(57)【要約】【課題】被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードを行うのに際して、煩雑な作業を行うことなく且つ専用の光学系を設けることなく実現できる仕組みを提供する。【解決手段】レーザ光１０１ａを照射する光源１０１と、光源１０１と被検眼２００との間に設けられ、被検眼２００の眼底２０１の領域に対してレーザ光１０１ａを走査するための走査手段（１０６〜１０８）と、レーザ光１０１ａが眼底２０１で反射した反射光の波面を測定する波面測定素子１２０と、光源１０１と走査手段との間のレーザ光１０１ａの光路に設けられ、反射光の波面を補正する波面補正素子１０４と、眼底２０１の撮像を行う撮像モードとは異なる内部処理モードの際に、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対して走査手段を正対させる制御を行う制御部１１５を備える。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の眼底を撮像する眼底撮像装置であって、
光を照射する光照射手段と、
前記光照射手段と前記被検眼との間に設けられ、前記眼底の領域に対して前記光を走査するための走査手段と、
前記光が前記眼底で反射した反射光の波面を測定する波面測定手段と、
前記光照射手段と前記走査手段との間の前記光の光路に設けられ、前記波面を補正する波面補正手段と、
前記撮像を行う撮像モードとは異なる内部処理モードの際に、前記光照射手段から照射された前記光に対して前記走査手段を正対させる制御を行う制御手段と
を有することを特徴とする眼底撮像装置。
【請求項２】
前記内部処理モードは、少なくとも前記波面測定手段または前記波面補正手段のいずれかに異常があることを検知する異常検知モードであることを特徴とする請求項１に記載の眼底撮像装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記異常検知モードにおいて、前記波面補正手段を少なくとも２つの設定値で駆動する制御を更に行い、前記波面補正手段を前記少なくとも２つの設定値のそれぞれで駆動させた際に前記波面測定手段においてそれぞれ測定された波面の形状を比較することによって、前記異常を検知することを特徴とする請求項２に記載の眼底撮像装置。
【請求項４】
前記少なくとも２つの設定値は、前記光の往復でＮ波長分（Ｎは整数）位相をずらした値であることを特徴とする請求項３に記載の眼底撮像装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記異常検知モードにおいて、前記波面補正手段を所定の設定値で駆動する制御を更に行い、前記波面補正手段を前記所定の設定値で駆動させた際に前記波面測定手段において測定された波面の形状と、予め保持または演算により取得した期待波面形状とを比較することによって、前記異常を検知することを特徴とする請求項２に記載の眼底撮像装置。
【請求項６】
前記内部処理モードは、前記波面補正手段の変調量と設定値との関係を補正するためのキャリブレーションのモードであり、
前記設定値は、予め保持または演算により取得した期待波面形状の波面になるように前記波面補正手段を制御した際の設定値であることを特徴とする請求項１に記載の眼底撮像装置。
【請求項７】
前記走査手段は、
前記眼底の領域における主走査方向に対して前記光を走査するための主走査手段と、
前記主走査手段が走査する中心位置を前記主走査方向にオフセットするためのオフセット手段と、
前記眼底の領域における方向であって前記主走査方向と直交する副走査方向に対して前記光を走査するための副走査手段と
を含み構成されており、
前記制御手段は、前記光照射手段から照射された前記光に対して前記オフセット手段を正対させる制御を行うことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の眼底撮像装置。
【請求項８】
前記主走査手段は、共振ミラーであって、前記オフセット手段よりも前記光照射手段の側に配置されていることを特徴とする請求項７に記載の眼底撮像装置。
【請求項９】
前記主走査手段は、共振ミラーであって、前記オフセット手段よりも前記被検眼の側に配置されていることを特徴とする請求項７に記載の眼底撮像装置。
【請求項１０】
光を照射する光照射手段と、前記光照射手段と被検眼との間に設けられ、前記被検眼の眼底の領域に対して前記光を走査するための走査手段と、前記光が前記眼底で反射した反射光の波面を測定する波面測定手段と、前記光照射手段と前記走査手段との間の前記光の光路に設けられ、前記波面を補正する波面補正手段とを備え、前記眼底を撮像する眼底撮像装置の制御方法であって、
前記撮像を行う撮像モードとは異なる内部処理モードの際に、前記光照射手段から照射された前記光に対して前記走査手段を正対させる制御を行うことを特徴とする眼底撮像装置の制御方法。
【請求項１１】
光を照射する光照射手段と、前記光照射手段と被検眼との間に設けられ、前記被検眼の眼底の領域に対して前記光を走査するための走査手段と、前記光が前記眼底で反射した反射光の波面を測定する波面測定手段と、前記光照射手段と前記走査手段との間の前記光の光路に設けられ、前記波面を補正する波面補正手段とを備え、前記眼底を撮像する眼底撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記撮像を行う撮像モードとは異なる内部処理モードの際に、前記光照射手段から照射された前記光に対して前記走査手段を正対させる制御を行うことをコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の眼底を撮像する眼底撮像装置及びその制御方法、並びに、当該制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
