(57)【要約】【課題】放電灯の劣化を正確に判断できるプロジェクターおよびプロジェクターの制御方法を提供することを目的とする。【解決手段】電極を有する放電灯２２と、放電灯２２からの光を画像情報に応じて変調する液晶パネル２０と、液晶パネル２０によって変調された光を投射する投射レンズ２４と、放電灯２２の電極間電圧を検出する動作検出部５１と、放電灯２２から液晶パネル２０までの間の光および投射レンズ２４によって投射された光のうちいずれかの輝度情報を検出する輝度検出部６０と、検出された電極間電圧および輝度情報に基づいて、放電灯２２の劣化状態を判断するシステム制御部１０と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電極を有する放電灯と、
前記放電灯からの光を画像情報に応じて変調する光変調装置と、
前記光変調装置によって変調された光を投射する投射光学装置と、
前記放電灯の電極間電圧を検出する第１検出部と、
前記放電灯から前記光変調装置までの間の光および前記投射光学装置によって投射された光のうちいずれかの輝度情報を検出する第２検出部と、
検出された前記電極間電圧および前記輝度情報に基づいて、前記放電灯の劣化状態を判断する制御部と、
を備えることを特徴とするプロジェクター。
【請求項２】
前記放電灯を冷却する冷却部を備え、
前記制御部は、前記劣化状態に応じて前記冷却部を制御することを特徴とする請求項１に記載のプロジェクター。
【請求項３】
前記制御部は、前記劣化状態に応じて、前記冷却部が前記放電灯を冷却する程度を大きくすることを特徴とする請求項２に記載のプロジェクター。
【請求項４】
前記制御部は、前記劣化状態に応じて、前記放電灯の駆動に関する駆動パラメーターを制御することを特徴とする請求項１から請求項３いずれか一項に記載のプロジェクター。
【請求項５】
前記駆動パラメーターは、前記放電灯に供給される駆動電流の周波数、前記駆動電流のデューティ比、前記駆動電流に含まれる直流電流の時間または長さ、および前記放電灯に供給される駆動電力の大きさのうち少なくともいずれかであることを特徴とする請求項４に記載のプロジェクター。
【請求項６】
外装を構成する外装筐体を備え、
前記外装筐体は、外部に前記放電灯の劣化を通知する通知部を有し、
前記制御部は、前記劣化状態に応じて前記通知部を制御することを特徴とする請求項１から請求項５いずれか一項に記載のプロジェクター。
【請求項７】
前記制御部は、前記劣化状態に応じて、前記投射光学装置によって投射される画像中に前記放電灯の劣化を通知する画像を表示することを特徴とする請求項１から請求項６いずれか一項に記載のプロジェクター。
【請求項８】
前記制御部は、検出された前記電極間電圧に応じた、前記放電灯の電極間距離の前記輝度情報への影響度により前記放電灯の劣化の程度を示す電圧影響度と、前記輝度情報と、に基づいて前記放電灯の劣化状態を判断することを特徴とする請求項１から請求項７いずれか一項に記載のプロジェクター。
【請求項９】
前記制御部は、前記電圧影響度と前記輝度情報を比較し、比較結果に基づいて劣化状態を判断することを特徴とする請求項８に記載のプロジェクター。
【請求項１０】
前記制御部は、前記輝度情報が、検出された前記電極間電圧に応じた、前記放電灯の電極間距離による前記放電灯の劣化の前記輝度情報への影響度を示す電圧影響度より大きい場合に、前記冷却部を制御することを特徴とする請求項２に記載のプロジェクター。
【請求項１１】
前記制御部は、前記輝度情報が、検出された前記電極間電圧に応じた、前記放電灯の電極間距離による前記放電灯の劣化の前記輝度情報への影響度を示す電圧影響度より小さい場合に、前記駆動パラメーターを制御することを特徴とする請求項４に記載のプロジェクター。
【請求項１２】
電極を有する放電灯と、前記放電灯からの光を画像情報に応じて変調する光変調装置と、前記光変調装置によって変調された光を投射する投射光学装置と、を備えるプロジェクターの制御方法であって、
前記放電灯の電極間電圧を検出することと、
