(57)【要約】【課題】レゾナントスキャナを良好に動作させること。【解決手段】撮影装置１は、光源１１からの光を眼底に照射すると共に、照射された光の眼底反射光を受光素子５６で受光する眼底撮影光学系１００を有し、受光素子５６からの受光信号に基づいて眼底画像を生成する。また、撮影装置１は、駆動回路２５ａを有し、光源１１からの光を駆動回路２５ａへ入力される交流の駆動信号に基づいて被検眼の眼底上で往復走査させる走査部（レゾナントスキャナ）２５と、走査部２５の動きに応じた正弦波信号が入力され、入力される正弦波信号の振幅を波形を歪ませずに増幅することにより、駆動信号を正弦波で生成するフィードバック回路２５ｃと、を有する。【選択図】  図３
2017012579.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を被検眼の眼底に照射すると共に、前記光の眼底反射光を受光素子で受光する撮影光学系を有し、前記受光素子からの受光信号に基づいて被検眼の眼底画像を生成する眼底撮影装置であって、
駆動回路を有し、前記光源からの光を駆動回路へ入力される交流の駆動信号に基づいて被検眼の眼底上で往復走査させるレゾナントスキャナと、
前記レゾナントスキャナの動きに応じた正弦波信号が入力され、入力される前記正弦波信号の振幅を波形を歪ませずに増幅することにより、前記駆動信号を正弦波で生成するフィードバック回路と、を有する眼底撮影装置。
【請求項２】
前記フィードバック回路は、
前記レゾナントスキャナの振り角を示す前記正弦波信号の振幅の大きさを目標値へ近づけるように、前記振幅の増幅率を調整するためのゲイン調整手段と、
前記正弦波信号の振幅を、前記ゲイン調整手段によって調整された増幅率で波形を歪ませずに増幅するアンプ部と、を含む眼底撮影装置。
【請求項３】
前記アンプ部は、入力信号の波形を歪ませないトランスコンダクタアンプを含む請求項２記載の眼底撮影装置。
【請求項４】
前記ゲイン調整手段は、前記正弦波信号の振幅によって示される振り角と、前記目標値との差に応じた増幅率を、前記アンプ部における増幅率として設定する請求項２又は３記載の眼底撮影装置。
【請求項５】
前記ゲイン調整手段における振り角の前記目標値を、前記正弦波信号の振幅によって示される振り角、または、前記ゲイン調整手段において設定される増幅率、或いは、その両方に応じて制御する目標値制御手段を有する請求項２から４の何れかに記載の眼底撮影装置。
【請求項６】
前記正弦波信号の振幅によって示される振り角、前記ゲイン調整手段において設定される増幅率、或いは、その両方に応じて前記光源から出射される光量を制御する光量制御手段を有する請求項２から５の何れかに記載の眼底撮影装置。
【請求項７】
前記被検眼で発生する収差を測定し、測定された収差を前記受光素子の受光結果に対して補償する波面補償手段を備える請求項１から６の何れかに記載の眼底撮影装置。
【請求項８】
駆動回路へ入力される交流の駆動信号に基づいて光源からの光を被検体の組織上で往復走査させるレゾナントスキャナを制御するためのレゾナントスキャナ用制御回路であって、
前記レゾナントスキャナの駆動速度を検出し、前記検出される駆動速度に応じた正弦波信号を出力する速度センサと、
前記速度センサからの正弦波信号を増幅することによって、前記駆動回路へ入力する駆動信号を生成するアンプ部と、
前記速度センサからの正弦波信号に応じた前記レゾナントスキャナの振り角を目標値へ近づけるように前記アンプ部における振幅の増幅率を調整するためのゲイン調整手段と、を備え、
前記アンプ部は、前記正弦波信号の振幅を、前記ゲイン調整手段によって調整された増幅率で波形を歪ませずに増幅することにより、前記駆動信号を生成するレゾナントスキャナ用制御回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、眼底撮影装置およびレゾナントスキャナ用制御回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、被検体の組織上で光を走査する眼底撮影装置が知られている。この種の装置では、振動子を持つ駆動部の駆動で偏向されるレゾナントスキャナが、光の走査に使用される場合がある。
【０００３】
