(57)【要約】【課題】温度変化又は経年変化による端子間抵抗値の変化に起因するマルチタッチの誤検出を確実に防止する。【解決手段】演算処理装置３００は、シングルタッチ閾値およびマルチタッチ閾値に基づいて、タッチパネル１００において１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか又は複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する。前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新処理を行う更新手段と、を有することを特徴とする。電源オンの際、演算処理装置はタッチパネルが非タッチ状態である場合の抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、初期非タッチ抵抗値と予め設定された閾値とに応じてシングルタッチ閾値およびマルチタッチ閾値を更新する。【選択図】図１
2017010104.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置であって、
前記タッチパネルにおいて１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定手段と、
前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新処理を行う更新手段と、
を有することを特徴とするタッチパネル装置。
【請求項２】
前記タッチパネルをタッチ操作しない非タッチ状態の際の抵抗値を予め測定して得られた初期非タッチ抵抗値を前記予め設定された抵抗値とすることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル装置。
【請求項３】
さらに、前記シングルタッチの際の抵抗値が初期シングルタッチ抵抗値として予め測定されるとともに、前記マルチタッチの際の抵抗値を初期マルチタッチ抵抗値として予め測定されており、
前記更新手段は、前記初期非タッチ抵抗値と前記非タッチ抵抗値とを比較した比較結果が予め定められた結果であると、前記初期非タッチ抵抗値、前記初期シングルタッチ抵抗値、前記初期マルチタッチ抵抗値、および前記非タッチ抵抗値を用いて、前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新することを特徴とする請求項２に記載のタッチパネル装置。
【請求項４】
前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を記憶する閾値記憶手段と、
前記初期非タッチ抵抗値、前記初期シングルタッチ抵抗値、および前記初期マルチタッチ抵抗値を記憶する抵抗値記憶手段を有することを特徴とする請求項３に記載のタッチパネル装置。
【請求項５】
前記更新手段は前記比較結果として前記初期非タッチ抵抗値と前記非タッチ抵抗値との差分を求め、
前記予め定められた結果は前記差分がゼロでないことを特徴とする請求項３又は４に記載のタッチパネル装置。
【請求項６】
前記更新手段は、前記初期非タッチ抵抗値と前記初期シングルタッチ抵抗値との抵抗値の変化率を第１の変化率として求め、前記初期非タッチ抵抗値と前記初期マルチタッチ抵抗値との抵抗値の変化率を第２の変化率として求めて、前記第１の変化率および前記第２の変化率をそれぞれ前記非タッチ抵抗値に乗算して予測シングルタッチ抵抗値および予測マルチタッチ抵抗値を求め、前記予測シングルタッチ抵抗値および前記予測マルチタッチ抵抗値と前記初期シングルタッチ抵抗値および前記初期マルチタッチ抵抗値とに応じて前記閾値記憶手段に記憶された前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新することを特徴とする請求項３乃至５のいずれか１項に記載のタッチパネル装置。
【請求項７】
前記更新手段は、前記タッチパネル装置の電源がオンされる都度、前記更新処理を行うことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載のタッチパネル装置。
【請求項８】
前記更新手段は、前記タッチパネル装置の電源がオンされると前記更新処理を行い、前記電源がオンされた後、所定の時間が経過する都度、再び前記更新処理を行うことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載のタッチパネル装置。
【請求項９】
前記更新手段は、前記タッチパネル装置の温度に応じて前記所定の時間を変更することを特徴とする請求項８に記載のタッチパネル装置。
【請求項１０】
