(57)【要約】【課題】シールド電線そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体を露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することを可能にする。【解決手段】特性測定装置は、測定対象のシールド電線１の高周波特性を測定するための測定機器２４と、測定機器２４に直接又は間接的に接続され且つ基板に固定された、中心導体が中空である他のシールド電線２１ａ，２１ｂとを備える。上記中空の部分はシールド電線１の中心導体を挿入可能に構成されている。測定機器２４は、シールド電線１の信号導体１１の先端を上記他のシールド電線２１ａ，２１ｂの先端の中空部分に差し込み、上記他のシールド電線２１ａ，２１ｂの先端部分とシールド電線１の先端部分とを金属で挟み込んで固定した状態で測定を行う。【選択図】図２Ａ
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象のシールド電線の高周波特性を測定する特性測定方法であって、
測定機器に中心導体が中空である他のシールド電線を直接又は間接的に接続し、前記測定対象のシールド電線の信号導体の先端を前記他のシールド電線の中心導体の中空部分に差し込み、前記他のシールド電線の先端部分と前記測定対象のシールド電線の先端部分とを金属で挟み込んで固定した状態で測定を行う、特性測定方法。
【請求項２】
前記他のシールド電線は、前記測定機器に２本接続されており、
前記測定対象のシールド電線は、２本の信号線の周囲に一括してシールド導体を設けたシールドケーブル、若しくは、２本の同軸ケーブルである、請求項１に記載の特性測定方法。
【請求項３】
測定対象のシールド電線の高周波特性を測定するための測定機器を備えた特性測定装置であって、
前記測定機器に直接又は間接的に接続され且つ基板に固定された、中心導体が中空である他のシールド電線をさらに備え、
前記中空の部分は前記測定対象のシールド電線の中心導体を挿入可能に構成されており、
前記他のシールド電線の先端部分と前記測定対象のシールド電線の先端部分とを挟み込んで固定する金属部材を備えた、特性測定装置。
【請求項４】
前記他のシールド電線は、前記測定機器に２本接続されており、前記基板に並列して固定されている、請求項３に記載の特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シールド電線の高周波特性を測定するための特性測定方法及び特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
シールド電線（シールドケーブルとも言う）としては、１本の信号線を絶縁体で覆ってその周囲にシールド導体を配した同軸電線（同軸ケーブルとも言う）や、２本の信号線を対にしたシールド電線などが知られている。
【０００３】
後者のシールド電線は、デジタル信号を差動伝送方式で信号を伝送する差動信号伝送用ケーブルとして知られている。この差動信号伝送方式は、例えば、位相を１８０度反転させた信号を１対の信号線に同時に入力して送信し、受信側で差分合成することで信号出力を２倍にすることができる。また、送信から受信に至る伝送系路途中で受けたノイズ信号は、１対の信号線に等しく加えられているので、受信側で差動信号として出力したときにキャンセルされ、ノイズが除去されるという機能を有している。
【０００４】
このような差動信号伝送用ケーブルの高周波特性を測定するに際しては、電気長（位相）を合わせた２本のセミリジッドケーブルを測定対象の差動信号伝送用ケーブルに取り付ける方式などが知られている。しかしながら、特に差動信号伝送用ケーブルの端部にコネクタが半田付けにより接続された状態での特性とは異なり、コネクタが接続されていない状態での高周波特性を適確に評価するための確固たる方法は確立されていない。
【０００５】
