(57)【要約】【課題】シートの検出した欠点の位置に当該欠点の属性を表す情報を光画像で投射できるようにする。【解決手段】シート１を撮像した２次元画像１４ａからシート１に存在する欠点１ａ１〜１ａ３の欠点画像１４ａ１〜１４ａ３を得て、その欠点画像１４ａ１〜１４ａ３の座標に属性画像１６ａ１〜１６ａ３を生成し、その属性画像１６ａ１〜１６ａ３に応じた属性光画像１７ａ１〜１７ａ３をシート１の欠点１ａ１〜１ａ３に投射する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
シートを撮像した画像から前記シートに存在する欠点を検出し、得られた欠点に基づいて前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点の属性を表す属性光画像を投射することを特徴とする欠点検査方法。
【請求項２】
シートを撮像した画像を基準値と比較することにより前記シートに存在する欠点の位置と該欠点の属性を検出し、検出された前記欠点の位置と前記欠点の属性を欠点記憶手段に記憶し、前記欠点記憶手段から読み出された前記欠点の位置又はその近傍に前記欠点記憶手段から読み出された前記欠点の属性から作成した属性画像が配置される欠点マップを生成し、該欠点マップの前記属性画像に基づいて作成した属性光画像を前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に投射することを特徴とする欠点検査方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の欠点検査方法において、
前記シートは一方から他方に搬送され、前記属性光画像の投射のタイミングが、前記欠点の撮像のタイミングと前記シートの移動量とに基づいて生成されるようにしたことを特徴とする欠点検査方法。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１つに記載の欠点検査方法において、
前記欠点の属性光画像は、前記欠点であること、前記欠点の種類、大きさ、又は色合い等を表すことを特徴とする欠点検査方法。
【請求項５】
シートを撮像した画像から前記シートに存在する欠点を検出する欠点検出手段と、該欠点検出手段で検出された欠点に基づいて前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点の属性を表す属性光画像を投射する投射手段とを備えることを特徴とする欠点検査装置。
【請求項６】
請求項５に記載の欠点検査装置において、
前記欠点検出手段は、前記シートの画像を得るための１次元又は２次元のカメラと、得られた前記画像と基準値とを比較することにより前記シートに存在する前記欠点の位置と前記欠点の属性を検出する欠点検出部と、該欠点検出部で検出された前記欠点の位置と前記欠点の属性を記憶する欠点記憶部とを備え、
前記投射手段は、前記欠点記憶部から読み出した前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点記憶部から読み出した前記欠点の属性に対応した属性画像を生成して配置する欠点マップ生成部と、該欠点マップ生成部で生成された前記属性画像に基づいて作成した属性光画像を前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に投射する投射機とを備える、
ことを特徴とする欠点検査装置。
【請求項７】
請求項５又は６に記載の欠点検査装置において、
前記シートは一方から他方に搬送され、該シートの移動量を検出する移動量検出手段を備え、
前記投射手段による前記属性光画像の投射のタイミングが、前記欠点検出手段による欠点検出のタイミングと前記移動量検出手段で得られる前記シートの移動量とに基づいて生成されるようにしたことを特徴とする欠点検査装置。
【請求項８】
請求項５乃至７のいずれか１つに記載の欠点検査装置において、
