(57)【要約】      （修正有）【課題】希釈操作や前処理操作を経ることがなく、少量の試料溶液で高い分離効果が得られ、マトリックスによる影響や妨害のない高感度な分析を行うことができる試料の製造方法、及び試料の分析方法を提供する。【解決手段】試料を充填するサンプルループ２４、サンプルループ２４に試料を供給可能な試料供給路２２、及びサンプルループ２４内の試料を排出可能な試料排出路２６を有する試料流路２０を備え、少なくとも試料流路２０の液接触部分が非導電性材料からなるサンプルインジェクションバルブにおいて、試料流路２０に一対の電極２８ａ、２８ｂを設ける。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料を充填するサンプルループ、該サンプルループに試料を供給可能な試料供給路、及び前記サンプルループ内の試料を排出可能な試料排出路を有する試料流路を備え、少なくとも該試料流路の液接触部分が非導電性材料からなるサンプルインジェクションバルブであって、
前記試料流路に一対の電極が設けられたことを特徴とするサンプルインジェクションバルブ。
【請求項２】
前記電極は、その少なくとも一部が、前記試料の流路内に露出するように設けられていることを特徴とする請求項１記載のサンプルインジェクションバルブ。
【請求項３】
請求項１又は２記載のサンプルインジェクションバルブが具備されたことを特徴とする連続流れ系試料導入・検出装置。
【請求項４】
前記連続流れ系試料導入・検出装置は、フローインジェクション、イオンクロマトグラフィー及び液体クロマトグラフィーより選択される１以上であることを特徴とする請求項３記載の連続流れ系試料導入・検出装置。
【請求項５】
請求項１又は２記載のサンプルインジェクションバルブの電極に直流電源からの電圧を印加することを特徴とする泳動方法。
【請求項６】
請求項１又は２記載のサンプルインジェクションバルブの電極に直流電源からの電圧を印加することを特徴とする試料の製造方法。
【請求項７】
前記電極に印加する電圧の極性を変化させることを特徴とする請求項６記載の試料の製造方法。
【請求項８】
前記電圧印加後に、サンプルループ内の試料に存在する夾雑成分を廃液として排出させることを特徴とする請求項６又は７記載の試料の製造方法。
【請求項９】
請求項６乃至８いずれか記載の製造方法によって得られた試料を連続流れ系試料導入・検出装置を用いて分析することを特徴とする試料の分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試料溶液中の分析成分とマトリックス成分を分離濃縮できるサンプルインジェクションバルブ、それを具備した連続流れ系試料導入・検出装置、泳動方法、試料の製造方法、及び試料の分析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
試料溶液中の成分の分析においては、分析対象成分に応じてフローインジェクション、イオンクロマトグラフィー、液体クロマトグラフィーなどをはじめとした種々の連続流れ系試料導入・検出装置が用いられ、分析成分に応じて種々の検出装置が選択され、高感度な分析が行われている。しかしながら、分析成分を含む試料溶液中に種々の夾雑成分が含まれている場合は、必ずしも高感度な分析ができる訳ではない。夾雑成分、いわゆるマトリックス成分は、例えば河川水や海水に代表される環境水あるいは産業排水のようにその組成や含有濃度が未知である場合がほとんどであり、複数の夾雑成分組成を有していたり、％レベルの高濃度の含有濃度であることが多い。そのため、マトリックス成分を含んだ試料の分析を行う際、マトリックス成分の影響によって試料溶液を直接分析することが困難な場合がある。特に、上述のようにマトリックス成分が複数の組成を有していたり、％レベルの高濃度であった場合、分析は極めて困難となる。
【０００３】
