(57)【要約】      （修正有）【課題】一部の機能が異なるラインアップを持つ組込製品の開発時に効率を向上するテストシステムを実現する。【解決手段】テスト対象の機種と構成要素の対応関係を記録する機種ＤＢ１２４と、テスト項目とテストの対象となる構成要素の対応関係を記録する自動テスト項目ＤＢ１２５と、テスト対象の機種に対し実行するテスト項目を記録する自動テスト計画ＤＢ１２２と、テスト対象の各機種に対し既に実施したテスト結果情報をテスト項目に対応付けて記録する自動テスト結果ＤＢ１２３と、自動テスト計画ＤＢからテスト対象機種のテスト項目を取得して、自動テスト項目ＤＢから取得したテスト項目が対象とする構成要素を取得し、機種ＤＢから取得した構成要素と同じ値を持つ機種を取得するスキップ参照先抽出部１１３とを備える。自動テスト結果ＤＢから取得した機種のテスト結果を取得して、結果が失敗の場合にはテスト対象機種のテスト項目をスキップさせる。【選択図】図１
2017033161.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト対象装置の各機種と構成要素の対応関係を記録する機種ＤＢと、
各テスト項目とテストの対象となる構成要素の対応関係を記録する自動テスト項目ＤＢと、
テスト対象装置の各機種に対し実行するテスト項目を記録する自動テスト計画ＤＢと、
テスト対象装置の各機種に対し既に実施したテスト結果情報をテスト項目に対応付けて記録する自動テスト結果ＤＢと、
前記自動テスト計画ＤＢからテスト対象機種のテスト項目を取得して、前記自動テスト項目ＤＢから前記取得したテスト項目がテスト対象とする構成要素を取得し、前記機種ＤＢから前記取得した構成要素と同じ値を持つ機種を取得するスキップ参照先抽出部と、
前記自動テスト結果ＤＢから前記取得した機種のテスト結果を取得して、該テスト結果が失敗の場合にはテスト対象機種の前記取得したテスト項目をスキップさせると判定して前記自動テスト計画ＤＢにスキップ情報を書き込むスキップ処理部と、
前記自動テスト計画ＤＢのスキップ情報が付されたテスト項目はスキップして、その他のテスト項目を実施する自動テスト実施部と
を有することを特徴とするテスト装置。
【請求項２】
前記自動テスト項目ＤＢからテスト項目を順次選択して、該テスト項目がテスト対象とする構成要素を取得し、テスト機種の構成要素の情報を前記機種ＤＢから取得して、構成要素の情報を介して、テスト機種の実行するテスト項目を取得して、前記自動テスト計画ＤＢへ書き込む自動テスト計画生成部を更に有することを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項３】
各機種のテスト対象装置のファームウェアバージョンを記録するファームウェアバージョンＤＢを更に有し、
前記スキップ処理部は、前記取得した機種のテスト結果が失敗であることの確認と共に、テスト対象機種、および前記取得した機種のファームウェアバージョンの一致を確認することを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項４】
前記スキップ処理部は、前記取得した機種のテスト結果が失敗、かつテスト対象機種、および前記取得した機種のファームウェアバージョンの差が閾値以内であればテスト対象機種の前記取得したテスト項目をスキップさせると判定して前記自動テスト計画ＤＢにスキップ情報を書き込むことを特徴とする請求項３に記載のテスト装置。
【請求項５】
各機種の構成要素のテストバージョンを記録するテストバージョンＤＢを更に有し、
前記スキップ処理部は、前記取得した機種のテスト結果が失敗であることの確認と共に、テスト対象機種、および前記取得した機種のテストバージョンの一致を確認することを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項６】
前記スキップ処理部は、前記取得した機種のテスト結果が失敗、かつテスト対象機種、および前記取得した機種のテストバージョンの差が閾値以内であればテスト対象機種の前記取得したテスト項目をスキップさせると判定して前記自動テスト計画ＤＢにスキップ情報を書き込むことを特徴とする請求項５に記載のテスト装置。
【請求項７】
ユーザ指示によって実行されて、前記自動テスト計画ＤＢに指定されたテスト対象機種に関するテスト計画データを記録して、全てのテスト項目に対して、スキップ参照先抽出処理、およびスキップ可能性を判定して、前記自動テスト計画ＤＢにスキップ情報の記載後、情報表示・編集画面を表示する情報表示・編集画面作成部を更に有し、
前記情報表示・編集画面作成部は、画面上でユーザによるスキップ指定の変更を受付けることを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項８】
各手動テスト項目とテストの対象となる構成要素の対応関係を記録する手動テスト項目ＤＢと、
テスト対象装置の各機種に対し実行する手動テスト項目を記録する手動テスト計画ＤＢと、
前記自動テスト項目ＤＢ、前記自動テスト結果ＤＢ、および前記手動テスト項目ＤＢから手動テスト計画を生成し、前記手動テスト計画ＤＢに保存する手動テスト計画生成部とを更に有し、
前記手動テスト計画生成部は、構成要素を介して手動テスト項目と自動テスト項目とを照らし合わせることで、自動テストの結果から手動テスト項目のスキップを設定することを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【請求項９】
ネットワークを介して、第２のテスト装置におけるテスト項目毎のテスト開始、終了、および結果情報を受信し、または第２のテスト装置からのテスト結果情報のアクセスを受付けて返信を送信するテスト装置間通信部を更に有し、
前記自動テスト結果ＤＢは、複数のテスト装置において実行されるテスト結果情報を集中して記録することを特徴とする請求項１に記載のテスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、組み込みシステムなどのリグレッションテストにおいてテスト時間短縮機能を備えたテスト装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
