(57)【要約】【課題】本発明の目的は、ギャップ部の幅を精度よく測定することが可能なギャップ測定方法、ギャップ測定装置およびフィルム製造方法を提供することにある。【解決手段】本発明の一態様に係るギャップ測定装置１００は、直線状のギャップ部Ｇが設けられたリップＲＰの先端面２３０を撮像する撮像部１１０と、先端面２３０の画像を微分処理してギャップ部Ｇの輪郭の位置を検出し、輪郭の位置に基づいてギャップ部Ｇの幅を検出する解析部と、を有することを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
直線状のギャップ部が設けられたリップの先端面を撮像する撮像ステップと、
前記先端面の画像を微分処理して前記ギャップ部の輪郭の位置を検出し、前記輪郭の位置に基づいて前記ギャップ部の幅を検出する解析ステップと、
を有するギャップ測定方法。
【請求項２】
前記撮像ステップでは、前記先端面に垂直な方向から前記先端面を撮像する
請求項１に記載のギャップ測定方法。
【請求項３】
前記撮像ステップでは、前記先端面に垂直に照明光を照射する
請求項２に記載のギャップ測定方法。
【請求項４】
前記解析ステップでは、中間調を含む前記画像を微分処理する
請求項３に記載のギャップ測定方法。
【請求項５】
前記撮像ステップでは、前記ギャップ部の幅が調整される複数の調整位置の画像を撮像し、
前記解析ステップでは、それぞれの前記調整位置の画像を微分処理して、それぞれの前記調整位置の前記ギャップ部の幅を検出する
請求項１ないし４のいずれか１項に記載のギャップ測定方法。
【請求項６】
前記解析ステップでは、前記画像内の複数箇所で前記ギャップ部の幅を検出し、前記複数箇所の前記ギャップ部の幅の平均値を前記調整位置の前記ギャップ部の幅として検出する
請求項５に記載のギャップ測定方法。
【請求項７】
直線状のギャップ部が設けられたリップの先端面を撮像する撮像部と、
前記先端面の画像を微分処理して前記ギャップ部の輪郭の位置を検出し、前記輪郭の位置に基づいて前記ギャップ部の幅を検出する解析部と、
を有するギャップ測定装置。
【請求項８】
直線状のギャップ部が設けられたリップの先端面を撮像する撮像ステップと、
前記先端面の画像を微分処理して前記ギャップ部の輪郭の位置を検出し、前記輪郭の位置に基づいて前記ギャップ部の幅を検出する解析ステップと、
前記解析ステップで検出された前記ギャップ部の幅が設計値に近づくように前記ギャップ部の幅を調整する調整ステップと、
前記調整ステップにより前記ギャップ部の幅が調整されたダイを用いてフィルムを成形する成形ステップと、
を有するフィルム製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ギャップ測定方法、ギャップ測定装置およびフィルム製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ダイのリップには、樹脂を押し出すための直線状のギャップ部が設けられている。ギャップ部の幅は、複数の調整ボルトを用いて調整される（特許文献１参照）。ギャップ部の幅を調整する場合には、一人の作業者がマイクロスコープを用いて調整ボルト付近のリップの画像を取得する。そして、もう一人の作業者が、リップの画像を端末の画面に映し出してギャップ部の幅を測定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−１５６１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ギャップ部の幅は目視で測定される。そのため、ギャップ部の幅を精度よく測定することが難しい。
【０００５】
本発明の目的は、ギャップ部の幅を精度よく測定することが可能なギャップ測定方法、ギャップ測定装置およびフィルム製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様に係るギャップ測定方法は、直線状のギャップ部が設けられたリップの先端面を撮像する撮像ステップと、前記先端面の画像を微分処理して前記ギャップ部の輪郭の位置を検出し、前記輪郭の位置に基づいて前記ギャップ部の幅を検出する解析ステップと、を有する。
【０００７】
この構成では、ギャップ部の幅がリップの先端面の画像を微分処理することにより検出される。そのため、ギャップ部の測定精度が高く、作業者ごとの測定結果のばらつきも生じにくい。
【０００８】