このような試料を分析する場合は、あらかじめ試料溶液を希釈してから分析装置に導入するか、またはあらかじめ何らかの前処理操作を実施して分析成分からマトリックス成分を除去した後に分析装置に導入する必要がある。これらの場合、試料溶液の希釈による分析感度の低下を引き起こし、あるいは前処理操作における分析成分の汚染や損失を引き起こし、結果として、高感度な分析が行えなくなる問題が生じる。加えて、マトリックス成分によっては、妨害により分析そのものが行えなくなるといった問題も有している。そのため、このような問題を解決し、マトリックス成分含有試料中の目的成分の高感度分析装置及び方法の開発が望まれている。この問題に対して、例えば非特許文献１では、イオン交換膜を用い、電気透析によってマトリックス成分と分析イオン成分の分離を行っている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】Shin-ichi Ohira, Kenta Kuhara, Mayu Kudo, Yuko Kodama, Purnendu K. Dasgupta, and Kei Toda. (2012), Electrodialytic Ion Isolation for Matrix Removal.  Analytical Chemistry, 84, (12), 5421-5426.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、非特許文献１は、分離装置が大型で構造が複雑であることや多量の試料溶液を要するという問題があった。このような問題を解決するためには、分離装置が簡単な構造であり、操作が簡易であり、および少量の試料溶液で分析を行える方法の開発が不可欠である。
【０００６】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、希釈操作や前処理操作を経ることがなく、少量の試料溶液で高い分離効果が得られ、結果としてマトリックス成分による影響や妨害のない高感度な分析を行うことができるサンプルインジェクションバルブ、それを具備した連続流れ系試料導入・検出装置、泳動方法、試料の製造方法、及び試料の分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者らは、以上の目的を達成するために、鋭意検討した結果、サンプルインジェクションバルブにおいて、試料を充填するサンプルループ、該サンプルループに試料を供給可能な試料供給路、及び前記サンプルループ内の試料を排出可能な試料排出路を有する試料流路に一対の電極を設けることにより、希釈操作や前処理操作を経ることがなく、少量の試料溶液で高い分離効果が得られ、結果としてマトリックス成分による影響や妨害のない高感度な分析を行うことができることを見出し、本発明に至った。
【０００８】
すなわち、本発明は、試料を充填するサンプルループ、該サンプルループに試料を供給可能な試料供給路、及び前記サンプルループ内の試料を排出可能な試料排出路を有する試料流路を備え、少なくとも該試料流路の液接触部分が非導電性材料からなるサンプルインジェクションバルブであって、前記試料流路に一対の電極が設けられたことを特徴とするサンプルインジェクションバルブに関する。
【０００９】
本発明において、前記電極は、その少なくとも一部が、前記試料の流路内に露出するように設けられていることが好ましい。
【００１０】
また、本発明は、前記サンプルインジェクションバルブが具備されたことを特徴とする連続流れ系試料導入・検出装置に関する。
【００１１】
本発明において、前記連続流れ系試料導入・検出装置は、フローインジェクション、イオンクロマトグラフィー及び液体クロマトグラフィーより選択される１以上であることが好ましい。
【００１２】
さらに、本発明は、サンプルインジェクションバルブの電極に直流電源からの電圧を印加することを特徴とする泳動方法に関する。
【００１３】
また、本発明は、サンプルインジェクションバルブの電極に直流電源からの電圧を印加することを特徴とする試料の製造方法に関する。
【００１４】
本発明において、前記電極に印加する電圧の極性を変化させることが好ましい。
【００１５】
また、本発明において、前記電圧印加後に、サンプルループ内の試料に存在する夾雑成分を廃液として排出させることが好ましい。
【００１６】
さらに、本発明は、前記製造方法によって得られた試料を連続流れ系試料導入・検出装置を用いて分析することを特徴とする試料の分析方法に関する。
【発明の効果】
【００１７】
以上のように、本発明によれば、希釈操作や前処理操作を経ることがなく、少量の試料溶液で高い分離効果が得られ、結果としてマトリックスによる影響や妨害のない高感度な分析を行うことができるサンプルインジェクションバルブ、それを具備した連続流れ系試料導入・検出装置、泳動方法、試料の製造方法、及び試料の分析方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】サンプルループ２４内に電極２８ａ、２８ｂを設置した本実施形態１に係るサンプルインジェクションバルブ１０を示した概略図である。
【図２】電極２８ａ、２８ｂの形状の一例を示した図である。
