(57)【要約】【課題】搬送中の検査対象を撮影した画像から検査対象の検査を好適に行うことができる検査装置等を提供する。【解決手段】検査装置は、搬送中の印刷物を撮影した検査画像に基づき印刷物の検査を行うものであり、検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、欠陥候補領域の境界画素と、境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、境界画素に対し隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、境界画素が欠陥か否かを判別する。【選択図】図１１
2017083196.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置であって、
前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、
前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出手段と、
を有することを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記抽出手段は、
前記検査画像と基準画像とで対応する位置にある画素を比較して前記欠陥候補領域を抽出した後、前記欠陥候補領域の画素の輝度と色相によって前記欠陥候補領域の領域分けを行い、
前記欠陥検出手段は、
領域分け後の欠陥候補領域について、前記境界画素が欠陥か否かの判別を行うことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
前記検査画像の画素値をLab値に変換する変換手段を更に有し、
前記抽出手段は、
前記欠陥候補領域の画素のLab値に基づいて、輝度と色相による領域分けを行うことを特徴とする請求項２記載の検査装置。
【請求項４】
前記欠陥検出手段は、
前記境界画素と前記隣接画素を比較し、
両画素が類似しないと判定する場合には前記境界画素が欠陥であるとし、
両画素が類似すると判定する場合に、前記隣接画素と前記逆方向画素を用いて前記境界画素が欠陥か否か判別することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の検査装置。
【請求項５】
前記欠陥検出手段は、前記境界画素が欠陥か否か判別する際、
前記隣接画素と前記逆方向画素の色相を比較し、色相の違いが大きいと判定する場合、
前記隣接画素と前記欠陥候補領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さいと判定する場合、前記境界画素を欠陥でないとすることを特徴とする請求項４記載の検査装置。
【請求項６】
前記欠陥検出手段は、前記境界画素が欠陥か否か判別する際、
前記隣接画素と前記逆方向画素の色相を比較し、色相の違いが小さいと判定する場合、
前記隣接画素、前記逆方向画素のいずれかと、前記欠陥候補領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さいと判定する場合、前記境界画素を欠陥でないとすることを特徴とする請求項４または請求項５記載の検査装置。
【請求項７】
搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置が、
前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出工程と、
前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出工程と、
を実行することを特徴とする検査方法。
【請求項８】
コンピュータを、
搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置であって、
前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、
前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出手段と、
を有する検査装置として機能させるためのプログラム。
【請求項９】
コンピュータを、
搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置であって、
前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、
前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出手段と、
