(57)【要約】【課題】本発明は、所望のヘイズ値を有することで真贋判定を行うことが可能な真贋判定用光学シートおよびそれを用いた偽造防止媒体を提供することを主目的とする。【解決手段】本発明は、一方の面に多数の突起部が形成されている光散乱層と、上記光散乱層の上記突起部が形成された面上に、隣接する上記突起部間を充填して形成された透明保護層と、を有する真贋判定用光学シートであって、上記光散乱層は、上記透明保護層とは異なる屈折率を有し、上記光散乱層は、形状および配置位置に所定のばらつきを有する多数の突起部、もしくは、形状および配置位置に所定のばらつきを有する多数の溝部が形成されていることを特徴とする真贋判定用光学シートを提供することにより、上記課題を解決する。【選択図】図１
2017151383.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方の面に多数の突起部が形成されている光散乱層と、
前記光散乱層の前記突起部が形成された面上に、隣接する前記突起部間を充填して形成された透明保護層と、
を有する真贋判定用光学シートであって、
前記光散乱層は、前記透明保護層とは異なる屈折率を有し、
前記突起部の底面の重心を通る最大幅の平均が２５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の範囲内にあり、
一の前記突起部および前記一の突起部の底面の重心に最も接近した位置に底面の重心を有する他の前記突起部の重心間距離の平均が４００ｎｍ以下であり、前記重心間距離の分散が１００００ｎｍ２以上であり、
前記突起部が形成された面内の長さ方向および幅方向をｘ軸方向およびｙ軸方向で規定し、平面視上において前記突起部の底面の重心からの前記突起部の頂部の位置を方位角φ（０°≦φ＜３６０°）で示し、前記突起部の抽出点数をｎ（ｎ≧３０）としたときに、
｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜≦０．２５、かつ
｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．２５の関係を満たすこと
を特徴とする真贋判定用光学シート。
【請求項２】
一方の面に多数の溝部が形成されている光散乱層と、
前記光散乱層の前記溝部が形成された面上に、前記溝部内を充填して形成された透明保護層と、
を有する真贋判定用光学シートであって、
前記光散乱層は、前記透明保護層とは異なる屈折率を有し、
前記溝部の側面により囲まれた領域である溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの面積の平均が９４０００ｎｍ２以上１３１０００ｎｍ２以下の範囲内であり、
前記溝部の前記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの最大内角の分散が６００（°）２以上１０２０（°）２以下の範囲内であり、
一の前記溝部と、前記一の溝部の前記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心に最も接近した位置に前記溝口部の前記重心を有する前記溝部と、の重心間距離の平均が５００ｎｍ以下であり、前記重心間距離の分散が８０００ｎｍ２以上であること
を特徴とする真贋判定用光学シート。
【請求項３】
前記光散乱層と前記透明保護層との屈折率差が０．１０以上であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の真贋判定用光学シート。
【請求項４】
表面の少なくとも一部に透明真贋判別部を有する偽造防止媒体であって、前記透明真贋判定部には、請求項１から請求項３までのいずれかに記載の真贋判定用光学シートが配置されていることを特徴とする偽造防止媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、特徴的な表面形状により所望のヘイズ値を有し、上記表面形状およびヘイズ値に基づいて真贋判定を行うことが可能な真贋判定用光学シート、および、それを用いた偽造防止媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、偽造が困難であり、かつ、真贋判定を容易かつ正確に行うことが可能な偽造防止技術が求められている。このような偽造防止技術としては、例えば、所望の光学特性を有する領域を設ける、複製が困難な形状を表面に付す、色調変化を施す、ホログラム等の光学的現象を利用する等、各種技術が知られている。
【０００３】
カードや紙幣等の偽造防止機能が必要な媒体においては、上記の偽造防止技術を用いた部材（以下、真贋判定用部材と称する場合がある。）を用いた真贋判定部が設けられている。ここで、例えば、透明性を有する上記媒体では、上記真贋判定部にも透明性が必要となる場合があり、また、不透明な媒体であっても、上記真贋判定部のみを透明とする場合がある。このような用途に適応するため、透明性を有する真贋判定用部材が求められている。
【０００４】
また、透明性を有する媒体の場合、上記媒体と上記媒体に設けられた真贋判定部との判別を可能とするために、反射率やヘイズ値等の上記真贋判定部材が有する光学特性は、上記媒体が有する光学特性と異なることが望まれる。
【０００５】
一方、光学分野では、光学シートの反射防止性や防眩性を向上する目的で、所望のヘイズ値を有するように透明シートの仕様を設計することは公知である。
透明シートが有するヘイズ値を調整する技術としては、例えば、特許文献１で開示されるように透明シートの表面に凹凸形状を付して粗面化する、透明シート内に粒子を分散させる、等が公知である。
しかし、これらの技術は、上述したように反射防止性や防眩性等の向上を目的としており、上記技術により得られる光学シートのヘイズ値は、併用する他の層の視認性等を考慮して設計されている。このため、上記光学シートを真贋判定部材として用いると、上記ヘイズ値は、真贋判定に用いることを想定して設計されていないため、十分な精度を持って真贋判定が行えない場合があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第２０１２／１２４３２３号
【特許文献２】特開２０１２−１５０３５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、所望のヘイズ値を有することで真贋判定を行うことが可能な真贋判定用光学シートおよびそれを用いた偽造防止媒体を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
ここで、本発明者は、高ヘイズ値を有する光学シートについて鋭意検討を行い、多数の突起部がその形状および配置間隔に所定のばらつきを有して形成されてなる特徴的な表面形状を有する賦形シートを開発している。また、同様に、多数の溝部がその形状および配置間隔に所定のばらつきを有して形成されてなる特徴的な表面形状を有する賦形シートを開発している。多数の突起部または多数の溝部により構成される上記特徴的な表面形状については、後で詳細に説明する。
【０００９】
これらの賦形シートは、多数の突起部若しくは多数の溝部により構成される特徴的な表面形状を有することで、入射光を多数回反射しながら層内で散乱させる機能を有している。また、上記表面形状は、光のミー散乱を支配的に生じさせる形状を有しており、広波長域の入射光を、前方、すなわち、賦形シート内で散乱させる機能を有している。
このため、これらの賦形シートは、層内での光散乱が増大して高いヘイズ値を有することができるのである。
【００１０】
そして、本発明者は、上記の賦形シートを真贋判定用途に用いることで、特徴的な表面形状と、上記賦形シートが有する高ヘイズ値やそれにより生じる白濁（ヘイズ）感等の光学特性と、の両方の特徴に基づく真贋判定を可能とし、より高い判定精度が得られることを知得した。
また、上記の賦形シートの表面形状は、所望のヘイズ値となるように突起部または溝部のばらつきが設計されていることから、複製が困難であり、高い偽造防止効果が得られることも知得した。
【００１１】
しかし、本発明者は、上記賦形シートを真贋判定用途に用いる場合、上記賦形シートを媒体に配置する際の配置態様によっては、表面形状や光学特性に変化が生じてしまい、真贋判定精度が低下してしまうという新たな問題があることも見出した。
【００１２】
例えば、上記賦形シートを偽造防止物品の表面に配置して真贋判定を行う場合、賦形シートの表面形状が露出しているため、外部衝撃を受けることで上記表面形状に破損等が生じる、表面が汚染される等の理由から上記表面形状が変化してしまう。上記表面形状が変化すると、散乱機能が低下するため、上記賦形シートが有するヘイズ値も低下してしまう。このため、表面形状や光学特性に基づいた真贋判定を正確に行えない場合がある。
また、偽造防止物品を構成する部材間に上記賦形シートを配置して、上記部材を介して表出した部分で真贋判定を行う場合、特許文献２で図示されるように、上記賦形シートの表面形状を埋めるようにして、同等の屈折率を有する他の層が形成されると、上記賦形シートの上記表面形状が実質的に消失してしまい、散乱機能が阻害され若しくは消失してしまう。このため、光学特性に基づいた真贋判定を正確に行えない場合がある。
【００１３】
上記の新たな問題を解決するために、本発明者はさらに鋭意検討を行い、上記賦形シートの上記表面形状を覆うようにして、上記賦形シートと屈折率の異なる透明保護層を設けた。その結果、得られる光学シートは、透明保護層により上記表面形状の変化や、他の層との接触による上記表面形状の実質的な消失を防ぐことができ、全体で所望のヘイズ値を有することが可能となることを見出した。そして、上記光学シートは、自身が有するヘイズ値やそれにより生じる白濁（ヘイズ）感、さらには、上記光学シートの断面形状に基づいて、高精度な真贋判定を行うことが可能であることも見出した。
本発明は、このような知見に基づいて完成されたものである。
【００１４】
すなわち本発明は、一方の面に多数の突起部が形成されている光散乱層と、上記光散乱層の上記突起部が形成された面上に、隣接する上記突起部間を充填して形成された透明保護層と、を有する真贋判定用光学シートであって、上記光散乱層は、上記透明保護層とは異なる屈折率を有し、上記突起部の底面の重心を通る最大幅の平均が２５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の範囲内にあり、一の上記突起部および上記一の突起部の底面の重心に最も接近した位置に底面の重心を有する他の上記突起部の重心間距離の平均が４００ｎｍ以下であり、上記重心間距離の分散が１００００ｎｍ２以上であり、上記突起部が形成された面内の長さ方向および幅方向をｘ軸方向およびｙ軸方向で規定し、平面視上において上記突起部の底面の重心からの上記突起部の頂部の位置を方位角φ（０°≦φ＜３６０°）で示し、上記突起部の抽出点数をｎ（ｎ≧３０）としたときに、｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜≦０．２５、かつ｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．２５の関係を満たすことを特徴とする真贋判定用光学シートを提供する。
【００１５】
また、本発明は、一方の面に多数の溝部が形成されている光散乱層と、上記光散乱層の上記溝部が形成された面上に、上記溝部内を充填して形成された透明保護層と、を有する真贋判定用光学シートであって、上記光散乱層は、上記透明保護層とは異なる屈折率を有し、上記溝部の側面により囲まれた領域である溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの面積の平均が９４０００ｎｍ２以上１３１０００ｎｍ２以下の範囲内であり、上記溝部の上記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの最大内角の分散が６００（°）２以上１０２０（°）２以下の範囲内であり、一の上記溝部と、上記一の溝部の上記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心に最も接近した位置に上記溝口部の上記重心を有する上記溝部と、の重心間距離の平均が５００ｎｍ以下であり、上記重心間距離の分散が８０００ｎｍ２以上であることを特徴とする真贋判定用光学シートを提供する。
【００１６】
本発明によれば、光散乱層は、一方の表面上に、形状および配置位置に所定のばらつきを有する多数の突起部、もしくは、形状および配置位置に所定のばらつきを有する多数の溝部が形成されているため、その特徴的な表面形状により層内での光の散乱が増大し、単体で高いヘイズ値を有することができる。
また、光散乱層とは異なる屈折率を有する透明保護層が、上記光散乱層の表面形状を埋めるように形成されているため、上記光散乱層の表面形状による散乱機能を阻害せずに、破損等による上記表面形状の変化や、屈折率の近い他の層との接触による表面形状の消失から保護することができる。
これにより本発明の真贋判定用光学シートは、シート全体で所望のヘイズ値を有することができ、偽造防止媒体の透明真贋判定部に用いることで、ヘイズ値や白濁（ヘイズ）感、断面形状に基づく多種の真贋判定を行うことができ、高い判定精度を得ることができる。
さらにまた、上記光散乱層は、所望の高ヘイズ値となるように設計された特徴的な表面形状を有することから、複製が困難であり、本発明の真贋判定用光学シートを用いた偽造防止媒体の偽造防止効果を高めることができる。
【００１７】
上記発明においては、上記光散乱層と上記透明保護層との屈折率差が０．１０以上であることが好ましい。上記光散乱層と上記透明保護層との屈折率差が上記範囲に満たない場合は、上記光散乱層による散乱効果が得られなくなる場合がある。
【００１８】
また、本発明は、表面の少なくとも一部に透明真贋判別部を有する偽造防止媒体であって、上記透明真贋判定部には、上述の真贋判定用光学シートが配置されていることを特徴とする偽造防止媒体を提供する。
【００１９】
本発明によれば、上記透明真贋判定部に配置される真贋判定用光学シートは、所望の散乱機能を発揮するための特徴的な表面形状を有する光散乱層と、上記表面形状を埋めるようにして形成された透明保護層と、を有することで、所望のヘイズ値を有する。このため、本発明の偽造防止媒体は、上記透明真贋判定部が有するヘイズ値や白濁（ヘイズ）感、断面形状に基づく多種の真贋判定を行うことができる。中でも、偽造品に設けられた透明真贋判定部が同等のヘイズ値を有する場合に、上記透明真贋判定部の断面形状から真贋判定を行うことで、高い判定精度を得ることが可能となる。さらに、上記透明真贋判定部において、上記真贋判定用光学シートは特徴的な表面形状を有しており、複製が困難であることから、透明真贋判定部の偽造を防止することができ、本発明の偽造防止媒体のセキュリティ性をより高めることができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の真贋判定用光学シートは、所望のヘイズ値を有することで真贋判定を行うことが可能であり、さらに、特徴的な表面形状を有する光散乱層および上記表面形状を保護する透明保護層を有することで、上記表面形状およびヘイズ値に基づく多種の真贋判定を行うことが可能であるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の真贋判定用光学シートの第１態様の一例を示す概略断面図である。
【図２】図１のＰ部分の拡大図である。
【図３】突起部の頂部の方位角φを説明する説明図である。
