(57)【要約】【課題】従来よりも効率的にイオンを検知することが可能なイオン発生装置を実現する。【解決手段】イオン発生装置（１）は、第１放電電極（１２ａ）および第２放電電極（１２ｂ）のそれぞれと対向電極（１４）との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるものであり、当該放電によって生じる放電ノイズを検知するための捕集電極（５５）を備えている。そして、対向電極（１４）は、当該対向電極（１４）の電位がフロート状態となるように配置されている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置であって、
上記放電によって生じる放電ノイズを検知するための検知電極を備えており、
上記対向電極は、当該対向電極の電位がフロート状態となるように配置されていることを特徴とするイオン発生装置。
【請求項２】
上記検知電極は、上記放電電極または上記対向電極の近傍に配置されていることを特徴とする請求項１に記載のイオン発生装置。
【請求項３】
一次側配線に入力された電圧を変圧して二次側配線に出力する変圧器をさらに備え、
上記二次側配線は、上記放電電極に接続されており、
上記変圧器は、当該変圧器の動作時に発生する電磁的ノイズの漏出を防止する遮蔽部材によって遮蔽されていることを特徴とする請求項１または２に記載のイオン発生装置。
【請求項４】
放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置であって、
上記放電によって生じる放電ノイズを検知するための検知電極を備えており、
上記検知電極の表面には、絶縁物が設けられていることを特徴とするイオン発生装置。
【請求項５】
請求項４に記載のイオン発生装置を備えた空気調和機であって、
上記イオン発生装置による上記イオンの発生が停止された期間における、上記検知電極から出力される検知信号の時間的な変化に基づいて、当該イオン発生装置の周囲の湿度の推定値である湿度推定値を算出する湿度推定部と、
上記空気調和機のフィルタの自動清掃の動作を制御する清掃制御部と、を備えており、
上記清掃制御部は、上記湿度推定値が、（ｉ）第１閾値を超えている場合、または、（ｉｉ）上記第１閾値よりも小さい閾値である第２閾値を下回っている場合には、上記自動清掃を実行しないように空気調和機を制御することを特徴とする空気調和機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間における放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、例えば室内における空気の浄化のために、正イオンおよび負イオンを発生させるイオン発生装置が使用されている。このイオン発生装置は、空気調和機等の電子機器（例：家電機器）に設けられている。例えば、当該空気調和機によれば、イオンを含む空気が送出され、イオンが送出された空間（例：室内）の空気中に浮遊する微粒子および細菌等の浮遊物を除去して空気を浄化することができる。
【０００３】
そして、近年では様々なイオン発生装置が提案されている。例えば、特許文献１および２には、イオン生成量およびイオンバランスの確認の容易化を一目的としたイオン発生装置（除電装置）が開示されている。
【０００４】
また、イオン発生装置を備えた電子機器についても、様々なものが提案されている。例えば、特許文献３には、イオンを検知するイオンセンサ（イオン検知装置）に加えて、空気中の温度および湿度を検知する温湿度センサを備えた空気清浄機が開示されている。また、特許文献４および５には、湿度センサによって検知された湿度の値に応じて、イオンの発生量を制御するミスト発生装置および冷蔵庫がそれぞれ開示されている。また、特許文献６には、イオン量の検知精度の向上を一目的としたイオンセンサ（イオン量発生装置）が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４８４０９５４号公報（２０１１年１２月２１日公開）
【特許文献２】特許第５２７６６９１号公報（２０１３年８月２８日公開）
【特許文献３】特開２０１５−４０６７５号公報（２０１５年３月２日公開）
【特許文献４】特開２０１４−２０２３７１号公報（２０１４年１０月２７日公開）
【特許文献５】特開２０１４−２５６４３号公報（２０１４年２月６日公開）
【特許文献６】特開２０１３−２９３８５号公報（２０１３年２月７日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述の特許文献１〜６に開示された技術では、イオンを効率的に検知するには十分ではない。
【０００７】
本発明の目的は、上述の特許文献１〜６とは異なる技術的思想に基づいて、従来よりも効率的にイオンを検知することが可能なイオン発生装置を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るイオン発生装置は、放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置であって、上記放電によって生じる放電ノイズを検知するための検知電極を備えており、上記対向電極は、当該対向電極の電位がフロート状態となるように配置されている。
【０００９】
また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るイオン発生装置は、放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置であって、上記放電によって生じる放電ノイズを検知するための検知電極を備えており、上記検知電極の表面には、絶縁物が設けられている。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の一態様に係るイオン発生装置によれば、従来よりも効率的にイオンを検知することが可能となるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態１に係るイオン発生装置の要部の構成を示す回路図である。
【図２】本発明の実施形態２に係るイオン発生装置における捕集電極およびその周辺の構成を概略的に示す図である。
【図３】本発明の実施形態２に係るイオン発生装置におけるイオン検知回路から出力される検知電圧の時間的な変化を示すグラフであり、（ａ）低湿の場合のグラフであり、（ｂ）は常湿の場合のグラフであり、（ｃ）は高湿の場合のグラフである。
【図４】本発明の実施形態２に係る空気調和機の概略的な構成を示す機能ブロック図である。
【図５】本発明の実施形態２に係る空気調和機におけるフィルタの自動清掃の可否を判定する処理の流れを例示する図である。
【図６】本発明の実施形態３に係るイオン発生装置における電圧Ｖ２の波形の一例を示す図であり、（ａ）はスイッチング素子がＯＦＦ状態である場合における図であり、（ｂ）はスイッチング素子がＯＮ状態である場合における図である。
【図７】本発明の実施形態３に係るイオン発生装置における電圧Ｖ２の波形の別の一例を示す図であり、（ａ）はスイッチング素子がＯＦＦ状態である場合における図であり、（ｂ）はスイッチング素子がＯＮ状態である場合における図である。
【図８】本発明の実施形態３に係る別のイオン発生装置における一次側配線の周辺の概略的な構成を示す回路図である。
【図９】本発明の実施形態３に係るさらに別のイオン発生装置の記憶部の周辺の概略的な構成を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
〔実施形態１〕
以下、本発明の実施形態１について、図１に基づいて詳細に説明する。図１は、本実施形態のイオン発生装置１の要部の構成を示す回路図である。なお、イオン発生装置１が備える送風機、ダクト、およびルーバ等の部材については、公知のものと同様であるため、本実施形態では説明を省略する。
【００１３】
（イオン発生装置１の概要）
イオン発生装置１は、以下に述べる放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間の空間に放電（例：コロナ放電）を生じさせることにより、イオンを発生させる装置である。
【００１４】
イオン発生装置１は、以下に述べる各部材を収容するハウジング２を備えている。また、イオン発生装置１は、ハウジング２の外部に、対向電極１４、制御部４０、イオン検知回路５０（イオン検知部）、および捕集電極５５（検知電極）を備えている。
【００１５】
ハウジング２は、ダイオードＤ１・Ｄ３・Ｄ４、第１放電電極１２ａ（放電電極）、第２放電電極１２ｂ（放電電極）、コネクタ１５、抵抗１６、および高電圧発生回路３０を収容している。また、コネクタ１５は、第１端子１５ａおよび第２端子１５ｂを備えている。
【００１６】
第１端子１５ａは、イオン発生装置１の外部の交流電源（不図示）（例：商用電源）と接続されている。すなわち、第１端子１５ａは、入力電圧Ｖ（第１端子１５ａと第２端子１５ｂ間との電位差）をイオン発生装置１に入力するための入力端子である。
【００１７】
