(57)【要約】【課題】温度推定に用いる部材として、より多様な部材を用いることができるようにする。【解決手段】温度推定システムが、熱膨張する熱膨張部と、前記熱膨張部の膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約する制約部と、前記熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じた塑性変形に起因する状態量を測定する状態量測定部と、前記熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部と、前記状態量測定部が測定した状態量と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得部とを備える。【選択図】図１
2017049079.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
熱膨張する熱膨張部と、
前記熱膨張部の膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約する制約部と、
前記熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じた塑性変形に起因する状態量を測定する状態量測定部と、
前記熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部と、
前記状態量測定部が測定した状態量と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得部と
を備える温度推定システム。
【請求項２】
前記制約部は、
前記熱膨張部よりも線膨張係数の小さい線膨張係数小部材と、
前記熱膨張部と前記線膨張係数小部材とを接合する接合部材と、
を含む、請求項１に記載の温度推定システム。
【請求項３】
前記制約部に、前記熱膨張部を収納する収納空間が設けられており、前記収納空間に収納された前記熱膨張部と少なくとも２箇所で接して前記熱膨張部の膨張を制約する、請求項１に記載の温度推定システム。
【請求項４】
前記熱膨張部は、
第１方向に延びる熱膨張部本体と、
前記熱膨張部本体における前記第１方向の両端の各々から前記第１方向に対して交差する第２方向に延びるつば部と、
を有し、
前記制約部の収納空間は、
前記熱膨張部本体を収納する本体収納空間と、
前記つば部を収納するつば部収納空間と、
を有し、
前記つば部には、前記熱膨張部本体における前記第１方向の第１端部及び第２端部のうち前記第１端部に設けられた前記つば部の面と、前記第２端部に設けられたつば部の面とが向かい合う内側面、及び、前記内側面と反対側の面である外側面とが設けられており、
前記収納空間を形成する前記制約部の面のうち、前記内側面と対向する面及び前記外側面と対向する面のいずれも、前記熱膨張部と接している、
請求項３に記載の温度推定システム。
【請求項５】
前記熱膨張部に、前記制約部を収納する収納空間が設けられており、
前記収納空間に収納された前記制約部が、前記熱膨張部と少なくとも２箇所で接して前記熱膨張部の収縮を制約する、
請求項１に記載の温度推定システム。
【請求項６】
前記制約部は、
第１方向に延びる制約部本体と、
前記制約部本体における前記第１方向の両端の各々から前記第１方向に対して交差する第２方向に延びるつば部と、
を有し、
前記熱膨張部の収納空間は、
前記制約部本体を収納する本体収納空間と、
前記つば部を収納するつば部収納空間と、
を有し、
前記つば部には、前記制約部本体における前記第１方向の第１端部及び第２端部のうち前記第１端部に設けられた前記つば部の面と、前記第２端部に設けられたつば部の面とが向かい合う内側面、及び、前記内側面と反対側の面である外側面とが設けられており、
前記収納空間を形成する前記熱膨張部の面のうち、前記内側面と対向する面及び前記外側面と対向する面のいずれも、前記制約部と接している、
請求項５に記載の温度推定システム。
【請求項７】
熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約部に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部と、
熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約部に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量の測定値と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得部と、
を備える温度推定装置。
【請求項８】
熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を取得する対応関係情報取得ステップと、
熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約部に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量を測定する状態量測定ステップと、
前記状態量測定ステップで測定した状態量と、前記対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得ステップと
を含む温度推定方法。
【請求項９】
熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部を備えるコンピュータに、
前記熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じた塑性変形に起因する状態量の測定値を取得する状態量測定値取得ステップと、
前記状態量測定値取得ステップで得られた状態量と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得ステップと
を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、温度推定システム、温度推定装置、温度推定方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
燃焼プラント設備の燃焼室のように温度変化が大きい個所では、一般的な温度計を用いての温度測定を行うことができない。
これに対し、特許文献１には、燃焼プラント設備の温度を推定するための、耐熱部材の温度履歴推定方法が記載されている。当該耐熱部材の温度履歴推定方法では、燃焼プラント設備に備えられた耐熱耐圧部材の表面に、熱時効により硬化する析出硬化型の材料を肉盛溶接し、設備の運転後に当該材料表面の硬さを測定する。そして、予め熱時効試験で求めておいた硬化特性のデータと比較し、硬さの増加量から当該材料の熱履歴を求め、耐熱耐圧部材の温度を推定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−２０８２１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載の耐熱部材の温度履歴推定方法では、使用する材料が、熱時効により硬化する析出硬化型の材料に限定される。使用する材料が限定されることで、特許文献１に記載の耐熱部材の温度履歴推定方法では、推定可能な温度が限定される。より多様な部材を用いることができれば、より広い温度範囲で温度を推定することができる。
【０００５】
本発明は、温度推定に用いる部材として、より多様な部材を用いることができる、温度推定システム、温度推定装置、温度推定方法及びプログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の態様によれば、温度推定システムは、熱膨張する熱膨張部と、前記熱膨張部の膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約する制約部と、前記熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じた塑性変形に起因する状態量を測定する状態量測定部と、前記熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部と、前記状態量測定部が測定した状態量と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得部とを備える。
【０００７】
前記制約部は、前記熱膨張部よりも線膨張係数の小さい線膨張係数小部材と、前記熱膨張部と前記線膨張係数小部材とを接合する接合部材と、を含む、ようにしてもよい。
【０００８】
前記制約部に、前記熱膨張部を収納する収納空間が設けられており、前記収納空間に収納された前記熱膨張部と少なくとも２箇所で接して前記熱膨張部の膨張を制約する、ようにしてもよい。
【０００９】
前記熱膨張部は、第１方向に延びる熱膨張部本体と、前記熱膨張部本体における前記第１方向の両端の各々から前記第１方向に対して交差する第２方向に延びるつば部と、を有し、前記制約部の収納空間は、前記熱膨張部本体を収納する本体収納空間と、前記つば部を収納するつば部収納空間と、を有し、前記つば部には、前記熱膨張部本体における前記第１方向の第１端部及び第２端部のうち前記第１端部に設けられた前記つば部の面と、前記第２端部に設けられたつば部の面とが向かい合う内側面、及び、前記内側面と反対側の面である外側面とが設けられており、前記収納空間を形成する前記制約部の面のうち、前記内側面と対向する面及び前記外側面と対向する面のいずれも、前記熱膨張部と接している、ようにしてもよい。
【００１０】
前記熱膨張部に、前記制約部を収納する収納空間が設けられており、前記収納空間に収納された前記制約部が、前記熱膨張部と少なくとも２箇所で接して前記熱膨張部の収縮を制約する、ようにしてもよい。
【００１１】
前記制約部は、第１方向に延びる制約部本体と、前記制約部本体における前記第１方向の両端の各々から前記第１方向に対して交差する第２方向に延びるつば部と、を有し、前記熱膨張部の収納空間は、前記制約部本体を収納する本体収納空間と、前記つば部を収納するつば部収納空間と、を有し、前記つば部には、前記制約部本体における前記第１方向の第１端部及び第２端部のうち前記第１端部に設けられた前記つば部の面と、前記第２端部に設けられたつば部の面とが向かい合う内側面、及び、前記内側面と反対側の面である外側面とが設けられており、前記収納空間を形成する前記熱膨張部の面のうち、前記内側面と対向する面及び前記外側面と対向する面のいずれも、前記制約部と接している、ようにしてもよい。
【００１２】
本発明の第２の態様によれば、温度推定装置は、熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約部に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部と、熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約部に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量の測定値と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得部と、を備える。
【００１３】
本発明の第３の態様によれば、温度推定方法は、熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を取得する対応関係情報取得ステップと、熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約部に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量を測定する状態量測定ステップと、前記状態量測定ステップで測定した状態量と、前記対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得ステップとを含む。
【００１４】
本発明の第２の態様によれば、プログラムは、熱膨張部が膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じる塑性変形に起因する状態量と、前記熱膨張部の温度との対応関係を示す対応関係情報を記憶する対応関係情報記憶部を備えるコンピュータに、前記熱膨張部が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じた塑性変形に起因する状態量の測定値を取得する状態量測定値取得ステップと、前記状態量測定値取得ステップで得られた状態量と、前記対応関係情報記憶部が記憶する対応関係情報とに基づいて、前記熱膨張部の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する温度推定値取得ステップとを実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、温度推定に用いる部材として、より多様な部材を用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る温度推定システムの機能構成を示す概略ブロック図である。
