(57)【要約】【課題】詳細な動作の検査を行いながら、効率的に個別の機器の検査を行うことを目的とする。【解決手段】検査治具８と検査対象９とに同じ制御部１，１１が搭載され、検査治具８の機能モジュール１０に対応する記憶装置４のアドレスにリード／ライト情報とデータを書き込み、相対制御ラダー１が記憶装置４を読み出して機能モジュール１０を搭載する検査対象９に検査動作を行わせることにより、詳細な動作の検査を行いながら、効率的に個別の機器の検査を行うことが可能となる。【選択図】図１
2017053779.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査を制御する制御装置と、
機能モジュールを備える検査対象に接続される被検査ＰＬＣと、
前記制御装置および前記被検査ＰＬＣと接続される検査治具と、
前記検査治具に搭載される治具用ＰＬＣと、
前記治具用ＰＬＣに内蔵される第１の記憶装置と、
前記治具用ＰＬＣに内蔵されて前記第１の記憶装置に記憶された情報を読み込んで動作する第１の相対制御ラダーと、
前記被検査ＰＬＣに内蔵される第２の記憶装置と、
前記被検査ＰＬＣに内蔵されて前記第２の記憶装置に記憶された情報を読み込んで動作し前記第１の相対制御ラダーと同一の第２の相対制御ラダーと、
前記制御装置に格納されて検査内容に応じたデータを備えて前記第１の記憶装置に送信される検査データと、
前記制御装置に格納されて前記検査対象の動作結果から前記検査対象の動作検査の良否判定を行う判定装置と
を有し、第１の記憶装置および第２の記憶装置は搭載される可能性がある全ての前記機能モジュールの動作命令がメモリ領域ごとにあらかじめ記憶され、前記検査データは検査時に動作する前記機能モジュールに対応する前記メモリ領域の情報、読み出し命令または書き込み命令であることを示すデータおよび前記書き込み命令である場合の書き込みデータを備え、第１の相対制御ラダーは前記検査データを受信することにより前記読み出し命令または書き込み命令であることを示すデータと前記書き込みデータを前記第１の記憶装置に書き込み、前記治具用ＰＬＣは書き込まれた前記読み出し命令または書き込み命令であることを示すデータと前記書き込みデータとに基づいて動作して、前記被検査ＰＬＣを制御して前記機能モジュールを動作させて前記動作結果を取得し、前記治具用ＰＬＣを経由して前記制御装置に前記動作結果を送信することを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記被検査ＰＬＣが前記検査対象に内蔵されることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
ＰＬＣを用いて機器の検査を行う検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
制御盤等の信号の入出力を行う機器は、機器の出荷時や保守点検の際に、動作の検査が行われる。例えば、制御盤は、マグネットスイッチ、インバーター、リレー、ヒューズ等のモジュールで構成され、ＰＬＣ（プログラマブル  ロジック  コントローラ）を備えるものもある。制御盤等の機器の検査に用いられる検査装置は、例えば、機器の一部である被検査ＰＬＣとデータのやり取りをする治具用ＰＬＣと、治具用ＰＬＣを制御することにより検査を行うコンピュータ等の制御装置とから構成される。制御装置は治具用ＰＬＣを制御し、治具用ＰＬＣに被検査ＰＬＣとの間でデータの送受信を行わせる。制御装置は、治具用ＰＬＣを介して、機器の一部の被検査ＰＬＣから入力された信号と期待される信号を比較することにより、機器の動作の良否判定を行って検査を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−１１４６８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の検査装置では、機器毎に被検査ＰＬＣおよび治具用ＰＬＣの動作プログラムであるラダーを個別に作成する必要があった。すなわち、治具用ＰＬＣは検査治具と被検査ＰＬＣ等を動作させ、被検査ＰＬＣは機器等を動作させるため、ＰＬＣ毎にそのモジュール構成が異なる。ラダーはモジュール構成に依存して作成する必要があるため、効率的に機器毎の検査を行うことができないという問題点があった。
【０００５】
また、機器毎にラダーを作成すると手間が大きいので、テスター等で端子間の導通検査をマニュアルで行うことにより、検査に代用する場合もあった。しかし、この場合は、詳細な動作の検査を行うことができる訳ではないという問題点があった。
【０００６】
