(57)【要約】【目的】異物補正後の読取画像が劣化することを軽減することができる画像読取装置、および画像形成装置を提供することを目的とする。【構成】光を投射し反射光を受光することにより搬送される原稿の画像情報を読み取り可能な読取手段と、前記読取手段が受光する前記反射光の輝度レベルが所定値以下の領域のデータを該領域の外側のデータで補正すると共に、前記輝度レベルが所定値以下の第１の領域と第２の領域のデータを補正する前記第１の領域と前記第２の領域の間のデータの取得方法を該第１の領域と該第２の領域間の距離に応じて変更する補正手段と、を備えた。【選択図】        図６
2017028421.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を投射し反射光を受光することにより搬送される原稿の画像情報を読み取り可能な読取手段と、
前記読取手段が受光する前記反射光の輝度レベルが所定値以下の領域のデータを該領域の外側のデータで補正すると共に、前記輝度レベルが所定値以下の第１の領域と第２の領域のデータを補正する前記第１の領域と前記第２の領域の間のデータの取得方法を該第１の領域と該第２の領域間の距離に応じて変更する補正手段と、
を備えたことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記補正手段は、前記第１の領域と前記第２の領域の間のデータの輝度レベルに応じて、前記データの取得方法を更に変更する
ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記補正手段は、前記第２の領域に対して反対側における前記第１の領域の外側の画素の出力を第１の補正データとして取得し、前記第１の領域に対して反対側における前記第２の領域の外側の画素の出力を第２の補正データとして取得し、前記第１の領域と前記第２の領域との間に、前記第１の補正データと前記第２の補正データとのどちらか一方よりも輝度値が高い画素が前記第１の領域と前記第２の領域との間に存在する場合、該輝度値が高い画素を第３の補正データとして取得し、前記第１の補正データと前記第２の補正データと前記第３の補正データとを用いて前記第１の領域と前記第２の領域とを補正する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記補正手段は、前記第１の補正データと前記第２の補正データの内、輝度値が低い方の画素よりも輝度値が高い画素が前記第１の領域と前記第２の領域との間に存在する場合に、該輝度値が高い画素を第３の補正データとして取得し、前記第１の補正データと前記第２の補正データと前記第３の補正データとを用いて前記第１の領域と前記第２の領域とを補正する
ことを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記補正手段は、前記第２の領域に対して反対側における前記第１の領域の外側の画素の出力を第１の補正データとして取得し、前記第１の領域に対して反対側における前記第２の領域の外側の画素を第２の補正データとして取得し、前記第１の領域と前記第２の領域との間に、該補正手段による補正に用いることが出来ると判定可能な所定の輝度値よりも輝度値が高い画素が前記第１の領域と前記第２の領域との間に存在する場合に、該輝度値が高い画素を第３の補正データとして取得し、前記第１の補正データと前記第２の補正データと前記第３の補正データとを用いて前記第１の領域と前記第２の領域とを補正する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記第１の領域と前記第２の領域との間に前記輝度値が高い画素が存在しない場合、前記第１の補正データと前記第２の補正データとを用いて前記第１の領域と前記第２の領域とを補正する
ことを特徴とする請求項３乃至５のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載の画像読取装置と、
前記画像読取装置によって読み取る画像情報に基づいてシート上に画像を形成する画像形成手段と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原稿画像を光学的に読み取る画像読取装置と、この画像読取装置を装置本体に備えた画像形成装置とに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、シートに画像を形成するプリンタや複写機等の画像形成装置には、装置本体に画像読取装置を備え、その画像読取装置が読み取った原稿画像をシートに複写するものがある。
【０００３】
この画像読取装置は、ＬＥＤ等の光源と、光電変換素子とを備えた読取ユニットが原稿台ガラスの下方を移動しながら、原稿台ガラス上に載置された原稿に光源から光を照射し、原稿からの反射光を受光することで原稿の画像情報を読み取る。また、読取ユニットを流し読みガラスの下方の所定の読取位置に停止させ、読取位置に搬送される原稿に光を照射し、原稿からの反射光を受光することで原稿の画像情報を読み取る。
