(57)【要約】      （修正有）【課題】電子部品において、通常動作で使用する経路上に接続されたデータの書き込み回路等の制御回路が故障した場合でも、障害が発生した電子部品に障害情報を格納する処理を実行でき、不具合の原因を究明できる技術を提供する。【解決手段】情報処理装置（ＩＰＥ）１は、第１の記憶部１２ａ、１２ｂを含む電子部品１０ａ、１０ｂが装着される複数の装着部８ａ、８ｂと、第１の経路Ｒ１を介して、複数の装着部に装着された電子部品の動作状況を示すイベント情報ＥＶを収集する制御部２と、管理部６を有する。管理部は、制御部から転送されるイベント情報を第２の記憶部２２に格納し、第２の記憶部に格納されるイベント情報の重要度が故障情報レベルである場合、第２の記憶部に格納されたイベント情報を、第２の経路Ｒ２を介して、故障情報ＦＡＩＬを出力した電子部品の第１の記憶部に格納させる。【選択図】図１
2017220022.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の記憶部を含む電子部品が装着される複数の装着部と、
第１の経路を介して、前記複数の装着部に装着された前記電子部品の動作状況を示すイベント情報を収集する制御部と、
前記制御部から転送される前記イベント情報を第２の記憶部に格納し、前記第２の記憶部に格納される前記イベント情報の重要度が第１のレベルである場合、前記第２の記憶部に格納された前記イベント情報を、第２の経路を介して、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品の前記第１の記憶部に格納させる管理部と
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記第２の経路を介して前記複数の装着部に装着された前記電子部品に接続される複数の第１のポートと、第２のポートとを有し、前記複数の第１のポートのいずれかを前記第２のポートに接続する切替部を備え、
前記管理部は、前記第２の記憶部に格納される前記イベント情報の重要度が前記第１のレベルである場合、前記複数の第１のポートと前記電子部品との接続関係を示す接続情報に基づいて、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品に接続された第１のポートを前記第２のポートに接続させる制御情報を前記切替部に出力することを特徴とする請求項１記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記管理部は、
前記電子部品が前記複数の第１のポートのいずれかに接続されたことを検出する接続検出部と、
前記接続検出部による検出に基づいて、前記電子部品を識別する固有情報を、前記電子部品が接続された第１のポートに対応付けて前記接続情報として経路テーブルに格納し、前記第２の記憶部に前記第１のレベルの前記イベント情報が格納された場合、前記経路テーブルに格納した前記接続情報に基づいて、前記切替部を切り替え、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品に重要度が前記第１のレベルより低い第２のレベルの前記イベント情報を出力する出力処理部と
を備え、
第１の経路を介して前記電子部品から受信する前記イベント情報は、前記固有情報を含むことを特徴とする請求項２記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記出力処理部は、前記経路テーブルに保持する前記接続情報を、前記第２のレベルの前記イベント情報とともに、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品に出力することを特徴とする請求項３記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記出力処理部は、前記接続検出部が検出した前記電子部品に前記固有情報を問い合わせ、前記電子部品から出力される前記固有情報を、前記電子部品が接続された第１のポートに対応付けて前記接続情報として前記経路テーブルに格納することを特徴とする請求項３または請求項４記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記出力処理部は、前記固有情報の問い合わせに基づき、前記電子部品が前記固有情報を保持していないことを検出した場合、前記電子部品に保持させる前記固有情報を前記第２の経路を介して前記電子部品に出力し、前記電子部品に出力した前記固有情報を、前記電子部品が接続された第１のポートに対応付けて前記接続情報として前記経路テーブルに格納することを特徴とする請求項５記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記管理部は、
前記第２の記憶部に格納される前記イベント情報を監視する監視部と、
前記第２の記憶部への前記第１のレベルの前記イベント情報の格納を前記監視部が検出したことに基づいて、前記第２の記憶部に格納された前記イベント情報のうち、前記第１のレベルの前記イベント情報の発生時刻を起点として起点より前の第１の期間に発生した前記第２のレベルの前記イベント情報を選択し、前記第１の期間内で最も早く発生した前記第２のレベルの前記イベント情報の発生時刻を起点として起点より前の前記第１の期間に発生した前記第２のレベルの前記イベント情報を選択する動作を、前記第２のレベルの前記イベント情報が前記第１の期間に存在しなくなるまで繰り返す選択部と
を備え、
前記管理部は、前記選択部が選択した前記第２のレベルの前記イベント情報を前記第２のポートに出力することを特徴とする請求項３ないし請求項６のいずれか１項記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記管理部は、前記第２の記憶部に格納された前記第１のレベルの前記イベント情報を前記第２のレベルの前記イベント情報とともに前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品の第１の記憶部に前記第２の経路を介して格納させること
を特徴とする請求項３ないし請求項７のいずれか１項記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記複数の第１のポートの各々は、前記装着部に装着される前記電子部品に搭載されるコネクタに接続される他の電子部品に接続されることを特徴とする請求項１ないし請求項８のいずれか１項記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記第１のレベルの前記イベント情報は、前記電子部品が検出した故障を示す情報であり、
って、
前記管理部は、前記第２の記憶部に格納された前記イベント情報のうち、前記電子部品が検出した異常動作を示す第２のレベルの前記イベント情報を、前記第２の経路を介して、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品の前記第１の記憶部に格納させることを特徴とする請求項１記載の情報処理装置。
【請求項１１】
前記第２のレベルの前記イベント情報は、前記電子部品が検出した故障を示す情報に関連する前記電子部品が検出した異常動作を示す情報であることを特徴とする請求項１０記載の情報処理装置。
【請求項１２】
第１の記憶部を含む電子部品が装着される複数の装着部と、第１の経路を介して、前記複数の装着部に装着された前記電子部品の動作状況を示すイベント情報を収集する制御部とを備える情報処理装置の制御方法であって、
情報処理装置が有する管理部が、
前記制御部から転送される前記イベント情報を第２の記憶部に格納し、
前記第２の記憶部に格納される前記イベント情報の重要度が第１のレベルである場合、前記第２の記憶部に格納された前記イベント情報を、第２の経路を介して、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品の前記第１の記憶部に格納させることを特徴とする情報処理装置の制御方法。
【請求項１３】
第１の記憶部を含む電子部品が装着される複数の装着部と、第１の経路を介して、前記複数の装着部に装着された前記電子部品の動作状況を示すイベント情報を収集する制御部とを備える情報処理装置の制御プログラムであって、
情報処理装置が有する管理部に、
前記制御部から転送される前記イベント情報を第２の記憶部に格納させ、
前記第２の記憶部に格納される前記イベント情報の重要度が第１のレベルである場合、前記第２の記憶部に格納された前記イベント情報を、第２の経路を介して、前記第１のレベルの前記イベント情報を出力した前記電子部品の前記第１の記憶部に格納させることを特徴とする情報処理装置の制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
交換可能な複数の電子部品を含むコンピュータシステム等の電子装置では、電子部品の故障等の発生により電子装置が正常に動作しない場合、不具合の原因である電子部品が交換される。例えば、各電子部品から収集した故障情報に基づいて交換が推奨される電子部品が検出された場合、電子装置の環境情報を含むエラーログが、交換が推奨される電子部品に搭載される不揮発性メモリに格納される。これにより、故障に関する情報に基づいた修理が可能になる（例えば、特許文献１参照）。また、電子部品に障害が発生した場合、障害が発生した電子部品以外の状態情報とともに障害情報を各電子部品の記録部に記録することで、不具合の原因が究明しやすくなる（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】国際公開第２００７／０８８６０６号
【特許文献２】特開２００６−２２７６６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、電子部品において、通常動作で使用する経路上に接続されたデータの書き込み回路等の制御回路が故障した場合、通常動作で使用する経路を介した電子部品へのアクセスは遮断される。この場合、通常動作で使用する経路を介して、障害が発生した電子部品に障害情報を格納する処理を実行しても、障害情報は電子部品に格納されないおそれがある。障害情報が電子部品に格納されない場合、不具合の原因を究明することは困難である。
