(57)【要約】【課題】トラッキングサーボエラー信号の振幅の変動度合いに応じたトラッキングサーボのゲインを設定することで、光ディスクの再生能力の向上させることができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置１が、トラッキングエラー信号の振幅を測定する振幅測定部４０と、トラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいて、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する算出部４１と、トラッキングサーボにおけるゲインを、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定してゲイン調整部４３などのトラッキング制御系に設定するコントローラ５とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズを介して光ディスクに光ビームを照射し、前記光ディスクから反射光を受光して前記光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、トラッキングエラー信号を用いて前記対物レンズの前記光ディスクの半径方向の駆動を制御することにより、前記光ビームの光スポットを前記光ディスクのトラックに追従させるトラッキングサーボを実施するトラッキング制御系とを備えた光ディスク装置において、
トラッキングエラー信号の振幅を測定して振幅の最大値と最小値を検出する振幅測定部と、
前記振幅測定部が検出したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する算出部と、
トラッキングサーボにおけるゲインを、前記算出部が算出したトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定して前記トラッキング制御系に設定する制御部とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、トラッキングサーボにおけるゲインを、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いが大きくなるにつれて従前の値よりも大きくすることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定したゲインが予め定められた限界値を超える場合は、決定したゲインの代わりに当該限界値を前記トラッキング制御系に設定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記算出部は、前記振幅測定部が前記光ディスクの一回転分以上の期間で検出したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出することを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記算出部は、前記振幅測定部が前記光ディスクの複数回転分の期間でそれぞれ検出したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値について平均値を算出し、トラッキングエラー信号の振幅の最大値および最小値の各平均値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記算出部は、前記光ディスクの複数回転分の期間でそれぞれ測定されたトラッキングエラー信号の振幅のうち、許容上限値を超える振幅の代わりに前記許容上限値を使用し、許容下限値を下回る振幅の代わりに前記許容下限値を使用して、トラッキングエラー信号の振幅の最大値および最小値の各平均値を算出することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ディスクに記録されている情報を読み取って再生する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１には、差動プッシュプル法を用いたトラッキングサーボを実施する光ディスク装置が開示されている。差動プッシュプル法では、１つのメインビームと２つのサブビームを光ディスクに照射し、これらの反射光を受光して得られる信号を演算することにより、トラッキングエラー信号を生成する。
【０００３】
より詳細に説明すると、メインビームの反射光から得られるメインプッシュプル信号とサブビームの反射光から得られるサブプッシュプル信号との差からトラッキングエラー信号が得られる。また、このトラッキングエラー信号を得る際に、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号とのレベル比率を補正するための係数がサブプッシュプル信号を増幅する増幅器のゲイン値に相当する。
【０００４】
