(57)【要約】【課題】検出精度向上を図る。【解決手段】検出器３２は、シンチレータ層に対向する第１面に沿って配列され、光を検出する。設定部４６は、複数の検出器３２の内、補正対象の第１検出器を設定する。特定部４７は、複数の検出器３２の内、第１検出器で検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器を特定する。補正部４８は、第２検出器で検出された信号の内、第１信号に同期する同期信号としての第２信号と、第１信号と、シンチレータ層を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、第１検出器で検出された光のエネルギースペクトルを補正する。【選択図】図６
2016142718.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線をシンチレーション光に変換するシンチレータ層と、
前記シンチレータ層に対向する第１面に沿って配列された、光を検出する複数の検出器と、
前記複数の検出器の内、補正対象の第１検出器を設定する設定部と、
前記複数の検出器の内、前記第１検出器で検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器を特定する特定部と、
前記第２検出器で検出された信号の内、前記第１信号に同期する前記同期信号としての第２信号と、前記第１信号と、前記シンチレータ層を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、前記第１検出器で検出された光のエネルギースペクトルを補正する補正部と、
を備える放射線検出装置。
【請求項２】
前記第１信号に同期する前記第２信号は、該第１信号から所定時間以内に検出された信号である、請求項１に記載の放射線検出装置。
【請求項３】
前記第１信号は、前記第１検出器で検出された信号の内、前記第２信号に同期する信号である、請求項１に記載の放射線検出装置。
【請求項４】
前記補正部は、
前記第１信号と該第１信号に同期する前記第２信号との同期信号対の各々ごとに、前記第１信号の波高値に対応する第１エネルギーと、該第１信号に同期する前記第２信号の波高値に対応する第２エネルギーと、前記特性Ｘ線エネルギーと、の大小関係から、補正後の前記第１エネルギー、および該第１エネルギーに対してエネルギースペクトル算出時に割当てるカウント数を算出する第１算出部と、
前記同期信号対の各々に含まれる前記第１信号に対応する補正後の前記第１エネルギーと、該補正後の前記第１エネルギーに対する前記割当てるカウント数と、を用いて、前記第１検出器で検出されたエネルギースペクトルを補正する第１補正部と、
を含む、請求項１に記載の放射線検出装置。
【請求項５】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーおよび前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、前記第１エネルギーが前記第２エネルギー未満であり、且つ、前記第１エネルギーが第１閾値未満である場合、前記第１信号および前記第２信号が前記第２検出器に本来入る信号であるとみなし、前記割当てるカウント数として０を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項６】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーおよび前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、前記第１エネルギーが前記第２エネルギー未満であり、且つ、前記第１エネルギーが第１閾値以上である場合、前記第１信号と前記第２信号とが偶然同期したものとみなし、前記第１エネルギーを補正後の前記第１エネルギーとして算出すると共に、前記割当てるカウント数として１を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項７】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーおよび前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、前記第１エネルギーが前記第２エネルギー以上であり、且つ、前記第２エネルギーが第１閾値未満である場合、前記第１信号および前記第２信号が前記第１検出器に本来入る信号であるとみなし、前記第１エネルギーと前記第２エネルギーとの加算値を、補正後の前記第１エネルギーとして算出すると共に、前記割当てるカウント数として１を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項８】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーおよび前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、前記第１エネルギーが前記第２エネルギー以上であり、且つ、前記第２エネルギーが第１閾値以上である場合、前記第１信号と前記第２信号とが偶然同期したものとみなし、前記第１エネルギーを補正後の前記第１エネルギーとして算出すると共に、前記割当てるカウント数として１を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項９】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと一致し、前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと不一致である場合、前記第１信号および前記第２信号が前記第２検出器に本来入る信号であるとみなし、前記割当てるカウント数として０を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項１０】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと一致する場合、前記第１信号および前記第２信号が前記第１検出器に本来入る信号とみなし、前記第１エネルギーと前記第２エネルギーとの加算値を、補正後の前記第１エネルギーとして算出すると共に、前記割当てるカウント数として１を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項１１】
前記第１算出部は、
前記第１エネルギーおよび前記第２エネルギーが前記特性Ｘ線エネルギーと一致する場合、前記第１検出器および前記第２検出器の何れか一方に放射線が入射し、且つ前記第１検出器および前記第２検出器の内、該放射線の入射した一方の検出器で発生した前記特性Ｘ線が他方の検出器に入射したとみなし、前記第１エネルギーと前記第２エネルギーとの加算値を、補正後の前記第１エネルギーとして算出すると共に、前記割当てるカウント数として、予め定めた１未満の値を算出する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項１２】
前記第１補正部は、
前記同期信号対の数、前記同期信号対の各々に含まれる前記第１信号に対応する補正後の前記第１エネルギー、該補正後の前記第１エネルギーに対する前記割当てるカウント数、前記第１検出器で検出された信号の内、前記第１信号以外の信号の数、および該信号の波高値に対応するエネルギー、によって示されるエネルギースペクトルを、補正後のエネルギースペクトルとして生成することによって、前記第１検出器で検出されたエネルギースペクトルを補正する、
請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項１３】
前記特定部は、
前記複数の検出器の内、前記第１検出器で検出された第１信号に同期する同期信号を検出した第２検出器の第１群を特定する第１特定部と、
前記第１群に属する前記第２検出器の各々で検出された前記第２信号の割合を算出する第２算出部と、
前記第１群に属する前記第２検出器の内、前記第１検出器に隣接する位置から離れる方向に向かって配列された複数の前記第２検出器の各々で検出された前記第２信号の割合の低下が飽和した、前記第２検出器の第２群を特定する第２特定部と、
前記第１群に属する前記第２検出器の内、前記第２群に属さない前記第２検出器を、前記第１信号の補正時に用いる前記検出器として特定する第３特定部と、
を有する、請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項１４】
前記補正部は、
前記第１信号の補正時に用いる前記検出器として特定された前記第２検出器で検出された信号の内、前記第１信号に同期する第２信号と、前記第１信号と、前記シンチレータ層を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、前記第１検出器で検出された光のエネルギースペクトルを補正する、
請求項４に記載の放射線検出装置。
【請求項１５】
前記補正部は、補正率を算出する第３算出部を有し、
前記第１算出部は、
前記第１信号と前記第２信号との同期信号対の数に、算出された対応する前記補正率を乗算した乗算数の前記同期信号対の各々ごとに、前記第１信号の波高値に対応する第１エネルギーと、該第１信号に同期する前記第２信号の波高値に対応する第２エネルギーと、前記特性Ｘ線エネルギーと、の大小関係から、補正後の前記第１エネルギーを算出する、
請求項１３に記載の放射線検出装置。
【請求項１６】
前記第３算出部は、
補正に用いる前記検出器として特定された前記第２検出器の各々について、前記第２検出器が検出した前記第２信号の合計数に対する、該合計数から前記第２郡に属する前記第２検出器で検出された前記第２信号の数を減算した減算値の割合を、前記補正率として算出する、
請求項１５に記載の放射線検出装置。
【請求項１７】
前記第３算出部は、
補正に用いる前記検出器として特定された前記第２検出器の各々について、前記第２検出器が検出した前記第２信号の内、特性Ｘ線エネルギーに一致する前記第２エネルギーの前記第２信号の合計数に対する、該合計数から前記第２郡に属する前記第２検出器で検出された前記特性Ｘ線エネルギーに一致する前記第２エネルギーを示す前記第２信号の数を減算した減算値の割合を、前記補正率として算出する、
請求項１５に記載の放射線検出装置。
【請求項１８】
前記第３算出部は、
前記第１信号と前記第２信号との同期信号対の各々について、
前記第１信号の前記第１エネルギーおよび前記第２信号の前記第２エネルギーの少なくとも一方が前記特性Ｘ線エネルギーと一致する第４群、
前記第１信号の前記第１エネルギーおよび前記第２信号の前記第２エネルギーの双方が前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、且つ、該第１エネルギーおよび該第２エネルギーの双方が前記第１閾値より大きい第５群、および、
前記第１信号の前記第１エネルギーおよび前記第２信号の前記第２エネルギーの双方が前記特性Ｘ線エネルギーと不一致であり、且つ、該第１エネルギーおよび該第２エネルギーの少なくとも一方が前記第１閾値以下である第６群、
の何れに属するか判別し、
前記第４群、前記第５群、および前記第６群の各々ごとに、前記補正率を算出し、
前記第１算出部は、
前記第４群、前記第５群、および前記第６群の各々に属する前記同期信号対の合計数に、算出された対応する前記補正率を乗算した乗算数を算出し、前記第４群、前記第５群、および前記第６群の各々に属する該乗算数の前記同期信号対の各々ごとに、前記第１信号の波高値に対応する第１エネルギーと、該第１信号に同期する前記第２信号の波高値に対応する第２エネルギーと、前記特性Ｘ線エネルギーと、の大小関係から、補正後の前記第１エネルギーおよび前記割当てるカウント数を算出する、
