(57)【要約】【課題】可搬式のＸ線検出器を用いた検査の効率を向上させることができるＸ線検出器及びＸ線診断装置を提供すること。【解決手段】実施の形態のＸ線検出器は、検出部と、生成部とを備える。検出部は、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する。生成部は、前記Ｘ線管に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成する。【選択図】図４
2017189240.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する検出部と、
前記Ｘ線管に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成する生成部と、
を備えたＸ線検出器。
【請求項２】
前記異なる向きは、Ｘ線管が照射するＸ線を検出する検出面に直交する方向を軸として１８０°回転する２つの向きである、請求項１に記載のＸ線検出器。
【請求項３】
前記異なる向きは、Ｘ線管が照射するＸ線を検出する検出面に直交する方向を軸として９０°回転する４つの向きである、請求項１に記載のＸ線検出器。
【請求項４】
前記補正係数を記憶する記憶部を更に備えた、請求項１〜３のいずれか一項に記載のＸ線検出器。
【請求項５】
前記記憶部は、更に、前記Ｘ線画像におけるオフセット成分の除去に用いるデータ及び前記Ｘ線画像における欠陥点の補正に用いるデータを記憶する、請求項４に記載のＸ線検出器。
【請求項６】
前記補正係数を所定の記憶装置に対し送信する送信部を更に備えた、請求項４に記載のＸ線検出器。
【請求項７】
前記補正係数、前記オフセット成分の除去に用いるデータ及び前記欠陥点の補正に用いるデータを所定の記憶装置に対し送信する送信部を更に備えた、請求項５に記載のＸ線検出器。
【請求項８】
Ｘ線を曝射するＸ線管と、
前記Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する検出部と、
前記Ｘ線管に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成する生成部と、
を備えたＸ線診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施の形態は、Ｘ線検出器及びＸ線診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線診断装置は、被検体に対してＸ線を曝射し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器（例えば、Ｘ線平面検出器（Flat  Panel  Detector：ＦＰＤ）等）により検出することで、Ｘ線画像を生成する。また、近年、Ｘ線検出器のワイヤレス化、軽量化に伴い、Ｘ線診断装置に組み込まず、単体での移動を可能とした可搬式のＸ線検出器が使用されるようになってきている。
【０００３】
可搬式のＸ線検出器は、複数のＸ線診断装置での共有が可能であり、操作者は、Ｘ線診断装置と可搬式のＸ線検出器とを、自由に組み合わせて用いる事ができる。例えば、病院内に複数のＸ線診断装置及び複数のＸ線検出器がある場合において、操作者は、検査の際に利用可能なＸ線検出器と、検査に適したＸ線診断装置とを組み合わせて、Ｘ線画像の撮影を行うことができる。なお、以下では、可搬式のＸ線検出器を複数のＸ線診断装置で共有して使用することを、ＦＰＤシェアリングとも記載する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１１１０５４号公報
【特許文献２】特開２０１１−１０２７０２号公報
【特許文献３】特開２０１２−１２０２００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明が解決しようとする課題は、可搬式のＸ線検出器を用いた検査の効率を向上させることができるＸ線検出器及びＸ線診断装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
実施の形態のＸ線検出器は、検出部と、生成部とを備える。検出部は、Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する。生成部は、前記Ｘ線管に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の一例を示す図である。
【図２】図２は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図３】図３は、第１の実施形態に係るＦＰＤの一例を示す図である。
【図４】図４は、第１の実施形態に係るＦＰＤの構成の一例を示すブロック図である。
【図５】図５は、Ｘ線画像の補正について説明するための図である。
【図６Ａ】図６Ａは、Ｘ線画像のゲイン補正について説明するための図である。
【図６Ｂ】図６Ｂは、Ｘ線画像のゲイン補正について説明するための図である。
【図７】図７は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションを説明するための図である。
【図８】図８は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションを説明するための図である。
【図９】図９は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションを説明するための図である。
【図１０】図１０は、第１の実施形態に係る撮影を説明するための図である。
【図１１】図１１は、第１の実施形態に係るゲイン補正を説明するための図である。
【図１２】図１２は、第１の実施形態に係るＦＰＤの処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。
【図１３】図１３は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションの一連の流れを説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、実施形態に係るＸ線検出器及びＸ線診断装置を説明する。なお、以下では、可搬式のＸ線検出器を備えたＸ線診断装置について説明する。また、以下では、Ｘ線検出器の一例として、Ｘ線検出素子を平面に２次元状に配列した可搬式のＸ線平面検出器（ＦＰＤ）について説明する。
【０００９】
（第１の実施形態）
