(57)【要約】【課題】  タッチ入力の検出またはタッチ入力の位置の検出の遅延時間を容易に算出できるタッチパネル装置及びタッチパネル装置の遅延算出方法を提供する。【解決手段】  タッチパネル装置は、抵抗膜と、抵抗膜に電圧を印加する電圧印加部と、電圧印加部により抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、待機時間の経過後に抵抗膜の電位を検出する電位検出部と、検出された電位が収束値であるか否かを判定する収束判定部と、電位が前記収束値ではないと判定された場合、検出された電位及び待機時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する遅延算出部とを有し、電位検出部は、収束判定部により電位が前記収束値であると判定された場合、電位が前記収束値ではないと判定されるまで、待機時間を短縮して電位の検出を繰り返す。【選択図】図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
抵抗膜と、
前記抵抗膜に電圧を印加する電圧印加部と、
前記電圧印加部により前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、待機時間の経過後に前記抵抗膜の電位を検出する電位検出部と、
前記電位検出部により検出された前記電位が収束値であるか否かを判定する収束判定部と、
前記収束判定部により前記電位が前記収束値ではないと判定された場合、前記電位検出部により検出された前記電位及び前記待機時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する遅延算出部とを有し、
前記電位検出部は、前記収束判定部により前記電位が前記収束値であると判定された場合、前記収束判定部により前記電位が前記収束値ではないと判定されるまで、前記待機時間を短縮して前記電位の検出を繰り返すことを特徴とするタッチパネル装置。
【請求項２】
前記遅延算出部は、前記電位検出部により検出された電位、前記待機時間及び電源電圧に基づき、前記抵抗膜の電位が前記収束値に収束するときの時定数を算出し、前記時定数から前記遅延時間を算出することを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル装置。
【請求項３】
前記電位検出部は、前記待機時間を互いに異ならせて前記抵抗膜の電位を複数回検出し、
前記遅延算出部は、該検出された電位の各々、前記待機時間の各々、及び前記電源電圧から前記時定数の平均値を算出し、前記時定数の平均値から前記遅延時間を算出することを特徴とする請求項２に記載のタッチパネル装置。
【請求項４】
前記電位検出部は、前記抵抗膜の電位を複数回検出し、
前記収束判定部は、前記電位検出部により検出された今回の電位と前回の電位との差異が所定値以下である場合、前記電位が前記収束値であると判定することを特徴とする請求項１乃至４の何れかに記載のタッチパネル装置。
【請求項５】
抵抗膜と、
前記抵抗膜に電圧を印加する電圧印加部と、
タッチ入力の有無の検出モードで、前記電圧印加部により前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから時間間隔をおいて前記抵抗膜の電位を検出する電位検出部と、
前記電位検出部により検出された前記電位が収束値であるか否かを判定する収束判定部と、
前記電圧印加部により前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、前記収束判定部により前記電位が前記収束値であると判定されるまでの経過時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する遅延算出部とを有することを特徴とするタッチパネル装置。
【請求項６】
前記電位検出部は、前記電位を検出するたびに前記時間間隔を変更することを特徴とする請求項５に記載のタッチパネル装置。
【請求項７】
抵抗膜に電圧を印加し、
前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、待機時間の経過後に前記抵抗膜の電位を検出し、
検出された前記電位が、収束値であるか否かを判定し、
前記電位が前記収束値であると判定された場合、前記電位が前記収束値ではないと判定されるまで、前記待機時間を短縮して前記電位の検出を繰り返し、
前記電位が前記収束値ではないと判定された場合、検出された前記電位及び前記待機時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出することを特徴とするタッチパネル装置の遅延算出方法。
【請求項８】
抵抗膜に電圧を印加し、
タッチ入力の有無の検出モードで、前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから時間間隔をおいて前記抵抗膜の電位を検出し、
検出された前記電位が、収束値であるか否かを判定し、
前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、前記電位が前記収束値であると判定されるまでの経過時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出することを特徴とするタッチパネル装置の遅延算出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本件は、タッチパネル装置及びタッチパネル装置の遅延算出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
タブレット型端末装置や携帯型ゲーム機などの携帯型電子機器の普及に伴い、操作手段としてタッチパネルが広く用いられている。抵抗膜方式のタッチパネルには、ドットスペーサを介して対向する一組の抵抗膜が設けられており、タッチ入力が行われると、押圧により抵抗膜同士が接触する。このとき、抵抗膜には所定の電圧が印加され、押圧時の抵抗膜の電位に基づいて、タッチ入力の有無及びタッチ入力の位置が検出される。
【０００３】
一組の抵抗膜間には静電容量が存在するため、抵抗膜に電圧を印加してから抵抗膜の電位が収束するまでには、静電容量に応じた時間（以下、「収束所要時間」と表記）を要する。このため、タッチ入力の有無及びタッチ入力の位置を検出する場合、電圧印加開始のタイミングから、少なくとも収束所要時間だけ遅延して抵抗膜の電位が検出される。すなわち、タッチ入力の有無及びタッチ入力の位置の検出は、タッチパネルの電位が安定するのを待ってから行われる。
【０００４】
抵抗膜間の静電容量は、タッチパネルの種類、製造工程での誤差、経年劣化、及び環境に応じて変化する。例えば、経年劣化や環境変化により抵抗膜の表面層が撓んだ場合、抵抗膜間の静電容量が増加する。このため、検出電位の波形が鈍り、収束所要時間が増加する。
【０００５】