請求項１５に記載の放射線検出装置。
【請求項１９】
前記設定部は、
前記複数の検出器に含まれる前記検出器の各々を、補正対象の前記第１検出器として順に設定する、
請求項１に記載の放射線検出装置。
【請求項２０】
放射線をシンチレーション光に変換するシンチレータ層と、前記シンチレータ層に対向する第１面に沿って配列された、光を検出する複数の検出器と、を備えた放射線検出装置で実行する放射線検出方法であって、
前記複数の検出器の内、補正対象の第１検出器を設定するステップと、
前記複数の検出器の内、前記第１検出器で検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器を特定するステップと、
前記第２検出器で検出された信号の内、前記第１信号に同期する前記同期信号としての第２信号と、前記第１信号と、前記シンチレータ層を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、前記第１検出器で検出された光のエネルギースペクトルを補正するステップと、
を含む、放射線検出方法。
【請求項２１】
放射線をシンチレーション光に変換するシンチレータ層と、前記シンチレータ層に対向する第１面に沿って配列された、光を検出する複数の検出器と、を備えたコンピュータに、
前記複数の検出器の内、補正対象の第１検出器を設定するステップと、
前記複数の検出器の内、前記第１検出器で検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器を特定するステップと、
前記第２検出器で検出された信号の内、前記第１信号に同期する前記同期信号としての第２信号と、前記第１信号と、前記シンチレータ層を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、前記第１検出器で検出された光のエネルギースペクトルを補正するステップと、
を実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、放射線検出装置、放射線検出方法、およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の検出器を配列した検出素子と、Ｘ線をシンチレーション光に変換するシンチレータと、を組み合わせた放射線検出装置が開示されている。また、検出精度の向上を図るために、検出器の幅をより狭くし、且つより狭い間隔で複数の検出器を配列した構成が開示されている。
【０００３】
また、検出器間における光学的クロストークを抑制する技術が開示されている。例えば、検出器間に相当する領域に遮蔽板を設ける技術が開示されている。また、検出器間で発生するクロストークノイズの量を測定する検出手段を別途設け、測定したクロストークノイズの量を用いてデータを補正する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−３２９５７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、遮蔽板を設ける場合、遮蔽板の挿入によって検出器間の間隔を狭めることが困難となり、検出精度の向上を図ることは困難となる。また、検出器間にクロストークノイズの量を測定する検出手段を別途設けた構成の場合、該検出手段の部分に入射した放射線を検出することは出来ない。従って、従来の技術では、検出精度向上を図ることは困難であった。
【０００６】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、検出精度向上を図ることができる、放射線検出装置、放射線検出方法、およびプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
実施形態の放射線検出装置は、シンチレータ層と、複数の検出器と、設定部と、特定部と、補正部と、を含む。シンチレータ層は、放射線をシンチレーション光に変換する。複数の検出器は、シンチレータ層に対向する第１面に沿って配列され、光を検出する。設定部は、複数の検出器の内、補正対象の第１検出器を設定する。特定部は、複数の検出器の内、第１検出器で検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器を特定する。補正部は、第２検出器で検出された信号の内、前記第１信号に同期する前記同期信号としての第２信号と、前記第１信号と、前記シンチレータ層を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、前記第１検出器で検出された光のエネルギースペクトルを補正する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】検査装置の一例を示す模式図。
【図２】検出ユニットの説明図。
【図３】検出器の配列状態の一例を示す図。
【図４】検出ユニットの断面図。
【図５】光子の動きの説明図。
【図６】放射線検出装置の機能的構成を示すブロック図。
【図７】スペクトルの説明図。
【図８】時間差分布図の一例を示す図。
【図９】検出された信号の説明図。
【図１０】補正対象の第１検出器からの距離と、同期する第２信号の数の割合と、の対応関係の一例を示す図。
【図１１】検出器を示す模式図。
【図１２】全方向からの光影響を考慮した補正の説明図。
【図１３】放射線検出処理の手順を示すフローチャート。
【図１４】特定・補正処理の手順を示すフローチャート。
【図１５】補正後の第１エネルギーの算出処理の手順を示すフローチャート。
【図１６】放射線検出装置のハードウェア構成例を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に添付図面を参照して、本実施の形態の詳細を説明する。
【００１０】
図１は、本実施形態の検査装置１の一例を示す模式図である。
【００１１】
検査装置１は、光源１１と、放射線検出装置１０と、駆動部１３と、を備える。光源１１および駆動部１３は、放射線検出装置１０に電気的に接続されている。
【００１２】
光源１１と放射線検出装置１０は、間隔を隔てて対向配置されている。被検体１２は放射線検出装置１０と光源１１との間に位置する。また、光源１１と放射線検出装置１０とは、この対向配置された状態を維持したまま、被検体１２を中心に回転可能に設けられている。
【００１３】
光源１１は、対向する放射線検出装置１０に向かってＸ線等の放射線１１ａを照射する。光源１１から照射された放射線１１ａは、被検体１２を透過し、放射線検出装置１０に入射する。
【００１４】
放射線検出装置１０は、光を検出する装置である。放射線検出装置１０は、複数の検出ユニット２０と、制御部２２と、を備える。検出ユニット２０と、制御部２２とは、信号線２３によって電気的に接続されている。放射線検出装置１０に設けられた複数の検出ユニット２０は、本実施の形態では、放射線検出装置１０の回転方向（図１中、矢印Ｘ方向）に沿って配列されている。
【００１５】
検出ユニット２０は、光源１１から照射され被検体１２を透過した放射線１１ａを、コリメータ２１を介して入射面２０ａで受光する。コリメータ２１は、検出ユニット２０の入射面２０ａ側に設置され、検出ユニット２０に対して散乱線の入射を防止する。
【００１６】
検出ユニット２０は、受光した光を検出する。そして、検出ユニット２０は、検出した光に応じた信号を、信号線２３を介して制御部２２へ出力する。制御部２２は、検査装置１全体を制御する。制御部２２は、検出ユニット２０から信号を取得する。
【００１７】
本実施の形態では、制御部２２は、取得した信号（光電流）の電流値（信号の波高値に対応するエネルギー）から、各検出ユニット２０に入射した放射線１１ａのエネルギーごとの光子数で表されるエネルギースペクトルを算出する。そして、制御部２２は、各検出ユニット２０に入射する放射線１１ａのエネルギースペクトルから被検体１２の投影断面の画像を生成する。
【００１８】
駆動部１３は、光源１１および放射線検出装置１０を、これらの対向状態を維持したまま、光源１１と放射線検出装置１０の間に位置する被検体１２を中心として回転させる。これによって、検査装置１は、被検体１２の投影断面の画像を生成することができる。
【００１９】
なお、被検体１２は、人体に限定されない。被検体１２は、動植物や、物品などの非生物であってもよい。すなわち、検査装置１は、人体および動植物の断層像だけでなく、物品の内部の透視等のセキュリティ装置等の各種検査装置としても適用できる。
【００２０】
図２は、検出ユニット２０の説明図である。図２（Ａ）は、複数の検出ユニット２０の配列状態を示す図である。複数の検出ユニット２０は、検出ユニット２０の回転方向（図２（Ａ）中、矢印Ｘ参照）に沿って略円弧状に配列されている。
【００２１】
図２（Ｂ）は、検出ユニット２０の模式図である。検出ユニット２０は、支持基板２４上に、検出器アレイ３３と、シンチレータ層３５と、を備える。
【００２２】
シンチレータ層３５は、入射したＸ線等の放射線をシンチレーション光の光子に変換する。シンチレータ層３５の構成材料（すなわち、シンチレータ層３５の素材）は、放射線検出装置１０の適用対象に応じて適宜選択する。シンチレータ層３５は、例えばＧＯＳ、ＬＳＯ、ＬＹＳＯ、および一部を元素置換した材料等で構成するが、これらに限られない。
【００２３】
検出器アレイ３３は、シンチレータ層３５で変換されたシンチレーション光を検出する。検出器アレイ３３は、複数の検出器３２を配列した構成である。
【００２４】
検出器３２は、例えば、ＳｉＰＭ（Ｓｉｌｉｃｏｎ  Ｐｈｏｔｏ  Ｍｕｌｔｉｐｌｉｅｒ）である。検出器アレイ３３は、例えば、ＳｉＰＭとしての検出器３２を複数配列した構成である。
【００２５】
検出器３２は、シンチレータ層３５に対向する対向面である第１面３３Ａに沿って配列されている。すなわち、本実施の形態では、放射線検出装置１０は、検出器アレイ３３の光入射側にシンチレータ層３５を備えた構成である。
【００２６】
図３は、検出器３２の配列状態の一例を示す図である。図３に示すように、複数の検出器３２（３２１〜３２ｎ（ｎは２以上の整数））は、第１面３３Ａに沿ってマトリクス状に配列されている（図３中、矢印Ｘ方向、矢印Ｙ方向参照）。
【００２７】
なお、図３には、２５個（５×５個）の検出器３２を配列した構成を示した。しかし、図３に示す例は一例であり、放射線検出装置１０に設けられる検出器３２の数は、２５個に限られない。
【００２８】
図４は、検出ユニット２０の断面図である。図４に示すように、検出器アレイ３３は、シンチレータ層３５に対向する第１面３３Ａに沿って、複数の検出器３２を配列した構成となっている。なお、図４には、一例として、検出器アレイ３３における、矢印Ｘ方向に配列された１列の検出器３２１〜検出器３２５を示した。
【００２９】
シンチレータ層３５と検出器アレイ３３との間には、接着層３４が設けられている。接着層３４は、シンチレータ層３５と検出器アレイ３３とを接着させる。接着層３４は、シンチレータ層３５側から検出器アレイ３３側に出射するシンチレーション光を透過する透過性を有する。
【００３０】
なお、シンチレータ層３５における、検出器３２と検出器３２との間に相当する領域に、反射部材を設けた構成であってもよい。反射部材は、シンチレータ層３５で変換されたシンチレーション光（光子）を反射する部材であればよい。
【００３１】
ここで、検出器３２間に、光学的クロストークが発生する場合がある。図５は、シンチレータ層３５で変換されたシンチレーション光の、光子Ｐの動きの説明図である。
【００３２】
