(57)【要約】【課題】光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置を実現する。【解決手段】センサ光源２２０からの光線３０３は光ディスク２０７の面に対して、斜め方向ではなく略垂直方向に光ディスク２０７に入射する。これにより、温度が変化し、記録媒体２０８にそり等の変形が生じても記録媒体２０８とガラス基板２０９との界面と、記録媒体２０８とガラス基板２１０との界面とは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。さらに、温度センサ２２５により、ホログラム光記録装置１１０内の温度を測定し、温度上昇か温度下降かを判断し、検出した干渉光強度から記録媒体２０８の厚さを判断しているので、正確な厚さを検出することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発生し、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、
上記レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、
上記レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、上記光記録媒体に入射させる反射部と、
上記反射部の反射角度を制御する角度制御部と、
上記光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生させるセンサ光源と、
上記光記録媒体の前面からの反射光と、上記光記録媒体の後面からの反射光との干渉光を受光する受光素子と、
上記記録媒体周囲の温度を測定する温度センサと、
上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算し、上記波長制御部に波長制御信号を供給するとともに、上記角度制御部に角度制御信号を供給する演算部と、
を備えることを特徴とするホログラム光再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載のホログラム光再生装置において、
上記センサ光源は、上記記録媒体の情報記録再生領域の内周側に光を照射することを特徴とするホログラム光再生装置。
【請求項３】
請求項１に記載のホログラム光再生装置において、
上記光記録媒体を回転させるモータと、上記光記録媒体の初期厚さ情報が格納されるメモリとを備え、上記演算部は、上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度と、上記モータの回転角度と、上記メモリに格納された上記初期厚さ情報とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算することを特徴とするホログラム光再生装置。
【請求項４】
請求項２に記載のホログラム光再生装置において、
上記センサ光源から発生された光の一部を受光するパワーモニタを備え、上記演算部は、上記パワーモニタが受光した光量の変動量に基づいて、上記干渉光強度を補正することを特徴とするホログラム光再生装置。
【請求項５】
レーザ光を発生し、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、
上記レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、
上記レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、上記光記録媒体に入射させる反射部と、
上記レーザ光源から発生された光のうちの信号光線に情報を付加する空間光変調器と、
上記空間光変調器により情報が付加された信号光線を、上記光記録媒体中で上記参照光と重ね合わせるために上記光記録媒体に入射させる光学部材と、
上記反射部の反射角度を制御する角度制御部と、
上記光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生させるセンサ光源と、
上記光記録媒体の前面からの反射光と、上記光記録媒体の後面からの反射光との干渉光を受光する受光素子と、
上記記録媒体周囲の温度を測定する温度センサと、
上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算し、上記波長制御部に波長制御信号を供給するとともに、上記角度制御部に角度制御信号を供給する演算部と、
を備えることを特徴とするホログラム光記録装置。
【請求項６】
請求項５に記載のホログラム光記録装置において、
上記センサ光源は、上記記録媒体の情報記録再生領域の内周側に光を照射することを特徴とするホログラム光記録装置。
【請求項７】
請求項５に記載のホログラム光記録装置において、
