(57)【要約】【課題】画像が歪みを含むか否かを簡単に判定でき、歪み補正した画像を生成することができる走査型内視鏡装置を提供する。【解決手段】マーカ板５２上の直線ラインＬｈ，Ｌｖ上に反射率が高い所定数のマーカ５３を配置し、走査型内視鏡２により渦巻き状の走査を行う駆動信号が直線ラインＬｈ，Ｌｖをクロスするタイミングでパルス発光させた場合に検出される検出信号を抽出し、計数回路４７により計数した閾値以上の輝度値を有する検出信号の計数値の値に応じて、歪み判定回路４８は歪みが大きいか否かを判定し、歪みが大きい場合にはマーカ板５２を移動して、閾値以上の輝度値を有する補正用の検出信号を取得し、補正用の検出信号を取得した場合の移動量に応じてメモリ４３に格納した補正前の照射位置を補正する。【選択図】図４
2016106726.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源部から発する照明光を観察対象における所定の経路上で走査する走査型光プローブと、
前記走査型光プローブにより照明光が走査された前記観察対象からの戻り光を検出し、前記照明光の走査位置に応じた検出信号を生成する信号生成部と、
前記信号生成部において生成された複数の検出信号を前記走査位置に対応した座標上に配置する配置部と、
所定のライン上に沿って間欠的に所定数設けられたマーカを有するマーカ部を前記観察対象とした際に、前記所定数のマーカに対するマーカ検出信号から、前記所定のライン上に設けた前記所定数の前記マーカの計数値を計数する計数部と、
前記計数部において計数された前記マーカの計数値に基づき前記配置部による前記複数の検出信号の前記座標上の配置を補正した観察画像を生成する画像生成部と、
を有することを特徴とする走査型内視鏡装置。
【請求項２】
前記所定のラインは、第１の直線と、該第１の直線に直交する第２の直線を有し、前記マーカは、前記第１の直線上と前記第２の直線上とにそれぞれ間欠的に配置され、
前記計数部は、前記第１の直線上に配置された前記マーカを検出する第１のマーカ検出信号の輝度値に基づいて第１の計数値を計数すると共に、
前記第２の直線上に配置された前記マーカを検出する第２のマーカ検出信号の輝度値に基づいて第２の計数値を計数し、
前記信号生成部は、前記第１の計数値又は前記第２の計数値が所定の数未満である場合には、前記走査型光プローブの長手方向に垂直な面上における前記マーカ部の２次元位置が変更された状態において、前記第１のマーカ検出信号又は前記第２のマーカ検出信号を補正用の検出信号として生成し、
前記計数部は、前記補正用の検出信号の輝度値に基づいて前記第１の計数値又は前記第１の計数値に加算した計数値を計数することを特徴とする請求項１に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項３】
前記計数部は、前記マーカ検出信号における輝度値を算出し、所定の閾値以上の輝度値を有する前記マーカの計数値として計数し、
前記画像生成部は、前記マーカの計数値が所定の数未満である場合には、前記所定の閾値未満となる前記マーカ検出信号を検出するために前記マーカ部を移動し、移動された前記マーカ部において検出されるマーカ検出信号が所定の閾値以上の輝度値を有する状態になった場合の移動量に基づいて、前記複数の検出信号の前記座標上の配置を補正し、前記マーカの計数値が前記所定の数以上の場合には前記複数の検出信号における前記座標上の配置を補正しないことを特徴とする請求項１に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項４】
前記画像生成部は、前記第１の計数値が前記所定の数未満である場合には、前記マーカ部の２次元位置が変更された状態において、生成された前記補正用の検出信号に基づいて、前記補正用の検出信号の走査位置を含む半円程度の円弧状上となる前記検出信号における前記第１の直線方向成分の座標を補正することを特徴とする請求項２に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項５】
前記画像生成部は、前記第２の計数値が前記所定の数未満である場合には、前記マーカ部の２次元位置が変更された状態において、生成された前記補正用の検出信号に基づいて、前記補正用の検出信号の走査位置を含む半円程度の円弧上となる前記検出信号における前記第２の直線方向成分の座標を補正することを特徴とする請求項４に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項６】
前記走査型光プローブに設けられ、印加される駆動電圧に応じて伸縮することで前記照明光を前記観察対象において２次元的に走査可能とする第１及び第２のアクチュエータ素子を備えるアクチュエータと、
前記第１及び第２のアクチュエータ素子に対して第１及び第２の駆動電圧を印加して前記第１及び第２のアクチュエータ素子を直交する２方向に駆動する駆動部と、
前記駆動部から出力する前記第１及び第２の駆動電圧を生成する前記駆動部を制御する駆動制御部と、を有し、
前記駆動制御部は、前記第１及び第２の駆動電圧の位相差が９０°となる状態で前記第１及び第２の駆動電圧を前記第１及び第２のアクチュエータ素子に印加して渦巻き形状の経路を走査するように前記駆動部を制御することを特徴とする請求項２に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項７】
前記計数部は、前記マーカ検出信号における輝度値を算出し、所定の閾値以上の輝度値を有する前記マーカの計数値として計数し、
前記駆動制御部は、前記マーカの計数値が所定の数未満である場合には、前記第１の駆動電圧又は前記第２の駆動電圧の位相を変化させ、前記計数部により所定の閾値以上の輝度値を有する前記マーカ検出信号の計数値が最大となる位相角を検出し、検出された前記位相角を用いて前記配置部における前記検出信号を補正することを特徴とする請求項６に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項８】
前記駆動制御部は、前記第１及び第２のアクチュエータ素子を、前記照明光が前記マーカ部における前記第１の直線上と前記第２の直線上とをそれぞれ走査することができるように初期設定の位置決めを行った後、前記渦巻き形状の経路を走査するように前記駆動部を制御し、
前記信号生成部は、前記第１の駆動電圧が０となるタイミングと前記第２の駆動電圧が０となるタイミングにおいて抽出した前記マーカ検出信号を生成することを特徴とする請求項６に記載の走査型内視鏡装置。
【請求項９】
前記計数部は、前記マーカ検出信号における輝度値を算出し、所定の閾値以上の輝度値を有する前記マーカの計数値として計数し、
前記画像生成部は、前記マーカの計数値が所定の数未満である場合には、前記所定の閾値未満となる前記マーカ検出信号を検出するために前記マーカ部を移動し、移動された前記マーカ部において検出されるマーカ検出信号が所定の閾値以上の輝度値を有する状態になった場合の移動量に基づいて、前記複数の検出信号の前記座標上の配置を補正し、前記マーカの計数値が前記所定の数以上の場合には前記複数の検出信号における前記座標上の配置を補正しないことを特徴とする請求項８に記載の走査型内視鏡装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、照明光を走査して内視鏡画像を取得する走査型内視鏡装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、医療分野等において照明光を走査する内視鏡が広く用いられるようになっている。また、光ファイバによって導光した光を観察部位等の被写体上を２次元的に走査させ、その反射光を受光して画像化する走査型内視鏡も提案されている。 
また、走査型内視鏡により画像を取得するため光ファイバの先端を２次元的に走査する場合、例えば、特開２０１２−１４３２６５号公報に開示されているように２軸アクチュエータを用いて渦巻き状（スパイラル状）に走査する場合がある。 
上記公報の従来例は、歪みの少ない画像を生成、又は製品固有の特性が原因で発生する走査誤差量を簡易に計算することができるように、光源から射出された光を所定の走査範囲内で周期的に走査する走査装置と、走査光の走査位置及び光量を検出する光検出手段と、検出された走査位置及び光量に基づいて前記走査範囲内の走査光の光量分布をヒストグラム化するヒストグラム化手段と、前記ヒストグラムを所定のマスタヒストグラムと比較する比較手段と、前記比較結果に基づいて前記走査装置の製品固有の特性に起因する走査誤差量を計算する走査誤差量計算手段と、を有するキャリブレーション装置を開示している。 
