(57)【要約】【課題】テスト項目情報の品質を確保しやすくなると共に、テスト項目情報の作成に至った経緯を容易に追跡することが可能となる、試験設計支援システム、試験設計支援方法、及び試験設計支援プログラムを提供すること。【解決手段】試験設計支援システム１は、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報と関連付ける機能関連付部６１と、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択された観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報と関連付ける観点関連付部６２と、機能関連付部６１にて関連付けられた機能情報と、観点関連付部６２にて関連付けられた観点情報とに基づいてテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成部６５と、テスト項目情報作成部６５にて作成されたテスト項目情報をディスプレイ３０に表示する表示制御部６６とを備えた。【選択図】図１
2017138851.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援システムであって、
前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段と、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、
を備えた試験設計支援システム。
【請求項２】
前記機能情報を格納する機能情報格納手段と、
前記観点情報を格納する観点情報格納手段と、を備え、
前記表示制御手段は、
前記仕様内容情報格納手段にて格納された前記仕様内容情報を表示する仕様表示領域と、前記機能情報格納手段に格納された前記機能情報及び前記観点情報格納手段に格納された前記観点情報とを表示する機能観点表示領域と、を前記表示手段に表示させ、
前記機能関連付手段は、
前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記機能文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記機能情報の中から取得された前記機能情報と関連付け、
前記観点関連付手段は、
前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記観点文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記観点情報の中から取得された前記観点情報と関連付ける、
請求項１に記載の試験設計支援システム。
【請求項３】
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を階層的に整理する機能整理手段と、
前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報を階層的に整理する観点整理手段と、を備え、
前記テスト項目情報作成手段は、前記機能整理手段にて整理された前記機能情報と、前記観点整理手段にて整理された前記観点情報とに基づいて、前記テスト項目情報を作成する、
請求項１又は２に記載の試験設計支援システム。
【請求項４】
前記機能情報を整理するための指示を特定する機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段を備え、
前記表示制御手段は、
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を表示する機能表示領域と、前記指示情報格納手段に格納された前記機能整理指示情報を表示する機能整理指示表示領域とを前記表示手段に表示させ、
前記機能整理手段は、
前記機能整理指示表示領域に表示された前記機能整理指示情報の中から選択された前記機能整理指示情報に基づいて、前記機能表示領域に表示された前記機能情報を階層的に整理する、
請求項３に記載の試験設計支援システム。
【請求項５】
前記観点情報を整理するための指示を特定する観点整理指示情報を格納する観点整理指示情報格納手段を備え、
前記表示制御手段は、
前記観点関連付手段にて関連付けされた前記観点情報を表示する観点表示領域と、前記観点整理指示情報格納手段に格納された前記観点整理指示情報を表示する観点整理指示領域とを前記表示手段に表示させ、
前記観点整理手段は、
前記観点整理指示領域に表示された前記観点整理指示情報の中から選択された前記観点整理指示情報に基づいて、前記観点表示領域に表示された前記観点情報を階層的に整理する、
請求項３又は４に記載の試験設計支援システム。
【請求項６】
前記テスト項目情報作成手段は、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって前記機能関連付手段によって前記機能情報と関連付けられた機能文字情報を、前記観点整理手段によって階層的に整理された観点情報に関連付け、
当該テスト項目情報作成手段によって前記観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報であって、前記機能整理手段によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成手段によって機能文字情報に関連付けられた観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成する、
請求項３から５のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項７】
前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報同士を相互に関連付ける機能情報相互関連付手段を備え、
前記テスト項目情報作成手段は、前記機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成する、
請求項１から６のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項８】
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択されたテスト条件文字情報であってテストの条件を示すテスト条件を示す文字を特定するテスト条件文字情報と、所定方法で取得されたテスト技法を特定するテスト技法情報とに基づいて、前記テスト条件を特定するテスト条件情報を作成するテスト条件情報作成手段を備え、
前記テスト条件情報作成手段は、
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を前記取得された前記テスト技法情報と関連付けると共に、前記関連付けた前記テスト技法情報を前記選択された前記テスト条件文字情報と関連付け、
前記関連付けられた前記テスト技法情報及び前記テスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成し、
前記表示制御手段は、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報を前記表示手段に表示する、
請求項１から７のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項９】
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報と、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報であってテストの手順を特定するテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報であってテストの実行によって期待される結果を特定する期待結果情報とに基づいて、テストのケースを示すテストケースを特定するテストケース情報を作成するテストケース情報作成手段を備え、
前記表示制御手段は、前記テストケース情報作成手段にて作成された前記テストケース情報を前記表示手段に表示する、
請求項８に記載の試験設計支援システム。
【請求項１０】
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の前記仕様内容情報及び当該更新の後の前記仕様内容情報の各々に含まれる前記機能文字情報又は前記観点文字情報に基づいて、前記仕様内容情報と関連付けられた前記機能情報、前記観点情報、又は前記テスト項目情報を、更新の後の前記仕様内容情報と関連付ける更新手段、
を備えた請求項１から９のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項１１】
試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援方法であって、
機能関連付手段が、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報であって前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付ステップと、
観点関連付手段が、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付ステップと、
テスト項目情報作成手段が、前記機能関連付ステップにおいて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付ステップにおいて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成ステップと、
表示制御手段が、前記テスト項目情報作成ステップにおいて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御ステップと、
を含む試験設計支援方法。
【請求項１２】
コンピュータは、
試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段を備え、
前記コンピュータを、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、
として機能させるための試験設計支援プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験設計支援システム、試験設計支援方法、及び試験設計支援プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、製品（例えば、ソフトウェアプログラム）の品質をテストするための試験の設計を支援する技術の一つとして、テストすべき観点を特定する情報（以下、「テスト観点情報」と称する）、及び製品の機能を所定の観点からテストするためのテスト項目を特定する情報（以下、「テスト項目情報」と称する）の入力をユーザから受け付けて、当該受け付けたテスト観点情報及びテスト項目情報を相互に対応付けて記憶部のテストケース表に記憶するシステムが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−２４８１０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の技術においては、ユーザが独自のロジックを用いて作成したテスト項目情報をテストケース表に入力していたので、各ユーザの技術スキルに応じてテスト項目情報の品質が大きく異なるおそれがあることから、例えば、技術スキルが十分でない技術者がテスト項目情報を作成する場合にテスト項目情報の品質を確保しにくくなる可能性があった。また、テストケース表には単にテスト項目情報が入力されているに過ぎなかったので、テスト項目情報を作成するために用いられた情報を特定しづらいことから、テスト項目情報の作成に至った経緯を追跡することが難しくなる可能性があった。
【０００５】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、テスト項目情報の品質を確保しやすくなると共に、テスト項目情報の作成に至った経緯を容易に追跡することが可能となる、試験設計支援システム、試験設計支援方法、及び試験設計支援プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１に記載の試験設計支援システムは、試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援システムであって、前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段と、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、を備えた。
【０００７】
請求項２に記載の試験設計支援システムは、請求項１に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能情報を格納する機能情報格納手段と、前記観点情報を格納する観点情報格納手段と、を備え、前記表示制御手段は、前記仕様内容情報格納手段にて格納された前記仕様内容情報を表示する仕様表示領域と、前記機能情報格納手段に格納された前記機能情報及び前記観点情報格納手段に格納された前記観点情報とを表示する機能観点表示領域と、を前記表示手段に表示させ、前記機能関連付手段は、前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記機能文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記機能情報の中から取得された前記機能情報と関連付け、前記観点関連付手段は、前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記観点文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記観点情報の中から取得された前記観点情報と関連付ける。
【０００８】
請求項３に記載の試験設計支援システムは、請求項１又は２に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を階層的に整理する機能整理手段と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報を階層的に整理する観点整理手段と、を備え、前記テスト項目情報作成手段は、前記機能整理手段にて整理された前記機能情報と、前記観点整理手段にて整理された前記観点情報とに基づいて、前記テスト項目情報を作成する。
【０００９】
請求項４に記載の試験設計支援システムは、請求項３に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能情報を整理するための指示を特定する機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段を備え、前記表示制御手段は、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を表示する機能表示領域と、前記指示情報格納手段に格納された前記機能整理指示情報を表示する機能整理指示表示領域とを前記表示手段に表示させ、前記機能整理手段は、前記機能整理指示表示領域に表示された前記機能整理指示情報の中から選択された前記機能整理指示情報に基づいて、前記機能表示領域に表示された前記機能情報を階層的に整理する。
【００１０】
請求項５に記載の試験設計支援システムは、請求項３又は４に記載の試験設計支援システムにおいて、前記観点情報を整理するための指示を特定する観点整理指示情報を格納する観点整理指示情報格納手段を備え、前記表示制御手段は、前記観点関連付手段にて関連付けされた前記観点情報を表示する観点表示領域と、前記観点整理指示情報格納手段に格納された前記観点整理指示情報を表示する観点整理指示領域とを前記表示手段に表示させ、前記観点整理手段は、前記観点整理指示領域に表示された前記観点整理指示情報の中から選択された前記観点整理指示情報に基づいて、前記観点表示領域に表示された前記観点情報を階層的に整理する。
【００１１】
請求項６に記載の試験設計支援システムは、請求項３から５のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記テスト項目情報作成手段は、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって前記機能関連付手段によって前記機能情報と関連付けられた機能文字情報を、前記観点整理手段によって階層的に整理された観点情報に関連付け、当該テスト項目情報作成手段によって前記観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報であって、前記機能整理手段によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成手段によって機能文字情報に関連付けられた観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成する。
【００１２】
請求項７に記載の試験設計支援システムは、請求項１から６のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報同士を相互に関連付ける機能情報相互関連付手段を備え、前記テスト項目情報作成手段は、前記機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成する。
【００１３】
請求項８に記載の試験設計支援システムは、請求項１から７のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択されたテスト条件文字情報であってテストの条件を示すテスト条件を示す文字を特定するテスト条件文字情報と、所定方法で取得されたテスト技法を特定するテスト技法情報とに基づいて、前記テスト条件を特定するテスト条件情報を作成するテスト条件情報作成手段を備え、前記テスト条件情報作成手段は、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を前記取得された前記テスト技法情報と関連付けると共に、前記関連付けた前記テスト技法情報を前記選択された前記テスト条件文字情報と関連付け、前記関連付けられた前記テスト技法情報及び前記テスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成し、前記表示制御手段は、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報を前記表示手段に表示する。
【００１４】
請求項９に記載の試験設計支援システムは、請求項８に記載の試験設計支援システムにおいて、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報と、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報であってテストの手順を特定するテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報であってテストの実行によって期待される結果を特定する期待結果情報とに基づいて、テストのケースを示すテストケースを特定するテストケース情報を作成するテストケース情報作成手段を備え、前記表示制御手段は、前記テストケース情報作成手段にて作成された前記テストケース情報を前記表示手段に表示する。
【００１５】
請求項１０に記載の試験設計支援システムは、請求項１から９のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の前記仕様内容情報及び当該更新の後の前記仕様内容情報の各々に含まれる前記機能文字情報又は前記観点文字情報に基づいて、前記仕様内容情報と関連付けられた前記機能情報、前記観点情報、又は前記テスト項目情報を、更新の後の前記仕様内容情報と関連付ける更新手段、を備えた。
【００１６】
請求項１１に記載の試験設計支援方法は、試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援方法であって、機能関連付手段が、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報であって前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付ステップと、観点関連付手段が、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付ステップと、テスト項目情報作成手段が、前記機能関連付ステップにおいて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付ステップにおいて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成ステップと、表示制御手段が、前記テスト項目情報作成ステップにおいて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御ステップと、を含む。
【００１７】
請求項１２に記載の試験設計支援プログラムは、コンピュータは、試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段を備え、前記コンピュータを、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、として機能させる。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１に記載の試験設計支援システム、請求項１１に記載の試験設計支援方法、及び請求項１２に記載の試験設計支援プログラムによれば、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報と関連付ける機能関連付手段と、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報の中から選択された観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報と関連付ける観点関連付手段と、機能関連付手段にて関連付けられた機能情報と、観点関連付手段にて関連付けられた観点情報とに基づいてテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段を備えたので、テスト項目情報作成手段によって一定のロジックに基づいてテスト項目情報を作成でき、従来技術に比べてテスト項目情報の品質を確保しやすくなる。また、機能情報、観点情報、及びテスト項目情報を、仕様内容情報に含まれる機能文字情報又は観点文字情報と直接的又は間接的に関連付けることができ、テスト項目情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計を効果的に支援することが可能となる。