を有する検査装置として機能させるためのプログラムを記録した記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、印刷物等の検査を行う検査装置等に関する。
【背景技術】
【０００２】
枚葉状の用紙へ印刷を行うものとして、図１４に示すようなオフセット枚葉印刷機１００が知られている。オフセット枚葉印刷機１００は、給紙部１１０、印刷部１２０、排紙部１３０等を有する。
【０００３】
給紙部１１０は、給紙パイル１１１に収納されている用紙を１枚ずつ印刷部１２０へと搬送するものである。印刷部１２０では、複数の印刷ユニット１２０ａのそれぞれで、対応する色のインキによる印刷が行われる。印刷部１２０における印刷を終えると、用紙はコンベア等により排紙部１３０に排出され、排紙パイル１３１に積み重ねられる。
【０００４】
上記の各印刷ユニット１２０ａには、圧胴３、版胴７、ブランケット胴８、渡し胴９等のロールや、インキを供給するインキ供給装置（不図示）等が設けられる。版胴７には版板が巻装され、インキ供給装置により版板に移されたインキがブランケット胴８に転移し、圧胴３とブランケット胴８の間を走行する用紙にインキを転移させることにより用紙への印刷が行われる。
【０００５】
オフセット枚葉印刷機１００では、印刷物の検査がインラインで行われる。この検査は、圧胴３に沿って搬送される用紙をカメラ５０で撮影し、その画像に基づき行われる。印刷物の検査としては、カメラ５０で撮影した搬送中の印刷物の画像と基準画像のエッジを検出し、画像マッチングを行って位置合わせを行った上で、対応する位置にある画素の比較を行う手法が一般的である。
【０００６】
このような手法では、印刷物の撮影時のブレにより検査精度が低下する問題がある。特許文献１にはカメラにおいて画像のブレを低減する手法の例が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開2009−17223号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従来の印刷機での検査の際は、印刷物が高速で移動していることにより、撮影画像がぼやけてしまうため、正確な画素比較が不可能であり、画像のエッジ周辺を無視して処理することが多かった。そのため、画像のエッジ周辺の検査ができないという欠点があった。
【０００９】
特許文献１は撮像部に取り込まれている画像のうちから対象物が決定された場合において、シャッター押下の操作入力がされるまでの間、決定された対象物の対象物領域の更新およびその対象物の動き量の検出を行うことで、動き量に合わせたブレ補正を行うものであるが、上記のような課題を解決するものではなかった。
【００１０】
本発明は上記の問題に鑑みてなされたものであり、搬送中の検査対象を撮影した画像から検査対象の検査を好適に行うことができる検査装置等を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前述した課題を解決するための第１の発明は、搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置であって、前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出手段と、を有することを特徴とする検査装置である。
【００１２】
本発明では、検査画像の欠陥候補領域を抽出し、その境界画素について、境界画素、欠陥候補領域外の隣接画素、および上記の逆方向画素から境界画素が欠陥か否かを判別するので、欠陥候補領域として抽出された境界画素が画像のブレ等によるものなのか実際の欠陥によるものなのかを切り分けることができる。
【００１３】
前記抽出手段は、前記検査画像と基準画像とで対応する位置にある画素を比較して前記欠陥候補領域を抽出した後、前記欠陥候補領域の画素の輝度と色相によって前記欠陥候補領域の領域分けを行い、前記欠陥検出手段は、領域分け後の欠陥候補領域について、前記境界画素が欠陥か否かの判別を行うことが望ましい。
これにより、検査対象において、輝度や色相が類似の一まとまりの画素ごとに前記の処理を行い、絵柄の影響を除いて検査を行うことができる。
【００１４】
また、第１の発明の検査装置は、前記検査画像の画素値をLab値に変換する変換手段を更に有し、前記抽出手段は、前記欠陥候補領域の画素のLab値に基づいて、輝度と色相による領域分けを行うことが望ましい。
これにより、画素の輝度や色相による領域分けを好適に行うことができる。
【００１５】
前記欠陥検出手段は、前記境界画素と前記隣接画素を比較し、両画素が類似しないと判定する場合には前記境界画素が欠陥であるとし、両画素が類似すると判定する場合に、前記隣接画素と前記逆方向画素を用いて前記境界画素が欠陥か否か判別することが望ましい。
