(57)【要約】【課題】本発明は、放射線の測定誤差を抑制する処理を迅速に行うことを目的とする。【解決手段】検出部３０は、電離箱１２に入射した放射線に応じた検出信号を生成し演算処理部３２に出力する。演算処理部３２は検出信号を離散化し、時間経過と共に順次生成された第１検出値、第２検出値および第３検出値がピーク形成条件を満たすか否かを判定する。ピーク形成条件は、第２検出値が第１検出値および第３検出値に対するピーク値となる条件をいう。演算処理部３２は、ピーク形成条件が満たされた場合に、第１検出値および第３検出値の少なくとも一方に基づいて修正値を求め、修正値を第２検出値に対応する放射線測定値とする。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電離箱によって放射線を検出する検出部と、
前記検出部から時間経過と共に順次得られる第１検出値、第２検出値および第３検出値が、ピーク形成条件であって、前記第２検出値が前記第１検出値および前記第３検出値に対するピーク値となるピーク形成条件を満たすか否かを判定する判定部と、
前記ピーク形成条件が満たされた場合に、前記第１検出値および前記第３検出値の少なくとも一方に基づいて修正値を求める修正部と、
前記ピーク形成条件が満たされた場合に、前記修正値を前記第２検出値に対応する放射線測定値とする測定値決定部と、を備えることを特徴とする放射線測定器。
【請求項２】
請求項１に記載の放射線測定器において、
前記ピーク形成条件は、
前記第１検出値に対する前記第２検出値の差異である第１差異が所定の第１判定値以上であり、かつ、前記第３検出値に対する前記第２検出値の差異である第２差異が所定の第２判定値以上である、という条件を含むことを特徴とする放射線測定器。
【請求項３】
請求項２に記載の放射線測定器において、
前記検出部によって検出される検出値に対して平滑化処理を施す平滑部を備え、
前記判定部は、
前記平滑部による平滑化の度合いに応じて前記第１判定値および前記第２判定値を設定することを特徴とする放射線測定器。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の放射線測定器において、
前記測定値決定部は、
前記ピーク形成条件が満たされない場合に、前記第２検出値に基づく値を前記第２検出値に対応する放射線測定値とすることを特徴とする放射線測定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線測定器に関し、特に、放射線を測定する処理の改善に関する。
【背景技術】
【０００２】
β線、γ線等の放射線を測定する放射線測定器が広く用いられている。放射線測定器には気体が封入された電離箱を備えたものがある。放射線が電離箱に入射すると、その放射線によって電離箱内の気体が電離する。放射線測定器は、電離した気体から電離箱内の電極に集められた電子による電流に基づいて放射線量を測定する。
【０００３】
電離箱には、製造コスト削減等の観点から調整先工場の空気が封入されることが多い。しかし、空気中にはα線を放出するラドンまたはトロンが含まれていることがある。そのため、電離箱に封入する気体として空気を用いた場合には、放射線測定に不要なα線が検出されてしまい、電離箱の外部から内部に到達する放射線を測定する際に誤差が生じることがある。
【０００４】
そこで、以下の特許文献１に記載されているように、電離箱内のα線による影響を抑制する放射線測定装置が考えられている。この放射線測定装置では、電離箱から出力される電圧信号の積分値に基づき電圧測定値が得られる一方で、電圧信号の微分値に基づいてα線の単位時間当たりの検出回数が計数率として求められる。そして、α線計数率を電圧値に換算し、その換算値を上記の電圧測定値から減算することにより、α線の影響が抑制された放射線測定値が求められる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−１１６８４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載されている放射線測定装置では、α線計数率を電圧値に換算することによって、放射線測定値についての誤差が求められる。しかし、α線計数率を求める処理には、ある程度の時間長に亘ってα線を計数する必要があるため長時間が要される。
