(57)【要約】【課題】表示パネルの劣化を検出可能な表示装置を提供する。【解決手段】表示装置は、表示領域に配置された複数の画素に接続された信号線又は走査線と、信号線又は走査線に抵抗を介して駆動信号を供給するドライバと、抵抗と信号線との間のノード、又は、抵抗と走査線との間のノードの応答特性をモニタリングする異常検出部と、を備える。【選択図】図２
2017181574.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示領域に配置された複数の画素に接続された信号線又は走査線と、
前記信号線又は前記走査線に抵抗を介して駆動信号を供給するドライバと、
前記抵抗と前記信号線との間のノード、又は、前記抵抗と前記走査線との間のノードの応答特性をモニタリングする異常検出部と、
を備える、
表示装置。
【請求項２】
前記異常検出部は、
前記抵抗と前記信号線との間のノード、又は、前記抵抗と前記走査線との間のノードに生じる前記駆動信号の応答特性の変化に基づき、前記表示領域の異常検出動作を行う、
請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記異常検出部は、
前記駆動信号の応答特性が所定の範囲外であるときに、前記表示領域に異常が発生したものとして検出する、
請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記異常検出部は、
前記ドライバに対して所定のテストパターンを出力し、
前記テストパターンに応じて前記ドライバから出力される前記駆動信号に対して予め設定された判定基準電圧と判定タイミングとに基づき、前記異常検出動作を行う、
請求項２又は請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記テストパターンは、所定時刻において第１電位から第２電位に変位する階段状波形の信号である、
請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記異常検出部は、
前記判定基準電圧として電圧閾値が設定され、
前記異常検出動作において正常判定する前記判定タイミングとして、前記駆動信号の電圧値が前記電圧閾値となる所定期間が設定されている、
請求項５に記載の表示装置。
【請求項７】
前記異常検出部は、
前記判定タイミングとして前記所定時刻からの経過時間が設定され、
前記異常検出動作において正常判定する前記判定基準電圧として、前記所定時刻から前記経過時間後における前記駆動信号の電圧範囲が設定されている、
請求項５に記載の表示装置。
【請求項８】
前記異常検出部は、
前記異常検出動作における異常判定結果を格納する判定結果格納部を備える、
請求項２乃至請求項７の何れか一項に記載の表示装置。
【請求項９】
前記異常検出部は、
前記判定結果格納部に格納された前記異常判定結果に基づき、所定の異常時処理を行う異常時処理部を備える、
請求項８に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記異常時処理部は、
前記異常検出動作における異常判定結果が連続して前記判定結果格納部に格納された回数が所定回数となった場合に、前記異常時処理を行う、
請求項９に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記異常時処理部は、
前記異常検出動作における異常判定結果が前記判定結果格納部に格納された累積回数が第１所定回数となった場合に、前記異常時処理を行う、
請求項９に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記異常時処理部は、
前記異常検出動作における異常判定結果が連続して前記判定結果格納部に格納されなかった回数が第２所定回数となった場合に、前記第１所定回数及び前記第２所定回数をリセットする、
請求項１１に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記ドライバは、
前記信号線に抵抗を介して第１駆動信号を供給する第１ドライバと、
前記走査線に抵抗を介して第２駆動信号を供給する第２ドライバと、
を含み、
前記判定結果格納部は、
複数の前記信号線に供給される前記第１駆動信号の応答特性の第１異常判定結果と、
複数の前記走査線に供給される前記第２駆動信号の応答特性の第２異常判定結果と、
を格納し、
前記異常時処理部は、
前記第１異常判定結果と前記第２異常判定結果とで得られる前記表示領域上における異常発生箇所の分布状況に応じて、前記異常時処理を行う、
請求項９乃至請求項１２の何れか一項に記載の表示装置。
【請求項１４】
前記判定結果格納部は、不揮発性メモリである、請求項８乃至請求項１３の何れか一項に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、カーナビゲーションシステム等の車載用の表示装置としては、液晶パネル等を用いたフラットディスプレイ型の表示装置が広く用いられている。このようなフラットディスプレイ型の表示装置は、例えば自動車の車体にカメラを搭載し、車外の画像を表示して運転者の運転を補助する車載用ディスプレイとして用いることも考えられる。
【０００３】
液晶表示装置等の表示パネルにおける表示領域の破損は、表示パネル本体や、表示パネルを駆動するドライバＩＣ等の異常発熱を招く要因となる。また、一般に、表示パネルの故障解析においては、顕微鏡等を用いた外観確認や電気的な破損検出用のプログラムを用いて解析を行う必要があるため、故障箇所や原因の特定に時間と労力が掛かる。特許文献１には、液晶表示素子を形成する透明基板の表示用電極が敷設された場所以外の位置に割れ検知用電極を敷設し、割れ検知用電極の導通試験を行うことで液晶表示素子の破損を電気的に検出する技術が開示さている（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平５−３４６５８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来技術では、割れ検知用の電極を表示パネルに別途設ける必要がある。
【０００６】
本発明は、表示領域の劣化を検出可能な表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様に係る表示装置は、表示領域に配置された複数の画素に接続された信号線又は走査線と、信号線又は走査線に抵抗を介して駆動信号を供給するドライバと、抵抗と信号線との間のノード、又は、抵抗と走査線との間のノードの応答特性をモニタリングする異常検出部と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、実施形態１に係る表示装置を適用した表示システムの概略構成の一例を示す図である。
【図２】図２は、実施形態１に係る表示装置のブロック構成の一例を示す図である。
【図３】図３は、ソースドライバ及びゲートドライバの出力段の構成例と、表示領域における各画素列あるいは各画素行毎の等価回路とを示す図である。
【図４】図４は、実施形態１に係る表示装置の異常検出動作時におけるテスト用ソース信号及びテスト用ゲート信号とソース駆動信号及びゲート駆動信号との関係を示す図である。
【図５】図５は、実施形態１に係る表示装置における異常検出部の一構成例を示す図である。
【図６】図６は、実施形態１に係る表示装置における異常検出処理の一例を示す図である。
【図７】図７は、判定結果格納部への各ソース信号判定結果及び各ゲート信号判定結果の入力構成の一例を示す図である。
【図８】図８は、判定結果格納部に格納される各ソース信号判定結果及び各ゲート信号判定結果の一例を示す図である。
【図９】図９は、実施形態２に係る表示装置における異常検出部の一構成例を示す図である。
【図１０】図１０は、実施形態２に係る表示装置における異常検出手法の一例を示す図である。
【図１１】図１１は、実施形態２に係る表示装置における異常検出処理の一例を示す図である。
【図１２】図１２は、実施形態２に係る表示装置における図１１とは異なる異常検出処理の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、実施形態３に係る表示装置における異常検出部の一構成例を示す図である。
【図１４】図１４は、実施形態３に係る表示装置における異常検出手法の一例を示す図である。
【図１５】図１５は、実施形態３に係る表示装置における異常検出処理の一例を示す図である。
【図１６】図１６は、実施形態３に係る表示装置における図１５とは異なる異常検出処理の一例を示す図である。
【図１７】図１７は、実施形態４に係る表示装置の異常時処理部における異常時処理移行処理の一例を示す図である。
【図１８】図１８は、実施形態５に係る表示装置の異常時処理部における異常時処理移行処理の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、発明を実施するための形態について、図面を参照して詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
【００１０】
（実施形態１）
図１は、実施形態１に係る表示装置を適用した表示システムの概略構成の一例を示す図である。本実施形態に係る表示システム１００は、表示装置１と、制御装置２とを含み構成される。
【００１１】
表示装置１は、ガラス基板１１上に、表示領域２１と、ドライバＩＣ３とを備え、ドライバＩＣ３と制御装置２との間が、例えばフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）等で構成される中継基板１２を介して接続され、表示システム１００を構成している。なお、本実施形態において、表示装置１は、例えば、アモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）ＴＦＴ（薄膜トランジスタ；Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）や低温ポリシリコン（ＬＴＰＳ）ＴＦＴを用いたアクティブマトリクス型の液晶表示装置である。
【００１２】
制御装置２は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）及びメモリ等の記憶装置を含み構成され、これらハードウェア資源を用いてプログラムを実行することにより、表示装置１における各種機能を実現することができる。制御装置２は、プログラムの実行結果に応じて、表示装置１に表示させる画像をドライバＩＣ３が画像入力階調の情報として扱えるように制御する。制御装置２は、表示装置１の表示動作が正常でない、すなわち、液晶表示装置１の表示動作が異常である場合に、所定の処理を行う機能を有している。
【００１３】
図２は、実施形態１に係る表示装置のブロック構成の一例を示す図である。本実施形態に係る表示装置１は、表示領域２１と、ソースドライバ（第１ドライバ）２２と、ゲートドライバ（第２ドライバ）２３と、表示制御部４と、後述する異常検出動作を行う異常検出部６とを備えている。ここでは、ソースドライバ２２、ゲートドライバ２３、表示制御部４、及び異常検出部６は、図１に示すドライバＩＣ３に含まれるものとするが、これに限るものではなく、これらの機能の少なくとも一部をガラス基板１１上に形成してもよいし、他のＩＣに形成してもよい。
【００１４】
表示領域２１は、図２に示すＸ方向にｍ個、Ｙ方向にｎ個の画素２１ｐがマトリクス（行列）状に並び配列されて構成される。なお、この明細書において、行とは、一方向に配列されるｍ個の画素２１ｐを有する画素行をいう。また、列とは、行が配列される方向と直交あるいは交差する方向に配列されるｎ個の画素２１ｐを有する画素列をいう。そして、ｎとｍとの値は、垂直方向の表示解像度と水平方向の表示解像度に応じて定まる。以下、Ｘ方向の１列目、Ｙ方向の１行目に配置される画素２１ｐの座標を（１，１）と表し、Ｘ方向のｍ列目、Ｙ方向のｎ行目に配置される画素２１ｐの座標を（ｍ，ｎ）と表す。
【００１５】
本実施形態に係る表示装置１において、各画素２１ｐは、図示しないＴＦＴ素子及び液晶素子を有して構成される。また、各画素２１ｐは、液晶素子と並列に容量性素子が形成される。
【００１６】
表示領域２１は、画素２１ｐのｍ列ｎ行の配列に対して、各列毎にソース信号線（信号線）ＤＴＬが配線され、各行毎にゲート信号線（走査線）ＳＣＬが配線されている。各ソース信号線（信号線）ＤＴＬには、ソースドライバ２２からそれぞれソース駆動信号（第１駆動信号）Ｓ（Ｘ）（Ｘは、１，２，・・・，ｍ）が供給される。各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬには、ゲートドライバ２３からそれぞれゲート駆動信号（第２駆動信号）Ｇ（Ｙ）（Ｙは、１，２，・・・，ｎ）が供給される。ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）は、各画素２１ｐを構成するＴＦＴ素子のソースあるいはドレインを介して各画素電極に供給される。ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）は、各画素２１ｐを構成するＴＦＴ素子のゲートに供給される。
【００１７】
表示制御部４は、表示領域２１に映像を表示する際に必要なソースドライバ２２及びゲートドライバ２３と制御装置２との間のインターフェース（Ｉ／Ｆ）及びタイミングジェネレータの機能を備えている。この表示制御部４における詳細動作の説明については省略する。
【００１８】
本実施形態において、異常検出部６は、表示システム１００の起動時や、表示装置１における垂直ブランキング期間（垂直帰線期間）等の非表示期間において、表示領域２１の破損や劣化等を検出する異常検出動作を行う。
【００１９】
異常検出部６には、ソースドライバ２２から出力される各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）が入力される。
【００２０】