したがって、タッチ入力の有無及びタッチ入力の位置の検出タイミングが増加した収束所要時間に対して適切ではない場合、収束前の電位が検出されてしまうことにより、タッチ入力の誤検出やタッチ入力の位置の誤検出が発生する。この誤検出を回避するため、例えば、収束所要時間を多めに見込んで、タッチ入力の有無及びタッチ入力の位置の検出タイミングを設定する対応が考えられるが、この場合、操作検出の所要時間が増加するため、タッチパネルの応答性が低下する。
【０００６】
これに関し、例えば特許文献１には、Ｘ（Ｙ）座標電圧の検出を、測定遅延時間の経過後、最新の２回の電圧の電位差が所定電圧以内となるまで一定の検知間隔で繰り返し、繰り返しに要した時間を、Ｘ（Ｙ）座標電圧検出の測定遅延時間として記憶する点が記載されている。また、特許文献２には、抵抗膜の電圧を一定の時間間隔で３回読み取り、読み取った電圧から収束電圧を算出することで、電圧が過渡状態であるか否かを判定する点が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１４−１９１５１６号公報
【特許文献２】特開平１１−２４８４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、上記の特許文献１及び２に開示された手法によると、一定の時間間隔で電圧が検出されるため、タッチパネルごとの収束所要時間のばらつきに対応できない。したがって、上記の手法を採用する場合、正確な遅延時間を測定するには、電圧の検出間隔を抵抗膜間の静電容量に応じた適切な値に予め調整する手間が生ずる。
【０００９】
そこで、本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、タッチ入力の検出またはタッチ入力の位置の検出の遅延時間を容易に算出できるタッチパネル装置及びタッチパネル装置の遅延算出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本明細書に記載のタッチパネル装置は、抵抗膜と、前記抵抗膜に電圧を印加する電圧印加部と、前記電圧印加部により前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、待機時間の経過後に前記抵抗膜の電位を検出する電位検出部と、前記電位検出部により検出された前記電位が収束値であるか否かを判定する収束判定部と、前記収束判定部により前記電位が前記収束値ではないと判定された場合、前記電位検出部により検出された前記電位及び前記待機時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する遅延算出部とを有し、前記電位検出部は、前記収束判定部により前記電位が前記収束値であると判定された場合、前記収束判定部により前記電位が前記収束値ではないと判定されるまで、前記待機時間を短縮して前記電位の検出を繰り返す。
【００１１】
本明細書に記載の他のタッチパネル装置は、抵抗膜と、前記抵抗膜に電圧を印加する電圧印加部と、タッチ入力の有無の検出モードで、前記電圧印加部により前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから時間間隔をおいて前記抵抗膜の電位を検出する電位検出部と、前記電位検出部により検出された前記電位が収束値であるか否かを判定する収束判定部と、前記電圧印加部により前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、前記収束判定部により前記電位が前記収束値であると判定されるまでの経過時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する遅延算出部とを有する。
【００１２】
本明細書に記載のタッチパネル装置の遅延算出方法は、抵抗膜に電圧を印加し、前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、待機時間の経過後に前記抵抗膜の電位を検出し、検出された前記電位が、収束値であるか否かを判定し、前記電位が前記収束値であると判定された場合、前記電位が前記収束値ではないと判定されるまで、前記待機時間を短縮して前記電位の検出を繰り返し、前記電位が前記収束値ではないと判定された場合、検出された前記電位及び前記待機時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する。
【００１３】
本明細書に記載の他のタッチパネル装置の遅延算出方法は、抵抗膜に電圧を印加し、タッチ入力の有無の検出モードで、前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから時間間隔をおいて前記抵抗膜の電位を検出し、検出された前記電位が、収束値であるか否かを判定し、前記抵抗膜に電圧の印加が開始されてから、前記電位が前記収束値であると判定されるまでの経過時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によると、タッチ入力の検出またはタッチ入力の位置の検出の遅延時間を容易に算出できる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】タッチパネル装置の一例を示す構成図である。
【図２】４線式タッチパネルの一例を示す構成図である。
【図３】タッチ入力を検出するときのタッチパネルの状態を示す図である。
【図４】タッチ入力時のＸ座標を検出するときのタッチパネルの状態を示す図である。
【図５】タッチ入力時のＹ座標を検出するときのタッチパネルの状態を示す図である。
【図６】タッチ入力の検出処理の一例を示すフローチャートである。
【図７】タッチ入力の有無の検出時の電位変化の例を示す図である。
【図８】第１実施例の遅延算出方法を示すフローチャートである。
【図９】電位の検出タイミングの一例を示す図である。
【図１０】第２実施例の遅延算出方法を示すフローチャートである。
【図１１】電位の検出タイミングの他例を示す図である。
【図１２】複数回の電位の検出の一例を示す図である。
【図１３】遅延測定の設定画面の一例を示す図である。
【図１４】コマンドの例を示す表である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
図１は、タッチパネル装置の一例を示す構成図である。タッチパネル装置は、入力装置としてタッチパネルを備える装置であり、タッチパネル１００と、ディスプレイ１０１と、制御装置６とを備える。本例において、タッチパネル１００としては４線式タッチパネルを挙げるが、これに限定されることはなく、例えば５線式タッチパネルであってもよい。
【００１７】
ディスプレイ１０１は、例えば液晶モニタであり、表示面が、正面視でタッチパネル１００の入力面に重複するように設けられている。
【００１８】
