(57)【要約】【課題】抵抗値を変化させるための凹部がありながら、たわみ強度の低下が抑えられたチップ型サーミスタを提供する。【解決手段】サーミスタ１００は、サーミスタ素体１と、第１の外部電極２と、第２の外部電極３とを備える。サーミスタ素体１は、互いに対向する長方形状の第１面および第２面と、第１面および第２面に直交して互いに対向し、第１面および第２面の長手側の辺に沿う第３面および第４面と、第１面ないし第４面に直交して互いに対向する第５面および第６面とを有する直方体形状である。第１の外部電極２は、第３面から第１面、第２面、第５面および第６面に延在して設けられ、第２の外部電極３は、第４面から第１面、第２面、第５面および第６面に延在して設けられている。第１面および第２面の少なくとも一方に、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長く、第１面および第２面の長手方向に延在した溝状の凹部１Ｔが設けられている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
サーミスタ素体と、第１の外部電極と、第２の外部電極とを備えるサーミスタであって、
前記サーミスタ素体は、互いに対向する長方形状の第１面および第２面と、前記第１面および前記第２面に直交して互いに対向し、前記第１面および前記第２面の長手側の辺に沿う第３面および第４面と、前記第１面ないし前記第４面に直交して互いに対向する第５面および第６面とを有する直方体形状であり、
前記第１の外部電極は、少なくとも前記第３面上に設けられ、前記第２の外部電極は、少なくとも前記第４面上に設けられており、
前記第１面および前記第２面の少なくとも一方に、深さ寸法が幅寸法よりも長く、巨視的に前記第１面および前記第２面の長手方向に延在した凹部が設けられていることを特徴とする、サーミスタ。
【請求項２】
前記凹部は、溝状であって、両端が前記第５面および前記第６面に到達していることを特徴とする、請求項１に記載のサーミスタ。
【請求項３】
前記第５面および前記第６面の少なくとも一方に、深さ寸法が幅寸法よりも長い凹部がさらに設けられていることを特徴とする、請求項１または２に記載のサーミスタ。
【請求項４】
前記第５面および前記第６面は、長方形状であり、
前記第５面および前記第６面の長手側の辺は、前記第１面と前記第２面とが互いに対向する方向に沿って延びていることを特徴とする、請求項１ないし３のいずれか１項に記載のサーミスタ。
【請求項５】
前記第１の外部電極は、前記第３面から前記第１面、前記第２面、前記第５面および前記第６面に延在して設けられており、前記第２の外部電極は、前記第４面から前記第１面、前記第２面、前記第５面および前記第６面に延在して設けられていることを特徴とする、請求項１ないし４のいずれか１項に記載のサーミスタ。
【請求項６】
前記第１の外部電極および前記第２の外部電極のそれぞれに、導体線が接続されていることを特徴とする、請求項１ないし５のいずれか１項に記載のサーミスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、サーミスタに関するものであり、特に抵抗値のばらつきが小さくなるようにサーミスタ素体に凹部が設けられているサーミスタに関する。
【背景技術】
【０００２】
正または負の抵抗温度特性を有するサーミスタは、温度検出素子および温度補償回路などにおいて広く用いられている。一例として、特開昭６０−７６１０３号公報（特許文献１）に記載のサーミスタについて説明する。
【０００３】
図１０は、特許文献１に記載されているサーミスタを表すサーミスタ３００の斜視図である。サーミスタ３００は、サーミスタ素体３０１と、表面電極３０２、３０３と、絶縁層３０９とを備えている。表面電極３０２、３０３は、サーミスタ素体３０１の一面上に設けられている。絶縁層３０９は、サーミスタ素体３０１の一面上において、表面電極３０２、３０３を覆うように設けられている。そして、サーミスタ３００の抵抗値の調整のため、絶縁層３０９の上から表面電極３０２にトリミングが施されており、表面電極３０２および絶縁層３０９が除去された箇所が凹部Ｃとなっている。
【０００４】
特許文献１に記載されているサーミスタ３００は、上記の構造を有しているため、抵抗値のばらつきの範囲が小さいとされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭６０−７６１０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