まず、図１を用いて、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の一例を説明する。図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の一例を示す図である。図１に示すように、第１の実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線高電圧装置、Ｘ線管、Ｘ線可動絞り、Ｘ線管保持装置、Ｘ線平面検出器（ＦＰＤ）、立位撮影台、臥位撮影台、画像処理装置などを備える。また、図１に示すＸ線診断装置は、図示しないイメージャや画像サーバ等にネットワークを通じて接続される。
【００１０】
図１に示すＸ線高電圧装置はＸ線管に高電圧を供給し、Ｘ線管は供給された高電圧を用いてＸ線を曝射する。また、Ｘ線可動絞りは、被検体に対する被曝線量の低減や画像データの画質向上を目的として、Ｘ線の照射野を制御する。Ｘ線管保持装置は、Ｘ線管及びＸ線可動絞りをアームにより保持し、アームを駆動させることで、Ｘ線管及びＸ線可動絞りの位置を撮影位置や退避位置等に移動させる。ここで、Ｘ線管保持装置は天井走行式であり、天井面に敷設されたレール上を走行することで、Ｘ線管及びＸ線可動絞りの位置を移動させることもできる。また、可搬式のＦＰＤは、図１に示す各位置に組み込んで使用するＸ線検出器であり、被検体を透過したＸ線情報を画像データに変換し、画像処理装置に送る。
【００１１】
また、図１に示すように、可搬式のＦＰＤは、立位撮影台や臥位撮影台に設置される。立位撮影台は、一端がレールと連結されたアームによりＦＰＤを保持し、アームをレール上で移動することにより、ＦＰＤを上下にスライドすることができる。また、臥位撮影台は被検体を載置する天板を備え、天板の下部または天板上にＦＰＤが載置される。ここで、第１の実施形態に係るＸ線診断装置においては、可搬式のＦＰＤを用いてＸ線画像を収集する。例えば、図１に示す臥位撮影台の天板上にＦＰＤが載置され、被検体を透過したＸ線に基づく画像データを画像処理装置に送る。
【００１２】
図１に示す画像処理装置は、ＦＰＤから送信された画像データを収集し、収集した画像データに対して、プリセットされた画像処理を実行する。また、画像処理装置は、マウスやキーボード等からの操作により、画像処理の変更、ワークフローの操作を行う。また、画像処理装置は、画像をディスプレイに表示する。また、画像処理装置は、画像の一時保管、転送を行う。
【００１３】
例えば、図１に示すＸ線診断装置は、立位撮影台の前に立った状態の被検体に対してＸ線管からＸ線を曝射し、被検体を透過したＸ線を、立位撮影台に設置されたＦＰＤにより検出する事で、立位での撮影を実行する。また、例えば、図１に示すＸ線診断装置は、臥位撮影台が備える天板上に載置された状態の被検体に対してＸ線管からＸ線を曝射し、被検体を透過したＸ線を、臥位撮影台に設置されたＦＰＤにより検出する事で、臥位での撮影を実行する。また、例えば、図１に示すＸ線診断装置は、臥位撮影台が備える天板上に載置されたＦＰＤによりＸ線を検出する事で撮影を実行する。
【００１４】
次に、図２を用いて、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１の構成の一例を説明する。図２は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１の構成の一例を示すブロック図である。図２に示すように、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｘ線高電圧装置１１０と、Ｘ線管１２０と、Ｘ線可動絞り１３０と、線質フィルタ１４０と、ＦＰＤ１５０と、ディスプレイ１６０と、入力回路１７０と、記憶回路１８０と、処理回路１９０とを備える。なお、入力回路１７０と、記憶回路１８０と、処理回路１９０は、例えば、図１に示す画像処理装置に含まれる。
【００１５】
Ｘ線高電圧装置１１０はＸ線管１２０に高電圧を供給し、Ｘ線管１２０は供給された高電圧を用いてＸ線を曝射する。Ｘ線可動絞り１３０は、Ｘ線管１２０から曝射されるＸ線の照射領域を制御する。ここで、Ｘ線管１２０及びＸ線可動絞り１３０は、例えばアームなどの支持部に支持され、図示しない駆動装置によって駆動される。駆動装置は、処理回路１９０による制御のもと、Ｘ線管１２０及びＸ線可動絞り１３０の位置を移動させる。また、駆動装置は、制御機能１９０ａによる制御のもと、Ｘ線可動絞り１３０が有する絞り羽根の開度を調整することで、Ｘ線管１２０から照射されるＸ線の照射範囲を制御する。線質フィルタ１４０は、所定のＳＩＤ（Source  Image  Distance）及びＸ線条件において、所定の線質や線量を有するＸ線がＦＰＤ１５０に入射するように、Ｘ線の経路上（例えば、Ｘ線可動絞り１３０の前面）に設置されるフィルタである。例えば、線質フィルタ１４０は、所定の材質、厚さの金属板である。
【００１６】
ここで、ＦＰＤ１５０について、図３を用いて説明する。図３は、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０の一例を示す図である。図３に示すように、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０は、検出膜や画素容量部、ＴＦＴ（Thin  Film  Transistor）等から構成される。図３に示す検出膜は、照射されたＸ線のエネルギーを電荷に変換する。画素容量部は、検出膜により変換された電荷を蓄積するコンデンサであり、検出膜から電荷の入力を受けるための画素電極や、絶縁膜に挟まれた金属、リーク電流を放出するための接地電極などを有する。ＴＦＴは、各画素容量部から電荷を取り出す半導体スイッチであり、図示しない駆動回路からの駆動信号を入力するゲート線や、画素容量部から取り出した電荷を流す信号線に接続される。
【００１７】
次に、図４を用いて、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０の構成の一例を説明する。図４は、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０の構成の一例を示すブロック図である。図４に示すように、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０は、処理回路１５１と、記憶回路１５２とを備える。
【００１８】
処理回路１５１は、収集機能１５１ａと、生成機能１５１ｂと、送信機能１５１ｃとを実行する。図１における実施形態では、構成要素の収集機能１５１ａ、生成機能１５１ｂ及び送信機能１５１ｃにて行われる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路１５２へ記録されている。処理回路１５１はプログラムを記憶回路１５２から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路１５１は、図４の処理回路１５１に示された各機能を有することとなる。なお、図４においては単一の処理回路にて、収集機能１５１ａ、生成機能１５１ｂ及び送信機能１５１ｃにて行われる処理機能が実現するものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。
