(57)【要約】      （修正有）【課題】計測対象物体におけるＢＲＤＦ（双方向反射率分布関数）の異方性の強さ表す異方性評価値を、簡易にかつ高速に算出する方法を提供する。【解決手段】物体の反射特性の異方性を評価する情報処理装置であって、撮像装置と、撮像装置の光軸上に配置した光源とを用いて物体を撮像し、画像データを取得する画像データ取得手段６０５と、撮像装置と光源とを校正するための校正用画像データを取得する校正用画像データ取得手段６０４と、画像データと校正用画像データをもとに物体の反射率マップを算出する反射率マップ算出手段６０６と、反射率マップにおいて撮像装置の光軸を中心とした円周上に対応する反射率を用いて、物体に関する異方性評価値を算出する異方性評価値算出手段６０７とを有する。【選択図】図６
2017037004.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体の反射特性の異方性を評価する情報処理装置であって
撮像装置と、前記撮像装置の光軸上に配置した光源とを用いて前記物体を撮像し、画像データを取得する画像データ取得手段と（６０５）、
前記撮像装置と前記光源とを校正するための校正用画像データを取得する校正用画像データ取得手段と（６０４）、
前記画像データと前記校正用画像データをもとに前記物体の反射率マップを算出する反射率マップ算出手段と（６０６）、
前記反射率マップにおいて前記撮像装置の光軸を中心とした円周上に対応する反射率を用いて、前記物体に関する前記異方性評価値を算出する異方性評価値算出手段と（６０７）
を有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記異方性評価値算出手段は、前記異方性評価値として前記物体の反射特性の接線ベクトル依存度を算出することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記異方性評価値取得手段は前記円周上の反射率の分散に基づいて算出することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記物体の計測面の法線は前記光軸と平行であることを特徴とする請求項１乃至請求項３の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記物体の計測面の形状は前記光軸を中心とした回転体であることを特徴とする請求項１乃至請求項３の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記光源は点光源であることを特徴とする請求項１乃至請求項５の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記光源の形状は前記光軸を中心とした回転体であることを特徴とする請求項１乃至請求項５の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項８】
校正用画像データ取得手段は、前記撮像装置と前記光源とを用いて反射率が既知の校正用物体を撮像し、校正用画像データを取得することを特徴とする請求項１乃至請求項７の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項９】
校正用画像データ取得手段は、記憶装置に保存されたデータを読み出すことによって校正用画像データを取得することを特徴とする請求項１乃至請求項７の何れか一項に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記情報処理装置は前記異方性評価値に基づいて前記物体の前記反射特性を計測する反射特性計測手段（６０３）を有することを特徴とする請求項１乃至請求項９の何れか一項に記載の情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物体の反射特性における異方性の評価値を算出する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンピュータグラフィクス（ＣＧ）は様々な分野で利用が拡大しており、実物の質感を忠実に再現した画像を生成する技術が強く要請されている。物体の見た目の質感は反射特性と呼ばれ、金属など不透明な素材の反射特性は双方向反射率分布関数（Ｂｉ−ｄｉｒｅｃｔｉｏｎａｌ  Ｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ；ＢＲＤＦ）によって表される。従って、実物に忠実なＣＧを生成するためにはＢＲＤＦの計測は欠かすことができない。また、物体はそれぞれ特有の質感を有しており、現実の風景をＣＧで再現するためには多様な物体に対してＢＲＤＦを計測することが必要不可欠である。
