(57)【要約】【課題】  後発性欠陥画素の検出において、検出した欠陥画素の種類を判定し、正しく補正を行う。【解決手段】  ある画素を欠陥画素として検出した場合、その検出条件に応じた値を判定値に加算し記憶する。また、前回の欠陥画素検出で欠陥画素とみなされた画素が次の検出で通常画素とみなされた場合には判定値を減算する。それぞれの画素の判定値の総数に応じて欠陥画素の種類を判定し、欠陥画素に応じた補正を行う。もし後発性の欠陥画素ならば補正し、一定期間発生したり、発生しなかったりする欠陥画素ならばリアルタイムに行う欠陥画素補正の参考用にマークをする。この補正処理を全画素で行う。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素を備える撮像素子と、
前記撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子の欠陥画素の情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、
前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の検出頻度を数値化して判定値を生成する検出頻度数値化手段とを有し、
前記検出頻度数値化手段によって生成された判定値を前記欠陥画素の情報として前記欠陥画素情報記憶手段に記憶させることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記検出頻度数値化手段は、注目画素が前記欠陥画素検出手段により欠陥画素として検出された場合に、前記判定値を増加させることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記検出頻度数値化手段は、注目画素が前記欠陥画素検出手段により欠陥画素として検出されなかった場合に、前記判定値を減少させることを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記検出頻度数値化手段によって生成された前記判定値に応じて、欠陥画素の種類を判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段をさらに有し、
前記検出頻度数値化手段によって生成された前記判定値に応じて、前記欠陥画素を補正するか否かを判定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
撮影条件を取得する撮影条件取得手段をさらに有し、
前記検出頻度数値化手段は、注目画素が前記欠陥画素検出手段により欠陥画素として検出された場合に、前記撮影条件に応じて前記判定値を増加させることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記撮影条件は、シャッター速度を含むことを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記撮影条件は、撮影感度を含むことを特徴とする請求項６又は７に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記撮影条件は、温度を含むことを特徴とする請求項６乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子を用いた撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラが具備するＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の撮像素子には、一部の画素に通常画素と出力信号レベルの異なる欠陥画素が存在している。この欠陥画素は、画像データの記録時や表示時に、いわゆるキズとして現れることとなり、画質性能劣化の一因になる。
【０００３】
この欠陥画素の出力を、例えば周辺の非欠陥画素の画像情報を用いて補正することで、画質性能の劣化をある程度防ぐことができる。欠陥画素の位置は、主にデジタルカメラの製造過程で検出され、その位置情報がカメラ内に備えられたフラッシュＲＯＭ等のメモリに記憶される。そして記憶された欠陥画素の位置情報に基づいて、撮影毎に欠陥画素出力の補正が行われる。
【０００４】
ところで、このような撮像素子における欠陥画素の中には、デジタルカメラが製品として出荷された後に発生するものが存在することがわかっている。このように製品出荷後に発生した欠陥画素に対しては、例えばユーザがその製品をサービスセンターに持ち込むか、あるいは、製品によってはユーザ自身で欠陥画素検出動作を行うプログラムを実行させることで対処する必要がある。
【０００５】
特許文献１、２には、複数回、同一画素から欠陥画素を検出した場合、欠陥画素の位置情報を記録して補正を行う撮像装置が記載されている。この撮像装置によれば、後発性の欠陥画素の出力を補正することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０００−２８２１６６号
【特許文献２】特開２００８−０１１５６７号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記従来例において、後発性の欠陥画素を補正することができるものの、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴を持つ欠陥画素をも常に補正してしまう。そのため、その欠陥画素が発生していない時にも補正処理が行われ、被写体によっては画像の品質低下を招いてしまっているという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、複数の画素を備える撮像素子と、前記撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記撮像素子の欠陥画素の情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の検出頻度を数値化して判定値を生成する検出頻度数値化手段とを有し、前記検出頻度数値化手段によって生成された判定値を前記欠陥画素の情報として前記欠陥画素情報記憶手段に記憶させることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
