(57)【要約】【課題】放射線検出素子ごとの感度の劣化度合を的確に算出することが可能な放射線画像撮影装置を提供する。【解決手段】放射線画像撮影装置１は、放射線検出素子７に照射された放射線の線量ｄと放射線検出素子７で生成された画像データＤとの関係を表す第一の関係と、照射された放射線の積算線量Σｄと放射線検出素子７の感度の劣化度合Ｐとの関係を表す第二の関係とを有しており、算出手段２２は、放射線検出素子７ごとに、放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の大きさに基づいて画像データＤを修正し、修正した画像データＤ＊と第一の関係に基づいて放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出し、割り出した放射線の真の線量ｄ＊を過去の積算線量Σｄoldに加算して積算線量Σｄを更新するとともに、更新した積算線量Σｄと第二の関係に基づいて放射線検出素子７ごとに感度の劣化度合Ｐを算出する。【選択図】図３
2016125910.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
二次元状に配列され、照射された放射線の線量に応じた画像データを生成する複数の放射線検出素子と、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量に基づいて当該放射線検出素子の感度の劣化度合を算出する算出手段と、
を備える放射線画像撮影装置において、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量と、当該放射線検出素子で生成された前記画像データとの関係を表す第一の関係と、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量を積算した積算線量と、前記放射線検出素子の感度の劣化度合との関係を表す第二の関係と、
を有しており、
かつ、前記積算線量を記憶する記憶手段を有しており、
前記算出手段は、前記放射線検出素子ごとに、
放射線の照射が前記画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて前記画像データを修正し、
修正した前記画像データおよび前記第一の関係に基づいて、前記放射線検出素子に照射された放射線の真の線量を割り出し、
割り出した前記放射線の真の線量を前記記憶手段から読み出した過去の前記積算線量に加算して前記積算線量を更新し、更新した前記積算線量を前記記憶手段に記憶させるとともに、
更新した前記積算線量および前記第二の関係に基づいて、前記放射線検出素子ごとに前記感度の劣化度合を算出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
【請求項２】
ＣｓＩを用いたシンチレーターを備え、
放射線の照射が前記画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて前記画像データを修正するために、ブライトバーンの発生後の経過時間と、ブライトバーンによって前記画像データが大きくなる割合との関係を表す第三の関係を有しており、
前記算出手段は、過去の撮影で前記ブライトバーンが発生した後の前記経過時間および前記第三の関係に基づいて前記割合を割り出し、割り出した前記割合に基づいて、前記放射線検出素子ごとに前記画像データを修正することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項３】
前記算出手段は、前記影響の大きさに基づいて前記放射線検出素子ごとに前記画像データを修正する際に、前記記憶手段から読み出した前記放射線検出素子ごとの前記過去の積算線量および前記第二の関係に基づいて過去の前記感度の劣化度合を割り出し、前記放射線検出素子ごとに、割り出した前記過去の感度の劣化度合に基づいて、前記放射線検出素子ごとに前記画像データを修正することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項４】
撮影の際に前記放射線検出素子に照射された放射線の線量と、撮影後に放射線が照射されない状態で当該放射線検出素子から読み出されるラグの信号値との関係を表す第四の関係を有しており、
前記算出手段は、
生成された前記画像データが飽和している前記放射線検出素子については、修正した前記画像データおよび前記第一の関係に基づいて前記放射線検出素子に照射された放射線の真の線量を割り出す代わりに、当該放射線検出素子について撮影後に読み出された前記ラグの信号値および前記第四の関係に基づいて、当該放射線検出素子に照射された放射線の線量を割り出し、
割り出した前記放射線の線量を、放射線の照射が前記画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて修正して、当該放射線検出素子に照射された放射線の真の線量を割り出すことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項５】
前記算出手段は、前記放射線検出素子ごとに算出した前記感度の劣化度合に基づいて、前記放射線検出素子ごとのゲイン補正値を補正することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項６】
前記算出手段は、前記放射線検出素子ごとに算出した前記感度の劣化度合に基づいて前記放射線検出素子ごとのゲイン補正値を補正することが必要か否かを判断し、前記ゲイン補正値の補正が必要であると判断した場合には、前記ゲイン補正値の補正が必要であることを報知することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項７】
二次元状に配列され、照射された放射線の線量に応じた画像データを生成する複数の放射線検出素子と、
通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子に照射された放射線の線量に基づいて当該放射線検出素子の感度の劣化度合を算出する算出装置と、
を備える感度劣化度合算出システムにおいて、
前記放射線画像撮影装置は生成した前記画像データを含む必要な情報を前記算出装置に送信し、
前記算出装置は、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量と、当該放射線検出素子で生成された前記画像データとの関係を表す第一の関係と、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量を積算した積算線量と、前記放射線検出素子の感度の劣化度合との関係を表す第二の関係と、
を有しており、
かつ、前記積算線量を記憶する記憶手段を有しており、
前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子ごとに、
放射線の照射が前記画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて前記画像データを修正し、
修正した前記画像データおよび前記第一の関係に基づいて、前記放射線検出素子に照射された放射線の真の線量を割り出し、
割り出した前記放射線の真の線量を前記記憶手段から読み出した過去の前記積算線量に加算して前記積算線量を更新し、更新した前記積算線量を前記記憶手段に記憶させるとともに、
更新した前記積算線量および前記第二の関係に基づいて、前記放射線検出素子ごとに前記感度の劣化度合を算出することを特徴とする感度劣化度合算出システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像撮影装置および感度劣化度合算出システムに係り、特に、二次元状に配列された放射線検出素子で画像データを生成する放射線画像撮影装置等に関する。
【背景技術】
【０００２】
二次元状に配列された複数の放射線検出素子が、患者等の被写体を介して照射された放射線を線量に応じて電気信号に変換して画像データを生成する放射線画像撮影装置（Flat Panel Detector：ＦＰＤ）が種々開発され、病院等の施設への導入が始まっている。そして、放射線検出素子には、撮影ごとにＸ線等の放射線が照射される。
【０００３】
そのため、放射線検出素子は放射線に曝されることで経年的に感度劣化が生じ、また、放射線画像撮影装置がシンチレーターを備える場合には、シンチレーターも経年的に劣化する。そのため、放射線検出素子ごとに感度の劣化がどの程度進んだか、すなわち放射線検出素子ごとの感度の劣化度合を知ることが必要になる。
【０００４】
例えば特許文献１はＸ線ＣＴ装置の例であるが、特許文献１には、アレイ型検出器の光電変換素子ごとの放射線の被曝量の積算値に基づいて各光電変換素子の劣化の程度（すなわち上記の放射線検出素子ごとの感度の劣化度合に相当する。）を把握することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平８−２６６５３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、特許文献１に記載された放射線検出素子ごとの感度の劣化度合の算出方法では、検出器の各光電変換素子からの出力（本願における画像データに相当する。）は照射された放射線の強度（線量）に比例するものであるとして、検出器の各光電変換素子の放射線の被曝量を、各光電変換素子からの出力で置き換えており、撮影ごとの各光電変換素子からの出力を積算した値を、光電変換素子ごとの放射線の被曝量の積算値としている。
【０００７】
しかしながら、特許文献１のようなＸ線ＣＴ装置ではなく、上記の放射線画像撮影装置の分野では、例えば、放射線検出素子に照射される放射線の線量が大きいと、放射線検出素子から出力される画像データが飽和（saturate）する場合があることはよく知られているが、このように画像データが飽和する場合、画像データは上記のように照射された放射線の線量に比例しなくなる。
【０００８】
また、特許文献１においてもシンチレーターに相当する蛍光素子として、ＣｓＩ（Ｔｌ）（すなわちＣｓＩ：Ｔｌ等の母体材料内に発光中心物質が付活された蛍光体）等が用いられているが、ＣｓＩを含むシンチレーターを用いた放射線画像撮影装置に強い放射線が照射されるとブライトバーン（bright burn。高輝度燃焼等ともいう。）と呼ばれる現象が生じる場合がある。そして、ブライトバーンが生じていない場合に比べて、ブライトバーンが生じた場合には、同じ線量の放射線を照射した際に放射線検出素子で生成される画像データが大きくなる。
【０００９】
特許文献１に記載されたＸ線ＣＴ装置では被写体に比較的長い時間放射線を照射するため放射線の線量率（すなわち単位時間あたりの線量）がさほど大きくないこともあり、これらの影響を考慮する必要がない可能性はある。しかし、少なくとも放射線画像撮影装置の場合には、例えば放射線を１回照射して撮影を行う際には（すなわちいわゆる単純撮影の際には）、短時間に比較的強い放射線が照射される。
【００１０】
そのため、上記のような画像データの飽和やブライトバーン等のように、比較的強い放射線が照射されることにより放射線検出素子で生成される画像データに及ぼされる影響を考慮しないと、放射線検出素子ごとの感度の劣化度合を的確に算出することができなくなる。
