(57)【要約】【課題】立体シンボルが微小であっても符号列を検出可能な立体シンボルを物体表面に配置できる。【解決手段】符号化部３０によって、２種類の符号の並びである任意の符号列に対して、直接スペクトラム拡散を行って、符号列を生成し、シンボル構成部３２によって、２種類の立体シンボルを、２種類の符号｛−１，１｝を表すものとして、生成された符号列ｃの各符号に対応する立体シンボルを、物体表面に配置するように構成することを、造形装置５０に対して指示する。【選択図】図１
2016075987.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体表面に２種類の立体シンボルを配置するシンボル構成方法であって、
符号化部が、２種類の符号の並びである任意の符号列に対して直接スペクトラム拡散又は誤り訂正符号化を行った符号列を生成するステップと、
シンボル構成部が、前記２種類の立体シンボルを、前記２種類の符号を表すものとして、前記生成された符号列の各符号に対応する前記立体シンボルを、前記物体表面に配置するように構成するステップと、
を含むシンボル構成方法。
【請求項２】
前記２種類の立体シンボルを、高さの異なる線状突起とした請求項１記載のシンボル構成方法。
【請求項３】
前記２種類の立体シンボルを、深さの異なる線状凹みとした請求項１記載のシンボル構成方法。
【請求項４】
前記２種類の立体シンボルを、線状突起及び線状凹みとした請求項１記載のシンボル構成方法。
【請求項５】
物体表面に配置された２種類の立体シンボルから符号列を得る符号検出方法であって、
デプス列取得部が、前記物体表面に対して、計測点までの距離を計測するデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点の各々について、前記計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、前記計測点の各々について計算された距離値からなるデプス列を取得するステップと、
閾値同定部が、前記取得されたデプス列の距離値の分布に基づいて、前記距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定めるステップと、
割当部が、前記取得されたデプス列の各距離値と、前記定められた２つの閾値とを比較することにより、前記デプス列の要素毎に、２種類の符号及び特定の符号の何れか一つを割り当て、２種類の符号及び特定の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、
符号列取得部が、前記取得された符号列から前記特定の符号を削除し、前記２種類の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、
逆拡散部が、前記取得された前記２種類の符号からなる符号列に対してスペクトラム逆拡散又は誤り訂正復号を行って、前記２種類の符号の並びからなる符号列を得るステップと、
を含む符号検出方法。
【請求項６】
物体表面に配置された２種類の立体シンボルから符号列を得る符号検出方法であって、
デプス面取得部が、前記物体表面に対して、計測点までの距離を計測するデプスセンサを二次元走査することにより計測された計測点の各々について、前記計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、前記計測点の各々について計算された距離値からなるデプス行列を取得するステップと、
閾値同定部が、前記取得されたデプス行列の距離値の分布に基づいて、前記距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定めるステップと、
割当部が、前記取得されたデプス行列の各距離値と、前記定められた２つの閾値とを比較することにより、前記デプス行列の要素毎に、２種類の符号及び特定の符号の何れか１つを割り当て、２種類の符号及び特定の符号の並びからなる符号行列を取得するステップと、
直線群検出部が、前記取得された符号行列のうちの、前記２種類の符号を有する要素群に対してハフ変換を行うことにより、前記符号行列から直線群を検出するステップと、
直線方向選出部が、前記検出された直線群の主要方向を選出するステップと、
走査方向取得部が、前記選出された主要方向に垂直な直線に沿って、前記符号行列から２種類の符号及び特定の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、
符号列取得部が、前記取得された符号列から前記特定の符号を削除し、前記２種類の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、
逆拡散部が、前記取得された前記２種類の符号の並びからなる符号列に対してスペクトラム逆拡散又は誤り訂正復号を行って、前記２種類の符号の並びからなる符号列を得るステップと、
を含む符号検出方法。
【請求項７】
コンピュータに、請求項１〜請求項４何れか１項に記載のシンボル構成方法の各ステップを実行させるためのプログラム。
【請求項８】
コンピュータに、請求項５又は請求項６に記載の符号検出方法の各ステップを実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シンボル構成方法、符号検出方法、及びプログラムに係り、特に、符号列に対応する立体シンボルを物体表面上に配置し、検出するためのシンボル構成方法、符号検出方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、物体を区別するためには、物体にバーコードを印刷したラベルを張り付けることが一般的である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−６９１３１号公報
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】江藤良純・金子敏信監修，「誤り訂正符号とその応用」，ISBN 4-274-03486-0，オーム社出版局，p80-83
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１に記載されているような立体バーコードを用いる方法では物体表面が平面でない場合、立体バーコードを正しく読み取れないという問題点があった。また、バーコードラベルを貼った物体が意匠を重視するものである場合は、バーコードラベル貼付により意匠の美観が損なわれてしまうという問題点があった。
【０００６】
本発明は、上記問題点を解決するために成されたものであり、立体シンボルが微小であっても符号列を検出可能な立体シンボルを物体表面に配置できるシンボル構成方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