組み込みシステムを適用した機器の中には、その製品を市場に出荷するに際して、例えば１８０００件に及ぶテスト項目を持つ互換性の認証試験に合格する必要がある。そのような組み込みシステムの開発時において、プログラムの変更が認証試験の各テスト項目の合否にどのように影響するのかを確認するために、リグレッションテストを実行する場合には、通常認証試験の各テスト項目を全て実行することになる。
【０００３】
組込み分野などでは、各顧客メーカ向け、各使用言語向け、各製品グレード向けなどに、少しずつ構成が異なる派生機種が数多く作られる場合がある。派生機種の開発は開発時期が重なることが多いため、同時期に多くの派生機種に対して大量のテストを実施しなければならない。
【０００４】
本技術分野の背景技術として、特許文献１がある。特許文献１は、ウェハ状態、あるいはベアチップ状態での１種類の半導体製品の電気的特性試験におけるテスト時間短縮方法について述べている。初めに、所定数のサンプルの半導体製品に対して全てのテスト項目を実施し、テスト項目毎に失敗数をカウントする。失敗率が低い（成功率が高い）と判定されたテスト項目は、サンプル以外のその後の半導体製品でのテストでも成功するとみなし、その後の半導体製品でのテストでは該当テスト項目をスキップする。このスキップによってテスト時間を短縮する技術である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−１５６４０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
組み込みシステムを適用した製品の開発中においては、前記したように派生機種数やテスト項目が多い場合には、全ての機種に対して全てのテスト項目を終えるのに数日を要する場合もある。しかし、複数の派生機種数に対して、並列に稼働できるテスト装置に限りがある場合においても、毎日、リグレッションテストを実行することが課題となっている。
【０００７】
この課題に対しては、特許文献１に開示される技術では、テスト対象が１種類の機種のみの所定数のサンプルのテスト結果に基づいて、残りのテスト対象に対するテストの場合を扱っているため、数多くの派生機種があるテスト対象に対して、サンプル数を確保できない場合にはテスト時間の短縮を図ることができない。
【０００８】
そこで、本発明では、構成要素に共通部分を持つ複数の機種のテスト対象装置をテスト対象として、個々の機種のテスト実施時間短縮ではなく、複数の機種全体における総テスト実施時間を短縮するテスト装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために本発明のテスト装置を、テスト対象装置の各機種と構成要素の対応関係を記録する機種ＤＢと、各テスト項目とテストの対象となる構成要素の対応関係を記録する自動テスト項目ＤＢと、テスト対象装置の各機種に対し実行するテスト項目を記録する自動テスト計画ＤＢと、テスト対象装置の各機種に対し既に実施したテスト結果情報をテスト項目に対応付けて記録する自動テスト結果ＤＢと、前記自動テスト計画ＤＢからテスト対象機種のテスト項目を取得して、前記自動テスト項目ＤＢから前記取得したテスト項目がテスト対象とする構成要素を取得し、前記機種ＤＢから前記取得した構成要素と同じ値を持つ機種を取得するスキップ参照先抽出部と、前記自動テスト結果ＤＢから前記取得した機種のテスト結果を取得して、該テスト結果が失敗の場合にはテスト対象機種の前記取得したテスト項目をスキップさせると判定して前記自動テスト計画ＤＢにスキップ情報を書き込むスキップ処理部と、前記自動テスト計画ＤＢのスキップ情報が付されたテスト項目はスキップして、その他のテスト項目を実施する自動テスト実施部とを有して構成する。
【００１０】
また、本発明の他の特徴として、前記テスト装置において、各機種のテスト対象装置のファームウェアバージョンを記録するファームウェアバージョンＤＢを更に有し、前記スキップ処理部は、前記取得した機種のテスト結果が失敗であることの確認と共に、テスト対象機種、および前記取得した機種のファームウェアバージョンの一致を確認する。
【００１１】
また、本発明の他の特徴として、前記テスト装置において、各機種の構成要素のテストバージョンを記録するテストバージョンＤＢを更に有し、前記スキップ処理部は、前記取得した機種のテスト結果が失敗であることの確認と共に、テスト対象機種、および前記取得した機種のテストバージョンの一致を確認する。
【００１２】
また、本発明の更に他の特徴として、前記テスト装置において、各手動テスト項目とテストの対象となる構成要素の対応関係を記録する手動テスト項目ＤＢと、テスト対象装置の各機種に対し実行する手動テスト項目を記録する手動テスト計画ＤＢと、前記自動テスト項目ＤＢ、前記自動テスト結果ＤＢ、および前記手動テスト項目ＤＢから手動テスト計画を生成し、前記手動テスト計画ＤＢに保存する手動テスト計画生成部とを更に有し、前記手動テスト計画生成部は、構成要素を介して手動テスト項目と自動テスト項目とを照らし合わせることで、自動テストの結果から手動テスト項目のスキップを設定する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、共通の構成を持つ複数の機種のテスト対象装置に対する総テスト実施時間を短縮する機能を備えたテスト装置を提供できる。
【００１４】
上記以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施例１におけるテスト時間短縮機能付きテスト装置の構成図である。
【図２】機種ＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図３】自動テスト項目ＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図４】自動テスト計画生成部で生成される自動テスト計画ＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図５】図４の自動テスト計画ＤＢに対して、スキップ処理部でテスト項目のスキップ情報を付与したデータ構成の一例を示した図である。
【図６（１）】自動テスト結果ＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図６（２）】図６(１)の自動テスト結果ＤＢに対して、スキップ処理部でテスト項目のスキップ情報を付与したデータ構成の一例を示した図である。
【図７】テストの対象となる機種（テスト機種）１台分のテストを実施する処理フローの１例を示した図である。