欠陥による画素の変化は比較的大きいので、境界画素と隣接画素を比較して違いが大きい場合には境界画素を欠陥によるものと判別でき、そうでない場合には隣接画素と逆方向画素を用いて更なる検査を行うことができる。
【００１６】
前記欠陥検出手段は、前記境界画素が欠陥か否か判別する際、前記隣接画素と前記逆方向画素の色相を比較し、色相の違いが大きいと判定する場合、前記隣接画素と前記欠陥候補領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さいと判定する場合、前記境界画素を欠陥でないとすることが望ましい。
隣接画素と逆方向画素の色相の違いが大きい場合には隣接画素と欠陥候補領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さい場合、境界画素が欠陥でなく画像のブレ等によるものと判別できる。
【００１７】
また、前記欠陥検出手段は、前記境界画素が欠陥か否か判別する際、前記隣接画素と前記逆方向画素の色相を比較し、色相の違いが小さいと判定する場合、前記隣接画素、前記逆方向画素のいずれかと、前記欠陥候補領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さいと判定する場合、前記境界画素を欠陥でないとすることが望ましい。
隣接画素と逆方向画素の色相の違いが小さい場合には隣接画素、逆方向画素のいずれかと、欠陥候補領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さい場合、境界画素が欠陥でなく画像のブレ等によるものと判別できる。
【００１８】
第２の発明は、搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置が、前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出工程と、前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出工程と、を実行することを特徴とする検査方法である。
【００１９】
第３の発明は、コンピュータを、搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置であって、前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出手段と、を有する検査装置として機能させるためのプログラムである。
【００２０】
第４の発明は、コンピュータを、搬送中の検査対象を撮影した検査画像に基づき前記検査対象の検査を行う検査装置であって、前記検査画像における欠陥候補領域を抽出する抽出手段と、前記欠陥候補領域の境界画素と、前記境界画素に隣接する欠陥候補領域外の隣接画素と、前記境界画素に対し前記隣接画素と逆方向にある欠陥候補領域外の画素である逆方向画素を用いて、前記境界画素が欠陥か否かを判別する欠陥検出手段と、を有する検査装置として機能させるためのプログラムを記録した記録媒体である。
【発明の効果】
【００２１】
本発明により、搬送中の検査対象を撮影した画像から検査対象の検査を好適に行うことができる検査装置等を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】検査システム１０を示す図
【図２】検査装置３０のハードウェア構成を示す図
【図３】基準画像６０と検査画像７０の例
【図４】検査方法の概略を示すフローチャート
【図５】Lab色空間を示す図
【図６】Ｓ２０のラベリング工程を示すフローチャート
【図７】ラベリング結果を示す図
【図８】Ｓ３０のラベリング工程を示すフローチャート
【図９】ラベリング結果を示す図
【図１０】Ｓ４０の欠陥検出工程を示すフローチャート
【図１１】Ｓ４０の欠陥検出工程を示すフローチャート
【図１２】欠陥検出工程について説明する図
【図１３】欠陥検出工程について説明する図
【図１４】オフセット枚葉印刷機１００を示す図
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
【００２４】
［第１の実施形態］
（１．検査システム１０）
図１は本発明の実施形態に係る検査システム１０を示す図である。検査システム１０は検査装置３０、カメラ５０等を有する。検査システム１０は、オフセット枚葉印刷機１００（図１４参照）において搬送中の印刷物を撮影し、その撮影画像に基づく検査をインラインで行うものである。
【００２５】
検査装置３０はカメラ５０等を制御して印刷物の撮影を行い、その撮影画像から印刷物の検査を行うものである。
【００２６】
図２は検査装置３０のハードウェア構成を示す図である。図２に示すように、検査装置３０は、例えば制御部３１、記憶部３２、入力部３３、表示部３４、通信部３５等をバス３６により接続して構成されたコンピュータにより実現できる。但しこれに限ることなく、適宜様々な構成をとることができる。
