(57)【要約】【課題】より簡単に、芯振れ量の多寡を知る。【解決手段】試験器具１１は、刃物を回転させてワークを加工する加工装置１２の刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験器具である。試験片２１は、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、上面に対向する下面の凹部によって形成されている薄肉部が複数設けられている。ベース２２は、試験片２１が載置され、加工装置１２に固定される。ピン２５−１乃至２５−３は、ベース２２上の所定の位置に試験片２１を位置決めする。薄肉部の厚さは、閾値の４０倍乃至１０倍である。【選択図】図３
2017090174.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
刃物を回転させてワークを加工する加工装置の前記刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験器具において、
上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、前記上面に対向する下面の凹部によって形成されている薄肉部が複数設けられている試験片と、
前記試験片が載置され、前記加工装置に固定されるベースと、
前記ベース上の所定の位置に前記試験片を位置決めする位置決め手段と
を備え、
前記薄肉部の厚さは、前記閾値の４０倍乃至１０倍である
試験器具。
【請求項２】
請求項１に記載の試験器具において、
前記試験片の下面に形成されている前記凹部は、円錐状である
試験器具。
【請求項３】
請求項１に記載の試験器具において、
前記試験片には、３つの前記薄肉部が設けられている
試験器具。
【請求項４】
請求項１に記載の試験器具において、
前記試験片は、アルミニウム合金または真鍮で形成されている
試験器具。
【請求項５】
請求項１に記載の試験器具において、
前記試験片の下面に形成されている前記凹部は、切削加工により形成されている
試験器具。
【請求項６】
刃物を回転させてワークを加工する加工装置の前記刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験方法において、
上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、前記閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部が設けられている試験片を、前記加工装置に位置決めして固定し、
前記加工装置に、前記閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットである前記刃物を装着し、
前記試験片の前記薄肉部に、前記ドリルビットにより前記薄肉部の前記上面に沿った第１の方向と前記第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を前記閾値の２倍の長さの第１の間隙であけ、
前記試験片の前記薄肉部にあけられた孔のつながりにより、前記芯振れ量が前記閾値以上であるか否かを判定する
試験方法。
【請求項７】
請求項６に記載の試験方法において、
前記薄肉部が複数設けられている前記試験片を、前記加工装置に位置決めして固定し、
前記試験片の前記薄肉部のうちの所定の１つに、前記ドリルビットにより前記第１の方向と前記第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を前記第１の間隙であけ、
前記試験片の前記薄肉部のうちの他の１つに、前記ドリルビットにより前記第１の方向と前記第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を前記閾値の４倍以上６倍以下の長さの第２の間隙であけ、
前記試験片の前記薄肉部のそれぞれにあけられた孔のつながりにより、前記芯振れ量が前記閾値以上であるか否かを判定する
試験方法。
【請求項８】
刃物を回転させてワークを加工する加工装置を制御するコンピュータに、前記刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための加工処理を行わせるプログラムにおいて、
上面が平面である所定の厚さの平板状に形成されている試験片であって、前記閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部が複数設けられている試験片の前記薄肉部のうちの所定の１つに、前記閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットである前記刃物により、前記薄肉部の前記上面に沿った第１の方向と前記第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を前記閾値の２倍の長さの第１の間隙であけさせるステップと、
前記試験片の前記薄肉部のうちの他の１つに、前記ドリルビットにより、前記第１の方向と前記第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を前記閾値の４倍以上６倍以下の長さの第２の間隙であけさせるステップと
を含む加工処理を行わせるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は試験器具、試験方法、およびプログラムに関し、特に、刃物を回転させてワークを加工する加工装置の刃物を回転させる軸の芯振れ量について試験するための試験器具、試験方法、およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
エンドミルやドリルビットなどの刃物を回転させてワークを加工する加工装置において、刃物を回転させる軸の芯振れ量は、ワークの加工の精度を左右する重要な要素である。芯振れ量は、アンバランス量とも称されている。
【０００３】
従来、２つの入力部および２つの増幅部により入力回路を２入力とし、それぞれの信号を比較回路により比較することにより芯振れの状態を解析可能とするようにしたものもある（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実開平５−１４８８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、加工装置の芯振れ量の測定には、回転する刃物を撮像した動画像による解析など多数の機器と面倒な手順が必要であった。
【０００６】
また、特許文献１で提案されている考案を採用しても、準備に手間がかかり、面倒であった。
【０００７】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一側面の試験器具は、刃物を回転させてワークを加工する加工装置の刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験器具であって、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、上面に対向する下面の凹部によって形成されている薄肉部が複数設けられている試験片と、試験片が載置され、加工装置に固定されるベースと、ベース上の所定の位置に試験片を位置決めする位置決め手段とを備え、薄肉部の厚さが、閾値の４０倍乃至１０倍である。
