(57)【要約】【課題】光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法の提供。【解決手段】本発明は、光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法に関する。前記装置は、１次工程の欠陥管理機および２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集する欠陥情報収集部と、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とをマッチングさせる欠陥情報マッチング部と、マッチングの結果に基づいて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断する欠陥検出判断部と、同じ欠陥が検出された場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出し、算出された位置の差に基づいて１次工程の欠陥情報を補正する欠陥情報補正部と、補正された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報を集約する欠陥情報集約部とを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１次工程の欠陥管理機および２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集する欠陥情報収集部と、
１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とをマッチングさせる欠陥情報マッチング部と、
マッチングの結果に基づいて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断する欠陥検出判断部と、
同じ欠陥が検出された場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出し、算出された位置の差に基づいて１次工程の欠陥情報を補正する欠陥情報補正部と、
補正された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報を集約する欠陥情報集約部とを含むことを特徴とする光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項２】
前記１次工程の欠陥管理機は、１次工程で光学フィルムの欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して前記欠陥情報収集部に転送し、前記２次工程の欠陥管理機は、２次工程で光学フィルムの欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して前記欠陥情報収集部に転送することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項３】
前記１次工程の欠陥管理機は、欠陥が検出された位置にバーコードマーキングするバーコードマーキング機をさらに含み、
前記２次工程の欠陥管理機から転送される欠陥情報には、前記１次工程の欠陥管理機からバーコードマーキングされたバーコード情報を含むことを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項４】
前記欠陥情報収集部は、インデックス、欠陥の位置座標（Ｘ軸、Ｙ軸）、大きさおよび強度の少なくともいずれか１つの情報を含む欠陥情報を収集することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項５】
前記光学フィルムに対する欠陥情報にインデックスを含む場合、
前記インデックスは、前記１次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥に付与し、前記２次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥のうち、検出された欠陥の位置座標に１次工程の欠陥管理機でマーキングされたバーコード情報が付与された場合には、１次工程の欠陥管理機で付与したインデックス値と同じ値を付与することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項６】
前記欠陥検出判断部は、前記インデックスが同じ欠陥の場合、同じ欠陥であると判断したり、前記光学フィルムに対する欠陥情報の少なくとも２つ以上の情報が一致する場合、同じフィルム上の位置の欠陥であると判断することを特徴とする請求項４に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項７】
前記欠陥情報集約部は、前記欠陥検出判断部によって同じフィルム上の位置を有する欠陥情報が検出されない場合、１次工程の欠陥情報は、別の補正なく２次工程の欠陥情報と集約されることを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項８】
前記集約された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報に基づいてモニタリングを行う統合管理部を含むことを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理装置。
【請求項９】
欠陥情報収集部によって、１次工程の欠陥管理機および２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップと、
欠陥情報マッチング部によって、前記１次工程の欠陥情報と前記２次工程の欠陥情報とをマッチングさせるステップと、
欠陥検出判断部によって、マッチングの結果に基づいて、前記２次工程の欠陥情報を基準として前記１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断するステップと、
