(57)【要約】【課題】  手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することができる検査装置および検査方法、ならびに該検査装置を備えた洗浄システムを提供する。【解決手段】  検査装置（１００）は、器材保持部（１）によって保持された器材セット（１ａ）に、光照射部（２）によって予め定める励起波長の励起光を照射したときに、該器材セット（１ａ）から放射される蛍光を検出部（３）によって検出し、該検出部（３）による検出結果に基づいて、汚染物質付着判定部（４２Ｃ）が器材セット（１ａ）に汚染物質が付着しているか否かを判定するように構成されている。【選択図】      図１Ａ
2016020890.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
手術用品が載置される載置面を有し、該載置面上に載置された手術用品を保持する手術用品保持部と、
光を出射する光源を有し、前記手術用品保持部によって保持された手術用品に、予め定める波長の光を照射する光照射部と、
前記光照射部によって光が照射された手術用品から放射される蛍光を検出する蛍光検出部と、
前記蛍光検出部によって蛍光が検出された場合には、蛍光を放射する汚染物質が手術用品に付着していると判定し、前記蛍光検出部によって蛍光が検出されなかった場合には、汚染物質が手術用品に付着していないと判定する汚染物質付着判定部と、
前記汚染物質付着判定部によって判定された判定結果を出力する判定結果出力部と、を含むことを特徴とする手術用品の汚染物質の付着を検査する検査装置。
【請求項２】
前記蛍光検出部によって検出された蛍光の蛍光強度を検出する蛍光強度検出部と、
前記蛍光強度検出部によって検出された蛍光強度に基づいて、手術用品における汚染物質の付着量を定量し、定量結果を出力する汚染物質付着量定量部と、をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
標準汚染物質の標準蛍光スペクトルパターンが予め記憶された記憶部と、
前記蛍光検出部によって検出された蛍光の蛍光スペクトルパターンを取得するスペクトルパターン取得部と、
前記スペクトルパターン取得部によって取得された蛍光スペクトルパターンと、前記記憶部に記憶された標準蛍光スペクトルパターンとを比較して、手術用品に付着した汚染物質の種類を同定し、同定結果を出力する汚染物質同定部と、をさらに含むことを特徴とする請求項１または２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記汚染物質同定部は、前記標準蛍光スペクトルパターン中に、同定される汚染物質が存在しないときは、同定できなかったことを示す情報を前記同定結果として出力することを特徴とする請求項３に記載の検査装置。
【請求項５】
前記光源は、発光ダイオードであることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項６】
前記蛍光検出部は、手術用品から放射される蛍光を集光する集光レンズと、該集光レンズにより集光された光を受光する撮像素子と、を有することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項７】
前記蛍光検出部は、前記集光レンズの光軸が前記手術用品保持部の前記載置面と直交するように、該載置面に対向して設けられることを特徴とする請求項６に記載の検査装置。
【請求項８】
手術用品保持部によって保持された手術用品に、予め定める波長の光を照射する光照射工程と、
前記光照射工程で光が照射された手術用品から放射される蛍光を検出する蛍光検出工程と、
前記蛍光検出工程で蛍光が検出された場合には、蛍光を放射する汚染物質が手術用品に付着していると判定し、前記蛍光検出工程で蛍光が検出されなかった場合には、汚染物質が手術用品に付着していないと判定する汚染物質付着判定工程と、
前記汚染物質付着判定工程で判定された判定結果を出力する判定結果出力工程と、を含むことを特徴とする検査方法。
【請求項９】
請求項３に記載の検査装置と、
前記同定結果に対応する手術用品の洗浄条件を記憶する洗浄条件記憶部と、
前記汚染物質同定部から同定結果が出力されると、出力された同定結果に応じた洗浄条件を前記洗浄条件記憶部から読み出し、読み出した洗浄条件で手術用品を洗浄する洗浄装置と、を含むことを特徴とする洗浄システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、手術用品の汚染物質の付着を検査する検査装置および検査方法、ならびに該検査装置を備えた洗浄システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、整形外科分野において、患者の関節の一部または全部を人工関節に置換する手術が医療機関で行われる場合には、手術に必要な手術用器材、複数の手術用器材を１組とした器材セットなどの手術用品を医療機器メーカーから貸し出しを行うことが一般的である。医療機関に貸し出された器材セットを構成する手術用器材などの手術用品は、医療機関における手術で用いられた後、医療機関において洗浄処理が施された後に医療機関から医療機器メーカーに返却される。
【０００３】
医療機関から返却されてきた手術用品には、医療機関において洗浄処理が施されているとはいえ、血液や脂分などの人体に由来する汚染物質、粒子状または繊維状の異物などの主として環境に由来する汚染物質が付着している場合がある。
【０００４】
たとえば、手術用品に付着した汚染物質が極微量であった場合には、汚染物質の付着を確認することは困難であるので、医療機器メーカーでは、医療機関から返却されてきた手術用品について、全部を再洗浄処理し、次いで、汚染物質が付着しているか否かを、一定レベルにトレーニングされた熟練検査員による目視検査によって判定しているのが現状である。このような場合には、汚染物質が付着していない手術用品についても再洗浄処理することになるので、洗浄装置および洗浄廃液処理装置などの洗浄設備の稼動により、環境に与える負荷が大きくなってしまう。そこで、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することが可能な検査装置の開発が求められている。
【０００５】
特許文献１には、医療用及び歯科用器具のタンパク質などの生物学的残渣の付着を検査するためのスキャン装置が開示されている。特許文献１に記載のスキャン装置は、検査対象物に単色レーザー光を照射し、検査対象物からの反射光を分光光度計などにより検出することによって、検査対象物の生物学的残渣の付着を検査するように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特表２００１−５０５３０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１に記載のスキャン装置を、手術用品の汚染物質の付着を検査する検査装置に適用した場合、単色レーザー光が照射された汚染物質からの反射光を分光光度計などにより検出することによって、手術用品の汚染物質の付着を検査することができる。しかしながら、単色レーザー光が照射された汚染物質は変質してしまう場合があり、このように変質した汚染物質は洗浄除去することが困難となる。また、汚染物質からの反射光を検出する構成では、検出不能な汚染物質が存在し、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査するには不十分であると言わざるを得ない。
【０００８】
本発明の目的は、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することができる検査装置および検査方法、ならびに該検査装置を備えた洗浄システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明者らは、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することができる検査装置について鋭意検討した結果、予め定める波長の光を手術用品に照射したときに、該手術用品から放射される蛍光を検出することによって、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することができることを見出し、本発明を完成させるに至った。