欠陥画素の検出頻度を数値化した判定値を生成することにより、欠陥画素を適切に判定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例のブロック図である。
【図２】本実施例の検出用フローチャートである。
【図３】本実施例の検出用フローチャートである。
【図４】本実施例の補正用フローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。図１は、本発明の実施例の構成を示す図である。図１において、画像処理装置１００は、デジタルカメラであり、以下に説明する各構成を備えている。
【００１２】
撮影レンズ１０は、光学像を電気信号に変換する撮像素子１４上に被写体像を結像させる。機械式シャッター１２は絞り機能を備え、撮像素子１４への露光量を調節する。Ａ／Ｄ変換器１６は撮像素子１４のアナログ信号出力をディジタル信号に変換する。
【００１３】
タイミング発生回路１８は、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給し、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０により制御される。機械式シャッター１２以外にも、タイミング発生回路１８による撮像素子１４のリセットタイミングの制御によって、動画撮影などを行う際に電子シャッターとして撮像素子１４の蓄積時間を制御することが可能である。
【００１４】
画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６からのデータ或いはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路２０によって画像の切り出し、変倍処理を行うことで電子ズーム機能が実現される。
【００１５】
また、画像処理回路２０においては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいて、システム制御回路５０が露光制御部４０、測距制御部４２を制御することで、ＴＴＬ方式のＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理を行っている。さらに、画像処理回路２０においては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理も行っている。
【００１６】
メモリ制御回路２２は、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮・伸長回路３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６のデータは、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いは直接メモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４或いはメモリ３０に書き込まれる。
【００１７】
画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データは、Ｄ／Ａ変換器２６を介してＬＣＤ等からなる画像表示部２８により表示される。画像表示部２８を用いて撮像した画像データを逐次表示すれば、電子ファインダー機能を実現することが可能である。また、画像表示部２８は、システム制御回路５０の指示により任意に表示をＯＮ／ＯＦＦすることが可能であり、表示をＯＦＦにした場合には画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することが出来る。
【００１８】
メモリ３０は、撮影した静止画像や動画像を格納し、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を備えている。これにより、複数枚の静止画像を連続して撮影する連射撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能となる。また、メモリ３０はシステム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００１９】
圧縮・伸長回路３２は、メモリ３０に格納された画像データを読み込んで適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。露光制御部４０は、絞り機能を備えるシャッター１２を制御し、フラッシュ４８と連携することによりフラッシュ調光機能も有するものである。測距制御部４２は、撮影レンズ１０のフォーカシングを制御する。ズーム制御部４４は、撮影レンズ１０のズーミングを制御する。バリア制御部４６は、保護手段であるバリア１０２の動作を制御する。フラッシュ４８は、ＡＦ補助光の投光機能、フラッシュ調光機能も有する。
【００２０】
露光制御部４０、測距制御部４２は、撮像した画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果に基づき、システム制御回路５０によりＴＴＬ方式を用いて制御される。システム制御回路５０は、画像処理装置１００全体を制御する。メモリ５２は、システム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶する。
【００２１】
表示部５４は、システム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声等を用いて動作状態やメッセージ等を表示する。そして、画像処理装置１００の操作部近辺の視認し易い位置に設置され、例えば液晶表示装置（ＬＣＤ）やＬＥＤ、スピーカー等の組み合わせにより構成されている。また、表示部５４は、その一部の機能が光学ファインダー１０４内に設置されている。
