(57)【要約】      （修正有）【課題】自己診断テストを短時間で実行することができるとともに、自動的に自己診断テストを実行することができる超音波診断装置および自己診断プログラムを提供する。【解決手段】超音波診断装置１００は、超音波診断画像を生成する超音波診断装置１００であって、前記超音波診断装置１００の移動を検出する移動検出回路１１０と、複数の論理回路（１４０、１６００、１６５０、及び１７０）と、処理回路１２０と、を備える。複数の論理回路は、超音波信号を被検体に送信し、被検体からの超音波受信信号に基づいて超音波診断画像を生成する主機能を複数の論理回路で分担して実行すると共に、複数の論理回路のそれぞれにおいて自己診断機能を実行する。処理回路１２０は、移動検出回路１１０が超音波診断装置１００の移動を検出したとき、自己診断機能の開始を指示する一方、複数の論理回路で実行されたそれぞれの自己診断結果を取得する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
超音波診断画像を生成する超音波診断装置であって、
前記超音波診断装置の移動を検出する移動検出部と、
複数の論理回路であって、超音波信号を被検体に送信し、前記被検体からの超音波受信信号に基づいて超音波診断画像を生成する主機能を前記複数の論理回路で分担して実行すると共に、前記複数の論理回路のそれぞれにおいて自己診断機能を実行する、複数の論理回路と、
前記移動検出部が前記超音波診断装置の移動を検出したとき、前記自己診断機能の開始を指示する一方、前記複数の論理回路で実行されたそれぞれの自己診断結果を取得する処理回路と、
を備える超音波診断装置。
【請求項２】
前記複数の論理回路の自己診断機能の実行を制御する自己診断制御回路、
をさらに備え、
前記自己診断制御回路は、
前記処理回路から前記自己診断機能の開始の指示を受けたとき、前記自己診断機能を前記複数の論理回路に対して並列に実行させる、
請求項１に記載の超音波診断装置。
【請求項３】
前記複数の論理回路及び前記自己診断制御回路は、
ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）によって構成される、
請求項２に記載の超音波診断装置。
【請求項４】
前記自己診断機能は、
前記複数の論理回路のそれぞれが具備するメモリのメモリ診断機能を含む、
請求項１乃至３のいずれか１項に記載の超音波診断装置。
【請求項５】
前記自己診断機能は、
自装置に接続された超音波プローブの前記自己診断機能としてプローブ接続テスト機能を含む、
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の超音波診断装置。
【請求項６】
前記自己診断制御回路は、
前記超音波プローブの差し替え、または使用可能な前記超音波振プローブの切替えがあったとき、前記超音波プローブに対して、前記プローブ接続テスト機能を実行させる
請求項５に記載の超音波診断装置。
【請求項７】
前記自己診断機能は、
設定された所定の電圧を送信電源が出力する送信電源テスト機能を含む、
請求項１乃至６のいずれか１項に記載の超音波診断装置。
【請求項８】
超音波信号を被検体に送信し、前記被検体からの超音波受信信号に基づいて超音波診断画像を生成する主機能を複数の論理回路で分担して実行すると共に、前記複数の論理回路のそれぞれにおいて自己診断機能を実行する超音波診断装置の自己診断プログラムであって、
前記超音波診断装置の移動を検出するステップと、
前記超音波診断装置の移動を検出したとき、前記複数の論理回路に対して前記自己診断機能の開始を指示するステップと、
前記複数の論理回路で実行されたそれぞれの自己診断結果を、前記複数の論理回路から取得するステップと、
をコンピュータに実行させる自己診断プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、超音波診断装置および自己診断プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、医用画像診断装置として、超音波診断装置が知られている。超音波診断装置は、被検体の体内を示す体内画像を生成し、医師や検査技師などがその体内画像について読影を行う装置である。
【０００３】
医師や検査技師などが超音波診断装置を常に正常に使用するために、超音波診断装置は、メンテナンスを担当するサービスマンによって故障診断または異常検出を行う自己診断テストが定期的に実行されている。
【０００４】
自己診断テストでは、複数の種類の自己診断を一連の処理として、予めプログラミングされた手順で実行されていた。また、自己診断テストは長時間を必要とし、サービスマンによってのみ実行されていた。
【０００５】