【０００３】
しかしながら、ＢＲＤＦは光線の入射方向（２変数）と出射方向（２変数）とを変数とする４変数関数であるため、ＢＲＤＦを計測する際には入射方向と出射方向との膨大な組み合わせについて反射率を計測する必要がある。従って計測回数も膨大となり、結果としてＢＲＤＦの計測には極めて多くの計測時間を要する。
【０００４】
従来、ＢＲＤＦの計測を自動で実行するものとしては、ターンテーブルとアーチアームを用いる手法が従来技術として知られている（特許文献１）。ターンテーブルに計測対象物体を設置し、アーチアームに光源と受光器を取り付けて様々な入射方向と出射方向に設置することで、自動的にＢＲＤＦを計測するものであった。
【０００５】
また、計測対象物体の等方性ＢＲＤＦ（Ｉｓｏｔｒｏｐｉｃ  ＢＲＤＦ）を計測する等方性ＢＲＤＦ計測技術も従来技術として知られている（非特許文献１）。等方性ＢＲＤＦ計測技術は、計測対象物体のＢＲＤＦの等方性反射を仮定して、限られた入射方向と出射方向の組み合わせで高速にＢＲＤＦを計測するものであった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−２７５９５５号公報
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】Ｗｏｊｃｉｅｃｈ  Ｍａｔｕｓｉｋ，  Ｈａｎｓｐｅｔｅｒ  Ｐｆｉｓｔｅｒ，  Ｍａｔｔ  Ｂｒａｎｄ，  ａｎｄ  Ｌｅｏｎａｒｄ  ＭｃＭｉｌｌａｎ．  “Ａ  Ｄａｔａ−Ｄｒｉｖｅｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ  Ｍｏｄｅｌ”．  ＡＣＭ  Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ  ｏｎ  Ｇｒａｐｈｉｃｓ．  ２２（３）  ２００２．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１の技術ではＢＲＤＦ計測の自動化が可能であるが、計測回数自体が削減されたわけではない。
【０００９】
また、非特許文献１の手法は異方性ＢＲＤＦ（Ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ  ＢＲＤＦ）を対象としておらず、異方性反射が顕著な物体に対しては正確なＢＲＤＦの測定が困難である。そのため、未知の物体のＢＲＤＦを計測する場合には、予めＢＲＤＦに異方性があるかどうかを判断する必要がある。
【００１０】
ＢＲＤＦの異方性の有無は、目視やターンテーブルに乗せた計測対象物体の反射光を受光器によって計測することで可能であるが、目視のあいまいさや異方性の有無の計測自体に多くの時間を要することが課題であった。
【００１１】
そこで、本発明の目的は、計測対象物体におけるＢＲＤＦの異方性の強さ表す異方性評価値を、簡易にかつ高速に算出可能な情報処理装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的を達成するために、本発明に係る情報処理装置は、
物体の反射特性の異方性を評価する情報処理装置であって、
撮像装置と、前記撮像装置の光軸上に配置した光源とを用いて前記物体を撮像し、画像データを取得する画像データ取得手段と（６０５）、
前記撮像装置と前記光源とを校正するための校正用画像データを取得する校正用画像データ取得手段と（６０４）、
前記画像データと前記校正用画像データをもとに前記物体の反射率マップを算出する反射率マップ算出手段と（６０６）、
前記反射率マップにおいて前記撮像装置の光軸を中心とした円周上に対応する反射率を用いて、前記物体に関する前記異方性評価値を算出する異方性評価値算出手段と（６０７）
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係る情報処理装置にれば、物体のＢＲＤＦの異方性評価値を算出し、これに基づいてＢＲＤＦの計測手法を選択することで、物体の反射特性計測の負荷を低減する効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施例１に係るＢＲＤＦの異方性を説明する図
