(57)【要約】【課題】本発明は、長期信頼性を向上させることができるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。【解決手段】本発明のチップ抵抗器は、板状の金属で構成された抵抗体１１と、前記抵抗体１１の同一端部１１ａに形成され、互いに隙間をあけて位置する一対の電極１２と、前記抵抗体１１に形成されたトリミング溝１３とを備え、前記トリミング溝１３は前記一対の電極１２間の隙間における前記抵抗体１１の一端部１１ａに形成されたものである。【選択図】図１
2016015449.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
板状の金属で構成された抵抗体と、前記抵抗体の同じ一端部に接続され、かつ互いに隙間をあけて位置する一対の電極と、前記抵抗体に形成されたトリミング溝とを備え、前記トリミング溝は前記一対の電極が接続された前記抵抗体の一端部において前記一対の電極間の隙間に形成されたチップ抵抗器。
【請求項２】
前記トリミング溝の先端部よりも一対の電極が接続された前記抵抗体の一端部から離れた箇所における前記抵抗体に切欠部を設けた請求項１に記載のチップ抵抗器。
【請求項３】
前記トリミング溝の先端部に略円形状の貫通孔を、前記トリミング溝の先端部と連続するように形成した請求項１に記載のチップ抵抗器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子機器の電流値検出等に使用される高電力のチップ抵抗器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来のこの種のチップ抵抗器は、図４、図５に示すように、板状の金属で構成された抵抗体１と、この抵抗体１の対向する両端部に接続された一対の電極２と、抵抗体１に形成された抵抗値修正用のトリミング溝３とを備えていた。そして、抵抗体１は、一対の電極２に形成されたはんだフィレット４を介して、実装基板５のランドパターン６と電気的に接続されていた。
【０００３】
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−１４７６８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来のチップ抵抗器は、通電時に抵抗体１が発熱すると一対の電極２が対向する方向（図４の矢印方向）に膨張、収縮を繰り返すが、抵抗体１の熱膨張率と実装基板５の熱膨張率が違うため、抵抗体１と一対の電極２との接続部、一対の電極２とはんだフィレット４との接続部に応力が発生し、これにより、これらの間にクラックが生じるなどし、長期信頼性が悪化するという課題を有していた。
【０００６】
本発明は上記従来の課題を解決するもので、長期信頼性を向上させることができるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、板状の金属で構成された抵抗体と、前記抵抗体の同じ一端部に接続され、かつ互いに隙間をあけて位置する一対の電極と、前記抵抗体に形成されたトリミング溝とを備え、前記トリミング溝は前記一対の電極が接続された前記抵抗体の一端部において前記一対の電極間の隙間に形成されたものとしている。この構成によれば、一対の電極同士が対向する方向に膨張、収縮を繰り返しても、トリミング溝で応力を吸収し易くなるため、抵抗体と一対の電極との接続部、一対の電極とはんだフィレットとの接続部の応力が緩和され、これにより、長期信頼性を向上させることができるという作用効果が得られるものである。
【発明の効果】
【０００８】
以上のように本発明のチップ抵抗器は、一対の電極を、抵抗体の同じ一端部に接続し、かつ互いに隙間をあけて位置させ、さらに、トリミング溝を一対の電極が接続された抵抗体の一端部において一対の電極間の隙間に形成しているため、一対の電極同士が対向する方向に膨張、収縮を繰り返しても、トリミング溝で応力を吸収し易くなり、これにより、抵抗体と一対の電極との接続部、一対の電極とはんだフィレットとの接続部の応力が緩和されるため、長期信頼性を向上させることができるという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の上面図
【図２】同チップ抵抗器を実装した状態の上面図
【図３】同チップ抵抗器の他の例の上面図
【図４】従来のチップ抵抗器の上面図
【図５】同チップ抵抗器を実装した状態の側面図
【発明を実施するための形態】
【００１０】
図１は本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の上面図である。
【００１１】
本発明の一実施の形態における抵抗器は、図１に示すように、板状の金属で構成された抵抗体１１と、前記抵抗体１１の同一端部１１ａに接続され、かつ互いに隙間をあけて位置する一対の電極１２と、抵抗体１１に形成されたトリミング溝１３とを備えている。そして、トリミング溝１３は一対の電極１２が接続された抵抗体の一端部１１ａにおいて一対の電極１２間の隙間に形成している。
【００１２】