また、機器の検査を適切に行うには、検査方法・対象を判断するために機器の図面を理解すること、検査に必要な制御装置に格納して動作させる検査プログラムを作成することが必要となる。しかし、検査データ作成者が、図面を理解する知識を有していても、プログラム作成の知識を有していない場合などがあり、この場合、検査データ作成者が検査プログラムを容易に作成できないという問題があった。
【０００７】
本発明は、詳細な動作の検査を行いながら、効率的に個別の機器の検査を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明の検査装置は、検査を制御する制御装置と、機能モジュールを備える検査対象に接続される被検査ＰＬＣと、前記制御装置および前記被検査ＰＬＣと接続される検査治具と、前記検査治具に搭載される治具用ＰＬＣと、前記治具用ＰＬＣに内蔵される第１の記憶装置と、前記治具用ＰＬＣに内蔵されて前記第１の記憶装置に記憶された情報を読み込んで動作する第１の制御部と、前記被検査ＰＬＣに内蔵される第２の記憶装置と、前記被検査ＰＬＣに内蔵されて前記第２の記憶装置に記憶された情報を読み込んで動作し前記第１の制御部と同一の第２の制御部と、前記制御装置に格納されて検査内容に応じたデータを備えて前記第１の記憶装置に送信される検査データと、前記制御装置に格納されて前記検査対象の動作結果から前記検査対象の動作検査の良否判定を行う判定装置とを有し、第１の記憶装置および第２の記憶装置は搭載される可能性がある全ての前記機能モジュールの動作命令がメモリ領域ごとにあらかじめ記憶され、前記検査データは検査時に動作する前記機能モジュールに対応する前記メモリ領域の情報、読み出し命令または書き込み命令であることを示すデータおよび前記書き込み命令である場合の書き込みデータを備え、第１の制御部は前記検査データを受信することにより前記読み出し命令または書き込み命令であることを示すデータと前記書き込みデータを前記第１の記憶装置に書き込み、前記治具用ＰＬＣは書き込まれた前記読み出し命令または書き込み命令であることを示すデータと前記書き込みデータとに基づいて動作して、前記被検査ＰＬＣを制御して前記機能モジュールを動作させて前記動作結果を取得し、前記治具用ＰＬＣを経由して前記制御装置に前記動作結果を送信することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
以上のように、検査治具と検査対象とに同じ制御部が搭載され、検査治具の機能モジュールに対応する記憶装置のアドレスにリード／ライト情報とデータを書き込み、制御部が記憶装置を読み出して機能モジュールを搭載する検査対象に検査動作を行わせることにより、詳細な動作の検査を行いながら、効率的に個別の機器の検査を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の検査装置の構成を説明する図
【図２】本発明の検査装置における記憶装置の構成を例示する図
【図３】本発明の検査装置と被検査対象の構成を例示する図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
ＰＬＣを用いて制御盤等の機器を検査する検査装置について、図１，図２を用いて説明する。
図１は本発明の検査装置の構成を説明する図、図２は本発明の検査装置における記憶装置の構成を例示する図である。
【００１２】
図１に示すように、検査対象９である機器は、リレーやカウンター等の機能モジュール１０に加え、被検査ＰＬＣ３を搭載する。このような機器を検査する検査装置６は、制御装置であるＰＣ（パーソナルコンピュータ）７と検査治具８とから構成される。被検査ＰＬＣ３は制御部１１と記憶装置５とを備える。制御部１１は、記憶装置５に記憶されるデータを読み込んで機能モジュール１０を動作させたり、機能モジュール１０の動作結果を入手して検査治具８に送信したりする。治具用ＰＬＣ２は、被検査ＰＬＣ３が備える制御部１１と同一の制御部１と記憶装置４とを備える。制御部１は、記憶装置４に記憶されるデータを読み込んで制御部１１の制御データを送信したり、制御部１１から動作結果を受信したりする。ＰＣ７は、検査データ１２を記憶装置４に書き込み、治具用ＰＬＣ２から動作結果を受信して判定装置１３で検査結果を判定する。検査データ１２は、記憶装置４に書き込まれるデータであり、このデータを制御部１が読み込んで制御データが決定される。なお、被検査ＰＬＣ３は、検査対象９に内蔵されていても良く、検査対象９の外部に接続される構成でも良い。
【００１３】
