(57)【要約】【課題】変成器側の短絡処理を容易かつ確実に行なうことができるテストプラグを提供する。【解決手段】テストプラグ１は、スライド部材４がプラグ本体２に対して引出し位置にある場合には、計器側スライド端子８および変成器側スライド端子９が計器側導体５および変成器側導体６に当接されるので、各相の変成器側接触子３３は絶縁される。スライド部材４がプラグ本体２に対して収納位置に移動された場合には、変成器側スライド端子９は、変成器側導体６との当接を維持したまま短絡導体７と当接するので、各相の変成器側接触子３３は、短絡導体７に接続された短絡部材７１によって短絡される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
計器に接続された計器側接片と、計器用変成器に接続された変成器側接片との対を複数有し、通常時には前記計器側接片と前記変成器側接片とを接触させて前記計器と前記計器用変成器とを電気的に接続しているテストターミナルに挿入されるテストプラグであって、
プラグ本体から後方に向かって突出した絶縁支持体と、前記絶縁支持体の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子および変成器側接触子とを有し、前記計器側接片と前記変成器側接片との間に挿入された場合に、前記絶縁支持体によって前記計器と前記計器用変成器との電気的な接続を切り離し、前記計器側接触子および前記変成器側接触子を前記計器側接片および前記変成器側接片にそれぞれ当接させる挿入部と、
前記プラグ本体に挿入される挿入位置と、前記プラグ本体から引き出される引出し位置との間でスライド自在であり、前記プラグ本体の外に露呈された計器側端子部および変成器側端子部をそれぞれ有する複数のスライド部材と、
前記プラグ本体内に設けられ、複数対の前記計器側接触子および前記変成器側接触子にそれぞれ接続された複数対の計器側導体および変成器側導体と、
前記各変成器側導体の近傍にそれぞれ配置され、互いに電気的に接続された複数の短絡導体と、
前記計器側端子部と接続され、前記スライド部材とともに移動し、前記スライド部材が引出し位置および挿入位置にある場合に前記計器側導体と当接する複数の計器側スライド端子と、
前記変成器側端子部と接続され、前記スライド部材とともに移動し、前記スライド部材が引出し位置にある場合には前記変成器側導体と当接し、前記スライド部材が挿入位置にある場合には前記短絡導体と当接する複数の変成器側スライド端子と、
を備えることを特徴とするテストプラグ。
【請求項２】
前記変成器側スライド端子は、前記スライド部材が前記挿入位置にある場合に前記変成器側導体との当接を維持する、
ことを特徴とする請求項１に記載のテストプラグ。
【請求項３】
前記スライド部材が引出し位置にある場合に前記計器側スライド端子と当接する計器側短絡導体と、前記スライド部材が引出し位置にある場合に前記変成器側スライド端子と当接する変成器側短絡導体と、前記計器側短絡導体と前記変成器側短絡導体とを電気的に接続する配線とを複数対有し、
前記スライド部材が第１の挿入位置にある場合には、前記計器側スライド端子および前記変成器側スライド端子は、前記計器側短絡導体および前記変成器側短絡導体との当接を解除して前記計器側導体および前記変成器側導体と当接し、
前記スライド部材が第１の挿入位置よりも前記プラグ本体に押し込まれる第２の挿入位置にある場合には、前記変成器側スライド端子は、前記変成器側導体との当接を維持したまま前記短絡導体と当接する、
ことを特徴とする請求項１に記載のテストプラグ。
【請求項４】
前記スライド部材を前記挿入位置と前記引出し位置とでロックするロック手段を備える、
ことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載のテストプラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計器用変成器の機能試験などに使用されるテストプラグに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電力用配電盤、継電器盤および制御装置などの電気装置には、ＣＴ（Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ）回路や、ＰＴ（Ｐｏｔｅｎｔｉａｌ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒ）回路などの計器用変成器の機能試験や保守点検などを行うために、計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離すことができるテストターミナルが設けられている。テストターミナルは、通常時は計器と計器用変成器とを電気的に接続しており、テストプラグが挿入された場合に計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離す。
