(57)【要約】      （修正有）【課題】第１及び第２発光ユニットの発光領域の長さの違いを少なくとも部分的に対処できる印刷装置を提供する。【解決手段】画像再生に利用されるシステムであって、このシステムは、少なくとも第１発光ユニット１１と第２発光ユニット１２であって、前記第１発光ユニット１１は前記第１発光ユニット１１を冷却するために設けられた第１冷却手段２１を有し、前記第２発光ユニット１２は前記第１発光ユニット１１から独立して前記第２発光ユニット１２を冷却するために設けられた第２冷却手段２２を有し、前記第１発光ユニット１１は第１の細長い発光領域を有し、前記第２の発光ユニット１２は第２の細長い発光領域を有し、制御ユニット４０は、第１の細長い発光領域と第２の細長い発光領域の少なくとも一方が所望長さを有するように、第１冷却手段２１と第２冷却手段２２の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている。【選択図】図１
2016130005.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像再生に使用されるシステムであって、前記システムは、
少なくとも第１発光ユニットと第２発光ユニットであって、前記第１発光ユニットは前記第１発光ユニットを冷却するために設けられた第１冷却手段を有し、前記第２発光ユニットは前記第１発光ユニットから独立して前記第２発光ユニットを冷却するために設けられた第２冷却手段を有し、前記第１発光ユニットは第１の細長い発光領域を有し、前記第２の発光ユニットは第２の細長い発光領域を有するものと、
前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットが同一温度で異なる長さを有する場合、前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットが異なる温度に制御されて、前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットが制御された異なる伸びを有し、これにより前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットの長さがほぼ等しくなるように、前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の冷却を制御するように構成された制御ユニット、を有するシステム。
【請求項２】
前記制御ユニットは、上記第１発光領域の長さをＬ１、前記第２の発光領域の長さをＬ２とすると、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、さらに好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている、請求項１のシステム。
【請求項３】
前記第１発光領域の第１の長さと前記第２発光領域の第２の長さとの差を示す少なくとも１つの測定値を測定するように構成された測定装置を有し、前記制御ユニットは少なくとも１つの測定値に基づいて前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも１つの冷却を制御するように構成されている、請求項１又は２のシステム。
【請求項４】
前記測定装置は、前記第１発光領域の左右境界の第１組の位置と前記第２発光領域の左右境界の第２組の位置を測定する左右の測定ユニットを有し、前記第１組と前記第２組が前記少なくとも１つの測定値である、請求項３のシステム。
【請求項５】
前記測定装置は、カメラ、光学濃度センサ、干渉パターン測定装置、分光測定装置の１つを有する、請求項３又は４のシステム。
【請求項６】
前記第１発光ユニットの第１温度を測定する第１温度センサと前記第２発光ユニットの第２温度を測定する第２温度センサとを有し、前記制御回路は、前記第１の冷却手段と前記第２冷却手段を、前記測定された第１温度と第２温度の関数として前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方を制御するように構成されている、請求項１〜５のいずれかのシステム。
【請求項７】
前記発光ユニットは第１キャリアを有し、
前記第１キャリアの上には複数の第１の発光アレーＩＣが構成されており、
前記第１冷却手段は前記第１キャリアを冷却するように構成されており、
前記第２発光ユニットは第２キャリアを有し、
前記第２キャリアの上には複数の第２の発光アレーＩＣが構成されており、
前記第２冷却手段は前記第２キャリアを冷却するように構成されている、請求項１〜６のいずれかのシステム。
【請求項８】
前記制御ユニットは、前記第１発光領域と前記第２発光領域の少なくとも１つの所望長さの関数として前記第１キャリアと前記第２キャリアの少なくとも一方の適正温度を決定するように構成されており、前記第１キャリアと前記第２キャリアの少なくとも一方が前記決定された適正温度になるように前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方を制御するように構成されている、請求項７のシステム。
