(57)【要約】【課題】複数回の欠陥画素検出と補正を行う際の条件を変更し、欠陥画素補正の精度を向上させること。【解決手段】撮像装置のシステム制御部５０は、撮像素子１４から取得した画像に対して複数の条件で欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素の信号値を補正する。システム制御部５０は第１の検出で検出された画素に対し、その周辺画素の信号値から第１の補正値を算出して補正する。第２の検出でシステム制御部５０は、補正された画素に対して第１の検出とは異なる条件で検出処理を実行し、第１の補正値を算出する場合とは異なる周辺画素の信号値から第２の補正値を算出する。第１および第２の検出ともに検出された欠陥画素の信号値を補正する際、システム制御部５０は元画像の信号値の影響を低減させる。【選択図】  図８
2017195496.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像された画像に対して複数の検出条件で欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された欠陥画素の信号値を補正する補正手段と、を備え、
前記補正手段は、前記検出手段による第１の検出で検出された画素に対し、その周辺画素の信号値から第１の補正値を算出して第１の補正を行い、
前記検出手段はさらに、前記補正手段により補正された画素に対して前記第１の検出とは検出条件が異なる第２の検出を行い、前記補正手段は第２の補正にて、前記第１の補正値を算出する場合とは異なる周辺画素の信号値から第２の補正値を算出し、前記第２の検出で検出された欠陥画素の信号値を補正する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記検出手段により、前記第１および第２の検出で検出された画素に対し、前記補正手段は前記第１の補正値が閾値より大きい場合、前記第２の補正値を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記検出手段は、１回目に前記第１の検出を行い、２回目に前記第２の検出を行い、前記補正手段は前記第２の補正にて、前記第１および第２の検出とも検出された欠陥画素の信号値を補正する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記補正手段は前記第１の補正にて、前記第１の検出で検出された画素に対し、前記周辺画素の信号値の最大値および最小値を用いて前記第１の補正値を算出し、
前記補正手段は前記第２の補正にて、前記第２の検出で検出された画素に対し、前記周辺画素の信号値の最大値および最小値と検出された前記画素の信号値を用いずに前記第２の補正値を算出する
ことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記検出手段は、検出の対象である注目画素の信号値と周辺画素の信号値に対する第１の条件、および前記周辺画素の信号値に対する第２の条件から、注目画素が欠陥画素であるか否かを判断する
ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第１の条件は、前記注目画素の信号値と前記周辺画素の信号値との差分の大きさが、第１の閾値より大きいことであり、
前記第２の条件は、前記周辺画素の信号値の最大値と最小値との差分の大きさが、第２の閾値より小さいことであり、
前記検出手段は、前記第１および第２の条件を満たす場合に前記注目画素が欠陥画素であると判断する
ことを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記検出手段は、前記注目画素の信号値と前記周辺画素の信号値との差分の大きさ、および、前記差分の大きさと前記第１の閾値との差、および前記差分の大きさに対する上限値と前記第１の閾値との差から、前記注目画素の判定結果を算出し、
前記補正手段は、前記注目画素の判定結果にしたがって前記注目画素の信号値を補正する
