(57)【要約】【課題】ＬＤの個体ごとの劣化度合いおよび寿命を精度よく判断して、動作不良に至る前にユーザに警告する。【解決手段】ＬＤ駆動回路６は、ＬＤ３に供給する駆動電流を増減して、ＬＤ３の出射光量を一定に制御する。この駆動電流は、コントローラ８内のＬＤ駆動電流検出部８４により検出され、メモリ部８６に時系列に記憶される。ＬＤ劣化寿命判断部８５は、メモリ部８６に記憶されている駆動電流の経時変化に基づき、駆動電流が劣化判断値以上になった場合にＬＤ３が劣化していると判断し、寿命判断値以上になった場合にＬＤ３が寿命であると判断する。出力指示部８７が出力装置１２に指示し、劣化警告および寿命警告を出力させる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体発光素子に供給する駆動電流を増減して前記半導体発光素子の出射光量を一定に制御するディスク装置であって、
前記半導体発光素子に供給した前記駆動電流を検出する駆動電流検出部と、
前記駆動電流検出部が検出した前記駆動電流を時系列で記憶するメモリ部と、
劣化判断値および当該劣化判断値より高い値の寿命判断値を有し、前記メモリ部に記憶されている前記駆動電流の経時変化に基づいて前記駆動電流が前記劣化判断値以上になった場合に前記半導体発光素子が劣化していると判断し、前記寿命判断値以上になった場合に寿命であると判断する劣化寿命判断部と、
前記劣化寿命判断部の判断結果に基づいて、前記半導体発光素子の劣化および寿命の警告の出力を出力装置に指示する出力指示部とを備えることを特徴とするディスク装置。
【請求項２】
半導体発光素子に供給する駆動電流を一定に制御するディスク装置であって、
前記半導体発光素子の出射光量を検出する出射光量検出部と、
前記出射光量検出部が検出した前記出射光量を時系列で記憶するメモリ部と、
劣化判断値および当該劣化判断値より低い値の寿命判断値を有し、前記メモリ部に記憶されている前記出射光量の経時変化に基づいて前記出射光量が前記劣化判断値以下になった場合に前記半導体発光素子が劣化していると判断し、前記寿命判断値以下になった場合に寿命であると判断する劣化寿命判断部と、
前記劣化寿命判断部の判断結果に基づいて、前記半導体発光素子の劣化および寿命の警告の出力を出力装置に指示する出力指示部とを備えることを特徴とするディスク装置。
【請求項３】
前記半導体発光素子の周囲温度を検出する温度検出部を備え、
前記劣化寿命判断部は、前記温度検出部が検出した前記周囲温度を用いて前記駆動電流を補正し、当該補正した駆動電流の経時変化に基づいて前記半導体発光素子の劣化および寿命を判断することを特徴とする請求項１記載のディスク装置。
【請求項４】
前記劣化寿命判断部は、前記周囲温度が予め設定された温度閾値以上になった場合、前記半導体発光素子の駆動を停止させることを特徴とする請求項３記載のディスク装置。
【請求項５】
前記劣化寿命判断部は、前記駆動電流が予め設定された電流閾値以上になった場合、前記温度閾値を下げることを特徴とする請求項４記載のディスク装置。
【請求項６】
前記半導体発光素子は、光ピックアップのレーザダイオード、またはディスクの挿入および排出を検出する発光ダイオードであることを特徴とする請求項１から請求項５のうちのいずれか１項記載のディスク装置。
【請求項７】
前記半導体発光素子は光ピックアップのレーザダイオードであって、前記半導体発光素子の出射光量には、前記レーザダイオードの出射光がディスクで反射した反射光量から推定された光量が用いられることを特徴とする請求項１から請求項５のうちのいずれか１項記載のディスク装置。
【請求項８】
前記半導体発光素子はディスクの挿入および排出を検出する発光ダイオードであって、前記半導体発光素子の出射光量には、前記ディスクが挿入および排出される領域へ前記発光ダイオードの出射光を導くプリズムを透過した光量が用いられることを特徴とする請求項１から請求項５のうちのいずれか１項記載のディスク装置。
【請求項９】
前記劣化寿命判断部は、前記メモリ部に記憶されている前記駆動電流の経時変化から算出した統計値を前記劣化判断値および前記寿命判断値と比較して、前記半導体発光素子の劣化および寿命を判断することを特徴とする請求項１記載のディスク装置。
【請求項１０】
前記劣化寿命判断部は、前記メモリ部に記憶されている前記出射光量の経時変化から算出した統計値を前記劣化判断値および前記寿命判断値と比較して、前記半導体発光素子の劣化および寿命を判断することを特徴とする請求項２記載のディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ディスクの再生動作または記録動作を行うディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ディスク装置の光ピックアップに用いられるレーザダイオード（ＬＤ）は、一般に熱に弱いため、周囲温度はＬＤの寿命に影響を及ぼす原因となる。高温下でＬＤを動作させることは、ＬＤの劣化を早め、寿命を大幅に低下させる。
【０００３】
このため、従来のディスク装置には、動作温度が所定の基準温度に達した場合にＬＤの動作を停止させる保護回路が設けられている。
