(57)【要約】【課題】ポラリゼーションが発生したセンサから出力された投影データを識別して適切に処理すること。【解決手段】実施形態のＸ線ＣＴ装置は、複数の光子計数検出器と、処理回路とを備える。光子計数検出器は、投影データを取得するためにＸ線源から放射された入射Ｘ線光子を捕捉する。処理回路は、複数の光子計数検出器のうち前記投影データ取得時にポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記複数の光子計数検出器のうち動作不良が発生した光子計数検出器を判定し、画像再構成に対する、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記動作不良が発生した光子計数検出器に対応する投影データの寄与を下げる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
投影データを取得するためにＸ線源から放射された入射Ｘ線光子を捕捉する複数の光子計数検出器と、
前記複数の光子計数検出器のうち前記投影データ取得時にポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記複数の光子計数検出器のうち動作不良が発生した光子計数検出器を判定し、画像再構成に対する、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記動作不良が発生した光子計数検出器に対応する投影データである対応投影データの寄与を下げる処理回路と、
を備える、Ｘ線ＣＴ装置。
【請求項２】
投影データを取得するためにＸ線源から放射された入射Ｘ線光子を捕捉する複数の検出素子を有する光子計数検出器と、
前記複数の検出素子のうち前記投影データ取得時にポラリゼーションが発生した検出素子、又は、前記複数の検出素子のうち動作不良が発生した検出素子を判定し、画像再構成に対する、前記ポラリゼーションが発生した検出素子、又は、前記動作不良が発生した検出素子に対応する投影データである対応投影データの寄与を下げる処理回路と、
を備える、Ｘ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記処理回路は、前記画像再構成の間に、前記対応投影データにゼロの重みを割り当てる、請求項１又は２に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
前記処理回路は、さらに、再構成前処理の間に、前記対応投影データの部分を省く、請求項１〜３のいずれか１つに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
前記処理回路は、前記複数の光子計数検出器のうちのある光子計数検出器から得られた投影データが所定のエネルギー閾値より低い平均エネルギーを有する場合に、該光子計数検出器にポラリゼーションが発生したと判断することで、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器を判定し、
前記所定のエネルギー閾値は、ＣＴスペクトルの平均エネルギーに基づく、請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
前記処理回路は、前記複数の検出素子のうちのある検出素子から得られた投影データが所定のエネルギー閾値より低い平均エネルギーを有する場合に、該検出素子にポラリゼーションが発生したと判断することで、前記ポラリゼーションが発生した検出素子を判定し、
前記所定のエネルギー閾値は、ＣＴスペクトルの平均エネルギーに基づく、請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
前記処理回路は、前記複数の光子計数検出器のうちのある光子計数検出器から得られた投影データが所定のエネルギー閾値より低い平均エネルギーを有する場合に、該光子計数検出器にポラリゼーションが発生したと判断することで、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器を判定し、
前記所定のエネルギー閾値は、ＣＴスペクトルの第１のエネルギーの計数値に対する前記ＣＴスペクトルの前記第１のエネルギーより高い第２のエネルギーの計数値の比、又は、前記第２のエネルギーの計数値に対する前記第１のエネルギーの計数値の比に基づく、請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記処理回路は、前記複数の検出素子のうちのある検出素子から得られた投影データが所定のエネルギー閾値より低い平均エネルギーを有する場合に、該検出素子にポラリゼーションが発生したと判断することで、前記ポラリゼーションが発生した検出素子を判定し、
前記所定のエネルギー閾値は、ＣＴスペクトルの第１のエネルギーの計数値に対する前記ＣＴスペクトルの前記第１のエネルギーより高い第２のエネルギーの計数値の比、又は、前記第２のエネルギーの計数値に対する前記第１のエネルギーの計数値の比に基づく、請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項９】
前記処理回路は、前記複数の光子計数検出器のうちのある光子計数検出器において検出された計数の数および平均エネルギーの変化が、該光子計数検出器のある数の隣り合うビューについて、負である場合に、該光子計数検出器にポラリゼーションが発生したと判断することで、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器を判定する、請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１０】
前記処理回路は、前記複数の検出素子のうちのある検出素子において検出された計数の数および平均エネルギーの変化が、該検出素子のある数の隣り合うビューについて、負である場合に、該検出素子にポラリゼーションが発生したと判断することで、前記ポラリゼーションが発生した検出素子を判定する、請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１１】
前記処理回路は、前記光子計数検出器の表面における角度と前記光子計数検出器の分離角との比に基づいて、前記隣り合うビューの数を決定する、請求項９に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１２】
Ｘ線を放射するＸ線源と、
前記Ｘ線源と同期して回転するエネルギー積分型のＣＴ検出器と
をさらに備える、請求項１に記載のＣＴ装置。
【請求項１３】
前記処理回路は、さらに、前記ＣＴ検出器が検出した信号強度が所定の信号閾値よりも高い場合に、前記光子計数検出器にポラリゼーションが発生したと判断する、請求項１２に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１４】