これに関連し、超音波診断装置における自己診断テストについて、自己診断プログラムをサブプログラムに分割して、そのサブプログラム単位で時系列的に実行する超音波診断装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１０−１９３９５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明が解決しようとする課題は、自己診断テストを短時間で実行することができるとともに、自動的に自己診断テストを実行することができる超音波診断装置および自己診断プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本実施形態に係る超音波診断装置は、超音波診断画像を生成する超音波診断装置であって、前記超音波診断装置の移動を検出する移動検出部と、複数の論理回路と、処理回路と、を備える。前記複数の論理回路は、超音波信号を被検体に送信し、前記被検体からの超音波受信信号に基づいて超音波診断画像を生成する主機能を前記複数の論理回路で分担して実行すると共に、前記複数の論理回路のそれぞれにおいて自己診断機能を実行する。前記処理回路は、前記移動検出部が前記超音波診断装置の移動を検出したとき、前記自己診断機能の開始を指示する一方、前記複数の論理回路で実行されたそれぞれの自己診断結果を取得する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施形態に係る超音波診断装置の概略の構成の一例を示した概略構成図。
【図２】本実施形態に係る超音波診断装置の送信回路の概略の構成の一例を示した概略構成図。
【図３】本実施形態に係る超音波診断装置の受信回路の概略の構成の一例を示した概略構成図。
【図４】本実施形態に係る超音波診断装置の画像処理回路の概略の構成の一例を示した概略構成図。
【図５】本実施形態に係る超音波診断装置の自己診断制御回路の概略の構成の一例を示した概略構成図。
【図６】第１の実施形態に係る超音波診断装置が、自動的に自己診断テストを実行する処理を示したフローチャート。
【図７】第２の実施形態に係る超音波診断装置が、自動的に単独でプローブ接続テストを実行する処理を示したフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（第１の実施形態）
以下、本実施形態に係る超音波診断装置について、添付図面を参照しながら説明する。
【００１１】
図１は、本実施形態に係る超音波診断装置１００の概略の構成の一例を示した概略構成図である。
【００１２】
図１に示すように、本実施形態に係る超音波診断装置１００は、超音波プローブ１０と、超音波診断装置本体２０とを備えて構成されている。
【００１３】
超音波プローブ１０は、超音波振動素子を備えて構成されている。超音波振動素子は、送信時には電気的な駆動信号を送信超音波に変換する一方、受信時には超音波反射波（受信超音波）を電気的な受信信号に変換する機能を備えている。
【００１４】
超音波診断装置本体２０は、移動検出回路１１０、処理回路１２０、記憶回路１３０、自己診断制御回路１４０、送信電源１５０、送受信回路１６０、画像処理回路１７０、及びディスプレイ１８０などを備えて構成されている。また、送受信回路１６０は、送信回路１６００と受信回路１６５０とから構成されている。
【００１５】
送信電源１５０、送受信回路１６０（１６００、１６５０）、及び画像処理回路１７０は、それぞれ論理回路で構成されている。これらの複数の論理回路（１５０、１６００、１６５０、及び１７０）は、超音波信号を被検体に送信し、被検体からの超音波受信信号に基づいて超音波診断画像を生成する主機能を、複数の論理回路（１５０、１６００、１６５０、及び１７０）で分担して実行する機能を備えている。また、複数の論理回路（１５０、１６００、１６５０、及び１７０）のそれぞれは、自己診断機能を実行する機能を備えている。
【００１６】
また、自己診断制御回路１４０、送信回路１６００、受信回路１６５０、及び画像処理回路１７０のそれぞれは、論理回路の一例としてフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ）で構成されているものとする。
【００１７】
移動検出回路１１０は、超音波診断装置１００の移動を検出する機能を備えている。例えば、移動検出回路１１０は、位置センサ、磁気センサ、またはジャイロセンサなどにより、現在の位置に関する情報から超音波診断装置１００の移動量を検出する。なお、移動検出回路１１０は、例えば、キャスタの変位により移動を検出してもよい。また、現在の位置に関する情報として、ＧＰＳモジュール（Global Positioning System）により、緯度、経度、及び高度に関する情報を取得してもよい。
【００１８】
処理回路１２０は、移動検出回路１１０が超音波診断装置１００の移動を検出したとき、自己診断機能の開始を指示する一方、複数の論理回路（１４０、１６００、１６５０、及び１７０）で実行されたそれぞれの自己診断結果を取得する機能を備えている。例えば、処理回路１２０は、自己診断制御回路１４０、送受信回路１６０（１６００と１６５０）、または画像処理回路１７０に対し、自己診断機能のとしてのメモリテスト機能の開始を指示する。そして、それぞれのメモリテスト機能が終了したとき、処理回路１２０は、それぞれのメモリテスト機能の結果（自己診断結果）を取得する。
【００１９】
