(57)【要約】【課題】より高い精度で個別回路の状態についての検査結果を実測値に基づいて取得する。【解決手段】回路網における複数の個別回路ＤＣＵの中に異常個別回路ＤＣＵと正常個別回路ＤＣＵとが混在しているときには、ステップ８６で異常個別回路ＤＣＵを故障させた回路網についての故障ネットリストを作成し、ステップ８７でこの故障ネットリストを使用して正常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーション値をシミュレーションによって取得し、ステップ８８でこのシミュレーション値と対応する基準範囲とを比較して得られる正常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーション上での検査結果に基づいて、ステップ８９で実測値に基づく状態検査結果ＲＥｍを検証する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電子部品で構成される回路網における複数の個別回路についての被測定量を実測する測定部と、処理部とを備え、当該処理部が、前記測定部で実測された前記被測定量を実測値として取得する実測処理と、前記複数の個別回路毎の前記実測値と前記回路網が正常状態のときの当該個別回路毎の前記被測定量が含まれる基準範囲とを比較して、当該実測値が当該基準範囲に含まれる正常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を外れる異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査する状態検査処理とを実行することにより、当該回路網の状態を検査するための当該複数の個別回路毎の状態検査結果を取得する状態検査結果取得装置であって、
前記処理部は、
前記複数の個別回路の中に、前記状態検査処理において前記異常状態であるとの状態検査結果が取得された異常個別回路と当該状態検査処理において前記正常状態であるとの状態検査結果が取得された正常個別回路とが混在しているときには、
前記回路網のネットリストに基づいて、前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた当該回路網についての故障ネットリストを作成する故障ネットリスト作成処理と、
前記作成した故障ネットリストを使用して、前記複数の個別回路のうちの前記状態検査処理において前記正常状態であるとの前記状態検査結果となったすべての正常個別回路についての前記被測定量のシミュレーション値をシミュレーションして取得するシミュレーション値取得処理と、
前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値と前記基準範囲とを比較して、当該シミュレーション値が当該基準範囲に含まれるか否かを検査するシミュレーション検査処理と、
前記シミュレーション検査処理での検査結果が、前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれているとの検査結果であるか否かを判別するシミュレーション結果判別処理とを実行すると共に、当該シミュレーション結果判別処理において前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていると判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果が正しいと判別し、一方、当該シミュレーション結果判別処理において当該すべての正常個別回路のうちのいずれかの正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていないと判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果のいずれかに誤りがあると判別する状態検査結果取得装置。
【請求項２】
前記処理部は、前記状態検査処理において、前記異常状態として、前記実測値が前記基準範囲を下回る短絡異常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を上回る開放異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査し、
前記故障ネットリスト作成処理において、前記状態検査処理での前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた前記故障ネットリストを作成する請求項１記載の状態検査結果取得装置。
【請求項３】
複数の電子部品で構成される回路網における複数の個別回路についての被測定量を実測して実測値として取得する実測処理と、
前記複数の個別回路毎の前記実測値と前記回路網が正常状態のときの当該個別回路毎の前記被測定量が含まれる基準範囲とを比較して、当該実測値が当該基準範囲に含まれる正常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を外れる異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査する状態検査処理とを実行することにより、当該回路網の状態を検査するための当該複数の個別回路毎の状態検査結果を取得する状態検査結果取得方法であって、
前記複数の個別回路の中に、前記状態検査処理において前記異常状態であるとの状態検査結果が取得された異常個別回路と当該状態検査処理において前記正常状態であるとの状態検査結果が取得された正常個別回路とが混在しているときには、
前記回路網のネットリストに基づいて、前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた当該回路網についての故障ネットリストを作成する故障ネットリスト作成処理と、
前記作成した故障ネットリストを使用して、前記複数の個別回路のうちの前記状態検査処理において前記正常状態であるとの前記状態検査結果となったすべての正常個別回路についての前記被測定量のシミュレーション値をシミュレーションして取得するシミュレーション値取得処理と、
前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値と前記基準範囲とを比較して、当該シミュレーション値が当該基準範囲に含まれるか否かを検査するシミュレーション検査処理と、
前記シミュレーション検査処理での検査結果が、前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれているとの検査結果であるか否かを判別するシミュレーション結果判別処理とを実行すると共に、当該シミュレーション結果判別処理において前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていると判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果が正しいと判別し、一方、当該シミュレーション結果判別処理において当該すべての正常個別回路のうちのいずれかの正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていないと判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果のいずれかに誤りがあると判別する状態検査結果取得方法。
【請求項４】
前記状態検査処理において、前記異常状態として、前記実測値が前記基準範囲を下回る短絡異常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を上回る開放異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査し、