【０００７】
本発明は、放射線の測定誤差を抑制する処理を迅速に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、電離箱によって放射線を検出する検出部と、前記検出部から時間経過と共に順次得られた第１検出値、第２検出値および第３検出値が、ピーク形成条件であって、前記第２検出値が前記第１検出値および前記第３検出値に対するピーク値となるピーク形成条件を満たすか否かを判定する判定部と、前記ピーク形成条件が満たされた場合に、前記第１検出値および前記第３検出値の少なくとも一方に基づいて修正値を求める修正部と、前記ピーク形成条件が満たされた場合に、前記修正値を前記第２検出値に対応する放射線測定値とする測定値決定部と、を備えることを特徴とする。  
【０００９】
一般に、電離箱によって時間経過と共に順次検出される検出値の時間波形がピークを示す場合、そのピークはα線等の特定の放射線に起因するものであることが多い。したがって、上記のピーク形成条件が満たされた場合には、第２検出値が特定の放射線に基づくピーク値である可能性が高い。本発明によれば、ピーク形成条件が満たされた場合に、第１検出値および第３検出値の少なくとも一方に基づいて修正値が求められる。そして、その修正値を第２検出値に対応する放射線測定値とすることで、特定の放射線に基づく誤差成分が抑制された放射線測定値が得られる。また、本発明によれば、時系列順に得られる３つの検出値によって、特定の放射線に基づく成分が抑制された放射線測定値が得られる。３つの検出値はピーク形成条件が満たされるか否かの判定に必要な時間間隔で得られればよいため、誤差成分を抑制する処理が迅速に行われる。
【００１０】
望ましくは、前記ピーク形成条件は、前記第１検出値に対する前記第２検出値の差異である第１差異が所定の第１判定値以上であり、かつ、前記第３検出値に対する前記第２検出値の差異である第２差異が所定の第２判定値以上である、という条件を含む。
【００１１】
一般に、電離箱によって特定の放射線が検出された場合、所定時間範囲内および所定レベル範囲内で立ち上がり、立ち下がる時間波形を示すことが多い。本発明によれば、第１判定値および第２判定値を適切に設定することで、特定の放射線に対するピーク形成条件が満たされるか否かを判定することができる。
【００１２】
望ましくは、前記検出部によって検出される検出値に対して平滑化処理を施す平滑部を備え、前記判定部は、前記平滑部による平滑化の度合いに応じて前記第１判定値および前記第２判定値を設定する。
【００１３】
平滑化処理が施された各検出値が示す時間波形は、平滑部による平滑化の度合いによって異なったものとなる。本発明によれば、平滑部による平滑化の度合いに応じて第１判定値および第２判定値が設定される。そのため、ピーク形成条件が満たされるか否かについて、平滑化の度合いに応じた適切な判定が行われる。
【００１４】
望ましくは、前記測定値決定部は、前記ピーク形成条件が満たされない場合に、前記第２検出値に基づく値を前記第２検出値に対応する放射線測定値とする。
【００１５】
本発明によれば、ピーク形成条件が満たされない場合には、第２検出値についての修正値は放射線測定値とされない。そのため、測定対象の放射線に基づく成分を放射線測定値に反映させることができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、放射線の測定誤差を抑制する処理を迅速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の実施形態に係る放射線測定器の斜視図である。
【図２】電離箱および測定部の構成を示す図である。
【図３Ａ】検出信号および平滑処理後の検出値を示す図である。
【図３Ｂ】測定値および表示用信号を示す図である。
【図４Ａ】検出信号および平滑処理後の検出値を示す図である。
【図４Ｂ】表示用信号を示す図である。
【図５】演算処理部の構成を示す図である。
【図６】α線成分低減処理を示すフローチャートである。
