(57)【要約】【課題】製品の歪みを効率的に、精度良く計測できるようにする。【解決手段】製品２の設置部を検査する工程では、定盤３上の４つの検査部材２３を配置し、各検査部材２３に対して製品２の接地部材を１つずつ載せ、各検査部材２３の高さをセンサ４で計測する。４つの接地部材の中から３つを選択して平面の式を算出し、残りの１つの接地部材の座標を計算する。平面の式を計算する３つの接地部材の組み合わせを変更しながら、全ての接地部材について座標を計算し、座標の計算値と、センサ４で計測した計測値との差分を接地部材毎に調べる。差分が閾値より小さければ、その製品２の設置部に歪みがないと判定する。【選択図】図１
2016114442.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
定盤に上下動可能に配置された４つ以上の検査部材のそれぞれに、製品の底部に配置された複数の接地部材を１つずつ載せたときの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さを、センサを用いて計測した前記製品の重さで前記定盤に対して下がる前記検査部材の高さから算出し、
前記検査部材と前記接地部材の接触点の平面座標として予め登録されている値と、任意の３つの前記検査部材の高さとから、任意の３つの前記検査部材と前記接地部材の接触点を通る平面の式を算出し、
前記平面の式に他の１つの前記検査部材の平面座標として予め登録されている値を代入し、他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計算値を算出し、前記計算値と前記センサを使用して取得した他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計測値との差分を算出し、
前記差分と閾値とを比較し、前記差分が前記閾値以上のときに、前記差分が前記閾値以上となる前記接地部材が他の前記接地部材に対して前記差分に相当する位置ずれを有すると判定することを特徴とする製品の設置部の検査方法。
【請求項２】
前記差分を前記検査部材の組み合わせを変えながら、全ての前記検査部材と前記接地部材の接触点について算出し、
複数の前記差分のそれぞれと前記閾値を比較し、前記差分が前記閾値以上となる接触点が複数存在するときに、前記接地部材の高さ方向の位置ずれを判定することなく処理を終了することを特徴とするに請求項１に記載の製品の設置部の検査方法。
【請求項３】
前記検査部材は、前記接地部材の外形より大きい外形を有することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の製品の設置部の検査方法。
【請求項４】
前記センサは、前記定盤を貫通して下方に延びる前記検査部材の端部の位置を計測することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の製品の設置部の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品の設置部の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ノートパソコンなどの製品は、底部のパネルに凸状の接地部材が取り付けられている。ここで、製品のパネルが歪んでいた場合には、接地部材が床や机などの設置面から浮いてしまうので、製品の生産ラインでは、底部のパネルの歪みを検査する工程が設けられている。底部のパネルの検査工程では、接地部材の浮き上がり量を測定し、予め定められた基準値を越えていた場合には、修理などの処置が施される。ところが、底部のパネルが歪んだ場合でも、部材と設置面との間の隙間は小さいので、接地部材と設置面との間に計測機器を挿入したり、側方から非接触で隙間を測定したりすることは困難である。
【０００３】
