(57)【要約】【課題】蓄電デバイスの内部短絡を簡易的且つ高品質に形成可能な短絡試験装置及び該短絡試験装置を用いた短絡試験方法を提供する。【解決手段】短絡試験装置は蓄電デバイスに棒状部材が差し込まれることによって強制的に内部短絡を発生させる装置であって、棒状部材は長手方向に延在する内部空間を有すると共に、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、本体形成部の一端側に設けられ内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部とを備える。導電体は先端形成部によって溶融され先端形成部を介して外部に導出される。【選択図】図１
2016018722.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスに棒状部材が刺し込まれることによって、前記蓄電デバイスに強制的に内部短絡を発生させる短絡試験装置であって、
前記棒状部材は、
長手方向に延在する内部空間を有すると共に、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、
本体形成部の一端側に設けられ前記内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部と、
前記内部空間に配置された導電体と
を備え、
前記導電体は、前記先端形成部を介して外部に導出されることを特徴とする短絡試験装置。
【請求項２】
前記導電体を加熱する加熱部を更に備え、
前記導電体は、前記加熱部で加熱されることによって溶融し、前記先端形成部を介して外部に導出されることを特徴とする請求項１に記載の短絡試験装置。
【請求項３】
前記導電体の温度を検知する温度センサが前記内部空間に設けられていることを特徴とする請求項２に記載の短絡試験装置。
【請求項４】
前記導電体は、前記蓄電デバイスの短絡時における温度より融点が低い導電性材料から形成されていることを特徴とする請求項３に記載の短絡試験装置。
【請求項５】
前記本体形成部は他端側に内部空間を外部へ開放する開放部を有しており、
前記導電体は、前記本体形成部に沿って延在する棒形状を有し、前記開放部を介して前記内部空間に順次送り込まれることを特徴とする請求項２から４のいずれか一項に記載の短絡試験装置。
【請求項６】
前記本体形成部の側面には、前記本体形成部の前記蓄電デバイスへの刺し込み量を示す目盛が設けられていることを特徴とする請求項２から５のいずれか一項に記載の短絡試験装置。
【請求項７】
前記本体形成部の側面には、前記本体形成部の前記蓄電デバイスへの刺し込み量を規制するためのストッパが備えられていることを特徴とする請求項２から５のいずれか１項に記載の短絡試験装置。
【請求項８】
長手方向に延在する内部空間を有するとともに、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、
本体形成部の一端側に設けられ前記内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部と、
前記内部空間に配置された導電体と、
を備える短絡試験装置を、電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスに刺し込んで強制的に内部短絡を発生させる短絡試験方法であって、
前記短絡試験装置を前記蓄電デバイスに差し込む工程と、
前記導電体を前記蓄電デバイス内に突出させる工程と
を備えることを特徴とする短絡試験方法。
【請求項９】
長手方向に延在する内部空間を有するとともに、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、
本体形成部の一端側に設けられ前記内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部と、
前記内部空間に配置された導電体と、
前記導電体を加熱する加熱部と
を備える短絡試験装置を、電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスに刺し込んで強制的に内部短絡を発生させる短絡試験方法であって、
前記短絡試験装置を前記蓄電デバイスに差し込む工程と、
前記加熱部を作動させることで、前記導電体を溶融する工程と
を備えることを特徴とする短絡試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、蓄電デバイスに強制的に内部短絡を発生させる短絡試験装置、及び、該短絡試験装置を用いた短絡試験方法の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
