(57)【要約】【課題】振動子を用いる発振回路とＣＲ発振回路とを備えるクロック信号生成回路において、温度や電源電圧が変化しても高精度な発振周波数を実現する。【解決手段】この回路は、振動子を用いて発振動作を行うことにより第１のクロック信号を生成する第１の発振回路と、温度センサーの出力電圧に基づいて第１の発振回路の発振周波数を補償する温度補償回路と、第１のクロック信号をカウントして第１のカウント値を出力するカウント回路と、ＣＲを用いて発振動作を行うことにより第２のクロック信号を生成する第２の発振回路と、トリミング値に従ってＣＲの値を切り換えるトリミング回路と、第２のクロック信号をカウントして第２のカウント値を出力するカウント回路と、第１及び第２のカウント値に基づいてトリミング値を設定することにより、第２の発振回路の発振周波数を調整する周波数調整回路とを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
振動子を用いて発振動作を行うことにより第１のクロック信号を生成する第１の発振回路と、
温度を検出して出力電圧を生成する温度センサーと、
前記温度センサーの出力電圧に基づいて前記第１の発振回路の発振周波数を補償する温度補償回路と、
前記第１のクロック信号に同期してカウント動作を行うことにより第１のカウント値を出力する第１のカウント回路と、
キャパシター及び抵抗を用いて発振動作を行うことにより第２のクロック信号を生成する第２の発振回路と、
トリミング値に従って前記第２の発振回路のキャパシター又は抵抗の値を切り換えるトリミング回路と、
前記第２のクロック信号に同期してカウント動作を行うことにより第２のカウント値を出力する第２のカウント回路と、
前記第１及び第２のカウント値に基づいて前記トリミング値を設定することにより、前記第２の発振回路の発振周波数を調整する周波数調整回路と、
を備えるクロック信号生成回路。
【請求項２】
前記周波数調整回路が、前記第２の発振回路の発振周波数が所定の範囲内である場合に正常終了信号を活性化する、請求項１記載のクロック信号生成回路。
【請求項３】
前記周波数調整回路が、前記第２のカウント値に基づいて、前記第２の発振回路の発振周波数を測定する周波数測定期間を設定し、前記周波数測定期間の終了時に前記第１のカウント値が所定の範囲内である場合に正常終了信号を活性化する、請求項１又は２記載のクロック信号生成回路。
【請求項４】
前記周波数調整回路が、前記正常終了信号が活性化されたときのトリミング値を保持し、前記正常終了信号が活性化されてから所定の期間が経過した後に、前記第１及び第２のカウント回路からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定する、請求項２又は３記載のクロック信号生成回路。
【請求項５】
前記周波数調整回路が、前記正常終了信号が活性化されたときのトリミング値を保持し、前記正常終了信号が活性化されてから前記温度センサーの出力電圧が所定の値よりも大きく変化した場合に、前記第１及び第２のカウント回路からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定する、請求項２〜４のいずれか１項記載のクロック信号生成回路。
【請求項６】
前記周波数調整回路が、前記正常終了信号が活性化されたときのトリミング値を保持し、前記正常終了信号が活性化されてから電源電圧が所定の値よりも大きく変化した場合に、前記第１及び第２のカウント回路からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定する、請求項２〜５のいずれか１項記載のクロック信号生成回路。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項記載のクロック信号生成回路を備える半導体集積回路装置。
【請求項８】
請求項２〜６のいずれか１項記載のクロック信号生成回路と、
前記第２の発振回路によって生成される第２のクロック信号を用いて外部と通信を行う通信部と、
電子機器を操作するために用いられる操作部と、
前記操作部から送信命令を受けた際に、前記第２の発振回路の発振周波数を調整するように前記周波数調整回路を制御し、前記正常終了信号が活性化された後に、送信動作を行うように前記通信部を制御する制御部と、
を備える電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発振回路を用いてクロック信号を生成するクロック信号生成回路に関する。さらに、本発明は、そのようなクロック信号生成回路を備える半導体集積回路装置及び電子機器等に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、電子機器の制御に必要な入出力回路とプログラムやデータを格納するメモリーとが１つの半導体集積回路装置に内蔵されたＭＣＵ（マイクロコントローラーユニット）において、クロック信号を生成するために、キャパシター及び抵抗の時定数に従って発振動作を行うＣＲ発振回路が用いられている。ＣＲ発振回路は、外付け部品を必要としないが、プロセスばらつきや温度や電源電圧によって発振周波数が大きく変化する。そこで、ＣＲ発振回路の発振周波数を、水晶発振回路等の発振周波数に基づいて制御することが行われている。
【０００３】
関連する技術として、特許文献１には、水晶振動子の外付けや外部クロック信号の入力を必要とせずに、プロセスばらつきにより発振回路の発振特性に誤差が生じても、内部クロック信号の周波数を外部クロック信号の周波数に一致させることができる半導体集積回路が開示されている。この半導体集積回路は、記憶回路と、記憶回路に保持された制御情報に基づいて内部クロック信号を生成する発振回路と、外部クロック信号の周波数に内部クロック信号の周波数を一致させる制御情報を生成する論理回路と、論理回路で生成された制御情報を記憶可能な電気ヒューズ回路又は溶断ヒューズ回路とを有し、内部クロック信号を内部回路の同期動作に用いる。
【０００４】