【図２】同実施形態における温度到達履歴記憶装置の構成例を示す概略構成図である。
【図３】同実施形態における温度到達履歴記憶装置を線膨張係数大部材の側から見た外形の例を示す概略外形図である。
【図４】同実施形態における高温時の温度到達履歴記憶装置の形状の例を示す説明図である。
【図５】同実施形態にいて、常温に戻った温度到達履歴記憶装置の形状の例を示す説明図である。
【図６】同実施形態における温度到達履歴記憶装置の残留変形の測定箇所の例を示す説明図である。
【図７】同実施形態における温度到達履歴記憶装置の全ひずみの測定箇所の例を示す説明図である。
【図８】同実施形態において、ユーザが温度推定システムを用いて温度推定値を求める処理手順を示す説明図である。
【図９】同実施形態において、温度推定システムが行う処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】同実施形態において、第１部材、第２部材それぞれに用いる材料に好ましい性質を示す説明図である。
【図１１】本発明の第２の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図１２】本発明の第３の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図１３】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における残留応力測定位置の候補の例を示す説明図である。
【図１４】本発明の第４の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図１５】本発明の第５の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図１６】同実施形態における、加熱され常温に戻った後の温度到達履歴記憶装置の概略外形図である。
【図１７】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における塑性変形指標の測定位置の例を示す説明図である。
【図１８】本発明の第６の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図１９】同実施形態における線膨張係数大部材の構成を示す説明図である。
【図２０】同実施形態における線膨張係数小部材の構成を示す説明図である。
【図２１】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における残留応力の測定位置の例を示す説明図である。
【図２２】本発明の第７の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図２３】同実施形態における線膨張係数小部材の外形の概略を示す説明図である。
【図２４】同実施形態における高温時の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図２５】同実施形態において、高温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図２６】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
【図２７】本発明の第８の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図２８】同実施形態における線膨張係数大部材の外形の概略を示す説明図である。
【図２９】同実施形態における低温時の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図３０】同実施形態において、低温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図３１】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
【図３２】本発明の第９の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図３３】同実施形態における高温時の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図３４】同実施形態において、高温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図３５】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
【図３６】本発明の第１０の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図３７】同実施形態における低温時の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図３８】同実施形態おいて、低温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置の外形の概略を示す説明図である。
【図３９】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
【図４０】本発明の第１１の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。
【図４１】同実施形態における温度到達履歴記憶装置の状態変化の例を示す説明図である。
【図４２】同実施形態の温度到達履歴記憶装置における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
【図４３】実験に用いた温度到達履歴記憶装置の装置Ａの外形を示す説明図である。
【図４４】実験に用いた温度到達履歴記憶装置の装置Ｂの外形を示す説明図である。
【図４５】データ収集時の最高到達温度とアルミニウム合金の長さとの関係を示す説明図である。
【図４６】データ収集時の最高到達温度とアルミニウム合金の収縮量との関係を示す説明図である。
【図４７】データ収集時の最高到達温度とアルミニウム合金の全ひずみとの関係を示す説明図である。
【図４８】最高到達温度と収縮量との関係を示すグラフである。
【図４９】最高到達温度と全ひずみとの関係を示すグラフである。
【図５０】実験時の最高到達温度とアルミニウム合金の長さとの関係を示す説明図である。
【図５１】実験時の最高到達温度とアルミニウム合金の収縮量との関係を示す説明図である。
【図５２】実験時の最高到達温度とアルミニウム合金の全ひずみとの関係を示す説明図である。
【図５３】最高到達温度の推定結果を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１８】
＜第１の実施例＞
図１は、本発明の第１の実施形態に係る温度推定システムの機能構成を示す概略ブロック図である。同図に示すように、温度推定システム１は、温度到達履歴記憶装置１００と、測定装置２００と、温度推定装置３００とを備える。温度到達履歴記憶装置１００は、熱膨張部１１０と、制約部１２０とを備える。温度推定装置３００は、測定値取得部３１０と、表示部３２０と、記憶部３８０と、制御部３９０とを備える。記憶部３８０は、対応関係情報記憶部３８１を備える。制御部３９０は、推定値取得部３９１を備える。
【００１９】
温度推定システム１は、温度を推定するシステムである。具体的には、温度を推定したい箇所に設置された温度到達履歴記憶装置１００（特に、熱膨張部１１０）に、温度変化による塑性変形が生じると、温度推定装置３００が、当該塑性変形に起因する状態量（例えば、ひずみの大きさ、又は、温度到達履歴記憶装置１００内の応力など）の測定値に基づいて温度を推定する。
以下では、塑性変形に起因する状態量を塑性変形指標と称する。また、塑性変形指標の測定値を塑性変形指標測定値と称する。
【００２０】
温度到達履歴記憶装置１００は、温度変化によって変形する。特に、温度到達履歴記憶装置１００は、所定の温度以上になると塑性変形し、常温に戻った後も変形が残る。この変形に起因する状態量の測定値（塑性変形指標測定値）に基づいて、温度推定装置３００が温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度（温度到達履歴記憶装置１００が設置された箇所の最高到達温度）を推定する。ここでいう最高到達温度とは、温度変化した温度範囲のうち最高温度である。なお、温度変化した温度範囲のうち最低温度を、最低到達温度と称する。
【００２１】
熱膨張部１１０は、熱膨張する部材である。すなわち、熱膨張部１１０は、加熱されると膨張し、冷却されると収縮する。熱膨張部１１０が行う膨張及び収縮は熱膨張によるものなので、熱膨張部１１０単体では、弾性変形にて膨張（自由膨張）し収縮（自由収縮）する。例えば、熱膨張部１１０を常温から加熱すると膨張し、常温に戻すと加熱前の形状に戻る。
【００２２】
制約部１２０は、熱膨張部１１０の温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約する。以下、制約部１２０が、熱膨張部１１０の膨張及び収縮の両方を制約する場合を例に説明する。制約部１２０が、熱膨張部１１０の膨張及び収縮のうち一方のみを制約する例については後述する。
【００２３】
図２は、温度到達履歴記憶装置４１０の構成例を示す概略構成図である。温度到達履歴記憶装置４１０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。同図に示すように、温度到達履歴記憶装置４１０は、線膨張係数大部材４１１と、線膨張係数小部材４１２と、テーパーピン（Taper Pin）４１３とを備える。
【００２４】
線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とは、線膨張係数（熱膨張率）が異なる部材である。具体的には、線膨張係数大部材４１１の方が、線膨張係数小部材４１２よりも線膨張係数が大きい。
線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２との組み合わせとして、例えば、アルミニウム合金とステンレス鋼との組み合わせ、ニッケルベースのステンレス合金と炭化ケイ素との組み合わせなど、いろいろな組み合わせの部材を用いることができる。
【００２５】
テーパーピン４１３は、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とを接合する。具体的には、テーパーピン４１３が線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とを貫通して設けられることで、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とを接合している。図２は、温度到達履歴記憶装置４１０をテーパーピン４１３に沿って切断した場合の断面図の例を示している。また、図２は、常温での温度到達履歴記憶装置４１０の形状の例を示している。
【００２６】
線膨張係数大部材４１１は、熱膨張部１１０の例に該当する。また、線膨張係数小部材４１２とテーパーピン４１３との組み合わせは、制約部１２０の例に該当する。すなわち、線膨張係数大部材４１１がテーパーピン４１３にて線膨張係数小部材４１２に接合されていることで、線膨張係数大部材４１１は、温度変化による膨張及び収縮（加熱時の膨張、及び、冷却時の収縮）を制約される。
【００２７】
図３は、温度到達履歴記憶装置４１０を線膨張係数大部材４１１の側から見た外形の例を示す概略外形図である。図２を参照して説明したように、テーパーピン４１３は、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とを貫通して設けられており、図３の例では、線膨張係数大部材４１１と、線膨張係数大部材４１１に差し込まれたテーパーピン４１３の底部（太い側の端部）が示されている。
【００２８】
図２及び図３に示すように２本のテーパーピン４１３がそれぞれ線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とを貫通して設けられており、これによって線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが２箇所で接合されている。
このように、線膨張係数が異なる線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが２箇所で接合されていることで、線膨張係数大部材４１１は、熱膨張する際に接合箇所で外力を受ける。
【００２９】
図４は、高温時の温度到達履歴記憶装置４１０の形状の例を示す説明図である。同図では、温度到達履歴記憶装置４１０をテーパーピン４１３に沿って切断した場合の断面図の例を示している。線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが接合されていることで、線膨張係数大部材４１１が不均一に膨張している。
