(57)【要約】【課題】無線通信機の起動前に、検査装置のピンと無線通信機の測定部との接触不良を判断可能な検査装置を提供する。【解決手段】検査装置１００は、システムコントローラ１０１と、無線通信機２００の送受信特性を測定するＲＦ測定器１０２と、高周波回路２０２および高周波回路２０２に並列に接続されたコイル２０３とアンテナ回路２０５との間に設けられたスイッチ２４１を切替えるためのピン１５８と、システムコントローラ１０１とピン１５８との間に設けられた抵抗測定器１０４とを備える。システムコントローラ１０１は、無線通信機２００を起動させていない状態かつ高周波回路２０２とアンテナ回路２０５とが接続されていない状態で、抵抗測定器１０４から測定結果を取得し、測定結果が予め定められた条件を満たす場合、無線通信機２００を起動させた状態でＲＦ測定器１０２から測定結果を取得することにより、無線通信機２００の送受信特性の良否を検査する。【選択図】図１
2016131269.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
無線通信機の送受信特性の良否を検査する検査装置であって、
コントローラと、
前記無線通信機の高周波回路に接続された前記無線通信機のアンテナ回路を前記高周波回路に接続されていない状態に切替えるための第１のピンと、
前記コントローラと前記第１のピンとの間に設けられた、前記送受信特性を測定するための特性測定器と、
前記コントローラと前記第１のピンとの間に設けられた抵抗測定器とを備え、
前記高周波回路にはコイルが並列に接続されており、
前記第１のピンは、前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態では、前記アンテナ回路に接続されることなく、前記高周波回路および前記コイルに接続され、
前記コントローラは、
前記無線通信機を起動させていない状態かつ前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で、前記抵抗測定器から測定結果を取得し、
前記測定結果が予め定められた条件を満たす場合、前記無線通信機を起動させた状態かつ前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で前記特性測定器から測定結果を取得することにより、前記送受信特性の良否を検査する、検査装置。
【請求項２】
無線通信機の送受信特性の良否を検査する検査装置であって、
コントローラと、
前記無線通信機の高周波回路に接続された前記無線通信機のアンテナ回路を前記高周波回路に接続されていない状態に切替えるための第１のピンと、
接地された第２のピンと、
前記コントローラと前記第１のピンとの間に設けられた、前記送受信特性を測定するための特性測定器と、
前記コントローラと前記第１のピンとの間に設けられた抵抗測定器とを備え、
前記第１のピンは、前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態では、前記アンテナ回路に接続されることなく、前記高周波回路に接続され、
前記第２のピンは、前記第２のピンの移動によって、前記高周波回路に接続され、
前記コントローラは、
前記無線通信機を起動させていない状態、前記第２のピンを前記高周波回路に接続させた状態、かつ前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で、前記抵抗測定器から測定結果を取得し、
前記測定結果が予め定められた条件を満たす場合、前記無線通信機を起動させた状態、前記第２のピンを前記高周波回路に接続させていない状態、かつ前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で前記特性測定器から測定結果を取得することにより、前記送受信特性の良否を検査する、検査装置。
【請求項３】
無線通信機の送受信特性の良否を検査する検査装置であって、
コントローラと、
前記無線通信機の高周波回路に接続された前記無線通信機のアンテナ回路を前記高周波回路に接続されていない状態に切替えるための第１のピンと、
接地された第２のピンと、
前記コントローラと前記第１のピンとの間に設けられた、前記送受信特性を測定するための特性測定器と、
前記コントローラと前記第１のピンとの間に設けられた抵抗測定器とを備え、
前記第１のピンは、前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態では、前記アンテナ回路に接続されることなく、前記高周波回路に接続され、
前記第２のピンは、先端にコイルが接続されており、
前記コイルは、前記第２のピンの移動によって、前記高周波回路に接続され、
前記コントローラは、