ことを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記検出手段は、前記第１の検出と前記第２の検出とで前記第１または第２の閾値を変更する
ことを特徴とする請求項６または請求項７に記載の画像処理装置。
【請求項９】
請求項１から８のいずれか１項に記載の画像処理装置と、
被写体を撮像する撮像素子と、を備える撮像装置。
【請求項１０】
前記第２の検出および前記第２の補正を行うか否かを判断する判断手段を備える
ことを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記判断手段は、撮影時間、前記撮像素子の感度、または周囲温度が閾値より小さい場合に前記第２の検出および前記２の補正を行うと判断する
ことを特徴とする請求項１０に記載の撮像装置。
【請求項１２】
撮像された画像に対して複数の検出条件で欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された欠陥画素の信号値を補正する補正手段と、を備える画像処理装置にて実行される制御方法であって、
前記検出手段による第１の検出で検出された画素に対し、その周辺画素の信号値から前記補正手段が第１の補正値を算出して第１の補正を行うステップと、
前記検出手段が、前記第１の補正により補正された画素に対して前記第１の検出とは検出条件が異なる第２の検出を行うステップと、
前記補正手段が第２の補正にて、前記第１の補正値を算出する場合とは異なる周辺画素の信号値から第２の補正値を算出し、前記第２の検出で検出された欠陥画素の信号値を補正するステップを有する
ことを特徴とする画像処理装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素検出および補正の技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
撮像素子において、二次元に配列された画素部に製造過程または製造後に半導体の局部的な感度不良が生じた場合、入射光量に応じた電荷出力が得られなくなる。この場合、撮像画像上に被写体とは無関係に白点や黒点が発生し、欠陥画素となって現れる。欠陥画素補正は、欠陥画素の撮像出力に起因する画質劣化を信号処理によって補正する処理である。撮像素子の欠陥画素データは、製造工程で検出されて不揮発性メモリに予め記憶される。あるいは撮像装置のシャッタを遮光状態としたときに所定の出力レベルを超える白点欠陥画素と、撮像装置への入射光量を所定のレベルとしたときに所定の出力レベルに達しない黒点欠陥画素の、各位置データが不揮発性メモリに記憶される。撮像時には、不揮発性メモリに記憶されている位置データに基づいて欠陥画素を特定し、欠陥画素補正が行われる。
【０００３】
撮像素子の画素数の増大に伴い、欠陥画素の発生確率が問題となる。特に低コストが求められる民生用機器に使用される撮像素子では、その製造歩留まりを上げるため、欠陥画素の発生確率をある程度の範囲で許容することも必要となる。また、撮影のたびに欠陥画素の検出結果が異なる場合がある。このため、欠陥画素の正確な位置データを不揮発性メモリに記憶して厳密に管理することが困難になってきている。
【０００４】
特許文献１に開示の装置は、注目画素とその周辺画素との差分値が大きい場合に注目画素を欠陥画素と判断し、差分値からどの程度の欠陥画素であるかを判断する。記憶容量の限られた不揮発性メモリであっても、多数の欠陥画素に対応可能となる。また、特許文献２に開示の装置は、注目画素値を所定値と比較して、欠陥画素を検出する第１の検出手段と、欠陥画素を補正する第１の補正手段と、さらに再度欠陥画素を検出する第２の検出手段と、欠陥画素を補正する第２の補正手段を備える。第１の検出手段と第２の検出手段とで異なる所定値が設定されて欠陥画素検出が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−２０５５８６号公報
