(57)【要約】      （修正有）【課題】評価のためだけのパッドを設けること無しに電子回路を評価できるようにする。【解決手段】電子デバイス１０５の両電極のうち、低電位側電極１６３が第１パッド１５３に接続され、高電位側電極１６１が第２パッド１５１に接続される。第２パッド１５１が、電流方向に離間した第１サブパッド１１１Ａ及び第２サブパッド１１１Ｂを含む。高電位側電極１６１が、第１及び第２サブパッド１１１Ａ、１１１Ｂに跨っている。評価のときには、評価目的に応じて、高電位側電極１６１は、第１及び第２サブパッド１１１Ａ、１１１Ｂのうちの一方にのみ接続される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子回路基板と、
前記電子回路基板上に設けられた電子デバイスと、
前記電子デバイスの第１電極が接続される第１パッドと、
前記電子デバイスの第２電極が接続される第２パッドと
を備え、
前記第２パッドは、電流方向に離間した第１サブパッド及び第２サブパッドを含み、
前記第２電極は、前記第１及び第２サブパッドに跨っている、
電子回路。
【請求項２】
前記第１電極は前記電子デバイスの低電位側電極であり、前記第２電極は前記電子デバイスの高電位側電極であり、
前記高電位側電極は、前記第１及び第２サブパッドに半田付けされており、
前記第１及び第２サブパッドは、それぞれ面積が同じである、
請求項１記載の電子回路。
【請求項３】
前記第１及び第２サブパッドのうちの少なくとも１つの形状が、前記電流方向を示す形状である、
請求項１又は２記載の電子回路。
【請求項４】
前記第２パッドの面積が、前記対象電子デバイス以外の電子デバイスの電極が接続される少なくとも１つのパッドの面積よりも大きい、
請求項１乃至３のうちのいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項５】
前記電子デバイスは、評価目的に従い決定された電子デバイスである、
請求項１乃至４のうちのいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項６】
請求項１乃至５のうちのいずれか１項に記載の電子回路と、
前記電子回路に接続された負荷デバイスと
を備え、
前記電子回路が、電源回路を有し、
前記第１サブパッドが、第１配線を介して前記電源回路に接続されており、
前記第２サブパッドが、第２配線を介して前記負荷デバイスに接続されている、
電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子回路に関し、特に、電子回路の評価を行うことができる電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子回路の評価に関する技術として、例えば、特許文献１の技術が知られている。特許文献１によれば、検査用プローブを信号パッドに接続して回路パターンの検査が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−２６９４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１において、信号パッドは、検査のためだけに設けられており、検査以外では不要である。このようなパッドを設けることは、資源節約の観点から好ましく無く、また、配線面積を圧迫することにもなり得る。回路パターンの「検査」は、電子回路について本明細書で言う「評価」の一例である。
【０００５】
本発明の目的は、評価のためだけのパッドを設けること無しに電子回路を評価できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
電子回路は、電子回路基板と、電子回路基板上に設けられた電子デバイスと、電子デバイスの低電位側電極が接続される第１パッドと、電子デバイスの高電位側電極が接続される第２パッドとを備える。第２パッドが、電流方向に離間した第１サブパッド及び第２サブパッドを含む。言い換えれば、第２パッドが、第１及び第２サブパッドを含む複数のサブパッドに分割されている。このような第２パッドに対して、高電位側電極が、第１及び第２サブパッドに跨っている。
【０００７】
電子回路の評価のときには、評価目的に応じて、高電位側電極は、第１及び第２サブパッドのうちの一方にのみ接続されればよい。評価終了後、正常に電子回路が動作するよう、高電位側電極が、第１及び第２サブパッドに跨るように接続される。つまり、このような接続により、電気的に切断されている第１及び第２サブパッドが通電可能になる。
【発明の効果】
【０００８】
電子デバイスは、評価のためだけに設けられた電子デバイスではない。故に、第１及び第２パッドのいずれも、電子回路動作において必要なパッドであり、評価のためだけに設けられたパッドではない。本発明によれば、評価のためだけのパッドを設けること無しに電子回路を評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施例１に係る電子回路（評価後）の模式図である。
