(57)【要約】【課題】Ａ／Ｄコンバータを搭載する制御システムにおいて、電源立ち上げ時に必要な処理を行うまでの待ち時間を短くし、且つＡ／Ｄ変換の分解能を高くする。【解決手段】システムコントローラ１１と、低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータ１２と、高分解能で低速な変換を行う第２のコンバータ１３とを備えた制御システムであり、電源立ち上げ時に、システムコントローラ１１が、第１、第２のＡ／Ｄコンバータ１２，１３を立ち上げ、まず第１のＡ／Ｄコンバータ１２によって各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その間に第２のＡ／Ｄコンバータ１３がキャリブレーションを行って変換の準備を行い、その準備の終了後、システムコントローラ１１が、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、第１のＡ／Ｄコンバータ１２から第２のＡ／Ｄコンバータ１３に切り替える。【選択図】    図１
2017130824.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
システムコントローラとＡ／Ｄコンバータを備え、前記システムコントローラが前記Ａ／Ｄコンバータを使用して、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その測定データに基づいて電子機器を制御する制御システムであって、
前記Ａ／Ｄコンバータとして、低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータと、高分解能で低速な変換を行う第２のコンバータとを備え、
前記システムコントローラが、電源立ち上げ時に前記第１、第２のＡ／Ｄコンバータを立ち上げ、まず前記第１のＡ／Ｄコンバータによって前記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その間に前記第２のＡ／Ｄコンバータがキャリブレーションを行って変換の準備を行い、該準備の終了後、前記システムコントローラが、前記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、前記第１のＡ／Ｄコンバータから前記第２のＡ／Ｄコンバータに切り替えることを特徴とする制御システム。
【請求項２】
前記第２のＡ／Ｄコンバータは、電源の立ち上げ時に立ち上がってキャリブレーションを行い、該キャリブレーションが終了するとスタンバイ状態となることを特徴とする請求項１に記載の制御システム。
【請求項３】
前記第２のＡ／Ｄコンバータのビット数が前記測定データの基準分解能と対応し、前記システムコントローラは、前記第１のＡ／Ｄコンバータの使用時には不足するＬＳＢに０を与えることを特徴とする請求項１又は２に記載の制御システム。
【請求項４】
前記システムコントローラは、前記第２のＡ／Ｄコンバータが前記変換の準備終了後、前記各測定項目のアナログ信号の要求ＢＩＴ数に応じて、Ａ／Ｄ変換に使用する前記第１、第２のＡ／Ｄコンバータの切り替えを適宜行う機能を有することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の制御システム。
【請求項５】
前記第の第１のＡ／Ｄコンバータは、前記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータが前記第２のＡ／Ｄコンバータに切り替えられた後は、スタンバイ状態となることを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の制御システム。
【請求項６】
前記低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータと、前記高分解能で低速な変換を行う第２のコンバータを、いずれも集積回路の内部に搭載したことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の制御システム。
【請求項７】
前記低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータと前記高分解能で低速な変換を行う第２のＡ／Ｄコンバータのうち、一方を集積回路の内部に搭載し、他方を前記集積回路の外部に配置したことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の制御システム。
【請求項８】
前記第１のＡ／Ｄコンバータを前記集積回路の内部に搭載し、前記第２のコンバータを前記集積回路の外部に配置したことを特徴とする請求項７に記載の制御システム。