前記故障ネットリスト作成処理において、前記状態検査処理での前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた前記故障ネットリストを作成する請求項３記載の状態検査結果取得方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の電子部品で構成される回路網における複数の個別回路についての被測定量を実測すると共にこの実測値と基準範囲とを比較して、回路網の状態を検査するための個別回路毎の状態検査結果を取得する状態検査結果取得装置および状態検査結果取得方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、下記の特許文献１に開示された回路基板検査装置では、プローブが接触させられている個別回路としての導体パターンの被測定量としての静電容量を測定部が測定（実測）し、制御部は、この測定された静電容量（実測値）と、予め良品基板から吸収された判定基準となる基準値とを比較して、導体パターンの良否判定を行っている（個別回路の状態についての検査結果を取得している）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−１４１３２号公報（第３頁、第３図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記の回路基板検査装置のように測定部で実測した実測値を直ちに個別回路としての導体パターンについての最終的な被測定量として特定して基準値と比較することで、個別回路の状態についての検査結果を取得する方法（状態検査結果取得方法）には、以下のような改善すべき課題が存在している。すなわち、一つの個別回路と他の一つの個別回路とが同じ回路要素を共有している場合（例えば、２つの個別回路が同じ電子部品をその一部に含んでいる場合）があるが、このような場合において、特に、一つの個別回路の実測値と基準値とを比較して得られるこの一つの個別回路の状態についての検査結果が異常状態のときに、他の一つの個別回路の実測値が上記の一つの個別回路が異常状態であることに起因して不安定になることがある。このため、この他の一つの個別回路の実測値と基準値とを比較して得られるこの他の一つの個別回路の状態についての検査結果が、正常状態であるとの検査結果に本来なるべきところ異常状態であるとの検査結果になったり、逆に、異常状態であるとの検査結果に本来なるべきところ正常状態であるとの検査結果になったりすることがあり、これを改善すべきとの課題が存在している。
【０００５】
本発明は、かかる課題を改善するためになされたものであり、より高い精度で個別回路の状態についての検査結果を実測値に基づいて取得し得る状態検査結果取得装置および状態検査結果取得方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく請求項１記載の状態検査結果取得装置は、複数の電子部品で構成される回路網における複数の個別回路についての被測定量を実測する測定部と、処理部とを備え、当該処理部が、前記測定部で実測された前記被測定量を実測値として取得する実測処理と、前記複数の個別回路毎の前記実測値と前記回路網が正常状態のときの当該個別回路毎の前記被測定量が含まれる基準範囲とを比較して、当該実測値が当該基準範囲に含まれる正常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を外れる異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査する状態検査処理とを実行することにより、当該回路網の状態を検査するための当該複数の個別回路毎の状態検査結果を取得する状態検査結果取得装置であって、前記処理部は、前記複数の個別回路の中に、前記状態検査処理において前記異常状態であるとの状態検査結果が取得された異常個別回路と当該状態検査処理において前記正常状態であるとの状態検査結果が取得された正常個別回路とが混在しているときには、前記回路網のネットリストに基づいて、前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた当該回路網についての故障ネットリストを作成する故障ネットリスト作成処理と、前記作成した故障ネットリストを使用して、前記複数の個別回路のうちの前記状態検査処理において前記正常状態であるとの前記状態検査結果となったすべての正常個別回路についての前記被測定量のシミュレーション値をシミュレーションして取得するシミュレーション値取得処理と、前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値と前記基準範囲とを比較して、当該シミュレーション値が当該基準範囲に含まれるか否かを検査するシミュレーション検査処理と、前記シミュレーション検査処理での検査結果が、前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれているとの検査結果であるか否かを判別するシミュレーション結果判別処理とを実行すると共に、当該シミュレーション結果判別処理において前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていると判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果が正しいと判別し、一方、当該シミュレーション結果判別処理において当該すべての正常個別回路のうちのいずれかの正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていないと判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果のいずれかに誤りがあると判別する。
【０００７】
請求項２記載の状態検査結果取得装置は、請求項１記載の状態検査結果取得装置において、前記処理部は、前記状態検査処理において、前記異常状態として、前記実測値が前記基準範囲を下回る短絡異常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を上回る開放異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査し、前記故障ネットリスト作成処理において、前記状態検査処理での前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた前記故障ネットリストを作成する。
【０００８】
また、請求項３記載の状態検査結果取得方法は、複数の電子部品で構成される回路網における複数の個別回路についての被測定量を実測して実測値として取得する実測処理と、前記複数の個別回路毎の前記実測値と前記回路網が正常状態のときの当該個別回路毎の前記被測定量が含まれる基準範囲とを比較して、当該実測値が当該基準範囲に含まれる正常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を外れる異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査する状態検査処理とを実行することにより、当該回路網の状態を検査するための当該複数の個別回路毎の状態検査結果を取得する状態検査結果取得方法であって、前記複数の個別回路の中に、前記状態検査処理において前記異常状態であるとの状態検査結果が取得された異常個別回路と当該状態検査処理において前記正常状態であるとの状態検査結果が取得された正常個別回路とが混在しているときには、前記回路網のネットリストに基づいて、前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた当該回路網についての故障ネットリストを作成する故障ネットリスト作成処理と、前記作成した故障ネットリストを使用して、前記複数の個別回路のうちの前記状態検査処理において前記正常状態であるとの前記状態検査結果となったすべての正常個別回路についての前記被測定量のシミュレーション値をシミュレーションして取得するシミュレーション値取得処理と、前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値と前記基準範囲とを比較して、当該シミュレーション値が当該基準範囲に含まれるか否かを検査するシミュレーション検査処理と、前記シミュレーション検査処理での検査結果が、前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれているとの検査結果であるか否かを判別するシミュレーション結果判別処理とを実行すると共に、当該シミュレーション結果判別処理において前記すべての正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていると判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果が正しいと判別し、一方、当該シミュレーション結果判別処理において当該すべての正常個別回路のうちのいずれかの正常個別回路についての前記シミュレーション値が前記基準範囲に含まれていないと判別したときには、前記状態検査処理で取得した前記複数の個別回路毎の前記状態検査結果のいずれかに誤りがあると判別する。