【００１０】
本発明は、手術用品が載置される載置面を有し、該載置面上に載置された手術用品を保持する手術用品保持部と、
光を出射する光源を有し、前記手術用品保持部によって保持された手術用品に、予め定める波長の光を照射する光照射部と、
前記光照射部によって光が照射された手術用品から放射される蛍光を検出する蛍光検出部と、
前記蛍光検出部によって蛍光が検出された場合には、蛍光を放射する汚染物質が手術用品に付着していると判定し、前記蛍光検出部によって蛍光が検出されなかった場合には、汚染物質が手術用品に付着していないと判定する汚染物質付着判定部と、
前記汚染物質付着判定部によって判定された判定結果を出力する判定結果出力部と、を含むことを特徴とする手術用品の汚染物質の付着を検査する検査装置である。
【００１１】
また本発明の検査装置は、前記蛍光検出部によって検出された蛍光の蛍光強度を検出する蛍光強度検出部と、
前記蛍光強度検出部によって検出された蛍光強度に基づいて、手術用品における汚染物質の付着量を定量し、定量結果を出力する汚染物質付着量定量部と、をさらに含むことを特徴とする。
【００１２】
また本発明の検査装置は、標準汚染物質の標準蛍光スペクトルパターンが予め記憶された記憶部と、
前記蛍光検出部によって検出された蛍光の蛍光スペクトルパターンを取得するスペクトルパターン取得部と、
前記スペクトルパターン取得部によって取得された蛍光スペクトルパターンと、前記記憶部に記憶された標準蛍光スペクトルパターンとを比較して、手術用品に付着した汚染物質の種類を同定し、同定結果を出力する汚染物質同定部と、をさらに含むことを特徴とする。
【００１３】
また本発明の検査装置において、前記汚染物質同定部は、前記標準蛍光スペクトルパターン中に、同定される汚染物質が存在しないときは、同定できなかったことを示す情報を前記同定結果として出力することを特徴とする。
【００１４】
また本発明の検査装置において、前記光源は、発光ダイオードであることを特徴とする。
【００１５】
また本発明の検査装置において、前記蛍光検出部は、手術用品から放射される蛍光を集光する集光レンズと、該集光レンズにより集光された光を受光する撮像素子と、を有することを特徴とする。
【００１６】
また本発明の検査装置において、前記蛍光検出部は、前記集光レンズの光軸が前記手術用品保持部の前記載置面と直交するように、該載置面に対向して設けられることを特徴とする。
【００１７】
また本発明は、手術用品保持部によって保持された手術用品に、予め定める波長の光を照射する光照射工程と、
前記光照射工程で光が照射された手術用品から放射される蛍光を検出する蛍光検出工程と、
前記蛍光検出工程で蛍光が検出された場合には、蛍光を放射する汚染物質が手術用品に付着していると判定し、前記蛍光検出工程で蛍光が検出されなかった場合には、汚染物質が手術用品に付着していないと判定する汚染物質付着判定工程と、
前記汚染物質付着判定工程で判定された判定結果を出力する判定結果出力工程と、を含むことを特徴とする検査方法である。
【００１８】
また本発明は、前記汚染物質同定部を備える前記検査装置と、
前記同定結果に対応する手術用品の洗浄条件を記憶する洗浄条件記憶部と、
前記汚染物質同定部から同定結果が出力されると、出力された同定結果に応じた洗浄条件を前記洗浄条件記憶部から読み出し、読み出した洗浄条件で手術用品を洗浄する洗浄装置と、を含むことを特徴とする洗浄システムである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、手術用品の汚染物質の付着を検査するための検査装置であり、手術用品を保持する手術用品保持部と、光照射部と、蛍光検出部と、汚染物質付着判定部と、判定結果出力部とを含んで構成される。光照射部は、手術用品保持部によって保持された手術用品に、予め定める波長の光を照射する。蛍光検出部は、光照射部によって光が照射された手術用品から放射される蛍光を検出する。汚染物質付着判定部は、蛍光検出部によって蛍光が検出された場合には、蛍光を放射する汚染物質が手術用品に付着していると判定し、蛍光検出部によって蛍光が検出されなかった場合には、汚染物質が手術用品に付着していないと判定する。そして、判定結果出力部は、汚染物質付着判定部によって判定された判定結果を出力する。
【００２０】
以上のように構成される本発明に係る検査装置は、光照射部によって予め定める波長の光を手術用品に照射したときに、該手術用品から放射される蛍光を蛍光検出部によって検出するので、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することができる。
【００２１】
また本発明によれば、検査装置は、蛍光強度検出部と、汚染物質付着量定量部とをさらに含む。蛍光強度検出部は、蛍光検出部によって検出された蛍光の蛍光強度を検出する。そして、汚染物質付着量定量部は、蛍光強度検出部によって検出された蛍光強度に基づいて、手術用品における汚染物質の付着量を定量し、定量結果を出力する。これによって、手術用品の汚染物質の付着量を定量することができる。
【００２２】
また本発明によれば、検査装置は、記憶部と、スペクトルパターン取得部と、汚染物質同定部とをさらに含む。記憶部は、標準汚染物質の標準蛍光スペクトルパターンを予め記憶する。スペクトルパターン取得部は、蛍光検出部によって検出された蛍光の蛍光スペクトルパターンを取得する。そして、汚染物質同定部は、スペクトルパターン取得部によって取得された蛍光スペクトルパターンと、記憶部に記憶された標準蛍光スペクトルパターンとを比較して、手術用品に付着した汚染物質の種類を同定し、同定結果を出力する。これによって、手術用品に付着した汚染物質の種類を同定することができる。
【００２３】
また本発明によれば、汚染物質同定部は、記憶部に記憶される標準蛍光スペクトルパターン中に、同定される汚染物質が存在しないときは、同定できなかったことを示す情報を、前記同定結果として出力する。
【００２４】
また本発明によれば、光照射部の光源が発光ダイオードであることによって、波長帯域幅が狭く、光強度が高く、指向性の高い光を手術用品に照射することができるので、手術用品から放射される蛍光の光強度が高くなり、蛍光検出部による蛍光の検出効率が向上する。
【００２５】
また本発明によれば、蛍光検出部は、手術用品から放射される蛍光を集光する集光レンズと、該集光レンズにより集光された光を受光する撮像素子とを有する構成によって、実現することができる。
【００２６】
また本発明によれば、蛍光検出部は、集光レンズの光軸が手術用品保持部の載置面と直交するように、該載置面に対向して設けられる。これによって、手術用品保持部の載置面に載置された手術用品から放射される蛍光の、蛍光検出部による検出効率が向上する。
【００２７】
また本発明によれば、検査方法は、手術用品の汚染物質の付着を検査するための方法であり、光照射工程と、蛍光検出工程と、汚染物質付着判定工程と、判定結果出力工程とを含んで構成される。光照射工程では、手術用品保持部によって保持された手術用品に、予め定める波長の光を照射する。蛍光検出工程では、光照射工程で光が照射された手術用品から放射される蛍光を検出する。汚染物質付着判定工程では、蛍光検出工程で蛍光が検出された場合には、蛍光を放射する汚染物質が手術用品に付着していると判定し、蛍光検出工程で蛍光が検出されなかった場合には、汚染物質が手術用品に付着していないと判定する。そして、判定結果出力工程では、汚染物質付着判定工程で判定された判定結果を出力する。
【００２８】
以上のように構成される本発明に係る検査方法では、光照射工程で予め定める波長の光を手術用品に照射したときに、該手術用品から放射される蛍光を蛍光検出工程で検出するので、手術用品の汚染物質の付着を高精度に検査することができる。
【００２９】
また本発明によれば、洗浄システムは、手術用品を洗浄するためのシステムであり、前述した本発明の、前記汚染物質同定部を備えた前記検査装置と、洗浄条件記憶部と、洗浄装置とを含んで構成される。洗浄条件記憶部は、汚染物質同定部からの同定結果に対応する手術用品の洗浄条件を記憶する。そして、洗浄装置は、汚染物質同定部から同定結果が出力されると、出力された同定結果に応じた洗浄条件を、洗浄条件記憶部から読み出し、読み出した洗浄条件で手術用品を洗浄する。
【００３０】