【０００４】
ここで、流し読みガラス上の読取位置に屑や紙粉等の異物があった場合、読取ユニットは搬送される原稿を読み取る際に異物も画像情報として読み取ってしまう。その結果、読み取った画像情報中の異物箇所に対応する部分が副走査方向に延びる黒いスジとなって読取画像に表れてしまう。そこで、異物付近の画素を用いて異物箇所に対応する部分の画像補正を行うのが一般的である。
【０００５】
しかし、読取位置に異物が複数存在する場合、その異物同士の間隔が狭いと、補正に用いる画素が隣接する異物の影響を受けた画素となってしまい、補正後の画像が異物の影響を受けた読取画像となってしまう場合があった。
【０００６】
そこで、特許文献１には、複数の異物の間隔が所定画素以下の場合はその複数の異物を一つの異物として一括で補正する画像読取装置が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−１９９２２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１のように複数の異物を一つの異物として一括で補正すると、画像補正される領域が広がってしまうため、補正された領域を多く含む読取画像となってしまい、元の原稿画像に比べて読取画像が劣化してしまうという課題があった。
【０００９】
そこで本発明は、上記の点に鑑み、異物補正後の読取画像が劣化することを軽減することができる画像読取装置、および画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
光を投射し反射光を受光することにより搬送される原稿の画像情報を読み取り可能な読取手段と、前記読取手段が受光する前記反射光の輝度レベルが所定値以下の領域のデータを該領域の外側のデータで補正すると共に、前記輝度レベルが所定値以下の第１の領域と第２の領域のデータを補正する前記第１の領域と前記第２の領域の間のデータの取得方法を該第１の領域と該第２の領域間の距離に応じて変更する補正手段と、を備えた。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、異物補正後の読取画像が劣化することを軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】画像形成装置Ａの外観斜視図
【図２】（Ａ）画像読取装置１００の概略断面図、（Ｂ）読取走査ユニット５０の断面図
【図３】画像読取部１０の制御構成を示すブロック図
【図４】原稿流し読み時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャート
【図５】（Ａ）流し読みガラス４０上に異物領域が１つある場合の読取結果の例、（Ｂ）流し読みガラス４０上に隣接する複数の異物領域がある場合の読取結果の例
【図６】（Ａ）は２つの異物領域を別々の異物領域として補正する場合の読取結果の例、（Ｂ）は２つの異物領域を１つの異物領域として補正する場合の読取結果の例
【図７】ステップＳ４０５における異物領域および補正参照画素の取得処理時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下にて、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照して説明する。本実施形態においては、画像読取装置として、例えば複写機等の画像形成装置に用いられる画像読取装置を例にするが、これに限ったものではない。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る本発明を限定するものでなく、また本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。
【００１４】
＜第１の実施形態＞
以下、本実施形態における画像読取装置を図に基づいて説明をする。
図１は、本実施形態における画像形成装置Ａの外観斜視図である。
画像形成装置Ａは、画像読取装置１００と画像読取装置１００で読み取った画像をシート上に画像形成する装置本体２００とを備えている。
ここで、画像読取装置１００は原稿のコピーを行う際にはその画像データを画像形成装置２００に送り、送られた画像データに基づいて記録媒体上に読取画像を形成することが可能となっている。また、不図示のＦＡＸ回線を介して取得した画像データを外部機器へ送信することも可能となっている。
【００１５】
装置本体２００は、電子写真記録方式の記録装置であり、給紙部２１０に積載された記録媒体を給送する。そして、画像形成装置２００内の不図示の画像形成部によって画像を形成された記録媒体は、排紙部２２０に排出される。操作部２３０は、表示部や入力キー等を備えており、ユーザによる画像形成装置Ａへの操作を受け付けることができる。また、画像形成装置Ａは、ユーザから受け付けた処理の進行状況等も表示することができる。
【００１６】
図２（Ａ）は、本実施形態における画像読取装置１００の断面図である。
画像読取装置１００は、原稿Ｄの画像を読み取る画像読取部１０と、画像読取部１０へ原稿Ｄを給送する原稿給送部２０とを主要に構成されている。
