(57)【要約】【課題】  簡素な構成のテスト用治具でテストを行うことが可能なタッチパネルコントローラと、当該タッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具と、を提供する。【解決手段】  タッチパネルコントローラ１Ａは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂと、テスト信号入力端子２１ａ，２２ｂと、ドライバと、センスアンプと、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに一端が接続されるとともにテスト信号入力端子２１ａ，２２ｂに他端が接続される第１テスト用容量１８ａ，１８ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに一端が接続されるとともにテスト信号入力端子２１ａ，２２ｂに他端が接続される第２テスト用容量１９ａ，１９ｂと、を備える。センスアンプは、フィードバック容量を有しており、テスト信号入力端子２１ａ，２２ｂに入力されるテスト信号を増幅する。【選択図】  図１
2016081136.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つの第１電極と、当該第１電極と交差する少なくとも１つの第２電極と、を備えるタッチパネルの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラであって、
前記第１電極に接続するための少なくとも１つの第１入出力端子と、
前記第２電極に接続するための少なくとも１つの第２入出力端子と、
テスト信号が入力される少なくとも１つのテスト信号入力端子と、
前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方から出力されるドライブ信号を生成する少なくとも１つのドライバと、
前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方に入力されるセンス信号を増幅する少なくとも１つのセンスアンプと、
前記第１入出力端子に一端が接続されるとともに前記テスト信号入力端子に他端が接続される少なくとも１つの第１テスト用容量と、
前記第２入出力端子に一端が接続されるとともに、前記第１テスト用容量の他端が接続されているまたは接続されていない前記テスト信号入力端子に他端が接続される少なくとも１つの第２テスト用容量と、を備え、
前記センスアンプは、入力部に一端が接続されるとともに出力部に他端が接続されるフィードバック容量を有しており、前記テスト信号入力端子に入力されて前記第１テスト用容量または前記第２テスト用容量を介して前記入力部に与えられる前記テスト信号を増幅することを特徴とするタッチパネルコントローラ。
【請求項２】
前記センスアンプが、２つで１組の前記第１入出力端子及び２つで１組の前記第２入出力端子の少なくとも一方の組に入力される２つの前記センス信号を差動増幅するものであり、
前記組を構成する２つの前記第１入出力端子の一方に一端が接続される前記第１テスト用容量の他端と、当該組を構成する２つの前記第１入出力端子の他方に一端が接続される別の前記第１テスト用容量の他端と、が異なる前記テスト信号入力端子に接続され、
前記組を構成する２つの前記第２入出力端子の一方に一端が接続される前記第２テスト用容量の他端と、当該組を構成する２つの前記第２入出力端子の他方に一端が接続される別の前記第２テスト用容量の他端と、が異なる前記テスト信号入力端子に接続されることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネルコントローラ。
【請求項３】
前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子と前記センスアンプ及び前記ドライバとの接続状態を切り替えるセンスドライブ切替部を、さらに備え、
前記テスト信号入力端子として、第１テスト信号入力端子と、第２テスト信号入力端子と、を少なくとも１つずつ備え、
前記センスドライブ切替部は、前記第１入出力端子に前記センスアンプが接続されるとともに前記第２入出力端子に前記ドライバが接続される第１接続状態と、前記第１入出力端子に前記ドライバが接続されるとともに前記第２入出力端子に前記センスアンプが接続される第２接続状態と、を切り替えるものであり、
前記第１テスト用容量は、前記第１入出力端子に一端が接続されるとともに前記第１テスト信号入力端子に他端が接続され、
前記第２テスト用容量は、前記第２入出力端子に一端が接続されるとともに前記第２テスト信号入力端子に他端が接続されることを特徴とする請求項１または２に記載のタッチパネルコントローラ。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載のタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具であって、
前記タッチパネルコントローラの前記テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号の出力の有無を切り替える少なくとも１つのテスト信号出力切替部と、
前記タッチパネルコントローラの前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方から出力される前記ドライブ信号の入力の有無を切り替える少なくとも１つのドライブ信号入力切替部と、を備え、
前記テスト信号出力切替部の、前記第１テスト用容量の他端が接続されている前記テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態と、前記ドライブ信号入力切替部の、前記第１入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態と、のタイミングが異なり、
前記テスト信号出力切替部の、前記第２テスト用容量の他端が接続されている前記テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態と、前記ドライブ信号入力切替部の、前記第２入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態と、のタイミングが異なることを特徴とするテスト用治具。
【請求項５】
請求項３に記載のタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具であって、
前記タッチパネルコントローラの前記第１テスト信号入力端子及び前記第２テスト信号入力端子の少なくとも一方に入力される前記テスト信号の出力の有無を切り替える少なくとも１つのテスト信号出力切替部と、
前記タッチパネルコントローラの前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方から出力される前記ドライブ信号の入力の有無を切り替える少なくとも１つのドライブ信号入力切替部と、を備え、
前記テスト信号出力切替部が、前記第１テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態になる場合、前記ドライブ信号入力切替部が、前記第２入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態になり、
前記テスト信号出力切替部が、前記第２テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態になる場合、前記ドライブ信号入力切替部が、前記第１入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態になることを特徴とするテスト用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラと、当該タッチパネルコントローラのテストに使用されるテスト用治具と、に関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチパネルの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラは、回路形成等の所定の製造工程が終了した後に、それぞれの回路における異常の有無を判定するためのテストが行われる。通常、このようなテストでは、作業効率を上げるために、例えば特許文献１で提案されているようなテスト用治具（プローブカード）が用いられる。
【０００３】
ところで、投影型静電容量方式のタッチパネルの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラの中には、１つの入出力端子で信号の入力及び出力の両方を行うものがある（例えば、特許文献２参照）。このようなタッチパネルコントローラでは、入出力端子に入力される信号を処理する回路のテストと、入出力端子から出力される信号を生成する回路のテストと、の両方が行われる。しかし、この両方のテストを行う場合、様々な問題が生じる。
【０００４】
この問題について、図面を参照して具体的に説明する。最初に、従来のタッチパネルコントローラの構成について、図面を参照して説明する。図２５は、従来のタッチパネルコントローラの構成について示すブロック図である。
【０００５】
図２５に示すように、タッチパネルコントローラ１００は、第１電極ＥＬ１と、第１電極ＥＬ１と交差（例えば、垂直交差）する第２電極ＥＬ２とを備えたタッチパネルＴＰの動作を制御するものである。
【０００６】
タッチパネルコントローラ１００は、第１電極ＥＬ１に接続して信号が入力及び出力される第１入出力端子１０１と、第２電極ＥＬ２に接続して信号が入力及び出力される第２入出力端子１０２と、第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２に入力される信号を増幅するセンスアンプの集合体であるセンスアンプ部１０３と、第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２から出力されるドライブ信号を静止するドライバの集合体であるドライバ部１０４と、センスアンプ部１０３によって増幅された信号に対して所定の処理をすることでデータ信号を生成する信号処理部１０５と、タッチパネルコントローラ１００の各部（特に、センスアンプ部１０３、ドライバ部１０４及び信号処理部１０５）の動作を制御する動作制御部１０６と、を備える。
【０００７】
タッチパネルコントローラ１００では、動作制御部１０６の制御に従い、ドライバ部１０４が生成するドライブ信号が第１入出力端子１０１から出力されて第１電極ＥＬ１に与えられ、それによって第２電極ＥＬ２に生じるセンス信号が第２入出力端子１０２に入力される。そして、このセンス信号をセンスアンプ部１０３が増幅し、さらに信号処理部１０５が所定の処理をすることで、データ信号が生成される。
【０００８】
また、タッチパネルコントローラ１００では、動作制御部１０６の制御に従い、ドライバ部１０４が生成するドライブ信号が第２入出力端子１０２から出力されて第２電極ＥＬ２に与えられ、それによって第１電極ＥＬ１に生じるセンス信号が第１入出力端子１０１に入力される。そして、このセンス信号をセンスアンプ部１０３が増幅し、さらに信号処理部１０５が所定の処理をすることで、データ信号が生成される。
【０００９】
そして、上記のようにして生成される２種類のデータ信号を解析することで、タッチパネルＴＰにおける第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２の間の容量の大きさの面内分布（以下、単に「容量分布」という）を求めることができる。なお、上記のデータ信号は、いずれか１種類を解析するだけでも、容量分布を求めることができる。しかし、２種類のデータ信号をそれぞれ解析して比較することで、ノイズの影響を抑制して精度良く指示体を検出することが可能となる。
【００１０】
具体的に、投影型静電容量方式のタッチパネルＴＰでは、手などの比較的大きな容量変化を生じさせる指示体が接触すると、求められる容量分布において、指示体の接触領域を通過する電極であってセンス信号が生じる電極に沿ったノイズが発生し得る。そのため、上記のように、ドライブ信号を与える電極及びセンス信号を生じさせる電極を切り替えることで、ノイズの発生方向が異なった２種類のデータ信号を得ることができる。そして、この２種類のデータ信号を用いることによって、指示体（特に、容量変化が小さいタッチペンなど）の接触による容量の変化を、ノイズによる見かけ上の容量の変化と精度良く区別して検出することが可能になる。
【００１１】
また、投影型静電容量方式のタッチパネルＴＰでは、第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２の間の容量の大きさに応じたセンス信号が出力される。そのため、センスアンプ部１０３を構成する個々のセンスアンプは、例えば、フィードバック容量が設けられたオペアンプなどのＣ／Ｖ変換回路によって構成される（図２、図１０、図２０及び図２２参照）。
【００１２】
次に、上記のタッチパネルコントローラ１００のテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたタッチパネルコントローラ１００のテスト方法と、について図面を参照して説明する。図２６は、従来のタッチパネルコントローラのセンスアンプ部のテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部のテスト方法と、について示すブロック図である。図２７は、従来のタッチパネルコントローラのドライバ部のテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたドライバ部のテスト方法と、について示すブロック図である。
【００１３】
図２６に示すように、センスアンプ部１０３のテストを行う場合に用いられるテスト用治具２００は、プローブ針や配線などを介して第１入出力端子１０１と電気的に接続する第１テスト信号出力端子２０１と、プローブ針や配線などを介して第２入出力端子１０２と電気的に接続する第２テスト信号出力端子２０２と、第１テスト信号出力端子２０１から出力されるテスト信号を生成する第１テスト信号生成回路２０３と、第１テスト信号生成回路２０３に一端が接続されて第１テスト信号出力端子２０１に他端が接続される第１テスト用容量２０４と、第２テスト信号出力端子２０２から出力されるテスト信号を生成する第２テスト信号生成回路２０５と、第２テスト信号生成回路２０５に一端が接続されて第２テスト信号出力端子２０２に他端が接続される第２テスト用容量２０６と、を備える。なお、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６のそれぞれの容量の大きさは、タッチパネルＴＰにおける第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２の間の容量の大きさと同程度であり、典型的には数ｐＦ程度である。
【００１４】
センスアンプ部１０３のテストでは、第１テスト信号生成回路２０３及び第２テスト信号生成回路２０５で生成されるテスト信号が、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６を介して第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２に入力される。第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２に入力されるテスト信号は、センスアンプ部１０３で増幅され、さらに信号処理部１０５で処理される。そして、信号処理部１０５の処理によって生成されるデータ信号に基づいて、センスアンプ部１０３やその周辺回路における異常の有無を判定することができる。
【００１５】
センスアンプ部１０３のテストを行う場合、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６が必要である。なぜなら、センスアンプ部１０３を構成する個々のセンスアンプがフィードバック容量を有しているため（図２、図１０、図２０及び図２２参照）、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６を用いることなくセンスアンプに対して直流の信号を与えると、センスアンプが積分回路として動作して飽和してしまい、テストを行うことができなくなるからである。
【００１６】
これに対して、図２７に示すように、ドライバ部１０４のテストを行う場合に用いられるテスト用治具３００は、プローブ針や配線などを介して第１入出力端子１０１と電気的に接続する第１ドライブ信号入力端子３０１と、プローブ針や配線などを介して第２入出力端子１０２と電気的に接続する第２ドライブ信号入力端子３０２と、第１ドライブ信号入力端子３０１に入力されるドライブ信号を検出する第１ドライブ信号検出回路３０３と、第２ドライブ信号入力端子３０２に入力されるドライブ信号を検出する第２ドライブ信号検出回路３０４と、を備える。
【００１７】
ドライバ部１０４のテストでは、ドライバ部１０４で生成されて第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２から出力されるドライブ信号が、第１ドライブ信号入力端子３０１及び第２ドライブ信号入力端子３０２に入力される。第１ドライブ信号入力端子３０１及び第２ドライブ信号入力端子３０２に入力されるドライブ信号は、第１ドライブ信号検出回路３０３及び第２ドライブ信号検出回路３０４によって検出される。そして、第１ドライブ信号検出回路３０３及び第２ドライブ信号検出回路３０４の検出結果に基づいて、ドライバ部１０４やその周辺回路における異常の有無を判定することができる。
【００１８】
ドライバ部１０４のテストを行う場合、図２６に示したような第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６は不要であり、むしろ、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６が設置された状態ではドライバ部１０４のテストを行うことができない。なぜなら、ドライブ信号は直流の電圧信号であるため、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６が設置された状態では、ドライブ信号が遮断されてテストを行うことができなくなるからである。
【００１９】
このように、センスアンプ部１０３のテストでは第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６の設置が必要であるのに対して、ドライバ部１０４のテストでは第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６の設置が許されない。そのため、図２６及び図２７に示すように、センスアンプ部１０３及びドライバ部１０４のいずれのテストを行うかに応じて、それぞれのテストを行うための専用のテスト用治具２００，３００を付け替える必要がある。
【００２０】