特許文献１には、差動信号伝送用ケーブルの端末部において生じるインピーダンス不整合を低減し、差動信号伝送用ケーブルそのものが持つ純粋な特性を評価することを目的とした治具が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１３−６４６４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に記載の治具では、測定のために中心導体や絶縁体を露出した部分で高周波特性が変化することを十分に避けることができないため、さらに精度良く電線本来の高周波特性を測定することが求められる。
【０００８】
本発明は、上述した実状に鑑みてなされたものであり、その目的は、シールド電線そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体を露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することを可能にすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明による特性測定方法は、測定対象のシールド電線の高周波特性を測定する特性測定方法であって、測定機器に中心導体が中空である他のシールド電線を直接又は間接的に接続し、上記測定対象のシールド電線の信号導体の先端を上記他のシールド電線の中心導体の中空部分に差し込み、上記他のシールド電線の先端部分と上記測定対象のシールド電線の先端部分とを金属で挟み込んで固定した状態で測定を行うようにしたものである。
【００１０】
本発明による特性測定装置は、測定対象のシールド電線の高周波特性を測定するための測定機器を備えた特性測定装置であって、上記測定機器に直接又は間接的に接続され且つ基板に固定された、中心導体が中空である他のシールド電線をさらに備え、上記中空の部分は上記測定対象のシールド電線の中心導体を挿入可能に構成されており、上記他のシールド電線の先端部分と上記測定対象のシールド電線の先端部分とを挟み込んで固定する金属部材を備えたようにしたものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、シールド電線そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体を露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１Ａ】本発明の実施形態に係る特性測定方法の測定対象となるシールド電線の一例を示す断面図である。
【図１Ｂ】図１Ａのシールド電線の端末部分を示す斜視図である。
【図１Ｃ】図１Ａのシールド電線の高周波特性を測定する際の端末部分の状態を示す図である。
【図２Ａ】本発明の実施形態に係る特性測定装置の一構成例を示す概略図である。
【図２Ｂ】図２Ａの特性測定装置における治具電線の端末部分を示す図である。
【図３Ａ】本発明の実施形態に係る特性測定方法の測定対象となるシールド電線の他の例を示す断面図である。
【図３Ｂ】図３Ａのシールド電線の端末部分を示す斜視図である。
【図３Ｃ】図３Ａのシールド電線の高周波特性を測定する際の端末部分の状態を示す図である。
【図４Ａ】本発明の実施形態に係る特性測定装置の他の構成例を示す概略図である。
【図４Ｂ】図４Ａの特性測定装置における固定部材の一例を示す一部断面図である。
【図５】本発明の実施形態に係る特性測定装置と従来の特性測定装置とを用い、同じシールド電線について差動挿入損失を検証した結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
［本発明の実施形態の説明］
まず、本発明の実施形態を列記して説明する。
（１）本発明の実施形態に係る特性測定方法は、測定対象のシールド電線の高周波特性を測定する特性測定方法であって、測定機器に中心導体が中空である他のシールド電線を直接又は間接的に接続し、上記測定対象のシールド電線の信号導体の先端を上記他のシールド電線の中心導体の中空部分に差し込み、上記他のシールド電線の先端部分と上記測定対象のシールド電線の先端部分とを金属で挟み込んで固定した状態で測定を行うようにしたものである。これにより、シールド電線そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体を露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することができる、といった効果を奏する。