【図２】実施例１に係る電子回路（コンデンサから出た電流を測定する評価時）の模式図である。
【図３】実施例１に係る電子回路（コンデンサに入る電流を測定する評価時）の模式図である。
【図４】回路図の一例の模式図である。
【図５】図４の回路図に従う基板回路パターンの模式図である。
【図６】実施例２に係る電子回路（コンデンサから出た電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【図７】実施例３に係る電子回路（コンデンサから出た電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【図８】実施例４に係る電子回路（コンデンサに入る電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【図９】実施例５に係る電子回路の模式図である。
【図１０】実施例５に係る電子回路（コンデンサから出た電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【図１１】実施例５に係る電子回路（コンデンサに入る電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【図１２】実施例６に係る電子回路の主要部分の模式図である。
【図１３】実施例７に係る電子回路の主要部分の模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、幾つかの実施例を説明する。
【実施例１】
【００１１】
図１は、実施例１に係る電子回路（評価後）の模式図である。
【００１２】
図１に示した電子回路１００は、評価後の電子回路、例えば、評価により回路定数が決定された後の電子回路である。
【００１３】
電子回路１００は、電子回路基板（以下、基板）１０１を有する。基板１０１には、電源ＩＣ（Integrated Circuit）１０３と、１又は複数の電子デバイス（電子素子とも呼ばれる）と、それらの電子デバイスが接合される複数のパッドと、パッド同士を電気的に接続するための配線等が設けられている。各パッドは、例えばボンディングパッドでよい。また、各パッドは、例えば、銅製であるが、銅以外の金属や、金属に代えて又は加えて金属以外の導体が使用されていてもよい。また、各パッドは、方形であるが、方形以外の形状が採用されてもよい。
【００１４】
電子回路１００は、電源ＩＣ１０３（電源回路の一例）を備えた電源装置と呼ばれてもよい。電子回路１００は、例えば、電子機器に設けられ、電子機器における１以上の負荷デバイスへ給電したり、所望の電圧値を生成するために電圧変換する機能を備えている。少なくとも１つの負荷デバイスが電子回路１００に設けられていてもよい。
【００１５】
１又は複数の電子デバイスの各々は、電子回路動作においてそれぞれ所定の役割を担う電子デバイスである。そして、そのうちの１以上の電子デバイスの各々が、両電極間で電位差を生じさせる電子デバイス、例えば、コンデンサ、ダイオード、抵抗（少なくとも０Ωより大きい）、又は、バリスタ等である。両電極間に電位差を生じさせる１以上の電子デバイスのうち、少なくとも１つの電子デバイスが評価目的に従い対象電子デバイスとして決定される。そして、以下、複数のパッドのうち、対象電子デバイスの第１電極である低電位側電極が接合されるパッドが、第１のパッドであり、対象電子デバイスの第２電極である高電位側電極が接合されるパッドが、第２のパッドである。複数の対象電子デバイスが存在する場合、第１のパッドが共通であってもよい。第１のパッドは、例えばグランドパッドである。
【００１６】
本実施例では、コンデンサ１０５が、対象電子デバイスの一例である。コンデンサ１０５は、電源ＩＣ１０３からの電流を平滑する。このため、平滑が、所定の役割の一例である。
【００１７】
コンデンサ１０５の低電位側電極１６３が接合されるパッド１５３は、第１のパッドの一例であり、コンデンサ１０５の高電位側電極１６１が接合されるパッド１５１は、第２のパッドの一例である。パッド１５１は、電流方向に離間した第１サブパッド１１１Ａ及び第２サブパッド１１１Ｂを含む。言い換えれば、パッド１５１は、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂを含む複数のサブパッドに分割されている。このため、パッド１５１を、「分割パッド１５１」と言うことができる。また、パッド１５３は、分割パッド１５１に相対するパッド（向かい合うパッド）のため、「相対パッド１５３」と言うことができる。
【００１８】
