(57)【要約】【課題】汚れやゴミなどの異常箇所が校正板であるか読取ガラスであるかを特定可能にすることを目的とする。【解決手段】主走査方向に配列されたＣＣＤセンサ４０及びＣＣＤセンサ４０の読取面側に配置された読取ガラスを有する画像読取部に対し、校正板を主走査方向に沿って移動させる校正板駆動部５６と、校正板駆動部５６を制御して校正板を移動させつつＣＣＤセンサ４０によって校正板を読み取った読取結果から校正板の異常を検出すると共に、ＣＣＤセンサ４０の読取結果から読取ガラスの異常を検出する読取制御装置５０とを備える。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
主走査方向に配列された読取部及び前記読取部の読取面側に配置された読取ガラスを有する読取装置に対し、前記読取装置を校正するための校正板を主走査方向に沿って相対的に移動させる移動部と、
前記移動部を制御して前記校正板を移動させつつ前記読取部によって前記校正板を読み取った読取結果から前記校正板の異常を検出する第１検出部と、
前記読取結果から前記読取ガラスの異常を検出する第２検出部と、
を備えた画像読取装置。
【請求項２】
前記第１検出部は、前記校正板を複数回読み取った読取結果の各々における前記校正板の同位置に濃度異常がある場合を前記校正板の異常として検出する請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記第２検出部は、前記校正板を複数回読み取った読取結果の各々の前記読取装置の読取範囲における同位置に濃度異常がある場合を前記読取ガラスの異常として検出する請求項１又は請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記第１検出部によって前記校正板の異常が検出された場合に、前記校正板の移動速度を変更して移動させつつ前記読取部によって前記校正板を読み取った読取結果を用いて予め定めた校正を行う校正部を更に備えた請求項１〜３の何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記校正板の移動速度の変更は、移動速度を変更前より遅い速度に変更する請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記第１検出部によって前記校正板の異常が検出された場合に、前記読取部のサンプリング周期を変更して前記校正板を移動させつつ前記読取部によって前記校正板を読み取った読取結果を用いて予め定めた校正を行う校正部を更に備えた請求項１〜３の何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記読取部のサンプリング周期の変更は、変更前より短いサンプリング周期に変更する請求項６に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記読取ガラスを清掃する清掃部と、
前記第２検出部によって前記読取ガラスの異常が検出された場合に、前記清掃部を駆動する駆動部と、
を更に備えた請求項１〜７の何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項９】
コンピュータを、請求項１〜８の何れか１項に記載の画像読取装置を構成する各部として機能させるための画像読取プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置及び画像読取プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１では、原稿画像の読み取り前に基準白板を読み取って、読み取り時基準白板データを取得する。そして、平均化された副走査領域毎の変化量に基づいて読み取り時基準白板データの副走査方向の異常部分を判定して計算対象から除外してシェーディング補正を行っている。
【０００３】
特許文献２では、シェーディング補正板上のホームポジション以外の複数の変位位置において、ラインセンサにシェーディング補正板をそれぞれ読み取り、各変位位置毎及び各光電変換素子毎にシェーディング補正用データを算出する。また、シェーディング補正用データを基に各変位位置に亘って各光電変換素子毎の平均値を算出し、平均シェーディング補正用データを求める。そして、シェーディング補正板上のホームポジションにおいてシェーディング補正板を読み取り、平均シェーディング補正用データによりシェーディング補正を行って、この補正後データを基に、少なくともシェーディング補正板の欠陥位置を特定している。