この種の装置では、レゾナントスキャナの振り角を検出すると共に、検出した振り角に基づき、レゾナントスキャナを駆動制御することで、所望の振り角で走査を実現するフィードバック制御が提案されている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−０２８０１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のようなフィードバック制御では、例えば、動作開始時点、動作条件（振り角、および走査速度のいずれか）の切替時点等において、レゾナントスキャナの動作が一旦不安定な状態となって、それから動作が安定するまでに時間がかかってしまう場合がある。
【０００６】
本開示は、従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、レゾナントスキャナが良好に動作する眼底撮影装置およびレゾナントスキャナ用制御回路を提供することを技術課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の第１態様に係る眼底撮影装置は、光源からの光を被検眼の眼底に照射すると共に、前記光の眼底反射光を受光素子で受光する撮影光学系を有し、前記受光素子からの受光信号に基づいて被検眼の眼底画像を生成する眼底撮影装置であって、駆動回路を有し、前記光源からの光を駆動回路へ入力される交流の駆動信号に基づいて被検眼の眼底上で往復走査させるレゾナントスキャナと、  前記レゾナントスキャナの動きに応じた正弦波信号が入力され、入力される前記正弦波信号の振幅を波形を歪ませずに増幅することにより、前記駆動信号を正弦波で生成するフィードバック回路と、を有する。
【０００８】
また、本開示の第２態様に係るレゾナントスキャナ用制御回路は、駆動回路へ入力される交流の駆動信号に基づいて光源からの光を被検体の組織上で往復走査させるレゾナントスキャナを制御するためのレゾナントスキャナ用制御回路であって、前記レゾナントスキャナの駆動速度を検出し、前記検出される駆動速度に応じた正弦波信号を出力する速度センサと、前記速度センサからの正弦波信号を増幅することによって、前記駆動回路へ入力する駆動信号を生成するアンプ部と、前記速度センサからの正弦波信号に応じた前記レゾナントスキャナの振り角を目標値へ近づけるように前記アンプ部における振幅の増幅率を調整するためのゲイン調整手段と、を備え、前記アンプ部は、前記正弦波信号の振幅を、前記ゲイン調整手段によって調整された増幅率で波形を歪ませずに増幅することにより、前記駆動信号を生成する。
【発明の効果】
【０００９】
本開示によれば、レゾナントスキャナを良好に動作させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施形態の撮影装置の光学系を示した模式図である。
【図２】撮影装置の電気的構成を示したブロック図である。
【図３】走査部（レゾナントスキャナ）に関する詳細な電気的構成を示したブロック図である。
【図４】走査部（レゾナントスキャナ）に関する電気的構成の変形例を示したブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して、本開示の典型的な実施形態を説明する。以下の実施形態では、本開示の一態様に係る眼科用撮影装置１（以下、撮影装置１と省略する）を例示して説明を行う。詳細は後述するが、撮影装置１は、レゾナントスキャナと、レゾナントスキャナを制御するための制御回路とを、備える。撮影装置１は、被検体の組織上（本実施形態では被検眼の眼底上）で光源からの光をレゾナントスキャナで往復走査し、被検体からの反射光を受光素子で受光した結果として、被検体の画像を得る装置である。つまり、撮影装置１は、いわゆる走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ）であってもよい。以下の説明では、ＳＬＯの中でも、波面収差補償付の装置（ＡＯ−ＳＬＯ）を、撮影装置１として例示し、その説明を行う。ＡＯ−ＳＬＯは、光源からの光を被検眼の眼底に照射すると共に前記光の眼底反射光を受光素子で受光し、被検眼で発生する収差を測定し、測定された収差を前記受光素子の受光結果に対して補償することで被検眼の眼底画像を生成する。
【００１２】
＜光学系の概略説明＞