【００２７】
制御部３１は、CPU、ROM、RAMなどから構成される。CPUは、記憶部３２、ROMなどの記録媒体に格納された検査装置３０の処理に係るプログラムをRAM上のワークメモリ領域に呼び出して実行する。ROMは不揮発性メモリであり、コンピュータのブートプログラムやBIOSなどのプログラム、データなどを恒久的に保持している。RAMは揮発性メモリであり、記憶部３２、ROMなどからロードしたプログラムやデータを一時的に保持するとともに、制御部３１が各種処理を行うために使用するワークエリアを備える。
【００２８】
記憶部３２は例えばハードディスクドライブであり、制御部３１が実行するプログラム、プログラム実行に必要なデータ、OSなどが格納される。これらのプログラムやデータは、制御部３１により必要に応じて読み出され、RAMに移して実行される。
【００２９】
入力部３３はデータの入力を行い、例えばキーボード、マウスなどのポインティングデバイス、テンキーなどの入力装置を有する。
表示部３４は、液晶パネルなどのディスプレイ装置を有する。
通信部３５は、ネットワーク等を介した通信を媒介する通信インタフェースであり、他の装置との間で通信を行う。
バス３６は、各部間の制御信号、データ信号等の授受を媒介する経路である。
【００３０】
図１の説明に戻る。カメラ５０は、オフセット枚葉印刷機１００において搬送中の印刷物の撮影を行うものである。カメラ５０としては例えばラインカメラが用いられる。撮影画像はカメラ５０から検査装置３０に送信され、検査装置３０は撮影画像を受信し取得する。
【００３１】
本実施形態では、検査対象となる印刷物の画像（以下、検査画像という）と、検査画像と比較する正の画像（以下、基準画像という）がカメラ５０で印刷物を撮影して取得される。基準画像は欠陥が無いとされた印刷物の撮影画像である。
【００３２】
図３（ａ）、（ｂ）は基準画像６０と検査画像７０の簡単な例である。基準画像６０と検査画像７０の絵柄８０はもともと同じであるが、この例では印刷物の搬送速度、バタつき等の要因により検査画像７０で絵柄８０に大きなブレが生じている。また本実施形態では、検査画像７０に示すように、検査対象の印刷物の絵柄８０中に印刷物の真の欠陥８２が２つ存在するものとする。欠陥８２は例えば印刷の抜け、異物、印刷汚れなどであるが、これに限らない。また基準画像６０にブレがあるケースもあるが、そのようなケースでも本発明は適用可能である。
【００３３】
図３（ｃ）は、基準画像６０と検査画像７０で画素の違いの大きい範囲８１を模式的に示す図である。画素の違いは画像のブレや欠陥８２により生じるが、この例では、一方の欠陥８２（左の欠陥８２）がブレにより画素の違いの生じる範囲８１内にある。
【００３４】
（２．検査方法）
次に、本実施形態に係る検査方法について説明する。ここでは、まず検査方法の概略について説明する。
【００３５】
（２−１．検査方法の概略）
図４は検査方法の概略について示すフローチャートであり、各ステップは検査装置３０の制御部３１によって実行される。なお、基準画像６０と検査画像７０の位置合わせは事前に行われているものとする。
【００３６】
本実施形態では、当初の基準画像６０および検査画像７０の画素値がRGB値であるものとする。本実施形態では画素の輝度と色相を用いた検査を行うので、検査装置３０は、まず基準画像６０および検査画像７０の画素値をLab値へと変換する（Ｓ１０；変換工程）。
【００３７】
Lab値については既知であるが簡単に説明すると、L値により輝度（明るさ）を、a値により赤−緑の色合いを、b値により黄−青の色合いを示すものである。図５（ａ）に示すように、画素Aの色はLab値によってLab色空間上でマッピングでき、Lab色空間における距離が知覚的な色の違いに近いものとなる。RGB値からLab値への変換は既知の変換式を用いて行うことができる。
【００３８】
検査装置３０は、基準画像６０と検査画像７０で対応する位置にある画素の違いから、検査画像７０の画素についてラベリングを行う（Ｓ２０）。
【００３９】
詳細は後述するが、Ｓ２０のラベリングは、検査画像７０と基準画像６０の間で画素の違いが大きいことを示す差分有りラベルと、違いが小さいことを示す差分無しラベルのいずれかを検査画像７０の画素に付すものである。差分有りラベルが付された画素（以下、差分有り画素ということがある）は、基準画像６０と検査画像７０とで画素の違いが大きく、欠陥の可能性がある（欠陥候補である）ことになる。Ｓ２０では、このような画素を検査画像７０における欠陥候補領域として抽出している。
【００４０】