【０００９】
請求項４記載の状態検査結果取得方法は、請求項３記載の状態検査結果取得方法において、前記状態検査処理において、前記異常状態として、前記実測値が前記基準範囲を下回る短絡異常状態であるか、当該実測値が当該基準範囲を上回る開放異常状態であるかを前記複数の個別回路毎に検査し、前記故障ネットリスト作成処理において、前記状態検査処理での前記異常状態となるように前記異常個別回路を故障させた前記故障ネットリストを作成する。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載の状態検査結果取得装置および請求項３記載の状態検査結果取得方法によれば、実測値に基づく状態検査結果を直ちに個別回路の状態についての最終的な状態検査結果とする構成と比較して、シミュレーションによって検証された状態検査結果を最終的な状態検査結果とすることにより、より高い精度の状態検査結果を取得することができる。このため、この状態検査結果取得装置および状態検査結果取得方法で取得した各個別回路の状態検査結果を使用することにより、回路網の良否をより正確に検査することが可能となる。
【００１１】
また、請求項２記載の状態検査結果取得装置および請求項４記載の状態検査結果取得方法によれば、短絡異常状態や開放異常状態など具体的な異常状態での故障ネットリストに基づいて、実測値に基づく状態検査結果をより正確に検証することができるため、より一層高い精度の状態検査結果を取得することができる。このため、この状態検査結果取得装置および状態検査結果取得方法で取得した各個別回路の状態検査結果を使用することにより、回路網の良否をより一層正確に検査することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】状態検査結果取得装置１の構成図である。
【図２】回路網ＮＥの接続図である。
【図３】状態検査結果取得装置１の動作（状態検査結果取得方法）を説明するための状態検査結果取得処理８０についてのフローチャートである。
【図４】正常個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６についての実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍと各故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２を使用したシミュレーションでの検査結果ＲＥｓを示す結果図である。
【図５】正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６についての実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍと各故障ネットリストＮＥｆａ１〜ＮＥｆａ１８を使用したシミュレーションでの検査結果ＲＥｓを示す結果図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、状態検査結果取得方法、およびこの状態検査結果取得方法を実行する状態検査結果取得装置の各実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１４】
最初に、状態検査結果取得装置の構成について、図面を参照して説明する。
【００１５】
図１に示す状態検査結果取得装置としての状態検査結果取得装置１は、一例として、測定部２、処理部３、記憶部４および出力部５を備え、測定部２で測定した回路網ＮＥ（一例として図２に示す回路網）における複数の個別回路ＤＣＵについての被測定量に基づいて個別回路ＤＣＵ毎の状態検査結果（後述の状態検査結果ＲＥｍ）を取得可能に構成されている。このようにして取得された各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍは、すべての個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍが正常状態のときには、回路網ＮＥは良状態であり、一方、いずれかの個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍが異常状態のときには、回路網ＮＥは不良状態であるというように、回路網ＮＥの良否を検査するための情報として使用される。
【００１６】
なお、本例では回路網ＮＥの一例として図２に示す回路網ＮＥを例に挙げて説明するが、この図２の回路網ＮＥに限定されるものではなく、回路網ＮＥとは、回路基板に実装されている複数の電子部品のうちの互いに導体パターンや他の電子部品を介して電気的に接続されている２以上の電子部品の集合体であり、同図に示すように、端部（ターミナル部）に測定部２のプローブを接触させることが可能な検査ポイントＴＰ１〜ＴＰ４（以下、特に区別しないときには、検査ポイントＴＰともいう）が配設されているものをいう。
【００１７】
また、回路網ＮＥにおける個別回路ＤＣＵとは、回路網に設けられた複数の検査ポイントＴＰのうちの一対の検査ポイントＴＰ間に形成される二端子回路や、複数の検査ポイントＴＰのうちの一対の検査ポイントＴＰを入力端子とし、かつ他の一対の検査ポイントＴＰを出力端子とする二端子対回路をいうものとする。例えば、図２に示す回路網ＮＥにおける個別回路ＤＣＵとは、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ２間に配設された抵抗７１，７２およびコンデンサ７５で形成される二端子回路ＤＣＵ１、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ３間に配設された抵抗７１，７３で形成される二端子回路ＤＣＵ２、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ４間に配設された抵抗７１，７４およびコンデンサ７５で形成される二端子回路ＤＣＵ３、一対の検査ポイントＴＰ２，ＴＰ３間に配設された抵抗７２，７３およびコンデンサ７５で形成される二端子回路ＤＣＵ４、一対の検査ポイントＴＰ２，ＴＰ４間に配設された抵抗７２，７４で形成される二端子回路ＤＣＵ５、一対の検査ポイントＴＰ３，ＴＰ４間に配設された抵抗７３，７４およびコンデンサ７５で形成される二端子回路ＤＣＵ６、並びに一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ２を入力端子とし、かつ一対の検査ポイントＴＰ３，ＴＰ４を出力端子とする二端子対回路ＤＣＵ７をいうが、本例では発明の理解を容易にするため、二端子対回路ＤＣＵ７を除く二端子回路ＤＣＵ１〜ＤＣＵ６を個別回路ＤＣＵとする。
【００１８】