【請求項９】
前記第１キャリアは前記第１冷却手段のヒートシンクを備えており、
前記第２キャリアは前記第２冷却手段のヒートシンクを備えている、請求項７又は８のシステム。
【請求項１０】
前記第１冷却手段は、液体を利用して前記第１キャリアを冷却するように構成された液体冷却回路と、前記液体を冷却する空気クーラーと、前記液体の温度を測定するセンサを有し、前記制御ユニットは、前記第１発光領域が所望長さを有するように前記空気クーラーを制御するように構成されている、請求項７〜９のいずれかのシステム。
【請求項１１】
少なくとも第１発光ユニットと第２発光ユニットを有し、前記第１発光ユニットは第１発光領域を有し、前記第２発光ユニットは第２発光領域を有する画像再生システムを制御する方法は、
前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と、
前記第１発光ユニットとは別に前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程と、
前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットが同一温度で異なる長さを有する場合、前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットが異なる温度に制御されて、前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットが制御された異なる伸びを有し、これにより前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットの長さがほぼ等しくなるように、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を備えた方法。
【請求項１２】
前記制御する工程は、上記第１発光領域の長さをＬ１、前記第２の発光領域の長さをＬ２とすると、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、さらに好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を備えている、請求項１１の方法。
【請求項１３】
前記第１発光領域の第１長さと前記第２発光領域の第２長さとの差を示す少なくとも１つの測定値を測定する工程を有し、
前記制御する工程は、前記少なくとも１つの測定値に基づいて前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する、請求項１１又は１２の方法。
【請求項１４】
請求項１１〜１３のいずれかの方法における少なくとも１つの工程を実行するためにコンピュータが実行可能な指示を有し、コンピュータ上で実行されるコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一つ又は複数の発光ユニットを用いて画像を露光することによって感光部材上に静電潜像が形成される、印刷やコピーなどの電子写真画像再生に使用されるシステムに関する。本発明はまた、電子写真画像再生に使用される方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的な電子写真画像再生法では、まず始めに、発光ユニット（例えば、複数のＬＥＤアレーＩＣを有するユニット）を使用して、予め帯電された感光部材上に画像を露光することによって該感光部材上に静電潜像が形成される。この静電潜像は、その後、帯電したトナー粒子をもって感光部材上で可視化される。感光部材の例としては、感光ドラム又は感光ベルトがある。現像された画像は、基材に直接転写されるか、一つ又は複数の中間転写部材を介して基材に転写され、そこに同時に又は後に固定される。
【０００３】
従来の電子写真システムでは、光を生成し、光学システムと組み合わされて該光を感光部材上に集めるために、ＬＥＤアレーＩＣを含む発光ユニットからなるものがよく使用されている。例えば、本件出願人の名前で、欧州特許６２９５０７号及び欧州特許２０３６７３４号に開示されているように、ＬＥＤアレーは一般に、キャリア上に配置された多数のＬＥＤアレーＩＣからなり、例えばワイヤボンディングによって隣接して取り付けられたドライバＩＣに接続されている。通常、このキャリアはまたヒートシンクとして機能する。発光ダイオードＬＥＤによって生成された光は、ＬＥＤと感光部材との間に配置されたレンズブロックによって感光部材上に正確に集められる。
【０００４】