なお、電力線１８は、第１端子１５ａに接続された配線である。電力線１８は、高電圧発生回路３０に電力を供給するための配線として機能する。第１端子１５ａは、電力線１８上に設けられたダイオードＤ１および抵抗１６を介して、高電圧発生回路３０と接続されている。なお、入力電圧Ｖは、低電圧（例：１００Ｖ）であってよい。
【００１８】
また、第２端子１５ｂは、大地（ＧＮＤ）と接続されている。すなわち、第２端子１５ｂは、イオン発生装置１を接地するための接地端子である。なお、接地線１９は、第２端子１５ｂに接続された配線である。接地線１９は、イオン発生装置１の内部における電位の基準値（０Ｖ）を固定するための配線として機能する。
【００１９】
抵抗１６は、電力線１８において、第１端子１５ａから高電圧発生回路３０に流れる電流（順方向の電流）の大きさを調整するための素子である。また、ダイオードＤ１は、高電圧発生回路３０から第１端子１５ａへの電流の逆流（逆方向の電流の流入）を防止するための素子である。
【００２０】
高電圧発生回路３０は、上記放電を行うための高電圧を発生させる回路である。より具体的には、高電圧発生回路３０は、以下に述べる第１放電電極１２ａおよび第２放電電極１２ｂに、高電圧を供給する回路である。すなわち、高電圧発生回路３０は、自身に入力される電圧Ｅを、より高い電圧に変換する回路である。
【００２１】
高電圧発生回路３０は、ダイオードＤ２、変圧器３１、コンデンサ３２、およびスイッチング素子３３・３４を備えている。コンデンサ３２は、上記電圧Ｅを保持するための素子であり、スイッチング素子３３を介して、変圧器３１の一次側配線３１ａと接続されている。スイッチング素子３３は、コンデンサ３２と一次側配線３１ａとの導通状態を切り替える素子である。
【００２２】
なお、本実施形態では、スイッチング素子３３がＯＮ（導通）状態である場合のみを考える。すなわち、一次側配線３１ａに電圧Ｖ１＝Ｅが印加されている場合を考える。スイッチング素子３３の詳細については後述の実施形態３において説明する。また、スイッチング素子３４およびダイオードＤ２の役割についても、実施形態３において述べる。本実施形態では、スイッチング素子３４がＯＦＦ（遮断）状態である場合のみを考える。
【００２３】
変圧器３１は、一次側配線３１ａに印加（入力）された電圧Ｖ１（一次側電圧）を、電圧Ｖ２（二次側電圧）に変換（変圧）して二次側配線３１ｂに出力する。なお、本実施形態の変圧器３１は、電圧Ｖ１（低電圧）をより高い電圧Ｖ２（高電圧）に変換する昇圧トランスである。また、変圧器３１は、金属板３５（遮蔽部材）によって遮蔽（シールド）されている。金属板３５が設けられる利点については後述する。
【００２４】
第１放電電極１２ａおよび第２放電電極１２ｂは、対向電極１４に対向するように配置された棒状の電極である。なお、第１放電電極１２ａおよび第２放電電極１２ｂは、針状の電極として形成されることが好ましい。各放電電極の先端部が尖っている（尖端部を有している）場合、対向電極１４との間に放電を生じさせやすいためである。
【００２５】
また、対向電極１４は板状に形成された電極であり、第１放電電極１２ａおよび第２放電電極１２ｂのそれぞれに対向している。なお、イオン発生装置１において、放電電極および対向電極の個数は特に限定されない。本実施形態では、簡単のために、図１の第１放電電極１２ａ、第２放電電極１２ｂ（２つの放電電極）、および対向電極１４（１つの対向電極）を例示して説明を行う。
【００２６】
第１放電電極１２ａは、ダイオードＤ３を介して、二次側配線３１ｂに接続されている。ここで、ダイオードＤ３は、電圧Ｖ２の負の成分のみ（すなわち、Ｖ２＜０Ｖである部分の電圧波形）のみを通過させる素子である。
【００２７】
従って、第１放電電極１２ａは、第１放電電極１２ａと対向電極１４との間の放電によって、所定の種類の負イオンを生じさせる放電電極として機能する。一例として、この負イオンは、Ｏ２−（Ｈ２Ｏ）ｎ（ｎは任意の自然数）であってよい。但し、負イオンの種類はこれに限定されない。
【００２８】
また、第２放電電極１２ｂは、ダイオードＤ４を介して、二次側配線３１ｂに接続されている。ここで、ダイオードＤ４は、電圧Ｖ２の正の成分のみ（すなわち、Ｖ２＞０Ｖである部分の電圧波形）のみを通過させる素子である。
【００２９】
従って、第２放電電極１２ｂは、第２放電電極１２ｂと対向電極１４との間の放電によって、所定の種類の正イオンを生じさせる放電電極として機能する。一例として、この正イオンは、Ｈ＋（Ｈ２Ｏ）ｍ（ｍは任意の自然数）であってよい。但し、正イオンの種類はこれに限定されない。
【００３０】
以上のように、イオン発生装置１では、（ｉ）負イオンのみを発生させる専用の電極として第１放電電極１２ａが、（ｉｉ）正イオンのみを発生させる専用の電極として第２放電電極１２ｂが、それぞれ設けられている。
【００３１】
また、制御部４０は、イオン発生装置１の各部を統括的に制御する部材であり、例えばマイクロプロセッサ（マイクロコンピュータ）である。制御部４０の具体的な動作については後述する。なお、制御部４０の機能は、不図示の記憶部に記憶されたプログラムを、ＣＰＵ（Central Processing Unit）が実行することによって実現されてよい。当該記憶部は、制御部４０が実行する各種のプログラム、およびプログラムによって使用されるデータを格納する記憶装置である。
【００３２】
また、図１に示されるように、イオン発生装置１では、対向電極１４は接地されていない。すなわち、対向電極１４は、当該対向電極１４の電位がフロート（浮遊）状態となるように設けられている。対向電極１４を接地させない利点については後述する。なお、対向電極１４の電位がフロート状態であるとは、当該対向電極１４の電位が一定に固定されないことを意味する。
【００３３】
（イオン検知回路５０および捕集電極５５）
続いて、イオン検知回路５０および捕集電極５５について説明する。捕集電極５５は、放電電極（第１放電電極１２ａまたは第２放電電極１２ｂ）と対向電極１４の間の放電によって生じるノイズ（以下、放電ノイズ）を検知するための電極である。なお、捕集電極５５は基板５７上に配置されているが（後述の図２を参照）、簡単のために、本実施形態では基板５７の図示は省略されている。
【００３４】
一例として、図１に示されるように、捕集電極５５を第２放電電極１２ｂの近傍に配置した場合を考える。ここで、第２放電電極１２ｂと対向電極１４との間に放電が発生した場合には、第２放電電極１２ｂと対向電極１４の近傍に、放電ノイズ（不均一な電界）が発生する。
【００３５】
そして、捕集電極５５は放電位置に近いため、放電ノイズの影響を受けやすい。このため、捕集電極５５には、放電ノイズの影響によって微小な電流（検知電流，検知信号）が発生する。それゆえ、検知電流を検知することにより、第２放電電極１２ｂと対向電極１４との間に放電が発生したことを検知することが可能である。換言すれば、イオン発生装置１において、イオン（正イオン）が発生したことを検知することが可能となる。
【００３６】
イオン検知回路５０は、検知電流を検知するための部材であり、捕集電極５５に接続されている。イオン検知回路５０は、捕集電極５５から出力された検知電流を電圧に変換するとともに、当該電圧を増幅する増幅回路である。そして、イオン検知回路５０は、増幅した電圧（検知電圧）を制御部４０に与える。なお、この検知電圧は、センサ出力と称されてもよい。
【００３７】
イオン検知回路５０によって検知電流を検知電圧に変換することにより、制御部４０における演算（イオンの発生量を算出するための演算）が可能となる。このように、イオン検知回路５０は、イオン発生装置１において発生したイオンを検知するイオン検知部として機能する。
【００３８】
制御部４０は、イオン検知回路５０から供給された検知電圧の値に基づいて、イオンの発生量を近似的に算出する。一般的に、検知電圧の値が大きい場合には、イオンの発生量が多いものと考えられる。
【００３９】
従って、制御部４０は、検知電圧の値に所定の演算を行うことにより、イオンの発生量を近似的に算出してよい。例えば、制御部４０は、あらかじめ設定された、検知電圧とイオンの発生量との間の関係を示す近似関数に基づいて、イオンの発生量を算出してよい。
【００４０】
なお、放電ノイズは比較的低い周波数を有するノイズであることが知られている。この点を踏まえ、イオン検知回路５０には、低周波の信号を通過させるが、高周波の信号を遮断するＬＰＦ（Low Pass Filter，ローパスフィルタ）を付加してもよい。この場合、イオン検知回路５０は、ＬＰＦを通過させた電圧を、検知電圧として制御部４０に与えることができる。これにより、放電ノイズとは異なる別のノイズが、放電ノイズの検知結果に悪影響を及ぼすことをより確実に防止することができる。
【００４１】
なお、捕集電極５５が配置される位置は、図１のものに限定されない。例えば、捕集電極５５を第１放電電極１２ａの近傍に配置してもよい。この場合、検知電流を検知することにより、第１放電電極１２ａと対向電極１４との間に放電が発生したことを検知することが可能である。換言すれば、イオン発生装置１において、イオン（負イオン）が発生したことを検知することが可能となる。
【００４２】
また、捕集電極５５を、対向電極１４の近傍に配置してもよい。すなわち、捕集電極５５は、検知可能な程度の大きさの検知電流が生じるように、放電ノイズの影響を受けやすい位置に配置されていることが好ましい。換言すれば、捕集電極５５は、放電ノイズをより確実に検知できる位置に配置されていることが好ましい。
