(57)【要約】【課題】外観限度見本具を容易かつ安価に製造することができるとともに、様々なバリエーションの欠陥見本を容易に形成することができる外観限度見本具の製造方法を提供する。【解決手段】欠陥見本を備えた外観限度見本具１０の製造方法であって、透明光学部材１１の表面に器具を押圧し、複数の圧痕を集中させて第一欠陥見本１３を形成する欠陥見本形成工程を含むことを特徴とする。欠陥見本形成工程の後、透明光学部材１１の表面に被覆層１２をコーティングするコーティング工程を含むことが好ましい。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥見本を備えた外観限度見本具の製造方法であって、
透明光学部材の表面に器具を押圧し、複数の圧痕を集中させて前記欠陥見本を形成する欠陥見本形成工程を含むことを特徴とする外観限度見本具の製造方法。
【請求項２】
欠陥見本形成工程の後に、前記透明光学部材の表面に被覆層をコーティングするコーティング工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の外観限度見本具の製造方法。
【請求項３】
前記欠陥見本形成工程では、大きさの異なる複数の前記欠陥見本を間隔をあけて形成することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の外観限度見本具の製造方法。
【請求項４】
前記器具の押圧側の先端をダイヤモンドで形成することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の外観限度見本具の製造方法。
【請求項５】
透明光学部材の表面に複数の圧痕が集まって構成された欠陥見本が形成されていることを特徴とする外観限度見本具。
【請求項６】
大きさの異なる複数の前記欠陥見本が間隔をあけて形成されていることを特徴とする請求項５に記載の外観限度見本具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外観限度見本具の製造方法及び外観限度見本具に関する。
【背景技術】
【０００２】
透明光学部材の外観品質検査を行う際に、現物の欠陥製品を外観限度見本具として採用する場合がある。現物の欠陥製品を外観限度見本具として採用すると、同じ欠陥を備えた外観限度見本具を複数個用意することが困難になるため、外観品質検査を行う部署ごとに外観限度見本具（基準）が異なるという問題がある。
【０００３】
このような問題を解決する技術が特許文献１に開示されている。特許文献１には、微小の凸条を透明光学部材に形成して外観限度見本具を製造する技術が開示されている。この微小な凸条が欠陥を模擬した部分（以下、「欠陥見本」と言う。）である。この従来の製造方法では、成形型に凸凹を形成しつつ射出成形によって透明光学部材の表面に複数の凸条を形成している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−１８０６７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１に記載の製造方法では、透明光学部材の材料（例えば、ガラス）によっては成形型を用いて形成することができない場合がある。また、当該製造方法では、非常に高額な成形型を使用するため製造コストが増加するという問題がある。
【０００６】
また、透明光学部材の実際の欠陥は、点状のキズ、線状のキズ（引っかきキズ）、凸条等様々な形態がある。特許文献１の製造方法において、欠陥見本の大きさや形状のバリエーションを増やす場合には、複数種類の成形型を製造しなければならない。そのため、作業工程や製造コストが著しく増加するという問題がある。
【０００７】
このような観点から本発明は、外観限度見本具を容易かつ安価に製造することができるとともに、様々なバリエーションの欠陥見本を容易に形成することができる外観限度見本具の製造方法及び外観限度見本具を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記課題を解決するため、本発明は、欠陥見本を備えた外観限度見本具の製造方法であって、透明光学部材の表面に器具を押圧し、複数の圧痕を集中させて前記欠陥見本を形成する欠陥見本形成工程を含むことを特徴とする。
【０００９】
かかる製造方法によれば、透明光学部材に器具を押圧するだけで欠陥見本を備えた外観限度見本具を容易にかつ安価に製造することができる。また、圧痕の数や隣り合う合う圧痕との間隔を適宜変更することにより、様々なバリエーションの欠陥見本を容易に形成することができる。また、透明光学部材に器具を押圧するだけであるため、透明光学部材の材料を問わず製造可能である。
