(57)【要約】【課題】  チューナブルフィルタの帯域特性の変動に寄与する各種パラメータが変化する場合であっても、チューナブルフィルタの帯域特性を容易かつ高精度に制御できる帯域制御回路を提供する。【解決手段】  本発明の帯域制御回路１０は、入力されたパラメータに対応する係数を取得する係数取得手段２０、取得した係数を用いて制御関数を決定する関数決定手段３０、および、決定した制御関数を用いてチューナブルフィルタの通過帯域を制御するための操作量を演算する演算手段４０を備える。ここで、制御関数は、係数が設定された時に、操作量が入力されることによってチューナブルフィルタの帯域に関する値を出力する関数である。【選択図】      図１
2017063254.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力されたパラメータに対応する係数を取得する係数取得手段と、
前記取得した係数を用いて制御関数を決定する関数決定手段と、
前記決定した制御関数を用いてチューナブルフィルタの通過帯域を制御するための操作量を演算する演算手段と、
を備え、
前記制御関数は、前記係数が設定された時に、操作量が入力されることによって前記チューナブルフィルタの帯域に関する値を出力する関数であることを特徴とする帯域制御回路。
【請求項２】
前記演算した操作量に基づいてチューナブルフィルタの通過帯域を調整する調整手段をさらに備える請求項１に記載の帯域制御回路。
【請求項３】
パラメータごとに係数が登録された記憶手段をさらに備え、
前記係数取得手段は、入力されたパラメータに対応する係数を前記記憶手段から抽出することによって取得する、
請求項１または２に記載の帯域制御回路。
【請求項４】
前記チューナブルフィルタの周囲温度を計測して前記係数取得手段へ出力する計測手段をさらに備え、
前記パラメータは、前記チューナブルフィルタの周囲温度である、
請求項１乃至３のいずれか１項に記載の帯域制御回路。
【請求項５】
前記パラメータは、前記チューナブルフィルタの使用帯域ごとの前記チューナブルフィルタの周囲温度であり、
前記係数取得手段は、前記チューナブルフィルタの使用帯域および前記入力された周囲温度に対応する係数を取得する、
請求項４に記載の帯域制御回路。
【請求項６】
前記演算手段は、前記決定した制御関数を用いて現在設定されているチューナブルフィルタの通過帯域を推定し、推定結果と目標帯域との差分が所定の閾値より大きい場合に前記操作量を演算する、請求項１乃至５のいずれか１項に記載の帯域制御回路。
【請求項７】
前記係数取得手段は、入力されたパラメータを間に挟む１組のリファレンス用パラメータに対応する１組の係数を取得し、
前記関数決定手段は、前記取得した１組の係数を用いて１組制御関数を決定し、
前記演算手段は、前記決定した１組の制御関数を用いて１組の操作量を演算し、演算した１組の操作量を補間処理することにより１つの前記操作量を演算する、
請求項１乃至６のいずれか１項に記載の帯域制御回路。
【請求項８】
適用された操作量に応じて通過帯域が変化するフィルタ部と、
前記フィルタ部へ適用される操作量を演算する請求項１乃至７のいずれか１項に記載の帯域制御回路と、
を備えるチューナブルフィルタ。
【請求項９】
適用された第１操作量に応じて受信信号の通過帯域が変化する第１フィルタ部と、
適用された第２操作量に応じて送信信号の通過帯域が変化する第２フィルタ部と、
前記第１フィルタ部へ適用される第１操作量と前記第２フィルタ部へ適用される第２操作量とを演算する請求項１乃至７のいずれか１項に記載の帯域制御回路と、
を備えるチューナブルデュプレクサ。
【請求項１０】
入力されたパラメータに対応する係数を取得し、
操作量が入力されることによってチューナブルフィルタの帯域に関する値を出力する関数である制御関数を、前記取得した係数を用いて決定し、
前記決定した制御関数を用いて前記チューナブルフィルタの通過帯域を制御するための操作量を演算する、
帯域制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、帯域制御回路、該帯域制御回路を備えたチューナブルフィルタおよびチューナブルデュプレクサ、帯域制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