【０００４】
特許文献３では、移動光学系の移動速度に応じてサンプリングタイミングの間隔を変化させることにより、ほぼ等間隔の距離でサンプリングを行うことが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１４３０４０号公報
【特許文献２】特開２００１−３１３７９３号公報
【特許文献３】特開２００４−１３５２１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、校正板を移動させつつ読み取る構成において、汚れやゴミなどの異常箇所が校正板であるか読取ガラスであるかを特定可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の画像読取装置は、主走査方向に配列された読取部及び前記読取部の読取面側に配置された読取ガラスを有する読取装置に対し、前記読取装置を校正するための校正板を主走査方向に沿って相対的に移動させる移動部と、前記移動部を制御して前記校正板を移動させつつ前記読取部によって前記校正板を読み取った読取結果から前記校正板の異常を検出する第１検出部と、前記読取結果から前記読取ガラスの異常を検出する第２検出部と、を備える。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記第１検出部は、前記校正板を複数回読み取った読取結果の各々における前記校正板の同位置に濃度異常がある場合を前記校正板の異常として検出する。
【０００９】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記第２検出部は、前記校正板を複数回読み取った読取結果の各々の前記読取装置の読取範囲における同位置に濃度異常がある場合を前記読取ガラスの異常として検出する。
【００１０】
請求項４に記載の発明は、請求項１〜３の何れか１項に記載の発明において、前記第１検出部によって前記校正板の異常が検出された場合に、前記校正板の移動速度を変更して移動させつつ前記読取部によって前記校正板を読み取った読取結果を用いて予め定めた校正を行う校正部を更に備える。
【００１１】
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の発明において、前記校正板の移動速度の変更は、移動速度を変更前より遅い速度に変更する。
【００１２】
請求項６に記載の発明は、請求項１〜３の何れか１項に記載の発明において、前記第１検出部によって前記校正板の異常が検出された場合に、前記読取部のサンプリング周期を変更して前記校正板を移動させつつ前記読取部によって前記校正板を読み取った読取結果を用いて予め定めた校正を行う校正部を更に備える。
【００１３】
請求項７に記載の発明は、請求項６に記載の発明において、前記読取部のサンプリング周期の変更は、変更前より短いサンプリング周期に変更する。
【００１４】
請求項８に記載の発明は、請求項１〜７の何れか１項に記載の発明において、前記読取ガラスを清掃する清掃部と、前記第２検出部によって前記読取ガラスの異常が検出された場合に、前記清掃部を駆動する駆動部と、を更に備える。
【００１５】
請求項９に記載の画像読取プログラムは、コンピュータを、請求項１〜８の何れか１項に記載の画像読取装置を構成する各部として機能させる。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１に記載の発明によれば、校正板を移動させつつ読み取る構成において、汚れやゴミなどの異常箇所が校正板であるか読取ガラスであるかを特定可能な画像読取装置を提供できる。
【００１７】
請求項２に記載の発明によれば、校正板を移動させつつ読み取る構成において、校正板の異常を検出できる。
【００１８】
請求項３に記載の発明によれば、校正板を移動させつつ読み取る構成において、読取ガラスの異常を検出できる。
【００１９】
請求項４に記載の発明によれば、校正板を移動させつつ読み取る構成において、校正板の異常が発生した場合に、校正板の移動速度を変更しないときよりも校正板の異常箇所の影響を抑制したシェーディング補正が可能となる。
【００２０】
請求項５に記載の発明によれば、本構成を有さない場合と比較して、シェーディング補正のために用いるサンプル数を増加させることができる。
【００２１】
請求項６に記載の発明によれば、校正板を移動させつつ読み取る構成において、読取部のサンプリング周期を変更しないときよりも校正板の異常が発生した場合に、校正板の異常箇所の影響を抑制したシェーディング補正が可能となる。
