(57)【要約】【課題】検査者が眼底の撮像位置を容易に確認することができる装置を提供することを目的とする。【解決手段】被検眼に測定光を照射し、該被検眼を撮像する眼科装置において、被検眼に照射された第１照明光を走査する第１走査手段と、第１照明光の被検眼からの第１反射光を受光する第１受光手段とを有して、第１受光手段で受光した第１反射光により第１眼底画像を得るための第１撮像手段と、被検眼に照射された第２照明光を走査する第２走査手段と、第２照明光の被検眼からの第２反射光を受光する第２受光手段と、第１反射光の一部を第２受光手段に入射させる分割手段と、第２受光手段で受光した第２反射光および第１反射光の一部により第１眼底画像に対して撮像画角が広く低倍率である第２眼底画像を得るための第２撮像手段と、第２受光手段による受光結果に基づいて得られる第２眼底画像を表示するための表示手段と、を配する。【選択図】図１
2016036364.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物に照射された第１照明光を走査する第１走査手段と、前記第１照明光の前記被検査物からの第１反射光を受光する第１受光手段とを有して、前記第１受光手段で受光した前記第１反射光により第１画像を得るための第１撮像手段と、前記被検査物に照射された第２照明光を走査する第２走査手段と、前記第２照明光の前記被検査物からの第２反射光を受光する第２受光手段と、
前記第１反射光の一部を前記第２受光手段に入射させる分割手段と
前記第２受光手段で受光した前記第２反射光および前記第１反射光の一部により前記第１画像に対して撮像画角が広く低倍率である第２画像を得るための第２撮像手段と、
前記第２受光手段による受光結果に基づいて得られる前記第２画像を表示するための表示手段と、
を有することを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記第１走査手段の走査状態に応じて、前記第２走査手段の走査状態を設定する設定手段をさらに有する、
ことを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記分割手段がダイクロイックミラーまたはビームスプリッタであることを特徴とする請求項１又は２の何れかに記載の検査装置。
【請求項４】
前記第１照明光を偏向する偏向手段と、
前記表示手段により表示された前記第２画像上で前記第１画像の撮像位置を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された撮像位置に基づいて、前記偏向手段を制御する偏向制御手段と
前記指示された撮像位置に基づいて、前記第１の走査手段を制御する制御手段と
をさらに有することを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の検査装置。
【請求項５】
前記偏向制御手段は前記指示手段により指示された位置に基づいて、前記偏向手段を制御するための変換表を有する、
ことを特徴とする請求項４に記載の検査装置。
【請求項６】
前記被検査物で発生する前記第１反射光の収差を補正する補償光学系をさらに有し、前記第１画像は、前記収差を補正して得られる光画像であることを特徴とする請求項１乃至５の何れか一項に記載の検査装置。
【請求項７】
被検査物に照射された第１照明光を走査する第１走査手段と、前記第１照明光の前記被検査物からの第１反射光を受光する第１受光手段と、
前記被検査物に照射された第２照明光を走査する第２走査手段と、前記第２照明光の前記被検査物からの第２反射光を受光する第２受光手段と、
前記第１反射光の一部を前記第２受光手段に入射させる分割手段と、を有する、
検査装置の制御方法であって、
前記第１受光手段で受光した前記第１反射光により第１画像を得る第１工程と、
前記第２受光手段で受光した前記第２反射光および前記第１反射光の一部により、前記第１画像に対して撮像画角が広く低倍率である第２画像を得る第２工程と、
前記第２受光手段による受光結果に基づいて得られる前記第２画像を表示する表示工程と、
を有することを特徴とする検査装置の制御方法。
【請求項８】
前記第１走査手段の走査状態に応じて、前記第２走査手段の走査状態を設定する設定工程をさらに有する、
ことを特徴とする請求項７に記載の制御方法。
【請求項９】
前記第１照明光を偏向する偏向手段を有し、
前記表示工程で表示された前記第２画像上で前記第１画像の撮像位置を指示する指示工程と、
前記指示工程により指示された撮像位置に基づいて、前記偏向手段を制御する偏向制御工程と
前記指示された撮像位置に基づいて、前記第１の走査手段を制御する制御工程と
をさらに有することを特徴とする請求項７又は８の何れかに記載の制御方法。
【請求項１０】
請求項７乃至９の何れか一項に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼科装置に例示される検査装置およびその制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
共焦点レーザー顕微鏡の原理を利用した眼科装置である走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）が知られている。該走査型レーザー検眼鏡は、測定光であるレーザーにより眼底上をラスタースキャンし、該眼底からの戻り光の強度から眼底の平面画像を高分解能かつ高速に得る装置である。
【０００３】
以下、このような平面画像を撮像する装置をＳＬＯ装置と記す。
【０００４】
近年、ＳＬＯ装置において測定光のビーム径を大きくし、測定光が眼底上により微小なスポットになるようにすることにより、横分解能を向上させた眼底の平面画像を取得することが可能になってきた。しかし、測定光のビーム径を大きくすると、眼底の平面画像の取得において、被検眼にて発生する、測定光やその戻り光の収差による平面画像のＳＮ比及び分解能の低下が問題になる。
【０００５】
それを解決するために、被検眼により生じる収差を波面センサでリアルタイムに測定し、該収差を波面補正デバイスで補正する補償光学系を有する補償光学ＳＬＯ装置（以下、ＡＯ−ＳＬＯ装置）が開発され、高横分解能な平面画像の取得を可能にしている。
【０００６】
このようなＡＯ−ＳＬＯ装置では、眼底の狭い領域を高い倍率で拡大して撮像するため、眼底のどの部位を撮像しているかを検査者が確認できることが重要となっている。
