(57)【要約】【課題】１つの実施形態は、例えば、データの信頼性を向上できる磁気ディスク装置を提供することを目的とする。【解決手段】１つの実施形態によれば、光源と光照射素子と制御部とを有する磁気ディスク装置が提供される。光源は、駆動信号に応じて発光する。光照射素子は、光源からの光を受け、磁気ディスクに光を照射する。制御部は、書き込みデータの高周波パターンを磁気ディスクへ記録する際に、駆動信号におけるアクティブレベルを基準レベルに維持する。アクティブレベルは、光源の発光に寄与するレベルである。制御部は、書き込みデータの低周波パターンを磁気ディスクへ記録する際に、駆動信号におけるアクティブレベルを基準レベルから段階的に下げる。【選択図】図１
2016035794.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
駆動信号に応じて発光する光源と、
前記光源からの光を受け、磁気ディスクに光を照射する光照射素子と、
書き込みデータの高周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号における前記光源の発光に寄与するアクティブレベルを基準レベルに維持し、書き込みデータの低周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号におけるアクティブレベルを前記基準レベルから段階的に下げる制御部と、
を備えた磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記駆動信号をパルス駆動し、書き込みデータの低周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号としてのパルス信号におけるハイレベルを前記基準レベルから段階的に下げる
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記駆動信号を直流駆動し、書き込みデータの低周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号としての直流信号のレベルを前記基準レベルから段階的に下げる
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記磁気ディスクに書き込みデータを記録して再生させた際の再生信号品質に応じて、前記駆動信号におけるアクティブレベルを段階的に下げるためのパラメータを調整し、書き込みデータの低周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記調整されたパラメータに従って前記駆動信号におけるアクティブレベルを前記基準レベルから段階的に下げる
請求項１から３のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
駆動信号に応じて発光する光源と、前記光源からの光を受け磁気ディスクに光を照射する光照射素子とを有する磁気ディスク装置における前記駆動信号を制御するプリアンプであって、
書き込みデータの高周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号における前記光源の発光に寄与するアクティブレベルを基準レベルに維持し、書き込みデータの低周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号におけるアクティブレベルを前記基準レベルから段階的に下げる制御部と、
前記制御部で制御される駆動信号を前記光源に対して供給する駆動部と、
を備えたプリアンプ。
【請求項６】
駆動信号に応じて発光する光源と、前記光源からの光を受け磁気ディスクに光を照射する光照射素子とを有する磁気ディスク装置における前記駆動信号を制御する制御方法であって、
書き込みデータの高周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号における前記光源の発光に寄与するアクティブレベルを基準レベルに維持することと、
書き込みデータの低周波パターンを前記磁気ディスクへ記録する際に、前記駆動信号におけるアクティブレベルを前記基準レベルから段階的に下げることと、
を備えた制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置、プリアンプ、及び制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、高密度磁気記録が可能な技術として、熱アシスト記録方式が注目されている。熱アシスト記録方式は、光源（レーザダイオード）で発生されたレーザ光を光照射素子（近接場光素子）で近接場光に変換して磁気ディスクの記録層の一部に照射し、局所的に磁気ディスクの温度を上げる。そして、温度が上がった部分に磁界発生素子で磁場を印加してデータを磁気的に記録する。熱アシスト記録方式で記録されたデータの信頼性を向上することが望まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−５３９５０号公報
【特許文献２】特開平５−４０９７４号公報
【特許文献３】特許第２８６７９９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
１つの実施形態は、例えば、データの信頼性を向上できる磁気ディスク装置、プリアンプ、及び制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
１つの実施形態によれば、光源と光照射素子と制御部とを有する磁気ディスク装置が提供される。光源は、駆動信号に応じて発光する。光照射素子は、光源からの光を受け、磁気ディスクに光を照射する。制御部は、書き込みデータの高周波パターンを磁気ディスクへ記録する際に、駆動信号におけるアクティブレベルを基準レベルに維持する。アクティブレベルは、光源の発光に寄与するレベルである。制御部は、書き込みデータの低周波パターンを磁気ディスクへ記録する際に、駆動信号におけるアクティブレベルを基準レベルから段階的に下げる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置の構成を示す図。
【図２】第１の実施形態におけるＲＤＣに関連した構成を示す図。
【図３】第１の実施形態におけるＲＤＣ及びプリアンプの構成を示す図。
【図４】第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図５】第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図６】第１の実施形態における再生信号品質と振幅設定値との関係を示す図。
【図７】第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図８】第１の実施形態における再生信号品質と減衰率設定値との関係を示す図。
【図９】第１の実施形態の変形例にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図１０】第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図１１】第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図１２】第３の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作を示す波形図。