チューナブルフィルタは、中心周波数を可変範囲内において連続的に選択できるフィルタである。チューナブルフィルタは、例えば、特許文献１に開示されている。図８に、チューナブルフィルタの通過特性の一例を示す。図８は、中心周波数がｆＣ１、ｆＣ２、ｆＣ３の三箇所に切り替え可能なチューナブルフィルタにおいて、中心周波数がｆＣ１に設定されている場合のチューナブルフィルタから出力される振幅特性（通過特性）である。
【０００３】
ここで、チューナブルフィルタの通過特性は、様々な要因によって変化する。具体的には、チューナブルフィルタの通過特性は、通過される信号の使用帯域、チューナブルフィルタの周囲温度、駆動電圧または／および経時劣化等によって変化する。従って、例えば、温度変化等が発生した場合であっても使用帯域における通過ロス、リターンロス等の規格を満足するために、チューナブルフィルタの通過帯域は、あらかじめ広く設計しておく必要がある。この場合、チューナブルフィルタの設計が困難になると共に、チューナブルフィルタの製造の歩留まりが悪くなる。
【０００４】
そこで、チューナブルフィルタにおいては、各種要因が変動した場合に通過特性の補正を行うための補償回路が配置されることが望ましい。チューナブルフィルタの周囲温度の変動に起因する通過特性の変動を補償する技術は、例えば、特許文献２に開示されている。特許文献２のチューナブルフィルタは、チューナブルフィルタにおける可変機構パラメータと選択波長との相関関係を示す変換テーブルを保持し、チューナブルフィルタの使用時温度に近い変換テーブルを決定し、該決定した変換テーブルに基づいてチューナブルフィルタによって選択される波長を演算する。ここで、特許文献２のチューナブルフィルタは、可変機構パラメータと選択波長との相関関係を直線近似し、変換テーブルとして保持する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−９８０６号公報
【特許文献２】特開２００３−２８７６８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献２に開示されているように、可変機構パラメータと選択波長との相関関係を直線近似して変換テーブルとして保持する場合、例えば、特性が直線近似から外れる温度領域においては、選択波長を高精度に求めることは困難である。一方、可変機構パラメータと選択波長との相関関係を所定の軌跡等で保持する場合、選択波長を高精度に求めることはできるものの、軌跡を特定することが困難であると共にメモリの負荷が大きくなる。
【０００７】
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、チューナブルフィルタの帯域特性の変動に寄与する各種パラメータが変化する場合であっても、チューナブルフィルタの帯域特性を容易かつ高精度に制御できる帯域制御回路、チューナブルフィルタ、チューナブルデュプレクサおよび帯域制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために本発明に係る帯域制御回路は、入力されたパラメータに対応する係数を取得する係数取得手段と、前記取得した係数を用いて制御関数を決定する関数決定手段と、前記決定した制御関数を用いてチューナブルフィルタの通過帯域を制御するための操作量を演算する演算手段と、を備え、前記制御関数は、前記係数が設定された時に、操作量が入力されることによって前記チューナブルフィルタの帯域に関する値を出力する関数であることを特徴とする。
【０００９】
上記目的を達成するために本発明に係るチューナブルフィルタは、適用された操作量に応じて通過帯域が変化するフィルタ部と、前記フィルタ部へ適用される操作量を演算する上記の帯域制御回路と、を備える。
【００１０】
上記目的を達成するために本発明に係るチューナブルデュプレクサは、適用された第１操作量に応じて受信信号の通過帯域が変化する第１フィルタ部と、適用された第２操作量に応じて送信信号の通過帯域が変化する第２フィルタ部と、前記第１フィルタ部へ適用される第１操作量と前記第２フィルタ部へ適用される第２操作量とを演算する上記の帯域制御回路と、を備える。
【００１１】