前記更新手段は、前記予め設定された抵抗値と前記非タッチ抵抗値とが同一であると前記更新処理を行わないことを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載のタッチパネル装置。
【請求項１１】
タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置の制御方法であって、
前記タッチパネルにおいて１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、
前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
【請求項１２】
タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置で用いられる制御プログラムであって、
前記タッチパネル装置が備えるコンピュータに、
前記タッチパネルにおいて１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、
前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、
を実行させることを特徴とする制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネル装置、その制御方法、および制御プログラムに関し、特に、撮像装置などで用いられるタッチパネル装置におけるキャリブレーション手法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、デジタルカメラなどの撮像装置に備えられたユーザーインタフェースにおいては直感的な操作が要求されており、例えば、ユーザーインタフェースとしてタッチパネル装置が用いられている。そして、タッチパネル装置を用いた操作において、特に、２点検出を行う所謂マルチタッチ操作が必須となりつつある。マルチタッチ操作の一例として、２本の指を用いて画像の拡大又は縮小を行う操作がある。
【０００３】
一方、タッチパネル装置で用いられるタッチパネルの一つとして所謂抵抗膜式のタッチパネル（以下抵抗膜タッチパネルと呼ぶ）がある。抵抗膜タッチパネルでは、１つの指を用いてタッチ操作を行うシングルタッチとマルチタッチとを判別する際には、端子間抵抗値に応じて判別を行っている。
【０００４】
ところが、端子間抵抗値は温度変化又は経年変化による影響によって変動する。そして、端子間抵抗値の変動によって、タッチ操作の際の検出位置がずれる事態が生じる。
【０００５】
温度変化又は経年変化に対処するため、例えば、高精度の固定抵抗値を基準として、初期状態における端子間抵抗値を測定するようにしたものがある（特許文献１参照）。ここでは、初期状態において得られた端子間抵抗値に基づいて現在の端子間抵抗値を測定して変化率を算出する。そして、算出した変化率に基づいてシングルタッチ補正のためのキャリブレーション値を更新して位置ずれ補正（検出位置ずれ補正）を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−２６５５１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述のように、端子間抵抗値の変化率を算出すれば、検出位置のずれ量および検出位置のずれ方向をおおまかに把握することができる。そして、端子間抵抗値の変化率に応じて、キャリブレーション値を更新すれば検出位置のずれを低減することができる。
【０００８】
しかしながら、上述の特許文献１に記載の手法では、シングルタッチのみを考慮し、マルチタッチについては考慮していないので、マルチタッチを行った場合には、不可避的に誤検知が生じてしまう。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、温度変化又は経年変化による端子間抵抗値の変化に起因するマルチタッチの誤検出を確実に防止することのできるタッチパネル装置、その制御方法、および制御プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の目的を達成するため、本発明によるタッチパネル装置は、タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置であって、前記タッチパネルにおいて１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定手段と、前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新処理を行う更新手段と、を有することを特徴とする。
【００１１】