【図１３】第４の実施形態におけるＲＤＣ及びプリアンプの構成を示す図。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる磁気ディスク装置を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【０００８】
（第１の実施形態）
第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置１００の概要について図１及び図２を用いて説明する。図１は、実施形態にかかる磁気ディスク装置の構成を示す図である。図２は、実施形態にかかる磁気ディスク装置によるデータ記録に関連する構成を示す図である。
【０００９】
磁気ディスク５０は、各種情報を記録する記録媒体であり、スピンドルモータ１０３により回転駆動される。磁気ディスク５０は、例えば、スピンドルモータ１０３の回転中心近傍を中心とする同心円状の複数のトラックを有する。
【００１０】
磁気ディスク５０への読み書きは、アーム１０７の先端のヘッドスライダ１０４に設けられた磁気ヘッド５によって行われる。磁気ヘッド５は、記録ヘッド５ｗ及び再生ヘッド５ｒを含む。
【００１１】
磁気ヘッド５は、磁気ディスク５０の回転によって生じる揚力によって、磁気ディスク５０の表面からわずかに浮いた状態を維持しながら、ダウントラック方向に磁気ディスク５０の表面に対して相対的に移動する。記録ヘッド５ｗは、後述する磁界発生素子５ｄで磁気ディスク５０に情報を記録する。
【００１２】
このとき、記録ヘッド５ｗでは、図２に示すように、熱アシスト記録方式に従って、光源（例えば、ＬＤ：レーザダイオード）５ａで発生されたレーザ光を導波路５ｂにより近接場光素子（光照射素子）５ｃへ導く。レーザ光は近接場光素子５ｃで近接場光に変換されて磁気ディスク５０の表面の一部に照射される。記録ヘッド５ｗは、近接場光素子５ｃからの近接場光により局所的に温度が上がった磁気ディスク５０の部分に磁界発生素子５ｄで磁場を印加して情報を磁気的に記録する。例えば、磁界発生素子５ｄは、書き込むべきデータのビット値が１か０かで磁界の方向を反転させながらデータを磁気ディスク５０に書き込む。すなわち、記録ヘッド５ｗは、磁気ディスク５０に対して、熱アシスト記録方式によるライト動作に用いられる。なお、光源５ａは、導波路５ｂを介して近接場光素子（光照射素子）５ｃにレーザ光を供給可能に構成されていれば、磁気ヘッド５の外部に設けられていてもよい。再生ヘッド５ｒは、磁気抵抗素子５ｅで磁気ディスク５０に記録された情報を読み出す。すなわち、再生ヘッド５ｒは、磁気ディスク５０に対するリード動作に用いられる。
【００１３】
図１に示すアーム１０７のもう一方の端に設けられたボイスコイルモータ１０２により、アーム１０７が軸１０８を中心とする円弧上を回動する。これにより、記録ヘッド５ｗ及び再生ヘッド５ｒが、磁気ディスク５０のクロストラック方向にシーク移動し、読み書きする対象のトラックに位置付けられる。磁気ディスク５０、磁気ヘッド５、ボイスコイルモータ１０２、スピンドルモータ１０３は、ケース１０１に収容されている。
【００１４】
また、磁気ディスク装置１００は、磁気記録制御部１２０を有する。磁気記録制御部１２０は、ヘッド制御部（プリアンプ）１２３、パワー制御部１２１、リードライトチャネル（ＲＤＣ）１２４、ハードディスク制御部（ＨＤＣ）１２２、及び記憶部１２５を有する。ヘッド制御部１２３は、ライト電流制御部１２３ａ、再生信号検出部１２３ｂ、及び熱アシスト制御部１２３ｃを有する。パワー制御部１２１は、スピンドルモータ制御部１２１ａ及びボイスコイルモータ制御部１２１ｂを有する。記憶部１２５は、例えば、不揮発性メモリ（ＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＦｅＲＡＭ、ＭＲＡＭ、ＲｅＲＡＭ、ＰＲＡＭなど）で構成されている。
【００１５】
ＨＤＣ１２２は、ホストＨＳからホストＩ／Ｆ１２２ａを介して受けたコマンド及び／又はデータ１に応じて、所定のコマンド及び／又はデータ５１を生成してＲＤＣ１２４へ出力する。ＲＤＣ１２４は、入力された所定のコマンド及び／又はデータ５１に応じた制御を行う。例えば、ＲＤＣ１２４は、書き込みコマンドを受けた場合、磁気ディスク５０に書き込むべきデータφ５４を生成してプリアンプ１２３へ出力する。
【００１６】
記憶部１２５は、設定パラメータ群１２５ａを格納する。設定パラメータ群１２５ａは、後述するパラメータの調整に用いられるべき候補となる複数のパラメータを含む。
【００１７】
ＲＤＣ１２４は、図３に示すように、クロック生成回路１５７、データ生成回路１３５、基準パルス生成回路１３６、第１の遅延回路１４０、及び第２の遅延回路１４２を有する。図３は、ＲＤＣ１２４及びプリアンプ１２３の構成を示す図である。クロック生成回路１５７は、書き込みクロック（Ｗｒｉｔｅ  Ｃｌｏｃｋ）φ６２を発生してデータ生成回路１３５及び基準パルス生成回路１３６へ供給する。データ生成回路１３５は、書き込みクロックφ６２に同期して、コマンド及び／又はデータ５１に応じて、磁気ディスク５０に書き込むべき書き込みデータ（Ｗｒｉｔｅ  ｄａｔａ）φ５４を生成する。データ生成回路１３５は、生成された書き込みデータφ５４を第１の遅延回路１４０で遅延させてプリアンプ１２３へ供給する。基準パルス生成回路１３６は、書き込みクロックφ６２に同期して、基準パルスφ２００を生成する。基準パルスφ２００は、プリアンプ１２３が光源（ＬＤ）５ａの駆動電流φ５８を生成する際の基準となるパルスであり、ハイレベル及びローレベルの間で遷移すべきタイミングを規定するパルスである。基準パルスφ２００は、一定の振幅及び一定の周期を有する。基準パルス生成回路１３６は、例えば、書き込みクロックφ６２を基準パルスφ２００として生成することができる。基準パルス生成回路１３６は、生成された基準パルスφ２００を第２の遅延回路１４２で遅延させてプリアンプ１２３へ供給する。
【００１８】
熱アシスト記録方式では、光源（ＬＤ）５ａをパルス駆動させて発生させた近接場光で磁気ディスク５０を加熱し、磁界発生素子５ｄからの磁界を変調することで磁気ディスク５０に情報を記録する制御が行われることがある。このとき、仮に、磁気ディスク５０の記録温度（Ｗｒｉｔｅ  Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ）が一定となるように制御される場合を考える。
【００１９】
この場合、プリアンプ１２３は、書き込みクロックφ６２に同期した基準パルスφ２００を受ける。プリアンプ１２３は、基準パルスφ２００に対応した駆動信号（ＬＤパルス信号）φ５８を光源（ＬＤ）５ａに供給することで光源（ＬＤ）５ａをパルス駆動する。このとき、磁気ディスク５０の記録温度（Ｗｒｉｔｅ  Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ）が一定となるように制御されて、書き込みデータφ５４が磁気ディスク５０に記録される。
【００２０】
しかし、このような光源（ＬＤ）５ａのパルス駆動を用いたデータ記録では、書き込みデータφ５４のパターンに応じて、各記録ビットの適正な記録温度が異なることがある。そのため、磁気ディスク５０の記録温度が一定となるように制御されると、再生信号品質が劣化する可能性がある。
