(57)【要約】      （修正有）【課題】ローパスフィルタを備えピント調整機構を有しない測光装置において、ピント変化が生じた場合においても、高精度な被写体認識が可能な測光装置を提供する。【解決手段】撮影レンズを通過した被写体光束が、フォーカシングスクリーンに形成された被写体像を観察するためのファインダ光学系と、フォーカシングスクリーン上の被写体像を、ファインダの光路とは異なる光路に二次結像させ測光を行う測光装置と、測光装置はフォーカシングスクリーン上の被写体像の光束を複数領域に分割し、輝度に関する複数の測光情報を出力する測光センサと、測光センサにフォーカシングスクリーン上の被写体像を結像させる測光レンズと、測光センサの出力を用いて被写体の色および形状認識を行う被写体認識手段と、空間周波数制限効果が可変なローパスフィルタと、温度計とを備え、温度計の出力に応じてローパスフィルタの空間周波数制限効果を変化させる。【選択図】図１
2016173437.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影レンズ（１０２）を通過した被写体光束が、一次結像面上に配置されたフォーカシングスクリーン（１０８）に結像することで形成された被写体像を観察するためのファインダ光学系と、前記フォーカシングスクリーン上に形成された前記被写体像を、前記ファインダの光路とは異なる光路に二次結像させ測光を行う測光装置（１１０）と、前記測光装置は前記フォーカシングスクリーン上に形成された前記被写体像の光束を複数領域に分割し、前記被写体像の輝度に関する複数の測光情報を出力する測光センサ（１１７）と、前記測光センサに前記フォーカシングスクリーン上に形成された前記被写体像を結像させる測光レンズ（１１５）と、前記測光センサの出力を用いて被写体の色および形状認識を行う被写体認識手段と、空間周波数制限効果が可変なローパスフィルタ（１１６）と、温度計とを備え、前記温度計の出力に応じて前記ローパスフィルタの空間周波数制限効果を変化させることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記ローパスフィルタは、前記被写体認識手段において色情報を使用する場合のみにおいて、空間周波数制限効果を付与することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被写体の輝度を測定する測光装置に関し、特に被写体検知および色検知が可能な測光装置において、偽色の影響を低減させるためにローパスフィルタを備えた測光装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、一眼レフカメラの測光は、フォーカシングスクリーン上に結像している被写体像の明るさを、測光レンズを介して、ペンタプリズム周辺に設置された測光センサにて測光している。近年、上記測光センサに撮像センサとは別にＣＣＤなどのイメージセンサを使用し、フォーカシングスクリーンに結像している被写体像を取り込み、取り込んだ像の形状や色を判別することで、被写体認識・色検知を行い、機能向上を図った測光装置がある。通常、イメージセンサは、被写体像の空間周波数がイメージセンサのナイキスト周波数以上のレスポンスを持つ場合、偽色が発生し、正しい色をセンサ上で認識できなくなる可能性がある。
【０００３】
測光センサにイメージセンサを使用した場合、被写体認識を行うため測光レンズにも高い空間周波数レスポンスが要求されるため、撮像素子同様に偽色が発生する可能性がある。測光センサにおいて偽色が発生した場合、正しく被写体の色を認識することができず、誤検知を起こす懸念がある。そのため、撮像装置に使用されているＣＭＯＳなどの撮像素子は、偽色の発生を抑えるために結像光路中に光学ローパスフィルタを配置する、または撮像後の画像処理によりデジタルローパスフィルタをかけるなどの処理を行っている。
【０００４】
ローパスフィルタは、レンズの空間周波数レスポンスを制限し被写体像の高い空間周波数成分を抑えることにより、偽色の発生を抑制しているが、被写体像の解像力が低下し画質の低下が生じる。通常の撮像装置は被写体に対しピント調整を行い、常にピントピークの位置にて撮影を行うため、ローパスフィルタによる画質低下は実用上問題のない程度である。しかし、前述の測光装置は撮像装置の小型化、ローコスト化の観点から、ピント調整機構を実装することが困難である。
