(57)【要約】【課題】既存の光線路に高次モードを利用した試験の適用を可能とする試験光合分波器及び光線路試験システムを提供することを目的とする。【解決手段】試験光合分波器を介してパルス化された試験光を被試験光ファイバに入力し、試験光からの戻り光に含まれる基本モードおよび第一高次モードの強度を試験光合分波器で分離し、分離した各モードの強度を個別に受光して解析することで強度分布を取得する光線路試験システムである。これにより、距離に対する試験光からの戻り光の強度分布を取得することが可能となる。【選択図】図１
2017072495.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
通信光がシングルモードで伝搬する光ファイバに接続される試験光合分波器であって、
前記通信光が相互間で伝搬する１組のメインポートと、
前記光ファイバの実効カットオフ波長より短い波長の試験光が入力され、前記試験光の前記光ファイバでの伝搬モードがそれぞれ定められ、前記光ファイバを伝搬する前記試験光の戻り光を伝搬モード毎に出力する複数の試験ポートと、
を備えることを特徴とする試験光合分波器。
【請求項２】
前記メインポート間を接続し、前記通信光が基本モードで伝搬し、前記試験光がマルチモードで伝搬する第１光導波路と、
前記試験ポートの１つと接続し、前記試験光と前記戻り光が基本モードで伝搬する第２光導波路と、
前記試験光と前記戻り光の波長において、第１光導波路の基本モードと第２光導波路の基本モードとが位相整合し、前記試験光と前記戻り光を第１光導波路と第２光導波路との間で基本モードのまま結合する第１方向性結合部と、
前記試験ポートの他と接続し、前記試験光と前記戻り光が基本モードで伝搬する少なくとも１つの第３光導波路と、
前記試験光と前記戻り光の波長において、第１光導波路の高次モードと第３光導波路の基本モードとが位相整合し、前記試験光と前記戻り光を第１光導波路では高次モードとし、第３光導波路では基本モードとして第１光導波路と第３光導波路との間で結合する第２方向性結合部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の試験光合分波器。
【請求項３】
第１方向性結合部及び第２方向性結合部は、
前記通信光の波長において、第１光導波路の基本モードと第２光導波路及び第３光導波路の基本モード及び高次モードとが位相整合しないことを特徴とする請求項２に記載の試験光合分波器。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の試験光合分波器と、
前記試験光合分波器の前記試験ポートの一方に前記試験光を結合し、全ての前記試験ポートから出力される前記戻り光を受光する試験装置と、
を備える光線路試験システム。
【請求項５】
前記試験装置は、
前記戻り光の伝搬モード毎に、前記光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を演算することを特徴とする請求項４に記載の光線路試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光線路試験を行うための試験光合分波器及び光線路試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＦＴＴＨ（Ｆｉｂｅｒ  Ｔｏ  Ｔｈｅ  Ｈｏｍｅ）サービスの普及から十年以上が経過し、光設備の経年劣化による故障発生が懸念されている。その中で光線路においては、光ファイバの曲げ部が故障の発生しやすい箇所となっている。故障を未然に防ぐために、定期的な光線路の試験を行うことにより、光ファイバの曲げ部や接続部等の潜在的な故障箇所をユーザ通信に影響を及ぼさずに試験を行う必要がある。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】Ａ．  Ｎａｋａｍｕｒａ，  Ｋ．  Ｏｋａｍｏｔｏ，  Ｉ．  Ｏｇｕｓｈｉ，  Ｎ．  Ｈａｎｚａｗａ，  Ｋ．  Ｋａｔａｙａｍａ  ａｎｄ  Ｔ．  Ｍａｎａｂｅ，  “Ｈｉｇｈｌｙ  Ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  ｏｆ  Ｆｉｂｅｒ  Ｂｅｎｄｉｎｇ  Ｕｓｉｎｇ  １−μｍ−ｂａｎｄ  Ｍｏｄｅ−ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  ＯＴＤＲ”，  ＯＥＣＣ２０１４，  ＴＵ６Ｃ４，  ２０１４．