上記構成において、前記抵抗体１１は、板状のＣｕＮｉ、ＣｕＭｎ、ＮｉＣｒ等の金属で構成され、上面視にてその形状が４つの辺を有する４角形になっている。
【００１３】
さらに、前記一対の電極１２は、両方とも抵抗体１１の一端部１１ａ、すなわち上面視で抵抗体１１の４つの辺のうち１つの同じ辺に設けられ、さらに抵抗体１１に接続されている。そして、電極１２と電極１２とは隙間をあけて位置している。また、一対の電極１２は、Ｃｕを主成分とした別体の金属板を抵抗体１１に溶接して形成する。そして、一対の電極１２の周囲には、実装用のめっき層（図示せず）が形成されている。なお、図１、図２では、一対の電極１２の一部は抵抗体１１の一端部１１ａから突出するように、その端面が抵抗体１１の端面に接続されているが、必ずしもその必要はなく、一対の電極１２の一部分または全体を抵抗体１１の裏面に形成してもよい。
【００１４】
また、前記トリミング溝１３は、一対の電極１２が形成された抵抗体の一端部１１ａ、すなわち、一対の電極１２が形成された１つの辺において、電極１２と電極１２の間の隙間に形成されている。このトリミング溝１３は、所定の抵抗値になるように、レーザまたはパンチングで抵抗体１１の一部を除去して形成する。
【００１５】
さらに、少なくとも抵抗体１１とトリミング溝１３を覆うように、エポキシ樹脂またはシリコン樹脂を塗布、乾燥して、保護膜を形成してもよい。
【００１６】
そして、抵抗体１１は、一対の電極１２に形成されたはんだフィレット（図示せず）を介して、図２に示すような実装基板のランドパターン１４と電気的に接続され、これにより、面実装される。
【００１７】
本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器においては、一対の電極１２を、抵抗体１１の対向する端部にそれぞれ接続するのではなく、抵抗体１１の同一の一端部１１ａに並ぶように形成して抵抗体１１に接続し、かつ互いに隙間をあけて位置させ、さらにトリミング溝１３を、一対の電極１２間において、一対の電極１２が接続された抵抗体１１の一端部１１ａと同一の端部１１ａに形成しているため、一対の電極１２が並ぶ方向（図２のＸ方向）に膨張、収縮を繰り返しても、トリミング溝１３で応力を吸収し易くなり、これにより、抵抗体１１と一対の電極１２との接続部、一対の電極１２とはんだフィレットとの接続部の応力が緩和されるため、通電時に抵抗値変化を起こしたり実装信頼性が悪化したりすることはなく、長期信頼性を向上させることができるという効果が得られるものである。
【００１８】
また、一対の電極１２が対向する（並ぶ）方向と直角方向（図２のＹ方向）に膨張、収縮を繰り返しても、一対の電極１２が接続された抵抗体１１の一端部１１ａと対向する抵抗体１１の他端部１１ｂはフリーの状態になっているため、応力が生じることはなく、長期信頼性を悪化することはない。
【００１９】
さらに、上記のように抵抗体１１と一対の電極１２との接続部、一対の電極１２とはんだフィレットとの接続部の応力が緩和されるため、より高い負荷で使用することができる。
【００２０】
そしてまた、大型（高電力タイプ）のチップ抵抗器の場合、セラミック基板やアルミナ基板に実装するケースもあるが、これらの実装基板はチップ抵抗器との熱膨張率の差が大きいため、はんだクラックが発生しやすく、従来のチップ抵抗器には、このような実装基板は使えなかった。しかし、本発明のチップ抵抗器では、熱膨張率の差による応力を緩和できるため、実装基板にセラミック基板やアルミナ基板を使用しても、実装が可能性となる。
【００２１】
また、図１、図２に示すように、一対の電極１２が接続する抵抗体１１の一端部１１ａと対向する他端部１１ｂに切欠部１５を設けるようにしてもよい。
【００２２】
そして、この抵抗体１１の他端部１１ｂやその付近は抵抗値にあまり寄与しないため、切欠部１５によって抵抗値の微調整が可能になり、抵抗値精度のよいチップ抵抗器を得ることができる。
【００２３】
なお、上記の場合、トリミング溝１３の先端部１３ａよりも抵抗体１１の一端部１１ａから離れている箇所であれば、抵抗体１１の一対の電極１２が接続された１つの辺と隣り合う辺に切欠部１５を設けることが可能である。
【００２４】
さらにまた、図３に示すように、トリミング溝１３の先端部１３ａに略円形状の貫通孔を、トリミング溝１３の先端部１３ａと連続するように形成してもよい。これにより、最も大きな応力が印加されるトリミング溝１３の先端部１３ａにおいてその応力が分散されるため、一対の電極１２がＸ方向に膨張、収縮を繰り返しても、トリミング溝１３で応力をより吸収し易くなる。
【産業上の利用可能性】
【００２５】
本発明に係るチップ抵抗器は、長期信頼性を向上させることができるという効果を有するものであり、特に各種電子機器の電流値検出等に使用される高電力のチップ抵抗器等に適用することにより有用となるものである。
【符号の説明】
【００２６】
１１  抵抗体
１２  一対の電極
１３  トリミング溝
【図１】
2016015449.tif 000003
【図２】
2016015449.tif 000004
【図３】
2016015449.tif 000005
【図４】
2016015449.tif 000006
【図５】
2016015449.tif 000007