第１サブパッド１１１Ａは、電流の上流側のサブパッドであり、例えば第１配線１７１Ａを介して電源ＩＣ１０３に接続されている。第２サブパッド１１１Ｂは、電流の下流側のサブパッドであり、例えば第２配線１７１Ｂを介して負荷デバイス１８０に接続されている。評価後では、図１に示すように、コンデンサ１０５の高電位側電極１６１が、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂに跨っている。つまり、電極１６１が、第１及び第２サブパッドの両方に接合されている。これにより、電気的に切断されていた第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂ間の通電が可能になる。すなわち、電子回路動作において、電源ＩＣ１０３からの電流が、第１配線１７１Ａ、第１サブパッド１１１Ａ、コンデンサ１０５及び第２サブパッド１１１Ｂ及び第２配線１７１Ｂを介して負荷デバイス１８０へと流れる。
【００１９】
１又は複数の電子デバイスのうち、少なくとも、対象電子デバイスの一例であるコンデンサ１０５の両電極１６１及び１６３が、パッド１５１及び１５３に、それぞれ、半田付けされている。半田付けが、接合の一例であり、接合が、電極とパッド間の接続の一例である。なお、両電極１６１及び１６３が、パッド１５１及び１５３に、それぞれ、導電性接着剤により接着されてもよく、その場合、接着が、電極とパッド間の接続の一例である。
【００２０】
電子回路１００の評価のときには、評価目的に応じて、コンデンサ１０５の高電位側電極１６１は、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂのうちの一方にのみ接続される。
【００２１】
図２は、電子回路１００の評価においてコンデンサ１０５から出た電流を測定する時の模式図である。
【００２２】
コンデンサ１０５から出た電流を測定するためには、高電位側電極１６１が、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂのうちの第１サブパッド１１１Ａにのみ接合される。第１サブパッド１１１Ａが、測定器２０１のプラス端子２０３に接続され、第２サブパッド１１１Ｂが、測定器２０１のマイナス端子２０５に接続される。結果として、測定器２０１により、コンデンサ１０５から出た電流が測定される。測定器２０１は、電流計でよいが、オシロスコープや電流プローブ等の場合もある。
【００２３】
図３は、電子回路１００の評価においてコンデンサ１０５に入る電流を測定する時の模式図である。
【００２４】
コンデンサ１０５に入る電流を測定するためには、高電位側電極１６１が、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂのうちの第１サブパッド１１１Ａにのみ接続される。第１サブパッド１１１Ａが、測定器２０１のプラス端子２０３に接続され、第２サブパッド１１１Ｂ（又は高電位側電極１６１）が、測定器２０１のマイナス端子２０５に接続される。結果として、測定器２０１により、コンデンサ１０５に入る電流が測定される。
【００２５】
以上のように、本実施例によれば、コンデンサ１０５は、電子回路動作において平滑という所定の役割を担う電子デバイスの１つであり、評価のためだけに設けられた電子デバイスではない。故に、コンデンサ１０５の電極１６１及び１６３がそれぞれ接合されるパッド１５１及び１５３のいずれも、電子回路動作において必要なパッドであり、評価のためだけに設けられたパッドではない。本実施例によれば、評価のためだけのパッドを設けること無しに電子回路１００を評価することができる。
【００２６】
なお、本実施例のように、評価のためだけのパッドを設けること無しに電子回路１００を評価する手段の１つとして分割パッド１５１を採用することは当業者にとって容易ではない。その理由は、例えば下記の通りである。
【００２７】
一般に、電子回路の作成では、まず、回路設計ＣＡＤ（回路図の設計を支援するツール（例えばソフトウェア））を使用して回路設計者が回路図を作成し、その後、作成された回路図を基に基板設計ＣＡＤを使用して基板設計者が基板の回路パターン（典型的にはＰＣＢ（Printed Circuit Board））を作成し、このような工程を得て、電子回路の回路パターンが決まる。
【００２８】
通常、回路設計者と基板設計者は同一人物ではない。特に、基板設計ＣＡＤのコストは、回路設計ＣＡＤのコストに比べて高く、故に、基板設計はアウトソースされるケースが多い。このような環境から、基板設計者は、作成された回路図通りに基板の回路パターンを作成することになる。具体的には、例えば、回路図が基板設計ＣＡＤにインポートされ、その回路図に従い基板設計ＣＡＤが基板回路パターンを作成し出力する。
【００２９】
回路図では、一般に、「ネット」と呼ばれるラベルが割り振られる。同じ電気信号が流れる箇所には同じネットが割り振られる。具体的には、例えば、図４に例示の回路図によれば、ＩＣ１（電源ＩＣ１０３）のピン２から出た電流（電気信号）が、Ｃ１（コンデンサ１０５）の電極１（高電位側電極１６１）とＩＣ２（負荷デバイス１０８）のピン３に流れるので、同一ネット「Ａ」が、それらに割り振られている。
