(57)【要約】【課題】検証の対象装置に同様の負荷を繰り返し与える検証を行うことを抑制することができる。【解決手段】検証支援装置１００は、検証の対象装置１０１の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、入力パラメータの値を変化させて対象装置１０１に与えた場合における入力パラメータの値の変化前と入力パラメータの値の変化後との各々に対応する対象装置１０１に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報１０５を取得する。検証支援装置１００は、複数の入力パラメータの各々について、取得した動作情報１０５に基づいて、動作状態の変化の度合いを導出する。検証支援装置１００は、入力パラメータＰ１と入力パラメータＰ２とのうちの度合いが高い方の入力パラメータＰ１を、ランダム検証シナリオの生成時に網羅的に値を設定する主パラメータとして選択する。【選択図】図１
2016081256.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータが、
検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、
前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、
前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する、
処理を実行することを特徴とする検証支援方法。
【請求項２】
前記選択する処理では、導出した前記度合いが大きい順に、前記複数の入力パラメータから、指定数の前記一部の入力パラメータを選択することを特徴とする請求項１に記載の検証支援方法。
【請求項３】
前記動作情報を取得する処理では、前記複数の入力パラメータの各々について、前記対象装置を示す装置情報と、前記入力パラメータの値を変化させた検証シナリオと、に基づいて、前記対象装置の動作のシミュレーションを行うことにより、前記動作情報を取得することを特徴とする請求項１または２に記載の検証支援方法。
【請求項４】
前記コンピュータが、
選択した前記一部の入力パラメータが取り得る複数通りの値の組み合わせを含む検証シナリオであり、前記複数の入力パラメータのうち前記一部の入力パラメータ以外の入力パラメータの値を特定値にした検証シナリオを生成する、
処理を実行することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の検証支援方法。
【請求項５】
コンピュータに、
検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、
前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、
前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する、
処理を実行することを特徴とする検証支援プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検証支援方法、および検証支援プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、所望の機能を実現するためハードウェアなどの装置をＲＴＬ（Ｒｅｇｉｓｔｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｌｅｖｅｌ）レベルで設計した場合には、設計内容に漏れがないかの論理検証が行われる。具体的には、例えば、装置の設計内容に沿った検証シナリオを生成し、この検証シナリオを装置に入力した場合の出力結果を用いて論理検証がおこなわれる。
【０００３】
近年、検証の対象装置の全体の動作をシミュレーションするために、エミュレータやＧＰＧＰＵ（Ｇｅｎｅｒａｌ  Ｐｕｒｐｏｓｅ  Ｃｏｍｐｕｔｉｎｇ  ｏｎ  Ｇｒａｐｈｉｃｓ  Ｕｎｉｔｓ）などによってＲＴＬシミュレーションを実行することにより高速に行うことができる。エミュレータやＧＰＧＰＵなどによってＲＴＬシミュレーションを行う場合には、検証シナリオが多量に準備される。
【０００４】
また、従来、検証の対象装置に与える検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの取り得る値の組み合わせが重複しないような複数通りの入力パタンを含む検証シナリオを作成することによって、検証の対象装置に複数通りの負荷を与えることができる。
【０００５】
また、従来、試験対象システムのバスに負荷を与える際に、アクセス対象のアドレスを自動で任意のアドレス間隔で変更し、アドレスごとにデータを変更する技術が公知である（例えば、以下特許文献１参照。）。
【０００６】
また、従来、データ転送システムが有するバッファの蓄積可能なデータ長と、バッファの設置数とが不明であっても、バッファに合致した負荷で試験を実行可能とするための技術が公知である（例えば、以下特許文献２参照。）。具体的に、例えば、データ長およびデータ数を所定範囲内で変化させた各種データを試験データとして生成し、各試験データを送受信した場合の処理時間に基づいてデータ数を決定する技術が公知である。
【０００７】
また、従来、電圧が急激に変動することに起因したハードウェアの不具合を検出するために、ハードウェアに接続されるデータバス上を流れるデータが一斉に切り替わるテストデータを生成する技術が公知である（例えば、以下特許文献３参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００８−５９３３８号公報
【特許文献２】特開平６−３５０６０３号公報
【特許文献３】特開２００２−２２２０９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、例えば、複数の入力パラメータの取り得る値の組み合わせが重複しないような複数通りの入力パタンを含む検証シナリオを生成させた場合に、検証の対象装置に同様の負荷を繰り返し与える検証を行う場合があるという問題点がある。
【００１０】
１つの側面では、本発明は、検証の対象装置に同様の負荷を繰り返し与える検証を行うことを抑制することができる検証支援方法、および検証支援プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の一側面によれば、検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する検証支援方法、および検証支援プログラムが提案される。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の一態様によれば、検証の対象装置に同様の負荷を繰り返し与える検証を行うことを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、本発明にかかる検証支援方法の一例を示す説明図である。