【特許文献２】特開２００５−２８６８２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の技術では、隣接した欠陥画素や被写体エッジ部の高周波成分等に関する検出において、欠陥画素を正しく検出できない可能性がある。欠陥画素検出が正確に行われない場合、適切に欠陥画素補正を行うことができない。さらに、欠陥画素検出を再度行った場合に正しく欠陥画素を補正できない可能性がある。
本発明は、複数回の欠陥画素検出と補正を行う際の条件を変更し、欠陥画素補正の精度を向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一実施形態に係る画像処理装置は、撮像された画像に対して複数の検出条件で欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段によって検出された欠陥画素の信号値を補正する補正手段と、を備える。前記補正手段は、前記検出手段による第１の検出で検出された画素に対し、その周辺画素の信号値から第１の補正値を算出して第１の補正を行う。前記検出手段はさらに、前記補正手段により補正された画素に対して前記第１の検出とは検出条件が異なる第２の検出を行い、前記補正手段は第２の補正にて、前記第１の補正値を算出する場合とは異なる周辺画素の信号値から第２の補正値を算出し、前記第２の検出で検出された欠陥画素の信号値を補正する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、複数回の欠陥画素検出と補正を行う際の条件を変更し、欠陥画素補正の精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】本実施形態の主ルーチンを示すフローチャートである。
【図３】図２に後続する処理を示すフローチャートである。
【図４】本実施形態の測距および測光処理を示すフローチャートである。
【図５】本実施形態の撮影モード判定を示すフローチャートである。
【図６】本実施形態の通常撮影処理のフローチャートである。
【図７】本実施形態の記録処理のフローチャートである。
【図８】本実施形態の欠陥画素補正を説明する概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付図面に基づいて詳細に説明する。
図１は、本発明の実施形態に係る画像処理装置１００を、撮像装置に適用した実施例の構成を示す図である。撮影レンズ１０は、撮像光学系を構成する光学部材としてズームレンズやフォーカスレンズ等を備える。シャッタ１２は絞り機能を備える機械式シャッタである。撮像素子１４は、撮像光学系を通して結像される光学像を電気信号に光電変換し、画像信号を出力する。Ａ／Ｄ変換器１６は、撮像素子１４が出力するアナログ画像信号をデジタル信号に変換する。タイミング発生部１８は、撮像素子１４とＡ／Ｄ変換器１６にクロック信号や制御信号を供給する。タイミング発生部１８はメモリ制御部２２およびシステム制御部５０により制御される。なお、機械式シャッタ１２の以外の実施形態として、撮像素子１４のリセットタイミングの制御により、電子シャッタとして蓄積時間を制御可能である。電子シャッタ機能は、動画撮影等に使用可能である。
【００１１】
画像処理部２０は、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータまたはメモリ制御部２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また画像処理部２０は画像の切り出しと変倍処理を行うことで電子ズーム機能を実現する。画像処理部２０は、撮像画像データを用いて所定の演算処理を行う。得られた演算結果に基づいてシステム制御部５０は露光制御部４０、焦点調節制御部４２に対して制御を行う。これにより、ＴＴＬ（Through-The-Lens）方式のＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュプリ発光）処理が行われる。さらに、画像処理部２０は、撮像画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理を行う。また画像処理部２０は、画像データの画像識別や、前フレーム画像との変化量を検出する処理も行う。