特許文献１に開示される装置では、光ディスクの偏芯量またはサブプッシュプル信号の振幅変化量が規定値以上になった場合、上記ゲインの実測値の中から最小値を選択して、サブプッシュプル信号を増幅するゲイン値として設定している。一方、規定量未満である場合は、上記ゲインの実測値の中から中心値を選択して設定している。
また、偏芯量または振幅変化量が規定値以上になった場合に、上記ゲインのベスト値を再測定してゲイン値として設定し、偏芯量または振幅変化量が規定値未満であれば、上記ゲインの実測値のベスト値を選択して設定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−２２８３６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１においては、光ディスクの偏芯量またはサブプッシュプル信号の振幅変化量が規定値以上である場合と規定値未満である場合の２通りのゲインしか設定できない。
このため、特許文献１で選択されるゲインは、実際のトラッキングサーボに使用されるゲインから乖離が生じて、光ピックアップから照射される光ビームのトラック追従性能が安定しない可能性がある。この場合、光ディスクの再生能力が劣化する。
【０００７】
この発明は上記のような課題を解決するためになされ、安定したトラッキングサーボが可能となり、光ディスクの再生能力を向上させることができる光ディスク装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明に係る光ディスク装置は、対物レンズを介して光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクから反射光を受光して光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップと、トラッキングエラー信号を用いて対物レンズの光ディスクの半径方向の駆動を制御することにより、光ビームの光スポットを光ディスクのトラックに追従させるトラッキングサーボを実施するトラッキング制御系とを備える。
上記構成において、トラッキングエラー信号の振幅を測定して振幅の最大値と最小値を検出する振幅測定部と、振幅測定部が検出したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する算出部と、トラッキングサーボにおけるゲインを、算出部が算出したトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定してトラッキング制御系に設定する制御部とを備える。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、安定したトラッキングサーボが可能となり、光ディスクの再生能力が向上するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】トラッキングエラー信号の振幅の変動を示す信号波形図である。
【図４】トラッキングサーボのオープンループ特性を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１において、光ディスク装置１は、例えば車両に搭載される光ディスク装置であり、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）またはＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ；登録商標）などといった光ディスクｄに記録された情報を再生する。
【００１２】
光ピックアップ２は、対物レンズを介して光ビームを光ディスクｄに照射し、光ディスクｄから反射光を受光して光ディスクに記録された情報を読み取る。
また、光ピックアップ２には、対物レンズを光ディスクｄに接離する方向に駆動させるフォーカスアクチュエータ（不図示）と、対物レンズを光ディスクｄの半径方向に沿って駆動させるトラッキングアクチュエータ（不図示）とが内蔵されている。
【００１３】
トラッキング制御信号生成回路３ａは、光ピックアップ２により光ディスクｄから読み取られた情報に基づいて、トラッキングサーボの制御信号であるトラッキングエラー信号を生成する制御信号生成部である。
なお、トラッキングエラー信号は、光ディスクｄのトラック（目標トラック）に対する光ビームの光スポットの追従誤差を示す信号である。例えば、差動プッシュプル法では、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号の差から算出される。
【００１４】
また、フォーカス制御信号生成回路３ｂは、光ピックアップ２により光ディスクｄから読み取られた情報に基づいて、フォーカスサーボの制御信号であるフォーカスエラー信号を生成する。なお、フォーカスエラー信号は、光ディスクｄの記録面に対する光ビームの光スポットの合焦誤差を示す信号である。
【００１５】
制御処理部４は、各種サーボに関する処理および各種サーボを行う処理部であり、振幅測定部４０、算出部４１、サーボ部４２およびゲイン調整部４３を備えて構成される。