また、動作温度と動作時間とに基づいてＬＤのダメージ指数を算出し、ダメージ指数の累積値に応じてＬＤの動作を停止させる温度を変化させることも考えられている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−１７３５５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述したような保護回路は、ＬＤの劣化度合いおよび寿命を予測できないので、ユーザは、ディスクが再生不良となった場合に初めてＬＤの寿命を把握することになる。
また、上記特許文献１の方法では、ＬＤの劣化度合いおよび寿命を予測可能である。しかしながら、ＬＤの劣化度合いおよび寿命は個体差があり、特許文献１の方法では、ＬＤの個体差に対応できず、平均的または寿命の短いＬＤに焦点を合わせる必要がある。このため、算出したダメージ指数の累積値と実際のＬＤの劣化度合いとに乖離がある場合、例えば、実際の劣化度合いがダメージ指数の累積値より低い場合には基準温度より低い温度でＬＤの動作が停止したり、実際の劣化度合いがダメージ指数の累積値より高い場合は再生不良となったりする。
【０００６】
このように、従来のディスク装置は、ＬＤの個体ごとの劣化度合いおよび寿命を精度よく判断することが困難であり、動作不良に至る前にユーザに警告できないという課題があった。
【０００７】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、ＬＤの個体ごとの劣化度合いおよび寿命を精度よく判断して、動作不良に至る前にユーザに警告することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明に係るディスク装置は、半導体発光素子に供給する駆動電流を増減して半導体発光素子の出射光量を一定に制御するものであって、半導体発光素子に供給した駆動電流を検出する駆動電流検出部と、駆動電流検出部が検出した駆動電流を時系列で記憶するメモリ部と、劣化判断値および当該劣化判断値より高い値の寿命判断値を有し、メモリ部に記憶されている駆動電流の経時変化に基づいて駆動電流が劣化判断値以上になった場合に半導体発光素子が劣化していると判断し、寿命判断値以上になった場合に寿命であると判断する劣化寿命判断部と、劣化寿命判断部の判断結果に基づいて、半導体発光素子の劣化および寿命の警告の出力を出力装置に指示する出力指示部とを備えるものである。
【０００９】
この発明に係るディスク装置は、半導体発光素子に供給する駆動電流を一定に制御するものであって、半導体発光素子の出射光量を検出する出射光量検出部と、出射光量検出部が検出した出射光量を時系列で記憶するメモリ部と、劣化判断値および当該劣化判断値より低い値の寿命判断値を有し、メモリ部に記憶されている出射光量の経時変化に基づいて出射光量が劣化判断値以下になった場合に半導体発光素子が劣化していると判断し、寿命判断値以下になった場合に寿命であると判断する劣化寿命判断部と、劣化寿命判断部の判断結果に基づいて、半導体発光素子の劣化および寿命の警告の出力を出力装置に指示する出力指示部とを備えるものである。
【発明の効果】
【００１０】
この発明によれば、駆動電流の経時変化に基づいて、駆動電流が劣化判断値以上になった場合に半導体発光素子が劣化していると判断し、寿命判断値以上になった場合に寿命であると判断するようにしたので、半導体発光素子の個体ごとの劣化および寿命を精度よく判断することができる。また、判断結果に基づいて、動作不良に至る前にユーザに警告できる。
【００１１】
この発明によれば、出射光量の経時変化に基づいて、出射光量が劣化判断値以下になった場合に半導体発光素子が劣化していると判断し、寿命判断値以下になった場合に寿命であると判断するようにしたので、半導体発光素子の個体ごとの劣化および寿命を精度よく判断することができる。また、判断結果に基づいて、動作不良に至る前にユーザに警告できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】この発明の実施の形態１に係るディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】ＬＤ駆動電流を一定に制御した場合のＬＤ出射光量の経時変化を示す、一般的なグラフである。
【図３】ＬＤ駆動電流とＬＤ出射光量との一般的な関係を示すグラフである。
【図４】ＬＤ出射光量を一定に制御した場合のＬＤ駆動電流の経時変化を示す、一般的なグラフである。
【図５】ＬＤ出射光量を一定に制御した場合の、ＬＤの劣化および寿命を示すグラフである。
【図６】ＬＤ出射光量を一定に制御した場合の、ＬＤ個体ごとの劣化および寿命のばらつきの例を示すグラフである。
【図７】実施の形態１に係るディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】この発明の実施の形態２に係るディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図９】ＬＤ駆動電流を一定に制御した場合の、ＬＤの劣化および寿命を示すグラフである。
【図１０】この発明の実施の形態３に係るディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図１１】この発明の実施の形態４に係るディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図１２】ＬＤ出射光量を一定に制御した場合の、周囲温度が変動したときのＬＤ駆動電流の経時変化を示すグラフである。
【図１３】光ピックアップの温度とＬＤ駆動電流補正量との関係の一例を示すグラフである。