前記処理回路は、前記ＣＴ検出器によって得られた投影データに基づいて、前記複数の光子計数検出器のうちのある光子計数検出器にポラリゼーションが発生したと判断する、請求項１３に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１５】
前記処理回路は、さらに、あるビュー角における前記ＣＴ検出器のある検出素子について、当該検出素子が、完全に遮断されている、部分的に遮断されている、および、遮断されていない、のうちのいずれ状態であるかを判定する、請求項１２〜１４のいずれか１つに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１６】
Ｘ線ＣＴ装置により実行される画像再構成方法であって、
前記Ｘ線ＣＴ装置が備える複数の光子計数検出器が、投影データを取得するためにＸ線源から放射された入射Ｘ線光子を捕捉するステップと、
前記Ｘ線ＣＴ装置が備える処理回路が、前記複数の光子計数検出器のうち前記投影データ取得時にポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記複数の光子計数検出器のうち動作不良が発生した光子計数検出器を判定するステップと、
前記処理回路が、画像再構成に対する、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記動作不良が発生した光子計数検出器に対応する投影データの寄与を下げるステップと
を含む画像再構成方法。
【請求項１７】
Ｘ線ＣＴ装置により実行される画像再構成方法であって、
前記Ｘ線ＣＴ装置が備える光子計数検出器の複数の検出素子が、投影データを取得するためにＸ線源から放射された入射Ｘ線光子を捕捉するステップと、
前記Ｘ線ＣＴ装置が備える処理回路が、前記複数の検出素子のうち前記投影データ取得時にポラリゼーションが発生した検出素子、又は、前記複数の検出素子のうち動作不良が発生した検出素子を判定するステップと、
前記処理回路が、画像再構成に対する、前記ポラリゼーションが発生した検出素子、又は、前記動作不良が発生した検出素子に対応する投影データの寄与を下げるステップと
を含む画像再構成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線ＣＴ装置および画像再構成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータ断層撮影（Computed  Tomography：ＣＴ）システムおよびその方法は広く使用されており、特に医用イメージングおよび医用診断に使用されている。一般的に、ＣＴシステムは、被験者の身体から１つ以上の断面スライスの画像を作成するものである。Ｘ線管等の放射線源が、身体を一方側から照射する。一般的にＸ線源に隣接するコリメータがＸ線ビームの角度範囲を制限し、それにより、身体に作用する放射線は各身体断面スライスを画定する平面領域に実質的に制限される。身体の反対側にある少なくとも１つの検出器（一般的には１つよりさらに多い検出器）が、実質的にスライス平面内にある身体を透過した放射線を受ける。身体を透過した放射線の減衰を、検出器から受信した電気信号を処理することによって測定する。
【０００３】
これらの従来の検出器は、エネルギー積分Ｘ線データを収集するエネルギー積分検出器と呼ばれる。近年、光子計数検出器（Photon-Counting  Detector：ＰＣＤ）は、データを収集する際に、エネルギー積分特性ではなくＸ線源のスペクトル特性を収集するよう構成されている。透過したＸ線データのスペクトル特性を得るために、ＰＣＤは、Ｘ線ビームをエネルギーすなわちスペクトルビンに分解し、各ビンにおける多数の光子を計数する。ＣＴにおけるＸ線源のスペクトル特性の利用は、スペクトルＣＴと呼ばれることが多い。スペクトルＣＴは、２つ以上のエネルギーレベルで送信されたＸ線の検出を伴うため、一般的には、デュアル（二重）エネルギーＣＴと定義されるものである。
【０００４】
ＰＣＤは、高速な電子的読み出し機能を有する半導体ベースのＣＺＴセンサまたはＣｄＴｅセンサを備えていることがある。スペクトルＣＴにおいて使用される半導体ベースのＰＣＤは、事象毎に入射光子を検出して光子エネルギーを測定することができる。しかし、高線束では、ＣＺＴセンサまたはＣｄＴｅセンサ（以下、センサと総称する場合がある）はポラリゼーションが発生して正常には機能しなくなる。ポラリゼーションが発生したセンサから出力された投影データは、著しく歪んでいるため使用不能である。再構成前処理段階および再構成処理段階の間にそのような使用不能データを利用すると、再構成されたＣＴ画像にアーチファクトが生じることとなる。そのため、ポラリゼーションが発生したセンサから出力された投影データを識別して適切に処理することが不可欠である。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】Ｄｅｒｅｋ  Ｓ．  Ｂａｌｅ  ａｎｄ  Ｃｓａｂａ  Ｓｚｅｌｅｓ、「Ｎａｔｕｒｅ  ｏｆ  ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  ｉｎ  ｗｉｄｅ−ｂａｎｄｇａｐ  ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  ｄｅｔｅｃｔｏｒｓ  ｕｎｄｅｒ  ｈｉｇｈ−ｆｌｕｘ  ｉｒｒａｄｉａｔｉｏｎ：  Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  ｔｏ  ｓｅｍｉ−ｉｎｓｕｌａｔｉｎｇ  Ｃｄ１−ｘＺｎｘＴｅ」、ＰＨＹＳＩＣＡＬ  ＲＥＶＩＥＷ  Ｂ  ７７，０３５２０５（２００８）、１４  Ｊａｎｕａｒｙ  ２００８．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、ポラリゼーションが発生したセンサから出力された投影データを識別して適切に処理することができるＸ線ＣＴ装置および画像再構成方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
実施形態のＸ線ＣＴ装置は、複数の光子計数検出器と、処理回路とを備える。光子計数検出器は、投影データを取得するためにＸ線源から放射された入射Ｘ線光子を捕捉する。処理回路は、複数の光子計数検出器のうち前記投影データ取得時にポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記複数の光子計数検出器のうち動作不良が発生した光子計数検出器を判定し、画像再構成に対する、前記ポラリゼーションが発生した光子計数検出器、又は、前記動作不良が発生した光子計数検出器に対応する投影データの寄与を下げる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、ＣＴスキャナシステムにおいて、所定の第３世代ジオメトリを有する検出器ユニットと組み合わせて所定の第４世代ジオメトリで光子計数検出器を配置する実施態様を示す図である。