【０００９】
本発明の一側面の試験器具においては、試験片の上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、薄肉部が上面に対向する下面の凹部によって形成されているので、ドリルビットである刃物で薄肉部に孔をあける場合、試験片の全体、特に薄肉部が歪みにくく、また、平面に孔をあけるので、あけられた孔を加工装置の芯振れ量に応じた形状にすることができる。薄肉部の厚さが、閾値の４０倍乃至１０倍なので、試験片によって加工装置の刃物を回転させる軸を規制してしまい、振れを少なくしてしまうことがないので、あけられた孔を加工装置の芯振れ量に応じた形状にすることができる。さらに、ベースおよび位置決め手段によって、加工装置に対して試験片をより簡単に位置決めできるので、より簡単に、より正確に薄肉部に孔をあけることができる。このように、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００１０】
本発明の一側面の試験器具において、試験片の下面に形成されている凹部を、円錐状とすることができる。このようにすることで、薄肉部の厚さをより正確に保つことができ、また、薄肉部の歪をより小さくして、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００１１】
試験片には、３つの薄肉部を設けることができる。この場合、１つの試験器具で、閾値を変化させて、芯振れ量の検査をすることができる。
【００１２】
試験片を、アルミニウム合金または真鍮で形成することができる。アルミニウム合金または真鍮は、素材として適切な粘りを有するので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００１３】
試験片の下面に形成されている凹部を、切削加工により形成することができる。凹部を、切削加工により形成することで、薄肉部の厚さをより均一にし、また、薄肉部の歪をより小さくすることができるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００１４】
本発明の一側面の試験方法は、刃物を回転させてワークを加工する加工装置の刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験方法であって、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部が設けられている試験片を、加工装置に位置決めして固定し、加工装置に、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットである刃物を装着し、試験片の薄肉部に、ドリルビットにより薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの第１の間隙であけ、試験片の薄肉部にあけられた孔のつながりにより、芯振れ量が閾値以上であるか否かを判定するものである。
【００１５】
本発明の一側面の試験方法においては、試験片の上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、薄肉部が上面に対向する下面の凹部によって形成されているので、ドリルビットである刃物で薄肉部に孔をあける場合、試験片の全体、特に薄肉部が歪みにくく、また、平面に孔をあけるので、あけられた孔を加工装置の芯振れ量に応じた形状にすることができる。薄肉部の厚さが、閾値の４０倍乃至１０倍なので、試験片によって加工装置の刃物を回転させる軸を規制してしまい、振れを少なくしてしまうことがない。従って、あけられた孔を加工装置の芯振れ量に応じた形状にすることができる。さらに、薄肉部に、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットで、薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの第１の間隙であけるので、芯振れ量が閾値以上である場合、第１の間隙であけた孔がつながり、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔をあけるので、１２か所で９つの孔が隣り合うことになり、孔の数に対して隣り合う部分がより多くできるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００１６】
本発明の一側面の試験方法において、薄肉部が複数設けられている試験片を、加工装置に位置決めして固定し、試験片の薄肉部のうちの所定の１つに、ドリルビットにより第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を第１の間隙であけ、試験片の薄肉部のうちの他の１つに、ドリルビットにより第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの第２の間隙であけ、試験片の薄肉部のそれぞれにあけられた孔のつながりにより、芯振れ量が閾値以上であるか否かを判定することもできる。
【００１７】
この場合、第１の間隙と第２の間隙とについて、あけられた孔のつながりが確認できるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００１８】
本発明の一側面のプログラムは、刃物を回転させてワークを加工する加工装置を制御するコンピュータに、刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための加工処理を行わせるプログラムであって、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成されている試験片であって、閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部が複数設けられている試験片の薄肉部のうちの所定の１つに、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットである刃物により、薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの第１の間隙であけさせるステップと、試験片の薄肉部のうちの他の１つに、ドリルビットにより、第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの第２の間隙であけさせるステップとを含む加工処理を行わせる。
【００１９】
本発明の一側面のプログラムにおいては、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットで、所定の薄肉部には、薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの第１の間隙であけられるので、芯振れ量が閾値以上である場合、第１の間隙であけた孔がつながり、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔をあけるので、１２か所で９つの孔が隣り合うことになり、孔の数に対して隣り合う部分がより多くできるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。さらに、試験片の薄肉部のうちの他の１つに、ドリルビットにより、第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの第２の間隙であけられるので、第１の間隙と第２の間隙とについて、あけられた孔のつながりが確認できるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【発明の効果】