欠陥情報補正部によって、同じ欠陥が検出された場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出し、算出された位置の差に基づいて前記１次工程の欠陥情報を補正するステップと、
欠陥情報集約部によって、補正された前記１次工程の欠陥情報および前記２次工程の欠陥情報を集約するステップとを含むことを特徴とする光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１０】
前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップは、
前記１次工程の欠陥管理機は、１次工程で光学フィルム上の欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して転送し、
前記２次工程の欠陥管理機は、２次工程で光学フィルム上の欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して転送し、
前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送されるそれぞれの欠陥情報を収集することを特徴とする請求項９に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１１】
前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、
前記１次工程の欠陥管理機は、欠陥が検出された位置にバーコードマーキングするバーコードマーキング機をさらに含むことを特徴とする請求項１０に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１２】
前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、
前記２次工程の欠陥管理機から転送される欠陥情報には、前記１次工程の欠陥管理機からバーコードマーキングされたバーコード情報を含むことを特徴とする請求項１１に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１３】
前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、
前記光学フィルムに対する欠陥情報は、インデックス、欠陥の位置座標（Ｘ軸、Ｙ軸）、大きさおよび強度の少なくともいずれか１つの情報を含むことを特徴とする請求項９に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１４】
前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、
前記光学フィルムに対する欠陥情報にインデックスを含む場合、前記インデックスは、前記１次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥に付与し、
前記２次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥のうち、検出された欠陥の位置座標に１次工程の欠陥管理機でマーキングされたバーコード情報が付与された場合には、１次工程の欠陥管理機で付与したインデックス値と同じ値を付与することを特徴とする請求項１３に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１５】
マッチングの結果に基づいて、前記２次工程の欠陥情報を基準として前記１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断するステップは、
前記インデックスが同じ欠陥の場合、同じ欠陥であると判断することを特徴とする請求項１３に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【請求項１６】
マッチングの結果に基づいて、前記２次工程の欠陥情報を基準として前記１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断するステップは、
前記光学フィルムに対する欠陥情報の少なくとも２つ以上の情報が一致する場合、同じ欠陥であると判断することを特徴とする請求項１３に記載の光学フィルムの欠陥情報統合管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法に関し、より詳細には、各工程ごとに検出される欠陥情報を光学フィルム上にバーコードマーキングして、全体工程で発見される欠陥情報を統合管理する光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、光学フィルム製造装置の集積度が増加するにつれ、従来は大きく問題視されていなかった微細な欠陥までも光学フィルム製造装置の動作欠陥を引き起こしており、光学フィルム製造装置の信頼性にも致命的な悪影響を与えている。
【０００３】
したがって、光学フィルムを製造するための単位工程を行う前または後に表面上の欠陥を検査および測定している。
【０００４】
このために、欠陥を正確に検査可能な欠陥検査装置の導入が要請されており、検査装置に対する微細な制御技術が光学フィルム製造装置の性能を左右する。
【０００５】
一般的に、光学フィルム製造装置で発生する欠陥は電子顕微鏡または光学顕微鏡によって直接確認することができる。このように欠陥を直接確認することにより、検出された欠陥の真偽を知ることができる。
【０００６】
しかし、１つの工程で光学フィルムが生産された後、次の工程に移動して接合およびコーティング作業が進行する場合、当該光学フィルムの始点および左右方向が投入方向に応じて変更される。このような方向の変更によって、各工程で検出された欠陥データが上下または左右反転して、全体工程で発生した欠陥の位置を正確に把握するのに困難が発生する。
【０００７】