ここで、自己診断機能とは、処理回路１２０が、超音波診断装置１００の各回路（１４０、１５０、１６０、１７０など）に対して、各機能に応じたテストを実行させることをいう。
【００２０】
処理回路１２０は、超音波診断装置１００の各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）に対して、通常動作としての主機能か、通常動作とは異なる自己診断機能を設定し、実行させる機能を備えている。なお、処理回路１２０は、プログラムをメモリ（記憶回路１３０）から読み出し、実行することにより、そのプログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。
【００２１】
記憶回路１３０は、メモリとして、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）等を備えている。メモリは、ＩＰＬ（Initial Program Loading）、ＢＩＯＳ（Basic Input/Output System）のデータを記憶したり、処理回路１２０のワークメモリやデータの一時的な記憶に用いたりする。また、記憶回路１３０は、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）に、主機能や自己診断機能を実行させるための各コンフィギュレーションデータ（configuration data）を記憶する。
【００２２】
以下、送信回路１６００、受信回路１６５０、画像処理回路１７０、自己診断制御回路１４０の備える機能について、図面を用いて説明する。
【００２３】
図２は、本実施形態に係る超音波診断装置１００の送信回路１６００の概略の構成の一例を示した概略構成図である。
【００２４】
送信回路１６００は、ＦＰＧＡによって構成される論理回路１６２０と、第１の記憶回路１６２７と、第２の記憶回路１６２８とを備えて構成されている。送信回路１６００の論理回路１６２０は、主機能としての送信機能１６３１と、自己診断機能のとしての送信電源テスト機能１６３０及びメモリテスト機能１６２４を備えている。
【００２５】
送信機能１６３１は、被検体の所定方向に対し、送信超音波を放射するための駆動信号を超音波プローブ１０に供給する機能である。送信電源テスト機能１６３０とメモリテスト機能１６２４については、後述する。なお、同一の機能には同一の名称を付し、説明を適宜、省略する。
【００２６】
図３は、本実施形態に係る超音波診断装置１００の受信回路１６５０の概略の構成の一例を示した概略構成図である。
【００２７】
受信回路１６５０は、ＦＰＧＡによって構成される論理回路１６５２と、第１の記憶回路１６５７と、第２の記憶回路１６５８とを備えて構成されている。受信回路１６５０の論理回路１６５２は、主機能としての受信機能１６５１と、自己診断機能のとしてのメモリテスト機能１６５４を備えている。
【００２８】
受信機能１６５１は、位相検波回路とビーム形成回路とを備えて実現される。位相検波回路は、超音波プローブ１０から受信した複数チャンネルの受信信号のそれぞれを、ベースバンド帯域の同相信号（Ｉ信号、Ｉ：In-phase）と、直交信号（Ｑ信号、Ｑ：Quadrature-phase）に分解し、さらにデジタル信号に変換する。ビーム形成回路は、各チャンネルの信号（Ｉ信号及びＱ信号）に所定の遅延を与えた後に加算してビームを形成する。ビーム形成回路から出力されるビーム形成後の信号も、Ｉ信号とＱ信号とから構成される。以下、ビーム形成回路から出力されるビーム形成後の信号を「ＩＱ信号」と呼ぶものとする。受信機能１６５１は、ＩＱ信号を画像処理回路１７０に送信する。メモリテスト機能１６５４については、後述する。
【００２９】
図４は、本実施形態に係る超音波診断装置１００の画像処理回路１７０の概略の構成の一例を示した概略構成図である。
【００３０】
画像処理回路１７０は、ＦＰＧＡによって構成される論理回路１７２と、第１の記憶回路１７７と、第２の記憶回路１７８とを備えて構成されている。画像処理回路１７０の論理回路１７２は、主機能としての画像処理機能１７１と、自己診断機能のとしてのメモリテスト機能１７４を備えている。
【００３１】
画像処理機能１７１は、受信回路１６５０からＩＱ信号を受信して、パルス送信モードにおいては、ＩＱ信号の包絡線を検出してＢモード画像を生成する。また、ＩＱ信号に自己相関等の処理を施してカラードプラ画像を生成する。また、パルスドップラモードや連続波送信モードにおいては、ＩＱ信号に、ＦＦＴ法（高速フーリエ変換法：Fast Fourier Transform method）を用いて、ドップラー画像を生成する。また、画像処理機能１７１は、ドップラー画像の画像データ、Ｂモード画像やカラードプラ画像の画像データに対して座標を変換する座標変換機能も備えている。メモリテスト機能１７４については、後述する。
【００３２】
図５は、本実施形態に係る超音波診断装置１００の自己診断制御回路１４０の概略の構成の一例を示した概略構成図である。
【００３３】