ＬＥＤアレーをキャリア上に載せる際の位置誤差や公差により、異なる発光ユニットの発光領域の長さが異なる。異なる長さを有する発光ユニットが同じ印刷装置に使用されると、画像の品質が著しく低下する。このような長さの相違に対処するため、製造された発光ユニットを長さ別に分類することが知られている。しかし、この手法は、保管、ユニットの交換可能性、及び製造要件等の点で問題のあることが容易に理解できる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
画像の品質を改善する、画像再生に使用するシステムと方法を提供することが、本発明の複数の形態の目的である。また、特に、印刷装置における第１及び第２発光ユニットの発光領域の長さの違いを少なくとも部分的に対処できるようにすることが本発明の目的である。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
第１の形態では、画像再生に使用するシステムが提供されており、このシステムは、少なくとも、第１発光ユニットと、第２発光ユニットと、制御ユニットを有する。第１発光ユニットは、前記第１発光ユニットを冷却するように構成された第１冷却手段を有する。第２発光ユニットは、前記第１冷却手段とは無関係に、第２発光ユニットを冷却するように構成された第２冷却手段を有する。第１発光ユニットは第１の細長い発光領域を有し、第２発光ユニットは第２の細長い発光領域を有する。制御ユニットは、前記第１の細長い発光領域と前記第２の細長い発光領域の少なくとも一方が所望の長さを有するように、前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている。
【０００７】
換言すれば、そのようなシステムを使用すれば、第１発光領域及び／又は第２発光領域の長さが、第１冷却手段及び／又は第２冷却手段を用いて調整される。これにより、発光ユニとは長さに応じて分類される必要がなく、冷却手段によって任意の長さ調整が行われる。
【０００８】
好ましい実施形態によれば、制御ユニットは、前記第１発光領域の長さが前記第２発光領域の長さとほぼ等しいように、前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方の冷却が制御されるように、構成されている。これにより、画像の品質は良好になる。また、（同じ温度で）第１発光ユニットと第２発光ユニットが異なる長さを有する場合、第１冷却手段と第２冷却手段により第１発光ユニットと第２発光ユニットが異なる温度に調整されて該第１発光ユニットと第２発光ユニットの長さに異なる伸びが与えられ、それらの長さがほぼ同じであるように制御される。
【０００９】
好ましい実施形態によれば、前記制御ユニットは、上記第１発光領域の長さをＬ１、前記第２の発光領域の長さをＬ２とすると、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、さらに好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている。
【００１０】
好ましい実施形態によれば、システムはさらに、第１発光領域の第１の長さと第２発光領域の第２の長さの差を示す少なくとも１つの測定値を測定するように構成された測定装置を有する。制御ユニットは、前記少なくとも１つの測定値に基づいて、第１冷却手段と第２冷却手段の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている。これにより、閉ループシステムが得られ、第１と第２の発光領域の長さを極めて正確に制御できる。測定装置は、例えば、カメラ、光学濃度センサ、干渉パターン測定装置、分光測定装置の１つを有する。好ましくは、前記少なくとも一つの測定値は、第１発光ユニット及び第２発光ユニットによって印刷された画像から得られる。その画像は、第１発光領域の第１長さと第２発光領域の第２長さの差が該測定値から得られるものである。その画像は、任意の画像、すなわち、予め決められたパターン（例えば、線又はマーカー）、又は、そのような結果が得られる一般的な任意の画像であってもよい。そのような測定値の取得は、プリンタの通常動作中に印刷されている画像に基づいて行うこともできる。
【００１１】
典型的な実施形態では、測定装置は、第１発光領域の左右境界の第１組の位置と第２発光領域の左右境界の第２組の位置を測定する第１左右光学測定装置を有し、前記第１組は前記少なくとも一つの測定値の第１測定値で、前記第２組は前記少なくとも一つの測定値の第２測定値である。他の典型的な実施形態では、光学測定装置は、前記第１及び第２発光ユニットで印刷された左右マーカーの第１組及び第２組の位置を測定する少なくとも一つのカメラを有し、前記第１組と前記第２組は前記少なくとも一つの測定値である。さらに他の典型的な実施形態では、測定装置は、第１発光領域と第２発光領域の長さの差を示す少なくとも一つの測定値を測定するための少なくとも一つの光学センサを有する。更なる典型的な実施形態では、システムは、第１の色を有する領域と第２の色を有する領域を含む予め決められたパターンを印刷するように構成されている。ここで、第１発光ユニットは前記第１の色の印刷のために利用され、第２発光ユニットは前記第２の色の印刷のために利用される。印刷されたパターンの光学的測定（例えば、干渉パターンの測定やスペクトルフィルタを使った測定）を行うことにより、第１発光領域と第２発光領域の長さの差が求められる。