しかし、センスアンプ部１０３及びドライバ部１０４のいずれのテストを行うかに応じて、テスト用治具２００，３００を付け替えるようにすると、タッチパネルコントローラ１００のテストの工程が煩雑になるため、好ましくない。そこで、テスト用治具２００，３００の付け替えを不要とした、新たなテスト用治具の登場が期待されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２１】
【特許文献１】特開２０００−３２３５３５号公報
【特許文献２】特開２０１３−００８３１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２２】
ところで、テスト用治具２００，３００の付け替えを不要とすることが可能なテスト用治具として、第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６をバイパスするスイッチを設けて、当該スイッチのオン及びオフの切り替えによって第１テスト用容量２０４及び第２テスト用容量２０６の使用の有無を切り替え可能としたテスト用治具が考えられる。このテスト用治具を用いれば、１つのテスト用治具を用いてセンスアンプ部１０３及びドライバ部１０４の両方のテストを行うことができるため、テスト用治具２００，３００の付け替えを不要とすることが可能になる。
【００２３】
このテスト用治具について、図面を参照して説明する。図２８は、従来のタッチパネルコントローラのセンスアンプ部及びドライバ部のそれぞれのテストにおいて付け替えが不要であるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部のテスト方法と、について示すブロック図である。図２９は、従来のタッチパネルコントローラのセンスアンプ部及びドライバ部のそれぞれのテストにおいて付け替えが不要であるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたドライバ部のテスト方法と、について示すブロック図である。
【００２４】
図２８及び図２９に示すように、テスト用治具４００は、プローブ針や配線などを介して第１入出力端子１０１と電気的に接続する第１テスト／ドライブ信号入出力端子４０１と、プローブ針や配線などを介して第２入出力端子１０２と電気的に接続する第２テスト／ドライブ信号入出力端子４０２と、第１テスト／ドライブ信号入出力端子４０１から出力されるテスト信号を生成する第１テスト信号生成回路４０３と、第１テスト／ドライブ信号入出力端子４０１に入力されるドライブ信号を検出する第１ドライブ信号検出回路４０４と、第１テスト信号生成回路４０３及び第１ドライブ信号検出回路４０４のいずれか一方と選択的に接続する第１テスト対象切替部４０５と、第１テスト対象切替部４０５に一端が接続されて第１テスト／ドライブ信号入出力端子４０１に他端が接続される第１テスト用容量４０６と、第１テスト用容量４０６をバイバスするための第１バイパススイッチ４０７と、第２テスト／ドライブ信号入出力端子４０２から出力されるテスト信号を生成する第２テスト信号生成回路４０８と、第２テスト／ドライブ信号入出力端子４０２に入力されるドライブ信号を検出する第２ドライブ信号検出回路４０９と、第２テスト信号生成回路４０８及び第２ドライブ信号検出回路４０９のいずれか一方と選択的に接続する第２テスト対象切替部４１０と、第２テスト対象切替部４１０に一端が接続されて第２テスト／ドライブ信号入出力端子４０２に他端が接続される第２テスト用容量４１１と、第２テスト用容量４１１をバイバスするための第１バイパススイッチ４１２と、を備える。なお、第１テスト用容量４０６及び第２テスト用容量４１１のそれぞれの容量の大きさは、タッチパネルＴＰにおける第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２の間の容量の大きさと同程度であり、典型的には数ｐＦ程度である。
【００２５】
図２８に示すように、センスアンプ部１０３のテストを行う場合、第１テスト対象切替部４０５は第１テスト信号生成回路４０３に接続し、第２テスト対象切替部４１０は第２テスト信号生成回路４０８に接続する。さらに、第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２はオフ（オープン）になる。これにより、第１テスト信号生成回路４０３及び第２テスト信号生成回路４０８によって生成されるテスト信号が、第１テスト用容量４０６及び第２テスト用容量４１１を介して第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２に入力され、センスアンプ部１０３に与えられる。
【００２６】
これに対して、図２９に示すように、ドライバ部１０４のテストを行う場合、第１テスト対象切替部４０５が第１ドライブ信号検出回路４０４に接続し、第２テスト対象切替部４１０が第２ドライブ信号検出回路４０９に接続する。さらに、第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２はオン（導通）になる。これにより、ドライバ部１０４によって生成されて第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２から出力されるドライブ信号が、第１テスト用容量４０６及び第２テスト用容量４１１を介することなく（バイパスして）、第１ドライブ信号検出回路４０４及び第２ドライブ信号検出回路４０９に与えられる。
【００２７】
テスト用治具４００で用いられる第１テスト用容量４０６及び第２テスト用容量４１１のそれぞれの容量の大きさは、上述のように数ｐＦ程度と極めて微小である。そのため、図２８に示すように、センスアンプ部１０３のテストを行う場合において、第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２がオフであるときのリーク電流が、センスアンプ部１０３のテストの結果に対して強く影響する。したがって、センスアンプ部１０３のテストを精度良く行うためには、第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２がオフであるときのリーク電流を、可能な限り小さくする必要がある。特に、第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２がオフであるときのリーク電流は、例えば１ｐＡ以下にしなければならない。
【００２８】
上記のような微小なリーク電流のスイッチは、ＭＯＳＦＥＴ（Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor）等の電圧制御式のスイッチでは実現することが極めて困難であるため、リレースイッチ等の機械制御式のスイッチで実現せざるを得ない。しかし、機械制御式のスイッチは、電圧制御式のスイッチと比較してサイズが極めて大きくなるため、テスト用治具（プローブカード）上への実装が困難になる。
【００２９】
特に、タッチパネルコントローラ１００の第１入出力端子１０１及び第２入出力端子１０２の合計数は、タッチパネルＴＰの第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２の合計本数（例えば、大画面用のタッチパネルＴＰでは数百本）と同数であり、必要になる第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２の合計個数もこれと同数になるため、膨大な数になってしまう。したがって、機械制御式のスイッチで構成した第１バイパススイッチ４０７及び第２バイパススイッチ４１２を、テスト用治具（プローブカード）上に実装することは、現実的には極めて困難である。
【００３０】
そこで、本発明は、簡素な構成のテスト用治具でテストを行うことが可能なタッチパネルコントローラと、当該タッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具と、を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３１】
上記目的を達成するため、本発明は、少なくとも１つの第１電極と、当該第１電極と交差する少なくとも１つの第２電極と、を備えるタッチパネルの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラであって、前記第１電極に接続するための少なくとも１つの第１入出力端子と、前記第２電極に接続するための少なくとも１つの第２入出力端子と、テスト信号が入力される少なくとも１つのテスト信号入力端子と、前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方から出力されるドライブ信号を生成する少なくとも１つのドライバと、前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方に入力されるセンス信号を増幅する少なくとも１つのセンスアンプと、前記第１入出力端子に一端が接続されるとともに前記テスト信号入力端子に他端が接続される少なくとも１つの第１テスト用容量と、前記第２入出力端子に一端が接続されるとともに、前記第１テスト用容量の他端が接続されているまたは接続されていない前記テスト信号入力端子に他端が接続される少なくとも１つの第２テスト用容量と、を備え、前記センスアンプは、入力端子に一端が接続されるとともに出力端子に他端が接続されるフィードバック容量を有しており、前記テスト信号入力端子に入力されて前記第１テスト用容量または前記第２テスト用容量を介して前記入力部に与えられる前記テスト信号を増幅することを特徴とするタッチパネルコントローラを提供する。
【００３２】
さらに、上記特徴のタッチパネルコントローラにおいて、前記センスアンプが、２つで１組の前記第１入出力端子及び２つで１組の前記第２入出力端子の少なくとも一方の組に入力される２つの前記センス信号を差動増幅するものであり、前記組を構成する２つの前記第１入出力端子の一方に一端が接続される前記第１テスト用容量の他端と、当該組を構成する２つの前記第１入出力端子の他方に一端が接続される別の前記第１テスト用容量の他端と、が異なる前記テスト信号入力端子に接続され、前記組を構成する２つの前記第２入出力端子の一方に一端が接続される前記第２テスト用容量の他端と、当該組を構成する２つの前記第２入出力端子の他方に一端が接続される別の前記第２テスト用容量の他端と、が異なる前記テスト信号入力端子に接続されると、好ましい。
【００３３】
さらに、上記特徴のタッチパネルコントローラにおいて、前記ドライバとして、前記第１入出力端子から出力される前記ドライブ信号を生成する第１ドライバと、前記第２入出力端子から出力される前記ドライブ信号を生成する第２ドライバと、を少なくとも１つずつ備え、前記センスアンプとして、前記第１入出力端子に入力される前記センス信号を増幅する第１センスアンプと、前記第２入出力端子に入力される前記センス信号を増幅する第２センスアンプと、を少なくとも１つずつ備え、前記第１入出力端子に一端が接続される少なくとも１つの前記第１テスト用容量の他端と、前記第２入出力端子に一端が接続される少なくとも１つの前記第２テスト用容量の他端と、が同じ前記テスト信号入力端子に接続されてもよい。
【００３４】
また、上記特徴のタッチパネルコントローラにおいて、前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子と前記センスアンプ及び前記ドライバとの接続状態を切り替えるセンスドライブ切替部を、さらに備え、前記テスト信号入力端子として、第１テスト信号入力端子と、第２テスト信号入力端子と、を少なくとも１つずつ備え、前記センスドライブ切替部は、前記第１入出力端子に前記センスアンプが接続されるとともに前記第２入出力端子に前記ドライバが接続される第１接続状態と、前記第１入出力端子に前記ドライバが接続されるとともに前記第２入出力端子に前記センスアンプが接続される第２接続状態と、を切り替えるものであり、前記第１テスト用容量は、前記第１入出力端子に一端が接続されるとともに前記第１テスト信号入力端子に他端が接続され、前記第２テスト用容量は、前記第２入出力端子に一端が接続されるとともに前記第２テスト信号入力端子に他端が接続されていてもよい。
【００３５】
また、本発明のテスト用治具は、上記のタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具であって、前記タッチパネルコントローラの前記テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号の出力の有無を切り替える少なくとも１つのテスト信号出力切替部と、前記タッチパネルコントローラの前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方から出力される前記ドライブ信号の入力の有無を切り替える少なくとも１つのドライブ信号入力切替部と、を備え、前記テスト信号出力切替部の、前記第１テスト用容量の他端が接続されている前記テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態と、前記ドライブ信号入力切替部の、前記第１入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態と、のタイミングが異なり、前記テスト信号出力切替部の、前記第２テスト用容量の他端が接続されている前記テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態と、前記ドライブ信号入力切替部の、前記第２入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態と、のタイミングが異なることを特徴とする。
【００３６】
また、本発明のテスト用治具は、上記のタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具であって、前記タッチパネルコントローラの前記第１テスト信号入力端子及び前記第２テスト信号入力端子の少なくとも一方に入力される前記テスト信号の出力の有無を切り替える少なくとも１つのテスト信号出力切替部と、前記タッチパネルコントローラの前記第１入出力端子及び前記第２入出力端子の少なくとも一方から出力される前記ドライブ信号の入力の有無を切り替える少なくとも１つのドライブ信号入力切替部と、を備え、前記テスト信号出力切替部が、前記第１テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態になる場合、前記ドライブ信号入力切替部が、前記第２入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態になり、前記テスト信号出力切替部が、前記第２テスト信号入力端子に入力される前記テスト信号を出力する状態になる場合、前記ドライブ信号入力切替部が、前記第１入出力端子から出力される前記ドライブ信号を入力する状態になることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３７】
本発明のタッチパネルコントローラによれば、第１テスト用容量及び第２テスト用容量と、これらと接続するテスト信号入力端子と、をタッチパネルコントローラに設けることによって、センスアンプ及びドライバのそれぞれのテストを行う際のテスト用治具の付け替えを不要とする構成にしながらも、テスト用容量をバイパスするためのスイッチを不要とすることが可能になる。したがって、このタッチパネルコントローラによれば、テスト用容量をバイパスするためのスイッチを設けない簡素な構成のテスト用治具を用いて、テストを行うことが可能となる。
【００３８】
また、このタッチパネルコントローラでは、出荷後のタッチパネルコントローラの内部に受動素子（第１テスト用容量及び第２テスト用容量）は残るが、スイッチなどの能動素子は残らない。そのため、タッチパネルコントローラの内部に残った素子がタッチパネルコントローラの動作に対して影響を与えることを、抑制することができる。さらに、このタッチパネルコントローラでは、テスト信号入力端子を接地するという極めて簡単な工程を追加することによって、第１テスト用容量及び第２テスト用容量がタッチパネルコントローラの動作に対して影響を与えることを、効果的に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラの構成の一例について示すブロック図。
【図２】図１に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図。
【図３】図１に示すドライバ部の構成の具体例について示すブロック図。
【図４】図１に示すタッチパネルコントローラの動作例について示すブロック図。
【図５】図１に示すタッチパネルコントローラの動作例について示すブロック図。
【図６】図１に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部のテスト方法と、の一例について示すブロック図。
【図７】図６に示すテストにおいて各部から出力される信号の一例について示す信号波形図。
【図８】図１に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたドライバ部のテスト方法と、について示すブロック図。
【図９】本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラの構成の一例について示すブロック図。
【図１０】図９に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図。
【図１１】図９に示すドライバ部の構成の具体例について示すブロック図。
【図１２】図９に示すセンスドライブ切替部の構成の具体例について示すブロック図。
【図１３】図９に示すタッチパネルコントローラの動作例について示すブロック図。
【図１４】図９に示すタッチパネルコントローラの動作例について示すブロック図。
【図１５】図９に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部及びドライバ部のテスト方法と、の一例について示すブロック図。
【図１６】図９に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部及びドライバ部のテスト方法と、の一例について示すブロック図。
【図１７】図９に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部及びドライバ部のテスト方法と、の変形例について示すブロック図。
【図１８】図９に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部及びドライバ部のテスト方法と、の変形例について示すブロック図。
【図１９】本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラに対して別のセンスアンプを適用した変形例の構成について示すブロック図。
【図２０】図１９に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図。
