(57)【要約】【課題】通信光と近接する波長を持つ試験光を使用しながら、本来の通信に影響を与えることなく、既設伝送路と迂回伝送路との間の遅延量を精度良く調整できるようにする。【解決手段】現用光ファイバ１０２と迂回路との間の光路長差を一致させるための遅延制御を行う際に、迂回路構成ユニット１０において、加入者側の伝送装置１０１から送信された上り信号光２０００および局側の伝送装置１００から送信された下り信号光３０００の光強度を、それぞれ上記上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４により減衰させて、この減衰された信号光を迂回路上り試験信号光２００１および迂回路下り試験信号光３００１として伝送する。【選択図】図１
2016111617.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上流側の伝送装置と下流側の伝送装置との間を接続する第１の光伝送路に対し並行して迂回用の第２の光伝送路を敷設し、この第２の光伝送路中に可変遅延器を配置することで、前記第１の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の光路長差を調整する光伝送路二重化装置であって、
前記第２の光伝送路中に配置され、前記上流側の伝送装置から下流側の伝送装置へ伝送される下り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を下り試験信号光として下流側の伝送装置へ送出する下り信号光減衰器と、
前記第２の光伝送路中に配置され、前記下流側の伝送装置から上流側の伝送装置へ伝送される上り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を上り試験信号光として上流側の伝送装置へ送出する上り信号光減衰器と、
前記第１の光伝送路を介して伝送された下り信号光と前記第２の光伝送路を介して伝送された前記下り試験信号光とをもとに、前記第１の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の下り光路長差を検出する下り光路長差検出器と、
前記第１の光伝送路を介して伝送された上り信号光と前記第２の光伝送路を介して伝送された前記上り試験信号光とをもとに、前記第１の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の上り光路長差を検出する上り光路長差検出器と、
前記下り光路長差検出器により検出された下り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記下り試験信号光を遅延制御すると共に、前記上り光路長差検出器により検出された上り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記上り試験信号光を遅延制御する遅延制御器と
を具備することを特徴とする光伝送路二重化装置。
【請求項２】
上流側の伝送装置と下流側の伝送装置との間が、光路長差が許容範囲内に調整された第１の光伝送路および迂回用の第２の光伝送路を用いて接続された後、前記第１の光伝送路に代えて新規の第３の光伝送路が接続された場合に、前記第２の光伝送路中に配置した可変遅延器を用いて前記第３の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の光路長差を調整する光伝送路二重化装置であって、
前記第３の光伝送路中に配置され、前記上流側の伝送装置から下流側の伝送装置へ伝送される下り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を下り試験信号光として下流側の伝送装置へ送出する下り信号光減衰器と、
前記第３の光伝送路中に配置され、前記下流側の伝送装置から上流側の伝送装置へ伝送される上り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を上り試験信号光として上流側の伝送装置へ送出する上り信号光減衰器と、
前記第２の光伝送路を介して伝送された下り信号光と前記第３の光伝送路を介して伝送された前記下り試験信号光とをもとに、前記第２の光伝送路と前記第３の光伝送路との間の下り光路長差を検出する下り光路長差検出器と、
前記第２の光伝送路を介して伝送された上り信号光と前記第３の光伝送路を介して伝送された前記上り試験信号光とをもとに、前記第２の光伝送路と前記第３の光伝送路との間の上り光路長差を検出する上り光路長差検出器と、
前記下り光路長差検出器により検出された下り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記下り信号光を遅延制御すると共に、前記上り光路長差検出器により検出された上り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記上り信号光を遅延制御する遅延制御器と
を具備することを特徴とする光伝送路二重化装置。
【請求項３】
前記遅延制御器により上り光路長差および下り光路長差の調整が終了した状態で、前記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器の各減衰量を減衰前の初期値に戻す減衰制御器を、さらに具備し、
前記遅延制御器は、前記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器の各減衰量が初期値に戻された状態で、前記下り光路長差検出器により検出された下り光路長差を所定の許容範囲内に維持するべく前記下り信号光に対し与える遅延量を制御し直すと共に、前記上り光路長差検出器により検出された上り光路長差を所定の許容範囲内に維持するべく前記上り信号光に対し与える遅延量を制御し直す手段を、さらに備えることを特徴とする請求項２記載の光伝送路二重化装置。
【請求項４】
前記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器は、
下り信号光と上り信号光とを分離する光波長分離器と、
前記分離された下り信号光および上り信号光をそれぞれ減衰させる第１及び第２の可変減衰器と、
前記分離された下り信号光の光強度および上り信号光の光強度をそれぞれ測定する第１及び第２の光強度測定器と、
前記第１及び第２の光強度測定器により測定された各光強度に基づいて、前記第１及び第２の可変減衰器の減衰量を可変制御する減衰制御器と
を備えることを特徴とする請求項１または２記載の光伝送路二重化装置。
【請求項５】
上流側の伝送装置と下流側の伝送装置との間を接続する第１の光伝送路に対し並行して迂回用の第２の光伝送路を敷設し、この第２の光伝送路中に可変遅延器を配置することで、前記第１の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の光路長差を調整する光伝送路二重化装置が実行する光伝送路二重化方法であって、
前記第２の光伝送路中に配置された下り信号光減衰器により、前記上流側の伝送装置から下流側の伝送装置へ伝送される下り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を下り試験信号光として下流側の伝送装置へ送出する過程と、
前記第２の光伝送路中に配置され上り信号光減衰器により、前記下流側の伝送装置から上流側の伝送装置へ伝送される上り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を上り試験信号光として上流側の伝送装置へ送出する過程と、