自己診断制御回路１４０は、ＦＰＧＡによって構成される論理回路１４２と、第１の記憶回路１４７と、第２の記憶回路１４８とを備えて構成されている。自己診断制御回路１４０の論理回路１４２は、主機能としての自己診断統括機能１４１と、自己診断機能のとしてのプローブ接続テスト機能１４９及びメモリテスト機能１４４を備えている。
【００３４】
自己診断統括機能１４１は、超音波診断装置１００の各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）に対して、自己診断機能の実行を制御する機能である。例えば、自己診断統括機能１４１は、処理回路１２０から自己診断機能の開始の指示を受けたとき、各自己診断機能を複数の論理回路（１６２０、１６５２、１７２、１４２等）に対して並列に実行させる。
【００３５】
この場合、自己診断統括機能１４１は、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）に対して、各自己診断機能を実行させるように、記憶回路１３０からコンフィギュレーションデータをロードさせる。各回路（１４０、１６００、１６５０、１７０等）は、コンフィギュレーションすることによって各自己診断機能を実行する。プローブ接続テスト機能１４９及びメモリテスト機能１４４については、後述する。なお、上述した自己診断統括機能１４１は、処理回路１２０に設けるようにしてもよい。
【００３６】
図１に戻り、送信電源１５０とディスプレイ１８０とについて説明する。
【００３７】
送信電源１５０は、超音波診断装置１００の操作部や筐体の側面に設けられた電源スイッチをＯＮにすることにより、装置の各部に必要な電力供給を行う。また、送信電源１５０は、送信モードに応じた送信電圧を、例えば、０〜１００[Ｖ]の間で切り替えて、送信回路１６００に出力する。
【００３８】
ディスプレイ１８０は、超音波プローブ１０で撮像した被検体の体内画像データを画像として表示する機能を備えている。ディスプレイ１８０は、例えば、液晶ディスプレイやモニタなどにより構成されている。
【００３９】
次に、自己診断機能について説明する。自己診断機能として、（１）メモリテスト機能、（２）送信電源テスト機能、及び（３）プローブ接続テスト機能の３種類がある。以下、これらの自己診断機能を自己診断テストともいう。
【００４０】
（１）メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）
メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）は、複数の論理回路のそれぞれが具備するメモリのメモリ診断機能である。メモリテスト機能は、メモリテスト機能１６２４、メモリテスト機能１６５４、メモリテスト機能１７４、メモリテスト機能１４４のいずれも同一のテスト内容であるため、図３の受信回路１６５０のメモリテスト機能１６５４を用いて説明する。
【００４１】
メモリテスト機能１６５４は、複数のメモリに対し、並列でかつ同時にメモリテストを実行する機能である。
【００４２】
例えば、メモリテスト機能１６５４は、第１のメモリテスト機能１６５５と第２のメモリテスト機能１６５６とを備えて構成されている。第１のメモリテスト機能１６５５は、第１の記憶回路１６５７のメモリテストを実行するものであり、第２のメモリテスト機能１６５６は、第２の記憶回路１６５８のメモリテストを実行するものである。
【００４３】
メモリテスト機能１６５４は、第１の記憶回路１６５７及び第２の記憶回路１６５８の個数に合わせて、第１のメモリテスト機能１６５５及び第２のメモリテスト機能１６５６を構成する。したがって、第１の記憶回路１６５７及び第２の記憶回路１６５８は、２つに限定されるものではない。また、第１の記憶回路１６５７及び第２の記憶回路１６５８は、ＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Memory）やＤＤＲ（Double Data SDRAM）などのＤＲＡＭ（Dynamic Random Memory）で構成されている。
【００４４】
メモリテスト機能１６５４では、各メモリの容量（ワード数×ビット数）に対して、全アドレスに「０」または「１」の値を書込み、そして、その書き込んだ値を読み出して、書き込んだ値と読み出した結果との比較（期待値比較）を行う。なお、この期待値比較のことを、単にメモリテストともいう。
【００４５】
メモリテスト機能１６５４は、第１のメモリテスト機能１６５５と第２のメモリテスト機能１６５６とを並列に動作させる。例えば、第１のメモリテスト機能１６５５は、第１の記憶回路１６５７の全アドレスに「０」または「１」の値を書込み、その後書き込んだ全アドレスの値を読み出して、書き込んだ値と読み出した結果との比較を行う。また、書き込む値は、「０」および「１」の両方を入れ替えて実行するものとする。
【００４６】
同様に、第２のメモリテスト機能１６５６は、第２の記憶回路１６５８の全アドレスに「０」または「１」の値を書込み、その後書き込んだ全アドレスの値を読み出して、書き込んだ値と読み出した結果との比較を行う。
【００４７】