【０００５】
１つの側面では、本件開示の情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムは、電子部品が発生する第２のレベルのイベント情報を他の電子部品が発生する第２のレベルのイベント情報とともに、故障の影響を受けることなく故障が発生した電子部品に格納することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一つの観点によれば、情報処理装置は、第１の記憶部を含む電子部品が装着される複数の装着部と、第１の経路を介して、複数の装着部に装着された電子部品の動作状況を示すイベント情報を収集する制御部と、制御部から転送されるイベント情報を第２の記憶部に格納し、第２の記憶部に格納されるイベント情報の重要度が第１のレベルである場合、第２の記憶部に格納されたイベント情報を、第２の経路を介して、第１のレベルのイベント情報を出力した電子部品の第１の記憶部に格納させる管理部とを有する。
【０００７】
別の観点によれば、第１の記憶部を含む電子部品が装着される複数の装着部と、第１の経路を介して、複数の装着部に装着された電子部品の動作状況を示すイベント情報を収集する制御部とを備える情報処理装置の制御方法は、情報処理装置が有する管理部が、制御部から転送されるイベント情報を第２の記憶部に格納し、第２の記憶部に格納されるイベント情報の重要度が第１のレベルである場合、第２の記憶部に格納されたイベント情報を、第２の経路を介して、第１のレベルのイベント情報を出力した電子部品の第１の記憶部に格納させる。
【０００８】
さらなる別の観点によれば、第１の記憶部を含む電子部品が装着される複数の装着部と、第１の経路を介して、複数の装着部に装着された電子部品の動作状況を示すイベント情報を収集する制御部とを備える情報処理装置の制御プログラムは、情報処理装置が有する管理部に、制御部から転送されるイベント情報を第２の記憶部に格納させ、第２の記憶部に格納されるイベント情報の重要度が第１のレベルである場合、第２の記憶部に格納されたイベント情報を、第２の経路を介して、第１のレベルのイベント情報を出力した電子部品の第１の記憶部に格納させる。
【発明の効果】
【０００９】
本件開示の情報処理装置、情報処理システム、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムは、電子部品が発生する第２のレベルのイベント情報を他の電子部品が発生する第２のレベルのイベント情報とともに、故障の影響を受けることなく故障が発生した電子部品に格納することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムの一実施形態を示す図である。
【図２】図１に示す情報処理装置の動作の一例を示す図である。
【図３】情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムの別の実施形態を示す図である。
【図４】図３に示すＢＭＣの一例を示す図である。
【図５】図４に示すログデータベースに格納される情報の一例を示す図である。
【図６】図３に示す情報処理装置の動作の一例を示す図である。
【図７】図４に示すＢＭＣが出力ポートへの電子部品の接続を検出した場合の動作の一例を示す図である。
【図８】図４に示すＢＭＣがログデータベースにイベント情報を格納する動作の一例を示す図である。
【図９】図４に示すＢＭＣがログデータベースから選択した故障情報および異常情報をログリストに格納する動作の一例を示す図である。
【図１０】図９に示す処理により、ログデータベースから故障情報および異常情報を抽出する処理の一例を示す
【図１１】図４に示すＢＭＣがログリストに格納した故障情報および異常情報を、スイッチおよび経路を介して故障情報を発生した装着部品に出力する動作の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を用いて実施形態を説明する。
【００１２】
図１は、情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムの一実施形態を示す。図１に示す情報処理装置ＩＰＥ１は、制御部２と、切替部４と、管理部６と、第１の記憶部１２（１２ａ、１２ｂ）を含む電子部品１０（１０ａ、１０ｂ）をそれぞれ装着可能な複数の装着部８（８ａ、８ｂ）とを有する。例えば、電子部品１０は、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）規格のカード等であり、装着部８は、カードを着脱自在に装着するコネクタ等である。第１の記憶部１２は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）またはフラッシュメモリ等の不揮発性メモリである。制御部２、切替部４、管理部６および装着部８は、プリント基板等に実装される。
【００１３】
制御部２は、プリント基板上の信号配線等による経路Ｒ１を介して装着部８にそれぞれ電気的に接続される。制御部２は、装着部８に装着された電子部品１０の動作を制御するとともに、経路Ｒ１を介して電子部品１０の動作状況（イベント）を示すイベント情報ＥＶを収集する。イベント情報ＥＶは、イベント情報ＥＶを発行した装着部品１０を識別する部品情報を含む。制御部２は、収集したイベント情報ＥＶを管理部６に転送する。例えば、制御部２は、情報処理装置ＩＰＥ１の動作を制御するＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサである。
【００１４】
以下の説明では、装着部８に装着された電子部品１０は、装着部品１０（１０ａ、１０ｂ）とも称される。例えば、イベント情報ＥＶは、正常なイベントの発生を示す正常情報ＮＲＭ、装着部品１０が一時的なエラー等を検出した場合に出力する異常情報ＡＢＮ、または装着部品１０が故障を検出した場合に出力する故障情報ＦＡＩＬのいずれかを含む。なお、異常情報ＡＢＮは、一時的に発生する装着部品１０の異常な動作状況を示すが、故障を示すものではない。故障情報ＦＡＩＬは、重要度が第１のレベルのイベント情報ＥＶの一例であり、異常情報ＡＢＮは、重要度が第１のレベルより低い第２のレベルのイベント情報の一例である。
【００１５】
切替部４は、管理部６に接続されるポートＰ０と、信号ケーブル等による経路Ｒ２を介して装着部品１０ａ、１０ｂ等にそれぞれ電気的に接続される複数のポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３とを含む。切替部４は、管理部６から出力される制御信号ＣＮＴＬに基づいて、ポートＰ０をポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３のいずれかに接続する。ポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３は、第１のポートの一例であり、ポートＰ０は、第２のポートの一例である。制御信号ＣＮＴＬは、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０に接続されたポート（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のいずれか）をポートＰ０に接続させる制御情報の一例である。
【００１６】
管理部６は、格納処理部１４、監視部１６、選択部１８、出力処理部２０、第２の記憶部２２および経路テーブル２４を有する。例えば、管理部６は、情報処理装置ＩＰＥ１のプリント基板に搭載される制御部２等の動作を管理するＢＭＣ（Baseboard Management Controller）である。
【００１７】
図１に示す例では、格納処理部１４、監視部１６、選択部１８および出力処理部２０は、ＢＭＣが実行するプログラムＰＧＭにより実現される。しかしながら、格納処理部１４、監視部１６、選択部１８および出力処理部２０は、ＢＭＣに搭載されるハードウェアにより実現されてもよい。
【００１８】
格納処理部１４は、制御部２から順次転送されるイベント情報ＥＶ（正常情報ＮＲＭ、異常情報ＡＢＮまたは故障情報ＦＡＩＬ）を第２の記憶部２２に格納する。第２の記憶部２２は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）またはＳＳＤ（Solid State Drive）等の記憶装置である。なお、第２の記憶部２２は、管理部６の外部に配置されてもよい。経路テーブル２４は、管理部６に搭載されるフラッシュメモリまたはＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）等の半導体メモリに割り当てられ、切替部４のポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３にそれぞれ接続された装着部品１０を識別する情報を保持する。すなわち、経路テーブル２４は、複数のポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３と装着部品１０との接続関係を示す接続情報を保持する。換言すれば、経路テーブル２４には、装着部品１０を識別する情報が、装着部品１０が接続されたポート（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のいずれか）に対応付けて格納される。
【００１９】
監視部１６は、格納処理部１４が第２の記憶部２２に格納するイベント情報ＥＶを監視し、イベント情報ＥＶが故障情報ＦＡＩＬである場合、故障情報ＦＡＩＬの検出を示す検出情報ＦＤＥＴを選択部１８に出力する。なお、装着部品１０は、内蔵する回路等が故障した場合のみに故障情報ＦＡＩＬを出力するとは限らない。例えば、装着部品１０は、相互に接続される図示しない他の電子部品の故障により、他の電子部品との通信が遮断した場合にも、故障情報ＦＡＩＬを経路Ｒ１に出力する。
