(57)【要約】【課題】プローブ及びＤＵＴ間の電気的パスの切断が生じるのを防止する。【解決手段】磁気固定式アセンブリには、磁気的結合部品２５５と、これに一体化された磁気的サブ部品２１５、２２５、２３５及び２４５とを設けることができる。磁気的サブ部品２１５、２２５、２３５及び２４５は、試験プローブ２１０、２２０、２３０及び２４０のそれぞれと結合するよう構成される金属バンド２１８、２２８、２３８及び２４８のそれぞれと磁気的に結合するよう構成しても良い。【選択図】図２
2016114608.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気的結合部品と、
上記磁気的結合部品と一体化された少なくとも１つの磁気的サブ部品と
を具え、
少なくとも１つの上記磁気的サブ部品が、試験プローブと結合されるよう構成される金属バンドと磁気的に結合されるよう構成される磁気固定式アセンブリ。
【請求項２】
磁気固定式本体を更に具え、
上記磁気的結合部品が、上記磁気固定式本体と固定可能に結合されるよう構成される請求項１の磁気固定式アセンブリ。
【請求項３】
複数の試験プローブと、
それぞれが複数の上記試験プローブの１つと物理的に結合されるよう構成される複数の金属バンドと、
磁気固定式本体と、
該磁気固定式本体と固定可能に結合される磁気的結合部品と、
上記磁気的結合部品と一体化された少なくとも１つの磁気的サブ部品と
を有する磁気固定式アセンブリと
を具え、
少なくとも１つの上記磁気的サブ部品のそれぞれが、複数の上記金属バンドの１つと磁気的に結合されるよう構成される磁気固定式アセンブリ・システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、回路基板及びその上のデバイスを試験するための試験プローブ及びその他デバイスに関する。
【背景技術】
【０００２】
今日のプロービング・アプリケーションでは、試験を行うために、試験プローブを回路基板上の非常に小さいデバイスに接続する必要がある。プローブから被測定デバイス（ＤＵＴ）までのこれら接続は、通常、非常に細いワイヤ（例えば、０.００４〜０.００８インチ、つまり、０.１〜０.２ミリメータ）によって確立される。典型的なプローブ・アセンブリには、典型的には、オシロスコープに装着された補償ボックスと、ある長さ（例えば、３６〜４７インチ、つまり、９１.４〜１１９センチメータ）の同軸ケーブルと、プローブ・チップのある試験プローブとが含まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第５５３２２４７号公報
【特許文献２】特開２００３−２３２８１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
プローブ・チップをＤＵＴに接続する場合、回路基板アセンブリやプローブ・アセンブリ（ケーブルを含む）のいずれかに由来するどのような動き又は力も、ＤＵＴとプローブ・チップ間の細いワイヤ接続に伝わり、その電気的なパスに好ましくなく不都合な切断を生じさせる。従来試みられた解決手法としては、プローブ・チップからＤＵＴに近い回路基板アセンブリまでテープをするか、接着剤をつけるというものがあり、これによって、ケーブルがワイヤを引っ張ることがないようにしている。しかし、これは、プローブ・チップ近くでメカ的に張力を緩和する何らかの解決手法を好むユーザにとっては、重大な懸念事項となっていた。
【０００５】
従って、改良された試験プローブ・アセンブリへのニーズが依然として残っている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
開示技術の実施形態は、大まかに言えば、１つ以上の試験プローブを結合し、これらに対し、別の状況においては、試験プローブ及び被測定デバイス（ＤＵＴ）間に確立された電気的接続を途絶又は切断させるであろう故意でない衝撃又は他の動きから保護するように構成される磁気固定型アセンブリに関する。本発明は、以下のように種々の概念から表現できる。
【０００７】
本発明の概念１は、磁気固定式アセンブリであって、
磁気的結合部品と、
上記磁気的結合部品と一体化された少なくとも１つの磁気的サブ部品と
を具え、
少なくとも１つの上記磁気的サブ部品が、試験プローブと結合されるよう構成される金属バンドと磁気的に結合されるよう構成される。
【０００８】
本発明の概念２は、上記概念１の磁気固定式アセンブリであって、磁気固定式本体を更に具え、上記磁気的結合部品が、上記磁気固定式本体と固定可能に結合されるよう構成される。
【０００９】
本発明の概念３は、上記概念２の磁気固定式アセンブリであって、このとき、上記磁気固定式本体には、上記磁気固定式アセンブリを表面に物理的に結合するのを促進するよう構成される非導電性高摩擦シートがある。
【００１０】
本発明の概念４は、上記概念１の磁気固定式アセンブリであって、このとき、上記磁気的結合部品は、ある面と磁気的に結合するよう構成される。
【００１１】
本発明の概念５は、上記概念１の磁気固定式アセンブリであって、このとき、少なくとも１つの上記磁気的サブ部品は、ネオジウム磁石である。
【００１２】
本発明の概念６は、上記概念１の磁気固定式アセンブリであって、このとき、上記金属バンドは、試験装置の特定のチャンネルに対応するある色である。
【００１３】
本発明の概念７は、磁気固定式アセンブリ・システムであって、
複数の試験プローブと、
それぞれが複数の上記試験プローブの１つと物理的に結合されるよう構成される複数の金属バンドと、
磁気固定式本体と、
該磁気固定式本体と固定可能に結合される磁気的結合部品と、
上記磁気的結合部品と一体化された少なくとも１つの磁気的サブ部品と
を有する磁気固定式アセンブリと
を具え、
少なくとも１つの上記磁気的サブ部品のそれぞれが、複数の上記金属バンドの１つと磁気的に結合されるよう構成される。
【００１４】
本発明の概念８は、上記概念７のシステムであって、このとき、複数の上記金属バンドのそれぞれは、試験装置の特定のチャンネルに対応するある色である。