電解質を介して配置された正負極を有する電池などの蓄電デバイスの性能評価試験として、内部短絡の発生時の振る舞いを評価する短絡試験が知られている（強制短絡法）。従来、この種の短絡試験では、実際に蓄電デバイスの内部に金属片などの導電体を混入することで、強制的に内部短絡を発生させていた。しかしながら、このような試験は、蓄電デバイスの内部に導電体を混入するために、蓄電デバイスを分解・組み付けすることが必要であるため、作業者の負担が多かった。また、蓄電デバイスの分解・組み付けには感電リスクなどが伴うなど作業上難しい面が多いため、特定の設備が整った限られた施設でのみ実施可能であった。
【０００３】
そこで、このような短絡試験を簡易的に実施する手法として、蓄電デバイスに釘などの異物を外部から刺し込んで内部短絡を発生させる、いわゆる釘刺試験が行われている。例えば特許文献１には、希ガス（アルゴンガス）を充填した容器内に収容された蓄電デバイスに対して、外側から釘を刺すことによって蓄電デバイスの内部に短絡を生じさせ、それに伴って発生したガス成分を分析する試験装置が開示されている。
【０００４】
また特許文献２には、絶縁性の棒の先端に導電性部材を設けて構成した釘を使用することで、釘刺試験の作業性を改善する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−３５１３号公報
【特許文献２】特開２０１０−２５０９５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１では、釘全体が導電性材料から構成されているため、蓄電デバイスに刺し込む途中から短絡が発生してしまう。そのため、実際の蓄電デバイスにおける内部短絡とは性質が少なからず異なってしまい、良好な精度で試験を行うことが難しい。これは、特許文献２でも先端形成部に導電体が露出しているため、同様である。
【０００７】
本発明の少なくとも一つの実施形態の目的は上述の問題点に鑑みなされたものであり、蓄電デバイスの内部短絡を簡易的且つ精度よく高品質に形成可能な短絡試験装置及び該短絡試験装置を用いた短絡試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）本発明の少なくとも一実施形態に係る短絡試験装置は上記課題を解決するために、電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスに棒状部材が刺し込まれることによって、前記蓄電デバイスに強制的に内部短絡を発生させる短絡試験装置であって、前記棒状部材は、長手方向に延在する内部空間を有すると共に、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、本体形成部の一端側に設けられ前記内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部と、前記内部空間に配置された導電体とを備え、前記導電体は、前記先端形成部を介して外部に導出されることを特徴とする。
【０００９】
上記（１）の構成によれば、棒状部材が蓄電デバイスに刺し込まれた際に、先端形成部が有する貫通口を介して内部空間から外部空間に導電体が導出されることによって、蓄電デバイスに強制的に内部短絡を発生させる。このように、本装置では、棒状部材の蓄電デバイスへの刺し込みが完了した後に導電体の導出を行うことによって、刺し込み時の影響を排することができるので、意図する内部短絡を精度よく形成することができる。
【００１０】
特に本体形成部の表面は電気絶縁性を有するため、棒状部材を単に蓄電デバイスに刺し込んだだけでは内部短絡は発生せず、導電体の導出が行われることによって初めて内部短絡が発生する。つまり、刺し込み動作によって内部短絡を発生させようとする位置を決定した後に、導電体の導出を行うことで内部短絡を発生させられる。このように本装置では、意図する位置及びタイミングで精度よく内部短絡を発生することができるので、簡易的に精度のよい短絡試験を実施することができる。
【００１１】
（２）幾つかの実施形態では、上記（１）の構成において、前記導電体を加熱する加熱部を更に備え、前記導電体は、前記加熱部で加熱されることによって溶融し、前記先端形成部を介して外部に導出される。
【００１２】
上記（２）の構成によれば、本体形成部が有する内部空間に配置された導電体を加熱部によって溶融することによって、当該溶融された導電体が貫通口を介して外部空間に導出される。この場合、導電体は低融点を有する材料から形成されるとよい。これによれば、導電体は少ない熱量で溶融可能となるため、導電体に熱量を供給する加熱部をコンパクト化することができる。また、加熱部の動作に対してレスポンスよく溶融して内部短絡を発生することができる。
