(57)【要約】【課題】ＳＱＵＩＤセンサを使用して容易に二次電池の短絡の有無を判定することを可能にする二次電池の検査方法を提供すること。【解決手段】検査装置１の二次電池１１の検査方法は、二次電池１１の電池電圧値がＶ１である際の磁場強度Ｂ０と、電池電圧値がＶ２である際の磁場強度Ｂ１と、をＳＱＵＩＤセンサ１５で測定し、磁場強度Ｂ０と磁場強度Ｂ１とを比較することで二次電池１１の短絡の有無を判定する。ＳＱＵＩＤセンサ１５の磁場強度の測定において、ある所定区間の測定データにノイズが生じたか否かを、その前後の所定区間における測定データの平均値同士の差分、又は、ある所定区間における測定データの標準偏差と、その前又は後の所定区間における測定データの標準偏差との比率に基づいて判定する。ノイズが生じたと判定された場合に、前の所定区間の平均値と後の所定区間の平均値との差分を、測定値に加算する補正を行う。【選択図】図１
2016197054.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
二次電池の電池電圧値が第１の値である際に前記二次電池により生じる磁場の第１の磁場強度と、前記電池電圧値が前記第１の値と異なる第２の値である際に前記二次電池により生じる磁場の第２の磁場強度と、をＳＱＵＩＤセンサで測定し、
前記第１の磁場強度と前記第２の磁場強度とを比較することで前記二次電池の短絡の有無を判定し、
前記ＳＱＵＩＤセンサの前記第１及び第２の磁場強度の測定において、
前記第１及び第２の磁場強度の測定データの所定区間毎に、前記測定データの平均値又は標準偏差を算出し、
ある所定区間の前記測定データにノイズが生じたか否かを、前記ある所定区間の前の所定区間における前記平均値と、前記ある所定区間の後の所定区間における前記平均値との差分、又は、前記ある所定区間における前記標準偏差と、前記ある所定区間の前又は後の所定区間における前記標準偏差との比率に基づいて判定し、
ノイズが生じたと判定された場合に、前記差分を前記測定データの測定値に加算する補正を行う、
検査装置の二次電池の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は二次電池の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
二次電池の性能を調べるために、二次電池の内部の電流分布を計測する技術が開示されている。
【０００３】
例えば、特許文献１では、リチウムイオン二次電池（以下、単にリチウムイオン電池と記載）から発生する磁場強度を計測することにより、リチウムイオン電池内の電流分布を算出する磁気計測装置が開示されている。具体的に、この装置では、リチウムイオン電池が充電又は放電中の際にリチウムイオン電池から発生する磁場強度を複数の磁気センサで計測すると共に、リチウムイオン電池が充電又は放電されていない際にリチウムイオン電池から発生する磁場強度を複数の磁気センサで計測する。そして、装置は、計測した両方の磁場強度の差分に基づいて、リチウムイオン電池内の電流分布を算出する。なお、この装置は、リチウムイオン電池の充電又は放電前に、各磁気センサで測定される磁場強度と逆相の磁場強度を、各磁気センサの周囲にそれぞれ配置したキャンセルコイルに発生させることで、磁気センサの測定データ中の磁気ノイズを低減させている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−０５４９８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
二次電池の検査において、二次電池内部の短絡を検出することは、二次電池の性能を保証するために極めて重要である。二次電池内部に短絡がある場合とない場合とでは、二次電池内部に流れる電流の量が異なるため、二次電池周辺に発生する磁場の強度が異なる。従って、二次電池周辺に発生する磁場強度を検出することで、原理的には、二次電池内部の短絡を検出することができる。
【０００６】
しかしながら、短絡の有無によって生ずる二次電池周辺の磁場強度の違いは微小であるため、二次電池内部に存在する短絡を二次電池外部の磁気センサで検出しようとすると、検出に使用する磁気センサには、ＳＱＵＩＤ（Superconducting Quantum Interference Device）センサのような感度の高いものが要求される。
【０００７】
上述の通り、引用文献１に係る磁気計測装置の磁気センサは、リチウムイオン電池の充電又は放電中に発生する磁場強度を計測することを目的としている。この充放電電流は、短絡部を流れる電流と比べて極めて大きいため、計測に際して、ＳＱＵＩＤセンサのような感度の高いセンサは用いられない。従って、引用文献１に係る磁気計測装置の磁気センサでは、二次電池内部の短絡を検出することができない。
