(57)【要約】【課題】Ｘ線を用いない安価な装置であるにも拘らず、Ｘ線検査装置と同等の精度で目とびの発生を検出することができる目とび検査装置を提供する。【解決手段】平行に配列された複数のスチールコードにゴムを被覆して製造されたトップ反に発生した目とびを検出するトップ反の目とび検出装置であって、搬送中のトップ反の表面に渦電流を生じさせて、スチールコードの面積変動に基づいて変化する渦電流を電気信号として取得する渦電流式変位センサーと、渦電流式変位センサーをトップ反に近接させてトップ反の幅方向に往復動させる走行手段とを備えており、渦電流式変位センサーにより取得された電気信号の変化に基づいてトップ反に目とびが発生しているか否かを検出するトップ反の目とび検出装置。【選択図】図１
2017198601.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
平行に配列された複数のスチールコードにゴムを被覆して製造されたトップ反に発生した目とびを検出するトップ反の目とび検出装置であって、
搬送中の前記トップ反の表面に渦電流を生じさせて、前記スチールコードの面積変動に基づいて変化する渦電流を電気信号として取得する渦電流式変位センサーと、
前記渦電流式変位センサーを、前記トップ反に近接させて前記トップ反の幅方向に往復動させる走行手段とを備えており、
前記渦電流式変位センサーにより取得された電気信号の変化に基づいて、前記トップ反に目とびが発生しているか否かを検出することを特徴とするトップ反の目とび検出装置。
【請求項２】
前記トップ反に目とびが発生しているか否かの検出が、前記渦電流式変位センサーにより取得された電気信号が予め設定された閾値を上回っているか否かにより判定する判定手段によって行われることを特徴とする請求項１に記載のトップ反の目とび検出装置。
【請求項３】
さらに、前記渦電流式変位センサーに取り付けられており、前記トップ反の上方から前記トップ反の表面にレーザーを照射し、その反射光に基づいて前記トップ反の表面から前記渦電流式変位センサーまでの距離を測定するレーザー変位計と、
前記レーザー変位計により測定された前記距離に基づいて、前記渦電流式変位センサーにより得られた電気信号を補正する補正手段とを備えていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のトップ反の目とび検出装置。
【請求項４】
前記渦電流式変位センサーが、前記トップ反の幅方向に複数配置されていることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載のトップ反の目とび検出装置。
【請求項５】
複数の前記渦電流式変位センサーが、前記トップ反の幅方向に等間隔に配置されていることを特徴とする請求項４に記載のトップ反の目とび検出装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のトップ反の目とび検出装置を用いて、前記トップ反における目とびの発生を検出するトップ反の目とび検出方法であって、
前記渦電流式変位センサーを、搬送中の前記トップ反に近接させて前記トップ反の幅方向に往復動させながら、
前記渦電流式変位センサーから前記トップ反の表面に渦電流を生じさせて、前記スチールコードの面積変動に基づいて変化する渦電流を電気信号として取得する取得工程と、
前記取得工程において取得された電気信号の変化に基づいて、前記トップ反に目とびが発生しているか否かを検出する検出工程とを備えていることを特徴とするトップ反の目とび検出方法。
【請求項７】
前記検出工程が、前記渦電流式変位センサーにより取得された電気信号が予め設定された閾値を上回っているか否かにより判定することを特徴とする請求項６に記載のトップ反の目とび検出方法。
【請求項８】
さらに、前記渦電流式変位センサーに取り付けられた前記レーザー変位計を用いて、前記トップ反の上方から前記トップ反の表面にレーザーを照射し、その反射光に基づいて前記トップ反の表面から前記渦電流式変位センサーまでの距離を測定する測定工程と、
前記測定工程において測定された前記距離に基づいて、前記取得工程において得られた電気信号を補正する補正工程とを備えていることを特徴とする請求項６または請求項７に記載のトップ反の目とび検出方法。
【請求項９】
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のトップ反の目とび検出装置と、
搬送中の前記トップ反の厚みを検出する厚み検出装置とを備えていることを特徴とするトップ反の検査装置。
【請求項１０】
前記厚み検出装置が、エアー式厚み測定装置であることを特徴とする請求項９に記載のトップ反の検査装置。
【請求項１１】