【図３】サンプルループ２４外に電極２８ａ、２８ｂを設置した本実施形態２に係るサンプルインジェクションバルブ１０を示した概略図である。
【図４】サンプルループ２４内とサンプルループ２４外に電極２８ａ、２８ｂを設置した本実施形態３に係るサンプルインジェクションバルブ１０を示した概略図である。
【図５】本実施形態１に係るサンプルインジェクションバルブ１０を設置した本実施形態４に係る連続流れ系試料導入・検出装置１２を示した概略図である。
【図６】実施例で使用した連続流れ系陰イオン分析装置１４の概略図である。
【図７】比較例１で測定した陰イオンのクロマトグラムである。
【図８】実施例１で測定した陰イオンのクロマトグラムである。
【図９】比較例２で測定した陰イオンのクロマトグラムである。
【図１０】実施例２で測定した陰イオンのクロマトグラムである。
【図１１】比較例３で測定した陰イオンのクロマトグラムである。
【図１２】実施例３で測定した陰イオンのクロマトグラムである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の具体的な実施形態について図面に基づいて説明する。本実施形態に記載される構成部品の寸法、材質、形状、相対配置等は、特に記載がない限り発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
【００２０】
本実施形態１に係るサンプルインジェクションバルブ１０は、図示しない試料検出装置への試料導入装置であり、試料溶液中のマトリックス成分を分析成分から分離し、かつ分析成分を濃縮することが可能な装置である。サンプルインジェクションバルブ１０は、図１に示すように、ポート１乃至６を有する６方バルブであるバルブ本体１１と、ポート２と５を連通するサンプルループ２４と、ポート４に接続された試料供給管２２と、ポート３に接続された試料排出管２６とを備えている。バルブ本体１１のポート１には、移動相が導入可能な移動相導入管３０が接続されており、ポート６には、移動相が排出可能な移動相排出管３２が接続されている。
【００２１】
本実施形態１に係るサンプルインジェクションバルブ１０の待機状態においては、試料供給管２２→ポート４→ポート５→サンプルループ２４→ポート２→ポート３→試料排出管２６という試料流路２０を試料が流動する。この待機状態からバルブを切り替えると、移動相導入管３０→ポート１→ポート２→サンプルループ２４→ポート５→ポート６→移動相排出管３２という流路が形成され、サンプルループ２４内に満たされていた試料溶液が試料検出装置に導入される。なお、本実施形態においては、このような６方バルブのほかにも、２方バルブ、４方バルブ、８方バルブなどのサンプルインジェクションバルブを用いることができる。
【００２２】
本実施形態１において、試料流路２０を形成するポート２、３間の流路、ポート４、５間の流路、サンプルループ２４、試料供給管２２、及び試料排出管２６は、液接触部分が非導電性材料から構成されている。非導電性材料とは、具体的には、プラスチックなどの高分子材料などが挙げられ、特に、ポリテトラフルオロエチレン（テフロン：登録商標）、ポリエーテルエーテルケトン（ＰＥＥＫ：登録商標）などが好ましく用いられる。
【００２３】
試料供給管２２は、図示しない試料供給源から、試料溶液をサンプルループ２４に供給することができる。試料供給源としては、通常の連続流れ系試料導入・検出装置において用いられるマイクロシリンジ、送液ポンプなどを特に制限なく使用することができる。
【００２４】
サンプルループ２４は、試料供給管２２から供給された試料溶液を充填しておくことができる。サンプルループ２４内に充填された試料は、バルブ本体１１のバルブを切り替えることにより、試料検出装置に導入される。試料検出装置に導入される試料溶液の量は、サンプルループ２４の内径と長さによって決まる。サンプルループ２４の内径と長さは、特に限定されるものではないが、後述する電圧印加条件を考慮すれば、内径が０．１〜３．０ｍｍ、長さが５〜５００ｍｍが好ましく、さらに好ましくは、内径が０．２〜０．８ｍｍ、長さが２００〜３５０ｍｍである。
【００２５】
試料排出管２６は、試料溶液を移動相排出管３２を通じて試料検出装置に導入した後に、サンプルループ２４内に残留した不要成分を排出したり、試料溶液に電圧を印加した後に、サンプルループ２４内で濃縮したマトリックス成分を排出するために用いられる。
【００２６】