具体的には、線膨張係数大部材４１１のうち線膨張係数小部材４１２に近い側は、線膨張係数小部材４１２と接合されていることで膨張を制約されている。すなわち、線膨張係数大部材４１１は、テーパーピン４１３によって線膨張係数小部材４１２と接合されている部分に膨張を制約する外力を受けている。一方、線膨張係数大部材４１１のうち線膨張係数小部材４１２から遠い側は、線膨張係数小部材４１２に近い側よりも大きく膨張している。この膨張の度合いの違いにより、温度到達履歴記憶装置４１０は、線膨張係数大部材４１１の側に凸、線膨張係数小部材４１２の側に凹に湾曲している。
【００３０】
このように線膨張係数大部材４１１は、線膨張係数小部材４１２との接合部分に膨張を制約する外力を受け、線膨張係数大部材４１１の内部に外力に応じた応力が生じている。温度が上昇して線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２との膨張の差が大きくなり、線膨張係数大部材４１１内の応力が降伏点を超えると、線膨張係数大部材４１１に塑性変形が生じる。
【００３１】
図５は、常温に戻った温度到達履歴記憶装置４１０の形状の例を示す説明図である。同図では、温度到達履歴記憶装置４１０が高温にて図４に示す形状になって塑性変形が生じた後、常温に戻った場合の例を示している。
ここで、高温時に線膨張係数大部材４１１内の応力が降伏点を越えず弾性変形に留まった場合、温度到達履歴記憶装置４１０は、常温に戻ると図２に示す元の形状に戻る。
一方、高温時に線膨張係数大部材４１１内の応力が降伏点を越えて塑性変形した場合、線膨張係数大部材４１１は、図２の状態よりもさらに収縮しようとする。その結果、温度到達履歴記憶装置４１０は、図５に示すように線膨張係数大部材４１１の側に凹、線膨張係数小部材４１２の側に凸に湾曲している。
【００３２】
この常温に戻ったときの、元の形状からの変形の大きさ（図５に示す形状の、図２に示す形状からの変形の大きさ）は、高温時の塑性変形の大きさに対応する。すなわち、高温時の温度（最高到達温度）が高いほど、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２との膨張の度合いの差が大きくなって線膨張係数大部材４１１に対する外力が大きくなり、線膨張係数大部材４１１の塑性変形が大きくなる。そして、線膨張係数大部材４１１の塑性変形が大きいほど、常温に戻ったときの線膨張係数大部材４１１の変形が大きくなり、温度到達履歴記憶装置４１０内の残留応力も大きくなる。
【００３３】
ここで、温度到達履歴記憶装置１００内の残留応力とは、温度到達履歴記憶装置１００の温度が変化した後、元の温度に戻って熱応力が無くなった状態での、温度到達履歴記憶装置１００内の応力である。なお、温度変化前に既に、温度到達履歴記憶装置１００内に残留応力が生じている場合は、温度変化前の残留応力と、温度変化し元の温度に戻った状態での残留応力との差（従って、温度変化による残留応力の変化分）を、温度到達履歴記憶装置１００内の残留応力として扱うようにしてもよい。これにより、最高到達温度をより正確に推定することができる。後述するように最低到達温度を推定する場合も同様である。また、他の実施形態についても同様である。
【００３４】
温度到達履歴記憶装置４１０の場合、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とがテーパーピン４１３で接合されていることで線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２との間に力が加わる。図５の例では、線膨張係数大部材４１１が線膨張係数小部材４１２よりも大きく収縮しようとして、線膨張係数大部材４１１はテーパーピン４１３の箇所（接合箇所）で収縮を制約する外力を受ける。この線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２との間の力に対して温度到達履歴記憶装置４１０内に生じる応力が、温度到達履歴記憶装置４１０内の残留応力において支配的であると考えられる。また、線膨張係数大部材４１１に不均一に塑性ひずみ（塑性変形によるひずみ）が生じたことで、線膨張係数大部材４１１内に塑性ひずみに対する応力が生じる。この応力も温度到達履歴記憶装置４１０内の残留応力に該当する。
高温から常温に戻った状態での温度到達履歴記憶装置１００の変形の大きさまたは温度到達履歴記憶装置１００内の残留応力の大きさなど、高温時の塑性変形に起因する状態量の大きさを測定することで、高温時の温度到達履歴記憶装置１００の温度（最高到達温度）を推定することができる。
【００３５】
測定装置２００は、温度到達履歴記憶装置１００の高温時の塑性変形に起因する状態量（すなわち、熱膨張部１１０が膨張及び収縮を制約部１２０に制約されて生じた塑性変形に起因する状態量）を測定する。測定装置２００が測定する状態量は、温度到達履歴記憶装置１００の変形量又はひずみの大きさであってもよいし、温度到達履歴記憶装置１００内の応力であってもよく、測定装置２００としていろいろな装置を用いることができる。
【００３６】
図６は、温度到達履歴記憶装置４１０の残留変形の測定箇所の例を示す説明図である。ここで、温度到達履歴記憶装置１００の残留変形とは、温度到達履歴記憶装置１００の温度を変化させ、元の温度に戻したときの、元の形状からの温度到達履歴記憶装置１００の変形である。残留変形の大きさは塑性変形指標の例に該当する。
図５を参照して説明したように、温度到達履歴記憶装置４１０の最高到達温度が高いほど、温度到達履歴記憶装置４１０が常温に戻ったときの、残留変形の大きさが大きくなる。従って、残留変形の大きさの測定値から温度到達履歴記憶装置４１０の最高到達温度を推定することができる。
【００３７】
温度到達履歴記憶装置４１０の残留変形の大きさを測定する方法として、図６の例では温度到達履歴記憶装置４１０の湾曲の曲率半径ｒを測定する。例えば、図２の例のように２つのテーパーピン４１３をいずれも線膨張係数大部材４１１の表面に対して直角に配置しておき、図６の例のように２つのテーパーピン４１３の延長線の交点を扇形の中心（円の中心）として、中心から円弧（線膨張係数大部材４１１の表面）までの距離を測定する。温度到達履歴記憶装置４１０の湾曲が大きいほど（従って、温度到達履歴記憶装置４１０の残留変形が大きいほど）、曲率半径ｒは小さくなる。
【００３８】
曲率半径ｒ（距離）を高精度に測定する測定装置２００として、例えばレーザー干渉計を用いることができる。
なお、線膨張係数大部材４１１を線膨張係数小部材４１２から外して、図６の例と同様に曲率半径を測定するようにしてもよい。これにより、線膨張係数大部材４１１の残留変形の大きさ（線膨張係数小部材４１２及びテーパーピン４１３による外力及び熱応力を受けない状態での変形の大きさ）を測定することができる。温度到達履歴記憶装置４１０の残留変形の場合と同様、線膨張係数大部材４１１の残留変形が大きいほど、温度到達履歴記憶装置４１０の最高到達温度が高いと推定することができる。
【００３９】
図７は、温度到達履歴記憶装置４１０の全ひずみの測定箇所の例を示す説明図である。ここでいう全ひずみは、塑性ひずみ（塑性変形によるひずみ）と、弾性ひずみ（弾性変形によるひずみ）とを合わせたひずみである。全ひずみは塑性変形指標の例に該当する。
図７の例では、線膨張係数大部材４１１内の応力が降伏点を超えて線膨張係数大部材４１１が塑性変形した際の塑性ひずみが、塑性変形指標の例としての塑性ひずみに該当する。また、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とがテーパーピン４１３で接合されていることで線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２との間に生じる力によるひずみ、および、線膨張係数大部材４１１内の残留応力によるひずみが、いずれも弾性ひずみの例に該当する。図７の例における温度到達履歴記憶装置４１０のひずみは、これら塑性ひずみと弾性ひずみとを合わせたひずみであり、全ひずみの例に該当する。なお、形状の変化を変形と称するのに対し、変形量を元の長さで除算したものをひずみと称する。
【００４０】
図７の例では、線膨張係数大部材４１１、線膨張係数小部材４１２それぞれの側面にひずみゲージ２０１を設置して全ひずみを測定している。具体的には、温度変化前の温度到達履歴記憶装置４１０にひずみゲージ２０１を設置し、温度変化させて常温に戻したときの全ひずみの大きさをひずみゲージ２０１で測定する。ひずみゲージ２０１は、測定装置２００の例に該当する。この場合、ひずみゲージ２０１として耐熱温度の高いひずみゲージを用いる。
図７の例のようにひずみゲージ２０１を複数設置した場合、例えば、複数のひずみゲージ２０１での測定値の平均値を、温度到達履歴記憶装置１００の全ひずみの値として用いることができる。
【００４１】
なお、全ひずみの測定箇所（ひずみゲージ２０１を設置する箇所）は、図７に示す線膨張係数大部材４１１の側面や線膨張係数小部材４１２の側面に限らず、温度到達履歴記憶装置４１０の温度を変化させて戻した際にひずみが生じる箇所であればよい。例えば、線膨張係数大部材４１１の上面（線膨張係数小部材４１２と接する面と反対側に位置する面）、または、線膨張係数小部材４１２の下面（線膨張係数大部材４１１と接する面と反対側に位置する面）にひずみゲージ２０１を設置するようにしてもよい。
【００４２】
あるいは、ひずみゲージ２０１を用いて、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが接合されていることによる弾性ひずみ、又は、当該弾性ひずみによる温度到達履歴記憶装置４１０内の残留応力を測定するようにしてもよい。弾性ひずみ、残留応力のいずれも塑性変形指標の例に該当する。
例えば、温度到達履歴記憶装置４１０が温度変化して常温に戻った後、図７に示す位置にひずみゲージ２０１を設置し、テーパーピン４１３を外す。これにより、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが接合されていることによる弾性ひずみを、ひずみゲージ２０１で測定することができる。また、測定した弾性ひずみから、当該弾性ひずみによる残留応力を算出することができる。
これら弾性ひずみまたは残留応力の測定値から、温度到達履歴記憶装置４１０の最高到達温度を推定することができる。なお、この場合のひずみゲージ２０１は、耐熱温度が高い必要はない。
【００４３】
なお、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが接合されていることによる残留応力は、温度到達履歴記憶装置４１０の残留応力を近似的に示していると考えられる。具体的には、温度到達履歴記憶装置４１０の残留応力は、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが接合されていることによる残留応力と、テーパーピン４１３を外しても線膨張係数大部材４１１に残存する残留応力との合計と考えられるが、線膨張係数大部材４１１と線膨張係数小部材４１２とが接合されていることによる残留応力が支配的である。
【００４４】
あるいは、温度到達履歴記憶装置４１０のＸ線回析により表面の結晶格子距離を測定して、温度到達履歴記憶装置４１０の残留応力を算出するようにしてもよい。残留応力は、弾性変形指標の例に該当する。
例えば、線膨張係数大部材４１１の上面（線膨張係数小部材４１２と接する面と反対側に位置する面）にＸ線を照射して回析を行い、結晶格子距離を測定して、温度到達履歴記憶装置４１０の残留応力を算出する。この場合、Ｘ線回析装置が測定装置２００の例に該当する。また、測定値取得部３１０が、結晶格子距離の測定値から残留応力を算出するようにしてもよい。
なお、温度到達履歴記憶装置４１０の初期の残留応力（温度変化による変形前の残留応力）をＸ線回析等により測定しておき、変形後（温度変化し、元の温度に戻った後）の残留応力との差（変化分）を求めるようにしてもよい。これにより最高到達温度を、より正確に求めることができる。
【００４５】
なお、測定装置２００が、又は、ユーザが測定装置２００を用いて、複数の残留応力指標を測定するようにしてもよい。例えば、上述した残留変形と残留応力とを測定するようにしてもよい。なお、ここでいう測定には、測定値からの算出も含む。
例えば、測定装置２００が、又は、ユーザが測定装置２００を用いて残留変形と残留応力とを測定する。そして、温度推定装置３００が、いずれか有効桁数の多い方、又は、基準値で除算（規格化）して値が大きい方など、測定精度が高い方の測定値を用いて温度の推定値を求める。あるいは、両方の推定温度の平均を取るようにしてもよいし、測定精度の高い方に重みを付けた加重平均により、温度を推定するようにしてもよい。これにより、温度推定装置３００（推定値取得部３９１）は、より高精度に温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度を推定することができる。
【００４６】
