(57)【要約】【課題】サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことが可能なＸ線分析方法、そのＸ線分析に用いられる保持材およびＸ線分析用セルを提供する。【解決手段】Ｘ線分析方法は、サンプル１０の保持材２０として六方晶窒化ホウ素材を用いて、六方晶窒化ホウ素材およびサンプル１０にＸ線を通過させる。六方晶窒化ホウ素材は、Ｘ線分析においてサンプル１０の保持材２０として用いられる。Ｘ線分析用セル１は、保持材２０である六方晶窒化ホウ素材によりサンプル１０のＸ線が通過する面を保持する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプルの保持材として六方晶窒化ホウ素材を用いて、前記六方晶窒化ホウ素材および前記サンプルにＸ線を通過させるＸ線分析方法。
【請求項２】
前記六方晶窒化ホウ素材により前記サンプルのＸ線が通過する厚さを一定かつ均一に保持する請求項１に記載のＸ線分析方法。
【請求項３】
前記六方晶窒化ホウ素材により前記サンプルのＸ線が通過する面の面積を１ｃｍ2以上に保持する請求項１または請求項２に記載のＸ線分析方法。
【請求項４】
前記サンプルをその場測定によりＸ線分析する請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のＸ線分析方法。
【請求項５】
前記サンプルは電子部品であり、前記電子部品が電気的に動作している状態で前記電子部品をＸ線分析する請求項４に記載のＸ線分析方法。
【請求項６】
Ｘ線分析においてサンプルの保持材として用いられる六方晶窒化ホウ素材。
【請求項７】
請求項６に記載の六方晶窒化ホウ素材により前記サンプルのＸ線が通過する面を保持するＸ線分析用セル。
【請求項８】
前記六方晶窒化ホウ素材の（０００１）面が前記サンプルのＸ線が通過する面に平行になるように前記六方晶窒化ホウ素材が配置されている請求項７に記載のＸ線分析用セル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サンプルの保持材として六方晶窒化ホウ素材を用いるＸ線分析方法、Ｘ線分析に用いられる六方晶窒化ホウ素材、および六方晶窒化ホウ素材を用いてサンプルを保持するＸ線分析用セルに関する。
【背景技術】
【０００２】
電池、キャパシタなどの電子部品においては、電子部品が電気的に動作している状態における電子部品の特性を評価するために、その電子部品が電気的に動作している状態（いわゆる「その場（ｉｎ  ｓｉｔｕ）」）でその電子部品のＸ線分析を行なうこと（いわゆる「その場（ｉｎ  ｓｉｔｕ）測定」）が極めて有効である。
【０００３】
たとえば、電池のその場測定のＸ線分析においては、従来、Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ｔｈｅ  Ｅｌｅｃｔｒｏｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｓｏｃｉｅｔｙ，１５７（５），（２０１０）  Ａ６０６−Ａ６１０（非特許文献１）が開示するように、Ｘ線透過窓材としてベリリウムを用いたその場測定用の電池を用いるのが一般的であった。しかしながら、最近は、実際に用いられるラミネート型電池を用いてその場測定を行なうことが要望されている。
【０００４】
一方、触媒反応のその場測定のＸ線吸収微細構造分析において、特開２００６−１６２５０６号公報（特許文献１）は、高温高圧に耐え得るＸ線透過窓として立方晶窒化ホウ素を主成分とする材料またはポリベンズイミダゾールからなる材料を用いることを開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−１６２５０６号公報
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ｔｈｅ  Ｅｌｅｃｔｒｏｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｓｏｃｉｅｔｙ，１５７（５），（２０１０）  Ａ６０６−Ａ６１０