【０００５】
しかしながら、環境温度が変化することで測光装置の温度も変化すると、レンズのピントずれが発生し、ピントの調整ができないため測光センサに結像する被写体の解像力は低下する。そのため、レンズのピントずれが生じた場合、レンズのピントずれによる解像力の低下に、ローパスフィルタ効果による解像力の低下も加味され、被写体認識に必要な解像力を得られない可能性があった。
【０００６】
ピント調整機構を有さない撮像装置における、ローパスフィルタによる画質低下防止に関して以下の技術が提案されている。特許文献１では、空間周波数制限効果が可変の光学的ローパスフィルタを備え、撮影対象物の合焦状態を検出し、合焦状態のズレ量に応じてローパスフィルタの空間周波数制限効果を弱めることで、解像力の低下を抑えながらも、偽色を抑制する構成となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平４‐２３６５８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述の特許文献１に開示された従来技術では、常に合焦状態の確認を行う必要がある。通常、測光センサにて取り込まれた画像においては合焦状態の確認は行っていない。そのため、合焦状態を確認する処理を追加することで、測光処理時間が増加する可能性があり、レリーズタイムラグが増える懸念がある。また、常時合焦状態の確認処理を行うことで、撮影時の処理短縮しレリーズタイムラグの増加を抑制した場合は、消費電力が増加する懸念がある。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、ローパスフィルタを備えピント調整機構を有しない測光装置において、環境温度変化によるピント変化が生じた場合においても、高精度な被写体認識が可能な測光装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の目的を達成するために、本発明は、撮影レンズを通過した被写体光束が、一次結像面上に配置されたフォーカシングスクリーンに結像することで形成された被写体像を観察するためのファインダ光学系と、前記フォーカシングスクリーン上に形成された前記被写体像を、前記ファインダの光路とは異なる光路に二次結像させ測光を行う測光装置と、前記測光装置は前記フォーカシングスクリーン上に形成された前記被写体像の光束を複数領域に分割し、前記被写体像の輝度に関する複数の測光情報を出力する測光センサと、前記測光センサに前記フォーカシングスクリーン上に形成された前記被写体像を結像させる測光レンズと、前記測光センサの出力を用いて被写体の色および形状認識を行う被写体認識手段と、空間周波数制限効果が可変なローパスフィルタと、温度計とを備え、前記温度計の出力に応じて前記ローパスフィルタの空間周波数制限効果を変化させることを特徴とする。
【００１１】
また、前記ローパスフィルタは、前記被写体認識手段において色情報を使用する場合のみにおいて、空間周波数制限効果を付与することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、環境温度変化によるレンズのピントずれが生じた場合においても、解像力低下、偽色の影響を抑制し、高精度な被写体認識が可能な測光装置の提供を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係る、測光レンズ単体および、ローパスフィルタのＭＴＦを加味した、温度によるＭＴＦ変化の特性を示した図
【図２】本発明の実施形態に係る、撮像装置の構成を示す概略図
【図３】本発明の実施形態に係る、測光装置の構成を示す概略図
【図４】本発明の実施形態に係る、撮像装置の電気的な構成を示すブロック図
【図５】本発明の実施形態に係る、ローパスフィルタの特性を示す図
【図６】本発明の実施例１に係る、撮像装置の測光に関わるフローチャート
【図７】本発明の実施例２に係る、撮像装置の測光に関わるフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
［実施例１］