【図７】検出値および測定値の例を概念的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
図１には本発明の実施形態に係る放射線測定器１０の斜視図が示されている。放射線測定器１０は、電離箱１２および測定部１４を備える。電離箱１２には空気が封入されている。また、電離箱１２は、電離箱１２内に入射した放射線によって電離した空気から電子を集める構造を有している。測定部１４は、電離した空気から集められた電子に基づいて放射線量を測定する。測定部１４の前面パネル１６には、表示部１８が設けられており、表示部１８に測定結果が表示される。前面パネル１６には、操作ボタン２０が設けられており、測定の際にユーザによって操作される。放射線測定器１０は、携帯用の測定器として用いられてもよい。
【００１９】
図２には、電離箱１２および測定部１４の構成が模式的に示されている。測定部１４は、操作部２２、制御部２４、検出部３０、高圧発生部３１、演算処理部３２、および表示部１８を備える。操作部２２は、前面パネルに設けられた操作ボタン等を備える。制御部２４は、放射線測定器１０についての全体的な制御を行う。例えば、制御部２４は、操作部２２の操作に応じて、測定の開始または終了のための制御、表示部１８に表示させる情報を切り換える制御を実行する。この場合、操作部２２は、ユーザの操作に応じた操作情報を制御部２４に出力する。制御部２４は、操作情報に応じて検出部３０、高圧発生部３１、演算処理部３２、または表示部１８を制御する。
【００２０】
電離箱１２に放射線が入射すると電離箱１２内の空気が電離する。電離箱１２の内部には集電極２６が設けられ、電離箱１２の内面には電極層２８が設けられている。集電極２６は、検出部３０に電気的に接続されている。電極層２８は、高圧発生部３１に電気的に接続されている。電極層２８は、集電極２６と電極層２８との間に、電極層２８側を負とした直流電圧を印加する。これによって、集電極２６は電極層２８に対して高電位となり、集電極２６と電極層２８との間に電界が発生する。この電界によって、電離した空気の電子は集電極２６に集められる。これによって、集電極２６に検出電流が流れる。検出部３０は、抵抗器等の回路素子に検出電流を流して電圧を発生させることで検出信号を生成する回路を備えている。検出部３０は、検出電流に基づいて検出信号を生成し演算処理部３２に出力する。
【００２１】
演算処理部３２は、α線に基づく成分（以下、α線成分という。）を低減するα線成分低減処理を検出信号に対して施し、表示信号を生成する。演算処理部３２は、表示信号を表示部１８に出力し、表示部１８は測定値を表示する。
【００２２】
演算処理部３２が実行する処理の概要を図３Ａ、図３Ｂ、図４Ａおよび図４Ｂを参照して説明する。図３Ａ（ａ）には、検出部３０から演算処理部３２に出力される検出信号Ｖ（ｔ）の時間波形の概形が示されている。横軸は時間ｔを示し、縦軸は検出信号Ｖ（ｔ）の値を示す。検出信号Ｖ（ｔ）には、時間ｔ＝８Ｔ〜１０Ｔの間にα線成分によるピークが現れている。
【００２３】
演算処理部は、摘出時間Ｔの間隔で検出信号Ｖ（ｔ）を離散化し、さらに、離散化によって得られる各検出値Ｖ（ｉ）（ｉ＝・・・・０，１，２，３，・・・・）に対して平滑化処理を施す。平滑化処理は、各検出値を仮に補間したならば得られる時間波形を平滑化する処理である。図３Ａ（ｂ）には、平滑化処理後の検出値Ｖ（ｉ）が示されている。横軸は時間変数ｉを示し、縦軸は検出値Ｖ（ｉ）を示す。適切な平滑化度合いの平滑化処理によってα線成分による検出値のピーク値と、その前後の検出値との差異が大きくなる。
【００２４】
演算処理部は、各時間ｔ＝ｉＴについて、摘出時間Ｔ当たりの検出値の増加量Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ−１）が所定の判定値Ｄ１以上であり、かつ、摘出時間Ｔ当たりの検出値の減少量Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ＋１）が所定の判定値Ｄ２以上であるというピーク形成条件が成立するときは、検出値Ｖ（ｉ＋１）およびＶ（ｉ−１）の平均値を時間変数ｉに対応する測定値Ｚ（ｉ）とする。判定値Ｄ１およびＤ２は、同一の値であってもよいし、異なる値であってもよい。
