(57)【要約】【課題】被試験物と試験装置との接点を増やさずに、被試験物と試験装置との接続状態を確認する。【解決手段】耐電圧試験装置１において試験電圧印加部１０は、耐電圧試験すべき被試験物５の両端電極に２本のリード線を介して規定の試験電圧を印加する。耐電圧判定部２０は、被試験物５に試験電圧が規定の時間印加される際、当該２本のリード線を介して流れる電流の値が基準値を超えるか否か判定する。接続状態確認部３０の第１スイッチ部３１は、２本のリード線の本耐電圧試験装置１側を、試験電圧印加部１０に接続するか、確認電圧印加部３２に接続するか切り替える。接続状態確認部３０の接続状態判定部３３は、被試験物５に確認電圧が印加開始された後、２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して被試験物５と耐電圧試験装置１との接続状態が正常か異常かを判定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
耐電圧試験すべき被試験物の両端電極に２本のリード線を介して規定の試験電圧を印加する試験電圧印加部と、
前記被試験物に試験電圧が規定の時間印加される際、当該２本のリード線を介して流れる電流の値が基準値を超えるか否か判定する耐電圧判定部と、
前記被試験物と本耐電圧試験装置との接続状態を確認する接続状態確認部と、を備え、
前記接続状態確認部は、
前記被試験物の両端電極に２本のリード線を介して接続状態確認用の確認電圧を印加する確認電圧印加部と、
前記２本のリード線の本耐電圧試験装置側を、前記試験電圧印加部に接続するか、前記確認電圧印加部に接続するか切り替えるスイッチ部と、
前記被試験物の両端電極と前記確認電圧印加部が接続され、前記被試験物に確認電圧が印加開始された後、前記２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して前記接続状態が正常か異常かを判定する接続状態判定部と、を含むことを特徴とする耐電圧試験装置。
【請求項２】
前記接続状態判定部は、前記２本のリード線の電圧の上昇速度が設定値より遅いとき、前記接続状態を正常と判定し、速いとき異常と判定することを特徴とする請求項１に記載の耐電圧試験装置。
【請求項３】
絶縁抵抗試験すべき被試験物の両端電極に２本のリード線を介して規定の試験電圧を印加する試験電圧印加部と、
前記被試験物に試験電圧が印加された状態において、当該２本のリード線を介して流れる電流の値を検出して抵抗値を測定する測定部と、
前記被試験物と本絶縁抵抗試験装置との接続状態を確認する接続状態確認部と、を備え、
前記接続状態確認部は、
前記被試験物の両端電極に２本のリード線を介して接続状態確認用の確認電圧を印加する確認電圧印加部と、
前記２本のリード線の本絶縁抵抗試験装置側を、前記試験電圧印加部に接続するか、前記確認電圧印加部に接続するか切り替えるスイッチ部と、
前記被試験物の両端電極と前記確認電圧印加部が接続され、前記被試験物に確認電圧が印加開始された後、前記２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して前記接続状態が正常か異常かを判定する接続状態判定部と、を含むことを特徴とする絶縁抵抗試験装置。
【請求項４】
前記接続状態判定部は、前記２本のリード線の電圧の上昇速度が設定値より遅いとき、前記接続状態を正常と判定し、速いとき異常と判定することを特徴とする請求項３に記載の絶縁抵抗試験装置。
【請求項５】
耐電圧試験装置または絶縁抵抗試験装置と、被試験物との接続状態を確認する接続状態確認回路であって、
前記被試験物の両端電極に、前記接続状態確認用の確認電圧を印加する確認電圧印加部と、
前記被試験物の両端電極に一方の端子が接続された２本のリード線の他方の端子を、前記被試験物に試験電圧を印加する試験電圧印加部に接続するか、前記確認電圧印加部に接続するか切り替えるスイッチ部と、
前記被試験物の両端電極と前記確認電圧印加部が接続され、前記被試験物に確認電圧が印加開始された後、前記２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して前記接続状態が正常か異常かを判定する接続状態判定部と、