【００２０】
選択部１８は、監視部１６から出力される検出情報ＦＤＥＴに基づいて、第２の記憶部２２に格納されたイベント情報ＥＶのうち、監視部１６が検出した故障情報ＦＡＩＬと、異常な動作状況を示す異常情報ＡＢＮとを選択する。そして、選択部１８は、選択した故障情報ＦＡＩＬと異常情報ＡＢＮとを出力処理部２０に出力する。
【００２１】
出力処理部２０は、選択部１８から受信した故障情報ＦＡＩＬに含まれる装着部品１０を示す部品情報に基づいて、経路テーブル２４を参照し、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０が接続されたポート（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のいずれか）を検出する。そして、出力処理部２０は、検出結果に基づいて、ポートＰ０を、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０に接続されたポート（Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のいずれか）に接続させる制御信号ＣＮＴＬを切替部４に出力する。切替部４の内部の接続は、制御信号ＣＮＴＬに基づいて切り替えられる。
【００２２】
切替部４の内部の接続が切り替えられた後、出力処理部２０は、選択部１８から受信した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、切替部４および経路Ｒ２を介して故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０に出力する。そして、出力処理部２０は、装着部品１０に、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを第１の記憶部１２に格納させる。
【００２３】
出力処理部２０は、第２の記憶部２２が記憶するイベント情報ＥＶのうち、図２で説明する装着部品１０の製造元で実施される故障解析において重要である故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを電子部品１０に出力する。重要なイベント情報ＥＶのみを第１の記憶部１２に格納することで、最小限の記憶容量の第１の記憶部１２を電子部品１０に搭載することができ、あるいは、電子部品１０に搭載された第１の記憶部１２において、最小限の記憶領域を使用すれば済む。したがって、電子部品１０への第１の記憶部１２の搭載に伴うコストの上昇を最小限に抑えることができる。
【００２４】
なお、管理部６は、切替部４を介することなく、経路Ｒ２を介して電子部品１０ａ、１０ｂに接続されてもよい。この場合、情報処理装置ＩＰＥ１は、切替部４を持たず、出力処理部２０が経路Ｒ２に直接接続される。経路テーブル２４は、ポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３と装着部品１０との対応を示す情報の代わりに、経路Ｒ２のそれぞれと装着部品１０との対応を示す情報を保持する。出力処理部２０は、選択部１８から受信した故障情報ＦＡＩＬに含まれる装着部品１０を示す部品情報に基づいて、経路テーブル２４を参照し、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０が接続された経路Ｒ２を検出する。そして、出力処理部２０は、検出した経路Ｒ２を介して、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを電子部品１０に出力する。
【００２５】
装着部品１０に故障が発生した場合、通常の動作で使用する経路Ｒ１を介した第１の記憶部１２へのアクセスが遮断される場合がある。故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、経路Ｒ１とは別の経路Ｒ２を介して装着部品１０に転送することで、経路Ｒ１を使用する場合に比べて、第１の記憶部１２に故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを格納できる確率を高くすることができる。これにより、図２で説明する装着部品１０の製造元で実施される故障解析において、故障の原因を特定できる可能性を高くすることができる。
【００２６】
なお、出力処理部２０は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、装着部品１０の第１の記憶部１２に直接書き込んでもよい。また、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品１０が、故障情報ＦＡＩＬを第１の記憶部１２に格納する機能を有する場合、選択部１８は、第２の記憶部２２から故障情報ＦＡＩＬを選択せず、出力処理部２０は、異常情報ＡＢＮのみを切替部４に出力してもよい。
【００２７】
図２は、図１に示す情報処理装置ＩＰＥ１の動作の一例を示す。すなわち、図２は、情報処理装置ＩＰＥ１の制御方法の一例を示し、図２に示す管理部６の動作は、情報処理装置ＩＰＥ１の制御プログラムの一例を示す。
【００２８】
各装着部品１０ａ、１０ｂは、イベントが発生する毎に、イベント情報ＥＶ（正常情報ＮＲＭ、異常情報ＡＢＮまたは故障情報ＦＡＩＬ）を制御部２に出力する（図２（ａ））。正常情報ＮＲＭは、故障および異常を伴わない装着部品１０の正常な動作状況を示すイベント情報ＥＶである。図２では説明を分かりやすくするため、正常情報ＮＲＭ、異常情報ＡＢＮおよび故障情報ＦＡＩＬの末尾には、装着部品１０ａ、１０ｂ毎の通し番号が付けられる。
【００２９】
制御部２は、受信したイベント情報ＥＶを格納処理部１４に転送する（図２（ｂ））。格納処理部１４は、制御部２から受信したイベント情報ＥＶを第２の記憶部２２に格納する（図２（ｃ））。監視部１６は、格納処理部１４が第２の記憶部２２に出力するイベント情報ＥＶを監視する（図２（ｄ））。
【００３０】
図２に示す例では、監視部１６は、装着部品１０ａから出力された故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）の検出に基づいて、検出情報ＦＤＥＴを選択部１８に出力する（図２（ｅ））。選択部１８は、監視部１６から出力される検出情報ＦＤＥＴに基づいて、第２の記憶部２２に格納されたイベント情報ＥＶを検索し、故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）および異常情報ＡＢＮ１（１０ａ）、ＡＢＮ２（１０ｂ）、ＡＢＮ１（１０ｂ）を抽出する（図２（ｆ））。選択部１８は、抽出した故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）および異常情報ＡＢＮ１（１０ａ）、ＡＢＮ２（１０ｂ）、ＡＢＮ１（１０ｂ）を出力処理部２０に出力する（図２（ｇ））。
【００３１】
出力処理部２０は、選択部１８から受信した故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）に基づいて切替部４に制御信号ＣＮＴＬを出力する（図２（ｈ））。制御信号ＣＮＴＬは、ポートＰ０を、故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）を発生した装着部品１０ａに接続されたポートＰ２に接続させる情報を含む。切替部４は、制御信号ＣＮＴＬに基づいて、ポートＰ０をポートＰ２に接続する。
【００３２】
次に、出力処理部２０は、選択部１８から受信した故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）および異常情報ＡＢＮ１（１０ａ）、ＡＢＮ２（１０ｂ）、ＡＢＮ１（１０ｂ）を、切替部４を介して故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０に出力する（図２（ｉ）、（ｊ））。そして、出力処理部２０は、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０に、故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）および異常情報ＡＢＮ１（１０ａ）、ＡＢＮ２（１０ｂ）、ＡＢＮ１（１０ｂ）を第１の記憶部１２に格納する処理を実行させる。これにより、装着部品１０ａと他の装着部品１０ｂとの異常情報ＡＢＮ１（１０ａ）、ＡＢＮ２（１０ｂ）、ＡＢＮ１（１０ｂ）が、故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）とともに、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品１０ａの第１の記憶部１２に記憶される。
【００３３】
この後、情報処理装置ＩＰＥ１の使用者等は、制御部２により表示装置等に出力される故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）に基づいて、装着部品１０ａを新しい電子部品１０と交換する。例えば、情報処理装置ＩＰＥ１から取り出された装着部品１０ａは、装着部品１０ａの製造元に送られ、製造元において故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）が発生した原因を解析する故障解析が実施される。
【００３４】
この際、装着部品１０ａの第１の記憶部１２には、故障情報ＦＡＩＬ１だけでなく、他の装着部品１０ｂの異常情報ＡＢＮが格納されている。すなわち、第１の記憶部１２には、故障情報ＦＡＩＬ１が発生する直前の情報処理装置ＩＰＥ１の動作状況を示す情報が格納されている。このため、故障の原因を解析する解析者等は、装着部品１０ａの故障情報ＦＡＩＬ１のみを用いて故障解析を実施する場合に比べて、故障の原因を特定できる可能性を高くすることができる。例えば、故障情報ＦＡＩＬ１（１０ａ）の発生の原因が、異常情報ＡＢＮを発生した他の装着部品１０ｂにある場合に、故障情報ＦＡＩＬ１と異常情報ＡＢＮとを用いて故障解析を実施することとで、故障の原因を特定しやすくすることができる。