このように、メモリテスト機能１６５４は、ＦＰＧＡによって構成される論理回路１６５２により、複数のメモリ（例えば、１６５７、１６５８）に対して、並列でかつ同時に書き込みと読み出しによるメモリテストを行う。
【００４８】
また、メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）は、送信回路１６００、受信回路１６５０、画像処理回路１７０、及び自己診断制御回路１４０等がそれぞれ並列で、かつ同時に独立してメモリテストを実行することができる。
【００４９】
ここで、本実施形態によるメモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）の必要な時間について、従来のメモリテストで必要な時間と比較する。
【００５０】
例えば、受信回路１６５０の第１の記憶回路１６５７と第２の記憶回路１６５８のメモリが、それぞれ２５６Ｍbyteが使用されていた場合を想定する。なお、送信回路１６００、画像処理回路１７０、及び自己診断制御回路１４０も同等のメモリを使用していると仮定する。
【００５１】
従来では、処理回路１２０が、ソフトウェアにより、各メモリに対してそれぞれメモリテストを順番に行っていたため、第１の記憶回路１６５７と第２の記憶回路１６５８とに必要なテスト時間は、次式のようになる。
【００５２】
テスト時間ＴＡ＝２×１０−６×２５６×１０６×４＝２，０４８［秒］      （１）
≒３４．１３［分］
【００５３】
なお、処理回路１２０が、ソフトウェアにより受信回路１６５０の第１の記憶回路１６５７と第２の記憶回路１６５８にアクセスする時間をそれぞれ２［μｓ］とする。
【００５４】
一方、本実施形態では、ＦＰＧＡで構成された論理回路１６５２（ハードウェア）により、メモリテスト機能１６５４が、第１の記憶回路１６５７及び第２の記憶回路１６５８を並列にメモリテストを実行するのに必要なテスト時間は、次式のようになる。
【００５５】
テスト時間ＴＢ＝５×１０−９×２５６×１０６×（２／２）×２
＝２，５６０×１０−３≒３［秒］                        （２）
【００５６】
なお、第１のメモリテスト機能１６５５及び第２のメモリテスト機能１６５６が、第１の記憶回路１４７及び第２の記憶回路１４８にアクセスする時間をそれぞれ５［ｎｓ］とする。
【００５７】
このように、本実施形態によれば、従来では、メモリテストを実行するために約３４分を要していたところ、約３秒で実行することができる。
【００５８】
しかも、メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）は、送信回路１６００、受信回路１６５０、画像処理回路１７０、及び自己診断制御回路１４０等がそれぞれ並列で、かつ同時に独立してメモリテストを実行することができるので、約３秒で全てのメモリテストを実行することができる。
【００５９】
（２）送信電源テスト機能１６３０（図２参照）
送信電源テスト機能１６３０は、送信回路１６００と送信電源１５０とによって行われる。例えば、送信電源テスト機能１６３０は、超音波診断装置本体２０が超音波プローブ１０に送信する送信電圧を０〜１００[Ｖ]とした場合、送信電源１５０に設定された電圧が送信電源１５０から適切に出力されているか否かをテストする。なお、送信電源１５０は複数の電源を備えているものとする。
【００６０】
例えば、送信電源テスト機能１６３０は、自己診断制御回路１４０からの指示により、送信回路１６００が送信電源１５０に送信電源の電圧値を設定する。送信電源テスト機能１６３０は、０〜１００[Ｖ]の電圧値に対応する指令値として、２の１２乗（１２ビット）の０〜４０９５に対応させて、４０９６パターンの指令値を用いて、送信電源１５０の送信電源テストを実行する。
【００６１】
まず初めに、送信電源テスト機能１６３０は、送信電源１５０に対して、所定の指令値を設定する。送信電源１５０は、その設定された指令値を参照し、その指令値に対応する送信電圧を送信回路１６００に出力する。
【００６２】
そして、送信電源テスト機能１６３０は、送信電源１５０から出力された送信電圧を、Ａ／Ｄコンバータ（Analog to Digital Convertor）によりデジタル値に変換する。送信電源テスト機能１６３０は、そのデジタル値が送信電源１５０に対して設定した指令値と同値であるか否かを判定する。
【００６３】
なお、送信電源テスト機能１６３０は、送信電源１５０に設定した指令値が、送信電源１５０から送信電圧として出力されるまで、ある程度の待ち時間を要するため、設定した送信電圧が得られるまで待ち受ける。そして、送信電源テスト機能１６３０は、設定した指令値と変換したデジタル値とが同値の場合には、送信電源１５０に設定した指令値を１ビット変更し、４０９６パターンのうちの次の指令値（０〜４０９５）を設定して、その指令値に対応する送信電圧が送信電源１５０から出力されるかを判定する。
【００６４】
