(57)【要約】【課題】変角分光装置（ゴニオメーター）を用いることなく、簡便な測定により、短時間で採光部材の定量的評価を行うことが可能な採光部材評価装置を提供する。【解決手段】本発明の採光部材評価装置１００は、少なくとも光制御部材と、光透過性部材とからなり、窓部に装着して採光を行う採光部材を評価する採光部材評価装置であって、暗箱と、太陽光を模擬し、平行光を出射する平行光源１６０と、光制御部材もしくは、光透過性部材がセットされる基板の上端部と下端部とをそれぞれ挟持する上側溝部と下側溝部とからなる、複数の基板ホルダー１２０と、前記暗箱１１０内に配される照度センサと、を有することを特徴とする。【選択図】      図１０
2016061720.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも光制御部材と、光透過性部材とからなり、窓部に装着して採光を行う採光部材を評価する採光部材評価装置であって、
暗箱と、
太陽光を模擬し、平行光を出射する平行光源と、
光制御部材もしくは、光透過性部材がセットされる基板の上端部と下端部とをそれぞれ挟持する上側溝部と下側溝部とからなる、複数の基板ホルダーと、
前記暗箱内に配される照度センサと、を有することを特徴とする採光部材評価装置。
【請求項２】
光制御部材が、光が入射する第１主面と、前記第１主面に対向し光が出射する第２主面とを有し、前記第１主面から入射した光を前記第２主面に向けて偏向する光制御フィルム又は光制御ガラスであることを特徴とする請求項１に記載の採光部材評価装置。
【請求項３】
前記暗箱を覆う暗幕を有することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の採光部材評価装置。
【請求項４】
前記平行光源が、予め定められた基準点を中心として回動する平行光源回動機構に取り付けられており、
前記平行光源回動機構は、前記平行光源が、
出射光を、前記１点に対して、鉛直上方から入射させる位置から、
出射光を、前記１点に対して、水平方向から入射させる位置まで、可変させると共に、
前記平行光源回動機構には、前記平行光源の位置を示す目盛りが設けられることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項５】
複数の基板ホルダーの間の間隔が調整可能で、いずれの基板ホルダーも、上側溝部と下側溝部との間に、前記基準点を配することができることを特徴とする請求項４に記載の採光部材評価装置。
【請求項６】
実測定に用いる照度センサが１つ以上配される照度センサユニットと、
前記平行光源の照度を確認するために用いる確認用照度センサと、が前記暗箱内に配されることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項７】
前記暗箱内の底面を水平面内で奥行き方向に移動可能な確認用照度センサ支柱を有することを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項８】
前記確認用照度センサ支柱は、
前記確認用照度センサを、上向き又は横向きに取り付けることができ、
前記確認用照度センサ支柱には、前記確認用照度センサの取り付け高さを示す目盛りが設けられていることを特徴とする請求項７に記載の採光部材評価装置。
【請求項９】
前記暗箱内の底面を水平面内で２次元方向に移動可能な照度センサユニット支柱を有することを特徴とする請求項１乃至請求項8のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項１０】
前記確認用照度センサ支柱及び照度センサユニット支柱の、前記暗箱内の水平面内での位置を示す目盛りが設けられていることを特徴とする請求項６乃至請求項９に記載の採光部材評価装置。
【請求項１１】
前記照度センサユニット支柱には、前記照度センサユニットの取り付け高さを示す目盛りが設けられていることを特徴とする請求項９又は請求項１０に記載の採光部材評価装置。
【請求項１２】
前記暗箱の内壁の可視光反射率が５％以下であり、前記暗箱の内壁には、艶消し黒アルマイト加工又は黒ニッケル加工又は黒クロム加工が施されていることを特徴とする請求項１乃至請求項１１のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項１３】
前記暗箱の内壁には、住宅環境を模擬するために住宅用素材が取り付けられていることを特徴とする請求項１乃至請求項１１のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項１４】
前記暗箱の側壁が取り外し可能であることを特徴とする請求項１乃至請求項１３のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項１５】
前記平行光源が、前記平行光源回動機構に適切に取り付けられているかを確認するための基準ラインが前記暗箱内に設けられていることを特徴とする請求項４乃至請求項１９のいずれか１項に記載の採光部材評価装置。
【請求項１６】
請求項１乃至請求項１５のいずれか１項に記載の採光部材評価装置を用いて採光部材の評価を行うことを特徴とする採光部材評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、建物等の内部に日光などの外光を取り入れるために用いる採光部材の評価を行う採光部材評価装置及びそのような装置を用いた採光部材評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
