(57)【要約】【課題】電極の切断位置の決定と、電極の切断を容易に行うことができるカットサンプル作成具を提供すること。【解決手段】カットサンプル作成具４０は、正極電極１１から複数のカットサンプルを作成する。カットサンプル作成具４０は、正極電極１１に載置される透明又は半透明のプレート本体４１と、プレート本体４１を正極電極１１に位置合わせする正極用位置決め線４４と、正極用位置決め線４４によって位置合わせされた状態で、正極電極１１の切断位置に配置され、切断具５０を挿入可能なガイド溝４３と、を有する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属箔の少なくとも片面に活物質層を有する電極をカットして、一つの電極から複数のカットサンプルを作成するためのカットサンプル作成具であって、
前記電極に載置されるプレート本体と、
前記プレート本体を前記電極に位置合わせする位置合わせ手段と、
前記位置合わせ手段によって位置合わせされた状態で、前記電極の切断位置に配置され、切断具を挿入可能なガイド溝と、を有するカットサンプル作成具。
【請求項２】
前記電極は、外形サイズの異なる正極電極と負極電極を含み、前記位置合わせ手段は、前記正極電極用と前記負極電極用を備える請求項１に記載のカットサンプル作成具。
【請求項３】
前記電極は平面視矩形状であり、前記カットサンプルは、前記電極の各縁部を底とした台形状である請求項１又は請求項２に記載のカットサンプル作成具。
【請求項４】
前記電極の中央部を切除するためのガイドを備える請求項１〜請求項３のうちいずれか一項に記載のカットサンプル作成具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一つの電極から複数のカットサンプルを製造するためのカットサンプル作成具に関する。
【背景技術】
【０００２】
二次電池などの蓄電装置に用いられる電極は、金属箔の少なくとも片面に活物質層を有し、平面視矩形状である。電極の製造工程においては、例えば、塗工工程において帯状金属箔にスラリー状の活物質合剤を塗布した後、乾燥工程およびプレス工程を経て、帯状金属箔上に活物質の層が形成された電極中間体が形成される。そして、電極中間体を、目的とする形状に切断することにより電極が製造される。
【０００３】
電極を用いた二次電池の製造工程の中には、製造された電極の検査工程が含まれる。これは、電極中間体を切断するのに伴って発生するバリや金属箔の歪みが電極に存在しているか否かを検査するためである。例えば、特許文献１には、電極中間体を切断した際に発生したバリを検出するための装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１１４０１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、バリや金属箔の歪みは、電極中間体の切断を行う切断装置に起因して発生しやすく、例えば、切断を行う打ち抜き型の取り換え時に発生しやすい。このため、バリや金属箔の歪みを発生させる原因を究明するには、その打ち抜き型による切断面を検査する必要がある。検査数は多い方が好ましく、電極を複数に分割したカットサンプルを用いて行うのが好ましい。例えば、電極のカットサンプルの作成は、電極においてカットする切断位置を決定し、その切断位置に定規を位置合わせした後、その定規に沿ってカッターナイフ等の切断具を移動させて行われる。
【０００６】
本発明の目的は、電極の切断位置の決定と、電極の切断を容易に行うことができるカットサンプル作成具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記問題点を解決するためのカットサンプル作成具は、金属箔の少なくとも片面に活物質層を有する電極をカットして、一つの電極から複数のカットサンプルを作成するためのカットサンプル作成具であって、前記電極に載置されるプレート本体と、前記プレート本体を前記電極に位置合わせする位置合わせ手段と、前記位置合わせ手段によって位置合わせされた状態で、前記電極の切断位置に配置され、切断具を挿入可能なガイド溝と、を有することを要旨とする。