を備えることを特徴とする接続状態確認回路。
【請求項６】
前記接続状態判定部は、前記２本のリード線の電圧の上昇速度が設定値より遅いとき、前記接続状態を正常と判定し、速いとき異常と判定することを特徴とする請求項５に記載の接続状態確認回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、接続状態検出回路を搭載した耐電圧試験装置、絶縁抵抗試験装置、及び被試験物と試験装置との接続状態を確認する接続状態確認回路に関する。
に関する。
【背景技術】
【０００２】
電気機器の出荷前には、感電や火災等に対する安全性を試験するために耐電圧試験、絶縁抵抗試験が行われる。耐電圧試験は、絶縁部分の両端に高電圧を規定の時間印加し、絶縁破壊が起きるか否かを試験するものである。絶縁抵抗試験は、絶縁部分の両端に規定の電圧を印加して電流値を検出し、検出した電流値が規定の電流値以下であるか否かを試験するものである。即ち絶縁抵抗値が規定の抵抗値以上であるか否かを試験するものである。これらの試験には耐電圧試験装置、絶縁抵抗試験装置が用いられる。
【０００３】
耐電圧試験装置、絶縁抵抗試験装置を使用する際、被試験物に繋ぐリード線（ケーブル）が断線していたり、被試験物の電極を挟むためのクリップが接触不良を起こしている場合、正確な試験を行うことができない。この場合、実際には被試験物に対する試験は行われていないことになるが、合格と誤って判定されることがある。これに対して断線・接触不良チェック機能を搭載した試験装置が提案されている（特許文献１−３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平０６−１３０１１８号公報
【特許文献２】特開２００４−２２６１７９号公報
【特許文献３】特開２００７−１７１０６９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の断線・接触不良チェック機能は、試験用の２接点と２本のリード線、断線・接触不良検出用の２接点と２本のリード線を必要とし、合計４接点と４本のリード線を必要としていた。断線・接触不良チェック時には４接点を被試験物の端子に接続した状態で、試験用の２本のリード線から試験用の電源を切り離し、４接点が直列に接続された閉ループ回路を形成するように４本のリード線を結線する。閉ループ回路に小電圧を印加し、閉ループ回路に電流が流れるか否かを検出することにより、試験用の２接点と２本のリード線が正常であるか否かをチェックする。閉ループ回路に電流が流れる場合、試験用の２接点は接触良好であり、試験用の２本のリード線は断線していないと判断できる。
【０００６】
しかしながら、被試験物の接続部分の面積が小さい場合、４接点全てを接続することが難しい場合があった。また小さな接続部分に４個のクリップを挟む作業は作業時間の増大につながっていた。
【０００７】
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、被試験物と試験装置との接点を増やさずに、被試験物と試験装置との接続状態を確認する技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある態様の耐電圧試験装置は、耐電圧試験すべき被試験物の両端電極に２本のリード線を介して規定の試験電圧を印加する試験電圧印加部と、前記被試験物に試験電圧が規定の時間印加される際、当該２本のリード線を介して流れる電流の値が基準値を超えるか否か判定する耐電圧判定部と、前記被試験物と本耐電圧試験装置との接続状態を確認する接続状態確認部と、を備える。前記接続状態確認部は、前記被試験物の両端電極に２本のリード線を介して接続状態確認用の確認電圧を印加する確認電圧印加部と、前記２本のリード線の本耐電圧試験装置側を、前記試験電圧印加部に接続するか、前記確認電圧印加部に接続するか切り替えるスイッチ部と、前記被試験物の両端電極と前記確認電圧印加部が接続され、前記被試験物に確認電圧が印加開始された後、前記２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して前記接続状態が正常か異常かを判定する接続状態判定部と、を含む。