また、異常検出部６には、ゲートドライバ２３から出力される各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）が入力される。
【００２１】
異常検出部６は、制御装置２あるいは表示制御部４から入力される各種信号に応じて、異常検出動作を開始する。このとき、異常検出部６は、ソースドライバ２２に対して、ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳを出力し、ゲートドライバ２３に対して、ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧを出力する。また、異常検出部６は、ソースドライバ２２に対してテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳを供給し、ゲートドライバ２３に対してテスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧを供給する。異常検出動作の開始タイミングについては後述する。
【００２２】
図３は、ソースドライバ及びゲートドライバの出力段の構成例と、表示領域における各画素列あるいは各画素行毎の等価回路とを示す図である。図３に示すように、表示領域２１における各ソース信号線（信号線）ＤＴＬ及び各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬは、配線の抵抗等を含む例えば数Ω程度の抵抗成分Ｒと、ゲート容量やその他の寄生容量等を含む静電容量成分Ｃとで構成される時定数回路が直列接続された等価回路で表すことができる。以下、表示領域２１において、各ソース信号線（信号線）ＤＴＬを構成する各画素列毎の等価回路を「ソース信号線等価回路２１１Ｘ」といい、各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬを構成する各画素行毎の等価回路を「ゲート信号線等価回路２１１Ｙ」というものとする。なお、時定数回路を構成する抵抗成分Ｒや静電容量成分Ｃの大きさによって本発明が限定されるものではないし、例えば、各ソース信号線（信号線）ＤＴＬ及び各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬに別途抵抗素子や容量素子を設ける構成であっても良い。
【００２３】
図３（ａ）に示すように、ソースドライバ２２は、ソース信号駆動回路２２１Ｘと、ソース信号出力抵抗２２２Ｘと、ソース信号切換スイッチ２２３Ｘと、を含み構成される。また、ゲートドライバ２３は、ゲート信号駆動回路２３１Ｙと、ゲート信号出力抵抗２３２Ｙと、ゲート信号切換スイッチ２３３Ｙと、を含み構成される。ソース信号駆動回路２２１Ｘ、ゲート信号駆動回路２３１Ｙは、例えば、アンプあるいは出力ドライバ等で構成される。
【００２４】
表示領域２１に映像を表示する通常時においては、図３（ｂ）に示すように、ソース信号切換スイッチ２２３Ｘ（ゲート信号切換スイッチ２３３Ｙ）によって映像表示用ソース信号ＤＳｉｇＳ（映像表示用ゲート信号ＤＳｉｇＧ）が選択されている。
【００２５】
異常検出部６からソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）が出力されると、図３（ｃ）に示すように、ソース信号切換スイッチ２２３Ｘ（ゲート信号切換スイッチ２３３Ｙ）によってテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）が選択される。
【００２６】
ソース信号駆動回路２２１Ｘは、ソース信号切換スイッチ２２３Ｘの出力を増幅する。
【００２７】
ソース信号出力抵抗２２２Ｘは、ソースドライバ２２の出力端に設けられた素子保護用の抵抗（例えば、数ｋΩ程度）である。
【００２８】
ソース信号駆動回路２２１Ｘによって出力されたソース駆動信号Ｓ（Ｘ）は、ソース信号出力抵抗２２２Ｘを介してソース信号線等価回路２１１Ｘに出力される。
【００２９】
ゲート信号駆動回路２３１Ｙは、ゲート信号切換スイッチ２３３Ｙの出力を増幅する。
【００３０】
ゲート信号出力抵抗２３２Ｙは、ゲートドライバ２３の出力端に設けられた素子保護用の抵抗（例えば、数ｋΩ程度）である。
【００３１】
ゲート信号駆動回路２３１Ｙによって出力されたゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）は、ゲート信号出力抵抗２３２Ｙを介してゲート信号線等価回路２１１Ｙに出力される。
【００３２】
図４は、実施形態１に係る表示装置の異常検出動作時におけるテスト用ソース信号及びテスト用ゲート信号とソース駆動信号及びゲート駆動信号との関係を示す図である。本実施形態では、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ及びテスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧを、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１とは異なる第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号とする。図４に示す例では、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１よりも高い第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号を、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ及びテスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧとしている。
【００３３】
上述したテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）が入力されると、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）に応じたソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））が生成される。本実施形態では、上述したように、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１よりも高い第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号がテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）として入力される。ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））は、図４に示すように、上述した階段状波形のテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）に対し、ソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数に応じて過渡的に変化する応答特性となる。
【００３４】
本実施形態における異常検出部６は、ソースドライバ２２（ゲートドライバ２３）の出力端に設けられた素子保護用の抵抗を介して出力されるソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））をモニタリングし、当該ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性の変化に基づき、表示領域２１の破損や劣化等を検出する異常検出動作を行う。
【００３５】
以下、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性の変化要因について説明する。
【００３６】
図４に示す例では、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線、あるいは表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生していない正常時におけるソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性を実線で示している。
【００３７】
例えば、表示領域２１の破損によりソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が生じた場合、破損部よりも後段の静電容量成分Ｃの欠損等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなり、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性は、図４に破線で示すように、正常時の応答特性よりも急峻に立ち上がる応答特性となる。
【００３８】
また、例えば、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が生じた場合、静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなり、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性は、図４に一点鎖線で示すように、正常時の応答特性よりも緩やかに立ち上がる応答特性となる。なお、表示領域２１を構成する各要素の劣化としては、例えば、ソース信号線ＤＴＬ（信号線ＳＣＬ）の腐食や、エレクトロマイグレーション等による配線抵抗の増加、ＴＦＴ素子の劣化によるゲート容量の増大が減少、その他の寄生容量の劣化による寄生抵抗の増大や減少等が考えられる。
【００３９】
すなわち、ソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数の変化によって生じるソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性の変化を検出することによって、表示領域２１の破損や劣化等を検出することができる。
【００４０】
なお、本実施形態では、上述したように、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）が所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１とは異なる第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号とした例を用いて説明しているが、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性の変化を検出可能なパターンであれば、これに限るものではない。
【００４１】
以下、上述した異常検出動作を実現するための本実施形態に係る異常検出部６の構成及び動作について、図１乃至図６を参照して説明する。図５は、実施形態１に係る表示装置における異常検出部の一構成例を示す図である。図６は、実施形態１に係る表示装置における異常検出処理の一例を示す図である。
【００４２】
図５に示すように、本実施形態に係る異常検出部６は、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））をモニタリングし、当該ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であるか否かを判定する異常判定部６１と、異常検出動作における各種設定や判定結果等を格納するレジスタ部６２と、異常判定部６１における判定タイミングを取得するためのカウンタ６３と、異常判定部６１による判定結果に基づき所定の異常時処理を行う異常時処理部６４と、を備えている。
【００４３】
レジスタ部６２は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）のテストパターンが設定されるテストパターン設定部６２１と、異常検出動作を開始するための条件が設定される判定開始条件設定部６２２と、異常判定部６１における各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）が設定される判定基準電圧設定部６２３と、異常判定部６１における各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定タイミングＴｔｈＳ（ゲート信号判定タイミングＴｔｈＧ）が設定される判定タイミング設定部６２４と、異常判定部６１における各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））が格納される判定結果格納部６２５と、を備えている。
【００４４】
判定開始条件設定部６２２には、上述したように、異常検出動作を開始するための条件が設定される。具体的には、例えば、表示装置１への電源供給開始や、制御装置２から出力される表示装置１の起動指令等、表示システム１００の起動に伴うイベントが判定開始条件として設定される。また、例えば、表示処理部４から出力される垂直同期信号等、表示装置１における垂直ブランキング期間（垂直帰線期間）等の非表示期間を検出可能なイベントが判定開始条件として設定される。
【００４５】
なお、レジスタ部６２に設定されるテストパターン、異常検出動作の開始条件、ソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）、ソース信号判定タイミングＴｔｈＳ（ゲート信号判定タイミングＴｔｈＧ）を含む各種判定条件は、予めレジスタ部６２に設定されていても良いし、表示装置１の起動時に制御装置２等の上位システムから読み込まれる構成であっても良い。
【００４６】