図５に示すように、シンチレータ層３５に放射線Ｌが入射すると、シンチレータ層３５は、入射した放射線をシンチレーション光の光子Ｐに変換する。図５（Ａ）に示すように、シンチレータ層３５における、各検出器３２の各々に対応する領域で発生した光子Ｐの全てが、対応する検出器３２へ至ったとする。
【００３３】
この場合、複数の検出器３２の各々は、シンチレータ層３５における各検出器３２に対応する領域で発生した光子Ｐの数を正確に計測することができる。
【００３４】
なお、シンチレータ層３５における各検出器３２に対応する領域とは、シンチレータ層３５における、各検出器３２に対して接着層３４を介して厚み方向に連続する領域である。厚み方向は、検出器３２の厚み方向であり、シンチレータ層３５における検出器３２の配列方向に対して垂直な方向である。
【００３５】
しかし、図５（Ｂ）に示すように、シンチレータ層３５における、検出器３２１に対応する領域３５１に放射線Ｌが入射することで発生したシンチレーション光Ｓがシンチレータ層３５を伝播し、シンチレータ層３５における、他の検出器３２（例えば、検出器３２２）に対応する領域３５２に到る場合がある。この場合、検出器３２１で検出されるべき特性Ｘ線Ｃが、他の検出器３２（例えば、検出器３２２）で検出されることとなる。このため、検出器３２１は、光学的クロストークを含む信号を検出することとなる。
【００３６】
また、図５（Ｃ）に示すように、シンチレータ層３５における、検出器３２１に対応する領域３５１に放射線Ｌが入射することで発生したシンチレーション光が接着層３４を伝播し、他の検出器３２（例えば、検出器３２２）に到る場合がある。この場合、検出器３２１で検出されるべきシンチレーション光の一部が、他の検出器３２（例えば、検出器３２２）で検出されることとなる。このため、接着層３４をシンチレーション光が伝播する場合についても同様に、検出器３２１は、光学的クロストークを含む信号を検出することとなる。
【００３７】
そこで、本実施の形態の放射線検出装置１０では、制御部２２が、エネルギースペクトルを補正する。
【００３８】
図６は、本実施の形態の放射線検出装置１０の機能的構成を示すブロック図である。
【００３９】
放射線検出装置１０は、検出器アレイ３３と、制御部２２と、記憶部４２と、を含む。制御部２２は、検出器アレイ３３を構成する複数の検出器３２の各々に対して制御を行う。すなわち、制御部２２は、１つの検出器３２に対して１つ（すなわち、１対１の関係で）、対応して設けられている。複数の検出器３２、および記憶部４２と、制御部２２と、は、データや信号授受可能に接続されている。記憶部４２は、各種データを記憶する。
【００４０】
制御部２２は、放射線検出装置１０全体を制御する。制御部２２は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）などを含んで構成されるコンピュータである。なお、制御部２２は、ＣＰＵ以外の回路などであってもよい。
【００４１】
制御部２２は、取得部４４と、閾値算出部４５と、設定部４６と、特定部４７と、補正部４８と、を備える。特定部４７は、第１特定部４７Ａと、第２算出部４７Ｂと、第２特定部４７Ｃと、第３特定部４７Ｄと、を含む。補正部４８は、第３算出部４８Ａと、第１算出部４８Ｂと、第１補正部４８Ｃと、を含む。
【００４２】
取得部４４、閾値算出部４５、設定部４６、特定部４７、第１特定部４７Ａ、第２算出部４７Ｂ、第２特定部４７Ｃ、第３特定部４７Ｄ、補正部４８、第３算出部４８Ａ、第１算出部４８Ｂ、および第１補正部４８Ｃの一部またはすべては、例えば、ＣＰＵなどの処理装置にプログラムを実行させること、すなわち、ソフトウェアにより実現してもよいし、ＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）などのハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェアおよびハードウェアを併用して実現してもよい。
【００４３】
取得部４４は、検出器アレイ３３における複数の検出器３２の各々で検出された信号を取得する。信号は、各検出器３２で検出したシンチレーション光（光子Ｐ）のエネルギーに対応する波高値を示す波形で表される。取得部４４は、取得した信号を、検出した検出器３２の識別情報および検出時間に対応づけて、順次記憶部４２へ記憶する。以下では、シンチレーション光のエネルギーを、単に、エネルギーと称して説明する場合がある。
【００４４】
閾値算出部４５は、各検出器３２の各々ごとに、第２閾値Ｖｔｈと、第１閾値Ｅｔｈと、を算出する。
【００４５】
第２閾値Ｖｔｈは、信号の波高値の閾値である。第２閾値Ｖｔｈは、各検出器３２の各々で検出された信号の内、ノイズと弁別するための閾値として用いる。すなわち、制御部２２では、各検出器３２の各々で検出された信号の内、各検出器３２に対応する第２閾値Ｖｔｈ以上の波高値の信号を、ノイズを弁別後の信号として採用する。
【００４６】
閾値算出部４５では、ノイズと信号を弁別できる波高値を、第２閾値Ｖｔｈとして求める。第２閾値Ｖｔｈは、以下の手順で求める。
【００４７】
まず、予め、検出器３２の校正用のデータとして、入射光子数を数種類に変化させた測定を行う。そして、検出器３２が検出し、取得部４４において取得した信号の波高値を、閾値を設けないまま蓄積する。そして、閾値算出部４５は、蓄積された波高値をエネルギーに変換後、演算処理を行う。この演算処理により、閾値算出部４５は、各入射光子数の測定における、エネルギーヒストグラムを求める。そして、閾値算出部４５は、生成された各々のエネルギーヒストグラムに対して、検出器アレイ３３（すなわち、各々の検出器３２全て）に共通のエネルギー閾値を設けたときの閾値以上の検出光子数が、各々の測定における入射光子数に対して線形性を保つような、エネルギー閾値Ｅｓｉｇを求める。そして、閾値算出部４５は、各々の検出器３２に対して、エネルギー閾値Ｅｓｉｇに相当するエネルギー変換前の波高値を求め、この波高値を第２閾値Ｖｔｈとする。
【００４８】
第１閾値Ｅｔｈは、クロストークであるものとして扱う、エネルギーの上限値を示す。
【００４９】
ここで、放射線Ｌの入射したシンチレータ層３５の領域に対応する検出器３２側から、他の検出器３２側へシンチレータ層３５や接着層３４を伝搬したシンチレーション光のエネルギーの値は、特性Ｘ線のエネルギーの値より充分小さいと考えられる。
【００５０】
このため、閾値算出部４５は、検出器アレイ３３に設けられた検出器３２ごとに、隣接する他の検出器３２と、非隣接の他の検出器３２と、の各々で同期した信号の低エネルギー側のスペクトルを算出する。図７は、スペクトルの説明図である。ここでいう低エネルギーとは、同期信号のエネルギースペクトルに現れるノイズを含むピークの裾野までのエネルギー領域を示す（図７（Ａ）参照）。なお、同期信号については、詳細を後述する。
【００５１】
そして、閾値算出部４５は、検出器３２ごとに算出した、隣接する他の検出器３２との同期信号の低エネルギー側のスペクトルから、非隣接の他の検出器３２との同期信号の低エネルギー側のスペクトルを差し引いた差分スペクトルを検出器３２ごとに求める。
【００５２】
そして、閾値算出部４５は、図７（Ｂ）に示すように、検出器３２ごとに、対応する差分スペクトルの、ピークの半値となるところの高い方の値に相当するエネルギーを、第１閾値Ｅｔｈとして算出する。
【００５３】
すなわち、本実施の形態では、差分スペクトルには、偶然同期した信号が含まれないと仮定する。また、各検出器３２に対応する第１閾値Ｅｔｈ以下の範囲では、低エネルギーの同期信号の発生確率が高いものとみなす。
【００５４】
そして、閾値算出部４５は、検出器３２ごとに算出した、第１閾値Ｅｔｈおよび第２閾値Ｖｔｈを、各検出器３２の識別情報に対応づけて記憶部４２に記憶する。
【００５５】
設定部４６は、複数の検出器３２の内、補正対象の第１検出器を設定する。記憶部４２は、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２の各々について、順に１つずつ、補正対象として設定する。すなわち、設定部４６は、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２の内、後述する補正部４８による補正処理の行われていない１つの検出器３２を、順に、補正対象の第１検出器として設定する。
【００５６】
例えば、設定部４６は、複数の検出器３２の内、検出器３２１を第１検出器３２Ａとして設定する（図３、図４参照）。そして、設定部４６は、検出器３２２〜検出器３２ｎを、順に、第１検出器３２Ａとして設定する。
【００５７】
特定部４７は、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２の内、補正対象として設定した第１検出器３２Ａで検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器３２Ｂを特定する。第２検出器３２Ｂは、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２の内、補正対象として設定した第１検出器３２Ａ以外の検出器３２であって、第１信号に同期する同期信号を検出した検出器３２である。
【００５８】
第１信号に同期する同期信号としての第２信号は、該第１信号から所定時間以内に検出された信号である。すなわち、同期信号は、ある検出器３２で検出された信号と、他の検出器３２で検出された信号の内、互いに所定時間以内に検出された信号を示す。
【００５９】
このため、第１信号は、第１検出器３２Ａで検出された信号の内、第２信号に同期する同期信号である。
【００６０】
なお、特定部４７は、同期信号とみなす所定時間を、以下のように算出し、特定に用いる。
【００６１】
同期信号とみなす信号間の検出時間の時間差Δｔは、放射線検出装置１０に設けられたシンチレータ層３５の時定数に依存する。特定部４７は、時間差分布図を用いて、同期信号とみなす所定時間を算出する。
【００６２】
図８は、時間差分布図の一例を示す図である。
【００６３】
例えば、特定部４７は、補正対象の第１検出器３２Ａで検出された信号の内、該第１検出器３２Ａに対応する第２閾値Ｖｔｈ以上の信号を抽出する。同様に、特定部４７は、該第１検出器３２Ａに隣接する他の検出器３２で検出された信号の内、該検出器３２に対応する第２閾値Ｖｔｈ以上の信号を抽出する。
【００６４】
そして、特定部４７は、抽出した各々の信号について、第１検出器３２Ａと、第１検出器３２Ａに隣接する他の検出器３２と、の間の検出時間の時間差に対応する信号数の分布を示す、時間差分布図を作成する。ここでいう時間差の時間範囲は、例えば時定数の４倍程度までの時間とする。図８に示すように、時間差分布図は、時間差Δｔ＝０を中心とした信号数のピークを有する。特定部４７は、時間差分布図における、信号数のピーク部分の面積の９５％程度が入る時間差の範囲を、同期信号とみなす所定時間として算出する。この所定時間は、例えば、±４８ｎｓである。
【００６５】
すなわち、特定部４７は、補正対象として設定された第１検出器３２Ａで検出された信号と、該第１検出器３２Ａに隣接する他の１つの検出器３２で検出された信号と、から、同期信号とみなす所定時間を算出する。そして、算出した所定時間を、第１検出器３２Ａと、該第１検出器３２Ａ以外の他の検出器３２の各々と、の間の同期信号の判定に用いる。
【００６６】
なお、特定部４７は、補正対象として設定された第１検出器３２Ａと、他の検出器３２の各々と、について、同期信号とみなす所定時間を算出してもよい。
【００６７】
そして、特定部４７は、算出した所定時間を記憶部４２へ記憶し、同期信号を検出した検出器３２の特定に用いる。
【００６８】
図９は、検出器３２の各々で検出された信号の説明図である。
【００６９】