【図２】図２は、検証支援装置のハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図３】図３は、検証支援装置の機能的構成例を示すブロック図である。
【図４】図４は、検証の対象装置例を示す説明図である。
【図５】図５は、観測モジュールの取り付け例を示す説明図である。
【図６】図６は、動作率の例を示す説明図である。
【図７】図７は、ランダム検証シナリオの例を示す説明図である。
【図８】図８は、マイクロ検証シナリオ生成処理手順例を示すフローチャートである。
【図９】図９は、動作率の取得および変化の度合いの導出処理手順例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、入力パラメータの選択処理手順例１を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、入力パラメータの選択処理手順例２を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、ランダム検証シナリオ生成処理手順例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる検証支援方法、および検証支援プログラムの実施の形態を詳細に説明する。
【００１５】
図１は、本発明にかかる検証支援方法の一例を示す説明図である。検証支援装置１００は、検証の対象装置１０１の動作検証のためのＲＴＬシミュレーションを支援するためのコンピュータである。また、検証支援装置１００は、検証支援プログラムを実行し、検証支援方法を実現するコンピュータである。ここで、検証の対象装置１０１としては、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、パケット中継装置、など特に限定しないが、例えば、動作を定める入力パラメータが多数あり、入力パラメータがそれぞれ複数の値を取り得るようなハードウェアを想定する。
【００１６】
近年、検証の対象となるハードウェアなどの装置の規模が大きいため、対象装置に含まれる複数のモジュールを結合させてシステム全体の動作を検証することが求められる。システム全体の動作を検証するのは時間がかかるが、エミュレータやＧＰＧＰＵなどを利用することによって装置の動作を模擬するＲＴＬシミュレーションが高速に実行できる。エミュレータやＧＰＧＰＵなどを利用した試験環境に対応するためには、多量の検証シナリオを作成しなければならない。
【００１７】
検証シナリオとは、検証の対象装置の入力パタンまたは入力パタンの集合である。入力パタンとは、具体的には、ＲＴＬシミュレーションの実行のために装置情報に与えられる入力パラメータの値の集合である。検証者が手作業で大量の検証シナリオを作成することは時間がかかるため、ランダムに検証シナリオを生成するアプリケーションなどが公知である。例えば、ランダムに検証シナリオを生成するアプリケーションとしては、例えば、Ｍｅｎｔｅｒ  Ｇｒａｐｈｉｃｓ社のＩｎｆａｃｔなどが挙げられる。
【００１８】
しかしながら、従来、ランダムに検証シナリオを生成すると、検証の対象装置に与える負荷が同様となる検証シナリオを多量に生成してしまう場合がある。また、例えば、複数の入力パラメータの値の組み合わせをすべて網羅するように検証シナリオを生成すると、検証の対象装置に与える負荷が同様となる検証シナリオを多量に生成してしまう場合がある。
【００１９】
例えば、検証の対象装置が複数のＲＡＭ（Ｒａｍｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）を有する場合に、アドレスとデータが入力パラメータとされる。この場合、アドレスは網羅的に変化させることによって複数のＲＡＭの各々に負荷を与えることができるが、データは網羅的に変化させなくても複数のＲＡＭの各々に負荷を与えることが可能である。
【００２０】
より具体的に、例えば、ＸとＹとの２種類の入力パラメータがある場合に、入力パラメータＸの取り得る値が１０通りであり、入力パラメータＹの取り得る値が１０通りであると、入力パラメータの値の組み合わせは、１０×１０の１００通りある。
【００２１】
しかしながら、２種類の入力パラメータＸ，Ｙのうち、入力パラメータＹの値の変化が対象装置の負荷の変化に寄与しない場合、入力パラメータＸの値を網羅的に変化させた１０通りの組み合わせだけで、対象装置の負荷を網羅的に検証可能である。そのため、１００通りの組み合わせのうち９０通りの組み合わせでは、入力パラメータＸの値を網羅的に変化させた１０通りの組み合わせと同様の負荷を対象装置１０１に与えることになる。このように、検証の対象装置に与える負荷が同様となる検証シナリオを多量に生成してしまうと、シミュレーション時間やシミュレーション結果に基づく検証などの検証時間がかかるなど、検証の効率が悪くなるという問題点がある。
【００２２】
また、例えば、検証シナリオの質を評価する評価尺度としては、アサーションカバレッジ、コードカバレッジ、スループット、Ｉ／Ｆ入力パタンの数などが挙げられる。アサーションカバレッジ、コードカバレッジなどでは、内部論理を網羅的に検証しているかの評価を行うことができるが、数サイクル程度の動作の検証であるため、システム全体の動作について検証しているかの評価ができない。また、スループットとは、どの程度の時間シミュレーションを行ったかによる評価であり、内部論理については評価できない。
【００２３】
また、Ｉ／Ｆ入力パタンの数とは、入力パラメータの値を重複がないように設定した場合に何通りの検証シナリオによってシミュレーションを行ったかによる評価である。重複がないように入力パラメータの値を設定するだけでは、どのような内部論理について検証を行っているかを評価できない。スループットとは、どの程度の時間シミュレーションを行ったかによる評価である。所定時間のシミュレーションを行うだけでは、どのような内部論理について検証を行っているか否かを評価できない。
【００２４】
そこで、本実施の形態では、検証支援装置１００は、入力パラメータごとに値を変化させた場合における検証の対象装置１０１内の各モジュールの動作状態の変化の度合いにより、検証対象に異なる負荷を与える可能性が高い入力パラメータを選別する。これにより、検証対象に同様の負荷を繰り返し与えて検証を行うことを抑制することができ、検証効率の向上を図ることができる。検証効率が向上するとは、例えば、シミュレーション時間やシミュレーション結果に基づく検証などの検証時間の短縮を図ることができることを示す。
【００２５】
