(57)【要約】      （修正有）【課題】液体に含まれる粒子を撮像した電子顕微鏡画像から粒子を抽出する計測システムを提供する。【解決手段】複数の孔を有するフィルム状のフィルタに、所定の粒子を含む液体を滴下し、液体を滴下したフィルタに所定の処理を行うサンプリング手段と、サンプリング手段で、所定の処理が行われたフィルタを電子顕微鏡により撮像する測定手段と、フィルタの孔の情報に基づいて、フィルタを撮像した画像から、孔に対応する部分を除去し、画像において所定の大きさを有する領域を粒子として抽出し、粒子の粒径及び粒径毎の個数を算出する演算手段と、を含む。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の孔を有するフィルム状のフィルタに、所定の粒子を含む液体を滴下し、前記液体を滴下した前記フィルタに所定の処理を行うサンプリング手段と、
前記サンプリング手段で、所定の処理が行われた前記フィルタを電子顕微鏡により撮像する測定手段と、
前記フィルタの前記孔の情報に基づいて、前記フィルタを撮像した画像から、前記孔に対応する部分を除去し、前記画像において所定の大きさを有する領域を前記粒子として抽出し、前記粒子の粒径及び前記粒径毎の個数を算出する演算手段と、
を含む計測システム。
【請求項２】
計測装置が
複数の孔を有するフィルム状のフィルタに、所定の粒子を含む液体を滴下し、前記液体を滴下した前記フィルタに所定の処理を行い、
電子顕微鏡により、所定の処理が行われた前記フィルタを撮像し、
前記フィルタの前記孔の情報に基づいて、前記フィルタを撮像した画像から、前記孔に対応する部分を除去し、前記画像において所定の大きさを有する領域を前記粒子として抽出し、前記粒子の粒径及び前記粒径毎の個数を算出する、
ことを含む計測方法。
【請求項３】
コンピュータが、
所定の粒子を含む液体を滴下した複数の孔を有するフィルム状のフィルタに所定の処理を施したのちに、前記フィルタを電子顕微鏡で撮像した画像から、前記フィルタの前記孔の情報に基づいて、前記フィルタを前記孔に対応する部分を除去し、前記画像において所定の大きさを有する領域を前記粒子として抽出し、前記粒子の粒径及び前記粒径毎の個数を算出する
ことを実行する演算方法。
【請求項４】
コンピュータが、
所定の粒子を含む液体を滴下した複数の孔を有するフィルム状のフィルタに所定の処理を施したのちに、前記フィルタを電子顕微鏡で撮像した画像から、前記フィルタの前記孔の情報に基づいて、前記フィルタを前記孔に対応する部分を除去し、前記画像において所定の大きさを有する領域を前記粒子として抽出し、前記粒子の粒径及び前記粒径毎の個数を算出する
ことを実行するための演算プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測システム、計測方法、演算方法、及び、演算プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
バイオ医薬品は、目的とする産物である抗体（たんぱく質）が凝集されて生成される。凝集は、熱、疎水性表面との接触、ｐＨの変化などの様々な要因に起因する。このため、製造工程のある工程のみで、凝集が発生するのではなく、製造工程の様々な工程で凝集が発生する。
【０００３】
バイオ医薬品に含まれる凝集体（主に、たんぱく質）の粒径が約１００ｎｍから約１０μｍの範囲にあるとき、約１００ｎｍから約１０μｍの範囲の粒径の粒子を測定する技術として、レーザー散乱角度分析と回析パターンから粒度分布を算出するレーザー回析散乱式粒度分布測定方法がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−１０１２５２号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】レーザー計測の基礎ＩＩ：散乱計測  レーザ研究、第２７巻第９号第６４２頁−第６５１頁、１９９９年９月
【非特許文献２】J. Soc. Powder Technol., Japan, 41, 275-282 (2004)
【非特許文献３】楕円当てはめの精度比較：最小二乗法から超精度くりこみ法まで：情報処理学会研究報告（IPSJ SIG Techniccal Report） Vol. 2012-CVIM-180, No.24 2012/1/19
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
バイオ医薬品に凝集体が存在するとバイオ医薬品自体の品質を不安定にするため、製造工程を見直すなどして凝集体が発生しないようにする必要がある。そのため、液体中の凝集体（粒子）の個数や粒径を計測することが求められる。