試料流路２０には、一対の電極２８ａ、２８ｂが設けられている。電極２８ａ、２８ｂは、直流電源からの直流電圧を印加するために一対のものが用いられる。本実施形態１において、電極２８ａ、２８ｂの設置場所としては、図１に示すように、サンプルループ２４のポート２及び５それぞれの近傍に設置することができる。電極２８ａ、２８ｂに直流電源から電圧を印加することで、サンプルループ２４内に存在する試料溶液中のマトリックス成分をいずれか片方の電極側に泳動させることができる。本実施形態１のように、電極２８ａ、２８ｂをサンプルループ２４の内部に設置した場合、サンプルループ２４の内部で試料成分の分離を行うことが可能となる。本実施形態１においては、試料流路２０に一対の電極２８ａ、２８ｂを設けることで、試料溶液に電圧を印加し、電気泳動的作用によって試料溶液中の分析成分及びマトリックス成分を電極２８ａ、２８ｂ付近に泳動させることにより、マトリックス成分を分析成分から分離し、濃縮した分析成分を含む試料溶液を移動相排出管３２を通じて移動相に導入し、その後試料検出装置によって分離検出させることができる。
【００２７】
電極２８ａ、２８ｂは、試料流路２０の接液部に露出した構造であり、電極の形状や大きさは特に決められた形状はなく、図２に示すように、例えば、針状、管状、ループ状のもので溶液の流れが妨げられない構造のものなどを用いることができる。また、直流電圧を印加するための電極２８ａ、２８ｂの材質は、電気を通す性質のものであれば、いずれも使用可能であるが、その中でも化学的に不活性のものが好適であり、例えば白金や金などの貴金属製のものを使用することが特に好ましい。
【００２８】
本実施形態１において、電圧の印加は、図示しない直流電源から行われ、主に印加電圧と印加時間によって分析成分の濃縮度合いが決定される。印加電圧は、−５０００〜＋５０００Ｖが好ましく、この範囲外になると、気体の発生が顕著となり問題となる。印加電圧は、さらに好ましくは−２５００〜＋２５００Ｖである。また、印加時間は、最大約１２０分行うことが可能であるが、印加時間が長すぎると、気泡発生の問題が生じるため、約３０〜４０分が最も好ましい。また、本実施形態１においては、電極２８ａ、２８ｂに印加する電圧の極性を変化させることで、試料成分中を泳動するイオン成分を変化させることができる。
【００２９】
電圧を印加した場合の一例として、例えば分析成分を電極２８ａに、マトリックス成分を電極２８ｂに泳動させた場合、バルブ本体１１のバルブを一定時間切り替えることによって、サンプルループ２４内の試料溶液のうち、電極２８ａ付近に濃縮した分析成分を含む試料溶液のみを移動相排出管３２に導入することができる。濃縮した分析成分を含む試料溶液のみを移動相排出管３２に導入し終わった後、バルブ本体１１のバルブを再び切り替えることで、サンプルループ２４の内部には、不要になった濃縮したマトリックス成分を含む試料溶液と移動相の一部が残留する。これら不要成分は、次の試料溶液を充填するときに押し出され、試料排出管２６から廃液として排出させることができる。なお、本実施形態１において、分析成分及びマトリックス成分をどちらの電極に泳動させるのかは特に限定されず、目的に応じて適宜選択することが可能である。そのため、濃縮したマトリックス成分を含む試料溶液を先に試料排出管２６から廃液として排出させ、その後、バルブ本体１１のバルブを切り替えることで濃縮した分析成分を含む試料溶液を移動相排出管３２に導入することも可能である。
【００３０】
本実施形態２に係るサンプルインジェクションバルブ１０は、図３に示すように、電極２８ａの設置場所を試料供給管２２に、電極２８ｂの設置場所を試料排出管２６に変えたこと以外は、本実施形態１と同様のサンプルインジェクションバルブ１０である。図３に示すように、電極２８ａ、２８ｂの設置場所は、試料流路２０内であれば、サンプルループ２４の外に設置してもよい。
【００３１】
また、本実施形態３に係るサンプルインジェクションバルブ１０は、図４に示すように電極２８ａの設置場所を試料供給管２２に変えたこと以外は、本実施形態１と同様のサンプルインジェクションバルブ１０である。図４に示すように、電極２８ａ、２８ｂの設置場所は、試料流路２０内であれば、片方の電極のみ試料供給管２２（もしくは試料排出管２６に設置することも可能である。）に設置してもよい。
【００３２】