【図２】図２は、Ｘ線ＣＴスキャナシステム２００の概略図である。
【図３】図３は、非限定的な例による、異なる入射Ｘ線束で取得されたＸ線スペクトルを示す図である。
【図４】図４は、一実施形態による、ポラリゼーションデータを処理するために実行されるステップを示したフローチャートを示す図である。
【図５Ａ】図５Ａは、一実施形態による、ポラリゼーションが発生した検出器のポラリゼーションデータを識別する方法を示す図である。
【図５Ｂ】図５Ｂは、ＣＴシステムのある空間分解能について分離角の計算を示した例を示す図である。
【図６Ａ】図６Ａは、回転する第３世代のＸ線源／検出器システムとともに、疎に固定配置した第４世代の検出器（光子計数検出器）を有する第３世代と第４世代を組み合わせたシステムを示す図である。
【図６Ｂ】図６Ｂは、一実施形態による第３世代と第４世代を組み合わせたシステムにおいて、検出器毎に陰影マップを決定するための処理（陰影マップ決定処理）の流れを示すフローチャートを示す図である。
【図７】図７は、少なくとも図４の方法および図６の方法を実行する画像再構成処理部２１２の実施態様を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、実施形態について、図面を参照して説明する。図面において、同様の参照符号は、いくつかの図面にわたって同一または対応する構成要素を示す。図１は、ＣＴスキャナシステムにおいて、所定の第３世代ジオメトリを有する検出器ユニットと組み合わせて所定の第４世代ジオメトリで光子計数検出器を配置する実施態様を示す図である。
【００１０】
図１は、スキャン対象である被検体１１５、Ｘ線源１０１、Ｘ線検出器１０３、および光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮの、一つの実施形態の例における相対位置を示す。簡略化のため、図１では、データの収集および処理、ならびに収集されたデータに基づく画像の再構成に使用されるような部材や回路機構が省略されている。一般的には、各光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、各所定エネルギービンについて光子数を出力する。図１に示す実施態様では、ＣＴスキャナシステムが、第４世代ジオメトリの疎な配置の光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮとともに、検出器１０３のような、従来の第３世代ジオメトリで配置された検出器ユニットを備える。検出器ユニット１０３の検出素子は、検出器ユニットの表面に、ＰＣＤよりも高い密度で配置できる。
【００１１】
一実施態様において、ＰＣＤは、例えば円形である所定のジオメトリで被検体１１５の周囲に疎に配置される。例えば、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、ガントリ１００内の所定の円形部材１１０に固定して配置される。一実施態様において、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、円形部材１１０上の等間隔の所定の位置に固定して配置される。別の実施態様において、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、円形部材１１０上の間隔が異なる所定の位置に固定して配置される。円形部材１１０は、データ収集中には被検体１１５に対して固定された状態を維持し回転しない。光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは被検体１１５に対して相対的に静止するが、Ｘ線源１０１および検出器ユニット１０３は被検体１１５の周囲を回転する。
【００１２】
一実施態様において、Ｘ線源１０１は、Ｘ線撮影用ガントリ１００の環状フレーム等の第１の回転部１２０に搭載されることにより、疎に配置された光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮの内側で被検体１１５の周囲を回転しながら、被検体１１５に向けて所定の線源ファンビーム角度θＡで放射Ｘ線を投影する。さらに、第３世代ジオメトリを有する追加の検出器ユニット１０３が、第２の回転部１３０に搭載される。第２の回転部１３０は、被検体１１５を挟んでＸ線源１０１と１８０度反対の位置にある検出器ユニット１０３を搭載し、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮが所定の疎な状態で固定して配置された静止している円形部材１１０の外側を回転する。
【００１３】
一実施態様において、第１の回転部１２０および第２の回転部１３０は、Ｘ線源１０１および検出器ユニット１０３が被検体１１５を中心として異なる半径で回転する際に両者間に１８０度の角度が維持されるように、環状フレーム等の単一部材として一体的に設けられる。他の実施態様として、回転部１２０および回転部１３０は別々の部材であるが同期して回転し、Ｘ線源１０１および検出器ユニット１０３が被検体１１５を挟んで１８０度反対の位置に固定された状態を維持する。さらに別の実施態様において、回転部１２０の回転平面に垂直な所定方向への被検体１１５の移動時に、Ｘ線源１０１および第３世代の検出器１０３の両方が被検体１１５に対してらせん状の経路で移動する。その移動の際、検出器１０３はＸ線源１０１とは正反対の位置にある。
【００１４】
データ収集の際に、Ｘ線源１０１および検出器ユニット１０３が被検体１１５の周囲を回転すると、複数の光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮおよび検出器ユニット１０３のそれぞれが、被検体１１５を透過した放射Ｘ線を検出する。光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、所定の検出器ファンビーム角度θＢで、被検体１１５を透過した放射Ｘ線を間欠的に検出し、所定のエネルギービンのそれぞれについて光子数を示す計数値を別々に出力する。一方で、検出器ユニット１０３が回転すると、検出器ユニット１０３の検出素子は、被検体１１５を透過した放射Ｘ線を連続的に検出し、検出した信号を出力する。一実施態様において、検出器ユニット１０３は、検出器ユニットの表面に所定のチャネル方向およびセグメント方向で密に配置された複数のエネルギー積分検出器を有する。
【００１５】