【０００３】
図８（Ａ）、（Ｂ）および図９は、例えば、４相のテストターミナル１１と、このテストターミナル１１に挿入される従来のテストプラグ２０とを示している。テストターミナル１１は、テストプラグ２０が挿入される挿入口１１１と、挿入口１１１内に設けられた複数対、例えば４対の計器側接片１１２および変成器側接片１１３を備える。計器側接片１１２および変成器側接片１１３は、金属板などの導体で形成されている。計器側接片１１２は、計器１２とそれぞれ電気的に接続されており、変成器側接片１１３は、計器用変成器１３にそれぞれ電気的に接続されている。計器側接片１１２と変成器側接片１１３は、通常時には切片自体が有する弾性などを利用して接触することにより、計器１２と計器用変成器１３とを電気的に接続している。計器側接片１１２と変成器側接片１１３の各対は、接触による短絡を防ぐために間隔を空けて配置されている。
【０００４】
テストプラグ２０は、絶縁材料で形成されたプラグ本体２１と、プラグ本体２１から後方に向かって突出した挿入部２２と、プラグ本体２１の前面に設けられた複数のプラグ端子２３とを備える。挿入部２２は、プラグ本体２１から後方に向かって突出した絶縁支持体２２１と、絶縁支持体２２１の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子２２２および変成器側接触子２２３とを備える。
【０００５】
プラグ端子２３は、同軸上に配置された計器側端子部２３１および変成器側端子部２３２と、計器側端子部２３１に配線を接続固定するための計器側締付具２３３と、変成器側端子部２３２に配線を接続固定するための変成器側締付具２３４とを備える。計器側端子部２３１および変成器側端子部２３２は、プラグ本体２１内に設けられた配線２１１、２１２でそれぞれ計器側接触子２２２および変成器側接触子２２３に電気的に接続されている。プラグ端子２３は、計器側接触子２２２および変成器側接触子２２３の対と同数、例えば４個が設けられている。
【０００６】
図８（Ｂ）に示すように、テストプラグ２０の挿入部２２がテストターミナル１１の挿入口１１１に挿入されると、挿入部２２の押圧によって計器側接片１１２および変成器側接片１１３が弾性変形して両者の当接が解除され、計器１２と計器用変成器１３との電気的な接続が切り離される。また、計器側接片１１２と計器側接触子２２２とが当接し、変成器側接片１１３と変成器側接触子２２３とが当接することにより、計器側端子部２３１および変成器側端子部２３２を介して計器１２や計器用変成器１３の機能試験を行うことができる。
【０００７】
計器用変成器１３として、ＣＴ回路が接続されている場合、ＣＴ回路の電流測定に使用されるＣＴ用テストプラグ２０には、ＣＴ回路の２次側が開放されるのを避けるために、４つの変成器側端子部２３２を短絡状態にするための短絡バー２４が取り付けられる（例えば、特許文献１参照）。短絡バー２４は、Ｕ字状の溝の間に変成器側端子部２３２が挿入されるようにＣＴ用テストプラグ２０に装着され、変成器側締付具２３４が締めつけられることにより固定される。なお、図中では、短絡バー２４を１つしか図示していないが、４個の変成器側端子部２３２を短絡するために、例えば３個の短絡バー２４が使用される。
【０００８】
短絡バー２４は、テストプラグ２０をテストターミナル１１に挿入する前にテストプラグ２０に装着される。また、テストプラグ２０は、短絡バー２４の装着後、テストターミナル１１に挿入する前に、テスターなどを用いてその試験目的に合った接続になっているか確認される。この確認作業は、作業者がテストプラグ２０の計器側端子部２３１および変成器側端子部２３２にテスターのプローブを順次当接させるといった手作業で行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００９−１３９３０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
