(57)【要約】【課題】スジ欠陥の検出精度を向上させることができる検査装置、検査方法及びプログラムを提供することを目的とする。【解決手段】印刷物を読み取った読取画像と平滑化処理が施された当該読取画像との差分を示す読取差分画像を生成する読取差分画像生成部２５５と、読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する第１の抽出部２６１と、印刷物の生成元の元画像に基づいて、基準画像を生成する基準画像生成部と、基準画像と平滑化処理が施された当該基準画像との差分を示す基準差分画像を生成する基準差分画像生成部２６５と、基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する第２の抽出部２７１と、１以上のスジ欠陥候補と１以上のスジ類似パターンとを照合し、照合結果に基づいて、１以上のスジ欠陥候補の中からスジ欠陥を検出する検出部２７３と、を備える。【選択図】図４
2017053673.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷物を読み取った読取画像と平滑化処理が施された当該読取画像との差分を示す読取差分画像を生成する読取差分画像生成部と、
前記読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する第１の抽出部と、
前記印刷物の生成元の元画像に基づいて、基準画像を生成する基準画像生成部と、
前記基準画像と平滑化処理が施された当該基準画像との差分を示す基準差分画像を生成する基準差分画像生成部と、
前記基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する第２の抽出部と、
前記１以上のスジ欠陥候補と前記１以上のスジ類似パターンとを照合し、照合結果に基づいて、前記１以上のスジ欠陥候補の中からスジ欠陥を検出する検出部と、
を備える検査装置。
【請求項２】
前記読取画像と前記基準画像との位置合わせを行う位置合わせ部を更に備え、
前記検出部は、位置合わせ結果に基づいて、前記１以上のスジ欠陥候補と前記１以上のスジ類似パターンとを照合し、前記１以上のスジ欠陥候補のうち前記１以上のスジ類似パターンのいずれにも対応しないスジ欠陥候補を前記スジ欠陥として検出する請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記検出部は、前記スジ欠陥候補毎に、位置合わせ後の当該スジ欠陥候補を基準とした予め定められた範囲内で、前記１以上のスジ類似パターンの少なくともいずれかが重なるか否かを照合し、前記予め定められた範囲内に前記１以上のスジ類似パターンのいずれも重ならないスジ欠陥候補を前記スジ欠陥として検出する請求項２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記検出部は、前記スジ欠陥候補毎に、位置合わせ後の当該スジ欠陥候補を基準とした予め定められた範囲内で、前記スジ類似パターンそれぞれとの重なり度合いを照合し、前記１以上のスジ類似パターンのいずれに対する重なり度合いも閾値以下となるスジ欠陥候補を前記スジ欠陥として検出する請求項２に記載の検査装置。
【請求項５】
前記読取画像に対し、前記スジ欠陥と直交する方向で平滑化処理を施す第１の直交平滑化部と、
前記基準画像に対し、前記スジ類似パターンと直交する方向で平滑化処理を施す第２の直交平滑化部と、を更に備える請求項１〜４のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項６】
前記読取差分画像に対し、前記スジ欠陥を強調する強調処理を施す第１の強調処理部と、
前記基準差分画像に対し、前記スジ類似パターンを強調する強調処理を施す第２の強調処理部と、を更に備え、
前記第１の抽出部は、前記強調処理が施された前記読取差分画像から前記１以上のスジ欠陥候補を抽出し、
前記第２の抽出部は、前記強調処理が施された前記基準差分画像から前記１以上のスジ類似パターンを抽出する請求項１〜５のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項７】
前記読取差分画像に対し、前記スジ欠陥と平行する方向で平滑化処理を施す第１の平行平滑化部と、
前記基準差分画像に対し、前記スジ類似パターンと平行する方向で平滑化処理を施す第２の平行平滑化部と、を更に備え、
前記第１の抽出部は、前記平滑化処理が施された前記読取差分画像から前記１以上のスジ欠陥候補を抽出し、
前記第２の抽出部は、前記平滑化処理が施された前記基準差分画像から前記１以上のスジ類似パターンを抽出する請求項１〜６のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項８】
印刷物を読み取った読取画像と平滑化処理が施された当該読取画像との差分を示す読取差分画像を生成する読取差分画像生成ステップと、
前記読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する第１の抽出ステップと、
前記印刷物の生成元の元画像に基づいて、基準画像を生成する基準画像生成ステップと、
前記基準画像と平滑化処理が施された当該基準画像との差分を示す基準差分画像を生成する基準差分画像生成ステップと、
前記基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する第２の抽出ステップと、
前記１以上のスジ欠陥候補と前記１以上のスジ類似パターンとを照合する照合ステップと、
照合結果に基づいて、前記１以上のスジ欠陥候補の中からスジ欠陥を検出する検出ステップと、
を含む検査方法。
【請求項９】
印刷物を読み取った読取画像と平滑化処理が施された当該読取画像との差分を示す読取差分画像を生成する読取差分画像生成ステップと、
前記読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する第１の抽出ステップと、
前記印刷物の生成元の元画像に基づいて、基準画像を生成する基準画像生成ステップと、
前記基準画像と平滑化処理が施された当該基準画像との差分を示す基準差分画像を生成する基準差分画像生成ステップと、
前記基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する第２の抽出ステップと、
前記１以上のスジ欠陥候補と前記１以上のスジ類似パターンとを照合する照合ステップと、
照合結果に基づいて、前記１以上のスジ欠陥候補の中からスジ欠陥を検出する検出ステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置、検査方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
プロダクションプリンティングなど高品質が要求される印刷では、印刷物に対する品質検査が要求されている。例えば、印刷物のマスター画像と、印刷物を電気的に読み取ることで生成した読取画像とを比較してスジ欠陥を検出することで、印刷物上のスジ欠陥の有無を検査する印刷物検査システムが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、印刷物の読取画像は印刷や読み取りに伴うノイズの影響を受けるため、上述したような技術では、マスター画像との差分が小さいスジ欠陥候補については、スジ欠陥であるかノイズの影響であるかを特定することが困難である。