【００２１】
例えば、書き込みデータφ５４には高周波パターンＨＦＰ及び低周波パターンＬＦＰが含まれる（図４参照）。高周波パターンＨＦＰは、極性が反転した直後の同極性のビットを所定の周期（例えば、１ビット周期１Ｔ）分含むパターンである。低周波パターンＬＦＰは、高周波パターンＨＦＰに続くパターンである。すなわち、低周波パターンＬＦＰは、極性が反転してから同極性のビットが所定の周期（例えば、１ビット周期１Ｔ）続いた後において同極性のビットが続くパターンである。低周波パターンＬＦＰの記録では、直前のビットＢ０から後ろのビットＢ１〜Ｂ４になるに従って、適正な記録温度が低くなる傾向にある。
【００２２】
例えば、「ビット識別子（ビット値）」で表す場合、ビットＢ３０（０）、ビットＢ０（１）、ビットＢ１（１）、ビットＢ２（１）、ビットＢ３（１）、ビットＢ４（１）が順に並んだビットパターンを考える。このビットパターンでは、ビットＢ０（１）が高周波パターンＨＦＰに対応し、ビットＢ１（１）〜ビットＢ４（１）が低周波パターンＬＦＰに対応する。記録温度が高周波パターン及び低周波パターンに対して一定となっている場合（図４Ｄに破線で示す場合）では、高周波パターンＨＦＰの記録において、ビットＢ０の記録温度が適正化されている。一方、低周波パターンＬＦＰの記録において、各ビットＢ１〜Ｂ４で記録温度が適正化されていない。そのため、書き込みデータφ５４に対応した再生データφ５７の波形（Ｒｅａｄ  ｗａｖｅ）は、低周波パターンＬＦＰを記録した領域で振幅が減衰しやすい。すなわち、（図４Ｅに破線で示すように）再生信号品質が劣化しやすい。
【００２３】
再生信号品質が劣化する原因として、次のことが考えられる。磁気ディスク５０において、同極性のビットが続く領域（低周波パターンＬＦＰの記録領域）において、記録済みビットから受ける静磁気相互作用は記録済みビットを再反転させる（不安定化させる）方向に働く。一方、異なる極性のビットが隣接する領域（高周波パターンＨＦＰの記録領域）において、静磁気相互作用は記録ビットを結合させる（安定化させる）方向に働く。すなわち、同極性のビットが続く領域（低周波パターンＬＦＰの記録領域）では静磁気相互作用によって磁化反転しやすくなっている分だけ記録温度を上昇させる必要はない。しかし、異なる極性のビットが隣接する領域（高周波パターンＨＦＰの記録領域）では静磁気相互作用によって磁化反転させにくいため、低周波パターンＬＦＰより記録温度を高くする必要がある。このため、磁気ディスク５０の記録温度を高周波パターンＨＦＰに最適化して、各記録ビットで一定となるように制御して記録すると、静磁気相互作用によって記録ビットが不安定になりやすい低周波パターンＬＦＰの記録領域では、各ビットの記録温度を適正な記録温度より高くしてしまう。これにより、記録（磁化反転）に不必要な、余剰な熱エネルギーを与えることになる。余剰な熱エネルギーを与えると保磁力低下が大きくなりすぎるため記録済みビットを再反転させる方向に働く静磁気相互作用によって記録後の磁化の再反転が増加する。
【００２４】
例えば、磁気ディスク５０では、１ビットの情報を複数の磁性粒子の磁化で表現することによって、磁性粒子の位置・大きさのばらつきによるビットエラーの低減を図っている。例えば、「ビット識別子（ビット値）」で表す場合、ビットＢ２０（０）、ビットＢ１０（１）、ビットＢ１１（１）、ビットＢ１２（１）、ビットＢ１３（１）、ビットＢ１４（１）、ビットＢ１５（１）が順に並んだビットパターンを考える。このビットパターンでは、ビットＢ１０（１）が高周波パターンＨＦＰに対応し、ビットＢ１１（１）〜ビットＢ１５（１）が低周波パターンＬＦＰに対応する。高周波パターンＨＦＰの記録を考えると、ビットＢ２０の磁性粒子群ＭＧ２０とビットＢ１０の磁性粒子群ＭＧ１０とは、磁気ディスク５０上における記録したい磁化の方向が逆向きになっている。これにより、ビットＢ２０の磁性粒子群ＭＧ２０からビットＢ１０の磁性粒子群ＭＧ１０が受ける静磁気相互作用は、磁性粒子群ＭＧ１０の記録したい磁化の方向と略同じになる。
【００２５】
一方、低周波パターンＬＦＰの記録を考えると、各ビットＢ１１〜Ｂ１５では、既に記録済みのビット（すなわち、前側のビット）とは、磁気ディスク５０上における記録したい磁化の方向が略同じ向きになっている。これにより、既に記録済みのビットの磁性粒子群からビットＢ１１〜Ｂ１５の磁性粒子群ＭＧ１１〜ＭＧ１５が受ける静磁気相互作用は、磁性粒子群の記録したい磁化の方向と逆になる。また、ビットＢ１５の磁性粒子群ＭＧ１５が受ける静磁気相互作用は、ビットＢ１１の磁性粒子群ＭＧ１１が受ける静磁気相互作用に比べて、記録したい磁化の方向が同じであるより多くのビットの磁性粒子群から受ける分、そのエネルギーの絶対値が大きくなっている。
【００２６】
すなわち、ビットＢ１０から後ろのビットＢ１１〜Ｂ１５になるに従って、既に記録済みのビットから受ける静磁気相互作用は、記録したい磁化の方向と逆向きに強くなっていく（そのエネルギーの絶対値が大きくなっていく）傾向にある。このため、低周波パターンＬＦＰの記録では、磁気ディスク５０の加熱量（記録温度）が一定となるように制御されると、ビットＢ１０から後ろのビットＢ１１〜Ｂ１５になるに従って、静磁気相互作用が大きく働くので余剰な熱エネルギーにより再反転が起きやすい。これにより、ビットＢ０から後ろの各ビットの磁性粒子群における一部の磁性粒子の磁化が再反転すると、再生データの波形における振幅が減衰するので、再生信号品質が劣化しやすい。
【００２７】
そこで、本実施形態では、書き込みデータの低周波パターンを記録する際に、光源の発光に寄与する駆動信号のアクティブレベルを適正化（例えば最適化）することで、低周波パターンの各ビットの磁性粒子群における再反転を抑制させ再生信号品質を改善する。なお、駆動信号のアクティブレベルは、駆動信号がパルス信号の場合はハイレベル、駆動信号が直流信号の場合は直流レベルである。例えば、本実施形態では、低周波パターンを記録する際に、駆動信号のアクティブレベルが徐々に小さい値になるように制御する。
【００２８】
図３に戻り、具体的には、プリアンプ１２３は、リード・ライト処理部３０２、調整部３０３、及び駆動部３０１を有する。
【００２９】
リード・ライト処理部３０２は、書き込みデータφ５４をＲＤＣ１２４から受ける。リード・ライト処理部３０２は、書き込みデータφ５４に応じて、ライト電流φ５６を生成して磁気ヘッド５に供給する。これにより、記録ヘッド５ｗの磁界発生素子５ｄは、ライト電流φ５６に応じた磁界を発生させて磁気ディスク５０にデータを書き込む。
【００３０】
調整部３０３は、書き込みデータφ５４のパターンに応じて、基準パルスφ２００を用いて熱アシスト制御信号φ５５を生成する。調整部３０３は、書き込みデータφ５４の高周波パターンＨＦＰを磁気ディスク５０へ記録する期間であると判断すると、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆに維持するように指示する熱アシスト制御信号φ５５を生成する。調整部３０３は、書き込みデータφ５４の低周波パターンＬＦＰを磁気ディスク５０へ記録する期間であると判断すると、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを適正化（例えば最適化）するように指示する熱アシスト制御信号φ５５を生成する。
【００３１】
