(57)【要約】【課題】ゴムの表面のクラックが精度よく簡易に検査できる検査方法の提供。【解決手段】本発明に係る検査方法は、ゴムの表面上のクラックを検査する方法である。この方法は、上記ゴムの表面について、複数の異なる領域を拡大撮影する工程、上記の撮影で得られた複数の画像内の同じ位置の画素について、それらの平均輝度を算出する工程及び撮影した画像から、その画素の輝度が上記平均輝度である画像を減算する工程を含む。好ましくは、上記撮影する領域の数は６以上である。好ましくは、この方法は、上記ゴムの表面を撮影する前に、上記ゴムを劣化させる工程をさらに含む。好ましくは、上記ゴムは、タイヤ用のゴムである。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ゴムの表面上のクラックを検査する方法であって、
上記ゴムの表面について、複数の異なる領域を拡大撮影する工程、
上記の撮影で得られた複数の画像内の同じ位置の画素について、それらの平均輝度を算出する工程
及び
撮影した画像から、その画素の輝度が上記平均輝度である画像を減算する工程、
を含むゴムのクラックの検査方法。
【請求項２】
上記撮影する領域の数が６以上である請求項１に記載の検査方法。
【請求項３】
上記ゴムの表面を撮影する前に、上記ゴムを劣化させる工程をさらに含む請求項１又は２に記載の検査方法。
【請求項４】
上記減算後の画像データを二値化する工程をさらに含む請求項１から３いずれかに記載の検査方法。
【請求項５】
上記ゴムが、タイヤ用のゴムである請求項１から４のいずれかに記載の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ゴムのクラックの検査方法に関する。詳細には、本発明は、タイヤ用のゴムのクラックの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
タイヤは、時間の経過とともに徐々に劣化する。劣化が進行したタイヤでは、その表面にクラックが発生することが起こりうる。クラックは、タイヤの外観不良の要因となりうる。タイヤの耐クラック性を、精度よく検査することは重要である。
【０００３】
タイヤの劣化の主な要因は、大気中のオゾンである。タイヤの耐クラック性を検査するために、例えば、タイヤに使用するゴムの耐オゾン性が、「ＪＩＳ  Ｋ６２５９」に準拠して試験される。この方法では、一定濃度のオゾン雰囲気中で、試験用のゴム片に歪みが与えられる。このゴム片の表面に発生したクラックが観測される。また、タイヤ全体を一定濃度のオゾン雰囲気中に晒して、タイヤの表面に発生したクラックを観測する方法が採られることもある。
【０００４】
ゴムの表面に発生したクラックを目視で観測するのは手間がかかる。測定のミスも起こりやすい。このため、ゴムの表面を拡大撮影し、この画像データに対して計算機等でデータ処理を施すことで、クラックの観測を容易にする方法が採られることがある。この方法の一例が、特開２０１４−１２６３７０公報に開示されている。この方法では、撮影した画像について、画素毎の輝度が解析される。画素の輝度が、所定の閾値により二値化される。画像中で、この閾値より輝度が小さい部分がクラックと認識される。この閾値より輝度が大きい部分はクラックが発生していない部分と認識される。これによって認識されたクラックの面積の、全体の面積に対する割合が計算される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１４−１２６３７０公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ゴム表面を撮影した画像では、撮影装置や撮影の条件によって、画像内の位置に依存した輝度むらが生じることがある。例えば、画像の中心部分の輝度は高く周辺部分の輝度は低くなることが起こりうる。輝度むらにより、ある位置におけるクラックでない部分の画素の輝度が、別の部分におけるクラックの輝度と同等以下になることが起こり得る。撮影した画像について、所定の閾値により画素の輝度を二値化する方法では、この輝度むらによる輝度が低い部分とクラックとの区別がつかないことが起こりうる。