サーミスタ３００において抵抗値を大きく変化させるためには、凹部Ｃの体積を大きくする必要がある。特に、サーミスタ素体３０１における凹部Ｃの深さが寄与していると考えられる。一方、サーミスタ３００では、凹部Ｃはサーミスタ素体３０１の長手方向に直交するように延在しているため、サーミスタ素体３０１における凹部Ｃの深さが増すと、サーミスタ３００のたわみ強度を低下させる虞がある。たわみ強度とは、ＪＩＳ  Ｃ  ２５７０−１：２００６の４．２９項に記載されている条件で耐プリント配線板曲げ性試験を行なった場合において、サーミスタにクラックを発生させたプリント配線板たわみ量の最小値のことである。
【０００７】
そこで、この発明の目的は、抵抗値を変化させるための凹部がありながら、たわみ強度の低下が抑えられたサーミスタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明では、抵抗値を変化させるための凹部がありながら、たわみ強度の低下が抑えられたサーミスタとするため、サーミスタ素体の形状およびサーミスタ素体における凹部が設けられた位置についての改良が図られる。
【０００９】
この発明に係るサーミスタは、サーミスタ素体と、第１の外部電極と、第２の外部電極とを備えるサーミスタである。サーミスタ素体は、第１面ないし第６面を有する直方体形状である。第１面および第２面は、互いに対向する長方形状である。第３面および第４面は、第１面および第２面に直交して互いに対向し、第１面および第２面の長手側の辺に沿っている。第５面および第６面は、第１面ないし第４面に直交して互いに対向している。第１の外部電極は、少なくとも第３面上に設けられ、第２の外部電極は、少なくとも第４面上に設けられている。
【００１０】
そして、第１面および第２面の少なくとも一方に、深さ寸法が幅寸法よりも長く、巨視的に第１面および第２面の長手方向に延在した凹部が設けられている。ここで、「巨視的に第１面および第２面の長手方向に延在した凹部」とは、必ずしも１本の直線のように第１面および第２面の長手方向に延びる凹部だけを意味しない。例えば、後述する図４および図５で示した形状のように、折れ線状、曲線状、分割された線状および点線状の凹部であっても、延びている方向が全体として第１面および第２面の長手方向であれば、上記の範疇に含まれる。
【００１１】
上記のサーミスタは、上記の特徴により、効果的に抵抗値が変化させられており、かつたわみ強度の低下が抑えられている。
【００１２】
この発明に係るサーミスタは、以下の特徴を備えることが好ましい。すなわち、凹部は、溝状であって、両端が第５面および第６面に到達している。
【００１３】
上記のサーミスタは、上記の特徴により、さらに効果的に抵抗値が変化させられている。
【００１４】
この発明に係るサーミスタおよびその好ましい実施形態は、以下の特徴を備えることが好ましい。すなわち、第５面および第６面の少なくとも一方に、深さ寸法が幅寸法よりも長い凹部がさらに設けられている。
【００１５】
上記のサーミスタは、上記の特徴により、さらに大きく抵抗値が変化させられている。
【００１６】
この発明に係るサーミスタおよびその好ましい実施形態は、以下の特徴を備えることが好ましい。すなわち、第５面および第６面は、長方形状であり、第５面および第６面の長手側の辺は、第１面と第２面とが互いに対向する方向に沿って延びている。
【００１７】
上記のサーミスタは、上記の特徴により、たわみ強度の低下がさらに抑えられている。
【００１８】
この発明に係るサーミスタおよびその好ましい実施形態は、以下の特徴を備えることが好ましい。すなわち、第１の外部電極は、第３面から第１面、第２面、第５面および第６面に延在して設けられている。また、第２の外部電極は、第４面から第１面、第２面、第５面および第６面に延在して設けられている。
【００１９】
上記のサーミスタは、上記の特徴により、たわみ強度の低下がより一層抑えられている。
【００２０】
この発明に係るサーミスタおよびその好ましい実施形態は、以下の特徴を備えることが好ましい。すなわち、第１の外部電極および第２の外部電極のそれぞれに、導体線が接続されている。
【００２１】