一実施態様において、Ｘ線源１０１、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮ、および検出器ユニット１０３は、半径の異なる３つの所定の円形経路を集合的に形成する。少なくとも１つのＸ線源１０１が被検体１１５の周囲で第２の円形経路に沿って回転するのに対し、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、被検体１１５の周囲で第１の円形経路に沿って疎に配置される。さらに、検出器ユニット１０３は、第３の円形経路に沿って移動する。上記の１つの実施形態の例では、第３の円形経路は最大であり、被検体１１５の周囲の第１の円形経路および第２の円形経路よりも外側に位置する。図示しないが、代替的な実施形態では、第１および第２の円形経路の相対的な関係を変更し、Ｘ線源１０１の第２の円形経路が、被検体１１５の周囲に疎に配置された光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮの第１の円形経路よりも大きく、外側に位置するようにしてもよい。さらに、別の代替的な実施形態では、Ｘ線源１０１も、検出器ユニット１０３と同じ第３の円形経路上を移動してもよい。さらに、上記の代替的な実施形態において、疎に配置された光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、その第１の円形経路の外側をＸ線源１０１が移動する際に背後の近距離から照射されるので、ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれに保護用の背面カバーを設けてもよい。
【００１６】
ＣＴスキャナにおいて、所定の第３世代ジオメトリ配置の検出器ユニットと組み合わせて所定の第４世代ジオメトリ配置の光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮを配置するには、他にもいくつか代替的な実施形態がある。実施形態によっては、Ｘ線源１０１は単一エネルギー線源であってもよい。同様に、さらなる代替的な実施形態では、所定の高レベルエネルギーおよび所定の低レベルエネルギーで放射Ｘ線を曝射する管電圧切り替え機能を実行するように構成または設計されるＸ線源１０１を備えてもよい。
【００１７】
一般に、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは円形部材１１０に沿って疎に位置する。光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮは、スパースビュー（sparse-view）投影データを収集するが、収集した投影データは、少なくとも、スパースビュー再構成技法による二重エネルギー（dual-energy：ＤＥ）再構成には十分である。さらに、検出器ユニット１０３は別の投影データの１組を収集し、検出器ユニット１０３で得られた投影データが、画像品質を全体として改善するのに使用される。検出器ユニット１０３が散乱防止グリッドを備えるエネルギー積分検出器で構成される場合、検出器ユニット１０３で得た投影データは、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮからの投影データ上の散乱を補正するために使用される。一実施態様において、エネルギー積分検出器は、Ｘ線が所定の円形部材１１０および一部の光子計数検出器を透過することを考慮してキャリブレーションが必要になるようにしてもよい。
【００１８】
図２は、Ｘ線ＣＴスキャナシステム２００の概略図である。Ｘ線ＣＴスキャナシステム２００は、Ｘ線ＣＴ装置の一例である。Ｘ線ＣＴスキャナシステム２００は、Ｘ線撮影用ガントリ１００と、Ｘ線撮影制御回路機構２０４と、メモリ２０６と、モニタ２０８と、入力装置２１０と、画像再構成装置２１２と、画像処理部２１４とを備える。Ｘ線撮影制御回路機構２０４は、回転Ｘ線撮影を実行してＣＴ投影データを生成するために、Ｘ線撮影用ガントリ１００の回転、高電圧発生器からＸ線源１０１への高電圧の印加、およびＸ線検出器からの信号の読み取りを制御する。メモリ２０６には、第３世代と第４世代とを組み合わせた画像再構成方法を実行するための専用プログラムが格納される。モニタ２０８は、画像再構成処理部２１２または画像処理部２１４から受信した信号に基づき所定の形態のＸ線診断画像を表示する。モニタ２０８は、ＣＲＴ、プラズマディスプレイ、または液晶ディスプレイ等の表示装置である。入力装置２１０は、キーボード、各種スイッチ、マウス等を含み、Ｘ線撮影命令、画像選択命令等を入力するために用いられる。画像再構成処理部２１２は、複数の投影方向の投影画像からボリュームデータを再構成する。画像処理部２１４は、必要に応じて、ボリュームレンダリング処理や画像の差分処理等の所定の画像処理を実行する。
【００１９】
光子計数検出器で生じる大きな問題は、高Ｘ線束の下で発生し得るＣｄＴｅ／ＣｄＺｎＴｅセンサ等の半導体センサの一時的な動作不能である。ＣＴスキャンでよく生じる高Ｘ線束は、半導体センサに「ポラリゼーション」を発生させ、その機能を停止させる。
【００２０】
ここで、ポラリゼーションが発生する原理の一例を説明する。例えば、半導体センサには、電圧が印加されており、半導体センサにＸ線が入射されると、高い確率で半導体センサ内でＸ線が光電吸収される。Ｘ線のエネルギーをＥｘ［keV］とし、１組の電子正孔対を生成するエネルギーをｗ[keV]とすると、光電吸収されることによって、電子正孔対がＮ＝Ｅｘ／ｗ組発生する。そして、半導体センサの正の電極側には、電子（電荷）が移動し、負の電極側には、正孔が移動する。Ｘ線の強度が弱い場合には、電子も正孔もそれぞれ電極に移動し、キャリアがない状態に次のＸ線が入射する。Ｘ線の強度が強くなってくると、先に吸収されたＸ線によるキャリアが電極に移動し終わる前に次々と電子正孔対が発生する。特に正孔は移動度（mobility）が小さいため、負の電極に到達するまでの時間が長く、途中で滞留してしまう。その結果、空間電荷効果  (space-charge  effect)により、半導体センサに印加される電圧が見掛け上低くなり、結果として半導体センサの内部の電場が弱くなってしまう。すると、正孔及び電子の移動度は、この電場に比例して弱くなってしまう。このため、キャリアである正孔及び電子は、半導体中を移動する速度がさらに遅くなり、最終的にＸ線が吸収することにより発生したキャリアを電極から収集できなくなり、半導体センサからはＸ線入射量に比例した信号ではなく、微弱な信号しか出力されなくなる。このようして、光子計数検出器においてポラリゼーションが発生する。
【００２１】
さらに、光子の入射線が、光子計数検出器の検出素子（Detector  Element）の上面に対して垂直ではないときにも、ポラリゼーションが生じることがある。光子は側面を通って入ると、正常な上面からの入射の場合とは検出素子の幾何学的効率が異なる。上面や側面等の異なる位置から検出素子に入った光子は、検出素子を通って異なる距離を進むため、異なる入射線の光子は異なるエネルギー応答および異なる検出効率等を有することになる。
【００２２】