【００２５】
一方、演算処理部は、ピーク形成条件が成立しないときは、検出値Ｖ（ｉ）をそのまま時間変数ｉに対応する測定値Ｚ（ｉ）とする。
【００２６】
図３Ａ（ｂ）においては、検出値Ｖ（９）についてピーク形成条件が成立する。そのため、［Ｖ（１０）＋Ｖ（８）］／２を測定値Ｚ（９）とする。そして、その他の測定値Ｚ（ｉ）を検出値Ｖ（ｉ）とする。図３Ｂ（ｃ）には、このようにして求められた測定値Ｚ（ｉ）が示されている。横軸は時間変数ｉを示し、縦軸は測定値Ｖ（ｉ）を示す。修正によって得られた測定値Ｚ（９）は白丸によって示され、その他の測定値は黒丸によって示されている。
【００２７】
演算処理部は、離散化されている測定値Ｚ（ｉ）（ｉ＝・・・・０，１，２，３，・・・・）に対して平滑化処理を施すと共に補間処理を施し、連続的な信号として表示用信号Ｚ（ｔ）を生成する。図３Ｂ（ｄ）には、表示用信号Ｚ（ｔ）が示されている。横軸は時間ｔを示し、縦軸は表示用信号Ｚ（ｔ）の値を示す。
【００２８】
図４Ａ（ａ）には、検出信号Ｖ（ｔ）の時間波形の別の例が概念的に示されている。図４Ａ（ｂ）には、この検出信号Ｖ（ｔ）に対して求められた各検出値Ｖ（ｉ）が示されている。図４Ａ（ｂ）に示されている各検出値Ｖ（ｉ）では、ピーク形成条件が成立しないため、各検出値Ｖ（ｉ）がそのまま各測定値Ｚ（ｉ）とされる。図４Ｂ（ｃ）には、図４Ａ（ｂ）に示されている検出値Ｖ（ｉ）に対して求められた表示信号Ｚ（ｔ）が示されている。
【００２９】
α線についての一般的な性質によれば、検出信号に含まれるα線成分は、所定の立ち上がり時間および立ち下がり時間、および所定範囲のピーク値を有する。したがって、検出値の摘出時間Ｔ、判定値Ｄ１およびＤ２を適切に設定することで、ピーク形成条件が成立したか否かの判定によって、検出値Ｖ（ｉ）がα線成分のピーク値であるか否かが判定される。
【００３０】
そして、検出値Ｖ（ｉ）についてピーク形成条件が成立した場合には、前後２つの検出値に基づく修正値が測定値Ｚ（ｉ）とされることで、α線成分が低減された測定値Ｚ（ｉ）が求められる。一方、検出値Ｖ（ｉ）についてピーク形成条件が成立しない場合には、検出値Ｖ（ｉ）がそのまま測定値Ｚ（ｉ）とされる。この場合、たとえ検出値がその前の検出値から増加していたとしても、この増加はγ線またはβ線等の他の放射線によるものである可能性が高いため、α線成分による検出値の増加から区別された上で検出値が測定値に反映される。
【００３１】
図５には、演算処理部３２の構成が示されている。演算処理部３２は、離散化部３６、演算用平滑部３８、α線成分低減演算部４０、および表示用平滑部４２を備える。演算処理部３２は、例えば、プロセッサによって構成される。この場合、演算処理部３２は、予め読み込まれたプログラムの実行によって、離散化部３６、演算用平滑部３８、α線成分低減演算部４０、および表示用平滑部４２を構成する。また、演算処理部３２には、これらの構成要素が個別のハードウエアによって構成されていてもよい。
【００３２】
離散化部３６は、検出信号の値を所定の摘出時間Ｔごとに摘出して離散化し、時間軸上に摘出時間Ｔの間隔で連なる離散化値を演算用平滑部３８に出力する。離散化部３６における摘出時間Ｔは、α線成分の特性に応じて決定される。例えば、１回の検出イベントに基づくピーク波形が摘出時間Ｔの２倍の時間内に収まるように摘出時間Ｔが決定される。
【００３３】
演算用平滑部３８は、離散化された検出信号に対して平滑化処理を施す。平滑化処理としては、例えば、移動平均化処理がある。移動平均化処理は、基準時刻から過去に遡って所定個数の離散化値、および、基準時刻から未来に向かって所定個数の離散化値の平均値を、その基準時刻の移動平均化値とする処理である。例えば、基準時刻の離散化値をＸ（ｊ）、１個前の離散化値をＸ（ｊ−１）、２個前の離散化値をＸ（ｊ−２）、・・・・・、ｎ個前の離散化値をＸ（ｊ−ｎ）とし、１個後の離散化値をＸ（ｊ＋１）、２個後の離散化値をＸ（ｊ＋２）、・・・・・、ｎ個後の離散化値をＸ（ｊ＋ｎ）としたときに、移動平均化値Ｖ（ｊ）は、次の（数１）で表される。