【００２２】
請求項７に記載の発明によれば、本構成を有さない場合と比較して、シェーディング補正のために用いるサンプル数を増加させることができる。
【００２３】
請求項８に記載の発明によれば、本構成を有さない場合と比較して、読取ガラスの異常を解消できる蓋然性が高まる。
【００２４】
請求項９に記載の画像読取プログラムによれば、校正板を移動させつつ読み取る構成において、汚れやゴミなどの異常箇所が校正板であるか読取ガラスであるかを特定可能な画像読取プログラムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本実施形態に係る画像形成装置の概略構成を示す図である。
【図２】本実施形態に係る画像形成装置の画像読取部の概略構成を示す図である。
【図３】本実施形態に係る画像形成装置の画像読取部の外観を示す斜視図である。
【図４】本実施形態に係る画像形成装置の画像読取部における制御系の構成を示すブロック図である。
【図５】（Ａ）は校正板を移動させつつ読み取りを行った場合の校正板の時間経過に対する移動軌跡を示す図であり、（Ｂ）はゴミや汚れなどの異常がある場合の校正板（白基準板）濃度プロファイルの一例を示す図である。
【図６】校正板の異常と読取ガラスの異常がある場合のＣＣＤセンサの読取結果の一例を示す図である。
【図７】（Ａ）は異常によりＣＣＤセンサの読取結果の必要なサンプル数が不足する例を示す図であり、（Ｂ）は校正板の移動速度を遅くしてサンプル数を増加させた例を示す図である。
【図８】（Ａ）は校正板に複数の異常があり読取り周期と異常の間隔が重なる例を示す図であり、（Ｂ）は（Ａ）の場合に校正板の移動速度を遅くした例を示す図であり、（Ｃ）は（Ａ）の場合に校正板の移動速度を速くした例を示す図である。
【図９】連続で読み取った校正板画像が、Ｘ方向で重なりがない例を示す図である。
【図１０】本実施形態に係る画像形成装置の読取制御装置で行われる処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１１】校正板の読み取りの最大分解能から規則的に間引いた例を示す図である。
【図１２】校正板の読み取りの最大分解能から不規則に間引いた例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本実施の形態について図面を参照しつつ説明する。図１は、本実施形態に係る画像形成装置の概略構成を示す図である。
【００２７】
画像形成装置１０は、表示操作部１２、制御部１４、画像生成部１６、画像形成部１８、及び排出部２０を含んでいる。
【００２８】
表示操作部１２は、液晶等の表示部と、画像形成に関する各種設定を行うための操作部と、を含んでいる。本実施形態では、例えば、表示操作部１２を操作することにより、画像形成の各種条件や画像形成する記録媒体の種類等の各種設定が行われる。
【００２９】
制御部１４は、画像形成装置１０の各部を統括的に制御し、表示操作部１２に設定された内容に従って画像形成装置１０の各部を制御する。制御部１４は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、及び入出力部を備えたマイクロコンピュータで構成されている。ＲＯＭには画像形成するための動作を制御するためのプログラムが予め記憶され、該プログラムをＲＡＭに展開してＣＰＵが実行することによって画像形成装置１０の各部の動作が制御される。
【００３０】
画像生成部１６は、原稿画像を読み取ることにより原稿画像を表す画像情報を生成する。或いは、外部のコンピュータから送信される画像情報を取得することにより、画像形成すべき原稿画像の画像情報を生成する。
【００３１】
画像形成部１８は、給紙部２２、搬送部２４、画像処理部２６、画像形成部２８、定着部３０、及び画像読取部３２を備えている。
【００３２】
給紙部２２は、記録媒体としての記録紙が収容され、記録紙を搬送部２４に供給する。本実施形態では、給紙部２２には、ロール状に巻き取られた記録紙が収容されており、記録紙が引き出されて搬送部に供給される。なお、給紙部２２は、異なる大きさや種類の用紙を収容するための複数の収容部を備える構成としてもよい。この場合は、表示操作部１２で設定された用紙を各収容部から搬送部２４へ供給する。また、外部から画像情報を取得する場合には、外部より指定された種類の用紙を各収容部から搬送部２４へ供給する。
【００３３】
搬送部２４は、記録紙に画像を形成する位置へ給紙部２２より供給された記録紙を搬送し、画像形成された記録紙を排出部２０へ搬送する。