被検査物として、例えば人の眼球（以下、「被検眼」と称する）を対象とし、この被検眼の画像を得る撮像装置として、被検眼の眼底を撮像する眼底撮像装置が知られている。そして、この眼底撮像装置の一種として、走査型レーザ検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）装置がある。
【０００３】
このＳＬＯ装置は、微小に絞ったスポット状のレーザ光を眼底の領域に対して主走査方向及び副走査方向のそれぞれの方向に走査（ｓｃａｎ）させ、眼底からの反射光を適正なタイミングで取得してコンピュータ処理することで眼底画像を出力する。このＳＬＯ装置は、一般的な眼底カメラに比べて、高解像かつ高コントラストな眼底画像を取得することができることが特徴である。また、眼底画像を取得する以外にも、光干渉断層計（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）装置の原理を用いて、照射光と反射光との干渉性から深さ方向の情報を取得し、眼底の断層画像を撮像する検眼鏡も存在する。
【０００４】
さらに、近年では、特許文献１に記載されているような補償光学（Ａｄａｐｔｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃｓ：ＡＯ）の仕組みを導入することで、被検眼の角膜や水晶体で発生する光学的な歪み（収差）を除去し、眼底の視細胞（数μｍ）レベルの解像度を実現したＳＬＯ（ＡＯ−ＳＬＯ）装置も存在する。また、眼底断層検眼鏡にも、補償光学の仕組みを適用したＡＯ−ＯＣＴ装置も存在する。
【０００５】
これらのＡＯ−ＳＬＯ装置やＡＯ−ＯＣＴ装置は、一般的にはシャックハルトマン波面センサによって被検眼からの反射光の波面を測定し、測定した波面を補正するように可変形状ミラーや空間位相変調器を駆動させる。これらを通して被検眼の眼底を撮像することにより、ＡＯ−ＳＬＯ装置やＡＯ−ＯＣＴ装置は、高分解能な撮像が可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１４−２０９９８０号公報
【特許文献２】特開２００７−２５５０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
波面センサや、可変形状ミラーまたは空間位相変調器は、デバイスの個体差、環境（温度や湿度）、ほこりの付着、経年劣化などがある。そのため、装置起動時などに、被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードとして、デバイス故障を検知するための異常検知や、デバイスの設定値と実際の移動量とのずれを補正するためのキャリブレーションを行う。この際、特許文献２では、内部処理モードであるキャリブレーションなどを行う毎に被検眼を模した模型眼を着脱したり、或いは、撮像を行うための撮像光学系とは別に内部処理モードであるキャリブレーションなどを行うための光学系を設けたりする必要があった。即ち、特許文献２の技術では、上述した内部処理モードを行うために、煩雑な作業や専用の光学系を設けなければならないという問題があった。
【０００８】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードを行うのに際して、煩雑な作業を行うことなく且つ専用の光学系を設けることなく実現できる仕組みを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の眼底撮像装置は、被検眼の眼底を撮像する眼底撮像装置であって、光を照射する光照射手段と、前記光照射手段と前記被検眼との間に設けられ、前記眼底の領域に対して前記光を走査するための走査手段と、前記光が前記眼底で反射した反射光の波面を測定する波面測定手段と、前記光照射手段と前記走査手段との間の前記光の光路に設けられ、前記波面を補正する波面補正手段と、前記撮像を行う撮像モードとは異なる内部処理モードの際に、前記光照射手段から照射された前記光に対して前記走査手段を正対させる制御を行う制御手段とを有する。
また、本発明は、上述した眼底撮像装置の制御方法、及び、当該制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードを行うのに際して、煩雑な作業を行うことなく且つ専用の光学系を設けることなく実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る眼底撮像装置の概略構成の一例を示す模式図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る眼底撮像装置の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】図２のステップＳ２０３における処理を説明するための図である。
【図４】本発明の第２の実施形態に係る眼底撮像装置の概略構成の一例を示す模式図である。