そして、走査範囲を複数のベルト状領域に分割して、ヒストグラム分布を算出し、算出したヒストグラム分布を基準となるマスタヒストグラムと比較して、走査装置と光検出手段との相対的な位置を調整するようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１４３２６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来例は、走査誤差が発生した場合、走査誤差を低減するように調整することが簡単に出来難い欠点がある。例えば、あるベルト状領域におけるヒストグラムがマスタヒストグラムの場合に比較して小さい場合には、ヒストグラムが大きくなるように調整すれば良いことが分かるが、そのベルト状領域に含まれいずれのスポット光を調整すれば良いかが分からない。  
アクチュエータ等による望ましい渦巻き状の走査特性が、経年変化等により、変化したような場合には、歪みを含む画像が取得されるため、画像が歪みを含むか否か（換言すると渦巻き状の走査特性が歪みを含むか否か）を簡単に判定でき、歪みを含む場合には、歪みを補正することにより画質を向上した画像を生成することができる走査型内視鏡装置が望まれる。 
本発明は上述した点に鑑みてなされたもので、画像が歪みを含むか否かを簡単に判定でき、歪み補正した画像を生成することができる走査型内視鏡装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一態様の走査型内視鏡装置は、光源部から発する照明光を観察対象における所定の経路上で走査する走査型光プローブと、前記走査型光プローブにより照明光が走査された前記観察対象からの戻り光を検出し、前記照明光の走査位置に応じた検出信号を生成する信号生成部と、前記信号生成部において生成された複数の検出信号を前記走査位置に対応した座標上に配置する配置部と、所定のライン上に沿って間欠的に所定数設けられたマーカを有するマーカ部を前記観察対象とした際に、前記所定数のマーカに対するマーカ検出信号から、前記所定のライン上に設けた前記所定数の前記マーカの計数値を計数する計数部と、前記計数部において計数された前記マーカの計数値に基づき前記配置部による前記複数の検出信号の前記座標上の配置を補正した観察画像を生成する画像生成部と、を有する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、画像が歪みを含むか否かを簡単に判定でき、歪み補正した画像を生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は本発明の第１の実施形態の走査型内視鏡装置の全体構成を示す図。
【図２】図２は図１におけるＡ−Ａ線断面によりアクチュエータの構成を示す図。
【図３】図３はアクチュエータ素子を駆動する駆動信号の波形を示す図。
【図４】図４はマーカ装置を用いてドット状のマーカを計測する構成を示す図。
【図５】図５は水平方向と垂直方向の直線ライン上に設定した複数のマーカを示す図。
【図６Ａ】図６Ａは水平方向のマーカを渦巻き状の走査により検出し、歪み判定等の処理を行う処理内容を示すフローチャート。
【図６Ｂ】図６Ｂは垂直方向のマーカを渦巻き状の走査により検出し、歪み判定等の処理を行う処理内容を示すフローチャート。
【図７】図７は図６Ａの動作の説明図。
【図８】図８は図６Ｂの動作の説明図。
【図９】図９は図７のマーカ全体をＸ軸方向にΔｈ移動した補正用のマーカを設定し、検出信号を抽出する場合の説明図。
【図１０】図１０は補正用のマーカにより閾値以上の検出信号を抽出した場合、照射位置を補正する動作の説明図。
【図１１】図１１は第１変形例に係り、第１の実施形態における水平及び垂直方向の他に、斜め方向の直線ライン上に複数のマーカを設定した様子と、斜め方向のマーカに対する検出信号を抽出する動作等を示す説明図。
【図１２】図１２は第２変形例の動作の説明図。
【図１３】図１３は第２変形例の処理内容を示すフローチャート。
【図１４】図１４は第３変形例の処理内容を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。  
（第１の実施形態）
図１に示すように本発明の第１の実施形態の走査型内視鏡装置１は、走査型光プローブを形成する走査型内視鏡２と、走査型内視鏡２が着脱自在に接続される本体装置（又は走査型内視鏡制御装置）３と、本体装置３に接続される表示装置としてのモニタ４と、を有する。 
走査型内視鏡２は、被検体５の体内又は体腔内に挿入可能な細長の形状及び可撓性を備える挿入部６を有し、挿入部６の基端（後端）には、走査型内視鏡２を本体装置３のコネクタ受け８に着脱自在に接続するためのコネクタ７が設けられている。 
また、挿入部６は、硬質の先端部１１と、その後端からコネクタ７に延びる、可撓性
を有する可撓管部１２と、を有する。なお、先端部１１と可撓管部１２との間に、湾曲自在の湾曲部を設け、可撓管部１２とコネクタ７との間に湾曲部を湾曲する操作ノブ等を設けた操作部を設けるようにしても良い。
【０００９】
先端部１１は、硬質の筒状部材としての円筒部材１３を有し、この円筒部材１３の後端に可撓性の円筒チューブの先端が連結され、この円筒チューブの後端は、コネクタ７に固定されている。 
挿入部６内には、照明光を導光する導光部材を形成する光ファイバ１５が挿通され、この光ファイバ１５の基端（後端）は、コネクタ７において本体装置３内部の光ファイバ１５ｂと接続される。そして、本体装置３内部の光源部を形成する光源ユニット３１で発生した照明光が光ファイバ１５ｂを経て光ファイバ１５の基端に入射される。光ファイバ１５により導光された照明光は、光ファイバ１５の先端面から、該先端面に対向して円筒部材１３の先端に取り付けられた集光する照明レンズ１６を経て、被検体５内の観察対象となる検査部位等に向けて照明光が出射される。 
円筒部材１３の内側には、光ファイバ１５の先端側を、該光ファイバ１５の長手方向（図１ではＺ軸方向）と直交する方向に揺動する如くに駆動する駆動部を形成するアクチュエータ１７が配置されている。このアクチュエータ１７は、挿入部６内を挿通された駆動線を介して本体装置３内部の駆動ユニット３２から駆動信号（又は駆動電圧）が印加されることにより、長手方向に伸縮する。
【００１０】
このアクチュエータ１７は、その基端が保持部材１９により保持され、この保持部材１９の円板状の外周面は円筒部材１３に固定されている。光ファイバ１５とアクチュエータ１７は、接合部材としてのフェルール２０（図２参照）により接合されている。 
図２は図１のＡ−Ａ線断面によりアクチュエータ１７の周辺部の構成を示す。図２に示すように（円筒部材１３における）中心軸Ｏに沿って配置される断面が正方形の直方体形状の硬質の接合部材としてのフェルール２０は、例えば、ジルコニア（セラミック）またはニッケル等により形成されている。 
フェルール２０は、中心軸Ｏに沿って光ファイバ１５が固定され、Ｚ軸と直交するＹ軸方向（紙面の上下方向）の両側面と、Ｘ軸方向（紙面の左右方向）の両側面とにアクチュエータ１７を形成するアクチュエータ素子１７ａ、１７ｂと１７ｃ、１７ｄが取り付けられている。
【００１１】
各アクチュエータ素子は、例えば圧電素子により構成され、駆動信号の印加により、長手方向（図１においてＺ軸方向）に伸縮する。従って、基端が保持又は固定された状態で、例えばアクチュエータ素子１７ａ，１７ｂに（一方を伸張、他方を収縮させる）駆動信号（又は駆動電圧）を印加することにより、図１において点線で示すように光ファイバ１５の先端側を上下方向に揺動させることができる。 
また、この保持部材１９の基端側は、円筒部材１３の基端に嵌合して接着剤等により固定されている。 
図３は、アクチュエータ素子１７ｃ，１７ｄと１７ａ，１７ｂに印加される駆動信号の電圧波形を示し、その場合、光ファイバ１５の先端は図７（Ａ）、図８（Ａ）に示すように渦巻き形状の経路（又は軌跡）を描く。図３に示すようにＸ方向とＹ方向への駆動信号の位相は９０°ずれた状態でアクチュエータ素子１７ｃ，１７ｄと１７ａ，１７ｂに印加され、電圧が時間と共に少しずつ変化させることにより、光ファイバ１５の先端は円形から渦巻き形状の軌跡を描くようになる。なお、図３における走査開始近傍においては、９０°とは異なる位相ずれとなる。
【００１２】
図１に示すように円筒部材１３及び円筒チューブの外周面に沿って、被写体により反射された照明光を受光するための受光用光ファイバ２３がリング状に複数本、配置され、受光用光ファイバ２３により受光された（観察対象からの戻り光又は反射）光は、コネクタ７を経て本体装置３内部の受光用光ファイバ２３ｂに導光される。この受光用光ファイバ２３ｂに導光された光は、検出ユニット３３に入射され、電気信号に変換される。 
リング状に配置された受光用光ファイバ２３は、可撓性を有する外装部材２４により覆われ、保護されている。 
また、各走査型内視鏡２には、アクチュエータ１７により、光ファイバ１５の先端を渦巻き形状の所定の走査パターンに沿って駆動させるための駆動データ及び駆動した場合の照射位置（走査位置又は走査スポット位置）に対応する座標位置データ等の情報を格納したメモリ２５を有する。このメモリ２５に格納された情報は、コネクタ７の接点、信号線を経て本体装置３内部のコントローラ３４に入力される。コントローラ３４は、入力された上記情報を例えばメモリ３５に格納し、メモリ３５に格納した情報を参照して、光源ユニット３１や駆動ユニット３２を制御する。