測定部２は、一例として、回路網に設けられた複数の検査ポイントＴＰに一対一で接触可能な複数（検査ポイントＴＰと同数）の不図示のプローブ（いわゆる治具型プローブ）、各個別回路ＤＣＵについての被測定量を測定する不図示の測定回路、および各プローブと測定回路との間に配設されて、被測定量を測定しようとする個別回路ＤＣＵの検査ポイントＴＰに接触されているプローブを選択的に測定回路に接続する不図示のスキャナ回路を備えている。本例では一例として、測定部２は、個別回路ＤＣＵとしての二端子回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ２，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６のインピーダンスＺ１，Ｚ２，Ｚ３，Ｚ４，Ｚ５，Ｚ６（特に区別しないときにはインピーダンスＺともいう）についての絶対値｜Ｚ１｜，｜Ｚ２｜，｜Ｚ３｜，｜Ｚ４｜，｜Ｚ５｜，｜Ｚ６｜（特に区別しないときには絶対値｜Ｚ｜ともいう）を被測定量として測定（実測）して、測定した値（実測値ｍｅＺ１，ｍｅＺ２，ｍｅＺ３，ｍｅＺ４，ｍｅＺ５，ｍｅＺ６（特に区別しないときには実測値ｍｅＺともいう））を処理部３に出力する。
【００１９】
なお、測定部２で測定する被測定量としては、二端子回路については、上記したインピーダンス以外に、インダクタンスや、キャパシタンスや、抵抗値などを採用することができる。また、二端子対回路については、入力端子としての一対の検査ポイントＴＰ間に電圧や電流を入力したときに、出力端子としての一対の検査ポイントＴＰ間に出力される電圧や電流を測定部２で測定する被測定量とすることもできる。
【００２０】
処理部３は、一例として、コンピュータで構成されて、測定部２に対して各個別回路ＤＣＵの被測定量（本例では一例としてインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜）を測定させて実測値ｍｅＺとして取得すると共に、この実測値ｍｅＺに基づいて各個別回路ＤＣＵの状態を検査して（正常状態、短絡異常状態および開放異常状態のいずれの状態にあるかを検査して）、各個別回路ＤＣＵについての状態検査結果ＲＥｍを取得する状態検査結果取得処理８０（図３参照）を実行する。また、処理部３は、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍを出力する出力処理を実行する。
【００２１】
記憶部４は、一例として、ＨＤＤ（Hard Disk Drive ）や、ＲＡＭなどの半導体メモリなどで構成されている。また、記憶部４には、処理部３の動作プログラムが予め記憶されると共に、回路網ＮＥについての設計データ（ネットリスト）、回路網ＮＥにおける検査対象とする複数の個別回路ＤＣＵについての回路データ（各個別回路ＤＣＵについての検査ポイントＴＰのデータ、および各個別回路ＤＣＵを構成する電子部品のデータ）、正常状態の各個別回路ＤＣＵの被測定量（本例ではインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜）が含まれる基準範囲ｒｅｆＺなどが予め記憶されている。また、記憶部４には、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍや、後述するシミュレーション値ｓｉＺおよび検査結果ＲＥｓなどが記憶される。
【００２２】
出力部５は、一例として、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）などの表示装置で構成されて、処理部３から出力される状態検査結果ＲＥｍを画面に表示する。なお、出力部５は、表示装置に代えて、外部インターフェース回路を有する構成として、処理部３から出力される後述の状態検査結果を、外部インターフェース回路を介して外部装置に出力するようにしてもよい。
【００２３】
次いで、状態検査結果取得装置１の動作について、状態検査結果取得方法と併せて説明する。なお、測定部２の複数のプローブは、回路網に設けられた複数の検査ポイントＴＰのうちの対応する検査ポイントＴＰに一対一で接触させられているものとする。
【００２４】
この状態において、処理部３は、図３に示す状態検査結果取得処理８０を実行して、各個別回路ＤＣＵについての状態検査結果ＲＥｍを取得する。
【００２５】
この状態検査結果取得処理８０では、処理部３は、まず、実測処理を実行する（ステップ８１）。この実測処理では、処理部３は、記憶部４に記憶されている回路データに基づいて、回路網ＮＥにおける検査対象とする複数の個別回路ＤＣＵを１つずつ、二端子回路ＤＣＵ１，二端子回路ＤＣＵ２，・・・，二端子回路ＤＣＵ５，二端子回路ＤＣＵ６というように順次特定しながら、特定した個別回路ＤＣＵのインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜を測定部２に対して測定させて実測値ｍｅＺ１，ｍｅＺ２，・・・，ｍｅＺ５，ｍｅＺ６を取得し、各個別回路ＤＣＵに対応させて記憶部４に記憶させる。
【００２６】
次いで、処理部３は、状態検査処理を実行する（ステップ８２）。この状態検査処理では、処理部３は、個別回路ＤＣＵ毎に、記憶部４から読み出した実測値ｍｅＺと、記憶部４から読み出した対応する基準範囲ｒｅｆＺとを比較して、実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺに含まれているときには個別回路ＤＣＵは正常状態であり、また実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを下回っているときには個別回路ＤＣＵは短絡異常状態であり、また実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを上回っているときには個別回路ＤＣＵは開放異常状態であると判別して、この各個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ２，・・・，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６の状態を示す検査結果を状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，・・・，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６（以下、特に区別しないときには状態検査結果ＲＥｍ）として、各個別回路ＤＣＵに対応させて記憶部４に記憶させる。
【００２７】
続いて、処理部３は、記憶部４に記憶されている各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍがすべて正常状態であるか否かを判別して（ステップ８３）、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍがすべて正常状態であるときには、この状態検査結果ＲＥｍがすべて正しいと判別して（ステップ８４）、状態検査結果取得処理８０を終了させる。また、処理部３は、出力処理を実行して、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍを出力部５に出力させる。
【００２８】
一方、処理部３は、ステップ８３での判別の結果、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍのうちの少なくとも１つが異常状態（短絡異常状態または開放異常状態）であるときには、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍがすべて異常状態であるか否かを判別して（ステップ８５）、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍがすべて異常状態であるときには、この状態検査結果ＲＥｍがすべて正しいと判別して（ステップ８４）、状態検査結果取得処理８０を終了させる。また、処理部３は、出力処理を実行して、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍを出力部５に出力させる。
【００２９】