前記トップ反の搬送方向において、前記厚み検出装置が、前記トップ反の目とび検出装置の前記渦電流式変位センサーよりも上流側に設けられており、
前記厚み検出装置により検出された前記トップ反の厚みが所定の厚みを上回った場合に、前記トップ反の目とび検出装置の前記渦電流式変位センサーを上昇させる上昇手段が設けられていることを特徴とする請求項９または請求項１０に記載のトップ反の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、トップ反の製造時に発生するスチールコードの目とびを検出するトップ反の目とび検出装置と検出方法、および前記トップ反の目とび検出装置が設けられたトップ反の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
空気入りタイヤの製造工程においては、平行に配列された複数のスチールコードにゴムを被覆（トッピング）することにより長尺のトップ反を製造しているが、このとき、正規に存在すべき箇所のスチールコードが抜けている場合や所定本数のスチールコードはあるものの間隔が部分的に開いていること（これらを総称して、以下「目とび」という）がある。また、トップ反の厚みに大きな変動が生じたりすることもある。このようなトップ反を用いて製造された空気入りタイヤは、製品タイヤの強度を低下させたり、外観不良が生じたりして商品価値を低下させる恐れがあるため、スクラップとして廃棄せざるを得ず、生産性が低下する要因ともなる。
【０００３】
そこで、トップ反を製造するトッピングカレンダーラインには、従来より、トップ反に目とびが生じていないか、また、トップ反の厚みに大きな変動が生じていないかを検査する装置として、例えば、超音波を利用した検査装置が設けられている（特許文献１）。
【０００４】
しかし、現在、超音波検査装置は、使用されておらず、通常は、図８に示すようなＸ線を利用した検査装置（以下「Ｘ線検査装置」という）が使用されている。なお、図８において（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
【０００５】
具体的には、このＸ線検査装置１７は、トップ反Ｔを挟んで対向するように配置された上下一対のセンサーヘッド１８と、センサーヘッド１８をトップ反Ｔの幅方向に走行させる走行手段７とを備えており、トップ反Ｔを図中の矢印Ｄの方向に搬送しながらセンサーヘッド１８をトップ反Ｔの幅方向に往復させることにより目とびの発生を検出すると共に、図８の１０の位置に配置された厚み検出装置でトップ反Ｔの厚みを検出して大きな変動が生じていないかを検査している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１−１３２９５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、Ｘ線検査装置は非常に高価であり導入に際して多額なイニシャルコストが発生する。また、安全管理上、放射線取扱設備を設ける必要があるため、さらに、多額の費用が必要となる。そこで、Ｘ線を用いることなく、トップ反の目とびの発生と厚みの双方を検出することができる安価な検査装置が求められている。
【０００８】
そして、Ｘ線検査装置と同等の精度でトップ反の検査を行うことができる装置について、トップ反の厚みを検出する厚み検出装置は既に安価な装置があるが、目とびを検出する目とび検出装置については未だ安価な装置はない。
【０００９】
そこで、本発明は、Ｘ線を用いない安価な装置であるにも拘らず、Ｘ線検査装置と同等の精度で目とびの発生を検出することができる目とび検査装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１に記載の発明は、
平行に配列された複数のスチールコードにゴムを被覆して製造されたトップ反に発生した目とびを検出するトップ反の目とび検出装置であって、
搬送中の前記トップ反の表面に渦電流を生じさせて、前記スチールコードの面積変動に基づいて変化する渦電流を電気信号として取得する渦電流式変位センサーと、
前記渦電流式変位センサーを、前記トップ反に近接させて前記トップ反の幅方向に往復動させる走行手段とを備えており、
前記渦電流式変位センサーにより取得された電気信号の変化に基づいて、前記トップ反に目とびが発生しているか否かを検出することを特徴とするトップ反の目とび検出装置である。
【００１１】
請求項２に記載の発明は、
前記トップ反に目とびが発生しているか否かの検出が、前記渦電流式変位センサーにより取得された電気信号が予め設定された閾値を上回っているか否かにより判定する判定手段によって行われることを特徴とする請求項１に記載のトップ反の目とび検出装置である。
【００１２】
