(57)【要約】【課題】長期間の継続的な使用によっても電気抵抗値の経時的な変化が少ない電子写真用の導電性部材を提供する。【解決手段】導電性部材は、導電性軸芯体と該導電性軸芯体上の導電性弾性層とを有し、該導電性弾性層の弾性率が１ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下である電子写真用導電性部材において、該導電性弾性層は、第１のゴムを含むマトリクス、及び、該マトリクス中に分散された複数の導電性ドメインを有し、該導電性ドメインは導電性粒子を含み、複数の該導電性ドメインの周囲には、第２のゴムを含む領域が存在し、該マトリクスの弾性率をＲ１、該第２のゴムを含む領域の弾性率をＲ２としたとき、「Ｒ１＜Ｒ２」の関係を満たす。【選択図】図１
2017072833.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性軸芯体と、該導電性軸芯体上の導電性弾性層とを有する電子写真用の導電性部材であって、
該導電性弾性層の弾性率が、１ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下であり、
該導電性弾性層は、第１のゴムを含むマトリクス、及び、該マトリクス中に分散された複数の導電性ドメインを有し、
該導電性ドメインは導電性粒子を含み、
複数の該導電性ドメインの周囲に、第２のゴムを含む領域が存在し、
該マトリクスの弾性率をＲ１、該第２のゴムを含む領域の弾性率をＲ２としたとき、「Ｒ１＜Ｒ２」の関係を満たすことを特徴とする電子写真用の導電性部材。
【請求項２】
前記導電性弾性層は、温度５０℃における水素核スピン−スピン緩和時間が２００μＳ以上５００μＳ以下の範囲内である請求項１に記載の電子写真用の導電性部材。
【請求項３】
前記導電性粒子がカーボンブラックである請求項１または２に記載の電子写真用の導電性部材。
【請求項４】
前記導電性弾性層の第１のゴムがニトリルブタジエンゴムまたはスチレンブタジエンゴムである請求項１〜３のいずれかの一項に記載の電子写真用の導電性部材。
【請求項５】
請求項１〜のいずれかの一項に記載の電子写真用の導電性部材の製造方法であって、
（１）第１のゴムの原料と、導電性粒子とを含む導電性弾性層形成用のゴム混合物を、２軸混練押し出し機または帰還型スクリュを備えた高せん断加工機を用いて熔融混練する工程と、
（２）工程（１）で得られた熔融混練物の層を導電性軸芯体上に形成する工程と、
（３）該熔融混練物の層を硬化させる工程と、
を有することを特徴とする電子写真用の導電性部材の製造方法。
【請求項６】
前記工程（１）が、前記ゴム混合物を２軸混練押し出し機を用いて熔融混練する工程であって、該２軸混練押し出し機で該ゴム混合物に対して５００〜１５００ｓｅｃ−１のせん断速度を印加する工程を含む請求項５に記載の電子写真用の導電性部材の製造方法。
【請求項７】
前記工程（１）が、前記ゴム混合物を帰還型スクリュを備えた高せん断加工機を用いて熔融混練する工程であって、該帰還型スクリュを備えた高せん断加工機で該ゴム混合物に対して５００〜１００００ｓｅｃ−１のせん断速度を印加する工程を含む請求項５に記載の電子写真用の導電性部材の製造方法。
【請求項８】
請求項１〜４のいずれかの一項に記載の電子写真用の導電性部材を具備し、電子写真装置の本体に着脱可能に構成されているプロセスカートリッジ。
【請求項９】
請求項１〜４のいずれかの一項に記載の電子写真用の導電性部材を具備する電子写真装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真用の導電性部材、プロセスカートリッジ及び電子写真装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式を採用した画像形成装置である電子写真装置においては、導電性部材が様々な用途、例えば、帯電ローラ、現像ローラ、転写ローラなどの導電性ローラとして使用されている。これらの導電性ローラは、電気抵抗値を１０３〜１０１０Ωに制御する必要があり、導電層の導電性を調整するために、カーボンブラックに代表される導電性粒子が添加された弾性層を設けている。導電性粒子は分散状態によって電気抵抗値が変動しやすく、導電性部材の電気抵抗値を安定させることが困難な場合があった。
【０００３】
また、導電性部材が電子写真装置中の感光体などと当接して使用される場合には、弾性層に連続的および断続的な繰り返し圧縮が加えられ、それにより、カーボンブラックに代表される導電性粒子の分散状態が変化して電気抵抗値が変動する場合があった。導電性部材の電気抵抗値の変動を抑制させる手段として、特許文献１には、ＤＢＰ吸収量や粒径および添加量を最適化したカーボンブラックを極性ゴム中に分散させた導電性部材が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−２５６９０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年、電子写真装置の高速化、長寿命化が求められている。本発明者らの検討によると、特許文献１に記載されている導電性部材においては、カーボンブラックの均一分散と電気抵抗値の制御は達成される。しかし、本発明者らは、導電性部材の長期間に亘る使用における電気抵抗値の変動の抑制に関しては、いまだ改善の余地があるものと認識した。具体的には、直流電圧のみを印加して感光体を帯電するＤＣ帯電方式に上記特許文献１に記載の導電性部材を使用した場合、電気抵抗値の上昇が認められることがあった。その結果、感光体の帯電電位が安定せず、電子写真画像において細かな横スジ状の欠陥を生じさせることがあった。また、電気抵抗値の上昇した導電性部材を電子写真装置の転写ローラに適用した場合、電子写真画像にポチ状の欠陥が発生することがあった。この欠陥は、特に、低温低湿環境下において顕著に認められた。
【０００６】
本発明の一態様は、長期間の使用よっても電気抵抗値が変化しにくい電子写真用の導電性部材の提供に向けたものである。また、本発明の他の態様は、高品位な電子写真画像を長期間に亘って安定的に形成可能なプロセスカートリッジおよび電子写真装置の提供に向けたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によれば、導電性軸芯体と、該導電性軸芯体上の導電性弾性層とを有する電子写真用の導電性部材であって、該導電性弾性層の弾性率が、１ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下であり、該導電性弾性層は、第１のゴムを含むマトリクス、及び、該マトリクス中に分散された複数の導電性ドメインを有し、該導電性ドメインは導電性粒子を含み、複数の該導電性ドメインの周囲に、第２のゴムを含む領域が存在し、該マトリクスの弾性率をＲ１、該第２のゴムを含む領域の弾性率をＲ２としたとき、「Ｒ１＜Ｒ２」の関係を満たす導電性部材が提供される。