本実施形態では、送信電源１５０は、複数の電源を備えることができ、図２に示す送信電源テスト機能１６３０は、例えば、第１の電源テスト機能１６３１と第２の電源テスト機能１６３２とを備えることにより、２つの電源に対し、並列でかつ同時に送信電源テストを実行する。なお、電源は、２つに限定されるものではなく、電源が複数であっても、電源テスト機能１６３０は、各電源に対応する電源テスト機能を設けることにより、複数の送信電源テストを実行することができる。
【００６５】
ここで、従来では、送信電源テストでは、送信電源１５０において、２つの電源を使用していた場合、電源ごとに順番に送信電源テストを行っていたため、約１５分程度必要であった。特に、処理回路１２０が、ソフトウェアにより送信電源１５０に送信電源テストを実行するようになっていた。
【００６６】
これに対し、本実施形態によれば、電源テスト機能１６３０は、並列でかつ同時に送信電源テストを実行することができるので、電源の数を問わず、１つの電源のテスト時間の約７．５分程度で送信電源テストを実行できる。
【００６７】
なお、電源テスト機能１６３０は、指令値を設定するタイミングとして、複数の電源に対し同時に設定してもよく、また、電源ごとに順番に設定して、パイプライン処理を実行させてもよい。
【００６８】
（３）プローブ接続テスト機能１４９（図５参照）
プローブ接続テスト１４９は、超音波プローブ１０と自己診断制御回路１４０とによって行われる。例えば、移動検出回路１１０によって現在の位置から移動が検出された場合、処理回路１２０は、超音波診断装置本体２０に接続された超音波プローブ１０の自己診断機能として、自己診断制御回路１４０にプローブ接続テスト機能を実行させる旨の指示を出す。
【００６９】
プローブ接続テスト１４９は、処理回路１２０と自己診断統括機能１４１とを介して、プローブ接続テストを実行する指示を取得すると、超音波プローブ１０に対してプローブ接続テストを実行する。例えば、プローブ接続テスト機能１４９は、超音波プローブ１０を構成する複数の電子回路に対して並列に、テストデータの書込みと読み出しを実行する。
【００７０】
例えば、超音波診断装置本体２０に超音波プローブ１０が４本接続されていた場合は、プローブ接続テスト機能１４９は、４本の超音波プローブ１０に対して並列にかつ同時にテストデータの書込みを実行する。書き込みをした後、プローブ接続テスト機能１４９は、４本の超音波プローブ１０の複数の電子回路からデータを読み出して、書き込んだテストデータと読み出したデータとが一致するか判定する。読み出したデータがテストデータと一致した場合、その超音波プローブ１０は異常なし（例えば、接続良好）と判定する。
【００７１】
プローブ接続テスト機能１４９は、超音波プローブ１０が何本であっても、超音波診断装置本体２０に接続されている超音波プローブ１０の複数の電子回路に並列でかつ同時にテストデータの書き込みを行い、それぞれ電子回路のデータの読み出しを実行する。
【００７２】
ここで、従来のプローブ接続テストでは、超音波プローブ１０ごとにそれぞれ順番に、処理回路１２０がプローブ接続テストを実行していた。例えば、従来のプローブ接続テストでは、ある超音波プローブ１０の複数の電子回路にテストデータを設定して、書込み、読み出しを行って判定した後、次の超音波プローブ１０に切り替えるようになっていた。そのため、プローブ接続テストに必要な時間は、超音波診断装置本体２０に接続された超音波プローブ１０の本数に依存し、超音波診断装置１００において接続されている超音波プローブ１０の本数分のプローブ接続テストが実行されていた。
【００７３】
一方、本実施形態では、プローブ接続テスト機能１４９が各超音波プローブ１０の複数の電子回路に対して、並列でかつ同時にテストデータの設定、書込み及び読み出しを実行することができるので、超音波診断装置本体２０に接続された超音波プローブ１０の本数に関わらず、超音波プローブ１０の１本分のテスト時間だけで終了することができる。
【００７４】
また、例えば、プローブ接続テスト機能１４９は、超音波プローブ１０の複数の電子回路に書き込みを行わず、超音波プローブ１０の複数の電子回路に保存されているデータの値を読み出して、その読み出した値とテストデータとの比較によりプローブ接続テストを実行することもできる。この場合は、プローブ接続テストの実行時間は、通常のプローブ接続テスト１本分の約半分の時間で実行することができる。
【００７５】
（自己診断テスト処理）
次に、第１の実施形態の超音波診断装置１００が実行する自己診断テスト処理について、図１から図５を参照しながら、図６に示すフローチャートを用いて説明する。
【００７６】
図６は、第１の実施形態に係る超音波診断装置１００が、自動的に自己診断テストを実行する処理を示したフローチャートである。
【００７７】
まず、超音波診断装置１００は、医師や検査技師などの操作によって超音波診断装置本体２０が操作されることにより、電源が投入される（ステップＳ００１）。これにより、処理回路１２０は、超音波診断装置１００が備える主機能を、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）に対して設定する。
【００７８】