【００１０】
また、欠陥見本形成工程の後に、前記透明光学部材の表面に被覆層をコーティングするコーティング工程を含むことが好ましい。かかる製造方法によれば、被覆層の割れを防止できる。
【００１１】
また、前記欠陥見本形成工程では、大きさの異なる複数の前記欠陥見本を間隔をあけて形成することが好ましい。
【００１２】
一の透明光学部材に、大きさの異なる複数の欠陥見本を形成しておけば、対比の対象となる光学部品（以下、「対象光学部品」と言う。）に形成された欠陥との対比が容易となる。これにより、外観品質検査における精度、検査スピード等を高めることができる。
【００１３】
また、前記器具の押圧側の先端をダイヤモンドで形成することが好ましい。かかる製造方法によれば、圧痕の形状を安定させることができる。
【００１４】
また、本発明に係る外観限度見本は、透明光学部材の表面に複数の圧痕が集まって構成された欠陥見本が形成されていることを特徴とする。
【００１５】
かかる構成によれば、様々な形態の欠陥見本を容易に表現することができる。つまり、欠陥見本の圧痕の数や隣り合う圧痕との間隔を適宜変更することにより、様々なバリエーションの欠陥見本を容易に形成することができる。また、透明光学部材に複数の圧痕を形成するだけで外観限度見本具を容易にかつ安価に製造することができる。
【００１６】
また、大きさの異なる複数の前記欠陥見本が間隔をあけて形成されていることが好ましい。かかる構成によれば、対象光学部品に形成された欠陥との対比が容易となる。これにより、外観品質検査における精度、検査スピード等を高めることができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に係る外観限度見本具の製造方法及び外観限度見本具によれば、外観限度見本具を容易かつ安価に製造することができる。また、外観限度見本具に設けられた欠陥見本のバリエーションを容易に増やすことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第一実施形態に係る外観限度見本具を示す斜視図である。
【図２】第一実施形態に係る欠陥見本を示す拡大平面図であり、（ａ）は第一欠陥見本を示し、（ｂ）は第二欠陥見本を示し、（ｃ）は第三欠陥見本を示す。
【図３】（ａ）は第一実施形態に係る第一欠陥見本の一部の拡大平面図であり、（ｂ）は（ａ）のＩ−Ｉ断面図である。
【図４】第一実施形態に係る外観限度見本具の製造方法で用いる押圧装置を示す斜視図である。
【図５】変形例に係る欠陥見本を示す平面図である。
【図６】第二実施形態に係る外観限度見本具を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
［第一実施形態］
本発明の第一実施形態に係る外観限度見本具について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。図１に示すように、本実施形態に係る外観限度見本具１０は、透明光学部材１１と、被覆層１２と、第一欠陥見本１３と、第二欠陥見本１４と、第三欠陥見本１５と、３つの目印線１６とで主に構成されている。なお、図中の被覆層１２は非常に薄く、また、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、非常に小さいものであるが、説明の便宜上実際の寸法よりも大きく描画している。
【００２０】
外観限度見本具１０は、対象光学部品の外観品質検査に使用されるものである。対象光学部品は、例えば、光学ガラス、フィルター、ミラー、偏光板、反射シート等である。外観品質検査では、対象光学部品と外観限度見本具１０とを対比観察して、品質のチェックを行う。
【００２１】
透明光学部材１１は、光学ガラス、光学樹脂等で形成されており、矩形板状を呈する。透明光学部材１１は、本実施形態では矩形板状を呈するが、他の形状であってもよい。透明光学部材１１の厚さは特に制限されないが、例えば、０．２〜１０．０ｍｍ、好ましくは０．３〜５．０ｍｍで形成されている。透明光学部材１１の材料、厚さ及び形状等は外観品質検査で対比する対象光学部品と同等に形成されていることが好ましい。
【００２２】
被覆層１２は、透明光学部材１１の表面を覆う層状部材である。被覆層１２は、単数又は複数の薄膜を積層して形成されている。被覆層１２の材料及び厚さは、透明光学部材１１の材料や対象光学部品の用途に応じて適宜設定される。例えば、透明光学部材１１を光学ガラスで形成する場合、透明光学部材１１の表面に酸化シリカ（ＳｉＯ２）の薄膜及び酸化チタン（ＴｉＯ２）の薄膜を蒸着して被覆層１２を構成する。被覆層１２の厚さは、例えば１μｍ以下で適宜設定される。被覆層１２の材料、厚さ等は対象光学部品と同等に形成することが好ましい。なお、被覆層１２は、省略してもよい。