【図１４】実施の形態４に係るディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１５】この発明の実施の形態５に係るディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【００１３】
実施の形態１．
図１に示すように、実施の形態１に係るディスク装置１は、光ピックアップ２と、信号生成回路４と、サーボ回路５と、ＬＤ駆動回路６と、復調回路７と、コントローラ８と、スピンドルモータ９と、スレッドモータ１０と、ＡＶ（Ａｕｄｉｏ  Ｖｉｓｕａｌ）処理回路１１とを含む。また、ディスク装置１には出力装置１２が接続されている。出力装置１２は、ディスク装置１と一体に構成されていてもよいし、別体で構成されていてもよい。
【００１４】
コントローラ８は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）およびメモリ等から構成され、信号検出部８１、サーボ指示部８２、ＬＤ駆動指示部８３、ＬＤ駆動電流検出部８４、ＬＤ劣化寿命判断部８５、メモリ部８６、および出力指示部８７としての機能を実現する。
【００１５】
スピンドルモータ９は、ディスク１３を回転させるモータである。
スレッドモータ１０は、光ピックアップ２をディスク１３の内周から外周まで移動させることにより、光ピックアップ２をディスク１３上のデータトラックに追従させるモータである。
【００１６】
光ピックアップ２は、半導体発光素子であるＬＤ３を有する。光ピックアップ２は、ＬＤ３のレーザ光をディスク１３に向けて照射させ、ディスク１３からの反射光を受光し、データ用信号およびサーボ用信号に変換して信号生成回路４へ出力する。
【００１７】
信号生成回路４は、光ピックアップ２より得たデータ用信号（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ信号）を復調回路７へ出力する。また、信号生成回路４は、光ピックアップ２より得たＦＥ（Ｆｏｃｕｓ  Ｅｒｒｏｒ）およびＴＥ（Ｔｒａｃｋｉｎｇ  Ｅｒｒｏｒ）などのサーボ用信号をサーボ回路５へ出力する。また、信号生成回路４は、光ピックアップ２より得たデータ用信号およびサーボ用信号の振幅の度合い（以下、信号レベル）をコントローラ８内の信号検出部８１へ出力する。
【００１８】
サーボ回路５は、コントローラ８内のサーボ指示部８２の指示に従い、信号生成回路４が出力したサーボ用信号を基に、光ピックアップ２内のレンズ（不図示）の移動制御（いわゆるレンズシフト）、光ピックアップ２自体を移動させるスレッドモータ１０の制御、およびディスク１３を回転させるスピンドルモータ９の制御を行う。
【００１９】
ＬＤ駆動回路６は、コントローラ８内のＬＤ駆動指示部８３によるオンおよびオフの指示に従い、ＬＤ３を駆動する。ＬＤ駆動指示部８３がＬＤオン指示を出力した場合、ＬＤ駆動回路６はＬＤ３にＬＤ駆動電流を供給してレーザ光を出射させ、その出射光量に見合った信号を光ピックアップ２から得て、出射光量が一定になるようにＬＤ駆動電流を制御する。
【００２０】
復調回路７は、信号生成回路４より得たデータ用信号を基に、データのエラー訂正などを施し、復調し、ＡＶ処理回路１１へ出力する。
ＡＶ処理回路１１は、復調回路７より得たデータを音声信号および映像信号に変換し、出力装置１２へ出力する。
【００２１】
出力装置１２は、スピーカとディスプレイを有する。出力装置１２は、ＡＶ処理回路１１より得た音声信号をスピーカから音声出力すると共に、ＡＶ処理回路１１より得た映像信号をディスプレイに表示する。
また、出力装置１２は、コントローラ８内の出力指示部８７の指示に従い、ＬＤ３が劣化したことを警告する劣化警告、およびＬＤ３の寿命が尽きたことを警告する寿命警告のテロップをディスプレイに表示する。なお、出力装置１２は、劣化警告および寿命警告をディスプレイに表示することに代えて（または加えて）、スピーカから音声出力してもよい。出力装置１２がテロップ表示などによりＬＤ３の劣化および寿命を警告することで、動作不良に至る前にディスク装置１の修理または交換などをユーザに促す。
【００２２】
コントローラ８は、ディスク装置１全般の管理を行う。
コントローラ８内の信号検出部８１は、データ用およびサーボ用の信号レベルを信号生成回路４より得て、サーボ指示部８２へ出力する。サーボ指示部８２は、信号検出部８１より得たデータ用およびサーボ用の信号レベルを基に、ディスク１３の種類を判別し、判別した種類に適したサーボの指示をサーボ回路５へ出力する。ディスク１３の種類としては、例えばＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ；登録商標）などがある。
【００２３】
ＬＤ駆動指示部８３は、ＬＤ駆動回路６へＬＤ３のオンおよびオフを指示する。
ＬＤ駆動電流検出部８４は、ＬＤ駆動回路６から光ピックアップ２内のＬＤ３へ供給されるＬＤ駆動電流を検出して、ＬＤ劣化寿命判断部８５へ出力する。ＬＤ劣化寿命判断部８５は、ＬＤ駆動電流検出部８４より得たＬＤ駆動電流をメモリ部８６に記憶させる。ＬＤ劣化寿命判断部８５は、メモリ部８６に記憶されているＬＤ駆動電流の経時変化に基づいてＬＤ３の劣化および寿命を判断し、判断結果を出力指示部８７へ出力する。
【００２４】
メモリ部８６は、ＬＤ劣化寿命判断部８５がＬＤ駆動電流検出部８４より得たＬＤ駆動電流を、時系列に記憶する。出力指示部８７は、ＬＤ劣化寿命判断部８５がＬＤ３の劣化を判断した場合に出力装置１２へ劣化警告の出力を指示し、ＬＤ劣化寿命判断部８５がＬＤ３の寿命を判断した場合に出力装置１２へ寿命警告の出力を指示する。