【００１３】
本体装置３は、光源ユニット３１と、駆動ユニット３２と、検出ユニット３３と、本体装置３の各ユニットを制御するコントローラ３４と、コントローラ３４と接続され、各種の情報を格納するメモリ３５と、を有する。また、本体装置３には、ユーザが各種の入力指示を行う入力装置３６が接続されている。 
光源ユニット３１は、赤色の波長帯域の光（Ｒ光とも言う）を発生するＲ光源３１ａと、緑色の波長帯域の光（Ｇ光とも言う）を発生するＧ光源３１ｂと、青色の波長帯域の光（Ｂ光とも言う）を発生するＢ光源３１ｃと、Ｒ光、Ｇ光及びＢ光を合波（混合）する合波器３１ｄと、を有する。 
Ｒ光源３１ａ、Ｇ光源３１ｂ及びＢ光源３１ｂは、例えばレーザ光源等を用いて構成され、コントローラ３４の制御によりオンされた際に、それぞれＲ光、Ｇ光、Ｂ光を合波器３１ｄへ出射する。コントローラ３４は、Ｒ光源３１ａ、Ｇ光源３１ｂ及びＢ光源３１ｂの離散的なパルス発光を制御する中央演算装置（ＣＰＵと略記）などから構成される発光制御部３４ａを有する。
【００１４】
コントローラ３４の光源制御部３４ａは、Ｒ光源３１ａ、Ｇ光源３１ｂ及びＢ光源３１ｂに対して同時にパルス的に発光させる制御信号を送り、Ｒ光源３１ａ、Ｇ光源３１ｂ及びＢ光源３１ｂは同時にＲ光、Ｇ光、Ｂ光を発生し、合波器３１ｄへ出射する。  
合波器３１ｄは、Ｒ光源３１ａからのＲ光と、光源３１ｂからのＧ光と、光源３１ｃからのＢ光と、を合波して光ファイバ１５ｂの光入射面に供給し、光ファイバ１５ｂは、合波されたＲ光、Ｇ光、Ｂ光を照明光として光ファイバ１５に供給する。 
駆動ユニット３２は、正弦波に近いデジタルの交流信号を発生する信号発生器３２ａと、信号発生器３２ａにより発生したデジタルの交流信号の位相を９０°シフトする位相シフト回路３２ｂと、スイッチ３２ｃ、３２ｄと、デジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器３２ｅ、３２ｆと、アナログ信号を増幅して、９０°位相が異なる駆動信号を出力するアンプ３２ｇ及び３２ｈと、を有する。 
信号発生器３２ａは、光ファイバ１５の先端をＹ軸方向に走査（振動）させるための交流信号を発生し、この交流信号はスイッチ３２ｃを経てＤ／Ａ変換器３２ｅによりアナログの交流信号に変換され、アンプ３２ｇにより増幅されてＹ軸方向に走査（振動）させる駆動信号となる。
【００１５】
また、Ｙ軸方向に走査（振動）させる交流信号は、位相シスト回路３２ｂにより９０°ずれたＸ軸方向に走査（振動）させる交流信号となり、この交流信号はスイッチ３２ｄを経てＤ／Ａ変換器３２ｆによりアナログの交流信号に変換され、アンプ３２ｈにより増幅されたＸ軸方向に走査（振動）させる駆動信号となる。 
アンプ３２ｇ及び３２ｈから出力される駆動信号は、図３に示した波形となり、アクチュエータ素子１７ｃ，１７ｄと１７ａ，１７ｂにそれぞれ印加される。  
そして、光ファイバ１５の先端は、図７（Ａ）等に示すように渦巻き形状の走査軌跡を形成するように走査される。なお、図７（Ａ）においては、基準の設定状態にセットされたマーカ板５２のマーカ５３を走査した場合を示しているが、被検体５内の観察対象側においても同様に渦巻き形状の走査軌跡（走査経路）を形成する。 
駆動ユニット３２は、コントローラ３４内の走査制御部（または駆動制御部）３４ｂにより制御される。本実施形態においては、スイッチ３２ｃ、３２ｄにおける一方のみをＯＮにすることにより、光ファイバ１５の先端から出射される光をＸ軸方向、又はＹ軸方向に沿って走査させることができるようにしている。そして、図４に示すようにマーカ装置５１を用いる場合において走査型内視鏡２の位置決めを精度良く行うことができるようにしている。
【００１６】
検出ユニット３３は、分波器３３ａと、検出器３３ｂ、３３ｃ及び３３ｄと、Ａ／Ｄ変換器３３ｅ、３３ｆ及び３３ｇと、を有する。 
分波器３３ａは、ダイクロイックミラー等を有し、受光用光ファイバ２３ｂの光出射端面から出射された戻り光をＲ（赤）、Ｇ（緑）及びＢ（青）の色成分毎の光に分離して検出器３３ｂ、３３ｃ及び３３ｄへ出射する。 
検出器３３ｂ、３３ｃ及び３３ｄは、フォトダイオード等の光検出器により構成され、分波器３３ａから出力されるＲ光の強度、Ｇ光の強度、及びＢ光の強度をそれぞれ検出し、当該検出したＲ光、Ｇ光及びＢ光の強度にそれぞれ応じたアナログのＲ，Ｇ，Ｂ検出信号を生成し、Ａ／Ｄ変換器３３ｅ、３３ｆ、及び３３ｇへ出力する。 
Ａ／Ｄ変換器３３ｅ、３３ｆ、及び３３ｇは、検出器３３ｂ、３３ｃ及び３３ｄからそれぞれ出力されたアナログのＲ、Ｇ及びＢ検出信号を、それぞれデジタルのＲ、Ｇ及びＢ検出信号に変換してコントローラ３４内の画像処理部４１へ出力する。画像処理部４１は、図４に示すように構成されている。
【００１７】
検出信号は、画像処理部４１内に設けた配置部を形成するＸＹマッピング回路４２内のメモリ４３に格納される。この場合、メモリ４３には、照明光の各照射位置（又は照明光をパルス発光した走査位置）にそれぞれ対応付けられて各検出信号が格納される。 
そして、図４に示すマーカ装置５１を用いない通常の使用時においては、画像処理部４１は、メモリ４３に格納された検出信号及び対応する照射位置の情報を用いて画像を生成し、モニタ４において表示する。 
これに対して、図４に示すようにマーカ装置５１を用いる場合には、基準の走査対象となるマーカ５３を検出した場合のマーカ検出信号（単に検出信号とも言う）に基づいて、上記配置部を形成するＸＹマッピング回路４２内のメモリ４３に格納された照射位置（又は走査位置）の座標位置を変更（又は補正）して画像を生成する。 
つまり、本実施形態においては、画像処理部４１は、図４に示すマーカ装置５１を用いて歪み補正した画像としての観察画像を生成する観察画像生成部の機能を有する。そして、歪み補正した画質の良い観察画像を生成することができるようにしている。
【００１８】
図１に示すメモリ３５は、本体装置３の制御を行うための制御プログラム等を予め格納している。また、メモリ３５は、上述したように本体装置３のコントローラ３４により、メモリ２５から読み込まれた座標位置の情報が格納される。 
コントローラ３４は、ＣＰＵ等を用いて構成され、メモリ３５に格納された制御プログラムを読み出し、当該読み出した制御プログラムとメモリ２５から読み出した情報に基づいて光源ユニット３１及び駆動ユニット３２の制御を行う。 
図４はマーカ装置５１を用いて歪みの有無を検出すると共に、検出結果に基づいて歪み補正した画像を生成する構成の説明図を示す。 
図４に示すように走査の歪みを検出するためのマーカ装置５１を有し、マーカ装置５１を構成するマーカ板５２は、直交する２つの直線ラインＬｈ、Ｌｖに沿って間欠的に所定数のドット状のマーカ５３が設けられている。２つの直線ラインＬｈ、Ｌｖは、第１の直線と第２の直線を形成する。そして、マーカ５３を走査型内視鏡２により検出するように走査し、走査した場合の検出信号に基づいて画像処理部４１は歪みを検出（又は判定）すると共に、検出した検出信号に基づいて画像を生成する場合の照射位置を補正する処理を行う。
【００１９】
図４に示すマーカ板５２は、その前面に直線ラインＬｈ，Ｌｖに沿って反射率が高いドット状のマーカ５３を基準となる所定の間隔で設けたマーカ部５４が形成されている。図５は、マーカ板５２を正面から見た場合のマーカ５３を示す。 
図５に示すように、直交する直線ラインＬｈ，Ｌｖに沿ってそれぞれ設けられたマーカ５３の間隔は、予め基準となる駆動信号を用いて、基準の走査型内視鏡（図４の走査型内視鏡２と同じ特性で、かつ基準として使用される高精度のもの）のアクチュエータを駆動し、マーカ板５２を渦巻き状に走査した場合、直線ラインＬｈ，Ｌｖをそれぞれ通る（クロス）タイミングにおいて照射した際の光スポットの照射位置となる基準位置にそれぞれドット状のマーカ５３が形成されている。 
従って、基準の走査型内視鏡と同じ特性の走査型内視鏡２を用いた場合においては、直線ラインＬｈ，Ｌｖをそれぞれ通る（クロス）タイミングにおいてパルス発光させると、（走査型内視鏡２の先端から所定の距離の）マーカ板５２におけるマーカ５３を照射するように光スポットを形成することになる。工場から出荷される走査型内視鏡２は、基準の走査型内視鏡の特性から許容される範囲内のずれを含む特性に設定される。
【００２０】
実際に使用される走査型内視鏡２は、使用環境により温度や、経年変化等により特性が変動する場合がある。本実施形態においては、以下に説明するように、上記マーカ板５２を用いて反射された光の検出信号における閾値以上となる検出信号の計数値から、（当該検出信号の状態で）生成される画像が歪みを含むものであるか否かを簡単に判定できるようにしている。 
上記マーカ板５２は、その裏面の中心位置がＸ、Ｙ軸方向に移動自在となるＸＹステージ５５に、アーム５６を介して保持されている。 