【００１１】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、放射線検出素子ごとの感度の劣化度合を的確に算出することが可能な放射線画像撮影装置および感度劣化度合算出システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影装置は、
二次元状に配列され、照射された放射線の線量に応じた画像データを生成する複数の放射線検出素子と、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量に基づいて当該放射線検出素子の感度の劣化度合を算出する算出手段と、
を備える放射線画像撮影装置において、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量と、当該放射線検出素子で生成された前記画像データとの関係を表す第一の関係と、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量を積算した積算線量と、前記放射線検出素子の感度の劣化度合との関係を表す第二の関係と、
を有しており、
かつ、前記積算線量を記憶する記憶手段を有しており、
前記算出手段は、前記放射線検出素子ごとに、
放射線の照射が前記画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて前記画像データを修正し、
修正した前記画像データおよび前記第一の関係に基づいて、前記放射線検出素子に照射された放射線の真の線量を割り出し、
割り出した前記放射線の真の線量を前記記憶手段から読み出した過去の前記積算線量に加算して前記積算線量を更新し、更新した前記積算線量を前記記憶手段に記憶させるとともに、
更新した前記積算線量および前記第二の関係に基づいて、前記放射線検出素子ごとに前記感度の劣化度合を算出することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明の感度劣化度合算出システムは、
二次元状に配列され、照射された放射線の線量に応じた画像データを生成する複数の放射線検出素子と、
通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子に照射された放射線の線量に基づいて当該放射線検出素子の感度の劣化度合を算出する算出装置と、
を備える感度劣化度合算出システムにおいて、
前記放射線画像撮影装置は生成した前記画像データを含む必要な情報を前記算出装置に送信し、
前記算出装置は、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量と、当該放射線検出素子で生成された前記画像データとの関係を表す第一の関係と、
前記放射線検出素子に照射された放射線の線量を積算した積算線量と、前記放射線検出素子の感度の劣化度合との関係を表す第二の関係と、
を有しており、
かつ、前記積算線量を記憶する記憶手段を有しており、
前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子ごとに、
放射線の照射が前記画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて前記画像データを修正し、
修正した前記画像データおよび前記第一の関係に基づいて、前記放射線検出素子に照射された放射線の真の線量を割り出し、
割り出した前記放射線の真の線量を前記記憶手段から読み出した過去の前記積算線量に加算して前記積算線量を更新し、更新した前記積算線量を前記記憶手段に記憶させるとともに、
更新した前記積算線量および前記第二の関係に基づいて、前記放射線検出素子ごとに前記感度の劣化度合を算出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明のような方式の放射線画像撮影装置および感度劣化度合算出システムによれば、放射線の照射が画像データに及ぼす影響の大きさに基づいて画像データを修正することで、放射線検出素子ごとの感度の劣化度合を的確に算出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本実施形態に係る放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】放射線画像撮影装置の等価回路を表すブロック図である。
【図４】非連携方式で撮影を行う際に放射線画像撮影装置の各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図５】図４に示した処理シーケンスが繰り返されてオフセットデータの読み出し処理が行われることを表すタイミングチャートである。
【図６】本実施形態に係る感度劣化度合算出システムの構成を表す図である。
【図７】（Ａ）放射線の線量と生成された画像データとの関係である第一の関係を表すグラフであり、（Ｂ）放射線の積算線量と感度の劣化度合との関係である第二の関係を表すグラフである。
【図８】ブライトバーン発生後の経過時間とブライトバーンにより画像データが大きくなる割合との関係である第三の関係を表すグラフである。
【図９】暗電荷によるオフセット分の読み出し処理を行う際に放射線画像撮影装置の各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図１０】放射線の線量とラグの信号値との関係である第四の関係を表すグラフである。
【図１１】（Ａ）単位時間あたりのラグの電荷量等の時間的推移を表すイメージ図であり、（Ｂ）（Ａ）のイメージ図にオフセットデータの読み出し処理等で各走査線にオン電圧が印加されるタイミングを重ね合わせた状態を表す図である。
【図１２】（Ａ）走査線ごとに変化するラグの信号値を表す図であり、（Ｂ）各走査線とラグの信号値との関係を表すグラフである。
【図１３】走査線のナンバーとラグの信号値の比とを対応付けた表の例を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明に係る放射線画像撮影装置および感度劣化度合算出システムの実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００１７】
なお、以下では、放射線画像撮影装置がいわゆる可搬型である場合について説明するが、支持台等と一体的に形成された、いわゆる専用機型の放射線画像撮影装置に対しても、本発明を適用することが可能である。
【００１８】
また、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレーター等を備え、照射された放射線を可視光等の他の波長の光に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレーター等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００１９】
［放射線画像撮影装置］
本実施形態に係る放射線画像撮影装置の基本的な構成について簡単に説明する。図１は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。本実施形態では、放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体状のハウジング２内にシンチレーター３やセンサー基板４等で構成されるセンサーパネルＳＰが収納されて構成されている。本実施形態では、筐体２は、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで形成されている。
【００２０】
そして、図１に示すように、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクター３９、インジケーター４０等が配置されている。また、本実施形態では、筐体２の例えば反対側の側面等に、外部装置と無線方式で通信を行うためのアンテナ４１（後述する図３参照）が設けられている。また、コネクター３９を介して外部から電力の供給を受けたり、或いは外部装置と有線方式で通信を行うこともできるようになっている。
【００２１】
また、図２に示すように、筐体２内には、基台３１が配置されており、基台３１の放射線入射面Ｒ側に、図示しない鉛の薄板等を介してセンサー基板４が設けられている。そして、センサー基板４の上面側には、照射された放射線を可視光等の光に変換するシンチレーター３がシンチレーター基板３４上に設けられ、シンチレーター３がセンサー基板４側に対向する状態で設けられている。また、基台３１の下面側には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３やバッテリー２４等が取り付けられている。
【００２２】
本実施形態では、このようにしてセンサーパネルＳＰが形成されている。また、センサーパネルＳＰと筐体２の側面との間に緩衝材３５が設けられている。なお、本実施形態では、シンチレーター３として、ＣｓＩ：Ｔｌ等の母体材料内に発光中心物質が付活された蛍光体を柱状に成長させた蛍光体の柱状結晶からなるシンチレーターが採用されている。
【００２３】
図３は、放射線画像撮影装置の等価回路を表すブロック図である。図３に示すように、放射線画像撮影装置１には、図示しないセンサー基板上に複数の放射線検出素子７が二次元状（マトリクス状）に配列されている。各放射線検出素子７は、照射された放射線の線量に応じた電荷を発生させるようになっている。
【００２４】
なお、図３に示した本実施形態に係る放射線画像撮影装置１では、シンチレーター３が設けられているため、正確には、各放射線検出素子７は、照射された放射線の線量に応じたシンチレーター３からの発光量に応じた電荷を発生させるのであるが、上記のように、本発明は直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用されるため、以下では、放射線検出素子７に放射線が照射される等の表現を用いる。しかし、このように表現したからといって、本発明を直接型の放射線画像撮影装置に適用する場合に限定する趣旨ではないことは言うまでもない。
【００２５】
各放射線検出素子７には、バイアス線９が接続されており、バイアス線９は結線１０に接続されている。そして、結線１０はバイアス電源１４に接続されており、バイアス電源１４からバイアス線９等を介して各放射線検出素子７に逆バイアス電圧が印加されるようになっている。
【００２６】
また、各放射線検出素子７には、薄膜トランジスター（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８がスイッチ素子として接続されており、ＴＦＴ８は信号線６に接続されている。また、走査駆動手段１５では、配線１５ｃを介して電源回路１５ａから供給されたオン電圧とオフ電圧がゲートドライバー１５ｂで切り替えられて走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加されるようになっている。そして、各ＴＦＴ８は、走査線５を介してオン電圧が印加されるとオン状態になって、放射線検出素子７内に蓄積された電荷を信号線６に放出させ、また、走査線５を介してオフ電圧が印加されるとオフ状態になって、放射線検出素子７と信号線６との導通を遮断して、放射線検出素子７内で発生した電荷を放射線検出素子７内に蓄積させるようになっている。
【００２７】
