(57)【要約】【課題】  基板上に搭載された任意の搭載部品に対する自動測定を行うこと。【解決手段】  部品搭載時の位置情報及び形状情報及び、それらの実際の搭載位置を認識する手段及び、各搭載部品に応じたプローブ形状を形成する手段を用いて、部品の形状に依存しないプローブによる各種部品の自動測定を可能とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板に搭載された部品の特性を測定する測定装置において、前記基板上の前記部品の位置情報を基に、前記測定装置に取り付けられた測定部を前記部品の位置に配置させるために、前記測定部と前記基板の少なくともいずれかを移動させる手段を有し、前記部品の形状に適合可能なプローブ及び前記プローブに接続された測定器を介して部品の特性値を読み取る手段と、前記特性値に対する良否を判断する手段を有することを特徴とする測定装置。
【請求項２】
前記部品が両端に電極を有する場合、前記電極に対し、前記プローブを正確に配置することを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、基板上に搭載された両端に電極を有する電子部品に関し、それぞれの部品の搭載時の情報を基にコンデンサの容量や抵抗器の抵抗値等を、部品の形状に適合可能なプローブを用いて自動で測定し、測定によって得られた測定値と、それぞれの部品が持つ本来の定格値を比較することにより良否を判定する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  基板上の各種電子部品の測定は、測定器に接続したプローブを人手により操作し、その測定値を基に目視により良否を判定する方法または、部品搭載時の情報を基に自動で測定させるための情報を作成した上で自動測定により良否を判定する方法がある。【０００３】  従来、基板上の各種電子部品を自動で測定するためには、それぞれの部品の搭載時の情報を測定装置が認識可能な形式に変換する必要があった。また測定を行う際は、それぞれの部品の形状に依存する専用のプローブを使用する必要があった。【０００４】  １つの基板上には数十〜数百、あるいはそれを超える数の電子部品が配置される。また、配置される部品は１ｍｍに満たないものから数ｃｍ程度のものまでの大きさがあり、かつ同じ大きさである場合でも、各部品の定格値はそれぞれの配置によって異なる。【０００５】  これらを人手により測定し、かつ、それぞれの定格値と照らし合わせたうえで良否を正確に判断することはかなりの労力を必要とし、この良否の決定は測定者の器量に大きく依存する。【０００６】  仮に既存の自動測定装置で測定を行う場合でも、そのための個々の部品に関する配置情報等は人手で作成しなければならず、この点についても労力と正確性が必要とされる。【０００７】  特許文献１に開示されている自動測定装置における測定では、測定対象の部品の形状に依存する専用のプローブを必要とするため、形状の追加または変更時や、特定のプローブが破損等により測定不可となった場合、それらを除く部分に関する自動測定のみに限定される。【０００８】  また、上記自動測定装置で測定を行う場合、測定部品に関する配置情報等は、部品搭載時の位置情報等を当該装置が認識可能な形式に変換する必要がある。【０００９】  さらに、規格上同一形状の部品でも、部品ごとにごく僅かな形状の違いが生じうるため専用のプローブではその違いが測定結果に影響を与える場合がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】  特開平９−７９９５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】  よって本発明は、部品搭載時の位置情報を基に各部品の位置を特定し、かつ、部品搭載時の位置情報と実際の搭載位置の補正手段により正確な実搭載位置を把握し、当該位置へ正確に移動させ、測定部が各部品に対して正確に位置することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】  さらに、部品搭載時の部品情報を基に搭載部品の形状を特定し、部品の形状に適合可能なプローブを測定対象に応じたプローブ形状に形成することで、１つのプローブで複数の部品の測定を可能とし、当該プローブに接続された測定器の測定値を読み取り、当該測定値から各搭載部品の良否を判定することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】  本発明に係る測定装置は、測定部の搭載箇所への移動、測定及び、良否判定の一切を司る指令部と、部品搭載時の位置情報及び、形状情報を読み取る手段と、各部品の実際の搭載位置を認識し、前記位置情報との差分を補正する手段と、基板及び測定部のいづれか、または両方を移動させることで、基板上の任意の部品に対して測定部を正確に位置させる手段を有する。