初めに、図１を参照して、撮影装置１の光学系について説明する。本実施形態の撮影装置１は、眼底撮影光学系１００と、波面収差検出光学系（以下、収差検出光学系と記載する。）１１０と、収差補償ユニット２０，７２と、第２撮影ユニット２００と、前眼部観察ユニット７００と、を備える。
【００１３】
眼底撮影光学系１００は、被検眼Ｅの眼底を、高解像度（高分解能）・高倍率で撮影する。眼底撮影光学系１００は、照明光学系１００ａ（照射光学系）と、受光光学系１００ｂと、を備える。また、本実施形態において、収差補償ユニット２０，７２は、被検眼Ｅの収差を補正するために眼底撮影光学系１００に配置される。
【００１４】
照明光学系１００ａは、照明光学系１００ａは、光源からの光を被検眼Ｅにレーザー光を照射すると共に、光源からのレーザー光を、走査手段によって眼底上で２次元的に走査する。詳細は後述するが、走査手段には、レゾナントスキャナが含まれている。
【００１５】
照明光学系１００ａは、光源からの光を被検眼Ｅにレーザー光を照射すると共に、少なくともレーザー光を眼底上で走査することによって、眼底を２次元的に照明する。
照明光学系１００ａは、光源１１（第１光源）から眼底に到るまでの光路において、光源１１、レンズ１２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１４、ビームスプリッタ（ＢＳ）７１、凹面ミラー１６、凹面ミラー１７、平面ミラー１８、収差補償ユニット７２（波面補償デバイス７２）、ビームスプリッタ（ＢＳ）７５、凹面ミラー２１、凹面ミラー２２、走査部２５、凹面ミラー２６、凹面ミラー２７、平面ミラー３１、レンズ３２、平面ミラー３３、収差補償ユニット２０（視度補正部２０）、平面ミラー３５、凹面ミラー３６、偏向部４００、ダイクロイックミラー９０、凹面ミラー４１、平面ミラー４２、平面ミラー４３、および、凹面ミラー４５、を有する。
【００１６】
光源１１は、レーザー光を出射する。光源１１から出射されたレーザー光は、レンズ１２により平行光とされた後、ＰＢＳ１４、ＢＳ７１、凹面ミラー１６，１７、平面ミラー１８を介して、波面補償デバイス７２に入射する。本実施形態において、レーザー光は、ＰＢＳ１４を通過することによって、Ｓ偏光成分のみの光束とされる。波面補償デバイス７２は、入射光の波面を制御することによって、被検眼Ｅの高次収差を補正する。波面補償デバイス７２の詳細構成については後述する。本実施形態において、レーザー光は、波面補償デバイス７２からＢＳ７５に導かれた後、凹面ミラー２１、凹面ミラー２２で反射され、走査部２５に向かう。
【００１７】
本実施形態において、走査部２５は、走査手段の１つとして備えるレゾナントスキャナである。走査部２５は、レーザー光を眼底上で２次元的に走査するために偏向部４００と共に使用される。走査部２５は、レーザー光の主走査（本実施形態では、Ｘ方向の走査）に使用される。走査部２５は、光源１１から発せられたレーザー光を周期的に変位するミラーで反射することによって、走査を行う。走査部（レゾナントスキャナ）２５に関するより詳細な構成については、図３を参照して後述する。
【００１８】
走査部２５を経た光は、凹面ミラー２６，２７、平面ミラー３１、レンズ３２、平面ミラー３３を介して、視度補正部２０へ入射される。
【００１９】
視度補正部２０は、視度補正を行うためのユニットである。視度補正部２０は、例えば、光学系の光路長を調節することによって、視度（つまり、被検眼Ｅの収差のデフォーカス成分）を補正する構成であってもよい。
【００２０】
視度補正部２０から平面ミラー３５へ導かれた照明光は、凹面ミラー３６に反射され、偏向部４００に向かう。
【００２１】
偏向部４００は、光源１１から出射されたレーザー光を眼底上で上下方向（Ｙ方向）に走査する。更に、偏向部４００は、眼底におけるレーザー光の走査範囲を移動させるためにも使用される。例えば、本実施形態において、偏向部４００は、レーザー光を偏向する方向が異なる２つの光スキャナ（具体例としては、ＸガルバノミラーおよびＹガルバノミラー）を有していてもよい。
【００２２】
偏向部４００を経た光は、ダイクロイックミラー９０、凹面ミラー４１、平面ミラー４２，４３、および凹面ミラー４５を経て、被検眼Ｅの瞳孔内に導かれる。このとき、レーザー光は、眼底の観察面上で集光する。眼底上では、前述したように、走査部２５および偏向部４００の動作によって、レーザー光が２次元的に走査される。