【００１３】
また該導電体の周囲にある本体形成部や先端形成部は、断熱性に優れた材料であってもよい。この場合、他の要因（加熱部による加熱以外の要因）によって本体形成部の内部にある導電体が意図せずに溶解してしまうことを、効果的に防止できる。
【００１４】
（３）幾つかの実施形態では、上記（１又は２）の構成において、前記導電体の温度を検知する温度センサが前記内部空間に設けられる。
【００１５】
上記（３）の構成によれば、短絡試験の過程における導電体の温度をセンサ検知することによって、蓄電デバイスの性能評価に有用な試験データを拡充することができる。このような導電体の温度検知は、従来の評価試験では採用されておらず、蓄電デバイスの性能評価に有用な新たなパラメータとして期待される（特に、内部短絡の発生箇所に極めて近い箇所における温度検知が可能となるため、当該温度データの有用性は高いと言える）。
【００１６】
（４）幾つかの実施形態では、上記（３）の構成において、前記導電体は、前記蓄電デバイスの短絡時における温度より融点が低い導電性材料から形成されている。
【００１７】
上記（４）の構成によれば、蓄電デバイスの内部短絡による温度変化を、温度センサの検知値に基づいて精度よく推定することができる。仮に導電体の構成材料の融点が高いと、蓄電デバイスの内部短絡による温度変化と、加熱部による温度変化との判別が困難になってしまう。この態様では、導電体の構成材料として蓄電デバイスの短絡時における温度より融点が低い導電性材料を採用することにより、蓄電デバイスの内部短絡による温度変化を、加熱部による温度変化と明確に判別できるので、蓄電デバイスの内部短絡による温度変化を精度よく推定することができる。
【００１８】
（５）幾つかの実施形態では、上記（１）から（４）のいずれかの構成において、前記本体形成部は他端側に内部空間を外部へ開放する開放部を有しており、前記導電体は、前記本体形成部に沿って延在する棒形状を有し、前記開放部を介して前記内部空間に順次送り込まれる。
【００１９】
上記（５）の構成によれば、開放部を介して内部空間に対して棒状の導電体を順次送り込むことができる。これにより、例えば内部短絡の形成に比較的多くの導電体が必要な場合であっても、コンパクトな構成を維持しながら十分な量の導電体を導出させることができる。また試験を複数回にわたって行う場合には、導電体を試験毎に補充する必要がなくなるので、セッティングが容易になり、試験の効率化を図ることも可能である。
【００２０】
（６）幾つかの実施形態では、上記（１）から（５）のいずれかの構成において、前記本体形成部の側面には、前記本体形成部の前記蓄電デバイスへの刺し込み量を示す目盛が設けられている。
【００２１】
上記（６）の構成によれば、本体形成部の側面に設けられた目盛を参照することによって、本装置の刺し込み量を容易に調整することができる。
【００２２】
（７）幾つかの実施形態では、上記（１）から（５）のいずれかの構成において、前記本体形成部の側面には、前記本体形成部の前記蓄電デバイスへの刺し込み量を規制するためのストッパが備えられている。
【００２３】
上記（７）の構成によれば、本体形成部の側面に設けられたストッパによって本装置の刺し込み量が規制されるので、本装置の刺し込み量を容易に調整することができる。
【００２４】
（８）本発明の少なくとも一実施形態に係る短絡試験方法は上記課題を解決するために、長手方向に延在する内部空間を有するとともに、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、本体形成部の一端側に設けられ前記内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部と、前記内部空間に配置された導電体とを備える短絡試験装置を、電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスに刺し込んで強制的に内部短絡を発生させる短絡試験方法であって、前記短絡試験装置を前記蓄電デバイスに差し込む工程と、前記導電体を前記蓄電デバイス内に突出させる工程とを備えることを特徴とする。
【００２５】
上記（８）の方法は、上述の短絡試験装置（上記各種態様を含む）によって好適に実施可能である。
【００２６】
（９）本発明の少なくとも一実施形態に係る短絡試験方法は上記課題を解決するために、長手方向に延在する内部空間を有するとともに、表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部と、前記本体形成部の一端側に設けられ前記内部空間と外部空間とを貫通する貫通口を有する先端形成部と、前記内部空間に配置された導電体と、前記導電体を加熱する加熱部と
