(57)【要約】【課題】表示パネルの破損を容易かつ早急に検出可能な表示装置を提供する。【解決手段】表示装置は、基板上に形成される表示領域と、複数のレジスタが直列に接続されて構成されたシフトレジスタと、複数のレジスタにクロックパルスを供給すると共に、シフトレジスタの最前段のレジスタにスタートパルスを供給してシフトレジスタの最終段のレジスタの出力を取り込む制御回路と、を備え、表示領域は、シフトレジスタと、制御回路と、シフトレジスタと制御回路とを接続する各配線とで囲われた領域内に形成される。【選択図】図１
2016224187.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に形成される表示領域と、
複数のレジスタが直列に接続されて構成されたシフトレジスタと、
複数の前記レジスタにクロックパルスを供給すると共に、前記シフトレジスタの最前段のレジスタにスタートパルスを供給して前記シフトレジスタの最終段のレジスタの出力を取り込む制御回路と、
を備え、
前記表示領域は、
前記シフトレジスタと、前記制御回路と、前記シフトレジスタと前記制御回路とを接続する各配線とで囲われた領域内に形成される
表示装置。
【請求項２】
前記表示領域は、
複数の画素がマトリクス状に配置されて形成され、
前記シフトレジスタは、
前記表示領域内において前記画素が一列に並ぶｎ列（ｎは自然数）の各画素列に対応して形成されたｎ本の各走査線の一方端がそれぞれ複数の前記レジスタ間の各接続部に接続されている
請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記制御回路は、
前記シフトレジスタの前記最終段のレジスタの出力に基づき、前記基板の破損判定を行う
請求項１又は２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記最終段のレジスタの出力端と、前記各走査線の他方端とが論理和回路を介して接続され、当該論理和回路の出力が前記制御回路に入力される
請求項２に記載の表示装置。
【請求項５】
複数の画素がマトリクス状に配置されて基板上に形成される表示領域と、
複数のレジスタが直列に接続されて構成され、前記表示領域内において前記画素が一列に並ぶｎ列（ｎは自然数）の各画素列に対応して形成されたｎ本の各走査線の一方端がそれぞれ複数の前記レジスタの出力端に接続されたシフトレジスタと、
前記各走査線を介して入力される複数の前記レジスタの出力の論理和を求める論理和回路と、
複数の前記レジスタにクロックパルスを供給すると共に、前記シフトレジスタの最前段のレジスタにスタートパルスを供給して前記論理和回路の出力を取り込む制御回路と、
を備える
表示装置。
【請求項６】
前記表示領域は、
前記シフトレジスタと、前記制御回路と、前記論理和回路と、前記シフトレジスタと前記制御回路と前記論理和回路とを接続する各配線とで囲われた領域内に形成される
請求項５に記載の表示装置。
【請求項７】
前記制御回路は、
前記論理和回路の出力に基づき、前記基板の破損判定を行う
請求項４乃至６に記載の表示装置。
【請求項８】
前記シフトレジスタを２つ有し、
前記表示領域は、
複数の画素がマトリクス状に配置されて形成され、
２つの前記シフトレジスタは、
前記表示領域内において前記画素が一列に並ぶｎ列の各画素列に対応して交互に形成されたｎ／２本の各走査線の一方端がそれぞれ複数の前記レジスタ間の各接続端に接続されている
請求項１に記載の表示装置。
【請求項９】
前記制御回路は、
２つの前記シフトレジスタのそれぞれの前記最終段のレジスタの出力に基づき、前記基板の破損判定を行う
請求項８に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記制御回路は、
前記基板の破損を検出した場合にアラートを出力する
請求項３，７，９に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記基板は、
前記シフトレジスタが形成されると共に、前記制御回路が配置されるＴＦＴ基板と、
液晶層を介して前記ＴＦＴ基板に対向配置されるＣＦガラス基板と、
を含む
請求項１乃至１０に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記各配線が前記ＴＦＴ基板上に形成された
請求項１１に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記各配線の一部が前記ＣＦガラス基板上における前記表示領域の外周部に形成された
請求項１１又は１２に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、カーナビゲーションシステム等の車載用の表示装置としては、液晶パネル等を用いたフラットディスプレイ型の表示装置が広く用いられている。このようなフラットディスプレイ型の表示装置は、例えば自動車の車体にカメラを搭載し、車外の画像を表示して運転者の運転を補助する車載用ディスプレイとして用いることも考えられる。
【０００３】
一般に、液晶表示装置等の表示パネルにおける破損は、目視や電気的な破損検出用のプログラムを用いて検出可能であるが、例えば、表示装置に正常な画像が表示不可能となった場合に、表示パネルの破損によるものか、あるいは表示装置における表示制御を行う処理装置の故障によるものかを判定するためには、表示パネル及び処理装置の双方の検証を行う必要がある等、故障部位の判定に時間がかかる。特に、車載用のシステムとしては、容易かつ早急な故障部位の特定手段が求められている。特許文献１には、液晶表示素子を形成する透明基板の表示用電極が敷設された場所以外の位置に割れ検知用電極を敷設し、割れ検知用電極の導通試験を行うことで液晶表示素子の破損を電気的に検出する技術が開示さている（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平５−３４６５８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来技術では、割れ検知用の電極を別途設ける必要がある。また、割れ検知用電極の導通試験を行うための回路や制御が別途必要となり、装置が大型化する可能性がある。
【０００６】
本発明は、装置の大型化を招くことなく、表示パネルの破損を容易かつ早急に検出可能な表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様に係る表示装置は、基板上に形成される表示領域と、複数のレジスタが直列に接続されて構成されたシフトレジスタと、複数のレジスタにクロックパルスを供給すると共に、シフトレジスタの最前段のレジスタにスタートパルスを供給して最終段のレジスタの出力を取り込む制御回路と、を備え、表示領域は、シフトレジスタと、制御回路と、シフトレジスタと制御回路とを接続する各配線とで囲われた領域内に形成される。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、実施形態１に係る表示装置の概略構成を示す図である。