【００２３】
また、ダイクロイックミラー９０は、後述する第２撮影ユニット２００からの光束を透過させ、光源１１および後述する光源７６からの光束を反射させる特性を持つ。なお、光源１１および光源７６の出射端と被検眼Ｅの眼底とは共役とされている。このようにして、照明光学系１００ａが形成される。
【００２４】
次に、受光光学系１００ｂを説明する。受光光学系１００ｂは、眼底に照射されたレーザー光の反射光を受光素子５６によって受光する。撮影装置１は、第１眼底画像（細胞画像、ＡＯ−ＳＬＯ画像）を、受光素子５６からの信号に基づいて取得する。受光光学系１００ｂは、被検眼ＥからＢＳ７１までの光路を、照明光学系１００ａと共用する。また、受光光学系１００は、ＢＳ７１の反射側光路に配置された要素、即ち、平面ミラー５１、ＰＢＳ５２、レンズ５３、ピンホール板５４、レンズ５５、および、受光素子５６を有している。なお、本実施形態では、受光素子５６はＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）が用いられている。また、ピンホール板５４は、眼底と共役な位置に置かれる。
【００２５】
光源１１からのレーザー光の眼底反射光は、前述した照明光学系１００ａを逆に辿り、ＢＳ７１、平面ミラー５１のそれぞれで反射され、ＰＢＳ５２でＳ偏光の光だけ透過される。この透過光は、レンズ５３を介してピンホール板５４のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールで焦点を結んだ反射光は、レンズ５５を経て受光素子５６に受光される。なお、照明光の一部は角膜上で反射されるが、ピンホール板５４により大部分が除去される。よって、受光素子５６は、角膜反射の影響を抑えて、眼底からの反射光を受光できる。
【００２６】
受光素子５６の受光信号を画像処理部（例えば、制御部８００）が処理することによって、第１眼底画像が取得される。本実施形態において、１フレームの眼底画像は、走査部２５の主走査と、偏向部４００に設けられたＹ走査用のガルバノミラーの副走査によって形成される。なお、第１撮影ユニット１００で取得する眼底画像（眼底像）の画角が所定の角度となるように走査部２５および偏向部４００におけるミラーの振れ角（揺動角度）を定める。ここでは、眼底の所定の範囲を高倍率で観察、撮影する（ここでは、細胞レベルでの観察等をする）ために、１度〜５度程度の画角が得られるような振れ角であってもよい。
【００２７】
第２撮影ユニット２００は、第１撮影ユニット１００の画角よりも広画角の眼底画像（第２眼底画像）を取得するためのユニットである。
【００２８】
前眼部観察ユニット７００は、被検眼Ｅの前眼部を可視光で照明し、前眼部正面像を撮像するユニットである。前眼部観察ユニット７００で撮像された画像は、モニタ８５０に出力される。前眼部観察ユニット７００によって取得される前眼部画像は、撮影部５００と被検眼Ｅとのアライメントに利用される。
【００２９】
次に、収差検出光学系１１０について説明する。収差検出光学系１１０は、波面センサ７３を有する。また、収差検出光学系１１０は、被検眼Ｅの眼底に測定光を投光し、測定光の眼底反射光を、指標パターン像として波面センサ７３で受光（検出）する。本実施形態において、測定光は、光源７６から出射される。光源７６からの測定光は、レンズ７７，ＰＢＳ７８を経て、ＢＳ７５によって反射される。これにより、光源７６からの光は、照明光学系１００ａの光路に導かれる。そして、結果として、測定光は、照明光学系１００ａの光路を経て被検眼Ｅの眼底に集光される。
【００３０】
測定光は、眼底の集光位置（例えば、網膜表面）で反射される。測定光の眼底反射光は、照明光学系１００ａの光路（つまり、受光光学系１００ｂの光路）を、投光時とは逆に辿る。途中、測定光は、波面補償デバイス７２によって反射される。その後、測定光は、ＢＳ７１によって反射されることによって、照明光学系１００ａの光路を外れる。更にその後、測定光は、ダイクロイックミラー８６によって反射され、ＰＢＳ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２を経て、波面センサ７３へと導かれる。
【００３１】