窓ガラスにより、建物の内部に日光等の外光を取り入れて明るく快適な室内空間を形成することはよく知られている。しかし、一方で当該窓ガラスに入射した外光をそのまま室内に取り入れると、まぶしさを感じたり、光があたる場所が室内の一部のみに限定されたり、といった不具合が生じることがある。これに対して、直接日光を制御して、より快適な態様で室内側に光を採り入れる技術が提案されている。
【０００３】
例えば、特許文献１（特開２０１２−２５５９５１号公報）には、一方向に延在する凹状溝が繰り返し作製され、凹状溝への充填材の充填により、透明シート材への入射光を反射する一方向に延長した反射面が凹状溝の少なくとも一方の斜面に形成され、反射面による反射により、窓を透過した直射太陽光を屋内に導入する採光部材（採光シート）が開示されている。
【特許文献１】特開２０１２−２５５９５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、上記のような採光部材を、実環境に適用して、目視評価するだけでは、採光部材の性能は明確に分からない。
【０００５】
そこで、上記のような採光部材を定量的に評価しようとする場合においては、変角分光装置（ゴニオメーター）にて、入射光と受光器の角度を振りながら、採光部材のサンプルの透過率を測定する必要があるために、時間が非常にかかる、という問題があった。
【０００６】
また、実環境に採光部材を用意し、照度評価をするのでは、大面積の採光部材のサンプルが必要となる、という問題もあった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は以上のような課題を解決するためのものであり、本発明に係る採光部材評価装置は、少なくとも光制御部材と、光透過性部材とからなり、窓部に装着して採光を行う採光部材を評価する採光部材評価装置であって、暗箱と、太陽光を模擬し、平行光を出射する平行光源と、光制御部材もしくは、光透過性部材がセットされる基板の上端部と下端部とをそれぞれ挟持する上側溝部と下側溝部とからなる、複数の基板ホルダーと、前記暗箱内に配される照度センサと、を有することを特徴とする。
【０００８】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、光制御部材が、光が入射する第１主面と、前記第１主面に対向し光が出射する第２主面とを有し、前記第１主面から入射した光を前記第２主面に向けて偏向する光制御フィルム又は光制御ガラスであることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記暗箱を覆う暗幕を有することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記平行光源が、予め定められた基準点を中
心として回動する平行光源回動機構に取り付けられており、前記平行光源回動機構は、前記平行光源が、出射光を、前記１点に対して、鉛直上方から入射させる位置から、出射光を、前記１点に対して、水平方向から入射させる位置まで、可変させると共に、前記平行光源回動機構には、前記平行光源の位置を示す目盛りが設けられることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、複数の基板ホルダーの間の間隔が調整可能で、いずれの基板ホルダーも、上側溝部と下側溝部との間に、前記基準点を配することができることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、実測定に用いる照度センサが１つ以上配される照度センサユニットと、前記平行光源の照度を確認するために用いる確認用照度センサと、が前記暗箱内に配されることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記暗箱内の底面を水平面内で奥行き方向に移動可能な確認用照度センサ支柱を有することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記確認用照度センサ支柱は、前記確認用照度センサを、上向き又は横向きに取り付けることができ、前記確認用照度センサ支柱には、前記確認用照度センサの取り付け高さを示す目盛りが設けられていることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記暗箱内の底面を水平面内で２次元方向に移動可能な照度センサユニット支柱を有することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記確認用照度センサ支柱及び照度センサユニット支柱の、前記暗箱内の水平面内での位置を示す目盛りが設けられていることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記照度センサユニット支柱には、前記照度センサユニットの取り付け高さを示す目盛りが設けられていることを特徴とする。
【００１８】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記暗箱の内壁の可視光反射率が５％以下であり、前記暗箱の内壁には、艶消し黒アルマイト加工又は黒ニッケル加工又は黒クロム加工が施されていることを特徴とする。
【００１９】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記暗箱の内壁には、住宅環境を模擬するために住宅用素材が取り付けられていることを特徴とする。