判定開始条件設定部６２２に設定された判定開始条件に合致したイベントが発生すると、異常検出動作処理が開始される（ステップＳ１０１）。このとき、レジスタ部６２は、テストパターン設定部６２１に設定されたテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を出力すると共に、ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）を出力する（ステップＳ１０２）。上述したように、本実施形態におけるテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）は、図４に示すように、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１よりも高い第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号である。ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）の立ち上がり時刻Ｔ０に出力される。
【００４７】
異常判定部６１は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知すると、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の異常判定処理を開始する（ステップＳ１０３）。より具体的には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の監視を開始すると共に、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知した時刻Ｔ０からの経過時間のカウントを開始する。
【００４８】
異常判定部６１は、レジスタ部６２の判定基準電圧設定部６２３に設定されたソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）と、レジスタ部６２の判定タイミング設定部６２４に設定されたソース信号判定タイミングＴｔｈＳ（ゲート信号判定タイミングＴｔｈＧ）とに基づき、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であるか否かを判定する（ステップＳ１０４）。
【００４９】
異常判定部６１は、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常でない場合（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２の判定結果格納部６２５に格納する（ステップＳ１０５）。
【００５０】
異常時処理部６４は、ステップＳ１０５において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ１０６）、本フローの処理を終了する。
【００５１】
図７は、判定結果格納部への各ソース信号判定結果及び各ゲート信号判定結果の入力構成の一例を示す図である。また、図８は、判定結果格納部に格納される各ソース信号判定結果及び各ゲート信号判定結果の一例を示す図である。
【００５２】
図７に示す例では、各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（１），ＤｅｔＳ（２），・・・，ＤｅｔＳ（ｍ−１），ＤｅｔＳ（ｍ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（１），ＤｅｔＧ（２），・・・，ＤｅｔＧ（ｎ−１），ＤｅｔＧ（ｎ）がそれぞれ判定結果格納部６２５に入力され、図８に示すように、各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が判定結果格納部６２５に格納される。図８に示す例において、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合には、各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に正常判定結果として値「０」が格納され、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常である場合には、各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に異常判定結果として値「１」が格納される例を示している。なお、各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）における異常判定結果を「第１異常判定結果」ともいう。また、各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）における異常判定結果を「第２異常判定結果」ともいう。
【００５３】
図８に示す例では、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（ａ）が値「１」（第１異常判定結果）であり、及びゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（ｂ）が値「１」（第２異常判定結果）であることから、ソース駆動信号Ｓ（ａ）及びゲート駆動信号Ｇ（ｂ）の応答特性が異常であることが分かる。すなわち、図８に示す例では、座標（ａ，ｂ）の画素２１ｐにおいて異常が発生していることが分かる。
【００５４】
なお、図８に示す例では、第１異常判定結果及び第２異常判定結果を示す異常発生箇所が１箇所である例を示したが、例えば、ガラス基板１１上の表示領域２１に破損が発生した場合や、表示領域２１を構成する各要素の劣化等によって表示領域２１上における複数箇所に異常が発生することが考えられる。本実施形態によれば、図８に示す各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（１），ＤｅｔＳ（２），・・・，ＤｅｔＳ（ｍ−１），ＤｅｔＳ（ｍ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（１），ＤｅｔＧ（２），・・・，ＤｅｔＧ（ｎ−１），ＤｅｔＧ（ｎ）を参照することで、第１異常判定結果及び第２異常判定結果を示す異常発生箇所の分布を検知することが可能であるため、第１異常判定結果及び第２異常判定結果を示す異常発生箇所の分布状況に応じて、表示装置１の起動を停止する、表示装置１を再起動する、異常発生箇所を除く領域で映像表示を行う等、異常発生箇所の分布状況に応じた異常時処理を実現することができる。
【００５５】
図６に戻り、異常判定部６１は、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２の判定結果格納部６２５に格納する（ステップＳ１０７）。この場合には、異常時処理部６４による異常時処理は行われず、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行して（ステップＳ１０８）、本フローの処理を終了する。これにより、表示装置１は、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行する。
【００５６】
以上説明したように、実施形態１に係る表示装置１によれば、表示領域２１における各ソース信号線（信号線）ＤＴＬ及び各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬが、抵抗素子Ｒと静電容量素子Ｃとで構成される時定数回路が直列接続された等価回路で表すことができることに着目し、各ソース信号線（信号線）ＤＴＬを構成する各画素列毎のソース信号線等価回路２１１Ｘ、及び、各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬを構成する各画素行毎のゲート信号線等価回路２１１Ｙの時定数の変化によって生じるソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性の変化を検出するようにしたので、表示領域２１の劣化を検出可能となる。
【００５７】
また、異常検出動作時に用いるテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ及びテスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧを、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１よりも高い第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号とすることで、複雑な回路やプログラム等を要することなく、簡易な構成でテストパターンを生成することができる。
【００５８】
また、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性の変化と、ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性の変化とを検出して異常判定を行うことで、表示領域２１上における異常発生箇所の分布を検知することが可能となる。これにより、異常発生箇所の分布状況に応じた異常時処理を実現することができる。
【００５９】
（実施形態２）
実施形態１では、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性の変化に基づき、表示領域２１の破損や劣化等を検出する異常検出動作を行うものとして説明したが、本実施形態２では、より具体的な異常検出手法について説明する。
【００６０】
図９は、実施形態２に係る表示装置における異常検出部の一構成例を示す図である。図１０は、実施形態２に係る表示装置における異常検出手法の一例を示す図である。図１１は、実施形態２に係る表示装置における異常検出処理の一例を示す図である。図１２は、実施形態２に係る表示装置における図１１とは異なる異常検出処理の一例を示す図である。なお、実施形態２に係る表示装置を適用した表示システムの概略構成、及び実施形態２に係る表示装置のブロック構成については、上述した実施形態１と同様であるので、ここでの重複する説明は省略する。
【００６１】
ここでは、まず、図９を参照して、実施形態２に係る表示装置における異常検出部６ａの構成について説明する。
【００６２】
図９に示す例において、レジスタ部６２ａの判定基準電圧設定部６２３ａには、異常判定部６１ａにおける各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）として、電圧閾値が設定される。本実施形態では、ソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳを各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性における「ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ」と呼称し、ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧを各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性における「ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ」と呼称する。
【００６３】
また、レジスタ部６２ａの判定タイミング設定部６２４ａには、異常判定部６１ａにおける各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定タイミングＴｔｈＳ（ゲート信号判定タイミングＴｔｈＧ）として、所定時刻Ｔ０からの第１経過時間閾値と、この第１経過時間閾値よりも長い第２経過時間閾値とが設定される。本実施形態では、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性におけるソース信号判定タイミングとして、「ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１」と「ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２」とが設定され、各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性におけるゲート信号判定タイミングとして、「ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１」と「ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２」とが設定される。
【００６４】
次に、図１０を参照して、実施形態２に係る表示装置における異常検出手法について説明する。
【００６５】
図１０に示す例では、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線、あるいは表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生していない正常時におけるソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性を実線で示し、例えば、表示領域２１の破損によりソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が生じた場合、破損部よりも後段の静電容量成分Ｃの欠損等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなり、正常時の応答特性よりも急峻に立ち上がる応答特性を破線で示し、例えば、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が生じた場合、静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなり、正常時の応答特性よりも緩やかに立ち上がる応答特性を一点鎖線で示している。
【００６６】
