(57)【要約】【課題】計測対象物に対してパターン光投影法により３次元計測を行う場合に、ノイズを検出する。【解決手段】計測領域の全体に光を照射するよう投影機１を制御する全照射制御部４１と、計測領域の全体に光を照射しないよう投影機１を制御する無照射制御部４２と、全照射制御部４１及び無照射制御部４２により投影機１による光の照射が制御された状態において撮像装置２により撮像された両画像の輝度値に基づいて、当該画像の各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定する閾値設定部４３と、３次元計測において投影機１により投影パターン及びその反転パターンの光が照射された状態で撮像装置２により撮像された両画像の輝度値の差分が、閾値設定部４３により設定された該当座標の閾値以下であるかを判定し、当該閾値以下である当該投影パターンが規定枚数以上ある場合に当該座標をノイズとして検出するノイズ検出部４５と、ノイズ検出部４５によりノイズが検出された座標の情報を除去するノイズ除去部４６とを備えた。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測対象物が置かれた計測領域に対し、複数の投影パターン及びその反転パターンの光を照射する投影機と、前記投影機により光が照射された状態で前記計測領域を撮像する撮像装置と、前記撮像装置により撮像された画像に基づいて前記計測対象物の３次元計測を行う処理装置とを備えた３次元計測システムに用いられ、前記３次元計測におけるノイズを検出するノイズ検出装置において、
前記計測領域の全体に光を照射するよう前記投影機を制御する全照射制御部と、
前記計測領域の全体に光を照射しないよう前記投影機を制御する無照射制御部と、
前記全照射制御部及び前記無照射制御部により前記投影機による光の照射が制御された状態において前記撮像装置により撮像された両画像の輝度値に基づいて、当該画像の各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定する閾値設定部と、
前記３次元計測において前記投影機により前記投影パターン及びその反転パターンの光が照射された状態で前記撮像装置により撮像された両画像の輝度値の差分が、前記閾値設定部により設定された該当座標の閾値以下であるかを判定し、当該閾値以下である当該投影パターンが規定枚数以上ある場合に当該座標をノイズとして検出するノイズ検出部と、
前記ノイズ検出部によりノイズが検出された座標の情報を除去するノイズ除去部とを備えた
ことを特徴とするノイズ検出装置。
【請求項２】
前記閾値設定部は、前記全照射制御部及び前記無照射制御部による制御で得られた両画像の輝度値の差分の範囲内の値を前記閾値として設定する
ことを特徴とする請求項１記載のノイズ検出装置。
【請求項３】
前記ノイズ検出部は、前記閾値設定部により設定された閾値が規定値を下回っている場合に該当座標をノイズとして検出する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２記載のノイズ検出装置。
【請求項４】
計測対象物が置かれた計測領域に対し、複数の投影パターン及びその反転パターンの光を照射する投影機と、前記投影機により光が照射された状態で前記計測領域を撮像する撮像装置と、前記撮像装置により撮像された画像に基づいて前記計測対象物の３次元計測を行う処理装置とを備えた３次元計測システムに用いられ、前記３次元計測におけるノイズを検出するノイズ検出方法において、
全照射制御部が、前記計測領域の全体に光を照射するよう前記投影機を制御する全照射制御ステップと、
無照射制御部が、前記計測領域の全体に光を照射しないよう前記投影機を制御する無照射制御ステップと、
閾値設定部が、前記全照射制御部及び前記無照射制御部により前記投影機による光の照射が制御された状態において前記撮像装置により撮像された両画像の輝度値に基づいて、当該画像の各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定する閾値設定ステップと、
ノイズ検出部が、前記３次元計測において前記投影機により前記投影パターン及びその反転パターンの光が照射された状態で前記撮像装置により撮像された両画像の輝度値の差分が、前記閾値設定部により設定された該当座標の閾値以下であるかを判定し、当該閾値以下である当該投影パターンが規定枚数以上ある場合に当該座標をノイズとして検出するノイズ検出ステップと、