あるいは、温度推定装置３００（推定値取得部３９１）が、複数の測定方法で得られた測定値に基づいて誤差の大きさを推定するようにしてもよい。例えば、温度推定装置３００は、複数の測定方法で得られた塑性変形指標測定値それぞれから、温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度推定値を求める。これら最高到達温度推定値が近い値であれば、推定精度が高いと期待できる。一方、得られた最高到達温度推定値のばらつきが大きい場合、推定精度が低いと考えられる。
【００４７】
あるいは、温度推定装置３００が、複数の測定方法で得られた塑性変形指標測定値それぞれから求めた温度の平均を取るようにしてもよい。あるいは、温度推定装置３００が、３つ以上の測定方法で得られた塑性変形指標測定値それぞれから求めた温度のうち、他と値が異なるものを除外するようにしてもよい。例えば、温度推定装置３００が、得られた温度のうち、他との差が所定範囲内のものだけを選んで平均、あるいは加重平均を取るようにしてもよい。これにより、誤差の影響を軽減させることができる。
【００４８】
温度推定装置３００は、温度到達履歴記憶装置１００の高温時の塑性変形に起因する状態量に基づいて、温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度を推定する。温度推定装置３００は、例えばコンピュータを用いて構成される。
測定値取得部３１０は、温度到達履歴記憶装置１００の高温時の塑性変形に起因する状態量の測定値を取得する。例えば、測定値取得部３１０はキーボード等の入力デバイスを備え、ユーザ（温度測定者）による測定値の入力操作を受けて、入力された測定値を示す測定データを生成する。あるいは、測定値取得部３１０が、例えばひずみゲージまたはＸ線式応力測定装置など、温度到達履歴記憶装置１００の高温時の塑性変形に起因する状態量を測定する測定装置と通信して、測定値を示す測定データを受信するようにしてもよい。
【００４９】
記憶部３８０は、温度推定装置３００が備える記憶デバイスを用いて構成され、各種データを記憶する。
対応関係情報記憶部３８１は、測定値取得部３１０が取得する測定値と、温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度との関係を示す対応関係情報を予め（温度推定の実施前に）記憶しておく。対応関係情報は、試験にて取得することができる。例えば、ユーザは、温度到達履歴記憶装置１００を複数生成しておき、複数の温度到達履歴記憶装置１００をそれぞれ異なる温度まで上昇させて常温に戻す。そして、ユーザは、温度到達履歴記憶装置１００の各々について塑性変形指標（例えば、線膨張係数大部材４１１の残留変形または線膨張係数大部材４１１内の残留応力）を測定し、上昇させた温度と塑性変形測定値とに基づいて対応関係情報を生成する。あるいは、ユーザが、温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度と塑性変形指標との関係を、例えば有限要素法など解析的手法にて求めるようにしてもよい。
【００５０】
対応関係情報記憶部３８１が対応関係情報を記憶するデータ形式として、いろいろな形式を用いることができる。例えば、対応関係情報記憶部３８１が、塑性変形指標測定値と温度推定値とを１対１に対応付けた対応表を記憶するようにしてもよい。あるいは、対応関係情報記憶部３８１が、塑性変形指標測定値を引数として温度推定値を出力する関数を記憶するようにしてもよい。
【００５１】
制御部３９０は、温度到達履歴記憶装置１００の各部を制御して各種処理を行う。制御部３９０は、例えば温度推定装置３００が備えるＣＰＵ（Central Processing Unit、中央処理装置）が記憶部３８０からプログラムを読み出して実行することで構成される。あるいは、制御部３９０が、制御部３９０専用のハードウェアにて構成されていてもよい。
推定値取得部３９１は、測定値取得部３１０が取得する測定値と、対応関係情報記憶部３８１が記憶している対応関係情報とに基づいて、温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度を推定する。具体的には、推定値取得部３９１は、測定値取得部３１０が取得する測定値に対応付けられている温度を対応関係情報から読み出し、読み出した温度を、温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度の推定値とする。
表示部３２０は、例えば液晶パネルなどの表示画面を備え、各種情報を表示する。特に、表示部３２０は、推定値取得部３９１が取得した温度推定値を表示する。
【００５２】
次に、図８及び図９を参照して、温度推定システム１を用いた温度推定の手順について説明する。
図８は、ユーザが温度推定システム１を用いて温度推定値を求める処理手順を示す説明図である。
同図の処理において、ユーザは、温度を測定（推定）したい箇所に温度到達履歴記憶装置１００を設置する（ステップＳ１０１）。例えば、ユーザは、燃焼プラントの燃焼室内に温度到達履歴記憶装置１００を設置する。
そして、温度推定システム１の温度が変化した後、常温に戻る（ステップＳ１０２）。例えば、ユーザは、ステップＳ１０１で温度到達履歴記憶装置１００を設置した燃焼プラントの運転を行い、運転終了後、温度到達履歴記憶装置１００が常温に戻ってから温度到達履歴記憶装置１００を取り出す。
【００５３】
そして、ユーザは、測定装置２００を用いて塑性変形指標の測定を行い、得られた塑性変形指標測定値を温度推定装置３００へ入力する（ステップＳ１０３）。
温度推定装置３００は、入力された塑性変形指標測定値を温度推定値に換算する（ステップＳ１０４）。
ステップＳ１０４の後、図８の処理を終了する。
【００５４】
図９は、温度推定装置３００が行う処理の手順を示すフローチャートである。温度推定装置３００は、図８のステップＳ１０４で図９の処理を行う。
図９の処理において、測定値取得部３１０は、塑性変形指標測定値を取得する（ステップＳ２０１）。
次に、推定値取得部３９１は、対応関係情報記憶部３８１が記憶している対応関係情報を参照して、ステップＳ２０１で得られた塑性変形指標測定値に対応付けられている温度を読み出す（ステップＳ２０２）。
そして、表示部３２０は、制御部３９０の制御に従って、ステップＳ２０２で得られた温度（温度推定値）を表示する（ステップＳ２０３）。
ステップＳ２０３の後、図９の処理を終了する。
【００５５】
なお、温度到達履歴記憶装置１００を用いて低温時の温度を推定することもできる。この場合、制約部１２０は、少なくとも熱膨張部１１０の収縮を制約する。制約部１２０が、熱膨張部１１０の膨張も制約するようにしてもよい。
低温時の温度を推定する場合、対応関係情報記憶部３８１は、測定値取得部３１０が取得する測定値と、温度到達履歴記憶装置１００の最低到達温度との関係を示す対応関係情報を予め記憶しておく。そして、推定値取得部３９１は、測定値取得部３１０が取得する測定値と、対応関係情報記憶部３８１が記憶している対応関係情報とに基づいて、温度到達履歴記憶装置１００の最低到達温度を推定する。具体的には、推定値取得部３９１は、測定値取得部３１０が取得する測定値に対応付けられている温度を対応関係情報から読み出し、読み出した温度を、温度到達履歴記憶装置１００の最低到達温度の推定値とする。
【００５６】
例えば温度到達履歴記憶装置４１０の場合、図２に示す常温の状態から温度が低下すると、線膨張係数大部材４１１の方が線膨張係数小部材４１２よりも大きく収縮して、図５の例のように線膨張係数大部材４１１の側に凹、線膨張係数小部材４１２の側に凸に湾曲する。この状態で線膨張係数大部材４１１内の応力が降伏点を超えて塑性変形が生じると、常温に戻った時に図４の例のように線膨張係数大部材４１１の側に凸、線膨張係数小部材４１２の側に凹に湾曲する。
この場合も常温に戻った状態で残留変形及び残留ひずみが生じており、上述した最高到達温度を求める場合と同様に、最低到達温度を求めることができる。
【００５７】
以上のように、温度到達履歴記憶装置１００は、熱膨張する熱膨張部１１０と、熱膨張部１１０の膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約する制約部１２０とを備える。そして、測定装置２００は、塑性変形指標（熱膨張部１１０が温度変化による膨張及び収縮のうち少なくともいずれかを制約されて生じた塑性変形に起因する状態量）を測定する。また、対応関係情報記憶部３８１は、塑性変形量と温度推定値との対応関係を示す対応関係情報を記憶する。そして、推定値取得部３９１は、測定装置２００が測定した塑性変形指標と、対応関係情報記憶部３８１が記憶する対応関係情報とに基づいて、熱膨張部１１０の最高到達温度の推定値または最低到達温度の推定値を取得する。
【００５８】
温度到達履歴記憶装置１００は、例えば温度到達履歴記憶装置４１０の線膨張係数大部材４１１及び線膨張係数小部材４１２のように、線膨張係数が異なる２つ以上の部材の組み合わせで構成することができる。具体的には、制約部１２０が、熱膨張部１１０を構成する第１部材よりも線膨張率が小さい第２部材を含んで構成され、第１部材（熱膨張部１１０）を２箇所以上で第２部材に結合する簡単な構成とすることができる。但し第２部材が第１部材の膨張又は収縮のうち少なくともいずれかを制約する方法は結合に限らない。後述するように、第１部材及び第２部材の一方に空間を設けて他方をはめ込むようにしてもよい。
また、温度到達履歴記憶装置４１０のように第１部材（線膨張係数大部材４１１）と第２部材（線膨張係数小部材４１２）とを接合する場合は、上述したテーパーピン４１３の他、リベットなどいろいろな結合部材を用いることができる。
【００５９】
また、第１部材及び第２部材として線膨張係数が異なるいろいろな部材を用いることができる。
図１０は、第１部材、第２部材それぞれに用いる材料に好ましい性質を示す説明図である。第１部材の材料及び第２部材の材料の組み合わせとして、温度到達履歴記憶装置１００の残留応力又は残留変形が大きくなる組み合わせが好ましい。
図１０に示すように、第１部材の材料は線膨張係数が大きいことが好ましく、第２部材の材料は線膨張係数が小さいことが好ましい。特に、第１部材と第２部材とで線膨張係数の差が大きいことが好ましい。
【００６０】
また、第１部材の材料は降伏点が小さいことが好ましく、第２部材の材料は降伏点が大きいことが好ましい。第１部材の材料の降伏点が小さいことで、塑性変形を生じ易くなる。また、第２部材があまり変形せずに第１部材の膨張及び収縮を制約し続けるために、第２部材の材料の降伏点は大きいことが好ましい。
また、第１部材の材料は延性が大きいことが好ましい。すなわち、第１部材が塑性変形した後も破壊されないことが求められる。一方、第２部材は弾性変形の範囲内で用いることが考えられるが、第２部材も塑性変形する可能性がある場合は、第２部材の材料も延性が大きいことが好ましい。
【００６１】
また、第１部材の材料、第２部材の材料共に、使用可能最高温度が大きいことが好ましい。ここでいう使用可能最高温度は、材料が変質しない最高温度である。ここでの変質には、化学的性質の変化だけでなく軟化など物理的性質の変化も含まれる。
なお、材料の切断等による加工ひずみを無視できない場合、部材の接合前に応力除去焼きなましを行うか、あるいは電解研磨により加工変質層を取り除くことで、加工ひずみを除去することができる。
【００６２】
高温域を測定可能な材料の組み合わせの第１の例として、第１部材の材料にニッケル合金を用い、第２部材の材料に炭化ケイ素（ＳｉＣ）を用いることができる。ニッケル合金として、具体的にはインコネル６００（インコネルは登録商標）を焼きなまして用いることができる。
インコネル６００の使用可能最大温度は１０５０℃、炭化ケイ素の使用可能最大温度は１６００℃とされている。これら２つのうち温度が低いほうの１０５０℃までの測定に、この組み合わせを用いることができる。
【００６３】
高温域を測定可能な材料の組み合わせの第２の例として、第１部材の材料にニッケル基単結晶超合金を用い、第２部材の材料に炭化ケイ素を用いることができる。ニッケル基単結晶超合金として、具体的にはＴＭＳ−２３８を用いることができる。
ＴＭＳ−２３８の使用可能最大温度は１１５０℃、炭化ケイ素の使用可能最大温度は１６００℃とされている。これら２つのうち温度が低いほうの１１５０℃までの測定に、この組み合わせを用いることができる。
【００６４】
高温域を測定可能な材料の組み合わせの第３の例として、第１部材の材料にＩｒ（イリジウム）基超合金を用い、第２部材の材料にサファイアガラスを用いることができる。
Ｉｒ基超合金の使用可能最大温度は１７００℃〜１８００℃、サファイアガラスの使用可能最大温度は１８５０℃とされている。これら２つのうち温度が低いほうの１７００℃〜１８００℃までの測定に、この組み合わせを用いることができる。
【００６５】
高温域を測定可能な材料の組み合わせの第４の例として、第１部材の材料にタンタル（を用い、第２部材の材料にタングステンを用いることができる。
タンタルはおよそ２０００℃まで安定したクリープ強度を持つとされており、およそ２０００℃までの測定に、この組み合わせを用いることができる。なお、タングステンの酸化を避けるため、この組み合わせを用いた温度到達履歴記憶装置１００を使用する場合、不活性ガス雰囲気中または真空中で使用する。
以上のように、温度到達履歴記憶装置１００では、温度推定に用いる部材として、より多様な部材を用いることができる。
