(57)【要約】【課題】本発明は、車両用診断装置に係り、マイコンが有する複数の機能におけるメモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間が互いに異なるときに、各メモリ領域の診断結果をそれぞれの影響時間内に確実に取得することにある。【解決手段】マイクロコンピュータによる制御プログラムの実行中、所定割り込み周期で所定データ量ずつメモリチェックを行う車両用診断装置は、マイクロコンピュータ内の複数の機能に対応して、メモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間に応じて分割された複数のメモリ領域を有するメモリと、メモリチェックを行うメモリ領域ごとに、上記の影響時間以内に該メモリ領域すべてのメモリチェックが完了するように、上記の所定割り込み周期及び上記の所定データ量の少なくとも何れか一方を変更する変更手段と、を備える。【選択図】図４
2016162120.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マイクロコンピュータによる制御プログラムの実行中、所定割り込み周期で所定データ量ずつメモリチェックを行う車両用診断装置であって、
前記マイクロコンピュータ内の複数の機能に対応して、メモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間に応じて分割された複数のメモリ領域を有するメモリと、
メモリチェックを行う前記メモリ領域ごとに、前記影響時間以内に該メモリ領域すべてのメモリチェックが完了するように、前記所定割り込み周期及び前記所定データ量の少なくとも何れか一方を変更する変更手段と、
を備えることを特徴とする車両用診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メモリチェックを行う車両用診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、車両用マイコン（マイクロコンピュータ）内のＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）を診断するシステムが知られている（例えば、特許文献１参照）。この特許文献１記載のシステムは、診断対象のＲＡＭを全ＲＡＭ領域のうち特定ラベルのＲＡＭに集約する。そして、車両制御の実行中、所定時間ごとに、その集約された診断対象ＲＡＭを診断（メモリチェック）する。このため、ＲＡＭの診断を短時間に確実に行うことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−２６７９４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、車両用マイコンは、車両モータを制御するモータ制御機能、ダイアグノーシス関連機能、通信機能、データ記憶機能など複数の機能を有する。これらの機能は、それぞれのデータがメモリに記憶されるものであるが、メモリ異常が制御出力に影響するまでに要する時間（影響時間）が互いに異なることがある。例えば、モータ制御機能については上記の影響時間が比較的短い一方、ダイアグ関連の機能については上記の影響時間が比較的長い。これらの各機能のデータが影響時間の長短に関係なく診断対象のメモリに記憶され、各機能それぞれのメモリ領域の診断がその機能やそのメモリ領域を区別することなく同じ時間ごとに同じデータ量ずつ行われるものとすると、影響時間が比較的短い機能について診断結果の取得がその影響時間を超えて遅延する事態が生じ得る。
【０００５】
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであり、マイコンが有する複数の機能におけるメモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間が互いに異なるときに、各メモリ領域の診断結果をそれぞれの影響時間内に確実に取得することが可能な車両用診断装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、マイクロコンピュータによる制御プログラムの実行中、所定割り込み周期で所定データ量ずつメモリチェックを行う車両用診断装置であって、前記マイクロコンピュータ内の複数の機能に対応して、メモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間に応じて分割された複数のメモリ領域を有するメモリと、メモリチェックを行う前記メモリ領域ごとに、前記影響時間以内に該メモリ領域すべてのメモリチェックが完了するように、前記所定割り込み周期及び前記所定データ量の少なくとも何れか一方を変更する変更手段と、を備える車両用診断装置である。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、マイコンが有する複数の機能におけるメモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間が互いに異なるときに、各メモリ領域の診断結果をそれぞれの影響時間内に確実に取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の一実施例である車両用診断装置の構成図である。