【００１４】  また、本発明に係る測定装置は、部品搭載時の位置情報に基づきプローブを回転する手段と、部品搭載時の形状情報に基づきプローブを測定対象の部品形状に調節する手段と、部品搭載時の形状情報に基づきプローブを正確に測定位置へ移動する手段と、測定対象の部品に接触するプローブと、プローブと有線のケーブルで接続される測定器及び、測定器と有線または無線で接続され、測定器の測定値を読み取る手段を同時に有し、これらの手段により課題を解決する。
【発明の効果】
【００１５】  本発明では、部品搭載時の位置情報及び、形状情報を用いて個々の部品の測定を行うため、測定者の器量に依存することなく基板上の各部品の測定を行うことができる。
また、従来の自動測定時に必要としていた、測定装置が認識可能な形式での情報が不要となるため、この点に関しても測定者の器量や労力を必要としない。
さらに、複数の形状の部品を部品の形状に適合可能なプローブで測定することにより、基板上の部品形状の追加や変更、あるいは部品形状の僅かな精度の違いに対しても柔軟かつ安定的な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】  本発明に係る自動測定装置の外観図である。
【図２】  本発明に係る自動測定装置の応用例に関する外観図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】  以下、本発明を図の具体例を用いて詳細に説明する。
【実施例１】
【００１８】  図１は本発明に係る自動測定装置の外観図であり、以下に本図を用いた実施例を示す。
指令部３ａは位置情報読取手段４ａを用いて、基板１ａ上に配置された、両端に電極を有する部品２ａのおおよその搭載位置及び搭載角度を取得し、指令部３ａは当該搭載位置を基に、第一の基板移動手段６ａ及び、第二の基板移動手段７ａを用いて、基板１ａを測定対象の部品２ａがプローブ１３ａの下方のおおよその位置に位置する位置まで移動させ、さらに指令部３ａは位置情報読取手段４ａより取得した搭載角度を基に、第一の測定部回転手段１１ａを用いて、プローブ１３ａを部品２ａのおおよその搭載角度まで回転させる。【００１９】  指令部３ａは位置補正手段８ａを用いて、前記移動位置及び、前記回転角度に対する補正情報を取得し、指令部３ａは当該補正情報を基に、第一の基板移動手段６ａ及び、第二の基板移動手段７ａを用いて、基板１ａを測定対象の部品２ａがプローブ１３ａの下方の正確な位置に位置する位置まで移動させ、さらに指令部３ａは当該補正情報を基に、第一の測定部回転手段１１ａを用いて、プローブ１３ａを部品２ａに対して正確な搭載角度まで回転させる。【００２０】  指令部３ａは形状情報読取手段５ａ及び、位置補正手段８ａを用いて、部品２ａの測定箇所に関する情報を取得し、指令部３ａは当該補正情報を基に、形状調節手段１２ａを用いて、プローブ１３ａを部品２ａの測定が可能な形状に調節する。【００２１】  指令部３ａは形状情報読取手段５ａを用いて、プローブ１３ａによる部品２ａの測定が可能となる測定位置に関する情報を取得し、指令部３ａは当該情報を基に、第一の測定部移動手段９ａを用いて、プローブ１３ａによる部品２ａの測定が可能となる位置へ移動させる。【００２２】  プローブ１３ａが部品２ａに接触することで、プローブ１３ａと有線のケーブル１５ａで接続された測定器１４ａが測定を開始し、指令部３ａは測定器１４ａの測定値を、測定器１４ａと有線もしくは無線で接続された測定値読取手段１６ａを用いて取得する。【００２３】  指令部３ａは良否判定手段１７ａを用いて、測定対象の部品２ａの測定値に対する良否判定情報を取得し、指令部３ａは当該良否判定情報及び、測定値読取手段１６ａより取得した測定値を基に、測定対象の部品２ａに対する良否を判定する。【００２４】  上記手順を基板１ａ上の搭載部品２ａの中で、その両端に電極を有する搭載部品に対して行う。【００２５】  上記説明の通り、基板上に搭載された両端に電極を有する電子部品に対し、それらの搭載時の位置情報及び、形状情報を基に、計測対象となる電子部品のおおよその搭載位置及び形状を特定し、さらにそれらの実際の搭載位置及び、形状を認識することで、搭載時の僅かなずれ及び、個々の部品の僅かな形状の違いを補正することで、正確な計測位置が特定できる。【００２６】  また、良否の判定においても、正確な計測位置から得た計測値と、計測対象の部品に対する定格値より判定されるため、測定者の器量に依存することなく判定結果を得ることができる。【００２７】  よって本発明は、課題を解決するための十分な手段と言える。