次に、図１，図２を用いて治具用ＰＬＣ２の記憶装置４の構成を説明する。記憶装置４は複数のメモリ領域１７を備え、各メモリ領域１７は命令コード１４，リードまたはライトを示すＲ／Ｗ命令１５およびライトデータ１６の書き込み領域を備える。メモリ領域１７は記憶装置４の一定のアドレス長ごとの領域であり、例えば命令コード１４が１６ｂｉｔ、Ｒ／Ｗ命令１５が１ｂｉｔ、ライトデータ１６が８ｂｉｔの場合、２５ｂｉｔのデータ量のメモリ領域１７となる。ここで、検査対象９は様々な機能モジュール１０を搭載可能である。本発明の検査装置６における記憶装置４は、検査対象９が搭載する可能性がある全ての機能モジュール１０に対する全ての命令があらかじめ格納されることが特徴である。そして、記憶装置４のＲ／Ｗ命令１５およびライトデータ１６は、“０”等の初期値が記憶されている。制御部１は、送信される検査データ１２に基づいて所定のメモリ領域１７のＲ／Ｗ命令１５およびライトデータ１６に所定の値を書き込む。図２の例では、例えば、メモリ領域１，２は機能モジュール１０であるカウンターに対する命令が書き込まれており、Ｒ／Ｗ命令１５およびライトデータ１６は初期値である“０”のままの状態を示す。また、メモリ領域３は機能モジュール１０であるリレーに対する命令が書き込まれており、Ｒ／Ｗ命令１５は書き込みを示す“１”がライトデータ１６は“１０１１００１１”が書き込まれている。そのため、メモリ領域１７に基づく命令は、リレーに“１０１１００１１”を書き込むというものとなる。
【００１４】
このような構成の検査装置６において、まず、ＰＣ７は、動作させる機能モジュール１０に対応する記憶装置４のメモリ領域１７の情報と、Ｒ／Ｗ命令１５およびライトデータ１６からなる検査データ１２を、治具用ＰＬＣ２に送信する。治具用ＰＬＣ２は、受信した検査データ１２に基づいて、記憶装置４の対応するメモリ領域１７にデータを書き込む。制御部１は、メモリ領域１７のデータを読み込むと、読み込んだデータから作成した制御データを制御部１１に送信する。制御部１１は制御データを受信して、記憶装置５を参照しながら対応する機能モジュール１０を動作させ、動作結果を記憶装置５に記憶する。また、制御部１１は動作結果を治具用ＰＬＣ２に送信し、治具用ＰＬＣ２は動作結果をＰＣ７の判定装置１３に送信する。判定装置１３は、検査データ１２に対応する期待値と動作結果を比較して、一致する場合は検査結果が良好であると判定し、一致しない場合は検査不良と判定する。なお、被検査ＰＬＣ３は、制御データに応じて動作しても良いが、記憶装置５を記憶装置４と同様の構成にし、制御データによってＲ／Ｗ命令１５およびライトデータ１６を更新し、制御部１１が記憶装置５を読み込んで動作するようにしても良い。
【００１５】
従来の検査装置では、治具用ＰＬＣ２や被検査ＰＬＣ３を動作させるためのラダーを、検査対象９が搭載する機能モジュール１０や被検査ＰＬＣ３に応じて作成する必要があり、効率的に個別の機器の検査を行うことができなかった。これに対して本発明の検査装置６は、治具用ＰＬＣ２と被検査ＰＬＣ３とに、同一の制御部１，１１が搭載され、制御部１，１１が検査データ１２により記憶装置４，５に書き込まれるデータに応じて治具用ＰＬＣ２および被検査ＰＬＣ３を動作させる構成とされ、記憶装置４，５に搭載されることが想定される全ての機能モジュール１０の命令が搭載され、必要なデータは検査データ１２によって書き込まれることにより、制御部１，１１が搭載されることが想定される全ての機能モジュール１０に対応する構成とできるため、搭載される機能モジュール１０に応じて機器毎にラダーを作成する必要がなくなり、詳細な動作の検査を行いながら、効率的に個別の機器の検査を行うことができる。
【００１６】
なお、上記説明では、被検査ＰＬＣ３は検査対象９に内蔵される構成を例に説明したが、検査対象９の外部に検査対象９と送受信可能に接続される構成であっても良い。また、被検査ＰＬＣ３はＰＣＬに限らず、検査対象９を動作させる検査基板であっても良い。
【００１７】
次に、図３を用いて、具体的な検査装置の構成例について説明する。
図３は本発明の検査装置と被検査対象の構成を例示する図である。
図３において、ＰＣ７の検査データ１２は、検査対象９のシーケンス（被検査ＰＬＣ３とロジック制御部１８により構成される）に基づき、検査者によって作成される。検査プログラム１９は、第１の通信２０を使って、検査治具８の第１の通信制御部２１に対して、検査治具８または検査対象９を制御するための検査データ１２を送信するプログラムである。検査治具８の第１の通信制御部２１は第１の通信２０を使って、検査治具８または検査対象９の検査結果であるステータスを入手するために検査データ１２を受信する。ＰＣ７は、受信した検査治具８または検査対象９のステータスにて合否判断を行う。第１の通信２０はＤｅｖｉｃｅＮｅｔ等の治具用ＰＬＣ２との通信が可能な通信規格である。
【００１８】