また、特許文献２には、コンピューター装置に設けられたタイマーによる高速動作時における高精度な時間測定を低コストに行うことを可能とする時間測定装置が開示されている。この時間測定装置は、第１の基本クロック信号のクロック数を計数する計数手段と、第１の基本クロック信号よりも発振周波数が低く発振精度の高い第２の基本クロック信号の所定周期における計数手段により計数された第１の基本クロック信号のクロック数、及び、第２の基本クロック信号の所定周期に対応する第１の基本クロック信号のクロック数として予め計数された基準クロック数を用いて、計数手段が計数したクロック数の基準クロック数に対する変動量を示す物理量を導出する導出手段と、導出手段が導出した物理量に応じて、測定対象とする時間に対応する第１の基本クロック信号のクロック数を示す期待計数値を補正する補正手段と、計数手段が計数した第１の基本クロック信号のクロック数が、補正手段が補正した補正期待計数値に達した場合に、当該補正期待計数値に達したことを示す時間情報を出力する出力手段とを備える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−３９８３０号公報（要約書、図２）
【特許文献２】特開２０１３−１１７７８５号公報（段落００３０−００３１、図１）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
水晶振動子等の振動子を用いないＣＲ発振回路は、回路面積、消費電流、又は、ＭＣＵ等の半導体集積回路装置において外部接続端子の数を低減する上で有利であるが、初期状態における発振周波数をトリミングによって調整したとしても、温度や電源電圧によって発振周波数が大きく変動する。従って、特許文献１又は特許文献２に開示されている技術を利用することにより、外部クロック信号の周波数を基準としてＣＲ発振回路の発振周波数を調整することは有効である。
【０００７】
一方、計時機能を有する電子機器は、時間を計測するために、水晶振動子等の振動子を用いて比較的低い周波数で正確な発振を行う発振回路を備えているので、振動子を用いる発振回路の発振周波数を基準としてＣＲ発振回路の発振周波数を調整することが可能である。
【０００８】
しかしながら、振動子を用いる発振回路においても発振周波数は温度によって変化するので、それに伴ってＣＲ発振回路の発振周波数も温度によって変化してしまう。そこで、本発明の第１の目的は、振動子を用いる発振回路とＣＲ発振回路とを備えるクロック信号生成回路において、温度や電源電圧が変化しても高精度な発振周波数を実現することである。また、本発明の第２の目的は、そのようなクロック信号生成回路を備える半導体集積回路装置又は電子機器等を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
以上の課題の少なくとも一部を解決するため、本発明の第１の観点に係るクロック信号生成回路は、振動子を用いて発振動作を行うことにより第１のクロック信号を生成する第１の発振回路と、温度を検出して出力電圧を生成する温度センサーと、温度センサーの出力電圧に基づいて第１の発振回路の発振周波数を補償する温度補償回路と、第１のクロック信号に同期してカウント動作を行うことにより第１のカウント値を出力する第１のカウント回路と、キャパシター及び抵抗を用いて発振動作を行うことにより第２のクロック信号を生成する第２の発振回路と、トリミング値に従って第２の発振回路のキャパシター又は抵抗の値を切り換えるトリミング回路と、第２のクロック信号に同期してカウント動作を行うことにより第２のカウント値を出力する第２のカウント回路と、第１及び第２のカウント値に基づいてトリミング値を設定することにより、第２の発振回路の発振周波数を調整する周波数調整回路とを備える。
【００１０】
本発明の第１の観点によれば、温度補償された第１の発振回路の発振周波数を基準として第２の発振回路の発振周波数が調整されるので、温度や電源電圧が変化しても高精度な発振周波数を実現することができる。
【００１１】
本発明の第２の観点に係るクロック信号生成回路においては、上記の周波数調整回路が、第２の発振回路の発振周波数が所定の範囲内である場合に正常終了信号を活性化する。それにより、第２の発振回路によって生成される第２のクロック信号が供給される他の回路ブロック（例えば、通信部等）は、第２のクロック信号の周波数が所定の範囲内となった後に、速やかに動作を開始することができる。
【００１２】
例えば、周波数調整回路は、第２のカウント値に基づいて、第２の発振回路の発振周波数を測定する周波数測定期間を設定し、周波数測定期間の終了時に第１のカウント値が所定の範囲内である場合に正常終了信号を活性化する。それにより、第１のカウント回路及び第２のカウント回路を有効に活用して、正常終了信号を生成することができる。
【００１３】
本発明の第２の観点において、周波数調整回路は、正常終了信号が活性化されたときのトリミング値を保持し、正常終了信号が活性化されてから所定の期間が経過した後に、第１及び第２のカウント回路からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定するようにしても良い。それにより、第２の発振回路の発振周波数の調整が間欠的に行われるので、クロック信号生成回路における消費電力を低減することができる。
【００１４】
また、周波数調整回路は、正常終了信号が活性化されたときのトリミング値を保持し、正常終了信号が活性化されてから温度センサーの出力電圧が所定の値よりも大きく変化した場合に、第１及び第２のカウント回路からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定するようにしても良い。それにより、第２の発振回路の発振周波数の調整を間欠的に行う場合においても、温度の急激な変化に対応することができる。
【００１５】
さらに、周波数調整回路は、正常終了信号が活性化されたときのトリミング値を保持し、正常終了信号が活性化されてから電源電圧が所定の値よりも大きく変化した場合に、第１及び第２のカウント回路からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定するようにしても良い。それにより、第２の発振回路の発振周波数の調整を間欠的に行う場合においても、電源電圧の急激な変化に対応することができる。
【００１６】
本発明の１つの観点に係る半導体集積回路装置は、上記いずれかのクロック信号生成回路を備える。それにより、クロック信号生成回路を小型化することができる。また、本発明の１つの観点に係る電子機器は、本発明の第２の観点に係るクロック信号生成回路と、第２の発振回路によって生成される第２のクロック信号を用いて外部と通信を行う通信部と、電子機器を操作するために用いられる操作部と、操作部から送信命令を受けた際に、第２の発振回路の発振周波数を調整するように周波数調整回路を制御し、正常終了信号が活性化された後に、送信動作を行うように通信部を制御する制御部とを備える。それにより、通信用のクロック信号を生成するためにＣＲ発振回路を用いながら、通信用のクロック信号の周波数が所定の範囲内となった後に速やかに送信動作を開始する電子機器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態に係るクロック信号生成回路の構成例を示す図。