【００１４】
（２）本発明の他の実施形態に係る特性測定方法は、上記（１）の特性測定方法において、上記他のシールド電線は、上記測定機器に２本接続されており、上記測定対象のシールド電線は、２本の信号線の周囲に一括してシールド導体を設けたシールドケーブル、若しくは、２本の同軸ケーブルであるようにしたものである。これにより、上記効果を奏する測定方法を、汎用のケーブルに適用することができる。
【００１５】
（３）本発明の実施形態に係る特性測定装置は、測定対象のシールド電線の高周波特性を測定するための測定機器を備えた特性測定装置であって、上記測定機器に直接又は間接的に接続され且つ基板に固定された、中心導体が中空である他のシールド電線をさらに備え、上記中空の部分は上記測定対象のシールド電線の中心導体を挿入可能に構成されており、上記他のシールド電線の先端部分と上記測定対象のシールド電線の先端部分とを挟み込んで固定する金属部材を備えたようにしたものである。これにより、シールド電線そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体を露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することができる、といった効果を奏する。
【００１６】
（４）本発明の他の実施形態に係る特性測定装置は、上記（３）の特性測定装置において、上記他のシールド電線は、上記測定機器に２本接続されており、上記基板に並列して固定されているようにしたものである。これにより、上記効果を奏する測定方法を、汎用のケーブルに適用することができる。
【００１７】
［本発明の実施形態の詳細］
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る特性測定方法及びその特性測定方法で用いる特性測定装置の具体例について説明する。
【００１８】
図１Ａ〜図１Ｃ及び図２Ａ，図２Ｂを参照しながら、本実施形態に係る特性測定方法の一例について説明する。図１Ａは、本実施形態に係る特性測定方法の測定対象となるシールド電線の一例を示す断面図、図１Ｂは、図１Ａのシールド電線の端末部分を示す斜視図、図１Ｃは、図１Ａのシールド電線の高周波特性を測定する際の端末部分の状態を示す図である。また、図２Ａは、本実施形態に係る特性測定装置の一構成例を示す概略図、図２Ｂは、図２Ａの特性測定装置における治具電線の端末部分を示す図である。
【００１９】
図１Ａ〜図１Ｃで例示するシールド電線１は、単心線又は撚線からなる信号導体１１を所定の誘電率を有する絶縁体（絶縁層）１２で被覆して信号線（又は心線）を形成し、その信号線の外側にシールド導体１３を設けた同軸ケーブルである。
【００２０】
信号導体１１は、銅やアルミ等の電気良導体、又はこれらの電気良導体に錫メッキ等を施した単心線又は撚線で形成される。信号導体１１を電気的に絶縁する絶縁体１２としては、できるだけ誘電率の小さいものが用いられ、例えば、ポリエチレン（ＰＥ）、エチレン酢酸ビニル共重合体（ＥＶＡ）、フッ素樹脂等が用いられる。シールド導体１３としては、金属素線を編組或いは横巻きするか、若しくは金属樹脂テープを螺旋状に１又は複数枚巻き付けるなどして形成される。
【００２１】
そして、シールド導体１３の外周には、シールド導体１３を外部と電気的により絶縁すると共に、汚染を防ぎ、ケーブルとしての耐水性を持たせ、保護するために、外被１４が施される。この外被１４は、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、フッ素樹脂等の熱可塑性樹脂の押出し成形で形成してもよく、樹脂テープの巻き付けで形成してもよい。
【００２２】