【請求項９】
システムコントローラがＡ／Ｄコンバータを使用して、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、電子機器を制御する電子機器の制御方法であって、
前記Ａ／Ｄコンバータとして、低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータと、高分解能で低速な変換を行う第２のコンバータとを使用し、
電源立ち上げ時に、前記システムコントローラが前記第１、第２のＡ／Ｄコンバータを立ち上げ、まず前記第１のＡ／Ｄコンバータによって前記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その間に前記第２のＡ／Ｄコンバータがキャリブレーションを行って変換の準備を行い、該準備の終了と共に、前記システムコントローラが、前記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、前記第１のＡ／Ｄコンバータから前記第２のＡ／Ｄコンバータに切り替えることを特徴とする電子機器の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、制御システム及び電子機器の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ａ／Ｄコンバータを搭載した電子機器の制御システムでは、搭載チップの製造ばらつきのため、Ａ／Ｄコンバータが仕様通りの特性を得られないことがある。その場合に、チップによってはキャリブレーションを行って、特性を引き出すことが既に知られている。
また、特許文献１には、マイクロプロセッサとＡ／Ｄ変換器とを内蔵する半導体集積回路において、単一のフォアグランドデジタル補正型Ａ／Ｄコンバータを搭載して、内蔵Ａ／Ｄコンバータのチップ面積を削減して、分解能を高めることが開示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、このような従来のＡ／Ｄコンバータを搭載する制御システムでは、キャリブレーションに時間がかかるという問題があった。特に、分解能が高くなると一層時間がかかることになって、電源立ち上げ時に必要な処理を行うまでの時間が長くなるという問題があった。
【０００４】
この発明は上記の問題を解決するためになされたものであり、Ａ／Ｄコンバータを搭載する制御システムにおいて、電源立ち上げ時に必要な処理を行うまでの待ち時間を短くし、且つＡ／Ｄ変換の分解能を高くすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この発明による制御システムは、システムコントローラとＡ／Ｄコンバータを備え、そのシステムコントローラが上記Ａ／Ｄコンバータを使用して、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その測定データに基づいて電子機器を制御する制御システムであって、上記の目的を達成するため、上記Ａ／Ｄコンバータとして、低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータと、高分解能で低速な変換を行う第２のコンバータとを備えている。
【０００６】
そして、上記システムコントローラが、電源立ち上げ時に上記第１、第２のＡ／Ｄコンバータを立ち上げ、まず上記第１のＡ／Ｄコンバータによって上記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その間に上記第２のＡ／Ｄコンバータがキャリブレーションを行って変換の準備を行い、その準備の終了後、上記システムコントローラが、上記各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、上記第１のＡ／Ｄコンバータから上記第２のＡ／Ｄコンバータに切り替えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
この発明によれば、制御システムの電源立ち上げ時に、必要な処理を行うまでの待ち時間を短くし、且つ立ち上げ後はＡ／Ｄ変換の分解能を高くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】この発明による制御システムの第１の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した制御システムにおける第１、第２のＡ／Ｄコンバータの入出力周辺の回路構成を示す図である。
