(57)【要約】【課題】原子力発電プラント向けなどの計装制御装置に用いられる入出力ユニットにおいて、入出力点数を拡大化した省スペースの入出力ユニットを提供する。【解決手段】入出力ユニット１０のモジュール部２の両側に設けられた第１の端子台３および第２の端子台４のそれぞれが複数の端子ＴがＹ方向の横列に配置された第１の端子面３ａ、４ａおよび第２の端子面３ｂ、４ｂを有するとともに、第１の端子面３ａ、４ａを下段とし、第２の端子面３ｂ、４ｂを上段とした階段状をなしている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入出力回路部と前記入出力回路部を挿入するモジュール部と、前記モジュール部の両側に配置された第１の端子台および第２の端子台とが設けられた入出力ユニットにおいて、前記第１の端子台および前記第２の端子台は、複数の端子が横列に配置された第１の端子面および第２の端子面を有しているとともに、前記第１の端子面を下段とし、前記第２の端子面を上段とした階段状をなしている入出力ユニット。
【請求項２】
前記第１の端子面の端子と前記第２の端子面の端子とがスタッガ配置されている請求項１に記載の入出力ユニット。
【請求項３】
請求項１に記載の入出力ユニットの試験用治具であって、前記試験用治具の取付台には、試験用信号を入出力するコネクタ部と、前記コネクタ部にワイヤを介して接続された複数本が横列に配置された第１のプローブと、前記第１のプローブと並列に複数本が横列に配置された第２のプローブと、つまみネジが設けられており、前記取付台が前記入出力ユニットの前記第１の端子台あるいは前記第２の端子台のいずれかの端子台の端子面に前記つまみネジで締め付け固定されるとともに、前記第１のプローブが前記入出力ユニットの前記第１の端子面の端子に、前記第２のプローブが前記入出力ユニットの前記第２の端子面の端子に接触する入出力ユニットの試験用治具。
【請求項４】
前記第１の端子面の端子と前記第２の端子面の端子とがスタッガ配置されているとともに、前記第１のプローブと前記第２のプローブが前記端子のスタッガ配置と同様のスタッガ配置されている請求項３に記載の入出力ユニットの試験用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、原子力発電プラント向けなどの計装制御装置に用いられている入出力ユニットおよびその入出力ユニットの試験用治具に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より原子力発電所などのプラント計装制御システムに使用されるプロセス入出口モジュール（ＰＩＯモジュール）として、一方の側にＰＩＯユニット端子台と直接接続される複数個のピンを、他方の側に前記ピンに対応してケーブルを介してフィールド機器に接続されるモジュール端子台部を備えたものが示されている（例えば、特許文献１参照）。
また、制御盤試験用端子台として、端子台の端子と電気的に導通、開放する延長端子と前記端子台に固定されるための固定用金具と、外部機器と接続するための外部機器接続ケーブルと、外部機器インターフェース部を備えたものが示されている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１７８４４０号公報
【特許文献２】特開２００８−１９６８９４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら上記特許文献１に示されたＰＩＯモジュールは、一方の側の複数個のピンに対応した他方の側に、フィールド機器に接続されるモジュール端子台を設けて、フィールド機器の入出力点が片側にのみ機能するものであり、近年特にプラント制御の多様性から、計装制御対象のフィールド機器の増加に伴い入出力点が多点化する要求に対して、上記特許文献１に記載のＰＩＯモジュールでは装置の省スペースの観点から問題点がある。
【０００５】
また特許文献２に示されている試験用端子台は、固定用金具を用いて外部端子との接続を行っているのでその取り付け、取り外し作業性の効率性を考慮してなく、試験作業に余分の時間が必要で、コスト高の要因となるという問題点がある。
【０００６】
この発明は前記のような従来技術の課題を解決するためになされたものであり、第１の発明では入出力点数を拡大化した入出力ユニットを提供すること、および第２の発明では前記第１の発明の入出力ユニットの試験用治具の脱着性を向上させ、試験作業時間の短縮化をはかった試験用治具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の発明の入出力ユニットは、入出力回路部とこの入出力回路部を挿入するモジュール部と、モジュール部の両側に配置された第１の端子台および第２の端子台とが設けられた入出力ユニットにおいて、第１の端子台および第２の端子台は、複数の端子が横列に配置された第１の端子面および第２の端子面を有しているとともに、第１の端子面を下段とし、第２の端子面を上段とした階段状をなしているものである。
【０００８】
第２の発明は、入出力ユニットの試験用治具であって、試験用治具の取付台には、試験用信号を入出力するコネクタ部と、コネクタ部にワイヤを介して接続された複数本が横列に配置された第１のプローブと、第１のプローブと並列に複数本が横列に配置された第２のプローブと、つまみネジが設けられており、取付台が入出力ユニットの第１の端子台あるいは第２の端子台のいずれかの端子台の端子面につまみネジで締め付け固定されるとともに、第１のプローブが入出力ユニットの第１の端子面の端子に、第２のプローブが入出力ユニットの第２の端子面の端子に接触するものである。
【発明の効果】
【０００９】
第１の発明は上記のような構成を採用しているので、省スペースの構造で入出力ユニットへの入出力点数が増加し、接続できるフィールド機器の台数を増やすことが可能となり、また、端子の電気的接触面の保守、点検が容易となる。
【００１０】