請求項３に記載の発明は、
さらに、前記渦電流式変位センサーに取り付けられており、前記トップ反の上方から前記トップ反の表面にレーザーを照射し、その反射光に基づいて前記トップ反の表面から前記渦電流式変位センサーまでの距離を測定するレーザー変位計と、
前記レーザー変位計により測定された前記距離に基づいて、前記渦電流式変位センサーにより得られた電気信号を補正する補正手段とを備えていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のトップ反の目とび検出装置である。
【００１３】
請求項４に記載の発明は、
前記渦電流式変位センサーが、前記トップ反の幅方向に複数配置されていることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載のトップ反の目とび検出装置である。
【００１４】
請求項５に記載の発明は、
複数の前記渦電流式変位センサーが、前記トップ反の幅方向に等間隔に配置されていることを特徴とする請求項４に記載のトップ反の目とび検出装置である。
【００１５】
請求項６に記載の発明は、
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のトップ反の目とび検出装置を用いて、前記トップ反における目とびの発生を検出するトップ反の目とび検出方法であって、
前記渦電流式変位センサーを、搬送中の前記トップ反に近接させて前記トップ反の幅方向に往復動させながら、
前記渦電流式変位センサーから前記トップ反の表面に渦電流を生じさせて、前記スチールコードの面積変動に基づいて変化する渦電流を電気信号として取得する取得工程と、
前記取得工程において取得された電気信号の変化に基づいて、前記トップ反に目とびが発生しているか否かを検出する検出工程とを備えていることを特徴とするトップ反の目とび検出方法である。
【００１６】
請求項７に記載の発明は、
前記検出工程が、前記渦電流式変位センサーにより取得された電気信号が予め設定された閾値を上回っているか否かにより判定することを特徴とする請求項６に記載のトップ反の目とび検出方法である。
【００１７】
請求項８に記載の発明は、
さらに、前記渦電流式変位センサーに取り付けられた前記レーザー変位計を用いて、前記トップ反の上方から前記トップ反の表面にレーザーを照射し、その反射光に基づいて前記トップ反の表面から前記渦電流式変位センサーまでの距離を測定する測定工程と、
前記測定工程において測定された前記距離に基づいて、前記取得工程において得られた電気信号を補正する補正工程とを備えていることを特徴とする請求項６または請求項７に記載のトップ反の目とび検出方法である。
【００１８】
請求項９に記載の発明は、
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のトップ反の目とび検出装置と、
搬送中の前記トップ反の厚みを検出する厚み検出装置とを備えていることを特徴とするトップ反の検査装置である。
【００１９】
請求項１０に記載の発明は、
前記厚み検出装置が、エアー式厚み検出装置であることを特徴とする請求項９に記載のトップ反の検査装置である。
【００２０】
請求項１１に記載の発明は、
前記トップ反の搬送方向において、前記厚み検出装置が、前記トップ反の目とび検出装置の前記渦電流式変位センサーよりも上流側に設けられており、
前記厚み検出装置により検出された前記トップ反の厚みが所定の厚みを上回った場合に、前記トップ反の目とび検出装置の前記渦電流式変位センサーを上昇させる上昇手段が設けられていることを特徴とする請求項９または請求項１０に記載のトップ反の検査装置である。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、Ｘ線を用いない安価な装置であるにも拘らず、Ｘ線検査装置と同等の精度で目とびの発生を検出することができる目とび検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施の形態に係るトップ反の検査装置を説明する図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
【図２】本発明の一実施の形態に係るトップ反の目とび検出装置の演算部の構成を概念的に示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施の形態において、渦電流式変位センサーおよび位置検出部の検出結果に基づいて取得した電気信号を示す図である。
【図４】本発明の一実施の形態において、レーザー式変位センサーにより測定された距離を示す図である。
【図５】図４に示す測定距離による電気信号の補正を説明する図である。