ここで、このような検査工程に使用可能な計測方法としては、アクリル板を通してレーザ変位計の光を製品に照射してレーザ変位計から製品までの距離を測定する方法が考えられる。例えば、製品の上部に形成された凹凸形状を計測する場合には、製品の上方に格子が描かれたアクリル板を配置し、格子に沿ってレーザ変位計を移動させながらレーザ変位計から製品までの距離を測定する。アクリル板上の位置と距離を関連付けることにより、製品の上部の凹凸形状を計測できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−２９７０１５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の凹凸形状の計測方法を製品の底部のパネルの歪みの計測に適用する場合には、例えば、可視光を透過するパネル上に製品を位置決めして載置し、パネルの下方からレーザ変位計で接地部材の最下点までの距離を測定する。そして、レーザ変位計から接地部材までの距離が予め定められた値を越えている場合には、製品の底部パネルに歪みが生じていると判定する。また、製品によって接地部材の位置や接地部材の形状が異なるので、レーザ変位計は、接地部材の真下に移動できるようにパネル下を移動可能に設ける必要がある。
【０００６】
しかしながら、従来の凹凸形状の計測方法では、製品に沿ってレーザ変位計を移動させる機構が必要なので装置構成が複雑になると共に、レーザ変位計を移動させる時間が必要になるので検査時間を短縮できなかった。さらに、パネルに傷や汚れが有る場合には、製品のパネルの歪みの測定精度が低下してしまう。
本発明は、一つの側面として、製品の歪みを効率的に、精度良く計測できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
実施形態の一観点によれば、定盤に上下動可能に配置された４つ以上の検査部材のそれぞれに、製品の底部に配置された複数の接地部材を１つずつ載せたときの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さを、センサを用いて計測した前記製品の重さで前記定盤に対して下がる前記検査部材の高さから算出し、前記検査部材と前記接地部材の接触点の平面座標として予め登録されている値と、任意の３つの前記検査部材の高さとから、任意の３つの前記検査部材と前記接地部材の接触点を通る平面の式を算出し、前記平面の式に他の１つの前記検査部材の平面座標として予め登録されている値を代入し、他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計算値を算出し、前記計算値と前記センサを使用して取得した他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計測値との差分を算出し、前記差分と閾値とを比較し、前記差分が前記閾値以上のときに、前記差分が前記閾値以上となる前記接地部材が他の前記接地部材に対して前記差分に相当する位置ずれを有すると判定することを特徴とする製品の設置部の検査方法が提供される。
【発明の効果】
【０００８】
製品の接地部材と検査部材の接触点を各検査部材の高さ変動から計測することができるので、製品を設置する部分の検査精度を向上できる。また、センサを移動させる機構が不要になるので、検査効率が向上する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査装置の概略構成の一例を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査装置の一例の一部を拡大して示す正面断面図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査装置の一例において定盤の一部を拡大して示す平面図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査装置の検査部材の概略構成の一例を示す斜視図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査装置の一例の一部を拡大して示す正面図であって、検査部材に製品が載置されていない状態を示す図である。
【図６】図６は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査方法の一例を示すフローチャートである。
【図７】図７は、本発明の実施の形態に係る製品の設置部検査装置に製品を載置した状態の一例を示す斜視図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態に変形例に係る製品の設置部検査装置の一例の一部を拡大して示す正面断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