上記目的を達成するために本発明に係る帯域制御方法は、入力されたパラメータに対応する係数を取得し、操作量が入力されることによってチューナブルフィルタの帯域に関する値を出力する関数である制御関数を、前記取得した係数を用いて決定し、前記決定した制御関数を用いて前記チューナブルフィルタの通過帯域を制御するための操作量を演算する。
【発明の効果】
【００１２】
上述した本発明の態様によれば、チューナブルフィルタの帯域特性の変動に寄与する各種パラメータが変化する場合であっても、チューナブルフィルタの帯域特性を容易かつ高精度に制御できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】第１の実施形態に係る帯域制御回路１０のブロック構成図である。
【図２】第２の実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００のブロック構成図である。
【図３】第２の実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００において、操作量Ｘと中心周波数ｆ（Ｘ）との関係を示す図である。
【図４】第２の実施形態に係るメモリ４００に登録されている制御係数群の一例である。
【図５】第２の実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００において、中心周波数のズレを補償する手順を示すフローチャートである。
【図６】中心周波数のズレを補償する手順を説明するための図である。
【図７】第３の実施形態に係るチューナブルデュプレクサ７００の透過斜視図である。
【図８】一般的なチューナブルバンドパスフィルタの通過特性の一例である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
＜第１の実施形態＞
本発明の第１の実施形態について説明する。本実施形態に係る帯域制御回路のブロック構成図を図１（ａ）に示す。図１（ａ）の帯域制御回路１０は、係数取得手段２０、関数決定手段３０および演算手段４０を備える。
【００１５】
係数取得手段２０は、入力されたパラメータに対応する係数を取得する。ここで、本実施形態において、パラメータとは、変化することによってチューナブルフィルタの帯域特性の変動を引き起こす物理量を指す。パラメータとしては、例えば、チューナブルフィルタを通過する信号の帯域や変調方式、チューナブルフィルタの周囲温度、駆動電圧、稼働時間等である。係数取得手段２０は、入力されたパラメータの物理量に対応する係数を取得する。
【００１６】
関数決定手段３０は、係数取得手段２０が取得した係数を用いて、制御関数を決定する。ここで、制御関数とは、係数が設定された時に、操作量Ｘが入力されることによってチューナブルフィルタの帯域に関する値ｆ（Ｘ）を出力する関数である。本実施形態に係る制御関数は、ｆ（Ｘ）として、チューナブルフィルタの中心周波数を出力する。チューナブルフィルタの帯域特性（中心周波数）の変動を引き起こすパラメータに対応して取得された係数が制御関数に適用されることにより、パラメータの物理量に応じた最適な制御関数が決定される。
【００１７】
演算手段４０は、関数決定手段３０において決定された制御関数を用いて操作量Ｘを演算する。本実施形態に係る演算手段４０は、その時のチューナブルフィルタの中心周波数が目標とする中心周波数ｆ（Ｘ）になる操作量Ｘを、決定された制御関数から逆算する。
【００１８】
上記のように構成された帯域制御回路１０は、チューナブルフィルタの帯域特性の変動を引き起こすパラメータに対応する係数を取得して制御関数を決定し、決定した制御関数から目標とする帯域特性（中心周波数）を与える操作量を演算する。この場合、パラメータの物理量に応じた最適な制御関数を決定することができることから、本実施形態に係る帯域制御回路１０は、チューナブルフィルタの帯域特性の変動に寄与する各種パラメータが変化する場合であっても、チューナブルフィルタの帯域特性を容易かつ高精度に制御できる。
【００１９】
＜第２の実施形態＞
第２の実施形態について説明する。本実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタのブロック構成図を図２に示す。図２において、チューナブルバンドパスフィルタ１００は、フィルタ部２００、操作部３００、メモリ４００、温度センサ５００および演算部６００を備える。
