(57)【要約】【課題】信頼性の高い品質検査が可能な光学表示デバイスの検査方法を提供する。また、パターン化位相差層の第１領域と第２領域との境界を精度良く認識可能な光学部材のパターン認識方法を提供する。【解決手段】位相差層を備える光学部材と、複数の画素列を有する光学表示部品と、が貼合した光学表示デバイスの検査方法であって、パターン化位相差層３は、帯状の複数の第１領域３Ｒと、帯状の複数の第２領域３Ｌと、を有し、複数の第１領域３Ｒおよび複数の第２領域３Ｌが、第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌの延在方向と交差する方向に交互に配置されており、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの間で検出される境界線ＢＬと、隣り合う画素列の間の領域で画素列に沿って設定する基準線ＦＬと、の平面視における距離Ｄを測定する測定工程と、距離Ｄに基づいて光学表示デバイスの良否判定を行う判定工程と、を有する光学表示デバイスの検査方法。【選択図】図７
2016014714.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
位相差層を備える光学部材と、複数の画素列を有する光学表示部品と、が貼合した光学表示デバイスの検査方法であって、
前記位相差層は、一方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第１の偏光状態に変化させる複数の第１領域と、前記第１領域の延在方向と同方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第２の偏光状態に変化させる複数の第２領域と、を有し、
前記複数の第１領域および前記複数の第２領域が、前記第１領域および前記第２領域の延在方向と交差する方向に交互に配置されており、
隣接する前記第１領域と前記第２領域との間で検出される境界と、隣り合う前記画素列の間の領域で前記画素列に沿って設定する基準線と、の平面視における距離を測定する測定工程と、
前記距離に基づいて前記光学表示デバイスの良否判定を行う判定工程と、を有する光学表示デバイスの検査方法。
【請求項２】
前記光学表示部品の表示領域の中央において、前記測定工程と前記判定工程とを行う請求項１に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項３】
前記延在方向における前記光学部材の周辺部において、前記測定工程と前記判定工程とを行う請求項１または２に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項４】
前記交差する方向における前記光学部材の周辺部において、前記測定工程と前記判定工程とを行う請求項１から３のいずれか１項に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項５】
前記測定工程に先立って、前記交差する方向における前記光学部材の周辺部において検出された前記第１領域と前記第２領域との境界と、前記位相差層の設計値と、に基づいて前記境界の位置を概算し、
概算された前記境界の位置に最も近い前記第１領域と前記第２領域との境界を検出する請求項２または４に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項６】
隣り合う前記画素列において互いに対向する側部にて、前記画素列に含まれる複数の画素の端部の座標を検出し、
前記画素列ごとに、検出した複数の前記座標に基づいて前記側部に対応する直線を近似し、
得られた２つの近似線の間において、前記基準線を設定する請求項１から５のいずれか１項に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項７】
隣り合う２つの前記画素列のうち、一方の画素列について、他方の画素列に対向する側部にて複数の画素の端部の座標を検出し、
検出した複数の前記座標に基づいて前記側部に対応する直線を近似し、
得られた近似線と光学表示部品の設計値とに基づいて前記基準線を設定する請求項１から５のいずれか１項に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項８】
隣り合う前記第１領域と前記第２領域とにまたがって、直線状の検出領域を設定し、
前記検出領域に沿って前記第１領域と前記第２領域との明度を複数点で検出し、
検出した複数点の前記明度に基づいて前記境界を検出する請求項１から７のいずれか１項に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項９】
複数の前記検出領域において複数の前記境界を検出し、
検出した複数の前記境界の座標に基づいて前記境界に対応する直線を近似する請求項８に記載の光学表示デバイスの検査方法。
【請求項１０】
位相差層を備える光学部材のパターン認識方法であって、