ノイズ除去部が、前記ノイズ検出部によりノイズが検出された座標の情報を除去するノイズ除去ステップとを有する
ことを特徴とするノイズ検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、パターン光投影法を用いた場合に生じるノイズを検出するノイズ検出装置及びノイズ検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、パターン光投影法を利用した３次元計測方法が提案されている（例えば特許文献１参照）。この特許文献１に開示された方法では、コード化された複数の投影パターンを計測対象物に照射した状態で撮像を行う。そして、各投影パターンで得られた画像を画素毎に明暗で２値化し、２値化パターンの内容に基づいて空間を符号化する。そして、その符号化結果によって三角測量を実施し、計測対象物の３次元形状を演算する。
【０００３】
パターン光投影法で用いる投影パターンの例として「バイナリコードパターン」がある。このバイナリコードパターンは、２進数による数値表現を利用したものである。例えば３枚の投影パターンで空間を８個に符号化する場合には、図５のような投影パターンとなる。そして、この投影パターンの光が照射されている領域を「１」とし、照射されていない領域を「０」とすることで、図６に示すように空間を符号化することができる。
【０００４】
また、計測領域のそれぞれの領域が「１」なのか「０」なのかを判断する方法として、投影パターンの明暗を反転させたパターン（反転パターン）の光も照射して撮像し、投影パターンとその反転パターンで得られた輝度値の大小関係から判断する方法が一般的に実施されている。例えば、投影パターン及び反転パターンで得られた画像の注目点の輝度値を取得し、「投影パターンで得られた輝度値＞反転パターンで得られた輝度値」ならば注目点は投影パターンの光が照射されている点だと判断し、その逆ならば照射されていない点だと判断する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭６４−０５４２０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
一方、パターン光投影法では、計測対象物に照射した投影パターンの明暗や濃淡を用いて空間を符号化して三角測量に基づいた３次元計測を行うため、符号化に誤りが発生すると３次元計測にも誤りが発生する。
例えば、計測対象物の凹凸等により投影パターンの光が凹凸面で反射された場合、その反射光が本来照射されていないはずの領域に照射されてしまう場合がある。この場合、この領域では正しい投影パターンの明暗や濃淡が得られず、符号化に誤りが発生する恐れがある。
【０００７】
具体例として、図７に示すように、計測対象物（凹型のワーク１０）をトレー１１上に配置し、ワーク１０に対して投影機１を斜め上に配置し、撮像装置２を真上に配置して、計６枚のバイナリコードパターン（図５に示す３枚の投影パターンとそれぞれの反転パターン）で符号化を行う場合を考える。
【０００８】
図７に示す計測環境において、図５の第１の投影パターンとその反転パターンの光を照射した場合を図８に示す。図８（ａ），（ｂ）におけるトレー１１の明暗は、トレー１１の上にワーク１０がない場合での光の照射領域を示し、白い範囲は光が照射される領域であり、黒い範囲は光が照射されない領域である。また、図８（ａ），（ｂ）に示す状態において撮像装置２により撮像された画像のうち、注目点（図中の丸点）での輝度値を図８（ｃ）に示す。
【０００９】
ここで、トレー１１上にワーク１０がない場合には、注目点での輝度値は、第１の投影パターンでは高くなり、その反転パターンでは低くなる。一方、トレー１１上にワーク１０がある場合では、第１の投影パターンの光を照射した場合には、図８（ａ）の破線より右側に位置する直接光はワーク１０の手前の側壁により遮られてしまうが、奥の側壁による反射光が注目点に到達するため高い輝度値が得られる。また、反転パターンでは低い輝度値となる。よって、図８（ｃ）に示すように、第１の投影パターンの輝度値が反転パターンの輝度値に対して高くなり、光が照射されている点と判断されるため、偶然問題のない結果が得られる。なお図８では、反射光が強く得られる場合を示したが、得られる輝度値の大きさは、光が遮蔽又は反射される条件によって異なる。
【００１０】
次に、図７に示す計測環境において、図５の第２の投影パターンとその反転パターンの光を照射した場合を図９に示す。また、図９（ａ），（ｂ）に示す状態において撮像装置２により撮像された画像のうち、注目点（図中の丸点）での輝度値を図９（ｃ）に示す。
