(57)【要約】【課題】電極の変形や破損を防止する。【解決手段】載置部３と、電極ユニット４ａ，４ｂと、板状部材６１，６２および支持部６３を有する補正用冶具５とを備え、電極ユニット４ａ，４ｂにはピン２８が配設され、補正用冶具５は、電極ユニット４ａ，４ｂが載置部３に近接している状態において先端部６１ａ，６１ｂが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に移動する向きで板状部材６１，６２が移動させられたときに板状部材６１，６２がピン２８に当接して移動が規制されると共に、先端部６１ａ，６１ｂが第２位置Ｐ２に位置している状態において電極ユニット４ａ，４ｂが載置部３に近接する位置に移動したときにピン２８の挿通が可能な挿通孔８１，８２が板状部材６１，６２に形成されてピン２８が挿通孔８１，８２に挿通されている状態において板状部材６１，６２の移動が規制されるように構成されている。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の電気部品を載置可能な載置部と、前記電気部品の物理量の測定に用いる電気信号を入出力するための電極を有すると共に前記載置部に対して近接する近接方向および離反する離反方向に移動可能に構成されて当該載置部に近接したときに当該載置部に載置されている前記電気部品における一対の被接触部に当該電極をそれぞれ接触可能に構成された一対の電極ユニットと、前記物理量の測定値を補正する補正値を測定する際に前記電気部品に代えて前記各電極を接触させる板状部材および当該板状部材の先端部が前記載置部から離反する第１位置と当該載置部に近接する第２位置との間で移動するように当該板状部材を移動可能に支持する支持部を有する補正用治具とを備えた測定用治具であって、
前記各電極ユニットの少なくとも一方には、前記近接方向に沿って突出するピンが配設され、
前記補正用治具は、前記少なくとも一方の電極ユニットが前記載置部に近接している状態において前記先端部が前記第１位置から前記第２位置に移動する第１の向きで前記板状部材が移動させられたときに当該板状部材が前記ピンに当接して当該移動が規制されると共に、前記先端部が前記第２位置に位置している状態において前記少なくとも一方の電極ユニットが前記載置部から離反する位置から当該載置部に近接する位置に移動したときに前記ピンの挿通が可能な挿通孔が前記板状部材に形成されて当該ピンが当該挿通孔に挿通されている状態において前記先端部が前記第２位置から前記第１位置に移動する第２の向きでの前記板状部材の移動が規制されるように構成されている測定用治具。
【請求項２】
前記各電極ユニットの双方に前記ピンが配設されている請求項１記載の測定用治具。
【請求項３】
前記各電極ユニットの各電極が接触したときに当該各電極をショート状態に維持する前記板状部材としてのショート用板状部材と、前記各電極ユニットの各電極が接触したときに当該各電極をオープン状態に維持する前記板状部材としてのオープン用板状部材とを備えている請求項１または２記載の測定用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気部品の物理量の測定に用いる電気信号を入出力するための電極を有する電極ユニットと、物理量の測定値を補正する補正値を測定する際に電気部品に代えて前記各電極を接触させる板状部材を有する補正用治具とを備えた測定用治具に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定用治具として、下記特許文献１に開示された測定用治具が知られている。この測定用治具は、測定器接続用ボックス、一対の測定端子ブロックおよびＤＵＴ置き台を備えて構成されている。各測定端子ブロックは、ＤＵＴの電極に接触させる固定測定端子および可動測定端子をそれぞれ備えている。また、各測定端子ブロックは、ＤＵＴ置き台に対して接離する方向に移動可能に構成されている。ＤＵＴ置き台は、ＤＵＴを載置可能に構成されると共に、オープン校正用レバーおよびショート校正用レバーを備えて構成されている。各校正用レバーは、測定用治具を校正する（ＤＵＴについての物理量の測定値を補正する）際に用いる部材であって、ピンによって回動（回転）可能に支持されている。この校正用レバーを用いて校正を行う際には、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台から離反させている状態において、ＤＵＴを載置する載置部位側に先端部側が位置するように校正用レバーを回動させる。