(57)【要約】【課題】搬送されるシート状物体の周期欠点検査において、その強度を高精度に判定することが可能な周期欠点検査方法、装置およびシート状物体の製造方法を提供する。【解決手段】  本発明の周期欠点検査方法は、搬送されるシート状物体に光を照射し、シート状物体を介した反射光または散乱光または透過光を受光し、受光した光に基づいて欠陥を検出し、欠陥が周期的に発生しているか否かを判別する周期欠陥検査方法において、周期性欠陥であると判定された欠陥群について、各種欠陥特徴量の平均値を算出し、この算出された欠陥の各種平均特徴量により周期性欠陥の種別を判別する。【選択図】図２
2016138814.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送されるシート状物体に光を照射し、このシート状物体を介した反射光または散乱光または透過光を受光し、受光した光に基づいて欠点を検出し、これら欠点が周期的に発生しているか否かを判別する周期欠点検査方法において、
周期性欠点であると判定された欠点群について、各種欠点特徴量の平均値を算出し、この算出された各種欠点特徴量の平均値により周期性欠点の種別を判別する、周期欠点検査方法。
【請求項２】
前記平均値の算出方法が移動平均法である、請求項１の周期欠点検査方法。
【請求項３】
前記移動平均法が単純移動平均法である、請求項２の周期欠点検査方法。
【請求項４】
前記移動平均法が指数移動平均法である、請求項２の周期欠点検査方法。
【請求項５】
前記移動平均法が修正移動平均法である、請求項２の周期欠点検査方法。
【請求項６】
搬送されるシート状物体に光を照射する照射手段と、
前記照射手段から照射され前記シート状物体を介した反射光または散乱光または透過光を受光する受光手段と、
前記受光手段が受光した光に基づいて欠点を検出する欠点検出手段と、
前記欠点検出手段で検出された欠点が周期的に発生しているか否かを判別し、周期性欠点であると判定された欠点群の各種欠点特徴量の平均値を算出する周期判定手段と、
前記周期判定手段にて算出された各種欠点特徴量の平均値により周期性欠点の種別を判別する欠点ランク判定手段と、を有する周期欠点検査装置。
【請求項７】
前記周期判定手段が各種欠点特徴量の移動平均値を算出する、請求項６の周期欠点検査装置。
【請求項８】
前記移動平均値が単純移動平均値である、請求項７の周期欠点検査装置。
【請求項９】
前記移動平均値が指数移動平均値である、請求項７の周期欠点検査装置。
【請求項１０】
前記移動平均値が修正移動平均値である、請求項７の周期欠点検査装置。
【請求項１１】
請求項１〜５のいずれかの周期欠点検出方法を用いてシート状物体の欠点を検出する、シート状物体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シート状物体を製造する工程において形成される周期欠点を検査する周期欠点検査方法、周期欠点検査装置およびシート状物体の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
フィルムなどのシート状物体の製造工程では、搬送、延伸などのためにロールが複数使用されている。それらロール表面のキズや付着物などにより、シート状物体の表面にロール径の周期で連続的に欠点（周期欠点）が発生することがある。この周期欠点は主にキズであるが、製造工程内や製品出荷前に、ヒトや欠点検出装置による検査で発見し、品質保証、工程改善に繋げている。
【０００３】
しかし近年、シート状物体への品質要求は厳しさを増しており、単に周期欠点の有無を判定するのみならず、欠点の強度が非常に小さなレベルまでを保証することを求められている。これに伴い、欠点検出装置の設定を厳しくして、シート状物体の欠点を数多く検出し、それらに対して周期判定を実施することが進められている。
【０００４】
ここで周期判定の公知手法につき、特許文献１を用いて説明する。特許文献１は、
（１）発生したシート幅方向位置が予め設定したシート幅方向許容範囲内で近接する欠点同士を、同一のグループに分類し