【００１９】
請求項２に記載の試験設計支援システムによれば、機能関連付手段が、仕様表示領域に表示された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、機能観点表示領域に表示された機能情報の中から取得された機能情報と関連付け、観点関連付手段が、仕様表示領域に表示された仕様内容情報の中から選択された観点文字情報を、機能観点表示領域に表示された観点情報の中から取得された観点情報と関連付けるので、機能文字情報と機能情報との関連付け及び観点文字情報と観点情報との関連付けを半自動で行う場合に、これら関連付けに関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００２０】
請求項３に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段が、機能整理手段にて整理された機能情報と、観点整理手段にて整理された観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、機能情報と観点情報をそれぞれ既定の階層構造に合致するように階層化して対応させた上でテスト項目を作成する等、機能情報と観点情報との相互の対応を正確且つ迅速に行うことが可能になり、ひいてはテスト項目情報を正確且つ迅速に作成することができる。よって、テスト項目情報の作成漏れや作成ミスを抑制することができるため、テスト項目情報の品質を一層確保しやすくなると共に、テスト項目情報の作成効率を向上させることができる。
【００２１】
請求項４に記載の試験設計支援システムによれば、機能整理手段が、機能整理指示表示領域に表示された機能整理指示情報の中から選択された機能整理指示情報に基づいて、機能表示領域に表示された機能情報を階層的に整理するので、機能情報の整理を半自動で行う場合に、この機能情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００２２】
請求項５に記載の試験設計支援システムによれば、観点整理手段が、観点整理指示領域に表示された観点整理指示情報の中から選択された観点整理指示情報に基づいて、観点表示領域に表示された観点情報を階層的に整理するので、観点情報の整理を半自動で行う場合に、この観点情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００２３】
請求項６に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段が、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって機能関連付手段によって機能情報と関連付けられた機能文字情報を、観点整理手段によって階層的に整理された観点情報に関連付け、当該テスト項目情報作成手段によって観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して機能関連付手段によって関連付けられた機能情報であって、機能整理手段によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成手段によって機能文字情報に関連付けられた観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、テスト項目情報の作成を半自動で行う場合に、このテスト項目情報の作成に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００２４】
請求項７に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段が、機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成するので、機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報に対応するテスト項目間で不足しているテスト項目を自動的に補完することができ、テスト項目情報の修正に要する手間を省くことが可能となる。
【００２５】
請求項８に記載の試験設計支援システムによれば、テスト条件情報作成手段が、テスト項目情報作成手段にて作成されたテスト項目情報を取得されたテスト技法情報と関連付けると共に、関連付けたテスト技法情報を選択されたテスト条件文字情報と関連付け、関連付けられたテスト技法情報及びテスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成するので、テスト条件情報作成手段によって一定のロジックに基づいてテスト条件情報を作成でき、テスト条件情報の品質を確保しやすくなる。また、テスト条件情報を、仕様内容情報に含まれるテスト条件文字情報と直接的又は間接的に関連付けることができ、テスト条件情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計を一層効果的に支援することが可能となる。
【００２６】
請求項９に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段にて作成されたテスト項目情報と、テスト条件情報作成手段にて作成されたテスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報とに基づいて、テストケース情報を作成するテストケース情報作成手段を備えるので、テストケース情報作成手段によって一定のロジックに基づいてテストケース情報を作成でき、テストケース情報の品質を確保しやすくなる。また、テストケース情報を、テスト項目情報及びテスト条件情報の各々と直接的又は間接的に関連付けることができ、テストケース情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計をさらに一層効果的に支援することが可能となる。
【００２７】
請求項１０に記載の試験設計支援システムによれば、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の仕様内容情報及び当該更新の後の仕様内容情報の各々に含まれる機能文字情報又は観点文字情報に基づいて、仕様内容情報と関連付けられた機能情報、観点情報、又はテスト項目情報を、更新の後の仕様内容情報と関連付ける更新手段を備えたので、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報が更新された場合に、機能情報、観点情報、又はテスト項目情報を更新の後の仕様内容情報を自動的に関連付けできるので、機能情報、観点情報、又はテスト項目情報を更新の後の仕様内容情報に関連付ける作業を別途行う必要がなくなるので、当該作業に要する手間を省くことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の実施の形態に係る試験設計支援システムを例示するブロック図である。
【図２】仕様内容ＤＢの構成例を示す図である。
【図３】機能テーブルの構成例を示す図である。
【図４】観点テーブルの構成例を示す図である。
【図５】機能整理指示テーブルの構成例を示す図である。
【図６】観点整理指示テーブルの構成例を示す図である。
【図７】質問テーブルの構成例を示す図である。
【図８】テスト項目整理指示テーブルの構成例を示す図である。
【図９】試験設計支援処理のフローチャートである。
【図１０】関連付処理のフローチャートである。
【図１１】機能文字情報と機能情報とを関連付けている状態を示す図である。
【図１２】機能文字情報と機能情報とを関連付けた状態を示す図である。
【図１３】質問表示領域を例示した図である。
【図１４】機能整理処理のフローチャートである。
【図１５】機能情報を整理している状態を示す図である。
【図１６】機能情報を整理した状態を示す図である。
【図１７】試験対象構造表示領域を例示した図である。
【図１８】テスト観点整理処理のフローチャートである。
【図１９】テスト観点情報を整理している状態を示す図である。
【図２０】テスト観点情報を整理している状態を示す図である。
【図２１】テスト項目作成処理のフローチャートである。
【図２２】テスト項目情報を作成している状態を示す図である。
【図２３】テスト項目情報を整理している状態を示す図である。
【図２４】テスト項目情報を作成している状態を示す図である。
【図２５】テスト項目情報を整理した状態を示す図である。
【図２６】テスト項目表示領域を例示した図である。
【図２７】テスト条件作成処理のフローチャートである。
【図２８】テスト条件情報を作成している状態を示す図である。
【図２９】テスト項目表示領域を例示した図である。
【図３０】図２９に示すテスト条件情報を整理した状態を示す図である。
【図３１】テストケース作成処理のフローチャートである。
【図３２】テストケース情報を作成している状態を示す図である。
【図３３】テストケース情報を作成した状態を示す図である。
【図３４】更新処理のフローチャートである。
【図３５】更新の前の仕様内容情報と更新の後の仕様内容情報を表示した状態を示す図である。
【図３６】テスト項目表示領域を例示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本発明に係る試験設計支援システム、試験設計支援方法、及び試験設計支援プログラムの実施の形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。ただし、実施の形態によって本発明が限定されるものではない。
【００３０】
［実施の形態の基本的概念］
まずは、実施の形態の基本的概念について説明する。
【００３１】
本発明に係る試験設計支援システムは、試験対象の機能をテストするための試験の設計（以下、「試験設計」と称する）を支援するシステムである。ここで、「試験対象」とは、試験設計支援システムの支援により設計された試験においてテストされる対象を意味し、具体的にはハードウェアやソフトウェアであり、例えば、試作品、中間品、最終製品を含む概念である。「機能」とは、試験対象を構成する各種の構成要素の働きを意味する。「テストする」とは、試験対象を実際に又は仮想的に動作させることで、試験対象のありさまを確認することを意味する。「試験設計」とは、テストを実行するための計画を立てることを意味する。この「試験設計」で行われるステップ（工程）として、本実施の形態では、関連付ステップ、機能整理ステップ、テスト観点整理ステップ、テスト項目作成ステップ、テスト条件作成ステップ、及びテストケース作成ステップがある。このうち、「関連付ステップ」とは、後述する機能文字情報を後述する機能情報と関連付けると共に、後述するテスト観点文字情報をテスト観点情報と関連付けるステップである（後述する関連付処理に対応する）。また、「機能整理ステップ」とは、関連付ステップにおいて関連付けられた後述する機能情報を整理するステップである（後述する機能整理処理に対応する）。また、「観点整理ステップ」とは、関連付ステップにおいて関連付けられたテスト観点情報を整理するステップである（後述する観点整理処理に対応する）。ここで、「機能情報」とは、試験対象の機能を特定する情報である。また、「テスト観点情報」とは、テストすべき観点を特定する情報である。「観点」とは、テストする場合において拠り所とする見地（考え方）を意味する。また、「テスト項目作成ステップ」とは、テスト項目情報を作成するステップである（後述するテスト項目作成処理に対応する）。「テスト項目情報」とは、テスト項目を特定するための情報である。「テスト項目」とは、試験対象に対して行うべきテストを特定するための情報であり、機能と観点を組み合わせて決定されるもので、どのような機能をどのような観点からテストすべきかを特定するための情報である。また、「テスト条件作成ステップ」とは、テスト条件情報を作成するステップである（後述するテスト条件作成処理に対応する）。ここで、「テスト条件情報」とは、テストの条件（以下、「テスト条件」と称する）を特定する情報である。また、「テストケース作成ステップ」とは、テストケース情報を作成するステップである（後述するテストケース作成処理に対応する）。ここで、「テストケース情報」とは、テストのケース（以下、「テストケース」と称する）を特定する情報である。以下、実施の形態では、試験対象が飲料用の自動販売機である場合の試験設計について説明する。
【００３２】
〔ＩＩ〕実施の形態の具体的内容
次に、実施の形態の具体的内容について説明する。
【００３３】
（構成）
最初に、実施の形態に係る試験設計支援システムの構成を説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る試験設計支援システムを例示するブロック図である。図１に示すように、試験設計支援システム１は、操作部１０、通信部２０、ディスプレイ３０、スピーカ４０、及び試験設計支援装置５０を備えている。
【００３４】
（構成−操作部）
操作部１０は、各種の情報に関する操作入力を受け付けるための操作手段である。この操作部１０は、例えば、タッチパッド、リモートコントローラの如き遠隔操作手段、あるいはハードスイッチ等、公知の操作手段を用いて構成されている。
【００３５】
（構成−通信部）
通信部２０は、図示しない外部の通信装置（例えば、パーソナルコンピュータやサーバ等）との間で通信を行うための通信手段である。
【００３６】
（構成−ディスプレイ）
ディスプレイ３０は、試験設計支援装置５０の後述する制御部６０の制御に基づいて各種の画像を表示する表示手段である。このディスプレイ３０の具体的な構成は任意であるが、例えば、公知の液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイの如きフラットパネルディスプレイ等を用いることができる。
【００３７】
（構成−スピーカ）
スピーカ４０は、試験設計支援装置５０の後述する制御部６０の制御に基づいて各種の音声を出力する出力手段である。スピーカ４０より出力される音声の具体的な態様は任意であり、必要に応じて生成された合成音声や、予め録音された音声を出力することができる。
【００３８】
（構成−試験設計支援装置）
試験設計支援装置５０は、試験設計を支援するための装置であり、図１に示すように、制御部６０、及びデータ記録部７０を備えている。なお、この試験設計支援装置５０は、例えば公知のパーソナルコンピュータ等によって構成することができるので、その詳細な説明は省略する。
【００３９】
（構成−試験設計支援装置−制御部）
制御部６０は、試験設計支援装置５０の各部を制御する制御手段である。この制御部６０は、具体的には、ＣＰＵ、当該ＣＰＵ上で解釈実行される各種のプログラム（ＯＳなどの基本制御プログラムや、ＯＳ上で起動され特定機能を実現するアプリケーションプログラムを含む）及びプログラムや各種のデータを格納するためのＲＡＭの如き内部メモリを備えて構成されるコンピュータである。
【００４０】
また、この制御部６０は、図１に示すように、機能概念的に、機能関連付部６１、観点関連付部６２、機能整理部６３、観点整理部６４、テスト項目情報作成部６５、表示制御部６６、テスト条件情報作成部６７、更新部６８、及びテストケース情報作成部６９を備えている。
【００４１】
機能関連付部６１は、後述する仕様内容ＤＢ７１に格納された後述する仕様内容情報の中から選択された後述する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報と関連付ける機能関連付手段である。
【００４２】
観点関連付部６２は、後述する仕様内容ＤＢ７１に格納された後述する仕様内容情報の中から選択された後述するテスト観点文字情報（観点文字情報）を、所定方法で取得されたテスト観点情報（観点情報）と関連付ける観点関連付手段である。
【００４３】
機能整理部６３は、機能関連付部６１にて関連付けられた機能情報を階層的に整理する機能整理手段である。ここで、「階層的に整理する」とは、概念の上位下位関係に基づいて情報を区分けしながら整えることを意味する。
【００４４】
観点整理部６４は、観点関連付部６２にて関連付けられたテスト観点情報を階層的に整理する観点整理手段である。
【００４５】
テスト項目情報作成部６５は、機能整理部６３にて整理された機能情報と、観点整理部６４にて整理されたテスト観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段である。
【００４６】
表示制御部６６は、テスト項目情報作成部６５にて作成されたテスト項目情報をディスプレイ３０に表示する表示制御手段である。
【００４７】
テスト条件情報作成部６７は、後述する仕様内容ＤＢ７１に格納された後述する仕様内容情報の中から選択された後述するテスト条件文字情報と、所定方法で取得された後述するテスト技法情報とに基づいて、テスト条件情報を作成するテスト条件情報作成手段である。
【００４８】
更新部６８は、後述する仕様内容ＤＢ７１に格納された後述する仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の後述する仕様内容情報及び当該更新の後の後述する仕様内容情報の各々に含まれる後述する機能文字情報又は後述するテスト観点文字情報に基づいて、後述する仕様内容情報と関連付けられた機能情報、テスト観点情報、又はテスト項目情報を、更新の後の後述する仕様内容情報と関連付ける更新手段である。
【００４９】
テストケース情報作成部６９は、テスト項目情報作成部６５にて作成されたテスト項目情報と、テスト条件情報作成部６７にて作成されたテスト条件情報と、所定方法で取得された後述するテスト手順情報と、所定方法で取得された後述する期待結果情報とに基づいて、テストケース情報を作成するテストケース情報作成手段である。なお、この制御部６０によって実行される処理の詳細については後述する。
【００５０】
（構成−試験設計支援装置−データ記録部）
データ記録部７０は、試験設計支援装置５０の動作に必要なプログラム及び各種のデータを記録する記録手段であり、例えば、外部記録装置としてのハードディスク（図示省略）を用いて構成されている。ただし、ハードディスクに代えてあるいはハードディスクと共に、磁気ディスクの如き磁気的記録媒体、ＤＶＤやブルーレイディスクの如き光学的記録媒体、又はＦｌａｓｈ  Ｒｏｍ、ＵＳＢメモリ、ＳＤカードの如き電気的記録媒体を含む、その他の任意の記録媒体を用いることができる。
【００５１】
また、このデータ記録部７０は、仕様内容データベース７１（以下、データベースを「ＤＢ」と称する）、機能テーブル７２、観点テーブル７３、機能整理指示テーブル７４、観点整理指示テーブル７５、質問テーブル７６、及びテスト項目整理指示テーブル７７を備えている。
【００５２】
仕様内容ＤＢ７１は、仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段である。ここで、「仕様内容情報」とは、試験対象に関する仕様の内容を特定する情報であり、実施の形態では、「機能文字情報」、「テスト観点文字情報」、及び「テスト条件文字情報」を含んで構成されている。このうち、「機能文字情報」とは、仕様内容情報に含まれる文字のうち、試験対象の機能を示す文字を特定する情報である。また、「テスト観点文字情報」とは、仕様内容情報に含まれる文字のうち、テストすべき観点を示す文字を特定する情報である。また、「テスト条件文字情報」とは、仕様内容情報に含まれる文字のうち、テスト条件を示す文字を特定する情報である。なお、この「仕様内容情報」は、実施の形態では、試験対象に関する仕様書に記載されている情報として説明するが、これに限られず、例えば、試験対象に関する設計書や取扱説明書等に記載されている情報であってもよい。図２は、仕様内容ＤＢ７１に格納された情報を例示する図である。図２に示すように、仕様内容ＤＢ７１は、項目「仕様ＩＤ」、項目「仕様名称」、及び項目「仕様内容」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。このうち、項目「仕様ＩＤ」に対応する情報は、仕様を一意に識別するための仕様識別情報である。項目「仕様名称」に対応する情報は、仕様の名称を特定する仕様名称情報である。項目「仕様内容」に対応する情報は、仕様内容情報であり、例えば、仕様内容情報のファイル名（本実施の形態においてはテキスト形式（又はＨＴＭＬ形式）で保存された仕様内容情報のファイル名）である「ｓｐｅｃ１．ｔｘｔ」等が該当する。
【００５３】
図１の機能テーブル７２は、機能情報を格納する機能情報格納手段である。図３は、機能テーブル７２に格納された情報を例示する図である。図３に示すように、機能テーブル７２は、項目「機能」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。ここで、項目「機能」に対応する情報は、機能情報であり、実施の形態では、機能情報として、「動作情報」、「表示情報」、「設定情報」、及び「状態遷移情報」が格納されている（図３では、「動作」、「表示」、「設定」、「状態遷移」と表示）。このうち、「動作情報」は、表示情報、設定情報、及び状態遷移情報に該当しない動作を特定する情報であり、例えば、試験対象の起動動作を特定する「起動情報」、試験対象の初期化動作を特定する「初期化情報」、試験対象の処理動作を「処理情報」、試験対象の終了動作を特定する「終了情報」が該当する（図３では、「起動」、「初期化」、「処理」、「終了」と表示）。また、「表示情報」とは、試験対象の表示部の表示内容（又は表示方法）を特定する情報である。また、「設定情報」とは、試験対象の機能の設定を特定する情報である。また、「状態遷移情報」とは、試験対象の状態の遷移（移り変わり）を特定する情報である。この「試験対象の状態の遷移」とは、例えば、「販売動作を行っている状態」から「販売動作を停止している状態」に遷移すること等が該当する。
【００５４】