前記無線通信機を起動させていない状態、前記コイルを前記高周波回路に接続させた状態、かつ前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で、前記抵抗測定器から測定結果を取得し、
前記測定結果が予め定められた条件を満たす場合、前記無線通信機を起動させた状態、かつ前記高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で前記特性測定器から測定結果を取得することにより、前記送受信特性の良否を検査する、検査装置。
【請求項４】
前記特性測定器と前記抵抗測定器との間に設けられた、前記コントローラによって動作するリレーをさらに備え、
前記リレーは、
前記リレーの切片が第１の位置にある場合、前記抵抗測定器と前記第１のピンとを接続された状態とし、前記特性測定器と前記第１のピンとを接続されていない状態とし、
前記リレーの切片が第２の位置にある場合、前記特性測定器と前記第１のピンとを接続された状態とし、前記抵抗測定器と前記第１のピンとを接続されていない状態とする、請求項１から３のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項５】
前記測定結果が予め定められた条件を満たす場合、前記コントローラは、前記無線通信機を起動させる指令を前記無線通信機に送信する、請求項１から４のいずれか１項に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、無線通信機における高周波信号の特性を検査する検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、無線通信機の送受信特性の良否を検査するための検査装置が知られている。たとえば、特許文献１には、上記検査装置として、ＰＤＣ（Personal Digital Cellular）、ＰＨＳ（Personal Handy-phone System）、ＧＳＭ（登録商標：Global System for Mobile communications）等の複数の通信方式に利用可能な装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−３２１７１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、無線通信機の送受信特性の良否を検査するためにピンボードを用いる場合、ゴミ噛み等によりピンボードのピンと無線通信機の測定部との接触が不良となる場合が起こり得る。
【０００５】
このような接触不良が無線通信機の起動後に発見された場合、再度の検査を行なうためには、無線通信機のシャットダウン等の検査を終了させるための処理を行なう必要がある。それゆえ、再度の検査までに時間を要する。
【０００６】
本願発明は、上記の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、無線通信機の起動前に、検査装置のピンと無線通信機の測定部との接触不良を判断可能な検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明にある局面に従うと、検査装置は、無線通信機の送受信特性の良否を検査する。検査装置は、コントローラと、無線通信機の高周波回路に接続された無線通信機のアンテナ回路を高周波回路に接続されていない状態に切替えるための第１のピンと、コントローラと第１のピンとの間に設けられた、送受信特性を測定するための特性測定器と、コントローラと第１のピンとの間に設けられた抵抗測定器とを備える。高周波回路にはコイルが並列に接続されている。第１のピンは、高周波回路とアンテナ回路とが接続されていない状態では、アンテナ回路に接続されることなく、高周波回路およびコイルに接続される。コントローラは、無線通信機を起動させていない状態かつ高周波回路とアンテナ回路とが接続されていない状態で、抵抗測定器から測定結果を取得する。コントローラは、測定結果が予め定められた条件を満たす場合、無線通信機を起動させた状態かつ高周波回路と前記アンテナ回路とが接続されていない状態で特性測定器から測定結果を取得することにより、送受信特性の良否を検査する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、無線通信機の起動前に、検査装置のピンと無線通信機の測定部との接触不良を判断可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施の形態にかかる検査システム１の概略構成を表した図である。
【図２】測定用プラグ１５０がＲＦソケット２４０に嵌合する直前の要部の状態を表した図である。
【図３】測定用プラグ１５０はＲＦソケット２４０に嵌合したときの要部の状態を表した図である。
【図４】検査システム１において行われる一連の処理の流れを説明するためのフローチャートである。