本実施形態では、上述したように、レジスタ部６２ａの判定基準電圧設定部６２３ａに各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性におけるソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳと各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性におけるゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧとが設定されている。また、上述したように、レジスタ部６２ａの判定タイミング設定部６２４ａに各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性におけるソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１とソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２とが設定され、各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性におけるゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１とゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２とが設定されている。
【００６７】
図１０（ａ）に示す例では、実線で示す正常時の応答特性において、ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）１（ＴｄＧ（Ｙ）１）における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）１−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）１−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）以下である例を示している（ＴｔｈＳ１≦（ＴｄＳ（Ｘ）１−Ｔ０）≦ＴｔｈＳ２，ＴｔｈＧ１≦（ＴｄＧ（Ｙ）１−Ｔ０）≦ＴｔｈＧ２）。この場合、本実施形態に係る異常検出部６ａは、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））として値「０」を判定結果格納部６２５ａに格納する。
【００６８】
また、図１０（ｂ）に示す例では、正常時の応答特性よりも急峻に立ち上がる破線で示す応答特性において、ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）２（ＴｄＧ（Ｙ）２）における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）２−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）２−Ｔ０））がソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さい例を示している（（ＴｄＳ（Ｘ）２−Ｔ０）＜ＴｔｈＳ１，（ＴｄＧ（Ｙ）２−Ｔ０）＜ＴｔｈＧ１）。この場合、本実施形態に係る異常検出部６ａは、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））として値「１」（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ａに格納する。
【００６９】
また、図１０（ｃ）に示す例では、正常時の応答特性よりも緩やかに立ち上がる一点鎖線で示す応答特性において、ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）３（ＴｄＧ（Ｙ）３）における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）３−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）３−Ｔ０））がソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きい例を示している（ＴｔｈＳ２＜（ＴｄＳ（Ｘ）３−Ｔ０），ＴｔｈＧ２＜（ＴｄＧ（Ｙ）３−Ｔ０））。この場合、本実施形態に係る異常検出部６ａは、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））として値「２」（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ａに格納する。
【００７０】
本実施形態に係る異常時処理部６４ａは、判定結果格納部６２５ａに格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行う。上述したように、本実施形態では、ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）２（ＴｄＧ（Ｙ）２）における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）２−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）２−Ｔ０））がソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さい場合と、ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）３（ＴｄＧ（Ｙ）３）における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）３−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）３−Ｔ０））がソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きい場合とで、異なる値のソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ａに格納しているため、本実施形態に係る異常時処理部６４ａは、例えば、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が発生してソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなった場合と、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生して静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなった場合とで、異なる異常時処理を行うことが可能である。
【００７１】
次に、図１１を参照して、実施形態２に係る表示装置における異常検出手法について説明する。
【００７２】
判定開始条件設定部６２２に設定された判定開始条件に合致したイベントが発生すると、異常検出動作処理が開始される（ステップＳ２０１）。このとき、レジスタ部６２ａは、テストパターン設定部６２１に設定されたテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を出力すると共に、ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）を出力する（ステップＳ２０２）。本実施形態におけるテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）は、実施形態１と同様に、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１よりも高い第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号である。ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）の立ち上がり時刻Ｔ０に出力される。
【００７３】
異常判定部６１ａは、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知すると、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の異常判定処理を開始する（ステップＳ２０３）。より具体的には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の監視を開始すると共に、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知した時刻Ｔ０からの経過時間のカウントを開始する。
【００７４】
異常判定部６１ａは、入力された各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））とレジスタ部６２ａの判定基準電圧設定部６２３ａに設定されたソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）とを比較し（ステップＳ２０４−１）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となるまで、ステップＳ２０４−１の処理を繰り返す（ステップＳ２０４−１；Ｎｏ）。
【００７５】
異常判定部６１ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となると（ステップＳ２０４−１；Ｙｅｓ）、その時刻ＴｄＳ（ＴｄＧ）における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さいか否か（（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）＜ＴｔｈＳ１，（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０）＜ＴｔｈＧ１）を判定する（ステップＳ２０４−２）。
【００７６】
異常判定部６１ａは、時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さい場合（ステップＳ２０４−２；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ａの判定結果格納部６２５ａに格納する（ステップＳ２０５−１）。
【００７７】
異常時処理部６４ａは、ステップＳ２０５−１において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ２０６−１）、本フローの処理を終了する。
【００７８】
また、異常判定部６１ａは、時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）以上である場合（ステップＳ２０４−２；Ｎｏ）、時刻ＴｄＳ（Ｘ）（ＴｄＧ（Ｙ））における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きいか否か（ＴｔｈＳ２＜（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０），ＴｔｈＧ２＜（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））を判定する（ステップＳ２０４−３）。
【００７９】
異常判定部６１ａは、時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きい場合（ステップＳ２０４−３；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかであることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ａの判定結果格納部６２５ａに格納する（ステップＳ２０５−２）。
【００８０】
異常時処理部６４ａは、ステップＳ２０５−２において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ２０６−２）、本フローの処理を終了する。
【００８１】
異常判定部６１ａは、時刻ＴｄＳ（Ｘ）（ＴｄＧ（Ｙ））における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも小さい場合（ステップＳ２０４−３；Ｎｏ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ａの判定結果格納部６２５ａに格納する（ステップＳ２０７）。この場合には、異常時処理部６４ａによる異常時処理は行われず、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行して（ステップＳ２０８）、本フローの処理を終了する。これにより、表示装置１は、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行する。
【００８２】
次に、図１２を参照して、実施形態２に係る表示装置における図１１に示す例とは異なる異常検出処理について説明する。
【００８３】
判定開始条件設定部６２２に設定された判定開始条件に合致したイベントが発生すると、異常検出動作処理が開始される（ステップＳ３０１）。このとき、レジスタ部６２ａは、テストパターン設定部６２１に設定されたテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を出力すると共に、ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）を出力する（ステップＳ３０２）。本実施形態におけるテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）は、実施形態１と同様に、所定時刻Ｔ０において第１電位Ｖ１からこの第１電位Ｖ１よりも高い第２電位Ｖ２に変位する階段状波形の電圧信号である。ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）の立ち上がり時刻Ｔ０に出力される。
【００８４】