【００１７】
画像読取部１０は、原稿を固定して読み取る固定読みの際にユーザによって原稿が載置される原稿台ガラス３０と、原稿Ｄを搬送しながら読取る流し読みの際に原稿給送部２０によって給送された原稿Ｄが通過する流し読みガラス４０と、原稿台ガラス３０及び流し読みガラス４０の下方を往復移動可能に設けられ、原稿の画像を読み取る読取走査ユニット５０等を有している。
【００１８】
読取走査ユニット５０は光源から原稿に光を照射することによって原稿画像を読み取り可能となっている。また、読取走査ユニット５０は、駆動ベルト５４に係合され、駆動モータ５５の駆動力が駆動ベルト５４を介して伝達されることでガイド軸５６に沿って矢印Ｈ方向に移動可能となっている。駆動モータ５５には、ステッピングモータやＤＣモータ等が用いられる。
【００１９】
ここで、原稿台ガラス３０の端部には、出力画像信号の歪みを補正するシェーディング補正を行うための白色基準となる白色基準板６０が設けられている。
【００２０】
原稿画像を読み取る際には、読取走査ユニット５０から白色基準板６０に光を照射し、その反射光からシェーディング補正を行うためのシェーディング補正値を取得する。また、シェーディング補正時に光源の露光量を一定に保つために光量調整等が行われる。
【００２１】
画像読取部１０の上方には、原稿を供給して搬送するための供給手段としての原稿給送部２０が設けられている。原稿給送部２０は、ヒンジなどの開閉支持部材（不図示）によって画像読取部１０に対して図２の奥側を中心に回動自在に取り付けられている。このため、原稿給送部２０は、原稿台ガラス３０と流し読みガラス４０との上面を開閉できるようになっている。
【００２２】
固定読みの場合、ユーザによって原稿台ガラス３０上に載置された原稿は、原稿給送部２０の下部に配置される原稿圧板により原稿台ガラス３０上に押し付け固定される。そして、原稿を固定した状態で原稿台ガラス３０の下方を主走査方向に延びた読取手段としての読取走査ユニット５０が移動しながら原稿台ガラス３０上の原稿の画像を読み取る。このとき、読取走査ユニット５０の移動する方向（矢印Ｈ方向）を副走査方向といい、それに直交する方向を主走査方向という。
【００２３】
流し読みの場合、読取走査ユニット５０は、流し読みガラス４０の下方の所定の読取位置に移動し、副走査方向への移動を停止する。そして、原稿給送部２０は、原稿載置部２１に載置された原稿Ｄを給送ローラ２２で取り込み、分離ローラ２３ａと分離板２３ｂとからなる分離部２３に給送する。ここで、分離部２３は、給送ローラ２２にて複数枚の原稿Ｄが給送された場合に、原稿Ｄを１枚に分離しながら搬送する。次に、レジセンサＳ１で原稿Ｄの先端を検知すると、レジストローラ対２４にて、分離部２３から搬送されてきた原稿Ｄの先端を受け止めて原稿Ｄの斜行を矯正する。ここで、レジセンサＳ１では原稿Ｄの斜行矯正のタイミングを計る他に、原稿Ｄの後端を検知したことに応じて給送ローラ２２による給送タイミングを計り、検知時間に応じて原稿Ｄのサイズ判定を行うこと等ができる。
【００２４】
レジストローラ対２４にて斜行が矯正された原稿Ｄは、リードセンサＳ２で検知される読み取りタイミングに合わせて、読取走査ユニット５０が画像を読み取る流し読みガラス４０上の読取位置へ搬送路ＰＳ１を通って搬送される。このとき、原稿Ｄは、所定の回転数で回転するプラテンローラ２５によって流し読みガラス４０の上面から浮き上がり量を規制された状態で搬送されて、読取走査ユニット５０によって画像を読み取られる。
【００２５】
また、プラテンローラ２５の原稿搬送方向上流と原稿搬送方向下流にはそれぞれリードローラ対２６ａ、２６ｂが設けられており、原稿Ｄは読取走査ユニット５０によって画像が読み取られながらリードローラ対２６ａ、２６ｂによって搬送されている。
画像が読み取られた原稿Ｄは、リードローラ対２６ｂによって反転排出ローラ対２７へ搬送され、反転排出ローラ対２７によって原稿排出部２８へ排出される。
【００２６】
ここで、反転排出ローラ対２７の搬送方向上流側には排出センサＳ３が設けられており、原稿の先端及び後端を検知することで排出時における滞留ジャムや遅延ジャムなどを検知することが可能となっている。
同様に、レジセンサＳ１およびリードセンサＳ２についても、原稿の先端及び後端を検知することで原稿搬送時の滞留ジャムや遅延ジャムなどを検知可能となっている。
【００２７】
原稿Ｄの両面を読み取る場合は、１面目を読み取った後、原稿排出中の反転排出ローラ２７を停止し、その後逆回転させて原稿Ｄを機内へ引き戻し、フラッパ２９にて搬送路を反転搬送路ＰＳ２に切り替えることで原稿Ｄを再度搬送路ＰＳ１内に送り込み、読取走査ユニット５０によって２面目を読み取る。
【００２８】
画像読取部１０は、流し読みと固定読みの何れの読み方であっても、読取走査ユニット５０が原稿に光を照射し、その照射した光の反射光を受光して、原稿を光学的に読み取る。
【００２９】