図２は本発明の実施形態にかかわる撮像装置の構成を示す概略図である。図２において、１００は撮像装置本体である。１０１は撮像装置のＣＰＵである。１１２は撮影者である。１０２は交換可能な撮影レンズであり、内部にフォーカシングやズーミングを行うレンズ群１１３、レンズ群１１３の駆動を行うレンズ駆動部１１４、不図示の絞り装置を有している。１０６はイメージセンサとその周辺回路で構成された撮像素子である。
【００１５】
１０３は主ミラーであり、半透過ミラーとして構成されている。１０８はフォーカシングスクリーンであり、撮影レンズ１０２を透過した被写体像が結像される撮像素子１０６の結像面と等価の結像面に配置されている。１１８は被写体光路であり、撮影レンズ１０２を通過した光束は、主ミラー１０３で反射され、フォーカシングスクリーン１０８に一次結像される。１０４はサブミラーである。主ミラー１０３を通過した被写体光束は、サブミラー１０４によって焦点検出装置１０７に導かれ、周知の位相差検出方式の焦点検出動作が行われる。
【００１６】
撮影を行う際に撮影者１１２が後述するレリーズスイッチ（以後ＳＷ）２０５を押すと、主ミラー１０３は、ファインダ観察位置から撮影レンズ１０２を通る被写体光束の被写体光路１１８外に搖動退避し、撮影レンズ１０２からの被写体像を撮像素子１０６に露光可能状態になる。フォーカルプレーンシャッタ（以後シャッタと称する）１０５は、通電により先幕を開放するマグネットＭＧ−１と、通電によりシャッタ１０５の後幕を閉じるマグネットＭＧ−２を備えている。撮影レンズ１０２によって集光された被写体光束は、シャッタ１０５の先幕走行後、後幕が走行し始めるまでの時間（以後シャッタ秒時と称する）を制御することで、光量制御がなされ、撮像素子１０６によって被写体像として光電変換処理される。光電変換処理後の画像データは記録媒体に記録される。
【００１７】
１１９はファインダ光路であり、フォーカシングスクリーン１０８からの光束が撮影者１１２に導かれるまでの光路を示している。ペンタプリズム１０９は、ファインダ光路１１９を変更するもので、フォーカシングスクリーン１０８に結像した被写体像を正立正像に補正する。１１１は接眼レンズであり、撮影者１１２がフォーカシングスクリーン１０８に結像した被写体像を観察できるようになっている。１１０は測光装置であり、接眼レンズ１１１の上側に配置されている。ここで測光装置１１０の構成を図３で説明する。図３は本発明の実施形態にかかわる、測光装置の概略図である。１１５は測光レンズである。１１６は光学ローパスフィルタであり、空間周波数制限効果が可変である。
【００１８】
空間周波数制限効果の詳細に関しては後述する。１１７は測光センサである。測光センサ１１７には不示図の温度計も実装されており、測光装置１１０近傍の温度を測定することが可能である。１２０は測光光路である。測光装置１１０に至る光束は、フォーカシングスクリーン１０８からの光束のうち、所定角度で拡散する光束が、ペンタプリズム１０９を介して測光装置１１０に到達し、測光絞り１２１により光束を絞る。測光絞り１２１により絞られた光束は、測光レンズ１１５を介して、ローパスフィルタ１１６によりフィルタリングされた光が測光センサ１１７のチップ面にて二次結像される。また、測光センサ１１７はイメージセンサであり、チップ面に結像した被写体像の色情報・被写体形状から被写体認識・被写体輝度検出を行うことが可能である。
【００１９】
図４は本発明の実施形態にかかわる、撮像装置の電気的な構成を示すブロック図である。ＣＰＵ１０１は、不揮発性メモリであるＥＥＰＲＯＭ１０１ａを備えており、制御プログラムに基づいて処理を行い、接続されている各部へ処理結果を伝達し撮像装置１００全体の制御を行っている。２０１は撮像素子制御部であり、不示図のタイミングジェネレータ、ノイズ除去／ゲイン処理回路、Ａ／Ｄ変換回路、画素間引き処理回路を備えている。タイミングジェネレータは、撮像素子制御部２０１に転送クロック信号やシャッタ信号を供給する。
【００２０】
ノイズ除去／ゲイン処理回路は、撮像素子１０６から出力されるアナログ信号に対しノイズ除去とゲイン処理を行う。Ａ／Ｄ変換回路は、アナログ信号を１０ビットのデジタル信号に変換する。画素間引き処理回路は、ＣＰＵ１０１の解像度変換指示に従って画素間引き処理を行う。画像処理部２０２は、撮像素子制御部２０１から出力された１０ビットのデジタル信号に画像処理（ガンマ変換、色空間変換、ホワイトバランス、自動露出、フラッシュ補正等）を行い、ＹＵＶ（４：２：２）フォーマットの８ビットのデジタル信号として出力する。