波面センサ７３は、被検眼Ｅの波面収差を検出するために、収差測定用の測定光の眼底反射光を受光する。波面センサ７３としては、低次収差および高次収差を含む波面収差を検出できる素子（より詳細には、ハルトマンシャック検出器、および、光強度の変化を検出する波面曲率センサ等）等が利用されてもよい。波面センサ７３によって検出される被検眼Ｅの収差情報は、波面補償デバイス７２の制御に利用される。
【００３２】
波面補償デバイス７２は、眼底撮影光学系１００の光路中（本実施形態では、眼底撮影光学系１００と収差検出光学系１１０との共通光路中）に配置される。本実施形態において、波面補償デバイス７２の反射面は、被検眼Ｅの瞳と略共役となる位置に配置される。波面補償デバイス７２は、入射光の波面を制御して被検眼Ｅの波面収差を補償する。例えば、ＬＣＯＳ（Liquid Crystal On Silicon）、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems  更に、典型的には、その１形態であるデフォーマブルミラー）等が波面補償デバイス７２として使用されてもよい。
【００３３】
＜電気的構成の説明＞
次に、図６を参照して、本実施形態における撮影装置１の電気的構成を説明する。撮影装置１は、演算制御部８００（以下、制御部８００と省略する）を有している。制御部８００は、撮影装置１の装置全体の制御を行うプロセッサ（例えば、ＣＰＵ）である。本実施形態において、制御部８００には、記憶部８０１、操作部８０２、および、モニタ８５０、がバス等を介して電気的に接続される。また、御部８００には、光源１１、走査部２５、受光素子５６、波面補償デバイス７２、波面センサ７３、光源７６、偏向部４００，第２撮影ユニット２００、前眼部観察ユニット７００が電気的に接続される。
【００３４】
記憶部８０１は、各種の制御プログラムおよび固定データを格納する。また、記憶部８０１には、撮影装置１によって撮影された画像、一時データ等が記憶されてもよい。
【００３５】
制御部８００は、操作部８０２から出力される操作信号に基づいて、第１撮影ユニット１００等の上記の各部材を制御する。操作部８０２は、タッチパネルやマウスなどのポインティングデバイスであってもよいし、キーボード等であってもよい。
【００３６】
ここで、図３を参照して、走査部（レゾナントスキャナ）２５に関する電気的な構成をより詳細に説明する。図３に示すように、走査部２５は、ドライバ（駆動回路）２５ａと、センサ２５ｂと、フィードバック回路２５ｃと、をレゾナントスキャナ制御用回路として有する。走査部２５は、ミラーの走査速度（ミラーの駆動速度）に関する速度フィードバック信号により、ミラーの動きを制御する。速度フィードバック信号は、レゾナントスキャナの動きに応じた正弦波信号の一例である。本第１実施形態では、クローズドループ制御によって、ミラーの動きが制御される。
【００３７】
ドライバ２５ａは、交流信号が入力されることにより、その交流信号の周波数でミラーを往復駆動（つまり、振動）させる。ドライバ２５ａには、例えば、電磁気学的に発生させた力（例えば、ローレンツ力、磁気吸引力等）を、ミラーの回転軸に対して作用させると共に、その力を交流信号の周波数で変化させる回路が設けられている。これに対応して、ミラーの回転軸には、電磁気的な力を受けるために、例えば、コイル，および磁石等の何れかが設けられていてもよい。
【００３８】
センサ２５ｂは、実際のミラーの変位を検出し、速度フィードバック信号として出力する。速度フィードバック信号は、例えば、ミラーの回転速度に比例した電圧値を持つ信号である。典型的には、走査部２５のミラーの回転速度（および変位）は、正弦波で振動するため、速度フィードバック信号は、正弦波による交流信号として出力される。センサ２５ｂには、ミラーに対して非接触で検出を行うものであることが好ましい。例えば、電磁気学的なセンサであってもよいし、光学的なセンサであってもよいし、これら以外の検出方式であってもよい。具体例として、ミラーまたはその回転軸に、例えば磁石又はコイル等を設け、センサ２５ｂには、コイルを設けてもよい。この場合、ミラーの回転に起因して生じる磁界の変化に応じた信号が、センサ２５ｂ側のコイルにて発生する。センサ側のコイルで発生した信号の振動周期は、ミラーの振動周期と一致する。よって、このような信号を、速度フィードバック信号として取り出すようにしてもよい。