【００１９】
処理回路１５１は、ＦＰＤ１５０による処理の全体を制御する。ＦＰＤ１５０による処理とは、画像データの収集や、Ｘ線画像の補正に用いるデータの生成や送信等に係る一連の処理である。例えば、処理回路１５１は、検出膜や画素容量部、ＴＦＴ、アンプ（amplifier）、ＡＤ変換機（Analog  to  Digital  Converter）等を有し、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線の２次元の強度分布のデータ（２次元強度分布データ）を収集する。具体的には、処理回路１５１は、検出膜に入射したＸ線フォトンを電荷に変換して画素容量部及びＴＦＴからなる画素ごとに順番に読み出し、アンプで増幅してから、ＡＤ変換機によりデジタル信号（画素値）に変換することで、画像データを収集する。
【００２０】
また、例えば、処理回路１５１は、Ｘ線画像の補正に用いるデータを算出する。例えば、処理回路１５１は、検出膜の空間的な不均一性やアンプ個々の製造ばらつき等によって生じるゲイン（Adjustable  gain）の不均一性を補正するための補正係数を算出する。また、例えば、処理回路１５１は、Ｘ線画像の補正に用いるデータのバックアップを行うため、Ｘ線画像の補正に用いるデータを所定の記憶装置（例えば、記憶回路１８０等）に送信する。なお、Ｘ線画像の補正に用いるデータについては後述する。
【００２１】
記憶回路１５２は、処理回路１５１がＦＰＤ１５０による処理の全体を制御する際に用いるデータを記憶する。例えば、記憶回路１５２は、処理回路１５１によって実行される、各プログラムを記憶する。また、記憶回路１５２は、Ｘ線画像の補正に用いるデータを記憶する。なお、Ｘ線画像の補正に用いるデータについては後述する。
【００２２】
図２に戻って、ディスプレイ１６０は、操作者によって参照されるモニタであり、処理回路１９０による制御の下、撮影されたＸ線画像等を表示する。入力回路１７０は、各種指示や各種設定の入力に用いるマウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック等を有し、操作者から指示や設定を受け付ける。記憶回路１８０は、処理回路１９０がＸ線診断装置１による処理の全体を制御する際に用いるデータ、及び画像データ等を記憶する。例えば、記憶回路１８０は、処理回路１９０によって実行される、各プログラムを記憶する。また、記憶回路１８０は、Ｘ線画像の補正に用いるデータのバックアップデータを記憶する。なお、Ｘ線画像の補正に用いるデータについては後述する。
【００２３】
処理回路１９０は、制御機能１９０ａと、画像生成機能１９０ｂとを実行する。図２における実施形態では、構成要素の制御機能１９０ａ及び画像生成機能１９０ｂにて行われる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路１８０へ記録されている。処理回路１９０はプログラムを記憶回路１８０から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路１９０は、図２の処理回路１９０に示された各機能を有することとなる。なお、図２においては単一の処理回路にて、制御機能１９０ａ及び画像生成機能１９０ｂにて行われる処理機能が実現するものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。
【００２４】
上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＧＰＵ（Graphics  Processing  Unit）、あるいは、特定用途向け集積回路（Application  Specific  Integrated  Circuit;  ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple  Programmable  Logic  Device;  ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex  Programmable  Logic  Device;  ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field  Programmable  Gate  Array;  ＦＰＧＡ））などの回路を意味する。プロセッサは記憶回路１５２や記憶回路１８０に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路１５２や記憶回路１８０にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図２や図４における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。
【００２５】
第１の実施形態における収集機能１５１ａは、特許請求の範囲における検出部の一例である。また、第１の実施形態における生成機能１５１ｂは、特許請求の範囲における生成部の一例である。
【００２６】
処理回路１９０は、Ｘ線診断装置１による処理の全体を制御する。Ｘ線診断装置１による処理とは、Ｘ線画像の補正に用いるデータを取得するための撮影や、診断のためのＸ線画像の撮影に係る一連の処理である。具体的には、処理回路１９０は、Ｘ線高電圧装置１０１による高電圧の発生やＸ線管によるＸ線の曝射、ＦＰＤ１５０によるＸ線の収集などを制御する。
【００２７】
以上、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１の全体構成について説明した。かかる構成のもと、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｘ線管１２０に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成することで、検査効率を向上させる。具体的には、Ｘ線診断装置１においては、ＦＰＤ１５０によって収集された画像データに対する補正を、Ｘ線診断装置によらず一定にすることで、検査効率を向上させる。
【００２８】
ここでまず、画像データに対する補正について説明する。Ｘ線診断装置１がＦＰＤ１５０により検出したＸ線から生成するＸ線画像は、種々の要因に基づく不均一性を有する。例えば、ＦＰＤ１５０を用いて収集されたＸ線画像は、検出膜やＴＦＴからのリーク電荷等によって生じるオフセット成分や、検出膜の空間的な不均一性やアンプ個々の製造ばらつきによって生じるゲインの不均一性、検出膜やＴＦＴの欠陥に起因する欠陥点等を有する。