【図２】図１に示す第１の発振回路の構成例を示す回路図。
【図３】図１に示す温度センサー及び温度補償回路の構成例を示す図。
【図４】図３に示す温度補償回路において用いられる温度補償情報の例を示す図。
【図５】図２に示す第１の発振回路の温度特性を示す図。
【図６】図１に示す第２の発振回路及びトリミング回路の第１の構成例を示す図。
【図７】図１に示す第２の発振回路及びトリミング回路の第２の構成例を示す図。
【図８】図１に示す周波数調整回路周辺の第１の構成例を示すブロック図。
【図９】図８に示す周波数調整回路の動作を説明するためのタイミングチャート。
【図１０】図１に示す周波数調整回路周辺の第２の構成例を示すブロック図。
【図１１】本発明の一実施形態に係る電子機器の構成例を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
図１は、本発明の一実施形態に係るクロック信号生成回路の構成例を示すブロック図である。図１に示すように、このクロック信号生成回路は、第１の発振回路１０と、温度センサー２０と、温度補償回路３０と、第２の発振回路４０と、トリミング回路５０と、第１のカウント回路６０と、第２のカウント回路７０と、周波数調整回路８０と、電源電圧検出回路９０と、水晶振動子ＸＴＡＬ等の振動子とを含んでいる。
【００１９】
ここで、第２の発振回路４０〜電源電圧検出回路９０が、ＭＣＵ（マイクロコントローラーユニット）等の半導体集積回路装置に内蔵されても良い。あるいは、第１の発振回路１０〜電源電圧検出回路９０が、半導体集積回路装置に内蔵されても良い。それにより、クロック信号生成回路を小型化することができる。その場合に、振動子は、半導体集積回路装置に内蔵されても良いし、半導体集積回路装置の外付け部品としても良い。
【００２０】
＜第１の発振回路＞
第１の発振回路１０は、水晶振動子、セラミック振動子、又は、ＳＡＷ（Surface Acoustic Wave：表面弾性波）共振子等の振動子を用いて発振動作を行うことにより、クロック信号ＣＫ１を生成する。第１の発振回路１０の発振周波数は、例えば、可変容量素子を用いて制御される。第１の発振回路１０の基準発振周波数ｆ１は、例えば、３２ｋＨｚに設定されている。
【００２１】
図２は、図１に示す第１の発振回路の構成例を示す回路図である。この例において、第１の発振回路１０は、振動子として水晶振動子ＸＴＡＬを用いて発振動作を行い、可変容量素子として可変容量ダイオード１１を用いて発振周波数が制御される。第１の発振回路１０は、図１に示す温度センサー２０及び温度補償回路３０と共に、発振周波数の温度補償が可能な温度補償型水晶発振器（ＴＣＸＯ）を構成する。
【００２２】
図２に示すように、第１の発振回路１０は、可変容量ダイオード１１と、抵抗１２及び１３と、キャパシター１４及び１５と、インバーター１６とを含んでいる。インバーター１６は、接続端子Ｓ１及びＳ２を介して水晶振動子ＸＴＡＬの両端にそれぞれ接続される入力端子及び出力端子を有しており、増幅素子として機能する。インバーター１６は、高電位側の電源電位ＶＤＤ及び低電位側の電源電位ＶＳＳ（本実施形態においては、接地電位０Ｖとする）が供給されて動作し、入力端子に入力される信号を反転増幅して、増幅された信号を出力端子から出力する。
【００２３】
インバーター１６の入力端子と電源電位ＶＳＳの配線との間には、キャパシター１４と可変容量ダイオード１１とが直列に接続されている。可変容量ダイオード１１のカソードは、抵抗１２を介して制御端子に接続されており、可変容量ダイオード１１のアノードは、電源電位ＶＳＳの配線に接続されている。
【００２４】
インバーター１６の出力端子と電源電位ＶＳＳの配線との間には、キャパシター１５が接続されている。また、インバーター１６の入力端子と出力端子との間には、抵抗（帰還抵抗）１３が接続されており、インバーター１６の出力端子は、第１の発振回路１０の出力端子に接続されている。
【００２５】
可変容量ダイオード１１の容量値は、制御端子に印加される制御電圧ＶＣに従って変化する。第１の発振回路１０は、可変容量ダイオード１１の容量値に応じた発振周波数で発振動作を行う。第１の発振回路１０の発振動作によって生成されるクロック信号ＣＫ１は、第１の発振回路１０の出力端子から外部に出力される。
【００２６】
＜第１の発振回路の温度補償＞
図３は、図１に示す温度センサー及び温度補償回路の構成例を示す図である。温度センサー２０は、第１の発振回路１０（図２）の近傍に配置され、温度を検出して出力電圧を生成する。図３に示すように、温度センサー２０は、抵抗２１〜２３と、ＰＮＰトランジスター２４及び２５と、オペアンプ２６とを含んでいる。
【００２７】
オペアンプ２６は、非反転入力端子と、反転入力端子と、出力端子とを有し、電源電位ＶＤＤ及び電源電位ＶＳＳが供給されて動作する。抵抗２１は、オペアンプ２６の出力端子とトランジスター２４のエミッターとの間に接続されている。また、抵抗２２及び２３は、オペアンプ２６の出力端子とトランジスター２５のエミッターとの間に直列に接続されている。トランジスター２４及び２５のコレクター及びベースは、電源電位ＶＳＳの配線に接続されている。従って、トランジスター２４及び２５の各々は、ＰＮ接合ダイオードと等価である。
【００２８】
オペアンプ２６の出力端子から抵抗２１を介してトランジスター２４に電流が流れて、トランジスター２４のエミッター・コレクター間の電圧が、ＰＮ接合ダイオードの順方向電圧と等しくなる。また、オペアンプ２６の出力端子から抵抗２２及び２３を介してトランジスター２５に電流が流れて、トランジスター２５のエミッター・コレクター間の電圧が、ＰＮ接合ダイオードの順方向電圧と等しくなる。ＰＮ接合ダイオードの順方向電圧の温度特性により、トランジスター２４及び２５のエミッター・コレクター間の電圧は、温度に依存して変化する。
【００２９】
オペアンプ２６の非反転入力端子は、トランジスター２４のエミッターに接続されており、反転入力端子は、抵抗２２と抵抗２３との接続点に接続されている。オペアンプ２６は、トランジスター２４のエミッター電位と、トランジスター２５のエミッター電位を抵抗２２及び抵抗２３で分圧した電位との差を増幅することにより、温度に依存して変化する出力電圧を生成する。