読み出しＩＣ１６内には複数の読み出し回路１７が設けられており、読み出し回路１７にはそれぞれ信号線６が接続されている。そして、画像データＤの生成処理の際には、放射線検出素子７から電荷が放出されると、電荷は信号線６を介して読み出し回路１７に流れ込み、増幅回路１８では流れ込んだ電荷の量に応じた電圧値が出力される。そして、相関二重サンプリング回路（図３では「ＣＤＳ」と記載されている。）１９は、増幅回路１８から出力された電圧値をアナログ値の画像データＤとして読み出して下流側に出力する。そして、出力された画像データＤはアナログマルチプレクサー２１を介してＡ／Ｄ変換器２０に順次送信され、Ａ／Ｄ変換器２０でデジタル値の画像データＤに順次変換され、記憶手段２３に出力されて順次保存されるようになっている。
【００２８】
制御手段２２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピューターや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等で構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。制御手段２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリー等で構成される記憶手段２３が接続されている。
【００２９】
また、制御手段２２には、走査駆動手段１５や読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４等の各機能部に必要な電力を供給する電源２４、アンテナ４１やコネクター３９を介する外部との無線方式や有線方式での通信を制御するための通信部２５等が接続されている。そして、制御手段２２は、画像データＤの生成処理の際には、上記のように走査駆動手段１５や読み出し回路１７等の動作を制御して、各放射線検出素子７から電荷を読み出して画像データＤを生成させるようになっている。
【００３０】
［撮影時等における処理について］
次に、放射線画像撮影装置１の撮影時等における処理について説明する。撮影の方式として、大別して、放射線画像撮影装置１が図示しない放射線照射装置と連携して撮影を行う連携方式と、放射線画像撮影装置１が放射線照射装置と連携せずに撮影を行う非連携方式とがある。各方式の場合に放射線画像撮影装置１で行われる処理等について、以下、簡単に説明する。
【００３１】
［連携方式の場合］
放射線画像撮影装置１は、図示しないコンソールから撮影開始の信号を受信すると、撮影の前処理として、各放射線検出素子７内に残存する電荷を除去する各放射線検出素子７のリセット処理等を開始する。そして、放射線技師等が、放射線を照射するために、放射線照射装置の曝射スイッチを操作（いわゆる全押し）すると、放射線照射装置は放射線画像撮影装置１に照射開始信号を送信する。
【００３２】
放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、照射開始信号を受信すると、その時点で行っている各放射線検出素子７のリセット処理を停止し、走査駆動手段１５のゲートドライバー１５ｂ（図３参照）から走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させて全てのＴＦＴ８をオフ状態にさせ、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を各放射線検出素子７内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。
【００３３】
そして、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、それと同時に、放射線照射装置に対してインターロック解除信号を送信する。そして、放射線照射装置は、インターロック解除信号を受信すると、その時点で初めて放射線画像撮影装置１に対して被写体を介して放射線を照射する。
【００３４】
［非連携方式の場合］
一方、非連携方式では、放射線画像撮影装置１と放射線照射装置との間では信号のやり取りは行われない。そのため、放射線照射装置は、放射線技師等が曝射スイッチを操作すると、その時点で即座に放射線を照射する。また、放射線画像撮影装置１は、上記の連携方式の場合のように放射線照射装置から照射開始信号が送信されてこないため、放射線照射装置から放射線が照射されるタイミングが分からない。そのため、非連携方式では、放射線画像撮影装置１は放射線の照射が開始されたことを自ら検出するように構成される場合が多い。
【００３５】
放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射開始を検出する手法としては種々の手法が開発されており、例えば国際公開第２０１１／１３５９１７号や国際公開第２０１１／１５２０９３号、特開２００９−２１９５３８号公報等に記載された方法を挙げることができる。
【００３６】
例えば国際公開第２０１１／１３５９１７号に記載されているリークデータｄleakを用いる検出手法では、放射線の照射開始前から、ゲートドライバー１５ｂから全ての走査線５にオフ電圧を印加して各ＴＦＴ８をオフ状態とした状態で読み出し回路１７に読み出し動作を行わせ、ＴＦＴ８を介して放射線検出素子７からリークした電荷をリークデータｄleakとして読み出す。
【００３７】
なお、各ＴＦＴ８をオフ状態のままにし続けると、暗電荷（暗電流等ともいう。）が各放射線検出素子７内に蓄積されてしまうため、図４に示すように、例えば、リークデータｄleakの読み出し処理（図中の「Ｌ」参照）と、ゲートドライバー１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理（図中の「Ｒ」参照）とを交互に行うように構成される。
【００３８】
また、以下では、このように非連携方式で撮影が行われ、しかも、上記のようにして読み出されたリークデータｄleakやリークデータｄleak等から算出される値に基づいて放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射開始を検出する場合について説明するが、他の手法で放射線の照射開始を検出する場合や連携方式の場合も、同様に説明される。
【００３９】
上記のように放射線技師等が曝射スイッチを操作すると、放射線照射装置から放射線が即座に照射されるが、その際、放射線画像撮影装置１で読み出されるリークデータｄleakの値も増加する。そのため、それを利用して、放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射開始を検出することができる。
【００４０】
そして、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、読み出されたリークデータｄleak等に基づいて放射線の照射開始を検出すると（図４中の「検出」参照）、各放射線検出素子７のリセット処理を停止し、上記と同様にゲートドライバー１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させて全てのＴＦＴ８をオフ状態にさせて電荷蓄積状態に移行させる。
【００４１】
［電荷蓄積状態への移行後の各処理について］
そして、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記のようにして電荷蓄積状態に移行した後、所定時間τが経過した時点で、ゲートドライバー１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加させて、各放射線検出素子７から電荷を順次放出させて、前述した画像データＤの生成処理を行うように構成される。
【００４２】
なお、図４では、放射線の照射開始の検出処理において放射線の照射開始を検出した時点またはその直前にオン電圧を印加した走査線５（図４の場合は走査線５のラインＬ４）の次にオン電圧を印加すべき走査線５（図４の場合は走査線５のラインＬ５）からオン電圧の印加を開始して画像データＤの生成処理を行う場合が記載されているが、例えば走査線５の最初のラインＬ１からオン電圧の印加を開始して画像データＤの生成処理を行うように構成することも可能である。
【００４３】
そして、上記のようにして画像データＤの生成処理を行うと、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、続けて各放射線検出素子７のリセット処理を行った後、図５に示すように、放射線が照射されない状態で、図４に示した各放射線検出素子７のリセット処理（Ｒ）やリークデータｄleakの読み出し処理（Ｌ）から画像データＤの生成処理までの処理シーケンスを繰り返して放射線検出素子７ごとにオフセットデータＯを読み出すオフセットデータＯの読み出し処理を行うように構成される。なお、オフセットデータＯの読み出し処理の場合は、図５に示したように、電荷蓄積状態に移行する前にリークデータｄleakの読み出し処理（Ｌ）を行うように構成してもよく、各放射線検出素子７のリセット処理（Ｒ）のみを行うように構成してもよい。
【００４４】
そして、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、図６に示すように、画像データＤやオフセットデータＯをコンソール５０等の画像処理装置に転送する。そして、画像処理装置で、画像データＤとオフセットデータＯとに基づいて画像処理を行って放射線画像が生成される。
【００４５】
［放射線検出素子ごとの感度の劣化度合の算出処理について］
［ベースとなる構成について］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１における放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合の算出処理について説明する。また、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の作用についてもあわせて説明する。
【００４６】
なお、以下では、放射線画像撮影装置１の制御手段２２が算出手段として放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合の算出処理を行う場合について説明する。そして、以下では、算出手段としての制御手段２２を算出手段２２と表す。しかし、例えば図６に示したように、放射線画像撮影装置１から、感度劣化度合算出システム１００におけるコンソール５０等の算出装置に生成した画像データＤを含む必要な情報を無線方式や有線方式で転送し、コンソール５０等の算出装置で、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７の感度の劣化度合の算出処理を行うように構成することも可能である。
【００４７】
放射線画像撮影装置１の算出手段２２は、図７（Ａ）に示すような、放射線検出素子７に照射された放射線の線量ｄと、当該放射線検出素子７で生成された画像データＤとの関係を表す第一の関係を予め有している。なお、図７（Ａ）中のＤlimitやｄlimitについては後で説明する。
【００４８】
具体的には、算出手段２２は、上記の第一の関係を表す関数ｄ＝ｆ１（Ｄ）を、ＲＯＭに記憶したり、或いはプログラム中に書き込む形で有しているが、例えば図７（Ａ）に示すグラフの形やテーブル等の形で有していてもよい。なお、後で説明し易いようにするために、図７（Ａ）が関数ｄ＝ｆ１（Ｄ）の逆関数Ｄ＝ｆ１−１（ｄ）の形で記載されている。
【００４９】