【非特許文献２】Ｎ．  Ｔｏｍｉｔａ，  Ｈ．  Ｔａｋａｓｕｇｉ，  Ｎ．  Ａｔｏｂｅ，  Ｉ．  Ｎａｋａｍｕｒａ，  Ｆ．  Ｔａｋａｅｓｕ  ａｎｄ  Ｓ．  Ｔａｋａｓｈｉｍａ，  “Ｄｅｓｉｇｎ  ａｎｄ  Ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ  ｏｆ  ａ  Ｎｏｖｅｌ  Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｆｉｂｅｒ  Ｌｉｎｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ  Ｗｉｔｈ  ＯＴＤＲ  ｆｏｒ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｌｏｏｐｓ”，  Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ｌｉｇｈｔｗａｖｅ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，  ｖｏｌ．１２，  Ｎｏ．５，  Ｍａｙ  １９９４．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
非特許文献１では、光ファイバに生じる曲げを、ユーザ通信への影響が顕在化する前に高感度に検知可能な手法として、試験対象の光ファイバにおけるカットオフ波長よりも短い波長を用いて、後方散乱光の第一高次モードを測定する手法が開示されている。しかしながら、非特許文献１は、上記試験を既存の光線路に適用する手法については言及しておらず、当該技術をどのように光線路に適用するかが不明という課題がある。
【０００５】
一方、従来の光線路試験システムには非特許文献２に示すように、通信光と試験光を結合させる光カプラを備えているものがある。しかし、当該光カプラは光ファイバ中の高次モードの光を透過させることを考慮に入れて設計されていない。このため、非特許文献２の光線路試験システムに非特許文献１の高次モードを利用した試験を適用することは困難という課題がある。
【０００６】
本発明は、上記課題を解決すべく、既存の光線路に高次モードを利用した試験の適用を可能とする試験光合分波器及び光線路試験システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明に係る試験光合分波器は、試験光が結合されるポートを複数持ち、ポートを選択することで試験光を所望のモードで被試験光ファイバに伝搬させることを可能とした。
【０００８】
具体的には、本発明に係る試験光合分波器は、
通信光がシングルモードで伝搬する光ファイバに接続される試験光合分波器であって、
前記通信光が相互間で伝搬する１組のメインポートと、
前記光ファイバの実効カットオフ波長より短い波長の試験光が入力され、前記試験光の前記光ファイバでの伝搬モードがそれぞれ定められ、前記光ファイバを伝搬する前記試験光の戻り光を伝搬モード毎に出力する複数の試験ポートと、
を備えることを特徴とする。
【０００９】
本試験光合分波器を被試験光ファイバに接続することで、被試験光ファイバに所望のモードの試験光を結合することができる。従って、本発明は、既存の光線路に高次モードを利用した試験の適用を可能とする試験光合分波器を提供することができる。
【００１０】
本発明に係る試験光合分波器の具体的な構成は次の通りである。
本試験光合分波器は、上記ポートの他に、
前記メインポート間を接続し、前記通信光が基本モードで伝搬し、前記試験光がマルチモードで伝搬する第１光導波路と、
前記試験ポートの１つと接続し、前記試験光と前記戻り光が基本モードで伝搬する第２光導波路と、
前記試験光と前記戻り光の波長において、第１光導波路の基本モードと第２光導波路の基本モードとが位相整合し、前記試験光と前記戻り光を第１光導波路と第２光導波路との間で基本モードのまま結合する第１方向性結合部と、
前記試験ポートの他と接続し、前記試験光と前記戻り光が基本モードで伝搬する少なくとも１つの第３光導波路と、
前記試験光と前記戻り光の波長において、第１光導波路の高次モードと第３光導波路の基本モードとが位相整合し、前記試験光と前記戻り光を第１光導波路では高次モードとし、第３光導波路では基本モードとして第１光導波路と第３光導波路との間で結合する第２方向性結合部と、
をさらに備える。
【００１１】
また、非特許文献２の光カプラは通信光と試験光を強度的に分離するものではないため、非特許文献２には当該光カプラによる通信光の損失が発生するという課題もある。
【００１２】