【００４３】
（イオン発生装置１の効果）
ところで、一般的なイオン発生装置において、イオン検知部をイオン発生装置の外部（近傍）に設ける場合には、イオン検知部の最適な配置を検討する必要があった。このため、イオン発生装置の設計者は、イオン検知部の最適配置の検討にかなり多くの時間を要していた。また、イオン発生装置が搭載される製品ごとに、イオン検知部が配置可能な位置は異なるため、イオン発生装置の設計者は、当該製品ごとに上記検討を行う必要があった。
【００４４】
そこで、一部のイオン発生装置では、イオン検知部の配置検討の手間を軽減することを一目的として、イオン検知部がイオン発生装置の内部に設けられている。但し、従来のイオン発生装置では、イオン検知部がイオン発生装置の内部に設けられている場合、対向電極が接地されていた（例えば、特許文献１および２を参照）。
【００４５】
一般的に、イオン発生装置では、例えば経年劣化により、（ｉ）放電電極の先端部に汚れが付着した場合、または、（ｉｉ）当該先端部が摩耗した場合、各放電電極から放出される正負のイオン（電荷）の量的なバランス（換言すれば、電荷バランス）が崩れてしまう場合がある。
【００４６】
しかしながら、本願の発明者は、対向電極が接地されているイオン発生装置（従来のイオン発生装置）では、電荷バランスの崩れを抑制することが困難であるという問題が生じることを見出した。従来のイオン発生装置において、電荷バランスの崩れを抑制することが困難である理由は、例えば以下の通りである。
【００４７】
（理由）：対向電極が接地されている場合には、当該対向電極の電位は固定されている。従って、電荷バランスが崩れた場合であっても、対向電極の電位は、当該電荷バランスの崩れの影響を受けずに一定のままである。すなわち、対向電極の電位は、電荷バランスの崩れを抑制するように変化しない。従って、電荷バランスが一度崩れてしまうと、その電荷バランスの崩れをトリガとして、電荷バランスのさらなる崩れが促進される。
【００４８】
他方、本願の発明者は、対向電極を接地せず、対向電極の電位をフロート状態とすることにより、上記電荷バランスの崩れを抑制することが可能となることを新たに見出した。より具体的には、本願の発明者は、対向電極の電位をフロート状態とした場合には、電荷バランスが崩れた場合であっても、当該対向電極の電位が、電荷バランスの崩れを抑制するように変化することを見出した。
【００４９】
従って、本実施形態のイオン発生装置１によれば、イオン検知部（イオン検知回路５０）をイオン発生装置の内部に設けた場合であっても、電荷バランスの崩れを抑制することが可能となる。また、イオン検知部をイオン発生装置の内部に設けることができるので、イオン検知部の最適な配置を検討する手間も不要である。
【００５０】
なお、イオン発生装置から発せられる電磁的ノイズが、当該イオン発生装置の外部に漏出することを抑制するために、遮蔽部材（電磁シールド）が、当該イオン発生装置の周囲に設けられる場合がある。本願の発明者は、上記遮蔽部材を設けた場合に、対向電極の電位をフロート状態にすることにより、イオンの発生量の減少が好適に抑制されるという利点が得られることをさらに見出した。
【００５１】
なお、従来のイオン発生装置では、上記遮蔽部材は接地されていることが一般的である。本願の発明者は、実験により、上記遮蔽部材が接地されている状態において、対向電極が接地されている場合（対向電極の電位が固定されている場合）に、イオンの発生量が減少することを確認した。
【００５２】
以上のように、イオン発生装置１によれば、イオン発生装置の設計の容易化と、イオン発生装置の信頼性向上とを両立させることが可能となる。このように、イオン発生装置１によれば、従来よりも効率的にイオンを検知することが可能となる。
【００５３】
また、イオン発生装置１では、イオン検知部をイオン発生装置の内部に設けることにより、イオン発生装置の小型化が可能となる。これにより、捕集電極５５を小型化することもできる。また、捕集電極５５の小型化に伴い、イオン検知回路５０における電圧信号の増幅率（または、イオン検知回路５０におけるオフセット電圧）を低下させることもできるので、イオン検知回路５０を小型化することもできる。
【００５４】
（金属板３５を設ける利点）
上述のように、イオン発生装置１では、変圧器３１の二次側において発生する放電ノイズを検知することで、イオンの発生を検知していた。従って、イオン検知の精度向上のためには、放電ノイズとは別のノイズが当該放電ノイズの検知結果に及ぼす影響を、できるだけ低減することが好ましい。
【００５５】
ところで、変圧器３１は、イオン発生装置１に設けられる電気的な部材のうち、動作時にかなり大きい電磁的ノイズを発生させる部材である。この点を踏まえると、変圧器３１（より具体的には、変圧器３１の一次側配線３１ａおよび二次側配線３１ｂ）から発せられる電磁的ノイズの影響を低減することが、特に好ましい。
【００５６】
そこで、イオン発生装置１では、上記電磁的ノイズを遮蔽する遮蔽部材（シールド部材）として、金属板３５が設けられている。すなわち、変圧器３１が、金属板３５によって遮蔽されている。一例として、金属板３５は、変圧器３１の周囲を囲む略直方体状の外形を有していてよい。
【００５７】
但し、金属板３５は、変圧器３１の周囲を囲むものであればよく、当該金属板３５の外形形状は特に限定されない。また、金属板３５の材料は特に限定されず、電磁的ノイズ（電磁波）を遮蔽可能なものであればよい。例えば、金属板３５の材料は、鉄またはアルミニウムであってよい。
【００５８】
金属板３５が設けられることにより、変圧器３１から発せられる電磁的ノイズが、金属板３５の外部に漏出することを防止できる。このため、当該電磁的ノイズが、放電ノイズ（変圧器３１の二次側において、第１放電電極１２ａまたは第２放電電極１２ｂの近傍に発生するノイズ）の検知結果に与える影響を低減することができる。特に、変圧器３１の一次側において発生する電磁的ノイズが、当該放電ノイズの検知結果に与える影響を低減することができるので、イオンの検知精度を向上させることが可能となる。
【００５９】
〔実施形態２〕
本発明の実施形態２について、図２〜図５に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、上記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。なお、実施形態１のイオン発生装置１との区別のため、本実施形態のイオン発生装置を、イオン発生装置１ａと称する。
【００６０】
（イオン発生装置１ａ）
図２は、イオン発生装置１ａにおける捕集電極５５およびその周辺の構成を概略的に示す図である。なお、図２では、簡単のために、捕集電極５５とイオン検知回路５０とを接続する配線の図示を省略している。
【００６１】
図２に示されるように、捕集電極５５は、捕集電極５５を支持する基板５７の表面に配置されている。この点において、イオン発生装置１ａは実施形態１のイオン発生装置１と同様である。なお、基板５７の内部には、捕集電極５５とイオン検知回路５０とを接続するための配線の少なくとも一部が形成されてよい。また、基板５７はセンサ基板と称されてもよい。
【００６２】
そして、図２に示されるように、イオン発生装置１ａでは、捕集電極５５の表面に絶縁物５６が設けられている。この点において、イオン発生装置１ａは実施形態１のイオン発生装置１とは異なる。
【００６３】
より具体的には、絶縁物５６は、捕集電極５５の対向面５５ｆに設けられている。ここで、対向面５５ｆとは、捕集電極５５の面のうち、基板５７によって支持されている面とは反対側の面である。
【００６４】
なお、絶縁物５６の材料は特に限定されないが、対向面５５ｆへの配置が容易なものであることが好ましい。例えば、絶縁物５６は、ＡＢＳ（アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン）樹脂等の材料によって形成された、シート状の部材であることが好ましい。
【００６５】
また、対向面５５ｆへの配置をより容易化するために、絶縁物５６はある程度のタック性（瞬間的な粘着性）を有していることがさらに好ましい。換言すれば、絶縁物５６は、対向面５５ｆに貼り付け可能な粘着テープであることがさらに好ましい。
【００６６】
なお、絶縁物５６は、対向面５５ｆに水分または汚れが付着することを防止する保護部材としても機能する。従って、絶縁物５６が設けられることにより、上記水分または汚れの付着に起因する捕集電極５５の劣化が抑制できるという利点も得られる。
【００６７】
（絶縁物５６と湿度との関係）
続いて、図３を参照して、絶縁物５６とイオン発生装置１ａの周辺の空気の湿度との関係を説明する。図３は、イオン検知回路５０から出力される検知電圧（センサ出力）の時間的な変化を示すグラフである。より具体的には、図３において、（ａ）は上記湿度が低い場合（以下、低湿の場合とも称する）におけるグラフであり、（ｂ）は上記湿度が中程度である場合（以下、常湿の場合とも称する）におけるグラフであり、（ｃ）は上記湿度が高い場合（以下、高湿の場合とも称する）場合におけるグラフである。