【図５】従来例としての検査システム９の概略構成を表した図である。
【図６】検査システム９において行われる一連の処理の流れを説明するためのフローチャートである。
【図７】本実施の形態にかかる検査システム１Ａの概略構成を表した図である。
【図８】本実施の形態にかかる検査システム１Ｂの概略構成を表した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照しつつ、本発明の各実施の形態に係る検査システムについて説明する。また、以下の説明では、同一の部材には同一の参照符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。
［実施の形態１］
図１は、本実施の形態にかかる検査システム１の概略構成を表した図である。図１を参照して、検査システム１は、検査装置１００と、無線通信機２００とを備える。検査装置１００は、無線通信機２００の送受信特性（ＲＦ（Radio Frequency）特性）の良否を検査する。無線通信機２００は、たとえば、スマートフォン、タブレット端末、フィーチャーフォン等の端末装置である。
【００１１】
（検査装置１００）
検査装置１００は、システムコントローラ１０１と、ＲＦ測定器１０２と、高周波リレー１０３と、抵抗測定器１０４と、ピンボード１０５とを備える。高周波リレー１０３は、可動接点を有する切片１０３１と、固定接点１０３２，１０３３とを有する。ピンボード１０５は、測定用プラグ１５０と、図示しない複数の他の測定用プラグとを有する。
【００１２】
システムコントローラ１０１は、ＲＦ測定器１０２と、高周波リレー１０３と、抵抗測定器１０４とに接続されている。ＲＦ測定器１０２は、システムコントローラ１０１と、高周波リレー１０３とに接続されている。抵抗測定器１０４は、システムコントローラ１０１と、高周波リレー１０３とに接続されている。
【００１３】
高周波リレー１０３は、システムコントローラ１０１と、ＲＦ測定器１０２と、抵抗測定器１０４と、測定用プラグ１５０とに接続されている。高周波リレー１０３の切片１０３１が固定接点１０３２と接触すると、測定用プラグ１５０と抵抗測定器１０４とが導通状態となる。切片１０３１が固定接点１０３３と接触すると、測定用プラグ１５０とＲＦ測定器１０２とが導通状態となる。
【００１４】
測定用プラグ１５０は、上部筐体１５１と、下部筐体１５２と、ガイド１５３，１５４と、バネ１５５，１５７と、係止部材１５６と、プローブとしてのピン１５８とを有する。ガイド１５３は、上部筐体１５１の内部に設置されている。ガイド１５４は、下部筐体１５２の内部に設置されている。ガイド１５３，１５４は、ピン１５８の移動用のガイドである。バネ１５５は、係止部材１５６とピン１５８の端部とによって係止された状態で、ガイド１５３の貫通孔に配置されている。バネ１５７は、ガイド１５３の端面とガイド１５４の端面とによって係止された状態で、ガイド１５３とガイド１５４との間に設置されている。
【００１５】
システムコントローラ１０１は、検査装置１００の全体の動作を制御する。システムコントローラ１０１の具体的に処理内容については後述する。
【００１６】
ＲＦ測定器１０２は、無線通信機２００の送受信特性を測定する。詳しくは、ＲＦ測定器１０２は、送信パワー、受信感度、その他、様々な高周波特性を測定する。ＲＦ測定器１０２は、測定結果をシステムコントローラ１０１に送る。
【００１７】
抵抗測定器１０４は、抵抗測定器１０４とコイル２０３のグランドとの間の抵抗値を測定する。抵抗測定器１０４は、測定結果をシステムコントローラ１０１に送る。
【００１８】
高周波リレー１０３は、システムコントローラ１０１からの指令に基づき、切片１０３１の位置を、固定接点１０３２に接触する位置と固定接点１０３３に接触する位置とのいずれかに切り替える。
【００１９】
ピンボード１０５は、システムコントローラ１０１からの指令に基づき、上下（鉛直方向）に移動する。具体的には、ピンボード１０５は、無線通信機２００に向かう方向と、無線通信機から離れる方向とに移動可能に構成されている。ピンボード１０５の移動に基づき、測定用プラグ１５０もピンボード１０５と同じ方向に移動する。
【００２０】
（無線通信機２００）
無線通信機２００は、システム回路２０１と、高周波回路２０２と、コイル２０３と、ＲＦソケット２４０と、アンテナ回路２０５と、アンテナ２０６とを備える。ＲＦソケット２４０は、スイッチ２４１を備える。スイッチ２４１は、可動接点を有する切片２４１１と、固定接点２４１２とを有する。なお、以下の説明ではスイッチ２４１の可動接点はスイッチ２４１がオフの場合どこにも接続されていない構成だが、所定の終端抵抗を有するもう一つの固定接点に接続するようにしてもよい。この場合、可動接点が電気的に浮いていないため、ノイズの混入を抑えることが可能となる。
【００２１】
