。放射線撮像装置１００の出荷前の検査工程にて、欠陥画素を抽出する作業を行うが、その際、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素と、定常的に異常出力となる通常の欠陥画素とを、区別して抽出する。また、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素においては、何枚で正常出力となるかを検査する。次に、放射線撮像装置１００は、上記の撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常の欠陥画素が登録された欠陥画素情報と、通常の欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報とを、それぞれ用意し、不揮発性メモリ２１１上に保存する。また、放射線撮像装置１００は、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素が、何枚で正常出力となるかの検査結果の撮像枚数ｎを、不揮発性メモリ２１１上に保存する。放射線撮像装置１００は、電源起動時に、不揮発性メモリ２１１上の欠陥画素情報及び検査結果をメモリ２１０にコピーする。
【００２２】
図４は、不揮発性メモリ２１１及びメモリ２１０のアドレスマップの一例を示す図である。不揮発性メモリ２１１は、画素加算モード及びゲイン設定等によって、複数の欠陥画素情報を記憶する。不揮発性メモリ２１１は、画素加算モード及びゲイン設定等の各々に対して、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常の欠陥画素の両者が登録された欠陥画素情報と、通常の欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報とを、異なるアドレス領域に記憶する。メモリ２１０は、不揮発性メモリ２１１と同じ情報を記憶する。
【００２３】
なお、その他の欠陥画素情報の構成例としては、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報と、通常の欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報とを、別々のアドレスに保存しておいてもよい。その場合、欠陥補正処理時に、後述するフローチャートの欠陥画素情報切り替え処理に応じて、両者の欠陥画素情報を読み出し時に重ねあわせて、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常の欠陥画素が登録された欠陥画素情として扱ってもよい。
【００２４】
図５は、本実施形態による放射線撮像システムの処理方法を示すフローチャートである。放射線撮像システムの電源がオンされた後、ステップＳ３１では、システム制御装置１０１は、放射線撮像装置１００に対して、撮像モードを設定する。撮像モードの設定パラメータとしては、駆動方法設定、電荷蓄積時間設定、フレームレート設定、画素加算設定、ゲイン設定、等が挙げられる。次に、ステップＳ３２では、放射線撮像装置１００は、動画撮像開始が指示されると、１枚目から順に動画の撮像を開始する。次に、ステップＳ３３では、ＦＰＧＡ２００は、メモリ２１０内の欠陥画素情報Ａを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Ａは、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常欠陥画素が登録された欠陥画素情報である。次に、ステップＳ３４では、ＦＰＧＡ２００は、動画撮像の撮像枚数が、検査結果の撮像枚数ｎ（例えば１０枚）に達したか否かを判定し、達していない場合にはステップＳ３３に処理を戻し、達した場合にはステップＳ３５に処理を進める。ステップＳ３３では、ＦＰＧＡ２００は、再び、欠陥画素情報Ａを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ステップＳ３５では、ＦＰＧＡ２００は、メモリ２１０内の欠陥画素情報Ｂを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Ｂは、通常欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報である。
【００２５】
図３の欠陥画素は、１〜９枚目の撮像では異常出力となり、１０枚目以降の撮像では正常出力となる。ＦＰＧＡ２００は、１〜９枚目の撮像では、ステップＳ３３において欠陥画素情報Ａを用いて欠陥補正処理を行う（図３の欠陥画素の欠陥補正を行う）。また、ＦＰＧＡ２００は、１０枚目以降の撮像では、ステップＳ３５において欠陥画素情報Ｂを用いて欠陥補正処理を行う（図３の欠陥画素の欠陥補正を行わない）。このように、ＦＰＧＡ２００は、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を切り替えて、フラットパネルセンサ１０５内の複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する。これにより、撮像枚数に応じて正常画素となる欠陥画素に対して、適切な欠陥補正処理を行うことができる。