【図８】テスト対象装置の内部構造の一例を示した図である。
【図９】実施例１のテスト時間短縮機能付きテスト装置が備える情報表示・編集画面の一例を示した図である。
【図１０】実施例２におけるテスト時間短縮機能付きテスト装置の構成図である。
【図１１】ファームウェアバージョンＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図１２】テストバージョンＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図１３】実施例３におけるテスト時間短縮機能付きテスト装置の構成図である。
【図１４】手動テスト項目ＤＢのデータ構成の一例を示した図である。
【図１５】手動テストに関する情報表示・編集画面の一例を示した図である。
【図１６】２台のテスト装置がテストを並列実施する場合のフローの一例である。
【図１７】図１６のフロー図に従ってテストを行った際の自動テスト結果ＤＢのデータ構成の一例である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、実施例について図面を用いて説明する。なお、図面において、同一符号は、同一または相当部分を示す。また、本発明は、図示例に限定されるものではない。
【実施例１】
【００１７】
本実施例では、テスト対象装置の各機種の構成要素を介してテスト項目と該当機種を照らし合わせることで自動テスト用のテスト計画を生成し、更に同じ構成要素を持つ他の機種の該当テスト項目のテスト結果が既に失敗と判っている場合には、これからテストを実行する機種の該当テスト項目においても同様のテスト結果(失敗)になる確率が高いと判定する論理を利用して、これからテストを実行する機種の該当テスト項目のテスト計画にスキップを追加することで、テストの実施時間を短縮する方法、およびテスト時間短縮機能付きテスト装置１００のシステム構成について説明する。
【００１８】
図１は、本実施例に係るテスト時間短縮機能付きテスト装置１００のシステム構成の１例を示した図である。
【００１９】
テスト時間短縮機能付きテスト装置１００は、汎用の計算機上に構成することができて、そのハードウェア構成は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などにより構成される演算部１１０、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、フラッシュメモリなどを用いたＳＳＤ（Solid State Drive）などにより構成される記憶部１２０、キーボードやマウス等の入力デバイスより構成される入力部１３０、ＣＲＴディスプレイ、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、有機ＥＬディスプレイなどの表示装置、各種出力装置などにより構成される表示部１４０、ＮＩＣ（Network Interface Card）などにより構成されるテスト対象装置間通信部１６０、テスト装置間通信部１５０などを備える。
【００２０】
テスト対象装置間通信部１６０は、接続線１８０を介して、テスト時間短縮機能付きテスト装置１００とテスト対象装置１９０との間の情報の通信を行う。
また、テスト装置間通信部１５０は、ネットワーク１７０を介して外部の同様の仕様のテスト装置Ａ１０１、およびテスト装置Ｂ１０２などと接続されている。
接続線１８０、およびネットワーク１７０の例として、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）やＬＡＮ（Local Area Network）ケーブルなどの有線や、Ｗｉ−Ｆｉ（Wireless Fidelity）やＢｌｕｅｔｏｏｔｈ(登録商標)などの無線がある。
テスト対象装置間通信部１６０、およびテスト装置間通信部１５０が共通の通信部として構成されていてもよい。
【００２１】
記憶部１２０は、各機種のテスト対象装置１９０に関するテストを実行するテストプログラム１２１、自動テストの際にテストされるテスト項目を、機種毎に記録する自動テスト計画ＤＢ１２２、機種毎の各テスト項目のテスト結果を記録する自動テスト結果ＤＢ１２３、機種毎の構成要素を記録する機種ＤＢ１２４、各テスト項目と該テスト項目のテスト対象である構成要素の対応を記録する自動テスト項目ＤＢ１２５を記憶する記憶領域を有する。
【００２２】
演算部１１０は、記憶部１２０に記憶されているテストプログラム１２１をＲＡＭへロードしてＣＰＵで実行することにより以下の各機能部を実現する。演算部１１０は、自動テスト計画生成部１１１、自動テスト実施部１１２、スキップ参照先抽出部１１３、スキップ処理部１１４、情報表示・編集画面作成部１１５、テスト結果出力処理部１１６を有する。
テストプログラム１２１は、例えば、ＯＳ（Operating System）プログラム上で実行可能なアプリケーションプログラムである。
【００２３】
自動テスト計画生成部１１１は、機種ＤＢ１２４と自動テスト項目ＤＢ１２５に基づき自動テスト用のテスト計画（自動テスト計画）を生成し、自動テスト計画ＤＢ１２２に記録する。
【００２４】
自動テスト実施部１１２は、自動テスト計画ＤＢ１２２に記録されている自動テスト計画に従い、テスト対象装置１９０に対してテストを実施し、結果を受信し、自動テスト結果ＤＢ１２３に結果を記録する。
【００２５】
スキップ参照先抽出部１１３は、自動テスト計画ＤＢ１２２に記録されている自動テスト計画の中でスキップすることができるテスト項目を機種ＤＢ１２４と自動テスト項目ＤＢ１２５に基づき抽出する。
【００２６】
スキップ処理部１１４は、スキップ参照先抽出部１１３で抽出したテスト項目を、自動テスト結果ＤＢ１２３に基づきスキップ可能であるか否かを判定し、スキップができる場合にはスキップし、スキップした旨を自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。
【００２７】
情報表示・編集画面作成部１１５は、自動テスト計画に基づいて、どのテスト項目がスキップされるかを、テスト実施前に全てのテスト項目のスキップ状態を確認して、スキップの指定をユーザが変更することを可能とするインタフェースを提供する。
【００２８】
テスト結果出力処理部１１６は、テスト対象装置のテストが終了した後、ユーザ指定に従って、自動テスト結果ＤＢ１２３に記録されたテスト結果を、表示部１４０、またはネットワーク１７０を介して外部の出力装置へ出力する。