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ラミネート型電池を用いてその場測定を正確に行なうためには、ラミネート型電池の両端を何らかの保持材で保持することにより、ラミネート型電極の正極と負極との距離を一定かつ均一にする必要がある。このような、保持材として、従来は、ベリリウム材またはダイヤモンド材が用いられてきた。しかしながら、ベリリウム材は毒性が強いため扱いにくいという問題があった。また、ダイヤモンド材は極めて高価なためコストが高いという問題があった。
【０００８】
また、特開２００６−１６２５０６号公報（特許文献１）に開示される立方晶窒化ホウ素を主成分とする材料は、高圧プロセスで合成する必要があるため、高価であり、また、大面積の確保が難しいという問題があった。また、ポリベンズイミダゾールからなる材料は、非結晶物質であるため、六方晶窒化ホウ素および立方晶窒化ホウ素などの結晶体材料特有の特定の角度の回折ピークが発現するのではなく、測定している角度全域に強いバックグラウンド（特に、低角側で強いバックグラウンド）が発現するため、測定の対象となる物質の回折ピークがバックグランドに埋もれてしまうという問題があった。
【０００９】
そこで、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことが可能なＸ線分析方法、そのＸ線分析において保持材として用いられる六方晶窒化ホウ素材およびＸ線分析用セルを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明のある態様にかかるＸ線分析方法は、サンプルの保持材として六方晶窒化ホウ素材を用いて、六方晶窒化ホウ素材およびサンプルにＸ線を通過させる。
【００１１】
本発明の別の態様にかかる六方晶窒化ホウ素材は、Ｘ線分析においてサンプルの保持材として用いられる。
【００１２】
本発明のさらに別の態様にかかるＸ線分析用セルは、上記態様の六方晶窒化ホウ素材によりサンプルのＸ線が通過する面を保持するものである。
【発明の効果】
【００１３】
上記によれば、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことが可能なＸ線分析方法、そのＸ線分析において保持材として用いられる六方晶窒化ホウ素材およびＸ線分析用セルを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明のある態様にかかるＸ線分析方法の一例を示す概略断面図である。
【図２】厚さ１ｍｍの六方晶窒化ホウ素材およびベリリウム材のＸ線透過率を示すグラフである。
【図３】正極活物質、六方晶窒化ホウ素材およびベリリウム材のＸ線回折プロファイルを示す概略図である。
【図４】サンプルの一例を示す断面概略図である。
【図５】ラミネート型電池のみ、あるいは、ラミネート型電池および六方晶窒化ホウ素材をその場測定におけるＸ線分析において得られるＸ線回折プロファイルの一例を示す図である。
【図６】ラミネート型電池のみ、あるいは、ラミネート型電池および六方晶窒化ホウ素材をその場測定におけるＸ線分析において得られるＸ線回折プロファイルの一例の一部を拡大して示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
[本発明の実施形態の説明]
本発明のある実施形態にかかるＸ線分析方法は、サンプルの保持材として六方晶窒化ホウ素材を用いて、六方晶窒化ホウ素材およびサンプルにＸ線を通過させる。本実施形態のＸ線分析方法は、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。ここで、窒化ホウ素材は、原子量の小さなホウ素および窒素で形成されているためＸ線の透過率が高く、また、結晶の対称性が高いために、そのＸ線回折ピークが少なく、Ｘ線分析の対象とする物質のＸ線回折ピークとの重なりが少ないという特徴を有する。窒化ホウ素材の中でも、六方晶窒化ホウ素材は、たとえば立方晶窒化ホウ素材に比べて、安価なため低コストであり、また、大面積の確保が容易であるという特徴を有する点で、好適である。