ポラリゼーションが発生している間、検出器の出力はゼロではないが、得られた情報は、著しく歪んでいて、もはや使用することができない。したがって、検出器出力におけるポラリゼーションが正確に識別できなければ、再構成前処理の間、ならびに反復再構成（Iterative  Reconstruction：ＩＲ）段階等の画像再構成の間から画像領域にまで、使用不可能なデータが伝わることにより、イメージングアーチファクトが生じることになる。
【００２３】
例えば、図３は、非限定的な例による、異なる入射Ｘ線束で取得されたＸ線スペクトルを示す図である。図３は、（Ｘ軸にプロットした）エネルギーに対する（Ｙ軸にプロットした）スペクトル高さを示す。光子計数検出器において発生したポラリゼーションの作用は、低いエネルギーの方にスペクトルを押し潰す（すなわち、シフトさせる）傾向がある。特に、ポラリゼーションが発生している間、空間電荷が光子計数検出器内に蓄積し、これにより信号の正確な測定が妨げられる。このため、ポラリゼーションが発生した検出器から出力されるデータを識別することで、ＣＴ画像再構成におけるポラリゼーションデータの使用を除外することが不可欠である。なお、ここでいうポラリゼーションデータとは、ポラリゼーションが発生している検出器（検出素子）から出力された投影データを指す。なお、ポラリゼーションデータは、ポラリゼーション投影データとも称される。
【００２４】
図４は、一実施形態による、ポラリゼーションデータを処理するために実行されるステップを示したフローチャートを示す図である。
【００２５】
図４の例に示すように、画像再構成処理部２１２は、ステップＳ４１０において、ポラリゼーションが発生した光子計数検出器に対応するデータを識別する。ポラリゼーションが発生した光子計数検出器のポラリゼーションデータを識別する方法を示す具体的な技術については、図５Ａおよび５Ｂを参照して後で説明する。
【００２６】
次に、画像再構成処理部２１２は、ステップＳ４２０において、画像再構成前処理段階の間に、ポラリゼーションが発生した光子計数検出器に対応するものと識別されたポラリゼーションデータを省く。これにより、省かれたポラリゼーションデータに対して画像再構成前処理が行われなくなるので、処理負荷を軽減することができる。再構成前処理段階において、ＣＴシステムの処理回路機構は、散乱効果およびパイルアップ効果についてサイノグラム（投影を含む２次元配列データ）を補正することにより再構成前処理を実行し、検証した管電圧（ｋＶ）波形およびキャリブレーション後のビームハードニングテーブルに基づいて、投影領域において物質への分解を行う。全ての光線について、光子計数検出器から得たスキャンによるスペクトルデータは、散乱およびパイルアップについて補正され、ノイズバランスのために重み付けされ、基本物質に分解される。
【００２７】
さらに、画像再構成処理部２１２は、画像再構成を実行する一方で、画像再構成に用いられる投影データの各要素に重みを対応付ける。反復画像再構成等の画像再構成技術は、一般的には、まず仮の画像を用い、この画像からの投影を計算する。さらに、一般的には、最終的な画像を構成するために、反復再構成アルゴリズムにより、計算した投影と実際の投影との差に基づき画像を更新する。このため、ステップＳ４３０で、画像再構成処理部２１２は、ポラリゼーションデータの投影にゼロを割り当てて、画像を再構成する際にこれらの投影が考慮されないよう（すなわち、これらの投影が最終画像の品質に影響を与えないよう）にする。すなわち、ステップＳ４３０で、画像再構成処理部２１２は、画像再構成に対する、ポラリゼーションデータの寄与を下げる。これにより、ＣＴ画像におけるアーティファクトの発生を抑制することができる。そして、図４に示す処理を終了する。
【００２８】
図５Ａは、一実施形態による、ポラリゼーションが発生した検出器のポラリゼーションデータを識別する方法を示す図である。図５Ａは、異なる厚さの水によって減衰された後のＸ線スペクトルを示す。ＣＴスキャンの間に生じる被検体減衰は、ビームハードニングにより、より高いエネルギーの方にスペクトルをシフトさせる傾向がある。このことを考慮すると、ポラリゼーションが発生した光子計数検出器（および、これに対応するポラリゼーションデータ）を識別する１つの方法は、ビームハードニング閾値を設定することである。例えば、図５Ａの例に示すように、ビームハードニング閾値として低エネルギー閾値を設定する。以下、「ビームハードニング閾値」を、単に「閾値」と表記する。一実施形態によると、閾値は、スペクトルの平均のエネルギーに基づくものであり、または代わりに、低いエネルギーの計数に対する高いエネルギーの計数の比に基づいてもよい。閾値未満のスペクトルの平均エネルギーまたは計数比を有するデータを、ポラリゼーションが発生した検出器からのデータであると判断し、それ以外のデータを、画像再構成に使用できるデータであると判断する。代替的な実施態様においては、（製造元が知っている）被検体１１５への入射前のスペクトルの平均エネルギーまたは計数比を、閾値として用いてもよい。具体的には、図５Ａにおける入射光曲線の平均エネルギー／計数比を、閾値として用いることができる。
【００２９】
ここで、Ｘ線源１０１から被検体１１５に照射されるＸ線については、吸収体やウェッジの特性等によって、所定の低エネルギー、例えば、３０ｋｅＶ以下のＸ線が被検体１１５に照射されないようになっている。これは、所定の低エネルギーのＸ線を被検体１１５に照射しても被検体１１５内で全て吸収されてしまうので、このようなＸ線はＣＴ画像の再構成に寄与しないにも関わらず、被検体１１５が被曝してしまうからである。
【００３０】
また、被検体１１５を透過したＸ線のスペクトルは、上述したように、エネルギーの高い方にシフトする。したがって、Ｘ線撮影用ガントリ１００が正常な状態で動作している場合には、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮに照射されるＸ線には、上述の所定の低エネルギー以下のＸ線はほとんど含まれない。
【００３１】
一方、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのうちの少なくとも１つの光子計数検出器にポラリゼーションが発生するという異常な状態でＸ線撮影用ガントリ１００が動作している場合には、ポラリゼーションが発生している光子計数検出器から出力されるポラリゼーションデータに基づいて算出されるＸ線スペクトルには、一定のＸ線強度を有する上述の所定の低エネルギーが含まれることがある。これは、上述したように、ポラリゼーションデータは、著しく歪んでいるからである。
【００３２】