【０００７】
レーザー回析散乱式粒度分布測定方法は、粒径分布に幅がない単分散系を対象とした方法であり、粒径分布に幅がある多分散系には適さない。また、レーザー回析散乱式粒度分布測定方法は、粒子が球形であることを仮定した方法であり、この方法では、粒子形状に関する情報を得ることができない。さらに、レーザー回析散乱式粒度分布測定方法では、光の波長の限界から大きさ１００ｎｍから１μｍの粒子については、計測精度が低い。
【０００８】
本発明は、液体に含まれる粒子を撮像した電子顕微鏡画像から粒子を抽出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、以下の手段を採用する。
即ち、第１の態様は、
複数の孔を有するフィルム状のフィルタに、所定の粒子を含む液体を所定の体積だけ滴下し、前記液体を滴下した前記フィルタに所定の処理を行うサンプリング手段と、
前記サンプリング手段で、所定の処理が行われた前記フィルタを電子顕微鏡により撮像
する測定手段と、
前記フィルタの前記孔の情報に基づいて、前記フィルタを撮像した画像から、前記孔に対応する部分を除去し、前記画像所定の大きさを有する領域を前記粒子として抽出し、前記粒子の粒径及び前記粒径毎の個数を算出する演算手段と、
を含む計測システムとする。
【００１０】
開示の態様は、プログラムが情報処理装置によって実行されることによって実現されてもよい。即ち、開示の構成は、上記した態様における各手段が実行する処理を、情報処理装置に対して実行させるためのプログラム、或いは当該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体として特定することができる。また、開示の構成は、上記した各手段が実行する処理を情報処理装置が実行する方法をもって特定されてもよい。開示の構成は、上記した各手段が実行する処理を行う情報処理装置を含むシステムとして特定されてもよい。
【００１１】
プログラムを記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくても、並列的または個別に実行される処理を含む。プログラムを記述するステップの一部が省略されてもよい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、液体に含まれる粒子を撮像した電子顕微鏡画像から粒子を抽出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、計測装置の構成例を示す図である。
【図２】図２は、情報処理装置のハードウェア構成例を示す図である。
【図３】図３は、実施形態における計測装置の動作フロー例を示す図である。
【図４】図４は、サンプルを滴下したフィルタの断面図の例を示す図である。
【図５】図５は、前処理を行ったフィルタの断面図の例を示す図である。
【図６】図６は、フィルタを撮像した画像の例を示す図である。
【図７】図７は、抽出された孔の画像の例を示す図である。
【図８】図８は、粒径算出の例を示す図である。
【図９】図９は、出力される粒径分布の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して実施形態について説明する。実施形態の構成は例示であり、発明の構成は、開示の実施形態の具体的構成に限定されない。発明の実施にあたって、実施形態に応じた具体的構成が適宜採用されてもよい。
【００１５】
図１は、計測装置の構成例を示す図である。計測装置１は、サンプリング手段１０、測定手段２０、演算手段３０、制御手段４０、入力手段５０を有する。
【００１６】
サンプリング手段１０は、計測対象のサンプルをフィルタに滴下し、当該フィルタに対して前処理を行う手段である。サンプリング手段１０は、計測対象のサンプル（試料）、計測で使用するフィルタを、利用者によってセットされる。サンプリング手段１０は、サンプルの液体から一定量をマイクロピペット等で、フィルタ上の所定位置に滴下する。滴下された液体がフィルタの孔から抜け、液体に含まれる粒子がフィルタ上に残ることにより、液体と液体に含まれている粒子（凝集体）とが分離される。フィルタは、液体を通過させる微小な孔を有するフィルムである。また、フィルタは、液体を通過させる微小な孔を有するフィルム状の物質であればよい。フィルタの孔は、液体に含まれている粒子を通さない程度に小さい孔である。ここでは、同一のフィルタにおける複数の孔は、互いに、