【００６８】
なお、図３のグラフにおいて、横軸は時刻であり、縦軸は検知電圧の値（電圧値）である。また、本実施形態において、一例として、「低湿」とは約２０％以下の湿度を、「常湿」とは約５０％の湿度を、「高湿」とは約８０％以上の湿度をそれぞれ意味する。但し、これらの数値は単なる一例であり、これら以外の数値が、「低湿」、「常湿」、および「高湿」の各状態を区別するための湿度の閾値（後述の第１閾値Ｈ１および第２閾値Ｈ２）として用いられてよい。
【００６９】
（図３の（ａ）について）
なお、図３の（ａ）のグラフは、絶縁物５６が設けられていない場合（すなわち、実施形態１のイオン発生装置１の場合）にも相当する。そこで、まず、図３の（ａ）を参照して、上述のイオン発生装置１における検知電圧の時間的な変化の概要について述べる。ここでは、イオン検知回路５０において正イオンを検知する場合を例示して説明する。
【００７０】
まず、イオン検知回路５０では、検知電圧のオフセット電圧（基準電圧）として、１．６Ｖの電圧が設定されている。なお、イオン検知回路５０は、イオン発生装置１において正イオンの発生が開始されると、正イオンの増加に伴って、検知電圧が徐々に減少するように設計されている。
【００７１】
その結果、正イオンの発生開始からある程度の時間が経過すると、検知電圧は０Ｖまで減少する。このため、イオン検知回路５０は、検知電圧が０Ｖとなった場合に、正イオンが発生していると判定（正イオンを検知）することができる。なお、イオン発生装置１では、所定の時間周期（例えば１秒）によって、検知電圧がリセットされる（基準電圧である１．６Ｖに戻る）ように、イオン検知回路５０が設計されている。
【００７２】
従って、図３の（ａ）に示されるように、イオンが発生している期間（時刻０から時刻Ｔ１までの間）（以降、イオン発生期間とも称する）には、検知電圧は、「１．６Ｖ」→「０Ｖ」→（以降同様）として周期的に変化する。なお、図３では、簡単のために、検知電圧が０Ｖまで減少したと同時に、検知電圧がリセットされるように図示されているが、検知電圧がリセットされるタイミングは、検知電圧が０Ｖまで減少したタイミングと同時でなくてもよい。
【００７３】
なお、イオン検知回路５０は、負イオンを検知することも可能である。具体的には、イオン検知回路５０は、負イオンの発生が開始されると、負イオンの増加に伴って、検知電圧が徐々に増加するように設計されている。その結果、負イオンの発生開始からある程度の時間が経過すると、検知電圧は３．２Ｖ（オフセット電圧の２倍）まで増加する。このため、イオン検知回路５０は、検知電圧が３．２Ｖとなった場合に、負イオンが発生していると判定（負イオンを検知）することができる。
【００７４】
また、図３の（ａ）では、イオンの発生が停止された期間（時刻Ｔ１から時刻Ｔ２までの間）（以降、イオン停止期間とも称する）には、検知電圧は１．６Ｖのまま一定である。また、検知電圧が１．６Ｖから減少したとしても、その減少量はごくわずかである。このように、絶縁物５６が設けられていない場合（または、絶縁物５６が設けられていても、低湿の場合）には、イオン停止期間において、検知電圧はほぼ一定である。
【００７５】
（図３の（ｂ）および（ｃ）について）
図３の（ｂ）および（ｃ）を参照すると、イオン発生期間における検知電圧の時間変化については図３の（ａ）と同様であるが、イオン停止期間における検知電圧の時間変化の様子が、図３の（ａ）とは大きく異なることが理解される。
【００７６】
具体的には、図３の（ｂ）に示されるように、常湿の場合には、イオン停止期間において、一度１．６Ｖにリセットされたオフセット電圧が次にリセットされるまで（つまり１秒間に）、検知電圧がある程度（ΔＶだけ）減少している。ここで、図３の（ｂ）における当該検知電圧の減少量を、ΔＶ＝ΔＶｂとして表す。このΔＶｂは、例えば０．３Ｖ程度である。
【００７７】
また、図３の（ｃ）に示されるように、常湿の場合にも、イオン停止期間において、一度１．６Ｖにリセットされたオフセット電圧が次にリセットされるまで、検知電圧が減少している。ここで、図３の（ｂ）との区別のため、図３の（ｃ）における当該検知電圧の減少量を、ΔＶ＝ΔＶｃとして表す。このΔＶｃは、上記ΔＶｂより大きく、例えば１．０Ｖ程度である。
【００７８】
このように、イオン発生装置１ａの周囲（周辺の空気）の湿度が高いほど、正イオンの発生停止期間における検知電圧の減少量が大きくなる。また、同様にして、負イオンの発生停止期間には、上記湿度が高いほど検知電圧の増加量が大きくなる。このように、イオン発生装置１ａでは、湿度が高いほど、イオン停止期間における検知電圧の変化量が大きくなる。このような検知電圧の変化は、絶縁物５６を設けたことにより実現される。
【００７９】
すなわち、絶縁物５６を設けた場合には、イオン発生装置１ａによるイオンの発生が停止された場合にも、絶縁物５６が有する静電容量の影響によって、絶縁物５６の表面にある程度の量の電荷が保持される。このため、イオン停止期間においても、当該電荷の影響を受けて、検知電圧が変化する。
【００８０】
ここで、絶縁物５６の静電容量Ｃは、以下の式（１）
Ｃ＝ε０×εｓ×Ｓ／ｄ    …（１）
によって表される。なお、ε０は真空の誘電率であり、εｓは絶縁物５６の比誘電率であり、Ｓは絶縁物５６の表面積（電荷が保持される面の面積）であり、ｄは絶縁物５６の厚さである。
【００８１】
ところで、水は空気に比べて非常に高い比誘電率（換言すれば誘電率）を有していることが知られている。具体的には、空気の比誘電率はεｓ≒１．０００５８６であり、水の比誘電率はεｓ≒８０である。
【００８２】
ここで、イオン発生装置１ａの周囲の湿度が高くなるほど、空気に含まれる水分の量が増加するため、絶縁物５６の表面に水分が付着しやすくなる。従って、上記湿度が高くなるほど、絶縁物５６の静電容量（換言すれば、比誘電率）が増加する。その結果、当該静電容量の増加に伴って、絶縁物５６の表面に保持される電荷の量も増加する。
【００８３】
従って、イオンの発生停止時における検知電圧の変化量は、上記湿度（換言すれば、絶縁物５６の表面に保持される電荷の量）に伴って変化する。例えば、低湿である場合には、図３の（ａ）に示されるように、検知電圧の変化量はほぼ０である。また、常湿である場合には、図３の（ｂ）に示されるように、検知電圧の変化量は、ある程度大きな値（ΔＶｂ≒０．３Ｖ）となる。また、高湿である場合には、図３の（ｃ）に示されるように、検知電圧の変化量は、さらに程度大きな値（ΔＶｃ≒１．０Ｖ）となる。
【００８４】
（イオン発生装置１ａの効果）
従来のイオン発生装置では、湿度を検知するための湿度センサは、イオン検知部とは別体の部材（ハードウェア要素）として設けられていた（例えば、特許文献３〜５を参照）。従って、湿度センサを設けることにより、イオン発生装置が大型化し、また、当該イオン発生装置の製造コストが増加するという問題があった。
【００８５】
しかしながら、本実施形態のイオン発生装置１ａによれば、捕集電極５５の表面に絶縁物５６を設けることにより、イオンの発生停止時における検知電圧の変化量に基づいて、上記湿度のおおよその値を推定（算出）することができる。換言すれば、イオンの発生停止時における、捕集電極５５から出力された検知電流の時間的な変化に基づいて、湿度の推定値（以降、湿度推定値とも称する）を算出することができる。
【００８６】
この点を踏まえ、イオン発生装置１ａでは、湿度の値を推定（算出）する機能を制御部４０に設けてもよい。また、湿度の状態を判定する機能を制御部４０に設けてもよい。一例として、制御部４０（より具体的には、後述する図４の湿度推定部４１）は、上述のΔＶｂ（またはΔＶｃ）の値に基づいて、上記湿度が「低湿」、「常湿」、または「高湿」のいずれであるかを判定してよい。
【００８７】
例えば、制御部４０は、（ｉ）Ｖｂ＜０．３Ｖである場合には「低湿」（湿度＝２０％）として、（ｉｉ）０．３Ｖ≦Ｖｂ＜１．０Ｖである場合には「常湿」（湿度＝５０％）として、（ｉｉｉ）Ｖｂ≧１．０Ｖでる場合には「高湿」（湿度＝８０％）として、湿度の状態を判定（または湿度推定値を算出）してよい。なお、上記判定の閾値（電圧閾値）は、イオン発生装置１ａの設計者によって適宜設定されてよい。
【００８８】
このように、イオン発生装置１ａでは、イオン検知部の出力（検知電圧）を、湿度推定値を算出するための信号値として利用することができる。すなわち、湿度センサをイオン検知部とは別体の部材として設けずとも、湿度のおおよその値を検知（推定）することが可能となる。
【００８９】
それゆえ、イオン発生装置１ａによれば、湿度検知機能を有するイオン発生装置を、従来よりも小型化することが可能となる。また、当該イオン発生装置の製造コストを低減させることもできる。このように、イオン発生装置１ａによれば、従来よりも効率的にイオンを検知することが可能となる。
【００９０】
（イオン発生装置１ａによる湿度検知の応用例）
また、上述の通り、イオン発生装置は、空気調和機等の電子機器に設けられてよい。以下、図４および図５を参照し、本実施形態のイオン発生装置１ａを空気調和機に設けた場合の応用例について述べる。
【００９１】