例えば、調整部３０３は、データパターン判別器３０３ａ及びレベル設定器３０３ｂを有する。データパターン判別器３０３ａは、書き込みデータφ５４を入力とし、書き込みデータφ５４における記録対象のビットパターンが高周波パターン及び低周波パターンのいずれであるのかを判別する。
【００３２】
データパターン判別器３０３ａは、ビットの極性が反転してからの経過時間が所定の周期（例えば、１ビット周期１Ｔ）以内であれば、記録対象のビットパターンが高周波パターンであると判別する。データパターン判別器３０３ａは、記録対象のビットパターンが高周波パターンである場合、高周波パターンであることを示す変調判別信号をレベル設定器３０３ｂへ出力する。
【００３３】
データパターン判別器３０３ａは、ビットの極性が反転してからの経過時間が所定の周期（例えば、１ビット周期１Ｔ）を超えていれば、記録対象のビットパターンが低周波パターンであると判別する。データパターン判別器３０３ａは、記録対象のビットパターンが低周波パターンである場合、低周波パターンであることを示す変調判別信号をレベル設定器３０３ｂへ出力する。
【００３４】
レベル設定器３０３ｂには基準パルス信号φ２００が入力されている。また、レベル設定器３０３ｂは、後述するように、予め調整された設定パラメータが設定されており、この設定パラメータに従って、基準パルス信号φ２００に応じた熱アシスト制御信号φ５５を生成する。設定パラメータは、振幅設定値及び減衰率設定値を含む。レベル設定器３０３ｂは、基準パルス信号φ２００に同期してハイレベル及びローレベルの間で遷移するパルス信号を熱アシスト制御信号φ５５として生成し、その際にハイレベルの振幅を振幅設定値に従った大きさに設定する。レベル設定器３０３ｂは、生成された熱アシスト制御信号φ５５を駆動部３０１に供給する。
【００３５】
例えば、データパターン判別器３０３ａは、図４Ａに示す書き込みクロックφ６２に同期した図４Ｂに示す書き込みデータφ５４を受ける。図４は、ＲＤＣ１２４及びプリアンプ１２３で扱われる信号を示す波形図である。データパターン判別器３０３ａは、記録対象のビットパターンが高周波パターンＨＦＰ及び低周波パターンＬＦＰのいずれであるのかを判別して、判別結果をレベル設定器３０３ｂへ供給する。
【００３６】
図４Ｂに示す高周波パターンＨＦＰ−３であることを示す変調判別信号を受けた場合、レベル設定器３０３ｂは、図４Ｃに示すような熱アシスト制御信号φ５５を生成する。すなわち、レベル設定器３０３ｂは、熱アシスト制御信号φ５５の振幅を振幅設定値に従った基準振幅Ａに維持させて駆動部３０１に供給する。これにより、駆動部３０１のＬＤドライバ３０１ａは、ハイレベルが基準レベルＬｒｅｆに維持されるＬＤパルス信号φ５８を生成して光源（ＬＤ）５ａに供給する。
【００３７】
図４Ｂに示す低周波パターンＬＦＰ−３であることを示す変調判別信号を受けた場合、レベル設定器３０３ｂは、図４Ｃに示すような熱アシスト制御信号φ５５を生成する。すなわち、レベル設定器３０３ｂは、熱アシスト制御信号φ５５の振幅を減衰率設定値に従った減衰率ｒで基準振幅Ａから段階的に減衰させて駆動部３０１に供給する。これにより、ＬＤドライバ３０１ａは、ハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げるようにＬＤパルス信号φ５８を生成して光源（ＬＤ）５ａに供給する。
【００３８】
これに応じて、ＬＤドライバ３０１ａは、図４Ｃに示すように、磁気ディスク５０に高周波パターンを書き込むべき場合に、ＬＤパルス信号φ５８のハイレベルを基準レベルＬｒｅｆに維持する。また、駆動部３０１のＬＤドライバ３０１ａは、磁気ディスク５０に低周波パターンを書き込むべき場合に、ＬＤパルス信号φ５８のハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げる（振幅を基準振幅Ａから段階的に減衰させる）。これにより、図４Ｄに示すように、書き込みデータの低周波パターンを記録する際に、磁気ディスク５０の記録温度を基準温度Ｔから段階的に下げることができる。この結果、低周波パターンにおける各ビットの磁性粒子群における再反転を抑制でき、図４Ｅに示すように、再生信号品質を改善できる。なお、図４Ｅでは、比較のために、記録温度が高周波パターン及び低周波パターンに対して一定となっている場合の再生信号の波形を破線で示している。
【００３９】
なお、磁気ディスク５０に低周波パターンを書き込むべき場合に段階的にハイレベルを下げる周期について、図４では、１ビット周期（１Ｔ）である場合について例示しているが、Ｎ（Ｎ≧２）ビット周期（Ｎ×Ｔ）であってもよい。この場合、データパターン判別器３０３ａは、極性が反転した直後の同極性のビットをＮビット周期分含むパターンを高周波パターンとして判別できる。また、データパターン判別器３０３ａは、極性が反転してから同極性のビットがＮビット周期続いた後において同極性のビットが続くパターンを低周波パターンとして判別できる。
【００４０】
例えば、段階的にハイレベルを下げる周期を２ビット周期（２Ｔ）にすることができる。この場合、データパターン判別器３０３ａは、極性が反転した直後の同極性のビットを２ビット周期（２Ｔ）分含むパターンＨＦＰを高周波パターンとして判別する。データパターン判別器３０３ａは、極性が反転してから同極性のビットが２ビット周期（２Ｔ）続いた後において同極性のビットが続くパターンＬＦＰを低周波パターンとして判別する。レベル設定器３０３ｂは、磁気ディスク５０に低周波パターンＬＦＰを書き込むべき場合に、熱アシスト制御信号φ５５におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから２ビット周期（２Ｔ）で段階的に下げる。
【００４１】
すなわち、段階的にハイレベルを下げる周期を複数ビット周期とすることで、プリアンプ１２３内の回路（例えば、ＬＤドライバ３０１ａ）のタイミングマージンを確保でき、プリアンプ１２３内の回路動作を安定化できる。
【００４２】
磁気ディスク装置１００において、熱アシスト制御信号φ５５の生成に用いられる設定パラメータは、予め実験的に取得及び調整されてプリアンプ１２３に設定されているものとすることもできるが、プリアンプ１２３の調整部３０３にトレーニングの機能を持たせることもできる。調整部３０３がトレーニングの機能を有する場合、磁気ディスク５０の記録特性の経年的な変化に対応して設定パラメータを調整することができるので、再生データの信頼性を容易に向上できる。また、この場合、記憶部１２５を不揮発性メモリに代えて揮発性メモリ（ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭなど）で構成することができる。
【００４３】
そこで、熱アシスト制御信号φ５５の生成に用いられる設定パラメータの調整について図５〜図８を用いて説明する。図５は、基準レベルＬｒｅｆの調整について説明するための図である。図７は、減衰率ｒの調整について説明するための図である。図６は、再生信号品質と振幅設定値との関係を示す図である。図８は、再生信号品質と減衰率設定値との関係を示す図である。なお、段階的にハイレベルを下げる周期が２ビット周期である場合の設定パラメータの調整について例示するが、段階的にハイレベルを下げる周期が１ビット周期や３ビット周期以上である場合についても同様に適用できる。
【００４４】
まず、高周波パターンを記録するためのＬＤパルス信号のハイレベル（基準レベルＬｒｅｆ）の調整方法について説明する。