前記位相差層は、一方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第１の偏光状態に変化させる複数の第１領域と、前記第１領域の延在方向と同方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第２の偏光状態に変化させる複数の第２領域と、を有し、
前記複数の第１領域および前記複数の第２領域が、前記第１領域および前記第２領域の延在方向と交差する方向に交互に配置されており、
前記交差する方向における前記光学部材の周辺部において検出された前記第１領域と前記第２領域との境界と、前記位相差層の設計値と、に基づいて、前記交差する方向における前記光学部材の中央における前記第１領域と前記第２領域との境界の位置を概算し、
概算された前記境界の位置に最も近い前記第１領域と前記第２領域との境界を検出する工程を有する光学部材のパターン認識方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学表示デバイスの検査方法および光学部材のパターン認識方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＦＰＲ（Film Patterned Retarder）方式と称されるパッシブ方式の３Ｄ（３ Dimension）液晶表示装置が開発されている。
【０００３】
この方式の３Ｄ液晶表示装置（表示装置）では、例えば、液晶パネルの表示面側に偏光子層が配置され、その更に視認側にパターン化位相差層が配置される。また、液晶パネルのバックライト側には偏光フィルムが配置される。
【０００４】
偏光子層は、入射する光のうち、偏光子層の吸収軸に平行な振動面の偏光成分を吸収し、直交する振動面の偏光成分を透過する光学機能を有する層である。偏光子層を透過した直後の透過光は、直線偏光光である。
【０００５】
パターン化位相差層は、通常、基材フィルム上に形成されている。パターン化位相差層は、第１領域と第２領域とを備えている。第１領域と第２領域とは、それぞれ帯状に形成されており、マトリクス状に形成された液晶パネルの画素配列に対応して、交互に配列している。
【０００６】
図１０は、３Ｄ液晶表示装置における液晶パネルＰとパターン化位相差層３との位置合わせを説明するための平面図である。
【０００７】
図に示すように、液晶パネルＰでは、長辺（液晶パネルＰの左右方向）に沿って、赤色画素Ｒ、緑色画素Ｇ、青色画素Ｂが周期的に並んで配置されている。そして、各色の画素Ｒ，Ｇ，Ｂが左右方向に沿って多数並んで画素列Ｌとなり、この画素列Ｌが液晶パネルＰの表示領域の上下に渡って多数配列されている。
【０００８】
一方、パターン化位相差層３は、パターン化位相差層３の長辺に沿って延在する複数の第１領域３Ｒおよび複数の第２領域３Ｌを有している。第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌは、液晶パネルＰの各画素列Ｌに対応して上下に渡って多数配列されている。例えば、右眼用画像を表示する画素列Ｌの視認側に第１領域３Ｒが配置され、左眼用画像を表示する画素列Ｌの視認側には第２領域３Ｌが配置される。第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとでは、位相差の方向が異なっており、右眼用画像と左眼用画像とでは、互いに異なる偏光状態となって視認側に表示される（例えば、特許文献１参照）。
【０００９】
パターン化位相差層３は、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界線Ｋが各画素列Ｌの間に位置するように液晶パネルＰに対して貼合され、液晶パネルＰを用いたＦＰＲ方式の３Ｄ液晶表示装置を構成している。
【００１０】
使用者は、右眼用レンズと左眼用レンズとで光学特性が異なる光学素子を備えた、いわゆる偏光眼鏡を介して表示画像を見ることで、右眼では右眼用画像を、左眼では左眼用画像をそれぞれ選択的に視認する。これにより使用者は、両眼の像を融合した立体画像を認識することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２０１２−２１２０３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
上述のようなＦＰＲ方式の３Ｄ液晶表示装置の製造にあたっては、パターン化位相差層の第１領域と液晶パネルの画素列、または第２領域と画素列、を正確に対応させて、パターン化位相差層と偏光子層とを含む光学部材を液晶パネルに貼合する。その際、１つの画素列に対し、パターン化位相差層の第１領域と第２領域との両方が重なってしまうと、本来は右眼のみで認識されるべき右眼用画像が左眼でも認識されてしまう、いわゆるクロストークが生じ、立体表示画像の画質を低下させるおそれがある。
【００１３】
製造された３Ｄ液晶表示装置について、これまでは、立体表示を行わない通常の液晶表示装置に対して行っている検査方法を流用し、液晶パネルと光学部材との貼り合わせ状態の検査を行っていた。具体的には、液晶パネルについてはアライメントマークやブラックマトリクスを基準とし、光学部材については光学部材の端部を基準として、各基準同士の相対位置を確認することで、液晶パネルと光学部材との平面的な相対位置を確認して製造検査を行っていた。