前記第１の光伝送路を介して伝送された下り信号光と前記第２の光伝送路を介して伝送された前記下り試験信号光とをもとに、前記第１の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の下り光路長差を検出する過程と、
前記第１の光伝送路を介して伝送された上り信号光と前記第２の光伝送路を介して伝送された前記上り試験信号光とをもとに、前記第１の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の上り光路長差を検出する過程と、
前記検出された下り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記下り試験信号光を遅延制御する過程と、
前記検出された上り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記上り試験信号光を遅延制御する過程と
を具備することを特徴とする光伝送路二重化方法。
【請求項６】
上流側の伝送装置と下流側の伝送装置との間が、光路長差が許容範囲内に調整された第１の光伝送路および迂回用の第２の光伝送路を用いて接続された後、前記第１の光伝送路に代えて新規の第３の光伝送路が接続された場合に、前記第２の光伝送路中に配置した可変遅延器を用いて前記第３の光伝送路と前記第２の光伝送路との間の光路長差を調整する光伝送路二重化装置が実行する光伝送路二重化方法であって、
前記第３の光伝送路中に配置された下り信号光減衰器により、前記上流側の伝送装置から下流側の伝送装置へ伝送される下り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を下り試験信号光として下流側の伝送装置へ送出する過程と、
前記第３の光伝送路中に配置された上り信号光減衰器により、前記下流側の伝送装置から上流側の伝送装置へ伝送される上り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を上り試験信号光として上流側の伝送装置へ送出する過程と、
前記第２の光伝送路を介して伝送された下り信号光と前記第３の光伝送路を介して伝送された前記下り試験信号光とをもとに、前記第２の光伝送路と前記第３の光伝送路との間の下り光路長差を検出する過程と、
前記第２の光伝送路を介して伝送された上り信号光と前記第３の光伝送路を介して伝送された前記上り試験信号光とをもとに、前記第２の光伝送路と前記第３の光伝送路との間の上り光路長差を検出する過程と、
前記検出された下り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記下り信号光を遅延制御する過程と、
前記検出された上り光路長差を所定の許容範囲内にするべく、前記可変遅延器により前記上り信号光を遅延制御する過程と
を具備することを特徴とする光伝送路二重化方法。
【請求項７】
前記上り光路長差および下り光路長差の調整が終了した状態で、前記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器の各減衰量を減衰前の初期値に戻す過程と、
前記各減衰量が初期値に戻された後、前記検出された下り光路長差を所定の許容範囲内に維持するべく前記下り試験信号光に対し与える遅延量を制御し直す過程と、
前記各減衰量が初期値に戻された後、前記検出された上り光路長差を所定の許容範囲内に維持するべく前記上り試験信号光に対し与える遅延量を制御し直す過程と
を、さらに具備することを特徴とする請求項６記載の光伝送路二重化方法。
【請求項８】
前記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器は、
下り信号光と上り信号光とを分離する過程と、
前記分離された下り信号光の光強度および上り信号光の光強度をそれぞれ測定する過程と、
前記測定された各光強度に基づいて、前記分離された下り信号光および上り信号光をそれぞれ減衰させる過程と、
を備えることを特徴とする請求項５または６記載の光伝送路二重化方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば支障移転工事等による光線路切替時に一時的に迂回路を構成するための光伝送路二重化装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光線路の支障移転工事等において通信サービスを途絶させることなく既設伝送路から迂回伝送路に通信回線を移転させることを可能とするサービス無瞬断切替技術が提案されている。この技術は、迂回伝送路を用意して、既設伝送路に接続し、一時的に伝送路を二重化した後に、既設伝送路側の通信光を遮断することにより迂回伝送路への移転を図るものである。
【０００３】
ところで、この無瞬断切替えにおいて、二重化する伝送路区間において既設伝送路と迂回伝送路との間に光路長差があると、この光路長差に起因する遅延により、光の位相ずれによる光干渉が発生する。そのため、既設伝送路と迂回伝送路との間の遅延量を所定の許容範囲内に収めるための遅延量調整技術が必要になる。
【０００４】
従来では、例えば迂回伝送路に分波した上り通信光を、通信光とは異なる波長、例えば伝送装置の受信帯域を超える波長でかつ加入者側の光フィルタにて遮断される波長を有する試験光に変換する。そして、既設伝送路により伝送される通信光と迂回線路により伝送される上記試験光との伝搬時間差から光路長差に起因する遅延量を求め、この遅延量に基づいて既設伝送路または迂回伝送路により伝送される光に遅延を与えることにより、遅延量を調整するようにしている（例えば非特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】東ほか、「光アクセス媒体切り替え方式の基礎検討−サービス無瞬断光媒体切り替えシステム」、信学技法OFT2008-52, pp.27-31, 2008
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、光伝送路を伝搬する光の速度はその波長に依存し、波長が長い光ほど伝搬速度が速くなる。このため、非特許文献１に記載された技術のように、通信光とは波長が大きく異なる試験光を用いて遅延量を測定し、遅延量を調整する手法では、測定区間長が長距離になるほど光の伝搬速度の違いに起因する遅延量の測定誤差が無視できない量になり、この結果伝送路の二重化通信を実現できなくなる場合がある。
【０００７】
この発明は上記事情に着目してなされたもので、その目的とするところは、通信光と近接する波長を持つ試験光を使用しながら、本来の通信に影響を与えることなく、既設伝送路と迂回伝送路との間の遅延量を精度良く調整できるようにした光伝送路二重化装置及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するためにこの発明の第１の態様は、上流側の伝送装置と下流側の伝送装置との間を接続する第１の光伝送路に対し並行して迂回用の第２の光伝送路を敷設し、この第２の光伝送路中に可変遅延器を配置することで上記第１の光伝送路と上記第２の光伝送路との間の光路長差を調整する際に、上記第２の光伝送路中に下り信号光減衰器を配置して、上記上流側の伝送装置から下流側の伝送装置へ伝送される下り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を下り試験信号光として下流側の伝送装置へ送出する。同様に、上記第２の光伝送路中にも上り信号光減衰器を配置して、上記下流側の伝送装置から上流側の伝送装置へ伝送される上り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させ、当該減衰された信号光を上り試験信号光として上流側の伝送装置へ送出する。そして、上記第１の光伝送路を介して伝送された下り信号光と上記第２の光伝送路を介して伝送された上記下り試験信号光とをもとに上記第１の光伝送路と上記第２の光伝送路との間の下り光路長差を検出すると共に、上記第１の光伝送路を介して伝送された上り信号光と上記第２の光伝送路を介して伝送された上記上り試験信号光とをもとに上記第１の光伝送路と上記第２の光伝送路との間の上り光路長差を検出し、上記検出された下り光路長差を所定の許容範囲内にするべく上記可変遅延器により上記下り試験信号光を遅延制御すると共に、上記検出された上り光路長差を所定の許容範囲内にするべく上記可変遅延器により上記上り試験信号光を遅延制御するようにしたものである。