発明の目的及び利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素及び組み合わせによって実現され達成される。
前述の一般的な説明及び以下の詳細な説明は、典型例及び説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない。
【００１１】
図１（ａ）に平面の概略図と、図１（ｂ）に正面の概略図をそれぞれ示すように、設置部検査装置１は、検査対象のワークである製品２を載置する定盤３と、定盤３の下方のベースに位置決めして固定された４つのセンサ４（４Ａ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄ）と、各センサ４に接続された制御装置５とを含んで構成されている。ここで、検査対象物である製品２は、例えば、ノートパソコンや、サーバなどの情報処理装置や、家電製品などがあげられる。この実施の形態における製品２は、底部に下面が平面のプレート２Ａが取り付けられており、プレート２Ａの下面の四隅のそれぞれには、４つのゴム製の接地部材（１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃ、１０Ｄ）が接着剤等で固定されている。この実施の形態で検査を行う製品２の設置部は、製品２が床面やテーブルなどに設置されるときに、床面等に接する部分及びその周辺部であり、プレート２Ａや接地部材１０が含まれる。また、製品２の設置部が歪みを有するとは、プレート２Ａの歪みにより、複数の接地部材１０の最下点がずれることである。
【００１２】
次に、設置部検査装置１の各部の詳細について説明する。
定盤３は、本体部２１の上面に歪みのない載置面２１Ａが形成されている。本体部２１には、４か所に貫通孔２２が形成されており、各貫通孔２２に検査部材２３が１つずつ挿入されている。貫通孔２２は、平面視で円形状を有している。図１の一部を拡大して示す断面図である図２と、図１の一部を拡大して示す平面図である図３とに示すように、貫通孔２２の外径は、載置面２１Ａ側から段階的に減少しており、最も上方の部分は、最も外径が大きい第１の部分２５になっている。さらに、その下には、外径が２番目に大きい第２の部分２６が設けられている。第１の部分２５と第２の部分２６の間には、段差部２７が形成されている。段差部２７は、第１の部分２５の底部であって載置面２１Ａに平行な面と、第２の部分２６の側面であって載置面２１Ａに垂直な曲面とから形成されている。そして、最も外径の小さい第３の部分は、底部２１Ｂ側に貫通する挿入孔２８になっている。また、挿入孔２８の下方には、環状のガイド部材３１がフレーム３２を介して定盤３の本体部２１の底部２１Ｂに固定されている。なお、底部２１Ｂは、載置面２１Ａの反対側の面である。ここで、挿入孔２８の中心と、ガイド部材３１の中心は、一致している。挿入孔２８の外径と、ガイド部材３１の外径は同一であることが好ましいが、異なる大きさでも良い。
【００１３】
図２と、図４の斜視図に示すように、検査部材２３は、上面が平坦なプレート４２を有する。プレート４２の下面の中央からは、ロッド４３が下向きに延びている。プレート４２の外径は、本体部２１の第１の部分２５の外径以下で、第２の部分２６の外径より大きい。このために、プレート４２は、段差部２７に当接することが可能である。好ましくは、プレート４２の外径は、第１の部分２５に摺動可能に接する大きさとする。また、図２に示すように、プレート４２の直径Ｄは、製品２の接地部材の直径ｄ以上の大きさを有する。このために、定盤３上の製品２の位置がずれた場合でも、全ての接地部材が対応する全ての検査部材２３のそれぞれのプレート４２の上に１つずつ載る。即ち、設置部検査装置１と接地部材の接触点（接地部材の下端）は、何れかのプレート４２上に必ず配置される。
【００１４】