次いで、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台に向けて移動させて、校正用レバーの先端部側に配設されている電極に測定端子ブロックの各測定端子を接触させ、この状態で校正（物理量の測定）を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１０５２６３号公報（第３−５頁、第３，５図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記した従来の測定用治具には、改善すべき以下の課題が存在する。すなわち、この測定用治具では、各測定端子ブロックがＤＵＴ置き台に対して接離する方向に移動可能に構成され、各校正用レバーが回動可能に構成されている。この場合、校正用レバーを用いて校正を行う際には、上記したように、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台から離反させた後に校正用レバーを回動させ、次いで、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台に近接させる。しかしながら、この手順とは逆の手順、すなわち、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台に近接させた後に校正用レバーを回動させたときには、各測定端子ブロックの各測定端子に校正用レバーが衝突することとなる。この場合、可動測定端子は、強度が低いため、衝突によって変形したり破損したりするおそれがある。また、校正が終了した際には、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台から離反させた後に校正用レバーを回動させる必要があるが、この手順とは逆の手順、すなわち、測定端子ブロックをＤＵＴ置き台から離反させる以前に校正用レバーを回動させたときには、校正用レバーに接触している各測定端子に対して、長さ方向に直交する方向の力が加わることとなる。この場合にも、強度が低い可動測定端子が変形したり破損したりするおそれがある。
【０００５】
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、電極の変形や破損を防止し得る測定用治具を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく、請求項１記載の測定用治具は、測定対象の電気部品を載置可能な載置部と、前記電気部品の物理量の測定に用いる電気信号を入出力するための電極を有すると共に前記載置部に対して近接する近接方向および離反する離反方向に移動可能に構成されて当該載置部に近接したときに当該載置部に載置されている前記電気部品における一対の被接触部に当該電極をそれぞれ接触可能に構成された一対の電極ユニットと、前記物理量の測定値を補正する補正値を測定する際に前記電気部品に代えて前記各電極を接触させる板状部材および当該板状部材の先端部が前記載置部から離反する第１位置と当該載置部に近接する第２位置との間で移動するように当該板状部材を移動可能に支持する支持部を有する補正用治具とを備えた測定用治具であって、前記各電極ユニットの少なくとも一方には、前記近接方向に沿って突出するピンが配設され、前記補正用治具は、前記少なくとも一方の電極ユニットが前記載置部に近接している状態において前記先端部が前記第１位置から前記第２位置に移動する第１の向きで前記板状部材が移動させられたときに当該板状部材が前記ピンに当接して当該移動が規制されると共に、前記先端部が前記第２位置に位置している状態において前記少なくとも一方の電極ユニットが前記載置部から離反する位置から当該載置部に近接する位置に移動したときに前記ピンの挿通が可能な挿通孔が前記板状部材に形成されて当該ピンが当該挿通孔に挿通されている状態において前記先端部が前記第２位置から前記第１位置に移動する第２の向きでの前記板状部材の移動が規制されるように構成されている。
【０００７】
また、請求項２記載の測定用治具は、請求項１記載の測定用治具において、前記各電極ユニットの双方に前記ピンが配設されている。
【０００８】