【図２】本実施例の車両用診断装置が備えるＣＰＵの各機能におけるメモリ領域の異常発生からその異常が制御出力に影響するまでに要する時間の一例を表した図である。
【図３】本実施例の車両用診断装置におけるメモリチェックを行う手順を表した図である。
【図４】本実施例の車両用診断装置においてメモリチェックするうえで機能ごとすなわちメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに実行される割り込みフローチャートである。
【図５】本実施例の車両用診断装置においてメモリとしてのＲＯＭをメモリチェックするうえで実行される制御ルーチンの一例のフローチャートである。
【図６】本実施例の車両用診断装置においてメモリとしてのＲＡＭをメモリチェックするうえで実行される制御ルーチンの一例のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を用いて、本発明に係る車両用診断装置の具体的な実施の形態について説明する。
【００１０】
図１は、本発明の一実施例である車両用診断装置１０の構成図を示す。図２は、本実施例の車両用診断装置１０が備えるＣＰＵの各機能におけるメモリ領域に異常が発生してからその異常が制御出力に影響するまでに要する時間の一例を表した図を示す。
【００１１】
本実施例の車両用診断装置１０は、例えば電池や燃料電池などの電源からインバータを介してモータに電力を供給するモータ制御システムに設けられる診断装置である。以下、車両用診断装置１０は、モータ制御に用いられるものとする。
【００１２】
図１に示す如く、車両用診断装置１０は、モータ制御用のマイクロコンピュータ（以下、マイコンと称す。）１２を備えている。マイコン１２には、ＣＰＵ（中央処理装置）１４、及び、ＲＯＭ（リードオンリーメモリ）やＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）などのメモリ１６が内蔵されている。
【００１３】
ＣＰＵ１４は、各種入力データやフィードバックデータなどに基づいてモータ制御を実行することができる。また、ＣＰＵ１４は、複数の機能に分割されることが可能である。具体的には、モータ制御に関連する機能（以下、制御関連機能と称す。）と、ダイアグノーシス処理に関連する機能（以下、ダイアグ関連機能と称す。）と、その他（例えば、通信やデータ記憶）の処理機能（以下、その他機能と称す。）と、に機能分割されることが可能である。以下、本実施例においては、上記３つの機能がＣＰＵ１４に与えられているものとする。更に、ＣＰＵ１４は、モータ制御の制御プログラムの実行中、メモリチェックを行うことが可能である。
【００１４】
メモリ１６は、上記３つの機能に対応して機能ごとに領域分割されている。すなわち、メモリ１６は、制御関連機能に対応する第１のメモリ領域Ｓ１と、ダイアグ関連機能に対応する第２のメモリ領域Ｓ２と、その他機能に対応する第３のメモリ領域Ｓ３と、を有している。各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３はそれぞれ、メモリ１６内において集約されており、予め定められたアドレスの範囲を占めている。各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３はそれぞれ、予め所定規模（大きさ）の容量を有している。以下、各メモリ領域Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の容量をＣ１，Ｃ２，Ｃ３とする。
【００１５】
ＣＰＵ１４の有する複数の機能は、メモリ１６における該当するメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３に異常が発生してからその異常が制御出力（例えばモータトルク）に影響するまでに要する時間（以下、影響時間と称す。）Ｔｅを相互に異にする。例えば図２に示す如く、制御関連機能の影響時間Ｔｅ１は４００ミリ秒であり、ダイアグ関連機能の影響時間Ｔｅ２は１秒であり、その他機能の影響時間Ｔｅ３は無し（無限大）である。ＣＰＵ１４は、影響時間Ｔｅに応じて制御関連機能とダイアグ関連機能とその他機能とに機能分割されている。また、メモリ１６は、影響時間Ｔｅに応じて分割された第１のメモリ領域Ｓ１と第２のメモリ領域Ｓ２と第３のメモリ領域Ｓ３とを有している。
【００１６】
次に、図３〜図５を参照して、本実施例の車両用診断装置１０におけるメモリチェック手法を説明する。
【００１７】