【００２５】
ここで、図２〜図６のグラフを用いて、ＬＤ３の劣化および寿命を説明する。
図２は、ＬＤ駆動電流を一定に制御した場合のＬＤ出射光量の経時変化を示す、一般的なグラフである。ＬＤ３の使用開始後ある時間（数年）が経過すると、ＬＤ３の出射光量が減少してくる。このＬＤ出射光量の減少がＬＤ３の劣化度合いを示しており、ある出射光量以下になると、ＬＤ３の寿命と判断できる。
【００２６】
図３は、ＬＤ駆動電流とＬＤ出射光量との一般的な関係を示すグラフである。ＬＤ３は、一般的に、ＬＤ駆動電流とＬＤ出射光量とがリニアな使用領域（図３に楕円で示される領域）で使用される。この使用領域において、ＬＤ駆動電流を増加させれば、それに比例してＬＤ出射光量が増加する。言い換えれば、ＬＤ出射光量を増加させるためには、ＬＤ駆動電流を増加させる必要がある。
【００２７】
図４は、ＬＤ出射光量を一定に制御した場合のＬＤ駆動電流の経時変化を示す、一般的なグラフである。図２に示したように使用開始後ある時間経過するとＬＤ３が劣化し始めＬＤ出射光量が減少してくるが、図４ではＬＤ出射光量が一定になるよう制御するため、ＬＤ駆動電流が増加することになる。
実施の形態１においても、ＬＤ駆動回路６がＬＤ駆動電流を増減してＬＤ出射光量を一定に制御する。
【００２８】
図５は、ＬＤ出射光量を一定に制御した場合の、ＬＤ３の劣化および寿命を示すグラフである。実施の形態１のディスク装置１は、ＬＤ出射光量を一定に制御し、ＬＤ３の劣化によりＬＤ駆動電流が増加していきある値（劣化判断値）以上になった場合にユーザに劣化を警告し、ＬＤ駆動電流がさらに増加してある値（寿命判断値）以上になった場合にユーザに寿命を警告する。
【００２９】
図６は、ＬＤ出射光量を一定に制御した場合の、ＬＤ３の個体ごとの劣化および寿命のばらつきの例を示すグラフである。ＬＤ３ごとに、劣化の進行度合いおよび寿命になるまでの時間にばらつきがあるため、経過時間だけではＬＤ３の劣化および寿命を精度よく判断できない。
実施の形態１では、ＬＤ駆動電流に基づいてＬＤ３の劣化および寿命を判断するので、ＬＤ３の個体ごとに劣化および寿命を判断できる。
【００３０】
次に、図７のフローチャートを用いて、ディスク装置１の動作を説明する。
コントローラ８がディスク装置１の各部を制御してディスク１３を再生する場合（ステップＳＴ１“ＹＥＳ”）、コントローラ８内のＬＤ駆動指示部８３がＬＤ駆動回路６へＬＤオン指示を出力し、光ピックアップ２内のＬＤ３を駆動（照射）させる（ステップＳＴ２）。また、サーボ指示部８２が指示してサーボ回路５を動作させ、ディスク１３の再生を開始させる（ステップＳＴ３）。
【００３１】
ＬＤ劣化寿命判断部８５は、ＬＤ駆動電流検出部８４よりＬＤ駆動電流を取得し（ステップＳＴ４）、メモリ部８６に記憶させる（ステップＳＴ５）。メモリ部８６は、ＬＤ駆動電流を時系列的に蓄えていく。
続いて、ＬＤ劣化寿命判断部８５は、時系列的に蓄えた今までのＬＤ駆動電流をメモリ部８６より読み出し（ステップＳＴ６）、ＬＤ駆動電流の経時変化を確認する（ステップＳＴ７，ＳＴ９）。
【００３２】
ＬＤ駆動電流が、ＬＤ３が寿命であることを示す寿命判断値（図５に示す）以上である場合（ステップＳＴ７“ＹＥＳ”）、ＬＤ劣化寿命判断部８５から出力指示部８７へ、ＬＤ３が寿命であることを通知する。出力指示部８７は、出力装置１２に指示して、寿命警告のテロップを表示させる（ステップＳＴ８）。一方、ＬＤ駆動電流が寿命判断値未満である場合（ステップＳＴ７“ＮＯ”）、ステップＳＴ９へ進む。
【００３３】
ＬＤ駆動電流が、ＬＤ３が劣化していることを示す劣化判断値（図５に示す）以上である場合（ステップＳＴ９“ＹＥＳ”）、ＬＤ劣化寿命判断部８５から出力指示部８７へ、ＬＤ３が劣化していることを通知する。出力指示部８７は、出力装置１２に指示して、劣化警告のテロップを表示させる（ステップＳＴ１０）。
ＬＤ駆動電流が劣化判断値未満である場合（ステップＳＴ９“ＮＯ”）、または、寿命警告もしくは劣化警告を出力装置１２に表示させた場合（ステップＳＴ８もしくはステップＳＴ１０）、ステップＳＴ１１へ進む。
【００３４】
なお、ＬＤ駆動電流の変動を考慮して、ＬＤ駆動電流の経時変化から統計値を算出してＬＤ３の寿命および劣化を判断するようにしてもよい。例えば、ＬＤ劣化寿命判断部８５が、時系列的に蓄えられたＬＤ駆動電流の直近複数個から平均値を算出し、この平均値を寿命判断値および劣化判断値と比較してもよい。また例えば、時系列的に蓄えられたＬＤ駆動電流が所定時間連続して寿命判断値以上になった場合に寿命と判断し、所定時間連続して劣化判断値以上になった場合に劣化と判断してもよい。
【００３５】
ステップＳＴ１１にて、コントローラ８がディスク１３の再生を継続する場合（ステップＳＴ１１“ＮＯ”）、ステップＳＴ４に移行してステップＳＴ４〜ＳＴ１１の処理を繰り返す。一方、コントローラ８がディスク１３の再生を停止する場合（ステップＳＴ１１“ＹＥＳ”）、サーボ指示部８２が指示してサーボ回路５を停止させ、ディスク１３の再生を停止させる（ステップＳＴ１２）。また、ＬＤ駆動指示部８３がＬＤ駆動回路６へＬＤオフ指示を出力し、ＬＤ３の駆動（照射）を停止させ（ステップＳＴ１３）、ステップＳＴ１へ移行する。
【００３６】