【図３】図１に示した制御システムの電源立ち上げ時におけるシステムコントローラによる処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】この発明による制御システムの第２の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図５】この発明による制御システムの第３の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図６】従来の制御システムの一例の構成を示すブロック図である。
【図７】従来の制御システムの他の例の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、この発明を実施するための形態を図面に基づいて具体的に説明する。
この発明の対象とする制御システムは、システムコントローラとＡ／Ｄコンバータを備え、そのシステムコントローラが、Ａ／Ｄコンバータを使用して各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定し、その測定データに基づいて電子機器を制御する。
この電子機器としては、温度センサ、圧力センサ、光量センサなど種々のセンサの出力信号としてのアンログ信号によって、状態や働きを変える必要がある種々の電子機器がある。例えば、少なくとも温度センサを備えて定着温度を制御する複写機やプリンタ等の画形成装置、気体温度を制御する空調装置や恒温装置、感圧センサを等備えたを各種ロボットなど、広範囲に亘る電子機器がある。
【００１０】
図１は、この発明による制御システムの第１の実施形態の構成を示すブロック図である。
この制御システム１０は、全体の制御を司るシステムコントローラ１１と、Ａ／Ｄコンバータとして２種類のＡ／Ｄコンバータ、すなわち第１のＡ／Ｄコンバータ１２と第２のＡ／Ｄコンバータ１３とを搭載している。
その２種類のＡ／Ｄコンバータのうち、第１のＡ／Ｄコンバータ１２は低分解能で高速な変換を行うＡ／Ｄコンバータである。第２のＡ／Ｄコンバータ１３は高分解能で低速な変換を行うＡ／Ｄコンバータであり、キャリブレーションを行って変換データを補正することによって高い精度を持っている。システムコントローラ１１は、マイクロプロセッサとＲＯＭ、ＲＡＭ等のメモリを備えている。
【００１１】
そして、この制御システム１０は、システムコントローラ１１によって、その第１のＡ／Ｄコンバータ１２と第２のＡ／Ｄコンバータ１３を適宜動作させて、監視対象の各測定項目のアナログ信号をデジタル信号に変換して測定し、制御に必要な情報を得る。
そのため、システムコントローラ１１が、電源立ち上げ時に第１、第２のＡ／Ｄコンバータ１２，１３を立ち上げて動作させる。そして、システムコントローラ１１は、まず低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータ１２によって、監視対象の各測定項目のアナログ信号を順次Ａ／Ｄ変換させて測定し、システムの制御に必要な測定データを得て電子機器を制御する。
【００１２】
その間に、第２のＡ／Ｄコンバータ１３はキャリブレーションを行って補正データを取得し、高精度のＡ／Ｄ変換の準備を行う。そして、キャリブレーションが終了すると、第２のＡ／Ｄコンバータ１３はスタンバイ状態となり、システムコントローラ１１からの指示待ち状態となる。
【００１３】
第２のＡ／Ｄコンバータ１３の準備終了後、システムコントローラ１１は、システムの制御に必要な情報を一通り得たところで、第１のＡ／Ｄコンバータ１２をスタンバイ状態にセットする。そして、第２のＡ／Ｄコンバータ１３をスタンバイ状態からアクティブ状態に切り替える。すなわち、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、第１のＡ／Ｄコンバータ１２から第２のＡ／Ｄコンバータ１３に切り替える。
それによって、システムコントローラ１１は、以降の各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換した測定データを、高分解能で低速な変換を行う第２のＡ／Ｄコンバータ１３から得て電子機器を制御する。
【００１４】
このように、この制御システム１０は、電源立ち上げ時には、第１のＡ／Ｄコンバータ１２を使って必要な処理を低分解能で迅速に行い、その間に第２のＡ／Ｄコンバータ１３にキャリブレーションを行なわせて待機させる。そして、第１のＡ／Ｄコンバータ１２で一通りの処理が終わったところで、第２のＡ／Ｄコンバータ１３に切り替えて、高分解能での処理を開始する。
したがって、この制御システム１０によれば、電源立ち上げ時に必要な処理を行って、電子機器を正常に制御可能になるまでの待ち時間を短縮することができ、且つ立ち上げ後は高分解能で電子機器を制御できる。