【０００９】
この発明の第２の態様は、上流側の伝送装置と下流側の伝送装置との間が、光路長差が許容範囲内に調整された第１の光伝送路および迂回用の第２の光伝送路を用いて接続された後、上記第１の光伝送路に代えて新規の第３の光伝送路が接続された場合に、上記第３の光伝送路中に下り信号光減衰器を配置し、上記上流側の伝送装置から下流側の伝送装置へ伝送される下り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させて、当該減衰された信号光を下り試験信号光として下流側の伝送装置へ送出する。またそれと共に、上記第３の光伝送路中に上り信号光減衰器を配置し、上記下流側の伝送装置から上流側の伝送装置へ伝送される上り信号光の光強度を予め設定されたレベルまで減衰させて、当該減衰された信号光を上り試験信号光として上流側の伝送装置へ送出する。そして、上記第２の光伝送路を介して伝送された下り信号光と上記第３の光伝送路を介して伝送された上記下り試験信号光とをもとに上記第２の光伝送路と上記第３の光伝送路との間の下り光路長差を検出すると共に、上記第２の光伝送路を介して伝送された上り信号光と上記第３の光伝送路を介して伝送された上記上り試験信号光とをもとに上記第２の光伝送路と上記第３の光伝送路との間の上り光路長差を検出し、当該検出された下り光路長差を所定の許容範囲内にするべく上記可変遅延器により上記下り信号光を遅延制御すると共に、上記検出された上り光路長差を所定の許容範囲内にするべく上記可変遅延器により上記上り信号光を遅延制御するようにしたものである。
【００１０】
この発明の第３の態様は、上記遅延制御器により上り光路長差および下り光路長差の調整が終了した後、上記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器の各減衰量を減衰前の初期値に戻す。そして、当該減衰量が初期値に戻された状態で、上記遅延制御器により、上記下り光路長差検出器により検出された下り光路長差を所定の許容範囲内に維持するべく上記下り信号光に対し与える遅延量を制御し直すと共に、上記上り光路長差検出器により検出された上り光路長差を所定の許容範囲内に維持するべく上記上り信号光に対し与える遅延量を制御し直すようにしたものである。
【００１１】
この発明の第４の態様は、上記下り信号光減衰器および上り信号光減衰器において、下り信号光と上り信号光とを光波長分離器により分離した後、それぞれ第１及び第２の可変減衰器に入射し、上記分離された下り信号光の光強度および上り信号光の光強度をそれぞれ測定して、当該測定された各光強度に基づいて上記第１及び第２の可変減衰器の減衰量を可変制御するようにしたものである。
【発明の効果】
【００１２】
この発明の第１の態様によれば、第１の光伝送路と迂回用の第２の光伝送路との間の光路長差を一致させるための遅延制御を行う際に、加入者側の伝送装置から送信された上り信号光および局側の伝送装置から送信された下り信号光の光強度がそれぞれ上り信号光可変減衰器および下り信号光可変減衰器により減衰されて、この減衰された信号光が上り試験信号光および下り試験信号光として迂回用の第２の光伝送路により伝送される。このため、下り信号光と下り試験信号光との波長の相違、および上り信号光と上り試験信号光との波長の相違を考慮する必要がなくなり、これにより光伝送路長が長い場合でも、高精度の遅延量調整が可能となる。
【００１３】
また、局側の伝送装置および加入者側の伝送装置には、迂回用の第２の光伝送路を介して、光強度が減衰された上り試験信号光および下り試験信号光が伝送される。このため、局側の伝送装置および加入者側の伝送装置では、上り試験信号光および下り試験信号光として、第１の光伝送路により伝送される上り信号光および下り信号光と同一波長の信号光を使用しているにも拘わらず、試験信号光による影響を受けることなく、第１の光伝送路により伝送された上りおよび下りの各信号光を受信することができる。したがって、第１の光伝送路により伝送された上りおよび下りの各信号光を、伝送エラー等を起こすことなく高品質に受信することが可能となる。
【００１４】
この発明の第２の態様によれば、光伝送路が第１の光伝送路から新規の第３の光伝送路に切り替えられた後、当該第３の光伝送路と迂回用の第２の光伝送路との間の光路長差を調整する際に、新規の第３の光伝送路の経路中に設けられた減衰器により上り信号光および下り信号光の光強度がそれぞれ減衰されて、この減衰された信号光が上り試験信号光および下り試験信号光として伝送される。このため、上りおよび下りの各試験信号光として、それぞれ上り信号光および下り信号光と同一波長の信号光が用いられるため、上り信号光と上り試験信号光との間、および下り信号光と下り試験信号光との間の各波長の相違を考慮する必要がなくなり、これにより光伝送路長が長い場合でも、高精度の遅延量調整が可能となる。
【００１５】
また、局側の伝送装置および加入者側の伝送装置には、上記減衰器により光強度が減衰された上り試験信号光および下り試験信号光が伝送されることになる。このため、局側の伝送装置および加入者側の伝送装置では、上り試験信号光および下り試験信号光として、それぞれ迂回用の第２の光伝送路により伝送される上り信号光および下り信号光と同一波長の信号光を使用しているにも拘わらず、試験信号光による影響を受けることなく、迂回用の第２の光伝送路により伝送された上りおよび下り信号光を受信することができる。したがって、迂回用の第２の光伝送路により伝送された上りおよび下り信号光を、伝送エラー等を起こすことなく受信することが可能となる。
【００１６】
第３の態様によれば、上り光路長差および下り光路長差の調整が終了した状態で、下り信号光減衰器および上り信号光減衰器の各減衰量が減衰前の初期値に戻されることで、新規の第３の光伝送路への切り替えに備え、迂回用の第２の光伝送路により伝送される上り試験信号光及び下り試験信号光を、十分に大きな光強度で局側および加入者側の各伝送装置に受信させることができる。
【００１７】
さらに、下り信号光減衰器および上り信号光減衰器の各減衰量が減衰前の初期値に戻されたことにより、上り光路長差および下り光路長差が大きくなったとしても、上り信号光および下り信号光に対する遅延量が再設定される。このため、迂回用の第２の光伝送路と新規の第３の光伝送路との間の上り光路長差および下り光路長差を許容範囲内に維持することが可能となる。
【００１８】
第４の態様によれば、上り信号光及び下り信号光のそれぞれについて独立して減衰量を制御することができ、さらに入力された信号光の光強度が変化しても、上り信号光及び下り信号光のレベルを常に最適な値に維持することが可能となる。
【００１９】
すなわちこの発明によれば、通信光と近接する波長を持つ試験光を使用しながら、本来の通信に影響を与えることなく、既設伝送路と迂回伝送路との間の遅延量を精度良く調整できるようにした光伝送路二重化装置及び方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】この発明の一実施形態に係る光伝送路二重化装置を含むシステム全体の構成を示すブロック図。