【０００７】
特許文献１では、低倍率の撮像画像上に高倍率の撮像画像の撮像位置を示す指標を表示することで、容易に撮像位置を確認する構成が開示されている。特許文献２では、赤外域に感度を有する観察用の２次元撮像素子に光断層干渉計（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）測定光の一部が入射される構成が開示されている。当該構成によれば、赤外眼底画像から眼底上で走査される測定光のラインを目視で確認でき、撮像位置を確認することが可能となっている。また特許文献３においては、高倍率画像の測定光の照射範囲に基づいて、低倍率画像の測定光の照射を制限することで、被検者の負荷を抑えたうえで、容易に撮像位置を確認する構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特許５２５９４８４号公報
【特許文献２】特許５３０６５５４号公報
【特許文献３】特開２０１３−１６９３５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１に開示される構成では、単に撮像位置を示す指標を画像中に挿入して表示する形態であり、実際の高倍率撮像画像の撮像位置からずれてしまう可能性がある。特許文献２に開示される構成では、眼底の観察に赤外光を用いているため、眼底の細かな構造が撮像できない。また、特許文献３に開示される構成では、低倍率撮像画像を得る際の照射光を制限してしまうため、制限された領域では眼底が明瞭に撮像できず、改善の余地を残している。
【００１０】
本発明は、上記課題に鑑み、検査者が眼底のどの位置を撮像しているかを容易に確認することができる装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本発明に係る検査装置は、
被検査物に照射された第１照明光を走査する第１走査手段と、前記第１照明光の前記被検査物からの第１反射光を受光する第１受光手段とを有して、前記第１受光手段で受光した前記第１反射光により第１画像を得るための第１撮像手段と、
前記被検査物に照射された第２照明光を走査する第２走査手段と、
前記第２照明光の前記被検査物からの第２反射光を受光する第２受光手段と、
前記第１反射光の一部を第２受光手段に入射させる分割手段と、
前記第２受光手段で受光した前記第２反射光および前記第１反射光の一部により前記第１画像に対して撮像画角が広く低倍率である第２画像を得るための第２撮像手段と、
前記第２受光手段による受光結果に基づいて得られる前記第２画像を表示するための表示手段と、
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、検査者が眼底のどの位置を撮像しているかをＷＦ−ＳＬＯ像中において容易に確認することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施例におけるＳＬＯ装置の光学系の構成を説明する図である。
【図２】本発明の実施例におけるＳＬＯ装置の測定光の各々の波長分布を説明する図である。
【図３】本発明の実施例におけるＡＯ−ＳＬＯ装置のＸＹスキャナとＷＦ−ＳＬＯ装置のＸＹスキャナとの同期の必要性を説明する図である。
【図４】本発明の実施例における各装置のＸＹスキャナどうしを同期させる位置を説明する図である。
【図５】本発明の実施例における各装置のＸＹスキャナの時間と変位（回転角）の関係を説明する図である。
【図６】本発明の実施例におけるＳＬＯ装置による眼底画像の撮像手順を説明するフロー図である。
【図７】本発明の実施例におけるＳＬＯ装置の制御ソフト画面の構成を説明する図である。
【図８】本発明の実施例におけるＷＦ−ＳＬＯ像中におけるＡＯ−ＳＬＯ像の撮像位置を説明する図である。
【図９】本発明の実施例における測定光を偏向後の各装置のＸＹスキャナの同期を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
本発明を実施するための形態を、以下の実施例により説明する。
【実施例】
【００１５】
本発明の実施例について説明する。
実施例１においては、眼科装置として、本発明を適用したＡＯ−ＳＬＯ装置について説明する。該ＡＯ−ＳＬＯ装置は、補償光学系を備え、眼底の高横分解能の平面画像（ＡＯ−ＳＬＯ像）の撮像を行う装置である。また、当該ＡＯ−ＳＬＯ装置には、ＷＯ−ＳＬＯ装置、前眼部観察装置および固視灯表示装置が付随する。ＷＦ−ＳＬＯ装置は、ＡＯ−ＳＬＯ像の取得を補助する目的で、広画角の平面画像（ＷＦ−ＳＬＯ像）の撮像を行う。前眼部観察装置は測定光の入射位置を把握するために用いられ、固視灯表示装置は撮像箇所を調整するために視線を誘導するために用いられる。
【００１６】
本実施例に係るＡＯ−ＳＬＯ装置では、空間光変調器により被検眼で生じる光学収差補正して平面画像を取得することとし、これにより被検眼の視度や被検眼による光学収差によらず良好な平面画像を得ている。
【００１７】
なお、本実施例では、高横分解能の平面画像を撮像するために、補償光学系を備えているが、高解像度を実現できる光学系の構成であれば、補償光学系を備えていなくてもよい。
【００１８】
＜ＡＯ−ＳＬＯ部全体＞
まず、図１を用いて、本実施例におけるＡＯ−ＳＬＯ装置のＡＯ−ＳＬＯ部１４０について、具体的に説明する。ＡＯ−ＳＬＯ部１４０は本発明における第１撮像手段に対応する。
【００１９】
光源１０１−１から出射した光は、光カプラー１３１によって参照光１０５と測定光１０６−１とに分割される。測定光１０６−１は、本発明における第１照明光に対応する。測定光１０６−１は空間光変調器１５９、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１、偏向Ｘスキャナ１１８−２、偏向Ｙスキャナ１１９−２、ダイクロイックミラー１７０−１等を介する測定光光路を経て観察対象である被検眼１０７に導かれる。ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−２は本発明における第１走査手段に対応し、偏向Ｘスキャナ１１８−２及び偏向Ｙスキャナ１１９−２は本発明における偏向手段に対応する。１５６は固視灯であり、固視灯１５６からの光束１５７は、被検眼１０７の固視を促す役割を有する。
【００２０】