【００１５】
本発明の概念９は、上記概念８のシステムであって、このとき、試験装置は、オシロスコープである。
【００１６】
本発明の概念１０は、上記概念７のシステムであって、被測定デバイス（ＤＵＴ）に電気的に結合されるよう構成される少なくとも１つの可撓性回路を更に具え、このとき、複数の上記試験プローブのそれぞれが、
可撓性本体と
少なくとも１つの上記可撓性回路の１つと電気的に結合されるよう構成される可撓性コネクタとを有している。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】図１は、本発明のある実施形態による磁気固定式アセンブリで固定可能に結合された試験プローブの例を示す。
【図２】図２は、本発明のある実施形態による磁気的結合部品によって固定可能に結合される試験プローブの第１例を示す。
【図３】図３は、本発明のある実施形態による磁気的結合部品によって固定可能に結合される試験プローブの第２例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明の実施形態は、大まかに言えば、電気的接続を途絶又は完全に切断さえしかねない衝撃又は不注意な動きから、被測定デバイス（ＤＵＴ）の１つ以上の接続点近くに配置された試験プローブ（試験プローブ・チップを含む）を保護するための種々のシステム及び方法に関する。
【００１９】
本発明のある実施形態としては、印刷回路基板（ＰＣＢ）への簡単な取り付け（例えば、ＶＨＢテープ又は接着剤）のための平らな表面があって、小さく、軽く、柔軟性のある可撓性回路又は可撓性コネクタがある。
【００２０】
図１は、本発明のある実施形態による磁気固定式（magnetic anchor base）アセンブリ１５０で固定可能に結合された試験プローブ１１０、１２０、１３０及び１４０の第１例１００を示す。各試験プローブ１１０、１２０、１３０及び１４０には、それぞれ可撓性本体１１２、１２２、１３２及び１４２と、それぞれオシロスコープのような試験装置に接続されるケーブル１１６、１２６、１３６及び１４６とがある。
【００２１】
各試験プローブ １１０、１２０、１３０及び１４０には、それぞれ可撓性コネクタ１１４、１２４、１３４及び１４４もあり、これは、ＤＵＴ（図示せず）と一体に組み込まれるか、さもなければ電気的に結合される可撓性回路に物理的に結合されると共に電気的に接続されるよう構成され、これによって、ＤＵＴと試験装置との間の電気的結合を提供する。
【００２２】
例１００において、磁気固定式アセンブリ１５０には、磁気的結合部品１５５があり、これは、それぞれ金属バンド１１８、１２８、１３８及び１４８によって、試験プローブ１１０、１２０、１３０及び１４０のそれぞれを、その上に固定可能に結合するよう構成される。金属バンド１１８、１２８、１３８及び１４８のそれぞれは、試験プローブ１１０、１２０、１３０及び１４０に、それぞれ、永続的又は一時的に一体化されるか、装着されるか、そもなければ結合される。この過渡部分にこうした固定点を設けることで、可撓性回路又はケーブル１１６、１２６、１３６及び１４６のいずれかに関する潜在的な引っ張りの問題を効果的に排除できるだろう。
【００２３】
ある実施形態では、磁気固定式アセンブリ１５０は、重金属ベースのものであり、これには、いくつかの強力なネオジウム磁石を含めても良い。この固定式アセンブリ１５０の底部には、非導電性で高摩擦の（例えば、粘着性の）シートがあっても良く、これは、固定式アセンブリ１５０をＤＵＴ近くに装着するための、更なるせん断抵抗（shear resistance）を提供する。
【００２４】
磁気固定式アセンブリ１５０の磁気的結合部品１５５は、磁石を用いた更なる取り付けオプションのために分離しても良い。例えば、磁気的結合部品１５５を、実質的に任意の鉄の金属面（例えば、テーブル又はフィクスチャ）上に置くことで、ユーザが、試験プローブ１１０、１２０、１３０及び１４０のいずれか又は全てを、複数の異なる幾何学的配置で配置できるようにしても良い。
【００２５】
図２は、図１に示した磁気的結合部品１５５のような、本発明のある実施形態による磁気的結合部品２５５によって固定可能に結合される試験プローブ２１０、２２０、２３０及び２４０の第１例２００を示す。この例では、磁気的サブ部品２１５、２２５、２３５及び２４５（例えば、ネオジウム磁石）を磁気的結合部品２５５と一体化することによって、試験プローブ２１０、２２０、２３０及び２４０に、それぞれ一体化されるか、装着されるか、さもなければ、結合される金属バンド２１８、２２８、２３８及び２４８による磁気的結合部品２５５と試験プローブ２１０、２２０、２３０及び２４０それぞれとの間の磁気的結合を容易にするか、さもなければ実行する。
【００２６】
図３は、図１に示した磁気的結合部品１５５のような、本発明のある実施形態による磁気的結合部品３５５によって固定可能に結合される試験プローブ３１０及び３４０の第２例３００を示す。この例では、磁気的サブ部品（例えば、ネオジウム磁石）を磁気的結合部品３５５と一体化することによって、試験プローブ３１０及び３４０に、それぞれ一体化されるか、装着されるか、さもなければ、結合される金属バンド３１８及び３４８による磁気的結合部品３５５と試験プローブ３１０及び３４０それぞれとの間の磁気的結合を容易にするか、さもなければ実行する。この例では、２つの磁気的サブ部品３２５及び３３５は、今は、試験プローブと結合されていない。
【００２７】
ある実施形態では、試験プローブ（例えば、図１の試験プローブ１１０、１２０、１３０及び１４０）に装着される１つ以上の金属バンド（例えば、図１の金属バンド１１８、１２８、１３８及び１４８）を、例えば、オシロスコープのチャンネルの識別用に、色づけしても良い。例えば、どのチャンネルが、その金属バンドが結合された試験プローブに対応しているか、ユーザが視覚的に識別できるように、これら金属バンドのそれぞれに特定の色を設けても良い。鉄の金属に色マーカ・バンドをデザインすることで、ケーブルの張力を強力に緩和するよう構成される磁気固定式アセンブリに、プローブ・アセンブリのケーブル端部を、ユーザが効果的に取り付けることが可能なる。