【図２】図１に示した光伝送路二重化装置に設けられる上り信号光路長差検出器の構成を示すブロック図。
【図３】図１に示した光伝送路二重化装置に設けられる下り信号光路長差検出器の構成を示すブロック図。
【図４】図１に示した光伝送路二重化装置に設けられる下り信号光路長差検出器および下部検出信号送信器の構成を示すブロック図。
【図５】迂回路構成ユニットにおいて、図４に示した下部検出信号送信器から送信される下部検出信号を受信するための構成を示すブロック図。
【図６】新規光ファイバに挿入される上り下り信号パワー減衰器の構成を示すブロック図。
【図７】図１に示した光伝送路二重化装置において、現用光ファイバにより通信中に当該現用光ファイバと迂回路との間の光路長差を検出する場合の動作を説明する図。
【図８】図１に示した光伝送路二重化装置において、迂回路により通信中に当該迂回路と新規光ファイバとの間の光路長差を検出する場合の動作を説明する図。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面を参照してこの発明に係わる実施形態を説明する。  
［一実施形態］
（構成）
図１は、この発明の一実施形態に係る光伝送路二重化装置の構成を含むシステム伝体の構成を示すブロック図である。  
同図において、１００は局舎内に設けられた局側伝送装置（ＯＬＴ：Optical Line Terminal）、１０１は加入者宅内に設けられた加入者側伝送装置（ＯＮＵ：Optical Network Unit）をそれぞれ示しており、この局側伝送装置１００と加入者側伝送装置１０１との間には現用光ファイバ１０２が敷設されている。
【００２２】
また、上記局舎内および加入者宅内には、それぞれ上部光分岐カプラ２０２および下部光分岐カプラ２０１が設置され、この上部光分岐カプラ２０２および下部光分岐カプラ２０１にはそれぞれ上部迂回用光ファイバ１０３および下部迂回用光ファイバ１０４が分岐結合されている。さらに局舎内には、迂回路構成ユニット１０が設置されている。この迂回路構成ユニット１０は、上記上部迂回用光ファイバ１０３と下部迂回用光ファイバ１０４との間に介挿される状態で接続されている。これらの迂回用光ファイバ１０３，１０４および迂回路構成ユニット１０により迂回路が構成される。
【００２３】
迂回路構成ユニット１０は、波長分割多重方式（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）を採用した上部ＷＤＭカプラ１１および下部ＷＤＭカプラ１５を備え、これらのＷＤＭカプラ１１，１５間には下り信号遅延ユニットおよび上り信号遅延ユニットが並列に配置されている。また迂回路構成ユニット１０は、上り信号光路長差検出器２１、下部検出信号受信器２２および制御器２３を備えている。
【００２４】
下り信号遅延ユニットは、下り信号用の光／電気変換器（以後Ｏ／Ｅと略称する）１２と下り信号用の電気／光変換器（以後Ｅ／Ｏと略称する）１３との間に下り信号可変遅延器１９を配置すると共に、Ｅ／Ｏ１３とＷＤＭカプラ１５との間に下り信号光可変減衰器１４を配置したものとなっている。一方、上り信号遅延ユニットは、上り信号用の（Ｏ／Ｅ）１６と上り信号用の（Ｅ／Ｏ）１７との間に上り信号可変遅延器２０を配置すると共に、Ｅ／Ｏ１７とＷＤＭカプラ１１との間に上り信号光可変減衰器１８を配置したものとなっている。
【００２５】
上記下り信号可変遅延器１９および上り信号可変遅延器２０は、それぞれ迂回路下り信号光および迂回路上り信号光を遅延させる機能を有する。これにより、加入者側伝送装置１０１において、現用光ケーブル１０２により伝送された下り信号光と、迂回路により伝送された迂回路下り信号光との間の信号伝搬時間差が、所定の許容範囲内になるように調整する。また局側伝送装置１００において、現用光ケーブル１０２により伝送された上り信号光と、迂回路により伝送された迂回路上り信号光との間の信号伝搬時間差が、所定の許容範囲内になるように調整する。なお、下り信号可変遅延器１９および上り信号可変遅延器２０は、例えば周知の半導体ディレイラインを用いることで実現できる。
【００２６】
下り信号光可変減衰器１４および上り信号可変減衰器１８は、それぞれ迂回路下り信号光および迂回路上り信号光の光強度を所定レベルまで減衰させ、この減衰処理後の信号光をそれぞれ下り試験信号光および上り試験信号光として出力する。下り信号光可変減衰器１４の減衰量は、加入者側の伝送装置１０１において、迂回路により伝送された迂回路下り試験信号光が現用光ケーブル１０２により伝送された下り信号光の受信品質に影響を与えない値、つまりＳ／Ｘ比が許容レベル以下になるような値に設定される。また上り信号光可変減衰器１８の減衰量は、局側の伝送装置１００において、迂回路により伝送された上り試験信号光が現用光ケーブル１０２により伝送された上り信号光の受信品質に影響を与えない値に設定される。すなわち、下りおよび上りの各減衰量とも、現用光ケーブル１０２により伝送された信号光と、迂回路から入力される試験光との強度比（ＳＸ比）が、予め設定された許容レベル以下になる値に設定される。
【００２７】
上り信号光路長差検出器２１は、現用光ファイバ１０２を介して伝送された上り信号光と、迂回路を介して伝送された上り試験信号光との間の信号伝搬時間差を検出するもので、例えば次のように構成される。図２はその構成の一例を示すものである。
【００２８】
すなわち、上り信号光路長差検出器２１は、上り光ＷＤＭカプラ２１１と、Ｏ／Ｅ２１２，２１３と、信号遅延差計測器２１４を備えている。そして、上部迂回用光ファイバ１０３により伝送された信号光を上り光ＷＤＭカプラ２１１により上り信号光２０００と上り試験信号光２００２とに分離した後、この分離された上り信号光２０００および上り試験信号光２００２をそれぞれＯ／Ｅ２１２，２１３で電気信号に変換して信号遅延差計測器２１４に入力する。信号遅延差計測器２１４は、上記入力された各電気信号間の位相差を計測することで、上記上り信号光２０００と上り試験信号光２００１との間の信号伝搬時間差、つまり現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差を検出する。そして、この検出された上り光路長差を表す上部検出信号を制御器２３に入力する。
【００２９】
一方加入者宅内には、下り信号光路長差検出器３０と、下部検出信号送信器３１が配置されている。下り信号光路長差検出器３０は、現用光ファイバ１０２を介して伝送された下り信号光と、迂回路を介して伝送された下り試験信号光との間の信号伝搬時間差を検出する。また、現用光ファイバ１０２が新規の光ファイバ１０５に切り替えられた場合には、当該新規の光ファイバ１０５を介して伝送された本線下り試験信号光と、迂回路を介して伝送された下り信号光との間の信号伝搬時間差を検出する。
【００３０】
図３は下り信号光路長差検出器３０の構成の一例を示すものであり、以下のように構成される。すなわち、下り信号光路長差検出器３０は、上記上り信号光路長差検出器２１と同様に、下り光ＷＤＭカプラ３０１と、Ｏ／Ｅ３０２，３０３と、信号遅延差計測器３０４を備えている。そして、下部迂回用光ファイバ１０４により伝送された信号光を、下り光ＷＤＭカプラ３０１により、現用光ファイバ１０２により伝送された下り信号光３０００と、迂回路を介して伝送された下り試験信号光３００１とに分離した後、この分離された下り信号光３０００および下り試験信号光３００１をそれぞれＯ／Ｅ３０３，３０４で電気信号に変換して信号遅延差計測器３０４に入力する。
【００３１】