【００２９】
図８は、テスト対象装置１９０の内部構造の一例を示した図である。
テスト装置間通信部１９１は接続線１８０を介してテスト装置１００と通信を行う。
テスト対象装置１９０は複数の機種の構成要素を包含した構成要素を持ち(多機種対応のテスト対象装置)、テスト対象機種の指定に従い有効とする構成要素を選択可能な機能を持つ。未選択な構成要素は、今回選択している機種はその構成要素を持たないことを意味する。
【００３０】
構成要素として言語１９２、アンテナ１９３、カメラ１９４、電話帳１９５、画面１９６、通信モジュール１９７、スピーカー１９８を持つ場合を表す。
言語１９２は、画面に表示されたり、テスト対象装置に入力されたりする文字の言語であり、日本語と北京語を切り替えることができる。
アンテナ１９３は、テスト対象装置が通信するためのアンテナであり、使用するアンテナを選択することができる。また、複数のアンテナを同時に使用することもできる。
カメラ１９４は、テスト対象装置１９０が持つカメラの位置で、前のみ、後ろのみ、前後両方を選択することができる。
電話帳１９５は、登録可能な電話帳の件数であり、件数を変更できる。
【００３１】
画面１９６は、テスト対象装置１９０が持つ画面の大きさで、VGA、HD、Full-HDを選択することができる。
通信モジュール１９７は、テスト対象装置１９０が外部機器と通信するための通信モジュールであり、Wi-Fi、LTE、3G、Bluetooth(登録商標)を選択することができる。
スピーカー１９８は、テスト対象装置１９０が持つスピーカーの位置であり、前のみ、後ろのみ、前後両方を選択することができる。
例えば、言語１９２が日本語、アンテナ１９３が２本、カメラ１９４が前後、電話帳１９５が１００件、画面１９６がＨＤ、通信モジュール１９７がＬＴＥ、スピーカー１９８が前のみである機種をテスト対象に指定することができる。
【００３２】
図２は、機種ＤＢ１２４のデータ構成の一例を示した図である。
機種は15M-JP、15E-JP、15B-CHなど、構成要素は言語、カメラ、地デジアンテナ数、電話帳などである。機種15M-JPの構成要素はそれぞれ言語が日本語、カメラが前後にあり、地デジアンテナ数が２個、電話帳件数が１００件の値であることを示す。
また、構成要素の情報が「−」である部分は、該当機種がその構成要素を持たないことを表しており、機種15E-JPはカメラを持たない。機種ＤＢ１２４はテスト実施前に登録しておく。
なお、機種ＤＢ１２４の機種および構成要素は図２の限りではない。
【００３３】
図３は、自動テスト項目ＤＢ１２５のデータ構成の一例を示した図である。
テスト項目は、言語テスト、カメラテスト、地デジテスト、電話帳テストなど、構成要素は言語、カメラ、地デジアンテナ数、電話帳件数などである。
「○」はテスト項目とテストの対象となる構成要素に対応関係を示しており、言語テストは構成要素の言語、カメラテストは構成要素のカメラ、地デジテストは構成要素の地デジアンテナ数、電話帳テストは構成要素の言語および電話帳に対するテストを行う。
機種ＤＢ１２４と自動テスト項目ＤＢ１２５における構成要素は共通である。自動テスト項目ＤＢ１２５はテスト実施前に登録しておく。
なお、自動テスト項目ＤＢ１２５のテスト項目および構成要素は図３の限りではない。
【００３４】
図４は、自動テスト計画生成部１１１で生成される自動テスト計画ＤＢ１２２のデータ構成の一例を示した図である。
自動テスト計画ＤＢは各機種に対し実行するテスト項目を記録する。
テストを実施する場合は「○」、実施しない場合は「−」である。No.2の機種15E-JPは、言語テストおよび地デジテストを実施するが、カメラテストは実施しない。
自動テスト計画ＤＢ１２２は、機種ＤＢ１２４および自動テスト項目ＤＢ１２５に基づいて自動テスト計画生成部１１１で生成される。
【００３５】
図２において機種15E-JPは構成要素の言語が日本語であり、図３において言語テストは構成要素の言語をテスト対象としていることから、図４のNo.2の機種15E-JPの言語テストは実施（○）である。
図２において機種15E-JPは構成要素のカメラが「−」であり、図３においてカメラテストは構成要素のカメラをテスト対象としていることから、図４のNo.2の機種15E-JPのカメラテストは非実施（−）である。
【００３６】
図６(１)は、自動テスト結果ＤＢ１２３のデータ構成の一例を示した図である。
図６(１)の第１行欄は、図４のNo.1の機種15M-JPの言語テスト、カメラテスト、地デジテストを実施した結果である。各テスト項目の結果は、上からテスト開始時刻、終了時刻、テスト結果の順で示す。
開始時刻および終了時刻は「年/月/日 時:分:秒」のフォーマットである。
言語テストは、2014/01/02 00:00:00に開始、2014/01/02 00:02:00に終了し、結果は失敗であることを示す。
また、テスト結果が「未」であるものはテスト未実施を意味する。
【００３７】
図５は、図４の自動テスト計画ＤＢ１２２に対して、スキップ処理部１１４でテスト項目のスキップを適用させたときの一例を示した図である。
図４と図５は、No.2の行欄の機種15E-JPの言語テスト以外は同じである。
【００３８】
図４でNo.2の行欄の機種15E-JPの言語テストは実施（○）であるが、図５では「スキップ[15M-JP]」である。これは、No.2の行欄の機種15E-JPは、言語テストを実施せず、テスト結果はNo.1の機種15M-JPの言語テストの結果と同じとみなすことを意味する。
【００３９】
スキップの適用は、自動テスト計画ＤＢ１２２、機種ＤＢ１２４、自動テスト項目ＤＢ１２５および自動テスト結果ＤＢ１２３に基づいて、スキップ参照先抽出部１１３およびスキップ処理部１１４で実施される。
【００４０】
図４におけるNo.2の機種15E-JPの言語テストは、図３からテスト対象となる構成要素は言語であり、図２から機種15E-JPの言語の値（日本語）は機種15M-JPと同じであることが分かる。図６(１)において機種15M-JPの言語テストは既に終わっており、その結果は失敗であるから、図５におけるNo.2の機種15E-JPの言語テストはスキップ[15M-JP]とする。
【００４１】