【０００８】
また、本発明の他の態様によれば、上記の電子写真用の導電性部材の製造方法であって、帰還型スクリュを備えた混練機を用いてゴムと導電性粒子とを溶融混練して前記導電性弾性層を形成する工程を有する電子写真用の導電性部材の製造方法が提供される。
【０００９】
また、本発明の他の態様によれば、電子写真装置の本体に着脱可能に構成されているプロセスカートリッジであって、電子写真用の導電性部材を具備しており、該電子写真用部材が、上記の電子写真用の導電性部材であるプロセスカートリッジが提供される。更に本発明の他の態様によれば、前記の電子写真用の導電性部材を具備する電子写真装置が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の一態様によれば、長期間の使用によっても帯電性能が変化しにくく、高品位な電子写真画像を安定的に形成することのできる導電性部材を得ることができる。また、本発明の他の態様によれば、高品位な電子写真画像を形成することのできるプロセスカートリッジおよび電子写真装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明に係る電子写真用の導電性部材の一例を示す図である。
【図２】本発明に係る導電性弾性層中の、第１のゴムを含むマトリクスと、導電性粒子を含む導電性ドメイン及び第２のゴムを含む領域の分散状態を示すモデル図である。
【図３】本発明に係る導電性弾性層の作製に使用される帰還型スクリュの概略図である。
【図４】本発明に係る導電性部材を用いた電子写真装置の一例を示す構成図である。
【図５】本発明に係るプロセスカートリッジの一例を示す図である。
【図６】本発明に係る導電性部材に流れる電流値を測定する電気抵抗測定装置の一例を示す構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明者ら、前記した目的に鑑み、長期間の使用よっても電気抵抗値が変化しにくく、例えば、帯電部材として用いた場合に、帯電性能の経時的な変化が抑制された電子写真用の導電性部材を得るべく検討を重ねた。その結果、特定の構成を有する導電性弾性層を備えた電子写真用の導電性部材が、良くその要求を満たし得ることを見出した。図２は、本発明の一態様に係る電子写真用の導電性部材の導電性弾性層において、第１のゴムを含むマトリクス２２と、導電性粒子を含む導電性ドメイン２１および第２のゴムを含む領域２３の分散状態を示すモデル図である。導電性部材が本構成をとることで、電気抵抗値の変化に起因した横スジ状画像及びポチ状画像の発生を抑制することができる。
【００１３】
本発明者らは、導電性部材の電気抵抗値が変動する要因として、以下のメカニズムを推定している。まず、導電性部材が感光体に当接されて配置されている場合、感光体と導電性部材との間で形成されるニップ近傍では、導電性部材が機械的に繰り返し圧縮される。その際、ゴム組成物中において導電パスの役割を担っている導電性粒子の分散状態が機械的な応力によって破壊されるために、導電パスのネットワーク構造が変化して電気抵抗値が変動すると考えている。すなわち、機械的なエネルギーによる導電性粒子のモビリティおよび分散状態の変化が電気抵抗値の変化の要因であると考えている。
【００１４】
そこで、本発明者らは、導電性をできる限り維持しつつ、導電性弾性層に長期間に亘って機械的なエネルギーが印加されたときに導電性粒子が移動する現象を抑制させることについて鋭意検討を重ねた。その結果、導電性粒子を含む導電性ドメインの周囲に、第２のゴムを含む領域を配置させること、且つ、第１のゴムを含むマトリクスの弾性率をＲ１、第２のゴムを含む領域の弾性率をＲ２としたとき、「Ｒ１＜Ｒ２」の関係を満たすことで、導電性ドメインが移動しにくくなることを見出した。即ち、上記の構造をとることにより、長期間の繰り返し圧縮によっても電気抵抗値の経時的な変化を低減することが可能となった。
【００１５】
以下、本発明を詳細に説明する。なお、以下、電子写真用の導電性部材を、その代表例である帯電ローラ、及び、転写ローラによって記載するが、本発明の導電性部材の用途が限定されるものではない。
【００１６】
＜導電性部材＞
本発明の一態様に係る電子写真用の導電性部材は、図１に断面を示すように、導電性軸芯体上に、導電性粒子を含むゴム組成物から形成されてなる導電性弾性層を有する。なお、該導電性弾性層の上には、必要に応じて、更に他の層を設けることができる。
【００１７】
＜導電性軸芯体＞
導電性軸芯体としては、電子写真用の導電性部材の分野で公知なものから適宜選択して用いることができる。例えば、炭素鋼合金の表面に５μｍ程度の厚さのニッケルメッキを施した円柱である。
【００１８】
＜導電性弾性層＞
導電性弾性層は、弾性率が１ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下である。この弾性率の値は、後に示す、導電性弾性層に使用されるゴム材料の一般的な値である。導電性弾性層の弾性率を本範囲とすることで、電子写真感光体と導電性部材を当接させる際、安定な当接状態を容易に得ることができる。
【００１９】
また、導電性弾性層は、第１のゴムを含むマトリクス、及び、該マトリクス中に分散された複数の導電性ドメインを有し、該導電性ドメインは導電性粒子を含み、複数の該導電性ドメインの周囲には、第２のゴムを含む領域が存在し、該マトリクスの弾性率をＲ１、該第２のゴムを含む領域の弾性率をＲ２としたとき、「Ｒ１＜Ｒ２」の関係を満たす。尚、第２のゴムを含む領域は、導電性ドメインの周囲だけでなく、図２に示すように、導電性ドメインの周囲以外の第１のゴムを含むマトリクス中に存在することができる。
【００２０】
〔第１のゴムを含むマトリクス〕
導電性弾性層は、第１のゴムを含むマトリクスを有する。該第１のゴムとしては、特に限定されるものではなく、電子写真用の導電性部材の分野において公知のゴムを用いることができ、例えば、天然ゴムやこれを加硫処理したもの、合成ゴムを挙げることができる。合成ゴムとしては、スチレンブタジエンゴム（ＳＢＲ）、アクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）、ブタジエンゴム（ＢＲ）、エピクロルヒドリンゴムが挙げられる。なお、主鎖に２重結合を含むジエン系ゴムでは、混練の際に後述する高弾性率な第２のゴムが十分に形成されやすくなり、導電性部材の通電劣化を十分に抑制できることを確認している。そのため、使用される合成ゴムとしては、スチレンブタジエンゴム（ＳＢＲ）、アクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）、ブタジエンゴム（ＢＲ）が好ましい。また、アクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）においては、混練時の熱劣化が少ないことを確認済みであるため、使用されるゴムとしてはＮＢＲが特に好ましい。さらに、アクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）としては、加工性の観点から、ムーニー粘度３０以上６０以下、ニトリル量１８％以上４０％以下の範囲であることが好ましい。
