(57)【要約】【課題】不良品を精度良く排出することができる光検査装置を提供する。【解決手段】光検査装置は、物品を搬送するレーンが複数隣接した搬送部と、搬送部により搬送される物品に光を照射する光照射部と、物品を透過した光を検出する光検出部と、光検出部から出力された信号に基づいて光透過画像を生成し、光透過画像に基づいて物品の良否を検査する検査部と、検査部により物品が不良と判定された場合、不良品の位置を取得し、取得された不良品の位置に基づいて不良品を排出するためのレーンを決定する制御部と、複数のレーンに対応し、レーンから不良品を排出する排出動作を行う複数の排出部と、を備え、制御部は、決定されたレーンに対応する排出部に排出動作を行わせる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品を搬送するレーンが複数隣接した搬送部と、
前記搬送部により搬送される前記物品に光を照射する光照射部と、
前記物品を透過した光を検出する光検出部と、
前記光検出部から出力された信号に基づいて光透過画像を生成し、前記光透過画像に基づいて前記物品の良否を検査する検査部と、
前記検査部により前記物品の不良が判定された場合、不良要因を含む前記物品である不良品の位置を取得し、取得された前記不良品の位置に基づいて前記不良品を排出するためのレーンを決定する制御部と、
前記複数のレーンに対応し、前記レーンから前記不良品を排出する排出動作を行う複数の排出部と、
を備え、
前記制御部は、決定された前記レーンに対応する前記排出部に前記排出動作を行わせる、
光検査装置。
【請求項２】
前記検査部により検査で用いられた前記光透過画像を生成順又は生成時刻と関連付けて記憶する記憶部を備え、
前記制御部は、前記記憶部を参照し、前記検査部により前記物品の不良が判定された前記光透過画像である判定画像と、前記判定画像が生成されたタイミングよりも前に生成された光透過画像、及び、前記判定画像が生成されたタイミングよりも後に生成された光透過画像の少なくとも一方と、に基づいて、前記物品の位置を決定する請求項１に記載の光検査装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記不良品の位置が複数のレーンに跨がる位置である場合、前記不良品が跨がる前記複数のレーンを、前記不良品を排出するためのレーンとして決定する請求項１又は２に記載の光検査装置。
【請求項４】
前記光はＸ線である、請求項１〜３のいずれか一項に記載の光検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光を利用して物品の検査を行う光検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
物品を透過したＸ線を検出することでＸ線透過画像を生成し、Ｘ線透過画像を用いて物品の合否判定を行い、不合格の物品を排出する光検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。この装置は、搬送方向に延びる複数の検査領域と、隣接する検査領域の境界に設定された共通領域とのそれぞれで合否判定を行い、共通領域での合否判定結果が否の場合には、その共通領域を挟む両側の検査領域に対応する排除手段の双方が排除動作を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第３８０４６１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載のＸ線検査装置では、隣接する検査領域に跨がらない物品が不良品（異物混入、形状異常、欠品）の場合であって、不合格の要因である不良要因が共通領域に位置するときには、不良品が位置する検査領域に対応する排除手段だけでなく、当該検査領域と共通領域を挟むように隣接した検査領域に対応する排除手段も排除動作を行う。しかしながら、隣接する検査領域に跨がらない不良品は、不良品が位置する検査領域に対応する排除手段によって排除することができる。このため、隣接する検査領域の排除手段も動作させてしまうと、隣接する検査領域にて合格と判定された物品も排除してしまうおそれがある。
【０００５】