【０００７】
また、立体シンボルが微小であっても、物体表面に配置された立体シンボルから符号列を得ることができる符号検出方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、第１の発明に係るシンボル方法は、物体表面に２種類の立体シンボルを配置するシンボル構成方法であって、符号化部が、２種類の符号の並びである任意の符号列に対して直接スペクトラム拡散又は誤り訂正符号化を行った符号列を生成するステップと、シンボル構成部が、前記２種類の立体シンボルを、前記２種類の符号を表すものとして、前記生成された符号列の各符号に対応する前記立体シンボルを、前記物体表面に配置するように構成するステップと、を含んで実行することを特徴とする。
【０００９】
また、第１の発明に係るシンボル構成方法において、前記２種類の立体シンボルを、高さの異なる線状突起としてもよい。
【００１０】
また、第１の発明に係るシンボル構成方法において、前記２種類の立体シンボルを、深さの異なる線状凹みとしてもよい。
【００１１】
また、第１の発明に係るシンボル構成方法において、前記２種類の立体シンボルを、線状突起及び線状凹みとしてもよい。
【００１２】
第２の発明に係る符号検出方法は、物体表面に配置された２種類の立体シンボルから符号列を得る符号検出方法であって、デプス列取得部が、前記物体表面に対して、計測点までの距離を計測するデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点の各々について、前記計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、前記計測点の各々について計算された距離値からなるデプス列を取得するステップと、閾値同定部が、前記取得されたデプス列の距離値の分布に基づいて、前記距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定めるステップと、割当部が、前記取得されたデプス列の各距離値と、前記定められた２つの閾値とを比較することにより、前記デプス列の要素毎に、２種類の符号及び特定の符号の何れか一つを割り当て、２種類の符号及び特定の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、符号列取得部が、前記取得された符号列から前記特定の符号を削除し、前記２種類の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、逆拡散部が、前記取得された前記２種類の符号からなる符号列に対してスペクトラム逆拡散又は誤り訂正復号を行って、前記２種類の符号の並びからなる符号列を得るステップと、を含んで実行することを特徴とする。
【００１３】
第３の発明に係る符号検出方法は、物体表面に配置された２種類の立体シンボルから符号列を得る符号検出方法であって、デプス面取得部が、前記物体表面に対して、計測点までの距離を計測するデプスセンサを二次元走査することにより計測された計測点の各々について、前記計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、前記計測点の各々について計算された距離値からなるデプス行列を取得するステップと、閾値同定部が、前記取得されたデプス行列の距離値の分布に基づいて、前記距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定めるステップと、割当部が、前記取得されたデプス行列の各距離値と、前記定められた２つの閾値とを比較することにより、前記デプス行列の要素毎に、２種類の符号及び特定の符号の何れか１つを割り当て、２種類の符号及び特定の符号の並びからなる符号行列を取得するステップと、直線群検出部が、前記取得された符号行列のうちの、前記２種類の符号を有する要素群に対してハフ変換を行うことにより、前記符号行列から直線群を検出するステップと、直線方向選出部が、前記検出された直線群の主要方向を選出するステップと、走査方向取得部が、前記選出された主要方向に垂直な直線に沿って、前記符号行列から２種類の符号及び特定の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、符号列取得部が、前記取得された符号列から前記特定の符号を削除し、前記２種類の符号の並びからなる符号列を取得するステップと、逆拡散部が、前記取得された前記２種類の符号の並びからなる符号列に対してスペクトラム逆拡散又は誤り訂正復号を行って、前記２種類の符号の並びからなる符号列を得るステップと、を含んで実行することを特徴とする。
【００１４】
第１の発明に係るプログラムは、コンピュータに、上記第１の発明に係るシンボル構成方法を構成する各ステップを実行させるためのプログラムである。
【００１５】
第２及び第３の発明に係るプログラムは、コンピュータに、上記第２及び第３の発明に係る符号検出方法を構成する各ステップを実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明のシンボル構成方法、及びプログラムによれば、直接スペクトラム拡散又は誤り訂正符号化により生成された符号列の各符号に対応する２種類の立体シンボルを、物体表面に配置するように構成することにより、立体シンボルが微小であっても符号列を検出可能な立体シンボルを物体表面に配置できる、という効果が得られる。
【００１７】
また、本発明の符号検出方法、及びプログラムによれば、立体シンボルが微小であっても、物体表面に配置された立体シンボルから符号列を得ることができる、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１から第３の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】先頭ビットと末尾ビットの一例を示す図である。
【図３】２種類の立体シンボルを円柱状として構成した一例を示す図である。
【図４】２種類の立体シンボルを高さが異なる線状突起として構成した一例を示す図である。
【図５】立体シンボルを沿わせる任意線分と線状突起が直交する一例を示す図である。
【図６】２種類の立体シンボルを、深さの異なる線状凹みとして構成した一例を示す図である。
【図７】立体シンボルを沿わせる任意線分と線状凹みが直交する一例を示す図である。
【図８】１種類の立体シンボルを線状突起として構成した一例を示す図である。
【図９】１種類の立体シンボルを線状凹みとして構成した一例を示す図である。
【図１０】立体シンボルを沿わせる任意線分と線状突起及び線状凹みが直交する一例を示す図である