【００２１】
これらのゴム中には、本発明の効果を損なわない範囲で、樹脂の配合剤として一般的に用いられている充填剤、軟化剤、加工助剤、粘着付与剤、粘着防止剤、分散剤、発泡剤、粗し粒子等を添加することができる。
【００２２】
〔導電性ドメイン〕
導電性ドメインは、導電性部材が導電性を発現するための導電性粒子を含む。導電性粒子としては、例えば以下の導電性粒子が挙げられる。アルミニウム、パラジウム、鉄、銅、銀の如き金属系の微粒子や繊維；酸化チタン、酸化錫、酸化亜鉛の如き金属酸化物の微粒子；前記の金属系の微粒子、繊維、及び金属酸化物の表面を、電解処理、スプレー塗工、混合振とうにより表面処理した複合粒子；ファーネスブラック、サーマルブラック、アセチレンブラック、ケッチェンブラック；ＰＡＮ（ポリアクリロニトリル）系カーボン、ピッチ系カーボンの如きカーボン粉。
【００２３】
ここで、ファーネスブラックとしては以下のものが挙げられる。ＳＡＦ−ＨＳ、ＳＡＦ、ＩＳＡＦ−ＨＳ、ＩＳＡＦ、ＩＳＡＦ−ＬＳ、Ｉ−ＩＳＡＦ−ＨＳ、ＨＡＦ−ＨＳ、ＨＡＦ、ＨＡＦ−ＬＳ、Ｔ−ＨＳ、Ｔ−ＮＳ、ＭＡＦ、ＦＥＦ、ＧＰＦ、ＳＲＦ−ＨＳ−ＨＭ、ＳＲＦ−ＬＭ、ＥＣＦ、及びＦＥＦ−ＨＳ。サーマルブラックとしては、ＦＴ、及びＭＴが挙げられる。また、これらの導電性粒子を、単独で又は２種以上を組み合わせて用いることができる。
【００２４】
導電性弾性層中における導電性粒子の含有量の目安としては、ゴム１００質量部に対して３〜９０質量部が好ましく、特には、１０〜５０質量部が好ましい。
【００２５】
導電性粒子の平均一次粒子径としては、５ｎｍ以上６０ｎｍ以下、特には、１０ｎｍ以上５０ｎｍ以下であることが好ましい。ここで、導電性粒子の平均一次粒子径は、算術平均粒子径とする。なお、平均一次粒子径の定義は５ｎｍ以上６０ｎｍ以下の大きさの、いずれもミクロ的には単結晶、またはそれに近い結晶子が集まったもののことであり、また、測定方法としては（１）電子線を当てた対象物を透過して観察する透過型電子顕微鏡(ＴＥＭ)や、（２）電子線を当てた対象物の表面を観察する走査型電子顕微鏡(ＳＥＭ) を用いる方法がある。また平均一次粒子径の算出方法としては、上記測定画像から直接的に求める方法が好適である。
【００２６】
導電性ドメインのサイズとしては、直径が０．００５μｍ（５ｎｍ）〜１.０００μｍ、特には、０．０５μｍ〜０．９μｍであることが特に好ましい。上記範囲内とすることによって、導電性弾性層に適度な電気抵抗と柔軟性が付与される。
【００２７】
〔第２のゴムを含む領域〕
第２のゴムを含む領域は、導電性弾性層がゴム弾性を維持しつつ、導電性粒子のモビリティを低減させるために非常に重要な部位である。前記第１のゴムを含むマトリクスの弾性率をＲ１、前記第２のゴムを含む領域の弾性率をＲ２としたとき、「Ｒ１＜Ｒ２」の関係を満足することが必要である。上記関係を満たすことで、第２のゴムを含む領域は、導電性ドメインが移動する現象を抑制することが可能となる。また、「０．１≦Ｒ１／Ｒ２≦０．５」の関係を満たすことが特に好ましい。本範囲とすることで、導電性部材の導電性を維持しつつ、導電性ドメインの移動抑制の効果をより発現しやすくなる。
【００２８】
〔第１のゴムを含むマトリクスと第２のゴムを含む領域の弾性率の測定方法〕
第１のゴムを含むマトリクスおよび第２のゴムを含む領域の可視化および弾性率の測定には、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｐｒｏｂｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、別名：原子間力顕微鏡（ＡＦＭ：Ａｔｏｍｉｃ  Ｆｏｒｃｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ））を使用できる。ＳＰＭとは、先端半径１０ｎｍ以下の微小短針が付属した走査機能付きのカンチレバーを用いて、試料との間に作用する種々の物理量を検出し、各測定点の物性値をコントラストに変換して可視化する装置である。また、物理量の計測と同時に、試料表面の３次元形状を数ｎｍの分解能で画像化することで、物理量と形状情報を併せて照合できる装置である。なお、本発明における弾性率の測定には、バネ定数既知のカンチレバーを試料表面に直接押し込んでカンチレバーにかかる力と試料の変形量を測定することによって得られるフォースカーブをもとに弾性率を測定できるＳＰＭを使用できる。さらに、ＳＰＭに付属している２次元マッピングの機能を用いて、ゴム組成物中の弾性率マッピング像および導電性粒子とゴムの分散を示す形状像を取得することができる。
【００２９】
以下、測定条件について記載する。測定に用いる試料は、ローラ形状の導電性弾性層から、ミクロトームを用いて、切削温度−１００℃にて、２μｍ程度の厚みの超薄切片として切り出したものである。この試料について、バネ定数０．３１５Ｎ／ｍ、押し込み荷重２００ｐＮ、画素数５１２×５１２、視野：２．０μｍ×２．０μｍの条件でＳＰＭ測定することによって弾性率マッピング像および形状像を取得できる。測定画像中には、低弾性率を示す第１のゴムを含むマトリクス中に導電性ドメインが分散しており、導電性ドメインの周囲には、高弾性率を示す第２のゴムを含む領域が存在している様子が観察される。
【００３０】
尚、第１のゴムを含むマトリクスと第２のゴムを含む領域の判別は、以下の手順で行うことができる。ＳＰＭ測定によって得られた弾性率マッピング像をもとに、画素ごとに算出された弾性率のヒストグラム分布を取得する。そののちに、ゴム由来の弾性率のヒストグラム分布を、ガウス関数を使った最小二乗法による波形分離を行ってピーク分離することで、第１のゴム由来の弾性率の分布と第２のゴム由来の弾性率の分布を取得できる。このようにして得られた第１のゴム及び第２のゴムのそれぞれの弾性率分布の中央値が、それぞれ、本発明におけるマトリクスの弾性率Ｒ１、及び、第２のゴムを含む領域の弾性率Ｒ２である。尚、弾性率分布の中央値とはピーク分離時に使用したガウス関数内の平均値μとする。