【００２０】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記暗箱の側壁が取り外し可能であることを特徴とする。
【００２１】
また、本発明に係る採光部材評価装置は、前記平行光源が、前記平行光源回動機構に適切に取り付けられているかを確認するための基準ラインが前記暗箱内に設けられていることを特徴とする。
【００２２】
また、本発明に係る採光部材評価方法は、前記のいずれか記載の採光部材評価装置を用いて採光部材の評価を行うことを特徴とする採光部材評価方法である。
【発明の効果】
【００２３】
本発明に係る採光部材評価装置及び採光部材評価方法によれば、変角分光装置（ゴニオ
メーター）を用いることがないので、簡便な測定により、短時間で採光部材の定量的評価を行うことが可能となる。
【００２４】
また、本発明に係る採光部材評価装置及び採光部材評価方法によれば、実環境を模した測定環境の中で、大面積の採光部材のサンプルを用いることなく、照度評価を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】採光部材５の効果を説明する図である。
【図２】光制御部材１０の断面構造を模式的に説明する図である。
【図３】採光部材５の構成例を示す図である。
【図４】採光部材５の構成例を示す図である。
【図５】本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の暗箱１１０の構成を説明する図である。
【図６】本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の暗箱１１０の構成を説明する図である。
【図７】基板１２９の利用形態を説明する図である。
【図８】開口付き基板１２５の利用形態を説明する図である。
【図９】本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の暗箱１１０の構成を説明する図である。
【図１０】本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の構成を説明する図である。
【図１１】本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００をｘｙ面で切ってみた断面図である。
【図１２】採光部材評価装置１００への採光部材５の取り付け例を説明する図である。
【図１３】採光部材評価装置１００への採光部材５の取り付け例を説明する図である。
【図１４】平行光源１６０の光強度分布と、暗箱１１０の開口部１１９の関係を説明する図である。
【図１５】本発明に係る採光部材評価装置１００の他の測定形態について説明する図である。
【図１６】本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００において平行光源１６０を適正に取り付ける方法を説明する図である。
【図１７】本発明の他の実施形態に係る採光部材評価装置１００の構成を説明する図である。
【図１８】本発明の採光部材評価装置１００の実施例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。以下、まず、本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の評価対象である採光部材５の構成について説明する。
【００２７】
図１は採光部材５の効果を説明する図である。図１（Ａ）は通常の窓部からの太陽光の採り入れを示しており、図１（Ｂ）は窓部に採光部材５を取り付けて、太陽光の採り入れを行った場合を示している。採光部材５を窓部に設けることにより、屋内全体を可能な限り均一に明るくする採光を実現する。
【００２８】
上記のような採光部材５には、光制御部材１０が必ず含まれており、これにより前述したような採光を実現している。ここで、光制御部材１０の一例を説明する。図２は光制御部材１０の断面構造を模式的に説明する図である。なお、本件明細書に添付する図面にお
いては、図示と理解のしやすさの便宜上、縮尺および縦横の寸法比等を、実物のそれらから適宜変更したり、誇張したりすることがある。また、図面の見やすさの観点から、周期的に繰り返す構成については、参照番号を付すことを省略している。
【００２９】
図２に示すように、光制御部材１０は、光が入射する第１主面１１と、前記第１主面１１に対向し光が出射する第２主面１２とを有し、前記第１主面１１と前記第２主面１２との間に存在し、前記第１主面１１から入射した光を前記第２主面１２に向けて偏向する複数の低屈折率媒質部１６と、を備える。
【００３０】
光制御部材１０は、典型的には、紙面垂直方向に延在し、紙面上下方向に周期的に設けられる複数の低屈折率媒質部１６と、低屈折率媒質部１６同士を離隔する高屈折率媒質部１５とを備える。この場合、低屈折率媒質部１６と高屈折率媒質部１５との界面が反射面となる。低屈折率媒質部１６は、高屈折率媒質部１５の屈折率に比べて低い屈折率を有する媒質により構成される。例えば、高屈折率媒質部１５が、樹脂である場合、低屈折率媒質部１６は空気あるいは高屈折率媒質部１５を構成する樹脂よりも低い屈折率を有する樹脂を用いることができる。
【００３１】
第１主面１１に入射した光Ｌ１は、光制御部材１０内に進み、反射面で反射し偏向する。その後、偏向した光Ｌ１は、第１主面１１に対向する第２主面１２から出射し、光制御部材１０外に進む。
【００３２】
