(57)【要約】【課題】マイクロチップが収容される領域の温度を、第１温度よりも高い温度まで、従来の装置よりも短時間で強制的に上昇させるか、又は、第２温度よりも低い温度まで、従来の装置よりも短時間で強制的に下降させることが可能な検査装置を提供する。【解決手段】検査装置１は、検査チップを装着可能なホルダ６１、垂直軸線Ａ１を中心としてホルダ６１を回転させる回転機構、ホルダ６１の回転領域を含む第１領域と第２領域とを仕切る仕切り壁８０、仕切り壁８０の通流部８３Ａを介して第２領域から第１領域に向けて通流する空気を加熱する加熱機構６５を備える。検査装置１は、垂直軸線Ａ１と通流部８３Ａとの間の距離よりも垂直軸線Ａ１と通流部８２Ａとの間の距離の方が長く、通流部８３Ａと加熱機構６５との間の距離よりも通流部８２Ａと加熱機構６５との間の距離の方が長い。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検体が収容されるチップを装着可能なホルダと、
回転軸を中心として前記ホルダを回転させる回転機構と、
前記ホルダが回転するときに通過する回転領域を少なくとも含む第１領域と、前記第１領域以外の第２領域とを仕切る仕切り壁であって、
前記第１領域及び前記第２領域の間で空気を通流させることが可能な第１通流部及び第２通流部を有し、且つ、
前記回転軸と前記第１通流部との間の距離よりも、前記回転軸と前記第２通流部との間の距離の方が長い仕切り壁と、
前記第１通流部を介して前記第２領域から前記第１領域に向けて通流する空気に熱エネルギーを付与して加熱する加熱機構、又は、前記空気から熱エネルギーを奪うことによって冷却する冷却機構を有する熱機構と、
を備えた検査装置であって、
前記第１通流部と前記熱機構との間の最短距離よりも、前記第２通流部と前記熱機構との間の最短距離の方が長いことを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記第１領域の温度を測定するセンサを有することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記第１通流部と前記センサとの最短距離よりも、前記第２通流部と前記センサとの最短距離の方が短いことを特徴とする請求項２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記ホルダに装着された前記チップよりも、前記第１通流部の方が、前記回転軸に近接することを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の検査装置。
【請求項５】
受光部を少なくとも有し、前記受光部によって受光された光の光学測定が可能な光学測定部を備え、
前記第２通流部は、
前記受光部によって受光可能な光の光軸と交差する位置に第１光通過部を有することを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の検査装置。
【請求項６】
前記光学測定部は、光を発光する発光部を更に有し、
前記第２通流部は、
前記発光部によって発光可能な光の光軸と交差する位置に第２光通過部を有することを特徴とする請求項５に記載の検査装置。
【請求項７】
前記熱機構は、前記第１通流部を包囲する円環状を有することを特徴とする請求項１から６の何れかに記載の検査装置。
【請求項８】
前記熱機構は、前記第２領域の温度よりも高い温度まで、前記空気の温度を上昇させることが可能な前記加熱機構であることを特徴とする請求項１から７の何れかに記載の検査装置。
【請求項９】
前記熱機構は、前記第２領域の温度よりも低い温度まで、前記空気の温度を下降させることが可能な前記冷却機構であることを特徴とする請求項１から７の何れかに記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象物の科学的な検査を行うための検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
生体物質や化学物質等の検体が収容されたマイクロチップを回転させ、遠心力を検体に作用させることによって検体の検査を行う検査装置が提案されている。このような検査装置において、所望する温度下で検体の検査を行いたいという要求がある。特許文献１は、厚み方向に貫通孔を有する検査チップを公転させる検査システムを開示する。この検査システムでは、公転中に貫通孔に通過する空気によって、測定液の温度を目標温度に近づける。なお、検査システムでは、空気を加熱するためのヒータが設けられる場合がある。
【０００３】
又、特許文献２は、フレーム、ドア、モータ、及び、ロータを備えた遠心分離機を開示する。フレーム及びドアは、遠心分離機の外枠を構成する。フレーム及びドアは、内部にロータ室を形成する。ロータはロータ室に収容される。ドアに吸気口が形成され、フレームに排気口が形成される。モータはロータを回転させる。ロータが回転すると、回転中心付近の圧力は低下する。これによって、吸気口付近と排気口付近との間に圧力勾配が発生する。吸気口付近は大気圧に対して負圧となり、排気口付近は大気圧に対して正圧となる。ドアの外側の空気は、吸気口を通ってロータ室内に吸入される。吸入された空気は、吸気口から排気口に向けて流れ、回転により温度上昇したロータを冷却する。ロータを冷却した空気は、排気口から外部へ排出される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−１９０９０６号公報
【特許文献２】特許第５００７９５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
引用文献１に記載された検査システムにおいて、ヒータが設けられる場合を例示する。この場合、検査システムは、検査チップ中の測定液の温度を目標温度まで上昇させるために、検査チップの周辺の空気（以下、「周辺空気」という。）の温度をヒータによって目標温度まで上昇させようとする。そして、このような場合、ヒータの電源が投入され、ヒータの温度が目標温度よりも少なくとも高い温度で維持されなければ、周辺空気の温度を目標温度まで上昇させることができない。また，測定開始までの時間を短縮するためには、ヒータの温度が目標温度よりも高い温度で維持される必要がある。しかし，周辺空気が目標温度になった場合にヒータの電源が遮断されても、目標温度よりも高い温度で維持されていた状態から目標温度まで、ヒータの温度を急速に下げることは難しい。このため、周辺空気の温度は上昇し続け、目標温度よりも高くなってしまう場合がある。この場合、ヒータの電源が遮断されてから、一度目標温度よりも上昇しすぎた周辺空気の温度が目標温度まで自然に冷却されるのを待つことになる。
【０００６】
このように、周辺空気の温度を目標温度に調整する過程で、ヒータの温度と周辺空気の温度に大きな差をつけることに頼って、周辺空気の温度を短時間で目標温度に近づける手法は、次の点で問題がある。即ち、測定が可能となるまでの時間の中に、周辺空気の温度が自然に冷却される時間が存在する可能性があるため、温度調整に要する時間を制御することが難しくなる。このため、測定液の測定が可能となるまでに時間を要する。