図１の観点テーブル７３は、テスト観点情報を格納する観点情報格納手段である。図４は、観点テーブル７３に格納された情報を例示する図である。図４に示すように、観点テーブル７３は、項目「テスト観点」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。ここで、項目「テスト観点」に対応する情報は、テスト観点情報である。実施の形態では、テスト観点情報として、「テスト観点状態情報」、「テスト観点条件情報」、「テスト観点設定情報」、及び「テスト観点方法情報」が格納されている（図４では、「様々な状態」、「様々な条件」、「様々な設定」、「様々な方法」と表示）。このうち、「テスト観点状態情報」とは、試験対象又は試験対象の各構成要素が取り得る様々な有様を特定する情報である。この「試験対象が取り得る様々な有様」とは、例えば、販売動作を行っている状態、販売動作を停止している状態、返金動作を行っている状態等が該当する。また、「試験対象の各構成要素が取り得る様々な有様」とは、例えば、試験対象の商品棚の温度が所定温度になっている状態等が該当する。また、「テスト観点条件情報」とは、テスト観点状態情報、テスト観点設定情報、及びテスト観点方法情報とは異なる情報であって、試験対象の出力結果に影響を及ぼす因子を特定する情報である。この「試験対象の出力結果に影響を及ぼす因子」とは、例えば、試験対象の商品棚に入れる商品の種類（一例として、５００ｍｌ缶、５００ｍｌペットボトル）や、試験対象の商品棚の配置位置（一例として、複数の商品棚の中で、先頭の商品棚のから数えて３番目の位置の商品棚）等が該当する。また、「テスト観点設定情報」とは、試験対象で定めることができる変更可能なパラメータを特定する情報である。この「試験対象で定めることができる変更可能なパラメータ」とは、例えば、試験対象における商品棚ごとの商品価格設定を変更するためのパラメータ（一例として、当該パラメータを、０円から９９０円の範囲で１０円単位とすること）等が該当する。また、「テスト観点方法情報」とは、試験対象に対して外部から行う操作のやり方を特定する情報である。この「試験対象に対して外部から行う操作のやり方」とは、例えば、試験対象のボタンの押し方（一例として、単に押すこと、長押しすること、連打すること）や、試験対象の操作の仕方（一例として、試験対象に設けられたボタンで操作すること、リモコンで操作すること）等が該当する。
【００５５】
図１の機能整理指示テーブル７４は、機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段である。ここで、「機能整理指示情報」とは、機能情報を整理するための指示を特定する情報である。図５は、機能整理指示テーブル７４に格納された情報を例示する図である。図５に示すように、機能整理指示テーブル７４は、項目「機能整理指示」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。ここで、項目「機能整理指示」に対応する情報は、機能整理指示情報であり、実施の形態では、機能整理指示情報として、「機能新規作成情報」、「汎用機能指定情報」、「機能関連指定情報」、「上位機能作成情報」、及び「機能削除情報」が格納されている（図５では、「新規作成」、「汎用機能指定」、「関連指定」、「削除」と表示）。このうち、「機能新規作成情報」とは、機能情報を新たに作成することを指示する情報であり、例えば、上位階層の機能情報を作成する「機能上位階層作成情報」、同階層の機能情報を作成する「機能同階層作成情報」、下位階層の機能情報を作成する「機能下位階層作成情報」が該当する（図５では、「上位階層」、「同階層」、「下位階層」と表示）。また、「汎用機能指定情報」とは、機能テーブル７２に格納された機能情報を汎用的に整理することを指定する情報であり、例えば、上記起動情報を入力する「起動入力情報」、上記終了情報を入力する「終了入力情報」、上記機能設定情報を入力する「機能設定入力情報」、上記機能状態遷移情報を入力する「機能状態遷移入力情報」が該当する（図５では、「起動」、「終了」、「設定」、「状態遷移」と表示）。また、「機能関連指定情報」とは、機能情報同士を関連付けることを指定する情報であり、例えば、機能情報同士を単に関連付ける「機能関連情報」、機能情報同士を入出力の関係があるとして関連付ける「機能入出力関連情報」、機能情報同士を同一のものとして関連付ける「機能同一関連情報」が該当する（図５では、「関連」、「ＩＮ−ＯＵＴ」、「同一」と表示）。また、「上位機能作成情報」とは、特定の機能に対する上位の機能の作成を指示するための機能である（図５では、「上位機能作成」と表示）。また、「機能削除情報」とは、機能情報の削除を指示する情報である。
【００５６】
図１の観点整理指示テーブル７５は、テスト観点整理指示情報（観点整理指示情報）を格納する観点整理指示情報格納手段である。ここで、「テスト観点整理指示情報」とは、テスト観点情報を整理するための指示を特定する情報である。図６は、観点整理指示テーブル７５に格納された情報を例示する図である。図６に示すように、観点整理指示テーブル７５は、項目「テスト観点整理指示」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。ここで、項目「テスト観点整理指示」に対応する情報は、テスト観点整理指示情報であり、実施の形態では、テスト観点整理指示情報として、「テスト観点新規作成情報」、「汎用テスト観点指定情報」、「テスト観点関連指定情報」、及び「テスト観点削除情報」が格納されている（図６では、「新規作成」、「汎用テスト観点指定」、「関連指定」、「削除」と表示）。このうち、「テスト観点新規作成情報」とは、テスト観点情報を新たに作成することを指示する情報であり、例えば、上位階層のテスト観点情報を作成する「観点上位階層作成情報」、同階層のテスト観点情報を作成する「観点同階層作成情報」、下位階層のテスト観点情報を作成する「観点下位階層作成情報」が該当する（図６では、「上位階層」、「同階層」、「下位階層」と表示）。また、「汎用テスト観点指定情報」とは、観点テーブル７３に格納されたテスト観点情報を汎用的に整理することを指定する情報であり、例えば、テスト観点状態情報を入力する「テスト観点状態入力情報」、テスト観点条件情報を入力する「テスト観点条件入力情報」、テスト観点設定情報を入力する「テスト観点設定入力情報」、テスト観点方法情報を入力する「テスト観点方法入力情報」が該当する（図６では、「様々な状態」、「様々な条件」、「様々な設定」、「様々な方法」と表示）。また、「テスト観点関連指定情報」とは、テスト観点情報同士を関連付けることを指定する情報であり、例えば、テスト観点情報同士を同一のものとして関連付ける「テスト観点同一関連情報」、テスト観点情報同士を組み合わせの関係があるものとして関連付ける「テスト観点組合関連情報」、テスト観点情報同士を順序依存性の関係があるものとして関連付ける「テスト観点順序関連情報」が該当する（図６では、「同一」、「ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ」、「ｓｅｑｕｅｎｃｅ」と表示）。また、「テスト観点削除情報」とは、テスト観点情報の削除を指示する情報である。
【００５７】
図１の質問テーブル７６は、後述する関連付処理において取得された後述する質問情報を格納する質問情報格納手段である。図７は、質問テーブル７６に格納された情報を例示する図である。図７に示すように、質問テーブル７６は、項目「ステータス」、項目「質問内容」、項目「質問日」、項目「質問者」、項目「回答」、項目「回答日」、項目「回答者」、項目「元の仕様書のファイル名」、項目「質問内容情報を付与した箇所の文字列」、項目「備考」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。ここで、項目「ステータス」に対応する情報は、回答情報に対する応答状態を特定する質問状態情報であり、例えば、質問者が後述する回答情報を読んで了承したことを示す「了承状態情報」、質問者が後述する回答情報を読んでいない状態、又は読まれたが了承していない状態を示す「非了承状態情報等」が該当する（図７では、「ｃｌｏｓｅ」、「ｕｎｃｏｎｆｉｒｍｅｄ」と表示）。また、項目「質問内容」に対応する情報は、後述する質問情報の内容を特定する質問内容情報であり、質問情報がテキストデータとして格納されている。また、項目「質問日」に対応する情報は、後述する質問情報を格納した日付を特定する質問日付情報である。また、項目「質問者」に対応する情報は、質問者を特定する質問者情報である。また、項目「回答」に対応する情報は、後述する質問情報に対する回答を特定する回答情報であり、回答情報がテキストデータとして格納されている。また、項目「回答日」に対応する情報は、回答情報を格納した日付を特定する回答日付情報である。また、項目「回答者」に対応する情報は、回答者を特定する回答者情報である。また、項目「元の仕様書のファイル名」に対応する情報は、元の仕様書のファイル名を特定する情報である。また、項目「質問内容情報を付与した箇所の文字列」に対応する情報は、質問内容情報を付与した箇所の文字列を特定する情報である。また、項目「備考」に対応する情報は、備考を特定する備考情報である。
【００５８】
図１のテスト項目整理指示テーブル７７は、テスト項目整理指示情報を格納するテスト項目整理指示情報格納手段である。ここで、「テスト項目整理指示情報」とは、テスト項目情報を整理するための指示を特定する情報である。図８は、テスト項目整理指示テーブル７７に格納された情報を例示する図である。図８に示すように、テスト項目整理指示テーブル７７は、項目「テスト項目整理指示」と、各項目に対応する情報とを、相互に関連付けて格納する。ここで、項目「テスト項目整理指示」に対応する情報は、テスト項目整理指示情報であり、実施の形態では、テスト項目整理指示情報として、「テスト項目まとめ方指定情報」、「テスト項目挿入情報」、「テスト項目削除情報」、「テスト技法情報」が該当する（図８では、「まとめ方指定」、「挿入」、「削除」、「テスト技法」と表示）。このうち、「テスト項目まとめ方指定情報」は、複数のテスト項目情報のまとめ方を指定する情報であり、例えば、複数のテスト項目情報を同時に実行するものとしてまとめる「テスト項目同時実行情報」、後述するテスト条件作成処理にて作成されたテスト条件情報の組み合わせパターンのうち、各テスト条件が最低１回登場するように、複数のテスト項目情報を組み合わせる「テスト項目斜め掛け情報」、後述するテスト条件作成処理にて作成されたテスト条件情報の組み合わせパターンを網羅するように、複数のテスト項目情報を組み合わせる「テスト項目全組合情報」が該当する（図８では、「同時実行」、「斜め掛け」、「全組み合わせ」と表示）。また、「テスト項目挿入情報」とは、テスト項目情報の挿入を指示する情報である。また、「テスト項目削除情報」とは、テスト項目情報の削除を指示する情報である。また、「テスト技法情報」とは、テスト技法を特定する情報である。この「テスト技法」とは、後述するテスト条件を決定するための技法であり、例えば、テストの回数を間引くための方法（一例として、境界値分析、同値分割等）を含む概念である。このうち、「境界値分析」とは、テストに用いられる値（実施の形態では、テスト条件文字情報に含まれる値）のうち、バグが起きやすい箇所である端の値をテストする手法である。また、「同値分割」とは、テストに用いられる値（実施の形態では、テスト条件文字情報に含まれる値）をそれぞれグループに分けて、各グループの中から代表値を選んでテストを行う手法である。この「テスト技法情報」は、実施の形態では、境界値分析を特定する「境界値分析情報」、同値分割を特定する「同値分割情報」等が該当する（図８では、「境界値分析」、「同値分割」と表示）。また、この「境界値分析情報」は、例えば、無効同値クラスの下限を特定する情報、有効同値クラスの上限を特定する情報、有効同値クラスの下限を特定する情報、無効同値クラスの上限を特定する情報等が該当する（図８では、「無効同値クラスの下限」、「有効同値クラスの上限」、「有効同値クラスの下限」、「無効同値クラスの上限」と表示）。また、この「同値分割情報」は、例えば、無効同値クラスを特定する情報、有効同値クラスを特定する情報等が該当する（図８では、「無効同値クラス」、「有効同値クラス」と表示）。
【００５９】
（処理）
次に、このように構成された試験設計支援装置５０によって実行される処理について説明する。この試験設計支援装置５０によって実行される処理は、「試験設計支援処理」と「更新処理」とに大別される。以下、「試験設計支援処理」と「更新処理」のそれぞれについて説明する。
【００６０】
（処理−試験設計支援処理）
まず、試験設計支援処理について説明する。図９は、試験設計支援処理のフローチャートを示す図である（以下の各処理の説明ではステップを「Ｓ」と略記する）。この試験設計支援処理は、試験設計を支援する処理である。この試験設計支援処理を実行するタイミングは任意であるが、実施の形態では、試験設計支援装置５０の電源が投入された後に起動されるものとして説明する。
【００６１】
試験設計支援処理が起動されると、図９に示すように、図１０に示す関連付処理（ＳＡ１）、図１４に示す機能整理処理（ＳＡ２）、図１８に示すテスト観点整理処理（ＳＡ３）、図２１に示すテスト項目作成処理（ＳＡ４）、図２７に示すテスト条件作成処理（ＳＡ５）、図３１に示すテストケース作成処理（ＳＡ６）が順次行われる。以下、各処理について説明する。
【００６２】
（試験設計支援処理−関連付処理）
最初に、図９に示す関連付処理（ＳＡ１）について説明する。図１０は、関連付処理のフローチャートである。図１１は、機能文字情報と機能情報とを関連付けている状態を示す図である。図１２は、機能文字情報と機能情報とを関連付けた状態を示す図である。図１３は、後述する質問表示領域１０３を例示した図である（一部非表示とする）。この関連付処理は、機能文字情報を機能情報と関連付けたり、テスト観点文字情報をテスト観点情報と関連付けたりするための処理である。
【００６３】
図１０に示すように、まず、ＳＢ１において表示制御部６６は、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の取得指示が受け付けられたか否かを判定する。ここで、仕様内容情報の取得を指示する方法については任意であるが、例えば、試験設計支援処理の起動後に図１１に示すディスプレイ３０の画面上に仕様内容ＤＢ７１に格納されている仕様内容情報（具体的には、仕様内容情報のファイル名）を表示し、当該表示された仕様内容情報の中から所望の仕様内容情報を選択することにより、仕様内容情報の取得を指示する。そして、表示制御部６６は、仕様内容情報の取得指示が受け付けられるまで待機し（ＳＢ１、Ｎｏ）、仕様内容情報の取得指示が受け付けられた場合（ＳＢ１、Ｙｅｓ）、ＳＢ２に移行する。
【００６４】
ＳＢ２において表示制御部６６は、ＳＢ１にて取得された仕様内容情報をディスプレイ３０に表示する。この仕様内容情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、ディスプレイ３０の画面上に表示領域１００（以下、「仕様表示領域１００」と称する）を生成し、ＳＢ１にて取得された仕様内容情報を仕様表示領域１００に表示する。なお、この仕様表示領域１００の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、仕様表示領域１００の表示（具体的には、ディスプレイ３０の画面のトップに表示）を選択するための仕様表示タブ１００ａが設けられている。
【００６５】
ＳＢ３において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、ＳＢ２にて表示された仕様内容情報の中から所望の文字情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記文字情報が選択されるまで待機し（ＳＢ３、Ｎｏ）、上記文字情報が選択された場合（ＳＢ３、Ｙｅｓ）、ＳＢ４に移行する。
【００６６】
ＳＢ４にて表示制御部６６は、機能テーブル７２に格納された機能情報及び観点テーブル７３に格納されたテスト観点情報をディスプレイ３０に表示する。これら機能情報及びテスト観点情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図１１に示すように、ＳＢ３にて機能文字情報又はテスト観点文字情報が選択された後にユーザが操作部１０を介して所定操作（例えば、機能文字情報又はテスト観点文字情報をマウスの左ボタンを用いてドラッグアンドドロップで選択する際、左ボタンをドロップする）を行うことにより、仕様表示領域１００上に表示領域１０１（以下、「機能観点表示領域１０１」と称する。例えば、ポップアップ画像等が該当する。）を表示し（具体的には、上記左ボタンをドロップした瞬間に表示）、機能テーブル７２に格納された機能情報（図１１に示す「起動」、「終了」、「設定」、「状態遷移」等）及び観点テーブル７３に格納されたテスト観点情報（図１１に示す「様々な状態」、「様々な条件」、「様々な設定」、「様々な方法」等）を機能観点表示領域１０１に表示する。また、この機能観点表示領域１０１の具体的な表示内容については任意であるが、実施の形態では、図１１に示すように、機能情報及びテスト観点情報に加えて、構成要素情報、質問入力要求情報、メモ入力要求情報、及び章タイトル情報が表示されている。このうち、「構成要素情報」とは、試験対象の構成要素を特定する情報であり、例えば、試験対象の内部に設けられた構成要素を特定する内側構成要素情報（図１１に示す「ハード（内）」と、試験対象の外部に設けられた構成要素を特定する外側構成要素情報（図１１に示す「ハード（外）」とを含む概念である。また、「質問入力要求情報」とは、仕様内容情報に関する質問の入力を要求する情報（図１１に示す「質問」等）である。また、メモ入力要求情報は、仕様内容情報に関するメモの入力を要求する情報（図１１に示す「メモ」等）である。また、章タイトル情報は、仕様内容情報に関する章タイトルを特定する情報（図１１に示す「章タイトル」等）である。
【００６７】
ＳＢ５にて制御部６０は、機能情報又はテスト観点情報が取得されたか否かを判定する。ここで、機能情報又はテスト観点情報の取得方法については任意であるが、実施の形態では、ユーザが操作部１０を介して所定操作（例えば、「機能観点表示領域１０１」において関連付けしたい機能情報又はテスト観点情報をマウスで左クリックする）を行うことにより、ＳＢ４にて機能観点表示領域１０１に表示された機能情報及びテスト観点情報の中から所望の機能情報又はテスト観点情報を選択することで取得する（なお、後述するＳＥ５の処理、後述するＳＦ４の処理についても同様とする）。そして、制御部６０は、機能情報又はテスト観点情報が取得されるまで待機し（ＳＢ５、Ｎｏ）、機能情報又はテスト観点情報が取得された場合（ＳＢ５、Ｙｅｓ）、機能観点表示領域１０１を非表示にした後、ＳＢ６に移行する。
【００６８】
ＳＢ６において機能関連付部６１は、ＳＢ５にて機能情報が取得された場合には、ＳＢ３にて選択された文字情報（具体的には、図１２に示す枠で覆われた機能文字情報）を当該機能情報と関連付けると共に、当該機能情報をディスプレイ３０に表示する。また、ＳＢ６において観点関連付部６２は、ＳＢ５にてテスト観点情報が取得された場合には、ＳＢ３にて選択された文字情報（具体的には、図１２に示す枠で覆われたテスト観点文字情報）を当該テスト観点情報と関連付けると共に、当該テスト観点情報をディスプレイ３０に表示する。ここで、機能情報又はテスト観点情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、機能情報及び機能文字情報を関連付けた状態、又はテスト観点情報及びテスト観点文字情報を関連付けた状態を容易に認識できるように表示する。具体的には、図１２に示すように、仕様表示領域１００上に表示領域１０２（以下、「機能観点関連付表示領域１０２」と称する）を表示し（例えば、図１２に示すように、仕様表示領域１００上の右側に機能観点関連付表示領域１０２を表示する等）、機能文字情報と関連付けられた機能情報又はテスト観点文字情報と関連付けられたテスト観点情報を機能観点関連付表示領域１０２に表示する。また、図１２に示すように、機能文字情報と機能情報との関連付けを示す情報を、機能文字情報と機能情報とを結ぶ線（本実施の形態においては点線）として表示する（なお、テスト観点文字情報とテスト観点情報との関連付けを示す情報の表示についても同様とする）。この場合において、例えば、ＳＢ６にて関連付けられた機能情報又はテスト観点情報の内容を変更できるように、例えば、上記表示された機能情報又はテスト観点情報の内容を、ユーザによって操作部１０を介して修正された内容に変更してもよい（例えば、上記表示されたテスト観点情報が「様々な状態」である場合に、修正された「様々な自動販売機状態」に変更する等）。
【００６９】
また、ＳＢ６の具体的な処理内容については任意であるが、実施の形態では、上述した機能文字情報と機能情報との関連付け、又は上述したテスト観点文字情報とテスト観点情報との関連付けに加えて、以下に示す処理を行う。具体的には、ＳＢ５にて構成要素情報が取得された場合には、ＳＢ３にて選択された文字情報（具体的には、構成要素を示す構成要素文字情報）を当該構成要素情報と関連付ける。また、ＳＢ５にて質問入力要求情報が取得された場合には、ＳＢ３にて選択された文字情報（具体的には、機能文字情報、テスト観点文字情報、又は構成要素文字情報等）を、ユーザによって操作部１０を介して入力された質問内容情報と関連付ける（なお、この質問内容情報は、質問テーブル７６に格納される）。ここで、質問内容情報に対応する回答情報の入力方法については任意であるが、例えば、図１３に示すように、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、ディスプレイ３０の画面上に表示領域１０３（以下、「質問表示領域１０３」と称する）を生成し、質問テーブル７６に格納されている質問内容情報、質問日付情報、質問者情報、回答情報、回答日付情報、回答者情報、元の仕様書のファイル名を特定する情報、質問内容情報を付与した箇所の文字列を特定する情報、及び備考情報を質問表示領域１０３に表形式で相互に関連付けて表示した状態（具体的には、ディスプレイ３０の画面のトップに表示した状態）で、操作部１０を介して選択された回答情報に対応するセルに質問内容情報に対応する回答情報を操作部１０を介して入力するようにしてもよい。そして、この入力された回答情報を、対応する質問内容情報と関連付けて質問テーブル７６に格納させる。なお、この質問表示領域１０３の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、質問表示領域１０３の表示を選択するための質問表示タブ１０３ａが設けられている。このような入力方法により、回答情報の入力作業を容易にできると共に、質問者が質問内容情報に対応する回答情報を容易に確認できる。また、ＳＢ５にてメモ入力要求情報が取得された場合には、ＳＢ３にて選択された文字情報（具体的には、機能文字情報、テスト観点文字情報、又は構成要素文字情報等）を、ユーザによって操作部１０を介して入力されたメモ情報（メモを示す情報）と関連付ける。また、ＳＢ５にて章タイトル情報が取得された場合には、ＳＢ３にて選択された文字情報（具体的には、章タイトルを示す章タイトル文字情報等）を、章タイトル情報と関連付ける。