なお、第１主面１１に入射した光Ｌ２のように、光制御部材１０内に進み、低屈折率媒質部１６と高屈折率媒質部１５との界面で屈折することで偏向し、第２主面１２から出射し、光制御部材１０外に進む光も存在する。
【００３３】
以上のような機能を有する光制御部材１０は、有機高分子樹脂材料により製造した光制御フィルムであってもよいし、また、無機ガラス材料により製造した光制御ガラスであってもよい。
【００３４】
上記のように構成される光制御部材１０単体を採光部材５として用いることもできるが、光制御部材１０と、光透過性部材とを、重ね合わせて採光部材５として用いることもできる。
【００３５】
図３は採光部材５の構成例を示す図である。例えば、図３（Ａ）は、光制御部材１０と、光透過性部材として布２０とを、接着剤などから成る接合層５０によって貼り合わせて形成した採光部材５の構成を示している。
【００３６】
また、図３（Ｂ）は、光制御部材１０と、光透過性部材として紙３０とを、接着剤などから成る接合層５０によって貼り合わせて形成した採光部材５の構成を示している。
【００３７】
また、図３（Ｃ）は、光制御部材１０と、光透過性部材としてプラスチックシート４０とを、接着剤などから成る接合層５０によって貼り合わせて形成した採光部材５の構成を示している。
【００３８】
図３の例では、光透過性部材として、布２０、紙３０、プラスチックシート４０を用いた採光部材５の例を示したが、光透過性部材としてはその他のものを種々用いることができる。また、図３では、光制御部材１０と、１つの光透過性部材とを積層させて採光部材５を構成する例について説明したが、光制御部材１０と、複数の光透過性部材とを積層させて採光部材５を構成するもできる。本発明に係る採光部材評価装置１００においては、以上のように構成される採光部材５を定量的に評価することが可能となる。
【００３９】
図４は採光部材５の構成例を示す図である。図３に示した例では、光制御部材１０と光透過性部材とが積層されて、一体となった採光部材５の例を示したが、図４に示すように、採光部材５は、光制御部材１０と光透過性部材とが別体であってもよい。本発明に係る採光部材評価装置１００においては、このような光制御部材１０と光透過性部材とが別体である採光部材５の測定に特に適している。
【００４０】
図４（Ａ）は、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、これとは別体の紙３０（例えば、障子紙など）とからなる採光部材５の構成を示している。
【００４１】
図４（Ｂ）は、網戸６０と、これとは別体の、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、からなる採光部材５の構成を示している。
【００４２】
図４（Ｃ）は、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、これとは別体のプラスチックシート４０とからなる採光部材５の構成を示している。
【００４３】
図４（Ｄ）は、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、これとは別体のブラインド７０とからなる採光部材５の構成を示している。
【００４４】
図４（Ｅ）は、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、これとは別体の青板ガラス５５とからなる採光部材５の構成を示している。
【００４５】
図４（Ｆ）は、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、これとは別体の型板ガラス５６とからなる採光部材５の構成を示している。
【００４６】
図４（Ｇ）は、青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０と、これとは別体のフロストガラス５７とからなる採光部材５の構成を示している。
【００４７】
次に、本発明に係る採光部材評価装置１００の構成及び採光部材評価装置１００による採光部材５の評価方法について順次説明していく。まず、図５及び図６を参照して、本発明に係る採光部材評価装置１００の一部を構成する暗箱１１０について説明する。図５及び図６は本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の暗箱１１０の構成を説明する図である。
【００４８】
ここで、以下の説明において、各構成の方向及び位置関係などを明瞭にするための座標を定義する。図５に示すように、暗箱１１０の奥行き方向をｘ方向とし、鉛直上方方向をｙ方向とし、暗箱１１０の奥行き方向に直交する方向をｚ方向と定義する。本件明細書に添付する図面には、必要に応じて、このような右手系座標が参照のために記されている。
【００４９】
暗箱１１０は、底板１１２と、これに連設される奥壁１１５と、奥壁１１５と連設される上板１１３とを有している。２つの側壁１１６のうち、少なくともいずれか一方は取り外し可能とされている。このように側壁１１６が、取り外し可能であるために、暗箱１１０内の構成を適宜再配置することなどができるようになっている。
【００５０】
暗箱１１０内の内壁（底板１１２、上板１１３、奥壁１１５、側壁１１６、の暗箱１１０の内側部の壁）の可視光反射率が５％以下であるように設定することが好ましい。このために、暗箱１１０内の内壁には、艶消し黒アルマイト加工又は黒ニッケル加工又は黒クロム加工が施すようにするとよい。
【００５１】
なお、本発明に係る採光部材評価装置１００によって、実際の住宅環境を模擬しようとする場合には、暗箱１１０の内壁には、壁紙や床材などの住宅用素材が取り付けるようにしてもよい。