同じ大きさ、形状を有しているとする。サンプリング手段１０は、サンプルを滴下されたフィルタに対して、フィルタリング、真空吸引、乾燥、コーティング等の前処理を行う。サンプリング手段１０は、前処理を行われたフィルタを、測定手段２０に移動させるステージローダ等の手段を含む。
【００１７】
測定手段２０は、電子顕微鏡である。測定手段２０は、凝集体を撮像する。電子顕微鏡は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡など凝集体の測定をできる顕微鏡であればよい。測定手段２０は、測定する領域が広い場合、測定範囲を複数個に分けて撮像する。撮像された各画像は、演算手段３０で画像合成処理を施して１枚の画像として合成される。測定中に凝集体の水分が蒸発しないように、イオン液体を凝集体に塗布する。または、低真空で測定できる低真空タイプの走査型電子顕微鏡を使用してもよい。なお、低真空タイプの走査型電子顕微鏡は、凝集体を帯電させることを防ぐことができる。電子顕微鏡では、１００ｎｍから１μｍ程度の粒子を十分に計測することができる。
【００１８】
演算手段３０は、測定手段２０で撮像した画像から凝集体を抽出して、凝集体の個数と外径を計測する。フィルタにある液体を逃す孔と凝集体は、孔径や形状から区別したり、フィルタの孔は黒く撮像されるので色彩や色相から区別したりすることもできる。あるいは、フィルタのみをあらかじめ撮像して、フィルタの孔位置と孔径を認識しておいて、認識した孔を除外するようにしてもよい。演算手段３０は、計測された個数と外径（粒径）から、横軸を外径、縦軸に個数（または割合）とする度数分布グラフを作成する。演算手段３０は、過去に撮像した画像、グラフなどを呼び出して参照することもできる。演算手段３０は、計測装置１と分離して、演算装置として、動作してもよい。
【００１９】
制御手段４０は、計測装置１を制御する。制御手段４０は、特に、サンプリング手段１０、測定手段２０を制御する。制御手段４０は、サンプリング手段１０で注入する液量を決定したり、測定手段２０の撮像条件を決定したりする。撮像条件には、電子銃から発する電子の加速度、電子顕微鏡のステージ移動量、検出器の条件などがある。
【００２０】
演算手段３０、制御手段４０は、記憶手段を含み得る。記憶手段には、演算で使用されるデータ、滴下条件、測定条件、測定結果等の演算手段３０、制御手段４０で使用されるデータ等が格納され得る。
【００２１】
入力手段５０は、キーボードやポインティングデバイスなどである。入力手段５０は、サンプリング条件や撮像条件を入力する際に使用される。
【００２２】
計測装置１は、ＰＣ（Personal Computer）、ワークステーション（ＷＳ、Work Station）のような専用または汎用のコンピュータ、あるいは、コンピュータを搭載した電子機
器を使用して実現可能である。
【００２３】
図２は、情報処理装置のハードウェア構成例を示す図である。図２に示す情報処理装置９０は、一般的なコンピュータの構成を有している。図２の情報処理装置９０は、プロセッサ９１、メモリ９２、記憶部９３、入力部９４、出力部９５、通信制御部９６を有する。これらは、互いにバスによって接続される。メモリ９２及び記憶部９３は、コンピュータ読み取り可能な記録媒体である。情報処理装置のハードウェア構成は、図２に示される例に限らず、適宜構成要素の省略、置換、追加が行われてもよい。
【００２４】
情報処理装置９０は、プロセッサ９１が記録媒体に記憶されたプログラムをメモリ９２の作業領域にロードして実行し、プログラムの実行を通じて各構成部等が制御されることによって、所定の目的に合致した機能を実現することができる。
【００２５】
プロセッサ９１は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＤＳＰ（Digital Signal Processor）である。
【００２６】
メモリ９２は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）やＲＯＭ（Read Only Memory）を含む。メモリ９２は、主記憶装置とも呼ばれる。
【００２７】
記憶部９３は、例えば、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable ROM）、ハードディスク
ドライブ（ＨＤＤ、Hard Disk Drive）である。また、記憶部９３は、リムーバブルメデ
ィア、即ち可搬記録媒体を含むことができる。リムーバブルメディアは、例えば、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ、あるいは、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）のようなディスク記録媒体である。記憶部９３は、二次記憶装置とも呼ばれる。