一方、処理部３は、ステップ８５での判別の結果、各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍのうちの少なくとも１つが正常状態（つまり、状態検査結果ＲＥｍが正常状態の個別回路ＤＣＵ（以下、正常個別回路ＤＣＵともいう）と、状態検査結果ＲＥｍが異常状態の個別回路ＤＣＵ（以下、異常個別回路ＤＣＵともいう）とが混在している状態）であるときには、状態検証処理を実行する。
【００３０】
この状態検証処理では、処理部３は、まず、故障ネットリスト作成処理を実行する（ステップ８６）。この故障ネットリスト作成処理では、処理部３は、記憶部４に記憶されている回路網ＮＥについての設計データ（ネットリスト）に基づいて、状態検査処理での異常状態（短絡異常状態または開放異常状態）となるように各異常個別回路ＤＣＵを故障させた回路網ＮＥについての故障ネットリストＮＥｆａを作成して、記憶部４に記憶させる。
【００３１】
例えば、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，・・・，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６のうちの状態検査結果ＲＥｍ２のみが短絡異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ３，・・・，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、状態検査結果ＲＥｍ２が短絡異常状態となった個別回路（異常個別回路）ＤＣＵ２は、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ３間に直列に配設された抵抗７１，７３で形成される回路であることから、抵抗７１，７３のうちのいずれか一方が短絡して異常状態となる故障パターンのときに、実測値ｍｅＺ２が基準範囲ｒｅｆＺ２を下回る短絡異常状態となる。このため、処理部３は、回路網ＮＥについての設計データ（ネットリスト）に基づいて、抵抗７１のみが短絡して異常状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ１と、抵抗７２のみが短絡して異常状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ２とを作成する。
【００３２】
また、他の例として、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，・・・，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６のうちの状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，ＲＥｍ３が開放異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、状態検査結果ＲＥｍ１が開放異常状態となった個別回路（異常個別回路）ＤＣＵ１は、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ２間に直列に配設された抵抗７１，７２およびコンデンサ７５で形成される回路であることから、抵抗７１，７２およびコンデンサ７５のうちのいずれか１つが開放状態となって異常状態となる故障パターンのときに、実測値ｍｅＺ１が基準範囲ｒｅｆＺ１を上回る開放異常状態となる。
【００３３】
また、状態検査結果ＲＥｍ２が開放異常状態となった個別回路（異常個別回路）ＤＣＵ２は、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ３間に配設された抵抗７１，７３で形成される回路であることから、抵抗７１，７３のうちのいずれか一方が開放状態となって異常状態となる故障パターンのときに、実測値ｍｅＺ２が基準範囲ｒｅｆＺ２を上回る開放異常状態となる。また、状態検査結果ＲＥｍ３が開放異常状態となった個別回路（異常個別回路）ＤＣＵ２は、一対の検査ポイントＴＰ１，ＴＰ４間に配設された抵抗７１，７４およびコンデンサ７５で形成される回路であることから、抵抗７１，７４およびコンデンサ７５のうちのいずれか１つが開放状態となって異常状態となる故障パターンのときに、実測値ｍｅＺ３が基準範囲ｒｅｆＺ３を上回る開放異常状態となる。
【００３４】
このため、処理部３は、個別回路ＤＣＵ１についての異常状態（抵抗７１のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターン、抵抗７２のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターン、およびコンデンサ７５のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターンの３つの故障パターン）と、個別回路ＤＣＵ２についての異常状態（抵抗７１のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターンと、抵抗７３のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターンの２つの故障パターン）と、個別回路ＤＣＵ３についての異常状態（抵抗７１のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターン、抵抗７４のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターン、およびコンデンサ７５のみが開放状態で開放異常状態となる故障パターンの３つの故障パターン）との組み合わせで実現される複数の異常状態のときの回路網ＮＥについての故障ネットリストＮＥｆａ（個別回路ＤＣＵ１の上記の故障パターンと、個別回路ＤＣＵ２の上記の故障パターンと、個別回路ＤＣＵ３の上記の故障パターンとを組み合わせて実現される複数の故障パターンのそれぞれでの故障ネットリストＮＥｆａ）を複数作成する。
【００３５】
この例では、各個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ２，ＤＣＵ３が共有する抵抗７１のみが開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ１、各個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ２が共有する抵抗７１が開放状態で、個別回路ＤＣＵ３のコンデンサ７５（個別回路ＤＣＵ２のコンデンサでもある）が開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ２、各個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ２が共有する抵抗７１が開放状態で、個別回路ＤＣＵ３の抵抗７４が開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ３、個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３が共有する抵抗７１が開放状態で、個別回路ＤＣＵ２の抵抗７３が開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ４、個別回路ＤＣＵ１の抵抗７１が開放状態で、個別回路ＤＣＵ２の抵抗７３が開放状態で、個別回路ＤＣＵ３のコンデンサ７５が開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ５、個別回路ＤＣＵ１の抵抗７１が開放状態で、個別回路ＤＣＵ２の抵抗７３が開放状態で、個別回路ＤＣＵ３の抵抗７４が開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ６、個別回路ＤＣＵ１の抵抗７２が開放状態で、個別回路ＤＣＵ２，ＤＵＣ３が共有する抵抗７１が開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ７、・・・というように、３故障パターン×２故障パターン×３故障パターンの合計１８個の故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ１〜ＮＥｆａ１８を作成する。