【００２２】
表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤ等に表示するものとしては、シングルショット／連写撮影表示、セルフタイマー表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示などである。また、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表示などを表示してもよい。さらに、ブザー設定表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００及び２１０の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示等も可能である。また、表示部５４の表示内容のうち、光学ファインダー１０４内に表示するものとしては、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、等がある。不揮発性メモリ５６は、電気的に消去・記録可能であり、例えばＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。メモリ５６は、後述するように撮像素子の欠陥画素の情報を記憶する。
【００２３】
システム制御回路５０の各種の動作指示を入力するための操作手段は、スイッチやダイアル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせで構成される。
【００２４】
モードダイアルスイッチ６０は、電源オフ、自動撮影モード、撮影モード、パノラマ撮影モード、動画撮影モード、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード、テレビ受信モード等の各機能モードを切り替え設定することが出来る。シャッタースイッチ６２（ＳＷ１）は、シャッターボタンの操作途中でＯＮとなり、ＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ＥＦ（フラッシュプリ発光）処理等の動作開始を指示する。
【００２５】
シャッタースイッチ６４（ＳＷ２）は、シャッターボタンの操作完了でＯＮとなり、露光処理、現像処理、圧縮処理、記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。露光処理は、撮像素子１２から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０に画像データを書き込む処理である。現像処理は、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算による画像変換処理である。圧縮処理は、メモリ３０から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮する処理である。記録処理は、記録媒体２００或いは２１０に画像データを書き込む処理である。
【００２６】
表示切替スイッチ６６は、画像表示部２８の表示を切替えることが出来る。この機能により、光学ファインダー１０４を用いて撮影を行う際に、ＴＦＴ  ＬＣＤ等から成る画像表示部への電流供給を遮断することにより、省電力を図ることが可能となる。操作部７０は、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写／連写／セルフタイマー切り替えボタン等の各種ボタンやタッチパネル等からなる。また、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付／時間設定ボタン等もある。
【００２７】
ズームスイッチ７２は、ユーザが撮像画像の倍率変更指示を行う。このズームスイッチ７２は、撮像画角を望遠側に変更させるテレスイッチと、広角側に変更させるワイドスイッチからなる。このズームスイッチ７２を用いることにより、ズーム制御部４４に撮影レンズ１０の撮像画角の変更を指示し、光学ズーム操作を行うトリガとなる。また、画像処理回路２０による画像の切り出しや、画素補間処理などによる撮像画角の電子的な変更のトリガともなる。被写体検出部７４は、被写体を検出する素子などがある。被写体として、顔検出する場合も考えられる。
【００２８】
電源制御部８０は、電源８６と接続して通信するためのコネクタ８２を備え、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成されており、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。また、検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部へ供給する。電源８６は、電源制御部８０と接続して通信するためのコネクタ８４を備え、アルカリ電池やリチウム電池等の一次電池やＮｉＣｄ電池やＮｉＭＨ電池、Ｌｉ電池等の二次電池、ＡＣアダプター等からなる。
【００２９】
インタフェース９０及び９４は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体との通信を行い、コネクタ９２及び９６は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行う。なお、本実施例では記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタを２系統持つものとして説明している。もちろん、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタは、単数或いは複数、いずれの系統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格のインターフェース及びコネクタを組み合わせて備える構成としても構わない。インターフェース及びコネクタとしては、ＳＤカードやＣＦカード等の規格に準拠したものを用いて構成しても構わない。