そして、本実施形態では、算出手段２２は、基本的には、放射線検出素子７ごとに、上記の第一の関係に基づいて、図７（Ａ）に示すように、今回の撮影時に当該放射線検出素子７で生成された画像データＤnewから当該放射線検出素子７に照射された放射線の線量ｄnewを割り出す。そして、割り出した放射線の線量ｄnewを、記憶手段２３（図３参照）やメモリー等の記憶手段に記憶されている、過去に当該放射線検出素子７に照射された放射線の積算線量Σｄoldに加算して積算線量Σｄnewを算出し、算出した放射線検出素子７ごとの放射線の積算線量Σｄnewで過去の積算線量Σｄoldを更新するようになっている。そして、算出した放射線検出素子７の放射線の積算線量Σｄを記憶手段に記憶させるようになっている。
【００５０】
また、算出手段２２は、放射線検出素子７に照射された放射線の積算線量Σｄと、放射線検出素子７の感度の劣化度合との関係を表す第二の関係を予め有している。なお、本実施形態では、算出手段２２は、実際には、図７（Ｂ）に示すような、放射線検出素子７に照射された放射線の積算線量Σｄと、放射線検出素子７の検出効率Ｐとの関係を予め有しており、以下では、図７（Ｂ）に示した関係を第二の関係として説明する。また、その場合、放射線検出素子７の感度の劣化度合は、例えば、上記の放射線検出素子７の検出効率Ｐの逆数として定義することができる。
【００５１】
そのため、図７（Ｂ）に示される放射線検出素子７の検出効率Ｐが低下するほど、放射線検出素子７の感度の劣化度合が大きいということになる。なお、以下では、上記のように、放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐの逆数として定義する場合について説明するが、それ以外の仕方で放射線検出素子７の感度の劣化度合と放射線検出素子７の検出効率Ｐとを対応付けるように構成することも可能である。
【００５２】
そして、この場合も、算出手段２２は、この第二の関係を表す関数Ｐ＝ｆ２（Σｄ）を、ＲＯＭに記憶したり、或いはプログラム中に書き込む形で有していてもよく、また、図７（Ｂ）に示すグラフの形やテーブル等の形で有していてもよい。
【００５３】
そして、算出手段２２は、上記のようにして算出した放射線検出素子７ごとの積算線量Σｄnewと上記の第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとに現在の検出効率Ｐ（すなわち検出効率Ｐnew）を算出するように構成される。
【００５４】
なお、本実施形態において放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐ（放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合の逆数に相当）は、放射線検出素子７が新品の場合（すなわち工場出荷時点）の感度に対する各時点での放射線検出素子７の感度の比で表される。そのため、放射線検出素子７が新品の場合の検出効率Ｐinitialは１．０であり、その後の各時点での放射線検出素子の検出効率Ｐは０〜１．０の範囲の数値をとる。
【００５５】
そして、図７（Ｂ）に示すように、放射線検出素子７に照射された放射線の積算線量Σｄが大きくなるほど、放射線検出素子７の検出効率Ｐが低下していき、その逆数である放射線検出素子７の感度の劣化度合は増大していく関係になる。
【００５６】
また、上記の第一の関係（後述する第三の関係や第四の関係も同様）については、放射線画像撮影装置１の使用が開始される前（すなわち工場出荷時等）に予め実験等を行って得ておく。また、第二の関係を、全ての放射線画像撮影装置１について工場出荷時等に予め実験等を行って得るように構成すると、放射線画像撮影装置１の工場出荷時等にすでに放射線検出素子７が新品の状態（すなわち検出効率Ｐinitialが１．０の状態）ではなくなってしまうため、放射線画像撮影装置１のシンチレーター３と同じ構成のシンチレーターについて実験を行う等して、その結果得られた第二の関係を各放射線画像撮影装置１に適用するように構成される。
【００５７】
［放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の大きさ等について］
しかし、前述したように、本実施形態のように放射線画像撮影装置１がＣｓＩ：Ｔｌ等からなるシンチレーター３を備えている場合、シンチレーター３に放射線が照射されるとブライトバーンが生じる場合があり、或いは、放射線検出素子７に照射される放射線の線量が大きいと、放射線検出素子７で生成される画像データＤが飽和してしまったりする場合等がある。そのため、放射線検出素子７で生成された画像データＤに上記の第一の関係（図７（Ａ）参照）を適用しても、割り出された放射線の線量ｄが、実際に放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊であるとは限らない。
【００５８】
すなわち、放射線検出素子７で生成された画像データＤを、上記のブライトバーンや飽和等のような、放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の大きさに基づいて的確に修正しないまま、上記のように単に画像データＤと第一の関係に基づいて放射線の線量ｄを割り出しても、割り出された放射線の線量ｄや積算線量Σｄに基づいて算出された放射線検出素子７ごとに感度の劣化度合の精度はあまり高くなく、放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を的確に算出することができない。
【００５９】
そこで、本実施形態では、放射線検出素子７で生成された画像データＤを、上記のブライトバーンや飽和等のような、放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の大きさに基づいて的確に修正し、修正した画像データＤ（以下、修正後の画像データＤ＊や本来の画像データＤ＊或いは単に画像データＤ＊等という。）と第一の関係に基づいて、放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出す。
【００６０】
そして、放射線検出素子７ごとに、割り出した放射線の真の線量ｄ＊を積算線量Σｄ＊に加算して積算線量Σｄ＊を更新して前記記憶手段に記憶させるとともに、更新した積算線量Σｄ＊と第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとに検出効率Ｐを算出し、その逆数として放射線検出素子７の感度の劣化度合を算出するようになっている。以下、具体的に説明する。
【００６１】
［ブライトバーンの影響］
本実施形態のように、放射線画像撮影装置１がシンチレーター３を備える間接型であり、シンチレーター３としてＣｓＩ：Ｔｌ等の母体材料内に発光中心物質が付活された蛍光体が用いられている場合、前述したように、撮影の際に、シンチレーター３に放射線が照射されるとブライトバーンと呼ばれる現象が生じる場合がある。そして、ブライトバーンが生じた場合、ブライトバーンが生じていない場合に比べると、同じ線量の放射線を照射した際に放射線検出素子で生成される画像データＤが大きくなる。そして、一旦ブライトバーンが生じると、その影響が比較的長期間持続するという特徴がある。
【００６２】
そこで、本実施形態では、算出手段２２は、図８に示すような、ブライトバーンの発生後の経過時間Ｔと、ブライトバーンによって画像データＤが大きくなる割合Ｗとの関係を表す第三の関係を予め有している。この場合も、算出手段２２は、この第三の関係を表す関数Ｗ＝ｆ３（Ｔ）を、ＲＯＭに記憶したり、或いはプログラム中に書き込む形で有しているが、例えば図８に示すグラフの形やテーブル等の形で有していてもよい。
【００６３】
なお、上記の割合Ｗは、同じ線量の放射線を照射した場合の、ブライトバーンが生じていない場合に放射線検出素子７で生成される画像データＤに対する、ブライトバーンが生じた場合に放射線検出素子７で生成される画像データＤの比で表される。そして、前述したように、ブライトバーンが生じると、ブライトバーンが生じていない場合に比べて、放射線が照射された際にシンチレーター３で生じる発光がより強くなるため、同じ線量の放射線を照射された際に放射線検出素子７で生成される画像データＤが大きくなる。そのため、上記の割合Ｗは、図８に示すように、ブライトバーンが生じた時点（Ｔ＝０）で１．０より大きい最大値Ｗ０になり、経過時間Ｔが長くなるほど低下していく関係になり、最終的に１．０に戻る。
【００６４】
また、生じるブライトバーンの強さ（すなわちＴ＝０の時点での割合Ｗの最大値Ｗ０）は、シンチレーター３に照射された放射線の線量に依存して変わる。そして、シンチレーター３に照射された放射線の線量は、その際に生成された画像データＤの大きさから分かる。そのため、図８に示したようなグラフ或いはテーブルを割合Ｗの最大値Ｗ０ごとに予め複数個用意しておく（すなわち図８の縦軸におけるＷ０の位置が異なるグラフやテーブルを予め複数個用意しておく。）。或いは、第三の関係を表す関数を、上記のＷ＝ｆ３（Ｔ）の形ではなくＷ＝ｆ３（Ｔ，Ｄ）の形で有しておくように構成することが可能である。
【００６５】
そして、本実施形態では、算出手段２２は、放射線検出素子７ごとに、前回の撮影やそれ以前の撮影でブライトバーンが発生した後の経過時間Ｔおよび第三の関係に基づいて上記の割合Ｗを割り出す。
【００６６】
その際、まず、前回の撮影の際に放射線検出素子７で生成された画像データＤを関数Ｗ＝ｆ３（Ｔ，Ｄ）に代入して、割合Ｗを算出して割り出すための関数の形を決める。或いは、前回の撮影の際に放射線検出素子７で生成された画像データＤに基づいて、複数個用意されたグラフ（図８参照）やテーブル等の中から、前回の撮影時に生成された画像データＤに対応するグラフやテーブル等を選び出して、割合Ｗを割り出すためのグラフやテーブル等の形を決める。
【００６７】
また、ブライトバーンが発生した時点は、前述した連携方式の場合には、放射線画像撮影装置１からインターロック解除信号が送信されると放射線照射装置から放射線が照射されるため、放射線画像撮影装置１からインターロック解除信号を送信した時点とすることができる。また、前述した非連携方式の場合には、放射線画像撮影装置１が放射線の照射開始を検出した時点とすることができる。
【００６８】
そして、いずれの場合も、算出手段２２は、例えばＲＴＣ（real-time clock）を参照してブライトバーンが発生するごとにその時刻を記憶しておく。そして、今回の撮影が行われて上記のようにして画像データＤの生成処理（図４参照）が行われる際、放射線検出素子７ごとに、画像データＤが生成された時刻と前回の撮影の際にブライトバーンが発生した時刻に基づいて経過時間Ｔ１を算出する。
【００６９】
そして、算出手段２２は、上記のようにして画像データＤを代入して形を決めた関数Ｗ＝ｆ３（Ｔ，Ｄ）（或いは選択したグラフやテーブル等）と算出した経過時間Ｔ１とに基づいて、図８に示すように割合Ｗ１を割り出す。なお、前回の撮影より以前の撮影（例えば前々回の撮影）で発生したブライトバーンの影響も考慮すべき場合には、上記と同様にして、過去の撮影時に生成された画像データＤに基づいて適用する関数やグラフ、テーブル等の形を決め（前回の撮影と同じ関数等とは限らない。）、また、過去の撮影でブライトバーンが発生してからの経過時間Ｔ２（図８参照）を算出し、算出した経過時間Ｔ２と上記の関数等（すなわち第三の関係）に基づいて割合Ｗ２を割り出すように構成される。
【００７０】
そして、今回の撮影で生成された画像データＤは、ブライトバーンが生じていない場合に生成されるべき本来の画像データＤ＊よりも上記の割合Ｗ分だけ値が大きくなっている。そこで、本実施形態では、算出手段２２は、放射線検出素子７ごとに、下記式（１）に従って、生成された画像データＤを割り出した割合Ｗで除算することにより画像データＤ＊を算出して画像データを修正するようになっている。