図２に示すように、検査部材２３のロッド４３は、挿入孔２８及びガイド部材３１に摺動可能に挿入される外径を有する。さらに、プレート４２の下面と第２の部分２６の底部２６Ａとの間には、弾性部材、例えば、コイルバネ４５が挿入されている。コイルバネ４５は、検査部材２３の上面が載置面２１Ａより上方に位置するように付勢している。図３の平面図に一例を示すように、コイルバネ４５は、ロッド４３を中心に周方向に等間隔に３つ配置されている。弾性部材の種類や配置は、様々な変更が可能である。
【００１５】
図５に示すように、検査部材２３上に製品２が載置されていない場合、検査部材２３がコイルバネ４５で本体部２１から上方に付勢されるので、プレート４２の上部が載置面２１Ａより上方に突出している。一方、図２に示すように、検査部材２３上に製品２が載置されると、検査部材２３は、製品２の重さによってコイルバネ４５を圧縮しながら下がる。その結果、検査部材２３のロッド４３の下端がセンサ４に向かって下がる。検査部材２３は、プレート４２の下面が、段差部２７に接触するまで下降できる。
【００１６】
図１に示すセンサ４は、検査部材２３のロッド４３の底部４３Ａの位置を測定可能な構成を有する。このようなセンサの一例としては、レーザ変位計がある。レーザ変位計は、レーザ光を出射する発光素子と、集光光学系と、受光素子とを有する。発光素子及び集光光学系は、レーザ光を検査部材２３のロッド４３の底部４３Ａに照射し、その反射光を受光素子に取り込む。検査部材２３が上下方向に移動すると、受光素子に反射光の入射位置が変化するので、反射光の入射位置を検出することにより、検査部材２３の高さを計測できる。例えば、図５に示す初期位置では、センサ４からロッド４３の底部４３Ａまでの距離がＺ０である。一方、図２のように定盤３に製品２を載置して検査部材２３が下がると、センサ４からロッド４３の底部４３Ａまでの距離は、Ｚ０より短いＺ１になる。前記したように、製品２の位置がずれていた場合でも検査部材２３のプレート４２上に接地部材が必ず載るので、各検査部材２３の高さを計測すれば、接地部材の高さを計測することができる。
【００１７】
図１に示すように、制御装置５は、例えば、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）や、記憶装置などを有するコンピュータである。記録装置には、製品の機種情報と、接地部材の３次元座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ）が関連付けられた座標データ５０が記憶されている。また、制御装置５は、計測処理部５１と、座標算出部５２と、判定処理部５３とに機能分割できる。計測処理部５１は、４つのセンサ４から出力されたデータに基づいて、検査部材２３の高さ、即ち接地部材の高さを検査部材２３毎に算出する。座標算出部５２は、４つの接地部材から選択した３つの接地部材の平面座標（Ｘ，Ｙ）と、選択した３つの接地部材について測定したＺ座標とを使用して平面の式を算出し、残りの１つの接地部材のＺ座標を算出する。判定処理部５３は、Ｚ座標の計算値と測定値から製品２の歪みを評価する。
【００１８】
次に、図６のフローチャート、図１、図５、図７及び図８を主に参照して設置部検査方法について説明する。
最初に、ステップＳ１０１で、製品２を定盤３に載置する。図７に示す例では、製品２であるノートパソコンが、定盤３の載置面２１Ａ上に位置決めして載せられる。製品２の位置決めは、作業員又はロボットなどが４つの接地部材が４つの検査部材２３に１つずつ配置することによって実施される。図１（ａ）に配置を示すように、４つの接地部材のそれぞれが４つの検査部材２３の各プレート４２のいずれかの上に１つずつ載せられると、製品２の重量が接地部材を介して４つの検査部材２３にかかる。これによって、図２に示すように、各検査部材２３がコイルバネ４５を圧縮しながら下がる。
【００１９】
ステップＳ１０２では、４つのセンサ４が、対応する４つの検査部材２３のロッド４３のそれぞれの高さを検出し、計測データとして制御装置５に出力する。例えば、図１及び図７に示すセンサ４Ａは、検査部材２３Ａのロッド４３の高さとして、接地部材１０Ａの位置を計測する。同様に、センサ４Ｂ、センサ４Ｃ、センサ４Ｄは、検査部材２３Ｂ、検査部材２３Ｃ、検査部材２４Ｄのそれぞれのロッド４３の高さとして、接地部材Ｂ、接地部材Ｃ、接地部材Ｄの位置を計測する。そして、制御装置５の計測処理部５１は、各センサ４で計測したデータに基づいて、４つの接地部材の高さの計測値を算出する。例えば、接地部材Ａの高さは、センサ４Ａの計測データを使用し、載置面２１Ａを基準とするＺ方向（高さ方向）の座標Ｚａとして算出される。接地部材Ｂの高さは、センサ４Ｂの計測データに基づくＺ方向の座標Ｚｂとして算出される。同様に、接地部材Ｃと、接地部材Ｄの高さは、センサ４Ｃの計測データに基づくＺ方向の座標Ｚｃと、センサ４Ｄの計測データに基づくＺ方向の座標Ｚｄとしてそれぞれ算出される。