本発明は、不良品を精度良く排出することができる光検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る光検査装置は、物品を搬送するレーンが複数隣接した搬送部と、搬送部により搬送される物品に光を照射する光照射部と、物品を透過した光を検出する光検出部と、光検出部から出力された信号に基づいて光透過画像を生成し、光透過画像に基づいて物品の良否を検査する検査部と、検査部により物品の不良が判定された場合、不良要因を含む物品である不良品の位置を取得し、取得された不良品の位置に基づいて不良品を排出するためのレーンを決定する制御部と、複数のレーンに対応し、レーンから不良品を排出する排出動作を行う複数の排出部と、を備え、制御部は、決定されたレーンに対応する排出部に排出動作を行わせる。
【０００７】
この光検査装置は、検査部により物品の不良が判定された場合、不良品の位置を取得し、取得された不良品の位置に基づいて不良品を排出するためのレーンを決定する。このように、この光検査装置は、不合格の要因である不良要因の位置に基づいて物品を排出するためのレーンを決定するのではなく、不良品の位置に基づいて不良品を排出するためのレーンを決定するので、不良品を精度良く排出することができる。
【０００８】
光検査装置は、検査部により検査で用いられた光透過画像を生成順又は生成時刻と関連付けて記憶する記憶部を備え、制御部は、記憶部を参照し、検査部により物品が不良であると判定された光透過画像である判定画像と、判定画像が生成されたタイミングよりも前に生成された光透過画像、及び、判定画像が生成されたタイミングよりも後に生成された光透過画像の少なくとも一方に基づいて、物品の位置を決定する。このように構成することにより、１枚の光透過画像に物品全体が写されていない場合であっても、物品全体の位置を取得することができる。
【０００９】
制御部は、不良品の位置が複数のレーンに跨がる位置である場合、不良品が跨がる複数のレーンを、不良品を排出するためのレーンとして決定してもよい。このように構成することにより、１つのレーンの排出部に排出動作をさせる場合と比べて、不良品を精度良く排出することができる。
【００１０】
光検査装置では、光はＸ線であってもよい。このように構成することにより、物品が包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品を検査することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、不良品を精度良く排出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施形態の光検査装置であるＸ線検査装置の構成図である。
【図２】図１の搬送部及び排出部を説明する概要図である。
【図３】図１のＸ線検査装置の機能ブロック図である。
【図４】検査処理の一例を説明する図である。
【図５】位置取得処理の一例を説明する図である。
【図６】不良品の排出処理のフローチャートである。
【図７】データの加工処理を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１４】
［Ｘ線検査装置の構成］
図１に示されるように、Ｘ線検査装置（光検査装置の一例）１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送部５と、Ｘ線照射部（光照射部の一例）６と、Ｘ線検出部（光検出部の一例）７と、表示操作部８と、排出部９と、主制御部１０と、を備えている。Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送しつつ物品ＧのＸ線透過画像（光透過画像の一例）を取得し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査（例えば、収納数検査、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等）を行う。
【００１５】
なお、検査前の物品Ｇは、搬入コンベア６０によってＸ線検査装置１に搬入され、検査後の物品Ｇは、搬出コンベア６１によってＸ線検査装置１から搬出される。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ｇは、Ｘ線検査装置１の排出部９によって生産ライン外に振り分けられ、Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ｇは、Ｘ線検査装置１の排出部９をそのまま通過する。排出部９の詳細は後述する。
【００１６】