また、請求項３記載の測定用治具は、請求項１または２記載の測定用治具において、前記各電極ユニットの各電極が接触したときに当該各電極をショート状態に維持する前記板状部材としてのショート用板状部材と、前記各電極ユニットの各電極が接触したときに当該各電極をオープン状態に維持する前記板状部材としてのオープン用板状部材とを備えている。
【発明の効果】
【０００９】
請求項１記載の測定用治具によれば、電極ユニットが載置部に対して近接する近接方向に沿って突出する突出するピンを電極ユニットに配設し、板状部材の先端部が第２位置に位置している状態において電極ユニットが載置部に近接したときにピンの挿通が可能な挿通孔を板状部材に形成したことにより、電極ユニットが載置部に近接している状態において第１の向きで板状部材が移動させられたときには、ピンに板状部材を当接させてその移動を確実に規制すると共に、ピンが板状部材の挿通孔に挿通されている状態において第２の向きでの板状部材の移動を確実に規制することができる。したがって、この測定用治具によれば、電極と板状部材との衝突や、電極に対する横方向の加重を回避して、電極の変形や破損を確実に防止することができる。
【００１０】
また、請求項２記載の測定用治具によれば、各電極ユニットの双方にピンを配設したことにより、どちらの電極ユニットが載置部に近接している場合においても、その電極ユニットの電極と板状部材との衝突や、電極に対する横方向の加重を確実に回避することができる。
【００１１】
また、請求項３記載の測定用治具によれば、各電極ユニットの各電極をショート状態に維持するショート用板状部材と、各電極をオープン状態に維持するオープン用板状部材とを備えたことにより、各電極をショート状態としたときの補正値、および各電極をオープン状態としたときの補正値の双方をこの測定用治具を用いて測定することができる。したがって、この測定用治具によれば、各補正値のいずれを測定する場合においても電極の変形や破損を確実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】測定用治具１の構成を示す斜視図である。
【図２】測定用治具１の分解斜視図である。
【図３】補正用治具５の構成を示す斜視図である。
【図４】補正用治具５の構成を示す平面図である。
【図５】測定用治具１の動作を説明する第１の説明図である。
【図６】測定用治具１の動作を説明する第２の説明図である。
【図７】測定用治具１の動作を説明する第３の説明図である。
【図８】測定用治具１の動作を説明する第４の説明図である。
【図９】測定用治具１の動作を説明する第５の説明図である。
【図１０】測定用治具１の動作を説明する第６の説明図である。
【図１１】測定用治具１の動作を説明する第７の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、測定用治具の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１４】
最初に、図１に示す測定用治具１の構成について説明する。測定用治具１は、測定対象の電気部品についての物理量（例えば、抵抗値）を測定する際に用いられる治具であって、同図および図２に示すように、基体部２、載置部３、電極ユニット４ａ，４ｂ（以下、区別しないときには「電極ユニット４」ともいう）および補正用治具５を備えて構成されている。
【００１５】
基体部２は、図１，２に示すように、一例として、直方体の箱状に形成されている。また、基体部２の上面２ａには、板体１１が配設され、この板体１１には、図２に示すように、２つのレール１２およびカバー１３ａ，１３ｂが配設される。
【００１６】
載置部３は、電気部品を載置可能に構成されている。
【００１７】
電極ユニット４ａ，４ｂは、図３，４に示すように、棒状電極２１と、板状電極２２（以下、棒状電極２１および板状電極２２を合わせて「電極２１，２２」ともいう）と、電極２１，２２を保持する保持体２３と、保持体２３が取り付けられるスライダー２４とをそれぞれ備えて校正されている。また、電極ユニット４ａ，４ｂの各スライダー２４には、図２に示すカバー２５ａ，２５ｂがそれぞれ取り付けられる。さらに、カバー２５ａには、電極ユニット４ａの移動を規制したり電極ユニット４ａを固定したりするためのバー２７（図２参照）が配設されている。また、カバー２５ａ，２５ｂには、電極ユニット４ａ，４ｂを移動操作する際に用いるレバー２９ａ，２９ｂがそれぞれ設けられている。
【００１８】