【００２０】
以上のように、本発明によれば、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】試験器具１１の使用状態を示す斜視図である。
【図２】加工装置１２の構成をブロック図である。
【図３】試験器具１１の構成を示す斜視図である。
【図４】試験器具１１の構成を示す平面図である。
【図５】試験器具１１の構成を示す右側面図である。
【図６】試験片２１の形状を示す平面図である。
【図７】試験片２１の形状を示す正面図である。
【図８】試験片２１の断面を示す断面図である。
【図９】試験片２１の部分を拡大して示す部分拡大図である。
【図１０】薄肉部５３−１乃至５３−３のそれぞれにあけられる孔を示す図である。
【図１１】芯振れ量の試験の手順を説明するフローチャートである。
【図１２】試験片２１への加工の処理を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下に本発明の実施の形態を説明するが、本発明の構成要件と、発明の詳細な説明に記載の実施の形態との対応関係を例示すると、次のようになる。この記載は、本発明をサポートする実施の形態が、発明の詳細な説明に記載されていることを確認するためのものである。従って、発明の詳細な説明中には記載されているが、本発明の構成要件に対応する実施の形態として、ここには記載されていない実施の形態があったとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件に対応するものではないことを意味するものではない。逆に、実施の形態が構成要件に対応するものとしてここに記載されていたとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件以外の構成要件には対応しないものであることを意味するものでもない。
【００２３】
本発明の一側面の試験器具は、刃物を回転させてワークを加工する加工装置の刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験器具（例えば、図３の試験器具１１）であって、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、上面に対向する下面の凹部によって形成されている薄肉部が複数設けられている試験片（例えば、図３の試験片２１）と、試験片が載置され、加工装置に固定されるベース（例えば、図３のベース２２）と、ベース上の所定の位置に試験片を位置決めする位置決め手段（例えば、図３のピン２５−１、ピン２５−２およびピン２５−３）とを備え、薄肉部の厚さが、閾値の４０倍乃至１０倍である。
【００２４】
本発明の一側面の試験方法は、刃物を回転させてワークを加工する加工装置の刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験方法であって、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部が設けられている試験片を、加工装置に位置決めして固定し（例えば、図１１のステップＳ１１の手順）、加工装置に、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットである刃物を装着し（例えば、図１１のステップＳ１２の手順）、試験片の薄肉部に、ドリルビットにより薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの第１の間隙であけ（例えば、図１２のステップＳ３３の手順）、試験片の薄肉部にあけられた孔のつながりにより、芯振れ量が閾値以上であるか否かを判定する（例えば、図１１のステップＳ１５の手順）ものである。
【００２５】
本発明の一側面のプログラムは、刃物を回転させてワークを加工する加工装置を制御するコンピュータ（例えば、図２のプログラム実行部１５３）に、刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための加工処理を行わせるプログラムであって、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成されている試験片であって、閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部が複数設けられている試験片の薄肉部のうちの所定の１つに、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビットである刃物により、薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの第１の間隙であけさせるステップ（例えば、図１２のステップＳ３３の手順）と、試験片の薄肉部のうちの他の１つに、ドリルビットにより、第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの第２の間隙であけさせるステップ（例えば、図１２のステップＳ３２の手順）とを含む加工処理を行わせる。
【００２６】
以下、図１乃至図１２を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
【００２７】
図１は、試験器具１１の使用状態を示す斜視図である。図１を参照して、試験器具１１の概要を説明する。
【００２８】
試験器具１１は、マシニングセンタやＮＣ（numerical control machining）切削加工装置などの、刃物を回転させてワークを加工する加工装置の刃物を回転させる軸（以下、主軸とも称する。）の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための器具である。試験器具１１は、試験対象の加工装置に装着される。この場合、試験器具１１は、ワークなどが装着されるテーブル、ベッドまたはサドルに装着される。以下、試験器具１１が、テーブルに装着される場合を例に説明する。
【００２９】
さらに、試験器具１が装着された加工装置には、試験しようとする芯振れ量の閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビット１０１が装着される。現状、加工装置の主軸の芯振れ量は、精度の比較的良いもので、２μｍ乃至５μｍである。従って、例えば、試験器具１が装着された加工装置には、６０μｍ乃至１００μｍの径のドリルビット１０１が装着される。
【００３０】
ドリルビット１０１の径を芯振れ量の閾値の２０倍乃至１０倍としたのは、あけられた孔が加工装置１２の芯振れ量に応じた形状になり、また、芯振れ量を確認しやすいからである。芯振れ量の閾値の２０倍を超えた径のドリルビットを用いると、孔の径に対して芯振れ量が小さくなり、芯振れ量の確認がしにくくなる。また、ドリルビットの外周により抉られる量が増えるので、芯振れ量の確認がしにくくなる。一方、芯振れ量の閾値の１０倍未満の径のドリルビットは、極めて細く、その取扱いは難しくなる。