装置本体２は、主制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられており、Ｘ線の漏洩を防止する。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア６０から搬入口４ａを介してシールドボックス４内に搬入され、検査後の物品Ｇは、シールドボックス４内から搬出口４ｂ及び排出部９を介して搬出コンベア６１に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。
【００１７】
搬送部５は、シールドボックス４内に配置されており、搬入口４ａから搬出口４ｂまで搬送方向Ａに沿って物品Ｇを搬送する。搬送部５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。搬送部５の詳細は後述する。
【００１８】
Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されており、搬送部５によって搬送される物品ＧにＸ線（光の一例）を照射する。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ａに垂直な面内において扇状に広げるコリメータと、を有している。
【００１９】
Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内に配置されており、物品Ｇ及び搬送部５を透過したＸ線を検出する。Ｘ線検出部７は、例えば、ラインセンサとして構成されている。具体的には、Ｘ線検出部７は、搬送方向Ａに垂直な水平方向に沿って一次元に配列された複数のフォトダイオードと、各フォトダイオードに対してＸ線入射側に配置されたシンチレータと、を有している。この場合、Ｘ線検出部７では、シンチレータに入射したＸ線が光に変換され、各フォトダイオードに入射した光が電気信号に変換される。
【００２０】
表示操作部８は、装置本体２に設けられており、各種情報の表示及び各種条件の入力受付等を行う。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。
【００２１】
主制御部１０は、装置本体２内に配置されており、Ｘ線検査装置１の各部の動作を制御する。主制御部１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）等で構成されている。主制御部１０には、Ｘ線検出部７から出力されてＡ／Ｄ変換された信号が入力される。主制御部１０は、当該信号に基づいて物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査を行う機能を有する機能する。
【００２２】
［搬送部及び排出部の詳細］
図２は、搬送部５及び排出部９を説明する概要図である。図２に示されるように、搬送部５は、互いに隣接した複数の搬送コンベア５ａ〜５ｄ（複数のレーンの一例）を有する。搬送コンベア５ａ〜５ｄそれぞれは、物品Ｇを搬送する。排出部９は、搬送コンベア５ａ〜５ｄそれぞれに対応し、搬送コンベア５ａ〜５ｄから不良品を排出する排出動作を行う振分装置（複数の排出部の一例）９ａ〜９ｄを有する。振分装置９ａ〜９ｄは、搬送面を下方に傾斜させることで、搬送コンベア５ａ〜５ｄから不良品を排出する。このように、搬送部５及び排出部９は、いわゆる多列振り分け構造となっている。なお、物品Ｇは整列されていない状態で搬送され、隣接する搬送コンベアの境界にはガイド等が設けられていないため、物品Ｇは隣接レーンに跨がる場合がある。
【００２３】
［主制御部の機能］
図３は、Ｘ線検査装置１の機能ブロック図である。図３に示されるように、主制御部１０は、搬送部５、Ｘ線照射部６、Ｘ線検出部７、表示操作部８及び排出部９に接続されており、これらの構成と信号（制御信号又はデータ）の入出力をすることができる。主制御部１０は、検査部１１と、排出制御部（制御部の一例）１２と、記憶部１３とを有する。主制御部１０において、検査部１１及び排出制御部１２は、ソフトウェアとしてとして構成される。ただし、検査部１１及び排出制御部１２は、ハードウェアとして構成されてもよい。
【００２４】
検査部１１は、Ｘ線検出部７から出力された信号に基づいてＸ線透過画像を生成する。検査部１１は、一定間隔の長さのＸ線透過画像を連続的に生成する。そして、検査部１１は、生成されたＸ線透過画像に対して検査処理を行う。図４は、検査処理の一例を説明する図である。図４では、搬送部５の一部である隣り合う搬送コンベア５ａ及び５ｂが示されている。搬送コンベア５ａは、物品Ｇ１〜Ｇ３を図中右側へ向けて搬送している。搬送コンベア５ｂは、物品を搬送していないが動作しているものとする。このような状況下においては、検査部１１は、右から順に長さＬ１間隔でＸ線透過画像を連続的に生成する。検査部１１は、生成されたＸ線透過画像を記憶部１３に順次記憶する。検査部１１は、生成されたＸ線透過画像と生成順又は生成時刻とを関連付けて記憶部１３に記憶する。