【図２１】本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラに対して別のセンスアンプを適用した変形例の構成について示すブロック図。
【図２２】図２０に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図。
【図２３】本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラにおけるテスト時に使用する回路を変形した変形例の構成を示すブロック図。
【図２４】本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラにおけるテスト時に使用する回路を変形した変形例の構成を示すブロック図。
【図２５】従来のタッチパネルコントローラの構成について示すブロック図。
【図２６】従来のタッチパネルコントローラのセンスアンプ部のテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部のテスト方法と、について示すブロック図。
【図２７】従来のタッチパネルコントローラのドライバ部のテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたドライバ部のテスト方法と、について示すブロック図。
【図２８】従来のタッチパネルコントローラのセンスアンプ部及びドライバ部のそれぞれのテストにおいて付け替えが不要であるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部のテスト方法と、について示すブロック図。
【図２９】従来のタッチパネルコントローラのセンスアンプ部及びドライバ部のそれぞれのテストにおいて付け替えが不要であるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたドライバ部のテスト方法と、について示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００４０】
＜＜第１実施形態＞＞
最初に、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラと、当該タッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具と、についてそれぞれ説明する。
【００４１】
＜タッチパネルコントローラの構成及び動作＞
最初に、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラの構成及び動作について、図面を参照して説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラの構成の一例について示すブロック図である。
【００４２】
図１に示すように、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａは、第１電極ＥＬ１と、第１電極ＥＬ１と交差（例えば、垂直交差）する第２電極ＥＬ２と、を備えたタッチパネルＴＰの動作を制御するものである。
【００４３】
タッチパネルコントローラ１Ａは、第１電極ＥＬ１に接続するための第１入出力端子１１ａ，１１ｂと、第２電極ＥＬ２に接続するための第２入出力端子１２ａ，１２ｂと、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力されるセンス信号を増幅するセンスアンプの集合体であるセンスアンプ部１３Ａと、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されるドライブ信号を生成するドライバの集合体であるドライバ部１４Ａと、センスアンプ部１３Ａによって増幅された信号に対して所定の処理を施すことでデータ信号を生成する信号処理部１５と、タッチパネルコントローラ１Ａの各部（特に、センスアンプ部１３Ａ、ドライバ部１４Ａ及び信号処理部１５）の動作を制御する動作制御部１６と、タッチパネルコントローラ１Ａのテストを行う場合にテスト信号が入力されるテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂと、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに一端が接続されてテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂに他端が接続される第１テスト用容量１８ａ，１８ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに一端が接続されてテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂに他端が接続される第２テスト用容量１９ａ，１９ｂと、を備える。
【００４４】
ここで、センスアンプ部１３Ａ及びドライバ部１４Ａの具体的な構成について、図面を参照して説明する。図２は、図１に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図である。図３は、図１に示すドライバ部の構成の具体例について示すブロック図である。
【００４５】
図２に示すように、センスアンプ部１３Ａは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに入力されるセンス信号を増幅する第１センスアンプＳＡ１と、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力されるセンス信号を増幅する第２センスアンプＳＡ２と、を備える。即ち、タッチパネルコントローラ１Ａでは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対応する第１センスアンプＳＡ１と、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対応する第１センスアンプＳＡ１と、が別々に設けられている。
【００４６】
第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２のそれぞれは、完全差動型のオペアンプＯＰと、２つのフィードバック容量ＣＦ１，ＣＦ２と、を備える。フィードバック容量ＣＦ１は、オペアンプＯＰの反転入力端子（入力部）に一端が接続され、オペアンプＯＰの非反転出力端子（出力部）に他端が接続される。フィードバック容量ＣＦ２は、オペアンプＯＰの非反転入力端子（入力部）に一端が接続され、オペアンプＯＰの反転出力端子（出力部）に他端が接続される。さらに、第１センスアンプＳＡ１では、オペアンプＯＰの反転入力端子に第１入出力端子１１ａが接続され、オペアンプＯＰの非反転入力端子に第１入出力端子１１ｂが接続される。同様に、第２センスアンプＳＡ２では、オペアンプＯＰの反転入力端子に第２入出力端子１２ａが接続され、オペアンプＯＰの非反転入力端子に第２入出力端子１２ｂが接続される。
【００４７】
第１センスアンプＳＡ１は、２つで１組の第１入出力端子１１ａ，１１ｂに入力される２つのセンス信号を差動増幅する。このとき、１つの第１センスアンプＳＡ１に接続される２つの第１入出力端子１１ａ，１１ｂが、図１に示すように隣接（または近接）する２つの第１電極ＥＬ１に接続されると、好ましい。これは、投影型静電容量方式のタッチパネルＴＰでは、隣接（または近接）する電極において同様のパターンのノイズが発生する可能性が高いことから、同様のパターンのノイズを含む２つのセンス信号を差動増幅することによって、当該ノイズを効果的に打ち消すことができるからである。同様に、第２センスアンプＳＡ２も、２つで１組の第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力される２つのセンス信号を差動増幅するものであり、１つの第２センスアンプＳＡ２に接続される２つの第２入出力端子１２ａ，１２ｂが、隣接（または近接）する２つの第２電極ＥＬ２に接続されると、好ましい。
【００４８】
また、図３に示すように、ドライバ部１４Ａは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力されるドライブ信号を生成する第１ドライバＤ１と、第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されるドライブ信号を生成する第２ドライバＤ２と、を備える。即ち、タッチパネルコントローラ１Ａでは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対応する第１ドライバＤ１と、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対応する第２ドライバＤ２と、が別々に設けられている。
【００４９】
第１ドライバＤ１は、第１入出力端子１１ａ，１１ｂの組とは無関係に、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対して１つずつ設けられている。同様に、第２ドライバＤ２も、第２入出力端子１２ａ，１２ｂの組とは無関係に、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対して１つずつ設けられている。また、第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２は、動作制御部１６の制御に従って、例えば、所定の２値の電圧値を取り得る電圧信号であるドライブ信号を生成する。
【００５０】
また、図１に示すように、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂも、第１入出力端子１１ａ，１１ｂと同様に、それぞれ２つで１組として設けられている。組の一方の第１テスト用容量１８ａは、組の一方の第１入出力端子１１ａに一端が接続され、組の一方のテスト信号入力端子１７ａに他端が接続される。同様に、組の他方の第１テスト用容量１８ｂは、組の他方の第１入出力端子１１ｂに一端が接続され、組の他方のテスト信号入力端子１７ｂに他端が接続される。また、組の一方の第２テスト用容量１９ａは、組の一方の第２入出力端子１２ａに一端が接続され、組の一方のテスト信号入力端子１７ａに他端が接続される。同様に、組の他方の第２テスト用容量１９ｂは、組の他方の第２入出力端子１２ｂに一端が接続され、組の他方のテスト信号入力端子１７ｂに他端が接続される。
【００５１】
ただし、図１に示すように、タッチパネルコントローラ１Ａのテストが終了して、タッチパネルコントローラ１ＡがタッチパネルＴＰに接続される際には、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂは接地される。これは、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂのそれぞれの他端が接続されるテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂを接地することによって、テストを行うために設けられている第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂが、タッチパネルコントローラ１Ａの動作（特に、タッチパネルＴＰの動作を制御するための動作）に対して影響を与えることを、抑制するためである。
【００５２】
次に、タッチパネルコントローラ１Ａの動作について、図面を参照して説明する。図４及び図５は、図１に示すタッチパネルコントローラの動作例について示すブロック図である。
【００５３】
図４に示す動作例では、動作制御部１６が、ドライバ部１４Ａを構成する第２ドライバＤ２と、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１と、を選択的に動作させている。これにより、第２ドライバＤ２が生成するドライブ信号が第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されて第２電極ＥＬ２に与えられ、これによって第１電極ＥＬ１に生じるセンス信号が、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに入力されるとともに第１センスアンプＳＡ１に与えられて差動増幅される。そして、信号処理部１５が、第１センスアンプＳＡ１で差動増幅された信号を順次取得し、ＡＤ（Analog to Digital）変換などの所定の処理を施すことで所定の形式のデータに順次変換して、当該データから成るデータ信号を生成する。
【００５４】
また、図５に示す動作例では、動作制御部１６が、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１と、センスアンプ部１３Ａを構成する第２センスアンプＳＡ２と、を選択的に動作させている。これにより、第１ドライバＤ１が生成するドライブ信号が第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力されて第１電極ＥＬ１に与えられ、これによって第２電極ＥＬ２に生じるセンス信号が、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力されるとともに第２センスアンプＳＡ２に与えられて差動増幅される。そして、信号処理部１５が、第２センスアンプＳＡ２で差動増幅された信号を順次取得し、ＡＤ変換などの所定の処理を施すことで所定の形式のデータに順次変換して、当該データから成るデータ信号を生成する。
【００５５】
＜テスト用治具の構成及びテスト方法＞
次に、上述したタッチパネルコントローラ１Ａのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたタッチパネルコントローラ１Ａの各部のテスト方法と、について、図面を参照して説明する。図６は、図１に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部のテスト方法と、について示すブロック図である。図７は、図６に示すテストにおいて各部から出力される信号の一例について示す信号波形図である。図８は、図１に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたドライバ部のテスト方法と、について示すブロック図である。
【００５６】
図６及び図８に示すように、タッチパネルコントローラ１Ａのテストに用いられるテスト用治具５Ａは、プローブ針や配線などを介して第１入出力端子１１ａ，１１ｂと電気的に接続する第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと、プローブ針や配線などを介して第２入出力端子１２ａ，１２ｂと電気的に接続する第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと、第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力されて第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂに入力されるドライブ信号を検出する第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂと、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂとの接続の有無を切り替える第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されて第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂに入力されるドライブ信号を検出する第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂと、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂとの接続の有無を切り替える第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂと、プローブ針や配線などを介してテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂと電気的に接続するテスト信号出力端子５７ａ，５７ｂと、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂから出力されてテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂに入力されるテスト信号を生成するテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂと、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂとテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂとの接続の有無を切り替えるテスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂと、を備える。
【００５７】
図６及び図８に示すように、タッチパネルコントローラ１Ａのセンスアンプ部１３Ａ及びドライバ部１４Ａのテストを行う場合、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂが第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対して接続され、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂが第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対して接続され、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂがテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂに対して接続される。そして、テストを行う対象（センスアンプ部１３Ａ及びドライバ部１４Ａ）に応じて、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂ及びテスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂのそれぞれが、自動または手動で適切な接続状態に切り替えられる。
【００５８】
図６に示すように、センスアンプ部１３Ａのテストを行う場合、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂは、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂとを接続せずオープンになる。同様に、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂも、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂとを接続せずオープンになる。これに対して、テスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂは、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂとテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂとを接続する。