本発明に係る試験光合分波器の第１方向性結合部及び第２方向性結合部は、前記通信光の波長において、第１光導波路の基本モードと第２光導波路及び第３光導波路の基本モード及び高次モードとが位相整合しないことを特徴とする。それぞれの方向性結合器において、通信光の波長では位相整合しない。このため通信光が試験ポートへ分波されることが無く、本発明に係る試験光合分波器は通信光に損失を与えにくい。
【００１３】
本発明に係る光線路試験システムは、前記試験光合分波器と、前記試験光合分波器の前記試験ポートの一方に前記試験光を結合し、全ての前記試験ポートから出力される前記戻り光を受光する試験装置と、を備える。
本発明は、前記試験光合分波器を備えているため、既存の光線路に高次モードを利用した試験の適用を可能とする光線路試験システムを提供することができる。
【００１４】
本発明に係る光線路試験システムの前記試験装置は、前記戻り光の伝搬モード毎に、前記光ファイバの距離に対する前記戻り光の強度分布を演算することを特徴とする。モード毎の光強度分布を確認することで、光ファイバに生じる微小な変化を検知でき、長期にわたってモニタすることで経年劣化による故障を未然に防ぐことができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明は、既存の光線路に高次モードを利用した試験の適用を可能とする試験光合分波器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明に係る光線路試験システムの構成を説明するための図である。
【図２】本発明に係る試験光合分波器の機能を説明するための図である。
【図３】本発明に係る試験光合分波器の構成を説明するための図である。
【図４】本発明に係る試験光合分波器の構成を説明するための図である。
【図５】本発明に係る光線路試験システムの構成を説明するための図である。
【図６】光ファイバの実効カットオフ波長について説明する図である。
【図７】ＬＰ０１モードとＬＰ１１モードを合分波するモード合分波器を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００１８】
（実施形態１）
図１は、本実施形態の光線路試験システム３０１の構成例を説明するための図である。ＦＴＴＨサービスを行っている通信系４０１は、局側の伝送装置１１と加入者端末１４とを光ファイバ１０で接続している。光ファイバ１０は、伝送装置１１と加入者端末１４との間で伝送される通信光の波長においてシングルモード（基本モード）動作である。
【００１９】
光線路試験システム３０１は、伝送装置１１と光ファイバ１０との間に配置される。具体的には、光線路試験システム３０１は、試験光合分波器１３と試験装置１２で構成されており、試験光合分波器１３が伝送装置１１と光ファイバ１０との間に配置される。
【００２０】
試験光合分波器１３は、通信光がシングルモードで伝搬する光ファイバ１０に接続される試験光合分波器であって、
前記通信光が相互間で伝搬する１組のメインポート（３１、３２）と、
光ファイバ１０の実効カットオフ波長より短い波長の試験光が入力され、前記試験光の光ファイバ１０での伝搬モードがそれぞれ定められ、光ファイバ１０を伝搬する前記試験光の戻り光を伝搬モード毎に出力する複数の試験ポート（３５、３６）と、
を備える。
【００２１】
試験装置１２は、光ファイバ１０を試験する装置である。試験装置１２は、例えば、試験を実施する光ファイバを選択する心線選択装置や、光ファイバ１０が２モード動作する波長の試験光を出力する光源、試験光や試験光からの戻り光の強度を測定するための受光部、受光した試験光の強度を解析するための演算処理部等で構成され、所望の心線に対して、ＯＴＤＲのような光反射測定や、損失試験、心線対照等を行うことができる。
【００２２】
メインポート３１は伝送装置１１と接続され、メインポート３２は光ファイバ１０が接続される。試験ポート（３５、３６）は試験装置１２と接続されている。そして、試験光合分波器１３は、伝送装置１１からの通信光と試験装置１２からの試験光を合波し、かつ加入者端末１４からの通信光と試験光による光ファイバ１０からの戻り光を強度的に分離する。
【００２３】
図２は、試験光合分波器１３の機能を説明するための図である。
図２（ａ）〜（ｃ）に示されるように、試験光合分波器１３は伝送装置および試験装置側に複数のポートを有し、各ポートに入力された通信光および試験光を合波し、光ファイバ１０に入力することができる。また、図２（ｂ）および（ｃ）に示されるように、試験光を入力するポートを選択することで、光ファイバ１０に入力するモードを選択することができる。さらに、光ファイバ１０側から試験光合分波器１３に入力された通信光と試験光の各モードの強度は分離され、個別に各ポートから出力することができる。