を備える短絡試験装置を、電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスに刺し込んで強制的に内部短絡を発生させる短絡試験方法であって、前記短絡試験装置を前記蓄電デバイスに差し込む工程と、前記加熱部を作動させることで、前記導電体を溶融する工程とを備えることを特徴とする。
【００２７】
上記（９）の方法は、上述の短絡試験装置（上記各種態様を含む）によって好適に実施可能である。
【発明の効果】
【００２８】
本発明の少なくとも一実施形態によれば、蓄電装置の内部短絡を簡易且つ精度よく形成可能な短絡試験装置及び該短絡試験装置を用いた短絡試験方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】実施例１に係る短絡試験装置の構成を示す図である。
【図２】図１のＡ−Ａ´断面図である。
【図３】短絡試験装置を用いた短絡試験システムの構成を概略的に示す模式図である。
【図４】本体形成部の側面に設けられた目盛を示す拡大図である。
【図５】他の実施形態において本体形成部の側面にストッパ５６を設けた場合を示す模式図である。
【図６】実施例１に係る短絡試験装置を用いた短絡試験方法の手順を示すフローチャートである。
【図７】実施例２に係る短絡試験装置の構成を示す断面図である。
【図８】図７に示す短絡試験装置を組み込んだ短絡試験システムを概略的に示す図である。
【図９】実施例２に係る短絡試験方法の工程を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明する。但し、実施形態として記載されている又は図面に示されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置等は、本発明の範囲をこれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
【００３１】
例えば、「ある方向に」、「ある方向に沿って」、又は、「直交」等の相対的な配置関係を表す表現は、厳密にそのような相対的配置関係を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の角度をもって相対的に傾斜している状態も表すものとする。また例えば四角形状や円筒形状等の形状を表す表現は、幾何学的に厳密な意味での四角形状や円筒形状等のみならず、同じ効果が得られる範囲で、凹凸部や面取り部等を含む形状も表すものとする。
【００３２】
一方、一の構成要素を「備える」、「具備する」、「含む」又は「有する」という表現は他の構成要素の存在を除外する排他的な表現ではない。
【００３３】
（実施例１）
図１は実施例１に係る短絡試験装置１０の構成を示す図であり、図２は図１のＡ−Ａ´断面図である。短絡試験装置１０の試験対象は、電解質を介して配置された正負極を有する蓄電デバイスであって、より具体的には、正極、負極、電解質及びセパレータが一体となって巻回された構造体がケーシングに収納されて構成される蓄電デバイスであり、本実施例では特に、充電済みのリチウムイオン電池（以下、適宜「電池」と称する）を対象とする。
【００３４】
尚、電池はリチウム二次電池の他に、代表的には鉛蓄電池、ニッケルカドミウム電池、ニッケル水素電池、電気二重層キャパシタ、リチウムイオンキャパシタ等でもあってもよいことは言うまでもない。
【００３５】
短絡試験装置１０は、異物混入やデンドライトショート等によって発生し得る内部短絡に対する安全性評価試験に用いられる装置であり、棒状部材として構成されている。図１及び図２に示されるように、短絡試験装置１０は、長手方向（軸方向）に延在する内部空間１４を有すると共に表面に電気絶縁性を持たせた本体形成部１６と、該本体形成部１６の一端側に設けられ前記内部空間１４と外部空間１５とを貫通する貫通口１７を有する先端形成部１８と、内部空間１４に設けられた導電体２０と、該導電体２０を加熱する加熱部２２と、導電体２０の温度を検知する温度センサ２４とを備える。
【００３６】
本体形成部１６は絶縁性材料から形成されており、長手方向に延在する内部空間１４を有している。本実施例では特に、本体形成部１６は、その両端側において内部空間１４が開放した略円筒形状を有している。
尚、本体形成部１６は少なくとも外表面（すなわち、短絡試験装置１０を電池に刺し込んだ際に電池側と接触する領域）が絶縁性材料から形成されていれば足りる。
【００３７】