図９（Ａ）は、補正対象の第１検出器３２Ａで検出された信号５０の一例を示す図である。図９（Ｂ）は、第１検出器３２Ａ以外の他の検出器３２（例えば、第１検出器３２Ａに隣接する他の検出器３２）で検出された信号５２の一例を示す図である。
【００７０】
まず、特定部４７は、各検出器３２の各々で検出された信号の内、各検出器３２に対応する第２閾値Ｖｔｈ以上の信号を、補正対象として特定する。図９に示す例では、特定部４７は、第１検出器３２Ａで検出された信号５０の内、該第１検出器３２Ａに対応する第２閾値Ｖｔｈ１以上の信号５０Ａ、信号５０Ｂ、信号５０Ｃを特定する。また、特定部４７は、該第１検出器３２Ａ以外の他の検出器３２で検出された信号５２の内、該検出器３２に対応する第２閾値Ｖｔｈ２以上の信号５２Ａ、信号５２Ｂを特定する。
【００７１】
図９に示す例では、信号５０と信号５２の内、信号５０Ｂの検出時間から所定時間以内に信号５２Ａが検出されている。また、信号５０Ｃの検出時間から所定時間以内に信号５２Ｂが検出されている。このため、図９に示す例では、特定部４７は、第１検出器３２Ａが検出した信号５０の内、信号５０Ｂおよび信号５０Ｃの各々を第１信号として特定する。また、特定部４７は、他の検出器３２が検出した信号５２の内、信号５２Ａを、第１信号である信号５０Ｂに同期する第２信号として特定し、信号５２Ｂを、第１信号である信号５０Ｃに同期する第２信号として特定する。
【００７２】
すなわち、図９に示す例では、特定部４７は、信号５０Ｂを第１信号とし、該信号５０に同期する信号５２Ａを第２信号として特定する。また、特定部４７は、信号５０Ｃを第１信号とし、該信号５０Ｃに同期する信号５２Ｂを第２信号として特定する。この場合、特定部４７は、２つの同期信号対を特定したこととなる。
【００７３】
そして、特定部４７は、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２の全てについて、同様の処理を行い、第１検出器３２Ａで検出された第１信号に同期する第２信号を検出した、検出器３２を特定する。
【００７４】
特定部４７は、第１特定部４７Ａと、第２算出部４７Ｂと、第２特定部４７Ｃと、第３特定部４７Ｄと、を含む。
【００７５】
第１特定部４７Ａは、複数の検出器３２の内、第２検出器３２Ｂの第１群を特定する。第１群に属する第２検出器３２Ｂは、補正対象の第１検出器３２Ａで検出された第１信号に同期する同期信号を検出した検出器３２である。
【００７６】
すなわち、第１特定部４７Ａは、補正対象の第１検出器３２Ａ以外の全ての検出器３２の内、検出器３２で検出された信号に同期する同期信号である第２信号を検出した検出器３２を、第１群に属する第２検出器３２Ｂとして特定する。
【００７７】
第２算出部４７Ｂは、第１群に属する前記第２の検出器の各々について、検出された全ての信号に対する、第１信号に同期する第２信号の割合を算出する。
【００７８】
図９を例として説明すると、図９（Ｂ）に示す信号５２を、第１群に属する１つの第２検出器３２Ｂが検出したとする。この場合、この第２検出器３２Ｂは、第１検出器３２Ａの第１信号（信号５０Ｂ）に同期する第２信号５２Ａと、第１信号（信号５０Ｃ）に同期する第２信号５２Ｂと、の２つの同期信号を検出している。また、実際には、この第２検出器３２Ｂは、信号５２Ａおよび信号５２Ｂの他に２つの信号５２を更に含む、４つの信号５２を検出していたとする。
【００７９】
この場合、第２算出部４７Ｂは、第１群に属する該第２検出器３２Ｂで検出された第２信号の割合として、５０％（２／４）を算出する。
【００８０】
図１０は、補正対象の第１検出器３２Ａからの距離と、同期する第２信号の数の割合と、の対応関係の一例を示す図である。
【００８１】
図１０中、距離“１”は、補正対象の第１検出器３２Ａ（例えば、図３中、検出器３２１）に隣接する第２検出器３２Ｂ（例えば、図３中、検出器３２２）を示す。また、図１０中、距離“２”は、補正対象の第１検出器３２Ａ（例えば、図３中、検出器３２１）から二つ目の位置の第２検出器３２Ｂ（例えば、図３中、検出器３２３）を示す。また、図１０中、距離“３”は、補正対象の第１検出器３２Ａ（例えば、図３中、検出器３２１）から三つ目の位置の第２検出器３２Ｂ（例えば、図３中、検出器３２４）を示す。また、図１０中、距離“４”は、補正対象の第１検出器３２Ａ（例えば、図３中、検出器３２１）から四つ目の位置の第２検出器３２Ｂ（例えば、図３中、検出器３２５）を示す。
【００８２】
また、図１０中、ｒ１は、距離“３”の位置の第２検出器３２Ｂ（検出器３２４）と、距離“４”の位置の検出器３２（検出器３２５）と、における、特定された同期する第２信号の割合を示す。また、ｒ２は、距離“２”の位置の第２検出器３２Ｂ（検出器３２３）における、特定された同期する第２信号の割合を示す。ｒ３は、距離“１”の位置の第２検出器３２Ｂ（検出器３２２）における、特定された同期する第２信号の割合を示す。
【００８３】
図６に戻り、第２特定部４７Ｃは、第１群に属する第２検出器３２Ｂの内、第２群に属する第２検出器３２Ｂを特定する。
【００８４】
第２群に属する第２検出器３２Ｂは、第１群に属する第２検出器３２Ｂの内、第１検出器３２Ａに隣接する位置から離れる方向に向かって配列された複数の第２検出器３２Ｂの各々で検出された第２信号の割合の低下が飽和した、第１検出器３２Ｂである。
【００８５】
図１０に示す対応関係が得られた場合、第２信号の割合は、第１検出器３２Ａ（検出器３２１）から離れるほど低下し、距離“３”と距離“４”の位置の第２検出器３２Ｂ（検出器３２４および検出器３２５）において、割合ｒ１に低下が飽和している。
【００８６】
このため、この場合、第２特定部４７Ｃは、第１群に属する第２検出器３２Ｂ（例えば、検出器３２２〜検出器３２５）の内、検出器３２４および検出器３２５を、第２群に属する第１検出器３２Ｂとして特定する。
【００８７】
図６に戻り、第３特定部４７Ｄは、第１群に属する第２検出器３２Ｂの内、第２群に属さない第２検出器３２Ｂを、第１信号の補正に用いる検出器３２として特定する。なお、以下では、特定部４７が特定した第２検出器３２Ｂを、第３群に属する第２検出器３２Ｂと称する場合がある。
【００８８】
図１０に示す対応関係が得られた場合、第３特定部４７Ｄは、第１群に属する第２検出器３２Ｂ（検出器３２２〜検出器３２５）の内、第２群に属する第２検出器３２Ｂ（検出器３２４および検出器３２５）以外の第２検出器３２Ｂ（検出器３２２および検出器３２３）を、第１検出器３２Ａ（検出器３２１）の第１信号の補正に用いる検出器３２として特定する。
【００８９】
図１１は、検出器アレイ３３における、矢印Ｘ方向（図３参照）に沿った一列分の検出器３２（検出器３２１〜検出器３２５）を示す模式図である。
【００９０】
設定部４６が検出器３２１を補正対象の第１検出器３２Ａとして設定したとする。そして、第２特定部４７Ｃが、第２群に属する第２検出器３２Ｂとして、第２の信号の割合の低下が飽和した、検出器３２４および検出器３２５を特定したとする。また、第３特定部４７Ｄが、第１群に属する第２検出器３２Ｂ（検出器３２２〜検出器３２５）の内、第２群に属する第２検出器３２Ｂ（検出器３２４および検出器３２５）以外の第２検出器３２Ｂ（検出器３２２および検出器３２３）を、特定したとする。
【００９１】
この場合、第２特定部４７Ｃは、検出器３２２および検出器３２３を、第３群に属する第２検出器３２Ｂとして特定する。すなわち、第３特定部４７Ｄは、検出器３２２および検出器３２３を、第１検出器３２Ａ（検出器３２１）で検出されるべきシンチレーション光の一部を検出した第２検出器３２Ｂとして特定することとなる。
【００９２】
一方、第２群に属する検出器３２４および検出器３２５は、第１検出器３２Ａ（検出器３２１）で検出されるべきシンチレーション光が到達しない検出器３２として特定されることとなる。
【００９３】
図６に戻り、補正部４８は、第２検出器３２Ｂで検出された信号の内、第１信号に同期する同期信号としての第２信号と、第１信号と、シンチレータ層３５を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、第１検出器３２Ａで検出された光のエネルギースペクトルを補正する。
【００９４】
本実施の形態では、補正部４８は、第３特定部４７Ｄによって特定された第２検出器３２Ｂで検出された信号の内の第２信号と、補正対象の第１検出器３２Ａの第１信号と、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、第１検出器３２Ａで検出された光のエネルギースペクトルを補正する。
【００９５】
シンチレータ層３５のシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーは、予め記憶部４２に記憶しておけばよい。
【００９６】
シンチレータ層３５のシンチレータ素材がＬＹＳＯである場合、特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥは、例えば、５４ｋｅＶ±１５ｋｅＶである。
【００９７】
なお、±ΔＥは、検出器３２で観測されるエネルギー分解能を示す。すなわち、本実施の形態では、シンチレータ層３５のシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーとは、シンチレータ素材の実際の特性Ｘ線エネルギー±エネルギー分解能を示すものである。
【００９８】
補正部４８は、第３算出部４８Ａと、第１算出部４８Ｂと、第１補正部４８Ｃと、を含む。
【００９９】
第３算出部４８Ａは、補正率を算出する。第３算出部４８Ａは、第３特定部４７Ｄで特定された第２検出器３２Ｂの各々について、補正率を算出する。補正率は、第１検出器３２Ａの第１信号と、第２検出器３２Ｂの第２信号と、の複数の同期信号対の内、実際に補正に用いる同期信号対の数を算出するときに使用する。補正率は、第１算出部４８Ｂによる処理時に用いられる（詳細後述）。
【０１００】
第３算出部４８Ａは、第３特定部４７Ｄによって特定された第２検出器３２Ｂの各々について、第２検出器３２Ｂが検出した第２信号の合計数に対する、該合計数から第２郡に属する第２検出器３２Ｂで検出された第２信号の数（飽和時の第２信号の数）を減算した減算値の割合を、補正率として算出する。
【０１０１】
例えば、図１０に示す対応関係が得られたとする。この場合、第３算出部４８Ａは、第２検出器３２Ｂとしての検出器３２２について、該検出器３２２で検出された第２の信号の数（割合ｒ３に相当する信号数）から、飽和時の第２の信号の数（割合ｒ１に相当する信号数）を減算した減算値を、該割合ｒ３に相当する第２の信号数の数で除算した値を、該検出器３２２で用いる補正率として算出する。
【０１０２】
なお、第３算出部４８Ａは、以下のようにして補正率を算出してもよい。例えば、第３算出部４８Ａは、第３特定部４７Ｄによって特定された第２検出器３２Ｂの各々について、第２検出部３２Ｂが検出した第２信号の内、特性Ｘ線エネルギーに一致する第２エネルギーを示す第２信号の合計数を算出する。そして、第３算出部４８Ａは、該合計数から、第２群に属する第２検出器３２Ｂで検出された、特性Ｘ線エネルギーに一致する第２エネルギーを示す第２信号の数を減算した減算値の割合を、補正率として算出してもよい。
【０１０３】
なお、該検出器３２２における第１閾値Ｅｔｈ以下のエネルギー領域における補正率については、特性Ｘ線エネルギー領域について算出した補正率を採用する。ただし、補正率の値を個別に算出する必要がある場合や、最適化を行なう必要がある場合は、以下の手順で算出した補正率を用いてもよい。この場合、該検出器３２２における第１閾値Ｅｔｈ以下のエネルギー領域における、該検出器３２２で検出された第１閾値Ｅｔｈ以下のエネルギー領域にある第２の信号数の数と減算した減算値を、該該検出器３２２で検出された第１閾値Ｅｔｈ以下のエネルギー領域にある第２の信号数の数で除算した値を第１閾値Ｅｔｈ以下のエネルギー領域における補正率とする。