測定光１０６−１は、被検眼１０７によって反射あるいは散乱された戻り光１０８−１となり、前述した測定光光路を逆行し、光カプラー１３１を介して、ディテクター１３８−１に入射される。戻り光１０８−１は本発明における第１反射光に対応し、ディテクター１３８−１は本発明における第１受光手段に対応する。ディテクター１３８−１は戻り光１０８−１の光強度を電圧に変換し、得られた電圧信号を用いて、被検眼１０７の平面画像が構成される。
【００２１】
なお、本実施例では、光学系の全体を主にレンズを用いた屈折光学系を用いて構成しているが、これらレンズの代わりに球面ミラーを用いた反射光学系によってもこれを構成することができる。
【００２２】
また、本実施例では、収差補正デバイスとして反射型の空間光変調器を用いたが、透過型の空間光変調器や、可変形状ミラーを用いてもこれを構成することができる。
【００２３】
＜ＡＯ−ＳＬＯ部の光源＞
つぎに、光源１０１−１の周辺について説明する。本実施例における光源１０１−１には、代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）を用いている。該光源１０１−１より射出される光の波長は、８４０ｎｍバンド幅５０ｎｍである。本実施例では、スペックルノイズの少ない平面画像を取得するために低コヒーレント光源を選択している。また、光源の種類として、ＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよくＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。
【００２４】
また、ＡＯ−ＳＬＯ部での測定光の波長は、眼を測定することを考慮すると近赤外光のものが適する。さらに、測定光波長は得られる平面画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは８４０ｎｍとする。なお、観察対象の測定部位によっては他の波長を選んでも良い。また、本実施例では、眼底撮像のための光源と波面測定のための光源とを同一として共用しているが、それぞれ別光源とし、光路の途中で個々の光を合波する構成としても良い。
【００２５】
光源１０１−１から出射された光は、シングルモードファイバー１３０−１を介して光カプラー１３１に導かれる。光カプラー１３１では、射出光を参照光１０５と測定光１０６−１とに９０：１０の割合で分割する。１５３−１〜２は偏光コントローラであり、参照光１０５および測定光１０６−１の偏向を調整するために用いられる。
【００２６】
＜ＡＯ−ＳＬＯ部の参照光路＞
次に、参照光１０５の光路について説明する。
光カプラー１３１によって分割された参照光１０５は、光ファイバー１３０−２を介して、光量測定装置１６４に入射される。光量測定装置１６４は参照光１０５の光量を測定し、測定光１０６−１の光量をモニターする用途に用いられる。
【００２７】
＜ＡＯ−ＳＬＯ部の測定光路＞
次に、測定光１０６−１の光路について説明する。
光カプラー１３１によって分割された測定光１０６−１は、シングルモードファイバー１３０−４を介してレンズ１３５−１に導かれ、ビーム径４ｍｍの平行光になるよう調整される。
【００２８】
測定光１０６−１は、平行光への調整後、補償光学系に導光される。補償光学系は、ビームスプリッタ１５８−１、収差を測定するための波面センサ１５５、波面補正デバイス１５９およびピンホール１９８−１、およびそれらに導光するためのレンズ１３５−５〜１０等の光学要素から構成されている。
【００２９】
以上の光学要素からなる光路において、測定光１０６−１は、ビームスプリッタ１５８−１を通過し、レンズ１３５−５〜６を通過し、空間光変調器１５９に入射される。ここで、被検眼１０７の角膜１２６と、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯＹスキャナ１１９−１と、波面センサ１５５と、空間光変調器１５９と、は各々光学的に共役になるようレンズ１３５−５〜１０等が配置されている。
【００３０】
次に、測定光１０６−１は、空間光変調器１５９にて変調された後、レンズ１３５−７〜８を通過し、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１のミラーに入射される。ＡＯ−ＳＬＯ部ＸスキャナＸ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１は、測定光１０６−１を眼底１２７上で光軸に垂直な方向にラスタースキャンするために用いられる。また、測定光１０６−１の中心（光軸）は、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１を構成する各々のミラーの回転中心と一致するように調整されている。
【００３１】
ここで、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１は測定光１０６−１を眼底上で水平方向に走査するスキャナであり、本実施例では共振型スキャナを用いている。また、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１は、測定光１０６−１を眼底上で垂直方向に走査するスキャナであり、ここではガルバノスキャナを用いている。該ガルバノスキャナを駆動する際の駆動波形はのこぎり波である。
【００３２】
また、本実施例で、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＹスキャナ１１９−１は、制御ＰＣ１０９内のドライバ部１８１に設けられた光スキャナ駆動ドライバ１８２を介して制御される。該光スキャナ駆動ドライバ１８２は、本実施例における走査手段を制御する制御手段に対応する。
【００３３】
ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１で走査された測定光１０６−１は、偏向Ｘスキャナ１１８−２のミラーに入射される。偏向Ｘスキャナ１１８−２および偏向Ｙスキャナ１１９−２は、各々測定光１０６−１を水平方向及び垂直方向に対して所定量だけさらに偏向させる役目を持っている。偏向Ｘスキャナ１１８−２およびＹスキャナ１１９−２には、本実施例では共にガルバノスキャナを用いている。該ガルバノスキャナを駆動する際の駆動波形はのこぎり波である。
【００３４】