例えば、前記撮像ステップでは、前記先端面に垂直な方向から前記先端面を撮像する。
【０００９】
この構成によれば、ギャップ部の輪郭にぼやけが生じにくい。そのため、ギャップ部の幅が精度よく測定される。
【００１０】
例えば、前記撮像ステップでは、前記先端面に垂直に照明光を照射する。
【００１１】
この構成によれば、ギャップ部とその周辺部とのコントラストが大きくなる。そのため、ギャップ部の輪郭が明確になる。よって、ギャップ部の幅が精度よく測定される。
【００１２】
例えば、前記解析ステップでは、中間調を含む前記画像を微分処理する。
【００１３】
リップの先端面は樹脂で汚れている場合が多い。先端面の画像を二値化処理すると、汚れた部分がギャップ部と同じ色の画像に変換され、ギャップ部の輪郭が不鮮明になることがある。二値化処理されていない中間調を含む画像を微分処理すれば、このような問題は生じにくい。
【００１４】
例えば、前記撮像ステップでは、前記ギャップ部の幅が調整される複数の調整位置の画像を撮像し、前記解析ステップでは、それぞれの前記調整位置の画像を微分処理して、それぞれの前記調整位置の前記ギャップ部の幅を検出する。
【００１５】
この構成によれば、ギャップ部の測定位置とギャップ部の調整位置とが一致する。そのため、目的とするギャップ部の幅が調整位置において実現されやすい。
【００１６】
例えば、前記解析ステップでは、前記画像内の複数箇所で前記ギャップ部の幅を検出し、前記複数箇所の前記ギャップ部の幅の平均値を前記調整位置の前記ギャップ部の幅として検出する。
【００１７】
この構成によれば、先端面の汚れによってギャップ部の輪郭が部分的に不鮮明になっていても、ギャップ部の幅の測定結果に大きな誤差が生じにくい。
【００１８】
本発明の一態様に係るギャップ測定装置は、直線状のギャップ部が設けられたリップの先端面を撮像する撮像部と、前記先端面の画像を微分処理して前記ギャップ部の輪郭の位置を検出し、前記輪郭の位置に基づいて前記ギャップ部の幅を検出する解析部と、を有する。
【００１９】
この構成では、ギャップ部の幅がリップの先端面の画像を微分処理することにより検出される。そのため、ギャップ部の測定精度が高く、作業者ごとの測定結果のばらつきも生じにくい。
【００２０】
本発明の一態様に係るフィルム製造方法は、直線状のギャップ部が設けられたリップの先端面を撮像する撮像ステップと、前記先端面の画像を微分処理して前記ギャップ部の輪郭の位置を検出し、前記輪郭の位置に基づいて前記ギャップ部の幅を検出する解析ステップと、前記解析ステップで検出された前記ギャップ部の幅が設計値に近づくように前記ギャップ部の幅を調整する調整ステップと、前記調整ステップにより前記ギャップ部の幅が調整されたダイを用いてフィルムを成形する成形ステップと、を有する。
【００２１】
この構成では、ギャップ部の幅がリップの先端面の画像を微分処理することにより検出される。そのため、ギャップ部の測定精度が高く、作業者ごとの測定結果のばらつきも生じにくい。よって、調整後のギャップ部の幅と設計値との間のずれが小さくなり、成形されるフィルムの厚みの均一性が高まる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、ギャップ部の幅を精度よく測定することが可能なギャップ測定方法、ギャップ測定装置およびフィルム製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】図１は、ダイおよびギャップ測定装置の全体構成を示す図である。
【図２】図２は、ダイおよびギャップ測定装置を側方から見た図である。
【図３】図３は、ダイを撮像部側から見た図である。
【図４】図４は、ダイとギャップ測定装置との接続部の構造を示す図である。
【図５】図５は、撮像部の概略構成を示す図である。
【図６】図６は、撮像部の撮像位置を示す図である。
【図７】図７は、撮像エリアの画像の一例を示す図である。
【図８】図８は、ギャップ測定装置の機能構成を示すブロック図である。
【図９】図９は、輝度分布のデータと微分データとを示す図である。
【図１０】図１０は、フィルム製造方法を説明する図である。
【図１１】図１１は、各調整位置におけるギャップ部の幅の測定結果を示す図である。
【図１２】図１２は、樹脂が付着したリップの先端面の画像を示す図である。
【図１３】図１３は、先端面の画像を二値化処理およびモノクロ反転処理して得られた画像を示す図である。
