(57)【要約】【課題】簡易にチェンのピンとブシュに生ずる摩耗を試験することのできる試験機を提供すること。【解決手段】  ピン試験体を固定するピン試験体固定機構と、ブシュを保持するブシュ保持機構と、ピン試験体の中心線からピン試験体とブシュ試験体の接線へ向け、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する押圧機構と、ブシュを搖動させる搖動機構を設けた。【選択図】図１
2016118256.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピン試験体を保持するピン試験体保持機構と、
ブシュ試験体を保持するブシュ試験体保持機構と、
ピン試験体の中心線からピン試験体とブシュ試験体の接線へ向け、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する、及び／又は、ピン試験体とブシュ試験体の接線からピン試験体の中心線へ向け、ブシュ試験体をピン試験体に押圧する押圧機構と、
ピン試験体のブシュ試験体と接する接線を同一に保ったまま、ピン試験体及び／又はブシュ試験体を搖動させる搖動機構を有するチェン摩耗試験機。
【請求項２】
ピン試験体を固定するピン試験体固定機構と、
ブシュ試験体を保持するブシュ試験体保持機構と、
ピン試験体の中心線からピン試験体とブシュ試験体の接線へ向け、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する押圧機構と、
ピン試験体のブシュ試験体と接する接線を同一に保ったまま、ブシュ試験体を搖動させる搖動機構を有するチェン摩耗試験機。
【請求項３】
請求項１又は請求項２記載のチェン摩耗試験機において、さらに粉体供給機構を設けたチェン摩耗試験機。
【請求項４】
請求項１から請求項３に記載のチェン摩耗試験機において、さらに温度調整機構を設けたチェン摩耗試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、チェンをスプロケットに噛ませて実際に運転する場合とほぼ同様の、ピンとブシュの間の摩擦を生じさせる試験機に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
チェンは長年駆動させることにより、主にピンとブシュが相互間の摩擦により摩耗する。ピンとブシュが摩耗するとチェンのピッチが伸び、スプロケットとの噛み合いが悪くなる等の障害を生じる。
【０００３】
チェンをどの程度の期間駆動させるとピンとブシュに摩耗がどの程度生じるか等を、従来は、チェンをスプロケットに噛ませて実際に運転して実験して測定していた。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、実機でチェンをスプロケットに噛ませて運転して実験するには、実験のために広い場所が必要であり、また、運転に多大なコストが掛かる。
【０００５】
そこで、本発明は、より簡易にチェンのピンとブシュに生ずる摩耗を試験することのできる試験機を提供することを課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、
ピン試験体を保持するピン試験体保持機構と、
ブシュ試験体を保持するブシュ試験体保持機構と、
ピン試験体の中心線からピン試験体とブシュ試験体の接線へ向け、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する、及び／又は、ピン試験体とブシュ試験体の接線からピン試験体の中心線へ向け、ブシュ試験体をピン試験体に押圧する押圧機構と、
ピン試験体のブシュ試験体と接する接線を同一に保ったまま、ピン試験体及び／又はブシュ試験体を搖動させる搖動機構を有することを特徴とするものである。
【０００７】
また、本発明は、
ピン試験体を固定するピン試験体固定機構と、
ブシュ試験体を保持するブシュ試験体保持機構と、
ピン試験体の中心線からピン試験体とブシュ試験体の接線へ向け、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する押圧機構と、
ブシュ試験体を搖動させる搖動機構を有することを特徴とするものである。
【０００８】
また、本発明は、さらに粉体供給機構を設けることを特徴とするものである。
【０００９】
また、本発明は、さらに、温度調整機構を設けることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１０】
このような本発明によれば、
ピン試験体を保持するピン試験体保持機構と、
ブシュ試験体を保持するブシュ試験体保持機構と、
ピン試験体の中心線からピン試験体とブシュ試験体の接線へ向け、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する、及び／又は、ピン試験体とブシュ試験体の接線からピン試験体の中心線へ向け、ブシュ試験体をピン試験体に押圧する押圧機構と、