【図２】実施例１に係る異方性評価値を算出するための光学系を説明する図
【図３】実施例１に係るシステム構成例を示す図
【図４】実施例１に係る画像データ取得装置の外観を示す図
【図５】実施例１に係る情報演算処理装置の内部構成を示す図
【図６】実施例１に係る概要機能構成を表す図
【図７】実施例１に係る一連の処理の流れを示すフローチャート
【図８】実施例１に係る球形の計測対象物体を計測するための光学系を説明する図
【図９】実施例１に係るハーフミラーを使用するときの光学系を説明する図
【図１０】実施例１に係るリング状の光源を使用するときの光学系を説明する図
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明を実施するための形態を図面に基づいて説明する。
［実施例１］
現実に存在する物体（実物体）の質感を反映したＣＧ画像を生成するためには、実物体の反射特性の計測に基づいたレンダリングをする必要がある。一般的に物体の反射特性は、ある方向の入射光と反射光との比であるＢＲＤＦによって表される。
【００１６】
まず、本発明で評価値を算出する対象であるＢＲＤＦの異方性について図１を用いて説明する。
【００１７】
平板状の計測対象物体１０１を原点Ｏに設置してその計測面の法線ベクトルをｎ、接ベクトルをｔ、従法線ベクトルをｂｎとする。また、原点Ｏに入射する光の方向ベクトル（入射方向ベクトル）をｗｉ、点Ｏから反射によって出て行く光の方向ベクトル（出射方向ベクトル）をｗｏとする。このとき計測対象物体のＢＲＤＦ  ｆｒは任意の入射方向ｗｉから出射方向ｗｏへ反射率であり、一般に次のように表される。
【００１８】
【数１】
2017037004.tif 000003
【００１９】
なお、Ｌｒは点Ｏにおけるｗｏ方向の放射輝度、Ｅｉは点Ｏにおけるｗｉ方向の放射照度である。さらに、接ベクトルｔ、従法線ベクトルｂｎ、法線ベクトルｎからなる接空間において、入射方向ベクトルｗｉと出射方向ベクトルｗｏとを極座標表示したとき、それぞれ
【００２０】
【数２】
2017037004.tif 000004
【００２１】
と表される。従ってＢＲＤＦは極座標表示を用いて次のように書きかえることができる。
【００２２】
【数３】
2017037004.tif 000005
【００２３】
ただしφｄは次式で定める。
【００２４】
【数４】
2017037004.tif 000006
【００２５】
このとき、ＢＲＤＦがφｉに依存しない場合にはその物体のＢＲＤＦは等方性であるといい、逆にφｉに依存する場合には異方性であるという。
【００２６】
なお、φｉは、ｗｉをｔとｂｎとからなる接平面に投影したベクトルと、接ベクトルｔとのなす角であり、一般に次式で表される。
【００２７】
【数５】
2017037004.tif 000007
【００２８】
そのため、ＢＲＤＦの異方性は本質的には接ベクトル依存性によって評価することができるが、本実施例では簡単のためφｉの依存性としてＢＲＤＦの異方性を評価する。
【００２９】
本実施例では、ＢＲＤＦのφｉの依存性に着目して図２に示す光学系を用い、異方性を評価する。以下では具体的な異方性評価値の算出方法の詳細を説明する。
【００３０】
図２において、受光器２０１の位置を点Ｅ、受光器の光軸２０４の上に配置した光源２０２の位置を点Ｌとし、計測対象物体２０３と光軸２０４との交点を点Ｃ０する。なお、本実施例では光源２０２として点光源の例を説明する。また、点Ｃ０を中心とする半径ｒの円Ｃにおいて、円周上の任意の２点を点Ｐ１、点Ｐ２とし、それぞれの点における入射光ベクトルと出射光ベクトルとをｗｉｐ１，ｗｏｐ１、ｗｉｐ２、ｗｏｐ２とする。これらのベクトルは、極座標系を用いて次式で表される。
【００３１】
【数６】
2017037004.tif 000008
【００３２】
このとき、三角形ＥＣ０Ｐ１と三角形ＬＣ０Ｐ１は同一平面上に存在し、また三角形ＥＣ０Ｐ２と三角形ＬＣ０Ｐ２も同一平面上に存在するため、次式が成り立つ。
【００３３】
【数７】
2017037004.tif 000009
【００３４】
さらに、点Ｐ１と点Ｐ２は同一円周上にあるため次式が成立する。
【００３５】
【数８】
2017037004.tif 000010
【００３６】
このとき、点Ｐ１を観測して得られる反射率  ｆｒ，ｐ１は式（４）に従って表すと
【００３７】
【数９】
2017037004.tif 000011
【００３８】
であり、点Ｐ２を観測して得られる反射率  ｆｒ，ｐ２は