【００１１】
ここで、トレー１１上にワーク１０がない場合には、注目点での輝度値は、第２の投影パターンでは低くなり、その反転パターンでは高くなる。一方、トレー１１上にワーク１０がある場合では、第２の投影パターンの光を照射した場合には、本来光は照射されないが、奥の側壁による反射光が注目点に到達するため高い輝度値が得られる。また、反転パターンでも、図９（ｂ）の破線より右側に位置する直接光はワーク１０の手前の側壁により遮られてしまうが、奥の側壁による反射光が注目点に到達するため高い輝度値が得られる。ここで、投影パターンの光が照射されているかいないかの判断は画像から得られる輝度値の大小で判断しているため、図９（ｃ）に示すように投影パターンと反転パターンでの輝度値がほぼ等しい場合、正しい判断が行えない。よって、符号化誤りに繋がる恐れがある。なお図９では、投影パターンと反転パターンとの輝度値がほぼ等しい場合を示したが、輝度値の差の大きさは、光が遮蔽又は反射される条件によって異なる。
【００１２】
次に、図７に示す計測環境において、図５の第３の投影パターンとその反転パターンの光を照射した場合を図１０に示す。また、図１０（ａ），（ｂ）に示す状態において撮像装置２により撮像された画像のうち、注目点（図中の丸点）での輝度値を図１０（ｃ）に示す。
【００１３】
ここで、トレー１１上にワーク１０がない場合、注目点での輝度値は、第３の投影パターンでは低くなり、その反転パターンでは高くなる。一方、トレー１１上にワーク１０がある場合では、第３の投影パターンの光を照射した場合には、本来光は照射されないが、奥の側壁による反射光が注目点に到達するため高い輝度値が得られる。また、反転パターンでも、図１０（ｂ）の破線より右側に位置する直接光はワーク１０の手前の側壁により遮られてしまうが、奥の側壁による反射光が注目点に到達するため高い輝度値が得られる。ここで、投影パターンの光が照射されているかいないかの判断は画像から得られる輝度値の大小で判断しているため、図１０（ｃ）に示すように投影パターンと反転パターンでの輝度値がほぼ等しい場合、正しい判断が行えない。よって、符号化誤りに繋がる恐れがある。なお図１０では、投影パターンと反転パターンとの輝度値がほぼ等しい場合を示したが、輝度値の差の大きさは、光が遮蔽又は反射される条件によって異なる。
【００１４】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、計測対象物に対してパターン光投影法により３次元計測を行う場合に、ノイズを検出することができるノイズ検出装置及びノイズ検出方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
この発明に係るノイズ検出装置は、計測領域の全体に光を照射するよう投影機を制御する全照射制御部と、計測領域の全体に光を照射しないよう投影機を制御する無照射制御部と、全照射制御部及び無照射制御部により投影機による光の照射が制御された状態において撮像装置により撮像された両画像の輝度値に基づいて、当該画像の各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定する閾値設定部と、３次元計測において投影機により投影パターン及びその反転パターンの光が照射された状態で撮像装置により撮像された両画像の輝度値の差分が、閾値設定部により設定された該当座標の閾値以下であるかを判定し、当該閾値以下である当該投影パターンが規定枚数以上ある場合に当該座標をノイズとして検出するノイズ検出部と、ノイズ検出部によりノイズが検出された座標の情報を除去するノイズ除去部とを備えたものである。
【発明の効果】
【００１６】
この発明によれば、上記のように構成したので、計測対象物に対してパターン光投影法により３次元計測を行う場合に、ノイズを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】この発明の実施の形態１に係る３次元計測検出システムの構成を示す図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係るノイズ検出装置の構成を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係るノイズ検出装置の動作を示すフローチャートである。