【００３６】
このようにして、処理部３は、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，・・・，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６のうちの複数の状態検査結果ＲＥｍが異常状態のときには、状態検査結果ＲＥｍが異常状態となった各異常個別回路ＤＣＵについて、異常個別回路ＤＣＵが状態検査処理での異常状態（短絡異常状態または開放異常状態）となるように、異常個別回路ＤＣＵを構成する各電子部品を個別に故障させた故障パターンを求め、このようにして求めた異常個別回路ＤＣＵ毎の故障パターンを組み合わせて実現される複数の故障パターンのそれぞれでの故障ネットリストＮＥｆａを複数作成する。
【００３７】
次いで、処理部３は、シミュレーション値取得処理を実行する（ステップ８７）。このシミュレーション値取得処理では、処理部３は、作成した故障ネットリストＮＥｆａを使用して、複数の個別回路ＤＣＵのうちの状態検査処理において正常状態であるとの検査結果となったすべての正常個別回路ＤＣＵの被測定量であるインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜のシミュレーション値ｓｉＺをシミュレーションして取得する。この場合、処理部３は、故障ネットリストＮＥｆａを複数作成したときには、すべての故障ネットリストＮＥｆａ毎に、正常個別回路ＤＣＵの被測定量であるインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜のシミュレーション値ｓｉＺを取得する。また、処理部３は、取得したシミュレーション値ｓｉＺについて、故障ネットリストＮＥｆａ毎に正常個別回路ＤＣＵに対応させて記憶部４に記憶させる。
【００３８】
例えば、上記したように、状態検査結果ＲＥｍ２のみが短絡異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ３，ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、処理部３は上記した２個の故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２を作成する。
【００３９】
このため、処理部３は、シミュレーション値取得処理では、この２つの故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２毎に、正常個別回路ＤＣＵ（この例では、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ３，ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態である個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６）のインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜のシミュレーション値ｓｉＺ１，ｓｉＺ３，ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６を取得する。以下、このシミュレーション値ｓｉＺ１，ｓｉＺ３，ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６と共に、状態検査結果ＲＥｍ２が正常状態であるときの個別回路ＤＣＵ２のインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜のシミュレーション値ｓｉＺ２も含めて、これらを区別しないときには、シミュレーション値ｓｉＺともいう。
【００４０】
また、例えば、上記したように、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，ＲＥｍ３が開放異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、処理部３は上記した１８個の故障ネットリストＮＥｆａ１〜ＮＥｆａ１８を作成する。
【００４１】
このため、処理部３は、シミュレーション値取得処理では、この１８つの故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２，・・・，ＮＥｆａ１７，ＮＥｆａ１８毎に、正常個別回路ＤＣＵ（この例では、状態検査結果ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態である個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６）のインピーダンスＺについての絶対値｜Ｚ｜のシミュレーション値ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６を取得する。
【００４２】
続いて、処理部３は、シミュレーション検査処理を実行する（ステップ８８）。このシミュレーション検査処理では、処理部３は、故障ネットリストＮＥｆａ毎に、すべての正常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーション値ｓｉＺと、対応する基準範囲ｒｅｆＺとを比較して、シミュレーション値ｓｉＺが対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれるか否かをシミュレーションにて検査する。また、処理部３は、そのシミュレーション検査結果ＲＥｓ（以下、単に検査結果ＲＥｓともいう）を、故障ネットリストＮＥｆａ毎に正常個別回路ＤＣＵに対応させて記憶部４に記憶させる。
【００４３】
これにより、例えば、状態検査結果ＲＥｍ２のみが短絡異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ３，ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、処理部３は、上記のようにして作成した２個の故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２を使用して、シミュレーション検査処理（ステップ８８）を実行する。このため、記憶部４には、図４に示すように、正常個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６毎に、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ３，ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６（いずれも正常状態）と共に、各故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２での検査結果ＲＥｓ１，ＲＥｓ３，ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６が記憶される。
【００４４】
また、例えば、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，ＲＥｍ３が開放異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、処理部３は、上記のようにして作成した１８個の故障ネットリストＮＥｆａ１〜ＮＥｆａ１８を使用して、シミュレーション検査処理（ステップ８８）を実行する。このため、記憶部４には、図５に示すように、正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６毎に、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６（いずれも正常状態）と共に、各故障ネットリストＮＥｆａ１〜ＮＥｆａ１８での検査結果ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６が記憶される。