ここで、偏向Ｘスキャナ１１８−２および偏向Ｙスキャナ１１９−２は、本実施例では制御ＰＣ１０９内のドライバ部１８１に設けられた第２光スキャナ駆動ドライバ１８５を介して制御される。該第２光スキャナ駆動ドライバは、本実施例における偏向制御手段に対応する。
【００３５】
レンズ１３５−９〜１０は、眼底１２７上を走査する測定光の焦点を調整するための光学系である。該レンズ１３５−９〜１０には、測定光１０６−１にて眼底１２７上をスキャンする際に、測定光１０６−１の支点を被検眼１０７の瞳孔中心とする役割がある。
【００３６】
なお、本実施例において、測定光１０６−１のビーム径は４ｍｍとしている。しかし、より高分解能な光画像を取得するために、ビーム径はより大きくしてもよい。
【００３７】
また、レンズ１３５−１０を支持する電動ステージ１１７−１は、矢印で図示している測定光１０６−１の光軸方向に移動することができる。この光軸方向の移動により、支持するレンズ１３５−１０の位置を動かし、前述したフォーカスを調整することができる。このように、レンズ１３５−１０の位置を調整することで、被検眼１０７の眼底１２７の所定の層に、測定光１０６−１を合焦し観察することが可能になる。また、被検眼１０７が屈折異常を有している場合にも対応できる。
【００３８】
本実施例では、電動ステージ１１７−１は、制御ＰＣ１０９内のドライバ部１８１に配置される電動ステージ駆動ドライバ１８３を介して制御される。
【００３９】
レンズ１３５−９〜１０を介した測定光１０６−１はミラー１２０、およびダイクロイックミラー１７０−１で反射し、被検眼１０７へと導光される。
【００４０】
ここで、ダイクロイックミラー１７０−１は測定光１０６−１の大部分を反射し、一部を透過する特性を持っている。ダイクロイックミラー１７０−１は本発明における分割手段に対応する。なお、本実施例では分割手段としてダイクロイックミラーを用いているが、被検眼１０７からの反射等した後の測定光１０６−１の大部分を反射し、且つ一部を透過可能となる光学特性を有する光学要素により代替可能である。例えば、ビームスプリッタとして機能する構成も該分割手段として使用可能である。
【００４１】
測定光１０６−１は、被検眼１０７に入射すると、眼底１２７からの反射や散乱により、戻り光１０８−１となる。戻り光１０８−１の大部分はダイクロイックミラー１７０−１で反射されて、測定光１０６−１と同一光路を逆向きに戻る。戻り光１０８−１は、ビームスプリッタ１５８−１に至って、戻り光１０８−１の一部は反射される。反射光は、ピンホール１９８−１を介して波面センサ１５５に入射され、該波面センサ１５５によって被検眼１０７で発生する戻り光１０８−１の収差が測定される。ピンホール１９８−１は、戻り光１０８−１以外の不要光を遮蔽する目的で設置されている。
【００４２】
ビームスプリッタ１５８−１を透過した戻り光１０８−１は、再び光カプラー１３１に導かれ、シングルモードファイバー１３０−３を介してディテクター１３８−１に到達する。ディテクター１３８−１には、例えば高速・高感度な光センサであるＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ  Ｐｈｏｔｏ  Ｄｉｏｄｅ）やＰＭＴ（Ｐｈｏｔｏｍｕｌｔｉｐｌｉｅｒ  Ｔｕｂｅ）が用いられる。
【００４３】
ダイクロイックミラー１７０−１を透過した戻り光１０８−１の一部は、ＷＦ−ＳＬＯ部１４１に入射する。入射した一部の戻り光１０８−１は、ディテクター１３８−２に導かれる。なお、後述するように、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１と、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３の各々とは同期が図られる。これら各々が同期し、ＡＯ−ＳＬＯ部１４０の測定光１０６−１とＷＦ−ＳＬＯ部１４１の測定光１０６−２とが眼底１２７の同じ位置を走査するタイミングで、一部の戻り光はディテクター１３８−２に入射される。
【００４４】
＜ＷＦ−ＳＬＯ部全体＞
次に、ＷＦ−ＳＬＯ部１４１について説明する。ＷＦ−ＳＬＯ部１４１は本発明における第２撮像手段に対応する。
【００４５】
ＷＦ−ＳＬＯ部１４１は基本的にＡＯ−ＳＬＯ部１４０と同様の構成となっている。重複する部分については説明を省略する。
【００４６】
光源１０１−２から出射した測定光１０６−２は、レンズ１３５−２〜４、レンズ１３５−１３〜１４、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３、ダイクロイックミラー１７０−１〜３等を介して観察対象である被検眼１０７に導かれる。測定光１０６−２は本発明における第２照明光に対応し、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＹスキャナ１１９−３は第２走査手段に対応する。光源１０１−２は、ＡＯ−ＳＬＯ部と同様にＳＬＤである。該光源１０１−２より射出される光の波長は９２０ｎｍでそのバンド幅は２０ｎｍである。
【００４７】
＜ＷＦ−ＳＬＯ部の測定光路＞
次に、測定光１０６−２の光路について説明する。
光源１０１−２から出射した測定光１０６−２は、レンズ１３５−２〜４、レンズ１３５−１３〜１４、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３、ＷＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３、ダイクロイックミラー１７０−１等を介して観察対象である被検眼１０７に導かれる。
【００４８】
本実施例において、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３は、測定光１０６−２を眼底上で水平方向に走査するスキャナであり、共振型スキャナをこれに用いている。また、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３は測定光１０６−２を眼底上で垂直方向に走査するスキャナであり、ガルバノスキャナをこれに用いている。該ガルバノスキャナを駆動する際の駆動波形はのこぎり波である。
【００４９】