【００１４】
しかし、上記従来の検査方法を流用した方法では、各画素列と第１領域および第２領域とが１対１で重なっているか否かの検査ができなかった。例えば、液晶パネルと光学部材とが一見設計通りに貼合されているような３Ｄ液晶表示装置であっても、各画素列と第１領域および第２領域とが１対１で重なっていない場合にはクロストークが生じ不良品と判断される。ところが、上記従来の検査方法ではこのような不良品は検出できず、立体表示画像の画質を担保することが困難であった。
【００１５】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、信頼性の高い品質検査が可能な光学表示デバイスの検査方法を提供することを目的とする。また、パターン化位相差層の第１領域と第２領域との境界を精度良く認識可能な光学部材のパターン認識方法を提供することをあわせて目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記の課題を解決するため、本発明の一態様は、位相差層を備える光学部材と、複数の画素列を有する光学表示部品と、が貼合した光学表示デバイスの検査方法であって、前記位相差層は、一方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第１の偏光状態に変化させる複数の第１領域と、前記第１領域の延在方向と同方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第２の偏光状態に変化させる複数の第２領域と、を有し、前記複数の第１領域および前記複数の第２領域が、前記第１領域および前記第２領域の延在方向と交差する方向に交互に配置されており、隣接する前記第１領域と前記第２領域との間で検出される境界と、隣り合う前記画素列の間の領域で前記画素列に沿って設定する基準線と、の平面視における距離を測定する測定工程と、前記距離に基づいて前記光学表示デバイスの良否判定を行う判定工程と、を有する光学表示デバイスの検査方法を提供する。
【００１７】
本発明の一態様においては、前記光学表示部品の表示領域の中央において、前記測定工程と前記判定工程とを行う方法としてもよい。
【００１８】
本発明の一態様においては、前記延在方向における前記光学部材の周辺部において、前記測定工程と前記判定工程とを行う方法としてもよい。
【００１９】
本発明の一態様においては、前記交差する方向における前記光学部材の周辺部において、前記測定工程と前記判定工程とを行う方法としてもよい。
【００２０】
本発明の一態様においては、前記測定工程に先立って、前記交差する方向における前記光学部材の周辺部において検出された前記第１領域と前記第２領域との境界と、前記位相差層の設計値と、に基づいて前記境界の位置を概算し、概算された前記境界の位置に最も近い前記第１領域と前記第２領域との境界を検出する方法としてもよい。
【００２１】
本発明の一態様においては、隣り合う前記画素列において互いに対向する側部にて、前記画素列に含まれる複数の画素の端部の座標を検出し、前記画素列ごとに、検出した複数の前記座標に基づいて前記側部に対応する直線を近似し、得られた２つの近似線の間において、前記基準線を設定する方法としてもよい。
【００２２】
本発明の一態様においては、隣り合う２つの前記画素列のうち、一方の画素列について、他方の画素列に対向する側部にて複数の画素の端部の座標を検出し、検出した複数の前記座標に基づいて前記側部に対応する直線を近似し、得られた近似線と光学表示部品の設計値とに基づいて前記基準線を設定する方法としてもよい。
【００２３】
本発明の一態様においては、隣り合う前記第１領域と前記第２領域とにまたがって、直線状の検出領域を設定し、前記検出領域に沿って前記第１領域と前記第２領域との明度を複数点で検出し、検出した複数点の前記明度に基づいて前記境界を検出する方法としてもよい。
【００２４】
本発明の一態様においては、複数の前記検出領域において複数の前記境界を検出し、検出した複数の前記境界の座標に基づいて前記境界に対応する直線を近似する方法としてもよい。
【００２５】
また、本発明の一態様は、位相差層を備える光学部材のパターン認識方法であって、前記位相差層は、一方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第１の偏光状態に変化させる複数の第１領域と、前記第１領域の延在方向と同方向に帯状に延在し、入射する直線偏光を第２の偏光状態に変化させる複数の第２領域と、を有し、前記複数の第１領域および前記複数の第２領域が、前記第１領域および前記第２領域の延在方向と交差する方向に交互に配置されており、前記交差する方向における前記光学部材の周辺部において検出された前記第１領域と前記第２領域との境界と、前記位相差層の設計値と、に基づいて、前記交差する方向における前記光学部材の中央における前記第１領域と前記第２領域との境界の位置を概算し、概算された前記境界の位置に最も近い前記第１領域と前記第２領域との境界を検出する工程を有する光学部材のパターン認識方法を提供する。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、信頼性の高い品質検査が可能な光学表示デバイスの検査方法を提供することができる。また、パターン化位相差層の第１領域と第２領域との境界を精度良く認識可能な光学部材のパターン認識方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】表示装置の概略構成を示す平面図である。