【００２８】
図示した実施形態を参照しながら、本発明の原理を記述し、説明してきたが、こうした原理から離れることなく、図示した実施形態の構成や細部を変更したり、望ましい形態に組み合わせても良いことが理解できよう。先の説明では、特定の実施形態に絞って説明しているが、別の構成も考えられる。
【００２９】
特に、「本発明の実施形態によると」といった表現を本願では用いているが、こうした言い回しは、大まかに言って実施形態として可能であることを意味し、特定の実施形態の構成に限定することを意図するものではない。本願で用いているように、これら用語は、別の実施形態に組み合わせ可能な同じ又は異なる実施形態に言及するものである。
【００３０】
従って、本願で説明した実施形態の幅広い種々の変更の観点から、この詳細な説明や添付の資料は、単に説明の都合によるものに過ぎず、本発明の範囲を限定するものと考えるべきではない。したがって、本発明として請求するものは、添付の請求項及びそれらと等価なものの範囲と要旨の内から由来する変更したもの全てである。
【符号の説明】
【００３１】
１１０  試験プローブ
１１２  可撓性本体
１１４  可撓性コネクタ
１１６  ケーブル
１１８  金属バンド
１２０  試験プローブ
１２２  可撓性本体
１２４  可撓性コネクタ
１２６  ケーブル
１２８  金属バンド
１３０  試験プローブ
１３２  可撓性本体
１３４  可撓性コネクタ
１３６  ケーブル
１３８  金属バンド
１４０  試験プローブ
１４２  可撓性本体
１４４  可撓性コネクタ
１４６  ケーブル
１４８  金属バンド
１５０  磁気固定式アセンブリ
１５５  磁気的結合部品
２１０  試験プローブ
２１５  磁気的サブ部品
２１８  金属バンド
２２０  試験プローブ
２２５  磁気的サブ部品
２２８  金属バンド
２３０  試験プローブ
２３５  磁気的サブ部品
２３８  金属バンド
２４０  試験プローブ
２４５  磁気的サブ部品
２４８  金属バンド
２５５  磁気的結合部品
３１０  試験プローブ
３１８  金属バンド
３２５  磁気的サブ部品
３３５  磁気的サブ部品
３４０  試験プローブ
３４８  金属バンド
３５５  磁気的結合部品
【図１】
2016114608.tif 000003
【図２】
2016114608.tif 000004
【図３】
2016114608.tif 000005
【外国語明細書】
【発明の名称】Magnetic anchor base assembly and magnetic anchor base assembly system
【技術分野】
【０００１】
This invention relates generally to test probes and other devices used for testing circuit boards and devices thereon.
【背景技術】
【０００２】
Today’s probing applications require connecting test probes to very small devices on circuit boards for testing.  These connections from a probe to a device under test (DUT) are usually established by way of very fine wire (e.g., 0.004-0.008 inches, or 0.1 - 0.2 millimeters).  A typical probe assembly typically includes a compensation box mounted to an oscilloscope, a coaxial cable of some length (e.g., 36-47 inches, or 91.4 - 119 centimeters), and a test probe having a probe tip.
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第５５３２２４７号公報
【特許文献２】特開２００３−２３２８１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
When the probe tip is connected to the DUT, any movement or force from either the circuit board assembly or the probe assembly (including the cable) will transfer to the fine wire connection between the DUT and the probe tip, undesirably and disadvantageously causing a break in the electrical path.  Prior attempted solutions include taping or gluing probe tips to the circuit board assembly nearest to the DUT, thus eliminating any cable pull on the wires.  However, this has been a significant concern to users, who would prefer to have some sort of solution for mechanical strain relief near the probe tip.
【０００５】
Accordingly, a need remains for improved test probe assemblies.