なお、本実施例で、測定光１０６−２のビーム径は１ｍｍとしている。しかし、より高分解能な光画像を取得するために、ビーム径はより大きくしてもよい。レンズ１３５−１４は電動ステージ１１７−２に支持されて、矢印で図示している測定光１０６−２の光軸方向に移動することができる。これによりＡＯ−ＳＬＯ部１４０と同様にＷＦ−ＳＬＯ部１４１でも測定光１０６−２についてのフォーカスを調整することができる。
【００５０】
測定光１０６−２は、被検眼１０７に入射すると眼底１２７からの反射や散乱により戻り光１０８−２となり、ダイクロイックミラー１７０−１〜３、レンズ１３５−１３〜１４、レンズ１３５−２、レンズ１３５−１１〜１２、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３、ピンホール１９８−２、ビームスプリッタ１５８−２等を介してディテクター１３８−２に到達する。ピンホール１９８−２は、戻り光１０８−２及び戻り光１０８−１の一部以外の不要光を遮蔽する目的で設置されている。戻り光１０８−２は本発明における第２反射光に対応し、ディテクター１３８−２は本発明における第２受光手段に対応する。
【００５１】
＜固視灯部の構成＞
固視灯１５６は、発光型のディスプレイモジュールからなり表示面（２７ｍｍ、１２８×１２８画素）としてＸＹ平面に有する。該固視灯１５６には、液晶、有機ＥＬ、ＬＥＤアレイ等を用いることができる。被検眼１０７が、固視灯１５６からの光束１５７を注視することで、被検眼１０７の固視が誘導される。固視灯１５６の表示面には例えば図１（ｂ）に示すように、任意の点灯位置１６５に十字のパターンが点滅して表示される。
【００５２】
固視灯１５６からの光束１５７は、レンズ１３５−１７〜１８、ダイクロイックミラー１７０−１〜３を介して眼底１２７に導かれる。また、レンズ１３５−１７、１８は、固視灯１５６の表示面と眼底１２７とが光学的に共役になるよう配置される。レンズ１３５−１８は電動ステージ１１７−３に支持され、矢印で図示している光束１５７の光軸方向に移動することができる。また、固視灯１５６は、制御ＰＣ１０９内のドライバ部１８１に設けられた固視灯駆動ドライバ１８４を介して制御される。
【００５３】
＜前眼部観察＞
次に、前眼部観察について説明する。
前眼部照明光源１０１−３から出射された光は、被検眼１０７を照らし、その反射光がダイクロイックミラー１７０−１〜２、およびレンズ１３５−１９〜２０を介してＣＣＤカメラ１６０に入射する。光源１０１−３は中心波長７４０ｎｍの光を射出するＬＥＤより構成される。
【００５４】
＜フォーカス、シャッター、乱視補正＞
前述したＡＯ−ＳＬＯ部１４０、ＷＦ−ＳＬＯ部１４１、および固視灯部はそれぞれ個別に電動ステージ１１７−１〜３を持ち、３つの電動ステージを連動させている。ただし、個別にフォーカス位置を調整したい場合には、個別に電動ステージを動かすことで調整可能である。
【００５５】
また、ＡＯ−ＳＬＯ部１４０およびＷＦ−ＳＬＯ部１４１はそれぞれシャッター（不図示）を備え、該シャッターの開閉により個別に被検眼１０７に測定光を入射させるか否かを制御できる。
【００５６】
なお、本実施例ではシャッターを用いたが、光源１０１−１〜２を直接ＯＮ／ＯＦＦすることにより、制御することもできる。同様に、前眼部観察部、固視灯部についても、光源１０１−３および固視灯１５６のＯＮ／ＯＦＦにより制御可能である。
【００５７】
また、レンズ１３５−１０は交換可能になっており、被検眼１０７による収差（屈折異常）に合わせて球面レンズやシリンドリカルレンズを用いることができる。また１個のレンズに限らず、複数のレンズを組み合わせて該レンズを構築することも可能である。
【００５８】
＜波面補正＞
ここで、波面センサ１５５および空間光変調器１５９を用いた波面補正について説明する。
【００５９】
波面センサ１５５および空間光変調器１５９は、制御ＰＣ１０９に電気的に接続されている。波面センサ１５５はビームの波面を測定するもので、シャックハルトマンセンサをこれに用いており、測定レンジは−１０Ｄ〜＋５Ｄとなっている。得られた収差は、ツェルニケ多項式を用いて表現され、これは被検眼１０７の収差を示している。ツェルニケ多項式はチルト（傾き）の項、デフォーカスの項、アスティグマ（非点収差）の項、コマの項、トリフォイルの項等からなる。制御ＰＣ１０９では、得られた被検眼１０７の収差を基に、収差のない波面へと補正するような変調量（補正量）を計算し、空間光変調器１５９にその変調量を指令する。本実施例では、空間光変調器１５９として画素数６００×６００の反射型液晶空間位相変調器を用いた。
【００６０】
＜波長＞
ＡＯ−ＳＬＯ部１４０、ＷＦ−ＳＬＯ部１４１、固視灯部、前眼部観察に用いられている光源より得られる個々の光の波長分布を図２に示す。固視灯１５６からの光束１５７の波長は７２０ｎｍ以下であり、前眼観察の光源１０１−３からの照明光は中心波長７４０ｎｍである。また、ＡＯ−ＳＬＯ部１４０の光源１０１−１の波長は８４０ｎｍバンド幅５０ｎｍであり、ＷＦ−ＳＬＯ部１４１の光源１０１−２から射出される測定光１０６−１の波長は９２０ｎｍでバンド幅は２０ｎｍである。それぞれの光をダイクロイックミラー１７０−１〜３で分けるために、それぞれ異なる波長帯になるようにしている。なお、図２は各光源の波長の違いを示すものであり、その強度およびスペクトル形状を規定するものではない。
【００６１】
＜画像化＞
次に、撮像画像の構成方法について説明する。
ディテクター１３８−１に入射された光は、光の強度が電圧に変換される。ディテクター１３８−１で得られた電圧信号は、制御ＰＣ１０９内のＡＤボード１７６−１にてデジタル値に変換される。次に、制御ＰＣ１０９にて、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１の動作や駆動周波数と同期したデータ処理が行われ、ＡＯ−ＳＬＯ像が形成される。該ＡＯ−ＳＬＯ像は、本発明における第１画像若しくは第１眼底画像に対応する。
【００６２】
同様に、ディテクター１３８−２で得られた電圧信号は、制御ＰＣ１０９内のＡＤボード１７６−２にてデジタル値に変換され、ＷＦ−ＳＬＯ部１４１のスキャナの動作等と同期したデータ処理を行った後、ＷＦ−ＳＬＯ像が形成される。該ＷＦ−ＳＬＯ像は本発明における第２画像若しくは第２眼底画像に対応し、該第２画像は第１画像に対して撮像画角が広く低倍率で得られる画像となる。
【００６３】