【００５９】
図６に示す状態で、テスト信号生成回路５８ａ，５８ｂがテスト信号を生成すると、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂからテスト信号が出力される。このテスト信号は、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂに入力され、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂを介してセンスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１（図２参照）に与えられるとともに、第２テスト用容量１９ａ，１９ｂを介してセンスアンプ部１３Ａを構成する第２センスアンプＳＡ２（図２参照）に与えられる。
【００６０】
このとき、上記のように第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ及び第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂはオープンになり、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂは浮いた状態になる。そのため、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂを介したテスト信号が、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２だけに与えられて、他の装置や回路に漏れ出すことが防止される。したがって、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２に対して、意図した通りのテスト信号を与えることが可能になる。
【００６１】
また、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂ及びテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂ及びテスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ、第２入出力端子１２ａ，１２ｂ、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂと同様に、２つで１組となる。組の一方のテスト信号生成回路５８ａで生成されるテスト信号は、組の一方の第１テスト用容量１８ａを介して第１センスアンプＳＡ１の反転入力端子に与えられ、組の他方のテスト信号生成回路５８ｂで生成されるテスト信号は、組の他方の第１テスト用容量１８ｂを介して第１センスアンプＳＡ１の非反転入力端子に与えられる（図２参照）。同様に、組の一方のテスト信号生成回路５８ａで生成されるテスト信号は、組の一方の第２テスト用容量１９ａを介して第２センスアンプＳＡ２の反転入力端子に与えられ、組の他方のテスト信号生成回路５８ｂで生成されるテスト信号は、組の他方の第２テスト用容量１９ｂを介して第２センスアンプＳＡ２の非反転入力端子に与えられる（図２参照）。
【００６２】
このように、図６に示すタッチパネルコントローラ１Ａ及びテスト用治具５Ａでは、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２における２つの入力部（オペアンプＯＰの反転入力端子及び非反転入力端子）のそれぞれに対して、テスト信号生成回路５８ａ，５８ｂで生成されたテスト信号が別々に与えられる。そのため、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２における２つの入力部のそれぞれに対して、互いに独立した任意のテスト信号を与えることが可能になる。
【００６３】
このとき、図７に示すように、テスト信号生成回路５８ａ，５８ｂは、異なる電圧値のテスト信号を生成し、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２は、この２つの異なる電圧値のテスト信号を差動増幅する。そして、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２の出力信号（オペアンプＯＰの反転出力端子から出力される信号と非反転出力端子から出力される信号との差分）を信号処理部１５が順次取得するとともに所定の処理を施すことで生成するデータ信号に基づいて、センスアンプ部１３Ａやその周辺回路における異常の有無を判定することができる。特に、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２が正常に差動増幅しているか否かを、判定することができる。
【００６４】
このように、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２に対して、２つの異なる電圧値のテスト信号を与えると、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２が正しく差動増幅をしているか否かを容易に判定することができるため、好ましい。
【００６５】
図６に示す例は、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２の全てのテストを同時に行うものである。この場合、動作制御部１６は、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２の全てを同時に動作させる。ただし、動作制御部１６が、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２の一方のみを選択的に動作させるように構成されている場合（図４及び図５の動作しかできない場合）は、第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２を一方ずつ動作させて、順番にテストを行えばよい。
【００６６】
また、図８に示すように、ドライバ部１４Ａのテストを行う場合、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂは、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂとを接続する。同様に、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂも、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂとを接続する。これに対して、テスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂは、テスト信号出力端子５７ａ，５７ｂとテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂとを接続せずオープンになる。
【００６７】
図８に示す状態で、動作制御部１６の制御に従い、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２（図３参照）がドライブ信号を生成すると、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂからドライブ信号が出力される。このドライブ信号は、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂ及び第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂに入力され、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂに与えられる。
【００６８】
このとき、上記のようにテスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂはオープンになり、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂは浮いた状態になる。そのため、ドライブ信号が、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂだけに与えられて、他の装置や回路に漏れ出すことが防止される。したがって、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂに対して、意図した通りのドライブ信号を与えることが可能になる。
【００６９】
そして、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂの検出結果に基づいて、ドライバ部１４Ａやその周辺回路における異常の有無を判定することができる。特に、第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２が設計通りのドライブ信号を生成しているか否かを、判定することができる。
【００７０】
図８に示す例は、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２の全てのテストを同時に行うものである。この場合、動作制御部１６は、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２の全てを同時に動作させる。ただし、動作制御部１６が、第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２の一方のみを選択的に動作させるように構成されている場合（図４及び図５の動作しかできない場合）は、第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２を一方ずつ動作させて、順番にテストを行えばよい。
【００７１】
以上のように、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａは、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂと、これらと接続するテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂと、をタッチパネルコントローラ１Ａに設けることによって、センスアンプ部１３Ａ（第１センスアンプＳＡ１、第２センスアンプＳＡ２）及びドライバ部１４Ａ（第１ドライバＤ１、第２ドライバＤ２）のそれぞれのテストを行う際のテスト用治具５Ａの付け替えを不要とする構成にしながらも、テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１９ａ，１９ｂをバイパスするためのスイッチを不要とすることが可能になる。したがって、このタッチパネルコントローラ１Ａによれば、テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１９ａ，１９ｂをバイパスするためのスイッチを設けない簡素な構成のテスト用治具５Ａを用いて、テストを行うことが可能となる。
【００７２】
また、このタッチパネルコントローラ１Ａでは、出荷後のタッチパネルコントローラ１Ａの内部に受動素子（第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ）は残るが、スイッチなどの能動素子は残らない。そのため、タッチパネルコントローラ１Ａの内部に残った素子がタッチパネルコントローラ１Ａの動作に対して影響を与えることを、抑制することができる。さらに、このタッチパネルコントローラ１Ａでは、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂを接地するという極めて簡単な工程を追加することによって、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂがタッチパネルコントローラ１Ａの動作に対して影響を与えることを、効果的に抑制することができる。
【００７３】
＜＜第２実施形態＞＞
次に、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラと、当該タッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具と、についてそれぞれ説明する。なお、以下では、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ及びテスト用治具において、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ及びテスト用治具と同様となる部分については、詳細な説明を省略している。
【００７４】
＜タッチパネルコントローラの構成及び動作＞
最初に、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラの構成及び動作について、図面を参照して説明する。図９は、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラの構成の一例について示すブロック図である。
【００７５】
図９に示すように、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂと、センスアンプ部１３Ｂと、ドライバ部１４Ｂと、信号処理部１５と、動作制御部１６と、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂとセンスアンプ部１３Ｂ及びドライバ部１４Ｂとの接続状態を切り替えるセンスドライブ切替部２０と、タッチパネルコントローラ１Ｂのテストを行う場合にテスト信号が入力される第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂと、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに一端が接続されて第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂに他端が接続される第１テスト用容量２２ａ，２２ｂと、タッチパネルコントローラ１Ｂのテストを行う場合にテスト信号が入力される第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに一端が接続されて第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂに他端が接続される第２テスト用容量２４ａ，２４ｂと、を備える。
【００７６】
図９に示すタッチパネルコントローラ１Ｂは、センスドライブ切替部２０によって接続状態を切り替えることで、タッチパネルコントローラ１Ｂにおいて必要となるセンスアンプ及びドライバの数を削減したものである。具体的に、センスドライブ切替部２０は、第１入出力端子１１ａ，１１ｂにセンスアンプ部１３Ｂが接続されるとともに第２入出力端子１２ａ，１２ｂにドライバ部１４Ｂが接続される第１接続状態（図１３参照、詳細は後述）と、第１入出力端子１１ａ，１１ｂにドライバ部１４Ｂが接続されるとともに第２入出力端子１２ａ，１２ｂにセンスアンプ部１３Ｂが接続される第２接続状態（図１４参照、詳細は後述）と、を切り替える。例えば、センスドライブ切替部２０は、マルチプレクサによって構成される。
【００７７】
ここで、センスアンプ部１３Ｂ、ドライバ部１４Ｂ及びセンスドライブ切替部２０の具体的な構成について、図面を参照して説明する。図１０は、図９に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図である。図１１は、図９に示すドライバ部の構成の具体例について示すブロック図である。図１２は、図９に示すセンスドライブ切替部の構成の具体例について示すブロック図である。
【００７８】
図１０に示すように、センスアンプ部１３Ｂは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂまたは第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力されるセンス信号を増幅するセンスアンプＳＡを備える。特に、センスアンプＳＡは、センスドライブ切替部２０が第１接続状態になる場合に、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに入力されるセンス信号を増幅し、センスドライブ切替部２０が第２接続状態の場合に、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力されるセンス信号を増幅する。即ち、タッチパネルコントローラ１Ｂでは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対して共通するセンスアンプＳＡが設けられている。なお、センスアンプＳＡの構成及び動作は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａについて説明した、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２の構成及び動作と同様である（図２参照）。
【００７９】
図１１に示すように、ドライバ部１４Ｂは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂまたは第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されるドライブ信号を生成するドライバＤを備える。特に、ドライバＤは、センスドライブ切替部２０が第１接続状態になる場合に、第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されるドライブ信号を生成し、センスドライブ切替部２０が第２接続状態になる場合に、第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力されるドライブ信号を生成する。即ち、タッチパネルコントローラ１Ｂでは、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対して共通するドライバＤが設けられている。なお、ドライバＤの構成及び動作は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａについて説明した、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２の構成及び動作と同様である（図３参照）。
【００８０】