上記光記録媒体を回転させるモータと、上記光記録媒体の初期厚さ情報が格納されるメモリとを備え、上記演算部は、上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度と、上記モータの回転角度と、上記メモリに格納された上記初期厚さ情報とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算することを特徴とするホログラム光記録装置。
【請求項８】
請求項６に記載のホログラム光記録装置において、
上記センサ光源から発生された光の一部を受光するパワーモニタを備え、上記演算部は、上記パワーモニタが受光した光量の変動量に基づいて、上記干渉光強度信号を補正することを特徴とするホログラム光記録装置。
【請求項９】
ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を照射し、上記ホログラム光記録媒体の前面及び後面から反射された光に基づいて干渉光強度信号を発生し、
上記記録媒体周囲の温度を測定し、
上記干渉光強度信号と、上記測定した温度とに基づいて、上記ホログラム光記録媒体の厚さを演算することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。
【請求項１０】
請求項９に記載のホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、
ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に照射される光は、上記ホログラム光記録媒体の情報記録再生領域の内周側に照射することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。
【請求項１１】
請求項９に記載のホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、
上記干渉光強度信号と、上記温度センサが測定した温度と、上記ホログラム光記録媒体を回転させるモータの回転角度と、上記ホログラム光記録媒体の初期厚さ情報とに基づいて、上記光記録媒体の厚さを演算することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。
【請求項１２】
請求項１０に記載のホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、
上記ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に照射される光の一部をパワーモニタで受光し、このパワーモニタが受光した光量の変動量に基づいて、上記干渉光強度を補正することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
二光束干渉法を用いたホログラム光記録装置は、レーザから出射された光束を光路途中で二分岐し、それぞれを記録媒体中に照射し、記録媒体中に干渉縞を形成・定着し、記録をする。そして、再生時には記録媒体中に形成した干渉縞にレーザから二分岐された光束の一方である参照光の光束を照射し、干渉縞からの回折光を再生信号として受光素子で受光する。
【０００３】
叙述したホログラム光記録装置において、ホログラム光記録装置内の温度変化等により記録媒体の温度も変化する。記録媒体の温度が変化すると、記録媒体中に定着された干渉縞の縞形状は変形し、干渉縞から回折される再生信号が劣化する。
【０００４】
このため、非特許文献１に示されているように、記録媒体の温度変化に対応して、参照光の波長や干渉縞への入射角度を検出し、調整する必要がある。
【０００５】
しかし、参照光の最適な波長や干渉縞への最適な入射角度の検出には、それぞれ複数の波長や入射角度の再生信号の品質をカメラで撮影した画像で比較評価する計算処理が必要であった。計算処理には時間を要するため、再生速度が低下してしまっていた。
【０００６】
記録媒体の温度を直接測定することができれば、その温度に基づいて記録媒体の変形量を高速に推定することは可能である。しかし、記録媒体は上下をガラス基板で挟まれた構造であるため、直接記録媒体の温度を測ることはできない。
【０００７】
また、ホログラム光記録装置内の温度が変化した時にガラスと記録媒体の温度変化に時間的なずれが生じるため、ガラス温度を記録媒体の温度として扱うことは出来ない。このため、記録媒体の変形量を直接測定することが求められていた。
【０００８】
記録媒体の変形量を測定する一方法としては、機械式の厚さ測定法であり、板状体である記録媒体を一対の接触子で挟みこみ、接触子の間隔を測定するものがある。
【０００９】