【００１６】
本実施形態のＸ線分析方法において、六方晶窒化ホウ素材によりサンプルのＸ線が通過する厚さを一定かつ均一に保持することができる。かかるＸ線分析方法は、サンプルのその場測定を安全で低コストでより正確に行なうことができる。
【００１７】
本実施形態のＸ線分析方法において、六方晶窒化ホウ素材によりサンプルのＸ線が通過する面の面積を１ｃｍ2以上に保持することができる。かかるＸ線分析方法は、Ｘ線が通過する面の面積が大きいサンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００１８】
本実施形態のＸ線分析方法により、サンプルをその場測定によりＸ線分析することができる。
【００１９】
本実施形態のＸ線分析方法において、サンプルを電子部品として、電子部品が電気的に動作している状態で電子部品をＸ線分析することができる。本実施形態のＸ線分析方法は、サンプルである電子部品のその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００２０】
本発明の別の実施形態にかかる六方晶窒化ホウ素材は、Ｘ線分析においてサンプルの保持材として用いられる。本実施形態の六方晶窒化ホウ素材は、Ｘ線分析において、サンプルを保持して、六方晶窒化ホウ素材およびサンプルにＸ線を通過させることにより、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００２１】
本発明のさらに別の実施形態にかかるＸ線分析用セルは、六方晶窒化ホウ素材によりサンプルのＸ線が通過する面を保持する。本実施形態のＸ線分析用セルは、六方晶窒化ホウ素材によりサンプルのＸ線が通過する面を保持して、六方晶窒化ホウ素材およびサンプルにＸ線を通過させることにより、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００２２】
本実施形態のＸ線分析用セルにおいて、六方晶窒化ホウ素材の（０００１）面がサンプルのＸ線が通過する面に平行になるように六方晶窒化ホウ素材を配置することができる。かかるＸ線分析用セルは、六方晶窒化ホウ素材およびサンプルにＸ線を通過させることにより、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。また、（０００１）の面方位によって劈開が容易なために、汚れ・傷が入っても新しい面があれば使用できることから、長く使用することができる。
【００２３】
[本発明の実施形態の詳細]
＜実施形態１：Ｘ線分析方法＞
図１を参照して、実施形態１にかかるＸ線分析方法は、サンプル１０の保持材２０としてｈＢＮ（六方晶窒化ホウ素）材を用いて、ｈＢＮ材およびサンプル１０にＸ線を通過させる。本実施形態のＸ線分析方法は、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００２４】
本実施形態のＸ線分析方法とは、Ｘ線によりサンプルの物性および特性を分析する方法であれば特に制限はないが、有効な分析方法である観点から、ＸＲＤ（Ｘ線回折）法およびＸＡＦＳ（Ｘ線吸収微細構造）法などが好適に挙げられる。ここで、ＸＲＤ法とは、Ｘ線のエネルギーを固定し検出器を走査して、サンプルによる回折Ｘ線の角度依存性を測定する方法であり、サンプルの結晶構造の情報が得られる。ＸＡＦＳ法とは、Ｘ線のエネルギーを走査して、サンプルによるＸ線吸収を測定する方法であり、サンプルの電子状態および微細構造の情報が得られる。また、「その場（ｉｎ  ｓｉｔｕ）」とは、「本来の場所にて」という意味であり、その物が反応している状態や動作している本来の状態のままであることを意味する。たとえば、電子部品においては電気的に動作している状態、半導体プロセスの分野においては実際のプロセスが起こっている場所および時間など、を意味する。
【００２５】