【００５２】
暗箱１１０の正面部には、評価対象とする採光部材５や開口付き正面板１１７を取り付けることができる基板ホルダー１２０が設けられている。この基板ホルダー１２０は、複数設けられており、採光部材５を評価する採光部材５が貼り付けられた透明な基板１２９や開口付き正面板１１７が取り付けられる。
【００５３】
なお、例えば、図４に示されている採光部材５を構成する、所定の厚さを有する青板ガラス５５に接着剤などから成る接合層５０によって貼り付けられた光制御部材１０などを、基板ホルダー１２０にセットする際には、上記のような基板１２９を用いる必要は必ずしもない。
【００５４】
基板ホルダー１２０は、後述する基板１２９や開口付き正面板１１７の上側を狭持する上側溝部１２１と、基板１２９や開口付き正面板１１７の下側を狭持する下側溝部１２２とからなっており、図６に示すように、挿通される基板１２９や開口付き正面板１１７を、暗箱１１０の前面で固定することができるようになっている。
【００５５】
暗箱１１０の正面部の暗箱外側には、上記のように調整された基板１２９を、固定するホルダーである、複数の基板ホルダー１２０が設けられている。
【００５６】
また、上側溝部１２１と下側溝部１２２とからなる基板ホルダー１２０は、±ｘ方向に移動可能なステージ（不図示）に取り付けられている。従って、基板ホルダー１２０に固定した基板１２９間の距離を任意に変更させて、照度の測定を行い得るようになっている。
【００５７】
また、基板ホルダー１２０を±ｘ方向に移動させることにより、採光部材５中の光制御部材１０をｘ＝０の位置へ移動させて、平行光源１６０の回転中心へ光制御部材１０を配置することが可能となる。すなわち、いずれの基板ホルダー１２０も、位置調整することで、上側溝部１２１と下側溝部１２２との間に、基準点を配することができるようになっている。なお、基準点やｘ＝０の位置の定義については後述する。
【００５８】
暗箱１１０内には、実測定に用いる照度センサ１３０が、１つ以上連設されている照度センサユニット１４０（本例では、６つの照度センサ１３０が連設されてなる）と、実測定の前段において、平行光源１６０の照度を確認するために用いる確認用照度センサ１５０（この確認用照度センサ１５０も、１つの照度センサ１３０からなる）と、が配されている。
【００５９】
平行光源１６０から出射される平行光線が、採光部材５を通過すると、暗箱１１０の開口付き正面板１１７に設けられた開口部１１９から、暗箱１１０内に進入し、照度センサユニット１４０に入射し、照度が測定される。
【００６０】
なお、本例では、開口付き正面板１１７が暗箱１１０に最も近い基板ホルダー１２０に
セットされている場合について説明しているが、採光部材５の構成によっては、開口付き正面板１１７をセットする基板ホルダー１２０が、暗箱１１０に最も近い基板ホルダー１２０にとなるとは限らない。
【００６１】
また、確認用照度センサ１５０は、実測定の前段階において、平行光源１６０の照度が一定以上の照度を有するかを確認するために用いる照度計である。平行光源１６０からの入射角によって、光の到達する位置が異なる。そのため、本実施形態においては、確認用照度センサ１５０の高さ、向きを変えられるようにしている。
【００６２】
なお、照度センサユニット１４０と確認用照度センサ１５０による測定データは、手動で記録するようにも構成できるし、パーソナルコンピューターなどと各照度センサを接続しておき、自動的にログを記録するように構成することもできる。
【００６３】
また、照度センサユニット１４０に、照度センサ１３０が、１つ以上連設させるように設けているのは、１つ以上の照度センサ１３０のいずれかの照度センサ１３０で、より的確な照度を取得することが期待できるからである。一般的には、採光部材５を構成する光制御部材１０にはある程度のバラツキがあるので、このバラツキを吸収するために、１つ以上の照度センサ１３０で照度センサユニット１４０を構成している。本実施形態においては、６つの照度センサ１３０で検出される６つの検出値のうち、ｙ≧０（ｙ＝０の定義については、後述する）の位置で最大のものが最適な検出照度であると考えられる。
【００６４】
暗箱１１０の正面壁１１７の開口部１１９に対応した底板１１２には、底板１１２の上の水平面内を２次元方向や１次元方向に移動自在なステージ（不図示）が設けられている。このようなステージには、照度センサユニット支柱１４５が±ｘ方向、±ｚ方向に可動可能に取り付けられている。また、このようなステージには、確認用照度センサ支柱１５５が±ｘ方向に可動可能に取り付けられている。また、当該ステージには、照度センサユニット支柱１４５と確認用照度センサ支柱１５５の、前記暗箱１１０内の水平面内での位置を示す目盛りが設けられている。
【００６５】
なお、照度センサユニット支柱１４５と確認用照度センサ支柱１５５は、前記ステージ（不図示）から着脱自在とすることが好ましい。また、本実施形態においては、１つの照度センサユニット支柱１４５と、２つ確認用照度センサ支柱１５５が設けられている構成を示しているが、設ける照度センサユニット支柱１４５の数、設ける確認用照度センサ支柱１５５の数は任意である。
【００６６】
この照度センサユニット支柱１４５には、照度センサユニット１４０の取り付け高さを示す目盛り（不図示）が設けられている。
【００６７】
確認用照度センサ支柱１５５は、確認用照度センサ１５０を、上向き又は横向きに取り付けることができる。本実施形態においては、紙面左側の背の低い方の確認用照度センサ支柱１５５には、確認用照度センサ１５０が上向きで取り付けられており、紙面右側の背の高い方の確認用照度センサ支柱１５５には、確認用照度センサ１５０が横向きで取り付けられている。
