(57)【要約】【課題】被測定物の重量Ｗおよび温度Ｔに基づいて、被測定物の質量Ｍを算出する質量測定装置および質量測定方法を提供する。【解決手段】本発明の質量測定装置１００は、被測定物の重量を測定するための重量センサー１１４と、被測定物の温度を測定するための温度センサー１１６と、被測定物の重量および温度に基づいて、被測定物の質量を算出する演算部１０２と、を含む。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物の質量を測定するための質量測定装置であって、
前記被測定物の重量を測定するための重量センサーと、
前記被測定物の温度を測定するための温度センサーと、
前記被測定物の前記重量および前記温度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する演算部と、を含むことを特徴とする質量測定装置。
【請求項２】
前記演算部は、前記被測定物の前記温度に基づいて、前記被測定物の重力加速度を算出し、さらに、前記被測定物の前記重量および前記算出された重力加速度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する請求項１に記載の質量測定装置。
【請求項３】
前記演算部は、前記被測定物の前記温度をＴとし、前記重力加速度をｇとしたとき、下記式（１）に基づいて、前記重力加速度を算出する請求項２に記載の質量測定装置。
ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０））・・・式（１）
（ここで、ｇ０は第１の係数であり、αは第２の係数であり、Ｔ０は基準温度である。）
【請求項４】
前記第１の係数ｇ０は、前記質量測定装置の座標に応じて設定される前記基準温度Ｔ０における重力加速度であり、前記第２の係数αは、約７×１０−６[Ｋ−１]である請求項３に記載の質量測定装置。
【請求項５】
被測定物の質量を測定するための質量測定方法であって、
前記被測定物の重量を測定する工程と、
前記被測定物の温度を測定する工程と、
前記被測定物の前記重量および前記温度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する工程と、を含むことを特徴とする質量測定方法。
【請求項６】
前記被測定物の前記質量を算出する前記工程は、
前記被測定物の前記温度に基づいて、前記被測定物の重力加速度を算出する工程と、
前記被測定物の前記重量および前記算出された重力加速度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する工程と、によって実行される請求項５に記載の質量測定方法。
【請求項７】
前記被測定物の前記温度に基づいて、前記重力加速度を算出する前記工程は、前記被測定物の前記温度をＴとし、前記重力加速度をｇとしたとき、下記式（１）に基づいて、前記重力加速度を算出する請求項６に記載の質量測定方法。
ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０））・・・式（１）
（ここで、ｇ０は第１の係数であり、αは第２の係数であり、Ｔ０は基準温度である。）
【請求項８】
前記第１の係数ｇ０は、前記被測定物の座標に応じて設定される前記基準温度Ｔ０における重力加速度であり、前記第２の係数αは、約７×１０−６[Ｋ−１]である請求項７に記載の質量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、質量測定装置および質量測定方法に関し、より具体的には、被測定物の重量および温度に基づいて、被測定物の質量を算出する質量測定装置および質量測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に物体の質量Ｍは、該物体の重量Ｗと混合して理解されていることが多いが、物体の質量Ｍと重量Ｗは区別すべきものである。物体の重量Ｗは、該物体の質量Ｍに重力加速度ｇ（ｇ＝Ｇ・ｍ／Ｒ２、ここで、Ｇは万有引力定数、ｍは地球の質量、Ｒは地球の半径である）を乗じて得られる値である。一般に、物体の質量Ｍを算出するために、物体の重量Ｗを測定し、その後、測定された重量Ｗを重力加速度ｇで除算して物体の質量Ｍを算出する間接法（Ｍ＝Ｗ／ｇ）が用いられている。