【図５】本発明の第２の実施形態に係る眼底撮像装置の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第２の実施形態に係る眼底撮像装置の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図７】本発明の第３の実施形態に係る眼底撮像装置の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（実施形態）について説明する。なお、以下の実施形態は、特許請求の範囲に記載の発明を限定するものではなく、また、実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。
【００１３】
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態について説明する。
第１の実施形態では、被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードとして、異常検知モードを適用した例について説明を行う。
【００１４】
図１は、本発明の第１の実施形態に係る眼底撮像装置１００の概略構成の一例を示す模式図である。この図１に示す眼底撮像装置１００は、被検眼２００の眼底２０１を撮像する装置である。
【００１５】
眼底撮像装置１００は、図１に示すように、光源１０１、コリメートレンズ１０２、反射ミラー１０３及び１０５、波面補正素子１０４、共振ミラー１０６、ガルバノミラー１０７及び１０８、ミラー１０９、接眼レンズ１１０及び１１１を有して構成されている。さらに、眼底撮像装置１００は、図１に示すように、ビームスプリッタ１１２、受光レンズ１１３、フォトダイオード１１４、制御部１１５、操作部１１６、記憶部１１７、表示部１１８、ビームスプリッタ１１９、波面測定素子１２０を有して構成されている。
【００１６】
光源１０１は、本実施形態においては、レーザ光１０１ａを照射する光照射手段である。なお、本発明においては、光源１０１から照射される光は、レーザ光に限らず、他の光も適用可能である。
【００１７】
光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａは、コリメートレンズ１０２で平行光に調整された後、反射ミラー１０３、波面補正素子１０４及び反射ミラー１０５を通じて走査手段に導かれる。ここで、本実施形態においては、走査手段は、光源１０１と被検眼２００との間に設けられ、被検眼２００の眼底２０１の領域に対してレーザ光１０１ａを走査するためのものである。具体的に、本実施形態の走査手段は、被検眼２００の眼底２０１の領域における主走査方向に対してレーザ光１０１ａを走査するための主走査手段である共振ミラー１０６と、共振ミラー１０６が走査する中心位置を主走査方向にオフセットするためのオフセット手段であるガルバノミラー１０７と、被検眼２００の眼底２０１の領域における方向であって主走査方向と直交する副走査方向に対してレーザ光１０１ａを走査するための副走査手段であるガルバノミラー１０８を含み構成されている。
【００１８】
このように、図１において、共振ミラー１０６は、レーザ光１０１ａを、当該共振ミラー１０６の回転軸を中心に左右対称に主走査方向（図１のｘ方向）に走査する。次いで、ガルバノミラー１０７は、共振ミラー１０６が走査する中心位置を主走査方向（図１のｘ方向）にオフセットを加え、ガルバノミラー１０８は、レーザ光１０１ａを副走査方向（図１のｙ方向）に走査する。このようにして、本実施形態の走査手段は、ミラー１０９、接眼レンズ１１０及び１１１を介し、さらに被検眼２００の角膜と水晶体を通して、眼底２０１の領域に対してレーザ光１０１ａを二次元状に走査する。
【００１９】
その後、被検眼２００の眼底２０１に入射したレーザ光１０１ａは、眼底２０１で反射されて反射光として入射してきた経路を戻り、ビームスプリッタ１１２で反射された後、受光レンズ１１３を通ってフォトダイオード１１４で受光される。フォトダイオード１１４では、受光した反射光の強度に応じた電気信号に変換し、この電気信号を制御部１１５に出力する。制御部１１５は、フォトダイオード１１４から出力された電気信号に対して所定の信号処理を行って眼底画像を生成する。そして、制御部１１５は、生成した眼底画像を表示部１１８に表示したり、記憶部１１７に画像データとして記憶したりする。また、記憶部１１７は、制御部１１５が処理を行う際に必要なプログラムや各種の情報などを記憶しているとともに、制御部１１５の処理の結果得られた各種の情報などを記憶する。
【００２０】
また、この制御部１１５は、例えば操作部１１６から入力された入力情報に基づいて、眼底撮像装置１００の各構成部を制御し、眼底撮像装置１００の動作を統括的に制御する。例えば、制御部１１５は、操作部１１６から入力された入力情報に基づいて、撮像設定や、光源１０１、波面補正素子１０４、共振ミラー１０６、ガルバノミラー１０７及び１０８の駆動制御、更には、測定開始・停止などの処理も実行する。
【００２１】
図１において、ビームスプリッタ１１９は、眼底２０１で反射した反射光を分割して、分割した反射光を波面測定素子１２０に導く。この波面測定素子１２０は、入射した反射光の波面を測定する。この波面測定素子１２０としては、例えばシャックハルトマン波面センサなどを用いる。
【００２２】
波面測定素子１２０で測定された波面の波面データは、制御部１１５に出力される。制御部１１５は、波面測定素子１２０から出力された波面データを処理することにより波面補正量を算出し、これを波面補正素子１０４に出力する。波面補正素子１０４は、光源１０１と上述した走査手段との間のレーザ光１０１ａの光路に設けられており、制御部１１５から出力された波面補正量に応じて反射光の波面を補正し、被検眼２００の波面収差を補償する。これらの補償光学系の導入により、収差を低減させることで眼底２０１の視細胞などの数μｍの分解能で撮像された眼底画像を得ることができる。また、波面補正素子１０４としては、ＬＣＯＳ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｏｎ  Ｓｉｌｉｃｏｎ）やＤＭ（Ｄｅｆｏｒｍａｂｌｅ  Ｍｉｒｒｏｒ）などを使った光位相変調器（Ｓｐａｔｉａｌ  Ｌｉｇｈｔ  Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ：ＳＬＭ）が用いられる。