また、電極ユニット４ａ，４ｂは、基体部２の板体１１に配設されているレール１２（図２参照）上をスライダー２４が移動（スライド）することにより、載置部３に対して近接する近接方向および離反する離反方向（図３に示す矢印Ａの方向：以下、２つの方向を合わせて「接離する方向」ともいう）に移動可能に構成されている。また、各電極ユニット４は、載置部３に近接したときに、載置部３に載置されている電気部品の各電極に各電極２１，２２の各先端部がそれぞれ接触することが可能となっている。
【００１９】
補正用治具５は、測定用治具１を用いて測定した電気部品の物理量の測定値に含まれる測定用治具１の影響分（以下「補正値α」ともいう）を測定する際に用いられる治具であって、図３，４に示すように、板状部材６１，６２および支持部６３を備えて構成されている。
【００２０】
板状部材６１，６２は、上記した補正値αを測定する際に電気部品に代えて各電極ユニット４における電極２１，２２の各先端部を接触させる部材であって、図３，４に示すように、長尺の板状にそれぞれ形成されている。
【００２１】
板状部材６１は、ショート用板状部材に相当し、各電極２１，２２を電気的に接続させた状態（ショート状態）に維持する機能を有し、その状態における補正値α（以下、「補正値αｓ」ともいう）を測定する際に用いられる。また、板状部材６１は、全体として非導電性材料で形成されている。また、板状部材６１には、各電極ユニット４における各電極２１，２２の各先端部が接触する接続部材７１が配設されている。この場合、接続部材７１は、導電性材料で形成され、板状部材６１の表面Ｓａ，Ｓｂ（図４参照）に形成されている図外の導体にはんだ付けによって固定されている。
【００２２】
板状部材６２は、オープン用板状部材に相当し、板状部材６１と共に各電極ユニット４の各電極２１，２２を離反させた状態（電気的に非接続の状態（オープン状態））に維持する機能を有し、その状態における補正値α（以下、「補正値αｏ」ともいう）を測定する際に用いられる。また、板状部材６２は、全体として非導電性材料で形成されると共に、電極ユニット４ｂの各電極２１，２２の各先端部が接触する表面Ｓｃ（図４参照）の接触部分に導体Ｓｅ（図１０参照）が配設されている。また、板状部材６２における表面Ｓｄ（表面Ｓｃとは逆側の面：図４参照）には、図外の導体が配設され、この導体は、板状部材６１，６２の回動中心となる導電性を有する軸（支持部６３の構成要素）、その軸に接続されている支持電極６４（図３，４参照）、支持電極６４に取り付けられている端子金具６５（図３，４参照）、および図外の配線材を経由して測定用治具１の基準電位に接続される。また、測定用治具１の基準電位は、図外の測定用ケーブルのシールドを経由して図外の測定装置に接続される。
【００２３】
支持部６３は、図３，４に示すように、各板状部材６１，６２の各基端部６１ｂ，６２ｂを軸支して、各板状部材６１，６２の各先端部６１ａ，６２ａが、載置部３から離反する第１位置Ｐ１と載置部３に近接する第２位置Ｐ２との間で移動するよう各板状部材６１，６２を回動（「移動」の一例）可能に支持する。
【００２４】
ここで、電極ユニット４が載置部３に対して接離する方向に移動可能に構成され、各板状部材６１，６２が回動可能に構成されているこの種の測定用治具では、電極ユニット４における各電極２１，２２の各先端部が載置部３に近接している状態において、板状部材６１，６２の先端部６１ａ，６２ａが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に移動するように板状部材６１，６２を回動させたときに、板状部材６１，６２が電極２１，２２に衝突して電極２１，２２が変形したり破損したりおそれがある。また、板状部材６１，６２に電極２１，２２の先端部が接触している状態において板状部材６１，６２を回動させたときには、電極２１，２２に長さ方向に直交する方向（以下「横方向」ともいう）に力が加わり、この際にも、電極２１，２２が変形したり破損したりするおそれがある。このため、この測定用治具１では、このような電極２１，２２の変形や破損を防止する構成が採用されている。
【００２５】