【００３１】
そして、試験器具１１は、加工装置により、加工装置に装着されたドリルビット１０１で孔あけされる。試験器具１１にあけられた孔の状態により、芯振れ量が閾値以上であるか否かが判定される。
【００３２】
図１に示されるように、試験器具１１は、試験片２１およびベース２２を含む。試験片２１は、金属片であり、ドリルビット１０１により孔をあけられる。試験片２１は、押さえ２３−１乃至２３−４により、ベース２２側に押さえられて、ベース２２に固定される。ベース２２には、試験片２１が載置される。ベース２２は、加工装置のテーブルに固定される。
【００３３】
なお、図１において、加工が行われる３次元空間（直交座標空間）を表すＸ軸、Ｙ軸、およびＺ軸からなる座標軸で示される方向のうち、図１中の右下と左上とを結ぶ方向はＸ軸方向を示し、図１中の右上と左下とを結ぶ方向はＹ軸方向を示し、図１中の上下方向はＺ軸方向を示す。なお、右下方向がＸ軸の正の方向であり、右上方向がＹ軸の正の方向であり、上方向がＺ軸の正の方向である。なお、以下、Ｚ軸の正の側を上側、Ｚ軸の負の側を下側、Ｙ軸の正の側を奥側、Ｙ軸の負の方向を手前側、Ｘ軸の正の側を右側、Ｘ軸の負の側を左側とも称する。また、Ｚ軸の方向を上下方向、Ｙ軸の方向を前後方向、Ｘ軸の方向を左右方向とも称する。なお、図３乃至図１０においても、同様に、Ｘ軸、Ｙ軸、およびＺ軸を示す。
【００３４】
次に、図２のブロック図を参照して、加工装置１２の構成を説明する。
【００３５】
加工装置１２は、NC（Numerical Control）制御部１４１および加工部１４２からなる。NC制御部１４１は、加工部１４２を制御し、駆動する。例えば、NC制御部１４１は、右手直交座標系の３次元空間である、いわゆるＸＹＺ空間における加工部１４２の動作を制御する。すなわち、NC制御部１４１は、それぞれ座標軸である、Ｘ軸上の位置、Ｙ軸上の位置、およびＺ軸上の位置、並びに、それぞれ回転軸である、Ａ軸上の角度、Ｂ軸上の角度、およびＣ軸上の角度を指定して、ＸＹＺ空間における加工部１４２の動作を制御する。
【００３６】
加工部１４２は、NC制御部１４１によって制御および駆動されて、NC制御部１４１に指示されたＸＹＺ空間における位置および角度に、装着されているドリルビット１０１または試験器具１１を移動させることにより、このときの加工の対象物である試験器具１１を加工する（孔あけする）。
【００３７】
NC制御部１４１は、通信部１５１、記憶部１５２、プログラム実行部１５３、主制御部１５４、経路演算部１５５、駆動回路１５６−１乃至駆動回路１５６−Ｎ（Ｎは、１以上の整数）、補助機能制御部１５７、駆動回路１５８、および補助機能駆動部１５９から構成される。また、加工部１４２は、表示部１７１、位置決め部１７２、主軸１７３、リレー１７５、および補助機能モータ類１７６から構成される。
【００３８】
さらに、加工部１４２の位置決め部１７２には、サーボモータ１９１−１乃至１９１−Ｎが設けられている。位置決め部１７２には、試験器具１１が装着される。位置決め部１７２は、いわゆる、テーブル、サドルなどを含んで構成され、サーボモータ１９１−１乃至１９１−Ｎの駆動によって、その試験器具１１のＸＹＺ空間における位置および角度を定める。また、主軸１７３には、サーボモータ１９２が設けられ、主軸１７３に装着されているドリルビット１０１は、サーボモータ１９２によって所定の回転速度で回転させられる。すなわち、主軸１７３は、所定の回転速度でドリルビット１０１を回転させる。
【００３９】
通信部１５１は、ネットワークインタフェースなどよりなり、ネットワーク（図示せず）を介して、コンピュータなどの他の機器（図示せず）と通信する。通信部１５１は、ネットワークを介して、コンピュータから送信されてきた加工プログラムなどの各種のプログラムやデータを受信する。通信部１５１は、受信したプログラムやデータを記憶部１５２に供給する。
【００４０】
記憶部１５２は、ハードディスクや不揮発性のメモリなどよりなり、通信部１５１から供給された、加工プログラムなどの各種のプログラムやデータを記憶する。
【００４１】
プログラム実行部１５３は、汎用のCPU（Central Processing Unit）または専用のプロセッサなどからなり、記憶部１５２から加工プログラムを読み出して、加工プログラムを実行する。より具体的には、例えば、プログラム実行部１５３は、加工プログラムを解釈し、実行するための、インタープリタなど各種の言語処理系プログラムを実行し、言語処理系プログラムの上で加工プログラムを実行する。プログラム実行部１５３は、加工プログラムの実行の結果得られた、ＸＹＺ空間におけるドリルビット１０１や試験器具１１の位置や角度、ドリルビット１０１と試験器具１１との相対的な送りの速度の指示、または主軸１７３の回転速度、ドリルビット１０１の交換機能や切削油の供給機能などの補助機能の動作の指示を主制御部１５４に供給する。
【００４２】
主制御部１５４は、汎用のCPUまたは専用のプロセッサなどからなり、NC制御部１４１全体および加工部１４２を制御する。具体的には、主制御部１５４は、プログラム実行部１５３からの加工プログラムに基づく指示に応じて、経路演算部１５５に、ドリルビット１０１の経路、すなわち、ＸＹＺ空間における、試験器具１１に対するドリルビット１０１の、位置や角度、または速度などで特定される経路を指示すると共に、補助機能制御部１５７に、加工部１４２の補助機能の動作を指示する。また、主制御部１５４は、加工部１４２における各種の表示を制御する。
【００４３】
表示部１７１は、CRT（cathode ray tube）ディスプレイやLCD（liquid crystal display）、またはプラズマディスプレイなどからなり、主制御部１５４の制御に応じて、加工プログラムのリストや加工装置１２の状態を示すデータなどを表示する。
【００４４】
経路演算部１５５は、主制御部１５４から指示された経路に応じて、位置決め部１７２の各軸の指示値を演算する。そして、経路演算部１５５は、位置決め部１７２の各軸の指示値のそれぞれを、対応する駆動回路１５６−１乃至１５６−Ｎのそれぞれに供給する。
【００４５】
駆動回路１５６−１乃至１５６−Ｎは、それぞれ、いわゆるサーボモータ駆動回路であり、経路演算部１５５からの軸の指示値に応じて、位置決め部１７２の各軸を駆動するサーボモータ１９１−１乃至１９１−Ｎに所定の周波数の電流を供給するなどして、サーボモータ１９１−１乃至１９１−Ｎをそれぞれ駆動する。
【００４６】
位置決め部１７２は、駆動回路１５６−１乃至１５６−Ｎのそれぞれによって、サーボモータ１９１−１乃至１９１−Ｎが駆動されることにより、装着されている試験器具１１の、ＸＹＺ空間における位置および角度を定める。
【００４７】
補助機能制御部１５７は、主制御部１５４からの指示に応じて、加工部１４２の主軸１７３を駆動する駆動回路１５８を制御すると共に、ドリルビット１０１を含む工具の交換機能や切削油の供給機能を駆動する補助機能駆動部１５９を制御する。駆動回路１５８は、いわゆるサーボモータ駆動回路であり、補助機能制御部１５７による制御に応じて、所定の回転速度で、ドリルビット１０１が装着された主軸１７３を回転させるように、加工部１４２の主軸１７３のサーボモータ１９２を駆動する。