次に、処理回路１２０は、例えば、移動検出回路１１０から超音波診断装置１００の移動を検出し、超音波診断装置１００の移動として所定の移動量を検出した場合（ステップＳ００３のＹＥＳ）、自己診断制御回路１４０に自己診断テストの開始を指示する。この場合、自己診断制御回路１４０の自己診断統括機能１４１が、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）に対して自己診断テスト（テストモード）の設定を行う（ステップＳ００５）。
【００７９】
具体的には、処理回路１２０は、所定の移動量として、移動検出回路１１０が１００[ｍ]の移動を検出した場合に、自己診断統括機能１４１にテストモードを設定させ、自動的に自己診断テストを実行させる。なお、本実施形態では、距離に限定されるものではなく、例えば、処理回路１２０は、高さの変位が１０[ｍ]を超えた場合に、所定の移動量の検出として自己診断テストを実行させてもよい。また、処理回路１２０は、移動検出回路１１０によって移動を検出する度に、その移動が静止してから距離を問わず、即時実行するようにしてもよい。
【００８０】
テストモードの設定では（ステップＳ００５）、自己診断統括機能１４１は、例えば、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）を自己診断テストに切り替える。各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）は、記憶回路１３０から自己診断テストに対応するコンフィギュレーションデータをそれぞれロードし、自己診断テストを実行するためのコンフィギュレーションを実行する。
【００８１】
そして、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）は、それぞれ自己診断テストを並列でかつ同時に実行する（ステップＳ００７）。この場合、各回路（１４０、１５０、１６００、１６５０、１７０等）は、それぞれ独立して、メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）、送信電源テスト機能１６３０、及びプローブ接続テスト機能１４９を同時に実行する。
【００８２】
例えば、メモリテスト機能１６２４は、第１の記憶回路１６２７及び第２の記憶回路１６２８とメモリテストを実行する。メモリテスト機能１６５４は、第１の記憶回路１６５５及び第２の記憶回路１６５６とメモリテストを実行する。メモリテスト機能１７４は、第１の記憶回路１７５及び第２の記憶回路１７６とメモリテストを実行する。メモリテスト機能１４４は、第１の記憶回路１４５及び第２の記憶回路１４６とメモリテストを実行する。
【００８３】
また、送信電源テスト機能１６３０は、送信電源１５０に設けられた２つの電源と送信電源テストを同時に実行する。例えば、第１の電源テスト機能１６３１は、送信電源１５０の第１の電源（図示せず）に対し、０［Ｖ］を設定し、０［Ｖ］から１００［Ｖ］まで送信電圧を上げながら、送信電源テストを実行する。また、第２の電源テスト機能１６３２は、送信電源１５０の第２の電源（図示せず）に対し、１００［Ｖ］を設定し、１００［Ｖ］から０[Ｖ]まで送信電圧を下げながら、送信電源テストを実行する。
【００８４】
なお、送信電源テスト機能１６３０は、第１の電源テスト機能１６３１が送信電圧の設定を上げながら送信電源テストを実行する一方、第２の電源テスト機能１６３２が送信電圧の設定を下げながら、送信電源テストを実行することにより、超音波診断装置１００における消費電力を低減しながら、送信電源テストを実行することができる。
【００８５】
また、プローブ接続テスト１４９は、超音波診断装置本体２０に接続されている全ての超音波プローブ１０の複数の電子回路に対して並列に、かつ同時に複数の超音波プローブ１０のプローブ接続テストを実行する。
【００８６】
処理回路１２０は、自己診断テストの全てが終了するのを待ち受けており（ステップＳ００９）、メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）、送信電源テスト機能１６３０、及びプローブ接続テスト機能１４９の全て自己診断テストが終了したとき、自己診断制御回路１４０の自己診断統括機能１４１からそれぞれの自己診断結果を取得して、自己診断テスト処理を終了する。
【００８７】
以上説明したように、本実施形態に係る超音波診断装置１００は、超音波診断装置１００の移動を検出することにより、メモリテスト機能（１６２４、１６５４、１７４、１４４）、送信電源テスト機能１６３０、及びプローブ接続テスト機能１４９により、自己診断テストをそれぞれ並列でかつ同時に実行することができる。
【００８８】
このように、本実施形態に係る超音波診断装置１００は、超音波診断装置１００の移動を検出することにより、自己診断テストを短時間で実行することができるとともに、自動的に自己診断テストを実行することができる。
【００８９】
例えば、本実施形態によれば、全ての自己診断テストを１０分から２０分程度のテスト時間で実行することができる。
【００９０】
（第２の実施形態）