【００３４】
画像処理部２６は、画像生成部１６によって生成、又は画像生成部１６が外部から受信した画像情報を受信して、画像形成部１８が処理するための画像処理を行って、画像処理後の画像情報を画像形成部２８へ出力する。
【００３５】
画像形成部２８は、画像処理部２６から画像情報を受け取って、画像情報が表す画像を記録紙に形成する。例えば、画像形成部２８は、電子写真方式を採用して画像を記録紙に転写するようにしてもよいし、インクジェット方式等を採用してインクを記録紙に吐出することにより画像を記録紙に形成するようにしてもよい。
【００３６】
定着部３０は、画像を記録紙に定着させるための処理を行う。定着させるための処理としては、画像が形成された記録紙を加圧及び加熱の少なくとも一方の処理を施すことにより、画像を記録紙に定着させる。
【００３７】
画像読取部３２は、画像が形成された記録紙を読み取って、各種補正（例えば、位置ずれ補正、色補正等）を行うための画像情報を取得する。
【００３８】
一方、排出部２０は、画像形成された記録紙をロール状に巻き取って収容するようになっている。
【００３９】
ここで、画像読取部３２の具体的な構成について説明する。図２は、本実施形態に係る画像形成装置１０の画像読取部３２の概略構成を示す図である。
【００４０】
以下の説明では、画像形成装置１０の装置の奥行き方向（主走査方向）をＸ方向、装置の長さ方向（記録紙の搬送方向である副走査方向）をＹ方向、装置の高さ方向をＺ方向ということとする。
【００４１】
図２に示すように、画像読取部３２は、照射部３６及び結像部３８を備えている。照射部３６は、記録紙の搬送経路４４の上側に配置されており、一対のＬＥＤ光源３６Ａ、３６Ｂを有し、画像が形成された記録紙に向けて光を照射する。各ＬＥＤ光源３６Ａ、３６Ｂは、Ｘ方向に沿って複数のＬＥＤが配列され、その照射範囲の長さは搬送される最大の記録紙の幅よりも大とされている。
【００４２】
また、結像部３８は、照射部３６から照射されて記録紙で反射された光をＣＣＤセンサ４０に結像する結像光学系を備えている。例えば、Ｙ方向及びＺ方向のそれぞれの方向に光軸を変化させるための複数のミラーを備え、照射部３６から照射されて、記録紙で反射された光をＣＣＤセンサ４０に結像する。なお、本実施の形態では、ＣＣＤセンサ４０はラインセンサの場合を一例として説明するが、エリアセンサを適用するようにしてもよい。
【００４３】
また、結像部３８の上部には、後述する読取制御装置５０や制御回路５４などを含む制御基板４６が設けられている。
【００４４】
上記構成により、画像読取部３２では、ＣＣＤセンサ４０が、結像された光すなわち画像濃度に応じた信号を、画像形成装置１０の制御部１４（図１参照）に出力（フィードバック）するようになっている。制御部１４は、ＣＣＤセンサ４０からの信号に基づいて、画像形成部２８において形成される画像を補正するようになっている。例えば、画像形成装置１０は、画像形成部２８として電子写真方式を適用した場合には、露光装置による照射光の強度、画像の形成位置などをＣＣＤセンサ４０からの信号に基づいて補正する。
【００４５】
また、画像読取部３２には、シェーディング補正等の校正を行うための校正板３４が設けられている。校正板３４は、例えば、白色とされた予め定めた白基準板である。
【００４６】
本実施形態では、連続した記録紙に画像を形成するため、画像読取部３２に対向した位置に校正板３４を設けたのでは、記録紙を排出しないと校正板３４を読み取ることができない。そこで、図３に示すように、校正板３４は、図示しない移動機構により、Ｘ方向（図３の矢印ｘ方向）に沿って画像読取部３２に対して相対的に移動可能に設けている。校正板３４を使用しない場合には、画像読取部３２の読取範囲から待避した位置に移動し、校正板３４を使用する際に、校正板３４を読取範囲に移動するようになっている。移動機構は、後述する校正板駆動部５６（図４参照）によって駆動される。なお、本実施形態では、校正板３４を移動する例を説明するが、画像読取部３２側を移動してもよいし、双方を移動してもよい。画像読取部３２側を移動する場合には、画像読取部３２を移動する以外に、ＣＣＤセンサ４０への結像光学系を移動してもよい。
【００４７】
また、画像読取部３２には、読取ガラス４８の汚れを清掃するための清掃部４２が設けられている。清掃部４２は、ブラシ等を備えて、読取ガラス４８を清掃する場合に、校正板３４と同様に、Ｘ方向に移動することにより、読取ガラス４８の清掃を行うようになっている。清掃部４２の駆動は、後述する清掃駆動部５８（図４参照）によって駆動される。