【図１１】第１の実施の形態に係る符号検出装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】デプス列とする計測点の各々について、前後２Ｎ＋１個を用いた移動平均を表す概念図である。
【図１３】第１から第３の実施の形態に係るシンボル構成装置におけるシンボル構成処理ルーチンの内容を示すフローチャートである。
【図１４】第１及び第３の実施の形態に係る符号検出装置における符号検出処理ルーチンの内容を示すフローチャートである。
【図１５】第１から第３の実施の形態に係る符号検出装置における符号割り当て処理ルーチンの内容を示すフローチャートである。
【図１６】第２の実施の形態に係る符号検出装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】デプス行列とする計測点の各々について、前後左右（２Ｎ＋１）×（２Ｎ＋１）個を用いた移動平均を表す概念図である。
【図１８】直線群の主要方向を選出することを表す概念図である。
【図１９】直線方向選出部３４２で選出された主要方向に垂直な直線に沿って一定幅で走査することを表す概念図である。
【図２０】第２の実施の形態に係る符号検出装置における符号検出処理ルーチンの内容を示すフローチャートである。
【図２１】影によりデプス計測ができない場合の一例を示す図である。
【図２２】デプスセンサの有効計測範囲を超えた位置に立体シンボルがあり、その立体シンボルのデプス計測ができない場合の一例を示す図である。
【図２３】計測点の補間の一例を示す概念図である。
【図２４】第３の実施の形態に係る符号検出装置における補間処理ルーチンの内容を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００２０】
＜概要＞
【００２１】
まず、本発明の実施の形態に係るシンボル構成装置及び符号検出装置の概要を説明する。特徴は２点あり、１点目は、物体を区別するための凹凸を物体表面に設ける際に、スペクトラム拡散によって拡散した符号列に応じて、多数の立体シンボルによる凹凸を微小に形成するため、物体の美観を損ねないことである。２点目は、スペクトラム拡散を用いて凹凸パターンを拡散・逆拡散（変調・復調）するため、デプスセンサの読み取り値にノイズが乗っていたり、物体のオクル−ジョン（遮蔽）により読み取り値が一部欠落したりしていても、凹凸パターンの復調を正しく行えることである。
【００２２】
［第１の実施の形態］
【００２３】
＜第１の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成＞
【００２４】
本発明の第１の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成について説明する。なお、本実施の形態では、３次元プリンタである造形装置に対して、任意の符号列に基づいて、物体の形成時に物体の表面に立体シンボルを形成するように指示するシンボル構成装置に本発明を適用した場合を例に説明する。
【００２５】
図１に示すように、本発明の第１の実施の形態に係るシンボル構成装置１００は、ＣＰＵと、ＲＡＭと、後述するシンボル構成処理ルーチンを実行するためのプログラムや各種データを記憶したＲＯＭと、を含むコンピュータで構成することが出来る。このシンボル構成装置１００は、機能的には図１に示すように入力部１０と、演算部２０とを備えている。
【００２６】
入力部１０は、立体シンボルを形成する物体の３次元形状及び当該物体を識別するための任意の符号列を受け付ける。
【００２７】
演算部２０は、符号化部３０と、シンボル構成部３２とを含んで構成されている。
【００２８】
符号化部３０は、入力部１０により受け付けた、２種類の符号の並びである任意の符号列に対して、直接スペクトラム拡散を行って、符号列を生成する。なお、本実施の形態では、２種類の符号はそれぞれ０と１の符号で表されるものとする。
【００２９】
符号化部３０における符号列の生成方法について以下詳細に説明する。
【００３０】
符号化部３０は、まず直接スペクトラム拡散を行うために、任意の原符号列をａと定める。本実施の形態では、ａを２進数で（１０１０１１００）と仮定する。次に、拡散率ｋを定める。ｋは１以上の整数であり、大きいほどスペクトラム拡散のノイズ耐性が向上する。本実施の形態ではｋ＝５とする。次に、スペクトラム拡散用の乱数列ｒ＝｛−１，１｝を用意する。乱数列はＭ系列生成器（非特許文献１のｐ８０〜ｐ８２を参照）を利用して生成する。Ｍ系列生成器により生成された乱数列は、その自己相関をとったとき、ずれ量が０のときのみ相関があり、それ以外のずれ量のときは無相関になる性質を持つ。なお、同じ性質を持つ乱数列であれば、Ｍ系列生成器以外の手段で生成したものも使用できる。
【００３１】
符号化部３０は、次の流れで直接スペクトラム拡散を行って符号列を生成する。
【００３２】
まず、原符号列ａの０を−１で置き換えた符号列ａ’を作る。この場合、符号列ａ’の長さ（要素数）は８である。
【００３３】
ａ’＝（1,-1,1,-1,1,1,-1,-1）
【００３４】
ａ’の各要素を拡散率ｋ（＝５）個分複製して並べた符号列ｂを作る。ｂの長さ（要素数）は８×５＝４０である。
【００３５】
ｂ＝（1,1,1,1,1,-1,-1,-1,-1,-1,...,-1,-1,-1,-1,-1）
【００３６】
次に、ｂと同じ長さ（要素数）の乱数列ｒを生成する。
【００３７】
ｒ＝（-1,1,-1,-1,1,-1,1,1,-1,-1,...,1,-1,-1,1,-1）
【００３８】
次に、ｂとｒの同じ位置の要素同士を乗じた符号列ｃを得る。
【００３９】
ｃ＝（-1,1,-1,-1,1,1,-1,-1,1,1, ...,-1,1,1,-1,1）
【００４０】
ｃが、原符号列ａを直接スペクトラム拡散して得られた符号列である。原符号列ａから符号列ｃを生成することを拡散、あるいは変調と呼ぶ。逆に符号列ｃから原符号列ａを求めることを逆拡散、あるいは復調と呼ぶ。続いて、生成した符号列ｃの逆拡散（復調）する流れについて説明する。デプスセンサで観測された信号をｄとする。ノイズがなければｄ＝ｃである。
【００４１】
ｄ＝（-1,1,-1,-1,1,1,-1,-1,1,1,...,-1,1,1,-1,1）
【００４２】
変調時に用いたものと同じ乱数列ｒを用意する。
【００４３】
ｒ＝（-1,1,-1,-1,1,-1,1,1,-1,-1,...,1,-1,-1,1,-1）
【００４４】
dとrの同じ位置の要素同士を乗じた数列ｅを得る。
【００４５】
ｅ＝（1,1,1,1,1,-1,-1,-1,-1,-1,...,-1,-1,-1,-1,-1）
【００４６】
数列ｅを拡散率ｋ個ずつ区切る。
【００４７】
ｅ＝（｜1,1,1,1,1,｜-1,-1,-1,-1,-1,｜...,｜-1,-1,-1,-1,-1｜)
【００４８】