【００２４】
光線路試験システム３０１は、試験対象とされる光線路である光ファイバ１０に対して、光ファイバ１０の実効カットオフ波長より短く、２モード動作する波長の試験光を用いて試験を実行する。ここで、実効カットオフ波長について説明しておく。図６は、光ファイバの実効カットオフ波長について説明する図である。
【００２５】
光ファイバは、コアの屈折率、クラッドの屈折率、及びコア径で定まる遮断波長（カットオフ波長）を持つ。遮断波長より波長が長い光はその光ファイバを基本モードのみで伝搬する（シングルモード）。一方、遮断波長より波長が短い光は基本モードの他に高次モードでも伝搬することができる（マルチモード）。「シングルモードファイバ」とは、伝搬させようとする光信号（波長）が基本モードで伝搬するように遮断波長が設計された光ファイバであって、伝搬モードが常に１つしか存在しない、というわけではない。
【００２６】
図３は、図２の機能を実現する試験光合分波器１３の構成の一例について説明する図である。試験光合分波器１３は、メインポート（３１、３２）間を接続し、前記通信光が基本モードで伝搬し、前記試験光がマルチモードで伝搬する第１光導波路２１と、
試験ポート３５と接続し、前記試験光と前記戻り光が基本モードで伝搬する第２光導波路２２と、
前記試験光と前記戻り光の波長において、第１光導波路２１の基本モードと第２光導波路２２の基本モードとが位相整合し、前記試験光と前記戻り光を第１光導波路２１と第２光導波路２２との間で基本モードのまま結合する第１方向性結合部２４と、
試験ポート３６と接続し、前記試験光と前記戻り光が基本モードで伝搬する第３光導波路２３と、
前記試験光と前記戻り光の波長において、第１光導波路２１の高次モードと第３光導波路２３の基本モードとが位相整合し、前記試験光と前記戻り光を第１光導波路２１では高次モードとし、第３光導波路２３では基本モードとして第１光導波路２１と第３光導波路２３との間で結合する第２方向性結合部２５と、
をさらに備える。
【００２７】
第１光導波路２１は、通信光の波長においてＬＰ０１モード、試験光の波長においてＬＰ０１モードおよびＬＰ１１モードが伝搬可能である。第２および第３光導波路２２および２３は、試験光の波長においてＬＰ０１モードで伝搬可能である。第２光導波路２２における試験光波長のＬＰ０１モードは、方向性結合部２４において、第１光導波路２１における試験光波長のＬＰ０１モードと位相整合が図られて結合可能である。第３光導波路２３における試験光波長のＬＰ０１モードは、方向性結合部２５において、第１光導波路２１における試験光波長のＬＰ１１モードと位相整合が図られて結合可能である。すなわち、第３光導波路２３を伝搬する試験光波長のＬＰ０１モードは、方向性結合部２５において第１光導波路２１を伝搬するＬＰ１１モードに変換される。
【００２８】
また、第１方向性結合部２４及び第２方向性結合部２５は、前記通信光の波長において、第１光導波路２１の基本モードと第２光導波路２２及び第３光導波路２３の基本モード及び高次モードとが位相整合しないことを特徴とする。つまり、第１方向性結合部２４および第２方向性結合部２５において、第１光導波路２１から、第２光導波路２２および第３光導波路２３に通信光の強度が極力移行しないように、位相整合条件と方向性結合部の長さを設定する。
【００２９】
図７は、ＬＰ０１モードとＬＰ１１モードを合分波するモード合分波器の例を説明する図である。本例では、比屈折率差Δが等しく，導波路の高さが等しい複数の導波路により構成される場合であって、平行導波路が近接する結合部により、一方の導波路中を伝搬する特定のモードを、他方の導波路を伝搬する特定のモードに変換するよう設計されている。
【００３０】
２つの導波路の高さ及び幅を適切に設計し、２つの導波路を伝搬するモードの実効屈折率を一致させることでモードの結合を生じさせることができる。また、相互作用長を適切に設計することで、一方の導波路を伝搬する光を、他方の導波路に移すことができる。
【００３１】
これにより、通信光にほぼ損失を与えずに、通信光と試験光の合波および通信光と試験光の強度分離が可能となる。なお、試験光合分波器１３は、図４のような構成であってもよい。
【００３２】
（実施形態２）
図５は、光ファイバ１０にパルス化された試験光をＬＰ０１モードで入射し、試験光による光ファイバ１０からの戻り光の距離に対する強度分布を解析する光線路試験システム３０１を説明する図である。光線路試験システム３０１は、試験光合分波器１３と、試験光合分波器１３の試験ポート３６に前記試験光を結合し、試験ポート（３５、３６）から出力される前記戻り光を受光する試験装置１２と、を備える。
