(57)【要約】      （修正有）【課題】複数の発光素子から発射れた光を基準平面上で受光して、算出された座標値をより精度よく補正するポインティング座標発生器を提供する。【解決手段】複数の発光ダイオードを含むポインティングデバイス１１０から発射された光を受光する受光器１５２と、受光された光の強度に基づいて、直交する基準平面に対する光の向きを表す座標(x,y)を求める計算器１５４と、座標(x,y)に基づいて、関係x’=F(x,y),y’=G(x,y)によって、発光器の歪が補正された座標(x’,y’)を求める補正器１５６と、補正されたポインティング座標に基づいて、ディスプレイ上のポインタを移動させる座標制御器１５８とを備える。【選択図】図１
2017106800.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ポインティング座標発生器であって、
複数の発光ダイオードを含む発光器から発射された光を受光する受光器と、
前記受光された光の強度に基づいて、直交する基準平面に対する前記光の向きを表す座標(x, y)を求める計算器と、
前記座標(x, y)に基づいて、関係x’=F(x, y), y’=G(x, y)によって、発光器の歪が補正された座標(x’, y’)を求める補正器と、
を備え、
式F(x, y)は、cxx|y|、fxxexp(x)、及びgxxexp(-x)からなるグループのうち少なくとも１つの項を含み、
式G(x, y)は、cyy|x|、fyyexp(y)、及びgyyexp(-y)からなるグループのうち少なくとも１つの項を含み、
ここでcx、fx、gx、cy、fy、及びgyは較正によって決定される定数である、ポインティング座標発生器。
【請求項２】
式F(x, y)は、axx+bxx２+cxx|y|+dxxy+exxy２+fxxexp(x)+gxxexp(-x)+hxであり、
式G(x, y)は、ayy+byy２+cyy|x|+dyxy+eyyx２+fyyexp(y)+gyyexp(-y)+hyであり、
ここでax、bx、cx、dx、ex、fx、gx、hx、ay、by、cy、dy、ey、fy、gy、hyは、較正によって決定される定数である、請求項１に記載のポインティング座標発生器。
【請求項３】
前記発光器は、４個の発光ダイオードを含む請求項１に記載のポインティング座標発生器。
【請求項４】
前記補正された座標(x’, y’)に基づいて、ディスプレイ上にポインタを表示する制御器をさらに備える、請求項３に記載のポインティング座標発生器。
【請求項５】
前記補正された座標(x’, y’)に基づいて、ディスプレイ上にポインタを表示する制御器に、前記補正された座標(x’, y’)を表すデータを送信する送信器をさらに備える、請求項３に記載のポインティング座標発生器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
複数の発光素子からポインティング座標を発生することに関する。
【背景技術】
【０００２】
単一レンズの光学歪みの補正方法（例えば特許文献１及び２を参照）が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−２９４２２５号公報
【特許文献２】特許第３９５０１８８号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述の従来の補正方法は、複数の発光素子から算出された座標について補正するものではない。本願の発明者は、複数の発光素子から算出された座標について補正することの意義及びその課題に気づき、後で詳述するように課題を解決した。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