【００７０】
ＳＢ７において制御部６０は、ユーザによって操作部１０を介して所定操作が受け付けられることにより、終了指示が受け付けられたか否かを判定する。そして、制御部６０は、終了指示が受け付けられていないと判定された場合（ＳＢ７、Ｎｏ）にはＳＢ３へ移行し、終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＢ７、Ｙｅｓ）、関連付処理を終了して、図９の試験設計支援処理に戻る。
【００７１】
このような処理により、機能文字情報と機能情報との関連付け及びテスト観点文字情報とテスト観点情報との関連付けを半自動で行う場合に、これら関連付けに関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００７２】
（試験設計支援処理−機能整理処理）
次に、図９に示す機能整理処理（ＳＡ２）について説明する。図１４は、機能整理処理のフローチャートである。図１５は、機能情報を整理している状態を示す図である。図１６は、機能情報を整理した状態を示す図である。図１７は、後述する試験対象構造表示領域１０６を例示した図である。この機能整理処理は、関連付処理において関連付けられた機能情報を整理する処理である。
【００７３】
図１４に示すように、まず、ＳＣ１において表示制御部６６は、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられた機能情報をディスプレイ３０に表示する。具体的には、表示制御部６６は、ディスプレイ３０の画面上に表示領域１０４（以下、「機能表示領域１０４」と称する）を生成し、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられた機能情報を表形式で機能表示領域１０４に表示する（なお、後述するＳＣ５にて機能情報が整理される前においては、例えば、上記機能情報が一列多行の表が表示される）。なお、機能表示領域１０４の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、機能表示領域１０４の表示を選択するための機能表示タブ１０４ａが設けられている。
【００７４】
ＳＣ２において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作（例えば、機能表示領域１０４に表示された機能の中から、所望の機能情報をマウスで左クリックする）を行うことにより、ＳＣ１にて表示された機能情報の中から所望の機能情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記機能情報が選択されるまで待機し（ＳＣ２、Ｎｏ）、上記機能情報が選択された場合（ＳＣ２、Ｙｅｓ）、ＳＣ３に移行する。
【００７５】
ＳＣ３おいて表示制御部６６は、機能整理指示テーブル７４に格納された機能整理指示情報をディスプレイ３０に表示する。この機能整理指示情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図１５に示すように、ＳＣ２にて機能情報が選択された後にユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、機能表示領域１０４上に表示領域（以下、「機能整理指示表示領域１０５」と称する。例えば、ポップアップ画像等が該当する。）を表示し、機能整理指示テーブル７４に格納された機能整理指示情報（図１５に示す「新規作成」、「上位階層」、「同階層」、「下位階層」、「汎用機能指定」、「起動」、「終了」、「設定」、「状態遷移」、「削除」等）を機能整理指示表示領域１０５に表示する。
【００７６】
ＳＣ４において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、ＳＣ３にて表示された機能整理指示情報の中から所望の機能整理指示情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記機能整理指示情報が選択されるまで待機し（ＳＣ４、Ｎｏ）、上記機能整理指示情報が選択された場合（ＳＣ４、Ｙｅｓ）、機能整理指示表示領域１０５を非表示にした後、ＳＣ５に移行する。
【００７７】
ＳＣ５において機能整理部６３は、図１６に示すように、ＳＣ４にて選択された機能整理指示情報に基づいて、ＳＣ１に表示された機能情報を階層的に整理する。
【００７８】
ここで、ＳＣ４にて機能整理指示情報として、機能新規作成情報（図１５に示す「新規作成」）、機能上位階層作成情報（図１５に示す「上位階層」）、機能同階層作成情報（図１５に示す「同階層」）、又は機能下位階層作成情報（図１５に示す「下位階層」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、機能上位階層作成情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルよりも上位側（図１５の左側）に新たなセルを作成する。また、機能同階層作成情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルと同位側（図１５の下側（又は上側））に新たなセルを作成する。また、機能下位階層作成情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルよりも下位側（図１５の右側）に新たなセルを作成する。また、機能新規作成情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルよりも上位側、同位側、及び下位側に新たなセルを作成する。このような制御により、ＳＣ１にて表示された機能表示領域１０４の表を階層的な表に編集できるので、機能情報を階層的に整理することが可能となる。
【００７９】
また、ＳＣ４にて機能整理指示情報として、汎用機能指定情報（図１５に示す「汎用機能指定」）、起動入力情報（図１５に示す「起動」）、終了入力情報（図１５に示す「終了」）、機能設定入力情報（図１５に示す「設定」）、又は機能状態遷移入力情報（図１５に示す「状態遷移」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、起動入力情報、終了入力情報、機能設定入力情報、又は機能状態遷移入力情報のいずれか１つが指定されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルの上位側のセルに「汎用機能」という文字情報を入力すると共に、同階層のセルに当該指定した情報以外の他の情報を入力する。一例として、起動入力情報が指定されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルよりも上位側のセルに「汎用機能」という文字情報を入力すると共に、当該機能情報に対応するセルと同階層のセルに機能テーブル７２に格納された終了情報（例えば、図１５に示す「（商品販売終了）」等）、機能設定情報、及び機能状態遷移情報を入力する。また、汎用機能指定情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された機能情報に対応するセルよりも下位側のセルに、起動情報及び終了情報（例えば、図１５に示す「（商品販売起動）」、「（商品販売終了）」等）を入力する。このような制御により、汎用機能指定情報等を選択することにより、当該汎用機能指定情報等に対応する機能情報をＳＣ１にて表示された機能表示領域１０４の表のセルに入力することができ、機能情報の入力を簡易に行うことができる。
【００８０】
また、ＳＣ４にて機能整理指示情報として、機能関連指定情報のうち機能関連情報（後述する図１７に示す「関連」）、機能入出力関連情報（後述する図１７に示す「ＩＮ−ＯＵＴ」）、又は機能同一関連情報（後述する図１７に示す「同一」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、機能関連情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報同士を関連付ける。また、機能入出力関連情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報同士を入出力の関係があるとして関連付ける。また、機能同一関連情報が選択されると、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報同士を同一のものとして関連付けて、当該複数の機能情報のいずれか一方を削除する。このような制御により、機能関連情報等を選択することにより、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報を関連付けることができ、例えば、テスト項目情報に対応するテストの順序の決定等を正確に行うことができる。
【００８１】
また、ＳＣ４にて機能整理指示情報として、機能削除情報（図１５に示す「削除」）が選択されると、ＳＣ２にて選択された機能情報を削除する。
【００８２】
また、ＳＣ５の具体的な処理内容については任意であるが、実施の形態では、上述したように、ＳＣ４にて選択された機能整理指示情報に基づく機能情報の整理に加えて、以下に示す方法により機能情報の整理を行う（なお、後述する試験対象構造表示領域１０６に機能情報を図形形式で表示する場合のＳＣ５の処理、後述する図１８のＳＤ５の処理、後述する図２１のＳＥ８の処理、及び後述する図２７のＳＦ７の処理についても同様とする）。具体的には、ユーザによって操作部１０を介して機能情報に対応するセルを選択し、ユーザが操作部１０を介して所定操作（例えば、ドラッグアンドドロップ等）を行うことにより、当該選択したセルを現在の位置から別の位置に移動させる。また、機能同階層作成情報等の選択によって新たにセルが作成された場合には、ユーザによって操作部１０を介して当該作成されたセルを選択し、ユーザによって操作部１０を介して機能情報を入力することにより、当該入力した機能情報を当該選択したセルに入力する。また、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられた機能情報又は汎用機能指定情報等の選択によって入力された機能情報に対応するセルを選択し、ユーザによって操作部１０を介して所定情報を入力等を行うことにより、当該入力等した所定情報に基づいて当該選択したセルに対応する機能情報を修正する。このような制御により、機能情報を一層効率良く整理することができる。
【００８３】
ＳＣ６において制御部６０は、ユーザによって操作部１０を介して所定操作が受け付けられることにより、終了指示が受け付けられたか否かを判定する。そして、制御部６０は、終了指示が受け付けられていないと判定された場合（ＳＣ６、Ｎｏ）にはＳＣ２へ移行し、終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＣ６、Ｙｅｓ）、機能整理処理を終了して、図９の試験設計支援処理に戻る。
【００８４】
このような処理により、機能情報の整理を半自動で行う場合に、この機能情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００８５】
なお、実施の形態に係る機能整理処理では、上記ＳＣ１において、機能情報を機能表示領域１０４に表形式で表示すると説明したが、これに限られない。例えば、図１７に示すように、ディスプレイ３０の画面上に表示領域１０６（以下、「試験対象構造表示領域１０６」と称する）を生成し、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられた機能情報や図１０のＳＢ６にて関連付けられた構成要素情報を試験対象構造表示領域１０６に図形形式で表示してもよい。この場合には、ＳＣ５において、機能情報を機能表示領域１０４に表形式で表示した場合と略同様に、ＳＣ４にて機能表示領域１０４に表示された機能整理指示情報の中から選択された機能整理指示情報に基づいて、ＳＣ１に表示された機能情報を階層的に整理する。例えば、機能上位階層作成情報（図１７に示す「上位機能作成」）が選択されると、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報を囲む枠であって、当該選択された複数の機能情報の上位概念の機能情報を示すための枠を形成する。また、機能関連情報（図１７に示す「関連」）が選択されると、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報を線で接続する。また、機能入出力関連情報（図１７に示す「ＩＮ−ＯＵＴ」）が選択されると、ＳＣ２にて選択された複数の機能情報同士を、入力側の機能情報から出力側の機能情報に向かう方向を示す矢印線で接続する。なお、試験対象構造表示領域１０６の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、試験対象構造表示領域１０６の表示を選択するための試験対象構造表示タブ１０６ａが設けられる。また、試験対象構造表示領域１０６は、特許請求の範囲における「機能表示領域」に対応する。あるいは、これに限られず、図形式で表示された機能情報同士を線で接続することにより、機能情報をツリー形式で階層的に表示してもよい（なお、後述する図１８のＳＤ１におけるテスト観点情報の表示方法についても同様とする）。
【００８６】
（試験設計支援処理−テスト観点整理処理）
次に、図９に示すテスト観点整理処理（ＳＡ３）について説明する。図１８は、テスト観点整理処理のフローチャートである。図１９は、テスト観点情報を整理している状態を示す図である。図２０は、テスト観点情報を整理している状態を示す図である。このテスト観点整理処理は、関連付処理において関連付けられたテスト観点情報を整理する処理である。
【００８７】
図１８に示すように、まず、ＳＤ１において表示制御部６６は、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられたテスト観点情報をディスプレイ３０に表示する。具体的には、表示制御部６６は、ディスプレイ３０の画面上に表示領域１０７（以下、「観点表示領域１０７」と称する）を生成し、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられたテスト観点情報を観点表示領域１０７に表形式で表示する（なお、後述するＳＤ５にてテスト観点情報が整理される前においては、例えば、上記テスト観点情報及び観点テーブル７３に格納されたテスト観点状態情報、テスト観点条件情報、テスト観点設定情報、及びテスト観点方法情報が一列多行又は多列多行の表が表示される。ここで、「多列多行の表が表示される」とは、例えば、図１０のＳＢ６にて関連付けられたテスト観点情報の内容が「様々な状態」から「様々な自動販売機状態」に変更された場合に、観点表示領域１０７において「様々な状態」が所定のセルに表示されると共に、「様々な状態」が表示されているセルよりも下位側のセルに「様々な自動販売機状態」が表示されること等が該当する。）。なお、この観点表示領域１０７の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、観点表示領域１０７の表示を選択するための観点表示タブ１０７ａが設けられている。
【００８８】
ＳＤ２において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作（例えば、観点表示領域１０７に表示された観点の中から、所望の観点情報をマウスで左クリックする）を行うことにより、ＳＤ１にて表示されたテスト観点情報の中から所望のテスト観点情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記テスト観点情報が選択されるまで待機し（ＳＤ２、Ｎｏ）、上記テスト観点情報が選択された場合（ＳＤ２、Ｙｅｓ）、ＳＤ３に移行する。
【００８９】
ＳＤ３において表示制御部６６は、観点整理指示テーブル７５に格納されたテスト観点整理指示情報をディスプレイ３０に表示する。このテスト観点整理指示情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図１９に示すように、ＳＤ２にてテスト観点情報が選択された後にユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、観点表示領域１０７上に表示領域１０８（以下、「観点整理指示表示領域１０８」と称する。例えば、ポップアップ画像等が該当する。）を表示し、観点整理指示テーブル７５に格納されたテスト観点整理指示情報（図１９、図２０に示す「新規作成」、「上位階層」、「同階層」、「下位階層」、「汎用テスト観点指定」、「様々な状態」、「様々な条件」、「様々な設定」、「様々な方法」、「関連指定」、「同一」、「ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ」、「ｓｅｑｕｅｎｃｅ」、「削除」等）を観点整理指示表示領域１０８に表示する。
【００９０】
ＳＤ４において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、ＳＤ３にて表示されたテスト観点整理指示情報の中から所望のテスト観点整理指示情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記テスト観点整理指示情報が選択されるまで待機し（ＳＤ４、Ｎｏ）、上記テスト観点整理指示情報が選択された場合（ＳＤ４、Ｙｅｓ）、観点整理指示表示領域１０８を非表示にした後、ＳＤ５に移行する。
【００９１】
ＳＤ５において観点整理部６４は、ＳＤ４にて選択されたテスト観点整理指示情報に基づいて、ＳＤ１に表示されたテスト観点情報を階層的に整理する。
【００９２】
ここで、ＳＤ４にてテスト観点整理指示情報として、テスト観点新規作成情報（図１９に示す「新規作成」）、テスト観点上位階層作成情報（図１９に示す「上位階層」）、テスト観点同階層作成情報（図１９に示す「同階層」）、又はテスト観点下位階層作成情報（図１９に示す「下位階層」）が選択された場合には、図１４のＳＣ４にて、機能新規作成情報等が選択された場合の機能情報の整理と略同様の方法で整理を行う。
【００９３】
また、ＳＤ４にてテスト観点整理指示情報として、汎用テスト観点指定情報（図１９に示す「汎用テスト観点指定」）、テスト観点状態入力情報（図１９に示す「様々な状態」）、テスト観点条件入力情報（図１９に示す「様々な条件」）、テスト観点設定入力情報（図１９に示す「様々な設定」）、又はテスト観点方法入力情報（図１９に示す「様々な方法」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、テスト観点状態入力情報、テスト観点条件入力情報、テスト観点設定入力情報、テスト観点方法入力情報のいずれか１つが指定されると、ＳＤ２にて選択されたテスト観点情報に対応するセルに入力されている情報を、当該指定されたテスト観点状態入力情報、テスト観点条件入力情報、テスト観点設定入力情報、テスト観点方法入力情報のいずれか１つに対応するテスト観点情報が入力されているセルよりも下位側のセルに移動させる。
【００９４】
また、ＳＤ４にてテスト観点整理指示情報として、テスト観点関連指定情報のうち、テスト観点同一関連情報（図２０に示す「同一」）、テスト観点組合関連情報（図２０に示す「ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ」）、又はテスト観点順序関連情報（図２０に示す「ｓｅｑｕｅｎｃｅ」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、テスト観点同一関連情報が選択されると、ＳＤ２にて選択された複数のテスト観点情報同士を同一のものとして関連付けて、当該複数のテスト観点情報のいずれか一方を削除する。また、テスト観点組合関連情報が選択されると、ＳＤ２にて選択された複数のテスト観点情報同士を組み合わせの関係があるものとして関連付ける。また、テスト観点順序関連情報が選択されると、ＳＤ２にて選択された複数のテスト観点情報同士を順序依存性の関係があるものとして関連付ける。このような制御により、テスト観点関連情報等を選択することにより、ＳＤ２にて選択された複数のテスト観点情報を関連付けることができ、例えば、テスト項目情報に対応するテストの順序の決定等を正確に行うことができる。
【００９５】
また、ＳＤ４にてテスト観点整理指示情報として、テスト観点削除情報（図１９に示す「削除」）が選択された場合には、図１４のＳＣ４にて、機能削除情報が選択された場合の機能情報の整理と略同様の方法で制御を行う。
【００９６】
ＳＤ６において制御部６０は、ユーザによって操作部１０を介して所定操作が受け付けられることにより、終了指示が受け付けられたか否かを判定する。そして、制御部６０は、終了指示が受け付けられていないと判定された場合（ＳＤ６、Ｎｏ）にはＳＤ２へ移行し、終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＤ６、Ｙｅｓ）、観点整理処理を終了して、図９の試験設計支援処理に戻る。
【００９７】
このような処理により、テスト観点情報の整理を半自動で行う場合に、このテスト観点情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【００９８】
（試験設計支援処理−テスト項目作成処理）
次に、図９に示すテスト項目作成処理（ＳＡ４）について説明する。図２１は、テスト項目作成処理のフローチャートである。図２２は、テスト項目情報を作成している状態を示す図である。図２３は、テスト項目情報を整理している状態を示す図である。図２４は、テスト項目情報を作成している状態を示す図である。図２５は、テスト項目情報を整理した状態を示す図である。図２６は、後述するテスト項目表示領域１１１を例示した図である。このテスト項目作成処理は、テスト項目情報を作成する処理である。
【００９９】
図２１に示すように、まず、ＳＥ１において表示制御部６６は、仕様内容情報をディスプレイ３０に表示する。具体的には、図１０のＳＢ２の処理と同様に、仕様表示領域１００をディスプレイ３０の画面のトップに表示して、仕様内容情報のみを当該仕様表示領域１００に表示する（なお、後述する図２７のＳＦ１の処理についても同様とする）。
【０１００】