区切られたｋ個内の多数決を取り、数列ｆを得る。
【００４９】
f = (1,-1,1,-1,1,1,-1,-1)
【００５０】
ｆの−１を０に置き換えｇを得る。
【００５１】
g = (1,0,1,0,1,1,0,0)
【００５２】
ｇが逆拡散結果であり、原符号列ａと同じ符号列が得られる。
【００５３】
次に、センサで観測した信号にノイズが混入していたと仮定して、ノイズが混入した信号をd’とする。
【００５４】
ｄ’＝（-1,-1,-1,-1,1,1,-1,-1,1,1,...,-1,1,1,-1,1）
【００５５】
ｄ’では２番目の要素がノイズのために誤って観測されている。そして、変調時に用いたものと同じ乱数列ｒを用意する。
【００５６】
ｒ＝（-1,1,-1,-1,1,-1,1,1,-1,-1,...,1,-1,-1,1,-1）
【００５７】
次にｄ’とｒの同じ位置の要素同士を乗じた符号列ｅ’を得る。
【００５８】
ｅ’＝（1,-1,1,1,1,-1,-1,-1,-1,-1,...,-1,-1,-1,-1,-1）
【００５９】
符号列ｅ’を拡散率ｋ個ずつ区切る。
【００６０】
ｅ’＝（｜1,-1,1,1,1,｜-1,-1,-1,-1,-1,｜...,｜-1,-1,-1,-1,-1｜）
【００６１】
区切られたｋ個内の多数決を取り、符号列ｆ’を得る。
【００６２】
ｆ’＝（1,-1,1,-1,1,1,-1,-1）
【００６３】
そして、ｆ’の−１を０に置き換えｇ’を得る。
【００６４】
ｇ’＝（1,0,1,0,1,1,0,0)
【００６５】
g’とノイズのない場合のｇの符号列の各要素は同一である。つまり、ノイズが混入しても正しく復調できる。拡散率ｋが大きいと、多数決の要素数が増えるために、ノイズが複数混入しても正しく復調できる。つまり、拡散率ｋが大きくなるとノイズ耐性が向上する。これがスペクトラム拡散の特徴である。
【００６６】
物体表面上にスペクトラム拡散で変調した符号列ｃ＝｛−１，１｝を配置するとき、符号列のどちら側が先頭かを判別するために、先頭に先頭ビットシンボルを、末尾に末尾ビットシンボルを配置することもできる。物体の向きが常に一定であればこれらの判別ビットシンボルは不要だが、物体の向きがランダムに変わるような場合は、判別ビットが必要となる。先頭ビットシンボルと末尾ビットシンボルの組み合わせ例を図２に示す。組み合わせはこの例にとどまらず、先頭ビットと末尾ビットを混同しない任意のビットパターンを利用できる。
【００６７】
このようにして、符号化部３０は、原符号列ａに対して直接スペクトラム拡散を行って符号列ｃ＝｛−１，１｝を生成する。なお、生成された符号列ｃ及び乱数列ｒは、入力部１０で受け付けた物体の種類と対応付けられて記憶部（図示省略）に記憶される。
【００６８】
シンボル構成部３２は、２種類の立体シンボルを、２種類の符号｛−１，１｝を表すものとして、生成された符号列ｃの各符号に対応する立体シンボルを、物体表面に配置するように構成することを、造形装置５０に対して指示する。
【００６９】
シンボル構成部３２は、２種類の立体シンボルがそれぞれ−１と１の符号を表すものとして立体シンボルを並べた場合に、｛−１，１｝からなる符号列ｃを表すものとなるよう配置するように、造形装置５０に指示する。造形装置５０は、指示を受け付けると、２種類の立体シンボルを物体表面上の任意線分に沿って並べた３次元形状の物体を造形する。本実施の形態では、図３に示すように、２種類の立体シンボルを円柱状とした立体シンボルを用いる。なお、立体シンボルは角柱、円錐、角錐状であっても良い。
【００７０】
また、シンボル構成部３２は、２種類の立体シンボルは微小な凹凸の構成としても良い。例えば、図４に示すように、２種類の立体シンボルを高さが異なる線状突起として構成しても良い。線状突起は図４に示すように長さＬの線状に構成する。線状突起を配置する際には、図５に示すように、立体シンボルを沿わせる任意線分と線状突起が直交するようにする。
【００７１】
また、シンボル構成部３２は、図６に示すように、２種類の立体シンボルを、深さの異なる線状凹みとして構成しても良い。線状凹みは、図７に示すように、立体シンボルを沿わせる任意線分と線状凹みが直交するようにする。
【００７２】
また、シンボル構成部３２は、図８及び図９に示すように、２種類の立体シンボルを、線状突起及び線状凹みとして構成しても良い。線状突起及び線状凹みは、図１０に示すように、立体シンボルを沿わせる任意線分と線状突起及び線状凹みが直交するようにする。
【００７３】
＜第１の実施の形態に係る符号検出装置の構成＞
【００７４】
次に、本発明の第１の実施の形態に係る符号検出装置の構成について説明する。なお、本実施の形態では、３次元プリンタで形成された物体の表面に配置された立体シンボル（立体バーコード）から符号列を取得する符号検出装置に本発明を適用した場合を例に説明する。
【００７５】
図１１に示すように、本発明の実施の形態に係る符号検出装置２００は、ＣＰＵと、ＲＡＭと、後述する符号検出処理ルーチンを実行するためのプログラムや各種データを記憶したＲＯＭと、を含むコンピュータで構成することが出来る。この符号検出装置２００は、機能的には図１１に示すように入力部２１０と、演算部２２０と、出力部２５０とを備えている。
【００７６】
入力部２１０は、物体表面に対して、計測点までの距離を計測するデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測結果を受け付ける。
【００７７】
演算部２２０は、デプス列取得部２３０と、閾値同定部２３２と、割当部２３４と、符号列取得部２３６と、逆拡散部２３８とを含んで構成されている。
【００７８】
デプス列取得部２３０は、物体表面に対してデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点の各々について、当該計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなるデプス列を取得する。
【００７９】
デプス列取得部２３０は、具体的には図１２に示すように、デプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点の各々について、前後２Ｎ＋１個（Ｎは１以上の整数）を用いた移動平均を計算し、計測点から移動平均値を引いて距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなる正規化デプス列を取得する。図１２の例ではＮ＝３である。また、移動平均の計算に必要な計測点がデプス列の端から外れてしまう場合は、最も近い端点の値を存在しない点の代わりに用いる。
【００８０】
閾値同定部２３２は、デプス列取得部２３０で取得されたデプス列の距離値の分布に基づいて、距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定める。