本実施形態に係る特性測定装置は、図２Ａで例示するように、シールド電線１を測定対象（サンプル）とし、そのシールド電線１の高周波特性を測定するための測定機器２４を備えている。高周波特性としては、反射損失、挿入損失、特性インピーダンス、コモンモード変換、アイパターンなどが挙げられる。測定機器２４としては高周波特性を測定できる既存の測定機器が適用でき、例えばＴＤＲ（Time Domain Reflectometry：時間領域反射）測定器やネットワークアナライザなどが適用できる。
【００２３】
そして、測定機器２４には、シールド電線１への中継用治具として他のシールド電線（以下、治具電線と言う）２１ａ，２１ｂが間接的に（それぞれ他のケーブル２３ａ，２３ｂを介して）接続されている。測定機器２４に接続された２本のケーブル２３ａ，２３ｂにはそれぞれコネクタ２２ａ，２２ｂが設けられており、治具電線２１ａ，２１ｂがそれぞれコネクタ２２ａ，２２ｂに接続されている。コネクタ２２ａ，２２ｂは金属製であっても非金属製であってもよい。
また、治具電線２１ａ，２１ｂと測定機器２４とが間接接続された例を挙げているが、直接接続されていてもよい。
【００２４】
この治具電線２１ａ，２１ｂは、図２Ｂで例示するように、その中心導体２７が銅等の金属製であり、中空（つまりパイプ状）であるものとする。中心導体２７の周囲には絶縁体（絶縁層）２８が配され、さらにその周囲には外部導体としてのシールド導体２９が設けられている。なお、治具電線２１ａ，２１ｂは、シールド導体２９の周囲に外被が設けられていてもよいが、先端部ではシールド導体２９が露出している。
【００２５】
シールド導体２９は、銅等の金属製のパイプで構成されること、つまり治具電線２１ａ，２１ｂはセミリジッドケーブルであることが好ましい。セミリジッドケーブルは、遮蔽特性が良く特性インピーダンス等が厳密に規定されているためである。但し、シールド導体２９は、シールド導体１３と同様に、金属素線を編組或いは横巻きするか、若しくは金属樹脂テープを螺旋状に１又は複数枚巻き付けるなどして形成されていてもよい。
【００２６】
また、測定機器２４側のコネクタ２２ａ，２２ｂは、通常規格化されており３．５ｍｍや２．９２ｍｍ、２．４ｍｍなどの同軸構造が使われ、中空パイプとしての中心導体２７を含む治具電線２１ａ，２１ｂは、これらコネクタ２２ａ，２２ｂに適切な径のものを選択すればよい。
【００２７】
また、使用できる周波数帯域はカットオフ周波数と呼ばれ、この中心導体２７の径と関連する。通常、径が細いほど高い周波数まで使用でき、２本並べた時の間隔も狭くできるが、あまりにも細い径の場合は、シールド電線１の信号導体１１の方が太くて中心導体２７の穴に入らない場合がある。この場合には、剥き出しにした信号導体１１の径を押しつぶしたり、削ったりして細かくするか、先端を尖らせ、その先だけを中心導体２７の中空の穴の中心にあてるだけでも、後述する本実施形態の効果が得られる。
【００２８】
また、治具電線２１ａ，２１ｂは、少なくともシールド電線１を挿入する側の先端（端末）で可能な限り密接して、絶縁体でなる基板（基材）２０に取り付けられている。このような取り付けは、基板２０に並列に載置された治具電線２１ａ，２１ｂの上から絶縁体の上板２５を載置し、上板２５を基板２０にネジ等で固定するなどすればよい。
【００２９】
また、図２Ａでは、治具電線２１ａ，２１ｂはその中間領域で互いに接触し、そのシールド電線１側の端末で２本並列させたシールド電線１をできる限り近く配置できる程度に開き、ケーブル２３ａ，２３ｂ側の端末でそれらをできる限り近くに配置できる程度に開いた例を挙げている。
【００３０】
そして、測定機器２４は、シールド電線１の信号導体１１の先端を治具電線２１ａの先端の中空部分（中心導体２７の中空部分）に差し込み、もう一本のシールド電線１の信号導体１１の先端を治具電線２１ｂの先端の中空部分に差し込んだ状態で、それらシールド電線１に電流を流して（電圧を印加して）その高周波特性を測定するものとする。
【００３１】