また第２の発明は上記第１の発明による入出力ユニットの試験用治具であり、試験用治具の入出力ユニットへの取り付け作業性が向上し、試験作業の効率向上がはかれる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態１による入出力ユニットを示す概略外観図である。
【図２】実施の形態１による端子台の上面図を示す。
【図３】実施の形態２による試験用治具を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態１を図に基づいて説明する。図１は実施の形態１による入出力ユニット１０を示す概略外観図である。図１において入出力カードを格納した入出力回路部１と、この入出力回路部１を挿入し、切替スイッチ等が設けられたモジュール部２と、このモジュール部２の一方の側に設けられた第１の端子台３および他方の側に設けられた第２の端子台４とによって入出力ユニット１０が構成されている。前記第１の端子台３と第２の端子台４とは同一の機能、構成である。この第１の端子台３は下段の第１の端子面３ａと上段の第２の端子面３ｂによって形成される階段状をなしており、また第２の端子台４も同様に下段の第１の端子面４ａ、上段の第２の端子面４ｂによって形成される階段状をなしている。図１に示すようにモジュール部２に対して第１の端子台３はＸ１方向に、第２の端子台４はＸ１方向と反対の向きのＸ２方向に設けられている。
また第１の端子面３ａ、４ａ、第２の端子面３ｂ、４ｂのＹ方向である横列には多点となるよう複数の端子Ｔが設けられており、図２の第１の端子台３の上面図に示すように上部から見た場合、下段の第１の端子面３ａの端子Ｔに対し、上段の第２の端子面３ｂの端子Ｔとはスタッガ（Ｓｔａｇｇｅｒ）配置となるように設けられている。尚、第２の端子台４も同様である。またこの端子Ｔには図示省略した配線ケーブルを介してフィールド機器が接続される。入出力回路部１は図示省略した配線ケーブルを介してプラントの計装、制御盤に接続されており、フィールド機器への入出力信号はモジュール部２と第１の端子台３、および第２の端子台４を経由して伝送される。尚第２の端子面３ｂ、４ｂのネジ穴５は試験用治具を取り付けるために設けられている。
このように実施の形態１の入出力ユニット１０は、複数個の端子Ｔを設けた第１の端子台３、および第２の端子台４をモジュール部２の両側に設けた構成であるので、省スペースで入出力ユニット１０当たりの入出力点数が増加し、接続できるフィールド機器の台数を増やすことが可能となる。
また第１の端子台３、第２の端子台４が階段状を形成してかつ端子Ｔがスタッガ配置であるので配線ケーブルの接続作業性が向上するとともに端子Ｔの電気的接触面の保守、点検が容易になるという効果がある。またこの実施の形態１では２段の階段状をなす端子台としたが入出力ユニット１０の体格に合わせた３段以上の階段状であってもよい。
【００１３】
実施の形態２．
次に実施の形態２について説明する。この実施の形態２は前述した実施の形態１の入出力ユニット１０の性能を確認するための試験用治具に関するものである。図３に示すように、試験用治具２０には、入出力ユニット１０の自動試験ツール（図示省略）と接続されるインターフェース部に相当するコネクタ部２１と、このコネクタ部２１にワイヤ２２で接続される複数本の第１のプローブ２３ａと、第２のプローブ２３ｂが設けられているとともに、入出力ユニット１０に試験用治具２０を取り付けるためのつまみネジ５ａが設置されている。つまみネジ５ａは、締付用の工具を必要としない手動にて入出力ユニット１０のネジ穴５にねじ込まれて入出力ユニット１０に試験用治具２０を固定するためのものである。また前記第１のプローブ２３ａおよび第２のプローブ２３ｂは入出力ユニット１０の複数の端子Ｔと同数またはそれ以上の本数が設けられており、試験用治具２０の固定により第１のプローブ２３ａは入出力ユニット１０の第１の端子台３の端子面３ａの端子Ｔに、第２のプローブ２３ｂは端子面３ｂの端子Ｔに電気的に接する。この第１のプローブ２３ａ、第２のプローブ２３ｂの端子Ｔとの接触部は鋭利な形状を有しており、端子Ｔとの電気的接触性を向上させている。入出力ユニット１０の試験は、外部設置の自動試験ツールからの信号をコネクタ部２１で入力し、第１のプローブ２３ａを介し第１の端子台３へ、第２のプローブ２３ｂを介し第２の端子台４のそれぞれの端子Ｔに伝送され、モジュール部２に接続の自動試験ツールによって性能の良否が判定される。
尚図３では、入出力ユニット１０の第１の端子台３に装着する場合を示している。すなわち第１の端子台３を介する試験を終了後に第２の端子台４を介する試験を想定した例を示しているが、この試験用治具２０を２セット準備して図１に示した入出力ユニット１０の第１の端子台３、第２の端子台４にそれぞれ装着することで、試験作業の効率向上がはかれる。このようにこの実施の形態２の試験用治具２０は、手動で締め付け可能なつまみネジ５ａによって入出力ユニット１０に固定可能な構成であり、取り付け、取り外しの作業性が向上するという効果がある。
尚、第１のプローブ２３ａ、第２のプローブ２３ｂに圧縮バネ構造を付帯した構成を採用してもよく、このことにより端子Ｔに第１のプローブ２３ａ、第２のプローブ２３ｂをより強く押し当てることができ、接触特性が向上する。
【００１４】
尚、この発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
【符号の説明】
【００１５】
１  入出力回路部、２  モジュール部、３  第１の端子台、３ａ  第１の端子面、
３ｂ  第２の端子面、４  第２の端子台、４ａ  第１の端子面、４ｂ  第２の端子面、
５  ネジ穴、５ａ  つまみネジ、１０  入出力ユニット、２０  試験用治具、
２１  コネクタ部、２２  ワイヤ、２３ａ  第１のプローブ、２３ｂ  第２のプローブ、２４  取付台。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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