【図４】本発明の真贋判定用光学シートの第１態様における光散乱層の一例を示す平面ＳＥＭ画像である。
【図５】本発明の真贋判定用光学シートの第２態様の一例を示す概略断面図である。
【図６】図５のＰ部分の拡大図である。
【図７】溝部の形状を説明するための説明図である。
【図８】本発明の真贋判定用光学シートの第２態様における光散乱層の一例を示す平面ＳＥＭ画像である。
【図９】本発明の偽造防止媒体の一例を示す模式図である。
【図１０】本発明の偽造防止媒体の他の例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の真贋判定用光学シートおよび偽造防止媒体について説明する。
【００２３】
Ｉ．真贋判定用光学シート
本発明の真贋判定用光学シートは、光散乱層の表面形状に応じて２つの態様を有する。
なお、本明細書内において、「シート」とは、ＪＩＳ Ｋ６９００に定義されるシートおよびフィルムを含む概念とする。
以下、本発明の真贋判定用光学シートの各態様について説明する。
【００２４】
Ａ．第１態様
本発明の真贋判定用光学シートの第１態様（以下、この項において本態様とする。）は、一方の面に多数の突起部が形成されている光散乱層と、上記光散乱層の上記突起部が形成された面上に、隣接する上記突起部間を充填して形成された透明保護層と、を有する真贋判定用光学シートであって、上記光散乱層は、上記透明保護層とは異なる屈折率を有し、上記突起部の底面の重心を通る最大幅の平均が２５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の範囲内にあり、一の上記突起部および上記一の突起部の底面の重心に最も接近した位置に底面の重心を有する他の上記突起部の重心間距離（以下、最近接重心間距離と称する場合がある。）の平均が４００ｎｍ以下であり、上記重心間距離の分散が１００００以上であり、上記突起部が形成された面内の長さ方向および幅方向をｘ軸方向およびｙ軸方向で規定し、平面視上において上記突起部の底面の重心からの上記突起部の頂部の位置を方位角φ（０°≦φ＜３６０°）で示し、上記突起部の抽出点数をｎ（ｎ≧３０）としたときに、｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜≦０．２５、かつ｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．２５の関係を満たすことを特徴とする。
【００２５】
本態様の真贋判定用光学シートについて、図を参照して説明する。図１は、本態様の真贋判定用光学シートの一例を示す概略断面図であり、図２は図１のＰ部分の拡大図である。
本態様の真贋判定用光学シート１０は、一方の面に多数の突起部２０（２０Ａ、２０Ｂ）が形成されている光散乱層１Ａと、光散乱層１Ａの突起部２０が形成された面上に、隣接する突起部２０間を充填して形成された透明保護層２と、を有する。突起部２０の頂部は、透明保護層２内に埋まっている。
光散乱層１Ａは、透明保護層２とは異なる屈折率を有し、多数の突起部２０が、形状および配置位置に所定のばらつきを有して形成されている。
なお、多数の突起部の形状および配置位置のばらつきのことを、単に「(突起部の)ばらつき」と称する場合がある。
【００２６】
本態様によれば、光散乱層は、一方の表面上に、形状および配置位置に所定のばらつきを有する多数の突起部が形成されているため、その特徴的な表面形状により層内での光の散乱が増大し、単体で高いヘイズ値を有することができる。すなわち、上記光散乱層は、特徴的な表面形状による散乱機能、および光散乱によるヘイズ効果を発揮することができる。
また、光散乱層とは異なる屈折率を有する透明保護層が、上記光散乱層の表面形状を埋めるように形成されているため、上記光散乱層の表面形状による散乱機能を阻害せずに、破損等による上記表面形状の変化や、屈折率の近い他の層との接触による表面形状の消失から保護することができる。
これにより本態様の真贋判定用光学シートは、シート全体で所望のヘイズ値を有することができ、偽造防止媒体の透明真贋判定部に用いることで、ヘイズ値や白濁（ヘイズ）感、断面形状に基づく多種の真贋判定を行うことができ、高い判定精度を得ることができる。
さらにまた、上記光散乱層は、所望の高ヘイズ値となるように設計された特徴的な表面形状を有することから、複製が困難であり、本態様の真贋判定用光学シートを用いた偽造防止媒体の偽造防止効果を高めることができる。
【００２７】
以下、本態様の真贋判定用光学シートにおける各構成について説明する。
【００２８】
１．光散乱層
本態様における光散乱層は、一方の面に多数の突起部が形成されており、上記突起部は、形状および配置位置に所定のばらつきを有する。
【００２９】
本態様における光散乱層は、表面に形成された多数の突起部が所定のばらつきを有することで、光散乱機能が発揮されて単体で高いヘイズ値を有することが可能である。これは、上記光散乱層表面に形成された多数の突起部が所定のばらつきを有することで、上記光散乱層の突起部が形成された面（以下、突起部賦形面と称する場合がある。）から入射した光が上記突起部により支配的にミー散乱されるためである。
すなわち、ミー散乱は、「前方散乱が強い」という特長を有することから、上記所定のばらつきを有する突起部に光が当たりミー散乱が生じると、光が進行する前方方向、すなわち、光散乱層内での光散乱が増大する。また、ミー散乱は、「波長依存性が小さい」という特長を有しており、上記所定のばらつきを有する突起部に光が当たると、ミー散乱が生じることで可視光領域３８０ｎｍ〜７８０ｎｍ全域の波長光が均等に散乱される。
このように、所定のばらつきを有する多数の突起部によるミー散乱の機能により、上記光散乱層の突起部賦形面から入射した光が、広波長域にわたり上記光散乱層内で十分に散乱されるため、上記光散乱層は高ヘイズ値を有することができるのである。
【００３０】
（１）突起部
突起部は、光散乱層の一方の面に多数形成され、形状および配置位置に所定のばらつきを有する。
【００３１】
多数の突起部が有する所定のばらつきは、以下の３つのパラメータを定量化することにより規定される。
第１のパラメータは、突起部の大きさによるものである。多数の突起部が所定のばらつきを有するとき、図２に示すように、突起部２０の底面の重心Ｇを通る最大幅Ｒの平均が２５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の範囲内にある。
第２のパラメータは、隣接する突起部の位置関係によるものである。多数の突起部が所定のばらつきを有するとき、図２に示すように、一の突起部２０Ａおよび一の突起部２０Ａの底面の重心ＧＡに最も近接した位置に底面の重心ＧＢを有する他の突起部２０Ｂの重心間距離、すなわち、最近接重心間距離Ｌｍｉｎの平均が４００ｎｍ以下であり、最近接重心間距離Ｌｍｉｎの分散が１００００以上である。
第３のパラメータは、突起部の頂部が示す方向によるものである。多数の突起部が所定のばらつきを有するとき、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、突起部２０が形成された面内の長さ方向および幅方向をｘ軸方向およびｙ軸方向で規定し、平面視上において突起部２０の底面の重心Ｇからの突起部２０の頂部Ｔの位置を方位角φ（０°≦φ＜３６０°）で示し、突起部２０の抽出点数をｎ（ｎ≧３０）としたときに、｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜≦０．２５、かつ｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．２５の関係を満たす。
図３（ａ）は突起部の概略斜視図であり、図３（ｂ）は図３（ａ）のｚ軸方面、すなわち、突起部の頂部側から見た概略平面図であり、突起部の頂部の位置および方位角を説明する説明図である。
【００３２】
多数の突起部が「所定のばらつきを有する」とは、すなわち、上記の第１〜第３の各パラメータが上述の所定の範囲内（以下、所定値と称する場合がある。）を示すことを意味する。
【００３３】
本態様における光散乱層は、一方の面に形成された多数の突起部が所定のばらつきを有することで、光散乱層の突起部賦形面側から入射した広波長域の光を層内で拡散することができ、光散乱層単体で高いヘイズ値を有することができる。
以下、突起部の形状および配置位置のばらつきを規定するためのパラメータの定量化方法、および、パラメータについて説明する。
【００３４】
（ａ）パラメータの定量化方法
突起部の形状および配置位置のばらつきは、光散乱層の一方の面に形成された多数の突起部のうち、所望の点数を抽出して算出し、定量化することができる。
突起部の抽出は、走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope、以下ＳＥＭと略する。）や原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope、以下ＡＦＭと略する。）等を用い、倍率１００００倍、視野範囲を縦４μｍ×横４μｍとして、上記光散乱層の突起部賦形面側から平面視観察を行い、上記視野範囲における突起部の面内配列を画像で検出し、その中から所望の点数を抽出する方法を用いることができる。
【００３５】
各パラメータは、１つの視野範囲あたりの突起部の最低抽出点数を３０点として算出する。突起部の抽出点数は多いほど好ましく、抽出点数は３０点以上、中でも５０点以上であることが好ましい。また、突起部の抽出を行うための上記視野範囲の検出数は、上記突起部賦形面の所望の単位面積（２５００ｍｍ２）当たり３箇所以上、中でも５箇所以上、特に１０箇所以上であることが好ましい。抽出点数および視野範囲の検出数を上記範囲で規定することで、３つのパラメータをより高精度で定量化することができ、突起部の形状および配置位置のばらつきを正確に規定することができるからである。
【００３６】
各パラメータは、以下の手順により定量化することができる。
（ｉ）まず、ＳＥＭやＡＦＭを用いて突起部の面内配列を検出する。検出された面内配列から、所望の点数の突起部を抽出し、各突起部の高さの極大点および極小点を検出する。極大点および極小点を求める方法は、例えば、平面視形状と対応する断面形状の拡大写真とを逐次対比して求める方法、平面視拡大写真の画像処理によって求める方法等、種々の手法を適用することができる。このとき得られた極大点を「突起部の頂部」とする。
【００３７】
（ｉｉ）次に、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像から、極大点を囲む極小点の集合を突起部の根元とし、根元の形状を決定するために上記根元の形状を所望の形状に近似する。根元の形状とは、根元の輪郭の平面視形状（輪郭形状）であり、上記輪郭により囲まれた領域が「突起部の底面」となる。上記根元の形状の近似の際、部分的に途切れている線は補完する。
補完する方法としては、例えば、ある閾値を設けて閉空間を作る方法を取ることができる。近似された根元の輪郭形状は、各パラメータを特定可能な形状であれば特に限定されず、例えば円、楕円等の丸形状、五角形、六角形、八角形、十二角形等の多角形状等とすることができる。得られた突起部の根元の近似形状を「突起部の底面の形状」とする。
【００３８】
突起部の根元の形状の近似方法は、画像から形状を近似する際に用いられる従来公知の方法を適用することができ、特に限定されず、例えば、テンプレートマッチング、一般化ハフ変換、Douglas-Peucker法等の方法を用いることができる。
【００３９】
テンプレートマッチングは、予め形状を表現したテンプレートを準備し、画像認識の対象となる画像データに対してテンプレートを移動させながら相関係数等の類似度の指標を調べることによって画像データに含まれる形状を認識する技術である。テンプレートマッチングによる画像近似手法については、例えば、「中田崇行、包躍、藤原直史:“三次元環境におけるLog-Polar変換を用いた図形認識”,電気情報通信学会論文誌（D-II）, Vol.88, No.6, pp.985-993(2005.6)」、「斎藤文彦:“部分ランダム探索と適応型探索による半導体チップ画像テンプレートマッチング”, 精密工学会誌, Vol.61, No.11, pp.1604-1608(1995.11)」に開示される。
【００４０】
また、一般化ハフ変換は、無限に存在する直線の中から画像データ内の特徴点を最も多く通る直線を決定するハフ変換を一般化して曲線に応用したものであり、この一般化ハフ変換によっても、事前に用意した参照用のテーブルを利用して画像データの形状認識を行うことができる。一般化ハフ変換による画像近似手法については、例えば、「Ballad.D.H: “GENERALIZING THE HOUGH TRANSFORM TO DETECT ARBITRARY SHAPES”, Pattern Recognition, Vol.13, No.2, pp.111-122(1981)」や、「木村彰男，渡辺孝志：“アフィン変換に不変な任意図形検出法として拡張された一般化ハフ変換”, 電気情報通信学会誌(D-II), Vol. J84-D-II, No. 5, pp.789-798(2001.5)」に開示される。
【００４１】
Douglas-Peucker法は、折れ線近似によって形状認識を行う手法である。Douglas-Peucker法による画像近似手法については、例えば、「Wu. S.T, M.R.G:“A non-self-intersection Douglas-Peucker Algorithm”, Proceeding of Sixteenth Brazilian Symposium on Computer Graphics and Image Processing, IEEE, pp.60-66(2003)」に開示される。
【００４２】
（ｉｉｉ）次に、上記突起部の底面の形状から、突起部の底面の重心を特定する。突起部の底面の重心は、一般的な線形代数の計算で求めることができる。例えば、突起部の底面の形状が正円である場合、円周上の３点を結ぶ三角形を描き、三角形のうち二辺の垂直２等分線をそれぞれ引いた交点を円の重心とすることができる。また、突起部の底面の形状が楕円である場合、楕円の外周上の２点を結ぶ２本の線分を平行となるように引き、平行する２本の線分の各中点を結び、結んだ線分の中点を重心とすることができる。
【００４３】
さらに突起部の底面の形状が多角形である場合、突起部の底面の重心は、以下の操作を行うことで特定することができる。
操作１：まず、多角形の１つの頂点から、上記１つの頂点に隣接する２つの頂点を除く他の各頂点へ対角線を結び、複数の三角形に分割する。
操作２：分割された各三角形の重心を求める。
操作３：次に、各三角形の重心を結び多角形を形成する。
操作４：突起部の底面の形状が奇数角形の場合、操作３において形成される多角形が三角形となるまで、操作１〜３を繰り返す。一方、突起部の底面の形状が偶数角形の場合、操作３において形成される多角形が四角形となるまで、操作１〜３を繰り返す。
操作５：上述の操作１〜４により、分割された各三角形の重心から形成された形状が三角形となる場合、上記三角形の重心が突起部の底面の重心となる。一方、上述の操作１〜４により、分割された各三角形の重心から形成された形状が四角形となる場合、以下の方法で上記四角形の重心を求める。まず、上記四角形を１つの対角線で２つの三角形に分割し、２つの三角形の各重心を求め、２つの重心を直線で結ぶ。次に、四角形を別の対角線で２つの三角形に分割して２つの三角形の各重心を求め、２つの重心を直線で結ぶ。２本の直線の交点が突起部の底面の重心となる。
【００４４】
