(57)【要約】【課題】異物を正確に検出する画像読取装置を提供する。【解決手段】画像読取装置は、赤の光を受光する第１受光素子、青の光を受光する第２受光素子、緑の光を受光する第３受光素子が主走査方向にならべられる受光素子列が、副走査方向に所定間隔で３列配列され、各受光素子列で原稿の画像を読み取り、読み取った画像を表す読取データを生成するラインセンサ１２７と、読取制御基板２００とを備える。読取制御基板２００は、各受光素子列による読取データをラインセンサ１２７から取得して、複数の読取データを同一色の画素毎に並び替えて、色毎に原稿の画像に存在しない異常画素を検出する。読取制御基板２００は、各色の異常画素の検出結果を合成した合成異常画素情報に基づいて、ラインセンサ１２７の読取位置における異物の有無を判定する。【選択図】図２
2017216620.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象物の画像を読み取る読取ユニットと、前記画像に存在しない異常画素に基づいて前記読取ユニットの読取位置における異物を検出する検出手段とを有する画像読取装置であって、
前記読取ユニットは、第１色の光を受光する第１受光素子と前記第１色と異なる第２色の光を受光する第２受光素子とを第１方向にならべることにより一つのラインを形成する受光素子列が、前記第１方向に直交する第２方向に所定間隔で複数ライン分配列されて、各受光素子列で読み取った画像を表す読取データを生成し、
前記検出手段は、
各受光素子列による前記読取データの異なるラインの同一色の画素に基づいて、色毎に前記異常画素を検出する異常画素検出手段と、
各色の異常画素の検出結果を合成した合成異常画素情報を生成する合成手段と、
前記合成異常画素情報に基づいて、前記異物の有無を判定する判定手段と、を備えることを特徴とする、
画像読取装置。
【請求項２】
各受光素子列の前記読取データを前記読取ユニットから取得して、複数の読取データを同一色の画素毎に並び替えた並替データを生成する並替手段をさらに備え、
前記異常画素検出手段は、前記並替データに基づいて、色毎に前記異常画素を検出することを特徴とする、
請求項１記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記異常画素検出手段は、前記並替データに基づいて、前記第１方向の１画素毎に異常画素であるか、あるいは正常画素であるかを表す異常画素情報を色毎に生成し、
前記合成手段は、色毎の前記異常画素情報を合成して前記合成異常画素情報を生成することを特徴とする、
請求項２記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記合成手段は、前記第１方向に同じ位置の各色の前記異常画素情報を論理和演算することで、前記合成異常画素情報を生成することを特徴とする、
請求項３記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記合成異常画素情報に基づいて、前記第１方向の異常画素をカウントした合計値が所定の閾値より大きい場合に、前記異物が前記読取位置に付着していると判定することを特徴とする、
請求項１乃至４のいずれか１項記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記判定手段は、前記第１方向に所定画素幅以上の異常画素の画素数をカウントして前記合計値を算出することを特徴とする、
請求項５記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記判定手段により前記異物が前記読取位置に付着していると判定される場合に、警告を行う警告手段を備えることを特徴とする、
請求項１乃至６のいずれか１項記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記異常画素検出手段により異常画素と判定された補正領域に隣接する画素により、該異常画素の補正を行う補正手段を備えることを特徴とする、
請求項１乃至７のいずれか１項記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記異常画素検出手段は、読取位置に設けられる白色の部材を前記読取ユニットが読み取ったときの値を異常画素を検出するための異常画素閾値として予め記憶しており、前記読取データに含まれる値を前記異常画素閾値と比較することで異常画素を判定することを特徴とする、
請求項１乃至８のいずれか１項記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記異常画素検出手段は、前記読取データに含まれる値を前記異常画素閾値と比較することで異常画素候補を判定し、前記対象物の前記画像を含む前記読取ユニットが読み取った画像に、前記対象物の前記画像の境界を挟んで前記第２方向に前記異常画素候補が連続する場合に、該画素を前記異常画素と判定することを特徴とする、
請求項９記載の画像読取装置。
【請求項１１】
前記読取ユニットは、前記第１受光素子、前記第２受光素子、及び前記第１色及び前記第２色と異なる第３色の光を受光する第３受光素子を前記第１方向に複数並べた受光素子列が、前記第２方向に３列配列されて構成されることを特徴とする、
請求項１乃至１０記載の画像読取装置。
【請求項１２】
請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の画像読取装置と、
前記画像読取装置で読み取られた読取データに基づいて所定の記録媒体に画像を形成する画像形成手段と、を備えることを特徴とする、
画像形成装置。
【請求項１３】
第１色の光を受光する第１受光素子と前記第１色と異なる第２色の光を受光する第２受光素子とを第１方向にならべることにより形成される受光素子列が、前記第１方向に直交する第２方向に所定間隔で複数配列されて、各受光素子列で対象物の画像を読み取り、読み取った画像を表す読取データを生成する読取ユニットを備える画像読取装置により実行される方法であって、
各受光素子列による前記読取データを前記読取ユニットから取得して、複数の読取データの同一色の画素に基づいて、色毎に前記画像に存在しない異常画素を検出し、
各色の異常画素の検出結果を合成した合成異常画素情報に基づいて、前記読取ユニットの読取位置における異物の有無を判定することを特徴とする、
画像読取方法。
【請求項１４】
第１色の光を受光する第１受光素子と前記第１色と異なる第２色の光を受光する第２受光素子とを第１方向にならべることにより形成される受光素子列が、前記第１方向に直交する第２方向に所定間隔で複数配列されて、各受光素子列で対象物の画像を読み取り、読み取った画像を表す読取データを生成する読取ユニットを備えるコンピュータに、
各受光素子列による前記読取データを前記読取ユニットから取得して、複数の読取データの同一色の画素に基づいて、色毎に前記画像に存在しない異常画素を検出させ、
各色の異常画素の検出結果を合成した合成異常画素情報に基づいて、前記読取ユニットの読取位置における異物の有無を判定させるための、
コンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対象物の画像を読み取る際に、当該画像に存在しない異常画素の原因となる異物を効果的に検出する画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
オートドキュメントフィーダ（以下、「ＡＤＦ」という。）を備える画像読取装置は、原稿を１枚ずつ連続して搬送しながら、所定の読取位置で該原稿の画像を読み取ることができる。この場合、画像の読取位置が固定される。原稿を高速で搬送することで高速な画像読取が実現できる。原稿の搬送によって、紙紛、塵、埃等のゴミ（異物）が読取位置に付着することがある。読取位置に付着した異物は、読み取った画像の不良の原因となる。例えば、異物により、読取画像にスジ画像が発生する。
【０００３】
特許文献１の画像読取装置は、原稿が読取位置に無い状態の読取データ、原稿の先端部及び後端部の読取データ、及び、原稿の先端部及び後端部を除いた読取データを取得して、異物に基づく原稿画像に存在しない異常画素を検出する。この画像読取装置は、取得した各読取データにおいて、読取時の主走査方向に対して特定の位置に同一濃度の画素が存在する場合に該画素を異常画素として検出する。特許文献２の画像読取装置は、異常画素の検出結果に応じて、検出されたスジ画像の幅が所定値以下の場合は画像補正を行い、所定値を超えた場合は警告表示を行ってユーザに画像読取装置の清掃を促す。
【０００４】
画像読取装置は、同色の光を受光する光電変換素子を一列に並べた受光素子列をＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の色毎に複数備えた読取センサの他に、特許文献３、４に示すような読取センサを備えたものがある。特許文献３、４には、異なる色の光を受光する光電変換素子を一列に並べた受光素子列を、受光する色の数と同数備えた読取センサが開示される。各受光素子列は、Ｒ、Ｇ、Ｂの光を受光する３種類の光電変換素子が、隣り合う素子が異なる色を受光するように配置されて構成される。また、各受光素子列の配列方向に同じ位置の光電変換素子も、受光素子列毎に異なる色を受光するように配置される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−４５４６２号公報
【特許文献２】特開２００７−１３５０９６号公報
【特許文献３】特開昭６２−４９７６５号公報
【特許文献４】特開平８−１１６４０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
図１２は、画像読取装置による読取結果の説明図である。図１２（ａ）は、同色の光を受光する光電変換素子を一列に並べた受光素子列を３ライン備えた読取センサによる読取結果を表す。図１２（ｂ）は、異なる色の光を受光する光電変換素子を一列に並べた受光素子列を３ライン備えた読取センサによる読取結果を表す。中央の受光素子列の読取位置には異物が付着しており、読取結果に影響を与えている。図１２（ａ）では、異物により、緑の読取データに７画素分の幅を持つ１本のスジ画像が発生する。図１２（ｂ）では、異物により、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色の読取データに１画素分の幅を持つ合計で７本のスジ画像が発生する。スジ画像は、フラグ（frg_r、frg_g、frg_b）の値「１」により表される。
【０００７】
このように、図１２（ｂ）では、１つの異物によるスジ画像が複数の色に分割して発生する。スジ画像が分割して発生する場合、異常画素検出の精度向上や、異常画素の補正痕が目立たなくなるという利点がある。しかしながら、各色に分割されたスジ画像は原因となった異物の大きさや数と異なるため、スジ画像から原因となった異物の大きさや数を正確に把握することができない。また、特許文献２のようにスジ画像の幅（大きさ）に応じて警告表示を行う場合、図１２（ａ）の場合には幅が所定幅以上になって警告表示を行うが、図１２（ｂ）の場合には幅が所定幅未満で警告表示が行われない。極端な場合、１ライン分の大きさの異物が付着していても、すべて１画素の幅のスジ画像として表れるために警告表示が行われない。このように、異物の付着状況とスジ画像のような異常が生じた異常画素の検出結果とが異なり、本来清掃すべき異物が付着していても警告が正常に行われない場合がある。
【０００８】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、異物を正確に検出する画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の画像読取装置は、対象物の画像を読み取る読取ユニットと、前記画像に存在しない異常画素に基づいて前記読取ユニットの読取位置における異物を検出する検出手段とを有する画像読取装置であって、前記読取ユニットは、第１色の光を受光する第１受光素子と前記第１色と異なる第２色の光を受光する第２受光素子とを第１方向にならべることにより一つのラインを形成する受光素子列が、前記第１方向に直交する第２方向に所定間隔で複数ライン分配列されて、各受光素子列で読み取った画像を表す読取データを生成し、前記検出手段は、各受光素子列による前記読取データの異なるラインの同一色の画素に基づいて、色毎に前記異常画素を検出する異常画素検出手段と、各色の異常画素の検出結果を合成した合成異常画素情報を生成する合成手段と、前記合成異常画素情報に基づいて、前記異物の有無を判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、第１受光素子と第２受光素子とを第１方向にならべることにより形成される受光素子列を用いたラインセンサにより画像を読み取る場合であっても、正確な異物の検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】画像形成システムの全体構成図。
【図２】（ａ）、（ｂ）は制御系統の構成図。
【図３】（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はラインセンサの説明図。
【図４】原稿画像の読取処理を表すフローチャート。
【図５】画像処理を表すフローチャート。
【図６】（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は異常画素計数の説明図。
【図７】（ａ）、（ｂ）は異常画素検出処理の説明図。
【図８】異常画素検出処理を表すフローチャート。
【図９】異常画素候補判定処理を表すフローチャート。
【図１０】異常画素判定処理を表すフローチャート。
【図１１】異常画素の補正処理の説明図。
【図１２】（ａ）、（ｂ）は画像読取装置による読取結果の説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、実施の形態を図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００１３】