【００１２】
メモリ制御部２２は、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生部１８、画像処理部２０、メモリ３０、圧縮・伸長部３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６の出力信号は画像処理部２０、メモリ制御部２２を介して、或いはメモリ制御部２２を介して、メモリ３０に記憶される。
【００１３】
画像表示部２８はＴＦＴ（薄膜トランジスタ）型ＬＣＤ（液晶ディスプレイ）等の表示デバイスを備える。画像表示部２８は、メモリ３０から読み出された表示用の画像データにしたがって表示画面に画像を表示する。撮像画像を逐次表示することで、電子ファインダ機能が実現される。また、画像表示部２８は、システム制御部５０の指示により任意に表示をＯＮ/ＯＦＦ可能であり、表示をＯＦＦにした場合に画像処理装置１００を節電可能である。画像表示部２８にタッチパネルを配置した構成の場合、ユーザは表示画面を見ながらタッチ操作を行える。
【００１４】
メモリ３０は、撮影した静止画像や動画像のデータを記憶する。メモリ３０は所定枚数の静止画像や所定時間の動画像の格納に十分な記憶容量を有する。複数枚の静止画像を連続して撮影する連写撮影やパノラマ撮影等において、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能となる。また、メモリ３０はシステム制御部５０の作業領域としても使用可能である。
【００１５】
ＦｌａｓｈＲＯＭ等の不揮発性メモリ３１は、システム制御部５０のＣＰＵ（中央演算処理装置）が実行するプログラムコードを記憶しており、ＣＰＵはメモリからプログラムコードを逐次読み出して実行する。また、不揮発性メモリ３１は、システム情報を記憶する領域や、ユーザ設定情報を記憶する領域を有し、各種の情報や設定値を起動時に読み出して復元が可能である。
【００１６】
圧縮・伸長部３２は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する。圧縮・伸長部３２はメモリ３０に格納された画像データを読み込んで圧縮処理を行い、または圧縮処理されたデータの伸長処理を行い、処理後のデータをメモリ３０に書き込む。
【００１７】
露光制御部４０は、絞り機能を備えるシャッタ１２を制御し、フラッシュ４８と連動することによりフラッシュ調光機能を有する。焦点調節制御部４２は撮影レンズ１０のフォーカシング制御を行う。ズーム制御部４４は撮影レンズ１０のズーミング制御を行う。フラッシュ４８はＡＦ補助光の投光機能、フラッシュ調光機能を有する。露光制御部４０、焦点調節制御部４２はＴＴＬ方式で制御される。システム制御部５０は撮像画像データに対して画像処理部２０が演算した演算結果に基づき、露光制御部４０、焦点調節制御部４２に対して制御を行う。
【００１８】
システム制御部５０は撮像装置全体を制御する中枢部であり、ＣＰＵやメモリ等を備える。システム制御部５０は、各種の動作指示を入力するための操作部材による信号を受け付けて撮像装置の動作を制御する。図１には、各種スイッチ６０、６２、６４、６６、７２と、操作部７０を例示する。モードダイアル６０は、ユーザが各機能モードの切り替え設定を行う際に使用する。シャッタスイッチ６２はシャッタボタンの操作途中でＯＮとなり、第１スイッチ信号ＳＷ１をシステム制御部５０に出力する。これにより、ＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ処理等が開始する。シャッタスイッチ６４はシャッタボタンの操作完了でＯＮとなり、第２スイッチ信号ＳＷ２をシステム制御部５０に出力する。フラッシュ撮影の場合、ＥＦ処理後にＡＥ処理で決定された露光時間分、撮像素子１４の露光が行われる。露光期間中にフラッシュ４８が発光して、露光期間終了と同時に露光制御部４０により遮光することで、撮像素子１４への露光が終了する。撮像素子１４から読み出された信号はメモリ３０に記憶され、さらに画像処理部２０やメモリ制御部２２等による現像処理が実行される。圧縮・伸長部３２は現像後の画像データを圧縮し、次に記録媒体２００への記録処理が行われる。