【００３０】
温度補償回路３０は、Ａ／Ｄ変換回路３１と、データ変換回路３２と、格納部３３と、Ｄ／Ａ変換回路３４とを含み、温度センサー２０の出力電圧に基づいて第１の発振回路１０の発振周波数を補償する。
【００３１】
Ａ／Ｄ変換回路３１は、温度センサー２０の出力電圧をデジタル値（温度検出データ）ＤＴに変換する。データ変換回路３２は、例えば、組み合わせ回路又は順序回路を含む論理回路で構成され、格納部３３に格納されている温度補償情報に基づいて、温度検出データＤＴを、第１の発振回路１０（図２）の発振周波数を温度補償するための温度補償データＤＦに変換する。
【００３２】
図４は、図３に示す温度補償回路において用いられる温度補償情報の例を示す図である。この例において、温度補償情報は、温度センサー２０の出力電圧値を表す温度検出データＤＴ１、ＤＴ２、・・・、ＤＴＬと、第１の発振回路１０の発振周波数を温度補償するための制御電圧値を表す温度補償データＤＦ１、ＤＦ２、・・・、ＤＦＬとの対応関係を定義する情報である。
【００３３】
例えば、第１の発振回路１０の検査工程において、複数の温度の下で温度センサー２０の出力電圧及び第１の発振回路１０の発振周波数を測定し、第１の発振回路１０の発振周波数と基準発振周波数ｆ１との誤差を補正するために必要な温度補償データＤＦを計算することにより、温度補償情報が作成される。作成された温度補償情報は、不揮発性メモリー等で構成された格納部３３に格納される。
【００３４】
クロック信号生成回路が電子機器に組み込まれて使用される際に、データ変換回路３２は、格納部３３に格納された温度補償情報を参照することにより、温度検出データＤＴを温度補償データＤＦに変換する。温度検出データＤＴによって表される出力電圧値が温度補償情報において定義されていない電圧値である場合には、データ変換回路３２は、補間計算によって温度補償データＤＦを算出する。温度補償情報のデータ量が大きいほど第１の発振回路１０の発振周波数の精度が向上するが、回路面積やコストも増加するので、要求される発振周波数の精度を満たす必要最小限のデータ量の温度補償情報を格納部３３に格納すれば良い。
【００３５】
Ｄ／Ａ変換回路３４は、データ変換回路３２から出力される温度補償データＤＦを、アナログ信号、即ち、第１の発振回路１０の発振周波数を温度補償するための制御電圧ＶＣに変換する。Ｄ／Ａ変換回路３４から出力される制御電圧ＶＣは、図２に示す第１の発振回路１０の制御端子に印加され、可変容量ダイオード１１の容量値が制御される。それにより、第１の発振回路１０の発振周波数が基準発振周波数ｆ１に近付くように温度補償される。
【００３６】
図５は、図２に示す第１の発振回路の温度特性を示す図である。図５において、横軸は、温度（℃）を表しており、縦軸は、代表温度Ｔｉ（例えば、＋２５℃）における発振周波数に対する周波数偏差（ｐｐｍ）を表している。
【００３７】
図５に示す破線は、温度補償を行わない場合における第１の発振回路１０の温度特性を示している。制御電圧ＶＣが一定にされているので、第１の発振回路１０の発振周波数は、水晶振動子ＸＴＡＬの温度特性に従って変化する。代表温度Ｔｉにおいて発振周波数が基準発振周波数ｆ１と一致するように制御電圧ＶＣを調整しても、温度が＋７０℃になると、発振周波数の偏差が−７０ｐｐｍを越えてしまう。
【００３８】
一方、図５に示す実線は、温度補償を行う場合における第１の発振回路１０の温度特性を示している。温度補償回路３０が温度センサー２０の出力電圧に基づいて第１の発振回路１０の発振周波数を補償することにより、−２０℃〜＋７０℃の温度範囲において、第１の発振回路１０の発振周波数の偏差を±５ｐｐｍ以内に収めることが可能であり、発振周波数の精度が大幅に向上する。また、第１の発振回路１０の発振周波数は、電源電圧の変動の影響を受け難い。
【００３９】
＜第２の発振回路＞
再び図１を参照すると、第２の発振回路４０は、キャパシター及び抵抗を用いて発振動作を行うことによりクロック信号ＣＫ２を生成する。第２の発振回路４０が半導体集積回路装置に内蔵される場合に、キャパシター及び抵抗も、半導体集積回路装置に内蔵することができる。トリミング回路５０は、周波数調整回路８０から供給されるトリミング値に従って、第２の発振回路４０のキャパシター又は抵抗の値を切り換える。第２の発振回路４０の基準発振周波数ｆ２は、第１の発振回路１０の基準発振周波数ｆ１よりも高く、例えば、１ＭＨｚ〜８ＭＨｚに設定されている。
【００４０】
図６は、図１に示す第２の発振回路及びトリミング回路の第１の構成例を示す図である。この例において、第２の発振回路４０は、ＮＡＮＤ回路４１と、複数のインバーター４２〜４４と、キャパシターＣ０、Ｃ１、Ｃ２、・・・と、抵抗Ｒ０とを含むリングオシレーターである。トリミング回路５０は、第２の発振回路４０のキャパシターの値を切り換える複数のスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２、・・・と、それらのスイッチ回路を制御するスイッチ制御回路５１とを含んでいる。
【００４１】
具体的には、ＮＡＮＤ回路４１の出力端子がインバーター４２の入力端子に接続され、インバーター４２の出力端子がインバーター４３の入力端子に接続され、インバーター４３の出力端子がインバーター４４の入力端子に接続されている。インバーター４４の出力端子は、第２の発振回路４０の出力端子に接続されている。ＮＡＮＤ回路４１の第１の入力端子とインバーター４３の出力端子との間には、抵抗Ｒ０が接続されている。ＮＡＮＤ回路４１の第２の入力端子には、システムを制御する制御部等から、発振動作をオン／オフ制御するためのイネーブル信号ＥＮが供給される。
【００４２】
ＮＡＮＤ回路４１の第１の入力端子とインバーター４２の出力端子との間には、キャパシターＣ０が接続されると共に、キャパシターＣ１、Ｃ２、・・・がスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２、・・・を介して接続されている。スイッチ制御回路５１は、例えば、組み合わせ回路を含む論理回路で構成され、図１に示す周波数調整回路８０から制御端子に供給されるトリミング値に従って、スイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２、・・・をオン状態又はオフ状態に制御する。
