(57)【要約】      （修正有）【課題】従来技術における問題点の少なくとも１つを解決した眼科撮影装置を提供する。【解決手段】眼科撮影装置１は、光源１１からの測定光を被検眼Ｅにおいて走査し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と，参照光と，が合成された合成光に基づいて被検眼Ｅの断層画像を得るＯＣＴ光学系と、光源５１からのレーザー光を被検眼Ｅにおいて走査し、被検眼Ｅによるレーザー光の反射光に基づいて被検眼Ｅの正面画像を得るＳＬＯ光学系と、を備える。また、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とで共用される検出器４４を備える。この検出器４４は、反射光と、合成光と、をそれぞれ受光し、正面画像および断層画像を形成するための受光信号を、それぞれ出力する。【選択図】図１
2017029483.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１光源からの測定光を前記被検眼において走査し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と，参照光と，が合成された合成光に基づいて前記被検眼の断層画像を得るＯＣＴ光学系と、
第２光を被検眼において走査し、第２光の前記被検眼による反射光に基づいて前記被検眼の正面画像を得るＳＬＯ光学系と、を備える眼科撮影装置であって、
前記ＯＣＴ光学系と前記ＳＬＯ光学系とで共用される検出器であって、前記反射光と、前記合成光と、をそれぞれ受光し、前記正面画像および前記断層画像を形成するための受光信号を、それぞれ出力する検出器と、を有する眼科撮影装置。
【請求項２】
前記ＯＣＴ光学系は、前記戻り光と前記参照光との合成を行う光結合部を有すると共に、前記光結合部によって得られる前記合成光を前記検出器に導き、
前記ＳＬＯ光学系は、有害光を除去する有害光除去部を有すると共に、前記有害光除去部を通過した前記反射光を前記検出器に導き、
前記有害光除去部を通過する前記戻り光、および、前記光結合部を通過した前記反射光、のそれぞれが前記検出器に導かれることを妨げる光学素子を有する請求項１記載の眼科撮影装置。
【請求項３】
前記光学素子は、前記戻り光と前記反射光とを分離する請求項２記載の眼科撮影装置。
【請求項４】
前記第１光源からの測定光と、前記第２光源からの光とは、互いに異なる波長の光であり、
前記光学素子は、前記戻り光と前記反射光とを波長選択的に分離する請求項３記載の眼科撮影装置。
【請求項５】
前記光学素子は、前記戻り光と前記反射光とを互いに分岐させる、又は、同軸にするダイクロイックミラーである請求項４記載の眼科撮影装置。
【請求項６】
前記ＯＣＴ光学系と前記ＳＬＯ光学系とで共用される光スキャナであって、前記第２光と前記測定光とをそれぞれ前記被検眼において走査する光スキャナを少なくとも１つ備える請求項１から５のいずれかに記載の眼科撮影装置。
【請求項７】
前記ＯＣＴ光学系と前記ＳＬＯ光学系とは、被検眼の視度を補正する視度補正光学系を更に共用する請求項１から６のいずれかに記載の眼科撮影装置。
【請求項８】
前記被検眼において走査する光を、前記測定光と、前記第２光とで、実質的に交互に切り換える光切換手段と、
前記光切換手段による切換制御に伴って逐次取得される前記断層画像と前記正面画像とをモニタの同一画面に動画画像として並べて表示する表示制御手段と、を備えることを特徴とする請求項１から７のいずれかに記載の眼科撮影装置。
【請求項９】
前記ＯＣＴ光学系は、前記測定光として第２光を含む光を前記第1光源から出射することで、前記第１光源を前記ＳＬＯ光学系と共用の光源として利用する請求項１から８のいずれかに記載の眼科撮影装置。
【請求項１０】
波長毎に分光された状態における強度情報を前記検出器から出力される前記受光信号から取得し、前記受光信号に含まれる各波長成分の強度情報の中から予め選択された一定の波長成分の強度情報に基づいて前記正面画像を形成する正面画像取得手段を有する請求項９記載の眼科撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、光断層干渉計と走査型レーザー検眼鏡とを複合させた眼科撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の断層画像を非侵襲で得ることができる眼科撮影装置として、光断層干渉計（Optical Coherence Tomography:OCT）が知られている。このような装置は、例えば、眼球の断層像を得るために使用される。また、被検眼においてレーザー光を２次元的に走査することによって、被検眼の正面画像を得る走査型レーザー検眼鏡(Scanning Laser Ophthalmoscope:SLO)が知られている。
【０００３】
更に、光断層干渉計と走査型レーザー検眼鏡との複合装置も存在する。例えば、特許文献１には、ＯＣＴ光学系と、ＳＬＯ光学系とで、主に対物レンズ系を共用し、その他の部材が別々に設けられた装置が開示されている。例えば、この装置においては、光源、光スキャナ、および検出器等の部材が、ＯＣＴ光学系と、ＳＬＯ光学系とで、別々に設けられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−０２９４６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のような複合装置は、大型化しやすく、高コストになりやすい。本開示は、従来技術における問題点の少なくとも１つを解決した眼科撮影装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の第１態様に係る眼科撮影装置は、第１光源からの測定光を前記被検眼において走査し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と，参照光と，が合成された合成光に基づいて前記被検眼の断層画像を得るＯＣＴ光学系と、第２光を被検眼において走査し、第２光の前記被検眼による反射光に基づいて前記被検眼の正面画像を得るＳＬＯ光学系と、を備える眼科撮影装置であって、前記ＯＣＴ光学系と前記ＳＬＯ光学系とで共用される検出器であって、前記反射光と、前記合成光と、をそれぞれ受光し、前記正面画像および前記断層画像を形成するための受光信号を、それぞれ出力する検出器と、を有する。