【００１５】
また、第２のＡ／Ｄコンバータ１３は電源の立ち上げ時に立ち上がってキャリブレーションを行い、そのキャリブレーションが終了するとスタンバイ状態になるようにすれば、不要な消費電流の増大を抑えることができる。
第１のＡ／Ｄコンバータ１２も、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータが第２のＡ／Ｄコンバータ１３に切り替えられた後はスタンバイ状態となるようにすれば、より消費電流を抑えることができる。
【００１６】
第２のＡ／Ｄコンバータ１３のＢＩＴ数（ビット数）が、制御データとなる測定データの基準分解能と対応し、システムコントローラ１１は、第１のＡ／Ｄコンバータ１２の使用時には不足するＬＳＢ（最下位ビット）に０を与えるようにするとよい。
このようにすれば、制御システム１０がＢＩＴ数の切り替えをせずに済み、その後の処理が複雑にならない効果がある。
【００１７】
システムコントローラ１１は、第２のＡ／Ｄコンバータ１３が変換の準備終了後、各測定項目のアナログ信号の要求ＢＩＴ数に応じて、Ａ／Ｄ変換に使用する第１、第２のＡ／Ｄコンバータの切り替えを適宜行う機能を有するようにしてもよい。
それによって、処理時間を短縮できるという効果がある。
【００１８】
図２は、図１に示した制御システムにおける第１、第２のＡ／Ｄコンバータの入出力周辺の回路構成を示す図である。
この制御システム１０は、Ｎ個のアナログ信号（被測定信号）を監視対象の各測定項目としている。そのＮ個のアナログ信号である被測定信号１〜Ｎに対する各被測定端子Ｐ１〜Ｐｎは、それぞれアナログスイッチＳＷ１〜ＳＷｎを介して１本の信号線１５にまとめられている。その信号線１５からまた別のアナログスイッチＳＷＡ，ＳＷＢを介して、第１のＡ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）１２と第２のＡ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）１３の各入力端子にそれぞれ接続されている。
【００１９】
第１のＡ／Ｄコンバータ１２によってＡ／Ｄ変換された測定データは、データバス１６及び加算器１８を通してシステムコントローラ１１に取り込まれる。第２のＡ／Ｄコンバータ１３によってＡ／Ｄ変換された測定データは、データバス１７及び加算器１８を通してシステムコントローラ１１に取り込まれる。
アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷｎ及びＳＷＡ，ＳＷＢは、システムコントローラ１１によってＯＮ／ＯＦＦ制御される。
【００２０】
アナログスイッチＳＷＡがＯＮでＳＷＢがＯＦＦのときは、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷｎが順次１個だけＯＮになることによって、被測定信号１〜Ｎが順次選択的に第１のＡ／Ｄコンバータ１２入力される。そして、第１のＡ／Ｄコンバータ１２によって低分解能で高速に変換された各測定データが、順次システムコントローラ１１に取り込まれる。
アナログスイッチＳＷＢがＯＮでＳＷＡがＯＦＦのときは、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷｎが順次１個だけＯＮになることによって、被測定信号１〜Ｎが順次選択的に第２のＡ／Ｄコンバータ１３入力される。そして、第２のＡ／Ｄコンバータ１３によって高分解能で低速にＡ／Ｄ変換された各測定データが、順次システムコントローラ１１に取り込まれる。
【００２１】
図３は、図１に示した制御システム１０の電源立ち上げ時におけるシステムコントローラ１１による処理の流れを示すフローチャートである。
この図３によって、電源立ち上げ時におけるシステムコントローラ１１による処理の流れを説明する。
【００２２】
まず、ステップＳ１でこの制御システム１０全体の電源が立ち上げられると、システムコントローラ１１は、ステップＳ２で第１のＡ／Ｄコンバータ１２と第２のＡ／Ｄコンバータ１３を同時に立ち上げる。そして、第１のＡ／Ｄコンバータ１２は素早く立ち上がって変換動作が行える状態となるが、第２のＡ／Ｄコンバータ１３はキャリブレーションをスタートし、時間をかけて補正データを取得していく。
【００２３】
システムコントローラ１１は、ステップＳ３で第１のＡ／Ｄコンバータ１２を使用して、制御システム１０で管理する各測定項目の被測定信号１〜Ｎを順次Ａ／Ｄ変換して測定する。その測定データに基づいて電子機器を制御する。その間、第２のＡ／Ｄコンバータ１３はキャリブレーションを行っており、それが終わるとスタンバイ状態となって、システムコントローラ１１にその旨のメッセージを送る。