【０００８】
これによれば、電極にプレート本体を載置し、位置合わせ手段により、プレート本体を電極に位置合わせする。この位置合わせ状態では、電極からカットサンプルを作成するために電極を切断すべき位置にガイド溝が配置される。したがって、位置合わせ手段により、プレート本体を電極に位置合わせするだけで、電極の切断位置をガイド溝によって決定することができる。そして、プレート本体のガイド溝に沿って切断具を移動させるだけで、電極をカットサンプルの形状に切断することができる。
【０００９】
また、カットサンプル作成具について、前記電極は、外形サイズの異なる正極電極と負極電極を含み、前記位置合わせ手段は、前記正極電極用と前記負極電極用を備えている。
これによれば、１つのカットサンプル作成具で、正極電極のカットサンプルと、負極電極のカットサンプルを作成することができ、カットサンプル作成具の汎用性を高めることができる。
【００１０】
また、カットサンプル作成具について、前記電極は平面視矩形状であり、前記カットサンプルは、前記電極の各縁部を底とした台形状である。
これによれば、電極の各縁部を含むカットサンプルを作成することができ、作成されたカットサンプルを全て検査することで、電極の全ての縁部の検査を行うことができる。
【００１１】
また、カットサンプル作成具について、前記電極の中央部を切除するためのガイドを備えていてもよい。
これによれば、ガイドを利用して電極に貫通孔を形成すると、電極が枠状になる。この枠状となった電極からカットサンプルを作成することにより、カットサンプルのサイズを小さくすることができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、電極の切断位置の決定と、電極の切断を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】正極電極及び負極電極を示す斜視図。
【図２】カットサンプル作成具を示す平面図。
【図３】正極電極にカットサンプル作成具を載置した状態を示す平面図。
【図４】切断具によって正極電極を切断する状態を示す平面図。
【図５】（ａ）は正極電極のカットサンプルを示す平面図、（ｂ）は負極電極のカットサンプルを示す平面図。
【図６】カットサンプルの検査状態を示す斜視図。
【図７】別例のカットサンプル作成具を示す平面図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、カットサンプル作成具を具体化した一実施形態を図１〜図６にしたがって説明する。
二次電池は、図示しないが、外観が角型をなす角型電池であり、リチウムイオン電池である。二次電池は、ケース内に電極組立体を備える。電極組立体は、複数の正極電極と、複数の負極電極とが、両者の間をセパレータで絶縁した状態で交互に積層されて構成されている。
【００１５】
図１に示すように、正極電極１１は、矩形状の金属箔としての正極金属箔（本実施形態ではアルミニウム箔）１２と、その正極金属箔１２の両面に設けられた活物質層としての正極活物質層１３と、を有する。正極電極１１は、一対の長辺に沿う縁部のうち、一方の第１の縁部１２ａに沿って正極未塗工部１４を有する。正極未塗工部１４は、正極金属箔１２のうち、正極活物質層１３が設けられず、正極金属箔１２が露出した部位である。
【００１６】
正極電極１１は、正極未塗工部１４の一部に正極タブ１５を有し、正極タブ１５は、第１の縁部１２ａの一部から突出した形状である。正極電極１１において、正極タブ１５が設けられた第１の縁部１２ａの対辺に沿う縁部を第２の縁部１２ｂとし、第１の縁部１２ａと第２の縁部１２ｂを繋ぐ一対の短辺に沿う縁部のうち、一方を第３の縁部１２ｃとし、他方を第４の縁部１２ｄとする。