次に、検査装置３０は、検査画像７０の差分有り画素について、その輝度や色相によるラベリングを更に行う（Ｓ３０）。Ｓ３０は欠陥候補領域を画素の輝度や色相によって更に領域分けする処理であり、Ｓ２０とＳ３０は本発明における欠陥候補領域の抽出工程を構成している。
【００４１】
そして、検査装置３０はＳ２０、３０のラベリング結果を利用して、画像のブレ等を考慮にいれた欠陥の検出を行う（Ｓ４０；欠陥検出工程）。Ｓ２０〜Ｓ４０の処理の詳細については後述する。
【００４２】
（２−２．画素の違いによるラベリング）
ここでは、まずＳ２０のラベリング工程について図６等を参照して説明する。図６はＳ２０のラベリング工程を示すフローチャートであり、各ステップは検査装置３０の制御部３１によって実行される。
【００４３】
本実施形態では、Ｓ２０において、まず基準画像６０と検査画像７０で対応する位置にある画素の比較を行い（Ｓ２０１）、両画素が類似するか否かを判定する。比較としては、有彩色・無彩色のカテゴリーが同じか否か、輝度の差が大きいか否か、色相の違いが大きいか否か、について画素の色の比較を主に行う。
【００４４】
すなわち、検査装置３０は、基準画像６０と検査画像７０で対応する位置にある画素を有彩色、無彩色のカテゴリーに分け、両画素の有彩色・無彩色のカテゴリーが同じか否かを判定する（Ｓ２０２）。
【００４５】
画素が有彩色か無彩色かは当該画素のLab値のうちa値、b値に基づいて判別できる。図５（ｂ）はLab色空間のうちab平面を示したものであるが、ab平面における原点は無彩色であり、原点からの距離が大きい程彩度が高くなる。図の例では画素A、A’の原点からの距離をD1、D2として示しており、当該距離が閾値以上であれば有彩色、そうでなければ無彩色と判別できる。
【００４６】
本実施形態では、基準画像６０と検査画像７０で対応する位置にある画素の一方が有彩色であり、他方が無彩色である場合（Ｓ２０２；ＮＯ）、両画素が類似しないとして検査画像７０の画素に差分有りラベルを付す（Ｓ２０６）。
【００４７】
一方、両画素がともに有彩色であるか、ともに無彩色である場合（Ｓ２０２；ＹＥＳ）、検査装置３０は両画素の輝度の差が大きいか否かを更に判定する（Ｓ２０３）。
【００４８】
両画素の輝度の差が大きいか否かはL値の差を閾値と比較して判定することができる。L値の差が閾値以上であれば輝度の差が大きいとし（Ｓ２０３；ＹＥＳ）、先程と同じく検査画像７０の画素に差分有りラベルを付す（Ｓ２０６）。
【００４９】
一方、両画素のL値の差が閾値未満であれば輝度の差が小さいとし（Ｓ２０３；ＮＯ）、両画素が無彩色である場合は（Ｓ２０４；ＮＯ）、両画素が類似するとして検査画像７０の画素に差分無しラベルを付す（Ｓ２０７）。両画素が有彩色である場合（Ｓ２０４；ＹＥＳ）、検査装置３０は両画素の色相の違いが大きいか否かを更に判定する（Ｓ２０５）。
【００５０】
両画素の色相の違いが大きいか否かは、ab平面において原点と各画素を結ぶ２つの直線がなす角度に基づいて判定することができる。すなわち、図５（ｂ）に示すab平面において、原点と画素を結ぶ直線と所定の基準線とのなす角度（画素Aの角度α参照）は色相に対応する。従って、原点と各画素A、A’を結ぶ２つの直線のなす角度θが閾値以上であれば色相の違いが大きいとし（Ｓ２０５；ＹＥＳ）、検査画像７０の画素に差分有りラベルを付す（Ｓ２０６）。
【００５１】
一方、角度θが閾値未満であれば色相の違いが小さいとし（Ｓ２０５；ＮＯ）、検査画像７０の画素に差分無しラベルを付す（Ｓ２０７）。
【００５２】
検査装置３０は検査画像７０の全ての画素にラベルを付すまで（Ｓ２０８；ＮＯ）、Ｓ２０１〜Ｓ２０７の処理を繰り返し、全ての画素にラベルを付す（Ｓ２０８；ＹＥＳ）と、Ｓ２０の処理を終了する。
【００５３】
このようにして、検査画像７０の各画素に、基準画像６０の画素と類似しないことを示す差分有りラベルか、基準画像６０の画素と類似することを示す差分無しラベルが付される。「ラベルを付す」とは、画素と紐付けて所定の情報（この例では基準画像６０の画素と類似するかしないかを示す情報）を記録することをいう。
【００５４】
図７はその一部を示した例である。この例では、ラスタスキャン等を用いた既知のラベリングアルゴリズムにより、検査画像７０において、基準画像６０の画素と類似しない画素が連続する場合に同じラベリングを行い、一まとまりの領域（欠陥候補領域）ごとに差分有りラベルとして値１、２が記録される。一方、基準画像６０の画素と類似する場合には、差分無しラベルとして値０が記録される。図３（ｃ）の各範囲８１に対応する画素には値１、２がそれぞれ記録されている。
【００５５】
（２−３．輝度・色相によるラベリング）
Ｓ３０のラベリング工程について図８等を参照して説明する。図８はＳ３０のラベリング工程を示すフローチャートであり、各ステップは検査装置３０の制御部３１によって実行される。
【００５６】