（２）同一グループに分類した欠点群の中で、任意の２つの欠点が発生した位置のシート搬送方向距離を基本周期（複数ある）とし、
（３）同一グループに分類した欠点群の中で、（ある一つの）基本周期を持つ先頭の欠点を判定し、
（４）同一グループ内に分類した欠点群の中で、順次、欠点を抽出して先頭の欠点とのシート搬送方向距離を算出し、
（５）基本周期の整数倍となったときに、その（順次抽出した）欠点を、基本周期を持つ周期欠点と判定する
という周期判定を行っている。一般的な周期判定はほぼ同様の考え方であり、（５）の整数倍のところに多少のずれ量を許容するシート搬送方向許容範囲を有している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１８３９０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されているような手法だけでは、周期欠点を検出したときに、周期欠点の強度を細かく判定することは困難である。
【０００７】
すなわち周期欠点は、シート状物を搬送するためのロールに発生した突起物の付着や、ロールの損傷など何らかの異常部位が、シート状物に接触することで発生するものである。これを一般的な検査装置で検査するに際して、以下の測定バラつきを避けることは困難である。
（イ）搬送されるシート状物を検査装置で検査する際にシートをデジタル画像データ化するに際しての空間方向（幅方向、流れ方向）の離散化誤差と欠点の程度を強度（画像の明るさ）に変換するに際しての量子化誤差に起因する検出強度のバラつき
（ロ）搬送されるシート状物のバタツキに起因する検出強度のバラつき
（ハ）搬送されるシート状物と搬送ロール上の異常物により発生する欠点形状のバラつき
これに対し、最終的にシート状物に対して行われる目視検査は、その大半が抜き取り検査であり、周期欠点の一部のみでしか評価が行われない。この場合、目視検査のためにサンプリングされた範囲の欠点がどのような強度を有するものであったかによって、目視検査による判定結果は左右される。すなわち、周期欠点の中でも欠点強度が弱い形状を有する部位がサンプリングされた場合、検査感度は不足する状態となり、周期欠点の中でも欠点強度が強い部位がサンプリングされた場合、検査感度は過剰な状態となる。このように、周期欠点検査と目視検査とを組み合わせる場合には、最終的な検査感度が安定しないという課題がある。
【０００８】
また、シート状物の品質の最終判定を目視検査に頼らずに周期欠点検査装置の検査結果のみで判断するとした場合も、図５に示すように、周期欠点検査装置上で欠点の程度をランク付けするために判別した結果が、欠点Ａと欠点Ｂとでは検査に際する測定バラつきの影響で特定の範囲においては欠点の強度が反転する場合があるほど、検査結果が変動する。そのため、実際には欠点Ａの方が欠点Ｂよりも全体的に強度の強い欠陥であるにもかかわらず、ランク判定後は欠点Ａと欠点Ｂとでどちらがより強度の強い欠点であったのかを判断するのが難しいという問題がある。
【０００９】
以上に鑑みて、本発明の目的は、搬送されるシート状物体の周期欠点検査において、その強度を高精度に判定することが可能な周期欠点検査方法と、それを実現する周期欠点検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決する本発明の周期欠点検査方法は、搬送されるシート状物体に光を照射し、このシート状物体を介した反射光または散乱光または透過光を受光し、受光した光に基づいて欠点を検出し、これら欠点が周期的に発生しているか否かを判別する方法において、周期性欠点であると判定された欠点群について、各種欠点特徴量の平均値を算出し、この算出された各種欠点特徴量の平均値により周期性欠点の種別を判別する。
【００１１】
本発明の周期欠点検査方法は、平均値の算出方法が移動平均法であることが好ましく、さらにその移動平均法が単純純移動平均法、指数移動平均法または修正移動平均法であることが好ましい。
【００１２】