ここで、測定対象となるシールド電線１は、図１Ｃで例示するように信号導体１１を露出させた状態で、治具電線２１ａ，２１ｂの測定機器２４とは反対側の中空部分に挿入すればよい。シールド電線１の端末処理においては、図１Ｃで例示したように絶縁体１２、シールド導体１３を外被１４から露出させる。また、治具電線２１ａ，２１ｂの先端からは、その中心導体２７の中空部分にシールド電線１の信号導体１１が挿入可能である。
【００３２】
測定に際しては、シールド電線１の信号導体１１を治具電線２１ａ，２１ｂの中心導体２７の中空部分に挿入し、シールド電線１と治具電線２１ａの先端を金属部材２６で覆うことになる。具体的には、露出した信号導体１１が中心導体２７の中空部分に最後まで差し込まれた状態で、治具電線２１ａ，２１ｂの先端部分とシールド電線１の先端部分（この例では外被１４の先端部分）とを挟み込んで金属部材２６で固定する。これにより、差込方向（シールド電線１の長手方向）の位置が固定される。
【００３３】
金属部材２６は、シールド電線１と治具電線２１ａ，２１ｂに押しつけた時にシールド電線１のシールド導体１３及び治具電線２１ａ，２１ｂのシールド導体２９に接触させる。これにより、シールド導体１３、金属部材２６、及びシールド導体２９が電気的に接続される。このような電気的な接続を可能とするため、金属部材２６は押しつけられて変形するような柔軟な材質であることが好ましい。なお、このような金属部材２６を取り付けた状態の詳細については図４Ｂの金属部材４６で後述するものと同様である。
【００３４】
金属部材２６は、少なくともその外側部分が金属製であればよく、それらの中身の部分は樹脂等の非金属製であってもよい。つまり、金属部材２６としては、金属板や金属ブロックであってもよいし、Ａｌ／ＰＥＴ（polyethylene terephthalate）などの金属フィルムや金属箔がウレタン等の弾性変形する基材に取り付けられたものであってもよい。
【００３５】
なお、或る外径のシールド電線１用に治具電線２１ａ，２１ｂを配置した状態で、それとは異なる外径のシールド電線１を測定対象とする場合でも、その２本のシールド電線１における信号導体１１，１１間（及び絶縁体１２，１２間）の距離が中心導体２７の中空部分間の距離に合うように、拡げるか又は狭めればよい。
【００３６】
このような特性測定方法を採用することにより、シールド電線１そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体１１や絶縁体１２を露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することが可能になる。また、このような特性測定方法を、汎用のケーブルである同軸ケーブルに適用できるため、より有益である。また、この特性測定方法で用いる特性測定装置では、従来の治具のように基板を採用したものではなく、同軸構造を採用しているため、治具電線２１ａ，２１ｂを含む治具（主に特性測定装置における測定機器２４以外の部分）の補正を行うためのＤｅ−ｅｍｂｅｄｄｉｎｇなどでも、精度の高い補正が可能になる。
【００３７】
以上の説明では、シールド電線１として同軸ケーブルを採用し、且つ２本の同軸ケーブルを平行に並べてその高周波特性を測定した例を挙げたが、それに限らず、１本の同軸ケーブルを測定対象とすることもでき、その場合、治具電線は１本だけでもよい。
【００３８】
次に、図３Ａ〜図３Ｃ及び図４Ａ，図４Ｂを参照しながら、測定対象のシールド電線を異ならせた例を説明する。図３Ａは、本実施形態に係る特性測定方法の測定対象となるシールド電線の他の例を示す断面図、図３Ｂは、図３Ａのシールド電線の端末部分を示す斜視図、図３Ｃは、図３Ａのシールド電線の高周波特性を測定する際の端末部分の状態を示す図である。また、図４Ａは、本実施形態に係る特性測定装置の他の構成例を示す概略図、図４Ｂは、図４Ａの特性測定装置における固定部材の一例を示す一部断面図である。
【００３９】
図３Ａ〜図３Ｃで例示するシールド電線３は、２本の信号線の周囲に一括してシールド導体３３を設けたシールドケーブル（差動信号伝送用ケーブル）であり、二芯平行電線を例示しているが、対撚り電線であってもよい。