テストプラグ２０は、例えば変電所における１回の試験で３０〜４０個利用される場合があるので、短絡バー２４の装着による短絡処理や、テスターによる確認作業に時間がかかるという問題があった。また、短絡バー２４の装着は人手によって行われるため、作業ミスによって変成器側締付具２３４の締め付けに緩みが生じ、短絡バー２４の脱落などが生じることがあった。また、テストプラグ２０の経年劣化によって変成器側締付具２３４の締め付け力が弱くなり、短絡バー２４が脱落する場合もあった。このような短絡不良が生じると、計器用変成器１３で異常電圧や異常電流が発生することがある。さらに、多数のテストプラグ２０の短絡作業を行う場合には多数の短絡バー２４が必要であるが、紛失や破損によって短絡バー２４の数が足りなくなることもあるため、短絡バー２４の管理も必要であった。
【００１１】
また、ＣＴ用テストプラグ２０とほぼ同形状のＰＴ用テストプラグをＰＴ回路が接続されたテストターミナルに挿入する際には、変成器側端子部に電圧がかかるので、挿入時に感電したり、作業時に短絡事故がおきる恐れがあった。従来は、ビニールテープなどの絶縁材料を利用して変成器側端子部を覆うことにより絶縁していたが、機能試験に使用するテストプラグが多数ある場合、その作業に時間がかかっていた。
【００１２】
本発明は、変成器側の短絡処理を容易かつ確実に行なうことができるテストプラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、計器に接続された計器側接片と、計器用変成器に接続された変成器側接片との対を複数有し、通常時には計器側接片と変成器側接片とを接触させて計器と計器用変成器とを電気的に接続させるテストターミナルに挿入されるテストプラグに関し、本発明のテストプラグは、プラグ本体、挿入部、複数のスライド部材、複数対の計器側導体および変成器側導体、複数の短絡導体、複数の計器側スライド端子、および複数の変成器側スライド端子を備える。挿入部は、プラグ本体から後方に向かって突出した絶縁支持体と、絶縁支持体の対向する両面にそれぞれ設けられた複数対の計器側接触子および変成器側接触子とを有し、計器側接片と変成器側接片との間に挿入された場合に、絶縁支持体によって計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離し、計器側接触子および変成器側接触子を計器側接片および変成器側接片にそれぞれ当接させる。複数のスライド部材は、プラグ本体に挿入される挿入位置と、プラグ本体から引き出される引出し位置との間でスライド自在であり、プラグ本体の外に露呈された計器側端子部および変成器側端子部をそれぞれ有する。複数対の計器側導体および変成器側導体は、プラグ本体内に設けられており、複数対の計器側接触子および変成器側接触子にそれぞれ接続している。複数の短絡導体は、各変成器側導体の近傍にそれぞれ配置され、互いに電気的に接続されている。複数の計器側スライド端子は、計器側端子部と接続され、スライド部材とともに移動し、スライド部材が引出し位置および挿入位置にある場合に計器側導体と当接する。複数の変成器側スライド端子は、変成器側端子部と接続され、スライド部材とともに移動し、スライド部材が引出し位置にある場合には変成器側導体と当接し、スライド部材が挿入位置にある場合には短絡導体と当接する。
【００１４】
請求項１に記載の発明によれば、挿入部がテストターミナルの計器側接片と変成器側接片との間に挿入された場合に、絶縁支持体によって計器と計器用変成器との電気的な接続を切り離し、計器側接触子および変成器側接触子を計器側接片および変成器側接片にそれぞれ当接させる。そして、スライド部材が引出し位置にある場合には、計器側スライド端子、計器側導体および計器側接触子を介して、計器側端子部とテストターミナルの計器側接片とを電気的に接続し、変成器側スライド端子、変成器側導体および変成器側接触子を介して変成器側端子部とテストターミナルの変成器側接片とを電気的に接続する。また、スライド部材が挿入位置にある場合には、変成器側スライド端子を短絡導体に当接させ、変成器側接触子を短絡させる。
【００１５】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のテストプラグにおいて、変成器側スライド端子は、スライド部材が挿入位置にある場合に変成器側導体との当接を維持する。