まず、検証支援装置１００は、複数の入力パラメータの各々について、動作情報１０５を取得する。複数の入力パラメータは、対象装置１０１の動作を定める。動作情報１０５は、入力パラメータの値を変化させて対象装置１０１に与えた場合における、入力パラメータの値の変化前と入力パラメータの値の変化後との各々に対応する対象装置１０１に含まれるモジュール１０２−１〜１０２−３の動作状態を示す。図１の例では、対象装置１０１の動作を定める入力パラメータは、パラメータＰ１とパラメータＰ２とである。複数の入力パラメータは、対象装置１０１の入力端子を共有していてもよいし、対象装置１０１のそれぞれ異なる入力端子であってもよい。
【００２６】
動作状態を示す動作情報１０５は、例えば、モジュールの状態を示すレジスタの設定値や動作率である。動作率は、単位時間当たりにどの程度動作しているかの指標である。例えば、動作率は、クロック周波数に対するＲＡＭやＦＦ（Ｆｌｉｐ  Ｆｌｏｐ）のイネーブル信号やネットのトグル回数などによって求めてもよいし、バスなどがあれば、バスのビジー率であってもよい。
【００２７】
具体的には、例えば、検証支援装置１００は、装置情報１０３と、複数の入力パラメータの各々について値を変化させた検証シナリオ１０４と、に基づくＲＴＬシミュレーションによって対象装置１０１に含まれるモジュール１０２の動作率を導出する。装置情報１０３は、対象装置１０１を示す。例えば、装置情報１０３は、ＶｅｒｉｌｏｇやＶＨＤＬ（Ｖｅｒｙ  Ｈｉｇｈ  ｓｐｅｅｄ  ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｈａｒｄｗａｒｅ  Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ  Ｌａｎｇｕａｇｅ）などのハードウェア記述言語を用いてＲＴＬレベルによって記述される。例えば、検証シナリオ１０４−１は、入力パラメータＰ１について、最大値から最小値に変化させ、最小値から最大値に変化させ、最大値からランダム値に変化させた入力パタンである。例えば、検証シナリオ１０４−２は、入力パラメータＰ２について、最大値から最小値に変化させ、最小値から最大値に変化させ、最大値からランダム値に変化させた入力パタンである。また、例えば、動作情報１０５−１は、検証シナリオ１０４−１を与えた場合におけるモジュール１０２の各々の動作率であり、動作情報１０５−２は、検証シナリオ１０４−２を与えた場合におけるモジュール１０２の各々の動作率である。
【００２８】
つぎに、検証支援装置１００は、複数の入力パラメータの各々について、取得した動作情報１０５に基づいて、動作状態の変化の度合いを導出する。具体的に、例えば、検証支援装置１００は、入力パラメータの各々について、各時刻間における動作状態の変化を導出して、当該変化の度合いを導出する。例えば、動作情報１０５が動作率である場合、検証支援装置１００は、動作状態の変化として、各時刻間における動作率の差分値を導出する。そして、例えば、検証支援装置１００は、変化の度合いとして、差分値の絶対値の合計値を導出する。図１の例では、入力パラメータＰ１の動作状態の変化の度合いｄ１は６０であり、入力パラメータＰ２の動作状態の変化の度合いｄ２は２５である。図１の例では、変化の度合いの数値が大きいほど、変化の度合いが高いこととする。
【００２９】
検証支援装置１００は、複数の入力パラメータの各々について導出した度合いに基づいて、複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する。例えば、検証支援装置１００は、導出した度合いが高い順に、複数の入力パラメータから指定数の入力パラメータを選択する。指定数は、複数の入力パラメータの数よりも少ない数である。ここで選択される一部の入力パラメータは、複数の入力パラメータの中で、検証の対象装置１０１に異なる負荷を与える可能性が高い入力パラメータである。図１の例では、入力パラメータが２つであるため、検証支援装置１００は、一部の入力パラメータとして１つの入力パラメータを選択する。ここでは、例えば、検証支援装置１００は、一部の入力パラメータを主パラメータとして選択し、一部の入力パラメータ以外の入力パラメータを従パラメータとして選択する。図１の例では、検証支援装置１００は、度合いｄ１が高い入力パラメータＰ１を主パラメータとして選択し、度合いｄ２が低い入力パラメータＰ２を従パラメータとして選択する。
【００３０】
これにより、検証の対象装置１０１に異なる負荷を与える可能性が高い入力パラメータが選別される。したがって、選別された入力パラメータに限定して当該入力パラメータの値を複数通り設定して検証を行うことにより、同様の負荷を繰り返して検証することを抑制することができ、検証効率の向上を図ることができる。
【００３１】
（検証支援装置１００のハードウェア構成例）
図２は、検証支援装置のハードウェア構成例を示すブロック図である。図２において、検証支援装置１００は、ＣＰＵ２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ２０３と、ディスクドライブ２０４と、ディスク２０５と、を有する。検証支援装置１００は、Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒ／Ｆａｃｅ）２０６と、キーボード２０７と、マウス２０８と、ディスプレイ２０９と、を有する。また、各部はバス２００によってそれぞれ接続される。
【００３２】
ここで、ＣＰＵ２０１は、検証支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、ブートプログラムなどのプログラムを記憶する。ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがってディスク２０５に対するデータのリード／ライトを制御する。ディスク２０５は、ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。ディスク２０５としては、磁気ディスク、光ディスクなどが挙げられる。
【００３３】
Ｉ／Ｆ２０６は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワーク２１０に接続され、このネットワーク２１０を介して他の装置に接続される。そして、Ｉ／Ｆ２０６は、ネットワーク２１０と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。Ｉ／Ｆ２０６には、例えばモデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。
【００３４】
キーボード２０７とマウス２０８は、利用者の操作により、各種データの入力を行うインターフェースである。利用者とは、例えば、検証者である。ディスプレイ２０９は、ＣＰＵ２０１の指示により、データを出力するインターフェースである。
【００３５】
また、図示を省略するが、検証支援装置１００は、入力装置としてタッチパネル、マイクやカメラ、出力装置としてプリンタなどを有していてもよい。
【００３６】
（検証支援装置１００の機能的構成例）