【００２９】
従って、ＦＰＤ１５０を用いる撮影において、Ｘ線診断装置１は、上述した不均一性の影響を低減し、均一で診断に使用し得るＸ線画像を生成するため、Ｘ線画像の補正を行う。ここで、Ｘ線画像の補正について、図５を用いて説明する。図５は、Ｘ線画像の補正について説明するための図である。まず、Ｘ線診断装置１は、Ｘ線管１２０から被検体に対してＸ線を曝射し、被検体を透過したＸ線をＦＰＤ１５０で収集する事により、Ｘ線画像を生成する。
【００３０】
次に、Ｘ線診断装置１は、図５に示すように、所定のオフセット画像を、撮影されたＸ線画像から減ずることで、オフセット成分を除去する。また、Ｘ線診断装置１は、図５に示すように、所定の補正係数（以下、ゲイン補正係数とも記載する）をＸ線画像に乗ずることで、ゲインの不均一性を補正する。また、例えば、Ｘ線診断装置１は、図５に示すように、所定の欠陥点マップに沿って、欠陥点周囲の正常画素の画素値を用いて、欠陥点を補間する。以下では、オフセット成分を除去する処理、ゲインの不均一性を補正する処理及び欠陥点を補間する処理を、それぞれ、オフセット補正、ゲイン補正及び欠陥点補正と記載する。また、以下では、ゲイン補正に用いる補正係数を作成するための一連の処理を、ゲインキャリブレーションとも記載する。
【００３１】
ここで、ゲイン補正について、図６Ａを用いて説明する。図６Ａは、Ｘ線画像のゲイン補正について説明するための図である。まず、図６Ａに示すように、ゲイン補正の実行に先立って、ゲインキャリブレーションが実行され、ゲイン補正に用いる補正係数が作成される。ここで、検出膜の空間的な不均一性及びアンプ個々の製造ばらつきなどによって生じるゲインの不均一性を全て収集できるのは、Ｘ線を照射したＦＰＤ１５０から出力されるＸ線画像のみである。従って、ゲインキャリブレーションにおいては、図６Ａに示すように、Ｘ線管１２０からＦＰＤ１５０に対してＸ線を照射して画素値分布を収集し、収集した画素値分布に基づいて補正係数が作成される。次に、撮影されたＸ線画像に補正係数を乗ずることで、ゲイン補正が実行される。例えば、ゲインキャリブレーション時に撮影されたＸ線画像に対してゲイン補正を実行すると、図６Ａに示すように、画素値分布は均一となる。
【００３２】
ここで、ＦＰＤ１５０で収集されるＸ線画像の画素値は、照射するＸ線量に比例する。従って、上述したゲインキャリブレーションにより得られる補正係数は、ゲイン補正による本来の補正対象である空間的な不均一性及びゲインの不均一性に加え、Ｘ線量の不均一性を含む。理想的には、Ｘ線量の不均一性の影響を排除した上で、本来の補正対象である空間的な不均一性及びゲインの不均一性のみを補正するための補正係数を収集する事が好ましい。しかしながら、Ｘ線量はＸ線管１２０からの距離の二乗に反比例するように低下するため、図６ＡのＦＰＤ１５０の中心線ａｂ上における画素値分布に示すように、Ｘ線照射野の中心に比べ、周辺のＸ線量及び画素値は低下する。また、ヒール効果（傾斜効果）の影響により、図６ＡのＦＰＤ１５０の中心線ａｂ上における画素値分布に示すように、Ｘ線管陰極側に比べ、Ｘ線管陽極側でのＸ線量及び画素値は低下する。なお、以下では、空間的な不均一性及びゲインの不均一性を省略し、Ｘ線量の不均一性のみを示す画素値分布について説明する。
【００３３】
従って、ゲインキャリブレーションにより得られる画素値分布は、図６Ａに示すように、Ｘ線管１２０の陽極―陰極方向（Ｘ方向）に非対称な形状となる。また、画素値分布に基づいて作成される補正係数も、図６Ａに示すように、Ｘ方向に非対称な形状となる。なお、ゲインキャリブレーションにより得られる画素値分布のＦＰＤ１５０周辺部での低下の度合いや非対称の度合いは、ＦＰＤ１５０の視野サイズが大きいほど、また、ＳＩＤが小さいほど大きくなる。
【００３４】
ＦＰＤ１５０がＸ線診断装置１に組み込まれ、ＦＰＤ１５０とＸ線診断装置１との組み合わせが固定されている場合、図６Ａに示すように、非対称な形状の補正係数を用いてゲイン補正を実行しても、画素値分布の非対称性を排除し、補正画像の画素値分布を平坦に補正する事ができる。これは、Ｘ線量の不均一性の影響が、ゲインキャリブレーションのための撮影と診断用のＸ線画像の撮影とで同様であるためである。即ち、ＦＰＤ１５０がＸ線診断装置１に組み込まれたシステムにおいては、診断用のＸ線画像の撮影時とゲインキャリブレーション時とで撮影の条件は異なるものの、画素値分布の傾向は同じであるので、非対称な形状の補正係数を用いてゲイン補正を実行しても補正画像の平坦さが大きく損なわれることはなく、ゲイン補正後のＸ線画像を検査に使用する事ができる。
【００３５】
一方で、可搬式のＦＰＤ１５０を複数のＸ線診断装置で共有して使用する場合、非対称な形状の補正係数を用いることで、ゲイン補正が不適切に実行されることがある。ここで、図６Ｂを用いて、ＦＰＤ１５０について、ゲインキャリブレーションを実行するＸ線診断装置１と、Ｘ線画像の撮影を実行するＸ線診断装置とが異なる場合について説明する。なお、図６Ｂは、Ｘ線画像のゲイン補正について説明するための図である。
【００３６】
まず、図６Ｂ上図に示すように、ゲインキャリブレーションが実行される。ここで、ゲインキャリブレーションにおいては、図６Ｂ上図に示すように、ＦＰＤ１５０の中心線ａｂ上の「ａ」の側にＸ線管の陰極側が、「ｂ」の側にＸ線管の陽極側が対応している。従って、ゲインキャリブレーションの際に収集された画素値分布は、図６Ｂ上図に示すように、中心線ａｂ上の「ａ」の側で画素値が大きくなる傾向を有する。また、補正係数は、画素値分布の傾向を相殺するように作成される。
【００３７】
次に、図６Ｂ上図に示すゲインキャリブレーションを行ったＦＰＤ１５０を、ゲインキャリブレーションを実行したＸ線診断装置１と異なる他のＸ線診断装置（別システム）に設置し、Ｘ線画像の撮影を行う。ここで、図６Ｂ下図に示す別システムでの検査においては、ＦＰＤ１５０の中心線ａｂ上の「ａ」の側にはＸ線管１２０の陽極側が、「ｂ」の側にＸ線管１２０の陰極側が対応する。従って、別システムでの検査の際に収集された中心線ａｂ上の画素値分布は、図６Ｂ下図に示すように、「ｂ」の側で画素値が大きくなる傾向を有している。ここで、図６Ｂ上図に示す補正係数を用いてゲイン補正を実行すると、図６Ｂ下図に示すように、ゲイン補正により画素値分布の形状が却って非対称な形状となる。
【００３８】