【０００８】
仮に、引用文献１に係る磁気計測装置の磁気センサとしてＳＱＵＩＤセンサを用いるとすると、ＳＱＵＩＤセンサの特性上、測定データに突発的なノイズが生じると、センサ出力値が元に戻らないため、対策が必要となる。しかしながら、引用文献１に係る磁気計測装置では、そのようなノイズをキャンセルする処理はなされていない。従って、測定データに突発的なノイズが生じた場合には、ＳＱＵＩＤセンサの測定データが不正確なものとなってしまい、正確な測定データを得るためにデータの再測定が必要になってしまう。
【０００９】
本発明に係る二次電池の検査方法は、ＳＱＵＩＤセンサを使用して容易に二次電池の短絡の有無を判定することを可能にするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明にかかる検査装置の二次電池の検査方法では、二次電池の電池電圧値が第１の値である際に前記二次電池により生じる磁場の第１の磁場強度と、前記電池電圧値が前記第１の値と異なる第２の値である際に前記二次電池により生じる磁場の第２の磁場強度と、をＳＱＵＩＤセンサで測定し、前記第１の磁場強度と前記第２の磁場強度とを比較することで二次電池の短絡の有無を判定する。ここで、前記ＳＱＵＩＤセンサの前記第１及び第２の磁場強度の測定において、前記第１及び第２の磁場強度の測定データの所定区間毎に、前記測定データの平均値又は標準偏差を算出し、ある所定区間の前記測定データにノイズが生じたか否かを、前記ある所定区間の前の所定区間における前記平均値と、前記ある所定区間の後の所定区間における前記平均値との差分、又は、前記ある所定区間における前記標準偏差と、前記ある所定区間の前又は後の所定区間における前記標準偏差との比率に基づいて判定する。ノイズが生じたと判定された場合には、前記差分を前記測定データの測定値に加算する補正を行う。
【００１１】
この方法では、所定区間において測定データにノイズが生じたことを判定できる。さらに、ノイズが生じた場合には、前の所定区間の測定データの平均値と後の所定区間の測定データの平均値との差分（即ちノイズにより生じた差分）を測定データの測定値に加算するため、ノイズによる影響をキャンセルして、測定データを正確な値にすることができる。従って、測定データにノイズが生じた場合でも、データの再測定の必要がなく、測定データをそのまま用いて二次電池の短絡の有無を判定することができる。そのため、容易に二次電池の短絡の有無を判定することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明により、ＳＱＵＩＤセンサを使用して容易に二次電池の短絡の有無を判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態１にかかる検査装置の模式図である。
【図２】ＳＱＵＩＤセンサに二次電池を近接させる方法を示したフローチャートである。
【図３】ＳＱＵＩＤセンサに二次電池を近接させた後の検査装置の模式図である。
【図４】ＳＱＵＩＤセンサの測定した磁場強度の一例、コイル電源の出力電流の一例、二次電池の充放電電流の一例をそれぞれ示したグラフである。
【図５】測定装置の測定データの処理を示したフローチャートである。
【図６】ＳＱＵＩＤセンサの測定データの一例を示したグラフである。
【図７】ＳＱＵＩＤセンサの出力幅の一例を示したグラフである。
【図８】補正を行わなかった場合のＳＱＵＩＤセンサの測定データの一例を示したグラフである。
【図９】補正を行った場合のＳＱＵＩＤセンサの測定データの一例を示したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１に示すように、検査装置１は、二次電池１１内部の短絡の有無を判定する装置であって、充放電装置１２と、磁場補正コイル１３と、コイル電源１４と、ＳＱＵＩＤセンサ１５と、測定装置１６とを備える。なお、磁場補正コイル１３、ＳＱＵＩＤセンサ１５は、磁気シールドＭ内に配置されている。磁気シールドＭは、ＳＱＵＩＤセンサ１５による磁場測定の際に、外部からのノイズの影響を抑制するものである。
【００１５】
検査装置１の検査対象となる二次電池１１は、例えばリチウムイオン電池であるが、これに限定されるものではない。二次電池１１は、充電又は放電用に、正極端子１１Ａと負極端子１１Ｂとを備える。なお、二次電池１１は、ＳＱＵＩＤセンサ１５による磁場強度の測定前には、ＳＱＵＩＤセンサ１５と離れた位置Ｌ１に配置されている。なお、位置Ｌ１は、実施の形態では磁気シールドＭの内部にあるが、外部にあってもよい。