ある実施形態によるポインティング座標発生器は、複数の発光ダイオードを含む発光器から発射された光を受光する受光器と、前記受光された光の強度に基づいて、直交する基準平面に対する前記光の向きを表す座標(x, y)を求める計算器と、前記座標(x, y)に基づいて、関係x’=F(x, y), y’=G(x, y)によって、発光器の歪が補正された座標(x’, y’)を求める補正器と、を備え、式F(x, y)は、cxx|y|、fxxexp(x)、及びgxxexp(-x)からなるグループのうち少なくとも１つの項を含み、式G(x, y)は、cyy|x|、fyyexp(y)、及びgyyexp(-y)からなるグループのうち少なくとも１つの項を含み、ここでcx、fx、gx、cy、fy、及びgyは較正によって決定される定数である。
【発明の効果】
【０００６】
複数の発光素子から算出された座標をより精度よく補正できる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】ある実施形態による座標補正システムの概略図である。
【図２】本実施形態で用いられるＬＥＤの部分断面及び概略構造を示す図である。
【図３】座標補正システムの外観と、ポインティングデバイスに取り付けられた発光素子の向きとを示す図である。
【図４】受光器が受け取った発光素子からの光の強度を示す図である。
【図５】受光器が受け取った各発光素子からの光の強度と、式１，２によって算出されたｘｙ座標値の例を示す図である。
【図６】一定角度刻みによるｘｙ座標値の計測のための機器及び方法を示す図である。
【図７】理想的なｘｙ座標値と、補正器なしで算出されたｘｙ座標値とを示す図である。
【図８】図７の右をAffine変換により補正した結果と、歪曲収差関数により補正した結果を示す図である。
【図９】ある実施形態による補正式によって座標系を補正した結果を示す図である。
【図１０】式１０の第３項cxx|y|の補正効果を示す図である。
【図１１】式１０の第６項fxxexp(x)の補正効果を示す図である。
【図１２】項xexp(y)の補正効果を示す図である。
【図１３】式１１の第３項cyy|x|の補正効果を示す図である。
【図１４】式１１の第６項fyyexp(y)の補正効果を示す図である。
【図１５】項yexp(x)の補正効果を示す図である。
【図１６】他の実施形態による座標補正システムの概略図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
本開示によれば、光学的な歪みをもつ計測器によって得られた座標系を補正する装置及び方法が提供される。具体的には本開示は、計測手法、歪み補正、機械学習アルゴリズム等に関する。以下の記載では、同じ参照符号は、同一又は類似の構成要素を示すのに用いられる。
【０００９】
システムの概略
図１は、ある実施形態による座標補正システム１００の概略図である。座標補正システム１００は、ポインティングデバイス１１０及び座標発生器１５０を含む。ポインティングデバイス１１０は、例えばゲームコントローラであり、ユーザによって把持される。座標発生器１５０は、例えばパーソナルコンピュータ（ＰＣ）に組み込まれて、ユーザが意図する座標をディスプレイ上に表示する。代替としては、座標発生器１５０は、ＰＣにユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）等で接続され得る。
【００１０】
座標補正システム１００は、例えば特開２０１５−１３６１０２号公報に記載されるポインティング装置を利用して実現され得る。
【００１１】
ポインティングデバイス１１０は、発光制御器１１２、及び発光素子１２１〜１２４を含む。発光制御器１１２は、発光素子１２１〜１２４を時分割の手法で順次、点灯する。発光素子１２１〜１２４は、例えば発光ダイオード（ＬＥＤ）である。発光素子１２１〜１２４は、好ましくは４個であるが、これには限定されず、任意の複数個であればよい。
【００１２】