【００１７】
負極電極２１は、矩形状の金属箔としての負極金属箔（本実施形態では銅箔）２２と、その負極金属箔２２の両面に設けられた活物質層としての負極活物質層２３と、を有する。負極電極２１は、一対の長辺に沿う縁部のうち、一方の第１の縁部２２ａに沿って、負極活物質層２３が設けられず、負極金属箔２２が露出した負極未塗工部２４を有する。
【００１８】
負極電極２１は、負極未塗工部２４の一部に負極タブ２５を有し、負極タブ２５は、第１の縁部２２ａの一部から突出した形状である。負極電極２１において、負極タブ２５が設けられた第１の縁部２２ａの対辺に沿う縁部を第２の縁部２２ｂとし、第１の縁部２２ａと第２の縁部２２ｂを繋ぐ一対の短辺に沿う縁部のうち、一方を第３の縁部２２ｃとし、他方を第４の縁部２２ｄとする。
【００１９】
負極電極２１の隣り合う２辺の各辺の長さ（長手方向の長さ及び短手方向の長さ）は、正極電極１１の隣り合う２辺の各辺の長さ（長手方向の長さ及び短手方向の長さ）よりも長く設定されている。つまり、負極電極２１は、正極電極１１より平面視での外形サイズが大きく、負極活物質層２３が正極活物質層１３の全面を覆うことが可能な大きさに設定されている。
【００２０】
正極電極１１又は負極電極２１の製造は、まず、帯状金属箔の両面にスラリー状の活物質合剤を塗布し、その活物質合剤を乾燥させた後、活物質合剤の層をプレスし、活物質合剤の層の密度を向上させて電極中間体を得る。なお、活物質合剤としては、各極毎に活物質、導電剤、バインダ、及び溶媒を混練したものが用いられる。そして、電極中間体を所定の形状に打ち抜くことで正極電極１１又は負極電極２１が製造される。
【００２１】
正極電極１１又は負極電極２１を製造した後には、正極電極１１又は負極電極２１について、検査が行われる。正極電極１１又は負極電極２１の検査は、その製造途中の打ち抜き工程でのプレスに伴って発生するバリや、金属箔１２，２２の歪みが存在しているか否かを検査するために行う。バリや金属箔１２，２２の歪みを発生させる原因は、打ち抜きを行う打ち抜き型に原因がある場合が多く、その原因を究明するには打ち抜き型による正極電極１１又は負極電極２１の切断面を検査する必要があり、検査数は多い方が好ましい。よって、正極電極１１又は負極電極２１を、第１〜第４の縁部１２ａ〜１２ｄ，２２ａ〜２２ｄを個別に有するように分割し、その分割片であるカットサンプルの全てについて検査を行う。
【００２２】
正極電極１１又は負極電極２１のカットサンプル３０は、正極電極１１又は負極電極２１の第１〜第４の縁部１２ａ〜１２ｄ，２２ａ〜２２ｄが、台形の二つの底のうち、長い方の底となるように正極電極１１又は負極電極２１を台形状に切断したものである。
【００２３】
正極電極１１又は負極電極２１のカットサンプル３０は、図２に示すようなカットサンプル作成具４０を用いて作成される。カットサンプル作成具４０は、透明又は半透明の合成樹脂製のプレート本体４１を備える。本実施形態では、カットサンプル作成具４０はアクリル製である。
【００２４】
プレート本体４１は、平面視矩形枠状である。プレート本体４１において、一対の長辺に沿う縁部のうち、一方を第１プレート縁部４１ａとし、その対辺に沿う縁部を第２プレート縁部４１ｂとする。また、プレート本体４１において、一対の短辺に沿う縁部のうち、一方を第３プレート縁部４１ｃとし、他方を第４プレート縁部４１ｄとする。
【００２５】
第１プレート縁部４１ａと第２プレート縁部４１ｂの長さは、正極電極１１の第１の縁部１２ａと第２の縁部１２ｂ、及び負極電極２１の第１の縁部２２ａと第２の縁部２２ｂの長さより長い。また、第３プレート縁部４１ｃと第４プレート縁部４１ｄの長さは、正極電極１１の第３の縁部１２ｃと第４の縁部１２ｄ、及び負極電極２１の第３の縁部２２ｃと第４の縁部２２ｄの長さより長い。よって、プレート本体４１は、正極電極１１及び負極電極２１の全面を覆うことができる大きさである。