以上のように構成される本発明に係る洗浄システムは、手術用品に汚染物質が付着しているか否かを高精度に検査することができる、前述した本発明の検査装置を備えているので、検査装置により、汚染物質が付着していないと判定された手術用品については、洗浄装置による洗浄処理を実施しないようにすることができ、洗浄装置の稼動による環境負荷を低減することができる。また、洗浄システムは、検査装置の汚染物質同定部からの同定結果に応じた洗浄条件で手術用品を洗浄するので、汚染物質が付着した手術用品を、その汚染物質の種類に応じた最適な洗浄条件で洗浄することができ、汚染物質を効率よく洗浄除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１Ａ】本発明の第１実施形態に係る検査装置１００の構成を概略的に示す図である。
【図１Ｂ】検査装置１００に備えられる光源部２１の一例を示す図である。
【図２】汚染物質の蛍光状態の一例を示す写真である。
【図３】検査装置１００の動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第２実施形態に係る検査装置１００Ａの構成を概略的に示す図である。
【図５】本発明の第３実施形態に係る検査装置１００Ｂの構成を概略的に示す図である。
【図６】本発明の一実施形態に係る洗浄システム３００の構成を概略的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
図１Ａは、本発明の第１実施形態に係る検査装置１００の構成を概略的に示す図である。本実施形態の検査装置１００は、手術用品の汚染物質の付着を検査する装置であり、特に、医療機関に貸し出される貸出用の手術用品について、医療機関における手術で用いられた後、医療機関において洗浄処理が施された後に医療機関から返却されてきた手術用品の、汚染物質の付着を検査するための装置である。
【００３３】
ここで、手術用品とは、医療機関における手術で用いられる手術用器材、複数の手術用器材が収納ケースに収納されて成る器材セットなどである。手術用品に付着している可能性がある汚染物質としては、血液や脂分などの人体に由来する汚染物質、粒子状または繊維状の異物などの主として環境に由来する汚染物質が挙げられる。
【００３４】
検査装置１００は、手術用器材の汚染物質の付着を検査するように構成されていてもよいし、複数の手術用器材が収納ケースに収納された器材セットについて、手術用器材の汚染物質の付着および収納ケースの汚染物質の付着を検査するように構成されていてもよい。以下では、複数の手術用器材が収納ケースに収納された器材セット１ａの汚染物質の付着を検査するように構成された検査装置１００について、説明する。なお、器材セット１ａの収納ケースは、手術用器材が収納される収納空間を有する矩形箱状に形成され、その大きさが、最大のもので、５５０ｍｍ×４７５ｍｍ×１２０ｍｍ（高さ）程度である。
【００３５】
また、器材セット１ａを構成する手術用器材としては、たとえば、鉗子、鑷子、メス、内視鏡等種々のものが挙げられ、また、人工関節置換術において用いられる人工関節置換術用手術器材などが挙げられる。人工関節置換術とは、股関節、膝関節、肘関節などの関節を人工関節に置換する手術である。
【００３６】
人工関節置換術の一例として、人工股関節置換術において用いられる、人工股関節置換術用手術器材としては、寛骨臼に配置されたシェル要素に対してライナー要素を打ち込んで取り付けるために用いられる、ライナーインサータ（ライナー保持部材）や、打ち込みロッド（ロッド部材）などの他に、孔部の形成作業および骨頭ボールなどのインプラントのサイズ選定作業に用いられる手術用器材１ａが挙げられる。孔部の形成作業および骨頭ボールなどのインプラントのサイズ選定作業に用いられる手術用器材１ａとしては、人工股関節置換術用の器材を例にすると、ステムブローチ、ネックトライアル、ボールトライアル、アダプタ、切削部材、およびブローチハンドルが挙げられる。
【００３７】
ステムブローチは、大腿骨の近位部に、ステム（ステム要素）が配置される孔部を形成するための骨切り部材として設けられる。ステムブローチは、ステムと概ね同様の外郭形状を有している。ネックトライアルは、ステムブローチに対して着脱可能であり、ステムブローチ本体の近位部から延びる首部として設けられ、人工股関節のネック部に相当する部分である。ボールトライアルは、ネックトライアルに対して着脱可能であり、人工股関節の骨頭ボールに相当する部分である。切削部材は、たとえば、カルカーリーマーであり、大腿骨の近位部の端面を切削して均すために設けられる。切削部材は、アダプタを介してステムブローチに支持される。アダプタは、ステムブローチの嵌合孔部に対して着脱可能な部材であり、ステムブローチと切削部材とを接続するために設けられる。ブローチハンドルは、ステムブローチを操作する（動かす）ための操作部材であり、ステムブローチに対して着脱可能である。
【００３８】
検査装置１００は、外光の入射が遮断された筐体内または暗室内に設置され、手術用品保持部である器材保持部１と、光照射部２と、検出部３と、情報処理装置４とを含んで構成される。
【００３９】
器材保持部１は、検査装置１００において、検査対象である手術用品として器材セット１ａを保持する部分であり、たとえば、器材セット１ａを載置する平坦な載置面を有する載置台によって実現され、載置面上に載置された器材セット１ａを保持する。
【００４０】
光照射部２は、検査装置１００において、器材保持部１によって保持された器材セット１ａに、予め定める波長（以下、「励起波長」という）の光（以下、「励起光」という）を照射する部分であり、光源部２１と光照射側分光部２２とを含む。
【００４１】
光源部２１は光源を有し、その光源はキセノンアークランプやフラッシュキセノンランプ、アルカリハライドランプ、水銀ランプ、レーザー、発光ダイオード（ＬＥＤ（Light Emitting Diode））などによって実現され、波長帯域２００ｎｍ〜８００ｎｍの光を出射する。
【００４２】
本実施形態において、光源部２１の光源は、ＬＥＤであることが好ましい。ＬＥＤを光源とする光源部２１は、波長帯域が狭く、光強度が高く、指向性の高い光を器材セット１ａに照射することができるので、器材セット１ａから放射される蛍光の光強度が高くなり、後述の検出部３による蛍光の検出効率が向上する。なお、ＬＥＤを光源とする光源部２１では、前述のように、波長帯域が狭い光を器材セット１ａに照射することができるので、後述の光照射側分光部２２を省略してもよい。また、波長帯域の異なる複数のＬＥＤを光源とし、各ＬＥＤの点灯または非点灯の制御を行う点灯制御機構を備える構成とすることによって、光照射側分光部２２を省略した場合であっても、波長帯域の異なる光を、器材セット１ａに照射することができる。
【００４３】
ＬＥＤを光源とする光源部２１の具体的な構成について、図１Ｂを用いて説明する。図１Ｂは、検査装置１００に備えられる光源部２１の一例を示す図である。
【００４４】
ＬＥＤを光源とする光源部２１（以下、「ＬＥＤ光源部２１」と称する）は、図１Ｂ（ａ）に示すように、高い伝熱性を有するアルミニウムなどの金属から成るヒートシンク２１２に、複数のＬＥＤユニット２１１が整列配置されて構成される。
【００４５】
各ＬＥＤユニット２１１は、図１Ｂ（ｂ）に示すように、ＬＥＤ２１１ａと、半球状の反射板２１１ｂと、レンズ２１１ｃとを有する。反射板２１１ｂは、ＬＥＤ２１１ａの後方に設けられ、ＬＥＤ２１１ａから後方に向けて出射された光を前方に反射させる。ＬＥＤ２１１ａは、たとえば反射板２１１ｂの半球内に設けられる。レンズ２１１ｃは、ＬＥＤ２１１ａから出射された光と、反射板２１１ｂで反射された光とを集光する。このように構成されたＬＥＤユニット２１１は、ＬＥＤ２１１ａから出射された光を効率よく、器材保持部１に保持された器材セット１ａに照射することができる。
【００４６】
図１Ａに戻って、光照射側分光部２２は、器材保持部１によって保持された器材セット１ａの検査位置と光源部２１の発光点とを結ぶ線分上において、器材セット１ａと光源部２１との間の光源部２１近傍に配置され、光源部２１からの光を分光し、予め定める励起波長の励起光を、器材保持部１によって保持された器材セット１ａに向けて出射する。
【００４７】