本実施形態のＸ線分析方法において、サンプル１０の保持材２０としてｈＢＮ材を用いる。ここで、保持材２０とは、少なくともＸ線分析を行なう間は、サンプル１０を所定の一定形状に保持する材料であって、保持材２０にサンプル１０からの応力がかかっても保持材２０がその応力に耐えてサンプル１０を所定の一定形状に抑える抑え材としての機能を有することが好ましい。保持材２０としてＢｅ（ベリリウム）材を用いないのは、Ｂｅ材は毒性が高いため（特にＢｅが空気中の酸素などにより酸化されて形成されるベリリウム酸化物の毒性が特に高いため）である。また、保持材２０としてダイヤモンド材を用いないのは、ダイヤモンド材は極めて高価なためである。ここで、ｈＢＮ材は、Ｂｅ材のような毒性がなく安全であり、ダイヤモンド材のように高価でなく安価である。また、比較的自由な形状（たとえば主面が大面積の形状）に成形でき、高温にも安定である。
【００２６】
また、図２を参照して、Ｘ線の吸収率は原子量の大きい元素の方が高いため、Ｘ線の透過率はＢｅ材よりもｈＢＮ材の方が低い。ただし、ｈＢＮは、Ｂｅの原子番号に比べて、原子番号が１大きいだけの元素であるＢおよび原子番号が３大きいだけの元素であるＮの質量の小さい元素で形成される化合物であり、Ｘ線の吸収が少ない化合物の一種である。また、Ｘ線の光子エネルギーが低いときｈＢＮ材とＢｅ材とのＸ線の透過率の差が大きいが、Ｘ線の光子エネルギーが高いとき、たとえば１５０００ｅＶ以上のとき、ｈＢＮ材とＢｅ材とのＸ線の透過率の差が小さい。したがって、Ｘ線の光子エネルギーが１５０００ｅＶ以上の高エネルギー条件でＸ線分析を行なう場合には、サンプルの保持材として好適にＢｅ材に替えて好適にｈＢＮ材を用いることができる。かかる観点から、サンプルの保持材としてｈＢＮ材を用いるのは、使用するＸ線の光子エネルギーに制限がなく高エネルギー条件でＸ線分析できる方法であるＸＲＤ法がより好ましい。分析の対象とする元素に特有のエネルギー条件でＸ線分析する必要があるＸＡＦＳ法では、厚さ０．５ｍｍの保持材を２枚用いて（すなわち２枚の保持材の合計の厚さが１ｍｍで）、Ｘ線の光子エネルギーが８０００ｅＶ以上のエネルギー条件で測定できるＮｉ（ニッケル）およびＣｕ（銅）などの元素の分析が可能な程度である。
【００２７】
また、図３を参照して、本実施形態のＸ線分析方法において、サンプルの保持材としてｈＢＮ材を用いるためには、ｈＢＮ材のＸ線回折ピークが、サンプルの分析対象物のＸ線回折ピークと重ならないことが好ましい。たとえば、サンプルがラミネート電池であるナトリウムイオン電池またはリチウムイオン電池である場合には、正極活物質としてＮａＣｒＯ2またはＬｉＣｏＯ2が一般的に用いられる。図３から明らかなように、ｈＢＮ材のＸ線回折ピークは、ＮａＣｒＯ2のＸ線回折ピークおよびＬｉＣｏＯ2のＸ線回折ピークとほとんど重ならない。また、最近のリチウムイオン電池においては、ＬｉＣｏＯ2のＣｏの一部をＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、Ｍｇ、Ｆｅなどの元素で置き換えたＣｏ一部置換正極活物質も用いられている。これらのＣｏ一部置換正極活物質は、一部置換される元素の種類の違いによるＸ線回折ピークの位置のシフトが小さい。したがって、ｈＢＮ材のＸ線回折ピークは、実用的にナトリウムイオン電池またはリチウムイオン電池に用いられる正極活物質のＸ線回折ピークとの重複が極めて少ない。このため、サンプルがラミネート電池であるナトリウムイオン電池またはリチウムイオン電池の正極活物質のＸ線分析方法、特にＸＲＤ法において、サンプルの保持材はｈＢＮ材が適している。なお、図３において、ＰＤＦとは、国際的なＸ線回折プロファイルのデータベースであるＰｏｗｄｅｒ  Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ  Ｆｉｌｅを意味する。
【００２８】
図１に示すように、本実施形態のＸ線分析方法において、ｈＢＮ材によりサンプル１０のＸ線が通過する厚さｔを一定かつ均一に保持することが好ましい。かかるＸ線分析方法は、ｈＢＮ材によりサンプル１０のＸ線が通過する厚さｔを一定かつ均一に保持できるため、サンプルのその場測定を安全に低コストでより正確に行なうことができる。