以上より、実施の形態１によれば、ＬＤ３に供給するＬＤ駆動電流を増減してＬＤ出射光量を一定に制御するディスク装置１は、ＬＤ３に供給したＬＤ駆動電流を検出するＬＤ駆動電流検出部８４と、ＬＤ駆動電流検出部８４が検出したＬＤ駆動電流を記憶するメモリ部８６と、劣化判断値および当該劣化判断値より高い値の寿命判断値を有してメモリ部８６に記憶されているＬＤ駆動電流の経時変化に基づいてＬＤ駆動電流が劣化判断値以上になった場合にＬＤ３が劣化していると判断し、寿命判断値以上になった場合に寿命であると判断するＬＤ劣化寿命判断部８５と、ＬＤ劣化寿命判断部８５の判断結果に基づいて、ＬＤ３の劣化および寿命の警告の出力を出力装置１２に指示する出力指示部８７とを備える構成にした。ＬＤ駆動電流の経時変化を把握することにより、ＬＤ３の個体ごとの劣化および寿命を精度よく判断することができる。また、テロップ表示などによりＬＤ３の劣化および寿命を警告することで、ユーザは、動作不良に至る前にディスク装置１の修理または交換などを実施できる。
【００３７】
また、実施の形態１によれば、ＬＤ劣化寿命判断値８５は、メモリ部８６に記憶されているＬＤ駆動電流の経時変化から算出した統計値を劣化判断値および寿命判断値と比較して、ＬＤ３の劣化および寿命を判断するようにしたので、ＬＤ駆動電流の変動を考慮してより精度よく劣化および寿命を判断することができる。
【００３８】
実施の形態２．
上記実施の形態１では、駆動電流を増減させてＬＤの出射光量を一定に制御するディスク装置を説明したが、本実施の形態２ではＬＤの駆動電流を一定に制御するディスク装置を説明する。
【００３９】
図８は、実施の形態２に係るディスク装置１ａの構成例を示すブロック図である。図８において、図１と同一または相当の部分には同一の符号を付して説明を省略する。ＬＤ駆動回路６ａは、コントローラ８内のＬＤ駆動指示部８３によるオンおよびオフの指示に従い、光ピックアップ２のＬＤ３を駆動する。ＬＤ駆動指示部８３がオン指示を出力した場合、ＬＤ駆動回路６ａはＬＤ３に一定のＬＤ駆動電流を供給してレーザ光を出射させ、その出射光量に見合った信号を光ピックアップ２から得る。コントローラ８はＬＤ出射光量検出部８８を備えており、このＬＤ出射光量検出部８８は、ＬＤ駆動回路６ａが光ピックアップ２から取得したＬＤ出射光量を検出して、ＬＤ劣化寿命判断部８５ａへ出力する。
【００４０】
図９は、ＬＤ駆動電流を一定に制御した場合の、ＬＤ３の劣化および寿命を示すグラフである。ＬＤ駆動電流を一定に制御した場合、ＬＤ３の劣化によりＬＤ出射光量が減少していく。そこで、実施の形態２のディスク装置１ａは、ＬＤ駆動電流を一定に制御し、ＬＤ３の劣化によりＬＤ出射光量が減少していきある値（劣化判断値）以下になった場合にユーザに劣化を警告し、ＬＤ出射光量がさらに減少してある値（寿命判断値）以下になった場合にユーザに寿命を警告する。
【００４１】
ＬＤ３ごとに、劣化の進行度合いおよび寿命になるまでの時間にばらつきがあるため、経過時間だけではＬＤ３の劣化および寿命を精度よく判断できない。実施の形態２では、ＬＤ出射光量に基づいてＬＤ３の劣化および寿命を判断するので、ＬＤ３の個体ごとに劣化および寿命を判断できる。
【００４２】
ここで、ディスク装置１ａの動作例を説明する。ディスク装置１ａの動作は、図７に示したフローチャートと大部分が同じであるため、異なる部分のみ図７を援用して説明する。
ＬＤ劣化寿命判断部８５ａは、ＬＤ出射光量検出部８８よりＬＤ出射光量を取得し（ステップＳＴ４）、メモリ部８６に記憶させる（ステップＳＴ５）。続いて、ＬＤ劣化寿命判断部８５ａは、時系列的に蓄えた今までのＬＤ出射光量をメモリ部８６より読み出し（ステップＳＴ６）、ＬＤ出射光量が寿命判断値（図９に示す）以下である場合（ステップＳＴ７“ＹＥＳ”）、ＬＤ劣化寿命判断部８５ａから出力指示部８７へＬＤ３が寿命であることを通知し、出力指示部８７が出力装置１２に寿命警告のテロップを表示させる（ステップＳＴ１０）。また、ＬＤ劣化寿命判断部８５ａは、ＬＤ出射光量が劣化判断値（図９に示す）以下である場合（ステップＳＴ９“ＹＥＳ”）、出力指示部８７へＬＤ３が劣化していることを通知し、出力指示部８７が出力装置１２に劣化警告のテロップを表示させる（ステップＳＴ１０）。
【００４３】
なお、ＬＤ出射光量の変動を考慮して、ＬＤ出射光量の経時変化から統計値を算出してＬＤ３の寿命および劣化を判断するようにしてもよい。例えば、ＬＤ劣化寿命判断部８５ａが、時系列的に蓄えられたＬＤ出射光量の直近複数個から平均値を算出し、この平均値を寿命判断値および劣化判断値と比較してもよい。また例えば、時系列的に蓄えられたＬＤ出射光量が所定時間連続して寿命判断値以上になった場合に寿命と判断し、所定時間連続して劣化判断値以上になった場合に劣化と判断してもよい。
【００４４】
以上より、実施の形態２によれば、ＬＤ３に供給するＬＤ駆動電流を一定に制御するディスク装置１ａは、ＬＤ３の出射光量を検出するＬＤ出射光量検出部８８と、ＬＤ出射光量検出部８８が検出したＬＤ出射光量を時系列で記憶するメモリ部８６と、劣化判断値および当該劣化判断値より低い値の寿命判断値を有してメモリ部８６に記憶されているＬＤ出射光量の経時変化に基づいてＬＤ出射光量が劣化判断値以下になった場合にＬＤ３が劣化していると判断し、寿命判断値以下になった場合に寿命であると判断するＬＤ劣化寿命判断部８５ａと、ＬＤ劣化寿命判断部８５ａの判断結果に基づいてＬＤ３の劣化および寿命の警告の出力を出力装置１２に指示する出力指示部８７とを備える構成にした。ＬＤ出射光量の経時変化を把握することにより、ＬＤ３の個体ごとの劣化および寿命を精度よく判断することができる。また、テロップ表示などによりＬＤ３の劣化および寿命を警告することで、ユーザは、動作不良に至る前にディスク装置１ａの修理または交換などを実施できる。