光照射側分光部２２は、出射する励起光の励起波長を複数段階に変化させることが可能に構成されている。光照射側分光部２２において、複数段階の各励起波長は、次のようにして設定される。すなわち、器材セット１ａへの付着が予想される既知の複数の汚染物質について、照射光の波長と吸光度との関係を示す吸収スペクトルを、各汚染物質に対応して予め測定しておき、該各吸収スペクトルにおける各吸収極大に対応する各波長を、光照射側分光部２２における複数段階の各励起波長として設定する。
【００４８】
励起波長を複数段階に変化させることが可能な構成について、具体的には、光照射側分光部２２は、透過する光の波長が異なる複数の光照射側フィルタと、光源部２１に対向する位置に配置される光照射側フィルタを変化させるためのフィルタ変更機構とを有する。前記光照射側フィルタは、予め定める波長の光を透過し、その波長以外の残余の波長帯域の光を吸収するフィルタである。光照射側分光部２２は、たとえば、透過する光の波長がそれぞれ、４００〜６８０ｎｍ（バンド幅２８０ｎｍ）、３５０ｎｍ（バンド幅８０ｎｍ）、４１５ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、４５０ｎｍ（バンド幅１００ｎｍ）、４７０ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、４９０ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、５０５ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、５３０ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、５５５ｎｍ（バンド幅２７ｎｍ）、５９０ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、６２０ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、６５０ｎｍ（バンド幅４０ｎｍ）、赤外線波長帯域（バンド幅２４０ｎｍ）の、複数の光照射側フィルタを有して構成される。このような、透過する光の波長が異なる複数の光照射側フィルタを含む構成の光照射側分光部２２は、光源部２１に対向する位置に配置される光照射側フィルタを、フィルタ変更機構によって変化させることで、出射する励起光の励起波長を変化させることができる。
【００４９】
光照射側分光部２２は、上記のような、透過する光の波長が異なる複数の光照射側フィルタを含む構成以外に、予め定める軸線まわりに回動可能な回折格子と、該回折格子を回動させる回動機構と、スリットとを有する構成であってもよい。回折格子は、その表面での光干渉により、波長の異なる複数の光を反射光としてそれぞれ決まった角度に出射する。このような、回折格子を含む構成の光照射側分光部２２は、回動機構によって回折格子を回動させることでスリットを通過する光の波長を変化させることができ、これによって、出射する励起光の励起波長を変化させることができる。
【００５０】
検出部３は、光照射部２によって励起光が照射された器材セット１ａから放射される、少なくとも蛍光を検出するように構成されている。本実施形態では、検出部３は、器材セット１ａから放射される蛍光に加えて、反射光も検出可能に構成されている。
【００５１】
基底状態の分子に光を照射すると、分子はエネルギーレベルの高い励起状態に遷移する。そして、励起状態の分子は、エネルギーの一部を振動や熱により失った後、光放射による失活により基底状態に戻る。このときに分子が発する光が蛍光である。本実施形態の検査装置１００は、このような蛍光を検出部３で検出することによって、器材セット１ａの汚染物質の付着を検査するものである。
【００５２】
検出部３は、光検出器３１と検出側分光部３２とを含む。本実施形態において、検出側分光部３２は、光検出器３１と器材セット１ａとの間において、光照射部２から出射される励起光の光路から離反した位置に、器材セット１ａに対向して配置される。検出側分光部３２は、蛍光を検出するように検出部３を構成する場合には、器材セット１ａからの蛍光を含む光を分光し、予め定める蛍光波長の蛍光を光検出器３１に向けて出射するように構成されている。また、検出側分光部３２は、反射光を検出するように検出部３を構成する場合には、器材セット１ａからの反射光を含む光を分光し、予め定める反射光波長の反射光を光検出器３１に向けて出射するように構成されている。以下では、「予め定める蛍光波長の蛍光」と「予め定める反射光波長の反射光」とを併せて、「予め定める検出波長の検出光」と呼ぶ。
【００５３】
検出側分光部３２は、出射する検出光の検出波長を複数段階に変化させることが可能に構成されている。検出側分光部３２において、複数段階の各検出波長は、光照射側分光部２２に設定される複数段階の各励起波長に対応し、各励起波長よりも長波長側の各波長帯域に設定される。
【００５４】
検出波長を複数段階に変化させることが可能な構成について、具体的には、検出側分光部３２は、透過する光の波長が異なる複数の検出側フィルタと、光検出器３１に対向する位置に配置される検出側フィルタを変化させるためのフィルタ変更機構とを有する。前記検出側フィルタは、予め定める波長の光を透過し、その波長以外の残余の波長帯域の光を吸収するフィルタである。検出側分光部３２は、たとえば、透過する光の波長がそれぞれ、光照射側分光部２２に設定される複数段階の各励起波長よりも長波長側の各波長帯域の、複数の検出側フィルタを有して構成される。このような、透過する光の波長が異なる複数の検出側フィルタを含む構成の検出側分光部３２は、光検出器３１に対向する位置に配置される検出側フィルタを、フィルタ変更機構によって変化させることで、出射する検出光の検出波長を変化させることができる。
【００５５】
検出側分光部３２は、上記のような、透過する光の波長が異なる複数の検出側フィルタを含む構成以外に、予め定める軸線まわりに回動可能な回折格子と、該回折格子を回動させる回動機構と、スリットとを有する構成であってもよい。このような、回折格子を含む構成の検出側分光部３２は、回動機構によって回折格子を回動させることでスリットを通過する光の波長を変化させることができ、これによって、出射する検出光の検出波長を変化させることができる。
【００５６】
光検出器３１は、検出側分光部３２から出射された、予め定める検出波長の検出光を検出する機能と、該検出光の光強度を検出する機能とを有する。光検出器３１は、カメラ、光電子増倍管などによって実現される。
【００５７】
カメラによって実現される光検出器３１は、検出側分光部３２から出射された検出光を集光する集光レンズと、該集光レンズにより集光された光を受光する撮像素子と、を有する。
【００５８】
カメラによって実現される光検出器３１において、撮像素子としては、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサ、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサなどを挙げることができる。
【００５９】
カメラによって実現される光検出器３１において、集光レンズは、たとえば、焦点距離が８ｍｍであり、焦点距離を有効口径で除算した値であるＦ値が１．８であり、画角が７８．１°×６２．１°である。
【００６０】
光検出器３１がカメラである場合には、検出側分光部３２から出射された、予め定める検出波長の検出光に基づいた、器材セット１ａの画像を生成する。光検出器３１によって生成された画像は、器材セット１ａの、蛍光を放射する部分に対応した画素の輝度値が、蛍光を放射する部分以外の残余の部分に対応した画素の輝度値よりも、高い値を示す。光検出器３１は、画像を構成する各画素の輝度値に基づいて、検出光の光強度を検出することができる。光検出器３１によって生成された画像の一例を図２に示す。図２は、汚染物質の蛍光状態の一例を示す写真である。図２（ａ）は、光照射側分光部２２によって励起波長が４００〜８００ｎｍに調整された励起光を器材セット１ａに照射し、検出側分光部３２によって該励起波長に対応した検出波長に調整された検出光を光検出器３１で検出したときの、器材セット１ａの手術用器材の画像を示す。また、図２（ｂ）は、光照射側分光部２２によって励起波長が４５０ｎｍに調整された励起光を器材セット１ａに照射し、検出側分光部３２によって該励起波長に対応した検出波長に調整された検出光を光検出器３１で検出したときの、器材セット１ａの手術用器材の画像を示す。図２（ｂ）において、手術用器材の「Ｒ」で示す領域に、蛍光を放射する汚染物質が付着していることが観察される。