【００３９】
フィードバック回路２５ｃは、速度フィードバック信号を、走査部２５における振れ角に応じて増幅することによって、ドライバ２５ａへ供給する交流信号（つまり、ドライバ２５ａの駆動信号）を生成する。図３に示すフィードバック回路２５ｃは、大別すると、アンプ部５１０と、ゲイン調整部５２０と、を含む。アンプ部５１０は、センサ２５ｂからの速度フィードバック信号を増幅することによって、ドライバ２５ａへ供給する交流信号を生成する。ゲイン調整部５２０は、走査部２５（レゾナントスキャナ）におけるミラーの振り角を目標値へ近づけるようにアンプ部５１０における増幅率を調整する。そして、アンプ部５１０は、速度フィードバック信号を、ゲイン調整部５２０によって調整された増幅率にて波形を歪ませずに増幅する。その結果として、ドライバ２５ａへ供給される交流信号が正弦波で生成される。
【００４０】
ここで、「波形を歪ませずに増幅する」とは、換言すれば、正弦波のまま増幅を行うことである。この場合、アンプ部５１０は、許容される程度に小さな歪みを、増幅させる信号に生じさせてもよい。信号における歪みの程度は、例えば、歪み率（Distortion Factor）によって定量化される。例えば、アンプ部５１０は、増幅の結果として生成する交流信号の歪み率が、例えば、５％程度未満となる範囲で、増幅時に歪みを生じさせてもよい。アンプ部５１０は、生成する交流信号の歪み率を、１％未満とする回路であることがより好ましい。
【００４１】
一例として図３に示したフィードバック回路２５ｃでは、アンプ部５１０に、アンプ５１１（第１アンプ）、振幅制御アンプ５１２（第２アンプ）、およびパワーアンプ５１３（第３アンプ）の３つのアンプが含まれている。また、ゲイン調整部５２０には、整流回路５２１、ターゲット回路５２２、および、演算器５２３が含まれている。
【００４２】
センサ２５ｂからの速度フィードバック信号は、アンプ５１１と、整流回路５２１と、にそれぞれ入力される。アンプ５１１は、例えば、速度フィードバック信号に含まれるノイズを除去するフィルタを持つ。例えば、バンドパスフィルタ等のフィルタ回路がアンプ５１１に含まれていてもよい。また、アンプ５１１は、一定の増幅率にて、速度フィードバック信号の電圧値をリニアに（つまり、波形を歪ませないようにして）増幅してもよい。この場合、アンプ５１１の増幅率は、所期する振り角でミラーが動作するために、ドライバ２５ａへ供給されるべき交流信号の振幅と、その場合にセンサ２５ｂから出力されるべき速度フィードバック信号の振幅と、の比率に基づいて定めることができる。例えば、ドライバ２５ａへ供給されるべき交流信号の振幅がＡ（Ｖ）であり、速度フィードバック信号の振幅がＢ（Ｖ）である場合、増幅率は、アンプ５１１の増幅率は、Ａ／Ｂとして定められていてもよい。アンプ５１１からの出力は、振幅制御アンプ５１２に供給される。
【００４３】
振幅制御アンプ５１２は、交流信号の電圧を増幅するアンプである。振幅制御アンプ５１２は、電圧の増幅率が可変のアンプである。図３の例では、アンプ部５１０の中で、増幅率が可変のアンプは、振幅制御アンプ５１２のみである。このため、本実施形態ではアンプ部５１０全体における増幅率は、ゲイン調整部５２０が振幅制御アンプ５１２における電圧の増幅率を制御することで、調整されるようになっている。このような振幅制御アンプ５１２は、例えば、トランスコンダクタアンプであってもよい。但し、必ずしもこれに限られるものではなく、他の構成であってもよい。
【００４４】
一方、整流回路５２１は、交流信号である速度フィードバック信号を平滑化して、直流信号に変換する。平滑化された直流信号における電圧値は、ミラーの振れ角と比例する値となる。整流回路５２１から出力される直流信号は、演算器５２３へ入力される。このような整流回路５２１は、例えば、周知の整流回路と平滑化回路とを含む構成であってもよい。
【００４５】