【０００４】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、スジ欠陥の検出精度を向上させることができる検査装置、検査方法及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の一態様にかかる検査装置は、印刷物を読み取った読取画像と平滑化処理が施された当該読取画像との差分を示す読取差分画像を生成する読取差分画像生成部と、前記読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する第１の抽出部と、前記印刷物の生成元の元画像に基づいて、基準画像を生成する基準画像生成部と、前記基準画像と平滑化処理が施された当該基準画像との差分を示す基準差分画像を生成する基準差分画像生成部と、前記基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する第２の抽出部と、前記１以上のスジ欠陥候補と前記１以上のスジ類似パターンとを照合し、照合結果に基づいて、前記１以上のスジ欠陥候補の中からスジ欠陥を検出する検出部と、を備える。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、スジ欠陥の検出精度を向上させることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、本実施形態の印刷物検査システムの一例を示す模式図である。
【図２】図２は、本実施形態の印刷物検査装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図３】図３は、本実施形態の印刷装置及び印刷物検査装置の機能構成の一例を示すブロック図である。
【図４】図４は、本実施形態の検査部の機能構成の詳細例を示すブロック図である。
【図５】図５は、本実施形態の平滑化方向の一例の説明図である。
【図６】図６は、本実施形態の平滑化方向の一例の説明図である。
【図７】図７は、本実施形態の平滑化処理の一例の説明図である。
【図８】図８は、本実施形態の平滑化処理の一例の説明図である。
【図９】図９は、本実施形態のマスクの一例の説明図である。
【図１０】図１０は、本実施形態の平滑化方向の一例の説明図である。
【図１１】図１１は、本実施形態の平滑化方向の一例の説明図である。
【図１２】図１２は、本実施形態のスジ欠陥候補の情報の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、本実施形態のスジ類似パターンの情報の一例を示す図である。
【図１４】図１４は、本実施形態のスジ欠陥検出手法の一例を示す説明図である。
【図１５】図１５は、本実施形態の印刷物検査装置の処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１６】図１６は、本実施形態の読取画像の一例を示す図である。
【図１７】図１７は、本実施形態の平滑化処理が施された読取画像の一例を示す図である。
【図１８】図１８は、本実施形態の読取差分画像の一例を示す図である。
【図１９】図１９は、本実施形態の強調処理が施された読取差分画像の一例を示す図である。
【図２０】図２０は、本実施形態の強調処理及び平滑化処理が施された読取差分画像の一例を示す図である。
【図２１】図２１は、本実施形態のスジ欠陥候補の情報の一例を示す図である。
【図２２】図２２は、本実施形態のスジ欠陥候補の一部を図１６に示す読取画像上で示した図である。
【図２３】図２３は、本実施形態のスジ類似パターンの情報の一例を示す図である。
【図２４】図２４は、本実施形態のスジ類似パターンの一部を基準画像上で示した図である。
【図２５】図２５は、本実施形態のスジ欠陥の情報の一例を示す図である。
【図２６】図２６は、本実施形態のスジ欠陥の一部を読取画像上で示した図である。
【図２７】図２７は、比較例の説明図である。
【図２８】図２８は、比較例の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、添付図面を参照しながら、本発明にかかる検査装置、検査方法及びプログラムの実施形態を詳細に説明する。
【０００９】
図１は、本実施形態の印刷物検査システム１の一例を示す模式図である。図１に示すように、印刷物検査システム１は、印刷装置１００と、印刷物検査装置２００（検査装置の一例）と、スタッカ３００とを、備える。
【００１０】
印刷装置１００は、オペレーションパネル１０１と、感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋと、転写ベルト１０５と、二次転写ローラ１０７と、給紙部１０９と、搬送ローラ対１１１と、定着ローラ１１３と、反転パス１１５とを備える。
【００１１】
オペレーションパネル１０１は、印刷装置１００に対して各種操作入力を行ったり、各種画面を表示したりする操作表示部である。
【００１２】
感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋは、それぞれ、作像プロセス（帯電工程、露光工程、現像工程、転写工程、及びクリーニング工程）が行われることによりトナー像が形成され、形成されたトナー像を転写ベルト１０５に転写する。本実施形態では、感光体ドラム１０３Ｙ上にイエロートナー像が形成され、感光体ドラム１０３Ｍ上にマゼンタトナー像が形成され、感光体ドラム１０３Ｃ上にシアントナー像が形成され、感光体ドラム１０３Ｋ上にブラックトナー像が形成されるものとするが、これに限定されるものではない。
【００１３】
転写ベルト１０５は、感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、及び１０３Ｋから重畳して転写されたトナー像（フルカラーのトナー画像）を二次転写ローラ１０７の二次転写位置に搬送する。本実施形態では、転写ベルト１０５には、まず、イエロートナー像が転写され、続いて、マゼンタトナー像、シアントナー像、ブラックトナー像が順次重畳して転写されるものとするが、これに限定されるものではない。
【００１４】
給紙部１０９は、複数の記録紙が重ね合わせて収容されており、記録紙を給紙する。
【００１５】
搬送ローラ対１１１は、給紙部１０９により給紙された記録紙を搬送路ａ上で矢印ｓ方向に搬送する。
【００１６】
二次転写ローラ１０７は、転写ベルト１０５により搬送されたフルカラーのトナー画像を、搬送ローラ対１１１により搬送された記録紙上に二次転写位置で一括転写する。
【００１７】
定着ローラ１１３は、フルカラーのトナー画像が転写された記録紙を加熱及び加圧することにより、フルカラーのトナー画像を記録紙に定着する。
【００１８】
印刷装置１００は、片面印刷の場合、フルカラーのトナー画像が定着された記録紙である印刷物を印刷物検査装置２００へ排紙する。一方、印刷装置１００は、両面印刷の場合、フルカラーのトナー画像が定着された記録紙を反転パス１１５へ送る。
【００１９】
反転パス１１５は、送られた記録紙をスイッチバックすることにより記録紙の表面・裏面を反転して矢印ｔ方向に搬送する。反転パス１１５により搬送された記録紙は、搬送ローラ対１１１により再搬送され、二次転写ローラ１０７により前回と逆側の面にフルカラーのトナー画像が転写され、定着ローラ１１３により定着され、印刷物として、印刷物検査装置２００へ排紙される。
【００２０】
印刷物検査装置２００は、読取部２０１Ａ、２０１Ｂと、オペレーションパネル２１１と、を備える。