座標発生器１５０は、受光器１５２、計算器１５４、補正器１５６、及び座標制御器１５８を含む。受光器１５２は、発光素子１２１〜１２４からの光を受け取り、それらの点灯パターンに基づいて、それぞれの素子から受け取る光の強度に応じた出力を計算器１５４に出力する。計算器１５４は、発光素子１２１〜１２４からの光の強度を表す信号を受け取り、それらの強度に基づいてポインティングデバイス１１０の指す向きを求める。ポインティングデバイス１１０の指す向きは、水平方向の角度（例えば右９０度から左９０度の範囲）と、垂直方向の角度（例えば上９０度から下９０度の範囲）とによって表現され、本明細書では便宜上、「ポインティング座標」（または単に「座標」）と呼ぶ。ポインティングデバイス１１０の指す向きの延長線と、仮想的な平面とが交差する点を「仮想平面座標」と呼ぶ。「ポインティング座標」から「仮想表面座標」へは、既知の変換方法によって変換することが可能である。
【００１３】
補正器１５６は、計算器１５４によって求められたポインティング座標を補正する。この補正は、発光素子１２１〜１２４のそれぞれがもつ光学的な歪みを低減又は除去できる。座標制御器１５８は、補正されたポインティング座標に基づいて、例えばＰＣに接続されたディスプレイ上のマウスポインタをユーザが意図する位置に移動させる。
【００１４】
ポインティングデバイス
図２は、本実施形態で用いられるＬＥＤ２００の部分断面及び概略構造を示す。ＬＥＤ２００は、レンズキャップ２１０内に封止されたＬＥＤチップ２１２及びリフレクター２１４を有する。ＬＥＤ２００は、そのレンズキャップ２１０の形状から砲弾型ＬＥＤとも呼ばれるが、レンズキャップ２１０の形状はこれには限定されず、任意の適切な形状ならよい。ＬＥＤチップ２１２から出た光は、リフレクター２１４によって反射され、その大部分がある光路２２０に沿って導かれる。レンズ状に加工されたキャップ２１０は、直接光及び反射光が一定の光路２２０へ沿って導かれることを促す。その結果、ＬＥＤ２００は、ある方向について強い照射強度を持ち、その方向を中心とした同心円状に正規分布に近い特性を持った光を照射する。理想的にはＬＥＤ２００は、どの断面においても照射強度が軸に対して左右対称である。ところが実際には、ＬＥＤ２００は非対称な照射強度等の歪を有する。そのため後述する補正が正確なポインティング座標の特定に役立つ。
【００１５】
図３は、座標補正システム１００の外観（図の上部）と、ポインティングデバイス１１０に取り付けられた発光素子１２１〜１２４の向き（図の下部）とを示す。ポインティングデバイス１１０は、座標発生器１５０の受光器１５２に正対している。ユーザが実際にポインティングデバイス１１０を使用するときには、例えば画面上に表示されたマウスポインタを移動させるために、ユーザはポインティングデバイス１１０の向きを、受光器１５２の法線ベクトル３１０に対して、上下左右に傾ける。受光器１５２は、任意の適切な光検出器であり、典型的にはフォトダイオードである。
【００１６】
ポインティングデバイス１１０は、その光の出射面の法線ベクトル３２０に対して、発光素子１２１〜１２４の光軸が外側を向くように配置される。光軸とは、光路２２０に平行で、光の出射強度が最も強い向きである。換言すれば、発光素子１２１〜１２４は、その光軸を中心とした同心円状の、正規分布に近い強度分布を有する。
【００１７】
図３の下部は、ポインティングデバイス１１０を、法線ベクトル３２０に沿って、正面から見た図である。発光素子１２１〜１２４の光軸は、紙面奥から手前に向かう法線ベクトル３２０に対して、それぞれ右に１０°、左に１０°、上に１０°、下に１０°、外側を向く。発光素子１２１〜１２４の光軸と、法線ベクトル３２０との成す角度は、これらの値に限定されず、任意の適切な値であり得る。
【００１８】