前記放電灯から前記光変調装置までの間の光および前記投射光学装置によって投射された光のうちいずれかの輝度情報を検出することと、
検出された前記電極間電圧および前記輝度情報に基づいて、前記放電灯の劣化状態を判断することと、を含むことを特徴とするプロジェクターの制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プロジェクターおよびプロジェクターの制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のプロジェクターにおいて、撮像装置によって光源の輝度を検出することで光源の劣化状態を把握し、光源の劣化に応じて輝度を調整する技術がある（特許文献１参照）。また、光源として用いる放電灯の電極間電圧を検出することで、光源の劣化状態を検出する技術も知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−２４２０８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、プロジェクターの放電灯の場合、放電灯の劣化を示す電極間電圧の値が検出されなくとも、放電灯が有する発光管の温度が上昇して発光管が結晶化し放電灯の照度が低下する失透によって、放電灯の劣化が進行している場合がある。従って、電極間電圧の測定のみでは、放電灯の劣化を正確に判断できないという問題があった。
【０００５】
本発明は、放電灯の劣化を正確に判断できるプロジェクターおよびプロジェクターの制御方法を提供することを目的の一つとする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するために、本発明の一つの態様のプロジェクターは、電極を有する放電灯と、前記放電灯からの光を画像情報に応じて変調する光変調装置と、前記光変調装置によって変調された光を投射する投射光学装置と、前記放電灯の電極間電圧を検出する第１検出部と、前記放電灯から前記光変調装置までの間の光および前記投射光学装置によって投射された光のうちいずれかの輝度情報を検出する第２検出部と、検出された前記電極間電圧および前記輝度情報に基づいて、前記放電灯の劣化状態を判断する制御部と、を備えることを特徴とする。
本発明の一つの態様のプロジェクターは、電極間電圧および輝度情報に基づいて、放電灯の劣化状態を判断するため、放電灯の劣化状態をより正確に判断することができる。
【０００７】
本発明の一つの態様のプロジェクターは、前記放電灯を冷却する冷却部を備え、前記制御部は、前記劣化状態に応じて前記冷却部を制御することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、放電灯の劣化状態に応じて、冷却部を制御することができるので、放電灯の寿命を向上することができる。
【０００８】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、前記劣化状態に応じて、前記冷却部が前記放電灯を冷却する程度を大きくすることを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、放電灯の劣化状態に応じて、冷却部が放電灯を冷却する程度を大きくすることができるので、放電灯の寿命を向上することができる。
【０００９】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、前記劣化状態に応じて、前記放電灯の駆動に関する駆動パラメーターを制御することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、放電灯の劣化状態に応じて、放電灯の駆動に関する駆動パラメーターを制御することができるので、放電灯の寿命を向上することができる。