前記欠点の属性光画像は、前記欠点であること、前記欠点の種類、大きさ、又は色合い等を表すことを特徴とする欠点検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シートに存在する汚れ、傷、色ムラ、スジ、その他の欠点を検出する方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、搬送ローラ６の回転によって矢印Ａ方向に搬送される透明無地のシート７の欠点を検出する装置として、図５に示すような構成の欠点検査装置５０がある。この欠点検査装置５０は、光源５１によりシート７を下面から投射して、シート７の上面に設置された２次元カメラ５２によりそのシート７の一部を撮像し、その撮像で得られた２次元画像を欠点検出部５３で２次元の基準画像（無地画像）と比較することによりシート７の当該部分に存在する欠点を検出して、その欠点の検出時刻とその欠点のシート７上の幅方向（図５の紙面に垂直方向）位置を欠点情報として欠点記憶部５４に記憶する。そして、欠点記憶部５４からその欠点情報を読み出してマーキング位置制御部５５に与える。このマーキング位置制御部５５には、シート７の搬送速度を検出する速度センサ５６で検出された速度信号が取り込まれており、その速度信号と欠点情報の検出時刻とからマーキングのタイミングデータを生成して、そのタイミングデータを幅方向位置のデータとともにマーキング装置５７に送る。これにより、マーキング装置５７は、シート７の当該部分がマーキング装置５７の直下に搬送されてきたときに、そのシート７の欠点の位置に幅方向に移動してインクでマーキングを行う。このような欠点検査装置５０は例えば特許文献１に記載されている。
【０００３】
このような欠点検査装置５０によれば、目視では確認し難いような欠点であっても、シート７に付したインクマークによって明確な目視確認が可能となり、製造したシート７中の欠点位置を正確に確認でき、必要な措置（切り取りその他）をとることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−９０４２９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、上記した欠点検査装置では、インクマークをシート７に直接的に付するので、そのインクの乾燥が不十分な場合はシート７を後段でロール状に巻き取るときに、別の部分にインクが付着する恐れがあるので、所定の乾燥時間が必要となり、スループットに悪影響を与える。また、マーキング装置５７をシート７の欠点位置（横方向位置）に持ち来す必要があるので、マーキング位置制御部５５の制御内容やマーキング装置５７の移動機構が複雑となって、欠点検査装置５０がコスト高となる。
【０００６】
また、インクマークに代えて、ラベルをシート７の欠点の位置に近いシート縁部に貼り付ける手法も採用されている。しかしこの手法では、ラベルに費用がかかる外、実際に目視で欠点を探す際に、シート７のラベルが付された位置の幅方向を探す必要があるので、欠点の確認に時間がかかる。また、欠点が存在するシートをリサイクルする際にそのラベルが混入する問題もある。
【０００７】
さらに、インクマークに代えて、インクジェット方式によってシートにマークを直接的に付する手法も採用されており、この場合は付するマークの種類を多様化したり文字を付することもできるが、図５で説明した欠点検査装置５０と同様にある程度の乾燥時間が必要であり、コスト高も招く。
【０００８】
本発明の目的は、シート上で検出した欠点の位置又は欠点の近傍に欠点の属性を示す光画像を投射するようにして、上記した全ての問題を解決した欠点検査方法及び欠点検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、請求項１にかかる発明の欠点検査方法は、シートを撮像した画像から前記シートに存在する欠点を検出し、得られた欠点に基づいて前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点の属性を表す属性光画像を投射することを特徴とする。
【００１０】