図４は、受光器１５２が受け取った発光素子１２１〜１２４からの光の強度を示す。図４の左上部は、ポインティングデバイス１１０を受光器１５２の法線ベクトル３１０に対して左１０°に向けた場合を示す。このとき受光器１５２は、発光素子１２１と正対し（すなわち法線ベクトル３１０と法線ベクトル３２０とが一致する）、他の発光素子とは正対しないので、受光器１５２は、発光素子１２１から最も強い強度の光を受ける。このとき発光素子１２２は、受光器１５２に対して２０°のずれが生じるため、ポインティングデバイス１１０を受光器１５２に正対させたときよりも、すなわち法線ベクトル３１０と法線ベクトル３２０とが１０°を成すときよりも、受光器１５２が受ける発光素子１２２の光強度は低下する。発光素子１２３及び１２４は、発光素子１２２に対して約１４°のずれが生じるため、ポインティングデバイス１１０を正対させたとき（すなわち１０°のずれ）よりも、発光素子１２２が受ける光強度は少し低下する。ただし発光素子１２３及び１２４の光強度の低下量は同じである。このようにポインティングデバイス１１０を上下左右方向に動かすと、発光素子１２２がそれぞれの発光素子から受ける光の強度は、その発光素子の光軸と、法線ベクトル３１０との成す角度に依存して増減する。この関係に基づいて、受光器１５２に対するポインティングデバイス１１０の向きは、２つの変数θx、θyを用いた式１，２によって表現できる。
【００１９】
θx=ax*(powerＬＥＤ1-powerＬＥＤ2)  （１）
θy=ay*(powerＬＥＤ4-powerＬＥＤ3)  （２）
ただし、aはθの補正パラメータとする。式１，２によって算出される値θx、θyは本来は角度であるが、便宜上、本明細書ではこれらの値のペアをｘｙ座標値と呼ぶ。
【００２０】
図５は、受光器１５２が受け取った各発光素子からの光の強度と、式１，２によって算出されたｘｙ座標値の例を示す。図５の上のプロットは、ポインティングデバイス１１０を受光器１５２と正対した状態から、左方向、正対状態、右方向、正対状態と角度変化させたときの変化を示す。図５の下のプロットは、図５の上のプロットを式１，２でｘｙ座標に変換した結果である。算出された座標値が、正対、左、正対、右、正対と把持機器の向きと対応した結果を算出していることがわかる。
【００２１】
理想的なｘｙ座標値及び補正なしのｘｙ座標値
図６は、一定角度刻みによるｘｙ座標値の計測のための機器及び方法を示す。上述の可視光式ポインティングデバイス１１０におけるレンズキャップ２１０は、カメラレンズのような歪曲収差関数で定義できるような対称な曲率を持っていない。そのため算出される座標は、多くの歪みを内包する。４つの発光素子１２１〜１２４のそれぞれのレンズキャップ２１０の形状も異なるので、ｘｙ座標値の対称性も乏しい。この光学歪みについて、本願発明者が考案したｘｙ座標値計測手法を図６を参照して説明する。
【００２２】
ポインティングデバイス１１０は、座標発生器１５０と同じ高さで正対する。ポインティングデバイス１１０上にはレーザ光照射装置６１２を設置する。座標発生器１５０の背面には、定点計測用のボード６１４を設置し、ポインティングデバイス１１０を中心とした球面における一定角度おきの点をボード６１４にプロットする。レーザ光がボードの定点を指し示す位置で、補正器１５６を用いない座標発生器１５０の算出するｘｙ座標値を記録していく。
【００２３】
図７は、理想的なｘｙ座標値（左の部分）と、補正器１５６なしで算出されたｘｙ座標値（右の部分）とを示す。具体的には図７の左は、図６の計測方法による、計測装置自体の角度から推測される理想的なｘｙ座標値を示す。図７の右は、実際に座標発生器１５０が算出した座標値を示す。
【００２４】
座標発生器１５０から得られるｘｙ座標値は、レンズの歪曲収差に類似している。しかし得られたｘｙ座標値は、ｘｙ平面における線対称性や点対称性をもたず、その位置が第１象限から第４象限のどの象限内にあるかに依存して、歪み方も異なる。座標の回転や拡大縮小、台形歪みも観測され、象限ごとに処理を分けるのも難しい。
【００２５】
画像の歪み補正では、単純な補正として、以下の式３，４で表されるAffine変換が用いられる。
【００２６】
x’=a1x+a2y+a3  （３）
y’=b1x+b2y+b3  （４）