【００２９】
図１に示すように、本実施形態のＸ線分析方法において、ｈＢＮ材によりサンプル１０のＸ線が通過する面の面積Ｓを、１ｃｍ2以上に保持することが好ましく、１０ｃｍ2以上に保持することがより好ましい。かかるＸ線分析方法は、ｈＢＮ材によりサンプル１０のＸ線が通過する面の面積Ｓを１ｃｍ2以上に保持できるため、Ｘ線が通過する面の面積Ｓが大きいサンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００３０】
上記のように、本実施形態のＸ線分析方法により、サンプルをその場測定によりＸ線分析することができる。
【００３１】
本実施形態のＸ線分析方法において、サンプル１０を電子部品として、電子部品が電気的に動作している状態で電子部品をＸ線分析することが好ましい。本実施形態のＸ線分析方法は、サンプル１０である電子部品のその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００３２】
図４を参照して、サンプル１０は、特に制限はないが、たとえば、電子部品の一例であるラミネート型電池の場合、外装であるアルミニウムラミネートフィルム１６内に封入された電解液１５中に正極１０ｃおよび負極１０ａがそれらの間にセパレータ１４を介在させて配置されている。正極１０ｃは、正極端子１１ｃ、正極側集電体１２ｃおよび正極合剤１３ｃを含む。正極合剤１３ｃは、正極活物質、導電助剤およびバインダーを含む。負極１０ａは、負極端子１１ａ、負極側集電体１２ａおよび負極合剤１３ａを含む。負極合剤１３ａは、負極活物質、導電助剤およびバインダーを含む。電子部品がラミネート型電池の場合、電子部品が電気的に動作している状態とは、ラミネート型電池が充放電している状態を意味する。
【００３３】
＜実施形態２：六方晶窒化ホウ素材＞
図１を参照して、実施形態２にかかるｈＢＮ（六方晶窒化ホウ素）材は、実施形態１に記載のＸ線分析においてサンプル１０の保持材２０として用いられる。本実施形態のｈＢＮ材は、Ｘ線分析において、サンプル１０を保持して、ｈＢＮ材およびサンプル１０にＸ線を通過させることにより、サンプルのその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００３４】
ｈＢＮ材中の不純物の含有量に関しては、ｈＢＮ材を実施形態１のＸ線分析方法におけるサンプル１０の保持材２０として好適に用いる観点から、サンプルの分析対象物質のＸ線分析における測定対象のピークまたはシグナルのうち最大ピークまたは最大シグナルの強度に対するｈＢＮ材中の各不純物のＸ線分析における測定対象のピークまたはシグナルのうち最大ピークまたは最大シグナルの強度の百分率は、５％以下が好ましく、１％以下がより好ましい。ここで、ｈＢＮ材中の不純物としては、Ａｌ（アルミニウム）、Ｚｎ（亜鉛）などが挙げられる。
【００３５】
＜実施形態３：Ｘ線分析用セル＞
図１を参照して、実施形態３にかかるＸ線分析用セル１は、保持材２０であるｈＢＮ（六方晶窒化ホウ素）材によりサンプル１０のＸ線が通過する面を保持する。本実施形態のＸ線分析用セル１は、ｈＢＮ材によりサンプル１０のＸ線が通過する面を保持して、ｈＢＮ材およびサンプル１０にＸ線を通過させることにより、サンプル１０のその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができる。
【００３６】
本実施形態のＸ線分析用セル１において、保持材２０であるｈＢＮ材の（０００１）面がサンプル１０のＸ線が通過する面に平行になるようにｈＢＮ材を配置することが好ましい。かかるＸ線分析用セルは、ｈＢＮ材およびサンプル１０にＸ線を通過させることにより、サンプル１０のその場測定を安全で低コストで正確に行なうことができるとともに、（０００１）の面方位によって劈開が容易なために、（０００１）面に汚れ・傷が入っても、劈開により新しい（０００１）面を表面に出すことができることから、長く使用することができる。