【００３９】
【数１０】
2017037004.tif 000012
【００４０】
である。ｆｒ，ｐ１とｆｒ，ｐ２とは、第１〜３変数（すなわちθｉｐ、θｏｐ、０）が等しい。従って計測対象物体のＢＲＤＦが等方性である（φｉに依存しない）ならば円Ｃ上の任意の点で観測する反射率は等しくなる。
【００４１】
そこで、円Ｃ上のＮ点での反射率を次式で表す。
【００４２】
【数１１】
2017037004.tif 000013
【００４３】
このとき、異方性評価値βを反射率の分散σ２で表し、次式によって算出する。
【００４４】
【数１２】
2017037004.tif 000014
【００４５】
ただし、
【００４６】
【数１３】
2017037004.tif 000015
【００４７】
とおく。
【００４８】
なお、本実施例では異方性評価値の算出には反射率の分散を用いたがこれに限らず、例えば、反射率の最小値と最大値との差の絶対値を用いてもよい。
【００４９】
本実施例では、以上で説明した異方性評価値を、計測対象物体を撮像して得られる画像データに基づき算出する。さらに、算出した異方性評価値に応じて適応的にＢＲＤＦを計測することにより、計測に要する時間の短縮を実現する。
【００５０】
以下、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。図３は、本実施例に係るシステム構成例を示す図である。本システムは、異方性評価値を算出する画像処理装置３０１と、計測対象物体の反射特性を計測する反射特性計測装置３０２とで構成される。画像処理装置３０１は、画像データ取得を行う画像データ取得装置３０３と、得られた画像データから異方性評価値の算出をはじめとする後述する各種の処理を行う情報演算処理装置３０４とからなる。
【００５１】
本実施例では、計測対象物体を画像データ取得装置３０３で撮影し、得られたデータに基づいて情報演算処理装置３０４で異方性評価値を算出する。反射特性計測装置３０２は、例えば特許文献１や非特許文献１にあるような光学測定機器である。この計測装置は計測方法を切り替えることができるものとし、計測対象物体のＢＲＤＦを計測する際に異方性評価値を用いることで、計測対象物体の異方性の強さに応じて適応的にＢＲＤＦを計測することが可能である。
【００５２】
例えば、異方性評価値が十分小さく、ＢＲＤＦが等方性であるとみなすことができる物体に対しては、非特許文献１で提案された手法を用いて等方性ＢＲＤＦを高速に計測する。また、異方性評価値が大きく、ＢＲＤＦの異方性が比較的大きい物体は、特許文献１で提案された手法を用いて異方性ＢＲＤＦを計測する。一般に、異方性ＢＲＤＦの計測よりも等方性ＢＲＤＦの計測の方が計測に要する時間が短いことが知られている。そのため、例えば複数の計測対象物体がある場合、全てを特許文献１のような手法で計測するよりも、ＢＲＤＦの異方性が小さいと判断された計測対象物体に関しては非特許文献１のような手法で計測することにより計測時間を削減することが可能となる。
【００５３】
図４には、図２で示す光学系の一例としての画像データ取得装置３０３の外観を表す。画像データ取得装置３０３は、受光器としての撮像装置４０１、光源４０２、ステージ４０３、光源４０２の支持部４０４から構成される。光源４０２は撮像装置４０１の光軸２０４上に設置する。また、平板の計測対象物体２０３はステージ４０３の上に設置し、計測面の法線が光軸２０４と平行になるように設置する。
【００５４】
図５は情報演算処理装置３０４の内部構成を示す図である。情報演算処理装置３０４は、ＣＰＵ５０１、ＲＡＭ５０２、ＲＯＭ５０３、ＨＤＤインタフェイス（Ｉ／Ｆ）５０４、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）５０５、入力Ｉ／Ｆ５０６、出力Ｉ／Ｆ５０７、システムバス５０８で構成される。
【００５５】
演算装置であるＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０２をワークメモリとして、ＲＯＭ５０３またはＨＤＤ５０５に格納されたプログラムを実行し、システムバス５０７を介して後述する各構成を統括的に制御する。これにより、異方性評価値の算出など後述する様々な処理が実行される。ＨＤＤＩ／Ｆ５０４は、例えばシリアルＡＴＡ等のインタフェイスであり、二次記憶装置としてのＨＤＤ５０５とシリアルバス５０８とを接続する。ＣＰＵ５０１は、ＨＤＤＩ／Ｆ５０４を介してＨＤＤ５０５からのデータ読み出し、およびＨＤＤ５０５へのデータ書き込みが可能である。