【図２】表示装置の概略構成を示す断面図である。
【図３】パターン化位相差層の模式図である。
【図４】表示装置の表示領域と光学部材との位置関係に着目した概略平面図である。
【図５】本実施形態の光学デバイスの検査方法の説明図である。
【図６】本実施形態の光学デバイスの検査方法の説明図である。
【図７】本実施形態の光学デバイスの検査方法の説明図である。
【図８】本実施形態の光学デバイスの検査方法の説明図である。
【図９】本実施形態の光学デバイスの検査方法の説明図である。
【図１０】３Ｄ液晶表示装置における液晶パネルとパターン化位相差層との位置合わせを説明するための平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、図を参照しながら、本実施形態に係る光学表示デバイスの検査方法および光学部材のパターン認識方法について説明する。なお、以下の全ての図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の寸法や比率などは適宜異ならせてある。
【００２９】
＜光学表示デバイス＞
図１〜４は、本実施形態の光学表示デバイスの検査方法で検査する表示装置（光学表示デバイス）１００を示す説明図である。
【００３０】
図１は、表示装置１００の概略構成を示す平面図である。図２は、図１の線分ＩＩ−ＩＩにおける表示装置１００の断面図である。本実施形態の表示装置１００は、ＦＰＲ方式の３Ｄ液晶表示装置である。図に示すように、表示装置１００は、液晶パネル（光学表示部品）Ｐと、偏光フィルムＦ１１と、光学部材１とを有している。
【００３１】
液晶パネルＰは、図１及び図２に示すように、平面視で長方形状をなす第１の基板Ｐ１と、第１の基板Ｐ１に対向して配置される比較的小形の長方形状をなす第２の基板Ｐ２と、第１の基板Ｐ１と第２の基板Ｐ２との間に封入された液晶層Ｐ３とを備える。液晶パネルＰは、平面視で第１の基板Ｐ１の外形状に沿う長方形状をなし、平面視で液晶層Ｐ３の外周の内側に収まる領域を表示領域Ｐ４とする。
【００３２】
液晶パネルＰの平面視における四隅には、位置決め用のアライメントマークＡｍが設けられている。図では四隅すべてにアライメントマークＡｍが設けられることとして示しているが、例えば、四隅のうち３つの隅に合計３つのアライメントマークを設けることとしてもよく、四隅の対角の位置に合計２つのアライメントマークを設けることとしてもよい。
【００３３】
液晶パネルＰのバックライト側には、偏光フィルムＦ１１が貼合されている。偏光フィルムＦ１１は、粘着剤層を介して液晶パネルＰに貼合される。偏光フィルムＦ１１は、入射する光のうち、吸収軸に平行な振動面の偏光成分を吸収し、直交する振動面の偏光成分を透過する光学機能を有する。偏光フィルムＦ１１を透過した直後の透過光は、直線偏光光である。
【００３４】
一方、この液晶パネルＰの表示面側には、光学部材１が貼合されている。光学部材１は、偏光子層２とパターン化位相差層（位相差層）３とを有し、偏光子層２側が液晶パネルＰに面するように液晶パネルＰに貼合されている。
【００３５】
偏光子層２は、入射する光のうち、吸収軸に平行な振動面の偏光成分を吸収し、直交する振動面の偏光成分を透過する光学機能を有する。偏光子層２を透過した直後の透過光は、直線偏光光である。
【００３６】
偏光フィルムＦ１１および光学部材１は、偏光フィルムＦ１１と、光学部材１の偏光子層２とがクロスニコル配置となるように液晶パネルＰに貼合される。
【００３７】
図３は、光学部材１が有するパターン化位相差層３の平面視における模式図である。パターン化位相差層３は、複数の第１領域３Ｒおよび複数の第２領域３Ｌを有している。また、パターン化位相差層３は、平面視矩形の部材である。
【００３８】
第１領域３Ｒは、偏光子層２を介して射出される直線偏光を、例えば右旋回の円偏光（第１の偏光状態）に変化させる。第２領域３Ｌは、偏光子層２を介して射出される直線偏光を、例えば左旋回の円偏光（第２の偏光状態）に変化させる。
【００３９】
第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌは、パターン化位相差層３の長手方向に帯状に延在しており、第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌの延在方向と交差する方向に交互に配置されている。第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌの幅は、貼合する液晶パネルＰの画素の大きさに応じて設定される。例えば４００μｍ〜５００μｍ程度である。
【００４０】