また現用光ファイバ１０２が新規光ファイバ１０５に切り替えられた場合には、下部迂回用光ファイバ１０４により伝送された信号光を、下り光ＷＤＭカプラ３０１により、迂回路を介して伝送された迂回路下り信号光３００３と、新規光ファイバ１０５により伝送された本線下り試験信号光３００２とに分離した後、この分離された迂回路下り信号光３００３および本線下り試験信号光３００２をそれぞれＯ／Ｅ３０３，３０４で電気信号に変換して信号遅延差計測器３０４に入力する。
【００３２】
信号遅延差計測器３０４は、上記入力された各電気信号間の位相差を計測することで、上記下り信号光３０００と下り試験信号光３００１との間、および上記迂回路下り信号光３００３と本線下り試験信号光３００２との間の信号伝搬時間差を検出する。すなわち、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の下り光路長差、および新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の下り光路長差をそれぞれ検出し、その検出結果を表す下部検出信号を下部検出信号送信器３１へ出力する。
【００３３】
下部検出信号送信器３１は、例えば図４に示すようにＥ／Ｏ３１１を備える。そして、上記下り信号光路長差検出器３０から出力された下部検出信号をＥ／Ｏ３１１により信号光４０００に変換し、下部検出信号用の光ファイバ３３を介して上記下り信号光路長差検出器３０に返送する。
【００３４】
下り信号光路長差検出器３０は、図４に示すように上記下部検出信号送信器３１から返送された下部検出信号光４０００を下り光ＷＤＭカプラ３０１に導入する。そして、上記下部検出信号光４０００を、下り光ＷＤＭカプラ３０１から下部迂回用光ファイバ１０４を介して局側の迂回路構成ユニット１０へ送信する。
【００３５】
迂回路構成ユニット１０は、上記下部検出信号送信器３１から下り信号光路長差検出器３０を介して送信された下部検出信号光４０００を、例えば図５に示すように下部ＷＤＭカプラ１５により分波して下部検出信号受信器２２に入力する。下部検出信号受信器２２はＯ／Ｅを備え、上記下部検出信号送信器３１から送信された下部検出信号光４０００を当該Ｏ／Ｅにより電気信号に変換して、制御器２３に入力する。
【００３６】
制御器２３は、上記上り信号光路長差検出器２１により検出された、現用光ファイバ１０２と迂回路との間、または新規光ファイバ１０５と迂回路との間の上り光路長差に基づいて、当該上り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になるような上り遅延量を計算する。そして、この上り遅延量を設定するための遅延量制御信号を遅延制御線２４を介して上り信号可変遅延器２０に与え、当該上り信号可変遅延器２０に上記上り遅延量を設定する。
【００３７】
また制御器２３は、上記下部検出信号受信器２２から入力された下部検出信号をもとに、現用光ファイバ１０２と迂回路との間、または新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の下り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になるような下り遅延量を計算する。そして、この下り遅延量を設定するための遅延量制御信号を遅延制御線２４を介して下り信号可変遅延器１９に与え、当該下り信号可変遅延器１９に上記下り遅延量を設定する。
【００３８】
さらに制御器２３は、上記上りおよび下りの各遅延量の調整終了後、つまり上記現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差および下り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になった状態で、上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４の減衰量を初期値（ゼロ）に戻す機能も備える。
【００３９】
一方、現用光ファイバ１０２に代えて新規の光ファイバ１０５を敷設した場合、当該新規の光ファイバ１０５には上り下り信号パワー減衰器４０が介挿配置される。この上り下り信号パワー減衰器４０は、新規の光ファイバ１０５により伝送される上り信号光及び下り信号光の光強度をそれぞれ減衰させ、この減衰処理後の信号光を本線上り試験信号光及び本線下り信号光として出力するものである。
【００４０】
図６は上り下り信号パワー減衰器４０の構成を示すブロック図である。同図に示すように上り下り信号パワー減衰器４０は、ＷＤＭカプラ４１，４５間に下り信号光可変減衰器４４および上り信号光可変減衰器４８を配置している。下り信号光可変減衰器４４はＷＤＭカプラ４１により分離された下り信号光３０００の光強度を、加入者側の伝送装置１０１における迂回路下り信号光３００３の受信品質に影響を与えないレベルに減衰させ、この減衰後の信号光を本線下り試験信号光３００２として出力する。上り信号光可変減衰器４８は、ＷＤＭカプラ４５により分離された上り信号光２０００の光強度を、局側の伝送装置１００における迂回路上り信号光２００３の受信品質に影響を与えないレベルに減衰させ、この減衰後の信号光を本線上り試験信号光２００２として出力する。
【００４１】
また上り下り信号パワー減衰器４０は、ＷＤＭカプラ４１と下り信号光可変減衰器４４との間、およびＷＤＭカプラ４５と上り信号光可変減衰器４８との間に、それぞれ光分岐カプラ４２，４６を配置している。光分岐カプラ４２，４６はそれぞれ下り信号光３０００および上り信号光２０００の一部を光強度測定用として分岐し、光強度測定器４３，４７に導入する。光強度測定器４３，４７は、上記導入された下り信号光３０００および上り信号光２０００の光強度を測定し、その測定値を減衰制御器４９に入力する。
【００４２】
減衰制御器４９は、上記入力された下り信号光３０００の光強度測定値をもとに、適切な光強度を持つ本線下り試験信号光３００２が得られるような減衰量を計算し、この減衰量を上記下り信号光可変減衰器４４に設定する。またそれと共に減衰制御器４９は、上記入力された上り信号光２０００の光強度測定値をもとに、適切な光強度を持つ本線上り試験信号光２００２が得られるような減衰量を計算し、この減衰量を上記上り信号光可変減衰器４８に設定する。
【００４３】
（動作）
次に、以上のように構成された光伝送路二重化装置の動作を説明する。  
（１）現用光ファイバ１０２で通信を行っている状態で、当該現用光ファイバ１０２と迂回路との間の光路長差を調整する場合
図７はこの場合の信号光の流れを示す図である。同図において、加入者側の伝送装置１０１から送信された上り信号光２０００および局側の伝送装置１００から送信された下り信号光はいずれも現用光ファイバ１０２を介して伝送され、それぞれ局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１で受信される。
【００４４】
またそれと共に、上記加入者側の伝送装置１０１から送信された上り信号光２０００は、下部光分岐カプラ２０１で分岐された後、下部迂回用光ファイバ１０４を介して迂回路構成ユニット１０に伝送される。そして、この迂回路構成ユニット１０において、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差が所定長以下に（理想的にはゼロに）なるように遅延量の調整が行われる。
【００４５】
一方、局側の伝送装置１００から送信された下り信号光３０００は、上部光分岐カプラ２０２で分岐された後、上部迂回用光ファイバ１０３を介して迂回路構成ユニット１０に伝送される。そして、この迂回路構成ユニット１０において、上記した上りの場合と同様に、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の下り光路長差が所定長以下（理想的にはゼロ）になるように遅延量の調整が行われる。