【００８１】
閾値同定部２３２は、具体的には、以下の計算によって閾値を定める。正規化デプス列の最大値をｄｍａｘ、最小値をｄｍｉｎとする。そして、ｄｍｉｎ＜ｔ１＜ｄｍａｘかつｄｍｉｎ＜ｔ２＜ｄｍａｘかつｔ１＜ｔ２となるｔ１とｔ２の全組み合わせについて、ｘ／ｙを計算し、ｘ／ｙが最大になるｔ１とｔ２の組み合わせを求め、正規化デプス列を２種類の立体シンボルのＡ及びＢ、並びに物体の表面の３種類に分類する閾値ｔ１及びｔ２とする。
【００８２】
【数１】
2016075987.tif 000003
【００８３】
【数２】
2016075987.tif 000004
【００８４】
ただし、ｔ１とｔ２の全組み合わせを生成するときに、ｔ１及びｔ２の取りうる値は、デプスセンサの分解能で量子化された値とする。例えばデプスセンサの分解能が０．１ミリとするとｔ１及びｔ２の取りうる値は０．０，０．１，０．２，…となり、０．０３や０．１５などの分解能未満の桁数を組み合わせた値は取らないものとする。また、ｎ１はｄｍｉｎ以上ｔ１未満の正規化デプス列の要素数であり、μ１、σ１２はそれぞれｄｍｉｎ以上ｔ１未満の正規化デプス列の各要素の平均、分散を示す。同様に、ｎ２はｔ１以上ｔ２未満の正規化デプス列の要素数であり、μ２、σ２２はそれぞれｔ１以上ｔ２未満の正規化デプス列の各要素の平均、分散を示す。同様に、ｎ３はｔ２以上ｄｍａｘ以下の正規化デプス列の要素数であり、μ３、σ３２はそれぞれｔ２以上ｄｍａｘ以下の正規化デプス列の各要素の平均、分散を示す。
【００８５】
割当部２３４は、デプス列取得部２３０で取得されたデプス列の各距離値と、閾値同定部２３２で定められた２つの閾値とを比較することにより、デプス列の要素毎に、２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の何れか一つを割り当て、｛−１，０，１｝の並びからなる符号列を取得する。
【００８６】
割当部２３４は、具体的には、デプス列の要素毎に、２種類の符号である２種類の立体シンボルを表すＡ又はＢの符号として、−１又は１を割り当て、特定の符号である物体本来の表面を表す符号として、０を割り当てる。ここで、立体シンボルは物体表面からの高さ（あるいは深さ）は種類によって異なるため、符号の割り当ては立体シンボルの種類に応じて以下のように行う。
【００８７】
立体シンボルが２種類の突起の場合は、ｔ１未満の距離値の要素に０を、ｔ１以上ｔ２未満の距離値の要素に−１を、ｔ２以上の距離値の要素に１を割り当てる。立体シンボルが２種類の凹みの場合は、ｔ１未満の距離値の要素に−１を、ｔ１以上ｔ２未満の距離値の要素に１を、ｔ２以上の距離値の要素に０を割り当てる。立体シンボルが１種類の突起と１種類の凹みの場合は、ｔ１未満の距離値の要素に−１を、ｔ１以上ｔ２未満の距離値の要素に０を、ｔ２以上の距離値の要素に１を割り当てる。
【００８８】
割当部２３４は、以上のようにしてデプス列の各要素に符号を割り当てることで、｛−１，０，１｝からなる符号列を得る。
【００８９】
符号列取得部２３６は、割当部２３４で取得された符号列から特定の符号０を削除し、２種類の符号｛−１，１｝の並びからなる符号列を取得する。
【００９０】
逆拡散部２３８は、符号列取得部２３６で取得された２種類の符号｛−１，１｝からなる符号列に対してスペクトラム逆拡散を行って、２種類の符号｛０，１｝の並びからなる符号列を得る。そして、逆拡散部２３８で得た符号列を、物体を識別する符号列として出力部２５０に出力する。
【００９１】
＜第１の実施の形態に係るシンボル構成装置の作用＞
【００９２】
次に、本発明の第１の実施の形態に係るシンボル構成装置１００の作用について説明する。入力部１０において立体シンボルを形成する物体の３次元形状及び当該物体を識別するための任意の符号列を受け付けると、シンボル構成装置１００は、図１３に示すシンボル構成処理ルーチンを実行する。
【００９３】
まず、ステップＳ１００では、入力部１０により受け付けた、２種類の符号の並びである任意の符号列に対して、直接スペクトラム拡散を行って、符号列を生成する。
【００９４】
次に、ステップＳ１０２では、入力部１０により受け付けた物体の３次元形状であって、２種類の立体シンボルを、２種類の符号｛−１，１｝を表すものとして、生成された符号列の各符号に対応する立体シンボルを、物体表面に配置した物体の３次元形状を造形することを、造形装置５０に対して指示し、処理を終了する。
【００９５】
そして、造形装置５０によって、生成された符号列の各符号に対応する立体シンボルを、物体表面に配置した物体の３次元形状を造形する。
【００９６】
＜第１の実施の形態に係る符号検出装置の作用＞
【００９７】
次に、本発明の第１の実施の形態に係る符号検出装置２００の作用について説明する。まず、立体シンボルが物体表面に配置された物体に対して、デプスセンサを一次元走査して、各計測点までの距離を計測する。そして、入力部２１０において物体表面に対してデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測結果を受け付けると、符号検出装置２００は、図１４に示す符号検出処理ルーチンを実行する。
【００９８】
まずステップＳ２００では、物体表面に対してデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点の各々について、当該計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなるデプス列を取得する。
【００９９】
ステップＳ２０２では、ステップＳ２００で取得されたデプス列の距離値の分布に基づいて、ｄｍｉｎ＜ｔ１＜ｄｍａｘかつｄｍｉｎ＜ｔ２＜ｄｍａｘかつｔ１＜ｔ２となるｔ１とｔ２の全組み合わせについてｘ／ｙを計算する。
【０１００】
ステップＳ２０４では、ステップＳ２０２で計算したｔ１とｔ２の全組み合わせについてのｘ／ｙのうち、ｘ／ｙが最大になるｔ１とｔ２の組み合わせを求め、閾値ｔ１及びｔ２として定める。
【０１０１】
ステップＳ２０６では、ステップＳ２００で取得されたデプス列の各距離値と、ステップＳ２０４で定められた閾値ｔ１及びｔ２とを比較することにより、デプス列の要素毎に、２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の何れか一つを割り当て、｛−１，０，１｝の並びからなる符号列を取得する。
【０１０２】
ステップＳ２０８では、ステップＳ２０６で取得された符号列から特定の符号０を削除し、２種類の符号｛−１，１｝の並びからなる符号列を取得する。
【０１０３】