【００３０】
さらに、インタフェース９０及び９４、コネクタ９２及び９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カード等の規格に準拠したものを用いて構成することも可能である。すなわち、ＬＡＮカードやモデムカード、ＵＳＢカード、ＩＥＥＥ１３９４カード、ＳＣＳＩカード、ＰＨＳ等の通信カード、等の各種通信カードを接続することにより、他のコンピュータやプリンタ等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を転送し合うことが出来る。
【００３１】
保護手段であるバリア１０２は、画像処理装置１００のレンズ１０を含む撮像部を覆う事により、撮像部の汚れや破損を防止する。光学ファインダー１０４は、画像表示部２８による電子ファインダー機能を使用すること無しに、光学ファインダーのみを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダー１０４内には、表示部５４の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設置されている。
【００３２】
通信部１１０は、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、ＬＡＮ、無線通信、等の各種通信機能を有する。コネクタ（無線通信の場合はアンテナ）１１２は、通信部１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続する。メモリカードやハードディスク等の記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０２、画像処理装置１００とのインタフェース２０４、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２０６を備えている。メモリカードやハードディスク等の記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２１２、画像処理装置１００とのインタフェース２１４、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２１６を備えている。
【００３３】
以上のようなデジタルカメラ１００において、使用者によりシャッタースイッチ６４が押されると撮影が行われる。ここで、撮影感度が高感度であったり、高温、あるいはシャッター速度が遅いといったノイズが発生しやすい撮影条件であることが撮影条件取得手段により取得された場合には、通常画像を撮影した直後にシャッターを閉じて通常画像と同一条件で黒画像を撮影する。そして、通常画像から黒画像を減算するノイズリダクション処理を実行する。また、撮影された黒画像をメモリ３０に保存し、メモリ３０に保存した黒画像をもとに欠陥画素の検出を行う。図２、図３は、本実施例における黒画像に基づく欠陥画素検出処理のフローチャートである。
【００３４】
まず、撮像素子１４の画素数Ｘと画素位置ｘを取得する（Ｓ２０１）。前回までの検出で得た、その画素位置の判定値ｈと画素値Ｓｘを取得する（Ｓ２０２）。ここで、判定値ｈとは、欠陥画素の検出頻度を数値化することで生成したものである（検出頻度数値化手段）。そして、判定値ｈに応じて、注目画素が後発性の欠陥画素であるのか、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素であるのかを判定することができる。
【００３５】
次に、Ｓ２０２で得た画素位置ｘの画素値Ｓｘと、欠陥画素であるかどうかを判定するための閾値Ｔｋとを比較し、画素位置ｘの画素が欠陥画素であるか否かを判定する（Ｓ２０３）。Ｓ２０３で欠陥画素と判定された場合には、前回までの検出で得た判定値ｈにその検出時の条件に応じた値を加算することで増加させる（Ｓ２０７）。欠陥画素は撮影条件により検出のしやすさが異なるため、検出の難しい条件で欠陥画素と判定された場合は、通常加算する１に加えてさらに条件に応じた値を加算する。
【００３６】
Ｓ２０７の検出条件に応じた判定値の加算処理の詳細を図３に示す。撮影時の温度ＴｍがＳ℃より低いかどうかを判定し（Ｓ３０１）、撮影時の温度ＴｍがＳ℃未満である時は判定値ｈにｓを加算（Ｓ３０５）する。また、温度がＴ℃より低いかどうかを判定し（Ｓ３０２）、温度がＴ℃未満（Ｓ＜Ｔ）である時は判定値ｈにｔ（ｔ＜ｓ）を加算する（Ｓ３０４）。
【００３７】
図２に戻り、Ｓ２０３で欠陥画素と判定されなかった場合には、前回までに欠陥画素として検出されたことのある画素であるかどうかを判定値ｈをもとに確認する（Ｓ２０４）。前回までに欠陥画素として検出されたことのある画素であった場合には、判定値ｈからｕを減算することで減少させる（Ｓ２０６）。ここで減算処理を行うのは、この画素が後発性の欠陥画素である可能性が低いため、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素であることを明確にするためである。
【００３８】
Ｓ２０４で前回までに欠陥画素として検出されたことのない画素に関しては通常画素であると判定し（Ｓ２０５）、全画素の検出が行われたどうかを確認する（Ｓ２１４）。全画素の検出が行われていない場合には画素位置ｘを進め（Ｓ２１５）、同様の処理を繰り返す。また、全画素の検出が行われていた場合には検出処理を終了する。
【００３９】