【００２３】
図２は、本発明の第１の実施形態に係る眼底撮像装置１００の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。具体的に、図２は、少なくとも波面測定素子１２０または波面補正素子１０４のいずれかに異常があることを検知する異常検知モードの際の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【００２４】
例えば操作部１１６から異常検知モードを実行する旨の情報が入力されると、まず、ステップＳ２０１において、制御部１１５は、共振ミラー１０６を停止する制御を行う。
【００２５】
続いて、ステップＳ２０２において、制御部１１５は、波面補正素子１０４を初期位置に設定（具体的には、波面補正素子１０４に対して第１の設定値を設定）する制御を行う。ここでは、波面補正素子１０４の初期位置として、波面補正素子１０４の下限位置を設定する。
【００２６】
続いて、ステップＳ２０３において、制御部１１５は、ガルバノミラー１０７を駆動して、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行う。即ち、ここでは、ガルバノミラー１０７でレーザ光１０１ａを垂直に反射させる。
【００２７】
図３は、図２のステップＳ２０３における処理を説明するための図である。この図３において、図１に示す構成と同様の構成については同じ符号を付しており、その説明は省略する。具体的に、図３は、ガルバノミラー１０７を駆動してレーザ光１０１ａを垂直に反射させている状態を示す図である。
【００２８】
図３に示すように、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａは、反射ミラー１０３、波面補正素子１０４、反射ミラー１０５及び共振ミラー１０６を経由して、ガルバノミラー１０７に入射し、ガルバノミラー１０７で垂直に反射する。ガルバノミラー１０７で垂直に反射したレーザ光１０１ａ（反射光）は、共振ミラー１０６、反射ミラー１０５、波面補正素子１０４及び反射ミラー１０３を経由し、ビームスプリッタ１１９で分割されて波面測定素子１２０に導かれる。
【００２９】
ここで、再び、図２の説明に戻る。
続いて、ステップＳ２０４において、波面測定素子１２０は、入射した反射光の波面（具体的には、波面形状）を測定し、測定により得られた波面形状データを制御部１１５に出力する。そして、制御部１１５は、今回、波面測定素子１２０で測定された波面形状データを記憶部１１７に記憶して保存する。
【００３０】
続いて、ステップＳ２０５において、制御部１１５は、波面補正素子１０４を初期位置からレーザ光１０１ａの半波長分ずらすように設定（具体的には、波面補正素子１０４に対して第２の設定値を設定）する制御を行う。
【００３１】
続いて、ステップＳ２０６において、波面測定素子１２０は、入射した反射光の波面（具体的には、波面形状）を測定し、測定により得られた波面形状データを制御部１１５に出力する。そして、制御部１１５は、今回、波面測定素子１２０で測定された波面形状データを記憶部１１７に記憶して保存する。
【００３２】
続いて、ステップＳ２０７において、制御部１１５は、ステップＳ２０４で得られた波面形状データとステップＳ２０６で得られた波面形状データとを比較する処理を行う。このとき、波面測定素子１２０で再度測定されるレーザ光１０１ａは、波面補正素子１０４を往復で２回通り、各々で半波長ずつ補正されるため、合計で１波長分ずれる。
【００３３】
即ち、ステップＳ２０２で設定された第１の設定値とステップＳ２０５で設定された第２の設定値との２つの設定値は、レーザ光１０１ａの往復でＮ波長分（Ｎは整数）位相をずらした値である。
【００３４】
また、波面測定素子１２０としてシャックハルトマン波面センサを用いた場合、シャックハルトマン波面センサでは波面の傾きを測定するため，波面全体が１波長シフトしても同等の結果が得られる。そのため、理想的には、ステップＳ２０４で得られた波面形状データとステップＳ２０６で得られた波面形状データとは同じであることが期待される。
【００３５】
続いて、ステップＳ２０８において、制御部１１５は、ステップＳ２０７で比較した結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっているか否かを判断する。
【００３６】
ステップＳ２０８の判断の結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっている場合には（Ｓ２０８／Ｙｅｓ）、ステップＳ２０９に進む。
ステップＳ２０９に進むと、制御部１１５は、波面測定素子１２０及び波面補正素子１０４のいずれも正常であると判定する。その後、図２に示すフローチャートの処理を終了する。
【００３７】
一方、ステップＳ２０８の判断の結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっていない場合には（Ｓ２０８／Ｎｏ）、ステップＳ２１０に進む。