【００５６】
さらにＣＰＵ５０１は、ＨＤＤ５０５に格納されたデータをＲＡＭ５０２に読み出し、同様に、ＨＤＤ５０５に対してＲＡＭ５０２に展開されたデータの保存を指示することが可能である。ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０２に展開したデータを読み出し、プログラムとして実行することができる。なお、二次記憶装置はＨＤＤの他、フラッシュメモリや光ディスクドライブ等の記憶デバイスでもよい。入力Ｉ／Ｆ５０６は、例えばＲＳ２３２ＣやＵＳＢ等のインタフェイスであり、このＩ／Ｆを介して画像データ取得装置３０３と接続して画像データを受信する。
【００５７】
また、出力Ｉ／Ｆ５０７は、例えばＲＳ２３２ＣやＵＳＢ等のインタフェイスであり、このＩ／Ｆを介して反射特性計測装置３０２と接続して、算出した異方性評価値を送信する。なお入力Ｉ／Ｆ５０６および出力Ｉ／Ｆ５０７の形態に制約はなく、例えばＳＤメモリーカードなどの媒体を介してデータの受け渡しを行ってもよい。
【００５８】
図６は本実施例に係る機能ブロック図であり、画像取得部６０１、演算部６０２、反射特性計測部６０３で構成される。また、画像取得部６０１は、校正用画像データ取得部６０４、画像データ取得部６０５とから構成される。さらに演算部６０２は、反射率マップ取得部６０６、異方性評価値算出部６０７で構成される。
【００５９】
校正用画像データ取得部６０４では、画像データ取得装置３０３を使用してＢＲＤＦが既知の物体を撮像する。画像データ取得部６０５では、画像データ取得装置３０３を使用して計測対象物体を撮像する。反射率マップ算出部６０６では、撮像データと校正用撮像データとを用いて反射率マップを算出する。異方性評価値算出部６０７では、反射率マップを用いて計測対象物体の異方性評価値を算出する。反射特性計測部６０３では、異方性評価値に基づき計測対象素材に適した計測方法を用いてＢＲＤＦを計測する。
【００６０】
図７は本実施例に係る異方性評価値の算出と、これに基づくＢＲＤＦ計測の流れを示すフローチャートである。
【００６１】
ステップＳ７０１では、校正用画像データ取得部６０４が画像データ取得装置３０３を用いて校正用物体を撮像して校正用画像データを取得し、情報演算処理装置３０４に転送する。
【００６２】
本ステップで計測する校正用物体はＢＲＤＦが既知であればよく、例えば標準白色板を使用する。このとき得られた校正用画像データの各画素における輝度値をＩｗ（ｗ，ｈ）とする。なお、ｗ、ｈはそれぞれ校正用画像データの横方向と縦方向の画素位置である。
【００６３】
ステップＳ７０２では、画像データ取得部６０５が計測対象物体を撮像して画像データを取得し、情報演算処理装置３０４に転送する。このとき得られた画像データの各画素における輝度値をＩ（ｗ，ｈ）とする。
【００６４】
ステップＳ７０３では、反射率マップ算出部６０６が、ステップＳ７０１で取得した校正用画像データとステップＳ７０２で取得した画像データとから反射率マップを算出する。反射率マップとは画像データの各画素位置に対応する撮影対象物体の反射率を格納した２次元のマップである。画素位置（ｗ，ｈ）に対応する反射率ｆｒ（ｗ，ｈ）は校正用画像データの輝度値と画像データの輝度値との比で表され、一般に次式を用いて算出する。
【００６５】
【数１４】
2017037004.tif 000016
【００６６】
なお、ｆｒ，ｗは校正用物体の反射率である。ステップＳ７０４では、異方性評価値算出部６０７がステップＳ７０３で算出した反射率マップをもとに、計測対象物体の異方性評価値を算出する。
【００６７】
まず、反射率マップから、光軸２０４を中心とした同一円周上における反射率の集合を抽出する。一例として、反射率マップにおける光軸２０４の画素位置を（ｗｏ，ｈｏ）とし、半径をｒ０とすると、Ｎ個の画素（ｗｃ１，ｈｃ１），（ｗｃ２，ｈｃ２），・・・，（ｗｃＮ，ｈｃＮ）がいずれも次式を満たす時、これらの画素は同一の円周上に存在する。
【００６８】
【数１５】
2017037004.tif 000017
【００６９】
但し、ｉ∈［１，Ｎ］である。
【００７０】
次に、反射率マップからこれらの画素位置に対応する反射率ｆｒ（ｗｃｉ，ｈｃｉ）を抽出し、これを式（１８）におけるｆｒ，ｉとして次式のように表す。
【００７１】
【数１６】
2017037004.tif 000018
【００７２】