【００６６】
また、温度到達履歴記憶装置１００の構成は、例えば２つの部材の２箇所をテーパーピン４１３で接合した温度到達履歴記憶装置４１０のように簡単な構成とすることができる。
また、温度推定システム１では、上述したようにいろいろな測定装置２００を用いていろいろな測定方法で塑性変形指標を測定することができる。例えばひずみゲージなど比較的安価な測定装置２００を用いることができる。また、上述したように、測定装置２００が、又は、ユーザが測定装置２００を用いて、複数の塑性変形指標を測定するようにしてもよい。
【００６７】
また、推定値取得部３９１は、測定値取得部３１０が取得した塑性変形指標測定値に対応付けられている温度を対応関係情報から読み出すという簡単な処理で温度到達履歴記憶装置１００の最高到達温度推定値を取得することができる。従って、推定値取得部３９１の負荷が軽くて済む。また、温度推定装置３００は高度な計算性能を必要としない。
【００６８】
また、温度到達履歴記憶装置１００の構造は、図２に示す温度到達履歴記憶装置４１０の構造以外にもいろいろな構造とすることができる。以下の実施形態では、温度到達履歴記憶装置１００の構造の例について説明する。温度到達履歴記憶装置１００に用いることができる材料、および、温度推定装置３００については、第１の実施形態で説明したのと同様である。また、ひずみゲージ、Ｘ線回析装置、または、レーザー干渉計など、またはこれらの組み合わせが測定装置２００の例に該当する点も、第１の実施形態で説明したのと同様である。
【００６９】
＜第２の実施形態＞
温度到達履歴記憶装置４１０のように２つの部材をテーパーピンで接合ずる場合、テーパーピンが部材からはみ出した部分を切削してもよい。
図１１は、本発明の第２の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４１０ｂは、線膨張係数大部材４１１と、線膨張係数小部材４１２と、２本のテーパーピン４１３ｂとを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４１０ｂは、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４１１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４１２と２本のテーパーピン４１３ｂとの組み合わせが制約部１２０の例に該当する。
なお、線膨張係数大部材４１１及び線膨張係数小部材４１２は第１の実施形態の場合と同様であり、同一の符号（４１１、４１２）を付して説明を省略する。
【００７０】
図１１は、温度変化前の温度到達履歴記憶装置４１０ｂをテーパーピン４１３ｂに沿って切断した場合の断面図の例を示している。同図ではテーパーピン４１３ｂが線膨張係数大部材４１１および線膨張係数小部材４１２からはみ出した部分（テーパーピンの長さが余った分）が切削されて、テーパーピン４１３ｂが線膨張係数大部材４１１及び線膨張係数小部材４１２からはみ出さずに収まっている。テーパーピン４１３ｂは第１の実施形態のテーパーピン４１３を切削したものである。
【００７１】
このように、テーパーピン４１３ｂがはみだしていないので、温度到達履歴記憶装置４１０ｂを図１１の向きに置いた場合に下面が平らである。この点で、温度到達履歴記憶装置４１０ｂを安定して置くことができ、また、温度到達履歴記憶装置４１０ｂを置いた場所を傷める可能性を低減させることができる。
温度到達履歴記憶装置４１０ｂにおける塑性変形指標の測定方法は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点も、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。また、残留変形と残留応力との両方を測定するとよい点も、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
【００７２】
＜第３の実施形態＞
図１２は、本発明の第３の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４２０は、線膨張係数大部材４２１と、線膨張係数小部材４２２と、２本のテーパーピン４１３とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４２０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４２１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４２２と２本のテーパーピン４１３との組み合わせが制約部１２０の例に該当する。
【００７３】
なお、テーパーピン４１３は第１の実施形態の場合と同様であり、同一の符号（４１３）を付して説明を省略する。図１２（Ａ）は、加熱前の温度到達履歴記憶装置４２０をテーパーピン４１３に沿って切断した場合の断面図の例を示している。また、図１２（Ｂ）は、高温から常温に戻った温度到達履歴記憶装置４２０をテーパーピン４１３に沿って切断した場合の断面図の例を示している。
【００７４】
ここで、線膨張係数大部材４２１の線膨張係数と線膨張係数小部材４２２の線膨張係数とを比較すると線膨張係数大部材４２１の方が大きい。一方、線膨張係数大部材４２１の大きさと線膨張係数小部材４２２の大きさとを比較すると線膨張係数小部材４２２の方が大きい。
線膨張係数小部材４２２が線膨張係数大部材４２１よりも十分大きいため、線膨張係数大部材４２１と接合されていることによる線膨張係数小部材４２２の変形は限定的であり、同図（Ｂ）のように高温から戻った後も湾曲変形（残留変形）は小さい（あまり変形しない）。
【００７５】
一方、線膨張係数大部材４２１は、温度が上昇するにつれて膨張しようとするが、テーパーピン４１３で線膨張係数小部材４２２と接合されているため膨張を制約されて塑性変形する。その後、温度が低下するにつれて線膨張係数大部材４２１は収縮しようとする。高温時に塑性変形しているため、高温から常温に戻った状態では、線膨張係数大部材４２１は元の状態（同図（Ａ）の状態）よりもさらに収縮しようとする。これに対して、線膨張係数大部材４２１は、テーパーピン４１３で線膨張係数小部材４２２と接合されているため収縮が制約され、線膨張係数大部材４２１の内部に引張残留応力（収縮しようとする応力）が発生する。
【００７６】
このように、温度到達履歴記憶装置４２０では湾曲変形（残留変形）は小さく、残留応力（弾性ひずみ）が大きくなる。特に、テーパーピン４１３を抜くと線膨張係数大部材４２１が収縮する。
なお、温度到達履歴記憶装置４２０が冷却された後常温に戻った場合、線膨張係数大部材４２１が冷却されて収縮しようとして塑性変形した後、常温に戻るにつれて膨張しようとすることで、線膨張係数大部材４２１の内部に圧縮残留応力（膨張しようとする応力）が発生する。
【００７７】
図１３は、温度到達履歴記憶装置４２０における残留応力測定位置の候補の例を示す説明図である。同図の点Ｐ１１は、線膨張係数大部材４２１の表面（線膨張係数小部材４２２と反対側の面）上の点、かつ、２本のテーパーピン４１３の間の点である。
点Ｐ１２は、線膨張係数大部材４２１の側面上の点、かつ、側面側から見て２本のテーパーピン４１３の間の点である。なお、図１３では線膨張係数大部材４２１、線膨張係数小部材４２２、及び、テーパーピン４１３の位置関係を示すために温度到達履歴記憶装置４２０の断面図を示しているが、点Ｐ１２は線膨張係数大部材４２１の断面上の点ではなく側面上の点である。
【００７８】
点Ｐ１３は、線膨張係数小部材４２２の側面上の点、かつ、側面側から見て２本のテーパーピン４１３の間の点である。点Ｐ１２の場合と同様、点Ｐ１３は線膨張係数小部材４２２の断面上の点ではなく側面上の点である。また、点Ｐ１３は、線膨張係数小部材４２２の上面（線膨張係数大部材４２１と接している面）に近い位置にあることが好ましい。
点Ｐ１４は、線膨張係数小部材４２２の底面（線膨張係数大部材４２１と反対側の面）上の点、かつ、２本のテーパーピン４１３の延長線の間の点である。
これら点Ｐ１１〜１４は、線膨張係数大部材４２１と線膨張係数小部材４２２とがテーパーピン４１３で接合されていることで温度変化時のひずみが生じ易い位置の候補である。
【００７９】
上述したように、温度変化後の温度到達履歴記憶装置４２０では、残留変形は小さくなり、残留応力が大きくなる。そこで、温度到達履歴記憶装置４２０では、塑性変形指標測定値として全ひずみ又は残留応力を測定することが考えられる。或いは、全ひずみ及び残留応力の両方を測定してもよい。
例えば、全ひずみを測定する場合、温度変化前（すなわち、熱履歴を受ける前）に点Ｐ１１〜Ｐ１４の全部又は一部にひずみゲージを貼り付けておき、温度変化前と温度変化が常温に戻ってからのひずみ差を測定する。ここでいう熱履歴とは、温度変化である。
【００８０】
あるいは、残留応力を測定する場合、点Ｐ１１〜Ｐ１４の全部又は一部をＸ線回析装置でＸ線回析して表面の結晶格子間距離を測定し、得られた距離測定値から残留応力を算出する。あるいは、残留応力を測定する場合、温度変化から常温に戻った後、点Ｐ１１〜Ｐ１４の全部又は一部にひずみゲージを貼り付けてテーパーピン４１３を外し、ひずみの変化量から残留応力を算出する。あるいは、テーパーピン４１３を外したときのひずみの変化量を塑性変形指標測定値として直接用いるようにしてもよい。
【００８１】
温度到達履歴記憶装置４２０では、部材の一方が大きいので、大きい方の部材（線膨張係数小部材４２２）に比較的脆い部材を用いることもできる。
また、線膨張係数小部材４２２として、温度推定対象の構造物そのものを用いることもできる。例えば、構造物の床面又は壁面などに、線膨張係数大部材４２１をテーパーピン４１３で貼り付けて温度到達履歴記憶装置４２０を構成するようにしてもよい。
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
【００８２】
＜第４の実施形態＞
図１４は、本発明の第４の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４３０は、線膨張係数大部材４３１と、線膨張係数小部材４３２と、２本のテーパーピン４１３とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４３０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４３１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４３２と２本のテーパーピン４１３との組み合わせが制約部１２０の例に該当する。
【００８３】
なお、テーパーピン４１３は第１の実施形態の場合と同様であり、同一の符号（４１３）を付して説明を省略する。図１４（Ａ）は、加熱前の温度到達履歴記憶装置４３０をテーパーピン４１３に沿って切断した場合の断面図の例を示している。また、図１４（Ｂ）は、高温から常温に戻った温度到達履歴記憶装置４３０をテーパーピン４１３に沿って切断した場合の断面図の例を示している。
【００８４】
ここで、線膨張係数大部材４３１の線膨張係数と線膨張係数小部材４３２の線膨張係数とを比較すると線膨張係数大部材４３１の方が大きい。また、線膨張係数大部材４３１の大きさと線膨張係数小部材４３２の大きさとを比較すると線膨張係数大部材４３１の方が大きい。
線膨張係数大部材４３１が線膨張係数小部材４３２よりも十分大きいため、線膨張係数小部材４３２と接合されていることによる線膨張係数大部材４３１の変形は限定的であり、同図（Ｂ）のように高温から戻った後も湾曲変形（残留変形）は小さい（あまり変形しない）。
【００８５】
一方、線膨張係数大部材４３１は、温度が上昇するにつれて膨張しようとし、テーパーピン４１３で接合されている線膨張係数小部材４３２に引張力を加える。また、線膨張係数大部材４３１は膨張を制約されて塑性変形する。
その後、温度が低下するにつれて線膨張係数大部材４３１は収縮しようとする。高温時に塑性変形しているため、高温から常温に戻った状態では、線膨張係数大部材４３１は元の状態（同図（Ａ）の状態）よりもさらに収縮しようとして、線膨張係数小部材４３２に圧縮力を加える。また、線膨張係数大部材４３１の内部には引張残留応力が生じる。
【００８６】
なお、温度到達履歴記憶装置４３０が冷却された後常温に戻った場合、線膨張係数大部材が冷却されて収縮しようとして塑性変形した後、常温に戻るにつれて膨張しようとすることで、線膨張係数大部材４３１の内部に圧縮残留応力が発生する。また、線膨張係数大部材４３１は、テーパーピン４１３で固定されている線膨張係数小部材４３２に引張力を加える。
【００８７】
温度到達履歴記憶装置４３０の場合も温度到達履歴記憶装置４２０の場合と同様、残留変形が小さく、残留応力が大きいため、塑性変形指標測定値として全ひずみ又は残留応力を測定することが考えられる。或いは、全ひずみ及び残留応力の両方を測定してもよい。
全ひずみの測定方法、残留応力の測定方法、測定位置の候補は、いずれも温度到達履歴記憶装置４２０の場合と同様である。また、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点も、温度到達履歴記憶装置４２０の場合と同様である。