【００３５】
さらに、装着部品１０ａの第１の記憶部１２に、他の装着部品１０ｂの異常情報ＡＢＮが格納されるため、故障の原因を解析する解析者等は、情報処理装置ＩＰＥ１の使用者等に問い合わせることなく、他の装着部品１０ｂが出力した異常情報ＡＢＮを入手できる。また、故障解析が長引き、他の装着部品１０ｂの異常情報ＡＢＮが、時間の経過に伴い情報処理装置ＩＰＥ１から消失した場合にも、解析者等は、他の装着部品１０ｂが出力した異常情報ＡＢＮを入手できる。
【００３６】
なお、出力処理部２０は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを装着部品１０に出力する際に、経路テーブル２４に保持された装着部品１０を識別する情報とポートＰ１−Ｐ３との関係を示す接続情報を装着部品１０に出力してもよい。この場合、解析者等は、情報処理装置ＩＰＥ１の使用者等に問い合わせることなく、故障情報ＦＡＩＬが発生したときの情報処理装置ＩＰＥ１への装着部品１０の接続状況を把握することができる。この結果、接続情報を装着部品１０に出力しない場合に比べて、故障の原因を特定しやすくすることができる。
【００３７】
以上、図１および図２に示す実施形態では、管理部６は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、通常動作で使用する経路Ｒ１とは別の経路Ｒ２に転送する。このため、故障情報ＦＡＩＬの発生時に、第１の記憶部１２に故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを格納できる確率を、経路Ｒ１を使用する場合に比べて高くすることができる。すなわち、装着部品１０が発生する故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを他の装着部品１０が発生する異常情報ＡＢＮとともに、故障の影響を受けることなく故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品１０に格納することができる。この結果、例えば、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品１０を用いて、情報処理装置ＩＰＥ１が設置される場所と別の場所で、故障情報ＦＡＩＬが発生した原因を解析する場合、故障の原因を特定できる可能性を高くすることができる。
【００３８】
図３は、情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラムの別の実施形態を示す。図１および図２に示す実施形態で説明した要素と同一または同様の要素については、同一の符号を付し、これ等については、詳細な説明は省略する。この実施形態の情報処理装置ＩＰＥ２は、マザーボード１００に搭載されたＣＰＵ３０、メモリ４０、チップセット５０、カードスロット６０ａ、６０ｂ、ＢＭＣ７０およびスイッチ８０と、キーボード１１０、マウス１２０およびＨＤＤ１３０とを有する。ＣＰＵ３０は制御部の一例であり、ＢＭＣ７０は管理部の一例であり、スイッチ８０は切替部の一例である。以下の説明では、カードスロット６０ａ、６０ｂは、カードスロット６０とも称される。なお、マザーボード１００に搭載されるカードスロット６０の数は、３個以上でもよい。
【００３９】
ＣＰＵ３０は、ＯＳ（Operating System）等の基本プログラムおよびアプリケーションプログラムを実行することで、情報処理装置ＩＰＥ２の機能を実現する。ＣＰＵ３０は、入出力バスＩＯＢおよびチップセット５０を介してカード２００から供給されるイベント情報ＥＶ（図４）を、チップセット５０を介してＢＭＣ７０に転送する機能を有する。なお、ＣＰＵ３０は、受信したイベント情報ＥＶを、メモリ４０または図示しないＨＤＤ等に格納してもよい。
【００４０】
メモリ４０は、ＣＰＵ３０が実行するプログラムと、プログラムで使用されるデータ等を記憶する。例えば、メモリ４０は、複数のＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）が搭載されたＤＩＭＭ（Dual Inline Memory Module）である。
【００４１】
カードスロット６０ａ、６０ｂは、入出力バスＩＯＢを介してチップセット５０に接続される。入出力バスＩＯＢは、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）バスまたはＰＣＩ ｅｘｐｒｅｓｓバスである。なお、入出力バスＩＯＢは、他の規格のバスでもよい。カードスロット６０（６０ａ、６０ｂ）には、ＰＣＩカード等のカード２００（２００ａ、２００ｂ）が着脱可能に装着される。カード２００ａ、２００ｂは、電子部品の一例であり、カードスロット６０は、カードＣＡＲＤを装着する装着部の一例である。入出力バスＩＯＢは、第１の経路の一例である。
【００４２】
図３に示す例では、カード２００ａには、ＨＤＤ３００ａ、３００ｂが接続され、カード２００ｂには、ＨＤＤ３００ｃおよび光学ドライブ４００が接続される。カード２００が発生するイベント情報ＥＶは、カードスロット６０を介して入出力バスＩＯＢに直接出力される。ＨＤＤ３００ａ、３００ｂ、３００ｃおよび光学ドライブ４００が発生するイベント情報ＥＶは、カード２００およびカードスロット６０を介して入出力バスＩＯＢに出力される。カード２００ａ、２００ｂ、ＨＤＤ３００ａ、３００ｂ、３００ｃおよび光学ドライブ４００は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ５００（５００ａ、５００ｂ、５００ｃ、５００ｄ、５００ｅ、５００ｆ）を有する。なお、各カード２００に接続される電子部品の数は、２個に限定されない。また、ＨＤＤ３００等は、カード２００に直列に接続されてもよい。不揮発性メモリ５００は、第１の記憶部の一例である。
【００４３】
カード２００ａ、２００ｂ、ＨＤＤ３００ａ、３００ｂ、３００ｃおよび光学ドライブ４００の各々は、信号ケーブル等の信号線Ｒ２（Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２６）によりスイッチ８０に電気的に接続される。信号線Ｒは、第２の経路の一例である。以下の説明では、信号線Ｒ２は、経路Ｒ２（Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２６）とも称される。また、以下の説明では、カードスロット６０に装着されたカード２００は、装着部品とも称される。なお、マザーボード１００には、カードスロット６０の代わりにソケットまたはコネクタ等が取り付けられてもよい。この場合、カード２００以外の他の電子部品が、ソケットまたはコネクタ等に着脱自在に装着される。
【００４４】
例えば、ＨＤＤ３００ａは、送受信部３０２、受信部３０４および選択部３０６を有する。送受信部３０２は、入出力バスＩＯＢを介して受信したデータ等の情報を選択部３０６に出力し、選択部３０６から出力されるデータ等の情報を入出力バスＩＯＢに出力する。受信部３０４は、信号線Ｒ２３を介して受信したイベント情報ＥＶを選択部３０６に出力する。選択部３０６は、送受信部３０２から受信した情報または受信部３０４から受信したイベント情報ＥＶを不揮発性メモリ５００ｃに格納し、不揮発性メモリ５００ｃから出力されるデータ等の情報を送受信部３０２に出力する。
【００４５】
なお、ＨＤＤ３００ａと同様に、カード２００ａ、２００ｂ、ＨＤＤ３００ｂ、３００ｃおよび光学ドライブ４００の各々は、送受信部３０２、受信部３０４および選択部３０６を有してもよい。すなわち、カード２００ａ、２００ｂ、ＨＤＤ３００ｂ、３００ｃおよび光学ドライブ４００の各々は、入出力バスＩＯＢに接続される送受信部３０２、信号線Ｒ２に接続される受信部３０４、および不揮発性メモリ５００に接続される選択部３０６を有してもよい。さらに、図１に示す電子部品１０ａ、１０ｂの各々は、ＨＤＤ３００ａと同様に、送受信部３０２、受信部３０４および選択部３０６を有してもよい。すなわち、図１に示す電子部品１０ａ、１０ｂの各々は、経路Ｒ１に接続される送受信部３０２、経路Ｒ２に接続される受信部３０４、および第１の記憶部１２ａ、１２ｂに接続される選択部３０６を有してもよい。
【００４６】
チップセット５０は、ＢＭＣ７０、カードスロット６０ａ、６０ｂに接続されるカード２００（２００ａ、２００ｂ）等の電子部品、キーボード１１０およびマウス１２０と、ＣＰＵ３０との間でのデータ等の情報の入出力を管理する。
【００４７】
ＢＭＣ７０は、ＣＰＵ３０に供給される電源電圧、ＣＰＵ３０に供給されるクロックの周波数、および図示しないファンの回転数等を制御する。また、ＢＭＣ７０は、チップセット５０を介してＣＰＵ３０から転送されるイベント情報ＥＶをＨＤＤ１３０に割り当てられたログデータベースＬＤＢに格納する機能を有する。なお、ログデータベースＬＤＢは、ＢＭＣ７０内に設けられてもよい。ログデータベースＬＤＢは、ＣＰＵから転送されるイベント情報ＥＶが格納される第２の記憶部の一例である。
【００４８】
さらに、ＢＭＣ７０は、経路Ｒ２１−Ｒ２６を介してスイッチ８０のポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６に接続された装着部品（カード２００、ＨＤＤ３００または光学ドライブ４００等）と通信する機能を有する。ＢＭＣ７０と装着部品とは、Ｉ２Ｃ（Inter-Integrated Circuit；登録商標）方式またはＳＰＩ（Serial Peripheral Interface；登録商標）方式等を使用して通信する。例えば、ＢＭＣ７０は、ログデータベースＬＤＢに保持されたイベント情報ＥＶから抽出した所定のイベント情報ＥＶを、スイッチ８０および経路Ｒ２１−Ｒ２６のいずれかを介して装着部品に送信する。イベント情報ＥＶを受信した装着部品は、内蔵する不揮発性メモリ５００にイベント情報を格納する。