【００３４】
【数１】
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【００３５】
ここで、ｎは加算合計される離散化値の個数（２ｎ＋１）を定める０以上の整数であり、この値を適宜設定することで、過去または未来の値を移動平均化値に反映させる度合いが設定される。ｎを０とした場合、移動平均化値は通常の値となる。また、ｎを適切に設定することによって低域通過フィルタ処理が実行される。なお、各Ｘ（ｉ）に個別に重み付け係数を乗じて加算合計をし、各Ｘ（ｉ）の移動平均化値Ｖ（ｊ）への寄与度を調整してもよい。
【００３６】
演算用平滑部３８における平滑化の度合いは、α線成分による検出値のピーク値と、その前後の検出値との差異が十分に大きくなるように設定されている。平滑化の度合いが大き過ぎる場合、α線成分によるピーク値と、その前後の検出値との差異が過度の平滑化によって小さくなってしまうことがある。一方、平滑化の度合いが小さ過ぎる場合、α線以外の放射線の検出値が十分に平滑化されないため、α線成分とノイズとの区別が困難になってしまう。
【００３７】
演算用平滑部３８は、平滑化処理後の離散化された検出信号をα線成分低減演算部４０に出力する。α線成分低減演算部４０は、図６のフローチャートに従うα線成分低減処理によって、検出信号に含まれるα線成分を低減する。
【００３８】
図６には、演算用平滑部３８からα線成分低減演算部４０に、検出値としてＶ（０），Ｖ（１），Ｖ（２），Ｖ（３），・・・・が順次出力される場合の処理の例が示されている。α線成分低減演算部４０は、時間変数ｉの初期値を０として時間経過と共に時間変数ｉを１ずつ増加させる。ステップＳ１０２〜Ｓ１０７の処理は１つのｉの値に対して実行される。
【００３９】
α線成分低減演算部はｉの初期値に１を加算した値を新たなｉとする（Ｓ１０１）。そして、第１差異Ｖ（１）−Ｖ（０）を求め、第１差異が所定の第１判定値Ｄ１以上であるか否かを判定する（Ｓ１０２）。α線成分低減演算部は、第１差異Ｖ（１）−Ｖ（０）が第１判定値Ｄ１未満であるときは、検出値Ｖ（１）を測定値Ｚ（１）とする（Ｓ１０５）。
【００４０】
α線成分低減演算部は、第１差異Ｖ（１）−Ｖ（０）が第１判定値Ｄ１以上であるときは、第２差異Ｖ（１）−Ｖ（２）を求め、第２差異が所定の第２判定値Ｄ２以上であるか否かを判定する（Ｓ１０３）。α線成分低減演算部は、第２差異Ｖ（１）−Ｖ（２）が第２判定値Ｄ２未満であるときは、検出値Ｖ（１）を測定値Ｚ（１）とする（Ｓ１０５）。
【００４１】
α線成分低減演算部は、第２差異Ｖ（１）−Ｖ（２）が第２判定値Ｄ２以上であるときは、検出値Ｖ（２）およびＶ（０）の平均値を検出値Ｖ（１）に対応する測定値Ｚ（１）とする。すなわち、Ｚ（１）＝［Ｖ（２）＋Ｖ（０）］／２として、測定値Ｚ（１）を求める（Ｓ１０４）。
【００４２】
α線成分低減演算部は、ステップＳ１０４またはＳ１０５で求められた測定値Ｚ（１）を出力する（Ｓ１０６）。α線成分低減演算部は、図２の制御部２４から演算処理部３２に測定停止指令が入力されているか否かを判定し（Ｓ１０７）、測定停止指令が入力されているときは処理を終了する。なお、この判定は必ずしもステップＳ１０６の後に実行されなくてもよい。すなわち、α線成分低減演算部は、制御部２４から演算処理部３２に測定停止指令が入力されたときは、フローチャートの演算ステップに関わらず、処理を終了してもよい。α線成分低減演算部はステップＳ１０１の処理に戻り、ｉの値を１だけ増加させる（Ｓ１０１）。
【００４３】
α線成分低減演算部は、以降、同様にして測定値Ｚ（ｉ）を求める。すなわち、第１差異Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ−１）を求め、第１差異が所定の第１判定値Ｄ１以上であるか否かを判定する（Ｓ１０２）。α線成分低減演算部は、第１差異Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ−１）が第１判定値Ｄ１未満であるときは、検出値Ｖ（ｉ）に対応する測定値Ｚ（ｉ）を検出値Ｖ（ｉ）とする（Ｓ１０５）。
【００４４】