【００４５】
ＬＤパルス信号のハイレベル、すなわち基準レベルＬｒｅｆの決定には、図５に示すように、段階的にハイレベルを下げる周期と同じ２ビット周期（２Ｔ）の高周波パターンＨＦＰ１〜ＨＦＰ３を記録した時の再生信号品質を評価指標として用い、調整する。記録再生信号品質としてはＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）を利用する。
【００４６】
具体的には、ＲＤＣ１２４において、データ生成回路１３５は、書き込みクロックφ６２に同期して、２ビット周期（２Ｔ）でハイレベル・ローレベル間を遷移するトレーニング用の書き込みデータφ５４ａを生成する。データ生成回路１３５は、トレーニング用の書き込みデータφ５４ａに応じた情報をリード・ライト処理部３０２及び記録ヘッド５ｗ経由で磁気ディスク５０に書き込む。
【００４７】
このとき、レベル設定器３０３ｂは、記憶部１２５にアクセスし、基準レベルＬｒｅｆに対応した基準振幅Ａの候補となる複数の振幅設定値を設定パラメータ群１２５ａから取得する。例えば、レベル設定器３０３ｂは、図５Ｃに示す振幅設定値Ａ１，Ａ３，Ａ２を設定パラメータ群１２５ａから取得する。レベル設定器３０３ｂは、複数の振幅設定値Ａ１，Ａ３，Ａ２のうち１つの振幅設定値を選択し、選択された振幅設定値に従って基準パルスφ２００の振幅を調整して熱アシスト制御信号φ５５ａを生成する。レベル設定器３０３ｂは、生成された熱アシスト制御信号φ５５ａをＬＤドライバ３０１ａへ供給する。ＬＤドライバ３０１ａは、熱アシスト制御信号φ５５ａに対応した駆動信号（ＬＤパルス信号）φ５８ａで光源（ＬＤ）５ａをパルス駆動する。
【００４８】
例えば、図５Ｃに破線で示す振幅設定値Ａ１が選択された場合、磁気ディスク５０の記録温度は、図５Ｄに破線で示す記録温度Ｔ１になる。図５Ｃに実線で示す振幅設定値Ａ２が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ａのハイレベルがより高くなっているので、磁気ディスク５０の記録温度は、図５Ｄに実線で示す記録温度Ｔ２に上昇する。図５Ｃに太線で示す振幅設定値Ａ３が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ａのハイレベルが振幅設定値Ａ１の場合及び振幅設定値Ａ２の場合の中間レベルになっているので、磁気ディスク５０の記録温度は、図５Ｄに太線で示す記録温度Ｔ３になる。
【００４９】
そして、リード・ライト処理部３０２は、トレーニング用の書き込みデータφ５４ａに応じた情報を再生ヘッド５ｒ経由で再生信号φ５７として磁気ディスク５０から読み出す。ＲＤＣ１２４は、図３に示すように、信号品質算出回路１６４をさらに有する。信号品質算出回路１６４は、リード・ライト処理部３０２から再生信号φ５７を受ける。信号品質算出回路１６４は、再生信号φ５７から信号成分とノイズ成分とをそれぞれ抽出し、信号成分をノイズ成分で除算することでＳＮＲを算出する。信号品質算出回路１６４は、算出されたＳＮＲをレベル設定器３０３ｂへ供給する。
【００５０】
レベル設定器３０３ｂは、選択された振幅設定値毎に、信号品質算出回路１６４から供給されたＳＮＲの値を保持しておく。これにより、レベル設定器３０３ｂは、図６に一点鎖線で示すような再生信号品質に関する情報を蓄積でき、複数の振幅設定値のうち再生信号品質が許容範囲に収まるもの（例えば、ＳＮＲの値が最も高いもの）を基準振幅Ａとして決定できる。図６に示す場合、複数の振幅設定値Ａ１，Ａ３，Ａ２のＳＮＲの値をそれぞれＳＮＲ１，ＳＮＲ３，ＳＮＲ２とすると、
ＳＮＲ３＞ＳＮＲ１，  ＳＮＲ３＞ＳＮＲ２
の関係にある。このため、複数の振幅設定値Ａ１，Ａ３，Ａ２のうち振幅設定値Ａ３を基準振幅Ａとして決定できる。このとき、振幅設定値Ａ３に対応した記録温度Ｔ３が基準温度Ｔとなる。
【００５１】
なお、記録再生信号品質として、ＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）に代えて、ＥＲ（Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）を利用することもできる。この場合、信号品質算出回路１６４は、ＲＤＣ１２４内の誤り訂正回路（図示せず）から誤り訂正の結果を取得し、誤り訂正の結果に応じてＥＲの値を算出してレベル設定器３０３ｂへ供給する。これにより、レベル設定器３０３ｂは、図６に実線で示すような再生信号品質に関する情報を蓄積でき、複数の振幅設定値のうち再生信号品質が許容範囲に収まるもの（例えば、ＥＲの値が最も低いもの）を基準振幅Ａとして決定できる。図６に示す場合、複数の振幅設定値Ａ１，Ａ３，Ａ２のＥＲの値をそれぞれＥＲ１，ＥＲ３，ＥＲ２とすると、
ＥＲ３＜ＥＲ１，  ＥＲ３＜ＥＲ２
の関係にある。このため、複数の振幅設定値Ａ１，Ａ３，Ａ２のうち振幅設定値Ａ３を基準振幅Ａとして決定できる。このとき、振幅設定値Ａ３に対応した記録温度Ｔ３が基準温度Ｔとなる。
【００５２】
次に、低周波パターンを記録する時のＬＤパルス信号の振幅の減衰率の調整方法について説明する。
【００５３】
ＬＤパルス信号の振幅の減衰率の決定には、図７に示すように、ビットの極性が反転してから２ビット周期（２Ｔ）経過後の低周波パターンＬＦＰ１１，ＬＦＰ１２を記録した時の記録再生信号品質を評価指標として用い、調整する。記録再生信号品質としてはＳＮＲを利用する。
【００５４】
具体的には、ＲＤＣ１２４において、データ生成回路１３５は、書き込みクロックφ６２に同期して、段階的にハイレベルを下げる周期の３倍以上の周期、たとえば、６ビット周期（６Ｔ）でハイレベル・ローレベル間を遷移するトレーニング用の書き込みデータφ５４ｂを生成する。データ生成回路１３５は、トレーニング用の書き込みデータφ５４ｂに応じた情報をリード・ライト処理部３０２及び記録ヘッド５ｗ経由で磁気ディスク５０に書き込む。
【００５５】
このとき、レベル設定器３０３ｂは、記憶部１２５にアクセスし、減衰率ｒの候補となる複数の減衰率設定値を設定パラメータ群１２５ａから取得する。例えば、レベル設定器３０３ｂは、図７Ｃに示す減衰率設定値ｒ１１，ｒ１２を設定パラメータ群１２５ａから取得する。レベル設定器３０３ｂは、複数の減衰率設定値ｒ１１，ｒ１２のうち１つの減衰率設定値を選択し、選択された減衰率設定値に従って基準パルスφ２００の振幅を２ビット周期（２Ｔ）で段階的に減衰させて熱アシスト制御信号φ５５ｂを生成する。レベル設定器３０３ｂは、生成された熱アシスト制御信号φ５５ｂをＬＤドライバ３０１ａへ供給する。ＬＤドライバ３０１ａは、熱アシスト制御信号φ５５ｂに対応した駆動信号（ＬＤパルス信号）φ５８ｂで光源（ＬＤ）５ａをパルス駆動する。
【００５６】
例えば、減衰率設定値ｒ１１が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ｂでは、ビットの極性が反転してから１ビット目及び２ビット目のパルスの振幅が基準振幅Ａである。また、図７Ｃに太線で示すように、３ビット目及び４ビット目のパルスの振幅が（ｒ１１）×Ａである。さらに、図７Ｃに太線で示すように、５ビット目及び６ビット目のパルスの振幅が（ｒ１１）２×Ａである。これに応じて、磁気ディスク５０の記録温度は、図７Ｄに太線で示すように、記録温度が基準温度Ｔ→記録温度Ｔ１１ａ→記録温度Ｔ１１ｂへ２ビット周期（２Ｔ）で段階的に下がる。
【００５７】