【０００７】
撮影装置や撮影の条件による輝度むらの影響を排除するために、あらかじめクラックが発生していないゴムの表面を撮影しておく方法がある。この撮影は、クラックを検査するのと同じ装置を使用し、同じ条件で行われる。これで撮影した画像は、背景画像とされる。クラックの検査をするゴムの表面を撮影した後、この画像から背景画像が減算される。これにより、輝度むらの影響が取り去られる。この減算後の画像が二値化される。
【０００８】
タイヤ用のゴムでは、ワックス、ステアリン酸等の配合物が、時間とともにゴムの内部から表面に移行する。ゴムの表面に到達したこれらの配合物は、ブルーム物と称される。ブルーム物は、撮影した画像の輝度に影響を与える。ブルーム物の状態は、ゴム毎に異なる。クラックの検査をするゴムの表面のブルーム物の状態は、上記の背景画像を撮影したゴムの表面のブルーム物の状態とは異なる。クラックの検査をするゴムの表面の画像から、別のゴムから作成した背景画像を減算する方法では、これらのゴム間のブルーム物の状態の違いが、減算後の画像に影響を及ぼす。この方法では、正しくクラックを認識できないことが起こりうる。
【０００９】
クラックの検査をするゴムについて、背景となる画像の輝度を関数で近似させ、これで作成した背景画像をクラックの検査をするゴムの表面の画像から減算する方法がある。この方法では、撮影するゴムや測定条件により、背景画像を作るための関数を調整する必要がある。
【００１０】
本発明の目的は、ゴムの表面のクラックが精度よく簡易に検査できる検査方法の提供にある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る検査方法は、ゴムの表面上のクラックを検査する方法である。この方法は、
上記ゴムの表面について、複数の異なる領域を拡大撮影する工程、
上記の撮影で得られた複数の画像内の同じ位置の画素について、それらの平均輝度を算出する工程
及び
撮影した画像から、その画素の輝度が上記平均輝度である画像を減算する工程、
を含む。
【００１２】
好ましくは、上記撮影する領域の数は６以上である。
【００１３】
好ましくは、この方法は、上記ゴムの表面を撮影する前に、上記ゴムを劣化させる工程をさらに含む。
【００１４】
好ましくは、この方法は、上記平均輝度を減算した画像データを二値化する工程をさらに含む。
【００１５】
好ましくは、上記ゴムは、タイヤ用のゴムである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る検査方法では、検査対象となるゴムの表面について、複数の異なる領域が拡大撮影される。この撮影で得られた複数の画像内の同じ位置の画素について、平均輝度が算出される。通常クラックの面積は、クラック以外の部分の面積に比べて小さい。複数の異なる領域の画像において、同じ位置にクラックが存在する確率は小さい。この平均輝度は、その画素の位置において、クラックが存在しないときの輝度に近くなる。この方法では、その画素の輝度がこの平均輝度である画像が、背景画像とされる。この背景画像は、ゴムにクラックが存在しない場合の画像と近い。すなわち、この背景画像には、輝度むらの影響が表わされている。この方法では、撮影された画像から、この背景画像が減算される。これにより、輝度むらの影響が効果的に除去できる。この方法では、場所に依存した輝度むらの影響が抑えられている。この方法では、クラックとそれ以外の部分の区別がつかないことが防止されている。この方法では、精度よくクラックの検査ができる。
【００１７】
この方法では、検査するゴムとは異なるゴムで撮影した画像を背景画像として、クラックの検査をするゴムからこれを減算していない。この方法では、異なるゴム間のブルーム物の状態の違いが、減算後の画像に影響を及ぼすことはない。この方法では、ゴムの表面のクラックが精度よく観測できる。さらに、この方法では、背景画像を作成するための関数を用いていない。この方法は簡易である。この方法では、ゴムの表面のクラックが精度よく簡易に検査できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係る検査方法で使用される検査装置が示された概念図である。