【００１６】
請求項３に記載の発明は、請求項１に記載のテストプラグにおいて、スライド部材が引出し位置にある場合に計器側スライド端子と当接する計器側短絡導体と、スライド部材が引出し位置にある場合に変成器側スライド端子と当接する変成器側短絡導体と、計器側短絡導体と変成器側短絡導体とを電気的に接続する配線とを複数対有し、スライド部材が第１の挿入位置にある場合には、計器側スライド端子および変成器側スライド端子は、計器側短絡導体および変成器側短絡導体との当接を解除して計器側導体および変成器側導体と当接し、スライド部材が第１の挿入位置よりもプラグ本体に押し込まれる第２の挿入位置にある場合には、変成器側スライド端子は、変成器側導体との当接を維持したまま短絡導体と当接するものである。
【００１７】
請求項４に記載の発明は、請求項１ないし３のいずれか１項に記載のテストプラグにおいて、スライド部材を挿入位置と引出し位置とでロックするロック手段を備える。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１に記載の発明によれば、スライド部材をプラグ本体に押し込むだけで変成器側を短絡させることができるので、従来のテストプラグのように短絡バーを使用して変成器側を短絡させるのに比べて簡単に短絡処理を行うことができ、作業時間が大幅に短縮するので、作業者の負担を減らすことができる。特に、４相や８相の多相型のテストプラグにおいて数相のみを短絡させるような場合に、従来のテストプラグでは短絡バーの取り付け作業が複雑になり、取り付けミスが発生して作業のやり直しが必要になることがあったが、本発明のテストプラグであれば、短絡作業が容易になり、さらに短絡されているか否かも見た目上で簡単に確認することができる。
【００１９】
また、従来のテストプラグのように、プラグ端子のネジを使用して短絡バーを固定しないので、作業ミスによる締め付けの緩みや、経年劣化による緩みによって短絡バーが脱落することもない。さらに、変成器側を短絡させるための短絡バー自体が不要となるので、テストプラグのコストを低減することができ、短絡バーの管理の手間を無くすことができる。
【００２０】
さらに、スライド部材を挿入位置に移動することによって変成器側端子部と変成器側接触子との電気的な接続が切り離されるので、ＰＴ用のテストプラグとして使用する場合に、テストプラグをテストターミナルに挿入する際の感電や、作業時の短絡事故を防止することができる。また、ビニールテープなどによる変成器側の絶縁作業を省略することができるので、作業者の負担も軽減される。
【００２１】
請求項２に記載の発明によれば、スライド部材が挿入位置にある場合に変成器側スライド端子と変成器側導体との当接を維持するので、短絡バーを用いなくてもＣＴ用のテストプラグとして使用することができる。
【００２２】
請求項３に記載の発明によれば、スライド部材を引出し位置に移動することにより常用のテストプラグとして使用することができ、スライド部材を第１の収納位置に移動することにより計器側と変成器側とを電気的に切り離すことができ、スライド部材を第２の収納位置に移動することにより、ＣＴ用あるいはＰＴ用のテストプラグとして使用することができる。したがって、計器用変成器の機能検査を行なう場合にＣＴ用あるいはＰＴ用のテストプラグを用意しなくても、常用しているテストプラグのスライド部材を収納位置に押し込むだけで変成器の検査を行なうことができる。これにより、機能検査にかかる作業者の負担を軽減することができる。
【００２３】
請求項４に記載の発明によれば、スライド部材を挿入位置と引出し位置とでロックすることができるので、スライド部材の不用意な移動による短絡事故の発生を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】実施の形態１のテストプラグの外観形状を示す斜視図である。
【図２】実施の形態１のテストプラグの縦方向の断面図である。
【図３】実施の形態１のテストプラグの機能を示す模式図である。
【図４】実施の形態１のテストプラグをテストターミナルに挿入した状態を示す縦方向の断面図である。
【図５】実施の形態２のテストプラグの縦方向の断面図である。
【図６】実施の形態３のテストプラグの第１の挿入位置を示す縦方向の断面図である。
【図７】実施の形態３のテストプラグの第２の挿入位置を示す縦方向の断面図である。
【図８】従来のテストプラグおよびテストターミナルの縦方向の断面図である。