【００２１】
オペレーションパネル２１１は、印刷物検査装置２００に対して各種操作入力を行ったり、各種画面を表示したりする操作表示部である。なお、オペレーションパネル２１１を省略してもよい。この場合、オペレーションパネル１０１がオペレーションパネル２１１を兼ねるようにしてもよいし、外部接続されたＰＣ（Personal  Computer）がオペレーションパネル２１１を兼ねるようにしてもよい。
【００２２】
読取部２０１Ａは、印刷装置１００から排紙された印刷物の一方の面を光学的に読み取り、読取部２０１Ｂは、印刷装置１００から排紙された印刷物の他方の面を光学的に読み取る。読取部２０１Ａ、２０１Ｂは、例えば、ラインスキャナ等により実現できる。そして印刷物検査装置２００は、読み取りが完了した印刷物をスタッカ３００へ排紙する。
【００２３】
スタッカ３００は、トレイ３０１を備える。スタッカ３００は、印刷物検査装置２００により排紙された印刷物をトレイ３０１にスタックする。
【００２４】
図２は、本実施形態の印刷物検査装置２００のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図２に示すように、印刷物検査装置２００は、コントローラ９１０とエンジン部（Engine）９６０とをＰＣＩバスで接続した構成となる。コントローラ９１０は、印刷物検査装置２００の全体の制御、描画、通信、及び操作表示部９２０からの入力を制御するコントローラである。エンジン部９６０は、ＰＣＩバスに接続可能なエンジンであり、例えば、スキャナ等のスキャナエンジンなどである。エンジン部９６０には、エンジン部分に加えて、誤差拡散やガンマ変換などの画像処理部分も含まれる。
【００２５】
コントローラ９１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）９１１と、ノースブリッジ（ＮＢ）９１３と、システムメモリ（ＭＥＭ−Ｐ）９１２と、サウスブリッジ（ＳＢ）９１４と、ローカルメモリ（ＭＥＭ−Ｃ）９１７と、ＡＳＩＣ（Application  Specific  Integrated  Circuit）９１６と、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）９１８とを有し、ノースブリッジ（ＮＢ）９１３とＡＳＩＣ９１６との間をＡＧＰ（Accelerated  Graphics  Port）バス９１５で接続した構成となる。また、ＭＥＭ−Ｐ９１２は、ＲＯＭ９１２ａと、ＲＡＭ９１２ｂとをさらに有する。
【００２６】
ＣＰＵ９１１は、印刷物検査装置２００の全体制御を行うものであり、ＮＢ９１３、ＭＥＭ−Ｐ９１２およびＳＢ９１４からなるチップセットを有し、このチップセットを介して他の機器と接続される。
【００２７】
ＮＢ９１３は、ＣＰＵ９１１とＭＥＭ−Ｐ９１２、ＳＢ９１４、ＡＧＰバス９１５とを接続するためのブリッジであり、ＭＥＭ−Ｐ９１２に対する読み書きなどを制御するメモリコントローラと、ＰＣＩマスタおよびＡＧＰターゲットとを有する。
【００２８】
ＭＥＭ−Ｐ９１２は、プログラムやデータの格納用メモリ、プログラムやデータの展開用メモリ、プリンタの描画用メモリなどとして用いるシステムメモリであり、ＲＯＭ９１２ａとＲＡＭ９１２ｂとからなる。ＲＯＭ９１２ａは、プログラムやデータの格納用メモリとして用いる読み出し専用のメモリであり、ＲＡＭ９１２ｂは、プログラムやデータの展開用メモリ、プリンタの描画用メモリなどとして用いる書き込みおよび読み出し可能なメモリである。
【００２９】
ＳＢ９１４は、ＮＢ９１３とＰＣＩデバイス、周辺デバイスとを接続するためのブリッジである。このＳＢ９１４は、ＰＣＩバスを介してＮＢ９１３と接続されており、このＰＣＩバスには、ネットワークインタフェース（Ｉ／Ｆ）部なども接続される。
【００３０】
ＡＳＩＣ９１６は、画像処理用のハードウェア要素を有する画像処理用途向けのＩＣ（Integrated  Circuit）であり、ＡＧＰバス９１５、ＰＣＩバス、ＨＤＤ９１８およびＭＥＭ−Ｃ９１７をそれぞれ接続するブリッジの役割を有する。このＡＳＩＣ９１６は、ＰＣＩターゲットおよびＡＧＰマスタと、ＡＳＩＣ９１６の中核をなすアービタ（ＡＲＢ）と、ＭＥＭ−Ｃ９１７を制御するメモリコントローラと、ハードウェアロジックなどにより画像データの回転などをおこなう複数のＤＭＡＣ（Direct  Memory  Access  Controller）と、エンジン部９６０との間でＰＣＩバスを介したデータ転送をおこなうＰＣＩユニットとからなる。このＡＳＩＣ９１６には、ＰＣＩバスを介してＵＳＢ９４０、ＩＥＥＥ１３９４（the  Institute  of  Electrical  and  Electronics  Engineers  1394）インタフェース（Ｉ／Ｆ）９５０が接続される。操作表示部９２０はＡＳＩＣ９１６に直接接続されている。
【００３１】
ＭＥＭ−Ｃ９１７は、コピー用画像バッファ、符号バッファとして用いるローカルメモリであり、ＨＤＤ９１８は、画像データの蓄積、プログラムの蓄積、フォントデータの蓄積、フォームの蓄積を行うためのストレージである。
【００３２】
ＡＧＰバス９１５は、グラフィック処理を高速化するために提案されたグラフィックスアクセラレーターカード用のバスインターフェースであり、ＭＥＭ−Ｐ９１２に高スループットで直接アクセスすることにより、グラフィックスアクセラレーターカードを高速にするものである。
【００３３】
図３は、本実施形態の印刷装置１００及び印刷物検査装置２００の機能構成の一例を示すブロック図である。図３に示すように、印刷装置１００は、ＲＩＰ（Raster  Image  Processor）部１２１と、印刷制御部１２３と、印刷部１２５とを備える。印刷物検査装置２００は、読取部２０１と、基準画像生成部２０３と、検査部２０５とを、備える。
【００３４】
なお本実施形態では、印刷装置１００が、ＲＩＰ部１２１を備える場合を例に取り説明するが、これに限定されず、ＤＦＥ（Digital  Front  End）など印刷装置１００とは異なる装置がＲＩＰ部１２１を備えるようにしてもよい。
【００３５】
また本実施形態では、印刷装置１００と印刷物検査装置２００とは、ＵＳＢ（Universal  Serial  Bus）やＰＣＩｅ（Peripheral  Component  Interconnect  Express）等のローカルなインタフェースによって接続されていることを想定しているが、印刷装置１００と印刷物検査装置２００との接続形態は、これに限定されるものではない。
【００３６】
ＲＩＰ部１２１及び印刷制御部１２３は、例えば、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）などの処理装置にプログラムを実行させること、即ち、ソフトウェアにより実現してもよいし、ＩＣやＡＳＩＣなどのハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェア及びハードウェアを併用して実現してもよい。印刷部１２５は、例えば、感光体ドラム１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋ、転写ベルト１０５、二次転写ローラ１０７、及び定着ローラ１１３などにより実現されるが、これに限定されるものではない。このように本実施形態では、電子写真方式で画像を印刷するが、これに限定されず、インクジェット方式で画像を印刷するようにしてもよい。