この判定処理の考え方は、本実施例のテスト対象装置の各機種は、派生機種を対象としており、構成要素の構成には多くの共通点があり、また、テスト項目「言語テスト」にてテストされる対象の「言語」の値が共に「日本語」である共通性より、機種15E-JPの言語テストの結果は、機種15M-JPの言語テストの結果「失敗」とほぼ同じ結果になるだろうと推測する。それゆえ、機種15E-JPの言語テストを実施することは時間の無駄であると判断して、テスト計画を「スキップ」と変更して、テストを実施しない。これは、リグレッションテストにおいて、「失敗」の結果を僅かではあるが過大に出力することになる。しかし、その結果は、テスト終了後に、機種15M-JPと一緒に、機種15E-JPの言語テストの結果が成功となるように、対策を施せばよいと判断する。
【００４２】
図４におけるNo.2の機種15E-JPの地デジテストは、図３からテスト対象となる構成要素は地デジアンテナ数であり、図２から機種15E-JPの地デジアンテナ数の値（4）は機種15B-CHと同じであることが分かる。図６(１)から機種15B-CHの地デジテストは終わっていないことが分かるため、図５のおけるNo.2の機種15E-JPの地デジテストは実施（○）となる。
【００４３】
図６(２)は、図６(１)の自動テスト結果ＤＢ１２３に対して、スキップ処理部１１４でテスト項目のスキップを適用させたときの一例を示した図である。
図６(１)と図６(２)は、No.2の機種15E-JPの言語テスト以外は同じである。
図６(１)でNo.2の機種15E-JPの言語テストは未実施（未）であるが、図６(２)では「スキップ[15M-JP]」である。これは、No.2の機種15E-JPの言語テストはスキップ可能のため実施されず、テスト結果はNo.1の機種15M-JPの言語テストの結果と同じであることを意味している。テストが実施されなかったため、開始時刻および終了時刻は記録されず「−」である。
【００４４】
図７は、テストの対象となる機種（テスト機種）１台分のテストを実施する処理フローの１例を示した図である。
【００４５】
ステップＳ１０１において、自動テスト計画生成部１１１が、機種ＤＢ１２４および自動テスト項目ＤＢ１２５に基づいて、テスト機種の自動テスト計画を生成し、自動テスト計画ＤＢ１２２に記録する。
【００４６】
まず、自動テスト項目ＤＢ１２５からテスト項目を１つ選択（選択テスト項目）し、選択テスト項目がテスト対象とする構成要素を取得する。次にテスト機種の構成要素の情報を機種ＤＢ１２４から取得する。構成要素の情報が「−」でない（構成要素を持つ）場合には、自動テスト計画ＤＢ１２２のテスト機種のテスト項目を「○」（テスト実施）に、構成要素の情報が「−」（該構成要素を持たない）の場合には、自動テスト計画ＤＢ１２２のテスト機種のテスト項目を「−」（テスト非実施）にする。全てのテスト項目についてテスト実施または非実施が決定されれば、今回のテスト機種の自動テスト計画は完成である。
例えば、テスト機種が図２の機種15E-JP、選択テスト項目が図３の地デジテストのとき、地デジテストの構成要素は図３から地デジアンテナ数である。そして、図２から機種15E-JPの地デジアンテナ数は「−」でないため、図４においてNo.2の機種15E-JPの地デジテストは実施（○）となる。
【００４７】
ステップＳ１０２において、スキップ参照先抽出部１１３が、自動テスト計画ＤＢ１２２から、テスト実施（○）であるテスト機種のテスト項目１つを読み込む（スキップ可能性テスト項目）。
例えば、図４においてテスト機種が15E-JPのとき、テスト実施（○）となっている言語テストまたは地デジテストがスキップ可能性テスト項目となる。
【００４８】
ステップＳ１０３において、スキップ参照先抽出部１１３が、機種ＤＢ１２４および自動テスト項目ＤＢ１２５に基づいて、スキップ参照先候補を抽出する。
まず、自動テスト項目ＤＢ１２５からスキップ可能性テスト項目がテスト対象とする構成要素を抽出（抽出構成要素）する。次に機種ＤＢ１２４から今回のテスト機種と抽出構成要素の情報(値)が同じ機種を抽出する。この抽出した機種のスキップ可能性テスト項目がスキップ参照先候補である。
例えば、図４においてテスト機種が15E-JP、スキップ可能性テスト項目が言語テストのとき、図３から抽出構成要素は言語となる。そして、図２から機種15E-JPの言語の情報（日本語）と同じ値である機種は15M-JPであることが分かるため、スキップ参照先候補は機種15M-JPの言語テストとなる。なお、スキップ参照先候補は複数でも良い。
【００４９】
ステップＳ１０４において、スキップ処理部１１４が、自動テスト結果ＤＢ１２３に基づいて、テスト機種のスキップ可能性テスト項目がスキップ可能であるかを判定する。
ステップＳ１０３で抽出したスキップ参照先候補のテスト結果を自動テスト結果ＤＢ１２３から取得する。テスト結果が成功のときにはスキップ可能性テスト項目をスキップ不可として、ステップＳ１０６に進む。テスト結果が失敗のときにはスキップ可能性テスト項目はスキップ可能として、ステップＳ１０５に進む。
【００５０】
例えば、スキップ可能性テスト項目が図４におけるNo.2の機種15E-JPの言語テストであり、スキップ参照先候補が図６(１)における機種15M-JPの言語テストのとき、スキップ参照先候補のテスト結果は失敗である。このため、スキップ可能性テスト項目はスキップ可能で、スキップ参照先候補が15M-JPとして、ステップＳ１０５に進む。
また、スキップ可能性テスト項目が図４におけるNo.2の機種15E-JPの地デジテストであり、スキップ参照先候補が図６(１)における機種15M-JPの地デジテストのとき、スキップ参照先候補のテスト結果は成功である。このため、スキップ可能性テスト項目はスキップ不可能であり、ステップＳ１０６に進む。
【００５１】
ステップＳ１０５において、スキップ処理部１１４が、スキップ可能性テスト項目がスキップされたことを自動テスト計画ＤＢ１２２および自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。
まず、自動テスト計画ＤＢ１２２においてスキップ可能と判定されたテスト項目に「スキップ[スキップ参照先の機種]」を記録する。「スキップ[スキップ参照先の機種]」は、テスト項目がスキップされ、テスト結果は[スキップ参照先の機種]と同じとみなすことを意味する。
次に、自動テスト結果ＤＢ１２３においてスキップ可能と判定されたテスト項目に「スキップ[スキップ参照先の機種]」を記録する。更にスキップによりテストを実施しないため、開始時刻および終了時刻を「−」（無し）とする。