【図９】従来のテストプラグの外観形状を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、この発明を図示の実施の形態に基づいて説明する。
【００２６】
（実施の形態１）
図１は、４相のＣＴ用のテストプラグ１の外観斜視図、図２はテストプラグ１の縦方向断面図である。テストプラグ１は、プラグ本体２、挿入部３、スライド部材４、計器側導体５、変成器側導体６、短絡導体７、計器側スライド端子８、変成器側スライド端子９およびロック機構１０を備える。なお、スライド部材４、計器側導体５、変成器側導体６、短絡導体７、計器側スライド端子８、変成器側スライド端子９およびロック機構１０は、相数に対応してそれぞれ４組ずつ設けられている。
【００２７】
プラグ本体２は、プラスチックなどの絶縁材料で形成されており、例えば矩形の箱形状である。プラグ本体２内には、スライド部材４をスライド自在に収納するための空間である収納部２ａが設けられている。
【００２８】
挿入部３は、プラグ本体３から後方に向かって突出した板状の絶縁支持体３１と、絶縁支持体３１の対向する両面にそれぞれ設けられた４対の計器側接触子３２および変成器側接触子３３とを備える。絶縁支持体３１は、プラグ本体２と同様に絶縁材料で形成されており、計器側接触子３２および変成器側接触子３３は、金属板によって形成されている。なお、本実施の形態では、絶縁支持体３１は水平方向に沿うように設けられており、計器側接触子３２および変成器側接触子３３は、絶縁支持体３１の上下面にそれぞれ設けられている。
【００２９】
スライド部材４は、図２（Ａ）に示すように、プラグ本体２から引き出される引出し位置と、同図（Ｂ）に示すように、プラグ本体２に挿入される挿入位置との間でスライド自在である。スライド部材４の前面側には、プラグ本体２の外に露呈されるようにプラグ端子４１がそれぞれ設けられている。
【００３０】
プラグ端子４１は、同軸上に配置された計器側端子部４１２および変成器側端子部４１３と、計器側端子部４１２に配線を接続固定するための計器側締付具４１４と、変成器側端子部４１３に配線を接続固定するための変成器側締付具４１５とを備える。具体的には、計器側端子部４１２および変成器側端子部４１３は、金属製の雄ねじであり、計器側締付具４１４および変成器側締付具４１５は、計器側端子部４１２および変成器側端子部４１３にそれぞれ螺合された雌ねじを有する。
【００３１】
計器側導体５および変成器側導体６は、金属板によって構成されており、プラグ本体２内に設けられている。計器側導体５および変成器側導体６は、それぞれ対応する計器側接触子３２および変成器側接触子３３に、配線５１および配線６１によって電気的に接続している。
【００３２】
短絡導体７は、金属板によって構成されており、各変成器側導体６の近傍で、変成器側導体６よりも後方側、すなわちプラグ本体２の奥側に隣接するように配置されている。短絡導体７は、プラグ本体２内に幅方向に沿って配置された短絡部材７１に対し、配線７２によって電気的に接続されている。すなわち、複数の短絡導体７は、短絡部材７１を介して互いに電気的に接続している。
【００３３】
計器側スライド端子８は、スライド部材４の後端側に固定されており、配線８１によって計器側端子部４１２と接続されている。計器側スライド端子８は、屈曲された金属板からなり、先端側には計器側導体５に対して弾性をもって当接する当接部が設けられている。
【００３４】
計器側スライド端子８は、スライド部材４が引出し位置および挿入位置にある場合に計器側導体５と当接する。すなわち、計器側スライド端子８は、スライド部材４が引出し位置または挿入位置にある場合には、配線８１、計器側導体５および配線５１を介して、計器側端子部４１２と計器側接触子３２とを電気的に接続する。
【００３５】
変成器側スライド端子９は、スライド部材４の後端側で計器側スライド端子８と反対側に固定されており、配線９１によって変成器側端子部４１３と接続されている。変成器側スライド端子９は、屈曲された金属板からなり、先端側には変成器側導体６および短絡導体７に対して弾性をもって当接する当接部が設けられている。
【００３６】