【図１４】図１４は、第二の実施形態に係るギャップ測定方法を説明する図である。
【図１５】図１５は、第三の実施形態に係るギャップ測定方法を説明する図である。
【図１６】図１６は、各調整位置におけるギャップ部の幅の測定結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
［第一の実施形態］
以下、図１ないし図１３を用いて、第一の実施形態に係るギャップ測定装置１００を説明する。ギャップ測定装置１００は、ダイ２００のギャップ部Ｇの幅を測定する装置である。図１は、ダイ２００およびギャップ測定装置１００の全体構成を示す図である。図２は、ダイ２００およびギャップ測定装置１００を側方から見た図である。図３は、ダイ２００を撮像部１１０側から見た図である。図４は、ダイ２００とギャップ測定装置１００との接続部の構造を示す図である。図５は、撮像部１１０の概略構成を示す図である。
【００２５】
図１ないし図３に示すように、ダイ２００は、例えば、第一のブロック２１０と、第二のブロック２２０と、第一の側板２４１と、第二の側板２４２と、複数の調整部材２１５と、を有する。
【００２６】
第一のブロック２１０と第二のブロック２２０とは、互いに長手方向を平行にして重ね合わされている。第一のブロック２１０および第二のブロック２２０の互いに対向する面には、樹脂をギャップ部Ｇに導くための流路が形成されている。第一のブロック２１０および第二のブロック２２０は、第一の側板２４１と第二の側板２４２によって長手方向両側から挟み込まれている。第一のブロック２１０および第二のブロック２２０は、ボルト２４３により第一の側板２４１および第二の側板２４２と一体化されている。
【００２７】
樹脂は、ダイ２００の内部の流路を通ってギャップ部Ｇから押し出される。ダイ２００の内部には、樹脂流入口、マニホールドおよびリップランドＲＬ（図５参照）が、ダイ２００の長手方向と直交する方向に並んでいる。リップランドＲＬが設けられたダイ２００の最下流部がリップＲＰである。第一のブロック２１０のリップランドＲＬと第二のブロック２２０のリップランドＲＬとの間の隙間がギャップ部Ｇである。リップＲＰの先端面２３０は、樹脂の流れ方向と直交する平面である。先端面２３０は、第一のブロック２１０の先端面２１１と第二のブロック２２０の先端面２２１とを含む。
【００２８】
第一のブロック２１０には、ギャップ部Ｇの幅を調整する複数の調整部材２１５が設けられている。調整部材２１５は、例えば、第一のブロック２１０の先端部を第二のブロック２２０の先端部に向けて付勢する調整ボルトである。複数の調整部材２１５は、ギャップ部Ｇの長手方向に一定の間隔で並んでいる。
【００２９】
ギャップ測定装置１００は、撮像部１１０と、ガイド部１２０と、を有する。
【００３０】
撮像部１１０は、直線状のギャップ部Ｇが設けられたリップＲＰの先端面２３０を撮像する。撮像部１１０は、例えば、撮像素子１１１と、照明素子１１２と、スケールセンサ１１３と、フレーム１１９と、を有する。
【００３１】
撮像素子１１１およびスケールセンサ１１３は、例えば、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）カメラまたはＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）カメラである。撮像素子１１１の光軸は、先端面２３０と直交する。撮像部１１０は、先端面２３０に垂直な方向から先端面２３０を撮像する。スケールセンサ１１３は、ガイド部１２０に設けられたスケール１２２を読み取る。
【００３２】
図５に示すように、照明素子１１２は、先端面２３０に垂直に照明光Ｌを照射する。照明素子１１２は、例えば、光源１１４と、ハーフミラー１１５と、を有する。光源１１４は、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）などの発光体を有する。光源１１４は、ハーフミラー１１５を介して先端面２３０に垂直に照明光Ｌを入射させる。先端面２３０で反射した照明光Ｌは、撮像素子１１１に入射する。照明素子１１２は、撮像素子１１１の光軸の方向から照明光Ｌを先端面２３０に入射させる同軸落射照明である。
【００３３】
図１ないし図３に示すように、撮像素子１１１、照明素子１１２およびスケールセンサ１１３は、互いに位置決めされた状態でフレーム１１９に固定されている。フレーム１１９は、ガイド部１２０に設けられたガイドレール１２１にスライド自在に取り付けられている。
