(57)【要約】【課題】ΔＨを確実に測定する。【解決手段】ΔＨ測定装置１０は、測定対象の平板状の磁性体９０が配置可能な磁性体配置領域２００を内側に形成する環状導体２０と、該環状導体２０に接続し、高周波信号の入出力に用いる検出用導体３０と、を備える。磁性体９０は、磁性体配置領域２００に配置されている。検出用導体３０から高周波信号を入力し、反射特性を取得する。反射特性から基本波のピーク周波数を検出する。基本波のピーク周波数からΔＨを算出する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の磁性体が配置可能な領域を内側に形成する環状導体と、
該環状導体に接続し、高周波信号の入出力に用いる検出用導体と、
を備えたΔＨ測定装置。
【請求項２】
前記環状導体および前記検出用導体は、誘電体基板の表面に形成されている、
請求項１に記載のΔＨ測定装置。
【請求項３】
環状導体の内側に、測定対象の磁性体を配置する工程と、
前記環状導体に高周波信号を印加する工程と、
前記環状導体に印加した高周波信号の反射特性を検出する工程と、
前記反射特性から前記磁性体のΔＨに依存するピーク周波数を検出する工程と、
前記ピーク周波数からΔＨを算出する工程と、
を有する、ΔＨ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁性体のΔＨを測定するΔＨ測定装置、およびΔＨ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、磁性体のΔＨを測定する装置が考案されている。例えば、非特許文献１には、ストリップライン共振器を用いたΔＨの測定装置が記載されている。
【０００３】
非特許文献１に記載のΔＨ測定装置は、ストリップラインを構成する導体上に、ΔＨの測定対象である磁性体を配置している。そして、ストリップラインに検出用の高周波信号を流し、磁性体を含む共振回路の共振特性によって、磁性体のΔＨを測定している。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【特許文献１】ＪＩＳ規格  Ｃ２５６５
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、非特許文献１に記載のΔＨ測定装置では、導体のロスが大きく、低いΔＨの測定が困難である。例えば、ΔＨが２０［Ｏｅ］以下の場合、殆ど測定を行うことができない。
【０００６】
また、非特許文献１に記載のΔＨ測定装置と同様の構造として、入力用のマイクロストリップライン用の導体と出力用のマイクロストリップライン用の導体を磁性体に当接させた構造のものも考えられる。このΔＨ測定装置では、高周波信号の通過特性からΔＨを測定する。
【０００７】
図５は、従来のΔＨ測定装置を用いた場合の通過特性を示すグラフである。従来のΔＨ測定装置では、基本波の周波数を表す通過特性上のピークを検出することによって、ΔＨを算出している。
【０００８】
しかしながら、平板状の磁性体は、基本波を通過させるだけでなく、各種の不要波が発生する。したがって、これら不要波の周波数によるピークが通過特性に現れる。
【０００９】
そして、図５に示すように、従来のΔＨ測定装置では、周波数軸において、基本波のピークの近傍に多くの不要波のピークが存在してしまう。したがって、基本波のピーク、すなわち、基本波の周波数を容易に検出することができない。このため、ΔＨを測定することが容易ではない。
【００１０】
本発明の目的は、ΔＨを確実に測定可能なΔＨ測定装置、ΔＨ測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この発明のΔＨ測定装置は、測定対象の平板状の磁性体が配置可能な領域を内側に形成する環状導体と、該環状導体に接続し、高周波信号の入出力に用いる検出用導体と、を備える。
【００１２】
この構成では、ΔＨの検出用の高周波信号を低損失で入出力でき、不要波の発生を抑制できる。したがって、基本波のピークを確実に検出でき、ΔＨを確実に測定することができる。
【００１３】
また、この発明のΔＨ測定装置では、環状導体および検出用導体は、誘電体基板の表面に形成されていることが好ましい。
【００１４】
この構成では、ΔＨ測定装置を容易な形状で実現でき、磁性体を所望の位置に確実に配置して測定を行うことができる。これにより、ΔＨを確実に測定することができる。
【発明の効果】
【００１５】
この発明によれば、磁性体のΔＨを確実に測定することができる。特に、ΔＨの低い磁性体であっても、ΔＨを確実に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定装置の外観斜視図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定装置の反射特性を示すグラフである。
【図３】本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定方法のフローチャートである。