例えば、スキップ可能性テスト項目が図４におけるNo.2の機種15E-JPの言語テストであり、スキップ参照先が図６(１)における機種15M-JPの言語テストであるとき、図５のようにNo.2の行欄の機種15E-JPの言語テストは「スキップ[15M-JP]」と記録される。また図６(２)のようにNo.2の行欄の機種15E-JPの言語テストのテスト結果は「スキップ[15M-JP]」、開始時刻および終了時刻は「−」と記録される。
【００５２】
ステップＳ１０６において、ステップＳ１０４でスキップ不可能と判定されたスキップ可能性テスト項目について、自動テスト実施部１１２がテスト対象装置１９０のテストを実行する。
なお、テスト結果が「失敗」には２種類ある。１つは、対象のテスト項目に該当するテスト内容を実施して、その結果が失敗と判定されたものである。もう１つは、対象のテスト項目を実施しようとしたが、テストを実施するために満たすべき諸条件が揃わずにテストを実施出来なかった場合である。この「不実施」もテスト結果が「失敗」に含めて、以下同様に扱う。
【００５３】
ステップＳ１０７において、ステップＳ１０６におけるテストのテスト結果と開始時刻、終了時刻を、自動テスト実施部１１２が自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。
例えば、図６(１)では、No.1の機種15M-JPの言語テストは2014/01/02 00:00:00に開始、2014/01/02 00:20:00に終了し、その結果は失敗である。
【００５４】
ステップＳ１０８において、対象テスト機種の全テスト項目が実施されたかを判定する。全テスト項目が実施されていない場合には、ステップＳ１０２に戻り次のテスト項目の制御に移り、全テスト項目が実施されている場合には、今回の対象となるテスト機種のテストの終了となる。
【００５５】
図９は、テスト時間短縮機能付きテスト装置１００が有する情報表示・編集画面の一例を示した図である。
情報表示・編集画面作成部１１５は、ユーザ指示によって実行されて、指定されたテスト対象機種に対して、自動テスト計画生成処理を実行して、自動テスト計画ＤＢ１２２にテスト計画データを記録して、その後、全てのテスト項目に対して、スキップ参照先抽出処理、およびスキップ可能性を判定して、自動テスト計画ＤＢ１２２にスキップの記載まで行う処理を実行する。その後、情報表示・編集画面４００を表示する。
【００５６】
情報表示・編集画面４００において、表示内容欄４０１は画面表示内容のタイトルを表示し、テスト対象機種欄４０２は情報の表示・編集対象の機種を表示する。情報表示・編集欄４０３は、表示した情報を閲覧、編集することができる。
キャンセルボタン４０４は、押下すると編集内容をシステムに記録せずに情報表示・編集画面４００を終了する。ＯＫボタン４０５は押下すると情報表示・編集画面４００の編集内容をシステムに記録する。
例は、テスト対象機種15B-CHの自動テスト計画ＤＢ１２２を表している。No.2のカメラテストは構成要素がカメラ、構成要素の情報が前後である。スキップ対象はテスト項目が実施かスキップかを示しており、No.2では「スキップ」であるためカメラテストをスキップする。スキップ指定では「実施」を選択すると、スキップとなっている場合でもテスト項目を実施する。
情報表示・編集画面４００において編集した自動テスト計画ＤＢ１２２に基いて、テスト対象装置へのテストを実行することができる。
【実施例２】
【００５７】
実施例１では、ステップＳ１０４において、テスト項目をスキップするか否かの判定の際に自動テスト結果ＤＢ１２３のテスト結果を用いる。本実施例では、スキップ判定の際にテスト結果だけでなく、ファームウェアのバージョンとテストのバージョンも用いる場合について説明する。
全体の処理フローは実施例１と同様に図７である。
【００５８】
図１０に示すテスト時間短縮機能付きテスト装置２００は、図１に示すテスト時間短縮機能付きテスト装置１００にファームウェアバージョンＤＢ１２６およびテストバージョンＤＢ１２７を追加した図である。
【００５９】
ファームウェアバージョンＤＢ１２６は機種のファームウェアバージョンを記録するもので、テストバージョンＤＢ１２７はテストのバージョンを記録するものである。
以降、ファームウェアバージョンおよびテストバージョンにおいて、小数点より上の数字をメジャーバージョン、小数点より下の数字をマイナーバージョンと呼ぶ。マイナーバージョンの変化は小さな変化を、メジャーバージョンの変化は大きな変化を意味する。
【００６０】
図１１は、ファームウェアバージョンＤＢ１２６の一例を示した図である。
No.1の機種15M-JPにおける構成要素のファームウェアバージョンは、カメラが1.00、言語が1.00、無線が1.00であり、機種全体のファームウェアバージョン（FW ver）は1.00である。
同じ機種でも構成要素のファームウェアバージョンが１つでも上がれば、機種全体のファームウェアバージョンも上がる。例えば、No.2はNo.1と同様に機種15M-JPに関するファームウェアバージョンを示しているが、言語のファームウェアバージョンが1.00から1.01に上がったため、全体のファームウェアバージョンも1.00から1.01に上がっている。
【００６１】
図１２は、テストバージョンＤＢ１２７の一例を示した図である。
No.1における構成要素のテストバージョンは、カメラが3.00、言語が3.00、無線が3.00であり、テスト全体バージョン（Test ver）は3.00である。
構成要素のテストバージョンが１つでも上がれば、テスト全体のバージョンも上がる。例えば、No.2はNo.1と比べ言語のテストバージョンが3.00から3.01に上がっているため、テスト全体のバージョンも3.00から3.01に上がっている。
【００６２】
本実施例における、ステップＳ１０４でのスキップ判定について説明する。
実施例１では、ステップＳ１０４でスキップ参照先候補のテスト結果が失敗のとき、スキップ可能性テスト項目はスキップ可能と判定される。
本実施例では、スキップ参照先候補のテスト結果の失敗が判明した後に、更にファームウェアバージョンおよびテストバージョンを用いた判定を行う。
【００６３】