システム回路２０１は、高周波回路２０２に接続されている。高周波回路２０２は、アンテナ配線２５１によってＲＦソケット２４０に接続されている。
【００２２】
コイル２０３は、配線２５３によって高周波回路２０２に並列に接続されるとともに、ＲＦソケット２４０（詳しくは、切片２４１１）に接続されている。また、コイル２０３は、接地されている。
【００２３】
アンテナ回路２０５は、アンテナ２０６に接続されるとともに、アンテナ配線２５２によってＲＦソケット２４０（詳しくは、固定接点２４１２）に接続されている。
【００２４】
スイッチ２４１は、無線通信機２００の高周波回路２０２に接続されたアンテナ回路２０５を高周波回路２０２に接続されていない状態に切替えるために高周波回路２０２とアンテナ回路２０５との間に設けられている。スイッチ２４１がオン（閉）状態の場合には、アンテナ回路２０５と、高周波回路２０２およびコイル２０３との間が導通状態となる。スイッチ２４１がオフ（開放）状態の場合には、アンテナ回路２０５と、高周波回路２０２およびコイル２０３との間が非導通状態となる。スイッチ２４１のデフォルト状態は、図１に示すようにオン状態である。また、詳細については後述するが、スイッチ２４１は、ピン１５８の移動により、オン状態からオフ状態に切り替えられる。つまり、ピン１５８は、スイッチ２４１を切替えるために設けられている。
【００２５】
図２は、測定用プラグ１５０がＲＦソケット２４０に嵌合する直前の要部の状態を表した図である。図２を参照して、ピン１５８の先端部１５８１は、スイッチ２４１の切片２４１１に接触していない。なお、下部筐体１５２がＲＦソケット２４０に接触していないため、バネ１５７の長さに変化はない。さらに、下部筐体１５２は、上部筐体１５１に対してスライドしていない。
【００２６】
図３は、測定用プラグ１５０がＲＦソケット２４０に嵌合したときの要部の状態を表した図である。状態（Ａ）は、正常に嵌合した場合を表しており、状態（Ｂ）は、ゴミ８００によって正常に嵌合していない場合を表している。
【００２７】
状態（Ａ）の場合、ピン１５８によって、スイッチ２４１１がオフとなる。すなわち、高周波回路２０２とアンテナ回路２０５とが非導通状態となる。その一方、ピン１５８は、コイル２０３および高周波回路２０２と導通状態となる。詳細については後述するが、この状態になると、無線通信機２００を起動させていない状態で、抵抗測定器１０４を用いたＤＣ（Direct Current）チェックが行われる。
【００２８】
状態（Ｂ）の場合、ピン１５８の先端部１５８１と、切片２４１１との間にゴミ８００が噛み込んでいる。ピン１５８と、コイル２０３および高周波回路２０２との接触状態は、不安定となる。この場合、ゴミ８００が抵抗の役割を果たしてしまう。
【００２９】
図４は、検査システム１において行われる一連の処理の流れを説明するためのフローチャートである。図４を参照して、ステップＳ２において、図示しない装置あるいはユーザが、無線通信機２００（詳しくは、無線通信機２００に内蔵される検査対象の基板）を所定の位置にセットする。ステップＳ４において、ユーザが、ピンボード１０５を下降させるためのスイッチ（図示せず）をオンする。ステップＳ６において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を下降させる。
【００３０】
ステップＳ８において、システムコントローラ１０１は、高周波リレー１０３の可動接点を固定接点１０３２に接触させた状態で、電流を図１に示す矢印Ｚａの方向に流すことにより、抵抗測定器１０４から測定結果（抵抗値）を取得する。
【００３１】
図３における状態（Ａ）の場合には、システムコントローラ１０１は、抵抗測定器１０４から数Ωの測定値を得る。この場合、システムコントローラ１０１は、ＤＣチェックのチェック結果が正常（ＯＫ）であると判断する。一方、図３の状態（Ｂ）のように測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０とが正常に嵌号していない場合（つまり、ピン１５８の先端部１５８１と切片２４１１とが接触不良の場合）には、測定値は、高抵抗を示したり、不安定な値を示したりする。この場合、システムコントローラ１０１は、ＤＣチェックのチェック結果が不良（ＮＧ）であると判断する。
【００３２】
ＤＣチェックが正常であったと判断された場合（ステップＳ８でＯＫ）、ステップＳ１０において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００を起動させるためのコマンドを無線通信機２００のシステム回路２０１に送ることにより、無線通信機２００を起動させる。ステップＳ１２において、システムコントローラ１０１は、高周波リレー１０３における切片１０３１を移動させることによって切片１０３１と固定接点１０３３とを接続させた後（すなわち、リレースイッチの切り替えを行なった後）、ＲＦ測定器１０２に無線通信機２００のＲＦ特性（送受信特性）の測定をさせる。