具体的には、図３，４に示すように、この測定用治具１では、電極ユニット４ａ，４ｂが載置部３に対して近接する近接方向に沿って突出するピン２８が電極ユニット４ａ，４ｂの各スライダー２４にそれぞれ配設されている。この場合、電極ユニット４ａでは、図５，６に示すように、電極ユニット４ａが載置部３に近接している状態において、板状部材６１の先端部６１ａが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に向かう向きに板状部材６１を回動させようとしたときに、板状部材６１の下部に当接するように、ピン２８の配設位置および長さが規定されている。また、電極ユニット４ｂでは、図８，９に示すように、電極ユニット４ｂが載置部３に近接している状態において、板状部材６２の先端部６２ａが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に向かう向きに板状部材６２を回動させようとしたときに、板状部材６２の下部に当接するように、ピン２８の配設位置および長さが規定されている。
【００２６】
また、この測定用治具１では、図５，８に示すように、ピン２８の挿通が可能な挿通孔８１，８２が各板状部材６１，６２にそれぞれ形成されている。この場合、板状部材６１では、図７に示すように、板状部材６１の先端部６１ａが第２位置Ｐ２に位置している状態において、電極ユニット４ａが載置部３から離反する位置から近接する位置に移動したしたときに、電極ユニット４ａのピン２８が挿通するように挿通孔８１の形成位置が規定されている。また、板状部材６２では、図１０に示すように、板状部材６２の先端部６２ａが第２位置Ｐ２に位置している状態において、電極ユニット４ｂが載置部３から離反する位置から近接する位置に移動したときに、電極ユニット４ｂのピン２８が挿通するように挿通孔８２の形成位置が規定されている。
【００２７】
この測定用治具１では、ピン２８を各電極ユニット４に配設すると共に、板状部材６１，６２に挿通孔８１，８２をそれぞれ形成する構成を採用したことにより、図５，８に示すように、電極ユニット４が載置部３に近接している状態において先端部６１ａ，６２ａが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に移動する向き（第１の向き）で板状部材６１，６２が回動させられたときに板状部材６１，６２の下部がピン２８に当接して、板状部材６１，６２の回動が規制される。また、この測定用治具１では、この構成を採用したことにより、図１１に示すように、各電極ユニット４のピン２８が板状部材６１，６２の挿通孔８１，８２に挿通されている状態では、先端部６１ａ，６２ａが第２位置Ｐ２から第１位置Ｐ１に移動する向き（第２の向き）で板状部材６１，６２が回動させられたときに挿通孔８１，８２の縁部がピン２８に当接して、板状部材６１，６２の回動が規制される。したがって、この測定用治具１では、電極２１，２２と板状部材６１，６２との衝突や、電極２１，２２に対する横方向の加重が回避されて、電極２１，２２の変形や破損を確実に防止することが可能となっている。
【００２８】
次に、測定用治具１の使用方法の一例として、測定用治具１を用いて電気部品の物理量を測定する際の使用方法について図面を参照して説明する。
【００２９】
電気部品の物理量の測定に先立ち、電気部品の物理量の測定値に含まれる測定用治具１の影響分である補正値αを測定する。最初に、各電極２１，２２をショート状態に維持した状態における補正値αｓを測定する。この補正値αｓの測定では、図３，４に示すように、電気部品を載置部３に載置していない状態で、各電極２１，２２が載置部３から離反するように各電極ユニット４を移動させる。
【００３０】
次いで、図５に示すように、先端部６１ａが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に移動するように板状部材６１を回動させる。この場合、図５，６に示すように、電極ユニット４ａが載置部３から十分に離反していない（電極ユニット４ａが載置部３に近接している）ときには、板状部材６１の下部が電極ユニット４ａのピン２８に当接して、板状部材６１の回動が規制される。このため、板状部材６１が電極ユニット４ａの電極２１，２２に衝突して電極２１，２２が変形したり破損したりする事態が確実に防止される。
【００３１】
一方、電極ユニット４ａが載置部３から十分に離反しているときには、図７に示すように、電極ユニット４ａのピン２８に板状部材６１が当接することなく、先端部６１ａが第２位置Ｐ２に位置するまで板状部材６１を回動させることができる。
【００３２】