図４に示す状態においては、直線ラインＬｈ、Ｌｖは、水平又は横方向（Ｘ軸方向）と垂直又は縦方向（Ｙ軸方向）に設定されている。 
なお、マーカ板５２におけるマーカ５３以外の部分は、マーカ５３の反射率に比較して十分に小さい反射率に設定されている。従って、マーカ５３に光を照射した場合の検出信号と、マーカ５３を外れたマーカ板５２におけるマーカ５３を外れた背景部分に光を照射した場合の検出信号とにおいては輝度値に大きな差異が発生する。
【００２１】
マーカ５３を用いる場合（歪み検出の判定を行う場合）には、マーカ５３を用いない通常の走査により通常の画像を生成する場合と同様に駆動ユニット３２の駆動信号により渦巻き状に走査することを行うが、発光制御部３４ａは、通常の画像を生成する場合（つまりメモリ２５等に予め格納されている所定の照射位置のタイミングでパルス発光させる場合）とは異なるタイミングで以下のようにパルス発光させる。 
駆動ユニット３２の駆動信号によりアクチュエータ１７が光ファイバ１５の先端（又は基準被写体となるマーカ板５２上）を渦巻き状に走査する場合、発光制御部３４ａは、垂直方向（Ｙ軸方向）に駆動（走査）する駆動信号（Ｙ駆動信号とも言う）と、水平方向（Ｘ軸方向）に駆動（走査）する駆動信号（Ｘ駆動信号とも言う）との両駆動信号におけるＹ駆動信号が０を交差（０クロス）するタイミングでパルス発光するように制御する。
【００２２】
このようにパルス発光させることにより、渦巻き状に走査した場合においてもＹ駆動信号が０を交差（０クロス）するタイミングでパルス発光させることによりその照射位置（スポット照射位置）はＸ軸上の位置の位置となり、理想的な走査型内視鏡を使用した場合には、その照射位置はＸ軸上に配置したマーカ５３の位置となるように設定されている。Ｙ軸上に配置したマーカ５３を検出する場合には、発光制御部３４ａは、Ｘ駆動信号が０を交差（０クロス）するタイミングでパルス発光させるように制御する。 
また、このようにパルス発光させた場合、受光用光ファイバ２３を介して検出したマーカ５３で反射された光を受光した信号は、検出ユニット３３を経て検出信号となり、ラインに沿ったラインデータとしての検出信号列を生成するラインデータ生成部を形成するラインプロファイル回路４４内の信号抽出回路４５に入力される。信号抽出回路４５は、各照射タイミング毎に（マーカ５３で反射された場合とマーカ５３以外の部分で反射された場合の）検出信号をマーカ検出信号格納部を形成するメモリ４６に格納（記憶）する。
【００２３】
なお、メモリ４３とメモリ４６を１つのメモリに統合しても良い。メモリ４６に格納された検出信号は、計数部を形成する計数回路４７に入力され、計数回路４７は閾値回路４７ａの閾値Ｖｔｈを用いて閾値Ｖｔｈ以上の検出信号を計数し、歪み判定部を形成する歪み判定回路４８に出力する。歪み判定回路４８は、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号の数、又は計数値が、所定の数以上となる許容値未満となる歪みが小さいか否かの判定を行う。なお、計数対象となるマーカの数に対する計数値の割合が所定の割合以上となるか否かにより許容値未満となる歪みが小さいか否かの判定を行うようにしても良い。
歪みが（許容値未満となる）小さいと判定した場合には、（歪み補正の必要無しと判定し）メモリ４３の検出信号を補間回路４９によりラスタスキャンの画像信号に補間（変換）する補間処理して観察画像を生成し、モニタ４に出力する。 
一方、歪みが許容値以上に大きいと判定した場合には、メモリ４６の検出信号に基づいて、該検出信号の座標位置を補正すると共に、メモリ４３の座標位置を補正する補正処理を補正回路５０により行う。そして、メモリ４３における座標位置が補正された検出信号は、補間回路４９により上記と同様に補間処理された観察画像となり、モニタ４に出力される。
【００２４】
本実施形態の走査型内視鏡装置１は、光源部を形成する光源ユニット３１から発する照明光を観察対象における所定の経路上で走査する走査型光プローブを形成する走査型内視鏡２と、前記走査型光プローブにより照明光が走査された前記観察対象からの戻り光を検出し、前記照明光の走査位置に応じた検出信号を生成する信号生成部を形成する検出ユニット３３と、前記信号生成部において生成された複数の検出信号を前記走査位置に対応した座標上に配置する配置部を形成するＸＹマッピング回路４２と、所定のラインとしての直線ラインＬｈ，Ｌｖ上に沿って間欠的に所定数設けられたマーカ５３を有するマーカ部５４を前記観察対象とした際に、前記所定数のマーカ５３に対する複数のマーカ検出信号から、前記所定のライン上に設けた所定数の前記マーカ５３の数を計数する計数部を形成する計数回路４７と、前記計数部において前記複数のマーカ検出信号により計数された前記マーカ５３の計数値に基づき前記配置部による前記複数の検出信号の前記座標上の配置を変更した観察画像を生成する画像生成部を形成する補正回路５０と、を有することを特徴とする。
【００２５】
次に本実施形態の動作を説明する。図６Ａは、本実施形態におけるマーカ５３を用いた場合の画像処理部４１の代表的な処理を示す。 
最初のステップＳ１ａにおいてラインプロファイル回路４４の信号抽出回路４５は、光ファイバ１５の先端を螺旋状に走査した場合における水平方向に配置したマーカ５３に対する検出信号Ｄｈｉを取得し、メモリ４６に格納する処理を行う。 
ここで、検出信号Ｄｈｉにおけるパラメータｉは、水平方向に配置したマーカ５３を螺旋状に走査した場合に順次検出される番号を表し（ｉ＝１，２，…，Ｎｈｔ）、水平方向に配置した（中央のマーカ５３を除外した）走査対象となるマーカ５３の全数Ｎｈｔが最大の番号となる。 
直線ラインＬｈ，Ｌｖが交差する中央（交差点）に配置されたマーカ５３は、マーカ装置５１に対する走査型内視鏡２の位置決めに用いられる。例えば、図４に示すようにマーカ板５２に対向するように走査型内視鏡２をセットし、駆動信号を出力しない（換言すると両駆動信号の電圧が０の）状態で光を照射した場合の照射位置が中央のマーカ５３の位置となるように走査型内視鏡２（又はマーカ装置）を調整する。
【００２６】
また、スイッチ３２ｄのみをＯＮした状態で駆動信号をアクチュエータ１７に印加し、光の照射位置がＸ軸上を走査するように走査型内視鏡２（又はマーカ装置）を調整する。同様にスイッチ３２ｃのみをＯＮした状態で駆動信号をアクチュエータ１７に印加し、光の照射位置がＹ軸上を走査するように走査型内視鏡２（又はマーカ装置）を調整する初期設定の位置決めを行う。 
このように中央のマーカ５３は、初期設定の際に、該マーカ５３を照射するように走査型内視鏡２の位置調整に用いられる。このため、以下の説明では、中央のマーカ５３を走査対象となるマーカ５３から除外して説明する。上記のように初期設定の位置決めを行った後、螺旋状に走査して水平方向に配置したマーカ５３に対する検出信号Ｄｈｉを取得し、メモリ４６に格納する処理を行う。 
マーカ５３の全数Ｎｈｔに対する検出信号をメモリ４６に格納した後、ステップＳ２ａにおいて計数回路４７は、閾値Ｖｔｈを用いて、検出信号Ｄｈｉの判定（判別）を開始し、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号を計数する。このため、ステップＳ３ａにおいて計数回路４７は、計数値Ｎｈを０の初期値にセットし、ステップＳ４ａにおいて最初の検出信号Ｄｈｉのパラメータｉを１にセットする。
【００２７】
ステップＳ５ａに示すように計数回路４７は、最初の検出信号Ｄｈｉ（ｉ＝１）が閾値Ｖｔｈ以上であると判定した場合には、ステップＳ６ａにおいて計数値Ｎｈを１つ増加させ、ステップＳ７ａの処理に移る。一方、最初の検出信号Ｄｈｉ（ｉ＝１）が閾値Ｖｔｈ未満であると判定した場合には、ステップＳ８ａにおいて閾値Ｖｔｈ未満の検出信号Ｄｈｉ、又はその番号ｉ（この検出信号Ｄｈｉに対応するマーカ５３の番号でも良い。閾値Ｖｔｈ未満の検出信号Ｄｈｉとなったこのマーカ５３をミスマーカと言う）を例えばメモリ４６に格納した後、ステップＳ７ａの処理に移る。 
ステップＳ７ａにおいて計数回路４７は、ｉが全数Ｎｈｔに等しいか否かを判定し、等しくない場合には、ステップＳ９ａにおいてｉを１つ大きくしてステップＳ４ａの処理に戻る。この場合には、２番目の検出信号Ｄｈｉ（ｉ＝２）に対して同様の処理が行われる。 
ステップＳ７ａにおいてｉが全数Ｎｈｔに等しい場合には、計数回路４７は、計数値Ｎｈを歪み判定回路４８に送り、ステップＳ１０ａにおいて歪み判定回路４８は、計数値Ｎｈに基づいて歪みの大小を判定する。
【００２８】
例えば、ステップＳ１１ａに示すように歪み判定回路４８は、計数値Ｎｈが全数Ｎｈｔに対する計数値Ｎｈの割合が計数割合の閾値Ｎｔｈ以上か否かを判定し、閾値Ｎｔｈ以上の場合には、許容される範囲内の歪みであり、補正する必要無しと判定し、図６Ａの処理を終了する。 