【００３３】
試験装置１２は、光源５１、光パルス化器５２、光サーキュレータ５３、受光部（５４、５５）、Ａ／Ｄ変換器５６及び演算処理装置５７を備える。光源５１から出力された試験光は光パルス化器５２でパルス化される。パルス化された試験光は、光サーキュレータ５３を通過し、試験光合分波器１３の試験ポート３６を介して光ファイバ１０にＬＰ０１モードで入射される。
【００３４】
試験光は、光ファイバ１０を伝搬する際に各所で散乱され、その一部が試験光と逆方向に伝搬するＬＰ０１モードおよびＬＰ１１モードの戻り光となり、メインポート３２に戻ってくる。この戻り光は試験光合分波器１３に再度入射され、戻り光に含まれるＬＰ０１モードおよびＬＰ１１モードが強度分離される。
【００３５】
分離されたＬＰ０１モードの光は、試験ポート３６と光サーキュレータ５３を通過し、受光部５４で光電変換される。また、分離されたＬＰ１１モードの光は、受光部５５で光電変換される。光電変換されたＬＰ０１モードおよびＬＰ１１モードの強度は、Ａ／Ｄ変換器５６でディジタル信号に変換され、演算処理装置５７に入力される。
【００３６】
演算処理装置５７は、各モードに対応する戻り光の電圧値に対して演算処理を施し、光ファイバ１０の距離に対する強度分布を求める。このような構成により、戻り光のＬＰ０１およびＬＰ１１モードの距離に対する強度分布特性を試験することが可能となる。
【００３７】
光線路試験システム３０１を用いることで、例えば、次のような光ファイバ１０の試験が可能である。光線路試験システム３０１は、戻り光の基本モードと高次モードを利用して光ファイバ１０の試験を行っているので、基本モードと高次モードの強度比率に基づいて、通常の通信光には影響がない潜在的な曲げ部の位置を知ることができる。さらに、この潜在的な曲げ部は、経年劣化等により将来的な故障につながるため、光線路試験システム３０１で基本モードと高次モードの強度比率を長期モニタする。基本モードと高次モードの強度比率が一定値に達した時点で光ファイバ１０が劣化したとして交換等を行うことで通信不通等の故障を未然に防ぐことができる。
【００３８】
（他の実施形態）
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。例えば、上記実施形態では試験光合分波器１３の試験ポートがＬＰ０１モードとＬＰ１１モードの２つであったが、さらに多くの高次モードのために試験ポートを増やしてもよい。また、上記実施形態では、光ファイバ１０に合波する試験光がＬＰ０１モードであったが、ＬＰ１１モードの試験光を光ファイバ１０に合波してもよい。
【００３９】
要するにこの発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【００４０】
［付記］
以下は、本実施形態の試験光合分波器及び光線路試験システムを説明したものである。
【００４１】
光線路の不具合を高感度に検知可能な手法として、試験対象の光ファイバにおけるカットオフ波長よりも短い波長を用いて、後方散乱光の第一高次モードを測定する手法が知られている。この手法を用いれば、ユーザ通信への影響が顕在化する前に光線路の不具合を認知し、修理することが可能になる。
【００４２】
そこで、本発明の第一の目的は、被試験光ファイバで２モード動作する波長の試験光を用いた試験を光線路に適用するための光線路試験システムを提供することにある。
そして、その第二の目的は、試験光と通信光を合分波する際に通信光に生じる損失を極力低減した光線路試験システムを提供することにある。
【００４３】
（１）：
被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を用いた光線路試験を実行するための試験光合分波器において、前記試験光を基本モードおよび第一高次モードで通信光に合分波可能であり、かつそれらの信号を個別に入出力可能であることを特徴とする、試験光合分波器。
【００４４】
（２）：
前記試験光合分波器は、通信波長帯で単一モード動作し試験波長帯で２モード動作する第１光導波路と、試験波長帯において前記第１光導波路の基本モードと位相整合する基本モードが伝搬可能である第２光導波路と、試験波長帯において前記第１光導波路の基本モードと第２光導波路の基本モードを結合させる方向性結合部と、試験波長帯において前記第１光導波路の第一高次モードと位相整合する基本モードが伝搬可能である第３光導波路と、試験波長帯において前記第１光導波路の第一高次モードと第２光導波路の基本モードを結合させる方向性結合部と、を備えることを特徴とする上記（１）に記載の試験光合分波器。