【図２】図２は、実施形態１に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、及びシフトレジスタを構成する各レジスタの出力のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図３】図３は、実施形態１に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【図４】図４は、実施形態１に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。
【図５】図５は、実施形態１に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。
【図６】図６は、実施形態２に係る表示装置の概略構成を示す図である。
【図７】図７は、実施形態２に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、シフトレジスタを構成する各レジスタの出力、及び論理和回路の出力のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図８】図８は、実施形態２に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【図９】図９は、実施形態２に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。
【図１０】図１０は、実施形態２に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。
【図１１】図１１は、実施形態３に係る表示装置の概略構成を示す図である。
【図１２】図１２は、実施形態３に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、及びシフトレジスタを構成する各レジスタの出力のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図１３】図１３は、実施形態３に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【図１４】図１４は、実施形態３に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。
【図１５】図１５は、実施形態３に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。
【図１６】図１６は、実施形態３に係る表示装置の具体的構成例の図１５とは異なる変形例を示す図である。
【図１７】図１７は、実施形態４に係る表示装置の概略構成を示す図である。
【図１８】図１８は、実施形態４に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、シフトレジスタを構成する各レジスタの出力、及び論理和回路の出力のタイミングチャートの一例を示す図である。
【図１９】図１９は、実施形態４に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【図２０】図２０は、実施形態４に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。
【図２１】図２１は、実施形態４に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。
【図２２】図２２は、実施形態に係る表示装置の適用例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、発明を実施するための形態について、図面を参照して詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
【００１０】
（実施形態１）
図１は、実施形態１に係る表示装置の概略構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態に係る表示装置１００は、基板１上に形成される表示領域２と、複数のレジスタ３が直列に接続されて構成され、表示領域２の１辺に沿って配置されるシフトレジスタ４と、複数のレジスタ３にクロックパルスＶＣＬＫを供給すると共に、最前段のレジスタ３にスタートパルスＶＳＴを供給して当該最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを取り込む制御回路５とを含み構成される。
【００１１】
表示領域２は、シフトレジスタ４と、制御回路５と、シフトレジスタ４と制御回路５とを接続する各配線とで囲われた領域内に形成される。表示領域２には、一方端がレジスタ３間の各接続部に接続されたｎ本（ｎは自然数）の配線Ｌが形成されている。シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００は、表示領域２と基板１の外周端とを隔てるように敷設される。
【００１２】
シフトレジスタ４を構成する各レジスタ３は、例えばＦＦ（flip-flop）回路で構成されている。
【００１３】
制御回路５は、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔに基づき、基板１の破損判定を行い、基板１の破損を検出した場合に、上位のシステム制御手段にアラートを出力する。
【００１４】
次に、図１乃至図３を参照して、実施形態１に係る表示装置１００における具体的な処理フローについて説明する。図２は、実施形態１に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、及びシフトレジスタを構成する各レジスタの出力のタイミングチャートの一例を示す図である。図３は、実施形態１に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【００１５】
制御回路５からスタートパルスＶＳＴが出力されると（ステップＳ１）、クロックパルスＶＣＬＫに同期して、シフトレジスタ４を構成する各レジスタ３からレジスタ３の段数（ここでは、ｎ＋１段）分シフトしながら、各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔ（ｍは、１乃至ｎ＋１）が順次出力される。
【００１６】
制御回路５は、配線Ｌの配線数（ここでは、ｎ本）分のクロックパルスＶＣＬＫ発生期間に相当する待ち時間Ｔ（＝ＶＣＬＫ１期間＊配線数ｎ）経過後の破損判定期間ｔ（＝ＶＣＬＫ１期間）において、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３から出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔが出力されたか否かを判定する（ステップＳ２）。出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔが出力されていれば（ステップＳ２；Ｙｅｓ）、制御回路５は、基板１の破損を検出しなかったものとして正常判定し（ステップＳ３）、ステップＳ１の処理に戻り、ステップＳ１乃至ステップＳ２の処理を繰り返し行う。
【００１７】
出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔが出力されていない場合には（ステップＳ２；Ｎｏ）、制御回路５は、基板１の破損を検出したものとして判定し（ステップＳ４）、上位のシステム制御手段にアラートを出力し（ステップＳ５）、本フローの処理を終了する。