図３は、検証支援装置の機能的構成例を示すブロック図である。検証支援装置１００は、パラメータ抽出部３０１と、第１生成部３０２と、取得部３０３と、導出部３０４と、選択部３０５と、第２生成部３０６と、を有する。パラメータ抽出部３０１から第２生成部３０６までの制御部の処理は、例えば、図２に示すＣＰＵ２０１がアクセス可能なＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されたプログラムにコーディングされる。そして、ＣＰＵ２０１が記憶装置から該プログラムを読み出して、プログラムにコーディングされている処理を実行する。これにより、制御部の処理が実現される。また、制御部の処理結果は、例えば、ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶される。また、入力パラメータ一覧３１１、マイクロ検証シナリオ３１２、ランダム検証シナリオ３１３、装置情報１０３、テストベンチ３１６、動作情報１０５などの各種データは、例えば、ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶される。
【００３７】
シミュレーション装置３１４は、検証の対象装置１０１を示す装置情報１０３と、テストベンチ３１６と、検証シナリオと、をシミュレーション基盤３１５に与えることによってＲＴＬシミュレーションを実行する。シミュレーション基盤３１５とは、エミュレータやＧＰＧＰＵを用いたシミュレータである。例えば、シミュレーション装置３１４によって得られるシミュレーション結果は、ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されてもよい。また、図示省略するが、シミュレーション装置３１４のハードウェア構成は、例えば、検証支援装置１００と同一のハードウェア構成であってもよい。または、シミュレーション装置３１４のハードウェア構成は、例えば、サーバのハードウェア構成のようにキーボード２０７とマウス２０８とディスプレイ２０９などの入出力装置を有していなくてもよい。また、シミュレーション装置３１４と検証支援装置１００とは、同一のコンピュータであってもよい。
【００３８】
図４は、検証の対象装置例を示す説明図である。本実施の形態では、検証の対象装置１０１としてパケット中継装置４００を挙げて詳細な例を説明する。例えば、パケット中継装置４００は、モジュールＡ〜モジュールＣを有する。パケット中継装置４００は、入力パケットを入力として受け付けて、出力パケットを出力する。例えば、入力パケットには、以下の２つの入力パラメータがある。
・パケットの宛先：ＢとＣとの２通り
・パケットの種別：１〜１０の１０通り
【００３９】
例えば、パケット中継装置４００では、パケットの宛先に応じて動作するモジュールが異なる。例えば、パケットの宛先がＢであるとモジュールＢが動作し、パケットの宛先がＣであるとモジュールＣが動作する。
【００４０】
検証支援装置１００は、以下の手順によってランダムの検証シナリオを生成する。パケット中継装置４００の例では、検証シナリオは入力パケットのシーケンスである。まず、検証支援装置１００は、パケットの宛先とパケットの種別との２つの入力パラメータの各々について、入力パラメータの値を変化させた検証シナリオを実行することによって、パケット中継装置４００に含まれる各モジュールの動作率を取得する。ここで、動作率を取得するための検証シナリオをマイクロ検証シナリオ３１２とも呼ぶ。
【００４１】
つぎに、検証支援装置１００は、動作率の変化の度合いを導出する。そして、検証支援装置１００は、変化の度合いに基づいて、複数の入力パラメータから、検証シナリオにおいて値を変化させる一部の入力パラメータを選択する。最後に、検証支援装置１００は、選択した一部の入力パラメータの値を網羅的に変化させ、一部の入力パラメータ以外の入力パラメータを特定の値に設定した検証シナリオを生成する。一部の入力パラメータは、主パラメータとも呼び、一部の入力パラメータ以外の入力パラメータは、従パラメータとも呼ぶ。つぎに、各手順の詳細を説明する。
【００４２】
まず、取得部３０３は、複数の入力パラメータの各々について、動作情報１０５を取得する。動作情報１０５は、入力パラメータの値を変化させて対象装置１０１に与えた場合における入力パラメータの値の変化前と入力パラメータの値の変化後との各々に対応する対象装置１０１に含まれるモジュールの動作状態を示す。ここでは、動作情報１０５は、モジュールの動作状態が判別可能であり、相対的に比較可能な情報であればよい。ここでは、動作情報１０５は、単位時間あたりの動作率とする。ここでは、動作率は、１００［％］で表すが、１〜１０などの数段階の評価値などで表してもよい。
【００４３】
また、取得部３０３は、複数の入力パラメータの各々について、対象装置１０１を示す装置情報１０３と、入力パラメータの値を変化させた検証シナリオと、に基づいて、対象装置の動作のシミュレーションを行うことにより、動作情報１０５を取得する。本実施の形態では、取得部３０３によって動作率を取得するために、パラメータ抽出部３０１と第１生成部３０２とによって動作率を取得するための検証シナリオが生成される。そして、本実施の形態では、シミュレーション装置３１４によって装置情報１０３と生成された検証シナリオと、に基づくＲＴＬシミュレーションが行われて動作率が得られる。これにより、動作情報１０５を容易に取得することができる。
【００４４】
また、取得部３０３によって動作率を取得するために、検証者は、検証の対象装置１０１に観測モジュールを取り付けたことを示す装置情報１０３を予め用意しておく。上述したように、装置情報１０３は、例えば、ＶｅｒｉｌｏｇやＶＨＤＬなどのハードウェア記述言語を用いてＲＴＬレベルによって記述される。
【００４５】
図５は、観測モジュールの取り付け例を示す説明図である。ここでは、観測モジュール５００は、パケット中継装置４００に含まれる各モジュールの入力信号を観測可能なように取り付けられる。観測モジュール５００は、単位時間当たりの動作率を計測する機能を有する。図５の例では、観測モジュール５００は、パケット中継装置４００内の各モジュールの入力信号を観測することによって、単位時間当たりの各モジュールのバスのビジー率を観測する。ここでは、バスのビジー率をそのまま動作率とする。
【００４６】
また、モジュールがどの程度動作しているかを判別可能であればよいため、例えば、観測モジュール５００は、単位時間当たりのＲＡＭやＦＦのイネーブル信号やネットのトグル回数などを取得して動作率を算出する機能を有していてもよい。例えば、１秒間に１００万回のクロックパルスを入力させた場合に、観測モジュール５００は、モジュール内のネットのトグル回数が１００万回であれば、動作率を１００［％］として算出する。ここで、クロックパルスを入力させるとは、シミュレーション上において入力させることを指す。
【００４７】
つぎに、パラメータ抽出部３０１は、例えば、入力パラメータ一覧３１１を取得する。入力パラメータ一覧３１１には、例えば、対象装置１０１の動作を定める複数の入力パラメータと、入力パラメータの各々のＤｅｆａｕｌｔ値とが、記載されてある。パラメータ抽出部３０１は、入力パラメータ一覧３１１から複数の入力パラメータと、各Ｄｅｆａｕｌｔ値を抽出する。