【００８８】
温度到達履歴記憶装置４３０では、部材の一方が大きいので、大きい方の部材（線膨張係数大部材４３１）に比較的脆い部材を用いることができる。
また、線膨張係数大部材４３１として、温度推定対象の構造物そのものを用いることもできる。例えば、構造物の床面又は壁面などに、線膨張係数小部材４３２をテーパーピン４１３で貼り付けて温度到達履歴記憶装置４３０を構成するようにしてもよい。
【００８９】
＜第５の実施形態＞
図１５は、本発明の第５の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４４０は、線膨張係数大部材４４１と、線膨張係数小部材４４２とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４４０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４４１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４４２が制約部１２０の例に該当する。
【００９０】
図１５は、加熱前の温度到達履歴記憶装置４４０を上から見た概略外形を示している。線膨張係数小部材４４２に線膨張係数大部材４４１を収納する収納空間（穴）が設けられており、線膨張係数大部材４４１が穴の長さに合わせた長さで当該穴にはめ込まれている。なお、線膨張係数大部材４４１を線膨張係数小部材４４２の穴にはめ込みにくい場合は、線膨張係数大部材４４１を少し冷やすことで線膨張係数大部材を少し小さくしてからはめ込むようにしてもよい。
【００９１】
図１６は、加熱され常温に戻った後の温度到達履歴記憶装置４４０の概略外形図である。線膨張係数大部材４４１は、温度上昇時に膨張しようとして線膨張係数小部材４４２による制約を受けて塑性変形するが、温度低下時は線膨張係数小部材４４２による制約を受けずに収縮する。そのため、図１６に示すように、線膨張係数大部材４４１の長さ方向にも、線膨張係数小部材４４２との間に隙間が出来ている。
【００９２】
図１６の状態では、温度到達履歴記憶装置４４０に残留応力（弾性ひずみ）は生じていない。一方、残留変形（図１５の形状からの変形）が生じている。
なお、最低到達温度を推定する場合は、線膨張係数大部材４４１と線膨張係数小部材４４２とを逆の構成にする。すなわち、線膨張係数大部材４４１に穴を開け、その穴の中に線膨張係数小部材４４２をはめ込む。
【００９３】
図１７は、温度到達履歴記憶装置４４０における塑性変形指標の測定位置の例を示す説明図である。
塑性変形指標として線膨張係数大部材４４１の残留変形を測定する場合、線膨張係数大部材４４１の長さ、幅、厚みのうち最も変化の大きい部位の変位量を測定する。図１７の例では、線膨張係数大部材４４１は長さ方向に最も大きく変化しており、加熱前と加熱され常温に戻った後との長さｌの変位量を測定することが考えられる。線膨張係数大部材４４１の長さ、幅、厚みのいずれかを測る場合、測定装置２００としてレーザー変位計又はマイクロメータ等を用いることができる。
【００９４】
また、塑性変形指標として線膨張係数大部材４４１の全ひずみを測定する場合、加熱前にひずみゲージ２０１を線膨張係数大部材４４１に貼付し、加熱され常温に戻った後とのひずみ差を測定する。ひずみゲージ２０１の貼付位置及び向きは、線膨張係数大部材４４１の長さ、幅、厚みのうち最も変位の大きい部位のひずみを測る位置及び向きとすることが考えられる。図１７の例では長さ方向の変位が最も大きいため、ひずみゲージ２０１を、線膨張係数大部材４４１の長さ方向のひずみを測定する位置及び向きに貼付している。
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置４４０によれば、線膨張係数小部材４４２に格納領域（穴）を設けて線膨張係数大部材４４１をはめ込むという比較的簡単な構成で温度到達履歴記憶装置４４０を生成して温度推定に用いることができる。
【００９５】
＜第６の実施形態＞
図１８は、本発明の第６の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４５０は、線膨張係数大部材４５１と、線膨張係数小部材４５４とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４５０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４５１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４５４が制約部１２０の例に該当する。
図１８は、加熱前の温度到達履歴記憶装置４５０を上から見た概略外形を示している。線膨張係数小部材４５４に線膨張係数大部材４５１を収納する収納空間（穴）４５５が設けられており、線膨張係数大部材４５１が当該穴に収納されている（はめ込まれている）。
【００９６】
図１９は、線膨張係数大部材４５１の構成を示す説明図である。同図に示すように、線膨張係数大部材４５１は、線膨張係数大部材本体４５２と、つば部４５３とを有する。線膨張係数大部材本体４５２は、第１方向（矢印Ｂ１１の方向）に延びている。つば部４５３は、線膨張係数大部材本体４５２における第１方向の両端（第１端部Ｐ２１及び第２端部Ｐ２２）に設けられて対をなし、両端の各々から第１方向に交差する第２方向（矢印Ｂ１２の方向）に伸びている。
また、つば部４５３には、対をなすつば部４５３の向かい合う面である内側面Ｆ１１と、内側面Ｆ１１に対して反対側の面である外側面Ｆ１２とが設けられている。
【００９７】
図２０は、線膨張係数小部材４５４の構成を示す説明図である。同図に示すように、線膨張係数小部材４５４の収納空間４５５は、線膨張係数大部材本体４５２を収納する本体収納空間４５６と、つば部４５３を収納するつば部収納空間４５７とを有している。
また、線膨張係数小部材４５４の面で、つば部収納空間４５７を形成する面のうち、内側面Ｆ１１と対向するいずれの面Ｆ２１も内側面Ｆ１１と接している。また、つば部収納空間４５７を形成する面のうち、外側面Ｆ１２と対向するいずれの面Ｆ２２も外側面Ｆ１２と接している。
【００９８】
このように、線膨張係数大部材４５１が膨張する場合、線膨張係数大部材４５１が収縮する場合のいずれも、つば部収納空間４５７の面（Ｆ２１、Ｆ２２）がつば部４５３の面（Ｆ１１、Ｆ１２）と接して膨張及び収縮を制約する。
これにより、温度到達履歴記憶装置４５０が加熱された後、常温に戻ったときに、線膨張係数大部材４５１には残留応力（弾性ひずみ）が発生し、また、残留変形を伴っている。
【００９９】
図２１は、温度到達履歴記憶装置４５０における残留応力の測定位置の例を示す説明図である。
同図に示す例では、線膨張係数大部材４５１、線膨張係数小部材４５４のそれぞれにひずみゲージ２０１を２つずつ貼り付け、線膨張係数大部材４５１に貼り付けたひずみゲージとひずみゲージとの間の線Ｌ１１の位置で線膨張係数大部材を切断する。そして、切断前後でのひずみの変化量（ひずみ差）から各位置での残留応力を算出する。
【０１００】
あるいは、Ｘ線回析により残留応力を測定するようにしてもよい。具体的には、Ｘ線回析により線膨張係数大部材４５１の表面の結晶格子間距離を測定し、得られた距離に基づいて残留応力を算出する。同様に、線膨張係数小部材４５４についても残留応力を算出するようにしてもよい。また、線膨張係数大部材４５１、線膨張係数小部材４５４のいずれも、複数の箇所の残留応力を算出するようにしてもよい。
【０１０１】
なお、線膨張係数大部材４５１、線膨張係数小部材４５４のいずれも、比較的複雑な形状をしているため、加工時に加工ひずみが生じることが考えられる。加工ひずみが生じた場合、線膨張係数大部材を線膨張係数小部材にはめ込む前に応力除去焼きなましを行うか、あるいは電解研磨により加工変質層を取り除くことで、加工ひずみを除去できる。
なお、温度到達履歴記憶装置４５０では、線膨張係数大部材４５１が、膨張及び収縮のいずれも制約されるので、最高到達温度、最低到達温度のいずれの推定にも温度到達履歴記憶装置４５０を用いることができる。
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置４５０によれば、最高到達温度、最低到達温度のいずれも推定可能である。
【０１０２】
＜第７の実施形態＞
図２２は、本発明の第７の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４６０は、線膨張係数大部材４６１と、線膨張係数小部材４６２とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４６０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４６１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４６２が制約部１２０の例に該当する。温度到達履歴記憶装置４６０を用いて最高到達温度の推定が可能である。
図２２は、加熱前の温度到達履歴記憶装置４６０の概略外形を示している。
【０１０３】
図２３は、線膨張係数小部材４６２の外形の概略を示す説明図である。同図に示すように、線膨張係数小部材４６２に線膨張係数大部材４６１を収納する収納空間４６３（穴）が設けられており、線膨張係数大部材４６１が当該穴に収納されている（はめ込まれている）。収納空間４６３は、線膨張係数大部材４６１と同じ形状および同じ大きさで設けられている。従って、収納空間４６３に線膨張係数大部材４６１をはめ込むと、ほぼ隙間なく入り、線膨張係数大部材４６１の上面以外の面全体が線膨張係数小部材４６２と接している。また、線膨張係数大部材４６１の上面が線膨張係数小部材４６２の上面と一致する。
【０１０４】
図２４は、高温時の温度到達履歴記憶装置４６０の外形の概略を示す説明図である。温度が上がると線膨張係数大部材４６１が膨張しようとするが、線膨張係数小部材４６２の収納空間４６３の面に制約されて塑性変形し、図２４に示すように上方に膨張する。
【０１０５】
図２５は、高温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置４６０の外形の概略を示す説明図である。温度が低下するにつれて線膨張係数大部材４６１が収縮し、線膨張係数大部材４６１と収納空間４６３との間に隙間ができる。一方、上方へ膨張した線膨張係数大部材は完全には戻らず、線膨張係数大部材４６１の上面が線膨張係数小部材４６２の上面よりも上になっている。すなわち、線膨張係数大部材４６１が線膨張係数小部材４６２からはみ出している。
【０１０６】
図２６は、温度到達履歴記憶装置４６０における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
線膨張係数大部材４６１の残留変形を測定する場合、線膨張係数大部材４６１と線膨張係数小部材４６２との間に生じた隙間の大きさ（幅）ｇ１を測定するようにしてもよい。或いは、線膨張係数小部材４６２の上面に対する線膨張係数大部材４６１の上面の高さｈ１、すなわち線膨張係数小部材４６２から線膨張係数大部材４６１がはみ出した分の大きさを測定するようにしてもよい。これらの測定には、レーザー変位計又はマイクロメータを用いることができる。
【０１０７】
一方、線膨張係数大部材４６１の全ひずみを測定する場合、熱履歴を受ける前に、例えば線膨張係数大部材４６１の上面にひずみゲージ２０１を貼り付けておく。そして、熱履歴を受け常温に戻った後で熱履歴を受ける前とのひずみ差を測定する。
なお、線膨張係数大部材４６１又は線膨張係数小部材４６２に加工ひずみが生じた場合、線膨張係数大部材４６１を収納空間４６３に収納する前に応力除去焼きなましを行うか、あるいは電解研磨により加工変質層を取り除くことで、加工ひずみを除去することができる。
【０１０８】
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置４６０によれば、線膨張係数小部材４６２に格納領域（穴）を設けて線膨張係数大部材４６１をはめ込むという比較的簡単な構成で温度到達履歴記憶装置４６０を生成して温度推定に用いることができる。
【０１０９】
＜第８の実施形態＞
図２７は、本発明の第８の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４７０は、線膨張係数大部材４７１と、線膨張係数小部材４７３とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４７０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４７１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４７３が制約部１２０の例に該当する。温度到達履歴記憶装置４７０を用いて最低到達温度の推定が可能である。
図２７は、温度低下前の温度到達履歴記憶装置４７０の概略外形を示している。
【０１１０】