ステップＳ２１０に進むと、制御部１１５は、少なくとも波面測定素子１２０または波面補正素子１０４のいずれかに異常があると判定し、ユーザ（装置使用者或いは装置監視者）にその異常がある旨を通知する。この異常通知の方法としては、例えば、音・音声による通知や、その旨を表示部１１８に表示した通知、通信を経由した外部装置への通知、或いはこれらの組み合せ等による通知が考えられる。ステップＳ２１０の処理が終了すると、図２に示すフローチャートの処理を終了する。
【００３８】
なお、図２に示す例では、ステップＳ２０２において波面補正素子１０４の下限位置を初期位置に設定（第１の設定値を設定）し、ステップＳ２０５において初期位置からレーザ光１０１ａの半波長分位相を増加させる方向にずらすように設定（第２の設定値を設定）するようにしているが、本実施形態においてはこれに限定されるものではない。例えば、初期位置は、半波長分以上ずらすことができる位置であれば任意の位置でよく、また、ずらす位相は、半波長ではなくＮ／２波長（Ｎは任意の整数）でもよい。
【００３９】
また、図２に示す例では、上述した２つの設定値を設定する例を挙げているが、本実施形態においては３つ以上の設定値を設定するようにしてもよい。即ち、本実施形態においては、少なくとも２つの設定値を設定する形態であればよい。
【００４０】
また、波面測定素子１２０で得られた画像から波面形状データを構成せずに、マイクロレンズごとのスポット位置に着目して、スポット位置の比較のみによって異常判定してもよい。
【００４１】
また、異常がないと判定した場合であっても、以上説明したようなパラメータを経年的にモニタすることでパーツの交換時期などを予測し、将来的な異常を未然に防ぐ構成としてもよい。
【００４２】
第１の実施形態によれば、少なくとも波面測定素子１２０または波面補正素子１０４のいずれかに異常があることを検知する異常検知モードの際に、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行うようにしたので、煩雑な作業を行うことなく且つ専用の光学系を設けることなく当該異常検知モードを実行することができる。
【００４３】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
第２の実施形態では、被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードとして、第１の実施形態と同様に、異常検知モードを適用した例について説明を行う。この点、第１の実施形態では、異なる２つの設定値において略同一の波面形状が得られたか否かで異常を検知しているが、第２の実施形態では、所定の設定値において得られた波面形状と、予め保持または演算により取得した期待波面形状とを比較して、異常を検知するものである。
【００４４】
まず、第２の実施形態では、光学系全体を調整した状態で期待波面形状を取得するために、被検眼における模型眼を用いてキャリブレーションを実施する。
【００４５】
図４は、本発明の第２の実施形態に係る眼底撮像装置１００の概略構成の一例を示す模式図である。この図４において、図１に示す構成と同様の構成については同じ符号を付しており、その説明は省略する。
【００４６】
図４において、模型眼２１０は、キャリブレーションの開始前に眼底撮像装置１００に対して所定の位置に予め設置される。そして、図４に示す眼底撮像装置１００は、図１及び図３に示す被検眼２００の眼底２０１に加えて、図４に示す模型眼２１０の眼底２１１にも、光源１０１からレーザ光１０１ａを照射する。
【００４７】
図５は、本発明の第２の実施形態に係る眼底撮像装置１００の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。具体的に、図５は、模型眼２１０を用いて期待波面形状を得るための処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、図５では、異なる設定値（変位量）の際の期待波面形状を得るため、ｎ枚分（ｎは整数）取得する場合について説明するが、ｎは１枚であってもよい。また、以降の説明では、予め期待波面形状を取得する場合について説明するが、演算によって期待波面形状を取得する場合であってもよい。
【００４８】
例えば操作部１１６から期待波面形状を取得する旨の情報が入力されると、まず、ステップＳ５０１において、制御部１１５は、眼底撮像装置１００の各構成部を起動し、装置が安定するのを待つ。装置の安定は、所定の時間が経過する、或いは、装置のセンサ情報を基に判定する。
【００４９】
装置が安定したら、続いて、ステップＳ５０２において、制御部１１５は、光源１０１を制御して、光源１０１から模型眼２１０の眼底２１１に対してレーザ光１０１ａを照射させる。次いで、波面測定素子１２０は、眼底２１１からの反射光を受光して、反射光の波面（具体的には、波面形状）を測定し、測定により得られた波面形状データを制御部１１５に出力する。例えば、ここでは、波面形状データとして波面画像を取得する。
【００５０】
続いて、ステップＳ５０３において、制御部１１５は、ステップＳ５０２で取得された波面形状データに係る波面形状が最適な波面形状であるか否かを判断する。ここで、最適な波面形状であるか否かは、例えば、波面形状が所定の範囲内で揃っているか否かに基づき判断する。
【００５１】
ステップＳ５０３の判断の結果、最適な波面形状でない場合には（Ｓ５０３／Ｎｏ）、ステップＳ５０４に進む。
ステップＳ５０４に進むと、制御部１１５は、所定時間以上経過したか否かを判断する。
【００５２】
ステップＳ５０４の判断の結果、所定時間以上経過していない場合には（Ｓ５０４／Ｎｏ）、ステップＳ５０５に進む。