振幅測定部４０は、トラッキング制御信号生成回路３ａが生成したトラッキングエラー信号の振幅を測定して、フォーカスサーボがオンの状態におけるトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値を検出する。
また算出部４１は、振幅測定部４０が検出したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいて、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する。例えば、変動度合いとして、比率（＝振幅の最小値／最大値）を算出する。
【００１６】
サーボ部４２は、光ピックアップ２およびスピンドルモータ７に対する各種サーボ制御を実施する。また、その機能構成としてゲイン調整部４３を備える。
光ピックアップ２によって光ディスクｄから情報を安定して読み取るためには、まず、光ピックアップ２から照射される光ビームの光スポットを、光ディスクｄの記録面に合焦させる必要がある。そこで、サーボ部４２は、フォーカス制御信号生成回路３ｂによって生成されたフォーカスエラー信号を用いて、対物レンズの光ディスクｄの記録面に接離する方向に沿った駆動を制御することにより、光ビームの光スポットを記録面に合焦させるフォーカスサーボを実施する。
【００１７】
光スポットが光ディスクｄの記録面に合焦されると、次に、光スポットが光ディスクｄの記録面上の信号列であるトラックを正確にトレースし続ける必要がある。
そこで、サーボ部４２は、トラッキング制御信号生成回路３ａにより生成されたトラッキングエラー信号を用いて光ディスクｄの半径方向に沿った対物レンズの駆動を制御することにより、光ビームの光スポットを光ディスクｄのトラックに追従させるトラッキングサーボを実施する。
【００１８】
ゲイン調整部４３は、サーボ部４２が実施するトラッキングサーボにおけるゲインを調整する。サーボ部４２は、予め設定された初期ゲインでトラッキングサーボを開始して、光ディスクｄの目標トラックに対して光スポットを正確に追従させたトラッキングサーボ引き込みを行う。ここで、ゲイン調整部４３は、トラッキングサーボ引き込みが完了した後に、予め設定されたゲイン調整目標値に合わせるようにゲインを調整する。
【００１９】
初期ゲインは、光ディスク装置１に搭載されている光ピックアップ２の特性に合わせて予め決定されたゲイン値である。
一方、光ディスク装置１の系全体の特性は、光ディスクｄの偏芯量、光ピックアップ２の特性ばらつき、光ディスクｄの特性ばらつきあるいはトラッキング駆動回路６ａ、トラッキング制御信号生成回路３ａおよび制御処理部４の回路系におけるゲイン特性のばらつきの影響によってある程度の範囲でばらつきが生じる。この系全体の特性ばらつきを抑えるため、サーボ部４２では、トラッキングサーボ引き込み後にゲイン調整目標値に合わせるようにゲイン調整を行っている。
【００２０】
車載用あるいは民生用など、光ディスク装置１の用途によって設計思想が異なる。
例えば、民生用では、通常使用において耐震性を重視する必要がないので、ディスクに傷が付いてもその再生能力を確保できるようにトラッキングゲインを低めに設定する（ゲイン交点の周波数を、例えば７５０Ｈｚに設定する）。
一方、車載用では、車両の走行などによって発生する振動に対して耐性のあるサーボを実現するために、トラッキングサーボを高めに設定する（ゲイン交点の周波数を、例えば１．５ｋＨｚに設定する）。
【００２１】
ゲイン調整目標値は、光ディスク装置の用途に応じた設計値であり、例えばゲイン交点の周波数が１ｋＨｚとなるように設計された場合、このゲイン交点周波数となるゲインがゲイン調整目標値となる。
しかしながら、実際に光ディスク装置１に使用される部品にはばらつきがあるため、光ピックアップ２、トラッキング制御信号生成回路３ａ、サーボ部４２、トラッキング駆動回路６ａおよび再生すべき光ディスクｄのそれぞれに特性ばらつきがある。
これにより、再生側のトラッキングサーボゲインに関係するパラメータを固定的に設定すると、ゲイン交点の周波数が１ｋＨｚとなるゲインを実現することができない。
【００２２】
そこで、本発明では、光ディスク装置１に使用される全ての部品が特性中心値であると仮定して、トラッキングサーボゲインに関係するパラメータを初期値として初期ゲインを決定する。
そして、トラッキングサーボを引き込んだ後に、ゲイン調整部４３は、サーボ部４２のゲインを微調整してゲイン交点の周波数が１ｋＨｚになるまでゲインを調整する。
【００２３】
また、トラッキングサーボを引く込む前にトラッキング制御信号生成回路３ａのゲインを微調整して一定レベルに保つ処理もある。ただし、この処理は粗調整であって、ゲイン交点の周波数が１ｋＨｚになるまで追い込む一段前の調整となる。
特許文献１におけるゲインの調整は、この粗調整に相当するものである。従って、特許文献１に係る発明を適用した光ディスク装置において、システム設計としてゲイン交点の周波数が１ｋＨｚとなるゲインを設定した場合、光ディスクｄに応じてゲインを切り替えたとしても、ゲイン交点の周波数は１ｋＨｚのままとなる。