Ｄ＊＝Ｄ／Ｗ    …（１）
【００７１】
［過去の放射線の積算線量の影響］
また、今回の撮影が行われる際、各放射線検出素子７は、すでに過去に照射された放射線によって感度の劣化が生じている。すなわち、図７（Ｂ）におけるΣｄnew、ＰnewをΣｄold、Ｐoldと読み替えると分かるように、今回撮影が行われる時点で、すでに、放射線検出素子７ごとに、前回の撮影までに当該放射線検出素子７に照射された放射線の過去の積算線量Σｄoldに対応する過去の検出効率Ｐoldで感度の劣化が生じている。
【００７２】
そのため、今回の撮影で生成された画像データＤは、感度の劣化が生じていない場合（すなわち新品の場合）に生成されるべき本来の画像データＤ＊よりも上記の過去の検出効率Ｐold分だけ値が小さくなっている。
【００７３】
そこで、算出手段２２は、放射線検出素子７ごとに、記憶手段２３から過去の積算線量Σｄoldを読み出して、第二の関係を表す上記の関数Ｐ＝ｆ２（Σｄ）に代入して前回の撮影までで当該放射線検出素子７に生じている過去の検出効率Ｐoldを算出する。或いは図７（Ｂ）のグラフやテーブル等に基づいて、前回の撮影までで当該放射線検出素子７に生じている過去の検出効率Ｐoldを割り出す。
【００７４】
そして、算出手段２２は、放射線検出素子７ごとに、下記式（２）に従って、今回の撮影で生成された画像データＤを、上記のようにして割り出した前回の撮影までで当該放射線検出素子７に生じている過去の検出効率Ｐoldで除算することにより画像データＤ＊を算出して画像データを修正するようになっている。
Ｄ＊＝Ｄ／Ｐold    …（２）
【００７５】
なお、前述したように、放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合は、放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐの逆数に等しい。そして、上記（２）式を変形すれば、
Ｄ＊＝Ｄ×（１／Ｐold）    …（２）＊
と表すことができることから分かるように、上記のように、画像データＤを、前回の撮影までで当該放射線検出素子７に生じている過去の検出効率Ｐoldで除算することにより画像データＤ＊を算出して画像データを修正することは、すなわち、画像データＤに当該放射線検出素子７の過去の劣化度合１／Ｐoldを乗算することにより画像データＤ＊を算出して画像データを修正することに相当する。以下の説明においても同様である。
【００７６】
また、前述したブライトバーンの影響と上記の過去の放射線の積算線量の影響とをともに考慮して画像データＤ＊を算出する場合、下記式（３）に従って、今回の撮影で生成された画像データＤを、上記のようにして割り出した割合Ｗ（図８参照）と前回の撮影までに当該放射線検出素子７に生じている過去の検出効率Ｐold（図７（Ｂ）参照）とで除算することにより画像データＤ＊を算出して画像データを修正するように構成される。
Ｄ＊＝Ｄ／（Ｗ×Ｐold）    …（３）
【００７７】
［修正後の画像データ等に基づいて放射線の真の線量を割り出すこと等について］
本実施形態では、算出手段２２は、上記のようにして、放射線検出素子７ごとに、ブライトバーンの影響や過去の放射線の積算線量の影響を考慮して、生成された画像データＤを修正して画像データＤ＊を算出すると、上記のように第一の関係（図７（Ａ）参照）に基づいて、今回の撮影時に当該放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出す。
【００７８】
そして、算出手段２２は、割り出した放射線の真の線量ｄ＊を、記憶手段２３（図３参照）やメモリー等の記憶手段に記憶されている過去の積算線量Σｄoldに加算して積算線量Σｄnewを算出して積算線量Σｄを更新する。そして、算出手段２２は、上記のようにして算出した放射線検出素子７ごとの積算線量Σｄnewと上記の第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとに現在の検出効率Ｐnewを算出する。そして、算出した放射線検出素子７ごとの現在の検出効率Ｐnewの逆数１／Ｐnewとして放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を算出することができる。
【００７９】
［効果］
以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１や放射線画像撮影システム１００では、各放射線検出素子７で生成された画像データＤそのものを用いて放射線検出素子７ごとに感度の劣化度合を算出するのではなく、ブライトバーンや過去の放射線の積算線量Σｄ等の、放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の大きさを考慮し、それらの影響に基づいて画像データＤを修正する。そして、修正後の画像データＤ＊と第一の関係（図７（Ａ）参照）に基づいて、放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出し、割り出した放射線の真の線量ｄ＊を積算線量Σｄに加算して積算線量Σｄを更新し、更新した積算線量Σｄと第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとに検出効率Ｐnewを算出し、例えば検出効率Ｐnewの逆数として放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を算出するように構成した。
【００８０】
そのため、ブライトバーンの影響で、放射線検出素子７で生成された画像データＤが、照射された放射線の真の線量ｄ＊に対応する本来の画像データＤ＊よりも大きくなっている場合や、過去の放射線の積算線量Σｄの影響で、放射線検出素子７で生成された画像データＤが、照射された放射線の真の線量ｄ＊に対応する本来の画像データＤ＊よりも小さくなっている場合であっても、それらを適切に修正して本来の画像データＤ＊を算出し、それに第一の関係を適用することで、放射線検出素子７ごとに照射された放射線の真の線量ｄ＊を的確に割り出すことが可能となる。そのため、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１や放射線画像撮影システム１００によれば、放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnewを的確に算出して、放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を的確に算出することが可能となる。
【００８１】
［放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の大きさ等について−その２］
［画像データの飽和の影響］
一方、前述したように、放射線検出素子７に照射される放射線の線量ｄが大きいと、放射線検出素子７で生成される画像データＤが飽和する場合がある。すなわち、図７に示したように、放射線検出素子７で生成される画像データＤは、放射線検出素子７に照射される放射線の線量ｄが小さい場合には照射された放射線の線量ｄに比例する。しかし、放射線検出素子７に照射される放射線の線量ｄが非常に大きくなると、図７中に破線で示すように、放射線検出素子７で生成される画像データＤは照射された放射線の線量ｄに比例しなくなり、照射される放射線の線量ｄが増加しても、放射線検出素子７で生成される画像データＤは増加しなくなる（或いは僅かにしか増加しなくなる。）。すなわち飽和する。
【００８２】
そのため、通常、放射線画像撮影装置１の読み出し回路１７（図３参照）には、読み出し得る画像データＤの上限値Ｄlimitが設定されている。そして、図７（Ａ）に示すように、画像データＤの上限値Ｄlimitに対応する線量ｄlimit以上の線量の放射線が放射線検出素子７に照射された場合、読み出し回路１７は、当該放射線検出素子７については画像データＤとして一律に上限値Ｄlimitを生成するようになっている。
【００８３】
そのため、ある放射線検出素子７について画像データＤとしてその上限値Ｄlimitが生成された場合、その放射線検出素子７にどのような線量ｄの放射線が照射されたかは、少なくとも画像データＤ（すなわちその上限値Ｄlimit）を見ただけでは分からない。すなわち、この場合、画像データＤの上限値Ｄlimitが生成された放射線検出素子７については、第一の関係（図７（Ａ）参照）に基づいても、当該放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出すことができない。
【００８４】
そこで、本発明者らが研究を重ねたところ、画像データＤが飽和しており上限値Ｄlimitが生成された放射線検出素子７については、上記のように、修正後の画像データＤ＊と第一の関係に基づいて放射線の真の線量ｄ＊を割り出す代わりに、当該放射線検出素子７について撮影後に読み出されたオフセットデータＯに含まれるラグの信号値Ｄlagに基づいて、当該放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出すことが可能であることが分かった。
【００８５】
ここで、ラグ（lag）は、放射線画像撮影装置１に対して放射線が照射された場合に発生し、特に強い放射線が照射された場合に問題となる場合がある。放射線検出素子７に放射線が照射されると、前述したように放射線検出素子７内で電荷が発生し、その電荷が画像データＤとして読み出されて画像データＤが生成され、各放射線検出素子７内に残存した電荷は、各放射線検出素子７のリセット処理が行われることで除去される。しかし、ラグが発生すると、発生したラグは、各放射線検出素子７のリセット処理を繰り返し行っても容易には消えないことも分かっている。
【００８６】
このようにラグが容易に消えない理由は、放射線の照射により放射線検出素子７内で発生した電子や正孔の一部が、一種の準安定なエネルギーレベル（metastable state）に遷移して、放射線検出素子内での移動性を失った状態が比較的長時間保たれるためと考えられている。そして、この準安定なエネルギー状態の電子や正孔は、いつまでも準安定なエネルギーレベルにあるわけではなく、熱エネルギーによって、ある確率で少しずつこの準安定なエネルギーよりも高いと考えられるエネルギーレベルの伝導帯に遷移して移動性が復活する。しかし、その割合が必ずしも大きくないため、各放射線検出素子７のリセット処理を繰り返し行っても容易に消えないと考えられている。なお、このラグの発生や持続のメカニズムについては、まだ不明な点も多い。
【００８７】
このように、ラグは、上記のように一旦発生するとなかなか消えないため、放射線の照射後、画像データＤの生成処理（図４参照）が行われ、各放射線検出素子７のリセット処理等（図５参照）が行われた後に読み出されるオフセットデータＯ中に、ラグに基づく信号値すなわちラグの信号値Ｄlagが含まれることになる。
【００８８】
そして、画像データＤの場合と同様に、オフセットデータＯ中にも前述した暗電荷によるオフセット分ｏが含まれるため、下記（４）式に従って、放射線検出素子７ごとに読み出したオフセットデータＯから暗電荷によるオフセット分ｏを減算することで、ラグの信号値Ｄlagを算出することができる。
Ｄlag＝Ｏ−ｏ    …（４）
【００８９】