第１の実施形態では、メモリテスト、送信電源テスト、及びプローブ接続テストの全ての自己診断テストを同時に実行するようになっていた。
【００９１】
第２の実施形態では、超音波プローブ１０の差し替えや切替えがあった場合、論理回路１４２のプローブ接続テスト機能１４９が、超音波診断装置本体２０（すなわち、自己診断制御回路１４０）に接続されている超音波プローブ１０と、単独でプローブ接続テストを実行するようになっている。
【００９２】
図６は、第２の実施形態に係る超音波診断装置１００が、自動的に単独でプローブ接続テストを実行する処理を示したフローチャートである。
【００９３】
まず、図５のフローチャートと同様に、超音波診断装置１００は、医師や検査技師などの操作によって超音波診断装置本体２０が操作されることにより、電源が投入される（ステップＳ００１）。これにより、処理回路１２０は、超音波診断装置１００が備える主機能を、各回路（１４０、１５０、１６０、１７０など）に対して設定する。そして、超音波診断装置１００は、医師や検査技師などの操作により超音波診断画像を生成する主機能による処理を受け付ける。
【００９４】
超音波診断装置１００の自己診断制御回路１４０は、医師や検査技師などの操作により、超音波プローブ１０の脱着（例えば、差し替え）や使用可能な（例えば、有効な）超音波プローブ１０の切替えの有無を待ち受けており（ステップＳ１０１）、超音波プローブ１０の脱着または超音波プローブ１０の切替えがあった場合（ステップＳ１０１のＹＥＳ）、プローブ接続テスト機能１４９がプローブ接続テストを実行する（ステップＳ１０３）。
【００９５】
なお、プローブ接続テスト機能１４９は、超音波プローブ１０の脱着等があった場合に、記憶回路１３０からコンフィギュレーションデータをロードしてもよく、また、予め論理回路１４２に組み込まれていてもよい。
【００９６】
プローブ接続テスト機能１４９は、複数の超音波プローブ１０とプローブ接続テストを並列でかつ同時に実行させることができるので、超音波診断装置本体２０に接続されている超音波プローブ１０が何本あっても、超音波プローブ１０の１本分のテスト時間だけでプローブ接続テストを実行することができる。
【００９７】
プローブ接続テスト機能１４９は、接続されている全ての超音波プローブ１０について、プローブ接続テストが終了したか否かを待ち受けて（ステップＳ１０５）、全ての超音波プローブ１０のプローブ接続テストが終了したときは、超音波プローブ１０の脱着などに伴う自己診断テストを終了する。
【００９８】
以上説明したように、第２の実施形態では、超音波プローブ１０の脱着（差し替え）や使用可能な超音波プローブ１０の切替えがあった場合に、プローブ接続テスト機能１４９が、単独で超音波プローブ１０とプローブ接続テストを実行する。
【００９９】
これにより、医師や検査技師などの操作者は、プローブ接続テストをわざわざ実行する手間を省くことができ、自動的に超音波プローブ１０のプローブ接続テストを実行させることができる。
【０１００】
また、プローブ接続テスト機能１４９は、超音波プローブ１０の脱着や切替えに限定されるものではなく、超音波プローブ１０を超音波診断装置本体２０から抜去または超音波診断装置本体２０に超音波プローブ１０を挿入したときに、都度、プローブ接続テストを実行するようにしてもよい。
【０１０１】
以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、自己診断テストを短時間で実行することができるとともに、自動的に自己診断テストを実行することができる。
【０１０２】
なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のＣＰＵ（Central Processing Unit）、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの回路を意味する。図１では、プロセッサ（処理回路１２０）が１つの場合を例示しているが、プロセッサの数は２以上であってもよい。
【０１０３】
プロセッサは、メモリに保存された、もしくはプロセッサの回路内に直接組み込まれたプログラムを読み出し、実行することで各機能を実現する。プロセッサが複数設けられ場合、プログラムを記憶するメモリは、プロセッサごとに個別に設けられるものであっても構わないし、或いは、図１の記憶回路１３０が各プロセッサの機能に対応するプログラムを記憶するものであっても構わない。
【０１０４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【０１０５】
１０…超音波プローブ
２０…超音波診断装置本体
１００…超音波診断装置
１１０…移動検出回路
１２０…処理回路
１３０…記憶回路
１４０…スキャン制御回路
１５０…送信電源
１６０…送受信回路
１６００…送信回路
１６５０…受信回路
１７０…画像処理回路
１８０…ディスプレイ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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