【００２０】
続くステップＳ１０３で、制御装置５の座標算出部５２は、機種情報から４つの接地部材の位置座標（ｘ、ｙ）を取得する。例えば、機種情報は、予め定められたコードを手動又は自動で入力したものを使用し、座標算出部５２は、機種情報で記憶装置の座標データ５０を検索して位置座標を取得する。例えば、接地部材Ａの位置座標は（Ｘａ、Ｙａ、Ｚａ）とする。接地部材Ｂの位置座標は（Ｘｂ、Ｙｂ、Ｚｂ）とする。接地部材Ｃの位置座標は（Ｘｃ、Ｙｃ、Ｚｃ）とする。接地部材Ｄの位置座標は（Ｘｄ、Ｙｄ、Ｚｄ）とする。なお、座標算出部５２が機種情報でデータ検索する代わりに、作業者が位置情報を制御装置５に直接に入力するように構成しても良い。
【００２１】
ここで、検査部材２３のプレート４２が接地部材より大きい。さらに、４つの接地部材は、製品２の定められた位置に配置されている。このために、定盤３上で製品２の載置位置がずれていた場合でも、検査部材２３の高さは、位置ずれがない場合と同じになるので、接地部材のＺ座標を正しく計測できる。
【００２２】
さらに、ステップＳ１０４で、座標算出部５２は、任意の組み合わせの３点の座標から、製品２の設置部が歪みを有しない場合に全ての接地部材１０の下端が通る平面の式を算出する。一般に平面の式は、
ａ×ｘ＋ｂ×ｙ＋ｃ×ｚ＝０      （１）
と表される。ここで、ｘ、ｙ、ｚは、それぞれ、１つの接地部材のＸ座標、Ｙ座標、Ｚ座標に相当する。また、係数ａ、ｂ、ｃは任意の実数である。座標算出部５２が、任意の３点として、接地部材Ａ、接地部材Ｂ、接地部材Ｃを選択した場合、各接地部材Ａ〜１０Ｃの座標が平面の式（１）に代入される。これにより、以下の連立方程式が得られる。
ａ×Ｘａ＋ｂ×Ｙａ＋ｃ×Ｚａ＝０      （２）
ａ×Ｘｂ＋ｂ×Ｙｂ＋ｃ×Ｚｂ＝０      （３）
ａ×Ｘｃ＋ｂ×Ｙｃ＋ｃ×Ｚｃ＝０      （４）
【００２３】
続いて、座標算出部５２は、式（２）〜式（４）を解いて、係数ａ、ｂ、ｃを算出する。さらに、算出した係数ａ、ｂ、ｃを平面の式（１）に代入し、プレート２Ａが歪みを有しない場合の理想的な４つの接地部材１０が乗る平面の式を算出する。製品２の設置部に歪みがなければ、４つの接地部材と検査部材２３の接触点は、一つの平面、即ち、係数ａ、ｂ、ｃを代入して得られる平面の式（１）上に配置される。従って、座標算出部５２は、平面の式（１）に４つ目の接地部材ＤのＸＹ座標を代入することにより、残りの接地部材Ｄの理想的なＺ座標Ｚｉｄ＝（ａ×Ｘｄ＋ｂ×Ｙｄ）／ｃを算出する。
【００２４】
以降、座標算出部５２は、４つの接地部材から算出する３つの接地部材の組み合わせを変化させながら、他の接地部材Ａ〜１０Ｃのそれぞれの理想的なＺ座標Ｚｉａ、Ｚｉｂ、Ｚｉｃを前記と同様の処理を実行することによって１つずつ順番に算出する。
【００２５】
続いて、ステップＳ１０５では、制御装置５の判定処理部５３が、理想座標Ｚｉａ〜Ｚｉｄ（計算値）と、センサ４で計測した実際の各接地部材の計測座標Ｚａ〜Ｚｄ（計測値）との差分を接地部材毎に計算する。
ΔＺａ＝Ｚｉａ−Ｚａ
ΔＺｂ＝Ｚｉｂ−Ｚｂ
ΔＺｃ＝Ｚｉｃ−Ｚｃ
ΔＺｄ＝Ｚｉｄ−Ｚｄ
【００２６】
この後、ステップＳ１０６で、判定処理部５３は、各差分ΔＺａ〜ΔＺｄと予め登録された閾値Ｋを比較する。閾値αは、製品２の設置部の歪みとして許容できるＺ方向の位置ずれの値であり、ゼロであっても良い。座標データ５０に閾値αを予め登録しておくと、閾値αを機種毎に設定することが可能になる。差分ΔＺの絶対値が閾値αより大きい点が２つ以上ある場合には、ステップＳ１０７に進む。この場合、判定処理部５３は、測定異常とみなし、ここでの処理を終了する。１つの平面の式（１）において、２つ以上の点の差分ΔＺの絶対値が閾値αを越えることは、理論上有り得ないからである。
【００２７】