本発明による制御方法は、タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置の制御方法であって、前記タッチパネルにおいて１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、を有することを特徴とする。
【００１２】
本発明による制御プログラムは、タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置で用いられる制御プログラムであって、前記タッチパネル装置が備えるコンピュータに、前記タッチパネルにおいて１点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、を実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、起動後に測定された非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じてシングルタッチ閾値およびマルチタッチ閾値を更新する。これによって、温度変化又は経年変化による抵抗値の変化に起因するマルチタッチの誤検出を確実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の第１の実施形態によるタッチパネル装置の一例についてその構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示すタッチパネルにおける端子間抵抗値の測定を説明するための図である。
【図３】図１に示すタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明の第２の実施形態によるタッチパネル装置において時間の経過と端子間抵抗との関係の一例を説明するための図であり、（ａ）は高温時における端子間抵抗値の推移を示す図、（ｂ）は低温時における端子間抵抗値の推移を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。
【図６】本発明の第３の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に、本発明の実施の形態によるタッチパネル装置の一例について図面を参照して説明する。
【００１６】
［第１の実施形態］
図１は、本発明の第１の実施形態によるタッチパネル装置の一例についてその構成を示すブロック図である。
【００１７】
図示のタッチパネル装置は、タッチパネル１００を備えており、タッチパネル１００として抵抗膜タッチパネルが用いられている。さらに、タッチパネル装置は、ＬＣＤパネル２００、記録装置４００、および演算処理装置３００を有している。
【００１８】
演算処理装置３００は、画像などのコンテンツを管理するためのコンテンツ管理装置（図示せず）の動作を制御する。演算処理装置３００は、タッチパネル１００を介してユーザーから指示を受け付けて、後述する各種プログラムを実行して、ＬＣＤパネル２００を制御する。
【００１９】
記録装置４００は、例えば、演算処理装置３００のワークエリアとして用いられ、記録装置４００には初期値記録部および閾値記録部（ともに図示せず）が備えられている。また、タッチパネル１００には端子間抵抗値を測定するための端子間抵抗値測定部１００ａが備えられている。
【００２０】
上述の初期値記録部には、初期状態における非タッチ、シングルタッチ、およびマルチタッチの端子間抵抗値が記録されている。以下、初期状態における非タッチ、シングルタッチ、およびマルチタッチの端子間抵抗値をそれぞれ初期非タッチ端子間抵抗値（初期非タッチ抵抗値：予め設定された抵抗値）、初期シングル端子間抵抗値（初期シングルタッチ抵抗値）、および初期マルチ端子間抵抗値（初期マルチタッチ抵抗値）と呼ぶ。
【００２１】
なお、シングルタッチとはタッチパネル１００において１点をタッチする操作であり、マルチタッチとはタッチパネル１００において複数の点をタッチする操作である。
【００２２】
さらに、初期値記録部には、初期シングル端子間抵抗値および初期マルチ端子間抵抗値に応じたシングルタッチおよびマルチタッチに係る初期閾値が記録されている。以下、シングルタッチおよびマルチタッチに係る初期閾値をそれぞれ初期シングル閾値（初期シングルタッチ閾値）および初期マルチ閾値（初期マルチタッチ閾値）と呼ぶ。閾値記録部には、シングルタッチおよびマルチタッチにおいて最終的に閾値として用いられる値が記録されている。以下、シングルタッチおよびマルチタッチにおいて最終的に閾値として用いられる値をそれぞれシングル閾値（シングルタッチ閾値）およびマルチ閾値（マルチタッチ閾値）と呼ぶ。
【００２３】