以下の説明においては、パターン化位相差層３における第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌの延在方向を、パターン化位相差層３の「長手方向」、第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌの配列方向を、パターン化位相差層３の「幅方向」と称することがある。「長手方向」は、本発明における「延在方向」に対応し、「幅方向」は、本発明における「交差する方向」に対応する。
【００４１】
パターン化位相差層３は、表示装置１００において液晶パネルＰの表示領域Ｐ４と平面的に重ねたとき、表示装置１００の幅方向において表示領域Ｐ４との重なり部分からはみ出る「余剰領域」を有するように、平面視で表示領域Ｐ４よりも大きく形成されている。第１領域３Ｒおよび第２領域３Ｌは、表示領域Ｐ４と重なる部分のみならず、余剰領域にまで設けられている。
【００４２】
図４は、表示装置１００の表示領域Ｐ４と光学部材１との位置関係に着目した概略平面図である。図４（ａ）は全体図であり、図４（ｂ）は部分拡大図である。
【００４３】
以下の説明においては、表示表域を平面視したときの表示表域の左上を原点とするスクリーン座標系を用いて位置や座標を示すことがある。スクリーン座標系においては、表示領域Ｐ４の横方向がＸ軸方向であり、表示領域Ｐ４の縦方向がＹ軸方向である。Ｘ軸では左から右に向けて正方向であり、Ｙ軸では上から下に向けて正方向である。
【００４４】
図４（ａ）に示すように、表示装置１００は、表示領域Ｐ４に複数の赤色画素Ｒ、緑色画素Ｇ、青色画素Ｂが周期的に並んで配置し画素列Ｌを形成している。各画素列は、表示領域Ｐ４のＹ軸方向に配列している。図では、Ｙ軸方向に配列する各画素列について、原点から数えて１番目の画素列を符号Ｌ１、２番目の画素列を符号Ｌ２として示し、順に２ｎ番目の画素列を符号Ｌ２ｎとして示しており、表示領域Ｐ４に２ｎ列の画素列Ｌが含まれることとして示している。表示装置１００では、右眼用画像と左眼用画像とをそれぞれｎ列の画素列を用いて表示している。
【００４５】
図４（ｂ）に示すように、各画素列Ｌには、１対１で第１領域３Ｒまたは第２領域３Ｌが平面的に重なるように設計されている。第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界線ＢＬは、隣り合う２つの画素列Ｌの間の画素間領域に重なっている。図では、画素間領域に格子状の遮光部材（ブラックマトリクス）ＢＭが設けられていることとして示している。
【００４６】
図２にもどって、光学部材１のパターン化位相差層３側の表面には保護フィルムが貼合されていることとしてもよい。保護フィルムは、光学部材１の表面を保護する透明樹脂フィルムであり、光学部材１に対して剥離自在に設けられるものである。
【００４７】
偏光フィルムＦ１１および光学部材１が貼合された液晶パネルＰは、不図示の駆動回路やバックライトユニットなどがさらに組み込まれることによって表示装置１００となる。
【００４８】
液晶パネルＰの駆動方式については、例えば、ＴＮ（Twisted Nematic）、ＳＴＮ（SuperTwisted Nematic）、ＶＡ（Vertical Alignment）、ＩＰＳ（In-Plane Switching）、ＯＣＢ（Optically Compensated Bend）など、この分野で知られている各種モードを採用することができる。中でも、ＩＰＳ方式の液晶パネルＰを好適に用いることができる。
【００４９】
本実施形態の光学デバイスの検査方法で検査する表示装置１００は、以上のような構成となっている。
【００５０】
＜光学表示デバイスの検査方法＞
図５〜９は、本実施形態の光学表示デバイスの検査方法の説明図である。本実施形態においては、光学部材の第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界を検出し、検出した境界を光学部材側の基準とする。また、液晶パネルの隣り合う画素列Ｌの間の画素間領域において、液晶パネル側の基準となる基準線を設定する。これら光学部材側の基準と液晶パネル側の基準との距離を測定し（測定工程）、測定した距離に基づいて光学部材の第１領域３Ｒと液晶パネルの画素列、および第２領域３Ｌと液晶パネルの画素列とが、それぞれ良好に対応して貼合されているか否かの良否判定を行い（判定工程）、光学表示デバイスの検査を行う。
【００５１】
（第１領域と第２領域との境界の検出）
図５は、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界の検出方法について一例を示す説明図である。本実施形態の光学表示デバイスの検査方法においては、下記方法による第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界を検出する工程を有することとしてもよい。
【００５２】
第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界の検出は、表示装置１００について撮像した画像に基づいて行う。撮像画像には、光学部材１と液晶パネルＰとの両方が含まれるが、図５では、説明のため光学部材１のみ示している。
【００５３】