【０００３】
特許文献１は、測定される物体の重量Ｗが、地球の自転による遠心力および標高に起因して、測定場所に応じてわずかに変化することに着目し、測定場所の座標（緯度および標高）を考慮して物体の質量Ｍを正確に算出する質量測定装置を開示している。このように、物体の質量Ｍを正確に算出、測定することは産業上極めて重要である。
【０００４】
重力加速度ｇ（万有引力定数Ｇ）は、物体の重量Ｗから該物体の質量Ｍを算出するために極めて重要な値であるが、測定が非常に難しく、万有引力定数Ｇの有効桁数が４桁しかないことはよく知られている。しかしながら、このような測定誤差が生じる決定的な原因が突き止められていないのが現状である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０−３８８５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このような現状に対し、本発明者は、重力加速度ｇ（万有引力定数Ｇ）が定数ではなく、「被測定物の温度」に依存する値であることを見いだし、本発明を完成させるに至った。すなわち、本発明の目的は、被測定物の重量Ｗおよび温度Ｔに基づいて、被測定物の質量Ｍを算出する質量測定装置および質量測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このような目的は、下記の（１）〜（８）の本発明により達成される。
（１）被測定物の質量を測定するための質量測定装置であって、
前記被測定物の重量を測定するための重量センサーと、
前記被測定物の温度を測定するための温度センサーと、
前記被測定物の前記重量および前記温度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する演算部と、を含むことを特徴とする質量測定装置。
【０００８】
（２）前記演算部は、前記被測定物の前記温度に基づいて、前記被測定物の重力加速度を算出し、さらに、前記被測定物の前記重量および前記算出された重力加速度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する上記（１）に記載の質量測定装置。
【０００９】
（３）前記演算部は、前記被測定物の前記温度をＴとし、前記重力加速度をｇとしたとき、下記式（１）に基づいて、前記重力加速度を算出する上記（２）に記載の質量測定装置。
ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０））・・・式（１）
（ここで、ｇ０は第１の係数であり、αは第２の係数であり、Ｔ０は基準温度である。）
【００１０】
（４）前記第１の係数ｇ０は、前記質量測定装置の座標に応じて設定される前記基準温度Ｔ０における重力加速度であり、前記第２の係数αは、約７×１０−６[Ｋ−１]である上記（３）に記載の質量測定装置。
【００１１】
（５）被測定物の質量を測定するための質量測定方法であって、
前記被測定物の重量を測定する工程と、
前記被測定物の温度を測定する工程と、
前記被測定物の前記重量および前記温度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する工程と、を含むことを特徴とする質量測定方法。
【００１２】
（６）前記被測定物の前記質量を算出する前記工程は、
前記被測定物の前記温度に基づいて、前記被測定物の重力加速度を算出する工程と、
前記被測定物の前記重量および前記算出された重力加速度に基づいて、前記被測定物の前記質量を算出する工程と、によって実行される上記（５）に記載の質量測定方法。
【００１３】
（７）前記被測定物の前記温度に基づいて、前記重力加速度を算出する前記工程は、前記被測定物の前記温度をＴとし、前記重力加速度をｇとしたとき、下記式（１）に基づいて、前記重力加速度を算出する上記（６）に記載の質量測定方法。
ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０））・・・式（１）
（ここで、ｇ０は第１の係数であり、αは第２の係数であり、Ｔ０は基準温度である。）
【００１４】