【図６】図５に示す補正を行った結果を示す図である。
【図７】図５に示すピークに基づいた目とびの判定を説明する図である。
【図８】従来のＸ線検査装置を説明する図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
１．本発明の概要
本発明についての理解を容易にするために、実施の形態の説明に先立って本発明の概要について説明する。
【００２４】
本発明者は、上記した課題の解決にあたって、トップ反に含まれるスチールコードが金属製であることに着目し、このスチールコード自身を検出する手段として、渦電流式変位センサーを用いることに思い至った。
【００２５】
即ち、渦電流式変位センサーは、内部先端部のセンサコイルに発生させた磁界中に金属が近づくことにより金属表面に発生する渦電流が、金属までの距離により変化することに基づいて金属までの距離を測定するセンサーである。しかし、本発明者は、渦電流式変位センサーによる渦電流が磁界中にある金属の面積によっても変化することから、一定の距離における渦電流の変化を知れば、磁界中にある金属の面積の変化、即ち、スチールコードの本数の変化を知ることができると考え、本発明を完成するに至った。
【００２６】
２．本実施の形態に係るトップ反の目とび検出装置の概要
以下、実施の形態に基づいて図面を参照して説明する。
【００２７】
図１は、本実施の形態に係るトップ反の目とび検出装置を説明する図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。図１（ａ）に示すように、本実施の形態に係る目とび検出装置は、搬送方向Ｄに向けてトップ反Ｔを搬送しながら、センサーをトップ反Ｔの幅方向に往復動させる点においては、従来のＸ線検査装置と同様である。
【００２８】
しかし、本実施の形態においては、トップ反Ｔの目とびを検出するためのセンサーとして、渦電流式変位センサー２を用いている点で従来のＸ線検査装置と異なる。
【００２９】
具体的には、渦電流式変位センサー２に発生させた磁界中にあるスチールコードの本数の変化（面積の変化）に対応して変化する渦電流を測定することにより、スチールコードの有無を検出することができ、目とびの発生をＸ線検査装置と同等の精度で検出することができる。
【００３０】
そして、このような渦電流式変位センサー２は、Ｘ線検査装置と比べてはるかに安価であり、Ｘ線を使用しないため安全に使用することができる。
【００３１】
３．本実施の形態に係るトップ反の目とび検出装置の具体的な構成
次に、上記した本実施の形態に係る目とび検出装置の一例を挙げて具体的に説明する。
【００３２】
（１）渦電流式変位センサー
本実施の形態においては、３個の渦電流式変位センサー２が等間隔に配置されている。各々の渦電流式変位センサー２は、センサーヘッド領域に交流電源に接続されたコイルを備えており、各々のコイルに交流電流を流してセンサーの周囲に磁界を発生させることにより、検査対象であるトップ反Ｔ内部のスチールコードに渦電流を誘起させ、磁界中にあるスチールコードの本数（面積）に応じて変化する渦電流を、例えば、電圧の変化として電気信号に取り出すことにより、目とびが発生しているか否かを精度高く検出することができる。
【００３３】
なお、図１においては、３個の渦電流式変位センサー２でトップ反Ｔの総幅を検査するように構成されている。このように複数のセンサーを設けることにより、１個のセンサーが検査する領域を少なくすることができるため、トップ反を速く搬送しても精度が高い検出を行うことができる。
【００３４】
また、各々の渦電流式変位センサー２の間隔を等間隔に維持したままトップ反の幅方向に走行させて検出を行うように構成されている。これにより、各々の渦電流式変位センサーを同期させて往復動させることができるため、効率的に検出することができる。
【００３５】
（２）走行手段
走行手段７は、渦電流式変位センサー２をトップ反の幅方向に往復動させる点においては従来のＸ線検査装置の走行手段と同様であるが、図１（ｂ）に示すように渦電流式変位センサー２をトップ反Ｔに対して近接、離間させることができるようにも構成されている点でＸ線検査装置の走行手段と異なっている。これは、スチールコードの検出を行うに際して、渦電流式変位センサー２はトップ反Ｔの表面から３ｍｍ程度の距離まで近接させる必要がある一方で、ジョイント部のように厚みのある部分が搬送されてきた際に渦電流式変位センサー２がトップ反Ｔと干渉することがないようにするためである。
【００３６】
また、走行手段７には、位置検出部８が取り付けられており、各々の渦電流式変位センサー２がトップ反Ｔの幅方向のどの位置においてスチールコードの検出を行っているかを検出することができる。
【００３７】
（３）レーザー変位計