【００２３】
図１及び図２に示すように、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、対象光学部品に形成される可能性のある欠陥を模擬したものである。図２の（ａ）に示すように、第一欠陥見本１３は、複数の圧痕１７を模擬すべき欠陥の平面形状に対応する所定の範囲（領域）に集合させることによって構成された圧痕集合体である。また、図２の（ｂ）及び（ｃ）に示すように、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５も、複数の圧痕１７を所定の範囲に集合させることによって構成された圧痕集合体である。第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、それぞれ凹状かつ点状のキズを表現している。つまり、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、対象光学部品に実際に形成された欠陥と対比される部位である。第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、それぞれの外径Φ１〜Φ３の大きさが主に相違する。
【００２４】
図２の（ａ）に示すように、第一欠陥見本１３は、本実施形態では複数の圧痕１７を外径Φ１となる範囲（外径Φ１となる仮想円）内に集中させることにより構成されている。第一欠陥見本１３の外径Φ１は、本実施形態では約６０μｍである。図２の（ａ）では３７個の圧痕１７を集中させて第一欠陥見本１３を構成しているが、圧痕１７の個数を限定するものではない。
【００２５】
図３の（ａ）は第一欠陥見本１３の一部の拡大平面図であり、（ｂ）は（ａ）のＩ−Ｉ断面図である。図３の（ａ）及び（ｂ）に示すように、圧痕１７は、後記する押圧部（器具）２３を透明光学部材１１に押しつけて形成された凹部である。圧痕１７の凹部は本実施形態では正四角錐を呈するが、他の角錐、円錐、半球、直方体等でもよい。圧痕１７の凹部は、光が反射しやすく、かつ、成形しやすい形状であることが好ましい。圧痕１７の大きさ、形状はそれぞれ異なるように形成してもよいが、本実施形態では概ね同一の大きさ、形状になっている。
【００２６】
圧痕１７の辺ａの長さ寸法は１〜２０μｍに設定すればよく、好ましくは２〜１０μｍに設定し、より好ましくは３〜６μｍに設定するとよい。圧痕１７の辺ａの長さ寸法が１μｍ未満であると成形が困難になるとともに、光が反射しづらくなるため外観品質検査における観察が困難になる。また、圧痕１７の辺ａの長さ寸法が２０μｍを超えても光が反射しづらくなるため外観品質検査における観察が困難になる。なお、圧痕の凹部が他の形状である場合は、外径Φ４の仮想円（図３の（ａ）参照）内に当該圧痕が含まれる大きさで形成するのがよい。外径Φ４は、１．４〜２８．２μｍに設定すればよく、好ましくは２．８〜１４．１μｍに設定し、より好ましくは４．２〜８．５μｍに設定するとよい。
【００２７】
隣り合う圧痕１７，１７は重複しても構わないが、所定の間隔をあけて形成することが好ましい。隣り合う圧痕１７，１７の間隔は、全て均一に設定してもよいが、本実施形態のように異なるように設定してもよい。隣り合う圧痕１７，１７の間隔は１〜２０μｍに設定すればよく、好ましくは２〜１０μｍに設定し、より好ましくは３〜５μｍに設定するとよい。隣り合う圧痕１７，１７の間隔が１μｍ未満であると外観限度見本具１０の強度が低下するおそれがあるため好ましくない。一方、隣り合う圧痕１７，１７の間隔が２０μｍを超えると、各欠陥見本が薄くなり観察しづらくなるため点状の欠陥見本としては好ましくない。
【００２８】
前記したように、光学部品の欠陥は、点状のキズ、線状のキズ（引っかきキズ）、凸条、異物混入、気泡、汚れ、ぼかし等様々な形態がある。本実施形態では、点状のキズを模して第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５を形成しているため、圧痕１７の大きさや、隣り合う圧痕１７，１７の間隔を前記のように設定した。圧痕１７の形態や、隣り合う圧痕１７，１７の間隔を適宜変更することにより、様々なバリエーションの欠陥見本を形成することができる。バリエーションの詳細については後記する。
【００２９】
図２の（ｂ）に示すように、第二欠陥見本１４は、本実施形態では複数の圧痕１７を外径Φ２となる範囲（外径Φ２となる仮想円）内に集中させることにより構成されている。第二欠陥見本１４の外径Φ２は、本実施形態では約７０μｍである。図２の（ｂ）では５２個の圧痕１７を集中させて第二欠陥見本１４を構成しているが、圧痕１７の個数を限定するものではない。第二欠陥見本１４の圧痕１７の大きさ、形状は第一欠陥見本１３と概ね同一である。また、第二欠陥見本１４の隣り合う圧痕１７，１７の間隔も第一欠陥見本１３と概ね同じ寸法内で配置されている。