これに関連し、特許文献１は「光学フィルム検査装置」について開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】韓国公開特許第２００９−００７８６３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであって、１次工程の欠陥管理機は、光学フィルムの欠陥が検出されると、光学フィルム上に当該欠陥に関する情報を含むバーコードをマーキングするバーコードマーキング機を備える光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法を提供することを目的とする。
【００１０】
また、本発明は、２次工程の欠陥管理機は、１次工程で光学フィルム上にマーキングされたバーコードをリーディングするバーコードリーディング機を備える光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法を提供することを目的とする。
【００１１】
さらに、本発明は、１次工程の欠陥管理機から入力される欠陥情報と、２次工程の欠陥管理機から入力される欠陥情報とに基づいて、全体工程の欠陥情報を統合管理する光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的を達成するための、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置は、１次工程の欠陥管理機および２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集する欠陥情報収集部と、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とをマッチングさせる欠陥情報マッチング部と、マッチングの結果に基づいて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断する欠陥検出判断部と、同じ欠陥が検出された場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出し、算出された位置の差に基づいて１次工程の欠陥情報を補正する欠陥情報補正部と、補正された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報を集約する欠陥情報集約部とを含む。
【００１３】
また、前記１次工程の欠陥管理機は、１次工程で光学フィルムの欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して前記欠陥情報収集部に転送し、前記２次工程の欠陥管理機は、２次工程で光学フィルムの欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して前記欠陥情報収集部に転送することを特徴とする。
【００１４】
また、前記１次工程の欠陥管理機は、欠陥が検出された位置にバーコードマーキングするバーコードマーキング機をさらに含み、前記２次工程の欠陥管理機から転送される欠陥情報には、前記１次工程の欠陥管理機からバーコードマーキングされたバーコード情報を含むことを特徴とする。
【００１５】
また、前記欠陥情報収集部は、インデックス、欠陥の位置座標（Ｘ軸、Ｙ軸）、大きさおよび強度の少なくともいずれか１つの情報を含む欠陥情報を収集することを特徴とする。
【００１６】
また、前記光学フィルムに対する欠陥情報にインデックスを含む場合、前記インデックスは、前記１次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥に付与し、前記２次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥のうち、検出された欠陥の位置座標に１次工程の欠陥管理機でマーキングされたバーコード情報が付与された場合には、１次工程の欠陥管理機で付与したインデックス値と同じ値を付与することを特徴とする。
【００１７】
また、前記欠陥検出判断部は、前記インデックスが同じ欠陥の場合、同じ欠陥であると判断したり、前記光学フィルムに対する欠陥情報の少なくとも２つ以上の情報が一致する場合、同じ欠陥であると判断することを特徴とする。
【００１８】
また、前記欠陥情報集約部は、前記欠陥検出判断部によって同じ欠陥が検出されない場合、１次工程の欠陥情報は、別の補正なく２次工程の欠陥情報と集約されることを特徴とする。
【００１９】
また、前記集約された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報に基づいてモニタリングを行う統合管理部を含むことを特徴とする。
【００２０】
上記の目的を達成するための、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理方法は、欠陥情報収集部によって、１次工程の欠陥管理機および２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップと、欠陥情報マッチング部によって、前記１次工程の欠陥情報と前記２次工程の欠陥情報とをマッチングさせるステップと、欠陥検出判断部によって、マッチングの結果に基づいて、前記２次工程の欠陥情報を基準として前記１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断するステップと、欠陥情報補正部によって、同じ欠陥が検出された場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出し、算出された位置の差に基づいて前記１次工程の欠陥情報を補正するステップと、欠陥情報集約部によって、補正された前記１次工程の欠陥情報および前記２次工程の欠陥情報を集約するステップとを含む。
【００２１】
また、前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップは、前記１次工程の欠陥管理機は、１次工程で光学フィルム上の欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して転送し、前記２次工程の欠陥管理機は、２次工程で光学フィルム上の欠陥を検出し、当該欠陥に関する欠陥情報を収集して転送し、前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送されるそれぞれの欠陥情報を収集することを特徴とする。