【００４３】
第２の発振回路４０は、イネーブル信号ＥＮがハイレベルに活性化されているときに、ＮＡＮＤ回路４１の第１の入力端子とインバーター４２の出力端子との間に電気的に接続されるキャパシターの容量値と、抵抗Ｒ０の抵抗値とによって決定される発振周波数で発振動作を行う。第２の発振回路４０の発振動作によって生成されるクロック信号ＣＫ２は、出力端子から外部に出力される。
【００４４】
図７は、図１に示す第２の発振回路及びトリミング回路の第２の構成例を示す図である。この例において、第２の発振回路４０は、ＮＡＮＤ回路４１と、複数のインバーター４２〜４４と、キャパシターＣ０と、抵抗Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２、・・・とを含むリングオシレーターである。トリミング回路５０は、第２の発振回路４０の抵抗の値を切り換える複数のスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２、・・・と、それらのスイッチ回路を制御するスイッチ制御回路５１とを含んでいる。
【００４５】
具体的には、ＮＡＮＤ回路４１の出力端子がインバーター４２の入力端子に接続され、インバーター４２の出力端子がインバーター４３の入力端子に接続され、インバーター４３の出力端子がインバーター４４の入力端子に接続されている。インバーター４４の出力端子は、第２の発振回路４０の出力端子に接続されている。ＮＡＮＤ回路４１の第１の入力端子とインバーター４２の出力端子との間には、キャパシターＣ０が接続されている。ＮＡＮＤ回路４１の第２の入力端子には、システムを制御する制御部等から、発振動作をオン／オフ制御するためのイネーブル信号ＥＮが供給される。
【００４６】
ＮＡＮＤ回路４１の第１の入力端子とインバーター４３の出力端子との間には、抵抗Ｒ０が接続されると共に、抵抗Ｒ１、Ｒ２、・・・がスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２、・・・を介して接続されている。スイッチ制御回路５１は、例えば、組み合わせ回路を含む論理回路で構成され、図１に示す周波数調整回路８０から制御端子に供給されるトリミング値に従って、スイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２、・・・をオン状態又はオフ状態に制御する。
【００４７】
第２の発振回路４０は、イネーブル信号ＥＮがハイレベルに活性化されているときに、キャパシターＣ０の容量値と、ＮＡＮＤ回路４１の第１の入力端子とインバーター４３の出力端子との間に電気的に接続される抵抗の抵抗値とによって決定される発振周波数で発振動作を行う。第２の発振回路４０の発振動作によって生成されるクロック信号ＣＫ２は、出力端子から外部に出力される。
【００４８】
＜第２の発振回路の周波数調整＞
再び図１を参照すると、第１のカウント回路６０は、第１の発振回路１０から出力されるクロック信号ＣＫ１に同期してカウント動作を行うことにより、第１のカウント値を出力する。第２のカウント回路７０は、第２の発振回路４０から出力されるクロック信号ＣＫ２に同期してカウント動作を行うことにより、第２のカウント値を出力する。
【００４９】
周波数調整回路８０は、第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値と第２のカウント回路７０から出力される第２のカウント値とに基づいてトリミング値を設定することにより、第２の発振回路４０の発振周波数を調整する。
【００５０】
図８は、図１に示す周波数調整回路周辺の第１の構成例を示すブロック図である。図８に示すように、周波数調整回路８０は、比較回路８１及び８２と、格納部８３及び８４と、トリミング値設定回路８５とを含んでいる。トリミング値設定回路８５は、例えば、組み合わせ回路又は順序回路を含む論理回路で構成される。
【００５１】
第１のカウント回路６０は、トリミング値設定回路８５から供給されるリセット信号ＲＳ１が活性化されているときにカウント値をゼロにリセットする。また、第２のカウント回路７０は、トリミング値設定回路８５から供給されるリセット信号ＲＳ２が活性化されているときにカウント値をゼロにリセットする。
【００５２】
リセット信号ＲＳ１及びＲＳ２が非活性化されると、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０は、同時にカウント動作を開始する。第１のカウント回路６０は、クロック信号ＣＫ１に含まれているパルスの数をカウントして第１のカウント値を１ずつインクリメントする。第２のカウント回路７０は、クロック信号ＣＫ２に含まれているパルスの数をカウントして第２のカウント値を１ずつインクリメントする。
【００５３】
格納部８３は、例えば、不揮発性メモリー又はレジスター等で構成され、第１のカウント回路６０に関する設定値Ａ１及びＢ１と、第２のカウント回路７０に関する設定値Ａ２及びＢ２とを格納する。設定値Ａ２は、図１に示す第２の発振回路４０の発振周波数を測定する周波数測定期間を設定するために用いられる第２のカウント回路７０のカウント値を表している。設定値Ｂ２は、一連のカウント動作を行うカウント期間を設定するために用いられる第２のカウント回路７０のカウント値を表している。設定値Ａ１及びＢ１は、図１に示す第１の発振回路１０及び第２の発振回路４０が基準発振周波数ｆ１及びｆ２でそれぞれ発振する場合に、設定値Ａ２及びＢ２に対応する第１のカウント回路６０のカウント値を表している。
【００５４】
比較回路８１は、第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値を設定値Ａ１及びＢ１と比較することにより、それぞれの比較結果を表す比較結果信号ＣＡ１及びＣＢ１を出力する。また、比較回路８２は、第２のカウント回路７０から出力される第２のカウント値を設定値Ａ２及びＢ２と比較することにより、それぞれの比較結果を表す比較結果信号ＣＡ２及びＣＢ２をそれぞれ出力する。
【００５５】
格納部８４は、例えば、不揮発性メモリー又はレジスター等で構成され、トリミング値を格納する。電源投入直後においては、格納部８４にトリミング値の初期値が格納されている。トリミング値設定回路８５は、各々の周波数測定期間においてトリミング値を設定し、設定されたトリミング値を以前のトリミング値に加算することにより、新たなトリミング値を算出して格納部８４に格納する。
【００５６】