上記課題を解決する本発明の周期欠点検査装置は、搬送されるシート状物体に光を照射する照射手段と、照射手段から照射されシート状物体を介した反射光または散乱光または透過光を受光する受光手段と、受光手段が受光した光に基づいて欠点を検出する欠点検出手段と、欠点検出手段で検出された欠点が周期的に発生しているか否かを判別し、周期性欠点であると判定された欠点群の各種欠点特徴量の平均値を算出する周期判定手段と、周期判定手段にて算出された各種欠点特徴量の平均値により周期性欠点の種別を判別する欠点ランク判定手段と、を有する。
【００１３】
本発明の周期欠点検査装置は、周期判定手段が各種欠点特徴量の移動平均値を算出することが好ましく、さらにその移動平均値が単純移動平均値、指数移動平均値または修正移動平均値であることが好ましい。
【００１４】
本発明のシート状物体の製造方法は、本発明の周期欠点検出方法を用いてシート状物体の欠点を検出する製造方法である。
【００１５】
本発明における「シート状物体を製造する工程」とは、シート状物体の製造を役割（機能）によって、複数に分けた工程をいう。例えばフィルムでは、溶融したポリマを口金の間隙から吐出し、それを受けてシート状にする「キャスト」工程、フィルムを搬送方向に延伸する「縦延伸」工程、フィルムを幅方向に延伸する「横延伸」工程、巻き取り前にフィルムを搬送させる「搬送」工程、フィルムを巻き取る「巻き取り」工程、巻き取ったフィルムをお客様の希望幅に合わせて裁断する「スリット」工程などが挙げられる。「縦延伸」工程と「横延伸」工程を合わせて、「延伸」工程と呼ぶこともある。
【００１６】
また、本発明における「欠点特徴量」とは、欠点画像から得られる欠点を特徴付ける値をいう。例えば、欠点の長さ、幅、強度などが挙げられ、また、これらの値を重み付き加算するなどして新しく得られた値でもよい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、以下に説明するとおり、周期判定された周期欠点の判定精度に優れた、周期欠点検査方法、装置およびシート状物体の製造方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の一実施形態における、フィルム製膜工程の説明図である。
【図２】本発明の一実施形態における、シート状物の周期欠点検査構成を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施形態における、周期欠点検査方法における周期判定方法のフロー説明図である。
【図４】本発明の一実施形態における、周期欠点検査方法における周期判定方法の詳細フロー説明図である
【図５】従来技術の、異なる２つの周期欠点の強度比較結果の説明図である。
【図６】本発明の一実施形態における、周期欠点の単純移動平均法による平均値算出結果による異なる２つの周期欠点の比較結果の説明図である。
【図７】本発明の一実施形態における、周期欠点の指数移動平均法による平均値算出結果の図である。
【図８】本発明の一実施形態における、周期欠点の修正移動平均法による平均値算出結果による異なる２つの周期欠点の比較結果の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の最良の実施形態を、単層透明高分子フィルムをオフラインで検査する欠点検出装置に適用した場合を例にとって、図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態は本発明の一実施形態を例示するものであり、本発明は以下の説明に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限りにおいて、以下の実施例は改変することができる。  
【００２０】
最初に、逐次２軸延伸による単層透明高分子フィルムの製造工程を図１に示す。図１は、逐次二軸延伸による単層透明高分子フィルム製造工程の説明図である。
【００２１】