図１２に示すように、センスドライブ切替部２０は、切替素子ＣＥを直列接続した構成となる。切替素子ＣＥは、４個のＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）スイッチＳＷ１〜ＳＷ４と、１つのインバータＩＮＶと、を備える。なお、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１〜ＳＷ４のそれぞれは、Ｐチャネル型のＭＯＳＦＥＴ（以下、「ＰＭＯＳ」という）と、Ｎチャネル型のＭＯＳＦＥＴ（以下、「ＮＭＯＳ」という）と、から構成されており、ＰＭＯＳの一端とＮＭＯＳの一端とが接続されているとともに、ＰＭＯＳの他端とＮＭＯＳの他端とが接続されている。
【００８１】
ＣＭＯＳスイッチＳＷ１は、ＰＭＯＳ及びＮＭＯＳのそれぞれの一端が第１制御端子１１ａ（または１１ｂ）に接続され、それぞれの他端がセンスアンプＳＡ（特に、オペアンプＯＰの反転入力端子または非反転入力端子、図１０参照）に接続される。ＰＭＯＳのゲートには、動作制御部１６が生成する切替制御信号が入力される。これに対して、ＮＭＯＳのゲートには、切替制御信号をインバータＩＮＶによって反転させた反転切替制御信号が入力される。なお、切替制御信号は、ハイ及びローの２値の電圧値を取り得る電圧信号であり、反転切替制御信号は、切替制御信号のハイ及びローを反転させた電圧信号である。
【００８２】
ＣＭＯＳスイッチＳＷ２は、ＰＭＯＳ及びＮＭＯＳのそれぞれの一端が第１制御端子１１ａ（または１１ｂ）に接続され、それぞれの他端がドライバＤに接続される。ＰＭＯＳのゲートには反転切替制御信号が入力され、ＮＭＯＳのゲートには切替制御信号が入力される。
【００８３】
ＣＭＯＳスイッチＳＷ３は、ＰＭＯＳ及びＮＭＯＳのそれぞれの一端が第２制御端子１２ａ（または１２ｂ）に接続され、それぞれの他端がドライバＤに接続される。ＰＭＯＳのゲートには切替制御信号が入力され、ＮＭＯＳのゲートには反転切替制御信号が入力される。
【００８４】
ＣＭＯＳスイッチＳＷ４は、ＰＭＯＳ及びＮＭＯＳのそれぞれの一端が第２制御端子１２ａ（または１２ｂ）に接続され、それぞれの他端がセンスアンプＳＡ（特に、オペアンプＯＰの反転入力端子または非反転入力端子、図１０参照）に接続される。ＰＭＯＳのゲートには反転切替制御信号入力され、ＮＭＯＳのゲートには切替制御信号が入力される。
【００８５】
切替制御信号がローの場合、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１，ＳＷ３が導通し、ＣＭＯＳスイッチＳＷ２，ＳＷ４が非導通になる。即ち、第１接続状態になる。これに対して、切替制御信号がハイであると、ＣＭＯＳスイッチＳＷ２，ＳＷ４が導通し、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１，ＳＷ３が非導通になる。即ち、第２接続状態になる。
【００８６】
また、図９に示すように、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ、第２入出力端子１２ａ，１２ｂ、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ及び第２テスト用容量２４ａ，２４ｂは、それぞれ２つで１組として設けられている。組の一方の第１テスト用容量２２ａは、組の一方の第１入出力端子１１ａに一端が接続され、組の一方の第１テスト信号入力端子２１ａに他端が接続される。同様に、組の他方の第１テスト用容量２２ｂは、組の他方の第１入出力端子１１ｂに一端が接続され、組の他方の第１テスト信号入力端子２１ｂに他端が接続される。また、組の一方の第２テスト用容量２４ａは、組の一方の第２入出力端子１２ａに一端が接続され、組の一方の第２テスト信号入力端子２３ａに他端が接続される。同様に、組の他方の第２テスト用容量２４ｂは、組の他方の第２入出力端子１２ｂに一端が接続され、組の他方の第２テスト信号入力端子２３ｂに他端が接続される。
【００８７】
ただし、図９に示すように、タッチパネルコントローラ１Ｂのテストが終了して、タッチパネルコントローラ１ＢがタッチパネルＴＰに接続される際には、第１テスト信号入力端子２１ａ，２２ｂ及び第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂは接地される。これは、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂの他端が接続される第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂと、第２テスト用容量２４ａ，２４ｂの他端が接続される第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂと、のそれぞれを接地することによって、テストを行うために設けられている第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ及び第２テスト用容量２３ａ，２３ｂが、タッチパネルコントローラ１Ｂの動作（特に、タッチパネルＴＰの動作を制御するための動作）に対して影響を与えることを、防止するためである。
【００８８】
次に、タッチパネルコントローラ１Ｂの動作について、図面を参照して説明する。図１３及び図１４は、図９に示すタッチパネルコントローラの動作例について示すブロック図である。なお、上述のように、図１３はセンスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合の動作について示しており、図１４はセンスドライブ切替部２０が第２接続状態である場合の動作について示している。
【００８９】
図１３に示す動作例では、ドライバ部１４Ｂを構成するドライバＤが生成するドライブ信号が第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力されて第２電極ＥＬ２に与えられ、これによって第１電極ＥＬ１に生じるセンス信号が、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに入力されるとともにセンスアンプ部１３Ｂを構成するセンスアンプＳＡに与えられて差動増幅される。
【００９０】
また、図１４に示す動作例では、ドライバ部１４Ｂを構成するドライバＤが生成するドライブ信号が第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力されて第１電極ＥＬ１に与えられ、これによって第２電極ＥＬ２に生じるセンス信号が、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力されるとともにセンスアンプＳＡに与えられて差動増幅される。
【００９１】
＜テスト用治具の構成及びテスト方法＞
次に、上述したタッチパネルコントローラ１Ｂのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたタッチパネルコントローラ１Ｂの各部のテスト方法と、について、図面を参照して説明する。図１５及び図１６は、図９に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部及びドライバ部のテスト方法と、の一例について示すブロック図である。なお、図１５はセンスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合のテスト方法について示しており、図１６はセンスドライブ切替部２０が第２接続状態である場合のテスト方法について示している。
【００９２】
図１５及び図１６に示すように、タッチパネルコントローラ１Ｂのテストに用いられるテスト用治具５Ｂは、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂと、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂと、第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂと、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂと、プローブ針や配線などを介して第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂと電気的に接続する第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂと、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂから出力されて第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂに入力されるテスト信号を生成する第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂと、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂと第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂとの接続の有無を切り替える第１テスト信号出力切替部６２ａ，６２ｂと、プローブ針や配線などを介して第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂと電気的に接続する第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂと、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂから出力されて第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂに入力されるテスト信号を生成する第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂと、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂと第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂとの接続の有無を切り替える第２テスト信号出力切替部６５ａ，６５ｂと、を備える。
【００９３】
図１５及び図１６に示すように、タッチパネルコントローラ１Ｂのセンスアンプ部１３Ｂ及びドライバ部１４Ｂのテストを行う場合、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂが第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対して接続され、第１ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂが第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対して接続され、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂが第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂに対して接続され、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂが第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂに対して接続される。そして、センスドライブ切替部２０の接続状態（第１接続状態及び第２接続状態）に応じて、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂ、第１テスト信号出力切替部６０ａ，６０ｂ及び第２テスト信号出力切替部６３ａ，６３ｂのそれぞれが、自動または手動で適切な接続状態に切り替えられる。
【００９４】
図１５に示すように、センスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂは、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂとを接続せずオープンになる。これに対して、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂは、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂとを接続する。また、第１テスト信号出力切替部６２ａ，６２ｂは、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂと第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂとを接続する。これに対して、第２テスト信号出力切替部６５ａ，６５ｂは、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂと第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂとを接続せずオープンになる。
【００９５】
図１５に示す状態で、第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂでテスト信号が生成されると、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂからテスト信号が出力される。このテスト信号は、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂに入力され、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂを介してセンスアンプ部１３Ｂを構成するセンスアンプＳＡ（図１０参照）に与えられる。なお、この第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂが生成するテスト信号は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａにおいてテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂが生成するテスト信号と同様である（図８参照）。
【００９６】
このとき、上記のように第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂはオープンになり、第１入出力端子１１ａ，１１ｂは浮いた状態になる。そのため、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂを介したテスト信号が、センスアンプＳＡだけに与えられて、他の装置や回路に対して漏れ出すことが防止される。したがって、センスアンプＳＡに対して、意図した通りのテスト信号を与えることが可能になる。
【００９７】
さらに、図１５に示す状態で、動作制御部１６の制御に従い、ドライバ部１４Ｂを構成するドライバ（図１１参照）がドライブ信号を生成すると、第２入出力端子１２ａ，１２ｂからドライブ信号が出力される。このドライブ信号は、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂに入力され、第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂに与えられる。
【００９８】
このとき、上記のように第２テスト信号出力切替部６５ａ，６５ｂはオープンになり、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂは浮いた状態になる。そのため、ドライブ信号が、第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂだけに与えられて、他の装置や回路に対して漏れ出すことが防止される。したがって、第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂに対して、意図した通りのドライブ信号を与えることが可能になる。
【００９９】
また、図１６に示すように、センスドライブ切替部２０が第２接続状態である場合、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂは、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂとを接続する。これに対して、第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂは、第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂと第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂとを接続せずオープンになる。また、第１テスト信号出力切替部６２ａ，６２ｂは、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂと第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂとを接続せずオープンになる。これに対して、第２テスト信号出力切替部６５ａ，６５ｂは、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂと第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂとを接続する。
【０１００】
図１６に示す状態で、第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂでテスト信号が生成されると、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂからテスト信号が出力される。このテスト信号は、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂに入力され、第２テスト用容量２４ａ，２４ｂを介してセンスアンプ部１３Ｂを構成するセンスアンプＳＡ（図１０参照）に与えられる。なお、この第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂが生成するテスト信号は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａにおいてテスト信号生成回路５８ａ，５８ｂが生成するテスト信号と同様である（図８参照）。
【０１０１】
このとき、上記のように第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂはオープンになり、第２入出力端子１２ａ，１２ｂは浮いた状態になる。そのため、第２テスト用容量２４ａ，２４ｂを介したテスト信号が、センスアンプＳＡだけに与えられて、他の装置や回路に対して漏れ出すことが防止される。したがって、センスアンプＳＡに対して、意図した通りのテスト信号を与えることが可能になる。
【０１０２】