上記のサーミスタは、上記の特徴により、例えば当該サーミスタを温度検出素子として用いた場合に、サーミスタが実装されている電子回路と、被測定部との距離を離すことができる。そのため、ＩＣなど熱に弱い電子部品を含む電子回路の、熱によるダメージが抑えられる。
【発明の効果】
【００２２】
この発明に係るサーミスタでは、サーミスタ素体の第１面および第２面の少なくとも一方に、深さ寸法が幅寸法よりも長く、巨視的に第１面および第２面の長手方向に延在した凹部が設けられている。そのため、効果的に抵抗値が変化させられており、かつたわみ強度の低下が抑えられている。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】この発明に係るサーミスタの第１の実施形態であるサーミスタ１００の斜視図である。
【図２】サーミスタ１００をサーミスタ素体１の第５面側から見た正面図であり、サーミスタ１００を図１に示すＡ１−Ａ１線を含む面で切断したときの矢視断面図であり、サーミスタ１００を図１に示すＢ１−Ｂ１線を含む面で切断したときの矢視断面図である。
【図３】この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第１の変形例であるサーミスタ１００Ａおよび第２の変形例であるサーミスタ１００Ｂを、それぞれサーミスタ素体１の第５面側から見た正面図である。
【図４】この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第３の変形例であるサーミスタ１００Ｃ、第４の変形例であるサーミスタ１００Ｄ、および第５の変形例であるサーミスタ１００Ｅを、それぞれサーミスタ素体１の第１面側から見た上面図である。
【図５】この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第６の変形例であるサーミスタ１００Ｆ、第７の変形例であるサーミスタ１００Ｇ、および第８の変形例であるサーミスタ１００Ｈを、それぞれサーミスタ素体１の第１面側から見た上面図である。
【図６】この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第９の変形例であるサーミスタ１００Ｉおよび第１０の変形例であるサーミスタ１００Ｊを、図１に示すＡ１−Ａ１線を含む面に相当する面で切断したときの矢視断面図である。
【図７】この発明に係るサーミスタの第２の実施形態であるサーミスタ２００の斜視図である。
【図８】この発明に係るサーミスタの第２の実施形態の第１の変形例であるサーミスタ２００Ａの斜視図である。
【図９】この発明に係るサーミスタの第２の実施形態の第２の変形例であるサーミスタ２００Ｂの斜視図である。
【図１０】背景技術のサーミスタ３００の斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下にこの発明の実施形態を示して、この発明の特徴とするところをさらに詳しく説明する。この発明が適用されるサーミスタとしては、例えば温度検出素子および温度補償回路などに用いられるサーミスタなどが挙げられるが、これらに限られるものではない。
【００２５】
−サーミスタの第１の実施形態−
この発明に係るサーミスタの第１の実施形態であるサーミスタ１００について、図１および図２を用いて説明する。なお、以後で用いる図面は、簡略化のため、実際の製品では施されるバレル処理による稜線の面取りなどの図示は省略されている。また、製造工程上で発生する形状のばらつきなども反映されていない。すなわち、以後で用いる図面は、この発明の要部を説明するためのものであって、たとえ実際の製品と異なる部分があったとしても、本質的な面で実際の製品を表すものと言うことができる。
【００２６】
図１は、サーミスタ１００の斜視図である。サーミスタ１００は、サーミスタ素体１と、第１の外部電極２と、第２の外部電極３とを備えている。サーミスタ素体１は、第１面ないし第６面を有する直方体形状である。
【００２７】
サーミスタ素体１の第１面および第２面は、互いに対向し、長手側の辺の長さがＷであり、短手側の辺の長さがＬである長方形状である。第３面および第４面は、第１面および第２面に直交して互いに対向し、第１面および第２面の長手側の辺に沿っている。第５面および第６面は、長手側の辺の長さがＴであり、短手側の辺の長さがＬである長方形状である。第５面および第６面の長手側の辺は、第１面と第２面とが互いに対向する方向に沿って延びており、かつ第１面ないし第４面に直交して互いに対向している。