【０００９】
本発明の別の態様は、絶縁抵抗試験装置である。この装置は、絶縁抵抗試験すべき被試験物の両端電極に２本のリード線を介して規定の試験電圧を印加する試験電圧印加部と、前記被試験物に試験電圧が印加された状態において、当該２本のリード線を介して流れる電流の値を検出して抵抗値を測定する測定部と、前記被試験物と本絶縁抵抗試験装置との接続状態を確認する接続状態確認部と、を備える。前記接続状態確認部は、前記被試験物の両端電極に２本のリード線を介して接続状態確認用の確認電圧を印加する確認電圧印加部と、前記２本のリード線の本絶縁抵抗試験装置側を、前記試験電圧印加部に接続するか、前記確認電圧印加部に接続するか切り替えるスイッチ部と、前記被試験物の両端電極と前記確認電圧印加部が接続され、前記被試験物に確認電圧が印加開始された後、前記２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して前記接続状態が正常か異常かを判定する接続状態判定部と、を含む。
【００１０】
本発明のさらに別の態様は、接続状態確認回路である。この接続状態確認回路は、耐電圧試験装置または絶縁抵抗試験装置と、被試験物との接続状態を確認する接続状態確認回路であって、前記被試験物の両端電極に、前記接続状態確認用の確認電圧を印加する確認電圧印加部と、前記被試験物の両端電極に一方の端子が接続された２本のリード線の他方の端子を、前記被試験物に試験電圧を印加する試験電圧印加部に接続するか、前記確認電圧印加部に接続するか切り替えるスイッチ部と、前記被試験物の両端電極と前記確認電圧印加部が接続され、前記被試験物に確認電圧が印加開始された後、前記２本のリード線の電圧の立ち上がりを監視して前記接続状態が正常か異常かを判定する接続状態判定部と、を備える。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、被試験物と試験装置との接点を増やさずに、被試験物と試験装置との接続状態を確認できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施の形態１に係る耐電圧試験装置の構成を示す図である。
【図２】図２（ａ）−（ｂ）は、接続状態確認モードにおける電圧印加開始直後の電圧波形イメージを示す図である。
【図３】図１の接続状態確認部の実装例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係る絶縁抵抗試験装置の構成を示す図である。
【図５】耐電圧・絶縁抵抗試験装置の実装例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
図１は、本発明の実施の形態１に係る耐電圧試験装置１の構成を示す図である。本実施の形態では被試験物５として通信機器における絶縁部分を想定する。本来絶縁されるべき２本の配線間がハンダ不良や、埃や塵といった不純物の混入により導通していたり、耐電圧が下がっている場合がある。また人間が触れる筐体（絶縁物）が絶縁不良を起こしていると感電する可能性がある。従って内部回路と筐体間が絶縁されているかも試験する必要がある。このように耐電圧試験では、絶縁部分が十分な絶縁耐力を有しているか否かを試験する。
【００１４】
耐電圧試験装置１は試験電圧印加部１０、耐電圧判定部２０及び接続状態確認部３０を備える。試験電圧印加部１０は、耐電圧試験すべき被試験物５の両端電極に２本のリード線を介して規定の試験電圧を印加する。具体的には、被試験物５の第１電極５１ａと第１リード線４０ａの第１接点４１ａが接続され、被試験物５の第２電極５１ｂと第２リード線４０ｂの第２接点４１ｂが接続される。第１リード線４０ａの第１接点４１ａ及び第２リード線４０ｂの第２接点４１ｂはそれぞれ例えば、ワニグチクリップで構成される。作業者は、被試験物５の第１電極５１ａを第１接点４１ａで挟み、被試験物５の第２電極５１ｂを第２接点４１ｂで挟み、被試験物５と耐電圧試験装置１を電気的に接続させる。
【００１５】