したがって、画像再構成処理部２１２は、被検体１１５への入射前のＸ線スペクトルの平均エネルギーを閾値とすることで、ポラリゼーションデータを判別することができ、ひいては、ポラリゼーションデータを出力した光子計数検出器を判別することができる。より具体的には、画像再構成処理部２１２は、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれから出力された投影データに基づいてＸ線スペクトルを算出する。そして、画像再構成処理部２１２は、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれについて、Ｘ線スペクトルの平均エネルギーを算出する。そして、画像再構成処理部２１２は、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれについて、算出した平均エネルギーと、閾値（被検体１１５への入射前のＸ線スペクトルの平均エネルギー）とを比較し、算出した平均エネルギーが閾値よりも小さい場合には、該当する光子計数検出器にポラリゼーションが発生していると判定する。
【００３３】
次に、閾値として用いられる上述した計数比の具体的な算出方法について説明する。以下の説明では、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれが、１つの閾値（例えば、２０ｋｅｖ〜３０ｋｅｖ）を用いて、２つのエネルギービンで光子数を計数して計数値を出力する場合について説明する。ここで、閾値以下のエネルギービンを「ｂｉｎ１」とし、閾値より大きいエネルギービンを「ｂｉｎ２」とする。また、この閾値として、例えば、吸収体やウェッジの特性等によってカットされるＸ線のエネルギー帯の最大値を採用してもよい。なお、エネルギービンを２つとするフォトカウンティングによって、デュアルエネルギーと同等の投影データが得られる。
【００３４】
そして、上述したような構成のもと、画像再構成処理部２１２は、被検体１１５がＸ線撮影用ガントリ１００に載置されていない状態で計数された「ｂｉｎ１」の計数値に対する「ｂｉｎ２」の計数値の比を閾値として用いることで、ポラリゼーションデータを判別することができ、ひいては、ポラリゼーションデータを出力した光子計数検出器を判別することができる。
【００３５】
そして、画像再構成処理部２１２は、被検体１１５が載置された状態で画像再構成を行う際に、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれから出力された投影データに基づいて、「ｂｉｎ１」の計数値に対する「ｂｉｎ２」の計数値の比（計数比）を算出する。そして、画像再構成処理部２１２は、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれについて、算出した計数比と、閾値（予め製造元から与えられた計数値の比）とを比較し、算出した計数比が閾値よりも小さい場合には、該当する光子計数検出器にポラリゼーションが発生していると判定する。
【００３６】
なお、画像再構成処理部２１２は、閾値として、被検体１１５がＸ線撮影用ガントリ１００に載置されていない状態で計数された「ｂｉｎ２」の計数値に対する「ｂｉｎ１」の計数値の比を用いることもできる。この場合には、画像再構成処理部２１２は、被検体１１５が載置された状態で画像再構成を行う際に、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれから出力された投影データに基づいて、「ｂｉｎ２」の計数値に対する「ｂｉｎ１」の計数値の比（計数比）を算出する。そして、画像再構成処理部２１２は、光子計数検出器ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮのそれぞれについて、算出した計数比と、閾値とを比較し、算出した計数比が閾値よりも大きい場合には、該当する光子計数検出器にポラリゼーションが発生していると判定する。
【００３７】
別の実施形態によると、光子計数検出器のポラリゼーションデータは、特定の基準を満たすＣＴシステムのある数（「Ｔ」）の隣り合うビューに基づいて判定される。ベールの法則によると、計数値の数が減るにつれ、対応するスペクトルが硬化する、すなわちスペクトルが高いエネルギーの方にシフトする傾向がある。一方、計数値の数が多いと（すなわち、高線束）、スペクトルが軟化する傾向がある（すなわち、スペクトルが低いエネルギーの方に移動する）。したがって、より少ない計数ならびに軟スペクトルが得られる場合は、光子計数検出器にポラリゼーションが発生する場合だけに起こり得る。そのようなポラリゼーションは、Ｘ線の計数の効率的な収集を妨げ（少ない計数となる）、検出したスペクトルを歪ませる。
【００３８】
隣り合う「Ｔ」個のビューの大きさを判定するために、ビューの範囲内で減衰経路が一定であると仮定する。さらに、ビューにおける計数変化をΔＮで表し、エネルギーの変化をΔＥで表す。より少ない計数ならびに軟スペクトルを観察する基準を満たすためには、ΔＮとΔＥの両方が負でなければならない。したがって、画像再構成処理部２１２は、時間ｔ１において得られるビューデータについて、時間（ｔ１＋１）から時間（ｔ１＋Ｔ）までに得られるデータが上記基準を満たせば、隣り合う「Ｔ」個のビューにおいて得られたデータは、ポラリゼーションデータとであると判断する。
【００３９】
ここで、光子計数検出器は、第３世代ジオメトリで配置されてもよく、このような配置で光子計数検出器が配置された場合について説明する。この場合には、画像再構成処理部２１２は、同一のビューにおいて、隣り合う「Ｋ」個の検出素子（光子計数検出器の検出素子）について、ΔＮとΔＥの両方が負であるか否かを判定する。画像再構成処理部２１２は、隣り合う「Ｋ」個の検出素子（光子計数検出器の検出素子）について、ΔＮとΔＥの両方が負であると判定した場合には、隣り合う「Ｋ」個の検出素子にポラリゼーションが発生したと判断する。一方、画像再構成処理部２１２は、隣り合う「Ｋ」個の検出素子のうち、少なくとも１つの検出素子についてΔＮ又はΔＥが正であると判定した場合には、隣り合う「Ｋ」個の検出素子にポラリゼーションが発生していないと判断する。
【００４０】
なお、光子計数検出器が、第４世代ジオメトリで配置されている場合であっても、上述の方法と同様の方法で、画像再構成処理部２１２は、隣り合う「Ｋ」個の光子計数検出器にポラリゼーションが発生したか否かを判断することができる。ただし、上述の光子計数検出器が第３世代ジオメトリで配置されている場合では、検出素子ごとに各種の処理を行ったが、光子計数検出器が第４世代ジオメトリで配置されている場合には、同様の処理を、光子計数検出器ごとに行う。
【００４１】
また、光子計数検出器が、第３世代ジオメトリで配置されている場合には、画像再構成処理部２１２は、検出素子ごとに、動作不良が発生した検出素子を判定することもできる。例えば、画像再構成処理部２１２は、第３ジオメトリで配置された複数の光子計数検出器から出力された投影データに基づいて、画素値のノミナル値を算出する。そして、画像再構成処理部２１２は、複数の光子計数検出器の検出素子のうち、ノミナル値から所定の大きさ以上外れている検出素子を動作不良が発生した検出素子として判定する。そして、画像再構成処理部２１２は、画像再構成の間に、動作不良が発生した検出素子に対応する投影データにゼロの重みを割り当てる。このようにして、画像再構成処理部２１２は、画像再構成に対する、動作不良が発生した検出素子に対応する投影データの寄与を下げる。