【００３７】
読取部２０１は、読取部２０１Ａ、２０１Ｂで構成され、例えば、エンジン部９６０などにより実現できる。基準画像生成部２０３及び検査部２０５は、例えば、ＣＰＵ９１１、システムメモリ９１２、及びＡＳＩＣ９１６などにより実現できる。
【００３８】
ＲＩＰ部１２１は、ホスト装置などの外部装置から印刷データを受け取り、受け取った印刷データから、印刷物の生成元となる（印刷の基礎となる）元画像を生成する。具体的には、ＲＩＰ部１２１は、印刷データをＲＩＰ処理し、元画像としてＲＩＰ画像（ビットマップ画像）を生成する。
【００３９】
本実施形態では、印刷データは、PostScript（登録商標）などのページ記述言語（ＰＤＬ：Page  Description  Language）で記述されたデータやＴＩＦＦ（Tagged  Image  File  Format）形式の画像データなどを含んで構成されるが、これに限定されるものではない。また本実施形態では、元画像は、ＣＭＹＫのＲＩＰ画像データであるものとするが、これに限定されるものではない。
【００４０】
印刷制御部１２３は、ＲＩＰ部１２１により生成された元画像を印刷物検査装置２００へ送信するとともに、印刷部１２５へ送信する。
【００４１】
また印刷制御部１２３は、印刷物検査装置２００から送信される（フィードバックされる）検査結果情報を用いて、例えば、印刷部１２５に対して差し替え印刷を指示したり、スタッカ３００に対して品質検査に合格しなかった印刷物の排紙先の指定や品質検査に合格しなかった印刷物へのマーキングを行ったりする。
【００４２】
印刷部１２５は、作像プロセスなどの印刷処理プロセスを実行し、元画像に基づく印刷画像を記録紙に印刷することで、印刷物を生成する。
【００４３】
読取部２０１は、印刷部１２５により生成された印刷物を読み取って、読取画像を生成する。具体的には、読取部２０１は、元画像に基づく印刷画像が印刷された印刷物から、当該印刷画像を電子的に読み取って読取画像を生成する。本実施形態では、読取画像は、ＲＧＢの画像データであり、Ｒ、Ｇ、Ｂそれぞれの画像データの各画素が８ｂｉｔの２００ｄｐｉであるものとするが、これに限定されるものではない。
【００４４】
基準画像生成部２０３は、印刷装置１００から元画像を取得し、取得した元画像に基づいて基準画像（マスター画像）を生成する。具体的には、基準画像生成部２０３は、印刷装置１００（印刷制御部１２３）から、Ｃ、Ｍ、Ｙ、ＫそれぞれのＲＩＰ画像を取得し、取得したＣ、Ｍ、Ｙ、ＫそれぞれのＲＩＰ画像に対し、多値変換処理、平滑化処理、解像度変換処理、及び色変換処理などの各種画像処理を施し、基準画像を生成する。本実施形態では、基準画像は、ＲＧＢの画像データであり、Ｒ、Ｇ、Ｂそれぞれの画像データの各画素が８ｂｉｔの２００ｄｐｉであるものとするが、これに限定されるものではない。
【００４５】
検査部２０５は、読取部２０１により生成された読取画像と基準画像生成部２０３により生成された基準画像とに基づいて、印刷装置１００により生成された印刷物の品質を検査する。そして検査部２０５は、検査結果を示す検査結果情報をＨＤＤ９１８に記憶したり、印刷装置１００に送信（フィードバック）したりする。
【００４６】
図４は、本実施形態の検査部２０５の機能構成の詳細例を示すブロック図である。図４に示すように、検査部２０５は、位置合わせ部２５１と、第１の直交平滑化部２５３と、読取差分画像生成部２５５と、第１の強調処理部２５７と、第１の平行平滑化部２５９と、第１の抽出部２６１と、第２の直交平滑化部２６３と、基準差分画像生成部２６５と、第２の強調処理部２６７と、第２の平行平滑化部２６９と、第２の抽出部２７１と、検出部２７３と、を備える。
【００４７】
位置合わせ部２５１、第１の抽出部２６１、第２の抽出部２７１、及び検出部２７３は、例えば、ＣＰＵ９１１、及びシステムメモリ９１２などにより実現できる。第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、及び第２の平行平滑化部２６９は、例えば、ＡＳＩＣ９１６などにより実現できる。
【００４８】
なお本実施形態では、位置合わせ部２５１、第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第１の抽出部２６１、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、第２の平行平滑化部２６９、第２の抽出部２７１、及び検出部２７３は、Ｒ、Ｇ、Ｂそれぞれのチャンネルで以下に説明する処理を行うものとするが、これに限定されるものではない。
【００４９】
位置合わせ部２５１は、読取部２０１により生成された読取画像と基準画像生成部２０３により生成された基準画像との位置合わせを行う。これにより、位置合わせ結果として、読取画像と基準画像とのズレ量が得られる。
【００５０】
第１の直交平滑化部２５３は、読取部２０１により生成された読取画像に対し、平滑化処理を施す。具体的には、第１の直交平滑化部２５３は、読取画像からスジ欠陥を削除するため、当該読取画像に対し、スジ欠陥と直交する方向で平滑化処理を施す。
【００５１】
一般的に、スジ欠陥は画像の縦方向又は横方向に発生する。このため、縦方向のスジ欠陥の発生が予見される場合には、第１の直交平滑化部２５３は、図５に示すように、横方向を平滑化方向として１次元平滑化処理を行い、横方向のスジ欠陥の発生が予見される場合には、第１の直交平滑化部２５３は、図６に示すように、縦方向を平滑化方向として１次元平滑化処理を行う。
【００５２】
なお、第１の直交平滑化部２５３の平滑化方向は、例えば、レジスタの設定値などで設定される。つまり、読取画像に縦方向のスジ欠陥が発生することが予見される場合には、ユーザにより第１の直交平滑化部２５３の平滑化方向を横方向とするよう予めレジスタの設定値が設定され、読取画像に横方向のスジ欠陥が発生することが予見される場合には、ユーザにより第１の直交平滑化部２５３の平滑化方向を縦方向とするよう予めレジスタの設定値が設定される。
【００５３】
本実施形態では、後述の読取差分画像においてスジ欠陥を際立たせるため、第１の直交平滑化部２５３が行う１次元平滑化処理は、注目画素を中心とした平滑化方向（１次元方向）のＮ画素において、画素値の降順（大きい順）で注目画素がＫ番目に位置する場合、注目画素を画素値の降順でＮ−Ｋ＋１番目の画素に置き換える処理とする。なお本実施形態では、画素値は、画素の濃度値であることを想定しているが、これに限定されるものではない。
【００５４】
例えば、図７に示す注目画素ｘを中心とした１次元方向のＮ（Ｎ＝１１）画素において、このＮ画素の画素値の降順が図８に示す順番であるとする。この場合、注目画素ｘは画素値の降順でＫ（Ｋ＝３）番目に位置するため、本実施形態の１次元平滑化処理では、注目画素ｘは、画素値の降順でＮ−Ｋ＋１番目（画素値の昇順でＫ番目）の画素ｃに置き換える。
【００５５】
但し、第１の直交平滑化部２５３が行う１次元平滑化処理は、これに限定されるものではない。例えば、読取画像において印刷や読み取りに伴うノイズの影響が少ないことが予見される場合、第１の直交平滑化部２５３が行う１次元平滑化処理を、メディアンフィルターや移動平均フィルタなど、注目画素を、注目画素を中心とした平滑化方向（１次元方向）のＮ画素の中央値や平均値などに置き換える処理としてもよい。
【００５６】