一方、本発明では、システム設計としてゲイン交点の周波数が１ｋＨｚとなるゲインを設定した場合において、光ディスクｄの偏芯などによってトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いが大きければ、それに伴いゲイン交点の周波数を例えば１．５ｋＨｚに変更する（ゲインを大きくする）。
なお、初期ゲインを決めるにあたり全ての部品の特性中心値を仮定して初期値を決めると説明したが、実際には、引き込みを確実にするためにゲイン交点の周波数が１ｋＨｚとなるゲインではなく、これより高い周波数となるゲインを初期ゲインとして設定することもある。
【００２４】
コントローラ５は、制御処理部４に対して各種の設定を行う制御部である。
各種の設定とは、例えば、光ディスク装置１のシステム全体の起動直後のサーボ特性の初期値（初期ゲイン）の設定、サーボ引き込み後のサーボ特性の目標値（ゲイン調整目標値）の設定、その他の処理に関する情報の設定が挙げられる。
また、コントローラ５は、算出部４１が算出したトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じてトラッキングサーボにおけるゲインを決定して、ゲイン調整部４３に設定する。例えば、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて、初期ゲインまたはゲイン調整目標値を新たに決定する。
【００２５】
トラッキング駆動回路６ａは、光ピックアップ２に内蔵されているトラッキングアクチュエータに駆動信号を出力して、対物レンズを光ディスクｄの半径方向に駆動させる回路である。また、フォーカス駆動回路６ｂは、光ピックアップ２に内蔵されているフォーカスアクチュエータに駆動信号を出力して対物レンズを光ディスクｄに接離する方向に駆動させる回路である。
【００２６】
なお、トラッキング制御信号生成回路３ａ、制御処理部４およびトラッキング駆動回路６ａは、本発明におけるトラッキング制御系を構成する。
また、フォーカス制御信号生成回路３ｂ、制御処理部４およびフォーカス駆動回路６ｂは、フォーカスサーボを実施するフォーカス制御系を構成する。
【００２７】
スピンドルモータ７は、図示を省略したスピンドル駆動回路からの駆動信号によって、光ディスクｄを回転駆動させるモータである。スピンドル駆動回路は、制御処理部４からの制御信号に従ってスピンドルモータ７に駆動信号を出力する。
【００２８】
次に動作について説明する。
図２は、この実施の形態１に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートであり、光ディスクｄを新規に再生するにあたってトラッキングサーボの開始前からトラッキングサーボを実施するまでの処理の流れを示している。
まず、コントローラ５は、ゲイン調整部４３に対してトラッキングサーボの初期ゲインとゲイン調整目標値を設定する（ステップＳＴ１）。
【００２９】
次に、スピンドルモータ７が、制御処理部４からの指示により、光ディスクｄを一定の速度で回転を開始する。そして、サーボ部４２は、フォーカス駆動回路６ｂを制御して、フォーカスサーボをオンとする（ステップＳＴ２）。これにより、光ピックアップ２から照射される光ビームの光スポットが、一定の速度で回転している光ディスクｄの記録面に合焦する。
【００３０】
フォーカスサーボがオンの状態において、トラッキング制御信号生成回路３ａは、光ピックアップ２によって光ディスクｄから読み取られた情報に基づいてトラッキングエラー信号を生成する。
【００３１】
次に、振幅測定部４０は、コントローラ５からの指示に従って、トラッキング制御信号生成回路３ａが生成したトラッキングエラー信号の振幅を測定し、振幅の最大値と最小値を検出する（ステップＳＴ３）。
図３は、トラッキングエラー信号の振幅の変動を示す信号波形図であり、光ディスクｄの一回転分の期間で得られたトラッキングエラー信号を示している。図３（ａ）は振幅の変動が小さい場合の信号波形、図３（ｂ）は振幅の変動が大きい場合を示している。
【００３２】
光ディスク装置１では、光ディスクｄの偏芯量、光ピックアップ２のＥＦ位相差特性（先行と後行のサブビームの位相差）および光ディスク装置１の機構的な誤差などの影響が小さい場合、図３（ａ）に示すように、振幅の変動が小さいトラッキングエラー信号が得られる。ただし、振幅測定部４０が測定したトラッキングエラー信号の振幅のうち、予め定められた許容上限値を超える振幅には、この振幅の代わりに許容上限値を使用し、予め定められた許容下限値を下回る振幅は、この振幅の代わりに許容下限値を使用する。
これは、例えば瞬間的に大きなレベルとなるスパイクノイズが振幅の最大値として設定されることがないように処理するためである。
また、図３（ａ）に示すように、光ディスクｄが一回転するごとに、光スポットが次の周の回転に移動することに起因して、トラッキングエラー信号の振幅の最大値付近に振幅が小さい部分８ａが発生する。この部分８ａを最小値として計算することのないように許容下限値で代替する。
【００３３】