【発明の効果】
【０００７】
本開示によれば、従来技術における問題点の少なくとも１つを解決することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第１実施例における撮影装置の光学系を示した図である。
【図２】第１実施例における撮影装置の制御系を示した図である。
【図３】第２実施例における撮影装置の光学系を示した図である。
【図４】第３実施例における撮影装置の光学系を示した図である。
【図５】第４実施例における撮影装置の光学系を示した図である。
【図６】変形例にかかる撮影装置の光学系を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本開示における典型的な実施形態を、図面に基づいて説明する。
【００１０】
＜概要＞
まず、図１を参照して、本開示に係る眼科撮影装置（以下、「撮影装置」と省略する）の概要を説明する。図１に示すように、撮影装置１は、ＯＣＴとＳＬＯとの複合装置である。換言すれば、撮影装置１は、ＯＣＴ光学系２と、ＳＬＯ光学系３と、を有する。本実施形態において、ＯＣＴ光学系２は、被検眼Ｅの所定部位の断層画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るために利用される。また、ＳＬＯ光学系３は、被検眼Ｅの所定部位の正面画像を得るために利用される。
【００１１】
ＯＣＴ光学系２は、光源１１からの測定光を、被検眼Ｅにおいて走査する。被検眼Ｅからの測定光の戻り光は、参照光と合成され、これによって、合成光が得られる。ＯＣＴ光学系２では、断層画像が、この合成光に基づいて取得される。
【００１２】
図１に示すように、ＯＣＴ光学系２は、例えば、光源１１と、光分割部１２と、光スキャナ２７と、光結合部３５と、検出器４４と、を有してもよい。このようなＯＣＴ光学系２としては、ＳＳ−ＯＣＴ（Swept Source-OCT）方式、ＳＤ−ＯＣＴ（Spectral domain-OCT）方式等が用いられ得る。
【００１３】
光分割部１２は、光源１１からの光を、測定光と参照光とに分割する。光分割部１２には、例えば、カップラ、およびハーフミラー等のいずれかが採用されてもよい。光スキャナ２７は、測定光を被検眼Ｅにおいて走査する。光スキャナ２７は、互いに異なる方向に測定光を偏向する２つの光スキャナ２７ａ，２７ｂを少なくとも含んでいてもよい。被検眼Ｅからの測定光の戻り光は、光結合部３５によって参照光と合成され、その結果として、合成光が得られる。この合成光が、検出器４４によって受光される。そして、検出器４４からの受光信号に基づいて被検眼Ｅの断層画像が得られる。
【００１４】
図１に示すように、ＳＬＯ光学系３は、光源５１からのレーザー光（第２光の一例）を被検眼Ｅにおいて２次元的に走査し、被検眼Ｅによるレーザー光の反射光に基づいて被検眼Ｅの正面画像を取得する。図１に示すように、ＳＬＯ光学系３は、例えば、光源５１と、光スキャナ５５と、有害光除去部（有害光除去光学系ともいう。具体例としては、ホールミラー５３、共焦点アパーチャ６２等のいずれか）と、検出器４４と、を有してもよい。このようなＳＬＯ光学系３としては、ポイントスキャンＳＬＯ方式が用いられ得る。但し必ずしもこれに限られるものではなく、ＳＬＯ光学系３は、ラインスキャンＳＬＯ方式（つまり、ＬＳＬＯ）であってもよい。
【００１５】
光源５１は、レーザー光を出射する。光スキャナ５５は、レーザー光を被検眼Ｅにおいて走査する。有害光除去部は、例えば、被検眼Ｅの観察面とは異なる箇所において、散乱および反射された光（つまり、有害光）を除去する。例えば、眼底を撮影する場合、典型的には、角膜および対物レンズ２９のレンズ面に基づいて有害光が生じる。ＳＬＯ光学系３は、有害光除去部として、例えば、ホールミラー５３、および共焦点アパーチャ６２、黒点板（図示せず）等のいずれかを用いることができる。このような有害光除去部は、観察面からの反射光のうち、有害光が含まれやすい光軸近傍の光が検出器４４に導かれることを抑制すると共に、有害光が含まれにくい光軸から離れた位置を通過する光を、検出器４４に導く。有害光除去部は、光軸近傍の光を、反射、遮光、又は、透過することで、検出器４４に導かれることを抑制する。結果、被検眼Ｅによるレーザー光の反射光のうち、有害光除去部を通過した反射光が検出器４４に導かれる。このとき、有害光除去部は、観察部位からの反射光を受光素子に導く一方で、観察部位とは前後する位置で散乱又は反射された光を遮光してもよい。その結果として、正面画像においてフレアおよびゴースト等が抑制される。
【００１６】
本実施形態において、ＯＣＴ光学系２と、ＳＬＯ光学系３とは、検出器４４を共用している。このため、被検眼Ｅの断層画像と正面画像とは、いずれも、共用の検出器４４からの信号に基づいて形成される。検出器４４に少なくとも１つ含まれる受光素子が、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と、被検眼Ｅからのレーザー光の反射光と、をそれぞれ受光する。このような受光素子は、例えば、１つの受光部からなるポイントセンサであってもよいし、画素が一方向に並べられたラインセンサ（一次元受光素子）であってもよい。
【００１７】
例えば、ＯＣＴ光学系２がＳＳ−ＯＣＴ方式であり、ＳＬＯ光学系３がポイントスキャンＳＬＯ方式である場合、ポイントセンサが受光素子として用いられてもよい。この場合、２つの光学系で共用される受光素子を複数、或いは、共用される受光素子とは別に１以上の受光素子を設けることで、検出器４４を平衡検出器として構成してもよい。平衡検出器（Balanced Detector）を用いる場合、撮影装置１は、複数の受光素子からの干渉信号の差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減することができる。その結果、断層画像の品質が向上する。
【００１８】