【０１０４】
同様にして、第３算出部４８Ａは、第３特定部４７Ｄによって特定された第２検出器３２Ｂの各々について、補正率を算出する。
【０１０５】
そして、第３算出部４８Ａは、第３特定部４７Ｄによって特定された第２の検出器３２Ｂの識別情報と、算出した補正率と、を対応づけて記憶部４２へ記憶する。
【０１０６】
第１算出部４８Ｂは、第１信号と該第１信号に同期する第２信号との同期信号対の各々ごとに、第１信号の波高値に対応する第１エネルギーと、該第１信号に同期する第２信号の波高値に対応する第２エネルギーと、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、の大小関係から、補正後の第１エネルギーを算出する。また、第１算出部４８Ｂは、算出した該第１エネルギーに対して、エネルギースペクトル算出時に割当てるカウント数を算出する。
【０１０７】
第１エネルギーおよび第２エネルギーは、信号の波高値によって表されるシンチレーション光のエネルギーを示す。
【０１０８】
例えば、図９に示す信号が得られた場合、第１信号としての信号５０Ｂと、第２信号としての信号５２Ａと、が同期信号対であり、第１信号としての信号５０Ｃと、第２信号としての信号５２Ｂと、が同期信号対である。特定部４７が、例えば、これらの２つの同期信号対を特定したとする。
【０１０９】
この場合、第１算出部４８Ｂは、信号５０Ｂ（第１信号）の波高値Ｖ１に対応する第１エネルギーと、信号５０Ｂに同期する信号５２Ａ（第２信号）の波高値Ｖ２に対応する第２エネルギーと、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、の大小関係から、この同期信号対に対応する補正後の第１エネルギーと、割当てるカウント数を算出する。
【０１１０】
また、第１算出部４８Ｂは、信号５０Ｃ（第１信号）の波高値に対応する第１エネルギーと、信号５０Ｃに同期する信号５２Ｂ（第２信号）に対応する第２エネルギーと、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、の大小関係から、この同期信号対に対応する補正後の第１エネルギーと、割当てるカウント数を算出する。
【０１１１】
このようにして、第１算出部４８Ｂは、同期信号対の各々ごとに、補正後の第１エネルギーと、割当てるカウント数を算出する。
【０１１２】
第１算出部４８Ｂによる補正後の第１エネルギーの算出について、更に詳細に説明する。
【０１１３】
ここで、同期信号対に含まれる、第１信号の波高値に対応する第１エネルギーをＥａとする。また、同期信号対に含まれる、第２信号の波高値に対応する第２エネルギーをＥｂとする。そして、補正後の第１エネルギーをＥｃとする。また、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーをＥｘ±ΔＥとする。すなわち、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーは、ある程度の領域を有する。
【０１１４】
まず、第１算出部４８Ｂは、補正対象の第１検出器３２Ａと、第３群に属する第２検出器３２Ｂの各々と、の各組合せについて、第１信号と第２信号との同期信号対の数（Ｍとする（Ｍは１以上の整数））を算出する。
【０１１５】
次に、第１算出部４８Ｂは、算出した、数Ｍの同期信号対の内、補正に用いる同期信号対の数（Ｋとする（Ｋは１以上の整数））を算出する。第１算出部４８Ｂは、算出した同期信号対の数Ｍに、該同期信号対に含まれる第２信号を検出した第２検出器３２Ｂに対応する補正率を乗算した乗算値を、補正に用いる同期信号対の数Ｋとして算出する。
【０１１６】
さらに、第１算出部４８Ｂは、補正対象の第１検出器３２Ａと、第３群に属する第２検出器３２Ｂの各々と、の各組合せについて、各組合せごとに算出した上記乗算値（補正に用いる同期信号対の数Ｋ）に応じた数の同期信号対をランダムに選択する。
【０１１７】
すなわち、第１算出部４８Ｂは、Ｍ個の同期信号対の内、ランダムにＫ個の同期信号対を選択することで、補正に用いるＫ個の同期信号対を決定する。ランダムに決定する理由は、Ｍ個の同期信号対のいずれが、第１信号に真に同期する第２信号を含むものであるのか、第１信号に偶然同期した第２信号を含むものであるのか、不明であるためである。このため、第１算出部４８Ｂは、Ｍ個の同期信号対の中から、ランダムにＫ個の同期信号対を選択すればよい。
【０１１８】
そして、第１算出部４８Ｂは、選択したＫ個の同期信号対の各々ごとに、補正後の第１エネルギーＥｃと、割当てるカウント数を算出する。
【０１１９】
このため、第１算出部４８Ｂは、補正対象の第１検出器３２Ａと、第３群に属する第２検出器３２Ｂの各々と、の各組合せについて、同期信号対の全数に補正率を乗算した乗算数の同期信号対ごとに、各同期信号対に含まれる第１信号の補正後の第１エネルギーＥｃと、割当てるカウント数を算出する。
【０１２０】
ここで、第３算出部４８Ａは、第１信号と第２信号との同期信号対を、第４群、第５群、および第６群に分類し、各群（第４群、第５群、第６群）の各々ごとに、補正率を算出してもよい。この場合、第１算出部４８Ｂは、各群（第４群、第５群、第６群）の各々ごとに、各群に属する同期信号の数の内、実際に補正に用いる同期信号対の数を、各群に対応する補正率を用いて算出すればよい。
【０１２１】
第４群は、同期信号対の内、第１信号の第１エネルギーＥａおよび第２信号の第２エネルギーＥｂの少なくとも一方が特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと一致する群である。第５群は、同期信号の内、第１信号の第１エネルギーＥａおよび第２信号の第２エネルギーＥｂの双方が、特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、且つ、該第１エネルギーＥａおよび該第２エネルギーＥｂの双方が第１閾値Ｅｔｈより大きい群である。第６群は、同期信号の内、第１信号の第１エネルギーＥａおよび第２信号の第２エネルギーＥｂの双方が特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、且つ、該第１エネルギーＥａおよび該第２エネルギーＥｂの少なくとも一方が第１閾値Ｅｔｈ以下の群である。
【０１２２】
そして、第３算出部４８Ａは、第４群、第５群、および第６群の各々ごとに、補正率を算出する。この場合、第３算出部４８Ａは、各群（第４群、第５群、第６群）の各々に属する同期信号対の合計数（各群に属する同期信号対に含まれる第２信号の合計数と同一）に対する、該合計数から上記第２群に属する第２検出器３２Ｂで検出された第２信号の数（飽和時の第２信号の数）を減算した減算値の割合を、補正率として算出すればよい。
【０１２３】
そして、各群（第４群、第５群、第６群）ごとに補正率が算出された場合、第１算出部４８Ｂは、各群（第４群、第５群、第６群）ごとに、各群（第４群、第５群、第６群）に属する同期信号対の数Ｍ’に、各群に対応する補正率を乗算した乗算値を、補正に用いる同期信号対の数Ｋ’として算出すればよい。
【０１２４】
そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、各群（第４群、第５群、第６群）に属する、選択したＫ’個の同期信号対の各々ごとに、補正後の第１エネルギーＥｃと、割当てるカウント数を算出すればよい。
【０１２５】
第１算出部４８Ｂによる、補正後の第１エネルギーＥｃと、割当てるカウント数と、の具体的な算出方法を説明する。
【０１２６】
第１算出部４８Ｂは、第１信号の波高値に対応する第１エネルギーＥａと、第２信号の波高値に対応する第２エネルギーＥｂと、の各々が、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと一致するか否かを判別する。そして、第１算出部４８Ｂは、この判別により、大きく４種類の場合分けを行い、補正後の第１エネルギーＥｃと、割当てるカウント数を算出する。
【０１２７】
詳細には、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合、補正後の第１エネルギーＥｃを“０”とする。また、第１算出部４８Ｂは、割当てるカウント数として０を算出する。
【０１２８】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合、補正後の第１エネルギーＥｃを“Ｅａ＋Ｅｂ”の値とする。また、第１算出部４８Ｂは、割当てるカウント数として１を算出する。
【０１２９】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合、補正後の第１エネルギーＥｃを“Ｅａ＋Ｅｂ”の値とする。また、第１算出部４８Ｂは、割当てるカウント数として、予め定めた１未満の値を算出する。
【０１３０】
この“１未満の値”は、第１検出器３２Ａに放射線が入射したことが見込まれる確率を予め定めればよい。この“１未満の値”は、例えば、０．５である。以下、この１未満の値が、０．５であるものとして説明するが、０．５に限定されない。
【０１３１】
すなわち、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂの少なくとも一方が、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと一致する場合、他の検出器３２で検出されるべき領域からシンチレータ層３５や接着層３４を伝播したシンチレーション光が、該シンチレーション光を本来検出すべきであった検出器３２で検出されたとみなし、補正後の第１エネルギーＥｃを算出する。すなわち、この場合、第１算出部４８Ｂは、該シンチレーション光を本来検出すべき検出器３２で検出した信号の波高値に対応するエネルギー（例えば、第１エネルギーＥａ）に、他の検出器３２で検出された同期信号のエネルギー（例えば、第２エネルギーＥｂ）を加算する。
【０１３２】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合、ある検出器３２で検出されるべきであったシンチレーション光が、他の検出器３２に伝播したとみなす。すなわち、この場合、第１算出部４８Ｂは、他の検出器３２に伝播した蛍光Ｆのエネルギーを、本来該シンチレーション光を検出すべきであった検出器３２で検出されたエネルギーに加算する。そして、第１算出部４８Ｂは、この加算値を、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出する。
【０１３３】
ここで、第１算出部４８Ｂは、同期信号の発生頻度の高いエネルギー領域について、補正後の第１エネルギーＥｃを算出することが好ましい。
【０１３４】
このため、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合、閾値算出部４５が算出した第１閾値Ｅｔｈを更に用いて、補正後の第１エネルギーＥｃを算出することが好ましい。第１算出部４８Ｂは、各同期信号対に含まれる第２信号を検出した第２検出器３２Ｂの識別情報に対応する第１閾値Ｅｔｈを、記憶部４２から読取り、算出に用いればよい。
【０１３５】
すなわち、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合、以下の場合分けを行い、補正後の第１エネルギーＥｃを算出する。
【０１３６】