【００２８】
記憶部９３は、各種のプログラム、各種のデータ及び各種のテーブルを読み書き自在に記録媒体に格納する。記憶部９３には、オペレーティングシステム（Operating System :ＯＳ）、各種プログラム、各種テーブル等が格納される。記憶部９３に格納される情報は、メモリ９２に格納されてもよい。また、メモリ９２に格納される情報は、記憶部９３に格納されてもよい。
【００２９】
オペレーティングシステムは、ソフトウェアとハードウェアとの仲介、メモリ空間の管理、ファイル管理、プロセスやタスクの管理等を行うソフトウェアである。オペレーティングシステムは、通信インタフェースを含む。通信インタフェースは、通信制御部９６を介して接続される他の外部装置等とデータのやり取りを行うプログラムである。外部装置等には、例えば、他の情報処理装置、外部記憶装置等が含まれる。
【００３０】
入力部９４は、キーボード、ポインティングデバイス、ワイヤレスリモコン、タッチパネル等を含む。また、入力部９４は、カメラのような映像や画像の入力装置や、マイクロフォンのような音声の入力装置を含むことができる。
【００３１】
出力部９５は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＥＬ（Electroluminescence）パ
ネル、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイ、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）等の表示装置、プリンタ等の出力装置を含む。また、出力部９５は、スピーカのような音声の出力装置を含むことができる。
【００３２】
通信制御部９６は、他の装置と接続し、情報処理装置９０と他の装置との間の通信を制御する。通信制御部９６は、例えば、ＬＡＮ（Local Area Network）インタフェースボード、無線通信のための無線通信回路、有線通信のための通信回路である。ＬＡＮインタフェースボードや無線通信回路は、インターネット等のネットワークに接続される。
【００３３】
（動作例）
図３は、本実施形態における計測装置の動作フロー例を示す図である。本実施形態の計測装置１は、フィルタに粒子を含む液体（サンプル）を滴下し、所定の処理の後、サンプルである液体に含まれる粒子（凝集体など）の粒径や個数を計測する。
【００３４】
Ｓ１０１では、計測装置１の制御手段４０は、計測するサンプル（試料）及びフィルタがセットされたことを確認する。利用者は、計測装置１のサンプリング手段１０に、サンプル及びフィルタをセットする。計測装置１の入力手段５０は、利用者より、サンプルのセットの完了した旨の入力を受け付ける。利用者は、入力手段５０により、サンプルのセットの完了した旨の入力を行う。制御手段４０は、入力手段５０により当該入力がされると、サンプルのセットの完了したことを認識する。
【００３５】
Ｓ１０２では、制御手段４０は、サンプルのセットが完了した旨の通知を受けると、サンプリング手段１０に、サンプルの滴下条件を通知する。滴下条件は、あらかじめテーブル等によって決定されてもよいし、利用者によって入力手段５０により入力されてもよい。また、滴下条件は、前回の計測結果に基づいて決定されてもよい。滴下条件のパラメータは、フィルタの種類（膜種、ポア径（孔径）など）、滴下量、希釈率、ピペットチップ種（ピペットの先端の種類）、滴下位置等である。
【００３６】
Ｓ１０３では、サンプリング手段１０は、サンプルの滴下条件の通知を受けると、当該通知で示された条件に従って、フィルタ、サンプル等を用意し、フィルタにサンプルの滴下を行う。１つのフィルタにおいて、複数の位置に、サンプルが滴下されてもよい。
【００３７】
図４は、サンプルを滴下したフィルタの断面図の例を示す図である。図４の例では、微小な孔を有するフィルム（フィルタ）の上に、サンプル（液体）が滴下されている。サンプル（液体）には、複数の粒子（凝集体など）が含まれる。
【００３８】
Ｓ１０４では、サンプリング手段１０は、サンプルを滴下したフィルタに対して、前処理を行う。前処理は、例えば、フィルタリング（ろ過）、真空吸引、乾燥、コーティング（金属蒸着、イオン液体）等である。前処理により、フィルタ上の液体が取り除かれる。また、コーディングにより、サンプルのチャージアップを防ぐことができる。サンプルのチャージアップは、電子顕微鏡等の測定手段２０にとってノイズの原因となり得る。
【００３９】