ここで、原稿Ｄに対する流し読みを行う場合、流し読みガラス４０上に紙粉や汚れ等の異物が付着している場合、その異物箇所に対応する画像データに黒いスジとなって現れてしまう。従って、その画像劣化を防ぐために、本実施形態では異物領域を検出した後、その異物領域に対応する画像データの補正を行う。尚、異物の検出および補正方法については、後述する。
【００３０】
次に、図２（Ｂ）を用いて本実施形態における読取走査ユニット５０の構成について詳しく説明する。
図２（Ｂ）は、本実施形態における読取走査ユニット５０の断面図である。
【００３１】
読取走査ユニット５０は、原稿に光を照射するための光源としての光源５１ａ，ｂと、光学レンズ５２と、撮像部５３とによって構成され、原稿台ガラス３０において原稿の載置面とは反対面に配置される。
光源５１ａ，ｂはそれぞれ、光源としての赤色ＬＥＤ、緑色ＬＥＤ、青色ＬＥＤの３つを備えた白色タイプの導光管を含み、原稿台ガラス３０に対して所定角度だけ傾斜する方向から原稿に光を照射する。
【００３２】
光源５１ａ，ｂから照射されて原稿によって反射された反射光は、光学レンズ５２によって複数の光電変換素子から構成される撮像部５３の所定の結像位置へと導かれる。そして、原稿からの反射光が撮像部５３によって撮像されることで原稿の画像データが等倍で読み取られる。
【００３３】
次に、本実施形態における画像読取部１０の制御構成について説明する。
図３は、本実施形態における画像読取部１０の制御構成を示すブロック図である。
【００３４】
ＣＰＵ３００は、画像読取部１０全体の制御をしている。ＲＡＭ３０１は、ＣＰＵ３００の作業領域およびデータの一時記憶領域である。ＲＯＭ３０２は、画像読取部１０を制御するためのファームウェアプログラムや、ファームウェアプログラムを制御するためのブートプログラムが書き込まれ、ＣＰＵ３００によって使用される。
【００３５】
タイミング発生回路３０３は、ＣＰＵ３００の設定に応じて主走査方向１ライン毎のＰＷＭデューティを可変させて、ＬＥＤ駆動回路３０４に照明部材５１ａ，ｂの点灯ＯＮ／ＯＦＦの制御信号を送る。
【００３６】
ＬＥＤ駆動回路３０４は、タイミング発生回路３０３から送られてくる点灯ＯＮ／ＯＦＦの制御信号に基づくタイミングで照明部材５１ａ，ｂをそれぞれ点灯させる。
【００３７】
撮像部５３は、センサ駆動回路３０５に接続され、ＣＰＵ３００によって制御される。
【００３８】
増幅器（ＡＭＰ）３０６は、撮像部５３により出力された電気信号を増幅させ、Ａ／Ｄ変換回路３０７に送る。Ａ／Ｄ変換回路３０７は、増幅器３０６によって増幅された電気信号をＡ／Ｄ変換し、例えば各画素を１６ｂｉｔの輝度値として表現するデジタル画像データを画像処理部３０８に出力する。
【００３９】
画像処理部３０８は、Ａ／Ｄ変換回路３０７によって変換されたデジタル画像データを画像処理し、ＲＡＭ３０１へ出力する。ここで、画像処理とは、上述したシェーディング補正や、読取画像中の異物を補正処理する異物補正等を含む。異物の補正処理については、後述する。
【００４０】
通信Ｉ／Ｆ３０９は、装置本体２００や、外部の端末装置と接続し、これを介して画像読取部１０から画像データが転送される。また、操作部２３０を通じてユーザからの画像読み取り指示等を受け付ける。
【００４１】
駆動モータ５５は、前述したように、駆動ベルト５４を介して読取走査ユニット５０を副走査方向へ移動可能としている。
【００４２】
次に、本実施形態におけるＣＰＵ３００の制御動作について、説明をする。
図４は、本実施形態における原稿流し読み時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャートである。
【００４３】
通信Ｉ／Ｆ３１１を介して、装置本体２００の操作部２３０からユーザによる原稿流し読み動作開始の指示を受け付けると、ＣＰＵ３００は駆動モータ５５を制御して、読取走査ユニット５０を白色基準板６０の下方に移動させ（ステップＳ４０１）、読取走査ユニット５０を制御することで白色基準板６０を読み取る（ステップ４０２）。
【００４４】
次に、ＣＰＵ３００は、Ｓ４０２で読み取った白色基準板６０の輝度値から、ＡＧＣ処理として光源５１ａ，ｂの発光時間を算出し、各色の点灯／消灯タイミングを調整する（ステップＳ４０３）。
【００４５】
そして、Ｓ４０３にて調整された点灯／消灯タイミングでＬＥＤ＿Ｒ，ＬＥＤ＿Ｇ，ＬＥＤ＿Ｂを点灯／消灯させ、各色の白シェーディング補正値および黒シェーディング補正値の取得を行う（ステップＳ４０４）。
【００４６】
次に、ＣＰＵ３００は、読取走査ユニット５０を読取位置に移動させ、読取位置における流し読みガラス４０上の異物領域および異物領域を補正する際の補正参照画素を取得する（ステップＳ４０５）。異物領域および補正参照画素の取得処理の詳細な動作については、後述する。
【００４７】
そして、原稿給送部２０によって読取位置に給送される原稿画像を、１ライン読み取る（ステップＳ４０６）。
【００４８】
次に、Ｓ４０６で読み取った原稿画像の読取りデータについて、画像補正処理を行う（ステップＳ４０７）。ここで、流し読みガラス４０上に異物がない場合の画像補正処理は、Ｓ４０４で取得した補正値を用いてシェーディング補正を行ったり、その他のＭＴＦ補正処理や色ずれ補正処理等のことを指す。また、流し読みガラス４０上に異物がある場合の画像補正処理は、上記の補正に加えて、Ｓ４０５で取得した異物領域及び補正参照画素を用いて異物領域の補正を行う。