制御装置６は、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのプロセッサ４と、プロセッサ４で実行されるプログラムが格納されたＲＯＭ（Read Only Memory）５０と、ワークメモリとして機能するＲＡＭ（Random Access Memory）５１とを有する。制御装置６は、さらに、各種の設定情報などを保持するパラメータメモリ５２と、パーソナルコンピュータなどの外部機器との通信を処理するＵＳＢ（Universal Serial Bus）インターフェース（I/F）５３とを有する。なお、パラメータメモリ５２としては、例えばフラッシュメモリのような不揮発性メモリが挙げられる。なお、パラメータメモリ５２は、設定情報の記憶専用のメモリである必要はない。
【００１９】
プロセッサ４は、タッチパネル１００及びディスプレイ１０１に接続され、また、バス６０を介してＲＯＭ５０、ＲＡＭ５１、パラメータメモリ５２、及びＵＳＢ  Ｉ／Ｆ５３と接続されている。プロセッサ４は、電源投入時、ＲＯＭ５０からプログラムを読み込むことにより、制御部４０、検出部４１、収束判定部４２、遅延算出部４３、設定処理部４４、及び表示部４５の機能を実現する。なお、制御部４０、検出部４１、収束判定部４２、遅延算出部４３、設定処理部４４、及び表示部４５は、プログラムに従って構成されるものに限定されず、ハードウェアのみで構成されたものであってもよい。
【００２０】
制御部４０は、例えば、タッチパネル１００を駆動するスイッチ（後述するスイッチ３１〜３５）を制御する。検出部４１は電位検出部の一例であり、後述する遅延算出処理において、制御されたタイミングでタッチパネル１００の抵抗膜の電位を検出する。また、検出部４１は、タッチパネル１００の抵抗膜の電位に基づいて、タッチパネル１００のタッチ入力の有無の検出及びタッチ入力の座標を検出する。なお、タッチパネル１００のタッチ入力の有無の検出及びタッチ入力の座標の検出は、タッチパネル１００に対するタッチ入力検出の一例である。
【００２１】
収束判定部４２は、検出部４１により検出された抵抗膜の電位が収束値であるか否かを判定する。ここで、電位の収束値とは、時間に対する電位の変化率が一定内に収まった状態における電位の値を指す。遅延算出部４３は、タッチ入力の検出タイミング及びタッチ入力の位置の検出タイミングを遅延させるための遅延時間を算出する。
【００２２】
設定処理部４４は、遅延測定の設定処理を行う。設定処理部４４による設定処理で設定されたパラメータは、パラメータメモリ５２に格納される。表示部４５は、ディスプレイ１０１の表示処理を行う。表示部４５は、後述するように、例えば遅延測定の設定画面をディスプレイ１０１に表示する。
【００２３】
次に、タッチパネル１００の構成を説明する。
【００２４】
図２は、４線式タッチパネル１００の一例を示す構成図である。タッチパネル１００は、対向する一組の抵抗膜１０，２０、電極１１，１２，２１，２２、スイッチ３１〜３５、アナログ−デジタル変換部（A/D）３８，３９、及び抵抗Ｒを備えている。なお、図２において、電極２１に平行な方向をＸ方向とし、電極１１に平行な方向をＹ方向とする。
【００２５】
抵抗膜１０，２０は、一例として矩形形状を有しているが、他形状を有してもよい。スイッチ３１〜３５は、電圧印加部の一例であり、そのオンオフに応じて一組の抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加する。スイッチ３１〜３５は、ベースが制御部４０に接続されており、制御部４０によりオンオフ制御される。なお、スイッチ３１〜３５としては、トランジスタを挙げるが、これに限定されない。
【００２６】
抵抗膜１０のＸ方向の両端には、電極１１及び１２がそれぞれ設けられている。電極１１及び１２は、例えば酸化インジウムスズ（ＩＴＯ）の薄膜により形成されている。
【００２７】
電極１１には、スイッチ３１のコレクタ及びＡ／Ｄ３８の一端が接続されている。Ａ／Ｄ３８の他端は検出部４１に接続されており、電極１１の電位Ｅ１は、Ａ／Ｄ３８によりアナログ信号からデジタル信号に変換されて検出部４１に入力される。スイッチ３１のエミッタは接地されている。電極１２には、スイッチ３２のコレクタが接続されており、スイッチ３２のエミッタには、電源電圧Ｖｃｃが印加される。
【００２８】
抵抗膜２０のＹ方向の両端には、電極２１及び２２がそれぞれ設けられている。電極２２には、スイッチ３５のコレクタが接続されており、スイッチ３５のエミッタには、電源電圧Ｖｃｃが印加される。電極２１には、Ａ／Ｄ３９の一端、抵抗Ｒの一端、及びスイッチ３４のコレクタが接続されている。Ａ／Ｄ３９の他端は検出部４１に接続されており、電極２１の電位Ｅ２は、Ａ／Ｄ３９によりアナログ信号からデジタル信号に変換されて検出部４１に入力される。スイッチ３４のエミッタは接地されている。
【００２９】
また、抵抗Ｒの他端には、スイッチ３３のコレクタが接続されている。スイッチ３３のエミッタは接地されている。
【００３０】
抵抗膜１０，２０は、不図示のドットスペーサを挟んで対向するように重ね合わされている。抵抗膜１０，２０は一定の間隔だけ離れており、タッチペンなどによるタッチ入力が行われたとき、押圧により互いに接触する。検出部４１は、電極２１の電位Ｅ２に基づいてタッチ入力の有無を検出する。また、検出部４１は、タッチ入力のＸ座標及びＹ座標を、入力面Ｓ内の押圧点Ｐの電位Ｅ２，Ｅ１からそれぞれ検出する。以下に、タッチ入力の有無の検出及びタッチ入力の座標の検出について述べる。
【００３１】
図３には、タッチ入力の有無を検出するときのタッチパネル１００の状態が示されている。制御部４０は、タッチ入力の有無を検出するときには、スイッチ３２，３３をオン状態とし、スイッチ３１，３４，３５をオフ状態とする。これにより、抵抗膜１０に電源電圧Ｖｃｃが印加され、抵抗膜２０は接地される。
【００３２】
このため、抵抗膜１０，２０が、タッチ入力により押圧点Ｐにおいて接触すると、電極２１で検出される電位Ｅ２が増加する。より具体的には、抵抗膜１０と抵抗膜２０とが非接触状態の電位Ｅ２は接地電位となる一方、抵抗膜１０と抵抗膜２０とが接触状態の電位Ｅ２は、電源電圧Ｖｃｃを、抵抗膜１０，２０の電流経路上の抵抗と、抵抗Ｒとで分圧した値となる。検出部４１は、例えば、電位Ｅ２が所定の閾値Ｅｔｈを超えた場合、タッチ入力を検出する。
【００３３】
図４には、タッチ入力時のＸ座標を検出するときのタッチパネル１００の状態が示されている。制御部４０は、タッチ入力のＸ座標を検出するとき、スイッチ３１，３２をオン状態とし、スイッチ３３〜３５をオフ状態とする。
【００３４】
これにより、抵抗膜１０の電極１１，１２間に電源電圧Ｖｃｃが印加されるので、Ｘ方向に電位勾配Ｖｘが発生する。このとき、検出部４１には、電極２１における電位Ｅ２が入力される。抵抗膜１０上に電位勾配Ｖｘが生じているため、抵抗膜１０と抵抗膜２０とが接触したときの電位Ｅ２は押圧点ＰのＸ座標に応じた値を持つ。そのため、検出部４１は、電位Ｅ２に基づいてタッチ入力のＸ座標を検出する。
【００３５】
図５には、タッチ入力時のＹ座標を検出するときのタッチパネル１００の状態が示されている。制御部４０は、タッチ入力のＹ座標を検出するときは、スイッチ３４，３５をオン状態とし、スイッチ３１〜３３をオフ状態とする。
【００３６】
これにより、抵抗膜２０の電極２１，２２間に電源電圧Ｖｃｃが印加されるので、Ｙ方向に電位勾配Ｖｙが発生する。このとき、検出部４１には、抵抗膜１０を介して電極１１における電位Ｅ１が入力される。電位Ｅ１は押圧点ＰのＹ座標に応じた値を持つため、検出部４１は、電位Ｅ１に基づいてタッチ入力のＹ座標を検出する。