【００１９】
表示切替スイッチ６６は、ユーザが画像表示部２８の表示切替に使用する。ユーザが光学ファインダ１０４を用いて撮影を行う際に、画像表示部２８への電流供給を遮断することにより、省電力を図ることが可能となる。操作部７０は各種ボタン、タッチパネルや回転式ダイアル等から構成される。ズームスイッチ７２はユーザが撮像画像の倍率変更指示を行う際に使用する操作部材である。被写体検出部７４は撮像画像内の被写体領域を検出して、検出信号をシステム制御部５０に出力する。電源部８６は、一次電池や二次電池、ＡＣアダプター等からなる。
【００２０】
インタフェース（Ｉ/Ｆ）部９０はメモリカード等の記録媒体２００に対するメディアインタフェース部である。記録媒体２００は、記録部２０２、インタフェース部２０４、コネクタ２０６を備える。コネクタ２０６とカメラ本体部のコネクタ９２とが接続されて、記録部２０２のデータの読み書きが可能となる。通信部１１０は有線式または無線式の通信機能を有し、コネクタ（または無線通信の場合はアンテナ）１１２と接続される。
【００２１】
図２、図３は画像処理装置１００の主ルーチンを説明するフローチャートである。
電池交換等の電源投入により、システム制御部５０はフラグや制御変数等を初期化する（Ｓ１０１）。画像表示部２８の画像表示はＯＦＦ状態に初期設定される（Ｓ１０２）。システム制御部５０は、モードダイアル６０の設定位置から撮影モードか否かを判断する（Ｓ１０３）。撮影モードには、AUTO撮影モードやHDR（ハイダイナミックレンジ）撮影モードが含まれる。モードダイアル６０が撮影モードの位置に設定されている場合、Ｓ１０６に進み、モードダイアル６０がその他のモードの位置に設定されている場合、Ｓ１０４に進む。Ｓ１０４にて、システム制御部５０は設定されたモードに応じた処理を実行し、処理を終えるとＳ１０３に戻る。
【００２２】
Ｓ１０６でシステム制御部５０は、電源制御部により電源部８６の残容量や動作状況を判断する。電池の残容量等に関して画像処理装置１００の動作に問題がない場合、Ｓ１０７へ進む。電池の残容量等が十分でない場合にはＳ１０８へ移行し、画像や音声により所定の警告処理が行われた後、Ｓ１０３に戻る。
【００２３】
Ｓ１０７でシステム制御部５０は、記録媒体２００の動作状態を判断する。記録媒体２００に対する画像データの記録再生動作に問題がない場合、Ｓ１０９に進む。記録再生動作に問題がある場合にはＳ１０８へ移行し、警告処理の後でＳ１０３に戻る。
【００２４】
Ｓ１０９で画像表示部２８はＯＮ状態となり、画像や音声により画像処理装置１００の各種設定状態の表示を行う。システム制御部５０は、撮像画像データを逐次表示するスルー表示状態に設定する（Ｓ１１６）。スルー表示状態では撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理部２０、メモリ制御部２２を介して、メモリ３０に逐次書き込まれたデータが、画像表示部２８により逐次表示される。次にシステム制御部５０は、ユーザがシャッタボタンの半押し操作を行ったか否かを判断する（図３：Ｓ１１９）。システム制御部５０は、シャッタボタンの半押し操作により第１スイッチ信号ＳＷ１を受け付けた場合、Ｓ１２２に処理を進める。シャッタボタンが押されていない場合、図２のＳ１０３に戻る。
【００２５】