【００２２】
また、前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、前記１次工程の欠陥管理機は、欠陥が検出された位置にバーコードマーキングするバーコードマーキング機をさらに含むことを特徴とする。
【００２３】
また、前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、前記２次工程の欠陥管理機から転送される欠陥情報には、前記１次工程の欠陥管理機からバーコードマーキングされたバーコード情報を含むことを特徴とする。
【００２４】
また、前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、前記光学フィルムに対する欠陥情報は、インデックス、欠陥の位置座標（Ｘ軸、Ｙ軸）、大きさおよび強度の少なくともいずれか１つの情報を含むことを特徴とする。
【００２５】
また、前記１次工程の欠陥管理機および前記２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集するステップにおいて、前記光学フィルムに対する欠陥情報にインデックスを含む場合、前記インデックスは、前記１次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥に付与し、前記２次工程の欠陥管理機から検出されるそれぞれの欠陥のうち、検出された欠陥の位置座標に１次工程の欠陥管理機でマーキングされたバーコード情報が付与された場合には、１次工程の欠陥管理機で付与したインデックス値と同じ値を付与することを特徴とする。
【００２６】
また、マッチングの結果に基づいて、前記２次工程の欠陥情報を基準として前記１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断するステップは、前記インデックスが同じ欠陥の場合、同じ欠陥であると判断することを特徴とする。
【００２７】
また、マッチングの結果に基づいて、前記２次工程の欠陥情報を基準として前記１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断するステップは、前記光学フィルムに対する欠陥情報の少なくとも２つ以上の情報が一致する場合、同じ欠陥であると判断することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２８】
上記の構成を有する本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法は、１次工程の欠陥管理機から入力される欠陥情報に関するバーコードマーキング情報と、２次工程の欠陥管理機から入力される１次工程での欠陥情報に関するバーコードリーディング情報とをマッチングさせて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を補正することにより、欠陥の位置を正確に把握することができるという効果がある。
【００２９】
また、本発明は、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とを、同じフィルム上の位置を基準としてマッチングすることにより、全体工程で発見される欠陥情報を統合管理することができ、工程の変化に応じた欠陥特性の変化を容易にモニタリングすることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明に係る１次工程の欠陥管理機と、２次工程の欠陥管理機と、光学フィルムの欠陥情報統合管理装置とから構成されるシステム環境を説明するための図である。
【図２】光学フィルムの投入方向に応じて異なる１次工程および２次工程の欠陥情報を説明するための図である。
【図３】光学フィルムの投入方向に応じて異なる１次工程および２次工程の欠陥情報を説明するための図である。
【図４】光学フィルムの投入方向に応じて異なる１次工程および２次工程の欠陥情報を説明するための図である。
【図５】光学フィルムの投入方向に応じて異なる１次工程および２次工程の欠陥情報を説明するための図である。
【図６】本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置の構成を説明するための図である。
【図７】本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理方法の手順を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明の技術的思想を容易に実施できるように詳細に説明するために、本発明の最も好ましい実施形態を添付図面を参照して説明する。まず、各図面の構成要素に参照符号を付加するにあたり、同一の構成要素については、たとえ他の図面上に出力されてもできるだけ同一の符号を有するようにしていることに留意しなければならない。また、本発明を説明するにあたり、かかる公知の構成または機能に対する具体的な説明が本発明の要旨をあいまいにし得ると判断された場合には、その詳細な説明は省略する。
【００３２】
図１は、本発明に係る１次工程の欠陥管理機と、２次工程の欠陥管理機と、光学フィルムの欠陥情報統合管理装置とから構成されるシステム環境を説明するための図であり、図２〜図５は、光学フィルムの投入方向に応じて異なる１次工程および２次工程の欠陥情報を説明するための図である。
【００３３】
図１を参照して説明すれば、まず、本発明における欠陥管理機は、各工場または不連続工程のインライン状態で光学フィルムの欠陥を検査する装置である。本発明では、説明の便宜のために、光学フィルムの欠陥を検査する装置であると限定したが、これに限定されない。
【００３４】