【００２４】
システムコントローラ１１は、ステップＳ４で第２のＡ／Ｄコンバータ１３からのキャリブレーション終了のメッセージの有無をチェックし、それが有るまではステップＳ３に戻って、第１のＡ／Ｄコンバータ１２による被測定信号１〜ＮのＡ／Ｄ変換を継続する。
システムコントローラ１１は、ステップＳ４で第２のＡ／Ｄコンバータ１３のキャリブレーション終了のメッセージを確認すると、ステップＳ５へ進み、第１のＡ／Ｄコンバータ１２による被測定信号１〜ＮのＡ／Ｄ変換が一通り終了したか否かを判断する。
終了していなければステップＳ３へ戻って、システムコントローラ１１は、第１のＡ／Ｄコンバータ１２による被測定信号のＡ／Ｄ変換を継続する。
【００２５】
システムコントローラ１１が、ステップＳ５で第１のＡ／Ｄコンバータ１２による被測定信号１〜ＮのＡ／Ｄ変換が一通り終了したと判断すると、ステップＳ６へ進んで、第２のＡ／Ｄコンバータ１３を使用して、被測定信号１〜ＮをＡ／Ｄ変換して測定する。
すなわち、システムコントローラ１１は、ステップＳ６でこれまで取得していた第１のＡ／Ｄコンバータ１２からの測定データの取り込みを停止し、第２のＡ／Ｄコンバータ１３のスタンバイを解除してＡ／Ｄ変換動作を開始させる。そして、測定データの取り込みを第１のＡ／Ｄコンバータ１２から第２のＡ／Ｄコンバータ１３に切り替える。
【００２６】
この発明による電子機器の制御方法の実施形態は、このようにシステムコントローラがＡ／Ｄコンバータを使用して、各測定項目のアナログ信号（被測定信号）をＡ／Ｄ変換させて測定し、電子機器を制御する電子機器の制御方法である。
そのＡ／Ｄコンバータとして、低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータ１２と、高分解能で低速な変換を行う第２のコンバータ１３とを使用する。
【００２７】
そして、電源立ち上げ時に、システムコントローラ１１が第１、第２のＡ／Ｄコンバータ１２，１３を立ち上げ、まず第１のＡ／Ｄコンバータ１２によって各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させて測定する。その間に、第２のＡ／Ｄコンバータ１３がキャリブレーションを行って変換の準備を行う。その準備の終了と共に、システムコントローラ１１が、各測定項目のアナログ信号をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、第１のＡ／Ｄコンバータ１２から第２のＡ／Ｄコンバータ１３に切り替える。
【００２８】
図４は、この発明による制御システムの第２の実施形態の構成を示すブロック図である。
この図４に示す制御システム２０は、システムコントローラ２１と共に搭載する２種類のＡ／Ｄコンバータを、第１の内部Ａ／Ｄコンバータ２２と第２の内部Ａ／Ｄコンバータ２３として、いずれも集積回路２４の内部に配置している。
第１の内部Ａ／Ｄコンバータ２２は、低分解能で高速な変換を行うＡ／Ｄコンバータであり、第２の内部Ａ／Ｄコンバータ２３は、高分解能で低速な変換を行うＡ／Ｄコンバータである。
【００２９】
制御システム２０の電源立ち上げ時には、システムコントローラ２１が、まず第１の内部Ａ／Ｄコンバータ２２によって監視対象の各測定項目のアナログ信号（被測定信号）をＡ／Ｄ変換させて測定する。システムコントローラ２１は同時に第２の内部Ａ／Ｄコンバータ２３も立ち上げて、キャリブレーションを行わせ、高分解能のＡ／Ｄ変換に準備をさせる。そして、第２の内部Ａ／Ｄコンバータ２３の変換準備が整った後に、システムコントローラ２１は、各測定項目のアナログ信号（被測定信号）をＡ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを、第２の内部Ａ／Ｄコンバータ２３に切り替える。それと共に、第１の内部Ａ／Ｄコンバータ２２をスタンバイ状態にする。システムコントローラ２１によるこのような処理は、第１に実施形態と同様である。
【００３０】
図５は、この発明による制御システムの第３の実施形態の構成を示すブロック図である。
この図５に示す制御システム３０は、システムコントローラ２１と共に搭載する２種類のＡ／Ｄコンバータを、集積回路３４の内部に配置した内部Ａ／Ｄコンバータ３２と外部に配置した外部Ａ／Ｄコンバータ３３によって構成している。
その内部Ａ／Ｄコンバータ３２を低分解能で高速なＡ／Ｄコンバータとし、外部Ａ／Ｄコンバータ３３を高分解能で低速なＡ／Ｄコンバータとすることにより、集積回路３４の規模の増大を抑えることができ、かつ雑音による精度の低下を抑えることができる。
【００３１】