【００４９】
スイッチ８０は、ＢＭＣ７０に接続されたポートＰ０と、経路Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２６のそれぞれに接続されたポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６とを有する。以下の説明では、便宜上、ポートＰ０は、入力ポートＰとも称され、ポートＰ１−Ｐ６は、出力ポートＰとも称される。スイッチ８０は、ＢＭＣ７０から受信する制御信号ＣＮＴＬに基づいて、入力ポートＰ０を出力ポートＰ１−Ｐ６のいずれかに接続する。なお、出力ポートＰ１−Ｐ６の数は、６個に限定されない。
【００５０】
図４は、図３に示すＢＭＣ７０の一例を示す。ＢＭＣ７０は、格納処理部７１、監視部７２、選択部７３、出力処理部７４、接続検出部７５およびログリスト７６を有する。図４に示す例では、格納処理部７１、監視部７２、選択部７３、出力処理部７４および接続検出部７５は、ＢＭＣ７０が実行するプログラムＰＧＭにより実現される。しかしながら、格納処理部７１、監視部７２、選択部７３、出力処理部７４および接続検出部７５は、ＢＭＣ７０に搭載されるハードウェアにより実現されてもよい。なお、格納処理部７１、監視部７２、選択部７３、出力処理部７４、接続検出部７５およびログリスト７６は、ＢＭＣ７０とは別のコントローラ内に設けられてもよい。
【００５１】
格納処理部７１は、ＣＰＵ３０から順次転送されるイベント情報ＥＶ（正常情報ＮＲＭ、異常情報ＡＢＮまたは故障情報ＦＡＩＬ）をログデータベースＬＤＢに格納し、格納したイベント情報ＥＶを監視部７２に通知する。なお、ログデータベースＬＤＢには、イベント情報ＥＶが、イベント情報ＥＶの発生時刻順に格納される。格納処理部７１の動作は、図１に示す格納処理部１４の動作と同様である。
【００５２】
監視部７２は、格納処理部７１から通知されるイベント情報ＥＶを監視し、イベント情報ＥＶが故障情報ＦＡＩＬである場合、故障情報ＦＡＩＬの検出を示す検出情報ＦＤＥＴを選択部７３に出力する。監視部７２の動作は、図１に示す監視部１６の動作と同様である。
【００５３】
選択部７３は、監視部７２から出力される検出情報ＦＤＥＴに基づいて、ログデータベースＬＤＢに格納されたイベント情報ＥＶのうち、監視部７２が検出した故障情報ＦＡＩＬと、異常な動作状況を示す異常情報ＡＢＮとを選択する。この際、選択部７３は、故障情報ＦＡＩＬが発生した時刻である基準時刻から所定の時間遡った時刻までの範囲（検索範囲）内で発生した異常情報ＡＢＮをログデータベースＬＤＢから選択する。なお、イベント情報ＥＶの発生時刻は、イベント情報ＥＶ内に含まれる。そして、選択した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮをログリスト７６に登録する。
【００５４】
選択部７３は、検索範囲内で少なくとも１つの異常情報ＡＢＮを検出した場合、発生時刻が最も早い異常情報ＡＢＮの発生時刻を新たな基準時刻として、新たな検索範囲を設定する。検索範囲内に異常情報ＡＢＮが含まれない場合、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢからの異常情報ＡＢＮの選択動作を終了する。新たな検索範囲を設定した場合、選択部７３は、新たな検索範囲内に含まれる異常情報ＡＢＮをログデータベースＬＤＢから選択し、選択した異常情報ＡＢＮをログリスト７６に登録する。検索範囲内に異常情報ＡＢＮが含まれない場合、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢからの異常情報ＡＢＮの選択動作を終了する。このように、選択部７３は、所定期間の異常情報ＡＢＮの検索を完了するか、検索範囲内で異常情報ＡＢＮが検出されなくなるまで、ログデータベースＬＤＢからの異常情報ＡＢＮを選択する動作を繰り返す。選択部７３の動作の例は、図９および図１０に示される。
【００５５】
なお、選択部７３は、抽出範囲の設定回数が所定数（例えば、５回）に達した場合に、ログデータベースＬＤＢからの異常情報ＡＢＮの選択動作を終了してもよい。また、選択部７３は、検索範囲を設定することなく、故障情報ＦＡＩＬが発生した時刻から所定期間（例えば、５回の抽出範囲に相当する期間）に発生した異常情報ＡＢＮを検索してもよい。異常情報ＡＢＮの選択動作を終了した後、選択部７３は、ログリスト７６に登録した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品に出力する出力要求ＯＵＴＲＥＱを出力処理部７４に出力する。
【００５６】
出力処理部７４は、出力要求ＯＵＴＲＥＱに基づいて、ログリスト７６に登録された故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを読み出す。出力処理部７４は、読み出した故障情報ＦＡＩＬに含まれる情報のうち、装着部品を識別する固有情報ＵＩＤに基づいて経路テーブル７７を参照し、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品が接続された出力ポートＰ（Ｐ１−Ｐ６のいずれか）を検出する。そして、出力処理部７４は、検出結果に基づいて、入力ポートＰ０を、故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品に接続された出力ポートＰに接続させる制御信号ＣＮＴＬをスイッチ８０に出力する。スイッチ８０は、制御信号ＣＮＴＬに基づいて切り替わる。
【００５７】
スイッチ８０の接続が切り替わった後、出力処理部７４は、ログリスト７６から読み出した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、スイッチ８０と図３に示す経路Ｒ２１−Ｒ２６のいずれかとを介して故障情報ＦＡＩＬを出力した装着部品に送信する。故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品は、受信した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、内蔵する不揮発性メモリ５００に格納する。
【００５８】
なお、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから選択した故障情報ＦＡＩＬを出力処理部７４に出力してもよい。この場合、出力処理部７４は、故障情報ＦＡＩＬに含まれる固有情報ＵＩＤに基づいて、ログリスト７６から異常情報ＡＢＮを読み出す前に、制御信号ＣＮＴＬを生成してスイッチ８０の接続を切り替えることができる。これにより、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮの装着部品への転送を、故障情報ＦＡＩＬを選択部７３から受信しない場合に比べて早く開始することができる。
【００５９】
また、図１の説明と同様に、出力処理部７４は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを装着部品の不揮発性メモリ５００に直接書き込んでもよい。さらに、装着部品が、自身で発生した故障情報ＦＡＩＬを不揮発性メモリ５００に格納する機能を有する場合、出力処理部７４は、故障情報ＦＡＩＬのスイッチ８０への出力を省略できる。この場合、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから故障情報ＦＡＩＬを選択したことに基づいて、出力要求ＯＵＴＲＥＱを生成するが、故障情報ＦＡＩＬをログリスト７６に登録しない。
【００６０】
経路テーブル７７は、スイッチ８０の出力ポートＰ１−Ｐ６にそれぞれ接続された装着部品を識別する情報を保持する。すなわち、経路テーブル７７は、出力ポートＰ１−Ｐ６と装着部品との接続関係を示す接続情報を保持する。換言すれば、経路テーブル７７には、装着部品を識別する固有情報ＵＩＤが、装着部品が接続された出力ポート（Ｐ１−Ｐ６のいずれか）に対応付けて格納される。例えば、経路テーブル７７は、出力ポートＰ１−Ｐ６にそれぞれ対応して装着部品を識別する固有情報ＵＩＤを格納する情報格納領域を有する。なお、経路テーブル７７は、ＢＭＣ７０が有するＳＲＡＭまたはフラッシュメモリ等、出力処理部７４の外部に設けられてもよい。
【００６１】
図４では、説明を分かりやすくするため、経路テーブル７７の情報格納領域には、カード２００、ＨＤＤ３００および光学ドライブ４００の符号が、装着部品の固有情報ＵＩＤとして格納される。なお、情報格納領域には、製造番号を含む情報、または装着部品の型式と製造番号とを組み合わせた情報等、装着部品を互いに識別できる固有情報ＵＩＤが格納されてもよい。
【００６２】
接続検出部７５は、出力処理部７４が所定の時間間隔で順次生成する制御信号ＣＮＴＬに対応して入力ポートＰ０に交互に接続される出力ポートＰの電圧レベルを監視する。接続検出部７５は、出力ポートＰの電圧レベルの変化に基づいて、電子部品が出力ポートＰに接続されたことを検出し、検出結果を出力処理部７４に通知する。なお、接続検出部７５は、出力ポートＰの電圧レベルの変化に基づいて、電子部品が出力ポートＰから外されたことを検出し、検出結果を出力処理部７４に通知してもよい。
【００６３】
出力処理部７４は、接続検出部７５から電子部品の接続の通知を受信した場合、制御信号ＣＮＴＬの切り替えを停止し、出力ポートＰに新たに接続された電子部品と通信する。そして、出力処理部７４は、スイッチ８０を介して、電子部品を他の電子部品と識別可能な固有情報ＵＩＤを電子部品に通知し、固有情報ＵＩＤを電子部品に登録させる。例えば、電子部品は、接続検出部７５から通知された固有情報ＵＩＤを不揮発性メモリ５００に格納する。なお、電子部品が、過去に情報処理装置ＩＰＥ２に接続され、固有情報ＵＩＤを記憶している場合、出力処理部７４は、電子部品に過去に登録させた固有情報ＵＩＤを電子部品から受信する。出力処理部７４は、経路テーブル７７において、接続が検出された出力ポートＰに対応する情報格納領域に固有情報ＵＩＤを登録する。出力処理部７４は、接続検出部７５から電子部品の接続の解除の通知を受信する場合、経路テーブル７７において、接続が解除された出力ポートＰに対応する経路テーブル７７の情報格納領域に保持された固有情報ＵＩＤを削除してもよい。