本実施形態において、演算器５２３は、ターゲット信号と、整流回路５２１からの直流信号と、に基づいて、電圧の増幅率を設定するための信号をアンプ部５１０（より詳細には、振幅制御アンプ５１２）へ出力する。その結果として、アンプ部５１０における振幅の増幅率が設定される。図３の例において、演算器５２３に入力されるターゲット信号は、ターゲット回路５２２から出力される電圧値一定の直流電流である。ターゲット信号の電圧値は、目標とする振幅に応じた値である。演算器５２３は、例えば、ターゲット信号の電圧値（ａ（Ｖ））から、整流回路５２１からの直流電流の電圧値（ｂ（Ｖ））を減算した値（ａ−ｂ）を電圧値として持つ信号を、振幅制御アンプ５１２に出力する。図３の例において、振幅率制御アンプ５１２における増幅率の増減は、演算器５２３からの信号の電圧値と相関している。例えば、振幅制御アンプ５１２は、演算器５２３からの信号の電圧値が正の値である場合は、増幅率を増加させ、負の値である場合は、増幅率を減少させるものでもよい。なお、図３における演算器５２３は、減算回路であってもよい。このようにして、本実施形態では、整流回路５２１からの直流信号によって示される実際の振り角と、目標とする振り角に応じた増幅率との差に基づいて、増幅率が設定される。
【００４６】
振幅制御アンプ５１２は、演算器５２３によって設定された増幅率で、アンプ５１１からの信号の電圧を増幅する。その結果、電圧の振幅が目標とする振れ角に応じた大きさに近づけられる。電圧が増幅された信号は、パワーアンプ５１３へ入力される。
【００４７】
パワーアンプ５１３は、ドライバ２５ａに対して十分な電流を供給するために、振幅制御アンプ５１２からの信号の電流を増幅する。パワーアンプ５１３を介した信号は、ドライバ２５ａを駆動させる交流信号として、ドライバ２５ａに入力される。パワーアンプ５１３には、波形を歪ませないアンプが用いられうる。このようにして、図３の例では、速度フィードバック信号が、アンプ部５１０に設けられた３つのアンプ５１１，５１２，５１３を介して増幅される。これにより、速度フィードバック信号をその波形を歪ませずに増幅した信号であって、振れ角の目標値に応じた電圧の振幅を持つ信号が、ドライバ２５ａを駆動させるための交流信号として生成される。
ここで、仮に、ドライバ２５ａへ入力される交流信号が、速度フィードバック信号の波形を歪めて電圧の振幅が増幅された信号である場合は（典型的には、矩形波からなる交流信号である場合には）、周期の異なる複数の正弦波の重ね合わせた信号として考えられる。つまり、目標とする周波数以外の信号が含まれるので、例えば、正確な正弦波走査が難しくなりやすい。前述したように、ＡＯ−ＳＬＯにおいては、例えば、画角１度程度の画像を得ることが要求されるので、走査が不正確になりやすいことは、画質に影響を与えやすい。
また、この場合、走査部２５の動作開始時点（或いは、振り角の切り替え時点）において、走査部２５の動作が不安定になりやすく、動作が安定するまで（つまり、目標とする振り角および走査速度で安定して動作するまで）に時間がかかる。しかも、このとき、振り角のオーバーシュート、およびアンダーシュートが発生しやすい。特にアンダーシュートによって、ミラーの振り角が０に近い値となってしまうと、レーザー光が、一部の組織に集中してしまい、その組織に負荷を与えやすくなってしまう。
これに対し、本実施携帯では、アンプ部５１０は、正弦波信号である速度フィードバック信号の波形を歪ませずに、速度フィードバック信号を増幅させる。その結果として、ドライバ２５ａが、正弦波の交流信号に基づいて駆動される。よって、本実施形態では、正確な正弦波走査が行われやすい。また、オーバーシュート、アンダーシュートなどが発生しにくく、走査部２５の動作開始時点等において、走査部２５の動作が速やかに安定しやすい。これらの結果として、本実施形態では、ＡＯ−ＳＬＯ画像が良好に得られやすくなる。
【００４８】
＜変形例＞
以上、実施形態に基づき説明したが、本開示は、上記実施形態に限定されることなく、様々な変形が可能である。
【００４９】
例えば、図４に、図３に示した回路構成の変形例を示す。図４の例では、整流回路５２１から出力される直流信号（速度フィードバック信号に基づく実際の振り角を示す信号）が、演算器５２３のほかに、制御部８００に入力される。また、整流回路５２１からの直流信号とターゲット信号とによって演算器５２３で得られる信号（つまり、増幅率を設定するための信号）が、振幅制御アンプ５１２のほかに、制御部８００にも入力される。また、制御部８００が、ターゲット回路５２２から出力されるターゲット信号の値を制御することができる。このほかの回路構成は、図３の例と同様であり、説明を省略する。
【００５０】