ＳＥ２において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、ＳＥ１にて表示された仕様内容情報の中から所望の文字情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記文字情報が選択されるまで待機し（ＳＥ２、Ｎｏ）、上記文字情報が選択された場合（ＳＥ２、Ｙｅｓ）、ＳＥ３に移行する。
【０１０１】
ＳＥ３において制御部６０は、ＳＥ２にて選択された文字情報（具体的には、図２２に示す枠で覆われた機能文字情報）に基づいて、図１０の関連付処理（ＳＡ１）にて当該文字情報と関連付けられた機能情報であって、図１４の機能整理処理（ＳＡ２）にて整理された機能情報を取得する。ここで、「図１４の機能整理処理（ＳＡ２）にて整理された機能情報」とは、実施の形態では、図１４の機能整理処理（ＳＡ２）において、削除されることなく、機能整理指示表示領域１０５に表示されている機能情報が該当する。なお、ＳＥ２にて選択された文字情報が機能文字情報以外の他の文字情報であることにより機能情報を取得できない場合には、ＳＥ２に移行してもよく、あるいは、ＳＥ４に移行してもよい（なお、後述するＳＦ２の処理についても同様とする）。
【０１０２】
ＳＥ４において表示制御部６６は、図１８のテスト観点整理処理（ＳＡ３）にて整理されたテスト観点情報をディスプレイ３０に表示する。このテスト観点情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図２２に示すように、ＳＥ３にて機能情報が取得された後にユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、仕様表示領域１００上に表示領域１０９（以下、「観点適用表示領域１０９」と称する。例えば、ポップアップ画像等が該当する。）を表示し、図１８のテスト観点整理処理（ＳＡ３）にて整理されたテスト観点情報（図２２に示す「様々な状態」、「様々な自動販売機状態」、「様々な商品棚温度」、「様々な在庫状況」、「様々な投入金額」、「様々な条件」、「様々な設定」、「様々な方法」等）を観点適用表示領域１０９に表示する。また、この観点適用表示領域１０９の具体的な表示内容については任意であるが、実施の形態では、図２２に示すように、上記テスト観点情報に加えて、質問入力要求情報及びメモ入力要求情報が表示してもよい。
【０１０３】
ＳＥ５において制御部６０は、テスト観点情報が取得されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、テスト観点情報が取得されるまで待機し（ＳＥ５、Ｎｏ）、テスト観点情報が取得された場合（ＳＥ５、Ｙｅｓ）、観点適用表示領域１０９を非表示にした後、ＳＥ６に移行する。
【０１０４】
ＳＥ６においてテスト項目情報作成部６５は、ＳＥ２にて選択された文字情報（具体的には機能文字情報）をＳＥ５にて取得されたテスト観点情報と関連付けると共に、当該テスト観点情報をディスプレイ３０に表示する。ここで、テスト観点情報の表示方法については任意であるが、具体的には、図２２に示すように、仕様表示領域１００上に表示領域１１０（以下、「観点関連付表示領域１１０」と称する）を表示し（例えば、図２２に示すように、仕様表示領域１００上の右側に観点関連付表示領域１１０を表示する等）、機能文字情報（又は、仕様内容情報における機能文字情報以外の文字情報）と関連付けられたテスト観点情報を観点関連付表示領域１１０に表示する。また、図２２に示すように、機能文字情報とテスト観点情報との関連付けを示す情報を、機能文字情報とテスト観点情報とを結ぶ線（本実施の形態においては点線）として表示する（なお、後述する図２７のＳＦ５のテスト技法情報の表示方法についても同様とする）。
【０１０５】
ＳＥ７においてテスト項目情報作成部６５は、ＳＥ３にて取得された機能情報と、ＳＥ６にて関連付けられたテスト観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成する。このテスト項目情報の作成方法については任意であるが、実施の形態では、データ記録部７０に予め格納された定型文章を特定する情報に、ＳＥ３にて取得された機能情報及びＳＥ６にて関連付けられたテスト観点情報を組み合わせることにより、テスト項目情報を作成する。例えば、ＳＥ３にて取得された機能情報＝商品送出、ＳＥ６にて関連付けられたテスト観点情報＝「様々な商品種類」、定型文章を特定する情報＝「〇〇〇で×××の振る舞いを確認」である場合に、定型文章の「〇〇〇」の部分に上記テスト観点情報を当てはめると共に、定型文章の「×××」に上記機能情報を当てはめることにより、テスト項目情報＝「様々な商品種類で商品送出の振る舞いを確認」を作成する。また、これに限られず、例えば、ＳＥ３にて取得された機能情報を特定できない場合には、定型文章を特定する情報＝「〇〇〇で△△△」を用いて、定型文章の「〇〇〇」の部分に上記テスト観点情報を当てはめると共に、定型文章の「△△△」にＳＥ２にて選択された文字情報（一例として、「商品の取り出し口への送り出しを制御」等）を当てはめることにより、テスト項目情報＝「様々な商品種類で商品の取り出し口への送り出しを制御」を作成してもよい。このような方法により、複雑な文章作成手法を用いることなく、テスト項目情報を簡易に作成することができ、制御部６０の処理負荷を低減できる。
【０１０６】
ＳＥ８において表示制御部６６は、ＳＥ７にて作成されたテスト項目情報をディスプレイ３０に表示する。このテスト項目情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図２３に示すように、ディスプレイ３０の画面上に表示領域１１１（以下、「テスト項目表示領域１１１」と称する）を生成し、ＳＥ７にて作成されたテスト項目情報に加えて、図１４の機能整理処理（ＳＡ２）にて整理された機能情報及びＳＥ６にて関連付けられたテスト観点情報をテスト項目表示領域１１１に表形式で相互に関連付けて表示する。なお、テスト項目表示領域１１１の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、テスト項目表示領域１１１の表示を選択するためのテスト項目表示タブ１１１ａが設けられている。
【０１０７】
ＳＥ９において制御部６０は、ユーザによって操作部１０を介して所定操作が受け付けられることにより、終了指示が受け付けられたか否かを判定する。そして、制御部６０は、終了指示が受け付けられていないと判定された場合（ＳＥ９、Ｎｏ）にはＳＥ２へ移行し、終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＥ９、Ｙｅｓ）、テスト項目作成処理を終了して、図９の試験設計支援処理に戻る。
【０１０８】
このような処理により、テスト項目情報作成部６５によって一定のロジックに基づいてテスト項目情報を作成でき、従来技術に比べてテスト項目情報の品質を確保しやすくなる。また、上述した一定のロジックに基づいてテスト項目情報が作成されているので、当該テスト項目情報の作成に用いられた機能情報やテスト観点情報をテスト項目情報と関連付けて当該テスト項目表示領域１１１に自動的に表示することできることから、テスト項目情報の作成に至る経緯を容易に追跡することが可能となる。よって、試験の設計を効果的に支援することが可能となる。また、テスト項目情報作成部６５が、機能整理部６３にて整理された機能情報と、観点整理部６４にて整理されたテスト観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、機能情報とテスト観点情報をそれぞれ既定の階層構造に合致するように階層化して対応させた上でテスト項目を作成する等、機能情報とテスト観点情報との相互の対応を正確且つ迅速に行うことが可能になり、ひいてはテスト項目情報を正確且つ迅速に作成することができる。よって、テスト項目情報の作成漏れや作成ミスを防止することができるため、テスト項目情報の品質を一層確保しやすくなると共に、テスト項目情報の作成効率を向上させることができる。
【０１０９】
なお、実施の形態に係るテスト項目作成処理では、ＳＥ６において、ＳＥ２にて選択された文字情報（具体的には、機能文字情報）をＳＥ４にて観点適用表示領域１０９に表示されたテスト観点情報の中から取得されたテスト観点情報と関連付けると説明したが、これに限られない。例えば、図２４に示すように、観点適用表示領域１０９に代えて、図１８のテスト観点整理処理（ＳＡ３）にて生成された観点表示領域１０７を仕様表示領域１００と共にディスプレイ３０の画面のトップに表示し、この観点表示領域１０７に表示されたテスト観点情報の中から所望のテスト観点情報を取得し、ＳＥ３にて選択された文字情報（具体的には、機能文字情報）を当該取得したテスト観点情報と関連付けてもよい。
【０１１０】
図２３に戻り、また、ＳＥ８において、ＳＥ７にて作成されたテスト項目情報をテスト項目表示領域１１１に単に表示すると説明したが、実施の形態では、上記テスト項目情報の表示に加えて、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、テスト項目情報の整理を行うことができる（なお、後述するＳＦ７の処理についても同様とする）。具体的には、図２３に示すように、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、テスト項目表示領域１１１に表示されたテスト項目情報の中から所望のテスト項目情報（又はテスト項目表示領域１１１の空白のセル）を選択した後に、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、テスト項目表示領域１１１上に表示領域１１２（以下、「テスト項目整理指示表示領域１１２」と称する。例えば、ポップアップ画像等が該当する。）を表示し、テスト項目整理指示情報（図２３に示す「同時実行」、「斜め掛け」、「全組み合わせ」、「挿入」、「削除」、「テスト技法」等）をテスト項目整理指示表示領域１１２に表示する。そして、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、テスト項目整理指示表示領域１１２に表示されたテスト項目整理指示情報の中から所望のテスト項目整理指示情報を選択し、当該選択したテスト項目整理指示情報に基づいてテスト項目情報を整理する。
【０１１１】
ここで、テスト項目整理指示情報として、テスト項目まとめ方指定情報のうち、テスト項目同時実行情報（図２３に示す「同時実行」）、テスト項目斜め掛け情報（図２３に示す「斜め掛け」）、又はテスト項目全組合情報（図２３に示す「全組み合わせ」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、テスト項目同時実行情報が選択されると、選択された複数のテスト項目情報を同時に実行するものとしてまとめる。また、テスト項目斜め掛け情報が選択されると、後述するテスト条件作成処理にて作成されたテスト条件情報の組み合わせパターンのうち、各テスト条件が最低１回登場するように、複数のテスト項目情報を組み合わせる。また、テスト項目全組合情報が選択されると、後述するテスト条件作成処理にて作成されたテスト条件情報の組み合わせパターンを網羅するように、複数のテスト項目情報を組み合わせる。また、上記整理されたテスト項目情報の表示方法については任意であるが、当該テスト項目情報を識別可能な態様で表示することが好ましい。例えば、図２３に示すように、線等の図形を当該テスト項目情報の近傍に表示したり、当該テスト項目情報を識別可能な色で表示したり、あるいは、テスト項目まとめ方指定情報を当該テスト項目情報の近傍に表示してもよい。この場合には、上記表示された図形やテスト項目まとめ方指定情報は、ユーザが操作部１０を介して選択した後に所定操作を行うことにより、上記整理されたテスト項目情報を整理前の状態に戻せるようにしてもよい。また、図２５に示すように、整理されたテスト項目情報同士を１つのセル内にまとめて表示してもよい。この場合には、テスト項目情報だけでなく、テスト項目情報に対応する機能情報やテスト観点情報も１つのセル内にまとめて表示する。また、機能情報やテスト観点情報の整理に用いられたテスト項目まとめ方指定情報を視覚的に認識できるようにしてもよい。例えば、図２５に示すように、テスト項目同時実行情報によってまとめられた場合には機能情報同士の相互間（又はテスト観点情報同士の相互間）に「・」を追記し、テスト項目斜め掛け情報によってまとめられた場合には機能情報同士の相互間（又はテスト観点情報同士の相互間）に「＋」を追記し、テスト項目全組合情報によってまとめられた場合には機能情報同士の相互間（又はテスト観点情報同士の相互間）に「×」を追記してもよい。このような制御により、テスト項目まとめ方指定情報を選択することにより、ＳＣ２にて選択された複数のテスト項目情報をまとめることができ、テスト項目情報の整理を簡易に行うことができる。
【０１１２】
図２３に戻り、また、テスト項目整理指示情報として、テスト項目挿入情報（図２３に示す「挿入」）、テスト項目削除情報（図２３に示す「削除」）、テスト技法情報（図２３に示す「テスト技法」）が選択された場合には、以下に示す方法で整理を行う。具体的には、テスト項目挿入情報が選択されると、選択されたテスト項目表示領域１１１のセルの上（又は下）に新しいセルを１つ挿入する。また、テスト項目削除情報が選択されると、選択されたテスト項目情報を削除する。また、テスト技法情報が選択されると、選択されたテスト項目情報に対応するテスト技法情報を特定し、当該特定したテスト技法情報を当該選択されたテスト項目情報と関連付ける。
【０１１３】
また、ＳＥ８において、ＳＥ７にて作成されたテスト項目情報を文章形式で表示すると説明したが、これに限られない。例えば、図２６に示すように、ＳＥ６にて関連付けられたテスト観点情報を行方向に配置し、図１４の機能整理処理（ＳＡ２）にて整理された機能情報を列方向に配置することで、マトリックス表を構成し、当該構成したマトリックス表において、ＳＥ７にて作成されたテスト項目情報を所定の記号（図２６に示す「〇」等）で表示してもよい。これにより、図２６におけるテスト項目情報の表示に比べて、テスト項目情報に対応する機能情報とテスト観点情報との相互関係を視認しやすく表示できる。なお、この場合においては、例えば、ユーザによって操作部１０を介してテスト項目情報に対応するセル（又は空白のセル）を選択した後に、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、テスト項目情報の追加や削除を行えるようにしてもよい。
【０１１４】
（試験設計支援処理−テスト条件作成処理）
次に、図９に示すテスト条件作成処理（ＳＡ５）について説明する。図２７は、テスト条件作成処理のフローチャートである。図２８は、テスト条件情報を作成している状態を示す図である。図２９は、テスト項目表示領域１１１を例示した図である。図３０は、図２９に示すテスト条件情報を整理した状態を示す図である。このテスト条件作成処理は、テスト条件情報を作成する処理である。
【０１１５】
図２７に示すように、まず、ＳＦ１において表示制御部６６は、仕様内容情報をディスプレイ３０に表示する。
【０１１６】
ＳＦ２において制御部６０は、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、ＳＦ１にて表示された仕様内容情報の中から所望の文字情報が選択されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、上記文字情報が選択されるまで待機し（ＳＦ２、Ｎｏ）、上記文字情報が選択された場合（ＳＦ２、Ｙｅｓ）、ＳＦ３に移行する。
【０１１７】
ＳＦ３において表示制御部６６は、図２１のＳＥ８にて特定されたテスト技法情報をディスプレイ３０に表示する。このテスト技法情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図２８に示すように、ＳＦ３にてテスト観点情報が取得された後にユーザが操作部１０を介して所定操作（例えば、マウスで右クリックを行って表示させたメニューダイアログ画面においてテスト技法情報を選択する）を行うことにより、仕様表示領域１００上に表示領域１１３（以下、「テスト技法表示領域１１３」と称する。例えば、ポップアップ画像等が該当する。）を表示し、図２１のＳＥ８にて特定されたテスト技法情報をテスト技法表示領域１１３に表示する。例えば、図２１のＳＥ８にて境界値分析情報が特定された場合には、図２８に示すように、無効同値クラスの下限を特定する情報、有効同値クラスの上限を特定する情報、有効同値クラスの下限を特定する情報、及び無効同値クラスの上限を特定する情報（図２８に示す「無効同値クラスの下限」、「有効同値クラスの上限」、「有効同値クラスの下限」、「無効同値クラスの上限」等）を表示する。
【０１１８】
ＳＦ４において制御部６０は、テスト技法情報が取得されたか否かを判定する。そして、制御部６０は、テスト技法情報が取得されるまで待機し（ＳＦ４、Ｎｏ）、テスト技法情報が取得された場合（ＳＦ４、Ｙｅｓ）、テスト技法表示領域１１３を非表示にした後、ＳＦ５に移行する。
【０１１９】
ＳＦ５においてテスト条件情報作成部６７は、ＳＦ４にて取得されたテスト技法情報をＳＦ３にて選択された文字情報（具体的にはテスト条件文字情報）と関連付けると共に、当該テスト技法情報をディスプレイ３０（例えば、仕様表示領域１００上の表示領域１１４（以下、「テスト条件関連付表示領域１１４」と称する））に表示する。
【０１２０】
ＳＦ６においてテスト条件情報作成部６７は、ＳＦ３にて選択された文字情報（具体的にはテスト条件文字情報）と、ＳＦ５にて関連付けられたテスト技法情報とに基づいて、テスト条件情報を作成する。このテスト条件情報の作成方法については任意であるが、実施の形態では、データ記録部７０に予め格納された定型文章を特定する情報に、ＳＦ３にて選択されたテスト条件文字情報及びＳＦ５にて関連付けられたテスト技法情報を組み合わせることにより、テスト条件情報を作成する。例えば、図２１のＳＥ８にて境界値分析情報が特定された場合において、ＳＦ３にて選択された文字情報（具体的には、テスト条件文字情報）＝５０℃、ＳＥ６にて関連付けられたテスト技法情報＝「有効同値クラスの下限２」、定型文章を特定する情報＝「××〇を〇〇×とする」である場合に、定型文章の「××〇」の部分に上記テスト技法情報を当てはめると共に、定型文章の「〇〇×」に上記テスト条件文字情報を当てはめることにより、テスト条件情報＝「有効同値クラスの下限２を５０℃とする」を作成する。なお、例えば、テスト技法情報＝「有効同値クラス２の下限」及び「有効同値クラス２の上限」の各々に対応するテスト条件情報が作成された場合には、テスト技法情報＝「有効同値クラス３の下限」及び「有効同値クラス１の上限」の各々に対応するテスト条件情報を自動的に作成してもよい。あるいは、テスト技法情報＝「有効同値クラス３の下限」及び「有効同値クラス１の上限」の各々に対応するテスト条件情報が作成された場合には、テスト技法情報＝「有効同値クラス２の下限」及び「有効同値クラス２の上限」の各々に対応するテスト条件情報を自動的に作成してもよい。このような方法により、複雑な文章作成手法を用いることなく、テスト条件情報を簡易に作成することができ、制御部６０の処理負荷を低減できる。
【０１２１】
ＳＦ７において表示制御部６６は、ＳＦ６にて作成されたテスト条件情報をディスプレイ３０に表示する。このテスト条件情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図２９に示すように、テスト項目表示領域１１１をディスプレイ３０の画面のトップに表示し、図２１のＳＥ８にて表示された機能情報、テスト観点情報、及びテスト項目情報に加えて、ＳＦ６にて作成されたテスト条件情報をテスト項目表示領域１１１に表形式で相互に関連付けて表示する。
【０１２２】
ＳＦ８において制御部６０は、ユーザによって操作部１０を介して所定操作が受け付けられることにより、終了指示が受け付けられたか否かを判定する。そして、制御部６０は、終了指示が受け付けられていないと判定された場合（ＳＦ８、Ｎｏ）にはＳＦ２へ移行する。一方、終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＦ８、Ｙｅｓ）、ＳＦ７においてテスト項目表示領域１１１に表示された機能情報、テスト観点情報、テスト項目情報、及びテスト条件情報に加えて、図１０のＳＢ１にて取得された仕様内容情報に含まれる文字情報と関連付けられた情報（例えば、質問内容情報、メモ情報、章タイトル情報等）を、当該仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納し、その後テスト条件作成処理を終了して、図９の試験設計支援処理に戻る。
【０１２３】
なお、実施の形態に係るテスト条件作成処理では、ＳＦ７において、ＳＦ６にて作成されたテスト条件情報をテスト項目表示領域１１１に単に表示すると説明したが、実施の形態では、上記テスト条件情報の表示に加えて、図２１のＳＥ８にてテスト項目整理指示情報が選択されていた場合には、図３０に示すように、当該テスト項目整理指示情報に対応するテスト条件情報同士を１つのセル内にまとめて表示してもよい。この場合には、テスト条件情報だけでなく、テスト条件情報に対応する機能情報、テスト観点情報、及びテスト項目情報も１つのセル内にまとめて表示してもよい。
【０１２４】
このような処理により、テスト条件情報作成部６７によって一定のロジックに基づいてテスト条件情報を作成でき、テスト条件情報の品質を確保しやすくなる。よって、試験の設計を一層効果的に支援することが可能となる。
【０１２５】
（試験設計支援処理−テストケース作成処理）
次に、図９に示すテストケース作成処理（ＳＡ６）について説明する。図３１は、テストケース作成処理のフローチャートである。図３２は、テストケース情報を作成している状態を示す図である。図３３は、テストケース情報を作成した状態を示す図である（一部非表示とする）。このテストケース作成処理は、テストケース情報を作成する処理である。
【０１２６】
図３１に示すように、まず、ＳＧ１においてテストケース情報作成部６９は、図２７のＳＦ８にて作成されたテスト条件情報を展開し、当該展開したテスト条件情報をディスプレイ３０に表示する。ここで、「テスト条件情報を展開する」とは、テスト条件情報に含まれる複数のテスト条件を個別に分離させることを意味する。
【０１２７】