【００１８】
上述したように、本実施形態では、表示領域２の周囲に、シフトレジスタ４、制御回路５、及びシフトレジスタ４と制御回路５とを接続する各配線が敷設される。このため、上記の処理手順が実行されることにより、シフトレジスタ４や制御回路５の破損、あるいは、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００を含むシフトレジスタ４と制御回路５とを接続する各配線の断線を検出することができ、表示装置１００における基板１の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。
【００１９】
図４は、実施形態１に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。図４に示す例では、表示装置１００は、ＴＦＴ基板１１と、ＴＦＴ基板１１との間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１に対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１が構成される液晶表示装置を例示している。
【００２０】
図４に示す表示装置１００では、図１に示すシフトレジスタ４を含み走査回路６が構成されており、ＴＦＴ基板１１上に、走査回路６及び信号出力回路７が形成されると共に、制御回路５が配置されている。
【００２１】
表示領域２は、複数の画素２１がマトリクス状に並び配列されて形成されている。以下、画素２１が行方向に並ぶ行を画素行、画素２１が列方向に並ぶ列を画素列という。
【００２２】
制御回路５は、基板１の破損を検出した場合にアラートを出力する機能の他に、外部から入力される画像データに基づき、走査回路６及び信号出力回路７を制御する機能を有している。
【００２３】
信号出力回路７は、所謂ソースドライバであり、制御装置５から出力される画像データに応じて、各画素行の画素２１を駆動するための映像信号を生成し、信号線ＤＴＬを介して、各画素行毎に映像信号を出力する。
【００２４】
走査回路６は、所謂ゲートドライバであり、例えばシフトレジスタ４及びバッファ等を含み構成されている。走査回路６は、制御装置５から出力される同期信号に応じて走査信号を生成し、走査線ＳＣＬを介して、各画素列毎に走査信号を出力する。ここで、同期信号は、図１に示すクロックパルスＶＣＬＫ及びスタートパルスＶＳＴに相当し、走査線ＳＣＬは、図１に示す配線Ｌに相当する。
【００２５】
図４に示す例では、制御回路５と走査回路６とを接続する各配線、すなわち、図１に示すクロックパルスＶＣＬＫ、スタートパルスＶＳＴ、及びシフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００を含む各配線がＴＦＴ基板１１上に形成された例を示している。これにより、ＴＦＴ基板１１の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出することができる。
【００２６】
図５は、実施形態１に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。図５に示す例では、制御回路５と走査回路６とを接続する各配線のうち、図１に示すシフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００の一部がＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成された例を示している。これにより、ＣＦガラス基板１２の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことをも検出することができる。
【００２７】
以上説明したように、実施形態１に係る表示装置１００によれば、複数のレジスタ３が直列に接続されて構成されたシフトレジスタ４と、各レジスタ３にクロックパルスＶＣＬＫを供給すると共に、シフトレジスタ４の最前段のレジスタ３にスタートパルスＶＳＴを供給してシフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力を取り込む制御回路５とを備える構成とし、シフトレジスタ４と、制御回路５と、シフトレジスタ４と制御回路５とを接続する各配線とで囲われた領域内に表示領域２を形成している。これにより、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力を監視することで、基板１の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。
【００２８】
また、ＴＦＴ基板１１と、ＴＦＴ基板１１との間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１に対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１が構成され、ＴＦＴ基板１１上に、制御回路５を配置すると共に、シフトレジスタ４を含み構成される走査回路６を形成した構成において、制御回路５と走査回路６とを接続する各配線をＴＦＴ基板１１上に形成することで、ＴＦＴ基板１１の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出することができる。
【００２９】
さらに、制御回路５と走査回路６とを接続する各配線のうち、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００の一部をＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成することで、ＣＦガラス基板１２の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことをも検出することができる。
【００３０】
本実施形態により、装置の大型化を招くことなく、表示パネルの破損を容易かつ早急に検出可能な表示装置１００を提供することができる。
【００３１】
（実施形態２）
図６は、実施形態２に係る表示装置の概略構成を示す図である。なお、上述した実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。
【００３２】
図６に示す本実施形態に係る表示装置１００ａは、上述した実施形態１の構成に加え、論理和回路８を含み構成されている。表示装置１００ａは、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力端と、ｎ本の各配線Ｌの他方端とが論理和回路８を介して接続され、当該論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔが制御回路５ａに入力される。すなわち、本実施形態では、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔに加え、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ａに出力する構成としている。また、本実施形態では、表示領域２は、シフトレジスタ４と、制御回路５ａと、論理和回路８と、シフトレジスタ４と制御回路５ａと論理和回路８とをそれぞれ接続する各配線とで囲われた領域内に形成される。シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ａは、表示領域２と基板１ａの外周端とを隔てるように敷設される。