（ｉｖ）次に、突起部の底面の重心を通る最大幅（以下、「突起部の底面の最大幅」と略する場合がある。）を決定し、突起部の大きさを規定する。上記最大幅は、突起部の底面の重心を通り、上記底面の形状の外周上の２点を結ぶ線分の長さのうち、最も幅広の線分をいう。具体的には、突起部の底面の形状が正円の場合では、上記最大幅とは正円の直径をいい、突起部の底面の形状が楕円の場合では、上記最大幅とは楕円の重心を通過して外周上の２点間を結ぶ線分のうち、最も長い線分をいう。また、突起部の底面の形状が多角形の場合では、上記最大幅とは、多角形の重心を通過して多角形の外周上の２点間を結ぶ線分のうち、最も長い線分をいう。
突起部の底面の最大幅の長さは、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像のスケールのピクセルサイズとピクセル数との対比から算出して決定することができる。
【００４５】
算出した上記最大幅を統計処理することで、突起部の底面の最大幅の平均値および分散を求める。統計処理には既存の表計算ソフトを使用することができる。なお、上記最大幅の平均値および分散を求める際には、外れ値を除外することが望ましい。外れ値とは、以下の計算式によって算出される標準化得点の絶対値が３以上をいう。
標準化得点＝(個々の突起部の最大幅−最大幅の平均値)／標準偏差
【００４６】
（ｖ）次に、隣接する突起部の位置関係を規定する。まず、各突起部の位置を座標化する。突起部の位置とは、「突起部の底面の重心（以下、単に突起部の重心と称する場合がある。）の位置」を意味する。上記座標化は以下の方法で行う。まず、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像内の所望の位置に原点を設定する。例えば、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像中の左下を原点とし、上記原点から、上記画像内において突起部が形成された面内の長さ方向に相当する一方向をｘ軸、ｘ軸に直交し、幅方向に相当する一方向をｙ軸と規定する。このように画像を座標平面とすることで、各突起部の重心を座標化することができる。
【００４７】
突起部の重心の座標から、特定の一の突起部と隣接する複数の突起部との突起部間の距離、すなわち重心間距離を算出する。重心間距離は以下の計算式によって算出され、特定の一の突起部について算出される重心間距離のうち、最小の距離を、特定の一の突起部についての「最近接重心間距離」とする。
重心間距離＝｛（ｘ１−ｘ２）２＋（ｙ１−ｙ２）２｝１／２｝
なお、式中のｘ１およびｙ１は、特定の一の突起部の重心を示すｘ座標およびｙ座標である。また、ｘ２およびｙ２は、上記特定の一の突起部に隣接する突起部の重心を示すｘ座標およびｙ座標である。
上記重心間距離は、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像のスケールのピクセルサイズとピクセル数との対比から算出することができる。
【００４８】
上記の方法で突起部ごとの最近接重心間距離を抽出し、既存の表計算ソフトで統計処理することにより、最近接重心間距離の平均値および分散を計算する。なお、最近接重心間距離の平均値および分散を求める際には外れ値を除外することが望ましい。外れ値とは、以下の計算式によって算出される標準化得点の絶対値が３以上をいう。
標準化得点＝(個々の突起部の最近接重心間距離−最近接重心間距離の平均値)／標準偏差
【００４９】
（ｖｉ）次に、突起部の底面の重心から頂部の位置を方位角φ（０°≦φ＜３６０°）で示すことにより、突起部の頂点が示す方向を規定する。方位角φは、突起部の位置を座標化した際に設定した座標平面の平面視上において、ｘ軸に対して突起部の重心および頂部を結ぶ辺が成す角度で規定される。
抽出した各突起部について方位角φを決定し、突起部の各方位角φのｃｏｓ値の和を抽出点数で割った値の絶対値、および各方位角φのｓｉｎ値の和を抽出点数で割った値の絶対値を算出する。この算出は既存の表計算ソフトを使用することができる。
【００５０】
本発明において各パラメータの定量化において算出される分散の値とは、統計学において一般に用いられる、平均値から算出する分散の算出式から算出される値である。つまり、各パラメータにおける分散の値は、抽出したｎ個の各測定値ｘと抽出したｎ個の測定値の平均値ｍとの差（ｘ−ｍ）の二乗（ｘ−ｍ）２の和を抽出点数ｎで割ることで算出することができる。算出には既存の表計算ソフトを使用することができ、分散の単位は、平均値の単位の二乗で表わすことができる。
後述する「Ｂ．第２態様」の項においても同様とする。
【００５１】
（ｂ）パラメータ
次に、本態様における光散乱層の、突起部の形状および配置位置のばらつきを規定する各パラメータについて説明する。
【００５２】
（ｉ）突起部の大きさ
突起部の大きさは、突起部の底面の重心を通る最も幅広な部分の長さで規定される。
突起部の底面の最大幅は、例えば図２、図４（ａ）においてＲで示す部分である。図４は本態様における光散乱層の突起部賦形面の平面ＳＥＭ画像である。図４（ａ）中のＴは突起部の頂部を、Ｇは突起部の底面の重心を示す。
【００５３】
突起部の底面の最大幅の平均は、２５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下の範囲内であればよく、中でも３００ｎｍ以上４００ｎｍ以下の範囲内であることが好ましい。球形粒子では幾何光学散乱が支配する直径は数μｍ以上であるが、突起形状での散乱は異なる挙動を示す。突起部の底面が上記範囲内に最大幅を有する形状とすることで、突起部においてミー散乱が支配的に生じることが推測される。
突起部の底面の最大幅の平均が上記範囲内に無い場合、ミー散乱よりも幾何光学散乱やレイリー散乱が支配的に生じ、前方散乱が起こりにくくなるため、光散乱層内での光の散乱が減少して所望のヘイズ値を有することができない場合がある。また、光散乱層の突起部賦形面の単位面積あたりの突起部の個数が減少するため、突起部による光の散乱効果が十分に得られず、光散乱層内で光の散乱が減少して所望のヘイズ値を有することができない場合がある。
【００５４】
突起部の底面の最大幅の平均が上記範囲内にあるとき、上記突起部の底面の最大幅の分散は、１００００以上であることが好ましい。干渉により特定の波長の光の強度が強まる不具合を抑制できるからである。なお、干渉により特定波長光の強度が強まると、呈色した反射光が視認されると考えられ、これらは散乱のなかで特定方向の光を強めてしまい、それにより全体としての散乱効果を弱めてしまう場合がある。上記分散の上限は特に限定されず、製造上設計可能な範囲で設定することができ、例えば１８０００であることが好ましい。突起部の底面の最大幅の分散の単位はｎｍ２となる。
【００５５】
（ｉｉ）隣接する突起部の位置関係
突起部の位置とは、突起部の底面の重心の位置をいい、図２〜図４においてＧ、ＧＡ、ＧＢ、ＧＣで示す部分である。
隣接する突起部の位置関係は、一の突起部および上記一の突起部の底面の重心に最も近接した位置に底面の重心を有する他の突起部の重心間距離、すなわち最近接重心間距離の平均および分散により規定される。最近接重心間距離は、図２、図４（ｂ）においてＬｍｉｎ、ＬｍｉｎＡ、ＬｍｉｎＢで示す部分である。
【００５６】
最近接重心間距離は先に説明した方法で算出され定量化されるが、算出方法についてさらに図を示して説明する。最近接重心間距離は、図４（ｂ）で示すように、突起部２０Ａに隣接する突起部のうち、突起部２０Ａの重心ＧＡと最も近い位置に重心ＧＢを有する突起部２０Ｂを抽出し、その重心間距離を、突起部２０Ａについての最近接重心間距離ＬｍｉｎＡとして算出する。次に、突起部２０Ｂに隣接する突起部のうち、突起部２０Ｂの重心ＧＢと最も近い位置に重心ＧＣを有する突起部２０Ｃを抽出し、その重心間距離を、突起部２０Ｂについての最近接重心間距離ＬｍｉｎＢとして算出する。
最近接重心間距離の平均は、各突起部について上記操作を繰り返し行い、突起部の抽出点数分の最近接重心間距離の総和を算出し、抽出点数で割ることで算出される。
【００５７】
最近接重心間距離の平均は、４００ｎｍ以下であればよく、中でも３６０ｎｍ以下、特に３５０ｎｍ以下であることが好ましい。最近接重心間距離の平均が上記範囲よりも大きいと、隣接する突起部が密接しておらず、突起部が形成されない平坦な非突起部領域が多く存在することとなり、上記非突起部領域が大きくなると、その間に光の散乱を発現させる突起部の存在区域が少なくなり、全体としての光の散乱を低減させてしまい、所望のヘイズ効果が得られない場合があるからである。
最近接重心間距離の平均の下限は特に限定されず、製造上設計可能な範囲で設定することができ、例えば２８０ｎｍであることが好ましい。
【００５８】
最近接重心間距離の平均が上記範囲内にあるとき、上記最近接重心間距離の分散は、１００００以上であればよく、中でも１１０００以上、特に１２０００以上であることが好ましい。最近接重心間距離の分散が上記範囲よりも小さいと、多数の突起部が均等なピッチ幅で配置されることとなり、干渉による特定の光の波長が強まることで、散乱性が低下して、所望の光の散乱およびそれによるヘイズ効果が低減してしまう場合がある。
上記分散の上限は特に限定されず、製造上設計可能な範囲で設定することができ、例えば１４０００であることが好ましい。なお、最近接中心間距離の分散の単位はｎｍ２となる。
【００５９】
（ｉｉｉ）突起部の頂部が示す方向
突起部の頂部が示す方向とは、突起部の底面の重心に対して突起部の頂部が位置する方向をいう。図３（ａ）、（ｂ）に示すように、突起部２０が形成された面内（突起部賦形面内）の長さ方向および幅方向をｘ軸方向およびｙ軸方向で規定し、平面視上において突起部の底面の重心Ｇからの突起部２０の頂部Ｔの位置を方位角φ（０°≦φ＜３６０°）で示すことにより、突起部の頂部が示す方向が規定される。方位角φは、先に説明した方法により規定される。
突起部が形成された面内の長さ方向および幅方向は、光散乱層における突起部賦形面の所望の一方向を長さ方向とし、上記一方向と直交する方向を幅方向とすることもできる。
【００６０】
多数の突起部の頂部が示す方向のばらつきは、突起部が形成された面（突起部賦形面）内の長さ方向および幅方向をｘ軸方向およびｙ軸方向と規定し、平面視上における上記突起部の頂部の位置を方位角φで示し、上記突起部の抽出点数をｎ（ｎ≧３０）としたとき、突起部の各方位角φのｃｏｓ値の和を抽出点数で割った値の絶対値（すなわち｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜）、および各方位角φのｓｉｎ値の和を抽出点数で割った値の絶対値（すなわち｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜）の値により、規定することが可能である。
【００６１】
ここで、多数の突起部の頂部が同一方向を向いて配置される場合、｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜および｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜の値は大きくなる。一方、多数の突起部がそれぞれ異方向を向いてランダムに配置される場合、｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜および｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜の値は小さくなる。
本態様においては、多数の突起部が｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜≦０．２５、かつ｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．２５の関係を満たすことで、多数の突起部の頂部がランダムな方向に向くことができ、光の入射角度に因らず、ミー散乱により広波長域の光を光散乱層内で散乱させることができる。
中でも多数の突起部が、｜（Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ）／ｎ｜≦０．１５、かつ｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．１５の関係を満たすことが好ましく、特に｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜≦０．１０、かつ｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜≦０．１０の関係を満たすことが好ましい。｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜および｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜の値が上記範囲よりも大きいと、多数の突起部の各頂部が同一方向を向き、高い規則性を有して配置されることになる。このため、特定の角度から入射する光は、突起部によりミー散乱されずに反射されてしまい、光散乱層内での光の散乱が減少し、上記光散乱層は所望のヘイズ値を有することができない場合がある。
なお、抽出点数ｎは３０点以上であればよく、より好適な点数については既に説明した抽出点数と同様である。
【００６２】
（ｃ）その他
突起部の高さは、上述の３つのパラメータが所定値を備えることが可能な高さであれば特に限定されないが、例えば、１００ｎｍ〜１０μｍの範囲内が好ましく、中でも３００ｎｍ〜１μｍの範囲内が好ましい。突起部の高さが上記範囲よりも小さい場合、突起部の頂部の曲率が大きくなるため、ミー散乱よりも幾何光学散乱が支配的に生じ、前方散乱が起こりにくくなるため、光散乱層内での光の散乱が減少し、上記光散乱層は所望のヘイズ値を有することができない場合がある。一方、突起部の高さが上記範囲よりも大きい場合、所望の突起部の形状に製造することが困難となる可能性がある。
【００６３】
突起部の高さは、光散乱層の突起部賦形面から突起部の頂部までの長さをいい、図２においてｈ１で示す部分である。突起部の高さは、上述の「（ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した方法により検出した極大点から、特定の基準位置（例えば、突起部の根元位置を高さ＝０とする。）からの各極大点位置の相対的な高さの差を取得してヒストグラム化し、ヒストグラムによる度数分布から算出し、平均化した値とすることができる。
【００６４】
また、突起部の高さが上記範囲内にあるとき、突起部の底面の最大幅に対する突起部の高さのアスペクト比（図２中のｈ１／Ｒ）は、所望の機能を発揮することが可能となる比であればよく、例えば０．３〜３０の範囲内が好ましく、中でも０.８〜３の範囲内が好ましい。上記アスペクト比が上記範囲よりも小さいと、突起部によるミー散乱が生じにくく、光散乱層が所望のヘイズ値を有することができない場合がある。一方、アスペクト比が上記範囲よりも大きいと、賦形が困難となり突起部が所望の形状とならない場合がある。
【００６５】
突起部は、凸型の錐状構造を有する。突起部の頂部の先端は、尖っていてもよく、曲率を有していてもよい。中でも、ミー散乱により突起部での光の前方散乱が生じやすくなることから、先端が尖っていることが好ましい。
【００６６】
突起部の底面の形状は、近似により上述したパラメータの特定が可能な形状であれば特に限定されず、例えば円、楕円等の丸形状の他、五角形、六角形、八角形、十二角形等の多角形状等を挙げることができる。