【００１０】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記駆動パラメーターは、前記放電灯に供給される駆動電流の周波数、前記駆動電流のデューティ比、前記駆動電流に含まれる直流電流の時間または長さ、および前記放電灯に供給される駆動電力の大きさのうち少なくともいずれかであることを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、放電灯の劣化状態に応じて、放電灯の駆動に関する駆動パラメーターのいずれかにより制御することができるので、放電灯の寿命を向上することができる。
【００１１】
本発明の一つの態様のプロジェクターは、外装を構成する外装筐体を備え、前記外装筐体は、外部に前記放電灯の劣化を通知する通知部を有し、前記制御部は、前記劣化状態に応じて前記通知部を制御することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、放電灯の劣化状態に応じて、外部に放電灯の劣化を通知することができる。
【００１２】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、前記劣化状態に応じて、前記投射光学装置によって投射される画像中に前記放電灯の劣化を通知する画像を表示することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、放電灯の劣化状態に応じて、投射光学装置によって投射される画像中に放電灯の劣化を通知する画像を表示することができる。
【００１３】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、検出された前記電極間電圧に応じた、前記放電灯の電極間距離の前記輝度情報への影響度により前記放電灯の劣化の程度を示す電圧影響度と、前記輝度情報と、に基づいて前記放電灯の劣化状態を判断することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、検出された電極間電圧に応じた、放電灯の電極間距離の輝度情報への影響度により放電灯の劣化の程度を示す電圧影響度と、輝度情報と、に基づいて、放電灯の劣化状態を判断するため、放電灯の劣化状態をより正確に判断することができる。
【００１４】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、前記電圧影響度と前記輝度情報を比較し、比較結果に基づいて劣化状態を判断することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、電圧影響度と輝度情報を比較し、比較結果に基づいて劣化状態を判断するため、放電灯の劣化状態をより正確に判断することができる。
【００１５】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、前記輝度情報が、検出された前記電極間電圧に応じた、前記放電灯の電極間距離による前記放電灯の劣化の前記輝度情報への影響度を示す電圧影響度より大きい場合に、前記冷却部を制御することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、輝度情報が、電圧影響度より大きい場合に、冷却部を制御するので、放電灯の寿命を向上することができる。
【００１６】
本発明の一つの態様のプロジェクターにおいて、前記制御部は、前記輝度情報が、検出された前記電極間電圧に応じた、前記放電灯の電極間距離による前記放電灯の劣化の前記輝度情報への影響度を示す電圧影響度より小さい場合に、前記駆動パラメーターを制御することを特徴とする。
この構成により、プロジェクターでは、輝度情報が、電圧影響度より小さい場合に、駆動パラメーターを制御するので、放電灯の寿命を向上することができる。
【００１７】
本発明の一つの態様のプロジェクターの制御方法は、電極を有する放電灯と、前記放電灯からの光を画像情報に応じて変調する光変調装置と、前記光変調装置によって変調された光を投射する投射光学装置と、を備えるプロジェクターの制御方法であって、前記放電灯の電極間電圧を検出することと、前記放電灯から前記光変調装置までの間の光および前記投射光学装置によって投射された光のうちいずれかの輝度情報を検出することと、検出された前記電極間電圧および前記輝度情報に基づいて、前記放電灯の劣化状態を判断することと、を含むことを特徴とする。