１は口金であり、溶融したポリマを吐出する。２は溶融したポリマをシート状にする工程で、「キャスト」工程と呼ばれる。３はシート状になったポリマをシート搬送方向に延伸する工程で、「縦延伸」工程と呼ばれる。より細かくは、延伸前にフィルムを温める「縦・予熱」工程、フィルムを延伸する「縦・延伸」工程、延伸後にフィルム形状を固定する「縦・冷却」工程がある。４はフィルムをシート幅方向に延伸する工程で、「横延伸」工程と呼ばれる。ここでは、ロールを用いていない。５はフィルム巻き取り前にフィルムを搬送する工程で、「搬送」工程と呼ばれる。６はフィルムを一旦ロール状に巻き取る工程で、「巻き取り」工程と呼ばれる。７は「巻き取り」工程６でロール状に巻き取られたフィルムを再度巻き出し、お客様の希望幅に裁断する工程で、「スリット」工程と呼ばれる。より細かくは、フィルムを搬送させる「スリット・搬送」工程７ａ、「スリット」工程でのロール巻き取り直前の「スリット・巻き取り直前」工程７ｂ、「スリット」工程でロールを巻き取る「スリット・巻き取り」工程７ｃがある。「縦延伸」工程および「スリット」工程のみについて細かい区別を記述したが、その他の工程を細分化してもよい。
【００２２】
また、「巻き取り」工程６でのフィルム巻き取り時、もしくは「スリット」工程７でのフィルム巻き出し時には、ロールを幅方向に往復させることがある。これはオシレーションと呼ばれ、数ｍｍの往復距離の場合から、数１００ｍｍの往復距離の場合もある。
【００２３】
また、図１では「縦延伸」工程３、「横延伸」工程４がそれぞれ１工程ずつしかないが、複数工程あってもよいし、「縦延伸」工程３および「横延伸」工程４がない無延伸であってもよいし、「縦延伸」工程３または「横延伸」工程４のいずれかがない一軸延伸でもよい。また、「縦延伸」工程３と「横延伸」工程３の順番が逆でもよいし、逐次ではなく同時二軸延伸でもよい。また、塗材をフィルムにコーティングする「コーティング」工程があってもよいし、フィルム表面をコロナ放電などで改質する「表面改質」工程があってもよい。
【００２４】
本実施形態では、「スリット」工程７後の、お客様の希望幅に裁断されたロールを検査する欠点検出工程に本発明を導入しているものである。ただし、この「スリット」工程７後の欠点検出装置に限らず、例えば、「搬送」工程５、「巻き取り」工程６、「スリット」工程７などに設置されている欠点検出装置への導入も可能である。
【００２５】
次に、単層透明高分子フィルムの検査工程を図２に示す。図２は単層透明高分子フィルムをロール・トゥ・ロールプロセスで検査する工程の説明図である。
【００２６】
８は照射手段で、フィルム１０に光を照射している。照射手段８は、蛍光灯であってもよいし、ハロゲン光源であってもよいし、メタルハライド光源であってもよいし、キセノン光源であってもよいし、ＬＥＤ光源であってもよい。また、特定の波長特性を有しているものであってもよいし、特定の指向性を有するものであってもよい。好ましくは、１方向に長く投光部位を有しており、また投光部位から照射される光量が略均一なことである。ここでは、ＬＥＤ照明を使用し、複数のＬＥＤ光源を横一列に配置して一方向への高い指向性を持つ略均一な光として照射しているものとする。また、ＬＥＤ照明の長手方向は、フィルム１０の幅方向と略均一としている。このＬＥＤ照明の長手方向は、フィルム１０の面（一般には、鉛直方向を法線方向に持つ）に平行な面（平行面）を考え、その面内で回転させてもよい。
【００２７】
９は受光手段であり、フィルム１０を介した、照射手段８からの透過光を受光するように配置されている。好ましくは、フィルム１０の、透過光を介した箇所およびその近傍でのシワやバタツキが少ないことである。受光手段９はラインセンサカメラであってもよいし、エリアセンサカメラであってもよいし、その他、複数の光電変換素子による構成物であってもよい。好ましくは、受光手段９の有する光電変換素子が、感度がよく、ノイズに強く、素子間の差異が小さいことである。ここではラインセンサカメラを用い、その光電変換素子の並び方向が、照射手段８の長手方向と略均一である。
【００２８】