変成器側スライド端子９は、スライド部材４が引出し位置にある場合には、変成器側導体６と当接する。また、変成器側スライド端子９の当接部は、計器側スライド端子８よりも長く形成されており、スライド部材４が挿入位置にある場合には、変成器側導体６との当接を維持したまま、同時に短絡導体７と当接する。すなわち、変成器側スライド端子９は、スライド部材４が引出し位置にある場合には、配線９１、変成器側導体６および配線６１を介して、変成器側端子部４１３と変成器側接触子３３とを電気的に接続する。また、スライド部材４が収納位置にある場合には、変成器側スライド端子９は、変成器側端子部４１３と変成器側接触子３３との接続を維持したまま、配線９１、短絡導体７、配線７２および短絡部材７１を介して複数の変成器側接触子３３を短絡させる。
【００３７】
ロック機構（ロック手段）１０は、スライド部材４を挿入位置と引出し位置の各位置でロックするための機構である。ロック機構１０は、プラグ本体２の上面に設けられたスリット１０１と、スライド部材４の上面に設けられた溝１０２ａ、１０２ｂと、スリット１０１を通して溝１０２ａまたは溝１０２ｂに挿入される板状のロック部材１０３とを備える。スライド部材４は、ロック部材１０３がスリット１０１を通して溝１０２ａまたは溝１０２ｂに挿入されると、ロック部材１０３によってスライドが阻害される。なお、ロック部材１０３がスリット１０１から不用意に抜け落ちるのを防止するために、ロック部材１０３をスリット１０１に係止するための機構を設けてもよい。
【００３８】
図３は、テストプラグ１の機能を示す模式図である。同図（Ａ）に示すように、テストプラグ１は、プラグ端子４１を含むスライド部材４がプラグ本体２に対して引出し位置にある場合には、各相の変成器側接触子３３をそれぞれ絶縁する。これに対し、同図（Ｂ）に示すように、プラグ端子４１を含むスライド部材４がプラグ本体２に対して収納位置にある場合には、各相の変成器側接触子３３は短絡導体７および短絡部材７１によって電気的に接続されて短絡される。
【００３９】
次に、上記テストプラグ１の作用について説明する。本実施形態のＣＴ用のテストプラグ１は、計器用変成器の機能試験の前に、機能試験の内容に応じて各相の変成器側が短絡状態に切り換えられる。図２（Ａ）に示すように、スライド部材４がプラグ本体２に対して引出し位置にある場合には、計器側スライド端子８および変成器側スライド端子９は、計器側導体５および変成器側導体６に当接するので、各相の変成器側接触子３３は絶縁されている。
【００４０】
テストプラグ１の変成器側を短絡状態へ切り換える場合には、プラグ本体２のスリット１０１からロック部材１０３を抜き取り、スライド部材４のスライドロックを解除する。次いで、プラグ端子４１を介してスライド部材４を押圧し、引出し位置にあるスライド部材４を挿入位置へと移動させる。
【００４１】
図２（Ｂ）に示すように、スライド部材４がプラグ本体２に対して引出し位置に移動されると、変成器側スライド端子９は、計器側導体５および変成器側導体６に当接する。これにより、各相の変成器側接触子３３は、短絡導体７に接続された短絡部材７１によって短絡される。
【００４２】
スライド部材４のスライド完了後、プラグ本体２のスリット１０１には、ロック部材１０３が挿入される。ロック部材１０３は、スリット１０１を通して溝１０２ｂに挿入されるので、スライド部材４は不用意にスライドしないようにロックされる。
【００４３】
テストプラグ１は、スライド部材４の挿入位置へのスライド後にテスターなどを用いてその試験目的に合った接続、すなわち変成器側が意図した短絡状態になっているか確認される。この確認作業は、作業者がテストプラグ１の計器側端子部４１２にテスターのプローブを順次当接させるといった手作業で行われる。
【００４４】
テストプラグ１は、接続の確認後、図４に示すように、挿入部３がテストターミナル１１の挿入口１１１に挿入される。挿入部３は、計器側接片１１２と変成器側接片１１３とを弾性変形させながら両者の間に挿入される。挿入部３の絶縁支持体３１によって計器側接片１１２と変成器側接片１１３とが離間されることにより、計器１２と計器用変成器１３との電気的な接続が切り離される。また、挿入部３の計器側接触子３２および変成器側接触子３３が計器側接片１１２および変成器側接片１１３にそれぞれ当接することにより、計器側端子部４１２および変成器側端子部４１３と、計器１２および計器用変成器１３とが電気的に接続される。テストターミナル１１の変成器側接片１１３は、短絡導体７および短絡部材７１によって短絡される。
【００４５】
テストプラグ１のテストターミナル１１への挿入後、計器側端子部４１２に計測器を接続して計器用変成器１３の機能試験が行われる。