【００４５】
また、実施の形態２によれば、ＬＤ劣化寿命判断値８５ａは、メモリ部８６に記憶されているＬＤ出射光量の経時変化から算出した統計値を劣化判断値および寿命判断値と比較して、ＬＤ３の劣化および寿命を判断するようにしたので、ＬＤ出射光量の変動を考慮してより精度よく劣化および寿命を判断することができる。
【００４６】
実施の形態３．
上記実施の形態１では、ＬＤの出射光量に基づいて当該ＬＤの駆動を制御するディスク装置を説明したが、本実施の形態３では出射光量の代わりに、データ用およびサーボ用の信号レベルを使用するディスク装置を説明する。
【００４７】
図１０は、実施の形態３に係るディスク装置１ｂの構成例を示すブロック図である。図１０において、図１と同一または相当の部分には同一の符号を付して説明を省略する。ＬＤ３のレーザ光がディスク１３で反射した反射光量は、信号生成回路４から信号検出部８１へ、データ用およびサーボ用の信号レベルとして出力される。ＬＤ劣化寿命判断部８５ｂは、信号検出部８１よりデータ用およびサーボ用の信号レベルを得て、ＬＤ反射光量に換算する。ＬＤ劣化寿命判断部８５ｂは、ＬＤ反射光量とＬＤ出射光量との関係性を表した関数またはテーブル等を有しており、信号レベルを換算したＬＤ反射光量からＬＤ出射光量を推定する。
【００４８】
ＬＤ３が劣化するとＬＤ出射光量が減少していくので、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｂは、推定したＬＤ出射光量が一定になるよう、ＬＤ駆動指示部８３ｂへＬＤ駆動電流の増減を指示する。ＬＤ駆動指示部８３ｂは、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｂより指示されたＬＤ駆動電流の目標値をＬＤ駆動回路６ｂへ通知する。ＬＤ駆動回路６ｂは、ＬＤ駆動指示部８３ｂの通知に従い、目標値のＬＤ駆動電流を光ピックアップ２内のＬＤ３へ供給する。ディスク装置１ｂでは、以上のようにして、ＬＤ駆動電流を増減させてＬＤ３の出射光量を一定に制御する。
【００４９】
以上より、実施の形態３によれば、ディスク装置１ｂは、信号検出部８１がディスク１３で反射した反射光量に見合った信号レベルを検出し、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｂがその信号レベルからＬＤ３の出射光量を推定して当該出射光量を一定に制御するためにＬＤ駆動指示部８３ｂへＬＤ駆動電流の増減を指示する構成にした。このため、反射光量に基づいてＬＤ駆動電流を増減することによりＬＤ出射光量を一定に制御するディスク装置１ｂにおいても、実施の形態１と同様にＬＤ駆動電流の経時変化に基づいてＬＤ３の個体ごとの劣化および寿命を精度よく判断して、ユーザに警告できる。
【００５０】
なお、上記説明では、ＬＤ駆動電流を増減してＬＤ出射光量を一定に制御するディスク装置（実施の形態１）に対して、反射光量からＬＤ出射光量を推定する実施の形態３の構成を適用した例を示したが、実施の形態３の構成を実施の形態２に対して適用することも可能である。その場合、ＬＤ駆動電流は一定のままとし、ＬＤ劣化寿命判断部が、反射光量に見合った信号レベルからＬＤ出射光量を推定し、当該推定したＬＤ出射光量の経時変化に基づいてＬＤの劣化および寿命を判断する。
【００５１】
実施の形態４．
図１１は、実施の形態４に係るディスク装置１ｃの構成例を示すブロック図である。図１１において、図１と同一または相当の部分には同一の符号を付して説明を省略する。
ディスク装置１ｃは、光ピックアップ２近傍の温度を計測する温度センサ等を含む温度計測回路１４を備えている。コントローラ８内の温度検出部８９は、光ピックアップ２近傍の温度を温度計測回路１４より得て、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃへ出力する。ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ＬＤ駆動電流検出部８４より得たＬＤ駆動電流を、温度検出部８９より得た温度で補正して、メモリ部８６に記憶させる。
【００５２】
次に、ＬＤ３の温度特性を説明する。図１２は、ＬＤ出射光量を一定に制御した場合の、ＬＤ３の周囲温度が変動したときのＬＤ駆動電流の経時変化を示すグラフである。なお、ＬＤ３の周囲温度は、温度計測回路１４が計測した光ピックアップ２近傍の温度である。
ＬＤ３は温度が高くなると発光効率が下がるため、ＬＤ出射光量を一定に維持するにはＬＤ駆動電流を増加させる必要がある。そのため、ＬＤ出射光量が同じであっても周囲温度が低いときと高いときとではＬＤ駆動電流が異なる。図１２に斜線で示すように、周囲温度が高くなると一時的にＬＤ駆動電流も高くなるため、寿命および劣化を正確に判断することが難しい。
【００５３】
そこで、実施の形態４では、ＬＤ駆動電流の温度上昇分（図１２の斜線部分）を補正により取り去り、寿命および劣化を正確に判断できるようにする。
図１３は、光ピックアップ２の温度とＬＤ駆動電流補正量との関係の一例を示すグラフである。ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、光ピックアップ２の温度とＬＤ駆動電流補正量との関係を表した関数またはテーブルを有し、ＬＤ駆動電流を光ピックアップ２の温度に応じたＬＤ駆動電流補正量で補正する。