ファームウェアバージョンの判定では、スキップ参照先候補およびスキップ可能性テスト項目におけるFW verを比較する。FW verのメジャーバージョンが一致していた場合、真とする。メジャーバージョンが異なる場合は、ファームウェア間に大きな差があると考えられるため、スキップ参照先候補とスキップ可能性テスト項目のテスト結果が同じであるとみなさない（スキップ不可）。
【００６４】
テストバージョンの判定では、スキップ参照先候補およびスキップ可能性テスト項目におけるTest verを比較する。Test verのメジャーバージョンが一致していた場合、真とする。メジャーバージョンが異なる場合は、テスト間に大きな差があると考えられるため、スキップ参照先候補とスキップ可能性テスト項目のテスト結果が同じであるとみなさない（スキップ不可能）。
【００６５】
本実施例では、ステップＳ１０４において、スキップ参照先候補のテスト結果が失敗、かつファームウェアバージョン判定が真、かつテストバージョン判定が真のときに、スキップ可能性テスト項目はスキップ可能と判定する。
【００６６】
例えば、スキップ可能性テスト項目が図４におけるNo.2の機種15E-JPの言語テスト、スキップ参照先候補が図６(１)における機種15M-JPの言語テストのとき、スキップ参照先候補のテスト結果は失敗である。更に、ファームウェアバージョンにおいてスキップ可能性テスト項目が図１１のNo.6、スキップ参照先候補が図１１のNo.2であり、テストバージョンにおいてスキップ可能性テスト項目が図１２のNo.4、スキップ参照先候補が図１２のNo.3のとき、ファームウェアバージョン判定が真かつテストバージョン判定が真になるため、スキップ可能性テスト項目はスキップ可能で、スキップ参照先候補が15M-JPとなり、ステップＳ１０５に進む。
【００６７】
スキップ可能性テスト項目が図４におけるNo.2の機種15E-JPの言語テスト、スキップ参照先候補が図６(１)における機種15M-JPの言語テストのとき、スキップ参照先候補のテスト結果は失敗である。更に、ファームウェアバージョンにおいてスキップ可能性テスト項目が図１１のNo.7、スキップ参照先候補が図１１のNo.2であり、テストバージョンにおいてスキップ可能性テスト項目が図１２のNo.4、スキップ参照先候補が図１２のNo.3のとき、ファームウェアバージョン判定が偽かつテストバージョン判定が真になるため、スキップ可能性テスト項目はスキップ不可能であり、ステップＳ１０６に進む。
【実施例３】
【００６８】
本実施例では、手動テスト計画の生成について説明する。構成要素を介して手動テスト項目と自動テスト項目とを照らし合わせることで、自動テストの結果から手動テスト項目のスキップを設定する。
【００６９】
図１３に示すテスト時間短縮機能付きテスト装置３００は、図１０に示すテスト時間短縮機能付きテスト装置２００に手動テスト計画生成部１１７、手動テスト項目ＤＢ１２９、および手動テスト計画ＤＢ１２８を追加した図である。
手動テスト計画生成部１１７では、自動テスト項目ＤＢ１２５、自動テスト結果ＤＢ１２３および手動テスト項目ＤＢ１２９から手動テスト計画を生成し、手動テスト計画ＤＢ１２８に保存する。
【００７０】
図１４は、手動テスト項目ＤＢ１２９の一例を示した図である。
テスト項目は、文字入力テスト、テレビ操作テスト、画像登録テストなどであり、構成要素は言語、カメラ、地デジアンテナ、電話帳などである。
「○」はテスト項目とテストの対象となる構成要素に対応関係を示しており、文字入力テストは構成要素の言語および電話帳、テレビ操作テストは構成要素の言語および地デジアンテナ、画像登録テストは構成要素のカメラおよび電話帳に対するテストを行う。
機種ＤＢ１２４と自動テスト項目ＤＢ１２５、手動テスト項目ＤＢ１２９における構成要素は共通である。
なお、手動テスト項目ＤＢ１２９のテスト項目および構成要素は図１４の限りではない。
【００７１】
図１５は、テスト時間短縮機能付きテスト装置３００が有する手動テストに関する情報表示・編集画面５００の一例を示した図である。
情報表示・編集画面作成部１１５は、ユーザ指示によって実行されて、指定されたテスト対象機種に対して、手動テスト計画編集のための情報表示・編集画面５００を表示する。
【００７２】
情報表示・編集画面５００において、表示内容欄５０１は画面表示内容のタイトルを表示し、テスト対象機種欄５０２は情報の表示・編集対象の機種を表示する。情報表示・編集欄５０３は、表示した情報を閲覧、編集することができる。
キャンセルボタン５０４は、押下すると編集内容をシステムに記録せずに情報表示・編集画面５００を終了する。ＯＫボタン５０５は押下すると情報表示・編集画面５００の編集内容をシステムに記録する。
【００７３】
構成要素情報は、構成要素を検索キーワードとして用いて機種ＤＢ１２４から取得する。
自動テスト結果は、まず構成要素をテストする自動テスト項目を自動テスト項目ＤＢ１２５から取得する。次に、取得した自動テスト項目のテスト結果を自動テスト結果ＤＢ１２３から取得する。
スキップ指定は、各手動テスト項目において、自動テスト結果が１つでも失敗である場合にはスキップとなるが、ユーザ判断によってユーザがスキップ、または実行の指定をすることができる。また、自動テスト結果が全て成功の場合には実行となるが、ユーザ判断によってユーザがスキップ、または実行の指定をすることができる。
【００７４】
図１５に示す実施例は、テスト対象機種15B-CHの手動テスト計画ＤＢ１２８を表している。
No.1の文字入力テストは構成要素が言語および電話帳である。構成要素情報は、機種ＤＢ１２４から言語の情報は北京語、電話帳の情報は100である。構成要素の言語の自動テスト結果は成功であるが、これは言語をテストする自動テスト項目を自動テスト項目ＤＢ１２５から取得し、取得した自動テスト項目を用いて自動テスト結果ＤＢ１２３から取得したテスト結果である。構成要素の電話帳のテスト結果は失敗であるが、これは言語の場合と同様にして取得した自動テストのテスト結果である。自動テスト結果に１つ失敗があるため、No.1の文字入力テストはスキップとなる。
【００７５】
また、No.2のテレビ操作テストは構成要素が言語および地デジアンテナである。構成要素情報は、機種ＤＢ１２４から言語の情報は北京語、地デジアンテナの情報は2である。構成要素の言語と地デジアンテナの自動テスト結果はNo.1の場合と同様にして、言語は成功、地デジアンテナは成功である。自動テスト結果が全て成功のため、No.2のテレビ操作テストは実施する。
【実施例４】
【００７６】
本実施例では、複数のテスト装置が複数の機種のテスト対象装置のテストを並列に実施する場合について説明する。