本実施形態では、Ｓ３０において、検査画像７０の差分有り画素について、更にその輝度や色相によるラベリングを行う（Ｓ３０１）。
【００５７】
すなわち、検査装置３０は、検査画像７０の差分有り画素が無彩色の場合（Ｓ３０２；ＮＯ）、その輝度によってラベルを付す（Ｓ３０３）。Ｓ３０３では、ラスタスキャン等を用いた既知のラベリングアルゴリズムにより、輝度（画素のL値）が類似する連続画素に同じラベリングを行うことができる。
【００５８】
一方、差分有り画素が有彩色の場合（Ｓ３０２；ＹＥＳ）、検査装置３０はその輝度と色相によってラベルを付す（Ｓ３０４）。Ｓ３０４でも上記と同様、輝度や色相（ab平面における角度α（図５（ｂ）参照））が類似する連続画素に同じラベリングを行うことができる。
【００５９】
検査装置３０は検査画像７０の全ての差分有り画素にラベルを付すまで（Ｓ３０５；ＮＯ）、Ｓ３０１〜Ｓ３０４の処理を繰り返し、全ての差分有り画素にラベルを付す（Ｓ３０５；ＹＥＳ）と、Ｓ３０の処理を終了する。
【００６０】
以上のようにして、検査画像７０の差分有り画素に、各画素の輝度や色相によってラベルが付される。図９はその例であり、画素の輝度や色相により、検査画像７０のラベル１の領域（図７参照）の差分有り画素についてラベル１ａ〜１ｃが付され、ラベル２の領域（図７参照）の差分有り画素についてラベル２ａが付される。
【００６１】
同じラベルが付された一まとまりの画素（以下、ラベル領域ということがある）は類似の輝度や色相であることを示し、Ｓ３０では、Ｓ２０で抽出した欠陥候補領域を、その画素の輝度や色相によって各ラベル領域へと領域分けしたことになる。これにより後述する処理において絵柄８０の色の違いの影響を避けることができる。
【００６２】
図９の例では、図３（ｃ）の左側の範囲８１において、上下の部分で色相等が異なり（ラベル１ａ、１ｃ参照）、また上部の欠陥８２の輝度や色相はその周囲の部分と異なっている（ラベル１ｂ参照）。なお図３（ｃ）の右側の範囲８１（欠陥８２）に対応する位置にはラベル２ａが付されている。
【００６３】
（２−４．欠陥検出工程）
Ｓ４０の欠陥検出工程について図１０、図１１等を参照して説明する。図１０、図１１はＳ４０の欠陥検出工程を示すフローチャートであり、各ステップは検査装置３０の制御部３１によって実行される。
【００６４】
本実施形態では、検査画像７０のラベル領域（領域分け後の欠陥候補領域）の１画素ごとに、その画素が境界画素か否かを判定する（Ｓ４００）。境界画素は、差分無しラベルが付された画素（欠陥候補領域外の画素。以下、差分無し画素ということがある）との境界にある画素であり、ラベル領域の境界画素である場合（Ｓ４００；ＹＥＳ）はＳ４０１以降の処理に進むが、そうでない場合（Ｓ４００；ＮＯ）は次の画素についてＳ４００の判定を行う。図１２（ａ）の７１は、ラベル領域１ａの境界画素の例である。
【００６５】
次に、検査装置３０は、境界画素７１に隣接する差分無し画素（以下、隣接画素という）を抽出する（Ｓ４０１）。そして、検査画像７０における境界画素７１と隣接画素を比較し（Ｓ４０２）、両画素が類似するか否かを判定する。図１２（ａ）の７２は比較対象の隣接画素７２を示したものである。
【００６６】
境界画素７１と隣接画素７２の比較は前記のＳ２０と同様の処理であり、図１０のＳ４０３〜Ｓ４０６の処理は図６で説明したＳ２０２〜Ｓ２０５の処理と同様であるので説明を省略する。本実施形態では、両画素７１、７２が類似でないと判定される場合、すなわち両画素７１、７２の有彩色・無彩色のカテゴリーが異なる場合（Ｓ４０３；ＮＯ）、両画素７１、７２の輝度の差が大きい場合（Ｓ４０４；ＹＥＳ）、両画素７１、７２の色相の違いが大きい場合（Ｓ４０６；ＹＥＳ）には、境界画素７１のラベルを変化させずそのままとし（Ｓ４０７）、後述するＳ４１４の処理に移る。なお、Ｓ４０４では、隣接画素７２の輝度の代わりに、隣接画素７２と隣接画素７２に隣接する全ての差分無し画素の輝度平均を比較に用いることも可能である。
【００６７】
以上の処理は、境界画素７１と隣接画素７２との間の違いが大きい場合に、境界画素７１は画像のブレ等によって基準画像６０の画素との間で差が生じたもので無く、印刷物の真の欠陥８２であるとする（欠陥候補領域として抽出した際のラベルを変化させない）処理である。
【００６８】
一方、境界画素７１と隣接画素７２が類似すると判定される場合、すなわち両画素７１、７２の有彩色・無彩色のカテゴリーが同じであり（Ｓ４０３；ＹＥＳ）、両画素７１、７２の輝度の差が小さく（Ｓ４０４；ＮＯ）、有彩色の場合は両画素７１、７２の色相の違いも小さい（Ｓ４０６；ＮＯ）場合、図１１のＳ４０８以降の処理に移る。
【００６９】