さらに、図１６に示す状態で、動作制御部１６の制御に従い、ドライバ部１４Ｂを構成するドライバ（図１１参照）がドライブ信号を生成すると、第１入出力端子１１ａ，１１ｂからドライブ信号が出力される。このドライブ信号は、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂに入力され、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂに与えられる。
【０１０３】
このとき、上記のように第１テスト信号出力切替部６２ａ，６２ｂはオープンになり、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂは浮いた状態になる。そのため、ドライブ信号が、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂだけに与えられて、他の装置や回路に対して漏れ出すことが防止される。したがって、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂに対して、意図した通りのドライブ信号を与えることが可能になる。
【０１０４】
以上のように、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａと同様に、センスドライブ切替部２０を設けてセンスアンプ及びドライバの数を削減した本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂであっても、テスト用容量２２ａ，２２ｂ，２４ａ，２４ｂをバイパスするためのスイッチを設けない簡素な構成のテスト用治具５Ｂを用いてテストを行うことが可能となる。また同様に、このようなタッチパネルコントローラ１Ｂであっても、出荷後のタッチパネルコントローラ１Ｂの内部にはスイッチなどの能動素子が残らないため、タッチパネルコントローラ１Ｂの内部に残った素子がタッチパネルコントローラ１Ｂの動作に対して影響を与えることを、抑制することができる。さらに同様に、このようなタッチパネルコントローラ１Ｂであっても、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ及び第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂを接地するという極めて簡単な工程を追加することによって、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ及び第２テスト用容量２４ａ，２４ｂがタッチパネルコントローラの動作に対して影響を与えることを、効果的に抑制することができる。
【０１０５】
さらに、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂでは、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂと第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂとを別々に設けることで、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ及び第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂのそれぞれに対して別々にテスト信号を入力することが可能になる。そのため、第１接続状態におけるセンスアンプＳＡのテストとドライバＤのテストとを同時に行うことが可能になるとともに、第２接続状態におけるセンスアンプＳＡのテストとドライバＤのテストとを同時に行うことが可能になる。したがって、タッチパネルコントローラ１Ｂのテストに要する時間を、短くすることが可能になる。
【０１０６】
なお、このタッチパネルコントローラ１Ｂのテストにおいて、図１５に示すセンスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合におけるテストと、図１６に示すセンスドライブ切替部２０が第２接続状態である場合におけるテストと、のいずれか一方のテストを行うのみでも、センスアンプ部１３Ｂ及びドライバ部１４Ｂのテストを行うことができる。ただし、センスドライブ切替部２０やその他の周辺回路も含めてテストを行う場合は、図１５及び図１６に示すように、センスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合と第２接続状態である場合との両方についてテストをすると、好ましい。
【０１０７】
＜＜第３実施形態（変形等）＞＞
［１］  本発明の第２実施形態に係るテスト用治具５Ｂにおいて、タッチパネルコントローラ１Ｂと同様に、第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂ及び第２テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂを共通化してこれらの数を削減するとともに、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂを共通化してこれらの数を削減してもよい。
【０１０８】
この変形を行った場合のテスト用治具の構成及び動作について、図面を参照して説明する。図１７及び図１８は、図９に示すタッチパネルコントローラのテストに用いられるテスト用治具の構成と、当該テスト用治具を用いたセンスアンプ部及びドライバ部のテスト方法と、の変形例について示すブロック図である。なお、図１７は、図１５と同様にセンスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合のテスト方法について示しており、図１８は、図１６と同様にセンスドライブ切替部２０が第２接続状態である場合のテスト方法について示している。また、以下では、本変形例について、上述した本発明の第２実施形態に係るテスト用治具５Ｂと異なる点についてのみ説明する。
【０１０９】
図１７及び図１８に示すように、テスト用治具５Ｂｘは、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂと、第２ドライブ信号入出力端子５２ａ，５２ｂと、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂと、第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂと、第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂまたは第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂに入力されるドライブ信号を検出するドライブ信号検出回路７０と、ドライブ信号検出回路７０に対して第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂ及び第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂのいずれか一方を選択的に接続するドライブ信号入力切替部７１と、第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂまたは第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂから出力されるテスト信号を生成するテスト信号生成回路７２ａ，７２ｂと、テスト信号生成回路７２ａ，７２ｂに対して第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂ及び第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂのいずれか一方を選択的に接続するテスト信号出力切替部７３ａ，７３ｂと、を備える。
【０１１０】
図１７に示すように、センスドライブ切替部２０が第１接続状態である場合、ドライブ信号入力切替部７１は、ドライブ信号検出回路７０に対して第２ドライブ信号入力端子５２ａ，５２ｂを接続し、テスト信号出力切替部７３ａ，７３ｂは、テスト信号生成回路７２ａ，７２ｂに対して第１テスト信号出力端子６０ａ，６０ｂを接続する。これにより、図１５と同様の状態になり、図１５と同様の動作を行うことが可能になる。
【０１１１】
また、図１８に示すように、センスドライブ切替部２０が第２接続状態である場合、ドライブ信号入力切替部７１は、ドライブ信号検出回路７０に対して第１ドライブ信号入力端子５１ａ，５１ｂを接続し、テスト信号出力切替部７３ａ，７３ｂは、テスト信号生成回路７２ａ，７２ｂに対して第２テスト信号出力端子６３ａ，６３ｂを接続する。これにより、図１６と同様の状態になり、図１６と同様の動作を行うことが可能になる。
【０１１２】
なお、図１７及び図１８では、ドライブ信号入力切替部７１及びテスト信号出力切替部７３ａ，７３ｂのそれぞれを、１回路２接点のスイッチとして表しているが、これは説明の便宜のための機能的な表現に過ぎず、これと同様の機能を実現可能であればどのような構成を適用してもよい。例えば、ドライブ信号入力切替部７１及びテスト信号出力切替部７３ａ，７３ｂの一方または両方を、図１２に示したセンスドライブ切替部２０と同様の構成としてもよい。
【０１１３】
また、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａ及びテスト用治具５Ａ（図６及び図８参照）において、第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２を一方ずつ動作させて順番にテストを行う場合、当該テスト用治具５Ａに対して上述のテスト用治具５Ｂｘと同様の構成を適用してもよい。具体的には、本発明の第１実施形態に係るテスト用治具５Ａにおいて、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂに代えてドライブ信号検出回路７０を適用するとともに、第１ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ及び第２ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂに代えてドライブ信号入力切替部７１を適用してもよい。
【０１１４】
［２］  本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａが備えるセンスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２と、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂが備えるセンスアンプ部１３Ｂを構成するセンスアンプＳＡと、のそれぞれが、２つで１組の第１入出力端子１１ａ，１１ｂまたは第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力される２つの信号を差動増幅するセンスアンプ（差動入力のセンスアンプ）である場合について説明したが（図２及び図１０参照）、これ以外のセンスアンプを適用することも可能である。
【０１１５】
ここでは、一例として、上述した第１実施形態及び第２実施形態のそれぞれに係るタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂにおいて、組を成さない１つの第１入出力端子または第２入出力端子に入力される信号を増幅するセンスアンプ（シングルエンド入力のセンスアンプ）を適用した変形例について、図面を参照して説明する。
【０１１６】
最初に、本発明の第１実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ａｙについて、図面を参照して説明する。図１９は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラに対して別のセンスアンプを適用した変形例の構成について示すブロック図である。図２０は、図１９に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図である。なお、以下では、本変形例について、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａと異なる点についてのみ説明する。
【０１１７】
図１９に示すように、本発明の第１実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ａｙは、テスト信号入力端子１７が１つだけ設けられ、テスト信号入力端子１７に対して第１テスト用容量１８及び第２テスト用容量１９のそれぞれの他端が接続される点で、図１に示した本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａと異なる。
【０１１８】
また、図２０に示すように、センスアンプ部１３Ａｙを構成する第１センスアンプＳＡ１ｙ及び第２センスアンプＳＡ２ｙのそれぞれは、シングルエンド型のオペアンプＯＰｙと、１つのフィードバック容量ＣＦｙと、を備える。フィードバック容量ＣＦｙは、オペアンプＯＰｙの反転入力端子（入力部）に一端が接続され、オペアンプＯＰｙの出力端子（出力部）に他端が接続される。さらに、第１センスアンプＳＡ１ｙでは、オペアンプＯＰｙの反転入力端子に第１入出力端子１１が接続され、オペアンプＯＰｙの非反転入力端子は接地される。同様に、第２センスアンプＳＡ２ｙでは、オペアンプＯＰｙの反転入力端子に第２入出力端子１２ａが接続され、オペアンプＯＰｙの非反転入力端子は接地される。
【０１１９】
そして、タッチパネルコントローラ１ＡｙがタッチパネルＴＰの動作の制御を行う場合、第１センスアンプＳＡ１ｙは第１入出力端子１１に入力される１つのセンス信号を増幅し、第２センスアンプＳＡ２ｙは第２入出力端子１２に入力される１つのセンス信号を増幅する。これに対して、タッチパネルコントローラ１Ａｙのテストが行われる場合、第１センスアンプＳＡ１ｙ及び第２センスアンプＳＡ２ｙのそれぞれは、１つのテスト信号入力端子１７に入力される１つのテスト信号を増幅する。
【０１２０】
次に、本発明の第２実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ｂｙについて、図面を参照して説明する。図２１は、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラに対して別のセンスアンプを適用した変形例の構成について示すブロック図である。図２２は、図２１に示すセンスアンプ部の構成の具体例について示すブロック図である。なお、以下では、本変形例について、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂと異なる点についてのみ説明する。
【０１２１】
図２１に示すように、本発明の第２実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ｂｙは、第１テスト信号入力端子２１及び第２テスト信号入力端子２３がそれぞれ１つだけ設けられ、第１テスト信号入力端子２１に対して第１テスト用容量２２の他端が接続されるとともに、第２テスト信号入力端子２３に対して第２テスト用容量２４の他端が接続される点で、図９に示した本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂと異なる。
【０１２２】
また、図２２に示すように、センスアンプ部１３Ｂｙを構成するセンスアンプＳＡｙは、上述した本発明の第１実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ａｙのセンスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１ｙ及び第２センスアンプ部ＳＡ２ｙと同様の構成である（図２０参照）。
【０１２３】
そして、タッチパネルコントローラ１ＢｙがタッチパネルＴＰの動作の制御を行う場合、センスアンプＳＡｙは、センスドライブ切替部２０の接続状態（第１接続状態及び第２接続状態）に応じて、第１入出力端子１１または第２入出力端子１２に入力される１つのセンス信号を増幅する。これに対して、タッチパネルコントローラ１Ａｙのテストが行われる場合、センスアンプＳＡｙは、センスドライブ切替部２０の接続状態（第１接続状態及び第２接続状態）に応じて、第１テスト信号入力端子２１または第２テスト信号入力端子２３に入力される１つのテスト信号を増幅する。
【０１２４】
［３］  本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａが備えるセンスアンプ部１３Ａ（図２参照）に対して、オペアンプＯＰの反転入力端子に第１入出力端子１１ｂが接続されるとともにオペアンプＯＰの非反転入力端子に第１入出力端子１１ａが接続される第１センスアンプＳＡ１と、オペアンプＯＰの反転入力端子に第２入出力端子１２ｂが接続されるとともにオペアンプＯＰの非反転入力端子に第２入出力端子１２ａが接続される第２センスアンプＳＡ２と、をそれぞれ追加してもよい。
【０１２５】
この場合、図２に例示するセンスアンプ部１３Ａでは、２Ｎ個（Ｎは自然数）の第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対してＮ個の第１センスアンプＳＡ１が設けられているが、上記の第１センスアンプＳＡ１の追加を行うと、最大でＮ−１個の第１センスアンプＳＡ１が追加されることになる。なお、第２センスアンプＳＡ２の追加についても同様である。
【０１２６】
ただし、この変形例では、タッチパネルコントローラ１Ａのテストを行うときに、図２に示す第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２のそれぞれを構成するオペアンプＯＰの反転入力端子及び非反転入力端子に与えられるそれぞれのテスト信号と、追加した第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２のそれぞれを構成するオペアンプＯＰの反転入力端子及び非反転入力端子に与えられるそれぞれのテスト信号と、が逆になる。
【０１２７】
また、上記の変形例と同様に、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂが備えるセンスアンプ部１３Ｂ（図１０参照）に対して、オペアンプＯＰの反転入力端子に第１入出力端子１１ｂまたは第２入出力端子１２ｂが接続されるとともにオペアンプＯＰの非反転入力端子に第１入出力端子１１ａまたは第２入出力端子１２ａが接続されるセンスアンプＳＡを追加してもよい。
【０１２８】
この場合、図１０に例示するセンスアンプ部１３Ｂでは、２Ｍ個（Ｍは自然数）の第１入出力端子１１ａ，１１ｂまたは第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対してＭ個のセンスアンプＳＡが設けられているが、上記のセンスアンプＳＡの追加を行うと、最大でＭ−１個のセンスアンプが追加されることになる。
【０１２９】
ただし、この変形例では、タッチパネルコントローラ１Ｂのテストを行うときに、図１０に示すセンスアンプＳＡを構成するオペアンプＯＰの反転入力端子及び非反転入力端子に与えられるそれぞれのテスト信号と、追加したセンスアンプＳＡを構成するオペアンプＯＰの反転入力端子及び非反転入力端子に与えられるそれぞれのテスト信号と、が逆になる。