なお、本実施形態の空気調和機１００は、室内の気温、湿度、または空気清浄度等の調節対象の少なくともいずれかを調節するものであればよく、空気清浄器または加湿器等も、当該空気調和機１００の範疇に含まれる。
【００９２】
図４は、本実施形態のイオン発生装置１ａを備えた空気調和機１００の概略的な構成を示す機能ブロック図である。なお、空気調和機１００は、当該空気調和機１００が自身の内部へと吸入する空気から塵埃を捕集するフィルタ（不図示）を備えている。図４に示されるように、空気調和機１００は、イオン発生装置１ａ、入力受付部１０１、フィルタ清掃部１０２、および運転時間計測部１０３を備えている。
【００９３】
また、イオン発生装置１ａの制御部４０は、湿度推定部４１およびフィルタ清掃判定部４２（清掃制御部）を備えている。上述のように、湿度推定部４１は、イオン停止期間における、イオン検知回路５０から出力された検知電圧の時間的な変化（換言すれば、捕集電極５５から出力された検知電流（検知信号）の時間的な変化）に基づいて、湿度推定値を算出する。
【００９４】
入力受付部１０１は、空気調和機１００に対するユーザの入力を受け付ける（検知する）部材である。入力受付部１０１は、空気調和機１００自体に設けられたボタンであってもよいし、空気調和機１００に無線による入力信号を与えるリモコンに設けられたボタンであってもよい。ユーザは、入力受付部１０１に対する入力操作を行うことにより、以下に述べるフィルタ清掃部１０２を動作させ、フィルタを清掃することができる。
【００９５】
フィルタ清掃部１０２は、フィルタの清掃を行う部材である。フィルタ清掃部１０２は、フィルタに捕集された塵埃を掻き落とすブラシを備えた駆動機構であってよい。なお、ブラシによって掻き落とされた塵埃は、空気調和機１００の内部に設けられたダストボックス（不図示）に収容される。フィルタ清掃部１０２によってフィルタを清掃することにより、塵埃によるフィルタの目詰まりを防止することができるので、空気調和機１００の通風性能を保持することができる。
【００９６】
なお、空気調和機１００の通風性能の保持のためには、ユーザによる入力操作が無い場合にも、定期的にフィルタ清掃部１０２を動作させ、フィルタの自動清掃を行うことが好ましい。以下に述べるように、フィルタ清掃部１０２によるフィルタの自動清掃の可否は、フィルタ清掃判定部４２によって判定される。
【００９７】
運転時間計測部１０３は、フィルタ清掃部１０２が清掃されてからの空気調和機１００の運転時間の累積値（以下、単に運転時間とも称する）を計測する部材である。運転時間計測部１０３は、例えば公知のタイマであってよい。
【００９８】
フィルタ清掃判定部４２は、フィルタ清掃部１０２の動作を制御する部材である。加えて、フィルタ清掃判定部４２は、フィルタ清掃部１０２によるフィルタの自動清掃の可否を判定する機能を有している。すなわち、フィルタ清掃判定部４２は、フィルタを自動的に清掃する動作（自動清掃動作）を制御する部材であると理解されてよい。
【００９９】
なお、図４では、湿度推定部４１およびフィルタ清掃判定部４２は、イオン発生装置１ａの制御部４０に設けられている構成が例示されているが、これらの機能部は、空気調和機１００の制御部（不図示）に設けられていてもよい。
【０１００】
（フィルタの自動清掃の可否を判定する処理の流れ）
図５は、空気調和機１００におけるフィルタの自動清掃の可否を判定する処理Ｓ１〜Ｓ８の流れを例示するフローチャートである。以下、図５を参照し、当該処理の流れについて述べる。
【０１０１】
はじめに、入力受付部１０１は、ユーザによって空気調和機１００に対してフィルタ清掃の指示（入力指示）が与えられたか否かを検知する（処理Ｓ１）。ユーザによるフィルタ清掃の指示が検知した場合（Ｓ１においてＹＥＳ）、フィルタ清掃判定部４２は、フィルタ清掃部１０２を動作させてフィルタの清掃を行う（処理Ｓ７）。そして、フィルタの清掃が完了すると、制御部４０は、運転時間計測部１０３に指令を与え、空気調和機１００の運転時間の計測値（累積値）をリセットし、０に戻す（処理Ｓ８）。これにより、フィルタの清掃作業が完了する。
【０１０２】
他方、入力受付部１０１がユーザによるフィルタ清掃の指示を検知しなかった場合（Ｓ１においてＮＯ）、制御部４０は、空気調和機１００が動作中であるかを判定する（処理Ｓ２）。そして、空気調和機１００が動作中であった場合には（Ｓ２においてＹＥＳ）、制御部４０は、運転時間計測部１０３に指令を与え、空気調和機１００の運転時間の計測（累積）を行わせ（処理Ｓ３）、以下に述べる処理Ｓ４に進む。なお、空気調和機１００が動作中でない場合にも（Ｓ２においてＮＯ）、当該処理Ｓ４に進む。
【０１０３】
続いて、フィルタ清掃判定部４２は、空気調和機１００の運転時間が所定の時間（例：７２０時間）を下回っているか否かを判定する（処理Ｓ４）。すなわち、空気調和機１００の運転時間をｔ、所定の時間をＴｍとすると、フィルタ清掃判定部４２は、ｔ＜Ｔｍであるか否かを判定する。なお、Ｔｍは、７２０時間に限定されず、空気調和機１００の設計者によって適宜設定されてよい。Ｔｍは、フィルタの定期的な自動清掃が行われることが好ましい時間間隔であればよい。
【０１０４】
そして、空気調和機１００の運転時間がＴｍ以上である場合には（処理Ｓ４においてＮＯ）、フィルタ清掃判定部４２は、湿度推定部４１が算出した湿度推定値が第１閾値（例：８０％）を超えているか否かを判定する（処理Ｓ５）。すなわち、湿度推定値をｈ（以下、単に湿度ｈと称する）、第１閾値をＨ１とすると、フィルタ清掃判定部４２は、ｈ＞Ｈ１であるか否かを判定する。
【０１０５】
続いて、湿度ｈが第１閾値Ｈ１以下である場合には（Ｓ５においてＮＯ）、フィルタ清掃判定部４２は、湿度ｈが第２閾値（例：２０％）を下回っているか否かを判定する（処理Ｓ６）。すなわち、第２閾値をＨ２とすると、フィルタ清掃判定部４２は、ｈ＜Ｈ２であるか否かを判定する。
【０１０６】
なお、処理Ｓ５における第１閾値Ｈ１は、８０％に限定されない。第１閾値Ｈ１は、「高湿」に相当する湿度の下限値およびその近傍の値であればよい。また、処理Ｓ６における第２閾値Ｈ２についても、２０％に限定されない。第２閾値Ｈ２は、「低湿」に相当する湿度の上限値およびその近傍の値であればよい。従って、第１閾値Ｈ１および第２閾値Ｈ２はそれぞれ、空気調和機１００の設計者によって適宜設定されてよい。但し、第１閾値Ｈ１は、第２閾値Ｈ２よりも大きく設定されることが必要である。
【０１０７】
そして、湿度ｈが第２閾値Ｈ２以上である場合には（Ｓ６においてＮＯ）、処理Ｓ７に進み、上述と同様の処理が行われる。すなわち、フィルタ清掃判定部４２は、空気調和機１００の運転時間がＴｍ以上である場合において、湿度ｈが第１閾値Ｈ１以下であり、かつ、第２閾値Ｈ２以上である場合にのみ、フィルタ清掃部１０２を動作させてフィルタの自動清掃を行う。
【０１０８】
なお、（ｉ）空気調和機１００の運転時間がＴｍを下回っている場合（処理Ｓ４においてＹＥＳ）、（ｉｉ）湿度ｈが第１閾値Ｈ１を超えている（処理Ｓ５においてＹＥＳ）、または、（ｉｉｉ）湿度ｈが第２閾値Ｈ２を下回っている場合（処理Ｓ６においてＹＥＳ）には、上述の処理Ｓ２に戻り、同様の処理を繰り返す。
【０１０９】
（空気調和機１００の効果）
ところで、従来の空気調和機では、周囲の湿度によらず、運転時間が所定の時間以上となった場合に、フィルタの自動清掃が行われることが一般的であった。しかしながら、周囲の湿度が高い場合（高湿の場合）または低い場合（低湿の場合）には、フィルタの清掃効率が低下してしまうという問題が生じる。
【０１１０】
例えば、高湿の場合には、空気中の水分の影響によって、塵埃がフィルタに密着してしまうため、フィルタを効率的に清掃することが困難となる。他方、低湿の場合には、フィルタ清掃時に静電気が発生し易く、当該静電気の影響によって塵埃がフィルタに再度付着してしまう。また、当該静電気の影響によって塵埃がブラシに付着してしまい、ブラシに付着した塵埃をダストボックスの内部へと落とすことが困難となる。このため、フィルタを効率的に清掃することが困難となる。
【０１１１】
この点を踏まえると、運転時間が所定の時間以上となった場合であっても、高湿または低湿の場合には、フィルタの清掃効率が低いため、フィルタの自動清掃を行わない（延期する）ことが好ましい。すなわち、フィルタの清掃効率が高い状況（常湿の場合）においてのみ、フィルタの自動清掃を行うことが好ましい。
【０１１２】
そこで、空気調和機１００では、フィルタ清掃判定部４２を設け、湿度に応じてフィルタの自動清掃を制御している。より具体的には、フィルタ清掃判定部４２は、運転時間が所定の時間以上となった場合であっても、湿度推定部４１において算出された湿度推定値（上述の湿度ｈ）が、（ｉ）第１閾値Ｈ１を超えている場合、または、（ｉｉ）第２閾値Ｈ２（ここで、Ｈ２＜Ｈ１である）を下回っている場合には、空気調和機１００にフィルタの自動清掃を実行させない。
【０１１３】
すなわち、空気調和機１００は、フィルタの清掃効率が高い湿度（常湿）の範囲内においてのみ、フィルタの自動清掃を行うように構成されている。このため、フィルタの自動清掃を従来よりも効率的に行うことが可能となる。加えて、上述のように、イオン発生装置１ａにおいて、湿度センサをイオン検知部とは別体の部材として設ける必要がないため、空気調和機１００の製造コストを低減させることもできる。