ここで係数a1,a2,b1,b2は回転拡大縮小の補正係数であり、係数a3,b3は平行移動の補正係数である。
【００２７】
レンズの歪みに起因する画像の歪み補正では、以下の式５〜７で表される歪曲収差関数が用いられる。
【００２８】
x’=fx(x+x(k1r2+k2r4)+(2p1xy+p2(r2+2x2)))+cx  （５）
y’=fy(y+y(k1r2+k2r4)+(2p1xy+p2(r2+2y2)))+cy  （６）
r2=x2+y2  （７）
ここで、係数k1,k2は半径方向の補正係数であり、係数p1,p2は円周方向の補正係数であり、係数fx,fyは拡大縮小の補正係数であり、係数cx,cyは平行移動の補正係数である。ただし、図７の計測結果には点対称性がないため、本来の歪曲収差関数のようにｘ座標とｙ座標とで同一の補正係数を使えない。したがって、本発明では、式５,６のパラメータをｘ，ｙで分離した、下記の式８，９を性能検証に用いる。
【００２９】
x’=fx(x+x(kx1r2+kx2r4)+(2px1xy+px2(r2+2x2)))+cx  （８）
y’=fy(y+y(ky1r2+ky2r4)+(2py1xy+py2(r2+2y2)))+cy  （９）
ここで係数kx1,kx2,ky1,ky2は半径方向の補正係数であり、係数px1,px2,py1,py2は円周方向の補正係数であり、係数fx,fyは拡大縮小の補正係数であり、係数cx,cyは平行移動の補正係数である。
【００３０】
図８は、図７の右をAffine変換により補正した結果（図８の左部分）と、歪曲収差関数により補正した結果（図８の右部分）を示す。Affine係数は、a1=0.912897203, a2=0.025328623, a3=28.99262433, b1=0.057994881, b2=1.064482813, b3=-50.78493947である。歪曲収差係数は、kx1=1.12534, kx2=-0.427756, px1=-0.0140829, px2=0.0591885, fx=0.600248, cx=-29.6698, ky1=3.80911, ky2=-1.36582, py1=0.0124008, py2=0.0271899, fy=0.278427, cy=9.23679である。Affine変換や歪曲収差関数を用いても、図７の右の計測座標の歪みは補正できていない。本開示による装置は、このような複数の光学歪みを含む座標系を補正することによって、歪みの影響を低減又は解消する。
【００３１】
図９は、ある実施形態による補正式によって座標系を補正した結果を示す。図９を見れば、前述のAffine変換や歪曲収差関数を用いた補正で得られたｘｙ座標値に比べて、理想のグリッド（図７の左の部分）に近いｘｙ座標値が得られることがわかる。
【００３２】
本開示によるさまざまな実施形態によれば、歪みを補正する式は以下の式１０，１１のように表現できる。
【００３３】
x’ = axx+bxx２+cxx|y|+dxxy+exxy２+fxxexp(x)+gxxexp(-x)+hx  （１０）
y’ = ayy+byy２+cyy|x|+dyxy+eyyx２+fyyexp(y)+gyyexp(-y)+hy  （１１）
ここで係数ax、bx、cx、dx、ex、fx、gx、hx、ay、by、cy、dy、ey、fy、gy、hyは、較正によって決定される定数である。ただし、わずかながら計測データに原点周りの回転も見受けられるため、回転の補正項も式１２，１３によって導入する。
【００３４】
x’’ = x’cosθ-y’sinθ  (１２)
y’’ = x’sinθ+y’cosθ  (１３)
ここでθは、原点周りの回転角度である。係数ax、bx2、hは拡大縮小及び平行移動を、係数dxxy、exxy2はスキュー歪み及び平行四辺形歪みを補正する。係数cxx|y|、fxxexp(x)、gxxexp(-x)は、象限ごとに存在する発光素子１２１〜１２４によって引き起こされる上下左右面での非対称な歪みを補正する。
【００３５】