すなわち、画像のブレ等による画素の変化は比較的緩やかであり、境界画素７１と隣接画素７２が類似している場合、その境界画素７１は画像のブレ等により欠陥候補領域として抽出された可能性がある。そこで、以降の処理によって真の欠陥８２であるかどうかを詳しく調べる。
【００７０】
本実施形態では、Ｓ４０８において、境界画素７１に対して前記の隣接画素７２と逆方向にある差分無し画素（以下、「逆方向画素」という）を抽出する（Ｓ４０８）。図１２（ａ）の７３は、前記の境界画素７１と隣接画素７２に対して抽出された逆方向画素７３を示したものである。
【００７１】
検査装置３０は、隣接画素７２と逆方向画素７３を比較し、色相の違いが大きいか否かを判定する（Ｓ４０９）。この判定は図６のＳ２０５と同様の処理であるので説明を省略する。
【００７２】
色相の違いが大きい場合（Ｓ４０９；ＹＥＳ）、逆方向画素７３では絵柄８０の色自体が違っている可能性が有るので、検査装置３０は、隣接画素７２と、境界画素７１の属するラベル領域１ａ内の画素の輝度を比較し、輝度の差が大きいか否かを判定する（Ｓ４１０）。
【００７３】
Ｓ４１０の判定は、例えば、隣接画素７２の輝度が、ラベル領域１ａ内の画素の輝度の最大値または最小値から所定範囲内にあるか、あるいは最大値と最小値の両方から所定範囲内にあれば輝度の差が小さいとし、そうでなければ輝度の差が大きいとすることができる。ただしこれに限ることはない。
【００７４】
検査装置３０は、隣接画素７２とラベル領域１ａ内の画素との間の輝度の差が大きい場合（Ｓ４１０；ＹＥＳ）、先程と同じく境界画素７１のラベルを変化させずそのままとし（Ｓ４１２）、後述するＳ４１４の処理に移る。
【００７５】
一方、隣接画素７２とラベル領域１ａ内の画素との間の輝度の差が小さい場合（Ｓ４１０；ＮＯ）、検査装置３０は境界画素７１が真の欠陥８２で無く画像のブレ等により欠陥候補領域として抽出されたものであるとし、ラベルを消去する（Ｓ４１３）。ここでは、境界画素７１のラベルの値を１ａから０として差分無しラベルを付し、境界画素７１が真の欠陥８２では無いことを示すものとする。
【００７６】
一方、検査装置３０は、Ｓ４０９において隣接画素７２と逆方向画素７３の色相の違いが小さいと判定した場合（Ｓ４０９；ＮＯ）、隣接画素７２、逆方向画素７３のいずれかと、境界画素７１を含むラベル領域１ａ内の画素の輝度を比較し、輝度の差が大きいか否かを判定する（Ｓ４１１）。
【００７７】
Ｓ４１１の判定は、例えば、隣接画素７２、境界画素７１、逆方向画素７３の有彩色・無彩色のカテゴリーや、隣接画素７２、逆方向画素７３と境界画素７１との間の色相や彩度（ab平面における原点からの距離、図５（ｂ）のD1、D2参照）の差等の条件に応じて、隣接画素７２、逆方向画素７３のどちらを境界画素７１を含むラベル領域１ａ内の画素と比較するかやその際の閾値を定めておき、比較対象の画素の輝度の差を対応する閾値と比較して行うことができる。一例として、隣接画素７２と逆方向画素７３のうち境界画素７１の色相と近い方を、ラベル領域１ａ内の画素との比較に用いる場合がある。また、ラベル領域１ａ内の画素については、前記と同様、ラベル領域１ａ内の画素の輝度の最大値または最小値あるいはその両方を比較対象とすることができる。
【００７８】
検査装置３０は、Ｓ４１１において輝度の差が小さいと判定した場合（Ｓ４１１；ＮＯ）、先程と同じく境界画素７１のラベルを消去して（Ｓ４１３）、後述するＳ４１４の処理に移る。
【００７９】
一方、輝度の差が大きいと判定した場合（Ｓ４１１；ＹＥＳ）、検査装置３０は境界画素７１のラベルを変更せずそのままとし（Ｓ４１２）、後述するＳ４１４の処理に移る。
【００８０】
こうして境界画素７１についてＳ４０１〜Ｓ４１３の処理を行うことで、境界画素７１のラベルが決定される（欠陥８２であるか否かの判別が行われる）。
【００８１】
なお、上記では境界画素７１とそれに隣接する１つの隣接画素７２につき処理を行う手順を説明したが、実際には境界画素７１の周囲には図１２（ｂ）で薄いグレーで示すように複数の隣接画素７２ａ〜７２ｅが存在する場合がある。
【００８２】
このようなケースでは、各隣接画素７２ａ〜７２ｅと境界画素７１との間で個々にＳ４０２〜Ｓ４１３までの処理を行うと、それぞれの場合で結果（境界画素７１のラベルがそのままか（Ｓ４０７、Ｓ４１２）消去されるか（Ｓ４１３））が異なるケースが考えられる。そのようなケースでは例えば多数決を取って境界画素７１のラベルを決定すればよい。あるいは、境界画素７１のラベルをそのままとする結果が１つでもあれば、境界画素７１のラベルをそのままと決定することなども可能である。
【００８３】
また図１２（ｂ）の例では、いくつかの隣接画素に対して逆方向画素が抽出できない（例えば矢印の例では境界画素７１に対して隣接画素７２ｂの逆方向にある画素が差分無し画素でなくラベル１ｃの画素である）が、このようなケースの処理も適宜定めることができる。例えばＳ４０８以降の処理を省略し、この場合のラベルを適宜決定する（例えばラベルをそのままとする）ことができる。