【００１２】
典型的な実施形態では、システムはさらに、第１発光ユニットの第１の温度を測定する第１温度センサと第２発光ユニットの第２の温度を測定する第２温度センサを有する。制御回路は、測定された第１の温度と第２の温度の関数として、第１冷却手段と第２冷却手段の少なくともいずれか一方を制御するように、構成されている。この実施形態は、制御ユニットの精度を改善する。
【００１３】
典型的な実施形態では、第１発光ユニットは第１キャリアを有し、該第１キャリアの上に第１の複数の発光アレーＩＣが設けてあり、前記第１冷却手段は前記第１キャリアを冷却するように構成されており、また、第２発光ユニットは第２キャリアを有し、該第２キャリアの上に第２の複数の発光アレーＩＣが設けてあり、前記第２冷却手段は前記第２キャリアを冷却するように構成されている。好ましくは、制御ユニットは、前記第１発光領域と前記第２発光領域の少なくとも一方の所望長さの関数として、前記第１キャリアと前記第２キャリアの少なくとも一方の適正温度を求め、また、前記第１キャリアと前記第２キャリアの少なくとも一方が前記求めた適正温度であるように前記第１冷却手段と前記第２冷却手段の少なくとも一方を制御する、ように構成されている。典型的な実施形態では、前記第１キャリアは前記第１冷却手段のヒートシンクを有し、前記第２キャリアは前記第２冷却手段のヒートシンクを有する。第１温度センサと第２温度センサを有する実施形態では、制御ユニットは、測定された第１及び第２温度の少なくとも一方が前記決められた第１及び第２の適正温度よりも下又は上である場合、前記冷却の程度を増加又は減少させるように、前記第１及び第２の冷却手段の冷却度を制御する。
【００１４】
典型的な実施形態では、第１冷却手段は、液体で前記第１キャリアを冷却するように構成された液体冷却回路と、前記液体を冷却するための空気クーラーと、前記液体の温度を測定するセンサを有する。前記制御ユニットは、前記第１発光領域が所望長さを有するように、前記空気クーラーを制御するように構成されている。さらに、典型的な実施形態では、前記第１と第２の冷却手段はそれぞれ、積極的な空気冷却回路及び／又は液体冷却回路を有する。
【００１５】
典型的な実施形態では、第１発光ユニットは第１の複数の発光アレーＩＣの出力を感光部材上に集めるための第１のレンズブロックを有し、第２発光ユニットは第２の複数の発光アレーＩＣの出力を感光部材上に集めるための第２のレンズブロックを有し、前記第１と第２のレンズブロックはそれぞれ複数の棒状（ロッド）レンズ（好ましくは、セルフォックレンズアレー）を有する。
【００１６】
本発明の他の形態によれば、上述のシステムの実施形態を備えた印刷装置が提供される。
【００１７】
本発明の更なる形態によれば、少なくとも第１発光ユニットと第２発光ユニットを備え、前記第１発光ユニットが第１発光領域を有し、前記第２発光ユニットが第２発光領域を有する画像差生成システムを制御する方法が提供される。この方法は、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と、前記第１発光ユニットから独立して前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程と、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を有し、前記第１発光領域と前記第２発光領域の少なくとも一方が所望の長さを有するものである。
【００１８】
典型的な実施形態では、前記制御する工程は、前記第１発光領域の長さが前記第２発光領域の長さとほぼ等しいように、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を有する。
【００１９】
典型的な実施形態では、前記制御する工程は、上記第１発光領域の長さをＬ１、前記第２の発光領域の長さをＬ２とすると、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、さらに好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を備えている。
【００２０】
典型的な実施形態では、前記方法はさらに、前記第１発光領域の第１の長さと前記第２発光領域の第２の長さとの差を示す少なくとも１つの測定値を測定する工程を有し、前記制御する工程は、前記少なくとも一つの測定値に基づいて前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一つを有する。
【００２１】
典型的な実施形態では、前記方法はさらに、前記第１発光領域の左右境界の第１組の位置と前記第２発光領域の左右の第２組の位置を測定する工程を有し、前記第１組と前記第２組は少なくとも一つの測定値である。