【０１１４】
〔実施形態３〕
本発明の実施形態３について、上述の図１、および図６〜図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。本実施形態では、まず、上述の図１を再び参照し、イオン発生装置１におけるスイッチング素子３３、スイッチング素子３４、およびダイオードＤ２について述べる。
【０１１５】
（スイッチング素子３３、スイッチング素子３４、およびダイオードＤ２）
スイッチング素子３３は、電圧制御型のスイッチング素子である。具体的には、スイッチング素子３３は、図１の電圧Ｅ１（コンデンサ３２の端子間電圧）が所定の電圧（例：８０Ｖ）よりも高い場合に電路を導通させ、電圧Ｅ１が上記所定の電圧よりも低い場合に電路を遮断する。
【０１１６】
すなわち、スイッチング素子３３は、一次側配線３１ａにある程度高い電圧Ｖ＝Ｅ１を印加するために設けられた部材である。なお、スイッチング素子３３は、例えばサイリスタ（より具体的には、トライアック）であってよい。
【０１１７】
また、図１に示されるように、スイッチング素子３４およびダイオードＤ２は、直列に接続されている。そして、スイッチング素子３４およびダイオードＤ２は、コンデンサ３２に並列に接続されている。また、スイッチング素子３４は、制御部４０によってＯＮ／ＯＦＦの切替が可能であるように構成されている。なお、スイッチング素子３４の種類は特に限定されない。
【０１１８】
まず、スイッチング素子３４がＯＮ状態である場合（上述の実施形態１と同様の場合）を考える。ここで、スイッチング素子３３はＯＮ状態であるとする。この場合、上述の電圧Ｖ１およびＶ２はそれぞれ、正負方向に同じ振幅を有する交流電圧となるため、上述のように正イオンおよび負イオンのそれぞれを発生させることができる。
【０１１９】
図６の（ａ）は、スイッチング素子３４がＯＦＦ状態である場合における、電圧Ｖ２の波形の一例を示す図である。図６の（ａ）に示されるように、電圧Ｖ２は、正負ともにほぼ同じ振幅を有しており、かつ、減衰振動する交流電圧となる。ここで、正の振幅とは、正のピーク値を有する波（パルス）における、０Ｖからピーク値までの電圧の値を意味する。また、負の振幅とは、負のピーク値を有する波における、０Ｖからピーク値までの電圧の値を意味する。
【０１２０】
なお、図６の（ａ）では、減衰振動の第１波（第１のパルス）の極性が負（−）である場合が例示されている（後述の図６の（ｂ）も同様）。従って、図６の（ａ）において、第２波（第１波に続く波）の極性は正（＋）となる。以降、波ごとに極性（＋，−）が反転する（後述の図６の（ｂ）も同様）。
【０１２１】
ここで、簡単のために、電圧Ｖ２の大きさ（絶対値）が所定の閾値（例：１ｋＶ）（以下、放電電圧と称する）以上であれば、放電を生じさせることが可能であるとする。図６の（ａ）によれば、第１波および第３波は、絶対値が放電電圧よりも大きい負の振幅を有している。このため、第１波および第３波によって、負イオンを発生させることができる。同様に、第２波および第４波によって、正イオンを発生させることができる。
【０１２２】
続いて、制御部４０によって、スイッチング素子３４がＯＮ状態に切り替えられた場合を考える。ここで、スイッチング素子３３はＯＮ状態であるとする。図６の（ｂ）は、スイッチング素子３４がＯＮ状態である場合における、電圧Ｖ２の波形の一例を示す図である。
【０１２３】
図６の（ｂ）を参照すれば、電圧Ｖ２は、減衰振動する交流電圧であるが、正の振幅が負の振幅よりも小さい。すなわち、スイッチング素子３４をＯＮ状態とすることにより、上述の図６の（ａ）とは異なる電圧Ｖ２の波形が得られる。
【０１２４】
その理由は、スイッチング素子３４がＯＮ状態である場合には、ダイオードＤ２がＯＮ状態であれば、抵抗１６と接地線１９とを接続する電路が形成されるためである。これにより、一次側配線３１ａに流入する電流Ｉ１の大きさはかなり小さくなる。このため、電流Ｉ１による電圧Ｖ２の誘起の度合いが低減され、電圧Ｖ２の大きさは小さくなる。
【０１２５】
従って、ダイオードＤ２をＯＮ状態とするタイミング（ダイオードＤ２に順方向の電圧Ｅを印可するタイミング）を適切に調整すれば、図６の（ｂ）に示されるように、電圧Ｖ２の正の振幅のみを減少させることができる。
【０１２６】
すなわち、第２波のピーク値（絶対値）を、放電電圧よりも小さくすることができる。図６の（ｂ）によれば、第１波および第３波によって、負イオンを発生させることができるが、第２波および第４波によって正イオンは発生しないことが理解される。このように、一次側配線３１ａに流れる電流Ｉ１の大きさを調整することにより、（ｉ）負イオンのみを発生させ、かつ、（ｉｉ）正イオンを発生させないように、電圧Ｖ２の波形を変化させることができる。
【０１２７】
以上のように、第１波の極性が負である場合には、イオン発生装置１において、正イオンと負イオンとの両方を発生させるモード（図６の（ａ）の場合）（第１モード）と、負イオンのみを発生させるモード（図６の（ｂ）の場合）との、２通りのイオン発生モード（第２モード）を実現することが可能となる。
【０１２８】
また、第１波の極性が正である場合には、上述の第１モードに加えて、正イオンのみを発生させるモード（第３モード）を実現することが可能となる。図７の（ａ）は、第１波の振幅が正である場合において、スイッチング素子３４がＯＦＦ状態である場合の電圧Ｖ２の波形を示す図である。図７の（ａ）の電圧Ｖ２の波形によれば、図６の（ａ）と同様に、第１モードを実現することができる。
【０１２９】
また、図７の（ｂ）は、第１波の極性が正である場合において、スイッチング素子３４がＯＮ状態である場合の電圧Ｖ２の波形を示す図である。図７の（ｂ）によれば、第１波および第３波によって、正イオンを発生させることができるが、第２波および第４波によって負イオンは発生しないことが理解される。すなわち、図７の（ｂ）の電圧Ｖ２の波形によれば、第３モードを実現することができる。
【０１３０】
このように、イオン発生装置１では、変圧器３１の一次側（低圧側）に設けられたスイッチング素子３４のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより、第１モードに加え、（ｉ）第２モード、または、（ｉｉ）第３モード少なくともいずれかのイオン発生モードを実現することが可能となる。すなわち、複数のイオン発生モードの切替が可能となる。
【０１３１】
他方、従来のイオン発生装置では、複数のイオン発生モードを切り替えるためには、変圧器の高圧側にスイッチング素子を設けることが一般的であった。このため、高耐圧なスイッチング素子を使用する必要があるため、当該スイッチング素子は大型のものとなる。このため、イオン発生装置が大型化するという問題があった。また、当該スイッチング素子が高価であるため、イオン発生装置の製造コストが増加するという問題もあった。
【０１３２】
また、従来のイオン発生装置では、複数のイオン発生モードを切り替えるための回路の構成を容易化するために、２つの変圧器（正イオン発生のための専用変圧器および負イオン発生のための専用変圧器）を設ける場合もあった。しかしながら、変圧器は、イオン発生装置の電気部品のうちかなり大型の部品であるため、変圧器を２つ設けることにより、イオン発生装置が大型化するという問題があった。
【０１３３】
他方、本実施形態のイオン発生装置１では、変圧器３１の低圧側にスイッチング素子３４を設けることにより、複数のイオン発生モードを切り替えることができる。また、変圧器３１の個数も１つでよい。従って、イオン発生装置の小型化を実現できるとともに、当該イオン発生装置の製造コストを低減することが可能となる。
【０１３４】
（第１波の極性を切り替えるための構成）
また、電圧Ｖ２の第１波の極性を切り替えることも可能である。続いて、図８を参照し、電圧Ｖ２の第１波の極性を切り替えるための構成について述べる。図８は、イオン発生装置１とは別のイオン発生装置における一次側配線３１ａの周辺の概略的な構成を示す回路図である。なお、図８では、簡単のために金属板３５の図示が省略されている。
【０１３５】
ここで、イオン発生装置１との区別のため、図８のイオン発生装置を、イオン発生装置１ｂと称する。イオン発生装置１ｂは、イオン発生装置１において、スイッチング素子３９ａ・３９ｂを付加した構成である。なお、スイッチング素子３９ａ・３９ｂの接続状態の切替は、制御部４０によって制御されてよい。
【０１３６】
スイッチング素子３９ａは、節点Ｎａを、節点Ｎ１または節点Ｎ２のいずれか一方に接続させる。ここで、節点Ｎａは一次側配線３１ａの一端に接続された節点であり、節点Ｎ１は電力線１８に接続された節点であり、節点Ｎ２は接地線１９に接続された節点である。
【０１３７】
また、スイッチング素子３９ｂは、節点Ｎｂを、節点Ｎ３または節点Ｎ４のいずれか一方に接続させる。ここで、節点Ｎｂは一次側配線３１ａの他端に接続された節点であり、節点Ｎ３は接地線１９に接続された節点であり、節点Ｎ４は電力線１８に接続された節点である。
【０１３８】
一例として、節点Ｎａが節点Ｎ１に、節点Ｎｂが節点Ｎ３に、それぞれ接続されている場合に、電圧Ｖ２の第１波の極性が負である場合を考える。この場合、スイッチング素子３９ａ・３９ｂのそれぞれの接続状態を切り替え、節点Ｎａを節点Ｎ２に、節点Ｎｂを節点Ｎ４に接続させると、電圧Ｖ１の極性を正に反転させることができる。