また、好ましくは、受光手段１は、フィルム１０の欠点種類によって受光する光量分布に変化が生じるように、フィルム１０および／または照射手段８との相対的な位置関係が保たれていることである。ここでは、フィルム１０に存在するキズ表面で発生する散乱光を受光するような位置関係としている。具体的には、フィルム１０にキズがない場合には、照射手段８からの光を強く受光しないようにしており、キズがある場合にはキズ表面での散乱光を追加受光するようにしている。設置方法として、例えば、照射手段８からの照射中心光軸と、受光手段９の受光中心光軸が一致するように角度調整し、その後、光軸がずれるように、照射手段８および／または受光手段９を平行移動するなどがある。このような方法であってもよいし、照射手段８の照射中心光軸と、受光手段９の受光中心光軸との角度をずらしてもよい。
【００２９】
また、フィルム１０、照射手段８、受光手段９の位置関係については、欠点の有無に応じて、光の透過率、反射率、屈折などの差異を検出できるものであってもよい。
【００３０】
また、欠点種類によって光量分布および／または何かしらの光学的差異を得るために、遮光板や偏光板、波長選択フィルタなどの光学的補助手段を用いてもよいし、光の位相など、光量以外の情報を用いてもよい。
【００３１】
なお、図２では照射手段８からの、フィルム１０を介した透過光を受光するように配置されているが、上述したように、フィルム１０での反射光を受光するように配置してもよい。反射光を受光する場合には、フィルム１０の撓みやシワ、バタツキに対する頑健性が一般に小さくなるが、より散乱光の小さなキズを検出しやすくなる場合がある。また、有色フィルムであれば、フィルム表裏面の区別も容易である。
【００３２】
１６は欠点検出手段であり、受光手段９と接続されている。受光手段９が受光した光の情報は光電変換されて、欠点検出手段１６で受信される。欠点検出手段１６で欠点箇所を抽出し、その情報（欠点画像）を、欠点発生位置とともに周期判定手段１７に送信する。シート搬送方向の欠点発生位置については、測長用エンコーダ（図示しない）からの信号に基づいて決めてもよい。シート幅方向の欠点発生位置については、受光手段９の１方向に並んでいる光電変換素子のどの素子で検出したかに基づいて決めてもよい。周期判定手段１７は、特に指定はしないが欠点検出手段１６からの情報（欠点画像、欠点発生位置）と各工程情報とに基づいて周期判定を実施し、周期判定結果を出力する。
【００３３】
欠点検出手段１６では、受信した光情報に基づき欠点箇所を抽出している。この際に用いる各種パラメータは、受光手段９から受信した信号値に対して設定する閾値であってもよいし、受信した信号値を処理する信号・画像処理フィルタであってもよいし、処理した信号値に対して設定する閾値でもよい。これらのパラメータは、非検査時に予め最適化していてもよいし、検査中に逐次最適化されていてもよい。好ましくは、予め最適化しておくことである。更に好ましくは、この最適化に用いるデータ量が多いことである。
【００３４】
この欠点検出手段１６におけるパラメータの最適化とは、そのパラメータによって抽出される欠点箇所が、その欠点画像をヒトが確認して欠点箇所と判定した箇所と同じになることである。実際には、抽出される欠点箇所とヒトの判定する欠点箇所とが全く一致することは困難であるが、このような最適化を図ることで、後述の周期判定の精度が向上する。
【００３５】
周期判定手段１７では、欠点検出手段１６からの情報（欠点画像、欠点発生位置）と各工程情報（フィルム搬送工程の持つロール径、フィルム延伸時の倍率）とに基づいて周期判定を実施する。周期判定手段１７での周期判定を、図３を用いて説明する。図３は、本発明における周期判定フローの説明図である。
【００３６】
Ｓ１０１は、周期判定処理の開始ステップである。周期判定すべき欠点が検出された場合、このステップが呼び出される。
【００３７】
Ｓ１０２は、周期判定を行うステップである。これは、一般的な判別技術を用いて推定すればよい。単純に、周期欠点が存在すべき位置検出位置で推定してもよいし、画像から欠点の形状に関する特徴量（幅、長さ、強度）を算出し、一定の特徴量範囲を示す欠点を推定してもよいし、位置・形状の特徴量を用いた正規化相関値を基に、相関係数の高い欠点を推定してもよいし、また、これらの組み合わせで推定してもよい。すなわち、推定の形態には拘らない。このフローの詳細を図４に示す。図４は周期判定処理の詳細フローを説明する図である。
【００３８】