【００６１】
光検出器３１が光電子増倍管である場合には、検出側分光部３２から出射された検出光が光電面に入射すると光電効果によって入射量に応じた電子を発生させ、その電子数を増倍して電流として出力する。光電子増倍管に所定の印加電圧値を印加することにより、光電面に入射する光量に比例する大きさの電流が出力され、その出力値によって光電面に入射した検出光の光量を光強度として検出することができる。
【００６２】
本実施形態における検査装置１００の情報処理装置４は、パーソナルコンピュータなどによって実現され、情報入力部４１と、制御部４２と、記憶部４３と、情報出力部４４とを含んで構成される。
【００６３】
情報入力部４１は、マウスやキーボード、タッチパネルなどによって実現され、光照射部２から器材セット１ａに向けて照射される励起光の励起波長、検出部３により検出される検出光の検出波長に関する設定値、後述する光波長対応記憶部４３Ａ、汚染物質付着量対応記憶部４３Ｂ、スペクトルパターン記憶部４３Ｃに予め記憶される各種情報が入力される。なお、タッチパネルとしては、赤外線遮断方式、抵抗膜方式、表面型静電容量方式、投影型静電容量方式、超音波表面弾性波方式、音響パルス認識方式、振動検出方式、電磁誘導方式、画像認識方式、あるいは光センサ内蔵ＬＣＤ方式のタッチパネルを用いることができる。
【００６４】
記憶部４３は、光波長対応記憶部４３Ａと、汚染物質付着量対応記憶部４３Ｂと、スペクトルパターン記憶部４３Ｃと、プログラム記憶部４３Ｄとを含んで構成される。
【００６５】
光波長対応記憶部４３Ａは、フラッシュメモリなどの不揮発性の半導体メモリや、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disk Drive）などの不揮発性のメモリによって実現され、光照射部２から器材セット１ａに向けて照射される励起光の励起波長と、検出部３により検出される検出光の検出波長とを、関連付けて記憶する。光波長対応記憶部４３Ａには、たとえば、表１に示す光波長対応テーブルが記憶されている。
【００６６】
【表１】
2016020890.tif 000003
【００６７】
表１に示す光波長対応テーブルは、光照射側分光部２２の分光制御条件を表す分光制御条件情報（分光制御条件Ｘ１，Ｘ２，…，Ｘｎ）と、光照射部２から器材セット１ａに向けて照射される励起光の励起波長に関する極大波長（λＢ１，λＢ２，…，λＢｎ）および波長帯域（λＢ１１〜λＢ１２，λＢ２１〜λＢ２２，…，λＢｎ１〜λＢｎ２）と、検出側分光部３２の分光制御条件を表す分光制御条件情報（分光制御条件Ｙ１，Ｙ２，…，Ｙｎ）と、検出部３により検出される検出光の検出波長に関する極大波長（λＣ１，λＣ２，…，λＣｎ）および波長帯域（λＣ１１〜λＣ１２，λＣ２１〜λＣ２２，…，λＣｎ１〜λＣｎ２）との、関連付けを示すテーブルである。
【００６８】
本実施形態の検査装置１００においては、光波長対応記憶部４３Ａに記憶される、表１に示す光波長対応テーブルは、後述の光照射側制御部４２Ａが光照射側分光部２２を制御するとき、および、検出側制御部４２Ｂが検出側分光部３２を制御するときに、参照される。
【００６９】
汚染物質付着量対応記憶部４３Ｂは、フラッシュメモリなどの不揮発性の半導体メモリや、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disk Drive）などの不揮発性のメモリによって実現され、光検出器３１によって検出される検出光の光強度と、該検出光に対応した蛍光または反射光を放射する汚染物質に関して標準汚染物質の器材セット１ａに対する付着量とを、関連付けて記憶する。汚染物質付着量対応記憶部４３Ｂには、たとえば、表２に示す汚染物質付着量対応テーブルが記憶されている。なお、標準汚染物質とは、器材セット１ａに付着している可能性がある既知の汚染物質であり、血液や脂分などの人体に由来する汚染物質、粒子状または繊維状の異物などの主として環境に由来する汚染物質などである。
【００７０】
【表２】
2016020890.tif 000004
【００７１】
表２に示す汚染物質付着量対応テーブルは、検出部３により検出される検出光の検出波長に関する極大波長（λＣ１，λＣ２，…，λＣｎ）および波長帯域（λＣ１１〜λＣ１２，λＣ２１〜λＣ２２，…，λＣｎ１〜λＣｎ２）と、光強度と汚染物質付着量との関係を示す情報である、検量線データ（検量線データＺ１，Ｚ２，…，Ｚｎ）との、関連付けを、各標準汚染物質（標準汚染物質Ｈ１，Ｈ２，…，Ｈｎ）それぞれについて示したテーブルである。なお、検量線データは、各標準汚染物質について付着量既知の一連の試料を準備し、それぞれの光強度を、検出波長を変化させて測定し、付着量（μｇ）と光強度との関係をプロットして作成されたものである。
【００７２】
本実施形態の検査装置１００においては、汚染物質付着量対応記憶部４３Ｂに記憶される、表２に示す汚染物質付着量対応テーブルは、後述の汚染物質付着量定量部４２Ｄが器材セット１ａにおける汚染物質の付着量を定量するときに、参照される。
【００７３】
スペクトルパターン記憶部４３Ｃは、フラッシュメモリなどの不揮発性の半導体メモリや、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disk Drive）などの不揮発性のメモリによって実現され、標準汚染物質の標準スペクトルパターン（標準励起スペクトルパターン、標準蛍光スペクトルパターンまたは標準反射光スペクトルパターン）を、予め記憶する。
【００７４】
なお、標準励起スペクトルパターンは、光照射側分光部２２により所定の波長帯域にわたって励起波長が変化された励起光を光照射部２から標準汚染物質に照射し、検出側分光部３２により設定された予め定める一定の蛍光波長の蛍光の蛍光強度を光検出器３１が検出することによって得られた、励起波長と蛍光強度との関係を示す曲線である。また、標準蛍光スペクトルパターンは、光照射側分光部２２により設定された予め定める一定の励起波長の励起光を光照射部２から標準汚染物質に照射し、検出側分光部３２により所定の波長帯域にわたって蛍光波長が変化された蛍光の蛍光強度を光検出器３１が検出することによって得られた、蛍光波長と蛍光強度との関係を示す曲線である。また、標準反射光スペクトルパターンは、光照射側分光部２２により所定の波長帯域にわたって励起波長が変化された励起光を光照射部２から標準汚染物質に照射し、検出側分光部３２により設定された予め定める一定の反射光波長の反射光の反射光強度を光検出器３１が検出することによって得られた、励起波長と反射光強度との関係を示す曲線である。
【００７５】
本実施形態の検査装置１００においては、スペクトルパターン記憶部４３Ｃに記憶される、標準汚染物質の標準スペクトルパターンは、後述の汚染物質同定部４２Ｆが器材セット１ａに付着した汚染物質を同定するときに、参照される。
【００７６】
プログラム記憶部４３Ｄは、フラッシュメモリなどの不揮発性の半導体メモリや、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disk Drive）などの不揮発性のメモリによって実現され、オペレーティングシステム（ＯＳ：Operating System）プログラム、コンピュータを検査装置１００として機能させるためのプログラムであり、器材セット１ａの汚染物質の付着を検査するための処理を情報処理装置４が実行するためのプログラム（以下、「汚染物質付着検査処理プログラム」という）、および、種々のアプリケーションプログラムを記憶する。
【００７７】
制御部４２は、情報処理装置４の各部の動作を制御する処理部であり、たとえば、中央演算処理装置（ＣＰＵ：Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）を備えるマイクロコンピュータ、マイクロプロセッサなどによって実現される処理回路である。制御部４２は、記憶部４３のプログラム記憶部４３ＤからＲＡＭにロードされるＯＳプログラム、汚染物質付着検査処理プログラム、および、種々のアプリケーションプログラムを実行する。
【００７８】