【実施例】
【００３７】
（実施例１）
図１および図４を参照して、サンプル１０として、厚さ０．１ｍｍのアルミニウムラミネートフィルム１６内に封入された１ｃｍ3の電解液１５中に、３５ｍｍ×５５ｍｍ×厚さ０．０５ｍｍの正極合剤１３ｃを含む正極１０ｃ、４３ｍｍ×５３ｍｍ×厚さ２５μｍのセパレータ、および３７ｍｍ×５７ｍｍ×厚さ０．０５ｍｍの負極合剤１３ａを含む負極１０ａがこの順に配置されたラミネート型ナトリウムイオン電池を準備した。ここで、正極合剤１３ｃに含まれる正極活物質はＮａＣｒＯ2であり、負極合剤１３ａに含まれる負極活物質はハードカーボン（難黒鉛化性炭素）であった。また、電解液１５は、三菱マテリアル電子化成社製ＮａＦＳＡと関東化学社製Ｃ1Ｃ3ｐｙｒＦＳＡとを８０モル％と２０モル％の比率で混合したＮａＦＳＡ−Ｃ1Ｃ3ｐｙｒＦＳＡを用いた。ここで、ＦＳＡとはビス（フルオロスルホニル）アミドを意味し、Ｃ1Ｃ3ｐｙｒとはＮ−メチル−Ｎ−プロピルピロリジニウムを意味する。保持材２０として、５０ｍｍ×７０ｍｍ×厚さ２ｍｍのｈＢＮ材（信越化学社製熱分解窒化ホウ素）を２つ準備した。
【００３８】
次に、上記２つのｈＢＮ材で上記のラミネート型ナトリウムイオン電池の両側の主面を抑えることにより、ラミネート型ナトリウムイオン電池の厚さを１ｍｍに均一に保持した。
【００３９】
次に、ラミネート型ナトリウムイオン電池を、電池作製後、１０時間で満充電となる電流値で電圧が３．３Ｖになるまで充電した後、同様の電流値で電圧が２．０Ｖになるまで放電した状態において、大型放射光施設であるＳＰｒｉｎｇ−８  ＢＬ１６Ｂ２を用いて、光子エネルギーが１５０００ｅＶのＸ線を用いて、ＸＲＤを行なった。得られたＸ線回折プロファイルを図５に示し、図５の一部を拡大したＸ線回折プロファイルを図６に示した。図５および図６における回折角２θの角度表示は、Ｘ線源がＣｕＫα線のときの２θに変換したものである。
【００４０】
図５を参照して、分析対象物質であるＮａＣｒＯ2による２θが４１°、４１．５°および４２°の３つのＸ線回折ピークは、ｈＢＮ材による２θが４１．５−４２°のブロードで大きな１つのＸ線回折ピークと重なったので、Ｘ線分析には用いなかった。なお、２θが３８．５°および４４．５°の２つのＸ線回折ピークは、アルミニウムラミネートフィルムに含まれるＡｌ（アルミニウム）によるＸ線回折ピークであった。
【００４１】
図６を参照して、２θが３２°から３８°までのＮａＣｒＯ2によるＸ線回折ピークについて、２θが３３．５°、３５．０°、および３６．５°のＸ線回折ピークは、ＮａＣｒＯ2−Ｏ３相の（００６）面、（１０１）面、および（１０２）面の回折にそれぞれ由来するものであった。また、２θが３２．５°、３５．５°、３６．０°、および３７．５°のＸ線回折ピークは、ＮａＣｒＯ2−Ｏ'３相の（００２）面、（２０−１）面、（１１０）面、および（１０２）面の回折にそれぞれ由来するものであった。ここで、ＮａＣｒＯ2−Ｏ３相は、ラミネート型ナトリウムイオン電池が完全に放電されたときに形成される還元相である。また、ＮａＣｒＯ2−Ｏ'３相は、ラミネート型ナトリウムイオン電池が充電されたときに形成される酸化相の１つの相である。このように、サンプルの保持材としてｈＢＮ材を用いて、サンプルをその場測定により安全に低コストで正確にＸ線分析できることが分かった。
【００４２】
今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００４３】
１  Ｘ線分析用セル
１０  サンプル
１０ａ  負極
１０ｃ  正極
１１ａ  負極端子
１１ｃ  正極端子
１２ａ  負極側集電体
１２ｃ  正極側集電体
１３ａ  負極合剤
１３ｃ  正極合剤
１４  セパレータ
１５  電解液
１６  アルミニウムラミネートフィルム
２０  保持材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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