【００２２】
別の典型的な実施形態では、前記方法はさらに、前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットで印刷されたパターンを測定する工程と、前記第１発光領域の長さと第２の発光領域の長さの差を示す前記測定パターンから少なくとも一つの測定値を得る工程を有する。
【００２３】
典型的な実施形態では、前記第１発光ユニットは第１の複数の発光アレーＩＣが設けられた第１のキャリアを有し、前記第２発光ユニットは第２の複数の発光アレーＩＣが設けられた第２のキャリアを有し、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程は前記第１のキャリアを積極的に冷却する工程を有し、前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程は前記第２のキャリアを積極的に冷却する工程を有する。
【００２４】
典型的な実施形態では、前記方法はさらに、前記第１発光領域と前記第２発光領域の少なくとも１つの所望長さの関数として前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットの少なくとも一方の適正温度を決定する工程を有し、前記制御する工程は、前記第１発光ユニットと前記第２発光ユニットの少なくとも一方が前記予め決められた適正温度になるように、前記第１の発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２の発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を有する。
【００２５】
典型的な実施形態では、前記方法はさらに、前記第１発光ユニットの第１の温度を測定する工程と、前記第２発光ユニットの第２の温度を測定する工程を有し、前記制御する工程は、第１の適正温度と前記第１の測定された温度との差と第２適正温度と前記第２の測定された
温度との差に基づいて、前記第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と前記第２発光ユニットを積極的に冷却する工程を制御する工程を有する。
【００２６】
本発明の典型的な実施形態では、上述の方法の実施形態は、例えば、印刷装置のキャリブレーションの間、及び／又は、その後の印刷装置の印刷ジョブの間、及び／又は印刷中に行われる。印刷中に行われる場合、第１発光領域と第２発光領域の長さの差に関する測定値を得るために、基材のマージン内に印刷されたパターン又はマーカーを利用してもよい。
【００２７】
本発明の別の形態によれば、前記方法を実行するためにコンピュータで実行可能な指示を含むコンピュータプログラムが提供される。前記プログラムは、上述した実施形態のいずれかの工程にしたがってコンピュータ上で実行される。
【００２８】
本発明の更なる形態によれば、上述した方法の実施形態の一つ又はそれ以上の工程を実行するようにプログラムされたコンピュータ装置又はその他のハードウェア装置が提供される。他の形態によれば、上述した方法の実施形態の一つ又はそれ以上の工程を実行するように、機械で読み取り可能で且つ機械で実行可能な形のプログラムをコーティングするデータ保存装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】図１は、本発明のシステムの典型的な実施形態の概略図である。
【図２Ａ】図２Ａは、本発明の実施形態に係る測定装置の第１の典型的な実施形態の概略平面図である。
【図２Ｂ】図２Ｂは、本発明の実施形態に係る測定装置の第２の典型的な実施形態の概略平面図である。
【図３】図３は、本発明の実施形態に使用される測定装置を備えた発光ユニットの典型的な実施形態の概略側面図である。
【図４】図４は、本発明のシステムの実施形態に使用される発光ユニットの典型的な実施形態の概略図である。
【図５】図５は、本発明の実施形態に使用される発光ユニットの別の典型的な実施形態の概略図である。
【図６】図６は、本発明の方法の第１の典型的な実施形態の概略図である。
【図７】図７は、本発明の方法の第２の典型的な実施形態の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
図１は、画像再生に使用するシステムの典型的な実施形態を示す。このシステムは、第１発光ユニット１１、第２発光ユニット１２、及び制御ユニット４０を有する。実際には、２つ以上の発光ユニットを設け、これら発光ユニットを同一色の印刷又は異なる色の印刷に用いてもよい。
【００３１】
第１発光ユニット１１は、第１発光ユニット１１を冷却するために設けられた第１冷却手段２１を有する。第２発光ユニット１２は第２冷却手段２２を有する。第２冷却手段２２は、第１冷却ユニットが第１発光ユニット１１を第２発光ユニット１２とは異なる温度に冷却できるようにするために、第１発光ユニット１１とは別に、第２発光ユニット１２を冷却するために設けられている。第１発光ユニット１１は、長さＬ１を有する第１の細長い発光領域を備えている。第２発光ユニット１２は、長さＬ２を有する第２の細長い発光領域を有する。