一方、上述のような光ディスクｄの偏芯量、光ピックアップ２のＥＦ位相差特性および光ディスク装置１の機構的な誤差などの影響が大きい場合は、図３（ｂ）に示すように、振幅レベルの大きな部分と小さな部分が交互に現れるトラッキングエラー信号の信号波形となる。すなわち、トラッキングエラー信号の振幅レベルが、光ディスクｄが一回転する間に大きく変動しており、トラッキングサーボが不安定になる要因となる。
【００３４】
そこで、本発明では、上述したようなトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じてトラッキングサーボにおけるゲインを決定する。
図２の説明に戻ると、ステップＳＴ４において、算出部４１は、振幅測定部４０により測定されたトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値の比率を算出する。ここで、比率は、振幅レベルの最小値／最大値で求められ、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを表す値である。比率が小さくなるほど、振幅の変動度合いは大きくなり、比率が大きくなれば、振幅の変動度合いは小さくなる。
【００３５】
次に、コントローラ５は、算出部４１が算出した比率に応じて、トラッキングサーボの初期ゲインおよびゲイン調整目標値を決定してゲイン調整部４３に再設定する（ステップＳＴ５）。ここでは、比率とゲインを反比例の関係として比率が小さくなるにつれて従前のゲイン値よりも大きくなるようにゲインを決定する。
例えば、比率が０．５であった場合は、最初に設定した初期ゲインの２倍の値を新たな初期ゲインとし、比率が０．４であれば、初期ゲインの２．５倍の値を新たな初期ゲインとする。比率と初期ゲインから大きくする倍数との関係は、予め実験により求めておく。
同様に、ゲイン調整目標値についても、比率が小さくなるにつれて従前の値より大きくなるようにゲインを決定してもよい。
【００３６】
次に、サーボ部４２は、コントローラ５の指示に従って、トラッキング駆動回路６ａを制御することにより、トラッキングサーボをオンする（ステップＳＴ６）。
この後、ゲイン調整部４３は、新たに設定されたトラッキングサーボにおけるゲインを調整する（ステップＳＴ７）。
【００３７】
図４はトラッキングサーボのオープンループ特性を示す図である。図４に示すように、ステップＳＴ１で設定される初期ゲインＡからよりも高い初期ゲインＢへオープンループ特性を変更することにより、トラッキングサーボの引き込み能力が改善する。
また、ゲイン調整目標値を大きめ（ゲイン交点の周波数を高め）に再設定すれば、トラッキングサーボ引き込み後のサーボ安定性も改善する。
【００３８】
上述したように、特許文献１ではシステム設計上のゲイン交点の周波数は変更しておらず、トラッキングエラー信号ができるだけフラットに近くなるように補正している。
これに対して、本発明では、トラッキングエラー信号の信号振幅が減衰したところでも十分なサーボゲインを確保できるようにシステム設計上のゲイン交点の周波数を高くしておく処理を行っている。
【００３９】
なお、トラッキングエラー信号の振幅の最小値と最大値の比率とゲインを反比例の関係（振幅の変動度合いとゲインを正比例の関係）とした場合を示したが、本発明は、これに限定されるものではない。例えば、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いが第１の範囲内であれば、ゲインを２倍とし、第１の範囲よりも高い第２の範囲内であれば３倍とするというように、変動度合いの大きさに対して離散的に倍数を設定してもよい。
【００４０】
また、上記の説明では、制御処理部４の内部ゲインである初期ゲインおよびゲイン調整目標値を再設定する場合を示したが、これに限定されるものではない。
例えば、トラッキング制御信号生成回路３ａまたはトラッキング駆動回路６ａにおけるゲインを、上述のようにして決定して再設定してもよい。
【００４１】
図３では、光ディスクｄの一回転分の期間でトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値を検出する場合を示したが、複数回転分の期間でそれぞれ検出した振幅の最大値と最小値を用いて振幅の変動度合いを算出してもよい。
例えば、振幅測定部４０が光ディスクの複数回転分の期間でトラッキングエラー信号の振幅を測定して最大値と最小値をそれぞれ検出する。そして、算出部４１が、複数回転分の期間でそれぞれ検出された振幅の最大値および最小値の中でさらに最大となる値と最小となる値を抽出し、抽出した最大値と最小値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する。
この他、算出部４１が、光ディスクｄの複数回転分の期間でそれぞれ検出されたトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値について平均値を算出し、トラッキングエラー信号の振幅の最大値および最小値の各平均値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出してもよい。