あるいは逆に、内部Ａ／Ｄコンバータ３２を高分解能で低速な第２のＡ／Ｄコンバータとし、外部Ａ／Ｄコンバータ３３を低分解能で高速な第１のＡ／Ｄコンバータとしてもよい。
すなわち、低分解能で高速な変換を行う第１のＡ／Ｄコンバータと高分解能で低速な変換を行う第２のＡ／Ｄコンバータのうち、一方を集積回路３４の内部に搭載し、他方を集積回路３４の外部に配置してもよい。
【００３２】
いずれの配置においても、制御システム３０の電源立ち上げ時には、システムコントローラ３１が、まず低分解能で高速な第１のＡ／Ｄコンバータで監視対象の各測定項目のアナログ信号（被測定信号）のＡ／Ｄ変換を行う。その間に高分解能で低速な第２のＡ／Ｄコンバータの立ち上げとキャリブレーションを行い、そのＡ／Ｄ変換の準備が整ったところで、Ａ／Ｄ変換させるＡ／Ｄコンバータを第２のＡ／Ｄコンバータ切り替え、第１のＡ／Ｄコンバータをスタンバイ状態にする。システムコントローラ３１によるこのような処理は、第１に実施形態と同様である。
【００３３】
図６は、従来の制御システムの一例の構成を示すブロック図である。
この図６に示す従来の制御システム４０の構成は、システムコントローラ４１と、高分解能で低速な内部Ａ／Ｄコンバータ４３を搭載した集積回路４４等からなっている。
そして、この制御システム４０においては、電源立ち上げ時には、システムコントローラ４１は、集積回路４４の内部Ａ／Ｄコンバータ４３を同時に立ち上げて、監視対象の各測定項目のアナログ信号（被測定信号）をＡ／Ｄ変換して測定する。
【００３４】
その際に、内部Ａ／Ｄコンバータ４３は、キャリブレーションを行って変換の準備が終わってから実際のＡ／Ｄ変換動作を開始する。そのため、その変換の準備が終わるまで、制御システム４０はいずれの監視対象のアナログ信号のＡ／Ｄ変換もできず、電子機器を制御できない状態が続くことになっていた。
【００３５】
図７は、従来の制御システムの他の例の構成を示すブロック図である。
この図７に示す従来の制御システム５０は、システムコントローラ５１と、集積回路５４と、集積回路５４の外部に搭載した高分解能で低速な外部Ａ／Ｄコンバータ５３等からなっている。
この制御システム５０においては、電源立ち上げ時には、システムコントローラ５１は、搭載する外部Ａ／Ｄコンバータ５３を同時に立ち上げて監視対象の各測定項目のアナログ信号（被測定信号）をＡ／Ｄ変換して測定する。
【００３６】
その際に、外部Ａ／Ｄコンバータ５３は、キャリブレーションを行って変換の準備が終わってから実際のＡ／Ｄ変換動作を開始する。そのため、その変換の準備が終わるまで、制御システム５０はいずれの監視対象のアナログ信号のＡ／Ｄ変換もできず、電子機器を制御できない状態が続くことになっていた。
この発明によれば、このような問題を解決し、電源立ち上げ時の待ち時間を大幅に短縮できる。
【００３７】
以上、この発明の実施形態について説明してきたが、その実施形態の各部の具体的な構成や処理の内容等は、そこに記載したものに限るものではない。
また、この発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に記載された技術的特徴を有する以外は、何ら限定されないことは言うまでもない。
さらに、以上説明してきた実施形態の構成例、動作例及び変形例等は、適宜変更又は追加したり一部を削除してもよく、相互に矛盾しない限り任意に組み合わせて実施することも可能である。
【符号の説明】
【００３８】
１〜Ｎ：被測定信号    １０，２０，３０，４０，５０：制御システム    
１１，２１，３１，４１，５１：システムコントローラ    
１２：第１のＡ／Ｄコンバータ    １３：第２のＡ／Ｄコンバータ    
１５：信号線    １６，１７：データバス    １８：加算器    
２２：第１の内部Ａ／Ｄコンバータ    ２３：第２の内部Ａ／Ｄコンバータ    
２４，３４．４４，５４：集積回路    ３２，４３：内部Ａ／Ｄコンバータ    
３３，５３：外部Ａ／Ｄコンバータ    Ｐ１〜Ｐｎ：被測定端子    
ＳＷ１〜ＳＷ、ＳＷＡ，ＳＷＢ：アナログスイッチ
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３９】
【特許文献１】特開２０１２−４４３０２号公報
【図１】
2017130824.tif 000003
【図２】
2017130824.tif 000004
【図３】
2017130824.tif 000005
【図４】
2017130824.tif 000006
【図５】
2017130824.tif 000007
【図６】
2017130824.tif 000008
【図７】
2017130824.tif 000009