【００１６】
充放電装置１２は、正極端子１１Ａとはリード線１２Ａで、負極端子１１Ｂとはリード線１２Ｂでそれぞれ接続される。充放電装置１２は、自身を介して、負極端子１１Ｂから正極端子１１Ａ（又は正極端子１１Ａから負極端子１１Ｂ）に電流を流させることで、二次電池１１に充電又は放電を実行させる。なお、以降では、充電又は放電のことを充放電とも記載する。
【００１７】
磁場補正コイル１３は、ＳＱＵＩＤセンサ１５で計測される磁場強度のノイズ（電池自身の残留磁場等）をキャンセルするためのコイルであり、コイル電源１４から出力される電流によって、ノイズを補正するための補正磁場を生成する。
【００１８】
ＳＱＵＩＤセンサ１５は、二次電池１１によって生成される磁場の磁場強度を測定し、磁場強度の測定データ（即ち出力電圧）を測定装置１６に出力する。測定装置１６は、測定データを解析し、測定データ中にノイズが生じたか否かを判定する。
【００１９】
以下、検査装置１の測定方法について説明する。二次電池１１の短絡の有無を判定するためには、ＳＱＵＩＤセンサ１５に二次電池１１を近接させることで、二次電池１１により生じる磁場の磁場強度の微小な変化をＳＱＵＩＤセンサ１５が検出できるようにする必要がある。従って、ＳＱＵＩＤセンサ１５に二次電池１１を近接させることを最初に行う。ただし、二次電池１１はＳＱＵＩＤセンサ１５の上限感度を振り切る程度の残留磁場を有するため、次に示すような特別な方法で、センサ距離を近づける必要がある。
【００２０】
図２は、ＳＱＵＩＤセンサ１５に二次電池１１を近接させる方法を示したフローチャートである。以下、ＳＱＵＩＤセンサ１５への二次電池１１の近接方法について説明する。
【００２１】
まず、検査者は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力（感度）が振り切らない位置Ｌ１に、二次電池１１を配置する（ステップＳ１）。
【００２２】
二次電池１１は、充放電を行っていない場合でも、残留磁場を有している。従って、二次電池１１の磁場測定開始前から、二次電池１１をＳＱＵＩＤセンサ１５に近接した場所に配置してしまうと、二次電池１１の残留磁場によってＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切れてしまう。これを抑制するため、図１に示す通り、二次電池１１の磁場測定開始前には、二次電池１１を、二次電池１１の残留磁場によってＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切れないような、ＳＱＵＩＤセンサ１５と離れた位置Ｌ１に配置している。
【００２３】
次に、検査者は、二次電池１１を、ＳＱＵＩＤセンサ１５に近づける方向（図１における方向Ｈ）に微小量だけ移動させることで、二次電池１１をＳＱＵＩＤセンサ１５に近づける（ステップＳ２）。
【００２４】
二次電池１１を移動させる方法は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切らない方法であれば、いかなる方法でもよい。例えば、二次電池１１に予め紐の一端を取りつけておき、磁気シールドＭの外側に紐の他端を置いて、磁気シールドＭの外側から手動又はステッピングモータで紐の他端を引っ張ることで、二次電池１１を移動させてもよい。
【００２５】
ここで、二次電池１１の単位時間当たりの移動量は、予め測定された「二次電池１１の移動量とＳＱＵＩＤセンサ１５の測定データの変化量との関係」に基づいて設定される。例えば、移動前と移動後でのＳＱＵＩＤセンサ１５の測定データの変化量が、測定データのフルレンジの１／１０程度の量であるように、単位時間当たりの移動量が設定されてもよい。
【００２６】
測定装置１６は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力値が、予め設定された規定範囲内にあるか否かを判定する（ステップＳ３）。具体的に、測定装置１６は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の測定データのある瞬間の測定値（瞬間値）を選択、又は、所定の時間幅における測定データの平均値を算出して、その値が、予め設定された閾値で定義された規定範囲内にあるか否かを判定する。この規定範囲は、二次電池１１を移動し続けても、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切れることがないと想定される範囲である。
【００２７】
ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力値が規定範囲内にない場合（ステップＳ３のＮｏ）、コイル電源１４から磁場補正コイル１３に電流を流すことで、磁場補正コイル１３から補正磁場を発生させる。補正磁場を発生させることで、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力値を規定範囲内に収めることができる（ステップＳ４）。
【００２８】
ここで、発生する補正磁場（換言すれば、コイル電源１４の出力電流）は、一例として、「コイル電源１４の出力電流とＳＱＵＩＤセンサ１５の出力との関係」と、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力値と規定範囲の上限との差分とに基づいて設定される。あるいは、コイル電源１４の出力電流を０から少しずつ増加させながら、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力を測定装置１６でモニタリングし、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が設定された規定範囲内に収まるまで、コイル電源１４の出力電流を増加させるようにしてもよい。なお、コイル電源１４の出力電流の制御は、手動でなされてもよいし、測定装置１６がコイル電源１４を制御することにより自動でなされてもよい。
【００２９】
ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力値が規定範囲内にある場合（ステップＳ３のＹｅｓ）、検査者は、二次電池１１が目標位置である位置Ｌ２にあるか否かを判定する（ステップＳ５）。位置Ｌ２は、磁気シールドＭの内部にあり、ＳＱＵＩＤセンサ１５に近接した位置である。ＳＱＵＩＤセンサ１５が精度良く二次電池１１の短絡を検出するためには、位置Ｌ２は、ＳＱＵＩＤセンサ１５に最も近接した位置であることが好ましい。例えば、二次電池１１が平面上を移動し、当該平面の上部にＳＱＵＩＤセンサ１５が設けられている場合には、ＳＱＵＩＤセンサ１５の真下に二次電池１１を配置するのが好ましい。
【００３０】
二次電池１１が位置Ｌ２にあるか否かは、以下のようにして判定できる。上述の通り、紐を引っ張ることで二次電池１１を移動させる場合には、移動開始以降に引っ張った紐の全長を測定し、その全長が位置Ｌ１から位置Ｌ２までの距離と等しい場合に、二次電池１１が位置Ｌ２にあると判定してもよい。また、二次電池１１が位置Ｌ２にまで到達した際に引っ張り側で視認できるような印を紐につけておき、紐を引っ張った際に引っ張り側で印が視認できたときに、二次電池１１が位置Ｌ２にあると判定してもよい。また、位置Ｌ２（例えばＳＱＵＩＤセンサ１５の直下）にストッパーを設けておき、二次電池１１が位置Ｌ２に到達したときに、紐を引っ張っても、ストッパーにより二次電池１１が位置Ｌ２から動かないようにしてもよい。
【００３１】
あるいは、磁気シールドＭに窓を設けたり、磁気シールドＭ内部にカメラを取付けたりすることによって、磁気シールドＭ内部を直接視認できるようにしてもよい。このように、検査者が磁気シールドＭ内部を直接視認することで、二次電池１１が位置Ｌ２にあるか否かを判定できる。
【００３２】
二次電池１１が位置Ｌ２にない場合（ステップＳ５のＮｏ）、検査者は、ステップＳ２に戻ってフローの処理を実行する。二次電池１１が位置Ｌ２にある場合（ステップＳ５のＹｅｓ）、二次電池１１の移動はそこで終了する。図３に示すように、二次電池１１は、図２のフローチャートの終了後、位置Ｌ２に到達する。
【００３３】
次に、図３に示した状態で、二次電池１１の短絡をＳＱＵＩＤセンサ１５で実際に検出する方法について説明する。図４は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の測定した磁場強度（ａ）、コイル電源１４の出力電流（ｂ）、二次電池１１の充放電電流（ｃ）のそれぞれの時間変化を示したグラフである。図４を参照しながら、二次電池１１の短絡の検出方法について説明する。
【００３４】
図４の（１）の期間は、二次電池１１を位置Ｌ１に配置している期間である。このとき、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力（測定した磁場強度）は、ノイズ等により変化し得るが、磁コイル電源１４の出力電流、二次電池１１の充放電電流は０のままである。
【００３５】