演算処理装置３００は、ユーザーによるタッチ操作の際に、シングル閾値およびマルチ閾値に基づいて、当該タッチ操作がシングルタッチであるか又はマルチタッチであるかを判定する。
【００２４】
ここで、初期シングル閾値および初期マルチ閾値の算出について説明する。
【００２５】
まず、初期状態においてシングルタッチおよびマルチタッチを行った際の端子間抵抗値を複数回測定する。この際、シングルタッチにおいては指の大きい人を想定して棒などでタッチパネル１００をタッチする。一方、マルチタッチにおいては２つの指の間隔が狭い状態を想定して、同様に棒などでタッチパネル１００をタッチする。つまり、シングルタッチおよびマルチタッチにおいてその端子間抵抗値が互いに近似する状態で測定を行う。
【００２６】
続いて、複数回の測定で得られた測定値をシングルタッチおよびマルチタッチ毎に平均して平均値を算出する。そして、平均値の各々についてマージンを１割として初期シングル閾値および初期マルチ閾値を得る。ここでは、シングルタッチにおいては平均値の１割を平均値から減算した値を初期シングル閾値とする。また、マルチタッチにおいては平均値の１割を平均値に加算した値を初期マルチ閾値とする。
【００２７】
なお、これら端子間抵抗値、初期シングル閾値、および初期マルチ閾値は後述する閾値を算出する際の基準として用いられる。
【００２８】
図２は、図１に示すタッチパネル１００における端子間抵抗値の測定を説明するための図である。
【００２９】
図２において、タッチパネル１００は、上シート１０１および下シート１０２を有している。上シート１０１は図中縦方向（以下Ｙ方向とする）のタッチ位置を検出するための端子間抵抗を備えており、下シート１０２は横方向（以下Ｘ方向とする）のタッチ位置を検出するための端子間抵抗を備えている。
【００３０】
まず、Ｘ方向における端子間抵抗値を測定する場合には、端子間抵抗値測定部１００ａはスイッチ１０８をオンとし、スイッチ１０６を端子Ｈに接続し、スイッチ１０５を端子Ｃに接続する。なお、その他のスイッチは全て開放（オープン）状態とされる。これの結果、Ｘ方向の端子間抵抗Ｒｔｘと固定抵抗Ｒｘ１１３によって、基準電圧ＶＣＣ１１０が抵抗分圧された電圧値ＶＡ／ＤがＡＤＣ（Ａ／Ｄ変換器）１０９に入力される。
【００３１】
このＡＤＣ１０９は端子間抵抗値測定部１００ａに備えられており、ＡＤＣ１０９は電圧値ＶＡＤをＡ／Ｄ変換して演算処理装置３００に送る。そして、演算処理装置３００は、式（１）によってＸ方向の端子間抵抗Ｒｔｘの抵抗値を算出する（以下端子間抵抗Ｒｔｘの抵抗値もＲｔｘで表す）。
【００３２】
Ｒｔｘ＝Ｒｘ（Ｖｃｃ−ＶＡ／Ｄ）／ＶＡ／Ｄ      （１）
続いて、Ｙ方向の端子間抵抗値を測定する場合には、端子間抵抗値測定部１００ａはスイッチ１０７をオンとし、スイッチ１０４を端子Ｅに接続し、スイッチ１０３を端子Ｂに接続する。なお、その他のスイッチは全てオープン状態とされる。これの結果、Ｙ方向の端子間抵抗Ｒｔｙと固定抵抗Ｒｙ１１２とによって、基準電圧ＶＣＣ１１０が抵抗分圧された電圧値ＶＡ／ＤがＡＤＣ１０９に入力される。そして、式（２）によって、演算処理装置３００は、Ｙ方向の端子間抵抗Ｒｔｙの抵抗値を算出する（以下端子間抵抗Ｒｔｙの抵抗値もＲｔｙで表す）。
【００３３】
Ｒｔｙ＝Ｒｙ（Ｖｃｃ−ＶＡ／Ｄ）／ＶＡ／Ｄ      （２）
図３は、図１に示すタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。なお、図示のフローチャートに係る処理は演算処理装置３００の制御下で行われる。
【００３４】
タッチパネル装置の電源がオンされると（つまり、タッチパネル装置が起動されると）、演算処理装置３００は閾値演算および更新処理を開始する。まず、演算処理装置３００は、ユーザーがタッチパネル１００にタッチしているか否かを判定する。つまり、演算処理装置３００は、タッチパネル１００が非タッチ状態であるか否かを判定する（ステップＳ１０１）。
【００３５】
非タッチ状態でないと、つまり、ユーザーがタッチパネル１００にタッチしていると（ステップＳ１０１において、ＮＯ）、演算処理装置３００は待機する。一方、非タッチ状態であると（ステップＳ１０１において、ＹＥＳ）、演算処理装置３００は、図２で説明したようにして、端子間抵抗値測定部１００ａによって非タッチ状態における端子間抵抗値ＲｔｘおよびＲｔｙを求める（ステップＳ１０２）。
【００３６】
続いて、演算処理装置３００は、温度変化又は経年変化の影響によって端子間抵抗値に変化が生じているか確認する。ここでは、演算処理装置３００は、記録装置４００に記録された初期非タッチ端子間抵抗値（初期値）とステップＳ１０２の処理で得られた端子間抵抗値（測定値）との差分（比較結果）を求める。そして、演算処理装置３００は差分が存在するか否か（差分がゼロであるか否か）を判定する（ステップＳ１０３）。つまり、演算処理装置３００は、測定値に変化があるか否かを判定することになる。