α線成分低減演算部は、第１差異Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ−１）が第１判定値Ｄ１以上であるときは、第２差異Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ＋１）を求め、第２差異が所定の第２判定値Ｄ２以上であるか否かを判定する（Ｓ１０３）。α線成分低減演算部は、第２差異Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ＋１）が第２判定値Ｄ２未満であるときは、検出値Ｖ（ｉ）に対応する測定値Ｚ（ｉ）を検出値Ｖ（ｉ）とする（Ｓ１０５）。
【００４５】
α線成分低減演算部は、第２差異Ｖ（ｉ）−Ｖ（ｉ＋１）が第２判定値Ｄ２以上であるときは、検出値Ｖ（ｉ＋１）およびＶ（ｉ−１）の平均値を検出値Ｖ（ｉ）に対応する測定値Ｚ（ｉ）とする。すなわち、Ｚ（ｉ）＝［Ｖ（ｉ＋１）＋Ｖ（ｉ−１）］／２として、測定値Ｚ（ｉ）を求め（Ｓ１０４）、Ｚ（ｉ）を出力する（Ｓ１０６）。
【００４６】
なお、ステップＳ１０４では、検出値Ｖ（ｉ＋１）およびＶ（ｉ−１）の平均値を測定値Ｚ（ｉ）とする代わりに、これらの検出値のうち少なくとも一方の大きさの傾向が反映される他の値を測定値Ｚ（ｉ）としてもよい。例えば、検出値Ｖ（ｉ＋１）およびＶ（ｉ−１）の重み付け平均値を測定値Ｚ（ｉ）としてもよい。
【００４７】
このように、α線成分低減演算部には、時間経過と共に順次得られる検出値Ｖ（ｉ−１）、Ｖ（ｉ）およびＶ（ｉ＋１）（第１検出値、第２検出値および第３検出値）がピーク形成条件を満たすか否かを判定する判定部と、ピーク形成条件が満たされた場合に、検出値Ｖ（ｉ−１）およびＶ（ｉ＋１）の少なくとも一方に基づいて修正値を求める修正部と、ピーク形成条件が満たされた場合に、修正値を検出値Ｖ（ｉ）に対応する放射線測定値とする測定値決定部とが構成されている。測定値決定部は、ピーク形成条件が満たされない場合には、検出値Ｖ（ｉ）に基づく値を検出値Ｖ（ｉ）に対応する放射線測定値とする。
【００４８】
α線成分低減演算部によれば、検出値Ｖ（ｉ）が、その前後の検出値Ｖ（ｉ−１）およびＶ（ｉ＋１）に対するピーク値であるか否かが判定される（ステップＳ１０２およびＳ１０３）。すなわち、検出値Ｖ（ｉ−１）に対する検出値Ｖ（ｉ）の増加が判定値Ｄ１以上であり、かつ、検出値Ｖ（ｉ）に対する検出値Ｖ（ｉ＋１）の減少が判定値Ｄ２以上であるというピーク形成条件が満たされるか否かが判定される。
【００４９】
このピーク形成条件が満たされない場合には、検出値Ｖ（ｉ）がそのまま時間変数ｉに対応する測定値Ｚ（ｉ）とされる。一方、ピーク形成条件が満たされる場合には、検出値Ｖ（ｉ＋１）およびＶ（ｉ−１）の平均値が修正値として求められ、この修正値が測定値Ｚ（ｉ）とされる。
【００５０】
図５に戻って説明する。α線成分低減演算部４０は、検出値Ｖ（１），Ｖ（２），Ｖ（３），・・・・に対応する測定値Ｚ（１），Ｚ（２），Ｚ（３）・・・・を求め、表示用平滑部４２に出力する。表示用平滑部４２は、時間軸上に連なる測定値Ｚ（１），Ｚ（２），Ｚ（３）・・・・に対して（数１）で表される移動平均化処理と同様の移動平均化処理を施し、さらに、補間処理を施して表示用信号を求め、図２の表示部１８に出力する。この移動平均化処理は、検出値Ｖ（１），Ｖ（２），Ｖ（３）・・・・に対する移動平均化処理と平滑化の度合いを異ならせてもよい。また、摘出時間Ｔによっては、必ずしも補間処理は実行されなくてもよい。表示部１８は、表示用信号によって表される放射線測定値を数値、グラフ、図形等によって表示する。
【００５１】
α線成分低減処理によれば、時系列順に得られる３つの検出値によって、α線に基づく誤差成分が抑制された放射線測定値が得られる。最初に３つの検出値が得られた後は、新たに１つの検出値が得られるごとにα線に基づく誤差成分が抑制された放射線測定値が得られる。これによって、α線に基づく誤差成分を抑制する処理が迅速に行われる。
【００５２】