制御部４２は、光照射側制御部４２Ａと、検出側制御部４２Ｂと、汚染物質付着判定部４２Ｃと、汚染物質付着量定量部４２Ｄと、スペクトルパターン取得部４２Ｅと、汚染物質同定部４２Ｆとを含んで構成される。
【００７９】
光照射側制御部４２Ａは、励起光の励起波長および検出光の検出波長についての設定値に関する情報（以下、「波長設定値関連情報」という）が情報入力部４１を介して入力されると、表１に示す光波長対応テーブルを参照し、励起波長に対応する光照射側分光部２２の分光制御条件情報に基づいて、光照射部２から出射される光が予め定める励起波長の励起光となるように、光照射側分光部２２を制御する。
【００８０】
具体的には、光照射側制御部４２Ａは、光照射側分光部２２が透過する光の波長が異なる複数の光照射側フィルタを含む構成である場合には、予め定める励起波長の光を透過する光照射側フィルタが光源部２１に対向する位置に配置されるように、光照射側分光部２２を制御する。また、光照射側制御部４２Ａは、光照射側分光部２２が回折格子を含む構成である場合には、予め定める励起波長の光が器材セット１ａに照射されるように、回折格子を回動させる。
【００８１】
検出側制御部４２Ｂは、波長設定値関連情報が情報入力部４１を介して入力されると、表１に示す光波長対応テーブルを参照し、検出波長に対応する検出側分光部３２の分光制御条件情報に基づいて、光検出器３１で検出される光が予め定める検出波長の検出光となるように、検出側分光部３２を制御する。
【００８２】
具体的には、検出側制御部４２Ｂは、検出側分光部３２が透過する光の波長が異なる複数の検出側フィルタを含む構成である場合には、予め定める検出波長の検出光を透過する検出側フィルタが光検出器３１に対向する位置に配置されるように、検出側分光部３２を制御する。また、検出側制御部４２Ｂは、検出側分光部３２が回折格子を含む構成である場合には、予め定める検出波長の検出光が光検出器３１に向けて出射されるように、回折格子を回動させる。
【００８３】
汚染物質付着判定部４２Ｃは、光検出器３１によって検出された検出光の光強度が予め定める閾値以上である場合には、汚染物質が器材セット１ａに付着していると判定する。また、汚染物質付着判定部４２Ｃは、光検出器３１によって検出された検出光の光強度が予め定める閾値未満である場合には、汚染物質が器材セット１ａに付着していないと判定する。汚染物質付着判定部４２Ｃによる判定結果を示す判定結果情報は、後述の情報出力部４４の判定結果出力部４４Ａに出力される。
【００８４】
汚染物質付着量定量部４２Ｄは、器材セット１ａに対する汚染物質の付着量の出力に関する情報（以下、「汚染物質付着量出力関連情報」という）が情報入力部４１を介して入力されると、表２に示す汚染物質付着量対応テーブルを参照し、光検出器３１によって検出された、予め定める検出波長の検出光の光強度と、該検出波長に対応した検量線データとを比較して、器材セット１ａにおける汚染物質の付着量を定量する。汚染物質付着量定量部４２Ｄによる定量結果を示す定量結果情報は、後述の情報出力部４４の定量結果出力部４４Ｂに出力される。
【００８５】
スペクトルパターン取得部４２Ｅは、器材セット１ａに対する汚染物質の同定結果の出力に関する情報（以下、「同定結果出力関連情報」という）が情報入力部４１を介して入力されると、光検出器３１によって検出された検出光のスペクトルパターン（励起スペクトルパターン、蛍光スペクトルパターンまたは反射光スペクトルパターン）を取得し、該取得したスペクトルパターンに対応したスペクトルパターンデータを後述のスペクトルパターン出力部４４Ｃに出力する。
【００８６】
なお、スペクトルパターン取得部４２Ｅによって取得される励起スペクトルパターンは、光照射側分光部２２により所定の波長帯域にわたって励起波長が変化された励起光を光照射部２から器材セット１ａに照射し、検出側分光部３２により設定された予め定める一定の蛍光波長の蛍光の蛍光強度を光検出器３１が検出することによって得られた、励起波長と蛍光強度との関係を示す曲線である。また、スペクトルパターン取得部４２Ｅによって取得される蛍光スペクトルパターンは、光照射側分光部２２により設定された予め定める一定の励起波長の励起光を光照射部２から器材セット１ａに照射し、検出側分光部３２により所定の波長帯域にわたって蛍光波長が変化された蛍光の蛍光強度を光検出器３１が検出することによって得られた、蛍光波長と蛍光強度との関係を示す曲線である。また、スペクトルパターン取得部４２Ｅによって取得される反射光スペクトルパターンは、光照射側分光部２２により所定の波長帯域にわたって励起波長が変化された励起光を光照射部２から器材セット１ａに照射し、検出側分光部３２により設定された予め定める一定の反射光波長の反射光の反射光強度を光検出器３１が検出することによって得られた、励起波長と反射光強度との関係を示す曲線である。
【００８７】
汚染物質同定部４２Ｆは、スペクトルパターン取得部４２Ｅによって取得されたスペクトルパターンと、スペクトルパターン記憶部４３Ｃに記憶された標準スペクトルパターンとを比較して、器材セット１ａに付着した汚染物質の種類を同定する。汚染物質同定部４２Ｆによる同定結果を示す同定結果情報は、後述の情報出力部４４の同定結果出力部４４Ｄに出力される。
【００８８】
なお、汚染物質同定部４２Ｆは、スペクトルパターン記憶部４３Ｃに記憶される標準スペクトルパターン中に、同定される汚染物質が存在しないときは、同定できなかったことを示す情報を前記同定結果情報として出力する。
【００８９】
情報出力部４４は、たとえば、液晶パネルおよびバックライトを備える液晶ディスプレイや、有機ＥＬ（Electro-Luminescence）ディスプレイなどの表示装置などによって実現され、判定結果出力部４４Ａと、定量結果出力部４４Ｂと、スペクトルパターン出力部４４Ｃと、同定結果出力部４４Ｄとを含んで構成される。
【００９０】
判定結果出力部４４Ａは、汚染物質付着判定部４２Ｃから出力された判定結果情報に対応した判定結果を、たとえば表示画像として出力する。
【００９１】
定量結果出力部４４Ｂは、汚染物質付着量定量部４２Ｄから出力された定量結果情報に対応した定量結果を、たとえば表示画像として出力する。
【００９２】
スペクトルパターン出力部４４Ｃは、スペクトルパターン取得部４２Ｅから出力されたスペクトルパターンデータに対応したスペクトルパターンを、たとえば表示画像として出力する。
【００９３】
同定結果出力部４４Ｄは、汚染物質同定部４２Ｆから出力された同定結果情報に対応した同定結果を、たとえば表示画像として出力する。
【００９４】
なお、検査装置１００の検査対象となる器材セット１ａに付着した汚染物質から放射される蛍光の蛍光強度は温度の上昇とともに減少する傾向があり、また蛍光を吸収する共存物質の存在下では消光するので、検査装置１００による器材セット１ａの汚染物質の検査精度を高い状態に維持するために、検査装置１００が設置される前記筐体または暗室は、前記共存物質を低減させるためのクリーン設備（フィルタ設備など）が備えられ、温度が１０〜３０℃に調整されている。
【００９５】
以上のように構成された本実施形態に係る検査装置１００では、光照射部２によって予め定める励起波長の励起光を器材セット１ａに照射したときに、該器材セット１ａから放射される光（蛍光または反射光）を検出部３によって検出するので、器材セット１ａの汚染物質の付着を高精度に検査することができる。
【００９６】
次に、図３を参照して、検査装置１００を利用した、検査方法について説明する。図３は、検査装置１００の動作を示すフローチャートである。本実施形態に係る検査方法は、検査装置１００によって実行される。なお、検査装置１００において、光照射部２が光照射工程を実施し、検出部３が蛍光検出工程を実施し、光照射側制御部４２Ａが光照射側制御工程を実施し、検出側制御部４２Ｂが検出側制御工程を実施し、汚染物質付着判定部４２Ｃが汚染物質付着判定工程を実施し、汚染物質付着量定量部４２Ｄが汚染物質付着量定量工程を実施し、スペクトルパターン取得部４２Ｅがスペクトルパターン取得工程を実施し、汚染物質同定部４２Ｆが汚染物質同定工程を実施し、判定結果出力部４４Ａが判定結果出力工程を実施し、定量結果出力部４４Ｂが定量結果出力工程を実施し、スペクトルパターン出力部４４Ｃがスペクトルパターン出力工程を実施し、同定結果出力部４４Ｄが同定結果出力工程を実施する。
【００９７】