【００３３】
制御回路５ａは、論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔに基づき、基板１ａの破損判定を行い、基板１ａの破損を検出した場合に、上位のシステム制御手段にアラートを出力する。
【００３４】
次に、図６乃至図８を参照して、実施形態２に係る表示装置１００ａにおける具体的な処理フローについて説明する。図７は、実施形態２に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、シフトレジスタを構成する各レジスタの出力、及び論理和回路の出力のタイミングチャートの一例を示す図である。図８は、実施形態２に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【００３５】
制御回路５ａからスタートパルスＶＳＴが出力されると（ステップＳ１ａ）、クロックパルスＶＣＬＫに同期して、シフトレジスタ４を構成する各レジスタ３からレジスタ３の段数（ここでは、ｎ＋１段）分シフトしながら、各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔ（ｍは、１乃至ｎ＋１）が順次出力される。
【００３６】
制御回路５ａは、シフトレジスタ４を構成する各レジスタ３の破損判定期間ｔ’（＝ＶＣＬＫ１期間）毎に、論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔに各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔが含まれているか否かを判定する（ステップＳ２−１ａ）。出力パルスＧｍ＿ｏｕｔが出力されていれば（ステップＳ２−１ａ；Ｙｅｓ）、制御回路５ａは、続けて最終段のレジスタ３の出力判定期間であるか否かを判定する（ステップＳ２−２ａ）。最終段のレジスタ３の出力判定期間でなければ（ステップＳ２−２ａ；Ｎｏ）、制御回路５ａは、ステップＳ２−１ａの処理に戻り、ステップＳ２−１ａ乃至ステップＳ２−２ａの処理を繰り返し行う。これにより、全破損判定期間ｔ’＊（ｎ＋１）において、シフトレジスタ４を構成する全てのレジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔの出力判定を行うことができる。
【００３７】
最終段のレジスタ３の出力判定期間であれば（ステップＳ２−２ａ；Ｙｅｓ）、制御回路５ａは、基板１ａの破損を検出しなかったものとして正常判定し（ステップＳ３ａ）、ステップＳ１ａの処理に戻り、ステップＳ１ａ乃至ステップＳ２−２ａの処理を繰り返し行う。
【００３８】
ステップＳ２−１ａにおいて論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔに各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔが含まれていない場合には（ステップＳ２−１ａ；Ｎｏ）、制御回路５ａは、基板１ａの破損を検出したものとして判定し（ステップＳ４ａ）、上位のシステム制御手段にアラートを出力し（ステップＳ５ａ）、本フローの処理を終了する。
【００３９】
上述したように、本実施形態では、表示領域２の周囲に、シフトレジスタ４、制御回路５ａ、論理和回路８、及びシフトレジスタ４と制御回路５ａと論理和回路８とをそれぞれ接続する各配線が敷設される。このため、上記の処理手順が実行されることにより、シフトレジスタ４、制御回路５ａ、または論理和回路８の破損、あるいは、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ａを含むシフトレジスタ４と制御回路５ａと論理和回路８とを接続する各配線の断線を検出することができ、表示装置１００ａにおける基板１ａの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。また、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔに加え、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ａに出力する構成としているので、表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００４０】
図９は、実施形態２に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。図９に示す例では、表示装置１００ａは、ＴＦＴ基板１１ａと、ＴＦＴ基板１１ａとの間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１ａに対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１ａが構成される液晶表示装置を例示している。
【００４１】
図９に示す表示装置１００ａにおいて、論理和回路８は、走査回路６及び信号出力回路７と同様に、ＴＦＴ基板１１ａ上に形成されている。
【００４２】
制御回路５ａは、実施形態１と同様に、基板１ａの破損を検出した場合にアラートを出力する機能の他に、外部から入力される画像データに基づき、走査回路６及び信号出力回路７を制御する機能を有している。
【００４３】
図９に示す例では、制御回路５ａと走査回路６と論理和回路８とを接続する各配線、すなわち、図６に示すクロックパルスＶＣＬＫ、スタートパルスＶＳＴ、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線及び論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ａを含む各配線がＴＦＴ基板１１ａ上に形成された例を示している。これにより、ＴＦＴ基板１１ａ上の表示領域２を含む領域で破損検出が可能となると共に、ＴＦＴ基板１１ａ上における表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００４４】
図１０は、実施形態２に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。図１０に示す例では、制御回路５ａと走査回路６と論理和回路８とを接続する各配線のうち、図６に示す論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ａの一部がＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成された例を示している。これにより、ＣＦガラス基板１２上における表示領域２内の破損をも検出することができる。
【００４５】