【図４】この発明の実施の形態１に係るノイズ検出装置による閾値設定を説明する図であり、（ａ）計測領域の全体に光を照射した場合を示す図であり、（ｂ）計測領域の全体に光を照射しない場合を示す図であり、（ｃ）（ａ），（ｂ）に示す丸点位置での輝度値を示す図である。
【図５】バイナリコードパターンの一例を示す図である。
【図６】図５に示すバイナリコードパターンを用いた空間の符号化を示す表である。
【図７】３次元計測の計測環境の一例を示す図である。
【図８】図７に示す計測環境において、図５に示す第１の投影パターンを用いて光を照射した場合を示す図であり、（ａ）第１の投影パターンの光を照射した場合を示す図であり、（ｂ）第１の投影パターンの反転パターンの光を照射した場合を示す図であり、（ｃ）（ａ），（ｂ）に示す丸点位置での輝度値を示す図である。
【図９】図７に示す計測環境において、図５に示す第２の投影パターンを用いて光を照射した場合を示す図であり、（ａ）第２の投影パターンの光を照射した場合を示す図であり、（ｂ）第２の投影パターンの反転パターンの光を照射した場合を示す図であり、（ｃ）（ａ），（ｂ）に示す丸点位置での輝度値を示す図である。
【図１０】図７に示す計測環境において、図５に示す第３の投影パターンを用いて光を照射した場合を示す図であり、（ａ）第３の投影パターンの光を照射した場合を示す図であり、（ｂ）第３の投影パターンの反転パターンの光を照射した場合を示す図であり、（ｃ）（ａ），（ｂ）に示す丸点位置での輝度値を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
実施の形態１．
３次元計測システムは、図１に示すように、投影機１、撮像装置２、記憶装置３及び処理装置４から構成されている。なお以下では、パターン光投影法として空間コード化法を用いた場合を示すが、その他の方法を用いてもよい。
【００１９】
投影機１は、処理装置４による制御に従い、計測対象物が置かれた計測領域に対し、保持しているコード化された複数の投影パターン及びその反転パターンの光を照射するものである。この投影機１としては、例えばプロジェクタが挙げられる。また、投影パターンとしては、例えば図５に示すバイナリコードパターンが挙げられる。
【００２０】
撮像装置２は、処理装置４による制御に従い、投影機１により光が照射された状態で計測領域を撮像するものである。
記憶装置３は、撮像装置２により撮像された画像を記憶するものである。この記憶装置３は、ＨＤＤ、ＤＶＤ、メモリ等によって構成される。
【００２１】
処理装置４は、投影機１及び撮像装置２を制御して光の照射及び撮像を行わせ、記憶装置３に記憶された画像に基づいて計測対象物の３次元計測を行うものである。この際、処理装置４は、上記画像に基づいて画素毎に明暗で２値化し、２値化パターンの内容に基づいて空間を符号化し、その符号化結果によって三角測量を実施することで計測対象物の３次元形状を演算する。この処理装置４は、ソフトウェアに基づくＣＰＵを用いたプログラム処理によって実行される。
【００２２】
次に、３次元計測システムに用いられ、３次元計測におけるノイズを検出するノイズ検出装置の構成について、図２を参照しながら説明する。なお図２では、ノイズ検出装置の機能が３次元計測システムの処理装置４に内蔵された場合について示す。
ノイズ検出装置は、図２に示すように、全照射制御部４１、無照射制御部４２、閾値設定部４３、閾値保持部４４、ノイズ検出部４５及びノイズ除去部４６から構成されている。このノイズ検出装置は、ソフトウェアに基づくＣＰＵを用いたプログラム処理によって実行される。
【００２３】
全照射制御部４１は、計測領域の全体に光を照射するよう投影機１を制御するものである。また、無照射制御部４２は、計測領域の全体に光を照射しないよう投影機１を制御するものである。
また、投影機１は、投影パターンとして、計測領域の全体に光を照射するパターン（全照射パターン）と、計測領域の全体に光を照射しないパターン（無照射パターン）とを保持している。そして、投影機１は、全照射制御部４１と無照射制御部４２による制御に従い、上記２つのパターンを用いて光の照射を制御する。
【００２４】
閾値設定部４３は、全照射制御部４１及び無照射制御部４２により投影機１による光の照射が制御された状態において撮像装置２により撮像された両画像の輝度値に基づいて、当該画像の各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定するものである。この際、閾値設定部４３は、全照射制御部４１及び無照射制御部４２により得られた両画像の輝度値の差分の範囲内の値（例えば差分の半分の輝度値）を閾値として設定する。