図３は、本実施例の車両用診断装置１０におけるメモリチェックを行う手順を表した図を示す。図４は、本実施例の車両用診断装置１０においてメモリチェックするうえで機能ごとすなわちメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに実行される割り込みフローチャートを示す。尚、図４（Ａ）には制御関連機能に対応する第１のメモリ領域Ｓ１を、図４（Ｂ）にはダイアグ関連機能に対応する第２のメモリ領域Ｓ２を、また、図４（Ｃ）にはその他機能に対応する第３のメモリ領域Ｓ３を、それぞれメモリチェックする場合を示す。図５は、本実施例の車両用診断装置１０においてメモリ１６としてのＲＯＭをメモリチェックするうえで実行される制御ルーチンの一例のフローチャートを示す。また、図６は、本実施例の車両用診断装置１０においてメモリ１６としてのＲＡＭをメモリチェックするうえで実行される制御ルーチンの一例のフローチャートを示す。
【００１８】
本実施例の車両用診断装置１０において、ＣＰＵ１４は、モータ制御の制御プログラムの実行中、メモリ１６のメモリチェックを行う。具体的には、メモリチェックを、図３に示す如く、機能ごとに予め定められた割り込み周期Ｔｃでかつ予め定められたチェックデータ量Ｄｃずつ行うと共に、機能ごとのメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３個々のデータの総量（メモリ容量Ｃ）に対するメモリチェックをその開始時から当該機能の影響時間Ｔｅ以内に完了するように行う。尚、図３において、Ｎは、機能ごとのメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３に対応してそれぞれ定められた、当該メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３内をメモリチェックするうえで必要なチェック回数である。
【００１９】
ＣＰＵ１４は、実行可能な複数の機能それぞれに対して予め定められた上記の影響時間Ｔｅ及びメモリ容量Ｃを記憶している。或いは、ＣＰＵ１４は、実行可能な機能ごとに上記の影響時間Ｔｅ及びメモリ容量Ｃに基づいて定められた、各機能のメモリチェックを行ううえでの割り込み周期Ｔｃとメモリ１６のメモリチェック（割り込み）一回当たりのチェックデータ量Ｄｃとの関係を記憶している。この割り込み周期Ｔｃとチェックデータ量Ｄｃとの関係は、機能ごとに異なる。この関係は、影響時間Ｔｅ以内に当該メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３内のメモリチェックが完了するように、次式（１）に従って定められている。
【００２０】
（Ｃ÷Ｄｃ）×Ｔｃ＜Ｔｅ                                        ・・・（１）
例えば、各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３のメモリ容量Ｃ１〜Ｃ３がすべて５ＫＢである場合において、第１のメモリ領域Ｓ１に対する影響時間Ｔｅ１が４００ミリ秒であるときは、メモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃ１が３２ｂｙｔｅに、また、割り込み周期Ｔｃ１が２．５ミリ秒に、それぞれ設定される（図４（Ａ））。この場合、第１のメモリ領域Ｓ１のメモリチェックが開始されてからその第１のメモリ領域Ｓ１内のメモリチェックが完了するまでの時間は、影響時間Ｔｅ１よりも短くなる。
【００２１】
また、第２のメモリ領域Ｓ２に対する影響時間Ｔｅ２が１秒であるときは、メモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃ２が６４ｂｙｔｅに、また、割り込み周期Ｔｃ２が１０ミリ秒に、それぞれ設定される（図４（Ｂ））。この場合、第２のメモリ領域Ｓ２のメモリチェックが開始されてからその第２のメモリ領域Ｓ２内のメモリチェックが完了するまでの時間は、影響時間Ｔｅ２よりも短くなる。
【００２２】
また、第３のメモリ領域Ｓ３に対する影響時間Ｔｅ３が無限大であるときは、メモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃ３が８ｂｙｔｅに、また、割り込み周期Ｔｃ３が１００ミリ秒に、それぞれ設定される（図４（Ｃ））。この場合、第３のメモリ領域Ｓ３のメモリチェックが開始されてからその第３のメモリ領域Ｓ３内のメモリチェックが完了するまでの時間は、影響時間Ｔｅ３よりも短くなる。
【００２３】
ＣＰＵ１４は、メモリ１６のメモリチェックを行うメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに割り込み周期Ｔｃとチェックデータ量Ｄｃとを変更する。尚、メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとの割り込み周期Ｔｃとチェックデータ量Ｄｃとの関係は、上記（１）式を満たすものであれば十分である。例えば、図４に示す例では、ＣＰＵ１４は、第１のメモリ領域Ｓ１のメモリチェックを割り込み周期Ｔｃ１（＝２．５ミリ秒）でチェックデータ量Ｄｃ１（＝３２ｂｙｔｅ）ずつ行い、第２のメモリ領域Ｓ２のメモリチェックを割り込み周期Ｔｃ２（＝１０ミリ秒）でチェックデータ量Ｄｃ２（＝６４ｂｙｔｅ）ずつ行い、また、第３のメモリ領域Ｓ３のメモリチェックを割り込み周期Ｔｃ３（＝１００ミリ秒）でチェックデータ量Ｄｃ３（＝８ｂｙｔｅ）ずつ行う。