【００３７】
差分が存在すると（ステップＳ１０３において、ＹＥＳ）、演算処理装置３００は初期非タッチ端子間抵抗値、初期シングル端子間抵抗値、および初期マルチ端子間抵抗値（つまり、初期端子間抵抗値）を用いて、後述するようにして、非タッチ状態とタッチ状態との変化率αおよびβを求める（ステップＳ１０４）。
【００３８】
ここで、記録装置４００に記録された初期非タッチ端子間抵抗値をＡ［Ω］、初期シングル端子間抵抗値をＢ［Ω］、そして、初期マルチ端子間抵抗値をＣ［Ω］とする。端子間抵抗値測定部１００ａで測定された非タッチ状態における測定値（非タッチ端子間抵抗値：非タッチ抵抗値）をＤ［Ω］とする。また、測定値に対応するシングルタッチおよびマルチタッチにおける予測端子間抵抗値（予測シングルタッチ抵抗値および予測マルチタッチ抵抗値）をそれぞれＰ［Ω］およびＱ［Ω］とする。なお、初期シングル閾値をＷ［Ω］、初期マルチ閾値をＶ［Ω］とする。
【００３９】
ところで、タッチパネル１００においては、タッチした際の端子間抵抗値は、非タッチ状態における全体端子間抵抗値に対するタッチした際の押圧などの範囲の比率で決定される。つまり、非タッチ状態における全体端子間抵抗値に変化があったとしても、押圧の範囲が同一であればその比率も同一となる。
【００４０】
よって、演算処理装置３００は、次の式（３）および式（４）を用いて、変化率αおよびβを算出する。
【００４１】
α＝Ｂ／Ａ      （３）
β＝Ｃ／Ａ      （４）
次に、演算処理装置３００は、式（５）および式（６）で示すように、非タッチ端子間抵抗値（測定値）に上記の変化率αおよびβを乗算して、予測端子間抵抗値Ｐ［Ω］およびＱ［Ω］を求める（ステップＳ１０５）。
【００４２】
Ｐ＝α×Ｄ［Ω］      （５）
Ｑ＝β×Ｄ［Ω］      （６）
続いて、演算処理装置３００は、式（７）および式（８）で示すように、ステップＳ１０５で求めた予測端子間抵抗値Ｐ［Ω］およびＱ［Ω］と初期シングル端子間抵抗値Ｂ［Ω］および初期マルチ端子間抵抗値Ｃ［Ω］との差を求める。そして、演算処理装置３００は当該差をそれぞれ初期シングル閾値Ｗ［Ω］および初期マルチ閾値Ｖ［Ω］に加算して、シングル閾値およびマルチ閾値を求める（ステップＳ１０６）。
【００４３】
シングル閾値＝（Ｐ−Ｂ）＋Ｗ［Ω］      （７）
マルチ閾値＝（Ｑ−Ｃ）＋Ｖ［Ω］      （８）
その後、演算処理装置３００は、ステップＳ１０６で算出したシングル閾値およびマルチ閾値を最終的に使用する閾値として、閾値記録部に記録されたシングル閾値およびマルチ閾値を更新する（ステップＳ１０７）。そして、演算処理装置３００は、閾値算出および更新処理を終了する。
【００４４】
ステップＳ１０３において、差分が存在しないと（ステップＳ１０３において、ＮＯ）、演算処理装置３００は、温度変化又は経年変化よる影響が生じていないとする。そして、演算処理装置３００は、閾値記録部に記録されたシングル閾値およびマルチ閾値を更新せず（ステップＳ１０８）、閾値算出および更新処理を終了する。
【００４５】
このように、本発明の第１の実施形態では、温度変化又は経年変化に応じてシングル閾値およびマルチ閾値を更新する。これによって、温度変化又は経年変化によって生じるシングルタッチおよびマルチタッチのいずれであるかを判定する際の誤検出を確実に防止することができる。
【００４６】
つまり、温度変化又は経年変化によって端子間抵抗値が変化すると、マルチタッチをシングルタッチと判定する誤りが生じることがあるが、シングル閾値およびマルチ閾値を更新すれば、このような誤判定が生じることはない。
【００４７】
［第２の実施形態］
続いて、本発明の第２の実施形態によるタッチパネル装置の一例について説明する。
【００４８】
デジタルカメラなどの小型機器においては、一般に短時間で電源がオン／オフされる。このため、図３で説明したように、電源がオンされた際にシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新処理を行えば、経年変化又は温度変化の影響に対処するができる。
【００４９】
一方、長時間連続して使用される機器（例えば、公共施設のＡＴＭ、２４時間稼働のシステム）に、図３で説明したシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新処理を適用しても、電源がオフされた後オンされないと更新処理が行われない。このため。機器を使用中に温度変化又は経年変化の影響によって端子間抵抗値が変化してしまうことがある。このため、第２の実施形態では、所定のタイミングで更新処理を実行するようにする。