（全体構成）
図１は、本実施形態の画像形成システムの全体構成図である。この画像形成システムは、例えばデジタルカラー複合機やＭＦＰ（Multi Function Peripheral）により実現される。
【００１４】
画像形成システム１５２は、画像読取装置１００及び画像形成装置１５０を備える。画像形成装置１５０は、公知の電子写真方式により画像形成を行う画像形成部１５１を備える。画像形成部１５１は、感光体、露光器、現像器、転写部、及び定着器を備える。露光器は、画像読取装置１００が原稿１０３を読み取ることで生成される画像データに基づいて、感光体に静電潜像を形成する。現像器は、感光体に形成された静電潜像を現像剤により現像して、感光体に現像剤像を形成する。転写部は、感光体に形成された現像剤像を所定の記録媒体に転写する。定着器は、記録媒体に転写された現像剤像を記録媒体に定着させる。以上のような構成により、画像形成部１５１は、記録媒体に画像データに応じた画像を形成する。
【００１５】
（画像読取装置の構成）
画像読取装置１００は、画像読取の対象物である原稿１０３から原稿画像を読み取る。そのために画像読取装置１００は、リーダユニット１０１及び原稿１０３を搬送する自動原稿搬送装置であるＡＤＦ１０２を備える。リーダユニット１０１には、第１の読取位置で原稿１０３の一方の面（表面）から原稿画像を読み取る第１の読取ユニット１４１が設けられる。ＡＤＦ１０２には、第２の読取位置で原稿１０３の他方の面から原稿画像を読み取る第２の読取ユニット１４２が設けられる。リーダユニット１０１上には読取ガラス１２０が設けられ、読取ガラス１２０上にＡＤＦ１０２が設けられる。ＡＤＦ１０２は、原稿１０３が載置される原稿トレイ１０４を備える。原稿トレイ１０４は、原稿１０３を、搬送方向（矢印Ａ）に直交する方向（図１中の奥行き方向）に規制する幅規制板１０５を備える。幅規制板１０５は、原稿トレイ１０４に載置された原稿１０３を挟むように２つ設けられ、原稿１０３の斜行搬送を抑制する。原稿トレイ１０４上には、原稿１０３を複数枚載置することができる。
【００１６】
原稿１０３は、原稿トレイ１０４から搬送経路を搬送中に画像が読み取られる。搬送経路には、原稿１０３を第１の読取位置まで搬送するためにピックアップローラ１０６、分離パッド１０７、分離ローラ１０８、第１レジストローラ１０９、第２レジストローラ１１０、第１搬送ローラ１１１、及び第２搬送ローラ１１２が設けられる。また、搬送経路には、原稿１０３を第１の読取位置から第２の読取位置を通って原稿排紙トレイ１１８に排出するための第３搬送ローラ１１３、第４搬送ローラ１１４、第５搬送ローラ１１５、第６搬送ローラ１１６、及び排紙ローラ１１７が設けられる。
【００１７】
ピックアップローラ１０６は、原稿トレイ１０４上に載置された原稿１０３を分離パッド１０７及び分離ローラ１０８で構成される分離部に搬送する。分離部は、分離パッド１０７及び分離ローラ１０８により、複数枚の原稿１０３の束から最上位の原稿１０３を１枚ずつ分離する。第１レジストローラ１０９は、分離部により分離された１枚の原稿１０３の斜行を修正する。原稿１０３は、第２レジストローラ１１０、第１搬送ローラ１１１、及び第２搬送ローラ１１２の順に、第１の読取位置まで搬送される。第１の読取位置は、第２搬送ローラ１１２と第３搬送ローラ１１３との間に設けられる。原稿１０３は、第１の読取位置を通過している間に、一方の面の原稿画像が第１の読取ユニット１４１により読み取られる。
【００１８】
第３搬送ローラ１１３は、第１の読取位置を通過した原稿１０３を第２の読取位置に搬送する。第２の読取位置は、第４搬送ローラ１１４と第５搬送ローラ１１５との間に設けられる。第４搬送ローラ１１４は、第３搬送ローラ１１３により搬送される原稿１０３を第２の読取位置へ搬送する。原稿１０３は、第２の読取位置を通過している間に、他方の面の原稿画像が第２の読取ユニット１４２により読み取られる。第５搬送ローラ１１５は、第２の読取位置を通過した原稿１０３を第６搬送ローラ１１６に搬送する。第６搬送ローラ１１６は、第５搬送ローラ１１５により搬送された原稿１０３を排紙ローラ１１７に搬送する。排紙ローラ１１７は、第６搬送ローラ１１６により搬送された原稿１０３を原稿排紙トレイ１１８に排出する。
【００１９】
第１の読取ユニット１４１と第２の読取ユニット１４２とは同様の構成である。
第１の読取ユニット１４１は、光源１２１、１２２、反射ミラー１２３、１２４、１２５、結像レンズ１２６、受光素子列を有するラインセンサ１２７、及び信号処理基板１２８を備える。第１の読取ユニット１４１の第１の読取位置を挟んで対向する位置に、白色対向部材１１９が設けられる。第１の読取位置に搬送された原稿１０３は、白色対向部材１１９と読取ガラス１２０との間を通過する。第１の読取ユニット１４１は、第１の読取位置を通過する原稿１０３に対して光源１２１、１２２により光を照射する。原稿１０３は照射された光を反射する。その反射光は、反射ミラー１２３、１２４、１２５を介して結像レンズ１２６へ導かれる。結像レンズ１２６は、ラインセンサ１２７の受光面に反射光を結像させる。ラインセンサ１２７は、受光面で受光した反射光に応じたアナログ信号である電気信号を、信号処理基板１２８に入力する。信号処理基板１２８は、ラインセンサ１２７から入力された電気信号を処理して、原稿１０３の表面の画像を表すデジタル信号である読取データを生成する。
【００２０】
第２の読取ユニット１４２は、光源１３１、１３２、反射ミラー１３３、１３４、１３５、結像レンズ１３６、受光素子列を有するラインセンサ１３７、及び信号処理基板１３８を備える。第２の読取位置には、白色対向部材１２９及び裏面読取ガラス１３０が設けられる。第２の読取位置に搬送された原稿１０３は、白色対向部材１２９と裏面読取ガラス１３０との間を通過する。第２の読取ユニット１４２は、第２の読取位置を通過する原稿１０３に対して光源１３１、１３２により光を照射する。原稿１０３は照射された光を反射する。その反射光は、反射ミラー１３３、１３４、１３５を介して結像レンズ１３６へ導かれる。結像レンズ１３６は、ラインセンサ１３７の受光面に反射光を結像させる。ラインセンサ１３７は、受光面で受光した反射光に応じたアナログ信号である電気信号を、信号処理基板１３８に入力する。信号処理基板１３８は、ラインセンサ１３７から入力された電気信号を処理して、原稿１０３の裏面の画像を表すデジタル信号である読取データを生成する。
【００２１】
光源１２１、１２２、１３１、１３２は、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）等の発光素子を複数配列されて構成される。複数の発光素子は、原稿１０３の搬送方向に直交する方向に配列される。ラインセンサ１３７は、受光素子（光電変換素子）を複数配列することでラインを形成する受光素子列を備える。受光素子（光電変換素子）は、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）センサ、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）センサ等である。受光素子列は、複数の発光素子と同方向にならべられる。受光素子列の配列方向が、第１、第２の読取ユニット１４１、１４２の主走査方向となる。