検査治具８は、治具用ＰＬＣ２，ロジック制御部２２および入出力部２３から構成される。治具用ＰＬＣ２は、第１の通信制御部２１，第２の通信制御部２４，制御部の一例である相対制御ラダー３４，ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタテリア２５およびスレーブエリア２６から構成される。ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタテリア２５およびスレーブエリア２６は図１の記憶装置２４に対応する。第１の通信制御部２１は、ＰＣ７からの命令に従って治具用ＰＬＣ２内のＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタテリア２５に対して読み書きを行う。第２の通信制御部２４は、事前に設定された情報に基づいて、治具用ＰＬＣ２や被検査ＰＬＣ３あるいは他のＤｅｖｉｃｅＮｅｔ機器に対して、そのスレーブエリア２６と治具用ＰＬＣ２内のＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５との間で読み書きを行う。相対制御ラダー３４は、スレーブエリア２６に記憶されるデータに基づいて機能モジュールを制御し、スレーブエリア２６に記憶されるデータを出力する。スレーブエリア２６は機能モジュールの情報または機能モジュールの動作結果が格納される。相対制御ラダー３４は後述の被検査ＰＬＣ３の相対制御ラダー３５と同一である。ロジック制御部２２は、治具用ＰＬＣ２からの出力データを直接入出力部２３に出力する。ロジック制御部２２は、治具用ＰＬＣ２からの出力でリレー等の機能ロジックを制御し、機能ロジックの接点出力を入出力部２３に出力する。ロジック制御部２２は、入出力部２３に入力されたデータを、直接治具用ＰＬＣ２に出力する。入出力部２３から検査対象９に送信されたデータでも機能ロジックは制御され、動作結果は入出力部２３に入力される。入出力部２３は、ロジック制御部２２から送信されるデータが入力され、ロジック制御部２２へ送信されるデータを出力する。第２の通信２７はＤｅｖｉｃｅＮｅｔ等の治具用ＰＬＣ２と被検査ＰＬＣ３との通信が可能な通信規格である。
【００１９】
被検査対象９は、機能モジュール（図示せず）と共に、被検査ＰＬＣ３，ロジック制御部１８および入出力部２８から構成される。被検査ＰＬＣは、第３の通信制御部２９，第４の通信制御部３０，相対制御ラダー３５およびスレーブエリア３１を備える。相対制御ラダー３５は治具用ＰＬＣ２の相対制御ラダー３４と同一である。スレーブエリア３１は図１の記憶装置２５に相当する。第３の通信制御部２９は、被検査ＰＬＣ３のスレーブエリア３１の情報をＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタ２５とやり取りする。第４の通信制御部３０は、第３の通信３２で検査の開始時にＰＣ７から送信される相対制御ラダーのプログラムを受信する。相対制御ラダー３５は、スレーブエリア３１に記憶されるデータに基づいて機能モジュールを制御し、スレーブエリア３１に記憶されるデータを出力する。スレーブエリア３１は機能モジュールの情報または機能モジュールの動作結果が格納される。ロジック制御部１８は、被検査ＰＬＣ３から出力されるデータを入出力部２８に直接出力する。ロジック制御部１８は、被検査ＰＬＣ３の出力から任意の処理を実施後、その出力を入出力部２８に出力する。ロジック制御部１８は、入出力部２８からの入力を直接被検査ＰＬＣ３に出力する。ロジック制御部１８は、入出力部２８からの入力から任意の処理を実施後、その出力を直接被検査ＰＬＣ３の入力部２８に出力する。入出力部２８は、ロジック制御部１８から送信されるデータを入力し、ロジック制御部１８に送信されるデータを出力する。入出力ケーブル３３は、検査治具８の入出力部２３と検査対象９の入出力部２８との間でデータの送受信を行い、例えばＩ／Ｏケーブルである。
【００２０】
具体的な動作例について説明する。
まず、ＰＣ７は、治具用ＰＬＣ２のＩ／Ｏ出力を指示し、ＰＣ７はＲＳ２３２Ｃ経由で治具用ＰＬＣ２のアドレス２０００〜２０９９番地に検査データ１２を送信する。治具用ＰＬＣ２の第１の通信制御部２１は、事前に登録された設定情報により、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５のアドレス２０００〜２０９９番地のデータを治具用ＰＬＣ２の４０００〜４０９９番地に転送する。相対制御ラダー３４は、４０００〜４０９９番地の内容を参照し、対応する機能モジュールを制御する。機能モジュールとはＩ／Ｏやパルス発生器等がある。
【００２１】