請求項２にかかる発明の欠点検査方法は、シートを撮像した画像を基準値と比較することにより前記シートに存在する欠点の位置と該欠点の属性を検出し、検出された前記欠点の位置と前記欠点の属性を欠点記憶手段に記憶し、前記欠点記憶手段から読み出された前記欠点の位置又はその近傍に前記欠点記憶手段から読み出された前記欠点の属性から作成した属性画像が配置される欠点マップを生成し、該欠点マップの前記属性画像に基づいて作成した属性光画像を前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に投射することを特徴とする。
【００１１】
請求項３にかかる発明は、請求項１又は２に記載の欠点検査方法において、前記シートは一方から他方に搬送され、前記属性光画像の投射のタイミングが、前記欠点の撮像のタイミングと前記シートの移動量とに基づいて生成されるようにしたことを特徴とする。
【００１２】
請求項４にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれか１つに記載の欠点検査方法において、前記欠点の属性光画像は、前記欠点であること、前記欠点の種類、大きさ、又は色合い等を表すことを特徴とする。
【００１３】
請求項５にかかる発明の欠点検査装置は、シートを撮像した画像から前記シートに存在する欠点を検出する欠点検出手段と、該欠点検出手段で検出された欠点に基づいて前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点の属性を表す属性光画像を投射する投射手段とを備えることを特徴とする。
【００１４】
請求項６にかかる発明は、請求項５に記載の欠点検査装置において、前記欠点検出手段は、前記シートの画像を得るための１次元又は２次元のカメラと、得られた前記画像と基準値とを比較することにより前記シートに存在する前記欠点の位置と前記欠点の属性を検出する欠点検出部と、該欠点検出部で検出された前記欠点の位置と前記欠点の属性を記憶する欠点記憶部とを備え、前記投射手段は、前記欠点記憶部から読み出した前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点記憶部から読み出した前記欠点の属性に対応した属性画像を生成して配置する欠点マップ生成部と、該欠点マップ生成部で生成された前記属性画像に基づいて作成した属性光画像を前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に投射する投射機とを備える、ことを特徴とする。
【００１５】
請求項７にかかる発明は、請求項５又は６に記載の欠点検査装置において、前記シートは一方から他方に搬送され、該シートの移動量を検出する移動量検出手段を備え、前記投射手段による前記属性光画像の投射のタイミングが、前記欠点検出手段による欠点検出のタイミングと前記移動量検出手段で得られる前記シートの移動量とに基づいて生成されるようにしたことを特徴とする。
【００１６】
請求項８にかかる発明は、請求項５乃至７のいずれか１つに記載の欠点検査装置において、前記欠点の属性光画像は、前記欠点であること、前記欠点の種類、大きさ、又は色合い等を表すことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、シートの検出された欠点に基づいて当該シートの欠点の位置又はその近傍に欠点を表す属性光画像が投射されるので、欠点の目視確認が容易となる。また、シートに何も付着させないのでそのリサイクルが容易であり、乾燥時間も不要であり、マーキング装置をシートの幅方向に移動させる機構も不要であり、欠陥検査装置を低コストで実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１実施例の欠点検査装置の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】図１の欠点検査装置の動作説明図である。
【図３】第２実施例の欠点検査装置の構成を示す機能ブロック図である。
【図４】図３の欠点検査装置の動作説明図である。
【図５】従来の欠点検査装置の構成を示す機能ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
＜第１実施例＞