【００２８】
すなわち、図１において、サーミスタ素体１の上側の面が第１面、下側の不図示の面が第２面、左側の不図示の面が第３面、右側の面が第４面、手前側の面が第５面、奥側の不図示の面が第６面となる。そして、第１面と第２面との間の距離がＴであり、第３面と第４面との間の距離がＬであり、第５面と第６面との間の距離がＷである。
【００２９】
この明細書で言う「直方体形状」、「長方形状」および「直交」とは、前述したように、製品の製造ばらつきなどによる若干の形状の歪みおよび角度のずれ、ならびにバレル処理などによって角部が丸められた形状を含む概念である。すなわち、厳密な意味での「直方体形状」、「長方形状」および「直交」でなくても、実質的にそのように認識される形状および角度は、この発明の範疇に入ることを指摘しておく。
【００３０】
第１の外部電極２は、第３面から第１面、第２面、第５面および第６面に延在して設けられている。また、第２の外部電極３は、第４面から第１面、第２面、第５面および第６面に延在して設けられている。すなわち、第１の外部電極２および第２の外部電極３は、サーミスタ素体１の第１面の短手方向において互いに対向して設けられている。
【００３１】
第１の外部電極２および第２の外部電極３の材質としては、例えばＡｇ、Ｐｄ、Ｐｔ、Ａｕなどの貴金属およびＣｕ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｗ、Ｔｉなどの卑金属の単体、あるいはこれらを含む合金が用いられる。ただし、それぞれの外部電極の材質は、これらに限られない。なお、それぞれの外部電極は、Ｎｉ、Ｓｎなどを含むめっき膜を備えていてもよい。
【００３２】
図２（Ａ）は、サーミスタ１００をサーミスタ素体１の第５面側から見た正面図である。図２（Ｂ）は、サーミスタ１００を図１に示すＡ１−Ａ１線を含む面で切断したときの矢視断面図である。図２（Ｃ）は、サーミスタ１００を図１に示すＢ１−Ｂ１線を含む面で切断したときの矢視断面図である。
【００３３】
サーミスタ１００においては、サーミスタ素体１は、セラミック層４と、第１の内部電極５と、第２の内部電極６とを備えたセラミック積層体となっている。セラミック積層体は、セラミック層４が第１の内部電極５および第２の内部電極６により挟まれてなるサーミスタ素子が、第１面と第２面とが互いに対向する方向に沿って積層された積層部ＳＰと、第１の外層部ＯＰ１と、第２の外層部ＯＰ２とを備えている。積層部ＳＰは、第１面と第２面とが互いに対向する方向において、第１の外層部ＯＰ１および第２の外層部ＯＰ２によって挟まれている。
【００３４】
セラミック層４の材質としては、Ｍｎ、Ｎｉ、Ｆｅ、Ｔｉ、Ｃｏ、Ａｌ、Ｚｎなどを任意の組み合わせで適量含む種々のセラミック材料が用いられる。また、第１の内部電極５および第２の内部電極６の材質としては、例えばＡｇ、Ｐｄ、Ｐｔ、Ａｕなどの貴金属およびＣｕ、Ｎｉ、Ａｌ、Ｗ、Ｔｉなどの卑金属の単体、あるいはこれらを含む合金が用いられる。ただし、それぞれの構成要素の材質は、これらに限られない。
【００３５】
そして、サーミスタ素体１の第１面には、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長く、第１面の長手方向に延在し、両端が第５面および第６面に到達している溝状の凹部１Ｔが設けられている。なお、溝状の凹部１Ｔは、第１面の長手方向の中心線に沿って設けられている。また、溝状の凹部１Ｔの断面は、Ｖ字状となっている。すなわち、サーミスタ１００においては、上記の形状の凹部１Ｔは、第１の外層部ＯＰ１に設けられているため、第１の外部電極２および第２の外部電極３へのダメージを抑えた状態で、セラミック層４のみの抵抗値を大きく変えることができる。
【００３６】
サーミスタ１００は、上記の特徴により、極めて効果的に抵抗値が変化させられており、かつたわみ強度の低下が確実に抑えられている。
【００３７】
なお、サーミスタ素体１の第５面および第６面は、正方形状でもよく、また長方形状である場合は、第５面および第６面の短手側の辺が第１面と第２面とが互いに対向する方向に沿って延びていてもよい。また、第１の外部電極２は、少なくとも第３面上に設けられていればよく、第２の外部電極３は、少なくとも第４面上に設けられていればよい。さらに、溝状の凹部１Ｔは、両端が第５面および第６面に到達していなくてもよい。これらの場合であっても、抵抗値の変化およびたわみ強度の低下の抑制は、十分達成される。