【００４６】
以上で説明したように、本実施の形態のテストプラグ１によれば、スライド部材４をプラグ本体２に押し込むだけで変成器側を短絡させることができるので、従来のテストプラグのように短絡バーを使用して変成器側を短絡させるのに比べて簡単に作業を行うことができ、作業時間が大幅に短縮するので、作業者の負担を減らすことができる。特に、４相や８相の多相型のテストプラグにおいて、複数の相のうちの数相のみを短絡させるような場合に、従来のテストプラグでは短絡バーの取り付け作業が複雑になるので、取り付けミスが発生し、作業のやり直しが必要になることがあった。しかしながら、本実施の形態のテストプラグであれば、スライド部材４を押し込むだけで簡単に短絡処理を行なうことができ、さらに短絡されているか否かも見た目上で簡単に確認することができる。
【００４７】
また、従来のテストプラグのように、プラグ端子のネジを使用して短絡バーを固定しないので、作業ミスによる締め付けの緩みや、経年劣化による緩みによって短絡バーが脱落することもない。さらに、変成器側を短絡させるための短絡バー自体が不要となるので、テストプラグ１のコストを低減することができ、短絡バーの管理の手間を無くすことができる。
【００４８】
さらに、スライド部材４を挿入位置と引出し位置とでロックするロック機構１０を設けたので、スライド部材４の不用意な移動による短絡事故の発生を防止することができる。
【００４９】
（実施の形態２）
次に、本発明の第２の実施の形態について説明する。なお、実施の形態１と同じ構成については、同符号を用いて詳しい説明は省略する。本実施の形態は、ＰＴ用のテストプラグ１Ａに関するものである。
【００５０】
本実施の形態のテストプラグ１Ａは、図５（Ａ）に示すように、実施の形態１で説明したＣＴ用のテストプラグ１に比べて、変成器側スライド端子９Ａの当接部の挿入方向の長さが短くなっている。変成器側スライド端子９Ａは、スライド部材４を図５（Ａ）に示す引出し位置から同図（Ｂ）に示す挿入位置に移動させると、短絡導体７のみに当接する。すなわち、スライド部材４が挿入位置にある場合には、変成器側端子部４１３と変成器側接触子３３との電気的な接続が切り離される。
【００５１】
したがって、本実施の形態のテストプラグ１Ａによれば、スライド部材４を挿入位置に移動することによって変成器側端子部４１３と変成器側接触子３３との電気的な接続が切り離されるので、テストプラグ１Ａをテストターミナルに挿入する際の感電や、作業時の短絡事故を防止することができる。また、ビニールテープなどによる変成器側の絶縁作業を省略することができるので、作業者の負担も軽減される。
【００５２】
（実施の形態３）
次に、本発明の第３の実施の形態について説明する。なお、実施の形態１と同じ構成については、同符号を用いて詳しい説明は省略する。本実施の形態は、テストターミナル１１に常に挿入された状態で使用されるいわゆる常用型のテストプラグに関するものである。
【００５３】
図６（Ａ）に示すように、本実施の形態のテストプラグ１Ｂは、実施の形態１のテストプラグ１に対し、計器側短絡導体１４、変成器側短絡導体１５、および配線１６を備える点で異なる。計器側短絡導体１４は、計器側導体５の前方に隣接するように配置されており、絶縁された状態で各相にそれぞれ設けられている。変成器側短絡導体１５は、変成器側導体６の前方に隣接するように配置されており、絶縁された状態で各相にそれぞれ設けられている。配線１６は、各相にそれぞれ設けられており、計器側短絡導体１４と変成器側短絡導体１５とを電気的に接続する。
【００５４】
また、本実施の形態のテストプラグ１Ｂは、実施の形態１のテストプラグ１に対し、スライド部材４の挿入位置として第１の挿入位置と、第１の挿入位置よりもプラグ本体２の奥に挿入される第２の挿入位置を備える点で異なる。さらに、本実施の形態の計器側スライド端子８Ｂおよび変成器側スライド端子９Ｂは、実施の形態１のテストプラグ１に対し、当接部の挿入方向の長さが異なっている。
【００５５】
計器側スライド端子８Ｂは、スライド部材４が図６（Ａ）に示す引出し位置にある場合には、計器側短絡導体１４および計器側導体５と同時に当接する。また、変成器側スライド端子９Ｂは、スライド部材４が引出し位置にある場合には、変成器側短絡導体１５および変成器側導体６と同時に当接する。したがって、スライド部材４が引出し位置にある場合には、計器側接触子３２および変成器側接触子３３は、配線５１、計器側導体５、計器側スライド端子８Ｂ、計器側短絡導体１４、配線１６、変成器側短絡導体１５、変成器側スライド端子９Ｂ、変成器側導体６、および配線６１を介して電気的に接続するので、本実施の形態のテストプラグ１Ｂは、常用のテストプラグとして使用可能となる。