【００６４】
図５は、図４に示すログデータベースＬＤＢに格納される情報の一例を示す。ログデータベースＬＤＢは、固有情報ＵＩＤ、イベントの発生日時、イベントの内容およびイベントのレベルが格納される領域を含む複数のエントリを有する。ログデータベースＬＤＢに格納される固有情報ＵＩＤ、イベントの発生日時、イベントの内容およびイベントのレベルは、装着部品から出力されるイベント情報ＥＶに含まれる。
【００６５】
イベントの内容において、”デバイスの接続”は、カード２００が電子部品の接続を検出したことを示す。”データ書き込み”は、ＨＤＤ３００がデータを書き込み、または光学ドライブ４００が光ディスクにデータを書き込んだことを示す。”送信エラー”は、カード２００によるＨＤＤ３００または光学ドライブ４００へのデータの送信が失敗したことを示す。”書き込みエラー”は、ＨＤＤ３００または光学ドライブ４００が実行したデータの書き込みでエラーが発生したことを示す。”データ読み出し”は、ＨＤＤ３００がデータを読み出し、または光学ドライブ４００が光ディスクからデータを読み出したことを示す。”受信エラー”は、カード２００によるＨＤＤ３００または光学ドライブ４００からのデータの受信が失敗したことを示す。”書き込み故障”は、ＨＤＤ３００または光学ドライブ４００が実行したデータの書き込みにおいて、エラーが所定回数連続して発生したことを示す。
【００６６】
”デバイスの接続”、”データ書き込み”および”データ読み出し”は、正常な動作であるため、レベルは、”ＮＲＭ”（すなわち正常情報ＮＲＭ）である。”送信エラー”、”受信エラー”、”書き込みエラー”は、リトライ可能なエラーであるため、レベルは、”ＡＢＮ”（すなわち異常情報ＡＢＮ）である。これに対して、”書き込み故障”は、リトライによっても回復できないエラーであるため、故障と判定され、レベルは、”ＦＡＩＬ”（すなわち故障情報ＦＡＩＬ）である。
【００６７】
図４に示す選択部７３は、ログデータベースＬＤＢに格納されたイベント情報ＥＶのうち、レベルが”ＦＡＩＬ”と”ＡＢＮ”であるイベント情報ＥＶを故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮとして選択する。
【００６８】
図６は、図３に示す情報処理装置ＩＰＥ２の動作の一例を示す。すなわち、図６は、情報処理装置ＩＰＥ２の制御方法の一例を示し、図６に示すＢＭＣ７０の動作は、情報処理装置ＩＰＥ２の制御プログラムの一例を示す。図６において、電子部品１および電子部品２は、図３に示すカード２００、ＨＤＤ３００または光学ドライブ４００等である。なお、図６では、説明を分かりやすくするために、２つの電子部品１、２が情報処理装置ＩＰＥ２に接続される例を示すが、３個以上の電子部品が情報処理装置ＩＰＥ２に接続されても、図６と同様に動作する。
【００６９】
まず、図４に示すＢＭＣ７０の接続検出部７５は、スイッチ８０を順次切り替えながら各出力ポートＰの電圧レベルを検出し、電子部品１が、情報処理装置ＩＰＥ２に接続され、経路Ｒ２のいずれかを介してスイッチ８０に接続されたことを検出する（図６（ａ））。ＢＭＣ７０の出力処理部７４は、接続検出部７５による検出に基づいて、スイッチ８０および経路Ｒ２を介して電子部品１に固有情報ＵＩＤの通知を要求する（図６（ｂ））。すなわち、ＢＭＣ７０は、電子部品１に固有情報ＵＩＤを問い合わせる。
【００７０】
電子部品１は、情報処理装置ＩＰＥ２に初めて装着され、固有情報ＵＩＤが割り当てられていない。このため、電子部品１は、固有情報ＵＩＤを保持しておらず、固有情報ＵＩＤが割り当てられていないことを示す初期値ＵＩＤ０を、経路Ｒ２およびスイッチ８０を介して出力処理部７４に通知する（図６（ｃ））。
【００７１】
出力処理部７４は、固有情報ＵＩＤ０の受信に基づいて、電子部品１に割り当てる新規の固有情報ＵＩＤを生成し、生成した固有情報ＵＩＤを、電子部品１が接続された出力ポートＰに対応付けて経路テーブル７７に登録する。また、出力処理部７４は、生成した固有情報ＵＩＤをスイッチ８０および経路Ｒ２を介して電子部品１に通知する（図６（ｄ））。電子部品１は、ＢＭＣ７０の出力処理部７４から通知された固有情報ＵＩＤを不揮発性メモリ５００に記憶させる（図６（ｅ））。これにより、この後、電子部品１は、ＢＭＣ７０が生成した固有情報ＵＩＤを含むイベント情報ＥＶをイベントの発生毎に入出力バスＩＯＢを介してＣＰＵ３０およびＢＭＣ７０に通知することができる。
【００７２】
次に、接続検出部７５は、電子部品２が情報処理装置ＩＰＥ２に接続され、電子部品１が経路Ｒ２を介してスイッチ８０に接続されたことを検出する（図６（ｆ））。出力処理部７４は、スイッチ８０および経路Ｒ２を介して電子部品２に固有情報ＵＩＤの通知を要求する（図６（ｇ））。
【００７３】
電子部品２は、情報処理装置ＩＰＥ２に過去に接続されたことがあり、過去に割り当てられた固有情報ＵＩＤを不揮発性メモリ５００に記憶している。この場合、電子部品２は、不揮発性メモリ５００から固有情報ＵＩＤを読み出し、読み出した固有情報ＵＩＤを経路Ｒ２およびスイッチ８０を介してＢＭＣ７０に通知する（図６（ｈ））。出力処理部７４は、電子部品２から受信した固有情報ＵＩＤを、電子部品２が接続された出力ポートＰに対応付けて経路テーブル７７に登録する。この後、電子部品２は、過去にＢＭＣ７０が生成した固有情報ＵＩＤを含むイベント情報ＥＶをイベントの発生毎に入出力バスＩＯＢに出力する。
【００７４】
このように、電子部品１、２が、経路Ｒ２のいずれかを介してスイッチ８０の出力ポートＰのいずれかに接続される毎に、ＢＭＣ７０は、電子部品１、２の固有情報ＵＩＤを出力ポートＰに対応付けて経路テーブル７７に登録する。なお、ＢＭＣ７０は、固有情報ＵＩＤの経路テーブル７７への登録により、固有情報ＵＩＤが経路テーブル７７の複数のエントリに重複して保持される場合、固有情報を既に保持しているエントリから固有情報ＵＩＤを削除する。これにより、出力処理部７４は、経路テーブル７７を参照することで、固有情報ＵＩＤを割り当てた電子部品１、２が接続された出力ポートＰを検出することができる。
【００７５】
さらに、出力処理部７４は、過去に情報処理装置ＩＰＥ２に接続され、固有情報ＵＩＤを割り当て済みの電子部品２に対して、固有情報ＵＩＤの再割り当てを実行しない。これにより、電子部品２に固有情報ＵＩＤを割り当てる処理を省略することができ、電子部品２の情報処理装置ＩＰＥ２への接続時の処理を簡略化することができる。
【００７６】
電子部品１、２が情報処理装置ＩＰＥ２に接続された後、ＢＭＣ７０は、ＣＰＵ３０を介して、電子部品１、２からイベント情報ＥＶを受信する（図６（ｉ））。イベント情報ＥＶは、正常情報ＮＲＭ、異常情報ＡＢＮまたは故障情報ＦＡＩＬのいずれかである。
【００７７】
ＢＭＣ７０の格納処理部７１は、イベント情報ＥＶを受信する毎に、受信したイベント情報ＥＶをログデータベースＬＤＢに格納する（図６（ｊ））。情報処理装置ＩＰＥ２に接続された電子部品１、２は、ＢＭＣ７０に割り当てられた固有情報ＵＩＤを含むイベント情報ＥＶを出力する。これにより、ログデータベースＬＤＢに格納されたイベント情報ＥＶを参照することで、イベント情報ＥＶを発生した電子部品１、２が接続された出力ポートＰを識別することができる。
【００７８】
ＢＭＣ７０の監視部７２は、故障情報ＦＡＩＬの受信を検出する。ＢＭＣ７０の選択部７３は、監視部７２による故障情報ＦＡＩＬの検出に基づいて、ログデータベースＬＤＢから故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを読み出し、読み出した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮをログリスト７６に格納する（図６（ｋ））。
【００７９】
出力処理部７４は、選択部７３によるログデータベースＬＤＢへの故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮの格納に基づいて、故障情報ＦＡＩＬに含まれる固有情報ＵＩＤを用いて経路テーブル７７を参照する。そして、出力処理部７４は、故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品（この例では、電子部品２）が接続された出力ポートＰを検出する。出力処理部７４は、スイッチ８０を制御して、入力ポートＰ０を、故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品２に接続された出力ポートＰに接続する。
【００８０】
そして、出力処理部７４は、ログリスト７６に格納された故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、スイッチ８０および経路Ｒ２を介して故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品２に出力する（図６（ｌ））。このように、出力処理部７４は、経路テーブル７７を参照することで、故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品２であって、任意の出力ポートＰに接続された電子部品２に故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを出力することができる。
【００８１】