例えば、図４の例において、制御部８００は、ターゲット信号の電圧値を変更することで、目標とする振り角を切換えることができる。
また、例えば、走査部２５の動作開始時、および振り角の切り替え時において、ターゲット信号の電圧に、目標とする振り角に応じた電圧値を設定するのではなく、段階的に、或いは連続的に、制御部８００がターゲット電圧を変化させることによって、走査部２５における動作の安定性を高めることができる。
【００５１】
特に、図４の例において、制御部８００は、整流回路５２１からの直流信号、または、演算器５２３で得られる信号、或いはその両方に基づいて、ターゲット信号の電圧（つまり、目標とする振り角）を、調整できる。例えば、演算器５２３で得られる信号の電圧が閾値よりも大きい場合は、ターゲット信号の電圧を低下させることによって、走査部２５が不安定に動作することを抑制するようにしてもよい。また、例えば、整流回路５２１からの直流信号が、実際の振り角が０に近い値を示している場合には、光源１１から出射されるレーザー光を抑制する（停止を含む）ことで、一部の組織にレーザー光が集中することを抑制してもよい。
【００５２】
また、上記実施形態では、フィードバック回路２５ｃが、速度フィードバク信号の振幅を波形を歪ませずに増幅することにより、レゾナントスキャナの駆動信号を正弦波で生成する場合について説明した。しかし、駆動信号の基となる信号（つまり、フィードバック回路２５ｃが増幅する信号）は、レゾナントスキャナの動きに応じた正弦波信号であればよく、速度フィードバック信号に限られるものではない。この場合、正弦波信号は、レゾナントスキャナの振動と同じ周波数と、振り角に応じた振幅を有する信号であってもよい。例えば、ミラーの変位に応じた電圧値を持つ変位フィードバック信号であってもよい。この場合、走査部２５には、速度センサ２５ｂに替えて、変位センサが設けられてもよい。
【００５３】
また、上記実施形態では、撮影装置１の光学系に設けられた波面センサ７３を用いて被検眼Ｅの波面収差を測定する場合について説明した。しかし、撮影装置１は、被検眼Ｅの波面収差を眼底からの反射光に基づいて測定する構成を備えていればよく、必ずしも波面センサ７３が設けられていなくてもよい。例えば、ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙ法を用いて、波面収差を測定する場合が考えられる。この方法は、対象の光学系（ここでは、被検眼Ｅ）に、ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙと呼ばれる既知の波面収差を持つ測定光をわざと与え、その際に得られる画像に対し、所定の画像処理を行うことによって、対象の光学系における波面収差を推定するものである。この場合、例えば、眼底撮影光学系１００に設けられた受光素子５６を、波面収差検出用の検出器として利用できる。つまり、この場合、眼底撮影光学系１００は、収差検出光学系１１０と共用できる。勿論、検出器は、受光素子５６とは別体に設けられていてもよい。なお、ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙを持つ測定光は、例えば、波面補償デバイス７３を所定の状態に制御することによって、生成できる。勿論、他の手法で生成されてもよい。
【００５４】
また、上記実施形態では本開示の一態様として、波面補償付の走査型レーザー検眼鏡を示した。しかし、必ずしもこれに限られるものではなく、例えば、レゾナントスキャナを有する装置であれば、その他の眼科用の撮影装置（例えば、眼底撮影装置）および眼科用の手術装置等に、本開示の技術を適用することができる。また、眼科以外の医療分野における撮影装置、或いは、手術装置に対して、本開示の技術が適用されてもよい。
【符号の説明】
【００５５】
２５      走査部（レゾナントスキャナ）
２５ａ    ドライバ
２５ｂ    センサ
２５ｃ    フィードバック回路
５１０    アンプ部
５２０    ゲイン調整回路
１００    眼底撮影光学系
８００    演算制御部
Ｅ        被検眼
【図１】
2017012579.tif 000003
【図２】
2017012579.tif 000004
【図３】
2017012579.tif 000005
【図４】
2017012579.tif 000006