（８）前記第１の係数ｇ０は、前記被測定物の座標に応じて設定される前記基準温度Ｔ０における重力加速度であり、前記第２の係数αは、約７×１０−６[Ｋ−１]である上記（７）に記載の質量測定方法。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、被測定物の重量および温度に基づいて、該被測定物の質量を正確に算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施形態に係る質量測定装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１に示す質量測定装置のシステム構成を示すブロック図である。
【図３】図１に示す質量測定装置において参照される重力加速度の温度依存性を示す図である。
【図４】本発明の実施形態に係る質量測定方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の質量測定装置および質量測定方法を図面に基づいて詳細に説明する。まず、図１〜図３を参照し、本発明の質量測定装置について詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本発明の実施形態に係る質量測定装置の外観を示す斜視図である。図２は、図１に示す質量測定装置のシステム構成を示すブロック図である。図３は、図１に示す質量測定装置において参照される重力加速度の温度依存性を示す図である。
【００１９】
図１および図２に示す本発明の質量測定装置１００は、載置台１２０上に載置された被測定物の質量Ｍを算出（測定）し、算出した被測定物の質量Ｍを表示部１１０に表示する機能を有する。
【００２０】
図２に示すように、質量測定装置１００は、演算部１０２と、ＲＡＭ（Random Access Memory）１０４と、ＲＯＭ（Read Only Memory）１０６と、Ｉ／Ｏ（Input/Output）インターフェース１０８と、表示部１１０と、ＡＤ（Analog Digital）コンバーター１１２と、重量センサー１１４と、温度センサー１１６と、座標取得部１１７と、パラメータ記憶部１１８とを含む。質量測定装置１００の各コンポーネントは、システムバス等を介してデータ通信可能に接続されている。
【００２１】
演算部１０２は、ＲＡＭ１０４をワークメモリとして利用し、ＲＯＭ１０６内に記憶されているプログラムをフェッチおよび実行することにより、質量測定装置１００全体および各コンポーネントの制御、並びに、本発明の処理を実行する。演算部１０２は、例えば、１つ以上のマイクロプロセッサー、マイクロコンピューター、マイクロコントローラー、デジタル信号プロセッサー、ＣＰＵ、状態機械、論理回路、ＡＳＩＣ、またはこれらの組み合わせ等である。
【００２２】
Ｉ／Ｏインターフェース１０８は、質量測定装置１００が、直接または記憶媒体（例えば、ＵＳＢメモリ、磁気ディスク、光ディスク、フラッシュメモリー、磁気カセット）や通信ネットワーク（イントラネット、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、ワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）、インターネット等）を介して、ユーザーや他の機器とのデータの授受を実行することを可能とする。Ｉ／Ｏインターフェース１０８は、例えば、ウェブインターフェース、グラフィカルユーザーインターフェース（ＧＵＩ）等の様々なソフトウェアインターフェース、またはハードウェアインターフェースである。
【００２３】
図１に示すように、表示部１１０は、ユーザーが視認可能なように、質量測定装置１００の前面に設けられており、被測定物の質量Ｍを表示する。ユーザーは、表示部１１０に表示された被測定物の質量Ｍを目視することにより、被測定物の質量Ｍを把握することができる。表示部１１０は、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）、有機ＥＬ（Electro Luminescence）パネル、ＣＲＴ（cathode-ray tube）ディスプレイ等である。
【００２４】