【００５６】
また、計器側スライド端子８Ｂは、スライド部材４が図６（Ｂ）に示す第１の収納位置にある場合には、計器側短絡導体１４との当接を解除し、計器側導体５のみに当接する。変成器側スライド端子９Ｂは、スライド部材４が第１の収納位置にある場合には、変成器側短絡導体１５との当接を解除し、変成器側導体６のみに当接する。したがって、スライド部材４が第１の収納位置にある場合には、計器側接触子３２と変成器側接触子３３とは電気的に切り離される。
【００５７】
さらに、変成器側スライド端子９Ｂは、スライド部材４が図７に示す第２の収納位置にある場合には、変成器側導体６との当接を維持したまま短絡導体７に当接する。したがって、スライド部材４が第２の収納位置にある場合には、計器側接触子３２と変成器側接触子３３とは電気的に切り離され、各相の変成器側接触子３３は短絡部材７１によって短絡されるので、本実施の形態のテストプラグ１Ｂは、ＣＴ用のテストプラグとして使用可能となる。
【００５８】
以上で説明したように、本実施の形態のテストプラグ１Ｂによれば、スライド部材４を引出し位置に移動することにより常用のテストプラグとして使用することができ、スライド部材４を第１の収納位置に移動することにより器側接触子３２と変成器側接触子３３とは電気的に切り離すことができる。さらに、スライド部材４を第２の収納位置に移動することにより、ＣＴ用のテストプラグとして使用することができる。したがって、ＣＴ回路の機能検査を行なう場合にＣＴ用のテストプラグを用意しなくても、常用しているテストプラグ１Ｂのスライド部材４を収納位置に押し込むだけでＣＴ回路の検査を行なうことができる。これにより、ＣＴ回路の機能検査にかかる作業者の負担を軽減することができる。
【００５９】
なお、本実施の形態３では、常用テストプラグとＣＴ用テストプラグとを兼用にしたが、実施の形態２のテストプラグ１Ａのように、スライド部材４を収納位置に移動した際に変成器側スライド端子９Ｂが短絡導体７のみに当接するようにして、常用テストプラグとＰＴ用テストプラグとを兼用させてもよい。
【００６０】
以上、この発明の実施の形態を詳述したが、具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても、この発明に含まれる。例えば、４相のテストプラグを例に説明したが、２相以上のテストプラグであれば本発明は適用可能である。また、プラグ端子４１を挿入位置に移動した際に変成器側端子部４１３がプラグ本体２内に収納されるようにしたが、プラグ本体２から露呈されるようにし、計器側端子部４１２と変成器側端子部４１３とをコ字形状の短絡バーで短絡できるようにしてもよい。
【符号の説明】
【００６１】
１、１Ａ、１Ｂ    テストプラグ
２                プラグ本体
３                挿入部
３１            絶縁支持体
３２            計器側接触子
３３            変成器側接触子
４                スライド部材
４１            プラグ端子
４１２        計器側端子部
４１３        変成器側端子部
５                計器側導体
６                変成器側導体
７                短絡導体
７１            短絡部材
８、８Ｂ          計器側スライド端子
９、９Ａ、９Ｂ    変成器側スライド端子
１０              ロック機構（ロック手段）
１１              テストターミナル
１１２          計器側接片
１１３          変成器側接片
１２              計器
１３              計器用変成器
１４              計器側短絡導体
１５              変成器側短絡導体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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