【００３８】
また、以上では、サーミスタ１００として、サーミスタ素体１がセラミック積層体である場合について説明を行なったが、サーミスタ素体１は、セラミック単板であってもよい。
【００３９】
サーミスタ素体１がセラミック単板である場合、サーミスタ素体１に凹部１Ｔが設けられると、サーミスタ１００の抵抗値が大きく変わる。一方、サーミスタ１００の抵抗値の逆数は、積層部ＳＰの抵抗値の逆数と、第１の外層部ＯＰ１の抵抗値の逆数と、第２の外層部ＯＰ２の抵抗値の逆数との和になる。積層部ＳＰの抵抗値は、凹部１Ｔの影響を受けないため、第１の外層部ＯＰ１に凹部１Ｔが形成されている場合、サーミスタ１００の抵抗値の微調整を行なうことができる。したがって、サーミスタ素体１がセラミック積層体である場合、サーミスタ１００の抵抗値のばらつきを高精度で抑えることができる。
【００４０】
なお、サーミスタ１００は、サーミスタ素体１の表面であって第１の外部電極２と第２の外部電極３との間に、絶縁層を備えていてもよい。この場合、絶縁層は、凹部１Ｔを被覆していなくてもよい。
【００４１】
また、溝状の凹部１Ｔは、第２面に設けられてもよく、第１面および第２面の両方に設けられてもよい。さらに、溝状の凹部１Ｔは、第１面の長手方向の中心線上に限らず、中心線からずれた位置に設けられてもよい。
【００４２】
−サーミスタの第１の実施形態の第１ないし第１０の変形例−
この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第１ないし第１０の変形例であるサーミスタ１００Ａないし１００Ｊについて、図３ないし図６を用いて説明する。サーミスタ１００Ａないし１００Ｊは、サーミスタ素体１における凹部１Ｔの形状が、前述のサーミスタ１００と異なっている。それ以外はサーミスタ１００と共通であるため、共通する箇所の説明については省略または簡略化することがある。
【００４３】
図３（Ａ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第１の変形例であるサーミスタ１００Ａの、図２（Ａ）に相当する正面図である。図３（Ｂ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第２の変形例であるサーミスタ１００Ｂの、同様の正面図である。溝状の凹部１Ｔは、サーミスタ１００と同様の位置に設けられている。
【００４４】
サーミスタ１００Ａは、溝状の凹部１Ｔの断面の形状がＵ字状である。また、サーミスタ１００Ｂは、溝状の凹部１Ｔの断面の形状が矩形状である。そして、いずれの場合も、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長くなっている。すなわち、溝状の凹部１Ｔの深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長くなっていれば、断面の形状がどのようなものであっても、この発明の効果が得られる。
【００４５】
図４（Ａ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第３の変形例であるサーミスタ１００Ｃの、サーミスタ素体１の第１面側から見た上面図である。図４（Ｂ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第４の変形例であるサーミスタ１００Ｄの、同様の上面図である。図４（Ｃ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第５の変形例であるサーミスタ１００Ｅの、同様の上面図である。なお、溝状の凹部１Ｔの断面はＵ字状である。
【００４６】
溝状の凹部１Ｔは、第１の外層部ＯＰ１に設けられており、巨視的にサーミスタ素体１の第１面の長手方向に延在し、両端が第５面および第６面に到達している。ここで、「巨視的にサーミスタ素体１の第１面の長手方向に延在」するとは、前述したように、「延びている方向が全体として第１面の長手方向である」ことを意味する概念である。
【００４７】