図７の右の計測座標を上記式１０〜１３によって補正した結果が図９に示される。例示的なパラメータは、ax=0.95, bx=-0.78, cx=0.12, dx=-0.01, ex=-0.08, fx= 0.37, gx=-0.35, hx=22.80, ay=0.75, by= 0.48, cy=0.26, dy= 0.05, ey=-0.02, fy=-0.16, gy= 0.21, hy= 2.80, θ=0.002である。図９からわかるように、この手法は、他の手法に比べて、歪みをよりよく補正できる。左下の座標に若干の歪みが残っているが、これはＬＥＤレンズキャップの傷等で発生するイレギュラーな歪みであり、歪み補正関数による改善は難しいが、実用上は全く問題ない。調整したパラメータからも、上述の係数cxx|y|、fxxexp(x)、gxxexp(-x)のような上下左右面での非対称な歪み補正項が、図８の手法に比べ、歪み補正に大きく寄与している。
【００３６】
式１０，１１の補正項
本開示による式１０，１１について、複数の光学歪みを含む座標系を補正する効果について以下に詳述する。本明細書においてｘｙ座標系は、右上の象限を第１象限とし、反時計周りに第２象限、第３象限、第４象限と呼ぶ。
【００３７】
図１０は、式１０の第３項cxx|y|の補正効果を示す図であり、cx=１としたときの、座標(x|y|,y)の分布を示す。ｙ座標の絶対値が増加するにつれて、ｘ座標の値も増加する。これにより、ｘ軸及びｙ軸において線対称な歪曲歪みをもつ（たとえば俵型のような座標分布）座標系を補正できる。
【００３８】
図１１は、式１０の第６項fxxexp(x)の補正効果を示す図であり、fx=１としたときの、座標(fxxexp(x),y)の分布を示す。ｘが正の値を持つ場合（すなわち第１象限及び第４象限）において、ｘの値が増加するにつれて、ｘ座標の値も指数関数的に増加する。一方、ｘが負の値を持つ場合（すなわち第２象限及び第３象限）において、ｘ座標の値が極端に減少している。これにより第１象限及び第４象限よりも、第２象限及び第３象限のほうが歪みによる値の増加が顕著な場合の座標系を補正できる。
【００３９】
図１１に示したのと同様に、式１０の第７項gxxexp(-x)の補正効果は、式１０の第６項をy軸において反転させたものであり、第２象限及び第３象限よりも、第１象限及び第４象限のほうが歪みによる値の増加が顕著な場合の座標系を補正できる。
【００４０】
図１２は、項xexp(y)の補正効果を示す図である。上記実施形態で使用した座標分布では、ｘ軸又はｙ軸において線対称な歪みが観測されたので、第３項cxx|y|によって効果的な補正がなされた。ただし、ｙ軸においてのみ線対称な歪みを持つ座標系（例えばラッパ型のような座標分布）を補正する場合は、図１２のように、xexp(y)の項を追加してもよい。このように指数関数項は、ｘ軸又はｙ軸など、特定の軸周りの線対称な歪みを補正する際に有効に働くので、式１０，１１と組み合わせることもできる。
【００４１】
図１３は、式１１の第３項cyy|x|の補正効果を示す図であり、cy=１としたときの、座標(x,y|x|)の分布を示す。ｘ座標の絶対値が増加するにつれて、ｙ座標の値も増加する。これにより、ｘ軸及びｙ軸において線対称な歪曲歪みをもつ（例えば俵型のような座標分布）座標系を補正できる。
【００４２】
図１４は、式１１の第６項fyyexp(y)の補正効果を示す図であり、fy=１としたときの、座標(x,fyyexp(y))の分布を示す。ｙが正の値を持つ場合（すなわち第１象限及び第２象限）において、ｙの値が増加するにつれて、ｙ座標の値も指数関数的に増加する。一方、ｙが負の値を持つ場合（すなわち第３象限及び第４象限）において、y座標の値が極端に減少する。これにより、第１象限及び第２象限よりも、第３象限及び第４象限のほうが歪みによる値の増加が顕著な場合の座標系を補正できる。
【００４３】