また、突起部の側面形状は、突起部の縦断面において直線状であってもよく、曲線状であってもよい。さらに、突起部の側面形状が多段状であってもよい。中でも突起部の側面が多段状であることが好ましい。突起部によるミー散乱がより生じやすくなるからである。
【００６７】
（２）その他
上記光散乱層を構成する材料は、上述の「（１）突起部」の項で説明した所定のばらつきを有する多数の突起部を形成することが可能なものであれば特に限定されない。例えばアクリレート系、エポキシ系、ポリエステル系等の電離放射線硬化性樹脂、アクリレート系、ウレタン系、エポキシ系、ポリシロキサン系等の熱硬化性樹脂、アクリレート系、ポリエステル系、ポリカーボネート系、ポリエチレン系、ポリプロピレン系等の熱可塑性樹脂等の各種材料、各種硬化形態の賦形用樹脂等の硬化物とすることができる。
【００６８】
電離放射線とは、分子を重合させて硬化させ得るエネルギーを有する電磁波または荷電粒子を意味する。電離放射線としては、すべての紫外線（ＵＶ−Ａ、ＵＶ−Ｂ、ＵＶ−Ｃ）、可視光線、ガンマー線、Ｘ線、電子線等が挙げられる。
【００６９】
上記光散乱層は、必要に応じて任意の材料を含んでいてもよい。任意の材料としては、例えば屈折率調整剤、重合開始剤、離型剤、光増感剤、酸化防止剤、重合禁止剤、架橋剤、赤外線吸収剤、帯電防止剤、粘度調整剤、密着性向上剤等が挙げられる。
【００７０】
上記光散乱層の厚さは、特に限定されず、使用する材料、要求される強度等を考慮して適宜設定することができ、例えば３μｍ〜２００μｍの範囲内が好ましく、中でも５μｍ〜１００μｍの範囲内が好ましい。上記光散乱層の厚さは、突起部賦形面とは反対側の面から上記突起部の頂部のうち最も高い位置までの長さの平均をいう。
【００７１】
上記光散乱層は、透明保護層とは異なる屈折率を有する。ここで、光散乱層が透明保護層とは異なる屈折率を有するとは、光散乱層と透明保護層との屈折率差が所定値以上であることを意味する。具体的には、光散乱層と透明保護層との屈折率差が０．１０以上であることが好ましく、より好ましくは０．１１以上であり、さらに好ましくは０．１２以上である。また、上記屈折率差の上限は０．１８であることが好ましい。なお、上記屈折率差とは、光散乱層と透明保護層との屈折率差の絶対値である。
【００７２】
光散乱層の屈折率は、透明保護層との屈折率差が上記の範囲を満たすことが可能であればよく、例えば、１．３０〜１．７０の範囲内であることが好ましく、１．４０〜１．６０の範囲内であることがより好ましい。光散乱層の材料として、アクリルウレタン系樹脂等の一般的な汎用樹脂を用いることができ、また、形状による散乱を発現しやすいためである。
光散乱層の屈折率は、アッベ式による臨界角法により得られる屈折率（ｎＤ）のことをいい、光散乱層の単層を形成後、測定器として例えばＫＰＲ−３０Ａ（島津製作所）を用いて測定することができる。
本明細書内において、測定対象となる各層の屈折率の測定は、各層の単層に対し上記の方法と同様の方法で行うことができる。
【００７３】
上記光散乱層のヘイズ値としては、本態様の真贋判定用光学シートが所望のヘイズ値を示すことが可能であればよく、７０％以上であることが好ましく、中でも８０％以上より好ましくは８５％以上である。また、上記ヘイズ値は９５％以下であることが好ましい。ヘイズ値を上記範囲内とすることで、透明保護層を表面に付した状態でも上記光散乱層によるヘイズ効果を保持できるからである。
ヘイズ値は、ヘイズメーター（東洋精機製作所製  商品名：ヘイズガード）を用いてＪＩＳ Ｋ７１３６に準拠した方法により測定することができる。本明細書内において規定するヘイズ値は、上記の方法で測定することができる。
【００７４】
上記光散乱層は、透明性を有する。光散乱層が透明性を有するとは、所望のヘイズ値を有することで白濁しつつ、所望の光透過率を示すことをいう。上記光散乱層の光透過率としては、可視光の全波長領域３８０ｎｍ〜７８０ｎｍに対する全光線透過率が８０％以上であることが好ましく、中でも８５％以上、特に９０％以上であることが好ましい。
上記全光線透過率は、例えば、ＪＩＳ Ｋ７３６１−１（プラスチック−透明材料の全光透過率の試験方法）に準拠して測定することができる。本明細書内において規定する全光線透過率は、上記の方法で測定することができる。
【００７５】
（３）光散乱層の製造方法
本態様における光散乱層は、例えば、所定のばらつきを有する多数の凸型錐状構造体を備えた転写原版を用いて、表面に多数の凹型錐状構造体が形成されたソフトモールドを形成し（転写版準備工程）、上記ソフトモールドの上記凹型錐状構造体が形成された表面に光散乱層用組成物を塗布して塗布層を形成し（塗布工程）、上記塗布層上に透明基材を配置して上記塗布層を硬化した後、上記ソフトモールドを剥離する（賦形工程）ことで、上記透明基材上に形成することができる。
透明基材上に形成される光散乱層は、一方の表面に所定のばらつきを有する多数の突起部を備え、上記突起部は、上記転写原版の凸型錐状構造体と、形状および配置位置のばらつきが対応関係にある。
上記透明基材は、光散乱層を支持するものであり、詳細については後述する。
【００７６】
転写版準備工程で用いる転写原版は、凸型錐状構造体を多数備えている。上記凸型錐状構造体は、上述の「（１）突起部」の項で説明した突起部の形状に対応し、上述の３つのパラメータの定量化により規定された所定のばらつきを有する。
上記転写原版の材質は、例えば、金属、樹脂等が挙げられるが、中でも耐久性の観点から金属が好ましい。
【００７７】
上記転写原版の製造方法としては、例えば、ステンレス板の表面をブラスト加工し、ステンレス板の加工表面に対して、段階的に電流値を小さくしながら電解めっき処理を施すことにより形成する方法が挙げられる。電解めっき処理は、例えば電解ニッケルめっき、電解クロムめっき、電解スズめっき等による処理が挙げられる。このときブラスト加工によりステンレス板の表面粗さを調整することで、上記凸型錐状構造体の大きさ、配置間隔、および頂部の方向性を調整することができる。また、電解めっき処理時に、段階的に電流値を小さくする割合を調整することにより、上記凸型錐状構造体の高さを調整することができる。
【００７８】
ソフトモールドは、上記転写原版の上記凸型錐状構造体が形成された面上に、硬化性樹脂を含むソフトモールド形成用組成物を塗布し、硬化して得ることができる。上記ソフトモールドの一方の表面には、上記凸型錐状構造体の反転形状である凹型錐状構造体が多数形成される。
上記ソフトモールド形成用組成物の組成やソフトモールドの製造方法については、特に限定されず、一般に樹脂製原版を形成する際に用いられる組成物や製造方法と同様とすることができる。
上記ソフトモールドは、平板であってもよく、ロールに巻きつけて転写ロールとしてもよい。
【００７９】
上記ソフトモールドを用いた光散乱層の形成方法については、光散乱層用組成物の組成や、ソフトモールドの形状等に応じて、従来公知の樹脂製原版を用いた転写方法を用いることができる。
【００８０】
２．透明保護層
本態様における透明保護層は、上記光散乱層の上記突起部賦形面上に、隣接する上記突起部間を充填して形成された層である。
【００８１】
上記透明保護層は、光散乱層の隣接する上記突起部間を充填するようにして形成されており、また、上記透明保護層は上記光散乱層と異なる屈折率を有する。これにより、上記透明保護層は、上記光散乱層の上記突起部賦形面の表面形状を保護することができ、破損等による上記表面形状の変化や、同等の屈折率を有する他の部材との接触による上記表面形状の消失、それによる散乱機能の低下を防ぐことができる。
【００８２】
上記透明保護層は、光散乱層の隣接する上記突起部間を充填するようにして形成されており、通常、表面が平坦状である。上記透明保護層は、その表面が光散乱層の突起部の頂部よりも上方に位置する、すなわち、光散乱層の突起部の頂部が、上記透明保護層内に埋まっていることが好ましい。
これにより、上記光散乱層の表面形状が上記透明保護層により保護されるため、例えば、本態様の真贋判定用光学シートが偽造防止媒体の表面に配置される場合であっても、上記透明保護層により、突起部の損傷等を防ぐことができる。
また、本態様の真贋判定用光学シートが偽造防止媒体内に配置される場合であっても、光散乱層は、平坦状の上記透明保護層を介して他の層と接触することから、上記他の層が光散乱層と同等の屈折率を有していても、上記他の層との接触による上記光散乱層の表面形状の消失を防ぐことができる。
ここで、上記透明保護層が平坦状であるとは、上記透明保護層の表面が光散乱層の突起部の形状に追従しないことを意味する。
【００８３】
上記透明保護層は、上記光散乱層に対して上述した屈折率差を示すことが可能であれば、上記光散乱層に対して高屈折率であってもよく、低屈折率であってもよい。
以下、本態様における透明保護層について、上記光散乱層に対して高屈折率である高屈折率透明保護層の場合と、上記光散乱層に対して低屈折率である低屈折率透明保護層の場合と、に分けて説明する。
【００８４】
（１）高屈折率透明保護層
高屈折率透明保護層は、光透過性を有し、上記光散乱層よりも高い屈折率を有する層である。
高屈折率透明保護層の屈折率としては、上記光散乱層よりも高ければよく、例えば、１．５０以上２．００以下が好ましく、中でも１．６０以上１．８０以下が好ましい。
高屈折率透明保護層の屈折率は、高屈折率透明保護層の単層を形成後、上述の光散乱層の屈折率の測定方法と同様の方法により測定することができる。
【００８５】
上記高屈折率透明保護層としては、上述の屈折率を満たすことが可能な組成を有する層であればよく、例えば、光散乱層よりも高い屈折率を示す樹脂（以下、高屈折率樹脂と称する場合がある。）により形成された高屈折率樹脂層、バインダー樹脂および上記バインダー樹脂よりも屈折率が高い高屈折率粒子を含有する高屈折率粒子含有層が挙げられる。
【００８６】
（ａ）高屈折率樹脂層
高屈折率樹脂層は、光散乱層よりも高い屈折率を示す高屈折率樹脂により形成された層である。
上記高屈折率樹脂としては、所望の光透過性および上述した屈折率を満たす高屈折率透明保護層を得ることができるものであればよく、中でも、熱または紫外線や電子線等の電離放射線の照射により硬化した硬化樹脂であることが好ましい。硬化樹脂としては、例えば熱硬化樹脂、電離放射線硬化樹脂が挙げられる。また、電離放射線硬化樹脂としては、紫外線硬化樹脂、電子線硬化樹脂が挙げられる。
具体的に、高屈折率樹脂としては、例えばトリアジン系樹脂、アクリル系樹脂、エピスルフィド系樹脂、チオウレタン系樹脂、ポリカーボネート、（ウレタン）メタクリレート、（エポキシ）メタクリレート、ジアリルカーボネート、ジアリルフタレート系樹脂、ゾルゲル樹脂等が挙げられる。
また、市販品としては、日産化学工業社の高屈折率コーティング材料であるハイパーテックＵＲ−シリーズ、ＨＲ−シリーズ、ＨＸ−シリーズおよびＨＴ−シリーズ、ならびに、シグマアルドリッチ社の高屈折率コーティング用材料であるジルコニウムアクリレート、ハフニウムアクリレート、および芳香族または臭素化芳香族モノマーベースの高屈折率ポリマー等を用いることができる。
【００８７】
上記高屈折率樹脂として紫外線硬化樹脂を用いる場合、上記高屈折率樹脂層は光重合開始剤を含有していてもよい。光重合開始剤としては、一般的なものから適宜選択することができる。
【００８８】
また、上記高屈折率樹脂層は、所望の物性に応じて各種添加剤を含有していてもよい。添加剤としては、例えば、耐候性改善剤、耐摩耗性向上剤、重合禁止剤、架橋剤、赤外線吸収剤、接着性向上剤、酸化防止剤、レベリング剤、チクソ性付与剤、カップリング剤、可塑剤、消泡剤、充填剤等が挙げられる。
【００８９】
（ｂ）高屈折率粒子含有層
高屈折率粒子含有層は、バインダー樹脂および上記バインダー樹脂よりも屈折率が高い高屈折率粒子を含有する層である。
上記高屈折率粒子は、上記バインダー樹脂よりも屈折率が高く、所望の光透過性および上述した屈折率を満たす上記高屈折率透明保護層を得ることができるものであれば特に限定されない。
【００９０】
高屈折率粒子の屈折率は、１．６３〜２．５の範囲内であることが好ましく、中でも１．７０〜２．２の範囲内であることが好ましい。
このような高屈折率粒子としては、例えば金属酸化物粒子を用いることができる。具体的には、酸化ジルコニウム（ＺｒＯ２、屈折率：２．０〜２．１０）、酸化アンチモン（Ｓｂ２Ｏ５、屈折率：１．７９〜２．０４）、アンチモン錫酸化物（ＡＴＯ、屈折率：１．７５〜２．０５）、インジウム錫酸化物（ＩＴＯ、屈折率：１．９５〜２．００）、燐錫化合物（ＰＴＯ、屈折率：１．７５〜１．８５）、β−Ａｌ２Ｏ５（屈折率：１．６３〜１．７６）、γ−Ａｌ２Ｏ５（屈折率：１．６３〜１．７６）、チタン酸バリウム（ＢａＴｉＯ３、屈折率：２．４）、酸化チタン（ＴｉＯ２、屈折率：２．３〜２．７）、酸化セリウム（ＣｅＯ２、屈折率：１．９５〜２．２０）、酸化錫（ＳｎＯ２、屈折率：２．００、）、アルミニウム亜鉛酸化物（ＡＺＯ、屈折率：１．９０〜２．００）、ガリウム亜鉛酸化物（ＧＺＯ、屈折率：１．９０〜２．００）、アンチモン酸亜鉛（ＺｎＳｂ２Ｏ６、屈折率：１．９〜２．０）、酸化亜鉛（ＺｎＯ、屈折率：１．９０）、酸化イットリウム（Ｙ２Ｏ３、屈折率：１．８７）等が挙げられる。これらの高屈折率粒子は１種単独で用いてもよく２種以上を混合して用いてもよい。なお、上記かっこ内の数値は、各粒子の材料の屈折率を示す。
【００９１】
上記高屈折率粒子は、表面処理されたものであってもよい。高屈折率粒子に表面処理を施すことにより、バインダー樹脂や溶媒との親和性が向上し、高屈折率粒子の分散が均一となり、高屈折率粒子同士の凝集が生じにくくなるので、高屈折率透明保護層の光透過性の低下や、高屈折率透明保護層用組成物の塗布性、塗膜強度の低下を抑制することができる。表面処理された高屈折率粒子としては、例えば特開２０１３−１４２８１７号公報に記載されているものが挙げられる。
また、高屈折率粒子は、その表面に光硬化性基を有する反応性粒子であってもよい。
【００９２】
高屈折率粒子の平均粒径としては、光散乱層上に平坦状の高屈折率透明保護層を形成可能な程度であればよく、例えば５ｎｍ〜３００ｎｍの範囲内であることが好ましく、中でも１０ｎｍ〜２００ｎｍの範囲内であることが好ましい。高屈折率粒子の平均粒径が上記範囲内にあれば、高屈折率透明保護層の透明性を損なうことがなく、良好な高屈折率粒子の分散状態が得られる。なお、高屈折率粒子の平均粒径が上記範囲内にあれば、平均粒径は１次粒径および２次粒径のいずれであってもよく、また高屈折率粒子が鎖状に連なっていてもよい。
高屈折率粒子の平均粒径は、高屈折率透明保護層の断面の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）写真により観察される凝集していない粒子２０個の粒径の平均値をいう。後述する低屈折率粒子の平均粒径についても同様の方法で算出することができる。
【００９３】
高屈折率粒子の形状は特に限定されるものではなく、例えば、球状、鎖状、針状等を挙げることができる。
【００９４】
高屈折率透明保護層における高屈折率粒子の含有量は、高屈折率透明保護層全体での屈折率が上述の屈折率を満たすように適宜設定される。例えば、バインダー樹脂１００質量部に対する高屈折率粒子の含有量を調整することにより、高屈折率透明保護層全体の屈折率を調整することができる。具体的には、バインダー樹脂１００質量部に対し、高屈折率粒子の含有量が１質量部〜３０質量部の範囲内とすることが好ましい。
【００９５】
上記バインダー樹脂は、所望の光透過性および上述した屈折率を満たす高屈折率透明保護層を得ることが可能なものであれば特に限定されるものではなく、成膜性や膜強度等の観点から適宜選択される。