一方、計数値Ｎｈの割合が計数割合の閾値Ｎｔｈ未満の場合には、ステップＳ１２ａに示すように歪み判定回路４８は、ＸＹステージ５５を駆動し、マーカ板５２を移動し、閾値Ｖｔｈ未満の検出信号Ｄｈｉ（この情報はステップＳ８ａの処理によりメモリ４６に格納されている）に対する補正処理を行う。後述するようにＸＹステージ５５を駆動して、マーカ板５２を水平方向に小さな移動量Δｈだけ移動した状態（図９参照）で、ミスマーカに対して補正用の検出信号を取得し、メモリ４６に格納する処理を行う。 
このようにして、補正用の検出信号を取得した後、計数回路４７は、上述した場合と同様に補正用の検出信号に対して閾値Ｖｔｈ以上となる補正用の検出信号を判定し、その計数値Ｎｈ′を計数する。そして、上述した計数値Ｎｈと計数値Ｎｈ′を加算した加算値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）の割合が閾値Ｎｔｈ以上となるか否かを判定する。
【００２９】
閾値Ｎｔｈ以上となる場合には補正用の検出信号を補正回路５０に送り、ステップＳ１３ａに示すように補正回路５０は、当該補正用の検出信号に対する補正値作りの処理を行い、ステップＳ１４ａに示すように補正回路５０は、補正用の検出信号を補正すると共に、メモリ４３に格納された補正用の検出信号と同じ走査軌跡付近の検出信号に対する補正を行い、図６Ａの処理を終了する。 
一方、加算値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）の割合が閾値Ｎｔｈ未満の場合には、更にマーカ板５２を水平方向に上記移動量とは異なる移動量だけ移動した状態で、ミスマーカに対して第２の補正用の検出信号を取得し、メモリ４６に格納する処理を行う。そして、上述した補正用の検出信号の場合と同様の処理を行う。このような処理を行うことにより、加算値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）の割合が閾値Ｎｔｈ以上となる補正用の検出信号を取得し、上述したように補正を行う。 
図６ＡにおけるステップＳ１２ａ〜１４ａは、許容される範囲以上のミスマーカが存在するために、ステップＳ８ａの検出信号に対して、マーカ板５２を移動し、閾値Ｖｔｈ以上の補正用の検出信号が得られるように補正値作りの処理を行い、閾値Ｖｔｈ以上の補正用の検出信号の計数値Ｎｈ′と補正値作り前の計数値Ｎｈとの加算値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）の割合が閾値Ｎｔｈ以上となるようにした後、ステップＳ１４ａの補正用の検出信号に基づいて補正（図１０参照）を行う。 
図６Ａは、水平方向に配置したマーカを用いた処理を示しているが、垂直方向に配置したマーカに対しても同様の処理を行う。図６Ｂは、垂直方向に配置したマーカを用いた場合の処理を示す。
【００３０】
図６ＢにおけるステップＳ１ｂ〜Ｓ１４ｂの処理は、図６ＡにおけるステップＳ１ａ〜Ｓ１４ａにおける水平方向を垂直方向に、（水平方向における）検出信号Ｄｈｉを（垂直方向における）検出信号Ｄｖｉに、（水平方向における）計数値Ｎｈを（垂直方向における）計数値Ｎｖに、（水平方向におけるマーカ５３の）全数Ｎｈｔを（垂直方向におけるマーカ５３の）全数Ｎｖｔに、置換した内容と同じであるため、その説明を省略する。なお、水平方向の場合の閾値Ｖｔｈ，Ｎｔｈと垂直方向の場合の閾値Ｖｔｈ，Ｎｔｈとを共通（つまり同じ値）に設定しているが、異なる値に設定しても良い。 
図７は、図６Ａの動作説明図を示し、信号抽出回路４５が検出信号Ｄｈｉを抽出し、メモリ４６に格納する様子を示す。図７（Ａ）に示すように中央のマーカ位置Ｐｓに光スポットを照射する状態（初期状態）の光ファイバ１５の先端は、図７（Ｂ）に示す駆動信号により渦巻き状（スパイラル状）に走査される。 
なお、図７（Ｂ）における実線は、Ｘ軸方向に走査する駆動信号（Ｘ駆動信号）を示し、点線はＹ軸方向に走査する駆動信号（Ｙ駆動信号）を示す。前述したように走査を開始する中央のマーカ位置Ｐｓ近傍ではＸ駆動信号とＹ駆動信号の位相差は９０°と異なり、その後、最初にＸ軸をクロスするタイミング以降においては９０°の位相差となる。最初から９０°の位相差をもつように設定しても良い。この場合には、図７（Ａ）に示す軌跡は中央付近の軌跡部分が若干異なる。
【００３１】
そして、図７（Ｃ）に示すように信号抽出回路４５は、Ｘ駆動信号が最初にＸ軸をクロスするタイミングｔ１ｈを含む期間に信号抽出用ゲートを開き、開いた期間内において取得した検出信号（この場合にはマーカ５３で反射された場合の検出信号）Ｄ１ｈをデータ記憶部となるメモリ４６に格納する。 
なお、図７（Ｃ）に示すように信号抽出用ゲートを用いる場合には当該信号抽出用ゲートが開となる開期間を小さくすれば、Ｘ駆動信号がＸ軸をクロスするタイミングｔ１ｈの検出信号を取得（抽出）することができる。このため、Ｘ駆動信号がＸ軸をクロスするタイミングｔ１ｈの検出信号を取得（抽出）するための信号抽出用ゲートを用いる場合には、照明光をパルス発光させた場合の他に、連続的に発生させた状態においても適用できる（換言すると、パルス発光は不可欠でものでない）。 
次にＸ軸をクロスするタイミングｔ２ｈを含む期間において取得した検出信号（この場合にはマーカ５３で反射された場合の検出信号）Ｄ２ｈをメモリ４６に記憶し、次にＸ軸をクロスするタイミングｔ３ｈを含む期間において取得した検出信号（この場合にはマーカ５３で反射されないでその背景部分で反射された輝度レベルが小さい検出信号）Ｄ３ｈをメモリ４６に格納する。 
このようにして、１枚の画像を生成する場合における水平方向における所定の走査範囲を走査した場合における全マーカ５３に対する検出信号のデータ取得が終了した場合には、直線ラインＬｖに沿って形成されたマーカ５３を用いて類似の処理を行う。つまり、図８に示すように、図７の場合と類似の処理を行う。なお、図８（Ａ）と図８（Ｂ）は、図７（Ａ）と図７（Ｂ）と同じ図である。
【００３２】
この場合にも、図７（Ｂ）と同じ駆動信号によりアクチュエータ１７が光ファイバ１５の先端を渦巻き状に走査する。そして、発光制御部３４ａは、渦巻き状に走査した場合におけるＸ駆動信号が０となる（つまりＹ軸をクロスする）タイミングでパルス発光させるように発光制御を行う。 
また、信号抽出回路４５は、図８（Ｃ）に示すように光スポットがＹ軸をクロスするタイミングを含む期間毎にゲートを開き、図８（Ｄ）に示すように検出信号Ｄｖｉを抽出し、抽出した検出信号Ｄｖｉをメモリ４６に格納する。 
例えば、中央のマーカ位置Ｐｓの状態（初期状態）から光ファイバ１５の先端を渦巻き状に走査させ、最初にＹ軸をクロスするタイミングｔ１ｖを含む期間において取得した検出信号（この場合にはマーカ５３で反射された場合の検出信号）Ｄ１ｖをメモリ４６に格納する。次にＹ軸をクロスするタイミングｔ２ｖを含む期間において取得した検出信号（この場合にはマーカ５３で反射された場合の検出信号）Ｄ２ｖをメモリ４６に格納し、次にＹ軸をクロスするタイミングｔ３ｖを含む期間において取得した検出信号（この場合にはマーカ５３で反射されないで背景部分で反射された輝度レベルが小さい検出信号）Ｄ３ｖをメモリ４６に格納する。このようにして、１枚の画像を生成する場合における垂直方向における所定の走査範囲を走査する。
【００３３】
メモリ４６に格納された検出信号Ｄｈｉ，Ｄｖｉは、計数回路４７に送られ、計数回路４７は閾値Ｖｔｈを用いて、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号の計数値Ｎｈ、Ｎｖを計数（カウント）する。 
なお、上述した図６Ａ，図６Ｂ、図７、図８の説明においては、渦巻き状に走査した場合、水平方向のマーカ５３と垂直方向のマーカ５３との場合に分けて検出信号Ｄｈｉ，Ｄｖｉを取得する場合を説明したが、１回の渦巻き状の走査中において、図７（Ｃ）、図８（Ｃ）に示すゲートをそれぞれ設定することにより、図６Ａ及び図６Ｂにおける検出信号Ｄｈｉ，Ｄｖｉを纏めて取得することができる。 
図７（Ｄ），図８（Ｄ）は、閾値Ｖｔｈにより閾値Ｖｔｈ以上の検出信号Ｄｈｉ，Ｄｖｉを判定する様子を示す。閾値Ｖｔｈは、例えば検出される検出信号における最大の輝度値の１／２程度に設定され、計数回路４７は、この閾値Ｖｔｈ以上の検出信号Ｄｈｉ，Ｄｖｉを計数する。なお、図７（Ｄ）の例では検出信号Ｄｈ１，Ｄｈ２，Ｄｈ４が閾値Ｖｔｈ以上と判定され、検出信号Ｄｈ３，Ｄｈ５は、閾値Ｖｔｈ未満と判定される。
【００３４】
計数回路４７は計数した計数値Ｎｈ、Ｎｖを歪み判定回路４８に送り、上述したように歪み判定回路４８は歪みが小さいか否かを判定する。 
歪み判定回路４８は、図６ＡにおけるステップＳ１１ａにおいて説明したように水平方向における走査範囲内のマーカ５３の全数Ｎｈｔと、図６Ｂに示した垂直方向における走査範囲内のマーカ５３の全数Ｎｖｔに対して、Ｎｈ／ＮｈｔとＮｖ／Ｎｖｔが予め設定された割合の閾値Ｎｔｈ以上の場合には歪みが小さいとして補正を行わない。 