ピン試験体のブシュ試験体と接する接線を同一に保ったまま、ピン試験体及び／又はブシュ試験体を搖動させる搖動機構を有することにより、
簡易に場所をとらず、また、安価にチェンのピンとブシュに生ずる摩耗を試験することができる。
【００１１】
また、本発明によれば、さらに粉体供給機構を設けることにより、チェンの実際の使用環境に近い環境でのチェンのピンとブシュに生ずる摩耗を試験することができる。
【００１２】
また、本発明によれば、さらに温度調整機構を設けることにより、チェンの実際の使用環境に近い環境でのチェンのピンとブシュに生ずる摩耗を試験することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施の形態に係る摩耗試験機の一部を示す図である。
【図２】ピン試験体でピン試験体を固定するところを説明するための図である。
【図３】ピン試験体を示す図である。
【図４】ブシュ試験体を示す図である。
【図５】摩耗試験機の搖動を説明するための図である。
【図６】チェンの駆動について説明するための図であり、（ｃ）は（ａ）の鎖線の部分を拡大した図であり、（ｄ）は（ｂ）の鎖線の部分を拡大した図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明の実施の形態について説明する前に、チェンにおいて、ピンとブシュに生じる摩耗が、ピンとブシュの間にどういう摩擦が生じることにより生ずるかについて説明する。
【００１５】
チェンを駆動すると、図６（ａ）から図６（ｂ）の状態に移行していくことになる。
【００１６】
図６（ａ）のブシュがスプロケットにすくい上げられる時点では、ピンのＰ点とブシュのＱ点が、荷重がかかった状態で接触している。そして、その後の図６（ｂ）の時点では、ピンのＰ点とブシュのＲ点が接触する状態へ移行することとなる。ピンとブシュのブシュ側の接点がＱからＲまで移動する間ずっと、荷重はかかった状態である。
【００１７】
すなわち、図６（ａ）の時点から図６（ｂ）の時点までの間に、ピン側のＰ点と、ブシュ側のＱ点からＲ点の間で荷重がかかった状態での摩擦が生じ、摩耗が生じることとなる。
【００１８】
そして、このような摩擦が繰り返されることにより、チェンのピンとブシュの間の摩耗は進行する。
【００１９】
本発明の摩耗試験機は、上記摩擦をピン試験体とブシュ試験体に施すことによって、実機の場合とほぼ同様の摩擦を生じさせるものである。
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について、説明する。
【００２１】
摩耗試験機は主に、ピン試験体を固定するピン固定機構と、ブシュ試験体を保持するブシュ保持機構と、ピン試験体をブシュ試験体に押圧する押圧機構と、ブシュ試験体を搖動させる搖動機構から構成される。
【００２２】
図１は、本発明の実施の形態に係る摩耗試験機２の模式図であり、図２は、ピン試験体固定機構１０でピン試験体３０を固定するところを示した図である。
【００２３】
摩耗試験機２は、ピン試験体３０を保持し固定する機構であるピン試験体固定機構１０を有する。図１にはピン試験体固定機構１０は省略しているが、図１（ｂ）の左右両側からピン試験体３０の四角柱の部分である取付部３４を挟む形で、例えば図２のように固定することができる。摩耗試験の際にはピン試験体３０をピン試験体固定機構１０に固定する。
【００２４】
摩耗試験機２で使用するピン試験体３０の本体部３２は、実機で用いるピンと同様の円柱状である。しかし、ブシュ試験体４０の内周に接する部分が、実際に使用するピンと同様の形状等であれば足り、端部は実際に使用するピンと同様の形状等である必要はない。したがって、ブシュ試験体４０の内周に接する円柱状の本体部３２でない、両端のピン試験体固定機構１０に固定する部分である取付部３４は、四角柱状等に形成するのがピン試験体３０をピン試験体固定機構１０に固定した上で押圧機構により押圧するには便宜である。しかし、実際にチェンに使用するピンを用い、ピン試験体固定機構に固定しても無論かまわない。
【００２５】
また、摩耗試験機２は、ブシュ試験体４０を保持するブシュ試験体保持機構２０を有する。摩耗試験の際にはブシュ試験体４０をブシュ試験体保持機構２０に取り付ける。
【００２６】
摩耗試験機２で使用するブシュ試験体４０も、ピン試験体３０の本体部３２の外周に接する部分が、実際に使用するブシュと同様の円筒状であれば足りる。したがって、ブシュ試験体保持機構２０に保持した上で搖動させるには、図４に示すように溝４２等を形成すると便宜である。しかし、実際にチェンに使用するブシュを用い、ブシュ試験体固定機構２０に固定しても無論かまわない。
【００２７】