光ディスクｄ上の傷、汚れなどに起因した異常なトラッキングエラー信号の影響を緩和することができる。
【００４２】
また、トラッキングサーボにおける初期ゲインおよびゲイン調整目標値は、光ディスク装置１を設計する段階で十分に検証した上で決定されている。一方、光ディスクｄの傷、汚れなどによって異常になったトラッキングエラー信号を基にゲインが決定された場合、最初に設定されたゲインからかけ離れた値となる可能性がある。
そこで、コントローラ５が、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定したゲインが予め定められた限界値を超える場合、決定したゲインの代わりに当該限界値をトラッキング制御系に設定してもよい。このようにすることで、異常なゲインが再設定されることを防止できる。
【００４３】
以上のように、この実施の形態１によれば、光ディスク装置１が、トラッキングエラー信号の振幅を測定する振幅測定部４０と、振幅測定部４０が測定したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいて、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する算出部４１と、トラッキングサーボにおけるゲインを、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定してゲイン調整部４３などのトラッキング制御系に設定するコントローラ５とを備える。このように構成することで、再生対象の光ディスクｄ、光ピックアップ２および光ディスク装置１における機構的誤差の影響に対応したゲインを設定することができるので、安定したトラッキングサーボが可能となり、光ディスクｄの再生能力を向上させることができる。
【００４４】
また、この実施の形態１によれば、コントローラ５が、トラッキングサーボのゲインを、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いが大きくなるにつれて従前の値より大きくする。このように構成することで、光ディスクｄのトラッキング変移量に対するスポットの追従性能が上がり、光ディスクｄの再生安定性が改善する。
【００４５】
さらに、この実施の形態１によれば、コントローラ５が、トラッキングエラー信号の振幅の変動度合いに応じて決定したゲインが予め定められた限界値を超える場合、決定したゲインの代わりに当該限界値をトラッキング制御系に設定する。このように構成することで、異常なゲインが再設定されることを防止できる。
【００４６】
さらに、この実施の形態１によれば、算出部４１が、振幅測定部４０が光ディスクｄの一回転分以上の期間で測定したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する。このように構成することで、トラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値が正確に求められ、振幅の変動度合いをより正確に算出することが可能となる。
【００４７】
さらに、この実施の形態１によれば、算出部４１が、振幅測定部４０が光ディスクｄの複数回転分の期間でそれぞれ測定したトラッキングエラー信号の振幅の最大値と最小値について平均値を算出し、トラッキングエラー信号の振幅の最大値および最小値の各平均値に基づいてトラッキングエラー信号の振幅の変動度合いを算出する。このように構成することで、光ディスクｄ上の傷、汚れなどに起因した異常なトラッキングエラー信号の影響を緩和することができる。
【００４８】
さらに、この実施の形態１によれば、算出部４１が、光ディスクｄの複数回転分の期間でそれぞれ測定されたトラッキングエラー信号の振幅のうち、予め定められた許容上限値を超える振幅は当該振幅の代わりに許容上限値を使用し、予め定められた許容下限値を下回る振幅は当該振幅の代わりに許容下限値を使用して、トラッキングエラー信号の振幅の最大値および最小値の各平均値を算出する。このように構成することで、安定したトラッキングサーボが可能となる。
【００４９】
なお、本発明はその発明の範囲内において、実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
【符号の説明】
【００５０】
１  光ディスク装置、２  光ピックアップ、３ａ  トラッキング制御信号生成回路、３ｂ  フォーカス制御信号生成回路、４  制御処理部、５  コントローラ、６ａ  トラッキング駆動回路、６ｂ  フォーカス駆動回路、７  スピンドルモータ、８ａ  振幅の小さい部分、４０  振幅測定部、４１  算出部、４２  サーボ部、４３  ゲイン調整部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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