【００８４】
境界画素７１のラベルはこうして決定され、図１２（ｃ）は境界画素７１のラベルを差分無しラベル（「０」）と決定した例である。
【００８５】
ラベル領域１ａの全ての画素についてＳ４００〜Ｓ４１３の処理を行うまで（Ｓ４１４；ＮＯ）、各画素について順次Ｓ４００〜Ｓ４１３の処理を繰り返す。本実施形態では、ラベル領域１ａの全ての画素についてＳ４００〜Ｓ４１３の処理を行った後（Ｓ４１４；ＹＥＳ）、ラベル領域１ａの全ての画素のラベルを、境界画素のラベルに基づき改めて決定する（Ｓ４１５）。
【００８６】
Ｓ４１５では、境界画素のラベルの多数決によりラベル領域１ａの全ての画素のラベルを決定でき、例えば境界画素のラベルとして差分無しラベルのほうが多い場合、全ての画素のラベルを差分無しラベルとする。逆に境界画素のラベルとして差分有りラベルのほうが多い場合は、全ての画素のラベルをそのままとし変えないか、あるいは全ての画素のラベルを差分有りラベルとすることができる。
【００８７】
こうしてラベル領域１ａの画素のラベルを決定した例が図１３（ａ）であり、全ての画素のラベルが欠陥８２で無いことを示す差分無しラベルとなっている。
【００８８】
全てのラベル領域について以上の処理を行うまで（Ｓ４１６；ＮＯ）、他のラベル領域１ｂ、１ｃ、２ａについても同様の処理を行い、全てのラベル領域について以上の処理を行うと（Ｓ４１６；ＹＥＳ）、検査装置３０の処理は終了する。
【００８９】
こうしてラベル領域１ａ〜１ｃ、２ａの各画素のラベルを決定した例が図１３（ｂ）である。欠陥８２は周囲の画素に比べて輝度や色相の差が大きくなる傾向にあるので、Ｓ４００〜Ｓ４１６の処理を行っても図１３（ｂ）に示すようにラベルの変更は無くそのままとなる（ラベル１ｂ、２ａ参照）ことが多い。画像のブレ等が生じた場合はその逆である。従って、欠陥８２を画像のブレ等から分離して正しく検出することができる。
【００９０】
以上説明したように、本実施形態では、検査画像７０の欠陥候補領域を抽出してラベルを付し、その境界画素７１について、境界画素７１、隣接画素７２、逆方向画素７３から境界画素７１が欠陥か否かを判別するので、欠陥候補領域として抽出された境界画素７１が高速移動する印刷物の撮影時のブレ等によるものなのか、実際の欠陥８２によるものなのかを切り分け、誤検出を防ぐことができる。
【００９１】
また、Ｓ２０、３０の処理により輝度と色相による領域分け後のラベル領域１ａ〜１ｃ、２ａを得て各ラベル領域１ａ〜１ｃ、２ａについて境界画素７１が欠陥であるか否かの判別を行うので、検査対象の印刷物において輝度や色相が類似の一まとまりの画素ごとに判別処理を行い、絵柄８０の影響を除いて検査を行うことができる。また検査装置３０はＳ１０において検査画像７０の画素値をLab値に変換するので、輝度と色相による領域分けを好適に行うことができる。
【００９２】
また、欠陥８２による画素の変化は比較的大きいので、Ｓ４０において境界画素７１と隣接画素７２を比較して違いが大きい場合には境界画素７１を欠陥８２によるものと判別でき、そうでない場合には隣接画素７２と逆方向画素７３を用いて更なる検査を行うことができる。
【００９３】
具体的には、隣接画素７２と逆方向画素７３の色相の違いが大きい場合、隣接画素７２とラベル領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さい場合、境界画素７１が欠陥８２でなく画像のブレ等によるものと判別できる。隣接画素７２と逆方向画素７３の色相の違いが小さい場合には、隣接画素７２、逆方向画素７３のいずれかと、ラベル領域内の画素の輝度を比較し、輝度の差が小さい場合、境界画素７１が欠陥でなく画像のブレ等によるものと判別できる。
【００９４】
しかしながら、本発明は上記に限らない。例えば検査対象は枚葉状の印刷物でなくともよく、オフセット枚葉印刷機１００以外の印刷機での検査についても適用可能である。その他、撮影時の画像のブレ等による悪影響を防ぎたい検査対象であれば、印刷物に限らず適用可能である。
【００９５】
以上、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【００９６】
１０；検査システム
３０；検査装置
５０；カメラ
６０；基準画像
７０；検査画像
７１；境界画素
７２；隣接画素
７３；逆方向画素
８０；絵柄
８１；範囲
８２；欠陥
１００；オフセット枚葉印刷機
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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