先端形成部１８は、本体形成部１６の一端側に形成されており、該一端側で内部空間１４を塞いでいる。先端形成部１８は例えばセラミックなどの絶縁性の多孔質材料から形成されており、多数の貫通口１７を有している。尚、本実施例では貫通口１７を多数有する多孔質であるセラミックを例示しているが、このような貫通口１７は少なくとも１つあれば足りる。このように先端形成部１８は本体形成部１６とは異なる構成要素として構成されており、内部空間１４において溶融した導電体２０が先端形成部１８にある微細な穴を介して、外部側（すなわち、短絡試験装置１０が刺し込まれた電池１２の内部側）に導出されるように構成されている。
【００３８】
また先端形成部１８の外表面は、短絡試験装置１０が電池１２の表面に刺し込みやすいように、先端になるに連れて径が小さく鋭利に加工されている。
【００３９】
このように先端形成部１８によって閉じられている内部空間１４には、加熱部２２によって溶融可能な導電体２０が収納されている。導電体２０は低融点を有する金属又は合金であることが好ましく、例えば鉛−錫合金（融点１８３℃）などの一般的な半田や、錫−銀−銅（融点：２２０℃）、錫−亜鉛−ビスマス合金（融点：１８３℃）、錫−亜鉛−アルミニウム合金（融点：１９９℃）などの鉛フリー半田が好ましい。
【００４０】
尚、このような低融点材料から形成される導電体２０が、加熱部２２による熱量以外の要因によって不用意に溶解しないように、導電体２０の周囲にある本体形成部１６や先端形成部１８は、断熱性を兼ね備えた材料であることが好ましい。
【００４１】
加熱部２２は抵抗体などのヒータであって、内部空間１４を介して外部電源２３から供給される電力によって発熱することで、同じ内部空間１４に収納されている導電体２０に熱量を供給する。外部電源２３にはＯＮ／ＯＦＦのスイッチが設けられており、手動又は自動でスイッチ切替が行われることにより、所定タイミングで導電体２０の加熱状態が制御可能に構成されている。
【００４２】
導電体２０は、加熱部２２から供給された熱量によって温度が上昇し、溶解する。加熱部によって加熱されることにより溶融した導電体２０は、先端形成部１８が有する貫通口１７を介して、内部空間１４から外部空間１５に導出される。本実施例では特に、導電体２０は低融点材料から形成されているため、より少ない熱量で溶融可能である。これにより、導電体２０に熱量を供給する加熱部２２をコンパクトに形成することができる。また、加熱部２２の作動に対する導電体２０の溶解レスポンスを良好に得ることができる。
【００４３】
温度センサ２４は、例えば熱電対等の温度測定素子であって、内部空間１４を介して外部の温度計測機２５に電気信号線２６を介して接続されている。温度計測機２５は、温度センサ２４の検知値を評価データの一種としてリアルタイムに蓄積する。このようなリアルタイムな温度評価は従来の評価試験では困難であり、有用な新たな評価パラメータとして期待される（特に、内部短絡の発生箇所に極めて近い箇所で温度検知が可能となるため、当該温度データの有用性は高いと言える。また、絶縁材の内側にあったとしても、事前に計測などにより求められた補正係数により検出温度に補正をかけることにより、内部短絡の発生箇所に極めて近い箇所の温度を検出することが出来る）。
【００４４】
更に、導電体２０を形成する低融点材料は、該装置１０を電池１２に刺し込んで内部短絡が発生した際の発熱温度より低い融点を有していることが好ましい。仮に導電体２０の構成材料の融点が高いと、電池の内部短絡によって生じる温度変化と、加熱部２２の作動による温度変化との判別が困難になってしまい、温度センサ２４の検知値に基づいた内部短絡の適切な評価が困難になってしまう。そこで、本実施例では、導電体２０の構成材料として電池１２の内部短絡発生時における発熱温度より融点が低い導電性材料を採用することにより、電池１２の内部短絡による温度変化を、加熱部２２による温度変化と明確に判別し、精度の良い評価ができるようになっている。
【００４５】
続いて、このような構成を有する短絡試験装置１０を用いた短絡試験の具体的内容について説明する。図３は短絡試験装置１０を用いた短絡試験システム５０の構成を概略的に示す模式図である。尚、図３（ａ）は初期状態を示しており、図３（ｂ）はオペレータの操作によって短絡試験装置１０が電池１２に刺し込まれた状態を示している。
【００４６】
まず図３（ａ）に示すように、短絡試験システム５０は、先端形成部１８が電池１２の表面に対向するように短絡試験装置１０をクランプ構造などで支持する支持部５２と、該支持部５２を軸方向に沿って往復動可能に構成されたシリンダ部５４とを備えている。本実施形態では特に、下方に設置された電池１２の水平方向に沿った上面１２ａに短絡試験装置１０を刺し込めるように、短絡試験装置１０は該上面１２ａに対して垂直方向に支持されている。