【００４８】
主軸１７３は、駆動回路１５８によってサーボモータ１９２が駆動されることにより、装着されているドリルビット１０１を所定の回転速度で回転させる。
【００４９】
補助機能駆動部１５９は、補助機能制御部１５７による制御に応じて、加工部１４２における、工具の交換機能や切削油の供給機能などの補助機能を駆動する。すなわち、補助機能駆動部１５９によって、加工部１４２のリレー１７５が切り替えられて、リレー１７５を介して補助機能モータ類１７６に所定の電源が供給されることにより、補助機能モータ類１７６がドリルビット１０１の交換機能や切削油の供給機能などの補助機能の各部を駆動し、補助機能が動作する。
【００５０】
次に、図３乃至図５を参照して、試験器具１１の構成を説明する。図３乃至図５は、それぞれ、試験器具１１の構成を示す斜視図、平面図および右側面図である。
【００５１】
試験器具１１は、試験片２１、ベース２２、押さえ２３−１乃至２３−４、ボルト２４−１乃至２４−４、およびピン２５−１乃至２５−３を含み構成される。
【００５２】
試験片２１は、アルミニウム合金または真鍮により形成されている。試験片２１の外形は、直方体状である板状に形成されている。試験片２１の上面は、平らに形成されている。詳細は後述するが、試験片２１の上面側には、複数の薄肉部が設けられている。また、試験片２１の下面側には、ピン２５−１乃至２５−３を挿入するための位置決め用の穴が設けられている。
【００５３】
ベース２２は、鋼などにより形成されている。ベース２２の外形は、直方体状に形成されている。ベース２２の上面は、平らに形成されている。言い換えると、ベース２２の上面は、Ｘ軸およびＹ軸で規定される平面上に沿うように形成される。また、ベース２２の上面には、ピン２５−１乃至２５−３を挿入するための位置決め用の穴と、ボルト２４−１乃至２４−４のそれぞれに螺合するためのネジ穴とが形成されている。
【００５４】
ベース２２の上面の所定の位置には、試験片２１が載置される。また、ベース２２は、加工装置のテーブルに固定される。ベース２２が直方体状に形成され、試験片２１も直方体状なので、試験片２１の上面は、ベース２２が乗せられた面と平行になる。
【００５５】
押さえ２３−１乃至２３−４は、鋼などにより、概ね横向きのＬ字形状の鉤形に形成されている。押さえ２３−１乃至２３−４の先端側、すなわち、試験片２１側は、下向き（試験片２１側）に若干突出している。押さえ２３−１乃至２３−４がベース２２上で試験片２１を押さえる場合、押さえ２３−１乃至２３−４の先端側は、試験片２１の上面に接し、押さえ２３−１乃至２３−４の後端側は、ベース２２の上面に接する。
【００５６】
押さえ２３−１は、ベース２２のネジ穴に螺合するボルト２４−１が貫通され、締められることで、ベース２２の上面に載置されている試験片２１の左奥側を上から下に向かって押圧して固定する。同様に、押さえ２３−２乃至２３−４は、それぞれ、ベース２２のネジ穴に螺合するボルト２４−２乃至３４−４のそれぞれが貫通され、締められることで、ベース２２の上面に載置されている試験片２１の右奥側、左手前側、および右手前側のそれぞれを上から下に向かって押圧して固定する。このように、押さえ２３−１乃至２３−４は、試験片２１をベース２２に押さえて固定する。
【００５７】
ピン２５−１乃至２５−３は、それぞれ、鋼により、円柱状に形成されている。ピン２５−１およびピン２５−３の外径は、同じである。ピン２５−２の外径は、ピン２５−１およびピン２５−３の外径に比較して大きい。
【００５８】
ピン２５−１は、試験片２１の下面の左奥側に形成されている位置決め用の穴と、ベース２２の上面の左奥側に形成されている位置決め用の穴とに挿入される。試験片２１の下面の左奥側に形成されている位置決め用の穴の内径とベース２２の上面の左奥側に形成されている位置決め用の穴の内径は、ピン２５−１の外径とほぼ同じとされている。
【００５９】
ピン２５−２は、試験片２１の下面の右奥側に形成されている位置決め用の穴と、ベース２２の上面の右奥側に形成されている位置決め用の穴とに挿入される。試験片２１の下面の右奥側に形成されている位置決め用の穴の内径とベース２２の上面の右奥側に形成されている位置決め用の穴の内径は、ピン２５−２の外径とほぼ同じとされている。
【００６０】
ピン２５−３は、試験片２１の下面の右手前側に形成されている位置決め用の穴と、ベース２２の上面の右手前側に形成されている位置決め用の穴とに挿入される。試験片２１の下面の右手前側に形成されている位置決め用の穴の内径とベース２２の上面の右手前側に形成されている位置決め用の穴の内径は、ピン２５−３の外径とほぼ同じとされている。
【００６１】
このように、ピン２５−１乃至２５−３が、それぞれ、ほぼ同じ径の試験片２１の下面の穴とベース２２の上面の穴とに挿入されるので、ベース２２に対して、試験片２１が位置決めされる。すなわち、ベース２２に対して、Ｘ軸およびＹ軸で規定される平面上の試験片２１の位置が決められる。すなわち、ピン２５−１乃至２５−３は、ベース２２上の所定の位置に試験片２１を位置決めする。
【００６２】
ピン２５−１乃至２５−３が挿入された状態で、押さえ２３−１乃至２３−４によって、試験片２１がベース２２に押さえられるので、ベース２２に対して試験片２１がずれない。
【００６３】
また、３本のピン２５−１乃至２５−３を使用し、ピン２５−２の外径がピン２５−１およびピン２５−３の外径と異なるので、ベース２２に対して誤った位置に試験片２１を固定することがない。
【００６４】
次に、図６乃至図９を参照して、試験片２１の詳細について説明する。図６および図７は、試験片２１の形状を示す平面図および正面図である。図８は、図６中のＡＡ’線における試験片２１の断面を示す断面図である。図９は、図８中のＢ線、Ｃ線、Ｄ線で示される試験片２１の部分を拡大して示す部分拡大図である。
【００６５】
図６および図７に示されるように、試験片２１は、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成されている。試験片２１の下面には、凹部５１−１乃至凹部５１−３が形成されている。試験片２１の下面の左奥側に形成されている穴５２−１は、ピン２５−１が挿入される位置決め用の穴である。試験片２１の下面の右奥側に形成されている穴５２−２は、ピン２５−２が挿入される位置決め用の穴である。試験片２１の下面の右手前側に形成されている穴５２−３は、ピン２５−３が挿入される位置決め用の穴である。
【００６６】
凹部５１−１乃至凹部５１−３は、試験片２１の前後方向の中央に、左右に一列に等間隔で配置されている。凹部５１−１乃至凹部５１−３は、それぞれ、切削加工により形成されている。
【００６７】
図６、図７および図８に示されるように、凹部５１−１乃至凹部５１−３は、同じ形状の円錐状に形成されている。図９（Ａ）に示されるように、凹部５１−１の上端は、薄肉部５３−１として形成されている。すなわち、凹部５１−１の上端は、試験片２１の上面に達しない。薄肉部５３−１は、試験片２１の厚さに比較して、薄く形成されている。薄肉部５３−１の厚さは、一定とされている。
【００６８】