以上説明したように、実施形態２に係る表示装置１００ａによれば、実施形態１の構成に加えて、論理和回路８を備える構成とし、シフトレジスタ４と、制御回路５ａと、シフトレジスタ４と制御回路５ａと論理和回路８とをそれぞれ接続する各配線とで囲われた領域内に表示領域２を形成し、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力端と、ｎ本の各配線Ｌの他方端とを論理和回路８を介して接続し、当該論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔが制御回路５ａに入力される構成としている。これにより、論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔの出力を監視することで、表示装置１００ａにおける基板１ａの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。また、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔに加え、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ａに出力する構成としているので、表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００４６】
また、ＴＦＴ基板１１ａと、ＴＦＴ基板１１ａとの間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１ａに対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１ａが構成され、ＴＦＴ基板１１ａ上に、制御回路５ａを配置すると共に、シフトレジスタ４を含み構成される走査回路６と論理和回路８とを形成した構成において、制御回路５ａと走査回路６と論理和回路８とをそれぞれ接続する各配線をＴＦＴ基板１１ａ上に形成することで、ＴＦＴ基板１１ａの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。また、シフトレジスタ４の最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔに加え、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ａに出力する構成としているので、ＴＦＴ基板１１ａ上における表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００４７】
さらに、制御回路５ａと走査回路６と論理和回路８とをそれぞれ接続する各配線のうち、論理和回路８の出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ａの一部をＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成することで、ＣＦガラス基板１２の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことをも検出することができる。
【００４８】
本実施形態により、装置の大型化を招くことなく、表示パネルの破損を容易かつ早急に検出可能な表示装置１００ａを提供することができる。
【００４９】
（実施形態３）
図１１は、実施形態３に係る表示装置の概略構成を示す図である。なお、上述した実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。
【００５０】
図１１に示すように、本実施形態に係る表示装置１００ｂは、基板１ｂ上に形成される表示領域２と、表示領域２の対向する２辺に沿って配置されるシフトレジスタ４ａ及びシフトレジスタ４ｂと、シフトレジスタ４ａを構成する複数のレジスタ３ａ及びシフトレジスタ４ｂを構成する複数のレジスタ３ｂにクロックパルスＶＣＬＫを供給すると共に、シフトレジスタ４ａの最前段のレジスタ３ａにスタートパルスＶＳＴ１を供給してシフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを取り込み、シフトレジスタ４ｂの最前段のレジスタ３ｂにスタートパルスＶＳＴ２を供給してシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを取り込む制御回路５ｂとを含み構成される。
【００５１】
本実施形態では、表示領域２は、シフトレジスタ４ａと、シフトレジスタ４ｂと、制御回路５ｂと、シフトレジスタ４ａとシフトレジスタ４ｂと制御回路５ｂとをそれぞれ接続する各配線とで囲われた領域内に形成される。シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂ、及び、シフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃは、表示領域２と基板１ｂの外周端とを隔てるように敷設される。シフトレジスタ４ａ，４ｂは、実施形態１のシフトレジスタ４と同等の構成を有しており、表示領域２には、一方端がレジスタ３ａ間の接続部に接続されたｎ／２本（ｎは偶数）の配線Ｌ１と、他方端がレジスタ３ｂ間の接続部に接続されたｎ／２本の配線Ｌ２とが交互に形成されている。
【００５２】
制御回路５ｂは、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔと、シフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔとに基づき、基板１ｂの破損判定を行い、基板１ｂの破損を検出した場合に、上位のシステム制御手段にアラートを出力する。
【００５３】
次に、図１１乃至図１３を参照して、実施形態３に係る表示装置１００ｂにおける具体的な処理フローについて説明する。図１２は、実施形態３に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、及びシフトレジスタを構成する各レジスタの出力のタイミングチャートの一例を示す図である。図１３は、実施形態３に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【００５４】
制御回路５ｂからスタートパルスＶＳＴ１，ＶＳＴ２が出力されると（ステップＳ１ｂ）、クロックパルスＶＣＬＫに同期して、シフトレジスタ４ａを構成する各レジスタ３ａからレジスタ３ａの段数（ここでは、ｎ＋１段）分シフトしながら、各レジスタ３ａの出力パルスＧｍ１＿ｏｕｔ（ｍ１は、１乃至ｎ＋１の奇数）が順次出力される。同時に、クロックパルスＶＣＬＫに同期して、シフトレジスタ４ｂを構成する各レジスタ３ｂからレジスタ３ｂの段数（ここでは、ｎ＋１段）分シフトしながら、各レジスタ３ｂの出力パルスＧｍ２＿ｏｕｔ（ｍ２は、２乃至ｎ＋２の奇数）が順次出力される。
【００５５】
制御回路５ｂは、配線Ｌ１，Ｌ２の配線数（ここでは、ｎ本）分のクロックパルスＶＣＬＫ発生期間に相当する待ち時間Ｔ（＝ＶＣＬＫ１期間＊配線数ｎ）が経過した後の破損判定期間ｔ１（＝ＶＣＬＫ１期間）において、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａから出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔが出力されたか否かを判定すると共に、待ち時間Ｔに破損判定期間ｔ１を加えた期間が経過した後の破損判定期間ｔ２（＝ＶＣＬＫ１期間）において、シフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂから出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔが出力されたか否かを判定する（ステップＳ２ｂ）。出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔ及び出力パルスＧｎ＋２＿ｏｕｔの双方が出力されていれば（ステップＳ２ｂ；Ｙｅｓ）、制御回路５ｂは、基板１ｂの破損を検出しなかったものとして正常判定し（ステップＳ３ｂ）、ステップＳ１ｂの処理に戻り、ステップＳ１ｂ乃至ステップＳ２ｂの処理を繰り返し行う。