【図２】図２は、本発明の一実施形態に係る検査方法が示されたフローチャートである。
【図３】図３（ａ）は図２の平均輝度画像減算工程後の画像の例であり、図３（ｂ）は図２の画像データ二値化工程後の画像の例である。
【図４】図４（ａ）は従来の検査方法で撮影された画像の例であり、図４（ｂ）は従来の検査方法での二値化された画像の例である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、適宜図面が参照されつつ、好ましい実施形態に基づいて本発明が詳細に説明される。
【００２０】
図１には、本発明に係るクラックの検査方法で使用する、検査装置２の一例が示されている。この図には、検査装置２と共に、クラックの検査がされるゴムの試験片４が示されている。この検査装置２は、撮影部６とデータ処理部８とを備えている。
【００２１】
撮影部６は、試験片４の表面を撮影する。撮影部６は、試験片４の表面を拡大して撮影する。撮影時の拡大倍率は、例えば、１０倍から５０倍である。撮影された画像はデジタルデータとして、データ処理部８に送付される。撮影部６がアナログデータをデータ処理部８に送付して、データ処理部８でこれをデジタルデータに変換してもよい。撮影部６の典型的な例は、マイクロスコープ１０である。以下では、撮影部６としてマイクロスコープ１０を例に説明がされるが、撮影部６はマイクロスコープでなくてもよい。撮影部６は被写体を拡大して撮影し、これを電子データとできるものであればよい。
【００２２】
データ処理部８は、マイクロスコープ１０に接続されている。データ処理部８は、受信した画像データについて、種々のデータ処理をすることができる。例えば、画像データの画素の輝度の平均値が計算できる。画像データの各画素の輝度から、特定の値を減ずることができる。図に示されるように、データ処理部８は、本体１２、入力インターフェース１４及び表示部１６を備えている。
【００２３】
本体１２は、マイクロスコープ１０が撮影した画像データを受信する。本体１２は、受信したデータに対してデータの処理を行う。本体１２は、画像データを表示部１６に出力する。入力インターフェース１４は、外部から本体１２を制御するためのものである。典型的な入力インターフェース１４としてキーボード及びマウスが挙げられる。表示部１６は、本体１２から送付された画像データ及びそれに付随する文字等、種々のデータを表示する。典型的な表示部１６として液晶ディスプレイが挙げられる。表示部１６がプロジェクタやプリンタであってもよい。本体１２、表示部１６及び入力インターフェース１４は、一体となっていてもよい。
【００２４】
データ処理部８は、マイクロスコープ１０の専用のハードウエアであってもよく、汎用コンピュータで実現されていてもよい。
【００２５】
図２は、本発明の一実施形態に係る検査方法が示されたフローチャートである。この検査方法は、ゴム劣化処理工程Ｓ１、拡大撮影工程Ｓ２、平均輝度算出工程Ｓ３、平均輝度画像減算工程Ｓ４、画像データ二値化工程Ｓ５及びクラック評価工程Ｓ６を含んでいる。
【００２６】
ゴム劣化処理工程Ｓ１では、検査がされるゴムの試験片４に対して劣化処理が施される。この実施形態では、「ＪＩＳ  Ｋ６２５９」に規定された動的オゾン劣化試験の方法で、試験片４に対して劣化処理が施される。劣化処理を行うことで、試験片４の耐クラック性が効率良く検査できる。
【００２７】
ゴム劣化処理工程Ｓ１は、「ＪＩＳ  Ｋ６２５９」に規定された動的オゾン劣化試験に限られない。ゴムの劣化を促進する方法であれば、他の方法でも良い。
【００２８】