【００３０】
上述したように、基板設計者は、作成された回路図通りに基板の回路パターンを作成することになる。故に、作成された回路図が、図４に示した回路図であれば、図５に示す基板回路パターンが作成されることになる。作成された基板回路パターンでは、図５に示すように、コンデンサ１０５の高電位側電極１６１が接合されるパッドは、分割パッド１５１にはならず、通常の連続したパッドである。
【００３１】
このような理由から、評価のためだけのパッドを設けること無しに電子回路１００を評価する手段の１つとして分割パッド１５１を採用することは、当業者にとって容易ではない。
【００３２】
なお、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂは、それぞれ面積が同じであることが望ましい（「同じ」とは、厳密に同じでもよいが、同程度であればよい）。なぜなら、高電位側電極１６１は、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂに例えばリフロー式で半田付けされるが、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂの面積がそれぞれ同じであれば、半田の量が同じとなり故に溶ける時間も同じとなり、結果として、コンデンサ１０５が傾くことなく固定されるからである。言い換えれば、第１及び第２サブパッド１１１Ａ及び１１１Ｂの半田が溶ける時間が不均一になってコンデンサ１０５が傾いてしまうといった可能性を軽減できるからである。
【実施例２】
【００３３】
以下、実施例２を説明する。その際、実施例１との相違点を主に説明し、実施例１との共通点については説明を省略或いは簡略する。
【００３４】
図６は、実施例２に係る電子回路（コンデンサ１０５から出た電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【００３５】
実施例２に係る電子回路６００では、分割パッド６５１及び相対パッド６５３のうちの少なくとも分割パッド６５１の面積（ここでは、第１及び第２サブパッド６１１Ａ及び６１１Ｂの面積の合計）が、コンデンサ１０５以外の電子デバイスの電極が接続される不図示のパッド（通常のパッド）の面積よりも大きい。つまり、少なくとも分割パッド６５１はワイドパッドでよい。
【００３６】
実施例２によれば、少なくとも電極１６１の接合面積が大きいので、評価や、第１及び第２サブパッド６１１Ａ及び６１１Ｂを跨る接合を行い易い。
【００３７】
実施例２でも、第１及び第２サブパッド６１１Ａ及び６１１Ｂは、それぞれ面積が同じであることが望ましい。
【００３８】
また、実施例２のようなワイドパッドは、後述の実施例３〜７のいずれにおいても採用されてよい。
【実施例３】
【００３９】
以下、実施例３を説明する。その際、実施例１及び２との相違点を主に説明し、実施例１及び２との共通点については説明を省略或いは簡略する。
【００４０】
図７は、実施例３に係る電子回路（コンデンサ１０５から出た電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【００４１】
実施例３に係る電子回路７００では、コンデンサ１０５の高電位側電極１６１が接合されるパッドが、電流方向を斜めに横切るように分割された分割パッド７５１となっている。このため、第１及び第２サブパッド７１１Ａ及び７１１Ｂの各々は、直角を有する三角形又は台形となっている。そして、第１及び第２サブパッド７１１Ａ及び７１１Ｂのうち、どちらのサブパッドの底辺（相対パッド７５３側の辺）が長いかは、評価目的、すなわち、コンデンサ１０５から出た電流とコンデンサ１０５に入る電流のどちらを測定するかに応じて異なる。コンデンサ１０５から出た電流を測定する場合は、図７に示すように、第１サブパッド７１１Ａの底辺の方が長い。
【実施例４】
【００４２】
以下、実施例４を説明する。その際、実施例１〜３との相違点を主に説明し、実施例１〜３との共通点については説明を省略或いは簡略する。
【００４３】
図８は、実施例４に係る電子回路（コンデンサ１０５に入る電流を測定する評価時）の主要部分の模式図である。
【００４４】
この電子回路８００では、分割パッド８５１の第１及び第２サブパッド８１１Ａ及び８１１Ｂのうち、第２サブパッド８１１Ｂの底辺の方が長い。
【００４５】
実施例３及び４によれば、評価目的に応じて、第１及び第２サブパッド７１１Ａ及び７１１Ｂ（８１１Ａ及び８１１Ｂ）のうちのどちらかの底辺がより長いので、評価を行い易い。
【００４６】
また、実施例３及び４によれば、分割パッド７５１（８５１）のカットパターン（右斜め下方向か左斜め下方向か）、言い換えれば、第１及び第２サブパッド７１１Ａ及び７１１Ｂ（８１１Ａ及び８１１Ｂ）のうちのどちらの底辺がより長いから、電流方向の特定も可能である。このため、電流方向を知るためにわざわざ回路図を見る必要が無い。