図１４に示したのと同様に、式１１の第７項gyyexp(-y)の補正効果は、式１１の第６項をｘ軸において反転させたものであり、第３象限及び第４象限よりも、第１象限及び第２象限のほうが歪みによる値の増加が顕著な場合の座標系を補正できる。
【００４４】
図１５は、項yexp(x)の補正効果を示す図である。上記実施形態で使用した座標分布では、ｘ軸又はｙ軸において線対称な歪みが観測されたので、第３項cyy|x|によって効果的な補正がなされた。ただし、ｘ軸においてのみ線対称な歪みを持つ座標系（例えばラッパ型のような座標分布）を補正する場合は、図１５のように、yexp(x)の項を追加してもよい。このように指数関数項は、ｘ軸又はｙ軸など、特定の軸周りの線対称な歪みを補正する際に有効に働くので、式１０，１１と組み合わせることもできる。
【００４５】
代替のシステム
図１６は、他の実施形態による座標補正システム１６００の概略図である。座標補正システム１６００は、ポインティングデバイス１６１０及び座標発生器１６５０を含む。座標発生器１６５０は、発光制御器１１２、及び発光素子１２１〜１２４を含み、これらは、ポインティングデバイス１１０と同様に動作する。ポインティングデバイス１６１０は、受光器１５２、計算器１５４、及び補正器１５６を含み、これらは、座標発生器１５０と同様に動作する。加えて、ポインティングデバイス１６１０は、送信器１６１０を含み、これは補正器１５６によって出力されたｘｙ座標値を表す信号を例えば無線で座標発生器１６５０に送信する。座標発生器１６５０は、受信機１６２０をさらに含み、これは、送信器１６１０によって送信されたｘｙ座標値を表す信号を受け取り、座標制御器１５８に出力する。
【００４６】
座標補正システム１６００においては、例えばＰＣである座標発生器１６５０がポインティングデバイス１６１０に向けて光を照射する。ユーザは、受光器１５２を備えるポインティングデバイス１６１０を使って、マウスポインタの位置を移動する。
【００４７】
本発明は、特性の異なる複数の光学歪みによって形成される光学歪みのための補正方法であるため、単一の光学歪みの補正方法よりも、適応範囲の広さにおいて優位性がある。とりわけ、非均一な光学歪みが発生するようなＬＥＤレンズキャップのような機器によって引き起こされる座標系においては、従来法より優れている。
【００４８】
本開示による実施形態で用いられるいかなる機能も、ハードウェア、ソフトウェア、またはそれらの組み合わせを用いて実現され得る。そのような機能は、単一のプロセッサによって実現されてもよく、又は複数のプロセッサによって実現されてもよい。例えば座標補正システム１００の機能は、大規模集積回路（ＬＳＩ）によって実現される。代替として、座標補正システム１００の機能は、プロセッサと、プロセッサに結合されたメモリと、メモリに格納された、さまざまな機能を実現するインストラクションとによって実現される。
【００４９】
上に説明されてきたものには、本発明のさまざまな例が含まれる。本発明を記載する目的では、要素や手順の考えられるあらゆる組み合わせを記載することは当然のことながら不可能であるが、当業者なら本発明の多くのさらなる組み合わせおよび順列が可能であることがわかるだろう。したがって本発明は、特許請求の範囲の精神および範囲に入るそのような改変、変更および変形例を全て含むよう意図される。
【産業上の利用可能性】
【００５０】
本開示による装置は、複数の発光素子から算出された座標をより精度よく補正できる点において有用である。
【符号の説明】
【００５１】
１００  座標補正システム
１１０  ポインティングデバイス
１１２  発光制御器
１２１，１２２，１２３，１２４  発光素子
１５０  座標発生器
１５２  受光器
１５４  計算器
１５６  補正器
１５８  座標制御器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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