なお、搬送中のトップ反Ｔの表面にうねりやバタツキ等があると、渦電流式変位センサー２とトップ反Ｔの表面との距離が変化して、渦電流式変位センサー２の測定結果に乱れを生じさせる（外乱）恐れがある。そこで、このような外乱による影響をキャンセルして精度高い検出を行うには、トップ反Ｔの表面から渦電流式変位センサー２までの距離を測定するレーザー変位計を設けて、このレーザー変位計の測定結果に基づいて渦電流式変位センサー２で得られた電気信号を補正することが好ましい。
【００３８】
この観点から、図１に示す目とび検出装置においては、渦電流式変位センサー２にレーザー変位計９が取り付けられている。このレーザー変位計９は、トップ反Ｔの上方からトップ反Ｔの表面にレーザーを照射し、その反射光に基づいてトップ反Ｔの表面から渦電流式変位センサー２までの距離を測定する。
【００３９】
（４）演算装置
前記した渦電流式変位センサー２による電気信号の変化は、目視によって行ってもよいが、渦電流式変位センサー２により取得された電気信号が予め設定された閾値を上回っているか否かにより判定することが好ましく、このような判定手段を演算装置に内蔵させておくことが好ましい。そして、この演算装置には、渦電流式変位センサー２からの電気信号を補正する補正手段も内蔵していることが好ましい。図２は本実施の形態に係るトップ反の目とび検出装置の演算部の構成を概略的に示すブロック図である。
【００４０】
図２に示すように、演算装置１３は、渦電流式変位センサー２と、レーザー変位計９と、走行手段７の位置検出部８が接続されており、各々の検出器から検出結果が送信されるように構成されている。また、演算装置１３には、予め、製造されるトップ反におけるスチールワイヤーの径、エンズ（トップ反の単位幅当たりに含まれるスチールワイヤーの本数）、また、判定の基準となる閾値などが、予めレシピＲとして記憶されている。
【００４１】
演算装置１３は、先ず、渦電流式変位センサー２と位置検出部８との検出結果に基づいて図３に示すような波形信号を取得する。図３において、横軸は渦電流式変位センサー２により測定した位置を時間スケールで示したもの（１目盛りが４００ｍｓ）であり、縦軸は渦電流式変位センサー２から得られた電気信号である電圧の変化（１目盛りが１Ｖ）を示している。
【００４２】
上記したように、渦電流式変位センサー２がトップ反Ｔに渦電流を流しながら、トップ反Ｔの幅方向に走行すると、トップ反Ｔ内部のスチールコードの断面積の変動に応じた電気信号が得られる。このとき、スチールコードが正規の状態で等間隔に配列されている場合には、磁界中におけるスチールコードの断面積は殆ど変動しないため、図３中の２１の領域のような比較的平坦な波形となる。
【００４３】
一方、渦電流式変位センサー２が、目とびによってスチールコードが欠落している部分を通過すると、磁界中におけるスチールコードの断面積が大きく変動する（例えば１０％以上）ため、電気信号の波形にも大きな変動が生じる。このため、電気信号の波形に基づいて平坦な波形からのズレ（ギャップ２０）を知ることにより、トップ反に目とびが発生していることを精度高く知ることができる。なお、この判定に際して、予め閾値を定めておいて、ギャップ２０がこの閾値を上回っているか否かによって目とびの発生を判定することもできる。
【００４４】
上記した測定に際して、搬送中のトップ反Ｔの表面には一般にうねりやバタツキがあり、その程度によっては、渦電流式変位センサー２の測定結果に乱れを生じさせて、精度高い判定ができなくなる恐れがある。そこで、本実施の形態においては、このようなうねりやバタツキが外乱要因として検出結果に影響を与えないように、レーザー変位計９の検出結果に対して補正を行い、補正された電気信号に基づいて判定を行っている。これにより、精度高い検出が可能となる。
【００４５】
具体的には、レーザー式変位センサーは、トップ反の表面にレーザーを照射して、その反射光に基づいてトップ反の表面から渦電流式変位センサーまでの距離を測定することができる。そして、測定した距離に基づいて渦電流の信号波形を作成することにより図４に示すようなトップ反のうねりやバタツキに起因した距離の変動を示す波形を得て、この距離の変動に基づいて演算装置において補正の処理を行う。
【００４６】
即ち、図５に示すように、図３に示す渦電流式変位センサーにより得られた波形から図４に示すレーザー式変位センサーにより得られた波形を取り除くことを行う（スケーリング処理）。これにより、トップ反のうねりやバタツキに起因した外乱がキャンセルされて、図６に示すように、目とびの発生に起因する電気信号の変化だけがギャップ２０として得られる。なお、図５においては、実線が渦電流式変位センサーにより得られた波形を示し、点線がレーザー式変位センサーにより得られた距離に基づく波形を示している。