この例では、支持部５２は本体形成部１６を一点のみで支持している場合を示しているが、安定性が増すように複数の支持点を有していてもよい。
【００４７】
シリンダ部５４は例えば油圧式であり、オペレータによって外部に配置された作動ボタン（不図示）を操作することによって制御可能に構成されている。例えば操作ボタンとしてＯＮ／ＯＦＦの２種類のスイッチが用意されている場合、オペレータがＯＮ操作を行うと、シリンダ部５４は支持部５２をシリンダ軸方向に沿って移動する。このような移動は、オペレータがＯＦＦ操作を行うまで継続され、最終的に短絡試験装置１０の先端形成部１８は、図３（ｂ）に示されるように、電池１２の内部の所定位置に配置するように刺し込まれる。
【００４８】
尚、このような先端形成部１８の位置決めは一度で成功しなかった場合には、再度ＯＮ操作及びＯＦＦ操作を繰り返すことによって微調整することも可能である。本実施形態では、本体形成部１６及び先端形成部１８は共に絶縁性材料から構成されているので、このような動作を繰り返したとしても、従来の導電性材料からなる装置（例えば金属製の釘）の場合とは異なり、意図しない短絡が生じることもない。
【００４９】
図４は本体形成部１６の側面に設けられた目盛１７を示す拡大図である。図４に示すように、本体形成部１６の側面には電池１２への刺し込み量を示す目盛１７が設けられており、オペレータはこの目盛を参照することで、装置１０の刺し込み具合を確認しながら微調整可能に構成されている。
【００５０】
図５は他の実施形態において本体形成部１６の側面にストッパ５６を設けた場合を示す模式図である。ストッパ５６は、本体形成部１６の側面に固定される固定部５６ａと、該固定部５６ａから径方向に広がるように延在する延在部５６ｂとを備えている。そのため、装置１０がシリンダ部５４の動作に伴って電池１２に刺し込まれていくと、刺し込み量が所定量に達した際に、延在部５６ｂが電池１２の表面に接触することによって、それ以上の刺し込みが規制される。このように、図５では、ストッパ５６によって本装置１０の刺し込み量が規制されるので、上述のような刺し込み量の調整を容易に行うことができる。
【００５１】
続いて図６を参照して、具体的な短絡試験方法の内容について説明する。図６は実施例１に係る短絡試験装置を用いた短絡試験方法の手順を示すフローチャートである。
【００５２】
まず図１に示す短絡試験装置１０を支持部５２に支持（固定）することによって、短絡試験システム５０のセットアップを行い、図３（ａ）に示す初期状態を形成する（ステップＳ１１）。そして、オペレータは操作ボタン（不図示）を操作することによって、シリンダ部５４を上下方向に沿ってストロークさせて、図３（ｂ）に示すように、電池１２への刺し込みを行う（ステップＳ１２）。このとき、本体形成部１６及び先端形成部１８は共に絶縁性材料から形成されているため、まだ電池１２には内部短絡は発生していない。
【００５３】
続いて、加熱部２２を作動させることで、内部空間１４に配置された導電体２０を溶融する（ステップＳ１３）。このように内部空間１４において溶融された導電体２０は、多孔質からなる先端形成部１８が有する微細な穴を介して外部（すなわち、電池１２の内部）に導出される。その結果、電池１２に内部短絡を形成することができる。
【００５４】
このように電池１２に内部短絡が形成されると、短絡試験システム５０が備える各種センサ類によって各種データの取得が行われ、試験が実施される（ステップＳ１４）。取得したデータ類は、不図示の記憶部（例えばハードディスクやメモリ等）に蓄積される。本実施形態では、内部空間１４に設置された温度センサ２４の検知値もまた前記各種データの一種として蓄積される。温度センサ２４は内部空間１４に設けられているので、電池１２の内部短絡の発生箇所に極めて近い箇所における温度検知が可能となるため、当該温度データの有用性は高いと言える。
【００５５】
このような手順に従って、短絡試験システム５０を用いた短絡試験が実施される。特に本実施形態では、本体形成部１６及び先端形成部１８は共に絶縁性材料から形成されているため、短絡試験装置１０を単に電池１２に刺し込んだ時点では内部短絡は発生せず、加熱部２２によって導電体２０を溶融させて初めて内部短絡が発生する。つまり、刺し込み動作によって内部短絡を発生させようとする位置を決定した後に、導電体２０の溶融を行うことで内部短絡を発生させる。これにより、本実施形態では、意図する位置及びタイミングで精度よく内部短絡を発生することができるので、簡易的に高品質な短絡試験を実施することができる。
【００５６】
尚、本実施形態ではオペレータの操作手順に従って短絡試験が実施されることを説明したが、このような一連の実施手順は自動制御で行ってもよいことは言うまでもない。