【００３４】
ガイド部１２０は、撮像部１１０をギャップ部Ｇの長手方向にスライド可能に保持する。ガイド部１２０は、例えば、ガイドレール１２１と、スケール１２２と、第一の金具１２３と、第二の金具１２４と、を有する。
【００３５】
ガイドレール１２１は、ギャップ部Ｇの長手方向に延びる。ガイドレール１２１は、撮像部１１０をギャップ部Ｇの長手方向に移動させる。ガイドレール１２１の長さは、ギャップ部Ｇの長さよりも長い。ガイドレール１２１の長手方向の両端部には、撮像部１１０の移動を規制するストッパーが設けられている。
【００３６】
スケール１２２は、ガイドレール１２１に沿って設けられている。スケール１２２は、ガイドレール１２１上の位置を示す。スケールセンサ１１３がスケール１２２を読み取ることで、撮像部１１０の位置が検出される。
【００３７】
図４に示すように、第一の金具１２３は、リップＲＰを有するダイ２００の第一の側板２４１にガイドレール１２１を固定する。第二の金具１２４は、ダイ２００の第二の側板２４２にガイドレール１２１を固定する。第二の金具１２４は、ガイドレール１２１の長手方向にスライド可能である。これにより、様々な大きさのダイ２００にガイドレール１２１を固定することができる。
【００３８】
図６は、撮像部１１０の撮像位置を示す図である。
【００３９】
撮像部１１０は、ガイドレール１２１に沿って第一の位置ＥＰ１から第二の位置ＥＰ２までの範囲を移動する。ギャップ部Ｇの長手方向の第一の端部ＯＰ１および第二の端部ＯＰ２は、撮像部１１０の移動範囲に含まれる。撮像部１１０は、ガイドレール１２１に沿って移動することで、ギャップ部Ｇの任意の位置を撮像することができる。
【００４０】
撮像部１１０は、例えば、複数の調整部材２１５にそれぞれ対応した複数の調整位置ＡＰの画像を撮像する。調整位置ＡＰは、調整部材２１５によってギャップ部Ｇの幅が調整される位置である。撮像部１１０は、例えば、調整部材２１５の中心線に沿った検査ラインＳＬを含む撮像エリアＰＡの画像を調整位置ＡＰの画像として撮像する。
【００４１】
図７は、撮像エリアＰＡの画像の一例を示す図である。
【００４２】
撮像部１１０は、ギャップ部Ｇを介して隣接する第一のブロック２１０の先端面２１１および第二のブロック２２０の先端面２２１の画像を撮像する。撮像部１１０は、先端面２３０に垂直な方向から先端面２３０を撮像する。照明光Ｌが反射しないギャップ部Ｇは非常に暗く、照明光Ｌが反射するギャップ部Ｇの周囲は非常に明るい。ギャップ部Ｇと周辺部とのコントラストが大きいため、ギャップ部Ｇの輪郭は明確である。
【００４３】
図８は、先端面２３０の画像を処理するギャップ測定装置１００の機能構成を示すブロック図である。
【００４４】
ギャップ測定装置１００は、例えば、処理部１３０と、表示部１４０と、を有する。処理部１３０は、例えば、データ取得部１３１と、解析部１３２と、出力部１３３と、を有する。
【００４５】
データ取得部１３１は、撮像素子１１１によって撮像された各調整位置ＡＰの画像のデータを取得する。データ取得部１３１は、各調整位置ＡＰの画像のデータの中から、それぞれ検査ラインＳＬ上に位置する複数の画素の階調値のデータを抽出する。データ取得部１３１は、検査ラインＳＬ上に位置する複数の画素の階調値のデータを輝度分布のデータとして取得する。データ取得部１３１は、各調整位置ＡＰにおける輝度分布のデータをそれぞれ解析部１３２に供給する。
【００４６】
解析部１３２は、先端面２３０の画像を微分処理してギャップ部Ｇの輪郭の位置を検出し、輪郭の位置に基づいてギャップ部Ｇの幅を検出する。解析部１３２は、例えば、二値化処理されていない中間調を含む画像を微分処理する。解析部１３２は、それぞれの調整位置ＡＰの画像を微分処理して、それぞれの調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅を検出する。
【００４７】
例えば、解析部１３２は、各調整位置ＡＰにおける輝度分布のデータを微分処理し、明部と暗部との境界部に生じるピークの位置を検出する。ギャップ部Ｇは暗部であり、ギャップ部Ｇの周辺部（先端面２１１、先端面２２１）は明部であるため、ピークの位置はギャップ部Ｇの輪郭の位置と一致する。解析部１３２は、ギャップ部Ｇと先端面２１１および先端面２２１との境界部に発生する二つのピークの間隔を計算し、ギャップ部Ｇの幅を検出する。解析部１３２は、ギャップ部Ｇの幅に関する情報を出力部１３３に供給する。