ステップＳ５０５に進むと、制御部１１５は、ステップＳ５０２で取得された波面形状データに係る波面形状に基づいて、収差のない波面へと補正するための変調量（補正量）を算出し、当該変調量を波面補正素子１０４に出力して、波面補正素子１０４に当該変調量に基づく波面補正を行うように指示する。その後、ステップＳ５０２に戻り、最適な波面形状になるまで、ステップＳ５０２〜Ｓ５０５の処理が繰り返し行われる。
【００５３】
一方、ステップＳ５０４の判断の結果、所定時間以上経過した場合には（Ｓ５０４／Ｙｅｓ）、ステップＳ５０６に進む。
ステップＳ５０６に進むと、制御部１１５は、所定時間以上経過しても最適な波面形状に収束しないと判断し、収束できない異常があると判定し、ユーザにその異常がある旨を通知する。その後、図５に示すフローチャートの処理を終了する。
【００５４】
また、ステップＳ５０３の判断の結果、最適な波面形状である場合には（Ｓ５０３／Ｙｅｓ）、ステップＳ５０７に進む。
ステップＳ５０７に進むと、制御部１１５は、ガルバノミラー１０７を駆動して、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行う。このステップＳ５０７は、第１の実施形態の図２のステップＳ２０３における処理と同様である。
【００５５】
続いて、ステップＳ５０８において、波面測定素子１２０は、入射した反射光の波面（具体的には、波面形状）を測定し、測定により得られた波面形状データを制御部１１５に出力する。そして、制御部１１５は、今回、波面測定素子１２０で測定された波面形状データを期待波面形状データとして記憶部１１７に記憶して保存する。
【００５６】
続いて、ステップＳ５０９において、制御部１１５は、例えば操作部１１６からの入力情報に基づいて、ｎ枚分の期待波面形状データを取得したか否かを判断する。
【００５７】
ステップＳ５０９の判断の結果、ｎ枚分の期待波面形状データを未だ取得していない場合には（Ｓ５０９／Ｎｏ）、ステップＳ５０２に戻る。
【００５８】
一方、ステップＳ５０９の判断の結果、ｎ枚分の期待波面形状データを取得した場合には（Ｓ５０９／Ｙｅｓ）、図５に示すフローチャートの処理を終了する。
【００５９】
なお、図５に示すフローチャートの処理は、眼底撮像装置１００を工場から出荷する際や当該眼底撮像装置１００を設置する際、或いは、所定のタイミングで実施することを想定している。
【００６０】
図６は、本発明の第２の実施形態に係る眼底撮像装置１００の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。具体的に、図６は、図５で取得された期待波面形状データを用いて、少なくとも波面測定素子１２０または波面補正素子１０４のいずれかに異常があることを検知する異常検知モードの際の処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、図６に示すフローチャートの処理が開始される時点において、図５で取得された期待波面形状データは、既に記憶部１１７に記憶されているものとする。
【００６１】
例えば操作部１１６から異常検知モードを実行する旨の情報が入力されると、まず、ステップＳ６０１において、制御部１１５は、共振ミラー１０６を停止する制御を行う。
【００６２】
続いて、ステップＳ６０２において、制御部１１５は、波面補正素子１０４を所定の位置に設定（具体的には、波面補正素子１０４に対して所定の設定値を設定）する制御を行う。
【００６３】
続いて、ステップＳ６０３において、制御部１１５は、ガルバノミラー１０７を駆動して、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行う。即ち、ここでは、ガルバノミラー１０７でレーザ光１０１ａを垂直に反射させる。ここで、ガルバノミラー１０７を正対させる方法については、図３に示す第１の実施形態と同様である。
【００６４】
続いて、ステップＳ６０４において、波面測定素子１２０は、入射した反射光の波面（具体的には、波面形状）を測定し、測定により得られた波面形状データを制御部１１５に出力する。そして、制御部１１５は、今回、波面測定素子１２０で測定された波面形状データを記憶部１１７に記憶して保存する。
【００６５】
続いて、ステップＳ６０５において、制御部１１５は、記憶部１１７に記憶されている１枚の期待波面形状データとステップＳ６０４で得られた波面形状データとを比較する処理を行う。
【００６６】
続いて、ステップＳ６０６において、制御部１１５は、ステップＳ６０５で比較した結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっているか否かを判断する。
【００６７】
ステップＳ６０６の判断の結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まってない場合には（Ｓ６０６／Ｎｏ）、ステップＳ６０７に進む。
ステップＳ６０７に進むと、制御部１１５は、少なくとも波面測定素子１２０または波面補正素子１０４のいずれかに異常があると判定し、ユーザ（装置使用者或いは装置監視者）にその異常がある旨を通知する。この異常通知の方法としては、例えば、音・音声による通知や、その旨を表示部１１８に表示した通知、通信を経由した外部装置への通知、或いはこれらの組み合せ等による通知が考えられる。ステップＳ６０７の処理が終了すると、図６に示すフローチャートの処理を終了する。
【００６８】