【００４８】
第１生成部３０２は、複数の入力パラメータから１つの入力パラメータを順に選択する。そして、第１生成部３０２は、選択した入力パラメータ以外の入力パラメータの値をＤｅｆａｕｌｔ値に設定し、選択した入力パラメータの値を変化させたマイクロ検証シナリオ３１２を生成する。例えば、マイクロ検証シナリオ３１２には、対象装置１０１の動作状態に変化が生じ易いと推定される連続する入力パタンを含めるとよい。動作状態に変化が生じ易いと推定される連続する入力パタンとしては、入力パラメータの取り得る値の範囲の中で最小値から最大値に変化させる例が挙げられる。
【００４９】
また、動作状態に変化が生じ易いと推定される連続する入力パタンとしては、入力パラメータの取り得る値の範囲の中で最大値から最小値に変化させる例などが挙げられる。また、マイクロ検証シナリオ３１２の数が多いほど、動作率の変化の度合いの精度を向上させることができるが、マイクロ検証シナリオ３１２の数は、最終的に生成されるランダムな検証シナリオの数よりも十分に少ないこととする。そこで、例えば、利用者がマイクロ検証シナリオ３１２の数を規定し、第１生成部３０２は、規定された数のマイクロ検証シナリオ３１２を生成してもよい。具体的には、例えば、検証支援装置１００は、規定された数になるまで、選択した入力パラメータの値をランダム値からランダム値に変化させたマイクロ検証シナリオ３１２を生成する。
【００５０】
つぎに、第１生成部３０２は、マイクロ検証シナリオ３１２をシミュレーション装置３１４に出力する。シミュレーション装置３１４は、マイクロ検証シナリオ３１２と、テストベンチ３１６と、装置情報１０３と、をシミュレーション基盤３１５に与えてＲＴＬシミュレーションを実行することによって、動作率を導出する。導出した動作率は動作情報１０５としてＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶される。シミュレーション基盤３１５としては、例えば、エミュレータやシミュレータが挙げられる。ＲＴＬシミュレーションでは、テストベンチ３１６に定義された負荷発生器３１７によってマイクロ検証シナリオ３１２から順に値を装置情報１０３が示す対象装置１０１に入力し、対象装置１０１の動作を模する。そして、取得部３０３は、シミュレーション装置３１４によって得られた動作情報１０５を取得する。
【００５１】
図６は、動作率の例を示す説明図である。図６（１）にはパケットの宛先を変化させ、パケットの種別を固定した検証シナリオによってシミュレーションした場合におけるモジュールごとの動作率の変化を示す。図６（１）については、モジュールＡ〜Ｃの動作率の変化をそれぞれグラフ６０１−１〜６０１−３に示す。図６（２）にはパケットの種別を変化させ、パケットの宛先を固定した検証シナリオによってシミュレーションした場合におけるモジュールごとの動作率の変化を示す。図６（２）については、モジュールＡ〜Ｃの動作率の変化をそれぞれグラフ６０２−１〜６０２−３に示す。図６（１）および図６（２）の各グラフの横軸はシミュレーションにおける時刻であり、縦軸は動作率である。
【００５２】
まず、図６（１）の例について説明する。図６（１）は、具体的に、パケットの宛先をＢとＣとに単位時間ごとに切り替えた検証シナリオを実行した場合の動作率の変化を示す。グラフ６０１−１はモジュールＡについての動作率の変化を示し、グラフ６０１−２はモジュールＢについての動作率の変化を示し、グラフ６０１−３はモジュールＣについての動作率の変化を示す。時刻１では、モジュールＢを宛先にしたパケットについてモジュールＡが処理を行うため、モジュールＡの動作率は１００［％］であり、モジュールＢおよびモジュールＣの動作率は０［％］である。
【００５３】
また、時刻２では、モジュールＣを宛先にしたパケットについてモジュールＡが処理を行うため、モジュールＡの動作率は１００［％］である。また、時刻２では、時刻１においてモジュールＡからモジュールＢに出力された処理結果に基づきモジュールＢが処理を行うため、モジュールＢの動作率は１００［％］である。また、時刻２では、時刻１においてモジュールＡからモジュールＣには出力されないためモジュールＣは０［％］である。
【００５４】
また、時刻３では、モジュールＢを宛先にしたパケットについてモジュールＡが処理を行うため、モジュールＡの動作率は１００［％］である。また、時刻３では、時刻２においてモジュールＡからモジュールＢに出力されないため、モジュールＢの動作率は０［％］である。また、時刻３では、時刻２においてモジュールＡからモジュールＣに出力された処理結果に基づきモジュールＣが処理を行うため、モジュールＣの動作率は１００［％］である。時刻４以降については、時刻２と時刻３と同様に、パケットの宛先がＢとＣとで交互に切り替わる。そのため、時刻４以降については、モジュールＢの動作率とモジュールＣの動作率とは１００［％］と０［％］とで交互に切り替わり、モジュールＡの動作率はパケットの宛先に関係なく常時１００［％］である。
【００５５】
つぎに、図６（２）の例について説明する。図６（２）は、具体的に、パケットの宛先をＢに固定し、パケットの種別を単位時間ごとに切り替えた検証シナリオにおける動作率の変化を示す。グラフ６０２−１はモジュールＡについての動作率の変化を示し、グラフ６０２−２はモジュールＢについての動作率の変化を示し、グラフ６０２−３はモジュールＣについての動作率の変化を示す。時刻１では、モジュールＢを宛先にしたパケットについてモジュールＡが処理を行うため、モジュールＡの動作率は１００［％］であり、モジュールＢおよびモジュールＣの動作率は０［％］である。
【００５６】
時刻２では、モジュールＢを宛先にしたパケットについてモジュールＡが処理を行うため、モジュールＡの動作率は１００［％］である。また、時刻２では、時刻１においてモジュールＡからモジュールＢに出力された処理結果に基づきモジュールＢが処理を行うため、モジュールＢの動作率は１００［％］である。また、時刻２では、時刻１においてモジュールＡからモジュールＣには出力されないためモジュールＣは０［％］である。時刻３以降については、パケットの宛先が固定であるため、各モジュールの動作率は時刻２と同じになる。
【００５７】
つぎに、導出部３０４は、取得した動作情報１０５に基づいて、動作状態の変化の度合いを導出する。例えば、導出部３０４は、動作状態の変化の度合いとして、時刻間の動作率の変化の絶対値の和の平均値を算出する。ここでは、時刻間の動作率の変化は、例えば、ある時刻における動作率とつぎの時刻の動作率との差分値によって表す。図６（１）のモジュールＡの動作率を例に挙げると、時刻１では１００［％］であり、時刻２では１００［％］であるため、時刻１と時刻２と間の動作率の差分値は０である。
【００５８】