重量センサー１１４は、載置台１２０上に載置された被測定物の重量Ｗを測定し、ＡＤコンバーター１１２に重量出力信号を出力する。重量センサー１１４は、載置台１２０上に載置された被測定物の重量Ｗを測定することができるものであれば特に限定されず、例えば、ロードセル、バネ秤等である。特に、比較的コストが安く、寿命が長いロードセルを、重量センサー１１４として用いることが好ましい。
【００２５】
温度センサー１１６は、載置台１２０上に載置された被測定物の温度Ｔを測定し、ＡＤコンバーター１１２に温度出力信号を出力する。温度センサー１１６は、載置台１２０上に載置された被測定物の温度Ｔを測定することができるものであれば特に限定されず、例えば、熱電対素子、ＰＮ接合素子、ダイオード等を用いたセンサー、サーミスタ、光温度計、放射温度計等である。特に、接触により被測定物の温度が変化することを防止する観点から、非接触型の光温度計または放射温度計を、温度センサー１１６として用いることが好ましい。
【００２６】
ＡＤコンバーター１１２は、重量センサー１１４および温度センサー１１６がそれぞれ出力するアナログ信号を、デジタル信号に変換して演算部１０２またはＲＡＭ１０４に供給する。
【００２７】
座標取得部１１７は、質量測定装置１００（被測定物）の座標、すなわち、緯度および標高（海抜高度）を取得する。よく知られているように、被測定物の重量Ｗは、地球の自転による遠心力および海抜高度に起因して、わずかに変化する。座標取得部１１７が取得する質量測定装置１００の座標は、この地球の自転による遠心力および海抜高度の距離の影響を排除するために用いられる。
【００２８】
座標取得部１１７が質量測定装置１００の座標を取得する方法は、特に限定されない。例えば、座標取得部１１７は、Ｉ／Ｏインターフェース１０８を介してユーザーが質量測定装置１００の緯度および標高を直接入力することにより、質量測定装置１００の緯度および標高を取得してもよい。または、座標取得部１１７は、ＧＰＳユニット等の座標取得手段を有し、該座標取得手段を用いて質量測定装置１００の緯度および標高を取得してもよい。または、座標取得部１１７は、大気圧センサー等の質量測定装置１００の標高を算出するために利用可能なセンサーを有し、該センサーを用いて質量測定装置１００の標高を算出し、ユーザーからの入力によって質量測定装置１００の緯度を取得してもよい。
【００２９】
パラメータ記憶部１１８は、本発明者によって見出された図３に示す重力加速度ｇの被測定物の温度Ｔに対する依存性を特定するためのパラメータ、すなわち、第１の係数ｇ０および第２の係数αを記憶している。
【００３０】
パラメータ記憶部１１８は、例えば、ＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリー、ハードディスク、光ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク、またはこれらの組み合わせ等の着脱式または非着脱式の非揮発性のコンピューター可読媒体である。
【００３１】
重力加速度ｇは、パラメータ記憶部１１８に記憶されている第１の係数ｇ０および第２の係数αを用いた以下の式（１）によって得ることができる。
ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０））・・・（１）
【００３２】
第１の係数ｇ０は、質量測定装置１００の座標、すなわち、緯度および標高（海抜高度）に応じて設定される任意の基準温度Ｔ０における重力加速度である。各座標および各基準温度Ｔ０に応じた複数の第１の係数ｇ０の値がパラメータ記憶部１１８内に事前に記憶されている。ただし、本発明はこれに限定されず、座標および各基準温度Ｔ０から第１の係数ｇ０を求めるための算出式またはパラメータがパラメータ記憶部１１８に記憶されており、質量計測の度に、演算部１０２によって第１の係数ｇ０が算出され、算出された第１の係数ｇ０がパラメータ記憶部１１８内に記憶されてもよい。例えば、基準温度Ｔ０＝０℃における第１の係数ｇ０の値は、９．８０[ｍ/ｓ２]である。
【００３３】
一方、第２の係数αは、重力加速度ｇの温度係数であり、約７×１０−６[Ｋ−１]である。
【００３４】
上記式（１）は、以下の手順によって得ることができる。まず、万有引力定数Ｇが被測定物の温度Ｔに依存するので、下記式（ａ）が得られる。
Ｇ＝Ｇ０×（１−αΔＴ）・・・（ａ）
【００３５】
ここで、Ｇ０は任意の基準温度Ｔ０における万有引力定数であり、ΔＴは被測定物の温度Ｔと、任意の基準温度Ｔ０との差分である。