【００３３】
ステップＳ１４において、システムコントローラ１０１は、ＲＦ測定器１０２による測定結果に基づいて、ＲＦ性能（送受信性能）の良否を判断する。ＲＦ性能が良好であると判断された場合（ステップＳ１４においてＯＫ）、ステップＳ１６において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００をシャットダウンさせる。ステップＳ１８において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を元の位置まで上昇させる。この場合、無線通信機２００のＲＦ特性（送受信特性）は良好であると判定し（ＲＦ＿ＯＫ）、この無線通信機２００の検査を終了する。
【００３４】
ＲＦ性能が不良であると判断された場合（ステップＳ１４においてＮＧ）、ステップＳ２４において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００をシャットダウンさせる。ステップＳ２６において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を元の位置まで上昇させる。この場合、無線通信機２００のＲＦ特性（送受信特性）は不良であると判定し（ＲＦ＿ＮＧ）、この無線通信機２００の検査を終了する。
【００３５】
ＤＣチェックが正常でないと判断された場合（ステップＳ８でＮＧ）、ステップＳ２０において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を元の位置まで上昇させる。ステップＳ２２において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００において２回連続してＤＣチェックが不良（ＮＧ）だったか否かを判断する。１回の測定では誤測定になる可能性があるため、誤測定を防ぐために２回連続測定する。２回連続して不良であった場合（ステップＳ２２においてＹＥＳ）、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触に問題があるとして（接触系＿ＮＧ）、一連の処理を終了する。ＤＣチェックが不良であった回数が１回である場合には（ステップＳ２２においてＮＯ）、システムコントローラ１０１は、処理をステップＳ６に戻す。
【００３６】
なお、上記説明ではＳ２２の処理において、２回連続して不良であった場合に接触系＿ＮＧの判定をしていたが、ＮＧと判定する回数は２回に限定されず、所定の回数で判断するようにすればよい。
【００３７】
以上のことから明らかなように、検査装置１００は、無線通信機２００の起動前に、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触に問題があるか否かを判断できる。一例として、ステップＳ４においてピンボード１０５の下降スイッチがおされてから、２回連続してＮＧの結果が得られる迄（ステップＳ２２においてＮＯと判定される迄）に要する時間は、数秒ですむ。このように、検査システム１では、速やかに、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触不良が発生していることを判断できる。
【００３８】
＜従来例との比較＞
次に、従来例を挙げて、検査システム１の利点をより明確にする。
【００３９】
図５は、従来例としての検査システム９の概略構成を表した図である。図５を参照して、検査システム９は、検査装置９００と、無線通信機２００Ａとを備える。検査装置９００は、無線通信機２００Ａの送受信特性（ＲＦ特性）の良否を検査する。
【００４０】
検査装置９００は、システムコントローラ１０１と、ＲＦ測定器１０２と、ピンボード１０５とを備える。すなわち、検査装置９００は、高周波リレー１０３および抵抗測定器１０４を備えていない点において、これらを備える検査装置１００とは異なる。検査装置９００においては、ＲＦ測定器１０２は、システムコントローラ１０１とピンボード１０５とに接続されている。
【００４１】
無線通信機２００Ａは、システム回路２０１と、高周波回路２０２と、ＲＦソケット２４０と、アンテナ回路２０５と、アンテナ２０６とを備える。すなわち、無線通信機２００Ａは、コイル２０３を備えていない点において、コイル２０３を備える無線通信機２００とは異なる。
【００４２】
図６は、検査システム９において行われる一連の処理の流れを説明するためのフローチャートである。図６を参照して、ステップＳ９０２において、図示しない装置あるいはユーザが、無線通信機２００Ａを所定の位置にセットする。ステップＳ９０４において、ユーザが、ピンボード１０５を下降させるためのスイッチをオンする。ステップＳ９０６において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を下降させる。