異常判定部６１ａは、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知すると、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の異常判定処理を開始する（ステップＳ３０３）。より具体的には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の監視を開始すると共に、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知した時刻Ｔ０からの経過時間のカウントを開始する。
【００８５】
異常判定部６１ａは、入力された各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））とレジスタ部６２ａの判定基準電圧設定部６２３ａに設定されたソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）とを比較し（ステップＳ３０４−１）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となるまで、ステップＳ３０４−１の処理を繰り返す（ステップＳ３０４−１；Ｎｏ）。
【００８６】
異常判定部６１ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となると（ステップＳ３０４−１；Ｙｅｓ）、その時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における所定時刻Ｔ０からの経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）以下であるか否か（ＴｔｈＳ１≦（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）≦ＴｔｈＳ２，ＴｔｈＧ１≦（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０）≦ＴｔｈＧ２）を判定する（ステップＳ３０４−２）。
【００８７】
異常判定部６１ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さいか、あるいはソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きい場合（ステップＳ３０４−２；Ｎｏ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ａの判定結果格納部６２５ａに格納する（ステップＳ３０５）。
【００８８】
異常時処理部６４ａは、ステップＳ３０５において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ３０６）、本フローの処理を終了する。
【００８９】
異常判定部６１ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）以下である場合（ステップＳ３０４−２；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ａの判定結果格納部６２５ａに格納する（ステップＳ３０７）。この場合には、異常時処理部６４ａによる異常時処理は行われず、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行して（ステップＳ３０８）、本フローの処理を終了する。これにより、表示装置１は、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行する。
【００９０】
なお、図１２に示す異常検出処理は、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であるか否かのみを判定するものであり、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻であるか、あるいは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかであるかについては検出できない。一方、図１１に示す異常検出処理では、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻である場合と、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかである場合とで、図１０を用いて説明したように、異なる値のソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ａに格納することができる。このため、本実施形態に係る異常時処理部６４ａは、例えば、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が発生してソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなった場合と、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生して静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなった場合とで、異なる異常時処理を行うことが可能である。
【００９１】
以上説明したように、実施形態２に係る表示装置１によれば、異常検出部６ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性におけるソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）が設定され、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性におけるソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）と、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも長いソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）とが設定される。
【００９２】
この構成において、異常検出部６ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）以下である場合に、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であると判定し、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さいか、あるいはソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きい場合に、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であると判定する。
【００９３】
これにより、表示領域２１の劣化を検出可能な表示装置１を実現することが可能となる。
【００９４】
また、異常検出部６ａは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧値ＶＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧値ＶＧ（Ｙ））がソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）以上となった時刻ＴｄＳ（Ｘ）（時刻ＴｄＧ（Ｙ））における経過時間（ＴｄＳ（Ｘ）−Ｔ０）（経過時間（ＴｄＧ（Ｙ）−Ｔ０））が、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１（ゲート信号第１経過時間閾値ＴｔｈＧ１）よりも小さい場合には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻であり、ソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２（ゲート信号第２経過時間閾値ＴｔｈＧ２）よりも大きい場合には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかであることを検出することができる。これにより、例えば、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が発生してソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなった場合と、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生して静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなった場合とを切り分けることができ、適切な異常時処理を行うことが可能である。
【００９５】
（実施形態３）
本実施形態では、実施形態２とは異なる異常検出手法について説明する。
【００９６】
図１３は、実施形態３に係る表示装置における異常検出部の一構成例を示す図である。図１４は、実施形態３に係る表示装置における異常検出手法の一例を示す図である。図１５は、実施形態３に係る表示装置における異常検出処理の一例を示す図である。図１６は、実施形態３に係る表示装置における図１５とは異なる異常検出処理の一例を示す図である。なお、実施形態３に係る表示装置を適用した表示システムの概略構成、及び実施形態３に係る表示装置のブロック構成については、上述した実施形態１と同様であるので、ここでの重複する説明は省略する。
【００９７】
ここでは、まず、図１３を参照して、実施形態３に係る表示装置における異常検出部６ｂの構成について説明する。
【００９８】
図１３に示す例において、レジスタ部６２ｂの判定基準電圧設定部６２３ｂには、異常判定部６１ｂにおける各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳ（ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ）として、第１電圧閾値と、この第１電圧閾値よりも大きい第２電圧閾値が設定される。本実施形態では、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性におけるソース信号判定基準電圧として、「ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１」と「ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２」とが設定され、各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性におけるゲート信号判定電圧閾値として、「ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１」と「ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２」とが設定される。
【００９９】
また、レジスタ部６２ｂの判定タイミング設定部６２４ｂには、異常判定部６１ｂにおける各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性のソース信号判定タイミングＴｔｈＳ（ゲート信号判定タイミングＴｔｈＧ）として、所定時刻Ｔ０からの経過時間閾値が設定される。本実施形態では、ソース信号判定タイミングＴｔｈＳを各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性における「ソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ」と呼称し、ゲート信号判定タイミングＴｔｈＧを各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性における「ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ」と呼称する。
【０１００】
次に、図１４を参照して、実施形態３に係る表示装置における異常検出手法について説明する。
【０１０１】
図１４に示す例では、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線、あるいは表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生していない正常時におけるソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性を実線で示し、例えば、表示領域２１の破損によりソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が生じた場合、破損部よりも後段の静電容量成分Ｃの欠損等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなり、正常時の応答特性よりも急峻に立ち上がる応答特性を破線で示し、例えば、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が生じた場合、静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなり、正常時の応答特性よりも緩やかに立ち上がる応答特性を一点鎖線で示している。
【０１０２】