まず、図５（ａ）に示すように、まず、検出対象である第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界を含む領域を撮像装置で撮像する。その際、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界は、液晶パネルの遮光領域と平面的に重なっているため、撮像のための照明が必要であれば、撮像装置と同じ側から撮像する領域を照明する。
【００５４】
次いで、隣り合う第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとにまたがって、直線状の検出領域ＤＡを設定する。撮像した画像では、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの色味や明るさが異なって見えるため、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとを区別することが可能である。
【００５５】
次いで、撮像した画像において、検出領域ＤＡに沿って第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの明度を複数点で検出する。明度の検出は、検出領域ＤＡに沿って連続的に複数点で行ってもよく、離散的に複数点で行ってもよい。図では、検出領域ＤＡに沿って、検出領域ＤＡ内に示した矢印方向に連続的に複数点で明度の検出を行うこととして示している。
【００５６】
図５（ａ）のグラフに示すように、第１領域３Ｒの明度がａであり、第２領域３Ｌの明度がｂである場合、撮像した画像の第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界近傍では、明度が徐々にａからｂに変化することが考えられる。そのような場合、明度がａとｂとの中間値を示す点（（ａ＋ｂ）／２を示す点）を第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界点ＢＰとして検出することができる。
【００５７】
もちろん、境界点ＢＰは、明度がａとｂとの中間値を示す点ではなく、明度がａとｂとを示す範囲内において、予め定めた決定方法に従って検出した点としてもよい。
【００５８】
また、撮像した画像をグレースケールで表し、当該グレースケール画像について、上記方法で第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界点ＢＰを検出することとしてもよい。
【００５９】
また、撮像した画像について、明度を複数点で検出することなく、撮像した画像を所定の明度を閾値として二値化し、境界を検出してもよい。
【００６０】
このようにして検出した境界点ＢＰは、本発明における第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界に対応する。
【００６１】
また、図５（ｂ）に示すように、複数の検出領域ＤＡにおいて複数の境界点ＢＰを検出し、検出した複数の境界点ＢＰの座標に基づいて、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界に対応する直線（境界線ＢＬ）を近似することとしてもよい。近似としては、通常知られた統計学的手法を用いることができる。例えば、複数の境界点ＢＰの座標について、最小二乗法を用いた回帰直線（近似直線）を求める近似方法を挙げることができる。
【００６２】
（隣り合う画素列の間の基準線の設定）
図６は、画素列Ｌの間の基準線の設定方法について一例を示す説明図である。本実施形態の光学表示デバイスの検査方法においては、下記方法による隣り合う画素列Ｌの間の基準線を設定する工程を有することとしてもよい。
【００６３】
基準線の設定は、表示装置１００について撮像した画像に基づいて行う。撮像画像には光学部材１と液晶パネルＰとの両方が含まれるが、図６では、説明のため液晶パネルＰのみ示している。
【００６４】
例えば、図６（ａ）に示すように、画素列Ｌについて撮像した画像に基づき、画素列に含まれる複数の画素Ｒ、Ｇ，Ｂの端部の座標を検出する。図では、画素列Ｌａの画素において、画素列Ｌｂと対向する側の端部を符号Ｅ１として示している。また、画素列Ｌｂの画素において、画素列Ｌａと対向する側の端部を符号Ｅ２として示している。検出する端部Ｅ１は複数であればよい。
【００６５】
次いで、検出された複数の端部Ｅ１の座標に基づいて、複数の端部Ｅ１に対応する（画素列の側部に対応する）直線を近似する。図では、このように求める近似線を符号ＡＬ１として示している。
【００６６】
近似としては、通常知られた統計学的手法を用いることができる。例えば、複数の端部Ｅ１の座標について、最小二乗法を用いた回帰直線（近似直線）を求める近似方法を挙げることができる。また、作業者が撮像画像を確認し、複数の端部Ｅ１が同一の直線上に配列すると判断できるような場合には、座標を検出した複数の端部Ｅ１の内、任意の２点（例えば、両端の２点）を選択し、当該２点を結ぶ直線を近似線ＡＬ１としてもよい。
【００６７】
また、同様の処理を複数の端部Ｅ２でも行い、近似線ＡＬ２を求める。