【００２１】
焦点検出装置制御部２０３では、焦点検出装置１０７のラインＣＣＤセンサから得た電圧をＡ／Ｄ変換し、ＣＰＵ１０１へ送る。また、焦点検出装置制御部２０３はＣＰＵ１０１の指示に基づき、ラインＣＣＤセンサの光量蓄積時間とオートゲインコントロールの制御も行う。ＳＷ２０５は、２段階のスイッチとなっており、通常、一段階目のスイッチ（以後、ＳＷ１）がＯＮされると、測光および測距動作が開始され、二段階目のスイッチ（以後、ＳＷ２）がＯＮされると、撮影動作が開始される。電池２０７は、リチャージャブルの２次電池（あるいは乾電池）として構成されている。
【００２２】
ＤＣ／ＤＣコンバータ２０６は、電池２０７からの電源供給を受け、昇圧及びレギュレーションを行うことにより複数の電源を作り出し、ＣＰＵ１０１及び各素子に必要な電圧の電源を供給する。ＤＣ／ＤＣコンバータ２０６は、ＣＰＵ１０１からの制御信号により、各々の電圧供給の開始、停止を制御できる。また、測光装置制御部２０４では測光センサ１１７より得た電圧をＡ／Ｄ変換し、ＣＰＵ１０１へ送る。また、測光制御部２０４はＣＰＵ１０１の指示に基づき、測光センサ１１７の光量蓄積時間とオートゲインコントロールの制御も行う。さらに、測光制御部２０４はＣＰＵ１０１の指示に基づき、ローパスフィルタ１１６の空間周波数制限効果の制御も行う。
【００２３】
ここで、ローパスフィルタ１１６の周波数制限効果に関して説明する。ローパスフィルタを搭載する目的は前述のとおり、ローパスフィルタによりレンズの空間周波数レスポンスを制限し、撮像素子のナイキスト周波数より高周波成分をカットし、低周波成分のみを透過させることにより偽色を低減させることである。光学ローパスフィルタには、通常、水晶板等の複屈折板が主として用いられ、複屈折板と偏光解消板としての１／４波長板等を併用したものもある。複屈折板の複屈折による常光線と異常光線の分離幅ｄによりローパスフィルタの空間周波数制限効果が決まり、分離幅ｄは次式で表すことができる。
【００２４】
【数１】
2016173437.tif 000003
【００２５】
ｎ０は常光線の屈折率、ｎｅは異常光線の屈折率、ｔはローパスフィルタの厚さを表している。つまり、屈折率と厚みにより、ローパスフィルタによる空間周波数制限効果が決定される。また、撮像素子のナイキスト周波数ｆｎは次式で表すことができる。
【００２６】
【数２】
2016173437.tif 000004
【００２７】
Ｐは撮像素子の画素ピッチであり、画素ピッチがわかればローパスフィルタにて制限すべき空間周波数が判明する。つまり、分離幅ｄ＞画素ピッチＰとなるようにローパスフィルタを設定すれば、偽色の抑制に必要な空間周波数制限効果を得ることが可能となる。
【００２８】
本実施例におけるローパスフィルタ１１６は空間周波数制限効果が可変である。具体的には、特開平４‐２３６５８５に示されているような２枚の水晶板の各々の内面に透明電極を形成し、それらの間にツイストネマチック型の液晶層を設けたローパスフィルタを用いることで空間周波数の制限効果を２段階に変更することが可能となる。ローパスフィルタ１１６に電圧が印加されていない場合（以後、ローパスフィルタＯＦＦと称する）は、液晶がツイストネマチック配列をとなり、旋光性を有しているため空間周波数制限効果は有しない。
【００２９】
一方、電圧を印加した場合（以後、ローパスフィルタＯＮと称する）、ツイストネマチック配列がほどけ旋光性が失われるため、常光線、異常光線の分離幅ｄに応じた空間周波数制限効果が生まれる。つまり、特開平４‐２３６５８５に示されているローパスフィルタを用いることで、電圧印加の有無により、ローパスフィルタによる空間周波数制限効果の有無を選択することが可能となる。図５は本実施例における、ローパスフィルタ１１６の各周波数におけるＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）を表した図である。実線はローパスフィルタＯＮ時の、点線はローパスフィルタＯＦＦ時のそれぞれの各周波数におけるＭＴＦである。またａ１、ａ２は測光センサ１１７のナイキスト周波数ｆｎでのＭＴＦである。ローパスフィルタのＯＮ‐ＯＦＦにより、図５のような空間周波数制限効果が生まれ、偽色の低減が可能となる。