【００４８】
図４は、本実施形態に係る画像形成装置１０の画像読取部３２における制御系の構成を示すブロック図である。
【００４９】
画像読取部３２は、読取制御装置５０によって制御される。読取制御装置５０は、画像読取部３２のキャリブレーション（例えば、上述のＣＣＤセンサ４０のキャリブレーション等）を制御する機能を備えている。
【００５０】
読取制御装置５０は、具体的には、図４に示すように、ＣＰＵ５０Ａ、ＲＯＭ５０Ｂ、ＲＡＭ５０Ｃ、及び入出力ポート５０Ｄを備えており、それぞれがアドレスバス、データバス、及び制御バス等のバス５０Ｅを介して互いに接続されている。
【００５１】
ＲＯＭ５０Ｂには、画像を補正するためのプログラムや、画像読取部３２の各種キャリブレーションを行うためプログラム等の各種プログラムが記憶されている。ＣＰＵ５０ＡがＲＯＭ５０Ｂに記憶された各種プログラムをＲＡＭ５０Ｃに実行することにより、各種制御が行われる。
【００５２】
入出力ポート５０Ｄには、制御回路５４が接続されている。制御回路５４には、照射部３６、ＣＣＤセンサ４０、校正板３４を移動させる校正板駆動部５６、及び清掃部４２を駆動する清掃駆動部５８が接続されている。すなわち、制御回路５４によって、照射部３６、ＣＣＤセンサ４０、校正板駆動部５６、及び清掃駆動部５８のそれぞれの駆動が行われる。
【００５３】
このように構成された読取制御装置５０では、記録紙に記録された画像をＣＣＤセンサ４０によって読取り、読取結果を制御部１４にフィードバックすることで、記録紙に形成された画像を補正する機能を備えている。画像の補正の一例としては、例えば、階調補正、面内濃度補正、及び用紙レジ補正などの補正が挙げられる。さらに具体的には、記録紙上に補正の種類毎に予め定めた補正パターンを形成し、画像読取部３２によって当該補正パターンを測定して各種補正を行う。
【００５４】
また、読取制御装置５０は、画像読取部３２の各種校正（例えば、ＣＣＤセンサ４０出力の上下限値の調整や、シェーディング補正、ＣＣＤセンサ４０の読み取り値の補正等のキャリブレーション）を行う。
【００５５】
ここで、上述のように構成された画像読取部３２の校正について説明する。なお、以下では、校正の一例としてシェーディング補正を行う場合について説明する。
【００５６】
シェーディング補正を行う際には、校正板３４をＸ方向に沿って移動させつつ、ＣＣＤセンサ４０による校正板３４の読み取りを行う。本実施形態では、校正板３４の移動は、増速期間、定速期間、及び減速期間を有し、校正板３４の時間経過に対する移動軌跡は、図５（Ａ）に示すようになる。
【００５７】
シェーディング補正を行う際には、校正板３４を移動させながら、照射部３６からの光を照射してＣＣＤセンサ４０によって校正板３４からの反射光を受光することで校正板３４を読み取る。そして、読取結果に基づいて、光学系や撮像係の特性による輝度むらに対して、一様な明るさになるように補正を行う。具体的には、校正板３４を移動させながらＣＣＤセンサ４０の読み取りを行うと、図５（Ａ）に示すように、ＣＣＤセンサ４０の同位置（同一画素）で、複数の読取結果（サンプル数Ａ）が得られるので、平均や移動平均等を算出し、算出結果を用いて一様な明るさになるように読取結果に対する補正値を算出する。
【００５８】
ところで、校正板３４の読み取りの際に、校正板３４や読取ガラス４８にゴミや汚れ等の異常があると、図５（Ｂ）に示すように、ゴミや汚れによる濃度低下が発生するため、シェーディング補正等の校正を行う際に、濃度低下箇所に誤補正がかかり、校正の精度が低下する。
【００５９】
そこで、本実施形態では、校正板３４の異常なのか、読取ガラス４８の異常なのかを区別して検出し、それぞれの異常に対する対策を行うようになっている。
【００６０】
例えば、ゴミや汚れ等によって校正板３４に異常がある場合には、ＣＣＤセンサ４０の読取結果は、校正板３４の複数の読取画像を比較すると、図６に示すように、それぞれ校正板３４の同位置で濃度低下が発生する。そこで、本実施形態では、校正板３４の同位置における予め定めた値以上の濃度低下が発生している場合に校正板３４の異常と判断して補正のための基準データから除外する。
【００６１】
一方、ゴミや汚れ等によって読取ガラス４８に異常がある場合には、ＣＣＤセンサ４０の読取範囲における同位置に濃度異常が発生し、図６に示すように、読取結果における校正板３４のＹ方向（副走査方向）の全画素が濃度異常となる。そこで、本実施形態では、ＣＣＤセンサ４０の読取範囲における同位置の濃度低下が発生している場合に読取ガラス４８の異常であると判断する。