本発明の一つの態様のプロジェクターの制御方法は、電極間電圧および輝度情報に基づいて、放電灯の劣化状態を判断するため、放電灯の劣化状態をより正確に判断することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の一実施形態のプロジェクター１００の構成を示したブロック図である。
【図２】図１の照明光学系２３の部分を抽出した図である。
【図３】第２インテグレータレンズ３２の入射面の状態を示した説明図である。
【図４】偏光変換素子３３の入射面の説明図である。
【図５】システム制御部１０の処理過程を示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照して説明する。
【００２０】
図１は、本発明の一実施形態のプロジェクター１００の構成を示したブロック図である。
プロジェクター１００は、システム制御部１０（制御部）と、操作部１１と、Ｉ／Ｆ（Inter Face）１２と、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）撮像装置１７と、映像制御回路１８と、液晶コントローラー１９と、液晶パネル２０（光変調装置）と、投射レンズ２４（投射光学装置）と、光源装置５０（光源）と、冷却部５３と、動作検出部５１（第１検出部）と、輝度検出部６０（第２検出部）を備えている。なお、図１において、プロジェクター１００の外装を構成する図示しない外装筐体に設けられた、第１通知部５４および第２通知部５５を示している。
【００２１】
操作部１１は、システム制御部１０に接続される。操作部１１は、ユーザーの操作による操作信号が入力される。
Ｉ／Ｆ１２は、システム制御部１０に接続される。Ｉ／Ｆ１２は、外部のコンピューター等からの映像データ等が入力する。
ＣＣＤ撮像装置１７は、システム制御部１０に接続される。ＣＣＤ撮像装置１７は、詳細は後述するが、第２インテグレータレンズ３２（図２参照）の入射面を撮像し、放電灯２２の劣化に関連する撮像信号を、輝度検出部６０に出力する。
【００２２】
映像制御回路１８は、システム制御部１０に接続される。映像制御回路１８は、システム制御部１０からの映像信号を取り込んで、フレーム画像を生成して液晶コントローラー１９に出力する。
液晶コントローラー１９は、映像制御回路１８に接続される。液晶コントローラー１９は、入力されるフレーム画像のデータを、Ｄ／Ａ変換処理等の所定の信号処理を施して、信号処理された画像情報として液晶パネル２０に出力して描画する。
【００２３】
液晶パネル２０は、光源装置５０における照明光学系２３からの光を、画像情報に応じて変調する。
投射レンズ２４は、液晶パネル２０によって変調された光を拡大してスクリーン（図示せず）に投射する。
【００２４】
光源装置５０は、放電灯駆動部２１と、放電灯２２と、照明光学系２３と、を含み、光を液晶パネル２０に対して射出する。
放電灯駆動部２１は、プロジェクター１００の起動時に放電灯２２の電極間に高電圧を発生し、絶縁破壊を生じさせて放電路を形成する。以降、放電灯駆動部２１は、放電灯２２が放電を維持するための駆動電流Iを供給する。
システム制御部１０は、放電灯駆動部２１が駆動電流Iを供給するために、駆動パラメーター２１１を放電灯駆動部２１に対して送信する。駆動パラメーターは、放電灯２２に供給される駆動電流Ｉの周波数、駆動電流Ｉのデューティ比、駆動電流Ｉに含まれる直流電流の時間または長さ、および放電灯２２に供給される駆動電力の大きさのうち少なくともいずれかである。なお、本実施形態において、駆動パラメーターの１つとして直流電流を挙げているが、これに限らず、駆動電流Ｉに含まれる交流電流の半周期の時間または長さでもよい。すなわち、駆動電流Ｉにおける極性が一定に維持される時間または長さを駆動パラメーターの１つとすればよい。
【００２５】