【００２４】
ＣＰＵ１４は、各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３それぞれのメモリチェックを行う。具体的には、ＣＰＵ１４は、メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに、例えば、メモリ１６としてのＲＯＭのメモリチェックを図５に示す制御ルーチンに従って行い、或いは、メモリ１６としてのＲＡＭのメモリチェックを図６に示す制御ルーチンに従って行う。
【００２５】
ＣＰＵ１４は、メモリ１６としてのＲＯＭの全領域をメモリチェックするうえで、図５に示す如く、まず、ループカウンタＣＮＴ１をゼロにリセットする（ステップ１００）。尚、ループカウンタＣＮＴ１は、ＲＯＭのメモリチェックがその開始後に完了したチェック回数を計数するためのカウンタである。次に、ＣＰＵ１４は、ループカウンタＣＮＴ１が所定のＲＯＭチェック回数Ｎｒｏｍ未満であるか否かを判別する（ステップ１０２）。尚、所定のＲＯＭチェック回数Ｎｒｏｍは、ＲＯＭの全領域をメモリチェックするうえで開始から完了までに行うべき総チェック回数であって、チェック対象のメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３に応じた影響時間Ｔｅと割り込み周期Ｔｃとの関係に基づいて定められる。
【００２６】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１０２においてＣＮＴ１＜Ｎｒｏｍが成立すると判別する場合は、次に、ＲＯＭの前回サム値に特定アドレス位置のＲＯＭ値を加算することにより、ＲＯＭの今回サム値を演算する（ステップ１０４）。尚、特定アドレス位置の初期位置は、ＲＯＭのチェック対象である開始アドレス位置である。そして、ＣＰＵ１４は、上記ステップ１０４で加算したＲＯＭ値が書き込まれていた特定アドレス位置に所定のＲＯＭチェックアドレス変位を加算することにより、次のメモリチェック時にＲＯＭ値を読み出すべき特定アドレス位置を特定する（ステップ１０６）。
【００２７】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１０６において特定した特定アドレス位置がＲＯＭのチェック対象である終了アドレス位置を超えるか否かを判別する（ステップ１０８）。そして、特定アドレス位置がチェック終了アドレス位置を超えないと判別した場合は、上記のループカウンタＣＮＴ１をインクリメントし（ステップ１１０）、次に、上記ステップ１０２の処理を実行する。
【００２８】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１０８において特定アドレス位置がチェック終了アドレス位置を超えると判別した場合は、上記ステップ１０４において演算したＲＯＭの開始アドレス位置から終了アドレス位置までのサム値がチェックサム規定値と異なるか否かを判別する（ステップ１１２）。
【００２９】
上記ステップ１１２の処理の結果、ＣＰＵ１４は、サム値がチェックサム規定値に一致すると判別した場合は、ＲＯＭの異常確定フラグを"異常でない"ことを示すものに設定する（ステップ１１４）。一方、サム値がチェックサム規定値と異なると判別した場合は、ＲＯＭの異常確定フラグを"異常である"ことを示すものに設定する（ステップ１１６）。そして、上記ステップ１１４又は１１６においてＲＯＭの異常確定フラグを設定すると、上記した特定アドレス位置をＲＯＭのチェック対象である開始アドレス位置に設定し、かつ、サム値をゼロにリセットする（ステップ１１８）。
【００３０】
かかるＣＰＵ１４の処理によれば、メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに、メモリ１６としてのＲＯＭの全領域をメモリチェックすることができる。そして、そのメモリチェックの結果、ＲＯＭの異常確定フラグが"異常である"ことを示すものである場合に、その異常を運転者に知らせることなどの異常検出処理を行う。
【００３１】
また、ＣＰＵ１４は、メモリ１６としてのＲＡＭの全領域をメモリチェックするうえで、図６に示す如く、まず、ループカウンタＣＮＴ２をゼロにリセットする（ステップ１５０）。尚、ループカウンタＣＮＴ２は、ＲＡＭのメモリチェックがその開始後に完了したチェック回数を計数するためのカウンタである。次に、ＣＰＵ１４は、ループカウンタＣＮＴ２が所定のＲＡＭチェック回数Ｎｒａｍ未満でありかつＲＡＭの異常確定フラグが"異常である"ことを示すものでないか否かを判別する（ステップ１５２）。尚、所定のＲＡＭチェック回数Ｎｒａｍは、ＲＡＭの全領域をメモリチェックするうえで開始から完了までに行うべき総チェック回数であって、チェック対象のメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３に応じた影響時間Ｔｅと割り込み周期Ｔｃとの関係に基づいて定められる。