読取差分画像生成部２５５は、読取部２０１により生成された読取画像と第１の直交平滑化部２５３により平滑化処理が施された読取画像との差分を示す読取差分画像を生成する。具体的には、読取差分画像生成部２５５は、読取画像と平滑化処理が施された読取画像とを画素単位で比較して画素毎に画素値の差分値を算出し、各画素の画素値が当該画素の差分値で構成される読取差分画像を生成する。
【００５７】
つまり、読取画像の画素（ｘ，ｙ）の画素値をＰ（ｘ，ｙ）、平滑化処理が施された読取画像の画素（ｘ，ｙ）の画素値をＳ（ｘ，ｙ）、読取差分画像の画素（ｘ，ｙ）の画素値をＤ（ｘ，ｙ）とすると、Ｄ（ｘ，ｙ）＝Ｐ（ｘ，ｙ）−Ｓ（ｘ，ｙ）となる。
【００５８】
第１の強調処理部２５７は、読取差分画像生成部２５５により生成された読取差分画像に対し、スジ欠陥を強調する強調処理を施す。具体的には、第１の強調処理部２５７は、読取差分画像に対し、スジ欠陥と直交する方向でマスクを用いた強調処理を施す。
【００５９】
つまり、縦方向のスジ欠陥の発生が予見される場合には、第１の強調処理部２５７は、横方向を強調処理方向として１次元強調処理を行い、横方向のスジ欠陥の発生が予見される場合には、第１の強調処理部２５７は、縦方向を強調処理方向として１次元強調処理を行う。なお、第１の強調処理部２５７の強調処理方向は、例えば、第１の平滑化部２５３同様、レジスタの設定値などで設定される。
【００６０】
本実施形態では、読取差分画像においてスジ欠陥を強調するため、第１の強調処理部２５７が行う１次元強調処理は、数式（１）でマスク内の各画素の重みを求め、画素毎に、求めた重みを画素値に乗じる処理とするが、これに限定されるものではない。
【００６１】
【数１】
2017053673.tif 000003
【００６２】
ここで、ｎはマスク内の画素の位置を示し、Ｓｎは位置ｎの画素の重みを示す。なお、マスク内の画素数（マスクの幅）はｒｇ×２＋１で表され、ｒｇは、注目画素の隣の画素からマスクの端の画素までの画素数（マスクの半径）を示す。
【００６３】
例えば、数式（１）において、ｒｇ＝４の場合、各位置ｎでの重みＳｎは、図９で表される。なお、ｎ＝０の画素が注目画素となる。
【００６４】
第１の平行平滑化部２５９は、読取差分画像生成部２５５により生成された読取差分画像に対し、平滑化処理を施す。具体的には、第１の平行平滑化部２５９は、第１の強調処理部２５７により強調処理が施された読取差分画像上で、同一直線上に存在する複数のスジ欠陥を繋げるため、当該読取差分画像に対し、スジ欠陥と平行する方向で平滑化処理を施す。
【００６５】
つまり、横方向のスジ欠陥の発生が予見される場合には、第１の平行平滑化部２５９は、図１０に示すように、横方向を平滑化方向として１次元平滑化処理を行い、縦方向のスジ欠陥の発生が予見される場合には、第１の平行平滑化部２５９は、図１１に示すように、縦方向を平滑化方向として１次元平滑化処理を行う。なお、第１の平行平滑化部２５９の平滑化方向は、例えば、第１の平滑化部２５３同様、レジスタの設定値などで設定される。
【００６６】
本実施形態では、第１の平行平滑化部２５９が行う１次元平滑化処理は、メディアンフィルターを用いた平滑化処理であり、具体的には、注目画素を中心とした平滑化方向（１次元方向）のＮ画素において、注目画素を画素値の降順で中央に位置する画素に置き換える処理とするが、これに限定されるものではない。例えば、第１の平行平滑化部２５９が行う１次元平滑化処理を、移動平均フィルタや１次元ローパスフィルタを用いた平滑化処理などとしてもよい。
【００６７】
第１の抽出部２６１は、読取差分画像生成部２５５により生成された読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する。具体的には、第１の抽出部２６１は、第１の強調処理部２５７により強調処理が施されるとともに第１の平行平滑化部２５９により平滑化処理が施された読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する。
【００６８】
例えば、第１の抽出部２６１は、強調処理及び平滑化処理が施された読取差分画像を構成する画素毎に、画素値を異常画素検出用の閾値と比較し、画素値が異常画素検出用の閾値を超える画素を異常画素とする。ここで、第１の抽出部２６１は、一定の範囲内に異常画素が複数ある場合、これらの異常画素を異常画素群として扱う。
【００６９】
そして第１の抽出部２６１は、異常画素群毎に特徴量を算出し、算出した特徴量が条件を満たす異常画素群をスジ欠陥候補として抽出する。
【００７０】
例えば、第１の抽出部２６１は、異常画素群毎に、特徴量として、異常画素群の長さＬ、異常画素群を構成する異常画素の画素値の平均値Ａｖｅ、及び異常画素群を構成する異常画素の画素値の標準偏差σを算出する。なお、長さＬは、スジ欠陥の発生が予見される方向での長さとする。そして第１の抽出部２６１は、長さＬが長さ用の閾値Ｌｔｈを超え、平均値Ａｖｅが平均値用の閾値Ａｖｅｔｈを超え、かつ標準偏差σが標準偏差用の閾値σｔｈ以下の異常画素群をスジ欠陥候補として抽出するものとする。
【００７１】
図１２は、本実施形態の抽出されたスジ欠陥候補の情報の一例を示す図である。図１２に示す例では、スジ欠陥候補として、スジ欠陥候補を構成する画素の画素値の平均値（平均値Ａｖｅ）、スジ欠陥候補の長さ（長さＬ）、スジ欠陥候補のｘ座標、及びｙ座標が抽出されているが、これに限定されるものではない。なお、スジ欠陥候補のｘ座標及びｙ座標は、例えば、スジ欠陥候補を構成する左上の画素のｘ座標及びｙ座標であるものとするが、これに限定されるものではない。
【００７２】
本実施形態では、同一直線上に存在する複数のスジ欠陥を繋げるため、第１の平行平滑化部２５９による平滑化処理が行われているが、この影響で、画素値が大きい離れた画素が繋がり、異常画素群として抽出される場合がある。但し、このような異常画素群の標準偏差σは値が大きくなる傾向にあるので、標準偏差σを特徴量に用いることで、このような異常画素群をスジ欠陥候補として誤抽出してしまうことを防止できる。なお、スジ欠陥である異常画素群の標準偏差σは値が小さくなる傾向にあるので、標準偏差σを特徴量に用いることで、このような異常画素群をスジ欠陥候補として正しく抽出できる。
【００７３】
なお、第１の抽出部２６１により抽出されたスジ欠陥候補には、スジ欠陥だけでなくスジ類似パターンも含まれている。スジ類似パターンは、スジ欠陥と類似するパターンであり、例えば、エッジなどが挙げられるが、これに限定されるものではない。
【００７４】
但し、スジ欠陥候補の抽出手法は、これに限定されるものではない。例えば、第１の抽出部２６１は、異常画素群のアスペクト比や面積を特徴量としてもよい。
【００７５】
第２の直交平滑化部２６３は、基準画像生成部２０３により生成された基準画像に対し、平滑化処理を施す。具体的には、第２の直交平滑化部２６３は、第１の抽出部２６１によりスジ欠陥候補が抽出された場合、基準画像からスジ類似パターンを削除するため、当該基準画像に対し、スジ類似パターンと直交する方向で平滑化処理を施す。
【００７６】
なお、第２の直交平滑化部２６３の平滑化方向の設定や平滑化処理については、スジ欠陥がスジ類似パターンである点を除き、第１の直交平滑化部２５３と同様であるため、詳細な説明は省略する。
【００７７】
基準差分画像生成部２６５は、基準画像生成部２０３により生成された基準画像と第２の直交平滑化部２６３により平滑化処理が施された基準画像との差分を示す基準差分画像を生成する。具体的には、基準差分画像生成部２６５は、基準画像と平滑化処理が施された基準画像とを画素単位で比較して画素毎に画素値の差分値を算出し、各画素の画素値が当該画素の差分値で構成される基準差分画像を生成する。