Ｓ２０１は、一つの欠点に着目し、あらかじめ定めるシートの幅方向許容範囲内にある全欠点を検出する。
【００３９】
次にＳ２０２は、欠点特徴量を用いた分類を実施し、着目欠点と同形状の欠点を抽出する。例えば、複数の予め算出された欠点特徴量を組み合わせて着目欠点と検出欠点との正規化相関係数を求め、一定の相関係数を有する欠点のみを抽出するのでもよいし、複数の予め算出された欠点特徴量毎に最大値及び最小値の閾値を定めてもよい。
【００４０】
次にＳ２０３は、着目欠点と検出欠点との搬送方向の欠点位置間隔から、フィルム製造工程における各搬送ロールの周囲長を、縦延伸工程や横延伸工程での延伸倍率を加味した長さ、すなわち周期長と比較して、シートの搬送方向許容範囲内で最も周期長に近い欠点を周期欠点として登録する。
【００４１】
なお、Ｓ２０２とＳ２０３は順番が逆で、予め定める周期長毎にシートの搬送方向許容範囲内にある欠点を抽出し、それら抽出欠点に対して欠点特徴量を用いた分類を実施し、着目欠点と同形状の欠点を抽出するのでもよい。
【００４２】
続いて、Ｓ１０３は、前記周期判定フローの結果で、注目欠点が周期性ありと判断されたものであったか否かを判定するステップであり、注目欠点が周期性ありと判定された場合はＳ１０４に移動し、周期欠点と判定されなかった場合はＳ１０５に移動する。
Ｓ１０４は、欠点特特徴量の平均値（以下、平均特徴量）の算出を行うステップである。平均特徴量の計算に際しては、画像から得られる複数の欠点特徴量項目それぞれについて平均値を算出する。算出に際しては、予め着目する欠点に対して周期性が判定された欠点を過去何点まで平均値計算に加えるか否かを定めておく。また、平均値の算出方法については、どのような手法を用いてもよいが、数式１を用いる単純移動平均法としてもよいし、数式２を用いる指数移動平均法としてもよいし、数式３を用いる修正移動平均法を用いてもよい。また、その他の平均値算出法を用いてもよい。
【００４３】
【数１】
2016138814.tif 000003
【００４４】
【数２】
2016138814.tif 000004
【００４５】
【数３】
2016138814.tif 000005
【００４６】
ただし、
Ｍ：周期性が確認されてからの連番数
Ｎ：移動平均数（注目欠点から何個過去の周期欠点までを平均特徴量計算に用いるかの設定値）
Ｐｎ：注目欠点（Ｍ番目の周期欠点）からのｎ番目の周期欠点までの周期数
ｆＭ、ｆＭ−１、・・・、ｆＭ−Ｎ−１：周期性が確認されてからＭ番目の欠点特徴量
αＭ：平滑化係数（重み）
ＡＭ：Ｍ番目の欠点における平均特徴量。
【００４７】
Ｓ１０５は、次の着目欠点があるか否かを判定するステップで、ここで周期判定が未実施の欠点の有無を確認する。周期判定が未実施の欠点があれば、Ｓ１０６に移動する。周期判定が未実施の欠点がなければ、Ｓ１０７に移動する。
【００４８】
Ｓ１０６は、着目欠点を次の周期判定を未実施の欠点に変更するステップで、ここで着目欠点の切り替えが行われたのちに、Ｓ１０２のステップに移動する。
【００４９】
Ｓ１０７は、周期判定処理を終了するステップで、このステップから欠点検出手段１６における欠点検出処理にもどる。
【００５０】
１８は、欠点ランク判定手段である。判定には単体もしくは複数の平均特徴量を用いてもよいし、複数の平均特徴量から新しい特徴量を合成して算出したうえで判定を行ってもよい。また、判定は合格もしくは不合格といった２分岐の判定であってもよいし、欠点の種類や強度に応じた複数の分類を行ってもよい。
【００５１】
１９は外部出力手段であり、欠点ランク判定手段１８と接続している。欠点ランク判定手段から受信した情報を外部に出力する。外部出力手段１９は、ディスプレイ、プリンタ、警報装置などに代表されるものである。
【００５２】
なお、本発明の欠点検出装置は、欠点検出手段１６、周期判定手段１７および欠点ランク判定手段１８が別々の機器に組み込まれてる形態でもよく、これら全ての手段またはいくつかの手段が１つの機器に組み込まれている形態であってもよい。また、上述の実施の形態では、周期判定手段１７が周期判定と平均特徴量の算出とを行っている形態を説明したが、周期判定と平均特徴量の算出とを別々の手段が行う形態であってもよい。