また、ＯＣＴ光学系２がＳＤ−ＯＣＴ方式であり、ＳＬＯ光学系３がラインスキャンＳＬＯ方式である場合、ラインセンサが、受光素子として用いられてもよい。この場合、検出器４４は、例えば、光結合部３５から導かれる合成光を、周波数成分に分光してラインセンサに受光させる分光光学系（スペクトルメータ）であってもよい。分光光学系は、ラインセンサと、光結合部３５との間に、回折格子を設けることで、形成できる。一方、ＳＬＯ光学系３からの被検眼Ｅによるレーザー光の反射光は、周波数成分ごとに分光されることなく（例えば、上記の回折格子を介さないで）、ラインセンサに導かれるようにしてもよい。
【００１９】
共用の検出器４４から、被検眼Ｅの断層画像と正面画像とを、それぞれ取得するためには、例えば、測定光の照射とレーザー光の照射とが、互いに異なるタイミングで行われるように、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とがそれぞれ制御されてもよい。この場合、光源１１と光源５１とが制御されてもよい。また、例えば、光源１１と被検眼Ｅとの間、光源５１と被検眼Ｅとの間、のそれぞれに、シャッターを設け、それぞれのシャッターが互い違いに開閉されるように制御することで、測定光と、レーザー光とが、被検眼Ｅに対して切り替えて照射されるようにしてもよい。測定光の照射とレーザー光の照射とが互いに異なるタイミングで行われる場合、検出器４４からの受光信号に基づいて断層画像を形成する処理と、正面画像を形成する処理と、が切替えて実行されてもよい。その結果として、共用の検出器４４から、被検眼Ｅの断層画像と正面画像とが、それぞれ取得される。
【００２０】
このようにして、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とで、検出器４４を共用することで、例えば、装置をコンパクトに構成しやすくなる。また、装置を安価に製造しやすくなる。
【００２１】
ＯＣＴ光学系２と、ＳＬＯ光学系３とには、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と、被検眼Ｅからのレーザー光の反射光と、を分離する光分離部（光分離光学系）が設けられていてもよい。光分離部は、被検眼Ｅからの測定光の戻り光が、ＳＬＯ光学系３における有害光除去部（共焦点アパーチャ６２および穴開きミラー５３等）を通過して検出器４４に導かれること、及び、被検眼Ｅによるレーザー光の反射光が、ＯＣＴ光学系２における光結合部３５を経て検出器４４に導かれること、をそれぞれ妨げる（換言すれば、抑制する）。これにより、断層画像と正面画像とのいずれか一方を撮影する場合に、その撮影結果に、他方を撮影するための光学系から回り込んだノイズ光が影響することが抑制される。
【００２２】
例えば、光分離部は、波長選択的に光を分離する光学素子であってもよい。この場合、光分離部には、測定光の波長域と、レーザー光の波長域とを分離させる特性を持つ光学素子（換言すれば、波長分離光学部材）が含まれてもよい。より具体的には、光分離部には、ダイクロイックミラーおよびフィルタ等の少なくともいずれかが含まれてよい。光分離部にダイクロイックミラーが含まれる場合、そのダイクロイックミラーは、ＯＣＴ光学系２の光路と、ＳＬＯ光学系３の光路と、の結合および分岐の少なくとも何れかに利用されてもよい。例えば、図１に示す光学系では、ビームスプリッタ２８，４２のうち、少なくとも一方が、上記の光分離部として利用されるダイクロイックミラーであってもよい。光分離部として、ビームスプリッタ２８のように、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３との光路の分岐と、波長分離とを同時に行う光学素子が用いられることで、光学系における光量の損失が抑制できる。
【００２３】
なお、図１の例において、ビームスプリッタ２８は、測定光とレーザー光との光路を結合することにより、測定光とレーザー光とを共通光路にて被検眼Ｅに導く。また、共通光路を逆に辿る測定光の戻り光を，および，レーザー光の反射光を分岐させる。これにより、測定光の戻り光を、光結合部３５へ案内し、且つ、レーザー光の反射光を、共焦点アパーチャ６２へ案内する。また、ビームスプリッタ４２は、共焦点アパーチャ６２を通過したレーザー光の反射光と光結合部３５からの合成光との光路を結合することにより、それぞれの光を同軸にして検出器４４に導く。なお、他に光分離部が設けられている場合、ビームスプリッタ４２の代わりにカップラ等の他の光結合素子を設け、この光結合素子でレーザー光の反射光と光結合部３５からの合成光との光路を結合するようにしてもよい。
【００２４】
また、ビームスプリッタ２８と被検眼Ｅとの間に形成されるＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３との共通光路には、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とで、共用される部材が配置されてもよい。一例として、図１では、対物レンズ系２９（対物光学系の一態様）が共通光路に置かれている。但し、必ずしもこれに限られるものではなく、例えば、光スキャナおよび視度調整機構等が、この共通光路に配置されることで、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とに共用されてもよい（詳細は後述する）。
【００２５】
また、ＯＣＴ光学系２と、ＳＬＯ光学系３とは、光源を共用してもよい。この場合、例えば、ＯＣＴ光学系２の光源１１が、ＳＬＯ光学系の光源として利用されてもよい。このとき、測定光の戻り光に基づいて検出器４４から出射される受光信号には、様々な波長成分、および、参照光の成分を含み得る。そこで、画像処理部（例えば、制御部７０、図２参照）は、参照光の成分を含まず、分光された状態の戻り光の強度情報を、検出器４４からの受光信号から取得し、各波長成分のなかから予め選択された一定の波長成分の強度情報に基づいて、正面画像を形成するようにしてもよい。これにより、例えば、検出器４４だけでなく、光源も共用して、被検眼Ｅの断層画像と正面画像とを、それぞれ取得できる。
＜第１実施例＞  
図１を参照して、第１実施例における撮影装置１を説明する。第１実施例における撮影装置１は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）２と、ＳＬＯ光学系３と、固視標投影光学系４と、演算制御部（ＣＰＵ）７０と、メモリ７２、モニタ７５、を含む。その他、ＯＣＴ装置１には、図示無き、前眼部観察光学系が設けられていてもよい。