【００７８】
第２の強調処理部２６７は、基準差分画像生成部２６５により生成された基準差分画像に対し、スジ類似パターンを強調する強調処理を施す。具体的には、第２の強調処理部２６７は、基準差分画像に対し、スジ類似パターンと直交する方向でマスクを用いた強調処理を施す。
【００７９】
なお、第２の強調処理部２６７の強調処理方向の設定や強調処理については、スジ欠陥がスジ類似パターンである点を除き、第１の強調処理部２５７と同様であるため、詳細な説明は省略する。
【００８０】
第２の平行平滑化部２６９は、基準差分画像生成部２６５により生成された基準差分画像に対し、平滑化処理を施す。具体的には、第２の平行平滑化部２６９は、第２の強調処理部２６７により強調処理が施された基準差分画像上で、同一直線上に存在する複数のスジ類似パターンを繋げるため、当該基準差分画像に対し、スジ類似パターンと平行する方向で平滑化処理を施す。
【００８１】
なお、第２の平行平滑化部２６９の平滑化方向の設定や平滑化処理については、スジ欠陥がスジ類似パターンである点を除き、第１の平行平滑化部２５９と同様であるため、詳細な説明は省略する。
【００８２】
第２の抽出部２７１は、基準差分画像生成部２６５により生成された基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する。具体的には、第２の抽出部２７１は、第２の強調処理部２６７により強調処理が施されるとともに第２の平行平滑化部２６９により平滑化処理が施された基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する。
【００８３】
なお、第２の抽出部２７１のスジ類似パターン抽出手法については、スジ欠陥がスジ類似パターンである点を除き、第１の抽出部２６１と同様であるため、詳細な説明は省略する。
【００８４】
図１３は、本実施形態の抽出されたスジ類似パターンの情報の一例を示す図である。図１３に示す例では、スジ類似パターンとして、スジ類似パターンを構成する画素の画素値の平均値、スジ類似パターンの長さ、スジ類似パターンのＸ座標、及びＹ座標が抽出されているが、これに限定されるものではない。なお、スジ類似パターンのＸ座標及びＹ座標は、例えば、スジ類似パターンを構成する左上の画素のＸ座標及びＹ座標であるものとするが、これに限定されるものではない。
【００８５】
検出部２７３は、第１の抽出部２６１により抽出された１以上のスジ欠陥候補と第２の抽出部２７１により抽出された１以上のスジ類似パターンとを照合し、照合結果に基づいて、１以上のスジ欠陥候補の中からスジ欠陥を検出する。具体的には、検出部２７３は、位置合わせ部２５１の位置合わせ結果に基づいて、１以上のスジ欠陥候補と１以上のスジ類似パターンとを照合し、１以上のスジ欠陥候補のうち１以上のスジ類似パターンのいずれにも対応しないスジ欠陥候補をスジ欠陥として検出する。
【００８６】
例えば、検出部２７３は、スジ欠陥候補毎に、位置合わせ後の当該スジ欠陥候補を基準とした予め定められた範囲内で、１以上のスジ類似パターンの少なくともいずれかが重なるか否かを照合し、予め定められた範囲内に１以上のスジ類似パターンのいずれも重ならないスジ欠陥候補をスジ欠陥として検出する。
【００８７】
図１４は、本実施形態のスジ欠陥検出手法の一例を示す説明図である。図１４に示す例では、Ｓ（ｘｋ，ｙｋ）は、ｋ番目のスジ欠陥候補の座標を示し、ｕｘは、基準画像に対する読取画像の横軸（ｘ軸）方向での位置合わせのズレ量を示し、ｕｙは、基準画像に対する読取画像の縦軸（ｙ軸）方向での位置合わせのズレ量を示す。つまり、Ｓ（ｘｋ＋ｕｘ，ｙｋ＋ｕｙ）は、ｋ番目のスジ欠陥候補の位置合わせ後の座標を示す。
【００８８】
ｌｋは、ｋ番目のスジ欠陥候補の長さを示し、２ｐは、ｘｋ＋ｕｘを中心とした横軸（ｘ軸）方向での照合範囲を示し、２ｑ＋ｌｋは、ｙｋ＋ｕｙを中心とした縦軸（ｙ軸）方向での照合範囲を示す。つまり、Ｓ（ｘｋ＋ｕｘ，ｙｋ＋ｕｙ）を基準とした横方向２ｐ、縦方向２ｑ＋ｌｋで特定される範囲がｋ番目のスジ欠陥候補の照合範囲（予め定められた範囲）となる。
【００８９】
Ｍ（Ｘｋ’，Ｙｋ’）は、ｋ’番目のスジ類似パターンの座標を示し、Ｌｋ’は、ｋ’番目のスジ類似パターンの長さを示す。
【００９０】
図１４に示す例では、ｋ番目のスジ欠陥候補の照合範囲にｋ’番目のスジ類似パターンが重なっているため、検出部２７３は、ｋ番目のスジ欠陥候補をスジ類似パターンとみなし、スジ欠陥として検出しない。但し、ｋ番目のスジ欠陥候補の照合範囲にいずれのスジ類似パターンも重ならない場合、検出部２７３は、ｋ番目のスジ欠陥候補をスジ欠陥として検出する。
【００９１】
また例えば、検出部２７３は、スジ欠陥候補毎に、位置合わせ後の当該スジ欠陥候補を基準とした予め定められた範囲内で、スジ類似パターンそれぞれとの重なり度合いを照合し、１以上のスジ類似パターンのいずれに対する重なり度合いも閾値以下となるスジ欠陥候補をスジ欠陥として検出するようにしてもよい。
【００９２】
具体的には、検出部２７３は、数式（２）及び（３）を用いて、ｋ番目のスジ欠陥候補とｋ’番目のスジ類似パターンとの重なり度合いＱを算出し、重なり度合いＱがスジ欠陥検出用の閾値を超えれば、ｋ番目のスジ欠陥候補をスジ類似パターンとみなし、スジ欠陥として検出しない。但し、ｋ番目のスジ欠陥候補といずれのスジ類似パターンとの重なり度合いＱもスジ欠陥検出用の閾値以下であれば、検出部２７３は、ｋ番目のスジ欠陥候補をスジ欠陥として検出する。
【００９３】
ΣＲ＝Ｓ（ｘｋ＋ｕｘ±ｐ，ｙｋ＋ｒ＋ｕｙ±ｑ）∩Ｍ（Ｘｋ’，Ｙｋ’＋ｒ’）      …（２）
【００９４】
Ｑ＝ΣＲ／ｌｋ      …（３）
【００９５】
ここで、ｒ∈（０，ｌｋ）であり、ｒ’∈（０，Ｌｋ’）である。
【００９６】
つまり、数式（２）では、ｌｋ及びＬｋ’の長さを変えながらｋ番目のスジ欠陥候補の照合範囲にｋ’番目のスジ類似パターンが重なるか照合し、重なった総和であるΣＲを求め、数式（３）では、ΣＲをｌｋで除して、ｋ番目のスジ欠陥候補とｋ’番目のスジ類似パターンとの重なり度合いＱを求める。
【００９７】
なお本実施形態では、位置合わせ部２５１の位置合わせ結果（ズレ量）を照合に用いる例について説明したが、スジ欠陥候補同士の位置関係や読取差分画像上におけるスジ欠陥候補の位置などを照合に用いるようにしてもよい。
【００９８】
そして検査部２０５は、例えば、第１の抽出部２６１によりスジ欠陥候補が抽出されなかった場合、スジ欠陥無を検査結果とし、検出部２７３によりスジ欠陥が検出された場合、当該スジ欠陥の情報を検査結果とする。なお、検査部２０５は、スジ欠陥無の場合、印刷物を良品と判定し、スジ欠陥がある場合、印刷物を不良品と判定してもよいし、スジ欠陥の程度に応じて、印刷物を良品と判定しても不良品と判定してもよい。
【００９９】
図１５は、本実施形態の印刷物検査装置２００の処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。なお、図１５に示すフローチャートでは、縦方向のスジ欠陥の発生が予見される場合を例に取り説明するが、これに限定されるものではない。
【０１００】
まず、読取部２０１は、印刷部１２５により生成された印刷物を読み取って、読取画像を生成する（ステップＳ１０１）。図１６は、本実施形態の読取画像の一例を示す図であり、スジ欠陥１００１〜１００３が存在する。
【０１０１】