また、この展開したテスト条件情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図３２に示すように、仕様表示領域１００上に表示領域１１５（以下、「テストケース表示領域１１５」と称する。）を表示し、テストケース情報作成部６９にて展開されたテスト条件をテスト条件表示領域１１５に表形式で表示する（なお、実施の形態では、展開されたテスト条件に加えて、当該テスト条件に対応するテスト項目情報も相互に関連付けて表示する）。この場合において、ＳＥ８にてテスト項目整理指示情報が選択されていた場合には、当該テスト項目整理指示情報に基づいて複数のテスト条件を組み合わせ、当該組み合わせたテスト条件を個別に表示する。例えば、第１のテスト条件情報＝有効同値クラス１の上限を４９℃とする、有効同値クラス２の下限を５０℃とする、有効同値クラス２の上限を６０℃とする、有効同値クラス３の下限を６１℃とする、第２のテスト条件情報＝有効同値クラス１の値を在庫ありとする、有効同値クラス２の値を在庫なしとする、である場合において、ＳＥ８にて選択されたテスト項目整理指示情報＝テスト項目全組合情報である場合には、図３２に示すように、第１のテスト条件情報及び第２のテスト条件情報の組み合わせパターンを網羅するようにそれぞれ組み合わせ（具体的には、第１のテスト条件情報の４パターン×第２のテスト条件情報の２パターン＝８パターンを組み合わせ）、当該組み合わせたテスト条件１＝商品棚温度：４９℃、在庫状況：在庫あり、テスト条件２＝商品棚温度：４９℃、在庫状況：在庫なし、テスト条件３＝商品棚温度：５０℃、在庫状況：在庫あり、テスト条件４＝商品棚温度：５０℃、在庫状況：在庫なし、テスト条件５＝商品棚温度：６０℃、在庫状況：在庫あり、テスト条件５＝商品棚温度：６０℃、在庫状況：在庫なし、テスト条件６＝商品棚温度：６１℃、在庫状況：在庫あり、テスト条件７＝商品棚温度：６１℃、在庫状況：在庫なし、を表示する。また、ＳＥ８にて選択されたテスト項目整理指示情報＝テスト項目斜め掛け情報である場合には、第１のテスト条件情報及び第２のテスト条件情報の各々のテスト条件が最低１回登場するようにそれぞれ組み合わせ（具体的には、４パターンを組み合わせ）、当該組み合わせたテスト条件１＝商品棚温度：４９℃、在庫状況：在庫あり、テスト条件２＝商品棚温度：５０℃、在庫状況：在庫なし、テスト条件３＝商品棚温度：６０℃、在庫状況：在庫あり、テスト条件４＝商品棚温度：６１℃、在庫状況：在庫なし、を表示する。一方、ＳＥ８にて選択されたテスト項目整理指示情報＝テスト項目同時実行情報である場合や、ＳＥ８にてテスト項目整理指示情報が選択されていない場合には、第１のテスト条件情報及び第２のテスト条件情報の各々のテスト条件を組み合わせることなく、テスト条件１＝商品棚温度：４９℃、テスト条件２＝商品棚温度：５０℃、テスト条件３＝商品棚温度：６０℃、テスト条件４＝商品棚温度：６１℃、テスト条件５＝在庫状況：在庫あり、テスト条件６＝在庫状況：在庫なし、を表示する。なお、このテストケース表示領域１１５の具体的な構成については任意であるが、実施の形態では、テストケース表示領域１１５の表示（具体的には、ディ���プレイ３０の画面のトップに表示）を選択するためのテストケース表示タブ１１５ａが設けられている。
【０１２８】
図３１に戻り、ＳＧ２においてテストケース情報作成部６９は、所定方法によってＳＧ１にて展開された所定のテスト条件に対応するテスト手順情報及び期待結果情報が取得されたか否かを判定する。ここで、「テスト手順情報」とは、テストの手順を特定する情報である。また、「期待結果情報」とは、テストの実行によって期待される結果を特定する情報である。また、これらテスト手順情報及び期待結果情報の取得方法については任意であるが、例えば、ユーザが操作部１０を介して入力されたテスト手順情報及び期待結果情報を、取得すべきテスト手順情報及び期待結果情報として取得してもよい。あるいは、データ記録部７０にあらかじめテスト手順情報及び期待結果情報を格納しておき、当該格納されたテスト手順情報及び期待結果情報をＳＧ２の処理時にディスプレイ３０に表示させ、当該表示されたテスト手順情報及び期待結果情報の中からユーザによって選択されたテスト手順情報及び期待結果情報を、取得すべきテスト手順情報及び期待結果情報として取得してもよい。なお、ＳＧ２にて取得される情報としてテスト手順情報及び期待結果情報であると説明したが、これに限られず、例えば、図３２に示すように、これらテスト手順情報及び期待結果情報に加えて、前提条件情報が取得されてもよい。ここで、「前提条件情報」とは、テスト条件とは異なる条件であってテストを実行するための前提となる条件（以下、「前提条件」と称する）を特定する情報である。
【０１２９】
ＳＧ３においてテストケース情報作成部６９は、ＳＧ１にて展開された所定のテスト条件に対応するテスト項目情報と、ＳＧ２にて取得されたテスト手順情報及び期待結果情報とに基づいてテストケース情報を作成し、当該作成したテストケース情報をディスプレイ３０に表示する。ここで、テストケース情報の作成方法については、実施の形態では、ＳＧ１にて展開された所定のテスト条件に対応するテスト項目情報と、ＳＧ２にて取得されたテスト手順情報及び期待結果情報とを相互に関連付け、当該関連付けたこれらの情報をテストケース情報として作成する。あるいは、これに限られず、例えば、上記テスト項目情報、テスト手順情報、及び期待結果情報を組み合わせ、当該組み合わせたこれらの情報をテストケース情報として作成してもよい。また、テストケース情報の表示方法については任意であるが、実施の形態では、図３３に示すように、ＳＧ１にて表示されたテスト項目情報と、ＳＧ１にて展開されたテスト条件と、ＳＧ２にて取得されたテスト手順情報と、ＳＧ２にて取得された期待結果情報とをテストケース表示領域１１５に表形式で相互に関連付けて表示する。
【０１３０】
なお、このテストケース表示領域１１５の表示内容については任意であるが、実施の形態では、図３３に示すように、テストケース情報の作成及び表示に加えて、ＳＧ１にて展開された所定のテスト条件に対応する判定情報、不具合情報、実施者情報、実施日情報、バージョン情報、及び備考情報が所定のタイミング（例えば、ＳＧ３の処理時と同じタイミング又はそれ以降のタイミング）で操作部１０を介して入力された場合には、これら情報をテストケース情報と相互に関連付けて表示する（図３３では、「判定」、「不具合ＩＤ」、「実施者」、「実施日」、「バージョン」、「備考」と表示）。ここで、「判定情報」とは、テストを実行した際に、期待される結果が得られたか否かの判定結果を特定する情報である。また、「不具合情報」とは、テストを実行した際に期待される結果が得られなかった場合やテストを実行できなかった場合に、これらの原因となる不具合を特定する情報である（図３３では、所定の不具合を特定するＩＤが表示される）。また、「実施者情報」とは、テストの実施者を特定する情報である。また、「実施日情報」とは、テストの実施日を特定する情報である。また、「バージョン情報」とは、テストに用いられたソフトウェアのバージョンを特定する情報である。また、「備考情報」とは、テストの実行に関する備考を特定する情報である。これら情報の表示により、各テストケース情報に対応する判定情報や不具合情報を容易に確認することができ、テストケース情報の見直しを行いやすくなる。
【０１３１】
図３１に戻り、ＳＧ４において制御部６０は、ユーザによって操作部１０を介して所定操作が受け付けられることにより、終了指示が受け付けられたか否かを判定する。そして、制御部６０は、終了指示が受け付けられていないと判定された場合（ＳＧ４、Ｎｏ）にはＳＧ２へ移行する。一方、終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＧ４、Ｙｅｓ）、ＳＧ３においてテストケース表示領域１１５に表示されたテストケース情報（あるいは、テストケース情報に加えて、判定情報、不具合情報、実施者情報、実施日情報、バージョン情報、又は備考情報）を、図１０のＳＢ１にて取得された仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納し、その後テストケース作成処理を終了して、図９の試験設計支援処理に戻り、この試験設計支援処理を終了する。
【０１３２】
このような処理により、テストケース情報作成部６９によって一定のロジックに基づいてテストケース情報を作成でき、テストケース情報の品質を確保しやすくなる。よって、試験の設計を一層効果的に支援することが可能となる。
【０１３３】
（処理−更新処理）
次に、更新処理について説明する。図３４は、更新処理のフローチャートを示す図である。図３５は、更新の前の仕様内容情報と更新の後の仕様内容情報を表示した状態を示す図である。この更新処理は、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報を更新する処理である。この更新処理を実行するタイミングは任意であるが、実施の形態では、試験設計支援装置５０の電源が投入された後に起動され、試験設計支援処理と並行して実行される。なお、実施の形態においては、後述する更新処理のＳＨ１にて仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報が更新された場合には試験設計支援処理が中断されるものとし、更新処理が終了した場合には試験設計支援処理の中断が解除されるものとする。
【０１３４】
更新処理が起動されると、図３４に示すように、まず、ＳＨ１において更新部６８は、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報が更新されたか否かを判定する。ここで、仕様内容情報の更新の判定方法については任意であるが、例えば、仕様内容情報のバージョン情報が変更されたか否かに基づいて判定し、仕様内容情報のバージョン情報が変更された場合には仕様内容情報が更新されたと判定し、仕様内容情報のバージョン情報が変更されていない場合には仕様内容情報が更新されていないと判定する。そして、更新部６８は、仕様内容情報が更新されるまで待機し（ＳＨ１、Ｎｏ）、仕様内容情報が更新されたと判定されると（ＳＨ１、Ｙｅｓ）、ＳＨ２に移行する。
【０１３５】
ＳＨ２において更新部６８は、ＳＨ１にて更新された仕様内容情報のうち、当該更新の前の仕様内容情報が試験設計支援処理にて関連付けられた機能情報、テスト観点情報、テスト項目情報、テスト条件情報、質問内容情報、メモ情報、章タイトル情報、テストケース情報（テスト項目情報、テスト条件、テスト手順情報、及び期待結果情報）、判定情報、不具合情報、実施者情報、実施日情報、バージョン情報、備考情報、及びテスト観点を適用した際の情報（以下、「機能情報等」と称する）と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納されていたか否かを判定する。ここで、「テスト観点を適用した際の情報」とは、仕様内容情報の所定の文字情報（例えば、機能文字情報等）に対して所定の観点でテストを行う旨を示す情報であり、例えば、仕様内容情報の所定の文字情報＝商品の有無情報を保持する、に対してテスト観点情報＝様々な在庫状況、という観点でテストを行う旨を示す情報等が該当する。そして、更新部６８は、上記更新の前の仕様内容情報が機能情報等と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納されていた場合（ＳＨ２、Ｙｅｓ）にはＳＨ３に移行し、上記更新の前の仕様内容情報が機能情報等と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納されていなかった場合（ＳＨ２、Ｎｏ）にはＳＨ３の処理を行うことなく更新処理を終了する。
【０１３６】
ＳＨ３において更新部６８は、ＳＨ１にて更新された仕様内容情報のうち、当該更新の前の仕様内容情報及び当該更新の後の仕様内容情報の各々に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等に基づいて、仕様内容情報と関連付けられた機能情報等を更新の後の仕様内容情報と関連付ける。ここで、機能情報等を更新の後の仕様内容情報と関連付ける方法については任意であるが、実施の形態では、図３５に示すように、更新の後の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等が、更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等と同一である場合（図３５に示す枠で覆われた機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等）には、更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等に関連付けられた機能情報等を、更新の後の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等と関連付ける。一方、更新の後の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等が、更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等とが異なる場合には、例えば、当該更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報等に関連付けられた機能情報等を表示すると共に、当該機能情報等が関連付けられなかった旨を報知する情報をディスプレイ３０に表示することで、ユーザに対して当該機能情報等の修正を促すようにしてもよい。なお、例えば、図３５に示すように、上記機能情報等の関連付けが終了後に、更新の前の仕様内容情報と更新の後の仕様内容情報をディスプレイ３０に表示させることで、ユーザが上記機能情報等の関連付けの内容を確認できるようにしてもよい。その後、制御部６０は、更新処理を終了する。
【０１３７】
このような処理により、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報が更新された場合に、機能情報等を更新の後の仕様内容情報を自動的に関連付けできるので、機能情報等を更新の後の仕様内容情報に関連付ける作業を別途行う必要がなくなるので、当該作業に要する手間を省くことが可能となる。
【０１３８】
（効果）
このように実施の形態によれば、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報と関連付ける機能関連付部６１と、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択されたテスト観点文字情報を、所定方法で取得されたテスト観点情報と関連付ける観点関連付部６２と、機能関連付部６１にて関連付けられた機能情報と、観点関連付部６２にて関連付けられたテスト観点情報とに基づいてテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成部６５を備えたので、テスト項目情報作成部６５によって一定のロジックに基づいてテスト項目情報を作成でき、従来技術に比べてテスト項目情報の品質を確保しやすくなる。また、機能情報、観点情報、及びテスト項目情報を、仕様内容情報に含まれる機能文字情報又は観点文字情報と直接的又は間接的に関連付けることができ、テスト項目情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計を効果的に支援することが可能となる。
【０１３９】
また、機能関連付部６１が、仕様表示領域１００に表示された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、機能観点表示領域１０１に表示された機能情報の中から取得された機能情報と関連付け、観点関連付部６２が、仕様表示領域１００に表示された仕様内容情報の中から選択されたテスト観点文字情報を、機能観点表示領域１０１に表示されたテスト観点情報の中から取得されたテスト観点情報と関連付けるので、機能文字情報と機能情報との関連付け及びテスト観点文字情報とテスト観点情報との関連付けを半自動で行う場合に、これら関連付けに関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１４０】
また、テスト項目情報作成部６５が、機能整理部６３にて整理された機能情報と、観点整理部６４にて整理された観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、機能情報と観点情報をそれぞれ既定の階層構造に合致するように階層化して対応させた上でテスト項目を作成する等、機能情報と観点情報との相互の対応を正確且つ迅速に行うことが可能になり、ひいてはテスト項目情報を正確且つ迅速に作成することができる。よって、テスト項目情報の作成漏れや作成ミスを抑制することができるため、テスト項目情報の品質を一層確保しやすくなると共に、テスト項目情報の作成効率を向上させることができる。
【０１４１】
また、機能整理部６３が、機能整理指示表示領域１０５に表示された機能整理指示情報の中から選択された機能整理指示情報に基づいて、機能表示領域１０４に表示された機能情報を階層的に整理するので、機能情報の整理を半自動で行う場合に、この機能情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１４２】
また、観点整理部６４が、観点整理指示領域に表示された観点整理指示情報の中から選択された観点整理指示情報に基づいて、観点表示領域１０７に表示されたテスト観点情報を階層的に整理するので、テスト観点情報の整理を半自動で行う場合に、このテスト観点情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１４３】
また、テスト項目情報作成部６５が、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって機能関連付部６１によって機能情報と関連付けられた機能文字情報を、観点整理部６４によって階層的に整理されたテスト観点情報に関連付け、当該テスト項目情報作成部６５によってテスト観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して機能関連付部６１によって関連付けられた機能情報であって、機能整理部６３によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成部６５によって機能文字情報に関連付けられたテスト観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、テスト項目情報の作成を半自動で行う場合に、このテスト項目情報の作成に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１４４】
また、テスト条件情報作成部６７が、テスト項目情報作成部６５にて作成されたテスト項目情報を取得されたテスト技法情報と関連付けると共に、関連付けたテスト技法情報を選択されたテスト条件文字情報と関連付け、関連付けられたテスト技法情報及びテスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成するので、テスト条件情報作成部６７によって一定のロジックに基づいてテスト条件情報を作成でき、テスト条件情報の品質を確保しやすくなる。また、テスト条件情報を、仕様内容情報に含まれるテスト条件文字情報と直接的又は間接的に関連付けることができ、テスト条件情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計を一層効果的に支援することが可能となる。
【０１４５】
また、テスト項目情報作成部６５にて作成されたテスト項目情報と、テスト条件情報作成部６７にて作成されたテスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報とに基づいて、テストケース情報を作成するテストケース情報作成部６９を備えるので、テストケース情報作成部６９によって一定のロジックに基づいてテストケース情報を作成でき、テストケース情報の品質を確保しやすくなる。また、テストケース情報を、テスト項目情報及びテスト条件情報の各々と直接的又は間接的に関連付けることができ、テストケース情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計をさらに一層効果的に支援することが可能となる。
【０１４６】
また、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の仕様内容情報及び当該更新の後の仕様内容情報の各々に含まれる機能文字情報又はテスト観点文字情報に基づいて、仕様内容情報と関連付けられた機能情報、テスト観点情報、又はテスト項目情報を、更新の後の仕様内容情報と関連付ける更新部６８を備えたので、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報が更新された場合に、機能情報、テスト観点情報、又はテスト項目情報を更新の後の仕様内容情報を自動的に関連付けできるので、機能情報、テスト観点情報、又はテスト項目情報を更新の後の仕様内容情報に関連付ける作業を別途行う必要がなくなるので、当該作業に要する手間を省くことが可能となる。
【０１４７】
〔実施の形態に対する変形例〕
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明の具体的な構成及び手段は、特許請求の範囲に記載した本発明の技術的思想の範囲内において、任意に改変及び改良することができる。以下、このような変形例について説明する。
【０１４８】
（解決しようとする課題や発明の効果について）
まず、発明が解決しようとする課題や発明の効果は、上述の内容に限定されるものではなく、発明の実施環境や構成の細部に応じて異なる可能性があり、上述した課題の一部のみを解決したり、上述した効果の一部のみを奏することがある。例えば、本発明に係る試験設計支援システム１におけるテスト項目情報の品質が従来と同程度であっても、従来と異なる構造により従来と同程度のテスト項目情報の品質を有している場合には、本願発明の課題は解決されている。
【０１４９】
（分散や統合について）
また、上述した各電気的構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散や統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散又は統合して構成できる。本出願における「システム」とは、複数の装置によって構成されたものに限定されず、単一の装置によって構成されたものを含む。また、本出願における「装置」とは、単一の装置によって構成されたものに限定されず、複数の装置によって構成されたものを含む。例えば、試験設計支援装置５０を、相互に通信可能に構成された複数の装置に分散して構成し、これら複数の装置の一部に制御部６０を設けると共に、これら複数の装置の他の一部にデータ記録部７０を設けてもよい。