バインダー樹脂としては、例えば、熱可塑性樹脂、紫外線や電子線等の電離放射線の照射により硬化する電離放射線硬化性樹脂、加熱により硬化する熱硬化性樹脂、２液硬化性樹脂等が挙げられる。中でも、電離放射線硬化性樹脂が好ましい。高屈折率透明保護層の表面硬度を高めることができるからである。また、電離放射線硬化性樹脂としては、例えば紫外線硬化性樹脂、電子線硬化性樹脂を用いることができる。中でも、紫外線硬化性樹脂が好ましい。なお、高屈折率透明保護層において、各種硬化性樹脂は硬化後の硬化樹脂として存在する。
【００９６】
具体的なバインダー樹脂について、熱硬化性樹脂および電離放射線硬化性樹脂の例としては、特開２０１３−１４２８１７号公報、特開２０１２−１５０２２６号公報、特開２０１１−１７０２０８号公報等に記載されている高屈折率層に用いられるものが挙げられる。
また、熱可塑性樹脂の例としては、例えば、特開２０１３−０７５３８７号公報で開示されるバインダー樹脂として用いられるものが挙げられる。２液硬化性樹脂の例としては、例えば、特開２０１４-０８００１０号公報で開示される着色層等に用いられるバインダー樹脂として用いられるものが挙げられる。
また、後述する「（２）低屈折率透明保護層  （ｂ）低屈折率粒子含有層」の項で説明するバインダー樹脂を用いてもよい。
【００９７】
高屈折率粒子含有層は、所望の物性に応じて各種添加剤を含有していてもよい。添加剤としては、例えば上述の「（ａ）高屈折率樹脂層」の項で挙げた添加剤や分散助剤等が挙げられる。
【００９８】
（２）低屈折率透明保護層
低屈折率透明保護層は、光透過性を有し、上記光散乱層よりも低い屈折率を有する層である。
低屈折率透明保護層の屈折率としては、上記光散乱層よりも低ければよく、例えば、１．１０以上１．５０以下の範囲内が好ましく、中でも１．２５以上１．４５以下の範囲内が好ましい。
【００９９】
上記低屈折率透明保護層としては、所望の光透過性および上述した屈折率を満たすことが可能な組成を有する層であればよく、例えば、光散乱層よりも低い屈折率を示す樹脂（以下、低屈折率樹脂と称する場合がある。）により形成された低屈折率樹脂層、バインダー樹脂および上記バインダー樹脂よりも屈折率が低い低屈折率粒子を含有する低屈折率粒子含有層が挙げられる。
【０１００】
（ａ）低屈折率樹脂層
低屈折率樹脂層は、光散乱層よりも低い屈折率を示す低屈折率樹脂により形成された層である。
低屈折率樹脂としては、所望の光透過性および上述した屈折率を満たす低屈折率透明保護層を得ることができるものであればよく、例えば含フッ素ポリマー等が挙げられる。
【０１０１】
含フッ素ポリマーとしては、フッ素原子を含むポリマーであればよく、例えば特開２０１４−２０２９５０号公報等に記載のフッ素ポリマーが挙げられる。また、含フッ素ポリマーは、フッ素のほかにケイ素、フッ化マグネシウム等を含むものであってもよい。ケイ素を含む含フッ素ポリマーとしては、例えば、共重合体にシリコーン成分を含有させたシリコーン含有フッ化ビニリデン共重合体が好ましく挙げられる。この場合のシリコーン成分としては、例えば特開２０１４−２０２９５０号公報、特開２０１３−１４２８１７号公報等に記載されるシリコーン成分等が挙げられる。中でも、ジメチルシロキサン構造を有するものが好ましい。
【０１０２】
また、分子中に少なくとも１個のイソシアネート基、及びフッ素を有する化合物と、アミノ基、ヒドロキシル基、カルボキシル基などのイソシアネート基と反応する官能基を分子中に少なくとも１個有する化合物とを反応させて得られる化合物；含フッ素ポリエーテルポリオール、含フッ素アルキルポリオール、含フッ素ポリエステルポリオール、含フッ素ε−カプロラクトン変性ポリオールなどの含フッ素ポリオールと、イソシアネート基を有する化合物とを反応させて得られる化合物等も、含フッ素ポリマーとして用いることができる。
【０１０３】
上記低屈折率樹脂層は、所望の物性に応じて、上記「（１）高屈折率透明保護層  （ａ）高屈折率樹脂層」の項で挙げた各種添加剤を含有していてもよい。
【０１０４】
（ｂ）低屈折率粒子含有層
低屈折率粒子含有層は、バインダー樹脂および上記バインダー樹脂よりも屈折率が低い低屈折率粒子を含有する層である。
低屈折率粒子は、バインダー樹脂よりも屈折率が低く、上述した屈折率を満たす上記低屈折率透明保護層を得ることができるものであれば特に限定されない。
【０１０５】
上記低屈折率粒子の屈折率は、１．１０〜１．５０の範囲内であることが好ましく、中でも１．２０〜１．４５の範囲内であることが好ましい。このような低屈折率粒子としては、無機系の材料からなる無機粒子であってもよく、有機系材料からなる有機粒子であってもよい。
上記無機粒子としては特に限定されず、例えば、無機酸化物粒子が好適に用いられる。該無機酸化物粒子としては、具体的には、シリカ粒子、アルミナ粒子、ジルコニア粒子、チタニア粒子、酸化スズ粒子、ＡＴＯ粒子、酸化亜鉛粒子、コロイダルシリカ粒子等が挙げられる。
上記有機粒子としては特に限定されず、例えば、高密度ポリエチレン、分子量が３０万以上の超高分子ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、ポリアマイド、ポリエステル、メラミン樹脂、ジアリルフタレート樹脂、アクリル系樹脂、及び、これらの共重合体等の粒子が挙げられる。
【０１０６】
中でも、低屈折率粒子は、空隙を有する粒子であることが好ましい。空隙を有する粒子は、微細な空隙を外部や内部に有しており、例えば屈折率１．０の空気などの気体が充填されているので、粒子自体の屈折率が低いという特徴を有しているからである。
【０１０７】
空隙を有する粒子としては、無機系あるいは有機系の多孔質粒子、中空粒子などが挙げられ、例えば多孔質シリカ、中空シリカ粒子や、アクリル樹脂等が用いられた多孔質ポリマー粒子や中空ポリマー粒子が挙げられる。無機系の粒子としては、特開２００１−２３３６１１号公報で開示された技術を用いて調製した、空隙を有するシリカ粒子等が挙げられる。また、有機系の粒子としては、特開２００２−８０５０３号公報で開示される技術を用いて調製した中空ポリマー粒子等が挙げられる。中でも、空隙を有するシリカ粒子、あるいは多孔質シリカ粒子が好ましい。
なお、中空粒子とは、外殻層を有し、外殻層に囲まれた内部が多孔質組織または空洞である粒子をいう。
【０１０８】
また、上記低屈折率粒子として、その形態、構造、凝集状態、低屈折率透明保護層内部での分散状態により、内部や表面の少なくとも一部にナノポーラス構造の形成が可能な粒子を用いてもよい。このような粒子としては、例えば、特開２０１３−１４２８１７号公報で開示されるナノポーラス構造の形成が可能な粒子が挙げられる。
【０１０９】
上記低屈折率粒子は、表面処理されたものであってもよい。その理由については、上述の「（１）高屈折率透明保護層  （ｂ）高屈折率粒子含有層」の項で説明したため、ここでの説明は省略する。
表面処理された低屈折率粒子としては、例えば特開２０１３−１４２８１７号公報、特開２００８−９３４８号公報に記載されているものが挙げられる。
また、低屈折率粒子は、その表面に光硬化性基を有する反応性粒子であってもよい。
【０１１０】
上記低屈折率粒子の平均粒径としては、光散乱層上に平坦状の低屈折率透明保護層を形成可能な程度であればよく、例えば５ｎｍ〜３００ｎｍの範囲内であることが好ましく、
中でも１０ｎｍ〜２００ｎｍの範囲内であることが好ましい。低屈折率粒子の平均粒径が上記範囲内にあれば、低屈折率透明保護層の透明性を損なうことがなく、良好な低屈折率粒子の分散状態が得られる。なお、低屈折率粒子の平均粒径が上記範囲内にあれば、平均粒径は１次粒径および２次粒径のいずれであってもよく、また低屈折率粒子が鎖状に連なっていてもよい。
【０１１１】
低屈折率粒子の形状は特に限定されるものではなく、例えば、球状、鎖状、針状等を挙げることができる。
【０１１２】
低屈折率透明保護層における低屈折率粒子の含有量は、低屈折率透明保護層全体での屈折率が上述の屈折率を満たすように適宜設定される。例えば、バインダー樹脂１００質量部に対する低屈折率粒子の含有量を調整することにより、低屈折率透明保護層全体の屈折率を調整することができる。具体的には、バインダー樹脂１００質量部に対し、低屈折率粒子の含有量が１質量部〜３０質量部の範囲内とすることが好ましい。
【０１１３】
上記バインダー樹脂は、所望の光透過性および上述した屈折率を満たす低屈折率透明保護層を得ることが可能なものであれば特に限定されるものではなく、成膜性や膜強度等の観点から適宜選択される。
バインダー樹脂としては、高屈折率透明保護層におけるバインダー樹脂と同様に、熱可塑性樹脂、紫外線や電子線等の電離放射線の照射により硬化する電離放射線硬化性樹脂、加熱により硬化する熱硬化性樹脂、２液硬化性樹脂等が挙げられ、中でも、電離放射線硬化樹脂が好ましい。その理由等については、「（１）高屈折率透明保護層  （ｂ）高屈折率粒子含有層」の項で説明した理由と同様である。
【０１１４】
具体的なバインダー樹脂について、熱硬化性樹脂および電離放射線硬化性樹脂の例としては、特開２０１３−１４２８１７号公報、特開２０１２−１５０２２６号公報、特開２０１１−１７０２０８号公報、特開２００９−８６３６０号公報、特開２００８−９３４７号公報等に記載されている低屈折率層に用いられる樹脂を挙げることができる。
熱可塑性樹脂、２液硬化性樹脂の例としては、上述の「（１）高屈折率透明保護層  （ｂ）高屈折率粒子含有層」の項で説明した例と同様とすることができる。
【０１１５】
上記低屈折率樹脂層は、所望の物性に応じて、上記「（１）高屈折率透明保護層  （ｂ）高屈折率粒子含有層」の項で挙げた各種添加剤を含有していてもよい。
【０１１６】
（３）その他
上記透明保護層は、隣接する上記突起部間を充填することができ、上記光散乱層の上記突起部賦形面上に平坦状となる厚みであればよく、中でも、隣接する上記突起部間を充填し且つ光散乱層の突起部の頂部から該透明保護層の表面までの膜厚（頂部上膜厚と称する。）が１μｍ〜２００μｍの範囲内であることが好ましく、５μｍ〜１００μｍの範囲内であることがより好ましい。上記頂部上膜厚が上記範囲よりも小さいと、光散乱層の突起部賦形面を十分に覆うことができず、突起部の一部が透明保護層から突出する場合や、印刷コーティング等の方法により透明保護層を形成する際に、層にスジ等が入る場合がある。一方、上記範囲よりも大きいと、製造コストがかかるからである。
透明保護層における光散乱層の突起部の頂部から該透明保護層の表面までの膜厚（頂部上膜厚）とは、図２中のｈ２で示す部分であり、ミクロトーム等で真贋判定用光学シートを切片して断面を形成し、上記断面を光学顕微鏡ないし電子顕微鏡で観察して測長する。測長は、５箇所の視野範囲にて、各視野範囲における抽出点数分の突起部に対して行い、上記５箇所の平均値を透明保護層における頂部上膜厚とする。具体的には、透明保護層形成前の真贋判定用光学シートについて、ミツトヨ社製デジマチック標準外側マイクロメータＭＤＣ−２５ＳＸを用いてシートの突起部頂部までの全体厚みを測長し、その平均値を算出する。次に、透明保護層形成後の真贋判定用光学シートについて、同様の方法でシートの透明保護層表面までの全体厚みを測長し、その平均値を算出する。透明保護層形成前後の厚みの平均値の差分（小数点１桁目を四捨五入）を、透明保護層における頂部上膜厚とすることができる。
なお、ミクロトームには、例えばライカ社Ｌｅｉｃａ ＥＭ ＵＣ７、光学顕微鏡としてオリンパス社ＢＸｉＳ  ＢＸ４１Ｍ−ＬＥＤ、電子顕微鏡として日立ハイテクノロジーズ社  ＳＵ−８０００等を用いることができる。
【０１１７】
上記透明保護層のヘイズ値は、本発明の真贋判定用光学シートが後述するヘイズ値を示すことが可能であれば、特に限定されない。
【０１１８】
上記透明保護層は、通常、無色透明であるが、所望の光透過性を示すことが可能であれば着色された着色透明であってもよい。上記透明保護層は、全光線透過率が４０％以上であることが好ましく、中でも５０％以上、特に６０％以上であることが好ましい。
【０１１９】
上記透明保護層は、表面が平坦状であることが好ましいが、上記透明保護層が高屈折率粒子または低屈折率粒子を含む場合、上記透明保護層は、表面に粒子に寄与する凹凸形状を有していてもよい。光散乱層の突起部賦形面上に透明保護層を設けることによる、光散乱層の突起部による散乱機能およびヘイズ効果の低下を緩和し、上記凹凸形状によりヘイズ効果を補助することができるからである。
【０１２０】
上記透明保護層の形成方法としては、透明保護層を構成する材料に応じて適宜選択することができる。例えば、上記光散乱層の突起部賦形面上に、上記透明保護層を構成する材料を含む透明保護層用組成物を塗布して溶剤を除去する方法、熱や光により硬化する方法等が挙げられる。
透明保護層用組成物の塗布方法には、例えば、ダイコート法、スピンコート法、ディップコート法、ロールコート法等、一般的な塗布方法を適用することができる。
また、硬化方法には、透明保護層用組成物に含まれる樹脂材料の種類に応じて公知の方法を用いることができる。
【０１２１】
３．本態様の真贋判定用光学シートの特性
本態様の真贋判定用光学シートは、ヘイズ値が２５％以上８０％以下であることが好ましく、３０％以上７０％以下であることがより好ましい。本態様の真贋判定用光学シートが上記の範囲内にヘイズ値を有することで、真贋判定の際に所定のヘイズ効果を目視で確認することができるからである。
なお、本態様の偽装防止シートが後述する透明基材やその他の任意部材を有する場合は、上記ヘイズ値は、透明基材や任意部材を含めて測定した値とする。
【０１２２】
また、本態様の真贋判定用光学シートは、全光線透過率が７０％以上であることが好ましく、中でも８０％以上であることが好ましい。本態様の真贋判定用光学シートが上記の範囲内に全光線透過率を有することで、光透過性を保持し、デザイン性を付与することができるからである。
【０１２３】
４．その他の構成
本態様の真贋判定用光学シートは、光散乱層の突起部賦形面と反対側の面上に、透明基材を有していてもよい。
【０１２４】
上記透明基材は、フレキシブル性を有し、所望の透明性を有するものであれば特に限定されず、例えば、一般に光学フィルム等に使用される樹脂基材、ガラス基材、セラミックス基材等が挙げられる。上記透明基材は、フィルム状、シート状等、本態様の真贋判定用光学シートに要求されるフレキシブル性等に応じて適宜選択することができる。
透明基材の厚みは、所望の透明性を有することが可能であればよく、適宜設定することができる。
【０１２５】
上記透明基材は、透明性を有するものであり、上記透明性は本態様の真贋判定用光学シートの用途等に応じて適宜決定される。
ここで、透明基材が有する「透明性」とは、無色透明の他、本態様の真贋判定用光学シートが有するヘイズ（白濁）感の視認を妨げない程度の有色透明を含み、また厳密な透過率で規定されず、本態様の真贋判定用光学シートが所望の光透過性を有することが可能な範囲内で、用途等に応じて適宜決定することができる。
また、上記透明基材は、本態様の真贋判定用光学シートが有するヘイズ値に影響しない程度のヘイズ値を有していてもよい。上記透明基材は、通常、ヘイズ値が低いものが用いられる。
【０１２６】
また、本態様の真贋判定用光学シートは、必要に応じて、例えば光散乱層の突起部賦形面と反対側の面上に形成される粘着層や接着層、光散乱層と透明基材との間に形成されるハードコート層等の任意部材を有することができる。
【０１２７】
５．用途
本態様の真贋判定用光学シートは、白濁（ヘイズ）感やヘイズ値、および断面形状等から、真贋判定機能を有することができる。このため、本態様の真贋判定用光学シートは、偽造防止用途、具体的には、真贋判定が要求される偽造防止物品の透明真贋判定部に用いることができる。偽造防止物品の具体例については、後述する。
【０１２８】
Ｂ．第２態様