【００４８】
図９は、輝度分布のデータＭｅｓと微分データＤｉｆとを示す図である。微分データＤｉｆは、輝度分布のデータＭｅｓを微分処理して得られたデータである。横軸Ｙは、検査ラインＳＬ上の位置を示す。左側の縦軸は、輝度分布のデータＭｅｓの階調値ＢＲを示す。右側の縦軸は、微分データＤｉｆの微分値ＤＶを示す。
【００４９】
輝度分布のデータＭｅｓには、階調値ＢＲが大きい明部ＢＳと、階調値ＢＲが大きく落ち込む暗部ＤＳと、が存在する。明部ＢＳは先端面２３０に対応し、暗部ＤＳはギャップ部Ｇに対応する。明部ＢＳと暗部ＤＳとの境界部では、階調値が急激に変化する。微分データＤｉｆには、明部ＢＳから暗部ＤＳへの階調変化および暗部ＤＳから明部ＢＳへの階調変化に対応して、二つの鋭いピークが存在する。二つのピークの位置は、ギャップ部Ｇと先端面２１１との境界部の位置およびギャップ部Ｇと先端面２２１との境界部の位置にそれぞれ対応する。よって、二つのピークの位置の間隔を計算すれば、ギャップ部Ｇの幅ＷＧが検出される。
【００５０】
図８に戻って、出力部１３３は、スケールセンサ１１３が読み取ったスケール１２２の情報を取得する。スケール１２２の情報は、例えば、第一の端部ＯＰ１を基準としたガイドレール１２１上の撮像部１１０の位置に関する情報である。出力部１３３は、ギャップ部Ｇの幅ＷＧに関する情報をスケール１２２の情報と対応付けて表示部１４０に供給する。表示部１４０は、例えば、撮像部１１０の位置ごとのギャップ部Ｇの幅ＷＧを表示する。作業者は、表示部１４０に表示された情報に基づいて、各調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧを、各調整位置ＡＰに対応した調整部材２１５を用いて調整する。
【００５１】
処理部１３０は、例えば、プロセッサとメモリとで構成されるコンピュータである。メモリには、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）およびＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）が含まれる。処理部１３０は、ＲＡＭまたはＲＯＭに記憶されたプログラムを実行することにより、データ取得部１３１、解析部１３２および出力部１３３として機能する。
【００５２】
図１０は、ダイ２００を用いたフィルム製造方法を説明する図である。
【００５３】
まず、ダイ２００のギャップ部Ｇが測定される（ギャップ測定ステップＭＳ）。このステップは、以下に示すギャップ測定方法を用いて行われる。
【００５４】
まず、作業者が、第一の金具１２３および第二の金具１２４を用いてガイドレール１２１をダイ２００に固定し、ガイドレール１２１上に撮像部１１０を取り付ける。作業者は、撮像素子１１１によって撮像された先端面２３０の画像に基づいて、撮像部１１０を第一の端部ＯＰ１に移動させる。そして、第一の端部ＯＰ１が撮像される位置がガイドレール１２１上のゼロ位置となるようにスケール１２２の情報をリセットする。また、作業者は、ギャップ部Ｇの第一の端部ＯＰ１および第二の端部ＯＰ２で撮像部１１０の光軸調整を行う。また、作業者は、所定長さのスケールを撮像して初期化を行う（準備ステップＳ１）。
【００５５】
次に、作業者が、撮像部１１０を第一の端部ＯＰ１に最も近い調整位置ＡＰまで移動させる。第一の端部ＯＰ１から各調整位置ＡＰまでの距離は予め測定されている。作業者は、スケールセンサ１１３によって読み取られたスケール１２２の情報に基づいて、撮像部１１０を、調整位置ＡＰが撮像可能な位置まで移動させる（移動ステップＳ２）。
【００５６】
撮像部１１０の移動が完了したら、撮像部１１０は、直線状のギャップ部Ｇが設けられたリップＲＰの先端面２３０を撮像する（撮像ステップＳ３）。撮像部１１０は、先端面２３０に垂直に照明光Ｌを照射し、先端面２３０に垂直な方向から先端面２３０を撮像する。画像の中心線は、調整部材２１５の中心線と一致する。画像の中心線が、検査ラインＳＬとなる。
【００５７】
次に、処理部１３０が、先端面２３０の画像を微分処理してギャップ部Ｇの輪郭の位置を検出し、輪郭の位置に基づいてギャップ部Ｇの幅ＷＧを検出する（解析ステップＳ４）。
【００５８】
ここではまず、データ取得部１３１が、画像のデータの中から、検査ラインＳＬ上に位置する複数の画素の階調値のデータを抽出する。データ取得部１３１は、検査ラインＳＬ上に位置する複数の画素の階調値のデータを輝度分布のデータとして取得する。データ取得部１３１は、輝度分布のデータを解析部１３２に供給する。