耐電圧判定部２０は、試験電圧印加部１０から被試験物５に規定の試験電圧が規定の時間が印加される際、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂを介して流れる電流の値が基準値を超えるか否か判定する。耐電圧判定部２０は、電流計および電圧計を含んでいる。当該電流計は、試験電圧印加部１０→第１リード線４０ａ→被試験物５→第２リード線４０ｂ→試験電圧印加部１０で形成される閉ループに挿入される電流検出抵抗Ｒ１の両端電圧をもとに、当該閉ループに流れる電流の値を検出する。絶縁が良好な場合は、電圧印加時に当該閉ループには漏れ電流しか流れない。
【００１６】
耐電圧試験では、被試験物５が扱う電圧より高い複数の電圧をそれぞれ規定の時間、被試験物５に印加して電流値を測定する。耐電圧判定部２０は測定した電流値が、予め設定された上限基準値より大きい場合は不良と判定する。また測定した電流値が予め設定された下限基準値より小さい場合も不良と判定する。正常な漏れ電流の範囲を下方向に逸脱している場合も、何らかの不具合が発生していると推測される。耐電圧判定部２０は測定した電流値が、当該上限基準値と下限基準値の範囲に収まる場合は良好と判定する。試験電圧印加部１０から印加する電圧の値、当該電圧の印加時間、上限基準値、下限基準値は、被試験物５の仕様に合わせて作業者が個別に設定する。
【００１７】
接続状態確認部３０は、被試験物５と耐電圧試験装置１との接続状態を事前に確認するための構成である。具体的には接続状態確認部３０は、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂに断線か発生していないか、第１接点４１ａ及び第２接点４１ｂが接触不良を起こしていないかを、上記の耐電圧試験の前に確認する。
【００１８】
接続状態確認部３０は、第１スイッチ部３１、確認電圧印加部３２及び接続状態判定部３３を含む。確認電圧印加部３２は、被試験物５の第１電極５１ａ及び第２電極５１ｂに、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂを介して、接続状態確認用の確認電圧を印加する。この確認電圧は上記試験電圧と異なり微弱な電圧でよく、例えば３〜５Ｖ程度の電圧に設定される。
【００１９】
第１スイッチ部３１は、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂの試験装置側を、試験電圧印加部１０に接続するか確認電圧印加部３２に接続するか切り替える。通常時は試験電圧印加部１０に接続される。耐電圧試験モードに先立つ接続状態確認モードにおいて確認電圧印加部３２に接続される。
【００２０】
接続状態判定部３３は、被試験物５の第１電極５１ａ及び第２電極５１ｂと確認電圧印加部３２が接続され、被試験物５に確認電圧が印加開始された後、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂの電圧の立ち上がりを監視する。これにより被試験物５と耐電圧試験装置１の接続状態が正常か異常かを判定する。
【００２１】
具体的には接続状態判定部３３は確認電圧印加直後の、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂの電圧の上昇速度（角度、または傾きと考えてもよい）が設定値より遅いとき、上記接続状態を正常と判定し、速いとき異常と判定する。被試験物５と耐電圧試験装置１が正常に接続されている場合、被試験物５の配線（特にＰＣＢ配線）が浮遊容量を持つため、印加電圧の立ち上がり波形は緩やかに鈍りながら上昇する。反対に被試験物５と耐電圧試験装置１が正常に接続されていない場合、被試験物５の配線の浮遊容量の影響を受けないため、印加電圧の立ち上がり波形が急峻に上昇する。従って接続状態確認部３０は、印加電圧の上昇速度を検出することにより、上記接続状態が正常であるか異常であるかを判定できる。
【００２２】
図２（ａ）−（ｂ）は、接続状態確認モードにおける電圧印加開始直後の電圧波形イメージを示す図である。図２（ａ）は被試験物５と耐電圧試験装置１との接続状態が正常な場合の電圧波形イメージを示し、図２（ｂ）は被試験物５と耐電圧試験装置１との接続状態が異常な場合の電圧波形イメージを示している。