一方、ステップＳ６０６の判断の結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっている場合には（Ｓ６０６／Ｙｅｓ）、ステップＳ６０８に進む。
ステップＳ６０８に進むと、制御部１１５は、例えば操作部１１６からの入力情報に基づいて、ｎ枚分の期待波面形状データとの比較が完了したか否かを判断する。
【００６９】
ステップＳ６０８の判断の結果、ｎ枚分の期待波面形状データとの比較は未だ完了していない場合には（Ｓ６０８／Ｎｏ）、ステップＳ６０２に戻り、未だ比較を行っていない期待波面形状データについて、ステップＳ６０２以降の処理を行う。
【００７０】
一方、ステップＳ６０８の判断の結果、ｎ枚分の期待波面形状データとの比較が完了した場合には（Ｓ６０８／Ｙｅｓ）、ステップＳ６０９に進む。
ステップＳ６０９に進むと、制御部１１５は、波面測定素子１２０及び波面補正素子１０４のいずれも正常であると判定する。その後、図６に示すフローチャートの処理を終了する。
【００７１】
第２の実施形態によれば、少なくとも波面測定素子１２０または波面補正素子１０４のいずれかに異常があることを検知する異常検知モードの際に、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行うようにしたので、煩雑な作業を行うことなく且つ専用の光学系を設けることなく当該異常検知モードを実行することができる。
【００７２】
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。
第３の実施形態では、被検眼の眼底を撮像する撮像モードとは異なる内部処理モードとして、波面補正素子の変調量と設定値との関係を補正するためのキャリブレーションのモードを適用した例について説明を行う。
【００７３】
第３の実施形態に係る眼底撮像装置の概略構成は、図４に示す第２の実施形態に係る眼底撮像装置１００の概略構成（或いは図１に示す第１の実施形態に係る眼底撮像装置１００の概略構成）と同様であるため、その説明は省略する。
【００７４】
また、第３の実施形態では、第１及び第２の実施形態と同様に、ガルバノミラー１０７をレーザ光１０１ａに対して正対させる制御を行う。そして、第３の実施形態では、この制御により、波面補正素子１０４の変調量と設定値との関係を示す補正テーブルを簡易的に補正するための簡易キャリブレーションを行う。ここで、「簡易キャリブレーション」とは、ガルバノミラー１０７よりも被検眼Ｅの側に配置されている光学系は含まない、部分的な光学系について調整することを指し、「キャリブレーション」とは、ガルバノミラー１０７よりも被検眼Ｅの側に配置されている光学系を含む光学系全体について調整することを指すこととする。
【００７５】
以下、簡易キャリブレーションのモードを行う場合について説明する。
第３の実施形態において、簡易キャリブレーションのモードを行う場合でも、第２の実施形態と同様に期待波面形状データを取得するが、その取得方法は第２の実施形態と同様であるため、その説明は省略する。
【００７６】
図７は、本発明の第３の実施形態に係る眼底撮像装置１００の制御方法における処理手順の一例を示すフローチャートである。具体的に、図７は、図５で取得された期待波面形状データを用いて、簡易キャリブレーションのモードの際の処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、図７に示すフローチャートの処理が開始される時点において、図５で取得された期待波面形状データは、既に記憶部１１７に記憶されているものとする。
【００７７】
例えば操作部１１６から簡易キャリブレーションのモードを実行する旨の情報が入力されると、まず、ステップＳ７０１において、制御部１１５は、共振ミラー１０６を停止する制御を行う。
【００７８】
続いて、ステップＳ７０２において、制御部１１５は、波面補正素子１０４を所定の位置に設定（具体的には、波面補正素子１０４に対して所定の設定値を設定）する制御を行う。ここで、所定の位置としては、予め決められた補正位置でもよいし、前回の最終的な補正位置であってもよい。
【００７９】
続いて、ステップＳ７０３において、制御部１１５は、ガルバノミラー１０７を駆動して、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行う。即ち、ここでは、ガルバノミラー１０７でレーザ光１０１ａを垂直に反射させる。ここで、ガルバノミラー１０７を正対させる方法については、ガルバノミラー１０７の角度を調整するなど、図３に示す第１の実施形態と同様である。
【００８０】
続いて、ステップＳ７０４において、波面測定素子１２０は、入射した反射光の波面（具体的には、波面形状）を測定し、測定により得られた波面形状データを制御部１１５に出力する。そして、制御部１１５は、今回、波面測定素子１２０で測定された波面形状データを記憶部１１７に記憶して保存する。
【００８１】
続いて、ステップＳ７０５において、制御部１１５は、記憶部１１７に記憶されている１枚の期待波面形状データとステップＳ７０４で得られた波面形状データとを比較する処理を行う。
【００８２】
続いて、ステップＳ７０６において、制御部１１５は、ステップＳ７０５で比較した結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっているか否かを判断する。
【００８３】
ステップＳ７０６の判断の結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まってない場合には（Ｓ７０６／Ｎｏ）、ステップＳ７０７に進む。