なお、出力処理部７４は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを電子部品２に出力する際に、経路テーブル７７に保持する固有情報ＵＩＤと出力ポートＰとの関係を示す接続情報を電子部品２に出力してもよい。この場合、電子部品の故障の原因を解析する解析者等は、情報処理装置ＩＰＥ２の使用者等に問い合わせることなく、故障情報ＦＡＩＬが発生したときの情報処理装置ＩＰＥ２への電子部品１、２の接続状況を把握することができる。この結果、接続情報を電子部品２に出力しない場合に比べて、故障の原因を特定しやすくすることができる。
【００８２】
図７は、図４に示すＢＭＣが出力ポートＰへの電子部品の接続を検出した場合の動作の一例を示す。すなわち、図７は、情報処理装置ＩＰＥ２の制御方法および情報処理装置ＩＰＥ２の制御プログラムの一例を示す。図７に示す処理は、図６において、電子部品１、２の各々に固有情報ＵＩＤの通知を要求してから、経路テーブル７７に固有情報ＵＩＤを登録するまでの処理を示し、図４に示す出力処理部７４により実行される。
【００８３】
まず、ステップＳ１００において、出力処理部７４は、情報処理装置ＩＰＥ２に接続された電子部品から固有情報の初期値ＵＩＤ０を受信したか否かを判定する。出力処理部７４は、初期値ＵＩＤ０を受信した場合、電子部品が情報処理装置ＩＰＥ２に初めて接続されたと判断し、処理をステップＳ１１２に移行する。出力処理部７４は、初期値ＵＩＤ０を受信しない場合、すなわち、初期値ＵＩＤ０以外の固有情報ＵＩＤを受信した場合、情報処理装置ＩＰＥ２に過去に接続された電子部品が、情報処理装置ＩＰＥ２に接続されたと判断し、処理をステップＳ１０２に移行する。
【００８４】
ステップＳ１０２において、出力処理部７４は、経路テーブル７７のエントリの１つを参照する。次に、ステップＳ１０４において、出力処理部７４は、電子部品から受信した固有情報ＵＩＤと、参照したエントリに含まれる固有情報ＵＩＤとが一致するか否かを判定する。出力処理部７４は、固有情報ＵＩＤが一致する場合、電子部品が情報処理装置ＩＰＥ２から一時的に外された後、情報処理装置ＩＰＥ２に再び接続されたと判断し、処理をステップＳ１０８に移行する。出力処理部７４は、固有情報ＵＩＤが一致しない場合、次のエントリを参照するために、処理をステップＳ１０６に移行する。
【００８５】
ステップＳ１０６において、出力処理部７４は、経路テーブル７７の全てのエントリを参照したか否かを判定する。出力処理部７４は、全てのエントリを参照済みの場合、過去に情報処理装置ＩＰＥ２に接続された電子部品、または、他の情報処理装置に接続された電子部品が、情報処理装置ＩＰＥ２に接続されたと判断し、処理をステップＳ１１２に移行する。出力処理部７４は、参照していないエントリがある場合、次のエントリを参照するために、処理をステップＳ１０２に戻す。なお、電子部品に一度登録された固有情報ＵＩＤを使い続ける場合、ステップＳ１０６で全てのエントリが参照済みであると判定された後、処理はステップＳ１１２ではなく、ステップＳ１１６に移行されてもよい。
【００８６】
ステップＳ１０８において、出力処理部７４は、電子部品の接続を検出した出力ポートＰと、固有情報ＵＩＤが一致したエントリの出力ポートＰとが一致するか否かを判定する。出力処理部７４は、出力ポートＰが一致する場合、電子部品が一時的に出力ポートＰから外された後、同じ出力ポートＰに再び接続されたと判断し、経路テーブル７７を更新することなく処理を終了する。出力処理部７４は、出力ポートＰが一致しない場合、経路テーブル７７における対応するエントリが、実際の接続状態を示していない古いエントリであると判断し、処理をステップＳ１１０に移行する。
【００８７】
ステップＳ１１０において、出力処理部７４は、経路テーブル７７における古いエントリに保持された固有情報ＵＩＤを削除し、処理をステップＳ１１６に移行する。
【００８８】
一方、ステップＳ１１２において、出力処理部７４は、情報処理装置ＩＰＥ２に接続された電子部品に割り当てる固有情報ＵＩＤを生成する。次に、ステップＳ１１４において、出力処理部７４は、生成した固有情報ＵＩＤをスイッチ８０および経路Ｒ２を介して電子部品に通知する。次に、ステップＳ１１６において、出力処理部７４は、生成した固有情報ＵＩＤを、経路テーブル７７において、電子部品が接続された経路Ｒ２に対応するエントリに格納し、処理を終了する。
【００８９】
図８は、図４に示すＢＭＣ７０がログデータベースＬＤＢにイベント情報ＥＶを格納する動作の一例を示す。すなわち、図８は、情報処理装置ＩＰＥ２の制御方法および情報処理装置ＩＰＥ２の制御プログラムの一例を示す。図８に示す処理は、図４に示す格納処理部７１および監視部７２により実行される。
【００９０】
まず、ステップＳ２００において、格納処理部７１は、現在時刻より所定時間以上前に発生した古いイベント情報ＥＶがログデータベースＬＤＢに保持されているか否かを判定する。ログデータベースＬＤＢが古いイベント情報ＥＶを保持している場合、処理はステップＳ２０２に移行され、ログデータベースＬＤＢが古いイベント情報ＥＶを保持していない場合、処理はステップＳ２０４に移行される。ステップＳ２０２において、格納処理部７１は、ステップＳ２００で検出した古いイベント情報ＥＶを削除し、処理をステップＳ２０４に移行する。
【００９１】
ステップＳ２０４において、格納処理部７１は、ＣＰＵ３０からイベント情報ＥＶを受信した場合、処理をステップＳ２０６に移行し、ＣＰＵ３０からイベント情報ＥＶを受信しない場合、処理をステップＳ２００に戻す。ステップＳ２０６において、格納処理部７１は、受信したイベント情報ＥＶをログデータベースＬＤＢに格納し、ログデータベースＬＤＢに格納したイベント情報ＥＶを監視部７２に通知する。
【００９２】
次に、ステップＳ２０８において、監視部７２は、格納処理部７１から通知されたイベント情報ＥＶに基づいて、ログデータベースＬＤＢに格納されたイベント情報ＥＶが故障情報ＦＡＩＬか否かを判定する。イベント情報ＥＶが故障情報ＦＡＩＬの場合、処理はステップＳ２１０に移行され、イベント情報ＥＶが故障情報ＦＡＩＬでない場合（すなわち、正常情報ＮＲＭまたは異常情報ＡＢＮの場合）、処理はステップＳ２００に戻る。ステップＳ２１０において、監視部７２は、故障情報ＦＡＩＬが発生したことの検出を示す検出情報ＦＤＥＴを選択部７３に出力し、処理を終了する。
【００９３】
図９は、図４に示すＢＭＣ７０がログデータベースＬＤＢから選択した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮをログリスト７６に格納する動作の一例を示す。すなわち、図９は、情報処理装置ＩＰＥ２の制御方法および情報処理装置ＩＰＥ２の制御プログラムの一例を示す。図９に示す処理は、監視部７２から検出情報ＦＤＥＴを受信した選択部７３（図４）により実行される。
【００９４】
まず、ステップＳ３００において、選択部７３は、ログリスト７６に保持されている故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを削除する。次に、ステップＳ３０２において、選択部７３は、故障情報ＦＡＩＬの発生時刻（起点）から第１の期間Δｔ遡った時刻（終点）までの期間を、異常情報ＡＢＮを検索する検索範囲に設定する。次に、ステップＳ３０４において、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢに保持されたイベント情報ＥＶのうち、発生時刻が検索範囲内にある全てのイベント情報ＥＶをログデータベースＬＤＢから読み出す。
【００９５】
次に、ステップＳ３０６において、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから読み出したイベント情報ＥＶを発生時刻の新しい順に選択する。次に、ステップＳ３０８において、選択部７３は、選択したイベント情報ＥＶが異常情報ＡＢＮの場合、処理をステップ３１０に移行し、選択したイベント情報ＥＶが異常情報ＡＢＮでない場合（すなわち正常情報ＮＲＭの場合）、処理をステップ３１２に移行する。ステップＳ３１０において、選択部７３は、選択した異常情報ＡＢＮをログリスト７６に格納し、処理をステップＳ３１２に移行する。
【００９６】
ステップＳ３１２において、選択部７３は、検索範囲内の全てのイベント情報ＥＶを選択した場合、処理をステップＳ３１４に移行し、検索範囲内に選択していないイベント情報ＥＶがある場合、処理をステップＳ３０６に戻す。ステップＳ３１４において、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから読み出した検索範囲内のイベント情報ＥＶに異常情報ＡＢＮが存在した否かを判定する。検索範囲内に異常情報ＡＢＮが存在した場合、処理はステップＳ３１６に移行され、検索範囲内に異常情報ＡＢＮが存在しなかった場合、処理はステップＳ３２０に移行する。
【００９７】
次に、ステップＳ３１６において、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから読み出した検索範囲内に存在する異常情報ＡＢＮのうち、発生時刻が最も古い異常情報ＡＢＮを検出する。選択部７３は、検出した異常情報ＡＢＮの発生時刻を新たな起点として、起点から第１の期間Δｔ遡った時刻（終点）までの期間を、異常情報ＡＢＮを検索する新たな検索範囲に設定する。
【００９８】
次に、ステップＳ３１８において、選択部７３は、検索範囲を設定した回数が所定の回数Ｎ（例えば、５回）を超えた場合、処理をステップＳ３２０に移行する。選択部７３は、検索範囲を設定した回数が所定の回数Ｎ以下の場合、処理をステップＳ３０６に戻し、ステップＳ３１６で設定した新たな検索範囲に存在する異常情報ＡＢＮを検出する処理を実行する。
【００９９】
次に、ステップＳ３２０において、選択部７３は、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品を示す固有情報ＵＩＤとともに、出力要求ＯＵＴＲＥＱを出力処理部７４に出力し、処理を終了する。
【０１００】