図４の（２）の期間では、上述の通り、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切らないような方法で、二次電池１１は位置Ｌ１から位置Ｌ２に移動される。このとき、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力は時間に応じて変化し、磁場補正コイル１３の出力電流は図２に示したステップＳ３の判定結果に応じて変化するが、二次電池１１の充放電はまだ行っていないため、二次電池１１の充放電電流は０のままである。
【００３６】
図４の（３）の期間では、二次電池１１の充放電を実行する前に、二次電池１１の充放電電流は０の状態で、ＳＱＵＩＤセンサ１５は磁場強度を測定する。ここで測定された磁場強度をＢ０とし、磁場強度Ｂ０を測定したときの電池電圧値をＶ０とする。なお、ここで測定する磁場強度及び電池電圧値は、磁場強度及び電池電圧値のそれぞれの瞬間値でもよいし、（３）の所定区間内の磁場強度及び電池電圧値のそれぞれの平均値であってもよい。
【００３７】
図４の（４）の期間では、二次電池１１の充放電を実行し、二次電池１１の電池電圧をＶ０から変更する。ここで、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切らないように、必要に応じて、補正磁場の強度（即ち、コイル電源１４の出力電流）を調整する。このコイル電源１４の出力電流の制御方法は、上述と同様であるため、説明を省略する。
【００３８】
図４の（５）の期間は、二次電池１１の充放電が終了したときであり、この期間において、ＳＱＵＩＤセンサ１５は再度磁場強度を測定する。二次電池１１の充放電が終了したため、二次電池１１の充放電電流は０である。ここでは、測定された磁場強度をＢ１とし、磁場強度Ｂ１を測定したときの電池電圧値をＶ１とする。二次電池１１の充放電が行われたため、Ｖ１はＶ０と異なる値である。ここで測定する磁場強度及び電池電圧値は、（３）の期間における測定と同様、磁場強度及び電池電圧値のそれぞれの瞬間値でもよいし、（５）の所定区間内の磁場強度及び電池電圧値のそれぞれの平均値であってもよい。なお、期間（３）〜（５）を通して、ＳＱＵＩＤセンサ１５の測定データに影響を与えないようにするため、二次電池１１及びＳＱＵＩＤセンサ１５は動かさないようにする。
【００３９】
測定装置１６は、磁場強度Ｂ０と磁場強度Ｂ１とを比較する。測定装置１６は、磁場強度Ｂ０と磁場強度Ｂ１とが異なる値であれば、二次電池１１内部に短絡が存在すると判定し、磁場強度Ｂ０と磁場強度Ｂ１とが同じ値（又は実質的に同じとみなせる値）であれば、二次電池１１内部に短絡が存在しないと判定する。二次電池１１内部に短絡が存在する場合、電池電圧値がＶ０とＶ１との場合では、二次電池１１内に流れる電流量がそれぞれ異なるため、二次電池１１により生じる磁場強度がそれぞれ異なる。従って、磁場強度Ｂ０と磁場強度Ｂ１とが異なる値であれば、二次電池１１内部に短絡が存在すると判定することができる。
【００４０】
図４では、磁場強度Ｂ０と磁場強度Ｂ１とは同じ値でなく、Ｂ０とＢ１とではΔＢだけの差分がある。従って、測定装置１６は、測定した二次電池１１内部に短絡が存在すると判定する。
【００４１】
ここで、測定装置１６は、図４の期間（１）〜（５）にわたるＳＱＵＩＤセンサ１５の磁場強度の測定において、図５に示すようなノイズの補正処理を実行する。以下、図５のフローチャートを参照して、測定データに係る補正処理を説明する。なお、測定装置１６は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の磁場強度の測定終了後（図４の期間（５）の後）に、測定データを解析して以下の補正処理を実行してもよい。又は、ＳＱＵＩＤセンサ１５が出力した測定データをその場で（リアルタイムに）解析して、以下の補正処理を実行してもよい。
【００４２】
まず、測定装置１６は、測定データにおいてノイズ判定の対象における複数の所定区間の幅を設定する（ステップＳ１１）。この区間幅は、サンプリングレート等に応じて、時間幅やデータ点数を用いて設定される。
【００４３】
次に、測定装置１６は、必要区間の測定データを読み込む（ステップＳ１２）。測定装置１６は、必要区間として、ある所定区間（１回の処理において、ノイズが生じたか否かを判定する対象区間）の測定データと、対象区間の前の所定区間の測定データと、後の所定区間の測定データとを読み込む。以下、「対象区間の前の所定区間」、「対象区間の後ろの所定区間」を、それぞれ「前の所定区間」、「後の所定区間」と記載する。
【００４４】