Ｓ１２２でシステム制御部５０は、焦点検出処理を行って撮影レンズ１０の焦点を被写体に合わせ、測光処理を行って絞り値およびシャッタ時間を決定する。測光処理に於いて、必要であればフラッシュの設定が行われる。測距・測光処理Ｓ１２２の詳細については図４を用いて後述する。測距・測光処理Ｓ１２２を終えるとＳ１２５に進む。Ｓ１２５でシステム制御部５０は、ユーザがシャッタボタンの全押し操作を行ったか否かを判断する。シャッタボタンが全押しされない場合、Ｓ１２６に進み、システム制御部５０はさらに、シャッタボタンが解除されたか否かを判断する。Ｓ１２６で第１スイッチ信号ＳＷ１がＯＦＦであれば、図２のＳ１０３に戻り、第１スイッチ信号ＳＷ１がＯＮであれば、Ｓ１２５に戻る。
【００２６】
Ｓ１２５で第２スイッチ信号ＳＷ２がＯＮである場合、Ｓ１２９に処理を進め、撮影処理が実行される。撮影処理Ｓ１２９の詳細については図５を用いて後述する。次にＳ１３５で記録処理が実行される。記録処理Ｓ１３５の詳細については図７を用いて後述する。そして図２のＳ１０３へ戻る。
【００２７】
図４のフローチャートを参照して、図３の測距・測光処理Ｓ１２２を詳細に説明する。システム制御部５０は、撮像素子１４から電荷信号を読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６を介して画像処理部２０に撮像画像データを逐次読み込む（Ｓ２０１）。逐次読み込まれた画像データを用いて、画像処理部２０はＴＴＬ方式のＡＥ処理、ＥＦ処理、ＡＦ処理に用いる所定の演算を行う。各処理では、撮像画像の全画素のうちの必要に応じた特定の部分の画素が抽出されて演算に用いられる。これにより各処理において、中央重点モード、平均モード、評価モード等の異なるモードごとに最適な演算を行うことが可能となる。
【００２８】
システム制御部５０は画像処理部２０の演算結果を用いて、露出が適正か否かを判断する（Ｓ２０２）。露出が適正である場合、システム制御部５０は測定データおよび設定パラメータ、あるいはその一方をメモリ３０に記憶し、Ｓ２０６に進む。露出が適正でない場合には、露光制御部４０によりＡＥ制御が行われる（Ｓ２０３）。システム制御部５０はＡＥ制御で得られた測定データを用いて、フラッシュ投光が必要であるか否かを判断する（Ｓ２０４）。フラッシュ投光が必要であると判断された場合、Ｓ２０５へ進み、不必要であれば、Ｓ２０１に戻る。Ｓ２０５でフラッシュフラグがセットされて、フラッシュ４８の充電動作が行われる。
【００２９】
Ｓ２０６でシステム制御部５０は、画像処理部２０の演算結果およびＡＥ制御で得られた測定データを用いて、撮像画像のホワイトバランスが適正か否かを判断する。ホワイトバランスが適正であると判断された場合、システム制御部５０は測定データおよび設定パラメータ、あるいはその一方をメモリ３０に記憶し、Ｓ２０８に進む。またホワイトバランスが適正でないと判断された場合には、Ｓ２０７に進む。Ｓ２０７にて画像処理部２０は、色処理のパラメータを調節してＡＷＢ制御を行う。そしてＳ２０１に処理を戻す。
【００３０】
Ｓ２０８にてシステム制御部５０は、ＡＥ制御およびＡＷＢ制御で得られた測定データを用いて、測距（ＡＦ）状態を判断する。被写体に焦点が合っている合焦状態でないと判断された場合、焦点調節制御部４２によりＡＦ制御が行われ（Ｓ２０９）、Ｓ２０１に戻る。合焦状態と判断された場合、システム制御部５０は測定データおよび設定パラメータ、あるいはその一方をメモリ３０に記憶する。測距・測光処理ルーチンを終了して、リターン処理に移行する。
【００３１】
図５のフローチャートを参照して、図３の撮影処理Ｓ１２９を詳細に説明する。
システム制御部５０は、図２のＳ１０３にてモードダイアル６０で選択されている撮影モードを判断する（Ｓ３００）。通常撮影モードが選択されている場合、通常撮影が行われる（Ｓ３０２）。通常撮影モードが選択されていない場合、Ｓ３０１へ進み、システム制御部５０はHDR撮影モードが選択されているか否かを判断する（Ｓ３０１）。Ｓ３０１でHDR撮影モードが選択されている場合、HDR撮影が行われる（Ｓ３０３）。一方、HDR撮影モードが選択されていない場合には、多重露光撮影が行われる（Ｓ３０４）。Ｓ３０２からＳ３０４の処理後に撮影処理ルーチンを終了してリターン処理へ移行する。
【００３２】
図６のフローチャートを参照して、図５の通常撮影Ｓ３０２を説明する。