【００４３】
ステップＳ９１０において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００Ａを起動させるためのコマンドを無線通信機２００Ａのシステム回路２０１に送ることにより、無線通信機２００を起動させる。ステップＳ９１２において、システムコントローラ１０１は、ＲＦ測定器１０２に無線通信機２００ＡのＲＦ特性（送受信特性）の測定をさせる。
【００４４】
ステップＳ９１４において、システムコントローラ１０１は、ＲＦ測定器１０２による測定結果に基づいて、ＲＦ性能（送受信性能）の良否を判断する。ＲＦ性能が良好であると判断された場合（ステップＳ９１４においてＯＫ）、ステップＳ９１６において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００Ａをシャットダウンさせる。ステップＳ９１８において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を元の位置まで上昇させる。この場合、無線通信機２００ＡのＲＦ特性（送受信特性）は良好であると判定し、この無線通信機２００Ａの検査を終了する。
【００４５】
ＲＦ性能が不良であると判断された場合（ステップＳ９１４においてＮＧ）、ステップＳ９２４において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００Ａをシャットダウンさせる。ステップＳ９２６において、システムコントローラ１０１は、ピンボード１０５を元の位置まで上昇させる。ステップＳ９２８において、ユーザは、ＲＦ特性（送受信特性）の不良内容（ＮＧ内容）を分析する。具体的には、ＲＦ性能の不良が、高周波レベルに関する項目であって、かつステップＳ９１２のＲＦ測定における測定工程の先頭部分で発生したものであるか否かをユーザが確認する。
【００４６】
ＲＦ性能の不良が、高周波レベルに関する項目であってかつステップＳ９１２のＲＦ測定における測定工程の先頭部分で発生したものであると判断された場合（ステップＳ９２８において接触系）、システムコントローラ１０１は、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触に問題がある可能性が高いと判断し、処理をステップＳ９２２に進める。ＲＦ性能の不良が、高周波レベルに関する項目でない、および／または、ステップＳ９１２のＲＦ測定における測定工程の先頭部分で発生したものでない場合（ステップＳ９２８においてＲＦ系）、無線通信機２００ＡのＲＦ特性（送受信特性）が不良であると判定し、この無線通信機２００の検査を終了する。
【００４７】
ステップＳ９２２において、システムコントローラ１０１は、無線通信機２００Ａにおいて２回連続してＲＦ性能が不良（ＮＧ）だったか否かを判断する。１回の測定では誤測定になる可能性があるため、誤測定を防ぐために２回連続測定する。２回連続して不良であった場合（ステップＳ９２２においてＹＥＳ）、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触に問題があるとして（接触系＿ＮＧ）、一連の処理を終了する。ＲＦ性能が不良であった回数が１回である場合には（ステップＳ９２２においてＮＯ）、システムコントローラ１０１は、処理をステップＳ９０４に戻す。
【００４８】
検査システム１の利点を従来例である検査システム９と対比して説明すると、以下のとおりである。検査システム９においては、ステップＳ９０４においてピンボード１０５の下降スイッチがおされてから、２回連続してＮＧの結果が得られる迄（ステップＳ９２２においてＮＯと判定される迄）には一度無線通信機２００Ａをシャットダウンさせ、その後再度起動させてから再測定するといったプロセスが必要となり、通常、数分の時間を要する。
【００４９】
その一方、検査システム１では、上述したように、接触系＿ＮＧの測定時には無線通信機２００を起動させる必要が無いため、ステップＳ４においてピンボード１０５の下降スイッチがおされてから、２回連続してＮＧの結果が得られる迄（ステップＳ２２においてＮＯと判定される迄）に要する時間は、数秒ですむ。
【００５０】
これのように検査システム１において２回連続してＮＧの結果が得られる迄に要する時間の方が検査システム９において２回連続してＮＧの結果が得られる迄に要する時間よりも短くすることが可能となる。したがって、検査システム１によれば、検査システム９よりも検査効率を上げることが可能となる。
【００５１】
即ち、上記のように時間を短くすることができる第１の理由は、既に述べたように、検査システム１では、無線通信機２００を起動させる前に、ＤＣチェックを行なうためである（図４のステップＳ８）。第２の理由は、検査システム１では、図６のステップＳ９２８におけるＮＧ内容の分析処理が不要になるためである。