【課題を解決するための手段】
【０００６】
Embodiments of the disclosed technology generally pertain to magnetic anchor base assemblies configured to couple with one or more test probes to provide protection thereto from unintentional bumps or other movements that could otherwise cause a disruption or break to the electrical connection that has been established between the test probe and a device under test (DUT).  The present invention can be described from various concepts as below.
【０００７】
A concept 1 of the present invention is a magnetic anchor base assembly, comprising:
a magnetic coupling component; and
at least one magnetic sub-component integrated with the magnetic coupling component,
wherein each of the at least one magnetic sub-component is configured to magnetically couple with a metal band, wherein the metal band is configured to couple with a test probe.
【０００８】
A concept 2 of the present invention is the magnetic anchor base assembly of the concept 1, further comprising a magnetic anchor base body, wherein the magnetic coupling component is configured to securably couple with the magnetic anchor base body.
【０００９】
A concept 3 of the present invention is the magnetic anchor base assembly of the concept 2, wherein the magnetic anchor base body includes a non-conductive, high friction sheet configured to facilitate physical coupling of the magnetic anchor base assembly with a surface.
【００１０】
A concept 4 of the present invention is the magnetic anchor base assembly of the concept 1, wherein the magnetic coupling component is configured to magnetically couple with a surface.
【００１１】
A concept 5 of the present invention is the magnetic anchor base assembly of the concept 1, wherein the at least one magnetic sub-component is a Neodymium magnet.
【００１２】
A concept 6 of the present invention is the magnetic anchor base assembly of the concept 1, wherein the metal band is a certain color that corresponds to a particular channel on a test instrument.
【００１３】
A concept 7 of the present invention is a system, comprising:
a plurality of test probes;
a plurality of metal bands, each of which is configured to physically couple with one of the plurality of test probes; and
a magnetic anchor base assembly that includes:
a magnetic anchor base body;
a magnetic coupling component, wherein the magnetic coupling component is configured to securably couple with the magnetic anchor base body; and
at least one magnetic sub-component integrated with the magnetic coupling component, wherein each of the at least one magnetic sub-component is configured to magnetically couple with one of the plurality of metal bands.