【００２５】
検査部１１は、生成されたＸ線透過画像に対して画像生成順に検査処理を行う。検査処理は、不良要因があるか否かを判定する処理である。不良要因とは、不合格の要因であり、物品の形状異常、異物混入、欠品などである。図４では、不良要因の位置として異物Ｄ１〜Ｄ３が混入した箇所を示している。
【００２６】
検査部１１は、Ｘ線透過画像ごとに検査処理を行うため、物品Ｇの切り分けは行わない。つまり、検査部１１は、検査処理の段階では物品Ｇの全体の大きさを把握することなく、不良要因の有無を判定する。例えば、図４に示された「検査１」「検査２」「検査３」において、検査部１１は、物品Ｇの全体の大きさを認識することなく異物の有無をＸ線透過画像ごとに行う。以下では、異物が存在すると判定された根拠となるＸ線透過画像（異物が写されているＸ線透過画像）を判定画像ともいう。検査部１１は、不良要因が存在すると判定した場合、つまり、物品Ｇの不良が判定された場合には、排出制御部１２に不良品が存在することを示す信号を出力する。
【００２７】
排出制御部１２は、検査部１１により物品Ｇの不良が判定された場合、不良要因を含む物品である不良品の位置を取得する。不良品の位置とは、複数の搬送コンベア５ａ〜５ｂに対する位置であり、より詳細には、不良品の位置は、搬送コンベア５ａ〜５ｂに対する不良品の外縁の位置である。排出制御部１２は、例えば、エッジ処理などの画像処理によって、判定画像に写された不良要因を囲むラインを検出し、不良品の全体の外縁（不良品の位置）を認識する。排出制御部１２は、判定画像だけで不良品の外縁を認識できない場合には、記憶部１３を参照し、連続するＸ線透過画像のうち、判定画像が生成されたタイミングを基準として前後に生成されたＸ線透過画像の少なくとも一方も用いて、不良品である物品Ｇを認識してもよい。
【００２８】
図５は、位置取得処理の一例を説明する図である。図５では、搬送部５の一部である隣り合う搬送コンベア５ａ及び５ｂが示されている。搬送コンベア５ａは、物品Ｇ１〜Ｇ３を図中右側へ向けて搬送している。搬送コンベア５ｂは、物品を搬送していないが動作しているものとする。つまり、図５では、右から順にＸ線透過画像が生成される。これにより、最初のＸ線透過画像により異物Ｄ４が不良要因として検出される。しかし、このＸ線透過画像では異物Ｄ４を含む物品Ｇ４の外縁は見切れており、次のＸ線透過画像を確認しなければ、物品Ｇ４の位置を決定することができない。このため、排出制御部１２は、判定画像（異物Ｄ４が写されているＸ線透過画像）が生成されたタイミングよりも後に生成されるＸ線透過画像が記憶部１３に記憶されるまで待機する。そして、排出制御部１２は、判定画像の生成順又は生成時刻に基づいて記憶部１３を参照することで、判定画像が生成されたタイミングよりも後に生成されたＸ線透過画像を取得する。そして、排出制御部１２は、判定画像と取得したＸ線透過画像とに基づいて、不良品である物品Ｇ４の位置を取得する。
【００２９】
排出制御部１２は、判定画像と取得したＸ線透過画像とに基づいて、不良品である物品の位置を取得できない場合には、判定に用いるＸ線透過画像を追加する。例えば、物品Ｇ５の位置を取得するためには、２枚のＸ線透過画像では足りない。このため、排出制御部１２は、判定画像の生成順又は生成時刻に基づいて記憶部１３を参照することで、判定画像及び取得済のＸ線透過画像が生成されたタイミングよりも後に生成されたＸ線透過画像をさらに取得する。
【００３０】
排出制御部１２は、物品Ｇ６のように後端に異物Ｄ６が含まれている場合には、判定画像が生成されたタイミングよりも前に生成されたＸ線透過画像が必要になる。よって、上述した処理と同様に、排出制御部１２は、判定画像の生成順又は生成時刻に基づいて記憶部１３を参照することで、判定画像が生成されたタイミングよりも先に生成されたＸ線透過画像を取得する。なお、排出制御部１２は、判定画像で得られた物品の形状に基づいて、前後何れのＸ線透過画像を取得すべきかを判定してもよいし、何ら判定することなく、前後のＸ線透過画像あるいは前後数枚のＸ線透過画像を取得してもよい。
【００３１】