例えば、ＰＣ７からの指示が、「治具用ＰＬＣ２の３ｂｉｔ目をＯＮさせる」であれば、２０００番地の３ｂｉｔ目をＯＮにするために、ＰＣ７は、治具用ＰＬＣ２のプロトコル（例えばＷｒｉｔｅ命令であれば、アドレス、Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ情報、データ［１６ｂｉｔ］）に従って、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５の２０００番地のデータを“＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊”（２進数）に書き換える命令を、ＲＳ２３２Ｃ経由で第１の通信制御部２１に伝える。この場合、第１の通信制御部２１は、治具用ＰＬＣ２の４０００番地のデータを“＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊”に書き換える。相対制御ラダー３４は、４０００番地の内容が“＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊”であるため、３ｂｉｔ目に対応するＩ／ＯがＯＮになるように出力する（＊は任意の値を意味する）。
【００２２】
次に、ＰＣ７は、検査対象９のＩ／Ｏ入力を確認する。治具用ＰＬＣ２の４０００番地の３ｂｉｔ目に対応するＩ／Ｏ出力が、入出力ケーブル２３により、被検査ＰＬＣ３の４１００番地の７ｂｉｔ目のＩ／Ｏ入力に接続されており、４１００番地の７ｂｉｔ目がＯＮする。治具用ＰＬＣ２の機能として、第３の通信制御部２９は被検査ＰＬＣ３の４１００〜４１９９番地の内容を治具用ＰＬＣ２の２３００〜２３９９番地に定期的に転送するので、ＰＣ７は治具用ＰＬＣ２の２３００番地の７ｂｉｔ目がＯＮしているかを確認することで、検査対象９のＩ／Ｏ入力を検査できる。例えば、ＰＣ７からの指示が、「被検査ＰＬＣ３の７ｂｉｔ目ＯＮ確認」であれば、ＰＣ７は、治具用ＰＬＣ２のプロトコル（例えばＲｅａｄ命令であれば、アドレス、Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ情報）に従って、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５の２３００番地のデータを読み込む命令を、ＲＳ２３２Ｃ経由で第１の通信制御部２１に伝える。命令を受けた第１の通信制御部２１は２３００番地の値をＲＳ２３２Ｃ経由でＰＣ７へ返答する。２３００番地の値は、すなわち検査ＰＬＣ３の４１００番地の値“＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊＊＊＊＊”である。
【００２３】
次に、ＰＣ７は検査対象９にＩ／Ｏ出力を指示する。
ＰＣ７はＲＳ２３２Ｃ経由で検査治具８のアドレス２２００〜２２９９番地に検査対象９の制御データを送信する。ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５は、事前に登録された設定情報により、検査治具８のアドレス２２００〜２２９９番地を検査対象９の４０００〜４０９９番地に転送する。相対制御ラダー３５は、４０００〜４０９９番地の内容を参照し、対応する機能モジュールを制御する。例えば、ＰＣ７からの指示が、「検査対象９の４ｂｉｔ目をＯＮさせる」であれば、２２００番地の４ｂｉｔ目をＯＮにするために、ＰＣ７は、検査治具８のプロトコル（例えばＷｒｉｔｅ命令であれば、アドレス、Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ情報、データ［１６ｂｉｔ］）に従って、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５の２２００番地のデータを“＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊＊”（２進数）に書き換える命令を、ＲＳ２３２Ｃ経由でＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５に伝える。この場合、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５は、検査対象９の４０００番地のデータを“＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊＊”に書き換える。相対制御ラダー３５は、４０００番地の内容が“＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊＊”であるため、４ｂｉｔ目に対応するＩ／ＯがＯＮになるように出力する。
【００２４】
次に、ＰＣ７は検査治具８のＩ／Ｏ入力を確認する。