【００１４】
A concept 8 of the present invention is the system of the concept 7, wherein each of the plurality of metal bands is a certain color that corresponds to a particular channel on a test instrument.
【００１５】
A concept 9 of the present invention is the system of the concept 8, wherein the test instrument is an oscilloscope.
【００１６】
A concept 10 of the present invention is the system of the concept 7, further comprising at least one flex circuit configured to electrically couple with a device under test (DUT), wherein each of the plurality of test probes includes:
a flex body; and
a flex connector configured to electrically couple with one of the at least one flex circuit.
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】FIGURE 1 illustrates an example of test probes securably coupled with a magnetic anchor base assembly in accordance with certain embodiments of the present invention.
【図２】FIGURE 2 illustrates a first example of test probes securably coupled with a magnetic coupling component in accordance with certain embodiments of the present invention.
【図３】FIGURE 3 illustrates a second example of test probes securably coupled with a magnetic coupling component in accordance with certain embodiments of the present invention.
【発明を実施するための形態】
【００１８】
Embodiments of the present invention generally pertain to various systems and methods for providing protection, e.g., from bumps or other inadvertent movements that could cause a disruption or even full break to an electrical connection, to a test probe (including the test probe tip) positioned at or near one or more connection points to a device under test (DUT).
【００１９】
Certain embodiments of the present invention include a flex circuit and flex connector that are small, lightweight, flexible, and provide a flat surface for easy attachment (e.g., VHB tape or glue) to a printed circuit board (PCB).  
【００２０】
FIGURE 1 illustrates a first example 100 of test probes 110, 120, 130, and 140 that are securably coupled with a magnetic anchor base assembly 150 in accordance with certain embodiments of the present invention.  Each test probe 110, 120, 130, and 140 includes a flex body 112, 122, 132, and 142, respectively, and a cable 116, 126, 136, and 146, respectively, connect to a testing device, e.g., an oscilloscope.
【００２１】
Each test probe 110, 120, 130, and 140 also includes a flex connector 114, 124, 134, and 144, respectively, that is configured to physically couple with and electrically connect to a flex circuit (not shown) that is configured to be integrated with or otherwise be electrically coupled with a DUT (not shown), thus providing the electrical coupling between the DUT and the test device.
【００２２】
In the example 100, a magnetic anchor base assembly 150 includes a magnetic coupling component 155 that is configured to securably couple each of the test probes 110, 120, 130, and 140 therewith by way of metal bands 118, 128, 138, and 148, respectively.  Each of the metal bands 118, 128, 138, and 148 may be permanently or temporarily integrated with, attached to, or otherwise coupled with the test probes 110, 120, 130, and 140, respectively.  Providing such an anchor point at this transition may advantageously eliminate any potential pull issue with regard to either the flex circuits or cables 116, 126, 136, and 146.
【００２３】
In certain embodiments, the magnetic anchor base assembly 150 is a heavy metal base that may incorporate several strong Neodymium magnets.  The bottom of the anchor base assembly 150 may include a non-conductive, high friction (e.g., sticky) sheet that provides additional shear resistance for mounting the anchor base assembly 150 near the DUT.
【００２４】
The magnetic coupling component 155 of the magnetic anchor base assembly 150 may be separated for additional attachment options using the magnetics.  For example, the magnetic coupling component 155 may be placed on virtually any ferrous metal surface (e.g., tables or fixtures) thus providing a user with the ability to position any or all of the test probes 110, 120, 130, and 140  in multiple distinct orientations.
【００２５】
FIGURE 2 illustrates a first example 200 of test probes 210, 220, 230, and 240 that are securably coupled with a magnetic coupling component 255, such as the magnetic coupling component 155 illustrated by FIGURE 1, in accordance with certain embodiments of the present invention.  In the example, magnetic sub-components 215, 225, 235, and 245, e.g., Neodymium magnets, are integrated with the magnetic coupling component 255 to facilitate or otherwise perform the magnetic coupling between the magnetic coupling component 255 and the test probes 210, 220, 230, and 240, respectively, by way of metal bands 218, 228, 238, and 248 that are integrated with, attached to, or otherwise coupled with the test probes 210, 220, 230, and 240, respectively.