本発明の真贋判定用光学シートの第２態様（以下、この項において本態様とする。）は、一方の面に多数の溝部が形成されている光散乱層と、上記光散乱層の上記溝部が形成された面上に、上記溝部内を充填して形成された透明保護層と、を有する真贋判定用光学シートであって、上記光散乱層は、上記透明保護層とは異なる屈折率を有し、上記溝部の側面により囲まれた領域である溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの面積の平均が９４０００ｎｍ２以上１３１０００ｎｍ２以下の範囲内であり、上記溝部の上記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの最大内角の分散が６００以上１０２０以下の範囲内であり、一の上記溝部と、上記一の溝部の上記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心に最も接近した位置に上記溝口部の上記重心を有する上記溝部と、の重心間距離（以下、最近接重心間距離と称する場合がある。）の平均が５００ｎｍ以下であり、上記重心間距離の分散が８０００以上であることを特徴とするものである。
【０１２９】
本態様の真贋判定用光学シートについて、図を参照して説明する。図５は、本態様の真贋判定用光学シートの一例を示す概略断面図であり、図６は図５のＰ部分の拡大図である。
本態様の真贋判定用光学シート１０は、一方の面に多数の溝部３０が形成されている光散乱層１Ｂと、光散乱層１Ｂの溝部３０が形成された面上に、溝部３０内を充填して形成された透明保護層２と、を有する。透明保護層２は、光散乱層１Ｂの溝部賦形面を覆うようにして溝部３０の溝口部上にも形成されている。
光散乱層１Ｂは、透明保護層２とは異なる屈折率を有し、多数の溝部３０が、形状および配置位置に所定のばらつきを有して形成されている。
なお、多数の溝部の形状および配置位置のばらつきのことを、単に「(溝部の)ばらつき」と称する場合がある。
【０１３０】
本発態様によれば、光散乱層は、一方の表面上に、形状および配置位置に所定のばらつきを有する多数の溝部が形成されているため、その特徴的な表面形状により層内での光の散乱が増大し、単体で高いヘイズ値を有することができる。すなわち、上記光散乱層は、特徴的な表面形状による散乱機能、および光散乱によるヘイズ効果を発揮することができる。
また、光散乱層とは異なる屈折率を有する透明保護層が、上記光散乱層の表面形状を埋めるように形成されているため、上記光散乱層の表面形状による散乱機能を阻害せずに、破損等による上記表面形状の変化や、屈折率の近い他の層との接触による表面形状の消失から保護することができる。
これにより、上述の「Ａ．第１態様」の項で説明した真贋判定用光学シートと同様の効果を奏することができる。
以下、本態様の真贋判定用光学シートにおける各構成について説明する。
【０１３１】
１．光散乱層
本態様における光散乱層は、一方の面に多数の溝部が形成されており、上記溝部は、形状および配置位置に所定のばらつきを有する。
以下、光散乱層の溝部が形成された面を、溝部賦形面と称する場合がある。
【０１３２】
本態様における光散乱層は、表面に形成された多数の溝部が所定のばらつきを有することで、光散乱機能が発揮されて単体で高いヘイズ値を有することが可能である。これは、上記光散乱層表面に形成された多数の溝部が所定のばらつきを有することで、上記光散乱層の溝部賦形面から入射した光が上記溝部により支配的にミー散乱されるためである。
ミー散乱により上記光散乱層が高ヘイズ値を有することができる理由については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層」の項で説明した理由と同様であるため、ここでの説明は省略する。なお、本態様においては、ミー散乱は主に溝部の溝口部において生じるものと推量される。
【０１３３】
（１）溝部
溝部は、光散乱層の一方の面に多数形成され、形状および配置位置に所定のばらつきを有する。
【０１３４】
多数の溝部が有するばらつきは、以下の３つのパラメータを定量化することにより規定される。
第１のパラメータは、溝部の側面により囲まれた領域である溝口部（以下、単に溝口部と称する場合がある。）の大きさによるものである。図７（ａ）に示すように、溝部３０Ａおよび３０Ｂは、側面により囲まれた領域である溝口部ＤＡおよびＤＢを、光散乱層２の表面内に有している。多数の溝部が所定のばらつきを有するとき、図７（ｂ）に示すように、溝部３０Ａおよび３０Ｂのそれぞれの溝口部ＤＡおよびＤＢの平面視形状を八角形に近似したときの面積ＳＡおよびＳＢの平均が９４０００ｎｍ２以上１３１０００ｎｍ２以下の範囲内にある。
第２のパラメータは、溝口部の形状によるものである。多数の溝部が所定のばらつきを有するとき、図７（ｂ）に示すように、溝部３０Ａおよび３０Ｂの溝口部ＤＡおよびＤＢの平面視形状を八角形に近似したときの最大内角の分散が６００以上１０２０以下の範囲内にある。
第３のパラメータは、隣接する溝部の位置関係によるものである。多数の溝部が所定のばらつきを有するとき、図７（ｂ）で示すように、一の溝部３０Ａと、一の溝部３０Ａの溝口部ＤＡの平面視形状を八角形に近似したときの重心ＧＡに最も近接した位置に、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心ＧＢを有する他の溝部３０Ｂとの重心間距離、すなわち、最近接重心間距離Ｌｍｉｎの平均が５００ｎｍ以下であり、最近接重心間距離Ｌｍｉｎの分散が８０００以上である。
図７（ａ）は溝部の形状を説明する概略斜視図であり、図７（ｂ）は図７（ａ）溝部の溝口部側から見たときの概略平面図である。
【０１３５】
すなわち、多数の溝部が「所定のばらつきを有する」とは、上記の第１〜第３の各パラメータが上述の所定の範囲内（以下、所定値と称する場合がある。）を示すことを意味する。
【０１３６】
本態様における光散乱層は、一方の面に形成された多数の溝部が所定のばらつきを有することで、光散乱層の溝部賦形面側から入射した光を層内で拡散することができ、光散乱層単体で高いヘイズ値を有することができる。
以下、溝部の形状および配置位置のばらつきを規定するためのパラメータの定量化方法、および、パラメータについて説明する。
【０１３７】
（ａ）パラメータの定量化方法
溝部の形状および配置位置のばらつきは、光散乱層の表面に形成された多数の溝部のうち、所望の点数を抽出して算出し、定量化することができる。
溝部の抽出方法、１つの視野範囲あたりの溝部の抽出点数、および、溝部の抽出を行うための上記視野範囲の検出数については、上述した「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した突起部の抽出方法、１つの視野範囲あたりの突起部の最低抽出点数、および、上記視野範囲の検出数等と同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。
【０１３８】
各パラメータは、以下の手順により定量化される。
（ｉ）まず、ＳＥＭやＡＦＭを用いて溝部の面内配列を検出する。検出された面内配列から、所望の点数の溝部を抽出し、各溝部について溝部の側面により囲まれた領域である溝口部の平面視形状を検出する。溝口部の平面視形状は、ＳＥＭ画像では白黒のコントラストから検出することができ、ＡＦＭ画像では色の明暗のコントラストから検出することができる。
上記平面視形状の具体的な検出方法は特に限定されないが、例えば、画像内のコントラストの１次微分で勾配を計算することでエッジの強さを計算し、上記勾配の方向から上記エッジの局所的な変化を予測して、その方向の勾配が局所的に極大となる箇所を探す方法を用いることができる。
【０１３９】
続いて、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像から、各溝部について溝口部の平面視形状を八角形に近似する。この際、部分的に途切れている線は補完する。補完方法としては、例えば、ある閾値を設けて閉空間を作る方法を用いることができる。
溝口部の平面視形状の近似は、画像から形状を近似する際に用いられる従来公知の方法を適用することができ、特に限定されないが、例えば、テンプレートマッチング、一般化ハフ変換、Douglas-Peucker法等の各方法を用いることができる。各方法の詳細については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明したため、ここでの説明は省略する。
【０１４０】
（ｉｉ）次に、各溝部について、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの面積（以下、溝口部の面積と称する場合がある。）を算出し、溝口部の大きさを規定する。溝口部の面積は、画像のスケールのピクセルサイズと八角形に含まれるピクセル数との対比から算出することができる。算出された上記面積を統計処理して平均値および分散を求める。統計処理には既存の表計算ソフトを使用することができる。
溝口部の面積の平均値および分散を求める際には、外れ値を除外することが望ましい。外れ値とは、以下の計算式によって算出される標準化得点の絶対値が３以上をいう。
標準化得点＝(個々の溝口部の面積−溝口部の面積の平均値)/標準偏差
【０１４１】
（ｉｉｉ）次に、各溝部について、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの最大内角（以下、溝口部の最大内角と称する場合がある。）を抽出して、統計処理により平均値および分散を求めることで、溝口部の形状を規定する。統計処理には既存の表計算ソフトを使用することができる。また、上記最大内角の平均値および分散を求める際には外れ値を除外することが望ましい。外れ値は、以下の計算式によって算出される標準化得点の絶対値が３以上をいう。
標準化得点＝(個々の溝口部の最大内角−溝口部の最大内角の平均値)/標準偏差
【０１４２】
（ｉｖ）次に、各溝部について、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心（以下、単に、溝口部の重心と称する場合がある。）を特定し、溝部の位置を規定する。溝口部の重心は、先に述べたように溝口部の平面視形状を八角形に近似し、上記八角形について、上述した「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した突起部の底面の重心の特定方法の操作と同様の操作を行い、重心を特定することができる。
【０１４３】
（ｖ）続いて、各溝口部の重心の位置を座標化する。溝口部の重心の位置は、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像を座標平面として座標化することができる。画像の座標化に際し、座標の原点、軸は任意の方向に取ることができる。画像の座標化については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した方法を用いることができる。
【０１４４】
（ｖｉ）各溝部の溝口部の重心の位置の座標から、特定の一の溝部と、それに隣接する複数の溝部との溝部間の距離、すなわち重心間距離を算出する。重心間距離は、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層（１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した隣接する突起部間の重心間距離の算出方法と同様の方法で算出することができる。算出される重心間距離のうち、最小の距離を、特定の一の溝部についての「最近接重心間距離」とする。
なお、隣接する溝部間の重心間距離の算出に際し、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した隣接する突起部間の重心間距離の算出式中の、ｘ１およびｙ１は、特定の一の溝部の溝口部の重心の位置を示すｘ座標およびｙ座標とする。また、ｘ２およびｙ２は、上記特定の一の溝部に隣接する溝部の溝口部の重心の位置を示すｘ座標およびｙ座標である。
上記重心間距離は、ＳＥＭ画像やＡＦＭ画像のスケールのピクセルサイズとピクセル数との対比から算出することができる。
【０１４５】
上記の方法で各溝部の最近接重心間距離を抽出し、既存の表計算ソフトで統計処理することにより、最近接重心間距離の平均値および分散を計算する。最近接重心間距離の平均値および分散を求める際には外れ値を除外することが望ましい。外れ値の算出方法は、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した隣接する突起部間の最近接重心間距離の平均値および分散を求める際の算出方法と同様である。
【０１４６】
（ｂ）パラメータ
次に、本態様における溝部の形状および配置位置のばらつきを規定する各パラメータについて説明する。
【０１４７】
（ｉ）溝口部の大きさ
溝口部の大きさは、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの面積、すなわち溝口部の面積により規定される。溝口部の面積は、図７（ｂ）、図８（ａ）中においてＳ、ＳＡ、ＳＢで示す部分である。図８は、本態様における光散乱層の溝部賦形面側から観察した平面ＳＥＭ画像である。
【０１４８】
溝口部の面積の平均は、９４０００ｎｍ２以上１３１０００ｎｍ２以下の範囲内であればよく、中でも９９０００ｎｍ２以上１２１０００ｎｍ２以下の範囲内であることが好ましい。溝口部の面積の平均を上記範囲内とすることで、上記溝口部においてミー散乱が支配的に生じることが推測される。また、溝口部の面積の平均が上記範囲内にない場合、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ｂ）パラメータ  （ｉ）突起部の大きさ」の項で説明した不具合が生じることが想定される。
【０１４９】
溝口部の面積の平均が上記範囲内にあるとき、上記溝口部の面積の分散は、４．０８Ｅ＋９以上１．０６Ｅ＋１０以下の範囲内であることが好ましい。上記分散のランダム性により、干渉により特定の波長の光の強度が強まるのを抑制でき、光の散乱性およびそれによるヘイズ効果をより視認しやすくすることができるからである。溝口部の面積の分散の単位は（ｎｍ２）２となる。
【０１５０】
（ｉｉ）溝口部の形状
溝口部の形状は、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの最大内角の大きさにより規定される。溝口部の最大内角は、例えば図８（ｂ）中のθmaxで示す角度をいう。
【０１５１】
溝口部の平面視形状は、最大内角が大きいほど形状のばらつきが大きくなる。一方、上記最大内角が小さいほど、溝口部の平面視形状は正八角形に近い形状となり、形状のばらつきが小さくなる。したがって、抽出された各溝部から算出された最大内角の分散が大きいほど、溝部ごとの溝口部の平面視形状の形状もばらつきが大きくなる。
【０１５２】
溝口部の最大内角の分散は、６００以上１０２０以下の範囲内であればよく、中でも６４０以上９８０以下の範囲内、特に６４０以上８１０以下の範囲内であることが好ましい。溝口部の最大内角の分散が上記範囲よりも大きいと、製造上、溝部の設計が困難となる場合があり、一方、上記範囲よりも小さいと、溝部の形状が光の波長よりも小さくなり、散乱機能やヘイズ効果が発現しにくい場合があるからである。溝口部の最大内角の分散の単位は、度（°）の二乗（°）２となる。
【０１５３】
このとき、溝口部の最大内角の平均は、２００°以上２３０°以下の範囲内であることが好ましい。溝口部の最大内角の平均が上記範囲よりも大きいと、製造上、溝部の設計が困難となる場合があり、一方、上記範囲よりも小さいと、溝部の形状が光の波長よりも小さくなり、散乱機能やヘイズ効果が発現しにくい場合があるからである。