【００３７】
次に、タッチ入力の検出処理を説明する。タッチ入力の検出処理では、タッチ入力の有無と、タッチ入力のＸ座標及びＹ座標とを検出する。
【００３８】
図６は、タッチ入力の検出処理の一例を示すフローチャートである。図６の処理は、例えば、一定の時間周期で実行される。
【００３９】
まず、制御部４０は、スイッチ（ＳＷ）３３をオンにし、スイッチ３１，３２，３４，３５をオフにする（ステップＳｔ１）。これにより、電極２１が抵抗Ｒを介して接地されるため、抵抗膜１０，２０間に溜まった電荷が放電される。
【００４０】
次に、制御部４０は、スイッチ３２，３３をオンにし、スイッチ３１，３４，３５をオフにする（ステップＳｔ２）。これにより、タッチパネル１００は、図３に示されるタッチ入力の検出状態となる。
【００４１】
次に、検出部４１は、ステップＳｔ２の処理から遅延時間Ｔｄだけ待機した後（ステップＳｔ３）、電極２１における電位Ｅ２を検出する（ステップＳｔ４）。遅延時間Ｔｄは、後述する遅延算出方法により算出され、パラメータメモリ５２に格納されている。制御部４０は、タッチ入力の有無を判定するために、電位Ｅ２を所定の閾値Ｅｔｈと比較する（ステップＳｔ５）。すなわち、Ｅ２＞Ｅｔｈが成立すれば、タッチ入力が有るものと判定される。
【００４２】
図７には、タッチ入力の有無の検出時の電位変化の例が示されている。図７において、横軸は時刻を示し、縦軸は電位Ｅ２を示す。
【００４３】
波形Ｗ０は、電位Ｅ２の理想的なパルス波形を示す。しかし、抵抗膜１０，２０間には静電容量が存在するため、電位Ｅ２は、例えば波形Ｗ１のように鈍った波形となる。したがって、ステップＳｔ１，Ｓｔ２の処理により抵抗膜１０，２０に電圧が印加されてから、あるいは抵抗膜１０に電圧を印加した状態で抵抗膜１０と抵抗膜２０とが接触してから、電位Ｅ２が収束するまでには、静電容量に応じた収束所要時間を要する。
【００４４】
ｔ＝−τ×ｌｎ｛（Ｖｃｃ−Ｅ２）／Ｖｃｃ｝  ・・・（１）
τ＝Ｒ×Ｃ      ・・・（２）
【００４５】
ここで、抵抗膜１０，２０への電圧の印加が開始されてから、あるいは、抵抗膜１０と抵抗膜２０とが接触してからの経過時刻ｔは、電位Ｅ２が収束値に収束するときの時定数τ、電位Ｅ２、及び電源電圧Ｖｃｃを用いて、上記の式（１）により表される。また、時定数τは、上記の式（２）のように、抵抗膜１０，２０の静電容量Ｃと、抵抗膜１０，２０を含む回路抵抗の抵抗値Ｒとの積として表される。したがって、収束所要時間、換言すれば抵抗膜１０，２０の充電時間は、時定数τに比例して大きくなる。なお、以下、抵抗膜１０，２０が接触している状態での抵抗膜１０，２０への電圧印加の開始、抵抗膜１０，２０に電圧を印加した状態での抵抗膜１０，２０同士の接触との双方を、「抵抗膜への電圧の印加」と見なすものとする。
【００４６】
このため、検出部４１は、ステップＳｔ３，Ｓｔ４の処理において、電圧の印加開始の時刻Ｔｏから、遅延時間Ｔｄだけ遅延して電位Ｅ２を検出する。すなわち、タッチ入力の有無の検出は、タッチパネル１００の電位Ｅ２が安定するのを待ってから行われる。図７の例では、時刻Ｔｏから遅延時間Ｔｄの経過後の時刻Ｔｄｅｔにおいて、検出された電位Ｅ２は、所定の閾値Ｅｔｈより高いため、制御部４０は、タッチ入力が有ると正常に判定することができる。
【００４７】
抵抗膜１０，２０間の静電容量は、タッチパネル１００の種類、製造工程での誤差、経年劣化、及び環境に応じて変化する。例えば、経年劣化や環境変化により抵抗膜１０，２０の表面が撓んだ場合、静電容量が増加するため、波形Ｗ２又はＷ３のように電位変化の波形が波形Ｗ１よりも鈍ることで、収束所要時間が増加する。この場合、仮に、時刻Ｔｏから遅延時間Ｔｄの経過後の時刻Ｔｄｅｔで電位Ｅ２を検出すると、検出される電位Ｅ２は所定の閾値Ｅｔｈより低いため、制御部４０は、タッチ入力が無いと誤判定する。
【００４８】
このため、制御装置６は、後述するように、遅延時間Ｔｄを、収束所要時間に対して適切な値Ｔｄ’に制御する。図７の例では、時刻Ｔｏから遅延時間Ｔｄ’の経過後の時刻Ｔｄｅｔ’で電位Ｅ２を検出すると、検出された電位Ｅ２は所定の閾値Ｅｔｈより高いため、制御部４０は、タッチ入力が有ると正常に判定できる。
【００４９】
再び図６を参照すると、制御部４０は、Ｅ２≦Ｅｔｈである場合（ステップＳｔ５のＮｏ）、タッチ入力が無いと判定し、処理を終了する。また、制御部４０は、Ｅ２＞Ｅｔｈである場合（ステップＳｔ５のＹｅｓ）、タッチ入力が有ると判定し、タッチ入力のＸ座標を検出するため、スイッチ３１，３２をオンにし、スイッチ３３，３５をオフにする（ステップＳｔ６）。これにより、タッチパネル１００は、図４に示されるタッチ入力のＸ座標を検出する状態となる。
【００５０】
次に、検出部４１は、ステップＳｔ６の処理から遅延時間Ｔｄだけ待機した後（ステップＳｔ７）、電極２１の電位Ｅ２を検出する（ステップＳｔ８）。次に、検出部４１は、検出した電位Ｅ２からＸ座標を検出する（ステップＳｔ９）。ここで、Ｘ座標の検出タイミングを抵抗膜１０，２０に対する電圧の印加から遅延時間Ｔｄだけ遅延させる理由は、図７を参照して述べた内容と同様であり、正常なＸ座標を検出するためである。
【００５１】
次に、制御部４０は、タッチ入力のＹ座標を検出するため、スイッチ３４，３５をオンにし、スイッチ３１〜３３をオフにする（ステップＳｔ１０）。これにより、タッチパネル１００は、図５に示されるタッチ入力のＹ座標を検出する状態となる。
【００５２】
次に、検出部４１は、ステップＳｔ１１の処理から遅延時間Ｔｄだけ待機した後（ステップＳｔ１１）、電位Ｅ１を検出する（ステップＳｔ１２）。次に、検出部４１は、検出した電位Ｅ１からＹ座標を検出する（ステップＳｔ１３）。ここで、Ｙ座標の検出タイミングを、抵抗膜１０，２０に対する電圧の印加から遅延時間Ｔｄだけ遅延させる理由は、図７を参照して述べた内容と同様であり、正常なＹ座標を検出するためである。このようにして、タッチ入力の検出処理は行われる。
【００５３】
上述したように、タッチパネル装置では、タッチ入力の有無の検出タイミング及びタッチ入力の位置の検出タイミングに遅延時間Ｔｄが与えられる。このため、収束後に測定する電位Ｅ１，Ｅ２に基づいて、タッチ入力の有無及びタッチ入力の座標が正常に検出される。なお、タッチパネル１００の特性によっては、タッチ入力の有無の検出タイミング及びタッチ入力の位置の検出タイミングの一方のみに遅延時間Ｔｄが与えられてもよい。
【００５４】
また、電位Ｅ１，Ｅ２の収束所要時間は、抵抗膜１０，２０間の静電容量の変化に応じて変化する。このため、タッチパネル装置は、以下に述べる遅延算出方法により、収束所要時間に応じた適切な遅延時間Ｔｄを算出する。
【００５５】
（第１実施例）
図８は、第１実施例の遅延算出方法を示すフローチャートである。本処理は、タッチ入力の有無の検出モード（例えば図６のステップＳｔ１の前）で実行される。本処理は、例えば、予め設定されたチェック周期ごとに実行される。また、本処理は、一組の抵抗膜１０，２０が、タッチ入力により押下点Ｐで互いに接触した状態で実行されるが、抵抗膜に電圧を印加した後に抵抗膜１０，２０同士を接触させて実行してもよい。