また、減衰率設定値ｒ１２が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ｂでは、ビットの極性が反転してから１ビット目及び２ビット目のパルスの振幅が基準振幅Ａである。また、図７Ｃに実線で示すように３ビット目及び４ビット目のパルスの振幅が（ｒ１２）×Ａである。さらに、図７Ｃに実線で示すように５ビット目及び６ビット目のパルスの振幅が（ｒ１２）２×Ａである。すなわち、ＬＤパルス信号φ５８ｂの振幅の減衰率がより小さくなっているので、磁気ディスク５０の記録温度は、図７Ｄに実線で示すように、記録温度がより小さい変化幅で変化する。すなわち、基準温度Ｔ→記録温度Ｔ１２ａ→記録温度Ｔ１２ｂへ２ビット周期（２Ｔ）で段階的により小さい変化幅で下がる。
【００５８】
そして、リード・ライト処理部３０２は、トレーニング用の書き込みデータφ５４ｂに応じた情報を再生ヘッド５ｒ経由で再生信号φ５７として磁気ディスク５０から読み出す。信号品質算出回路１６４は、リード・ライト処理部３０２から再生信号φ５７を受ける。信号品質算出回路１６４は、再生信号φ５７から信号成分とノイズ成分とをそれぞれ抽出し、信号成分をノイズ成分で除算することでＳＮＲを算出する。信号品質算出回路１６４は、算出されたＳＮＲをレベル設定器３０３ｂへ供給する。
【００５９】
レベル設定器３０３ｂは、選択された減衰率設定値毎に、信号品質算出回路１６４から供給されたＳＮＲの値を保持しておく。これにより、レベル設定器３０３ｂは、図８に一点鎖線で示すような再生信号品質に関する情報を蓄積でき、複数の減衰率設定値のうち再生信号品質が許容範囲に収まるもの（例えば、ＳＮＲの値が最も高いもの）を減衰率ｒとして決定できる。図８に示す場合、複数の減衰率設定値ｒ１１，ｒ１２のＳＮＲの値をそれぞれＳＮＲ１１，ＳＮＲ１２とすると、
ＳＮＲ１１＞ＳＮＲ１２
の関係にある。このため、複数の減衰率設定値ｒ１１，ｒ１２のうち減衰率設定値ｒ１１を減衰率ｒとして決定できる。
【００６０】
なお、記録再生信号品質として、ＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）に代えて、ＥＲ（Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）を利用することもできる。この場合、信号品質算出回路１６４は、ＲＤＣ１２４内の誤り訂正回路（図示せず）から誤り訂正の結果を取得し、誤り訂正の結果に応じてＥＲの値を算出してレベル設定器３０３ｂへ供給する。これにより、レベル設定器３０３ｂは、図８に実線で示すような再生信号品質に関する情報を蓄積でき、複数の振幅設定値のうち再生信号品質が許容範囲に収まるもの（例えば、ＥＲの値が最も低いもの）を減衰率ｒとして決定できる。図８に示す場合、複数の減衰率設定値ｒ１１，ｒ１２のＥＲの値をそれぞれＥＲ１１，ＥＲ１２とすると、
ＥＲ１１＜ＥＲ１２
の関係にある。このため、複数の減衰率設定値ｒ１１，ｒ１２のうち減衰率設定値ｒ１１を減衰率ｒとして決定できる。
【００６１】
以上のように、第１の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、駆動部３０１が、高周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆに維持する。駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げる。これにより、磁気ディスク５０の低周波パターンの記録領域において各ビットの磁性粒子群における再反転を抑制できるので、磁気ディスク５０に書き込まれるデータの信頼性を向上でき、再生信号品質を改善できる。
【００６２】
また、第１の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、駆動部３０１が、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８の振幅を所定の減衰率ｒで段階的に減衰させる。これにより、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げることができる。
【００６３】
また、第１の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、調整部３０３が、記録された書き込みデータの再生信号品質に応じて、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを段階的に下げるためのパラメータを調整する。例えば、調整部３０３は、再生信号品質に応じて、ＬＤパルス信号φ５８の振幅を段階的に減衰させるための減衰率ｒを調整する。駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、調整部３０３で調整されたパラメータに従ってＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げる。例えば、駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８の振幅を調整部３０３で調整された減衰率ｒで段階的に減衰させる。これにより、磁気ディスク５０の記録特性の経年的な変化に対応して設定パラメータを調整することができるので、再生データの信頼性を容易に向上できる。
【００６４】
なお、熱アシスト磁気記録のための光源５ａとして、レーザーダイオードを例示しているが、光源５ａは、熱アシスト磁気記録に適した光を発生できれば、レーザーダイオード以外の発光素子であってもよい。
【００６５】
また、図５に示す基準レベルの調整及び図７に示す減衰率の調整に用いる再生信号品質として、ＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）又はＥＲ（Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）が例示されているが、再生信号の品質を表すものであれば他の指標を用いてもよい。例えば、再生信号品質として、ＶＭＭ（Ｖｉｔｅｒｂｉ  Ｍｅｔｒｉｃ  Ｍａｒｇｉｎ）、ＬＬＲ（Ｌｏｇ−Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｒａｔｉｏ）、アシンメトリ（Ａｓｙｍｍｅｔｒｙ）などを用いてもよい。
【００６６】
また、図５に示す基準レベルの調整及び図７に示す減衰率の調整は、磁気ディスク５０を複数のゾーンに分割した場合の各ゾーンごとに行われてもよい。複数のゾーンは、例えば、磁気ディスク５０における中心から同心円状に分割して設けることができる。
【００６７】
また、駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８の振幅を所定の減衰率ｒで段階的に減衰させる代わりに、ＬＤパルス信号φ５８の振幅を所定の減衰量ΔＡで段階的に減衰させてもよい。これによっても、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げることができる。
【００６８】
この場合、振幅の減衰量の調整方法は、図７に示す減衰率の調整方法と基本的に同様であるが、図９に示すように、以下の点で異なる調整が行われる。
【００６９】