【００４９】
そして、Ｓ４０７で画像補正処理が施された原稿画像の読取りデータは、ＲＡＭ３０１に格納される（ステップＳ４０８）。
【００５０】
次に、Ｓ４０８で格納した１ライン分の画像データが最終ラインであるか否かを判定する（ステップＳ４０９）。
最終ラインでない場合（Ｓ４０９のＮｏ）は、Ｓ４０６に戻り、次のラインの原稿画像を読み取る。最終ラインである場合（Ｓ４０９のＹｅｓ）は、原稿載置部２１に次の原稿が載置されているか否かを判定する（ステップＳ４１０）。
【００５１】
次の原稿がある場合（Ｓ４１０のＹｅｓ）は、Ｓ４０６に戻って次の原稿の１ライン目の読取を行う。次の原稿がない場合（Ｓ４１０のＮｏ）は、原稿の流し読み動作を終了する。
【００５２】
次に、図５および図６を用いて、本実施形態における異物領域の取得方法と、補正参照画素の取得方法を説明する。
【００５３】
本実施形態では、流し読みガラス４０上に異物領域を補正する際、異物領域外の画素の輝度値に基づいて、補正参照画素を取得する。このとき、異物領域が複数存在する場合は、異物領域間の画素の輝度値によって、複数の異物を別々の異物領域として補正するか、１つの異物領域として補正するかの判定を行う。
【００５４】
まず、図５を用いて異物領域および補正参照画素の取得方法を説明する。
図５は、流し読みガラス４０上に異物領域が存在する場合の読取結果であって、図５（Ａ）は、流し読みガラス４０上に異物領域が１つある場合の読取結果の例である。図５（Ｂ）は、流し読みガラス４０上に隣接する複数の異物領域がある場合の読取結果の例である。
【００５５】
図５（Ａ）に示すように、異物判定用の輝度値２００を下回る画素が３つある場合、輝度値２００を下回る画素位置から両端を２画素ずつ広げた領域を異物領域と判定する。そして、この異物領域の両端に該当する画素が、異物領域の開始画素および終了画素となる。これは、異物がある場合、判定用の閾値を上回っているとしても、輝度値２００を下回る画素と隣接する画素は異物による影響を受けている可能性が高いためである。
【００５６】
そして、異物領域の開始画素および終了画素からそれぞれ１画素分離れた位置であるｒｅｆＡおよびｒｅｆＢを補正参照画素として、ｒｅｆＡおよびｒｅｆＢを用いて異物領域の補正をする。このとき、ｒｅｆＡおよびｒｅｆＢを異物領域の開始画素および終了画素からそれぞれ１画素分離れた位置としているのは、輝度値２００を下回っている画素から十分離れた位置である方が、正常な画素である可能性が高いためである。
【００５７】
ここで、図５（Ｂ）に示すように、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１が隣接している場合、上述したように輝度値２００を下回る画素位置から両端を２画素ずつ広げた領域を異物領域と判定すると、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１の領域が重複してしまう。また、異物領域ｉについて補正参照画素を取得しようとすると、異物領域の開始画素から１画素分離れたｒｅｆＡ（ｉ）は正常に取得できるが、異物領域の終了画素から１画素分離れたｒｅｆＢ（ｉ）は異物領域ｉ＋１の領域内になってしまう。
【００５８】
同様に、異物領域ｉ＋１についても、補正参照画素を取得しようとすると、異物領域の終了画素から１画素分離れたｒｅｆＢ（ｉ＋１）は正常に取得できるが、異物領域の開始画素から１画素分離れたｒｅｆＡ（ｉ＋１）は異物領域ｉの領域内になってしまう。  
【００５９】
このとき、別の異物領域内の画素を補正参照画素として異物領域の補正を行ってしまうと、読み取った画像が異物の影響を受けた画像となってしまう。また、異物領域が隣接する場合に複数の異物領域を一括して画像補正をしてしまうと、画像補正をする領域が広がってしまうため、読取画像が劣化してしまう原因となってしまう。
【００６０】
そこで、本実施形態では、読取画像の劣化を軽減するため、異物領域が複数存在する場合は、その隣接している領域を別々の異物領域として補正するべきか１つの異物領域として補正するべきかを判定する。
【００６１】
次に、図６を用いて異物領域が複数存在する場合の補正参照画素の取得方法を説明する。
図６は、流し読みガラス４０上に異物領域が複数存在する場合の読取結果であって、図６（Ａ）は２つの異物領域を別々の異物領域として補正する場合の読取結果の例、図６（Ｂ）は２つの異物領域を１つの異物領域として補正する場合の読取結果の例である。
【００６２】