【００５９】
解析部１３２は、輝度分布のデータを微分処理し、微分処理によって得られた微分データのピークの位置を検出する。微分データには、ギャップ部Ｇと先端面２１１との境界部およびギャップ部Ｇと先端面２２１との境界部にそれぞれ対応する二つのピークが存在する。解析部１３２は、二つのピークの間隔を計算し、ギャップ部Ｇの幅ＷＧを検出する。解析部１３２は、ギャップ部Ｇの幅ＷＧに関する情報を出力部１３３に供給する。出力部１３３は、ギャップ部Ｇの幅ＷＧに関する情報を、スケールセンサ１１３から取得したスケールの情報と対応付けて記憶する。
【００６０】
一番目の調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの測定が完了したら、作業者は、全ての調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの測定が完了したか否かを判定する（判定ステップＳ５）。
【００６１】
全ての調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの測定が完了していない場合には（判定ステップＳ５：Ｎｏ）、移動ステップＳ２に戻る。そして、同様の手順により、ギャップ部Ｇの幅ＷＧが調整される複数の調整位置ＡＰの画像を撮像し、それぞれの調整位置ＡＰの画像を微分処理して、それぞれの調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧを検出する。これにより、二番目以降の調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの測定が行われる。
【００６２】
全ての調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの測定が完了したら（判定ステップＳ５：Ｙｅｓ）、出力部１３３が、各調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧに関する情報を表示部１４０に供給する。表示部１４０は、各調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧに関する情報をスケール１２２の情報と対応付けて表示する。
【００６３】
次に、作業者は、解析ステップＳ４で検出されたギャップ部Ｇの幅ＷＧが設計値に近づくようにギャップ部Ｇの幅ＷＧを調整する（調整ステップＳ６）。例えば、作業者は、表示部１４０に表示された情報に基づいて、複数の調整部材２１５を操作し、各調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧを設計値に一致させる。
【００６４】
次に、作業者は、調整ステップＳ６によりギャップ部Ｇの幅ＷＧが調整されたダイ２００を用いてフィルムを成形する（成形ステップＳ７）。
【００６５】
図１１は、各調整位置ＡＰにおけるギャップ部Ｇの幅ＷＧの測定結果を示す図である。実施例１ないし実施例３は、本実施形態のギャップ測定方法を用いて同一の作業者が行った三回の測定結果を示している。比較例１は、作業者が本実施形態のギャップ測定方法を用いずに測定を行った結果を示している。調整位置ＡＰは、第一の端部ＯＰ１側から数えた調整部材２１５の番号を示す。幅ＷＧの単位は、「μｍ」である。
【００６６】
実施例１ないし実施例３の測定結果には、大きなばらつきは生じていない。そのため、測定の再現性が高いことがわかる。比較例１の測定結果は、実施例１ないし実施例３の測定結果と大きく乖離する場合がある。この乖離は、作業者の熟練度に応じた誤差であると考えられる。実施例１ないし実施例３の測定結果には互いに大きな乖離は生じていない。そのため、実施例１ないし実施例３の測定結果には、作業者の熟練度に応じた誤差は殆ど含まれていないと考えられる。よって、本実施形態のギャップ測定方法によれば、精度の高い測定を再現性よく行うことが可能であることがわかる。
【００６７】
以上説明したように、本実施形態のギャップ測定方法およびフィルム製造方法によれば、次のような効果が得られる。
【００６８】
（１）本実施形態では、ギャップ部Ｇの幅ＷＧがリップＲＰの先端面２３０の画像を微分処理することにより検出される。そのため、ギャップ部Ｇの測定精度が高く、作業者ごとの測定結果のばらつきも生じにくい。よって、調整後のギャップ部Ｇの幅ＷＧと設計値との間のずれが小さくなり、成形されるフィルムの厚みの均一性が高まる。