システム制御部５０は、メモリ３０に記憶される測光データに従い、露光制御部４０によって、絞り機能を有するシャッタ１２を絞り値に応じて開放する（Ｓ３１１）。そして撮像素子１４の露光が開始する（Ｓ３１２）。システム制御部５０は、測光データに従って撮像素子１４の露光終了を待つ（Ｓ３１３）。露光終了後にシステム制御部５０は、シャッタ１２を閉じる（Ｓ３１４）。次にシステム制御部５０は、撮像素子１４から電荷信号を読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６が電荷信号をデジタル信号に変換する（Ｓ３１５）。次に欠陥画素の検出処理および補正処理が行われる（Ｓ３１６）。Ｓ３１６の処理の詳細に関しては後述する。
【００３３】
次にメモリ制御部２２を介して、メモリ３０に画像データが書き込まれる（Ｓ３１７）。その後、システム制御部５０は各モードに応じて現像処理を実行し（Ｓ３１８）、現像処理後の画像データをメモリ３０に書き込む。一連の処理を終えると、通常撮影が終了してリターン処理に移行する。
【００３４】
図７のフローチャートを参照して、図３の記録処理Ｓ１３５を詳細に説明する。
システム制御部５０は、メモリ制御部２２を用いて、メモリ３０に書き込まれた画像データを読み出し、設定モードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長部３２により行う（Ｓ４０２）。システム制御部５０はインタフェース部９０、コネクタ９２を介して、記録媒体２００へ圧縮処理した画像データを書き込む（Ｓ４０３）。記録媒体への書き込みが終わると、記録処理ルーチンを終了してリターン処理に移行する。
【００３５】
次に欠陥画素の検出および補正処理（図６のＳ３１６）に関して詳細に説明する。
まず、システム制御部５０は図６の処理Ｓ３１５で読み出されてデジタル信号に変換された画像信号に対して、１回目の欠陥画素検出を行う。システム制御部５０は欠陥画素検出条件として、対象となる注目画素に対して下記の演算を行う。
｜注目画素値−周辺画素値(平均値)  ｜＞閾値Ａ１      （１）
｜周辺画素MAX値−周辺画素MIN値｜＜閾値Ｂ１        （２）
第１の条件（１）では、システム制御部５０は注目画素値に対する複数の周辺画素値の平均値を算出し、平均値と注目画素値との差分絶対値が第１の閾値Ａ１より大きいか否かを判定する。また第２の条件（２）では、システム制御部５０は周辺画素の最大値と最小値との差分絶対値が第２の閾値Ｂ１より小さいか否かを判定する。システム制御部５０は条件（１）および（２）を満たす場合に注目画素を欠陥画素と判断する。
【００３６】
システム制御部５０はさらに下記の演算を行う。
｜注目画素値−周辺画素値(平均値)  ｜＝Ｃ１値          （３）
判定結果Ｄ１＝（  ２５６／（上限値Ｅ１−閾値Ａ１）  ）  ×  （Ｃ１値−閾値Ａ１）      （４）
Ｃ１値は、注目画素値と、周辺画素値の平均値との差分絶対値である。判定結果Ｄ１は、Ｃ１値と上限値Ｅ１および閾値Ａ１を用いて２５６分割した場合の値とする。つまり、Ｃ１値と閾値Ａ１との差分と、上限値Ｅ１と閾値Ａ１との差分との比率に２５６を乗算した値が判定結果Ｄ１である。例えば、システム制御部５０は、Ｃ１値が上限値Ｅ１に等しい場合、つまり判定結果Ｄ１が２５６となった場合に注目画素を１００％の欠陥画素と判断する。なお、Ｃ１値が上限値以上である場合にシステム制御部５０は注目画素を１００％の欠陥画素と判断する。また、Ｃ１値が閾値Ａ１以下である場合にシステム制御部５０は注目画素が欠陥画素でないと判断する。上限値Ｅ１、閾値Ａ１、閾値Ｂ１は撮影条件等によって任意に変更することが可能である。
【００３７】
１回目の欠陥画素検出において、注目画素が欠陥画素と判断された場合にシステム制御部５０は注目画素の補正値を決定する。システム制御部５０は注目画素を１００％の欠陥画素と判断した場合、注目画素値を考慮せずに周辺画素の平均値から１回目の補正値Ｆ１を生成する。またシステム制御部５０は注目画素を１００％の欠陥画素と判断しなかった場合、注目画素とその周辺画素の平均値から１回目の補正値Ｆ１を生成する。