図２は、図１の照明光学系２３の部分を抽出した図である。
照明光学系２３は、均一な照明光を生成するための第１インテグレータレンズ３１および第２インテグレータレンズ３２、入射光を１つの偏光波例えばＳ波にそろえるＰＳ変換手段として機能する偏光変換素子（ＰＢＳ：Polarizing Beam Splitter）３３、及び偏光変換素子３３からの光を集光する集光レンズ３４を備えている。なお、照明光学系２３は実際のものはもっと複雑な構成になっているが、ここでは本発明に特に関連する部分のみが抽出されて図示されている。また、本実施形態１においては、ＣＣＤ撮像装置１７が第２インテグレータレンズ３２の入射面を撮像できるように配置されている。
【００２６】
ＣＣＤ撮像装置１７は、定期的又は連続して輝度検出部６０からの撮像指示信号２０１に応じて、第２インテグレータレンズ３２の入射面を撮像している。輝度検出部６０は、ＣＣＤ撮像装置１７が撮像した撮像信号２０２を取り込む。輝度検出部６０は、撮像信号２０２に基づいて入射光のスポットの面積を求める。なお、本実施形態において、ＣＣＤ撮像装置１７および輝度検出部６０は、第１インテグレータレンズ３１と第２インテグレータレンズ３２との間の光、即ち照明光学系２３内における光の輝度情報を検出しているが、これに限らず、放電灯２２と照明光学系２３との間の光または照明光学系２３と光変調装置としての液晶パネル２０との間の光の輝度情報を検出してもよい。言い換えると、放電灯２２から液晶パネル２０までの間の光の輝度情報を検出すればよい。
【００２７】
図３は、第２インテグレータレンズ３２の入射面の状態を示した説明図である。第１インテグレータレンズ３１は放電灯２２より入射された光を絞って第２インテグレータレンズ３２の突部に焦点を結ぶ。放電灯２２の劣化により放電灯２２が有する第１電極９２および第２電極９３におけるアーク長（放電灯２２の電極間距離）が長くなると、第２インテグレータレンズ３２に形成されるスポットの大きさが変化する。放電灯２２が新品のときには、スポット４１に示されるように、その面積は小さなものとなっている。しかし、経年変化でアーク長が長くなると、スポット４２に示されるように大きなものとなる。輝度検出部６０は入射光のスポット４１，４２の撮像信号２０２を取り込んで、その大きさとして例えば面積を求める。
【００２８】
図４は、偏光変換素子３３の入射面の説明図である。図４（ａ）は放電灯２２のアーク長が規定値のときであり、スポット４１に対応した集光範囲４３を示しており、図４（ｂ）はアーク長が規定値を超えているときであり、スポット４２に対応した集光範囲４４を示している。集光範囲４４のように集光範囲が広くなると、集光レンズ３４側に出力される光量が少なくなり、結果として輝度が低下することになる。即ち、図３のスポット４１，４２の大きさにより偏光変換素子３３にて失われる光エネルギーが把握でき、スポット４１，４２の大きさにより輝度を一義的に求めることができる。ここでは、スポット４１，４２の大きさ（面積）と輝度とを同義に扱っている。
【００２９】
図１に戻って、輝度検出部６０は、入射光のスポット４１，４２の撮像信号２０２を取り込んで、スポットの大きさから輝度低下率Ｒ１（輝度情報）を検出する。例えば、輝度検出部６０は、プロジェクター１００の出荷時点（点灯０ｈｒ時点）のスポット４１の大きさを基準として、輝度低下率Ｒ１＝０％とする。また、輝度検出部６０は、所定の累積点灯時間の経過後にスポット４２の大きさが大きくなると、そのスポット４２の大きさのスポット４１の大きさに対する割合に応じて、輝度低下率Ｒ１を求め、システム制御部１０に送信する。システム制御部１０は、輝度低下率Ｒ１を、累積の点灯時間に関連付けて、メモリー６１に記憶させる。
【００３０】
動作検出部５１は、放電灯２２の電極間電圧２１４を検出して、システム制御部１０に対して放電灯２２の電極間電圧２１４を送信する。放電灯２２の電極間電圧２１４とは、放電灯２２の第１電極９２と第２電極９３（図２参照）との電極間距離により決まる電圧である。動作検出部５１は、例えば、放電灯駆動部２１の出力間に挟み込まれた直列接続された抵抗２つにより分圧された電圧により、電極間電圧２１４を検出する。