【００５０】
図示はしないが、第２の実施形態によるタッチパネル装置は、図１に示すタッチパネル装置の構成に加えて、少なくも温度検出部および時間検出部が備えられている。なお、温度検出部および時間検出部は、例えば、演算処理装置３００に備えられている。
【００５１】
タッチパネル装置の温度上昇の要因として、例えば、環境温度、ＬＣＤパネル２００のバックライト熱による温度、ＬＣＤパネル２００以外の構成部品およびＩＣなどの熱による温度などがある。
【００５２】
ところで、タッチパネル装置の温度が変化したののみで端子間抵抗値が直ぐに変化する訳ではなく、温度の変動が長時間経過することによって端子間抵抗値の変化が大きくなる。
【００５３】
図４は、本発明の第２の実施形態によるタッチパネル装置において時間の経過と端子間抵抗との関係の一例を説明するための図である。そして、図４（ａ）は高温時における端子間抵抗値の推移を示す図であり、図４（ｂ）は低温時における端子間抵抗値の推移を示す図である。
【００５４】
図４（ａ）および図４（ｂ）において、横軸は時間を示し、縦軸は端子間抵抗値を示す。図示のように、低温時においては、時間の経過とともに端子間抵抗は若干低下するものの、ほとんど変化しない。一方、高温時においては、端子間抵抗値は徐々に増大し、５００時間を経過すると端子間抵抗値は大きく変化することが分かる。
【００５５】
つまり、タッチパネル装置が非動作である低温時には端子間抵抗値はほとんど変化しないが、タッチパネル装置が動作するとその内部温度が変化して高温時の状態となって端子間抵抗値が大きく変化することになる。
【００５６】
そこで、第２の実施形態においては、タッチパネル装置の温度を監視して、端子間抵抗値が大きく変化する時間が経過すると、つまり、タッチパネル装置を動作させて所定の時間が経過すると、図３で説明した更新処理を行う。
【００５７】
図５は本発明の第２の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。なお、図５において、図３に示すフローチャートのステップと同一のステップについては、同一の参照符号を付して説明を省略する。
【００５８】
図３で説明したように、タッチパネル装置の電源がオンされると、演算処理装置３００は時間検出部によって時間の計測を開始する。そして、部演算処理装置３００はステップＳ１０１〜Ｓ１０８の処理を行う。
【００５９】
ステップＳ１０７又はＳ１０８の処理の後、演算処理装置３００は、時間検出部によって電源がオンされた後、所定の時間が経過したか否かを判定する（ステップＳ２０１）。所定の時間が経過しないと（ステップＳ２０１において、ＮＯ）、演算処理装置３００は待機する。一方、所定の時間が経過すると（ステップＳ２０１において、ＹＥＳ）、演算処理装置３００はタッチパネル装置の電源がオンであるか否かを判定する（ステップＳ２０２）。
【００６０】
電源がオフであると（ステップＳ２０２において、ＮＯ）、演算処理装置３００は閾値算出および更新処理を終了する。一方、電源がオンであると（ステップＳ２０２において、ＹＥＳ）、演算処理装置３００はステップＳ１０１の処理に戻って、閾値算出および更新処理を行う。
【００６１】
ここで、図４を参照して、上記の所定の時間の決定について説明する。
【００６２】
図４（ａ）に示すように、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化が大きい場合には、頻繁に端子間抵抗値を監視する必要がある。このため、端子間抵抗値が変化したか否かを判定するための検知時間（つまり、所定の時間）を短くする。一方、図４（ｂ）に示すように、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化が少ない場合には、端子間抵抗値が変化したか否かを判定するための検知時間を長くする。
【００６３】
なお、前述のように、温度が変化すると、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化量が変わるので、温度に応じて検知時間を変化させる。例えば、温度検出部で検出された温度が所定の温度よりも高いと、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化が大きくなるので、演算処理装置３００は検知時間（所定の時間）を短くする。一方、温度検出部で検出された温度が所定の温度以下の状態では、演算処理装置３００は検知時間を変更しない。
【００６４】