なお、暗電荷によるオフセット分ｏは、撮影前の、まだラグが発生していない状態で、前述したオフセットデータＯの読み出し処理と同じ要領で放射線検出素子７ごとに読み出して、事前に取得しておくように構成することができる。
【００９０】
すなわち、例えば図９に示すように、撮影の前処理として行っている各放射線検出素子７のリセット処理を一旦停止して、走査駆動手段１５のゲートドライバー１５ｂ（図３参照）から走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して各ＴＦＴ８をオフ状態とする電荷蓄積状態に移行させる。そして、放射線画像撮影装置１に放射線が照射されない状態で所定時間τが経過した時点で、ゲートドライバー１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加させ、各放射線検出素子７から放出された暗電荷を読み出し回路１７で読み出すことで、暗電荷によるオフセット分ｏの読み出し処理を行うことができる。そして、読み出された暗電荷によるオフセット分ｏは、例えば記憶手段２３に保存される。
【００９１】
そして、以下のようにして、ラグの信号値Ｄlagに基づいて放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出すことができる。
【００９２】
すなわち、本発明者らが、撮影の際に放射線検出素子７に照射された放射線の線量ｄと、上記（４）式に従って算出されるラグの信号値Ｄlagとの関係（以下、第四の関係という。）を調べたところ、例えば図１０に示すような関係になることが分かった。すなわち、上記のように設定された画像データＤの上限値Ｄlimitに対応する線量ｄlimit以上の線量の放射線が放射線検出素子７に照射された場合でも、照射された放射線の線量ｄが増加するとラグの信号値Ｄlagも増加する関係（すなわち単調増加の関係）にあり、照射された放射線の線量ｄとラグの信号値Ｄlagとが１：１の関係にあることが分かった。
【００９３】
そのため、上記のように、放射線検出素子７から画像データＤの上限値Ｄlimitが生成され、画像データＤ（すなわち上限値Ｄlimit）に基づいても照射された放射線の線量ｄを割り出すことができない場合であっても、そのような放射線検出素子７について読み出されたオフセットデータＯから上記（４）式に従って算出されるラグの信号値Ｄlagを用いることで、図１０に示す第四の関係に基づいて、照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出すことが可能となる。
【００９４】
そこで、本実施形態では、算出手段２２は、上記の第四の関係を、関数ｄ＝ｆ４（Ｄlag）や図１０に示すグラフやテーブル等の形で予め有している。なお、図１０では、図７（Ａ）と対比し易いように、第四の関係が、関数ｄ＝ｆ４（Ｄlag）の逆関数Ｄlag＝ｆ４−１（ｄ）の形で記載されている。
【００９５】
そして、算出手段２２は、生成された画像データＤが飽和しており上限値Ｄlimitが生成された放射線検出素子７については、上記のように修正後の画像データＤ＊と第一の関係に基づいて放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出す代わりに、当該放射線検出素子７について読み出されたオフセットデータＯに含まれるラグの信号値Ｄlagと上記の第四の関係（図１０参照）に基づいて、当該放射線検出素子７に照射された放射線の線量ｄを割り出すようになっている。
【００９６】
そして、このようにして割り出した放射線の線量ｄも、上記のブライトバーン（図８参照）や過去の放射線の積算線量Σｄ（図７（Ｂ）参照）の影響で本来の放射線の線量ｄ＊（すなわち放射線の真の線量ｄ＊）から値が変わっている。そのため、それらの影響を除去するために、算出手段２２は、上記の（１）〜（３）式と同様に、
ｄ＊＝ｄ／Ｗ    …（５）
或いは、ｄ＊＝ｄ／Ｐold    …（６）
或いは、ｄ＊＝ｄ／（Ｗ×Ｐold）    …（７）
の演算を行って、今回の撮影時に当該放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出す。
【００９７】
そして、算出手段２２は、画像データＤの上限値Ｄlimitが生成された放射線検出素子７については、上記のようにして割り出した放射線の真の線量ｄ＊を、記憶手段２３（図３参照）やメモリー等の記憶手段に記憶されている過去の積算線量Σｄoldに加算して積算線量Σｄnewを算出して積算線量Σｄを更新するとともに、算出した放射線検出素子７ごとの積算線量Σｄnewと上記の第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとに検出効率Ｐnewを算出し、その逆数として放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を算出するように構成される。
【００９８】
［効果］
以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１や放射線画像撮影システム１００によれば、上記のように構成することにより、ブライトバーンや過去の放射線の積算線量Σｄの影響だけでなく、放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響の１つとして画像データＤの飽和の影響も考慮したうえで、それらの影響を的確に除去して、放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊を割り出すことが可能となる。そして、割り出した放射線の真の線量ｄ＊で積算線量Σｄを更新し、更新した積算線量Σｄと第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとに検出効率Ｐを的確に算出し、放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合を的確に算出することが可能となる。
【００９９】
［放射線検出素子の感度の劣化度合に対するノイズ除去について］
また、上記のようにして算出された放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）にノイズが重畳される場合がある。そのため、例えば算出された検出効率Ｐnewを、各放射線検出素子７が形成する二次元状の配列（図３の破線内の配列参照）と符合するように二次元状に並べ、その状態の各検出効率Ｐnewに対してローパスフィルター処理を施して高周波成分を除去する等して、算出された検出効率Ｐnewや或いは感度の劣化度合に重畳されているノイズを除去するように構成することも可能である。
【０１００】
［放射線検出素子ごとの感度の劣化度合の活用等について］
次に、上記のようにして算出された放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）を活用する方法等について、以下、具体例を挙げて説明する。
【０１０１】
［ゲイン補正値の自動補正について］
例えば、算出手段２２は、上記のようにして算出した放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）に基づいて、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値を自動的に補正するように構成することが可能である。すなわち、よく知られているように、放射線検出素子７ごとに生成された画像データＤに対しては、下記（８）式に示すように定数ｕ、ｖを用いて画像補正が行われるが、この場合の定数ｕをゲイン補正値といい、定数ｖをオフセット補正値という。
Ｄ＊＊＝ｕ×（Ｄ−ｖ）    …（８）
【０１０２】
具体的には、このゲイン補正値ｕの自動補正を行う場合、算出手段２２は、放射線検出素子７ごとに算出した感度の劣化度合に基づいて、例えば複数の放射線検出素子７が形成する二次元状の配列における感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）の面内分布を算出する。この場合、図７（Ｂ）に示したように、照射された放射線の積算線量Σｄが大きいほど放射線検出素子７の感度は劣化する（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnewが小さくなる。）。
【０１０３】
そして、図示を省略するが、例えば患者の胸部等の撮影に用いられることが多い放射線画像撮影装置１の場合、放射線入射面Ｒ（図１参照）の中央部分に被写体である患者の胸部等が配置されて撮影される。そのため、放射線入射面Ｒの中央部分では、照射された放射線が被写体に吸収される等するため、放射線入射面Ｒの中央部分に配置された放射線検出素子７では、照射される放射線の線量ｄが小さくなる。また、放射線入射面Ｒの端部部分では、放射線が被写体である患者の胸部等を介さずに放射線入射面Ｒに直接照射される（いわゆる素抜け）。そのため、放射線入射面Ｒの端部部分に配置された放射線検出素子７では、照射される放射線の線量ｄが大きくなる。
【０１０４】
そのため、このような放射線画像撮影装置１では、二次元状に配列された複数の放射線検出素子７の感度の劣化度合の面内分布は、面内の端部部分に配列された放射線検出素子７の方が、面内の中央部分に配列された放射線検出素子７よりも、感度の劣化が進んだ状態になる。
【０１０５】
一方、図示を省略するが、例えば患者の手足等の撮影に用いられることが多い放射線画像撮影装置１の場合、放射線入射面Ｒ（図１参照）の中央部分に被写体である患者の手足等が配置されたり載置されたりして撮影されるが、その際、照射される放射線の照射野が、放射線入射面Ｒ中央の患者の手足等に絞られた状態で撮影される場合が多い。そのため、この場合は、放射線が照射されることが少ない放射線入射面Ｒの端部部分に配置された放射線検出素子７よりも、放射線入射面Ｒの中央部分に配置された放射線検出素子７の方がより頻繁に放射線の照射を受ける状態になる。
【０１０６】
そのため、この場合は、二次元状に配列された複数の放射線検出素子７の感度の劣化度合の面内分布は、面内の中央部分に配列された放射線検出素子７の方が、面内の端部部分に配列された放射線検出素子７よりも、感度の劣化が進んだ状態になり、上記の分布とは逆の分布になる。すなわち、放射線画像撮影装置１の使われ方（すなわちどのような撮影部位に対する撮影に用いられるかや、放射線が照射される際に照射野が絞られるか絞られないか等）によって、二次元状に配列された複数の放射線検出素子７の感度の劣化度合の面内分布が異なる状態になる。
【０１０７】
そこで、例えば、算出手段２２は、上記のようにして算出した放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）に基づいて、二次元状に配列された複数の放射線検出素子７の感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）の面内分布を算出し、面内分布の状態に応じて放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを自動的に補正するように構成することが可能である。
【０１０８】