【００３１】
〔体積抵抗率等〕
導電性弾性層の電気抵抗値の目安は、体積抵抗率が１×１０３Ω・ｃｍ以上１×１０９Ω・ｃｍ以下である。
【００３２】
導電性弾性層は、温度５０℃における水素核スピン-スピン緩和時間Ｔ２が２００μＳ以上５００μＳ以下の範囲内であることが好ましい。Ｔ２がこの範囲内である場合、導電性部材の導電性弾性層が電子写真感光体との安定な当接状態を維持することができ、且つ、導電性粒子のモビリティを低減できるという利点がある。Ｔ２の測定方法は後述する。
【００３３】
〔電子写真用の導電性部材の製造方法〕
上記した導電性弾性層を備えた電子写真用の導電性部材は、（１）第１のゴムの未加硫物（以下、「第１のゴムの原料」）ともいう）と、導電性粒子とを含む導電性弾性層形成用のゴム混合物を、２軸混練押し出し機または帰還型スクリュを備えた高せん断加工機を用いて熔融混練する工程と、（２）工程（１）で得られた熔融混練物の層を導電性軸芯体上に形成する工程と、（３）該熔融混練物の層を硬化させる工程と、を経て製造することができる。
【００３４】
ここで、導電性ドメインの周囲の第２のゴムを含む領域は、特に「ポリマーゲル」と称する第１のゴム由来のゴムから構成されることが好ましい。そして、ポリマーゲルで構成される第２のゴムを含む領域が、導電性ドメインの周囲に形成されてなる構成は、導電性弾性層形成用の、第１のゴムと導電性粒子とを含む原料の混練の際の混練機の種類、せん断速度、および、混練時間を調整することによって形成することができる。
【００３５】
以下に、導電性ドメインの周囲に、第２のゴムを含む領域が形成される過程を説明する。まず初めに、第１のゴムの原料と導電性粒子とを含む導電性弾性層形成用のゴム混合物を、２軸混練押し出し機または帰還型スクリュを備えた高せん断加工機を用いて溶融混練する。混練中に、ゴムの分子鎖が切断されて活性ラジカルが発生する。発生した活性ラジカルは、周囲の分子鎖やカーボンブラックに代表される導電性粒子と再結合する。このときに、再結合して複雑に絡み合った分子鎖が「ポリマーゲル」である。すなわち、ポリマーゲルを生成するためには、分子鎖を切断するのに十分なせん断を付与する必要がある。
【００３６】
せん断力が大きいほど、また、せん断の回数が多いほど、ゴム分子鎖の切断が促進され、導電性粒子のモビリティを低減させることのできるポリマーゲルを生成させることができる。加えて、導電性粒子の比表面積が大きく、且つ、導電性粒子が表面に官能基をもつ場合において、分子鎖が導電性粒子の表面に拘束されやすく、導電性粒子の周囲に優先的にポリマーゲルが生成することとなる。
【００３７】
高弾性率のポリマーゲルを効率的に生成させる上で好ましいせん断速度が、５００〜１００００ｓｅｃ−１の範囲、特には、１０００〜１００００ｓｅｃ−１の範囲であることが鋭意検討の結果、明らかになった。これは、従来使用されているゴム用の加圧型二―ダーやオープンロールでは達成することのできないせん断速度である。
【００３８】
第２のゴムを含む領域は、導電性ドメインに含まれる導電性粒子の性質によって、その生成が大きく左右される。第２のゴムを含む領域は、導電性粒子の比表面積が大きく、且つ、導電性粒子が表面に官能基をもつ場合に、より容易に導電性粒子の周囲に生成しやすいことから、導電性粒子としてはカーボンブラックを使用することが、特に好ましい。上記が好ましい理由としては、第１のゴムを含むマトリクスと導電性粒子を溶融混練した際に、導電性粒子にゴムの分子鎖が物理的および化学的に吸着することによって、第２のゴムを含む領域が生成されるためである。なお、使用されるカーボンブラックとしては、ＤＢＰ吸収量が４０ｍｌ／１００ｇ以上、１５０ｍｌ／１００ｇ以下であることが好ましい。ＤＢＰ（ジブチルフタレート）の吸収量は、カーボンブラックの一次粒子のストラクチャを間接的に定量した値である。つまり、ＤＢＰ吸収量が上記範囲内のストラクチャが発達したカーボンブラックを使用することで、上述した理由と同様にして、第２のゴムを含む領域をより容易に生成できる。カーボンブラックのＤＢＰ吸収量はＪＩＳＫ６２１７−４（２００１年）に記載の方法で測定することができる。
【００３９】
導電性ドメインの周囲に、第２のゴムを含む領域を生成させる上で、ゴム組成物のせん断加工機として、帰還型スクリュを備えた高せん断加工機（ＨＳＥ３０００ｍｉｎ：井元製作所製やＮＨＳＳ８−２８：ニイガタマシンテクノ製）、または、２軸混練押し出し機（ＫＺＷ１５ＴＷ−４ＭＧ−ＮＨ（−６０００）：テクノベル製）などが好ましい。２軸混練押し出し機では５００〜１５００ｓｅｃ−１のせん断速度をゴム組成物に印加可能であるのに対して、図３に概略図を示した帰還型スクリュ３１を備えた高せん断加工機では、５００〜１００００ｓｅｃ−１のせん断速度をゴム組成物に付与することができる。そのため、第２のゴムの生成の容易性および導電性粒子の分散性向上の観点から、本実施態様においては、より高速せん断で溶融混練することのできる帰還型スクリュを備えた高せん断加工機を使用することが特に好ましい。即ち、帰還型スクリュを備えた混練機を用いてゴムと導電性粒子とを溶融混練して導電性弾性層を形成することが好ましい。
【００４０】
上記高せん断加工機を使用することにより、ゴム組成物に５００〜１００００ｓｅｃ−１、特には、１０００〜１００００ｓｅｃ−１のせん断速度を印加することができる。その結果、ゴム混合物の溶融混練過程におけるゴムの分子鎖の切断および絡み合いが促進され、第２のゴムの原料が生成される。上述の溶融混練過程で生成した第２のゴム原料を含む領域は、硬化後においては、分子鎖が複雑に絡み合った構造を有し、分子運動性が低い領域となる。そのために、第１のゴムを含むマトリクスと比較して高い弾性率を示す。そのため、高弾性率な第２のゴムが十分に生成したゴム組成物では導電性粒子のモビリティが低減して、導電性部材の通電劣化を抑制できることを確認している。加えて、溶融混練時のせん断速度が大きいほど、導電性粒子の凝集力を上回るせん断力を付与することが可能となり、導電性粒子を均一に分散させる効果がある。
【００４１】
上述のように、高せん断加工機を用いたゴム組成物の混練は、第２のゴムを含む領域を生成させると同時に、導電性粒子を均一に分散させることが可能となる。そのために、導電性部材の通電劣化を抑制し、電子写真における横スジ状画像の発生を抑制することができると考えている。
【００４２】
なお、帰還型スクリュを備えた高せん断加工装置とは、スクリュ内部に帰還穴３２が開いており、ゴム組成物は混練時にスクリュ先端部まで到達した後に、スクリュ先端の帰還穴を通ってスクリュ後端部まで戻される機構を有している。そのため、ゴム組成物は帰還穴を繰り返し通過し、且つ、帰還穴では伸長運動に伴うせん断が付与される。また、ゴム組成物を継続的に高せん断場に滞留させることができるため、短時間で大きなせん断力を付与することが可能となる。