レベル設定器３０３ｂは、記憶部１２５にアクセスし、減衰量ΔＡの候補となる複数の減衰量設定値を設定パラメータ群１２５ａから取得する。例えば、レベル設定器３０３ｂは、図９Ｃに示す減衰量設定値ΔＡ１１，ΔＡ１２を設定パラメータ群１２５ａから取得する。レベル設定器３０３ｂは、複数の減衰量設定値ΔＡ１１，ΔＡ１２のうち１つの減衰量設定値を選択し、選択された減衰量設定値に従って基準パルスφ２００の振幅を２ビット周期（２Ｔ）で段階的に減衰させて熱アシスト制御信号φ５５ｃを生成する。レベル設定器３０３ｂは、生成された熱アシスト制御信号φ５５ｃをＬＤドライバ３０１ａへ供給する。ＬＤドライバ３０１ａは、熱アシスト制御信号φ５５ｃに対応した駆動信号（ＬＤパルス信号）φ５８ｃで光源（ＬＤ）５ａをパルス駆動する。
【００７０】
例えば、減衰量設定値ΔＡ１１が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ｃでは、ビットの極性が反転してから１ビット目及び２ビット目のパルスの振幅が基準振幅Ａである。また、図９Ｃに太線で示すように３ビット目及び４ビット目のパルスの振幅がＡ−（ΔＡ１１）である。さらに、図９Ｃに太線で示すように５ビット目及び６ビット目のパルスの振幅がＡ−２×（ΔＡ１１）である。
【００７１】
また、減衰量設定値ΔＡ１２が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ｃでは、ビットの極性が反転してから１ビット目及び２ビット目のパルスの振幅が基準振幅Ａである。また、図９Ｃに実線で示すように３ビット目及び４ビット目のパルスの振幅がＡ−（ΔＡ１２）である。さらに、図９Ｃに実線で示すように５ビット目及び６ビット目のパルスの振幅がＡ−２×（ΔＡ１２）である。
【００７２】
そして、レベル設定器３０３ｂは、選択された減衰量設定値毎に、信号品質算出回路１６４から供給されたＳＮＲの値を保持しておく。これにより、レベル設定器３０３ｂは、複数の減衰量設定値のうち再生信号品質が許容範囲に収まるもの（例えば、ＳＮＲの値が最も高いもの）を減衰量ΔＡとして決定できる。例えば、複数の減衰率設定値ΔＡ１１，ΔＡ１２のＳＮＲの値をそれぞれＳＮＲ１１，ＳＮＲ１２とすると、
ＳＮＲ１１＞ＳＮＲ１２
の関係にある場合、複数の減衰率設定値ΔＡ１１，ΔＡ１２のうち減衰率設定値ΔＡ１１を減衰量ΔＡとして決定できる。
【００７３】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置１００について説明する。以下では、第１の実施形態と異なる部分を中心に説明する。
【００７４】
第１の実施形態では、ＬＤパルス信号φ５８の振幅を段階的に減衰させることでハイレベルを段階的に下げているが、第２の実施形態では、ＬＤパルス信号φ５８の振幅の中心を段階的に下げることでハイレベルを段階的に下げる。
【００７５】
具体的には、プリアンプ１２３の調整部３０３において、図１０Ｂに示す高周波パターンＨＦＰ−５であることを示す変調判別信号を受けた場合、レベル設定器３０３ｂ（図３参照）は、図１０Ｃに示すような熱アシスト制御信号φ５５ｄを生成する。すなわち、レベル設定器３０３ｂは、熱アシスト制御信号φ５５ｄの振幅の中心を中心設定値に従った基準中心位置ＣＰｒｅｆに維持させて駆動部３０１に供給する。これにより、駆動部３０１のＬＤドライバ３０１ａは、ハイレベルが基準レベルＬｒｅｆに維持されるようにＬＤパルス信号φ５８ｄを生成して光源（ＬＤ）５ａに供給する。
【００７６】
図１０Ｂに示す低周波パターンＬＦＰ−５であることを示す変調判別信号を受けた場合、レベル設定器３０３ｂは、図１０Ｃに示すような熱アシスト制御信号φ５５ｄを生成する。すなわち、レベル設定器３０３ｂは、熱アシスト制御信号φ５５ｄの振幅の中心をオフセット設定値に従ったオフセット量ＯＦａで基準中心位置ＣＰｒｅｆから段階的に下げて駆動部３０１に供給する。これにより、駆動部３０１のＬＤドライバ３０１ａは、ハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げるようにＬＤパルス信号φ５８ｄを生成して光源（ＬＤ）５ａに供給する。
【００７７】
なお、磁気ディスク５０に低周波パターンを書き込むべき場合に段階的にハイレベルを下げる周期について、図１０では、１ビット周期（１Ｔ）である場合について例示しているが、Ｎ（Ｎ≧２）ビット周期（Ｎ×Ｔ）であってもよい。例えば、段階的にハイレベルを下げる周期を２ビット周期（２Ｔ）とすることができる。この場合、レベル設定器３０３ｂは、磁気ディスク５０に低周波パターンを書き込むべき際に、２ビット周期（２Ｔ）毎に、熱アシスト制御信号φ５５ｄの振幅の中心を基準中心位置ＣＰｒｅｆからオフセット量ＯＦで段階的に下げる。すなわち、段階的にハイレベルを下げる周期を複数ビット周期とすることで、プリアンプ１２３内の回路（例えば、ＬＤドライバ３０１ａ）のタイミングマージンを確保でき、プリアンプ１２３内の回路動作を安定化できる。
【００７８】
また、オフセット量の調整方法は、図７に示す減衰率の調整方法と基本的に同様であるが、図１１に示すように、以下の点で異なる調整が行われる。
【００７９】
レベル設定器３０３ｂは、記憶部１２５にアクセスし、オフセット量ＯＦの候補となる複数のオフセット量設定値を設定パラメータ群１２５ａから取得する。例えば、レベル設定器３０３ｂは、図１１Ｃに示すオフセット量ＯＦ２１，ＯＦ２２を設定パラメータ群１２５ａから取得する。レベル設定器３０３ｂは、複数のオフセット量設定値ＯＦ２１，ＯＦ２２のうち１つのオフセット量設定値を選択し、選択されたオフセット量設定値に従って基準パルスφ２００の振幅の中心を基準中心位置ＣＰｒｅｆから２ビット周期（２Ｔ）で段階的に下げて熱アシスト制御信号φ５５ｅを生成する。レベル設定器３０３ｂは、生成された熱アシスト制御信号φ５５ｅをＬＤドライバ３０１ａへ供給する。ＬＤドライバ３０１ａは、熱アシスト制御信号φ５５ｅに対応した駆動信号（ＬＤパルス信号）φ５８ｅで光源（ＬＤ）５ａをパルス駆動する。
【００８０】
例えば、オフセット量設定値ＯＦ２１が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ｅでは、ビットの極性が反転してから１ビット目及び２ビット目のパルスの振幅の中心が基準中心位置ＣＰｒｅｆである。また、図１１Ｃに太線で示すように、３ビット目及び４ビット目のパルスの振幅の中心がＣＰｒｅｆ−（ＯＦ２１）である。さらに、図１１Ｃに太線で示すように、５ビット目及び６ビット目のパルスの振幅の中心がＣＰｒｅｆ−２×（ＯＦ２１）である。
【００８１】
また、オフセット量設定値ＯＦ２２が選択された場合、ＬＤパルス信号φ５８ｅでは、ビットの極性が反転してから１ビット目及び２ビット目のパルスの振幅の中心が基準中心位置ＣＰｒｅｆである。また、図１１Ｃに実線で示すように、３ビット目及び４ビット目のパルスの振幅の中心がＣＰｒｅｆ−（ＯＦ２２）である。さらに、図１１Ｃに実線で示すように、５ビット目及び６ビット目のパルスの振幅の中心がＣＰｒｅｆ−２×（ＯＦ２２）である。
【００８２】
そして、レベル設定器３０３ｂは、選択されたオフセット量設定値毎に、信号品質算出回路１６４から供給されたＳＮＲの値を保持しておく。これにより、レベル設定器３０３ｂは、複数のオフセット量設定値のうち再生信号品質が許容範囲に収まるもの（例えば、ＳＮＲの値が最も高いもの）をオフセット量ＯＦとして決定できる。例えば、複数のオフセット量設定値ＯＦ２１，ＯＦ２２のＳＮＲの値をそれぞれＳＮＲ２１，ＳＮＲ２２とすると、