測定装置１６は、読み込んだ必要区間の測定データに基づき、対象区間の測定データの平均値と、前の所定区間の測定データの平均値と、後の所定区間の測定データの平均値とを算出する（ステップＳ１３）。又は、測定装置１６は、読み込んだ必要区間の測定データに基づき、対象区間の測定データの標準偏差と、前の所定区間の測定データの標準偏差と、後の所定区間の測定データの標準偏差とを算出してもよい。測定装置１６は、ステップＳ１３において、対象区間、前の所定区間、後の所定区間について、平均値、標準偏差のいずれか一方のみを算出してもよいし、その両方を算出してもよい。
【００４５】
測定装置１６は、前の所定区間の平均値と後の所定区間の平均値との差分ΔＶを算出し、ΔＶが所定の閾値よりも大きいか否かを判定する。例えば、図６に示すように、対象区間Ｔにおいて、測定データにΔＶの変化が生じている場合、測定装置１６は、前の所定区間Ｓ１の平均値であるＡｖｅ（ｌｅａｄ）と、後の所定区間Ｓ２の平均値であるＡｖｅ（ｔｒａｉｌ）とを比較する（即ち、Ａｖｅ（ｌｅａｄ）からＡｖｅ（ｔｒａｉｌ）を減算する）ことで、ΔＶを算出する。
【００４６】
図５に戻り、説明を続ける。測定装置１６は、ΔＶが所定の閾値よりも大きい場合に、対象区間にノイズが発生したと判定し、ΔＶが所定の閾値以下であるときには、対象区間にノイズが発生していないと判定する（ステップＳ１４）。
【００４７】
又は、ステップＳ１４において、測定装置１６は、対象区間の標準偏差と、前の所定区間の標準偏差又は後の所定区間の標準偏差とを比較し、対象区間の標準偏差が、前の所定区間の標準偏差又は後の所定区間の標準偏差の指定倍率を超えて大きいか否かを判定してもよい。測定装置１６は、対象区間の標準偏差が、前の所定区間の標準偏差又は後の所定区間の標準偏差の指定倍率を超えて大きい場合に、対象区間にノイズが発生したと判定する。逆に、対象区間の標準偏差が、前の所定区間の標準偏差又は後の所定区間の標準偏差の指定倍率以下である場合には、対象区間にノイズが発生していないと判定する。換言すれば、測定装置１６は、対象区間における標準偏差と、対象区間の前又は後の所定区間における標準偏差との比率に基づいて、対象区間のノイズの有無を判定する。なお、ステップＳ１４で判定に用いられる平均値又は標準偏差は、ステップＳ１３にて算出されたものである。
【００４８】
測定装置１６は、対象区間にノイズが発生したと判定した場合に（ステップＳ１４のＹｅｓ）、上述の差分ΔＶを対象区間以降の全測定データに加算する（ステップＳ１５）。なお、測定装置１６は、ステップＳ１４でΔＶを算出していなかった場合には、ステップＳ１５にてΔＶを算出して、算出したΔＶを対象区間以降の全測定データに加算する。このようにして、測定装置１６は、測定データにおいてノイズをキャンセルする処理を実行する。
【００４９】
対象区間にノイズが発生していない場合（ステップＳ１４のＮｏ）、又はΔＶを対象区間以降の全測定データに加算後、測定装置１６は、判定対象となる全データの解析が終了したか否かを判定する（ステップＳ１６）。全データの解析が終了していない場合には（ステップＳ１６のＮｏ）、測定装置１６は、「後の所定区間」を、次の「対象区間」に設定して、ステップＳ１２以降の処理を再度実行する。全データの解析が終了した場合には（ステップＳ１６のＹｅｓ）、測定装置１６は、ノイズの補正処理を終了する。なお、測定装置１６が、ＳＱＵＩＤセンサ１５が出力した測定データをリアルタイムに解析している場合は、測定装置１６は、ＳＱＵＩＤセンサ１５の測定が終了した場合に、ノイズの補正処理を終了する。
【００５０】
以上のようにして、実施の形態では、ＳＱＵＩＤセンサ１５で二次電池１１の短絡の有無を判定することができる。
【００５１】
具体的には、二次電池１１を測定の最初から位置Ｌ２に配置せず、ＳＱＵＩＤセンサ１５から遠い位置Ｌ１に配置した後、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が振り切らないように二次電池１１を位置Ｌ２に移動させている。
【００５２】
図７は、二次電池１１を充放電前から位置Ｌ２に配置した場合のＳＱＵＩＤセンサ１５の出力幅（図７（ａ））と、実施形態に示した通りに二次電池１１を位置Ｌ２に配置した場合のＳＱＵＩＤセンサ１５の出力幅（図７（ｂ））とを示したグラフである。
【００５３】