図２８は、線膨張係数大部材４７１の外形の概略を示す説明図である。同図に示すように、線膨張係数大部材４７１に線膨張係数小部材４７３を収納する収納空間４７２（穴）が設けられており、線膨張係数小部材４７３が当該穴に収納されている（はめ込まれている）。収納空間４７２は、線膨張係数小部材４７３と同じ形状および同じ大きさで設けられている。従って、収納空間４７２に線膨張係数小部材４７３をはめ込むと、ほぼ隙間なく入り、また、線膨張係数小部材４７３の上面が線膨張係数大部材４７１の上面と一致する。
【０１１１】
図２９は、低温時の温度到達履歴記憶装置４７０の外形の概略を示す説明図である。温度が低下すると線膨張係数大部材４７１が収縮するが、線膨張係数小部材４７３からの制約を受けて塑性変形する。線膨張係数小部材４７３からの制約を受けない部分では線膨張係数大部材４７１が収縮し、線膨張係数大部材４７１の高さが低くなる。これにより、図２９の例のように線膨張係数小部材４７３の上面が、線膨張係数大部材４７１の上面よりも高くなる。
【０１１２】
図３０は、低温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置４７０の外形の概略を示す説明図である。温度が上昇するにつれて線膨張係数大部材４７１が膨張し、線膨張係数大部材４７１と線膨張係数小部材４７３との間に隙間ができる。また、収縮した線膨張係数大部材４７１は完全には戻らず、線膨張係数小部材４７３の上面が線膨張係数大部材４７１の上面よりも上になっている。すなわち、線膨張係数小部材４７３が線膨張係数大部材４７１からはみ出している。
【０１１３】
図３１は、温度到達履歴記憶装置４７０における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
線膨張係数大部材４７１の残留変形を測定する場合、線膨張係数大部材４７１と線膨張係数小部材４７３との間に生じた隙間の大きさ（幅）ｇ２を測定するようにしてもよい。或いは、線膨張係数大部材４７１の上面に対する線膨張係数小部材４７３の上面の高さｈ２、すなわち線膨張係数大部材４７１から線膨張係数小部材４７３がはみ出した分の大きさを測定するようにしてもよい。これらの測定には、レーザー変位計又はマイクロメータを用いることができる。
【０１１４】
一方、線膨張係数大部材４７１の全ひずみを測定する場合、熱履歴（本実施形態では低温への変化）を受ける前に、例えば線膨張係数大部材４７１の上面かつ収納空間４７２の近傍にひずみゲージ２０１を貼り付けておく。そして、熱履歴を受け常温に戻った後で熱履歴を受ける前とのひずみ差を測定する。
また、線膨張係数大部材４７１の残留応力を測定する場合、例えば線膨張係数大部材４７１の上面かつ収納空間４７２の近傍においてＸ線回析を行って残留応力を測定する。
【０１１５】
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置４７０によれば、線膨張係数大部材４７１に格納領域（穴）を設けて線膨張係数小部材４７３をはめ込むという比較的簡単な構成で温度到達履歴記憶装置４７０を生成して温度推定に用いることができる。
【０１１６】
＜第９の実施形態＞
図３２は、本発明の第９の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４８０は、線膨張係数大部材４８１と、線膨張係数小部材４８２とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４８０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４８１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４８２が制約部１２０の例に該当する。温度到達履歴記憶装置４８０を用いて最高到達温度の推定が可能である。
図３２は、加熱前の温度到達履歴記憶装置４８０の概略外形を示している。
【０１１７】
温度到達履歴記憶装置４８０でも温度到達履歴記憶装置４６０の場合と同様、線膨張係数小部材４８２に収納空間４８３が設けられており、収納空間４８３に線膨張係数大部材４８１が収納される。
一方、温度到達履歴記憶装置４６０の場合と異なり、温度到達履歴記憶装置４８０では、線膨張係数大部材４８１の上面は線膨張係数小部材４８２の上面よりも低くなっている。
【０１１８】
図３３は、高温時の温度到達履歴記憶装置４８０の外形の概略を示す説明図である。温度が上がると線膨張係数大部材４８１が膨張しようとするが、線膨張係数小部材４８２の収納空間４８３の面に制約されて塑性変形し、図３３に示すように上方に膨張する。但し、温度到達履歴記憶装置４６０の場合と異なり、温度到達履歴記憶装置４８０では、線膨張係数大部材４８１の膨張時でも線膨張係数大部材４８１の上面の高さは線膨張係数小部材４８２の高さを越えない。
【０１１９】
図３４は、高温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置４８０の外形の概略を示す説明図である。温度が低下するにつれて線膨張係数大部材４８１が収縮し、線膨張係数大部材４８１と線膨張係数小部材４８２との間に隙間ができる。
【０１２０】
図３５は、温度到達履歴記憶装置４８０における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
線膨張係数大部材４８１の残留変形を測定する場合、線膨張係数大部材４８１と線膨張係数小部材４８２との間に生じた隙間の大きさ（幅）ｇ３を測定するようにしてもよい。或いは、線膨張係数小部材４８２の上面に対する線膨張係数大部材４８１の上面の高さｈ３を測定するようにしてもよい。ここでは、線膨張係数小部材４８２の上面の高さの方が、線膨張係数大部材４８１の上面の高さよりも高い。これらの測定には、レーザー変位計又はマイクロメータを用いることができる。
【０１２１】
一方、線膨張係数大部材４８１の全ひずみを測定する場合、熱履歴を受ける前に、例えば線膨張係数大部材４８１の上面にひずみゲージ２０１を貼り付けておく。そして、熱履歴を受け常温に戻った後で熱履歴を受ける前とのひずみ差を測定する。
なお、線膨張係数大部材４８１又は線膨張係数小部材４８２に加工ひずみが生じた場合、線膨張係数大部材４８１を収納空間４８３に収納する前に応力除去焼きなましを行うか、あるいは電解研磨により加工変質層を取り除くことで、加工ひずみを除去することができる。
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置４８０によれば、線膨張係数小部材４８２に格納領域（穴）を設けて線膨張係数大部材４８１をはめ込むという比較的簡単な構成で温度到達履歴記憶装置４８０を生成して温度推定に用いることができる。
【０１２２】
＜第１０の実施形態＞
図３６は、本発明の第１０の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置４９０は、線膨張係数大部材４９１と、線膨張係数小部材４９３とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置４９０は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材４９１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材４９３が制約部１２０の例に該当する。温度到達履歴記憶装置４９０を用いて最低到達温度の推定が可能である。
図３６は、温度低下前の温度到達履歴記憶装置４９０の概略外形を示している。
【０１２３】
温度到達履歴記憶装置４９０でも温度到達履歴記憶装置４７０の場合と同様、線膨張係数大部材４９１に収納空間４９２が設けられており、収納空間４９２に線膨張係数小部材４９３が収納される。
一方、温度到達履歴記憶装置４７０の場合と異なり、温度到達履歴記憶装置４９０では、線膨張係数小部材４９３の上面は線膨張係数大部材４９１の上面よりも低くなっている。
【０１２４】
図３７は、低温時の温度到達履歴記憶装置４９０の外形の概略を示す説明図である。温度が低下すると線膨張係数大部材４９１が収縮するが、線膨張係数小部材４９３からの制約を受けて塑性変形する。線膨張係数小部材４９３からの制約を受けない部分では線膨張係数大部材４９１が収縮し、線膨張係数大部材４９１の高さが低くなる。但し、温度到達履歴記憶装置４７０の場合と異なり、温度到達履歴記憶装置４９０では、線膨張係数大部材４９１の収縮時でも線膨張係数小部材４９３の高さは線膨張係数大部材４９１の高さを越えない。
【０１２５】
図３８は、低温から常温に戻った場合の温度到達履歴記憶装置４９０の外形の概略を示す説明図である。温度が上昇するにつれて線膨張係数大部材４９１が膨張し、線膨張係数大部材４９１と線膨張係数小部材４９３との間に隙間ができる。
【０１２６】
図３９は、温度到達履歴記憶装置４９０における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
線膨張係数大部材４９１の残留変形を測定する場合、線膨張係数大部材４９１と線膨張係数小部材４９３との間に生じた隙間の大きさ（幅）ｇ４を測定するようにしてもよい。或いは、線膨張係数大部材４９１の上面に対する線膨張係数小部材４９３の上面の高さｈ４を測定するようにしてもよい。ここでは、線膨張係数大部材４９１の上面の高さの方が、線膨張係数小部材４９３の上面の高さよりも高い。これらの測定には、レーザー変位計又はマイクロメータを用いることができる。
【０１２７】
一方、線膨張係数大部材４９１の全ひずみを測定する場合、熱履歴（本実施形態では低温への変化）を受ける前に、例えば線膨張係数大部材４９１の上面かつ収納空間４９２の近傍にひずみゲージ２０１を貼り付けておく。そして、熱履歴を受け常温に戻った後で熱履歴を受ける前とのひずみ差を測定する。
また、線膨張係数大部材４９１の残留応力を測定する場合、例えば線膨張係数大部材４９１の上面かつ収納空間４９２の近傍においてＸ線回析を行って残留応力を測定する。
【０１２８】
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置４９０によれば、線膨張係数大部材４９１に格納領域（穴）を設けて線膨張係数小部材４９３をはめ込むという比較的簡単な構成で温度到達履歴記憶装置４９０を生成して温度推定に用いることができる。
【０１２９】
＜第１１の実施形態＞
本実施形態では、温度推定対象が回転している場合の例について説明する。温度推定対象が回転している場合、一般的な温度センサの設置が困難な可能性がある。
図４０は、本発明の第１１の実施形態における温度到達履歴記憶装置の例を示す説明図である。同図に示す温度到達履歴記憶装置５００は、線膨張係数大部材５０１と、線膨張係数小部材５０２とを含んで構成される。温度到達履歴記憶装置５００は、温度到達履歴記憶装置１００の例に該当する。線膨張係数大部材５０１が熱膨張部１１０の例に該当し、線膨張係数小部材５０２が制約部１２０の例に該当する。温度到達履歴記憶装置５００を用いて最高到達温度の推定が可能である。
【０１３０】
線膨張係数小部材５０２に収容空間５０３が設けられており、線膨張係数大部材５０１は収容空間５０３に収容されている。
また、温度到達履歴記憶装置５００は、回転軸を示す線Ｌ２１を中心に角速度ωで回転している。
【０１３１】
図４１は、温度到達履歴記憶装置５００の状態変化の例を示す説明図である。同図（Ａ）は温度が上昇する前の温度到達履歴記憶装置５００の状態の例を示す。この場合、線膨張係数大部材５０１は膨張する前の状態にある。
同図（Ｂ）は、温度が上昇したときの温度到達履歴記憶装置５００の状態の例を示す。この場合、線膨張係数大部材５０１が膨張している。線膨張係数大部材５０１は線膨張係数小部材５０２からの制約を受けて塑性変形し、上方に膨張している。
同図（Ｃ）は、温度が低下して常温に戻ったときの温度到達履歴記憶装置５００の状態の例を示す。この場合、線膨張係数大部材５０１が収縮し、線膨張係数大部材５０１と線膨張係数小部材５０２との間に隙間が生じている。
【０１３２】
図４２は、温度到達履歴記憶装置５００における塑性変形指標の測定箇所の例を示す説明図である。
線膨張係数大部材５０１の残留変形を測定する場合、線膨張係数大部材５０１と線膨張係数小部材５０２との間に生じた隙間の大きさ（幅）ｇ５を測定するようにしてもよい。或いは、線膨張係数大部材５０１の上面と線膨張係数小部材５０２の上面との高さｈ５、または、熱履歴を受ける前と受ける後での高さｈ５の変位を測定するようにしてもよい。これらの測定には、レーザー変位計又はマイクロメータを用いることができる。
【０１３３】
一方、線膨張係数大部材５０１の全ひずみを測定する場合、熱履歴を受ける前に、例えば線膨張係数大部材５０１の上面にひずみゲージ２０１を貼り付けておく。そして、熱履歴を受け常温に戻った後で熱履歴を受ける前とのひずみ差を測定する。
また、線膨張係数大部材５０１の残留応力を測定する場合、例えば図４２のように線膨張係数大部材５０１の上面および線膨張係数小部材５０２の上面にひずみゲージ２０１を添付し、線膨張係数大部材５０１を切断してひずみゲージ２０１で測定されるひずみの解放量から残留応力を算出するようにしてもよい。或いは、図４２に示すひずみゲージ２０１の貼付位置のように線膨張係数大部材５０１の上面や線膨張係数小部材５０２の上面においてＸ線回析により残留応力を測定するようにしてもよい。