［実施の形態２］
図７は、本実施の形態にかかる検査システム１Ａの概略構成を表した図である。図７を参照して、検査システム１Ａは、検査装置１００Ａと、無線通信機２００Ａとを備える。検査装置１００Ａは、無線通信機２００Ａの送受信特性（ＲＦ特性）の良否を検査する。
【００５２】
検査装置１００Ａは、ピンボード１０５Ａを有する点において、ピンボード１０５を有する実施の形態１の検査装置１００とは異なる。ピンボード１０５Ａは、測定用プラグ１５０と、図示しない複数の他の測定用プラグと、ピンユニット１６０とを備える。ピンボード１０５Ａは、ピンユニット１６０を備える点において、ピンボード１０５とは異なる。
【００５３】
ピンボード１０５Ａは、ピンボード１０５と同様、システムコントローラ１０１からの指令に基づき、上下に移動する。
【００５４】
ピンユニット１６０は、レバー１６１と、楕円カム１６２と、カム受け１６３と、バネ１６４と、プローブとしての接地されたピン１６５とを備える。ピンユニット１６０は、ピンボード１０５Ａの移動とは関係なく、ユーザ操作によって無線通信機２００Ａに向かう方向と無線通信機から離れる方向とに移動可能に構成されている。また、ピンユニット１６０は、ユーザー操作ではなく、システムコントローラーからの指令により所定のタイミングで自動的にレバー１６１または楕円カム１６２の回転動作が行われ、無線通信機２００Ａに向かう方向と無線通信機から離れる方向とに移動可能に構成されていてもよい。
【００５５】
レバー１６１が図の矢印Ｚｂの方向に移動すると、楕円カム１６２が矢印Ｚｃの方向に回転する。楕円カム１６２が矢印Ｚｃ方向に回転すると、カム受け１６３が下方（無線通信機２００Ａに近づく方向）に移動する。カム受け１６３が下方に移動すると、バネ１６４に対して、バネ１６４を縮める力が作用する。バネ１６４が縮むと、ピン１６５が矢印Ｚｄの方向（下方）に移動し、ピン１６５の先端部１６５１が無線通信機２００Ａのアンテナ配線２５１に接触する。これにより、ピン１６５とアンテナ配線２５１とが導通状態となる。つまり、ピン１６５と、高周波回路２０２とが接続された状態となる。
【００５６】
次に、検査システム１Ａにおいて行われる一連の処理の流れを説明する。以下では、実施の形態１における検査システム１において行われる一連の処理とは異なる点に着目して説明し、その他説明は繰り返さない。
【００５７】
検査システム１Ａにおいては、図４のステップＳ６とステップＳ８との間に、ピンボード１０５Ａのピン１６５を下降させるために、レバー１６１の回転動作が行われる。当該動作によって、ピン１６５の先端部１６５１がアンテナ配線２５１に接触する。これにより、グランド経路が構成される。
【００５８】
また、検査システム１Ａにおいては、図４のステップＳ８とステップＳ１０との間に、ピンボード１０５Ａのピン１６５を上昇させるために、レバーの１６１の回転動作が行われる。当該動作によって、ピン１６５の先端部１６５１がアンテナ配線２５１から離れる。このように、ステップＳ１０において無線通信機２００Ａを起動する前にピン１６５をアンテナ配線２５１から離す理由は、ピン１６５がアンテナ配線２５１に接触することより構成されたグランド経路によって、起動したときにショートして回路が破損することを防止するためである。
【００５９】
したがって、本実施の形態においても、検査装置１００Ａは、無線通信機２００Ａの起動前に、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触に問題があるか否かを判断できる。一例として、ステップＳ４においてピンボード１０５の下降スイッチがおされてから、２回連続してＮＧの結果が得られる迄（ステップＳ２２においてＮＯと判定される迄）に要する時間は、数秒ですむ。このように、検査システム１Ａでは、実施の形態１の検査システム１と同様に、速やかに、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触不良が発生していることを判断できる。
［実施の形態３］
図８は、本実施の形態にかかる検査システム１Ｂの概略構成を表した図である。図８を参照して、検査システム１Ｂは、検査装置１００Ｂと、無線通信機２００Ａとを備える。検査装置１００Ｂは、無線通信機２００Ａの送受信特性（ＲＦ特性）の良否を検査する。
【００６０】
検査装置１００Ｂは、ピンボード１０５Ｂを有する点において、ピンボード１０５を有する実施の形態１の検査装置１００およびピンボード１０５Ａを有する実施の形態２の検査装置１００Ａとは異なる。ピンボード１０５Ｂは、測定用プラグ１５０と、図示しない複数の他の測定用プラグと、ピンユニット１７０とを備える。ピンボード１０５Ｂは、ピンユニット１７０を備える点において、ピンボード１０５およびピンボード１０５Ａとは異なる。