【０１５０】
（形状、数値、構造、時系列について）
実施の形態や図面において例示した構成要素に関して、形状、数値、又は複数の構成要素の構造若しくは時系列の相互関係については、本発明の技術的思想の範囲内において、任意に改変及び改良することができる。
【０１５１】
（機能テーブル、観点テーブルについて）
上記実施の形態では、機能テーブル７２には、機能情報のみが格納されていると説明したが、これに限られず、例えば、機能情報を、製品の分野（又は製品の種類）を特定する情報と相互に関連付けて格納してもよい。この場合には、機能情報の内容を各製品の分野（又は製品の種類）に対応する内容にすることにより、関連付処理において機能情報と機能文字情報との関連付けを正確に行うことが可能となる（なお、観点テーブル７３についても同様とする）。
【０１５２】
（試験設計支援処理について）
上記実施の形態では、関連付処理（ＳＡ１）、機能整理処理（ＳＡ２）、テスト観点整理処理（ＳＡ３）、及びテスト項目作成処理（ＳＡ４）が半自動で行うと説明したが、これに限られず、例えば、公知の言語解析手法等を用いて自動で行うようにしてもよい。
【０１５３】
また、上記実施の形態では、機能整理処理（ＳＡ２）、テスト観点整理処理（ＳＡ３）、テスト条件作成処理（ＳＡ５）、及びテストケース作成処理（ＳＡ６）が行われると説明したが、これに限られず、例えば、試験設計支援装置５０の処理負荷を低減するために、機能整理処理（ＳＡ２）、テスト観点整理処理（ＳＡ３）、テスト条件作成処理（ＳＡ５）、及びテストケース作成処理（ＳＡ６）を省略してもよい。この場合には、テスト項目作成処理（ＳＡ４）において、関連付処理（ＳＡ１）にて関連付けられた機能情報及びテスト観点情報に基づいてテスト項目情報を作成する。
【０１５４】
また、上記実施の形態では、関連付処理（ＳＡ１）、機能整理処理（ＳＡ２）、テスト観点整理処理（ＳＡ３）、テスト項目作成処理（ＳＡ４）、テスト条件作成処理（ＳＡ５）、テストケース作成処理（ＳＡ６）が順次行われると説明したが、これに限られない。例えば、ユーザが操作部１０を介して各種の表示タブを選択することにより、関連付処理（ＳＡ１）、機能整理処理（ＳＡ２）、テスト観点整理処理（ＳＡ３）、テスト項目作成処理（ＳＡ４）、テスト条件作成処理（ＳＡ５）、テストケース作成処理（ＳＡ６）が異なる順番で行われてもよい。一例として、テスト観点整理処理（ＳＡ３）が行われた後にユーザが操作部１０を介して機能表示タブ１０４ａを選択することにより、機能整理処理（ＳＡ２）に戻って当該関連付処理（ＳＡ１）を再度行ってもよい。この場合には、例えば、図１０のＳＢ１からＳＢ６のいずれかのタイミングで、ユーザが操作部１０を介して機能表示タブ１０４ａを選択することで、終了指示が受け付けられたものとして、関連付処理を終了してもよい（なお、図１４のＳＣ２、図１８のＳＤ２、図２１のＳＥ２、図２７のＳＦ２、及び図３１のＳＧ２についても同様とする）。また、図９の関連付処理（ＳＡ１）を行うことなく、図２１のテスト項目作成処理（ＳＡ４）を行う場合には、図２１のＳＥ１の処理を行う前に、図１０のＳＢ１と同様の処理を行うようにしてもよい。これにより、図９の関連付処理（ＳＡ１）が行われていなくても、図２１のテスト項目作成処理（ＳＡ４）の一部を行うことができ、ユーザの利便性を向上させることが可能となる（なお、図９の関連付処理（ＳＡ１）を行うことなく、図２７のテスト条件作成処理（ＳＡ５）を行う場合についても同様とする）。
【０１５５】
また、上記実施の形態では、ＳＦ８において終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＦ８、Ｙｅｓ）に、ＳＦ７においてテスト項目表示領域１１１に表示された機能情報、テスト観点情報、テスト項目情報、及びテスト条件情報を仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納すると説明したが、これとは異なるタイミングでテスト観点情報、テスト項目情報、及びテスト条件情報を仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納してもよい。例えば、ＳＢ７において終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＢ７、Ｙｅｓ）に、ＳＢ６にて機能文字情報と関連付けられた機能情報や、テスト観点文字情報と関連付けられたテスト観点情報を仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納してもよい。また、ＳＣ６において終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＣ６、Ｙｅｓ）に、ＳＣ５にて整理された機能情報を仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納してもよい。また、ＳＤ６において終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＤ６、Ｙｅｓ）に、ＳＤ５にて整理されたテスト観点情報を仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納してもよい。また、ＳＥ９において終了指示が受け付けられたと判定された場合（ＳＥ９、Ｙｅｓ）に、ＳＥ８にて表示されたテスト項目情報を仕様内容情報と関連付けて仕様内容ＤＢ７１に格納してもよい。
【０１５６】
（関連付処理について）
上記実施の形態では、ＳＢ６において、ＳＢ３にて選択された１つの機能文字情報をＳＢ５にて取得された１つの機能情報と関連付けると説明したが、これに限られない。例えば、ＳＢ１にて取得された仕様内容情報の中にＳＢ３にて選択された機能文字情報と同一の機能文字情報が複数存在する場合には、これら複数の機能文字情報の各々をＳＢ５にて取得された１つの機能情報とまとめて関連付けてもよい（なお、テスト観点文字情報とテスト観点情報との関連付けについても同様とする）。
【０１５７】
また、上記実施の形態では、機能情報と機能文字情報との関連付けやテスト観点文字情報とテスト観点情報との関連付けを行うと説明したが、これに限られず、例えば、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、仕様表示領域１００に表示された仕様内容情報を編集できるようにしてもよい。
【０１５８】
（テスト項目作成処理について）
上記実施の形態では、ＳＥ６、ＳＥ７において、テスト項目情報作成部６５が、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって機能関連付部６１によって機能情報と関連付けられた機能文字情報を、観点整理部６４によって階層的に整理されたテスト観点情報に関連付け、当該テスト項目情報作成部６５によってテスト観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して機能関連付部６１によって関連付けられた機能情報であって、機能整理部６３によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成部６５によって機能文字情報に関連付けられたテスト観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成すると説明したが、これに限られない。例えば、テスト項目情報作成部６５が、仕様内容ＤＢ７１に格納された仕様内容情報の中から選択されたテスト観点文字情報であって観点関連付部６２によってテスト観点情報と関連付けられたテスト観点文字情報を、機能整理部６３によって階層的に整理された機能情報に関連付け、テスト項目情報作成部６５によって機能情報に関連付けられたテスト観点文字情報に対して観点関連付部６２によって関連付けられたテスト観点情報であって、観点整理部６４によって階層的に整理されたテスト観点情報と、当該テスト項目情報作成部６５によってテスト観点文字情報に関連付けられた機能情報とに基づいて、テスト項目情報を作成してもよい。あるいは、機能整理部６３によって階層的に整理された機能情報の中から取得された所望の機能情報と、観点整理部６４によって階層的に整理されたテスト観点情報の中から取得された所望のテスト観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成してもよい。
【０１５９】
また、上記実施の形態では、ＳＥ８において、機能情報、テスト観点情報、及びテスト項目情報をテスト項目表示領域１１１に相互に関連付けて表示すると説明したが、これに限られない。例えば、ハイパーリンクのように、テスト項目表示領域１１１に表示された機能情報等を当該機能情報等と関連付けられた機能文字情報又はテスト観点文字情報を自動（又は手動）にてリンク付けし、テスト項目表示領域１１１に表示された機能情報等が操作部１０を介して選択された場合に、当該選択された機能情報、テスト観点情報、又はテスト項目情報と関連付けられた機能文字情報又はテスト観点文字情報を表示させてもよい（なお、図１３の質問内容情報等の表示、図１４のＳＣ１の機能情報の表示、図１８のＳＤ１のテスト観点情報の表示、図２７のＳＦ７のテスト条件情報の表示、図３１のＳＧ３のテストケース情報の表示についても同様とする）。この場合において、機能文字情報又はテスト観点文字情報の表示方法については任意であるが、例えば、仕様表示領域１００をディスプレイ３０の画面のトップに表示させて、仕様内容情報のうち、当該選択された機能情報等と関連付けられた機能文字情報又はテスト観点文字情報に対応する部分を表示させてもよい。これにより、機能情報等と機能文字情報又はテスト観点文字情報を相互に参照することができ、例えば、テスト項目情報の見直し等を行う場合に、テスト項目情報の作成に至る経緯を容易に確認することができる。
【０１６０】
また、上記実施の形態では、ユーザが操作部１０を介して所定操作を行うことにより、テスト項目情報の編集を行うことができると説明したが、これに限られない。例えば、試験設計支援装置５０が、機能関連付部６１によって関連付けられた機能情報同士を相互に関連付ける機能情報相互関連付部（機能情報相互関連付手段）を備え、テスト項目情報作成部６５が、機能情報相互関連付部によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成してもよい。図３６は、テスト項目表示領域１１１を例示した図である。例えば、図３６に示すように、関連付けられた一方の機能情報＝商品送出、関連付けられた他方の機能情報＝商品有無情報保持である場合において、一方の機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点＝様々な商品種類が、他方の機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該観点＝様々な商品種類からテストするためのテスト項目を当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成する（図３６では「●」が追加される）。これにより、機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報に対応するテスト項目間で不足しているテスト項目を自動的に補完することができ、テスト項目情報の修正に要する手間を省くことが可能となる。
【０１６１】
（テストケース作成処理について）
上記実施の形態では、ＳＧ３において、テストケース情報、判定情報、不具合情報、実施者情報、実施日情報、バージョン情報、及び備考情報をディスプレイ３０に表示すると説明したが、これに限られない。例えば、試験設計支援装置５０が、過去に作成されたテストケース情報（以下、「過去テストケース情報」と称する）と、過去に行われたテストの結果を特定する過去テスト結果情報（又は、過去の試験対象の不具合を特定する過去不具合情報）とを相互に関連付けて格納する過去情報テーブル（過去情報格納手段）を備え、制御部６０が、過去情報テーブルに格納されている過去テストケース情報の中から、過去情報テーブルに格納されている過去テスト結果情報（又は過去不具合情報）に基づいて、試験対象の機能に影響を及ぼす過去テストケース情報を特定し、当該特定された過去テストケース情報とテストケース情報作成部６９にて作成されたテストケース情報とが類似するか否かを判定し、過去テストケース情報とテストケース情報とが類似すると判定した場合に、その旨を示す報知情報をディスプレイ３０に表示させてもよい。これにより、過去テスト結果情報（又は過去不具合情報）に基づいてテストケース情報、テスト項目情報、又はテスト観点情報の見直しを行うことができ、テストケース情報及びテスト項目情報の品質を向上させることができる。
【０１６２】
（更新処理について）
上記実施の形態では、更新の後の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報が、更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報と同一である場合のみ、更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報に関連付けられた機能情報等を、更新の後の仕様内容情報に含まれる機能文字情報、テスト観点文字情報、又はテスト条件文字情報と関連付けると説明したが、これに限られない。例えば、更新の後の仕様内容情報の所定の文字列に含まれる機能文字情報が、更新の前の仕様内容情報の所定の文字列（更新の後の仕様内容情報の文字列に対応する文字列とする）に含まれる機能文字情報と異なる場合でも、当該更新の前の仕様内容情報に含まれる機能文字情報と、当該機能文字情報と関連付けられた機能情報とが同一である場合には、当該更新の後の仕様内容情報に含まれる機能文字情報を、当該機能文字情報と関連付ける機能情報として当該機能文字情報と関連付けてもよい。
【０１６３】
（付記）
付記１の試験設計支援システムは、試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援システムであって、前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段と、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、を備えた。
【０１６４】
付記２の試験設計支援システムは、付記１に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能情報を格納する機能情報格納手段と、前記観点情報を格納する観点情報格納手段と、を備え、前記表示制御手段は、前記仕様内容情報格納手段にて格納された前記仕様内容情報を表示する仕様表示領域と、前記機能情報格納手段に格納された前記機能情報及び前記観点情報格納手段に格納された前記観点情報とを表示する機能観点表示領域と、を前記表示手段に表示させ、前記機能関連付手段は、前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記機能文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記機能情報の中から取得された前記機能情報と関連付け、前記観点関連付手段は、前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記観点文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記観点情報の中から取得された前記観点情報と関連付ける。
【０１６５】
付記３の試験設計支援システムは、付記１又は２に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を階層的に整理する機能整理手段と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報を階層的に整理する観点整理手段と、を備え、前記テスト項目情報作成手段は、前記機能整理手段にて整理された前記機能情報と、前記観点整理手段にて整理された前記観点情報とに基づいて、前記テスト項目情報を作成する。
【０１６６】
付記４の試験設計支援システムは、付記３に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能情報を整理するための指示を特定する機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段を備え、前記表示制御手段は、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を表示する機能表示領域と、前記指示情報格納手段に格納された前記機能整理指示情報を表示する機能整理指示表示領域とを前記表示手段に表示させ、前記機能整理手段は、前記機能整理指示表示領域に表示された前記機能整理指示情報の中から選択された前記機能整理指示情報に基づいて、前記機能表示領域に表示された前記機能情報を階層的に整理する。
【０１６７】
付記５の試験設計支援システムは、付記３又は４に記載の試験設計支援システムにおいて、前記観点情報を整理するための指示を特定する観点整理指示情報を格納する観点整理指示情報格納手段を備え、前記表示制御手段は、前記観点関連付手段にて関連付けされた前記観点情報を表示する観点表示領域と、前記観点整理指示情報格納手段に格納された前記観点整理指示情報を表示する観点整理指示領域とを前記表示手段に表示させ、前記観点整理手段は、前記観点整理指示領域に表示された前記観点整理指示情報の中から選択された前記観点整理指示情報に基づいて、前記観点表示領域に表示された前記観点情報を階層的に整理する。
【０１６８】
付記６の試験設計支援システムは、付記３から５のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記テスト項目情報作成手段は、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって前記機能関連付手段によって前記機能情報と関連付けられた機能文字情報を、前記観点整理手段によって階層的に整理された観点情報に関連付け、当該テスト項目情報作成手段によって前記観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報であって、前記機能整理手段によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成手段によって機能文字情報に関連付けられた観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成する。
【０１６９】
付記７の試験設計支援システムは、付記１から６のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報同士を相互に関連付ける機能情報相互関連付手段を備え、前記テスト項目情報作成手段は、前記機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成する。
【０１７０】
付記８の試験設計支援システムは、付記１から７のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択されたテスト条件文字情報であってテストの条件を示すテスト条件を示す文字を特定するテスト条件文字情報と、所定方法で取得されたテスト技法を特定するテスト技法情報とに基づいて、前記テスト条件を特定するテスト条件情報を作成するテスト条件情報作成手段を備え、前記テスト条件情報作成手段は、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を前記取得された前記テスト技法情報と関連付けると共に、前記関連付けた前記テスト技法情報を前記選択された前記テスト条件文字情報と関連付け、前記関連付けられた前記テスト技法情報及び前記テスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成し、前記表示制御手段は、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報を前記表示手段に表示する。
【０１７１】
付記９の試験設計支援システムは、付記８に記載の試験設計支援システムにおいて、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報と、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報であってテストの手順を特定するテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報であってテストの実行によって期待される結果を特定する期待結果情報とに基づいて、テストのケースを示すテストケースを特定するテストケース情報を作成するテストケース情報作成手段を備え、前記表示制御手段は、前記テストケース情報作成手段にて作成された前記テストケース情報を前記表示手段に表示する。
【０１７２】
付記１０の試験設計支援システムは、付記１から９のいずれか一項に記載の試験設計支援システムにおいて、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の前記仕様内容情報及び当該更新の後の前記仕様内容情報の各々に含まれる前記機能文字情報又は前記観点文字情報に基づいて、前記仕様内容情報と関連付けられた前記機能情報、前記観点情報、又は前記テスト項目情報を、更新の後の前記仕様内容情報と関連付ける更新手段、を備えた。
【０１７３】
付記１１の試験設計支援方法は、試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援方法であって、機能関連付手段が、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報であって前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付ステップと、観点関連付手段が、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付ステップと、テスト項目情報作成手段が、前記機能関連付ステップにおいて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付ステップにおいて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成ステップと、表示制御手段が、前記テスト項目情報作成ステップにおいて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御ステップと、を含む。