一方、非接触で厚さを測定できる光学式の例は、特許文献１に記載された技術がある。この技術は、透明板状体に対して斜めからレーザの光線を照射し、透明板状体から反射する光線を受光し、受光位置のずれを検出することで透明板状体の厚さを測定する技術である。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００１０】
【非特許文献１】「Ｈｏｌｏｇｒａｐｈｉｃ  Ｄａｔａ  Ｓｔｏｒａｇｅ」  ２０１０年８月２日初版発行  ｐｐ３２５−ｐｐ３２７
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００６−３１８３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ホログラム光記録媒体は、ホトポリマー等の高分子材質からなる柔軟な板状部材である。このため、上記接触子を用いて機械的に厚さを測定する技術では、薄い板状体や柔らかい板状体の厚さを測定する場合に、一対の接触子で挟持することによって挟持部分が変形してしまうために正確な測定ができないことが少なくない。また、接触により記録媒体表面に傷が付くため、ホログラム光記録装置には適さない。
【００１３】
一方、光学式で非接触に厚さを測定できる特許文献１の技術では、記録媒体である透明板状体に対して斜め方向からレーザ光を照射し、透明板状体からの反射光線の平行シフト量から厚さを検出しているため、透明板状体の温度が変化すると変形し、この変形により反射光線位置がずれるため、厚さの測定精度が低下していた。
【００１４】
本発明の目的は、光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、記録再生性能を向上可能なホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成するために本発明は、次のように構成される。
【００１６】
ホログラム光再生装置において、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、光記録媒体に入射させる反射部と、反射部の反射角度を制御する角度制御部と、光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生させるセンサ光源と、光記録媒体の前面及び後面からの反射光との干渉光を受光する受光素子と、この受光素子からの干渉強度信号と、温度センサが測定した温度とに基づいて、光記録媒体の厚さの変化量を演算し、波長制御部に波長制御信号を供給するとともに上記角度制御部に角度制御信号を供給する演算部とを備える。
【００１７】
また、ホログラム光記録装置において、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、上記光記録媒体に入射させる反射部と、記レーザ光源から発生された光のうちの信号光線に情報を付加する空間光変調器と、空間光変調器により情報が付加された信号光線を、光記録媒体中で上記参照光と重ね合わせるために光記録媒体に入射させる光学部材と、記反射部の反射角度を制御する角度制御部と、記録媒体周囲の温度を測定する温度センサと、光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生するセンサ光源と、光記録媒体の前面及び後面から反射光の干渉光を受光する受光素子と、この受光素子からの干渉強度信号と、温度センサが測定した温度とに基づいて、光記録媒体の厚さの変化量を演算し、波長制御部に波長制御信号を供給するとともに、角度制御部に角度制御信号を供給する演算部とを備える。
【００１８】
ホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を照射し、ホログラム光記録媒体の前面及び後面から反射された光に基づいて干渉光強度信号を発生し、記録媒体周囲の温度を測定し、干渉光強度信号と、測定した温度とに基づいて、ホログラム光記録媒体の厚さを演算する。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、記録再生性能を向上可能なホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施例１におけるホログラム光記録再生装置の全体構成を示す図である。
【図２】本発明の実施例１における光学式厚さセンサを説明する図である。
【図３】本発明の実施例１における記録媒体厚さとセンサ受光素子に照射される干渉光強度との関係を説明する図である。
【図４】ディスクの回転角度と記録媒体の厚さの分布の一例を示す図である。
【図５】本発明の実施例２における光学式厚さセンサを説明する図である。
【図６】本発明の実施例３における光学式厚さセンサを説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
【実施例】
【００２２】
（実施例１）