なお、歪みが小さいか否かを判定する場合、上記のような割合の閾値Ｎｔｈにより判定する場合に限定されるものでなく、計数値Ｎｈ、Ｎｖに対して予め設定した計数値の閾値Ｎｔｈ′を用いて判定するようにしても良い（例えばＮｈ、Ｎｖが閾値Ｎｔｈ′以上の場合には歪みが小さく、閾値Ｎｔｈ′未満の場合には歪みが小さくないと判定するようにしても良い）。 
一方、Ｎｈ／Ｎｈｔ又はＮｖ／Ｎｖｔが予め設定された割合の閾値Ｎｔｈ未満の場合には歪みの補正を行う。具体的には、閾値Ｖｔｈ未満となる検出信号が検出されたマーカ（つまりミスマーカ）を走査対象として補正を行う。例えば図７（Ｄ）から分かるように閾値Ｖｔｈ未満となる検出信号Ｄｈ３が検出された光照射位置は、基準となるマーカ５３（５３−３ｈとする）の位置からずれていることが（図７（Ａ）から）分かる。
【００３５】
歪み判定回路４８は、ＸＹステージ５５によりマーカ板５２を移動し、マーカ板５２における直線ラインＬｖをＸ軸方向に＋Δｈ、又は−Δｈだけ移動して、図７の処理を行い、閾値Ｖｔｈ未満であった検出信号Ｄｈ３，Ｄｈ５を再度、検出する。 
例えば、図９の上側（図７（Ａ）に相当）に示すマーマ位置Ｐｓ（図１０ではＰｓは（０，０））を基準として配置した水平方向の直線ラインＬｈに対して、図９の下側に示すようにＸ軸方向にΔｈ移動した状態で直線ラインＬｈに沿った補正用のマーカ５３を設定する。そして、図７（Ａ）の設定状態においては閾値Ｖｔｈ以上の輝度値として検出できない検出信号を閾値Ｖｔｈ以上の検出信号として検出できるようにする。図９に示す例では、移動前の各マーカの位置を（Δｈ，０）移動して水平方向の直線ラインＬｈに沿った補正用のマーカ５３を設定している。 
図７（Ａ）のマーカ板５２の状態（図９の上側の図）から＋ΔｈだけＸ軸の正の方向に移動したマーカ５３を用いた場合（図９の下側の図）には、光スポットがマーカ５３（より具体的には５３−３ｈで示すマーカ）を照射し、この場合には閾値Ｖｔｈ以上となる補正用の検出信号Ｄｈ３が検出される様子を示す。
【００３６】
この場合には、検出信号Ｄｈ３が検出された際の光スポットの照射位置を補正する。例えば検出信号Ｄｈ３の検出に用いられた際のマーカ５３−３ｈの（移動前の）座標位置が（Ｐｈ３，０）であったとすると、検出信号Ｄｈ３の照射位置を（Ｐｈ３―Δｈ，０）に補正する。 
なお、検出信号Ｄｈ３以外の検出信号においても、この閾値Ｖｔｈ以上となる検出信号が検出された場合には同様に補正する。 
また、検出信号Ｄｈ５の場合においては、マーカ板５２をＸ軸方向に−Δｈ移動した場合に、光スポットがマーカ５３（より具体的には５３−５ｈで示すマーカ）を照射し、閾値Ｖｔｈ以上となる検出信号Ｄｈ５が検出されたとする。この場合には、マーカ（５３−５ｈの（−Δｈの移動前の）座標位置が（Ｐｈ５、０）であったとすると、検出信号Ｄｈ５の照射位置を（Ｐｈ５＋Δｈ，０）に補正する。 
検出信号Ｄｈ５以外の検出信号に対しても閾値Ｖｔｈ以上となる検出信号が検出された場合には同様に補正する。
【００３７】
このようにして、移動量Δｈ又は−Δｈだけ移動した補正用のマーカ５３の設定により閾値Ｖｔｈ以上の検出信号が検出された計数値Ｎｈ′を上記計数値Ｎｈに加算し、上述したように加算値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）／Ｎｈｔが予め設定された割合の閾値Ｎｔｈ以上の場合には、さらなる歪み補正は行わない。一方、加算値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）／Ｎｈｔが予め設定された割合の閾値Ｎｔｈ未満となる場合には、さらに上記の移動量Δｈ，−Δｈとは異なる移動量の補正用のマーカを設定して、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号を検出する。このような処理を繰り返すことにより、予め設定された割合以上の計数値の検出信号を得ることができる。 
図９においてはＸ軸方向の直線ラインＬｈ上のマーカ５３の場合に対して説明したが、垂直方向の直線ラインＬｖのマーカ５３を用いた場合の検出信号に対しても同様に補正する。但し、この場合には、歪み判定回路４８は、ＸＹステージ５５により直線ラインＬｈをＹ軸方向に＋Δｖ又は−Δｖだけ移動して、上述した処理を行い、閾値Ｖｔｈ未満であった検出信号Ｄｖ３，Ｄｖ４等を検出する。
【００３８】
そして、検出信号Ｄｖ３，Ｄｖ４等に対して、検出信号Ｄｈ３，Ｄｈ５の場合とほぼ同様に補正を行う。例えば、直線ラインＬｈをＹ軸方向に＋Δｖだけ、移動した場合において、Ｙ軸をクロスするタイミングの光スポットがマーカ５３−４ｖを照射し、その場合の検出信号Ｄｖ４は閾値Ｖｔｈ以上の輝度値となる。この場合には、図８に示すマーカ５３−４ｖの移動前の座標位置が（０，Ｐｖ４）であったとすると、検出信号Ｄ４ｖの照射位置を（０，Ｐｖ４−Δｖ）に補正する。 
実際に画像を取得する場合には、渦巻き状に走査した場合において、予め設定されたタイミング（又は照射位置）においてパルス発光するため、パルス発光した場合の照射位置は予め設定されている。照射位置がＸ軸上又はＹ軸上に設定されている場合には、上記のように簡単に補正することができるが、照射位置がＸ軸上又はＹ軸上に設定されていない照射位置に対しても合理的に補正することにより取得される画像の画質を向上することができる。
【００３９】
正弦波形のＸ，Ｙ駆動信号の振幅を少しずつ変化させることにより渦巻き状に走査するため、標準の渦巻き状の走査位置（走査軌跡）から１つの位置のみが単独でずれることは殆ど起こり得ないで、通常は、正弦波形のＸ，Ｙ駆動信号におけるＸ方向又はＹ方向の振幅が標準の振幅からずれることにより、標準の走査軌跡からずれることが原因となる。 
このため、例えば図９において検出信号Ｄｈ３を補正した場合におけるＸ軸から離れた照射位置に対して、図１０に示すように補正すれば良い。図１０は、図９の下側の図において、検出信号Ｄｈ３の照射位置（走査位置）を含む軌跡上に隣接し、例えば先行してパルス発光される照射位置Ｐｈ（Ｐ３ｘ，Ｐ３ｙ）を、補正する説明図を示す。 
この場合、照射位置Ｐｈ（Ｐ３ｘ，Ｐ３ｙ）を、補正照射位置Ｐｈ′（Ｐ３ｘ−Δｈ×ｃｏｓ（θ），Ｐ３ｙ）に補正する。ここで、ｃｏｓ（θ）は、Ｐ３ｙ／（Ｐ３ｈ−Δｈ）又はＰ３ｙ／ｒ（ｒは（Δｈ，０）又は（０，０）から照射位置Ｐｈ３までの長さ）である。つまり、照射位置Ｐｈ（Ｐ３ｘ，Ｐ３ｙ）におけるＸ座標成分を補正する。
【００４０】
又は、照射位置Ｐｈ（Ｐ３ｘ，Ｐ３ｙ）を、補正照射位置Ｐｈ′（Ｐ３ｘ−Δｈ×ｃｏｓ（θ），Ｐ３ｙ（１−Δｈ×ｓｉｎ（θ））に補正するようにしても良い。 
同様に検出信号Ｄｈ３を含む軌跡上に沿った、例えば半円（の円弧状軌跡）内の複数の照射位置を補正すれば良い。 
また、図１０では水平方向の補正用の検出信号の場合において説明したが、垂直方向に配置した場合において閾値Ｖｔｈ未満となった例えば検出信号Ｄｖ３等に対する例えば補正用の検出信号Ｄｖ３の場合に対しても、当該補正用の検出信号Ｄｖ３を含む軌跡上に沿った、例えば半円（の円弧状軌跡）内の照射位置も同様に補正すれば良い。この場合には、主にＹ座標成分の位置を補正する。なお、直交する直線ラインＬｈ，ＬｖがＸ軸、Ｙ軸に一致しない場合には、直線ラインＬｈ，Ｌｖ方向の座標成分の各位置をそれぞれ補正すれば良い。 
このようにして、補正用のマーカ５３により閾値Ｖｔｈ以上として検出された補正用の検出信号と同じ半円状の軌跡に存在し、メモリ４３に格納されている照射位置（走査位置）に対して、主にＸ座標成分の位置を補正する。
【００４１】
そして、位置補正された照射位置と共に、位置補正する前の検出信号をメモリ４３に再配置して格納する。再配置された照射位置と関連付けた検出信号は補間回路４９において補間処理されてラスタスキャンの画像信号に変換されてモニタ４に出力され、モニタ４には観察画像が表示される。 
このように動作する本実施形態によれば、直線ラインＬｈ，Ｌｖ上に予め所定数配置したマーカ５３を用いて、所定数のマーカ５３を閾値Ｖｔｈ以上の検出信号の計数値Ｎｈ，Ｎｖを計数することにより、渦巻き状の走査軌跡が許容される範囲内となる歪みの少ない画質を確保できる状態であるか、否かを簡単に判定できる。 
また、閾値Ｖｔｈ未満となる検出信号に対しては、マーカ板５２を水平方向（Ｘ軸方向）又は垂直方向（Ｙ軸方向）に移動した補正用のマーカ５３を用いることにより、照射位置（走査位置）を補正することができる。従って、補正用のマーカ５３を併用することにより、歪みの少ない良好な画質の画像信号を生成することが可能になる。 
また、本実施形態によれば、２つの直交する直線ラインＬｈ，Ｌｖ上に配置したマーカ５３を検出した検出信号とマーカ５３の位置情報を用いることにより、実際の走査軌跡上における個々の照射位置を合理的に補正することが可能になる。
【００４２】
次に本実施形態における第１変形例を説明する。上述した第１の実施形態においては、２つの直交する直線ラインＬｈ，Ｌｖ上に配置したマーカ５３を走査した場合の検出信号を用いて画像を生成する場合を説明した。 