【００４３】
また、ゴム組成物のせん断加工の際には、せん断発熱によるゴム組成物の劣化を防止するために、帰還穴の穴径を２．０〜５．０ｍｍに設定して、短時間で混練を行うことが特に好ましい。本発明者らは、帰還穴径０．５ｍｍの場合は、ゴムが帰還穴を十分に循環せず加工が困難であることを確認している。なお、帰還穴径の大きさによってゴム組成物に印加されるせん断エネルギー、すなわちせん断発熱が変化する。そのため、せん断加工時の発熱抑制の観点から、帰還穴径が２．０ｍｍの場合は５〜１０ｓｅｃ、３．５ｍｍの場合は５〜３０ｓｅｃ、５．０ｍｍの場合は５〜６０ｓｅｃであることが加工条件として特に好ましい。
【００４４】
〔第２のゴムを含む領域（ポリマーゲル）の存在を確認する手法〕
第２のゴムを含む領域の存在を確認する方法としては、例えば、前記ＳＰＭによる弾性率マッピング像の取得とパルスＮＭＲによるスピン−スピン緩和時間Ｔ２の測定を挙げることができる。弾性率マッピング像では、ミクロ領域の第２のゴムの分散状態を可視化できるのに対して、パルスＮＭＲ測定では、導電性弾性層中の第２のゴムの分子構造を確認することができる。
【００４５】
第２のゴムを含む領域は、導電性粒子のモビリティを低減する効果がある。第２のゴムを含む領域は、第１のゴムと導電性粒子との混練の際に第１のゴムの分子鎖が切断されて絡み合った状態の分子鎖によって構成されている領域である。そのため、第２のゴムの分子鎖は、第１のゴムを含むマトリクス中に存在するゴムに比べて分子運動性が低い状態にある。したがって、本発明に係る導電性弾性層全体の分子運動性は、第２のゴムの分子構造の影響が支配的となる。従って、導電性弾性層のスピン−スピン緩和時間Ｔ２を測定することで、第２のゴムを含む領域の存在を確認できると同時に、第２のゴムを含む領域の分子運動性を定量可能である。第２のゴムによる導電性粒子のモビリティを低減しつつ、且つ、感光体との安定した当接状態を容易に得る観点から、本発明に係る導電性弾性層のＴ２は２００μＳ以上５００μＳ以下が好ましい。
【００４６】
尚、パルスＮＭＲの測定条件は以下の通りである。温度２３℃、相対湿度５０％の環境下に導電性弾性層を２４時間以上放置した後、導電性弾性層を０．５ｇ削り取り、それを測定用セル内に密封して、緩和時間Ｔ２の測定を行う。緩和時間Ｔ２の値は、パルスＮＭＲ測定により水素核を測定核とし、ソリッドエコー法を用いて得られたエコー強度から求められる。測定条件は、測定周波数２０ＭＨｚ、９０°パルス幅２．０μｓｅｃ、パルス間隔８μｓｅｃ、温度５０℃、積算回数１２８回とする。
【００４７】
＜電子写真装置＞
本発明の一態様に係る電子写真装置は、本発明の一態様に係る電子写真用の導電性部材を具備する。該電子写真装置の一例を図４の概略構成図に示す。被帯電体である感光体４１は、アルミニウムなどの導電性を有する導電性支持体４１ｂと、その上に感光層４１ａが積層されたドラム形状を有し、支軸４１ｃを中心に図上、時計方向に所定の周速度をもって回転駆動される。
【００４８】
感光体に、帯電ローラ１の導電性軸芯体１１の両端が押圧手段（不図示）により押圧され、導電性軸芯体を介して電源４２と摺擦電源４３ａの直流（ＤＣ）バイアスが印加された導電性弾性層が接触配置される。感光体の回転に伴い帯電ローラが従動回転することにより、感光体は所定の極性・電位に一様に帯電（一次帯電）される。
【００４９】
次いで、露光器４４から目的画像情報の露光（レーザービーム走査露光、原稿画像のスリット露光など）を受けた感光体の周面に目的の画像情報に対応した静電潜像が形成される。感光体上の静電潜像は、現像部材４５により供給されるトナーが付着されてトナー画像に形成される。次いで、給紙部（不図示）から転写材４７が、感光体４１の回転と同期して感光体４１と転写部材４６との間の転写部に搬送され、転写材の裏面からトナー画像と逆極性に印加された転写部材が押圧され、トナー画像が転写材４７上に順次転写される。
【００５０】
トナー画像の転写を受けた転写材４７は、感光体４１から分離されて不図示の定着手段へ搬送されてトナー画像が定着され、画像形成物として出力される。裏面にも像形成する電子写真装置においては、再搬送手段により再度の画像形成を行うために、帯電ローラへ搬送される。
【００５１】
像転写後の感光体４１の周面は、前露光器４８による前露光を受けて感光体上の残留電荷が除去（除電）される。この前露光器４８には公知の手段を利用することができ、例えばＬＥＤチップアレイ、ヒューズランプ、ハロゲンランプおよび蛍光ランプなどを好適に例示することができる。除電された感光体４１の周面は、クリーニング部材４９で転写残りトナーなどの付着汚染物の除去を受けて洗浄面化されて、繰り返して画像形成に供される。
【００５２】
電子写真装置において、帯電ローラ１は感光体４１に従動駆動させてもよく、非回転としてもよく、感光体４１の面移動方向に順方向または逆方向に所定の周速度をもって積極的に回転駆動させるようにしてもよい。露光は、電子写真装置を複写機として使用する場合には、原稿からの反射光や透過光、また、原稿を読み取り信号化し、この信号に基づいてレーザービームを走査したり、ＬＥＤアレイを駆動したり、または液晶シャッターアレイを駆動してもよい。
【００５３】
本発明の電子写真装置としては、複写機、レーザービームプリンター、ＬＥＤプリンター、あるいは、電子写真製版システムなどの電子写真応用装置等が挙げられる。
【００５４】
＜プロセスカートリッジ＞
本発明の一態様に係るプロセスカートリッジは、前記導電性部材を具備し、電子写真画像形成装置の本体に着脱可能に構成されている。該プロセスカートリッジの一例を、図５の構成図に示す。このプロセスカートリッジは、本発明の一態様に係るローラ形状の導電性部材を、帯電ローラ５１として具備している。ドラム形状の電子写真感光体（以下、「電子写真感光ドラム」ともいう）５３は、帯電ローラ５１によって帯電可能なように配置されている。ここでは、具体的には、帯電ローラ５１が、電子写真感光ドラム５３に押圧されて接触している。また、電子写真感光ドラム５３の表面に形成された静電潜像を現像するための現像剤を供給するための現像ローラ５５、電子写真感光体ドラム５３の周面に残留している現像剤を除去するクリーニングブレード５７が設けられている。
【実施例】
【００５５】
以下、実施例及び比較例によって本発明をより具体的に説明する。実施例におけるＡ練りゴム組成物とは架橋剤や加硫促進剤を添加していない未加硫ゴム組成物を指し、Ｂ練りゴム組成物とは架橋剤や加硫促進剤を添加した未加硫ゴム組成物を指す。
【００５６】
＜実施例１＞
１．Ａ練りゴム組成物の調製