これに対し、ステップＳ１０６で、差分ΔＺの絶対値が閾値αより大きい点が１つ以下の場合は、ステップＳ１０８に進む。そして、差分ΔＺの絶対値が閾値αより大きい点が１つの場合は、ステップＳ１０９に進み、判定処理部５３が閾値αを超えた差分ΔＺを与える接地部材１０が、差分ΔＺの絶対値分だけ他の接地部材１０に対して高さ方向に位置ずれを有する、即ち製品２の設置部に仕様を越える歪みが存在すると判断する。これに対し、ステップＳ１０８で、差分ΔＺの絶対値が閾値αより大きい点がゼロであった場合には、ステップＳ１１０に進み、判定処理部５３は接地部材１０毎の高さ方向に位置ずれを有しない、即ち製品２の設置部に歪みを有しないと判断する。なお、閾値αとしてゼロが設定された場合には、製品２の設置部に歪みが全く生じていないことになる。閾値αが値を有する場合は、判定処理部５３は、製品２の設置部の歪みは僅かであり、接地部材１０毎の高さ方向の位置のばらつきが製品２の許容範囲内に収まっていると判定する。
【００２８】
以上、説明したように、製品の設置部の検査方法では、製品２を載せることで下降する検査部材２３の高さを計測することにより、製品２の４つの接地部材１０のそれぞれの高さを独立して計測し、製品２の底部のパネル２Ａの歪みや接地部材１０の不良、即ち製品２の設置部の良否の検査を行うこととした。さらに、設置部の検査方法では、製品２の３つの接地部材１０と対応する３つの検査部材２３との接触点を通る平面の式を計算し、残りの１つの接地部材と検査部材２３の接触点の高さを理想的な計算値として求め、理想的な計算値とセンサ４で実測した計測値を比較することにより製品２の設置部の歪みの有無を判定するようにした。この際、制御装置５は、選択する３つの接地部材１０の組み合わせを変化させながら、全ての接地部材１０について理想値と計算値の比較を行うようにした。これにより、センサ４を移動させることなく、製品２の設置部の歪みの有無を検査することが可能になり、装置構成を簡略化できると共に、検査効率が向上する。また、差分が閾値以上となる接地部材１０を特定することができるので、製品２の設置部の検査精度を向上できる。
【００２９】
また、検査部材２３が定盤３を貫通して下方に延びるので、検査部材２３の高さの変化をセンサ４で容易に計測できる。このために、定盤３を検査光に対して透明な材料から製造する必要がなくなる。
検査部材２３のプレート４２を接地部材より大きくしたので、接地部材の形状を認識したり、設置箇所を別の方法で調べたりする必要がなくなるので、検査の効率を向上できる。
４つの接地部材のそれぞれについて理想値と計測値の差分を評価し、２つ以上の差分が閾値を超える場合には検査を中止するようにしたので、検査装置の不良等を速やかに発見できる。
【００３０】
次に、実施の形態の変形例を説明する。
図８に示すように、検査部材６１は、プレート４２の中央に上向きに突出する突部６２が１つ設けられている。突部６２は、プレート４２と一体に形成しても良いし、別体として製造された部材をプレート４２に固定しても良い。製品２が接地部材を有しない場合でも製品２の底部の歪みを計測することが可能になる。
なお、定盤３をセンサ４で使用する光に対して透明な材料から製造すれば、検査部材２３，６１を定盤３に貫通させる必要がなくなる。
検査部材２３，６１は、定盤３に５つ以上配置しても良い。この場合、制御装置５は、３つ以上の接地部材１０の座標に基づいて平面を算出し、評価対象となる１つ以上の接地部材の演算値を算出する。
実施形態における上下方向は相対的な表現である。例えば、垂直に立てた定盤３に製品２を横方向から押し付けても良い。また、定盤３を移動させて製品２に接触させても良い。
【００３１】
ここで挙げた全ての例及び条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明及び概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例及び条件に限定することなく解釈するものであり、また、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換及び変形を施すことができる。
【００３２】
以下に、前記の実施の形態の特徴を付記する。