【００３１】
システム制御部１０におけるテーブル６２は、放電灯２２の電極間距離による放電灯２２の劣化の、輝度低下率Ｒ１への影響度を示す電圧影響度Ｒ２を、電極間電圧２１４に関連付けて記憶している。電圧影響度Ｒ２は、放電灯２２の電極間電圧に対して輝度低下率Ｒ１がいくつになるかを求める実験により、予め求められた値である。電圧影響度Ｒ２は、電極間電圧２１４の最小値のときに０％、電極間電圧２１４が大きいほど大きな値になるようにテーブル６２に記憶されている。
【００３２】
システム制御部１０は、定期的又は連続して、輝度検出部６０に撮像指示信号２０１を出力させ、輝度低下率Ｒ１を検出させる。また、システム制御部１０は、動作検出部５１により検出された電極間電圧２１４に対応する電圧影響度Ｒ２をテーブル６２から選択する。そして、システム制御部１０は、放電灯２２の劣化状態Ｒを、輝度低下率Ｒ１と、電圧影響度Ｒ２とに基づいて判断する。システム制御部１０は、輝度低下率Ｒ１と電圧影響度Ｒ２との比較を行う。システム制御部１０は、比較結果である劣化状態Ｒを、例えば、Ｒ＝（−輝度低下率Ｒ１）−（−電圧影響度Ｒ２）と算出する。
例えば、電極間電圧２１４が最小値のとき、すなわち電圧影響度Ｒ２が０％のときであっても、輝度低下率Ｒ１が３０％になっている場合がある。この場合、システム制御部１０は、劣化状態ＲをＲ＝（−３０％）−（−０％）と算出する。このようにして、従来知ることが出来なかった放電灯２２の劣化状態、すなわち放電灯２２の失透による劣化状態を知ることができる。
【００３３】
冷却部５３は、放電灯２２の傍に配置され、システム制御部１０が冷却指示信号２０７を送信すると、放電灯２２が高温化しないように放電灯２２を冷やす。システム制御部１０は、劣化状態Ｒが所定の値になった時点で、冷却部５３の冷却量を強める制御を行い、放電灯２２を冷却する程度を大きくする。これは、放電灯２２の失透が始まると、放電灯２２の内壁温度上昇を引き起こし、失透の進行を加速させるからである。従って、システム制御部１０は、冷却部５３の冷却量を強める制御を行うことにより、放電灯２２のランプ寿命を伸ばすことを可能にできる。
【００３４】
特に、システム制御部１０は、放電灯２２の劣化状態Ｒが失透による劣化の度合が大きいことを示す場合、すなわち劣化状態Ｒが０よりも小さい（例えば−２０％）場合、放電灯２２の冷却の度合を大きくするように冷却部５３を制御することで、失透による放電灯の２２の劣化を効果的に抑制することができる。
【００３５】
第１通知部５４は、表示回路１３と、表示パネル１５と、を備え、図示しない外装筐体に設けられる。
表示回路１３は、システム制御部１０に接続される。システム制御部１０は、表示回路１３を介して表示パネル１５に、例えば操作部１１の操作に対応した操作信号等を表示させる。
第２通知部５５は、音声出力回路１４と、スピーカー１６と、を備え、図示しない外装筐体に設けられる。
音声出力回路１４は、システム制御部１０に接続される。システム制御部１０は、音声出力回路１４を介して スピーカー１６から音声等を発生させる。
【００３６】
システム制御部１０は、劣化状態Ｒに応じて、第１通知部５４を制御して、放電灯２２の劣化を、表示パネル１５に表示させることにより、外部に通知する。
システム制御部１０は、劣化状態Ｒに応じて、第２通知部５５を制御して、放電灯２２の劣化を、スピーカー１６から音声を発生させることにより、外部に通知する。
システム制御部１０は、劣化状態Ｒが所定の値になった時点で、放電灯２２の寿命時間到達前に、ランプの交換を促す内容を外部へ通知することができる。
【００３７】
図５は、システム制御部１０の処理過程を示したフローチャートである。
なお、本フローチャートに示す処理過程は、システム制御部１０が、輝度低下率Ｒ１が電圧影響度Ｒ２より大きい場合、すなわち放電灯２２の劣化状態Ｒ＜０（％）の場合に行う処理を示している。
【００３８】