本発明に係る１次工程（前工程）の欠陥管理機１０は、１次工程で光学フィルムの欠陥を検出する検査機と、検出された欠陥に関する情報を光学フィルム上にバーコードマーキングするバーコードマーキング機とを備えることができる。また、１次工程（前工程）の欠陥管理機１０は、転送装置をさらに備え、光学フィルムの欠陥情報（欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）を光学フィルムの欠陥情報統合管理装置に転送する。
【００３５】
本発明に係る２次工程（後工程）の欠陥管理機２０は、１次工程でマーキングされたバーコードをリーディングするバーコードリーディング機を備えることができる。この時、２次工程で検出される光学フィルムの欠陥情報は、１次工程で検出された欠陥が維持される場合（欠陥Ａ、Ｂ、Ｃ）、１次工程で検出された欠陥が除去された場合（欠陥Ｄ）、２次工程で欠陥が新たに検出される場合（欠陥Ｅ、Ｆ）によって、１次工程で検出される光学フィルムの欠陥情報と異なり得る。
【００３６】
それだけでなく、１次工程および２次工程でマーキングされた欠陥情報は、工程の移動によって、光学フィルムの投入方向に応じて異なり得る。すなわち、図２のように左右移動していたり、図３のように上下移動していたり、図４のように左右反転していたり、図５のように上下反転した形態で表示される。
【００３７】
そして、２次工程の欠陥管理機は、転送装置をさらに備え、光学フィルムの欠陥情報を光学フィルムの欠陥情報統合管理装置に転送する。
【００３８】
このように、本発明に係る１次工程の欠陥管理機１０は、１次工程での光学フィルムの欠陥を検出し、検出された欠陥が２次工程で検出されない場合を防止するために、検出された欠陥情報をバーコードマーキングを用いて２次工程の欠陥管理機に伝達し、ファイル転送システムを介して検出された欠陥情報を光学フィルムの欠陥情報統合管理装置１００に転送する。
【００３９】
また、本発明に係る２次工程の欠陥管理機２０は、１次工程で伝達した欠陥情報をバーコードリーディングを用いて認識し、ファイル転送システムを介して検出および認識された欠陥情報を光学フィルムの欠陥情報統合管理装置１００に転送する。
【００４０】
本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置１００は、１次工程の欠陥管理機および２次工程の欠陥管理機から欠陥情報を受信し、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を補正した後、集約して、光学フィルムの欠陥情報を統合して管理することができる。この時、光学フィルムの欠陥情報統合管理装置１００は、以後説明される図６により詳細に説明する。
【００４１】
図６は、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置の構成を説明するための図である。
【００４２】
図６を参照して説明すれば、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置１００は、大別して、欠陥情報収集部１１０と、欠陥情報マッチング部１２０と、欠陥検出判断部１３０と、欠陥情報補正部１４０と、欠陥情報集約部１５０と、統合管理部１６０とを含む。
【００４３】
欠陥情報収集部１１０は、１次工程の欠陥管理機１０および２次工程の欠陥管理機２０から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集する。この時、欠陥情報は、インデックス、欠陥の位置座標（Ｘ軸、Ｙ軸）、大きさおよび強度の少なくともいずれか１つを含むことができる。
【００４４】
欠陥情報収集部１１０は、１次工程で光学フィルムの欠陥が検出されると、光学フィルム上に当該欠陥に関する情報を含むバーコードをマーキングするバーコードマーキング機を備える１次工程の欠陥管理機１０からバーコードマーキングされた欠陥情報を収集する。
【００４５】
また、欠陥情報収集部１１０は、１次工程で光学フィルム上にマーキングされたバーコードをリーディングするバーコードリーディング機を備える２次工程の欠陥管理機２０からバーコードマーキングされた欠陥情報およびバーコードリーディングされた欠陥情報を収集する。
【００４６】
欠陥情報マッチング部１２０は、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とをマッチングさせる。
【００４７】
欠陥検出判断部１３０は、マッチングの結果に基づいて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断する。
【００４８】
欠陥検出判断部１３０は、２次工程の欠陥管理機でバーコードリーディングされた欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥を検出する。
【００４９】
欠陥情報補正部１４０は、同じ欠陥が検出された場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出し、算出された差に基づいて１次工程の欠陥情報を補正する。一方、同じ欠陥が検出されない場合、１次工程の欠陥情報の補正が行われない。
【００５０】
欠陥情報補正部１４０は、同じ欠陥において当該欠陥情報のＸ軸座標の差が予め設定された値以上の場合、１次工程の欠陥情報を左右反転させて補正し、当該欠陥情報のＹ軸座標の差が予め設定された値以上の場合、１次工程の欠陥情報を上下反転させて補正する。この時、予め設定された値は、通常、光学フィルム（原フィルム）の幅の半分に設定することが好ましいが、これに限定されない。
【００５１】
また、欠陥情報補正部１４０は、同じ欠陥情報が２つ以上検出された場合には、誤差発生の危険があるので除外するが、当該欠陥情報の平均を算出し、１次工程の欠陥情報を補正することで誤差を最小化させることができる。
【００５２】
また、欠陥情報補正部１４０は、２次工程の欠陥情報における位置同期化のために、別のオフセット（Ｏｆｆｓｅｔ）値を与えてもよい。
【００５３】
欠陥情報集約部１５０は、補正された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報を集約する。
【００５４】