【００２０】
フィルタ部２００は、中心周波数を連続的に変更可能なフィルタである。本実施形態に係るフィルタ部２００は、操作部３００から設定された操作量Ｘにより、中心周波数が制御される。ここで、フィルタ部２００の中心周波数は、利用されている周波数帯域や周囲温度によっても変化する。
【００２１】
操作部３００は、演算部６００から入力された操作量Ｘに基づいて、フィルタ部２００の中心周波数を制御する。ここで、上述のように、フィルタ部２００の中心周波数は、利用されている周波数帯域やフィルタ部２００の周囲温度によっても変化する。すなわち、操作量Ｘが一定であっても、利用されている周波数帯や周囲温度が変化することによって、フィルタ部２００の中心周波数は初期の設定値から変化する。ここで、本実施形態においては、各種要因によって変化するフィルタ部２００の中心周波数を、線形関数および周期関数の組み合わせによって定義する。具体的には、操作量Ｘの時のフィルタ部２００の中心周波数を、式（１）の制御関数ｆ（Ｘ）によって表す。
【００２２】
ｆ（Ｘ）＝Ａ・ｓｉｎ（Ｂ＋Ｃ・Ｘ）＋Ｄ・Ｘ＋Ｅ      式（１）
ここで、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅは、利用されている周波数帯域やフィルタ部２００の周囲温度によって決まる制御係数である。制御係数は、例えば、操作量Ｘとその時の中心周波数ｆ（Ｘ）のデータセットを複数取得し、最小二乗法を適用することによって求めることができる。なお、他の手法を用いて制御係数を求めることもできる。
【００２３】
なお、各制御係数はゼロ値をとることができ、制御係数Ｄがゼロの場合は式（２）、制御係数Ａがゼロの場合は式（３）となる。操作量Ｘの変化に応じて中心周波数が直線近似的に変化する場合、式（３）となる。
【００２４】
ｆ（Ｘ）＝Ａ・ｓｉｎ（Ｂ＋Ｃ・Ｘ）＋Ｅ      式（２）
ｆ（Ｘ）＝Ｄ・Ｘ＋Ｅ                        式（３）
操作量Ｘを所定量ΔＸだけ変化させた場合であっても、利用する周波数帯域やフィルタ部２００の周囲温度によって、中心周波数の変化量Δｆは異なってしまう。従って、最適な制御係数を設定して最適な制御関数ｆ（Ｘ）を用いることにより、フィルタ部２００のその時の中心周波数を可変範囲全域において高精度に推定することができる。
【００２５】
ここで、参考に、利用されている周波数帯域が帯域αであって、周囲温度が−２０℃、０℃、２０℃、４０℃および６０℃の時の、操作量Ｘと中心周波数ｆαＴ（Ｘ）との関係を図３（ａ）に示す。さらに、利用されている周波数帯域が帯域βであって、周囲温度が−２０℃、０℃、２０℃、４０℃および６０℃の時の、操作量Ｘと中心周波数ｆβＴ（Ｘ）との関係を図３（ｂ）に示す。
【００２６】
図２の説明に戻る。メモリ４００には、目標とするフィルタ部２００の中心周波数ｆobject、演算部６００から入力された操作量Ｘsetが登録される。また、メモリ４００には、周波数領域および周囲温度ごとに制御関数の制御係数が登録されている。本実施形態において、メモリ４００には、可変範囲内における周波数帯域ごと、および、フィルタ部２００の周囲温度ごとに、式（１）で示した制御係数Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ（以下、制御係数群と記載する。）が登録されている。本実施形態に係るメモリ４００に登録されている制御係数群の一例を図４に示す。図４において、メモリ４００には、周波数帯域α、β、γ…、および、周囲温度−２０度、０度、２０度…ごとに、制御係数群が登録されている。
【００２７】
温度センサ５００は、所定の時間間隔でフィルタ部２００の周囲温度を測定する。そして、本実施形態に係る温度センサ５００は、フィルタ部２００の周囲温度が変化したことを感知した場合、その時の周囲温度を測定温度Ｔとして演算部６００へ出力する。なお、温度センサ５００がフィルタ部２００の周囲温度の変化を感知した場合に、測定温度Ｔを演算部６００へ出力することに限定されず、温度センサ５００が所定の時間間隔で測定温度Ｔを演算部６００へ出力するようにしても良い。
【００２８】