【００６８】
このように、確認用照度センサ１５０を、確認用照度センサ支柱１５５に対して、上向き又は横向きに取り付けることができるようにしているのは、平行光源１６０からの光の入射角に応じて、より確認に最適な向きに取り付けられている確認用照度センサ１５０を選択して、平行光源１６０の照度の確認を行い得るようにするためである。
【００６９】
また、確認用照度センサ支柱１５５には、確認用照度センサ１５０の取り付け高さを示
す目盛り（不図示）が設けられている。
【００７０】
なお、本例では、照度センサユニット１４０と確認用照度センサ１５０とをステージ上の支柱に取り付けるようにしたが、暗箱１１０の中に規則的にネジを切っておき、天井部・壁部・床部に照度センサユニット１４０と確認用照度センサ１５０が固定できるようにしたり、暗箱１１０内にセンサユニットを吸着できるような機構を設けておき、天井・壁・床の自由な場所に照度センサユニット１４０と確認用照度センサ１５０を固定できるようにしたりすることもできる。
【００７１】
本発明に係る採光部材評価装置１００によって、採光部材５を評価するために、採光部材５をセットする際には、透明な基板１２９を用いる。このような基板１２９は複数用意して、それぞれの基板１２９に対して、採光部材５を構成する光制御部材１０や、布（光透過性部材）２０、紙（光透過性部材）３０、プラスチックシート（光透過性部材）４０などを、所定の接着力を有するもので貼り付ける。このような光制御部材１０や光透過性部材の基板１２９への貼り付けには、例えば、前記の所定の接着力を有するものとして、両面粘着材などを用いることができるが、その他のものも用いることができる。
【００７２】
図７は基板１２９の利用形態を説明する図である。図７（Ａ）は透明な基板１２９を示しており、図７（Ｂ）は基板１２９に、例えば、光制御部材１０を貼り付けた様子を示している。なお、このような光制御部材１０などのサンプルを貼り付けるための基板は、このようなものに限らず、２つの主面間を貫通する開口部１２６を有する開口付き基板１２５を用いることもできる。図８は開口付き基板１２５の利用形態を説明する図である。図８（Ａ）は開口付き基板１２５を示しており、図８（Ｂ）は開口付き基板１２５に、例えば、開口部１２６を覆うように光制御部材１０を貼り付けた様子を示している。このような開口付き基板１２５を用いた測定によれば、基板１２９を用いた測定に比べて、基板中での光の減衰をなくすことができる。
【００７３】
さて、上記のように、光制御部材１０が貼り付けられた基板１２９は、図６に示すように、２つの主面間が貫通している開口部１１９を有する開口付き正面板１１７と、重ね合わされるか別々で近接した基板ホルダー１２０のいずれかにセットされ、平行光源１６０の回転中心の位置（基準点）に光制御部材１０が来るように微調整される。開口付き正面板１１７は、暗箱１１０の正面部の一部を実質的に構成するものである。
【００７４】
次に、図９に示すように、他の基板ホルダー１２０を利用して、光透過性部材などのサンプルが、貼り付けられている基板１２９がセットされる。
【００７５】
以上のような構成の暗箱１１０に対して、さらに、平行光源１６０の構成が付加されて、本発明に係る採光部材評価装置１００が構成される。図１０は本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００の構成を説明する図であり、図１１は本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００をｘｙ面で切ってみた断面図である。
【００７６】
平行光源１６０は、基板ホルダー１２０に取り付けられている採光部材５に対して、平行光線を照射するものである。採光部材５を透過した平行光線は、暗箱１１０の開口付き正面板１１７に設けられた開口部１１９から、暗箱１１０内に進入し、照度センサユニット１４０に入射し、照度が測定される。
【００７７】
なお、本例では、開口付き正面板１１７が暗箱１１０に最も近い基板ホルダー１２０にセットされている場合について説明しているが、採光部材５の構成によっては、開口付き正面板１１７をセットする基板ホルダー１２０が、暗箱１１０に最も近い基板ホルダー１２０にとなるとは限らない。
【００７８】
平行光源１６０は、予め定められた基準点（図１１の点Ｏ。なお、通常、基板ホルダー１２０内に当該基準点がくるように装置を用いることが想定されている。）を中心として、ｘｙ面内において、平行光源１６０を回動させることができる平行光源回動機構（不図示）に取り付けられている。平行光源１６０は、この平行光源回動機構（不図示）から着脱自在とすることが好ましい。また、この平行光源回動機構（不図示）は、所望のポイントで平行光源１６０を静止させることができるようになっている。また、前記平行光源回動機構には、平行光源１６０の位置を示す目盛り（不図示）が設けられている。
【００７９】
前記の基準点には、評価対象とする採光部材５中の光制御部材１０がくるようにして、測定を行うことが想定されている。この基準点を、定義した右手系座標の原点として、改めて定義する。すなわち、当該基準点の座標（ｘ，ｙ，ｚ）＝（０，０，０）である。また、平行光源１６０から採光部材５に平行光線が入射する角度φは、図１１に示すように、ｘｙ面内における、平行光線とｘ軸との間の角度として定義する。
【００８０】