図５は、前処理を行ったフィルタの断面図の例を示す図である。図５の例では、図４のサンプル（液体）が滴下された微小な孔を有するフィルム（フィルタ）から、フィルタリング、真空吸引等の前処理によって、液体が取り除かれている。液体は、例えば、フィルタの各孔から取り除かれる。フィルタには、複数の粒子（凝集体など）が載っている。
【００４０】
Ｓ１０５では、サンプリング手段１０は、前処理を行ったサンプルが載ったフィルタを、計測可能な状態にするために、測定手段２０にセットする。
【００４１】
Ｓ１０６では、制御手段４０は、測定手段２０に測定条件を通知する。測定条件は、あらかじめテーブル等によって決定されてもよいし、利用者によって入力手段５０により入力されてもよい。測定条件は、セットされたフィルタを撮像する条件である。また、測定条件は、前回の計測結果に基づいて決定されてもよい。測定条件のパラメータは、例えば、電子の加速電圧、検出器の位置、視野サイズ（倍率、撮像範囲）、計測位置等である。例えば、計測位置は、フィルタにおいて、サンプルが滴下された位置となる。また、視野サイズは、例えば、滴下されたサンプルがフィルタ上で広がると想定される範囲を含むようなサイズとされる。
【００４２】
Ｓ１０７では、測定手段２０は、通知された測定条件に基づいて、セットされたフィルタの撮像を行う。測定手段２０は、撮影された画像を、演算手段３０に送信する。
【００４３】
図６は、フィルタを撮像した画像の例を示す図である。図６の画像は、測定手段２０にセットされたフィルタを撮像した画像である。図６の画像には、フィルタ、フィルタの孔、粒子が含まれている。
【００４４】
Ｓ１０８では、演算手段３０は、測定手段２０で撮像された画像に対して、画像処理を行う。演算手段３０は、画像処理では、最初に、当該画像から、フィルタの孔に相当する部分を取り除く。演算手段３０は、あらかじめ格納されている撮像に使用された孔の情報に基づいて、当該画像から孔に相当する部分を抽出する。孔の情報は、孔の色彩、孔の大
きさ、孔の形状などである。孔の情報は、例えば、孔を含むフィルタをあらかじめ測定手段２０で撮像することにより得られる。演算手段３０は、電子顕微鏡による画像において、孔の部分はフィルタの面に対して深くなるため、孔の色彩（輝度）により、孔の部分を判別することができる。また、孔の形状及び大きさは、１つのフィルタにおいて同一であるため、演算手段３０は、孔の形状及び大きさにより、孔の部分を判別してもよい。
【００４５】
図７は、抽出された孔の画像の例を示す図である。フィルタの孔は、孔の色彩、形状、大きさ等によって、抽出される。図７の画像には、抽出されたフィルタの孔が含まれている。
【００４６】
演算手段３０は、撮像された画像における孔に相当する部分以外の部分において、所定の面積以上の領域を、サンプルに含まれる粒子として抽出する。所定の面積は、例えば、フィルタの１つの孔の面積である。所定の面積以上の領域は、所定の大きさの領域の一例である。これにより、所定の面積未満の領域をノイズとして除去することができる。演算手段３０は、抽出した粒子のそれぞれについて、粒径を算出する。フィルタの孔よりも小さい粒子は、前処理の段階で、取り除かれていると考えられる。よって、フィルタの孔よりも小さい面積の領域をノイズとする。
【００４７】
図８は、粒径算出の例を示す図である。粒径は、例えば、画像において、横方向をｘ方向、縦方向をｙ方向とおき、粒子の領域内で、最もｘ座標の小さい点と最もｘ座標の大きい点とのｘ座標の差（図８のＬｘ）、最もｙ座標の小さい点と最もｙ座標の大きい点とのｙ座標の差（図８のＬｙ）のうち、大きい方とする。また、小さい方を粒径としてもよい。また、ｘ座標の差とｙ座標の差の平均（（Ｌｘ＋Ｌｙ）／２）を粒径としてもよい。さらに、粒子の領域内で、最も長い軸の方向の幅（図８のＬｘ’）を粒径としてもよい。また、粒子の領域内で、最も長い軸の方向の幅と最も長い軸に直交する方向の幅（図８のＬｙ’）との平均（（Ｌｘ’＋Ｌｙ’）／２）を粒径としてもよい。また、粒子の領域において、楕円近似を行い、当該楕円の長軸の長さを、粒径としてもよい（非特許文献３参照）。また、当該楕円の長軸の長さと短軸の長さとの平均を粒径としてもよい。演算手段３０は、画像に含まれる各粒子の粒径を算出する。
【００４８】
Ｓ１０９では、演算手段３０は、粒子の粒径分布を出力する。粒径分布は、例えば、横軸を、粒径、縦軸を割合（または個数）とした、度数分布である。横軸では、等間隔に粒径の範囲を区切る。演算手段３０は、粒径の範囲ごとに、粒子の数を計数する。演算手段３０は、粒径分布とともに、撮像した画像、過去に測定した粒径分布などを出力してもよい。
【００４９】