【００４２】
なお、画像再構成処理部２１２は、動作不良が発生した検出素子を判定する処理を、光子計数検出器が、第４世代ジオメトリで配置されている場合においても同様に行うことができる。この場合には、画像再構成処理部２１２は、検出素子を光子計数検出器とみなして、同様の方法で、動作不良が発生した光子計数検出器を判定する処理を行うことができる。
【００４３】
図５Ｂは、ＣＴシステムのある空間分解能について分離角の計算を示した例を示す図である。この計算により、上述した隣り合うビューの数「Ｔ」の大きさを計算することができ、「Ｔ」個のビューにおいて得られた隣り合うデータを、ポラリゼーションデータであると判断することができる。
【００４４】
図５Ｂにおいて、Ｘ線源は、Ｘ線撮影用ガントリの中心から「ＳＯ」で表される回転半径を有する円形軌道上を回転する。さらに、光子計数検出器は、Ｘ線撮影用ガントリの中心から「ＤＯ」で表される回転半径に位置する。そのような設定において、Ｎ個のビューを含むフルスキャンについて、各ビューは３６０°／Ｎの半径中心角を含む。これは、検出器表面における３６０°／２Ｎの角度にほぼ対応する。当然のことならが、検出器表面における角度の正確な値は、回転半径ＳＯおよび回転半径ＤＯの値によって決まる。ρで表されるＣＴシステムの空間分解能について、ＰＣＤにおける分離角は、「ｓｉｎ−１（ｐ／（ｒ＋ＤＯ））」として計算することができる。なお、「／」は、除算を示す演算子である。このため、上述した隣り合うビューの数「Ｔ」の大きさは、表面における光子計数検出器の角度と光子計数検出器における分離角との比として計算することができる。具体的には、「Ｔ」の大きさは、「（３６０°／２Ｎ）／（ｓｉｎ−１（ｐ／（ｒ＋ＤＯ）））」として計算することができる。
【００４５】
別の実施形態によると、疎に固定配置された第４世代の検出器と回転する第３世代の線源／検出器との組み合わせを含むＣＴシステムについて、ポラリゼーションが発生した検出器のデータを判定してもよい。
【００４６】
図６Ａは、回転する第３世代のＸ線源／検出器システムとともに、疎に固定配置した第４世代の検出器２０（光子計数検出器）を有する第３世代と第４世代を組み合わせたシステムを示す図である。図６Ａに示すように、疎な検出器２０の一部は、他の疎な検出器２０および第３世代検出器の上に影を落とす。一実施形態によると、ポラリゼーションデータを識別するために、図６Ｂを参照して後述する陰影値を用いることができる。具体的には、影に入っている検出器２０は実際の線束の正確な測定値を示さないため、完全にまたは部分的に影に入っていると識別された第３世代の検出器２０が、ポラリゼーションを検出するために用いられることはない。
【００４７】
図６Ｂは、一実施形態による第３世代と第４世代を組み合わせたシステムにおいて、検出器２０毎に陰影マップを決定するための処理（陰影マップ決定処理）の流れを示すフローチャートを示す図である。
【００４８】
陰影マップ決定処理では、ステップＳ６１０において、図６Ａのシステムについてエアスキャンを行うが、第４世代の検出器２０は取り外した状態で行う。この最初のエアスキャンは全ての組のビューについて実行され、ビュー毎に各第３世代検出器においてデータが収集される。
【００４９】
ステップＳ６２０において、第３世代の検出素子と第４世代の検出素子の両方を備える図６Ａのシステムについて、第２のエアスキャンを行う。最初のエアスキャンで実行したのと同じ組のビューについて、第２のエアスキャンは実行され、ビュー毎に各第３世代検出器および各第４世代検出器においてデータが収集される。
【００５０】
ステップＳ６３０において、ステップＳ６１０およびＳ６２０で収集したデータに基づき、陰影マップ／テーブルを生成する。陰影マップは、ビュー毎および検出素子毎に陰影データ値を含む。陰影データは、一般的に、特定のビューについて特定の検出素子が影に入っているか否かを示す。例えば、一実施形態では、ビュー毎および検出素子毎に、陰影値は以下の４つの値のうちの１つである。４つの値とは、（１）あるビューについて、ある検出素子が画像再構成領域の中にはないことを意味する「オフ」、（２）Ｘ線源からのＸ線が、第４世代の検出器のいずれによっても全く遮断されていないことを意味する「遮断されず」、（３）Ｘ線源からの全てのＸ線が、第４世代の検出器によって完全に遮断されていることを意味する「完全に遮断」、および（４）Ｘ線源からのＸ線が、第４世代の検出器によって部分的に遮断されている、またはある検出素子が部分的に影に入っていることを意味する「部分的に遮断」である。検出器毎の陰影マップの計算が済むと、陰影マップ決定処理が終了する。
【００５１】
一実施形態によると、画像再構成処理部２１２は、第３世代の検出器が信号強度Ｍを有する信号を検出し、Ｍが信号閾値（Ｍ’）よりも大きい場合に、対応するＸ線が高線束を有すると判定する。なお、第３世代の検出器は、例えば、複数のエネルギー積分検出器を含み、Ｘ線源と同期して回転するＣＴ検出器である。ここで、第３世代の検出器が信号強度Ｍを有する信号を検出し、Ｍが信号閾値（Ｍ’）よりも大きい場合に、対応するＸ線が高線束を有すると見なされるよう、Ｍ’を事前に決定してもよい。これにより、画像再構成処理部２１２は、信号強度Ｍを有する信号を検出した第３世代の検出器の位置に対応する第４世代の検出器２０が、ポラリゼーションが発生した検出器であると判断するため、再構成前処理段階および再構成処理段階の間で、対応する第４世代の検出器２０から得られたデータ（ポラリゼーションデータ）を対象から外すことができる。なお、第３世代の検出器で検出された信号は、基準検出器信号に基づいて補正されなければならない。Ｘ線源出力のバラツキを監視するためにＸ線源に隣接して配置することができる基準検出器を用いることにより、この補正は実現することができる。
【００５２】
したがって、図６Ｂに記載した方法による陰影マップの計算が済むと、第４世代の検出器２０にポラリゼーションが発生しているか否か判断するために、陰影マップを用いて、第３世代の検出器に対応する信号を用いることができるか否かが識別される。しかし、影に入っている第３世代の検出器の信号は、対応する第４世代の検出器２０のポラリゼーション状況を判断するために用いることはできない。そのような場合には、影の近くの第３世代の検出器によって受信された信号を用いて、この影の原因となっている第４世代の検出器２０にポラリゼーションが発生しているか否か判断することができる。
【００５３】