【００５６】
出力パルスＧｎ＋１＿ｏｕｔ及び出力パルスＧｎ＋２＿ｏｕｔの何れかが出力されていない場合には（ステップＳ２ｂ；Ｎｏ）、制御回路５ｂは、基板１ｂの破損を検出したものとして判定し（ステップＳ４ｂ）、上位のシステム制御手段にアラートを出力し（ステップＳ５ｂ）、本フローの処理を終了する。
【００５７】
上述したように、本実施形態では、表示領域２の周囲に、シフトレジスタ４ａ、シフトレジスタ４ｂ、制御回路５ｂ、及びシフトレジスタ４ａとシフトレジスタ４ｂと制御回路５ｂとをそれぞれ接続する各配線が敷設される。このため、上記の処理手順が実行されることにより、シフトレジスタ４ａ、シフトレジスタ４ｂ、または制御回路５ｂの破損、あるいは、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂ、シフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３の出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃを含むシフトレジスタ４と制御回路５ａと論理和回路８とを接続する各配線の断線を検出することができ、表示装置１００ｂにおける基板１ｂの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。
【００５８】
図１４は、実施形態３に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。図１４に示す例では、表示装置１００ｂは、ＴＦＴ基板１１ｂと、ＴＦＴ基板１１ｂとの間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１ｂに対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１ｂが構成される液晶表示装置を例示している。
【００５９】
図１４に示す表示装置１００ｂでは、図１１に示すシフトレジスタ４ａを含み走査回路６ａが構成され、シフトレジスタ４ｂを含み走査回路６ｂが構成されており、ＴＦＴ基板１１ｂ上に、走査回路６ａ，６ｂ及び信号出力回路７が形成されると共に、制御回路５ｂが配置されている。
【００６０】
制御回路５ｂは、実施形態１，２と同様に、基板１ｂの破損を検出した場合にアラートを出力する機能の他に、外部から入力される画像データに基づき、走査回路６ａ，６ｂ及び信号出力回路７を制御する機能を有している。
【００６１】
図１４に示す例では、制御回路５ｂと走査回路６ａ，６ｂとを接続する各配線、すなわち、図１１に示すクロックパルスＶＣＬＫ、スタートパルスＶＳＴ１，ＶＳＴ２、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂ、及びシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃを含む各配線がＴＦＴ基板１１ｂ上に形成され、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂとシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃとがＴＦＴ基板１１ｂ上で絶縁された状態で交差した例を示している。
【００６２】
図１５は、実施形態３に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。図１５に示す例では、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線とシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線とがＴＦＴ基板１１ｂ上で交差していない例を示している。
【００６３】
図１４及び図１５に示す構成により、ＴＦＴ基板１１ｂの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出することができる。
【００６４】
図１６は、実施形態３に係る表示装置の具体的構成例の図１５とは異なる変形例を示す図である。図１６に示す例では、制御回路５ｂと走査回路６ａ，６ｂとをそれぞれ接続する各配線のうち、図１１に示すシフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂの一部がＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成されている例を示している。また、同様に、図１１に示すシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃの一部がＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成されていてもよいし、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂとシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃとの双方において、これら各配線の一部がＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成されていてもよい。このようにすれば、実施形態１，２と同様に、ＣＦガラス基板１２の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことをも検出することができる。
【００６５】
以上説明したように、実施形態３に係る表示装置１００ｂによれば、２つのシフトレジスタ４ａ，４ｂと、シフトレジスタ４ａ，４ｂを構成する各レジスタ３ａ，３ｂにクロックパルスＶＣＬＫを供給すると共に、シフトレジスタ４ａの最前段のレジスタ３ａにスタートパルスＶＳＴ１を供給してシフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力を取り込み、シフトレジスタ４ｂの最前段のレジスタ３ｂにスタートパルスＶＳＴ２を供給してシフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力を取り込む制御回路５ｂとを備える構成とし、シフトレジスタ４ａ，４ｂと、制御回路５ｂと、シフトレジスタ４ａ，４ｂと制御回路５ｂとをそれぞれ接続する各配線とで囲われた領域内に表示領域２を形成している。これにより、シフトレジスタ４ａ，４ｂの最終段のレジスタ３ａ，３ｂの出力を監視することで、基板１ｂの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。
【００６６】