【００３２】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１５２においてＣＮＴ２＜Ｎｒａｍが成立しかつＲＡＭの異常確定フラグが"異常である"ことを示すものでないと判別する場合は、次に、ＲＡＭの特定アドレス位置における１データＲＡＭチェックをＲＡＭチェック結果として格納する（ステップ１５４）。尚、特定アドレス位置の初期位置は、ＲＡＭのチェック対象である開始アドレス位置である。そして、ＣＰＵ１４は、上記ステップ１５４において格納したＲＡＭチェック結果が異常であるか否かを判別する（ステップ１５６）。
【００３３】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１５６においてＲＡＭチェック結果が異常でないと判別した場合は、上記ステップ１５４でＲＡＭチェックが行われた特定アドレス位置に所定のＲＡＭチェックアドレス変位を加算することにより、次のメモリチェック時にＲＡＭチェックすべき特定アドレス位置を特定する（ステップ１５８）。一方、上記ステップ１５６においてＲＡＭチェック結果が異常でないと判別した場合は、ＲＡＭの異常確定フラグを"異常である"ことを示すものに設定する（ステップ１６０）。
【００３４】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１５４又は１５８において特定した特定アドレス位置がＲＡＭのチェック対象である終了アドレス位置を超えるか否かを判別する（ステップ１６２）。そして、特定アドレス位置がチェック終了アドレス位置を超えないと判別した場合は、上記のループカウンタＣＮＴ２をインクリメントし（ステップ１６４）、次に、上記ステップ１５２の処理を実行する。尚、ステップ１６０においてＲＡＭの異常確定フラグが"異常である"ことを示すものに設定された場合は、このループが繰り返し実行される。
【００３５】
ＣＰＵ１４は、上記ステップ１６２において特定アドレス位置がチェック終了アドレス位置を超えると判別した場合は、ＲＡＭの異常確定フラグを"異常でない"ことを示すものに設定する（ステップ１６６）。
【００３６】
かかるＣＰＵ１４の処理によれば、メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに、メモリ１６としてのＲＡＭの全領域をメモリチェックすることができる。そして、そのメモリチェックの結果、ＲＡＭの異常確定フラグが"異常である"ことを示すものである場合に、その異常を運転者に知らせることなどの異常検出処理を行う。
【００３７】
このように、本実施例においては、マイコン１２内の複数の機能に対応して、メモリ異常が発生してからその異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間Ｔｅに応じてメモリ１６を領域分割する。具体的には、影響時間Ｔｅが異なる制御関連機能、ダイアグ関連機能、及びその他機能に応じて、メモリ１６をメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３に分割する。そのうえで、制御プログラムの実行中に各機能すなわち各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３をメモリチェックする際に、メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに割り込み周期Ｔｃとメモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃとを変更することができる。これらの各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３の割り込み周期Ｔｃとチェックデータ量Ｄｃとは、各影響時間Ｔｅと各メモリ容量Ｃとに基づいて、影響時間Ｔｅ以内に当該メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３内のメモリチェックが完了する範囲内で定められる。
【００３８】
かかる上記の機能ごとすなわちメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとのメモリチェック処理によれば、影響時間Ｔｅが比較的短い機能については、割り込み周期Ｔｃを短くし又はメモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃを多くすることにより、メモリチェックの診断結果をその影響時間Ｔｅ以内に取得することが可能である。このため、影響時間Ｔｅが比較的短い機能についてのメモリチェックの診断結果の取得がその影響時間Ｔｅを超えて遅延するのを防止することができる。