【０１７４】
付記１２の試験設計支援プログラムは、コンピュータは、試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段を備え、前記コンピュータを、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、として機能させる。
【０１７５】
（付記の効果）
付記１に記載の試験設計支援システム、付記１１に記載の試験設計支援方法、及び付記１２に記載の試験設計支援プログラムによれば、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報と関連付ける機能関連付手段と、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報の中から選択された観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報と関連付ける観点関連付手段と、機能関連付手段にて関連付けられた機能情報と、観点関連付手段にて関連付けられた観点情報とに基づいてテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段を備えたので、テスト項目情報作成手段によって一定のロジックに基づいてテスト項目情報を作成でき、従来技術に比べてテスト項目情報の品質を確保しやすくなる。また、機能情報、観点情報、及びテスト項目情報を、仕様内容情報に含まれる機能文字情報又は観点文字情報と直接的又は間接的に関連付けることができ、テスト項目情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計を効果的に支援することが可能となる。
【０１７６】
付記２に記載の試験設計支援システムによれば、機能関連付手段が、仕様表示領域に表示された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報を、機能観点表示領域に表示された機能情報の中から取得された機能情報と関連付け、観点関連付手段が、仕様表示領域に表示された仕様内容情報の中から選択された観点文字情報を、機能観点表示領域に表示された観点情報の中から取得された観点情報と関連付けるので、機能文字情報と機能情報との関連付け及び観点文字情報と観点情報との関連付けを半自動で行う場合に、これら関連付けに関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１７７】
付記３に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段が、機能整理手段にて整理された機能情報と、観点整理手段にて整理された観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、機能情報と観点情報をそれぞれ既定の階層構造に合致するように階層化して対応させた上でテスト項目を作成する等、機能情報と観点情報との相互の対応を正確且つ迅速に行うことが可能になり、ひいてはテスト項目情報を正確且つ迅速に作成することができる。よって、テスト項目情報の作成漏れや作成ミスを抑制することができるため、テスト項目情報の品質を一層確保しやすくなると共に、テスト項目情報の作成効率を向上させることができる。
【０１７８】
付記４に記載の試験設計支援システムによれば、機能整理手段が、機能整理指示表示領域に表示された機能整理指示情報の中から選択された機能整理指示情報に基づいて、機能表示領域に表示された機能情報を階層的に整理するので、機能情報の整理を半自動で行う場合に、この機能情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１７９】
付記５に記載の試験設計支援システムによれば、観点整理手段が、観点整理指示領域に表示された観点整理指示情報の中から選択された観点整理指示情報に基づいて、観点表示領域に表示された観点情報を階層的に整理するので、観点情報の整理を半自動で行う場合に、この観点情報の整理に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１８０】
付記６に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段が、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって機能関連付手段によって機能情報と関連付けられた機能文字情報を、観点整理手段によって階層的に整理された観点情報に関連付け、当該テスト項目情報作成手段によって観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して機能関連付手段によって関連付けられた機能情報であって、機能整理手段によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成手段によって機能文字情報に関連付けられた観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成するので、テスト項目情報の作成を半自動で行う場合に、このテスト項目情報の作成に関する作業を正確且つ簡易に行うことができ、当該作業の効率を向上させることができる。
【０１８１】
付記７に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段が、機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成するので、機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報に対応するテスト項目間で不足しているテスト項目を自動的に補完することができ、テスト項目情報の修正に要する手間を省くことが可能となる。
【０１８２】
付記８に記載の試験設計支援システムによれば、テスト条件情報作成手段が、テスト項目情報作成手段にて作成されたテスト項目情報を取得されたテスト技法情報と関連付けると共に、関連付けたテスト技法情報を選択されたテスト条件文字情報と関連付け、関連付けられたテスト技法情報及びテスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成するので、テスト条件情報作成手段によって一定のロジックに基づいてテスト条件情報を作成でき、テスト条件情報の品質を確保しやすくなる。また、テスト条件情報を、仕様内容情報に含まれるテスト条件文字情報と直接的又は間接的に関連付けることができ、テスト条件情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計を一層効果的に支援することが可能となる。
【０１８３】
付記９に記載の試験設計支援システムによれば、テスト項目情報作成手段にて作成されたテスト項目情報と、テスト条件情報作成手段にて作成されたテスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報とに基づいて、テストケース情報を作成するテストケース情報作成手段を備えるので、テストケース情報作成手段によって一定のロジックに基づいてテストケース情報を作成でき、テストケース情報の品質を確保しやすくなる。また、テストケース情報を、テスト項目情報及びテスト条件情報の各々と直接的又は間接的に関連付けることができ、テストケース情報の作成に至った経緯を容易に追跡することができる。よって、試験の設計をさらに一層効果的に支援することが可能となる。
【０１８４】
付記１０に記載の試験設計支援システムによれば、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の仕様内容情報及び当該更新の後の仕様内容情報の各々に含まれる機能文字情報又は観点文字情報に基づいて、仕様内容情報と関連付けられた機能情報、観点情報、又はテスト項目情報を、更新の後の仕様内容情報と関連付ける更新手段を備えたので、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報が更新された場合に、機能情報、観点情報、又はテスト項目情報を更新の後の仕様内容情報を自動的に関連付けできるので、機能情報、観点情報、又はテスト項目情報を更新の後の仕様内容情報に関連付ける作業を別途行う必要がなくなるので、当該作業に要する手間を省くことが可能となる。
【符号の説明】
【０１８５】
１  試験設計支援システム
１０  操作部
２０  通信部
３０  ディスプレイ
４０  スピーカ
５０  試験設計支援装置
６０  制御部
６１  機能関連付部
６２  観点関連付部
６３  機能整理部
６４  観点整理部
６５  テスト項目情報作成部
６６  表示制御部
６７  テスト条件情報作成部
６８  更新部
６９  テストケース情報作成部
７０  データ記録部
７１  仕様内容ＤＢ
７２  機能テーブル
７３  観点テーブル
７４  機能整理指示テーブル
７５  観点整理指示テーブル
７６  質問テーブル
７７  テスト項目整理指示テーブル
１００  仕様表示領域
１００ａ  仕様表示タブ
１０１  機能観点表示領域
１０２  機能観点関連付表示領域
１０３  質問表示領域
１０３ａ  質問表示タブ
１０４  機能表示領域
１０４ａ  機能表示タブ
１０５  機能整理指示表示領域
１０６  試験対象構造表示領域
１０６ａ  試験対象構造表示タブ
１０７  観点表示領域
１０７ａ  観点表示タブ
１０８  観点整理指示表示領域
１０９  観点適用表示領域
１１０  観点関連付表示領域
１１１  テスト項目表示領域
１１１ａ  テスト項目表示タブ
１１２  テスト項目整理指示表示領域
１１３  テスト技法表示領域
１１４  テスト条件関連付表示領域
１１５  テストケース表示領域
１１５ａ  テストケース表示タブ
【図１】
2017138851.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2017138851.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
2017138851.tif 000017
【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
2017138851.tif 000034
【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【手続補正書】
【提出日】平成29年2月15日(2017.2.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援システムであって、
前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段と、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、
を備えた試験設計支援システム。
【請求項２】
前記機能情報を格納する機能情報格納手段と、
前記観点情報を格納する観点情報格納手段と、を備え、
前記表示制御手段は、
前記仕様内容情報格納手段にて格納された前記仕様内容情報を表示する仕様表示領域と、前記機能情報格納手段に格納された前記機能情報及び前記観点情報格納手段に格納された前記観点情報とを表示する機能観点表示領域と、を前記表示手段に表示させ、
前記機能関連付手段は、
前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記機能文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記機能情報の中から取得された前記機能情報と関連付け、
前記観点関連付手段は、
前記仕様表示領域に表示された前記仕様内容情報の中から選択された前記観点文字情報を、前記機能観点表示領域に表示された前記観点情報の中から取得された前記観点情報と関連付ける、
請求項１に記載の試験設計支援システム。
【請求項３】
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を階層的に整理する機能整理手段と、
前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報を階層的に整理する観点整理手段と、を備え、
前記テスト項目情報作成手段は、前記機能整理手段にて整理された前記機能情報と、前記観点整理手段にて整理された前記観点情報とに基づいて、前記テスト項目情報を作成する、
請求項１又は２に記載の試験設計支援システム。
【請求項４】
前記機能情報を整理するための指示を特定する機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段を備え、
前記表示制御手段は、
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を表示する機能表示領域と、前記機能整理指示情報格納手段に格納された前記機能整理指示情報を表示する機能整理指示表示領域とを前記表示手段に表示させ、
前記機能整理手段は、
前記機能整理指示表示領域に表示された前記機能整理指示情報の中から選択された前記機能整理指示情報に基づいて、前記機能表示領域に表示された前記機能情報を階層的に整理する、
請求項３に記載の試験設計支援システム。
【請求項５】
前記観点情報を整理するための指示を特定する観点整理指示情報を格納する観点整理指示情報格納手段を備え、
前記表示制御手段は、
前記観点関連付手段にて関連付けされた前記観点情報を表示する観点表示領域と、前記観点整理指示情報格納手段に格納された前記観点整理指示情報を表示する観点整理指示領域とを前記表示手段に表示させ、
前記観点整理手段は、
前記観点整理指示領域に表示された前記観点整理指示情報の中から選択された前記観点整理指示情報に基づいて、前記観点表示領域に表示された前記観点情報を階層的に整理する、
請求項３又は４に記載の試験設計支援システム。
【請求項６】
前記テスト項目情報作成手段は、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であって前記機能関連付手段によって前記機能情報と関連付けられた機能文字情報を、前記観点整理手段によって階層的に整理された観点情報に関連付け、
当該テスト項目情報作成手段によって前記観点情報に関連付けられた機能文字情報に対して前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報であって、前記機能整理手段によって階層的に整理された機能情報と、当該テスト項目情報作成手段によって機能文字情報に関連付けられた観点情報とに基づいて、テスト項目情報を作成する、
請求項３から５のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項７】
前記機能関連付手段によって関連付けられた機能情報同士を相互に関連付ける機能情報相互関連付手段を備え、
前記テスト項目情報作成手段は、前記機能情報相互関連付手段によって相互に関連付けられた機能情報のうち、いずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点が、他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目に対応する観点に含まれていない場合には、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能を当該含まれていない観点からテストするためのテスト項目を、当該他のいずれかの機能情報によって特定される機能をテストするためのテスト項目として作成する、
請求項１から６のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項８】
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択されたテスト条件文字情報であってテストの条件を示すテスト条件を示す文字を特定するテスト条件文字情報と、所定方法で取得されたテスト技法を特定するテスト技法情報とに基づいて、前記テスト条件を特定するテスト条件情報を作成するテスト条件情報作成手段を備え、
前記テスト条件情報作成手段は、
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を前記取得された前記テスト技法情報と関連付けると共に、前記関連付けた前記テスト技法情報を前記選択された前記テスト条件文字情報と関連付け、
前記関連付けられた前記テスト技法情報及び前記テスト条件文字情報に基づいて、テスト条件情報を作成し、
前記表示制御手段は、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報を前記表示手段に表示する、
請求項１から７のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項９】
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報と、前記テスト条件情報作成手段にて作成された前記テスト条件情報と、所定方法で取得されたテスト手順情報であってテストの手順を特定するテスト手順情報と、所定方法で取得された期待結果情報であってテストの実行によって期待される結果を特定する期待結果情報とに基づいて、テストのケースを示すテストケースを特定するテストケース情報を作成するテストケース情報作成手段を備え、
前記表示制御手段は、前記テストケース情報作成手段にて作成された前記テストケース情報を前記表示手段に表示する、
請求項８に記載の試験設計支援システム。
【請求項１０】
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報が更新された場合に、当該更新の前の前記仕様内容情報及び当該更新の後の前記仕様内容情報の各々に含まれる前記機能文字情報又は前記観点文字情報に基づいて、前記仕様内容情報と関連付けられた前記機能情報、前記観点情報、又は前記テスト項目情報を、更新の後の前記仕様内容情報と関連付ける更新手段、
を備えた請求項１から９のいずれか一項に記載の試験設計支援システム。
【請求項１１】
試験対象の機能をテストするための試験の設計を支援する試験設計支援方法であって、
機能関連付手段が、仕様内容情報格納手段に格納された仕様内容情報であって前記試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付ステップと、
観点関連付手段が、前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付ステップと、
テスト項目情報作成手段が、前記機能関連付ステップにおいて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付ステップにおいて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成ステップと、
表示制御手段が、前記テスト項目情報作成ステップにおいて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御ステップと、
を含む試験設計支援方法。
【請求項１２】
コンピュータは、
試験対象に関する仕様の内容を特定する仕様内容情報を格納する仕様内容情報格納手段を備え、
前記コンピュータを、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された機能文字情報であってテストすべき機能を示す文字を特定する機能文字情報を、所定方法で取得された機能情報であって前記機能を特定する機能情報と関連付ける機能関連付手段と、
前記仕様内容情報格納手段に格納された前記仕様内容情報の中から選択された観点文字情報であってテストすべき観点を示す文字を特定する観点文字情報を、所定方法で取得された観点情報であって前記観点を特定する観点情報と関連付ける観点関連付手段と、
前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報と、前記観点関連付手段にて関連付けられた前記観点情報とに基づいて、前記機能情報にて特定される機能を前記観点情報にて特定される観点からテストするためのテスト項目を特定するテスト項目情報を作成するテスト項目情報作成手段と、
前記テスト項目情報作成手段にて作成された前記テスト項目情報を表示手段に表示する表示制御手段と、
として機能させるための試験設計支援プログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
請求項４に記載の試験設計支援システムは、請求項３に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能情報を整理するための指示を特定する機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段を備え、前記表示制御手段は、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を表示する機能表示領域と、前記機能整理指示情報格納手段に格納された前記機能整理指示情報を表示する機能整理指示表示領域とを前記表示手段に表示させ、前記機能整理手段は、前記機能整理指示表示領域に表示された前記機能整理指示情報の中から選択された前記機能整理指示情報に基づいて、前記機能表示領域に表示された前記機能情報を階層的に整理する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１６６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１６６】
付記４の試験設計支援システムは、付記３に記載の試験設計支援システムにおいて、前記機能情報を整理するための指示を特定する機能整理指示情報を格納する機能整理指示情報格納手段を備え、前記表示制御手段は、前記機能関連付手段にて関連付けられた前記機能情報を表示する機能表示領域と、前記機能整理指示情報格納手段に格納された前記機能整理指示情報を表示する機能整理指示表示領域とを前記表示手段に表示させ、前記機能整理手段は、前記機能整理指示表示領域に表示された前記機能整理指示情報の中から選択された前記機能整理指示情報に基づいて、前記機能表示領域に表示された前記機能情報を階層的に整理する。