この場合、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ＜第２エネルギーＥｂであり、且つ、第１エネルギーＥａ＜第１閾値Ｅｔｈである場合、補正後の第１エネルギーＥｃを“０”とする（カウントしない）。
【０１３７】
一方、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ≧第２エネルギーＥｂであり、且つ、第２エネルギーＥｂ＜第１閾値Ｅｔｈである場合、補正後の第１エネルギーＥｃを、“Ｅａ＋Ｅｂ”とする。また、これらの場合以外は、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａを、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出する。
【０１３８】
詳細には、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、第１エネルギーＥａが第２エネルギーＥｂ未満であり、且つ、第１エネルギーＥａが第１閾値Ｅｔｈ未満である場合、第１信号および第２信号が第２検出器３２Ｂに本来入る信号であるとみなす。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃとして０を算出すると共に、割当てるカウント数として０を算出する。
【０１３９】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、第１エネルギーＥａが第２エネルギーＥｂ未満であり、且つ、第１エネルギーＥａが第１閾値Ｅｔｈ以上である場合、第１信号と第２信号とが偶然同期したものとみなす。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａを補正後の第１エネルギーＥｃとして算出すると共に、割当てるカウント数として１を算出する。
【０１４０】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、第１エネルギーＥａが第２エネルギーＥｂ以上であり、且つ、第２エネルギーＥｂが第１閾値Ｅｔｈ未満である場合、第１信号および第２信号が第１検出器４８Ａに本来入る信号であるとみなす。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａと第２エネルギーＥｂとの加算値を、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出する。また、第１算出部４８Ｂは、割当てるカウント数として１を算出する。
【０１４１】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、第１エネルギーＥａが第２エネルギーＥｂ以上であり、且つ、第２エネルギーＥｂが第１閾値Ｅｔｈ以上である場合、第１信号と第２信号とが偶然同期したものとみなす。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａを補正後の第１エネルギーＥｃとして算出すると共に、割当てるカウント数として１を算出する。
【０１４２】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと一致し、第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致である場合、第１信号および第２信号が第２検出器３２Ｂに本来入る信号であるとみなす。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃを０とすると共に、割当てるカウント数として０を算出する。
【０１４３】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であり、第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと一致する場合、第１信号および第２信号が第１検出器３２Ａに本来入る信号とみなす。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａと第２エネルギーＥｂとの加算値を、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出すると共に、割当てるカウント数として１を算出する。
【０１４４】
また、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂが特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと一致する場合、第１検出器３２Ａおよび第２検出器３２Ｂの何れか一方に放射線が入射し、且つ第１検出器３２Ａおよび第２検出器３２Ｂの内、該放射線の入射した一方の検出器３２で発生した特性Ｘ線が他方の検出器３２に入射したとみなす。この場合、第１算出部４８Ｃは、第１エネルギーＥａと第２エネルギーＥｂとの加算値を、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出する。また、この場合、第１算出部４８Ｂは、割当てるカウント数として、予め定めた１未満の値（本実施の形態では、０．５であるとして説明する）を算出する。
【０１４５】
なお、第１算出部４８Ｂは、補正対象の第１検出器３２Ａと、第３特定部４７Ｄによって特定された第３群に属する第２検出器３２Ｂの各々と、の各組合せについて、第１信号と第２信号との同期信号対の各々ごとに、各同期信号対における第１信号に対応する補正後の第１エネルギーＥｃを算出する。
【０１４６】
第１補正部４８Ｃは、同期信号対の各々に含まれる第１信号に対応する補正後の第１エネルギーＥｃ、および該補正後の第１エネルギーＥｃに対する割当てるカウント数と、を用いて、補正対象の第１検出器３２Ａで検出されたエネルギースペクトルを補正する。
【０１４７】
詳細には、第１補正部４８Ｃは、同期信号対の数と、同期信号対の各々に含まれる第１信号に対応する補正後の第１エネルギーＥｃと、該補正後の第１エネルギーＥｃに対する割当てるカウント数と、第１検出器３２Ａで検出された信号の内、第１信号以外の信号の数と、該信号の波高値に対応するエネルギーと、によって示されるエネルギースペクトルを、補正後のエネルギースペクトルとして生成する。
【０１４８】
第１検出器３２Ａで検出された信号の内、第１信号以外の信号には、第２信号に非同期の信号が含まれる。
【０１４９】
これによって、第１補正部４８Ｃは、補正対象の第１検出器３２Ａで検出されたエネルギースペクトルを補正する。
【０１５０】
第１補正部４８Ｃの処理を、具体的に説明する。
【０１５１】
第１補正部４８Ｃは、まず、補正対象の第１検出器３２Ａと、第３特定部４７Ｄによって特定された第３群に属する第２検出器３２Ｂの各々と、の各組合せについて、第１信号と第２信号との同期信号対の各々ごとに算出された、補正後の第１エネルギーＥｃ、および、対応する割り当てるカウント数を読取る。
【０１５２】
そして、第１補正部４８Ｃは、読取った補正後の第１エネルギーＥｃの、エネルギーの値の各々に対応する信号数を、対応する割り当てるカウント数によって示されるカウント値でカウントすることで、第１エネルギースペクトルを得る。
【０１５３】
例えば、第１補正部４８Ｃが読取った補正後の第１エネルギーＥｃに、割当てるカウント数として、０．５カウントが対応付けられていたとする。この場合、第１補正部４８Ｃは、該補正後の第１エネルギーＥｃについては、０．５カウント分の信号であるとして、信号数をカウントする。また、第１補正部４８Ｃが読取った補正後の第１エネルギーＥｃに、割当てるカウント数として、１カウントが対応付けられていたとする。この場合、第１補正部４８Ｃは、該補正後の第１エネルギーＥｃについては、１カウント分の信号であるとして、信号数をカウントする。このようにして、第１補正部４８Ｃは、補正後の第１エネルギーＥｃの各々に対応する信号数をカウントすることで、第１エネルギースペクトルを得る。
【０１５４】
また、第１補正部４８Ｃは、補正対象の第１検出器３２Ａで検出された信号の内、第１信号以外の信号を読取る。そして、第１補正部４８Ｃは、この第１信号以外の信号の各々の波高値に対応するエネルギーの値の各々に対応する信号数をカウントすることで、第２エネルギースペクトルを得る。なお、第１補正部４８Ｃは、第１検出器３２Ａで検出された信号の内、第１信号以外の信号（第２信号に非同期の信号）については、各々１カウントとしてカウントする。
【０１５５】
そして、第１補正部４８Ｃは、この第１エネルギースペクトルと、第２エネルギースペクトルと、を合成したスペクトルを、補正対象の第１検出器３２Ａで検出されたエネルギースペクトルを補正した、補正後のエネルギースペクトルとして生成する。
【０１５６】
すなわち、第１補正部４８Ｃが生成したエネルギースペクトルは、補正対象の第１検出器３２Ａで検出された信号によるエネルギースペクトル（補正前のエネルギースペクトル）から、クロストークによる影響を除いたエネルギースペクトル（すなわち、補正後のエネルギースペクトル）である。
【０１５７】
なお、エネルギー値ごとに信号数をカウントしてヒストグラムを生成する際には、信号数の１カウントをガウシアン形状で幅を持ったエネルギーのビンに割り振ることが好ましい。
【０１５８】
このため、第１補正部４８Ｃは、補正後の第１エネルギーＥｃの値を中心値とし、エネルギー分解能による有限な幅を持ったガウス分布を用いる。そして、第１補正部４８Ｃは、Ｅｃ±エネルギー分解能となるエネルギー値から中心値Ｅｃにエネルギー値が近くなるにつれて重みづけの値が大きくなり、且つ、重みづけの総和が１になるような、ガウス分布に従った重みづけを行う。なお、第１補正部４８Ｃは、１カウント分を、補正後の第１エネルギーＥｃ±エネルギー分解能の範囲の整数のエネルギー値に対して重みづけした少数点のカウント数として、割り振ることが好ましい。ここで、エネルギー分解能は、補正後の第１エネルギーＥｃによって異なった値を使ってもよい。
【０１５９】
また、第１エネルギーＥａ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合は、重みづけの総和が０．５になるようなガウス分布に従った重みづけを行う。そして、第１補正部４８Ｃは、０．５カウント分を、補正後の第１エネルギーＥｃ±エネルギー分解能の範囲の整数のエネルギー値に対して重みづけした少数点のカウント数として、割り振る。
【０１６０】
なお、上記では、補正部４８は、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２について、１列（例えば、図３中、矢印Ｘ方向に沿った一列）の検出器３２を想定し、矢印Ｘ方向に配列された他の検出器３２から漏れたシンチレーション光および特性Ｘ線や他の検出器３２へ漏れたシンチレーション光および特性Ｘ線を想定して、補正を行う場合を示した。
【０１６１】
しかし、補正部４８は、矢印Ｘ方向および矢印Ｙ方向の双方に沿ってマトリクス状に配列された各検出器３２について、特定の一方向（例えば、矢印Ｘ方向）のみではなく、隣接する全方向の検出器３２から漏れたシンチレーション光および特性Ｘ線や全方向の検出器３２へ漏れたシンチレーション光および特性Ｘ線を想定し、補正を行う事が好ましい。
【０１６２】
すなわち、補正部４８は、検出器アレイ３３に設けられた各検出器３２の各々について、第１面３３Ａに沿った全方向の他の検出器３２からのシンチレーション光および特性Ｘ線の漏れ、および該全方向へのシンチレーション光および特性Ｘ線の漏れ、を考慮した補正を行う事が好ましい。なお、第１面３３Ａに沿った全方向からのシンチレーション光および特性Ｘ線の漏れ、および全方向の他の検出器３２へのシンチレーション光および特性Ｘ線の漏れを、全方向からの光影響、と称して説明する。