【００４５】
次いで、処理部３は、シミュレーション結果判別処理（ステップ８９）を実行する。このシミュレーション結果判別処理では、処理部３は、図４や図５に示すように記憶部４に記憶されている故障ネットリストＮＥｆａのうちのいずれかの故障ネットリストＮＥｆａでの正常個別回路ＤＣＵについての検査結果ＲＥｓがすべて正常状態との検査結果であるか否かを判別する。
【００４６】
このステップ８９での判別の結果、いずれかの故障ネットリストＮＥｆａでの正常個別回路ＤＣＵについての検査結果ＲＥｓがすべて正常状態であるとき（すべて正常状態との検査結果ＲＥｓが存在しているとき）には、この故障ネットリストＮＥｆａでのすべての正常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーションでの検査結果ＲＥｓが、すべての正常個別回路ＤＣＵについての実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍと一致する。また、この故障ネットリストＮＥｆａでの異常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーションは実施していないが、そもそもこの故障ネットリストＮＥｆａは異常個別回路ＤＣＵである個別回路ＤＣＵを状態検査処理での異常状態としたときのネットリストであるから、この故障ネットリストＮＥｆａを用いたときの異常個別回路ＤＣＵである個別回路ＤＣＵについてのシミュレーションでの検査結果ＲＥｓも、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍと一致する。
【００４７】
このようにして、正常個別回路ＤＣＵについての検査結果ＲＥｓがすべて正常状態となる故障ネットリストＮＥｆａでは、すべての個別回路ＤＣＵについてのシミュレーションでの検査結果ＲＥｓが、すべての個別回路ＤＣＵについての実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍと一致することになる。このため、処理部３は、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍがすべて正しいと判別すると共に、この判別結果（すべての状態検査結果ＲＥｍは正しいとの判別結果）を記憶部４に記憶させて、この状態検査結果ＲＥｍについての状態検証処理を完了させ（ステップ８４）、状態検査結果取得処理８０を終了させる。また、処理部３は、出力処理を実行して、検証後の各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍを出力部５に出力させる。
【００４８】
一方、このステップ８９での判別の結果、いずれの故障ネットリストＮＥｆａでの正常個別回路ＤＣＵについての検査結果ＲＥｓにも、すべて正常状態となっている検査結果ＲＥｓが存在しないとき、言い換えれば、すべての故障ネットリストＮＥｆａでの正常個別回路ＤＣＵについての検査結果ＲＥｓに、異常状態であるとの検査結果ＲＥｓが含まれていることがある。この場合、検査結果ＲＥｓが異常となった故障ネットリストＮＥｆａでの故障パターンが回路網ＮＥに生じていたときに、正常個別回路ＤＣＵについての実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍのうちのいずれかが、状態検査処理（ステップ８２）において、本来、異常状態との検査結果となるべきところ、いずれかの実測値ｍｅＺに誤りがある結果、すべて正常状態であるとの検査結果となっている可能性や、異常個別回路ＤＣＵについての実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍが、状態検査処理（ステップ８２）において、本来、正常状態との検査結果となるべきところ、異常個別回路ＤＣＵについての実測値ｍｅＺに誤りがある結果、すべて異常状態であるとの検査結果となっている可能性がある。
【００４９】
したがって、処理部３は、このステップ８９での判別の結果が、いずれの故障ネットリストＮＥｆａでの正常個別回路ＤＣＵについての検査結果ＲＥｓにも、すべて正常状態となっている検査結果ＲＥｓが存在しないときには、実測値ｍｅＺに基づく各状態検査結果ＲＥｍのうちのいずれか１つ以上に誤りがある可能性が存在すると判別すると共に、この判別結果（各状態検査結果ＲＥｍのうちのいずれかに誤りがあるとの判別結果）を記憶部４に記憶させて、この各状態検査結果ＲＥｍについての状態検証処理を完了させ（ステップ９０）、状態検査結果取得処理８０を終了させる。なお、ステップ９０の完了後に状態検査結果取得処理８０を直ちに終了させる上記の構成に代えて、再度、ステップ８１に戻って、この状態検査結果取得処理８０を複数回繰り返す構成を採用することもできる。
【００５０】
例えば、上記したように、状態検査結果ＲＥｍ２のみが短絡異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ３，ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、処理部３は、上記した２個の故障ネットリストＮＥｆａ、つまり、抵抗７１のみが短絡して異常状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ１と、抵抗７２のみが短絡して異常状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ２とを作成して、シミュレーション検査処理（ステップ８８）を実行する。
【００５１】
この場合、この故障ネットリストＮＥｆａ１では、異常個別回路ＤＣＵ２だけでなく、正常個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３もこの異常個別回路ＤＣＵ２と同様にして抵抗７１を含んでいる。このため、この故障ネットリストＮＥｆａ１を使用したシミュレーションでの各正常個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６のシミュレーション値ｓｉＺ１，ｓｉＺ３，ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６のうちのシミュレーション値ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６については対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれる検査結果ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６となるが、シミュレーション値ｓｉＺ１，ｓｉＺ３については対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれない検査結果ＲＥｓ１，ＲＥｓ３となる。
【００５２】
また、この故障ネットリストＮＥｆａ２では、異常個別回路ＤＣＵ２だけでなく、正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ６もこの異常個別回路ＤＣＵ２と同様にして抵抗７３を含んでいる。このため、この故障ネットリストＮＥｆａ２を使用したシミュレーションでの各正常個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６のシミュレーション値ｓｉＺ１，ｓｉＺ３，ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６のうちのシミュレーション値ｓｉＺ１，ｓｉＺ３，ｓｉＺ５については対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれる検査結果ＲＥｓ１，ＲＥｓ３，ＲＥｓ５となるが、シミュレーション値ｓｉＺ４，ｓｉＺ６については対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれない検査結果ＲＥｓ４，ＲＥｓ６となる。