本発明の実施例１に係るホログラム光記録再生装置１００の構成について、図面を参照して説明する。
【００２３】
初めに、光ディスク２０７に情報を記録する手順を説明する。
【００２４】
図１は、本発明の実施例１におけるホログラム光記録再生装置の全体構成を示す図である。レーザ光源２０１を出射した光線３００は２分の１波長板２０２でＰ偏光とＳ偏光の割合を制御された後、偏光ビームスプリッタ２０３で信号光線３０１と参照光線３０２とに分離される。
【００２５】
信号光線３０１は偏光ビームスプリッタ２０４で反射し、空間光変調器２０５に入射する。空間光変調器２０５で情報を付加された信号光線３０１は、偏光ビームスプリッタ２０４を透過した後、対物レンズ２０６を透過し、光ディスク２０７に集光する。
【００２６】
なお、光ディスク２０７は記録媒体２０８を２枚のガラス基板２０９、２１０で挟み、ガラス基板２１０の下部にハブ２１１が接着された構造である。
【００２７】
一方、偏光ビームスプリッタ２０３で分離された参照光線３０２は、ガルバノミラー（反射部）２００で光ディスク２０７に入射する角度が制御される。
【００２８】
信号光線３０１と参照光線３０２とを光ディスク２０７中で重ね合わせると、光ディスク２０７の記録媒体２０８には信号光線３０１と参照光線３０２で形成される干渉縞が記録され、これにより情報が記録される。
【００２９】
なお、偏光ビームスプリッタ２０４と対物レンズ２０６とにより、情報が付加された信号光線を、光記録媒体２０８中で記参照光と重ね合わせるために光記録媒体２０８に入射させる光学部材が形成される。
【００３０】
次に、記録媒体２０８に記録した情報を再生する手順を説明する。
【００３１】
記録媒体２０８に記録した情報を再生する時は、参照光線３０２のみを光ディスク２０７に照射する。参照光線３０２は光ディスク２０７を透過した後、ガルバノミラー２１２で、入射光軸と同一光軸上に反射される。ガルバノミラー２１２で反射された参照光線３０２は再び光ディスク２０７に入射すると、記録媒体２０８に記録された干渉縞で回折され、再生光線として対物レンズ２０６に入射する。対物レンズ２０６に入射した再生光線は偏光ビームスプリッタ２０４で反射された後、再生光受光素子２１３に入射し、記録した情報が再生される。
【００３２】
光ディスク２０７は、チャック２１８を介して固定されたモータ２１６で回転される。さらに、モータ２１６を搭載するステージ２１７で並進方向に移動される。それにより光ディスク２０７の任意の位置に記録再生が可能となる。
【００３３】
ここで、再生時にホログラム光記録再生装置１００内部の温度が記録時と比べて変化していると、記録媒体２０８の体積が変化し、記録時に記録媒体２０８に形成された干渉縞は変形する。その結果、干渉縞で回折し、再生光受光素子２１３で再生される再生信号が劣化する。
【００３４】
なお、記録媒体２０８の温度変化による再生信号劣化はレーザ光源２０１から出射する光線３００の波長や、ガルバノミラー２００で光ディスク２０７に入射する参照光線３０２の入射角度を変更することで抑制できることが知られている。
【００３５】
そこで、実施例１では、温度変化による記録媒体２０８の変形量として記録媒体２０８の厚さ変化を光学式厚さセンサ２１９で計測する。演算回路２２６では、光学式厚さセンサ２１９から出力された干渉光強度信号４０１と、ホログラム光記録装置１００内部の温度を測定する温度センサ２２５から出力された温度信号４０５とから記録媒体２０８の厚さ変化量を計算する。また、計算した記録媒体２０８の厚さ変化量を基に波長制御回路（波長制御部）２１４に波長制御信号４０２を出力し、レーザ光源２０１を最適な波長に調整することで記録媒体２０８の温度変化による再生信号劣化を抑制する。
【００３６】
また、同様に、計算した記録媒体２０８の厚さ変化量を基に角度制御回路（角度制御部）２１５に角度制御信号４０３を出力し、ガルバノミラー２００を最適な角度に調整することで記録媒体２０８の温度変化による再生信号劣化を抑制する。なお、上記レーザ光源２０１の波長制御とガルバノミラー２００の角度制御は、どちらか一方の制御だけでも良い。
【００３７】
次に、実施例１の特徴の一つである光学式厚さセンサ２１９の動作を説明する。
【００３８】
図２は、本実施例１における光学式厚さセンサ２１９を説明する図である。
【００３９】
光ディスク２０７は外周部位で反りが発生し易いものの、内周部位は反りが少ない。また、光ディスク２０７の記録媒体２０８は記録部と未記録部で屈折率が異なる。そこで、光学式厚さセンサ２１９は最内周側のハブ２１１領域を除き、このハブ２１１の外側で且つ光ディスク２０７の記録再生に用いる領域より内側の未記録領域で用いる。
【００４０】
ここで、未記録領域とは、記録再生に使用される領域ではなく、記録媒体の内周側であって、記録媒体の初期情報等が記録される領域内のうちの記録がされていない領域である（記録媒体の情報記録再生領域の内周側領域）。