【００２５】
閾値保持部４４は、閾値設定部４３により設定された各座標に対する閾値を示すデータを保持するものである。この閾値保持部４４は、ＨＤＤ、ＤＶＤ、メモリ等によって構成される。
【００２６】
ノイズ検出部４５は、３次元計測において投影機１により投影パターン及びその反転パターンの光が照射された状態で撮像装置２により撮像された両画像の輝度値の差分が、閾値設定部４３により設定されて閾値保持部４４に記憶されている該当座標の閾値以下であるかを判定し、当該閾値以下である投影パターンが規定枚数以上（例えば１枚以上）ある場合に当該座標をノイズとして検出するものである。また、ノイズ検出部４５は、閾値設定部４３に設定された閾値が規定値を下回っている場合には、その時点で該当座標をノイズとして検出する。
【００２７】
ノイズ除去部４６は、ノイズ検出部４５によりノイズが検出された座標の情報を除去するものである。
【００２８】
次に、上記のように構成されたノイズ検出装置の動作について、図３を参照しながら説明する。なお以下では、具体例として、図７に示すように、計測対象物（凹型のワーク１０）をトレー１１上に配置し、ワーク１０に対して投影機１を斜め上に配置し、撮像装置２を真上に配置した場合を考える。
【００２９】
ノイズ検出装置の動作では、図３に示すように、まず、全照射制御部４１は、計測領域の全体に光を照射するよう投影機１を制御する（ステップＳＴ１、全照射制御ステップ）。そして、投影機１は、この制御に応じて、計測領域に対して全照射パターンの光を照射し、撮像装置２はその際の計測領域を撮像する。この撮像装置２により撮像された画像は記憶装置３に記憶される。
【００３０】
次いで、無照射制御部４２は、計測領域の全体に光を照射しないよう投影機１を制御する（ステップＳＴ２、無照射制御ステップ）。そして、投影機１は、この制御に応じて、計測領域に対して無照射パターンにより光を無照射とし、撮像装置２はその際の計測領域を撮像する。この撮像装置２により撮像された画像は記憶装置３に記憶される。
【００３１】
図７に示す計測環境において、全照射パターンと無照射パターンにより光の照射を制御した場合を図４に示す。図４（ａ），（ｂ）におけるトレー１１の明暗は、トレー１１の上にワーク１０がない場合での光の照射領域を示し、白い範囲は光が照射される領域であり、黒い領域は光が照射されない領域である。また、図４（ａ），（ｂ）に示す状態において撮像装置２により撮像された画像のうち、注目点（図中の丸点）での輝度値を図４（ｃ）に示す。
この図４に示すように、凹型のワーク１０に対して全照射パターンの光を照射した場合には、図４（ａ）の破線より右側に位置する直接光はワーク１０の手前の側壁により遮られてしまうが、奥の側壁による反射光が注目点に到達するため高い輝度値が得られる。また、無照射パターンでは低い輝度値となる。
【００３２】
次いで、閾値設定部４３は、全照射制御部４１及び無照射制御部４２により投影機１による光の照射が制御された状態において撮像装置２により撮像された両画像の輝度値に基づいて、当該画像の各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定する（ステップＳＴ３、閾値設定ステップ）。この際、閾値設定部４３は、各座標に対して、例えば下式（１）に基づいて閾値を設定する。
閾値＝（｜全照射パターンで得られた輝度値−無照射パターンで得られた輝度値｜）／２                                                                      （１）
【００３３】
例えば、図４に示す注目点において、全照射パターンで得られた輝度値が２００であり、無照射パターンで得られた輝度値が１０であるとする。この場合、注目点での閾値は、上式（１）より、（｜２００−１０｜）／２＝９５となる。
また、ノイズ検出部４５は、閾値設定部４３に設定された閾値が規定値（例えば２０）を下回っている場合には、該当座標は凹凸等によって照射パターンの光が遮蔽された領域であると判断し、その時点で該当座標をノイズとして検出する。
【００３４】
この閾値設定部４３により設定された各座標に対する閾値を示すデータは、閾値保持部４４に保持される。
【００３５】
そして、３次元計測システムは、各投影パターン及びその反転パターンの光の照射及び撮像を行う。すなわち、投影機１は、処理装置４による制御に従い、計測領域に対し、各投影パターン及びその反転パターンの光を照射する。また、撮像装置２は、処理装置４による制御に従い、投影機１により光の照射が制御された状態で計測領域を撮像する。そして、記憶装置３は、撮像装置２により撮像された画像を記憶する。