図９は、図８に示す周波数調整回路の動作例を説明するためのタイミングチャートである。図９に示すように、第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値が、ゼロから１ずつインクリメントされる。また、第２のカウント回路７０から出力される第２のカウント値も、ゼロから１ずつインクリメントされる。第２のカウント値が設定値Ａ２と等しいカウント値ｎになったときに、第１のカウント値はカウント値ｍになっている。
【００５７】
ここで、カウント値ｍが設定値Ａ１と等しい場合には、第２の発振回路４０の発振周波数が基準発振周波数ｆ２と略等しくなっている。また、カウント値ｍが設定値Ａ１よりも大きい場合には、第２の発振回路４０の発振周波数が基準発振周波数ｆ２よりも低くなっており、カウント値ｍが設定値Ａ１よりも小さい場合には、第２の発振回路４０の発振周波数が基準発振周波数ｆ２よりも高くなっている。
【００５８】
トリミング値設定回路８５は、第２のカウント値が設定値Ａ２と等しいことを表す比較結果信号ＣＡ２が入力されると、第１のカウント値を設定値Ａ１と比較して得られた比較結果信号ＣＡ１を保持して、比較結果信号ＣＡ１に基づいてトリミング値を設定する。例えば、トリミング値設定回路８５は、第１のカウント値が設定値Ａ１と等しい場合にトリミング値を「０」に設定する。また、トリミング値設定回路８５は、第１のカウント値が設定値Ａ１よりも大きい場合にトリミング値を「＋１」に設定し、第１のカウント値が設定値Ａ１よりも小さい場合にトリミング値を「−１」に設定する。
【００５９】
トリミング値設定回路８５は、設定されたトリミング値を格納部８４に格納されている以前のトリミング値に加算することにより、新たなトリミング値を算出して格納部８４に格納する。図１に示すトリミング回路５０は、格納部８４に格納されている最新のトリミング値に従って、第２の発振回路４０のキャパシター又は抵抗の値を切り換える。それにより、第２の発振回路４０の発振周波数が、基準発振周波数ｆ２に近付けられる。
【００６０】
その後、第１のカウント値がカウント値Ｍに達し、第２のカウント値が、設定値Ｂ２と等しいカウント値Ｎに達する。トリミング値設定回路８５は、第２のカウント値が設定値Ｂ２よりも大きいことを表す比較結果信号ＣＢ２が入力されると、直ちにリセット信号ＲＳ１及びＲＳ２を活性化する。それにより、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０がリセットされて、第１及び第２のカウント値がゼロになる。
【００６１】
以上の動作を繰り返すことによって、複数の周波数測定期間において第２の発振回路４０の発振周波数の測定及び調整が行われる。本実施形態によれば、温度補償された第１の発振回路１０の発振周波数を基準として第２の発振回路４０の発振周波数が調整されるので、温度や電源電圧が変化しても高精度な発振周波数を実現することができる。
【００６２】
周波数調整回路８０は、第２の発振回路４０の発振周波数が所定の範囲内である場合に、正常終了信号（フラグ）Ｆ１を活性化しても良い。それにより、第２の発振回路４０によって生成されるクロック信号ＣＫ２が供給される他の回路ブロック（例えば、通信部等）は、クロック信号ＣＫ２の周波数が所定の範囲内となった後に、速やかに動作を開始することができる。
【００６３】
例えば、周波数調整回路８０は、第２のカウント回路７０から出力される第２のカウント値に基づいて、第２のカウント回路７０の発振周波数を測定する周波数測定期間を設定する。周波数調整回路８０は、周波数測定期間の終了時に第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値が所定の範囲内（例えば、±０カウント又は±１カウント以内）である場合に、正常終了信号Ｆ１を「１」に活性化しても良い。それにより、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０を有効に活用して、正常終了信号Ｆ１を生成することができる。
【００６４】
そのために、例えば、比較回路８２は、第１のカウント値と設定値Ａ１との差を表す比較結果信号ＣＡ１を出力する。トリミング値設定回路８５は、第２のカウント値が設定値Ａ２と等しいことを表す比較結果信号ＣＡ２が入力されると、比較結果信号ＣＡ１を保持して、比較結果信号ＣＡ１に基づいて正常終了信号Ｆ１を生成する。
【００６５】
また、トリミング値設定回路８５は、いずれかの回路の誤動作等により、第１のカウント値が設定値Ｂ１よりも大きいことを表す比較結果信号ＣＢ１が入力されるか、又は、第２のカウント値が設定値Ｂ２よりも大きいことを表す比較結果信号ＣＢ２が入力されたときに、異常終了信号（フラグ）Ｆ２を「１」に活性化して動作を停止しても良い。それにより、システムを制御する制御部等は、クロック信号生成回路において異常が発生したことを把握して、システムリセット等を行うことができる。
【００６６】
第２の発振回路４０（図１）の発振周波数の調整は、間欠的に行われても良い。例えば、周波数調整回路８０は、正常終了信号Ｆ１が活性化されたときのトリミング値を保持し、少なくとも第２のカウント回路７０をリセット状態に保つ。正常終了信号Ｆ１が活性化されてから所定の期間が経過した後に、周波数調整回路８０は、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０を動作させて、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定する。それにより、第２の発振回路４０の発振周波数の調整が間欠的に（例えば、１０秒に１回）行われるので、クロック信号生成回路における消費電力を低減することができる。
【００６７】
そのために、例えば、トリミング値設定回路８５は、正常終了信号Ｆ１が活性化されたときに第１のカウント回路６０を一旦リセットし、その後、第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値に基づいて計時動作を行う。正常終了信号Ｆ１が活性化されてから所定の期間が経過すると、トリミング値設定回路８５は、第１のカウント回路６０を一旦リセットし、その後、第２の発振回路４０の発振周波数を測定するために、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０のリセットを解除してカウント動作を開始させる。
【００６８】