同様に、図９（Ｂ）に示されるように、凹部５１−２の上端は、薄肉部５３−２として形成されている。すなわち、凹部５１−２の上端は、試験片２１の上面に達しない。薄肉部５３−２は、試験片２１の厚さに比較して、薄く形成されている。薄肉部５３−２の厚さは、一定とされている。また、図９（Ｃ）に示されるように、凹部５１−３の上端は、薄肉部５３−３として形成されている。すなわち、凹部５１−３の上端は、試験片２１の上面に達しない。薄肉部５３−３は、試験片２１の厚さに比較して、薄く形成されている。薄肉部５３−３の厚さは、一定とされている。
【００６９】
薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３は、試験片２１の上面に直径１ｍｍの円形状に形成されている。薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の厚さは、同じである。薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の厚さは、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の４０倍乃至１０倍である。例えば、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値が２μｍ乃至５μｍである場合、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の厚さは、０．２ｍｍ乃至０．０５ｍｍである。
【００７０】
薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の厚さを、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の４０倍乃至１０倍とすることで、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３に孔をあけるとき、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３がドリルビット１０１の動きを規制しないので、主軸１７３の芯振れをそのまま反映させた孔を薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３にあけることができる。
【００７１】
薄肉部の厚さを、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の４０倍を超えて厚くすると、ドリルビット１０１の動きを規制してしまい、主軸１７３の芯振れが抑えられた孔があけられてしまう。一方、薄肉部の厚さを、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の１０倍未満の厚さにすると、破れやすくなり、主軸１７３の芯振れを超えた大きさの孔があけられてしまう。
【００７２】
凹部５１−１乃至凹部５１−３がそれぞれ円錐状に形成されているので、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３のそれぞれに孔をあけるとき、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３に対して、試験片２１の上面に沿った方向の全周方向で均一に力を受けるので、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３が歪みにくく、あけられた孔を加工装置１２の芯振れ量に応じた形状にすることができる。
【００７３】
さらに、凹部５１−１乃至凹部５１−３をそれぞれ円錐状とすることで、試験片２１の下面から切削加工で容易に形成することができる。
【００７４】
さらにまた、凹部５１−１乃至凹部５１−３によって薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３を形成されることで、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３を容易に位置決めして保持することができる。これに対して、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の厚さと同様の厚さの薄板に孔をあけることも考えられるが、ドリルビット１０１で孔があけられても孔がずれたり変形したりしないように、薄板を位置決めして保持することは困難である。
【００７５】
次に、図１０を参照して、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３のそれぞれにあけられる孔について説明する。ここでは、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値が５μｍである場合を例に説明する。
【００７６】
図１０（Ａ）に示されるように、薄肉部５３−１には、加工装置１２によりドリルビット１０１で３行３列の孔があけられる。この孔は、薄肉部５３−１を貫通する。より詳細には、薄肉部５３−１には、左右方向の平行の３本の直線上にそれぞれ３つの孔が並び、かつ、前後方向の３本の直線上にもそれぞれ３つの孔が並ぶように、合計９つの孔があけられる。この９つの孔のうち、左右または前後の隣り合う孔の間隙Ｇ１は、５０μｍとされる。
【００７７】
図１０（Ｂ）に示されるように、薄肉部５３−２には、加工装置１２によりドリルビット１０１で３行３列の孔があけられる。この孔は、薄肉部５３−２を貫通する。より詳細には、薄肉部５３−２には、左右方向の平行の３本の直線上にそれぞれ３つの孔が並び、かつ、前後方向の３本の直線上にもそれぞれ３つの孔が並ぶように、合計９つの孔があけられる。この９つの孔のうち、左右または前後の隣り合う孔の間隙Ｇ２は、２０μｍ乃至３０μｍとされる。すなわち、間隙Ｇ２は、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の４倍以上６倍以下の長さとされる。
【００７８】
さらに、図１０（Ｃ）に示されるように、薄肉部５３−３には、加工装置１２によりドリルビット１０１で３行３列の孔があけられる。この孔は、薄肉部５３−３を貫通する。より詳細には、薄肉部５３−３には、左右方向の平行の３本の直線上にそれぞれ３つの孔が並び、かつ、前後方向の３本の直線上にもそれぞれ３つの孔が並ぶように、合計９つの孔があけられる。この９つの孔のうち、左右または前後の隣り合う孔の間隙Ｇ３は、１０μｍとされる。すなわち、間隙Ｇ３は、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の２倍の長さとされる。
【００７９】
なお、間隙Ｇ１、間隙Ｇ２および間隙Ｇ３は、現実にあけられた孔の間隙ではなく、加工装置１２の孔あけ加工の設定値である。間隙Ｇ１、間隙Ｇ２および間隙Ｇ３は、２つの孔をあけるときのドリルビット１０１の側面の距離である。
【００８０】
言い換えれば、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３のそれぞれには、加工装置１２によりドリルビット１０１で、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔があけられる。
【００８１】