まず、図６（１）を例にしたモジュールの各々についての動作率の変化の度合いの算出例を以下に示す。
・モジュールＡ：（｜１００−１００｜×７）／７＝０
・モジュールＢ：（｜０−１００｜×４＋｜１００−０｜×３）／７＝１００
・モジュールＣ：（｜０−０｜×１＋｜０−１００｜×３＋｜１００−０｜×３）／７＝８５
【００５９】
図６（１）を例にした場合の全体の動作率の変化の度合いは、
０＋１００＋８５＝１８５
である。
【００６０】
つぎに、図６（２）を例にしたモジュールの各々についての動作率の変化の度合いの算出例を以下に示す。
・モジュールＡ：（｜１００−１００｜×７）／７＝０
・モジュールＢ：（｜０−１００｜×１＋｜１００−１００｜×６）／７＝１４
・モジュールＣ：（｜０−０｜×７）／７＝０
【００６１】
図６（２）を例にした場合の全体の動作率の変化の度合いは、
０＋１４＋０＝１４
である。なお、ここでは、変化の度合いは大きい値であるほど高いことを示す。
【００６２】
つぎに、選択部３０５は、複数の入力パラメータの各々について導出した度合いに基づいて、複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する。具体的に、例えば、選択部３０５は、導出した度合いに基づいて、複数の入力パラメータから、指定数の入力パラメータを主パラメータとして選択する。例えば、選択部３０５は、複数の入力パラメータのうち、主パラメータ以外の入力パラメータを従パラメータとして選択する。
【００６３】
また、選択部３０５による選択結果は、ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶される。指定数は、例えば、複数の入力パラメータの数よりも少ない数である。例えば、指定数は利用者によって定められる。上述のパケット中継装置４００の例では、入力パラメータがパケットの宛先とパケットの種別との２つであるため、指定数を１とする。上述の例のようにパケットの宛先について導出した度合いは「１８５」であり、パケットの種別について導出した度合いは「１４」である。パケットの宛先についての度合いがパケットの種別についての度合いよりも大きいため、選択部３０５は、パケットの宛先を主パラメータとして選択し、パケットの種別を従パラメータとして選択する。
【００６４】
また、例えば、選択部３０５は、複数の入力パラメータから、導出した度合いが閾値以上の入力パラメータを選択する。閾値については、検証の対象装置１０１の機能や規模などに応じて利用者によって定められる。また、例えば、選択部３０５によって指定数のパラメータを主パラメータとして選択させるために、利用者は、キーボードやマウスなどの入力装置を介して閾値を調整してもよい。
【００６５】
上述のパケット中継装置４００を例に挙げると、パケットの宛先について導出した度合いは「１８５」であり、パケットの種別について導出した度合いは「１４」であり、閾値を「１００」とする。例えば、選択部３０５は、パケットの宛先とパケットの種別との２つの入力パラメータから、導出した度合いが閾値以上であるパケットの宛先を主パラメータとして選択し、導出した度合いが閾値よりも小さいパケットの種別を従パラメータとして選択する。
【００６６】
これにより、検証の対象装置１０１に異なる負荷を与える可能性が高い入力パラメータが選別される。したがって、同様の負荷を繰り返して検証することを抑制することができ、検証効率の向上を図ることができる。
【００６７】
つぎに、第２生成部３０６は、選択した主パラメータが取り得る複数通りの値の組み合わせを含む検証シナリオであり、従パラメータの値を特定値にした検証シナリオを生成する。特定値とは、Ｄｅｆａｕｌｔ値のような固定値であってもよいし、ランダム値であってもよい。このように、検証支援装置１００によれば、より多くの種類の負荷を与えることができる検証シナリオを自動で生成することができるため、検証の容易化を図ることができる。
【００６８】
図７は、ランダム検証シナリオの例を示す説明図である。ここで、上述したパケット中継装置４００の例において、第２生成部３０６は、例えば、入力パケット数が１０個である検証シナリオを生成することとする。例えば、第２生成部３０６は、主パラメータとして選択されたパケットの宛先については重複なく網羅的に値を設定し、従パラメータとして選択されたパケットの種別についてはランダムに値を設定した検証シナリオ７０１，７０２などを生成する。
【００６９】
例えば、パケットの宛先が２通りであり、入力パケット数が１０個であるため、主パラメータであるパケットの宛先の取り得る検証シナリオの総パタン数は２＾１０＝１０２４通りとなる。ここでは「＾」は冪乗を示す。例えば、従パラメータであるパケットの種別も同様に網羅的に値を設定した検証シナリオを生成する場合、すべての入力パラメータの取り得る入力パタンの総数は、（２＾１０）×（１０＾１０）＝１×１０＾１３（約１０兆）通りとなる。
【００７０】
そのため、本実施の形態では、すべての入力パラメータについて網羅的に値を設定した場合と同様の検証カバレッジを得ることができる。さらに、本実施の形態では、例えばすべての入力パラメータについて値を設定した場合の１／１００億（約１０００／約１０兆）の時間で検証を行うことができる。このように、同様の負荷を繰り返して検証することを抑制することによって、シミュレーション時間やシミュレーション結果に基づく検証時間を短縮するなどの検証効率の向上を図ることができる。
【００７１】
（検証支援装置１００による検証支援処理手順例）
図８〜図１２を用いて検証支援装置１００による検証支援処理手順例について説明する。図８は、マイクロ検証シナリオ生成処理手順例を示すフローチャートである。まず、検証支援装置１００は、入力パラメータ一覧３１１を取得して全入力パラメータのデフォルト値を読み込む（ステップＳ８０１）。つぎに、検証支援装置１００は、入力パラメータを１つ抽出する（ステップＳ８０２）。
【００７２】
そして、検証支援装置１００は、抽出した入力パラメータのみ、値を最小値としたシナリオを生成する（ステップＳ８０３）。ステップＳ８０３において、検証支援装置１００は、抽出した入力パラメータ以外の入力パラメータについてはデフォルト値としてシナリオを生成する。検証支援装置１００は、抽出したパラメータのみ、値を最大値としたシナリオを生成する（ステップＳ８０４）。ステップＳ８０４において、検証支援装置１００は、抽出した入力パラメータ以外の入力パラメータについてはデフォルト値としてシナリオを生成する。
【００７３】
つぎに、検証支援装置１００は、指定されたシナリオ数を生成したか否かを判断する（ステップＳ８０５）。指定されたシナリオ数を生成していないと判断された場合（ステップＳ８０５：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、抽出したパラメータのみ、値をランダム値としたシナリオを生成し（ステップＳ８０６）、ステップＳ８０５へ戻る。一方、指定されたシナリオ数を生成したと判断された場合（ステップＳ８０５：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、未抽出のパラメータがあるか否かを判断する（ステップＳ８０７）。