【００２６】
ＯＣＴ光学系２は、ＳＳ−ＯＣＴ（Swept Source-OCT）方式が用いられ、光源１１として出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）が用いられる。光源１１は、出射光の波長を変化させる。検出器４４は、例えば、受光素子からなる平衡検出器が設けられる。受光素子は、受光部が一つのみからなるポイントセンサであって、例えば、アバランシェ・フォト・ダイオードが用いられる。
【００２７】
光源１１は、例えば、レーザ媒体、共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタが挙げられる。
【００２８】
本実施例では、瞬間輝線幅が短く、共振器長が短い光源としてＡＸＳＵＮ社のTUNABLE LASER が用いられる（例えば、λc=1060nm、Δλ=110nm、δλ=0.055nm、共振器長~14mm）。このような波長可変光源は、例えば、米国公開２００９／００５９９７１号に記載されている。
【００２９】
ＯＣＴ光学系２は、光源１１から出射された光をカップラ（スプリッタ）１２によって測定光（測定光）と参照光に分割する。
【００３０】
ＯＣＴ光学系２は、測定光学系２０によって測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系３０に導く。ＯＣＴ光学系２は、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光との合成によって取得される干渉光を検出器（受光素子）４４に受光させる。
【００３１】
測定光学系２０には、光ファイバー２１、サーキュレータ２２、光ファイバー２３、コリメータレンズ２４、フォーカスレンズ２５、ミラー２６、光スキャナ２７、ビームスプリッタ２８、対物レンズ２９、が順次設けられている。フォーカスレンズ２５は、光軸方向に移動され、被検物に対するフォーカスを調整するために用いられる。駆動部２５ａが光軸に沿ってフォーカスレンズ２５を変位させることで、ＯＣＴ光学系２における視度補正が行われる。
【００３２】
光ファイバー２１に入射した測定光は、サーキュレータ２２、光ファイバ２３を介して、フォーカスレンズ２５によって集光された後、コリメータレンズ２４によって平行ビームに変換され、ガルバノミラー２７ａとガルバノミラー２７ｂで構成される光スキャナ２７によって反射方向が変えられる。そして、光スキャナ２７によって偏向された測定光は、ビームスプリッタ２８へ照射される。詳細は後述するが、ビームスプリッタ２８は、光源１１から出射される波長域の光を反射するダイクロイックミラーである。ビームスプリッタ２８は、測定光を反射し、対物レンズ２９に導く。測定光は、対物レンズ２９によって平行ビームとなって被検眼Ｅに入射し、眼底Ｅｆに照射される。
【００３３】
光スキャナ２７は、眼底Ｅｆ上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させる。光スキャナ２７は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ２７は、例えば、２つのガルバノミラー２７ａ、２７ｂであり、その反射角度が駆動機構２７ｃによって任意に調整される。光スキャナ２７は、駆動部（ドライバ）２７ｃに入力される制御信号に基づいて動作する。
【００３４】
光源１１から出射された光束は、その反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。光スキャナ２７としては、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
【００３５】
測定光の眼底Ｅｆからの後方散乱光（反射光）は、対物レンズ２９を経て、ダイクロイックミラー２８で反射されることによって、測定光学系２０の光路を逆に辿り、サーキュレータ２２に導かれる。その後、測定光の反射光は、光結合部（カップラ）３５によって参照光と合波されて干渉する。
【００３６】
参照光学系３０は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系３０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系３０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラ１２からの光を反射光学系により反射することにより、光結合部３５を介して、検出光学系４０（つまり、検出器４４）へ導く。他の例としては、参照光学系３０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラ１２からの光を戻さず透過させることにより検出光学系４０へと導いてもよい。
【００３７】
撮影装置１は、測定光と参照光との光路長差を調整するためにＯＣＴ光学系２に配置された光学部材の少なくとも一部を光軸方向に移動させる。例えば、参照光学系３０は、参照光路中の光学部材（例えば、参照ミラー３３）を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を調整する構成を有する。例えば、駆動機構３３ａの駆動によって参照ミラー３３が光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系２０の測定光路中に配置されてもよい。測定光路中に配置された光学部材（例えば、光ファイバーの端部）が光軸方向に移動される。
【００３８】
測定光と参照光とが合成された干渉信号光は、光結合部３５、およびファイバ４１を介して、検出光学系４０に導かれる。図１に示す検出光学系４０は、ビームスプリッタ４２、レンズ４３、検出器４４を備える。第１実施例において、ビームスプリッタ４２は、光源１１から出射される波長域の光を透過するダイクロイックミラーである。干渉信号光は、ビームスプリッタ４２によって透過されることによって、レンズ４３を介して検出器４４により受光される。検出器４４は、干渉信号光を検出する。
【００３９】