図９は、出力される粒径分布の例を示す図である。図９のグラフにおいて、横軸は粒径であり、縦軸は割合である。縦軸は、絶対量（個数）であってもよい。個数とすることにより、サンプルにおける単位体積あたりの粒子数が分かる。図９のグラフでは、粒径の範囲毎に、粒子の割合（又は個数）が求められる。これにより、サンプル中の粒径分布が求められる。横軸は、粒径の対数であってもよい。
【００５０】
Ｓ１１０では、演算手段３０は、撮像条件が適切であるか否かを判定する。演算手段３０は、フィルタの孔をほとんど検出できなかった場合、粒子をほとんど検出できなかった場合などに、撮像条件が不適切であったと判断する。撮像条件が不適切であると判定された場合（Ｓ１１０；ＮＯ）、処理がＳ１０６に戻る。ここで、撮像条件が変更される。また、撮像条件が適切であると判定された場合（Ｓ１１０；ＹＥＳ）、処理がＳ１１１に進む。
【００５１】
Ｓ１１１では、演算手段３０は、再計測が必要であるか否かを判定する。演算手段３０
は、抽出した粒子の数が予想される範囲内にない場合、同じ条件の結果と大きく異なる場合、ノイズとして除去した異物の数（密度）等が所定以上である場合などに、再計測が必要であると判定する。再計測が必要であると判定した場合（Ｓ１１１；ＹＥＳ）、処理がＳ１０２に戻る。ここで、サンプル滴下条件が変更される。再計測が必要ないと判定した場合（Ｓ１１１；ＮＯ）、処理が終了する。
【００５２】
（実施形態の作用、効果）
本実施形態の計測装置１は、複数の孔を有するフィルタに粒子を含む液体を滴下する。計測装置１は、粒子を含む液体を滴下したフィルタに前処理を施す。前処理は、フィルタリング（ろ過）、真空吸引、乾燥、コーディングなどである。前処理により、液体が取り除かれる。また、コーディングにより、フィルタが、チャージアップしないようにできる。計測装置１は、前処理を施されたフィルタを電子顕微鏡により撮像する。計測装置１は、撮像された画像から、フィルタの孔に相当する部分を除去する。計測装置１は、除去された領域から、粒子の領域を抽出する。当該粒子は、フィルタに滴下した液体に含まれていた粒子である。計測装置１は、抽出した各粒子の領域の粒径、個数を求める。計測装置１は、粒径分布を出力する。
【００５３】
計測装置１は、電子顕微鏡を用いることで、粒径１００ｎｍから１μｍ程度の粒子の個数、粒径を計測することができる。計測装置１は、撮像された画像から粒子の粒径を求めることで、異なる粒径の粒子を含む系の、粒子の個数を計数することができる。計測装置１は、サンプル内の粒子の形状の情報を得ることができる。
【００５４】
以上の実施形態等の構成は、可能な限り組み合わせて実施され得る。
【００５５】
〈コンピュータ読み取り可能な記録媒体〉
コンピュータその他の機械、装置（以下、コンピュータ等）に上記いずれかの機能を実現させるプログラムをコンピュータ等が読み取り可能な記録媒体に記録することができる。そして、コンピュータ等に、この記録媒体のプログラムを読み込ませて実行させることにより、その機能を提供させることができる。
【００５６】
ここで、コンピュータ等が読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータ等から読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体内には、ＣＰＵ、メモリ等のコンピュータを構成する要素を設け、そのＣＰＵにプログラムを実行させてもよい。
【００５７】
また、このような記録媒体のうちコンピュータ等から取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ／Ｗ、ＤＶＤ、ＤＡＴ、８mmテープ、メモリカード等がある。
【００５８】
また、コンピュータ等に固定された記録媒体としてハードディスクやＲＯＭ等がある。
【符号の説明】
【００５９】
１          計測装置
１０          サンプリング手段
２０          測定手段
３０          演算手段
４０          制御手段
５０          入力手段
【図１】
2017181262.tif 000003
【図２】
2017181262.tif 000004
【図３】
2017181262.tif 000005
【図４】
2017181262.tif 000006
【図５】
2017181262.tif 000007
【図６】
2017181262.tif 000008
【図７】
2017181262.tif 000009
【図８】
2017181262.tif 000010
【図９】
2017181262.tif 000011