図１に第１実施例の欠点検査装置１０の構成を示す。本実施例の欠点検査装置１０は、搬送ローラ２の回転によって矢印Ａ方向に搬送されてくる無地不透明の鋼板あるいはプラスチック板等のシート（ウェブ）１について、そのシート１が切断機３に到達するまでの所定移動量分の領域１Ａの上面の欠点を検出する。そして、検出した欠点に基づいて作成した検査結果の光画像を、当該検査対象となっていたシート１の領域１Ａを切断機３で切断して分離した後に一時的に停止しているカットシート１Ｂの上面に投射する。
【００２０】
１１は切断機３でカットされる直前のシート１の上面に光を投射するハロゲンランプ等の光源、１２は光源１１の光が投射されている搬送中のシート１の上面の幅方向（搬送される矢印Ａ方向と交差する方向）のラインをスキャンするＣＣＤやＣＭＯＳ等を利用したラインセンサ方式のカメラである。このカメラ１２のライン光軸は、シート１の所定移動量分の領域１Ａの最終部（図１の領域１Ａの左端）に合わせられている。１３はシート１の矢印Ａ方向への移動量を検出するエンコーダ等からなる移動量センサであり、例えば数μｍの移動量毎に１パルスのセンサ信号が出力する。
【００２１】
１４は欠点検出部であり、カメラ１２でスキャンしたシート１の全幅のライン画像を移動量センサ１３から出力するセンサ信号の出力毎に取り込んで、領域１Ａ分の複数のライン画像から２次元画像を生成し、その２次元画像を基準値としての２次元の基準画像（無地画像）と比較する。そして、その比較結果によって領域１Ａの上面に存在する欠点を検出し、当該欠点の座標と当該欠点の属性を検出して、その欠点座標と欠点属性を１組とする欠点情報を出力する。
【００２２】
１５はその欠点検出部１４から出力する欠点情報を格納する欠点記憶部である。１６は欠点マップ生成部であり、欠点記憶部１５から読み出された欠点情報の欠点の座標が中央にくるように、当該欠点の属性に対応した属性画像を作成して、その属性画像を領域１Ａに対応する空間に配置した欠点マップを生成する。１７は光画像を投射するプロジェクタ等からなる投射機であり、欠点マップ生成部１６で生成された欠点の属性画像から作成した属性光画像を、切断後に搬送が一時停止している領域１Ａに対応したカットシート１Ｂの上面の欠点の位置に投射する。なお、欠点がない場合は、光画像として白画像を投射し、あるいは光画像を投射しない。
【００２３】
請求項との関係では、カメラ１２と欠点検出部１４と欠点記憶部１５は欠点検出手段を構成し、欠点マップ生成部１６と投射機１７は投射手段を構成する。
【００２４】
さて、検査対象となっているシート１の切断機３に到達する所定移動量の領域１Ａについて、その表面に、図２（ａ）に示すような小汚れ欠点１ａ１、中汚れ欠点１ａ２、大汚れ欠点１ａ３が存在しているとすると、これをカメラ１２で撮像し欠点検出部１４に取り込んで作成した領域１Ａの２次元画像１４ａは、図２（ｂ）に示すようになる。
【００２５】
この２次元画像１４ａには、小汚れ欠点画像１４ａ１、中汚れ欠点画像１４ａ２、大汚れ欠点画像１４ａ３が含まれている。この画像１４ａを２次元の基準画像と比較することで、小汚れ欠点画像１４ａ１とその中心位置データｘ１，ｙ１、中汚れ欠点画像１４ａ２とその中心位置データｘ２，ｙ２、大汚れ欠点画像１４ａ３とその中心位置データｘ３，ｙ３が、座標として検出される。さらに、それら小汚れ欠点画像１４ａ１、中汚れ欠点画像１４ａ２、大汚れ欠点画像１４ａ３から、その欠点の属性（汚れの大きさ）も検出される。このようにして得られた各欠点の中心位置と属性のデータは、欠点情報として欠点記憶部１５に格納される。
【００２６】
そして、欠点マップ生成部１６では、欠点記憶部１５から欠点の中心位置と欠点の属性のデータを読み出して、その欠点の中心位置データで示される座標が中心に来るように、その欠点の属性データに対応した属性画像が生成される。例えば、小汚れ欠点１ａ１には○画像１６ａ１が、中汚れ欠点１ａ２には□画像１６ａ２が、大汚れ欠点１ａ３には△画像１６ａ３が、それぞれ属性画像として生成され割り当てられる。図２（ｃ）に欠点マップ生成部１６で生成された欠点の属性画像１６ａ１〜１６ａ３を有する欠点マップ１６ａを示した。
【００２７】