演算部６００は、温度センサ５００から測定温度Ｔが入力された場合、その時に利用されている周波数帯域および入力された測定温度Ｔに対応する制御係数群をメモリ４００から抽出し、抽出した制御係数群を式（１）に適用することにより、演算に用いる制御関数ｆ（Ｘ）を生成する。さらに、演算部６００は、生成した制御関数ｆ（Ｘ）にその時に操作部３００に設定されている操作量Ｘsetをメモリ４００から読み出して挿入することにより、その時のフィルタ部２００の中心周波数ｆ（Ｘset）を推定する、そして、推定した中心周波数ｆ（Ｘset）が目標とするフィルタ部２００の中心周波数ｆobjectとずれている場合、新たな操作量Ｘを演算して操作部３００へ設定することにより、周囲温度の変化等によって生じた中心周波数のズレを補償する。
【００２９】
上記のように構成されたチューナブルバンドパスフィルタ１００は、その時に利用されている周波数帯域および測定温度Ｔにおける制御係数群を抽出して適用する制御関数ｆ（Ｘ）を関数を決定し、決定した制御関数ｆ（Ｘ）を用いて新たな操作量Ｘを演算して操作部３００へ設定する。これにより、フィルタ部２００の周囲温度が変化した場合にフィルタ部２００の中心周波数のズレを補償することができる。
【００３０】
次に、チューナブルバンドパスフィルタ１００の中心周波数が目標とする中心周波数ｆobjectとずれている場合に、該中心周波数のズレを補償する手順を図５を用いて詳細に説明する。図５において、温度センサ５００は、所定の時間間隔でフィルタ部２００の周囲温度を測定し、フィルタ部２００の周囲温度の変化を感知した場合（Ｓ１０１）、その時の周囲温度を測定温度Ｔとして演算部６００へ出力する（Ｓ１０２）。
【００３１】
演算部６００は、温度センサ５００から測定温度Ｔが入力された場合、利用されている周波数帯域を取得し、取得した周波数帯域と入力された測定温度Ｔとに対応する制御係数群をメモリ４００から読み出す。演算部６００はさらに、読み出した制御係数群を制御関数ｆ（Ｘ）へ適用することにより、演算に用いる制御関数ｆ（Ｘ）を生成する（Ｓ１０３）。ここで、本実施形態に係る演算部６００は、入力された測定温度Ｔと一致する制御係数群がメモリ４００に登録されていない場合、入力された測定温度Ｔを間に挟む２組の制御係数群を抽出して２つの制御関数ｆ（Ｘ）を生成する。具体的には、その時に利用されている周波数帯域がαであり、入力された測定温度Ｔが５０度である場合、演算部６００は、周波数帯域αおよびＴ＝４０度の時の制御係数群と、周波数帯域αおよびＴ＝６０度の時の制御係数群とを読み出し、下記の式（４）、（５）で表される２つの制御関数ｆα４０（Ｘ）、ｆα６０（Ｘ）を生成する。
【００３２】
ｆα４０（Ｘ）＝Ａα４０・ｓｉｎ（Ｂα４０＋Ｃα４０・Ｘ）＋Ｄα４０・Ｘ＋Ｅα４０    式（４）
ｆα６０（Ｘ）＝Ａα６０・ｓｉｎ（Ｂα６０＋Ｃα６０・Ｘ）＋Ｄα６０・Ｘ＋Ｅα６０    式（５）
演算部６００は、生成した制御関数ｆ（Ｘ）に、メモリ４００に登録されている操作量Ｘｓｅｔを挿入してｆ（Ｘｓｅｔ）を演算することで、その時のフィルタ部２００の中心周波数を推定する（Ｓ１０４）。例えば、本実施形態に係る演算部６００は、生成した２つの制御関数ｆα４０（Ｘ）、ｆα６０（Ｘ）にそれぞれ、メモリ４００に登録されている操作量Ｘｓｅｔを挿入し、ｆα４０（Ｘｓｅｔ）、ｆα６０（Ｘｓｅｔ）を取得する。さらに、演算部６００は、取得したｆα４０（Ｘｓｅｔ）、ｆα６０（Ｘｓｅｔ）の加重平均を取る等により、すなわち、式（６）を適用する等により、その時（測定温度Ｔが５０℃）のフィルタ部２００の中心周波数ｆα５０（Ｘｓｅｔ）を推定する。ｆα４０（Ｘｓｅｔ）、ｆα６０（Ｘｓｅｔ）を小さな白丸で、ｆα５０（Ｘｓｅｔ）をバツ印で、図６に示す。
【００３３】
ｆα５０（Ｘｓｅｔ）＝[ｆα４０（Ｘｓｅｔ）＋ｆα６０（Ｘｓｅｔ）]／２        式（６）
演算部６００は、推定した現時点でのフィルタ部２００の中心周波数ｆα５０（Ｘｓｅｔ）を、メモリ４００に登録されている目標とするフィルタ部２００の中心周波数ｆobjectと比較する（Ｓ１０５）。演算部６００は、ｆα５０（Ｘｓｅｔ）とｆobjectとの差分が所定の閾値より小さい場合（Ｓ１０５のＮｏ）、次の測定温度Ｔが入力されるまで待機する。一方、演算部６００は、ｆα５０（Ｘｓｅｔ）とｆobjectとの差分が所定の閾値以上である場合（Ｓ１０５のＹｅｓ）、フィルタ部２００の中心周波数のズレを補償するため、新たな操作量Ｘの演算を開始する。