【００４６】
以下に、上記上り光路長差および下り光路長差を所定長以下にするための遅延量の調整動作を詳しく説明する。  
先ず上り光路長差を所定長以下にするための遅延量の調整について述べる。  
上記下部迂回用光ファイバ１０４を介して迂回路構成ユニット１０に伝送された迂回路上り信号光２０００は、上り信号光可変減衰器１８により減衰されて迂回路上り試験信号光２００１となる。そして、当該迂回路上り試験信号光２００１は、現用光ファイバ１０２を介して伝送された上り信号光２０００と共に、上部迂回用光ファイバ１０３を介して上り信号光路差長検出器２１に導入される。
【００４７】
上り信号光路差長検出器２１では、上記上り信号光２０００と上り試験信号光２００１がそれぞれＯ／Ｅ２１２，２１３で電気信号に変換されたのち信号遅延差計測器２１４に入力され、この信号遅延差計測器２１４により上記上り信号光２０００と上り試験信号光２００１との間の信号伝搬時間差、つまり現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差が検出される。そして、この検出された上り光路長差を表す上部検出信号が制御器２３に入力される。
【００４８】
制御器２３では、上記上り信号光路長差検出器２１により検出された、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差に基づいて、当該上り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になるような上り遅延量が算出される。そして、遅延量制御信号が遅延制御線２４を介して上り信号可変遅延器２０に与えられる。このため、上り信号可変遅延器２０には上記上り光路長差を許容値以下（理想的にはゼロ）にするための上り遅延量が設定される。
【００４９】
この結果、局側の伝送装置１００において、迂回路により伝送された上り試験信号光２００１の位相は、現用光ファイバ１０２により伝送された上り信号光２０００の位相と一致するように遅延制御され、これにより現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差はゼロになる。このため、局側の伝送装置１００で受信される上り信号光２０００と上り試験信号光２００１との信号波形パターンは時間的に一致したものとなる。
【００５０】
また、このとき上記迂回路上り試験信号光２００１の波長は、現用光ファイバ１０２により伝送される上り信号光２０００と同一波長である。このため、上り信号光２０００と迂回路上り試験信号光２００１との波長の相違を考慮する必要がなくなり、これにより簡単且つ高精度の遅延量調整が可能となる。
【００５１】
次に、下り光路長差を所定長以下にするための遅延量の調整について述べる。  
上部迂回用光ファイバ１０３を介して迂回路構成ユニット１０に伝送された迂回路下り信号光３０００は、下り信号光可変減衰器１４により減衰されて迂回路下り試験信号光３００１となる。そして、当該迂回路下り試験信号光３００１は、現用光ファイバ１０２を介して伝送された下り信号光３０００と共に、下部迂回用光ファイバ１０４を介して下り信号光路差長検出器３０に導入される。
【００５２】
下り信号光路差長検出器３０では、上記下り信号光３０００および迂回路下り試験信号光３００１がそれぞれＯ／Ｅ３０２，３０３で電気信号に変換されたのち信号遅延差計測器３０４に入力され、この信号遅延差計測器３０４により上記下り信号光３０００と下り試験信号光３００１との間の信号伝搬時間差、つまり現用光ファイバ１０２と迂回路との間の下り光路長差が検出される。そして、この検出された下り光路長差を表す下部検出信号が、下部検出信号送信器３１により下部検出信号光４０００に変換され、下り信号光路差長検出器３０から下部迂回用光ファイバ１０４を介して局側に設けられた迂回路構成ユニット１０へ伝送される。
【００５３】
迂回路構成ユニット１０では、上記伝送された下部検出信号光４０００が、下部ＷＤＭカプラ１５により分波されて下部検出信号受信器２２に入力され、この下部検出信号受信器２２により電気信号に変換された後、制御器２３に入力される。
【００５４】
制御器２３では、上記下部検出信号受信器２２から入力された下部検出信号をもとに、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の下り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になるような下り遅延量が計算される。そして、遅延量制御信号が遅延制御線２４を介して下り信号可変遅延器１９に与えられる。このため、下り信号可変遅延器１９には上記下り光路長差を許容値以下（理想的にはゼロ）にするための下り遅延量が設定される。
【００５５】
この結果、加入者側の伝送装置１０１において、迂回路により伝送された下り試験信号光３００１の位相は、現用光ファイバ１０２により伝送された下り信号光３０００の位相と一致するように遅延制御され、これにより現用光ファイバ１０２と迂回路との間の下り光路長差はゼロになる。このため、加入者側の伝送装置１０１で受信される下り信号光３０００と下り試験信号光３００１との信号波形パターンは時間的に一致したものとなる。
【００５６】
また、このとき上記迂回路下り試験信号光３００１の波長は、現用光ファイバ１０２により伝送される下り信号光３０００と同一波長である。このため、下り信号光３０００と迂回路下り試験信号光３００１との波長の相違を考慮する必要がなくなり、これにより簡単に高精度の遅延量調整が可能となる。
【００５７】
ところで、迂回路構成ユニット１０では、上記上り信号光２０００および下り信号光３０００の光強度が、それぞれ上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４により減衰される。そして、この減衰された後の上り信号光が迂回路上り試験信号光２００１として出力され、上部光迂回用光ファイバ１０３および上部光分岐カプラ２０２を介して局側の伝送装置１００に伝送される。また、上記減衰された後の下り信号光が迂回路下り試験信号光３００１として出力され、下部光迂回用光ファイバ１０４および下部光分岐カプラ２０１を介して加入者側の伝送装置１０１に伝送される。
【００５８】
このとき、上記上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４による減衰量は、迂回路により伝送された迂回路上り試験信号光２００１および迂回路下り試験信号光３００１が現用光ケーブル１０２により伝送された上り信号光および下り信号光の受信品質に影響を与えない値に設定されている。したがって、迂回路上り試験信号光２００１および迂回路下り試験信号光３００１として、それぞれ現用光ファイバ１０２により伝送される上り信号光２０００および下り信号光３０００と同一波長の信号光を使用しているにも拘わらず、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１ではいずれも試験信号光による影響を受けることなく現用光ファイバ１０２により伝送された信号光を受信することができる。
【００５９】
（２）迂回路により通信を継続している状態で、現用光ファイバ１０２を新規の光ファイバ１０５に切り替えた場合の光路長差の調整
上記（１）による調整により、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の上り光路長差および下り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）に調整されると、制御器２３は、上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４の減衰量を初期値（ゼロ）に戻す。この結果、局側の伝送装置１００と加入者側の伝送装置１０１との間の光通信は、迂回路を介して維持される。