【００３９】
また、影響時間Ｔｅが比較的長い機能については、割り込み周期Ｔｃを長くし又はメモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃを少なくすることとしても、メモリチェックの診断結果をその影響時間Ｔｅ以内に取得することが可能である。また、影響時間Ｔｅが比較的長い機能についての割り込み周期Ｔｃが長くなり或いはメモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃが少なくなれば、影響時間Ｔｅが比較的長い機能についてのメモリチェックの開始から終了までの全期間は長くなるが、その全期間に対して影響時間Ｔｅが比較的長い機能についてのメモリチェックが行われる期間の割合を少なくすることが可能である。このため、影響時間Ｔｅが比較的長い機能についてのメモリチェックが影響時間Ｔｅが比較的短い機能についてのメモリチェックに与える影響を抑えることができ、ＣＰＵ１４に過大な処理負荷を与えることなく、影響時間Ｔｅが比較的短い機能についてのメモリチェックを行う機会を確保することができる。
【００４０】
従って、本実施例の車両用診断装置１０によれば、マイコン１２が有する複数の機能におけるメモリ異常が制御出力に影響するまでに要する影響時間Ｔｅが互いに異なるときに、各機能によるデータが記憶されるメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３の診断結果をそれぞれの影響時間Ｔｅ内に確実に取得することができると共に、それらの各メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３の診断結果を取得するうえでＣＰＵ１４の処理負荷が過大となるのを防止することができる。
【００４１】
尚、上記の実施例においては、割り込み周期Ｔｃが特許請求の範囲に記載した「所定割り込み周期」に、メモリチェック一回当たりのチェックデータ量Ｄｃが特許請求の範囲に記載した「所定データ量」に、ＣＰＵ１４がメモリチェックを行うメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに、その影響時間以内に当該メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３の全領域のメモリチェックが完了するように、上記の割り込み周期Ｔｃと上記のチェックデータ量Ｄｃとを変更することが特許請求の範囲に記載した「変更手段」に、それぞれ相当している。
【００４２】
ところで、上記の実施例においては、マイクロコンピュータ内の複数の機能に一対一で対応して、メモリ１６を影響時間Ｔｅに応じた複数のメモリ領域に分割することとしている。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、複数の機能のうちの二以上の機能の影響時間Ｔｅが互いにほとんど変わらないときすなわち影響時間Ｔｅの差が所定範囲内であるときは、メモリ１６内においてそれら二以上の機能のメモリ領域を同じ領域としてもよい。
【００４３】
また、上記の実施例においては、メモリチェックを行うメモリ領域Ｓ１〜Ｓ３ごとに、影響時間Ｔｅ以内に当該メモリ領域Ｓ１〜Ｓ３内のメモリチェックが完了するように、割り込み周期Ｔｃとメモリチェック（割り込み）一回当たりのチェックデータ量Ｄｃとを変更することとしている。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、上記の割り込み周期Ｔｃ及び上記のチェックデータ量の少なくとも何れか一方を変更するものであればよい。例えば、上記のチェックデータ量を固定しつつ上記の割り込み周期Ｔｃのみを変更するものであってもよいし、また逆に、上記の割り込み周期Ｔｃを固定しつつ上記のチェックデータ量のみを変更するものであってもよい。
【００４４】
また、上記の実施例においては、車両用診断装置１０を車両に搭載されるモータ制御システムに適用することとしている。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、車両用診断装置１０をモータ制御システム以外のシステムに適用することとしてもよい。
【符号の説明】
【００４５】
１０  車両用診断装置
１２  マイクロコンピュータ（マイコン）
１４  中央演算処理装置（ＣＰＵ）
１６  メモリ
【図１】
2016162120.tif 000003
【図２】
2016162120.tif 000004
【図３】
2016162120.tif 000005
【図４】
2016162120.tif 000006
【図５】
2016162120.tif 000007
【図６】
2016162120.tif 000008