図２（ｄ）は欠点マップ生成部１６で生成された欠点の属性画像１６ａ１〜１６ａ３から属性光画像１７ａを作成して、投射機１７によってカットシート１Ｂに投射した状態を示す図である。このように、シート１の切断されたカットシート１Ｂには、その表面の小汚れ欠点１ａ１には○型の属性光画像１７ａ１が、中汚れ欠点１ａ２には□型の属性光画像１７ａ２が、大汚れ欠点１ａ３には△型の属性光画像１７ａ３が、それぞれ投射される。
【００２８】
以上から、検査オペレータは、投射機１７でシート１の切断され一時停止中のカットシート１Ｂに投射された属性光画像１７ａ１〜１７ａ３を目視することで、カットシート１Ｂの上面に存在する欠点１ａ１〜１ａ３の位置と属性（汚れの大きさ）を確実に確認することできる。このようにして検査を完了したカットシート１Ｂは、搬送ローラ２によって後段に搬送され、欠点の有無、属性等によって仕分けされる。そして、切断機３でカットされる直前の次の領域１Ａについて、カメラ１２で撮像された２次元画像に基づいて欠点が検出されると同様の属性光画像が生成され、切断機３により切断された後に一時停止しているカットシート１Ｂに対して同様に投射が行われる。
【００２９】
本実施例によれば、切断後のカットシート１Ｂに投射される属性光画像を任意の形状、任意の大きさ、任意の色合いに設定することができ、特に形状については図２（ｃ），（ｄ）に示した枠形状のみでなく、より目立つ塗り潰し形状に設定することもできるので、目視では確認の難しい小さな欠点であっても、それを確実に視認することができるようになる。また、カットシート１Ｂにインキ、ラベル等のようなものは何ら付着させないので、欠点のあるカットシート１Ｂのリサイクルが容易であり、乾燥時間も不要であり、マーキング装置をカットシート１Ｂの幅方向に移動させる機構も不要であり、欠点検査装置を低コストで実現することができる。
【００３０】
＜第２実施例＞
図３に第２実施例の欠点検査装置２０の構成を示す。本実施例の欠点検査装置２０は、搬送ローラ５の回転によって矢印Ａ方向に搬送されてくる無地透明のフィルム等のシート（ウェブ）４について、そこに存在する欠点を連続的に検査する装置である。この欠点検査装置２０は、シート４の製造ラインに設置して製造直後のシート４について欠点を検査する場合や、製造済のシートを巻き戻して検査を行う場合に適用できる。
【００３１】
２１はシート４の下面に光を投射するハロゲンランプ等の光源、２２は光源２１から光が投射されている搬送中のシート４の上面の幅方向（搬送される矢印Ａ方向と交差する方向）のラインをスキャンするＣＣＤやＣＭＯＳ等を利用したラインセンサ方式のカメラである。２３はシート４の矢印Ａ方向への移動量を検出するエンコーダ等からなる移動量センサであり、例えば数μｍの移動量毎に１パルスのセンサ信号が出力する。
【００３２】
２４は欠点検出部であり、カメラ２２でスキャンしたシート４の全幅のライン画像を移動量センサ２３から出力するセンサ信号の出力毎に取り込んで、領域４Ａ分の複数のライン画像から２次元画像を生成し、その２次元画像を基準値としての２次元の基準画像（無地画像）と比較する。そして、その比較結果によって領域４Ａの上面に存在する欠点を検出し、当該欠点の座標と当該欠点の属性を検出して、その欠点座標と欠点属性を１組とする欠点情報を出力する。
【００３３】
２５はその欠点検出部２４から出力する欠点情報を格納する欠点記憶部である。２６は欠点マップ生成部であり、欠点記憶部２５から読み出された欠点情報の欠点の座標が中央にくるように、当該欠点の属性に対応した属性画像を作成して、その属性画像を領域４Ａに対応する空間に配置した欠点マップを生成する。２７は光画像を投射するプロジェクタ等からなる投射機であり、欠点マップ生成部２６で生成された欠点の属性画像から作成した属性光画像をシート４の領域４Ａが領域４Ｂに移動して来たときに、その領域４Ｂの上面の欠点の位置に投射する。なお、欠点がない場合は、光画像として白画像を投射し、あるいは光画像を投射しない。
【００３４】
請求項との関係では、カメラ２２と欠点検出部２４と欠点記憶部２５は欠点検出手段を構成し、欠点マップ生成部２６と投射機２７は投射手段を構成する。
【００３５】