【００６０】
なお、上記上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４の減衰量が初期値に戻されると、当該各減衰器１８，１４が試験信号に与える遅延時間が変化することが考えられる。しかしこの場合、上り信号光路差長検出器２１および下り信号光路長差検出器３０と制御器２３とにより構成されるフィードバック制御により、上り信号可変遅延器１８および下り信号可変遅延器１４の遅延量が調整し直される。このため、上り光路長差および下り光路長差はそれぞれ許容範囲内に維持される。
【００６１】
この状態で保守員が現用光ファイバ１０２を新規の光ファイバ１０５に切り替えると、迂回路と当該新規の光ファイバ１０５との間の光路長差を許容値以下（理想的にはゼロ）に調整するための動作が開始される。図８はこの場合の信号光の流れを示す図である。
【００６２】
同図において、新規の光ファイバ１０５の経路中には上り下り信号パワー減衰器４０が介挿配置されており、この上り下り信号パワー減衰器４０では図６に示したように減衰制御器４９の制御の下、下り信号光可変減衰器４４および上り信号光可変減衰器４８に対し予め設定された減衰量が設定される。
【００６３】
このため、加入者側の伝送装置１０１から送信された上り信号光２０００および局側の伝送装置１００から送信された下り信号光３０００はそれぞれ上り下り信号パワー減衰器４０の上り信号光可変減衰器４８および下り信号光可変減衰器４４により減衰され、この減衰後の信号光が本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２となってそれぞれ局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１へ伝送される。
【００６４】
また、上記上り信号光可変減衰器４８および下り信号光可変減衰器４４の減衰量は、それぞれ光強度測定器４７，４３により測定された上り信号光２０００および下り信号光３０００の光強度に応じてさらに可変制御される。このため、本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２の光強度は、それぞれ局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１において、迂回路を介して伝送された上り信号光２０００および下り信号光３０００の受信品質に伝送エラーなどの悪影響を与えない適切なレベルに設定される。
【００６５】
さて、この状態で迂回路構成ユニット１０では、当該迂回路構成ユニット１０を通過した迂回路上り信号光２００３と、新規の光ファイバ１０５を介して伝送された本線上り試験信号光２００２が、上部迂回用光ファイバ１０３を介して上り信号光路差長検出器２１に導入される。
【００６６】
上り信号光路差長検出器２１では、上記迂回路上り信号光２００３および本線上り試験信号光２００２がそれぞれＯ／Ｅ２１２，２１３で電気信号に変換されたのち信号遅延差計測器２１４に入力され、この信号遅延差計測器２１４により上記迂回路上り信号光２００３と本線上り試験信号光２００２との間の信号伝搬時間差、つまり新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の上り光路長差が検出される。そして、この検出された上り光路長差を表す上部検出信号が制御器２３に入力される。
【００６７】
制御器２３では、上記上り信号光路長差検出器２１により検出された、新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の上り光路長差に基づいて、当該上り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になるような上り遅延量が算出される。そして、遅延量制御信号が遅延制御線２４を介して上り信号可変遅延器２０に与えられる。このため、上り信号可変遅延器２０には上記上り光路長差を許容値以下（理想的にはゼロ）にするための上り遅延量が設定される。
【００６８】
この結果、局側の伝送装置１００において、新規の光ファイバ１０５により伝送された本線上り試験信号光２００２の位相は、迂回路により伝送された迂回路上り信号光２００３の位相と一致するように遅延制御され、これにより新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の上り光路長差はゼロになる。
【００６９】
また、このとき上記本線上り試験信号光２００２の波長は、迂回路により伝送される迂回路上り信号光２００３と同一波長である。このため、本線上り試験信号光２００２と迂回路上り信号光２００３との波長の相違を考慮する必要がなくなり、これにより簡単且つ高精度の遅延量調整が可能となる。
【００７０】
一方、新規の光ファイバ１０５上において上り下り信号パワー減衰器４０により光強度が減衰された本線下り試験信号光３００２と、迂回路を経由して伝送された迂回路下り信号光３００３は、下部迂回用光ファイバ１０４を介して下り信号光路差長検出器３０に導入される。
【００７１】
下り信号光路差長検出器３０では、上記迂回路下り信号光３００３および本線下り試験信号光３００２がそれぞれＯ／Ｅ３０２，３０３で電気信号に変換されたのち信号遅延差計測器３０４に入力され、この信号遅延差計測器３０４により上記迂回路下り信号光３００３と本線下り試験信号光３００２との間の信号伝搬時間差、つまり新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の下り光路長差が検出される。そして、この検出された下り光路長差を表す下部検出信号が、下部検出信号送信器３１により下部検出信号光４０００に変換され、下り信号光路差長検出器３０から下部迂回用光ファイバ１０４を介して局側に設けられた迂回路構成ユニット１０へ伝送される。
【００７２】
迂回路構成ユニット１０では、上記伝送された下部検出信号光４０００が、下部ＷＤＭカプラ１５により分波されて下部検出信号受信器２２に入力され、この下部検出信号受信器２２により電気信号に変換された後、制御器２３に入力される。
【００７３】
制御器２３では、上記下部検出信号受信器２２から入力された下部検出信号をもとに、新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の下り光路長差が許容値以下（理想的にはゼロ）になるような下り遅延量が計算される。そして、遅延量制御信号が遅延制御線２４を介して下り信号可変遅延器１９に与えられる。このため、下り信号可変遅延器１９には上記下り光路長差を許容値以下（理想的にはゼロ）にするための下り遅延量が設定される。
【００７４】
この結果、加入者側の伝送装置１０１において、新規の光ファイバ１０５により伝送された本線下り試験信号光３００２の位相は、迂回路により伝送された迂回路下り信号光３００３の位相と一致するように遅延制御され、これにより新規の光ファイバ１０５と迂回路との間の下り光路長差はゼロになる。
【００７５】
また、このとき上記本線下り試験信号光３００２の波長は、迂回路により伝送される迂回路下り信号光３００３と同一波長である。このため、迂回路下り信号光３００３と本線下り試験信号光３００２との波長の相違を考慮する必要がなくなり、これにより簡単に高精度の遅延量調整が可能となる。
【００７６】