統合管理部１６０は、集約された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報に基づいてモニタリングを行う。
【００５５】
統合管理部は、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とを集約し、バーコードマーキング数、バーコードリーディング数などを比較して光学フィルムの全体的な品質を管理することができる。
【００５６】
図７は、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理方法の手順を説明するためのフローチャートである。
【００５７】
図７を参照して説明すれば、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理方法は、先に説明した光学フィルムの欠陥情報統合管理装置を用いるもので、以下、重複する説明は省略する。
【００５８】
まず、１次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集する（Ｓ１００）。Ｓ１００ステップは、１次工程で光学フィルムの欠陥が検出されると、光学フィルム上に当該欠陥に関する情報を含むバーコードをマーキングするバーコードマーキング機を備える１次工程の欠陥管理機から検出された欠陥情報を収集する。
【００５９】
次に、２次工程の欠陥管理機から転送される光学フィルムに対する欠陥情報を収集する（Ｓ２００）。Ｓ２００ステップは、２次工程で１次工程における光学フィルム上にマーキングされたバーコードをリーディングするバーコードリーディング機を備える２次工程の欠陥管理機から検出された欠陥情報およびバーコードリーディングされた欠陥情報を収集する。
【００６０】
次に、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とをマッチングする（Ｓ３００）。
【００６１】
より詳細には、Ｓ３００ステップは、まず、１次工程の欠陥情報を基準として、２次工程で検出されないと予想される欠陥をフィルタリングする。次に、２次工程で１次工程の欠陥でないと予想される欠陥をフィルタリングする。次に、１次工程および２次工程で検出された欠陥情報のうち、欠陥の位置座標を用いてバイナリ情報に変換する。次に、１次工程および２次工程で変換されたそれぞれのバイナリ情報を用いて欠陥情報のマッチングを行う過程により行われる。
【００６２】
次に、マッチングの結果に基づいて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥の検出の有無を判断する（Ｓ４００）。Ｓ４００ステップは、２次工程でバーコードリーディングされた欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を比較して同じ欠陥を検出する。
【００６３】
次に、同じ欠陥が検出された場合、２つ以上の同じ欠陥情報が検出されたか否かを判断する（Ｓ５００）。
【００６４】
Ｓ５００ステップで同じ欠陥が検出されたものの、２つ以上の同じ欠陥情報が検出される場合には、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置座標の平均を算出する（Ｓ５１０）。
【００６５】
Ｓ５００ステップで同じ欠陥が検出されたものの、２つ以上の同じ欠陥情報が検出されない場合、１次工程および２次工程での当該欠陥情報の位置の差を算出する（Ｓ５２０）。
【００６６】
次に、Ｓ５１０ステップおよびＳ５２０ステップの後、算出された値に基づいて１次工程の欠陥情報を補正する（Ｓ６００）。Ｓ６００ステップは、Ｓ５２０ステップで同じインデックスを有する欠陥情報において当該欠陥情報のＸ軸座標の差が予め設定された値以上の場合、１次工程の欠陥情報を左右反転させて補正し、当該欠陥情報のＹ軸座標の差が予め設定された値以上の場合、１次工程の欠陥情報を上下反転させて補正する。
【００６７】
次に、２次工程の欠陥情報の位置同期化のために、別のオフセット（Ｏｆｆｓｅｔ）値を反映する（Ｓ７００）。一方、Ｓ４００ステップにおいて、同じ欠陥情報が検出されない場合には、Ｓ７００ステップに移動して２次工程の欠陥情報にオフセット値を反映させる。
【００６８】
次に、補正された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報を集約する（Ｓ８００）。
【００６９】
次に、集約された１次工程の欠陥情報および２次工程の欠陥情報に基づいてモニタリングを行う（Ｓ９００）。
【００７０】
このように、本発明に係る光学フィルムの欠陥情報統合管理装置およびその方法は、１次工程の欠陥管理機から入力される欠陥情報に関するバーコードマーキング情報と、２次工程の欠陥管理機から入力される１次工程での欠陥情報に関するバーコードリーディング情報とをマッチングさせて、２次工程の欠陥情報を基準として１次工程の欠陥情報を補正することにより、欠陥の位置を正確に把握することができる。
【００７１】
また、本発明は、１次工程の欠陥情報と２次工程の欠陥情報とを、変化した位置を基準としてマッチングすることにより、全体工程で発見される欠陥情報を統合管理することができ、工程の変化に応じた欠陥特性の変化を容易にモニタリングすることができる。
【００７２】
以上、本発明に係る好ましい実施形態について説明したが、多様な形態に変形が可能であり、本技術分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の特許請求の範囲を逸脱しない範囲で多様な変形例および修正例を実施できると理解される。
【符号の説明】
【００７３】
１０：１次工程の欠陥管理機
２０：２次工程の欠陥管理機
１００：光学フィルムの欠陥情報統合管理装置
１１０：欠陥情報収集部
１２０：欠陥情報マッチング部
１３０：欠陥検出判断部
１４０：欠陥情報補正部
１５０：欠陥情報集約部
１６０：統合管理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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