【００４５】
（３）：
前記試験光合分波器は、通信波長帯において基本モードで伝搬される通信光にほぼ損失を与えずに透過させることを特徴とする、上記（１）に記載の試験光合分波器。
【００４６】
（４）：
被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を用いた光線路試験を実行する光線路試験システムにおいて、前記試験光を用いて前記被試験光ファイバの伝送特性を測定する試験装置と、前記試験光を前記被試験光ファイバが単一モード動作する波長の通信光に合波させ、さらに前記試験光および試験光からの戻り光と前記通信光を分波する上記（１）に記載の試験光合分波器とを備えることを特徴とする、光線路試験システム。
【００４７】
（５）：
前記被試験光線路の伝送特性を測定する試験装置は、被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を出力する試験光生成部と、前記試験光合分波器で分離された試験光および試験光からの戻り光に含まれる基本モードと第一高次モードの強度を個別に受光する試験光検出部と、受光した試験光を解析する演算処理部とを備えることを特徴とする、上記（４）に記載の光線路試験システム。
【００４８】
（６）：
前記試験光生成部からパルス化された試験光を出力し、前記試験光合分波器を介して試験光を被試験光ファイバに入力し、前記試験光合分波器で被試験光ファイバを伝搬する試験光からの戻り光に含まれる基本モードおよび第一高次モードの強度を分離し、前記試験光検出部で分離された各モードの強度を個別に受光し、前記演算処理部で受光した各モードの強度を解析して試験光からの戻り光の強度分布を取得することを特徴とする、上記（４）に記載の光線路試験システム。
【００４９】
本発明は以下のような構成要素を備えている。
【００５０】
本発明の第一の観点は、被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を用いた光線路試験を実行するために用いる試験光合分波器である。これにより、任意のモードの試験光で被試験光ファイバの試験を実施することができる。
本発明の第二の観点は、試験光合分波器の構成である。３つの光導波路と２つの方向性結合部を備えることにより、通信光と試験光を個別に入出力可能となる。
本発明の第三の観点は、基本モードで伝搬する通信光にほぼ損失を与えない試験光合分波器である。これにより、試験光合分波器を光線路に挿入することによって通信光に生じる損失を低減することが可能となる。
本発明の第四の観点は、被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を用いて被試験光ファイバの伝送特性を測定する試験装置と、通信光と試験光を合分波する試験光合分波器を備えた光線路試験システムである。
本発明の第五の観点は、被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を生成する試験光生成部と、試験光および試験光からの戻り光に含まれる基本モードと第一高次モードの強度を個別に受光する試験光検出部と、受光した試験光を解析する演算処理部を備えた光線路試験システムである。
本発明の第六の観点は、試験光合分波器を介してパルス化された試験光を被試験光ファイバに入力し、試験光からの戻り光に含まれる基本モードおよび第一高次モードの強度を試験光合分波器で分離し、分離した各モードの強度を個別に受光して解析することで強度分布を取得する光線路試験システムである。これにより、距離に対する試験光からの戻り光の強度分布を取得することが可能となる。
【００５１】
（効果）
この発明によれば、通信光に生じる損失を低減しつつ、被試験光ファイバが２モード動作する波長の試験光を用いた試験を光線路に適用するための光線路試験システムを提供することができる。
【符号の説明】
【００５２】
１０：光ファイバ
１１：伝送装置
１２：試験装置
１３：試験光合分波器
１４：加入者端末
２１：第１光導波路
２２：第２光導波路
２３：第３光導波路
２４：第１方向性結合部
２５：第２方向性結合部
３１、３２：メインポート
３５、３６：試験ポート
５１：光源
５２：光パルス化器
５３：光サーキュレータ
５４、５５：受光部
５６：Ａ／Ｄ変換器
５７：演算処理装置
３０１：光線路試験システム
４０１：通信系
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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