【０１３０】
［４］  本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａにおけるテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ、第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ（図１参照）を、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂにおける第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ、第２テスト用容量２４ａ，２４ｂ（図９参照）に代えてもよい。
【０１３１】
このように変形したタッチパネルコントローラの構成を、図２３に示す。図２３は、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラにおけるテスト時に使用する回路を変形した変形例の構成を示すブロック図である。なお、図２３に示すタッチパネルコントローラ１Ａｚのテストを行う場合、本発明の第２実施形態に係るテスト用治具５Ｂ，５Ｂｘを用いることができる。
【０１３２】
このように、センスドライブ切替部２０を備えないタッチパネルコントローラ１Ａｚであっても、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂと同様に、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂのそれぞれに対して異なる第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ及び第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ設けて、センスアンプ部１３Ａ及びドライバ部１４Ａのそれぞれのテストを行うことが可能である。
【０１３３】
特に、このタッチパネルコントローラ１Ａｚにおいて、動作制御部１６が、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２の一方のみを選択的に動作させるように構成されている、または、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２の一方のみを選択的に動作させるように構成されている場合（図４及び図５の動作しかできない場合）、第１センスアンプＳＡ１のテストと同時に第２ドライバＤ２のテストを行い、第２センスアンプＳＡ２のテストと同時に第１ドライバＤ１のテストを行うことが可能になるため、これらのテストを別々に行うよりもテストに要する時間を短くすることができるため、好ましい。
【０１３４】
ただし、このタッチパネルコントローラ１Ａｚにおいて、動作制御部１６が、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２を同時に動作させることが可能であり、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２を同時に動作させることが可能である場合は、第１センスアンプＳＡ１のテストと同時に第２センスアンプＳＡ２のテストを行い（図６参照）、第１ドライバＤ１のテストと同時に第２ドライバＤ２のテストを行う（図８参照）ことができるため、上記のようにセンスアンプ部１３Ａの一部とドライバ部１４Ａの一部とを同時にテストする実益が乏しい。
【０１３５】
したがって、動作制御部１６が、センスアンプ部１３Ａを構成する第１センスアンプＳＡ１及び第２センスアンプＳＡ２を同時に動作させることが可能であり、ドライバ部１４Ａを構成する第１ドライバＤ１及び第２ドライバＤ２を同時に動作させることが可能である場合（図６及び図８の動作が可能である場合）は、タッチパネルの構成やテスト装置の構成を簡素化する観点から、上述の本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａ（図１、図６及び図８参照）のように、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂのそれぞれに対応する共通のテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂを設けると、好ましい。
【０１３６】
なお、本変形例において、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａにおけるテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ、第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ（図１参照）を、図２１に示した本発明の第２実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ｂｙにおける第１テスト信号入力端子２１、第１テスト用容量２２、第２テスト信号入力端子２３、第２テスト用容量２４に代えてもよい。
【０１３７】
［５］  本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂにおける第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ、第２テスト用容量２４ａ，２４ｂ（図９参照）を、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａにおけるテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ（図１参照）に代えてもよい。このように変形したタッチパネルコントローラの構成を、図２４に示す。図２４は、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラにおけるテスト時に使用する回路を変形した変形例の構成を示すブロック図である。なお、図２４に示すタッチパネルコントローラ１Ｂｚのテストを行う場合、本発明の第１実施形態に係るテスト用治具５Ａを用いることができる（図６及び図８参照）。
【０１３８】
このように、センスドライブ切替部２０を備えるタッチパネルコントローラ１Ｂｚについても、本発明の第１実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａ（図１参照）と同様に、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂのそれぞれに対して共通するテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂを設けることで、センスアンプ部１３Ｂ及びドライバ部１４Ｂのそれぞれのテストを行うことが可能になる。
【０１３９】
ただし、このタッチパネルコントローラ１Ｂｚでは、上述した本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂ（図９参照）とは異なり、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ側と第２入出力端子１２ａ，１２ｂ側とに対して別々にテスト信号を入力することができないため、センスアンプ部１３Ｂ及びドライバ部１４Ｂのテストを同時に行うことが困難である。そのため、このタッチパネルコントローラ１Ｂｚでは、センスアンプ部１３Ｂとドライバ部１４Ｂとを別々にテストする必要がある。そして、このタッチパネルコントローラ１Ｂｚにおいて、センスドライブ切替部２０が第１接続状態である時と第２接続状態である時とのそれぞれについてテストを行う場合、第１接続状態及び第２接続状態のそれぞれについて、テスト対象（センスアンプ部１３Ｂ及びドライバ部１４Ｂ）の切り替えが必要になることから、テストに要する時間が長くなってしまう。
【０１４０】
したがって、テストを迅速に行うことが必要である場合は、上述の本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂ（図９、図１５及び図１６参照）のように、第１入出力端子１１ａ，１１ｂに対応する第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂと、第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対応する第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂと、を別々に設けると、好ましい。
【０１４１】
なお、本変形例において、本発明の第２実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ｂにおける第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ、第２テスト用容量２４ａ，２４ｂ（図９参照）を、図１９に示した本発明の第１実施形態の変形例に係るタッチパネルコントローラ１Ａｙにおけるテスト信号入力端子１７、第１テスト用容量１８、第２テスト用容量１９に代えてもよい。
【０１４２】
［６］  タッチパネルＴＰの第１電極ＥＬ１の数及び第２電極ＥＬ２の数は、当然に異なり得る。そのため、第１入出力端子１１ａ，１１ｂの数及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂの数も、当然に異なり得る。なお、第１入出力端子１１ａ，１１ｂの数及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂの数が異なるタッチパネルコントローラでは、ドライブ信号が出力されるのみでセンス信号が入力されない第１入出力端子または第２入出力端子や、センス信号が入力されるのみでドライブ信号が出力されない第１入出力端子または第２入出力端子が生じるだけであり、全体的な構成や動作についてはこれまで述べてきたタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚと同様である。
【０１４３】
また、上述のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚが備える第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂは、必ずしも全てがタッチパネルＴＰの第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２に接続されている必要はない。即ち、タッチパネル１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１ＢｚをタッチパネルＴＰに実装した場合において、第１電極ＥＬ１及び第２電極ＥＬ２に接続されない空きの第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂが生じてもよい。
【０１４４】
［７］  上述のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚの構成は例示に過ぎず、さらに別の回路や装置を備えていてもよいし、一部の回路を備えなくてもよい。例えば、上述のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚが、信号処理部１５が生成するデータ信号を解析して容量分布や指示体の接触位置などを算出するデータ処理部などを備えていてもよい。
【０１４５】
同様に、上述のテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘの構成も例示に過ぎず、さらに別の回路や装置を備えていてもよいし、一部の回路を備えなくてもよい。例えば、テスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘに設けられる回路として説明した、テスト信号生成回路５８ａ，５８ｂ，７２ａ，７２ｂ、第１テスト信号生成回路６１ａ，６１ｂ及び第１テスト信号生成回路６４ａ，６４ｂや、ドライブ信号検出回路７０、第１ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ及び第２ドライブ信号検出回路５５ａ，５５ｂについて、その一部または全部が、テスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘよりも後段のテスト装置などに設けられるようにしてもよい。
【０１４６】
＜＜まとめ＞＞
本発明の実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚは、例えば以下のように把握され得る。
【０１４７】
本発明の実施形態に係るタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚは、少なくとも１つの第１電極ＥＬ１と、当該第１電極ＥＬ１と交差する少なくとも１つの第２電極ＥＬ２と、を備えるタッチパネルＴＰの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚであって、前記第１電極ＥＬ１に接続するための少なくとも１つの第１入出力端子１１ａ，１１ｂと、前記第２電極ＥＬ２に接続するための少なくとも１つの第２入出力端子１２ａ，１２ｂと、テスト信号が入力される少なくとも１つのテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３と、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの少なくとも一方から出力されるドライブ信号を生成する少なくとも１つのドライバＤ１，Ｄ２，Ｄと、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの少なくとも一方に入力されるセンス信号を増幅する少なくとも１つのセンスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡ，ＳＡ１ｙ，ＳＡ２ｙ，ＳＡｙと、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂに一端が接続されるとともに前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３に他端が接続される少なくとも１つの第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２と、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂに一端が接続されるとともに、前記第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２の他端が接続されているまたは接続されていない前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３に他端が接続される少なくとも１つの第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４と、を備え、前記センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡ，ＳＡ１ｙ，ＳＡ２ｙ，ＳＡｙは、入力部に一端が接続されるとともに出力部に他端が接続されるフィードバック容量ＣＦ１，ＣＦ２，ＣＦｙを有しており、前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３に入力されて前記第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２または前記第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４を介して前記入力部に与えられる前記テスト信号を増幅する。
【０１４８】
このタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚによれば、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４と、これらと接続するテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３と、をタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚに設けることによって、センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡ，ＳＡ１ｙ，ＳＡ２ｙ，ＳＡｙ及びドライバＤ１，Ｄ２，Ｄのそれぞれのテストを行う際のテスト用治具の付け替えを不要とする構成にしながらも、テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２，１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４をバイパスするためのスイッチを不要とすることが可能になる。したがって、このタッチパネルコントローラによれば、テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２，１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４をバイパスするためのスイッチを設けない簡素な構成のテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘを用いて、テストを行うことが可能となる。
【０１４９】
また、このタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚによれば、出荷後のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚの内部に受動素子（第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４）は残るが、スイッチなどの能動素子は残らない。そのため、タッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚの内部に残った素子がタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ｂｚの動作に対して影響を与えることを、抑制することができる。さらに、このタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚによれば、テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３を接地するという極めて簡単な工程を追加することによって、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４がタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚの動作に対して影響を与えることを、効果的に抑制することができる。