また、本実施形態においては、前記平行光源回動機構は、平行光源１６０からの平行光線を、採光部材５に対して、少なくとも、入射角φ＝９０°〜１８０°の範囲で入射させることができるように、平行光源１６０を静止させることができるようになっている。これにより、平行光源１６０を太陽光として模擬できるようになっている。
【００８１】
すなわち、前記平行光源回動機構は、平行光源１６０が、その出射光を、前記１点に対して、鉛直上方から入射させる位置から、水平方向から入射させる位置まで、可変させることができるようになっている。
【００８２】
なお、これまで説明した例では、開口付き正面板１１７が暗箱１１０に最も近い基板ホルダー１２０にセットされている場合について説明しているが、採光部材５の構成によっては、開口付き正面板１１７をセットする基板ホルダー１２０が、暗箱１１０に最も近い基板ホルダー１２０にとなるとは限らない。
【００８３】
図１２及び図１３は、採光部材評価装置１００への採光部材５の取り付け例を説明する図である。図１２の例では、中央の基板ホルダー１２０に、採光部材５（不図示）における光制御部材１０がセットされた基板１２９が配され、これに伴い、開口付き正面板１１７についても、中央の基板ホルダー１２０に取り付けるようにしている。また、基準点（ｘ，ｙ，ｚ）＝（０，０，０）が、光制御部材１０の位置となるように、基板ホルダー１２０の位置が調整されている。
【００８４】
また、図１３の例では、平行光源１６０に最も近い基板ホルダー１２０に、採光部材５（不図示）における光制御部材１０がセットされた基板１２９が配され、これに伴い、開口付き正面板１１７についても、紙面左側の基板ホルダー１２０に取り付けるようにしている。また、基準点（ｘ，ｙ，ｚ）＝（０，０，０）が、光制御部材１０の位置となるように、基板ホルダー１２０の位置が調整されている。
【００８５】
次に、平行光源１６０の照射領域と、暗箱１１０の開口部１１９の面積との関係について説明する。図１４は平行光源１６０の光強度分布と、暗箱１１０の開口部１１９の関係を説明する図である。図１４に示すように、本実施形態においては、開口部１１９に入射させるのは、平行光源１６０の光強度が、最高値に対して１０％以上の照射領域のみに限定して、平行光源１６０の光強度が、最高値に対して１０％未満の照射領域は、暗箱１１０の開口部１１９には入射しないように構成している。これにより、本発明に係る採光部材評価装置１００においては、照度測定のデータの質を担保するようにしている。
【００８６】
次に、採光部材評価装置１００の他の測定形態について説明する。図１５は本発明に係る採光部材評価装置１００の他の利用形態について説明する図である。
【００８７】
これまで説明した採光部材評価装置１００に利用形態では、最も暗箱１１０側に近い、基板ホルダー１２０に開口付き正面板１１７と基板１２９がセットされていたのに対して、他の利用形態では、図１５に示すように、複数の基板ホルダー１２０にセットするものは基板１２９のみであり、開口付き正面板１１７を用いないようにしている。
【００８８】
開口付き正面板１１７を用いた測定の場合には、サンプルの評価面積が一定にできる、というメリットがある。また、前述したように１０％以上の照射領域のみに限定して、限定するので、測定データの質を担保出来る、というメリットもある。
【００８９】
一方、開口付き正面板１１７を用いない測定の場合には、サンプルの評価面積は一定ではないが、平行光源１６０から入射した光全体の評価ができる、というメリットがある。
【００９０】
次に、本発明に係る採光部材評価装置１００において、メンテナンスなどの後に、平行光源１６０を平行光源回動機構（不図示）に対して正しい姿勢で取り付けるための方法を説明する。図１６は本発明の実施形態に係る採光部材評価装置１００において平行光源１６０を適正に取り付ける方法を説明する図である。
【００９１】
図１６に示すように、暗箱１１０の底板１１２、奥壁１１５、上板１１３の内壁にわたって、２条の実線基準ライン１８１と、それらラインの外側に配される同じく２条の点線基準ライン１８３と、が設けられている。なお、いずれのラインも、ｘｙ平面と平行な面内に設けられている。
【００９２】
これらの実線基準ライン１８１と点線基準ライン１８３とは、認識しやすいように白色やグレー色のラインとすることもできるし、また、或いは、溝をきっておくような構成でもよい。
【００９３】
実線基準ライン１８１と点線基準ライン１８３とは、メンテナンスなどで、平行光源回動機構（不図示）から平行光源１６０を取り外し、再び、平行光源回動機構（不図示）に平行光源１６０を取り付ける際に、平行光源回動機構（不図示）に対して平行光源１６０が適正に取り付けられているかを確認するために用いる。
【００９４】
すなわち、このような確認においては、平行光源１６０を平行光源回動機構（不図示）に取り付けた後、サンプルである採光部材５などを設けない状態で、開口付き正面板１１７のみ基板ホルダーにセットしてｘ＝０の位置に配置し、平行光源１６０を点灯し、開口部１１９からの透過光の両端が実線基準ライン１８１と点線基準ライン１８３と間にくるように、平行光源１６０の姿勢を調整する。
【００９５】
上記のような構成により、例えば、メンテナンス後に、平行光源１６０を平行光源回動機構（不図示）に取り付ける際に、平行光源１６０が正しい姿勢で取り付けられているかを確認することが可能となる。
【００９６】
以上、本発明に係る採光部材評価装置１００及び採光部材評価方法によれば、変角分光装置（ゴニオメーター）を用いることがないので、簡便な測定により、短時間で採光部材５の定量的評価を行うことが可能となる。