光源１１により出射波長が変化されると、これに対応する干渉信号光が検出器４４に受光され、結果的に、スペクトル干渉信号光として検出器４４に受光される。検出器４４から出力されたスペクトル干渉信号は、制御部７０に取り込まれ、このスペクトル干渉信号に基づき、深さプロファイルが形成される。
【００４０】
制御部７０は、光スキャナ２７の駆動を制御し、眼底Ｅｆ上で測定光を横断方向に走査させる。制御部７０は、各走査位置での深さプロファイルを順次並べることにより眼底断層画像を形成させる。
【００４１】
ＳＬＯ光学系２は、照射光学系５０と、受光光学系６０と、を有している。照射光学系５０は、被検眼Ｅの眼底Ｅｒにレーザー光（照明光）を照射する。本実施形態において、照射光学系５０には、光源５１、集光レンズ５２、穴開きミラー５３、フォーカスレンズ５４、光スキャナ５５、ビームスプリッタ２８、および、対物レンズ２９が含まれる。
【００４２】
光源５１は、照射光学系５０の光源である。光源５１には、レーザー光を出射する光源（例えば、レーザーダイオード（LD）、スーパールミネッセントダイオード（SLD）等）が用いられてもよい。本実施例において、光源５１は、単色光（より詳細には、赤外光）を出射する光源を有するものとして説明する。但し、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、光源５１は、複数の光源を有していてもよく、この場合、複数色の光を同時に、又は選択的に出射する構成であってもよい。また、光源５１から出射される光の波長も、赤外域に限らず、例えば、可視域等の波長であってもよい。
【００４３】
光源５１から出射されるレーザー光は、集光レンズ５２を経て穴開きミラー５３に形成された開口部を通り、フォーカスレンズ５４を介した後、光スキャナ５５に向かう。光スキャナ５５によって反射されたレーザー光は、対物レンズ２９を通過した後、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射される。その結果として、眼底Ｅｒで反射・散乱される光が瞳孔から出射される。
【００４４】
フォーカスレンズ５４は、駆動機構５４ａによって、光軸Ｌ１方向へ移動可能に構成されている。レンズ５４の位置に応じて、照射光学系５０および受光光学系６０の視度が変わる。本実施形態では、フォーカスレンズ５４の位置を調節することによって、被検眼Ｅの視度の誤差を矯正（軽減）する。その結果として、レーザー光の集光位置を眼底Ｅｒの観察部位（例えば、網膜表面）に調節することができる。
【００４５】
光スキャナ５５は、レーザー光の進行方向を変える（レーザー光を偏向する）ことで、眼底上でレーザ光を二次元的に走査する。光スキャナ５５は、例えば、レゾナントスキャナ５５ａと、ガルバノミラー５５ｂと、を有する。レゾナントスキャナ５５ａによって、Ｘ方向にレーザー光の主走査が行われる。また、ガルバノミラー５５ｂによって、Ｙ方向にレーザー光の副走査が行われる。光スキャナ５５としては、例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられてもよい。
【００４６】
光スキャナ５５を経たレーザー光は、ビームスプリッタ（本実施例では、ダイクロイックミラー）２８に照射される。ビームスプリッタ２８は、レーザー光の波長域を透過する特性を持つ。結果、レーザー光は、ビームスプリッタ２８を通過して対物レンズ２９に導かれることで、平行光とされて被検眼の眼底Ｅｒに照射される。眼底Ｅｒに照射されたレーザー光は、集光位置（例えば、網膜表面）にて反射される。眼底Ｅｒによる反射光は、平行光として瞳孔から出射する。
【００４７】
受光光学系６０は、眼底Ｅｒによるレーザー光の反射光を、穴開きミラー５３および共焦点アパーチャ６２を介して検出器４４に受光させる。照射光学系５０からのレーザー光に伴う眼底Ｅｒからの光を検出器４４で受光する。例えば、受光光学系６０は、レンズ６１、共焦点アパーチャ６２、レンズ６３、ビームスプリッタ４２、レンズ４３、および、検出器４４、を有してもよい。共焦点アパーチャ６２は、眼底Ｅｒと共役な位置に配置されており、後述するように共焦点絞りとして機能する。また、受光光学系６０は、対物レンズ２９から穴開きミラー５３までに配置された各部材を、照射光学系５０と共用している。その結果として、本実施例では、被検眼Ｅから穴開きミラー５３までの光路が、照射光学系５０および受光光学系６０の共通部分として形成されている。
【００４８】
第１実施例では、ＯＣＴ光学系２の光スキャナ２７と、ＳＬＯ光学系３の光スキャナ５５とが、別々に設けられている。１フレームの正面画像をＳＬＯ光学系３で得るためには、多数の主走査が必要なので、ＳＬＯ光学系３の光スキャナ５５には、ＯＣＴ光学系２の光スキャナよりも高速で動作するスキャナを採用することが望ましい。本第１実施例では、ＯＣＴ光学系２の光スキャナ２７と、ＳＬＯ光学系３の光スキャナ５５とが、別々に設けられているので、各光学系２，３で、走査速度の異なる光スキャナを採用できる。結果、断層画像と、正面画像とを、それぞれ良好に取得できる。
【００４９】
被検眼Ｅの眼底Ｅｒにレーザー光が照射される場合、眼底からの反射光は、前述した照射光学系５０を逆に辿り、穴開きミラー５３を照射する。なお、穴開きミラー５３は、その開口が被検眼Ｅの瞳位置と共役な関係となる位置に配置される。眼底Ｅｒからの光のうち、瞳孔の周辺部（つまり、瞳孔の外周に近い瞳孔内領域）を通った光が、穴開きミラー５３のミラー部によって反射され、検出器４４の配置された光路に導かれる。一方、瞳孔の中心部を通った眼底Ｅｒからの光は、対物レンズ２９のレンズ面および角膜等のいずれかに基づく有害光（例えば、対物レンズ２９の反射光、角膜反射光）と共に穴開きミラー５３の開口部１３ａを通過する。結果、有害光の一部が穴開きミラーで取り除かれる。
【００５０】
穴開きミラー５３によって反射された光は、レンズ６１によって集光される。フォーカスレンズ５４による視度補正が適正に行われた場合において、レンズ６１を介した光は、共焦点アパーチャ６２のピンホール（つまり、開口）に焦点を結ぶ。つまり、この場合、ピンホールが眼底共役位置に配置される。ピンホールによって、対物レンズ２９のレンズ面および角膜等のいずれかに基づく有害光が更に取り除かれた眼底反射光が、ピンホールを通過する。ピンホールを経た光は、レンズ６３を介して、ビームスプリッタ４２に照射される。本実施例において、ビームスプリッタ４２は、レーザー光の波長域を反射するダイクロイックミラーである。よって、レーザー光の眼底反射光は、ビームスプリッタ４２によって反射されることにより、更に、レンズ４３を介して検出器４４に導かれる。１フレーム分のレーザー光の走査が光スキャナ５５によって行われる度に、検出器４４から出力される１フレーム分の受光信号が画像処理部（図示を省略する）によって処理され、その結果、１フレームの眼底画像が生成される。