具体的には、例えば、感度の劣化度合の面内分布において最も劣化が進んだ放射線検出素子７（すなわち上記の例では検出効率Ｐnewが最も小さい放射線検出素子７）と、最も劣化が進んでいない放射線検出素子７（すなわち上記の例では検出効率Ｐnewが最も大きい放射線検出素子７）とを割り出す。そして、例えば、検出効率Ｐnewの最大値と最小値との差分を算出し、算出した差分が設定された閾値以上になった場合に、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを自動的に補正するように構成することが可能である。
【０１０９】
また、例えば、感度の劣化度合（或いは検出効率Ｐnew）のばらつきに着目し、二次元状に配列された複数の放射線検出素子７で形成される上記の面を複数の領域に分割し、領域ごとに領域に属する放射線検出素子７の感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）の平均値を算出し、各領域の平均値の標準偏差（或いは分散。以下同じ。）を算出する。そして、算出した標準偏差が設定された閾値以上になった場合に、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを自動的に補正するように構成することが可能である。
【０１１０】
そして、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕの自動補正処理では、例えば、以下のようにして放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕが自動的に補正される。
【０１１１】
すなわち、現状の放射線検出素子７ごとの検出効率は上記のようにして算出された放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnewであるから、仮に放射線画像撮影装置１に同じ線量ｄの放射線が一様に照射された場合、放射線検出素子７ごとの画像データＤの大きさは、上記のようにして算出された放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnewに比例する大きさになる。そして、それを各放射線検出素子７で同じ大きさになるように画像データＤを画像補正するためには、放射線検出素子７ごとの画像データＤに、画像データＤの逆数（或いは逆数の定数倍）を乗算すればよい。
【０１１２】
そこで、算出手段２２は、上記（８）式で示した、画像データＤに乗算される放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕとして、上記のように算出された放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnewの逆数、或いは逆数の定数倍の値を算出して設定することで、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを自動的に補正するように構成される。
【０１１３】
このように構成すれば、上記のように的確に算出された放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）に基づいて、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを的確に算出して自動補正することが可能となる。そして、このようにして補正されたゲイン補正値ｕで放射線検出素子７ごとに画像データＤを補正することで、放射線検出素子７の感度の劣化が生じていても、感度劣化による画像ムラ等のない高画質の放射線画像を撮影することが可能となる。
【０１１４】
なお、上記の２つの条件（最大値と最小値との差分や標準偏差）のうち一方の条件が成立した場合にゲイン補正値ｕの自動補正処理を行うように構成してもよく、また、両方の条件が成立した場合にゲイン補正値ｕの自動補正処理を行うように構成してもよい。
【０１１５】
また、上記では、放射線画像撮影装置１の算出手段２２（すなわち本実施形態では制御手段２２）がゲイン補正値ｕの自動補正処理を行う場合について説明したが、例えば放射線画像撮影装置１からコンソール５０（図６参照）等の外部の算出装置に必要なデータ等を送信し、算出装置でゲイン補正値ｕの自動補正処理を行い、自動補正した放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを放射線画像撮影装置１に送信して設定させるように構成することも可能である。これは、下記の報知を行うように構成する場合においても同様である。
【０１１６】
［ゲイン補正値の補正が必要であることを報知することについて］
上記では、算出された放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）を活用する方法等の具体例として、放射線画像撮影装置１の算出手段２２や外部の算出装置５０が、放射線画像撮影装置１の放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを自動的に補正する場合について説明した。
【０１１７】
一方、放射線画像撮影装置１の算出手段２２や外部の算出装置５０が自ら放射線画像撮影装置１の放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕを自動的に補正する代わりに、放射線技師等のユーザーに、放射線画像撮影装置１のキャリブレーションを行ってゲイン補正値ｕを補正するように報知するように構成することも可能である。
【０１１８】
すなわち、この場合は、算出した放射線検出素子７の感度の劣化度合の面内分布における検出効率Ｐnewの最大値と最小値との差分や、上記の面を複数の領域に分割した場合の各領域の放射線検出素子７の感度の劣化度合（或いは検出効率Ｐnew）の平均値の標準偏差を算出し、算出した差分や標準偏差が設定された閾値以上になった場合に、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕの補正が必要であると判断する。
【０１１９】
そして、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕの補正が必要であると判断した場合には、例えば放射線画像撮影装置１のインジケーター４０を所定の色や点灯・点滅等の仕方で発光させたり、図示しないスピーカーから所定の音声を発声させたり、或いは放射線画像撮影装置１からコンソール５０等に信号や情報等を送信してコンソール５０等の画面に表示したり音声を発生させる等して、放射線技師等のユーザーに、放射線画像撮影装置１のキャリブレーションを行ってゲイン補正値ｕの補正を行うことが必要であることを報知するように構成することが可能である。
【０１２０】
このように構成すれば、上記のように的確に算出された放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）に基づいて、放射線検出素子７ごとのゲイン補正値ｕの補正が必要であるか否かを的確に判断することが可能となり、ゲイン補正値ｕの補正が必要な場合には、放射線技師等のユーザーにその旨を的確に報知して、ゲイン補正値ｕの補正を的確に行わせることが可能となる。
【０１２１】
そして、ユーザーに補正されたゲイン補正値ｕを放射線検出素子７ごとに設定させることで、放射線検出素子７の感度の劣化が生じていても、感度劣化による画像ムラ等のない高画質の放射線画像を撮影することが可能となる。また、まだゲイン補正値ｕの補正が必要でない場合には、放射線技師等のユーザーが放射線画像撮影装置１のキャリブレーションを行わなくて済むため、不要なキャリブレーションが行われることを的確に防止して、適切なタイミングでキャリブレーションを行わせることが可能となる。
【０１２２】
［ラグの信号値の修正等について］
なお、上記の［画像データの飽和の影響］で説明したラグの信号値Ｄlagについては、上記（４）式に従って、撮影後に読み出されたオフセットデータＯ（図５参照）から、撮影前に読み出された暗電荷によるオフセット分ｏ（図９参照）を減算して算出したラグの信号値Ｄlagをそのまま使うことも可能である。
【０１２３】
しかし、実際には、以下で説明するように、仮に放射線画像撮影装置１に同じ線量ｄの放射線が一様に照射された場合であっても、ラグの信号値Ｄlagは、放射線検出素子７ごと（走査線５ごと）に異なる値になる。そのため、その点を考慮して、ラグの信号値Ｄlagを修正して使うように構成することも可能である。
【０１２４】
具体的には、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内で単位時間あたりに発生する電荷を観察したとすると、放射線画像撮影装置１に放射線が照射される前（すなわち撮影前）の時点では、図１１（Ａ）のイメージ図にαで示すように、暗電荷が（放射線検出素子１の温度が変わらない限り）単位時間あたりに一定の割合で発生する。なお、暗電荷は、放射線画像撮影装置１に放射線が照射された後も（放射線検出素子１の温度が変わらない限り）一定の割合で発生する。
【０１２５】
一方、ラグは、図１１（Ａ）のイメージ図にβで示すように、放射線画像撮影装置１に放射線が照射され、各放射線検出素子７に放射線が照射された時点から発生し、単位時間あたりの発生割合が時間的に徐々に減衰していく状態になる。なお、図１１（Ａ）のイメージ図は、各放射線検出素子７内で単位時間あたりに発生する電荷量であるから、上記のラグの信号値Ｄlagは、この単位時間あたりに発生するラグの電荷量の積分値として算出される。
【０１２６】
そして、図１１（Ａ）のイメージ図に、図４や図５に示した画像データＤの生成処理やオフセットデータＯの読み出し処理で走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧が印加されるタイミングを重ね合わせた状態を図１１（Ｂ）に示す。なお、図１１（Ｂ）における上向きの矢印は、各走査線５にオン電圧が印加されるタイミングを表している。また、図１１（Ｂ）では、画像データＤの生成処理の後、各放射線検出素子７のリセット処理を行わずにすぐに電荷蓄積状態（図示省略）に移行してオフセットデータＯの読み出し処理を行うように記載されているが、図５に示したように、画像データＤの生成処理の後、各放射線検出素子７のリセット処理を行ってから電荷蓄積状態に移行するように構成することも可能である。
【０１２７】
そして、例えば撮影が非連携方式で行われる場合に、放射線の照射開始の検出処理において放射線の照射開始を検出した時点またはその直前にオン電圧を印加した走査線５（図４では走査線５のラインＬ４）が走査線５のラインＬｎであり、その次にオン電圧を印加すべき走査線５のラインＬn+1（図４では走査線５のラインＬ５）からオン電圧の印加を開始して画像データＤの生成処理やオフセットデータＯの読み出し処理が行われるものとする。
【０１２８】
この場合、走査線５のラインＬn+1に接続されている放射線検出素子７では、放射線が照射された後、各走査線５の中で最も早くオン電圧が印加されて、画像データＤの生成処理が行われる。そして、図４に示したように画像データＤの生成処理が終了すると、走査線５のラインＬn+1（図４では走査線５のラインＬ５）に印加される電圧がオン電圧からオフ電圧に切り替えられる。そのため、ＴＦＴ８がオフ状態になり、走査線５のラインＬn+1に接続されている各放射線検出素子７内にラグの電荷が蓄積され始める。
【０１２９】
そして、この場合、図１１（Ｂ）の最下部に示すように、走査線５のラインＬn+1に接続されている放射線検出素子７では、放射線が照射された直後の、単位時間あたりに発生するラグの電荷量が多い状態で上記のようにＴＦＴ８がオフ状態とされるため、次にオフセットデータＯの読み出し処理で走査線５のラインＬn+1にオン電圧が印加されるまでに放射線検出素子７内に蓄積されるラグの電荷量、すなわちラグの信号値Ｄlag(Ln+1)の値が大きくなる。