【００６９】
（２）本実施形態では、先端面２３０に垂直な方向から先端面２３０が撮像される。そのため、ギャップ部Ｇの輪郭にぼやけが生じにくい。また、先端面２３０に垂直に照明光Ｌが照射されるため、ギャップ部Ｇとその周辺部とのコントラストが大きくなる。そのため、ギャップ部Ｇの輪郭が明確になる。よって、ギャップ部Ｇの幅ＷＧが精度よく測定される。
【００７０】
（３）本実施形態では、二値化処理されていない中間調を含む画像が微分処理される。そのため、リップＲＰの先端面２３０が樹脂で汚れている場合でも、ギャップ部Ｇの輪郭が不鮮明になりにくい。
【００７１】
図１２は、樹脂が付着したリップＲＰの先端面２３０の画像を示す図である。図１３は、先端面２３０の画像を二値化処理およびモノクロ反転処理して得られた画像を示す図である。
【００７２】
図１２に示すように、リップＲＰの先端面２３０は樹脂で汚れている場合が多い。図１３に示すように、先端面２３０の画像を二値化処理すると、汚れた部分ＤＴがギャップ部Ｇと同じ色の画像に変換され、ギャップ部Ｇの輪郭が不鮮明になることがある。図１３の符号ＢＡは、ギャップ部Ｇの輪郭が不鮮明になった部分を示す。二値化処理されていない中間調を含む画像を微分処理すれば、このような問題は生じにくい。
【００７３】
（４）本実施形態では、それぞれの調整位置ＡＰの画像を微分処理することにより、それぞれの調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧが検出される。この構成では、ギャップ部Ｇの測定位置とギャップ部Ｇの調整位置ＡＰとが一致する。そのため、目的とするギャップ部Ｇの幅ＷＧが調整位置ＡＰにおいて実現されやすい。
【００７４】
（５）本実施形態では、ダイ２００に固定されたガイドレール１２１に沿って撮像部１１０が移動する。そのため、作業者ごとに撮像位置がばらつくことが抑制される。よって、調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧを精度よく測定することができる。また、撮像部１１０の保持および移動に専用の作業者を割り当てる必要がないため、作業者の人数を減らすことができる。
【００７５】
（６）本実施形態では、第二の金具１２４がガイドレール１２１の長手方向にスライド可能である。そのため、様々な大きさのダイ２００にガイドレール１２１を固定することができる。
【００７６】
（７）本実施形態では、撮像部１１０が、スケール１２２を読み取るスケールセンサ１１３を有する。そのため、作業者ごとに撮像位置がばらつくことが抑制される。よって、調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧを精度よく測定することができる。
【００７７】
［第二の実施形態］
図１４は、第二の実施形態に係るギャップ測定方法を説明する図である。本実施形態において第一の実施形態と共通する構成要素については、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
【００７８】
本実施形態において第一の実施形態と異なる点は、解析部１３２が、画像内の複数箇所でギャップ部Ｇの幅ＷＧを検出し、複数箇所のギャップ部Ｇの幅ＷＧの平均値を調整位置ＡＰのギャップ部Ｇの幅ＷＧとして検出する点である。
【００７９】
例えば、解析部１３２は、撮像エリアＰＡの中心部ＭＡに複数の検査ラインＳＬを設定する。複数の検査ラインＳＬは、例えば、調整部材２１５の中心線に対して線対称に配置される。図１４の例では、調整位置ＡＰの画像内に奇数本の検査ラインＳＬ１〜ＳＬ２ｋ＋１（ｋは１以上の整数）が互いに等しい間隔で設定される。中央の検査ラインＳＬｋ＋１が、調整部材２１５の中心線と一致する。この構成によれば、先端面２３０の汚れによってギャップ部Ｇの輪郭が部分的に不鮮明になっていても、ギャップ部Ｇの幅ＷＧの測定結果に大きな誤差が生じにくい。
【００８０】
［第三の実施形態］
図１５は、第三の実施形態に係るギャップ測定方法を説明する図である。本実施形態において第一の実施形態と共通する構成要素については、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
【００８１】