システム制御部１０は、輝度検出部６０に輝度情報の検出を実行させる（ステップＳ１）。輝度検出部６０は、輝度低下率Ｒ１を求め、メモリー６１に記憶させる。システム制御部１０は、メモリー６１から、輝度低下率Ｒ１を選択する。また、動作検出部５１は、放電灯２２の電極間電圧２１４を検出する。システム制御部１０は、動作検出部５１が、検出した放電灯２２の電極間電圧２１４に対応する電圧影響度Ｒ２をテーブル６２から選択する。そして、システム制御部１０は、放電灯２２の劣化状態Ｒを、Ｒ＝（−輝度低下率Ｒ１）−（−電圧影響度Ｒ２）と算出する。
【００３９】
システム制御部１０は、劣化状態Ｒが０％より小さいかどうかを判定する（ステップＳ２）。システム制御部１０は、劣化状態Ｒが０％より小さい場合（ステップＳ２：Ｙｅｓ）、ステップＳ３に進む。例えば、輝度低下率Ｒ１が３０％、電圧影響度Ｒ２が２０％を示した場合、劣化状態Ｒは−１０％となり、ステップＳ３に進む。一方、システム制御部１０は、劣化状態Ｒが０％より小さくない場合（ステップＳ２：Ｎｏ）、ステップＳ１に進む。
【００４０】
システム制御部１０は、放電灯２２に対する冷却を強める（ステップＳ３）。
システム制御部１０は、劣化状態Ｒが０％より小さくなった時点で、冷却部５３の冷却量を強める制御を行い、放電灯２２を冷却する程度を大きくする。
【００４１】
システム制御部１０は、放電灯２２の劣化状態Ｒが０％より小さい場合、すなわち輝度低下率Ｒ１において、放電灯２２の電極間距離による放電灯２２の劣化に加え、失透による放電灯２２の劣化が含まれると判断される場合、放電灯２２の冷却の度合を大きくするように冷却部５３を制御することで、放電灯の２２の劣化を効果的に抑制することができる。
【００４２】
システム制御部１０は、輝度検出部６０に輝度情報の検出を実行させる（ステップＳ４）。輝度検出部６０は、輝度低下率Ｒ１を求め、メモリー６１に記憶させる。システム制御部１０は、メモリー６１から、輝度低下率Ｒ１を選択する。また、動作検出部５１は、放電灯２２の電極間電圧２１４を検出する。システム制御部１０は、動作検出部５１が、検出した放電灯２２の電極間電圧２１４に対応する電圧影響度Ｒ２をテーブル６２から選択する。そして、システム制御部１０は、放電灯２２の劣化状態Ｒを、Ｒ＝（−輝度低下率Ｒ１）−（−電圧影響度Ｒ２）と算出する。
【００４３】
システム制御部１０は、劣化状態Ｒが−４０％以下かどうかを判定する（ステップＳ５）。システム制御部１０は、劣化状態Ｒが−４０％以下の場合（ステップＳ５：Ｙｅｓ）、ステップＳ６に進む。例えば、輝度低下率Ｒ１が６５％、電圧影響度Ｒ２が２５％になれば、劣化状態Ｒは−４０％となり、ステップＳ６に進む。一方、システム制御部１０は、劣化状態Ｒが−４０％以下でない場合（ステップＳ５：Ｎｏ）、ステップＳ４に進む。
【００４４】
システム制御部１０は、ランプ交換を指示する信号を第１通知部５４および第２通知部５５の少なくとも一方に送出する（ステップＳ６）。
システム制御部１０は、劣化状態Ｒが−４０％以下になった時点で、第１通知部５４を制御して、放電灯２２の劣化を、表示パネル１５に表示させることにより、外部に通知する。
システム制御部１０は、劣化状態Ｒが−４０％以下になった時点で、第２通知部５５を制御して、放電灯２２の劣化を、スピーカー１６から音声を発生させることにより、外部に通知する。
【００４５】
一方、システム制御部１０は、図示は省略するが、電圧影響度Ｒ２が輝度低下率Ｒ１より大きい場合、すなわち放電灯２２の劣化状態Ｒ＞０（％）の場合、放電灯２２の駆動に関する駆動パラメーターを制御することにより、例えば放電灯２２に供給される駆動電力を下げることにより、第１電極９２および第２電極９３に与えられる負荷を軽減し、放電灯２２の寿命を伸ばすことができる。
従って、システム制御部１０は、輝度低下率Ｒ１と電圧影響度Ｒ２との比較を行うことにより、図５のフローチャートに示されるように冷却部５３を制御するか、放電灯２２の駆動に関する駆動パラメーターを制御するか、を選ぶことができる。
【００４６】