サーミスタ１００Ｃは、溝状の凹部１Ｔの上面視の形状が、折れ線状である。また、サーミスタ１００Ｄは、溝状の凹部１Ｔの上面視の形状が、曲線状である。さらに、サーミスタ１００Ｅは、溝状の凹部１Ｔが上面視において幅寸法ｗａを有する第１の凹部１Ｔａと、上面視において幅寸法ｗａより広い幅寸法ｗｂを有する第２の凹部１Ｔｂとを含んでいる。溝状の凹部１Ｔの幅が途中で変化する場合、第１の凹部１Ｔａの深さ寸法は、幅寸法ｗａより深く、第２の凹部１Ｔｂの深さ寸法は、幅寸法ｗｂより深くなっている。
【００４８】
すなわち、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長ければ、溝状の凹部１Ｔの上面視の形状がどのようなものであっても、この発明の効果が得られる。
【００４９】
図５（Ａ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第６の変形例であるサーミスタ１００Ｆの、図４（Ａ）に相当する上面図である。図５（Ｂ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第７の変形例であるサーミスタ１００Ｇの、同様の上面図である。図５（Ｃ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第８の変形例であるサーミスタ１００Ｈの、同様の上面図である。
【００５０】
サーミスタ１００Ｆは、溝状の凹部１Ｔは、第１の凹部１Ｔａおよび第２の凹部１Ｔｂを備えている。第１の凹部１Ｔａは、第１の外層部ＯＰ１に設けられており、サーミスタ素体１の第１面の長手方向に延在し、両端が第５面および第６面に到達しており、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長いＶ字状の断面を有している。第２の凹部１Ｔｂは、第１の凹部１Ｔａと同様の形状を有しており、第１の凹部１Ｔａと平行に設けられている。
【００５１】
サーミスタ１００Ｇも、溝状の凹部１Ｔは、第１の凹部１Ｔａおよび第２の凹部１Ｔｂを備えている。一方、第１の凹部１Ｔａは、第１の外層部ＯＰ１に設けられ、サーミスタ素体１の第１面の長手方向に延在しているが、両端が第５面および第６面に到達していない。第２の凹部１Ｔｂは、第１の凹部１Ｔａと同様の形状を有しており、第１の凹部１Ｔａと平行ではあるが、第１面の長手方向における位置と異なる位置に設けられている。ただし、第１面の長手方向における位置が一部重なっていてもよい。なお、第１の凹部１Ｔａおよび第２の凹部１Ｔｂの断面は、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長いＵ字状である。
【００５２】
サーミスタ１００Ｈでは、溝状の凹部１Ｔは、第１の外層部ＯＰ１に設けられた多数の小凹部である第１の凹部１Ｔａないし第７の凹部１Ｔｇを備えており、第１面側から見た上面視において、点線状となっている。なお、第１の凹部１Ｔａないし第７の凹部の断面は、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長いＵ字状である。
【００５３】
すなわち、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第３ないし第５の変形例と同様に、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長ければ、溝状の凹部１Ｔの上面視の形状がどのようなものであっても、この発明の効果が得られる。
【００５４】
図６（Ａ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第９の変形例であるサーミスタ１００Ｉの、図２（Ｃ）に相当する断面図である。図６（Ｂ）は、この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第１０の変形例であるサーミスタ１００Ｊの、同様の断面図である。
【００５５】
サーミスタ１００Ｉは、サーミスタ素体１の第１面に第１の凹部１Ｔａが設けられており、第５面に第２の凹部１Ｔｂが設けられており、かつ第１の凹部１Ｔａと第２の凹部１Ｔｂとが連通している。また、サーミスタ１００Ｊは、サーミスタ１００Ｉと同じくサーミスタ素体１の第１面に第１の凹部１Ｔａが設けられており、第５面に第２の凹部１Ｔｂが設けられているが、第１の凹部１Ｔａと第２の凹部１Ｔｂとが分離している。なお、第１の凹部１Ｔａおよび第２の凹部１Ｔｂの断面は、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長いＵ字状である。