ステップｓ１では、光照射側制御部４２Ａは、表１に示す光波長対応テーブルを参照し、光照射部２から出射される光が予め定める励起波長の励起光となるように、光照射側分光部２２を制御する。また、検出側制御部４２Ｂは、表１に示す光波長対応テーブルを参照し、光検出器３１で検出される光が予め定める検出波長の光（蛍光または反射光）となるように、検出側分光部３２を制御する。
【００９８】
次にステップｓ２では、光照射部２は、予め定める励起波長の励起光を、器材保持部１によって保持された器材セット１ａに照射する。
【００９９】
次にステップｓ３では、検出部３は、光照射部２によって光が照射された器材セット１ａから放射される光を、検出側分光部３２によって予め定める検出波長の検出光に分光し、該分光された検出光の光強度を光検出器３１によって検出する。
【０１００】
次にステップｓ４では、汚染物質付着判定部４２Ｃは、光検出器３１によって検出された検出光の光強度が予め定める閾値以上である場合には、汚染物質が器材セット１ａに付着していると判定し、検出光の光強度が予め定める閾値未満である場合には、汚染物質が器材セット１ａに付着していないと判定する。汚染物質付着判定部４２Ｃによる判定結果を示す判定結果情報は、判定結果出力部４４Ａに出力される。
【０１０１】
次にステップｓ５では、判定結果出力部４４Ａは、汚染物質付着判定部４２Ｃから出力された判定結果情報に対応した判定結果を、たとえば表示画像として出力する。
【０１０２】
またステップｓ６では、ステップｓ３において検出部３で検出された検出光の光強度に基づいて、汚染物質付着量定量部４２Ｄは、表２に示す汚染物質付着量対応テーブルを参照し、器材セット１ａにおける汚染物質の付着量を定量する。汚染物質付着量定量部４２Ｄによる定量結果を示す定量結果情報は、定量結果出力部４４Ｂに出力される。
【０１０３】
次にステップｓ７では、定量結果出力部４４Ｂは、汚染物質付着量定量部４２Ｄから出力された定量結果情報に対応した定量結果を、たとえば表示画像として出力する。
【０１０４】
またステップｓ８では、ステップｓ３において検出部３で検出された検出光の光強度に基づいて、スペクトルパターン取得部４２Ｅは、光検出器３１によって検出された検出光のスペクトルパターンを取得する。
【０１０５】
次にステップｓ９では、汚染物質同定部４２Ｆは、ステップｓ８において取得されたスペクトルパターンと、スペクトルパターン記憶部４３Ｃに記憶された標準スペクトルパターンとを比較して、器材セット１ａに付着した汚染物質の種類を同定する。汚染物質同定部４２Ｆによる同定結果を示す同定結果情報は、同定結果出力部４４Ｄに出力される。
【０１０６】
次にステップｓ１０では、同定結果出力部４４Ｄは、汚染物質同定部４２Ｆから出力された同定結果情報に対応した同定結果を、たとえば表示画像として出力する。
【０１０７】
以上のように、本実施形態に係る検査装置１００で実行される検査方法では、光照射部２によって予め定める励起波長の励起光を器材セット１ａに照射したときに、該器材セット１ａから放射される光（蛍光または反射光）を検出部３によって検出するので、器材セット１ａの汚染物質の付着を高精度に検査することができる。
【０１０８】
図４は、本発明の第２実施形態に係る検査装置１００Ａの構成を概略的に示す図である。図４では、検査装置１００Ａに備えられる情報処理装置４については省略されている。本実施形態に係る検査装置１００Ａは、前述の検査装置１００に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略する。検査装置１００Ａは、光照射部２Ａの構成が前述の光照射部２の構成と異なる以外は、検査装置１００と同様に構成される。
【０１０９】
光照射部２Ａは、前述の光照射部２と同様に光源部２１および光照射側分光部２２を備え、さらに、反射ミラー部２３を備える。この反射ミラー部２３は、光照射側分光部２２から出射された、予め定める励起波長の励起光を反射し、励起波長以外の残余の波長帯域の光を透過する。
【０１１０】
本実施形態に係る検査装置１００Ａにおいて、反射ミラー部２３は、光照射側分光部２２の中心および反射ミラー部２３の中心を結ぶ線分と、器材保持部１に保持された器材セット１ａの検査位置および反射ミラー部２３の中心を結ぶ線分とが垂直となるように、配置されている。また、検査装置１００Ａにおいて、検出部３は、器材保持部１に保持された器材セット１ａの検査位置および反射ミラー部２３の中心を結ぶ線分の延長線上における、反射ミラー部２３に対向する側の位置に配置されている。
【０１１１】
以上のように構成される検査装置１００Ａでは、光照射部２の光照射側分光部２２から出射された、予め定める励起波長の励起光は、反射ミラー部２３で反射されて器材セット１ａに入射し、器材セット１ａから放射された光（蛍光または反射光）は、反射ミラー部２３を透過して検出部３に入射し、該検出部３の光検出器３１によって検出される。
【０１１２】
本実施形態に係る検査装置１００Ａは、光照射部２によって予め定める励起波長の励起光を器材セット１ａに照射したときに、該器材セット１ａから放射される光（蛍光または反射光）を検出部３によって検出するので、器材セット１ａの汚染物質の付着を高精度に検査することができる。
【０１１３】
図５は、本発明の第３実施形態に係る検査装置１００Ｂの構成を概略的に示す図である。図５では、検査装置１００Ｂに備えられる情報処理装置４については省略されている。図５（ａ）は検査装置１００Ｂを側方から見た図であり、図５（ｂ）は検査装置１００Ｂを上方から見た図である。本実施形態に係る検査装置１００Ｂは、前述の検査装置１００に類似し、対応する部分については同一の参照符号を付して説明を省略する。検査装置１００Ｂは、光照射部２Ｂの構成が前述の光照射部２の構成と異なり、検出部３の配置位置が異なる以外は、検査装置１００と同様に構成される。なお、図５は、光照射部２Ｂの光源部２１Ｂにおいて光源がＬＥＤであり、検出部３の光検出器３１がカメラである構成について図示している。
【０１１４】
検査装置１００Ｂにおいて、検出部３は、カメラによって実現される光検出器３１の集光レンズの光軸Ｌが器材保持部１の載置面と直交するように、器材保持部１の載置面に対向して設けられる。これによって、器材保持部１の載置面に載置された器材セット１ａから放射される蛍光（または反射光）の、検出部３による検出効率が向上する。
【０１１５】
また、検査装置１００Ｂにおいて、光照射部２Ｂは、前述の光照射部２と同様に光源部２１Ｂおよび光照射側分光部２２Ｂを備える。光源部２１Ｂおよび光照射側分光部２２Ｂは、光検出器３１の集光レンズの光軸Ｌを中心軸線とする円環状に形成され、光軸Ｌの延在方向から見た平面視において、検出部３を外囲するように設けられる。なお、ＬＥＤを光源とする光源部２１Ｂとした場合、前述のように、波長帯域が狭い光を器材セット１ａに照射することができるので、光照射側分光部２２Ｂを省略してもよい。また、光源部２１Ｂを、波長帯域の異なるＬＥＤを光源とする複数のＬＥＤユニット２１１を有する構成とし、各ＬＥＤユニット２１１のＬＥＤの点灯または非点灯の制御を行う点灯制御機構を備える構成とすることによって、光照射側分光部２２Ｂを省略した場合であっても、波長帯域の異なる光を、器材セット１ａに照射することができる。
【０１１６】
検査装置１００Ｂにおいて、光照射部２Ｂと検出部３との、光軸Ｌの延在方向に関する位置関係は、光照射部２Ｂの器材セット１ａに対する光の照射効率、および、検出部３による蛍光（または反射光）の検出効率を考慮して、設定される。また、光照射部２Ｂと検出部３との、光軸Ｌの延在方向に関する位置関係を変化させることができるように、光照射部２Ｂおよび検出部３は、光軸Ｌに沿って移動可能に構成されていてもよい。
【０１１７】
図６は、本発明の一実施形態に係る洗浄システム３００の構成を概略的に示す図である。洗浄システム３００は、器材セット１ａを洗浄するためのシステムである。
【０１１８】
医療機関に貸し出された器材セット１ａは、医療機関における手術で用いられた後、医療機関において洗浄処理が施された後に医療機関から医療機器メーカーに返却される。医療機関から返却されてきた器材セット１ａには、医療機関において洗浄処理が施されているとはいえ、汚染物質が付着している場合がある。このように汚染物質が付着した器材セット１ａについては、洗浄システム３００により洗浄処理を施す必要がある。
【０１１９】