【００７７】
図１６は、２台のテスト装置がテストを並列実施する場合のフロー図の一例である。テスト装置１とテスト装置２ではそれぞれ異なる機種のテスト対象装置のテストをする。テスト結果はテスト装置２で集中的に管理する。
【００７８】
図１７は、図１６のフロー図に従ってテストを行った際の自動テスト結果ＤＢ１２３の一例である。
【００７９】
ステップＳ２００では、テスト装置２において機種２のテスト項目１を開始する。
ステップＳ２０１では、ステップＳ２００の時刻（開始時刻）を自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。自動テスト結果ＤＢ１２３において、開始時刻が記録され、終了時刻が記録されていないテスト項目はテスト中であるとみなすことができる。
例えば、テスト装置２で、図１７における機種15E-JPの言語テストを開始し、開始時刻（2014/01/02 00:02:25）を記録する。
【００８０】
ステップＳ２０２では、テスト装置１において機種１のテスト項目２を開始する。
ステップＳ２０３では、機種１のテスト項目２が開始したことを、テスト装置２のテスト結果ＤＢ１２３に送信する。
ステップＳ２０４では、ステップＳ２０３から送信された情報を自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。
例えば、テスト装置１で図１７における機種15M-JPのカメラテストを開始し、カメラテスト開始をテスト装置２に送信し、テスト装置２でカメラテストの開始時刻（2014/01/02 00:02:00）を記録する。
【００８１】
ステップＳ２０５では、機種２のテスト項目１が終了する。
ステップＳ２０６では、機種２のテスト結果およびテスト終了時刻をテスト結果ＤＢ１２３に記録する。
例えば、テスト装置２で図１７における機種15E-JPの言語テストが終了し、テスト結果（成功）および終了時刻（2014/01/02 00:02:35）を記録する。
【００８２】
ステップＳ２０７では、機種１のテスト項目２が終了する。
ステップＳ２０８では、機種１のテスト項目２が終了したことを、テスト装置２のテスト結果ＤＢ１２３に送信する。
ステップＳ２０９では、ステップＳ２０８から送信された情報を自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。
例えば、テスト装置１で図１７における機種15M-JPのカメラテストが終了し、テスト結果（失敗）および終了時刻（2014/01/02  00:02:30）を記録する。
【００８３】
ステップＳ２１０では、機種２のテスト項目２を実施しようとしたが、スキップ可能であったため、スキップする。
例えば、テスト装置２で図１７における機種15E-JPのカメラテストを実施しようとしたが、スキップ判定の結果、機種15M-JPをスキップ参照先としてスキップ可能であることが判明したためスキップする。このとき、テスト開始時刻および終了時刻には「−」を、テスト結果には「スキップ[15M-JP]」を記録する。
【００８４】
ステップＳ２１１では、機種１のテスト項目３を開始する。
ステップＳ２１２では、機種１のテスト項目３が開始したことを、テスト装置２のテスト結果ＤＢ１２３に送信する。
ステップＳ２１３では、ステップＳ２１２から送信された情報を自動テスト結果ＤＢ１２３に記録する。
例えば、テスト装置１で図１７における機種15M-JPの地デジテストを開始し、地デジテスト開始をテスト装置１に送信し、テスト装置１で地デジテストの開始時刻（2014/01/02  00:02:30）を記録する。
【００８５】
ステップＳ２１４では、機種２のテスト項目３を実施しようとしたが、スキップ可能であったため、スキップする。
例えば、テスト装置１では図１７における機種15M-JPの地デジテストがテスト中である。機種15M-JPと機種15E-JPでは、地デジテストの構成要素の情報が一致するため、機種15E-JPの地デジテストはスキップできる。このとき、テスト開始時刻および終了時刻には「−」を、テスト結果には「スキップ[15M-JP]」を記録する。
ステップＳ２１５では、機種２のテスト項目４を開始する。
【符号の説明】
【００８６】
１００  実施例１のテスト時間短縮機能付きテスト装置
１０１  テスト装置Ａ
１０２  テスト装置Ｂ
１１０  演算部
１１１  自動テスト計画生成部
１１２  自動テスト実施部
１１３  スキップ参照先抽出部
１１４  スキップ処理部
１１５  情報表示・編集画面作成部
１１６  テスト結果出力処理部
１１７  手動テスト計画生成部
１２０  記憶部
１２１  テストプログラム
１２２  自動テスト計画ＤＢ
１２３  自動テスト結果ＤＢ
１２４  機種ＤＢ
１２５  自動テスト項目ＤＢ
１２６  ファームウェアバージョンＤＢ
１２７  テストバージョンＤＢ
１２８  手動テスト計画ＤＢ
１２９  手動テスト項目ＤＢ
１３０  入力部
１４０  表示部
１５０  テスト装置間通信部
１６０  テスト対象装置間通信部
１７０  ネットワーク
１８０  接続線
１９０  テスト対象装置
２００  実施例２のテスト時間短縮機能付きテスト装置
３００  実施例３のテスト時間短縮機能付きテスト装置
【図１】
2017033161.tif 000003
【図２】
2017033161.tif 000004
【図３】
2017033161.tif 000005
【図４】
2017033161.tif 000006
【図５】
2017033161.tif 000007
【図６（１）】
2017033161.tif 000008
【図６（２）】
2017033161.tif 000009
【図７】
2017033161.tif 000010
【図８】
2017033161.tif 000011
【図９】
2017033161.tif 000012
【図１０】
2017033161.tif 000013
【図１１】
2017033161.tif 000014
【図１２】
2017033161.tif 000015
【図１３】
2017033161.tif 000016
【図１４】
2017033161.tif 000017
【図１５】
2017033161.tif 000018
【図１６】
2017033161.tif 000019
【図１７】
2017033161.tif 000020