また、第２の発振回路４０（図１）の発振周波数の調整は、温度の変化に応じて行われても良い。例えば、周波数調整回路８０は、正常終了信号Ｆ１が活性化されたときのトリミング値を保持し、少なくとも第２のカウント回路７０をリセット状態に保つ。正常終了信号Ｆ１が活性化されてから温度センサー２０の出力電圧が所定の値よりも大きく変化した場合に、周波数調整回路８０は、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０を動作させて、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定する。それにより、第２の発振回路４０の発振周波数の調整を間欠的に行う場合においても、温度の急激な変化に対応することができる。
【００６９】
そのために、例えば、図３に示す温度補償回路３０が、温度センサー２０の出力電圧に基づいて得られた温度検出データＤＴを周波数調整回路８０に出力する。周波数調整回路８０において、トリミング値設定回路８５は、正常終了信号Ｆ１が活性化されてからの温度検出データＤＴの値の変化が所定の値よりも大きいか否かを判定する。温度検出データＤＴの値の変化が所定の値よりも大きい場合に、トリミング値設定回路８５は、第２の発振回路４０の発振周波数を測定するために、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０のリセットを解除してカウント動作を開始させる。
【００７０】
さらに、第２の発振回路４０（図１）の発振周波数の調整は、電源電圧の変化に応じて行われても良い。例えば、周波数調整回路８０は、正常終了信号Ｆ１が活性化されたときのトリミング値を保持し、少なくとも第２のカウント回路７０をリセット状態に保つ。正常終了信号Ｆ１が活性化されてから電源電圧が所定の値よりも大きく変化した場合に、周波数調整回路８０は、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０を動作させて、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０からそれぞれ出力される第１及び第２のカウント値に基づいて新たなトリミング値を設定する。それにより、第２の発振回路４０の発振周波数の調整を間欠的に行う場合においても、電源電圧の急激な変化に対応することができる。
【００７１】
そのために、例えば、図１に示す電源電圧検出回路９０が、クロック信号生成回路に供給される電源電圧を検出し、検出された電源電圧の値を表す電源電圧検出データＤＶを周波数調整回路８０に出力する。周波数調整回路８０において、トリミング値設定回路８５は、正常終了信号Ｆ１が活性化されてからの電源電圧検出データＤＶの値の変化が所定の値よりも大きいか否かを判定する。電源電圧検出データＤＶの値の変化が所定の値よりも大きい場合に、トリミング値設定回路８５は、第２の発振回路４０の発振周波数を測定するために、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０のリセットを解除してカウント動作を開始させる。
【００７２】
図１０は、図１に示す周波数調整回路周辺の第２の構成例を示すブロック図である。第２の構成例においては、第２のカウント回路７０が、図１に示す第２の発振回路４０によって生成されるクロック信号ＣＫ２を分周して分周クロック信号を出力する分周回路７１を含んでいる。
【００７３】
分周回路７１の分周比は、第２の発振回路４０の発振周波数が基準発振周波数ｆ２であるときに分周クロック信号の周波数が基準発振周波数ｆ１と略等しくなるように設定される。従って、周波数調整回路８０は、分周クロック信号の周波数が基準発振周波数ｆ１に近付くように、第２の発振回路４０の発振周波数を調整する。
【００７４】
リセット信号ＲＳ１及びＲＳ２が非活性化されると、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０は、同時にカウント動作を開始する。第１のカウント回路６０は、クロック信号ＣＫ１に含まれているパルスの数をカウントして第１のカウント値を１ずつインクリメントする。第２のカウント回路７０は、分周クロック信号に含まれているパルスの数をカウントして第２のカウント値を１ずつインクリメントする。
【００７５】
格納部８３は、例えば、第１のカウント回路６０に関する設定値Ａ及びＢを格納する。設定値Ａは、図１に示す第２の発振回路４０の発振周波数を測定する周波数測定期間を設定するために用いられる第１のカウント回路６０のカウント値を表している。設定値Ｂは、一連のカウント動作を行うカウント期間を設定するために用いられる第１のカウント回路６０のカウント値を表している。
【００７６】
比較回路８１は、第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値を設定値Ａ及びＢと比較することにより、それぞれの比較結果を表す比較結果信号ＣＡ及びＣＢを出力する。また、比較回路８２は、第１のカウント回路６０から出力される第１のカウント値を第２のカウント回路７０から出力される第２のカウント値と比較することにより、比較結果を表す比較結果信号ＣＣを出力する。
【００７７】
トリミング値設定回路８５は、第１のカウント値が設定値Ａと等しいことを表す比較結果信号ＣＡが入力されると、第１のカウント値を第２のカウント値と比較して得られた比較結果信号ＣＣを保持して、比較結果信号ＣＣに基づいてトリミング値を設定する。例えば、トリミング値設定回路８５は、第１のカウント値が第２のカウント値と等しい場合にトリミング値を「０」に設定する。また、トリミング値設定回路８５は、第１のカウント値が第２のカウント値よりも大きい場合にトリミング値を「＋１」に設定し、第１のカウント値が第２のカウント値よりも小さい場合にトリミング値を「−１」に設定する。
【００７８】
トリミング値設定回路８５は、設定されたトリミング値を格納部８４に格納されている以前のトリミング値に加算することにより、新たなトリミング値を算出して格納部８４に格納する。図１に示すトリミング回路５０は、格納部８４に格納されている最新のトリミング値に従って、第２の発振回路４０のキャパシター又は抵抗の値を切り換える。それにより、第２の発振回路４０の発振周波数が、基準発振周波数ｆ２に近付けられる。
【００７９】