【図４】本発明の第２の実施形態に係るΔＨ測定装置の外観斜視図である。
【図５】従来のΔＨ測定装置を用いた場合の通過特性を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定装置、ΔＨ測定方法について、図を参照して説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定装置の外観斜視図である。
【００１８】
ΔＨ測定装置１０は、環状導体２０、検出用導体３０、誘電体基板４０を備える。
【００１９】
環状導体２０および検出用導体３０は、線状導体である。環状導体２０および検出用導体３０は、導電率の高い材料であることが好ましい。例えば、環状導体２０および検出用導体３０は、銅（Ｃｕ）からなる。
【００２０】
環状導体２０および検出用導体３０は、誘電体基板４０の表面に形成されている。
【００２１】
環状導体２０は、閉ループを形成しており、内側に、環状導体２０によって囲まれる磁性体配置領域２００が形成される。
【００２２】
検出用導体３０は、環状導体２０に接続されている。
【００２３】
誘電体基板４０の裏面側には、図示しないがグランド導体が配置されている。環状導体および検出用導体３０は、誘電体基板４０とグランド導体とともに、マイクロストリップラインを構成している。
【００２４】
測定対象である磁性体９０は、平板状である。磁性体９０は、磁性体配置領域２００に配置される。言い換えれば、磁性体９０は、環状導体２０によって周囲を囲まれるように、配置される。この際、磁性体９０は、環状導体２０には接触していない。
【００２５】
このような構成において、検出用導体３０から高周波信号を入力し、その反射特性を取得する。
【００２６】
図２は、本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定装置の反射特性を示すグラフである。図２に示すように、ΔＨ測定装置１０の反射特性は、ΔＨに依存する基本波の周波数ピーク以外に、不要波の周波数ピークが殆ど発生しない。すなわち、このような磁性体９０の配置を行うことで、平板状の磁性体９０であっても、不要波が殆ど発生しない。
【００２７】
さらに、ΔＨ測定装置１０の構成では、従来の構成と比較して、不要波の周波数が基本波の周波数から離間している。したがって、基本波の周波数ピークを容易に検出することができる。
【００２８】
このように、本実施形態の構成を用いることによって、磁性体９０の基本波の周波数ピークを容易に検出でき、ΔＨを確実に検出することができる。
【００２９】
このような構成からなるΔＨ測定装置では、次の方法によってΔＨを測定する。図３は、本発明の第１の実施形態に係るΔＨ測定方法のフローチャートである。
【００３０】
まず、環状導体２０の内側に、磁性体９０を配置する（Ｓ１０１）。次に、検出用導体３０から高周波信号を入力する（Ｓ１０２）。
【００３１】
次に、高周波信号の反射特性を取得する（Ｓ１０３）。反射特性とは、図２に示すように、Ｓ１１の周波数特性を意味する。
【００３２】
次に、反射特性のピーク周波数ｆｐを検出する（Ｓ１０４）。
【００３３】
次に、ピーク周波数ｆｐからΔＨを算出する（Ｓ１０５）。ピーク周波数ｆｐからΔＨを算出する方法としては、例えば、「ＷｉｄｅｂａｎｄＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＳｙｓｔｅｍｏｆ ΔＨω  ｕｓｉｎｇ  Ａｌｌ  Ｓｈｉｅｌｄｅｄ  Ｓｈｏｒｔｅｄ  Ｍｉｃｒｏｓｔｒｉｐ  Ｌｉｎｅ；Ｓ．Ｔａｋａｄａ  ａｎｄ  Ｈ．Ｓｕｚｕｋｉ」に記載の概念および数式を用いればよい。
【００３４】
このように、本実施形態の構成および方法を用いることによって、容易且つ確実に磁性体のΔＨを測定することができる。特に、本実施形態の構成および方法を用いることによって、ΔＨが低い磁性体であっても、容易且つ確実にΔＨを測定することができる。
【００３５】
次に、本発明の第２の実施形態に係るΔＨ測定装置について、図を参照して説明する。図４は、本発明の第２の実施形態に係るΔＨ測定装置の外観斜視図である。
【００３６】
本実施形態に係るΔＨ測定装置１０Ａは、環状導体２０Ａの形状が、第１の実施形態に係るΔＨ測定装置１０と異なる。
【００３７】
環状導体２０Ａは、多角形の線状導体である。このような構成であっても、第１の実施形態と同様の作用効果を得ることができる。すなわち、環状導体は、測定対象である磁性体９０を囲む閉ループを形成する形状であればよい。
【符号の説明】
【００３８】
１０，１０Ａ：ΔＨ測定装置
２０，２０Ａ：環状導体
３０：検出用導体
４０：誘電体基板
９０：磁性体
２００，２００Ａ：磁性体配置領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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