【００３０】
図２の（ｃ）に示すように、第三欠陥見本１５は、本実施形態では複数の圧痕１７を外径Φ３となる範囲（外径Φ３となる仮想円）内に集中させることにより構成されている。第三欠陥見本１５の外径Φ３は、本実施形態では約８０μｍになっている。図２の（ｃ）では８８個の圧痕１７を集中させて第三欠陥見本１５を構成しているが、圧痕１７の個数を限定するものではない。第三欠陥見本１５の圧痕１７の大きさ、形状は第一欠陥見本１３と概ね同一である。また、第三欠陥見本１５の隣り合う圧痕１７，１７の間隔も第一欠陥見本１３と概ね同じ寸法内で配置されている。
【００３１】
なお、各欠陥見本の外径は、前記した寸法に限定されるものではなく、例えば、４０μｍ〜５００μｍの範囲内で適宜設定すればよい。
【００３２】
図１に示すように、目印線１６は、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５をそれぞれ囲む補助的な線である。目印線１６の中央位置に第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４又は第三欠陥見本１５がそれぞれ形成されている。目印線１６は、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５が肉眼では見えないか又は肉眼では見づらい大きさである場合に設けるとよい。目印線１６を設けると、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５を見つけ易くなる。
【００３３】
目印線１６の外径Φ５は、本実施形態では例えば、約５〜１０ｍｍで形成されている。目印線１６は、例えば色の付いた線で描いても構わないが、本実施形態では複数の圧痕を、円周上に配置することで円形状の線を表している。目印線１６の圧痕の大きさ及び間隔は、視認可能な範囲で適宜設定すればよい。目印線１６は、各欠陥見本が見つけ易い形状であれば他の形状でもよい。
【００３４】
次に、外観限度見本具１０の製造方法について説明する。外観限度見本具の製造方法では、準備工程と、欠陥見本形成工程と、目印形成工程と、コーティング工程とを行う。
【００３５】
準備工程は、透明光学部材１１及び図４に示す押圧装置２０を用意して欠陥見本形成工程の準備を行う工程である。図４に示すように、押圧装置２０は、操作者が予め設定した条件に基づいて、透明光学部材１１に複数の圧痕１７を形成する装置である。押圧装置２０は、テーブル２１と、昇降部２２と、押圧部２３と、ロードセルと、制御部（いずれも図示省略）とで構成されている。テーブル２１は、透明光学部材１１を移動不能に拘束する部位であって、板状を呈する。テーブル２１は、制御部からの制御信号に基づいて前後、左右に移動する。
【００３６】
昇降部２２は、制御部からの制御信号に基づいて昇降する部位である。昇降部２２は、テーブル２１の上方に配置されている。押圧部２３は、昇降部２２に設けられている。押圧部２３は、特許請求の範囲の「器具」に相当する部位である。押圧部２３の押圧側の先端を透明光学部材１１に押し付けることにより圧痕１７が形成される。押圧部２３の先端部２３ａは、透明光学部材１１よりも硬度の高い材料（例えば、ダイヤモンド）で形成されている。先端部２３ａの形状は、圧痕１７の形状に合わせて形成されており、本実施形態では正四角錐を呈する。
【００３７】
ロードセルは、力（質量）を検出するセンサーである。本装置のロードセルは、押圧部２３に作用する力を検知し、それを電気信号に変換して制御部に出力する。
【００３８】
制御部は、予め設定された条件に基づいて、押圧装置２０の全体の制御を行う部位である。制御部は、例えば、ＣＰＵ等で構成された演算手段、メモリ等の記憶手段、モニタ等の表示手段、キーボード及びマウス等の入力手段で構成されている。制御部は、記憶手段に記憶された圧痕１７の辺ａの長さ寸法（又は外径Φ４の寸法）、押圧位置（隣り合う圧痕１７，１７の間隔）等の各条件に基づいて押圧装置２０を制御する。
【００３９】
また、制御部は、透明光学部材１１に対して押圧部２３を押圧する際の押圧力を制御することができる。透明光学部材１１に対する押圧部２３の押圧力は、透明光学部材１１の材料によって適宜設定すればよい。例えば、透明光学部材１１が光学ガラスで形成されている場合、当該押圧力を１〜１００ｇ、好ましくは５〜５０ｇ、より好ましくは１０〜２０ｇに設定することができる。当該押圧力が１ｇ未満であると圧痕１７が形成しづらい。一方、当該押圧力が１００ｇを超えると透明光学部材１１が破損するおそれがある。