本発明では、ＷＦ−ＳＬＯ像中において、ダイクロイックミラー１７０−１を透過した戻り光１０８−１の一部もＷＦ−ＳＬＯ像用の戻り光１０８−２と重畳された状態でディテクター１３８−２に受光される。該ディテクター１３８−２で得られた受光結果はそのままＷＦ−ＳＬＯ像として反映され、後述する図４に例示される画像が得られる。
【００６４】
＜ＸＹスキャナの同期＞
ダイクロイックミラー１７０−１を透過した戻り光１０８−１をディテクター１３８−２に入射させるため、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１と、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３を同期させる方法について説明する。
【００６５】
まず、スキャナを同期させる必要性を説明する。なお、図３は、ＡＯ−ＳＬＯ部１４０のスキャナ以降の光路およびＷＦ−ＳＬＯ部の光路について抽出して、これらを示している。図３（ａ）は、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＹスキャナ１１９−１とＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＹスキャナ１１９−３とによって、測定光１０６−１と測定光１０６−２とが眼底上の点３０１−１を同時に走査している状態を示している。この時、測定光１０６−１の戻り光１０８−１（実線）と測定光１０６−２の戻り光１０８−２（点線）とは同じ光路をたどり、ディテクター１３８−２に同時に照射される。
【００６６】
一方、図３（ｂ）は、測定光１０６−１が眼底上の点３０１−２を、測定光１０６−２が眼底上の点３０１−３を走査している状態を示している。この時、戻り光１０８−１は実線で示した光路をたどり、戻り光１０８−２は点線で示した光路をたどる。戻り光１０８−２はＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３で反射後、ディテクター１３８−２に導光される。しかし、戻り光１０８−１はＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３で反射後、ディテクター１３８−２の直前に設置されたピンホール１９８−２に遮られ、ディテクター１３８−２に到達することができない。
【００６７】
このように、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１と、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３とによって、測定光１０６−１と測定光１０６−２が眼底上の同じ位置を走査した時、戻り光３０２−１と戻り光３０２−２とが同時にディテクター１３８−２に導光されることになる。つまりＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１とＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３とが同期した時に、戻り光３０２−１と戻り光３０２−２とが同時にディテクター１３８−２に導光されることになるため、同期が必要になる。
【００６８】
次に、図４に、前述した各スキャナを同期させた際に得られる眼底像を例示する。同図中において示す点４０１、つまりＡＯ−ＳＬＯ部の撮像範囲４０２とＷＦ−ＳＬＯ部の撮像範囲４０３との中心においてＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１と、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３とを同期させる方法を説明する。
【００６９】
まず、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１とＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３の同期について図５（ａ）を用いて説明する。同図において、横軸は時間を、縦軸は各々のスキャナの変位（回転角）を示している。また、図中の波形５０１がＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１の時間と変位の関係を、波形５０２がＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３の時間と変位の関係を示している。本実施例ではＸスキャナとして共振スキャナを用いており、駆動周波数はＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１が１２ｋＨｚであり、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３が８ｋＨｚである。時間０で同時にスキャナの駆動を開始すると、その後、点５０５において定期的に変位が０つまり撮像範囲の水平方向の中心で各々のＸスキャナの回転角が一致する。
【００７０】
なお、本実施例では駆動周波数を１２ｋＨｚと８ｋＨｚとしたが、これに限るものではない。換言すれば、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１とＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１９−１との駆動周波数が整数比になっていれば良い。
【００７１】
次にＹスキャナの同期について図５（ｂ）を用いて説明する。波形５０３がＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１の時間と変位との関係を、波形５０４がＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３の時間と変位との関係を各々示している。本実施例ではＹスキャナとしてガルバノスキャナを用いている。本実施例では、ＡＯ−ＳＬＯ部のフレームレートを３２Ｈｚ、ＷＦ−ＳＬＯ部のフレームレートを１６Ｈｚとした。時間０で同時にスキャナの駆動を開始すると、その後点５０６において定期的に変位が０つまり撮像範囲の垂直方向の中心で各々のＹスキャナの回転角が一致する。本実施例ではＡＯ−ＳＬＯ部のフレームレートを３２Ｈｚ、ＷＦ−ＳＬＯ部のフレームレートを１６Ｈｚとしたが、これに限るものではなく、ＡＯ−ＳＬＯ部のフレームレートを設定し、その整数比となるようにＷＦ−ＳＬＯ部のフレームレートを設定すれば良い。フレームレートは本発明における走査状態に対応する。