【００２６】
ＦＰＧＡ２００が補正する欠陥画素の数は、撮像枚数に応じて変わる。ＦＰＧＡ２００は、撮像枚数に応じて、図３の撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素の画素データを補正する。具体的には、ＦＰＧＡ２００は、撮像枚数ｎより少ない第１の撮像枚数の場合には、ステップＳ３３において、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。また、ＦＰＧＡ２００は、撮像枚数ｎより多い第２の撮像枚数の場合には、ステップＳ３５において、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。
【００２７】
（第２の実施形態）
図６は、本発明の第２の実施形態による放射線撮像システムの処理方法を示すフローチャートである。本実施形態では、ある特定の撮像モードＡのみ撮像枚数に応じて欠陥画素情報を切り替える処理と、欠陥画素情報の切り替えを複数回行う処理を示す。撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素は、図３に示したように、撮像枚数に応じて段階的に異常範囲が狭くなる特性があるので、より適切な欠陥補正を行うために、段階的に欠陥画素情報を切り替えることが効果的である。また、正常出力となる撮像枚数が、対象の複数の欠陥画素によってばらつきがある場合は、欠陥画素情報の切り替わり撮像枚数のポイントを複数用意することが効果的である。いずれの場合も、検査工程の欠陥画素情報抽出過程において、上記の欠陥画素の内容に応じた欠陥画素情報を複数用意する必要がある。また、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素の振る舞いが、特定の撮像モードＡでのみ出現した場合は、その特定の撮像モードＡでの撮像時のみ、撮像枚数に応じた欠陥画素情報の切り替えを行うことができる。
【００２８】
放射線撮像システムの電源がオンされた後、ステップＳ５１では、システム制御装置１０１は、放射線撮像装置１００に対して、撮像モードを設定する。撮像モードの設定パラメータとしては、駆動方法設定、電荷蓄積時間設定、フレームレート設定、画素加算設定、ゲイン設定、等が挙げられる。次に、ステップＳ５２では、放射線撮像装置１００は、設定された撮像モードが撮像モードＡであるか否かを判定し、撮像モードＡである場合にはステップＳ５３に処理を進め、撮像モードＡでない場合にはステップＳ５９に処理を進める。ステップＳ５９では、放射線撮像装置１００は、動画撮像開始が指示されると、１枚目から順に動画の撮像を開始し、ステップＳ５８に処理を進める。ステップＳ５３では、放射線撮像装置１００は、動画撮像開始が指示されると、１枚目から順に動画の撮像を開始し、ステップＳ５４に処理を進める。
【００２９】
ステップＳ５４では、ＦＰＧＡ２００は、メモリ２１０内の欠陥画素情報Ｘを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Ｘは、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素Ｋと撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素Ｌと通常欠陥画素が登録された欠陥画素情報である。次に、ステップＳ５５では、ＦＰＧＡ２００は、動画撮像の撮像枚数が、検査結果の撮像枚数ｎ（例えば１０枚）に達したか否かを判定し、達していない場合にはステップＳ５４に処理を戻し、達した場合にはステップＳ５６に処理を進める。ステップＳ５４では、ＦＰＧＡ２００は、再び、欠陥画素情報Ｘを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ステップＳ５６では、ＦＰＧＡ２００は、メモリ２１０内の欠陥画素情報Ｙを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Ｙは、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素Ｌと通常欠陥画素が登録された欠陥画素情報である。
【００３０】