薄肉部５３−３にあける孔の間隙Ｇ３を、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の２倍の長さとすることで、芯振れ量が閾値以上である場合、薄肉部５３−３に実際にあけられた孔がつながってしまうので、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。また、薄肉部５３−２にあける孔の間隙Ｇ２を、加工装置１２の試験しようとする芯振れ量の閾値の４倍以上６倍以下の長さとすることで、薄肉部５３−３に実際にあけられた孔と薄肉部５３−２に実際にあけられた孔とを対比でき、間隙Ｇ３と間隙Ｇ２とについて、あけられた孔のつながりが確認できるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００８２】
また、左右方向と前後方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔をあけるので、１２か所で９つの孔が隣り合うことになり、孔の数に対して隣り合う部分がより多くできるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００８３】
次に、図１１のフローチャートを参照して、芯振れ量の試験方法の手順を説明する。ステップＳ１１において、試験片２１が所定の位置に装着されている試験器具１１が、芯振れ量の試験の対象の加工装置１２に配置されて、固定される。ステップＳ１２において、芯振れ量の試験の対象の加工装置１２の主軸１７３に、６０μｍ乃至１００μｍの径のドリルビット１０１が装着される。ドリルビット１０１の装着は、加工装置１２自身によるものでも、使用者によるものでもよい。
【００８４】
ステップＳ１３において、芯振れ量の試験の対象の加工装置１２に、試験器具１１の試験片２１への加工の処理を実行させる加工プログラムを読み込ませる。加工プログラムは、記憶部１５２から読み込んでも、通信部１５１およびネットワークを介して、コンピュータなど他の機器から読み込んでも、または、光ディスクや磁気ディスク、不揮発性のメモリなどよりなる記録媒体（図示せず）から読み込んでも良い。
【００８５】
ステップＳ１４において、加工装置１２のプログラム実行部１５３は、加工プログラムを実行して、加工装置１２による、試験片２１への加工の処理が実行される。
【００８６】
図１２は、ステップＳ１４の試験片２１への加工の処理の詳細を説明するフローチャートである。ステップＳ３１において、プログラム実行部１５３は、NC制御部１４１および加工部１４２を制御して、主軸１７３に装着されているドリルビット１０１によって、試験器具１１の試験片２１の１つ目の薄肉部である薄肉部５３−１に、間隙Ｇ１で３行３列の孔をあけさせる。
【００８７】
ステップＳ３２において、プログラム実行部１５３は、NC制御部１４１および加工部１４２を制御して、主軸１７３に装着されているドリルビット１０１によって、試験器具１１の試験片２１の２つ目の薄肉部である薄肉部５３−２に、間隙Ｇ２で３行３列の孔をあけさせる。
【００８８】
ステップＳ３３において、プログラム実行部１５３は、NC制御部１４１および加工部１４２を制御して、主軸１７３に装着されているドリルビット１０１によって、試験器具１１の試験片２１の３つ目の薄肉部である薄肉部５３−３に、間隙Ｇ３で３行３列の孔をあけさせ、試験片２１への加工の処理は終了する。
【００８９】
手続きは、図１１のステップＳ１５に戻り、加工された試験片２１の薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３のそれぞれにおいて隣り合う孔の繋がりから、加工装置１２の主軸１７３の芯振れ量が、芯振れ量の大小を示すランクに分類される。例えば、この場合、ランク１は、芯振れ量が５μｍ未満であることを示し、ランク２は、芯振れ量が５μｍ以上１０μｍ未満であることを示し、ランク３は、芯振れ量が１０μｍ以上２５μｍ未満であることを示し、ランク４は、芯振れ量が２５μｍ以上であることを示す。
【００９０】
例えば、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の全てで、隣り合う孔の繋がりが無い場合、加工装置１２の芯振れ量は、ランク１に分類される。例えば、薄肉部５３−３で隣り合う孔の繋がりがあり、薄肉部５３−１および薄肉部５３−２で、隣り合う孔の繋がりが無い場合、加工装置１２の芯振れ量は、ランク２に分類される。また、例えば、薄肉部５３−３および薄肉部５３−２で隣り合う孔の繋がりがあり、薄肉部５３−１で、隣り合う孔の繋がりが無い場合、加工装置１２の芯振れ量は、ランク３に分類される。さらに、例えば、薄肉部５３−１乃至薄肉部５３−３の全てで、隣り合う孔の繋がりがある場合、加工装置１２の芯振れ量は、ランク４に分類される。
【００９１】
ステップＳ１６において、加工された試験片２１に実際にあけられた孔の変形量から、加工装置１２の主軸１７３の芯振れ量が測定されて、芯振れ量の試験は終了する。
【００９２】
以上のように、試験器具１１は、刃物を回転させてワークを加工する加工装置１２の刃物を回転させる軸の芯振れ量が所定の閾値以上であるか否かを試験するための試験器具である。試験器具１１は、試験片２１、ベース２２、およびピン２５−１乃至２５−３を含み構成される。試験片２１は、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、上面に対向する下面の凹部５１−１乃至凹部５１−３によって形成されている薄肉部５３−１乃至５３−３が設けられている。ベース２２は、試験片２１が載置され、加工装置１２に固定される。ピン２５−１乃至２５−３は、ベース２２上の所定の位置に試験片２１を位置決めする。薄肉部５３−１乃至５３−３の厚さは、閾値の４０倍乃至１０倍である。
【００９３】
試験片２１の上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、薄肉部５３−１乃至５３−３が上面に対向する下面の凹部５１−１乃至凹部５１−３によって形成されているので、ドリルビット１０１で薄肉部５３−１乃至５３−３に孔をあける場合、試験片２１の全体、特に薄肉部５３−１乃至５３−３が歪みにくく、また、平面に孔をあけるので、あけられた孔を加工装置１２の芯振れ量に応じた形状にすることができる。
【００９４】
薄肉部５３−１乃至５３−３の厚さが、試験しようとする芯振れ量の閾値の４０倍乃至１０倍なので、試験片２１によって加工装置１２のドリルビット１０１を回転させる主軸１７３を規制してしまい、振れを少なくしてしまうことがないので、あけられた孔を加工装置１２の芯振れ量に応じた形状にすることができる。さらに、ベース２２およびピン２５−１乃至２５−３によって、加工装置１２に対して試験片２１をより簡単に位置決めできるので、より簡単に、より正確に薄肉部５３−１乃至５３−３に孔をあけることができる。このように、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００９５】
試験片の下面に形成されている凹部５１−１乃至凹部５１−３を、円錐状とすることができる。このようにすることで、薄肉部５３−１乃至５３−３の厚さをより正確に保つことができ、また、薄肉部５３−１乃至５３−３の歪をより小さくして、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００９６】
試験片２１には、３つの薄肉部である薄肉部５３−１乃至５３−３を設けることができる。この場合、１つの試験器具１１で、閾値を変化させて、芯振れ量の検査をすることができる。