【０００７】
一方、特許文献２に記載された上記の機構が検査装置に適用された場合を例示する。この場合、マイクロチップが回転することによって、マイクロチップが収容される空間（以下、「収容空間」という。）に圧力勾配が生じる。この圧力勾配に基づいて、吸入口から排気口に向かう空気の流れが収容空間内に形成される。上記の機構では、マイクロチップの回転時におけるマイクロチップと空気との摩擦によって生じる熱エネルギーによって、収容空間の温度を上昇させることができる。しかし、上記の機構では、マイクロチップと空気との摩擦によって生じる熱エネルギーによって上昇させることが可能な温度（以下、「第１温度」という。）よりも高い温度まで、収容空間の温度を強制的に上昇させることができない。同様に、上記の構成では、収容空間外の温度（以下、「第２温度」という。）まで収容空間の温度を下降させることができる。しかし、上記の機構では、第２温度よりも低い温度まで、収容空間の温度を強制的に下降させることができない。
【０００８】
本発明の目的は、マイクロチップが収容される領域の温度を、第１温度よりも高い温度まで、従来の装置よりも短時間で強制的に上昇させるか、又は、第２温度よりも低い温度まで、従来の装置よりも短時間で強制的に下降させることが可能な検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る検査装置は、検体が収容されるチップを装着可能なホルダと、回転軸を中心として前記ホルダを回転させる回転機構と、前記ホルダが回転するときに通過する回転領域を少なくとも含む第１領域と、前記第１領域以外の第２領域とを仕切る仕切り壁であって、前記第１領域及び前記第２領域の間で空気を通流させることが可能な第１通流部及び第２通流部を有し、且つ、前記回転軸と前記第１通流部との間の距離よりも、前記回転軸と前記第２通流部との間の距離の方が長い仕切り壁と、前記第１通流部を介して前記第２領域から前記第１領域に向けて通流する空気に熱エネルギーを付与して加熱する加熱機構、又は、前記空気から熱エネルギーを奪うことによって冷却する冷却機構を有する熱機構と、を備えた検査装置であって、前記第１通流部と前記熱機構との間の最短距離よりも、前記第２通流部と前記熱機構との間の最短距離の方が長いことを特徴とする。
【００１０】
検査装置において、ホルダが回転した場合、第１領域の空気に圧力勾配が形成される。第１領域のうち回転軸に近接する部分の圧力は、第２領域の圧力に対して負圧となり、回転軸から離隔する部分の圧力は、第２領域の圧力に対して正圧となる。これに対し、検査装置の仕切り壁は、第１通流部及び第２通流部を有する。又、回転軸と第１通流部との間の距離よりも、回転軸と第２通流部との間の距離の方が長い。このため、第１通流部は、第２通流部よりも回転軸に近接する。従って、第１領域の圧力勾配に基づき、第１通流部を介して第２領域から第１領域に向かう方向に空気が通流し、第２通流部を介して第１領域から第２領域に向かう方向に空気が通流する。又、第１領域に、第１通流部から第２通流部に向かう方向の空気の流れが生じる。
【００１１】
ここで、検査装置は、第１通流部を介して第２領域から第１領域に向けて通流する空気との間で熱エネルギーを伝達する熱機構を有する。熱機構において、検査装置が動作することによって生じる熱エネルギー以上の熱エネルギーを空気に供与して空気を加熱するか、又は、第２領域の温度よりも低い温度まで空気を冷却することが可能な場合を例示する。この場合、加熱又は冷却された空気は、第１領域において、第１通流部から第２通流部に向けて流れる。このように、検査装置は、熱機構によって加熱又は冷却された空気を、第１通流部から第２通流部に向けて流すことができるので、第１領域の温度を、検査装置が動作することによって生じる熱エネルギーによって上昇させることが可能な温度よりも高い温度まで強制的に上昇させることができる。又は、検査装置は、第１領域の温度を、第２領域の温度よりも低い温度まで強制的に下降させることができる。
【００１２】
又、熱機構は、第２通流部よりも第１通流部に近接する。従って熱機構は、第１領域に流入する前の段階、第１通流部を通過中の段階、及び、第１通流部を通過した直後の段階の空気を加熱したり、冷却したりできる。従って、検査装置は、第１領域の温度を強制的に上昇又は下降させることができる。
【００１３】
本発明において、前記第１領域の温度を測定するセンサを有してもよい。この場合、検査装置は、センサによって測定された第１領域の温度に基づいて、第１領域の温度を所望する温度とすることができる。また，従来の装置よりも，熱機構の温度を目標温度よりも過度に上昇させたり下降させたりすることが可能になるため，温度調整に必要な時間を短縮できる。 
【００１４】
本発明において、前記回転機構を駆動する駆動部と、前記駆動部を制御する制御部とを更に備えてもよい。この場合、検査装置は、制御部が駆動部を介して回転機構を回転駆動させることによって、第１通流部から第２通流部に向かう方向の空気の流れを第１領域に生じさせることができる。従って、検査装置は、熱機構によって加熱又は冷却された空気を、第１通流部から第２通流部に向けて流すことができる。従って、検査装置は、第１領域の温度を短時間で強制的に上昇又は下降させることができる。又、検査装置は、前記熱機構の温度を制御する制御部を更に備えていてもよい。この場合、検査装置は、制御部によって温度が制御された熱機構によって、第１領域の温度を強制的に上昇又は下降させることができる。又、前記制御部は、前記センサによって測定された前記第１領域の温度に基づいて、前記熱機構の温度を制御してもよい。この場合、検査装置は、第１領域を目標温度に調整するために必要な時間を短縮できる
【００１５】
本発明において、前記第１通流部と前記センサとの最短距離よりも、前記第２通流部と前記センサとの最短距離の方が短くてもよい。この場合、センサは、第１通流部よりも第２通流部に近接する。従って、検査装置は、第１領域内に生じている温度勾配に関わらず、第２通流部の近傍の温度を測定できる。
【００１６】
本発明において、前記ホルダに装着された前記チップよりも、前記第１通流部の方が、前記回転軸に近接してもよい。この場合、第１領域を第１通流部から第２通流部に向けて空気が流れる過程で、空気が持つ熱エネルギーを、チップのうち回転軸と直交する方向の全域に亘って伝えることができる。従って、検査装置は、熱機構によって加熱されるか又は冷却された空気によって、チップに収容された検体の温度を、所望する温度に近づけることができる。
【００１７】
本発明において、受光部を少なくとも有し、前記受光部によって受光された光の光学測定が可能な光学測定部を備え、前記第２通流部は、前記受光部によって受光可能な光の光軸と交差する位置に第１光通過部を有してもよい。この場合、検査装置は、光学測定部の受光部によって受光される光が通過する第１光通過部を、第２通流部の少なくとも一部として利用できる。つまり、第１光通過部を第２通流部の少なくとも一部として利用することによって、第１領域と第２領域を仕切るための仕切り壁の面積を大きくできる。このため、検査装置は、第１領域の温度を調整しやすくなる。