【００２３】
上記接続状態が正常である場合、第１スイッチ部３１は被試験物５から確認電圧印加部３２を切り放し、被試験物５に試験電圧印加部１０を接続させる。その後、耐電圧試験が開始される。上記接続状態が異常である場合、被試験物５が個別検査の対象となる。
【００２４】
図３は、図１の接続状態確認部３０の実装例を示す図である。なお図３では便宜的に、図１の試験電圧印加部１０と耐電圧判定部２０のブロックを合わせて、耐電圧試験ブロック１００と表記している。
【００２５】
第１リード線４０ａの試験装置側の端子は、耐電圧試験装置１の高電位側端子に接続され、第２リード線４０ｂの試験装置側の端子は、耐電圧試験装置１の低電位側端子に接続される。第１スイッチ部３１は第１リレーＳ１ａ及び第２リレーＳ１ｂを含む。第１リレーＳ１ａ及び第２リレーＳ１ｂは切替接点型のリレーである。耐電圧試験装置１の高電位側端子は第１電流制限抵抗Ｒ２ａを介して第１リレーＳ１ａのコモン接点に接続される。耐電圧試験装置１の低電位側端子は第２電流制限抵抗Ｒ２ｂを介して第２リレーＳ１ｂのコモン接点に接続される。
【００２６】
第１リレーＳ１ａのノーマルクローズ接点は、耐電圧試験ブロック１００の高電位側配線に接続され、ノーマルオープン接点は、接続状態確認部３０の高電位側配線に接続される。第２リレーＳ１ｂのノーマルクローズ接点は、耐電圧試験ブロック１００の低電位側配線に接続され、ノーマルオープン接点は、接続状態確認部３０の低電位側配線に接続される。
【００２７】
本実装例では、接続状態判定部３３はＣＰＵ３３ａで構成される。接続状態確認部３０の高電位側配線は第１アンプ３４ａを介してＣＰＵ３３ａの第１アナログポートＡＮ０に接続される。接続状態確認部３０の低電位側配線は第２アンプ３４ｂ及びローパスフィルタ３５を介してＣＰＵ３３ａの第２アナログポートＡＮ１に接続される。
【００２８】
接続状態確認部３０の高電位側配線には、プルアップ抵抗Ｒ３ａを介して確認電圧印加用の電源ＶＤＤが接続される。接続状態確認部３０の低電位側配線には、プルダウン抵抗Ｒ３ｂを介して確認電圧印加用のグラウンドＧＮＤ（具体的には、シャシグラウンド）が接続される。
【００２９】
ＣＰＵ３３ａは第１アナログポートＡＮ０及び第２アナログポートＡＮ１に入力されたアナログ電圧値をデジタルデジタル値に変換し、各時刻の電圧値を検出することにより、確認電圧印加時の電圧上昇の速度を算出する。
【００３０】
以上説明したように本実施の形態１によれば、接続状態確認部３０を追加して確認電圧印加時の電圧上昇速度を監視することにより、被試験物５と耐電圧試験装置１との接点数を増やさずに両者の接続状態を確認できる。即ち２本のリード線と２接点のみで接続状態の確認と実際の耐電圧試験の両方を行うことができる。
【００３１】
従来の接続状態確認で必要であった接触不良検出用の別の２本のリード線を、被試験物５の電極に繋ぐ必要がないため作業時間が短縮する。また被試験物５の電極の面積が小さく、接触不良検出用のリード線を繋ぐスペースがない場合であっても接続確認を行うことができる。
【００３２】
また接続状態確認部３０を一つのボードに実装することにより、接続確認機能を持たない既存の耐電圧試験装置１に容易に追加できる。また耐電圧試験装置１の筐体内にスペースがない場合、接続状態確認部３０を外付けして使用してもよい。
【００３３】
図４は、本発明の実施の形態２に係る絶縁抵抗試験装置２の構成を示す図である。本実施の形態でも被試験物５として通信機器における絶縁部分を想定する。絶縁抵抗試験装置２の構成は、耐電圧試験装置１の構成と多くが共通しており、以下、両者の相違点を中心に説明する。実施の形態２に係る絶縁抵抗試験装置２は、実施の形態１に係る耐電圧試験装置１の耐電圧判定部２０の代わりに抵抗測定部２５を備える。
【００３４】
絶縁抵抗試験装置２の試験電圧印加部１０により印加される試験電圧は、耐電圧試験装置１の試験電圧印加部１０により印加される試験電圧より低い電圧が印加される。抵抗測定部２５は、試験電圧印加部１０から被試験物５に試験電圧が印加された状態において、第１リード線４０ａ及び第２リード線４０ｂを介して流れる電流の値を検出して抵抗値を測定する。抵抗値は印加した試験電圧の値と検出した電流の値の比率から算出できる。抵抗測定部２５は、測定した抵抗値が予め設定された上限基準値と下限基準値の範囲に収まる場合は良好と判定し、当該範囲を逸脱する場合は不良と判定する。試験電圧印加部１０から印加する電圧の値、上限基準値、下限基準値は、被試験物５の仕様に合わせて作業者が個別に設定する。