（付記１）  定盤に上下動可能に配置された４つ以上の検査部材のそれぞれに、製品の底部に配置された複数の接地部材を１つずつ載せたときの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さを、センサを用いて計測した前記製品の重さで前記定盤に対して下がる前記検査部材の高さから算出し、前記検査部材と前記接地部材の接触点の平面座標として予め登録されている値と、任意の３つの前記検査部材の高さとから、任意の３つの前記検査部材と前記接地部材の接触点を通る平面の式を算出し、前記平面の式に他の１つの前記検査部材の平面座標として予め登録されている値を代入し、他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計算値を算出し、前記計算値と前記センサを使用して取得した他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計測値との差分を算出し、前記差分と閾値とを比較し、前記差分が前記閾値以上のときに、前記差分が前記閾値以上となる前記接地部材が他の前記接地部材に対して前記差分に相当する位置ずれを有すると判定することを特徴とする製品の設置部の検査方法。
（付記２）  前記差分を前記検査部材の組み合わせを変えながら、全ての前記検査部材と前記接地部材の接触点について算出し、複数の前記差分のそれぞれと前記閾値を比較し、前記差分が前記閾値以上となる接触点が複数存在するときに、前記接地部材の高さ方向の位置ずれを判定することなく処理を終了することを特徴とするに付記１に記載の製品の設置部の検査方法。
（付記３）  前記検査部材は、前記接地部材の外形より大きい外形を有することを特徴とする付記１又は付記２に記載の製品の設置部の検査方法。
（付記４）  前記センサは、前記定盤を貫通して下方に延びる前記検査部材の端部の位置を計測することを特徴とする付記１乃至付記３のいずれか一項に記載の製品の設置部の検査方法。
（付記５）  製品の底部に複数設けられた接地部材の配置に合わせて４つ以上配置され、定盤に上下動可能に支持された検査部材と、複数の前記検査部材のそれぞれの下端の高さから前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さを計測するセンサと、前記検査部材と前記接地部材の接触点の平面座標として予め登録されている値と、任意の３つの前記検査部材の高さとから、任意の３つの前記検査部材と前記接地部材の接触点を通る平面の式を算出する座標算出部と、前記平面の式に他の１つの前記検査部材の平面座標として予め登録されている値を代入し、他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計算値を算出し、前記計算値と前記センサを使用して取得した他の１つの前記検査部材と前記接地部材の接触点の高さの計測値との差分を算出し、前記差分と閾値とを比較し、前記差分が前記閾値以上のときに、前記差分が前記閾値以上となる前記接地部材が他の前記接地部材に対して前記差分に相当する位置ずれを有すると判定する判定処理部と、を含むことを特徴とする製品の設置部検査装置。
（付記６）  前記座標算出部は、前記差分を前記検査部材の組み合わせを変えながら、全ての前記検査部材と前記接地部材の接触点について算出し、前記判定処理部は、複数の前記差分のそれぞれと前記閾値を比較し、前記差分が前記閾値以上となる接触点が複数存在するときに、前記接地部材の高さ方向の位置ずれを判定することなく処理を終了するように構成したことを特徴とするに付記５に記載の製品の設置部の検査装置。
（付記７）  前記検査部材は、前記接地部材の外形より大きい外形を有することを特徴とする付記５又は付記６に記載の製品の設置部の検査装置。
（付記８）  前記センサは、前記定盤を貫通して下方に延びる前記検査部材の端部の位置を計測することを特徴とする付記５乃至付記７のいずれか一項に記載の製品の設置部の検査装置。
【符号の説明】
【００３３】
１  設置部検査装置
２  製品
３  定盤
４  センサ
１０  接地部材
２３  検査部材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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