【００２２】
詳細は後述するが、本実施形態のラインセンサ１２７、１３７は、異なる色の光を受光する受光素子を複数ならべた受光素子列を複数備える。例えば一つのラインにＲ（第１色）を受光する受光素子、Ｇ（第２色）を受光する受光素子、Ｂ（第３色）を受光する受光素子が、配列される。隣接する受光素子は異なる色の光を受光する。ラインセンサ１２７、１３７は、このような受光素子列を主走査方向に直交する副走査方向に複数配列される。本実施形態では、受光素子列が副走査方向に３列配列される。副走査方向に隣接する受光素子も、異なる色を受光するように受光素子列がならべられる。
【００２３】
第１の読取ユニット１４１は、第１の読取位置で原稿１０３の表面の画像を読み取る場合、及び読取ガラス１２０上に載置された原稿１０３の画像を読み取る場合に用いられる。読取ガラス１２０上に載置された原稿１０３の画像を読み取る場合、第１の読取ユニット１４１の光源１２１、１２２及び反射ミラー１２３、１２４、１２５は、図中左右方向に移動する。そのために光源１２１、１２２及び反射ミラー１２３、１２４、１２５は、一体に構成される。
【００２４】
（画像読取装置１００の制御系統）
図２は、画像読取装置１００の動作を制御する制御系統の構成図である。図２（ａ）は、制御系統の構成図である。制御系統は、第１、第２の読取ユニット１４１、１４２が備える信号処理基板１２８、１３８及び読取制御基板２００を備える。読取制御基板２００は、画像読取装置１００に内蔵されており、画像形成装置１５０と通信可能である。信号処理基板１２８と信号処理基板１３８とは同じ構成である。そのために図２では信号処理基板１３８の構成を簡略化して表している。
【００２５】
信号処理基板１２８は、アナログ処理回路２０８及びＡＤコンバータ２０９を備える。アナログ処理回路２０８は、ラインセンサ１２７から電気信号を取得する。上記の通り、ラインセンサ１２７は、原稿１０３による反射光を受光面で受光し、受光した反射光を光電変換したアナログ信号である電気信号を出力する。この電気信号は、反射光量に応じた値となる。アナログ処理回路２０８は、取得した電気信号に対して、オフセット調整、ゲイン調整等のアナログ処理を行う。アナログ処理回路２０８は、アナログ処理を行った電気信号をＡＤコンバータ２０９に送る。ＡＤコンバータ２０９は、アナログ処理回路２０８から取得した電気信号をデジタル信号である読取データに変換する。ＡＤコンバータ２０９は、生成した読取データを読取制御基板２００へ送信する。信号処理基板１３８も、信号処理基板１２８と同様に、ラインセンサ１３７から出力されるアナログ信号である電気信号からデジタル信号である読取データを生成して、読取制御基板２００へ送信する。
【００２６】
読取制御基板２００は、操作パネル２１０、画像読取装置１００内の各種モータ２０６、及び画像読取装置１００内の各種センサ２０７が接続される。操作パネル２１０は、ユーザにより操作されるユーザインタフェースである。操作パネル２１０は、読取制御基板２００への入力の他に、ユーザへのメッセージの表示等に用いられる。そのために操作パネル２１０は、入力ボタン、タッチパネル、ディスプレイ等の入出力装置を備える。読取制御基板２００は、操作パネル２１０から入力される信号に応じて読取処理等の処理を実行する。読取制御基板２００は、各種センサ２０７の検出結果に応じて各種モータ２０６の駆動制御を行い、原稿画像の読取処理を行う。
【００２７】
読取制御基板２００は、ＣＰＵ２０１、画像処理ＡＳＩＣ２０２、モータドライバ２０３、揮発性メモリであるＲＡＭ２０４、及び不揮発性メモリであるフラッシュメモリ２０５を備えるコンピュータシステムである。ＲＡＭ（Random Access Memory）２０４は、例えばＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）により構成される。ＣＰＵ２０１は、フラッシュメモリ２０５或いは不図示のＲＯＭ（Read Only Memory）からコンピュータプログラムを読み込み、ＲＡＭ２０４を作業領域に用いて実行することで画像読取装置１００の動作を制御する。ＣＰＵ２０１は、画像処理ＡＳＩＣ２０２の各種動作設定を行う。
【００２８】
画像処理ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）２０２は、ＣＰＵ２０１による設定内容に応じて、信号処理基板１２８、１３８から取得する読取データに対して各種の画像処理を行う。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、画像処理の際に、ＲＡＭ２０４に読取データの一時保管を行う。画像処理ＡＳＩＣ２０２が画像処理を行う際の各種の設定値やパラメータは、フラッシュメモリ２０５に格納される。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、フラッシュメモリ２０５から、設定値やパラメータを適宜取得して画像処理を行う。
【００２９】
原稿画像の読取処理は、操作パネル２１０からの読取指示或いは各種センサ２０７の検出結果をトリガとして開始される。ＣＰＵ２０１及び画像処理ＡＳＩＣ２０２は、原稿画像の読取処理時に、モータドライバ２０３を介して各種モータ２０６の動作を制御する制御信号を入力する。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、信号処理基板１２８、１３８から取得した読取データに画像処理を行い、原稿画像を表す画像データを生成する。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、生成した画像データを画像形成装置１５０へ送信する。画像形成装置１５０は、画像処理ＡＳＩＣ２０２から取得した画像データに基づいて画像形成処理を行うことができる。
【００３０】
図２（ｂ）は画像処理ＡＳＩＣ２０２の詳細な構成図である。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、画素順並替部３０１、異常画素検出部３０２、異常画素情報合成部３０３、異常画素計数部３０４、及び異常画素補正部３０５を備える。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、信号処理基板１２８、１３８の両方から読取データを取得するが、ここでは信号処理基板１２８から取得する読取データの処理について説明する。信号処理基板１３８から取得する読取データについても同様の処理が行われる。
【００３１】