即ち、ゲインキャリブレーションにより作成される補正係数は、ゲインキャリブレーションを行うＸ線診断装置、Ｘ線管の向き（陽極・陰極の向き）に依存する。そのため、可搬式のＦＰＤ１５０を複数のシステム間でシェアリングし、ゲインキャリブレーション時とＸ線画像の撮影時とでＸ線管に対する向きが異なった状態でＦＰＤ１５０が使用されると、Ｘ線量分布が異なるため、画素値が不自然に補正されてしまう。特に、図６Ｂに示すように、Ｘ線管の陽極・陰極に対するＦＰＤ１５０の向きが逆になると、ゲインキャリブレーション時に陽極側だった領域（例えば、図６Ｂ上図に示すＸ線検出器の中心線ａｂ上の「ａ」の側）が過剰に補正され、補正画像の画素値分布が、Ｘ線量の不均一性よりも大きくなる。そして、不均一なＸ線画像が生成されることで、Ｘ線画像を用いる診断に支障をきたし、検査効率が低下する場合があった。
【００３９】
また、図６Ｂに示すような不適切なゲイン補正はオートウィンドー誤作動につながる場合がある。ここで、オートウィンドー誤作動とは、撮影したＸ線画像のヒストグラムから、被検体を透過していないＸ線（直接線）やスキンラインに対応するピークを判定する際に、判定を誤ることをいう。例えば、直接線は被検体を透過することによる減衰を受けないため、通常、ヒストグラム上の複数のピークのうち、画素値が最も大きいピークに直接線が対応する。また、直接線のピークに次ぎ画素値が大きいピークにスキンラインが対応する。これらの対応関係は種々の画像処理に用いられ、例えば、直接線に対応する領域（背景）を黒の一色とし、スキンライン内の被検体に対応する領域は多くの階調を用いて詳細に表現されるよう、Ｘ線画像が生成される。
【００４０】
ここで、図６Ｂに示すような不適切なゲイン補正により、Ｘ線画像の画素値分布が不均一となる場合、Ｘ線画像上での位置により、直接線による画素値が変化する。例えば、図６Ｂの下図の補正画像の画素値分布に示すように、撮影時にＸ線管の陰極側だった領域の直接線の画素値と、陽極側だった領域の直接線の画素値とは異なる値となる。即ち、ヒストグラム上に、直接線に対応するピークが複数生じることとなり、実際は直接線に対応するピークを、スキンラインに対応するピークと誤って判定してしまう場合がある。従って、オートウィンドー誤作動により、例えば、背景部分が詳細に表現される一方で、スキンライン内の被検体に対応する領域が十分に表現されていないＸ線画像が表示され、検査の効率が低下する場合があった。
【００４１】
上述した不適切なゲイン補正は、病院内の各ＦＰＤについて、各Ｘ線診断装置との組み合わせで、また、Ｘ線管の陽極・陰極の向きの全ての組み合わせでゲインキャリブレーションを実行し、補正係数を作成することで回避することができる。しかしながら、ＦＰＤシェアリングが進み、可搬式のＸ線検出器やＸ線診断装置の数が増加するにしたがって、必要とされるゲインキャリブレーションの回数も増加し、補正係数作成の手間・負担は大きくなる。また、各ＦＰＤについて複数の補正係数が作成されるので、補正係数のデータ管理の煩雑さも増大する。
【００４２】
そこで、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、ＦＰＤシェアリングにより別システムで異なる向きでＦＰＤ１５０を使用しても不適切なゲイン補正とならない補正係数を、１システムで簡便に作成する事により、検査効率を向上させる。具体的には、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、Ｘ線管１２０に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成することで、検査効率を向上させる。以下、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１が行う処理について詳細に説明する。
【００４３】
まず、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、ゲインキャリブレーションを実行し、補正係数を作成する。ここで、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションについて、図７を用いて説明する。なお、図７は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションを説明するための図である。まず、収集機能１５１ａは、図７に示すように、Ｘ線管１２０とＦＰＤ１５０との間（Ｘ線経路）に、被検体やグリッド、ＡＥＣ（Automatic  Exposure  Control）検出器などを置かない状態で、Ｘ線を検出する。ここで、収集機能１５１ａは、所定のＳＩＤ及びＸ線条件において、所定の線質フィルタ１４０を用いて、Ｘ線を検出する。
【００４４】
より具体的には、まず、収集機能１５１ａは、ＦＰＤ１５０に入射したＸ線を検出膜において電荷に変換し、画素容量部及びＴＦＴからなる画素ごとに順番に読み出すことで、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線を収集する。次に、収集機能１５１ａは、図７に示すように、収集したＸ線情報をアンプで増幅してから、ＡＤ変換を行ってデジタル信号（画素値）に変換し、所定の枚数の画像データを生成する。更に、収集機能１５１ａは、収集した所定の枚数の画像データを平均した画像データ（平均画像データ）を生成する。また、収集機能１５１ａは、図７に示すように、生成した平均画像データについてオフセット補正を実行する。
【００４５】
ここで、収集機能１５１ａは、Ｘ線管１２０に対して異なる向きで配置された複数の配置状態において、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線をそれぞれ収集する。例えば、Ｘ線診断装置１は、ゲインキャリブレーションのための撮影を一度実行し、図７に示すオフセット補正を行った画像データ（平均画像データ）を収集した後、ＦＰＤ１５０を、検出面に直交する方向を軸として１８０°回転させ、再度ゲインキャリブレーションのための撮影を実行して平均画像データを収集する。なお、以下では、ゲインキャリブレーションのための再度の撮影の際に、Ｘ線管１２０が照射するＸ線を検出する検出面に直交する方向を軸として、Ｘ線管１２０に対してＦＰＤ１５０が回転した角度を、回転角度と記載する。
【００４６】
例えば、１度目の撮影の際のＦＰＤ１５０の回転角度を「０°」とし、２度目の撮影の際に、１度目の撮影の際のＦＰＤ１５０の状態を基準として、ＦＰＤ１５０が「９０°」回転する場合、２度目の撮影での回転角度は「９０°」である。また、例えば、３度目の撮影の際に、２度目の撮影の際のＦＰＤ１５０の状態を基準として、ＦＰＤ１５０が「９０°」回転する場合、３度目の撮影での回転角度は「１８０°」である。なお、ＦＰＤ１５０が一回転した場合の回転角度は「０°」とし、回転角度は「０°」から「３６０°」の範囲で記載する。また、Ｘ線管１２０に対しＦＰＤ１５０が回転する方向は任意である。
【００４７】