さらに、先に述べたように本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２は、それぞれ上り下り信号パワー減衰器４０により光強度が減衰された後、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１へ伝送される。このため、本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２は、それぞれ迂回路上り信号光２００３および迂回路下り信号光３００３と同一波長の信号光を使用しているにも拘わらず、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１ではいずれも本線試験信号光による影響を受けることなく迂回路により伝送された信号光を受信することができる。
【００７７】
上記した上りおよび下りの各光路長差の調整が終了すると、上り下り信号パワー減衰器４０を取り外す。或いは上り下り信号パワー減衰器４０の減衰量をゼロに設定する。なお、このとき上り下り信号パワー減衰器４０が有する遅延時間だけ減算した設定遅延時間を上り信号可変遅延器２０および下り信号可変遅延器１９に設定する。
【００７８】
この結果、本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２は、それぞれ迂回路上り信号光２００３および迂回路下り信号光３００３と位相が一致した状態を維持した上で、光強度が迂回路上り信号光２００３および迂回路下り信号光３００３と同程度に設定される。そして、この状態で迂回路を切り離すことで、現用光ファイバ１０２から新規の光ファイバ１０５への無瞬断による切り替えが完了する。
【００７９】
（実施形態の効果）
以上詳述したように一実施形態では、現用光ファイバ１０２と迂回路との間の光路長差を一致させるための遅延制御を行う際に、迂回路構成ユニット１０において、加入者側の伝送装置１０１から送信された上り信号光２０００および局側の伝送装置１００から送信された下り信号光３０００の光強度を、それぞれ上記上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４により減衰させて、この減衰された信号光を迂回路上り試験信号光２００１および迂回路下り試験信号光３００１として伝送するようにしている。このため、下り信号光３０００と迂回路下り試験信号光３００１との波長の相違を考慮することなく、また上り信号光２０００と上り試験信号光２００１との波長の相違を考慮することなく、簡単且つ高精度の遅延量調整が可能となる。
【００８０】
また、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１には、上記迂回路構成ユニット１０により光強度が減衰された迂回路上り試験信号光２００１および迂回路下り試験信号光３００１が伝送されることになる。このため、迂回路上り試験信号光２００１および迂回路下り試験信号光３００１として、それぞれ現用光ファイバ１０２により伝送される上り信号光２０００および下り信号光３０００と同一波長の信号光を使用しているにも拘わらず、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１ではいずれも試験信号光による影響を受けることなく現用光ファイバ１０２により伝送された信号光を受信することができる。
【００８１】
一方、現用光ファイバ１０２から切り替えた新規の光ファイバ１０５と、迂回路との間の光路長差を一致させるための遅延制御を行う際に、新規の光ファイバ１０５の経路中に設けた上り下り信号パワー減衰器４０において、加入者側の伝送装置１０１から送信された上り信号光２０００および局側の伝送装置１００から送信された下り信号光３０００の光強度を、それぞれ上り信号光可変減衰器４８および下り信号光可変減衰器４４により減衰させて、この減衰された信号光を本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２として伝送するようにしている。このため、上りおよび下りの各試験信号光として、それぞれ迂回路上り信号光２００３および迂回路下り信号光３００３と同一波長の試験信号光が用いられるため、迂回路上り信号光２００３と本線上り試験信号光２００２との間、および迂回路下り信号光３００３と本線下り試験信号光３００２との間の各波長の相違を考慮する必要がなくなり、簡単に高精度の遅延量調整が可能となる。
【００８２】
また、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１には、上記上り下り信号パワー減衰器４０により光強度が減衰された本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２が伝送されることになる。このため、本線上り試験信号光２００２および本線下り試験信号光３００２として、それぞれ迂回路により伝送される迂回路上り信号光２００３および迂回路下り信号光３００３と同一波長の信号光を使用しているにも拘わらず、局側の伝送装置１００および加入者側の伝送装置１０１ではいずれも試験信号光による影響を受けることなく迂回路により伝送された信号光を受信することができる。
【００８３】
［他の実施形態］
前記実施形態では、迂回路構成ユニット１０において、制御器２３から上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４に対し予め設定された減衰量を設定するようにした。しかし、上り信号光可変減衰器１８および下り信号光可変減衰器１４に入力される直前の上り信号光および下り信号光の光強度を測定し、その測定値に応じて最適な減衰量を可変設定するようにしてもよい。
【００８４】
その他、迂回路構成ユニットや上りおよび下りの各光路長差検出器、上り下り信号パワー減衰器の構成や光路長差の調整手順と調整内容等についても、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。
【００８５】
要するにこの発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【符号の説明】
【００８６】
１０…迂回路構成ユニット、１１…上部ＷＤＭカプラ、１２，２１２，３０２……下り信号光／電気変換器（Ｏ／Ｅ）、１３，３１１…下り信号電気／光変換器（Ｅ／Ｏ）、１４…下り信号光可変減衰器、１５…下部ＷＤＭカプラ、１６，２１３，３０３…上り信号光／電気変換器（Ｏ／Ｅ）、１７…上り信号電気／光変換器（Ｅ／Ｏ）、１８…上り信号光可変減衰器、１９…下り信号可変遅延器、２０…上り信号可変遅延器、２１…上り信号光路長差検出器、２２…下部検出信号受信器、２３…制御器、３０…下り信号光路長差検出器、３１…下部検出信号送信器、３３…下部検出信号伝送用光ファイバ、４０…上り下り信号パワー減衰器、４１，４５…ＷＤＭカプラ、４２，４６…光分岐カプラ、４３，４７…光強度測定器、４４…下り信号光可変減衰器、４８…上り信号光可変減衰器、４９…減衰制御器、１００…局側伝送装置、１０１…加入者側伝送装置、１０２…現用光ファイバ、１０３…上部迂回用光ファイバ、１０４…下部迂回用光ファイバ、２０１…下部光分岐カプラ、２０２…上部光分岐カプラ、２１１…上り光ＷＤＭカプラ、２１４，３０４…信号遅延差計測器、３０１…下り光ＷＤＭカプラ、２０００…上り信号光、２００１…迂回路上り試験信号光、２００２…本線上り試験信号光、２００３…迂回路上り信号光、３０００…下り信号光、３００１…迂回路下り試験信号光、３００２…本線下り試験信号光、３００３…迂回路下り信号光、４０００…下部検出信号光。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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