排出制御部１２は、取得された不良品の位置に基づいて不良品を排出するための搬送コンベアを決定する。排出制御部１２は、不良品の全体の外縁が１つの搬送コンベアの搬送路内に位置している場合には、不良品が属する搬送路に対応した搬送コンベアを、不良品を排出するための搬送コンベアと決定する。一方、上述したように、隣接する搬送コンベアの境界にはガイド等が設けられていないため、物品Ｇは隣接する搬送コンベアに跨がる場合がある。例えば、図４では、搬送コンベア５ａで搬送していた物品Ｇ１，Ｇ２が隣接する搬送コンベア５ｂを跨いだ状態となっている。排出制御部１２は、不良品の外縁の位置が隣接する搬送コンベアの境界線を所定の閾値以上越えている場合には、不良品は隣接する搬送コンベアを跨いでいると判断する。そして、排出制御部１２は、不良品が跨ぐ複数の搬送コンベアを、不良品を排出するための搬送コンベアとして採用してもよい。図４の場合では、物品Ｇ１、Ｇ２に対しては、不良品を排出するための搬送コンベアとして搬送コンベア５ａ及び５ｂの両方が決定され、物品Ｇ３に対しては不良品を排出するための搬送コンベアとして搬送コンベア５ａのみが決定される。
【００３２】
排出制御部１２は、不良品を排出するための搬送コンベアを決定した場合、決定された搬送コンベアに対応する排出部９に排出動作を行わせる。図２の場合、搬送コンベア５ａに対応する装置は振分装置９ａ、搬送コンベア５ｂに対応する装置は振分装置９ｂ、搬送コンベア５ｃに対応する装置は振分装置９ｃ、搬送コンベア５ｄに対応する装置は振分装置９ｄである。
【００３３】
［主制御部の動作］
次に、Ｘ線検査装置１の不良品の排出処理を説明する。図６は、不良品の排出処理のフローチャートである。図６に示されるように、最初に、検査部１１は、画像生成処理（Ｓ１０）として、Ｘ線検出部７から出力された信号に基づいてＸ線透過画像を生成する。次に、検査部１１は、検査処理（Ｓ１２）として、Ｓ１０の処理で生成されたＸ線透過画像を用いて物品Ｇの良否を判定する。次に、不良品判定処理（Ｓ１４）では、検査処理（Ｓ１２）において物品Ｇの不良が判定された場合、物品Ｇの位置取得処理（Ｓ１６）へと処理が移行する。排出制御部１２は、物品Ｇの位置取得処理（Ｓ１６）として、不良要因を含む物品である不良品の位置を取得する。続いて、排出制御部１２は、レーン決定処理（Ｓ１８）として、Ｓ１６の処理で取得された不良品の位置に基づいて不良品を排出するための搬送コンベアを決定する。そして、排出制御部１２は、排出処理（Ｓ２０）として、Ｓ１８の処理で決定された搬送コンベアに対応する振分装置に排出動作を行わせる。以上で、Ｘ線検査装置１の不良品の排出処理を終了する。
【００３４】
［作用及び効果］
本実施形態に係るＸ線検査装置１は、検査部１１により物品Ｇの不良が判定された場合、不良品の位置を取得し、取得された不良品の位置に基づいて不良品を排出するための搬送コンベア５ａ〜５ｄを決定する。このように、このＸ線検査装置は、不合格の要因である不良要因の位置に基づいて物品Ｇを排出するための搬送コンベア５ａ〜５ｄを決定するのではなく、不良品の位置に基づいて不良品を排出するためのレーンを決定するので、不良品を精度良く排出することができる。
【００３５】
上記効果を詳細に説明するために、共通領域を用いて不良品を排出する検査装置と対比する。このような検査装置は、例えば図４に示されるとおり、隣接する搬送コンベア５ａ、５ｂに跨がる共通領域Ｒ１を設定する。そして、検査装置は、共通領域Ｒ１に異物が存在するときに、当該共通領域を挟む測定領域の双方に対応する振分装置を動作させる。しかしながら、このような動作を行った場合、物品Ｇ１の場合、異物Ｄ１が共通領域Ｒ１に存在しないので、振分装置９ａのみが動作することとなり、搬送コンベア５ａ，５ｂに跨がる物品Ｇ１を排除できない可能性がある。また、物品Ｇ３の場合、異物Ｄ３が共通領域Ｒ１に存在するので、振分装置９ａのみならず、振分装置９ｂも動作してしまう。このため、搬送コンベア５ｂの良品を無駄に排出するおそれがある。
【００３６】
これに対して、本実施形態に係るＸ線検査装置１は、物品Ｇの位置と搬送コンベア５ａ，５ｂの位置とに基づいて、動作させる振分装置９ａ〜９ｄが決定される。このため、Ｘ線検査装置１は、搬送コンベア５ａ，５ｂに跨がる物品Ｇ１については、振分装置９ａ及び振分装置９ｂの両方を動作させることができるため、不良品を精度良く排出することができる。また、Ｘ線検査装置１は、搬送コンベア５ａ，５ｂに跨がらない物品Ｇ３については、異物Ｄ３が共通領域Ｒ１に存在するとしても振分装置９ａのみを動作させることができるため、搬送コンベア５ｂの良品を無駄に排出することを回避することができる。
【００３７】