【００２６】
カットサンプル作成具４０は、プレート本体４１の中央部に平面視矩形状の貫通孔４２を有する。プレート本体４１は、貫通孔４２を囲む矩形状の縁部によって構成されたガイド４９を備える。プレート本体４１は、貫通孔４２に沿う一対の長辺のうち一方の長辺に沿う縁部に第１ガイド縁部４２ａを有し、第１ガイド縁部４２ａの対辺となる他方の長辺に沿う縁部に第２ガイド縁部４２ｂを有する。さらに、プレート本体４１は、貫通孔４２に沿う一対の短辺のうち一方の短辺に沿う縁部に第３ガイド縁部４２ｃを有し、第３ガイド縁部４２ｃの対辺となる他方の短辺に沿う縁部に第４ガイド縁部４２ｄを有する。
【００２７】
第１ガイド縁部４２ａ及び第２ガイド縁部４２ｂは、プレート本体４１の第１プレート縁部４１ａ及び第２プレート縁部４１ｂに対し平行であり、第３ガイド縁部４２ｃ及び第４ガイド縁部４２ｄは、プレート本体４１の第３プレート縁部４１ｃ及び第４プレート縁部４１ｄに対し平行である。
【００２８】
プレート本体４１において、第１ガイド縁部４２ａと第１プレート縁部４１ａとを最短距離で結ぶ直線Ｌ１の長さと、第２ガイド縁部４２ｂと第２プレート縁部４１ｂとを最短距離で結ぶ直線Ｌ１の長さは同じである。また、プレート本体４１において、第３ガイド縁部４２ｃと第３プレート縁部４１ｃとを最短距離で結ぶ直線Ｌ２の長さと、第４ガイド縁部４２ｄと第４プレート縁部４１ｄとを最短距離で結ぶ直線Ｌ２の長さは同じである。
【００２９】
カットサンプル作成具４０は、貫通孔４２の四つ角に連続するガイド溝４３を有する。四つのガイド溝４３は、それぞれプレート本体４１を厚み方向に貫通している。各ガイド溝４３は、貫通孔４２の各角部に最も近いプレート本体４１の角部とを繋ぐ直線上に存在する。各ガイド溝４３は、貫通孔４２に連通しており、直線状である。各ガイド溝４３には、カッターナイフといった切断具５０の刃５１を挿入可能である。
【００３０】
カットサンプル作成具４０は、正極用位置決め線４４を備える。正極用位置決め線４４は、正極電極１１の外形線を縁取りした矩形枠状であり、プレート本体４１の表面に表示されている。カットサンプル作成具４０を正極電極１１に載置し、プレート本体４１から透けて見える正極電極１１の外形線に正極用位置決め線４４を沿わせると、カットサンプル作成具４０を正極電極１１に位置合わせすることができる。この位置合わせ状態では、正極電極１１の長手方向及び短手方向の中央部にガイド４９が配置されるとともに、貫通孔４２の角部と正極電極１１の角部とを繋ぐ直線上にガイド溝４３が配置される。したがって、本実施形態では、プレート本体４１が透明又は半透明であることと、正極用位置決め線４４とが正極電極用の位置合わせ手段を構成している。
【００３１】
カットサンプル作成具４０は、負極用位置決め線４５を備える。負極用位置決め線４５は、負極電極２１の外形線を縁取りした矩形枠状であり、プレート本体４１の表面に表示されている。カットサンプル作成具４０を負極電極２１に載置し、プレート本体４１から透けて見える負極電極２１の外形線に負極用位置決め線４５を沿わせると、カットサンプル作成具４０を負極電極２１に位置合わせすることができる。この位置合わせ状態では、負極電極２１の長手方向及び短手方向の中央部にガイド４９が配置されるとともに、貫通孔４２の角部と負極電極２１の角部とを繋ぐ直線上にガイド溝４３が配置される。したがって、本実施形態では、プレート本体４１が透明又は半透明であることと、負極用位置決め線４５とが負極電極用の位置合わせ手段を構成している。
【００３２】
次に、カットサンプル作成具４０を用いたカットサンプル３０の作成方法について作用とともに説明する。
まず、図３に示すように、正極電極１１の上にカットサンプル作成具４０を載置し、正極用位置決め線４４を正極電極１１の外形線に沿わせ、カットサンプル作成具４０を位置合わせする。そして、ガイド４９の第１〜第４ガイド縁部４２ａ〜４２ｄに沿って切断具５０を移動させ、正極電極１１の中央部を切除すると、正極電極１１が四角枠状に切断される。