【００６１】
ピンボード１０５Ｂは、ピンボード１０５，１０５Ａと同様、システムコントローラ１０１からの指令に基づき、上下に移動する。
【００６２】
ピンユニット１７０は、接地されたピン１７１と、ピン１７１の先端に備え付けられたコイル１７２とを備える。ピンユニット１７０は、測定用プラグ１５０と同様に、ピンボード１０５Ｂの移動に伴い、無線通信機２００Ａに向かう方向と無線通信機から離れる方向とに移動可能に構成されている。
【００６３】
ピンボード１０５Ｂが下降して、ピン１５８によってスイッチ２４１が開状態となると、コイル１７２の先端部１７２１がアンテナ配線２５１に接触する。これにより、ピン１７１とアンテナ配線２５１とが導通状態となる。つまり、コイル１７２が高周波回路２０２に接続された状態となる。その後、ピンボード１０５Ｂが上昇すると、コイル１７２の先端部１７２１がアンテナ配線２５１から離れる。
【００６４】
なお、コイル１７２は、たとえば、セラミックのベース部材に金属メッキした中間体に対して、レーザトリミングすることより形成される。あるいは、コイル１７２は、セラミックのベース部材に巻き線を施すことにより形成される。また、ピン１７１の先端にチップコイルを半田付けし、チップコイルの先端に金属チップを付けることによって、コイル１７２の部分を形成してもよい。
【００６５】
次に、検査システム１Ｂにおいて行われる一連の処理の流れを説明する。以下では、実施の形態１における検査システム１において行われる一連の処理とは異なる点に着目して説明し、その他説明は繰り返さない。
【００６６】
検査システム１Ｂにおいては、図４のステップＳ６に処理により、ピンユニット１７０のピン１７１も下降し、ピンユニット１７０のコイル１７２がアンテナ配線２５１に接触する。このような現象が起こる点を除けば、検査システム１Ｂにおける一連の処理は、実施の形態１で説明した図４における一連の処理と同じである。
【００６７】
検査システム１Ｂでは、図４のステップＳ１２におけるＲＦ測定の際も、コイル１７２をアンテナ配線２５２から離す必要はない。この点、ＲＦ測定の前にレバー１６１が動作することによりピン１６５をアンテナ配線２５１から離した、実施の形態２に係る検査システム１Ａとは異なる。
【００６８】
コイル１７２をアンテナ配線２５２から離す必要がない理由は、以下のとおりである。コイル１７２は、自己共振により所定の範囲の周波数の交流信号に対して高インピーダンスとなるため、交流抵抗素子として機能する。また、コイル１７２は、直流電流をグランドに流す。それゆえ、ＲＦ測定時においてもコイル１７２がアンテナ配線２５１に接触していても問題ない。
【００６９】
したがって、本実施の形態においても、検査装置１００Ｂは、無線通信機２００Ａの起動前に、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触に問題があるか否かを判断できる。一例として、ステップＳ４においてピンボード１０５の下降スイッチがおされてから、２回連続してＮＧの結果が得られる迄（ステップＳ２２においてＮＯと判定される迄）に要する時間は、数秒ですむ。このように、検査システム１Ｂでは、実施の形態１，２の検査システム１，１Ａと同様に、速やかに、測定用プラグ１５０とＲＦソケット２４０との接触不良が発生していることを判断できる。
【００７０】
今回開示された実施の形態は例示であって、上記内容のみに制限されるものではない。本発明の範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００７１】
１，１Ａ，１Ｂ，９  検査システム、１００，１００Ａ，１００Ｂ，９００  検査装置、１０１  システムコントローラ、１０２  ＲＦ測定器、１０３  高周波リレー、１０４  抵抗測定器、１０５，１０５Ａ，１０５Ｂ  ピンボード、１５０  測定用プラグ、１５１  上部筐体、１５２  下部筐体、１５３，１５４  ガイド、１５５，１５７，１６４  バネ、１５６  係止部材、１５８，１６５，１７１  ピン、１６０，１７０  ピンユニット、１６１  レバー、１６２  楕円カム、１７２，２０３  コイル、２００，２００Ａ  無線通信機、２０１  システム回路、２０２  高周波回路、２４０  ＲＦソケット、２０５  アンテナ回路、２０６  アンテナ、２４１，２４１１  スイッチ、２５１，２５２  アンテナ配線、２５３  配線、８００  ゴミ、１０３１，２４１１  切片、１０３２，１０３３，２４１２  固定接点、１５８１，１６５１  先端部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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