【００５６】
まず、制御部４０は、スイッチ３３をオンにし、スイッチ３１，３２，３４，３５をオフにする（ステップＳｔ２１）。これにより、電極２１が抵抗Ｒを介して接地されるため、抵抗膜１０，２０間に溜まった電荷が放電される。
【００５７】
次に、制御部４０は、スイッチ３２，３３をオンにし、スイッチ３１，３４，３５をオフにする（ステップＳｔ２２）。これにより、タッチパネル１００は、図３に示されるタッチ入力の有無を検出できる状態となる。本処理では、この状態で遅延時間算出のための処理を行う。
【００５８】
次に、制御部４０は、計時を開始する（ステップＳｔ２３）。計時は、例えばプロセッサ４に入力されるクロック信号に基づいて行われる。
【００５９】
次に、検出部４１は、ステップＳｔ２２の処理から時間間隔ΔＴだけ待機して（ステップＳｔ２４）、電位Ｅ２を検出する（ステップＳｔ２５）。次に、検出部４１は、ステップＳｔ２５の電位検出が初回の検出であるか否かを判定する（ステップＳｔ２６）。
【００６０】
検出部４１は、初回の電位検出の場合（ステップＳｔ２６のＹｅｓ）、上記のステップＳｔ２４，Ｓｔ２５の処理を再び行う。一方、２回目以降の検出の場合（ステップＳｔ２６のＮｏ）、収束判定部４２は、検出部４１により検出された電位Ｅ２が、収束値であるか否かを判定する（ステップＳｔ２７）。
【００６１】
収束判定部４２は、例えば、今回検出した電位Ｅ２と前回検出した電位Ｅ２との差異が所定値以下である場合、電位Ｅ２が収束値であると判定する。このため、収束判定部４２は、電位Ｅ２が収束値であるか否かを容易に判定できる。なお、収束判定部４２による判定手法はこれに限定されず、例えば、単位時間当たりの電位Ｅ２の変化量から収束の判定を行ってもよい。
【００６２】
電位Ｅ２が収束値ではないと判定された場合（ステップＳｔ２７のＮｏ）、検出部４１は、時間間隔ΔＴを変更する（ステップＳｔ３１）。このとき、検出部４１は、例えば、検出した電位Ｅ２に応じて時間間隔ΔＴを変更する。次に、検出部４１は、上記のステップＳｔ２４，Ｓｔ２５の処理を再び行う。このため、収束所要時間に応じた最適な時間間隔ΔＴでの電位Ｅ２検出が可能となる。尚、ステップＳｔ３１の処理では時間間隔ΔＴを変更しているが、予め設定された一定の時間間隔であってもよい。
【００６３】
図９には、電位Ｅ２の検出タイミングの一例が示されている。図９において、横軸は時刻を示し、縦軸は電位Ｅ２を示す。また、時刻Ｔｏは、抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始された時刻である。
【００６４】
最初の電位Ｅ２の検出は、時刻Ｔｏから時間間隔ΔＴをおいた時刻Ｔ１において行われる。２回目の電位Ｅ２の検出は、時刻Ｔ１から時間間隔ΔＴ’をおいた時刻Ｔ２において行われる。３回目の電位Ｅ２の検出は、時刻Ｔ２から時間間隔ΔＴ’’をおいた時刻Ｔ３において行われる。
【００６５】
検出部４１は、電位Ｅ２が検出されるたびに電位測定のための時間間隔を変更する。より具体的には、検出部４１は、時刻Ｔ１で検出された電位Ｅ２の値Ｖ１に基づいて、時間間隔をΔＴからΔＴ’に変更する（ΔＴ≠ΔＴ’）。また、検出部４１は、時刻Ｔ２で検出された電位Ｅ２の値Ｖ２に基づいて、時間間隔をΔＴ’からΔＴ’’に変更する（ΔＴ’≠ΔＴ’’）。なお、時間間隔ΔＴの値は例えば、前後で検出された電位の差分に応じて変更してもよい。このように、時間間隔ΔＴは、動的に変更されるため、収束所要時間に応じた最適な時間間隔ΔＴで電位Ｅ２が検出される。
【００６６】
また、収束判定部４２は、時刻Ｔ３で検出された電位Ｅ２の値Ｖ３と、時刻Ｔ２で検出された電位Ｅ２の値Ｖ２との差異（Ｖ３−Ｖ２）が所定値α以下である場合、電位Ｅ２は収束値に達したと判定する。すなわち、ｎを正の整数とすると、収束判定部４２は、時刻Ｔｎで検出された電位Ｅ２の値Ｖｎと、前回の時刻Ｔｎ−１で検出された電位Ｅ２の値Ｖｎ−１との差異（Ｖｎ−Ｖｎ−１）が所定値α以下である場合、電位Ｅ２は収束値に達したと判定する。ここで、所定値αは、例えば抵抗膜１０，２０の特性に基づいて決定される。
【００６７】
再び図８を参照すると、電位Ｅ２が収束値であると判定された場合（ステップＳｔ２７のＮｏ）、制御部４０は計時を停止する（ステップＳｔ２８）。次に、遅延算出部４３は、ステップＳｔ２２（またはＳｔ２３）の処理からの経過時間に基づいて、遅延時間Ｔｄを算出する（ステップＳｔ２９）。すなわち、遅延算出部４３は、スイッチ３１〜３５により抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加を開始してから、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値であると判定されるまでの経過時間に基づき遅延時間Ｔｄを算出する。
【００６８】
このとき、遅延算出部４３は、例えば、計時した経過時間に予め設定されたマージンを加算することにより、遅延時間Ｔｄを算出してもよい。このマージンは、例えば、遅延時間Ｔｄの５〜１０％の値であり、パラメータメモリ５２に保持される。
【００６９】
次に、遅延算出部４３は、算出した遅延時間Ｔｄを設定する（ステップＳｔ３０）。これにより、遅延時間Ｔｄは、パラメータメモリ５２に保持される。このようにして、遅延時間Ｔｄの算出処理は行われる。
【００７０】
上述したように、本実施例に係るタッチパネル装置において、検出部４１は、スイッチ３１〜３５のオンオフにより抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、時間間隔ΔＴをおいて抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２を検出する。
【００７１】
収束判定部４２は、検出部４１により検出された電位Ｅ２が、収束値であるか否かを判定する。遅延算出部４３は、スイッチ３１〜３５のオンオフにより抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値であると判定されるまでの経過時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間Ｔｄを算出する。
【００７２】
これにより、本実施例に係るタッチパネル装置では、予め時間間隔ΔＴを調整する手間が省けるため、タッチ入力の有無の検出またはタッチ入力の位置の検出の遅延時間Ｔｄを容易に算出できる。
【００７３】
また、遅延時間Ｔｄの算出時には、タッチパネル１００を、図３に示されるタッチ入力の有無の検出モードにして、抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加する。より具体的には、スイッチ３１〜３５は、一組の抵抗膜１０，２０の一方を電源に接続し、他方を接地することにより、一組の抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加する。より具体的には、抵抗膜１０の電極１２を電源に接続し、抵抗膜２０の電極２１を接地した状態で抵抗膜１０の電極１２に電圧Ｖｃｃを印加して、図８の処理を実行する。