本実施形態では、上述したように、レジスタ部６２ｂの判定タイミング設定部６２４ｂに各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性におけるソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳと各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性におけるゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧとが設定されている。また、上述したように、レジスタ部６２ｂの判定基準電圧設定部６２３ｂに各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の応答特性におけるソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１とソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２とが設定され、各ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性におけるゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１とゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２とが設定されている。
【０１０３】
図１４（ａ）に示す例では、実線で示す正常時の応答特性において、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）１（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ）１）が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）以下である例を示している（ＶｔｈＳ１≦ＶｄＳ（Ｘ）１≦ＶｔｈＳ２，ＶｔｈＧ１≦ＶｄＧ（Ｙ）１≦ＶｔｈＧ２）。この場合、本実施形態に係る異常検出部６ｂは、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））として値「０」を判定結果格納部６２５ｂに格納する。
【０１０４】
また、図１４（ｂ）に示す例では、正常時の応答特性よりも急峻に立ち上がる破線で示す応答特性において、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）２（ゲート駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＧ（Ｘ）２）がソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きい例を示している（ＶｔｈＳ２＜ＶｄＳ（Ｘ）２，ＶｔｈＧ２＜ＶｄＧ（Ｙ）２）。この場合、本実施形態に係る異常検出部６ｂは、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））として値「１」（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ｂに格納する。
【０１０５】
また、図１４（ｃ）に示す例では、正常時の応答特性よりも緩やかに立ち上がる一点鎖線で示す応答特性において、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）３（ゲート駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＧ（Ｘ）３）がソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）よりも小さい例を示している（ＶｄＳ（Ｘ）３＜ＶｔｈＳ１，ＶｄＧ（Ｙ）３＜ＶｔｈＧ１）。この場合、本実施形態に係る異常検出部６ｂは、ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））として値「２」（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ｂに格納する。
【０１０６】
本実施形態に係る異常時処理部６４ｂは、判定結果格納部６２５ｂに格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行う。上述したように、本実施形態では、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）２（ゲート駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＧ（Ｘ）２）がソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きい場合と、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）３（ゲート駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＧ（Ｘ）３）がソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）よりも小さい場合とで、異なる値のソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ｂに格納しているため、本実施形態に係る異常時処理部６４ｂは、例えば、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が発生してソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなった場合と、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生して静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなった場合とで、異なる異常時処理を行うことが可能である。
【０１０７】
次に、図１５を参照して、実施形態３に係る表示装置における異常検出手法について説明する。
【０１０８】
判定開始条件設定部６２２に設定された判定開始条件に合致したイベントが発生すると、異常検出動作処理が開始される（ステップＳ４０１）。このとき、レジスタ部６２ｂは、テストパターン設定部６２１に設定されたテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を出力すると共に、ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）を出力する（ステップＳ４０２）。本実施形態におけるテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）は、実施形態１と同様に、所定時刻Ｔ０で所定レベルまで立ち上がる電圧信号である。ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）の立ち上がり時刻Ｔ０に出力される。
【０１０９】
異常判定部６１ｂは、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知すると、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の異常判定処理を開始する（ステップＳ４０３）。より具体的には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の監視を開始すると共に、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知した時刻Ｔ０からの経過時間のカウントを開始する。
【０１１０】
異常判定部６１ｂは、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））とレジスタ部６２ｂの判定タイミング設定部６２４ｂに設定されたソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）とを比較し（ステップＳ４０４−１）、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となるまで、ステップＳ４０４−１の処理を繰り返す（ステップＳ４０４−１；Ｎｏ）。
【０１１１】
異常判定部６１ｂは、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となると（ステップＳ４０４−１；Ｙｅｓ）、そのときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きいか否か（ＶｔｈＳ２＜ＶｄＳ（Ｘ），ＶｔｈＧ２＜ＶｄＧ（Ｙ））を判定する（ステップＳ４０４−２）。
【０１１２】
異常判定部６１ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きい場合（ステップＳ４０４−２；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ｂの判定結果格納部６２５ｂに格納する（ステップＳ４０５−１）。
【０１１３】
異常時処理部６４ｂは、ステップＳ４０５−１において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ４０６−１）、本フローの処理を終了する。
【０１１４】
また、異常判定部６１ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）以下である場合（ステップＳ４０４−２；Ｎｏ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ）が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）よりも小さいか否か（ＶｄＳ（Ｘ）＜ＶｔｈＳ１，ＶｄＧ（Ｙ）＜ＶｔｈＧ１）を判定する（ステップＳ４０４−３）。
【０１１５】
異常判定部６１ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ）が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）よりも小さい場合（ステップＳ４０４−３；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかであることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ｂの判定結果格納部６２５ｂに格納する（ステップＳ４０５−２）。
【０１１６】
異常時処理部６４ｂは、ステップＳ４０５−２において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ４０６−２）、本フローの処理を終了する。
【０１１７】
異常判定部６１ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）以上である場合（ステップＳ４０４−３；Ｎｏ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ｂの判定結果格納部６２５ｂに格納する（ステップＳ４０７）。この場合には、異常時処理部６４ｂによる異常時処理は行われず、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行して（ステップＳ４０８）、本フローの処理を終了する。これにより、表示装置１は、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行する。
【０１１８】
次に、図１６を参照して、実施形態３に係る表示装置における図１５に示す例とは異なる異常検出処理について説明する。
【０１１９】
判定開始条件設定部６２２に設定された判定開始条件に合致したイベントが発生すると、異常検出動作処理が開始される（ステップＳ５０１）。このとき、レジスタ部６２ｂは、テストパターン設定部６２１に設定されたテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を出力すると共に、ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）を出力する（ステップＳ５０２）。本実施形態におけるテスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）は、実施形態１と同様に、所定時刻Ｔ０で所定レベルまで立ち上がる電圧信号である。ソース信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＳ（ゲート信号線異常検出動作開始信号ＤｅｃＳＷＧ）は、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）の立ち上がり時刻Ｔ０に出力される。
【０１２０】
異常判定部６１ｂは、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知すると、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の異常判定処理を開始する（ステップＳ５０３）。より具体的には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の監視を開始すると共に、テスト用ソース信号ＴＳｉｇＳ（テスト用ゲート信号ＴＳｉｇＧ）を検知した時刻Ｔ０からの経過時間のカウントを開始する。
【０１２１】
異常判定部６１ｂは、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））とレジスタ部６２ｂの判定タイミング設定部６２４ｂに設定されたソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）とを比較し（ステップＳ５０４−１）、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となるまで、ステップＳ５０４−１の処理を繰り返す（ステップＳ５０４−１；Ｎｏ）。
【０１２２】
異常判定部６１ｂは、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となると（ステップＳ５０４−１；Ｙｅｓ）、そのときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）以下であるか否か（ＶｔｈＳ１≦ＶｄＳ（Ｘ）≦ＶｔｈＳ２，ＶｔｈＧ１≦ＶｄＧ（Ｙ）≦ＶｔｈＧ２）を判定する（ステップＳ５０４−２）。