一方、Ｓ２０６で判定値ｈの減算、またはＳ２０７で判定値ｈの加算を行った画素に関しては、減算、加算後の判定値ｈが欠陥画素種別判定閾値Ｈよりも大きい値であるかどうかを判定する（Ｓ２０８）。欠陥画素種別判定閾値Ｈとは、判定値ｈにより後発性の欠陥または一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥なのかを判断するための閾値である。この欠陥画素種別判定閾値Ｈと比較した結果、判定値ｈが欠陥画素種別判定閾値Ｈよりも大きい値である場合（ｈ＞Ｈ）には、後発性の欠陥画素（宇宙線傷）であると判定する（Ｓ２１０）。また、判定値ｈが欠陥画素種別判定閾値Ｈに及ばない場合（ｈ≦Ｈ）には、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素（変動傷）であると判定する（Ｓ２０９）。
【００４０】
続いて、欠陥画素データを記憶するメモリ５６（欠陥画素情報記憶手段）に空き領域があるかどうかを確認する（Ｓ２１１）。メモリ５６内に空き領域がなければ、判定値ｈの低い画素データを削除し（Ｓ２１２）、今回判定された欠陥画素の判定値ｈと位置情報ｘを保存する（Ｓ２１３）。メモリ５６内に空き領域があれば、そのまま今回判定された欠陥画素の判定値ｈと位置情報ｘを保存する（Ｓ２１３）。
【００４１】
次に、全画素の検出が終了したどうかを確認し（Ｓ２１４）、全画素の検出が行われていない場合には、画素位置ｘを進め（Ｓ２１５）、同様の処理を繰り返し、全画素の検出が行われていた場合には検出を終了する。
【００４２】
同様の処理を動画モードにおいても実施することができる。ただし、動画では遮光状態で撮影する機会がないため、例えば起動時やシャットダウン時に撮像素子１４を動画モードで動作させて黒画像を撮影し、欠陥画素の検出を行う。また、本実施例の静止画撮影モードで行う欠陥画素の検出データにより、静止画モードから動画モードへ画素位置を変換し、動画モードにおいて欠陥画素の補正を行うという例も考えられる。なお、その際にはｈ＞Ｈの画素のみ補正すればよい。
【００４３】
次に、図２および図３のフローチャートによる全画素における欠陥画素の検出処理が終了すると、続いて補正処理を行う。図４を用いて欠陥画素の補正を行う実施例について説明する。画像処理回路２０には、画素欠陥情報に基づいて欠陥画素と判定された画素を周辺画素から補間する欠陥画素補正回路と、撮影画像を解析してリアルタイムに欠陥画素を検出して補正するリアルタイム欠陥画素検出回路が存在しているものとする。リアルタイム欠陥画素検出回路は画像を入力して欠陥画素判定を実施するが、参考画素位置情報を入力すると参考情報のある画素の検出を通常画素よりも低い閾値で検出するものとする。
【００４４】
まず、対象となる欠陥画素の画素位置ｘを取得する（Ｓ４０１）。そして検出時に保存した、その画素の判定値ｈを取得する（Ｓ４０２）。Ｓ４０２で取得した判定値ｈにより後発性の欠陥画素（宇宙線傷）であるかどうかを判定し（Ｓ４０３）、後発性の欠陥画素であると判定された場合には、周辺の画素値をもとに補正処理を行う（Ｓ４０６）。Ｓ４０３において後発性の欠陥画素ではないと判定された場合には、Ｓ４０２で取得した判定値ｈにより一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素（変動傷）であるかどうかを判定する（Ｓ４０４）。一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素であると判定された場合には、リアルタイム欠陥画素補正の際の参考画素位置情報としてマークを付ける（Ｓ４０５）。
【００４５】
Ｓ４０５およびＳ４０６においてそれぞれの処理を行ったら、全ての欠陥画素の補正が行われたどうかを確認する（Ｓ４０７）。全ての欠陥画素の補正が行われていない場合には、画素位置ｘを進めて（Ｓ４０８）、同様の処理を行う。全ての欠陥画素の補正が行われていた場合には補正処理を終了する。
【００４６】
本実施例によって検出した欠陥画素が後発性の欠陥であるのか、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥であるのかを識別することができ、それぞれの欠陥に対して適切な補正処理を行うことで画像の品質を保つことが可能となるメリットが生じる。
【００４７】
（その他の実施例）
以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本発明はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。上述の実施形態の一部を適宜組み合わせてもよい。
【００４８】
また、上述の実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムを、記録媒体から直接、或いは有線／無線通信を用いてプログラムを実行可能なコンピュータを有するシステム又は装置に供給し、そのプログラムを実行する場合も本発明に含む。
【００４９】
従って、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、該コンピュータに供給、インストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も本発明に含まれる。
【００５０】
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等、プログラムの形態を問わない。
【００５１】
プログラムを供給するための記録媒体としては、例えば、ハードディスク、磁気テープ等の磁気記録媒体、光／光磁気記憶媒体、不揮発性の半導体メモリでもよい。
【００５２】
また、プログラムの供給方法としては、コンピュータネットワーク上のサーバに本発明を形成するコンピュータプログラムを記憶し、接続のあったクライアントコンピュータがコンピュータプログラムをダウンロードしてプログラムするような方法も考えられる。
【符号の説明】
【００５３】
１４  撮像素子
２０  画像処理回路
５０  システム制御回路
５６  メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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