【００３２】
制御ユニット４０は、第１の細長い発光領域と第２の細長い発光領域の少なくとも一方が所望の長さを有するように第１冷却手段２１と第２冷却手段２２の少なくとも一方の冷却を制御するよう、構成されている。これにより、例えば第１発光ユニット１１で印刷されたバー（棒）の長さをオペレータが測定した場合、オペレータは該測定された長さを第２発光ユニット１２に対する所望長さとして設定し、制御ユニットは第２の細長い発光領域が該所望長さを有するように第２冷却手段２２を制御する。したがって、第１の細長い発光領域の第１の長さＬ１が第２の細長い発光領域の第２の長さＬ２と実質的に同じであることを保証できる。測定を容易にするために、第１の発光領域の第１の長さＬ１の第１の測定値（測定代表）と第２の発光領域の第２の長さＬ２の第２の測定値（測定代表）を得るように構成された測定装置３０を設けてもよい。制御ユニット４０はまた、第１の測定値と第２の測定値に基づいて、第１冷却手段２１と第２冷却手段２２の少なくとも１つの冷却を制御するように構成されている。好ましくは、制御ユニット４０は、第１発光領域の長さＬ１が第２発光領域の長さＬ２にほぼ等しいように、第１冷却手段２１と第２冷却手段の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている。第１冷却手段２１は、一定の速度（割合）で冷却するように構成することができる。この場合、第２冷却手段２２は制御ユニット４０によって制御される。代わりに、第１冷却手段２１と第２冷却手段２２は、長さＬ１と長さＬ２が予め決められた所望の長さＬにほぼ等しいように制御してもよい。好ましい実施形態では、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、さらに好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、第１冷却手段２１と第２冷却手段２２の少なくとも一方の冷却を制御するように構成されている。なお、Ｌ１は第１発光領域の長さ、Ｌ２は第２発光領域の長さである。換言すれば、Ｌ１は第１発光ユニット１１に使用されている左端の発光装置と右端の発光装置との間の距離、Ｌ２は第２発光ユニット１２に使用されている左端の発光装置と右端の発光装置との間の距離である。
【００３３】
図２Ａは、測定装置３０の第１の典型的な実施形態を示す。測定装置３０は、感光部材を照明する複数の発光ユニット１１，１２，１３によって基材上に印刷された左マーカーと右マーカーＭ１Ｌ,Ｍ１Ｒ；Ｍ２Ｌ,Ｍ２Ｒ；Ｍ３Ｌ,Ｍ３Ｒの位置をそれぞれ測定するための第１測定ユニット３１と第２測定ユニット３２（例えば、カメラ３１，３２）を有する。感光部材上に照明された画像は、転写手段（図示せず）を用いて基材上に転写される。位置Ｍ１Ｌ,Ｍ１Ｒは、第１発光ユニット１１によって印刷された長さＬ１を有するバー（棒）に関する第１測定値である。位置Ｍ２Ｌ,Ｍ２Ｒは、第２発光ユニット１２によって印刷された長さＬ２を有するバー（棒）に関する第２測定値である。位置Ｍ３Ｌ,Ｍ３Ｒは、第３発光ユニット１３によって印刷された長さＬ３を有するバー（棒）に関する第３測定値である。制御ユニット４０（図２Ａには図示せず）は、第１測定値、第２測定値、及び第３測定値に基づいて、長さＬ１が長さＬ２及び長さＬ３にほぼ等しいように、第１発光ユニット１１の第１冷却手段２１、第２発光ユニット１２の第２冷却手段２２、及び第３発光ユニット１３の第３冷却手段２３の少なくとも２つを制御するように、構成してもよい。
【００３４】
図２Ｂは、測定装置３０の第２の典型的な実施形態を示す。測定装置３０は、第１測定ユニット３１と第２測定ユニット３２（例えば、カメラ、光学濃度センサ、干渉パターン（模様）測定装置、又は分光測定装置）を有する。システムは、所定のパターン（例えば、隣接するブロックを含むストリップＳ）を、第１発光ユニット１１に関連した第１の色Ｃ１と第２発光ユニット１２に関連した第２の色Ｃ２で印刷するように構成されている。第１と第２の発光ユニット１１，１２の発光領域の長さＬ１，Ｌ２が一致している場合、第１の色Ｃ１のブロックと第２の色Ｃ２のブロックとの間のオーバーラップ（重なり）ＯＶがゼロ又は無視できる程度である。しかし、長さＬ１、Ｌ２の長さが異なる場合、隣接するブロックの間に所定量のオーバーラップＯＶが存在する。これは、適当な光学測定装置３１，３２によって測定される。左右の測定装置３１，２３が好ましいが、左右方向の伸びは通常ほぼ同一であるので一方の測定装置３１又は３２でも十分である。測定装置３１，３２は、感光部材を照明する発光ユニット１１，１２によって基材上に印刷された隣接するブロックの間のオーバーラップＯＶを測定する。この場合、感光部材上に照明された画像は転写手段（図示せず）によって基材上に転写される。オーバーラップＯＶは、長さＬ１と長さＬ２の間の差に関する測定値である。制御ユニット（図２Ｂには図示せず）は、この測定値に基づいて、第１発光ユニット１１の第１冷却手段２１と第２発光ユニット１２の第２冷却手段２２の少なくとも一方を制御するように構成される。