【００３５】
接続状態確認部３０の構成および動作は、実施の形態１に係る接続状態確認部３０と同じであるため説明を省略する。実施の形態２によれば、絶縁抵抗試験装置２に接続状態確認部３０を設けることにより、実施の形態１と同様の効果を奏する。通常、耐電圧試験と絶縁抵抗試験は両方行われる。前者は試験物が規定の絶縁耐力を有するかを見る試験であり、後者は試験物の絶縁抵抗が規定の範囲に収っているかを見る試験であり、両者は観点が異なる。ただし両者の試験は類似しており、耐電圧試験と絶縁抵抗試験の両方を行うことができる耐電圧・絶縁試験装置も販売されている。
【００３６】
図５は、耐電圧・絶縁抵抗試験装置３の実装例を示す図である。なお図５では便宜的に、図１の試験電圧印加部１０と耐電圧判定部２０のブロックを合わせて耐電圧試験ブロック１００と表記しており、図４の試験電圧印加部１０と抵抗測定部２５のブロックを合わせて絶縁抵抗試験ブロック２００と表記している。
【００３７】
本実装例は、図３に示した実装例に加えて第２スイッチ部３００を備えている。第２スイッチ部３００は第３リレーＳ２ａ及び第４リレーＳ２ｂを含む。第３リレーＳ２ａ及び第４リレーＳ２ｂも切替接点型のリレーである。第１リレーＳ１ａのノーマルクローズ接点は第３リレーＳ２ａのコモン接点に接続され、第２リレーＳ１ｂのノーマルクローズ接点は第４リレーＳ２ｂのコモン接点に接続される。第３リレーＳ２ａのノーマルクローズ接点及びノーマルオープン端子の一方は耐電圧試験ブロック１００の高電位側配線に接続され、他方は絶縁抵抗試験ブロック２００の高電位側配線に接続される。第４リレーＳ２ｂのノーマルクローズ接点及びノーマルオープン端子の一方は耐電圧試験ブロック１００の低電位側配線に接続され、他方は絶縁抵抗試験ブロック２００の低電位側配線に接続される。
【００３８】
なお第２スイッチ部３００を設けて回路的に耐電圧試験ブロック１００と絶縁抵抗試験ブロック２００を分離するのではなく、耐電圧試験ブロック１００の試験電圧印加部１０と絶縁抵抗試験ブロック２００の試験電圧印加部１０を共通化し、耐電圧試験ブロック１００の耐電圧判定部２０と絶縁抵抗試験ブロック２００の抵抗測定部２５を共通化する構成も可能である。
【００３９】
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
【００４０】
上記実施の形態１の説明では被試験物５に直流の試験電圧を印加する試験方法を想定したが、交流の試験電圧を印加する試験方法にも対応できる。
【符号の説明】
【００４１】
１  耐電圧試験装置、  ２  絶縁抵抗試験装置、  ３  耐電圧・絶縁抵抗試験装置、  ５  被試験物、  １０  試験電圧印加部、  ２０  耐電圧判定部、  ２５  抵抗測定部、  ３０  接続状態確認部、  ３１  第１スイッチ部、  Ｓ１ａ  第１リレー、  Ｓ１ｂ  第２リレー、  ３２  確認電圧印加部、  ３３  接続状態判定部、  ３３ａ  ＣＰＵ、  ３４ａ  第１アンプ、  ３４ｂ  第２アンプ、  ３５  ローパスフィルタ、  ４０ａ  第１リード線、  ４０ｂ  第２リード線、  ４１ａ  第１接点、  ４１ｂ  第２接点、  ５１ａ  第１電極、  ５１ｂ  第２電極、  Ｒ１  電流検出抵抗、  Ｒ２ａ  第１電流制限抵抗、  Ｒ２ｂ  第２電流制限抵抗、  Ｒ３ａ  プルアップ抵抗、  Ｒ３ｂ  プルダウン抵抗、  １００  耐電圧試験ブロック、  ２００  絶縁抵抗試験ブロック、  ３００  第２スイッチ部、  Ｓ２ａ  第３リレー、  Ｓ２ｂ  第４リレー。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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