本実施形態では、第一の端部ＯＰ１の位置をゼロ位置としてスケール１２２の値が設定されている。例えば、第一の位置ＥＰ１から第一の端部ＯＰ１までのスケール１２２の値がマイナス表示され、撮像部１１０が第一の端部ＯＰ１に移動したときにスケール１２２の値がゼロとなる。
【００８２】
第一の実施形態では、第一の端部ＯＰ１の位置が必ずしもスケール１２２のゼロ位置とならない。そのため、作業者は初期調整として、スケール１２２のゼロ位置補正を行う。
【００８３】
例えば、作業者は、撮像素子１１１によって撮像されたリップＲＰの画像を表示部１４０に表示する。表示部１４０の画面の中心には、撮像素子１１１の光軸の位置を示すカーソルＣＲが表示されている。作業者は、カーソルＣＲが第一の端部ＯＰ１（ギャップ部Ｇの端部）と一致するまで、撮像部１１０をガイドレール１２１に沿って移動させる。そして、カーソルＣＲが第一の端部ＯＰ１と一致する位置をゼロ位置とする。
【００８４】
しかし、この方法では、カーソルＣＲと第一の端部ＯＰ１とが一致したかどうかが目視で判断される。そのため、作業者ごとに判断がばらつく。ゼロ位置がずれると、目的とする撮像位置と実際の撮像位置との間にずれが生じるため、ギャップ部Ｇの幅ＷＧの測定結果にもわずかな誤差が生じる可能性がある。
【００８５】
一方、本実施形態では、第一の端部ＯＰ１の位置をゼロ位置としてスケール１２２の値が設定されているため、ゼロ位置補正は必要とされない。そのため、作業者ごとに撮像位置がばらつくことが抑制される。よって、ギャップ部Ｇの幅ＷＧが精度よく測定される。
【００８６】
図１６は、各調整位置ＡＰにおけるギャップ部Ｇの幅ＷＧの測定結果を示す図である。実施例４ないし実施例６は、本実施形態のギャップ測定方法を用いて同一の作業者が行った三回の測定結果を示している。比較例２は、作業者が本実施形態のギャップ測定方法を用いずに測定を行った結果を示している。調整位置ＡＰは、第一の端部ＯＰ１側から数えた調整部材２１５の番号を示す。幅ＷＧの単位は、ｍｍである。
【００８７】
本実施形態においても図１１と同様の結果が得られる。すなわち、実施例４ないし実施例６においては、再現性の高い測定が行われており、作業者の熟練度に応じた誤差も測定結果に含まれにくいことがわかる。
【００８８】
以上、本発明の好適な実施の形態を説明したが、本発明はこのような実施の形態に限定されるものではない。実施の形態で開示された内容はあくまで一例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で行われた適宜の変更についても、当然に本発明の技術的範囲に属する。上述した発明を基にして当業者が適宜設計変更して実施しうる全ての発明も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の技術的範囲に属する。
【００８９】
例えば、上記の実施形態では、作業者が、手動で撮像部１１０を移動させて、調整位置ＡＰのギャップ部Ｇを撮像した。しかし、撮像部１１０は自動で移動させてもよい。撮像部１１０を移動させる方法としては、例えば、リニアガイドを備えた電動アクチュエータを用いて撮像部１１０を移動させる方法が挙げられる。
【００９０】
また、上記の実施形態では、第一の金具１２３と第一の側板２４１とを固定し、第一の金具１２４と第二の側板２４２とを固定することで、ガイドレール１２１および撮像部１１０をダイ２００に固定した。しかし、固定方法はこれに限られない。例えば、ガイドレール１２１および撮像部１１０が予め備えられた台の上に、ダイ２００を所定位置に固定する方法を用いてもよい。また、第一のブロック２１０および第二のブロック２２０に固定治具を取り付けて、ガイドレール１２１および撮像部１１０をダイ２００に固定する方法を用いてもよい。また、第一のブロック２１０および第二のブロック２２０、ならびに第一の側板２４１および第二の側板２４２に固定治具を取り付けて、ガイドレール１２１および撮像部１１０をダイ２００に固定する方法を用いてもよい。
【符号の説明】
【００９１】
１００  ギャップ測定装置
１１０  撮像部
１３２  解析部
２００  ダイ
２３０  リップの先端面
２４１  第一の側板
２４２  第二の側板
ＡＰ  調整位置
Ｇ  ギャップ部
Ｌ  照明光
ＲＰ  リップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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