【００３４】
この場合、演算部６００は、ｆα４０（Ｘ）、ｆα６０（Ｘ）がそれぞれｆobjectと成る時の操作量Ｘobject４０、操作量Ｘobject６０をそれぞれ逆算する。演算部６００は、得られたＸobject４０とＸobject６０とを補間処理することで、現時点（測定温度Ｔが５０℃）のフィルタ部２００の中心周波数ｆα５０（Ｘ）がｆobjectと一致する時の操作量Ｘobject５０を演算する（Ｓ１０６）。例えば、演算部６００は、式（７）により、操作量Ｘobject５０を演算する。なお、操作量Ｘobject５０設定した時のフィルタ部２００の中心周波数ｆα５０（Ｘobject５０）を図６に黒丸で示す。
【００３５】
Ｘobject５０＝[Ｘobject４０＋Ｘobject６０]／２        式（７）
演算部６００は、演算した操作量Ｘobject５０を、新たな操作量Ｘsetとして操作部３００へ出力すると共にメモリ４００に登録されている操作量Ｘsetへ上書きする（Ｓ１０７）。操作部３００は、演算部６００から新たな操作量Ｘ’setが入力されることにより、入力された操作量Ｘ’setに基づいてフィルタ部２００の中心周波数を制御する。
【００３６】
以上のように、本実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００は、その時の周波数領域およびフィルタ部２００の周囲温度に応じた最適な制御係数群をメモリ４００から抽出して制御関数ｆ（Ｘ）に設定する。この制御関数ｆ（Ｘ）を、用いることにより、その時のフィルタ部２００の中心周波数を高精度に演算できる。ここで、本実施形態においてはフィルタ部２００の中心周波数の推定に用いる制御関数ｆ（Ｘ）を、最大５つの制御係数で定義した。この場合、メモリ４００に登録しておく情報を抑制しつつ、チューナブルフィルタの中心周波数を高精度に出力する制御関数ｆ（Ｘ）を容易に保持することができる。
【００３７】
そして、本実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００は、制御関数ｆ（Ｘ）を用いて推定した中心周波数と目標とする中心周波数ｆobjectとの差分が所定の閾値以上の場合に、新たな操作量を演算して設定する。この場合、フィルタ部２００の周囲温度が変化した場合でも、フィルタ部２００の中心周波数の目標とする中心周波数ｆobjectからのずれを、所定の閾値以下に抑えることができる。なお、推定した中心周波数と目標とする中心周波数ｆobjectとの差分が所定の閾値より小さい場合はその時の制御内容を継続することにより、中心周波数の補償頻度を抑制でき、メカニカルチューニングにおける機構部品の摩耗を軽減できる。
【００３８】
以上のように、本実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００は、チューナブルバンドパスフィルタ１００の周囲温度が変化しても、チューナブルバンドパスフィルタ１００の中心周波数を容易かつ高精度に制御できる。本実施形態に係るチューナブルバンドパスフィルタ１００は、フィルタ部２００の中心周波数の温度ドリフトを考慮する必要が無いことから、より狭帯域な（急峻な）減衰曲線を設定することができる。また、より高い信号抽出機能、不要波放出抑制、干渉波除去性能等を得ることができることから、チューナブルバンドパスフィルタ１００を通信装置等に適用した場合、通信品質の改善が期待できる。
【００３９】
＜第３の実施形態＞
第３の実施形態について説明する。本実施形態に係るチューナブルデュプレクサの透過斜視図を図７に示す。図７において、チューナブルデュプレクサ７００は、基板７１０、受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０および送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０を備える。
【００４０】
基板７１０上に、第２の実施形態で説明した図２のメモリ４００、温度センサ５００および演算部６００が配置されている。以下、それらをメモリ４００Ｂ、温度センサ５００ＢおよびコントローラＩＣ（演算部）６００Ｂと記載する。