【００５７】
以上説明したように本実施例によれば、蓄電装置の内部短絡を簡易且つ精度よく形成可能な短絡試験装置及び該短絡試験装置を用いた短絡試験方法を提供することができる。
【００５８】
（実施例２）
図７は実施例２に係る短絡試験装置１０´の構成を示す断面図である。以下の説明では、上記実施例１と共通する構成には、共通の符号を付すこととし、重複する説明は適宜省略することとする。
【００５９】
図７に示されるように、本実施形態では、内部空間１４に配置される棒形状の導電体３０が内部空間１４に沿って延在する棒状に形成されることにより、先端形成部１８に対して連続的に供給可能に構成されている。特に導電体３０は、本体形成部１６より長く形成されることにより、内部空間１４に収納された際に、その一部が他端側において内部空間１４を外部へ開放する開放部３１から外部に突出している。導電体３０は、本体形成部１６に沿って延在する棒形状を有し、開放部３１を介して内部空間１４に順次送り込まれるように構成されている。
【００６０】
図８は図７に示す短絡試験装置１０´を組み込んだ短絡試験システム５０´を概略的に示す図であり、図９は実施例２に係る短絡試験方法の工程を示すフローチャートである。尚、図８（ａ）は初期状態を示しており、図８（ｂ）はオペレータの操作によって短絡試験装置１０´が電池１２に刺し込まれた状態を示しており、図８（ｃ）は更に導電体３０が先端形成部１８に連続供給されている状態を示している。
【００６１】
また図８（ａ）に示されるように、短絡試験システム５０´は支持部５２によって支持された短絡試験装置１０´の上部から突出した導電体３０の一部を保持する抑え板５８を備えている。抑え板５８は、シリンダ部５４にシリンダ軸に沿って可動に構成されている。導電体３０の抑え板５８への固定は、例えば導電体３０の他端側に形成されたネジ部を、抑え板５８に設けられたネジ穴に挿入することによって行われる。
【００６２】
試験を実施する際には、まず図６に示す短絡試験装置１０´を支持部５２に支持（固定）することによって、短絡試験システム５０のセットアップを行い、図８（ａ）に示す初期状態を作る（ステップＳ２１）。このとき、抑え板５８は内部空間１４に収納されている導電体３０にストレスが加わらない位置に制御されている。そして、オペレータは操作ボタン（不図示）を操作することによって、図８（ｂ）に示すように、シリンダ部５４を上下方向に沿ってストロークさせて、電池１２への刺し込みを行う（ステップＳ２２）。このとき、抑え板５８はシリンダ部５４に対して相対的に変位しないように維持されている。
【００６３】
続いて、短絡試験装置１０´が電池１２の所定位置まで刺し込まれると、加熱部２２を作動させると共に、図８（ｃ）に示すように、抑え板５８を先端形成部１６に移動させながら、導電体３０を溶融する（ステップＳ２３）。加熱部２２は内部空間１４の先端形成部１６側に設けられているので、導電体３０は先端形成部１６側から溶融して外部（電池１２の内部）に導出されていく。本実施形態では、このように先端形成部１６から溶融された導電体３０が導出される分だけ、抑え板５８で導電体３０を先端形成部１６側に送り込むことで、導電体３０を連続的に溶融することができる。
尚、本実施例では導電体を溶融せずとも上部から送り出すことにより先端形成部１６から、導電体を出すことが出来る。
【００６４】
これにより、例えば内部短絡の形成に比較的多くの導電体が必要な場合であっても、コンパクトな構成を維持しながら十分な量の導電体を溶融させることができる。その結果、電池１２に内部短絡が発生すると、短絡試験システム５０´が備える各種センサ類によって各種データの取得が行われ、不図示の記憶部（例えばハードディスクやメモリ等）に蓄積される（ステップＳ２４）。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明は、蓄電デバイスに強制的に内部短絡を発生させる短絡試験装置、及び、該短絡試験装置を用いた短絡試験方法に利用可能である。
【符号の説明】
【００６６】
１０  短絡試験装置
１２  電池
１４  内部空間
１５  外部空間
１６  本体形成部
１７  貫通口
１８  先端形成部
２０  導電体
２２  加熱部
２４  温度センサ
２６  電気信号線
３０  導電体
５０  短絡試験システム
５２  支持部
５４  シリンダ部
５６  ストッパ
５８  抑え板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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