【００４１】
光学式厚さセンサ２１９は、センサ光源２２０と、コリメートレンズ２２１と、フィルタ２２２と、センサ受光素子２２３とを備えている。光学式厚さセンサ２１９は、常に光ディスク２０７の同一円周上を測定するため、ステージ２１７上に搭載されている。
【００４２】
センサ光源２２０から出射した光線３０３はコリメートレンズ２２１で略平行光に変換され、フィルタ２２２を透過する。光ディスク２０７のガラス基板２０９、２１０は、空気との界面２０９ａ、２１０ａにホログラム光記録装置１００の記録再生に用いるレーザ光源２０１の波長に対応した反射防止膜が形成されている。ホログラム光記録再生装置１００に用いるレーザ光源２０１の波長は一般的に４００ｎｍ近辺のレーザが用いられる。
【００４３】
そこで、光学式厚さセンサ２１９に用いるセンサ光源２２０の波長はホログラム光記録再生装置１００に用いるレーザ光源２０１の波長に近く、かつ、記録媒体２０８に吸収され難い長波長側の例えば５００ｎｍ近辺とする。それにより、フィルタ２２２を透過した光線３０３は光ディスク２０７の空気との界面２０９ａ、２１０ａで反射され難い。
【００４４】
一方、ガラス基板２０９、２１０と記録媒体２０８との界面２０９ｂ、２１０ｂでは、光線３０３はガラス基板２０９、２１０と記録媒体２０８の屈折率差に起因した反射が発生する。
【００４５】
コリメートレンズ２２１、フィルタ２２２を通過した光線３０３は、光ディスク２０７の面に対して、斜め方向ではなく、略垂直方向に光ディスク２０７に入射する。そして、界面２０９ｂで反射された光線３０４、界面２１０ｂで反射された光線３０５は、光ディスク２０７の面に対して略垂直方向に進行して、それぞれフィルタ２２２で反射され、センサ受光素子２２３上で合波される。
【００４６】
センサ受光素子２２３で受光される光線は、光線３０４と光線３０５とが干渉した光線であり、その干渉光強度は各光線の光路長差で決定される。
【００４７】
光ディスク２０７の温度変化で記録媒体２０８厚さが変化すると、記録媒体２０８を透過し、界面２０９ｂで反射される光線３０４は、光ディスク２０７内を通過する光路長が変化する。一方、記録媒体２０８の手前の界面２１０ｂで反射される光線３０５が光ディスク２０７内を通過する光路長は、記録媒体２０８の厚さ変化の影響を受けない。
【００４８】
よって、光線３０４と３０５との光路長差は記録媒体２０８の厚さ変化に対応し、上記干渉光強度を検出することで記録媒体２０８の厚さ変化を検出することができる。
【００４９】
また、光線３０３は、光ディスク２０７の面に対して、斜め方向ではなく、略垂直方向に光ディスク２０７に入射するので、温度変化により、記録媒体２０８にそり等の変形が生じても、界面２０９ｂと２１０ｂとは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。
【００５０】
これに対して、光線３０３を光ディスク２０７の面に対して、斜め方向に入射させ、その反射光を受けて厚さの変化を検出する方式の場合は、記録媒体２０８の曲がりの影響を受け、厚さ測定の誤差を生じる可能性が高い。
【００５１】
図３は、記録媒体２０８の厚さとセンサ受光素子２２３に照射される干渉光強度の関係を説明する図である。図３の縦軸は干渉光強度を示し、横軸は記録媒体２０８の厚さを示す。
【００５２】
図３に示すように、温度変化に伴って記録媒体２０８の厚さが変化すると、センサ受光素子２２３で受光される干渉光強度も振動的に変化する。例えば、温度変化前の厚さがｄ０の記録媒体２０８が温度低下すると、干渉光強度はＰ０からＰ１に増加し、その干渉光強度変化から記録媒体２０８の厚さはｄｌと演算される。よって、図３に示すような干渉光強度と記録媒体厚さとの関係を予めメモリに格納しておけば、検出した干渉光強度から記録媒体２０８の厚さを検出することができる。
【００５３】
しかし、記録媒体２０８の温度が上昇し、厚さがｄｈとなる点でも干渉光強度は温度下降した時と同じＰ１となる。つまり、干渉光強度は、記録媒体の厚さ変化に対して振動的に変化するため、干渉光強度の変化だけでは記録媒体２０８の厚さが増加したのか減少したのかが判別できない。
【００５４】
そこで、図２に示すようにホログラム光記録再生装置１００内の温度を測定する温度センサ２２５を搭載する。温度センサ２２５では、ホログラム光記録装置１１０内の温度を継続的に測定し、温度信号４０５は演算回路２２６を介してメモリ２２４に記録される。演算回路２２６は、メモリ２２４に記録された温度信号４０５を基に、ホログラム光記録再生装置１００内の温度が下降している局面では記録媒体２０８の厚さは減少する等を演算回路２２６で判断する。それにより、メモリ２２４に記録された温度変化前Ｐ０であった干渉光強度がＰ１に増加する時、記録媒体２０８厚さはｄ０からｄｌに減少したと判断する。