【００５１】
本実施形態では、ビームスプリッタ２８，４２が、それぞれ、ＯＣＴ光学系２による測定光と、ＳＬＯ光学系３によるレーザー光とを分離する。図１の例において、ビームスプリッタ２８は、測定光を反射すると共に、レーザー光を透過する特性を持つ。ビームスプリッタ２８によって、測定光（又は、測定光の戻り光）とレーザー光（又は、レーザー光の眼底反射光）との分離が行われる。また、同時に、被検眼Ｅによる測定光の反射光の光路と、被検眼Ｅによるレーザー光の反射光の光路とが、ビームスプリッタ２８によって分岐される。一方、ビームスプリッタ４２は、被検眼Ｅによる測定光の反射光の光路と、被検眼Ｅによるレーザー光の反射光の光路と、を同軸にする。ビームスプリッタ４２は、ビームスプリッタ２８とは、図１の例では、反射／透過特性が反対になっている（つまり、測定光を透過すると共に、レーザー光を反射する）。なお、上記したビームスプリッタ２８，４２の反射／透過特性は、一例に過ぎない。測定光の戻り光の光路と、レーザー光の反射光の光路との分岐、および結合のそれぞれに、測定光を透過すると共に、レーザー光を反射する特性を持つビームスプリッタ、および、測定光を反射すると共に、レーザー光を透過する特性を持つビームスプリッタのうち、いずれが利用されてもよい。
【００５２】
このように、光分離部として、ダイクロイックミラーを設けることにより、測定光およびレーザー光の光量のロスが抑制される。結果、断層画像および正面画像を良好に得ることができる。
【００５３】
また、第１実施例において、撮影装置１は、固視光学系８０を更に備える。固視光学系８０は、被検眼Ｅに固視標を投光する。固視光学系８０は、光源（固視灯）８１と、レンズ８２と、ビームスプリッタ８３と、対物レンズ２９と、を含む。光源８１は、固視灯であって、可視光を出射する。光源１１から出射される光は、レンズ８２を介して、ビームスプリッタ８３で反射される。その後、対物レンズ２９を介して、眼底Ｅｒに結像される。これにより、被検眼Ｅは固視が可能となる。なお、第１実施例のように、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３との光スキャナが、独立に設けられている場合は、ＳＬＯ光学系３の光源５１を、ＯＣＴ光学系２の固視灯として利用してもよい。
【００５４】
次に、図２を参照して撮影装置１の制御系を説明する。制御部７０は、撮影装置１の装置全体の制御を行うプロセッサ（例えば、ＣＰＵ）である。本実施形態では、制御部７０が画像処理部を兼用する。例えば、検出器４４からの受光信号は制御部７０に入力され、制御部７０が受光信号から各種画像（断層画像、正面画像）を形成する。
【００５５】
本実施形態において、制御部７０には、メモリ７２、モニタ７５、等が電気的に接続される。また、制御部７０には、光源１１，５１，８１、駆動部２５ａ，２７ｃ，５４ａ，５５ｃ、検出器４４等が電気的に接続される。
【００５６】
メモリ７２は、各種の制御プログラムおよび固定データを格納する。また、７２には、撮影装置１によって撮影された画像、一時データ等が記憶されてもよい。
【００５７】
制御部７０は、光源１１と光源５１を交互に点灯させることによって被検眼の眼底像を得るために被検眼の眼底に照射される光を，ＯＣＴ光学系２を介して照射される測定光とＳＬＯ光学系３を介して照射されるレーザ光とで切り換える。これにより、制御部７０には、検出器４４への合成光の受光結果としての受光信号と、検出器４４へのレーザーの反射光の受光結果としての受光信号とが、逐次入力される。このとき、制御部７０は、例えば、ＯＣＴ光学系２のＢスキャン画像と、ＳＬＯ光学系２よる正面画像とが、１フレームずつ交互に取得されるように、光源と、画像処理とを同期して切り替えてもよい。制御部７０は、このような制御を連続して行い、交互に得られたＢスキャン画像及び正面画像を、モニタ７５に対して、同時に動画として表示させてもよい。
＜第２実施例＞
次に、図３を参照して第２実施例に係る撮影装置１について説明する。なお、ここでは、第１実施例との相違点を中心に説明を行い、第１実施例と同様の構成については、同様の符号を付し、詳細な説明を省略する。第２実施例に係る撮影装置１は、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とにおいて共用される部材として、対物レンズ２９と検出器４４との他に、フォーカスレンズ１０１、光スキャナ１０２、を有する。つまり、第１実施例においてＯＣＴ光学系２に設けられた光スキャナ２７と、ＳＬＯ光学系３に設けられた光スキャナ５５とが、図３の例では、共用の光スキャナ１０２に置き換えられている（図１、図３参照）。また、第１実施例においてＯＣＴ光学系２に設けられたフォーカスレンズ５４と、ＳＬＯ光学系３に設けられたフォーカスレンズ２５とが、図３の例では、共用のフォーカスレンズ１０１に置き換えられている（図１、図３参照）。
【００５８】
第２実施例では、２つの光学系２，３で共用される光スキャナ１０２によって、光源５１からのレーザー光と，光源１１からの測定光と，がそれぞれ被検眼において走査される。光スキャナ１０２は、例えば、走査する方向が互いに異なる２つのスキャナを含んでいてもよい。各スキャナには、例えば、ガルバノミラー、音響光学素子（ＡＯＭ）等を用いることができる。勿論、これら以外のスキャナが利用されてもよい。
【００５９】
また、共用のフォーカスレンズ１０１によって、各光学系２，３における視度補正が、まとめて行われる。
【００６０】
このように、第２実施例では、第１実施例と比べて、更に、フォーカスレンズ１０１、光スキャナ１０２とをＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とにおいて共用しているので、装置サイズが一層抑制されやすい。また、装置コストが抑制されやすい。
【００６１】