本実施形態では、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１が重複してしまう場合、その異物領域間に補正参照画素となる画素があるか否かを判定する。まず、異物領域ｉの開始画素から１画素分離れたｒｅｆＡ（ｉ）と、異物領域ｉ＋１の終了画素から１画素分離れたｒｅｆＢ（ｉ＋１）とを取得する。そして、異物領域ｉの開始画素から異物領域ｉ＋１の終了画素までの間にｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）の輝度値が低い方よりも輝度値が高い画素があるか否かを判定する。図６（Ａ）の場合は、ｒｅｆＢ（ｉ＋１）がｒｅｆＡ（ｉ）よりも輝度値が低いため、異物領域ｉの開始画素から異物領域ｉ＋１の終了画素までの間にｒｅｆＢ（ｉ＋１）よりも高い輝度値があるか否かを判定する。
【００６３】
図６（Ａ）に示すように、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１との間にｒｅｆＢ（ｉ＋１）よりも高い輝度値ｒｅｆＣがある場合は、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１について別々に補正処理を行うと判定する。ここでは、ｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）の低い方よりも高い輝度値ｒｅｆＣが存在することで、隣接する異物領域の間に補正参照画素として用いることができる画素が存在すると判定できるため、隣接する異物について別々に補正処理を行うことが可能となる。このとき、異物判定用輝度値２００を下回る画素位置から両端を２画素ずつ広げるとｒｅｆＣが異物領域となってしまうが、ｒｅｆＣはｒｅｆＡ（ｉ）もしくはｒｅｆＢ（ｉ＋１）より輝度値が高く、異物領域の影響を受けていない画素と判定できるため、異物領域ｉおよび異物領域ｉ＋１から除外される。そのため、異物領域ｉの終了画素と異物領域ｉ＋１の開始画素を１画素ずつずらすことで異物領域を変更し、異物領域ｉについては補正参照画素としてｒｅｆＡ（ｉ）とｒｅｆＣを用いて、異物領域ｉ＋１については補正参照画素としてｒｅｆＢ（ｉ＋１）とｒｅｆＣを用いてそれぞれ補正を行う。
【００６４】
図６（Ｂ）に示すように、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１との間にｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）よりも高い輝度値がない場合は、補正参照画素となる画素が存在しないと判定し、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１について１つの異物としてまとめて補正処理を行う。このとき、異物領域ｉ＋（ｉ＋１）は、ｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）を用いて補正を行う。
【００６５】
このように、異物領域が隣接している場合においても、補正参照画素が存在する場合はそれぞれの異物に対して適した補正処理を行うことが可能となるため、異物補正後の読取画像が劣化することを軽減することができる。また、隣接する異物領域間に補正参照画素が存在する場合は、その補正参照画素に合わせて異物領域を変更するため、画像補正される領域も狭くなり、画像補正されることによる読取画像の劣化を軽減することが可能となる。
【００６６】
上記の説明では、隣接する２つの異物領域の補正参照画素を取得する際の説明をしたが、２つ以上の異物領域が隣接している場合でも同様の方法で補正参照画素を取得することができる。また、異物領域と異物領域の間に十分な間隔があった場合でも、同様の補正参照画素の取得方法を用いてもよい。
【００６７】
次に、ステップＳ４０５における異物領域および補正参照画素の取得処理について説明をする。
図７は、ステップＳ４０５における異物領域および補正参照画素の取得処理時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャートである。
【００６８】
まず、ＣＰＵ３００は、読取走査ユニット５０を流し読みガラス４０の読取位置へ移動させ（ステップＳ７０１）、その読取位置において読み取りを行う（ステップＳ７０２）。
【００６９】
次に、Ｓ７０２で読み取った読取位置に対応する画像情報から、読取位置に異物があるか否かを判定する（ステップＳ７０３）。ここでは、異物判定用の閾値として、輝度値２００を下回っている画素を異物画素と判定する。このとき、輝度値２００を下回る異物画素が連続している場合は、それらをまとめて異物領域とし、輝度値が２００以下となっている異物画素から両端を２画素ずつ広げた領域を異物領域としてＲＡＭ３０１に記憶する。異物画素から両端を２画素ずつ広げた領域を異物領域とするのは、前述したように、異物判定用輝度値を上回っていたとしても、隣接する画素は異物による影響を受けている可能性が高いためである。
【００７０】
読取位置に異物がない場合（Ｓ７０３のＮｏ）は、Ｓ４０５の異物領域および補正参照画素の取得処理を終了し、図４の原稿流し読み時のフローチャートのＳ４０６へ進む。読取位置に異物がある場合（Ｓ７０３のＹｅｓ）、主走査方向における位置と共に異物領域の総数ｎを取得し、ＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７０４）。