【００９７】
また、本発明に係る採光部材評価装置１００及び採光部材評価方法によれば、実環境を模した測定環境の中で、大面積の採光部材５のサンプルを用いることなく、照度評価を行
うことが可能となる。
【００９８】
図１７は本発明の他の実施形態に係る採光部材評価装置１００の構成を説明する図である。図１７に示す他の実施形態に係る採光部材評価装置１００においては、これまで説明してきた採光部材評価装置自体を覆ってしまう暗幕１９０を有している構成が採用されている。これにより、これまで説明してきた採光部材評価装置が享受できる効果を有すると共に、測定を行う際の室内環境を気にすることなく、安定した照度評価を行うことが可能となる。
［実施例］
図１８は本発明の採光部材評価装置１００の実施例を説明する図である。
（１）幅内寸３５０ｍｍ×高さ内寸３８０ｍｍ×奥行き内寸１０００ｍｍで、床面にサンゲツ社製ＨＭ−２０１６、壁・天井面にサンゲツ社製ＦＥ８７４６を貼りつけた暗箱１１０を作製し、基板ホルダー１２０として、レールと幅５ｍｍの溝を２つ切りその溝の間隔が可動できるような機構をつけた。さらに暗箱１１０の３８０ｍｍ×１０００ｍｍ面の側壁１１６を開閉できるようした。
（２）平行光源１６０（パイフォトニクス社製ホロライトパワー  ＨＬＰ３０）を図１８の配置で設置し、図１８に示すようにｘｙ面内の１３０°に固定し、光源を点灯させた。（３）光開口部１１９を通過した平行光源１６０からの光の中心が確認用照度センサ１５０（コニカミノルタ社製Ｔ−１０ＭＡ）に入るように、確認用照度センサ１５０の高さ、向きを調節し、照度を確認した。
（４）３５ｃｍ×３８ｃｍ×３ｍｍＴの青板ガラス（基板１２９）に粘着材で１５ｃｍ×１５ｃｍの採光フィルムＦ（光制御部材１０）を貼りつけ、開口付き正面板117が光源側
に来るように重ね合わせて、光源に一番近い側の基板ホルダー１２０の溝部（溝１）に取り付け、x=0の位置に光制御部材１０が来るように調整した。
（５）３５ｃｍ×３８ｃｍ×３ｍｍＴの青板ガラス（基板１２９）を、もう１つの基板ホルダー１２０の溝部（溝２）に取り付け溝１、２を近接させた（サンプルＡ）。
（６）照度センサユニット１４０の位置を天井ギリギリまで近づけ、採光フィルム（Ｆ）面からの照度センサユニット１４０までの距離を表１に示すような位置に配置し、天井に一番近い照度センサ１３０の照度を測定した。
【００９９】
【表１】
2016061720.tif 000003
（７）照度センサユニット１４０の位置を床ギリギリまで近づけ、採光フィルム（Ｆ）面からの照度センサユニット１４０までの距離を表１に示すような位置に入りし、床に一番近い照度センサ１３０の照度を測定した。
（８）以下の
サンプルＢ（溝１：青板ガラス／粘着材／採光フィルム、溝２：型板ガラス（霞））、
サンプルＣ（溝１：青板ガラス／粘着材／採光フィルム、溝２：フロストガラス）
サンプルＤ（溝１：青板ガラス／粘着材／採光フィルム）
サンプルＥ（溝１：青板ガラス）
に関しても同様の測定を行った。
（９）サンプルＥ（ガラスのみ）と比較して、サンプルＡ〜Ｄは、床への照射量が少なく天井方向への跳ね上げ量が多くなっていることを確認した。
【０１００】
なお、サンプルＥ（ガラスのみ）はそのまま透過する光が多い為、床面の位置１〜３で光量が多い。
【符号の説明】
【０１０１】
５・・・採光部材
１０・・・光制御部材
１１・・・第１主面
１２・・・第２主面
１５・・・高屈折率媒質部
１６・・・低屈折率媒質部
２０・・・布（光透過性部材）
３０・・・紙（光透過性部材）
４０・・・プラスチックシート（光透過性部材）
５０・・・接合層
５５・・・青板ガラス（光透過性部材）
５６・・・型板ガラス（光透過性部材）
５７・・・フロストガラス（光透過性部材）
６０・・・網戸（光透過性部材）
７０・・・ブラインド（光透過性部材）
１００・・・採光部材評価装置
１１０・・・暗箱
１１２・・・底板
１１３・・・上板
１１５・・・奥壁
１１６・・・側壁
１１７・・・開口付き正面板
１１９・・・開口部
１２０・・・基板ホルダー
１２１・・・上側溝部
１２２・・・下側溝部
１２５・・・開口付き基板
１２６・・・開口部
１２９・・・基板
１３０・・・照度センサ
１４０・・・照度センサユニット
１４５・・・照度センサユニット支柱
１５０・・・確認用照度センサ
１５５・・・確認用照度センサ支柱
１６０・・・平行光源
１８１・・・実線基準ライン
１８３・・・点線基準ライン
１９０・・・暗幕
【図１】
2016061720.tif 000004
【図２】
2016061720.tif 000005
【図３】
2016061720.tif 000006
【図４】
2016061720.tif 000007
【図５】
2016061720.tif 000008
【図６】
2016061720.tif 000009
【図７】
2016061720.tif 000010
【図８】
2016061720.tif 000011
【図９】
2016061720.tif 000012
【図１０】
2016061720.tif 000013
【図１１】
2016061720.tif 000014
【図１２】
2016061720.tif 000015
【図１３】
2016061720.tif 000016
【図１４】
2016061720.tif 000017
【図１５】
2016061720.tif 000018
【図１６】
2016061720.tif 000019
【図１７】
2016061720.tif 000020
【図１８】
2016061720.tif 000021