【００３５】
図３は、測定装置３０の第２の典型的な実施形態を示す。測定装置３０は、第１の左側と右側の光学センサ３３，３４を有する。光学センサ３３，３４は、複数のＬＥＤアレーＩＣ１１０を載せたキャリア１２０を有する発光ユニット１１，１２，１３における発光領域ＬＥＡの左右の境界の第１組の位置ＰＬ，ＰＲを測定する。各発光ユニット１１，１２，１３には、同様の左右光学センサを設けてもよい。位置ＰＬ，ＰＲは、それぞれの発光ユニット１１，１２，１３の発光領域ＩＥＡの長さＬの測定値である。制御ユニット４０（図３には図示せず）は、上記測定値に基づいて、それぞれの発光ユニット１１，１２，１３に対応する長さが等しいように、第１発光ユニット１１の第１冷却手段、第２発光ユニット１２の第２冷却手段、及び第３発光ユニットの第３冷却手段の少なくとも２つを制御するように構成してもよい。
【００３６】
図２Ａ，２Ｂ及び３には、２つの発光ユニットと３つの発光ユニットを有する典型的な実施形態が示されている。しかし、図示する測定装置は３つを超える数の発光ユニットを有するシステムにも等しく適用可能である、と当業者は理解する。
【００３７】
図４は、発光ユニット１１，１２，１３の典型的な実施形態をさらに詳細に示す。発光ユニット１１，１２，１３はキャリア１２０を有し、該キャリア１２０の上に第１の複数の発光アレーＩＣ１１０が配置されている。発光ユニット１１，１２，１３は冷却手段１２３（例えば、ファン）を有し、該ファンはキャリア１２０を冷却するために配置されている。キャリア１２０は、冷却手段としてヒートシンク１２２（例えば、アルミニウム製ヒートシンク１２２）を有する。キャリア１２０はさらにＰＣＢ１２１を有し、該PCB上にＬＥＤアレー１１０が配置されている。キャリア１２０の温度Ｔを測定するために、キャリア１２０に温度センサ１２４を配置してもよい。制御ユニット４０は、測定温度Ｔが予め決められた値Ｔｄｅｓよりも上か下のときに冷却手段１２３による冷却の度合いを上げる又は下げるように、冷却手段１２３を制御するように構成されている。この値Ｔｄｅｓは、発光領域ＬＥＡの所望長さの関数である。所望長さが設定されると、制御ユニット４０は、発光領域ＬＥＡの所望長さの関数としてキャリア１２０の適正温度Ｔｄｅｓを決定し、キャリア１２０が決められた適正温度であるように冷却手段１２３を制御するように、構成してもよい。代わりに又は追加として、発光領域ＬＥＡの長さの測定装置３０による測定を行い、その後、測定長さが所望長さよりも大きい又は小さいときに冷却の度合いを上げる又は下げるように冷却手段１２３を制御するように制御ユニット４０を構成してもよい。発光ユニット１１，１２，１３はさらに、複数の発光アレーＩＣ１１０の出力を感光部材上に収束させるためのレンズブロック１３０を有する。レンズブロック１３０は、複数の棒状レンズ、好ましくはセルフォックレンズアレーを有する。
【００３８】
発光ユニット１１，１２，１３の別の典型的な実施形態が図５に示してある。冷却手段は、キャリア１２０のヒートシンク１２２を液体で冷却するように配置された液体冷却回路１２５と、その液体を冷却するためのクーラー１２６と、液体の温度を測定するセンサ１２４を有する。冷却ユニット４０は、第１の発光領域が所望長さを有するように、空気クーラー１２６を制御するように構成されている。
【００３９】
図６は、少なくとも第１発光ユニットと第２発光ユニットを有し、第１発光ユニットが長さＬ１の第１発光領域を有し、第２発光ユニットが長さＬ２の第２発光領域を有する画像再生システムを冷却するための方法の第１の典型的な実施形態を示す。この方法は、第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と、第１発光ユニットから独立して第２発光ユニットを積極的に冷却する工程とを有し、第１発光ユニットと第２発光ユニットは異なる割合（速度）で冷却できるものである。図６に示す第１の典型的な実施形態では、以下の工程、すなわち、第１と第２の発光領域の第１と第２の長さＬ１、Ｌ２の差を示す少なくともに１つの測定値を得る工程（ステップ６０１）、第１の発光領域と第２の発光領域の少なくとも１つが所望の長さを有するように、好ましくはＬ１がほぼＬ２に等しいように、少なくとも１つの測定値に基づいて、第１発光ユニットの積極的冷却と第２発光ユニットの積極的冷却の少なくとも１つを制御する工程（ステップ６０２）、を実行する。好ましい実施形態では、制御する工程６０２は、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、第１発光ユニットを積極的に冷却することと第２発光ユニットを積極的に冷却することの少なくとも一方を制御する工程を有する。ここで、Ｌ１は第１発光領域の長さ、Ｌ２は第２発光領域の長さである。Ｌ１とＬ２に関する測定値の測定６０１は、第１発光領域の左右の境界を示す第１の組の位置と第２発光領域の左右の境界を示す第２の組の位置とを測定する工程を有する。図２の実施形態を参照。代わりに、測定６０１は、第１と第２の発光ユニットをそれぞれ介して印刷された少なくとも１つのパターンを測定する工程を有する。該少なくとも１つのパターンは、長さＬ１とＬ２の差が該パターンから計算できるようなものである。