本変形例は、図１１（Ａ）に示すように２つの直交する直線ラインＬｈ，Ｌｖの他に、斜め方向に設定した直線ラインＬα、Ｌβ上にもマーカ５３を配置したマーカ板５２を用いて画像を生成する処理を行う。以下に説明するように直線ラインＬα、Ｌβ上に配置したマーカ５３の場合にも、直線ラインＬｈ，Ｌｖ上に配置したマーカ５３を走査した場合とほぼ同様の処理を行う。 
図１１（Ａ）においては、直線ラインＬα、Ｌβは、中央（原点とする）を通り、Ｘ軸とそれぞれ角α、β成す方向に延びる直線ラインに設定されており、図１１（Ａ）においてα、βは、例えばＸ軸とそれぞれ４５°、１２５°の角度を成すように設定されている。
【００４３】
また、直線ラインＬα、Ｌβに沿ってそれぞれ設けられたマーカ５３は、予め基準となる駆動信号を用いて、基準の走査型内視鏡２のアクチュエータ１７を駆動し、マーカ板５２を渦巻き状に走査した場合、直線ラインＬα、Ｌβをそれぞれ通る（クロス）タイミングにおいて照射した際の光スポットの照射位置となる基準位置にそれぞれドット状のマーカ５３が間欠的に所定数形成されている。 
従って、基準の走査型内視鏡２と同じ特性の走査型内視鏡２を用いた場合においては、直線ラインＬα，Ｌβをそれぞれ通る（クロス）タイミングにおいてパルス発光させると、マーカ板５２に設けた各マーカ５３を照射するように光スポットを形成することになる。工場から出荷される走査型内視鏡２は、基準の走査型内視鏡２の特性から許容される範囲内のずれを含む特性に設定される。 
しかし、経年変化等により、特性が変化すると、マーカ５３を通らない軌跡で走査する場合も起こりえる。本変形例においては、直線ラインＬα、Ｌβに沿ってそれぞれ設けられたマーカ５３の位置は既知の位置となっているので、渦巻き状の軌跡に沿って直線ラインＬα、Ｌβ上に配置されたマーカ５３を走査する駆動信号に対する所定のタイミングでパルス発光させる。
【００４４】
図１１（Ａ）に示すマーカ板５２を用いた場合には、直線ラインＬｈ，Ｌｖ上のマーカ５３に対しては、第１の実施形態で説明したように検出信号Ｄｈｉ，Ｄｖｉを取得することができる。また、直線ラインンＬα、Ｌβ上に設定したマーカ５３に対する検出信号は、図１１（Ｂ）の駆動信号に対して、図１１（Ｃ）に示すようなタイミングの信号抽出用ゲートを用いることにより、図１１（Ａ）に示すマーカ５３−β１、５３−α１、５３−β２、５３−α２、…に対する図１１（Ｄ）に示すような検出信号を取得（抽出）することができる。取得された検出信号は、図４に示したメモリ４６に格納される。 
そして、上述したように計数回路４７により閾値Ｖｔｈ以上の検出信号の計数値Ｎα、Ｎβが計数され、歪み判定回路４８により斜め方向に設定した走査対象のマーカ５３の全数Ｎαｔ、Ｎβｔに対する割合の閾値Ｎｔｈ以上であるか否かにより、歪みが少ないか否かが判定される。
【００４５】
また、全数Ｎαｔ、Ｎβｔに対する計数値Ｎα、Ｎβの割合が閾値Ｎｔｈ未満と判定された場合には、直線ラインンＬα、Ｌβ上におけるマーカ５３を直線ラインンＬα、Ｌβの方向にΔｈ又は−Δｈだけ移動した補正用のマーカを設定し、閾値Ｎｔｈ未満と判定された検出信号が閾値Ｎｔｈ以上の補正用の検出信号として抽出できるようにする。 
また、補正用のマーカ５３の位置情報を用いて閾値Ｎｔｈ以上の補正用の検出信号の照射位置を補正すると共に、当該補正用の検出信号を含む軌跡上における当該補正用の検出信号の周辺におけるメモリ４３に格納された照射位置も同様に補正する。 
本変形例においては、第１の実施形態における直交する直線ラインＬｈ，Ｌｖの間に斜め方向の直線ラインンＬα、Ｌβを設定しているため、補正用の検出信号により、メモリ４３に格納された照射位置を補正する場合、当該補正用の検出信号を含む軌跡において、当該補正用の検出信号の周辺領域のみを補正対象にすることができる。
【００４６】
具体的に説明すると、図１１（Ａ）、図１１（Ｄ）から分かるように検出信号Ｄｔβ２は、閾値Ｖｔｈ未満の検出信号となり、補助用のマーカ５３を設定することにより閾値Ｖｔｈ以上の補正用の検出信号として取得することが可能となる。この補正用の検出信号により、メモリ４３に格納されている検出信号の照射位置を補正する場合、図１１（Ａ）におけるマーカ５３−β２を含む直線ラインＬβと直線ラインＬｈを二等分する直線ラインと、直線ラインＬβと直線ラインＬｖを二等分する直線ラインとの間に含まれる軌跡上の範囲のみに対して補正する。当該軌跡上の範囲の外側の照射位置に対しては、マーカ５３−β２に対して周方向に隣接するＸ軸上のマーカと、Ｙ軸上のマーカとに対する検出信号それぞれに基づいて補正したり、補正しないようにすれば良い。 
本変形例によれば、周方向に対して第１の実施形態の場合よりも数が多い直線ラインＬｈ，Ｌｖ，Ｌα，Ｌβ上にそれぞれ設定したマーカ５３を用いることにより、渦巻き状に走査した場合における周方向における照射位置がずれているか否かをより詳細に判定することができる。また、このようにより詳細に判定するために取得した補正用の検出信号を用いることにより、より詳細に照射位置を補正することができる。
【００４７】
次に第２変形例を説明する。渦巻き状に走査した場合におけるパルス発光するタイミングをＹ駆動信号が０となるタイミングに理想的に行った場合には、図１２に示すようにＸ軸上の直線ラインＬｈ上の各マーカ５３を配置した白丸で示す位置が照射位置Ｐｈ１，Ｐｈ２，Ｐｈ３，Ｐｈ４，Ｐｈ５，…となる。なお、これらの照射位置Ｐｈｉは、水平方向のマーカ５３−ｉｈの位置となる。 
しかし、このようにＹ駆動信号が０となるような特殊な照射タイミング又は発光タイミングの制御方法によって、渦巻き状の走査における任意に近い各位置でパルス発光させることは困難になる。そのために、実際の使用状態においては、予めパルス発光させた際にそれぞれ（又は代表的なもの）で取得された照射位置の情報を、画像を生成する際の位置情報として利用する。 
このような管理方法の場合には、例えばＸ軸上の照射位置（つまりＹ座標が０となる照射位置のタイミング）で照射した場合には、上記の照射位置Ｐｈ１，Ｐｈ２，Ｐｈ３，Ｐｈ４，Ｐｈ５，…が、黒丸で示す照射位置Ｐｈ１′，Ｐｈ２′，Ｐｈ３′，Ｐｈ４′，Ｐｈ５′，…となり、図１２に示す例では照射位置Ｐｈ３′〜Ｐｈ８′がＸ軸から上又は下側にずれることが起こりえる。
【００４８】
なお、このような照射位置のずれは、周方向における他の方向においても起こり得る。第２変形例においては、メモリ４３に格納された照射位置を補正する場合、マーカ５３側の配置位置の方向又は角度をずらして、閾値Ｖｔｈ以上の補正用の検出信号が得られるようにする。また、図１４を参照して説明する第３変形例においては、駆動信号の位相をずらす補正を行う。 
図１３は第２変形例の処理を示す。なお、本変形例の構成は、図４と同様な構成である。但し、本変形例においては、ＸＹステージ５５の代わりにモータ（図示略）が用いられ、マーカ板５２をモータの回転軸（図４のアーム５６の中心軸）の回りで所定の角範囲γｍａｘ内で回転可能にしている。 
最初のステップＳ１ａ′において、ラインプロファイル回路４４の信号抽出回路４５は、光ファイバ１５の先端を渦巻き状に走査した場合における水平方向に配置したマーカ５３に対する検出信号Ｄｈｉを取得し、メモリ４６に格納する。図６Ａにおいては、Ｙ駆動信号が０となるタイミングにおいて検出信号Ｄｈｉを取得したが、本変形例においてはＹ座標が０となるタイミングで順次検出信号Ｄｈｉを取得し、メモリ４６に記憶（格納）する。
【００４９】
理想的な状態においてはＹ座標が０のタイミングはＹ駆動信号の電圧が０となるタイミングと一致するが、駆動信号と照射位置間においてずれが発生すると、Ｙ駆動信号の電圧が０に対応する照射位置が、Ｙ駆動信号の電圧が０となる位置からずれることが起こりえる。 
次のステップＳ２ａは、図６ＡのステップＳ２ａと同じ処理となり、ステップＳ１１ａまで図６Ａと同じ処理を行う。ステップＳ１１ａにおいて計数値Ｎｈ／Ｎｈｔが閾値Ｎｔｈ以上の場合には、図６Ａの場合と同様に図１３の処理を終了し、計数値Ｎｈ／Ｎｈｔが閾値Ｎｔｈ未満の場合には、ステップＳ２１ａの処理に移る。 
ステップＳ２１ａにおいて歪み判定回路４８は、図示しないモータに駆動信号を印加し、モータを例えば時計回りの回転方向（正の回転方向）に小さい角Δγだけ回転した角γに設定する。モータの回転軸と共に、マーカ板５２を角Δγだけ回転する。 
つまり、水平方向の直線ラインＬｈは、初期状態の設定角γ＝０から角Δγだけ正の回転方向に回転した角γの補正用のマーカ５３の状態に設定される。
【００５０】
次のステップＳ２２ａにおいて信号抽出回路４５は、閾値Ｖｔｈ未満となった検出信号を補正用の検出信号Ｄｈｉ′として再度、取得し、メモリ４６に格納する。図１２に示す例では、例えば照射位置Ｐｈ７，Ｐｈ８の検出信号に対応する補正用の検出信号Ｄｈ７′、Ｄｈ８′取得する。角Δγを小さく設定した場合、マーカ５３（５３−７ｈ，５３−８ｈ）で反射された補正用の検出信号Ｄｈ７′，Ｄｈ８′を取得することが可能になる。 