なお、第２実施例では、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とが、すべての光スキャナを共用する場合について示したが、必ずしもこれに限られるものではない。ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とが、少なくとも１つの光スキャナを共用する構成であってもよい。
【００６２】
＜第３実施例＞
次に、図４を参照して第３実施例に係る撮影装置１について説明する。なお、ここでは、第１実施例との相違点を中心に説明を行い、第１実施例と同様の構成については、同様の符号を付し、詳細な説明を省略する。
【００６３】
第３実施例に係る撮影装置１は、ＯＣＴ光学系２における測定光学系２０を、ＳＬＯ光学系３の投光光学系として兼用する。換言すれば、ＯＣＴ光学系２において測定光の導波路となるファイバーの少なくとも一部が、ＳＬＯ光学系３の投光光学系に含まれる。
【００６４】
図４の例において、ＳＬＯ光学系３の光源５１からの光は、ファイバ１５１によって、カップラ１２に導光される。これにより、光源５１からの光は、ＯＣＴ光学系２の測定光学系２０を介して、被検眼Ｅに導かれる。即ち、図４の例では、光源１１，５１からの光は、カップラ１２を経た後、光ファイバ２１、サーキュレータ２２、光ファイバ２３を介して、コリメートレンズ２４に入射されて、平行光束となる。
【００６５】
図４の例では、コリメートレンズ２４と、フォーカスレンズ２５（或いは、光スキャナ２７）との間に、ハーフミラー２０１が配置されている。このハーフミラー２０１は、測定光の戻り光と、レーザー光の反射光とを分離するために使用される（詳細は後述する）。コリメートレンズ２４を通過した平行光は、ハーフミラー２０１を透過した後、フォーカスレンズ２５、光スキャナ２７、対物レンズ２９を介して被検眼Ｅの眼底に照射される。
【００６６】
測定光の戻り光、およびレーザー光の反射光は、被検眼Ｅからハーフミラー２０１までの光路を逆に辿り、ハーフミラー２０１によって分岐される。図４の例では、ハーフミラー２０１を透過した光が、ＳＬＯ光学系２の光結合部３５にて、参照光と合波される。また、図４の例では、ハーフミラー２０１によって反射される光が、ファイバ２０２を経て、ＳＬＯ光学系３の受光光学系６０へと導かれる。
【００６７】
ここで、図４の例において、ビームスプリッタ４２は、光分離部として利用されるダイクロイックミラーである。つまり、ビームスプリッタ４２は、測定光の波長域の光を透過すると共に、レーザー光の波長域の光を反射する。光結合部３５からの光に含まれるレーザー光の反射光成分、および、共焦点アパーチャ６２からの光に含まれる測定光の戻り光成分は、いずれも、ビームスプリッタ４２で除去される。その結果、第３実施例においても、断層画像と正面画像とのいずれか一方を撮影する場合に、その撮影結果に、他方を撮影するための光学系から回り込んだノイズ光が影響することが抑制される。第３実施例では、ＳＬＯ光学系２において、光ファイバ２１等、光源５１以外の投光光学系の構成を、ＯＣＴ光学系３と共用できるので、更に一層、装置サイズが抑制されやすい。また、装置コストが抑制されやすい。
【００６８】
＜第４実施例＞
次に、図５を参照して第４実施例に係る撮影装置１について説明する。なお、ここでは、第３実施例との相違点を中心に説明を行い、第３実施例と同様の構成については、同様の符号を付し、詳細な説明を省略する。
【００６９】
図５に示す撮影装置１は、光源および検出器を、ＯＣＴ光学系２と、ＳＬＯ光学系と、で兼用する装置の一例である。図５の例では、正面画像撮影用（ＳＬＯ撮影用）の光が光源１１から出射される測定光に含まれており、これにより、光源１１がＳＬＯ光学系３と共用の光源として利用される。また、図５の例では、ＯＣＴ光学系２全体を、ＳＬＯ光学系として兼用している。図５では、光源１１から被検眼Ｅまでの測定光の光路がＳＬＯ光学系によるレーザー光の投光光路として利用される。また、図５では、被検眼Ｅから検出器４４までの戻り光の光路が、レーザー光の眼底反射光の受光光路として利用される。
【００７０】
光源１１は、上記各実施例と同様、出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）であってもよい。第４実施例では、検出器４４に入射される測定光の戻り光に基づいて正面画像が形成される。例えば、制御部７０は、光源１１において、走査可能な波長の範囲のうち、予め選択された一定の波長の光に対する検出結果に基づいて、正面画像を形成してもよい。この場合、制御部７０は、波長毎に分光された状態における受光信号の強度情報を、検出器４４からの受光信号に基づいて取得し、そのうち、予め選択された一定の波長における強度情報に基づいて正面画像を取得してもよい。例えば、制御部７０は、光源１１において波長の走査を行いつつ、光源１１から一定の光が出射されるタイミングでの受光信号を、一定の波長における受光信号の強度情報として取得してもよい。また、制御部７０は、光源１１から出射される光の波長を一定に制御することで、一定の波長における強度情報が受光信号として検出器４４から出力されるようにしてもよい。
【００７１】
なお、光源１１において、走査可能な波長の範囲のうち、正面画像を形成するために利用される波長は、少なくとも２つ以上が予め選択されていてもよい。換言すれば、第１の波長と、第１の波長とは異なる第２の波長とが、少なくとも選択されていてもよい。この場合、制御部７０は、第１の波長における強度情報に基づいて第１の正面画像を形成し、第２の波長における強度情報に基づいて第２の正面画像（第１の正面画像とは別個の画像）を形成してもよい。
【００７２】
一方、第４実施例において、断層画像は、第１〜第３実施例と同様、合成光の入射に基づいて検出器４４が逐次出力する受光信号（干渉信号）へのフーリエ変換の結果として形成される。
【００７３】
図５の撮影装置１は、検出器４４に入射される光を、測定光の戻り光と参照光と合成光（干渉信号光）、および、測定光の戻り光（つまり、参照光と合成されていない戻り光）と、に切り替える制御が行われてもよい（詳細は後述する）。この場合、制御部７０は、検出器４４に入射させる光を切換度に、検出器４４からの受光信号に基づいて断層画像を形成する処理と、正面画像を形成する処理と、を切換えて実行することで、断層画像および正面画像をそれぞれ取得できる。