アクリロニトリルブタジエンゴム（ＮＢＲ）（商品名：Ｎｉｐｏｌ  ＤＮ２１９，日本ゼオン製）１００質量部に対し、下記表１に示す他の４成分を加えて、５０℃に調節した加圧型二―ダー（ＴＤ６−１５ＭＤＸ：トーシン社製）を用い、充填率７０％、ブレード回転数３０ｒｐｍ、せん断速度２００ｓｅｃ−１、混合時間１６分間の条件で混合することで、Ａ練りゴム組成物を得た。
【００５７】
【表１】
2017072833.tif 000003
【００５８】
２．高せん断加工機によるＡ練りゴム組成物の混練
高せん断加工機として帰還型スクリュを備えた高せん断加工機（製品名「ＮＨＳＳ８−２８」、ニイガタマシンテクノ製）を用いて、前記Ａ練りゴム組成物を混練した。まず、加工機に装備されている帰還型スクリュの帰還穴を２．０ｍｍ、可塑化部温度１００℃、混練部温度１５０℃、せん断速度を６９００ｓｅｃ−１に設定してＡ練りゴム組成物を１０秒間混練した。その後、混練部から排出することで高せん断加工されたゴム組成物を得た。その際、せん断発熱を低減するために、冷却機構を用いることによって、混練部の温度が２００℃を超えないように温度制御した。
【００５９】
３．Ｂ練りゴム組成物の調製
前記高せん断加工機で混練した未加硫のゴム組成物１００質量部に、下記表２に示す、加硫剤及び加硫促進剤を添加した。次いで、温度２５℃に冷却した二本ロール機にて１０分間混練し、Ｂ練りゴム組成物を得た。
【００６０】
【表２】
2017072833.tif 000004
【００６１】
４．導電性ローラの作製
快削鋼の表面に無電解ニッケルメッキ処理を施した全長２５２ｍｍ、外径６ｍｍの丸棒を用意した。次に前記丸棒の両端部各１１ｍｍを除く長さ２３０ｍｍの範囲に全周にわたって、接着剤を塗布した。接着剤は、導電性のホットメルトタイプのものを使用した。また、塗布にはロールコータ―を用いた。この接着剤を塗布した丸棒を導電性軸芯体（芯金）として使用した。
【００６２】
次に、導電性軸芯体の供給機構、未加硫ゴムローラの排出機構を有するクロスヘッド押出機を用意し、クロスヘッドには内径１２．５ｍｍのダイスを取付け、押出機とクロスヘッドを８０℃に、導電性軸芯体の搬送速度を６０ｍｍ／ｓｅｃに調整した。この条件で、前記Ｂ練りゴム組成物を混練押出機より供給して、クロスヘッド内にて導電性軸芯体の外周面にＢ練りゴム組成物のゴム層を形成し、未加硫ゴムローラを得た。次に、１７０℃の熱風加硫炉中に未加硫ゴムローラを投入し、６０分間加熱することで加硫ゴムローラを得た。その後、加硫ゴム層の端部を切除し、ゴム層の長さを２３０ｍｍとした。最後に、弾性層の表面を回転砥石で研磨した。これによって、中央部から両端部側へ各９０ｍｍの位置における各直径が８．４ｍｍ、中央部直径が８．５ｍｍの導電性ローラを得た。
【００６３】
５．導電性ローラの評価
前記導電性ローラについて以下の評価を行った。評価結果を表３に示す。
【００６４】
５−０．導電性ローラの事前評価
各実施例に係る導電性ローラの導電性弾性層が、第１のゴムのマトリックス中に、複数個のドメインを有すること、各ドメインが導電性粒子を含む構成を満たしていることは、下記のようにして確認した。つまり、ミクロトーム（製品名：ライカ社製Ｌｅｉｃａ ＥＭ ＵＣ7）を用いて、対応するゴムローラから作製した断面サンプル（サイズ1ｍｍ×1ｍｍ）をイオンミリング（製品名ライカ社製  Ｌｅｉｃａ ＥＭＴＩＣ3Ｘ）でさらに平面出しした断面サンプルを、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｐｒｏｂｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、別名：原子間力顕微鏡（ＡＦＭ：Ａｔｏｍｉｃ  Ｆｏｒｃｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）、ブルカー社製  Ｄｉｍｅｎｓｉｏｎ  ｉｃｏｎ）を使用して弾性率マッピング（上述）し、図２に代表されるＳＰＭ画像を取得し、その画像から上記構成を確認した。
【００６５】
５−１．導電性ローラの弾性率の測定
測定位置は、導電性ローラの軸方向（長手方向）のゴム端部から３０〜４０ｍｍの位置の両端部および中央部の３か所、周方向については、上記各箇所から１２０°ごとの３か所の、合計９か所である。測定条件は、３００ｍＮの荷重で、測定子を１μｍ／１０ｓｅｃの速度で押し込んで行う。測定装置としては、表面硬度測定装置（商品名：フィッシャースコープＨＭ５００、フィッシャーインストルメンツ社製）を用いた。測定子としては、ダイヤモンドでできたヴィッカース圧子を用いた。また、温度２３℃、相対湿度５０％の環境下に２４時間以上放置した導電性ローラについて、同環境下で弾性率を測定した。
【００６６】
５−２．導電性ローラの電流値の測定
図６に概略を示す電気抵抗測定装置を用いて、導電性ローラに流れる電流値を測定した。導電性ローラの導電性軸芯体１１の両端部を不図示の押圧手段で直径３０ｍｍの円柱状のアルミニウム製ドラム６１に圧接し、アルミニウム製ドラムの回転駆動に伴い従動回転させた。さらに、導電性ローラの導電性軸芯体に外部電源６２を用いて直流電圧を印加した状態で、アルミニウム製ドラム６１に直列に接続した基準抵抗６３にかかる電圧を測定した。導電性ローラの電流値は、基準抵抗６３の電気抵抗値および基準抵抗６３に印加される電圧をもとに算出される。
【００６７】
なお、導電性ローラの電流値の測定は、温度２３℃、相対湿度５０％の環境下で、導電性軸芯体とアルミニウム製ドラムとの間に直流２００Vの電圧を２秒間印加して行った。このときのアルミニウム製ドラムの回転数は３０ｒｐｍ、基準抵抗の電気抵抗値は１００Ωであった。データのサンプリングは、電圧印加後１秒後から１秒間に周波数２０Ｈｚで行い、このときの平均値を導電性ローラに流れる電流値とした。
【００６８】
５−３．導電性ローラの通電劣化試験
図６の電気抵抗測定装置を使用して、導電性ローラの通電劣化試験を行った、前述した電流値の測定と同様に、温度２３℃、相対湿度５０％の環境下において、導電性軸芯体とアルミニウム製ドラムの間に直流１００Ｖの電圧を２秒間印加して、初期のローラ電流値を測定した。このときのアルミニウム製ドラムの回転数は３０ｒｐｍ、基準抵抗の電気抵抗値は１００Ωとした。次に、アルミニウム製ドラムを３０ｒｐｍで回転させながら、導電性軸芯体とアルミニウム製ドラムの間に直流１００Ｖの電圧を１０分間印加した。その後、再度、導電性ローラの電流値を測定した。通電試験後の電流値Ｉ１を、初期の電流値Ｉ０で除して１００倍することで、電流保持率（％）を算出した。
【００６９】
５−４．導電性ローラの画像評価