拡大撮影工程Ｓ２では、試験片４の表面がマイクロスコープ１０で拡大撮影される。この撮影は、試験片４の場所を変えて複数回行われる。試験片４の複数の領域が、拡大撮影される。通常、これらの領域の少なくとも一つが、検査対象となる領域である。これらの領域の大きさは全て等しい。例えば、試験片４の表面において、大きさが１０ｍｍ×１０ｍｍの５つの領域が、それぞれ２０倍の倍率で拡大撮影される。撮影される領域は、試験片４の表面上であれば何処でもよい。これらの領域同士が離れていてもよい。これらの領域同士が重なりを有していてもよい。この撮影により得られた画像Ａｉは、デジタルデータとしてデータ処理部８に送られる。上記の例では、５つの画像Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４及びＡ５が、デジタルデータとしてデータ処理部８に送られる。この実施形態では、撮影された画像Ａｉについて、各画素の輝度がデジタルデータとしてデータ処理部８に送られる。例えば輝度が８ビットのデジタルデータで表されている場合、各画素について、最小輝度０から最大輝度２５５までのいずれかの値が、データ処理部８に送られる。
【００２９】
平均輝度算出工程Ｓ３では、複数の画像の同じ位置の画素について、平均輝度が計算される。例えば、上記の例では、画像Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４及びＡ５の左上端の画素について、その平均輝度が計算される。画像Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４及びＡ５の左上端の右隣の画素について、その平均輝度が計算される。他の位置の画素についても、同様に平均輝度が計算される。前述のとおり、撮影された複数の領域は、同じ大きさである。これらの画像Ａｉは、全て同じ数の画素からなる。この画素の数がＮとされたとき、この工程では、Ｎ個の平均輝度が計算される。計算されたＮ個の平均輝度は、Ｉｊ（Ｉ０、Ｉ１、・・、ＩＮ−１）と表記される。
【００３０】
以下では、Ｎ個の画素のうち、画像の左上端の画素と、中央の画素について、平均輝度の計算の例が示される。ここでは、画像の左上端近辺では、クラックがない位置での画素の輝度は６０であり、クラックが存在する位置での画素の輝度は３０であるとする。画像Ａ１からＡ４では、左上端の画素の位置にクラックが存在しないため、その輝度は全て６０であり、画像Ａ５ではこの位置にクラックが存在するため、左上端の画素の輝度が３０であるとする。左上端の画素の平均輝度Ｉ０は、
Ｉ０＝（６０＋６０＋６０＋６０＋３０）／５＝５４  
となる。また、画像の中央近辺では、クラックがない位置での画素の輝度は１００であり、クラックが存在する位置での画素の輝度は６０であるとする。この例では、輝度むらのため、画像の中央近辺は、左上端近辺よりも明るくなっている。画像Ａ４ではその中央にクラックが存在するため、中央に位置する画素の輝度が６０であり、その他の画像では中央にクラックが存在しないため、中央に位置する画素の輝度が全て１００であるとする。この中央の画素の平均輝度をＩ１００としたとき、平均輝度をＩ１００は、
Ｉ１００＝（１００＋１００＋１００＋６０＋１００）／５＝９２
となる。
【００３１】
ここでは、画像Ａｉと同じ大きさを有し、その画素の輝度が上記の平均輝度Ｉｊ（１≦ｊ≦Ｎ−１）である画像は、背景画像と称される。換言すれば、平均輝度算出工程Ｓ３では、背景画像が得られる。
【００３２】
平均輝度画像減算工程Ｓ４では、撮影された画像から、上記の背景画像が減算される。すなわち、この工程では、例えば撮影された画像Ａｉのそれぞれの画素について、その輝度から上記平均輝度Ｉｊが減算される。具体的には、画像Ａｉの画素の輝度をＩｉｊとしたとき、補正後の輝度ＳＩ１ｊは、以下の式で求められる。
ＳＩｉｊ＝Ｉｉｊ−Ｉｊ＋Ｍ      （１）
ここでＭは、補正後の輝度ＳＩｊを適度な強さに保つために付加される基準輝度である。これにより、補正後の画像を表示部１６で表示することができる。基準輝度Ｍは、全ての画素の補正で同じ値である。この実施形態では、基準輝度Ｍとして、全ての画像の平均輝度が用いられる。
【００３３】
前述の例において、全ての画像の平均輝度Ｍが８０としたとき、画像Ａ１の左上端の画素の補正後の輝度ＳＩ１０及び画像Ａ１の中央の画素の補正後の輝度ＳＩ１１００は、それぞれ
ＳＩ１０＝６０−５４＋８０＝８６
ＳＩ１１００＝１００−９２＋８０＝８８
となる。これらは、クラックがない位置での画素の補正後の輝度である。
【００３４】