ステップＳ２１０では、ステップＳ２０８で取得された２種類の符号｛−１，１｝からなる符号列に対してスペクトラム逆拡散を行って、２種類の符号｛０，１｝の並びからなる符号列を得て、得られた符号列を出力部２５０に出力して処理を終了する。
【０１０４】
上記ステップＳ２０６は、図１５に示す符号割り当て処理ルーチンによって実行される。
【０１０５】
符号割り当て処理ルーチンでは、立体シンボルの種別は既知であるとする。ステップＳ１２００において、立体シンボルの種別を判別する。
【０１０６】
２種類の突起と判別された場合はステップＳ１２０２へ移行し、２種類の凹みと判別された場合はステップＳ１２０４へ移行し、１種類の突起及び１種類の凹みと判別された場合はステップＳ１２０６へ移行する。
【０１０７】
ステップＳ１２０２では、ｔ１未満の要素に０、ｔ１以上ｔ２未満の要素に−１、ｔ２以上の要素に１の符号を割り当て、符号割り当て処理を終了する。
【０１０８】
ステップＳ１２０４では、ｔ１未満の要素に−１、ｔ１以上ｔ２未満の要素に１、ｔ２以上の要素に０の符号を割り当て、符号割り当て処理を終了する。
【０１０９】
ステップＳ１２０６では、ｔ１未満の要素に−１、ｔ１以上ｔ２未満の要素に０、ｔ２以上の要素に１の符号を割り当て、符号割り当て処理を終了する。
【０１１０】
以上説明したように、本発明の第１の実施の形態に係るシンボル構成装置によれば、直接スペクトラム拡散により生成された符号列の各符号に対応する２種類の立体シンボルを、物体表面に配置するように構成することで、立体シンボルが微小であっても符号列を検出可能な立体シンボルを物体表面に配置できる。
【０１１１】
また、本発明の第１の実施の形態に係る符号検出装置によれば、取得されたデプス列の距離値の分布に基づいて、距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定め、デプス列の各距離値と、定められた２つの閾値とを比較することにより、デプス列の要素毎に、２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の何れか一つを割り当て、２種類の符号｛−１，１｝の並びからなる符号列を取得し、取得された２種類の符号｛−１，１｝からなる符号列に対してスペクトラム逆拡散を行って、２種類の符号｛０，１｝の並びからなる符号列を得ることで、立体シンボルが微小であっても、物体表面に配置された立体シンボルから符号列を得ることができる。
【０１１２】
［第２の実施の形態］
【０１１３】
＜第２の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成＞
【０１１４】
本発明の第２の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成について説明する。なお、第２の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成は、第１の実施の形態と同様であるため、同一符号を付して説明を省略する。
【０１１５】
＜第２の実施の形態に係る符号検出装置の構成＞
【０１１６】
次に、本発明の第２の実施の形態に係る符号検出装置の構成について説明する。なお、第１の実施の形態と同様の構成となる部分については、同一符号を付して説明を省略する。
【０１１７】
図１６に示すように、本発明の第２の実施の形態に係る符号検出装置３００は、ＣＰＵと、ＲＡＭと、後述する符号検出処理ルーチンを実行するためのプログラムや各種データを記憶したＲＯＭと、を含むコンピュータで構成することが出来る。この符号検出装置３００は、機能的には図１６に示すように入力部３１０と、演算部３２０と、出力部２５０とを備えている。
【０１１８】
入力部３１０は、物体表面に対して、計測点までの距離を計測するデプスセンサを二次元走査することにより計測された計測結果を受け付ける。
【０１１９】
演算部３２０は、デプス面取得部３３０と、閾値同定部２３２と、割当部２３４と、直線群検出部３４０と、直線方向選出部３４２と、走査方向取得部３４４と、符号列取得部２３６と、逆拡散部２３８とを含んで構成されている。
【０１２０】
デプス面取得部３３０は、物体表面に対してデプスセンサを二次元走査することにより計測された計測点の各々について、当該計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなるデプス行列を取得する。
【０１２１】
デプス面取得部３３０は、具体的には図１７に示すように、デプスセンサを二次元走査することにより計測された計測点の各々について、前後左右（２Ｎ＋１）×（２Ｎ＋１）個を用いた移動平均を計算し、計測点から移動平均値を引いて距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなる正規化デプス行列を取得する。また、移動平均の計算に必要な計測点がデプス行列の端から外れてしまう場合は、最も近い端点の値を存在しない点の代わりに用いる。
【０１２２】
第２の実施の形態に係る閾値同定部２３２は、デプス面取得部３３０で取得されたデプス行列の距離値の分布に基づいて、距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定める。
【０１２３】
第２の実施の形態に係る割当部２３４は、デプス面取得部３３０で取得されたデプス行列の各距離値と、閾値同定部２３２で定められた２つの閾値とを比較することにより、デプス行列の要素毎に、２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の何れか一つを割り当て、｛−１，０，１｝の並びからなる符号行列を取得する。
【０１２４】
直線群検出部３４０は、割当部２３４で取得された符号行列のうちの、２種類の符号｛−１，１｝を有する要素群に対してハフ変換を行うことにより、符号行列から直線群を検出する。本実施の形態では、符号行列の各要素について、０を白点、−１及び１を黒点とみなしてハフ変換し、黒点の直線群を検出する。
【０１２５】
直線方向選出部３４２は、図１８に示すように、直線群検出部３４０で検出された直線群の主要方向を選出する。
【０１２６】
走査方向取得部３４４は、図１９に示すように、直線方向選出部３４２で選出された主要方向に垂直な直線であって、デプスセンサを二次元走査した面の中心を通る直線を決定し、決定した直線に沿って、符号行列を一定幅で走査することによって、走査範囲に含まれる符号行列の各要素を抽出し、符号行列から２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の並びからなる符号列を取得する。
【０１２７】
第２の実施の形態に係る符号列取得部２３６は、走査方向取得部３４４で取得された符号列から特定の符号０を削除し、２種類の符号｛−１，１｝の並びからなる符号列を取得する。
【０１２８】