その後、トリミング値設定回路８５は、第１のカウント値が設定値Ｂよりも大きいことを表す比較結果信号ＣＢが入力されると、直ちにリセット信号ＲＳ１及びＲＳ２を活性化する。それにより、第１のカウント回路６０及び第２のカウント回路７０がリセットされて、第１及び第２のカウント値がゼロになる。
【００８０】
以上の動作を繰り返すことによって、複数の周波数測定期間において第２の発振回路４０の発振周波数の測定及び調整が行われる。あるいは、分周回路７１を設ける替りに、第２のカウント回路７０が、クロック信号ＣＫ２に含まれているパルスの数をカウントして得られた値を所定数で除算演算して第２のカウント値を生成するようにしても良い。また、第２のカウント回路７０が、クロック信号ＣＫ２に含まれているパルスの数をカウントして得られた値の上位の所定数ビットのみを第２のカウント値として出力するようにしても良い。
【００８１】
それにより、図１に示す第１の発振回路１０及び第２の発振回路４０が基準発振周波数ｆ１及びｆ２でそれぞれ発振する場合に、周波数測定期間において得られる第１のカウント値と第２のカウント値とを等しくすることができる。それ以外の点については、図１０に示す第２の構成例は、図８に示す第１の構成例と同様である。
【００８２】
＜電子機器＞
次に、本発明の一実施形態に係る電子機器について、図１１を参照しながら説明する。
図１１は、本発明の一実施形態に係る電子機器の構成例を示すブロック図である。電子機器１００は、本発明の一実施形態に係るクロック信号生成回路１１０と、計時部１２０と、通信部１３０と、操作部１４０と、制御部１５０と、表示部１６０と、音声出力部１７０とを含んでも良い。なお、図１１に示す構成要素の一部を省略又は変更しても良いし、あるいは、図１１に示す構成要素に他の構成要素を付加しても良い。
【００８３】
図１１には、クロック信号生成回路１１０の一部として、第１の発振回路１０と、第２の発振回路４０と、トリミング回路５０と、周波数調整回路８０とが示されている。計時部１２０は、カウンター等を含み、第１の発振回路１０から出力されるクロック信号ＣＫ１に同期して計時動作を行うことにより、現在時刻を表す計時データを生成する。通信部１３０は、例えば、アナログ回路及びデジタル回路で構成され、第２の発振回路４０から出力されるクロック信号ＣＫ２を用いて外部機器との間でシリアル通信等の通信を行う。
【００８４】
操作部１４０は、例えば、操作キーやボタンスイッチ等を含む入力装置であり、電子機器１００を操作するために用いられる。操作部１４０は、ユーザーによる操作に応じた操作信号を制御部１５０に出力する。
【００８５】
制御部１５０は、例えば、ＣＰＵ１５１と、ＲＯＭ（リードオンリー・メモリー）１５２と、ＲＡＭ（ランダムアクセス・メモリー）１５３とを含んでいる。ＲＯＭ１５２は、ＣＰＵ１５１が各種の演算処理や制御処理を行うためのプログラムやデータ等を記憶している。また、ＲＡＭ１５３は、ＣＰＵ１５１の作業領域として用いられ、ＲＯＭ１５２から読み出されたプログラムやデータ、操作部１４０を用いて入力されたデータ、又は、ＣＰＵ１５１がプログラムに従って実行した演算結果等を一時的に記憶する。
【００８６】
制御部１５０は、操作部１４０から送信命令を受けた際に、第２の発振回路４０の発振周波数を調整するように周波数調整回路８０を制御し、正常終了信号Ｆ１が活性化された後に、送信動作を行うように通信部１３０を制御する。それにより、通信用のクロック信号を生成するためにＣＲ発振回路を用いながら、通信用のクロック信号の周波数が所定の範囲内となった後に速やかに送信動作を開始する電子機器を提供することができる。
【００８７】
表示部１６０は、例えば、ＬＣＤ（液晶表示装置）等を含み、ＣＰＵ１５１から供給される表示信号に基づいて各種の情報を表示する。また、音声出力部１７０は、例えば、スピーカー等を含み、ＣＰＵ１５１から供給される音声信号に基づいて音声を出力する。
【００８８】
電子機器１００としては、例えば、温度、圧力、又は、地磁気等を計測するセンサー機能を計時機能に付加した時計型の端末や、スマートフォン又は携帯端末が該当する。それ以外には、電卓、電子辞書、電子ゲーム機器、携帯電話機等の移動端末、デジタルスチルカメラ、デジタルムービー、テレビ、テレビ電話、防犯用テレビモニター、ヘッドマウント・ディスプレイ、パーソナルコンピューター、プリンター、ネットワーク機器、カーナビゲーション装置、測定機器、及び、医療機器（例えば、電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、及び、電子内視鏡）等が該当する。
【００８９】
上記の実施形態においては、第１の発振回路１０の発振周波数を制御するために可変容量素子を用い、第２の発振回路４０の発振周波数を制御するためにトリミング回路５０を用いる場合について説明したが、第１の発振回路１０及び第２の発振回路４０の発振周波数を制御するために、いずれの方式を用いても良い。このように、本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、当該技術分野において通常の知識を有する者によって、本発明の技術的思想内で多くの変形が可能である。
【符号の説明】
【００９０】
１０…第１の発振回路、１１…可変容量ダイオード、１２、１３…抵抗、１４、１５…キャパシター、１６…インバーター、２０…温度センサー、２１〜２３…抵抗、２４、２５…ＰＮＰトランジスター、２６…オペアンプ、３０…温度補償回路、３１…Ａ／Ｄ変換回路、３２…データ変換回路、３３…格納部、３４…Ｄ／Ａ変換回路、４０…第２の発振回路、４１…ＮＡＮＤ回路、４２〜４４…インバーター、５０…トリミング回路、５１…スイッチ制御回路、６０…第１のカウント回路、７０…第２のカウント回路、７１…分周回路、８０…周波数調整回路、８１、８２…比較回路、８３、８４…格納部、８５…トリミング値設定回路、９０…電源電圧検出回路、１００…電子機器、１１０…クロック信号生成回路、１２０…計時部、１３０…通信部、１４０…操作部、１５０…制御部、１５１…ＣＰＵ、１５２…ＲＯＭ、１５３…ＲＡＭ、１６０…表示部、１７０…音声出力部、ＸＴＡＬ…水晶振動子、Ｓ１、Ｓ２…接続端子、Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２…キャパシター、Ｒ０、Ｒ１、Ｒ２…抵抗、ＳＷ１、ＳＷ２…スイッチ回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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