以下では、クラックが存在する位置での画素の輝度の補正の例が示される。画像Ａ１の左上端の画素の隣の画素の位置にはクラックがあり、この画素の輝度Ｉ１１が３０であったとする。また、この位置の画素の平均輝度Ｉ１が、平均輝度Ｉ０と同じであったとする。この画素の補正後の輝度ＳＩ１１は、
ＳＩ１１＝３０−５４＋８０＝５６
となる。また、画像Ａ１の中央の画素の隣の画素の位置にはクラックがあり、この画素の輝度Ｉ１１０１が６０であったとする。また、この位置の画素の平均輝度Ｉ１０１が、平均輝度Ｉ１００と同じであったとする。この画素の補正後の輝度ＳＩ１０１は、
ＳＩ１０１＝６０−９２＋８０＝４８
となる。
【００３５】
上記基準輝度Ｍは、全ての画像の平均輝度でなくてもよい。補正後の画像を表示部１６で表示することができるように、輝度ＳＩｊを適度な強さにできる値であればよい。補正後の画像を表示させる必要がないときは、基準輝度Ｍの値は０でもよい。すなわち、基準輝度Ｍはなくてもよい。
【００３６】
画像データ二値化工程Ｓ５では、上記補正後の画像が二値化される。所定の閾値以上の輝度の画素が、特定の輝度Ｉｂに置き換えられる。この特定の輝度Ｉｂを有する画素が、クラックではない部分と認識される。所定の閾値より小さい輝度の画素が、別の特定の輝度Ｉｓに置き換えられる。この特定の輝度Ｉｓを有する画素が、クラックの部分と認識される。例えば上記の例において、閾値が７０、輝度Ｉｂが最大輝度（２５５）、輝度Ｉｓが最小輝度（０）とされる。これにより、画像Ａ１において、クラック以外の部分の画素の輝度が２５５とされる。画像Ａ１において、クラックの部分の画素の輝度が０とされる。このように、クラックの輝度とそれ以外の部分の輝度との差を大きくすることで、この画像を表示したとき、クラックの観測が容易となる。
【００３７】
クラック評価工程Ｓ６では、上記二値化された画像から、クラックの状態が評価される。上記二値化した画像の全体が表示部１６に表示され、目視でクラック数及びクラックの大きさが観測される。これらが、基準値と比較される。又は、これらが試験片同士で比較される。
【００３８】
クラック評価工程Ｓ６では、データ処理部８が画像のデータを解析することでクラックが評価されてもよい。例えば、データ処理部８が輝度Ｉｓを有する画素の数をカウントする。これにより、撮影された画像の全画素数に対する、クラックの部分の画素数の割合が計算される。これにより、撮影された画像の面積に対するクラックの面積の割合が計算される。これらが、基準値と比較される。又は、これらが試験片同士で比較される。
【００３９】
この検査方法は、ゴム劣化処理工程Ｓ１を含まなくてもよい。このときは、この検査方法は、拡大撮影工程Ｓ２から開始される。
【００４０】
この検査方法は、画像データ二値化工程Ｓ５を含まなくてもよい。この場合、クラック評価工程Ｓ６では、例えば平均輝度画像減算工程Ｓ４後の画像データが表示部１６に表示され、目視でクラック数及びクラックの大きさが観測される。
【００４１】
上記の実施形態では、ゴムの試験片４についてクラックの評価がされた。完成品のタイヤについて、クラックの評価がされてもよい。例えば、新品のタイヤ、長期間保管されたタイヤ、一定期間使用された中古タイヤ等が検査の対象とされる。この場合、ゴム劣化処理工程Ｓ１では、タイヤ全体に劣化処理が施される。例えば、タイヤが一定濃度のオゾン雰囲気中で保存される。拡大撮影工程Ｓ２では、トレッド、サイドウォール、溝底等のタイヤの特定の部分を対象として、拡大撮影が行われる。
【００４２】
以下、本発明の作用効果が説明される。
【００４３】
クラックの検査では、ゴムの表面を拡大撮影する方法がある。この方法では、撮影した画像について、画素の輝度が所定の閾値により二値化され、この閾値より輝度が小さい部分がクラックと認識される。しかし、ゴム表面を撮影した画像では、撮影装置や撮影の条件によって、画像内の位置に依存した輝度むらが生じることがある。輝度むらにより、ある位置におけるクラックでない部分の画素の輝度が、別の部分におけるクラックの部分の輝度と同等以下になることが起こり得る。例えば、前述の例では、画像Ａ１左上端の画素の輝度は６０である。この画素の位置にクラックは存在しない。中央の画素の隣の画素の輝度は６０である。この画素の位置にクラックは存在する。この例では、このクラックの部分とクラックでない部分との区別がつかない。撮影した画像について、所定の閾値により画素の輝度を二値化する方法では、輝度むらによる輝度が低い部分とクラックとの区別がつかないことが起こりうる。