【００１８】
本発明において、前記光学測定部は、光を発光する発光部を更に有し、前記第２通流部は、前記発光部によって発光可能な光の光軸と交差する位置に第２光通過部を有してもよい。この場合、検査装置は、光測定部の発光部から発光された光が通過する第２光通過部を、第２通流部の少なくとも一部として利用できる。つまり、第２光通過部を第２通流部の少なくとも一部として利用することによって、第１領域と第２領域を仕切るための仕切り壁の面積を大きくできる。このため、検査装置は、第１領域の温度を調整しやすくなる。
【００１９】
本発明において、前記熱機構は、前記第１通流部を包囲する円環状を有してもよい。この場合、熱機構は、円環状に囲まれた空気との間で熱エネルギーの伝達を均等に行うことができるので、第１通流部を通流する空気を均一に加熱又は冷却できる。
【００２０】
本発明において、前記熱機構は、前記第２領域の温度よりも高い温度まで前記空気を上昇させることが可能な前記加熱機構であってもよい。この場合、検査装置は、第２領域よりも高い温度の空気を、第１領域に通すことができるので、第１領域の温度を、第２領域の温度よりも高い温度まで上昇させることができる。
【００２１】
本発明において、前記熱機構は、前記第２領域の温度よりも低い温度まで前記温度を下降させることが可能な前記冷却機構であってもよい。この場合、検査装置は、第２領域よりも低い温度の空気を、第１領域に通すことができるので、第１領域の温度を、第２領域の温度よりも低い温度まで下降させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】検査装置１の構成を示す斜視図である。
【図２】筐体１０を外した状態の検査装置１の斜視図である。
【図３】筐体１０を外した状態の検査装置１の平面図である。
【図４】図３のＩ−Ｉ線を矢印方向から見た断面図である。
【図５】図３のＩ−Ｉ線を矢印方向から見た断面図の一部を拡大した図である。
【図６】筐体１０を外した状態の検査装置１の平面図である。
【図７】図３のＩＩ−ＩＩ線を矢印方向から見た断面図である。
【図８】検査装置１の電気的構成を示すブロック図、及び、空気の流れを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明を具体化した実施形態について、図面を参照して説明する。以下の説明では、図１の上側、下側、左下側、右上側、右下側、及び、左上側を、それぞれ、検査装置１の上側、下側、左側、右側、前側、及び、後側とする。
【００２４】
＜検査装置１の概要＞
検査装置１は、液体である検体及び試薬を収容可能な検査チップ２（図４参照）を用いて科学的な検査を行う。検査チップ２は、ホルダ６１（図２等参照）に支持される。検査装置１は、ホルダ６１と検査チップ２とから離間した垂直軸線Ａ１（図２等参照）を中心としてホルダ６１及び検査チップ２を回転させることによって、ホルダ６１及び検査チップ２に遠心力を作用させる。検査装置１は、水平軸線Ａ２（図３参照）を中心にホルダ６１及び検査チップ２を回転させることによって、ホルダ６１及び検査チップ２に作用する遠心力の方向である遠心方向を切り替える。本実施形態では、垂直軸線Ａ１の方向は検査装置１の上下方向であり、水平軸線Ａ２の方向は、ホルダ６１及び検査チップ２が垂直軸線Ａ１を中心として回転される際の速度の方向である。
【００２５】
＜検査装置１の構成＞
図１に示すように、検査装置１は筐体１０を備える。筐体１０は箱状のフレーム構造を有する。筐体１０は、上部筐体１１、下部筐体１２、及び、一対の側部筐体１３を備える。一対の側部筐体１３は、上下方向に長い長方形の板材である。一対の側部筐体１３のそれぞれの面は左右方向を向く。一対の側部筐体１３は左右方向に離隔する。下部筐体１２は、一対の側部筐体１３のそれぞれの下端、前端の下側、及び、後端の下側の間に架け渡された板材である。上部筐体１１は、一対の側部筐体１３のそれぞれの上端、前端の上側、及び、後端の上側の間に架け渡された板材である。上部筐体１１には、前側部分と上側部分との間に亘って穴部１１Ａが形成されている。上部筐体１１は、長方形の板材である蓋部材１１Ｂの一端部を、回転可能に支持する。蓋部材１１Ｂの一端部と対向する他端部が、回転によって上部筐体１１に近接した場合、蓋部材１１Ｂは穴部１１Ａを覆う。又、上部筐体１１の上側部分の右側に、電源スイッチ及び複数の操作スイッチを含む操作部９４が設けられる。
【００２６】
図２〜図７に示すように、検査装置１は、上板３２、ホルダ６１Ａ、６１Ｂ（以下、総称して、「ホルダ６１」という。）ターンテーブル３３Ａ、３３Ｂ（以下、総称して、「ターンテーブル３３」という。）（図４参照）、回転機構３０（図４参照）、角度変更機構３４（図４参照）、仕切り壁８０、加熱機構６５（図４参照）、センサ７６（図５参照）、光学測定部７等を備える。それぞれの構成の概略は、次の通りである。
【００２７】
上板３２は、筐体１０（図１参照）の下部筐体１２（図１参照）の前側の上端と後側の上端との間に架け渡された、長方形の板材である。ホルダ６１は、上板３２の上側に設けられる。ホルダ６１は、検査チップ２を装着可能である。検査チップ２は、透明な合成樹脂の板材を主体とする。検査チップ２の板材の両側の面は、それぞれ、透明の合成樹脂シートによって封止される。図４に示すように、対向する合成樹脂シートの間には、検査チップ２に収容された検体及び試薬が流動可能な液体流路２Ａが形成される。検査チップ２に収容された試薬及び検体は、液体流路２Ａを移動する過程で、定量又は混合され、混合液が生成される。混合液は、液体流路２Ａのうち一部分に形成された測定部に貯留される。ホルダ６１は、ターンテーブル３３によって下側から支持される。
【００２８】
回転機構３０は、垂直軸線Ａ１を中心にターンテーブル３３を回転させることで、ホルダ６１及び検査チップ２を回転させる。角度変更機構３４は、水平軸線Ａ２を中心にホルダ６１を回転させることで、検査チップ２を回転させる。仕切り壁８０は、角度変更機構３４、ホルダ６１、及び、ターンテーブル３３を覆う。加熱機構６５は、熱エネルギーを空気に付与することによって、空気の温度を上昇させることが可能である。センサ７６は、空気の温度を測定可能である。光学測定部７は、検査チップ２の測定部に貯留された混合液の光学測定を行う。以下、それぞれの構成の詳細を説明する。
【００２９】
＜回転機構３０＞
図４に示すように、筐体１０内の中央部の下方寄りに、ホルダ６１を回転させるための駆動力を供給する主軸モータ３５、及び、下部筐体１２の内部から上方に延びる主軸５７が設置されている。主軸モータ３５はＤＣモータである。主軸モータ３５の軸３６は、上方に突出し、主軸５７に連結している。主軸５７は、上板３２を貫通して、上板３２の上側に突出している。主軸５７の上端部には、ターンテーブル３３Ａ、３３Ｂが接続されている。ターンテーブル３３Ａ、３３Ｂは、主軸５７から放射方向且つ互いに反対方向に延びる。図４の場合、ターンテーブル３３Ａは前側に延び、ターンテーブル３３Ｂは後側に延びている。