なお、第２の実施の形態に係るシンボル構成装置及び符号検出装置の他の構成については、第１の実施の形態と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１２９】
＜第２の実施の形態に係るシンボル構成装置の作用＞
【０１３０】
次に、本発明の第２の実施の形態に係るシンボル構成装置１００の作用について説明する。入力部１０において立体シンボルを形成する物体の３次元形状及び当該物体を識別するための任意の符号列を受け付けると、シンボル構成装置１００は、上記図１３に示すシンボル構成処理ルーチンと同様の処理ルーチンを実行する。
【０１３１】
＜第２の実施の形態に係る符号検出装置の作用＞
【０１３２】
次に、本発明の第２の実施の形態に係る符号検出装置３００の作用について説明する。
【０１３３】
まず、立体シンボルが物体表面に配置された物体に対して、デプスセンサを二次元走査して、各計測点までの距離を計測する。そして、入力部３１０において物体表面に対してデプスセンサを二次元走査することにより計測された計測結果を受け付けると、符号検出装置３００は、図２０に示す符号検出処理ルーチンを実行する。なお、第２の実施の形態に係る符号検出装置の作用について、第１の実施の形態と同様の作用となる部分については、同一符号を付して説明を省略する。
【０１３４】
まずステップＳ４００では、物体表面に対してデプスセンサを二次元走査することにより計測された計測点の各々について、当該計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなるデプス行列を取得する。
【０１３５】
ステップＳ２０２では、ステップＳ４００で取得されたデプス行列の距離値の分布に基づいて、ｄｍｉｎ＜ｔ１＜ｄｍａｘかつｄｍｉｎ＜ｔ２＜ｄｍａｘかつｔ１＜ｔ２となるｔ１とｔ２の全組み合わせについてｘ／ｙを計算する。
【０１３６】
ステップＳ２０６では、ステップＳ４００で取得されたデプス行列の各距離値と、ステップＳ２０４で定められた閾値ｔ１及びｔ２とを比較することにより、デプス行列の要素毎に、２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の何れか一つを割り当て、｛−１，０，１｝の並びからなる符号行列を取得する。
【０１３７】
ステップＳ４０２では、ステップＳ２０６で取得された符号行列のうちの、２種類の符号｛−１，１｝を有する要素群に対してハフ変換を行うことにより、符号行列から直線群を検出する。
【０１３８】
ステップＳ４０４では、ステップＳ４０２で検出された直線群の主要方向を選出する。
【０１３９】
ステップＳ４０６では、ステップＳ４０４で選出された主要方向に垂直な直線であって、デプスセンサを二次元走査した面の中心を通る直線を決定し、決定した直線に沿って、符号行列を一定幅で走査することによって、走査範囲に含まれる符号行列の各要素を抽出し、符号行列から２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の並びからなる符号列を取得する。
【０１４０】
ステップＳ２０８では、ステップＳ４０６で取得された符号列から特定の符号０を削除し、２種類の符号｛−１，１｝の並びからなる符号列を取得する。
【０１４１】
なお、第２の実施の形態に係る符号検出装置の他の作用については、第１の実施の形態と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１４２】
以上説明したように、本発明の第２の実施の形態に係るシンボル構成装置によれば、直接スペクトラム拡散により生成された符号列の各符号に対応する２種類の立体シンボルを、物体表面に配置するように構成することで、立体シンボルが微小であっても符号列を検出可能な立体シンボルを物体表面に配置できる。
【０１４３】
また、本発明の第２の実施の形態に係る符号検出装置によれば、取得されたデプス行列の距離値の分布に基づいて、距離値を３種類の大きさに分けるための２つの閾値を定め、デプス行列の各距離値と、定められた２つの閾値とを比較することにより、デプス行列の要素毎に、２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の何れか一つを割り当て、符号行列から直線群を検出し、直線群の中から選出された主要方向に垂直な直線に沿って、符号行列から２種類の符号｛−１，１｝及び特定の符号０の並びからなる符号列を取得し、２種類の符号｛−１，１｝の並びからなる符号列を取得し、取得された２種類の符号｛−１，１｝からなる符号列に対してスペクトラム逆拡散を行って、２種類の符号｛０，１｝の並びからなる符号列を得ることで、立体シンボルが微小であっても、物体表面に配置された立体シンボルから符号列を得ることができる。
【０１４４】
［第３の実施の形態］
【０１４５】
＜第３の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成＞
【０１４６】
本発明の第３の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成について説明する。なお、第３の実施の形態に係るシンボル構成装置の構成は、第１の実施の形態と同様であるため、同一符号を付して説明を省略する。
【０１４７】
＜第３の実施の形態に係る符号検出装置の構成＞
【０１４８】
次に、本発明の第３の実施の形態に係る符号検出装置の構成について説明する。なお、第３の実施の形態に係る符号検出装置は、第１の実施の形態と同様の構成であるため、同一符号を付して説明を省略する。
【０１４９】
第３の実施の形態に係る符号検出装置は、計測点の補間を行う点が第１の実施の形態と異なっている。
【０１５０】
本発明の第３の実施の形態に係る符号検出装置２００のデプス列取得部２３０は、物体表面に対してデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点の各々について、当該計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなるデプス列を取得する。
【０１５１】
ここで、第３の実施の形態に係るデプス列取得部２３０は、物体のオクル−ジョン（遮蔽）により、一部の計測点が欠落していた場合でも、符号列を取得できるようにするため、計測点を補間する。一部の計測点が欠落した場合には、符号数に誤差が生じ、符号列を正しく読み取れないという問題が生じる可能性があるからである。例えば、図２１に示すようなＴ状の突起の影になってＨ状の凹みのデプス計測ができない場合や、図２２に示すようなデプスセンサの有効計測範囲を超えた位置に立体シンボルがあり、その立体シンボルのデプス計測ができない場合に計測点が欠落する。
【０１５２】