【０１３９】
その結果、電圧Ｖ１の極性の反転に伴い、電圧Ｖ２の極性も反転する。すなわち、電圧Ｖ２の第２波の極性を正に切り替えることができる。このように、スイッチング素子３９ａ・３９ｂによって、一次側配線３１ａの節点Ｎａ・Ｎｂの接続状態の切り替えに応じて、電圧Ｖ２の第１波の極性を切り替えることができる。従って、イオン発生装置１ｂによれば、上述の第１モード〜第３モードの３通りのイオン発生モードの切替が可能となる。
【０１４０】
また、制御部４０によってスイッチング素子３９ａ・３９ｂの切替回数を制御することにより、イオン発生装置１ｂにおける正イオンおよび負イオンのそれぞれの発生回数を制御することもできる。換言すれば、イオン発生装置１ｂでは、スイッチング素子３９ａ・３９ｂが設けられることにより、正イオンおよび負イオンのそれぞれの発生量を調整することも可能となる。
【０１４１】
（イオン発生装置においてイオンを検知するための別の構成）
また、本発明の一態様に係るイオン発生装置では、上述のイオン発生装置１・１ａ・１ｂとは別の構成により、放電（換言すればイオンの発生）を検知することができる。続いて、図９を参照し、当該構成について述べる。ここで、上述のイオン発生装置１・１ａ・１ｂとの区別のため、図９のイオン発生装置を、イオン発生装置１ｃと称する。
【０１４２】
図９は、イオン発生装置１ｃの記憶部９５の周辺の概略的な構成を示す回路図である。なお、記憶部９５は、実施形態１において述べた不図示の記憶部と同様のものである。以下、記憶部９５がＥＥＰＲＯＭ（登録商標）（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory）である場合を例示して説明を行う。但し、記憶部９５の種類は、これに限定されない。
【０１４３】
図９に示されるように、イオン発生装置１ｃにおいて、記憶部９５および制御部４０は、第１信号線９６ａおよび第２信号線９６ｂによってそれぞれ接続されている。一例として、第１信号線９６ａはＳＤＡ（Serial Data Line，データ信号線）であり、第２信号線９６ｂはＳＣＬ（Serial Clock Line，クロック信号線）である。
【０１４４】
但し、記憶部９５と制御部４０とを接続する信号線の種類は、これらに限定されない。また、信号線は、制御部４０と接続されているものであればよい。すなわち、当該信号線は、制御部４０を記憶部９５以外の部材に接続する信号線であってもよい。
【０１４５】
そして、イオン発生装置１ｃでは、上記信号線が、放電ノイズの影響を受けやすいように設けられている。例えば、第１信号線９６ａは、当該第１信号線９６ａの少なくとも一部分が、第１放電電極１２ａの近傍に位置するように設けられている。従って、第１信号線９６ａは、第１放電電極１２ａにおいて発生する放電ノイズ（負イオン発生時の放電ノイズ）の影響を受けやすい。
【０１４６】
また、第２信号線９６ｂは、当該第２信号線９６ｂの少なくとも一部分が、第２放電電極１２ｂの近傍に位置するように設けられている。従って、第２信号線９６ｂは、第２放電電極１２ｂにおいて発生する放電ノイズ（正イオン発生時の放電ノイズ）の影響を受けやすい。
【０１４７】
このように、上記信号線を放電電極の付近に設けることにより、放電ノイズの発生時（イオンの発生時）には、当該放電ノイズによって、当該信号線にパルス状のノイズ（以下、信号ノイズと称する）が誘起される。
【０１４８】
（第１の構成例）
ところで、マイクロプロセッサには、所定の強度を有する入力信号（パルス信号）の個数を計数するイベントカウンタ（パルス計数部）が設けられることが一般的である。そこで、以下に述べるように、制御部４０にパルス計数部を設け、当該パルス計数部によって計数された信号ノイズのパルスの個数に基づいて、放電の有無を検知することができる。
【０１４９】
まず、イオン発生装置１ｃにおいて、イオンを発生させるための正常な放電（以下、正常放電）を行う場合には、上述の電圧Ｖ２の振幅は十分に大きい。正常放電の場合には、放電ノイズの強度は十分に大きいので、信号ノイズのパルスの個数も多くなる。従って、制御部４０は、例えば、パルス計数部が計数した信号ノイズのパルスの個数が所定の数よりも多い場合には、正常放電が発生していると判定してよい。
【０１５０】
また、イオン発生装置１ｃにおいて、イオンの発生を停止するために放電を停止させると、放電ノイズの強度は０となる。このため、信号ノイズのパルスの個数も０となる。従って、制御部４０は、例えば、パルス計数部が計数した信号ノイズのパルスの個数が０である場合には、放電が発生していないと判定してよい。
【０１５１】
また、何らかの異常により、電圧Ｖ２の振幅値が上記正常放電の場合よりも小さくなった場合には、当該正常放電に比べて強度が小さい放電（以下、異常放電）が発生する。なお異常放電の場合には、イオンの発生数は正常放電の場合よりも少なくなる。
【０１５２】
異常放電の場合には、放電ノイズの強度は正常放電の場合よりも小さいため、信号ノイズのパルスの個数も少なくなる。従って、制御部４０は、例えば、パルス計数部が計数した信号ノイズのパルスの個数が、（ｉ）０よりも多く、かつ、（ｉｉ）上記所定の数以下である場合には、異常放電が発生していると判定してよい。
【０１５３】
（第２の構成例）
また、マイクロプロセッサには、演算の容易化のために、入力信号にＡＤ（Analog-Digital）変換を施すＡＤ変換部が設けられることが一般的である。そこで、以下に述べるように、制御部４０にＡＤ変換部を設け、アナログ信号である信号ノイズを当該ＡＤ変換部によって変換した結果（ＡＤ変換値）に基づいて、放電の有無を検知することもできる。
【０１５４】
まず、上述の正常放電の場合には、信号ノイズの強度が大きいので、ＡＤ変換値も大きくなる。従って、制御部４０は、例えば、ＡＤ変換値が所定の値よりも大きい場合には、正常放電が発生していると判定してよい。
【０１５５】
また、放電を停止された場合には、信号ノイズの強度も０となる。従って、制御部４０は、例えば、ＡＤ変換値が０である場合には、放電が発生していないと判定してよい。
【０１５６】
また、異常放電の場合には、信号ノイズの強度が正常放電の場合よりも少なくなる。従って、制御部４０は、例えば、ＡＤ変換値が、（ｉ）０よりも大きく、かつ、（ｉｉ）上記所定の値以下である場合には、異常放電が発生していると判定してよい。
【０１５７】
（イオン発生装置１ｃの効果）
イオン発生装置１ｃによれば、制御部４０を他の部材に接続するための信号線に発生するノイズ（信号ノイズ）を利用して、放電を検知することができる。すなわち、イオン検知回路５０および捕集電極５５を設けることなく、放電（換言すればイオン）を検知することが可能となる。
【０１５８】
ところで、上述のイオン発生装置１では、イオンを好適に検知するために、捕集電極５５をイオン発生装置１の風路（イオン発生装置１の内部において発生させたイオンを、当該イオン発生装置１の外部に送出するための通風路）の近傍に設けることが考えられる。但し、風路の近傍に設けられた部材は、風または外部環境の影響を受けやすく、劣化しやすい傾向にある。このため、捕集電極５５が劣化し、イオン検知回路５０におけるイオンの検知性能が低下する可能性がある。
【０１５９】
しかしながら、イオン発生装置１ｃによれば、風路に捕集電極５５を設ける必要がないため、捕集電極５５の劣化に伴うイオンの検知性能の低下を回避することができる。従って、イオン検知の信頼性を向上させることができる。
【０１６０】
また、イオン発生装置１ｃの風路に捕集電極５５が存在していないため、イオン発生装置１ｃの内部において発生されたイオンを、当該イオン発生装置１の外部へと、より効率的に送出することもできる。すなわち、捕集電極５５の存在によるイオンの量の低下を防止することができるので、イオンの発生効率が向上するという利点も得られる。
【０１６１】
なお、上述のように、イオン発生装置１ｃでは、第１信号線９６ａが、第１放電電極１２ａにおいて発生する放電ノイズの影響を受けやすいように設けられていた。従って、第１信号線９６ａに発生する信号ノイズに基づいて、負イオンを検知することができる。同様に、第２信号線９６ｂに発生する信号ノイズに基づいて、正イオンを検知することができる。すなわち、正負それぞれのイオンを検知することができる。
【０１６２】
なお、信号ノイズを発生させる対象となる信号線は、イオン発生装置に新たに追加された信号線であってもよいが、当該イオン発生装置にあらかじめ設けられている信号線であることがより好ましい。イオン発生装置にあらかじめ設けられている信号線を利用することにより、当該イオン発生装置の設計変更の手間を低減することができるためである。
【０１６３】
例えば、一般的なイオン発生装置において、放電発生時（イオン発生時）には、制御部４０と記憶部９５との通信異常を防ぐために、ＳＤＡおよびＳＣＬに対して信号は入出力されない。すなわち、ＳＤＡおよびＳＣＬは、放電発生時には使用されない信号線であった。
【０１６４】