【００４４】
本発明に係る検査方法では、検査対象となるゴムの表面について、複数の異なる領域が拡大撮影される。この撮影で得られた複数の画像内の同じ位置の画素について、平均輝度が算出される。通常クラックの面積は、クラック以外の部分の面積に比べて小さい。複数の異なる領域の画像において、同じ位置にクラックが存在する確率は小さい。複数の画像において、同じ位置の画素の輝度を平均することにより、この平均輝度は、その画素の位置において、クラックが存在しないときの画素の輝度に近くなる。例えば、前述の例では、左上端の画素の平均輝度Ｉ０は５４であり、この位置でクラックが存在しないときの画素の輝度は、６０である。中央の画素の平均輝度Ｉ１００は９２であり、この位置でクラックが存在しないときの画素の輝度は１００である。この方法では、その画素の輝度がこの平均輝度である画像が、背景画像とされる。この背景画像は、ゴムにクラックが存在しない場合の画像と近い。すなわち、この背景画像には、輝度むらの影響が表されている。この方法では、撮影された画像から、背景画像が減算される。これにより、輝度むらの影響が効果的に除去できる。例えば上記の例では、補正前においては、画像Ａ１の左上端の画素の輝度は６０であり、中央の画素の輝度は１００である。これに対し、補正後においては、左上端の画素の輝度は８６であり、中央の画素の輝度は８８である。この方法では、場所に依存した輝度むらの影響が抑えられている。この方法では、クラックとそれ以外の部分の区別がつかないことが防止されている。この方法では、精度よくクラックの検査ができる。
【００４５】
撮影装置や撮影の条件による輝度むらの影響を排除するために、あらかじめクラックが発生していないゴムの表面を背景画像として撮影しておき、クラックの検査をするゴムの表面を撮影した後、この画像から背景画像が減算される方法がある。これにより、輝度むらの影響が取り去られる。
【００４６】
タイヤ用のゴムでは、ゴムの表面にはブルーム物が存在する。ブルーム物は、撮影した画像の輝度に影響を与える。ブルーム物の状態は、ゴム毎に異なる。クラックの検査をするゴムの表面のブルーム物の状態は、上記の背景画像を撮影したゴムの表面のブルーム物の状態とは異なる。上記のクラックの検査をするゴムの表面の画像から、別のゴムから作成した背景画像を減算する方法では、これらのゴム間のブルーム物の状態の違いが、減算後の画像に影響を及ぼす。この方法では、正しくクラックを認識できないことが起こりうる。
【００４７】
本発明に係る検査方法では、クラックの検査をするゴムから背景画像が作成される。この背景画像が検査の対象となる画像から減算されている。検査するゴムとは異なるゴムで撮影した画像を背景画像として、クラックの検査をするゴムからこれを減算していない。この方法では、異なるゴム間のブルーム物の状態の違いが、減算後の画像に影響を及ぼすことはない。この方法では、ゴムの表面のクラックが精度よく観測できる。
【００４８】
さらに、この方法では、背景画像を作成するための関数を用いていない。この方法は簡易である。この方法では、ゴムの表面のクラックが精度よく簡易に検査できる。
【００４９】
画像を撮影する領域の数は、６以上が好ましい。領域の数を６以上とすることで、これらの撮影画像から作成された背景画像は、ゴムにクラックが存在しない場合の画像により近くなる。この背景画像は精度よく輝度むらの影響を表す。撮影された画像からこの背景画像を減ずることで、輝度むらの影響を効果的に抑えることができる。この観点から領域の数は８以上がより好ましい。
【００５０】
試験片４を拡大撮影するときの倍率は、１０倍以上が好ましく、５０倍以下が好ましい。タイヤでは、主に０．１ｍｍ程度から数ｍｍ程度の大きさのクラックが検査の対象となる。拡大撮影するときの倍率をこのようにすることで、対象となるクラックを効率よく検査することができる。