【００７４】
未抽出のパラメータがあると判断された場合（ステップＳ８０７：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、ステップＳ８０２に戻る。ステップＳ８０２に戻ることにより、検証支援装置１００は、未抽出のパラメータから、あらたに１つの入力パラメータを抽出する。一方、未抽出のパラメータがないと判断された場合（ステップＳ８０７：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、一連の処理を終了する。
【００７５】
図９は、動作率の取得および変化の度合いの導出処理手順例を示すフローチャートである。図８に示すようにマイクロ検証シナリオ３１２を生成した後に、検証支援装置１００は、未実行の検証シナリオを読み出す（ステップＳ９０１）。そして、検証支援装置１００は、読み出した検証シナリオによるＲＴＬシミュレーションをシミュレーション装置３１４に実行させる（ステップＳ９０２）。ステップＳ９０２において、具体的には、検証支援装置１００は、検証シナリオと、装置情報１０３と、をシミュレーション装置３１４に与えてＲＴＬシミュレーションを行わせる。
【００７６】
つぎに、検証支援装置１００は、未選択のモジュールから１つモジュールを選択してモジュールの動作率を取得する（ステップＳ９０３）。検証支援装置１００は、取得した動作率の変化の度合いを算出する（ステップＳ９０４）。検証支援装置１００は、未選択のモジュールがあるか否かを判断する（ステップＳ９０５）。未選択のモジュールがあると判断された場合（ステップＳ９０５：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、ステップＳ９０３へ戻る。一方、未選択のモジュールがないと判断された場合（ステップＳ９０５：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、算出した度合いを合計することにより全体の変化の度合いを算出する（ステップＳ９０６）。検証支援装置１００は、算出結果をＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶させる（ステップＳ９０７）。
【００７７】
検証支援装置１００は、未実行の検証シナリオがあるか否かを判断する（ステップＳ９０８）。未実行の検証シナリオがあると判断された場合（ステップＳ９０８：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、ステップＳ９０１へ戻る。一方、未実行の検証シナリオがないと判断された場合（ステップＳ９０８：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、一連の処理を終了する。
【００７８】
図１０は、入力パラメータの選択処理手順例１を示すフローチャートである。動作率の取得処理と動作率の変化の度合いの算出処理の後に、検証支援装置１００は、未選択の入力パラメータがあるか否かを判断する（ステップＳ１００１）。未選択の入力パラメータがあると判断された場合（ステップＳ１００１：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、未選択の入力パラメータのうちの１つの入力パラメータについての動作率の変化の度合いを抽出する（ステップＳ１００２）。
【００７９】
検証支援装置１００は、抽出した度合いが閾値以上であるか否かを判断する（ステップＳ１００３）。抽出した度合いが閾値以上であると判断された場合（ステップＳ１００３：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、対象の入力パラメータを主パラメータとして選択し（ステップＳ１００４）、ステップＳ１００１へ戻る。抽出した度合いが閾値以上でないと判断された場合（ステップＳ１００３：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、対象の入力パラメータを従パラメータとして選択し（ステップＳ１００５）、ステップＳ１００１へ戻る。閾値については、例えば、利用者が決定する。また、閾値については、選択結果に応じて利用者が変更し、再度選択処理を行ってもよいし、選択処理中に利用者が変更してもよい。
【００８０】
また、ステップＳ１００１において、未選択の入力パラメータがないと判断された場合（ステップＳ１００１：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、一連の処理を終了する。
【００８１】
図１１は、入力パラメータの選択処理手順例２を示すフローチャートである。図１１では、動作率の取得処理と動作率の変化の度合いの算出処理の後に行うパラメータの選択処理について図１０と異なる例を示す。まず、検証支援装置１００は、動作率の変化の度合いの高い順に入力パラメータをソートする（ステップＳ１１０１）。
【００８２】
つぎに、検証支援装置１００は、未選択の入力パラメータから動作率の変化の度合いが最も高い入力パラメータを主パラメータとして選択する（ステップＳ１１０２）。検証支援装置１００は、主パラメータの数が指定数となったか否かを判断する（ステップＳ１１０３）。指定数については、例えば、利用者によって予め定められてある。指定数となっていないと判断された場合（ステップＳ１１０３：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、ステップＳ１１０２へ戻る。指定数となったと判断された場合（ステップＳ１１０３：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、主パラメータとして選択した入力パラメータ以外の入力パラメータを従パラメータとして選択し（ステップＳ１１０４）、一連の処理を終了する。
【００８３】
図１２は、ランダム検証シナリオ生成処理手順例を示すフローチャートである。選択処理の後に、検証支援装置１００は、主パラメータを抽出する（ステップＳ１２０１）。つぎに、検証支援装置１００は、重複なく網羅的に主パラメータの値を生成する（ステップＳ１２０２）。そして、検証支援装置１００は、規定本数以上か否かを判断する（ステップＳ１２０３）。規定本数以上でないと判断された場合（ステップＳ１２０３：Ｎｏ）、検証支援装置１００は、ステップＳ１２０２へ戻る。規定本数については、例えば、利用者によって予め定められてある。
【００８４】
一方、規定本数以上であると判断された場合（ステップＳ１２０３：Ｙｅｓ）、検証支援装置１００は、生成した主パラメータの値と、ランダムに生成した従パラメータの値と、の入力パタンを含むランダム検証シナリオ３１３を生成し（ステップＳ１２０４）、一連の処理を終了する。ステップＳ１２０２とステップＳ１２０３を繰り返すことによって、主パラメータの値の取り得る組み合わせが規定数、重複なく網羅的に生成される。