【００７４】
接触位置の座標に応じて検出される電位Ｅ２が変化する図４もしくは図５の状態と異なり、図３のタッチ入力検出モードでは、電位Ｅ２の収束値は、タッチパネル１００の入力面Ｓ内の押下点Ｐの位置によらずに同一となるので、検出される電位Ｅ２が変わらず、遅延時間Ｔｄを正確に算出することが可能である。
【００７５】
これに対し、特許文献１に開示された手法では、タッチ入力のＸ（Ｙ）座標の検出状態、つまり、抵抗膜の一端が電源に接続され、他端が接地された状態において、測定遅延時間の経過後から抵抗膜の電圧の検出を開始する。
【００７６】
したがって、抵抗膜内に生じた電位勾配のため、押圧点の位置に応じて、電圧の収束値が異なってしまう。例えば、押圧点の位置が電源に近い場合、検出された電圧が電源電圧に近い値となるため、測定遅延時間の経過後に検出された２回の電圧の差分が微小となるので、正確な測定遅延時間を得ることが困難である。
【００７７】
また、本実施例のタッチパネル装置において、検出部４１は、電位Ｅ２を検出するたびに時間間隔ΔＴを変更する。
【００７８】
したがって、時間間隔ΔＴをおいて一組の抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２が繰り返し検出され、電位Ｅ２を検出するたびに時間間隔ΔＴは変更される。したがって、時間間隔ΔＴは、動的に変更されるため、収束所要時間に応じた最適な時間間隔ΔＴで電位Ｅ２が検出される。
【００７９】
また、本実施例に係るタッチパネル装置の遅延算出方法は、以下のステップを含む。
ステップ（１）：抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加する。
ステップ（２）：タッチ入力の有無の検出モードで、抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、時間間隔ΔＴをおいて抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２を検出する。
ステップ（３）：検出された電位Ｅ２が、収束値であるか否かを判定する。
ステップ（４）：抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、電位Ｅ２が収束値であると判定されるまでの経過時間に基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間Ｔｄを算出する。
【００８０】
本実施例に係るタッチパネル装置の遅延算出方法は、上記のタッチパネル装置と同様の構成を含むため、上述した内容と同様の作用効果を奏する。
【００８１】
（第２実施例）
図１０は、第２実施例の遅延算出方法を示すフローチャートである。本処理は、第１実施例と同様に、タッチ入力の有無の検出モード（例えば図６のステップＳｔ１の前）で実行される。本処理は、例えば、予め設定されたチェック周期ごとに実行される。また、本処理は、一組の抵抗膜１０，２０が、タッチ入力により押下点Ｐで互いに接触した状態で実行されるが、抵抗膜１０，２０に電圧を印加してから抵抗膜１０，２０同士を接触させて実行するようにしてもよい。
【００８２】
まず、制御部４０は、スイッチ３３をオンにし、スイッチ３１，３２，３４，３５をオフにする（ステップＳｔ４１）。これにより、電極２１が、抵抗Ｒを介して接地されるため、抵抗膜１０，２０間に溜まった電荷が放電される。
【００８３】
次に、制御部４０は、スイッチ３２，３３をオンにし、スイッチ３１，３４，３５をオフにする（ステップＳｔ４２）。これにより、タッチパネル１００は、図３に示されるタッチ入力の検出状態となる。
【００８４】
次に、検出部４１は、ステップＳｔ４２の処理から待機時間Ｔｗだけ待機して（ステップＳｔ４３）、電位Ｅ２を検出する（ステップＳｔ４４）。すなわち、検出部４１は、スイッチ３１〜３５のオンオフにより抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、待機時間Ｔｗの経過後に抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２を検出する。
【００８５】
次に、収束判定部４２は、ステップＳｔ４４の処理で検出部４１により検出された電位Ｅ２が、収束値であるか否かを判定する（ステップＳｔ４６）。このとき、収束判定部４２は、第１実施例と同様の手法で収束の判定を行えばよい。すなわち、検出部４１は、ステップＳｔ４４において、待機時間Ｔｗより短い間隔で電位Ｅ２を２回検出し、収束判定部４２は、検出した各電位Ｅ２の差異が所定値以下である場合、電位Ｅ２が収束値であると判定する。このため、収束判定部４２は、電位Ｅ２が収束値であるか否かを容易に判定する。なお、収束判定部４２による判定手法はこれに限定されず、例えば、単位時間当たりの電位Ｅ２の変化量から収束の判定を行ってもよい。
【００８６】
電位Ｅ２が収束値であると判定された場合（ステップＳｔ４６のＹｅｓ）、抵抗膜１０，２０が充電され、タッチパネル１００が安定している状態であるため、このときに測定された電位Ｅ２からは性格な時定数τを算出できない可能性がある。そこで検出部４１は、待機時間Ｔｗを１／２の値（つまりＴｗ／２）に変更して（ステップＳｔ５０）、ステップＳｔ４１以降の処理を再び行う。すなわち、検出部４１は、待機時間Ｔｗを短縮して、抵抗膜１０，２０の放電も含めて電位Ｅ２の検出処理を最初からやり直す。なお、待機時間Ｔｗの短縮の手法は、上記に限定されず、例えば待機時間Ｔｗを１／３にしてもよい。
【００８７】
一方、電位Ｅ２が収束値ではないと判定された場合（ステップＳｔ４６のＮｏ）、遅延算出部４３は、検出部４１により検出された電位Ｅ２、待機時間Ｔｗ、及び電源電圧Ｖｃｃに基づいて、上記の式（１）から時定数τを算出する（ステップＳｔ４７）。このとき、遅延算出部４３は、ステップＳｔ４３の処理における待機時間Ｔｗを経過時刻ｔとして用いることで、時定数τを算出する。したがって、遅延算出部４３は、簡単な計算で遅延時間Ｔｄを算出できる。
【００８８】
次に、遅延算出部４３は、時定数τから遅延時間Ｔｄを算出する（ステップＳｔ４８）。遅延時間Ｔｄは、時定数τに所定の比率を乗じ、さらに第１実施例で説明したマージンを加算することにより算出される。
【００８９】
図１１には、電位の検出タイミングの例が示されている。図１１において、横軸は時刻を示し、縦軸は電位Ｅ２を示す。
【００９０】
検出部４１は、１回目の検出では、抵抗膜１０，２０への電源電圧Ｖｃｃの印加が開始された時刻Ｔｏから待機時間Ｔｗの経過後に電位Ｅ２を検出する。このとき検出された電位Ｅ２は収束値、つまり、抵抗膜１０，２０の充電後の電位であるため、タッチパネル１００が安定した状態にある。そのため、この時に測定された電位Ｅ２を元に仮に式（１）から時定数τを算出した場合、誤った時定数τが算出される。
【００９１】