次のステップＳ２３ａにおいて計数回路４７は、取得した補正用の検出信号Ｄｈｉ′が閾値Ｖｔｈ以上となるか否かを判定し、閾値Ｖｔｈ以上となる補正用の検出信号Ｄｈｉ′を取得して、メモリ４６に格納すると共に、ステップＳ２４ａにおいて閾値Ｖｔｈ以上となる補正用の検出信号Ｄｈｉ′の計数値Ｎｈ′を計数する。 
次のステップＳ２５ａにおいて歪み判定回路４８は、マーカ５３の全数Ｎｈｔに対する上記計数値Ｎｈと加算した計数値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）の割合（Ｎｈ＋Ｎｈ′）／Ｎｈｔが閾値Ｎｔｈ以上か否かを判定する。なお、前述したように計数値（Ｎｈ＋Ｎｈ′）が閾値Ｔｔｈ′以上か否かにより歪みが少ないか否かを判定するようにしても良い。
【００５１】
閾値Ｎｔｈ以上になる場合には、次のステップＳ２６ａにおいて補正回路５０は、照射位置の補正を角γを用いて行い、図１３の処理を終了する。
例えば補正回路５０は、閾値Ｖｔｈ以上となる補正用の検出信号Ｄｈｉ′が角γに設定された状態のマーカ５３において取得できた場合には、当該補正用の検出信号Ｄｈｉ′を含む円の１／４程度の範囲内の軌跡上となる照射位置をそれぞれ角γだけ負の方向にシフトする補正を行う。 
一方、ステップＳ２５ａにおいて、（Ｎｈ＋Ｎｈ′）／Ｎｈｔが閾値Ｎｔｈ未満になる場合には、ステップＳ２７ａにおいて歪み判定回路４８は、角γがγｍａｘに達したか否かの判定を行い、γｍａｘに達していない場合には、次のステップＳ２８ａにおいて現在の角γから更に角Δγだけ増大させた後、ステップＳ２２ａの処理に戻る。そして、同様の処理を行う。 
また、ステップＳ２７ａにおいて、角γがγｍａｘに達した判定結果の場合には、ステップＳ２９ａにおいて歪み判定回路４８は、マーカ板を初期状態に戻した後、負の回転方向にΔγだけ回転させた角γに設定し、ステップＳ２２ａの処理に戻る。この場合には、マーカ板５２を負の回転方向に角Δγずつ回転させて補正用の検出信号を取得し、マーカ板５２を正の回転方向に回転させた場合と同様の処理を行う。
【００５２】
図１３においては、水平方向に配置したマーカ５３を用いた場合を説明したが、垂直方向に配置したマーカ５３に対しても同様の処理を行う。 
そして、例えば補正回路５０は、閾値Ｖｔｈ以上となる補正用の検出信号Ｄｖｉ′が（負の方向に回転した場合における）角γに設定された状態のマーカ５３において取得できた場合には、当該補正用の検出信号Ｄｈｉ′を含む円の１／４程度の範囲内の軌跡上となる照射位置をそれぞれ角γだけ正の方向にシフトする補正を行う。 
本変形例によれば、パルス発光した場合の照射位置が駆動信号の電圧値（振幅値）が０となるような特定の基準位置からずれた場合に対しても、その照射位置を補正し、歪みの少ない観察画像を生成できるように補正することができる。 
次に第１の実施形態の第３変形例を説明する。上記第２変形例においては、初期状態からΔγだけ、マーカ５３の配列方向を変えて補正用の検出信号を順次取得し、閾値Ｖｔｈ以上となる検出信号及び補正用の検出信号の計数値が閾値以上となるまでΔγずつ変化させる処理を繰り返す。
【００５３】
これに対して、以下に説明するようにＸ，Ｙ駆動信号における一方の駆動信号の位相を例えばΔφずつ、変化させた駆動信号を用いて渦巻き状に走査し、水平方向に配置したマーカを検出し、閾値Ｖｔｈ以上となる検出信号の計数値が最大となる場合の位相に補正するようにしても良い。 
図１４は第３変形例の処理内容を示す。図１４における処理において、最初のステップＳ１ａ′からステップＳ１１ａまでは図１３と同様の処理となる。ステップＳ１１ａにおいて計数値Ｎｈ／Ｎｈｔが閾値Ｎｔｈ以上の場合には、図６Ａの場合と同様に図１４の処理を終了し、計数値Ｎｈ／Ｎｈｔが閾値Ｎｔｈ未満の場合には、ステップＳ３１ａの処理に移る。 
ステップＳ３１ａにおいて計数回路４７は、ステップＳ８ａにおいて閾値Ｖｔｈ未満となる検出信号における番号の最も小さいものの情報を抽出する。換言すると、最初に閾値Ｖｔｈ未満となる検出信号の情報を抽出（取得）する。また、その検出信号が取得される直前のＸ駆動信号の位相を所定の位相範囲φｍａｘ内で変化させる調整用位相φを（Ｘ駆動信号の位相を増加させる）正の方向にΔφだけ変化させる。
【００５４】
次のステップＳ３２ａにおいて信号抽出回路４５は、上記のＸ駆動信号とＹ駆動信号とにより渦巻き状に走査し、上述したＹ座標が０となるタイミングで（換言すると、ステップＳ１ａ′と同じように）検出信号を取得する。この場合の検出信号Ｄｈｉは、調整用位相φに依存するため、以後、検出信号Ｄｈｉ（φ）で表す。 
また、次のステップＳ３３ａにおいて計数回路４７は、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号Ｄｈｉ（φ）の計数値Ｎｈ（φ）を計数し、メモリ４６に格納する。 
次のステップＳ３４ａにおいて例えば計数回路４７は、調整用位相φが位相範囲φｍａｘに達したか否かを判定し、達していない場合には、次のステップＳ３５ａにおいて計数回路４７は、調整用位相φを更にΔφ増加させて、ステップＳ３２ａの処理に戻る。このようにして、Δφずつ増加させて、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号Ｄｈｉ（φ）の計数値Ｎｈ（φ）がメモリ４６に順次格納される。
【００５５】
ステップＳ３４ａにおいて調整用位相φが位相範囲φｍａｘに達した判定結果の場合には、ステップＳ３６ａにおいて計数回路４７は、最初に閾値Ｖｔｈ未満となる検出信号が取得される直前のＸ駆動信号の位相を変化させる調整用位相φを（Ｘ駆動信号の位相を減少させる）負の方向にΔφだけ変化させる。そして、ステップＳ３２ａ〜Ｓ３５ａと同様の処理となるステップＳ３７ａ〜Ｓ３４０をＸ駆動信号の位相を減少させる方向において行う。 
ステップＳ３９ａにおいて調整用位相φが位相範囲φｍａｘに達した判定結果の場合には、ステップＳ４１ａにおいて計数回路４７は、メモリ４６に格納されている計数値Ｎｈ（φ）における最大の計数値Ｎｈ（φＭｈ）となる調整用位相φＭｈを抽出し、メモリ４６等に記憶する。そして、図１４の処理を終了する。 
また、垂直方向の直線ラインＬｖ上に配置したマーカ５３に対しても同様に行い、閾値Ｖｔｈ以上の検出信号の計数値Ｎｖ（φ）を取得し、計数値Ｎｖ（φ）が最大となる最大の計数値Ｎｖ（φＭｖ）となる調整用位相φＭｖを抽出し、メモリ４６等に記憶する。
【００５６】
そして、上記調整用位相φＭｈのＸ駆動信号と、調整用位相φＭｖのＹ駆動信号とで渦巻き状の走査を行うように、駆動信号を補正する。 
上述の説明においては、水平方向と垂直方向とに分けてマーカを検出するようにしているが、例えばＸ駆動信号に対する調整用位相φを変化させた場合、水平方向の直線ラインＬｈ上に配置したマーカ５３と、垂直方向の直線ラインＬｖ上に配置したマーカ５３とを同じ渦巻き状の走査の際に同時に検出するようにしても良い。 
そして、上記計数値Ｎｈ（φ）と、直線ラインＬｖのマーカ５３の場合の計数値Ｎｖ（φ）とを取得し、加算した計数値Ｎｈ（φ）＋Ｎｖ（φ）が最大となる最大の計数値Ｎｈｖ（φＭ）となる調整用位相φＭを抽出し、メモリ４６等に記憶するようにしても良い。 
この場合には、駆動信号におけるＸ駆動信号の位相を調整用位相φＭで補正した駆動信号を用いて観察画像を取得する。第３変形例は、駆動信号により渦巻き状に走査する場合、位相ずれが発生して、その位相ずれが後の駆動信号の位相ずれに蓄積されていくような場合に対しては、位相ずれの補正により有効に位相ずれによる照射位置のずれを補正又は解消できる。 
なお、上述した第３変形例においては、閾値Ｖｔｈ以上となる検出信号の計数値の数により最終的な調整用位相φＭを決定していたが、各検出信号の輝度値を積算した積算値を用いて、積算値が最大となる調整用位相を最終的な調整用位相φＭに決定するようにしても良い。 
また、上述した変形例の場合を含む実施形態を部分的に組み合わせて構成される実施形態も本発明に属する。 
【符号の説明】
【００５７】
１…走査型内視鏡装置、２…走査型内視鏡、３…本体装置、４…モニタ、６…挿入部、１５…光ファイバ、１７…アクチュエータ、２３…受光用光ファイバ、３１…光源ユニット、３２…駆動ユニット、３３…検出ユニット、３４…コントローラ、４１…画像処理部、４２…ＸＹマッピング回路、４３…メモリ、４４…ラインプロファイル回路、４５…信号抽出回路、４６…メモリ、４７…計数回路、４８…歪み判定回路、４９…補間回路、５０…補正回路、５１…マーカ装置、５２…マーカ板、５３…マーカ、５４…マーカ部、５６…アーム、５７…ＸＹステージ、
【図１】
2016106726.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
2016106726.tif 000015
【図１３】
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【図１４】
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