【００３０】
主軸５７は、上板３２の中央に設けられた支持部材５３、及び、支持部材５３の下側に設けられた支持部材５４（図７参照）により、回転自在に保持されている。支持部材５４の内部に設けられたボールベアリング５４Ａの内輪は、主軸５７に接触し、主軸５７の回転に応じて回転する。支持部材５４は、ボールベアリング５４Ａの外輪を前端部で保持する。支持部材５４の後端部は、ステッピングモータ５１の右側に配置される。主軸モータ３５が軸３６を回転させると、駆動力が主軸５７に伝達される。このとき、主軸５７の回転に連動して、ターンテーブル３３Ａ、３３Ｂが主軸５７を中心に回転する。なお、主軸５７の中心を通って延びる仮想線、つまり、主軸５７の回転軸は、垂直軸線Ａ１に対応する。
【００３１】
主軸５７は、内部が中空の筒状体である。内軸４０は、主軸５７の内部において上下方向に移動可能な軸である。内軸４０の上端部は、主軸５７内を貫通してターンテーブル３３の上方に延び、後述する一対のラックギア４３に接続されている。内軸４０の上端部分の形状は、断面が正方形の角柱である。
【００３２】
主軸５７には、上下方向に延びるスリット５７Ａ（図７参照）が設けられる。ボールベアリング５４Ａの内輪に、スリット５７Ａを介して主軸５７の外側から内側に延びる非図示の連結部が設けられる。連結部の内側の端部は、内軸４０に接続する。筐体１０の中央部の後方寄りには、内軸４０を上下動させるためのステッピングモータ５１が固定されている。ステッピングモータ５１の軸は右方に向けて突出している。軸の先端には、非図示のピニオンギアが固定されている。ピニオンギアは、支持部材５４に固定された非図示のラックギアに噛み合っている。ステッピングモータ５１が軸を回転させると、ピニオンギアの回転に連動して、支持部材５４及びボールベアリング５４Ａが上下動する。このとき、ボールベアリング５４Ａに設けられた連結部は、スリット５７Ａに沿って上下動する。内軸４０は、連結部に連動して上下動する。
【００３３】
＜角度変更機構３４＞
図４に示すように、角度変更機構３４は、一対のラックギア４３を備えている。なお、図４においては、一方のラックギア４３のみ示されている。一対のラックギア４３は、それぞれ、内軸４０における互いに対向する面の上端に固定される。一対のラックギア４３は、内軸４０の上下動に伴って上下動する。
【００３４】
図７に示すように、ターンテーブル３３Ａの上方に支持部４７Ａが固定される。支持部４７Ａは、軸４７１を中心としてホルダ６１Ａを回転可能に支持する。軸４７１は、ターンテーブル３３Ａ及び支持部４７Ａが回転される際の速度の方向に延びる。なお、軸４７１の中心に沿って延びる仮想線、つまり、軸４７１の回転軸は、水平軸線Ａ２に対応する。軸４７１の周囲にギア４７２が設けられる。ギア４７２は、一対のラックギア４３のうち一方と噛み合っている。内軸４０の上下動に応じて一対のラックギア４３が上下動した場合、ギア４７２は軸４７１を中心に回転する。ギア４７２の回転に伴い、ホルダ６１Ａも回転する。従って、ホルダ６１Ａに保持された検査チップ２は、軸４７１を中心に回転する。
【００３５】
なお、図示されていないが、ターンテーブル３３Ｂの上方にも、支持部４７Ａと同一形状の支持部が固定される。この支持部は、軸を中心としてホルダ６１Ｂを回転可能に支持する。この軸の周囲に、ギア４７２と同一形状のギアが設けられる。このギアは、一対のラックギア４３のうち他方と噛み合っている。内軸４０の上下動に応じて一対のラックギア４３が上下動した場合、ホルダ６１Ｂは回転し、ホルダ６１Ｂに保持された検査チップ２も回転する。以下、ターンテーブル３３Ａに固定された支持部４７Ａ、及び、ターンテーブル３３Ｂに固定された非図示の支持部を総称し、「支持部４７」という。
【００３６】
本実施形態では、主軸モータ３５がターンテーブル３３を回転駆動するのに伴って、ホルダ６１及び検査チップ２は、垂直軸線Ａ１を中心として回転し、ホルダ６１及び検査チップ２に遠心力が作用する。ホルダ６１及び検査チップ２の垂直軸線Ａ１を中心とした回転を、「公転」という。垂直軸線Ａ１と直交する方向を、「直交方向」という。一方、ステッピングモータ５１が内軸４０を上下動させるのに伴って、ホルダ６１及び検査チップ２が軸４７１等を中心に回転して、ホルダ６１及び検査チップ２に作用する遠心力の遠心方向が相対変化する。ホルダ６１及び検査チップ２の水平軸線Ａ２を中心とした回転を、自転と呼ぶ。
【００３７】
＜仕切り壁８０＞
図２に示すように、仕切り壁８０は、上板３２よりも上側に設置される。仕切り壁８０は、周壁部８１、上壁部８２、及び、下壁部８３（図４参照）を有する。周壁部８１は略円筒状である。周壁部８１の中心の位置は、垂直軸線Ａ１と一致する。図４に示すように、周壁部８１の下端は、上板３２に対して上側に離隔した位置に固定された台座板３２Ａに接続する。周壁部８１は、台座板３２Ａから上方に向けて延びる。図２、図３に示すように、周壁部８１の右側の端部の近傍は、右側に向けて矩形状に突出する。以下、右側に矩形状に突出した部分を、「突出部８１１」という。周壁部８１の左側の端部の近傍は、左側に向けて矩形状に突出する。以下、左側に矩形状に突出した部分を、「突出部８１２」という。周壁部８１の後側の端部に、箱状のセンサ収容部８１３が接続される。周壁部８１のうちセンサ収容部８１３が接続された部分には、貫通孔が設けられている。このため、周壁部８１の内側と、センサ収容部８１３の内部とは連通する。センサ収容部８１３の内部には、後述するセンサ７６（図７参照）が配置される。
【００３８】
周壁部８１のうち左斜め後側の上下略中央部分、及び、右斜め後側の上下略中央部分のそれぞれに、貫通孔が形成される。以下、左斜め後側の貫通孔を、「第１光通過部８１Ａ」という。右斜め後側の貫通孔を、「第２光通過部８１Ｂ」という。第１光通過部８１Ａ、及び、第２光通過部８１Ｂの形状は、何れも略矩形状である。第２光通過部８１Ｂの大きさは、第１光通過部８１Ａの大きさよりも大きい。
【００３９】
上壁部８２は、周壁部８１の上端の開口を覆う位置に設けられる。上壁部８２の形状は略円形である。上壁部８２の中心の位置は、垂直軸線Ａ１の位置と一致する。上壁部８２の径は、周壁部８１のうち突出部８１１、８１２が設けられていない部分の径よりも、僅かに小さい。このため、上壁部８２の周端部と、周壁部８１との間に、円環状の隙間が形成される。以下、周壁部８１と上壁部８２との間に形成される隙間を、「通流部８２Ａ」という。突出部８１１、８１２が形成された部分で、通流部８２Ａの隙間の幅は大きくなっている。図３、図５に示すように、通流部８２Ａのうち垂直軸線Ａ１に最も近接する位置（図５における線分Ｐ１の位置）と垂直軸線Ａ１との間の直交方向の距離を、距離Ｌ１と表記する。上壁部８２は、ホルダ６１を支持する支持部４７に接続される。上壁部８２は、ターンテーブル３３の回転に伴ってホルダ６１と共に回転する。