【００３０】
次に図６を用いて、本実施例における撮像装置の測光動作シーケンスについて説明する。図６は本実施例における撮像装置の測光動作シーケンスを示したフローチャートである。Ｓ１０１にて撮像装置１００の電源を不示図の電源スイッチにてＯＮする。Ｓ１０１の電源ＯＮ動作により、Ｓ１０２にてローパスフィルタ１１６に電圧が印加され、空間周波数制限効果を有した状態にて保持される。Ｓ１０３ではＳＷ２０５を撮影者１１２が操作し、ＳＷ１がＯＮされているかを判定する。ＳＷ１がＯＮされていると判断された場合は、Ｓ１０４へと進み、ＯＦＦの場合は、ＳＷ１がＯＮされるまで待機状態となる。
【００３１】
Ｓ１０４にてＣＰＵ１０１の指示の基、測光動作を開始する。Ｓ１０５にて測光センサ１１７に実装されている温度計にて、測光センサ１１７近傍の温度を取得する。Ｓ１０６ではＳ１０５にて測定した測光センサ１１７近傍の温度と、ＥＥＰＲＯＭ１０１ａに予め記録されている閾値との比較を行う。閾値に関しては後述する。Ｓ１０６にて、閾値以上であると判断された場合はＳ１０７へと進み、ローパスフィルタ１１６の電圧をＯＦＦし、空間周波数制限効果を有しない状態へと変更し、Ｓ１０８へ進む。一方、Ｓ１０６にて、閾値以下であると判断された場合は、ローパスフィルタ１１６に電圧が印加された状態のまま、Ｓ１０８へと進む。
【００３２】
Ｓ１０８ではＣＰＵ１０１の指示に基づいた条件にて、測光センサ１１７の蓄積を開始する。Ｓ１０９にて、ＣＰＵ１０１から指示された蓄積時間が経過した後、測光センサ１１７の蓄積を終了する。Ｓ１１０では、ＣＰＵ１０１にてＳ１０９までに蓄積された測光センサ１１７の出力を用いて、公知の被写体認識動作を行う。Ｓ１１１では、Ｓ１０９での蓄積結果、Ｓ１１０での被写体認識結果を受け、撮像装置の測光アルゴリズムに基づきＣＰＵ１０１にて露出を決定する。ここまでが、本実施例の測光動作シーケンスとなり、その後は、通常の撮像装置の撮影動作へと移行する。
【００３３】
次に、図６のＳ１０６の温度閾値について説明する。上述の通り、測光装置１１０はピント調整機構を有していない。そのため、環境温度の変化によりピントずれが生じた場合、測光センサ１１７に結像されている被写体像の解像力が低下する可能性がある。温度によりピントがずれる要因として、測光レンズ１１５の硝材の屈折率の温度変化が挙げられる。測光レンズ１１５には、コスト、重量の観点からプラスチックレンズが使用されることが多い。
【００３４】
プラスチックレンズはガラスレンズに比べ温度変化による屈折率変化が大きい、さらに測光レンズ１１５のＦｎｏも光量を得るために大きいため、温度変化によるピントずれが影響する。図１は本実施例において、ナイキスト周波数ｆｎでの測光レンズ１１５の屈折率の温度変化によるＭＴＦ変化を示した図である。細線は測光レンズ１１５のみの温度によるＭＴＦ変化を示している。太線および点線は、細線にローパスフィルタのＯＮおよびＯＦＦ時のローパスフィルタのＭＴＦも加味したＭＴＦを示しており、測光装置１１０のＭＴＦを表している。
【００３５】
ここで、ａは偽色の影響が発生しないためのＭＴＦである。ローパスフィルタ１１６がＯＮの場合、常にＭＴＦａ以下のＭＴＦとなるため、温度変化に関係なく偽色の影響を抑えられているが、空間周波数制限効果をかけたことにより、温度変化によるＭＴＦ低下に空間周波数制限分が加味され、ＭＴＦが大きく低下してしまう。一方、ローパスフィルタＯＦＦ時は温度ｔの間のではＭＴＦａを越えてしまうため、偽色の影響が起こってしまうが、温度ｔ以外の範囲においては偽色の発生を抑えられる。また、温度ｔ以外の範囲のＭＴＦもローパスフィルタＯＮの方が、ＯＦＦ時よりも高くなる。
【００３６】
つまり、Ｓ１０６での閾値を温度ｔの範囲内であるか否かとし、温度ｔの間はローパスフィルタ１１６をＯＮとし、温度ｔ以外ではローパスフィルタ１１６をＯＦＦとすることで、偽色の影響を抑制しつつも、ローパスフィルタ１１６によるＭＴＦの低下も抑制することが可能となる。
【００３７】
以上により、本実施例では、測光装置１１０近傍の温度を測定し、温度測定結果に応じローパスフィルタ１１６の周波数制限効果を変更することで、環境温度の変化によるピントずれが生じた場合にも、偽色の影響を抑制しながらも、高性能な被写体認識を行うことが可能となる。