【００３３】
次に、図４に示すように、各ガイド溝４３に切断具５０の刃５１を挿入し、切断具５０をガイド溝４３に沿って移動させる。すると、刃５１によって正極電極１１が四つに分断される。
【００３４】
その結果、図５（ａ）に示すように、正極電極１１の第１の縁部１２ａを長い方の底とし、第１ガイド縁部４２ａに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０が作成される。また、正極電極１１の第２の縁部１２ｂを長い方の底とし、第２ガイド縁部４２ｂに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０が作成される。さらに、正極電極１１の第３の縁部１２ｃを長い方の底、第３ガイド縁部４２ｃに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０と、正極電極１１の第４の縁部１２ｄを長い方の底、第４ガイド縁部４２ｄに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０が作成される。
【００３５】
図示しないが、負極電極２１のカットサンプル３０を作成する場合、負極電極２１の上にカットサンプル作成具４０を載置し、負極用位置決め線４５を負極電極２１の外形線に沿わせ、カットサンプル作成具４０を位置合わせする。そして、ガイド４９の第１〜第４ガイド縁部４２ａ〜４２ｄに沿って切断具５０を移動させ、負極電極２１の中央部を切除すると、負極電極２１が四角枠状に切断される。次に、各ガイド溝４３に切断具５０の刃５１を挿入し、切断具５０をガイド溝４３に沿って移動させる。すると、刃５１によって負極電極２１が四つに分断される。
【００３６】
その結果、図５（ｂ）に示すように、負極電極２１の第１の縁部２２ａを長い方の底とし、第１ガイド縁部４２ａに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０が作成される。また、負極電極２１の第２の縁部２２ｂを長い方の底、第２ガイド縁部４２ｂに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０が作成される。さらに、負極電極２１の第３の縁部２２ｃを長い方の底、第３ガイド縁部４２ｃに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０と、負極電極２１の第４の縁部２２ｄを長い方の底、第４ガイド縁部４２ｄに沿って切断された縁部を短い方の底とする等脚台形状のカットサンプル３０が作成される。
【００３７】
そして、図６に示すように、カットサンプル３０は、サンプル挟持具６０によって挟持された状態で、ＣＣＤカメラ６１によって検査される。正極電極１１のカットサンプル３０は、第１〜第４の縁部１２ａ〜１２ｄをサンプル挟持具６０の上側に露出させた状態でサンプル挟持具６０に挟持され、負極電極２１のカットサンプル３０は、第１〜第４の縁部２２ａ〜２２ｄをサンプル挟持具６０の上側に露出させた状態でサンプル挟持具６０に挟持される。
【００３８】
上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）カットサンプル作成具４０は、透明又は半透明なプレート本体４１に正極用位置決め線４４及び負極用位置決め線４５を備える。そして、プレート本体４１から透けて見える正極電極１１の外形線に正極用位置決め線４４を沿わせる、又はプレート本体４１から透けて見える負極電極２１の外形線に負極用位置決め線４５を沿わせることで、カットサンプル作成具４０を、正極電極１１又は負極電極２１の切断位置に位置合わせすることができる。そして、カットサンプル作成具４０の位置合わせ状態では、ガイド溝４３は正極電極１１又は負極電極２１をカットサンプル３０に切断する切断位置に配置される。よって、ガイド溝４３に沿って切断具５０を移動させることで、正極電極１１又は負極電極２１からカットサンプル３０を作成することができる。したがって、カットサンプル作成具４０を用いることで、正極電極１１又は負極電極２１における切断位置の決定と、切断位置での切断を容易に行うことができる。