続いて、基準画像生成部２０３は、印刷装置１００から印刷物生成元の元画像を取得し、取得した元画像に基づいて基準画像を生成する（ステップＳ１０３）。
【０１０２】
続いて、位置合わせ部２５１は、読取部２０１により生成された読取画像と基準画像生成部２０３により生成された基準画像との位置合わせを行う（ステップＳ１０５）。
【０１０３】
続いて、第１の直交平滑化部２５３は、読取部２０１により生成された読取画像から縦方向のスジ欠陥を削除するため、当該読取画像に対し、スジ欠陥と直交する横方向で平滑化処理を施す（ステップＳ１０７）。図１７は、本実施形態の平滑化処理が施された読取画像の一例を示す図であり、スジ欠陥１００１〜１００３が削除されている。
【０１０４】
なお、第１の直交平滑化部２５３は、図１６に示す読取画像に対し、上述した１次元平滑化処理を横方向のサイズＮ（Ｎ＝２１）＊１で施すことで、図１７に示す平滑化処理が施された読取画像を生成したものとする。
【０１０５】
続いて、読取差分画像生成部２５５は、読取部２０１により生成された読取画像と第１の直交平滑化部２５３により平滑化処理が施された読取画像とを画素単位で比較して画素毎に画素値の差分値を算出し、各画素の画素値が当該画素の差分値で構成される読取差分画像を生成する（ステップＳ１０９）。図１８は、本実施形態の読取差分画像の一例を示す図であり、図１６に示す読取画像と図１７に示す平滑化処理が施された読取画像との差分を示す読取差分画像となっている。
【０１０６】
続いて、第１の強調処理部２５７は、読取差分画像生成部２５５により生成された読取差分画像に対し、スジ欠陥と直交する横方向でマスクを用いた強調処理を施す（ステップＳ１１１）。図１９は、本実施形態の強調処理が施された読取差分画像の一例を示す図である。なお、第１の強調処理部２５７は、図１８に示す読取差分画像に対し、図９に示すマスクを用いて強調処理を施すことで、図１９に示す強調処理が施された読取差分画像を生成したものとする。
【０１０７】
続いて、第１の平行平滑化部２５９は、第１の強調処理部２５７により強調処理が施された読取差分画像上で、同一直線上に存在する複数のスジ欠陥を繋げるため、当該読取差分画像に対し、スジ欠陥と平行する縦方向で平滑化処理を施す（ステップＳ１１３）。図２０は、本実施形態の強調処理及び平滑化処理が施された読取差分画像の一例を示す図である。なお、第１の平行平滑化部２５９は、図１９に示す読取差分画像に対し、上述したメディアンフィルターを用いた１次元平滑化処理を施すことで、図２０に示す強調処理及び平滑化処理が施された読取差分画像を生成したものとする。
【０１０８】
続いて、第１の抽出部２６１は、第１の強調処理部２５７により強調処理が施されるとともに第１の平行平滑化部２５９により平滑化処理が施された読取差分画像から１以上のスジ欠陥候補を抽出する（ステップＳ１１５）。
【０１０９】
ここでは、第１の抽出部２６１は、異常画素群毎に長さＬを求め、求めた長さＬが長さ用の閾値Ｌｔｈ＝１００画素を超える異常画素群については平均値Ａｖｅを求め、求めた平均値Ａｖｅが平均値用の閾値Ａｖｅｔｈ＝６を超える異常画素群については標準偏差σを求め、求めた標準偏差σが標準偏差用の閾値σｔｈ＝２以下の異常画素群をスジ欠陥候補として抽出する。図２１は、本実施形態の抽出されたスジ欠陥候補の情報の一例を示す図であり、図２２は、本実施形態の抽出されたスジ欠陥候補の一部を図１６に示す読取画像上で示した図であり、スジ欠陥候補１０１１〜１０１３が存在する。
【０１１０】
続いて、第１の抽出部２６１によりスジ欠陥候補が抽出された場合（ステップＳ１１７でＹｅｓ）、第２の直交平滑化部２６３は、基準画像からスジ類似パターンを削除するため、当該基準画像に対し、スジ類似パターンと直交する横方向で平滑化処理を施す（ステップＳ１１９）。なお、第１の抽出部２６１によりスジ欠陥候補が抽出されなかった場合（ステップＳ１１７でＮｏ）、処理は終了となる。
【０１１１】
続いて、基準差分画像生成部２６５は、基準画像生成部２０３により生成された基準画像と第２の直交平滑化部２６３により平滑化処理が施された基準画像とを画素単位で比較して画素毎に画素値の差分値を算出し、各画素の画素値が当該画素の差分値で構成される基準差分画像を生成する（ステップＳ１２１）。
【０１１２】
続いて、第２の強調処理部２６７は、基準差分画像生成部２６５により生成された基準差分画像に対し、スジ類似パターンと直交する横方向でマスクを用いた強調処理を施す（ステップＳ１２３）。
【０１１３】
続いて、第２の平行平滑化部２６９は、第２の強調処理部２６７により強調処理が施された基準差分画像上で、同一直線上に存在する複数のスジ類似パターンを繋げるため、当該基準差分画像に対し、スジ類似パターンと平行する縦方向で平滑化処理を施す（ステップＳ１２５）。
【０１１４】
続いて、第２の抽出部２７１は、第２の強調処理部２６７により強調処理が施されるとともに第２の平行平滑化部２６９により平滑化処理が施された基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出する（ステップＳ１２７）。なお、第２の抽出部２７１は、第１の抽出部２６１と同様の手法で、基準差分画像から１以上のスジ類似パターンを抽出するものとするが、各閾値の値は第１の抽出部２６１よりも厳しいものとする。図２３は、本実施形態の抽出されたスジ類似パターンの情報の一例を示す図であり、図２４は、本実施形態の抽出されたスジ類似パターンの一部を基準画像上で示した図であり、スジ類似パターン１０２１〜１０２４が存在する。
【０１１５】
続いて、検出部２７３は、第１の抽出部２６１により抽出されたスジ欠陥候補毎に、位置合わせ後の当該スジ欠陥候補を基準とした予め定められた範囲内で、１以上のスジ類似パターンの少なくともいずれかが重なるか否かを照合し（ステップＳ１２９）、予め定められた範囲内に１以上のスジ類似パターンのいずれも重ならないスジ欠陥候補をスジ欠陥として検出する（ステップＳ１３１）。
【０１１６】
具体的には、検出部２７３は、図２１に示すスジ欠陥候補毎に、位置合わせ後の当該スジ欠陥候補を基準とした予め定められた範囲内で、図２３に示すスジ類似パターンの少なくともいずれかが重なるか否かを照合する。そして検出部２７３は、スジ欠陥候補がいずれかのスジ類似パターンと重なる場合には、当該スジ欠陥候補を図２１に示すリストから削除し、スジ欠陥候補がいずれのスジ類似パターンとも重ならない場合には、当該スジ欠陥候補をスジ欠陥として検出し、図２１に示すリストに残す。
【０１１７】
図２５は、本実施形態の検出されたスジ欠陥の情報の一例を示す図であり、具体的には、図２１に示すスジ欠陥候補と図２３に示すスジ類似パターンの照合の結果、図２１に示すスジ欠陥候補の情報の中から削除されずにスジ欠陥として残されたスジ欠陥候補の情報である。図２６は、本実施形態の検出されたスジ欠陥の一部を読取画像上で示した図であり、スジ欠陥１０３１〜１０３３が存在する。
【０１１８】
以上のように本実施形態によれば、読取部２０１により生成された読取画像と第１の直交平滑化部２５３により平滑化処理が施された読取画像との差分を示す読取差分画像を用いてスジ欠陥を検出するため、スジ欠陥の検出精度を向上させることができる。
【０１１９】
なお、図２７に示すように、画素値（濃度）変化が小さいスジ欠陥１０４１が読取画像上に存在する場合、従来技術のように、読取画像と基準画像との差分を取ってしまうと、図２８に示すように、読取画像と基準画像と差分画像上では、正常部分とスジ欠陥１０４１との差異がほとんど区別できない。このため、このような差異がほとんど区別できないスジ欠陥１０４１まで検出しようとすると、スジ欠陥ではないノイズの影響を受けた箇所までスジ欠陥として誤検出してしまう。