【００３６】
次に、重力加速度ｇは、ｇ＝Ｇ×Ｍ／Ｒ２（ここで、Ｍは地球の質量であり、Ｒは地球の半径である）で表されるのだから、上記式（ａ）を重力加速度ｇの式に代入すると、下記式（ｂ）が得られる。
【００３７】
ｇ＝Ｇ０×Ｍ／Ｒ２×（１−αΔＴ）・・・（ｂ）
ここで、ｇ０＝Ｇ０×Ｍ／Ｒ２とおけば、上記式（１）が得られる。
ｇ＝ｇ０×（１−αΔＴ）
＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０））・・・（１）
【００３８】
図３は、重力加速度ｇの被測定物の温度Ｔに対する依存性を示している。図３に示す重力加速度ｇの被測定物の温度Ｔに対する依存性は、本発明者の以下のような手順［１］〜［６］を含む実験により見出されたものである。
【００３９】
［１］最初に、測定場所の座標（緯度および標高）に基づいて、任意の基準温度Ｔ０における第１の係数ｇ０を特定した。［２］空気の熱膨張や被測定物の温度Ｔの上昇気流によって発生する揚力の影響を排除するための密閉容器を用意した。［３］次に、１本の銅線をランダムに巻線することによって得られた銅線塊を、該銅線塊の両端部のみが密閉容器の外側に延伸するように、密閉容器内に収納した。［４］密閉容器の外側に延伸する銅線塊の両端部に電源を接続した。［５］銅線塊が収納された密閉容器を重量計の上に載置した。［６］銅線塊に電流を流すことにより銅線塊の温度を上昇させつつ、重量計を用いて各温度における銅線塊の重量を測定し、銅線塊の重量の温度依存性、すなわち、重力加速度ｇの温度依存性を確認した。
【００４０】
このような実験の結果、２５℃（２９８．１５Ｋ）における銅線塊の重量が４５４．０００ｇだったのに対し、６１℃（３３４．１５Ｋ）における銅線塊の重量は、４５３．８７４ｇであった。すなわち、銅線塊の温度を３６℃（３６Ｋ）上昇させたとき、銅線塊の重量が０．１２６ｇ減少した。銅線塊の質量は、加熱前と加熱後で一定なので、この銅線塊の重量の変化は、銅線塊の重力加速度ｇの減少に起因するものである。
【００４１】
本発明者は、様々な物質（被測定物）に対して、上述の実験を行い、重力加速度ｇの被測定物の温度Ｔに対する依存性を特定するためのパラメータを見いだした。パラメータ記憶部１１８に記憶されている第２の係数αは、上述の本発明者の実験から得られた重力加速度ｇの被測定物の温度Ｔに対する依存性を特定するためのパラメータである。
【００４２】
演算部１０２は、パラメータ記憶部１１８に記憶されている第１の係数ｇ０および第２の係数αを用いて、測定した被対象物の重量Ｗおよび温度Ｔから、被対象物の質量Ｍを算出し、算出した被対象物の質量Ｍを表示部１１０に表示させることができる。
【００４３】
より具体的には、演算部１０２は、座標取得部１１７によって質量測定装置１００の座標が取得され、重量センサー１１４および温度センサー１１６によって被測定物の重量Ｗおよび温度Ｔが取得されると、パラメータ記憶部１１８に記憶されている任意の基準温度Ｔ０における第１の係数ｇ０および第２の係数αを用いて、被測定物の温度Ｔから、被測定物の重力加速度ｇを算出する（ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０）））。次に、演算部１０２は、被測定物の重量Ｗおよび算出した重力加速度ｇに基づいて、被対象物の質量Ｍを算出する（Ｍ＝Ｗ／ｇ）。最後に、演算部１０２は、算出した被対象物の質量Ｍを表示部１１０に表示させる。
【００４４】
このように、本発明の質量測定装置１００は、被測定物の温度Ｔに基づいて重力加速度ｇを算出し、次いで、被測定物の重量Ｗおよび重力加速度ｇに基づいて、被測定物の質量Ｍを算出している。したがって、本発明の質量測定装置１００は、被測定物の質量Ｍを正確に測定することができる。
【００４５】
次に、図４を参照して、本発明の質量測定方法を詳細に説明する。図４は、本発明の実施形態に係る質量測定方法を示すフローチャートである。
【００４６】
図４に示す本発明の質量測定方法２００は、被対象物の質量Ｍを正確に算出、測定するための方法である。質量測定方法２００は、任意の適切なハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、およびこれらの組み合わせにおいて実施することができるが、説明の簡略化のため、以下に説明される実施形態では、質量測定方法２００は、上述の質量測定装置１００によって実施されるものとして説明する。