【０１５４】
（ｉｉｉ）隣接する溝部の位置関係
溝部の位置は、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心の位置をいい、図７（ａ）、図８（ｂ）、（ｃ）においてＧ、ＧＡ、ＧＢ、ＧＣで示す部分である。
上記隣接する溝部の位置関係は、一の溝部と、上記一の溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心に最も近接した位置に上記溝口部の上記重心を有する他の溝部と、の重心間距離、すなわち最近接重心間距離の平均および分散により規定される。最近接重心間距離は、図７（ｂ）、図８（ｃ）においてＬｍｉｎ、ＬｍｉｎＡ、ＬｍｉｎＢで示す長さである。
【０１５５】
最近接重心間距離は、先に説明した方法で算出され定量化されるが、算出方法についてさらに図を示して説明する。最近接重心間距離は、図８（ｃ）で示すように、溝部３０Ａに隣接する溝部のうち、溝部３０Ａの溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心ＧＡと最も近い位置に、溝口部の平面視形状を八角形に近似したときの重心ＧＢを有する溝部３０Ｂを抽出し、その重心間距離を、溝部３０Ａについての最近接重心間距離ＬｍｉｎＡとして算出する。次に、溝部３０Ｂに隣接する溝部のうち、溝部３０Ｂの溝口部の重心ＧＢと最も近い位置に溝口部の重心ＧＣを有する溝部３０Ｃを抽出し、その重心間距離を、溝部３０Ｂについての最近接重心間距離ＬｍｉｎＢとして算出する。
最近接重心間距離の平均は、上記操作を繰り返し行い、溝部の抽出点数分の最近接重心間距離の総和を算出し、抽出点数で割ることで算出される。
【０１５６】
上記最近接重心間距離の平均は５００ｎｍ以下であればよく、中でも４２０ｎｍ以下の範囲内、特に４１０ｎｍ以下の範囲内であることが好ましい。最近接重心間距離の平均が上記範囲よりも大きいと、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ｂ）パラメータ  （ｉｉ）隣接する突起部の位置関係」の項で説明した不具合が生じる場合があるからである。
最近接重心間距離の平均の下限は特に限定されず、製造上設計可能な範囲で設定することができ、例えば３３０ｎｍであることが好ましい。
【０１５７】
上記最近接重心間距離の平均が上記範囲内にあるときの上記最近接重心間距離の分散は、８０００以上であればよく、中でも１１０００以上、特に１２０００以上であることが好ましい。最近接重心間距離の分散が上記範囲よりも小さいと、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ｂ）パラメータ  （ｉｉ）隣接する突起部の位置関係」の項で説明した不具合が生じる場合があるからである。
上記分散の上限は特に限定されず、製造上設計可能な範囲で設定することができ、例えば２００００であることが好ましい。最近接重心間距離の分散の単位はｎｍ２となる。
【０１５８】
（ｃ）その他
上記溝部の深さは、上述の３つのパラメータが所定値を備えることが可能な大きさであれば特に限定されないが、例えば、１００ｎｍ〜１０μｍの範囲内が好ましく、中でも３００ｎｍ〜１μｍの範囲内が好ましい。その理由については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ｃ）その他」の項で説明した突起部の高さの規定理由と同様である。上記深さが上記の範囲よりも大きい場合は、溝口部の曲率が大きくなる。
【０１５９】
溝部の深さは、溝部が形成された面から溝底の先端までの長さをいい、図６においてｈ３で示す長さである。溝部の深さは、例えばＡＦＭ等を用いて、各溝部の深さの極大点および極小点を検出し、検出した極大点から、特定の基準位置（例えば溝口部を面内含む光散乱層の表面位置を「深さ＝０」とする。）からの各極大点位置の相対的な深さの差を取得してヒストグラム化し、ヒストグラムによる度数分布から算出し、平均化した値とすることができる。極大点および極小点の検出は、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した方法と同様の方法で検出することができる。
【０１６０】
また、上記溝部の深さが上記範囲内にあるとき、溝口部の平面視形状の最大径に対する上記溝部の深さのアスペクト比は、多数の溝部による散乱機能を発揮することが可能となる比であればよい。好適なアスペクト比およびその理由については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ｃ）その他」の項で説明した好適なアスペクト比およびその理由と同様とすることができる。
溝口部の平面視形状の最大径とは、上記溝口部の平面視形状を八角形に近似したときに最も広幅の箇所、すなわち上記溝口部の重心を通る最大幅をいう。
【０１６１】
溝部は、凹型の錐状形状を有する。溝部の溝底の先端は、尖っていてもよく、曲率を有していてもよい。中でも、ミー散乱により溝部での光の前方散乱が生じやすくなることから、先端が尖っていることが好ましい。
【０１６２】
溝口部の平面視形状は、八角形に近似が可能な形状であれば特に限定されず、例えば円、楕円等の丸形状の他、五角形、六角形、八角形、十二角形等の多角形形状等を挙げることができる。
また、溝部の側面形状は、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ｃ）その他」の項で説明した突起部の側面形状と同様とすることができる。
【０１６３】
（２）その他
本態様における光散乱層は、表面に、突起部にかえて上述した溝部が所定のばらつきを有して多数形成されていること以外は、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （２）その他」の項で説明した内容と同様であるため、ここでの説明は省略する。
なお、本態様における光散乱層の厚さとは、光散乱層の溝部の溝口部を有する面から上記面の反対側の面までの長さの平均をいう。
【０１６４】
（３）光散乱層の製造方法
本態様における光散乱層は、例えば、所定のばらつきを有する多数の凸型錐状構造体を備えた転写原版を用いて、表面に多数の凹型錐状構造体が形成された第１ソフトモールドを形成し、上記第１ソフトモールドを用いて、表面に多数の凸型錐状構造体を備えた第２ソフトモールドを形成し（転写版準備工程）、上記第２ソフトモールドの上記凸型錐状構造体が形成された表面に光散乱層用組成物を塗布して塗布層を形成し（塗布工程）、上記塗布層上に上記透明基材を配置して上記塗布層を硬化した後、上記第２ソフトモールドを剥離する（賦形工程）ことで、上記透明基材上に形成することができる。
透明基材上に形成される光散乱層は、一方の表面に所定のばらつきを有する多数の溝部を備え、上記溝部は、上記転写原版の凸型錐状構造体と、反転形状および配置位置のばらつきと対応関係にある。
上記透明基材は、光散乱層を支持するものであり、「Ａ．第１態様」の項で既に説明したため、説明は省略する。
【０１６５】
転写版準備工程で用いる転写原版は、上述の「（１）溝部」の項で説明した溝部の反転形状に対応し、上記反転形状が上述の３つのパラメータの定量化により規定された所定のばらつきを有する凸型錐状構造体を多数備えている。
転写原版の材質や製造方法については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （３）光散乱層の製造方法」の項で説明した内容と同様とすることができる。
【０１６６】
第１ソフトモールドは、上記転写原版の上記凸型錐状構造体が形成された面上に、硬化性樹脂を含むソフトモールド形成用組成物を塗布し、硬化して得ることができる。上記ソフトモールドの一方の表面には、上記凸型錐状構造体の反転形状である凹型錐状構造体が多数形成される。
また、第２ソフトモールドは、上記第１ソフトモールドの上記凹型錐状構造体が形成された面上に、硬化性樹脂を含むソフトモールド形成用組成物を塗布し、硬化して得ることができる。上記第２ソフトモールドの一方の表面には、上記第１ソフトモールドの凹型錐状構造体の反転形状である凸型錐状構造体が多数形成される。
上記ソフトモールド形成用組成物の組成や各ソフトモールドの製造方法については、特に限定されず、一般に樹脂製原版を形成する際に用いられる組成物や製造方法と同様とすることができる。
【０１６７】
上記第２ソフトモールドは、平板であってもよく、ロールに巻きつけて転写ロールとしてもよい。
上記第２ソフトモールドを用いた光散乱層の形成方法については、光散乱層用組成物の組成や、第２ソフトモールドの形状等に応じて、従来公知の方法を用いることができる。
【０１６８】
また、本態様における光散乱層は、第２ソフトモールドにかえて、円筒形のシリンダーの表面をめっきして、所定のばらつきを有する多数の凸型錐状構造体が表面に形成されたロール原版を用いて製造することができる。この方法によれば、ロール原版から直接溝部を賦形することができるため、転写原版を用いて第１ソフトモールドおよび第２ソフトモールドを製造する必要がない。シリンダーの表面に上記凸型錐状構造体を形成する方法については、上述の「Ａ．第１態様  １．光散乱層  （３）製造方法」の項で説明した転写原版の製造方法と同様の方法を用いることができる。
【０１６９】
２．透明保護層
本態様における透明保護層は、上記光散乱層の上記溝部賦形面上に、上記溝部内を充填して形成された層である。上記透明保護層は、光散乱層の溝部内を充填するようにして形成されていることから、通常、平坦状である。これにより、上述の「Ａ．第１態様」の項で説明した効果と同様の効果を奏することができる。
【０１７０】
本態様において、透明保護層は、少なくとも上記光散乱層の溝部内を充填するように形成されていればよく、中でも、上記溝部内を充填し、且つ、光散乱層の溝部賦形面を覆うようにして形成されることが好ましい。
本態様における透明保護層の厚み以外の詳細については、上述の「Ａ．第１態様」の項で説明したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。
【０１７１】
上記透明保護層の厚みは、上記溝部内を充填し、上記光散乱層の上記溝部賦形面上に平坦状となる厚みであればよく、中でも溝部内を充填し且つ光散乱層の溝口部から該透明保護層の表面までの膜厚（溝口部上膜厚とする。）が、１μｍ〜２００μｍの範囲内であることが好ましく、５μｍ〜１００μｍの範囲内であることがより好ましい。
上記溝口部上膜厚が上記範囲よりも小さいと、溝部内に透明保護層が十分に充填されず、光散乱層の溝部賦形面を十分に覆うことができない場合や、印刷コーティング等の方法により透明保護層を形成する際に、層にスジ等が入る場合がある。一方、上記範囲よりも大きいと、製造コストがかかる場合がある。
透明保護層における光散乱層の溝口部から該透明保護層の表面までの膜厚（溝口部上膜厚）とは、図６中のｈ４で示す長さであり、ミクロトーム等で真贋判定用光学シートを切片して断面を形成し、上記断面を上記光学顕微鏡ないし電子顕微鏡で観察して測長する。測長は、５箇所の視野範囲にて、各視野範囲における抽出点数分の溝部に対して行い、上記５箇所の平均値を透明保護層における溝口部上膜厚とする。具体的な測長方法や使用する機器等については、上述の「Ａ．第１態様」の項で説明した内容と同様であるため、ここでの説明は省略する。
【０１７２】
３．その他
本態様の真贋判定用光学シートの特性、その他の構成、および用途等については、上述の「Ａ．第１態様」の項で説明したものと同様とすることができるため、ここでの説明は省略する。
【０１７３】
ＩＩ．偽造防止媒体
本発明の偽造防止媒体は、表面の少なくとも一部に透明真贋判別部を有する偽造防止媒体であって、上記透明真贋判定部には、上述した真贋判定用光学シートが配置されていることを特徴とするものである。
【０１７４】
図９は、本発明の偽造防止媒体の一例を示す模式図であり、図９（ａ）は上面図、図９（ｂ）は図９（ａ）のＸ−Ｘ線断面図である。
図９（ａ）〜（ｂ）に示す偽造防止媒体５０においては、透明な支持層５１上の少なくとも一部に、透明真贋判別部５２を有しており、同一面上に機能層５３を有している。透明真贋判別部５２には、光散乱層１および透明保護層２を有する真贋判定用光学シート１０が配置されている。真贋判定用光学シート１０における光散乱層１は、図１または図５で説明した光散乱層１Ａまたは１Ｂと同様である。
【０１７５】
図１０は、本発明の偽造防止媒体の他の例を示す模式図であり、図１０（ａ）は上面図、図１０（ｂ）は図１０（ａ）のＹ−Ｙ線断面図である。
図１０（ａ）〜（ｂ）に示す偽造防止媒体５０においては、一対の不透明な支持層５１Ａおよび５１Ｂの間に、真贋判定用光学シート１０が配置されており、一対の不透明な支持層５１Ａおよび５１Ｂの平面視上重なる位置に設けられた透明領域部Ｗを介して真贋判定用光学シート１０が表出している。透明領域部Ｗが透明真贋判定部５２である。真贋判定用光学シート１０における光散乱層１は、図１または図５で説明した光散乱層１Ａまたは１Ｂと同様である。
【０１７６】
本発明によれば、上記透明真贋判定部に配置される真贋判定用光学シートは、所望の散乱機能を発揮するための特徴的な表面形状を有する光散乱層と、上記表面形状を埋めるようにして形成された透明保護層と、を有することで、所望のヘイズ値を有する。このため、本発明の偽造防止媒体は、上記透明真贋判定部が有するヘイズ値や白濁（ヘイズ）感、断面形状に基づく多種の真贋判定を行うことができる。中でも、偽造品に設けられた透明真贋判定部が同等のヘイズ値を有する場合に、上記透明真贋判定部の断面形状から真贋判定を行うことで、高い判定精度を得ることが可能となる。さらに、上記透明真贋判定部において、上記真贋判定用光学シートは特徴的な表面形状を有しており、複製が困難であることから、透明真贋判定部の偽造を防止することができ、本発明の偽造防止媒体のセキュリティ性をより高めることができる。
【０１７７】
以下、本発明の偽造防止媒体における各構成について説明する。
【０１７８】
本発明における真贋判定用光学シートは、上記透明真贋判定部に配置されている。
真贋判定用光学シートについては、上述の「Ｉ．真贋判定用光学シート」の項で詳細に説明したため、ここでの説明は省略する。
【０１７９】
上記真贋判定用光学シートは、本発明の偽造防止媒体の最表面に配置されて露出していてもよく、偽造防止媒体を構成する層間に配置されていてもよい。
【０１８０】
本発明の偽造防止媒体は、通常、真贋判定用光学シートの少なくとも片面側に支持層を有する。上記支持層は、真贋判定用光学シートの両面に有して、上記真贋判定用光学シートを挟持していてもよい。
上記支持層は、透明性を有していてもよく有さなくてもよく、本発明の偽造防止媒体の用途や、支持層の構造に応じて適宜選択することができる。
本発明の偽造防止媒体が透明性を有するものであれば、上記支持層は透明性を有する。一方、本発明の偽造防止媒体が、透明真贋判定部を除いて不透明であれば、上記支持層は不透明なものとすることができる。この場合、支持層上の所望の位置に透明領域部を設け、上記透明領域部を介して真贋判定用光学シートを表出して透明真贋判定部とすることで、上記透明真贋判定部に配置された真贋判定用光学シートの白濁（ヘイズ）感やヘイズ値を確認することができる。
【０１８１】
上記支持層の材質としては、透明性の有無に応じて適宜選択することができ、例えば、ガラス、樹脂、金属、紙等が挙げられる。
【０１８２】