【０１２０】
また本実施形態によれば、第１の直交平滑化部２５３は、読取差分画像においてスジ欠陥を際立たせるための平滑化処理を施すため、読取差分画像を用いてスジ欠陥候補を検出することにより、ノイズの影響を受けた箇所がスジ欠陥候補として抽出されてしまうことを抑制できるため、スジ欠陥の検出精度を向上させることができる。
【０１２１】
また本実施形態によれば、第１の平行平滑化部２５９は、読取差分画像上で、同一直線上に存在する複数のスジ欠陥を繋げるための平滑化処理を施すため、同一直線上で短いスジ欠陥が連続する場合であってもこれらをまとめてスジ欠陥として検出でき、スジ欠陥の検出精度を向上させることができる。なお、複数のスジ欠陥を繋げない場合、個々の短いスジ欠陥では、長さが足りずスジ欠陥として検出されない。
【０１２２】
そして本実施形態によれば、読取差分画像から抽出したスジ欠陥候補を基準差分画像から抽出したスジ類似パターンと照合し、スジ欠陥候補に含まれるスジ類似パターンを消去することで、スジ欠陥候補からスジ欠陥を検出できるため、スジ類似パターンをスジ欠陥として検出してしまうことも抑制できるため、スジ欠陥の検出精度を向上させることができる。
【０１２３】
（変形例１）
上記実施形態では、位置合わせ部２５１、第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第１の抽出部２６１、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、第２の平行平滑化部２６９、第２の抽出部２７１、及び検出部２７３が、Ｒ、Ｇ、Ｂそれぞれのチャンネルで上述した処理を行う場合を例に取り説明したが、これに限定されるものではない。
【０１２４】
例えば、検査部２０５が、読取画像及び基準画像をＲＧＢ色空間からＹＣｂ＊Ｃｒ＊色空間に変換し、位置合わせ部２５１、第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第１の抽出部２６１、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、第２の平行平滑化部２６９、第２の抽出部２７１、及び検出部２７３が、輝度信号Ｙのチャンネルで上述した処理を行うようにしてもよい。
【０１２５】
また例えば、検査部２０５が、読取画像及び基準画像をＲＧＢ色空間からＨＳＶ色空間に変換し、位置合わせ部２５１、第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第１の抽出部２６１、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、第２の平行平滑化部２６９、第２の抽出部２７１、及び検出部２７３が、明度信号Ｖのチャンネルで上述した処理を行うようにしてもよい。
【０１２６】
（変形例２）
上記実施形態では、縦方向又は横方向のスジ欠陥を検出する例について説明したが、縦方向及び横方向双方のスジ欠陥を検出するようにしてもよい。この場合、縦方向のスジ欠陥検出用の第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第１の抽出部２６１、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、第２の平行平滑化部２６９、及び第２の抽出部２７１と、横方向のスジ欠陥検出用の第１の直交平滑化部２５３、読取差分画像生成部２５５、第１の強調処理部２５７、第１の平行平滑化部２５９、第１の抽出部２６１、第２の直交平滑化部２６３、基準差分画像生成部２６５、第２の強調処理部２６７、第２の平行平滑化部２６９、及び第２の抽出部２７１とを、検査部２０５内に別々に設けるようにすればよい。
【０１２７】
（プログラム）
上記実施形態及び各変形例の印刷物検査装置２００で実行されるプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、メモリカード、ＤＶＤ（Digital  Versatile  Disk）、フレキシブルディスク（ＦＤ）等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供される。
【０１２８】
また、上記実施形態及び各変形例の印刷物検査装置２００で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するようにしてもよい。また、上記実施形態及び各変形例の印刷物検査装置２００で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布するようにしてもよい。また、上記実施形態及び各変形例の印刷物検査装置２００で実行されるプログラムを、ＲＯＭ等に予め組み込んで提供するようにしてもよい。
【０１２９】
上記実施形態及び各変形例の印刷物検査装置２００で実行されるプログラムは、上述した各部をコンピュータ上で実現させるためのモジュール構成となっている。実際のハードウェアとしては、例えば、ＣＰＵがＲＯＭからプログラムをＲＡＭ上に読み出して実行することにより、上記各機能部がコンピュータ上で実現されるようになっている。
【符号の説明】
【０１３０】
１  印刷物検査システム
１００  印刷装置
１０１  オペレーションパネル
１０３Ｙ、１０３Ｍ、１０３Ｃ、１０３Ｋ  感光体ドラム
１０５  転写ベルト
１０７  二次転写ローラ
１０９  給紙部
１１１  搬送ローラ対
１１３  定着ローラ
１１５  反転パス
１２１  ＲＩＰ部
１２３  印刷制御部
１２５  印刷部
２００  印刷物検査装置
２０１、２０１Ａ、２０１Ｂ  読取部
２０３  基準画像生成部
２０５  検査部
２１１  オペレーションパネル
２５１  位置合わせ部
２５３  第１の直交平滑化部
２５５  読取差分画像生成部
２５７  第１の強調処理部
２５９  第１の平行平滑化部
２６１  第１の抽出部
２６３  第２の直交平滑化部
２６５  基準差分画像生成部
２６７  第２の強調処理部
２６９  第２の平行平滑化部
２７１  第２の抽出部
２７３  検出部
３００  スタッカ
３０１  トレイ
９１０  コントローラ
９１１  ＣＰＵ
９１２  システムメモリ
９１２ａ  ＲＯＭ
９１２ｂ  ＲＡＭ
９１３  ノースブリッジ
９１４  サウスブリッジ
９１５  ＡＧＰバス
９１６  ＡＳＩＣ
９１７  ローカルメモリ
９１８  ハードディスクドライブ
９２０  操作表示部
９４０  ＵＳＢ
９５０  ＩＥＥＥ１３９４インタフェース
９６０  エンジン部
【先行技術文献】
【特許文献】
【０１３１】
【特許文献１】特開２０１４−７１０４６号公報
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図２１】
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【図２３】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２２】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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