【０１３４】
線膨張係数大部材５０１の上面かつ収納空間５０３の近傍においてＸ線回析を行って残留応力を測定する。
なお、複数の測定方法で塑性変形指標を測定してもよい点は、温度到達履歴記憶装置４１０の場合と同様である。
温度到達履歴記憶装置５００によれば、温度推定対象が回転している場合でも温度の推定を行うことができる。特に、上述したように、回転する温度推定対象に対しては、一般的な温度センサの設置が困難な可能性がある。これに対し、温度到達履歴記憶装置５００は、回転する温度推定対象に設置することができる。そして、温度到達履歴記憶装置５００によれば、回転による外力の影響を無視する、あるいは比較的容易に考慮することができ、この点で、温度を推定し易い。
【０１３５】
＜第１２の実施形態＞
本実施形態では、温度到達履歴記憶装置を用いて最高到達温度の推定を行った実験例について説明する。
図４３は、実験に用いた温度到達履歴記憶装置の装置Ａの外形を示す説明図である。装置Ａは、線膨張係数大部材５１１と線膨張係数小部材５１２とを含み、線膨張係数小部材５１２に設けられた収容空間（穴）に線膨張係数大部材５１１を収容して構成されている。
【０１３６】
線膨張係数小部材５１２は、縦、横ともに５０ミリメートル、厚さ０．９３ミリメートルのステンレス鋼（ＳＵＳ３０４）に、縦１２ミリメートル、横２５ミリメートルの穴を開けたものである。
線膨張係数大部材５１１は、縦１０ミリメートル横２５ミリメートル厚さ０．９３ミリメートルのアルミニウム合金（Ａ５０５２又はＡ６０６１）である。
なお、線膨張係数大部材５１１と線膨張係数小部材５１２とは接合されていない。
【０１３７】
図４４は、実験に用いた温度到達履歴記憶装置の装置Ｂの外形を示す説明図である。装置Ｂは、線膨張係数大部材５２１と線膨張係数小部材５２２とを含み、線膨張係数小部材５２２に設けられた収容空間（穴）に線膨張係数大部材５２１を収容して構成されている。
線膨張係数小部材５２２は、縦、横ともに５０ミリメートル、厚さ０．９３ミリメートルのステンレス鋼（ＳＵＳ３０４）に、縦１２ミリメートル、横２０ミリメートルの穴を開けたものである。
線膨張係数大部材５２１は、縦１０ミリメートル横２０ミリメートル厚さ０．９３ミリメートルのアルミニウム合金（Ａ５０５２又はＡ６０６１）である。
なお、線膨張係数大部材５２１と線膨張係数小部材５２２とは接合されていない。
【０１３８】
装置Ａ、装置Ｂ共に、まず、最高到達温度と変形（収縮量）との関係、及び、最高到達温度と全ひずみとの関係を示すマスターカーブを求めた。そして、得られたマスターカーブを用いて、同じ寸法の装置における変形、全ひずみを測定し、測定値とマスターカーブとから最高到達温度を推定した。そして、得られた推定値と実際に設定した温度とを比較して実験結果を評価した。
【０１３９】
まず、以下の手順でマスターカーブを取得した。
（１）  装置Ａ、装置Ｂそれぞれ、アルミニウム合金（線膨張係数大部材５１１又は５２１）のある状態で常温（２０℃）から１２０℃へ１００℃上昇させて、アルミニウム合金に収縮の塑性変形を生じさせる。
（２）  （１）の後、常温でのアルミニウム合金の寸法を測定する。このときの寸法を初期寸法とし、全ひずみは０とする。
（３）  装置を常温から約２００℃上昇させた後、常温時の寸法を測定する。
（４）  装置を常温から約３００℃上昇させた後、常温時の寸法を測定する。
（５）  装置を常温から約４００℃上昇させた後、常温時の寸法を測定する。
（６）  手順（３）〜（５）の結果から、最高到達温度と初期寸法からの変形量との関係、及び、最高到達温度と初期寸法からの全ひずみとの関係（マスターカーブ）を取得する。
【０１４０】
図４５は、データ収集時の最高到達温度とアルミニウム合金の長さとの関係を示す説明図である。同図では、装置Ａ、装置Ｂの各々について、最高到達温度毎に、当該最高到達温度まで上昇させて常温に戻した場合のアルミニウム合金（線膨張係数大部材５１１、５２１）の長さを示す。最高到達温度が高いほど、アルミニウム合金の収縮が進んでいる。
【０１４１】
図４６は、データ収集時の最高到達温度とアルミニウム合金の収縮量との関係を示す説明図である。同図では、図４５に示すように得られたアルミニウム合金の長さの、基準となる１２０℃の場合の長さとの差を示している。
図４７は、データ収集時の最高到達温度とアルミニウム合金の全ひずみとの関係を示す説明図である。同図では、装置Ａ、装置Ｂの各々について、最高到達温度毎に、当該最高到達温度まで上昇させて常温に戻した場合のアルミニウム合金（線膨張係数大部材５１１、５２１）の全ひずみを示している。
【０１４２】
図４８は、最高到達温度と収縮量との関係を示すグラフである。同図に示すグラフの横軸は最高到達温度を示し、縦軸は収縮量を示す。
図４８では、図４６で得られた関係をグラフに表している。線Ｌ２１は、装置Ａにおける最高到達温度と収縮量との関係を示し、線Ｌ２２は、装置Ｂにおける最高到達温度と収縮量との関係を示す。
線Ｌ２１を直線近似して、式（１）の関係を得た。
【０１４３】
【数１】
2017049079.tif 000003
【０１４４】
ここで、式（１）の変数ｘは最高到達温度を示し、変数ｙ１は収縮量を示す。式（１）を、装置Ａにおける最高到達温度と収縮量との関係のマスターカーブと称する。
また、線Ｌ２２を直線近似して、式（２）の関係を得た。
【０１４５】
【数２】
2017049079.tif 000004
【０１４６】
ここで、式（２）の変数ｘは最高到達温度を示し、変数ｙ１は収縮量を示す。式（２）を、装置Ｂにおける最高到達温度と収縮量との関係のマスターカーブと称する。
【０１４７】
図４９は、最高到達温度と全ひずみとの関係を示すグラフである。同図に示すグラフの横軸は最高到達温度を示し、縦軸は全ひずみを示す。
図４９では、図４７で得られた関係をグラフに表している。線Ｌ３１は、装置Ａにおける最高到達温度と全ひずみとの関係を示し、線Ｌ３２は、装置Ｂにおける最高到達温度と全ひずみとの関係を示す。
線Ｌ３１を直線近似して、式（３）の関係を得た。
【０１４８】
【数３】
2017049079.tif 000005
【０１４９】
ここで、式（３）の変数ｘは最高到達温度を示し、変数ｙ２は全ひずみを示す。式（３）を、装置Ａにおける最高到達温度と全ひずみとの関係のマスターカーブと称する。
また、線Ｌ３２を直線近似して、式（４）の関係を得た。
【０１５０】
【数４】
2017049079.tif 000006
【０１５１】
ここで、式（４）の変数ｘは最高到達温度を示し、変数ｙ２は全ひずみを示す。式（４）を、装置Ｂにおける最高到達温度と全ひずみとの関係のマスターカーブと称する。
これら式（１）〜式（４）で示されるマスターカーブは、図１の対応関係情報記憶部３８１が記憶する対応関係情報に相当する。
【０１５２】
図５０は、実験時の最高到達温度とアルミニウム合金の長さとの関係を示す説明図である。同図では、装置Ａ、装置Ｂの各々について、最高到達温度を２５４℃にした場合のアルミニウム合金（線膨張係数大部材５１１、５２１）の長さを示している。
図５１は、実験時の最高到達温度とアルミニウム合金の収縮量との関係を示す説明図である。図５０に示すように得られたアルミニウム合金の長さの、基準となる１２０℃の場合の長さとの差を示している。
図５２は、実験時の最高到達温度とアルミニウム合金の全ひずみとの関係を示す説明図である。同図では、装置Ａ、装置Ｂの各々について、最高到達温度を２５４℃にした場合のアルミニウム合金（線膨張係数大部材５１１、５２１）の全ひずみを示している。
【０１５３】
図５３は、最高到達温度の推定結果を示す説明図である。同図では、図５１のように得られたアルミニウム合金の収縮量にマスターカーブで対応している温度、及び、図５２のように得られたアルミニウム合金の全ひずみにマスターカーブで対応している温度を示している。
同図に示すように、最高到達点温度の推定値は、実際の最高到達温度を概ね示す値になっている。なお、アルミニウム合金の収縮量も全ひずみも、アルミニウム合金の変形量から求めているため、アルミニウム合金の収縮量から求めた推定温度は全ひずみから求めた推定温度と等しい値となっている。
【０１５４】
なお、温度推定装置３００の全部または一部の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することで各部の処理を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。
また、「コンピュータシステム」は、ＷＷＷシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境（あるいは表示環境）も含むものとする。
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであっても良い。
【０１５５】
以上、本発明の実施形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【符号の説明】
【０１５６】
１  温度推定システム
１００  温度到達履歴記憶装置
１１０  熱膨張部
１２０  制約部
２００  測定装置
２０１  ひずみゲージ
３００  温度推定装置
３１０  測定値取得部
３２０  表示部
３８０  記憶部
３８１  対応関係情報記憶部
３９０  制御部
３９１  推定値取得部
４１０、４２０、４３０、４４０、４５０、４６０、４７０、４８０、４９０、５００、５１０、５２０  温度到達履歴記憶装置
４１１、４２１、４３１、４４１、４５１、４６１、４７１、４８１、４９１、５０１、５１１、５２１  線膨張係数大部材
４１２、４２２、４３２、４４２、４５４、４６２、４７３、４８２、４９３、５０２、５１２、５２２  線膨張係数小部材
４１３  テーパーピン
【図１】
2017049079.tif 000007
【図２】
2017049079.tif 000008
【図３】
2017049079.tif 000009
【図４】
2017049079.tif 000010
【図５】
2017049079.tif 000011
【図６】
2017049079.tif 000012
【図７】
2017049079.tif 000013
【図８】
2017049079.tif 000014
【図９】
2017049079.tif 000015
【図１０】
2017049079.tif 000016
【図１１】
2017049079.tif 000017
【図１２】
2017049079.tif 000018
【図１３】
2017049079.tif 000019
【図１４】
2017049079.tif 000020
【図１５】
2017049079.tif 000021
【図１６】
2017049079.tif 000022
【図１７】
2017049079.tif 000023
【図１８】
2017049079.tif 000024
【図１９】
2017049079.tif 000025
【図２０】
2017049079.tif 000026
【図２１】
2017049079.tif 000027
【図２２】
2017049079.tif 000028
【図２３】
2017049079.tif 000029
【図２４】
2017049079.tif 000030
【図２５】
2017049079.tif 000031
【図２６】
2017049079.tif 000032
【図２７】
2017049079.tif 000033
【図２８】
2017049079.tif 000034
【図２９】
2017049079.tif 000035
【図３０】
2017049079.tif 000036
【図３１】
2017049079.tif 000037
【図３２】
2017049079.tif 000038
【図３３】
2017049079.tif 000039
【図３４】
2017049079.tif 000040
【図３５】
2017049079.tif 000041
【図３６】
2017049079.tif 000042
【図３７】
2017049079.tif 000043
【図３８】
2017049079.tif 000044
【図３９】
2017049079.tif 000045
【図４０】
2017049079.tif 000046
【図４１】
2017049079.tif 000047
【図４２】
2017049079.tif 000048
【図４３】
2017049079.tif 000049
【図４４】
2017049079.tif 000050
【図４５】
2017049079.tif 000051
【図４６】
2017049079.tif 000052
【図４７】
2017049079.tif 000053
【図４８】
2017049079.tif 000054
【図４９】
2017049079.tif 000055
【図５０】
2017049079.tif 000056
【図５１】
2017049079.tif 000057
【図５２】
2017049079.tif 000058
【図５３】
2017049079.tif 000059