【００４０】
図２、図３に示すように、上壁部８２の中心付近は、上側に向けて突出する。以下、上側に突出した部分を、「突出部８２１」という。突出部８２１の内側に、内軸４０の上端部が配置される（図４参照）。上壁部８２のうち、ホルダ６１の位置に対応する部分には、周端部から内側に向けて延びる切欠きが形成されている。以下、上壁部８２のうちホルダ６１Ａの位置に対応する部分に設けられた切欠きを、「切欠き８２２」という。上壁部８２のうちホルダ６１Ｂの位置に対応する部分に設けられた切欠きを、「切欠き８２３」という。切欠き８２２、８２３の内側の端部は、突出部８２１の側面に亘る。ホルダ６１Ａの上端は、切欠き８２２に対して僅かに上方に突出する。ホルダ６１Ｂの上端は、切欠き８２３に対して僅かに上方に突出する。ホルダ６１、及び、ホルダ６１に装着された状態の検査チップ２は、切欠き８２２、８２３のうち突出部８２１に形成された部分を除く部分の略全域を塞ぐ。ユーザは、切欠き８２２、８２３を介して検査チップ２をホルダ６１に装着することが可能となる。
【００４１】
図４に示すように、下壁部８３は、周壁部８１の内面のうち、台座板３２Ａよりも僅かに上側の部分から、周壁部８１の中心、即ち、垂直軸線Ａ１に向けて延びる。下壁部８３のうち垂直軸線Ａ１に最も近接する端部は、円形の開口部８３１を形成する。開口部８３１の径は、ターンテーブル３３のうち主軸５７の上端に接続する部分の回転半径よりも大きい。主軸５７、又は、ターンテーブル３３のうち主軸５７に接続する部分と、下壁部８３の開口部８３１との間に、隙間が形成される。以下、この隙間を、「通流部８３Ａ」という。
【００４２】
仕切り壁８０は、周壁部８１、上壁部８２、及び、下壁部８３で囲まれた領域と、それ以外の領域とを仕切る。以下、周壁部８１、上壁部８２、及び、下壁部８３で囲まれた領域を、「第１領域８０Ａ」という。第１領域８０Ａ以外の領域を、「第２領域８０Ｂ」という。第２領域８０Ｂには、検査装置１の筐体１０の外部だけでなく、筐体１０の内部のうち第１領域８０Ａ以外の領域も含まれる。第１領域８０Ａには、ターンテーブル３３の回転に応じてホルダ６１が回転するときにホルダ６１が通過する領域（以下、「回転領域」という）が少なくとも含まれる。通流部８２Ａ、８３Ａは、第１領域８０Ａ及び第２領域８０Ｂの間で、それぞれの領域の空気を通流させることができる。
【００４３】
図５に示すように、ホルダ６１に装着された状態の検査チップ２のうち、垂直軸線Ａ１に最も近接する位置（線分Ｐ２の位置）と、垂直軸線Ａ１との間の直交方向における距離を、「距離Ｌ２」と表記する。通流部８３Ａのうち垂直軸線Ａ１に最も近接する位置（線分Ｐ３の位置）と、垂直軸線Ａ１との間の直交方向における距離を、「距離Ｌ３」と表記する。この場合、距離Ｌ３は距離Ｌ２よりも短い。つまり、ホルダ６１に装着された検査チップ２よりも、通流部８３Ａの方が、垂直軸線Ａ１に近接する。又、距離Ｌ３は、通流部８２Ａのうち垂直軸線Ａ１に最も近接する位置（線分Ｐ１の位置）と垂直軸線Ａ１との間の距離Ｌ１よりも短い。言い換えれば、垂直軸線Ａ１と通流部８３Ａとの間の距離Ｌ３よりも、垂直軸線Ａ１と通流部８２Ａとの間の距離Ｌ１の方が長い。つまり、通流部８２Ａよりも通流部８３Ａの方が、垂直軸線Ａ１に近接する。更に、距離Ｌ１は、距離Ｌ２、Ｌ３よりも長い。従って、距離Ｌ１＜距離Ｌ２＜距離Ｌ３の関係が成立する。
【００４４】
＜加熱機構６５＞
図４、図５に示すように、加熱機構６５は台座板３２Ａの上面に設けられる。加熱機構６５は、２枚のラバーシートによって発熱線が挟まれた構造を有する。加熱機構６５は、発熱線に電流が通流することによって、発熱する。加熱機構６５は、第２領域８０Ｂの温度（例えば、大気の温度）よりも高い温度まで、周囲の空気の温度を上昇させることが可能である。図６に示すように、加熱機構６５の形状は円環状である。加熱機構６５の中心の位置は、垂直軸線Ａ１と一致する。加熱機構６５の外径は、周壁部８１の内径よりも小さい。加熱機構６５の中心に、円形の開口部６５１が形成される。開口部６５１の径は、仕切り壁８０の下壁部８３の開口部８３１の径よりも大きい。このため、検査装置１を上下方向から見た状態で、加熱機構６５の開口部６５１と、下壁部８３の開口部８３１とは、同心円状に配置される。加熱機構６５の開口部６５１は、下壁部８３の開口部８３１を周囲から均等に取り囲む。なお、上記のように、下壁部８３の開口部８３１は、主軸５７、又は、ターンテーブル３３の主軸５７に接続する部分との間に、通流部８３Ａを形成させる。このため、言い換えれば、加熱機構６５の開口部６５１は通流部８３Ａを周囲から均等に取り囲む。
【００４５】
図５に示すように、仕切り壁８０の下壁部８３の開口部８３１の位置（線分Ｐ３の位置）と、加熱機構６５の開口部６５１の位置（線分Ｐ４の位置）との間の直交方向の距離を、距離Ｌ４と表記する。なお、距離Ｌ４は、通流部８３Ａに含まれる任意の点と、加熱機構６５に含まれる任意の点とを結ぶ直線のうち、最短の直線の長さに対応する。又、通流部８２Ａのうち垂直軸線Ａ１に最も近接する位置（線分Ｐ１の位置）と、加熱機構６５のうち垂直軸線Ａ１から最も離隔する位置（線分Ｐ５の位置）との間の直交方向の距離を、距離Ｌ５と表記する。なお、距離Ｌ５は、通流部８２Ａに含まれる任意の点と、加熱機構６５に含まれる任意の点とを結ぶ直線のうち、最短の直線の長さに対応する。この場合、距離Ｌ４は距離Ｌ５よりも長い。つまり、通流部８３Ａと加熱機構６５との間の最短距離よりも、通流部８２Ａと加熱機構６５との間の最短距離の方が長い。従って、距離Ｌ４＜距離Ｌ５の関係が成立する。
【００４６】
加熱機構６５が接続される台座板３２Ａには、複数の貫通孔３２１が形成される。複数の貫通孔３２１を介して、台座板３２Ａの上側（仕切り壁８０の下壁部８３と台座板３２Ａとの間）の領域と、台座板３２Ａの下側（台座板３２Ａと上板３２との間）の領域との間で空気の通流が可能である。
【００４７】
＜センサ７６＞
図７に示すように、センサ７６は、仕切り壁８０のセンサ収容部８１３の内部に設けられる。センサ７６は、第１領域８０Ａの温度を測定可能なサーミスタである。センサ７６は棒状であり、センサ収容部８１３の上側の内面から下側に向けて延びる。
【００４８】
仕切り壁８０の下壁部８３の開口部８３１の位置（線分Ｐ３の位置）と、センサ７６のうち最も垂直軸線Ａ１に近接する位置（線分Ｐ６の位置）との間の直交方向の距離を、距離Ｌ６と表記する。距離Ｌ６は、通流部８３Ａに含まれる任意の点と、センサ７６に含まれる任意の点とを結ぶ直線のうち、最短の直線の長さに対応する。通流部８２Ａのうち垂直軸線Ａ１から最も離隔する位置（線分Ｐ７の位置）と、センサ７６のうち垂直軸線Ａ１に最も近接する位置（線分Ｐ６の位置）との間の直交方向の距離を、距離Ｌ７と表記する。距離Ｌ７は、通流部８２Ａに含まれる任意の点と、センサ７６に含まれる任意の点とを結ぶ直線のうち、最短の直線の長さに対応する。この場合、距離Ｌ６よりも距離Ｌ７の方が短い。つまり、通流部８３Ａとセンサ７６との間の最短距離よりも、通流部８２Ａとセンサ７６との間の最短距離の方が短い。従って、距離Ｌ６＞距離Ｌ７の関係が成立する。