【００６８】
次いで、得られた２つの近似線ＡＬ１，ＡＬ２の間において、基準線を設定する。基準線は、近似線ＡＬ１，ＡＬ２の中間位置に設定すると好ましいが、中間位置から近似線ＡＬ１，ＡＬ２のどちらかの側にずれていても構わない。図では、近似線ＡＬ１，ＡＬ２から求められる近似線ＡＬ１，ＡＬ２の間の距離がＷであり、近似線ＡＬ１，ＡＬ２の中間位置（近似線ＡＬ１から距離Ｗ／２の位置）に基準線ＦＬを設定することとして示している。
【００６９】
または、図６（ｂ）に示すように、上述の方法にて近似線ＡＬ１のみ求め、Ｙ方向の画素間の設計値がαである場合に、近似線ＡＬ１からＹ方向にα／２の位置に基準線ＦＬを設定することとしてもよい。
【００７０】
（光学部材と光学表示部品との相対位置の測定）
次いで、撮像画像から、図５に示した方法で検出した第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界（境界点ＢＰまたは境界線ＢＬ）と、図６に示した方法で設定した基準線ＦＬと、の距離を測定する。以下の説明では、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界線ＢＬを求めたこととして示している。
【００７１】
撮像画像では、図７に示すように、光学部材１の境界線ＢＬと、液晶パネルＰの基準線ＦＬとが重なって求められる。そのため、画像に基づいて、平面視における境界線ＢＬと基準線ＦＬとの距離Ｄを求めることができる。
【００７２】
ここで、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界として境界線ＢＬを求めている場合、「距離Ｄ」とは、境界線ＢＬ上の複数の任意点について、当該任意点から基準線ＦＬへの垂線を引いたときの、垂線と基準線ＦＬとの交点から当該任意点までの距離の平均値である。
【００７３】
また、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界として境界点ＢＰを求めている場合、「距離Ｄ」とは、境界点ＢＰから基準線ＦＬへの垂線を引いたときの、垂線と基準線ＦＬとの交点から境界点ＢＰまでの距離のことを指す。
【００７４】
（良否判定）
次いで、求めた距離に基づいて、表示装置１００の良否判定を行う。具体的には、距離について良品と判定できる数値範囲を予め設定しておき、距離の測定値が設定した数値範囲以内であれば良品、数値範囲よりも大きいのであれば不良品と判定する。
【００７５】
（光学部材のパターン認識方法）
本実施形態の光学表示デバイスの検査方法では、上述した要素技術による良否判定を、液晶パネルＰの表示領域Ｐ４の中央で行う。その際には、表示領域の中央の画素列（例えば、ｎ番目の画素列Ｌｎと、（ｎ＋１）番目の画素列Ｌ（ｎ＋１））について、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとが良好に１対１で対応して貼合されているかを判定する必要がある。
【００７６】
ここで、貼合不良や光学部材の製造誤差・変形などを考慮すると、ｎ番目の画素列Ｌｎに重なっている領域が確かに１番目の画素列に対応するパターン（例えば、第１領域３Ｒ）から数えてｎ番目のパターン（第２領域３Ｌ）であるという保証はない。
【００７７】
したがって、液晶パネルＰ側の基準を、ｎ番目の画素列Ｌｎと（ｎ＋１）番目の画素列Ｌ（ｎ＋１）との間の領域に設定する基準線とする場合には、これらの画素列に対応するｎ番目の第２領域３Ｌと（ｎ＋１）番目の第１領域３Ｒとを認識したうえで、光学部材１側の基準となるべき第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界を検出する必要がある。
【００７８】
そこで、以下に示す光学部材のパターン認識方法により、表示領域Ｐ４の中央に対応する、ｎ番目の第２領域３Ｌと（ｎ＋１）番目の第１領域３Ｒとを認識し、これら第２領域３Ｌと第１領域３Ｒとの間の境界を上述の方法で検出する。
【００７９】
図８は、本実施形態の光学部材のパターン認識方法を示す説明図である。まず、幅方向における光学部材１の周辺部において、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界を検出する。境界の検出方法は、上述した方法を用いることができる。
【００８０】
ここで、「周辺部」とは、光学部材１において表示領域Ｐ４と平面的に重なる部分であってもよく、光学部材１において表示領域Ｐ４の外側である余剰領域ＤＭに平面的に重なる部分であってもよい。すなわち、検出する境界は、１番目の画素列Ｌ１に重なる第１領域３Ｒと、２番目の画素列Ｌ２に重なる第２領域３Ｌとの境界であってもよいが、表示領域Ｐ４の外側である余剰領域ＤＭに配置した第１領域３Ｒと第２領域３Ｌの境界であってもよい。図では、余剰領域ＤＭにおいて第１領域３Ｒと第２領域３Ｌの境界線ＢＬｘを検出することとして示している。
【００８１】