【００３９】
（２）カットサンプル作成具４０は、平面視で外形サイズの異なる正極電極１１と負極電極２１それぞれ用に位置決め線４４，４５を備える。このため、１つのカットサンプル作成具４０で、正極電極１１と負極電極２１の両方のカットサンプル３０の作成を簡単に行うことができる。
【００４０】
（３）カットサンプル作成具４０のプレート本体４１は透明又は半透明である。このため、正極電極１１又は負極電極２１の上にカットサンプル作成具４０を載置したとき、正極電極１１又は負極電極２１をカットサンプル作成具４０を介して視認することができる。よって、正極用位置決め線４４を正極電極１１の外形線に沿わせる作業、又は負極用位置決め線４５を負極電極２１の外形線に沿わせる作業が行いやすい。
【００４１】
（４）カットサンプル作成具４０を正極電極１１又は負極電極２１に位置合わせした状態では、ガイド溝４３は正極電極１１又は負極電極２１の角部から延びる直線状である。このため、ガイド溝４３に沿って正極電極１１又は負極電極２１を切断することで、第１〜第４の縁部１２ａ〜１２ｄ，２２ａ〜２２ｄを残したカットサンプル３０を作成することができる。よって、検査工程では、第１〜第４の縁部１２ａ〜１２ｄ，２２ａ〜２２ｄそれぞれについて縁部全体を検査することができる。
【００４２】
（５）カットサンプル作成具４０はガイド４９を備え、このガイド４９の第１〜第４ガイド縁部４２ａ〜４２ｄに沿って正極電極１１又は負極電極２１を切断することで、正極電極１１又は負極電極２１の中央部を切除して四角枠状とすることができる。そして、四角枠状となった正極電極１１又は負極電極２１をガイド溝４３に沿って切断することで、検査する第１〜第４の縁部１２ａ〜１２ｄ，２２ａ〜２２ｄを残しつつ、サンプル挟持具６０で挟持できるサイズにしたカットサンプル３０を作成することができる。
【００４３】
（６）正極用位置決め線４４は正極電極１１の外形線全体に沿う形状であり、負極用位置決め線４５は負極電極２１の外形線全体に沿う形状である。このため、正極電極１１に対する正極用位置決め線４４の位置合わせ、及び負極電極２１に対する負極用位置決め線４５の位置合わせを容易に行うことができる。
【００４４】
なお、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
○  実施形態では、カットサンプル作成具４０のプレート本体４１を透明又は半透明な合成樹脂製としたが、カットサンプル作成具７０のプレート本体７１を不透明な金属製としてもよい。
【００４５】
図７に示すように、カットサンプル作成具７０は、ガイド溝７３を備えるとともに、隣り合うガイド溝７３同士の間に確認窓７４を備える。確認窓７４は、プレート本体７１を厚み方向に貫通しており、平面視長孔状である。確認窓７４の長手方向は、ガイド縁部とプレート縁部を最短距離で結ぶ直線の延びる方向である。また、カットサンプル作成具７０は、貫通孔７２を囲む縁部にガイド７９を備える。
【００４６】
カットサンプル作成具７０は、プレート本体７１の表面に正極用位置決め線７５及び負極用位置決め線７６を備える。各位置決め線７５，７６は、各ガイド溝４３及び各確認窓７４を跨ぐ状態に設けられている。
【００４７】