本実施形態２及び３では、電荷の印加方法の設定により、サンプルループ２４の外にマトリックス成分である陽イオンもしくは陰イオンを濃縮させることにより、分析成分をより確実にサンプルループ２４内に濃縮することができ、高感度に測定することが可能となる。例えば、本実施形態３において、マトリックス成分を電極２８ａ付近に、分析成分を電極２８ｂ付近に濃縮させることにより、濃縮した分析成分を含む試料溶液のみを移動相排出管３２に導入し、その後、濃縮したマトリックス成分を含む試料溶液を試料排出管２６から廃液として流出させることができる。なお、本実施形態２及び３においても、分析成分及びマトリックス成分をどちらの電極に泳動させるのかは特に限定されず、目的に応じて適宜選択することが可能である。
【００３３】
本実施形態１乃至３に例示した電極２８ａ、２８ｂ間の距離は、短すぎると短絡が発生し、長すぎると単位長さあたりの電圧が低下しマトリックス成分の分離や分析成分の濃縮が行えなくなるといった問題が発生する。そのため、電極２８ａ、２８ｂ間の距離は、５〜５００ｍｍが好ましく、２００〜３５０ｍｍがさらに好ましい。
【００３４】
本実施形態１乃至３に係るサンプルインジェクションバルブ１０を用いることによって、試料溶液中の分析成分の濃縮や多量のマトリックス成分の分離・除去工程において、これまで熟練を要した特別な前処理をせずに、マトリックス成分の除去や分析成分の濃縮を実施することが可能となる。また、試料流路２０内といった閉じられた管内での濃縮・分離工程であるため、実験環境からの分析成分の汚染、前処理中の損失を排除することもできる。
【００３５】
次に、本実施形態１乃至３に係るサンプルインジェクションバルブ１０の連続流れ系試料導入・検出装置への具備について説明する。連続流れ系試料導入・検出装置とは、例えば、フローインジェクション、イオンクロマトグラフィー、液体クロマトグラフィーなどが挙げられる。
【００３６】
図５に、一例として、本実施形態１に係るサンプルインジェクションバルブ１０を設置した本実施形態４に係る連続流れ系試料導入・検出装置１２を示す。サンプルインジェクションバルブ１０の設置位置は、連続流れ系の途中のどの位置においても設置することが可能であり、図５に示した設置位置以外にも様々な設置方法が考えられるが、例えば、連続流れ系試料導入・検出装置１２がイオンクロマトグラフィーである場合、図５に例示したように、検出器４２や分離カラム４０の前段のいずれかの場所に設置することが好ましい。
【００３７】
サンプルインジェクションバルブ１０において、電極２８ａ、２８ｂによる電圧印加後、サンプルループ２４内の濃縮された分析成分を含む試料溶液を移動相排出管３２を通じて移動相に導入し、分離カラム４０及び検出器４２から構成される試料検出装置で検出する。サンプルインジェクションバルブ１０からの連続流れ系への試料溶液の導入方法は、サンプルインジェクションバルブ１０の切り替えのタイミングを制御することで、サンプルループ２４内の試料溶液を全て導入してもよいし、サンプルループ２４内の試料溶液の一部を導入してもよい。
【００３８】
分離カラム４０は、サンプルインジェクションバルブ１０から供給される試料溶液を目的成分毎に分離する。詳細には、分離カラム４０は、試料溶液を吸着させるための充填剤を備え、該充填剤に吸着された試料溶液の各成分を溶離液によって脱着させる。分離カラム４０により分離された各成分は、その後、検出器４２へ送られる。検出器４２は、例えば、電気伝導度検出器などの測定機器であり、分離カラム４０により分離された成分の電気伝導度を測定するものである。なお、検出器４２は、電気伝導度を測定する機器に限定されない。
【００３９】
以上、本実施形態によれば、安定した高感度・高精度の分析が可能なサンプルインジェクションバルブ及びそれを具備した連続流れ系試料導入・検出装置ができる。
【実施例】
【００４０】
以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説明するが、これらは本発明の目的を限定するものではない。
【００４１】
［比較例１］
内径０．５ｍｍ、長さ１２５ｍｍのサンプルループ２４に白金製電極２８ａ、試料排出管２６に白金製電極２８ｂ（電極間距離４２５ｍｍ）を有するサンプルインジェクションバルブ１０、直流電源２９、イオンクロマトグラフ装置４６を図６のように配し、連続流れ系陰イオン分析装置１４を形成した。サンプルインジェクションバルブ１０のサンプルループ２４に分析陰イオン（ふっ化物イオン、塩化物イオン、臭化物イオン、亜硝酸イオン、硝酸イオン、りん酸イオン、硫酸イオン）を各々５００ｐｐｂ含む試料溶液を満たし、電圧を印加しない状態でサンプルループ２４内の試料溶液を移動相排出管３２に導入し、イオンクロマトグラフ装置４６で各々のイオン成分の検出を行った。結果を図７に示す。
【００４２】
［実施例１］