【００５３】
したがって、処理部３は、この例では、いずれの故障ネットリストＮＥｆａ１，ＮＥｆａ２での正常個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ３，ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６についての検査結果ＲＥｓ１，ＲＥｓ３，ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６にも、すべて正常状態となっている検査結果ＲＥｓが存在しないため、実測値ｍｅＺに基づく各状態検査結果ＲＥｍのうちのいずれか１つ以上に誤りがある可能性が存在すると判別する。
【００５４】
一方、例えば、上記したように、状態検査結果ＲＥｍ１，ＲＥｍ２，ＲＥｍ３が開放異常状態であり、他のすべての状態検査結果ＲＥｍ４，ＲＥｍ５，ＲＥｍ６が正常状態のときには、処理部３は、上記した１８個の故障ネットリストＮＥｆａ１〜ＮＥｆａ１８を作成して、シミュレーション検査処理（ステップ８８）を実行する。
【００５５】
この場合、各個別回路ＤＣＵ１，ＤＣＵ２，ＤＣＵ３が共有する抵抗７１のみが開放状態となる故障パターンでの故障ネットリストＮＥｆａ１を使用したシミュレーションにおいてのみ、各正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６が故障状態の電子部品を含まない状態となるため、各正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６のシミュレーション値ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６が対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれる検査結果ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６となり、残りの故障ネットリストＮＥｆａ２〜ＮＥｆａ１８を使用したシミュレーションにおいては、各正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６のうちのいずれかのシミュレーション値ｓｉＺ４，ｓｉＺ５，ｓｉＺ６が対応する基準範囲ｒｅｆＺに含まれない検査結果ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６となる。
【００５６】
したがって、処理部３は、この例では、少なくとも１つの故障ネットリストＮＥｆａ（この例では故障ネットリストＮＥｆａ１）での正常個別回路ＤＣＵ４，ＤＣＵ５，ＤＣＵ６についての検査結果ＲＥｓ４，ＲＥｓ５，ＲＥｓ６がすべて正常状態となっているため、実測値ｍｅＺに基づく各状態検査結果ＲＥｍが正しいと判別する。
【００５７】
このように、この状態検査結果取得装置１および状態検査結果取得方法では、回路網ＮＥにおける複数の個別回路ＤＣＵの中に異常個別回路ＤＣＵと正常個別回路ＤＣＵとが混在しているときには、異常個別回路ＤＣＵを故障させた回路網ＮＥについての故障ネットリストＮＥｆａを作成し、この故障ネットリストＮＥｆａを使用して正常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーション値ｓｉＺをシミュレーションにて取得し、このシミュレーション値ｓｉＺと対応する基準範囲ｒｅｆＺとを比較して得られる正常個別回路ＤＣＵについてのシミュレーション上での検査結果ＲＥｓに基づいて、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍを検証する。
【００５８】
したがって、この状態検査結果取得装置１および状態検査結果取得方法によれば、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍを直ちに個別回路ＤＣＵの状態についての最終的な状態検査結果ＲＥｍとする構成と比較して、シミュレーションによって検証された状態検査結果ＲＥｍを最終的な状態検査結果ＲＥｍとすることにより、より高い精度の状態検査結果ＲＥｍを取得することができる。このため、この状態検査結果取得装置１および状態検査結果取得方法で取得した各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍを使用することにより、回路網ＮＥの良否をより正確に検査することが可能となる。
【００５９】
また、この状態検査結果取得装置１および状態検査結果取得方法では、状態検査処理において、実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを下回る短絡異常状態であるか、実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを上回る開放異常状態であるかを複数の個別回路ＤＣＵ毎に検査し、故障ネットリスト作成処理において、状態検査処理での異常状態となるように異常個別回路を故障（つまり、短絡異常状態のときには短絡状態での故障、開放異常状態のときには開放状態での故障）させた故障ネットリストＮＥｆａを作成し、この故障ネットリストＮＥｆａに基づいて、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍを検証する。
【００６０】
したがって、この状態検査結果取得装置１および状態検査結果取得方法によれば、短絡異常状態や開放異常状態など具体的な異常状態での故障ネットリストＮＥｆａに基づいて、実測値ｍｅＺに基づく状態検査結果ＲＥｍをより正確に検証することができるため、より一層高い精度の状態検査結果ＲＥｍを取得することができる。このため、この状態検査結果取得装置１および状態検査結果取得方法で取得した各個別回路ＤＣＵの状態検査結果ＲＥｍを使用することにより、回路網ＮＥの良否をより一層正確に検査することが可能となる。
【００６１】
なお、上記の例では、状態検査処理において、実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを下回る短絡異常状態であるか、実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを上回る開放異常状態であるかを複数の個別回路ＤＣＵ毎に検査する構成を採用しているが、個別回路ＤＣＵについての異常状態の態様が、短絡異常状態および開放異常状態のいずれか一方しかあり得ない回路網ＮＥの場合には、異常個別回路ＤＣＵ毎に短絡異常状態であるか開放異常状態であるかを区別しないで、実測値ｍｅＺが基準範囲ｒｅｆＺを外れたときに短絡異常状態および開放異常状態のうちの予め決められた異常状態であると特定して、故障ネットリストＮＥｆａを作成する構成を採用することもできる。
【符号の説明】
【００６２】
１  状態検査結果取得装置
２  測定部
３  処理部
８０  状態検査結果取得
８１  実測処理
８２  状態検査処理
８６  故障ネットリスト作成処理
８７  シミュレーション値取得処理
８８  シミュレーション検査処理
８９  シミュレーション結果判別処理
ＤＣＵ  個別回路
ｍｅＺ
ＮＥ  回路網
ＮＥｆａ  故障ネットリスト
ｒｅｆＺ  基準範囲
ＲＥｍ  状態検査結果
ＲＥｓ  検査結果
ｓｉＺ  シミュレーション値
【図１】
2016044991.tif 000003
【図２】
2016044991.tif 000004
【図３】
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【図４】
2016044991.tif 000006
【図５】
2016044991.tif 000007