【実施例】
【００５１】
以下、実施例によって本発明の効果が明らかにされるが、この実施例の記載に基づいて本発明が限定的に解釈されるべきではない。
【００５２】
［実施例１］
タイヤ用のゴムよりなる試験片が用意された。この試験片のゴムは、カーボンブラックを含む。この試験片に対して、図１に示された装置を使用して、図２の方法でクラックの検査がされた。
【００５３】
ゴム劣化処理工程Ｓ１では、「ＪＩＳ  Ｋ６２５９」に規定された動的オゾン劣化試験に準拠して、試験片に劣化処理が施された。この処理において、オゾン雰囲気中で動的歪みが与えられた時間は２４時間である。
【００５４】
拡大撮影工程Ｓ２では、キーエンス（株）製のマイクロスコープ「ＶＨＸ−１０００」が使用された。この工程では、上記試験片において、大きさ１５ｍｍ×２０ｍｍの領域が５箇所撮影された。具体的には、試験片の１５ｍｍ×１００ｍｍの部分が、５箇所の領域に分割されて撮影された。この５箇所のうちの一つが、今回の検査対象となる領域である。この撮影における倍率は、２０倍である。撮影された画像は、デジタルデータとしてデータ処理部に送付された。
【００５５】
平均輝度算出工程Ｓ３では、データ処理部によって、上記で撮影された５つの画像内の同じ位置の画素について、平均輝度が計算された。平均輝度画像減算工程Ｓ４では、検査対象となる領域の画像が、式（１）で示された計算式により補正された。基準輝度Ｍとして、全ての領域の平均輝度が用いられた。図３（ａ）に、式（１）にて補正された後の画像を表示部にて表示した結果が示されている。
【００５６】
画像データ二値化工程Ｓ５では、上記補正後の画像が二値化された。所定の閾値以上の輝度の画素が最大輝度とされ、所定の閾値以上の輝度の画素が最小輝度とされた。図３（ｂ）に、二値化後の画像を表示部にて表示した結果が示されている。
【００５７】
クラック評価工程Ｓ６では、二値化後の画像から、クラックの数が目視で数えられた。
【００５８】
［比較例１］
実施例１のゴム劣化処理工程Ｓ１後の試験片を使用して、従来の方法でクラックの検査を実施した。この方法では、実施例１の検査対象となる領域のみが撮影された。撮影には、実施例１と同じキーエンス（株）製のマイクロスコープ「ＶＨＸ−１０００」が使用された。この撮影における倍率は、２０倍である。図４（ａ）に、撮影後の画像を表示部にて表示した結果が示されている。この画像が二値化された。図４（ｂ）に、二値化後の画像を表示部にて表示した結果が示されている。この二値化後の画像から、クラックの数が目視で数えられた。
【００５９】
［評価］
図３（ａ）と図４（ａ）との比較から明らかなように、本検査方法では、画像内の位置に依存した輝度むらが抑えられている。図３（ｂ）と図４（ｂ）との比較から明らかなように、従来の本検査方法では、輝度むらにより輝度が低い部分とクラックとが区別できていないところがあるのに対し、本検査方法では、これらが明確に区別できている。その結果、図３（ｂ）から検出したクラックの数は９０個であったのに対し、図４（ｂ）から検出したクラックの数は６８個であった。
【００６０】
上記の結果から明らかなとおり、実施例の検査方法では、比較例の検査方法に比べて精度よくクラックが検出できている。この評価結果から、本発明の優位性は明らかである。
【産業上の利用可能性】
【００６１】
以上説明された方法は、種々のタイヤ用のゴム及びタイヤの検査に用いられうる。
【符号の説明】
【００６２】
２・・・検査装置
４・・・試験片
６・・・撮影部
８・・・データ処理部
１０・・・マイクロスコープ
１２・・・本体
１４・・・入力インターフェース
１６・・・表示部
【図１】
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【図２】
2017166942.tif 000004
【図３】
2017166942.tif 000005
【図４】
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