【００４０】
図７は、少なくとも第１発光ユニットと第２発光ユニットを有し、第１発光ユニットは長さＬ１の第１発光領域を有し、第２発光ユニットは長さＬ２の第２発光領域を有する画像再生システムを制御する方法の第２の典型的な実施形態を示す。その方法は、第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と、第１発光ユニットから独立して第２発光ユニットを積極的に冷却する工程を有し、第１発光ユニットと第２発光ユニットは異なる速度で冷却されるものである。図７に示す第２の典型的な実施形態では、以下の工程、すなわち、第１発光領域と第２発光領域のそれぞれの第１の長さと第２の長さの差を表す少なくとも１つの測定値を測定する工程と、第１発光ユニットの第１の温度Ｔ１と第２発光ユニットの第２の温度Ｔ２を測定する工程（ステップ７０１）と、第１の発光領域と第２の発光領域の少なくとも一方が所望の長さを有し、好ましくはＬ１がＬ２にほぼ等しいように、Ｔ１とＴ２の少なくとも１つの測定値に基づいて第１発光ユニットを積極的に冷却することと第２発光ユニットを積極的に冷却することの少なくとも一方を制御する工程（ステップ７０２）とを有する。好ましい実施形態では、制御する工程７０２は、|Ｌ１−Ｌ２|<６０ミクロンメートル、好ましくは|Ｌ１−Ｌ２|<４０ミクロンメートル、|Ｌ１−Ｌ２|<３０ミクロンメートルとなるように、第１発光ユニットを積極的に冷却することと第２発光ユニットを積極的に冷却することの少なくとも一方を制御する工程を有する。ここで、Ｌ１は第１発光領域の長さ、Ｌ２は第２発光領域の長さである。制御する工程７０２は、第１発光領域と第２発光領域の少なくとも一方の所望長さの関数で第１と第２のキャリアの少なくとも一方の適正温度を決定する工程と、第１発光ユニットと第２発光ユニットの少なくとも一方が前記決定された適正温度にあるように、第１発光ユニットを積極的に冷却する工程と第２発光ユニットを積極的に冷却する工程の少なくとも一方を制御する工程を有する。特に、第１発光ユニット及び第２発光ユニットの積極的冷却はそれぞれ、第１の決定された適正温度と第１の測定された温度との差及び第２の決定された適正温度と第２の測定された温度との差に基づいて行われる。
【００４１】
上述の方法のステップはプログラムされたコンピュータによって実行されることは当業者が容易に認識することである。いくつかの実施形態は、プログラム保存装置を含むことを意図しており、それらの装置は機械又はコンピュータで読取り可能であり、機械で実行可能又はコンピュータで実行可能な指示プログラムをコード化する。その指示は、上述の方法の一部又はすべての工程を実行する。
【００４２】
図面に示された種々の要素（「ユニット」と名付けられた機能ブロックを含む。）の機能は、専用ハードウェアと適当なソフトウェアに関連してソフトウェアを実行するハードウェアを使用することにより得られる。プロセッサを使用する場合、それらの機能は１つの専用プロセッサ、１つの共用プロセッサ、又は複数のプロセッサの一部を共用することによって得られる。また、「制御ユニット」又は「コントローラ（制御部）」の用語の使用は、ソフトウェアを実行するハードウェアに限定して解釈されるべきではなく、例えば、デジタル式信号プロセッサ（ＤＳＰ）ハードウェア、ネットワークプロセッサ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、製造後に購入者や設計者が構成を設定できる集積回路（ＦＰＧＡ）、ソフトフェアを格納するリードオンリメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、又は不揮発性記憶装置を含む。その他のハードウェアとして、一般的な及び／又は特注のものも含まれる。
【００４３】
本発明の原理について特定の実施形態に関連して説明したが、この説明は単なる例示であって、特許請求の範囲によって定まる保護範囲を限定するものではない。
【符号の説明】
【００４４】
１１：第１発光ユニット
１２：第２発光ユニット
２１：第１冷却手段
２２：第２冷却手段
４０：制御ユニット
Ｌ１：第１の細長い発光領域の長さ
Ｌ２：第２の細長い発光領域の長さ
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【外国語明細書】
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