【０１２３】
異常判定部６１ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）よりも小さいか、あるいはソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きい場合（ステップ５０４−２；Ｎｏ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ｂの判定結果格納部６２５ｂに格納する（ステップＳ５０５）。
【０１２４】
異常時処理部６４ｂは、ステップＳ５０５において格納されたソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））を参照し、当該判定結果に基づいて所定の異常時処理を行い（ステップＳ５０６）、本フローの処理を終了する。
【０１２５】
異常判定部６１ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）以下である場合（ステップＳ５０４−２；Ｙｅｓ）、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示すソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））をレジスタ部６２ｂの判定結果格納部６２５ｂに格納する（ステップＳ５０７）。この場合には、異常時処理部６４ｂによる異常時処理は行われず、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行して（ステップＳ５０８）、本フローの処理を終了する。これにより、表示装置１は、表示領域２１に通常の映像表示を行う通常動作に移行する。
【０１２６】
なお、図１６に示す異常検出処理は、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であるか否かのみを判定するものであり、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻であるか、あるいは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかであるかについては検出できない。一方、図１５に示す異常検出処理では、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻である場合と、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかである場合とで、図１４を用いて説明したように、異なる値のソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）（ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ））（第１異常判定結果（第２異常判定結果））を判定結果格納部６２５ｂに格納することができる。このため、本実施形態に係る異常時処理部６４ｂは、例えば、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線が発生してソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなった場合と、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生して静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなった場合とで、異なる異常時処理を行うことが可能である。
【０１２７】
以上説明したように、実施形態３に係る表示装置１によれば、異常検出部６ｂは、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性におけるソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）が設定され、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性におけるソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）と、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）よりも大きいソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）とが設定される。
【０１２８】
この構成において、異常検出部６ｂは、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第１電圧閾値ＶｔｈＳ１（ゲート信号第１電圧閾値ＶｔｈＧ１）以上であり、且つ、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）以下である場合に、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であると判定し、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きいか、あるいは、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも小さい場合に、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であると判定する。
【０１２９】
これにより、表示領域２１の劣化を検出可能な表示装置１を実現することが可能となる。
【０１３０】
また、異常検出部６ｂは、所定時刻Ｔ０からの経過時間ＴＳ（Ｘ）（経過時間ＴＧ（Ｙ））がソース信号判定経過時間閾値ＴｔｈＳ（ゲート信号判定経過時間閾値ＴｔｈＧ）以上となったときの各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）の電圧ＶｄＳ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の電圧ＶｄＧ（Ｙ））が、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも大きい場合には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが急峻であり、ソース信号第２電圧閾値ＶｔｈＳ２（ゲート信号第２電圧閾値ＶｔｈＧ２）よりも小さい場合には、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合よりも立ち上がりが緩やかであることを検出することができる。これにより、例えば、ソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線や短絡等の破損が発生してソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が小さくなった場合と、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が発生して静電容量成分Ｃの増加等によってソース信号線等価回路２１１Ｘ（ゲート信号線等価回路２１１Ｙ）の時定数が大きくなった場合とを切り分けることができ、適切な異常時処理を行うことが可能である。
【０１３１】
（実施形態４）
本実施形態では、異常時処理部における異常時処理移行条件の一例について説明する。なお、実施形態４に係る表示装置を適用した表示システムの概略構成、実施形態４に係る表示装置のブロック構成、及び実施形態４に係る表示装置における異常検出部の構成については、上述した実施形態と同様であるので、ここでは、実施形態１に係る表示装置の構成を用いて重複する説明は省略する。
【０１３２】
図１７は、実施形態４に係る表示装置の異常時処理部における異常時処理移行処理の一例を示す図である。
【０１３３】
本実施形態において、異常時処理部６４は、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に異常判定結果が連続して格納された回数（以下、「連続異常判定回数」という）Ｐに所定回数Ｘ（Ｘは、例えば１以上の自然数、Ｘ≧１）の閾値を設けている。
【０１３４】
本実施形態に係る表示装置１において、異常時処理部６４は、連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ以上となった場合に（Ｐ≧Ｘ）、表示領域２１の破損や劣化等が発生したものとして、所定の異常時処理を行うものとする。換言すれば、異常時処理部６４は、連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ未満である場合には（Ｐ＜Ｘ）、所定の異常時処理を実施しないものとする。これにより、表示装置１の表示動作が正常であるにも関わらず、例えば、異常検出動作において、ノイズ等の外乱要因に起因して、単発的あるいは短期的に表示領域２１の破損や劣化等が発生したものとして誤検出した場合に、異常時処理を実施することを回避することができる。
【０１３５】
なお、本実施形態における所定回数Ｘの値は、予めレジスタ部６２に設定されていてもよいし、表示システム１００における環境要因（例えば、表示システム１００を構成する部品の温度特性）に応じてダイナミック（動的）に変更される構成であってもよい。
【０１３６】
異常検出部６における異常検出動作を開始して各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が判定結果格納部６２５に格納されると（ステップＳ６０１）、異常時処理部６４は、判定結果格納部６２５に格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であることを示す異常判定結果であるか否かを判定する（ステップＳ６０２）。
【０１３７】
判定結果格納部６２５に格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が異常判定結果でない場合、すなわち各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合（ステップＳ６０２；Ｎｏ）、異常時処理部６４は、連続異常判定回数Ｐをリセットして（ステップＳ６０３）、ステップＳ６０１の処理に戻る。
【０１３８】
判定結果格納部６２５に格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が異常判定結果である場合（ステップＳ６０２；Ｙｅｓ）、異常時処理部６４は、連続異常判定回数Ｐをカウントアップ（Ｐｎ＋１＝Ｐｎ＋１）し（ステップＳ６０４）、連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ以上（Ｐ≧Ｘ）であるか否かを判定する（ステップＳ６０５）。
【０１３９】
連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ未満（Ｐ＜Ｘ）である場合には（ステップＳ６０５；Ｎｏ）、ステップＳ６０１の処理に戻る。
【０１４０】
連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ以上（Ｐ≧Ｘ）となると（ステップＳ６０５；Ｙｅｓ）、異常時処理部６４は、連続異常判定回数Ｐをリセットすると共に、所定の異常時処理を行い（ステップＳ６０６）、本フローの処理を終了する。
【０１４１】
すなわち、本実施形態では、異常判定結果を連続して検出した連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ以上（Ｐ≧Ｘ）となる前に、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを検出した場合には、異常時処理部６４は、異常時処理（ステップＳ６０６）に移行しない。
【０１４２】
これにより、表示装置１の表示動作が正常、すなわち、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であるにも関わらず、例えば、ノイズ等の外乱要因に起因して、単発的あるいは短期的に表示領域２１の破損や劣化等が発生したものとして誤検出した場合に、異常時処理を実施することを回避することができる。
【０１４３】
なお、本実施形態における異常時処理移行処理では、実施形態１の構成における異常検出部６に適用する例について説明したが、実施形態２あるいは実施形態３の構成における異常検出部６ａ，６ｂに適用することも可能であることは言うまでもない。
【０１４４】
以上説明したように、実施形態４に係る表示装置１によれば、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に異常判定結果が連続して格納された回数である連続異常判定回数Ｐに所定回数Ｘの閾値を設け、連続異常判定回数Ｐが所定回数Ｘ以上となった場合に（Ｐ≧Ｘ）、所定の異常時処理を行う。これにより、表示装置１の表示動作が正常、すなわち、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であるにも関わらず、例えば、ノイズ等の外乱要因に起因して、単発的あるいは短期的に表示領域２１の破損や劣化等が発生したものとして誤検出した場合に、異常時処理を実施することを回避することができる。
【０１４５】
（実施形態５）
本実施形態では、異常時処理部における異常時処理移行条件の実施形態４とは異なる例について説明する。なお、実施形態５に係る表示装置を適用した表示システムの概略構成、実施形態５に係る表示装置のブロック構成、及び実施形態５に係る表示装置における異常検出部の構成については、上述した実施形態と同様であるので、ここでは、実施形態１に係る表示装置の構成を用いて重複する説明は省略する。
【０１４６】
図１８は、実施形態５に係る表示装置の異常時処理部における異常時処理移行処理の一例を示す図である。
【０１４７】