システム制御部１０は、放電灯２２の劣化状態Ｒが０％より大きい場合、すなわち輝度低下率Ｒ１において、放電灯２２の電極間距離による放電灯２２の劣化が主要因と判断される場合、放電灯２２の駆動に関する駆動パラメーターを制御する、例えば、放電灯２２に供給される駆動電流Ｉの周波数を高くすること、駆動電流Ｉのデューティ比を小さくすること、駆動電流Ｉに含まれる直流電流の時間または長さを小さくすること、放電灯２２に供給される駆動電力の大きさを小さくすることで、第１電極９２および第２電極９３に与えられる負荷を軽減し、放電灯２２の寿命を伸ばすことができる。
【００４７】
本実施形態のプロジェクター１００によれば、システム制御部１０が、放電灯２２の電極間電圧２１４と、放電灯２２の輝度に関する輝度低下率Ｒ１とに基づいて放電灯２２の劣化状態を判断する。より具体的には、システム制御部１０は、検出した電極間電圧２１４による劣化の輝度低下率への電圧影響度Ｒ２と、輝度低下率Ｒ１と、に基づき放電灯２２の劣化状態を判断する。
【００４８】
このように、電極間電圧による輝度への影響度を考慮することにより、放電灯の劣化状態をより正確に把握することができる。そして、劣化状態に応じた制御を行うことにより、放電灯の寿命をより向上させることができる。
【００４９】
本発明は、上述した実施形態や応用例などの実施形態等に限定されるものではなく、例えば次に述べるような各種の変形が可能である。また、次に述べる変形の態様は、任意に選択された一または複数を適宜に組み合わせることもできる。
【００５０】
実施形態において、輝度検出部６０は、放電灯２２から液晶パネル２０までの間の光の輝度情報を検出している。輝度検出部６０は、投射レンズ２４によって投射された光の輝度情報を検出してもよい。例えば、輝度検出部６０は、図示しない外装筐体に設けられ、投射レンズ２４により投射され被投射面から反射された光を検出してもよい。
【００５１】
実施形態において、システム制御部１０は、劣化状態Ｒに応じて、第１通知部５４を制御して、放電灯２２の劣化を表示パネル１５に表示させ、或いは第２通知部５５を制御して、放電灯２２の劣化をスピーカー１６から音声を発生させることにより、外部に通知するようにした。更にこれに限らず、システム制御部１０は、映像制御回路１８に放電灯２２の劣化を表す映像信号を取り込ませ、投射レンズ２４が、スクリーンに投射される画像中に放電灯２２の劣化を通知する画像を表示してもよい。
【００５２】
なお、システム制御部１０については、プロジェクター１００のほかにも、放電灯を用いた露光機にも適用可能である。
【００５３】
また、本実施形態において、光変調装置としての液晶パネル２０は、透過型の光変調装置や反射型の光変調装置である。ここで、「透過型」とは、液晶パネル等を含む液晶ライトバルブが光を透過するタイプであることを意味する。「反射型」とは、液晶ライトバルブが光を反射するタイプであることを意味する。また、光変調装置は、液晶パネル等に限られず、例えばマイクロミラーを用いた光変調装置であってもよい。
【００５４】
また、本発明は、３つの液晶パネル２０を用いたプロジェクター、１つの液晶パネルのみを用いたプロジェクター等、１つ以上の光変調装置を用いたプロジェクターに適用可能である。
【符号の説明】
【００５５】
１０…システム制御部、１１…操作部、１２…Ｉ／Ｆ、１３…表示回路、１４…音声出力回路、１５…表示パネル、１６…スピーカー、１７…ＣＣＤ撮像装置、１８…映像制御回路、１９…液晶コントローラー、２０…液晶パネル、２１…放電灯駆動部、２２…放電灯、２３…照明光学系、３１…第１インテグレータレンズ、３２…第２インテグレータレンズ、３３…偏光変換素子、３４…集光レンズ、５０…光源装置、５１…動作検出部、５３…冷却部、５４…第１通知部、５５…第２通知部、６０…輝度検出部、６１…メモリー、６２…テーブル、９２…第１電極、９３…第２電極、１００…プロジェクター
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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