以下、Ｘ線管１２０に対する向きの異なる複数の配置状態において収集された、複数の画像データを用いたゲイン補正係数の作成について、図８を用いて、具体的に説明する。ここで、図８は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションを説明するための図である。まず、収集機能１５１ａは、図８の左上図に示す１回目の撮影において、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線を検出し、平均画像データを生成することで、画素値分布を収集する。ここで、図８の左上図に示す１回目の撮影においては、ＦＰＤ１５０の中心線ａｂの「ａ」の側にＸ線管１２０の陰極側が対応し、「ｂ」の側にＸ線管１２０の陽極側が対応することから、ＦＰＤ１５０の中心線ａｂ上における画素値分布は、図８の左上図のようになる。
【００４８】
次に、収集機能１５１ａは、例えば、図８の右上図に示すように、Ｘ線を検出する検出面に直交する方向（Ｚ方向）を軸として「１８０°」回転した状態での２回目の撮影において、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線を検出し、平均画像データを生成することで、画素値分布を収集する。ここで、図８の右上図に示す２回目の撮影においては、ＦＰＤ１５０の中心線ａｂの「ａ」の側にＸ線管１２０の陽極側が対応し、「ｂ」の側にＸ線管１２０の陰極側が対応することから、ＦＰＤ１５０の中心線ａｂ上における画素値分布は、図８の右上図のようになる。従って、収集機能１５１ａは、図８に示す２回の撮影により、Ｘ線管の陰極側と陽極側とが反対になる一組の画素値分布を収集する。
【００４９】
ここで、図８の左上図及び右上図に示すように、収集機能１５１ａが収集した１回目の撮影による画素値分布及び２回目の撮影による画素値分布は、互いに、Ｘ線管１２０の陰極―陽極方向（Ｘ方向）に反転した分布となる。従って、生成機能１５１ｂは、図８の左上図及び右上図に示す２つの画素値分布を平均することで、図８の下図に示すように、Ｘ方向において左右対称の画素値分布を生成することができる。即ち、１回目及び２回目の撮影で収集した画像データの各々は、Ｘ線管１２０の陰極―陽極方向（Ｘ方向）に非対称な画素値分布を有するが、生成機能１５１ｂは、図８の下図に示すように、これら２方向の画像データを平均することで非対称な画素値分布を相殺し、左右対称の画素値分布を算出する。
【００５０】
なお、Ｘ線管１２０の陰極―陽極方向に直交する方向（図８におけるＹ方向）の画素値分布は、略左右対称であり、ＦＰＤ１５０の中央部に対する周辺部の画素値の低下も小さい。また、据え付け精度の不足により、Ｘ線管１２０とＦＰＤ１５０とが正対しない場合には、図８に示すＹ方向の画素値分布が左右非対称となり得るが、生成機能１５１ｂは、図８に示す１回目の撮影による画素値分布と２回目の撮影による画素値分布とを平均することで、Ｙ方向の画素値分布の左右非対称性を相殺することができる。即ち、生成機能１５１ｂは、図８の左上図及び右上図に示す２つの画素値分布を平均することで、Ｘ方向及びＹ方向について左右対称であり、ＦＰＤ１５０の中心から周辺に向かいなだらかに低下する画素値分布を算出することができる。
【００５１】
次に、生成機能１５１ｂは、図８の下図に示すように、１回目及び２回目の撮影による画素値分布を平均して算出した画素値分布から、中心線ａｂ上のゲイン補正係数を生成する。具体的には、まず、生成機能１５１ｂは、図８の上図に示す複数の配置状態において収集した画像データの画素値分布を平均し、図８の下図に示すように、左右対称な画素値分布を生成する。次に、生成機能１５１ｂは、図８の下図に示す左右対称な画素値分布における画素値の平均値を算出し、算出した平均値に対する画素値の比を、補正係数として、画素ごとにそれぞれ算出する。
【００５２】
図７に戻って、生成機能１５１ｂは、算出したゲイン補正係数を記憶回路１５２に格納することができる。なお、記憶回路１５２は、補正係数に加え、オフセット画像や欠陥点マップを記憶する事ができる。また、送信機能１５１ｃは、補正係数やオフセット画像、欠陥点マップを、アクセスポイントを経由して所定の記憶装置に送信し、バックアップデータとして保存させることができる。なお、所定の記憶装置とは、ＦＰＤ１５０外部のサーバであり、例えば、記憶回路１８０等である。そして、ＦＰＤ１５０は、記憶回路１５２が保持するオフセット画像やゲイン補正係数、欠陥点マップ等のデータが破損した場合、バックアップデータを用いて、破損したデータを回復する事ができる。
【００５３】
なお、図８においては、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０が、回転角度が「０°」及び「１８０°」となる２つの向きについて収集した画像データを平均して補正係数を作成する場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、ＦＰＤ１５０は、図９に示すように、回転角度が「０°」、「９０°」「１８０°」及び「２７０°」の４つの向きについて収集した画像データを平均して補正係数を作成する場合であってもよい。なお、図９は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションを説明するための図である。
【００５４】
例えば、収集機能１５１ａは、図９の上図に示すように、それぞれＸ線管１２０に対する向きが異なる４つの配置状態のそれぞれにおいて、画像データを収集する。次に、生成機能１５１ｂは、図９の下図に示すように、１回目、２回目、３回目及び４回目の撮影による画素値分布を平均して画素値分布を算出し、算出した画素値分布からゲイン補正係数を算出する。ここで、生成機能１５１ｂは、例えば、回転角度が「０°」、「９０°」「１８０°」及び「２７０°」の４方向について撮影したＸ線画像を平均して補正係数を作成することで、ＦＰＤ１５０の上下左右（Ｘ方向及びＹ方向）について対称な補正係数を作成する事ができる。
【００５５】
以上、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションについて説明した。上述したように、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０は、Ｘ線管１２０に対して異なる向きで配置された複数の配置状態において収集した画像データを平均し、補正係数を算出する。以下では、Ｘ線診断装置１とは異なる他のＸ線診断装置（別システム）にＦＰＤ１５０を設置し、被検体Ｐの撮影を行う場合について、図１０を用いて説明する。図１０は、第１の実施形態に係る撮影を説明するための図である。
【００５６】
まず、収集機能１５１ａは、図１０に示すように、Ｘ線管１２０とＦＰＤ１５０との間（Ｘ線経路）に、被検体Ｐやグリッド、ＡＥＣ（Automatic  Exposure  Control）検出器などを設置した状態でＸ線情報を収集する。次に、収集機能１５１ａは、図１０に示すように、収集したＸ線情報をアンプで増幅してから、ＡＤ変換を行ってデジタル信号（画素値）に変換して、画像データを生成する。