このように、本発明の第２の実施形態では、電源がオンされると、閾値算出および更新処理を行う。そして、所定の時間が経過しても電源がオンであると、再度閾値算出および更新処理を行う。これによって、タッチパネル装置を長時間使用したとしても、温度変化又は経年変化によって生じるシングルタッチおよびマルチタッチのいずれであるかを判定する際の誤検出を確実に防止することができる。
【００６５】
［第３の実施形態］
続いて、本発明の第３の実施形態によるタッチパネル装置の一例について説明する。
【００６６】
前述の第１の実施形態においては、タッチパネル装置の電源がオンする都度、閾値算出および更新処理が行われることになる。このため、温度変化又は経年変化の影響をほとんど受けていない場合であっても、タッチパネル装置の電源がオンされると、閾値算出および更新処理が行われる。
【００６７】
第３の実施形態では、温度変化又は経年変化の影響をほとんど受けていない場合においては、タッチパネル装置の電源がオンされても、閾値算出および更新処理を行わないようにする。
【００６８】
第３の実施形態によるタッチパネル装置は、図１に示すタッチパネル装置の構成に加えて、図示しない比較部および比較対象記録部を有している。比較対象記録部には比較部において比較される端子間抵抗値が比較対象として記録される。この比較対象記録部には、初期値として初期非タッチ端子間抵抗値が記録され、その後、端子間抵抗値測定部１００ａによって測定された非タッチ端子間抵抗値によって初期非タッチ端子間抵抗値が更新される。
【００６９】
なお、比較対象記録部は記録装置４００に備えられており、比較部は演算処理装置３００に備えられている。
【００７０】
図６は本発明の第３の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。なお、図６において、図３に示すフローチャートのステップと同一のステップについては、同一の参照符号を付して説明を省略する。
【００７１】
図３で説明したステップＳ１０１の処理において、非タッチ状態であると、演算処理装置３００は端子間抵抗値測定部１００ａによって測定した測定値（端子間抵抗値）と比較対象記録部に記録されている端子間抵抗値とを比較部で比較する。そして、演算処理装置３００は、比較の結果に応じて、測定値と比較対象記録部に記録されている端子間抵抗値とが同一であるか否かを判定する（ステップＳ３０１）。
【００７２】
同一であると（ステップＳ３０１において、ＹＥＳ）、演算処理装置３００は、図３で説明したステップＳ３０１の処理に進む。一方、同一でないと（ステップＳ３０１において、ＮＯ）、演算処理装置３００は、図３で説明したステップＳ１０３の処理に進む。
【００７３】
図３で説明したステップ１０６の処理の後、演算処理装置３００は、ステップＳ１０６で得られたシングル閾値およびマルチ閾値を、測定の結果得られた非タッチ端子間抵抗値毎に閾値記録部に記録する（ステップＳ３０２）。その後、演算処理装置３００はステップＳ１０７の処理に進む。
【００７４】
このように、本発明の第３の実施形態では、端子間抵抗値が変化しないよう場合には、電源オンがオンしても閾値算出および更新処理が行われないので、不必要に演算処理が行われず、消費電力を低減することができる。
【００７５】
上述の説明から明らかなように、図１に示す例においては、記録装置４００が閾値記憶手段および抵抗値記憶手段として用いられる。また、端子間抵抗値測定部１００ａおよび演算処理装置３００は更新手段として機能する。そして、記録装置４００および演算処理装置３００は判定手段として機能する。
【００７６】
以上、本発明について実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。
【００７７】
また、上記の実施の形態の機能を制御方法として、この制御方法をタッチパネル装置に実行させるようにすればよい。また、上述の実施の形態の機能を有するプログラムを制御プログラムとして、当該制御プログラムをタッチパネル装置が備えるコンピュータに実行させるようにしてもよい。なお、制御プログラムは、例えば、コンピュータに読み取り可能な記録媒体に記録される。
【００７８】
［その他の実施形態］
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給する。そして、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００７９】
１００  タッチパネル
１００ａ  端子間抵抗値測定部
１０１  上シート
１０２  下シート
２００  ＬＣＤパネル
３００  演算処理装置
４００  記録装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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