【００７２】
このようにＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１とＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１９−１、およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１９−１とＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３を同期させ、撮像範囲の中心である点４０１をＡＯ−ＳＬＯ部１４０とＷＦ−ＳＬＯ部１４１とが同時に各々の測定光を走査するようにする。
【００７３】
＜撮像手順＞
次に、本実施例のＡＯ−ＳＬＯ装置における撮像手順について図６〜９を用いて説明する。
図６に撮像手順を示す。以下に、各工程について詳しく述べる。
【００７４】
（工程１）撮像を開始する
制御ソフト画面の実行ボタン７０１を押す。
【００７５】
（工程２）前眼部画像を取得する
前眼部モニター７１２に被検眼１０７の前眼部の画像が表示される。画面中央に瞳孔の中心が正しく表示されていない場合は、不図示のヘッド部を略正しい位置に動かす。
【００７６】
（工程３）ＷＦ−ＳＬＯ像を取得する
略正しい状態で前眼部画像が表示された場合、ＷＦ−ＳＬＯ像がＷＦ−ＳＬＯモニター７１５に表示される。ＷＦ−ＳＬＯモニター７１５は本発明における第２眼底画像を表示するための表示手段に対応する。画角は縦９ｍｍ×横１２ｍｍであり、フレームレートは１６Ｈｚが初期値として設定されている。固視灯位置モニター７１３で固視灯の点灯位置１６５を中央位置に設定し、被検眼１０７の視線を中心に誘導する。
【００７７】
次に、ＷＦ−ＳＬＯ強度モニター７１６を見ながら、フォーカス調整ボタン７０４を調整して、ＷＦ−ＳＬＯ強度が大きくなるように調整する。ここで、ＷＦ−ＳＬＯ強度モニター７１６には横軸時間、縦軸信号強度でＷＦ−ＳＬＯ部で検出された信号強度が時系列に表示されている。ここで、フォーカス調整ボタン７０４を調整することで、レンズ１３５−１０、１４、１８の位置が同時に調整される。
【００７８】
ＷＦ−ＳＬＯ像が鮮明に表示された場合、ＷＦ−ＳＬＯ記録ボタン７１７を押して、ＷＦ−ＳＬＯデータを保存する。
【００７９】
（工程４）ＡＯ−ＳＬＯ像を表示する
ＡＯ−ＳＬＯ測定ボタン７０７が押されると、ＡＯ−ＳＬＯ測定光のシャッターが開いてＡＯ−ＳＬＯ測定光である測定光１０６−１が被検眼１０７に照射され、ＡＯ−ＳＬＯモニター７１８にＡＯ−ＳＬＯ像が表示される。画角は縦０．８ｍｍ×横０．８ｍｍ、フレームレートは３２Ｈｚが初期値として設定されている。また、ＡＯ−ＳＬＯ強度モニター７１９に、ＷＦ−ＳＬＯ強度モニター７１６と同様に、ＡＯ−ＳＬＯ部で検出された信号強度が時系列に表示される。
【００８０】
（工程５）ＡＯ−ＳＬＯ像取得位置を決定する
図８（ａ）に示すようにＷＦ−ＳＬＯモニター７１５上に表示されたＷＦ−ＳＬＯ像上で、ＡＯ−ＳＬＯ像の撮像範囲８０１の中心位置８０２が明るく表示される。この明るく表示された位置８０２を基に現在の撮像位置を確認し、ＡＯ−ＳＬＯ像を取得したいＷＦ−ＳＬＯ眼底画像上の位置をＷＦ−ＳＬＯモニター７１５上で不図示のマウスでクリックする。マウスは本発明における撮像位置を指示する指示手段に対応する。クリックされるとＡＯ−ＳＬＯ測定光シャッターが閉まり、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１の駆動が停止する。
【００８１】
図８（ｂ）に示すようにＷＦ−ＳＬＯモニター７１５上で所望の位置８０３をクリックすると、制御ＰＣ１０９はクリックした位置８０３に対応するよう測定光１０６−１を偏向させるための偏向Ｘスキャナ１１８−２と偏向Ｙスキャナ１１９−２の偏向角度を求める。該偏向角度は、事前にＷＦ−ＳＬＯモニター７１５上の位置と偏向Ｘスキャナ１１８−２および偏向Ｙスキャナ１１９−２の角度の変換表を作成し、クリックした位置に応じて制御ＰＣ１０９が変換表から角度を求める。制御ＰＣ１０９は求めた角度に基づいて偏向Ｘスキャナ１１８−２、偏向Ｙスキャナ１１９−２を回転させ、測定光１０６−１の照射方向を偏向させる。
【００８２】
また、制御ＰＣ１０９はクリックした位置と現在のＡＯ−ＳＬＯ像の撮像範囲の中心との間の距離Ｃ（Ｃｘ、Ｃｙ）を算出する。
【００８３】
次に、制御ＰＣ１０９は図９（ａ）および９（ｂ）に示す時間Ｔｘ、Ｔｙを算出する。時間ＴｘはＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３が中心からＣｘの距離を走査するのにかかる時間を、ＴｙはＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３が中心からＣｙの距離を走査するのにかかる時間を示している。ここで、波形９０１がＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１、波形９０２がＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３、波形９０３がＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１の時間と変位との関係を、波形９０４がＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３の時間と変位との関係を各々示している。波形９０２は正弦波なので、時間Ｔｘは
【数１】
2016036364.tif 000003
で求めることができる。同様に、時間Ｔｙは波形９０４の傾きが既知の値であるＫであるとすると
【数２】
2016036364.tif 000004
で求めることができる。時間Ｔｘ、Ｔｙが算出されたら、制御ＰＣ１０９はＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯＹスキャナ１１９−３に対して時間Ｔｙ遅らせてＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１の駆動を再開させる。次に、時間Ｔｘ＋Ｔｙ遅らせてＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１９−３の駆動を再開し、ＡＯ−ＳＬＯシャッターを開ける。