【００４９】
＜光学測定部７＞
図２、図３に示すように、光学測定部７は、上板３２の上面に設けられる。光学測定部は、発光部７１及び受光部７２を有する。発光部７１は、仕切り壁８０に対して右斜め後側に設けられる。発光部７１は発光素子７１Ａを備えている。発光素子７１Ａは、左側に向けて光を発光可能である。発光素子７１Ａにて発光される光の光軸７３は、左右方向と平行に延びる。又、光軸７３は、仕切り壁８０の第１光通過部８１Ａ及び第２光通過部８１Ｂと交差する。受光部７２は、仕切り壁８０に対して左斜め後側に設けられる。図３に示すように、受光部７２は受光素子７２Ａを備えている。受光素子７２Ａは、発光部７１の発光素子７１Ａから発光された光を受光することが可能である。受光素子７２Ａは、発光素子７１Ａにて発光された光の光軸７３と交差する位置に配置される。つまり、発光素子７１Ａ、受光素子７２Ａ、第１光通過部８１Ａ、及び、第２光通過部８１Ｂは、光軸７３に沿って一直線状に並ぶ。
【００５０】
光学測定部７は、発光部７１の発光素子７１Ａにて発光された光が検査チップ２を透過し、受光部７２の受光素子７２Ａによって受光された場合において、受光された光に基づいて光学測定を行うことが可能である。
【００５１】
＜検査装置１の電気的構成＞
図８に示すように、検査装置１は検査装置１の主制御を司るＣＰＵ９１を備えている。ＣＰＵ９１には、ＲＡＭ９２、フラッシュメモリ９３、プログラムＲＯＭ９５、操作部９４、加熱機構６５、センサ７６、公転コントローラ９７、自転コントローラ９８、光学測定部７が接続されている。
【００５２】
ＲＡＭ９２は、各種データを一時的に記憶する。フラッシュメモリ９３は、設定温度を少なくとも含むパラメータを記憶する。プログラムＲＯＭ９５は、制御プログラムを記憶する。加熱機構６５は、ＣＰＵ９１による制御に応じて発熱線に通電された場合に発熱する。センサ７６は、温度変化に応じて抵抗値を変化させる。ＣＰＵ９１は、センサ７６の抵抗値に基づいて、第１領域８０Ａの温度を特定できる。公転コントローラ９７は、制御部であるＣＰＵ９１からの指示に基づき、駆動部である主軸モータ３５を回転駆動させる制御信号を主軸モータ３５に送信することによって、ホルダ６１及び検査チップ２の公転を制御する。自転コントローラ９８は、ＣＰＵ９１からの指示に基づき、ステッピングモータ５１を回転駆動させる制御信号をステッピングモータ５１に送信することによって、ホルダ６１及び検査チップ２の自転を制御する。光学測定部７は、検査チップ２の測定室に収容された混合液の光学測定を実行する。詳細には、光学測定部７は、ＣＰＵ９１からの指示に基づき、発光部７１の発光素子７１Ａを発光させる。又、光学測定部７は、受光部７２の受光素子７２Ａによって受光された光に基づく信号を、ＣＰＵ９１に出力する。
【００５３】
＜検査装置１を用いた検査方法＞
ユーザは、検査チップ２の非図示の注入口から、検体及び試薬を注入する。ユーザは、検査チップ２をホルダ６１Ａ、６１Ｂに取り付けて、操作部９４から処理開始のコマンドを入力する。これによって、ＣＰＵ９１は、フラッシュメモリ９３に記憶されている制御プログラムに基づいて、遠心処理を実行する。
【００５４】
遠心処理の概要は次の通りである。ＣＰＵ９１は、フラッシュメモリ９３に予め記憶されているモータの駆動情報を読み込み、公転コントローラ９７に主軸モータ３５の駆動情報をセットし、自転コントローラ９８にステッピングモータ５１の駆動情報をセットする。ＣＰＵ９１は、加熱機構６５の発熱線に対する通電を開始する。ＣＰＵ９１は、検査チップ２の公転を開始する。ＣＰＵ９１は、公転する検査チップ２の移動速度である公転速度を、所定の速度で維持する。次いで、ＣＰＵ９１は自転角度を変更する。検査チップ２の自転角度が変更されると、検査チップ２に作用する遠心力の方向が変化する。ＣＰＵ９１は、自転角度を繰り返し変化させて、遠心力の方向を繰り返し変化させる。これによって、検査チップ２内に注入された検体及び試薬は、液体流路２Ａに沿って移動する。検体及び試薬は、移動の過程で定量、分離、混合される。
【００５５】
ホルダ６１及び検査チップ２が公転することに応じ、仕切り壁８０で囲まれた第１領域８０Ａの空気は回転する。回転する空気に遠心力が作用する。空気は、第１領域８０Ａのうち垂直軸線Ａ１に近接する位置（以下、「近接位置」という。）から、垂直軸線Ａ１から離隔する位置（以下、「離隔位置」という。）に向けて移動する。近接位置付近の圧力は低下する。これによって、近接位置と離隔位置との間に圧力勾配が発生する。
【００５６】
第１領域８０Ａのうち近接位置付近は、第２領域８０Ｂの圧力（大気圧）に対して負圧となる。これによって、通流部８３Ａ（図４参照）に対して第１領域８０Ａ側と第２領域８０Ｂ側との間に、圧力勾配が発生する。なお、通流部８３Ａの下側には、通流部８３Ａを周囲から取り囲むように加熱機構６５が配置されている（図４参照）。このため、通流部８３Ａを通過して第１領域８０Ａに流入する前の段階、通流部８３Ａを通過中の段階、及び、通流部８３Ａを通過した直後の段階の空気は、加熱機構６５によって加熱されている。図８に示すように、通流部８３Ａを介して、第２領域８０Ｂ側から第１領域８０Ａ側に向けて、加熱された空気が通流する（矢印８４）。通流部８３Ａを介して第１領域８０Ａに進入した空気は、圧力勾配に応じて、近接位置から離隔位置に通流する（矢印８５）。第１領域８０Ａの空気は、加熱機構６５によって加熱された空気によって、加熱される。第１領域８０Ａの温度は上昇する。
【００５７】
一方、第１領域８０Ａのうち離隔位置付近は、第２領域８０Ｂの圧力（大気圧）に対して正圧となる。このため、通流部８２Ａ（図４参照）に対して第１領域８０Ａ側と第２領域８０Ｂ側との間に、圧力勾配が発生する。通流部８２Ａを介して、第１領域８０Ａ側から第２領域８０Ｂ側に向けて空気が通流し（矢印８６）、第１領域８０Ａの空気が第２領域８０Ｂに排出される。
【００５８】
又、第１光通過部８１Ａ、及び、第２光通過部８１Ｂのそれぞれに対して第１領域８０Ａ側と第２領域８０Ｂ側との間に、圧力勾配が発生する。第１光通過部８１Ａを介して、第１領域８０Ａ側から第２領域８０Ｂ側に向けて空気が通流する（矢印８７Ａ）。第２光通過部８１Ｂを介して、第１領域８０Ａ側から第２領域８０Ｂ側に向けて空気が通流する（矢印８７Ｂ）。これによって、第１領域８０Ａの空気が第２領域８０Ｂに排出される。
【００５９】
ＣＰＵ９１は、センサ７６の抵抗値に基づいて、第１領域８０Ａの温度を特定する。ＣＰＵ９１は、特定された温度と、フラッシュメモリ９３に記憶された設定温度を比較する。ＣＰＵ９１は、加熱機構６５の発熱線に通電する電流値を、比較結果に基づいて制御する。これによって、ＣＰＵ９１は、第１領域８０Ａの温度が設定温度となるように、加熱機構６５によって空気に付与される熱エネルギーの量を調整する。
【００６０】