【００５７】
また、収集機能１５１ａは、生成した画像データに対して、各種の補正を実行する。具体的には、収集機能１５１ａは、図１０に示すように、まず、記憶回路１５２からオフセット画像を読み出して、オフセット補正を実行する。次に、収集機能１５１ａは、記憶回路１５２からゲイン補正係数を読み出して、ゲイン補正を実行する。また、収集機能１５１ａは、記憶回路１５２から欠陥点マップを読み出して、欠陥点補正を実行する。
【００５８】
ここで、図１０に示す画像データの収集に用いたＸ線管の種類やＳＩＤ、Ｘ線管の向き等は、キャリブレーションを実行したＸ線診断装置１と異なる場合がある。従って、Ｘ線量の不均一性による画素値分布は、ゲインキャリブレーション時の画素値分布と異なる形状となることがある。しかし、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションにより作成されたゲイン補正係数は、図１１の上図に示すように、２方向の撮影画像を平均した画像に基づいて生成されることで、左右対称となっている。従って、このような補正係数を用いることで、補正画像の画素値分布の範囲がＸ線量の不均一性より大きくなる現象は生じない。なお、図１１は、第１の実施形態に係るゲイン補正を説明するための図である。
【００５９】
即ち、収集機能１５１ａは、ゲインキャリブレーションを行ったＸ線診断装置１以外の別システムにＦＰＤ１５０を設置して撮影を行う場合であっても、図１１の上図に示す左右対称なゲイン補正係数を用いてゲイン補正を実行することで、図６Ｂに示したような過剰な補正がなされることを回避することができる。そして、収集機能１５１ａは、照射野周辺に向かい対称になだらかにゲイン補正を実行し、自然な補正画像を生成することができる。
【００６０】
図１０に戻って、収集機能１５１ａが画像データを収集し、各種の補正を実行した後、送信機能１５１ｃは、例えば、アクセスポイントを経由して、画像データを画像処理装置に送信する。そして、画像処理装置は、ＦＰＤ１５０から収集した画像データに対してプリセットされた画像処理を実行し、画像処理を実行したＸ線画像をモニタに表示する。
【００６１】
次に、ＦＰＤ１５０による処理の手順の一例を、図１２を用いて説明する。図１２は、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。ステップＳ１３００、ステップＳ１４００、ステップＳ１５００、ステップＳ１６００、ステップＳ１７００及びステップＳ１９００は、収集機能１５１ａに対応するステップである。ステップＳ１８００は、送信機能１５１ｃに対応するステップである。
【００６２】
まず、処理回路１５１は、ゲインキャリブレーションを実行し（ステップＳ１１００）、ゲイン補正係数を作成する。次に、ゲインキャリブレーションを実行したシステムと同じシステム又は別のシステムにＦＰＤ１５０を設置してから（ステップＳ１２００）、処理回路１５１は、操作者から検査開始要求を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１３００）。検査開始要求を受け付けない場合（ステップＳ１３００否定）、処理回路１５１は待機状態となる。一方、検査開始要求を受け付けた場合（ステップＳ１３００肯定）、処理回路１５１は、被検体Ｐを透過したＸ線を検出して画像データを収集する（ステップＳ１４００）。また、処理回路１５１は、収集した画像データに対してオフセット補正を実行する（ステップＳ１５００）。
【００６３】
次に、処理回路１５１は、オフセット補正を実行した画像データに対し、ステップＳ１１００のゲインキャリブレーションで作成したゲイン補正係数を用いて、ゲイン補正を実行する（ステップＳ１６００）。また、処理回路１５１は、ゲイン補正を実行した画像データに対して欠陥点補正を実行し（ステップＳ１７００）、画像データを画像処理装置に送信する（ステップＳ１８００）。そして、処理回路１５１は、操作者から検査終了要求を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１９００）。検査終了要求を受け付けない場合（ステップＳ１９００否定）、処理回路１５１は待機状態となる。一方、検査終了要求を受け付けた場合（ステップＳ１９００肯定）、処理回路１５１は処理を終了する。
【００６４】
以上、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０の処理の一連の流れについて説明した。次に、図１３を用いて、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションについて説明する。図１３は、第１の実施形態に係るゲインキャリブレーションの一連の流れを説明するためのフローチャートである。ここで、図１３は、図１２のステップＳ１１００に対応する処理を示す。図１３において、ステップＳ１１０１、ステップＳ１１０２、ステップＳ１１０３及びステップＳ１１０６は、収集機能１５１ａに対応するステップである。ステップＳ１１０４は、生成機能１５１ｂに対応するステップである。ステップＳ１１０５は、送信機能１５１ｃに対応するステップである。
【００６５】
まず、処理回路１５１は、操作者からゲインキャリブレーションの開始要求を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１１０１）。ゲインキャリブレーションの開始要求を受け付けない場合（ステップＳ１１０１否定）、処理回路１５１は待機状態となる。一方、ゲインキャリブレーションの開始要求を受け付けた場合（ステップＳ１１０１肯定）、処理回路１５１は、Ｘ線管１２０から曝射されたＸ線を検出し、Ｘ線管１２０に対する複数の配置状態における画像データを収集する（ステップＳ１１０２）。また、処理回路１５１は、収集した画像データに対してオフセット補正を実行する（ステップＳ１１０３）。
【００６６】
次に、処理回路１５１は、複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてゲイン補正係数を作成し（ステップＳ１１０４）、記憶回路１５２に格納する。また、処理回路１５１は、作成したゲイン補正係数を所定の記憶装置に送信し、バックアップデータとする（ステップＳ１１０５）。そして、処理回路１５１は、操作者からゲインキャリブレーションの終了要求を受け付けたか否かを判定する（ステップＳ１１０６）。ゲインキャリブレーションの終了要求を受け付けない場合（ステップＳ１１０６否定）、処理回路１５１は待機状態となる。一方、ゲインキャリブレーションの終了要求を受け付けた場合（ステップＳ１１０６肯定）、処理回路１５１は処理を終了する。