次に、ステップＳ５７では、ＦＰＧＡ２００は、動画撮像の撮像枚数が、検査結果の撮像枚数ｍ（ｍはｎより大きい）に達したか否かを判定し、達していない場合にはステップＳ５６に処理を戻し、達した場合にはステップＳ５８に処理を進める。ステップＳ５６では、ＦＰＧＡ２００は、再び、欠陥画素情報Ｙを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ステップＳ５８では、ＦＰＧＡ２００は、メモリ２１０内の欠陥画素情報Ｚを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Ｚは、通常欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報である。
【００３１】
以上のように、１〜ｎ−１枚目の撮像では、ステップＳ５４において、欠陥画素Ｋと欠陥画素Ｌと通常欠陥画素が異常出力となるので、ＦＰＧＡ２００は、欠陥画素情報Ｘを用いて、欠陥画素Ｋと欠陥画素Ｌと通常欠陥画素の欠陥補正を行う。ｎ〜ｍ−１枚目の撮像では、ステップＳ５６において、欠陥画素Ｌと通常欠陥画素が異常出力となるので、ＦＰＧＡ２００は、欠陥画素情報Ｙを用いて、欠陥画素Ｌと通常欠陥画素の欠陥補正を行う。ｍ枚目以降の撮像では、ステップＳ５８において、通常欠陥画素が異常出力となるので、ＦＰＧＡ２００は、欠陥画素情報Ｚを用いて、通常欠陥画素の欠陥補正を行う。
【００３２】
また、撮像モードＡの場合には、ＦＰＧＡ２００は、ステップＳ５４，Ｓ５６，Ｓ５８において、欠陥画素Ｋと欠陥画素Ｌと通常欠陥画素の欠陥補正を行う。撮像モードＡ以外の撮像モードである場合には、ＦＰＧＡ２００は、ステップＳ５８において、通常欠陥画素の欠陥補正を行う。ＦＰＧＡ２００は、第１の撮像モードＡにおいて、撮像枚数ｍより少ない第１の撮像枚数の場合には、ステップＳ５４及びＳ５６において、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。また、ＦＰＧＡ２００は、第１の撮像モードＡにおいて、撮像枚数ｍより多い第２の撮像枚数の場合には、ステップＳ５８において、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。また、ＦＰＧＡ２００は、第１の撮像モードＡ以外の第２の撮像モードでは、ステップＳ５８において、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。
【００３３】
撮像枚数が第１の閾値撮像枚数ｎより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第１の閾値撮像枚数ｎより多い場合に補正する欠陥画素の数より多い。また、撮像枚数が第１の閾値撮像枚数ｎより多くかつ第２の閾値撮像枚数ｍより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第２の閾値撮像枚数ｍより多い場合に補正する欠陥画素の数より多い。
【００３４】
なお、第１及び第２の実施形態では、撮像枚数に応じて、異常出力から正常出力へと変化していく振る舞いの欠陥画素について述べたが、撮像枚数に応じて、正常出力から異常出力へと変化していく振る舞いの欠陥画素にも適用することができる。その場合、欠陥画素情報を切り替える手段は同じであり、切り替える順番を欠陥画素の振る舞いに応じて変更することにより、適切な欠陥補正を行うことができる。
【００３５】
その場合、撮像枚数が第１の閾値撮像枚数ｎより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第１の閾値撮像枚数ｎより多い場合に補正する欠陥画素の数より少ない。また、撮像枚数が第１の閾値撮像枚数ｎより多くかつ第２の閾値撮像枚数ｍより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第２の閾値撮像枚数ｍより多い場合に補正する欠陥画素の数より少ない。
【００３６】
また、第１及び第２の実施形態は、画像の読み出し順番や、欠陥画素情報の配置方法に限定されるものではなく、目的、状態、用途及び機能その他の仕様に応じて、適宜、変更が可能である。
【００３７】
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【符号の説明】
【００３８】
１００  放射線撮像装置、１０１  システム制御装置、１０２  画像表示装置、１０３  Ｘ線発生装置、１０４  Ｘ線管、１０５  フラットパネルセンサ、１０７  差動増幅器、１０８  Ａ／Ｄ変換器、１０９  撮像制御部、１２０  矩形半導体基板
【図１】
2017152858.tif 000003
【図２】
2017152858.tif 000004
【図３】
2017152858.tif 000005
【図４】
2017152858.tif 000006
【図５】
2017152858.tif 000007
【図６】
2017152858.tif 000008