さて、検査対象となっているシート４の領域４Ａについて、その表面に、図４（ａ）に示すような小汚れ欠点４ａ１、中汚れ欠点４ａ２、大汚れ欠点４ａ３が存在しているとすると、これをカメラ２２で撮像し欠点検出部２４に取り込んで作成した領域４Ａの２次元画像２４ａは、図４（ｂ）に示すようになる。
【００３６】
この２次元画像２４ａには、小汚れ欠点画像２４ａ１、中汚れ欠点画像２４ａ２、大汚れ欠点画像２４ａ３が含まれている。この画像２４ａを２次元の基準画像と比較することで、小汚れ欠点画像２４ａ１とその中心位置データｘ１１，ｙ１１、中汚れ欠点画像２４ａ２とその中心位置データｘ１２，ｙ１２、大汚れ欠点画像２４ａ３とその中心位置データｘ１３，ｙ１３が、座標として検出される。さらに、それら小汚れ欠点画像２４ａ１、中汚れ欠点画像２４ａ２、大汚れ欠点画像２４ａ３から、その欠点の属性（汚れの大きさ）も検出される。このようにして得られた各欠点の中心位置と属性のデータは、欠点情報として欠点記憶部２５に格納される。
【００３７】
そして、欠点マップ生成部２６では、欠点記憶部２５から欠点の中心位置と欠点の属性のデータを読み出して、その欠点の中心位置データで示される座標が中心に来るように、その欠点の属性データに対応した属性画像が生成される。例えば、小汚れ欠点４ａ１には○画像２６ａ１が、中汚れ欠点４ａ２には□画像２６ａ２が、大汚れ欠点４ａ３には△画像２６ａ３が、それぞれ属性画像として生成され割り当てられる。図４（ｃ）に欠点マップ生成部２６で生成された欠点の属性画像２６ａ１〜２６ａ３を有する欠点マップ２６ａを示した。
【００３８】
図４（ｄ）は欠点マップ生成部２６で生成された欠点の属性画像２６ａ１〜２６ａ３から属性光画像２７ａを作成して、シート４の領域４Ａが領域４Ｂに移動してきたときに、投射機２７によってその領域４Ｂに投射した状態を示す図である。このように、シート４の領域４Ｂには、その表面の小汚れ欠点４ａ１には○型の属性光画像２７ａ１が、中汚れ欠点４ａ２には□型の属性光画像２７ａ２が、大汚れ欠点４ａ３には△型の属性光画像２７ａ３が、それぞれ投射される。
【００３９】
搬送ローラ５の回転により搬送されるシート４は、領域４Ａで欠点が検出された際には、領域４Ｂにおいて属性光画像７２ａが投射されるときに、停止される。すなわち、シート４は領域４Ａで欠点が検出されないときは、比較的高速で搬送されるが、領域４Ａで欠点が検出されたときには、その領域４Ａが領域４Ｂに移動してきた時点で所定時間だけ搬送が停止され、欠点４ａ１〜４ａ３と属性光画像２７ａ１〜２７ａ３を肉眼で確認できるようになる。これにより、検査のスループット向上と欠点確認作業の容易性の両者を満足させることができる。
【００４０】
以上から、検査オペレータは、投射機２７でシート４に投射された属性光画像２７ａ１〜２７ａ３を目視することで、シート４上に存在する欠点６ａ１〜６ａ３の位置と属性を確実に確認することできる。このようにして検査を完了したシート４は後段に搬送され、欠点のある部分の切除等が行われる。
【００４１】
なお、本実施例において、光源２１の箇所に光反射板を設置することもでき、この場合は光源２１はシート４の上面のカメラ２２の近傍に設置すればよい。また、シート４が不透明材質の場合も、光源２１はカメラ２２の近傍に設置すればよい。
【００４２】
本実施例によれば、シート４に投射される属性画像を任意の形状、任意の大きさ、任意の色合いに設定することができ、特に形状については図４（ｃ），（ｄ）に示した枠形状のみでなく、より目立つ塗り潰し形状に設定することもできるので、目視では確認の難しい小さな欠点であっても、それを確実に確認することができるようになる。また、シート４にインキ、ラベル等のようなものは何ら付着させないので、シート４の欠点のある部分のリサイクルが容易であり、乾燥時間も不要であり、マーキング装置をシートの幅方向に移動させる機構も不要であり、欠点検査装置を低コストで実現することができる。
【００４３】
＜その他の実施例＞
なお、以上の実施例では、欠点の属性は汚れの大きさを表すものとしたが、これに限られるものではない。欠点の属性としては、欠点の種類（汚れ、傷、色ムラ、スジ、その他）、その大きさ、色合い等があり、属性光画像としてはそれらを表す画像を使用することができる。さらに、欠点の属性の区分けが必要ない場合には、欠点が存在することそのものを属性として表してもよい。この場合の属性光画像は、欠点位置を示すのみの画像となる。