【０１３０】
それに対し、走査線５のラインＬｎに接続されている放射線検出素子７では、放射線が照射された後、各走査線５の中で最も遅くオン電圧が印加されて、画像データＤの生成処理が行われる。そのため、図１１（Ｂ）に示すように、走査線５のラインＬｎに接続されている放射線検出素子７では、放射線が照射された後、単位時間あたりに発生するラグの電荷量が比較的少なくなった状態でＴＦＴ８がオフ状態とされる。そのため、次にオフセットデータＯの読み出し処理で走査線５のラインＬｎにオン電圧が印加されるまでに放射線検出素子７内に蓄積されるラグの電荷量、すなわちラグの信号値Ｄlag(Ln)の値は、走査線５のラインＬn+1に接続されている各放射線検出素子７のラグの信号値Ｄlag(Ln+1)に比べて小さい値になる。
【０１３１】
このように、仮に放射線画像撮影装置１に同じ線量ｄの放射線が一様に照射された場合であっても、放射線の照射後（すなわちラグの発生後）に行われるオフセットデータＯの読み出し処理において、走査線５ごとにオン電圧が印加されるタイミング（すなわちオフセットデータＯの読み出しタイミング）が異なることによって、ラグの信号値Ｄlagが走査線５ごと（すなわち各放射線検出素子７ごと）に異なる値になる。
【０１３２】
そして、ラグの信号値Ｄlagが大きいほど明るく表現し、ラグの信号値Ｄlagが小さくほど暗く表現すると、例えば図１２（Ａ）に示すように、走査線５のラインＬn+1からラインＬｘ、ラインＬ１からラインＬｎに向けてラグの信号値Ｄlagがグラデーション状に減少していく状態になる。そして、走査線５のラインＬｎとラインＬn+1の間でラグの信号値Ｄlagに段差が生じる状態になる。
【０１３３】
また、これをグラフに表すと、図１２（Ｂ）に示すように、ラグの信号値Ｄlagは、走査線５のラインＬn+1に接続されている放射線検出素子７で最も大きくなり、走査線５のラインＬｘに向けて減少していく。そして、走査線５のラインＬ１からラインＬｎに向けてさらに減少していき、走査線５のラインＬｎに接続されている放射線検出素子７で最も小さくなる。そして、走査線５のラインＬｎとラインＬn+1の間でラグの信号値Ｄlagに段差が生じる。
【０１３４】
しかし、上記のように、放射線画像撮影装置１に同じ線量ｄの放射線が一様に照射されたのであれば、上記のように放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合（或いは放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnew）を算出する際に必要となる、放射線検出素子７に照射された放射線の線量ｄ（或いは照射された放射線の真の線量ｄ＊）は、全ての放射線検出素子７、すなわち走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに接続されている全ての放射線検出素子７について同じ線量ｄ（同じ真の線量ｄ＊）であるべきである。
【０１３５】
そこで、例えば図１２（Ｂ）に示した走査線５のラインＬ１〜Ｌｘごとのラグの信号値Ｄlagを用いて、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに接続されている各放射線検出素子７のラグの信号値Ｄを修正して使うように構成することが可能である。
【０１３６】
その際、放射線の照射開始の検出処理において放射線の照射開始を検出した時点またはその直前にオン電圧を印加した走査線５のラインＬｎ、或いはその次にオン電圧を印加すべき走査線５のラインＬn+1（すなわち画像データＤの生成処理やオフセットデータＯの読み出し処理で最初にオン電圧が印加される走査線５（以下、開始走査線という。））は撮影ごとに変わる。
【０１３７】
しかし、開始走査線に接続されている放射線検出素子７のラグの信号値Ｄが最も大きく、走査線番号が１ずつ増加していくに従って各走査線５に接続されている放射線検出素子７のラグの信号値Ｄが減少していき、走査線番号が最初の１に戻ってからもさらに走査線番号が１ずつ増加していくに従って各走査線５に接続されている放射線検出素子７のラグの信号値Ｄがさらに減少していき、放射線の照射開始の検出処理において放射線の照射開始を検出した時点またはその直前にオン電圧を印加した走査線５（上記の走査線５のラインＬｎ。以下、終了走査線という。）に接続されている放射線検出素子７のラグの信号値Ｄが最も小さくなるという傾向は変わらない。
【０１３８】
そこで、例えば、開始走査線のナンバーを１とし、走査線番号がそれより１大きい走査線５（上記の例では走査線５のラインＬn+2）のナンバーを２とするようにナンバーをインクリメントしながら各走査線５にナンバーを付していき、終了走査線のナンバーをｘとする。そして、実験を行う等して得られた各走査線５ごとのラグの信号値Ｄlag（図１２（Ｂ）参照）に基づいて、例えば図１３の表に示すように、各走査線５のナンバーと、開始走査線（ナンバー１）のラグの信号値Ｄlagに対する各走査線５のラグの信号値Ｄlagの比とを予め対応付けておく。
【０１３９】
そして、実際の撮影の際に行われる放射線の照射開始の検出処理において、終了走査線（すなわち放射線の照射開始の検出処理において放射線の照射開始を検出した時点またはその直前にオン電圧を印加した走査線５）や開始走査線が特定されると、図１３の表を参照して、例えば開始走査線（ナンバー１）に比１．００００を割り当て、終了走査線（ナンバーｘ）に比０．６００１を割り当て、各走査線５にそれぞれ比を割り当てる。
【０１４０】
すなわち、具体的には、例えば図４や図５に示したように、開始走査線が走査線５のラインＬ５であった場合には、走査線５のラインＬ５、Ｌ６、Ｌ７、…にそれぞれナンバー１、２、３、…を順次割り当てていく。そして、走査線５の最初のラインＬ１には、走査線５の最終ラインＬｘに割り当てたナンバーより１大きいナンバーを割り当て、さらに、走査線５のラインＬ２、Ｌ３、…にそれぞれナンバーを割り当てていく。
【０１４１】
図４等の場合には終了走査線は走査線５のラインＬ４であるため、走査線５のラインＬ４にはナンバーｘが割り当てられることになる。そして、図１３に示した表に基づいて、各走査線５に、割り当てられたナンバーに対応する比を割り当てていく。
【０１４２】
そして、上記のようにして放射線検出素子７ごとに算出されたラグの信号値Ｄlagを、当該放射線検出素子７が接続されている走査線５に割り当てられている比で除算するように構成することで、図１２（Ｂ）に示したように各走査線５に生じるラグの信号値Ｄlagの差の影響を除去することが可能となり、いわば真のラグの信号値Ｄlag＊を算出することが可能となる。
【０１４３】
そして、真のラグの信号値Ｄlag＊に基づいて上記の［画像データの飽和の影響］で説明したように処理を行うことで、放射線検出素子７に照射された放射線の真の線量ｄ＊をより的確に割り出すことが可能となる。そして、このようにして的確に割り出された放射線の真の線量ｄ＊によって的確に更新された積算線量Σｄと第二の関係（図７（Ｂ）参照）に基づいて、放射線検出素子７ごとの検出効率Ｐnewをより的確に算出して、放射線検出素子７ごとに感度の劣化度合をより的確に算出することが可能となる。
【０１４４】
なお、上記の説明では、説明を分かり易くするために、放射線画像撮影装置１に同じ線量ｄの放射線が一様に照射された場合について説明したが、上記のラグの信号値Ｄlagの修正は、放射線画像撮影装置１に同じ線量ｄの放射線が一様に照射された場合に適用されるのではなく、当然のことながら、放射線が被写体を介して放射線画像撮影装置１に照射される実際の撮影時に得られたラグの信号値Ｄlagに対して行われる。
【０１４５】
また、上記のような、放射線の照射後（すなわちラグの発生後）に行われるオフセットデータＯの読み出しタイミングが走査線５ごとに異なることによって、ラグの信号値Ｄlagが走査線５ごと（すなわち各放射線検出素子７ごと）に異なる値になる現象は、図４や図５に示したような非連携方式で撮影が行われる場合だけでなく、連携方式で撮影が行われる場合にも生じる。
【０１４６】
連携方式で撮影が行われる場合、通常、画像データＤの生成処理やオフセットデータＯの読み出し処理では、走査線５の最初のラインＬ１から順にゲートドライバー１５ｂ（図３参照）からオン電圧が順次印加されて生成処理や読み出し処理が行われる。そして、その場合にも、図１２（Ｂ）に示したものと同様に、ラグの信号値Ｄlagに変化が生じる。なお、この場合は、走査線５の最初のラインＬ１でラグの信号値Ｄlagが最も大きく、走査線番号が増加するに従ってラグの信号値Ｄlagが順次小さくなっていき、走査線５の最終ラインＬｘでラグの信号値Ｄlagが最も小さくなる。
【０１４７】
そして、連携方式の場合にも、上記の非連携方式の場合と同様にして、ラグの信号値Ｄlagの修正を行うように構成することが可能である。
【０１４８】
なお、本発明が上記の実施形態等に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【０１４９】
例えば、上記の実施形態等では、放射線画像撮影装置１に放射線を１回だけ照射して行ういわゆる単純撮影の場合を前提として説明したが、例えば動画撮影にも本発明を適用することが可能である。動画撮影の場合、大きな線量ｄの放射線が患者に繰り返し照射されると患者の被曝線量が大きくなってしまうため、照射される放射線の１回あたりの線量ｄはさほど大きくない。
【０１５０】
そのため、動画撮影の場合には、上記の放射線の照射が画像データＤに及ぼす影響のうち［画像データの飽和の影響］は考慮する必要がなく、［ブライトバーンの影響］も、通常の場合、考慮する必要はなく（考慮してもよい。）、放射線が照射されるごとに積算されていく［過去の放射線の積算線量Σｄの影響］の大きさ（すなわち検出効率Ｐ。図７（Ｂ）参照）に基づいて画像データＤを修正して、放射線検出素子７ごとの感度の劣化度合が算出される。
【符号の説明】
【０１５１】
１  放射線画像撮影装置
３  シンチレーター
７  放射線検出素子
２２  制御手段（算出手段）
２３  記憶手段
２５  通信部（通信手段）
５０  コンソール（算出装置）
１００  感度劣化度合算出システム
Ｄ  画像データ
ｄ  放射線の線量
ｄ＊  放射線の真の線量
Ｄlag  ラグの信号値
Ｐ、Ｐnew  検出効率（感度の劣化度合）
Ｐold  過去の検出効率（過去の感度の劣化度合）
Ｔ  経過時間
ｕ  ゲイン補正値
Ｗ  割合
Σｄ  積算線量
Σｄold  過去の積算線量
【図１】
2016125910.tif 000003
【図２】
2016125910.tif 000004
【図３】
2016125910.tif 000005
【図４】
2016125910.tif 000006
【図５】
2016125910.tif 000007
【図６】
2016125910.tif 000008
【図７】
2016125910.tif 000009
【図８】
2016125910.tif 000010
【図９】
2016125910.tif 000011
【図１０】
2016125910.tif 000012
【図１１】
2016125910.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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