次いで、余剰領域ＤＭにて検出した境界線ＢＬｘと、パターン化位相差層３の設計値と、に基づいて、ｎ番目の第２領域３Ｌと（ｎ＋１）番目の第１領域３Ｒとの境界の位置を概算する。すなわち、第１領域３Ｒの幅の設計値および第２領域３Ｌの幅の設計値から、境界線ＢＬｘを基準としたｎ番目の第２領域３Ｌと（ｎ＋１）番目の第１領域３Ｒとの境界の位置を概算する。図では、概算して求めた位置を概算点ＣＰとして示している。
【００８２】
次いで、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界であって概算点ＣＰに最も近い境界を、ｎ番目の第２領域３Ｌと（ｎ＋１）番目の第１領域３Ｒとの境界とし、上述の方法で境界を検出する。図では境界線ＢＬを検出することとして示している。
【００８３】
このような方法によれば、光学部材１の幅方向の任意の位置における境界を精度良く検出することが可能となる。
【００８４】
（光学表示デバイスの検査方法）
図９は、本実施形態の光学表示デバイスの検査方法を示す説明図である。本実施形態の光学表示デバイスの検査方法においては、液晶パネルＰの表示領域Ｐ４の中央である第１判定領域ＡＲ１において、隣り合う画素列Ｌｎおよび画素列Ｌ（ｎ＋１）の間の領域で、画素列に沿って設定する基準線である基準線ＦＬ１と、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界として検出する境界（境界線ＢＬ１）と、の平面視における距離を測定する測定工程と、測定した距離に基づいて表示装置１００の良否判定を行う判定工程と、を有する。
【００８５】
表示装置の使用者は、表示領域の中心近傍を最もよく観察するため、表示領域の中心においてクロストークが発生すると、使用者が気付きやすい。そのため、本実施形態の検査方法のように、表示領域の中心（第１判定領域ＡＲ１）において貼合精度を検査することにより、使用者の満足度の高い表示装置を良品として判定可能な検査とすることができる。
【００８６】
また、光学部材１の長手方向の周辺部である第２判定領域ＡＲ２において、隣り合う画素列Ｌｎおよび画素列Ｌ（ｎ＋１）の間の領域で画素列に沿って設定する基準線である第２基準線ＦＬ２と、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界として検出する境界（境界線ＢＬ２）と、の平面視における距離を測定する測定工程と、測定工程で測定した距離に基づいて表示装置１００の良否判定を行う判定する判定工程と、を有することとしてもよい。
【００８７】
第１判定領域ＡＲ１における良否判定結果と、第２判定領域ＡＲ２における良否判定結果と、を用いることで、光学部材１の幅方向の収縮を確認することができる。すなわち、第１判定領域ＡＲ１において良品と判定された表示装置１００が、第２判定領域ＡＲ２において不良品と判定された場合、光学部材１の幅方向の収縮により第２判定領域ＡＲ２では不良品と判定されたと推測し、光学部材１の品質の確認や光学部材１の取り扱い方法を見直しを図ることができる。
【００８８】
また、光学部材１の幅方向の周辺部である第３判定領域ＡＲ３において、隣り合う２つの画素列（図では、画素列Ｌ１，Ｌ２または画素列Ｌ（２ｎ−１），Ｌ２ｎ）の間の領域で画素列に沿って設定する基準線である基準線ＦＬ３と、第１領域３Ｒと第２領域３Ｌとの境界として検出する境界（境界線ＢＬ３）と、の平面視における距離を測定する測定工程と、第３測定工程で測定した距離に基づいて表示装置１００の良否判定を行う判定工程と、を有することとしてもよい。
【００８９】
第１判定領域ＡＲ１における良否判定結果と、第３判定領域ＡＲ３における良否判定結果と、の比較、または長手方向の両端の第３判定領域ＡＲ３における良否判定結果の比較により、液晶パネルＰに対する光学部材１の傾きの確認をすることができる。これにより、光学部材１と液晶パネルＰとの貼合方法の見直しを図ることもできる。
【００９０】
本実施形態の光学表示デバイスの検査方法は、測定工程および判定工程を、第１判定領域、第２判定領域および第３判定領域のうち少なくとも１つの領域で行うとよく、第１判定領域、第２判定領域および第３判定領域のうち２つの領域で行うと好ましく、第１判定領域、第２判定領域および第３判定領域のすべてで行うとさらに好ましい。
【００９１】
以上のような構成の光学表示デバイスの検査方法によれば、信頼性の高い品質検査が可能となる。また、以上のような構成の光学部材のパターン認識方法によれば、パターン化位相差層の第１領域と第２領域との境界を精度良く認識可能となる。
【００９２】
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
【符号の説明】
【００９３】
１…光学部材、３…パターン化位相差層（位相差層）、３Ｌ…第２領域、３Ｒ…第１領域、１００…表示装置（光学表示デバイス）、ＡＬ１，ＡＬ２…近似線、ＢＬ，ＢＬ１，ＢＬ２，ＢＬ３…境界線（境界）、ＢＰ…境界点（境界）、ＤＡ…検出領域、Ｅ１，Ｅ２…端部、ＦＬ，ＦＬ１，ＦＬ２，ＦＬ３…基準線、Ｄ…距離、Ｌ…画素列、Ｐ…液晶パネル（光学表示部品）、Ｐ４…表示領域、Ｒ，Ｇ，Ｂ…画素
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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