そこで４１は、２回目の検出では、待機時間ＴｗをＴｗ／２に短縮して、抵抗膜１０，２０への電源電圧Ｖｃｃの印加が開始された時刻Ｔｏから待機時間Ｔｗ／２の経過後に電位Ｅ２を検出する。このとき検出された電位Ｅ２は、収束値、つまり、抵抗膜１０，２０の充電完了前の電位であるため、式（１）から正しい時定数τが算出できる。
【００９２】
このように、検出部４１は、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値であると判定された場合は、抵抗膜１０，２０が充電状態となる前の電位Ｅ２を測定するために、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値ではないと判定されるまで、待機時間Ｔｗを短縮して電位Ｅ２を検出することを繰り返す。電位検出を繰り返した結果、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値ではないと判定された場合、遅延算出部４３は、検出部４１により検出された電位Ｅ２及び待機時間Ｔｗに基づき遅延時間Ｔｄを算出する。
【００９３】
このため、待機時間Ｔｗに対して収束所要時間が短い場合でも、抵抗膜１０，２０の充電が完了する前の収束前の、電位Ｅ２が検出され、電位Ｅ２から遅延時間Ｔｄが算出される。
【００９４】
再び図１０を参照すると、次に、遅延算出部４３は、算出した遅延時間Ｔｄを設定する（ステップＳｔ４９）。これにより、遅延時間Ｔｄは、パラメータメモリ５２に保持される。このようにして、遅延時間Ｔｄの算出処理は行われる。
【００９５】
上述したように、本実施例に係るタッチパネル装置では、スイッチ３１〜３５により抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、待機時間Ｔｗの経過後に、抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２を検出する。
【００９６】
収束判定部４２は、検出部４１により検出された電位Ｅ２が収束値であるか否かを判定する。遅延算出部４３は、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値ではないと判定された場合、検出部４１により検出された電位Ｅ２及び待機時間Ｔｗに基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間Ｔｄを算出する。
【００９７】
また、検出部４１は、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値であると判定された場合、収束判定部４２により電位Ｅ２が収束値ではないと判定されるまで、待機時間Ｔｗを短縮して電位Ｅ２を検出することを繰り返す。
【００９８】
上記の構成によると、電位Ｅ２が収束値ではないと判定されるまで、待機時間Ｔｗを短縮して電位Ｅ２の検出が繰り返される。このため、待機時間Ｔｗに対して収束所要時間が短い場合でも、抵抗膜１０，２０の収束前の電位Ｅ２を検出し、電位Ｅ２から遅延時間Ｔｄを算出することができる。
【００９９】
これにより、本実施例に係るタッチパネル装置によると、予め待機時間Ｔｗを調整する手間が省けるため、タッチ入力の有無の検出またはタッチ入力の位置の検出の遅延時間Ｔｄを容易に算出できる。
【０１００】
また、本実施例に係るタッチパネル装置の遅延算出方法は、以下のステップを含む。
ステップ（１）：抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加する。
ステップ（２）：抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃの印加が開始されてから、待機時間Ｔｗの経過後に抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２を検出する。
ステップ（３）：検出された電位Ｅ２が、収束値であるか否かを判定する。
ステップ（４）：電位Ｅ２が収束値であると判定された場合、電位Ｅ２が収束値ではないと判定されるまで、待機時間Ｔｗを短縮して電位Ｅ２の検出を繰り返す。
ステップ（５）：電位Ｅ２が収束値ではないと判定された場合、検出された電位Ｅ２及び待機時間Ｔｗに基づいて、タッチ入力検出タイミングを遅延させるための遅延時間Ｔｄを算出する。
【０１０１】
本実施例に係るタッチパネル装置の遅延算出方法は、上記のタッチパネル装置と同様の構成を含むため、上述した内容と同様の作用効果を奏する。
【０１０２】
また、図１０のステップＳｔ４１，Ｓｔ４２の処理において、スイッチ３１〜３５は、抵抗膜１０，２０の一方を電源に接続し、他方を接地することにより、抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加する。つまり、スイッチ３１〜３５は、タッチパネル１００を、図３に示されるタッチ入力の検出状態とする。
【０１０３】
このため、電位Ｅ２の収束値は、タッチパネル１００の入力面Ｓ内の押下点Ｐの位置によらずに同一となるので、第１実施例と同様に、遅延時間Ｔｄを正確に算出することが可能である。もっとも、上述した遅延時間Ｔｄは、タッチパネル装置１００を、図４に示されるＸ座標の検出状態、または図５に示されるＹ座標の検出状態で算出してもよい。
【０１０４】
また、本実施例において、検出部４１は、待機時間Ｔｗを互いに異ならせて電位Ｅ２を複数回検出し、遅延算出部４３は、検出された電位Ｅ２の各々、待機時間Ｔｗの各々、及び電源電圧Ｖｃｃから時定数τの平均値を算出し、時定数τの平均値から遅延時間Ｔｄを算出してもよい。これにより、時定数τの精度が向上するため、遅延時間Ｔｄの精度も向上する。
【０１０５】
図１２には、複数回の電位Ｅ２の検出の一例が示されている。図１２において、横軸は時刻を示し、縦軸は電位Ｅ２を示す。
【０１０６】
本例において、検出部４１は、抵抗膜１０，２０に電源電圧Ｖｃｃを印加するたびに１回だけ抵抗膜１０，２０の電位Ｅ２を検出する。
【０１０７】
収束所要時間が長い場合は一度に複数回の電位Ｅ２を検出することが可能であるが、収束所要時間が短い場合は、Ａ／Ｄ３９の変換速度によっては複数回電位Ｅ２を検出するための時間が確保できないことがある。
【０１０８】
このため、図１２のように、抵抗膜１０，２０への電源電圧Ｖｃｃの印加を複数回行い、それぞれ異なる待機時間Ｔａ，Ｔｂ，Ｔｃで電位Ｅ２を検出すれば、収束所要時間が短い場合でも、遅延時間Ｔｄを高精度に算出できる。
【０１０９】
次に、設定処理部４４の機能を説明する。設定処理部４４は、ユーザから上述した遅延算出処理に関する各種の設定を受け付け、設定パラメータをパラメータメモリ５２に格納する。制御部４０、検出部４１、収束判定部４２、及び遅延算出部４３は、パラメータメモリ５２から設定パラメータを読み出して、ユーザの設定に従った動作を行う。設定処理部４４は、特定の操作が行われた場合、例えばディスプレイ１０１に、各種の設定を受け付けるための遅延測定の設定画面を表示する。
【０１１０】