洗浄システム３００は、前述の本実施形態に係る検査装置１００（または検査装置１００Ａ、検査装置１００Ｂ）と、洗浄装置２００とを含んで構成される。洗浄装置２００は、検査結果入力部２０１と、洗浄制御部２０２と、洗浄条件記憶部２０３と、洗浄部２０４とを含む。
【０１２０】
検査結果入力部２０１は、マウスやキーボード、タッチパネルなどによって実現され、検査装置１００，１００Ａ、１００Ｂにおける情報出力部４４の同定結果出力部４４Ｄから出力された同定結果情報を含む、検査結果情報が入力される。
【０１２１】
洗浄条件記憶部２０３は、フラッシュメモリなどの不揮発性の半導体メモリや、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ：Hard Disk Drive）などの不揮発性のメモリによって実現され、同定結果出力部４４Ｄからの同定結果情報に対応する器材セット１ａの洗浄条件を記憶する。洗浄条件記憶部２０３は、同定結果情報に対応する汚染物質の種類と、器材セット１ａの洗浄条件とを、関連付けて記憶する。洗浄条件記憶部２０３には、たとえば、表３に示す洗浄条件テーブルが記憶されている。
【０１２２】
【表３】
2016020890.tif 000005
【０１２３】
表３に示す洗浄条件テーブルは、汚染物質の種類（汚染物質Ｊ１，汚染物質Ｊ２，…，汚染物質Ｊｎ）と、洗浄条件（洗浄条件Ｋ１，洗浄条件Ｋ２，…，洗浄条件Ｋｎ）との、関連付けを示すテーブルである。
【０１２４】
たとえば、汚染物質Ｊ１が湿潤状態の脂分の場合には、洗浄条件Ｋ１として「洗浄液：酵素系中性洗剤を含む水溶液、洗浄温度：４０〜５０℃、洗浄時間：５〜１０分間」という条件が関連付けられており、汚染物質Ｊ２が湿潤状態の血液の場合には、洗浄条件Ｋ２として「洗浄液：酵素系中性洗剤を含む水溶液、洗浄温度：４０〜５０℃、洗浄時間：１０〜２０分間」という条件が関連付けられており、汚染物質Ｊ３が乾燥状態の血液の場合には、洗浄条件Ｋ３として「洗浄液：酵素系弱アルカリ性（ｐＨ８前後）洗剤または酵素系アルカリ性（ｐＨ１０．５以上）洗剤を含む水溶液、洗浄温度：４０〜５０℃、洗浄時間：１０〜６０分間」という条件が関連付けられており、汚染物質Ｊ４が焼き付いた蛋白質成分の場合には、洗浄条件Ｋ４として「洗浄液：アルカリ性（ｐＨ１０．５以上）洗剤を含む水溶液、洗浄温度：６０〜７０℃、洗浄時間：１０〜６０分間」という条件が関連付けられており、汚染物質Ｊ５が粒子状または繊維状の異物の場合には、洗浄条件Ｋ５として「洗浄液：水道水、逆浸透膜を通した水であるＲＯ水、または純水などの水、洗浄温度：４０〜５０℃、洗浄時間：２分間」という条件が関連付けられている。
【０１２５】
洗浄制御部２０２は、洗浄装置２００の各部の動作を制御する処理部であり、たとえば、中央演算処理装置（ＣＰＵ：Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory
）およびＲＡＭ（Random Access Memory）を備えるマイクロコンピュータ、マイクロプロセッサなどによって実現される処理回路である。洗浄制御部２０２は、洗浄条件決定部２０２Ａと、洗浄条件出力部２０２Ｂとを含んで構成される。
【０１２６】
洗浄条件決定部２０２Ａは、表３に示す洗浄条件テーブルを参照して、検査結果入力部２０１から入力された検査結果情報に含まれる同定結果情報に対応した洗浄条件を決定し、その決定した洗浄条件を洗浄条件記憶部２０３から読み出す。
【０１２７】
洗浄条件出力部２０２Ｂは、洗浄条件決定部２０２Ａによって読み出された洗浄条件を、洗浄部２０４に出力する。そして、洗浄部２０４は、洗浄条件出力部２０２Ｂから出力された洗浄条件で、器材セット１ａを洗浄する。
【０１２８】
以上のように構成される本実施形態に係る洗浄システム３００は、器材セット１ａに汚染物質が付着しているか否かを高精度に検査することができる、前述の本実施形態の検査装置１００，１００Ａ，１００Ｂを備えているので、検査装置１００，１００Ａ，１００Ｂにより、汚染物質が付着していないと判定された器材セット１ａについては、洗浄装置２００による洗浄処理を実施しないようにすることができ、洗浄装置２００の稼動による環境負荷を低減することができる。
【０１２９】
また、洗浄システム３００は、検査装置１００，１００Ａ，１００Ｂの同定結果出力部４４Ｄから出力された同定結果情報に応じた洗浄条件で器材セット１ａを洗浄するので、汚染物質が付着した器材セット１ａを、その汚染物質の種類に応じた最適な洗浄条件で洗浄することができ、汚染物質を効率よく洗浄除去することができる。
【０１３０】
上記の実施形態では、汚染物質付着検査処理プログラムは、半導体メモリやＨＤＤによって実現されるプログラム記憶部４３Ｄに記憶されているが、このような記憶装置に限定されるものではなく、コンピュータで読取り可能な記録媒体に記録されていてもよい。記録媒体は、たとえば図示しない外部記憶装置としてプログラム読取装置を設け、そこに記録媒体を挿入することによって読取り可能な記録媒体であってもよいし、または他の装置の記憶装置であってもよい。
【０１３１】
いずれの記録媒体であっても、記録媒体に記憶されているプログラムがコンピュータからアクセスされて実行される構成であればよい。すなわち、いずれの記録媒体であっても、記録媒体からプログラムが読み出され、読み出されたプログラムが、記憶装置のプログラム記憶エリアに記憶されて、そのプログラムが実行される構成であればよい。さらに通信ネットワークを介して他の装置からダウンロードされてプログラム記憶エリアに記憶させてもよい。ダウンロード用のプログラムは、予めコンピュータの記憶装置に記憶しておくか、または別な記録媒体からプログラム記憶エリアにインストールしておく。
【０１３２】
本体と分離可能に構成される記録媒体は、たとえば磁気テープ／カセットテープなどのテープ系の記録媒体、フロッピー（登録商標）ディスクなどの磁気ディスクのディスク系の記録媒体、フレキシブルディスク／ハードディスクなどの磁気ディスクもしくはＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk Read Only Memory）／ＭＯ（Magneto Optical disk）／ＭＤ（Mini Disk）／ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）などの光ディスクのディスク系の記録媒体、ＩＣ（Integrated Circuit）カード（メモリカードを含む）／光カードなどのカード系の記録媒体、またはマスクＲＯＭ／ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only Memory）／ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory）（登録商標）／フラッシュＲＯＭなどの半導体メモリを含む固定的にプログラムを担持する記録媒体であってもよい。
【符号の説明】
【０１３３】
１  器材保持部
２，２Ａ，２Ｂ  光照射部
３  検出部
４  情報処理装置
２１，２１Ｂ  光源部
２２，２２Ｂ  光照射側分光部
２３  反射ミラー部
３１  光検出器
３２  検出側分光部
４１  情報入力部
４２  制御部
４２Ａ  光照射側制御部
４２Ｂ  検出側制御部
４２Ｃ  汚染物質付着判定部
４２Ｄ  汚染物質付着量定量部
４２Ｅ  スペクトルパターン取得部
４２Ｆ  汚染物質同定部
４３  記憶部
４３Ａ  光波長対応記憶部
４３Ｂ  汚染物質付着量対応記憶部
４３Ｃ  スペクトルパターン記憶部
４３Ｄ  プログラム記憶部
４４  情報出力部
４４Ａ  判定結果出力部
４４Ｂ  定量結果出力部
４４Ｃ  スペクトルパターン出力部
４４Ｄ  同定結果出力部
１００，１００Ａ，１００Ｂ  検査装置
２００  洗浄装置
２０１  検査結果入力部
２０２  洗浄制御部
２０２Ａ  洗浄条件決定部
２０２Ｂ  洗浄条件出力部
２０３  洗浄条件記憶部
２０４  洗浄部
３００  洗浄システム
【図１Ａ】
2016020890.tif 000006
【図１Ｂ】
2016020890.tif 000007
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図２】
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