【００５５】
このようにして、演算回路２２６は、干渉光強度に基づいて、ホログラム光記録媒体の厚さを演算することができる。
【００５６】
なお、図３に示した干渉光強度と記録媒体厚さとの関係は、メモリ２２４に格納することができる。
【００５７】
以上のように、本発明の第１の実施例によれば、センサ光源２２０からの光線３０３は、コリメートレンズ２２１、フィルタ２２２を通過し、光ディスク２０７の面に対して、斜め方向ではなく、略垂直方向に光ディスク２０７に入射するように構成されているので、温度変化により、記録媒体２０８にそり等の変形が生じても、界面２０９ｂと２１０ｂとは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。
【００５８】
さらに、本発明の第１の実施例によれば、温度センサ２２５により、ホログラム光記録再生装置１００内の温度を測定し、温度上昇か温度下降かを判断し、検出した干渉光強度から記録媒体２０８の厚さを判断しているので、正確な厚さを検出することができる。
【００５９】
つまり、本発明の実施例１によれば、光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、測定した光学記録媒体の厚さに基づいて、レーザ光源２０１から出力される光の波長及びガルバノミラー２００の角度を適切な値に制御可能であり、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置およびホログラム光記録再生方法を実現することができる。
【００６０】
また、光記録媒体の厚さを高精度に測定可能なホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
【００６１】
また、光学記録媒体の厚さを小型・高精度に測定でき、二光束干渉系を用いたホログラム光記録再生装置内の温度変化に対して再生信号劣化を抑制できる。
【００６２】
なお、情報再生時における光学記録媒体の厚さを計測し、波長及び参照光の照射角度の調整について述べたが、情報記録時においても、光学記録媒体の厚さを計測し、波長及び参照光の照射角度を調整することが可能である。
【００６３】
したがって、本発明は、ホログラム光再生装置及びホログラム光記録装置のそれぞれについても、適用可能である。
【００６４】
また、ホログラム光再生方法及びホログラム光記録方法のそれぞれについても、適用可能である。
【００６５】
（実施例２）
次に、本発明の実施例２に係るホログラム光記録再生装置の構成について、図面を参照して説明する。
【００６６】
図４は、光ディスク２０７の回転角度と記録媒体２０８の厚さ分布の一例を示す図であり、縦軸は記録媒体２０８の厚さを示し、横軸は光ディスク２０７の回転角度を示す。
【００６７】
図４に示すように、光ディスク２０７の記録媒体２０８は同一円周上においても各回転角度での厚さが異なる。そのため、再生時に光ディスク２０７がモータ２１６により回転すると記録媒体２０８の厚さが変化したと認識され、測定誤差となる。そこで、本実施例２では、記録媒体２０８の初期の厚さ分布を相殺することで光学式厚さセンサ２１９の測定誤差を抑制する。本実施例２において、実施例１とホログラム光記録再生装置１００の構成及び動作が異なる点を、図５を用いて説明する。
【００６８】
図５は、本実施例２におけるホログラム光記録再生装置１００の光学式厚さセンサ２１９を説明する図である。
【００６９】
なお、ホログラム光記録再生装置１００の全体構成は、図１に示した例と同等であるので、図示は省略する。
【００７０】
本実施例２では、実施例１とは異なり、図５に示すようにモータ２１６から回転角度信号４０４を取得し、演算回路２２６に入力する。他の構成は、図２に示した例と同一である。
【００７１】
図５において、光ディスク２０７がチャック２１８に装着されると、光ディスク２０７はモータ２１６により回転し、初期の記録媒体２０８が一周した干渉光強度を光学式厚さセンサ２１９で取得する。また、光ディスク２０７の回転角度信号４０４を例えばモータ２１６に搭載したロータリエンコーダから取得し、記録媒体２０８からの干渉光強度信号４０１、温度信号４０５と共に初期の干渉光強度データ（初期厚さ情報）としてメモリ２２４に記録する。
【００７２】
光ディスク２０７の再生中は、随時、記録媒体２０８からの干渉光強度信号４０１を測定し、測定角度での干渉光強度信号４０１が、メモリ２２４に記録された初期の干渉光強度データと異なる時、波長制御回路２１４、角度制御回路２１５にそれぞれレーザ光源２０１の波長を変更する波長制御信号４０２とガルバノミラー２００の角度を変更する角度制御信号４０３とを送り、記録媒体２０８厚さ変化による再生信号の劣化を補正する。
【００７３】