図１３には、遅延測定の設定画面の一例が示されている。ユーザは、「測定方法」として「Ａ」及び「Ｂ」の何れかを選択する。方法「Ａ」が選択された場合、図８に示された遅延算出処理が実行され、方法「Ｂ」が選択された場合、図１０に示された遅延算出処理が実行される。
【０１１１】
また、ユーザは、遅延算出処理の実行回数である「測定回数」を指定できる。図１３では、「測定回数」として「３」回が指定されているが、設定可能な回数の範囲に限定はない。
【０１１２】
また、ユーザは、遅延時間Ｔｄを算出するための「マージン」を指定できる。図１３では、「マージン」として遅延時間の「５」％が指定されているが、設定可能な数値範囲に限定はない。
【０１１３】
また、ユーザは、遅延算出処理が実行される周期である「チェック周期」を指定できる。遅延算出処理は、指定された「チェック周期」が到来するたびに実行される。「チェック周期」は、数値（本例では「１」）と単位（本例では「週間」）により指定される。図１３の設定では、１週間ごとに遅延算出処理が実行されるが、１日単位、１か月単位あるいは１年単位での実行も設定により可能である。
【０１１４】
上述した設定は、例えば、外部機器からＵＳＢ  Ｉ／Ｆ５３を介して入力されるコマンドにより行われてもよい。この場合、ＵＳＢ  Ｉ／Ｆ５３は、入力されたコマンドを解釈して、制御信号として設定処理部４４に出力する。設定処理部４４は、コマンドに応じてパラメータメモリ５２にアクセスする。コマンドとしては、例えば、設定を行うための設定コマンドと、設定を読み出すための取得コマンドが挙げられる。
【０１１５】
図１４（ａ）には、設定コマンドの例が示されており、図１４（ｂ）には、取得コマンドの例が示されている。図１４（ａ）及び図１４（ｂ）において、「Ｎｏ．」は、コマンドを識別するコマンド番号を示し、「コマンド」は、コマンド名称を示す。
【０１１６】
また、「入力例」は、コマンドの入力例を１６進数で示す。本実施例による設定コマンド及び取得コマンドは、８バイトのデータから構成されている。
【０１１７】
各コマンドの１バイト目のデータは設定コマンド（４０ｈ）及び取得コマンド（Ｃ０ｈ）の識別子であり、２バイト目のデータはコマンド番号を示す。３〜６バイト目のデータはコマンドのパラメータを示し、７バイト目及び８バイト目のデータはコマンドに対する応答メッセージのサイズを示す。
【０１１８】
まず、設定コマンドについて説明する。「測定方法設定」コマンドは、上記の「測定方法」を選択するコマンドである。「測定方法設定」コマンドの３バイト目のデータが「１」の場合、図８に示された遅延算出処理が選択され、「２」の場合、図１０に示された遅延算出処理が選択される。入力例の「測定方法設定」コマンドでは、図８に示された遅延算出処理が選択される。
【０１１９】
「測定回数設定」コマンドは、上記の「測定回数」を設定するコマンドである。「測定回数」は、「測定回数設定」コマンドの３バイト目のデータにより設定される。入力例の「測定回数設定」コマンドでは、「測定回数」が３回に設定される。
【０１２０】
「遅延時間のマージン設定」コマンドは、上記の「遅延時間のマージン」を設定するコマンドである。「遅延時間のマージン」は、「遅延時間のマージン設定」コマンドの３バイト目のデータにより設定される。入力例の「遅延時間のマージン設定」コマンドでは、「遅延時間のマージン」が５％に設定される。
【０１２１】
「チェック周期設定」コマンドは、上記の「チェック周期」を設定するコマンドである。「チェック周期」の数値は、「チェック周期設定」コマンドの３バイト目のデータにより設定され、「チェック周期」の期間の単位（１日、１週間、１か月など）は、「チェック周期設定」コマンドの４バイト目のデータにより設定される。
【０１２２】
「異常通知設定」コマンドは、タッチパネル１００の異常を通知に関する設定である。「異常通知設定」コマンドの３バイト目のデータは、通知の有効（０１ｈ）または無効（００ｈ）を示し、４バイト目のデータは、遅延時間Ｔｄの閾値αを示す。設定処理部４４は、最初に算出された遅延時間Ｔｄを、初回遅延時間Ｔｄ０としてパラメータメモリ５２に格納しておき、その後に算出された遅延時間Ｔｄと比較する。
【０１２３】
設定処理部４４は、比較の結果、初回遅延時間Ｔｄ０及び遅延時間Ｔｄの差分が閾値αに達した場合、異常通知を生成して、例えばＵＳＢ  Ｉ／Ｆ５３に出力し、あるいはディスプレイ１０１に表示する。入力例の「異常通知設定」コマンドは、通知が有効（０１ｈ）であり、閾値が１００（％）（６４ｈ）であるため、遅延時間Ｔｄが初回遅延時間Ｔｄ０の２倍（つまり、両者の差分が遅延時間Ｔｄの１００％）になったとき、異常通知が生成される。これにより、ユーザ（あるいはサポートセンター）にタッチパネル１００の保守を促すことが可能である。
【０１２４】
「設定クリア」コマンドは、上記の各設定コマンドで設定されたパラメータをクリアするコマンドである。また、「初回遅延時間クリア」は、例えば、タッチパネル１００の交換が行われた場合に、パラメータメモリ５２に格納された初回遅延時間Ｔｄ０をクリアするコマンドである。
【０１２５】
次に、取得コマンドについて説明する。「測定方法取得」コマンドは、「測定方法設定」コマンドにより設定されたパラメータを、パラメータメモリ５２から読み出すコマンドである。読み出されたパラメータは、例えば、外部機器のコマンドライン上に表示される。なお、パラメータの表示手法は、以降の取得コマンドについても同様である。
【０１２６】
「測定回数取得」コマンドは、「測定回数設定」コマンドにより設定されたパラメータを、パラメータメモリ５２から読み出すコマンドである。「遅延時間マージン取得」コマンドは、「遅延時間マージン設定」コマンドにより設定されたパラメータを、パラメータメモリ５２から読み出すコマンドである。
【０１２７】
「チェック周期取得」コマンドは、「チェック周期設定」コマンドにより設定されたパラメータを、パラメータメモリ５２から読み出すコマンドである。「異常通知取得」コマンドは、「異常通知設定」コマンドにより設定されたパラメータを、パラメータメモリ５２から読み出すコマンドである。「遅延時間取得」コマンドは、初回遅延時間Ｔｄ０及び最新の遅延時間Ｔｄを、パラメータメモリ５２から読み出すコマンドである。
【０１２８】
このように、設定処理部４４は、タッチパネル１００または外部機器から遅延算出処理に関する設定を受け付け、設定されたパラメータを外部機器に出力できる。このため、タッチパネル１００のメンテナンスの利便性が向上する。
【０１２９】
上述した実施形態は本発明の好適な実施の例である。但し、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施可能である。
【符号の説明】
【０１３０】
１０，２０      抵抗膜
３１〜３５      スイッチ
４０       制御部
４１       検出部
４２       収束判定部
４３       遅延算出部
１００      タッチパネル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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