検査チップ２内での検体及び試薬の定量、分離、混合が終了した場合、混合液は、液体流路２Ａのうち所定の測定室に貯留される。ＣＰＵ９１は、垂直軸線Ａ１に対してホルダ６１Ｂが後側に配置された状態（図２、図３の状態）で、ホルダ６１及び検査チップ２の公転を停止する。この状態で、測定室は、光軸７３と交差する位置に配置される。ホルダ６１及び検査チップ２の公転が停止したことに応じ、第１領域８０Ａの空気の回転も停止する。近接位置と離隔位置との間の圧力勾配は解消される。このため、図８の矢印８４〜８６、８７Ａ、８７Ｂで示される空気の流れは停止する。
【００６１】
遠心処理の実行後、ＣＰＵ９１は、光学測定を次のようにして実行する。ＣＰＵ９１は、光学測定部７を制御し、発光部７１の発光素子７１Ａを発光させる。発光素子７１Ａにて発光された光は、第２領域８０Ｂから第１光通過部８１Ａを通過して第１領域８０Ａに進入し、検査チップ２の測定室を透過する。検査チップ２の測定室を透過した光は、第２光通過部８１Ｂを通過して第１領域８０Ａから第２領域８０Ｂに向けて放射される。放射された光は、受光部７２の受光素子７２Ａによって受光される。ＣＰＵ９１は、受光素子７２Ａによって受光された光に基づいて、混合液の光学測定を行い、測定データを取得する。ＣＰＵ９１は、取得された測定データに基づいて混合液の測定結果を算出する。
【００６２】
＜本実施形態の主たる作用、効果＞
以上説明したように、検査装置１において、ホルダ６１が回転した場合、第１領域８０Ａに圧力勾配が形成される。第１領域８０Ａのうち垂直軸線Ａ１に近接する近接位置付近の圧力は、第２領域８０Ｂの圧力（大気圧）に対して負圧となる。一方、垂直軸線Ａ１から離隔する離隔位置付近の圧力は、第２領域８０Ｂの圧力に対して正圧となる。これに対し、検査装置１の仕切り壁８０は、通流部８２Ａ、８３Ａを有する。又、垂直軸線Ａ１と通流部８３Ａとの間の距離Ｌ２よりも、垂直軸線Ａ１と通流部８２Ａとの間の距離Ｌ１の方が長い。このため、通流部８３Ａは、通流部８２Ａよりも垂直軸線Ａ１に近接する。従って、第１領域８０Ａに形成された圧力勾配に基づき、通流部８３Ａを介して第２領域８０Ｂから第１領域８０Ａに向けて空気が通流し、通流部８２Ａを介して第１領域８０Ａから第２領域８０Ｂに向けて空気が通流する。又、第１領域８０Ａに、通流部８３Ａから通流部８２Ａに向かう方向の空気の流れが生じる。
【００６３】
ここで、検査装置１は、通流部８３Ａを介して第２領域８０Ｂから第１領域８０Ａに向けて通流する空気に対して熱エネルギーを伝達する加熱機構６５を有する。加熱機構６５は、検査装置１が動作することによって生じる熱エネルギー（例えば、ホルダ６１と空気との間の摩擦熱エネルギー、検査装置１自体の発熱エネルギー等）以上の熱エネルギーを、空気に供与し、空気を加熱する。加熱された空気は、第１領域８０Ａにおいて、通流部８３Ａから通流部８２Ａに向けて流れる。このように、検査装置１は、加熱機構６５によって加熱された空気を、ホルダ６１の回転に応じて通流部８３Ａから通流部８２Ａに向けて流すことができる。このため、検査装置１は、第１領域８０Ａの温度を、検査装置１が動作することによって生じる熱エネルギーによって上昇させることが可能な温度よりも高い温度まで、強制的に上昇させることができる。
【００６４】
検査装置１において、通流部８３Ａと加熱機構６５との間の距離Ｌ４よりも、通流部８２Ａと加熱機構６５との間の距離Ｌ５の方が長い。このため、加熱機構６５は、通流部８２Ａよりも通流部８３Ａに近接する。従って、加熱機構６５は、第１領域８０Ａに流入する前の段階、通流部８３Ａを通過中の段階、及び、通流部８３Ａを通過した直後の段階の空気を、通流部８２Ａの近傍の空気よりも効率的に加熱できる。従って、検査装置１は、第１領域８０Ａの温度を、検査装置１が動作することによって生じる熱エネルギーによって上昇させることが可能な温度よりも高い温度まで、短時間で上昇させることができる。その結果、検査開始までの時間を短くすることができ、ひいては検査時間を短くすることができる。
【００６５】
検査装置１は、第１領域８０Ａの温度を測定することが可能なセンサ７６を有する。検査装置１のＣＰＵ９１は、センサ７６に基づいて第１領域８０Ａの温度を特定し、特定した温度に基づいて加熱機構６５を制御する。このように、ＣＰＵ９１は、加熱機構６５の制御を、第１領域８０Ａの温度に基づいて実行できるので、第１領域８０Ａの温度を設定温度に調整できる。
【００６６】
検査装置１において、通流部８２Ａとセンサ７６との間の距離Ｌ７は、通流部８３Ａとセンサ７６との間の距離Ｌ６より短い。この場合、センサ７６は、通流部８３Ａよりも通流部８２Ａに近接する。従って、検査装置１は、第１領域８０Ａに生じている温度勾配に関わらず、通流部８２Ａの近傍の温度を測定できる。なお、通流部８２Ａの近傍の空気の温度に基づいて加熱機構６５の制御が行われる場合の方が、通流部８３Ａの近傍の空気の温度に基づいて加熱機構６５の制御が行われる場合よりも、第１領域８０Ａのうち検査チップ２が回転に応じて通過する回転領域の温度を、短時間で設定温度に調整できる。その理由は、次の通りである。本実施形態と異なり、通流部８３Ａの近くにセンサ７６が設けられた場合、加熱機構６５にセンサ７６が近づくことになるので、加熱機構６５によって加熱された直後の空気の温度が測定される。一方、本実施形態では、通流部８２Ａの近くにセンサ７６が設けられるので、回転領域を通過した後の空気の温度が測定される。この場合、センサ７６によって測定される温度は、加熱機構６５によって加熱された空気の温度の影響を受けにくい。このため、検査装置１は、通流部８２Ａに近い位置で温度を測定し、測定された温度に基づいて加熱機構６５の温度をフィードバック制御することによって、所望する温度に対して、第１領域の温度を誤差なく調整できる。
【００６７】
検査装置１において、ホルダ６１に装着された検査チップ２と垂直軸線Ａ１との間の距離Ｌ２よりも、通流部８３Ａと垂直軸線Ａ１との間の距離Ｌ３の方が短い。このため、ホルダ６１に装着された検査チップ２よりも、通流部８３Ａの方が、垂直軸線Ａ１に近接する。この場合、検査装置１は、第１領域８０Ａを通流部８３Ａから通流部８２Ａに向けて空気が流れる過程で、空気が持つ熱エネルギーを、検査チップ２の直交方向の全域に亘って伝達できる。なお、検査チップ２に収容された液体は、検査チップ２自体が加熱されることによって、加熱される。従って、検査装置１は、加熱機構６５によって加熱された空気によって、第１領域８０Ａの空気の温度だけでなく、検査チップ２に収容された液体の温度を、設定温度に調整できる。
【００６８】
検査装置１は、検査装置１は、光学測定部７による光学測定で使用される第１光通過部８１Ａ、及び、第２光通過部８１Ｂを、第１領域８０Ａから第２領域８０Ｂに向けて排出される空気が通流する通流部として利用できる。この場合、通流部８２Ａの大きさを小さくしても、第１領域８０Ａから第２領域８０Ｂに向けて空気を排出できるので、仕切り壁８０の面積を大きくできる。この場合、検査装置１は、第１領域８０Ａと第２領域８０Ｂとの間の熱の移動を仕切り壁８０によって効率的に抑制できるので、第１領域８０Ａの温度を調整しやすくなる。
【００６９】