または、厚さセンサ２１９からの干渉強度信号と、温度センサ２２５が測定した温度と、２１６モータの回転角度と、メモリ２２４に格納された初期厚さ情報とに基づいて、光記録媒体の厚さの変化量を演算し、波長制御回路２１４に波長制御信号を供給するとともに、角度制御回路２１５に角度制御信号を供給する。
【００７４】
これにより、同一円周上に厚さ分布を持つ光ディスクにおいても光学記録媒体２０８の厚さを小型・高精度に測定でき、二光束干渉系を用いたホログラム光記録装置内の温度変化に対して再生信号劣化を抑制できる。
【００７５】
つまり、本発明の実施例２によれば、光ディスク２０７の初期の厚さ不均等性をも考慮して、光学記録媒体の厚さを計測しているので、実施例１と同等な効果に加えて、さらに、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置およびホログラム光記録再生方法を実現することができる。
【００７６】
また、ホログラム光記録媒体の厚さを、さらに高精度に測定可能なホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
【００７７】
なお、実施例２も実施例１と同様に、ホログラム光再生装置及びホログラム光記録装置のそれぞれについても、適用可能である。
【００７８】
また、ホログラム光再生方法及びホログラム光記録方法のそれぞれについても、適用可能である。
【００７９】
（実施例３)
次に、本発明の実施例３に係るホログラム光記録再生装置１００の構成について、図面を参照して説明する。
【００８０】
図６は、本実施例３におけるホログラム光記録再生装置１００の光学式厚さセンサ２１９を説明する図である。なお、ホログラム光記録再生装置１００の全体構成は、図１に示した例と同等であるので、図示は省略する。
【００８１】
センサ光源２２０からの出射光量は変動する場合が考えられる。そこで、実施例３においては、図６に示すように、センサ光源２２０から出射した光線３０３の一部をパワーモニタ２２７で受光し、光量の変動信号を演算回路２２６に伝送する。演算回路２２６は、パワーモニタ２２７からの光量変動信号により、干渉光強度を補正し、記録媒体２０８の厚さを判断する。それにより、センサ光源２２０からの出射光量の変動による光学式厚さセンサ２１９の測定誤差を低減することができる。
【００８２】
本発明の実施例３によれば、センサ光源２２０からの出射光量の変動をも考慮して、光学記録媒体の厚さを計測しているので、実施例１と同等な効果に加えて、さらに、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置およびホログラム光記録再生方法を実現することができる。
【００８３】
また、ホログラム光記録媒体の厚さを、さらに高精度に測定可能なホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
【００８４】
なお、実施例３も実施例１と同様に、ホログラム光再生装置及びホログラム光記録装置のそれぞれについても、適用可能である。
【００８５】
また、ホログラム光再生方法及びホログラム光記録方法のそれぞれについても、適用可能である。
【００８６】
また、実施例２と実施例３とを組み合わせることも可能である。つまり、光ディスク２０７の初期の厚さ不均等性も考慮するとともに、センサ光源２２０からの出射光量の変動をも考慮して、光学記録媒体の厚さを計測することも可能である。
【符号の説明】
【００８７】
１００・・・ホログラム光記録再生装置、２００・・・ガルバノミラー、２０１・・・レーザ光源、２０２・・・２分の１波長板、２０３・・・偏光ビームスプリッタ、２０４・・・偏光ビームスプリッタ、２０５・・・空間光変調器、２０６・・・対物レンズ、２０７・・・光ディスク、２０８・・・記録媒体、２０９・・・ガラス基板、２０９ａ、２１０ａ・・・空気との界面、２０９ｂ、２１０ｂ・・・記録媒体との界面、２１０・・・ガラス基板、２１１・・・ハブ、２１２・・・ガルバノミラー、２１３・・・再生光受光素子、２１４・・・波長制御回路、２１５・・・角度制御回路、２１６・・・モータ、２１７・・・ステージ、２１８・・・チャック、２１９・・・光学式厚さセンサ、２２０・・・センサ光源、２２１・・・コリメートレンズ、２２２・・・フィルタ、２２３・・・センサ受光素子、２２４・・・メモリ、２２５・・・温度センサ、２２６・・・演算回路、２２７・・・パワーモニタ、３００、３０３、３０４、３０５・・・光線、３０１・・・信号光線、３０２・・・参照光線、４０１・・・光強度信号、４０２・・・波長制御信号、４０３・・・角度制御信号、４０４・・・回転角度信号、４０５・・・温度信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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