なお、ＬＤ駆動電流補正量を予めＬＤ劣化寿命判断部８５ｃに設定しておくのではなく、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃが実際の検出値からＬＤ駆動電流補正量を算出してもよい。例えば、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ディスク１３の再生開始時の光ピックアップ２の温度およびＬＤ駆動電流と、再生開始から所定時間（例えば、１時間）が経過して光ピックアップ２が高温になったときの温度およびＬＤ駆動電流とを取得し、ＬＤ駆動電流補正量を算出する。実際の検出値を用いることで、ＬＤ３の個体ごとの温度特性のばらつきに対応することが可能である。
【００５４】
図１４は、実施の形態４に係るディスク装置１ｃの動作を示すフローチャートである。図１４のステップＳＴ１〜ＳＴ４は、図７のステップＳＴ１〜ＳＴ４と同じである。
ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ＬＤ駆動電流検出部８４よりＬＤ駆動電流を取得した後（ステップＳＴ４）、ステップＳＴ２０において温度検出部８９より光ピックアップ２近傍の温度を取得する。続くステップＳＴ２１において、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ステップＳＴ２０で取得した温度に対応するＬＤ駆動電流補正量を用いて、ステップＳＴ４で取得したＬＤ駆動電流を補正し、メモリ部８６に記憶させる（ステップＳＴ５）。
図１４のステップＳＴ６〜ＳＴ１３は、図７のステップＳＴ６〜ＳＴ１３と同じである。
【００５５】
さらに、ある温度閾値（例えば、８０度）を、ＬＤ３を高温から保護するためのＬＤ保護温度に設定し、光ピックアップ２の温度が温度閾値以上になった場合にＬＤ３の駆動（照射）を停止して、ＬＤ３の寿命を延ばすようにしてもよい。
ディスク装置１ｃの構成の場合、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃが、温度検出部８９より得る光ピックアップ２の温度を監視し、光ピックアップ２の温度が温度閾値以上になるとＬＤ駆動指示部８３に対してＬＤオフ指示を出力し、ＬＤ３の駆動を停止させる。その後、光ピックアップ２の温度が温度閾値より低いＬＤ保護解除温度（例えば、６０度）まで低下したら、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃからＬＤ駆動指示部８３に対してＬＤオン指示を出力し、ＬＤ３を駆動させる。
なお、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ＬＤ駆動指示部８３にオンおよびオフの指示を出力する際に、サーボ指示部８２に対してもサーボ動作の開始および停止を指示してもよい。
【００５６】
この温度閾値を、ＬＤ駆動電流に応じて変更することも可能である。例えば、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃにある電流閾値を設定しておき、ＬＤ駆動電流（または、ＬＤ駆動電流を温度補正した値）が電流閾値以上になった場合に温度閾値を下げ、光ピックアップ２の温度が高くなり過ぎないうちにＬＤ３の駆動を停止させる。これにより、高温環境下でのＬＤ３の駆動が抑制され、ＬＤ３の寿命を延命することができる。電流閾値としては、例えば、ＬＤ出射光量が低下し始める劣化開始時のＬＤ駆動電流、劣化判断値に相当するＬＤ駆動電流などを設定する。
【００５７】
以上より、実施の形態４によれば、ディスク装置１ｃは、ＬＤ３の周囲温度を検出する温度検出部８９を備え、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、温度検出部８９が検出した周囲温度を用いてＬＤ駆動電流を補正し、当該補正したＬＤ駆動電流の経時変化に基づいてＬＤ３の劣化および寿命を判断する構成にした。このため、ＬＤ３の劣化および寿命をより精度よく判断することができる。
【００５８】
また、実施の形態４によれば、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ＬＤ３の周囲温度が予め設定された温度閾値以上になった場合、ＬＤ３の駆動を停止させる構成にした。このため、ＬＤ３の寿命を延命することができる。
【００５９】
また、実施の形態４によれば、ＬＤ劣化寿命判断部８５ｃは、ＬＤ駆動電流が予め設定された電流閾値以上になった場合、温度閾値を下げる構成にした。このため、ＬＤ３の寿命を延命することができる。
【００６０】
なお、上記説明では、実施の形態４の構成を実施の形態１と組み合わせた例を示したが、これに限定されるものではなく、実施の形態３と組み合わせてもよい。
【００６１】
また、上記実施の形態１〜４では、光ピックアップ２がディスク１３のデータを読み出す再生動作時においてＬＤ３の劣化および寿命を判断する例を説明したが、データをディスク１３に書き込む記録動作時においてＬＤ３の劣化および寿命を判断する構成にしてもかまわない。
【００６２】
実施の形態５．