【実施例２】
【００２８】  図２は本発明に係る自動測定装置の応用例に関する外観図であり、以下に本図を用いた実施例を示す。
指令部３ｂは位置情報読取手段４ｂを用いて、基板１ｂ上に配置された、両端に電極を有する部品２ｂのおおよその搭載位置及び搭載角度を取得し、指令部３ｂは当該搭載位置を基に、第一の基板移動手段６ｂ及び、第二の測定部移動手段１０ｂを用いて、基板１ｂ及びプローブ１３ｂを測定対象の部品２ｂがプローブ１３ｂの下方のおおよその位置に位置する位置まで移動させ、さらに指令部３ｂは位置情報読取手段４ｂより取得した搭載角度を基に、測定部回転手段１１ｂを用いて、プローブ１３ｂを部品２ｂのおおよその搭載角度まで回転させる。【００２９】  指令部３ｂは位置補正手段８ｂを用いて、前記移動位置及び、前記回転角度に対する補正情報を取得し、指令部３ｂは当該補正情報を基に、第一の基板移動手段６ｂ及び、第二の測定部移動手段１０ｂを用いて、基板１ｂ及びプローブ１３ｂを測定対象の部品２ｂがプローブ１３ｂの下方の正確な位置に位置する位置まで移動させ、さらに指令部３ｂは当該補正情報を基に、測定部回転手段１１ｂを用いて、プローブ１３ｂを部品２ｂに対して正確な搭載角度まで回転させる。【００３０】  指令部３ｂは形状情報読取手段５ｂ及び、位置補正手段８ｂを用いて、部品２ｂの測定箇所に関する情報を取得し、指令部３ｂは当該補正情報を基に、形状調節手段１２ｂを用いて、プローブ１３ｂを部品２ｂの測定が可能な形状に調節する。【００３１】  指令部３ｂは形状情報読取手段５ｂを用いて、プローブ１３ｂによる部品２ｂの測定が可能となる測定位置に関する情報を取得し、指令部３ｂは当該補正情報を基に、第一の測定部移動手段９ｂを用いて、プローブ１３ｂによる部品２ｂの測定が可能となる位置へ移動させる。【００３２】  プローブ１３ｂが部品２ｂに接触することで、プローブ１３ｂと有線のケーブル１５ｂで接続された測定器１４ｂが測定を開始し、指令部３ｂは測定器１４ｂの測定値を、測定器１４ｂと有線もしくは無線で接続された測定値読取手段１６ｂを用いて取得する。【００３３】  指令部３ｂは良否判定手段１７ｂを用いて、測定対象の部品２ｂの測定値に対する良否判定情報を取得し、指令部３ｂは当該良否判定情報及び、測定値読取手段１６ｂより取得した測定値を基に、測定対象の部品２ｂに対する良否を判定する。【００３４】  上記手順を基板１ｂ上の搭載部品２ｂの中で、その両端に電極を有する搭載部品に対して行う。【００３５】  上記説明の通り、基板上に搭載された両端に電極を有する電子部品に対し、それらの搭載時の位置情報及び、形状情報を基に、計測対象となる電子部品のおおよその搭載位置及び形状を特定し、さらにそれらの実際の搭載位置及び、形状を認識することで、搭載時の僅かなずれ及び、個々の部品の僅かな形状の違いを補正することで、正確な計測位置が特定できる。【００３６】  また、良否の判定においても、正確な計測位置から得た計測値と、計測対象の部品に対する定格値より判定されるため、測定者の器量に依存することなく判定結果を得ることができる。【００３７】  よって本発明は、課題を解決するための十分な手段と言える。
【符号の説明】
【００３８】１ａ，１ｂ  基板
２ａ，２ｂ  部品
３ａ，３ｂ  指令部
４ａ，４ｂ  位置情報読取手段
５ａ，５ｂ  形状情報読取手段
６ａ，６ｂ  第一の基板移動手段
７ａ  第二の基板移動手段
８ａ，８ｂ  位置補正手段
９ａ，９ｂ  第一の測定部移動手段
１０ｂ  第二の測定部移動手段
１１ａ，１１ｂ  測定部回転手段
１２ａ，１２ｂ  形状調節手段
１３ａ，１３ｂ  プローブ
１４ａ，１４ｂ  測定器
１５ａ，１５ｂ  ケーブル
１６ａ，１６ｂ  測定値読収手段
１７ａ，１７ｂ  良否判定手段
【図１】
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【図２】
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