続いて、図７に示すように、載置部３に近接するように（同図における左向きに）電極ユニット４ａを移動させる。この際に、電極ユニット４ａの電極２１，２２の先端部が板状部材６１に配設されている接続部材７１に接触すると共に、電極ユニット４ａのピン２８が板状部材６１の挿通孔８１に挿通される。次いで、載置部３に近接するように（同図における右向きに）電極ユニット４ｂを移動させる。この際に、電極ユニット４ｂの各電極２１，２２の先端部が接続部材７１に接触する。この状態では、電極ユニット４ａの電極２１，２２が接続部材７１を介して電気的に接続され、電極ユニット４ｂの電極２１，２２が接続部材７１を介して電気的に接続されると共に、接続部材７１を介して電極ユニット４ａの電極２１，２２に電気的に接続される（つまり、各電極ユニット４の各電極２１，２２のすべてが電気的に接続される）ショート状態に維持される。
【００３３】
この場合、電極ユニット４ａのピン２８が板状部材６１の挿通孔８１に挿通されているため、先端部６１ａが第２位置Ｐ２から第１位置Ｐ１に移動する向きの板状部材６１の回動が規制される。このため、板状部材６１の接続部材７１に接触している電極ユニット４ａ，４ｂの各電極２１，２２に対する横方向の加重が回避されて、各電極２１，２２が変形したり破損したりする事態が確実に防止される。
【００３４】
続いて、各電極２１，２２に接続した図外のケーブルを介して接続した図外の測定装置を作動させて測定を実行させる。この際に、各電極２１，２２を介して入出力する電気信号に基づいて補正値αｓが測定される。
【００３５】
次に、各電極２１，２２をオープン状態に維持した状態における補正値αｏを測定する。この補正値αｏの測定では、板状部材６１に電極ユニット４ａ，４ｂの各電極２１，２２の先端部を接触させている状態（補正値αｓを測定したときの状態）から、電極ユニット４ｂだけを載置部３から離反させる。次いで、図８，９に示すように、先端部６２ａが第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に移動するように板状部材６２を回動させる。
【００３６】
この場合、図８，９に示すように、電極ユニット４ｂが載置部３から十分に離反していないときには、板状部材６２の下部が電極ユニット４ｂのピン２８に当接して、板状部材６２の回動が規制されるため、板状部材６２が電極ユニット４ｂの電極２１，２２に衝突して電極２１，２２が変形したり破損したりする事態が確実に防止される。一方、電極ユニット４ｂが載置部３から十分に離反しているときには、図１０に示すように、電極ユニット４ｂのピン２８に板状部材６２が当接することなく、先端部６２ａが第２位置Ｐ２に位置するまで板状部材６２を回動させることができる。
【００３７】
続いて、図１０，１１に示すように、載置部３に近接するように（両図における右向きに）電極ユニット４ｂを移動させる。この際に、電極ユニット４ｂの電極２１，２２の先端部が板状部材６２における表面Ｓｃに配設されている導体Ｓｅ（図１０参照）に接触すると共に、電極ユニット４ｂのピン２８が板状部材６２の挿通孔８２に挿通される。この状態では、電極ユニット４ａの電極２１，２２が接続部材７１を介して電気的に接続され、電極ユニット４ｂの電極２１，２２が板状部材６２の導体を介して電気的に接続される。また、両図に示すように、板状部材６１と板状部材６２とが離間しているため、電極ユニット４ａの電極２１，２２と電極ユニット４ｂの電極２１，２２とが離間するオープン状態に維持される。
【００３８】
この場合、電極ユニット４ｂのピン２８が板状部材６２の挿通孔８２に挿通されている。また、電極ユニット４ａおよび板状部材６１は、補正値αｓを測定したときの状態（電極ユニット４ａのピン２８が板状部材６１の挿通孔８１に挿通された状態）に維持されている。このため、先端部６１ａ，６２ａが第２位置Ｐ２から第１位置Ｐ１に移動する向きの板状部材６１，６２の回動が規制される結果、板状部材６１，６２に接触している電極ユニット４ａ，４ｂの各電極２１，２２に対する横方向の加重が回避されて、各電極２１，２２が変形したり破損したりする事態が確実に防止される。
【００３９】
次いで、各電極２１，２２に接続した図外のケーブルを介して接続した図外の測定装置を作動させて測定を実行させる。この際に、各電極２１，２２を介して入出力する電気信号に基づいて補正値αｏが測定される。この場合、板状部材６２の表面Ｓｄに配設されている導体が基準電位に接続されているため、オープン状態における補正値αｏを測定する際に、電極ユニット４ａの電極２１，２２と電極ユニット４ｂの各電極２１，２２との間を確実に電磁遮蔽することができる結果、補正値αｏを正確に測定することができる。以上により、補正値αｓおよび補正値αｏの測定が完了する。