【００４０】
上記２本の信号線は、図１Ａ等の信号線と同様、単心線又は撚線からなる信号導体３１ａを所定の誘電率を有する絶縁体（絶縁層）３２ａで被覆して形成した信号線（又は心線）と、同じく単心線又は撚線からなる信号導体３１ｂを所定の誘電率を有する絶縁体３２ｂで被覆して形成した信号線（又は心線）とでなる。なお、信号導体３１ａ，３１ｂについては、図１Ａ等の信号導体１１と同様であり、信号導体３１ａ，３１ｂをそれぞれ電気的に絶縁する絶縁体３２ａ，３２ｂについても図１Ａ等の絶縁体１２と同様である。また、シールド導体３３は、図１Ａ等のシールド導体１３とその形状以外は同様である。
【００４１】
そして、シールド導体３３の外周には、シールド導体３３を外部と電気的により絶縁すると共に、汚染を防ぎ、ケーブルとしての耐水性を持たせ、保護するために、図１Ａ等の外被１４とその形状以外が同様の外被３４が施される。
【００４２】
本例における特性測定装置は、図４Ａで例示するように、シールド電線３を測定対象とし、そのシールド電線３の高周波特性を測定するための測定機器４４を備えている。測定機器４４は、図２Ａの測定機器２４と同様に、高周波特性を測定できればよい。
【００４３】
また、測定機器４４には、治具電線２１ａ，２１ｂと同様の治具電線４１ａ，４１ｂが間接接続又は直接接続されている。つまり、治具電線４１ａ，４１ｂも図２Ｂで例示する構造をもっている。図４Ａにおける基板４０、治具電線４１ａ，４１ｂ、コネクタ４２ａ，４２ｂ、他のケーブル４３ａ，４３ｂ、上板４５はそれぞれ、図２Ａにおける基板２０、治具電線２１ａ，２１ｂ、コネクタ２２ａ，２２ｂ、他のケーブル２３ａ，２３ｂ、上板２５と同様であり、基本的にその説明を省略する。
【００４４】
治具電線４１ａ，４１ｂは、図２Ｂで例示したような断面形状をもち、治具電線２１ａ，２１ｂとその外観形状のみが異なる。治具電線２１ａ，２１ｂの配置と異なる点は、基板２０上で、シールド電線３の２本の信号導体３１ａ，３１ｂの間の距離に近い距離になるように、シールド電線３側の端末で治具電線４１ａと治具電線４１ｂとが接触している点である。また、図３Ｃで例示するように、シールド電線３の信号導体３１ａ，３１ｂ間（及び絶縁体３２ａ，３２ｂ間）の距離は、接触した状態の治具電線４１ａ，４１ｂにおける中心導体２７の中空部分間の距離に合うように拡げられる。無論、シールド電線３のサイズによっては、距離を合わすために信号導体３１ａ，３１ｂ間の距離を狭める場合もある。
【００４５】
そして、測定機器４４は、シールド電線３の信号導体３１ａの先端を治具電線４１ａの中心導体の中空部分に差し込み、もう一方の信号導体３１ｂの先端を治具電線４１ｂの中心導体の中空部分に差し込んだ状態で、そのシールド電線３に電流を流して（電圧を印加して）その高周波特性を測定するものとする。
【００４６】
ここで、治具電線４１ａ，４１ｂの先端は、それぞれシールド電線３の信号導体３１ａ，３１ｂが挿入可能なように、少なくともその中空部分が露出されていることになる。また、測定対象となるシールド電線３は、図３Ｃで例示するように信号導体３１ａ，３１ｂを露出させた状態で、治具電線４１ａ，４１ｂの測定機器４４とは反対側の中空部分に挿入し、その後、シールド電線３を基板４０に固定しておけばよい。
【００４７】
シールド電線３の端末処理においては、中心導体２７の中空部分間の距離に合うように拡げたり狭めたりするために必要な分だけ、図３Ｃで例示したように絶縁体３２ａ，３２ｂとシールド導体３３を外被３４から露出させる。
【００４８】
金属部材４６は、金属部材２６と同様にその外側部分が金属製であればよい。図４Ｂでは、弾性変形する機材に金属フィルムや金属箔が取り付けられた例を挙げている。ここで、部分４６ａ，４６ｂでなる上側部分と、部分４６ｃ，４６ｄでなる下側部分とは、図示しないネジ等で固定されており、また下側部分は基板４０上に取り付けておけばよい。部分４６ａ，４６ｂでなる上側部分と上板４５とを接続することで、金属部材４６を基板４０上に押し付けるような機構を採用することもできる。