デプス列取得部２３０は、具体的には、計測点の補間をするため、まず全ての計測点間の距離の平均値ｑを計算する。次に、隣接する計測点間の各々の距離を取得する。そして、隣接する計測点間の各々について、当該計測点間の距離が２ｑ以上かを判別し、２ｑ未満ならば補間をせずに処理を終了し、２ｑ以上であれば、図２３に示すように、当該計測点間を直線分で結び、その直線分を（距離／ｑ）等分に分割し、分割点を補間すべき計測点として加えることで、当該計測点間に計測点を補間する。なお、補間した計測点の距離値には、前後の計測点について計算された距離値の平均値を割り当てればよい。
【０１５３】
なお、第３の実施の形態に係るシンボル構成装置及び符号検出装置の他の構成については、第１の実施の形態と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１５４】
＜第３の実施の形態に係るシンボル構成装置の作用＞
【０１５５】
次に、本発明の第３の実施の形態に係るシンボル構成装置１００の作用について説明する。入力部１０において立体シンボルを形成する物体の３次元形状及び当該物体を識別するための任意の符号列を受け付けると、シンボル構成装置１００は、上記図１３に示すシンボル構成処理ルーチンと同様の処理ルーチンを実行する。
【０１５６】
＜第３の実施の形態に係る符号検出装置の作用＞
【０１５７】
次に、本発明の第３の実施の形態に係る符号検出装置２００の作用について説明する。
【０１５８】
まず、立体シンボルが物体表面に配置された物体に対して、デプスセンサを一次元走査して、各計測点までの距離を計測する。そして、入力部２１０において物体表面に対してデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測結果を受け付けると、符号検出装置２００は、上記図１４に示す符号検出処理ルーチンを実行する。なお、第３の実施の形態に係る符号検出装置の作用について、第１の実施の形態と同様の作用となる部分については、同一符号を付して説明を省略する。
【０１５９】
ステップＳ２００では、物体表面に対してデプスセンサを一次元走査することにより計測された計測点を補間すると共に、計測点の各々について、当該計測点の距離と周辺の計測点の距離の移動平均との差による距離値を計算し、計測点の各々について計算された距離値からなるデプス列を取得する。
【０１６０】
上記ステップＳ２００における計測点の補間は、図２４に示す補間処理ルーチンによって実行される。
【０１６１】
補間処理ルーチンでは、まず、ステップＳ１４００において、隣接する全ての計測点間の距離の平均値ｑを計算する。
【０１６２】
ステップＳ１４０２では、隣接する計測点間の距離を取得する。
【０１６３】
ステップＳ１４０４では、ステップＳ１４０２で取得された当該計測点間について、当該計測点間の距離が２ｑ以上かを判別し、２ｑ未満ならばステップＳ１４０８へ移行し、２ｑ以上であればステップＳ１４０６へ移行する。
【０１６４】
ステップＳ１４０６では、ステップＳ１４０４で２ｑ以上と判別された当該計測点間を直線分で結び、その直線分を（距離／ｑ）等分に分割し、分割点に補間すべき計測点を加えることで、当該計測点間に計測点を補間する。
【０１６５】
そして、ステップＳ１４０８で、隣接する全ての計測点間について、上記ステップＳ１４０２〜Ｓ１４０６の処理を終了したかを判定し、終了していなければステップＳ１４０２へ戻って、次の隣接する計測点間の距離を取得する。一方、隣接する全ての計測点間について上記ステップＳ１４０２〜Ｓ１４０６の処理を終了していれば補間処理を終了する。
【０１６６】
なお、第３の実施の形態に係る符号検出装置の他の作用については、第１の実施の形態と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【０１６７】
以上説明したように、本発明の第３の実施の形態に係る符号検出装置によれば、計測点を補間することにより、物体表面が平面でない場合であっても、物体表面に配置された立体シンボルから符号列を得ることができる。
【０１６８】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や応用が可能である。
【０１６９】
例えば、上述した実施の形態では、シンボル構成装置において、任意の符号列に対して直接スペクトル拡散を行って符号列を生成しているが、これに限定されるものではなく、任意の符号列に対して誤り訂正符号化を行って符号列を生成してもよい。この場合には、符号検出装置において、スペクトラム逆拡散を行って符号列を得るのではなく、誤り訂正復号を行って符号列を得るようにすればよい。また、誤り訂正符号化及び誤り訂正復号以外の変調・復調が可能な方法を用いる構成としてもよいことは勿論である。
【０１７０】
また、上記第３の実施の形態では、符号検出装置において、デプスセンサを一次元走査することにより計測された計測結果に対して計測点の補間を行っているが、これに限定されるものではなく、第２の実施の形態と同様に、デプスセンサを二次元走査することにより計測された計測結果に対して、計測点の補間を行うようにしてもよい。
【０１７１】
また、上述した実施の形態では、符号検出装置において、２種類の符号を、｛−１，１｝とし、特定の符号を０として、符号列又は符号行列を生成する場合を例に説明したが、これに限定されるものではなく、２種類の符号及び特定の符号として、どのような符号を用いてもよい。
【０１７２】
また、上述した実施の形態では、造形装置が、３次元プリンタである場合を例に説明したが、これに限定されるものではなく、物体表面上に立体シンボルを形成した物体を造形できる造形装置であれば、他の造形装置であってもよいことは勿論である。
【符号の説明】
【０１７３】
１０、２１０、３１０ 入力部
２０、２２０  演算部
３０   符号化部
３２   シンボル構成部
５０   造形装置
１００ シンボル構成装置
２００、３００       符号検出装置
２３０ デプス列取得部
２３２ 閾値同定部
２３４ 割当部
２３６ 符号列取得部
２３８ 逆拡散部
２５０ 出力部
３３０ デプス面取得部
３４０ 直線群検出部
３４２ 直線方向選出部
３４４ 走査方向取得部
【図１】
2016075987.tif 000005
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
2016075987.tif 000021
【図１８】
2016075987.tif 000022
【図１９】
2016075987.tif 000023
【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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