【００７４】
ここで、図５の例では、ＳＬＯの光源として、出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）が用いられているので、正面画像の画像形成方法は、上記各実施例と異なる。
【００７５】
また、第４実施例の撮影装置１は、検出器４４に入射される光を、測定光の戻り光と参照光と合成光（干渉信号光）、および、測定光の戻り光（つまり、参照光と合成されていない戻り光）と、に切り替えるための検出光切替部を有する。例えば、検出光切替部は、光学的、電気的、或いは音響的に、光結合部３５への参照光を導く状態と、遮断する状態と、に切り替わる部材であってもよい。検出光切替部には、例えば、シャッター、フィルタ、ミラー、音響光学素子等を利用してもよい。図５の例において、制御部７０は、断層画像を取得する間は、検出器４４に合成光が入射されるように光切替部を制御し、正面画像を取得する間は、検出器４４に測定光の戻り光が入射されるように光切替部を制御する。
【００７６】
図５の例では、参照光学系３０の光路上に、参照光の遮光と透過とを切換える音響光学素子３０１が、検出光切替部として配置される。音響光学素子３０１が参照光を遮光することで、検出器４４には、測定光の戻り光が入射される。また、音響光学素子３０１が参照光を透過することで、検出器４４には、合成光が入射される。
【００７７】
光ファイバ２３の光スキャナ２７側の端部が、眼底と共役な位置に置かれてもよい。眼底の集光点からの光がこの端部に入射される一方で、有害光は、その多くが、端部に入射されずに除去される。つまり、第１から第３実施例で示したＳＬＯ光学系３の共焦点アパーチャ６２の代わりに、光ファイバ２３の光スキャナ２７側の端部によって、有害光が除去される。
【００７８】
このように、第４実施例によれば、光源および検出器が、ＯＣＴ光学系２と、ＳＬＯ光学系と、で兼用されるので、更に一層、装置サイズが抑制されやすい。また、装置コストが抑制されやすい。特に、図５の例では、ＳＬＯ光学系のための特別な光学構成を必ずしも必要としないので、装置をより簡素化できる。
【００７９】
＜変形例＞
以上、実施形態に基づいて本開示を説明したが、本開示は、上記実施形態に限定されることなく、様々な変形が可能である。
【００８０】
例えば、上記実施形態において、少なくとも１枚の対物レンズからなる対物光学系を示したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、対物光学系は、ミラー系で形成されてもよい。また、レンズ系とミラー系との組み合わせによる対物光学系であってもよい。
【００８１】
また、上記各実施形態では、ＯＣＴ光学系２およびＳＬＯ光学系３における視度補正光学系として、フォーカスレンズ２５，５４，１０１が使用される場合について説明した。しかし、しかし、必ずしもこれに限られるものではなく、視度補正光学系としては、バダールなどの他の光学系が適用されてもよい。
【００８２】
また、例えば、第１または第２実施例において、測定光とレーザー光との光路を結合するビームスプリッタ２８は、跳ね上げミラーで置き換えられてもよい。この跳ね上げミラーは、投光光学系５０の光路中に斜めに配置されることにより、レーザー光を遮りつつ、測定光を反射して測定光を被検眼Ｅに導く状態と、投光光学系５０の光路から退避されることにより、測定光を光路外に導きつつ、レーザー光を被検眼Ｅに導く状態とに切り替えられてもよい。つまり、跳ね上げミラーによって、有害光除去部を通過する測定光の戻り光、および、光結合部３５を通過するレーザー光の反射光、のそれぞれが検出器４４に入射されることが妨げられる。ビームスプリッタ２８が跳ね上げミラーで置き換えられた場合、波長選択性を有する上述した光分離部は、必ずしも撮影装置１において必要とされない。
【００８３】
また、第１実施例のように、ＯＣＴ光学系２とＳＬＯ光学系３とが、各々個別に光スキャナを有する場合、図６に例示するような光学構成を採用してもよい。
【００８４】
なお、図６には、光スキャナ２７から被検眼ＥまでのＯＣＴ光学系２、光スキャナ５５から被検眼ＥまでのＳＬＯ光学系３を示している。光スキャナ２７から検出器４４までのＯＣＴ光学系２、および光スキャナ５５から検出器４４までのＳＬＯ光学系３は、第１実施例と同様の光学構成であってもよい。
【００８５】
図６では、光スキャナ２７と被検眼Ｅとの間にレンズ４０２を配置することで、光スキャナ２７の共役点が、光スキャナ２７と被検眼Ｅとの間であって、ＳＬＯ光学系３におけるレーザー光の光路外に形成されている。図６では、この共役点にミラー４０１が設けられることによって、ＯＣＴ光学系２の光路とＳＬＯ光学系３の光路とを、略同軸にすると共に、測定光の戻り光とレーザー光の反射光とを分離できる。
【００８６】
また、図６の例では、光スキャナ５５と被検眼Ｅとの間にレンズ４０３を配置することで、光スキャナ５５の共役点を、ミラー４０１が置かれる光スキャナ２７の共役点の近傍に形成している。これにより、ＳＬＯ光学系３の光路を遮らずに、ＯＣＴ光学系２の光路とＳＬＯ光学系３の光路とのずれを軽減できる。
【００８７】
なお、図６の例では、光スキャナ２７と被検眼Ｅとの間に形成される光スキャナ２７の共役点にミラー４０１を設け、これにより、ＯＣＴ光学系２の光路とＳＬＯ光学系３の光路との結合、および分離を行う場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、、光スキャナ５５と被検眼Ｅとの間に形成される光スキャナ５５の共役点にミラーを設けてもよい。
【符号の説明】
【００８８】
１    眼科撮影装置
２    ＯＣＴ光学系
３    ＳＬＯ光学系
１１  光源
２７  光スキャナ
２８  ビームスプリッタ
４２  ビームスプリッタ
４４  検出器
５１  光源
５３  穴開きミラー
５５  光スキャナ
６２  共焦点アパーチャ
７０  制御部
１０２  光スキャナ
Ｅ    被検眼
【図１】
2017029483.tif 000003
【図２】
2017029483.tif 000004
【図３】
2017029483.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
2017029483.tif 000008