【００４０】
欠陥見本形成工程は、透明光学部材１１に押圧部２３を押圧して（押し付けて）複数の圧痕１７を形成し、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５をそれぞれ形成する工程である。操作者が、制御部の実行ボタンを押下すると、設定された条件に基づいて押圧装置２０が稼働し、透明光学部材１１に各欠陥見本が形成される。
【００４１】
目印形成工程は、透明光学部材１１に押圧部２３を押圧して複数の圧痕を形成し、目印線１６をそれぞれ形成する工程である。操作者が、制御部の実行ボタンを押下すると、設定された条件に基づいて押圧装置２０が稼働し、透明光学部材１１に目印線１６が形成される。なお、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４、第三欠陥見本１５及び３つの目印線１６を形成する順番は特に制限されるものではない。
【００４２】
コーティング工程は、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４、第三欠陥見本１５及び３つの目印線１６が形成された透明光学部材１１に被覆層１２を形成する工程である。被覆層１２は、例えば蒸着によって一又は複数の薄膜を積層させる。以上により外観限度見本具１０が形成される。
【００４３】
次に、外観限度見本具１０の使用方法について説明する。外観品質検査においては、対象光学部品と外観限度見本具１０とを、例えば目視又は光学顕微鏡を用いて微分干渉観察等を行い、対象光学部品の品質の適否を判定する。外観限度見本具１０は、大きさの異なる第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４、第三欠陥見本１５を備えている。そのため、例えば、対象光学部品の欠陥が、第一欠陥見本１３及び第二欠陥見本１４と同等か、それよりも小さい場合は適合であると判定し、第三欠陥見本１５と同程度か、それよりも大きい場合は不適合と判定することができる。
【００４４】
以上説明した外観限度見本具１０及びその製造方法によれば、第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、それぞれ大きさの異なる「欠陥見本」となる。透明光学部材１１に押圧部（器具）２３を押圧するだけで欠陥見本を備えた外観限度見本具１０を容易にかつ安価に製造することができる。また、透明光学部材１１に押圧部２３を押圧するだけであるため、樹脂やガラス等の透明光学部材１１の材料を問わず製造可能である。
【００４５】
また、各欠陥見本の圧痕１７の数や隣り合う合う圧痕１７，１７の間隔を適宜変更することにより、様々なバリエーションの欠陥見本を容易に形成することができる。光学部品の高精度化に伴い、欠陥に対する要求も年々厳しくなる傾向にある。本実施形態によれば、圧痕１７の数を少なくするだけで、欠陥見本をより小さく形成できるため、このような要求にも容易に対応できる。
【００４６】
なお、欠陥見本形成工程は、被覆層１２をコーティングした後に行ってもよいが、この方法であると被覆層１２が割れる（破損する）可能性がある。本実施形態では、圧痕１７を形成した後に被覆層１２を形成しているため、圧痕１７の形成による被覆層１２の割れを防止することができる。
【００４７】
また、本実施形態では、一の透明光学部材１１に大きさの異なる複数の欠陥見本（第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５）を間隔をあけて形成しているため、対象光学部品に形成された欠陥との対比が容易となる。これにより、外観品質検査における精度、検査スピード等を高めることができる。
【００４８】
また、押圧部２３の先端部（先端）２３ａをダイヤモンドで形成することにより、押圧部２３の欠損や摩耗を防ぐことができるため、圧痕１７の形状を長期間にわたって安定させることができる。
【００４９】
また、圧痕１７の凹部の形状は、他の他角錐、半球、直方体等他の形状でもよいが、凹部の形状が四角錐であると、他の形状と比べて光が乱反射しやすい。これにより、外観品質検査における対比が容易となるため、外観品質検査の精度を高めることができる。
【００５０】
ここで、図５は、変形例に係る欠陥見本を示す平面図である。第一実施形態に係る第一欠陥見本１３、第二欠陥見本１４及び第三欠陥見本１５は、略円形の点状のキズを模したものであるが、図５に示す欠陥見本３１は、長丸状又は楕円状の点状のキズを模したものである。欠陥見本３１は、辺ａの長さ寸法が異なる複数種類の圧痕１７で構成されている。圧痕１７は、長丸状又は楕円状の仮想領域（図５の点線で示す領域）の内側に形成されている。なお、圧痕１７は平面視正方形としているが、平面視長方形、ひし形、他の多角形、円又は楕円等としてもよい。