図７には、ｉ＝０〜１９について、検出値Ｖ（ｉ）および測定値Ｚ（ｉ）の例が概念的に示されている。横軸は時間変数ｉで表した時間を示し、縦軸は検出値Ｖ（ｉ）および測定値Ｚ（ｉ）を表す。この例では、ｉ＝２、ｉ＝６、およびｉ＝１８においてピーク形成条件が満たされている。すなわち、第１差異Ｖ（２）−Ｖ（１）が判定値Ｄ１以上であり、かつ、第２差異Ｖ（２）−Ｖ（３）が判定値Ｄ２以上であるという条件が成立する。また、第１差異Ｖ（６）−Ｖ（５）が判定値Ｄ１以上であり、かつ、第２差異Ｖ（６）−Ｖ（７）が判定値Ｄ２以上であるという条件が成立し、さらに、第１差異Ｖ（１８）−Ｖ（１７）が判定値Ｄ１以上であり、かつ、第２差異Ｖ（１８）−Ｖ（１９）が判定値Ｄ２以上であるという条件が成立する。したがって、Ｚ（２）、Ｚ（６）およびＺ（１８）は、図７の白丸で示されているように、前後の検出値を用いて、Ｚ（ｉ）＝［Ｖ（ｉ＋１）＋Ｖ（ｉ−１）］／２に従って求められる。その他の測定値Ｚ（ｉ）については、図７の黒丸で示されているように検出値Ｖ（ｉ）がそのまま測定値Ｚ（ｉ）とされる。図７に示されているように、検出値Ｖ（２）、Ｖ（６）およびＶ（１８）に対し、測定値Ｚ（２）、Ｚ（６）およびＺ（１８）は値が低減されている。一方、検出値Ｖ（１０）〜Ｖ（１４）については、比較的大きい値を有しているものの、ピーク形成条件が満たされないため、そのままの値が測定値Ｚ（１０）〜Ｚ（１４）とされている。このように、α線成分低減処理によれば、測定値からα線成分が低減されると共に、その他の放射線に基づく成分を測定値に反映させることができる。
【００５３】
上述のように、α線成分による検出値のピーク値と、その前後の検出値との差異は、検出信号の平滑化の度合いに応じて異なる。また、α線成分低減処理における判定値Ｄ１およびＤ２が小さ過ぎると、検出値がα線以外の要因でピーク値となったにも拘わらず、ピーク形成条件が成立したとされる誤判定の可能性が生じる。一方、α線成分低減処理における判定値Ｄ１およびＤ２が大き過ぎると、実際にはピーク形成条件が成立しているにも拘わらず、ピーク形成条件が成立していないとされる誤判定の可能性が生じる。そこで、α線成分低減演算部４０は、演算用平滑部３８における平滑化の度合いに応じて、判定値Ｄ１およびＤ２を設定してもよい。
【００５４】
演算用平滑部３８が実行する処理が低域通過フィルタ処理である場合には、平滑化の度合いを表す数値としてはステップ応答における立ち上がり時定数がある。立ち上がり時定数は、ある時刻において０から１に値がステップ状に立ち上がるステップ信号が回路に入力された場合に、その回路から出力される信号が収束値の１−（１／ｅ）倍に達するまでの時間として定義される。ｅは自然対数の底である。立ち上がり時定数が大きい程、平滑化の度合いが大きくなる。
【００５５】
演算用平滑部３８は、図１の制御部２４の制御に応じて平滑化の度合いが可変となるように構成されてもよい。この場合、平滑化の度合いを示す平滑化情報がα線成分低減演算部４０に与えられてもよい。平滑化情報には、例えば、（数１）に示されている０以上の整数ｎがある。また、演算用平滑部３８が実行する処理が低域通過フィルタ処理である場合には、平滑化情報は立ち上がり時定数τであってもよい。α線成分低減演算部４０は、平滑化情報に応じて判定値Ｄ１およびＤ２を設定する。
【００５６】
また、上述の実施形態では、離散化部３６の後段に検出信号に対して平滑化処理を施す例を取り上げたが、図２の検出部３０において検出信号に対する平滑化処理が施されてもよい。この場合、検出部３０は、平滑化処理を行う平滑回路を備えていてもよい。すなわち、検出部３０および演算用平滑部３８のうち少なくとも一方において、検出信号に対して平滑化処理が施されてもよい。
【符号の説明】
【００５７】
１０  放射線測定器、１２  電離箱、１４  測定部、１６  前面パネル、１８  表示部、２０  操作ボタン、２２  操作部、２４  制御部、２６  集電極、２８  電極層、３０  検出部、３１  高圧発生部、３２  演算処理部、３６  離散化部、３８  演算用平滑部、４０  α線成分低減演算部、４２  表示用平滑部。
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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