【００４０】
次に、電気部品の物理量を測定する際には、電極ユニット４ａ，４ｂを載置部３から離反させる。この際に、各電極２１，２２の先端部が板状部材６１，６２からそれぞれ離反すると共に、電極ユニット４ａ，４ｂの各ピン２８が板状部材６１，６２の挿通孔８１，８２からそれぞれ引き抜かれる。これにより、板状部材６１，６２の回動が可能な状態となる。続いて、図３，４に示すように、先端部６１ａ，６２ａが第２位置Ｐ２から第１位置Ｐ１に移動するように板状部材６１，６２を回動させる。
【００４１】
次いで、載置部３に電気部品を載置し、続いて、載置部３に近接するように電極ユニット４ａ，４ｂを移動させる。この際に、電極ユニット４ａ，４ｂの各電極２１，２２の先端部が電気部品の電極にそれぞれ接触する。次いで、測定装置を作動させて測定を実行させる。この際に、各電極２１，２２を介して入出力する電気信号に基づいて電気部品の物理量が測定される。続いて、物理量の測定値を上記した補正値αｓおよび補正値αｏで補正する。以上により、電気部品の物理量の測定が終了する。
【００４２】
このように、この測定用治具１によれば、電極ユニット４ａ，４ｂが載置部３に対して近接する近接方向に沿って突出する突出するピン２８を各電極ユニット４に配設し、板状部材６１，６２の先端部６１ａ，６２ａが第２位置Ｐ２に位置している状態において電極ユニット４が載置部３に近接したときにピン２８の挿通が可能な挿通孔８１，８２を板状部材６１，６２に形成したことにより、電極ユニット４が載置部３に近接している状態において第１の向きで板状部材６１，６２が回動させられたときには、ピン２８に板状部材６１，６２を当接させてその回動を確実に規制すると共に、ピン２８が板状部材６１，６２の挿通孔８１，８２に挿通されている状態において第２の向きでの板状部材６１，６２の回動を確実に規制することができる。したがって、この測定用治具１によれば、電極２１，２２と板状部材６１，６２との衝突や、電極２１，２２に対する横方向の加重を回避して、電極２１，２２の変形や破損を確実に防止することができる。
【００４３】
また、この測定用治具１によれば、各電極ユニット４の双方にピン２８を配設したことにより、どちらの電極ユニット４が載置部３に近接している場合においても、その電極ユニット４の電極２１，２２と板状部材６１，６２との衝突や、電極２１，２２に対する横方向の加重を確実に回避することができる。
【００４４】
また、この測定用治具１によれば、各電極ユニット４の各電極２１，２２をショート状態に維持するショート用板状部材としての板状部材６１と、各電極２１，２２をオープン状態に維持するオープン用板状部材としての板状部材６２とを備えたことにより、各電極２１，２２をショート状態としたときの補正値αｓ、および各電極２１，２２をオープン状態としたときの補正値αｏの双方をこの測定用治具１を用いて測定することができる。したがって、この測定用治具１によれば、各補正値αｓ，αｏのいずれを測定する場合においても電極２１，２２の変形や破損を確実に防止することができる。
【００４５】
なお、測定用治具は、上記の構成に限定されない。例えば、電極ユニット４ａ，４ｂの双方にピン２８をそれぞれ配設した例について上記したが、電極ユニット４ａ，４ｂの一方にのみピン２８を配設する構成を採用することもできる。また、ショート用板状部材としての板状部材６１とオープン用板状部材としての板状部材６２とを備えた例について上記したが、ショート用板状部材だけを備えた構成や、オープン用板状部材だけを備えた構成を採用することもできる。
【００４６】
また、板状部材６１，６２が回動可能に構成されている例について上記したが、板状部材６１，６２をスライド（「移動」の他の一例）可能に構成することもできる。
【符号の説明】
【００４７】
１  測定用治具
３  載置部
４ａ，４ｂ  電極ユニット
５  補正用治具
２１  棒状電極
２２  板状電極
２３  保持体
２８  ピン
６１，６２  板状部材
６１ａ，６２ａ  先端部
８１，８２  挿通孔
Ｐ１  第１位置
Ｐ２  第２位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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