【００４７】
なお、実施例３及び４のいずれでも、第１及び第２サブパッド７１１Ａ及び７１１Ｂ（８１１Ａ及び８１１Ｂ）は、それぞれ面積が同じであることが望ましい。
【実施例５】
【００４８】
以下、実施例５を説明する。その際、実施例１〜４との相違点を主に説明し、実施例１〜４との共通点については説明を省略或いは簡略する。
【００４９】
図９は、実施例５に係る電子回路の主要部分の模式図である。
【００５０】
実施例５に係る電子回路９００では、分割パッド９５１は、図７の分割パッド７５１と図８の分割パッド８５１の組合せである。すなわち、分割パッド９５１は、Ｘ字状にカットされたパッドであり、故に、第１及び第２サブパッド９１１Ａ及び９１１Ｂの他に、それらに挟まれた第３及び第４サブパッド９１１Ｃ及び９１１Ｄを有する。
【００５１】
図１０は、電子回路９００の評価においてコンデンサ１０５から出た電流を測定する時の模式図である。図１１は、電子回路９００の評価においてコンデンサ１０５に入る電流を測定する時の模式図である。
【００５２】
分割パッド９５１のカットパターンによれば、コンデンサ１０５から出た電流とコンデンサ１０５に入る電流のどちらの評価も行い易い。
【００５３】
第３及び第４サブパッド９１１Ｃ及び９１１Ｄのいずれも無くてもよいが、図１０及び図１１によれば、好ましくは、相対パッドに近い方の第４サブパッド９１１Ｄがあればよく、第３サブパッド９１１Ｃは無くてもよい。
【実施例６】
【００５４】
以下、実施例６を説明する。その際、実施例１〜５との相違点を主に説明し、実施例１〜５との共通点については説明を省略或いは簡略する。
【００５５】
図１２は、実施例６に係る電子回路の主要部分の模式図である。
【００５６】
実施例６に係る電子回路１２００では、分割パッド１２５１の第１及び第２サブパッド１２１１Ａ及び１２１１Ｂのうちの少なくとも１つが楔形である。そして、第１及び第２サブパッド１２１１Ａ及び１２１１Ｂのうちの少なくとも１つが、電流方向を示す形状である。例えば、第１サブパッド１２１１は、二等辺三角形又は正三角形のような三角形であり、最も電流方向下流側に位置する頂点が、電流方向を示す。或いは、例えば、第２サブパッド１２１１は、相対パッドに近い辺が長い直角三角形を含み、斜辺の向きが、電流方向を示す。
【００５７】
実施例６によれば、第１及び第２サブパッド１２１１Ａ及び１２１１Ｂのうちの少なくとも１つの形状から、電流方向の特定が可能である。このため、電流方向を知るためにわざわざ回路図を見る必要が無い。
【実施例７】
【００５８】
以下、実施例７を説明する。その際、実施例１〜６との相違点を主に説明し、実施例１〜６との共通点については説明を省略或いは簡略する。
【００５９】
図１３は、実施例７に係る電子回路の主要部分の模式図である。
【００６０】
実施例７に係る電子回路１３００では、分割パッド１３５１のカットパターンは波状になっている。つまり、カットパターンは、必ずしも直線を含む必要が無く、少なくとも一部が曲線でもよい。
【００６１】
分割パッド１３５１では、第１及び第２サブパッド１３１１Ａ及び１３１１Ｂの面積がそれぞれ同じであることが望ましい。
【００６２】
また、実施例７では、第１及び第２サブパッド１３１１Ａ及び１３１１Ｂの少なくとも１つが電流方向を示す形状とされていてもよい。例えば、第１及び第２サブパッド１３１１Ａ及び１３１１Ｂのうち、第１サブパッド１３１１Ａが、第２サブパッド１３１１Ｂよりも電流方向に長い部分を含んでいてもよい。
【００６３】
以上、幾つかの実施例を説明したが、これらは、本発明の説明のための例示であって、本発明の範囲をこれらの実施例にのみ限定する趣旨ではない。すなわち、本発明は、他の種々の形態でも実施する事が可能である。例えば、コンデンサ１０５の高電位側電極１６１が接合されるパッドは、第１配線（上流側の配線）に接続された第１サブパッドと第２配線（下流側の配線）に接続された第２のサブパッドとを含んでいれば、Ｎ個（Ｎは２以上の整数）のサブパッドに分割されていてよい。
【符号の説明】
【００６４】
１００、６００、７００、８００、９００、１２００、１３００：電子回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2017083267.tif 000009
【図８】
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【図９】
2017083267.tif 000011
【図１０】
2017083267.tif 000012
【図１１】
2017083267.tif 000013
【図１２】
2017083267.tif 000014
【図１３】
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