【００７１】
そして、異物領域の総数ｎが１であるか否かを判定する（ステップＳ７０５）。異物領域の総数ｎが１であった場合（Ｓ７０５のＹｅｓ）は、異物領域が１つしかないと判定し、異物領域の主走査方向における開始画素ｓｔａ＿１と終了画素ｅｎｄ＿１を取得し（ステップＳ７０６）、ＲＡＭ３０１に保存する。そして、図５（Ａ）に示したように、異物領域１の領域外であって開始画素ｓｔａ＿１に隣接する画素を補正参照画素ｒｅｆＡ、終了画素ｅｎｄ＿１に隣接する画素を補正参照画素ｒｅｆＢとして、ＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７０７）。異物領域が１つしかない場合は、Ｓ７０６で異物領域を取得し、Ｓ７０７でその異物領域の補正参照画素を取得したら、図７の異物領域および補正参照画素の取得処理時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャートを終了し、図４のＳ４０６へ進む。
【００７２】
読取位置上に異物がある状態（Ｓ７０３のＹｅｓ）であって、異物領域の総数ｎが１ではない場合（Ｓ７０５のＮｏ）は、異物領域が複数存在するとして、複数の異物領域を１つの異物として補正処理を行うか、それぞれ別の補正処理を行うかの判定及びそれぞれの異物領域の取得と補正参照画素の取得を行う。
【００７３】
まず、異物番号ｉ＝１（ステップＳ７０８）として、ｉ番目の異物領域ｉの主走査方向における異物領域の開始画素ｓｔａ＿ｉと終了画素ｅｎｄ＿ｉを取得し、ＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７０９）。
【００７４】
次に、異物領域ｉの隣の異物領域ｉ＋１の主走査方向における異物領域の開始画素ｓｔａ＿（ｉ＋１）と終了画素ｅｎｄ＿（ｉ＋１）を取得し、ＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７１０）。
【００７５】
そして、異物領域ｉの終了画素ｅｎｄ＿ｉが異物領域ｉ＋１の開始画素ｓｔａ＿（ｉ＋１）と隣接しているか否かの判定をする（ステップＳ７１１）。ここで、隣接しているか否かの判定は、終了画素ｅｎｄ＿ｉが開始画素ｓｔａ＿（ｉ＋１）と等しい画素になっているか、又は終了画素ｅｎｄ＿ｉの隣の画素が開始画素ｓｔａ＿（ｉ＋１）となっているかを判定することで行う。
【００７６】
異物領域ｉの終了画素ｅｎｄ＿ｉが異物領域ｉ＋１の開始画素ｓｔａ＿（ｉ＋１）と隣接していない（Ｓ７１１のＮｏ）場合は、図５（Ａ）で示したように異物領域ｉおよび異物領域ｉ＋１のそれぞれの補正参照画素ｒｅｆＡ（ｉ），ｒｅｆＢ（ｉ），ｒｅｆＡ（ｉ＋１），ｒｅｆＢ（ｉ＋１）を取得し、それぞれＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７１２）。
【００７７】
そして、次にすべての異物領域に対して補正参照画素を取得したか否かを判定する（ステップＳ７１３）。すべての補正参照画素を取得していない場合（Ｓ７１３のＮｏ）は、ｉ＝ｉ＋１（ステップＳ７１４）として、Ｓ７０９に戻り、次の異物領域との隣接状態を判定する。すべての補正参照画素を取得した場合（Ｓ７１３のＹｅｓ）は、図７の異物領域および補正参照画素の取得処理時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャートを終了し、図４のＳ４０６へ進む。
【００７８】
そして、異物領域ｉの終了画素ｅｎｄ＿ｉが異物領域ｉ＋１の開始画素ｓｔａ＿（ｉ＋１）と隣接している場合（Ｓ７１１のＹｅｓ）は、まず、異物領域ｉの開始画素ｓｔａ＿ｉの隣の画素である補正参照画素ｒｅｆＡ（ｉ）を取得する（ステップＳ７１５）。次に、異物領域ｉ＋１の終了画素ｅｎｄ＿（ｉ＋１）の隣の画素である補正参照画素ｒｅｆＢ（ｉ）を取得する（ステップＳ７１６）。
【００７９】
そして、次に、異物領域間に補正参照画素が存在するか否かを判定する（ステップＳ７１７）。ここでは、例えば図６（Ａ）に示したｒｅｆＣが存在するか否かを判定する。ｒｅｆＣが存在するか否かの判定は、Ｓ７１５で取得したｒｅｆＡ（ｉ）とＳ７１６で取得したｒｅｆＢ（ｉ＋１）の輝度値が低いほうよりも高い輝度値が異物領域ｉの開始画素ｓｔａ＿ｉから異物領域ｉ＋１の終了画素ｅｎｄ＿（ｉ＋１）までの中に存在するか否かを判定することで行う。このとき、ｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）の輝度値が低い方よりも高い輝度値が存在する場合を、異物領域間に補正参照画素ｒｅｆＣが存在すると判定する。これは、前述したように、補正参照画素となるｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）の低い方よりも高い輝度値であれば、異物領域の影響を受けていない画素であると判定できるためである。
【００８０】