【００６２】
ここで、校正板３４の異常が検出された場合には、本実施形態では、校正板３４の異常の大きさに応じて、校正板３４の移動速度を変更することにより、異常箇所による濃度異常の部分以外の補正に必要なサンプル数を確保する。例えば、図７（Ａ）に示すように、異常箇所により必要なサンプル数が不足する場合には、校正板３４の移動速度を遅くしてサンプル数を増やす。図７（Ａ）の場合には、校正板３４を移動させて読み取った場合の異常箇所以外のサンプル数は、１、２、２、１、１、・・・となり、異常によってサンプル数が１となる箇所があるので、校正板３４の移動速度を遅くして読み取りを行う。校正板３４の移動速度を遅くすることにより、図７（Ｂ）に示すように、異常箇所以外のサンプル数を全て３となる。従って、異常が大きいほど校正板３４の移動速度を遅くすることで、異常箇所以外のサンプル数が増加する。なお、校正板３４の異常箇所が大きく、校正板３４の移動速度を極端に遅くする必要がある場合には、校正板３４の清掃または交換を促すようにしてもよい。
【００６３】
また、校正板３４の複数の位置に異常がある場合には、図８（Ａ）に示すように、読取り周期と異常箇所の間隔が重なり、異常箇所以外のサンプル数が０となる。この場合、読取ガラス４８の異常の場合と同じように、読取結果の校正板３４部分のＹ方向の全画素が濃度異常となるが、主走査方向に沿って複数の位置で発生するため、校正板３４の異常と判断して校正板３４の移動速度を変更する。図８（Ｂ）では、校正板３４の移動速度を遅くした場合を示し、異常箇所以外のサンプル数が増加している。また、この場合には、図８（Ｃ）に示すように、校正板３４の移動速度を速くしても異常箇所以外のサンプル数が増加するので、校正板３４の移動速度を速くしてもよい。
【００６４】
なお、校正板３４を移動して読み取る際に、連続で読み取った校正板３４の画像が、図９に示すように、Ｘ方向で重なりがない場合には、これらの処理が行えない。そこで、本実施形態では、校正板３４の移動速度、校正板３４のサイズ（Ｘ方向の長さ）、及びＣＣＤセンサ４０の読取間隔の関係が、読み取った校正板３４の画像のＸ方向に重なりができる関係とする。
【００６５】
一方、読取ガラス４８の異常が検出された場合には、清掃部４２を駆動して、読取ガラス４８の清掃を行ってから校正板３４の読取りを再度行う。
【００６６】
続いて、上述のように構成された画像読取部３２の校正を行う際に、読取制御装置５０で行われる具体的な処理について説明する。図１０は、本実施形態に係る画像形成装置１０の読取制御装置５０で行われる処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、図１０の処理は、画像読取部３２のシェーディング補正を行う際に行われる処理として説明する。
【００６７】
まず、ステップ１００では、ＣＰＵ５０Ａが、制御回路５４を介して校正板駆動部５６及びＣＣＤセンサ４０の各々の駆動を制御することにより、校正板３４の移動及び読み取りを行ってステップ１０２へ移行する。
【００６８】
ステップ１０２では、ＣＰＵ５０Ａが、校正板３４の読取結果に基づいて、読取ガラス４８の異常があるか否かを判定する。該判定は、ＣＣＤセンサ４０の読取範囲における同位置に濃度異常が発生し、図６に示すように、読取結果の校正板３４のＹ方向（副走査方向）の全画素が濃度異常であるか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ１０４へ移行し、否定された場合にはステップ１１２へ移行する。
【００６９】
ステップ１０４では、ＣＰＵ５０Ａが、制御回路５４を介して清掃駆動部５８を駆動して、清掃部４２を作動してステップ１０６へ移行する。これにより、読取ガラス４８のゴミや汚れなどの異常が清掃部４２によって除去される。
【００７０】
ステップ１０６では、ＣＰＵ５０Ａが、制御回路５４を介して校正板駆動部５６及びＣＣＤセンサ４０の駆動を制御することにより、校正板３４の移動及び読み取りを再度行ってステップ１０８へ移行する。
【００７１】
ステップ１０８では、ＣＰＵ５０Ａが、例えば、読取ガラス４８の異常部分が清掃後でも予め定めた基準値以上であるか否か等を判定することにより、補正が不可能であるか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ１１０へ移行し、肯定された場合にはステップ１１２へ移行する。
【００７２】