図１０は、図９に示す処理により、ログデータベースＬＤＢから故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを抽出する処理の一例を示す。図１０に示す例では、４個の電子部品１、電子部品２、電子部品３、電子部品４が情報処理装置ＩＰＥ２に接続される。説明を分かりやすくするため、ログデータベースＬＤＢに保持されたイベント情報ＥＶ（正常情報ＮＲＭ、異常情報ＡＢＮまたは故障情報ＦＡＩＬ）は、電子部品毎に時系列で示される。
【０１０１】
まず、選択部７３は、故障情報ＦＡＩＬの発生時刻から第１の期間Δｔ遡った時刻までの期間を検索範囲ＳＲ１に設定し、検索範囲ＳＲ１に存在する異常情報ＡＢＮを抽出する。
【０１０２】
検索範囲ＳＲ１に異常情報ＡＢＮが存在するため、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから読み出した検索範囲ＳＲ１に存在する異常情報ＡＢＮのうち、発生時刻が最も古い異常情報ＡＢＮを検出する。選択部７３は、検出した異常情報ＡＢＮの発生時刻を新たな起点として、起点から第１の期間Δｔ遡った時刻までの期間を新たな検索範囲ＳＲ２に設定し、検索範囲ＳＲ２に存在する異常情報ＡＢＮを抽出する。
【０１０３】
検索範囲ＳＲ２に異常情報ＡＢＮが存在するため、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから読み出した検索範囲ＳＲ２に存在する異常情報ＡＢＮのうち、発生時刻が最も古い異常情報ＡＢＮを検出する。選択部７３は、検出した異常情報ＡＢＮの発生時刻を新たな起点として、起点から第１の期間Δｔ遡った時刻までの期間を新たな検索範囲ＳＲ３に設定し、検索範囲ＳＲ３に存在する異常情報ＡＢＮを抽出する。
【０１０４】
検索範囲ＳＲ３に異常情報ＡＢＮが存在するため、選択部７３は、ログデータベースＬＤＢから読み出した検索範囲ＳＲ３に存在する異常情報ＡＢＮのうち、発生時刻が最も古い異常情報ＡＢＮを検出する。選択部７３は、検出した異常情報ＡＢＮの発生時刻を新たな起点として、起点から第１の期間Δｔ遡った時刻までの期間を新たな検索範囲ＳＲ４に設定し、検索範囲ＳＲ４に存在する異常情報ＡＢＮを抽出する。
【０１０５】
図１０に示す例では、検索範囲ＳＲ４に異常情報ＡＢＮは存在しないため、ログデータベースＬＤＢからの異常情報ＡＢＮの抽出が終了する。なお、図９に示すステップＳ３１８において、所定の回数Ｎが３回の場合、選択部７３は、検索範囲ＳＲ３に存在する異常情報ＡＢＮを抽出した後、ログデータベースＬＤＢからの異常情報ＡＢＮの抽出を終了する。
【０１０６】
図１０では、故障情報ＦＡＩＬの発生時刻または異常情報ＡＢＮの発生時刻を起点として、第１の期間Δｔに異常情報ＡＢＮが発生したか否かに基づいて、異常情報ＡＢＮをさらに抽出するか否かが決められる。このため、異常情報ＡＢＮを抽出する期間は、異常情報ＡＢＮの発生頻度に応じて変化する。したがって、故障情報ＦＡＩＬの発生時刻から予め決められた固定期間に発生した異常情報ＡＢＮを抽出する場合に比べて、装着部品の故障に関連する異常情報ＡＢＮを抽出する可能性を高くすることができる。
【０１０７】
図１１は、図４に示すＢＭＣ７０がログリスト７６に格納した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、スイッチ８０および経路Ｒ２を介して故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品に出力する動作の一例を示す。すなわち、図１０は、情報処理装置ＩＰＥ２の制御方法および情報処理装置ＩＰＥ２の制御プログラムの一例を示す。図１０に示す処理は、図４に示す出力処理部７４により実行される。
【０１０８】
まず、ステップＳ４００において、出力処理部７４は、選択部７３から出力される出力要求ＯＵＴＲＥＱおよび固有情報ＵＩＤの受信を待ち、出力要求ＯＵＴＲＥＱおよび固有情報ＵＩＤを受信した場合、処理をステップＳ４０２に移行する。ステップＳ４０２において、出力処理部７４は、選択部７３から受信した固有情報ＵＩＤを含むエントリを経路テーブル７７から検索する。
【０１０９】
次に、ステップＳ４０４において、出力処理部７４は、固有情報ＵＩＤを含むエントリから出力ポートＰを取得する。次に、ステップＳ４０６において、出力処理部７４は、制御信号ＣＮＴＬをスイッチ８０に出力し、スイッチ８０の入力ポートＰ０を、ステップＳ４０４で取得した出力ポートＰに接続する。これにより、スイッチ８０の入力ポートＰ０は、出力ポートＰおよび経路Ｒ２を介して、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品に接続される。
【０１１０】
次に、ステップＳ４０８において、出力処理部７４は、スイッチ８０および経路Ｒ２を介して、ログリスト７６に格納された故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品に出力し、処理を終了する。故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品は、受信した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを不揮発性メモリ５００に格納する。すなわち、出力処理部７４は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品の不揮発性メモリ５００に格納させる。
【０１１１】
以上、図３から図１１に示す実施形態においても、図１および図２に示す実施形態と同様の効果を得ることができる。すなわち、ＢＭＣ７０は、故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを、通常動作で使用する入出力バスＩＯＢとは別の経路Ｒ２１−Ｒ２６に転送する。このため、装着部品が発生した故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを他の装着部品が発生した異常情報ＡＢＮとともに、故障の影響を受けることなく故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品に格納することができる。この結果、例えば、故障情報ＦＡＩＬを発生した装着部品を用いて、情報処理装置ＩＰＥ２が設置される場所と別の場所で、故障情報ＦＡＩＬが発生した原因を解析する場合、故障の原因を特定できる可能性を高くすることができる。
【０１１２】
さらに、図３から図１１に示す実施形態では、以下の効果を得ることができる。すなわち、第１の期間Δｔを繰り返し設定し、ログデータベースＬＤＢに保持された異常情報ＡＢＮを抽出することで、固定期間に発生した異常情報ＡＢＮを抽出する場合に比べて、装着部品の故障に関連する異常情報ＡＢＮを抽出する可能性を高くすることができる。
【０１１３】
電子部品が情報処理装置ＩＰＥ２に接続される毎に、ＢＭＣ７０は、電子部品の固有情報ＵＩＤを出力ポートＰに対応付けて経路テーブル７７に登録するため、経路テーブル７７の参照により、電子部品が接続された出力ポートＰを検出することができる。換言すれば、図６に示すように、出力処理部７４は、経路テーブル７７を参照することで、故障情報ＦＡＩＬを発生した電子部品２であって、任意の出力ポートＰに接続された電子部品２に故障情報ＦＡＩＬおよび異常情報ＡＢＮを出力することができる。固有情報ＵＩＤを割り当て済みの電子部品に対して、固有情報ＵＩＤの再割り当てを実行しないため、電子部品の情報処理装置ＩＰＥ２への接続時の処理を簡略化することができる。
【０１１４】
以上の詳細な説明により、実施形態の特徴点および利点は明らかになるであろう。これは、特許請求の範囲がその精神および権利範囲を逸脱しない範囲で前述のような実施形態の特徴点および利点にまで及ぶことを意図するものである。また、当該技術分野において通常の知識を有する者であれば、あらゆる改良および変更に容易に想到できるはずである。したがって、発明性を有する実施形態の範囲を前述したものに限定する意図はなく、実施形態に開示された範囲に含まれる適当な改良物および均等物に拠ることも可能である。
【符号の説明】
【０１１５】
２…制御部；４…切替部；６…管理部；８ａ、８ｂ…装着部；１０ａ、１０ｂ…電子部品；１２ａ、１２ｂ…第１の記憶部；１４…格納処理部；１６…監視部；１８…選択部；２０…出力処理部；２２…第２の記憶部；２４…経路テーブル；３０…ＣＰＵ；４０…メモリ；５０…チップセット；６０ａ、６０ｂ…カードスロット；７０…ＢＭＣ；７１…格納処理部；７２…監視部；７３…選択部；７４…出力処理部；７５…接続検出部；７６…ログリスト；８０…スイッチ；１００…マザーボード；１１０…キーボード；１２０…マウス；１３０…ＨＤＤ；２００ａ、２００ｂ…カード；３００ａ、３００ｂ、３００ｃ…ＨＤＤ；３０２…送受信部；３０４…受信部；３０６…選択部；４００…光学ドライブ；５００ａ、５００ｂ、５００ｃ、５００ｄ、５００ｅ、５００ｆ…不揮発性メモリ；ＡＢＮ…異常情報；ＣＮＴＬ…制御信号；ＥＶ…イベント情報；ＦＡＩＬ…故障情報；ＦＤＥＴ…検出情報；ＩＯＢ…入出力バス；ＩＰＥ１、ＩＰＥ２…情報処理装置；ＬＤＢ…ログデータベース；ＮＲＭ…正常情報；Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６…ポート；ＰＧＭ…プログラム；Ｒ１、Ｒ２、Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２６…経路；ＯＵＴＲＥＱ…出力要求
【図１】
2017220022.tif 000003
【図２】
2017220022.tif 000004
【図３】
2017220022.tif 000005
【図４】
2017220022.tif 000006
【図５】
2017220022.tif 000007
【図６】
2017220022.tif 000008
【図７】
2017220022.tif 000009
【図８】
2017220022.tif 000010
【図９】
2017220022.tif 000011
【図１０】
2017220022.tif 000012
【図１１】
2017220022.tif 000013