カットサンプル作成具７０を用いて、例えば正極電極１１のカットサンプル３０を作成する場合、正極電極１１の上にカットサンプル作成具７０を載置する。次に、確認窓７４及びガイド溝７３から正極電極１１を視認しつつ、露出した正極電極１１の縁部を正極用位置決め線７５に沿わせる。すると、カットサンプル作成具７０が正極電極１１に位置合わせされる。よって、この形態では、正極用位置決め線７５、負極用位置決め線７６、及び確認窓７４が位置合わせ手段を構成している。その後、ガイド溝７３に沿って切断具５０を移動させて正極電極１１を切断する。
【００４８】
なお、負極電極２１も正極電極１１と同様に、負極用位置決め線７６を用いて位置合わせして切断する。
このように構成した場合、プレート本体７１が金属製であっても、確認窓７４から正極電極１１又は負極電極２１の位置を確認でき、正極用位置決め線７５又は負極用位置決め線７６に位置合わせすることができる。
【００４９】
また、プレート本体７１を貫通した４つのガイド溝７３と、４つの確認窓７４の合計８つの貫通部から、プレート本体７１の下の正極電極１１又は負極電極２１の位置を把握でき、正極用位置決め線７５又は負極用位置決め線７６への位置合わせがしやすい。
【００５０】
また、プレート本体７１が金属製であるため、ガイド溝７３に沿って切断具５０を移動させても、ガイド溝７３が削れにくい。
○  カットサンプル作成具４０，７０は、貫通孔４２，７２が無くてもよい。
【００５１】
○  実施形態では、正極電極１１又は負極電極２１の中央部を切除した後に、ガイド溝４３に沿って正極電極１１又は負極電極２１を切断してカットサンプル３０を作成したが、ガイド溝４３に沿って正極電極１１又は負極電極２１を切断したあと、正極電極１１又は負極電極２１の中央部を切除してカットサンプル３０を作成してもよい。
【００５２】
○  カットサンプル作成具４０，７０の貫通孔４２，７２の形状及びサイズは適宜変更してもよい。
○  カットサンプル３０の形状は台形状でなくてもよく、正極電極１１又は負極電極２１の各縁部が検査できれば、カットサンプル３０の形状は適宜変更してもよく、変更した場合はカットサンプル３０の形状に合わせてガイド溝４３，７３の位置を調節する。
【００５３】
○  正極電極１１は、正極金属箔１２の片面に正極活物質層１３を有する構造でもよいし、負極電極２１は、負極金属箔２２の片面に負極活物質層２３を有する構造でもよい。
○  カットサンプル作成具４０，７０が備える位置決め線は、正極電極１１用、又は負極電極２１用だけであってもよい。
【００５４】
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想について以下に追記する。
（イ）前記位置合わせ手段は、前記電極の外形線に沿う位置決め線であるカットサンプル作成具。
【００５５】
（ロ）前記位置決め線は、前記電極の外形線全体に沿った矩形状であるカットサンプル作成具。
（ハ）前記位置合わせ手段は、前記プレート本体を厚み方向に貫通した確認窓と、前記確認窓を跨ぐ位置決め線であるカットサンプル作成具。
【００５６】
（ニ）前記カットサンプルは、等脚台形状であるカットサンプル作成具。
【符号の説明】
【００５７】
１１…正極電極、１２…金属箔としての正極金属箔、１２ａ〜１２ｄ…第１〜第４の縁部１３…活物質層としての正極活物質層、２１…負極電極、２２…金属箔としての負極金属箔、２２ａ〜２２ｄ…第１〜第４の縁部、２３…活物質層としての負極活物質層、３０…カットサンプル、４０，７０…カットサンプル作成具、４１，７１…プレート本体、４３，７３…ガイド溝、４４…位置合わせ手段を構成する正極用位置決め線、４５…位置合わせ手段を構成する負極用位置決め線、４９，７９…ガイド、５０…切断具、７４…位置合わせ手段を構成する確認窓、７５…位置合わせ手段を構成する正極用位置決め線、７６…位置合わせ手段を構成する負極用位置決め線。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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