作製した導電性ローラを帯電ローラとして、電子写真プロセスカートリッジに装着した。このプロセスカートリッジをＡ４サイズの紙を縦方向に出力可能な電子写真装置（商品名：ＬＢＰ５０５０、キヤノン社製）に装着し、電子写真画像を形成した。Ａ４サイズの紙上にハーフトーン画像（電子写真感光体の回転方向と垂直方向に幅１ドットの線を間隔２ドットで描く画像）が形成された電子写真画像を１枚出力した。この画像を「１枚目の画像」と称する。次いで、Ａ４サイズの紙上に、サイズが４ポイントのアルファベット「Ｅ」の文字が、印字濃度１％となるように形成された電子写真画像を２５００枚出力した。引き続いて、Ａ４サイズの紙上にハーフトーン画像が形成された電子写真画像を１枚出力した。この画像を「２５０１枚目の画像」と称する。総ての電子写真画像の出力は温度１５℃、相対湿度１０％の環境下で行った。１枚目の画像と２５０１枚目の画像とを目視で観察し、帯電ローラの電気抵抗値の上昇により発生することのある、細かな横スジの有無、および、その程度を下記の基準により評価した。また、２５０１枚目の画像については、帯電ローラの表面へのトナー等の付着によって発生することのある縦スジの有無、およびその程度についても下記の基準に基づき評価した。
ランクＡ：スジの発生が認められない。
ランクＢ：スジの発生が、かすかに認められる。
ランクＣ：スジの発生が認められる。
ランクＤ：スジの発生が顕著に認められる。
【００７０】
５−５．ＳＰＭによる弾性率の測定
導電性弾性層中の第１のゴムを含むマトリクスおよび第２のゴムを含む領域の弾性率の測定には、全測定点のフォースカーブから弾性率を計測して２次元マッピングを測定可能な走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）を用いた。ＳＰＭ（商品名：Ｄｉｍｅｎｓｉｏｎ  Ｉｃｏｎ、Ｂｒｕｋｅｒ社製）を用い、バネ定数０．３１５Ｎ／ｍ、押し込み荷重２００ｐＮ、画素数５１２×５１２、視野：１．２μｍ×１．２μｍの測定条件で行った。測定に用いる試料は、導電性ローラの導電性弾性層から、ミクロトーム（商品名：Ｌｅｉｃａ  ＥＭ  ＦＣＳ、ライカマイクロシステムズ社製）を用いて、切削温度−１００℃にて、２μｍ程度の厚みの超薄切片として切り出した。弾性率マッピング像から得られたゴム由来の弾性率分布をガウス関数を使った最小二乗法による波形分離を行うことでピーク分離し、第１のゴムを含むマトリクスの弾性率Ｒ１と第２のゴムを含む領域の弾性率Ｒ２を算出した。第２のゴムを含む領域は、特に導電性ドメイン周囲に形成されており、その厚みは１０〜１００ｎｍ程度であった。
【００７１】
なお、厚みとは、ミクロトーム（製品名：ライカ社製Ｌｅｉｃａ ＥＭ ＵＣ7）を用いて、対応するゴムローラから作製した断面サンプル（サイズ  1ｍｍ  ｘ  1ｍｍ）をイオンミリング（製品名ライカ社製  Ｌｅｉｃａ ＥＭＴＩＣ3Ｘ）でさらに平面出しした断面サンプルを、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｐｒｏｂｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、別名：原子間力顕微鏡（ＡＦＭ：Ａｔｏｍｉｃ  Ｆｏｒｃｅ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）、ブルカー社製  Ｄｉｍｅｎｓｉｏｎ  ｉｃｏｎ）を使用して弾性率マッピング（上述）し、図２に代表されるＳＰＭ画像を取得し、その画像から符号２３に相当する領域を求めた。つまり、符号２３と符号２２との界面における任意の１０点から、符号２３と符号２１との界面までの各最短距離を求め、その平均値から算出した。
【００７２】
５−６．パルスＮＭＲによるスピン−スピン緩和時間Ｔ２の測定
導電性弾性層のスピン−スピン緩和時間Ｔ２の測定には、パルスＮＭＲ装置（ＭＵ２５Ａ、日本電子社製）を用いた。温度２３℃、相対湿度５０％の環境下に導電性弾性層を２４時間以上放置した後、導電性弾性層を０．５ｇ削り取り、それを測定用セル内に密封して、緩和時間Ｔ２の測定を行った。緩和時間Ｔ２の値は、パルスＮＭＲ測定により水素核を測定核とし、ソリッドエコー法を用いて得られたエコー強度から求めた。測定条件は、測定周波数２０ＭＨｚ、９０°パルス幅２．０μｓｅｃ、パルス間隔８μｓｅｃ、温度５０℃、積算回数１２８回とした。
【００７３】
＜実施例２〜５、８及び９＞
実施例１において使用したカーボンブラックの種類及び配合量または、ＮＢＲのムーニー粘度、ニトリル量を表３−１に記載したように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。カーボンブラックの平均一次粒子径、ＤＢＰ吸収量および配合量、ならびに、ＮＢＲのムーニー粘度およびニトリル量を表３−１に併せて示す。また、導電性ローラとしての評価結果を表３−２に示す。
【００７４】
【表３−１】
2017072833.tif 000005
【００７５】
【表３−２】
2017072833.tif 000006
【００７６】
＜実施例６及び７＞
実施例１において使用したカーボンブラックを、表４−１に記載したように、グラファイトまたはカーボンナノチューブに変更し、また、配合量を変更した。それら以外は、実施例１と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。評価結果を表４−２に示す。
【００７７】
【表４−１】
2017072833.tif 000007
【００７８】
【表４−２】
2017072833.tif 000008
【００７９】
＜実施例１０〜１４＞
実施例１において使用したＮＢＲを、表５に示したように、エピクロルヒドリンゴム、スチレンブタジエンゴム（ＳＢＲ）、または、ブタジエンゴム（ＢＲ）、に変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。評価結果を表６に示す。
【００８０】
【表５】
2017072833.tif 000009
【００８１】
【表６】
2017072833.tif 000010
【００８２】
＜実施例１５〜２１＞
実施例１において、Ａ練りゴム組成物を調製する際のせん断加工条件を、表７−１に示す加工条件に変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。評価結果を表７−２に示す。
【００８３】
【表７−１】
2017072833.tif 000011
【００８４】
【表７−２】
2017072833.tif 000012
【００８５】
＜実施例２２〜２６＞
実施例１におけるＡ練りゴム組成物のせん断加工を、２軸混練加工装置（製品名「ＫＺＷ１５ＴＷ−４ＭＧ−ＮＨ（−６０００）」：テクノベル製）を用い、表８−１に示すせん断速度にて行った。それ以外は、実施例１と同様にしてＢ練りゴム組成物を調製した。こうして得たＢ練りゴム組成物を用いた以外は、実施例１と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。評価結果を表８−２に示す。