図７は、少なくとも図４の方法および図６の方法を実行する画像再構成処理部２１２の実施態様を示す図である。１つの実施形態の例による画像再構成処理部２１２のハードウェアに関して、図７を参照しながら説明する。図７において、画像再構成処理部２１２は、上述の各種の処理を実行する中央演算処理装置（Central  Processing  Unit：ＣＰＵ）７００を備える。プロセスデータおよび命令は、メモリ７０２に記憶されてもよい。また、プロセスおよび命令は、ハードドライブ（ＨＤＤ）や可搬記憶媒体等の記憶媒体ディスク７０４に格納されてもよいし、またはリモートに格納されてもよい。さらに、命令が格納されるコンピュータ可読媒体の形態によって限定されない。例えば、命令は、ＣＤ（Compact  Disk）、ＤＶＤ（Digital  Versatile  Disk）、フラッシュメモリ、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＰＲＯＭ（Programmable  Read  Only  Memory）、ＥＰＲＯＭ（Erasable  Programmable  Read  Only  Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically  Erasable  Programmable  Read  Only  Memory）、ハードディスク、もしくは画像再構成処理部２１２が通信するサーバーやコンピュータ等の任意の他の情報処理装置に格納されてもよい。
【００５４】
さらに、本開示の態様は、ユーティリティアプリケーション、バックグラウンドデーモン、オペレーティングシステムの一部、またはそれらの組み合わせとして提供され、ＣＰＵ７００、およびＭｉｃｒｏｓｏｆｔ  Ｗｉｎｄｏｗｓ（登録商標）７、ＵＮＩＸ（登録商標）、Ｓｏｌａｒｉｓ、ＬＩＮＵＸ（登録商標）、Ａｐｐｌｅ（登録商標）  ＭＡＣ−ＯＳ、および当業者既知のその他のオペレーティングシステムと連携して実行されてもよい。
【００５５】
ＣＰＵ７００は、米国インテル社のＸｅｎｏｎプロセッサまたはＣｏｒｅプロセッサ、または米国ＡＭＤ社のＯｐｔｅｒｏｎプロセッサであってもよく、またはＡＲＭベースのプロセッサ等の当業者に認知されると思われるその他のプロセッサタイプであってもよい。あるいは、ＣＰＵ７００は、当業者が認知すると思われるように、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Field  Programmable  Gate  Array：ＦＰＧＡ）、特定用途向け集積回路（Application  Specific  Integrated  Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（Programmable  Logic  Device：ＰＬＤ）上に実装されてもよく、または離散論理回路を用いてもよい。さらに、ＣＰＵ７００は、上述した発明のプロセスの命令を実行するために並行して協調して動作する複数のプロセッサとして実装されてもよい。
【００５６】
また、図７の画像再構成処理部２１２は、ネットワーク７３０とのインタフェースをとるための、米国インテル社のネットワークインタフェースカードであるＩｎｔｅｌ  Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）  ＰＲＯ等のネットワーク制御部７０６を備える。当然のことながら、ネットワーク７３０は、インターネット等の公共ネットワーク、ＬＡＮ（Local  Area  Network）またはＷＡＮ（Wide  Area  Network）等の専用ネットワーク、またはその組み合わせであってよく、ＰＳＴＮ（Public  Switched  Telephone  Network）またはＩＳＤＮ（Integrated  Services  Digital  Network）のサブネットワークを含んでもよい。また、ネットワーク７３０は、イーサネット（登録商標）ネットワークのように有線であってもよいし、ＥＤＧＥ（Enhanced  Data  rates  for  Global  Evolution）、３Ｇ、および４Ｇ等の無線携帯電話通信システムを含む携帯電話通信ネットワークのように無線であってもよい。また、無線ネットワークは、ＷｉＦｉ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、または他の無線通信形態であってもよい。
【００５７】
画像再構成処理部２１２は、ヒューレットパッカード社の液晶ディスプレイ（Liquid  Crystal  Display：ＬＣＤ）モニタであるＨＰＬ２４４５ｗ等の、対応するディスプレイ７１０とのインタフェースをとる米国ＮＶＩＤＩＡ社のＮＶＩＤＩＡ  ＧｅＦｏｒｃｅ  ＧＴＸまたはＱｕａｄｒｏグラフィックアダプタ等のディスプレイ制御部７０８をさらに備える。
【００５８】
画像再構成処理部２１２は、キーボードおよび／またはマウス７１４ならびにセンサ７１６とのインタフェースをとるための汎用Ｉ／Ｏインタフェース７１２をさらに備える。また、汎用Ｉ／Ｏインタフェース７１２は、様々なアクチュエータ７１８に接続することができる。また、汎用Ｉ／Ｏインタフェース７１２は、ヒューレットパッカード社のＯｆｆｉｃｅＪｅｔやＤｅｓｋＪｅｔ等のプリンタおよびスキャナを含む様々な周辺機器に接続することができる。
【００５９】
また、スピーカ／マイクロフォン７２２とのインタフェースをとることにより音声および／または音楽を提供するために、音声制御部７２０が、クリエイティブ社のＳｏｕｎｄ  Ｂｌａｓｔｅｒ  Ｘ−Ｆｉ  Ｔｉｔａｎｉｕｍのように画像再構成処理装置２１２の中に設けられる。
【００６０】
汎用ストレージ制御部７２４は、画像再構成処理装置２１２の全ての構成部品を相互に接続するための、ＩＳＡ（Industry  Standard  Architecture）、ＥＩＳＡ（Extended  Industry  Standard  Architecture）、ＶＥＳＡ（Video  Electronics  Standard  Association）、ＰＣＩ（Peripheral  Component  Interconnect）、または同様のものであってもよい通信バス７２６に、記憶媒体ディスク７０４を接続する。ディスプレイ７１０、キーボードおよび／またはマウス７１４、ならびにディスプレイ制御部７０８、ストレージ制御部７２４、ネットワーク制御部７０６、音声制御部７２０、および汎用Ｉ／Ｏインタフェース７１２の一般的特徴および機能の説明は、これらの特徴は知られており簡略にするため、本明細書では省略する。
【００６１】
以上述べた少なくとも１つのＸ線ＣＴ装置および画像再構成方法によれば、ポラリゼーションが発生したセンサから出力された投影データを識別して適切に処理することができる。
【００６２】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００６３】
２００  Ｘ線ＣＴスキャナシステム
２１２  画像再構成処理部
ＰＣＤ１〜ＰＣＤＮ  光子計数検出器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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