【００３８】
次にシステム制御部５０は再度、補正値Ｆ１に対して、１回目と同様に欠陥画素検出を行う。このとき、システム制御部５０は閾値Ａ２、閾値Ｂ２、上限値Ｅ２を設定する。２回目の欠陥画素検出で使用する閾値Ａ２、閾値Ｂ２、上限値Ｅ２は、１回目の閾値Ａ１、閾値Ｂ１、上限値Ｅ１とは異なる。その理由は、１回目の欠陥画素補正によってある程度の補正が行われているからである。２回目には検出条件を変更して１回目よりも欠陥画素が検出されやすい閾値が設定される。
【００３９】
システム制御部５０は２回目の検出でも注目画素を欠陥画素と判断した場合、補正値Ｆ１をその閾値Ｇと比較する。補正値Ｆ１が閾値Ｇよりも大きい場合にシステム制御部５０は注目画素を欠陥画素と判断する。この場合、過度の補正を防ぐ目的で、さらに条件が追加される。
【００４０】
注目画素が１回目の欠陥画素検出で欠陥画素と判断され、さらに２回目の欠陥画素検出でも欠陥画素と判断された場合には、システム制御部５０は注目画素とその周辺画素の最大値と最小値を除外した値から補正値Ｆ２を生成する。その理由は、２回の欠陥画素検出ともに欠陥画素と判断されるのは、１回目の欠陥画素の補正値Ｆ１が適切でないと判断されたからである。よって、２回目の補正値Ｆ２については、１回目よりも元の信号値の影響を少なくすることで適切な補正値が生成される。
【００４１】
また、撮影条件によっては２回目の欠陥画素検出および補正を行わない場合もある。これは撮影条件によって欠陥画素の発生の仕方が異なり、過剰な補正処理が行われるのを防ぐためである。２回目の欠陥画素検出および補正を行わないことを決定するための条件を以下に例示する。
・撮影時間が所定の閾値時間以上であること。
・撮像素子のＩＳＯ感度が所定の閾値感度以上であること。
・周囲温度が所定の閾値温度以上であること。
システム制御部５０は、例えば撮影時間、ＩＳＯ感度、または周囲温度が閾値未満である場合に、２回目の欠陥画素検出および補正を行うと判断する。
【００４２】
次に図８を参照して、具体例を説明する。図８は上記の欠陥画素の検出と補正処理を行った場合の一例を示す。図８（Ａ）は図６の処理Ｓ３１５でデジタル信号に変換された信号値を例示する。つまり、元画像の信号値を５行５列の範囲で示しており、中央位置を注目画素の位置とする。Ｒ、Ｇ、Ｂはそれぞれ赤色、緑色、青色を表し、Ｒ画素の信号値を数値で表示している。
【００４３】
元画像に対して１回目の欠陥画素検出が行われる。この場合、注目画素の右側に欠陥画素らしき画素（信号値３０００）が存在する。このため、注目画素が欠陥画素であると判断され難く、１００％の欠陥画素と判断されない。１回目の欠陥画素検出と補正処理が実行された後では、図８（Ｂ）に示す状態となる。図８（Ｂ）は、注目画素の信号値が１回目の画素欠陥補正で補正された状態を示す。
【００４４】
次に２回目の欠陥画素検出が行われる。その際には１回目と異なる閾値を用いて検出処理が実行され、システム制御部５０は注目画素が欠陥画素であるかどうかを判断する。このときシステム制御部５０は、注目画素を欠陥画素と判断した場合に１００％の欠陥画素として扱う。システム制御部５０は注目画素と周辺画素の最大値と最小値を除外して補正値を生成し、図８（Ｃ）に示す状態となる。図８（Ｃ）は、注目画素の信号値が２回目の画素欠陥補正で適正に補正された状態を示す。
【００４５】
本実施形態では、１回目と２回目の欠陥画素検出と補正の条件を変更し、２回目の欠陥画素補正時に元画像の信号値の影響を低減させることで、１回目で適切に補正されなかった欠陥画素値が２回目で適切に補正される。よって、欠陥画素の補正の精度を向上させることができる。
【符号の説明】
【００４６】
１４  撮像素子
２０  画像処理部
５０  システム制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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