【００５１】
対象光学部品の欠陥のうち線状のキズを表す場合は、複数の圧痕１７を間隔をあけて線状に形成し圧痕集合体を形成する。これにより、線状のキズに近い「欠陥見本」を形成することができる。
【００５２】
また、対象光学部品の欠陥のうち「汚れ」や「ぼかし」を表現する場合は、圧痕１７を所定の範囲に集中させつつ隣り合う圧痕１７，１７の間隔を大きくする。この場合、欠陥見本（圧痕集合体）の大きさを０．３〜１．０ｍｍの比較的大きな範囲に設定する。また、当該欠陥見本の隣り合う圧痕の間隔を１〜５０μｍ、より好ましくは２０〜４０μｍに設定する。圧痕の間隔を大きく設定すると、対比観察の際に薄く見える効果があるため、「汚れ」や「ぼかし」に近い欠陥見本を形成することができる。
【００５３】
以上のように、「欠陥見本」の種類を増やす場合は、圧痕１７の形状、大きさ、隣り合う圧痕１７，１７の間隔及び圧痕集合体の形状、大きさの各要素のうち、少なくとも一つの要素を変更するか、又はこれらを二つ以上組み合わせて変更する。このようにするだけで、対象光学部品の様々な欠陥を模擬した「欠陥見本」を容易に形成することができる。
【００５４】
［第二実施形態］
次に、本発明の第二実施形態に係る外観限度見本具について説明する。図６は、第二実施形態に係る外観限度見本具を示す平面図である。図６に示すように、外観限度見本具４０は、円形状を呈する。外観限度見本具４０は、透明光学部材４１と、被覆層４２と、第一欠陥見本５１〜第九欠陥見本５９と、９つの目印線６０とで主に構成されている。つまり、外観限度見本具４０には、九つの「欠陥見本」が形成されている。なお、第一欠陥見本５１〜第九欠陥見本５９は、非常に小さいものであるが、説明の便宜上実際の寸法よりも大きく描画している。
【００５５】
第一欠陥見本５１〜第九欠陥見本５９は、第一実施形態と同様に複数の圧痕を所定の仮想円内に集中させて形成されている。第一欠陥見本５１〜第九欠陥見本５９は、等間隔で配置されている。目印線６０は、各欠陥見本を中央に配置した円状の線である。
【００５６】
各欠陥見本の外径の大きさは、第一欠陥見本５１が最も小さく、第二欠陥見本５２、第三欠陥見本５３、第四欠陥見本５４、第五欠陥見本５５、第六欠陥見本５６、第七欠陥見本５７、第八欠陥見本５８、第九欠陥見本５９の順に徐々に大きくなる。各欠陥見本の外径の大きさは、例えば、約１０μｍずつ大きくなるように形成されている。欠陥見本の外径の差は、対象光学部品に応じて適宜設定すればよい。
【００５７】
従来の外観限度見本具の製造方法であると、欠陥見本の大きさのバリエーションを増やすのは困難であった。したがって、ある対象光学部品を実機に採用した場合に、実際にどの程度の大きさの欠陥であると不適合となるのか、その閾値を決定するのが非常に困難であった。よって、従来では欠陥（キズ）に対する要求が厳しくなり、過剰性能になる傾向があった。
【００５８】
しかし、第二実施形態であれば、圧痕の数を増減させることで、大きさの異なる複数の「欠陥見本」を備えた外観限度見本具４０を容易に形成することができる。外観限度見本具４０を実機に採用して品質検査を行うことで、欠陥（キズ）の適合又は不適合となる閾値を容易にかつ正確に決定することができる。
【００５９】
以上、本発明の実施形態及び変形例について説明したが、本発明の趣旨に反しない範囲において適宜設計変更が可能である。例えば、本実施形態の押圧部（器具）２３は、一回の押圧で一の圧痕１７を形成するものであったが、押圧部を複数の突起を有するように変形し、一回の押圧で複数の圧痕１７が形成されるようにしてもよい。また、本実施形態では各透明光学部材１１，４１に対して３個又は９個の欠陥見本を備える場合を例示したが、個数を限定するものではない。一の透明光学部材１１に対して１個の欠陥見本を備える形態であってもよい。また、前記説明中の各部位の寸法はあくまで例示であって、対象光学部品の欠陥の種類に応じて適宜設定すればよい。
【符号の説明】
【００６０】
１０      外観限度見本具
１１      透明光学部材
１２      被覆層
１３      第一欠陥見本（欠陥見本）
１４      第二欠陥見本（欠陥見本）
１５      第三欠陥見本（欠陥見本）
１６      目印線
１７      圧痕
２０      押圧装置
２３      押圧部（器具）
２３ａ    先端部（先端）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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