上記の通り、ラインセンサ１２７は、異なる色の光を受光する受光素子を複数ならべた受光素子列を複数備える。そのためにラインセンサ１２７の１つの受光素子列による受光結果に応じた読取データは、複数の色のデータが入り交じっている。画素順並替部３０１は、受光素子列毎に出力される複数の読取データを同一色の画素毎に並び替えた並替データを、色毎に生成する。
【００３２】
異常画素検出部３０２は、色毎の並替データに基づいて原稿画像に存在しない異常画素を検出して、異常画素情報を生成する。「異常画素」は、読取ガラス１２０や裏面読取ガラス１３０にゴミ等の異物が付着することで発生する。読取ガラス１２０等に付着したゴミの位置がラインセンサ１２７の読取位置に対応する場合、当該ゴミの影響により読取データに影響が出る。このように「異常画素」は、本来読み取られる原稿画像とは異なる画像となった画素である。異常画素情報合成部３０３は、異常画素検出部３０２で生成された色毎の異常画素情報を合成して、合成異常画素情報を生成する。異常画素計数部３０４は、合成異常画素情報に基づいて、異常画素の主走査方向の幅毎に、異常画素の本数を計数する。計数結果は、ＣＰＵ２０１に送られる。異常画素補正部３０５は、画素順並替部３０１で生成された色毎の並替データを、異常画素検出部３０２で生成された色毎の異常画素情報に基づいて補正することで画像データを生成する。
【００３３】
（ラインセンサ）
図３は、ラインセンサ１２７、１３７の説明図である。
図３（ａ）は、ラインセンサ１２７、１３７における受光素子列の配列構造の説明図である。ラインセンサ１２７、１３７は、第１方向である主走査方向で７５００画素、該第１方向に対して直交する第２方向である副走査方向で３列のラインを読み取るように構成されている。ここでは主走査方向に６００ｄｐｉ(dots per inch)の解像度で画像を読み取るものとして説明するが、解像度は一例にすぎない。なお、主走査方向とは、複数の受光素子が１列に並べられる方向であり、原稿の読み取り時の原稿の幅方向（搬送方向と直交する方向）に対応する方向である。副走査方向とは、主走査方向と直交する方向であり、原稿の読み取り時の原稿の搬送方向に対応する方向である。受光素子列で形成される第１方向（主走査方向）の列を「ライン」と呼ぶ。一つの受光素子列で一つのラインが形成される。ラインセンサ１２７、１３７は、一つのラインを形成する受光素子列が、それぞれ、第１方向（主走査方向）と直交する第２方向（副走査方向）に所定間隔で複数ライン分配列されている。
【００３４】
３列のラインＬ１〜Ｌ３の受光素子列は、副走査方向に所定間隔で離れ、かつ、Ｒ→Ｇ→Ｂの周期の始端画素３００の色が隣り合う列のものと異なるように配置される。図３（ａ）の例では、ライン間隔は１画素である。したがって、ラインＬ１とラインＬ２との間は２画素、ラインＬ１とラインＬ３との間は４画素、それぞれ副走査方向に離れた位置に受光素子列が配置されている。また、ラインＬ１の始端画素３００の色は「Ｒ」（赤）、ラインＬ２の始端画素３００の色はＲと１画素分異なるＧ（緑）、ラインＬ３の始端画素３００の色はＧと１画素分異なるＢ（青）である。つまり、主走査方向では、画素の色がＲ→Ｇ→Ｂ→Ｒ→Ｇ→Ｂ→・・・の規則性を有している。副走査方向に見ると、ラインＬ１とラインＬ２では上記規則性を１画素主走査方向にずらした配列となる。ラインＬ１とラインＬ３では上記規則性を主走査方向に２画素主走査方向にずらした配列となる。そのため、ラインセンサ１２７、１３７には、いわゆる千鳥状に、Ｒ、Ｇ、Ｂの各受光素子が配置されたものとなる。つまり、第１受光素子、第２受光素子及び第３受光素子は、それぞれ同一色の画素を検出する受光素子が隣り合わないように配列されている。原稿１０３を読み取る場合、ラインセンサ１２７、１３７は、上記の画素数だけ離れた位置の信号を検出し、出力することとなる。
【００３５】
図３（ｂ）、図３（ｃ）は、受光素子の構成図である。ここでは、赤い光を受光する受光素子１２０１Ｒ、青い光を受光する受光素子１２０１Ｂ、緑の光を受光する受光素子１２０１Ｇの構成について説明する。受光素子１２０１Ｒ、１２０１Ｂ、１２０１Ｇは、それぞれ１画素に対応し、通常は等間隔に配置される。
【００３６】
受光素子１２０１Ｒは、所定の波長（赤い光の波長）の光をピーク透過波長とする透光部材１２０２Ｒと、透光部材１２０２Ｒを透過した光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光半導体素子１２０４Ｒとを含んで構成される。受光素子１２０１Ｂは、所定の波長（青い光の波長）の光をピーク透過波長とする透光部材１２０２Ｂと、透光部材１２０２Ｂを透過した光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光半導体素子１２０４Ｂとを含んで構成される。受光素子１２０１Ｇは、所定の波長（緑の光の波長）の光をピーク透過波長とする透光部材１２０２Ｇと、透光部材１２０２Ｇを透過した光の強度に応じたレベルの電気信号を出力する光半導体素子１２０４Ｇとを含んで構成される。
【００３７】
透光部材１２０２Ｒ、１２０２Ｂ、１２０２Ｇは該当色（Ｒであれば赤い色）を透過させるカラーフィルタである。光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｂ、１２０４Ｇは、例えばフォトダイオードである。ピーク透過波長とは、フィルタの透過率が最大となる波長である。１画素分の光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｂ、１２０４Ｇは、対応する透光部材１２０２Ｒ、１２０２Ｂ、１２０２Ｇよりも小さく構成される。光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｂ、１２０４Ｇと透光部材１２０２Ｒ、１２０２Ｂ、１２０２Ｇとは、酸化ケイ素等の絶縁材で形成される層間膜により絶縁される。なお、光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｂ、１２０４Ｇがそれ自体で該当色を受光できる素子の場合、透光部材１２０２Ｒ、１２０２Ｂ、１２０２Ｇは不要である。
【００３８】
各受光素子１２０１Ｒ、１２０２Ｂ、１２０２Ｇは、反射光を集光するマイクロレンズ１２０３Ｒ、１２０３Ｂ、１２０３Ｇを備える。マイクロレンズ１２０３Ｒ、１２０３Ｇ、１２０３Ｂで集光される反射光は、透光部材１２０２Ｒ、１２０２Ｇ、１２０２Ｂを介して光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｇ、１２０４Ｂの受光面に結像する。マイクロレンズ１２０３Ｒ、１２０３Ｇ、１２０３Ｂは、不図示のカバーガラスにより汚れ等が付着しないようになっている。
【００３９】
各受光素子１２０１Ｒ、１２０２Ｂ、１２０２Ｇは、光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｇ、１２０４Ｂにゲート電極１２０５Ｒ、１２０５Ｇ、１２０５Ｂを備える。ゲート電極１２０５Ｒ、１２０５Ｇ、１２０５Ｂは、光半導体素子１２０４Ｒ、１２０４Ｇ、１２０４Ｂから電気信号を信号処理基板１２８に出力するための端子となる。ゲート電極１２０５Ｒ、１２０５Ｇ、１２０５Ｂは、例えばポリシリコンで形成される。