【００８４】
このように制御することで、所望の位置８０３でＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１と、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３とを同期させることができる。
【００８５】
ＡＯ−ＳＬＯ像を取得したい位置の中心位置が明るく表示されていることを確認して、次の工程に移る。
【００８６】
（工程６）収差補正を行う
工程４でＡＯ−ＳＬＯ測定ボタン７０７が押されると、波面センサモニター７１４に波面センサ１５５で検出されたハルトマン像が表示される。このハルトマン像から計算された収差が収差補正モニター７１１に表示される。収差はデフォーカス（ｄｅｆｏｃｕｓ）成分（μｍ単位）と、全ての収差量（μｍＲＭＳ単位）に分けて表示される。ここで、工程３において、ＡＯ−ＳＬＯ測定光のフォーカスレンズであるレンズ１３５−１０の位置が調整されているため、この工程での収差測定が可能な状態になっている。
【００８７】
ここで自動フォーカスボタン７２１を押すと、デフォーカスの値が小さくなるようにレンズ１３５−１０、１４、１８の位置が自動的に調整される。
【００８８】
次に収差補正ボタン７２２を押すと、収差量が小さくなる方向に自動的に空間光変調器１５９が調整され、リアルタイムに収差量の値が表示される。ＡＯ−ＳＬＯモニター７１８に表示されている画像もリアルタイムに収差が補正された画像に更新される。
【００８９】
（工程７）ＡＯ−ＳＬＯ像を取得する
ＡＯ−ＳＬＯ強度モニター７１９に表示された信号強度が不十分な場合には、フォーカスを調整し、信号強度が大きくなるように調整する。
【００９０】
また、撮像条件設定ボタン７２３によって、ＡＯ−ＳＬＯ部１４０の画角、フレームレート、撮像時間を変更することができる。ここで設定されたフレームレートの整数比となるよう、ＷＦ−ＳＬＯ部のフレームレートが制御ＰＣ１０９により自動で変更される。制御ＰＣ１０９は本発明における走査状態を設定する設定手段に対応する。
【００９１】
また、深さ調整ボタン７２４を調整して、レンズ１３５−１０を移動させ、被検眼１０７の深さ方向の撮像範囲を調整することができる。具体的には、視細胞層や神経線維層や色素上皮層等の所望の層の像を取得することができる。
【００９２】
収差量の値が十分低い値になり、ＡＯ−ＳＬＯ像が鮮明に表示された場合、ＡＯ−ＳＬＯ記録ボタン７２０を押して、ＡＯ−ＳＬＯデータを保存する。
【００９３】
（工程８）次の動作を選択する
撮像位置の変更を行う場合には工程５に、撮像左右眼の切り替えを行う場合には工程３に戻る。撮像を終了する場合には、次の工程に移動する。
【００９４】
（工程９）終了する
ＳＴＯＰボタン７０２を押すと、制御ソフトが停止する。
【００９５】
本実施例では、常にＡＯ―ＳＬＯ部１４０の撮像範囲の中心位置をＡＯ−ＳＬＯ部１４０とＷＦ−ＳＬＯ部１４１が同時に走査し、ＷＦ−ＳＬＯ像上でＡＯ−ＳＬＯの走査範囲が明るく見えるようにしたが、１点でなく複数の点が明るく見えるようにしてもよい。
【００９６】
また、本実施例では常に同じ点を同時に走査するようにしたが、ＡＯ―ＳＬＯ部の撮像範囲内の何れかの点で同時に走査するようにし、その走査範囲を明るく見えるようにしても良い。この場合、ＡＯ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−１およびＡＯ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−１と、ＷＦ−ＳＬＯ部Ｘスキャナ１１８−３およびＷＦ−ＳＬＯ部Ｙスキャナ１１９−３を同期させなくて良い。
【００９７】
このように、本実施例によれば、ＡＯ−ＳＬＯ部の撮像範囲の中心位置がＷＦ−ＳＬＯ像上で明るくなり、検査者が眼底のどの位置を撮像しているかを容易に確認することができる。
【００９８】
（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【００９９】
更に、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、上記の実施例では、被測定物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被測定物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される検査装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【符号の説明】
【０１００】
１０１：ディテクター
１０５：参照光
１０６：測定光
１０７：被検眼
１０８：戻り光
１０９：制御ＰＣ
１１７：電動ステージ
１１８：Ｘスキャナ
１１９：Ｙスキャナ
１２０：ミラー
１２６：角膜
１２７：眼底
１３０：シングルモードモードファイバー
１３１：光カプラー
１３５：レンズ
１３８：ディテクター
１４０：ＡＯ−ＳＬＯ部
１４１：ＷＦ−ＳＬＯ部
１５３：偏光コントローラ
１５５：波面センサ
１５６：固視灯
１５８：ビームスプリッタ
１５９：波面補正デバイス
１６０：ＣＣＤカメラ
１６４：光量測定装置
１６５：点灯位置
１７０：ダイクロイックミラー
１７６：ＡＤボード
１８１：ドライバ部
１８２：光スキャナ駆動ドライバ
１８３：電動ステージ駆動ドライバ
１８４：固視灯駆動ドライバ
１８５：光スキャナ駆動ドライバ
１９８：ピンホール
【図１】
2016036364.tif 000005
【図２】
2016036364.tif 000006
【図３】
2016036364.tif 000007
【図５】
2016036364.tif 000008
【図６】
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【図７】
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【図９】
2016036364.tif 000011
【図４】
2016036364.tif 000012
【図８】
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