このとき、式（１８）を用いて異方性評価を算出し、反射特性計測部６０３に送信する。
【００７３】
ステップＳ７０５では、反射特性計測部６０８がステップＳ７０４で算出した異方性評価値に応じた計測方法で計測対象物体のＢＲＤＦを計測する。
【００７４】
例えば、異方性評価値があらかじめ定めた閾値より小さい場合には、ＢＲＤＦを高速に計測可能な非特許文献１で提案された手法を用いる。また、異方性評価値があらかじめ定めた閾値より大きい場合にはＢＲＤＦを自動で計測可能な特許文献１で提案された手法を用いて計測を行う。
【００７５】
なお、画像データ取得部６０５が取得する画像データや校正用画像データ取得部６０４が取得する校正用画像データには、光源２０２の支持部４０４が映りこみ、計測対象物体や校正用素材が一部遮蔽され、異方性評価値を正確に算出できないことがある。その場合、撮像装置２０１からみた支持部４０４の位置や形状の情報を予め取得しておくことで、この情報に基づき画像データや校正用画像データにおける遮蔽部分を検出することが可能となる。
【００７６】
この遮蔽部分に関しては反射率の算出を取りやめ、反射率マップの遮蔽画素には反射率を格納しない。さらに、異方性評価値算出部６０７では、反射率を抽出する円周上に遮蔽画素が存在する場合には、これらの画素からは反射率を抽出せず、その他の画素から抽出した反射率を用いて異方性評価値を算出すればよい。
【００７７】
なお、本実施例では計測対象物体の形状として平板の例を説明したがこれに限らない。球形や円錐などのように、光軸２０４を中心とする回転体であればよい。図８には計測対象物体として球体８０１を使用した例を示す。光軸２０４は球体８０１の中心Ｑを通過するように配置する。この場合、式（１５）と式（１６）との関係を満たして同一円周上の任意の２点で観測するＢＲＤＦの第１〜３変数が等しくなる。このため、上述した情報処理方法によって異方性評価値を算出することが可能となる。
【００７８】
なお、ステップＳ７０４において半径ｒ０の大きさに特に制限はなく、任意に定めてよい。なお、本実施例では光源として図２に示す点光源の例を説明したがこれに限らない。光源の形状は球体や円形など、光軸を中心とする回転体であれば、式（１５）と式（１６）との関係を満たして計測面の同一円周上の任意の２点で観測するＢＲＤＦの第１〜３変数が等しくなる。このため、上述した情報処理方法によって異方性評価値を算出することが可能となる。
【００７９】
なお、図２や図８に示した光学系を用いた場合、画像取得部６０１が取得する画像データや校正用画像データには、光源が計測対象物体を覆う遮蔽部分が存在する。これを避けるために、図９に示すように光学系にハーフミラー９０１を使用してもよい。これによって光源によって遮蔽されることなく画像データと校正用画像データの取得が可能となる。
【００８０】
また、光源が計測対象物体を覆う遮蔽部分をなくすことを目的として、光軸を中心とする回転体の一例として図１０に示すリング光源１００１を使用してもよい。この場合、撮像装置２０１はリング光源の中空の部分から計測対象物体を撮像することができるため、画像取得部６０１は光源に遮蔽されずに画像データと校正用画像データの取得が可能となる。
【００８１】
なお、本実施例では校正用画像データは計測によって取得したがこれに限らない。例えば、予めハードディスクドライブ（ＨＤＤ）５０５に記録した校正用画像データをＨＤＤ インタフェイス（Ｉ／Ｆ）５０４を通じて読み出すことによって取得してもよい。
【００８２】
上記で述べた情報処理方法を用いれば、計測対象物体の異方性評価値を算出することが可能となる。また、算出した異方性評価値に応じた手法でＢＲＤＦを計測することで、高速なＢＲＤＦの計測が可能となる。
【符号の説明】
【００８３】
ｎ  法線ベクトル、ｔ  接ベクトル、ｂｎ  従法線ベクトル、
ｗｉ  方向ベクトル（入射方向ベクトル）、ｗｏ  方向ベクトル（出射方向ベクトル）
【図１】
2017037004.tif 000019
【図２】
2017037004.tif 000020
【図３】
2017037004.tif 000021
【図４】
2017037004.tif 000022
【図５】
2017037004.tif 000023
【図６】
2017037004.tif 000024
【図７】
2017037004.tif 000025
【図８】
2017037004.tif 000026
【図９】
2017037004.tif 000027
【図１０】
2017037004.tif 000028