【００４０】
（画像読取装置１００の動作制御）
図４は、このような構成の画像読取装置１００による原稿画像の読取処理を表すフローチャートである。この読取処理では、画像読取装置１００は、異常画素の発生状態に基づいてユーザに異物の清掃要求等の警告を行う。ここでは第１の読取ユニット１４１により原稿１０３の一方の面の原稿画像を読み取る場合について説明する。原稿１０３の両面の原稿画像を読み取る場合には、第２の読取ユニット１４２により、第１の読取ユニット１４１と同様の処理が行われる。
【００４１】
ＣＰＵ２０１は、操作パネル２１０から読取開始の指示を取得して原稿画像の読み取りを開始する（Ｓ５０１）。ＣＰＵ２０１は、原稿画像の読み取りを開始すると、まず、モータドライバ２０３により各種モータ２０６の動作を制御して、原稿トレイ１０４から原稿１０３を第１の読取位置まで搬送する。ＣＰＵ２０１は、第１の読取ユニット１４１により、搬送された原稿１０３から原稿画像を読み取る。原稿画像が読み取られた原稿１０３は、原稿排紙トレイ１１８に排紙される（Ｓ５０２）。第１の読取ユニット１４１のラインセンサ１２７は、読み取った原稿画像に基づくアナログ信号である電気信号を信号処理基板１２８に送信する。信号処理基板１２８は、入力された電気信号に基づくデジタル信号である読取データを生成する。信号処理基板１２８は、生成した読取データを読取制御基板２００に送信する。
【００４２】
ＣＰＵ２０１は、画像処理ＡＳＩＣ２０２により、入力された読取データに対する異常画素の検出、異常画素の補正、異常画素の計数等の画像処理を行う（Ｓ５０３）。画像処理ＡＳＩＣ２０２により行われるこのような画像処理の詳細については後述する。ＣＰＵ２０１は、画像処理ＡＳＩＣ２０２から異常画素の計数値を取得する（Ｓ５０４）。異常画素の計数値は、例えば以下のように表される。
【００４３】
１画素幅の異常画素数・・・sjnum[1]
２画素幅の異常画素数・・・sjnum[2]
…
２０画素幅以上の異常画素数・・・sjnum[20]
なお、本実施形態では２０画素幅以上の異常画素数をまとめて計数しているが、上限値は２０画素である必要はない。なお、画素幅は、主走査方向の画素数である。
【００４４】
ＣＰＵ２０１は、取得した異常画素の計数値の合計値を算出する（Ｓ５０５）。ＣＰＵ２０１は、合計値の算出に所定画素幅以上の計数値のみを用いる。これにより、補正によって対応可能な比較的小さな異常画素による過剰な警告表示を抑制することができる。所定画素幅を「ｗ」とすると、合計値sjsumは以下の式で算出される。
【００４５】
【数１】
2017216620.tif 000003
【００４６】
ＣＰＵ２０１は、算出した合計値を所定の閾値と比較する（Ｓ５０６）。ＣＰＵ２０１は、この比較により読取位置における異物の有無を判定する。合計値が閾値より大きい場合（Ｓ５０６：Y）、ＣＰＵ２０１は、除去が必要な異物が第１の読取位置に付着していると判定する。この場合、ＣＰＵ２０１は、第１の読取位置の清掃を促す警告表示を操作パネル２１０により行い（Ｓ５０７）、画像読取処理を終了する。合計値が閾値以下の場合（Ｓ５０６：N）、ＣＰＵ２０１は、除去が必要な異物が第１の読取位置に付着していないと判定する。この場合、ＣＰＵ２０１は画像データを画像処理ＡＳＩＣ２０２から画像形成装置１５０に送信して、画像読取処理を終了する。
【００４７】
図５〜図７により、Ｓ５０３の画像処理ＡＳＩＣ２０２による画像処理を説明する。図５は、画像処理を表すフローチャートである。画像処理ＡＳＩＣ２０２は、読取データを画素順並替部３０１で取得して、この画像処理を行う。
【００４８】
画像処理ＡＳＩＣ２０２の画素順並替部３０１は、取得した読取データの画素順の並び替えを行う（Ｓ６０１）。ラインセンサ１２７、１３７は、上記の通り１つの受光素子列（ライン）で複数の色を受光する。そのために読取データは、１つのラインから出力される電気信号に複数色の信号を含む。図６（ａ）は、読取データの説明図である。図６（ａ）に示すように、ラインＬ１〜ラインＬ３で読み取られた原稿画像は、ライン毎に主走査方向にＲ、Ｂ、Ｇの画素が繰り返される。また、副走査方向にもＲ、Ｂ、Ｇの順になる。画素順並替部３０１は、このような配列の読取データを、図６（ｂ）に示すように同一色の画素が主走査方向に隣り合うように、同一色の画素列毎に並び替える。このように並び替えることで、後続の異常画素検出処理及び異常画素補正処理を容易に行うことができるようになる。
【００４９】
図６（ａ）に示すように中央のラインＬ２の読取位置上に異物７０１が主走査位置ｘ＝３〜５の範囲で付着した場合、異物７０１の画像は、並び替えによって図６（ｂ）に示すように各色に分割される。図６（ｂ）では、異物７０１の画像が、赤（Ｒ）の主走査位置ｘ＝４の画素７０２、緑（Ｇ）の主走査位置ｘ＝５の画素７０３、青（Ｂ）の主走査位置ｘ＝３の画素７０４へと分割される。従来は、原稿１０３上の細線の画像（例えば３画素幅）と異物７０１による画像（例えば３画素幅）との区別が困難であり、複雑なアルゴリズムを用いて区別している。（原稿１０３に１画素幅の細線があったとしても、レンズ等の光学系の影響をうけてエッジ部がなまり、３画素分の幅をもった画像として読み取られる。）本実施形態のようなラインセンサ１２７、１３７を用いることで、異物７０１による画像が１画素幅に分割される。通常、原稿１０３に細線が１画素幅の画像として読み取られることは考えづらいため、原稿１０３上の細線の画像と異物７０１による画像との区別が容易になり、異常画素の検出精度が向上する。
【００５０】
異常画素検出部３０２は、画素順並替部３０１で色毎に並び替えられた読取データ（並替データ）に基づいて、異常画素の検出を行う（Ｓ６０２）。異常画素検出部３０２は、異常画素の検出結果を表す異常画素情報を生成する。図６（ｃ）は、異常画素情報の説明図である。
図６（ｃ）に示すように、異常画素検出部３０２で生成される異常画素情報は、主走査方向の１画素毎に１ビットが対応するフラグで表される。この例ではフラグは、異常画素を「１」、正常画素を「０」で表す。またＲ、Ｇ、Ｂの各色に対応する異常画素情報をそれぞれflag_r、flag_g、flag_bとする。主走査位置ｘ＝ｉにおけるそれぞれのフラグの値をflag_r[i]、flag_g[i]、flag_b[i]と表す。異物７０１により異常画素となった画素７０２、７０３、７０４に対応した位置で、フラグの値が「１」に設定される。即ち、異常画素情報は、flag_r[4]、flag_g[5]、flag_b [3]が「１」になり、異常画素の主走査方向の位置７０５、７０６、７０７を表す。異常画素の検出処理の詳細は後述する。
【００５１】