【０１５０】
上記構成のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｚ，１Ｂｚにおいて、前記センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡが、２つで１組の前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び２つで１組の前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの少なくとも一方の組に入力される２つの前記センス信号を差動増幅するものであり、前記組を構成する２つの前記第１入出力端子の一方１１ａに一端が接続される前記第１テスト用容量１８ａ，２２ａの他端と、当該組を構成する２つの前記第１入出力端子の他方１１ｂに一端が接続される別の前記第１テスト用容量１８ｂ，２２ｂの他端と、が異なる前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，２１ａ，２１ｂ，２３ａ，２３ｂに接続され、前記組を構成する２つの前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの一方に一端が接続される前記第２テスト用容量１９ａ，２４ａの他端と、当該組を構成する２つの前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの他方に一端が接続される別の前記第２テスト用容量１９ｂ，２４ｂの他端と、が異なる前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，２１ａ，２１ｂ，２３ａ，２３ｂに接続される。
【０１５１】
このタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｚ，１Ｂｚによれば、センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡの２つの入力部のそれぞれに対して、互いに独立した任意のテスト信号を与えることが可能となる。特に、この２つの入力部に与えるテスト信号の電圧値を、異ならせることが可能となる。そのため、センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡが正常に差動増幅しているか否かを、判定することが可能となる。
【０１５２】
上記構成のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ａｙにおいて、前記ドライバＤ１，Ｄ２として、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力される前記ドライブ信号を生成する第１ドライバＤ１と、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力される前記ドライブ信号を生成する第２ドライバＤ２と、を少なくとも１つずつ備え、前記センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡ１ｙ，ＳＡ２ｙとして、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂに入力される前記センス信号を増幅する第１センスアンプＳＡ１，ＳＡ１ｙと、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂに入力される前記センス信号を増幅する第２センスアンプＳＡ２，ＳＡ２ｙと、を少なくとも１つずつ備え、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂに一端が接続される少なくとも１つの前記第１テスト用容量１８ａ，１８ｂの他端と、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂに一端が接続される少なくとも１つの前記第２テスト用容量１９ａ，１９ｂの他端と、が同じ前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７に接続されるようにしてもよい。
【０１５３】
このタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ａｙによれば、第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び第２入出力端子１２ａ，１２ｂに対して共通するテスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７が設けられるため、タッチパネルコントローラ１Ａ，１Ａｙの構成を簡素にすることが可能になるとともに、当該タッチパネルコントローラ１Ａ，１Ａｙのテストに用いるテスト用治具５Ａの構成を簡素にすることが可能になる。
【０１５４】
また、上記構成のタッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙにおいて、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂと前記センスアンプＳＡ，ＳＡｙ及び前記ドライバＤとの接続状態を切り替えるセンスドライブ切替部２０を、さらに備え、前記テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３として、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１と、第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ，２３と、を少なくとも１つずつ備え、前記センスドライブ切替部２０は、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂに前記センスアンプＳＡ，ＳＡｙが接続されるとともに前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂに前記ドライバＤが接続される第１接続状態と、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂに前記ドライバＤが接続されるとともに前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂに前記センスアンプＳＡ，ＳＡｙが接続される第２接続状態と、を切り替えるものであり、前記第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ，２２は、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂに一端が接続されるとともに前記第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１に他端が接続され、前記第２テスト用容量２４ａ，２４ｂ，２４は、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂに一端が接続されるとともに前記第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ，２３に他端が接続されるようにしてもよい。
【０１５５】
このタッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙによれば、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１と第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ，２３とを別々に設けることで、第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１と第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ，２３のそれぞれに対して別々にテスト信号を入力することが可能になる。そのため、第１接続状態におけるセンスアンプＳＡのテストとドライバＤのテストとを同時に行うことが可能になるとともに、第２接続状態におけるセンスアンプＳＡのテストとドライバＤのテストとを同時に行うことが可能になる。したがって、タッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙのテストに要する時間を、短くすることが可能になる。
【０１５６】
また、本発明の実施形態に係るテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘは、例えば以下のように把握され得る。
【０１５７】
本発明の実施形態に係るテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘは、上記のタッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚのテストに用いられるテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘであって、前記タッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚの前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１，２３ａ，２３ｂ，２３に入力される前記テスト信号の出力の有無を切り替える少なくとも１つのテスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂ，６２ａ，６２ｂ，６５ａ，６５ｂ，７３ａ，７３ｂと、前記タッチパネルコントローラ１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚの前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの少なくとも一方から出力される前記ドライブ信号の入力の有無を切り替える少なくとも１つのドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ，５６ａ，５６ｂ，７１と、を備え、前記テスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂ，６２ａ，６２ｂ，７３ａ，７３ｂの、前記第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２の他端が接続されている前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２１ａ，２１ｂ，２１に入力される前記テスト信号を出力する状態と、前記ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ，７１の、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力される前記ドライブ信号を入力する状態と、のタイミングが異なり、前記テスト信号出力切替部５９ａ，５９ｂ，６５ａ，６５ｂ，７３ａ，７３ｂの、前記第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４の他端が接続されている前記テスト信号入力端子１７ａ，１７ｂ，１７，２３ａ，２３ｂ，２３に入力される前記テスト信号を出力する状態と、前記ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂ，７１の、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力される前記ドライブ信号を入力する状態と、のタイミングが異なることを特徴とする。
【０１５８】
このテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘによれば、第１テスト用容量１８ａ，１８ｂ，１８，２２ａ，２２ｂ，２２及び第２テスト用容量１９ａ，１９ｂ，１９，２４ａ，２４ｂ，２４を介したテスト信号が、センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡだけに与えられて、他の装置や回路に漏れ出すことが防止される。したがって、センスアンプＳＡ１，ＳＡ２，ＳＡに対して、意図した通りのテスト信号を与えることが可能になる。また、このテスト用治具５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘによれば、ドライブ信号が、ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ，５５ａ，５５ｂ，７０だけに与えられて、他の装置や回路に対して漏れ出すことが防止される。したがって、ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ，５５ａ，５５ｂ，７０に対して、意図した通りのドライブ信号を与えることが可能になる。
【０１５９】
また、本発明の実施形態に係るテスト用治具５Ｂ，５Ｂｘは、上記のタッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙのテストに用いられるテスト用治具５Ｂであって、前記タッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙの前記第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１及び前記第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ，２３の少なくとも一方に入力される前記テスト信号の出力の有無を切り替える少なくとも１つのテスト信号出力切替部６２ａ，６２ｂ，６５ａ，６５ｂ，７３ａ，７３ｂと、前記タッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙの前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂ及び前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂの少なくとも一方から出力される前記ドライブ信号の入力の有無を切り替える少なくとも１つのドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ，５６ａ，５６ｂ，７１と、を備え、前記テスト信号出力切替部６２ａ，６２ｂ，７３ａ，７３ｂが、前記第１テスト信号入力端子２１ａ，２１ｂ，２１に入力される前記テスト信号を出力する状態になる場合、前記ドライブ信号入力切替部５６ａ，５６ｂ，７１が、前記第２入出力端子１２ａ，１２ｂから出力される前記ドライブ信号を入力する状態になり、前記テスト信号出力切替部６５ａ，６５ｂ，７３ａ，７３ｂが、前記第２テスト信号入力端子２３ａ，２３ｂ，２３に入力される前記テスト信号を出力する状態になる場合、前記ドライブ信号入力切替部５４ａ，５４ｂ，７１が、前記第１入出力端子１１ａ，１１ｂから出力される前記ドライブ信号を入力する状態になる。
【０１６０】
このテスト用治具５Ｂ，５Ｂｘによれば、第１テスト用容量２２ａ，２２ｂ，２２及び第２テスト用容量２４ａ，２４ｂ，２４を介したテスト信号が、センスアンプＳＡだけに与えられて、他の装置や回路に漏れ出すことが防止される。したがって、センスアンプＳＡに対して、意図した通りのテスト信号を与えることが可能になる。また、このテスト用治具５Ｂ，５Ｂｘによれば、ドライブ信号が、ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ，５５ａ，５５ｂ，７０だけに与えられて、他の装置や回路に対して漏れ出すことが防止される。したがって、ドライブ信号検出回路５３ａ，５３ｂ，５５ａ，５５ｂ，７０に対して、意図した通りのドライブ信号を与えることが可能になる。
【０１６１】
さらに、このテスト用治具５Ｂ，５Ｂｘによれば、第１接続状態におけるセンスアンプＳＡのテストとドライバＤのテストとが同時に行われるとともに、第２接続状態におけるセンスアンプＳＡのテストとドライバＤのテストとが同時に行われる。そのため、タッチパネルコントローラ１Ｂ，１Ｂｙのテストに要する時間を、短くすることが可能になる。
【産業上の利用可能性】
【０１６２】
本発明は、タッチパネルの動作を制御するために使用されるタッチパネルコントローラや、当該タッチパネルコントローラのテストに使用されるテスト用治具に利用可能である。
【符号の説明】
【０１６３】
１Ａ，１Ｂ，１Ａｙ，１Ｂｙ，１Ａｚ，１Ｂｚ  ：  タッチパネルコントローラ
１１ａ，１１ｂ  ：  第１入出力端子
１２ａ，１２ｂ  ：  第２入出力端子
１３Ａ，１３Ｂ，１３Ａｙ，１３Ｂｙ  ：  センスアンプ部
１４Ａ，１４Ｂ  ドライバ部
１５  ：  信号処理部
１６  ：  動作制御部
１７ａ，１７ｂ，１７  ：  テスト信号入力端子
１８ａ，１８ｂ，１８  ：  第１テスト用容量
１９ａ，１９ｂ，１９  ：  第２テスト用容量
２０  ：  センスドライブ切替部
２１ａ，２１ｂ，２１  ：  第１テスト信号入力端子
２２ａ，２２ｂ，２２  ：  第１テスト用容量
２３ａ，２３ｂ，２３  ：  第２テスト信号入力端子
２４ａ，２４ｂ，２４  ：  第２テスト用容量
ＳＡ１，ＳＡ１ｙ  ：  第１センスアンプ
ＳＡ２，ＳＡ２ｙ  ：  第２センスアンプ
ＳＡ，ＳＡｙ  ：  センスアンプ
ＯＰ，ＯＰｙ  ：  オペアンプ
ＣＦ１，ＣＦ２，ＣＦｙ  ：  フィードバック容量
Ｄ１  ：  第１ドライバ
Ｄ２  ：  第２ドライバ
Ｄ  ：  ドライバ
５Ａ，５Ｂ，５Ｂｘ  ：  テスト用治具
５１ａ，５１ｂ  ：  第１ドライブ信号入力端子
５２ａ，５２ｂ  ：  第２ドライブ信号入力端子
５３ａ，５３ｂ  ：  第１ドライブ信号検出回路
５４ａ，５４ｂ  ：  第１ドライブ信号入力切替部
５５ａ，５５ｂ  ：  第２ドライブ信号検出回路
５６ａ，５６ｂ  ：  第２ドライブ信号入力切替部
５７ａ，５７ｂ  ：  テスト信号出力端子
５８ａ，５８ｂ  ：  テスト信号生成回路
５９ａ，５９ｂ  ：  テスト信号出力切替部
６０ａ，６０ｂ  ：  第１テスト信号出力端子
６１ａ，６１ｂ  ：  第１テスト信号生成回路
６２ａ，６２ｂ  ：  第１テスト信号出力切替部
６３ａ，６３ｂ  ：  第２テスト信号出力端子
６４ａ，６４ｂ  ：  第２テスト信号生成回路
６５ａ，６５ｂ  ：  第２テスト信号出力切替部
７０  ：  ドライブ信号検出回路
７１  ：  ドライブ信号入力切替部
７２ａ，７２ｂ  ：  テスト信号生成回路
７３ａ，７３ｂ  ：  テスト信号出力切替部
ＴＰ  ：  タッチパネル
ＥＬ１  ：  第１電極
ＥＬ２  ：  第２電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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