【０１６３】
この場合、第１補正部４８Ｃは、補正対象として設定された第１検出器３２Ａについて、第１面３３Ａに沿った全方向からの光影響を考慮した補正を行えばよい。
【０１６４】
例えば、図１２は、全方向からの光影響を考慮した補正の説明図である。
【０１６５】
図１２に示すように、検出器アレイ３３の中央に位置する検出器３２１３が、補正対象の第１検出器３２Ａとして設定されたとする。なお、検出器３２の各々の、シンチレータ層３５（図１２では図示省略）に対向する第１面３３Ａの形状は、四角形状であるものとする。
【０１６６】
シンチレーション光および特性Ｘ線の漏れが、検出器３２１３と隣接する周囲１検出器の距離の範囲までであるとする。この場合、第１補正部４８Ｃは、検出器３２１３の４辺の各辺の各々に接して隣接する４つの検出器（検出器３２８、検出器３２１２、検出器３２１４、検出器３２１８）と、検出器３２１３の４頂点の何れかのみに接して隣接する４つの検出器（検出器３２７、検出器３２９、検出器３２１７、および検出器３２１９）と、の各々について補正を行い、検出器３２１３における補正後のエネルギースペクトルを算出する。
【０１６７】
以上の処理により、補正部４８は、隣接する全方向（ここでは、図１２に示すような８方向）の検出器３２から漏れたシンチレーション光および特性Ｘ線や全方向の検出器３２へ漏れたシンチレーション光および特性Ｘ線による光影響を除いた、補正後のエネルギースペクトルを得ることが出来る。
【０１６８】
次に、制御部２２で実行する制御処理の手順を説明する。
【０１６９】
図１３は、制御部２２で実行する放射線検出処理の手順を示すフローチャートである。なお、図１３には、第３算出部４８Ａが、上述した第４群、第５群、第６群に拘らず、第１検出器３２Ａの第１信号と第２検出器３２Ｂの第２信号との複数の同期信号対の内、実際に補正に用いる同期信号対の数を算出するときに用いる補正率を算出する場合を示した。
【０１７０】
まず、取得部４４が、検出器アレイ３３における複数の検出器３２の各々で検出された信号を取得する（ステップＳ１００）。
【０１７１】
次に、閾値算出部４５が、ステップＳ１００で検出された信号を用いて、各検出器３２の各々ごとに、第２閾値Ｖｔｈと、第１閾値Ｅｔｈと、を算出する（ステップＳ１０２）。そして、閾値算出部４５は、各検出器３２ごとに算出した、第１閾値Ｅｔｈおよび第２閾値Ｖｔｈを、各検出器３２の識別情報に対応づけて記憶部４２に記憶する（ステップＳ１０４）。
【０１７２】
次に、制御部２２は、特定・補正処理を実行する（ステップＳ１０６）。そして、本ルーチンを終了する。
【０１７３】
図１４は、図１３にステップＳ１０６の特定・補正処理の手順を示すフローチャートである。
【０１７４】
まず、設定部４６が、複数の検出器３２の内、ステップＳ２０２〜ステップＳ２２８の処理を未処理の１つの検出器３２を、補正対象の第１検出器３２Ａとして設定する（ステップＳ２００）。
【０１７５】
次に、特定部４７の第１特定部４７Ａが、検出器アレイ３３に設けられた複数の検出器３２の内、特定された補正対象の第１検出器３２Ａで検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器３２Ｂの第１群を特定する（ステップＳ２０２）。
【０１７６】
次に、第２算出部４７Ｂが、第１群に属する第２検出器３２Ｂの各々について、検出された全ての信号に対する、第１信号に同期する第２信号の割合を算出する（ステップＳ２０４）。
【０１７７】
次に、第２特定部４７Ｃが、第１群に属する第２検出器３２Ｂの内、第２群に属する第２検出器３２Ｂを特定する（ステップＳ２０６）。上述したように、第２群に属する第２検出器３２Ｂは、第１群に属する第２検出器３２Ｂの内、第１検出器３２Ａに隣接する位置から離れる方向に向かって配列された複数の第２検出器３２Ｂの各々で検出された第２信号の割合の低下が飽和した、第２検出器３２Ｂである。
【０１７８】
次に、第３特定部４７Ｄが、第１検出器３２Ａの第１信号の補正に用いる検出器３２を特定する（ステップＳ２０８）。ステップＳ２０８では、第３特定部４７Ｄは、第１群に属する第２検出器３２Ｂの内、第２群に属さない第２検出器３２Ｂを、第１信号の補正に用いる検出器３２として特定する。すなわち、第３特定部４７Ｄが、第３群に属する第２検出器３２Ｂを特定する。
【０１７９】
次に、第３算出部４８Ａが、第３群に属する第２検出器３２Ｂの各々について、補正率を算出する（ステップＳ２１０）。そして、第３算出部４８Ａは、算出した補正率を、対応する第２検出器３２Ｂの識別情報に対応づけて記憶部４２へ記憶する。
【０１８０】
次に、第１算出部４８Ｂが、第３群に属する第２検出器３２Ｂの内、ステップＳ２１４〜ステップＳ２２０の処理を未処理の１つの第２検出器３２Ｂを決定する（ステップＳ２１２）。
【０１８１】
次に、第１算出部４８Ｂは、設定部４６によって補正対象として設定された第１検出器３２Ａと、ステップＳ２１２で決定した第２検出器３２Ｂと、における、第１信号と該第１信号に同期する第２信号との同期信号対の数（Ｍとする（Ｍは１以上の整数））を算出する（ステップＳ２１４）。
【０１８２】
次に、第１算出部４８Ｂは、算出した、Ｍ個の同期信号対の内、補正に用いる同期信号対の数（Ｋとする（Ｋは１以上の整数））を算出する（ステップＳ２１６）。第１算出部４８Ｂは、ステップＳ２１４で算出した同期信号対のＭ個に、ステップＳ２１２で決定した第２検出器３２Ｂに対応する補正率（ステップＳ２１０で算出）を乗算した乗算値を、補正に用いる同期信号対の数（Ｋ個）として算出する。
【０１８３】
次に、第１補正部４８Ｃが、ステップＳ２１６で算出した数Ｋの同期信号対の各々について、各同期信号対に含まれる第１信号の波高値に対応する第１エネルギーＥａを補正した、補正後の第１エネルギーＥｃ、および該第１エネルギーに対する割当てるカウント数を算出する（ステップＳ２１８）。ステップＳ２１８の処理の詳細は、後述する。
【０１８４】
第１補正部４８Ｃは、第３群に属する全ての第２検出器３２Ｂの各々について、ステップＳ２１４〜ステップＳ２１８の処理済であるか否かを判断する（ステップＳ２２０）。未処理の第２検出器３２Ｂが有る場合（ステップＳ２２０：Ｎｏ）、ステップＳ２２２へ進む。ステップＳ２２２では、第１補正部４８Ｃは、第３群に属する第２検出器３２Ｂの内、ステップＳ２１４〜ステップＳ２１８の処理を未処理の１つの第２検出器３２Ｂを決定する（ステップＳ２２２）。そして、上記ステップＳ２１４へ戻る。
【０１８５】
一方、第３群に属する全ての第２検出器３２Ｂの各々について、ステップＳ２１４〜ステップＳ２１８の処理済である場合（ステップＳ２２０：Ｙｅｓ）、ステップＳ２２４へ進む。
【０１８６】
ステップＳ２２４では、第１補正部４８Ｃが、ステップＳ２１８の処理よって算出された、第１信号に対応する補正後の第１エネルギーＥｃ、および該第１エネルギーに対する割当てるカウント数を用いて、補正対象の第１検出器３２Ａの補正後のエネルギースペクトルを算出する（ステップＳ２２４）。
【０１８７】
次に、第１補正部４８Ｃは、全方向からの光影響を考慮した補正後のエネルギースペクトルを算出する（ステップＳ２２６）。
【０１８８】
そして、第１補正部４８Ｃは、ステップＳ２２６で算出した補正後のエネルギースペクトルを、補正対象として設定された第１検出器３２Ａに対応する、補正後のエネルギースペクトルとして記憶部４２へ記憶する（ステップＳ２２８）。
【０１８９】
次に、設定部４６が、検出器アレイ３３に設けられた全ての検出器３２について、補正後のエネルギースペクトルを算出済であるか否かを判断する（ステップＳ２３０）。ステップＳ２３０で否定判断（ステップＳ２３０：Ｎｏ）すると、ステップＳ２３２へ進む。
【０１９０】
ステップＳ２３２では、設定部４６は、検出器アレイ３３に設けられた全ての検出器３２の内、ステップＳ２０２〜ステップＳ２２８の処理を未処理の１つの検出器３２を、新たな補正対象の第１検出器３２Ａとして設定する（ステップＳ２３２）。そして、上記ステップＳ２０２へ戻る。
【０１９１】
一方、ステップＳ２３０で肯定判断すると（ステップＳ２３０：Ｙｅｓ）、本ルーチンを終了する。
【０１９２】
次に、図１４のステップＳ２１８の処理を詳細に説明する。図１５は、ステップＳ２１８の補正後の第１エネルギーＥｃの算出処理の手順を示すフローチャートである。
【０１９３】
まず、第１算出部４８Ｂは、Ｋ個の同期信号対の内、未処理の１つの同期信号を選択する（ステップＳ３００）。このＫ個は、ステップＳ２１６（図１４参照）で算出された同期信号対の数である。
【０１９４】
次に、第１算出部４８Ｂは、選択された同期信号に含まれる、第１信号の波高値に対応する第１エネルギーＥａを読取る（ステップＳ３０２）。次に、第１算出部４８Ｂは、選択された同期信号に含まれる、第２信号の波高値に対応する第２エネルギーＥｂを読取る（ステップＳ３０４）。
【０１９５】
次に、第１算出部４８Ｂは、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥを、記憶部４２から読取る（ステップＳ３０６）。
【０１９６】
なお、以下のステップＳ３０８〜ステップＳ３３４では、第１エネルギーＥａ、第２エネルギーＥｂ、およびシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥとして、ステップＳ３００〜ステップＳ３０６で読取った値を用いる。
【０１９７】
次に、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａおよび第２エネルギーＥｂの双方が、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥと不一致であるか否かを判断する（ステップＳ３０８）。
【０１９８】
ステップＳ３０８で肯定判断すると（ステップＳ３０８：Ｙｅｓ）、ステップＳ３１０へ進む。ステップＳ３１０では、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａが第２エネルギーＥｂ未満であるか否かを判断する（ステップＳ３１０）。
【０１９９】
ステップＳ３１０で肯定判断すると（ステップＳ３１０：Ｙｅｓ）、ステップＳ３１２へ進む。ステップＳ３１２では、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａが第１閾値Ｅｔｈ未満であるか否かを判断する（ステップＳ３１２）。ステップＳ３１２で用いる第１閾値Ｅｔｈは、ステップＳ１０２（図１３参照）で算出されたものである。第１算出部４８Ｂは、ステップＳ２１２（図１４参照）で決定した第２検出器３２Ｂの識別情報に対応する第１閾値Ｅｔｈを記憶部４２から読取り、ステップＳ３１２の判断に用いればよい。
【０２００】
ステップＳ３１２で肯定判断すると（ステップＳ３１２：Ｙｅｓ）、ステップＳ３１４へ進む。ステップＳ３１４では、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃを“０”とし、割当てるカウント数を“０”とする（ステップＳ３１４）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２０１】
一方、上記ステップＳ３１２で否定判断すると（ステップ３１２：Ｎｏ）、ステップＳ３１６へ進む。ステップＳ３１６では、第１算出部４８Ｂは、補正前の第１エネルギーＥａを、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出すると共に、割当てるカウント数を“１”とする（ステップＳ３１６）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２０２】