【００８６】
【表８−１】
2017072833.tif 000013
【００８７】
【表８−２】
2017072833.tif 000014
【００８８】
＜比較例１及び２＞
実施例１におけるＡ練りゴム組成物の混練条件のうち、せん断速度および混練時間を表９−１に記載した値に変更し、且つ、高せん断加工機による混練工程を行わなかった。これら以外の条件は、実施例１と同様にして導電性ローラを製造し、実施例１と同様に評価した。評価結果を表９−２に示す。比較例１に係る導電性ローラについては、ＳＰＭによる測定で第２のゴムを含む領域は観測されなかった。また、比較例２に係る導電性ローラについては、導電性弾性層が加工時に劣化したため、導電性ローラとしての評価を行わなかった。
【００８９】
【表９−１】
2017072833.tif 000015
【００９０】
【表９−２】
2017072833.tif 000016
【００９１】
＜比較例３及び４＞
実施例１におけるＡ練りゴム組成物の調製時の高せん断加工機による混練において、帰還穴径、せん断速度、および加工時間を表１０−１に記載したように設定した以外は、実施例１と同様にして導電性ローラを製造し、実施例１と同様に評価した。評価結果を表１０−２に示す。なお、比較例３に係る導電性ローラについては、ＳＰＭによる測定で第２のゴムは観測されなかった。また、比較例４に係る導電性ローラについては、導電性弾性層が加工時に劣化したため、導電性ローラとしての評価を行わなかった。
【００９２】
【表１０−１】
2017072833.tif 000017
【００９３】
【表１０−２】
2017072833.tif 000018
【００９４】
＜実施例２７＞
１．導電性ローラの作製
Ａ練りゴム組成物の調製工程における混練材料として表１１に示す材料を用い、Ｂ練りゴム組成物の調製工程における混練材料として表１２に示す材料を用い、且つ、導電性部材の外径を１２．５ｍｍとした。これら以外は実施例１と同様にして導電性ローラを作製した。
【００９５】
【表１１】
2017072833.tif 000019
【００９６】
【表１２】
2017072833.tif 000020
【００９７】
２．導電性ローラの評価
この導電性ローラを転写ローラとして、以下の２−１〜２−３の評価行った。また、実施例１における５−１の評価（導電性ローラの弾性率の測定）、５−５の評価（ＳＰＭによる弾性率の測定）および、５−６の評価（パルスＮＭＲによるスピン−スピン緩和時間Ｔ２の測定）を行った。評価結果を表１３に示す。
【００９８】
２−１．導電性ローラの電気抵抗の測定
前記転写ローラの導電性軸芯体の両側に片側４．９Ｎの荷重が両方に掛かるようにして、この転写ローラを外径３０ｍｍのアルミニウム製ドラムに圧着し、０．５Ｈｚで回転させた状態で、導電性軸芯体とアルミニウム製ドラムとの間に１０００Ｖの電圧を印加して温度２３℃、相対湿度５５％の環境（Ｎ／Ｎ環境）下で電流値を測定し、オームの法則により電気抵抗値を算出したものを対数変換し、導電性ローラの抵抗ＬｏｇＲとした。
【００９９】
２−２．導電性ローラの通電劣化試験
次に、上記抵抗測定方法により、温度２３℃、相対湿度５５％の環境（Ｎ／Ｎ環境）下における導電性ローラの電流値を測定し、オームの法則により電気抵抗値を算出したものを対数変換し、通電劣化試験前ローラ抵抗ＬｏｇＲ１０とした。次に、導電性ローラの導電性軸芯体に片側４．９Ｎの荷重が両方に掛かるようにして外径３０ｍｍのアルミニウム製ドラムに圧着し、０．２Ｈｚで回転させた状態で、導電性軸芯体とアルミニウム製ドラムとの間に２５時間、８０μＡの定電流を印加し続けた。その後、温度２３℃、相対湿度５５％の環境（Ｎ／Ｎ環境）下で再び電流値を測定し、オームの法則により電気抵抗値を算出したものを対数変換し、通電劣化試験後のローラ抵抗ＬｏｇＲ１１を求めた。ここで通電劣化試験後の電気抵抗値ＬｏｇＲ１１から通電劣化試験前の電気抵抗値ＬｏｇＲ１０を差し引いたものを通電劣化前後の抵抗変動桁とした。これが小さいほど、導電性ローラの通電耐久性が良いといえる。
【０１００】
２−３．導電性ローラの画像評価
上記通電劣化試験後の導電性ローラを転写ローラとして、電子写真プロセスカートリッジに装着した。このプロセスカートリッジをＡ４サイズの紙を出力可能な電子写真装置（商品名：ＬＢＰ６３００、キヤノン製）に装着し、電子写真画像を形成した。Ａ４サイズの紙上にハーフトーン画像（電子写真感光体の回転方向と垂直方向に幅１ドットの線を間隔２ドットで描く画像）が形成された電子写真画像を１枚出力した。電子写真画像の出力は温度１５℃、相対湿度１０％の環境下で行った。画像を目視で観察し、転写ローラの電気抵抗値の上昇により発生することのある、ポチ状画像の有無、および、その程度を下記の基準により評価した。
ランクＡ：ポチ状画像の発生が認められない。
ランクＢ：ポチ状画像の発生が、かすかに認められる。
ランクＣ：ポチ状画像の発生が認められる。
ランクＤ：ポチ状画像の発生が顕著に認められる。
【０１０１】
＜実施例２８＞
実施例２７において、Ａ練りゴム組成物を調製する際のせん断加工条件を、表１３に記載の加工条件に変更した。それら以外は、実施例２７と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。
【０１０２】
【表１３】
2017072833.tif 000021
【０１０３】
＜実施例２９＞
実施例２７において、Ａ練りゴム組成物のせん断加工を、２軸混練加工装置（製品名「ＫＺＷ１５ＴＷ−４ＭＧ−ＮＨ（−６０００）」：テクノベル製）を用い、表１４に示すせん断速度にて行った。それ以外は、実施例２７と同様にしてＢ練りゴム組成物を調製した。また、こうして得られたＢ練りゴム組成物を用いた以外は、実施例２７と同様にして導電性ローラを作製し、評価した。
【０１０４】
【表１４】
2017072833.tif 000022
【０１０５】
実施例２７〜２９に係る導電性ローラの評価結果を表１５に示す。
【０１０６】
【表１５】
2017072833.tif 000023
【符号の説明】
【０１０７】
１    導電性部材
１１  導電性軸芯体
１２  導電性弾性層
２１  導電性粒子を含む導電性ドメイン
２２  第１のゴムを含むマトリクス
２３  第２のゴムを含む領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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