上述した例では、ｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）の輝度値が低い方よりも高い輝度値が存在するか否かを判定したが、ｒｅｆＡ（ｉ）およびｒｅｆＢ（ｉ＋１）の輝度値が高い方よりも高い輝度値が存在するか否かを判定してもよい。このようにすることで、さらに異物領域の影響を受けていない画素と特定することが可能となる。
【００８１】
そして、異物領域間に補正参照画素が存在する場合（Ｓ７１７のＹｅｓ）は、Ｓ７１７で判定された補正参照画素をｒｅｆＣとし、図６（Ａ）に示したように、異物領域ｉの終了画素と異物領域ｉ＋１の開始画素を変更する（ステップＳ７１８）。ここで、異物領域の変更は、図６（Ａ）に示したように、輝度値２００を下回った輝度値から両端に２画素広げた領域としていた異物領域をｒｅｆＣに合わせて変更し、ＲＡＭ３０１に上書き保存することで行う。
【００８２】
そして、異物領域ｉの補正参照画素をｒｅｆＡ（ｉ），ｒｅｆＣとしてＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７１９）。また、異物領域ｉ＋１の補正参照画素をｒｅｆＣ，ｒｅｆＢ（ｉ＋１）としてＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７２０）。その後、Ｓ７１３に戻り、すべての異物領域に対して補正参照画素値を取得したか否かを判定する。
【００８３】
一方、異物領域間に補正参照画素が存在しない場合（Ｓ７１７のＮｏ）は、異物領域ｉと異物領域ｉ＋１を１つの異物として、ＲＡＭ３０１に保存する（ステップＳ７２１）。このとき、異物領域ｉの開始画素ｓｔａ＿ｉから異物領域ｉ＋１の終了画素ｅｎｄ＿（ｉ＋１）までを一つの異物領域ｉとしてＲＡＭ３０１に上書き保存する。
【００８４】
そして、図６（Ｂ）に示したように、Ｓ７１５で取得したｒｅｆＡ（ｉ）とＳ７１６で取得したｒｅｆＢ（ｉ＋１）を補正参照画素としてＲＡＭ３０１に保存する。（ステップＳ７２２）。その後は同様に、Ｓ７１３に戻り、すべての異物領域に対して補正参照画素を取得したか否かを判定する。
【００８５】
すべての異物領域に対する補正参照画素を取得した場合（Ｓ７１３のＹｅｓ）は、図７の異物領域および補正参照画素の取得処理時のＣＰＵ３００の制御動作を示すフローチャートを終了し、図４のＳ４０６へ進む。
【００８６】
このように、Ｓ７１１で異物領域が隣接しているか否かを判定し、隣接している場合はＳ７１７でその異物領域間に補正参照画素ｒｅｆＣが存在するか否かを判定する。そして、異物領域間に補正参照画素ｒｅｆＣが存在する場合は、異物領域の開始画素および終了画素を変更し、隣接する異物領域を別々の異物領域として画像補正することが可能となる。そのため、複数の異物が流し読みガラス４０上に存在する場合においても、異物補正処理によって読取画像の劣化を軽減することが可能となる。
【００８７】
また、上記の実施形態では、異物領域外の補正参照画素であるｒｅｆＡおよびｒｅｆＢを用いて異物領域間の補正参照画素ｒｅｆＣの判定を行ったが、所定の輝度値よりも高い輝度値が異物領域間に存在する場合にその画素をｒｅｆＣと判定してもよい。このように所定の輝度値との比較をしてｒｅｆＣを決定することで、より正確に補正参照画素を取得することが可能となる。
【００８８】
また、隣接する複数の異物領域を１つの異物として補正する場合は、補正可能画素幅を決めて、異物領域がその幅を超えた場合は補正不可としてもよい。このようにすることで、拡大した異物領域の補正処理による読取画像の劣化を軽減することができる。また、補正不可の異物領域が存在する場合は、操作部２３０を介して、ユーザに流し読みガラス４０の清掃を促してもよい。
【００８９】
また、上記の実施形態では、異物領域を補正するための補正参照画素を異物領域の外側の１画素に基づいて取得したが、異物領域の外側のいくつかの画素における輝度値の平均から補正参照画素を生成してもよい。
【００９０】
以上で説明したように、本実施形態では、流し読みガラス４０上に異物が隣接して存在する場合においても、適切な異物領域の判定および補正参照画素の設定を行うことが可能となるため、異物補正処理による読取画像の劣化を軽減することが可能となる。
【００９１】
また、異物領域が連続している場合と連続していない場合とで、異物領域を変更することが可能となるため、異物補正処理による読取画像の劣化を軽減することが可能となる。
【符号の説明】
【００９２】
１０・・・画像読取部  
２０・・・原稿給送部
４０・・・流し読みガラス
５０・・・読取走査ユニット
５１ａ，ｂ・・・光源
５２・・・光学レンズ
５３・・・撮像部
１００・・・画像読取装置
３００・・・ＣＰＵ
３０１・・・ＲＡＭ
３０２・・・ＲＯＭ
３０３・・・タイミング発生回路
３０４・・・ＬＥＤ駆動回路
３０５・・・センサ駆動回路
３０６・・・増幅器（ＡＭＰ）
３０７・・・Ａ／Ｄ変換回路
３０８・・・画像処理部
３０９・・・通信Ｉ／Ｆ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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