【００５６】
すなわち、深さ寸法ｄが幅寸法ｗよりも長ければ、溝状の凹部１Ｔの形状がどのようなものであっても、この発明の効果が得られる。
【００５７】
なお、第１の凹部１Ｔａは、第２面に設けられてもよく、第１面および第２面の両方に設けられてもよい。また、第２の凹部１Ｔｂは、第６面に設けられてもよく、第５面および第６面の両方に設けられてもよい。さらに、サーミスタ１００Ｊにおいて、第１の凹部１Ｔａおよび第２の凹部１Ｔｂは、それぞれが設けられている面の中心線からずれた位置に設けられてもよい。
【００５８】
−サーミスタの第２の実施形態−
この発明に係るサーミスタの第２の実施形態である導体線付きサーミスタ２００について、図７を用いて説明する。図７は、この発明に係るサーミスタの第２の実施形態である導体線付きサーミスタ２００の斜視図である。導体線付きサーミスタ２００は、サーミスタ１００の第１の外部電極２および第２の外部電極３のそれぞれに、接合部材Ｓにより導体線が接続されたものである。接合部材Ｓの材質としては、例えば公知のはんだ材料などが用いられる。また、導体線としては、例えばＣｕを芯材とし、Ｓｎ、Ａｇ、Ｎｉなどで被覆した被覆Ｃｕ線などが用いられる。
【００５９】
導体線付きサーミスタ２００は、上記の特徴により、例えば導体線付きサーミスタ２００を温度検出素子として用いた場合に、導体線付きサーミスタ２００が実装されている電子回路と、被測定部との距離を離すことができる。そのため、ＩＣなど熱に弱い電子部品を含む電子回路の、熱によるダメージが抑えられる。
【００６０】
−サーミスタの第２の実施形態の第１および第２の変形例−
この発明に係るサーミスタの第１の実施形態の第１および第２の変形例である導体線付きサーミスタ２００Ａおよび２００Ｂについて、図８および図９を用いて説明する。図８は、この発明に係るサーミスタの第２の実施形態の第１の変形例である導体線付きサーミスタ２００Ａの斜視図である。また、図９は、この発明に係るサーミスタの第２の実施形態の第２の変形例である導体線付きサーミスタ２００Ｂの斜視図である。
【００６１】
導体線付きサーミスタ２００Ａは、サーミスタ１００Ｋの第１の外部電極２および第２の外部電極３のそれぞれに、接合部材Ｓにより導体線が接続されたものである。サーミスタ１００Ｋは、前述のサーミスタ素体１と、その第３面から第１面および第２面に延在して設けられている第１の外部電極２と、第４面から第１面および第２面に延在して設けられている第２の外部電極３とを備えている。
【００６２】
導体線付きサーミスタ２００Ｂは、サーミスタ１００Ｌの第１の外部電極２および第２の外部電極３のそれぞれに、接合部材Ｓにより導体線が接続されたものである。サーミスタ１００Ｌでは、前述のサーミスタ１００において、第１の外部電極２および第２の外部電極３が、第５面および第６面の角部近傍にのみ延在している。導体線付きサーミスタ２００Ａ、２００Ｂにおけるその他の構成は、導体線付きサーミスタ２００と同様であるため、説明を省略する。
【００６３】
導体線付きサーミスタ２００Ａ、２００Ｂにおいても、導体線付きサーミスタ２００と同様の効果を奏する。
【００６４】
なお、この発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、この発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることができる。また、この明細書に記載の各実施形態は、例示的なものであり、異なる実施形態間において、構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることを指摘しておく。
【符号の説明】
【００６５】
１００    サーミスタ
１    サーミスタ素体
１Ｔ    凹部
２    第１の外部電極
３    第２の外部電極
ｄ    凹部の深さ寸法
ｗ    凹部の幅寸法
【図１】
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【図２】
2017168618.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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