サンプルインジェクションバルブ１０のサンプルループ２４に、上記比較例１と同種の分析陰イオン各々５００ｐｐｂ含む試料溶液を満たし、電圧＋２５００Ｖを３０分間印加し、分析成分を電極２８ａ付近に、マトリックス成分を電極２８ｂ付近に泳動させることで、分析成分とマトリックス成分を分離させた。その後、バルブ本体１１のバルブを切り替え、サンプルループ２４内の電極２８ａ付近に濃縮した分析成分を含む試料溶液を移動相排出管３２に導入し、イオンクロマトグラフ装置４６で各々のイオン成分の検出を行った。結果を図８に示す。
【００４３】
図７及び図８に示したように、電圧印加した実施例１は、電圧印加しない比較例１と比べ、イオンクロマトグラフ装置４６による検出感度を５倍とすることができた。
【００４４】
［比較例２］
内径０．５ｍｍ、長さ１２５ｍｍのサンプルループ２４に白金製電極２８ａ、試料排出管２６に白金製電極２８ｂ（電極間距離４２５ｍｍ）を有するサンプルインジェクションバルブ１０、直流電源２９、イオンクロマトグラフ装置４６を図６のように配し、連続流れ系陰イオン分析装置１４を形成した。サンプルインジェクションバルブ１０のサンプルループ２４に試料溶液（０．５％水酸化ナトリウム水溶液）を満たし、電圧を印加しない状態でサンプルループ２４内の試料溶液を移動相排出管３２に導入し、イオンクロマトグラフ装置４６で各々のイオン成分の検出を行った。結果を図９に示す。
【００４５】
［実施例２］
サンプルインジェクションバルブ１０のサンプルループ２４に、上記比較例２と同様の試料溶液を満たし、電圧＋２５００Ｖを３０分間印加し、分析成分を電極２８ａ付近に、マトリックス成分を電極２８ｂ付近に泳動させることで、分析成分とマトリックス成分を分離させた。その後、バルブ本体１１のバルブを切り替え、サンプルループ２４内の電極２８ａ付近に濃縮した分析成分を含む試料溶液を移動相排出管３２に導入し、イオンクロマトグラフ装置４６でイオン成分の検出を行った。結果を図１０に示す。
【００４６】
図９及び図１０に示したように、電圧印加しない比較例２では、高いアルカリ濃度による妨害によってイオン成分の検出ができなかったが、電圧印加した実施例２では、イオンクロマトグラフ装置４６によってイオン成分の明確なピークを認めることが可能となった。
【００４７】
［比較例３］
内径０．５ｍｍ、長さ１２５ｍｍのサンプルループ２４に白金製電極２８ａ、試料排出管２６に白金製電極２８ｂ（電極間距離４２５ｍｍ）を有するサンプルインジェクションバルブ１０、直流電源２９、イオンクロマトグラフ装置４６を図６のように配し、連続流れ系陰イオン分析装置１４を形成した。サンプルインジェクションバルブ１０のサンプルループ２４に試料溶液（８０％メタノール溶液）を満たし、電圧を印加しない状態でサンプルループ２４内の試料溶液を移動相排出管３２に導入し、イオンクロマトグラフ装置４６で各々のイオン成分の検出を行った。結果を図１１に示す。
【００４８】
［実施例３］
サンプルインジェクションバルブ１０のサンプルループ２４に、上記比較例３と同様の試料溶液を満たし、電圧＋２５００Ｖを３０分間印加し、分析成分を電極２８ａ付近に、マトリックス成分を電極２８ｂ付近に泳動させることで、分析成分とマトリックス成分を分離させた。その後、バルブ本体１１のバルブを切り替え、サンプルループ２４内の電極２８ａ付近に濃縮した分析成分を含む試料溶液を移動相排出管３２に導入し、イオンクロマトグラフ装置４６でイオン成分の検出を行った。結果を図１２に示す。
【００４９】
図１１及び図１２に示したように、実施例３のように電圧印加することによって、有機溶媒であるアルコールにおいてもイオンクロマトグラフ装置４６による検出感度を増大することができた。
【符号の説明】
【００５０】
１    ポート
２    ポート
３    ポート
４    ポート
５    ポート
６    ポート
１０    サンプルインジェクションバルブ
１１    バルブ本体
１２    連続流れ系試料導入・検出装置
１４    連続流れ系陰イオン分析装置
２０    試料流路
２２    試料供給管
２４    サンプルループ
２６    試料排出管
２８ａ  電極
２８ｂ  電極
２９    直流電源
３０    移動相導入管
３２    移動相排出管
４０    分離カラム
４２    検出器
４４    記録部
４６    イオンクロマトグラフ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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