本実施形態において、異常時処理部６４は、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に異常判定結果が格納された累積回数（以下、「累積異常判定回数」という）Ｑに第１所定回数Ｙ（Ｙは、例えば２以上の自然数、Ｙ≧２）の閾値を設けている。
【０１４８】
また、本実施形態において、異常時処理部６４は、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に連続して各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示す判定結果（以下、「正常判定結果」という）が格納された回数（以下、「連続正常判定回数」という）Ｒに第２所定回数Ｚ（Ｚは、例えば２以上の自然数、Ｚ≧２）の閾値を設けている。
【０１４９】
本実施形態に係る表示装置１において、異常時処理部６４は、累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ以上となった場合に（Ｑ≧Ｙ）、表示領域２１の破損や劣化等が発生したものとして、所定の異常時処理を行うものとする。換言すれば、異常時処理部６４は、累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ未満であり（Ｑ＜Ｙ）、連続正常判定回数Ｒが第２所定回数Ｚ以上となった場合には（Ｒ≧Ｚ）、所定の異常時処理を実施しないものとする。これにより、累積異常判定回数Ｑの第１所定回数Ｙの値、及び、連続正常判定回数Ｒの第２所定回数Ｚの値を適切に設定することで、より高精度に表示領域２１の破損や劣化等が発生したことを検出することができ、不要な異常時処理を実施することを回避することができる。
【０１５０】
なお、本実施形態における第１所定回数Ｙ、第２所定回数Ｚの値は、予めレジスタ部６２に設定されていてもよいし、表示システム１００における環境要因（例えば、表示システム１００を構成する部品の温度特性）に応じてダイナミック（動的）に変更される構成であってもよい。
【０１５１】
異常検出部６における異常検出動作を開始して各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が判定結果格納部６２５に格納されると（ステップＳ７０１）、異常時処理部６４は、判定結果格納部６２５に格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が異常であることを示す異常判定結果であるか否かを判定する（ステップＳ７０２）。
【０１５２】
判定結果格納部６２５に格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が異常判定結果でない場合、すなわち各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常である場合（ステップＳ７０２；Ｎｏ）、異常時処理部６４は、連続正常判定回数Ｒをカウントアップ（Ｒｎ＋１＝Ｒｎ＋１）し（ステップＳ７０３）、連続正常判定回数Ｒが第２所定回数Ｚ以上（Ｒ≧Ｚ）であるか否かを判定する（ステップＳ７０４）。
【０１５３】
連続正常判定回数Ｒが第２所定回数Ｚ未満（Ｒ＜Ｚ）である場合には（ステップＳ７０４；Ｎｏ）、ステップＳ７０１の処理に戻る。
【０１５４】
連続正常判定回数Ｒが第２所定回数Ｚ以上（Ｒ≧Ｚ）となると（ステップＳ７０４；Ｙｅｓ）、異常時処理部６４は、累積異常判定回数Ｑ及び連続正常判定回数Ｒをリセット（Ｑ＝０，Ｒ＝０）し（ステップＳ７０５）、ステップＳ７０１の処理に戻る。
【０１５５】
判定結果格納部６２５に格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が異常判定結果である場合（ステップＳ７０２；Ｙｅｓ）、異常時処理部６４は、累積異常判定回数Ｑをカウントアップ（Ｑｎ＋１＝Ｑｎ＋１）すると共に、連続正常判定回数Ｒをリセットし（ステップＳ７０６）、累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ以上（Ｑ≧Ｙ）であるか否かを判定する（ステップＳ７０７）。
【０１５６】
累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ未満（Ｑ＜Ｙ）である場合には（ステップＳ７０７；Ｎｏ）、ステップＳ７０１の処理に戻る。
【０１５７】
累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ以上（Ｑ≧Ｙ）となると（ステップＳ７０７；Ｙｅｓ）、異常時処理部６４は、累積異常判定回数Ｑをリセットすると共に、所定の異常時処理を行い（ステップＳ７０８）、本フローの処理を終了する。
【０１５８】
すなわち、本実施形態では、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に異常判定結果が格納された累積回数である累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ（Ｙは２以上の自然数、Ｙ≧２）となる前に、各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを検出した場合には、異常時処理部６４は、異常時処理（ステップＳ７０８）に移行しない。
【０１５９】
これにより、累積異常判定回数Ｑの第１所定回数Ｙの値、及び、連続正常判定回数Ｒの第２所定回数Ｚの値を適切に設定することで、より高精度に表示領域２１の破損や劣化等が発生したことを検出することができ、不要な異常時処理を実施することを回避することができる。
【０１６０】
なお、本実施形態における異常時処理移行処理では、実施形態１の構成における異常検出部６に適用する例について説明したが、実施形態２あるいは実施形態３の構成における異常検出部６ａ，６ｂに適用することも可能であることは言うまでもない。
【０１６１】
以上説明したように、実施形態５に係る表示装置１によれば、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に異常判定結果が格納された累積回数である累積異常判定回数Ｑに第１所定回数Ｙの閾値を設け、累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ以上となった場合に（Ｑ≧Ｙ）、所定の異常時処理を行う。また、判定結果格納部６２５の各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）に連続して各ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）（ゲート駆動信号Ｇ（Ｙ））の応答特性が正常であることを示す判定結果が格納された回数である連続正常判定回数Ｒに第２所定回数Ｚの閾値を設け、累積異常判定回数Ｑが第１所定回数Ｙ未満であり（Ｑ＜Ｙ）、連続正常判定回数Ｒが第２所定回数Ｚ以上となった場合には（Ｒ≧Ｚ）、異常時処理を行わない。これにより、累積異常判定回数Ｑの第１所定回数Ｙの値、及び、連続正常判定回数Ｒの第２所定回数Ｚの値を適切に設定することで、より高精度に液晶表示装置１の表示動作の異常を検出することができ、不要な異常時処理を実施することを回避することができる。
【０１６２】
なお、上述した実施形態において、判定結果格納部６２５，６２５ａ，６２５ｂ、あるいは、判定結果格納部６２５，６２５ａ，６２５ｂを含むレジスタ部６２，６２ａ，６２ｂは、不揮発性メモリで構成されているのが好ましい。これにより、表示システム１００、表示装置１、あるいは異常検出部６，６ａ，６ｂを含むドライバＩＣ３が例えば上述した異常検出動作によってシャットダウンされ、異常検出部６，６ａ，６ｂへの供給電力が一時的に停止した場合等でも、判定結果格納部６２５，６２５ａ，６２５ｂに格納された各ソース信号判定結果ＤｅｔＳ（Ｘ）及び各ゲート信号判定結果ＤｅｔＧ（Ｙ）が保持されるため、表示領域２１の破損や劣化等による故障解析に利用することが可能となる。
【０１６３】
また、上述した各実施形態に係る表示装置１は、車載用ディスプレイだけでなく、例えば、スマートフォン等の表示装置として適用することも可能であることは言うまでもない。
【０１６４】
また、上述した実施形態において、ソースドライバ２２は、ソース信号切換スイッチ２２３Ｘを含み、ゲートドライバ２３は、ゲート信号切換スイッチ２３３Ｙを含み、表示システム１００の起動時や、表示装置１における垂直ブランキング期間（垂直帰線期間）等の非表示期間において、テスト用ソース信号あるいはテスト用ゲート信号に切り替えて、表示領域２１の断線や劣化等を検出する異常検出動作を行うものとして説明したが、ソース信号切換スイッチ２２３Ｘやゲート信号切換スイッチ２３３Ｙを含まず、表示期間中に通常のゲート信号やソース信号をモニタリングして、表示領域２１の断線や劣化等を検出する構成とすることも可能である。
【０１６５】
また、上述した実施形態において、ソース信号出力抵抗２２２Ｘ及びゲート信号出力抵抗２３２Ｙは、例えば、数ｋΩ程度である例について説明したが、ソース信号出力抵抗２２２Ｘ及びゲート信号出力抵抗２３２Ｙはこれに限るものではない。また、各ソース信号線（信号線）ＤＴＬ及び各ゲート信号線（走査線）ＳＣＬの抵抗成分Ｒを例えば数Ω程度と例示したが、これに限るものではない。
【０１６６】
また、上述した実施形態では、表示領域２１の破損によるソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線や、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が生じた場合における異常検出動作について説明したが、表示領域２１の破損によってソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の短絡が発生した場合においても、ソース駆動信号Ｓ（Ｘ）やゲート駆動信号Ｇ（Ｙ）の応答特性が正常時における応答特性とは異なるものとなる。従って、上述した実施形態１に係る構成において、ソース信号判定基準電圧ＶｔｈＳ、ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ、ソース信号判定タイミングＴｔｈＳ、及びゲート信号判定タイミングＴｔｈＧを含む各種判定条件を適切に設定することで、表示領域２１の破損によるソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の短絡が生じた場合における異常検出も可能であるし、上述した実施形態２に係る構成において、ソース信号判定電圧閾値ＶｔｈＳ、ゲート信号判定電圧閾値ＶｔｈＧ、ソース信号第１経過時間閾値ＴｔｈＳ１、及びソース信号第２経過時間閾値ＴｔｈＳ２を含む各種判定条件を適切に設定することで、表示領域２１の破損によるソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の短絡が生じた場合における異常検出も可能である。また、表示領域２１の破損によってソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の短絡が発生した場合には、表示領域２１の破損によるソース信号線（信号線）ＤＴＬ（ゲート信号線（走査線）ＳＣＬ）の断線や、表示領域２１を構成する各要素の劣化等が生じた場合とは異なる異常時処理を行うようにすることも可能である。
【０１６７】
以上、実施形態について説明したが、上述した内容により本発明が限定されるものではない。また、上述した本発明の構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、上述した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換及び変更を行うことができる。
【符号の説明】
【０１６８】
１  表示装置
２  制御装置
３  ドライバＩＣ
４  表示制御部
６，６ａ，６ｂ  異常検出部
１１  ガラス基板
１２  中継基板
２１  表示領域
２１ｐ  画素
２２  ソースドライバ（第１ドライバ）
２３  ゲートドライバ（第２ドライバ）
６１，６１ａ，６１ｂ  異常判定部
６２，６２ａ，６２ｂ  レジスタ部
６３  カウンタ
６４，６４ａ，６４ｂ  異常時処理部
１００  表示システム
２１１Ｘ  ソース信号線等価回路
２１１Ｙ  ゲート信号線等価回路
２２１Ｘ  ソース信号駆動回路
２２２Ｘ  ソース信号出力抵抗
２２３Ｘ  ソース信号切換スイッチ
２３１Ｙ  ゲート信号駆動回路
２３２Ｙ  ゲート信号出力抵抗
２３３Ｙ  ゲート信号切換スイッチ
６２１  テストパターン設定部
６２２  判定開始条件設定部
６２３，６２３ａ，６２３ｂ  判定基準電圧設定部
６２４，６２４ａ，６２４ｂ  判定タイミング設定部
６２５，６２５ａ，６２５ｂ  判定結果格納部
ＤＴＬ  ソース信号線（信号線）
Ｇ（Ｙ）  ゲート駆動信号（第２駆動信号）
ＳＣＬ  ゲート信号線（走査線）
Ｓ（Ｘ）  ソース駆動信号（第１駆動信号）
【図１】
2017181574.tif 000003
【図２】
2017181574.tif 000004
【図３】
2017181574.tif 000005
【図４】
2017181574.tif 000006
【図５】
2017181574.tif 000007
【図６】
2017181574.tif 000008
【図７】
2017181574.tif 000009
【図８】
2017181574.tif 000010
【図９】
2017181574.tif 000011
【図１０】
2017181574.tif 000012
【図１１】
2017181574.tif 000013
【図１２】
2017181574.tif 000014
【図１３】
2017181574.tif 000015
【図１４】
2017181574.tif 000016
【図１５】
2017181574.tif 000017
【図１６】
2017181574.tif 000018
【図１７】
2017181574.tif 000019
【図１８】
2017181574.tif 000020