【００４９】
また、図４Ｂの形状とは異なり、シールド電線３の絶縁体３２ａ，３２ｂの先端部分も併せて挟み込むような形状の金属部材を採用することもできる。また、図４Ｂでは、治具電線４１ａ，４１ｂの外径とシールド電線３の高さとが同じ例を挙げたが、異なる場合にはそれに応じた形状の金属部材を使用すればよい。
【００５０】
そして、露出した信号導体３１ａ，３１ｂが中心導体２７の中空部分に最後まで差し込まれた状態で、治具電線４１ａ，４１ｂの先端部分とシールド電線３の先端部分（この例では外被３４の先端部分）とを、金属部材４６によって挟み込んで固定する。これにより、差込方向（シールド電線３の長手方向）の位置が固定される。金属部材４６は、シールド電線３のシールド導体３３、治具電線４１ａ，４１ｂにおけるシールド導体２９にそれぞれに押しつけられて接触する。これにより、シールド導体３３、金属部材４６とシールド導体２９が電気的に接続される。このような状態で測定を行う。
【００５１】
このような特性測定方法を採用することにより、シールド電線３そのものが持つ純粋な高周波特性を測定するに際し、信号導体３１ａ，３１ｂや絶縁体３２ａ，３２ｂを露出した部分で高周波特性が変化することを避け、精度良く電線本来の高周波特性を測定することが可能になる。また、このような特性測定方法を、汎用のケーブルであるシールド電線３に適用できるため、より有益である。また、この特性測定方法で用いる特性測定装置では、治具電線４１ａ，４１ｂを含む治具（主に特性測定装置における測定機器４４以外の部分）の補正を行うためのＤｅ−ｅｍｂｅｄｄｉｎｇなどでも、精度の高い補正が可能になる。
【００５２】
また、以上の例では、測定対象のシールド電線における信号線の本数を１本又は２本としたが、これに限ったものではなく、例えば４本の信号線からなる４本撚りケーブル（カッドケーブル）を測定対象とすることもできる。
【００５３】
最後に、図５を参照しながら、本実施形態に係る特性測定装置と従来の特性測定装置とを用い、同じシールド電線について差動挿入損失を検証した結果を説明する。ここでは、測定対象のシールド電線として、ＡＷＧ３０のＴｗｉｎａｘを１ｍ使用した検証結果を挙げるが、他のサイズや形状のシールド電線であっても同様の結果が得られた。
【００５４】
図５で示したように、本実施形態の特性測定装置（本治具と呼ぶ）を使用した場合、従来の特性測定装置（従来治具と呼ぶ）を使用した場合に比べて全体的に損失が小さく、シールド電線そのものの特性を精度良く測定できていることが分かる。また、１５ＧＨｚくらいまでの低い周波数帯域においても、従来治具ではシールド電線の信号導体との接続に用いる治具や端末加工部のインピーダンス不整合による反射でリンギングと呼ばれる波打ち現象が生じているのに対し、本治具ではそれが見られなかった。また、図示していないが、１５ＧＨｚ以降の高周波領域においても、同様の傾向が見られ、シールド電線の高周波特性を精度良く測定できていた。
【００５５】
以上、今回開示された実施形態は全ての点で例示であって制限的なものではない。本発明の範囲は、上述した例に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図されている。
【符号の説明】
【００５６】
１，３…シールド電線、１１，３１ａ，３１ｂ…信号導体、１２，２８，３２ａ，３２ｂ…絶縁体、１３，３３…シールド導体、１４，３４…外被、２０，４０…基板、２１ａ，２１ｂ，４１ａ，４１ｂ…治具電線、２２ａ，２２ｂ，４２ａ，４２ｂ…コネクタ、２３ａ，２３ｂ，４３ａ，４３ｂ…ケーブル、２４，４４…測定機器、２５，４５…上板、２６，４６…金属部材、２７…中心導体、２９…シールド導体。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図１Ｃ】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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