【００８５】
以上説明したように、検証支援装置１００は、入力パラメータごとに値を変化させた場合における検証対象内のモジュールの動作状態の変化の度合いにより、多くの種類の負荷を検証対象に与える入力パラメータを選別する。これにより、同様の負荷を大量に与えることを抑制することができる。したがって、検証効率の向上を図ることができる。
【００８６】
また、検証支援装置１００は、導出した度合いが大きい順に、複数の入力パラメータから、指定数の一部の入力パラメータを選択する。これにより、より多くの種類の負荷を検証対象に与える指定数の入力パラメータを選別できる。したがって、検証効率の向上を図ることができる。
【００８７】
また、検証支援装置１００は、複数の入力パラメータの各々について、対象装置を示す装置情報と、入力パラメータの値を変化させた検証シナリオと、に基づいて、対象装置の動作のシミュレーションを行うことにより、動作情報を取得する。これにより、動作情報を容易に取得することができる。
【００８８】
また、動作情報はモジュールの単位時間当たりの動作率である。例えば、動作率はモジュールへの入力信号を伝搬するバスのビジー率である。このように、容易に取得可能な情報を動作情報とすることにより、動作状態の変化の度合いの導出の容易化を図ることができる。
【００８９】
また、検証支援装置１００は、選択した一部の入力パラメータが取り得る複数通りの値の組み合わせを含む検証シナリオであり、複数のパラメータのうち一部のパラメータ以外のパラメータの値を特定値にした検証シナリオを生成する。このように、より多くの種類の負荷を与えることができる検証シナリオが自動で生成されるため、検証の容易化を図ることができる。
【００９０】
なお、本実施の形態で説明した検証支援方法は、予め用意された検証支援プログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本検証支援プログラムは、磁気ディスク、光ディスク、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）フラッシュメモリなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、検証支援プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。
【００９１】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００９２】
（付記１）コンピュータが、
検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、
前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、
前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する、
処理を実行することを特徴とする検証支援方法。
【００９３】
（付記２）前記選択する処理では、導出した前記度合いが大きい順に、前記複数の入力パラメータから、指定数の前記一部の入力パラメータを選択することを特徴とする付記１に記載の検証支援方法。
【００９４】
（付記３）前記動作情報を取得する処理では、前記複数の入力パラメータの各々について、前記対象装置を示す装置情報と、前記入力パラメータの値を変化させた検証シナリオと、に基づいて、前記対象装置の動作のシミュレーションを行うことにより、前記動作情報を取得することを特徴とする付記１または２に記載の検証支援方法。
【００９５】
（付記４）前記動作情報は、前記モジュールの動作率であることを特徴とする付記１〜３のいずれか一つに記載の検証支援方法。
【００９６】
（付記５）前記コンピュータが、
選択した前記一部の入力パラメータが取り得る複数通りの値の組み合わせを含む検証シナリオであり、前記複数の入力パラメータのうち前記一部の入力パラメータ以外の入力パラメータの値を特定値にした検証シナリオを生成する、
処理を実行することを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の検証支援方法。
【００９７】
（付記６）コンピュータに、
検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、
前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、
前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する、
処理を実行させることを特徴とする検証支援プログラム。
【００９８】
（付記７）検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、
前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、
前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する、
制御部を有することを特徴とする検証支援装置。
【００９９】
（付記８）検証の対象装置の動作を定める複数の入力パラメータの各々について、前記入力パラメータの値を変化させて前記対象装置に与えた場合における前記入力パラメータの値の変化前と前記入力パラメータの値の変化後との各々に対応する前記対象装置に含まれるモジュールの動作状態を示す動作情報を取得し、
前記複数の入力パラメータの各々について、取得した前記動作情報に基づいて、前記動作状態の変化の度合いを導出し、
前記複数の入力パラメータの各々について導出した前記度合いに基づいて、前記複数の入力パラメータから一部の入力パラメータを選択する、
処理をコンピュータに実行させる検証支援プログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。
【符号の説明】
【０１００】
１００  検証支援装置
１０１  対象装置
１０２−１〜１０２−３  モジュール
１０３  装置情報
１０４−１，１０４−２  検証シナリオ
１０５−１，１０５−２  動作情報
４００  パケット中継装置
５００  観測モジュール
【図１】
2016081256.tif 000003
【図２】
2016081256.tif 000004
【図３】
2016081256.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2016081256.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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