ステップ１１０では、ＣＰＵ５０Ａが、警告処理を行って一連の処理を終了する。例えば、ＣＰＵ５０Ａが、制御部１４に読取ガラス４８の交換を通知することで、制御部１４が、表示操作部１２に読取ガラス４８の交換を表すメッセージ等表示することにより警告を行う。
【００７３】
一方、ステップ１１２では、ＣＰＵ５０Ａが、校正板３４の読取結果に基づいて、校正板３４の異常があるか否かを判定する。該判定は、校正板３４の複数の読取画像を比較して、例えば、図６に示すように、それぞれ校正板３４の同位置で濃度低下が発生しているか否かを判定する。判定が肯定された場合にはステップ１１４へ移行し、否定された場合にはステップ１２０へ移行する。
【００７４】
ステップ１１４では、ＣＰＵ５０Ａが、校正板３４の移動速度の変更が必要であるか否かを判定する。該判定は、校正板３４の異常により、例えば、Ｙ方向の異常箇所以外のサンプル数が予め定めた数以下であるか否かを判定する。判定が肯定された場合にはステップ１１６へ移行し、否定された場合にはステップ１２０へ移行する。
【００７５】
ステップ１１６では、ＣＰＵ５０Ａが、校正板３４の移動速度を決定してステップ１１８へ移行する。校正板３４の移動速度は、ステップ１００の読取結果に基づいて決定し、Ｙ方向の異常箇所以外のサンプル数が増加する速度を決定する。なお、ここで、校正板３４の異常が大きく、Ｙ方向の異常箇所以外のサンプル数が増加する速度が決定できないような場合には、ステップ１１０へ移行して警告処理を行ってもよい。
【００７６】
ステップ１１８では、ＣＰＵ５０Ａが、ＣＣＤセンサ４０の読取結果を用いてシェーディング補正を行って一連の処理を終了する。
【００７７】
ところで、上記の実施形態では、校正板３４の異常が検出された場合に、校正板３４の移動速度を変更して校正板３４の読み取りを行うようにしたが、校正板３４の異常に対する対応方法はこれに限るものではない。
【００７８】
例えば、校正板３４の移動速度の変更の代わりに、校正板３４をＣＣＤセンサ４０によって読み取る際のサンプリング周期を変更してもよい。具体的には、最大分解能の読み取りを行った場合（図１１の左側）と、最大分解能から規則的に（一定間隔に）間引いた場合（図１１の右側）とを比較すると、校正板３４の移動速度を変化させた場合と同様の読み取り結果が得られる。すなわち、最大分解能から間引く数を変更することで、校正板３４の移動速度を変化した場合と同様の読み取り結果が得られる。また、ＣＣＤセンサ４０のサンプリング周期を変更する場合には、図１２に示すように、最大分解能に対して不規則に（一定間隔ではなく）間引くようにしてもよい。不規則に間引く場合には、校正板３４の異常の部分について多くのサンプル数が得られるように間引き、異常のない部分については間引き数を多くするように間引くことでメモリ容量が節約される。また、規則的に間引く場合と、不規則に間引く場合とを使い分けを行って、例えば、メモリ容量が予め定めた容量より少ない場合に、不規則に間引く方法を適用し、メモリ容量が予め定めた容量より多い場合には規則的に間引く方法を適用してもよい。
【００７９】
また、校正板３４の異常に対する対応方法としては、校正板３４の移動速度の変更と共に、サンプリング周期を共に変更してもよい。
【００８０】
なお、上記の実施形態では、校正板３４をＸ方向（主走査方向）に移動可能な構成の場合について説明したが、Ｙ方向（副走査方向）にも移動可能としてもよい。この場合、校正板３４の異常が発生した場合に、副走査方向に校正板３４をずらして、異常の少ない面を読み取るようにしてもよい。
【００８１】
また、上記の実施形態では、画像読取部３２の校正としてシェーディング補正を一例として説明したが、これに限るものではない。例えば、照射部３６の光量調整や、ＣＣＤセンサ４０のゲイン調整などの他の校正を適用してもよい。
【００８２】
また、上記の実施形態に係る画像形成装置１０の読取制御装置５０で行われる処理は、プログラムとして記憶媒体に記憶して流通させるようにしてもよい。
【００８３】
また、本発明は、上記に限定されるものでなく、上記以外にも、その主旨を逸脱しない範囲内において種々変形して実施可能であることは勿論である。
【符号の説明】
【００８４】
１０    画像形成装置
３２    画像読取部
３４    校正板
４０    ＣＣＤセンサ
４２    清掃部
４８    読取ガラス
５０    読取制御装置
５４    制御回路
５６    校正板駆動部
５８    清掃駆動部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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