【実施例】
【００５３】
（実施例１）
溶融したポリマを口金の間隙から吐出してシート状にした後（「キャスト」工程）、「縦延伸」工程、「横延伸」工程、「搬送」工程を経て「巻き取り」工程でフィルムをロール状に巻き取る。巻き取ったロールをシート幅方向に往復させながら巻き出し、お客様の希望幅に裁断しながら巻き取る「スリット」工程を実施した。その後、希望幅に裁断されたロールを用いて、オフラインでの周期欠点検出装置での検査を実施した。製造したフィルムは、単層透明高分子フィルムである。
【００５４】
次に、検査に先立ち、主にキズが発生する工程として８つの工程を設定した。
【００５５】
照射手段８として、３５万ルクスのＬＥＤ照明を用い、長手方向を、フィルム幅方向に平行に設置し、フィルム流れ方向から１５度傾けた。
【００５６】
受光手段９として、４０９６画素、８ビット階調、ラインレート７０ｋＨｚのラインセンサカメラを使用した。光電変換素子の並び方向は照射手段８の長手方向に略一致しており、受光中心光軸は、フィルム面から鉛直方向に垂直に設置している。
【００５７】
欠点検出手段１６は、受光手段９から得られる信号に対し、閾値以上の明領域箇所を検出する。この閾値については、事前に、欠点画像を見ながら、ほぼ最適化された値である。
【００５８】
周期判定手段１７では図２のフローに沿った周期判定を実施するが、具体的な設定方
法は以下の通りである。
（１）延伸工程における延伸倍率を取得した。そして、周期判定すべき搬送ロールの周囲長とその工程以降の延伸倍率を基に、基本周期長と幅方向と流れ方向の周期欠点探索範囲を設定した。
（２）注目欠点に対する周期欠点の有無は、注目欠点から基本周期の分だけ流れ方向に欠点検出位置が離れていた、あらかじめ定める探索範囲内に欠点があるか否かで判断した。また、探索範囲内に複数の欠点が見つかった場合は、基本周期位置からの距離が最も近いものを次の注目欠点として選択した。
（３）連続３点の欠点で周期性が確認された場合に、周期性欠点であると判定した。周期性が確認されなかった場合は、その注目欠点に対する基本周期長と幅方向と流れ方向の周期欠点探索範囲を更新し、周期性が確認されるまで更新を繰り返し、最後の基本周期まで周期性が確認されなければ周期性のない欠点と判定した。
（４）周期性が確認された欠点に対し、移動平均数５として着目欠点を含む搬送方向に検出が古いものによる単純移動平均による平均値を算出した。本実施では、欠点領域における輝度の最大値である欠点強度について算出した。
（５）平均特徴量の算出結果は図６の通りで、従来は図５の通り欠点１と欠点２とを完全に判別することはできなかったが、欠点強度の平均値を算出して欠点強度値が２１０の位置に閾値を引くことで、欠点Ａと欠点Ｂとの判別が可能となった。
【００５９】
（実施例２）
本実施例では、実施例１における平均値算出方法を指数移動平均法に置き換えたものである。平均特徴量の算出結果は図７の通りで、欠点Ａと欠点Ｂとの判別が可能となった。
【００６０】
（実施例３）
本実施例では、実施例１における平均値算出方法を修正移動平均法に置き換えたものである。平均特徴量の算出結果は図８の通りで、従欠点Ａと欠点Ｂとの判別が可能となった。
【符号の説明】
【００６１】
１  口金
２  キャスト工程
３  縦延伸工程
４  横延伸工程
５  搬送工程
６  巻き取り工程
７  スリット工程
８  投光手段
９  受光手段
１０  フィルム
１１  搬送ロール
１２  フィルムへの照射光
１３  フィルムからの透過・散乱・反射光
１４  搬送ロール上の凹凸
１５  周期欠点
１６  欠点検出手段
１７  周期判定手段
１８  欠点ランク判定手段
１９  外部出力手段
【図１】
2016138814.tif 000006
【図２】
2016138814.tif 000007
【図３】
2016138814.tif 000008
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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