異常画素情報合成部３０３は、異常画素検出部３０２で生成された色毎の異常画素情報を合成する（Ｓ６０３）。異常画素情報合成部３０３は、同じ主走査位置の各色の異常画素情報の値を論理和演算することで、異常画素情報を合成した合成異常画素情報を生成する。例えば、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色の異常画素情報を合成した合成異常画素情報をflag_rgbとすると、主走査位置ｘ＝ｉにおけるflag_rgb[i]は以下の式で表される。
flag_rgb[i] = flag_r[i] | flag_g[i] | flag_b[i]
ここで、a|bはaとbの論理和を表す。
【００５２】
図６（ｃ）の異常画素情報flag_r、flag_g、flag_bを合成する場合、図６（ｄ）のような合成異常画素情報flag_rgbが算出される。図６（ｄ）の合成異常画素情報flag_rgbの主走査位置ｘ＝３〜５は、値が「１」になり、異常画素であることを表す。図６（ｄ）の主走査位置７０８（値が「１」）は、図６（ａ）の異物７０１と主走査方向の幅及び位置が等しい。そのために色間で合成して生成された合成異常画素情報flag_rgbの値「１」の本数及び値「１」の主走査方向の幅を計数することによって、ラインセンサ１２７の読取位置上に付着した異物７０１の主走査方向の幅と個数を正確に把握することができる。異常画素計数部３０４は、異常画素情報合成部３０３で生成された合成異常画素情報flag_rgbの値「１」の主走査方向の幅（画素数）をカウントする（Ｓ６０４）。カウント結果が、Ｓ５０４でＣＰＵ２０１が取得する異常画素の計数値となる。
【００５３】
異常画素情報合成部３０３及び異常画素計数部３０４による処理に並行して、異常画素補正部３０５は、異常画素検出部３０２で生成された各色の異常画素情報に基づいて、読取データ（並替データ）の異常画素の補正を行う（Ｓ６０５）。図６（ｂ）の異常画素７０２、７０３、７０４は、図６（ｃ）の異常画素情報flag_r、flag_g、flag_bが表す位置７０５、７０６、７０７に基づいて補正される。従来のように１ラインで１色の画像を読み取るラインセンサでは、異物の画像が色間に分割されない。図６（ａ）の異物７０１のように主走査方向に３画素分の大きさである場合、３画素が異常画素として検出される。１ラインで３画素の異常画素を補正するために、主走査位置ｘ＝３〜５の３チャネル３画素分、計９画素を補正対象として、補正痕の色付きを回避した補正が可能となる。本実施形態のように１ラインで複数色の画像を読み取るラインセンサでは、異物の画像が色間で分割される。図６（ｂ）に示すように補正対象はＲの主走査位置ｘ＝４の画素、Ｇの主走査位置ｘ＝５の画素、Ｂの主走査位置ｘ＝３の画素の計３画素分のみであり、補正による画像劣化が少ないという特長がある。従来は、図６（ａ）のような異物７０１により１色の３画素分を補正しており、隣接する補正していない画像との境界が明確になって補正痕が目立ってしまう。本実施形態ではすべての色を補正することになるために、補正痕を目立たなくすることができる。異常画素の補正の詳細は後述する。
【００５４】
このように、画像処理ＡＳＩＣ２０２は、異常画素の計数及び異常画素の補正を行って、画像処理を終了する。なお、異常画像が補正された読取データ（並替データ）は、画像データとして画像形成装置１５０へ送信される。
【００５５】
図７は、Ｓ６０２の異常画素検出処理の説明図である。
【００５６】
図７（ａ）は、ラインセンサ１２７で白色対向部材１１９を読み取ったときの輝度値を表す。異物が無い場合、輝度値８０１は、略一定の高い値となる。異物が有る場合、異物により反射光量が減少するために、輝度値８０２は異物が無い場合よりも低い値となる。異常画素検出部３０２は、異物が無い場合に白色対向部材１１９を読み取ったときの輝度値８０１にマージンを持たせた所定輝度値８０３を予め記憶する。所定輝度値８０３が異常画素を検出するための異常画素閾値となる。異常画素検出部３０２は、所定輝度値８０３と読取データ（並替データ）が表す輝度値とを比較することで異常画素を判定する。例えば、異常画素検出部３０２は、読取データ（並替データ）が表す輝度値が所定輝度値８０３以下の場合に、該画素を異常画素候補と判定し、所定輝度値８０３より高い場合に、概画素を正常画素と判定する。
【００５７】
原稿１０３が読取ガラス１２０と白色対向部材１１９の間を通過するため、白色対向部材１１９に付着した異物は、原稿１０３によって遮られ、読み取った原稿画像のスジ画像発生の原因とはならない。読取ガラス１２０に異物が付着している場合、読み取った原稿画像の副走査方向にスジ画像が発生する。そのために、白色対向部材１１９に付着した異物による異常画素候補は補正対象外の正常画素として扱われ、読取ガラス１２０に付着した異物による異常画素候補のみが補正対象の異常画素として扱われる。図７（ｂ）は異物が付着する位置によるスジ画像の説明図である。異物が読取ガラス１２０面上に付着する場合、異物は、読み取った画像の副走査方向に途切れることの無い連続した実線８０４として出現する。異物が白色対向部材１１９上に付着している場合、異物は、読み取った画像の副走査方向の原稿画像の先端位置までの実線８０５となり、原稿画像中には出現しない。
【００５８】
異常画素検出部３０２は、輝度値に応じて判定した異常画素候補の中から、このような副走査方向の差異により正常画素と異常画素とを判定する。具体的には、異常画素検出部３０２は、原稿画像の境界を挟んで副走査方向に異常画素候補が連続する場合に、該画素を、異物が読取ガラス１２０に付着したことによる異常画素と判定する。原稿画像の境界を挟んで副走査方向に異常画素候補が無い場合、異常画素検出部３０２は、異物が白色対向部材１１９に付着しているために、該画素を正常画素と判定する。
【００５９】
図８は、このような異常画素検出処理を表すフローチャートである。異常画素検出部３０２は、副走査方向の先端側から順に異常画素の検出処理を行う。
【００６０】
異常画素検出部３０２は、副走査カウンタｙを初期化する（Ｓ９０１）。これにより副走査カウンタｙは「０」に設定される。図７（ｂ）に示すように、副走査カウンタｙは、読み取った画像（原稿画像を含む範囲）の副走査方向の位置を表す。異常画素検出部３０２は、副走査カウンタｙが原稿画像の副走査方向の先端よりも副走査方向に前方に予め設定される位置ｙ０を示しているか否かを判定する（Ｓ９０２）。位置ｙ０は、読み取った画像の副走査方向の先端から、原稿画像の副走査方向の先端までの範囲を表しており、この範囲内の副走査カウンタｙの値である。
【００６１】
副走査カウンタｙが位置ｙ０を示している場合（Ｓ９０２：Y）、異常画素検出部３０２は、原稿画像の副走査方向の先端より前の領域、つまり副走査カウンタｙがｙ０の領域における１ライン分の異常画素候補判定を行う（Ｓ９０３）。異常画素候補判定処理の詳細は後述する。
【００６２】
副走査カウンタｙが位置ｙ０を示していない場合（Ｓ９０２：N）、異常画素検出部３０２は、副走査カウンタｙが原稿画像の副走査方向の領域内に設定される位置ｙ１、ｙ２の範囲内にあるか否かを判定する（Ｓ９０４）。なおｙ２＞ｙ１である。副走査カウンタｙが位置ｙ１、ｙ２の範囲内にある場合（Ｓ９０４：Y）、異常画素検出部３０２は、位置ｙ１、ｙ２の範囲内の複数ラインにおける異常画素判定を行い、異常画素候補判定処理の結果と比較して最終的な異常画素を判定する（Ｓ９０５）。異常画素判定処理の詳細は後述する。