【００４７】
まず、工程２０２において、質量測定装置１００のゼロ設定が行われる。ゼロ設定とは、質量測定装置１００の載置台１２０上に被測定物が載置されていないとき（載置台１２０に荷重がかかっていないとき）の重量センサー１１４からの重量出力値（いわゆるゼロ点）を取得し、この無負荷時においては、演算部１０２が算出し、表示部１１０に表示させる質量値が０（ゼロ）となるように調整する処理をいう。
【００４８】
次に、工程２０３において、座標取得部１１７によって質量測定装置１００の座標（緯度および標高）が取得されると、演算部１０２によってパラメータ記憶部１１８が参照され、取得された座標に基づいて、任意の基準温度Ｔ０における第１の係数（重力加速度）ｇ０の値が設定される。
【００４９】
次に、工程２０４において、ユーザーによって被測定物が質量測定装置１００の載置台１２０上に載置される。工程２０６において、重量センサー１１４が被測定物の重量Ｗを測定し、ＡＤコンバーター１１２に重量出力信号を送信する。ＡＤコンバーター１１２は、重量出力信号をデジタル変換し、演算部１０２に送る。演算部１０２は、重量ＷをＲＡＭ１０４に一時記憶する。
【００５０】
工程２０８において、温度センサー１１６が被測定物の温度Ｔを測定し、ＡＤコンバーター１１２に温度出力信号を送信する。ＡＤコンバーター１１２は、温度出力信号をデジタル変換し、演算部１０２に送る。演算部１０２は、温度ＴをＲＡＭ１０４に一時記憶する。
【００５１】
工程２１０において、演算部１０２は、設定した第１の係数ｇ０およびパラメータ記憶部１１８に記憶されている第２の係数αを用いて、ＲＡＭ１０４に記憶されている被測定物の温度Ｔから、被測定物の重力加速度ｇを算出し（ｇ＝ｇ０×（１−α×（Ｔ−Ｔ０）））、算出した重力加速度ｇをＲＡＭ１０４に一時記憶する。
【００５２】
工程２１２において、演算部１０２は、ＲＡＭ１０４に記憶されている被測定物の重量Ｗおよび算出した重力加速度ｇに基づいて、被対象物の質量Ｍを算出し（Ｍ＝Ｗ／ｇ）、算出した被対象物の質量ＭをＲＡＭ１０４に一時記憶する。最後に、工程２１４において、演算部１０２は、ＲＡＭ１０４に記憶されている被対象物の質量Ｍを表示部１１０に表示させる。
【００５３】
以上、本発明の質量測定装置および質量測定方法を図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明は、これに限定されるものではない。本発明の各構成は、同様の機能を発揮し得る任意のものと置換することができ、あるいは、本発明の各構成に任意の構成のものを付加することができる。また、本発明の原理および意図から逸脱しない範囲において、本発明の各構成の任意のものを省略、変更することができる。
【００５４】
例えば、図２に示された質量測定装置１００のコンポーネントの数や種類は、説明のための例示にすぎず、本発明は必ずしもこれに限られない。本発明の原理および意図から逸脱しない範囲において、任意のコンポーネントが追加若しくは組み合わされ、または任意のコンポーネントが削除される様態も、本発明の範囲内である。
【００５５】
また、図４に示された質量測定方法２００の工程の数や種類は、説明のための例示にすぎず、本発明は必ずしもこれに限られない。本発明の原理および意図から逸脱しない範囲において、任意の工程が、任意の目的で追加若しくは組み合わされ、または、任意の工程が削除される様態も、本発明の範囲内である。
【符号の説明】
【００５６】
１００…質量測定装置
１０２…演算部
１０４…ＲＡＭ
１０６…ＲＯＭ
１０８…Ｉ／Ｏインターフェース
１１０…表示部
１１２…ＡＤコンバーター
１１４…重量センサー
１１６…温度センサー
１１７…座標取得部
１１８…パラメータ記憶部
１２０…載置台
２００…質量測定方法
２０２、２０３、２０４、２０６、２０８、２１０、２１２、２１４…工程
【図１】
2017198550.tif 000003
【図２】
2017198550.tif 000004
【図３】
2017198550.tif 000005
【図４】
2017198550.tif 000006