また、ＴＦＴ基板１１ｂと、ＴＦＴ基板１１ｂとの間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１ｂに対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１ｂが構成され、ＴＦＴ基板１１ｂ上に、制御回路５ｂを配置すると共に、シフトレジスタ４ａを含み構成される走査回路６ａとシフトレジスタ４ｂを含み構成される走査回路６ｂとを形成した構成において、制御回路５ｂと走査回路６ａ，６ｂとをそれぞれ接続する各配線をＴＦＴ基板１１ｂ上に形成することで、ＴＦＴ基板１１ｂの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出することができる。
【００６７】
さらに、制御回路５ｂと走査回路６ａ，６ｂとをそれぞれ接続する各配線のうち、シフトレジスタ４ａの最終段のレジスタ３ａの出力Ｇｎ＋１＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｂの一部、及び、シフトレジスタ４ｂの最終段のレジスタ３ｂの出力Ｇｎ＋２＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｃの一方あるいは双方の一部をＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成することで、ＣＦガラス基板１２の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことをも検出することができる。
【００６８】
本実施形態により、装置の大型化を招くことなく、表示パネルの破損を容易かつ早急に検出可能な表示装置１００ｂを提供することができる。
【００６９】
（実施形態４）
図１７は、実施形態４に係る表示装置の概略構成を示す図である。なお、上述した実施形態で説明したものと同じ構成要素には同一の符号を付して重複する説明は省略する。
【００７０】
図１７に示す本実施形態に係る表示装置１００ｃは、上述した実施形態２の構成とは異なり、シフトレジスタ４ｃのレジスタ３の数が表示領域の各配線Ｌの数に等しく（ここでは、ｎ）、論理和回路８ａは、各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ｃに出力する構成としている。本実施形態において、表示領域２は、シフトレジスタ４ｃと、制御回路５ｃと、論理和回路８ａと、シフトレジスタ４ｃと制御回路５ｃと論理和回路８ａとをそれぞれ接続する各配線とで囲われた領域内に形成される。論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄは、表示領域２と基板１ｃの外周端とを隔てるように敷設される。
【００７１】
制御回路５ｃは、論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔに基づき、基板１ｃの破損判定を行い、基板１ｃの破損を検出した場合に、上位のシステム制御手段にアラートを出力する。
【００７２】
次に、図１８乃至図１９を参照して、実施形態４に係る表示装置１００ｃにおける具体的な処理フローについて説明する。図１８は、実施形態４に係る表示装置におけるクロックパルス、スタートパルス、シフトレジスタを構成する各レジスタの出力、及び論理和回路の出力のタイミングチャートの一例を示す図である。図１９は、実施形態４に係る表示装置における具体的な処理フローの一例を示す図である。
【００７３】
制御回路５ｃからスタートパルスＶＳＴが出力されると（ステップＳ１ｃ）、クロックパルスＶＣＬＫに同期して、シフトレジスタ４ｃを構成する各レジスタ３からレジスタ３の段数（ここでは、ｎ段）分シフトしながら、各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔ（ｍは、１乃至ｎ）が順次出力される。
【００７４】
制御回路５ｃは、シフトレジスタ４ｃを構成する各レジスタ３の破損判定期間ｔ’（＝ＶＣＬＫ１期間）毎に、論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔに各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔが含まれているか否かを判定する（ステップＳ２−１ｃ）。出力パルスＧｍ＿ｏｕｔが出力されていれば（ステップＳ２−１ｃ；Ｙｅｓ）、制御回路５ｃは、続けて最終段のレジスタ３の出力判定期間であるか否かを判定する（ステップＳ２−２ｃ）。最終段のレジスタ３の出力判定期間でなければ（ステップＳ２−２ｃ；Ｎｏ）、制御回路５ｃは、ステップＳ２−１ｃの処理に戻り、ステップＳ２−１ｃ乃至ステップＳ２−２ｃの処理を繰り返し行う。これにより、全破損判定期間ｔ’＊ｎにおいて、シフトレジスタ４ｃを構成する全てのレジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔの出力判定を行うことができる。
【００７５】
最終段のレジスタ３の出力判定期間であれば（ステップＳ２−２ｃ；Ｙｅｓ）、制御回路５ｃは、基板１ｃの破損を検出しなかったものとして正常判定し（ステップＳ３ｃ）、ステップＳ１ｃの処理に戻り、ステップＳ１ｃ乃至ステップＳ２−２ｃの処理を繰り返し行う。
【００７６】
ステップＳ２−１ｃにおいて論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔに各レジスタ３の出力パルスＧｍ＿ｏｕｔが含まれていない場合には（ステップＳ２−１ｃ；Ｎｏ）、制御回路５ｃは、基板１ｃの破損を検出したものとして判定し（ステップＳ４ｃ）、上位のシステム制御手段にアラートを出力し（ステップＳ５ｃ）、本フローの処理を終了する。
【００７７】
上述したように、本実施形態では、表示領域２の周囲に、シフトレジスタ４ｃ、制御回路５ｃ、論理和回路８ａ、及びシフトレジスタ４ｃと制御回路５ｃと論理和回路８ａとをそれぞれ接続する各配線が敷設される。このため、上記の処理手順が実行されることにより、シフトレジスタ４ｃ、制御回路５ｃ、または論理和回路８ａの破損、あるいは、論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄを含むシフトレジスタ４ｃと制御回路５ｃと論理和回路８ａとを接続する各配線の断線を検出することができ、表示装置１００ｃにおける基板１ｃの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。また、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ｃに出力する構成としているので、表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００７８】
図２０は、実施形態４に係る表示装置の具体的構成例の一例を示す図である。図２０に示す例では、表示装置１００ｃは、ＴＦＴ基板１１ｃと、ＴＦＴ基板１１ｃとの間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１ｃに対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１ｃが構成される液晶表示装置を例示している。
【００７９】
図２０に示す表示装置１００ｃにおいて、論理和回路８ａは、走査回路６ｃ及び信号出力回路７と同様に、ＴＦＴ基板１１ｃ上に形成されている。
【００８０】