ピン試験体３０をピン試験体固定機構１０に固定し、また、ブシュ試験体４０をブシュ試験体保持機構２０に取り付けると、ピン試験体３０がブシュ試験体４０の孔４２に挿入された状態となるように、ピン試験体固定機構１０とブシュ試験体保持機構２０はそれぞれ配置される。
【００２８】
ピン試験体固定機構１０とブシュ試験体保持機構２０は、相互に位置を調整可能に形成することにより、様々なピン試験体，ブシュ試験体のサイズに対応可能である。
【００２９】
そして、摩耗試験機２には、チェンを実際に駆動した際にピンとブシュ間に生じる荷重とほぼ同様な荷重を付与する押圧機構が設けられる。押圧機構により、例えば、図２（ｂ）中の→の方向へ向け、ピン試験体固定機構１０を介し押圧することにより、ピン試験体３０をブシュ試験体４０に押圧することができる。
【００３０】
押圧機構は圧力を調整可能に形成することにより、任意の荷重を付与することができる。
【００３１】
また、摩耗試験機には、ブシュ試験体保持機構を搖動させる、搖動機構が設けられる。
【００３２】
搖動機構により、ブシュ試験体保持機構をブシュ孔の中心を軸に、ピン試験体とブシュ試験体が接した状態で、ピン試験体のブシュ試験体との接戦を同一に保ったまま、荷重を掛けた状態で、図５（ａ）の状態から、図５（ｂ）の状態へ、そして、図５（ｂ）の状態から図５（ａ）の状態への移行、すなわちブシュ孔の中心を軸に搖動させることができる。
【００３３】
図５（ａ）の状態では、図５（ｃ）に示すように、ピン試験体３０のＡ点とブシュ試験体４０のＢ点が接触している。そして、図５（ｂ）の状態では、図５（ｄ）に示すように、ピン試験体３０のＡ点とブシュ試験体４０のＣ点が接触している。押圧機構により押圧した状態で、図５（ａ）の状態から図５（ｂ）へと搖動機構により動かすことで、段落番号００１２〜００１４で説明した摩擦と同様の摩擦を生じさせることができる。
【００３４】
摩耗試験の際には、ピン試験体３０をピン試験体固定機構１０に固定し、ブシュ試験体４０をブシュ試験体保持機構２０に取り付ける。そして、押圧機構によりピン試験体３０をブシュ試験体４０に押圧した状態で、図５（ａ）の状態から図５（ｂ）の状態に、押圧機構によりピン試験体３０をブシュ試験体４０に押圧した状態でブシュ保持機構を回転させ、そして、押圧機構による荷重がかかってない状態で、図５（ｂ）の状態から図５（ａ）の状態に戻すことを繰り返すことで、実機の場合にピンとブシュの間に生じる摩擦を忠実に再現することができる。
【００３５】
しかし、図５（ａ）の状態から図５（ｂ）の状態に荷重をかけて回転させる場合と、図５（ｂ）の状態から図５（ａ）の状態に荷重をかけて回転させる場合で、ピン試験体３０とブシュ試験体４０の間に生じる摩擦はほとんどかわらないので、図５（ａ）の状態から図５（ｂ）の状態に荷重をかけて回転させ、図５（ｂ）の状態から図５（ａ）の状態に荷重をかけて回転させることを繰り返すことによって実験しても、ほとんど同様の結果が得られる。
【００３６】
以上の実施の形態においては、ピン試験体を固定し、ブシュ試験体を搖動させる例を説明したが、逆にブシュ試験体を固定し、ピン試験体のブシュ試験体と接する接線を同一に保ったまま、ピン試験体をブシュ試験体の孔の中心を軸に搖動させても、同様の試験を行うことができる。
【００３７】
また、ピン試験体とブシュ試験体にセンサーを取り付け、変位を測定することにより、摩耗量を把握することも可能である。
【００３８】
また、摩耗試験機には、粉体供給機構を設けることもできる。
【００３９】
粉体供給機構から粉体を供給することにより、チェンの実際の使用環境に近い状態でのピン試験体とブシュ試験体の間の摩耗の実験を行うこともできる。
【００４０】
また、試験体を囲んで密閉し温度調整機構を設けることにより、チェンの実際の使用環境の温度に近い状態で、ピン試験体とブシュ試験体の間の摩耗の試験を行うこともできる。
【００４１】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の技術的範囲は、前述した実施の形態に左右されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到しうることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【００４２】
２  摩耗試験機
１０  ピン試験体固定機構
２０  ブシュ試験体保持機構
３０  ピン試験体
３２  本体部
３４  取付部
４０  ブシュ試験体
４２  孔
４４  溝
６０  チェン
６２  ピン
６４  ブシュ
６６  リンクプレート
７０  スプロケット
【図１】
2016118256.tif 000003
【図２】
2016118256.tif 000004
【図３】
2016118256.tif 000005
【図４】
2016118256.tif 000006
【図５】
2016118256.tif 000007
【図６】
2016118256.tif 000008