【００６３】
異常画素候補判定処理後、異常画素判定処理後、或いは副走査カウンタｙが位置ｙ１、ｙ２の範囲内にない場合（Ｓ９０４：N）、異常画素検出部３０２は、副走査カウンタｙが副走査サイズheight未満であるか否かを判定する（Ｓ９０６）。副走査サイズheightは、ラインセンサ１２７が読み取る領域の副走査方向の最後端を表す。副走査カウンタｙが副走査サイズheight未満である場合（Ｓ９０６：Y）、異常画素検出部３０２は、副走査カウンタｙをインクリメントしてＳ９０２以降の処理を繰り返し行う（Ｓ９０７）。副走査カウンタｙが副走査サイズheight以上である場合（Ｓ９０６：N）、異常画素検出部３０２は、異常画素検出処理を終了する。以上の処理により、異常画素検出部３０２は、異常画素を検出する。
【００６４】
図９は、Ｓ９０３の異常画素候補判定処理を表すフローチャートである。異常画素検出部３０２は、主走査方向の端部から順に１画素ずつ異常画素候補の判定処理を行う。
【００６５】
異常画素検出部３０２は、主走査カウンタｘを初期化する（Ｓ１００１）。これにより主走査カウンタｘは「０」に設定される。主走査カウンタｘは、読み取った画像（原稿画像を含む範囲）の主走査方向の位置を表す。異常画素検出部３０２は、注目画素の輝度値が所定輝度値８０３以下であるか否かを判定する（Ｓ１００２）。
【００６６】
注目画素の輝度値が所定輝度値８０３以下である場合（Ｓ１００２：Y）、異常画素検出部３０２は、該画素の第１判定値に異常画素を示す値を設定する（Ｓ１００３）。本実施形態では、第１判定値に「１」が設定される。注目画素の輝度値が所定輝度値８０３未満である場合（Ｓ１００２：N）、異常画素検出部３０２は、該画素の第１判定値に正常画素を示す値を設定する（Ｓ１００４）。本実施形態では、第１判定値に「０」が設定される。異常画素検出部３０２は、値が設定された第１判定値を主走査方向の位置（画素）毎にメモリに格納する（Ｓ１００５）。
【００６７】
異常画素検出部３０２は、主走査カウンタｘが主走査サイズwidth未満であるか否かを判定する（Ｓ１００６）。主走査サイズwidthは、ラインセンサ１２７が読み取る領域の主走査方向の端部を表す。主走査カウンタｘが主走査サイズwidth未満である場合（Ｓ１００６：Y）、異常画素検出部３０２は、主走査カウンタｘをインクリメントしてＳ１００２以降の処理を繰り返し行う（Ｓ１００７）。主走査カウンタｘが主走査サイズwidth以上である場合（Ｓ１００６：N）、異常画素検出部３０２は、異常画素候補判定処理を終了する。以上の処理により、異常画素検出部３０２は異常画素候補の判定を行う。
【００６８】
図１０は、Ｓ９０５の異常画素判定処理を表すフローチャートである。異常画素検出部３０２は、主走査方向の端部から順に１画素ずつ異常画素の判定処理を行う。Ｓ１１０１及びＳ１１０２の処理は、図９のＳ１００１及びＳ１００２の処理と同様であるので説明を省略する。
【００６９】
異常画素検出部３０２は、異常画素候補が副走査方向に連続する画素数を計数して、異常画素候補が副走査方向に所定長さ以上連続するか否かを判定する（Ｓ１１０３）。これは、原稿画像内の罫線や文字を読み取った画素と、異物による異常画素と、を切り分けるための処理である。異物による異常画素は読み取った画像の副走査方向の全域に現れるため、異常画素検出部３０２は、読み取った画像の全域で副走査方向に異常と判定されるものを異常画素候補とし、そうではないものを正常画素として扱う。
【００７０】
異常画素候補が副走査方向に所定長さ以上連続する場合（Ｓ１１０３：Y）、異常画素検出部３０２は、該画素の第２判定値に異常画素を示す値を設定する（Ｓ１１０４）。本実施形態では、第２判定値に「１」が設定される。異常画素検出部３０２は、主走査位置ｘの画素に対応する第１判定値をメモリから読み出す（Ｓ１１０５）。異常画素検出部３０２は、第１判定値及び第２判定値が同値であるか否かを判定する（Ｓ１１０６）。
【００７１】
第１判定値及び第２判定値が同値でない場合（Ｓ１１０６：N）、異常画素検出部３０２は、該画素の第２判定値に正常画素を示す値を設定する（Ｓ１１０７）。本実施形態では、第２判定値に「０」が設定される。異常画素検出部３０２は、注目画素の輝度値が所定輝度値８０３未満である場合（Ｓ１１０２：N）、或いは異常画素候補が副走査方向に所定長さ以上連続しない場合（Ｓ１１０３：N）にも該画素の第２判定値に正常画素を示す値を設定する（Ｓ１１０７）。異常画素検出部３０２は、値が設定された第２判定値（この場合は「０」）を主走査方向の位置（画素）毎にメモリに格納する（Ｓ１１０８）。
【００７２】
第１判定値及び第２判定値が同値である場合（Ｓ１１０６：Y）、異常画素検出部３０２は、値が設定された第２判定値（この場合は「１」）を主走査方向の位置（画素）毎にメモリに格納する（Ｓ１１０８）。
Ｓ１１０９及びＳ１１１０の処理は、図１０のＳ１００６及びＳ１００７の処理と同様であるので説明を省略する。以上の処理により、異常画素検出部３０２は、異常画素の判定を正確に行うことができる。メモリに格納された第２判定値が、そのまま異常画素情報となる。
【００７３】
図１１は、図５のＳ６０５の異常画素の補正処理の説明図である。異常画素の補正は、補正領域に隣接する画素である境界画素を用いて、補正領域全体の画素を線形補完することで行われる。図１１では、異常画素補正部３０５により補正される異常画素と判定された補正領域は、主走査方向のＸ0画素〜ＸL画素の範囲である。補正領域内の輝度値は、その境界の画素であるＸ0画素の輝度値Ｂ0及びＸL画素の輝度値ＢLで表される。この場合、補正領域内のＸK画素における輝度値の補正値ＢKは、以下の式で表される。
Ｂx＝（ＢL−Ｂ0）・（ＸK−Ｘ0）／（ＸL−Ｘ0）＋Ｂ0
【００７４】
異常画素補正部３０５は、この式を用いて補正領域内のすべての画素の輝度値の補正を行う。補正された読取データは、画像データとして画像処理ＡＳＩＣ２０２から画像形成装置１５０へ送信される。
【００７５】
本実施形態では、白色対向部材１１９、１２９と原稿画像の主走査方向先端とを読み取ることで異物検出を行うが、白色対向部材１１９、１２９の読取結果のみから異物検出を行ってもよい。
【００７６】
以上のような画像読取装置１００は、千鳥状にＲ、Ｇ、Ｂの各受光素子が配置されたラインセンサ１２７、１３７を用いて画像読取を行う場合であっても、読取位置に付着するゴミ等の異物を正確に検出することができる。また、異物による異常画像が各色に分割されるために、画像読取装置１００は、補正痕を目立たなくして読取画像を補正することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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