【００９７】
試験片２１を、アルミニウム合金または真鍮で形成することができる。アルミニウム合金または真鍮は、素材として適切な粘りを有するので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００９８】
試験片の下面に形成されている凹部を、切削加工により形成することができる。凹部を、切削加工により形成することで、薄肉部の厚さをより均一にし、また、薄肉部の歪をより小さくすることができるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【００９９】
また、図１１のフローチャートを参照して説明した芯振れ量の試験方法は、ステップＳ１１において、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部５３−１乃至５３−３が設けられている試験片２１を、加工装置１２に位置決めして固定し、ステップＳ１２において、加工装置１２に、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビット１０１を装着し、ステップＳ１４（ステップＳ３３）において、試験片２１の薄肉部５３−３に、ドリルビット１０１により薄肉部５３−３の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの間隙Ｇ３であけ、ステップＳ１５において、試験片２１の薄肉部５３−３にあけられた孔のつながりにより、芯振れ量が閾値以上であるか否かを判定するものである。
【０１００】
試験片２１の上面が平面である所定の厚さの平板状に形成され、薄肉部５３−３が上面に対向する下面の凹部５１−３によって形成されているので、ドリルビット１０１で薄肉部５３−３に孔をあける場合、試験片２１の全体、特に薄肉部５３−３が歪みにくく、また、平面に孔をあけるので、あけられた孔を加工装置１２の芯振れ量に応じた形状にすることができる。薄肉部５３−３の厚さが、閾値の４０倍乃至１０倍なので、試験片２１によって加工装置１２のドリルビット１０１を回転させる軸を規制してしまい、振れを少なくしてしまうことがないので、あけられた孔を加工装置の芯振れ量に応じた形状にすることができる。さらに、薄肉部５３−３に、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビット１０１で、薄肉部５３−３の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの間隙Ｇ３であけるので、芯振れ量が閾値以上である場合、間隙Ｇ３であけた孔がつながり、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔をあけるので、１２か所で９つの孔が隣り合うことになり、孔の数に対して隣り合う部分がより多くできるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【０１０１】
また、薄肉部５３−３および薄肉部５３−２が設けられている試験片２１を、加工装置１２に位置決めして固定し、試験片２１の薄肉部５３−３に、ドリルビット１０１により第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を間隙Ｇ３であけ、試験片２１の薄肉部５３−２に、ドリルビット１０１により第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの間隙Ｇ２であけ、試験片２１の薄肉部５３−３および薄肉部５３−２のそれぞれにあけられた孔のつながりにより、芯振れ量が閾値以上であるか否かを判定することもできる。
【０１０２】
この場合、間隙Ｇ３と間隙Ｇ２とについて、あけられた孔のつながりが確認できるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【０１０３】
さらに、加工プログラムは、刃物を回転させてワークを加工する加工装置１２を制御するコンピュータであるプログラム実行部１５３に、上面が平面である所定の厚さの平板状に形成されている試験片２１であって、閾値の４０倍乃至１０倍である厚さの薄肉部５３−３および薄肉部５３−２が設けられている試験片２１の薄肉部５３−３に、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビット１０１により、薄肉部５３−３の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの間隙Ｇ３であけさせるステップと、試験片２１の薄肉部５３−２に、ドリルビット１０１により、第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの間隙Ｇ２であけさせるステップとを含む加工処理を行わせる。
【０１０４】
この場合、閾値の２０倍乃至１０倍の径のドリルビット１０１で、薄肉部５３−３には、薄肉部の上面に沿った第１の方向と第１の方向に直交する第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の２倍の長さの間隙Ｇ３であけられるので、芯振れ量が閾値以上である場合、間隙Ｇ３であけた孔がつながり、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔をあけるので、１２か所で９つの孔が隣り合うことになり、孔の数に対して隣り合う部分がより多くできるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。さらに、試験片２１の薄肉部５３−２に、ドリルビット１０１により、第１の方向と第２の方向とにそれぞれ３つずつ並ぶ孔を閾値の４倍以上６倍以下の長さの間隙Ｇ２であけられるので、間隙Ｇ３と間隙Ｇ２とについて、あけられた孔のつながりが確認できるので、より正確に、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【０１０５】
以上のように、より簡単に、芯振れ量の多寡を知ることができる。
【０１０６】
また、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【０１０７】
１１  試験器具，  １２  加工装置，  ２１  試験片，  ２２  ベース，  ２３−１乃至２３−４  押さえ，  ２４−１乃至２４−４  ボルト，  ２５−１乃至２５−３  ピン，  ５１−１乃至５１−３  凹部，  ５２−１乃至５２−３  穴，  ５３−１乃至５３−３  薄肉部，  １０１  ドリルビット，  １４１  NC制御部，  １４２  加工部，  １５１  通信部，  １５２  記憶部，  １５３  プログラム実行部，  １５４  主制御部，  １５５  経路演算部，  １５６−１乃至１５６−Ｎ  駆動回路，  １５７  補助機能制御部，  １５８  駆動回路，  １７２  位置決め部，  １７３  主軸，  １９１−１乃至１９１−Ｎ  サーボモータ，  １９２  サーボモータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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