また、上記ステップＳ３１０で否定判断すると（ステップＳ３１０：Ｎｏ）、ステップＳ３１８へ進む。ステップＳ３１８では、第１算出部４８Ｂは、第２エネルギーＥｂが第１閾値Ｅｔｈ未満であるか否かを判断する（ステップＳ３１８）。第１算出部４８Ｂは、ステップＳ３１８で用いる第１閾値Ｅｔｈを、ステップＳ３１２と同様にして取得すればよい。
【０２０３】
ステップＳ３１８で肯定判断すると（ステップＳ３１８：Ｙｅｓ）、ステップＳ３２０へ進む。ステップＳ３２０では、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃを“第１エネルギーＥａ＋第２エネルギーＥｂ”の値とすると共に、割当てるカウント数を“１”とする（ステップＳ３２０）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２０４】
ステップＳ３１８で否定判断すると（ステップＳ３１８：Ｎｏ）、ステップＳ３２２へ進む。ステップＳ３２２では、第１算出部４８Ｂは、補正前の第１エネルギーＥａを、補正後の第１エネルギーＥｃとして算出すると共に、割当てるカウント数を“１”とする（ステップＳ３２２）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２０５】
一方、上記ステップＳ３０８で否定判断すると（ステップＳ３０８：Ｎｏ）、ステップＳ３２４へ進む。ステップＳ３２４では、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥであるか否かを判断する（ステップＳ３２４）。
【０２０６】
ステップＳ３２４で肯定判断すると（ステップＳ３２４：Ｙｅｓ）、ステップＳ３２６へ進む。ステップＳ３２６では、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃを“０”とすると共に、割当てるカウント数を“０”とする（ステップＳ３２６）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２０７】
一方、ステップＳ３２４で否定判断すると（ステップＳ３２４：Ｎｏ）、ステップＳ３２８へ進む。ステップＳ３２８では、第１算出部４８Ｂは、第１エネルギーＥａ≠シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥであるか否かを判断する（ステップＳ３２８）。
【０２０８】
ステップＳ３２８で肯定判断すると（ステップＳ３２８：Ｙｅｓ）、ステップＳ３３０へ進む。ステップＳ３３０では、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃを“第１エネルギーＥａ＋第２エネルギーＥｂ”の値とすると共に、割当てるカウント数を“１”とする（ステップＳ３３０）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２０９】
一方、ステップＳ３２８で否定判断すると（ステップＳ３２８：Ｎｏ）、ステップＳ３３２へ進む。ステップＳ３２８で否定判断する場合とは、具体的には、第１エネルギーＥａ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥ、且つ、第２エネルギーＥｂ＝シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーＥｘ±ΔＥである場合である。
【０２１０】
ステップＳ３３２では、第１算出部４８Ｂは、補正後の第１エネルギーＥｃを“（第１エネルギーＥａ＋第２エネルギーＥｂ）の値とすると共に、割当てるカウント数を“０．５”とする（ステップＳ３３２）。そして、後述するステップＳ３３４へ進む。
【０２１１】
ステップＳ３３４では、第１算出部４８Ｂは、ステップＳ３０８〜ステップＳ３３２の処理によって算出された補正後の第１エネルギーＥｃを、ステップＳ３００で選択された同期信号対に含まれる第１信号の、補正後の第１エネルギーＥｃとして、記憶部４２に記憶する。このとき、第１算出部４８Ｂは、ステップＳ３０８〜ステップＳ３３２の処理によって算出された補正後の第１エネルギーＥｃと、算出された割当てるカウント数と、を対応づけて記憶部４２に記憶する。
【０２１２】
次に、第１補正部４８Ｃは、Ｋ個の同期信号対の全てについて、ステップＳ３００〜ステップＳ３３４の処理が処理済であるか否かを判断する（ステップＳ３３６）。ステップＳ３３６で否定判断すると（ステップＳ３３６：Ｎｏ）、上記ステップＳ３００へ戻る。一方、ステップＳ３３６で肯定判断すると（ステップＳ３３６：Ｙｅｓ）、本ルーチンを終了する。
【０２１３】
なお、第３算出部４８Ａが、各群（第４群、第５群、第６群）の各々ごとに、補正率を算出した場合、第１算出部４８Ｂは、各群（第４群、第５群、第６群）に属する同期信号対の数Ｍ’に、各群に対応する補正率を乗算した乗算値を、補正に用いる同期信号対の数Ｋ’として算出すればよい。そして、この場合、第１算出部４８Ｂは、各群（第４群、第５群、第６群）に属する、選択したＫ’個の同期信号対の各々ごとに、補正後の第１エネルギーＥｃと、割当てるカウント数を算出すればよい。そして、第１補正部４８Ｃは、上記ステップＳ２２４と同様にして、補正対象の第１検出器３２Ａの補正後のエネルギースペクトルを算出すればよい。
【０２１４】
以上説明したように、本実施の形態の放射線検出装置１０は、シンチレータ層３５と、複数の検出器３２と、設定部４６と、特定部４７と、補正部４８と、を備える。シンチレータ層３５は、放射線Ｌをシンチレーション光に変換する。検出器３２は、シンチレータ層３５に対向する第１面３３Ａに沿って配列され、光を検出する。設定部４６は、複数の検出器３２の内、補正対象の第１検出器３２Ａを設定する。特定部４７は、複数の検出器３２の内、第１検出器３２Ａで検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器３２Ｂを特定する。補正部４８は、第２検出器３２Ｂで検出された信号の内、第１信号に同期する同期信号としての第２信号と、第１信号と、シンチレータ層３５を構成するシンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、第１検出器３２Ａで検出された光のエネルギースペクトルを補正する。
【０２１５】
このように、本実施の形態の放射線検出装置１０は、複数の検出器３２の内、第１検出器３２Ａで検出された第１信号に同期する同期信号を検出した、第２検出器３２Ｂで検出された同期信号である第２信号と、シンチレータ素材の特性Ｘ線エネルギーと、に基づいて、第１検出器３２Ａで検出された光のエネルギースペクトルを補正する。すなわち、本実施の形態の放射線検出装置１０は、第１信号と、第１信号に同期する同期信号である第２信号と、特性Ｘ線エネルギーと、を用いて、検出器３２間で生じる光学的クロストークによる影響を求め、光のエネルギースペクトルを補正する。
【０２１６】
従って、本実施の形態の放射線検出装置１０は、検出精度向上を図ることができる。
【０２１７】
次に、上記実施の形態の放射線検出装置１０のハードウェア構成について説明する。図１６は、上記実施の形態の放射線検出装置１０のハードウェア構成例を示すブロック図である。
【０２１８】
上記実施の形態の放射線検出装置１０は、Ｉ／Ｆ部８８、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）８０、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）８２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）８４、及びＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）８６などが、バス９０により相互に接続されており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成となっている。
【０２１９】
ＣＰＵ８０は、放射線検出装置１０の全体の処理を制御する演算装置である。ＲＡＭ８４は、ＣＰＵ８０による各種処理に必要なデータを記憶する。ＲＯＭ８２は、ＣＰＵ８０による各種処理を実現するプログラム等を記憶する。ＨＤＤ８６は、上述した記憶部４２に格納されるデータを記憶する。Ｉ／Ｆ部８８は、外部装置や外部端末に通信回線等を介して接続し、接続した外部装置や外部端末との間でデータを送受信するためのインタフェースである。
【０２２０】
上記実施の形態の放射線検出装置１０で実行される上記各種処理を実行するためのプログラムは、ＲＯＭ８２などに予め組み込んで提供される。
【０２２１】
なお、上記実施の形態の放射線検出装置１０で実行されるプログラムは、これらの装置にインストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録されて提供するように構成してもよい。
【０２２２】
また、上記実施の形態の放射線検出装置１０で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成してもよい。また、上記実施の形態の放射線検出装置１０における上記各処理を実行するためのプログラムを、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成してもよい。
【０２２３】
上記実施の形態の放射線検出装置１０で実行される上記各種処理を実行するためのプログラムは、上述した各部が主記憶装置上に生成されるようになっている。
【０２２４】
なお、上記ＨＤＤ８６に格納されている各種情報、すなわち記憶部４２に格納されている各種情報は、外部装置（例えばサーバ）に格納してもよい。この場合には、該外部装置とＣＰＵ８０と、を、Ｉ／Ｆ部８８を介して接続した構成とすればよい。
【０２２５】
なお、上記には、本発明の実施の形態を説明したが、上記実施の形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上記新規の実施の形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。上記実施の形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【０２２６】
１０  放射線検出装置
３５  シンチレータ層
３２、３２１〜３２ｎ  検出器
３２Ａ  第１検出器
３２Ｂ  第２検出器
４６  設定部
４７  特定部
４７Ａ  第１特定部
４７Ｂ  第２算出部
４７Ｃ  第２特定部
４７Ｄ  第３特定部
４８  補正部
４８Ａ  第３算出部
４８Ｂ  第１算出部
４８Ｃ  第１補正部
【図１】
2016142718.tif 000003
【図２】
2016142718.tif 000004
【図３】
2016142718.tif 000005
【図４】
2016142718.tif 000006
【図５】
2016142718.tif 000007
【図６】
2016142718.tif 000008
【図７】
2016142718.tif 000009
【図８】
2016142718.tif 000010
【図９】
2016142718.tif 000011
【図１０】
2016142718.tif 000012
【図１１】
2016142718.tif 000013
【図１２】
2016142718.tif 000014
【図１３】
2016142718.tif 000015
【図１４】
2016142718.tif 000016
【図１５】
2016142718.tif 000017
【図１６】
2016142718.tif 000018