【００４７】
そして、図７に示すように、演算装置の判定手段は、このギャップ２０と閾値２３とを比較して、ギャップ２０のピーク値２４が閾値２３を上回っている場合に、搬送中のトップ反に目とびが生じていると判定する。なお、より正確な判定を行うためには、下記の式のように、ギャップ２０の前後の平均値でピーク値２４を補正した判定を行うことが好ましい。
閾値＜（ピーク値−（ギャップ前の領域２５の平均値＋ギャップ後の領域２６の平均値）／２））
【００４８】
以上、本実施の形態に係る目とび検出装置は、Ｘ線を用いることなく、トップ反の目とびの発生を精度高く検出することができる。そして、このような渦電流式変位センサーは、図１のように複数個センサーを配置した場合でも、Ｘ線検査装置と比べてはるかに安価であり、導入の際に要するイニシャルコストを大幅に削減することができる。また、Ｘ線検査装置を用いる場合のように放射線取扱設備を設ける必要がないという点においても費用を削減することができ、また、安全管理も容易になる。
【００４９】
なお、図２に示すように、目とび検出装置の演算装置１３は、トップ反の搬送を制御するライン制御装置１４と接続されていることが好ましい。そして、演算装置１３が目とびを検出した際に、目とび検出信号をライン制御装置１４に送信してトップ反の搬送ラインを減速させてスチールコードの不具合を修正することができるため、トップ反の目とびの発生に対応するための手直しの時間を短縮させることができる。
【００５０】
また、演算装置１３は、走行手段７の駆動を制御できるように構成されていることが好ましい。具体的には、閾値を上回る電気信号を演算装置１３が取得した場合、演算装置１３が走行手段７に駆動（Ｆ／Ｒ）信号を送信し、閾値を上回る電気信号が得られた箇所の上方を渦電流式変位センサー２が繰り返し往復動するように制御する。これにより、目とび検出の信頼性をより向上させることができる。
【００５１】
４．トップ反の検査装置
従来のＸ線検査装置と同じように搬送中のトップ反の目とびと厚みの両方を検出する場合には、上記した実施の形態に係る目とび検出装置と、搬送中のトップ反の厚みを検出する厚み検出装置と組み合わせてトップ反の検査装置とする。
【００５２】
このときに使用する厚み検出装置としては、エアー式厚み検出装置が好ましく、レーザーを用いた厚み検出センサーを備えた厚み検出装置、超音波センサーを備えた厚み検出装置などを使用してもよい。これらの装置は、安価であり、前記目とび検出装置と組み合わせても、Ｘ線検査装置に比べてはるかに安価に構成させることができるため、イニシャルコストをより適切に抑制することができる。
【００５３】
また、上記したように、目とびの検出を行うに際しては、渦電流式変位センサー２をトップ反Ｔの表面から３ｍｍ程度の距離まで近接させるが、トップ反に他の部分よりも厚いジョイント部があり、このジョイント部が渦電流式変位センサー２に干渉する恐れがある。
【００５４】
そこで、図１（ａ）に示すように、厚み検出装置１０を目とび検出装置の渦電流式変位センサー２よりも上流側に設け、検出されたトップ反Ｔの厚みが所定の厚みを上回った場合に、渦電流式変位センサー２を上昇させることが好ましい。これにより、トップ反Ｔのジョイント部がセンサーの下方を通過する際に、渦電流式変位センサー２を退避させてジョイント部が渦電流式変位センサー２に干渉することを防止することができる。
【００５５】
以上、本発明を実施の形態に基づいて説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明と同一および均等の範囲内において、上記の実施の形態に対して種々の変更を加えることができる。
【符号の説明】
【００５６】
２      渦電流式変位センサー
７      走行手段
８      位置検出部
９      レーザー変位計
１０    厚み検出装置
１３    演算装置
１４    ライン制御装置
１７    Ｘ線検査装置
１８    センサーヘッド
２０    ギャップ
２１    平坦な領域
２３    閾値
２４    ピーク値
２５    ギャップ前の領域
２６    ギャップ後の領域
Ｄ      搬送方向
Ｒ      レシピ
Ｔ      トップ反
【図１】
2017198601.tif 000003
【図２】
2017198601.tif 000004
【図３】
2017198601.tif 000005
【図４】
2017198601.tif 000006
【図５】
2017198601.tif 000007
【図６】
2017198601.tif 000008
【図７】
2017198601.tif 000009
【図８】
2017198601.tif 000010