本発明の偽造防止媒体は、支持層と真贋判定用光学シートとの間や、支持層の表面上に、機能層を有していてもよい。機能層としては、一般的な偽造防止媒体の構成部材として用いられるもの同様とすることができ、例えば、印刷層、受像層、ホログラム層等が挙げられる。
【０１８３】
本発明の偽造防止媒体は、上記透明真贋判別部が有する白濁（ヘイズ）感やヘイズ値を確認することで、真贋判定を行うことが可能である。また、本発明の偽造防止媒体を上記透明真贋判別部において切断することで、上記透明真贋判定部に配置された真贋判定用光学シートの断面形状から真贋を判定することが可能である。上記透明真贋判別部の平面視形状や個数等については適宜設定することができる。
【０１８４】
本発明の偽造防止媒体の製造方法は、従来公知の方法を用いることができる。
【０１８５】
本発明の偽造防止媒体は、例えば、紙幣、商品券、株券、小切手、手形等の各種の有価証券、パスポート、カード等の各種の証明書、機密文書等に用いることができる。
【０１８６】
本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【実施例】
【０１８７】
以下に実施例および比較例を示し、本発明をさらに詳細に説明する。
【０１８８】
［評価］
実施例および比較例において実施した評価の詳細は以下の通りである。
【０１８９】
１．ＳＥＭ観察
ＳＥＭ観察は以下の条件で行った。
・ＳＥＭ：電界放出形走査電子顕微鏡  ＳＵ−８００００(株式会社日立ハイテクノロジーズ社製)
・観察方法：Ｔｏｐ−Ｖｉｅｗ（突起部賦形面側または溝部賦形面側から）
・前処理：Ｐｔ−Ｐｄスパッタ
・観察倍率：×２０ｋ
・視野範囲：縦４μｍ×横４μｍ
・アングル：０°、３０°
【０１９０】
２．ヘイズ値
ヘイズ値の測定は以下の条件で行った。
・計測装置：ヘイズガードＩＩ  東洋精機製作所社製
・計測方法：ＪＩＳ Ｋ７１３６準拠法
【０１９１】
３．屈折率
屈折率は以下の方法で測定した。
【０１９２】
（光散乱層の屈折率）
ＰＥＴ基材（東レ社製ルミラー、）上に、光散乱層用組成物を含むインクを乾燥時塗布量が８ｇ／ｍ２となるように塗布し、実施例１〜１４および比較例１〜８のそれぞれにて用いたソフトモールドまたは第２ソフトモールドの版面を塗布面に押し当てて、実施例１と同じ条件でＵＶ照射を行い賦型硬化した後、５０ｍｍ×５０ｍｍの大きさに裁断して、アッベ屈折計（ＫＰＲ−３０Ａ型、島津製作所社製）を用いて臨界角法により測定した。
【０１９３】
（透明保護層の屈折率）
テフロン（登録商標）シート上に、実施例１〜１４および比較例１〜８のそれぞれにて用いた透明保護層用組成物を含むインクを乾燥時塗布量が４ｇ／ｍ２となるように滴下して硬化し、シート化したものを剥離し、得られたシートを５０ｍｍ×５０ｍｍの大きさに裁断して、光散乱層と同様の方法により測定した。
【０１９４】
［製造例１〜１１］
ステンレス板にブラスト加工をして、三次元表面粗さ測定における算術平均面粗さＳａが表１に示す各値となるように仕上げた。次に、下記の組成を含有するめっき浴を用い、陽極としてグラファイト電極を用いて、表１に示す条件で、電流密度を開始値（Ａ／ｄｍ２）から終了値（Ａ／ｄｍ２）まで１分毎のステップで所定値（Ａ／ｄｍ２）ずつ小さくして、ステンレス板の加工面に電解めっき処理を行い、黒色クロムめっき膜を形成した。これにより、多数の凸型錐状構造体を版面に有した転写原版Ａ１〜Ｋ１を得た。
なお、転写原版Ａ１において、多数の凸型錐状構造体の形状およびそのばらつきは、転写原版Ａ１を元に形成される光散乱層における多数の突起部の形状およびそのばらつきとが、対応関係にあった。転写原版Ｂ１〜Ｋ１についても同様であった。
【０１９５】
（めっき浴の組成）
・塩化クロム：２００ｇ／ｄｍ３（０．７５ｍｏｌ／ｄｍ３）
・塩化アンモニウム：３０ｇ／ｄｍ３（０．５６ｍｏｌ／ｄｍ３）
・シュウ酸：３ｇ／ｄｍ３（０．０２４ｍｏｌ／ｄｍ３）
・炭酸バリウム：５ｇ／ｄｍ３（０．０２５ｍｏｌ／ｄｍ３）
・ホウ酸：３０ｇ／ｄｍ３（０．４９ｍｏｌ／ｄｍ３）
・フッ化バリウム：１０ｇ／ｄｍ３（０．０５７ｍｏｌ／ｄｍ３）
【０１９６】
【表１】
2017151383.tif 000003
【０１９７】
転写原版Ａ１〜Ｋ１を用い、各転写原版の上記版面上に、下記の組成から成る紫外線硬化型のソフトモールド形成用組成物を塗布し、厚さ０．２ｍｍのポリカーボネート（ＰＣ）フィルム（製品名：パンライトフィルム、帝人化成株式会社製)で挟んで、ＰＣフィルム面側から波長３６５ｎｍ、照射エネルギー１７０ｍＪ／ｃｍ２でＵＶ照射し、硬化した後、転写原版を剥離した。これにより、多数の凹型錐状構造体を版面に有するソフトモールドａ１〜ｋ１を得た。
【０１９８】
＜ソフトモールド形成用組成物＞
・ウレタンアクリレート  …  ３５質量％
・１，６−ヘキサンジオールジアクリレート  …  ３５質量％
・ペンタエリスリトールトリアクリレート  …  １０質量％
・ビニルピロリドン  …  １５質量％
・１−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン  …  ２質量％
・ベンゾフェノン  …  ２質量％
・ポリエーテル変性シリコーンオイル  …  １質量％
【０１９９】
［製造例１２〜２２］
ステンレス板にブラスト加工をして、三次元表面粗さ測定における算術平均面粗さＳａが表２に示す各値となるように仕上げた。次に、製造例１で用いためっき浴を用い、陽極としてグラファイト電極を用いて、表２に示す条件で、電流密度を開始値（Ａ／ｄｍ２）から終了値（Ａ／ｄｍ２）まで１分毎のステップで所定値（Ａ／ｄｍ２）ずつ小さくして、ステンレス板の加工面に電解めっき処理を行い、黒色クロムめっき膜を形成した。これにより、多数の凸型錐状構造体を版面に有した転写原版Ａ２〜Ｋ２を得た。
なお、転写原版Ａ２において、多数の凸型錐状構造体の反転形状およびそのばらつきは、転写原版Ａ２を元に形成される光散乱層における多数の溝部の形状およびそのばらつきとが、対応関係にあった。転写原版Ｂ２〜Ｋ２についても同様であった。
【０２００】
【表２】
2017151383.tif 000004
【０２０１】
転写原版Ａ２〜Ｋ２を用いたこと以外は、製造例１〜１１と同様の方法で、多数の凹型錐状構造体を版面に有する第１ソフトモールドａ２〜ｋ２を得た。
続いて、第１ソフトモールドａ２〜ｋ２を用い、各第１ソフトモールドの上記版面上に、上述した第１ソフトモールドの製造方法と同様の方法により、多数の凸型錐状構造体を版面に有する第２ソフトモールドａ２’〜ｋ２’を得た。第１ソフトモールドおよび第２ソフトモールドソフトの形成には、製造例１で用いたソフトモールド形成用組成物を用いた。
各第２ソフトモールドにおいて、多数の凸型錐状構造体の形状およびそのばらつきは、各第２ソフトモールドの製造に使用した各転写原版における多数の凸型錐状構造体の形状およびそのばらつきと、対応関係にあった。
【０２０２】
［実施例１〜７および比較例１〜４］
製造例１〜１１で得たソフトモールドａ１〜ｋ１を用い、各ソフトモールドの上記版面上に、硬化後厚みがおおよそ１０μｍとなるように、下記の組成の光散乱層用組成物を含むインクを塗布し、塗布面上に透明基材としてＰＥＴフィルム（製品名；ルミラーＴ６０、東レ社製、厚み０．０３６ｍｍ)を配置した。透明基材側から波長３６５ｎｍ、照射エネルギー１７０ｍＪ／ｃｍ２でＵＶ照射をして上記光散乱層用組成物を硬化し、その後、ソフトモールドを剥離して、表面に多数の突起部を備える光散乱層を透明基材上にそれぞれ形成した。
続いて、上記の各透明基材上に形成された光散乱層の突起部賦形面上に、下記組成の透明保護層用組成物を含むインクを、乾燥時塗布量が４ｇ／ｍ２になるように塗布後、８０℃で３分間乾燥して、透明保護層を形成し、真贋判定用光学シートＡ１〜Ｋ１をそれぞれ得た。
光散乱層の突起部は、頂部が透明保護層内に埋まった状態であり、上記透明保護層は突起部上に表３に示す頂部上膜厚を有していた。透明保護層における頂部上膜厚は上述の「Ｉ．真贋判定用光学シート  Ａ．第１態様」の項で説明した方法により測長および算出した。
【０２０３】
＜光散乱層用組成物＞
・ウレタンアクリレート  …  ３５質量％
・１，６−ヘキサンジオールジアクリレート  …  ３５質量％
・ペンタエリスリトールトリアクリレート  …  １０質量％
・ビニルピロリドン  …  １５質量％
・１−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン  …  ２質量％
・ベンゾフェノン  …  ２質量％
・ポリエーテル変性シリコーンオイル  …  １質量％
【０２０４】
＜透明保護層用組成物Ａ＞  …  高屈折率樹脂、使用対象：実施例１〜４、実施例８〜１１
・テレフタル酸  …  ４０質量％
・イソフタル酸  …  ３０質量％
・メタクリル酸メチル  …  １５質量％
・エチレングリコール  …  １２質量％
・ジルコニアナノ粒子  …  ３質量％
【０２０５】
＜透明保護層用組成物Ｂ＞  …  高屈折率樹脂、使用対象：比較例１〜２、比較例５〜６
・テレフタル酸  …  ４０質量％
・イソフタル酸  …  ３０質量％
・メタクリル酸メチル  …  １５質量％
・エチレングリコール  …  １２質量％
・ジルコニアナノ粒子  …  １質量％
【０２０６】
＜透明保護層用組成物Ｃ＞  …  低屈折率樹脂、使用対象：実施例５〜７、実施例１２〜１４
・フッ素系アクリルポリマー  …  ６５質量％
・メタクリル酸メチル  …  ２０質量％
・アクリル酸ブチル  …  １５質量％
【０２０７】
＜透明保護層用組成物Ｄ＞  …  低屈折率樹脂、使用対象：比較例３〜４、比較例７〜８
・フッ素系アクリルポリマー  …  ２０質量％
・メタクリル酸メチル  …  ５０質量％
・アクリル酸ブチル  …  ３０質量％
【０２０８】
［実施例８〜１４および比較例５〜８］
ソフトモールドａ１にかえて、製造例１２〜２２で得た第２ソフトモールドａ２’〜ｋ２’を用いたこと以外は、実施例１と同様の方法で、真贋判定用光学シートＡ２〜Ｋ２をそれぞれ得た。光散乱層の溝部内は透明保護層が充填され、さらに溝口部上に表４に示す溝口部上膜厚を有する透明保護層が形成された状態であった。透明保護層における溝口部上膜厚は上述の「Ｉ．真贋判定用光学シート  Ｂ．第２態様」の項で説明した方法により測長および算出した。
【０２０９】
［評価１］
実施例１〜１４および比較例１〜８で得た各光散乱層の表面をＳＥＭで観察し、光散乱層の表面に形成された多数の突起部、または多数の溝部について、パラメータの定量化を行った。ＳＥＭ観察は、保護層を形成する前の光散乱層に対して行った。
実施例１〜７および比較例１〜４で得た各光散乱層については、光散乱層表面に形成された多数の突起部の中から表３に示す点数を抽出し、平面視ＳＥＭ像から突起部の底面の最大幅の平均および分散、隣接する突起部の最近接重心間距離の平均および分散、ならびに｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｃｏｓφｋ／ｎ｜値および｜Σ（ｋ＝１〜ｎ）ｓｉｎφｋ／ｎ｜値を求めた。
平面視ＳＥＭ像を用いた各パラメータの定量化は、上述の「Ｉ．真贋判定用光学シート  Ａ．第１態様  １．光散乱層  （１）突起部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した方法により行い、突起部の根元の近似形状は八角形とした。
【０２１０】
また、実施例８〜１４および比較例５〜８で得た各光散乱層については、光散乱層表面に形成された多数の溝部の中から表４に示す点数を抽出し、平面視ＳＥＭ像から溝口部の面積、溝口部の最大内角、および隣接する溝部の最近接重心間距離について平均および分散を求めた。平面視ＳＥＭ像を用いた各パラメータの定量化は、上述の「Ｉ．真贋判定用光学シート  Ｂ．第２態様  １．光散乱層  （１）溝部  （ａ）パラメータの定量化方法」の項で説明した方法により行った。
【０２１１】
［評価２］
実施例１〜１４および比較例１〜８で得た光散乱層および真贋判定用光学シートについて、ヘイズ値を計測した。光散乱層のヘイズ値は、透明保護層を設ける前の透明基材上に配置された状態で測定した。
【０２１２】
［評価３］
実施例１〜１４および比較例１〜８で得た光散乱層および透明保護層について、上述した方法により屈折率をそれぞれ計測し、屈折率差を算出した。
【０２１３】
評価１〜３の結果を、実施例および比較例ごとに表に示す。
実施例１〜７および比較例１〜４については表３に示し、実施例８〜１４および比較例５〜８については表４に示す。表３および表４中のμは平均、σ２は分散を示す。σ２の数値の単位は平均の単位の二乗で表わされる。
【０２１４】
【表３】
2017151383.tif 000005
【０２１５】
【表４】
2017151383.tif 000006
【０２１６】
本結果より、光散乱層の賦形面上に透明保護層を有することで、上記透明保護層が光拡散層の表面保護の機能を果たすことができた。
また、特徴的な表面形状を有する実施例１〜１４における光散乱層は、単体でのヘイズ値が高く、上記光散乱層と透明保護層との屈折率差が０．１０以上であることで、真贋判定用光学シート全体のヘイズ値を２５％以上とすることができた。
これにより、実施例の真贋判定用光学シートは、比較例のものよりも光散乱層の表面形状により奏されるヘイズ効果が高く、ヘイズ値や白濁（ヘイズ）感等の視認性を利用した真贋判定に用いることが可能であった。
一方、比較例１〜８における光散乱層は、表面に形成された突起部や溝部が所定のばらつきを有していないため、単体でのヘイズ値が実施例よりも低く、ヘイズ効果が劣るため、白濁感の視認を利用した真贋判定には適さなかった。特に、透明性を有する媒体に適用した場合に、真贋判定を行う部分の判別が困難であった。
【０２１７】
また、一般的に、ヘイズ効果を容易に発現させる手法として、層内に酸化チタンなど粒子を混ぜ込む手法がとられるが、この方法では容易に模倣することが可能である。また、粒子含有層をカード等のセキュリティ媒体に用いる場合、セキュリティ性は著しく低く、また真贋判定も行うことが困難である。
これに対し、本発明により奏されるヘイズ効果は、上述した手法とは異なり、光散乱層表面に付された、ある種のランダム性を有した形状により発現されるものであり、また、そのヘイズ効果を損なわないように光散乱層の表面に透明保護層を有することで、あたかも上述の粒子の混在によるものと同様のヘイズの効果を発現可能であった。
このため、模倣品が、先に述べた容易に模倣できる層内への粒子の混ぜ込みによる手法で作られているものであって、実際には本発明の偽造防止媒体によるヘイズ効果と同様の効果を有していても、断面観察等の手法により、本発明の偽造防止媒体と模倣品との真贋判定を容易に行うことが可能となることが示唆された。
【符号の説明】
【０２１８】
１、１Ａ、１Ｂ  …  光散乱層
２  …  透明保護層
１０  …  真贋判定用光学シート
２０、２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ  …  突起部
３０、３０Ａ、３０Ｂ、３０Ｃ  …  溝部
５０  …  偽造防止媒体
５２  …  透明真贋判定部
【図１】
2017151383.tif 000007
【図２】
2017151383.tif 000008
【図３】
2017151383.tif 000009
【図４】
2017151383.tif 000010
【図５】
2017151383.tif 000011
【図６】
2017151383.tif 000012
【図７】
2017151383.tif 000013
【図８】
2017151383.tif 000014
【図９】
2017151383.tif 000015
【図１０】
2017151383.tif 000016