まず、図７（ａ）について説明する。二次電池１１は、充放電前から位置Ｌ２に配置されており、その残留磁場がＳＱＵＩＤセンサ１５に強く影響するため、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が一旦振り切れてしまう（飽和してしまう）。図７（ａ）に係るＳＱＵＩＤセンサ１５では、磁場補正コイル１３の補正磁場により、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力は検出感度内に収まっているものの、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が一旦振り切れてしまっているため、元の状態と比較して、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力幅が狭くなってしまっている。具体的には、磁場強度Ｃ１（３．０×１０＾（−９）［Ｔ］）のときのセンサ出力Ｄ１が、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力の限度である。磁場強度をＣ１からさらに増大させても、ＳＱＵＩＤセンサ１５のセンサ出力はＤ１から上がらない。
【００５４】
これに対し、図７（ｂ）では、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力が一回も振り切っていないため、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力幅が元のままに保たれている。つまり、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力は、飽和せず、通常の状態である。具体的には、磁場強度Ｃ２（Ｃ２は５．０×１０＾（−９）［Ｔ］であって、Ｃ２＞Ｃ１）のときのセンサ出力Ｄ２（＞Ｄ１）が、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力の限度である。このため、磁場強度Ｃ１からＣ２までの領域（ｉ）が、本発明に係る二次電池１１の移動方法によって新たに測定可能となる。
【００５５】
上述の方法で、二次電池１１の残留磁場を磁場補正コイル１３により生じた補正磁場で打ち消す事で、ＳＱＵＩＤセンサ１５の出力幅を元のままに保ったまま、二次電池１１とＳＱＵＩＤセンサ１５との距離を近づける事ができる。
【００５６】
また、測定装置１６は、対象区間の測定データにノイズが生じたか否かを、対象区間の前の所定区間における測定データの平均値と、対象区間の後の所定区間における測定データの平均値との差分、又は、対象区間における測定データの標準偏差と、対象区間の前又は後の所定区間における測定データの標準偏差との比率に基づいて判定している。そして、ノイズが生じた場合に、前の所定区間の測定データの平均値と後の所定区間の測定データの平均値との差分（即ちノイズにより生じた差分）を、測定データの測定値に加算する補正を行う。これにより、所定区間において測定データに突発性のノイズ（例えばスパイクノイズといった超高周波のノイズ）が生じた場合でも、測定装置１６は、そのノイズの存在を判定することができる。さらに、ノイズにより生じた差分を測定データの測定値に加算するため、ノイズによる影響をキャンセルして、測定データを正確な値にすることができる。
【００５７】
図８は、上述の補正を行わなかった場合のＳＱＵＩＤセンサ１５の測定データの一例を示したグラフである。図８では、測定データのノイズが領域（ｉｉ）において示されている。磁気シールドＭによって除去しきれない、このような突発的なノイズを測定してしまった場合、時間経過に伴いノイズが解消し、実際の測定磁場の強度が以前の値に戻っても、ＳＱＵＩＤセンサ１５は、図８に示されるように、ノイズの影響が残った不正確な測定データを出力してしまう。
【００５８】
図９は、上述の補正を行った場合のＳＱＵＩＤセンサ１５の測定データの一例を示したグラフである。図９に示すように、測定データでは、図８の領域（ｉｉ）に示したノイズの影響がキャンセルされている。
【００５９】
従って、検査装置１を用いることで、測定データにノイズが生じた場合でも、再測定の必要がなく、測定データをそのまま用いて二次電池の短絡の有無を判定することができる。そのため、容易に二次電池の短絡の有無を判定することができる。
【００６０】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
【符号の説明】
【００６１】
１  検査装置
１１  二次電池
１２  充放電装置
１３  磁場補正コイル
１４  コイル電源
１５  ＳＱＵＩＤセンサ
１６  測定装置
【図１】
2016197054.tif 000003
【図２】
2016197054.tif 000004
【図３】
2016197054.tif 000005
【図４】
2016197054.tif 000006
【図５】
2016197054.tif 000007
【図６】
2016197054.tif 000008
【図７】
2016197054.tif 000009
【図８】
2016197054.tif 000010
【図９】
2016197054.tif 000011