ステップＳ７０７に進むと、制御部１１５は、所定時間以上経過したか否かを判断する。
【００８４】
ステップＳ７０７の判断の結果、所定時間以上経過していない場合には（Ｓ７０７／Ｎｏ）、ステップＳ７０８に進む。
ステップＳ７０８に進むと、制御部１１５は、ステップＳ７０４で取得された波面形状データに係る波面形状が期待波面形状データに係る期待波面形状になるような変調量を算出し、当該変調量を波面補正素子１０４に出力して、波面補正素子１０４に当該変調量に基づく波面補正を行うように指示する。その後、ステップＳ７０４に戻り、波面形状の差が所定の範囲内に納まるまで、ステップＳ７０４〜Ｓ７０８の処理が繰り返し行われる。
【００８５】
一方、ステップＳ７０７の判断の結果、所定時間以上経過した場合には（Ｓ７０７／Ｙｅｓ）、ステップＳ７０９に進む。
ステップＳ７０９に進むと、制御部１１５は、所定時間以上経過しても波面形状の差が所定の範囲内に納まらないため、収束できない異常があると判定し、ユーザにその異常がある旨を通知する。その後、図７に示すフローチャートの処理を終了する。
【００８６】
また、ステップＳ７０６の判断の結果、波面形状の差が所定の範囲内に納まっている場合には（Ｓ７０６／Ｙｅｓ）、ステップＳ７１０に進む。
ステップＳ７１０に進むと、制御部１１５は、例えば操作部１１６からの入力情報に基づいて、ｎ枚分の期待波面形状データとの比較が完了したか否かを判断する。
【００８７】
ステップＳ７１０の判断の結果、ｎ枚分の期待波面形状データとの比較は未だ完了していない場合には（Ｓ７１０／Ｎｏ）、ステップＳ７０２に戻り、未だ比較を行っていない期待波面形状データについて、ステップＳ７０２以降の処理を行う。
【００８８】
一方、ステップＳ７１０の判断の結果、ｎ枚分の期待波面形状データとの比較が完了した場合には（Ｓ７１０／Ｙｅｓ）、ステップＳ７１１に進む。
ステップＳ７１１に進むと、制御部１１５は、各期待波面形状に対応した波面補正素子１０４の設定値をもとに、変調量と設定値との関係を示す補正テーブルを更新する処理を行う。その後、図７に示すフローチャートの処理を終了する。
【００８９】
なお、波面補正素子１０４を所望の変調量になるように設定値を決める際、補正テーブルを用いず、関数に基づいて演算する形態としてもよい。その場合、ステップＳ７１１では、補正テーブルを更新する代わりに、補正演算に用いる係数などを更新することにより、同様の効果を得ることができる。
【００９０】
第３の実施形態によれば、波面補正素子１０４の変調量と設定値との関係を補正するためのキャリブレーションのモードの際に、光源１０１から照射されたレーザ光１０１ａに対してガルバノミラー１０７を正対させる制御を行うようにしたので、煩雑な作業を行うことなく且つ専用の光学系を設けることなく当該キャリブレーションのモードを実行することができる。また、当該キャリブレーションを簡易的に実施することにより、環境変化及び経年劣化によるずれを簡易的に補正することができる。
【００９１】
（第４の実施形態）
次に、本発明の第４の実施形態について説明する。
上述した第１〜第３の実施形態では、それぞれの内部処理モードを実行する際に、共振ミラー１０６を停止させているが、共振ミラー１０６を動作させ続けて測定する形態も適用可能である。例えば、第４の実施形態では、第１〜第３の実施形態における共振ミラー１０６の位置とガルバノミラー１０７の位置とを入れ替える。この場合、ガルバノミラー１０７をレーザ光１０１ａに対して正対させると、共振ミラー１０６は、光源１０１とガルバノミラー１０７との間のレーザ光１０１ａの光路から外れるため、共振ミラー１０６の状態に依存せずに、異常検知や簡易キャリブレーションなどの内部処理モードを実行することができる。
【００９２】
そのため、第４の実施形態によれば、第１〜第３の実施形態における効果に加えて、異常検知や簡易キャリブレーションでいったん共振ミラー１０６を停止させた場合に必要な、共振再開後の共振ミラー１０６が安定するまでの待ち時間を無くすことができる。また、この第４の実施形態によれば、眼底検査の合間だけでなく、眼底検査中にフレーム画像を取得してから次フレーム画像を取得するまでの間にも、異常検知や簡易キャリブレーションを行うことも可能となる。そのため、例えば、装置起動後に温度などの変動要因が収束する前であっても、測定を開始し、フレーム取得の合間にキャリブレーションなどを行うことで、撮影開始までの時間を短縮しつつ良好な画像を得ることができる。
【００９３】
（その他の実施形態）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、本発明に含まれる。
【００９４】
なお、上述した本発明の実施形態は、いずれも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【符号の説明】
【００９５】
１００  眼底撮像装置、１０１  光源、１０２  コリメートレンズ、１０３，１０５  反射ミラー、１０４  波面補正素子、１０６  振ミラー、１０７，１０８  ガルバノミラー、１０９  ミラー、１１０，１１１  接眼レンズ、１１２  ビームスプリッタ、１１３  受光レンズ、１１４  フォトダイオード、１１５  制御部、１１６  操作部、１１７  記憶部、１１８  表示部、１１９  ビームスプリッタ、１２０  波面測定素子、２００  被検眼、２０１  眼底
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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