【００４４】
また、以上の実施例では、欠点の属性光画像を、欠点を囲むような枠画像あるいは塗り潰し画像等として表示する例で説明したが、属性光画像の表示形態はこれに限られるものではない。例えば、その欠点の近傍に欠点を説明する文字列、記号等を表示してもよい。このときは当該の欠点を矢印画像で指示することが好ましい。また、属性光画像の表示に加えて欠点の属性の内容を音声で説明するようにしてもよい。この場合は、例えば欠点を表す属性光画像に番号を付加して、当該番号の欠点について音声説明させればよい。
【００４５】
また、欠点検出部１４、２４において、検出された欠点の画像を中央に含む所定の大きさの２次元の欠点画像を生成し、その欠点画像に前記した欠点座標と欠点属性を加えてそれらを１組の欠点情報とし、各欠点情報毎に連続番号を付けて欠点記憶部１５、２５に格納しておけば、欠点情報の欠点画像、欠点座標、欠点属性を番号で振り分けた一覧リストにして、モニタに表示させたり、データとして保存したりすることができる。
【００４６】
また、得られた２次元画像と比較する２次元の基準画像としては、無地画像に限られるものではなく、絵柄等のパターン画像を使用することもできる。シート１、４の搬送される矢印Ａ方向に特定パターン画像が予め所定ピッチで繰り返し印刷されている場合には、その特定パターン画像を基準画像とすることで、シートに印刷された特定パターン画像の中に存在する欠点を検出して、その欠点の内容を表す属性光画像を投射することができる。印刷された特定パターン画像中の印刷ムラ、汚れ、傷、その他の欠点は、目視で発見することがきわめて困難であるが、それを確実に目視確認することができるようになる。
【００４７】
また、以上の実施例では、ラインセンサ型のカメラを使用し、得られた複数のライン画像から２次元画像を生成して、その２次元画像を基準値としての２次元の基準画像と比較して欠点を検出しているが、これに限られるものではない。例えば、１本のライン画像の各画素の濃度を基準値と比較することで、１ラインごとに画素単位で欠点候補を検出し、１個の欠点候補からあるいは複数ラインに亘る複数の欠点候補の集合から欠点を検出することもできる。
【００４８】
また、以上の実施例ではカメラ１２、２２として高解像度が得やすいラインセンサ型の１次元カメラを使用したが、１次元カメラに代えてＣＣＤやＣＭＯＳ等を利用した２次元カメラを使用して欠点を撮像し、得られた２次元画像を使用して前記実施例で説明した手法により、同様に検査を行うことができる。
【００４９】
また、図１、図２で説明した第１実施例では、シート１の切断機３でカットされる直前の領域１Ａの欠点を検出し、カットされてから一時停止しているカットシート１Ｂに属性光画像を投射する例を説明したが、予めカットされた状態で搬送されてくるカットシートについて欠点を検出し、搬送の後段で一時停止させてそのカットシートに属性光画像を投射すこともできる。
【００５０】
また、投射機によって投射する属性光画像は、シートの平面部分に対してのみならず、巻取りリールに順次巻き取られるシートのロールの表面に対して行うこともできる。
【符号の説明】
【００５１】
１：シート、１Ａ：領域、１Ｂ：カットシート、２：搬送ローラ、３：切断機、４：シート、４Ａ，４Ｂ：領域、５，６：搬送ローラ、７：シート
１０：欠点検査装置、１１：光源、１２：カメラ、１３：移動量センサ、１４：欠点検出部、１５：欠点記憶部、１６：欠点マップ生成部、１７：投射機
２０：欠点検査装置、２１：光源、２２：カメラ、２３：移動量センサ、２４：欠点検出部、２５：欠点記憶部、２６：欠点マップ生成部、２７：投射機
５０：欠点検査装置、５１：光源、５２：カメラ、５３：欠点検出部、５４：欠点記憶部、５５：マーキング位置制御部、５６：速度センサ、５７：マーキング装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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