また、本実施形態に係るＸ線検査装置１は、検査部１１により検査で用いられたＸ線透過画像を生成順又は生成時刻と関連付けて記憶する記憶部１３を備えているため、１枚の光透過画像に物品全体が写されていない場合であっても、物品全体の位置を取得することができる。例えば、図５に示されるように、異物Ｄ４が検出されたＸ線透過画像では、物品Ｇ４は搬送コンベア５ａ，５ｂに跨がっていない。同様に、異物Ｄ５が検出されたＸ線透過画像では、物品Ｇ５は搬送コンベア５ａ，５ｂに跨がっていない。しかし、物品Ｇ５は、後端側が搬送コンベア５ａ，５ｂに跨がっている。つまり、物品全体の位置を取得する処理を行うことにより、異物を含む物品が隣接する搬送コンベアに跨がっているか否かを精度良く判定することができる。よって、不良品を精度良く排出し、良品を無駄に排出することを回避するという効果をさらに向上させることができる。
【００３８】
また、本実施形態に係るＸ線検査装置１は、不良品の位置が複数の搬送コンベアに跨がる位置である場合、不良品が跨がる複数の搬送コンベアを、不良品を排出するためのレーンとして決定する。これにより、１つの搬送コンベアの振分装置に排出動作をさせる場合と比べて、不良品を精度良く排出することができる。
【００３９】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。
【００４０】
［変形例］
本発明は、物品を透過した光（近赤外線、その他の電磁波）を検出することで光透過画像を生成し、当該光透過画像に基づいて物品の検査を行う、Ｘ線検査装置以外の光検査装置に適用可能である。ただし、光としてＸ線を利用する場合には、物品Ｇが包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品Ｇの欠けを検査することができる。
【００４１】
搬送部５は、複数の搬送コンベア５ａ〜５ｄに替えて、１つの搬送コンベアで構成され、その搬送面に複数のレーンが設定されていてもよい。また、排出制御部１２は、Ｘ線透過画像ではなく、搬送コンベア５ａ〜５ｄの搬送面を撮像するカメラなどから画像を取得して不良要因を含む物品である不良品の位置を取得してもよい。また、排出部９は、Ｘ線検査装置１から離れた位置に存在していてもよい。例えば、排出部９は、搬出コンベア６１よりも下流に設けられてもよい。これらの場合であっても、不良品を精度良く排出し、良品を無駄に排出することを回避するという効果を奏する。
【００４２】
また、検査部１１は、Ｘ線透過画像と生成順又は生成時刻とを関連付けて記憶部１３に記憶する際に、データを加工する処理を行ってもよい。例えば、記憶部１３がＨＤＤ（Hard  Disk  Drive）の場合、セクタ（４０９６バイト）単位でデータが記憶される。このため、データそのものをセクタ単位で割り切れるように圧縮することで、ＨＤＤ容量に無駄な空き容量が発生することを抑制することができる。特に、近年では、トレーサビリティに対応するシステムが増加しており、Ｘ線透過画像又はこれに準ずる結果データを一定期間保存する必要がある。このような背景に伴い、検査装置分野において、有限の記憶容量を効率良く活用することが望まれている。図７は、データの加工処理を説明する図である。図７の（Ａ）は、Ｘ線透過画像の輝度値のヒストグラムである。横軸が輝度値であり、縦軸がピクセル数である。横軸において、左に向かうほど暗いピクセルを表し、右に向かうほど明るいピクセルを表している。このようなヒストグラムの色階調を間引くことで、データ量を低減させることができる。色階調の間引きは、一定間隔であってもよいし、近い階調のもので近似してもよいし、例えば図７の（Ｂ）に示すように明るさに応じてピクセルを間引くようにしてもよい。また、一般的に、異物は暗いピクセルとなる。このため、暗いピクセルよりも明るいピクセルを間引くことで、重要な情報は極力削除することなくデータを圧縮することができる。また、コンベアの搬送面などは、複数の階調があったとしても一つの階調で表現しなおしてもよい。この場合、比較的重要でない情報を積極的に削除してデータを圧縮することができる。
【符号の説明】
【００４３】
１…Ｘ線検査装置（光検査装置）、５…搬送部、６…Ｘ線照射部（光照射部）、７…Ｘ線検出部（光検出部）、９…排出部、１１…検査部、Ｇ，Ｇ１〜Ｇ６…物品、Ｄ１〜Ｄ６…異物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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