【００３８】
［実施例２］
次に、本発明の実施例２について説明する。なお、本実施例２における撮像装置の構成は、実施例１で図１乃至図５を用いて説明したものと同様であるため、説明は省略する。    
【００３９】
図７を用いて、本実施例における撮像装置の測光動作シーケンスについて説明する。図７は本実施例における撮像装置の測光動作シーケンスを示したフローチャートである。
【００４０】
Ｓ２０１にて撮像装置１００の電源を不示図の電源スイッチにてＯＮする。Ｓ２０１の電源ＯＮ動作により、Ｓ２０２にてローパスフィルタ１１６に電圧が印加され、空間周波数制限効果を有した状態にて保持される。Ｓ２０３ではＳＷ２０５を撮影者１１２が操作し、ＳＷ１がＯＮされているかを判定する。ＳＷ１がＯＮされていると判断された場合は、Ｓ２０４へと進み、ＯＦＦの場合は、ＳＷ１がＯＮされるまで待機状態となる。
【００４１】
Ｓ２０４にてＣＰＵ１０１の指示の基、測光動作を開始する。Ｓ２０５にて測光装置１１０にて取得した色情報を使用するモードであるかを判断する。色情報を使用しないと判断された場合はＳ２０８へと進み、ローパスフィルタ１１６の電圧をＯＦＦし、空間周波数制限効果を有しない状態へと変更する。一方、色情報を使用する場合はＳ２０６へと進み、測光センサ１１７に実装されている温度計にて、測光センサ１１７近傍の温度を取得する。Ｓ２０７ではＳ２０６にて測定した測光センサ１１７近傍の温度と、ＥＥＰＲＯＭ１０１ａに予め記録されている閾値との比較を行う。
【００４２】
閾値の設定に関しては、実施例１で説明したものと同様であるため、説明は省略する。Ｓ２０７にて、閾値以上であると判断された場合はＳ２０８へと進み、ローパスフィルタ１１６の電圧をＯＦＦし、空間周波数制限効果を有しない状態へと変更し、Ｓ２０９へ進む。一方、Ｓ２０７にて、閾値以下であると判断された場合は、ローパスフィルタ１１６に電圧が印加された状態のまま、Ｓ２０９へと進む。
【００４３】
Ｓ２０９ではＣＰＵ１０１の指示に基づいた条件にて、測光センサ１１７の蓄積を開始する。Ｓ２１０にて、ＣＰＵ１０１から指示された蓄積時間が経過した後、測光センサ１１７の蓄積を終了する。Ｓ２１１では、ＣＰＵ１０１にてＳ１０９までに蓄積された測光センサ１１７の出力を用いて、公知の被写体認識動作を行う。ここまでが、本実施例の動作シーケンスとなり、その後は、通常の撮像装置の撮影動作へと移行する。
【００４４】
以上により、本実施例では、色情報を使用しない場合には、ローパスフィルタ１１６をＯＦＦとすることで、図５に示すローパスフィルタＯＮ−ＯＦＦでの差分だけＭＴＦ低下を抑制することができ、測光センサ１１７に結像する像の解像力が上がるため、高精度な被写体認識が可能となる。また、色情報を使用する場合は、測光装置１１０近傍の温度を測定し、温度測定結果に応じローパスフィルタ１１６の周波数制限効果を変更することで、環境温度の変化によるピントずれが生じた場合にも、偽色の影響を抑制しながらも、高性能な被写体認識を行うことが可能となる。
【００４５】
なお、本発明の実施形態におけるローパスフィルタ１１６は、周波数制限効果が２段階切り替えであるため、段階的な切替えであるが、特開昭６１−２６８５７０号公報に示されているような構成により連続的に周波数制限効果を変更可能なローパスフィルタとし、温度変化に応じ連続的に周波数制限効果を変化させても良い。また、本実施例におけるローパスフィルタ１１６は、光学ローパスフィルタを用いているが、公知のデジタル方式でのローパスフィルタとしても良い。
【００４６】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【００４７】
１００  撮像装置、１０１  ＣＰＵ、１１０  測光装置、１１５  測光レンズ、
１１６  ローパスフィルタ、１１７  測光センサ
【図１】
2016173437.tif 000005
【図２】
2016173437.tif 000006
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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