ＳＮＲ２１＞ＳＮＲ２２
の関係にある場合、複数のオフセット量設定値ＯＦ２１，ＯＦ２２のうちオフセット量設定値ＯＦ２１をオフセット量ＯＦとして決定できる。
【００８３】
以上のように、第２の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、駆動部３０１が、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８の振幅の中心を所定のオフセット量ＯＦで段階的に下げる。これにより、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８におけるハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げることができる。
【００８４】
また、第２の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、調整部３０３が、再生信号品質に応じて、ＬＤパルス信号φ５８の振幅の中心を段階的に下げるためのオフセット量ＯＦを調整する。駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、ＬＤパルス信号φ５８の振幅の中心を調整部３０３で調整されたオフセット量ＯＦで段階的に下げる。これにより、磁気ディスク５０の記録特性の経年的な変化に対応して設定パラメータを調整することができるので、再生データの信頼性を容易に向上できる。
【００８５】
（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態にかかる磁気ディスク装置１００について説明する。以下では、第１の実施形態と異なる部分を中心に説明する。
【００８６】
第１，２の実施形態では、駆動部３０１が光源５ａをパルス駆動する場合を例示しているが、第３の実施形態では、駆動部３０１が光源５ａを直流駆動する場合を例示する。
【００８７】
具体的には、プリアンプ１２３の調整部３０３において、図１２Ｂに示す高周波パターンＨＦＰ−７であることを示す変調判別信号を受けた場合、レベル設定器３０３ｂ（図３参照）は、図１２Ｃに示すような熱アシスト制御信号φ５５ｆを生成する。すなわち、レベル設定器３０３ｂは、熱アシスト制御信号φ５５ｆを直流的な信号にするとともに熱アシスト制御信号φ５５ｆの直流レベルを基準レベルＬｒｅｆに維持させて駆動部３０１に供給する。これにより、駆動部３０１のＬＤドライバ３０１ａは、直流レベルが基準レベルＬｒｅｆに維持されるように駆動信号（直流信号）φ５８ｆを生成して光源（ＬＤ）５ａに供給する。
【００８８】
図１２Ｂに示す低周波パターンＬＦＰ−７であることを示す変調判別信号を受けた場合、レベル設定器３０３ｂは、図１２Ｃに示すような熱アシスト制御信号φ５５ｆを生成する。すなわち、レベル設定器３０３ｂは、熱アシスト制御信号φ５５を直流的な信号にするとともに熱アシスト制御信号φ５５ｆの直流レベルを減衰率設定値に従った減衰率ｒ（図４参照）で基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げて駆動部３０１に供給する。これにより、駆動部３０１のＬＤドライバ３０１ａは、直流レベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げるように駆動信号（直流信号）φ５８ｆを生成して光源（ＬＤ）５ａに供給する。
【００８９】
なお、直流レベルの減衰率の調整方法は、第１，２の実施形態における減衰率の調整方法と同様である。
【００９０】
以上のように、第３の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、駆動部３０１が、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、直流レベルを所定の減衰率ｒで段階的に下げる。これにより、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、光源５ａの駆動信号（直流信号）φ５８の直流レベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げることができる。
【００９１】
また、第３の実施形態では、磁気ディスク装置１００のプリアンプ１２３において、調整部３０３が、記録された書き込みデータの再生信号品質に応じて、直流レベルを段階的に下げるための減衰率ｒを調整する。駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、直流レベルを調整部３０３で調整された減衰率ｒで段階的に下げる。これにより、磁気ディスク５０の記録特性の経年的な変化に対応して設定パラメータを調整することができるので、再生データの信頼性を容易に向上できる。
【００９２】
なお、駆動部３０１は、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、直流レベルを所定の減衰率ｒで段階的に下げる代わりに、直流レベルを所定の減衰量ΔＡで段階的に下げてもよい。これによっても、低周波パターンを磁気ディスク５０へ記録する際に、光源５ａの駆動信号（直流信号）φ５８における直流レベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げることができる。この場合、直流レベルの減衰量の調整方法は、第１の実施形態の変形例における減衰量の調整方法と同様である。
【００９３】
（第４の実施形態）
次に、第４の実施形態にかかる磁気ディスク装置１００について説明する。以下では、第１の実施形態と異なる部分を中心に説明する。
【００９４】
第１の実施形態では、調整部３０３がプリアンプ１２３内に設けられる場合を例示しているが、第４の実施形態では、調整部３０３がＲＤＣ１２４内に設けられる場合を例示する。
【００９５】
具体的には、図１３に示すように、プリアンプ１２３が調整部３０３を有さず、代わりに、ＲＤＣ１２４が調整部３０３を有する。この場合、信号品質算出回路１６４を調整部３０３の近くに配置することができるので、信号品質算出回路１６４から調整部３０３への信号伝達を高速化できる。
【００９６】
また、調整部３０３がＲＤＣ１２４内に設けられる場合、プリアンプ１２３内に設けられる場合に比べて、クロック信号の高速化が容易であるため、例えば書き込みクロックより高速のクロックを用いてＬＤパルス信号をさらに高周波数化できる。これにより、光源５ａの駆動信号（ＬＤパルス信号）φ５８のハイレベルを基準レベルＬｒｅｆから段階的に下げる処理をさらに細かい時間単位で行うことができる。
【００９７】
さらに、信号品質算出回路１６４の算出結果をプリアンプ１２３へ伝送する必要がないので、ＲＤＣ１２４とプリアンプ１２３との間の伝送線の本数を低減できる。
【００９８】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００９９】
５ａ  光源、５ｃ  近接場光素子、５０  磁気ディスク、１００  磁気ディスク装置、１２３  プリアンプ、３０１  駆動部、３０３  調整部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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