加熱機構６５は円環状を有する。通流部８３Ａは、加熱機構６５の開口部６５１によって周囲から均等に取り囲まれる。この場合、加熱機構６５は、第１領域８０Ａに流入する前の段階、通流部８３Ａを通過中の段階、及び、通流部８３Ａを通過した直後の段階の空気に熱エネルギーを均等に伝達できる。従って、加熱機構６５は、これらの段階の空気を均一に加熱できる。
【００７０】
加熱機構６５は、通流部８３Ａを通流する空気の温度を、第２領域８０Ｂの温度よりも高い温度まで上昇させることが可能である。従って、検査装置１は、第１領域８０Ａの温度を、第２領域８０Ｂの温度よりも高い温度まで上昇させることができる。
【００７１】
＜変形例＞
なお、本発明は上記実施形態に限定されず、種々の変更が可能である。上記実施形態において、加熱機構６５の代わりに冷却機構が使用されてもよい。冷却機構は、第２領域８０Ｂから通流部８３Ａを介して第１領域８０Ａに向けて通流する空気から熱エネルギーを奪うことによって冷却する。冷却機構は、第２領域８０Ｂの温度よりも低い温度まで、空気の温度を下降させることが可能である。この場合、検査装置１は、第１領域８０Ａの温度を、第２領域８０Ｂの温度よりも低い温度まで下降させることができる。従って、検査装置１は、検査チップ２内での検体及び試薬の定量、分離、混合を、大気温度よりも低い温度下で実行できる。又、検査装置１は、検査チップ２を使用した光学測定を、大気温度よりも低い温度下で実行できる。又、検査装置１は温度を強制的に調整することができるようになった結果、調整に要する時間も制御することができる。
【００７２】
又、検査装置１は、加熱機構６５と冷却機構との両方を備えていてもよい。検査装置１は、設定温度に応じて、加熱機構６５及び冷却機構を使い分けてもよい。具体的には、検査装置１のＣＰＵ９１は、設定温度が大気温度よりも高い場合に加熱機構６５を使用して第１領域８０Ａの温度制御を行い、設定温度が大気温度よりも低い場合に冷却機構を使用して第１領域８０Ａの温度制御を行ってもよい。
【００７３】
上記において、検査装置１はセンサ７６を有していた。ＣＰＵ９１は、センサ７６を介して検出された第１領域８０Ａの温度に基づいて、加熱機構６５によって空気に付与される熱エネルギーの量を調整した。これに対し、検査装置１のＣＰＵ９１は、センサ７６に基づいて特定された第１領域８０Ａの温度を、非図示の表示部に表示してもよい。例えばユーザは、表示部に表示された温度に基づいて、第１領域８０Ａの空気を加熱するか又は冷却するかを、操作部９４を操作することによって検査装置１に指示してもよい。ＣＰＵ９１は、操作部９４に対する操作に応じて、加熱機構６５の発熱線に通電する電流値を制御してもよい。又、検査装置１はセンサ７６を有していなくてもよい。ユーザは、例えば経験等に基づいて、第１領域８０Ａの空気を加熱するか又は冷却するかを検査装置１に指示してもよい。ＣＰＵ９１は、操作部９４に対する操作に応じた制御のみ実行してもよい。
【００７４】
上記において、通流部８３Ａとセンサ７６との間の距離Ｌ６を、通流部８２Ａとセンサ７６との間の距離Ｌ７より長くしてもよい。この場合、センサ７６は、通流部８２Ａよりも通流部８３Ａに近接する。従って、ＣＰＵ９１は、第１領域８０Ａのうち通流部８３Ａの近傍の温度を、センサ７６に基づいて特定できる。この場合、例えばＣＰＵ９１は、加熱機構６５によって加熱された空気の温度を、センサ７６に基づいて推算してもよい。ＣＰＵ９１は、推算された値に基づいて、加熱機構６５の発熱線に対する通電を制御してもよい。
【００７５】
加熱機構６５は、仕切り壁８０の下壁部８３の上面のうち、開口部８３１の近傍に円環状に設けられてもよい。つまり、加熱機構６５は、第１領域８０Ａ内に設けられてもよい。このようにした場合も、加熱機構６５は、通流部８３Ａを介して第２領域８０Ｂから第１領域８０Ａに向けて通流する空気を、通流部８３Ａの近傍で加熱し、第１領域８０Ａを通流部８２Ａに向けて通流させることができる。
【００７６】
上記において、ホルダ６１に装着された検査チップ２の液体流路２Ａよりも、通流部８３Ａの方が垂直軸線Ａ１に近接していればよい。この場合でも、第１領域８０Ａを通流部８３Ａから通流部８２Ａに向けて空気が流れる過程で、空気が持つ熱エネルギーを、検査チップ２の液体流路２Ａに収容された液体に伝えることができる。従って、この場合、ホルダ６１に装着された検査チップ２の一部が、通流部８３Ａよりも垂直軸線Ａ１に近接していてもよい。
【００７７】
上記において、通流部８２Ａ、８３Ａは、空気を通過させることが可能なフィルタ等によって塞がれていてもよい。仕切り壁８０に第１光通過部８１Ａ及び第２光通過部８１Ｂが設けられている場合、通流部８２Ａは設けられていなくてもよい。つまり、仕切り壁８０の周壁部８１と上壁部８２との間は塞がっていてもよい。
【００７８】
上記において、光学測定部７は、受光部７２のみ有し、発光部７１は有していなくてもよい。この場合でも、例えば、検査チップ２の混合液の発光現象が測定される場合には、検査装置１を用いて光学測定を実行できる。なお、この場合、仕切り壁８０には、第２光通過部８１Ｂが形成されていなくてもよい。又、検査装置１は光学測定部７を有していなくてもよい。この場合、例えば、検査チップ２内に注入された検体及び試薬が検査装置１によって定量、分離、混合された後、検査チップ２はユーザによってホルダ６１から取り外されてもよい。ユーザは、光学測定を行う別の測定器に検査チップ２を装着し、混合液の光学測定を行ってもよい。なお、この場合、仕切り壁８０には、第１光通過部８１Ａ及び第２光通過部８１Ｂが形成されていなくてもよい。
【００７９】
加熱機構６５の形状は円環状に限定されない。例えば、検査装置１は、加熱機構６５の代わりにヒートポンプ等の熱交換器を有していてもよい。検査装置１は、熱交換器によって加熱又は冷却された空気を、通流部８３Ａの近傍（例えば、仕切り壁８０の下壁部８３と台座板３２Ａとの間の空間）に送り込んでもよい。
【００８０】
＜その他＞
垂直軸線Ａ１は本発明の「回転軸」の一例である。通流部８２Ａ、通流部８３Ａは本発明の「第１通流部」の一例である。第１光通過部８１Ａ、及び、第２光通過部８２Ｂは、本発明の「第２通流部の一例である。
【符号の説明】
【００８１】
１        ：検査装置
２        ：検査チップ
７        ：光学測定部
３０      ：回転機構
６１、６１Ａ、６１Ｂ      ：ホルダ
６５      ：加熱機構
６７      ：センサ
７１      ：発光部
７１Ａ    ：発光素子
７２      ：受光部
７２Ａ    ：受光素子
７６      ：センサ
８０      ：仕切り壁
８０Ａ    ：第１領域
８０Ｂ    ：第２領域
８１Ａ    ：第１光通過部
８１Ｂ    ：第２光通過部
８２Ａ、８３Ａ    ：通流部
Ａ１      ：垂直軸線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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