制御回路５ｃは、実施形態１乃至３と同様に、基板１ｃの破損を検出した場合にアラートを出力する機能の他に、外部から入力される画像データに基づき、走査回路６ｃ及び信号出力回路７を制御する機能を有している。
【００８１】
図２０に示す例では、制御回路５ｃと走査回路６ｃと論理和回路８ａとを接続する各配線、すなわち、図１７に示すクロックパルスＶＣＬＫ、スタートパルスＶＳＴ、及び論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄを含む各配線がＴＦＴ基板１１ｃ上に形成された例を示している。これにより、ＴＦＴ基板１１ｃ上の表示領域２を含む領域で破損検出が可能となると共に、ＴＦＴ基板１１ｃ上における表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００８２】
図２１は、実施形態４に係る表示装置の具体的構成例の変形例を示す図である。図２１に示す例では、制御回路５ｃと走査回路６ｃと論理和回路８ａとを接続する各配線のうち、図１７に示す論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄの一部がＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成された例を示している。これにより、ＣＦガラス基板１２上における表示領域２内の破損をも検出することができる。
【００８３】
以上説明したように、実施形態４に係る表示装置１００ｃによれば、上述した実施形態２の構成とは異なり、シフトレジスタ４ｃのレジスタ３の数が表示領域の各配線Ｌの数に等しく（ここでは、ｎ）、論理和回路８ａは、各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ｃに出力する構成とし、シフトレジスタ４ａと、制御回路５ｃと、論理和回路８ａと、シフトレジスタ４ｃと制御回路５ｃと論理和回路８ａとをそれぞれ接続する各配線とで囲われた領域内に表示領域２を形成している。これにより、論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔの出力を監視することで、表示装置１００ｃにおける基板１ｃの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。また、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ｃに出力する構成としているので、表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００８４】
また、ＴＦＴ基板１１ｃと、ＴＦＴ基板１１ｃとの間に液晶層を介してＴＦＴ基板１１ｃに対向配置されるＣＦガラス基板１２とを含み基板１ｃが構成され、ＴＦＴ基板１１ｃ上に、制御回路５ｃを配置すると共に、シフトレジスタ４ａを含み構成される走査回路６ｃと論理和回路８ａとを形成した構成において、制御回路５ｃと走査回路６ｃと論理和回路８ａとをそれぞれ接続する各配線をＴＦＴ基板１１ｃ上に形成することで、ＴＦＴ基板１１ｃの外周から表示領域２に至る範囲で破損したことを検出可能となる。また、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ｃに出力する構成としているので、ＴＦＴ基板１１ｃ上における表示領域２内の破損をより早いタイミングで且つより具体的な位置として検出することができる。
【００８５】
さらに、制御回路５ｃと走査回路６ｃと論理和回路８ａとをそれぞれ接続する各配線のうち、論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄの一部をＣＦガラス基板１２上における表示領域２の外周部に形成することで、ＣＦガラス基板１２の外周から表示領域２に至る範囲で破損したことをも検出することができる。
【００８６】
本実施形態により、装置の大型化を招くことなく、表示パネルの破損を容易かつ早急に検出可能な表示装置１００ｃを提供することができる。
【００８７】
なお、上述した例では、表示領域２と基板１ｃの外周端とを隔てるように論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄを敷設する例について説明したが、本実施形態に係る表示装置１００ｃでは、表示領域２内の各配線Ｌを介して入力されるｎ個のレジスタ３の出力Ｇ１＿ｏｕｔ，Ｇ２＿ｏｕｔ，Ｇ３＿ｏｕｔ，・・・，Ｇｎ−２＿ｏｕｔ，Ｇｎ−１＿ｏｕｔ，Ｇｎ＿ｏｕｔの論理和ＯＲ＿ｏｕｔを制御回路５ｃに出力する構成としているので、表示領域２内における破損に関しては、表示領域２と基板１ｃの外周端とを隔てるように論理和回路８ａの出力ＯＲ＿ｏｕｔを伝送する配線２００ｄを敷設することなく検出することができる。かかる構成としては、表示領域２に対して論理和回路８ａと制御回路５ｃとを配置し、これらの回路間の領域に配線を敷設してこれらの論理和回路８ａと制御回路５ｃとを連結することが考えられる。この場合、当該配線は表示領域２に対して外周させることなく配置させることができる。かかる例としては、これらの論理和回路８ａ及び制御回路５ｃの互いに最も近い領域間、或いは互いに近接した領域間に配線を設ける構成が挙げられる。
【００８８】
図２２は、実施形態に係る表示装置の適用例を示す図である。図２２に示す例では、自動車の従来のサイドミラーに代えて、実施形態に係る表示装置１００，１００ａ，１００ｂ，１００ｃを適用した例を示している。
【００８９】
図２２に示すように、自動車のサイドミラー９として実施形態に係る表示装置１００，１００ａ，１００ｂ，１００ｃを適用した場合、実施形態に係る表示装置１００，１００ａ，１００ｂ，１００ｃの表示領域２は、図２２に示すように、非矩形の異形形状とすることも考えられる。
【００９０】
また、上述した各実施形態に係る表示装置１００，１００ａ，１００ｂ，１００ｃは、車載用ディスプレイだけでなく、例えば、スマートフォン等の表示装置として適用することも可能である。さらには、上述した図２２に示すような異形形状以外にも、円形や楕円形等、種々の形状とすることが可能であることは言うまでもない。
【００９１】
以上、実施形態について説明したが、上述した内容により本発明が限定されるものではない。また、上述した本発明の構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、上述した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換及び変更を行うことができる。
【符号の説明】
【００９２】
１，１ａ，１ｂ，１ｃ  基板
２  表示領域
３，３ａ，３ｂ  レジスタ（ＦＦ回路）
４，４ａ，４ｂ，４ｃ  シフトレジスタ
５，５ａ，５ｂ，５ｃ  制御回路
６，６ａ，６ｂ，６ｃ  走査回路
７  信号出力回路
８，８ａ  論理和回路
９  サイドミラー
１１，１１ａ，１１ｂ，１１ｃ  ＴＦＴ基板
１２  ＣＦガラス基板
２１  画素
１００，１００ａ，１００ｂ，１００ｃ  表示装置
２００，２００ａ，２００ｂ，２００ｃ，２００ｄ  配線
【図１】
2016224187.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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