【００４１】
メモリ４００Ｂには、受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０および送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０ごとに、目標とする中心周波数ｆobject、適用されている操作量Ｘset、周波数領域および周囲温度ごとの制御係数群が登録されている。
【００４２】
温度センサ５００Ｂは、受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０および送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０の周囲温度を計測する。そして、温度センサ５００Ｂは、周囲温度が変化したことを検知した場合、測定温度ＴをコントローラＩＣ６００Ｂへ出力する。
【００４３】
コントローラＩＣ６００Ｂは、第２の実施形態で説明した図２の演算部６００と同様に機能する。すなわち、測定温度Ｔが入力された場合、その時の中心周波数を推定する。そして、推定した中心周波数と目標とする中心周波数ｆobjectとの差分が所定の閾値以上の場合、中心周波数が中心周波数ｆobjectとなる新たな操作量Ｘ’setを演算する。
【００４４】
受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０および送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０は、例えば、背景技術で挙げた特許文献２のチューナブル帯域通過フィルタの構成をそのまま適用することができる。すなわち、操作量Ｘは、導波管内で上下するフラップの高さを制御するステッピングモータ用パルス数として管理される。なお、本実施形態に係る受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０および送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０は、互いに独立に中心周波数を設定および調整することができる。
【００４５】
ここで、上述のように、コントローラＩＣ６００Ｂは、その時の中心周波数を所望の中心周波数ｆobjectに補正できる。従って、本実施形態に係るチューナブルデュプレクサ７００は、外部から周波数設定コマンドを受信し、コントローラＩＣ６００Ｂが基準としている中心周波数ｆobject自体を変更することにより、受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０および送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０の中心周波数を所望の値に調整することができる。
【００４６】
さらに、本実施形態に係るチューナブルデュプレクサ７００は、送信用周波数の設定周波数と受信用周波数の設定周波数との差分が所定の範囲内の場合、以下のように動作することもできる。すなわち、コントローラＩＣ６００Ｂは、外部から入力された設定指令に基づいて送信周波数を送信用チューナブルバンドパスフィルタ７３０に適用する一方、設定した送信周波数を上記の差分で修正した周波数を受信周波数として受信用チューナブルバンドパスフィルタ７２０に適用する。
【００４７】
本願発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。
【符号の説明】
【００４８】
１０    帯域制御回路
２０    係数取得手段
３０    関数決定手段
４０    演算手段
１００    チューナブルバンドパスフィルタ
２００    フィルタ部
３００    操作部
４００    メモリ
５００    温度センサ
６００    演算部
７００    チューナブルデュプレクサ
７１０    基板
７２０    受信用チューナブルバンドパスフィルタ
７３０    送信用チューナブルバンドパスフィルタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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