上記実施の形態１〜４では、ＬＤの劣化および寿命を判断するディスク装置を説明したが、判断対象はＬＤに限定されるものではなく、ＬＤと同じ半導体発光素子である発光ダイオード（ＬＥＤ）等の劣化および寿命の判断も可能である。そこで、本実施の形態５では、ディスクの挿入および排出を検出するＬＥＤの劣化および寿命を判断するディスク装置を説明する。
【００６３】
図１５は、実施の形態５に係るディスク装置１ｄの構成例を示すブロック図である。図１５において、図１と同一または相当の部分には同一の符号を付して説明を省略する。ディスク１３は、ディスク装置１ｄの筐体に形成されたディスク挿入口（不図示）へＡ方向に挿入され、Ａ方向とは反対の方向へ排出される。ＬＥＤ３ｄの出射光は、ディスク１３が挿入および排出される領域（例えば、ディスク挿入口）へプリズム１５により導光され、受光回路１６へ向けて照射される。ディスク１３がディスク挿入口付近に位置していると、このディスク１３がプリズム１５の透過光を遮るので受光回路１６は受光できず、ディスク１３がターンテーブルに設置されると、ディスク１３がプリズム１５の透過光を遮らないので受光回路１６が受光できる。受光回路１６は、受光した透過光量に見合った信号をコントローラ８内の透過光量検出部９０へ出力する。
【００６４】
コントローラ８内の透過光量検出部９０は、透過光量を受光回路１６より得て、ＬＥＤ劣化寿命判断部８５ｄへ出力する。なお、詳しい説明と図示は省略するが、コントローラ８は透過光量検出部９０が得た透過光量の変化を基にディスク１３の挿入および排出を検出する。
ＬＥＤ劣化寿命判断部８５ｄは、透過光量検出部９０よりＬＥＤ３ｄの透過光量を取得し、メモリ部８６に記憶させる。ＬＥＤ劣化寿命判断部８５ｄは、メモリ部８６に記憶されている透過光量の経時変化に基づいてＬＥＤ３ｄの劣化および寿命を判断し、判断結果を出力指示部８７へ出力する。
【００６５】
ＬＥＤ駆動回路６ｄは、コントローラ８内のＬＥＤ駆動指示部８３ｄによるオンおよびオフの指示に従い、ＬＥＤ３ｄを駆動する。実施の形態５では、ＬＥＤ駆動回路６ｄからＬＥＤ３ｄへ一定のＬＥＤ駆動電流を供給するものとする。
【００６６】
ＬＥＤ駆動回路６ｄがＬＥＤ３ｄの駆動電流を一定に制御した場合、図２および図９に示したように、ＬＥＤ３ｄの劣化により透過光量が減少していく。ＬＥＤ劣化寿命判断部８５ｄは、ＬＥＤ３ｄ劣化により透過光量が減少していきある値（劣化判断値）以下になった場合に劣化と判断し、透過光量がさらに減少してある値（寿命判断値）以下になった場合に寿命と判断する。
【００６７】
以上より、実施の形態５によれば、ディスク１３の挿入および排出を検出するためのＬＥＤ３ｄに供給する駆動電流を一定に制御するディスク装置１ｄは、ＬＥＤ３ｄからプリズム１５を透過して出射された透過光量を検出する透過光量検出部９０と、透過光量検出部９０が検出した透過光量を時系列で記憶するメモリ部８６と、劣化判断値および当該劣化判断値より低い値の寿命判断値を有してメモリ部８６に記憶されている透過光量の経時変化に基づいて透過光量が劣化判断値以下になった場合にＬＥＤ３ｄが劣化していると判断し、寿命判断値以下になった場合に寿命であると判断するＬＥＤ劣化寿命判断部８５ｄと、ＬＥＤ劣化寿命判断部８５ｄの判断結果に基づいてＬＥＤ３ｄの劣化および寿命の警告の出力を出力装置１２に指示する出力指示部８７とを備える構成にした。このため、光ピックアップのＬＤだけでなく、ディスク１３を検出するＬＥＤ３ｄについても、ＬＥＤ３ｄの個体ごとの劣化および寿命を精度よく判断することができる。また、テロップ表示などによりＬＥＤ３ｄの劣化および寿命を警告することで、ユーザは、動作不良に至る前にディスク装置１ｄの修理または交換などを実施できる。
【００６８】
なお、上記説明では、ＬＥＤ３ｄの駆動電流を一定に制御する場合を例にしてこのＬＥＤ３ｄの劣化および寿命の判断方法を説明したが、これに限定されるものではなく、ＬＥＤ３ｄの駆動電流を増減して透過光量を一定に制御する場合でも劣化および寿命の判断が可能である。また、上記説明では、ＬＥＤ３ｄの出射光がプリズム１５を透過した透過光量を使用したが、プリズム１５が無い構成の場合にはＬＥＤ３ｄの出射光量を使用してもよい。
【００６９】
なお、本発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組合せ、各実施の形態の任意の構成要素の変形、または各実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
【符号の説明】
【００７０】
１，１ａ〜１ｄ  ディスク装置、２  光ピックアップ、３  ＬＤ、３ｄ  ＬＥＤ、４  信号生成回路、５  サーボ回路、６，６ａ，６ｂ  ＬＤ駆動回路、６ｄ  ＬＥＤ駆動回路、７  復調回路、８  コントローラ、９  スピンドルモータ、１０  スレッドモータ、１１  ＡＶ処理回路、１２  出力装置、１３  ディスク、１４  温度計測回路、１５  プリズム、１６  受光回路、８１  信号検出部、８２  サーボ指示部、８３，８３ｂ  ＬＤ駆動指示部、８３ｄ  ＬＥＤ駆動指示部、８４  ＬＤ駆動電流検出部、８５，８５ａ，８５ｂ，８５ｃ  ＬＤ劣化寿命判断部、８５ｄ  ＬＥＤ劣化寿命判断部、８６  メモリ部、８７  出力指示部、８８  ＬＤ出射光量検出部、８９  温度検出部、９０  透過光量検出部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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