【００２６】
FIGURE 3 illustrates a second example 300 of test probes 310 and 340 that are securably coupled with a magnetic coupling component 355, such as the magnetic coupling component 155 illustrated by FIGURE 1, in accordance with certain embodiments of the present invention.  In the example, magnetic sub-components, e.g., Neodymium magnets, are integrated with the magnetic coupling component 355 to facilitate or otherwise perform the magnetic coupling between the magnetic coupling component 355 and the test probes 310 and 340 by way of metal bands 318 and 348, respectively, that are integrated with, attached to, or otherwise coupled with the test probes 310 and 340, respectively.  In the example, two magnetic sub-components 325 and 335 are not currently coupled with a test probe.
【００２７】
In certain embodiments, one or more metal bands (e.g., the metal bands 118, 128, 138, and 148 of FIGURE 1) that are attached to test probes (e.g., the test probes 110, 120, 130, and 140 of FIGURE 1) may be colored, e.g., for scope channel identification.  For example, each of the metal bands may have a specific color for visually enabling a user to identify which channel corresponds to the test probe with which that metal band is coupled.  Designing colored marker bands in a ferrous metal may advantageously allow a user to attach the cable end of a probe assembly to a magnetic anchor base assembly configured to provide strong cable strain relief.
【００２８】
Having described and illustrated the principles of the invention with reference to illustrated embodiments, it will be recognized that the illustrated embodiments may be modified in arrangement and detail without departing from such principles, and may be combined in any desired manner.  And although the foregoing discussion has focused on particular embodiments, other configurations are contemplated.  
【００２９】
In particular, even though expressions such as “according to an embodiment of the present invention” or the like are used herein, these phrases are meant to generally reference embodiment possibilities, and are not intended to limit the invention to particular embodiment configurations.  As used herein, these terms may reference the same or different embodiments that are combinable into other embodiments.
【００３０】
Consequently, in view of the wide variety of permutations to the embodiments that are described herein, this detailed description and accompanying material is intended to be illustrative only, and should not be taken as limiting the scope of the invention.  What is claimed as the invention, therefore, is all such modifications as may come within the scope and spirit of the attached claims and equivalents thereto.
【符号の説明】
【００３１】
110  Test probe
112  Flex body
114  Flex connector
116  Cable
118  metal band
120  Test probe
122  Flex body
124  Flex connector
126  Cable
128  metal band
130  Test probe
132  Flex body
134  Flex connector
136  Cable
138  metal band
140  Test probe
142  Flex body
144  Flex connector
146  Cable
148  metal band
150  magnetic anchor base assembly
155  magnetic coupling component
210  Test probe
215  magnetic sub-component
218  metal band
220  Test probe
225  magnetic sub-component
228  metal band
230  Test probe
235  magnetic sub-component
238  metal band
240  Test probe
245  magnetic sub-component
248  metal band
255  magnetic coupling component
310  Test probe
318  metal band
325  magnetic sub-component
335  magnetic sub-component
340  Test probe
348  metal band
355  magnetic coupling component
【請求項１】
A magnetic anchor base assembly, comprising:
a magnetic coupling component; and
at least one magnetic sub-component integrated with the magnetic coupling component,
wherein each of the at least one magnetic sub-component is configured to magnetically couple with a metal band, wherein the metal band is configured to couple with a test probe.
【請求項２】
The magnetic anchor base assembly of claim 1, further comprising a magnetic anchor base body, wherein the magnetic coupling component is configured to securably couple with the magnetic anchor base body.
【請求項３】
A magnetic anchor base assembly system, comprising:
a plurality of test probes;
a plurality of metal bands, each of which is configured to physically couple with one of the plurality of test probes; and
a magnetic anchor base assembly that includes:
a magnetic anchor base body;
a magnetic coupling component, wherein the magnetic coupling component is configured to securably couple with the magnetic anchor base body; and
at least one magnetic sub-component integrated with the magnetic coupling component,
wherein each of the at least one magnetic sub-component is configured to magnetically couple with one of the plurality of metal bands.
【要約】
【課題】 Prevent causing a break in the electrical path between a probe and a DUT.
【解決手段】 A magnetic anchor base assembly can include a magnetic coupling component 255 and magnetic sub-components 215, 225, 235 and 245 integrated therewith.  The magnetic sub-components 215, 225, 235 and 245 can be configured to magnetically couple with respective metal bands 218, 228, 238 and 248 that are configured to couple with respective test probes 210, 220, 230 and 240.
【選択図】図２
【図１】
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【図２】
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【図３】
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