そこで、本願の発明者は、ＳＤＡおよびＳＣＬが使用されない期間（放電発生時）において、当該ＳＤＡおよびＳＣＬを、信号ノイズを発生させる対象となる信号線としてさらに利用するという技術的思想を新たに想到した。その結果、イオン発生装置１ｃでは、イオン発生装置の設計変更の手間を低減することを一目的として、ＳＤＡおよびＳＣＬが、上述の第１信号線９６ａおよび第２信号線９６ｂとしてそれぞれ利用されている。
【０１６５】
〔ソフトウェアによる実現例〕
イオン発生装置１・１ａ・１ｂ・１ｃの制御ブロック（特に制御部４０）は、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いてソフトウェアによって実現してもよい。
【０１６６】
後者の場合、イオン発生装置１・１ａ・１ｂ・１ｃは、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するＣＰＵ、上記プログラムおよび各種データがコンピュータ（またはＣＰＵ）で読み取り可能に記録されたＲＯＭ（Read Only Memory）または記憶装置（これらを「記録媒体」と称する）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）などを備えている。そして、コンピュータ（またはＣＰＵ）が上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の目的が達成される。上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、例えば、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路などを用いることができる。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。
【０１６７】
〔まとめ〕
本発明の態様１に係るイオン発生装置（１）は、放電電極（例えば、第１放電電極１２ａ）と当該放電電極に対向する対向電極（１４）との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置であって、上記放電によって生じる放電ノイズを検知するための検知電極（捕集電極５５）を備えており、上記対向電極は、当該対向電極の電位がフロート状態となるように配置されている。
【０１６８】
上述のように、一部のイオン発生装置では、当該イオン発生装置の設計の容易化を一目的として、イオンの発生（換言すれば放電）を検知するイオン検知部が、イオン発生装置の内部に設けられていた。そして、このようなイオン発生装置において、対向電極は接地されていた。
【０１６９】
しかしながら、本願の発明者は、このようなイオン発生装置では、対向電極が接地されていることにより、イオン発生装置において発生するイオンのバランス（電荷バランス）が崩れやすくなるという問題が生じることを見出した。
【０１７０】
他方、本願の発明者は、対向電極の電位をフロート状態とする（対向電極を接地しない）ことにより、上記電荷バランスの崩れを抑制することが可能となることを見出した。従って、上記の構成によれば、検知電極から出力される出力信号に基づいてイオンを検知するイオン検知部（例えば、図１のイオン検知回路５０）をイオン発生装置の内部に設けた場合であっても、電荷バランスの崩れを抑制することが可能となる。
【０１７１】
すなわち、イオン発生装置の設計の容易化と、イオン発生装置の信頼性向上とを両立させることが可能となる。このように、本発明の一態様に係るイオン発生装置によれば、従来よりも効率的にイオンを検知することが可能となるという効果を奏する。
【０１７２】
本発明の態様２に係るイオン発生装置は、上記態様１において、上記検知電極は、上記放電電極または上記対向電極の近傍に配置されていることが好ましい。
【０１７３】
上記の構成によれば、検知電極によって放電ノイズをより確実に検知することが可能となるという効果を奏する。
【０１７４】
本発明の態様３に係るイオン発生装置は、上記態様１または２において、一次側配線（３１ａ）に入力された電圧を変圧して二次側配線（３１ｂ）に出力する変圧器（３１）をさらに備え、上記二次側配線は、上記放電電極に接続されており、上記変圧器は、当該変圧器の動作時に発生する電磁的ノイズの漏出を防止する遮蔽部材（金属板３５）によって遮蔽されていることが好ましい。
【０１７５】
上述のように、変圧器は、イオン発生装置に設けられる電気的な部材のうち、動作時（変圧時）にかなり大きい電磁的ノイズを発生させる部材である。そこで、上記の構成によれば、変圧器から発せられる電磁的ノイズを、遮蔽部材の外部に漏出することを防止できる。
【０１７６】
また、放電ノイズは、変圧器の二次側において発生するノイズである点を考慮すると、変圧器の一次側において発生するノイズの影響を低減することが特に好ましいと言える。そこで、上記の構成によれば、変圧器の一次側において発生する電磁的ノイズが、放電ノイズの検知結果に与える影響を低減することができる。このように、遮蔽部材を設けることにより、放電ノイズをさらに確実に検知することが可能となるという効果を奏する。
【０１７７】
本発明の態様４に係るイオン発生装置は、放電電極と当該放電電極に対向する対向電極との間に放電を生じさせることにより、イオンを発生させるイオン発生装置であって、上記放電によって生じる放電ノイズを検知するための検知電極を備えており、上記検知電極の表面には、絶縁物（５６）が設けられている。
【０１７８】
上述のように、一部のイオン発生装置では、周囲の湿度を検知するための湿度センサは、イオン検知部とは別体の部材（ハードウェア要素）として設けられていた。従って、湿度センサを設けることにより、イオン発生装置が大型化するという問題があった。
【０１７９】
他方、上述のように、検知電極の表面に絶縁物を設けた場合には、周囲の湿度が高いほど、絶縁物の表面に水分が付着しやすくなるため、当該絶縁物の静電容量は増加する。このため、湿度が高いほど、イオン発生停止時における検知信号の変化量も大きくなる。それゆえ、イオン発生停止時における検知信号の時間的な変化に基づいて、上記湿度のおおよその値を推定することができることが可能となる。
【０１８０】
それゆえ、上記の構成によれば、イオン発生装置において、湿度センサをイオン検知部とは別体の部材として設ける必要がないため、湿度検知機能を有するイオン発生装置を、従来よりも小型化することができる。このように、本発明の一態様に係るイオン発生装置によれば、従来よりも効率的にイオンを検知することが可能となるという効果を奏する。
【０１８１】
本発明の態様５に係る空気調和機（１００）は、上記態様４に係るイオン発生装置を備えた空気調和機であって、上記イオン発生装置による上記イオンの発生が停止された期間における、上記検知電極から出力される検知信号の時間的な変化に基づいて、当該イオン発生装置の周囲の湿度の推定値である湿度推定値を算出する湿度推定部（４１）と、
上記空気調和機のフィルタの自動清掃の動作を制御する清掃制御部（フィルタ清掃判定部４２）と、を備えており、上記清掃制御部は、上記湿度推定値が、（ｉ）第１閾値を超えている場合、または、（ｉｉ）上記第１閾値よりも小さい閾値である第２閾値を下回っている場合には、上記自動清掃を開始させないように空気調和機を制御することが好ましい。
【０１８２】
上述のように、従来の空気調和機では、周囲の湿度によらず、運転時間が所定の時間以上となった場合に、フィルタの自動清掃が行われることが一般的であった。しかしながら、周囲の湿度が高い場合または低い場合には、フィルタの清掃効率が低下してしまうという問題が生じる。
【０１８３】
他方、上記の構成によれば、清掃制御部は、湿度推定部において算出された湿度推定値が、（ｉ）第１閾値（例：湿度８０％，高湿に相当する湿度）を超えている場合、または、（ｉｉ）第２閾値（例：湿度２０％，低湿に相当する湿度）を下回っている場合には、
運転時間が所定の時間以上となった場合であっても、空気調和機にフィルタの自動清掃を開始させない。
【０１８４】
従って、本発明の一態様に係る空気調和機によれば、フィルタの清掃効率が高い湿度（常湿）の範囲内においてのみ、フィルタの自動清掃を行うことができる。このため、フィルタの自動清掃を従来よりも効率的に行うことが可能となるという効果を奏する。
【０１８５】
〔付記事項〕
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
【符号の説明】
【０１８６】
１，１ａ，１ｂ，１ｃ  イオン発生装置
１２ａ  第１放電電極（放電電極）
１２ｂ  第２放電電極（放電電極）
１４  対向電極
３１ａ  一次側配線
３１ｂ  二次側配線
３５  金属板（遮蔽部材）
４１  湿度推定部
４２  フィルタ清掃判定部（清掃制御部）
５５  捕集電極（検知電極）
１００  空気調和機
【図１】
2017168229.tif 000003
【図２】
2017168229.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2017168229.tif 000008
【図７】
2017168229.tif 000009
【図８】
2017168229.tif 000010
【図９】
2017168229.tif 000011