【００３６】
この際、図７に示す計測環境において、図５に示す３枚のバイナリコードパターンとその明暗を反転させた反転パターンで空間を８個に区分する場合、照射イメージは図８〜１０のようになる。
【００３７】
次いで、ノイズ検出部４５は、３次元計測において投影機１により投影パターン及びその反転パターンの光が照射された状態で撮像装置２により撮像された両画像の輝度値の差分が、閾値設定部４３により設定された該当座標の閾値以下であるかを判定し、当該閾値以下である投影パターンが規定枚数以上ある場合に当該座標をノイズとして検出する（ステップＳＴ５、ノイズ検出ステップ）。以下では、輝度値の差分が閾値以下となるパターンが１枚以上ある場合にはノイズとして検出するものとする。
【００３８】
例えば、図８の場合には、第１の投影パターンの輝度値と反転パターンの輝度値との差分が大きく、閾値より大きくなる。一方、図９，１０の場合には、第２，３の投影パターンの輝度値と反転パターンの輝度値との差分が小さく、閾値以下となる。よって、図８〜１０に示す注目点はノイズであると判定する。
【００３９】
次いで、ノイズ除去部４６は、ノイズ検出部４５によりノイズが検出された座標の情報を除去する（ステップＳＴ６、ノイズ除去ステップ）。情報の除去方法は座標毎に紐付けられたフラグ情報を付与する等複数の手法があり、何れの手法を使用してもよい。
そして、この処理を画像の全ての座標に対して行うことで、符号化誤りが発生する恐れの高い領域をノイズとして除去することが可能となる。
【００４０】
その後、３次元計測システムでは、記憶装置３に保存された画像を用いて計測対象物の３次元計測を行う。すなわち、符号化は一般的に行われているように、「投影パターンで得られた輝度値＞反転パターンで得られた輝度値」ならば、注目点は投影パターンの光が照射されている点だと判断し、その逆ならば照射されていない点だと判断し、使用した投影パターンに応じた符号化を行う（バイナリコードパターンなら２進数を利用した符号化となり、符号化方法は投影パターンに応じて変化する）。
【００４１】
以上のように、この実施の形態１によれば、計測領域の全体を照射した場合と、照射しなかった場合を撮像し、その両画像から各座標に対してノイズ検出のための閾値を設定し、投影パターンと反転パターンの照射結果から得られる輝度値の差分が閾値以下である領域をノイズとして除去するように構成したので、計測対象物に対してパターン光投影法により３次元計測を行う場合に、凹凸等によるノイズを検出することができる。
【００４２】
なお上記では、輝度値の差分が閾値以下となるパターン（投影パターン、反転パターン）が１枚以上存在する場合に、その座標はノイズとなる可能性が高い座標であると判定する場合について示した。しかしながら、これに限るものではなく、輝度値の差分が閾値以下となるパターンが複数枚（例えば２枚）以上存在する場合に、ノイズであると判定するようにしてもよい。
【００４３】
なお上記では、投影パターンとして、バイナリコードパターンを用いた場合を示した。しかしながら、これに限るものではなく、パターン光投影法を用いた３次元計測であれば本発明を適用可能であり、投影パターンとして例えばグレイコードパターン等を用いてもよい。
【００４４】
なお、本願発明はその発明の範囲内において、実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
【符号の説明】
【００４５】
１  投影機
２  撮像装置
３  記憶装置
４  処理装置
１０  凹型のワーク
１１  トレー
４１  全照射制御部
４２  無照射制御部
４３  閾値設定部
４４  閾値保持部
４５  ノイズ検出部
４６  ノイズ除去部
【図１】
2016040539.tif 000003
【図２】
2016040539.tif 000004
【図３】
2016040539.tif 000005
【図４】
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【図５】
2016040539.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2016040539.tif 000011
【図１０】
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