検査対象９の４０００番地の４ｂｉｔ目に対応するＩ／Ｏ出力が、入出力ケーブル３３により、検査治具８の４１００番地の８ｂｉｔ目のＩ／Ｏ入力に接続されており、４１００番地の８ｂｉｔ目がＯＮする。治具用ＰＬＣ２自体の機能として、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５は検査治具８の４１００〜４１９９番地の内容を検査治具８の２１００〜２１９９番地に定期的に転送するので、ＰＣ７は検査治具８の２１００番地の８ｂｉｔ目がＯＮしているかを確認することで、検査対象９のＩ／Ｏ出力を検査できる。例えば、ＰＣ７からの指示が、「検査治具８の８ｂｉｔ目ＯＮ確認」であれば、ＰＣ７は、検査治具８のプロトコル（例えばＲｅａｄ命令であれば、アドレス、Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ情報）に従って、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５の２１００番地のデータを読み込む命令を、ＲＳ２３２Ｃ経由で治具用ＰＬＣ２に伝える。命令を受けたＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５は２１００番地の値をＲＳ２３２Ｃ経由でＰＣ７へ返答する。２１００番地の値は、すなわち被検査物の４１００番地の値“＊＊＊＊＊＊＊１＊＊＊＊＊＊＊＊”である。
【００２５】
このような構成の検査装置において、検査データ１２がＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタテリア２５またはスレーブエリア２６あるいはその両方に書き込まれ、相対制御ラダー３４が書き込まれた情報に基づいて被検査ＰＬＣ３を制御し、被検査ＰＬＣ３は機能ロジックを動作させる。ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタテリア２５またはスレーブエリア２６には、あらかじめ搭載されることが想定される全ての機能ロジックに対する命令が記憶されている。同時に、検査治具８の入出力部２３から検査対象９の入出力部２８に機能ロジックを動作させるデータが送信される。機能ロジックの動作結果は被検査ＰＬＣ３から治具用ＰＬＣ２に送信されると共に入出力部２８から入出力部２３に送信される。これらの動作結果はＰＣ７に送信され良否判定が行われる。
【００２６】
従来の検査装置では、治具用ＰＬＣ２や被検査ＰＬＣ３を動作させるためのラダーを、検査対象９が搭載する機能モジュール１０や被検査ＰＬＣ３に応じて作成する必要があり、効率的に個別の機器の検査を行うことができなかった。これに対して本発明の検査装置は、治具用ＰＬＣ２と被検査ＰＬＣ３とに、同一の相対制御ラダー３４，３５が搭載され、相対制御ラダー３４，３５が検査データ１２によりＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５，スレーブエリア２６，３１に書き込まれるデータに応じて治具用ＰＬＣ２および被検査ＰＬＣ３を動作させる構成とされ、ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア２５，スレーブエリア２６，３１に搭載されることが想定される全ての機能モジュールの命令が搭載され、必要なデータは検査データ１２によって書き込まれることにより、相対制御ラダー３４，３５が搭載されることが想定される全ての機能モジュール１０に対応する構成とできるため、搭載される機能モジュールに応じて機器毎にラダーを作成する必要がなくなり、詳細な動作の検査を行いながら、効率的に個別の機器の検査を行うことができる。
【符号の説明】
【００２７】
１    制御部
２    治具用ＰＬＣ
３    被検査ＰＬＣ
４    記憶装置
５    記憶装置
６    検査装置
７    ＰＣ
８    検査治具
９    検査対象
１０    機能モジュール
１１    制御部
１２    検査データ
１３    判定装置
１４    命令コード
１５    Ｒ／Ｗ命令
１６    ライトデータ
１７    メモリ領域
１８    ロジック制御部
１９    検査プログラム
２０    第１の通信
２１    第１の通信制御部
２２    ロジック制御部
２３    入出力部
２４    第２の通信制御部
２５    ＤｅｖｉｃｅＮｅｔマスタエリア
２６    スレーブエリア
２７    第２の通信
２８    入出力部
２９    第３の通信制御部
３０    第４の通信制御部
３１    スレーブエリア
３２    第３の通信
３３    入出力ケーブル
３４    相対制御ラダー
３５    相対制御ラダー
【図１】
2017053779.tif 000003
【図２】
2017053779.tif 000004
【図３】
2017053779.tif 000005