【００６７】
上述したように、第１の実施形態によれば、収集機能１５１ａは、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線を検出する。また、生成機能１５１ｂは、Ｘ線管１２０に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、ＦＰＤシェアリングを行う場合であっても、過剰な補正及びオートウィンドー誤作動を回避し、自然な補正画像を得ることのできるゲイン補正計数を作成し、検査の効率を向上させることができる。
【００６８】
また、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、１システムにおけるゲインキャリブレーションにより、自然な補正画像を得ることのできるゲイン補正計数を作成する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、複数のＸ線診断装置と複数のＦＰＤとが組み合わせて用いられる場合であっても、ゲインキャリブレーションの手間を増大させることなく、比較的簡便にゲイン補正計数を作成することができる。
【００６９】
また、第１の実施形態によれば、生成機能１５１ｂは、Ｘ線管１２０の陽極側と陰極側とが反対になる２方向の画像データにおける画素値分布を用いて、ゲイン補正係数を作成する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、ゲインキャリブレーション時と診断用のＸ線画像の撮影時とで、Ｘ線管の陽極側及び陰極側に対するＦＰＤ１５０の向きが逆になったとしても、過剰な補正がなされることのないゲイン補正計数を作成し、検査の効率を向上させることができる。
【００７０】
また、第１の実施形態によれば、生成機能１５１ｂは、Ｘ線管１２０に対して「９０°」ずつ回転した４方向の画像データにおける画素値分布を用いて、上下左右対称なゲイン補正係数を作成する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１は、診断用のＸ線画像の撮影時におけるＦＰＤ１５０設置の自由度がさらに向上し、汎用性のより大きいゲイン補正計数を作成し、検査の効率を向上させることができる。
【００７１】
また、第１の実施形態によれば、生成機能１５１ｂは、ゲインキャリブレーションを行うＸ線診断装置１にＦＰＤ１５０を設置する場合に限らず、他のＸ線診断装置にＦＰＤ１５０を設置して診断用のＸ線画像を撮影する際にも、自然なＸ線画像を生成する事のできるゲイン補正係数を作成する。従って、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０は、ゲイン補正係数をＦＰＤ１５０に固有なものとして作成し、Ｘ線画像の補正に用いるデータの管理の煩雑さを解消することができる。
【００７２】
また、第１の実施形態によれば、記憶回路１５２は、生成機能１５１ｂが作成したゲイン補正係数、オフセット画像及び欠陥点マップを記憶回路１５２に格納する。従って、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０は、その素性を示す補正データを自ら保持する事で、ＦＰＤシェアリングを行う際のＸ線画像の補正に用いるデータの管理の煩雑さを解消することができる。
【００７３】
また、第１の実施形態によれば、送信機能１５１ｃは、生成機能１５１ｂが作成したゲイン補正係数、オフセット画像及び欠陥点マップを、所定の記憶装置に送信し、バックアップとすることができる。従って、第１の実施形態に係るＦＰＤ１５０は、記憶回路１５２が保持するデータが破損した場合であっても、バックアップデータを受信して回復する事ができる。
【００７４】
上述した第１の実施形態では、ＦＰＤ１５０が備える生成機能１５１ｂが、Ｘ線画像の補正に用いる補正係数を算出する場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、Ｘ線診断装置１の処理回路１９０が補正係数を算出する場合であってもよい。一例を挙げると、ＦＰＤ１５０は、Ｘ線管１２０から照射されたＸ線を検出する。処理回路１９０は、Ｘ線管１２０に対して異なる向きで配置された複数の配置状態においてそれぞれ検出されたＸ線に基づく各信号を平均し、平均した信号に基づいてＸ線画像の補正に用いる補正係数を生成する。また、例えば、Ｘ線診断装置は、複数の異なるＦＰＤについて補正係数を生成して、記憶回路に記憶する。ここで、Ｘ線診断装置は、ＦＰＤから受信した画像データに対して、ＦＰＤに対応する補正係数を用いてゲイン補正係数を実行する場合であってもよい。また、例えば、Ｘ線診断装置は、複数の異なるＦＰＤについて補正係数を生成して、生成した補正係数を各ＦＰＤが備える記憶回路に記憶する場合であってもよい。
【００７５】
上述した第１の実施形態に係る各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成する事ができる。更に、各装置にて行われる各処理機能は、その全部又は任意の一部が、ＣＰＵ及び当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現されうる。
【００７６】
また、第１の実施形態で説明した制御方法は、予め用意された制御プログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この制御プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。
【００７７】
以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、可搬式のＸ線検出器を用いた検査の効率を向上させることができる。
【００７８】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００７９】
１  Ｘ線診断装置
１５０  ＦＰＤ
１５１  処理回路
１５１ａ  収集機能
１５１ｂ  生成機能
１５１ｃ  送信機能
１５２  記憶回路
１９０  処理回路
１９０ａ  制御機能
１９０ｂ  画像生成機能
【図１】
2017189240.tif 000003
【図２】
2017189240.tif 000004
【図３】
2017189240.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
2017189240.tif 000009
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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